【手続補正書】
【提出日】平成21年5月21日(2009.5.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験中の液晶セルの測定された偏光状態を表すデータを分析して、前記試験中の液晶セルの少なくとも１つの物理的パラメータを決定するのに、コンピュータ処理装置を使うための方法であって、
Ａ）複数の偏光状態の各偏光状態が該複数の偏光状態の他の偏光状態とは異なる配向度、楕円率および掌性を有するような複数の偏光状態を有する光ビームを、前記試験中の液晶セルを通じて送出し、
Ｂ）前記複数の偏光状態が前記試験中の液晶セルを通過した後に、送出された前記複数の偏光状態に沿った選択されたポイントにおいて、前記試験中の液晶せるによって変化させられた偏光状態を測定し、測定された偏光状態を該測定された偏光状態を表す前記データに変換し、
Ｃ）コンピュータ処理装置において、前記試験中の液晶セルの少なくとも１つの推定された物理的パラメータに基づくモデル化された偏光特性を含んだ液晶セルモデルを作成し、
Ｄ）前記測定された偏光状態を表す前記データを使って、前記モデル化された偏光特性と前記試験中の液晶セルの偏光特性との間に緊密な適合が得られるまで、前記コンピュータモデルを調整し、
Ｅ）これにより前記緊密な適合が得られたときには、前記液晶セルモデルの前記少なくとも１つの推定された物理的パラメータが、前記試験中の液晶セルの対応する前記物理的パラメータを示すこと、
からなる方法。
【請求項２】
請求項１記載の方法であって、前記Ａ）は、異なる配向度、楕円率および掌性を有する前記複数の偏光状態を含んだ時間変動する偏光状態の連続光を送出すること、からさらになる方法。
【請求項３】
請求項１記載の方法であって、異なる配向度、楕円率および掌性を有する前記複数の偏光状態の十分な数を送出して測定し、少なくとも純粋なリターダンス行列を計算すること、からさらになる方法。
【請求項４】
請求項１記載の方法であって、異なる配向度、楕円率および掌性を有する前記複数の偏光状態の十分な数を送出して測定し、完全なミュラーまたはジョーンズ行列の計算を許容すること、からさらになる方法。
【請求項５】
請求項１記載の方法であって、前記Ｄ）は、前記液晶セルモデルの前記偏光特性と前記試験中の液晶セルの偏光特性との間に最低の二乗平均差が得られるまで、前記液晶セルモデルの前記推定された物理的パラメータの少なくとも１つを反復法で調整すること、からさらになる方法。
【請求項６】
請求項５記載の方法であって、前記Ｄ）は、セルギャップ、ねじれ角、ラビング方向およびプレチルト角からなる前記推定された物理的パラメータの少なくとも１つを変化させること、からさらになる方法。
【請求項７】
請求項６記載の方法であって、前記緊密な適合が得られた後に変化させられた前記少なくとも１つの推定された物理的パラメータを表示し、前記少なくとも１つの緊密に適合した、変化させられ推定された物理的パラメータは前記試験中の液晶セルの対応する物理的パラメータを表すこと、からさらになる方法。
【請求項８】
請求項１記載の方法であって、前記液晶セルをＸおよびＹ方向に動かして前記液晶セル上のあらゆる位置における測定を可能にしても良いように、前記液晶セルをＸＹ平行移動可能ステージに載置すること、からさらになる方法。
【請求項９】
請求項１記載の方法であって、前記Ｄ）は、
異なる配向度、楕円率および掌性を有する前記複数の偏光状態が前記液晶セルを通じて送出されるところの入射角、該入射角の方向、または該入射角と該入射角の方向の両方を変化させること、からさらになる方法。
【請求項１０】
請求項１の方法を使って、製造中に欠陥について試験された液晶表示スクリーン。
【請求項１１】
液晶セルの物理的パラメータを決定するのに、コンピュータプロセッサを使うための方法であって、
Ａ）前記試験中の液晶セルの偏光特性を測定し、測定された前記偏光特性を前記試験中の液晶セルの前記測定された偏光特性を表す信号に変換し、
Ｂ）前記コンピュータプロセッサにおいて、前記試験中の液晶セルをモデル化するのに推定された物理的パラメータを使う、液晶セルの数学的モデルを作成し、
Ｃ）前記試験中の液晶セルの前記測定された偏光特性を表す前記信号を使って、前記液晶セルの数学的モデルの偏光特性と前記試験中の液晶セルの前記測定された偏光特性との間に緊密な適合が得られるまで、前記液晶セルの数学的モデル中の値を調整し、
Ｄ）前記試験中の液晶セルに緊密に適合した前記液晶セルの数学的モデルの前記推定された物理的パラメータに基づく、前記試験中の液晶セルの品質の表示を提供すること、
からなる方法。
【請求項１２】
請求項１１記載の方法であって、前記Ａ）は、各々が十分に異なる配向度、楕円率および掌性を有する十分な数の時間変動する偏光状態を送出して分析し、前記試験中の液晶セルを通じてポアンカレ球の大部分を覆うようにすること、からさらになる方法。
【請求項１３】
請求項１２記載の方法であって、前記Ｂ）は、
各層の通常および異常な屈折率について既知の値をもった１軸複屈折材料の複数の均質層であって、該層の配向度およびチルトは既知のやり方で変化するものとして、前記液晶セルをモデル化し、
前記均質層の各層について偏光行列を計算し、
前記複数の均質層のそれぞれから作成された複数の偏光行列から、前記数学的モデルについての合成偏光行列を式
Ｍｃｅｌｌ＝ＭＱ・ＭＱ−１・．．．・Ｍ２・Ｍ１
を使って計算すること
からさらになる方法。
【請求項１４】
請求項１３記載の方法であって、前記Ｃ）は、前記緊密な適合が得られるまで、前記推定された物理的パラメータの１つ以上に相当する１つ以上の数学的値を反復法で変化させること、からさらになる方法。
【請求項１５】
請求項１４記載の方法であって、前記Ｄ）は、前記試験中の液晶セルの物理的パラメータを表す前記推定された物理的パラメータの緊密に適合した前記１つ以上を表示すること、からさらになる方法。
【請求項１６】
請求項１１の方法を使って、製造中に欠陥について試験された液晶表示スクリーン。
【請求項１７】
試験中の液晶セルの少なくとも１つの物理的パラメータを決定して該試験中の液晶セルが欠陥をもつかどうか決定するコンピュータプロセッサを利用するための方法であって、
Ａ）一連の偏光状態の各偏光状態が該一連の偏光状態の他の偏光状態とは配向度、楕円率および掌性において異なるような、偏光状態生成器によって生成された一連の偏光状態を前記試験中の液晶セルに向け、
Ｂ）前記試験中の液晶セルによって変更された前記一連の偏光状態を偏光状態分析器によって分析し、分析された前記一連の偏光状態を対応する一連の電気信号に変換し、
Ｃ）前記コンピュータプロセッサを使って、前記一連の電気信号から前記試験中の液晶セルの偏光特性を計算し、
Ｄ）前記コンピュータを使って、前記試験中の液晶セルの少なくとも１つの推定された物理的パラメータを含んだコンピュータモデルを作成し、前記試験中の液晶セルの分析された前記変更特性と前記液晶セルのコンピュータモデルの計算された前記偏光特性との間に緊密な適合が得られるまで、前記少なくもと１つの推定された物理的パラメータを調整し、
Ｅ）前記試験中の液晶セルの対応する物理的パラメータを表す緊密に適合した前記推定された物理的パラメータの少なくとも１つの表示を提供すること、
からなる方法。
【請求項１８】
請求項１４記載の方法であって、前記Ｃ）の正確さが高められるよう前記偏光状態生成器と前記偏光状態分析器の同様でない構成でもって前記試験中の液晶セルの一連した偏光測定が行われるように、前記試験中の液晶セルに向けられた前記一連の偏光特性と受信された前記一連の偏光特性との間の繰り返し比を選択すること、からさらになる方法。
【請求項１９】
請求項１８記載の方法であって、
前記一連の偏光状態から複数の偏光行列を計算し、
前記試験中の液晶セルの偏光特性を示す合成偏光行列を、前記複数の偏光行列から作成すること、
からさらになる方法。
【請求項２０】
請求項１７記載の方法であって、前記Ｅ）は、セルギャップ、ねじれ角、ラビング方向およびプレチルト角からなる前記推定された物理的パラメータのグループの１つ以上を示すこと、からさらになる方法。
【請求項２１】
請求項２０記載の方法であって、
前記試験中の液晶セルによって変更された、分析された前記一連の偏光状態から得られる偏光特性を示す、前記試験中の液晶セルの偏光行列を計算し、
前記試験中の液晶セルの前記コンピュータモデルの偏光特性を示す偏光行列を計算し、
前記コンピュータモデルの偏光特性を示す前記偏光行列が前記試験中の液晶セルの前記偏光行列に緊密に適合するまで、前記コンピュータモデル中のプレチルト、ラビング方向、セルギャップおよびねじれ角からなる前記推定された物理的パラメータの１つ以上を反復法で変更すること、
からさらになる方法。
【請求項２２】
請求項２１記載の方法であって、前記コンピュータモデルの偏光特性を示す偏光行列を計算することは、
１軸複屈折材料の複数の層であって、該複数の層の各層のチルト角および配向度は既知のやり方で変化するものとして、前記液晶セルのコンピュータモデルの断面を表し、
前記複数の層の各層について偏光行列を計算し、
前記複数の層によって作成された複数の偏光行列から、前記複数の層からの合成偏光行列を式
Ｍｃｅｌｌ＝ＭＱ・ＭＱ−１・．．．・Ｍ２・Ｍ１
を使って計算すること
からさらになる方法。
【請求項２３】
請求項２１記載の方法であって、前記コンピュータモデルの偏光特性を示す偏光行列を計算することは、
１軸複屈折材料の複数の層であって、該複数の層の各層の通常および異常な屈折率についての値が既知であるものとして、前記液晶セルのコンピュータモデルの断面を表し、
前記複数の層の各層について偏光行列を計算し、
前記複数の層によって作成された複数の偏光行列から、合成偏光行列を式
Ｍｃｅｌｌ＝ＭＱ・ＭＱ−１・．．．・Ｍ２・Ｍ１
を使って計算すること
からさらになる方法。
【請求項２４】
請求項２１記載の方法であって、前記試験中の液晶セルについてのプレチルト、ラビング方向、セルギャップおよびねじれ角の物理的パラメータの推定の前記グループの少なくとも１つは先験的に既知であり、前記試験中の液晶セルに関連する前記偏光行列を計算することと前記コンピュータモデルに関連する前記偏光行列を計算することは、前記少なくとも１つの先験的に既知のパラメータがその中に組み込まれている方法。
【請求項２５】
請求項２１記載の方法であって、前記コンピュータモデルの偏光特性を示す前記偏光行列の要素と前記試験中の液晶セルの前記偏光特性から得られた前記偏光行列との間の最低の二乗平均差を得て、前記試験中の液晶セルの偏光特性を示す前記偏光行列と前記液晶セルからの前記偏光状態を示す前記偏光行列がいつ緊密に適合するかを決定すること、からさらになる方法。
【請求項２６】
請求項２５記載の方法であって、前記各行列にミュラー行列フォーマットまたはジョーンズ行列フォーマットを使うこと、からさらになる方法。
【請求項２７】
請求項２５記載の方法であって、前記試験中の液晶セルの前記偏光行列と前記コンピュータモデルの前記偏光行列を、前記各偏光行列のそれぞれについてのリターダンス成分のみを考慮して計算すること、からさらになる方法。
【請求項２８】
請求項２７記載の方法であって、
前記一連の偏光状態を、前記液晶セルを通じて１つ以上の方向から、１つ以上の入射角に向け、
前記試験中の液晶セルの前記偏光行列に局分解を実施し、
前記コンピュータモデルｎお偏光特性を示す前記偏光行列の前記要素と前記試験中の液晶セルの前記偏光特性を「示す前記偏光行列の対応する要素との間の前記二乗平均差を最小化するために、前記試験中の液晶セルの前記偏光行列に曲線適合を実施すること、
からさらになる方法。
【請求項２９】
請求項２８記載の方法であって、
前記試験中の液晶セルの前記偏光特性と前記曲線適合の前記偏光特性の軌跡をポアンカレ球上に描写する画像を表示し、前記ポアンカレ球の視角を変化させるための調節を提供すること、
からさらになる方法。
【請求項３０】
請求項２９記載の方法であって、
前記試験中の液晶セルの前記少なくとも１つの推定された物理的パラメータのどれが測定されるべきものであるかの選択を許容し、
前記コンピュータモデル中で一定に保持されるべき前記少なくとも１つの推定された物理的パラメータの先験的なものを許容すること、
からさらになる方法。
【請求項３１】
請求項１７記載の方法であって、測定されるべき前記試験中の液晶セル上の特定の位置または測定されるべき前記試験中の液晶セル上の所定のＸＹ座標のマップを使った自動測定のどちらかの選択を許容すること、からさらになる方法。
【請求項３２】
請求項１７の方法を使って、製造中に欠陥について試験された液晶表示スクリーン。