【手続補正書】
【提出日】平成20年12月4日(2008.12.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イオンをフラグメント化または反応させ、かつ生成物、娘、付加生成物またはフラグメントイオンを生成するように配置され適合される第１のイオンガイドまたは第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスと、
前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスの下流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータであって、前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスから現れるか、またはそこから送られてきた生成物、娘、付加生成物またはフラグメントイオンを、そのイオン移動度にしたがって時間的に分離するように配置されるイオン移動度分光計またはセパレータと
を含む質量分析計。
【請求項２】
前記衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスまたは反応デバイスは、イオンを、前記衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスまたは反応デバイスから、前記イオン移動度分光計またはセパレータ内へまたはそれらに向かってパルスするように配置され適合される、請求項１記載の質量分析計。
【請求項３】
前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスの上流および／または下流に配置された質量フィルタまたは質量分析器をさらに含む、１または２に記載の質量分析計。
【請求項４】
第１の質量フィルタまたは質量分析器と、
イオン移動度分光計またはセパレータであって、前記第１の質量フィルタまたは質量分析器の下流に配置されたイオン移動度分光計またはセパレータと、
前記イオン移動度分光計またはセパレータの上流および前記第１の質量フィルタまたは質量分析器の下流に配置された第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスまたは反応デバイスと、
前記イオン移動度分光計またはセパレータの下流に配置された第２の質量フィルタまたは質量分析器と
を含む質量分析計であって、
前記質量分析計は、前記第２の質量フィルタまたは質量分析器を、前記イオン移動度分光計またはセパレータに同期してスキャンするための手段を含む、質量分析計。
【請求項５】
動作モードにおいて、前記第１の質量フィルタまたは質量分析器は、前記イオン移動度分光計またはセパレータに同期してスキャンされるか、または、前記第２の質量フィルタまたは質量分析器に同期してスキャンされる、請求項４記載の質量分析計。
【請求項６】
前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスは、複数の軸方向セグメントまたは少なくとも５、１０、１５、２０、２５、３０、３５、４０、４５、５０、５５、６０、６５、７０、７５、８０、８５、９０、９５もしくは１００の軸方向セグメントを含む、請求項４または５に記載の質量分析計。
【請求項７】
前記質量分析計は、前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％または１００％に沿って少なくともいくつかのイオンを駆動するために、１つ以上の過渡ＤＣ電圧もしくは電位または１つ以上の過渡ＤＣ電圧波形もしくは電位波形を前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスを形成する電極に印加するように配置され適合される過渡ＤＣ電圧手段をさらに含む、請求項４、５または６に記載の質量分析計。
【請求項８】
前記質量分析計は、前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％または１００％に沿って少なくともいくつかのイオンを駆動するために、２つ以上の位相シフトＡＣまたはＲＦ電圧を前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスを形成する電極に印加するように配置され適合されるＡＣまたはＲＦ電圧手段をさらに含む、請求項４〜７のいずれか一項に記載の質量分析計。
【請求項９】
前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスは、イオンビームを受け取り、かつ少なくとも１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０、１１、１２、１３、１４、１５、１６、１７、１８、１９または２０の個別群またはパケットのイオンが前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイス内にいずれかの特定の時点に閉じ込めおよび／または隔離されるように前記イオンビームを変換または分割するように配置され適合され、各群またはパケットのイオンは、前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイス内に形成された個別の軸方向ポテンシャル井戸内に個別に閉じ込めおよび／または隔離される、請求項１〜８のいずれか一項に記載の質量分析計。
【請求項１０】
前記イオン移動度分光計またはセパレータは、複数の軸方向セグメントまたは少なくとも５、１０、１５、２０、２５、３０、３５、４０、４５、５０、５５、６０、６５、７０、７５、８０、８５、９０、９５もしくは１００の軸方向セグメントを含む、請求項１〜９のいずれか一項に記載の質量分析計。
【請求項１１】
前記質量分析計は、少なくともいくつかのイオンを前記イオン移動度分光計またはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％もしくは１００％に沿って駆動するために、前記イオン移動度分光計またはセパレータの軸方向長さの少なくとも一部または少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％もしくは１００％に沿って実質的に一定のＤＣ電圧勾配を維持するためのＤＣ電圧手段をさらに含む、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の質量分析計。
【請求項１２】
前記質量分析計は、少なくともいくつかのイオンを前記イオン移動度分光計またはセパレータの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％または１００％に沿って駆動するために、１つ以上の過渡ＤＣ電圧もしくは電位または１つ以上の過渡ＤＣ電圧波形もしくは電位波形を前記イオン移動度分光計またはセパレータを形成する電極に印加するように配置され適合される過渡ＤＣ電圧手段をさらに含む、請求項１〜１１のいずれか一項に記載の質量分析計。
【請求項１３】
前記質量分析計は、少なくともいくつかのイオンを前記イオン移動度分光計またはセパレータの軸方向長さの少なくとも５％、１０％、１５％、２０％、２５％、３０％、３５％、４０％、４５％、５０％、５５％、６０％、６５％、７０％、７５％、８０％、８５％、９０％、９５％または１００％に沿って駆動するために、２つ以上の位相シフトＡＣまたはＲＦ電圧を前記イオン移動度分光計またはセパレータを形成する電極に印加するように配置され適合されるＡＣまたはＲＦ電圧手段をさらに含む、請求項１〜１２のいずれか一項に記載の質量分析計。
【請求項１４】
第１のイオンガイドまたは第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスにおいてイオンをフラグメント化または反応させ、生成物、娘、付加生成物またはフラグメントイオンを生成するステップと、
前記第１のイオンガイドまたは前記第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスもしくは反応デバイスから現れるか、または送られてきた生成物、娘、付加生成物またはフラグメントイオンをそのイオン移動度にしたがって、イオン移動度分光計またはセパレータにおいて、時間的に分離するステップと
を含む質量分析方法。
【請求項１５】
第１の質量フィルタまたは質量分析器においてイオンを質量分析する質量フィルタリングステップと、
前記第１の質量フィルタまたは質量分析器の下流に配置された第１の衝突デバイス、フラグメンテーションデバイスまたは反応デバイスにおいてイオンをフラグメント化または反応させるステップと、
イオン移動度分光計またはセパレータにおいてイオンを時間的に分離するステップであって、前記イオン移動度分光計またはセパレータは、前記第１の質量フィルタまたは質量分析器の下流に配置される、ステップと、
前記イオン移動度分光計またはセパレータの下流に配置された第２の質量フィルタまたは質量分析器において質量フィルタリングまたは質量分析するステップと
を含み、
動作モードにおいて、前記第２の質量フィルタまたは質量分析器は、前記イオン移動度分光計またはセパレータに同期してスキャンされる、質量分析方法。