【手続補正書】
【提出日】平成23年2月21日(2011.2.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品を部品供給手段によって部品供給位置に供給し、
前記電子部品を部品把持部により把持し、
前記部品把持部で把持された前記電子部品を、テストソケットまで搬送して配置させ、
前記テストソケットにて所定の試験を行い、
前記所定の試験を行った前記電子部品を、前記部品把持部で把持して前記テストソケットから取り出し、
部品排出手段の部品排出位置まで搬送して載置する
各々独立駆動が可能な第１の搬送ハンド及び第２の搬送ハンドを備えた部品試験装置であって、
第１の搬送ハンド及び第２の搬送ハンドは、前記テストソケットを挟んで設けられ、
第１の搬送ハンドには、前記テストソケットから離間する方向、あるいは前記テストソケットに接近する方向に駆動可能な第１のインデックスユニットが設けられ、
第２の搬送ハンドには、前記テストソケットから離間する方向、あるいは前記テストソケットに接近する方向に駆動可能な第２のインデックスユニットが設けられ、
前記第１のインデックスユニットには、前記第２の搬送ハンドに向かう方向に片持ち梁状に延出して前記部品把持部を支持する複数のユニットホルダが、隣接するユニットホルダとの間に第１の距離で離間して配置され、
前記第２のインデックスユニットには、前記第１の搬送ハンドに向かう方向に片持ち梁状に延出して前記部品把持部を支持する複数のユニットホルダが、隣接するユニットホルダとの間に第２の距離で離間して配置され、
前記第１の距離は、前記第２のインデックスユニットに配置された前記ユニットホルダ個々の配列方向の幅であるホルダ幅よりも長く、
前記第２の距離は、前記第１のインデックスユニットに配置された前記ユニットホルダ個々の配列方向の幅であるホルダ幅よりも長く、
前記テストソケットは前記ユニットホルダ個々の配列方向に複数配列され、
前記テストソケットの配列ピッチは、前記第１インデックスユニット及び前記第２インデックスユニットに設けられた複数の前記部品把持部の配列ピッチと同じである
ことを特徴とする部品試験装置。
【請求項２】
前記第１のインデックスユニットは、前記第１の搬送ハンドに対して一つ設けられ、前
記第２のインデックスユニットは、前記第２の搬送ハンドに対して一つ設けられている
ことを特徴とする請求項１に記載の部品試験装置。
【請求項３】
前記第１のインデックスユニットは、前記第１の搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられ、前記第２のインデックスユニットは、前記第２の搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられている
ことを特徴とする請求項１に記載の部品試験装置。
【請求項４】
前記ユニットホルダの各々には、電子部品を吸着する機構及び電子部品を前記テストソケットに押込む機構がそれぞれ設けられている
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の部品試験装置。
【請求項５】
前記ユニットホルダの各々には、前記電子部品を吸着する機構及び前記電子部品を前記テストソケットに押込む機構が前記第１の搬送ハンド及び前記第２の搬送ハンドの移動方向と直交する方向に複数設けられ、
前記テストソケットは、前記第１の搬送ハンド及び前記第２の搬送ハンドの移動方向と直交する方向に複数配列されている
ことを特徴とする請求項４に記載の部品試験装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
本発明の部品試験装置は、電子部品を部品供給手段によって部品供給位置に供給し、前記電子部品を部品把持部により把持し、前記部品把持部で把持された前記電子部品を、テストソケットまで搬送して配置させ、前記テストソケットにて所定の試験を行い、前記所定の試験を行った前記電子部品を、前記部品把持部で把持して前記テストソケットから取り出し、部品排出手段の部品排出位置まで搬送して載置する各々独立駆動が可能な第１の搬送ハンド及び第２の搬送ハンドを備えた部品試験装置であって、第１の搬送ハンド及び第２の搬送ハンドは、前記テストソケットを挟んで設けられ、第１の搬送ハンドには、前記テストソケットから離間する方向、あるいは前記テストソケットに接近する方向に駆動可能な第１のインデックスユニットが設けられ、第２の搬送ハンドには、前記テストソケットから離間する方向、あるいは前記テストソケットに接近する方向に駆動可能な第２のインデックスユニットが設けられ、前記第１のインデックスユニットには、前記第２の搬送ハンドに向かう方向に片持ち梁状に延出して前記部品把持部を支持する複数のユニットホルダが、隣接するユニットホルダとの間に第１の距離で離間して配置され、前記第２のインデックスユニットには、前記第１の搬送ハンドに向かう方向に片持ち梁状に延出して前記部品把持部を支持する複数のユニットホルダが、隣接するユニットホルダとの間に第２の距離で離間して配置され、前記第１の距離は、前記第２のインデックスユニットに配置された前記ユニットホルダ個々の配列方向の幅であるホルダ幅よりも長く、前記第２の距離は、前記第１のインデックスユニットに配置された前記ユニットホルダ個々の配列方向の幅であるホルダ幅よりも長く、前記テストソケットは前記ユニットホルダ個々の配列方向に複数配列され、前記テストソケットの配列ピッチは、前記第１インデックスユニット及び前記第２インデックスユニットに設けられた複数の前記部品把持部の配列ピッチと同じであることを要旨とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
また本発明の部品試験装置は、上記部品試験装置において、前記第１のインデックスユニットは、前記第１の搬送ハンドに対して一つ設けられ、前記第２のインデックスユニットは、前記第２の搬送ハンドに対して一つ設けられていることを要旨とする。
このような構成によれば、電子部品のテストソケットへの入れ替えが常に少なくともインデックスユニットの有するユニットホルダの１つの幅分だけのシフト（移動）量で済むこととなり、複数の搬送ハンドとしての上記構造によるメリットを最大限に享受することが可能となる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
また本発明の部品試験装置は、上記部品試験装置において、前記第１のインデックスユニットは、前記第１の搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられ、前記第２のインデックスユニットは、前記第２の搬送ハンドに対して独立駆動可能に複数設けられていることを要旨とする。
このような構成によれば、搬送ハンドに設けられた複数のインデックスユニットの数に対応する回数だけその搬送ハンドは電子部品の給排を行なうことなく電子部品のテストソケットへの入れ替えをすることができる。すなわち、搬送ハンドはそれが備えるインデックスユニットの数分の回数だけ最短時間にて電子部品のテストソケットへの入れ替えを行うことができる。さらに、搬送ハンドのうちの１つがインデックスユニットのうちの１つに保持した電子部品の試験を終了した後に、その搬送ハンドのインデックスユニットのうちの他の１つに保持した電子部品を試験させるテストソケットに隣接する位置まで移動させることができる。このようなテストソケットの隣接位置までの移動を他の搬送ハンドの試験中に随時行なうことを通じ、電子部品をテストソケットに最短時間で入れ替えることのできる回数を増やすことができる。これにより、部品試験装置として搬送時間をも含めた電子部品のテストにかかるスループットも更に飛躍的に向上されることとなる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
また本発明の部品試験装置は、上記部品試験装置において、前記ユニットホルダの各々には、電子部品を吸着する機構及び電子部品を前記テストソケットに押込む機構がそれぞれ設けられていることを要旨とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
また本発明の部品試験装置は、上記部品試験装置において、前記ユニットホルダの各々には、前記電子部品を吸着する機構及び前記電子部品を前記テストソケットに押込む機構が前記第１の搬送ハンド及び前記第２の搬送ハンドの移動方向と直交する方向に複数設けられ、前記テストソケットは、前記第１の搬送ハンド及び前記第２の搬送ハンドの移動方向と直交する方向に複数配列されていることを要旨とする。