(57)【要約】  長手方向に連続した疵を精度よく検出することができる、丸棒の表面疵検査方法及び表面疵検査装置を提供すること。判定領域の代表疵信号の高さが第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる判定領域を第１の領域とし、判定領域の代表疵信号の高さが第２の判定値以上となる判定領域であり、第１の領域と周方向の位置が等しい判定領域を、第２の領域とし、第１の領域と第２の領域との間の判定領域を第３の領域とする。第３の領域の判定領域の代表疵信号が第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに第３の領域の長手方向の判定領域の数が第１の領域及び第２の領域の少なくとも一方の長手方向の判定領域の数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ第１〜第３の領域の判定領域が所定数以上の場合に、第１〜第３の領域の判定領域に疵があると判定する。
2020261554.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
丸棒を長手方向に搬送しながら、あるいは、漏洩磁束探傷装置の探触ヘッドを丸棒の長手方向に移動させながら、漏洩磁束探傷装置の探触ヘッドが前記丸棒の周方向に沿って回転するように前記探傷ヘッドあるいは前記丸棒あるいは前記探傷ヘッドと前記丸棒の両方を回転させて、前記丸棒の表面における、前記長手方向及び前記周方向にそれぞれ区分けされた複数の測定領域について漏洩磁束を検出することで疵信号を検出する探傷工程と、
少なくとも一つの前記測定領域を含み、前記周方向及び前記長手方向に並ぶ複数の判定領域について、前記判定領域に含まれる前記測定領域の最も大きな前記疵信号である代表疵信号に基づいて、前記丸棒の表面に疵があることを判定する判定工程と、
を備え、
前記判定工程には、前記丸棒の表面に前記疵があることを判定する第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程が含まれ、
前記第１の判定工程では、前記代表疵信号の高さが、第１の判定基準値以上となる前記判定領域に前記疵があると判定し、
前記第２の判定工程では、
前記判定領域の前記代表疵信号の高さが前記第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる、一つの前記判定領域または前記長手方向に連続する複数の前記判定領域を第１の領域とし、
前記第１の領域が前記長手方向に連続する複数の前記判定領域からなる場合で、且つ前記第１の領域の前記判定領域の数が所定数以上の場合に、前記第１の領域の前記判定領域に前記疵があると判定し、
前記第３の判定工程では、
前記判定領域の前記代表疵信号の高さが前記第２の判定値以上となる、一つの前記判定領域または前記長手方向に連続する複数の前記判定領域であり、前記第１の領域と前記周方向の位置が等しい前記判定領域を、第２の領域とし、
前記第１の領域と前記第２の領域との間の前記判定領域を第３の領域とし、
前記第３の領域の前記判定領域の前記代表疵信号が前記第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに前記第３の領域の前記長手方向の前記判定領域の数が前記第１の領域及び前記第２の領域の少なくとも一方の前記長手方向の前記判定領域の数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ前記第１の領域、前記第２の領域及び前記第３の領域の前記判定領域の数が所定数以上の場合に、前記第１の領域、前記第２の領域及び前記第３の領域の前記判定領域に前記疵があると判定する、丸棒の表面疵検査方法。
【請求項２】
前記判定領域は、前記周方向に連なる複数の前記測定領域からなる、請求項１に記載の丸棒の表面疵検査方法。
【請求項３】
探触ヘッドを有し、丸棒を長手方向に搬送しながら、あるいは、前記探触ヘッドを丸棒の長手方向に移動させながら、前記探触ヘッドが前記丸棒の周方向に沿って回転するように前記探傷ヘッドあるいは前記丸棒あるいは前記探傷ヘッドと前記丸棒の両方を回転させて、前記丸棒の表面における、前記長手方向及び前記周方向にそれぞれ区分けされた複数の測定領域について漏洩磁束を検出することで疵信号を検出する漏洩磁束探傷装置と、
少なくとも一つの前記測定領域を含み、前記周方向及び前記長手方向に並ぶ複数の判定領域について、前記判定領域に含まれる前記測定領域の最も大きな前記疵信号である代表疵信号に基づいて、前記丸棒の表面に疵があることを判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記丸棒の表面に前記疵があることを判定する第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程を行い、
前記第１の判定工程では、前記代表疵信号の高さが、第１の判定基準値以上となる前記判定領域に前記疵があると判定し、
前記第２の判定工程では、
前記判定領域の前記代表疵信号の高さが前記第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる、一つの前記判定領域または前記長手方向に連続する複数の前記判定領域を第１の領域とし、
前記第１の領域が前記長手方向に連続する複数の前記判定領域からなる場合で、且つ前記第１の領域の前記判定領域の数が所定数以上の場合に、前記第１の領域の前記判定領域に前記疵があると判定し、
前記第３の判定工程では、
前記判定領域の前記代表疵信号の高さが前記第２の判定値以上となる、一つの前記判定領域または前記長手方向に連続する複数の前記判定領域であり、前記第１の領域と前記周方向の位置が等しい前記判定領域を、第２の領域とし、
前記第１の領域と前記第２の領域との間の前記判定領域を第３の領域とし、
前記第３の領域の前記判定領域の前記代表疵信号が前記第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに前記第３の領域の前記長手方向の前記判定領域の数が前記第１の領域及び前記第２の領域の少なくとも一方の前記長手方向の前記判定領域の数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ前記第１の領域、前記第２の領域及び前記第３の領域の前記判定領域の数が所定数以上の場合に、前記第１の領域、前記第２の領域及び前記第３の領域の前記判定領域に前記疵があると判定する、丸棒の表面疵検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、丸棒の表面疵検査方法及び表面疵検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
漏洩磁束探傷法による丸棒鋼や鋼管等の円形断面の長尺材（以下、単に丸棒と云う）の探傷検査には、丸棒を長手方向に搬送させながら探触ヘッドを丸棒の周方向に沿って回転させる検査方法と、丸棒を軸周りに回転させながら探触ヘッドを丸棒の長手方向に走行させる検査方法とがある。この場合、いずれの検査方法においても、漏洩磁束探傷装置の探触ヘッド内のプローブ（探触子）によって丸棒の表面にある疵から疵信号を受け、その疵信号の高さが判定基準値以上か否かによって疵の有無が判定される。なお、判定基準値は、製品に要求された許容疵深さによって、予め規定される。【０００３】
この２つの探傷方法のうち、探触ヘッドを丸棒の周方向に沿って回転させる検査方法は、探触ヘッドを丸棒の長手方向に走行させる検査方法に比べ、その検査方法の違いから検査に要する時間を短くすることができる。このため、生産効率の観点からは、探触ヘッドを丸棒の周方向に沿って回転させる検査方法の方が好ましく、この検査方法において、長手方向に連続した疵を精度よく検出する技術が望まれている。【０００４】
例えば、特許文献１には、丸棒の表面疵検査方法として、周方向に連なる複数の測定領域での疵信号の検出結果と、疵信号の高さの判定基準値である第１の判定基準値及び第２の判定基準値とを用いて表面疵の有無を判定する方法が開示されています。特許文献１によれば、周方向の同じ位置で、欠陥幅が狭く長さのある欠陥を検出することができる。
また、特許文献２には、特許文献１と同様な方法で検出される疵信号について、周方向及び長手方向に並ぶ複数の測定領域を判定領域として疵の有無を判定する方法が開示されています。特許文献２によれば、漏洩磁束探傷を行う際に丸棒が回転または振動する場合においても、長手方向に連続した疵を精度よく検出することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第５９７８８８９号
【特許文献２】特許第６４５１６７８号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、鋳片等の素材に起因する欠陥がある場合、断続的に疵信号の高さが低く特許文献１，２における第２の判定基準値以下となる連続疵が発生することがあった。このため、特許文献１，２に記載の表面疵検査方法では、このような連続疵を判定することが困難であった。また、鋳片等の素材に起因する疵を検知可能なように、第２の判定基準値となる疵信号の高さの値を低くしてしまうと、過検知となる可能性があった。【０００７】
そこで、本発明は、上記の課題に着目してなされたものであり、丸棒を長手方向に搬送させながら探触ヘッドを丸棒の周方向に沿って回転させる検査方法において、長手方向に連続した疵を精度よく検出することができる、丸棒の表面疵検査方法及び表面疵検査装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様によれば、丸棒を長手方向に搬送しながら、あるいは、漏洩磁束探傷装置の探触ヘッドを丸棒の長手方向に移動させながら、漏洩磁束探傷装置の探触ヘッドが上記丸棒の周方向に沿って回転するように上記探傷ヘッドあるいは上記丸棒あるいは上記探傷ヘッドと上記丸棒の両方を回転させて、上記丸棒の表面における、上記長手方向及び上記周方向にそれぞれ区分けされた複数の測定領域について漏洩磁束を検出することで疵信号を検出する探傷工程と、少なくとも一つの上記測定領域を含み、上記周方向及び上記長手方向に並ぶ複数の判定領域について、上記判定領域に含まれる上記測定領域の最も大きな上記疵信号である代表疵信号に基づいて、上記丸棒の表面に疵があることを判定する判定工程と、を備え、上記判定工程には、上記丸棒の表面に上記疵があることを判定する第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程が含まれ、上記第１の判定工程では、上記代表疵信号の高さが、第１の判定基準値以上となる上記判定領域に上記疵があると判定し、上記第２の判定工程では、上記判定領域の上記代表疵信号の高さが上記第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる、一つの上記判定領域または上記長手方向に連続する複数の上記判定領域を第１の領域とし、上記第１の領域が上記長手方向に連続する複数の上記判定領域からなる場合で、且つ上記第１の領域の上記判定領域の数が所定数以上の場合に、上記第１の領域の上記判定領域に上記疵があると判定し、上記第３の判定工程では、上記判定領域の上記代表疵信号の高さが上記第２の判定値以上となる、一つの上記判定領域または上記長手方向に連続する複数の上記判定領域であり、上記第１の領域と上記周方向の位置が等しい上記判定領域を、第２の領域とし、上記第１の領域と上記第２の領域との間の上記判定領域を第３の領域とし、上記第３の領域の上記判定領域の上記代表疵信号が上記第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに上記第３の領域の上記長手方向の上記判定領域の数が上記第１の領域及び上記第２の領域の少なくとも一方の上記長手方向の上記判定領域の数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ上記第１の領域、上記第２の領域及び上記第３の領域の上記判定領域の数が所定数以上の場合に、上記第１の領域、上記第２の領域及び上記第３の領域の上記判定領域に上記疵があると判定する、丸棒の表面疵検査方法が提供される。【０００９】
本発明の一態様によれば、探触ヘッドを有し、丸棒を長手方向に搬送しながら、あるいは、上記探触ヘッドを丸棒の長手方向に移動させながら、上記探触ヘッドが上記丸棒の周方向に沿って回転するように上記探傷ヘッドあるいは上記丸棒あるいは上記探傷ヘッドと上記丸棒の両方を回転させて、上記丸棒の表面における、上記長手方向及び上記周方向にそれぞれ区分けされた複数の測定領域について漏洩磁束を検出することで疵信号を検出する漏洩磁束探傷装置と、少なくとも一つの上記測定領域を含み、上記周方向及び上記長手方向に並ぶ複数の判定領域について、上記判定領域に含まれる上記測定領域の最も大きな上記疵信号である代表疵信号に基づいて、上記丸棒の表面に疵があることを判定する判定部と、を備え、上記判定部は、上記丸棒の表面に上記疵があることを判定する第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程を行い、上記第１の判定工程では、上記代表疵信号の高さが、第１の判定基準値以上となる上記判定領域に上記疵があると判定し、上記第２の判定工程では、上記判定領域の上記代表疵信号の高さが上記第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる、一つの上記判定領域または上記長手方向に連続する複数の上記判定領域を第１の領域とし、上記第１の領域が上記長手方向に連続する複数の上記判定領域からなる場合で、且つ上記第１の領域の上記判定領域の数が所定数以上の場合に、上記第１の領域の上記判定領域に上記疵があると判定し、上記第３の判定工程では、上記判定領域の上記代表疵信号の高さが上記第２の判定値以上となる、一つの上記判定領域または上記長手方向に連続する複数の上記判定領域であり、上記第１の領域と上記周方向の位置が等しい上記判定領域を、第２の領域とし、上記第１の領域と上記第２の領域との間の上記判定領域を第３の領域とし、上記第３の領域の上記判定領域の上記代表疵信号が上記第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに上記第３の領域の上記長手方向の上記判定領域の数が上記第１の領域及び上記第２の領域の少なくとも一方の上記長手方向の上記判定領域の数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ上記第１の領域、上記第２の領域及び上記第３の領域の上記判定領域の数が所定数以上の場合に、上記第１の領域、上記第２の領域及び上記第３の領域の上記判定領域に上記疵があると判定する、丸棒の表面疵検査装置が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の一態様によれば、丸棒を長手方向に搬送させながら探触ヘッドを丸棒の周方向に沿って回転させる検査方法において、長手方向に連続した疵を精度よく検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の一実施形態に係る丸棒の表面疵検査装置を示す構成図である。
【図２】漏洩磁束探傷装置を示す模式図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る丸棒の表面疵検査方法を示すフローチャートである。
【図４】丸棒の測定領域を示す正面図である。
【図５】丸棒の測定領域を示す斜視図である。
【図６】疵判定処理を示すフローチャートである。
【図７】疵信号の検出結果を示す説明図である。
【図８】変形例における疵信号の検出結果を示す説明図である。
【図９】変形例における疵信号の検出結果を示す説明図である。
【図１０】連続疵がある測定領域における疵信号の検出結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下の詳細な説明では、本発明の実施形態の完全な理解を提供するように多くの特定の細部について記載される。しかしながら、かかる特定の細部がなくても１つ以上の実施態様が実施できることは明らかであろう。他にも、図面を簡潔にするために、周知の構造及び装置が略図で示されている。
【００１３】
＜装置構成＞
図１及び図２を参照して、本発明の一実施形態に係る丸棒の表面疵検査装置１について説明する。表面疵検査装置１は、漏洩磁束探傷法を用いて円形断面の棒鋼である丸棒２の表面疵を検出する装置であり、図１に示すように、複数の搬送ロール３と、複数のピンチロール４と、漏洩磁束探傷装置５と、判定部６と、記憶部７とを備える。
【００１４】
複数の搬送ロール３は、漏洩磁束探傷装置５を挟んで、搬送される丸棒２の長手方向（図１の紙面に対する左右方向）に並んで設けられる。複数の搬送ロール３は、回転駆動することにより、丸棒２の長手方向に丸棒２を搬送する。なお、図１に示した例において、丸棒２は図１の紙面に対する左方向へと搬送される。
複数のピンチロール４は、漏洩磁束探傷装置５を挟んで、搬送される丸棒２の長手方向に並んで設けられる。また、複数のピンチロール４は、複数の搬送ロール３の上方（図１の紙面に対する上側）に、漏洩磁束探傷装置５の近傍の複数の搬送ロール３に対向してそれぞれ設けられる。複数のピンチロール４は、搬送される丸棒２を上方から抑えることで、丸棒２の搬送中のガタやフレの発生を抑える。
【００１５】
漏洩磁束探傷装置５は、図２に示すように、丸棒２の搬送方向に垂直な平面において、搬送される丸棒２を挟むように対向して設けられる一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂを有する。一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂは、励磁ヨーク５２ａ，５２ｂと、励磁コイル５３ａ，５３ｂと、プローブ５４ａ，５４ｂとをそれぞれ有する。励磁ヨーク５２ａ，５２ｂは、丸棒２の搬送方向に垂直な面において略Ｕ字状に形成された珪素鋼からなり、その両磁極（Ｎ極、Ｓ極）が丸棒２の外周面に対して所要ギャップだけ離間して配置される。励磁コイル５３ａ，５３ｂは、励磁ヨーク５２ａ，５２ｂに所要巻数でそれぞれ巻回されるコイルであり、不図示の励磁電源に接続される。プローブ５４ａ，５４ｂは、サーチコイルやホール素子などの感磁素子であり、励磁ヨーク５２ａ，５２ｂの両磁極間にそれぞれ配置される。このような漏洩磁束探傷装置５では、励磁電源によって励磁コイル５３ａ，５３ｂを通電励磁することで、励磁ヨーク５２ａ，５２ｂを介して丸棒２が磁化される。そして、プローブ５４ａ，５４ｂは、丸棒２の表面の疵によって、磁化された丸棒２の表面から漏洩する磁束を検出する。また、一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂは、搬送される丸棒２の軸心を中心に、丸棒２の周方向に回転可能に構成される。漏洩磁束探傷装置５は、欠陥漏洩磁束の強さを示す信号であり、プローブ５４ａ，５４ｂにより検出された表面疵の深さに応じた信号を、疵信号として判定部６に出力する。
【００１６】
判定部６は、漏洩磁束探傷装置５から取得した疵信号と、記憶部７に記憶された疵信号とに基づいて、丸棒２の表面の疵の有無を判定する。また、判定部６は、漏洩磁束探傷装置５から取得した疵信号を記憶部７に出力する。
記憶部７は、判定部６から取得した疵信号を記憶し、記憶する疵信号を判定部６へと出力する。判定部６及び記憶部７は、中央処理装置（ＣＰＵ）、主記憶装置（内部記憶装置）、補助記憶装置（外部記憶装置）などから構成される計算機である。
【００１７】
＜表面疵検査方法＞
次に、図３〜図７を参照して、本実施形態に係る丸棒２の表面疵検査方法について説明する。本実施形態では、まず、図３に示すように、検出ループが開始される（Ｓ１００）。検出ループは、漏洩磁束探傷装置５へと丸棒２が搬送され、丸棒２の搬送方向下流側の先端が一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂに到達することで開始される。
【００１８】
検出ループでは、はじめに、漏洩磁束探傷装置５は、同一トラックＴｉにおける測定領域の疵信号を検出する（Ｓ１０２）。
ここで、漏洩磁束探傷装置５は、搬送される丸棒２に対して、一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂを回転させることで、丸棒２の表面全ての漏洩磁束を検出する。本実施形態では、漏洩磁束探傷装置５は、一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂの回転動作によって、図４に示すように、丸棒２の周方向に並んで等間隔に区分けされた８個の領域（「セクター」ともいう。）Ｓ１〜Ｓ８毎に漏洩磁束を検出する。また、漏洩磁束探傷装置５は、丸棒２の搬送動作によって、図５に示すように、丸棒２の長手方向に並んで等間隔に区分けされた領域（「トラック」ともいう。）Ｔｉ毎に漏洩磁束を検出する（ｉ＝１〜ｎ（自然数））。即ち、漏洩磁束探傷装置５は、一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂが１８０度回転することで、長手方向の１トラック分の領域について、丸棒２の外周全長となる８セクターＳ１〜Ｓ８毎に漏洩磁束を検出する。そして、一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂの所定の回転速度での回転動作、及び丸棒２の所定の搬送速度での搬送動作が連続して行われることで、丸棒２の全長・全周にわたって漏洩磁束が検出される。なお、図５に示すように、８個のセクターＳ１〜Ｓ８及び複数のトラックＴｉによって、丸棒２の長手方向及び周方向にそれぞれ区分された領域を測定領域という。漏洩磁束探傷装置５は、測定領域毎の疵信号を判定部６に出力する。
【００１９】
ステップＳ１０２では、判定部６は、１つのトラックＴｉにおいて測定領域となる８個のセクターＳ１〜Ｓ８の疵信号を取得する。
ステップＳ１０２の後、判定部６は、後述する疵判定処理によって、取得した８個の測定領域の疵信号に基づいて、各測定領域に応じた後述する判定領域Ｒｊにおける表面疵の有無を判定する（Ｓ１０４）。
次いで、全てのトラックＴｉについて、ステップＳ１０２及びＳ１０４の処理が行われることで、検出ループが終了し（Ｓ１０６）、表面疵検査装置１による疵判定が完了する。
【００２０】
次に、図６を参照して、ステップＳ１０４の疵判定処理について詳細に説明する。疵判定処理では、図６に示すように、まず、判定ループが開始される（Ｓ２００）。
判定ループでは、はじめに、判定部６は、判定領域Ｒｊの代表疵信号が第１の判定基準値以上か否かを判定する（Ｓ２０２）。ここで、判定領域Ｒｊは、同一トラックＴｉにおいて周方向に隣接する２つの測定領域からなる領域である。本実施形態では、セクターＳの数に応じて８個の判定領域Ｒ１〜Ｒ８が設定される。なお、各トラックＴｉにおいて、判定領域Ｒ１はセクターＳ１，Ｓ２の測定領域からなり、判定領域Ｒ２はセクターＳ２，Ｓ３の測定領域からなり、判定領域Ｒ３はセクターＳ３，Ｓ４の測定領域からなり、判定領域Ｒ４はセクターＳ４，Ｓ５の測定領域からなり、判定領域Ｒ５はセクターＳ５，Ｓ６の測定領域からなり、判定領域Ｒ６はセクターＳ６，Ｓ７の測定領域からなり、判定領域Ｒ７はセクターＳ７，Ｓ８の測定領域からなり、判定領域Ｒ８はセクターＳ８，Ｓ１の測定領域からなる。つまり、判定領域Ｒｊは、トラックＴｉで区分けされた領域において、丸棒２の周方向に隣り合う判定領域同士が重畳した状態で設定される。ステップＳ２０２では、判定部６は、取得した測定領域毎の疵信号から、判定が行われる判定領域Ｒｊの代表疵信号を決定し、予め設定される第１の判定基準値以上か否かを判定する。代表疵信号は、判定領域Ｒｊに含まれる２つの測定領域のうち大きい（信号の高さが高く、漏洩磁束が大きい）方の疵信号の値である。また、第１の判定基準値は、ノイズの影響を受けるおそれがないような値であり、例えば、Ｓ／Ｎ比で３となるような値に設定される。
【００２１】
ステップ２０２の判断の結果、判定領域Ｒｊの代表疵信号が第１の基準値未満となる場合、判定部６は、判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の判定基準値以上か否かを判定する（Ｓ２０４）。第２の判定基準値は、第１の判定基準値よりも小さい値に設定され、例えば、Ｓ／Ｎ比で２となるような値に設定される。
ステップＳ２０４の判断の結果、判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の基準値以上となる場合、判定部６は、第１の領域Ｄ１のトラック数が所定数以上か否かを判定する（Ｓ２０６）。第１の領域Ｄ１は、疵の有無が判定される判定領域Ｒｊを含む領域であり、代表疵信号が第２の判定基準値以上となる、少なくとも一つの判定領域Ｒである。また、第１の領域Ｄ１は、代表疵信号が第２の判定基準値以上となる複数の判定領域Ｒが長手方向に並んでいる場合には、長手方向に連続し、代表疵信号が第２の判定基準値以上となる複数の判定領域Ｒｊとなる。なお、本実施形態では、図３に示すように各トラックＴｉでの疵信号の検出が行われる度に、疵判定処理（Ｓ１０４）が行われるため、第１の領域Ｄ１の特定は、既に疵信号の検出が行われた判定領域Ｒｊのみを対象として行われる。
【００２２】
第１の領域Ｄ１について、図７を参照して説明する。図７には、セクターＳ１〜Ｓ８とトラックＴｉとで区分けされた測定領域における疵信号の検出結果を示す。なお、図７及び同様に疵信号の検出結果を示す図８において、「１」で示される測定領域は疵信号が第１の判定基準値以上となる測定領域を示し、「２」で示される測定領域は疵信号が第２の判定基準値以上で第１の判定基準値未満となる測定領域を示し、「３」で示される測定領域は疵信号が後述する第３の判定基準値以上で第２の判定基準値未満となる測定領域を示し、「−」で示される測定領域は疵信号が後述する第３の判定基準値未満となる測定領域を示す。また、さらに、図７及び図８に示す例では、トラックＴ１〜Ｔ１０について、判定領域Ｒ１〜Ｒ８における疵判定処理（ステップＳ１０４）が、搬送方向の下流側となるトラックＴ１から順にそれぞれ行われる。
【００２３】
ここで、図７のトラックＴ３の判定領域Ｒ１（「判定領域Ｒ１Ａ」ともいう。）において疵判定処理を行う場合について説明する。判定領域Ｒ１Ａの判定ループ（ステップＳ２００）では、判定領域Ｒ１Ａの代表疵信号が第２の判定基準値以上、第１の判定基準値未満となり、ステップＳ２０６において第１の領域Ｄ１の特定が行われる。ステップＳ２０６では、判定領域Ｒ１Ａの疵判定処理の時点において、判定領域Ｒ１Ａに長手方向に連続して位置し、代表疵信号が第２の判定基準値以上となる判定領域Ｒｊがないため、第１の領域Ｄ１として特定されるのは、判定領域Ｒ１Ａのみとなる（図７の第１の領域Ｄ１Ａ）。
【００２４】
また、図７のトラックＴ４の判定領域Ｒ４（「判定領域Ｒ４Ｂ」ともいう。）において疵判定処理を行う場合について説明する。判定領域Ｒ４Ｂの判定ループでは、判定領域Ｒ４Ｂの代表疵信号が第２の判定基準値以上、第１の判定基準値未満となり、ステップＳ２０６において第１の領域Ｄ１の特定が行われる。ステップＳ２０６では、判定領域Ｒ４Ｂの疵判定処理の時点において、判定領域Ｒ４Ｂに長手方向に連続して位置し、代表疵信号が第２の判定基準値以上となる判定領域Ｒｊは、トラックＴ２，Ｔ３の判定領域Ｒ４（「判定領域Ｒ４Ｄ，Ｒ４Ｃ」ともいう。）となる。このため、第１の領域Ｄ１として特定されるのは、判定領域Ｒ４Ｂ〜Ｒ４Ｄの３つの連続する判定領域となる（図７の第１の領域Ｄ１Ｂ）。
【００２５】
さらに、図７のトラックＴ４の判定領域Ｒ７（「判定領域Ｒ７Ｅ」ともいう。）において疵判定処理を行う場合について説明する。判定領域Ｒ７Ｅの判定ループでは、判定領域Ｒ７Ｅの代表疵信号が第２の判定基準値以上、第１の判定基準値未満となり、ステップＳ２０６において第１の領域Ｄ１の特定が行われる。ステップＳ２０６では、判定領域Ｒ７Ｅの疵判定処理の時点において、判定領域Ｒ７Ｅに長手方向に連続して位置し、代表疵信号が第２の判定基準値以上となる判定領域Ｒｊがないため、第１の領域Ｄ１として特定されるのは、判定領域Ｒ７Ｅのみとなる（図７の第１の領域Ｄ１Ｃ）。なお、図７に示すように、判定領域Ｒ７Ｅと隣り合うトラックＴ５の判定領域Ｒ７（「判定領域Ｒ７Ｆ」ともいう。）についても、代表疵信号が第２の判定基準値以上となるものであるが、トラックＴ４の疵処理信号を行う時点においてはトラックＴ５の疵信号の検出は行われていない状態となる。このため、判定領域Ｒ７Ｅの疵判定処理の段階では、第１の領域Ｄは判定領域Ｒ７Ｅの１つの判定領域となり、判定領域Ｒ７Ｆの疵判定処理の段階にて、第１の領域Ｄ１は判定領域Ｒ７Ｅ，Ｒ７Ｆの２つの判定領域となる。
【００２６】
第１の領域Ｄ１のトラック数は、第１の領域Ｄ１に含まれるトラックＴｉの数であり、第１の領域Ｄ１に含まれる判定領域Ｒｊの長手方向の数を示す。
ステップＳ２０６における所定数とは、連続疵と判定される長さに対応して決定される値であり、検出したい疵の長さと、トラックＴｉの長手方向の長さとから決定される。本実施形態では、一例として、所定数を４個とする。つまり、ステップＳ２０６では、判定部６は、判定するトラックＴｉの判定領域Ｒｊについて、記憶部７に記憶された同一のセクターＳにおける、疵信号の判定結果を取得する。そして、判定部６は、判定結果から第１の領域Ｄ１を決定し、第１の領域Ｄ１の長手方向の長さに相当するトラック数が４個以上であるか否かを判断する。
【００２７】
ステップＳ２０６の判断の結果、第１の領域Ｄ１のトラック数が所定数未満である場合、判定部６は、第１の領域Ｄ１と丸棒２の周方向の位置が等しい第２の領域Ｄ２が存在するか否かを判断する（Ｓ２０８）。第２の領域Ｄ２は、判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の判定基準値以上となる少なくとも一つの判定領域Ｒｊであり、代表疵信号が第２の閾値未満となる少なくとも一つの判定領域Ｒｊを介して、第１の領域Ｄ１と長手方向に並んだ判定領域Ｒｊである。また、第１の領域Ｄ１と同様に、代表疵信号が第２の閾値以上となる複数の判定領域Ｒｊが長手方向に連続して存在する場合には、この連続する全ての判定領域Ｒｊが第２の領域Ｄ２となる。
【００２８】
なお、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２との間にある領域を第３の領域Ｄ３という。第３の領域Ｄ３は、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２と丸棒２の周方向の位置が等しい領域であり、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２とそれぞれ隣接した状態となる。つまり、第１の領域Ｄ１、第３の領域Ｄ３及び第２の領域Ｄ２は、長手方向に順（Ｄ１→Ｄ３→Ｄ２）に連接して並ぶ領域であり、それぞれの領域に含まれるセクターＳが同じものとなる。
【００２９】
第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３について、図７を参照して説明する。例えば、図７において、トラックＴ９の判定領域Ｒ１（「判定領域Ｒ１Ｇ」ともいう。）にて疵判定処理が行われる場合、判定領域Ｒ１Ｇが第１の領域Ｄ１（Ｄ１Ｄ）と判断される。また、ステップＳ２０８では、トラックＴ５，Ｔ６の判定領域Ｒ１（「判定領域Ｒ１Ｈ，Ｒ１Ｉ」ともいう。）が第２の領域Ｄ２（Ｄ２Ｄ）と判断され、トラックＴ７，Ｔ８の判定領域Ｒ１（「判定領域Ｒ１Ｊ，Ｒ１Ｋ」ともいう。）が第３の領域Ｄ３（Ｄ３Ｄ）と判断される。
【００３０】
ステップＳ２０８の判断の結果、第２の領域Ｄ２が存在する場合、判定部６は、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たすか否かを判断する（Ｓ２１０）。連結条件とは、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２と第３の領域Ｄ３とが一つの連続疵として判断される条件であり、本実施形態では、第３の領域Ｄ３の全ての判定領域Ｒｊの代表疵信号が第３の判定基準値以上となる場合に連結可能と判断される。
【００３１】
ステップＳ２１０の判断の結果、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たす場合、判定部６は、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３のトラック数が所定数以上か否かを判定する（Ｓ２１２）。ステップＳ２１２では、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の３個の領域に対して、ステップＳ２０６での判定と同様な判定が行われる。ステップＳ２１２における、トラック数の所定数は、連続疵と判定される長さに対応して決定される値であり、検出したい疵の長さと、トラックＴｉの長手方向の長さとから決定される本実施形態では、一例として、ステップＳ２０６と同様に所定数を４個とする。つまり、ステップＳ２１２では、判定部６は、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の３領域を繋げた長手方向の長さに相当するトラック数が４個以上であるか否かを判定する。
【００３２】
ステップＳ２０４の判断の結果、判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の判定基準値未満となる場合、ステップＳ２０８の判断の結果、第２の領域Ｄ２が存在しない場合、ステップＳ２１０の判断の結果、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たさない場合、または、ステップＳ２１２の判断の結果、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３のトラック数が所定数未満となる場合、判定部６は判定領域Ｒｊにおいて丸棒２の表面に疵が無いと判定する（Ｓ２１４）。なお、ステップＳ２１４での判定は、判定をした判定領域Ｒｊを含むトラックＴでの疵信号の検出を行ったタイミングでの疵の有無の判定となる。このため、疵が無いと判定された判定領域Ｒｊであっても、その後の疵判定処理の結果によっては、疵有りと判定される場合がある。さらに、ステップＳ２１４では、判定部６は、判定結果を記憶部７へ出力する。
【００３３】
一方、ステップＳ２０２の判断の結果、判定領域Ｒｊの疵信号が第１の判定基準値以上となる場合、ステップＳ２０６の判断の結果、第１の領域Ｄ１のトラック数が所定数以上となる場合、または、ステップＳ２１２の判断の結果、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３のトラック数が所定数以上となる場合、判定部６は、少なくとも判定領域Ｒｊにおいて丸棒２の表面に疵があると判定する（Ｓ２１６）。この際、ステップＳ２０６の判断の結果から疵があると判定された場合、ステップＳ２０６での判定に用いられた、所定数以上の複数の判定領域Ｒｊからなる第１の領域Ｄ１において疵があると判定される。また、ステップＳ２１２の判断の結果から疵があると判定された場合、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の複数の判定領域Ｒｊの全てにおいて、疵があると判定される。さらに、ステップＳ２１６では、判定部６は、判定結果を記憶部７へ出力する。
【００３４】
ステップＳ２１４，Ｓ２１６の後、記憶部７は、判定領域Ｒｊにおける疵の有無についての判定結果を記憶する（Ｓ２１８）。この際、疵があると判定された判定領域Ｒｊについては、ステップＳ２０２、ステップＳ２０６及びステップＳ２１２のどこで判定された結果なのかについても記憶してもよい。
次いで、全ての判定領域Ｒｊについて、ステップＳ２０２〜Ｓ２１８の処理が行われることで、判定ループが終了する（Ｓ２２０）。
【００３５】
＜変形例＞
以上で、特定の実施形態を参照して本発明を説明したが、これら説明によって発明を限定することを意図するものではない。本発明の説明を参照することにより、当業者には、開示された実施形態の種々の変形例とともに本発明の別の実施形態も明らかである。従って、特許請求の範囲は、本発明の範囲及び要旨に含まれるこれらの変形例または実施形態も網羅すると解すべきである。
【００３６】
例えば、上記実施形態では、漏洩磁束探傷装置５が一対の探触ヘッド５１ａ，５１ｂを有する構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。設けられる探触ヘッドの数は、１個や３個以上であってもよい。
また、上記実施形態では、丸棒２が円形断面の棒鋼であるとしたが、本発明はかかる例に限定されない。丸棒２は、円形断面の長尺材であればよく、鋼管等であってもよい。
【００３７】
さらに、上記実施形態では、探触ヘッド５１ａ，５１ｂが、搬送される丸棒２の軸心を中心に、丸棒２の周方向に回転する構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。探触ヘッドが丸棒２の周方向に沿って相対的に回転するよう構成されていればよい。すなわち、探傷ヘッドを回転させずに固定し、ターニングローラ−によって丸棒２をその軸心を中心に回転させるようにしてもよいし、あるいは、探傷ヘッドと丸棒２との両方を丸棒の軸心を中心に回転させ、探傷ヘッドと丸棒２との回転方向を変えたり、回転速度を変えるようにしてもよい。
さらに、上記実施形態では、漏洩磁束探傷装置５は、搬送される丸棒２に対して、一対の探触ヘッドを回転させることで、漏洩磁束探傷装置５が丸棒２の表面全ての漏洩磁束を検出する構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。探触ヘッドが丸棒２の搬送を行わずに、探触ヘッドを丸棒２の長手方向に移動させるようにしてもよい。つまり、丸棒２と探触ヘッドとを、丸棒２の長手方向に相対的に移動させるようにすればよい。
【００３８】
さらに、上記実施形態では、８個のセクターＳ１〜Ｓ８に分割された測定領域で漏洩磁束を探傷する構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。測定領域は、丸棒２の周方向に対して複数に分割されていればよく、丸棒２の径の大きさや漏洩磁束探傷装置５の検出精度や仕様に応じて適宜設定される。例えば、測定領域は、丸棒２の周方向に２４個〜１３０個に分割された領域であってもよい。
【００３９】
さらに、上記実施形態では、判定領域Ｒｊは、周方向に並ぶ２つの測定領域からなる構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。判定領域Ｒｊは、特許文献１のように１つの測定領域であってもよく、周方向に並ぶ３つ以上の測定領域からなってもよい。なお、判定領域Ｒｊを周方向に並ぶ複数の測定領域とする場合、判定領域Ｒｊに含まれる測定領域の数は、想定される回転や振動による疵のずれの大きさや、測定領域の大きさなどによって適宜決定される。そして、判定領域Ｒｊを周方向に並ぶ複数の測定領域とすることで、丸棒２の搬送時に回転や振動が発生する場合でも、長手方向に連続する疵を精度よく検知することができる。また、判定領域Ｒｊが１つの測定領域である場合、各測定領域の疵信号を検出する度に、その測定領域を判定領域Ｒｊとして疵判定処理を行ってもよい。つまり、丸棒２の疵信号の検出動作と並行して疵判定処理を行ってもよい。さらに、判定領域Ｒｊが１つの測定領域である場合、代表疵信号は、当該測定領域における疵信号となる。また、判定領域Ｒｊが３つ以上の測定領域である場合、代表疵信号は、３つ以上の測定領域のうち疵信号が最も大きい（信号が高い）測定領域における疵信号となる。
【００４０】
さらに、上記実施形態では、ステップＳ２０６で第１の領域Ｄ１のトラック数が所定数以上の場合に、ステップＳ２１６の処理を行うとしたが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、ステップＳ２０６で第１の領域Ｄ１のトラック数が所定数以上の場合に、ステップＳ２０８と同じ処理をしてもよい。この場合、ステップＳ２０８と同じ処理において、第２の領域Ｄ２が存在しない場合には、ステップＳ２１６の処理を行い、第１の領域Ｄ１において疵があると判定される。一方、ステップＳ２０８と同じ処理において、第２の領域Ｄ２が存在する場合には、ステップＳ２１０と同じ処理が行われる。そして、ステップＳ２１０と同じ処理において、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たす場合、ステップＳ２１６の処理を行い、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３において疵があると判定される。一方、ステップＳ２１０と同じ処理において、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たさない場合、ステップＳ２１６の処理を行い、第１の領域Ｄ１において疵があると判定される。
【００４１】
さらに、上記実施形態では、ステップＳ２０６またはＳ２１２の後、ステップＳ２１６にて疵有りと判定される場合には、第１の領域Ｄ１または第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の３つの領域において疵があると判定するとしたが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、この場合、上記実施形態にて疵があると判定された領域と同じ周方向位置で隣接する判定領域Ｒｊにおいて、代表疵信号の高さが第３の判定基準値以上となる場合には、この判定領域Ｒｊにさらに疵があると判定されてもよい。この際、第３の判定基準値以上となる判定領域Ｒｊが長手方向に連続してある場合には、この複数の判定領域Ｒｊにおいて疵があると判定されてもよい。
【００４２】
さらに、上記実施形では、ステップＳ２１０において、第３の領域Ｄ３の全ての判定領域Ｒｊの代表疵信号が第３の判定基準値以上となる場合に連結可能と判断されるとしたが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たすか否かの判断は、第３の領域Ｄ３の長手方向の判定領域Ｒｊの数（トラック数）が、第１の領域Ｄ１及び第２の領域Ｄ２の少なくとも一方の長手方向の判定領域の数（トラック数）以下となる場合に、連結可能と判断されてもよい。また、このような判定領域の数に基づいた連結条件と、上記実施形態における連結条件とを両方用いて、いずれか一方の連結条件を満足する場合に、連結可能と判断されてもよい。
【００４３】
さらに、上記実施形態では、表面疵検査装置１は、丸棒２について疵の有無のみを判定する構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、表面疵検査装置１は、不図示のマーキング装置を備え、このマーキング装置を用いて疵があると判定された判定領域に、特許文献１のようにマーキングする構成であってもよい。
【００４４】
さらに、上記実施形態では、トラック単位で疵信号が検出された後にトラック単位で疵判定処理を行う構成としたが、本発明はかかる例に限定されない。例えば、ステップＳ１００の検出ループにおいて、ステップＳ１０２の処理のみを行い、丸棒２の全長全周にわたって疵信号の検出が行われた後に、その検出結果に基づいて疵の判定が行われてもよい。この場合、判定部６は、第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程を用いて疵の判定を行う。
【００４５】
第１の判定工程〜第３の判定工程について、図８及び図９を参照して説明をする。図８及び図９は、図７と同様に各測定領域における疵信号の検出結果をマッピングしたものである。図８に示す本変形例では、上記の変形例と同様に判定領域Ｒｊを１つの測定領域として、疵を検出するものとする。なお、図８及び図９に示す例では、判定領域を、セクターＳｋ（ｋ＝１〜８）とトラックＴｉとを用いて、ＲＳｋ，Ｔｉと示す。例えば、セクターＳ１、トラックＴ２となる測定領域を判定領域とする場合、この判定領域はＲＳ１，Ｔ２として示される。
【００４６】
（第１の判定工程）
第１の判定工程では、疵信号の高さが第１の判定基準値以上となる判定領域ＲＳｋ，Ｔｉにおいて、疵があると判定する。例えば、図８に示す例のセクターＳ１の範囲では、疵信号の高さが第１の判定基準値以上となる判定領域ＲＳ１，Ｔ２，ＲＳ１，Ｔ６，ＲＳ１，Ｔ７の３個の判定領域において、疵があると判定される。
【００４７】
（第２の判定工程）
第２の判定工程では、まず、疵信号の高さが第２の判定基準値以上となる、少なくとも一つの判定領域ＲＳｋ，Ｔｉまたは長手方向に連続する複数の判定領域ＲＳｋ，Ｔｉを第１の領域Ｄ１とする。このとき、疵信号の高さが第１の判定基準値以上となる判定領域ＲＳｋ，Ｔｉは第１の判定工程にて疵があると判定されるため、第２の判定工程では、疵信号の高さが第２の判定基準値以上、第１の判定基準値未満となる判定領域ＲＳｋ，Ｔｉが第１の領域Ｄ１と判定されてもよい。例えば、図８に示す例においてセクターＳ３〜Ｓ５の範囲では、判定領域ＲＳ３，Ｔ２〜判定領域ＲＳ３，Ｔ４の３個の判定領域、判定領域ＲＳ３，Ｔ６の１個の判定領域、判定領域ＲＳ５，Ｔ３〜判定領域ＲＳ５，Ｔ６の４個の判定領域が、それぞれ第１の領域Ｄ１となる。
【００４８】
次いで、第２の判定工程では、第１の領域Ｄ１が長手方向に連続する所定数以上の判定領域からなる場合に、この第１の領域Ｄ１に疵があると判定する。この判定は、上記実施形態におけるステップＳ２０６の処理と同様に行うことができる。例えば、図８に示す例においてセクターＳ３〜Ｓ５の範囲では、所定数を４とする場合、判定領域ＲＳ５，Ｔ３〜判定領域ＲＳ５，Ｔ６からなる第１の領域Ｄ１に疵があると判定される。また、それ以外の第１の領域Ｄ１については、第２の判定工程においては疵が無いと判定される。
また、例えば、図８のセクターＳ７の範囲に示すように、疵信号が第１の判定基準値以上となるものも含めて第１の領域Ｄ１としてもよい。この場合、判定領域ＲＳ７，Ｔ４〜判定領域ＲＳ７，Ｔ８の５個の領域が第１の領域Ｄ１となり、長手方向の判定領域の数が４個以上となることから、この第１の領域Ｄ１において疵があると判定されてもよい。
【００４９】
（第３の判定工程）
第３の判定工程では、まず、第２の判定工程と同様に第１の領域Ｄ１となる判定領域ＲＳｋ，Ｔｉが判定され、第１の領域Ｄ１に対して第２の領域Ｄ２となる判定領域ＲＳｋ，Ｔｉが存在するかが判断される。第２の領域Ｄ２は、上記実施形態と同様なものであり、ある第１の領域Ｄ１に対して、周方向の同じ位置に存在し、疵信号の高さが全て第２の判定基準値以上となる一つの判定領域ＲＳｋ，Ｔｉまたは長手方向に連続する複数の判定領域ＲＳｋ，Ｔｉである。また、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２との長手方向の間の判定領域ＲＳｋ，Ｔｉは、全て疵信号の高さが第２の判定基準値未満となる。つまり、間に疵信号の高さが第２の判定基準値未満となる判定領域ＲＳｋ，Ｔｉを介して長手方向に並んだ、２つの第１の領域Ｄ１について、一方が第１の領域Ｄ１となり、他方が第２の領域Ｄ２となる。この際、例えば、搬送方向の下流側（トラックの番号が若い側）の第１の領域Ｄ１を第２の領域Ｄ２と定義してもよい。例えば、図９に示す例のセクターＳ２の範囲では、判定領域ＲＳ２，Ｔ６〜判定領域ＲＳ２，Ｔ７の２個の判定領域からなる領域が第１の領域Ｄ１となり、判定領域ＲＳ２，Ｔ３の１個の判定領域からなる領域が第２の領域Ｄ２となる。
【００５０】
次いで、第３の判定工程では、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２との間の判定領域ＲＳｋ，Ｔｉである第３の領域Ｄ３が連結条件を満たすか否かを判断する。この判断は、上記実施形態におけるステップＳ２１０と同じように行われてもよく、また、上記の変形例のように第３の領域Ｄ３の判定領域の数（トラック数）に基づいて行われてもよい。例えば、図９のセクターＳ２の範囲では、判定領域ＲＳ２，Ｔ６〜判定領域ＲＳ２，Ｔ７を第１の領域Ｄ１とし、判定領域ＲＳ２，Ｔ３を第２の領域Ｄ２とする場合、第３の領域Ｄ３は、判定領域ＲＳ２，Ｔ４〜判定領域ＲＳ２，Ｔ５の２個の判定領域となる。この際、連結条件を上記実施形態と同様にする場合、第３の領域Ｄ３に含まれる判定領域ＲＳ２，Ｔ４〜判定領域ＲＳ２，Ｔ５の疵信号の高さは全て第３の判定基準値以上となるため、連結条件を満たすものとなる。また、図９のセクターＳ４の範囲では、判定領域ＲＳ４，Ｔ７〜判定領域ＲＳ４，Ｔ８を第１の領域Ｄ１とし、判定領域ＲＳ４，Ｔ２〜判定領域ＲＳ４，Ｔ４を第２の領域Ｄ２とする場合、第３の領域Ｄ３は、判定領域ＲＳ４，Ｔ５〜判定領域ＲＳ４，Ｔ６の２個の判定領域となる。この際、連結条件を上記の変形例のように第３の領域Ｄ３の判定領域の数に基づいて行う場合、第３の領域Ｄ３の判定領域の数は、第１の領域Ｄ１及び第２の領域Ｄ２の少なくとも一方の判定領域の数以上となるため、連結条件を満たすものとなる。さらに、図９のセクターＳ６の範囲では、判定領域ＲＳ６，Ｔ８〜判定領域ＲＳ６，Ｔ９を第１の領域Ｄ１とし、判定領域ＲＳ６，Ｔ３〜判定領域ＲＳ６，Ｔ４を第２の領域Ｄ２とする場合、第３の領域Ｄ３は、判定領域ＲＳ６，Ｔ５〜判定領域ＲＳ６，Ｔ７の３個の判定領域となる。この際、連結条件を上記実施形態と同様にする場合、第３の領域Ｄ３に含まれる判定領域ＲＳ４，Ｔ５〜判定領域ＲＳ４，Ｔ７の疵信号の高さは全て第３の判定基準値以上とならないため、連結条件を満たさないものとなる。
【００５１】
さらに、第３の判定工程では、従前の処理ステップにて第３の領域Ｄ３が連結条件を満たす場合、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３に疵があると判定する。一方、第３の領域Ｄ３が連結条件を満たさない場合、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３に、第３の判定工程では疵がないと判定する。つまり、図９に示す例では、判定領域ＲＳ２，Ｔ３〜判定領域ＲＳ２，Ｔ７の５個の判定領域と、判定領域ＲＳ４，Ｔ２〜判定領域ＲＳ４，Ｔ８の７個の判定領域とにおいて、疵があると判断される。
【００５２】
この変形例において、第１の判定工程〜第３の判定工程は、個別に行われてもよく、順に行われてもよい。そして、それぞれの判定工程での結果から、各判定領域Ｒｊにおいて、疵の有無が最終的に判断される。その後、第１の判定工程〜第３の判定工程の少なくともいずれかの判定工程において疵があると判定された判定領域Ｒｊには、疵があるとして最終的な判断が行われる。
また、この変形例において、上記実施形態と同様に、同一トラックＴｉにおいて周方向に隣接する複数の測定領域を判定領域Ｒｊとして、疵の有無の判断が行われてもよい。
【００５３】
＜実施形態の効果＞
（１）本発明の一態様に係る丸棒２の表面疵検査方法は、丸棒２を長手方向に搬送しながら、漏洩磁束探傷装置５の探触ヘッド５１ａ，５１ｂを丸棒２の周方向に沿って回転させて、丸棒２の表面における、長手方向及び周方向にそれぞれ区分けされた複数の測定領域について漏洩磁束を検出することで疵信号を検出する探傷工程と、少なくとも一つの測定領域を含み、周方向及び長手方向に並ぶ複数の判定領域Ｒｊについて、判定領域Ｒｊに含まれる測定領域の最も大きな疵信号である代表疵信号に基づいて、丸棒２の表面に疵があることを判定する判定工程と、を備える。判定工程には、丸棒２の表面に疵があることを判定する第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程が含まれる。第１の判定工程では、代表疵信号の高さが、第１の判定基準値以上となる判定領域Ｒｊに疵があると判定する（例えば、ステップＳ２０２）。第２の判定工程では、判定領域Ｒｊの代表疵信号の高さが第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる、一つの判定領域Ｒｊまたは長手方向に連続する複数の判定領域Ｒｊを第１の領域Ｄ１とし、第１の領域Ｄ１が長手方向に連続する複数の判定領域Ｒｊからなる場合で、且つ第１の領域Ｄ１の判定領域Ｒｊの数が所定数以上の場合に、第１の領域Ｄ１の判定領域Ｒｊに疵があると判定する（例えば、ステップＳ２０６）。第３の判定工程では、判定領域Ｒｊの代表疵信号の高さが第２の判定値以上となる、一つの判定領域Ｒｊまたは長手方向に連続する複数の判定領域Ｒｊであり、第１の領域Ｄ１と周方向の位置が等しい判定領域Ｒｊを、第２の領域Ｄ２とし、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２との間の判定領域Ｒｊを第３の領域Ｄ３とし、第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに第３の領域Ｄ３の長手方向の判定領域Ｒｊの数が第１の領域Ｄ１及び第２の領域Ｄ２の少なくとも一方の長手方向の判定領域Ｒｊの数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊの数が所定数以上の場合に、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊに疵があると判定する（例えば、ステップＳ２０８〜Ｓ２１２）。
【００５４】
ここで、表面に疵がある場合における、疵信号の検出結果の一例を図１０に示す。図１０において、点線で示す疵信号の検出結果は、疵信号の高さが第２の判定基準値以上となる連続疵が、長手方向に断続的に２ヶ所ある場合を示す。また、図１０において、実線で示す疵信号の検出結果は、疵信号が長手方向の中央にて部分的に第２の判定基準値未満、第３の判定基準値以上となる場合を示す。この実線で示す連続疵は、鋳片等の素材に起因する欠陥である場合等に発生し易く、特許文献１，２に示すような従来の疵検出方法では、疵信号の高さが第２の判定基準値未満となる第３の領域Ｄ３に疵があると判定されないものであった。
【００５５】
しかし、上記（１）の構成によれば、第３の判定工程において、第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合に、第３の領域Ｄ３に疵があると判定することで、このような連続疵を検出できるようになる。また、図１０の実線に示すような連続疵では、第３の領域Ｄ３の長手方向の長さは、連続疵の長手方向の全体の長さに対して短いものとなる。このため、第３の判定工程において、第１の領域Ｄ１及び第２の領域Ｄ２の少なくとも一方の判定領域Ｒｊの数以下となる場合に、第３の領域Ｄ３に疵がある判定することで、このような連続疵を検出できるようになる。なお、この判定の場合、第３の判定基準値を用いたものよりも、検出感度が高くなるが、疵の検出を簡便に行うことができる。
【００５６】
これにより、長手方向に連続した疵を精度よく検出することができ、長さのある表面疵がある不適合材の流出を防止することができる。さらに、製造者に対して金額的な損失を与えるだけでなく、製造者の社会的信用を失墜させる可能性がある、不適合材の大量流出を防止することができる。
また、上記（１）の構成では、連続した浅い疵を検出する際に、第２の判定工程と第３の判定工程とを行う。ここで、疵信号の高さが第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる連続疵を検出する場合、第２の判定工程において、用いる第２の判定基準値を上記実施形態における第３の判定基準値まで低くすれば、連続疵を検出することができる。しかし、この場合、問題とならない程度に浅くて長い疵等が検出されることから、検出感度が高くなり過ぎ、過検出となる。これに対して、上記（１）の構成によれば、第２の判定工程と第３の判定工程とを用いることで、過検出となることを抑制することができる。
【００５７】
（２）上記（１）の構成において、判定領域Ｒｊは、周方向に連なる複数の測定領域からなる。
上記（２）の構成によれば、周方向に連なる複数の測定領域での疵信号の検出結果に基づいて判定が行われるため、周方向における測定領域間の継ぎ目をなくすことができる。このため、搬送中の丸棒２が回転または振動する場合や、疵が測定領域の境界に位置する場合などにおいても、長手方向に連続した疵を精度よく検出することができる。
【００５８】
（３）本発明の一態様に係る丸棒２の表面疵検査装置１は、探触ヘッド５１ａ，５１ｂを有し、丸棒２を長手方向に搬送しながら、探触ヘッド５１ａ，５１ｂを丸棒２の周方向に沿って回転させて、丸棒２の表面における、長手方向及び周方向にそれぞれ区分けされた複数の測定領域について漏洩磁束を検出することで疵信号を検出する漏洩磁束探傷装置５と、少なくとも一つの測定領域を含み、周方向及び長手方向に並ぶ複数の判定領域Ｒｊについて、判定領域Ｒｊに含まれる測定領域の最も大きな疵信号である代表疵信号に基づいて、丸棒２の表面に疵があることを判定する判定部６と、を備える。判定部６は、丸棒２の表面に疵があることを判定する第１の判定工程、第２の判定工程及び第３の判定工程を行う。第１の判定工程では、代表疵信号の高さが、第１の判定基準値以上となる判定領域Ｒｊに疵があると判定する（例えば、ステップＳ２０２）。第２の判定工程では、判定領域Ｒｊの代表疵信号の高さが第１の判定基準値よりも低い第２の判定基準値以上となる、一つの判定領域Ｒｊまたは長手方向に連続する複数の判定領域Ｒｊを第１の領域Ｄ１とし、第１の領域Ｄ１が長手方向に連続する複数の判定領域Ｒｊからなる場合で、且つ第１の領域Ｄ１の判定領域Ｒｊの数が所定数以上の場合に、第１の領域Ｄ１の判定領域Ｒｊに疵があると判定する（例えば、ステップＳ２０６）。第３の判定工程では、判定領域Ｒｊの代表疵信号の高さが第２の判定値以上となる、一つの判定領域Ｒｊまたは長手方向に連続する複数の判定領域Ｒｊであり、第１の領域Ｄ１と周方向の位置が等しい判定領域Ｒｊを、第２の領域Ｄ２とし、第１の領域Ｄ１と第２の領域Ｄ２との間の判定領域Ｒｊを第３の領域Ｄ３とし、第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊの代表疵信号が第２の判定基準値未満で第３の判定基準値以上となる場合、並びに第３の領域Ｄ３の長手方向の判定領域Ｒｊの数が第１の領域Ｄ１及び第２の領域Ｄ２の少なくとも一方の長手方向の判定領域Ｒｊの数以下となる場合の少なくとも一方の場合で、且つ第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊの数が所定数以上の場合に、第１の領域Ｄ１、第２の領域Ｄ２及び第３の領域Ｄ３の判定領域Ｒｊに疵があると判定する（例えば、ステップＳ２０８〜Ｓ２１２）。
上記（３）の構成によれば、上記（１）と同様な効果が得られる。
【符号の説明】
【００５９】
１  表面疵検査装置
２  丸棒
３  搬送ロール
４  ピンチロール
５  漏洩磁束探傷装置
５１ａ，５１ｂ  探触ヘッド
５２ａ，５２ｂ  励磁ヨーク
５３ａ，５３ｂ  励磁コイル
５４ａ，５４ｂ  プローブ
６  判定部
７  記憶部
【図１】
2020261554.tif 000003
【図２】
2020261554.tif 000004
【図３】
2020261554.tif 000005
【図４】
2020261554.tif 000006
【図５】
2020261554.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
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