【手続補正書】
【提出日】平成23年10月4日(2011.10.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明の第１の観点に係る表示装置は、
基板上に、行方向及び列方向に２次元配列した複数の画素と前記行方向に延在した複数の制御信号配線と前記列方向に延在した複数の階調信号配線とを有する表示領域と、前記複数の階調信号配線に接続されたデータ電圧印加回路と、前記複数の階調信号配線に接続された選択信号供給回路と、前記複数の制御信号配線に接続されたゲート選択回路と、が形成され、
前記各画素は、光学素子と光学素子駆動回路とを有し、該光学素子駆動回路は、駆動素子と選択素子とを有し、前記駆動素子は、第１の電流路と第１の制御端子を有し、前記第１の電流路の一端が電源端子に接続され、前記第１の電流路の他端が前記光学素子に接続され、前記選択素子は、第２の電流路と第２の制御端子を有し、前記第２の電流路の一端が前記駆動素子の前記第１の電流路の他端に接続され、前記第２の電流路の他端が前記階調信号配線に接続され、前記第２の制御端子が前記制御信号配線に接続され、
前記データ電圧印加回路は、前記複数の階調信号配線の各々に接続された複数の検査配線と、少なくとも１つのデータ電圧供給配線と、前記複数の検査配線の各々と前記データ電圧供給配線とに接続され、前記データ電圧供給配線と前記各検査配線との導通を制御する複数の出力制御スイッチと、を有し、
前記選択信号供給回路は、前記複数の検査配線の各々に接続された複数の読取スイッチと、前記複数の読取スイッチの何れかを選択する選択回路と、を有し、
前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路は、前記基板の外部に設けられた外部回路に接続可能にされ、
前記外部回路が前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続されたとき、前記ゲート選択回路は前記複数の制御信号配線の何れかに接続された前記各画素を選択状態に設定し、該選択状態に設定された前記各画素において、前記階調信号配線と前記前記選択素子の前記第２の電流路と前記駆動素子の前記第１の電流路と前記電源端子とを導通させ、前記データ電圧印加回路は、前記各出力制御スイッチを介して前記データ電圧供給配線と前記各検査配線とを導通させ、前記選択信号供給回路は、前記複数の読取スイッチのうちの何れかを選択し、該選択された読取スイッチに接続された前記検査配線と前記外部回路とを導通させることを特徴とする。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
前記外部回路は電流源と測定部とを有し、前記外部回路が前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続されたとき、
前記電流源は、前記データ電圧供給配線に接続され、該データ電圧供給配線を介して前記駆動素子の前記第１の電流路に検査用の電流を流し、
前記測定部は、前記選択された読取スイッチに接続された前記検査配線に接続され、前記駆動素子の前記第１の電流路に前記検査用の電流が流れているときの、当該画素に接続されている前記検査配線の電圧の電圧値を測定する。
前記各画素の前記光学素子は、電流の流下により所定の色に発光する有機ＥＬ素子であり、前記光学素子駆動回路は、前記駆動素子の前記第１の制御端子と前記第１の電流路の他端との間に設けられた容量素子を有し、
前記各画素の前記容量素子には、前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路が、前記外部回路に接続されて、前記電流源より前記駆動素子の前記第１の電流路に流された前記検査用の電流に対応した電荷が蓄積され、
前記各画素の前記光学素子は、前記容量素子に蓄積された電荷に基づいて前記駆動素子の前記第１の電流路に流れる電流が供給されて発光する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
前記行方向に配列された前記各画素は、前記発光素子の発光する色が、互いに異なる複数の色の何れかを有し、
前記データ電圧印加回路は前記データ電圧供給配線を複数有し、
前記複数のデータ電圧供給配線の各々は、前記発光素子の発光する色が同じ前記各画素に対応するように設けられている。
前記選択信号供給回路の前記選択回路及び前記ゲート選択回路は、シフトレジスタ回路を有し、該シフトレジスタ回路は、前記外部回路が前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続されたときに、前記外部回路から制御信号が供給されて動作する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
前記基板上に、前記複数の画素を駆動して前記表示領域に所望の画像表示を行うためのドライバＩＣが実装される領域が前記表示領域の少なくとも１辺側に形成され、
前記データ電圧印加回路と前記選択信号供給回路と前記ゲート選択回路とは、前記基板上の前記表示領域の、前記ドライバＩＣが実装される領域が形成されている側を除く、前記基板から分断可能な領域に形成されている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
上記目的を達成するため、本発明の第２の観点に係る表示装置の製造方法は、
基板上に設けられた表示領域に、行方向及び列方向に２次元配列した複数の画素と前記行方向に延在した複数の制御信号配線と前記列方向に延在した複数の階調信号配線とを形成し、該表示領域外に、前記複数の階調信号配線に接続されたデータ電圧印加回路と前記複数の階調信号配線に接続された選択信号供給回路と前記複数の制御信号配線に接続されたゲート選択回路とを、前記基板の外部に設けられる外部回路に接続可能に形成し、
前記各画素を、光学素子と光学素子駆動回路とを有し、該光学素子駆動回路が、第１の電流路と第１の制御端子を有し、前記第１の電流路の一端が電源端子に接続され、前記第１の電流路の他端が前記光学素子に接続された駆動素子と、第２の電流路と第２の制御端子を有し、前記第２の電流路の一端が前記駆動素子の前記第１の電流路の他端に接続され、前記第２の電流路の他端が前記階調信号配線に接続され、前記第２の制御端子が前記制御信号配線に接続された選択素子と、を備える構成とし、前記データ電圧印加回路を、前記複数の階調信号配線の各々に接続された複数の検査配線と、少なくとも１つのデータ電圧供給配線と、前記複数の検査配線の各々と前記データ電圧供給配線とに接続され、前記データ電圧供給配線と前記各検査配線との導通を制御する複数の出力制御スイッチとを有する構成とし、前記選択信号供給回路を、前記複数の検査配線の各々に接続された複数の読取スイッチと前記複数の読取スイッチの何れかを選択する選択回路とを有する構成に形成する回路形成工程と、
前記外部回路を前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続して、前記ゲート選択回路により前記複数の制御信号配線のうちの何れかに接続された前記各画素を選択状態に設定し、該選択状態に設定された前記各画素において、前記階調信号配線と前記前記選択素子の前記第２の電流路と前記駆動素子の前記第１の電流路と前記電源端子とを導通させ、前記データ電圧印加回路において、前記各出力制御スイッチを介して前記データ電圧供給配線と前記各検査配線とを導通させ、前記選択信号供給回路において、前記複数の読取スイッチのうちの何れかを選択し、該選択された読取スイッチに接続された前記検査配線と前記外部回路とを導通させて、前記各画素の前記光学素子駆動回路の電気的特性を検査する特性検査工程と、
を含むことを特徴とする。
前記表示装置の製造方法は、前記外部回路に電流源と測定部を設け、前記特性検査工程は、前記外部回路の前記電流源を、前記データ電圧供給配線に接続して、該データ電圧供給配線を介して前記駆動素子の前記第１の電流路に検査用の電流を流し、前記測定部により、前記選択された読取スイッチに接続された前記検査配線に接続され、前記駆動素子の前記第１の電流路に前記検査用の電流が流れているときの、当該画素に接続されている前記検査配線の電圧の電圧値を測定する工程を含む。
前記回路形成工程は、前記各画素の前記光学素子を、電流の流下により所定の色に発光する有機ＥＬ素子で形成し、前記光学素子駆動回路の前記駆動素子の前記第１の制御端子と前記第１の電流路の他端との間に容量素子を形成し、
前記外部回路を前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続して、前記ゲート選択回路により前記複数の制御信号配線のうちの何れかに接続された前記各画素を選択状態に設定し、前記各画素の前記容量素子に、前記電流源より前記駆動素子の前記第１の電流路に流された前記検査用の電流に対応した電荷を蓄積させ、前記各画素の前記光学素子に、前記容量素子に蓄積された電荷に基づいて前記駆動素子の前記第１の電流路に流れる電流を供給して発光させる点灯検査工程を含む。
前記回路形成工程は、前記選択信号供給回路の前記選択回路及び前記ゲート選択回路を、それぞれがシフトレジスタ回路を有する回路構成に形成し、
前記特性検査工程及び前記点灯検査工程は、前記外部回路から前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路の前記シフトレジスタ回路に制御信号を供給して、該シフトレジスタ回路を動作させる工程を含む。
前記回路形成工程は、前記基板上に、前記複数の画素を駆動して前記表示領域に所望の画像表示を行うためのドライバＩＣが実装される領域を前記表示領域の少なくとも１辺側に形成する構成を含み、前記データ電圧印加回路と前記選択信号供給回路と前記ゲート選択回路とを、前記基板上の、前記表示領域のドライバＩＣが実装される領域が形成されている側を除く領域に形成し、
前記特性検査工程及び前記点灯検査工程が終了した後に、前記データ電圧印加回路と前記選択信号供給回路と前記ゲート選択回路とを形成した領域を、前記基板から分断する分断工程を含む。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
検査配線Ｌｔは、表示パネル１１の光学素子駆動回路ＤＳのデータラインＬｄの本数と同じだけ設けられており、例えば表示パネル１１において行方向にｍ個の光学素子３０が配置されている場合、検査配線Ｌｔはｍ本設けられる。また、検査配線Ｌｔは、それぞれ表示パネル１１内のデータラインＬｄに接続されている。また、本実施形態では、データ電圧供給配線Ｌｔｄと検査用ゲート配線Ｌｔｇは、光学素子３０の赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３色に対応し、それぞれ３本設けられている。本実施形態ではデータ電圧供給配線Ｌｔｄ１〜Ｌｔｄ３は、図示しない定電流源に接続されており、発光輝度階調に応じたＶｄ(red)、Ｖｄ(green)、Ｖｄ(blue)がそれぞれ供給される。なお、検査時はデータ電圧供給配線Ｌｔｄの電圧値を電圧測定部（測定部）１８によって測定する。また、データ電圧供給配線Ｌｔｄには定電圧源に接続されていてもよい。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４８】
まず、書込動作時は、ゲート選択回路１７から、１行目のゲートラインＬｇからｎ行目のゲートラインＬｇへと順次ハイレベル（オンレベルＯＮ）のパルスが出力される。ここでｓ行のゲートラインＬｇにオンレベルＯＮのパルスが出力されている期間（走査期間）、電源からｓ行のアノードラインＬａにローレベルＬの信号が出力される。アノードラインＬａに供給されるローレベルＬの信号は、基準電位Ｖｓｓと等電位或いはそれより低い。
【手続補正８】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に、行方向及び列方向に２次元配列した複数の画素と前記行方向に延在した複数の制御信号配線と前記列方向に延在した複数の階調信号配線とを有する表示領域と、前記複数の階調信号配線に接続されたデータ電圧印加回路と、前記複数の階調信号配線に接続された選択信号供給回路と、前記複数の制御信号配線に接続されたゲート選択回路と、が形成され、
前記各画素は、光学素子と光学素子駆動回路とを有し、該光学素子駆動回路は、駆動素子と選択素子とを有し、前記駆動素子は、第１の電流路と第１の制御端子を有し、前記第１の電流路の一端が電源端子に接続され、前記第１の電流路の他端が前記光学素子に接続され、前記選択素子は、第２の電流路と第２の制御端子を有し、前記第２の電流路の一端が前記駆動素子の前記第１の電流路の他端に接続され、前記第２の電流路の他端が前記階調信号配線に接続され、前記第２の制御端子が前記制御信号配線に接続され、
前記データ電圧印加回路は、前記複数の階調信号配線の各々に接続された複数の検査配線と、少なくとも１つのデータ電圧供給配線と、前記複数の検査配線の各々と前記データ電圧供給配線とに接続され、前記データ電圧供給配線と前記各検査配線との導通を制御する複数の出力制御スイッチと、を有し、
前記選択信号供給回路は、前記複数の検査配線の各々に接続された複数の読取スイッチと、前記複数の読取スイッチの何れかを選択する選択回路と、を有し、
前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路は、前記基板の外部に設けられた外部回路に接続可能にされ、
前記外部回路が前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続されたとき、前記ゲート選択回路は前記複数の制御信号配線の何れかに接続された前記各画素を選択状態に設定し、該選択状態に設定された前記各画素において、前記階調信号配線と前記前記選択素子の前記第２の電流路と前記駆動素子の前記第１の電流路と前記電源端子とを導通させ、前記データ電圧印加回路は、前記各出力制御スイッチを介して前記データ電圧供給配線と前記各検査配線とを導通させ、前記選択信号供給回路は、前記複数の読取スイッチのうちの何れかを選択し、該選択された読取スイッチに接続された前記検査配線と前記外部回路とを導通させることを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記外部回路は電流源と測定部とを有し、前記外部回路が前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続されたとき、
前記電流源は、前記データ電圧供給配線に接続され、該データ電圧供給配線を介して前記駆動素子の前記第１の電流路に検査用の電流を流し、
前記測定部は、前記選択された読取スイッチに接続された前記検査配線に接続され、前記駆動素子の前記第１の電流路に前記検査用の電流が流れているときの、当該画素に接続されている前記検査配線の電圧の電圧値を測定することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記各画素の前記光学素子は、電流の流下により所定の色に発光する有機ＥＬ素子であり、前記光学素子駆動回路は、前記駆動素子の前記第１の制御端子と前記第１の電流路の他端との間に設けられた容量素子を有し、
前記各画素の前記容量素子には、前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路が、前記外部回路に接続されて、前記電流源より前記駆動素子の前記第１の電流路に流された前記検査用の電流に対応した電荷が蓄積され、
前記各画素の前記光学素子は、前記容量素子に蓄積された電荷に基づいて前記駆動素子の前記第１の電流路に流れる電流が供給されて発光することを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記行方向に配列された前記各画素は、前記発光素子の発光する色が、互いに異なる複数の色の何れかを有し、
前記データ電圧印加回路は前記データ電圧供給配線を複数有し、
前記複数のデータ電圧供給配線の各々は、前記発光素子の発光する色が同じ前記各画素に対応するように設けられていることを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記選択信号供給回路の前記選択回路及び前記ゲート選択回路は、シフトレジスタ回路を有し、該シフトレジスタ回路は、前記外部回路が前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続されたときに、前記外部回路から制御信号が供給されて動作することを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記基板上に、前記複数の画素を駆動して前記表示領域に所望の画像表示を行うためのドライバＩＣが実装される領域が前記表示領域の少なくとも１辺側に形成され、
前記データ電圧印加回路と前記選択信号供給回路と前記ゲート選択回路とは、前記基板上の前記表示領域の、前記ドライバＩＣが実装される領域が形成されている側を除く、前記基板から分断可能な領域に形成されていることを特徴とする請求項５に記載の表示装置。
【請求項７】
基板上に設けられた表示領域に、行方向及び列方向に２次元配列した複数の画素と前記行方向に延在した複数の制御信号配線と前記列方向に延在した複数の階調信号配線とを形成し、該表示領域外に、前記複数の階調信号配線に接続されたデータ電圧印加回路と前記複数の階調信号配線に接続された選択信号供給回路と前記複数の制御信号配線に接続されたゲート選択回路とを、前記基板の外部に設けられる外部回路に接続可能に形成し、
前記各画素を、光学素子と光学素子駆動回路とを有し、該光学素子駆動回路が、第１の電流路と第１の制御端子を有し、前記第１の電流路の一端が電源端子に接続され、前記第１の電流路の他端が前記光学素子に接続された駆動素子と、第２の電流路と第２の制御端子を有し、前記第２の電流路の一端が前記駆動素子の前記第１の電流路の他端に接続され、前記第２の電流路の他端が前記階調信号配線に接続され、前記第２の制御端子が前記制御信号配線に接続された選択素子と、を備える構成とし、前記データ電圧印加回路を、前記複数の階調信号配線の各々に接続された複数の検査配線と、少なくとも１つのデータ電圧供給配線と、前記複数の検査配線の各々と前記データ電圧供給配線とに接続され、前記データ電圧供給配線と前記各検査配線との導通を制御する複数の出力制御スイッチとを有する構成とし、前記選択信号供給回路を、前記複数の検査配線の各々に接続された複数の読取スイッチと前記複数の読取スイッチの何れかを選択する選択回路とを有する構成に形成する回路形成工程と、
前記外部回路を前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続して、前記ゲート選択回路により前記複数の制御信号配線のうちの何れかに接続された前記各画素を選択状態に設定し、該選択状態に設定された前記各画素において、前記階調信号配線と前記前記選択素子の前記第２の電流路と前記駆動素子の前記第１の電流路と前記電源端子とを導通させ、前記データ電圧印加回路において、前記各出力制御スイッチを介して前記データ電圧供給配線と前記各検査配線とを導通させ、前記選択信号供給回路において、前記複数の読取スイッチのうちの何れかを選択し、該選択された読取スイッチに接続された前記検査配線と前記外部回路とを導通させて、前記各画素の前記光学素子駆動回路の電気的特性を検査する特性検査工程と、
を含むことを特徴とする表示装置の製造方法。
【請求項８】
前記外部回路に電流源と測定部を設け、前記特性検査工程は、前記外部回路の前記電流源を、前記データ電圧供給配線に接続して、該データ電圧供給配線を介して前記駆動素子の前記第１の電流路に検査用の電流を流し、前記測定部により、前記選択された読取スイッチに接続された前記検査配線に接続され、前記駆動素子の前記第１の電流路に前記検査用の電流が流れているときの、当該画素に接続されている前記検査配線の電圧の電圧値を測定する工程を含むことを特徴とする請求項７に記載の表示装置の製造方法。
【請求項９】
前記回路形成工程は、前記各画素の前記光学素子を、電流の流下により所定の色に発光する有機ＥＬ素子で形成し、前記光学素子駆動回路の前記駆動素子の前記第１の制御端子と前記第１の電流路の他端との間に容量素子を形成し、
前記外部回路を前記データ電圧印加回路、前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路に接続して、前記ゲート選択回路により前記複数の制御信号配線のうちの何れかに接続された前記各画素を選択状態に設定し、前記各画素の前記容量素子に、前記電流源より前記駆動素子の前記第１の電流路に流された前記検査用の電流に対応した電荷を蓄積させ、前記各画素の前記光学素子に、前記容量素子に蓄積された電荷に基づいて前記駆動素子の前記第１の電流路に流れる電流を供給して発光させる点灯検査工程を含むことを特徴とする請求項８に記載の表示装置の製造方法。
【請求項１０】
前記回路形成工程は、前記選択信号供給回路の前記選択回路及び前記ゲート選択回路を、それぞれがシフトレジスタ回路を有する回路構成に形成し、
前記特性検査工程及び前記点灯検査工程は、前記外部回路から前記選択信号供給回路及び前記ゲート選択回路の前記シフトレジスタ回路に制御信号を供給して、該シフトレジスタ回路を動作させる工程を含むことを特徴とする請求項９に記載の表示装置の製造方法。
【請求項１１】
前記回路形成工程は、前記基板上に、前記複数の画素を駆動して前記表示領域に所望の画像表示を行うためのドライバＩＣが実装される領域を前記表示領域の少なくとも１辺側に形成する構成を含み、前記データ電圧印加回路と前記選択信号供給回路と前記ゲート選択回路とを、前記基板上の、前記表示領域のドライバＩＣが実装される領域が形成されている側を除く領域に形成し、
前記特性検査工程及び前記点灯検査工程が終了した後に、前記データ電圧印加回路と前記選択信号供給回路と前記ゲート選択回路とを形成した領域を、前記基板から分断する分断工程を含むことを特徴とする請求項１０に記載の表示装置の製造方法。
【手続補正９】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図３】
2010204617.tif 000001
【手続補正１０】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図９】
2010204617.tif 000002