(57)【要約】  本発明は、回転テーブルを用いながらも、１つの光学測定機器を用いてブランク値およびシグナル値を測定することができる光学測定方法を提供することに関する。光学測定方法は、第１回転方向、および第１回転方向の逆方向である第２回転方向に回転可能な回転テーブル用いる。光学測定方法は、検査チップからの光を光学測定機器を用いて測定してブランク値を得る工程と、前記ブランク値を測定した検査チップからシグナルを発生させる工程と、前記シグナルが発生している前記検査チップからの光を前記光学測定機器を用いて測定してシグナル値を得る工程と、を有する。前記シグナルを発生させる工程は、前記ブランク値を測定した前記検査チップを前記第１回転方向に移動させた後に行われる。前記シグナル値を得る工程は、前記シグナルを発生させた前記検査チップを前記第２回転方向に移動させた後に前記光学測定機器を用いて行われる。
2020158192.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１回転方向、および前記第１回転方向の逆方向である第２回転方向に段階的に回転可能な、複数の検査チップが設置され得る回転テーブルを用いる光学測定方法であって、
前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程と、
前記回転テーブルに設置された前記検査チップに検体を供給する工程と、
前記検体を供給された前記検査チップからの光を光学測定機器を用いて測定して、ブランク値を得る工程と、
前記ブランク値を測定した前記検査チップからシグナルを発生させる工程と、
前記シグナルが発生している前記検査チップからの光を前記光学測定機器を用いて測定して、シグナル値を得る工程と、
を有し、
前記ブランク値を得る工程は、前記回転テーブルに対して所定の位置に配置された前記光学測定機器を用いて行い、
前記シグナルを発生させる工程の少なくとも一部は、前記回転テーブルを前記第１回転方向に回転させることにより前記ブランク値を測定した前記検査チップを移動させた後に、前記第１回転方向の下流側の位置で行われ、
前記シグナル値を得る工程は、前記回転テーブルを前記第２回転方向に回転させることにより前記検査チップを移動させた後に、前記光学測定機器を用いて行う、
光学測定方法。
【請求項２】
前記光学測定方法は、ＡフェーズおよびＢフェーズを有し、
前記Ａフェーズでは、前記回転テーブルを停止した状態で、前記検査チップを設置する工程を行うとともに、前記回転テーブルに設置された複数の検査チップのうちの対象となる前記検査チップに対して、前記ブランク値を得る工程と、前記検査チップから前記シグナルを発生させる工程と、がそれぞれ行われ、
前記Ｂフェーズでは、前記回転テーブルを停止した状態で、前記回転テーブルに設置された複数の検査チップのうちの対象となる前記検査チップに対して、前記検査チップに前記検体を供給する工程と、前記シグナル値を得る工程と、がそれぞれ行われ、
前記Ａフェーズから前記Ｂフェーズへの移行は、前記Ａフェーズ後に、前記検査チップから前記シグナルを発生させる工程が行われた前記検査チップが前記光学測定機器により測定される位置にくるように、前記回転テーブルを前記第２回転方向にｎ段階（ｎは１以上の整数）回転させることで行われ、
前記Ｂフェーズから前記Ａフェーズへの移行は、前記Ｂフェーズ後に、前記回転テーブルを前記第１回転方向にｎ＋ｘ段階（ｘは１以上の整数）回転させることで行われる、
請求項１に記載の光学測定方法。
【請求項３】
前記ブランク値を得る工程が行われる前記検査チップおよび前記シグナル値を得る工程が行われる前記検査チップは、前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程が行われた直後の前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置し、
前記検査チップに前記検体を供給する工程が行われる前記検査チップは、前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程が行われた直後の前記検査チップよりも前記第１回転方向の上流側に位置する、
請求項１または２に記載の光学測定方法。
【請求項４】
前記検査チップからシグナルを発生させる工程は、
前記検査チップに標識物質を供給する工程と、
前記標識物質を供給された前記検査チップを洗浄する工程と、
を含み、
前記検査チップに標識物質を供給する工程が行われる前記検査チップおよび前記標識物質を供給された前記検査チップを洗浄する工程が行われる前記検査チップは、前記ブランク値を得る工程が行われる前記検査チップおよび前記シグナル値を得る工程が行われる前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置する、
請求項１〜３のいずれか一項に記載の光学測定方法。
【請求項５】
前記検体を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌する工程と、
前記標識物質を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌する工程と、
をさらに有し、
前記検体を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌する工程が行われる前記検査チップは、前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程が行われた直後の前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置し、かつ前記ブランク値を得る工程が行われる前記検査チップおよび前記シグナル値を得る工程が行われる前記検査チップよりも前記第１回転方向の上流側に位置し、
前記標識物質を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌する工程が行われる前記検査チップは、前記検査チップに標識物質を供給する工程が行われる前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置し、かつ前記標識物質を供給された前記検査チップを洗浄する工程が行われる前記検査チップよりも前記第１回転方向の上流側に位置する、
請求項４に記載の光学測定方法。
【請求項６】
前記検査チップに検体を供給する工程より前に、前記回転テーブルに設置された前記検査チップを洗浄する工程と、
前記検体を供給された前記検査チップに希釈液を供給する工程と、
をさらに有し、
前記回転テーブルに設置された検査チップを洗浄する工程が行われる前記検査チップは、前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程が行われた直後の前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置し、かつ前記検体を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌する工程が行われる前記検査チップよりも前記第１回転方向の上流側に位置し、
前記回転テーブルに設置された検査チップに希釈液を供給する工程が行われる前記検査チップは、前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程が行われた直後の前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置し、かつ前記検体を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌する工程が行われる前記検査チップよりも前記第１回転方向の上流側に位置する、
請求項５に記載の光学測定方法。
【請求項７】
前記Ｂフェーズにおいて前記シグナル値を得る工程は、前記Ａフェーズにおいて前記標識物質を供給され洗浄された前記検査チップに測定液を供給した直後の前記Ｂフェーズにおいて行われる、請求項４〜６のいずれか一項に記載の光学測定方法。
【請求項８】
第１回転方向、および前記第１回転方向の逆方向である第２回転方向に回転可能な、複数の検査チップが設置され得る回転テーブルと、
前記検査チップを前記回転テーブルに設置するための検査チップ設置ユニットと、
前記回転テーブルによって所定の位置に配置されている前記検査チップに検体を供給するための検体供給ユニットと、
前記回転テーブルによって所定の位置に配置されている前記検査チップからシグナルを発生させる工程を行うためのユニットと、
前記回転テーブルによって所定の位置に配置されている、前記検体を供給された前記検査チップからの光を測定してブランク値を得るための、および、前記回転テーブルによって所定の位置に配置されているシグナルが発生している検査チップからの光を測定してシグナル値を得るための光学測定機器と、
前記回転テーブルの回転を制御するための回転制御部と、
を有し、
前記シグナルを発生させる工程を行うためのユニットの少なくとも一部は、前記光学測定機器が光を測定する前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置する前記検査チップに前記シグナルを発生させるための操作を行い、
前記回転制御部は、前記回転テーブルを前記第１回転方向に回転させることにより、前記光学測定機器がブランク値を得た前記検査チップを前記シグナルを発生させる工程を行うためのユニットの少なくとも一部が操作を行うための位置に移動させ、かつ前記回転テーブルを前記第２回転方向に回転させることにより、前記シグナルが発生している前記検査チップを前記光学測定機器がシグナル値を得るための位置に移動させる、
光学測定装置。
【請求項９】
前記光学測定機器は、前記回転テーブルに対して前記検査チップ設置ユニットが前記検査チップを設置する位置よりも前記第１回転方向の下流側に位置する前記検査チップの光を測定し、
前記検体供給ユニットは、前記回転テーブルに対して前記検査チップ設置ユニットが前記検査チップを設置する位置よりも前記第１回転方向の上流側に位置する前記検査チップに検体を供給する、
請求項８に記載の光学測定装置。
【請求項１０】
前記シグナルを発生させる工程を行うためのユニットには、前記検体を供給された検査チップに標識物質を供給するための標識物質供給ユニットが含まれる、請求項８または請求項９に記載の光学測定装置。
【請求項１１】
前記検体を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌するための第１攪拌装置と、
前記標識物質を供給された前記検査チップ内の液体を攪拌するための第２攪拌装置と、
をさらに有し、
前記第１攪拌装置は、前記回転テーブルに対して前記検査チップ設置ユニットが前記検査チップを設置する位置よりも前記第１回転方向の下流側、かつ前記光学測定機器が光を測定する位置よりも前記第１回転方向の上流側に位置する前記検査チップ内の液体を撹拌し、
前記第２攪拌装置は、前記回転テーブルに対して前記光学測定機器が光を測定する位置よりも前記第１回転方向の下流側に位置する前記検査チップ内の液体を撹拌する、
請求項１０に記載の光学測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学測定方法および光学測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被測定物質を光学的に測定する方法は広く知られている。例えば、特許文献１は、血液中の標的物質を抗体抗原反応を用いて捕捉し、捕捉した標的物質に蛍光標識を付与し、当該蛍光標識から発せられる蛍光強度（シグナル）を計測する表面プラズモン共鳴励起増強光分光（ＳＰＦＳ）法を開示している。【０００３】
このような被測定物質を光学的に測定する方法では、被測定物質を定量するために、シグナル値を測定する。ここで被測定物質に由来するシグナルだけを測定するためには、バックグラウンドとなるブランク値を測定して、シグナル値からブランク値を差し引く必要がある。【０００４】
また、回転テーブルを有する測定装置も広く知られている。例えば、特許文献２に記載されている自動分析装置は、回転テーブル型（ディスク型）の反応基台を有する。この反応基台の周囲に、測定ユニット等が配置されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１８−０５４４９５号公報
【特許文献２】国際公開第２００６／１０７０１６号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の様な回転テーブルを有する測定装置では、回転テーブルが一方向に回転し、回転テーブル上のサンプルが各ユニットの近くに移動して各ユニットによって操作が行われる。ここで、上記の様なブランク値およびシグナル値を測定する光学測定方法を、回転テーブルを用いて行おうとすると、回転テーブルの周囲にブランク測定用の光学測定機器と、シグナル測定用の光学測定機器との２つの光学測定機器が必要になる。光学測定機器は一般に高価かつ大型であるため、２つの光学測定機器を有する測定装置は高コスト化し、大型化する。【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、回転テーブルを用いながらも、１つの光学測定機器を用いてブランク値およびシグナル値を測定することができる、光学測定方法および光学測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するため、本発明の一実施の形態に係る光学測定方法は、第１回転方向、および前記第１回転方向の逆方向である第２回転方向に段階的に回転可能な、複数の検査チップが設置され得る回転テーブルを用いる光学測定方法であって、前記検査チップを前記回転テーブルに設置する工程と、前記回転テーブルに設置された前記検査チップに検体を供給する工程と、前記検体を供給された前記検査チップからの光を光学測定機器を用いて測定して、ブランク値を得る工程と、前記ブランク値を測定した前記検査チップからシグナルを発生させる工程と、前記シグナルが発生している前記検査チップからの光を前記光学測定機器を用いて測定して、シグナル値を得る工程と、を有し、前記ブランク値を得る工程は、前記回転テーブルに対して所定の位置に配置された前記光学測定機器を用いて行い、前記シグナルを発生させる工程の少なくとも一部は、前記回転テーブルを前記第１回転方向に回転させることにより前記ブランク値を測定した前記検査チップを移動させた後に、前記第１回転方向の下流側の位置で行われ、前記シグナル値を得る工程は、前記回転テーブルを前記第２回転方向に回転させることにより前記検査チップを移動させた後に、前記光学測定機器を用いて行う。【０００９】
また、上記課題を解決するため、本発明の一実施の形態に係る光学測定装置は、第１回転方向、および前記第１回転方向の逆方向である第２回転方向に回転可能な、複数の検査チップが設置され得る回転テーブルと、前記検査チップを前記回転テーブルに設置するための検査チップ設置ユニットと、前記回転テーブルによって所定の位置に配置されている前記検査チップに検体を供給するための検体供給ユニットと、前記回転テーブルによって所定の位置に配置されている前記検査チップからシグナルを発生させる工程を行うためのユニットと、前記回転テーブルによって所定の位置に配置されている、前記検体を供給された前記検査チップからの光を測定してブランク値を得るための、および、前記回転テーブルによって所定の位置に配置されているシグナルが発生している検査チップからの光を測定してシグナル値を得るための光学測定機器と、前記回転テーブルの回転を制御するための回転制御部と、を有し、前記シグナルを発生させる工程を行うためのユニットの少なくとも一部は、前記光学測定機器が光を測定する前記検査チップよりも前記第１回転方向の下流側に位置する前記検査チップに前記シグナルを発生させるための操作を行い、前記回転制御部は、前記回転テーブルを前記第１回転方向に回転させることにより、前記光学測定機器がブランク値を得た前記検査チップを前記シグナルを発生させる工程を行うためのユニットの少なくとも一部が操作を行うための位置に移動させ、かつ前記回転テーブルを前記第２回転方向に回転させることにより、前記シグナルが発生している前記検査チップを前記光学測定機器がシグナル値を得るための位置に移動させる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、回転テーブルを用いながらも、１つの光学測定機器を用いてブランク値およびシグナル値を測定することができる光学測定方法および光学測定装置を提供することができる。したがって、本発明によれば、測定装置のコスト低減および小型化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、本発明の実施の形態に係る光学測定装置を示す図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態に係る光学測定方法を示すフロー図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態に係る光学測定方法のＡフェーズを示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態に係る光学測定方法のＢフェーズを示す図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態に係る光学測定方法のＡフェーズを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００１３】
[光学測定装置の構成]
本発明の一実施形態に係る光学測定装置１００について、図１を参照しつつ説明する。
【００１４】
光学測定装置１００は、回転テーブル１１０と、検査チップ設置ユニット１２１と、第１洗浄ユニット１２２と、検体供給ユニット１２３と、希釈液供給ユニット１２４と、第２洗浄ユニット１２５と、第１測定液供給ユニット１２６と、検査チップ搬送ユニット１２７と、標識物質供給ユニット１２８と、第３洗浄ユニット１２９と、第２測定液供給ユニット１３０と、光学測定機器１４０と、回転制御部１５０とを有する。本実施の形態では、光学測定装置１００は、第１攪拌装置１３１（斜線部）および第２攪拌装置１３２（斜線部）も有する。
【００１５】
回転テーブル１１０は、第１回転方向１１１、および第１回転方向の逆方向である第２回転方向１１２に段階的に回転可能である。また回転テーブル１１０には複数の検査チップ１０が設置され得る。なお、図１においては、第１回転方向１１１は時計回りの方向であり、第２回転方向１１２は反時計回りの方向であるが、これは逆であってもよい。逆である場合、各種のユニットや機器等の配置は逆になる。
【００１６】
回転制御部１５０は回転テーブル１１０の回転を制御する。回転制御部１５０の構成は、回転テーブル１１０の回転を制御することができれば特に制限されない。
【００１７】
回転テーブル１１０の周囲には、各種のユニットや機器が配置され、１つの検査チップに着目した場合、検査チップは、回転テーブル１１０の回転によってこれらのユニットや機器の近くに移動し各工程が施される。以下、１つの検査チップに着目した場合に施される工程の順に、図１に示されている光学測定装置１００が有するユニットや機器について説明する。
【００１８】
検査チップ設置ユニット１２１は、検査チップラック１０１に収容されている検査チップ１０を回転テーブル１１０の所定の位置に設置する。検査チップ設置ユニット１２１の構成は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置できれば特に制限されない。また、検査チップ１０の構成も、特に制限されない。たとえば、検査チップ１０としては、攪拌がしやすいという観点から、国際公開第２０１８／０２１２３８号に開示されているような検出チップが好適に用いられる。
【００１９】
第１洗浄ユニット１２２は、回転テーブル１１０において所定の位置に配置されている検査チップ１０の内部を洗浄する。本実施の形態では、第１洗浄ユニット１２２は、回転テーブル１１０において検査チップ設置ユニット１２１が検査チップ１０を設置する位置よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０の内部を洗浄する。回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０の第１洗浄ユニット１２２の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることで行われる。第１洗浄ユニット１２２の構成は、検査チップ１０を洗浄できるものであれば特に制限されない。具体的には、例えば、第１洗浄ユニット１２２は、検査チップ１０内に洗浄液を供給した後に、検査チップ１０内の洗浄液を除去することで検査チップ１０の内部を洗浄する。洗浄回数は、特に限定されず、例えば１〜３回である。なお、第１洗浄ユニット１２２は、検査チップ１０の内部に検体１２を供給する前に洗浄する必要がなければなくてもよい。
【００２０】
検体供給ユニット１２３は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０の内部に検体１２を供給する。本実施の形態では、検体供給ユニット１２３は、回転テーブル１１０において検査チップ設置ユニット１２１が検査チップ１０を設置する位置よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する検査チップ１０に検体を供給する。回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０の検体供給ユニット１２３の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第２回転方向１１２に回転させることで行われる。検体供給ユニット１２３の構成は、検査チップ１０内に検体１２を供給できれば特に制限されない。図１に示される例では、検体１２が検体ラック１０２に収容されており、検体供給ユニット１２３は、検体ラック１０２内の検体１２を吸引し、所定の位置に配置されている検査チップ１０の内部に吐出する。
【００２１】
ここで、検査チップ１０には予め捕捉物質（例えば抗体）が固定されている場合、検体供給ユニット１２３が、検査チップ１０に検体を供給することにより、検体中の被測定物質（例えば抗原）と捕捉物質とが接触し、一次反応（例えば抗体抗原反応）が始まる。
【００２２】
希釈液供給ユニット１２４は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０の内部に希釈液を供給する。検査チップ１０内に希釈液が供給されることで、検体１２の濃度が適切な範囲に調整される。本実施の形態では、希釈液供給ユニット１２４は、回転テーブル１１０において第１洗浄ユニット１２２が検査チップ１０内を洗浄する位置よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０の内部に希釈液を供給する。検体１２が供給された検査チップ１０の希釈液供給ユニット１２４の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることで行われる。希釈液供給ユニット１２４の構成は、検査チップ１０内に希釈液を供給できれば特に制限されない。なお、希釈液供給ユニット１２４は、検体１２を希釈する必要がなければなくてもよい。
【００２３】
なお、図１において、第１洗浄ユニット１２２および希釈液供給ユニット１２４は個別のユニットとして示されているが、これらは、それぞれのユニットの機能を担う１つのユニットであってもよい。
【００２４】
第１攪拌装置１３１は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０内の液体（検体１２またはその希釈液）を攪拌し一次反応を促進する。本実施の形態では、第１攪拌装置１３１は、回転テーブル１１０において検査チップ設置ユニット１２１が検査チップ１０を設置する位置よりも第１回転方向１１１の下流側、かつ光学測定機器１４０が光を測定する位置よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する検査チップ１０内の液体を攪拌する。第１攪拌装置１３１の構成は、検査チップ１０内の液体を攪拌することができれば特に制限されない。たとえば、第１攪拌装置１３１は、検査チップ１０を振動させることで検査チップ１０内の液体を撹拌する。
【００２５】
第２洗浄ユニット１２５は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０の内部を洗浄する。本実施の形態では、第２洗浄ユニット１２５は、回転テーブル１１０において第１攪拌装置１３２が検査チップ１０内の液体を撹拌する位置よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０の内部を洗浄する。回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０の第２洗浄ユニット１２５の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることで行われる。第２洗浄ユニット１２５の構成は、検査チップ１０を洗浄することができれば特に制限されない。具体的には、例えば、第２洗浄ユニット１２５は、検査チップ１０内の液体（検体１２またはその希釈液）を除去した後、検査チップ１０に洗浄液を供給し、洗浄液を除去することで検査チップ１０の内部を洗浄する。洗浄回数は、特に限定されず、例えば１〜３回である。
【００２６】
第１測定液供給ユニット１２６は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０に測定液を供給する。この後説明するように、光学測定機器１４０は、検査チップ１０内に測定液がある状態で検査チップ１０からの光を検出する。測定液の種類は、光学測定機器１４０が適切に光を検出することができれば特に限定されない。測定液の例には、緩衝液や生理食塩水などが含まれる。第１測定液供給ユニット１２６の構成は、検査チップ１０内に測定液を供給することができれば特に制限されない。
【００２７】
なお、図１において、第２洗浄ユニット１２５、第１測定液供給ユニット１２６、後述する標識物質供給ユニット１２８は個別のユニットとして示されているが、これらは、それぞれのユニットの機能を担う１つのユニットであってもよい。
【００２８】
検査チップ搬送ユニット１２７は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置された検査チップ１０を光学測定機器１４０に搬送する。また、検査チップ搬送ユニット１２７は、光学測定機器１４０に搬送された検査チップ１０を回転テーブル１１０の所定の位置に戻す。検査チップ搬送ユニット１２７の構成は、検査チップ１０を回転テーブル１１０と光学測定機器１４０との間で搬送することができれば特に制限されない。
【００２９】
光学測定機器１４０は、検査チップ１０からの光を測定し、シグナル値およびそれに対応するブランク値を測定する。本実施の形態では、光学測定機器１４０は、回転テーブル１１０において検査チップ設置ユニット１２１が検査チップ１０を設置する位置よりも第１回転方向の下流側に位置する検査チップ１０からの光を測定する。回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０の光学測定機器１４０（検査チップ搬送ユニット１２７）の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第１回転方向１１１（ブランク値を測定する場合）または第２回転方向１１２（シグナル値を測定する場合）に回転させることで行われる。光学測定機器１４０がシグナル値またはブランク値を測定した後、検査チップ１０は、例えば検査チップ搬送ユニット１２７によって回転テーブル１１０に戻される。
【００３０】
光学測定機器１４０の構成は、シグナル値およびブランク値を測定することができれば特に制限されない。たとえば、被測定物質（例えば抗原）が蛍光物質で標識されている場合は、光学測定機器１４０は、検査チップ１０に励起光を照射するとともに、検査チップ１０内の蛍光物質から放出された蛍光を検出すればよい。より具体的には、検査チップ１０として国際公開第２０１８／０２１２３８号に開示されているような検出チップを用いる場合は、国際公開第２０１８／０２１２３８号に開示されている構成で励起光を照射し、蛍光を検出すればよい。
【００３１】
標識物質供給ユニット１２８は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０内に標識物質を供給する。本実施の形態では、標識物質供給ユニット１２８は、回転テーブル１１０において光学測定機器１４０が検査チップ１０からの光を検出する位置（検査チップ搬送ユニット１２７が検査チップ１０を取り出すか、または検査チップ１０を戻す位置）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０内に標識物質を供給する。回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０の標識物質供給ユニット１２８の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることで行われる。標識物質供給ユニット１２８の構成は、検査チップ１０内に標識物質を供給できれば特に制限されない。標識物質の種類は、特に限定されず、光学測定機器１４０が検出するシグナル（光）の種類に応じて適宜選択される。たとえば、標識物質は、蛍光物質で標識された抗体である。標識物質供給ユニット１２８が、検査チップ１０に標識物質を供給することにより、標識物質（例えば蛍光物質で標識された抗体）と被測定物質（例えば抗原）とが接触し、二次反応（抗体抗原反応）が始まる。
【００３２】
第２攪拌装置１３２は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０内の液体（標識物質を含む液体）を攪拌し二次反応を促進する。本実施の形態では、第２攪拌装置１３２は、回転テーブル１１０において標識物質供給ユニット１２８が検査チップ１０内に標識物質を供給する位置よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０内の液体を攪拌する。また、例えば、第２攪拌装置１３２は、後述する第３洗浄ユニット１２９が検査チップ１０内を洗浄する位置よりも第１回転方向の上流側に位置する検査チップ１０内の液体を攪拌する。第２攪拌装置１３２の構成は、検査チップ１０内の液体を攪拌することができれば特に制限されない。たとえば、第２攪拌装置１３２は、検査チップ１０を振動させることで検査チップ１０内の液体を撹拌する。
【００３３】
第３洗浄ユニット１２９は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０の内部を洗浄する。本実施の形態では、第３洗浄ユニット１２９は、回転テーブル１１０において第２攪拌装置１３２が検査チップ１０内の液体を撹拌する位置よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０の内部を洗浄する。回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０の第３洗浄ユニット１２９の近くへの移動は、回転制御部１５０が回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることで行われる。第３洗浄ユニット１２９の構成は、検査チップ１０を洗浄することができれば特に制限されない。具体的には、例えば、第２洗浄ユニット１２９は、検査チップ１０内の液体（標識物質を含む液体）を除去した後、検査チップ１０に洗浄液を供給し、洗浄液を除去することで検査チップ１０の内部を洗浄する。洗浄回数は、特に限定されず、例えば１〜３回である。
【００３４】
第２測定液供給ユニット１３０は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置されている検査チップ１０に測定液を供給する。測定液の種類は、光学測定機器１４０が適切に光を検出することができれば特に限定されないが、第１測定液供給ユニット１２６が供給する測定液と同じ測定液であることが好ましい。第２測定液供給ユニット１３０の構成は、検査チップ１０内に測定液を供給することができれば特に制限されない。
【００３５】
なお、シグナルを発生させるための工程は、上記の、標識物質供給ユニット１２８、第３洗浄ユニット１２９および第２測定液供給ユニット１３０によって行われる。図１において、これらのユニットは、回転テーブル１１０に対して、光学測定機器１４０が光を測定する検査チップ１０よりも第１回転方向１１１の下流側の検査チップを操作するように示されている。しかしながら、シグナルを発生させるための工程を行うためのユニットの一部が、回転テーブル１１０において光学測定機器１４０が光を測定する検査チップ１０よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する検査チップ１０にシグナル発生させるための操作を行うようにしてもよい。すなわち、シグナルを発生させるための工程を行うためのユニットの一部は、回転テーブル１１０において光学測定機器１４０が光を測定する検査チップ１０よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する検査チップ１０にシグナル発生させるための操作を行ってもよい。
【００３６】
[光学測定装置の動作]
次に、光学測定装置１００の動作（本実施の形態に係る光学測定方法）について、図１〜図５を用いて説明する。
【００３７】
図２は、光学測定装置１００の動作のフローチャートである。このフローチャートでは、１つの検査チップ１０に対する光学測定装置１００の動作を示している。また、このフローチャートでは、各工程がＡフェーズおよびＢフェーズ（後述）のどちらに属するかも示している。
【００３８】
図３〜図５は、回転テーブル１１０によって所定の位置に配置された検査チップが、ＡフェーズおよびＢフェーズそれぞれどの工程が行われているかを示す図である。
【００３９】
本実施の形態に係る光学測定方法は、ＡフェーズおよびＢフェーズを交互に繰り返すことで行われる。例えば、Ａフェーズは４１秒間のフェーズであり、Ｂフェーズは３０秒間のフェーズである。図３はＡフェーズの状態であり、図４は、図３のＡフェーズから移行した後のＢフェーズの状態であり、図５は、図４のＢフェーズから移行した後のＡフェーズの状態を示す。Ａフェーズにおいては、図２に示されているＡフェーズの工程が行われ、Ｂフェーズにおいては図２に示されているＢフェーズの工程が行われる。図３および図４からは、ＡフェーズからＢフェーズへの移行の態様がわかり、図４および図５からはＢフェーズからＡフェーズへの移行の態様がわかる。
【００４０】
図３〜図５において、回転テーブル１１０の外側に付されている数字は、回転テーブル１１０に対する所定の位置を表しており、回転テーブル１１０が回転してもこれらの数字の位置は変わらない。一方、回転テーブル１１０中に付されているローマ数字Ｉ〜IIIは、回転テーブル１１０上に設置された検査チップ１０を表しており、回転テーブル１１０が回転することによって位置が変わる。なお、検査チップ（Ｉ〜III）は、ＡフェーズからＢフェーズへの移行、およびＢフェーズからＡフェーズへの移行の態様がわかるように、代表的に示されたものである。
【００４１】
図３（および図５）に示されるＡフェーズでは、回転テーブル１１０の各位置において以下の工程が同時に行われる。
【００４２】
回転テーブル１１０の「１」の位置では、検査チップ設置ユニット１２１（図１参照）によって検査チップ１０が回転テーブル１１０に設置される。これは、図２の検査チップを設置する工程（Ｓ１）に対応する。
【００４３】
回転テーブル１１０の「２」の位置では、第１洗浄ユニット１２２（図１参照）によって検査チップ１０内への洗浄液の供給と、洗浄液の除去とが行われる。これは、図２の検査チップを事前洗浄する工程（Ｓ２）に対応する。このように、回転テーブル１１０に設置された検査チップ１０を洗浄する工程（Ｓ２）が行われる検査チップ１０（「２」に配置されている）は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置する工程（Ｓ１）が行われた直後の検査チップ１０（「１」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置し、かつ、後述する、検体１２を供給された検査チップ１０内の液体を攪拌する工程（Ｓ５）が行われる検査チップ１０（「４」〜「３３」の間に配置されている）よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する。
【００４４】
ここで、検査チップ１０には、例えば、予め検体１２中の被測定物質を捕捉するための捕捉物質が固定されているが、当該捕捉物質は保護膜によって保護されていることがある。したがって検査チップ１０を事前洗浄する工程（Ｓ２）によって、保護膜を除去し、捕捉物質を露出させ、検体１２中の被測定物質と捕捉物質を接触しやすい状態とする。なお、事前洗浄する工程（Ｓ２）は任意の工程であり、例えば捕捉物質が保護層により保護されていない場合はなくてもよい。
【００４５】
回転テーブル１１０の「３」の位置では、希釈液供給ユニット１２４（図１参照）によって検査チップ１０内に希釈液が供給される。これは、図２の検査チップに希釈液を供給する工程（Ｓ４）に対応する。このように、検査チップ１０に希釈液を供給する工程（Ｓ４）が行われる検査チップ１０（「３」に配置されている）は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置する工程（Ｓ１）が行われた直後の検査チップ１０（「１」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置し、かつ、後述する、検体１２を供給された検査チップ１０内の液体を攪拌する工程（Ｓ５）が行われる検査チップ１０（「４」〜「３３」の間に配置されている）よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する。
【００４６】
Ａフェーズにおいて、回転テーブル１１０の「３」の位置には、後述するＢフェーズにおいて検体１２が供給された検査チップ１０が存在する（図２のＳ３参照）。この検査チップ１０内に希釈液を供給することによって、検体が希釈され、適切な濃度となる。なお、希釈液を供給する工程（Ｓ４）は任意であり、例えば検体を希釈する必要がなければなくてもよい。
【００４７】
回転テーブル１１０の「４」〜「３３」の位置の少なくとも一部では、第１攪拌装置１３１（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（検体１２またはその希釈液）の攪拌が行われる。これは、図２の攪拌（一次反応を促進）する工程（Ｓ５）に対応する。このように、検体１２を供給された検査チップ１０内の液体を攪拌する工程（Ｓ５）が行われる検査チップ１０（「４」〜「３３」の間に配置されている）は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置する工程（Ｓ１）が行われた直後の検査チップ１０（「１」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置し、かつ後述するブランク値を得る工程（Ｓ８）が行われる検査チップ１０および後述するシグナル値を得る工程（Ｓ１３）が行われる検査チップ１０よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する。
【００４８】
回転テーブル１１０の「３４」の位置では、第２洗浄ユニット１２５（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（検体１２またはその希釈液）が除去された後、洗浄液が供給される。また、回転テーブル１１０の「３５」、「３６」のそれぞれの位置では、第２洗浄ユニット１２５（図１参照）によって検査チップ１０中の液体が除去された後、洗浄液が供給される。これらは、図２の洗浄する工程（Ｓ６参照）に対応する。また、回転テーブル１１０の「３７」の位置では、第１測定液供給ユニット１２６（図１参照）によって検査チップ１０中の液体（洗浄液）が除去され測定液が供給される。これは、図２の検査チップ１０に測定液を供給する工程（Ｓ７）に対応する。
【００４９】
回転テーブル１１０の「３８」の位置では、検査チップ搬送ユニット１２７（図１参照）によって検査チップ１０が光学測定機器１４０に搬送される。光学測定機器１４０は、搬送された検査チップ１０からの光を測定してブランク値を測定する。これらは、図２のブランク値を測定する工程（Ｓ８）に対応する。このように、ブランク値を得る工程（Ｓ８）が行われる検査チップ１０（「３８」に配置されている）は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置する工程（Ｓ１）が行われた直後の検査チップ１０（「１」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する。
【００５０】
回転テーブル１１０の「３９」の位置では、標識物質供給ユニット１２８（図１参照）によって検査チップ１０内の測定液が除去された後、標識物質が検査チップ１０内に供給される。これは、図２の標識物質を供給する工程（Ｓ９）に対応する。このように、検査チップ１０に標識物質を供給する工程（Ｓ９）が行われる検査チップ１０（「３９」に配置されている）は、ブランク値を得る工程（Ｓ８）が行われる検査チップ１０（「３８」に配置されている）および後述するシグナル値を得る工程（Ｓ１３）が行われる検査チップ１０（「３８」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する。
【００５１】
回転テーブル１１０の「４０」〜「４９」の位置の少なくとも一部では、第２攪拌装置１３２（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（標識物質を含む液体）の攪拌が行われる。これは、図２の攪拌（二次反応の促進）（Ｓ１０）に対応する。このように、標識物質を供給された検査チップ１０内の液体を攪拌する工程（Ｓ１０）が行われる検査チップ１０（「４０」〜「４９」の間に配置されている）は、検査チップ１０に標識物質を供給する工程（Ｓ９）が行われる検査チップ１０よりも第１回転方向１１１の下流側に位置し、かつ、後述する、標識物質を供給された検査チップ１０を洗浄する工程（Ｓ１１）が行われる検査チップ１０（「５０」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の上流側に位置することが好ましい。
【００５２】
回転テーブル１１０の「５０」の位置では、第２洗浄ユニット１２９（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（標識物質を含む液体）が除去された後、洗浄液が供給される。回転テーブル１１０の「５１」、「５２」のそれぞれの位置でも、第２洗浄ユニット１２９によって検査チップ１０内の洗浄液が除去された後、洗浄液が供給される。これらは、図２の洗浄する工程（Ｓ１１参照）に対応する。
【００５３】
回転テーブル１１０の「５３」の位置では、第２測定液供給ユニット１３０（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（洗浄液）が除去された後、測定液が供給される。これは、図２の検査チップに測定液を供給する工程（Ｓ１２）に対応する。
【００５４】
図３（および図５）に示されるＡフェーズでは、例えば４１秒間の間に、回転テーブル１１０の各位置において上記の各工程が行われる。
【００５５】
Ａフェーズの後に、図４に示されるＢフェーズに移行する。ＡフェーズからＢフェーズへの移行は、例えば、図３において矢印で示されるように、回転テーブル１１０を第２回転方向１１２に１５段階回転させることで行われる。このように回転テーブル１１０を第２回転方向１１２に１５段階回転させることで、回転テーブル１１０の「１」の位置にあった検出チップＩは回転テーブル１１０の「５８」の位置に移動し、回転テーブル１１０の「２」の位置にあった検出チップIIは回転テーブル１１０の「５９」の位置に移動し、回転テーブル１１０の「５３」の位置にあった検出チップIIIは回転テーブル１１０の「３８」の位置に移動する。
【００５６】
図４に示されるＢフェーズにおいても、Ａフェーズと同様に、特定の工程が特定の場所で同時に行われる。具体的には、回転テーブル１１０の特定の位置において以下の工程が同時に行われる。
【００５７】
回転テーブル１１０の「５９」の位置では、検体供給ユニット１２３（図１参照）によって検査チップ１０内に検体１２が供給される。これは、図２の検査チップに検体１２を供給する工程（Ｓ３）に対応する。このように、検査チップ１０に検体１２を供給する工程（Ｓ３）が行われる検査チップ１０（「５９」に配置されている）は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置する工程（Ｓ１）が行われた直後の検査チップ１０（「１」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の上流側に位置する。
【００５８】
回転テーブル１１０の「３８」の位置では、検査チップ搬送ユニット１２７（図１参照）によって、検査チップ１０が光学測定機器１４０に搬送される。光学測定機器１４０は、搬送された検査チップ１０からの光を測定してシグナル値を測定する。これらは、図２のシグナル値を測定する工程（Ｓ１３）に対応する。このように、シグナル値を得る工程（Ｓ１３）が行われる検査チップ１０（「３８」に配置されている）は、検査チップ１０を回転テーブル１１０に設置する工程（Ｓ１）が行われた直後の検査チップ１０（「１」に配置されている）よりも第１回転方向１１１の下流側に位置する。
【００５９】
なお、シグナルを発生させる工程には、標識物質を供給する工程（Ｓ９）、攪拌（二次反応を促進）する工程（Ｓ１０）、洗浄する工程（Ｓ１１）、検査チップ１０に測定液を供給する工程（Ｓ１２）が含まれる。上記において、シグナルを発生させるためのこれらの工程は、回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることによりブランク値を測定した検査チップ１０を第１回転方向１１１の下流側の位置に移動させた後に、第１回転方向１１１の下流側の位置で行われるように説明した。しかしながら、シグナルを発生させる工程の少なくとも一部が、回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に回転させることによりブランク値を測定した検査チップ１０を第１回転方向１１１の下流側の位置に移動させた後に、第１回転方向１１１の下流側の位置で行われればよく、シグナルを発生させる工程の残りは、ブランク値を測定した検査チップ１０よりも第１回転方向１１１の上流側の位置において行われてもよい。
【００６０】
図４に示されるＢフェーズでは、例えば３０秒間の間に、回転テーブル１１０の各位置において上記の各工程が行われる。
【００６１】
Ｂフェーズの後に、図５に示されるＡフェーズに移行する。ＢフェーズからＡフェーズへの移行は、例えば、図４において矢印で示されるように、回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に１６段階回転させることで行われる。このように回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に１６段階回転させることで、回転テーブル１１０の「５８」の位置にあった検出チップＩは回転テーブル１１０の「２」の位置に移動し、回転テーブル１１０の「５９」の位置にあった検出チップIIは回転テーブル１１０の「３」の位置に移動し、回転テーブル１１０の「３８」の位置にあった検出チップIIIは回転テーブル１１０の「５４」の位置に移動する。すなわち、検出チップＩ〜IIIは、ひとつ前のＡフェーズのときの位置から第１回転方向１１１に１段階分ずれた位置に移動する（図３と図５とを比較参照）。
【００６２】
このように、ＡフェーズとＢフェーズとを交互に繰り返すことで、検出チップ１０は、第１回転方向１１１に沿って徐々に移動していく。すなわち、第１の時点のＡフェーズにおける検出チップ１０の位置と次の第２の時点のＡフェーズにおける検出チップ１０の位置とを比較すると、第２の時点のある検出チップ１０は、第１の時点の当該検出チップ１０よりも第１回転方向１１１に１段階分進んだ位置に配置されている。同様に、第３の時点のＢフェーズにおける検出チップ１０の位置と次の第４の時点のＢフェーズにおける検出チップ１０の位置とを比較すると、第４の時点のある検出チップ１０は、第３の時点の当該検出チップ１０よりも第１回転方向１１１に１段階分進んだ位置に配置されている。
【００６３】
次に、図２に示されるように、１つの検査チップ１０に着目して、ＡフェーズおよびＢフェーズの各工程がどのように行われるかについて説明する。
【００６４】
まず、検査チップ設置ユニット１２１（図１参照）によって、回転テーブル１１０の「１」の位置に検査チップ１０が設置される（Ａフェーズ、Ｓ１）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「２」の位置に移動する。
【００６５】
次に、回転テーブル１１０の「２」の位置では、第１洗浄ユニット１２２（図１参照）によって検査チップ１０内の洗浄が行われる（Ａフェーズ、Ｓ２）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「５９」の位置に移動する。
【００６６】
次に、回転テーブル１１０の「５９」の位置では、検体供給ユニット１２３（図１参照）によって検査チップ１０内に検体１２が供給される（Ｂフェーズ、Ｓ３）。この後、回転テーブル１１０は、第１回転方向１１１に１６段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「３」の位置に移動する。
【００６７】
次に、回転テーブル１１０の「３」の位置では、希釈液供給ユニット１２４（図１参照）によって検査チップ１０内に希釈液が供給される（Ａフェーズ、Ｓ４）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられることを、３１回繰り返される。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「３４」の位置に移動する。この間、回転テーブル１１０の「４」〜「３３」の位置の少なくとも一部では、第１攪拌装置１３１（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（検体１２またはその希釈液）の攪拌が行われる（Ａフェーズ、Ｓ５）。
【００６８】
次に、回転テーブル１１０の「３４」〜「３６」の位置では、第２洗浄ユニット１２５（図１参照）によって検査チップ１０内が洗浄される（Ａフェーズ、Ｓ６）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「３７」の位置に移動する。
【００６９】
次に、回転テーブル１１０の「３７」の位置では、第１測定液供給ユニット１２６（図１参照）によって検査チップ１０内に測定液が供給される（Ａフェーズ、Ｓ７）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「３８」の位置に移動する。
【００７０】
次に、回転テーブル１１０の「３８」の位置では、検査チップ搬送ユニット１２７（図１参照）によって検査チップ１０が光学測定機器１４０に搬送される。光学測定機器１４０は、搬送された検査チップ１０からの光を測定してブランク値を測定する（Ａフェーズ、Ｓ８）。測定後、検査チップ１０は、検査チップ搬送ユニット１２７によって回転テーブル１１０の「３８」の位置に戻される。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「３９」の位置に移動する。
【００７１】
次に、回転テーブル１１０の「３９」の位置では、標識物質供給ユニット１２８（図１参照）によって検査チップ１０内に標識物質が供給される（Ａフェーズ、Ｓ９）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられることを、１１回繰り返される。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「５０」の位置に移動する。この間、回転テーブル１１０の「４０」〜「４９」の位置の少なくとも一部では、第２攪拌装置１３２（図１参照）によって検査チップ１０内の液体（標識物質を含む液体）の攪拌が行われる（Ａフェーズ、Ｓ１０）。
【００７２】
次に、回転テーブル１１０の「５０」〜「５２」の位置では、第３洗浄ユニット１２９（図１参照）によって検査チップ１０内が洗浄される（Ａフェーズ、Ｓ１１）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられた後、第１回転方向１１１に１６段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「５３」の位置に移動する。
【００７３】
次に、回転テーブル１１０の「５３」の位置では、第２測定液供給ユニット１３０（図１参照）によって検査チップ１０内に測定液が供給される（Ａフェーズ、Ｓ１２）。この後、回転テーブル１１０は、第２回転方向１１２に１５段階回転させられる。その結果、検査チップ１０は、回転テーブル１１０の「３８」の位置に移動する。
【００７４】
次に、回転テーブル１１０の「３８」の位置では、検査チップ搬送ユニット１２７（図１参照）によって、検査チップ１０が光学測定機器１４０に搬送される。光学測定機器１４０は、搬送された検査チップ１０からの光を測定してシグナル値を測定する（Ｂフェーズ、Ｓ１３）。測定後、検査チップ１０は、検査チップ搬送ユニット１２７によって廃棄される。
【００７５】
なお、標識物質で標識された被測定物質を測定液または洗浄液と長い間接触させると、標識物質が被測定物質から脱離してしまうことがある。したがって、Ｂフェーズにおいてシグナル値を得る工程（Ｓ１３）は、Ａフェーズにおいて標識物質を供給され洗浄された検査チップに測定液を供給した直後のＢフェーズにおいて行われることが好ましい。
【００７６】
以上の手順により、回転テーブル１１０を用いながらも、１つの光学測定機器１４０を用いてブランク値およびシグナル値を測定することができる。
【００７７】
なお、上記の例では、ＡフェーズからＢフェーズへの移行の際には回転テーブル１１０を第２回転方向１１２に１５段階回転させ、ＢフェーズからＡフェーズへの移行の際には回転テーブル１１０を第１回転方向１１１に１６段階回転させたが、本発明はこれに限定されない。ＡフェーズからＢフェーズへの移行は、Ａフェーズ後に、シグナルを発生させる工程（Ｓ９〜Ｓ１１）が行われた検査チップ１０が光学測定機器１４０により測定される位置にくるように、回転テーブル１１０を第２回転方向１１２にｎ段階（ｎは１以上の整数）回転させることで行われる。また、ＢフェーズからＡフェーズへの移行は、Ｂフェーズ後に、回転テーブル１１０を第１回転方向１１１にｎ＋ｘ段階（ｘは１以上の整数）回転させることで行われる。これにより、ＡフェーズからＢフェーズに移行した後にＢフェーズからＡフェーズへ移行することで、回転テーブル１１０は第１回転方向１１１にｘ段階分前進することになる。
【００７８】
（効果）
以上のように、本実施の形態に係る光学測定方法および光学測定装置によれば、回転テーブル１１０を用いながらも、ブランク値の測定とシグナル値の測定とを１つの光学測定機器１４０を用いて行うことができる。したがって、本実施の形態に係る光学測定方法および光学測定装置によれば、光学測定装置のコスト低減および小型化を実現することができる。
【００７９】
また、本実施の形態に係る光学測定方法および光学測定装置によれば、回転テーブルが第１回転方向、および第２回転方向に回転することで、測定のための各工程をＡフェーズで行われる工程と、Ｂフェーズで行われる工程とに分けることができる。そして場合によっては、従来は２工程で行っていた操作を、１工程（Ａフェーズ＋Ｂフェーズ）で行うことができる。
【００８０】
たとえば、第１回転方向にのみ回転可能な回転テーブルでは、検査チップを回転テーブルに設置する工程と、検査チップを洗浄する工程と、検査チップに検体を供給する工程と３工程が必要となる。これに対して、たとえば、本実施の形態では、検査チップを回転テーブルに設置する工程（Ａフェーズ）と、検査チップを洗浄する工程（Ａフェーズ）および検査チップに検体を供給する工程（Ｂフェーズ）との２ステップとすることができる。
【００８１】
また、第１回転方向にのみ回転可能な回転テーブルでは、測定液を供給した後、次の工程まで待ってシグナル値を測定することになるが、本実施の形態では、Ａフェーズにおいて検査チップに測定液を供給した直後のＢフェーズにおいてシグナル測定をすることができることになり、測定液と、標識された被測定物質との接触時間の短縮が可能となる。
【００８２】
本出願は、２０１９年１月３１日出願の特願２０１９−０１６１９６に基づく優先権を主張する。当該出願明細書および図面に記載された内容は、すべて本願明細書に援用される。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明に係る光学測定方法および光学測定装置は、例えば臨床検査などに有用である。
【符号の説明】
【００８４】
１０    検査チップ
１２    検体
１００  光学測定装置
１０１  検査チップラック
１０２  検体ラック
１１０  回転テーブル
１１１  第１回転方向
１１２  第２回転方向
１２１  検査チップ設置ユニット
１２２  第１洗浄ユニット
１２３  検体供給ユニット
１２４  希釈液供給ユニット
１２５  第２洗浄ユニット
１２６  第１測定液供給ユニット
１２７  検査チップ搬送ユニット
１２８  標識物質供給ユニット
１２９  第３洗浄ユニット
１３０  第２測定液供給ユニット
１３１  第１攪拌装置
１３２  第２攪拌装置
１４０  光学測定機器
１５０  回転制御部
【図１】
2020158192.tif 000003
【図２】
2020158192.tif 000004
【図３】
2020158192.tif 000005
【図４】
2020158192.tif 000006
【図５】
2020158192.tif 000007
【国際調査報告】
2020158192.tif 000008
2020158192.tif 000009
2020158192.tif 000010
2020158192.tif 000011