【手続補正書】
【提出日】平成20年11月18日(2008.11.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イオン貯蔵内に、分析されることになる１つのタイプのイオンの標本を蓄積し、
前記イオン貯蔵内に、分析されることになる別のタイプのイオンの標本を蓄積し、
前記イオンの組み合わされた標本を質量分析する質量スペクトル測定の方法であって、
それぞれのタイプのイオンの存在量の以前の測定の結果を基礎としてイオンの目標数を達成するように前記１つのタイプのイオンの前記標本および／または別のタイプのイオンの前記標本を蓄積することを特徴とする方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法であって、
第１および第２のタイプのイオンのうちの特定のタイプについて、分析されることになる前記特定のタイプのイオンのテスト標本をテスト注入時間にわたって蓄積し、
そのようにして蓄積された前記特定のタイプのイオンの存在量を測定し、
前記テスト注入時間および前記特定のタイプのイオンの前記測定された存在量を基礎として前記特定のタイプのイオンの所望の目標存在量を結果としてもたらすことになる目標注入時間を決定し、
前記特定のタイプのイオンは、前記組み合わされた標本の質量分析の前に前記目標注入時間にわたって前記イオン貯蔵内に蓄積されることを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項２に記載の方法であって、
前記テスト標本および前記特定のタイプのイオンは、異なるイオン貯蔵内に蓄積されることを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載の方法であって、
前記特定のタイプのイオンを生成するべくイオン源を動作させ、
前記生成されたイオンを、前記テスト注入時間にわたる蓄積のためおよび前記目標注入時間にわたる蓄積のためにイオン貯蔵に指向することを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項２または請求項３に記載の方法であって、
イオンを生成するべくイオン源を動作させ、
前記生成されたイオンを反応セルに指向し、それらが前記イオンの母集団を変化させて前記特定のタイプのイオンを形成する反応を受けることを特徴とする方法。
【請求項６】
請求項５に記載の方法であって、
前記イオン貯蔵が前記反応セルを形成することを特徴とする方法。
【請求項７】
請求項５または請求項６に記載の方法であって、
前記イオンを反応させることが、前記イオンを断片化することおよび前記イオン貯蔵内に生成物イオンを蓄積することを含むことを特徴とする方法。
【請求項８】
請求項７に記載の方法であって、
先駆物質イオン・タイプを選択し、それらのイオンを断片化し、および前記イオン貯蔵内に生成物イオンを蓄積することを特徴とする方法。
【請求項９】
請求項８に記載の方法であって、
複数の先駆物質イオン・タイプを選択し、それらのイオンを断片化し、および前記イオン貯蔵内に生成物イオンを蓄積することを特徴とする方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の方法であって、
前記反応セルの状態を、断片化されている前記先駆物質イオンに従って変更することを特徴とする方法。
【請求項１１】
請求項５から１０のいずれかに記載の方法であって、
前記特定のタイプのイオンを、前記テスト注入時間にわたる蓄積のため、および前記目標注入時間にわたる蓄積のためにイオン貯蔵に指向することを特徴とする方法。
【請求項１２】
請求項５から１１のいずれかに記載の方法であって、
前記イオン貯蔵が前記反応セルを提供し、
前記テスト注入時間および前記目標注入時間にわたって継続し、それによって前記特定のタイプのイオンを蓄積する反応を可能にすることを特徴とする方法。
【請求項１３】
請求項４から１２のいずれかに記載の方法であって、
前記イオンを前記反応セル内に存在する気相と反応させることを特徴とする方法。
【請求項１４】
請求項２から１３のいずれかに記載の方法であって、
前記特定のタイプのイオンに関して請求項２に定義されているステップを、ほかのタイプのイオンについて反復することを特徴とする方法。
【請求項１５】
請求項１４に記載の方法であって、
前記特定のタイプのイオンに関して請求項３から１４に定義されているステップのうちのいずれかを、ほかのタイプのイオンについて反復することを特徴とする方法。
【請求項１６】
請求項１４または請求項１５に記載の方法であって、
前記特定のタイプおよび前記ほかのタイプのイオンの前記組み合わされた所望の目標存在量が、必要なパフォーマンスのための前記イオン貯蔵の貯蔵容量と実質的に整合することを特徴とする方法。
【請求項１７】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
両方のタイプのイオンを生成するべく前記質量スペクトル計の単一のイオン源を動作させることを特徴とする方法。
【請求項１８】
請求項１から１６のいずれかに記載の方法であって、
１つの前記タイプのイオンを生成するべく第１のイオン源を動作させ、
その後に続いて別の前記タイプのイオンを生成するべく第２のイオン源を動作させることを特徴とする方法。
【請求項１９】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
１つのタイプのイオンおよび／または前記別のタイプのイオンの前記標本を、以前に蓄積されたイオンの組み合わされたセットの質量分析と同時に蓄積することを特徴とする方法。
【請求項２０】
請求項１９に記載の方法であって、
以前に蓄積されたイオンの別の組み合わされたセットを、前記イオンの蓄積および以前に蓄積されたイオンの前記組み合わされたセットの質量分析と同時に反応させることを特徴とする方法。
【請求項２１】
請求項１８から２０のいずれかに記載の方法であって、
電極装置に第１の電圧を印加して電界を作り出し、前記第１のイオン源によって生成されたイオンを前記イオン貯蔵に案内すること、および前記電極装置に第２の電圧を印加して電界を作り出し、前記第２のイオン源によって生成されたイオンを前記イオン貯蔵に案内することを特徴とする方法。
【請求項２２】
請求項１８から２０のいずれかに記載の方法であって、
磁石装置に第１の電流を印加して磁界を作り出し、前記第１のイオン源によって生成されたイオンを前記イオン貯蔵に案内すること、および前記磁石装置に第２の電流を印加して磁界を作り出し、前記第２のイオン源によって生成されたイオンを前記イオン貯蔵に案内することを特徴とする方法。
【請求項２３】
請求項２１または請求項２２に記載の方法であって、
前記電界または磁界の間の切り替えは、前記電極装置または磁石装置の移動を伴わずに実行されることを特徴とする方法。
【請求項２４】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
いずれかのタイプのイオンの蓄積に有利となる条件の下に前記質量スペクトル計を動作させることを特徴とする方法。
【請求項２５】
請求項１から１８のいずれかに記載の方法であって、
それぞれの蓄積期間の間に、両方のタイプのイオンの蓄積に有利となる条件の下に前記質量スペクトル計を動作させることを特徴とする方法。
【請求項２６】
請求項２４または請求項２５に記載の方法であって、
質量フィルタを動作させ、前記イオン貯蔵内に貯蔵されることになるいずれかのタイプのイオンまたは両方のタイプのイオンを優先して選択することを特徴とする方法。
【請求項２７】
請求項２４から２６のいずれかに記載の方法であって、イオン・オプティクスを動作させ、いずれかのタイプのイオンまたは両方のタイプのイオンを優先して前記イオン貯蔵に伝送することを特徴とする方法。
【請求項２８】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
前記イオン・タイプの１つが内部較正物質であり、前記別のイオン・タイプが分析されることになる標本であることを特徴とする方法。
【請求項２９】
請求項２８に記載の方法であって、
単一のイオン源を使用して前記内部較正物質イオンおよび前記標本イオンをともに生成することを特徴とする方法。
【請求項３０】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
前記タイプのイオンのうちの１つを反応させて内部較正物質を形成することを特徴とする方法。
【請求項３１】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
親イオンに断片化を生じさせて生成物イオンを形成することを包含し、それにおいて前記イオン・タイプの１つが親イオンに対応し、前記別のイオン・タイプが生成物イオンに対応することを特徴とする方法。
【請求項３２】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
前記２つのタイプのイオンは、異なる質量範囲を有することを特徴とする方法。
【請求項３３】
請求項３２に記載の方法であって、
前記異なる質量範囲は、隣接しているか、分かれているか、またはオーバーラップしていることを特徴とする方法。
【請求項３４】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
前記２つのタイプのイオンを前記質量分析の実行に先行して互いに反応させることを特徴とする方法。
【請求項３５】
請求項３４に記載の方法であって、
前記２つのタイプのイオンは、反対の極性のものであることを特徴とする方法。
【請求項３６】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
蓄積されることになる前記タイプのイオンは、以前に獲得された質量スペクトルから得られた情報に従って選択されることを特徴とする方法。
【請求項３７】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
ＭＳｎスペクトル測定を実行することを特徴とする方法。
【請求項３８】
先行するいずれかの請求項に記載の方法であって、
前記イオン貯蔵から質量分析のための別体の質量分析器に前記組み合わされたイオンの標本を排出することを特徴とする方法。
【請求項３９】
請求項３８に記載の方法であって、
前記質量分析器は、フーリエ変換イオン・サイクロトロン共振タイプ、オービトラップ（Ｏｒｂｉｔｒａｐ）を含む多反射静電トラップ・タイプ、または単または複反射飛行時間タイプのうちのいずれかであることを特徴とする方法。
【請求項４０】
請求項３８または請求項３９に記載の方法であって、
前記組み合わされたイオンの標本の前記注入の後にイオンが前記別体の質量分析器から前記イオン貯蔵に戻されることを特徴とする方法。
【請求項４１】
先行するいずれかの請求項に記載の方法に従って動作するべく構成された質量スペクトル計。
【請求項４２】
請求項４１に記載の質量スペクトル計であって、
請求項１から４０のいずれかに記載の方法に従って前記質量スペクトル計を動作させるべくプログラムされたプログラマブル・コントローラを含むことを特徴とする質量スペクトル計。
【請求項４３】
請求項４２に記載のコントローラ上において実行されるときに、前記質量スペクトル計を、請求項１から４０のいずれかに記載の方法に従って動作させるコンピュータ・プログラム・インストラクションを包含するコンピュータ・プログラム。
【請求項４４】
質量スペクトル測定の方法であって、
異なる衝突エネルギーによって生成される第1と第２のタイプのイオンをイオン貯蔵内に蓄積し、組み合わされた第１と第２のタイプのイオンを質量分析する方法。
【請求項４５】
請求項４４に記載の方法であって、
第１のタイプのイオンは第１の衝突エネルギーで生成される先駆物質イオンに相当し、第２のタイプのイオンは第１の衝突エネルギーよりも大きな第２の衝突エネルギーで生成される断片イオンに相当する方法。