【手続補正書】
【提出日】平成23年7月6日(2011.7.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
鋼板被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法であって、
前記被検体の欠陥が発生する際に生じる内部歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
前記被検体の厚さｔ(mm)で前記被検体の欠陥部の厚み方向の大きさｓ(μm)を除した値、ｓ／ｔが9.0以下0.63以上となる欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
厚さ0.4mm以上2.3mm以下の前記被検体に存在する、微小凹凸表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
前記信号は、
磁束を前記被検体に印加し、印加された被検体より漏洩する磁束であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項５】
請求項４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件で測定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項６】
請求項４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件と、95％以上である条件を含む複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項７】
請求項４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項８】
請求項４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満である場合と、25000A/m以上である場合との複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項９】
請求項１ないし請求項８のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
被検体と、前記信号を検知する検出装置との間隔であるリフトオフを、0.5〜1.5mmに設定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項１０】
請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法を製造工程に用いたことを特徴とする鋼板の製造方法。
【請求項１１】
鋼板被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出装置であって、
前記被検体の欠陥が発生する際に生じる内部歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
前記被検体の厚さｔ(mm)で前記被検体の欠陥部の厚み方向の大きさｓ(μm)を除した値、ｓ／ｔが9.0以下0.63以上となる欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１３】
請求項１１または請求項１２に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
厚さ0.4mm以上2.3mm以下の前記被検体に存在する、微小凹凸表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１４】
請求項１１ないし請求項１３のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
前記信号は、
磁束を前記被検体に印加し、印加された被検体より漏洩する磁束であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１５】
請求項１４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件で測定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１６】
請求項１４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件と、95％以上である条件を含む複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１７】
請求項１４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１８】
請求項１４に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満である場合と、25000A/m以上である場合との複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項１９】
請求項１１ないし請求項１８のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
被検体と、前記信号を検知する検出装置との間隔であるリフトオフを、0.5〜1.5mmに設定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【請求項２０】
請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
欠陥発生原因となるロールのある工程より下流にある工程、かつ、アニール作用のある工程より上流にある工程で、前記欠陥部に存在する歪みに起因する物理量を測定することにより、前記欠陥の検出を行うことを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【請求項２１】
請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
欠陥発生原因となるロールのある工程より下流にある工程、かつ、調質圧延より下流にある工程で、
前記欠陥部に存在する歪みに起因する物理量を測定することにより、前記欠陥の検出を行うことを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
［１］鋼板被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出方法であって、
前記被検体の欠陥が発生する際に生じる内部歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
［２］上記［１］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
前記被検体の厚さｔ(mm)で前記被検体の欠陥部の厚み方向の大きさｓ(μm)を除した値、ｓ／ｔが9.0以下0.63以上となる欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
［３］上記［１］または［２］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
厚さ0.4mm以上2.3mm以下の前記被検体に存在する、微小凹凸表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
［４］上記［１］〜［３］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
前記信号は、
磁束を前記被検体に印加し、印加された被検体より漏洩する磁束であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２４】
［５］上記［４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件で測定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
［６］上記［４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件と、95％以上である条件を含む複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
［７］上記［４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２７】
［８］上記［４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満である場合と、25000A/m以上である場合との複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
［９］上記［１］〜［８］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
被検体と、前記信号を検知する検出装置との間隔であるリフトオフを、0.5〜1.5mmに設定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２９】
［１０］上記［１］〜［９］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法を製造工程に用いたことを特徴とする鋼板の製造方法。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
［１１］鋼板被検体の凹凸量0.5μm以上6μm以下の微小凹凸表面欠陥を検出する微小凹凸表面欠陥の検出装置であって、
前記被検体の欠陥が発生する際に生じる内部歪に起因する信号を検知することによって前記表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
［１２］上記［１１］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
前記被検体の厚さｔ(mm)で前記被検体の欠陥部の厚み方向の大きさｓ(μm)を除した値、ｓ／ｔが9.0以下0.63以上となる欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３２】
［１３］上記［１１］または［１２］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
厚さ0.4mm以上2.3mm以下の前記被検体に存在する、微小凹凸表面欠陥を検出することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
［１４］上記［１１］〜［１３］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
前記信号は、
磁束を前記被検体に印加し、印加された被検体より漏洩する磁束であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
［１５］上記［１４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件で測定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
［１６］上記［１４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
磁束を印加された被検体の磁束密度が、磁気飽和した場合の磁束密度の75％以上95％未満である条件と、95％以上である条件を含む複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３６】
［１７］上記［１４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満であることを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
［１８］上記［１４］に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
被検体に印加する磁場の強度が4000A/m以上25000A/m未満である場合と、25000A/m以上である場合との複数の条件での計測結果の組み合わせを利用することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３８】
［１９］上記［１１］〜［１８］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出装置において、
被検体と、前記信号を検知する検出装置との間隔であるリフトオフを、0.5〜1.5mmに設定することを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出装置。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
［２０］上記［１］〜［９］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
欠陥発生原因となるロールのある工程より下流にある工程、かつ、アニール作用のある工程より上流にある工程で、前記欠陥部に存在する歪みに起因する物理量を測定することにより、前記欠陥の検出を行うことを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
［２１］上記［１］〜［９］のいずれか１項に記載の微小凹凸表面欠陥の検出方法において、
欠陥発生原因となるロールのある工程より下流にある工程、かつ、調質圧延より下流にある工程で、
前記欠陥部に存在する歪みに起因する物理量を測定することにより、前記欠陥の検出を行うことを特徴とする微小凹凸表面欠陥の検出方法。