【手続補正書】
【提出日】令和2年2月26日(2020.2.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
深度感知システムであって、
光を表面から受信する第１のセンサピクセルおよび第２のセンサピクセルを有するセンサと、
第１の数値割合の全波長にわたる強度の総可視光および第２の数値割合の総赤外線光を前記第１のセンサピクセルに伝送すること、および、第３の数値割合の全波長にわたる強度の総可視光および第４の数値割合の総赤外線光を前記第２のセンサピクセルに伝送することを可能にするフィルタであって、
前記第１の数値割合の全波長にわたる強度の総可視光および前記第２の数値割合の総赤外線光は、第１の感知された値を前記第１のセンサピクセルにもたらし、
前記第３の数値割合の全波長にわたる強度の総可視光および前記第４の数値割合の総赤外線光は、第２の感知された値を前記第２のセンサピクセルにもたらす、
フィルタと、
前記第１の感知された値および前記第２の感知された値を分析し、前記表面の深度を判定するプロセッサと
を備え、
前記フィルタは、前記センサと前記表面との間に配置される、システム。
【請求項２】
前記第１の感知された値および前記第２の感知された値を分析することは、前記表面の赤外線光画像を生成することを含む、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記第１の感知された値および前記第２の感知された値を分析することは、前記表面の前記赤外線光画像内のＰＯＩを三角測量することを含む、請求項２に記載のシステム。
【請求項４】
前記センサは、前記第２のセンサピクセルを含む複数の第２のセンサピクセルを有し、
前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれは、前記第１のセンサピクセルに隣接し、
前記フィルタは、前記第３の数値割合の全波長にわたる強度の総可視光を前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれに伝送すること、および、前記第４の数値割合の総赤外線光を前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれに伝送することを可能にする、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記第１の感知された値および前記第２の感知された値を分析し、前記表面の深度を判定することは、前記複数の第２のセンサピクセルに対応する複数の検出された光値に基づいて、前記第１のセンサピクセルに関する推定される光値を計算することを含み、
前記複数の第２のセンサピクセルに対応する前記検出された複数の光値は、前記第２の感知された値を含む、請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
前記第１のセンサピクセルに関する前記推定される光値を計算することは、前記複数の第２のセンサピクセルに対応する前記複数の検出された光値を平均化することを含む、請求項５に記載のシステム。
【請求項７】
前記第１のセンサピクセルに関する前記推定される光値を計算することは、前記複数の第２のセンサピクセルに対応する前記複数の検出された光値に縁検出を行うことを含む、請求項５に記載のシステム。
【請求項８】
前記センサは、前記第１のセンサピクセルを含む複数の第１のセンサピクセルを有し、
前記複数の第１のセンサピクセルのそれぞれは、前記第２のセンサピクセルに隣接し、
前記フィルタは、前記第１の数値割合の全波長にわたる強度の総可視光を前記複数の第１のセンサピクセルのそれぞれに伝送すること、および、前記第２の数値割合の総赤外線光を前記複数の第１のセンサピクセルのそれぞれに伝送することを可能にする、請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
前記第１の感知された値および前記第２の感知された値を分析し、前記表面の深度を判定することは、
前記複数の第１のセンサピクセルに対応する複数の検出された光値に基づいて、前記第２のセンサピクセルに関する推定される光値を計算すること
を含み、
前記複数の第１のセンサピクセルに対応する前記複数の検出された光値は、前記第１の感知された値を含む、請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
前記第２のセンサピクセルに関する前記推定される光値を計算することは、前記複数の第１のセンサピクセルに対応する前記複数の検出された光値を平均化することを含む、請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
前記第２のセンサピクセルに関する前記推定される光値を計算することは、前記複数の第１のセンサピクセルに対応する前記複数の検出された光値に縁検出を行うことを含む、請求項９に記載のシステム。
【請求項１２】
前記光を前記表面に向かって投影する空間変調光投影デバイスをさらに備え、
前記光は、前記表面から前記センサに向かって反射される、請求項１に記載のシステム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
本発明の付加的および他の目的、特徴、ならびに利点は、詳細な説明、図、および請求項に説明される。
本発明は、例えば、以下を提供する。
（項目１）
深度感知システムであって、
光を表面から受信する第１および第２のセンサピクセルを有するセンサと、
赤外線光を前記第２のセンサピクセルに伝送することを防止しながら、フルスペクトル光を前記第１のセンサピクセルに伝送し、可視光を前記第２のセンサピクセルに伝送することを可能にするフィルタと、
前記フルスペクトル光および前記可視光を分析し、前記表面の深度を判定するプロセッサと
を備え、
前記フィルタは、前記センサと前記表面との間に配置される、システム。
（項目２）
前記センサは、前記第２のセンサピクセルを含む複数の第２のセンサピクセルを有し、
前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれは、前記第１のセンサピクセルに隣接し、
前記フィルタは、赤外線光を前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれに伝送することを防止しながら、可視光を前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれに伝送することを可能にする、項目１に記載のシステム。
（項目３）
前記フルスペクトル光および前記可視光を分析することは、前記複数の第２のセンサピクセルに対応する複数の検出された可視光値に基づいて、前記第１のセンサピクセルに関して推定される可視光値を計算することを含む、項目２に記載のシステム。
（項目４）
前記推定される可視光値を計算することは、前記複数の検出された可視光値を平均化することを含む、項目３に記載のシステム。
（項目５）
前記推定される可視光値を計算することは、縁検出を前記複数の検出された可視光値に行うことを含む、項目３に記載のシステム。
（項目６）
前記センサは、前記第１のセンサピクセルを含む複数の第１のセンサピクセルを有し、前記複数の第１のセンサピクセルのそれぞれは、前記第１のセンサピクセルに隣接し、
前記フィルタは、赤外線光を前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれに伝送することを防止しながら、可視光を前記複数の第２のセンサピクセルのそれぞれに伝送することを可能にする、項目２に記載のシステム。
（項目７）
前記フルスペクトル光および前記可視光を分析することは、
前記複数の第１のセンサピクセルの各々に対し、複数の推定される可視光値を計算することと、
前記複数の推定される可視光値の少なくともいくつかに基づいて、前記第１のセンサピクセルに関して推定される可視光値を計算することと
を含む、項目６に記載のシステム。
（項目８）
前記光を前記表面に向かって投影する空間変調光投影デバイスをさらに備え、
前記光は、前記表面から前記センサに向かって反射される、項目１に記載のシステム。
（項目９）
前記フルスペクトル光および前記可視光を分析することは、前記表面の赤外線光画像を生成することを含む、項目１に記載のシステム。
（項目１０）
前記フルスペクトル光および前記可視光を分析することは、前記表面の赤外線光画像内のＰＯＩを三角測量することを含む、項目９に記載のシステム。
（項目１１）
深度感知システムであって、
光を表面に向かって投影する空間変調光投影デバイスと、
前記表面から反射された光を受信するセンサと、
前記光投影デバイスの空間変調を制御し、光情報を前記センサから受信するアクチュエータと、
前記表面から反射された光を分析し、前記表面の深度を判定するプロセッサと
を備え、
前記光は、波長約７００ｎｍ〜約１ｍｍを有する赤外線光を含む、システム。
（項目１２）
前記光は、波長約３９０ｎｍ〜約７００ｎｍを有する可視光を含む、項目１１に記載のシステム。
（項目１３）
前記アクチュエータは、前記光投影デバイスの空間変調を制御し、前記赤外線光および前記可視光を含むパターンを形成する、項目１２に記載のシステム。
（項目１４）
前記アクチュエータは、前記光投影デバイスの空間変調を制御し、２つの交差する線セグメントを前記表面上に形成する、項目１１に記載のシステム。
（項目１５）
前記アクチュエータは、前記光投影デバイスの空間変調を制御し、２つの交差する線セグメントを含む静的パターンを前記表面上に形成する、項目１４に記載のシステム。
（項目１６）
前記アクチュエータは、前記光投影デバイスの空間変調を制御し、２つの交差する線セグメントを含む動的パターンを前記表面上に形成する、項目１４に記載のシステム。
（項目１７）
前記アクチュエータは、前記光投影デバイスの空間変調を制御し、複数の離散交差線セグメントを含むパターンを前記表面上に形成する、項目１４に記載のシステム。
（項目１８）
前記光投影デバイスの空間変調を制御することは、前記光投影デバイスの少なくとも一部の移動を制御することを含む、項目１１に記載のシステム。
（項目１９）
前記光投影デバイスの空間変調を制御することは、前記光投影デバイスによって前記光の投影を制御することを含む、項目１８に記載のシステム。
（項目２０）
前記空間変調光投影デバイスは、ファイバ走査ディスプレイを備える、項目１１に記載のシステム。
（項目２１）
前記空間変調光投影デバイスは、レーザ光源を備える、項目１１に記載のシステム。
（項目２２）
前記空間変調光投影デバイスは、レーザ走査ディスプレイを備える、項目１１に記載のシステム。
（項目２３）
深度感知システムであって、
光を表面から受信する第１および第２のセンサピクセルを有するセンサと、
第１の割合の可視光および第２の割合の赤外線光を前記第１のセンサピクセルに伝送し、第３の割合の可視光および第４の割合の赤外線光を前記第２のセンサピクセルに伝送することを可能にするフィルタであって、
前記第１の割合の可視光および前記第２の割合の赤外線光は、第１の感知された値を前記第１のセンサピクセルにもたらし、
前記第３の割合の可視光および前記第４の割合の赤外線光は、第２の感知された値を前記第２のセンサピクセルにもたらす、
フィルタと、
前記第１および第２の感知された値を分析し、前記表面の深度を判定するプロセッサと
を備え、
前記フィルタは、前記センサと前記表面との間に配置される、システム。
（項目２４）
前記第１および第２の感知された値を分析することは、前記表面の赤外線光画像を生成することを含む、項目２３に記載のシステム。
（項目２５）
前記第１および第２の感知された値を分析することは、前記表面の赤外線光画像内のＰＯＩを三角測量することを含む、項目２４に記載のシステム。