(57)【要約】  本発明による光学測定器は、光学的に測定されるサンプル１０３〜１０９を保持するように構成されたサンプルウエル１１１〜１１７からサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された１つ又は複数の温度センサー１２２を備える。光学測定器の処理装置１２１は、所定の数学的規則を用いて、測定されたサンプルウエル特有の温度に基づいて、光学測定によって取得された測定結果を補正するように構成される。したがって、測定結果の温度補正の精度に対し、種々のサンプル間の温度差によってもたらされる悪影響が緩和される。
2012515909.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
各々が、測定されるサンプル（１０３〜１０９、２０３〜２１０）のうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源（１０１、１０２、２０１、２０１ａ）であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエル（１１１〜１１７、２１１〜２１８、３１１〜３１４）のうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器（１１９、１２０、２１９、２１９ａ）と、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成する処理装置（１２１、２２１）と、
前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された少なくとも１つの温度センサー（１２２、２２２、２２２ａ、３１１、３１１ａ、３３１１ｂ、３３１ｃ）であって、種々のサンプルウエルから種々の温度を測定することができ、前記処理装置は、測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果を、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定された前記サンプルウエル特有の温度に基づいて補正するように構成される、少なくとも１つの温度センサーと、
を具備する光学測定器であって、
前記複数のサンプルウエル（１１１〜１１７、２１１〜２１８）は、各前記温度センサーが２つ以上のサンプルウエルから前記サンプルウエル特有の温度を測定することができるように、前記少なくとも１つの温度センサー（１２２、２２２、２２２ａ）に対して移動可能であり、前記少なくとも１つの温度センサーは、各時点で、前記検出器（１１９、１２０）が前記特定のサンプルウエルに保持されている前記サンプルによって放射される放射ビームを検出することができる機械的位置にある、その特定のサンプルウエル（１１２）から、前記サンプルウエル特有の温度を測定するように構成されることを特徴とする、光学測定器。
【請求項２】
前記温度センサーは、前記検出器が前記対応するサンプルウエルに保持されている前記サンプルからの前記放射ビームを検出している時間間隔の間に、前記サンプルウエル特有の温度を検出するように構成される、請求項１に記載の光学測定器。
【請求項３】
前記複数のサンプルウエルを含む別個の要素（１２４、２２４）を受け入れるインターフェース装置（１２３、２２３）を具備する、請求項１に記載の光学測定器。
【請求項４】
前記複数のサンプルウエルを含む要素を具備する、請求項１に記載の光学測定器。
【請求項５】
前記処理装置は、以下の規則に従って、測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果を補正するように構成され、
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×Ｆ（Ｔ）
式中、Ｍｃｏｒｒは補正された測定結果であり、Ｍは測定結果であり、Ｆ（Ｔ）は、検討中の前記サンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定される、サンプルウエル特有の温度Ｔの所定の関数である、請求項１に記載の光学測定器。
【請求項６】
前記処理装置は、以下の規則に従って、測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果を補正するように構成され、
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×α（Ｔ０−Ｔ）
式中、Ｍｃｏｒｒは補正された測定結果であり、Ｍは測定結果であり、α及びＴ０は所定の定数であり、Ｔは、検討中のサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されるサンプルウエル特有の温度である、請求項１に記載の光学測定器。
【請求項７】
各々が、測定されるサンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成する処理装置と、
を備える光学測定器で取得される測定結果の精度を向上させる方法であって、
温度センサーにより、前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定すること（４０１）、及び
測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果を、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定された前記サンプルウエル特有の温度に基づいて補正すること（４０２）、
を含み、該方法は、
前記温度センサーが２つ以上のサンプルウエルから前記サンプルウエル特有の温度を測定することができるように、前記複数のサンプルウエルを前記温度センサーに対して移動させること、及び
特定のサンプルウエル各々からの前記サンプルウエル特有の温度を、前記特定のサンプルウエルが、前記検出器がその特定のサンプルウエルに保持されている前記サンプルによって放射される前記放射ビームを検出することができる機械的位置にあるときに、測定すること、
を含むことを特徴とする、方法。
【請求項８】
前記サンプルウエル特有の温度は、前記検出器が、前記対応するサンプルウエルに保持されている前記サンプルからの前記放射ビームを検出している時間間隔の間に測定される、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果は、以下の規則に従って補正され、
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×Ｆ（Ｔ）
式中、Ｍｃｏｒｒは補正された測定結果であり、Ｍは測定結果であり、Ｆ（Ｔ）は、検討中のサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定される、サンプルウエル特有の温度Ｔの所定の関数である、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果は、以下の規則に従って補正され、
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×α（Ｔ０−Ｔ）
式中、Ｍｃｏｒｒは補正された測定結果であり、Ｍは測定結果であり、α及びＴ０は所定の定数であり、Ｔは、検討中のサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されるサンプルウエル特有の温度である、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
各々が、測定されるサンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成するプログラム可能処理装置と、
前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された少なくとも１つの温度センサーであって、種々のサンプルウエルから種々の温度を測定することができる、少なくとも１つの温度センサーと、
を備える光学測定器で取得される測定結果の精度を向上させるコンピュータープログラムであって、
該コンピュータープログラム製品は、前記プログラム可能処理装置を、測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果をそのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定された前記サンプルウエル特有の温度に基づいて補正するように制御する、プロセッサ実行可能命令を含み、該コンピュータープログラム製品は、前記プログラム可能処理装置が、
前記少なくとも１つ温度センサーに対して、各前記温度センサーが２つ以上の前記サンプルウエルから前記サンプルウエル特有の温度を測定することができるように、前記複数のサンプルウエルを移動するように制御し、かつ
前記特定のサンプルウエル各々からの前記サンプルウエル特有の温度を、該特定のサンプルウエルが、前記検出器がその特定のサンプルウエルに保持されている前記サンプルによって放射される前記放射ビームを検出することができる機械的位置にあるときに測定するように制御する、
ように制御するためのプロセッサ実行可能命令をさらに含むことを特徴とする、コンピュータープログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学測定器によって取得される測定結果の精度を向上させる方法に関する。光学測定は、限定されないがたとえば、吸収測定、光ルミネセンス（photoluminescence：フォトルミネセンス、光発光）測定又は化学ルミネセンス（chemiluminescence：ケミルミネセンス、化学発光）測定があり得る。さらに、本発明は、光学測定器と、光学測定器で取得される光学測定値の精度を向上させるコンピュータープログラムとに関する。
【背景技術】
【０００２】
分析生化学研究室及び臨床検査室における作業は、検査中の高分子に結合された種々のタグ又は標識に基づくことが多い。使用される典型的な標識は、種々の放射性同位体、酵素、種々の蛍光性分子、及びたとえば希土類金属の蛍光キレートである。酵素標識の検出を、その自然な生化学的機能を利用することにより、すなわち分子の物理特性を変更するように行うことができる。酵素免疫測定法では、酵素が、無色物質に対して色彩豊かな物質になるように、又は無蛍光物質に対して蛍光物質になるように触媒作用を及ぼす。
【０００３】
色彩豊かな物質を、吸収測定、すなわち光度測定で測定することができる。吸収測定では、まず、いかなるサンプルもなしで、フィルタリングされかつ安定化されたビームの強度を測定し、次いで、１つのプレート内のサンプルを測定する。そして、吸収度、すなわち吸収値を計算する。
【０００４】
蛍光物質を、一般に、サンプルにおける蛍光標識物質の量を測定するために用いられる蛍光測定によって測定することができる。最大の光ルミネセンス標識は、分子光ルミネセンスプロセスに基づく。このプロセスでは、輻射光は、分子の基底状態によって吸収される。エネルギーの吸収により、量子分子は、上昇してより高い励起状態になる。高速振動緩和の後、分子は、その基底状態に戻り、余剰エネルギーが光量子として放出される。このプロセスにおける損失のために、平均吸収エネルギーは平均放射エネルギーより高い。
【０００５】
さらなる測定方法は、化学ルミネセンス測定であり、そこでは、物質の発光が、照明による励起なしにサンプルから測定される。したがって、光ルミネセンス測定に適している光照度計（photoluminometer）を、化学照度計（chemiluminometer）として用いることも可能である。
【０００６】
さらに、増幅ルミネセンス近接ホモジニアスアッセイ（Amplified Luminescent Proximity Homogeneous Assay）又はＡｌｐｈａＳｃｒｅｅｎ（商標名）と呼ばれる分析方法がある。ＡｌｐｈａＳｃｒｅｅｎ（商標名）法の作用は、研究中の分子に付着する小さいビーズの使用に基づく。一重項状態酸素のドナー（donor：供与体）又はアクセプター（acceptor：受容体）のいずれかとして作用する材料で覆われている２つのタイプのビーズがある。測定は、液体サンプルが、適当な波長、たとえば６８０ｎｍの波長の光で照明されると開始する。この後、ドナービーズ内の材料が、周囲の酸素を一重項状態酸素に変換する。その一重項状態の分子は寿命が短く、液体における拡散により、約２００ｎｍの距離にしか達することができない。問題の化学反応が発生した場合、ドナービーズ及びアクセプタービーズは共に、同じ分子に結合されるため、互いに十分に緊密になる。この場合、一重項状態酸素は、一連の反応が開始されるアクセプタービーズに到達することができる。反応の最後の段階として、アクセプタービーズにおける被覆材料が、５００ｎｍ〜７００ｎｍ範囲で光子を放射する。化学反応が発生しなかった場合、一重項状態酸素はアクセプタービーズに達することができず、放射光は検出されない。光の強度を測定することにより、化学反応の効率を結論付けることができる。
【０００７】
上述した種類の測定のうちのいくつか又はすべてを行うのに適している光学測定器は、通常、各時点で測定される１つ又は複数のサンプルに対して励起ビームを生成する少なくとも１つの励起光源を備えている。各励起光源は、たとえばフラッシュランプ又はレーザー光源であり得る。励起光源からサンプルへの光路には、たとえばレンズ、ファイバー、ミラー、ダイクロイックミラー、光学フィルター、モノクロメーター及び／又は他の光学素子があり得る。光学測定器は、各時点で測定されるサンプルによって放射される放射ビームを検出すると共に、検出された放射ビームに応じて検出信号を生成する、少なくとも１つの検出器をさらに備えている。光学測定器は、測定される各サンプルに対し、そのサンプルに関連する検出信号に基づいて測定結果を生成する処理装置をさらに備えている。各検出器を、たとえば、フォトダイオード又は光電子増倍管とすることができる。サンプルから検出器までの光路には、たとえばレンズ、ファイバー、ミラー、ダイクロイックミラー、光学フィルター、モノクロメーター及び／又は他の光学素子があり得る。測定される各サンプルは、たとえば微量滴定プレート（microtitration plate）又は別のサンプル支持要素上に構築される複数のサンプルウエルのうちの１つによって収容される。実際の測定環境では、種々のサンプルの温度が互いにずれる可能性がある。種々のサンプルの温度のずれは有害な現象であり、それは、サンプルによって放射される放射線の強度がサンプルの温度によって決まるためであり、したがって、種々のサンプルから得られる測定結果が互いに対応しない。
【０００８】
特許文献１は、サンプルプレートの温度を測定するように適合された１つ又は複数の温度センサーを有する光学測定器を開示している。各温度センサーは、接触式センサー、たとえば温度依存抵抗器若しくは熱電対か、又はＩＲセンサー（赤外線）等の非接触式センサーであってもよい。１つ又は複数の温度センサーは、サンプルプレート上のさまざまな位置の温度を、たとえば複数のセンサーを用いて、かつ／又はセンサーに対してサンプルプレートを移動させることにより測定することができるように適合される。光学測定器は、１つ又は複数の温度センサーから信号を受け取り、使用者に温度を報告し、測定された信号を、温度の影響を考慮するように補正するように適合されたコンピューターをさらに備えている。温度補正の精度は、サンプルプレート上の温度勾配、及びまた温度が測定されるサンプルプレート上の位置の選択によって決まる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】米国特許第６９７７７２２号
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の第１の態様によれば、新たな光学測定器が提供される。本発明による光学測定器は、
各々が、測定される前記サンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された少なくとも１つの温度センサーであって、種々のサンプルウエルから種々の温度を測定することができる、少なくとも１つの温度センサーと、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成し、測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果を、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定された前記サンプルウエル特有の温度に基づいて補正するように構成される、処理装置と、
を備え、
前記複数のサンプルウエルは、各前記温度センサーが２つ以上のサンプルウエルから前記サンプルウエル特有の温度を測定することができるように、前記少なくとも１つの温度センサーに対して移動可能であり、前記少なくとも１つの温度センサーは、各時点で、前記検出器が前記特定のサンプルウエルに保持されている前記サンプルによって放射される放射ビームを検出することができる機械的位置にある、その特定のサンプルウエルから、サンプルウエル特有の温度を測定するように構成される。
【００１１】
或るサンプルに関連する測定結果が、その検査中のサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されたサンプルウエル特有の温度に基づいて補正され、各該サンプルウエル特有の温度は、前記検査中のサンプルが、前記検出器が前記サンプルによって放射される放射ビームを検出することができる機械的位置にあるときに測定されるため、温度補正の精度が、本文書において上述した従来技術による光学測定器を用いる場合より向上する。
【００１２】
本発明の第２の態様によれば、各々が、測定されるサンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成する処理装置と、
を備える光学測定器で取得される測定結果の精度を向上させる新たな方法でが提供される。
【００１３】
本発明による方法は、温度センサーにより、前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定すること、
測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果を、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定された前記サンプルウエル特有の温度に基づいて補正すること、
前記温度センサーが２つ以上のサンプルウエルから前記サンプルウエル特有の温度を測定することができるように、前記複数のサンプルウエルを前記温度センサーに対して移動させること、及び
特定のサンプルウエル各々からの前記サンプルウエル特有の温度を、前記特定のサンプルウエルが、前記検出器がその特定のサンプルウエルに保持されている前記サンプルによって放射される前記放射ビームを検出することができる機械的位置にあるときに、測定すること、
を含む。
【００１４】
本発明の第３の態様によれば、各々が、測定されるサンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成するプログラム可能処理装置と、
前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された少なくとも１つの温度センサーであって、種々のサンプルウエルから種々の温度を測定することができる、少なくとも１つの温度センサーと、
を備える光学測定器で取得される測定結果の精度を向上させる新たなコンピュータープログラムが提供される。
【００１５】
本発明によるコンピュータープログラム製品は、前記プログラム可能処理装置が、
測定される各前記サンプルに関連する前記測定結果をそのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定された前記サンプルウエル特有の温度に基づいて補正し、
前記少なくとも１つ温度センサーに対して、各前記温度センサーが２つ以上の前記サンプルウエルから前記サンプルウエル特有の温度を測定することができるように、前記複数のサンプルウエルを移動するように制御し、かつ
前記特定のサンプルウエル各々からの前記サンプルウエル特有の温度を、該特定のサンプルウエルが、前記検出器がその特定のサンプルウエルに保持されている前記サンプルによって放射される前記放射ビームを検出することができる機械的位置にあるときに測定するように制御する、
ように制御するためのプロセッサ実行可能命令を含む。
【００１６】
本発明の第４の態様によれば、本発明によるコンピュータープログラムで符号化された新たなコンピューター可読媒体が提供される。このコンピューター可読媒体を、たとえば光ディスク又は電子メモリデバイスとすることができる。
【００１７】
本発明の複数の例示する実施の形態を、添付の従属クレームにおいて述べる。
【００１８】
特定の例示的な実施形態の以下の説明を添付図面に関連して読んだときに、該説明から、本発明の構造及び動作方法両方に関するさまざまな例示的な実施形態は、本発明のさらなる目的及び利点と共に、最もよく理解されよう。
【００１９】
この文書では、「備える、有する、含む（to comprise）」という動詞を、列挙していない特徴の存在についても排除しない開かれた限定（open limitation）として用いる。従属請求項に列挙する特徴は、特に明示的に述べない限り、相互に自由に組合せ可能である。
【００２０】
本発明の例示する実施形態及びそれらの利点を、例という意味でかつ添付図面を参照して以下により詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１ａ】本発明の一実施形態による光学測定器の側面図の概略図である。
【図１ｂ】図１ａの線Ａ−Ａから下方に見た図の概略図である。
【図２】本発明の一実施形態による光学測定器の側面図の概略図である。
【図３】本発明の一実施形態による光学測定器に適している温度センサー構成の概略図である。
【図４】光学測定器で取得された光学測定値の精度を向上させる本発明の一実施形態による方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
図１ａは、本発明の一実施形態による光学測定器の側面図の概略図である。測定されるサンプル１０３、１０４、１０５、１０６、１０７、１０８、１０９は、それぞれサンプルウエル１１１、１１２、１１３、１１４、１１５、１１６、１１７内に保持される。図１ｂは、図１ａの線Ａ−Ａから下方に見た図の概略図を示す。図１ｂから分かるように、サンプルウエルは、この例示的な場合では、７×７アレイを構成している。しかしながら、多くの場合、アレイにはより多くのサンプルウエル、たとえば９６個のサンプルウエルがある。光学測定器は、複数のサンプルウエルを含む別個の要素１２４を受け入れるインターフェース装置１２３を備えている。したがって、サンプルウエルを含む要素１２４は交換可能である。インターフェース装置１２３は、サンプルプレートスレッジと呼ばれることが多い。インターフェース装置１２３は、支持レール１４０に機械的に連結されており、支持レール１４０は、両方向矢印１４１によって画定される方向に移動可能である。そして、インターフェース装置１２３は、両方向矢印１４２によって画定される方向において支持レール１４０に対して移動可能である。このため、インタインターフェース装置１２３及びサンプルウエルもまた、座標系１９０によって画定されるｘｙ平面において移動可能である。したがって、各サンプルを、インターフェース装置１２３の機械的位置を変更することによって測定することができる。図１ａに示す例示的な状況では、この時点で測定されているサンプルは、サンプルウエル１１２内に保持されているサンプル１０４である。原則として、サンプルウエルを含む要素１２４は、光学測定器の一体部分であることが可能であるが、複数のサンプルウエルを含む交換可能な要素を有することによっていくつかの利点が提供される。
【００２３】
図１ａを参照すると、光学測定器は、励起光ビームを生成するように構成されている励起光源１０１を備えている。励起光源１０１を、たとえばフラッシュランプとすることができる。励起光源１０１によって放射される励起光ビームは、レンズ１２５によって平行にされ、光学フィルター１２６を通るように向けられる。種々の波長に対して種々の光学フィルターを選択することができる。そして、励起光ビームは、レンズ１２７によって光ファイバーガイド１２８の端部に集束され、光ファイバーガイド１２８は、励起光ビームをダイクロイックミラー１２９まで導く。光ファイバーガイドを、たとえば、直径が約１００μｍである２００片のファイバー等、ファイバーの束とすることができる。ファイバーの束を、測定されるサンプル上で光が不均一に分散することを回避するために励起光ビームを混合するのに用いることができる。励起光ビームは、ダイクロイックミラー１２９によりコリメートレンズ１３０に反射される。そして、励起光ビームは、レンズ１３１によりサンプル１０４に集束される。
【００２４】
サンプル１０４からの光ルミネセンス放射ビームは、レンズ１３１及び１３０によりダイクロイックミラー１２９に向けられる。ダイクロイックミラーは、好ましくは、励起波長を反射するが、放射波長を透過させるように設計されている。そして、放射ビームは、第２のミラー１３２によって２つのビームに分割される。ミラー１３２は、好ましくはダイクロイックミラーであり、第１の放射波長の放射ビームがミラーを透過し、第２の放射波長の放射ビームがミラーによって反射されるように、フィルターとして機能する。ミラー１３２を透過する放射ビームは、レンズ１３３によって平行にされ、光学フィルター１３５によってフィルタリングされ、レンズ１３４によって検出器１１９の開口部内に集束される。ミラー１３２によって反射される放射ビームは、レンズ１３６によって平行にされ、光学フィルター１３７によってフィルタリングされ、レンズ１３８によって検出器１２０の開口部内に集束される。検出器１１９を、たとえば光電子増倍管とすることができ、検出器１２０を、たとえばフォトダイオードとすることができる。検出器１１９及び１２０は、第１の放射波長の検出されたビームと、第２の放射波長の検出されたビームとに応じて、第１の検出信号及び第２の検出信号を生成するように構成されている。そして、第１の検出信号及び第２の検出信号は、第１の放射波長の放射ビーム及び第２の放射波長の放射ビームの強度に対する値に達するように、増幅され処理される。
【００２５】
ＡｌｐｈａＳｃｒｅｅｎ（商標名）測定モードでは、励起光ビームは、レーザー光源である励起光源１０２から受け取られる。励起光ビームは、光路１３９を介してダイクロイックミラー１２９に導かれる。ＡｌｐｈａＳｃｒｅｅｎ（商標名）測定では、１つの検出器１１９、好ましくは光電子増倍管のみが用いられる。ＡｌｐｈａＳｃｒｅｅｎ（商標名）測定では、サンプルウエル１１１〜１１７の開口部を封止するために、好ましくは、透明なサーモプレート（thermo plate）（図示せず）が用いられる。
【００２６】
光学測定器は、測定される各サンプル１０３〜１０９に対して、そのサンプルに関連する検出信号に基づいて測定結果を生成する処理装置１２１を備えている。光学測定器は、サンプルウエル１１１〜１１７からサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された温度センサー１２２を備えている。サンプルウエル１１１〜１１７を含む要素１２４は、ｘｙ平面において測定センサー１２２に対して移動可能である。したがって、温度センサーを、すべてのサンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するために用いることができる。温度センサー１２２を、たとえばＩＲセンサー（赤外線）とすることができる。
【００２７】
図１ａに示す光学測定器では、温度センサー１２２は、各時点で、検出器１１９及び／又は１２０がそのサンプルウエルに保持されているサンプル１０４によって放射される放射ビームを検出することができるようにする機械的位置にあるサンプルウエル１１２から、サンプルウエル特有の温度を測定するように構成され、すなわち、温度センサー１２２は、その時点で測定されているサンプルが収容されているサンプルウエルから、サンプルウエル特有の温度を測定するように構成されている。処理装置１２１は、測定される各サンプルに関連する測定結果を、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されたサンプルウエル特有の温度に基づいて補正するために、所定の数学的規則を用いるように構成されている。サンプル１０３に関連する測定結果は、サンプルウエル１１１から測定された温度を用いて補正され、サンプル１０４に関連する測定結果は、サンプルウエル１１２から測定された温度を用いて補正される等である。或るサンプルに関連する測定結果Ｍを、たとえば以下の規則に従って補正することができる。
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×Ｆ（Ｔ）                                （１）
ここで、Ｍｃｏｒｒは、補正された測定結果であり、Ｆ（Ｔ）は、サンプルウエル特有の温度Ｔの所定の関数である。所定の関数Ｆ（Ｔ）を、たとえば、
Ｆ（Ｔ）＝α（Ｔ０−Ｔ）                                  （２）
とすることができ、ここで、αは温度係数であり、Ｔ０は基準温度である。たとえば温度の１℃の上昇が測定結果Ｍのｐ％の上昇を意味する場合、温度係数αを、１＋ｐ／１００であるように選択することができる。このαの値により、関数Ｆ（Ｔ）は、測定結果の変化を補償することができる。
【００２８】
測定結果から時間的な温度変化の影響を除去するために、温度センサー１２２は、好ましくは、検出器１１９及び／又は１２０が、対応するサンプルウエルに保持されたサンプルから放射ビームを検出している時間間隔の間に、サンプルウエル特有の温度を測定するように構成され、すなわち、放射ビームの検出及び温度測定が実質的に同時である。
【００２９】
図２は、本発明の一実施形態による光学測定器の側面図の概略図を示す。測定されるサンプル２０３、２０４、２０５、２０６、２０７、２０８、２０９、２１０は、それぞれサンプルウエル２１１、２１２、２１３、２１４、２１５、２１６、２１７、２１８に保持されている。光学測定器は、サンプルウエルを含む別個の要素２２４を受け取るインターフェース装置２２３を備えている。インターフェース装置２２３、したがってサンプルウエルもまた、座標系１９０によって画定されるｘｙ平面において移動可能である。
【００３０】
光学測定器は、２つのサンプルの同時測定を可能にする測定構成を備えている。図２に示す例示的な状況では、サンプル２０５及び２０９が同時に測定されている。サンプル２０５は励起光源２０１によって照明されており、サンプル２０９は励起光源２０１ａによって照明されている。２つ以上のサンプルを同時に照明する単一の励起光源を用いることも可能である。たとえば、いくつかのサンプルに対して単一の励起光源によって放射される光を分割するために、光ファイバーガイドを用いることができる。サンプル２０５によって放射される放射ビームは検出器２１９によって検出され、サンプル２０９によって放射される放射ビームは検出器２１９ａによって検出される。検出器２１９及び２１９ａは、検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成されている。光学測定器は、測定される各サンプルに対し、そのサンプルに関連する検出信号に基づいて測定結果を生成する処理装置２２１を備えている。光学測定器は、サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された温度センサー２２２及び２２２ａを備えている。処理装置２２１は、各サンプルに関連する測定結果を、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されたサンプルウエル特有の温度に基づいて補正するように構成されている。
【００３１】
図２に示す光学測定器では、温度センサー２２２は、その時点で測定されているサンプル２０５を収容しているサンプルウエル２１３に隣接するサンプルウエル２１４からサンプルウエル特有の温度を測定するように構成されている。それに応じて、温度センサー２２２ａは、その時点で測定されているサンプル２０９を収容しているサンプルウエル２１７に隣接しているサンプルウエル２１８から、サンプルウエル特有の温度を測定するように構成されている。例示のために、サンプルウエル２１１及び２１５が、それぞれ温度センサー２２２及び２２２ａの真上にある状況を考慮することができる。この状況は、図２に示す状況ではない。上述した状況では、温度を、サンプルウエル２１１及び２１５から測定することができる。この後、サンプルウエルを、１段階左にシフトさせ、サンプル２０３及び２０７から放射ビームを検出するのと同時に、サンプルウエル２１２及び２１６から温度を測定し、その後、サンプルウエルを再び１段階左にシフトさせ、サンプル２０４及び２０８から放射ビームを検出するのと同時に、サンプルウエル２１４及び２１７から温度を測定し、その後、サンプルウエルが再び１段階左にシフトさせ、状況は図２に示すものとなり、以下続く。サンプル２０３に関連する測定結果は、サンプルウエル２１１から測定された温度を用いて補正され、サンプル２０４に関連する測定結果は、サンプルウエル２１２から測定された温度を用いて補正される等である。このため、測定温度は、測定結果を補正する観点から幾分か古い情報を表すが、多くの実際的事例では、時間的に連続する測定値の間の時間に対し、時間的な温度変化は通常低速であるため、結果としての誤差は十分に小さい。
【００３２】
図３は、本発明の一実施形態による光学測定器に適している温度センサー構成の概略図を示す。温度センサー構成は、サンプルウエル３１１、３１２、３１３、３１４の各々に対して別個の温度センサー３２２、３２２ａ、３２２ｂ、３２２ｃを備えている。温度センサーを、サンプルウエルを含む要素と、又は同じサンプルウエルを含む別個の要素を受け入れるインターフェース装置と統合することができる。温度センサーを、たとえば、ＮＴＣ抵抗器（負温度係数）又はＰＴＣ抵抗器（正温度係数）等の感温抵抗器又は熱電対とすることができる。図３に示す温度センサー構成では、温度センサー３２２ｂの温度依存抵抗又は電圧値を、電線３４３及び３４４の間で検出することができる。
【００３３】
図４は光学測定器で取得された光学測定値の精度を向上させる本発明の一実施形態による方法のフローチャートである。該光学測定器は、
各々が、測定されるサンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定されるサンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
測定される各サンプルに対し、そのサンプルに関連する検出信号に基づいて測定結果を生成するように構成される、処理装置と、
を備える。
【００３４】
この方法は、段階４０１において、サンプルウエルＳＷｉからサンプルウエル特有の温度Ｔｉを測定することを含む。この方法は、段階４０２において、所定の計算規則を用いて、サンプルウエル特有の温度Ｔｉに基づいてサンプルウエルＳＷｉに保持されているサンプルＳｉに関連する測定結果を補正することを含む。この方法は、段階４０３において、測定すべきサンプルが残っている場合は次のサンプルを続ける。
【００３５】
本発明の一実施形態による方法では、サンプルウエル特有の温度は、検出器が、対応するサンプルウエルに保持されているサンプルから放射ビームを検出している時間間隔の間に測定される。
【００３６】
本発明の一実施形態による方法では、少なくとも１つの温度センサーは、サンプルウエルの各々に対して別個の温度センサーを備えている。
【００３７】
本発明の一実施形態による方法では、温度センサーが２つ以上のサンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定することができるように、複数のサンプルウエルを温度センサーに対して移動させる。
【００３８】
本発明の一実施形態による方法では、特定のサンプルウエル各々から、そのサンプルウエルが、検出器がそのサンプルウエルに保持されているサンプルによって放射される放射ビームを検出することができる機械的位置にあるとき、サンプルウエル特有の温度を測定する。
【００３９】
本発明の一実施形態による方法では、測定される各サンプルに関連する測定結果を、以下の規則に従って補正する。
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×Ｆ（Ｔ）
ここで、Ｍｃｏｒｒは補正された測定結果であり、Ｍは測定結果であり、Ｆ（Ｔ）は、検討中のサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定される、サンプルウエル特有の温度Ｔの所定の関数である。
【００４０】
本発明の一実施形態による方法では、測定される各サンプルに関連する測定結果を、以下の規則に従って補正する。
Ｍｃｏｒｒ＝Ｍ×α（Ｔ０−Ｔ）
ここで、Ｍｃｏｒｒは補正された測定結果であり、Ｍは測定結果であり、α及びＴ０は所定の定数であり、Ｔは、検討中のサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されるサンプルウエル特有の温度である。
【００４１】
本発明の実施形態によるコンピュータープログラムが、
各々が、測定されるサンプルのうちの少なくとも１つに対して励起ビームを生成するように構成された、少なくとも１つの励起光源であって、測定される各前記サンプルは複数のサンプルウエルのうちの１つに保持される、少なくとも１つの励起光源と、
各々が、測定される前記サンプルのうちの１つによって放射される放射ビームを検出し、該検出された放射ビームに応じて検出信号を生成するように構成された、少なくとも１つの検出器と、
測定される各前記サンプルに対し、そのサンプルに関連する前記検出信号に基づいて測定結果を生成するプログラム可能処理装置と、
前記サンプルウエルからサンプルウエル特有の温度を測定するように構成された少なくとも１つの温度センサーであって、種々のサンプルウエルから種々の温度を測定することができる、少なくとも１つの温度センサーと、
を備える光学測定器で取得される測定結果の精度を向上させるソフトウェア手段を備える。
【００４２】
ソフトウェア手段は、プログラム可能処理装置を、測定される各サンプルに関連する測定結果を、所定の数学的規則を用いて、そのサンプルを収容している特定のサンプルウエルから測定されたサンプルウエル特有の温度に基づいて補正するように制御するためのプロセッサ実行可能命令を含む。
【００４３】
本発明の一実施形態によるコンピューター可読媒体は、本発明の実施形態によるコンピュータープログラムで符号化される。コンピューター可動媒体を、たとえば、光ディスク又は電子メモリデバイスとすることができる。
【００４４】
上述した説明で提供した特定の例は、限定するものと解釈されるべきではない。したがって、本発明は、上述した実施形態にのみ限定されるものではない。
【図１ａ】
2012515909.tif 000003
【図１ｂ】
2012515909.tif 000004
【図２】
2012515909.tif 000005
【図３】
2012515909.tif 000006
【図４】
2012515909.tif 000007
【国際調査報告】
2012515909.tif 000008
2012515909.tif 000009