【手続補正書】
【提出日】平成23年9月29日(2011.9.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
例えば、この光特性変化材料でなる光情報記録媒体ＭＤ２に対し、当該光特性変化材料が本来吸収しない波長でなる記録光ビームＬ１が、図３に示す光強度特性ＷＬのように、時点ｔ１から大きな光強度で一定の照射時間ｔｃに亘って照射された場合を仮定する。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７０】
例えば半導体レーザは、ポイントＰＴ１において緩和振動の第１波による光子密度Ｓが約３×１０１６であり、通常電圧ＶＮを印加した場合を示すポイントＰＴ３の場合（約１．２×１０１５）と比して、半導体レーザ３の光強度を２０倍以上に増大させることが可能となる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８８】
また光測定装置１１は、レーザ光ＬＬを光スペクトラムアナライザ１７（株式会社エーディーシー製、Ｑ８３４１）へ供給することにより、当該レーザ光ＬＬの波長を分析し、その分布特性を波長特性ＵＷ（後述する）として示すようになされている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９２】
そこで、パルス信号発生器４に対し、図１６（Ａ）に示すように、パルス幅Ｗｓが１．２５［ｎｓ］でなる矩形状の設定パルスＰＬｓを含むパルス信号ＳＬを出力するよう設定した。このパルス信号ＳＬを所定の測定装置により測定したところ、図１６（Ｂ）に示すような測定結果が得られた。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９３】
図１６（Ｂ）のパルス信号ＳＬにおいて、設定パルスＰＬｓに対応して生成されるパルス（以下、これを生成パルスＰＬと呼ぶ）の半値幅である生成パルス半値幅ＰＬｈａｌｆは、約１．５［ｎｓ］であった。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９６】
このときの生成パルスＰＬの最大電圧値に対する駆動パルスＰＤにおける駆動パルス半値幅ＰＤｈａｌｆの関係、及び当該生成パルスＰＬの最大電圧値に対する駆動パルスＰＤの最大電圧値Ｖｍａｘの関係を、図１７に重ねて示す。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１０５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１０５】
光強度特性ＵＴ３、ＵＴ４、ＵＴ５及びＵＴ６は、先頭のピーク部分の後に大きなピークが表れていないことから、第１波に続いて第２波、第３波のピークを有する緩和振動モードによる光強度特性ＵＴ２（図１８（Ａ））と比較して、波形の傾向が明らかに異なっている。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１３１】
次に、光測定装置１１において短パルス光源装置１を特異モードで動作させ、レーザ光ＬＬ（すなわち特異出力光ＬＥ）の光強度特性ＵＴ１６及び波長特性ＵＷ１６を測定した。また、光測定装置１１にＢＰＦ１３を設置することによりレーザ光ＬＬにおける波長４０６±５［ｎｍ］の透過率を低下させるようにした状態で、同様に光強度特性ＵＴ１７及び波長特性ＵＷ１７を測定した。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１５７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１５７】
また光ディスク１００は、記録層１０１と基板１０２との間にサーボ層１０４が設けられている。サーボ層１０４には、サーボ用の案内溝が形成されており、具体的には、一般的なＢＤ−Ｒ（Recordable）ディスク等と同様のランド及びグルーブにより螺旋状のトラック（以下、これをサーボトラックと呼ぶ）ＫＳが形成されている。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１５８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１５８】
このサーボトラックＫＳには、所定の記録単位ごとに一連の番号でなるアドレスが付されており、情報を記録又は再生する際にサーボ光ビームＬＳ（後述する）が照射されるべきサーボトラック（以下、これを目標サーボトラックＫＳＧと呼ぶ）を当該アドレスにより特定し得るようになされている。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１６２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１６２】
また光ディスク装置１１０は、サーボ光ビームＬＳと情報光ビームＬＭとの光軸ＸＬを互いにほぼ一致させている。これにより光ディスク装置１１０は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを、記録層１０１内における目標サーボトラックＫＳＧに対応した箇所に、すなわち目標サーボトラックＴＳＧを通りサーボ層１０４に垂直な法線上に位置させる。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１６３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１６３】
この結果、光ディスク１００には、記録層１０１内における目標サーボトラックＫＳＧを通る法線上の目標とする位置（以下これを目標位置ＱＧと呼ぶ）に記録マークＲＭが形成される。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１７４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１７４】
因みにフォーカスエラー信号ＳＦＥは、サーボ光ビームＬＳのサーボ層１０４に対するフォーカス方向のずれ量を表す信号である。またトラッキングエラー信号ＳＴＥは、サーボ光ビームＬＳの目標とするサーボトラックＫＳ（すなわち目標サーボトラックＫＳＧ）に対するトラッキング方向のずれ量を表す信号である。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１７７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１７７】
駆動制御部１１２は、このフォーカス制御及びトラッキング制御を行うことにより、対物レンズ１１８によって集光されるサーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳを目標となるマーク層Ｙ（以下、これを目標マーク層ＹＧと呼ぶ）の目標サーボトラックＫＳＧに追従させる。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１８０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１８０】
また光ピックアップ１１７は、光ディスク１００から情報を再生する場合、記録時と同様にサーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳを目標サーボトラックＫＳＧに追従させると共に、光強度が比較的弱い情報光ビームＬＭを目標マーク層ＹＧの目標位置ＱＧへ照射する。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１９６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１９６】
集光レンズ１４１は、サーボ反射光ビームＬＳｒを収束させ、シリンドリカルレンズ１４２により非点収差を持たせた上でフォトディテクタ１４３へ照射する。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２００
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２００】
また信号処理部１１３は、いわゆるプッシュプル法に基づいて焦点ＦＳと光ディスク１００のサーボ層１０４における目標サーボトラックＫＳＧとのずれ量を表すトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出し、これを駆動制御部１１２へ供給する。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２０２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２０２】
また駆動制御部１１２は、トラッキングエラー信号ＳＴＥを基にトラッキング駆動信号を生成し、当該トラッキング駆動信号を２軸アクチュエータ１１９へ供給する。かくして駆動制御部１１２は、サーボ光ビームＬＳが光ディスク１００のサーボ層１０４における目標サーボトラックＫＳＧに合焦するよう、対物レンズ１１８をフィードバック制御（すなわちトラッキング制御）する。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２０３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２０３】
このようにサーボ光学系１３０は、サーボ光ビームＬＳを光ディスク１００のサーボ層１０４に照射し、その反射光であるサーボ反射光ビームＬＳｒの受光結果を信号処理部１１３へ供給するようになされている。これに応じて駆動制御部１１２は、当該サーボ光ビームＬＳを当該サーボ層１０４の目標サーボトラックＫＳＧに合焦させるよう、対物レンズ１１８のフォーカス制御及びトラッキング制御を行うようになされている。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２２２】
ピンホール板１６６は、マルチレンズ１６５により集光される情報反射光ビームＬＭｒの焦点を孔部１６６Ｈ内に位置させるよう配置されており、当該情報反射光ビームＬＭｒをそのまま通過させる。一方ピンホール板１６６は、焦点が孔部１６６Ｈ内に形成されなかった光、すなわち光ディスク１００内における目標位置ＱＧ以外の箇所において反射された光（いわゆる迷光）等については、遮断する。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２４６】
ここで、ガラス材料Ｍ１及びガラス材料Ｍ２における光の波長と屈折率との関係を、図３７に特性曲線ＵＮ１及びＵＮ２として示す。ガラス材料Ｍ１及びガラス材料Ｍ２は、互いの分散νｄが相違していること並びに特性曲線ＵＮ１及びＵＮ２が相違していることから分かるように、光の波長が変化したときにおける、互いの屈折率の変化の度合いが相違している。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２６１】
このとき情報光学系１５０は、コリメータレンズ１５２、補正レンズ１６２及び対物レンズ１１８を順次介し、特異ピーク光ＬＥＰ及び特異スロープ光ＬＥＳを光ディスク１００の記録層１０１へ順次照射する。
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２６２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２６２】
補正レンズ１６２は、波長３９８［ｎｍ］でなる特異ピーク光ＬＥＰに対し凹レンズとして作用することによりその発散角を変化させる一方、特異スロープ光ＬＥＳをそのまま透過させる（図３５）。
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２６４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２６４】
このとき情報光学系１５０は、特異ピーク光ＬＥＰの発散角を変化させているため、当該特異ピーク光ＬＥＰにおける焦点ＦＭＰの深さＺＰを、特異スロープ光ＬＥＳの焦点ＦＭＳと同等の深さＺＧに合わせることができる。
【手続補正２５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２８９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２８９】
さらに上述した実施の形態においては、半導体レーザ３から出射されるレーザ光ＬＬ（情報光ビームＬＭ）の波長を４０４［ｎｍ］とした場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず、当該レーザ光ＬＬを他の波長とするようにしても良い。この場合、光ディスク１００における記録層１０１の構成材料等を適切に選定することにより、当該記録層１０１内における目標位置ＱＧの近傍に記録マークＲＭを適切に形成できれば良い。例えば、波長と集光時のビーム径との関係等を考慮して、当該波長を３９０〜４６０［ｎｍ］の範囲とすることが考えられる。
【手続補正２６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０３０２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０３０２】
【図１】１光子吸収による記録マークの形成の説明に供する略線的断面図である。
【図２】２光子吸収による記録マークの形成の説明に供する略線的断面図である。
【図３】記録光ビームにおける光強度の変化の説明に供する略線図である。
【図４】２光子吸収反応の様子の説明に供する略線図である。
【図５】短パルス光源装置の構成を示す略線図である。
【図６】パルス信号及びレーザ駆動信号を示す略線図である。
【図７】注入キャリア密度と光子密度との関係（１）の説明に供する略線図である。
【図８】注入キャリア密度とキャリア密度との関係の説明に供する略線図である。
【図９】注入キャリア密度と光子密度との関係（２）の説明に供する略線図である。
【図１０】ＰＴ１における光子密度の説明に供する略線図である。
【図１１】ＰＴ２における光子密度の説明に供する略線図である。
【図１２】ＰＴ３における光子密度の説明に供する略線図である。
【図１３】実際の発光波形を示す略線図である。
【図１４】駆動信号と光強度との関係を示す略線図である。
【図１５】光測定装置の構成を示す略線図である。
【図１６】各パルスの形状を示す略線図である。
【図１７】パルス信号と駆動パルスとの関係を示す略線図である。
【図１８】駆動パルスの電圧を変化させたときの光強度特性を示す略線図である。
【図１９】駆動パルスの電圧が８．８［Ｖ］のときにおける波長特性及び光強度特性を示す略線図である。
【図２０】駆動パルスの電圧が１３．２［Ｖ］のときにおける波長特性及び光強度特性を示す略線図である。
【図２１】駆動パルスの電圧が１５．６［Ｖ］のときにおける波長特性及び光強度特性を示す略線図である。
【図２２】駆動パルスの電圧が１７．８［Ｖ］のときにおける波長特性及び光強度特性を示す略線図である。
【図２３】駆動パルスの電圧が３８．４［Ｖ］のときにおける波長特性及び光強度特性を示す略線図である。
【図２４】ＢＰＦの有無による光強度特性の相違を示す略線図である。
【図２５】ＢＰＦの有無による波長特性の相違を示す略線図である。
【図２６】特異出力光の光強度特性を示す略線図である。
【図２７】特異出力光における発光点及び焦点の相違の説明に供する略線図である。
【図２８】光ディスク装置の全体構成を示す略線図である。
【図２９】光ディスクの構成を示す略線図である。
【図３０】第１の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。
【図３１】サーボ光ビームの光路を示す略線図である。
【図３２】情報光ビームの光路を示す略線図である。
【図３３】仮想光学系の構成を示す略線図である。
【図３４】記録マークの形成の説明に供する略線図である。
【図３５】情報光学系の構成（１）を示す略線的回路図である。
【図３６】補正レンズの構成を示す略線図である。
【図３７】補正レンズの材料における波長と屈折率との関係を示す略線図である。
【図３８】波長と焦点位置との関係を示す略線図である。