(57)【要約】記憶装置試験システム（１００）は床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）を規定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）を具備する。ロボットアームは、第１の軸の周囲を所定の円弧で回転することができ、第１の軸から半径方向に延びる。ロボットアームによってサービスされるために、複数の棚（３００）がロボットアームの周囲に配置される。試験のために記憶装置（５００）を運ぶように構成される記憶装置転送部（５５０）をそれぞれが受け取るように構成される複数の試験スロット（３１０）が、それぞれの棚に収納される。転送ステーション（４００）は、ロボットアームによってサービスされるために配置される。転送ステーションは、それぞれが記憶装置運搬部（４５０）を受け取るように構成される複数の運搬収納部（４２０）を具備する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
床表面（１０）に対して実質的に垂直な第１の軸（２０５）を規定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）であって、当該第１の軸（２０５）の周囲で所定の円弧で回転することができ、当該第１の軸（２０５）から半径方向に延びる、少なくとも１つのロボットアーム（２００）と、
前記ロボットアーム（２００）によってサービスされるように当該ロボットアーム（２００）の周囲に配置される複数の棚（３００）と、
それぞれの棚（３００）に収納される複数の試験スロット（３１０）であって、試験のために記憶装置（５００）を運ぶように構成された記憶装置転送部（５５０）を受け取るように構成される、複数の試験スロット（３１０）と、
前記ロボットアーム（２００）によってサービスされるように配置される転送ステーション（４００）であって、それぞれが記憶装置運搬部（４５０）を受け取るように構成される複数の運搬収納部（４３０）を備える、転送ステーション（４００）と、を具備する、記憶装置試験システム（１００）。
【請求項２】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）は、前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）の１つに係合させるように構成されるマニピュレーター（２１２）を具備し、
前記ロボットアーム（２００）は、前記記憶装置転送部（５５０）の中の記憶装置（５００）を試験のために前記試験スロット（３１０）に運ぶことができる、記憶装置試験システム。
【請求項３】
請求項１または２に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）は、実質的に円筒状の動作範囲体積（２１０）を規定し、
前記棚（３００）および前記転送ステーション（４００）は、前記ロボットアーム（２００）によってサービスされるように動作範囲体積（２１０）の中に配置され、
好ましくは前記棚（３００）および前記転送ステーション（４００）は、前記ロボットアーム（２００）の前記第１の軸（２０５）の周囲で少なくとも部分的に閉じた多角形に配列される、記憶装置試験システム。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記転送ステーション（４００）は、当該転送ステーション（４００）によって規定される、床表面（１０）に対して実質的に垂直な縦軸（４１５）の周囲を回転することができる、記憶装置試験システム。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記転送ステーション（４００）は、第１および第２の対向する運搬収納部（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）を規定する転送ステーション収納部（４１０）を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記転送ステーション（４００）は、
縦軸（４１５）を規定するステーション収納部（４１０）と、
前記縦軸（４１５）の周囲を回転できるように回転自在に装着される複数の運搬受け取り部（４２０）であって、互いに独立して回転可能であり、第１および第２の対向する運搬収納部（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）を規定する、複数の運搬受け取り部（４２０）と、を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）は、記憶装置が受け取られた前記転送ステーション（４００）の運搬部（４５０）とそれぞれの試験スロット（３１０）との間で記憶装置（５００）を搬送することについて、前記試験スロット（３１０）に独立してサービスを提供する、記憶装置試験システム。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記記憶装置運搬部（４５０）は、それぞれが記憶装置（５００）を収納するように構成される複数の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）を規定する運搬本体部（４５２Ａ、４５２Ｂ）を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項９】
請求項８に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）を、それぞれの記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）が規定する、記憶装置試験システム。
【請求項１０】
請求項１乃至９のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記記憶装置運搬部（４５０）は、
複数の縦列空洞（４５３Ｂ）を規定する運搬本体部（４５２Ｂ）と、
それぞれの縦列空洞（４５３Ｂ）の中に配置され、当該縦列空洞（４５３Ｂ）をそれぞれが記憶装置（５００）を受け取るように構成される複数の記憶装置収納部（４５４Ｂ）に分割する複数の片持ち記憶装置支持部（４５６Ｂ）と、を具備し、
それぞれの記憶装置支持部（４５６Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される、記憶装置試験システム。
【請求項１１】
請求項１乃至１０のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記試験スロット（３００）と通信をする少なくとも１つのコンピューター（３２０）と、
前記記憶装置試験システム（１００）に電力を供給する電力システム（３３０）と、
それぞれの試験スロット（３１０）の温度を制御するための温度制御システム（３４０）と、
棚の振動を制御するための振動制御システム（３５０）と、
それぞれの試験スロット（３１０）と通信し、当該試験スロット（３１０）によって受け取られる前記記憶装置転送部（５５０）の中の記憶装置（５００）と通信するように構成されるデータインターフェース（３６０）と、をさらに具備する、記憶装置試験システム。
【請求項１２】
請求項１１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記電力システム（３３０）、は前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた前記記憶装置（５００）の電力を監視および／または調節するように構成される、記憶装置試験システム。
【請求項１３】
請求項１１または請求項１２に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記温度制御システム（３４０）は、前記試験スロット（３１０）の中に空気を循環させることができるエアームーバ（３４２）を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項１４】
請求項１乃至１３のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
それぞれの棚（３００）は、少なくとも１つの試験スロット（３１０）と通信をする少なくとも１つの自己診断システム（６００）を具備し、
前記自己診断システム（６００）は
クラスター制御装置（６１０）と、
前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた記憶装置（５００）に電気的に接続された接続インターフェース回路（６２０）と、
前記接続インターフェース回路（６２０）に電気的に接続されたブロックインターフェース回路（６３０）と、を具備し、
前記ブロックインターフェース回路（６３０）は、前記試験スロット（３１０）の電力および温度を制御するように構成され、
前記接続インターフェース回路（６２０）および前記ブロックインターフェース回路（６３０）は、前記記憶装置試験システム（１００）の少なくとも１つの構成要素の機能性を試験するように構成されている、記憶装置試験システム。
【請求項１５】
請求項１乃至１４のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
それぞれの棚（３００）は、少なくとも１つの試験スロット（３１０）と通信する少なくとも１つの機能的な試験システム（６５０）を具備し、
前記機能的な試験システム（６５０）は
クラスター制御装置（６１０）と、
前記クラスター制御装置（６１０）に電気的に接続された少なくとも１つの機能的なインターフェース回路（６６０）と、
前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた記憶装置（５００）および前記少なくとも１つの機能的なインターフェース回路（６６０）に電気的に接続された接続インターフェース回路（６２０）と、を具備し、
前記記憶装置（５００）と機能的な試験ルーチンで通信するように構成される、記憶装置試験システム。
【請求項１６】
請求項１５に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記機能的な試験システム（６００）は、通信スイッチ（６７０）、好ましくは、前記クラスター制御装置（６１０）と前記少なくとも１つの機能的なインターフェース回路（６６０）との間の電気的な接続を提供するイーサネットスイッチをさらに具備する、記憶装置試験システム。
【請求項１７】
請求項１乃至１６のいずれかに記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）に配置される視覚システム（２７０）をさらに具備し、
前記視覚システム（２７０）は、記憶装置（５００）を搬送する間に前記ロボットアーム（２００）の誘導を補助し、好ましくは棚（３１０）の１つおよび／または前記転送ステーション（４００）の基準目印（３１４）に前記ロボットアーム（２００）の位置を合わせることで前記ロボットアーム（２００）の校正をする、記憶装置試験システム。
【請求項１８】
それぞれが記憶装置（５００）を収納するように構成される、複数の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）を規定する運搬本体部（５４２Ａ、４５２Ｂ）を具備し、
それぞれの記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）を備える、記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）。
【請求項１９】
複数の縦列空洞（４５３Ｂ）を規定する運搬本体部（４５２Ｂ）と、
それぞれの縦列空洞（４５３Ｂ）の中に配置され、当該縦列空洞（４５３Ｂ）をそれぞれが記憶装置（５００）を受け取るように構成される複数の記憶装置収納部（４５４Ｂ）に分割する複数の片持ち記憶装置支持部（４５６Ｂ）と、を具備し、
それぞれの記憶装置支持部（４５６Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される、記憶装置運搬部（４５０、４５０Ｂ）。
【請求項２０】
記憶装置の試験を実行する方法であって、
複数の記憶装置（５００）を記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）によって規定される記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）に装着する工程と、
前記記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）を転送ステーション（４００）によって規定される運搬収納部（４３０）に装着する工程と、
棚（３００）に収納された試験スロット（３１０）から記憶装置転送部（５５０）を取り出すようにロボットアーム（２００）を作動させる工程と、
前記転送ステーション（４００）から前記記憶装置（５００）の１つを取り出し、前記記憶装置転送部（５５０）の中の当該記憶装置（５００）を運ぶように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程であって、当該ロボットアーム（２００）は当該ロボットアーム（２００）によって規定される、床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）の周囲を所定の円弧で回転することができ、当該ロボットアーム（２００）によって規定される、床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）から半径方向に延びている工程と、
記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）に搬送するように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程と、
受け取られた前記記憶装置転送部（５５０）および前記試験スロット（３１０）に収納された前記記憶装置（５００）の機能性試験を実行する工程と、
試験済みの前記記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）から取り出し、当該試験済みの記憶装置（５００）を前記転送ステーション（４００）に搬送して戻すように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程と、を含む、方法。
【請求項２１】
請求項２０に記載の方法において、
空の前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）に置くように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程をさらに具備する、方法。
【請求項２２】
請求項２０または請求項２１に記載の方法において、
前記記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）に搬送する工程は、
前記記憶装置転送部（５５０）を前記棚（３００）の中の前記試験スロット（３１０）に挿入する工程と、
前記記憶装置（５００）と前記棚（３００）との間の電気的な接続を確立する工程と、を含む、方法。
【請求項２３】
請求項２０乃至請求項２２のいずれかに記載の方法において、
サービス位置と前記ロボットアーム（２００）でアクセス可能な試験位置との間で、前記転送ステーション（４００）の前記記憶装置が受け取られた運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）を回転させる工程をさらに具備する、方法。
【請求項２４】
請求項２０乃至請求項２３のいずれかに記載の方法において、
記憶装置（５００）を前記記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）に装着する工程は、当該記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）の運搬本体部（４５２Ａ、４５２Ｂ）によって規定される記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）の中の記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）の上に当該記憶装置（５００）を置く工程を含み、
前記記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される、方法。
【請求項２５】
請求項２０乃至請求項２４のいずれかに記載の方法において、
前記試験済みの記憶装置（５００）を前記転送ステーション（４００）に収納された返却運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）へ選択的に搬送するように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程をさらに具備し、
前記試験済みの記憶装置（５００）が前記機能性試験に首尾よく合格すると、前記ロボットアーム（２００）は、当該試験済みの記憶装置（５００）を合格返却運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）に搬送し、
試験済みのディスク（５００）ドライブが前記機能性試験に不合格になると、前記ロボットアーム（２００）は、当該試験済みの記憶装置（５００）を不合格返却運搬部（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）に搬送する、方法。
【請求項２６】
請求項２０乃至請求項２５のいずれかに記載の方法において、
前記受け取られた記憶装置（５００）の機能性試験を実行する工程には、当該記憶装置（５００）の動作中に前記試験スロット（３１０）の温度を調節すること、特に、当該記憶装置（５００）に対してデータの読み出しおよび書き込みを実施することが含まれる、方法。
【請求項２７】
請求項２０乃至請求項２６のいずれかに記載の方法において、
前記試験スロット（３１０）の温度を制御するために、前記試験スロット（３１０）の中に空気を循環させる工程をさらに含む、方法。
【請求項２８】
請求項２０乃至請求項２７のいずれかに記載の方法において、
前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた前記記憶装置（５００）に分配される電力を監視および／または調節する工程がさらに含まれる、方法。
【請求項２９】
請求項２０乃至請求項２８のいずれかに記載の方法において、
前記試験スロット（３１０）の機能性を検証するために、前記棚（３００）に収納された自己診断システム（６００）で当該試験スロット（３１０）の自己診断を実行する工程をさらに含む、方法。
【請求項３０】
請求項２０乃至請求項２９のいずれかに記載の方法において、
前記記憶装置（５００）を搬送する間に前記ロボットアーム（２００）による誘導を補助するために、および／または、当該ロボットアーム（２００）を前記棚（３００）の基準目印（３１４）に位置を合わせることによって、当該ロボットアーム（２００）を校正するために、当該ロボットアーム（２００）に配置される視覚システム（２７０）と通信する工程をさらに備える、方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
[0001]本開示は、記憶装置の試験に関する。
【背景技術】
【０００２】
[0002]ディスクドライブ製造業者は、製造されたディスクドライブを一般に一群の要求を順守するために試験する。試験設備および技術は、大量のディスクドライブを直列または並列に試験するために存在する。製造業者は、大量のディスクドライブを同時に一括して試験する傾向がある。ディスクドライブ試験システムは、試験のためにディスクドライブを受け取る複数の試験スロットを有する１つまたは複数の棚を一般的には備える。
【０００３】
[0003]ディスクドライブに近接する周囲の試験環境は、厳密に調節されている。試験環境における最小温度変動は、正確な試験条件およびディスクドライブの安全のために重大な意味を持つ。記憶容量がより大きく、回転速度がより速く、ヘッドクリアランスがより小さい最新の世代のディスクドライブは、振動により敏感である。過剰な振動は、試験結果の信頼性および電気的接続の一体性に影響を与え得る。試験条件下では、ドライブ自体が支持構造体または取り付け具を通じて隣接するユニットに振動を伝え得る。この振動「クロストーク」は、外部の振動源と共に、試験の歩留まりを下げ、製造コストを増加させる場合もあるバンプエラー、ヘッドスラップおよび非反復ランアウト（ＮＲＲＯ）の一因となる。
【０００４】
[0004]現在のディスクドライブ試験システムでは、システム中の過剰な振動の一因となり、および／または、大きなフットプリントを必要とする自動化された構造的な支持システムを採用する。現在のディスクドライブ試験システムは、また、試験のために試験システムにディスクドライブを個別に供給するために、操作者またはコンベヤーベルトを使用する。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
[0005]１つの態様では、記憶装置試験システムは、床表面に対して実質的に垂直な第１の軸を規定する少なくとも１つのロボットアームを備える。ロボットアームは、第１の軸の周囲で所定の円弧で（例えば３６０度）回転することができ、第１の軸から半径方向に延びる。ロボットアームによってサービスされるように、複数の棚がロボットアームの周囲に配置される。それぞれの棚は、試験スロットを収納し、試験スロットは、試験のために記憶装置を運ぶように構成される記憶装置転送部をそれぞれが受け取るように構成される。転送ステーションは、ロボットアームがサービスするように配置される。転送ステーションは、それぞれが記憶装置運搬部を受け取るように構成される、複数の運搬収納部を備える。
【０００６】
[0006]開示されている実装形態では、以下の特徴の１つまたは複数が含まれ得る。ある実装形態では、ロボットアームは、記憶装置転送部を試験スロットの１つに係合させるように構成されるマニピュレーターを備える。ロボットアームは、試験のために、記憶装置転送部の記憶装置を試験スロットに運ぶように作動することができる。ロボットアームは、実質的に円筒状の動作範囲体積を規定し、棚および転送ステーションは、ロボットアームによってサービスされる動作範囲体積の中に配列される。いくつかの例では、棚および転送ステーションは、ロボットアームの第１の軸の周囲に少なくとも部分的に閉じた多角形に配列される。棚は、ロボットアームの第１の軸から半径方向に等距離または異なる距離だけ離れて配列されてもよい。
【０００７】
[0007]ある実装形態では、転送ステーションは、床表面に対して実質的に垂直な転送ステーションによって規定される縦軸の周囲を回転することができる。転送ステーションは、第１および第２の対向する運搬収納部を規定する転送ステーション収納部を備える。いくつかの例では、転送ステーションは、縦軸を規定するステーション収容部、および縦軸の周囲を回転できるように回転自在に装着される複数の運搬受け取り部を備える。それぞれの運搬受け取り部は、他とは独立して回転可能であり、第１および第２の対向する運搬収納部を規定する。いくつかの例では、運搬受け取り部は、ステーション基部から実質的に垂直で、上方に延在するスピンドルの上に回転自在に装着される。
【０００８】
[0008]ロボットアームは、記憶装置が受け取られた転送ステーションの運搬部と試験スロットとの間で記憶装置を搬送することで、それぞれの試験スロットに独立してサービスしてもよい。ある実装形態では、記憶装置運搬部は、それぞれが記憶装置を収納するように構成される複数の記憶装置収納部を規定する運搬本体部を備える。それぞれの記憶装置収納部は、非中央部分に沿って記憶装置を操作できるようにするために、受け取られた記憶装置の中央部分を支持するように構成される記憶装置支持部を規定する。いくつかの例では、記憶装置運搬部は、複数の縦列空洞およびそれぞれの縦列空洞の中に配置される複数の片持ち記憶装置支持部（例えば、縦列空洞の後部壁から離れて）を規定し、縦列空洞をそれぞれが記憶装置を受け取るように構成される複数の記憶装置収納部に分割する運搬本体部を備える。それぞれの記憶装置支持部は、非中央部分に沿って記憶装置を操作できるようにするために、受け取られた記憶装置の中央部分を支持するように構成される。
【０００９】
[0009]ある実装形態では、記憶装置試験システムは、試験スロットと通信をする少なくとも１つのコンピューターを備える。電力システムは、記憶装置試験システムに電力を供給し、試験スロットの中の受け取られた記憶装置の電力の監視および／または調節をするように構成されてもよい。温度制御システムは、それぞれの試験スロットの温度を制御する。温度制御システムは、試験スロットの上および／または中に空気を循環させることができるエアームーバ（例えば、ファン）を備えてもよい。振動制御システムは、（例えば、受動的吸収材を介して）棚の振動を制御する。データインターフェースは、それぞれの試験スロットと通信をし、試験スロットに受け取られる記憶装置転送部の中の記憶装置と通信するように構成される。
【００１０】
[0010]それぞれの棚は、少なくとも１つの試験スロットと通信をする少なくとも１つの自己診断システムを備えることができる。自己診断システムは、クラスター制御装置、試験スロットの中に受け取られた記憶装置に電気的に接続された接続インターフェース回路、および接続インターフェース回路に電気的に接続されたブロックインターフェース回路を備える。ブロックインターフェース回路は、電力および試験スロットの温度を制御するように構成される。接続インターフェース回路およびブロックインターフェース回路は、記憶装置試験システムの少なくとも１つの構成要素の機能性を試験する（例えば、空のまたは記憶装置転送部によって支持される記憶装置を収納する試験スロットの機能性を試験する）ように構成される。
【００１１】
[0011]ある実装形態では、それぞれの棚は、少なくとも１つの試験スロットと通信をする少なくとも１つの機能的な試験システムを備える。機能的な試験システムは、クラスター制御装置、クラスター制御装置に電気的に接続された少なくとも１つの機能的なインターフェース回路、および試験スロットの中に受け取られた記憶装置及び機能的なインターフェース回路に電気的に接続された接続インターフェース回路を備える。機能的なインターフェース回路は、記憶装置と機能的な試験ルーチンで通信するように構成される。いくつかの例では、機能的な試験システムは、クラスター制御装置と少なくとも１つの機能的なインターフェース回路との間を電気的に接続するためのイーサネットスイッチを備える。
【００１２】
[0012]記憶装置を搬送する間にロボットアームによる誘導を補助するために、記憶装置試験システムは、ロボットアームに配置される視覚システムをしばしば備える。特に、記憶装置転送部を支障なく試験スロットの１つまたは記憶装置運搬部の中に挿入するために、記憶装置転送部を保持するロボットアームのマニピュレーターの案内に視覚システムが使用されてもよい。ロボットアームを、棚、試験スロット、転送ステーション、および／または記憶装置運搬部の基準目印に位置合わせすることによって、視覚システムは、ロボットアームを校正する。
【００１３】
[0013]他の態様では、記憶装置運搬部は、それぞれが記憶装置を収容するように構成されている複数の記憶装置収納部を規定する運搬本体部を備える。それぞれの記憶装置収納部は、非中央部分に沿って記憶装置を操作できるようにする、受け取られた記憶装置の中央部分を支持するように構成される記憶装置支持部を規定する。
【００１４】
[0014]さらに別の態様では、記憶装置運搬部は、複数の縦列空洞およびそれぞれの縦列空洞に配置される複数の片持ち記憶装置支持部（例えば、縦列空洞の後部壁から離れて）を規定し、縦列空洞をそれぞれが記憶装置を受け取るように構成される複数の記憶装置収納部に分割する運搬本体部を備える。それぞれの記憶装置支持部は、非中央部分に沿って記憶装置を操作できるようにする、受け取られた記憶装置の中央部分を支持するように構成される。
【００１５】
[0015]他の態様では、記憶装置の試験を実行する方法は、複数の記憶装置を記憶装置運搬部によって規定される記憶装置収納部に装着し、記憶装置運搬部を転送ステーションによって規定される運搬収納部の中に装着することを含む。該方法は、記憶装置転送部を棚に収納された試験スロットから取り出すようにロボットアームを作動させること、および転送ステーションから記憶装置の１つを取り出し、記憶装置を記憶装置転送部の中に運ぶようにロボットアームを作動させることを含む。ロボットアームは、ロボットアームによって規定される、床表面に対して実質的に垂直な第１の軸の周囲を所定の円弧で回転することができ、ロボットアームによって規定される、床表面に対して実質的に垂直な第１の軸の周囲から半径方向に延びる。該方法は、記憶装置を運ぶ記憶装置転送部を試験スロットに搬送するようにロボットアームを作動させ、受け取られた記憶装置転送部と試験スロットとに収納された記憶装置の機能性試験を実行することを含む。次いで、該方法は、試験スロットから試験済みの記憶装置を運ぶ記憶装置転送部を取り外し、試験済みの記憶装置を転送ステーションに搬送して戻すようにロボットアームを作動させることを含む。
【００１６】
[0016]いくつかの例では、該方法は、（例えば、試験済みの記憶装置を記憶装置運搬部の記憶装置収納部の中に置いた後に）試験スロットの中に記憶装置転送部を置くようにロボットアームを作動させることを含む。いくつかの例では、記憶装置転送部を試験スロットに搬送することには、記憶装置を運ぶ記憶装置転送部を棚の中の試験スロットに挿入すること、記憶装置と棚との間の電気的な接続を確立することが含まれる。
【００１７】
[0017]該方法には、サービス位置（例えば、操作者がアクセス可能な位置）とロボットアームがアクセス可能な試験位置との間で、転送ステーションの中の記憶装置が受け取られた運搬部を回転させることが含まれてもよい。転送ステーションは、それぞれが記憶装置運搬部を受け取るように構成される、第１および第２の対向する運搬収納部を規定する転送ステーション収納部をしばしば備える。
【００１８】
[0018]ある実装形態では、記憶装置を記憶装置運搬部に装着することには、記憶装置運搬部の運搬本体部によって規定される記憶装置収納部の中の記憶装置支持部に記憶装置を置くことが含まれ、記憶装置支持部は、非中央部分に沿って記憶装置を操作できるように、受け取られた記憶装置の中央部分を支持するように構成される。いくつかの例では、該方法は、試験済みの記憶装置を転送ステーションに収納された返却運搬部に選択的に搬送するようにロボットアームを作動させること、すなわち、試験済みの記憶装置が機能性試験に首尾よく合格した場合には、試験済みの記憶装置を合格返却運搬部の記憶装置収納部へ搬送するようにロボットアームを作動させ、試験済みの記憶装置が機能性試験に不合格となった場合には、試験済みの記憶装置を不合格返却運搬部の記憶装置収納部へ搬送するようにロボットアームを作動させることをさらに含む。
【００１９】
[0019]ある実装形態では、受け取られた記憶装置の機能性試験を実施することには、記憶装置が動作している間の試験スロットの温度を調節することが含まれる。同様に、受け取られた記憶装置を動作させることには、記憶装置に対してデータの読み出しおよび書き込みを実施することが含まれてもよい。いくつかの例には、該方法には試験スロットの温度を制御するために、試験スロットの上および／または中に空気流を循環させること、受け取られた記憶装置に分配される電力を監視および／または調節すること、ならびに試験スロットの機能性を検証するために棚に収納された自己診断システムで試験スロットの自己診断を実行することの１つまたは複数が含まれる。
【００２０】
[0020]該方法には、記憶装置の搬送中にロボットアームの誘導を補助するために、ロボットアームに配置される視覚システムと通信することが含まれてもよい。該方法には、視覚システムに認識されて、ロボットアームを、棚、試験スロット、転送ステーション、および／または記憶装置運搬部の基準目印に位置を合わせることで、ロボットアームを校正することが含まれてもよい。
【００２１】
[0021]開示されている１つまたは複数の実装形態の詳細は、添付図面および明細書の下記に記述されている。他の特徴、目的、ならびに利点は明細書、図面、および特許請求の範囲から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】[0022]記憶装置試験システムの斜視図である。
【図２】[0022]記憶装置試験システムの平面図である。
【図３】[0024]記憶装置試験システムの斜視図である。
【図４】[0025]異なる大きさの棚およびフットプリントを有する記憶装置試験システムの平面図である。
【図５】[0025]異なる大きさの棚およびフットプリントを有する記憶装置試験システムの平面図である。
【図６】[0026]記憶装置試験システムの斜視図である。
【図７】[0027]垂直および水平方向に作動する支持部に支持されるロボットアームの側面図である。
【図８】[0028]２つのロボットアームを有する記憶装置試験システムの斜視図である。
【図９】[0029]回転支持部に支持されるロボットアームを備える記憶装置試験システムの平面図である。
【図１０】[0030]転送ステーションの斜視図である。
【図１１】[0031]複数の記憶装置収納部を規定する運搬部の斜視図である。
【図１２】[0031]片持ち記憶装置支持部を備える運搬部の斜視図である。
【図１３】[0033]記憶装置転送部の斜視図である。
【図１４】[0034]記憶装置を運ぶ記憶装置転送部の斜視図である。
【図１５】[0035]記憶装置を運ぶ記憶装置転送部の底面斜視図である。
【図１６】[0036]試験スロットへの挿入のために配置された記憶装置を運ぶ記憶装置転送部の斜視図である。
【図１７】[0037]記憶装置試験システムの概略図である。
【図１８】[0038]自己診断および機能的な試験能力を有する記憶装置試験システムの概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
[0039]さまざまな図面の同様な参照符号は、同様の構成要素を示す。
【００２４】
[0040]（詳細な説明）
図１〜図３を参照すると、ある実装形態では、記憶装置試験システム１００は、床表面１０に実質的に垂直な第１の軸２０５を規定する少なくとも１つのロボットアーム２００を備える。ロボットアーム２００は、第１の軸２０５の周囲を所定の円弧で回転することができ、第１の軸２０５から半径方向に延在する。いくつかの例では、ロボットアーム２００は、第１の軸２０５の周囲を３６０度回転することができ、記憶装置５００および／または記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０を扱うために、ロボットアーム２００の遠位端部に配置されるマニピュレーター２１２を備える（例えば図１３〜図１４参照）。複数の棚３００は、ロボットアーム２００によってサービスできるように、ロボットアーム２００の周囲に配列される。それぞれの棚３００は、試験のために記憶装置５００を受け取るように構成される複数の試験スロット３１０を収容する。ロボットアーム２００によってサービスできるそれぞれの試験スロット３１０にアクセスできるように、棚３００が動作範囲２１０の中で配置されて（例えば図４および図５参照）、ロボットアーム２００は、実質的に円筒状の動作範囲体積２１０を規定する。実質的に円筒状の動作範囲体積２１０は、コンパクトなフットプリントとなり、一般に高さによる制限によって収容可能数が制限されるだけである。
【００２５】
[0041]本明細書で使用される記憶装置には、ディスクドライブ、固体ドライブ、メモリ素子および検証のために非同期試験が要求される全ての装置が含まれる。ディスクドライブは、一般的に、デジタルに符号化されたデータを磁性面を有する高速回転する記録盤に記憶する不揮発性の記憶装置である。固体ドライブ（ＳＳＤ）は、永続性データを記憶するために固体メモリを使用するデータ記憶装置である。ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭを（フラッシュメモリの代わりに）使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブとしばしば呼ばれる。固体という用語は、一般的に、電気機械デバイスから固体エレクトロニクスを区別する用語である。
【００２６】
[0042]ロボットアーム２００は、試験システム１００を通じて個々の記憶装置５００を連続した流れを提供するために、それぞれの試験スロット３１０に独立してサービスするように構成されてもよい。記憶装置５００の一括処理を要求するシステムでは、全てが同一の開始時間と終了時間を持たなければならないが、試験システム１００での個々の記憶装置５００の連続した流れでは、それぞれの記憶装置５００に対して任意の開始時間および停止時間が可能である。したがって、連続した流れでは、異なる能力の記憶装置５００が同時に動作し、必要な場合にサービス（挿入／取り出し）されることができる。
【００２７】
[0043]棚３００から独立してロボットアーム２００を隔離することで棚３００の振動制御を補助し、共通の支持部構造として、床表面１０（例えば図１０参照）だけを共有する。言い換えれば、ロボットアーム２００は、棚３００から分離され、２つの構造の間の唯一の接続手段として床表面１０だけを共有する。一例として、それぞれの棚３００は、約４８０個の試験スロット３１０を収納する。他の例では、棚３００は、大きさおよび試験スロットの能力が異なる。
【００２８】
[0044]図１〜図３に示される例では、棚３００は、ロボットアーム２００の第１の軸２０５から半径方向に等距離で離れて配列される。しかしながら、棚３００は、動作範囲体積２１０内のロボットアーム２００の周囲でどのようなパターンおよびどのような距離で配列されてもよい。ロボットアーム２００の第１の軸２０５の周囲に、棚３００は、開いた、または閉じた八角形、四角形、三角形、台形、または他の多角形などの少なくとも部分的に閉じた多角形に配列され、それらの例が図４〜図５に図示される。特定のフットプリントに適合するように、それぞれの棚３００が異なる大きさおよび形状に構成されてもよい。ロボットアーム２００の周囲の棚３００の配列は対称的または非対称的であってもよい。
【００２９】
[0045]図３および図６に示される例では、ロボットアーム２００は床表面１０に置かれた台座または昇降機２５０の上で支持され、持ち上げられる。台座または昇降機２５０は、試験スロット３１０にサービスするために、ロボットアーム２００を上方ばかりではなく下方にも到達できるようにして、動作範囲体積２１０の高さを増加させる。動作範囲体積２１０の高さは、垂直作動装置を台座または昇降機２５０に追加することでさらに増やすことができ、それは、図７に示すようにロボットアーム２００を支持する縦方向に動作する支持部２５２として構成される。縦方向に動作する支持部２５２は、床表面１０に対して垂直にロボットアーム２００を移動させることができる。いくつかの例では、縦方向に動作する支持部２５２は、ロボットアーム２００を支持する垂直軌道として構成され、ロボットアーム２００を軌道に沿って垂直に移動させるために（例えば、ボールネジまたはベルトによって駆動される）作動装置を備える。水平に動作する支持部２５４（例えば、リニアアクチュエータ）は、図７にも図示されるように、ロボットアーム２００を支持するために使用され、ロボットアーム２００を床表面１０に沿って水平に移動させることができるようにしてもよい。図示される例では、ロボットアーム２１０を支持する垂直および水平に動作する支持部２５２、２５４の組み合わせは、上から見て細長い実質的に楕円形の輪郭を有する拡大された動作範囲体積２１０を提供する。
【００３０】
[0046]図８に示される例では、記憶装置試験システム１００は、２つのロボットアーム２００Ａおよび２００Ｂを備え、両方とも第１の軸２０５の周囲を回転する。１つのロボットアーム２００Ａは、床表面１０の上で支持され、他のロボットアーム２００Ｂは、天井構造１２からつるされる。同様に、図７に示される例では、追加のロボットアーム２００が縦方向に動作する支持部２５２の上で動作可能であってもよい。
【００３１】
[0047]図９に示される例では、記憶装置試験システム１００は、ロボットアーム２００を支持する回転可能な台２６０を具備する。回転可能な台２６０は、床表面１０に実質的に垂直な第２の軸２６２の周囲でロボットアーム２００を回転させることができるので、第１の軸２０５の周囲だけを回転するロボットアーム２００よりも動作範囲体積２１０が大きい。
【００３２】
[0048]再度図７〜図８を参照すると、ある実装形態では、記憶装置試験システム１００は、ロボットアーム２００に配置される視覚システム２７０を備える。視覚システム２７０は、記憶装置５００を搬送すると共に、ロボットアーム２００による誘導を補助するように構成される。特に、視覚システム２７０は、試験スロット３１０および／または運搬部４５０への挿入のために、マニピュレーター２１２によって保持される記憶装置転送部５５０の位置合わせを補助する。視覚システム２７０は、ロボットアーム２００を、棚３００、好ましくは試験スロット３１０の基準目印３１４に位置を合わせることによって、ロボットアーム２００を校正してもよい。いくつかの例では、基準目印３１４は、棚３００の試験スロット３１０の開口部３１２の角の近くに位置する「Ｌ」形状の目印である。ロボットアーム２００は、試験スロット３１０にアクセスする前に（例えば、記憶装置５００を運んでいてもよい記憶装置転送部５５０を持ち上げまたは置くためのどちらかのために）基準目印３１４で自分の位置を合わせる。継続的なロボットアームの位置合わせは、ロボットアーム２００の精度および信頼を高めるとともに、記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０の誤設置（記憶装置５００および／または記憶装置試験システム１００に損傷を与える場合がある）を最小化する。
【００３３】
[0049]ある実装形態では、記憶装置試験システム１００は、図１〜図３および図１０に示すように、転送ステーション４００を備える。他の実装形態では、記憶装置試験システム１００は、コンベヤーベルト（図示せず）または記憶装置５００をロボットアーム２００に供給する操作者を含む場合がある。転送ステーション４００を含む例では、ロボットアーム２００は、記憶装置５００を転送ステーション４００と試験スロット３１０との間を転送させることで、それぞれの試験スロット３１０に独立したサービスを提供する。転送ステーション４００は、それぞれが運搬部４５０を受け取るように構成される複数の運搬収納部４３０を備える。運搬部４５０は、試験および／または格納のために記憶装置５００を収納する記憶装置収納部４５４を規定する。それぞれの記憶装置収納部４５４では、収納された記憶装置５００は、記憶装置支持部４５６によって支持される。ロボットアーム２００は、記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０の１つからマニピュレーター２１２で取り外すように構成され、次いで、転送ステーション４００で記憶装置収納部４５４の１つから記憶装置転送部５５０を用いて記憶装置５００を持ち上げ、その後記憶装置５００の試験のために記憶装置５００がその中に入った記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０に戻す。試験後に、ロボットアーム２００は、試験済みの記憶装置５００を試験スロット３１０から取り出し、試験済みの記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０から（すなわち、マニピュレーター２１２を用いて）取り外して、記憶装置転送部５５０の中の試験済みの記憶装置５００を転送ステーション４００へ運び、転送ステーション４００の記憶装置収納部４５４の１つへ試験済みの記憶装置５００を戻すために記憶装置転送部５５０を操作する。ロボットアーム２００に視覚システム２７０を備える実装形態では、転送ステーション４００で記憶装置５００を取り出すまたは記憶装置５００を置く場合のロボットアームによる誘導を補助するために、基準目印３１４は、１つまたは複数の記憶装置収納部４５４に隣接して位置してもよい。
【００３４】
[0050]転送ステーション４００は、いくつかの例では、縦軸４１５を規定するステーション収容部４１０を備える。１つまたは複数の運搬受け取り部４２０は、例えば縦軸４１５に沿って延在するスピンドル４１２の上で、ステーション収容部４１０に回転自在に装着される。それぞれの運搬受け取り部４２０は、独立したそれぞれのスピンドル４１２または共通のスピンドル４１２の上で回転してもよい。それぞれの運搬受け取り部４２０は、第１および第２の対向する運搬収納部４３０Ａおよび４３０Ｂを規定する。図示される例では、転送ステーション４００は、スピンドル４１２に積み上げられた３つの運搬受け取り部４２０を備える。それぞれの運搬受け取り部４２０は、互いに独立して回転可能であり、サービス位置（例えば、操作者がアクセス可能）とロボットアーム２００がアクセス可能な試験位置との間にある受け取られた記憶装置の運搬部４５０を回転させてもよい。図示される例では、それぞれの運搬受け取り部４２０は、第１の位置（例えば、サービス位置）と第２の位置（試験位置）との間で回転可能である。第１の位置にいる間は、操作者は、第１の運搬収納部４３０Ａにアクセスでき、ロボットアーム２００は、反対側の第２の運搬収納部４３０Ｂにアクセスできる。第２の位置にいる間は、ロボットアーム２００は、第１の運搬収納部４３０Ａにアクセスでき、操作者は、反対側の第２の運搬収納部４３０Ｂにアクセスできる。結果として、転送ステーション４００の反対側の運搬収納部４３０に収納された運搬部４５０に記憶装置５００を挿入または取り出すようにロボットアーム２００が接近する間に、運搬部４５０を転送ステーション４００の片側の運搬収納部４３０へ挿入または取り出すことで、操作者は、転送ステーション４００にサービスを提供してもよい。
【００３５】
[0051]転送ステーション４００は、記憶装置試験システム１００に記憶装置５００を運び込み、記憶装置試験システム１００から記憶装置５００を運び出すサービスポイントを提供する。運搬部４５０によって、操作者は、一群の記憶装置５００を転送ステーション４００に運び込み、転送ステーション４００から運び出すことが可能になる。図１０に示される例では、第２の位置でそれぞれの運搬受け取り部４２０からアクセス可能なそれぞれの運搬部４５０は、試験のために記憶装置５００を供給する供給運搬部４５０として、または試験済みの記憶装置５００を受け取るための行き先運搬部４５０として設計されてもよい。行き先運搬部４５０は、それぞれが機能性試験に合格したまたは不合格となった、それぞれの記憶装置５００を受け取るために「試験に合格して戻ってきた運搬部」または「試験に不合格となって戻ってきた運搬部」に分類されてもよい。
【００３６】
[0052]収容部ドア４１６は、転送ステーション収納部４１０に枢動可能または摺動可能に取り付けられ、操作者が１つまたは複数の運搬収納部４３０にアクセスできるように構成される。運搬部４５０をそれぞれの運搬収納部４３０の中に挿入／取り出しするために、操作者は、特定の運搬受け取り部４２０に関連する収容部ドア４１６を開ける。関連する収容部ドア４１６が開いている間は、転送ステーション４００は、それぞれの運搬受け取り部４２０を固定して保持するように構成されてもよい。
【００３７】
[0053]いくつかの例では、転送ステーション４００は、転送ステーション４００の１つまたは複数の状態を、目で見える、聞き取れる、または他の認識可能な表示で提供するステーション表示部４１８を備える。１つの例では、ステーション表示部４１８は、１つまたは複数の運搬受け取り部４２０がサービスが必要な場合（例えば、特定の運搬受け取り部４２０からの運搬部４５０の挿入／排出をすることが必要な場合）を示す光源（例えば、ＬＥＤ）を備える。別の例では、ステーション表示部４１８は、転送ステーション４００をサービスするために操作者に合図を送る１つまたは複数の可聴信号（例えば、チャープ（ｃｈｉｒｐｓ）、クラック（ｃｌａｃｋｓ）など）を提供する１つまたは複数のオーディオ装置を備える。ステーション表示部４１８は、図示されるように、縦軸４１５に沿って配置される、またはステーション収容部４１０のその他の部分の上に配置されてもよい。
【００３８】
[0054]図１１に示される例では、運搬部４５０Ａは、複数の記憶装置収納部４５４Ａを規定する運搬本体部４５２Ａを備える。それぞれの記憶装置収納部４５４Ａは、記憶装置５００を収納するように構成される。この例では、それぞれの記憶装置収納部４５４Ａは、非中央部分に沿って記憶装置５００を操作できるようにするために、受け取られた記憶装置５００の中央部分５０２を支持するように構成される記憶装置支持部４５６Ａを備える。収納された記憶装置５００を記憶装置収納部４５４Ａから取り出すために、記憶装置転送部５５０を（例えば、ロボットアーム２００によって）記憶装置収納部４５４Ａの中の記憶装置５００の下に位置させ、記憶装置５００を記憶装置支持部４５６Ａから持ち上げるように上昇させる。次いで、試験スロット３１０などの行き先目標物へ搬送するために記憶装置５００を運ぶと共に、記憶装置転送部５５０は、記憶装置収納部４５４Ａから取り出される。
【００３９】
[0055]図１２に示される例では、運搬部４５０Ｂは、複数の記憶装置支持部４５６Ｂによって記憶装置収納部４５４Ｂに分割される、縦列空洞４５３Ｂを規定する運搬本体部４５２Ｂを備える。記憶装置支持部４５６Ｂは、縦列空洞４５３Ｂの後部壁４５７Ｂから片持ちされる。記憶装置支持部４５６Ｂは、非中央部分に沿って記憶装置５００を操作できるようにする、受け取られた記憶装置５００の中央部分５０２を支持するように構成される。（例えば、図１３に示すような）記憶装置転送部５５０を真下の空の記憶装置収納部４５４Ｂに挿入し、記憶装置収納部４５４Ｂから取り出すために記憶装置５００を記憶装置支持部４５６Ｂから持ち上げることによって、片持ち記憶装置支持部４５６Ｂは、運搬部４５０Ｂから記憶装置５００の取り出しを可能にする。運搬部４５０Ｂの中に記憶装置５００を置くために同一の手順が逆順に繰り返される。図示されるように、それぞれの縦列空洞４５３Ｂの中の下部の記憶装置収納部４５４Ｂは、その上の記憶装置収納部４５４Ｂに収納された記憶装置５００を取り出すことを容易にするために空になる。したがって、特定の列では順番に記憶装置５００が挿入／取り出しされなけらばならない。しかしながら、図１１に図示される運搬解決策よりも更に大きい収納密度が達成される。
【００４０】
[0056]図１３〜図１６を参照すると、いくつかの例では、試験スロット３１０は、記憶装置転送部５５０を受け取るように構成される。記憶装置転送部５５０は、記憶装置５００を受け取り、ロボットアーム２００で取り扱われるように構成される。使用中は、記憶装置転送部５５０の１つが試験スロット３１０の１つから（例えば、転送部５５０の凹部５５２をロボット２００のマニピュレーター２１２でつかみ、さもなければ係合して）ロボット２００によって取り出される。図１３に示されるように、運搬部４５０の中の記憶装置支持部４５６の周囲に共同して支持構造体５６０を適合させることができる側壁５６２、５６４および底板５６６によって形成される、実質的にＵ字形の開口部５６１を規定する支持構造体５６０を記憶装置転送部５５０は備え、記憶装置転送部５５０は、（例えば、ロボットアーム２００を介して）運搬部４５０の記憶装置収納部４５４の１つの中に収納された記憶装置５００の１つの下側位置へ移動させることができる。次いで、記憶装置転送部５５０は、運搬部４５０の中の記憶装置支持部４５６から取り外すために、（例えば、ロボットアーム３１０によって）記憶装置６００の係合位置に持ち上げられることができる。
【００４１】
[0057]記憶装置５００は、記憶装置転送部５５０の支持構造体５６０の中の所定の位置に取り付けられて、図１６に示すように、試験スロット３１０の１つに配置するために、記憶装置転送部５５０および記憶装置５００は、ロボットアーム２００によって一緒に移動することができる。マニピュレーター２１２は、記憶装置転送部５５０の中に配置されるクランプ機構５７０の作動を開始するようにも構成される。これによって、搬送中に記憶装置転送部５５０に対して記憶装置５００が移動することを阻止するために、転送部５５０が運搬部４５０から試験スロット３１０に移動される前にクランプ機構５７０を作動させることができる。試験スロット３１０の中に挿入する前に、支持構造体５６０の中の記憶装置５００を解放するために、マニピュレーター２１２は、再びクランプ機構５７０を作動させることができる。これによって、記憶装置コネクタ５１０が試験スロットコネクタ（図示せず）と係合する試験位置に記憶装置５００が収まるまで、記憶装置転送部５５０は、試験スロット３１０の１つの中に挿入されることができる。一旦、試験スロット３１０の中に受け取られれば、試験スロット３１０に対して記憶装置転送部５５０の移動を阻止するために、クランプ機構５７０は、試験スロット３１０と係合するように構成されてもよい。当該実装形態では、一旦、記憶装置５００が試験位置に入ると、試験スロット３１０に対して記憶装置転送部５５０の移動を阻止するために、クランプ機構５７０は、（例えば、マニピュレーター２１２によって）再び係合される。転送部５５０のクランプは、このように試験中の振動を減少させる補助ができる。いくつかの例では、挿入後に、その場所に運ばれた記憶装置転送部５５０および記憶装置５００の両方が試験スロット３１０の中で、一緒にまたは別々に、締め付けまたは固定される。クランプ機構５７０の詳細な説明および本明細書に記載された内容と組み合わせることができる他の詳細および特徴は、参照によってその内容全体が本明細書に援用される、２００７年１２月１８日に出願された、「ディスクドライブの搬送、クランピングおよび試験（ＤＩＳＫ  ＤＲＩＶＥ  ＴＲＡＮＳＰＯＲＴ，ＣＬＡＭＰＩＮＧ  ＡＮＤ  ＴＥＳＴＩＮＧ）」という題名の米国特許出願番号１１／９５９，１３３に見いだすことができる。
【００４２】
[0058]記憶装置５００は、振動に敏感であり得る。それぞれが任意に記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０を、試験棚３００の中のさまざまな試験スロット３１０へ挿入するおよび取り外すことばかりではなく、複数の記憶装置５００を１つの試験棚３１０に納め、（例えば、試験中に）記憶装置５００を動作させることも、望ましくない振動の源となり得る。ある場合には、例えば、他の装置は、同一の試験棚３００の隣接する試験スロット３１０から取り外されおよび挿入される一方で、記憶装置５００の１つが試験スロット３１０の１つの中で試験中に動作する場合がある。記憶装置転送部５５０が試験スロット３１０に完全に挿入された後で、記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０に押し当てることで、上記のように、記憶装置転送部５５０の挿入および取り外しの間に記憶装置転送部５５０と試験スロット３１０との間の接触および剥離物を制限することで、振動を減らし、または振動を制限する補助ができる。
【００４３】
[0059]図１７を参照すると、ある実装形態では、記憶装置試験システム１００は、試験スロット３１０と通信をする少なくとも１つのコンピューター３２０を備える。記憶装置５００の在庫管理および／または記憶装置試験システム１００を制御するための自動化インターフェースを備えるようにコンピューター３２０が構成されてもよい。電力システム３３０は、記憶装置試験システム１００に電力を供給する。電力システム３３０は、試験スロット３１０の中の受け取られた記憶装置５００の電力の監視および／または調節をする場合もある。温度制御システム３４０は、それぞれの試験スロット３１０の温度を制御する。温度制御システム３４０は、試験スロット３１０の上および／または中に空気を循環させることができるエアームーバ３４２（例えば、ファン）であってもよい。いくつかの例では、エアームーバ３４２は、試験スロット３１０の外部に設置される。能動的または受動的吸収材などの振動制御システム３５０は、それぞれの試験スロット３１０の振動を制御する。いくつかの例では、振動制御システム３５０は、受動的吸収システムを含み、この場合には試験スロット３１０の部品は、グロメット防振材料（例えば、熱可塑性ビニル）および／または弾性マウント（例えば、ウレタン・エラストマー）を介して接続されている。いくつかの例では、振動制御システム３５０は、バネ、緩衝器、ならびに棚３００および／または試験スロット３１０の振動を制御する制御ループを有する能動的制御システムを含む。データインターフェース３６０は、それぞれの試験スロット３１０と通信する。データインターフェース３６０は、試験スロット３１０によって受け取られる記憶装置５００と通信するように構成される。
【００４４】
[0060]図１８に示される例では、それぞれの棚３００は、少なくとも１つの試験スロット３１０と通信をする少なくとも１つの自己診断システム６００を備える。自己診断システム６００は、記憶装置試験システム１００および／または試験スロット３１０などの特定のサブシステムが適切に機能しているか否かを試験する。自己診断システム６００は、クラスター制御装置６１０と、試験スロット３１０の中に受け取られた記憶装置５００に電気的に接続された接続インターフェース回路６２０と、接続インターフェース回路６２０に電気的に接続されたブロックインターフェース回路６３０と、を備える。クラスター制御装置６１０は、試験スロット３１０の複数の自己診断および／または記憶装置５００の機能性試験などの１つまたは複数の試験プログラムを実行させるように構成されてもよい。接続インターフェース回路６２０およびブロックインターフェース回路６３０は、自己診断をするように構成されてもよい。いくつかの例では、自己診断システム６００は、記憶装置試験システム１００の１つまたは複数の部品の自己診断ルーチンを実行および制御するように構成される自己診断回路６６０を含む。例えば、自己診断回路６６０は、記憶装置試験システム１００の１つまたは複数の部品の「記憶装置」型および／または「試験スロットだけ」型自己診断を実行するように構成されてもよい。クラスター制御装置６１０は、イーサネット（例えば、ギガビットイーサネット）を介して自己診断回路６４０と通信してもよく、自己診断回路６４０は、汎用非同期式受信送信回路（ＵＡＲＴ）シリアルリンクを介してブロックインターフェース回路６３０ならびに接続インターフェース回路６２０および記憶装置５００と通信してもよい。ＵＡＲＴは、一般にコンピューターまたは周辺装置のシリアルポートとのシリアル通信に使用される独立した集積回路（あるいはその一部）である。ブロックインターフェース回路６３０は、試験スロット３１０の電力および温度を制御するように構成され、複数の試験スロット３１０および／または記憶装置５００を制御してもよい。
【００４５】
[0061]それぞれの棚３００は、いくつかの例では、少なくとも１つの試験スロット３１０と通信をする少なくとも１つの機能的な試験システム６５０を備える。機能的な試験システム６５０は、記憶装置転送部５５０によって試験スロット３１０の中に保持および／または支持される、受け取られた記憶装置５００が適切に機能しているか否かを試験する。機能性試験には、記憶装置５００によって受け取られる電力量、動作温度、データの読み出しおよび書き込みの能力、ならびに異なる温度でのデータの読み出しおよび書き込みの能力（例えば、低温で書き込み高温で読み出す、またはその逆の場合）を試験することが含まれてもよい。機能性試験では、記憶装置５００の全てのメモリセクタの試験または無作為抽出だけをしてもよい。機能性試験では、記憶装置５００の動作温度および記憶装置５００との通信によるデータの整合性も試験してもよい。機能的な試験システム６５０は、クラスター制御装置６１０と、クラスター制御装置６１０に電気的に接続された少なくとも１つの機能的なインターフェース回路６６０と、を備える。接続インターフェース回路６２０は、試験スロット３１０の中に受け取られた記憶装置５００および機能的なインターフェース回路６６０に電気的に接続される。機能的なインターフェース回路６６０は、記憶装置５００と機能的な試験ルーチンで通信するように構成される。クラスター制御装置６１０と１つまたは複数の機能的なインターフェース回路６６０との間の電気的な接続を提供するために、機能的な試験システム６５０は、通信スイッチ６７０（例えば、ギガビットイーサネット）を備えてもよい。好ましくは、コンピューター３２０、通信スイッチ６７０、クラスター制御装置６１０、および機能的なインターフェース回路６６０は、イーサネットネットワークで通信する。しかしながら、他の通信形態が使用されてもよい。機能的なインターフェース回路６６０は、パラレルＡＴアタッチメント（ＩＤＥ、ＡＴＡ、ＡＴＡＰＩ、ＵＤＭＡおよびＰＡＴＡとしても知られるハードディスクインターフェース）、ＳＡＴＡ、またはＳＡＳ（シリアルアタッチドＳＣＳＩ）を介して接続インターフェース回路６２０と通信してもよい。
【００４６】
[0062]記憶装置の試験を実行する方法には、（例えば、記憶装置運搬部４５０によって規定される記憶装置収納部４５４に記憶装置５００を装着すること、および転送ステーション４００によって規定される運搬収納部４３０に記憶装置運搬部４５０を装着することのように）複数の記憶装置５００を転送ステーション４００の中に装着することが含まれる。該方法には、棚３００の中に収納された試験スロット３１０から記憶装置転送部５５０を取り外すようにロボットアーム２００を作動させること、および転送ステーション４００から記憶装置５００の１つを取り外し、記憶装置転送部５５０の中の記憶装置５００を運ぶようにロボットアーム２００を作動させることが含まれる。ロボットアーム２００は、ロボットアーム２００によって規定される、床表面１０に実質的に垂直な第１の軸２０５の周囲を所定の円弧で回転することができ、ロボットアーム２００によって規定される、床表面１０に実質的に垂直な第１の軸２０５から半径方向に延びる。該方法には、記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０に搬送するようにロボットアーム２００を作動させること、ならびに受け取られた記憶装置転送部５５０および試験スロット３１０に収納された記憶装置５００の機能性試験を実行することが含まれる。次いで、該方法には、試験スロット３１０から試験済みの記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０を取り外し、試験済みの記憶装置５００を転送ステーション４００に搬送して戻すようにロボットアーム２００を作動させることが含まれる。ある実装形態で、異なる種類の試験のために試験スロット３１０が供給される場合には、棚３００および２つ以上の関連する試験スロット３１０が１つの試験スロット３１０から別の試験スロット３１０へ内部で記憶装置５００を移動するように構成される。
【００４７】
[0063]いくつかの例では、該方法には、記憶装置運搬部４５０の記憶装置収納部４５４の中に試験済みの記憶装置５００を置いた後に、記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０の中に置くこと、または記憶装置運搬部４５０の別の記憶装置収納部４５４から、試験のために別の記憶装置５００を取り外すことにより方法を繰り返すようにロボットアーム２００を作動させることが含まれる。いくつかの例では、記憶装置転送部５５０を試験スロット３１０に搬送することには、記憶装置５００を運ぶ記憶装置転送部５５０を棚３００の中の試験スロット３１０に挿入し、記憶装置５００と棚３００との間の電気的な接続を確立することが含まれる。
【００４８】
[0064]ある実装形態では、該方法では、受け取られた記憶装置５００の機能性試験を実施することには、記憶装置５００の動作中に試験スロット３１０の温度を調節することが含まれる。受け取られた記憶装置５００の動作には、記憶装置５００に対するデータの読み出しおよび書き込みを実施することが含まれる。該方法には、試験スロット３１０の温度を制御するために試験スロット３１０の上および／または中に空気を循環させ、記憶装置５００に分配される電力を監視および／または調節することが含まれてもよい。
【００４９】
[0065]いくつかの例では、該方法は、試験スロット３１０の機能性を検証するために、棚３００に収納された自己診断システム６００で試験スロット３２０の「記憶装置」型および／または「試験スロットだけ」型の自己診断を実行することを含む。「記憶装置」型自己診断は、記憶装置転送部５５０によって試験スロット３１０の中に保持および／または支持される、受け取られた記憶装置５００と共に記憶装置試験システムの機能性を試験する。自己診断の「試験スロットだけ」型は、空の試験スロット３１０の機能性を試験する。
【００５０】
[0066]いくつかの例では、該方法には、記憶装置転送部５５０によって運ばれ得る記憶装置５００を搬送する間のロボットアーム２００による誘導を補助するために、ロボットアーム２００に配置される視覚システム２７０と通信することが含まれる。該方法は、視覚システム２７０によって認識される棚３００、試験スロット３１０、転送ステーション４００および／または運搬部４５０の基準目印３１４にロボットアーム２００の位置を合わせることによって、ロボットアーム２００を校正することを含む。
【００５１】
[0067]本明細書に記載された内容と組み合わせることができる他の詳細および特徴は、参照によってその内容全体が本明細書に援用される、２００７年１２月１８日に出願された、「ディスクドライブの試験（ＤＩＳＫ  ＤＲＩＶＥ  ＴＥＳＴＩＮＧ）」という題名の米国特許出願１１／９５８，７８８に見いだすことができる。
【００５２】
[0068]多くの実装形態が記述されてきた。それにもかかわらず、開示された精神および範囲を逸脱することなくさまざまな変更形態が実施可能であることを理解されたい。したがって、他の実装形態は添付の特許請求の範囲に含まれる。
【図１】
2012517655.tif 000003
【図２】
2012517655.tif 000004
【図３】
2012517655.tif 000005
【図４】
2012517655.tif 000006
【図５】
2012517655.tif 000007
【図６】
2012517655.tif 000008
【図７】
2012517655.tif 000009
【図８】
2012517655.tif 000010
【図９】
2012517655.tif 000011
【図１０】
2012517655.tif 000012
【図１１】
2012517655.tif 000013
【図１２】
2012517655.tif 000014
【図１３】
2012517655.tif 000015
【図１４】
2012517655.tif 000016
【図１５】
2012517655.tif 000017
【図１６】
2012517655.tif 000018
【図１７】
2012517655.tif 000019
【図１８】
2012517655.tif 000020
【手続補正書】
【提出日】平成23年8月12日(2011.8.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
床表面（１０）に対して実質的に垂直な第１の軸（２０５）を規定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）であって、当該第１の軸（２０５）の周囲で所定の円弧で回転することができ、当該第１の軸（２０５）から半径方向に延びる、少なくとも１つのロボットアーム（２００）と、
前記ロボットアーム（２００）によってサービスされるように当該ロボットアーム（２００）の周囲に配置される複数の棚（３００）と、
それぞれの棚（３００）に収納される複数の試験スロット（３１０）であって、試験のために記憶装置（５００）を運ぶように構成された記憶装置転送部（５５０）を受け取るように構成される、複数の試験スロット（３１０）と、
前記ロボットアーム（２００）によってサービスされるように配置される転送ステーション（４００）であって、それぞれが記憶装置運搬部（４５０）を受け取るように構成される複数の運搬収納部（４３０）を備える、転送ステーション（４００）と、を具備する、記憶装置試験システム（１００）。
【請求項２】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）は、前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）の１つに係合させるように構成されるマニピュレーター（２１２）を具備し、
前記ロボットアーム（２００）は、前記記憶装置転送部（５５０）の中の記憶装置（５００）を試験のために前記試験スロット（３１０）に運ぶことができる、記憶装置試験システム。
【請求項３】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）は、実質的に円筒状の動作範囲体積（２１０）を規定し、
前記棚（３００）および前記転送ステーション（４００）は、前記ロボットアーム（２００）によってサービスされるように動作範囲体積（２１０）の中に配置される、記憶装置試験システム。
【請求項４】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記転送ステーション（４００）は、当該転送ステーション（４００）によって規定される、床表面（１０）に対して実質的に垂直な縦軸（４１５）の周囲を回転することができる、記憶装置試験システム。
【請求項５】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記転送ステーション（４００）は、第１および第２の対向する運搬収納部（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）を規定する転送ステーション収納部（４１０）を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項６】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記転送ステーション（４００）は、
縦軸（４１５）を規定するステーション収納部（４１０）と、
前記縦軸（４１５）の周囲を回転できるように回転自在に装着される複数の運搬受け取り部（４２０）であって、互いに独立して回転可能であり、第１および第２の対向する運搬収納部（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）を規定する、複数の運搬受け取り部（４２０）と、を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項７】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）は、記憶装置が受け取られた前記転送ステーション（４００）の運搬部（４５０）とそれぞれの試験スロット（３１０）との間で記憶装置（５００）を搬送することについて、前記試験スロット（３１０）に独立してサービスを提供する、記憶装置試験システム。
【請求項８】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記記憶装置運搬部（４５０）は、それぞれが記憶装置（５００）を収納するように構成される複数の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）を規定する運搬本体部（４５２Ａ、４５２Ｂ）を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項９】
請求項８に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）を、それぞれの記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）が規定する、記憶装置試験システム。
【請求項１０】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記記憶装置運搬部（４５０）は、
複数の縦列空洞（４５３Ｂ）を規定する運搬本体部（４５２Ｂ）と、
それぞれの縦列空洞（４５３Ｂ）の中に配置され、当該縦列空洞（４５３Ｂ）をそれぞれが記憶装置（５００）を受け取るように構成される複数の記憶装置収納部（４５４Ｂ）に分割する複数の片持ち記憶装置支持部（４５６Ｂ）と、を具備し、
それぞれの記憶装置支持部（４５６Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される、記憶装置試験システム。
【請求項１１】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記試験スロット（３００）と通信をする少なくとも１つのコンピューター（３２０）と、
前記記憶装置試験システム（１００）に電力を供給する電力システム（３３０）と、
それぞれの試験スロット（３１０）の温度を制御するための温度制御システム（３４０）と、
棚の振動を制御するための振動制御システム（３５０）と、
それぞれの試験スロット（３１０）と通信し、当該試験スロット（３１０）によって受け取られる前記記憶装置転送部（５５０）の中の記憶装置（５００）と通信するように構成されるデータインターフェース（３６０）と、をさらに具備する、記憶装置試験システム。
【請求項１２】
請求項１１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記電力システム（３３０）、は前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた前記記憶装置（５００）の電力を調節するように構成される、記憶装置試験システム。
【請求項１３】
請求項１１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記温度制御システム（３４０）は、前記試験スロット（３１０）の中に空気を循環させることができるエアームーバ（３４２）を具備する、記憶装置試験システム。
【請求項１４】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
それぞれの棚（３００）は、少なくとも１つの試験スロット（３１０）と通信をする少なくとも１つの自己診断システム（６００）を具備し、
前記自己診断システム（６００）は
クラスター制御装置（６１０）と、
前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた記憶装置（５００）に電気的に接続された接続インターフェース回路（６２０）と、
前記接続インターフェース回路（６２０）に電気的に接続されたブロックインターフェース回路（６３０）と、を具備し、
前記ブロックインターフェース回路（６３０）は、前記試験スロット（３１０）の電力および温度を制御するように構成され、
前記接続インターフェース回路（６２０）および前記ブロックインターフェース回路（６３０）は、前記記憶装置試験システム（１００）の少なくとも１つの構成要素の機能性を試験するように構成されている、記憶装置試験システム。
【請求項１５】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
それぞれの棚（３００）は、少なくとも１つの試験スロット（３１０）と通信する少なくとも１つの機能的な試験システム（６５０）を具備し、
前記機能的な試験システム（６５０）は
クラスター制御装置（６１０）と、
前記クラスター制御装置（６１０）に電気的に接続された少なくとも１つの機能的なインターフェース回路（６６０）と、
前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた記憶装置（５００）および前記少なくとも１つの機能的なインターフェース回路（６６０）に電気的に接続された接続インターフェース回路（６２０）と、を具備し、
前記記憶装置（５００）と機能的な試験ルーチンで通信するように構成される、記憶装置試験システム。
【請求項１６】
請求項１５に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記機能的な試験システム（６００）は、前記クラスター制御装置（６１０）と前記少なくとも１つの機能的なインターフェース回路（６６０）との間の電気的な接続を提供するイーサネットスイッチをさらに具備する、記憶装置試験システム。
【請求項１７】
請求項１に記載の記憶装置試験システム（１００）において、
前記ロボットアーム（２００）に配置される視覚システム（２７０）をさらに具備し、
前記視覚システム（２７０）は、記憶装置（５００）を搬送する間に前記ロボットアーム（２００）の誘導を補助し、基準目印（３１４）に前記ロボットアーム（２００）の位置を合わせることで前記ロボットアーム（２００）の校正をする、記憶装置試験システム。
【請求項１８】
それぞれが記憶装置（５００）を収納するように構成される、複数の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）を規定する運搬本体部（５４２Ａ、４５２Ｂ）を具備し、
それぞれの記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）を備える、記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）。
【請求項１９】
複数の縦列空洞（４５３Ｂ）を規定する運搬本体部（４５２Ｂ）と、
それぞれの縦列空洞（４５３Ｂ）の中に配置され、当該縦列空洞（４５３Ｂ）をそれぞれが記憶装置（５００）を受け取るように構成される複数の記憶装置収納部（４５４Ｂ）に分割する複数の片持ち記憶装置支持部（４５６Ｂ）と、を具備し、
それぞれの記憶装置支持部（４５６Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される、記憶装置運搬部（４５０、４５０Ｂ）。
【請求項２０】
記憶装置の試験を実行する方法であって、
複数の記憶装置（５００）を記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）によって規定される記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）に装着する工程と、
前記記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）を転送ステーション（４００）によって規定される運搬収納部（４３０）に装着する工程と、
棚（３００）に収納された試験スロット（３１０）から記憶装置転送部（５５０）を取り出すようにロボットアーム（２００）を作動させる工程と、
前記転送ステーション（４００）から前記記憶装置（５００）の１つを取り出し、前記記憶装置転送部（５５０）の中の当該記憶装置（５００）を運ぶように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程であって、当該ロボットアーム（２００）は当該ロボットアーム（２００）によって規定される、床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）の周囲を所定の円弧で回転することができ、当該ロボットアーム（２００）によって規定される、床表面（１０）に実質的に垂直な第１の軸（２０５）から半径方向に延びている工程と、
記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）に搬送するように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程と、
受け取られた前記記憶装置転送部（５５０）および前記試験スロット（３１０）に収納された前記記憶装置（５００）の機能性試験を実行する工程と、
試験済みの前記記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）から取り出し、当該試験済みの記憶装置（５００）を前記転送ステーション（４００）に搬送して戻すように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程と、を含む、方法。
【請求項２１】
請求項２０に記載の方法において、
空の前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）に置くように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程をさらに具備する、方法。
【請求項２２】
請求項２０に記載の方法において、
前記記憶装置（５００）を運ぶ前記記憶装置転送部（５５０）を前記試験スロット（３１０）に搬送する工程は、
前記記憶装置転送部（５５０）を前記棚（３００）の中の前記試験スロット（３１０）に挿入する工程と、
前記記憶装置（５００）と前記棚（３００）との間の電気的な接続を確立する工程と、を含む、方法。
【請求項２３】
請求項２０に記載の方法において、
サービス位置と前記ロボットアーム（２００）でアクセス可能な試験位置との間で、前記転送ステーション（４００）の前記記憶装置が受け取られた運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）を回転させる工程をさらに具備する、方法。
【請求項２４】
請求項２０に記載の方法において、
記憶装置（５００）を前記記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）に装着する工程は、当該記憶装置運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）の運搬本体部（４５２Ａ、４５２Ｂ）によって規定される記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）の中の記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）の上に当該記憶装置（５００）を置く工程を含み、
前記記憶装置支持部（４５６Ａ、４５６Ｂ）は、非中央部分に沿って前記記憶装置（５００）を操作できるように、受け取られた記憶装置（５００）の中央部分（５０２）を支持するように構成される、方法。
【請求項２５】
請求項２０に記載の方法において、
前記試験済みの記憶装置（５００）を前記転送ステーション（４００）に収納された返却運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）へ選択的に搬送するように前記ロボットアーム（２００）を作動させる工程をさらに具備し、
前記試験済みの記憶装置（５００）が前記機能性試験に首尾よく合格すると、前記ロボットアーム（２００）は、当該試験済みの記憶装置（５００）を合格返却運搬部（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）に搬送し、
試験済みのディスク（５００）ドライブが前記機能性試験に不合格になると、前記ロボットアーム（２００）は、当該試験済みの記憶装置（５００）を不合格返却運搬部（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）の記憶装置収納部（４５４Ａ、４５４Ｂ）に搬送する、方法。
【請求項２６】
請求項２０に記載の方法において、
前記受け取られた記憶装置（５００）の機能性試験を実行する工程には、当該記憶装置（５００）の動作中に前記試験スロット（３１０）の温度を調節すること、特に、当該記憶装置（５００）に対してデータの読み出しおよび書き込みを実施することが含まれる、方法。
【請求項２７】
請求項２０に記載の方法において、
前記試験スロット（３１０）の温度を制御するために、前記試験スロット（３１０）の中に空気を循環させる工程をさらに含む、方法。
【請求項２８】
請求項２０に記載の方法において、
前記試験スロット（３１０）の中に受け取られた前記記憶装置（５００）に分配される電力を調節する工程がさらに含まれる、方法。
【請求項２９】
請求項２０に記載の方法において、
前記試験スロット（３１０）の機能性を検証するために、前記棚（３００）に収納された自己診断システム（６００）で当該試験スロット（３１０）の自己診断を実行する工程をさらに含む、方法。
【請求項３０】
請求項２０に記載の方法において、
前記記憶装置（５００）を搬送する間に前記ロボットアーム（２００）による誘導を補助するために、当該ロボットアーム（２００）に配置される視覚システム（２７０）と通信する工程をさらに備える、方法。
【国際調査報告】
2012517655.tif 000021
2012517655.tif 000022
2012517655.tif 000023