【手続補正書】
【提出日】平成23年1月24日(2011.1.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
中央接地（ＣＧ）端子を有する超小型回路を試験するために前記超小型回路に電気的接続する試験システムであって、前記試験システムは、
負荷接地端子（５２）を有する負荷基板（５８）であって、前記負荷接地端子（５２）は前記負荷基板（５８）の第１面の上に載せられることと；
前記第１面に取付けられるハウジング（１５ａ）であって、前記ハウジング（１５ａ）は、前記超小型回路を受容すべく、前記ハウジング（１５ａ）の第１面対応領域（４４）の周りに配置された試験端子を担持することと；
前記第１面対応領域（４４）において前記負荷接地端子（５２）に向かって開く開孔（４０）であって、前記開孔（４０）は前記第１面対応領域（４４）において前記中央接地端子に対して位置決めされ、前記開孔（４０）は前記第１面に対して垂直なＺ軸（１７）を規定することと
を有し、
前記ハウジング（１５ａ）は、
前記開孔（４０）内に収容される電導性接地コネクタインサートとしてのインサート（３０）と；
前記中央接地端子に接触するための中央接地端子接触端（１９）と；
前記負荷接地端子（５２）に接触するための負荷基板接触端（４１）と
を有し、
前記インサート（３０）は、側部と、前記側部から突出して前記Ｚ軸（１７）に対して垂直に延びる第１弾性突起（３３）とを有し、
前記ハウジング（１５ａ）は、前記開孔（４０）の少なくとも一部を規定する壁（３９）を有し、
前記壁（３９）は、前記第１弾性突起（３３）と協働することによって
ａ）前記開孔（４０）内の所定のＺ軸（１７）位置に前記インサート（３０）を保持することと；
ｂ）前記インサート（３０）を前記負荷接地端子（５２）に機械的に押圧することと
のうちの少なくとも一方を提供する構成部（４３ａ，４３ｂ，４７）を有する
ことを特徴とする、試験システム。
【請求項２】
前記ａ）すなわち前記開孔（４０）内の所定のＺ軸（１７）位置に前記インサート（３０）を保持するための前記構成部は、スロット（４３ａ，４３ｂ）であり、
前記スロット（４３ａ，４３ｂ）の軸線は、前記Ｚ軸（１７）に平行であり、
前記スロット（４３ａ，４３ｂ）は、前記負荷基板（５８）から離れた端部で開き、
前記第１弾性突起（３３）は、前記スロット（４３ａ，４３ｂ）に係合する、
請求項１記載の試験システム。
【請求項３】
前記第１弾性突起（３３）は、前記第１面に平行な方向に関する寸法を有し、
前記スロット（４３ａ，４３ｂ）は、前記第１弾性突起（３３）の前記寸法に対応する寸法を有し、
前記スロット（４３ａ，４３ｂ）と前記第１弾性突起（３３）の寸法は、前記開孔（４０）内においてＺ軸方向に前記インサート（３０）を位置決めしつつ保持するための戻止めを構成すべく設定される、
請求項２記載の試験システム。
【請求項４】
前記スロット（４３ａ，４３ｂ）の前記寸法は、前記第１弾性突起（３３）の前記寸法よりも小さい、
請求項３記載の試験システム。
【請求項５】
前記インサート（３０）は、
前記負荷基板接触端（４１）から前記中央接地端子接触端（１９）まで延びる縦穴（１８）と；
前記Ｚ軸（１７）を横断して前記縦穴（１８）に交差する第１横穴と
を有し、
前記第１横穴には、前記第１横穴から突出することで前記第１弾性突起（３３）を形成する第１弾性シリンダが差込まれ、
前記第１弾性シリンダは、前記縦穴（１８）と前記第１横穴の交差部で前記縦穴（１８）を閉じる、
請求項４記載の試験システム。
【請求項６】
前記構成部は、前記負荷基板接触端（４１）に向かう棚部（４７）を有し、
前記インサート（３０）は、Ｚ軸（１７）を横切って延びる第２弾性突起（３６）を備え、
前記第２弾性突起（３６）は、Ｚ軸（１７）方向に関して前記棚部（４７）によって位置決めされ、
前記棚部（４７）と前記第２弾性突起（３６）のＺ軸（１７）位置は、前記インサート（３０）が所定のＺ軸（１７）位置にあるときに前記第２弾性突起（３６）の撓みを生じさせるように設定される、
請求項５記載の試験システム。
【請求項７】
前記インサート（３０）は、
Ｚ軸（１７）を横切る第２横穴と；
前記第２弾性突起（３６）を形成すべく前記第２横穴から突出する第２弾性シリンダとを有する、
請求項６記載の試験システム。
【請求項８】
前記第１横穴と前記第２横穴は、互いに垂直であり、且つ前記Ｚ軸（１７）方向に互いに離隔して配置される、
請求項７記載の試験システム。
【請求項９】
前記構成部は、前記負荷基板（５８）に向かう棚部（４７）を有し、
前記インサート（３０）は、Ｚ軸（１７）を横切って延びる第２弾性突起（３６）を備え、
前記第２弾性突起（３６）は、Ｚ軸（１７）方向に関して前記棚部（４７）によって位置決めされ、
前記棚部（４７）と前記第２弾性突起（３６）のＺ軸（１７）位置は、前記インサート（３０）が所定のＺ軸（１７）位置にあるときに前記第２弾性突起（３６）の撓みを生じさせるように設定される、
請求項３記載の試験システム。
【請求項１０】
前記ｂ）すなわち前記インサート（３０）を前記負荷接地端子（５２）に機械的に押圧するための前記構成部は、前記負荷基板（５８）に向かう棚部（４７）を有し、
前記第１弾性突起（３３）は、Ｚ軸（１７）を横切って延び、Ｚ軸（１７）方向に関して前記棚部（４７）によって位置決めされ、
前記棚部（４７）と前記第１弾性突起（３３）のＺ軸（１７）位置は、前記インサート（３０）が所定のＺ軸（１７）位置にあるときに前記第１弾性突起（３３）の撓みを生じさせ、その結果として前記インサート（３０）を前記負荷接地端子（５２）に機械的に押圧させるように設定される、
請求項１記載の試験システム。
【請求項１１】
前記インサート（３０）は、
Ｚ軸（１７）を横切る横穴と；
前記第１弾性突起（３３）を形成すべく前記横穴から端部が突出するように前記横穴に差し込まれる第１弾性シリンダと
を有する、
請求項１０記載の試験システム。
【請求項１２】
前記インサート（３０）は、前記負荷基板接触端（４１）から前記中央接地端子接触端（１９）まで延びる縦穴（１８）を有し、
前記縦穴（１８）は、前記横穴に交差し、
前記第１弾性シリンダは、前記縦穴（１８）と前記横穴の交差部で前記縦穴（１８）を閉じる、
請求項１１記載の試験システム。
【請求項１３】
前記横穴は、前記インサート（３０）の一側から、前記一側とは反対側の他側まで延び、
前記第１弾性シリンダは、前記インサート（３０）の前記一側から前記他側まで貫通する、
請求項１２記載の試験システム。
【請求項１４】
前記棚部（４７）は、前記Ｚ軸に対して垂直である、
請求項１３記載の試験システム。
【請求項１５】
前記横穴は、前記インサート（３０）の一側から、前記一側とは反対側の他側まで延び、
前記第１弾性シリンダは、前記インサート（３０）の前記一側から前記他側まで貫通する、
請求項１１記載の試験システム。
【請求項１６】
前記棚部（４７）は、前記Ｚ軸に対して垂直である、
請求項１５記載の試験システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
現在の試験設備設計においては、インサート２５の取付けは、ＤＵＴが試験位置に無いときには、インサート２５を負荷基板に接触するように強くは付勢しない。ＤＵＴが試験位置に移動し、インサート２５に向かって押されるときには、ローダのＤＵＴに対する圧力は、多くの場合、Ｘ、Ｙ、およびＺ軸の各々に沿ってインサート２５を、開孔２８内で且つ負荷基板上で非常に僅かに移動させる。
【特許文献１】米国特許第７，６９９，６１６号明細書
【特許文献２】米国特許第６，８６１，６６７号明細書
【特許文献３】米国特許第６，４３７，５８５号明細書