【手続補正書】
【提出日】平成23年6月6日(2011.6.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最短ラン長が２Ｔの符号を用いて光ディスク媒体へ情報の記録を行い、適応等化方式とＰＲＭＬ方式を用いて前記情報の再生を行う機能を有する光ディスク装置において、
前記光ディスクから得た再生信号を前記ＰＲＭＬ方式によって２値化し、第１の２値化ビット列を得る回路と、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列を生成する回路と、
前記第１から第３の２値化ビット列にＰＲ特性を畳み込むことにより第１から第３の目標信号を生成する回路と、
前記第２の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第１の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第１のユークリッド距離差に対して前記第１の目標信号と前記第２の目標信号のユークリッド距離で規格化した第１の評価値を算出する回路と、
前記第３の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第１の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第２のユークリッド距離差に対して、前記第１の目標信号と前記第３の目標信号のユークリッド距離で規格化した第２の評価値を算出する回路と、
前記第１の評価値と前記第２の評価値の差分値を用いて前記光ディスク媒体への記録条件を調整する回路と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列をテーブルを使用することにより選択し出力する回路、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記第１の評価値と前記第２の評価値を用いて信号評価値を算出する回路、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
最短ラン長が２Ｔの符号を用いて光ディスク媒体へ情報の記録を行い、適応等化方式とＰＲＭＬ方式を用いて前記情報の再生を行う機能を有する光ディスク装置において、
前記光ディスクから得た再生信号を前記ＰＲＭＬ方式によって２値化し、第１の２値化ビット列を得る回路と、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列を生成する回路と、
前記第１から第３の２値化ビット列に対応する第１から第３の目標信号を生成する回路と、
前記第１の目標信号と前記再生信号の差である等化誤差ベクトルを算出する回路と、
前記第２の目標信号と前記第１の目標信号の差である第１のエラーベクトルを算出する回路と、
前記第３の目標信号と前記第１の目標信号の差である第２のエラーベクトルを算出する回路と、
前記等化誤差ベクトルと前記第１のエラーベクトルの内積である第１の内積値を算出する回路と、
前記等化誤差ベクトルと前記第２のエラーベクトルの内積である第２の内積値を算出する回路と、
前記第１の内積値に対して、前記第２の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第１の評価値を算出する回路と、
前記第２の内積値に対して、前記第３の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第２の評価値を算出する回路と、
前記第１の評価値と前記第２の評価値の差分値を用いて前記光ディスク媒体への記録条件を調整する回路と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置において、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列をテーブルを使用することにより選択し出力する回路、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項４に記載の光ディスク装置において、
前記第１の評価値と前記第２の評価値を用いて信号評価値を算出する回路、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
最短ラン長が２Ｔの符号を用いて光ディスク媒体へ情報の記録を行い、適応等化方式とＰＲＭＬ方式を用いて前記情報の再生を行う機能を有する光ディスク装置において、
前記光ディスクから得た再生信号を前記ＰＲＭＬ方式によって２値化し、２値化ビット列を得る回路と、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のエラーベクトルを生成する回路と、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のユークリッド距離を生成する回路と、
前記２値化ビット列に対応する目標信号を生成する回路と、
前記目標信号と前記再生信号の差である等化誤差ベクトルを算出する回路と、
前記等化誤差ベクトルと前記第１のエラーベクトルの内積である第１の内積値を算出する回路と、
前記等化誤差ベクトルと前記第２のエラーベクトルの内積である第２の内積値を算出する回路と、
前記第１の内積値に対して、前記第２の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第１の評価値を算出する回路と、
前記第２の内積値に対して、前記第３の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第２の評価値を算出する回路と、
前記第１の評価値と前記第２の評価値の差分値を用いて前記光ディスク媒体への記録条件を調整する回路と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項７に記載の光ディスク装置において、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のエラーベクトルをテーブルを使用することにより選択し出力する回路と、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のユークリッド距離をテーブルを使用することにより選択し出力する回路と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項７に記載の光ディスク装置において、
前記第１の評価値と前記第２の評価値を用いて信号評価値を算出する回路、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
最短ラン長が２Ｔの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とＰＲＭＬ方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける記録条件の調整方法において、
前記光ディスクから得た再生信号を前記ＰＲＭＬ方式によって２値化し、第１の２値化ビット列を得る工程と、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列を生成する工程と、
前記第１から第３の２値化ビット列にＰＲ特性を畳み込むことにより第１から第３の目標信号を生成する工程と、
前記第２の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第１の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第１のユークリッド距離差に対して前記第１の目標信号と前記第２の目標信号のユークリッド距離で規格化した第１の評価値を算出する工程と、
前記第３の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離と前記第１の目標信号と前記再生信号のユークリッド距離の差である第２のユークリッド距離差に対して、前記第１の目標信号と前記第３の目標信号のユークリッド距離で規格化した第２の評価値を算出する工程と、
前記第１の評価値と前記第２の評価値の差分値を用いてエッジシフト評価値を算出する工程と、
前記エッジシフト評価値を用いて、前記記録条件を調整する工程と、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の記録条件の調整方法において、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列をテーブルを使用することにより選択し出力する工程、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１２】
請求項１０に記載の記録条件の調整方法において、
前記第１の評価値と前記第２の評価値を用いて信号評価値を算出する工程、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１３】
最短ラン長が２Ｔの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とＰＲＭＬ方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける記録条件の調整方法において、
前記光ディスクから得た再生信号を前記ＰＲＭＬ方式によって２値化し、第１の２値化ビット列を得る行程と、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列を生成する工程と、
前記第１から第３の２値化ビット列に対応する第１から第３の目標信号を生成する工程と、
前記第１の目標信号と前記再生信号の差である等化誤差ベクトルを算出する工程と、
前記第２の目標信号と前記第１の目標信号の差である第１のエラーベクトルを算出する工程と、
前記第３の目標信号と前記第１の目標信号の差である第２のエラーベクトルを算出する工程と、
前記等化誤差ベクトルと前記第１のエラーベクトルの内積である第１の内積値を算出する工程と、
前記等化誤差ベクトルと前記第２のエラーベクトルの内積である第２の内積値を算出する工程と、
前記第１の内積値に対して、前記第２の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第１の評価値を算出する工程と、
前記第２の内積値に対して、前記第３の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第２の評価値を算出する工程と、
前記第１の評価値と前記第２の評価値の差分値を用いてエッジシフト評価値を算出する工程と、
前記エッジシフト評価値を用いて、前記記録条件を調整する工程と、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の記録条件の調整方法において、
前記第１の２値化ビット列の中から、着目するエッジを左右に１Ｔシフトさせたビット列として最短ラン長が２Ｔ以上の第２および第３の２値化ビット列をテーブルを使用することにより選択し出力する工程、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１５】
請求項１３に記載の記録条件の調整方法において、
前記第１の評価値と前記第２の評価値を用いて信号評価値を算出する工程、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１６】
最短ラン長が２Ｔの符号を用いて情報の記録を行い、適応等化方式とＰＲＭＬ方式を用いて前記情報の再生を行う光ディスクにおける記録条件の調整方法において、
前記光ディスクから得た再生信号を前記ＰＲＭＬ方式によって２値化し、２値化ビット列を得る工程と、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のエラーベクトルを生成する工程と、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のユークリッド距離を生成する工程と、
前記２値化ビット列に対応する目標信号を生成する工程と、
前記目標信号と前記再生信号の差である等化誤差ベクトルを算出する工程と、
前記等化誤差ベクトルと前記第１のエラーベクトルの内積である第１の内積値を算出する工程と、
前記等化誤差ベクトルと前記第２のエラーベクトルの内積である第２の内積値を算出する工程と、
前記第１の内積値に対して、前記第２の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第１の評価値を算出する工程と、
前記第２の内積値に対して、前記第３の目標信号と前記第１の目標信号のユークリッド距離で規格化した第２の評価値を算出する工程と、
前記第１の評価値と前記第２の評価値の差分値を用いてエッジシフト評価値を算出する工程と、
前記エッジシフト評価値を用いて、前記記録条件を調整する工程と、
を有することを特徴とする記録条件
の調整方法。
【請求項１７】
請求項１６に記載の記録条件の調整方法において、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のエラーベクトルをテーブルを使用することにより選択し出力する工程と、
前記２値化ビット列の中から、着目するエッジに対応する第１および第２のユークリッド距離をテーブルを使用することにより選択し出力する工程と、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。
【請求項１８】
請求項１６に記載の記録条件の調整方法において、
前記第１の評価値と前記第２の評価値を用いて信号評価値を算出する工程、
を有することを特徴とする記録条件の調整方法。