【誤訳訂正書】
【提出日】平成20年12月25日(2008.12.25)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
送波回折分析装置のサポート（２３）上の複数のアナライト（２４）の各々に対して送波回折分析を実施するための方法であって、
少なくとも１つのアナライトが、液状、ゲル、又は、パウダーの状態でサポート上に配置されており、
サポートが、放射線ビーム（２６）に対し半透明であり、且つ、該放射線ビームに対して動くことができる水平サポート表面を有しており、
上記装置が、更に、
サポートを水平移動させる転移器具（２９）と、
放射線ビーム源であって、複数のアナライトの内の上記転移器具によって位置決めされた１つに対して、送波回折分析を実行するため、放射線ビームを、上側又は下側から照射するように方向付ける放射線ビーム源（２２）と、
上記１つのアナライトに放射線ビームを集束させる集束手段（２７）と、
上記１つのアナライトを通った放射線の検出を行う検出器（２５）と、
を含んでおり、
上記方法が、
放射線ビームで上記位置決めされた１つのアナライトを照射する工程であって、上記放射線ビームが、上記放射線ビーム源によって方向付けられると共に、上記集束手段によって上記位置決めされた１つのアナライトに集束され、これによって、回折された放射線のパターンが形成される工程と、
上記検出器によって上記回折された放射線のパターンを検出する工程と、
複数のアナライトの内の次の１つに送波回折分析を行うため、上記転移器具によってサポートを移動させる工程と、
を含んでいる、ことを特徴とする送波回折分析実施のための方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法であって、放射線ビームが上記位置決めされた１つのアナライトを照射する方向、即ち、放射線ビームと水平なサポートとの間の角度が、７５°乃至９０°である方法。
【請求項３】
請求項１に記載の方法であって、放射線ビームが上記位置決めされた１つのアナライトを照射する方向が、水平なサポートに対して垂直である方法。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れか１つに記載の方法であって、
分析中、サポートが上記転移器具によって放射線ビーム源に対して自動的に動かされ、上記放射線ビームによって複数のアナライトの各々が次々と照射される方法。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトが、サポート上に、アレイ状に並べられている方法。
【請求項６】
請求項５に記載の方法であって、
複数のアナライトが、サポート上に２次元アレイ状に並べられている方法。
【請求項７】
請求項１乃至６の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトが、追加のアタッチメントを伴うことなく、配置されている方法。
【請求項８】
請求項１乃至７の何れか１つに記載の方法であって、
サポートが、複数のアナライトの各々ために、アナライトを収納するコンテナーを含んでおり、各コンテナーが、放射線ビームに対して半透明である方法。
【請求項９】
請求項８に記載の方法であって、
各コンテナーが、異なるアナライトで充填されている方法。
【請求項１０】
請求項８又は９に記載の方法であって、
分析中、各コンテナーの頂部が開放されている方法。
【請求項１１】
請求項８に記載の方法であって、
コンテナーが１個のアレイ内に配置されている方法。
【請求項１２】
請求項８乃至１１の何れか１つに記載の方法であって、
アナライトが回折分析前に、コンテナー内で結晶させられている方法。
【請求項１３】
請求項８乃至１２の何れか１つに記載の方法であって、
サポートが複数の縦穴を有しているプレートであり、上記複数の縦穴の各々がアナライトを受け入れるためのコンテナーを形成している方法。
【請求項１４】
請求項８乃至１３の何れか１つに記載の方法であって、
分析中、１以上のコンテナーがシールされている方法。
【請求項１５】
請求項１乃至１４の何れか１つに記載の方法であって、
サポートが可視光線に対して半透明である方法。
【請求項１６】
請求項１乃至１５の何れか１つに記載の方法であって、
サポートの背景回折パターンを決定する工程と、
該背景回折パターンのために計測されたパターンを修正する工程と、
を含んでいる方法。
【請求項１７】
請求項１乃至１６の何れか１つに記載の方法であって、
大気条件が制御される方法。
【請求項１８】
請求項１乃至１７の何れか１つに記載の方法であって、
上記装置が、更に、アナライトの温度制御のための熱移送手段を含んでおり、
上記熱移送手段が、アナライトの効果的な位相変更、または、送波回折分析中にアナライトの乾燥を達成するものである、方法。
【請求項１９】
請求項１乃至１８の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトのパウダー回折パターンが、検出され、記録される方法。
【請求項２０】
請求項１乃至１８の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトの位相の挙動が映写される方法。
【請求項２１】
請求項１乃至１８の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトの同質異像が検出される方法。
【請求項２２】
複数のアナライト（２４）の内の各々に対して送波回折分析を実施するための送波回折分析装置であって、
少なくとも１つのアナライトが、液状、ゲル、又は、パウダーの状態でサポート上に配置されており、
上記装置が、更に、
アナライトを支持するサポート（２３）であって、放射線ビームに対して半透明であり、且つ、水平サポート表面を有しており、且つ、該放射線ビームに対して動くことができる、サポートと、
複数のアナライトの各々に次々と送波回折分析を実行するため、サポートを水平に移動するための転移器具（２９）と、
放射線ビーム源であって、複数のアナライトの内の上記転移器具によって位置決めされた１つに対して、送波回折分析を実行するため、放射線ビームを、上側又は下側から照射するように方向付ける放射線ビーム源（２２）と、
上記１つのアナライトに放射線ビームを集束させる集束手段（２７）と、
上記１つのアナライトを通過した放射線のパターンの検出を行う検出器（２５）と、
を含んでいることを特徴とする送波回折分析装置。
【請求項２３】
請求項２２に記載の送波回折分析装置であって、放射線ビームが上記１つのアナライトを照射する方向、即ち、放射線ビームと水平なサポートとの間の角度が、７５°乃至９０°である送波回折分析装置。
【請求項２４】
請求項２２に記載の送波回折分析装置であって、放射線ビームが上記１つのアナライトを照射する方向が、水平なサポートに対して垂直である送波回折分析装置。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】発明の名称
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【発明の名称】送波回折分析実施のための方法及び送波回折分析装置
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００７】
ＷＯ−Ａ−００／３６４０５内の場合と同様に、現在までに使用されている送波ジオメトリー内の回折のための全ての構成において、放射ビームは水平でありかつアナライトサポートは実質的に上下の向きに装着され、これは如何なるサンプルも何らかの物理的手段により（セミ）半透明物質に対して接着されるか、または例えば薄い壁のガラスまたは石英毛細管のようなコンテナー内に包み込まれる。この“水平”な構造においては或る実験中に形成されたアナライトは送波回折分析のために別のコンテナーに移されなければならない。これは不便であり、なぜならばそれには時間を要し、かつ追加の処理工程を要するからである。アナライトの取り外しは更にアナライトの結晶化された構造が破損し、またはアナライトが汚染される危険を伴う。更に、公知の装置を使用してアナライトの位相遷移を研究するには不便であり、それは位相のひとつが液体であり、そのときアナライトが放射線ビームに対して落下しまたはシフトするからである。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
上記および他の目的はアナライトの送波回折分析実施のための方法により達成され、その方法は：
−放射線源により起こされた放射線ビームで上記アナライトを照射し、かつ
−アナライトを通過した後に上記放射線を検出する工程を包含する方法において、
放射ビームが、アナライトを、支持面に対して、実質的に上下の向きであって、かつ、実質的に垂直な方向から照射するように、回折が実施されることを特徴としている。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
本発明において、“実質的に上下の向きであって、かつ、実質的に垂直な方向”は、アナライトが配置されているサポート（または、アナライトが納められているコンテナー）に対し、アナライトの追加の取付け具が要求されていない角度等において、水平面（即ち地球表面に対して実質的に平行な面）と遭遇する任意の方向について意味するものである。好ましくはこの角度は約９０度である。しかしながら、当業者であれば水平面と本発明による方法で使用される放射ビームの方向の間の他の角度も使用され得ることが容易に理解されるであろう。好適には、この角度は少なくとも７５度である。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
当業者は放射線源がそれ自体で実質的に上下の向きの放射線ビームを提供し得ることを理解するであろう。代わりに、本発明の放射線源により提供される放射線ビームの方向は、例えば少なくともひとつの鏡の使用により、送波回折分析の実施前に変更され得る。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
本発明は多数のアナライトの同時審査を許容し、その際上記アナライトは例えばアレイ中に配置され、かつアナライトをそれらが内部に準備されているコンテナーから物理的に取り外す必要がなく、ただし上記コンテナーが使用される放射線に対して半透明であることが条件である。このようにして、好ましくは、上記アナライトは別のコンテナーまたはサポートへ移されない。放射線ビームの方向が実質的に上下の向きであるため、この配列はアナライトを開放コンテナー内またはサポート上に置いて回折のための送波ジオメトリー達成のために不可欠であり、その際上記アナライトを上記コンテナーまたはサポートに対して物理的にまたは別方法で取り付ける必要はない。今や、本発明の方法で２次元アレイ、例えばマイクロチタープレート内の上記アナライトの分析が可能となった。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１８】
従って、本発明による方法の好ましい実施例によると、アナライトは如何なる追加の取付け具を要することなくサポート上に配置される。これは、アナライトが重力以外の他の手段によって、サポートに対して固着されていないことを意味している。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２５】
更なる局面において本発明はアナライトの送波回折分析実施のための装置を提供し、その装置が：
−アナライトに対して放射線ビームを向けるようにされた放射線源；
−アナライトを支持するためのサポートであって、そのサポートが放射線に対して半透明であるサポート；および
−アナライトを通過した放射線を検出するための検出器を包含し、
放射線源、アナライトのためのサポートおよび検出器が放射線源により起こされた放射線ビームがアナライトに実質的に上下の向きであって、かつ実質的に垂直方向に衝突するように照射し得るように配置されている。サポートとして、例えば半透明材料の開放コンテナーまたは小さいプレートが使用され得る。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３３】
使用中にＸ線６のビームは放射線源２により起こされ、アレイ３内に配置されているアナライト４のひとつに向けられる。Ｘ線６のビームはアレイ３上に配置されているアナライト４に実質的に上下の向きであって、かつ実質的に垂直方向に衝突し、かつ回折された放射線はアナライト４からパターン状に散乱しそれは検出器５内に記録される。引き続き、更なるアナライト４が分析される。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３５】
図２は送波回折分析装置２０を略図的に示しており、装置２０は放射線ビーム２６を発生する放射線源２２を包含しており、このビーム２６は複数のアナライト２４のための共通サポート２３上へと、上下の向きであって、かつ下向きに方向付けられている。このサポート２３は水平方向に保持されておりかつアナライト２４は上記サポート２３上の２軸列内に配置されている。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３６】
ビーム２６は上記アナライト２４のひとつ上に向けられかつ集束手段２７を通過する。ビーム２６はアナライトおよび回折された放射線２８のパターンを通過する。回折された放射線のための好適な検出器２５が上記サポート２３の上下の向きの下側に配置されている。検出器２５は各特定アナライトのパターンの記録のためのレコーダー（図示されていない）に接続されている。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３８】
図３は送波回折分析装置３０を示しており、この装置３０は基本的には装置２０と同じ構成要素を備えている。しかしながら装置３０において、放射線源２２はサポート２３の下側に配置されており、そして、上下の向きであって、かつ上向きのビーム２６を発生する。このビーム２６はアナライト２４に下側から衝突する。検出器２５は回折された放射線の上向きパターンを受け取るためにサポート２３の上方に配置されている。