【手続補正書】
【提出日】平成21年4月10日(2009.4.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のピクセルと、各ピクセル回路に対してピクセル・データを提供するためのソースとを含む発光デバイス・ディスプレイにおける非一様性を補償するためのシステムであって、
前記ディスプレイの動作中の第１のピクセル回路の部分からの読み取り電気的データを測定するためにディスプレイに接続される回路と、
第１のピクセル回路の劣化を前記第１のピクセル回路の部分から読み取った測定データに基づいて評価するための評価モジュールと、
前記第１のピクセル回路の劣化の前記評価に基づいて前記第１ピクセル回路または第２のピクセル回路に印加される前記ピクセル・データを補正するための補償モジュールと、
を含むシステム。
【請求項２】
前記修正モジュールは、劣化したピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化したピクセル回路の明度が劣化していないピクセル回路の明度と整合するように増加するための一定明度アルゴリズムを実装する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記修正モジュールは、劣化していないピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化していないピクセル回路の明度が劣化しているピクセル回路のそれと整合するように減少するための減少明度アルゴリズムを実装する、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記評価モジュールおよび前記補償モジュールのうちの少なくとも１つは、一定明度アルゴリズムに従って補正ファクタを生成する、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記評価モジュールおよび前記補償モジュールのうちの少なくとも１つは、減少明度アルゴリズムに従って補正ファクタを生成する、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価モジュールは、前記１または１を超える数のトランジスタから測定された前記電気的データに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
【請求項７】
前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価モジュールは、前記１または１を超える数のトランジスタから測定された第１の電気的データ、前記発光デバイスから測定された第２の電気的データ、またはそれらの組み合わせに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価し、前記第２の電気的データは、前記トランジスタからの前記測定と別々に測定される、請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
【請求項８】
前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価モジュールは、前記第１のピクセル回路から読み取られ、かつ前記１または１を超える数のトランジスタ、前記発光デバイス、またはそれらの組み合わせに関連付けされる電気的データに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１〜５のうちのいずれか１項に記載のシステム。
【請求項９】
前記修正モジュールは、前記測定のタイミング、前記補正のタイミング、またはそれらの組み合わせを動的に割り付ける、請求項１に記載のシステム。
【請求項１０】
前記修正モジュールは、補償データまたは前記測定をストアするためのメモリを含む、請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
前記評価モジュールは、１つまたは複数の追加の測定入力、１つまたは複数の経験的パラメータ、またはそれらの組み合わせとともに、第１の回路の部分からの測定データを基礎として前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１に記載のシステム。
【請求項１２】
前記１つまたは複数の追加の測定入力は、１つまたは複数の電流プログラミング・ピクセルからの電圧の読み、１つまたは複数の電圧プログラミング・ピクセルからの電流の読み、周囲光の測定、湿度測定、温度測定、機械的応力測定、環境応力測定、および前記ディスプレイ上のテスト構造からのフィードバックのうちの少なくとも１つを含む、請求項１１に記載のシステム。
【請求項１３】
前記１つまたは複数の経験的パラメータは、効率の低下に起因する前記ピクセル回路の発光デバイス内における明度損失（ΔＬ）、発光デバイス・ダイオード電圧における経時的なシフト（ΔＶｏｌｅｄ）、スレッショルド・シフトにおける動的な効果、スレッショルドを含むピクセル・トランジスタのパフォーマンスに関係するパラメータ、スレッショルドのシフト、モビリティ（μ）、ピクセル間の非一様性、ピクセル回路内のＤＣバイアス電圧、電流ミラー・ベースのピクセル回路の利得変化、ピクセル回路パフォーマンスの短期および長期ベースのシフト、ＩＲ降下およびグラウンド・バウンスに起因するピクセル回路の動作電圧の変動のうちの少なくとも１つを含む、請求項１１に記載のシステム。
【請求項１４】
前記システムは、前記ディスプレイ内における処理または組み立ての非同一、１つまたは複数のピクセル回路の老化、またはそれらの組み合わせに起因する非一様性を補償する、請求項１に記載のシステム。
【請求項１５】
前記補償モジュールは、グレイスケール値を予約するべく前記第１または第２のピクセル回路に印加される輝度データに関するグレイスケール圧縮アルゴリズムを実装するためのグレイスケール圧縮モジュールを含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項１６】
前記グレイスケール圧縮アルゴリズム・モジュールは、オリジナルの輝度データより低い輝度値を使用するように前記輝度データを変換する、請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】
前記トランジスタは、薄膜トランジスタである、請求項６、７、または８に記載のシステム。
【請求項１８】
前記発光デバイスは、有機発光デバイスである、請求項６、７、または８に記載のシステム。
【請求項１９】
複数のピクセルを有する発光デバイス・ディスプレイ内の非一様性を補償する方法であって、
前記ディスプレイの動作中において、第１のピクセル回路の部分から直接読み取られた電気的データを測定するステップと、
前記第１のピクセル回路の劣化を前記第１のピクセル回路の部分から読み取った測定データに基づいて評価するステップと、
前記第１のピクセル回路の劣化の前記評価に基づいて前記第１または第２のピクセル回路に印加されるピクセル・データを補正するステップと、
を包含する方法。
【請求項２０】
前記補正するステップは、
劣化したピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化したピクセル回路の明度が劣化していないピクセル回路のそれと整合するように増加することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記補正するステップは、
劣化していないピクセル回路に印加される輝度データを、前記劣化していないピクセル回路の明度が劣化していないピクセル回路のそれと整合するように減少することを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２２】
前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、
前記測定するステップは、前記１または１を超える数のトランジスタから第１の電気的データを測定することを含む、請求項１９〜２１のうちのいずれか１項に記載の方法。
【請求項２３】
請求項２２に記載の方法において、
さらに、
前記１または１を超える数のトランジスタからの測定だけに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価するステップを含む、方法。
【請求項２４】
請求項２２に記載の方法において、
前記測定するステップは、
前記発光デバイスから第２の電気的データを測定するステップであって、前記第２の電気的データは、前記第１の電気的データの前記測定と別に測定されるステップを含み、
前記評価するステップは、前記第１の電気的データ、前記第２の電気的データ、またはそれらの組み合わせに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価するステップを含む、方法。
【請求項２５】
前記ピクセル回路は、１または１を超える数のトランジスタおよび発光デバイスを含み、前記評価するステップは、前記第１のピクセル回路から読み取られ、かつ前記１または１を超える数のトランジスタ、前記発光デバイス、またはそれらの組み合わせに関連付けされる前記電気的データに基づいて前記第１のピクセル回路の劣化を評価する、請求項１９〜２１のうちのいずれか１項に記載の方法。
【請求項２６】
さらに、前記測定のタイミング、前記補正のタイミング、またはそれらの組み合わせを動的に割り付ける、請求項１９に記載の方法。
【請求項２７】
さらに、１つまたは複数のグレイスケール値を予約するべく前記第１または第２のピクセル回路に印加される輝度データのグレイスケール値を圧縮するステップを含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２８】
前記圧縮するステップは、オリジナルの輝度データより低い輝度値を使用するように前記輝度データを変換するステップを含む、請求項２７に記載の方法。