(57)【要約】  Ｘ線検査装置（１）は、Ｘ線照射部（６）と、Ｘ線を検出するＸ線検出部（７）と、Ｘ線の検出結果から作成される画像に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを、複数のアルゴリズムを用いて判定する制御部（１０）と、を備える。制御部（１０）は、複数のアルゴリズムのうちの第１アルゴリズムを用いて、画像に対して第１処理を実施することにより、物品に異物が含まれているか否かを判定し、複数のアルゴリズムのうちの第２アルゴリズムを用いて、画像に対して第２処理を実施することにより、物品に異物が含まれているか否かを判定し、第１処理及び第２処理のそれぞれの判定結果に共通する異物が物品に含まれている場合に、物品に異物が含まれていると判定する。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品に電磁波を照射する照射部と、  前記電磁波を検出する検出部と、  前記検出部の検出結果から作成される画像に基づいて、前記物品に異物が含まれているか否かを、複数のアルゴリズムを用いて判定する処理部と、を備え、  前記処理部は、    複数の前記アルゴリズムのうちの第１アルゴリズムを用いて、前記画像に対して第１処理を実施することにより、前記物品に前記異物が含まれているか否かを判定し、    複数の前記アルゴリズムのうちの第２アルゴリズムを用いて、前記画像に対して第２処理を実施することにより、前記物品に前記異物が含まれているか否かを判定し、    前記第１処理及び前記第２処理のそれぞれの判定結果に共通する前記異物が前記物品に含まれている場合に、前記物品に前記異物が含まれていると判定する、検査装置。
【請求項２】
前記処理部は、前記第１処理において、第１閾値に基づいて前記異物を判定すると共に、前記第２処理において、前記第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて前記異物を判定する、請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記検出部は、前記物品を透過した第１エネルギー帯の電磁波、及び、前記物品を透過した第２エネルギー帯の電磁波を検出し、  前記処理部は、前記第１処理及び前記第２処理の少なくとも一方の処理において、前記第１エネルギー帯の電磁波の第１検出結果、及び、前記第２エネルギー帯の電磁波の第２検出結果から作成される前記画像に基づいて、前記物品に異物が含まれているか否かを判定する、請求項１又は２に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  従来の検査装置としては、例えば、特許文献１に記載されている装置が知られている。特許文献１に記載の検査装置は、物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、Ｘ線を検出するＸ線検出部と、を備え、Ｘ線の検出結果に基づいて作成されたＸ線画像に対して画像処理を施して物品の検査を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】国際公開第２００６／００１１０７号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】  検査装置では、検出精度の向上が求められている。検査装置では、検出精度を高める場合、物品に含まれる異物を検出するための判定条件を厳しくする（判定閾値を変更する）。しかしながら、判定条件を厳しくすると、異物以外の物質を異物として誤検出するおそれがある。その結果、歩留まりが低下するおそれがある。【０００５】  本発明の一側面は、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生を抑制できる検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】  本発明の一側面に係る検査装置は、物品に電磁波を照射する照射部と、電磁波を検出する検出部と、検出部の検出結果から作成される画像に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを、複数のアルゴリズムを用いて判定する処理部と、を備え、処理部は、複数のアルゴリズムのうちの第１アルゴリズムを用いて、画像に対して第１処理を実施することにより、物品に異物が含まれているか否かを判定し、複数のアルゴリズムのうちの第２アルゴリズムを用いて、画像に対して第２処理を実施することにより、物品に異物が含まれているか否かを判定し、第１処理及び第２処理のそれぞれの判定結果に共通する異物が物品に含まれている場合に、物品に異物が含まれていると判定する。【０００７】  本発明の一側面に係る検査装置では、処理部は、第１処理及び第２処理のそれぞれの判定結果に共通する異物が物品に含まれている場合に、物品に異物が含まれていると判定する。このように、検査装置では、異なる２つのアルゴリズムによって判定された結果を利用することにより、例えば、第１処理では異物を含むと判定した判定結果と、第２処理において異物を含まないと判定した判定結果と、を用いて最終的に異物の有無を判定する。これにより、検査装置では、判定条件を厳しくした結果、第１処理において異物を含むと判定した場合であっても、第２処理において異物を含まないと判定した場合には、物品に異物が含まれていると判定しない。したがって、検査装置では、判定条件を厳しくした場合であっても、異物の誤検出の発生を抑制できる。その結果、検査装置では、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生を抑制できる。【０００８】  一実施形態においては、処理部は、第１処理において、第１閾値に基づいて異物を判定すると共に、第２処理において、第１閾値とは異なる第２閾値に基づいて異物を判定してもよい。この構成では、異なる２つの閾値に基づいて異物を判定する。そのため、検査装置では、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生をより一層抑制できる。【０００９】  一実施形態においては、検出部は、物品を透過した第１エネルギー帯の電磁波、及び、物品を透過した第２エネルギー帯の電磁波を検出し、処理部は、第１処理及び第２処理の少なくとも一方の処理において、第１エネルギー帯の電磁波の第１検出結果、及び、第２エネルギー帯の電磁波の第２検出結果から作成される画像に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定してもよい。この構成では、２つの異なるエネルギー帯の検出結果から作成された画像を使用するため、異物をより一層精度良く検出できる。
【発明の効果】
【００１０】  本発明の一側面によれば、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生を抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、一実施形態に係るＸ線検査装置の構成図である。
【図２】図２は、図１に示されるシールドボックスの内部の構成図である。
【図３】図３（ａ）及び図３（ｂ）は、透過画像を示す図である。
【図４】図４は、制御部の動作を示すフローチャートである。
【図５】図５（ａ）、図５（ｂ）及び図５（ｃ）は、画像処理後の画像を示す図である。
【図６】図６は、異物判定の一例を示す図である。
【図７】図７は、異物判定の一例を示す図である。
【図８】図８は、判定結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】  以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、図面の説明において同一又は相当要素には同一符号を付し、重複する説明は省略する。
【００１３】  図１に示されるように、Ｘ線検査装置（検査装置）１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送部５と、Ｘ線照射部（照射部）６と、Ｘ線検出部（検出部）７と、表示操作部８と、制御部（処理部）１０と、を備えている。
【００１４】  Ｘ線検査装置１は、物品Ａを搬送しつつ物品ＡのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ａの検査（例えば、収納数検査、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等）を行う。検査前の物品Ａは、搬入コンベア５１によってＸ線検査装置１に搬入される。検査後の物品Ａは、搬出コンベア５２によってＸ線検査装置１から搬出される。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ａは、搬出コンベア５２の下流に配置された振分装置（図示省略）によって生産ライン外に振り分けられる。Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ａは、当該振分装置をそのまま通過する。
【００１５】  装置本体２は、制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられている。シールドボックス４は、外部へのＸ線の漏洩を防止する。シールドボックス４の内部には、Ｘ線による物品Ａの検査が実施される検査領域Ｒが設けられている。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ａは、搬入コンベア５１から搬入口４ａを介して検査領域Ｒに搬入される。検査後の物品Ａは、検査領域Ｒから搬出口４ｂを介して搬出コンベア５２に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。
【００１６】  搬送部５は、シールドボックス４内に配置されている。搬送部５は、搬入口４ａから検査領域Ｒを介して搬出口４ｂまで、搬送方向Ｄに沿って物品Ａを搬送する。搬送部５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。
【００１７】  図１及び図２に示されるように、Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線照射部６は、搬送部５によって搬送される物品ＡにＸ線（電磁波）を照射する。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ｄに垂直な面内において扇状に広げるコリメータと、を有している。
【００１８】  Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線検出部７は、第１ラインセンサ１１と、第２ラインセンサ１２と、を有している。第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２は、それぞれ、搬送方向Ｄに垂直な水平方向に沿って一次元に配列されたＸ線検出素子によって構成されている。第１ラインセンサ１１は、物品Ａ及び搬送部５の搬送ベルトを透過した低エネルギー帯（第１エネルギー帯）のＸ線を検出する。第２ラインセンサ１２は、物品Ａ、搬送部５の搬送ベルト及び第１ラインセンサ１１を透過した高エネルギー帯（第２エネルギー帯）のＸ線を検出する。
【００１９】  図１に示されるように、表示操作部８は、装置本体２に設けられている。表示操作部８は、各種情報を表示すると共に、各種条件の入力を受け付ける。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。
【００２０】  制御部１０は、装置本体２内に配置されている。制御部１０は、Ｘ線検査装置１の各部の動作を制御する。制御部１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）等で構成されている。制御部１０には、Ｘ線検出部７の第１ラインセンサ１１（図２参照）から低エネルギー帯のＸ線の検出結果（第１検出結果）が入力されると共に、Ｘ線検出部７の第２ラインセンサ１２（図２参照）から高エネルギー帯のＸ線の検出結果（第２検出結果）が入力される。制御部１０は、Ｘ線の検出結果から作成される画像に基づいて、物品Ａに異物が含まれているか否かを、複数の画像処理アルゴリズムを用いて判定する処理部として機能する。
【００２１】  制御部１０は、第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２の検出結果に基づいて、透過画像を生成する。図３（ａ）に示されるように、制御部１０は、第１ラインセンサ１１の低エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、透過画像Ｇ１を生成する。透過画像Ｇ１は、比較的コントラストが高く、全体的に暗くなっている。図３（ｂ）に示されるように、制御部１０は、第２ラインセンサ１２の高エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、透過画像Ｇ２を生成する。透過画像Ｇ２は、比較的コントラストが低く、全体的に明るくなっている。なお、図３（ａ）及び図３（ｂ）では、異物Ｆとして判定され得る物質も異物Ｆとして示している。
【００２２】  制御部１０は、複数の画像処理アルゴリズムを用い、透過画像Ｇ１，Ｇ２の処理（画像処理）を行って処理画像を生成する。画像処理アルゴリズムとは、透過画像Ｇ１，Ｇ２に施す画像処理の処理手順を示す型である。画像処理アルゴリズムは、１つの画像処理フィルタ、又は、複数の画像処理フィルタの組み合わせによって構成される。複数の画像処理アルゴリズムは、インターネット等のネットワークを介して外部から取得することができる。また、複数の画像処理アルゴリズムは、ＵＳＢメモリ又はリムーバブルハードディスク等の外部記憶媒体から取得することもできる。複数の画像処理アルゴリズムのうちの少なくとも１つ以上は、生物界における遺伝及び進化のメカニズムを応用した手法である遺伝的アルゴリズム（GA＝Genetic  Algorithms）を採用して、Ｘ線検査装置１の仕様又は検査条件等に基づき複数の画像処理フィルタから自動生成することができる。複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも一部は、作業者が表示操作部８を介して適宜設定することもできる。
【００２３】  制御部１０は、２つの画像処理アルゴリズムを用いて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。具体的には、図４に示されるように、制御部１０は、複数の画像処理アルゴリズムのうちの第１画像処理アルゴリズム（第１アルゴリズム）を用いて、透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２に対して第１処理を実施することにより、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する（第１処理：ステップＳ０１）。詳細には、制御部１０は、例えば、複数の画像処理アルゴリズムにおいて感度レベルが「１〜７」に設定されている場合、感度レベルが「４」の画像処理アルゴリズムを、第１画像処理アルゴリズムとして適用する。
【００２４】  制御部１０は、複数の画像処理アルゴリズムのうちの第２画像処理アルゴリズム（第２アルゴリズム）を用いて、透過画像Ｇ２（透過画像Ｇ１）に対して第２処理を実施することにより、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する（第２処理：ステップＳ０２）。詳細には、本実施形態では、制御部１０は、第２画像処理アルゴリズムとして、遺伝的アルゴリズムを採用して生成されたアルゴリズムを適用する。制御部１０は、第１処理及び第２処理のそれぞれの判定結果に共通する異物Ｆが物品Ａに含まれている場合に、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する（異物判定：ステップＳ０３）。
【００２５】［第１処理］  最初に、第１画像処理アルゴリズムによる第１処理の処理手順について説明する。第１画像処理アルゴリズムは、物品Ａに応じて、例えばオペレータによって選択される。第１処理では、透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２の２つの画像を使用して、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
【００２６】  制御部１０は、透過画像Ｇ１と透過画像Ｇ２の大きさ、輝度、位置等を合わせる処理を行い、当該処理を行った透過画像Ｇ１の輝度値と透過画像Ｇ２の輝度値とを各画素で除算することにより、透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２の差異を抽出する処理を行う。
【００２７】  制御部１０は、ノイズが除去された処理画像Ｇ３（図５（ａ）参照）を生成し、一定の値を閾値として２値化し、異物Ｆのみが抽出された２値化画像Ｇ４（図５（ｂ）参照）を生成する（２値化）。制御部１０は、２値化画像Ｇ４と透過画像Ｇ２とを重ね合わせて、判定画像Ｇ５（図５（ｃ）参照）を生成する。
【００２８】  制御部１０は、第１画像処理アルゴリズムによって生成された判定画像Ｇ５に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。図６に示されるように、制御部１０は、判定画像Ｇ５において、輝度値が第１閾値Ｔ１を超えている場合には、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する。本実施形態では、制御部１０は、第１処理において、物品Ａに２つの異物Ｆが含まれていると判定する。制御部１０は、第１処理による第１判定結果を記憶部に記憶させる。なお、第１閾値Ｔ１は、物品Ａの性質に応じて、試験等によって適宜設定される。具体的には、第１閾値Ｔ１は、異物が混入されたサンプルを用いて設定することができる。
【００２９】［第２処理］  続いて、第２画像処理アルゴリズムによる第２処理の処理手順について説明する。第２画像処理アルゴリズムは、物品Ａに応じて、例えばオペレータによって選択される。第２処理では、透過画像Ｇ２を使用して、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
【００３０】  制御部１０は、第２画像処理アルゴリズムに基づいて透過画像Ｇ２に所定の画像処理を行い、画像処理して得られた判定画像に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。所定の画像処理は、例えば、透過画像Ｇ２の２値化処理等である。
【００３１】  制御部１０は、第２画像処理アルゴリズムによって生成された判定画像に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。図７に示されるように、制御部１０は、判定画像において、輝度値が第２閾値Ｔ２を超えている場合には、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する。第２閾値Ｔ２は、第１閾値Ｔ１とは異なる値に設定されている。本実施形態では、制御部１０は、第２処理において、物品Ａに１つの異物Ｆが含まれていると判定する。制御部１０は、第２処理による第２判定結果を記憶部に記憶させる。なお、第２閾値は、物品Ａの性質に応じて、試験等によって適宜設定される。
【００３２】［異物判定］  制御部１０は、第１処理の判定結果と第２処理の判定結果とに共通する異物Ｆが物品Ａに含まれている場合に、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する。制御部１０は、第１判定結果と第２判定結果とに基づいて、異物Ｆの有無を判定する。本実施形態では、第１処理の判定結果において２つの異物Ｆが混入していることが検出されており、第２処理の判定結果において１つの異物Ｆが混入していることが検出されている。制御部１０は、第１処理及び第２処理の判定結果に共通する異物Ｆが存在する場合、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する。
【００３３】  制御部１０は、異物検出の判定後、判定結果を表示操作部８に表示させる。図８に示されるように、表示操作部８には、判定結果画像及び判定結果「ＯＫ（良品）」又は「ＮＧ（不良品）」が表示される。表示操作部８においては、異物Ｆを含む領域が囲われて表示される。また、制御部１０は、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定した場合、振分装置に対して、当該物品Ａの振り分けを指示する指示信号を出力する。
【００３４】  以上説明したように、本実施形態に係るＸ線検査装置１では、制御部１０は、第１処理及び第２処理のそれぞれの判定結果に共通する異物Ｆが物品Ａに含まれている場合に、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する。このように、Ｘ線検査装置１では、異なる２つの画像処理アルゴリズムによって判定された結果を利用することにより、例えば、第１処理では異物Ｆを含むと判定した判定結果と、第２処理において異物Ｆを含まないと判定した判定結果と、を用いて最終的に異物Ｆの有無を判定する。これにより、Ｘ線検査装置１では、判定条件を厳しくした結果、第１処理において異物Ｆを含むと判定した場合であっても、第２処理において異物Ｆを含まないと判定した場合には、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定しない。したがって、Ｘ線検査装置１では、判定条件を厳しくした場合であっても、異物Ｆの誤検出の発生を抑制できる。その結果、Ｘ線検査装置１では、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生を抑制できる。これにより、Ｘ線検査装置１では、歩留まりの低下を回避できる。
【００３５】  本実施形態に係るＸ線検査装置１では、制御部１０は、第１処理において、第１閾値Ｔ１に基づいて異物Ｆを判定すると共に、第２処理において、第１閾値Ｔ１とは異なる第２閾値Ｔ２に基づいて異物Ｆを判定する。この構成では、異なる２つの閾値に基づいて異物Ｆを判定する。そのため、Ｘ線検査装置１では、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生をより一層抑制できる。
【００３６】  本実施形態に係るＸ線検査装置１では、Ｘ線検出部７は、物品Ａを透過した第１エネルギー帯のＸ線、及び、物品Ａを透過した第２エネルギー帯のＸ線を検出する。制御部１０は、第１処理において、第１エネルギー帯のＸ線の第１検出結果、及び、第２エネルギー帯のＸ線の第２検出結果から作成される透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。この構成では、２つの異なるエネルギー帯の検出結果から作成された透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２を使用するため、異物Ｆをより一層精度良く検出できる。
【００３７】  本実施形態に係るＸ線検査装置１では、制御部１０は、２つの透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２を用いる第１画像処理アルゴリズムによって第１処理を実施すると共に、１つの透過画像Ｇ２を用いる遺伝的アルゴリズムを採用して生成された第２画像処理アルゴリズムによって第２処理を実施する。このように、Ｘ線検査装置１では、性質の異なる２つの画像処理アルゴリズムを用いているため、第１処理及び第２処理において、異なる判定結果を得ることが可能となる。したがって、Ｘ線検査装置１では、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生をより一層抑制できる。
【００３８】  以上、本発明の実施形態について説明してきたが、本発明は必ずしも上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で様々な変更が可能である。
【００３９】  上記実施形態では、Ｘ線検出部７が第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２を有している形態を一例に説明した。しかし、Ｘ線検出部は、少なくとも１つのラインセンサを有していればよい。この場合、制御部１０は、１つの透過画像に基づいて、２つの異なる画像処理アルゴリズムを用いて異物Ｆの判定を実施する。
【００４０】  上記実施形態では、制御部１０が実施する第１処理として、画像取得、画像アライメント、コントラスト整合、２画像演算、ノイズ除去及び２値化を行う形態を一例に説明した。しかし。第１処理の処理内容は、これに限定されない。２つの透過画像を使用した異物の判定には、他の処理方法を用いてもよい。
【００４１】  上記実施形態では、制御部１０が実施する第２処理として、２値化による画像処理して得られた判定画像に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する形態を一例に説明した。しかし、制御部１０は、第２処理において、２値化以外の方法（例えば、トレース検出方式）によって画像処理を行ってもよい。
【００４２】  上記実施形態では、制御部１０が、第１画像処理アルゴリズムを用いて第１処理を実施し、第２画像処理アルゴリズムを用いて第２処理を実施する形態を一例に説明した。しかし、制御部１０は、第１画像処理アルゴリズム及び第２画像処理アルゴリズムとは異なる第３アルゴリズムを更に用いて、第３処理を更に実施してもよい。この場合、第１処理、第２処理及び第３処理の判定結果に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
【００４３】  上記実施形態では、制御部１０は、第２処理において、透過画像Ｇ２を用いて異物Ｆの判定を行う形態を一例に説明した。しかし、制御部１０は、第２処理において、透過画像Ｇ１を用いてもよいし、透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２の両方を用いてもよい。制御部１０は、第１処理及び第２処理の少なくとも一方の処理において、第１エネルギー帯のＸ線の第１検出結果、及び、第２エネルギー帯のＸ線の第２検出結果から作成される透過画像Ｇ１及び透過画像Ｇ２に基づいて、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定すればよい。
【００４４】  上記実施形態では、制御部１０は、第１判定結果と第２判定結果とにおいて、共通する異物Ｆが存在する場合、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する形態を一例に説明した。しかし、制御部１０は、第１処理により生成された判定画像と第２処理により生成された判定画像とに基づいて判定画像を更に生成し、当該判定画像に対して第３閾値を適用することによって、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定してもよい。
【００４５】  上記実施形態では、Ｘ線検査装置１が搬送部５を備える形態を一例に説明した。しかし、Ｘ線検査装置は、搬送部を備えていなくてもよい。
【００４６】  上記実施形態では、画像処理アルゴリズムが、１つの画像処理フィルタ、又は、複数の画像処理フィルタの組み合わせによって構成される形態を一例に説明した。しかし、画像処理アルゴリズムは、機械学習により生成された学習済みモデル（機械学習アルゴリズム）であってもよい。学習済みモデルは、Ｘ線検査装置１が備える学習部で生成されてもよいし、他の装置の学習部で生成されてＸ線検査装置１で取得されてもよい。学習部は、異物Ｆを含む透過画像、異物Ｆを含まない透過画像等を含む教師データに基づいて機械学習を行い、物品Ａの異物Ｆに関する特徴量を取得し、学習済みモデルを生成する。
【００４７】  学習済みモデルは、例えば、ニューラルネットワークを含む。ニューラルネットワークは、透過画像の各画素の画素値を入力して、確信度を出力する。確信度は、０〜１の値である。確信度は、値が小さい程、異物Ｆを含んでいる可能性が低く、値が大きい程、異物Ｆを含んでいる可能性が高いことを示す。
【００４８】  制御部１０は、第１処理及び第２処理の少なくとも一方において、学習済みモデルを画像処理アルゴリズムとして用いる。制御部１０は、第１処理及び第２処理うちの一方に学習済みモデルである画像処理アルゴリズムを用い、第１処理及び第２処理のうちの他方にフィルタで構成された画像処理アルゴリズムを用いることが好ましい。このように、特性（構成）の異なる２つの画像処理アルゴリズムを用いることにより、検出精度の向上が図れる。制御部１０は、例えば、第１画像処理アルゴリズムとして学習済みモデルを用い、第２画像処理アルゴリズムとして遺伝的アルゴリズムを用いた場合、第１画像処理アルゴリズムによる第１処理の判定結果と、第２画像処理アルゴリズムによる第２処理の判定結果とに基づいて（判定結果の多数決に基づいて）、物品Ａに異物Ｆが含まれているか否かを判定する。制御部１０は、第１処理の判定結果と第２処理の判定結果とに共通する異物Ｆが物品Ａに含まれている場合に、物品Ａに異物Ｆが含まれていると判定する。
【００４９】  以上のように、Ｘ線検査装置１では、画像処理アルゴリズムとして機械学習による学習済みモデルを用いることによって、フィルタにより構成された画像処理アルゴリズムでは検出が難しい異物Ｆを検出することが可能となる。そのため、Ｘ線検査装置１では、検出精度の向上を図りつつ、誤検出の発生を抑制できる。
【００５０】  上記実施形態では、検査装置がＸ線検査装置１である形態を一例に説明した。しかし、Ｘ線検査装置に限定されず、電磁波を利用して物品の検査を行う検査装置であればよい。つまり、本発明において、電磁波とは、Ｘ線、近赤外線、光、その他の電磁波である。また、本発明は、物品に含まれる異物の有無を検査するものに限定されず、フィルム包装材等のパッケージ内に食品等の内容物を収容して出荷するような物品において、パッケージの封止部への内容物の噛み込み、パッケージ内での内容物の破損、パッケージ内への異物の混入等を検査するものであってもよい。また、物品の種類は特に限定されず、様々な物品を検査対象とすることができる。同様に、異物の種類は特に限定されず、様々な異物を検査対象とすることができる。
【符号の説明】
【００５１】  １…Ｘ線検査装置（検査装置）、６…Ｘ線照射部（照射部）、７…Ｘ線検出部（検出部）、１０…制御部（処理部）、１１…第１ラインセンサ、１２…第２ラインセンサ、Ａ…物品、Ｆ…異物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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