【事件の表示】
　特願２００８−　５３４４２「ビーム経路におけるビーム調整のための装置および方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２０年　９月１８日出願公開，特開２００８−２１７０１３〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯
　本願は，平成２０年３月４日（パリ条約による優先権主張２００７年３月６日，独国）の出願であって，平成２４年１２月２０日付けで拒絶理由が通知され，平成２５年５月２４日に意見書及び手続補正書が提出されたが，同年８月２８日付けで拒絶査定がなされたところ，同年１２月２７日に拒絶査定不服審判が請求されると同時に手続補正書が提出され，当審において，平成２６年１２月１７日付けで拒絶の理由が通知され，平成２７年６月２４日に意見書及び手続補正書が提出されたものである。
　
２　本願の請求項１に係る発明
（１）　本願の請求項１ないし１７に係る発明は，平成２７年６月２４日提出の手続補正書によって補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１７によってそれぞれ特定されるものであるところ，請求項１に係る発明は次のとおりのものと認められる。
　
「少なくとも２つの相互に独立した光源（１，２）と，
前記少なくとも２つの相互に独立した光源（１，２）から共通ビーム経路（１０）に出射され，結合ビームを形成するそれぞれのビームの各ビーム経路（８，９）を結合するビーム結合器（７）と，
　結合されたビームが向けられるサンプル（１７）と
　を備え，前記各ビーム経路（８，９）におけるビーム調整のための装置であって，前記光源（１，２）から出射された各ビームが，前記共通ビーム経路（１０）において重畳される必要がある装置であって，
　前記ビーム結合器（７）と，瞳と焦点を含む対物レンズ（１６）との間の位置で，前記共通ビーム経路（１０）に組み入れられ，かつそこから取り出すことができる較正サンプル（２２）であって，重畳される前記少なくとも２つの前記各ビームにより照射される較正サンプル（２２）であって，前記ビームの瞳位置および／または焦点位置をチェックできるように支援する較正サンプル（２２）と，
　前記調整のために，前記結合される前記各ビームの少なくとも１つのビームの位置ずれを調整して，前記較正サンプル（２２）により写される画像のオフセットを調整する少なくとも１つの作動要素（２６）であって，前記結合される前記各ビームの少なくとも１つのビームの瞳位置および／または焦点位置に作用するために，前記各ビーム経路（８，９）の少なくとも１つのビーム経路に，設けられた少なくとも１つの作動要素（２６）とを備えたビーム経路におけるビーム調整のための装置。」（以下，「本願発明」という。）
（２）　なお，「瞳」という用語は，一般に，「開口絞りの前後にある光学系によって形成される絞りの虚像。」（河合滋　編・著，株式会社オプトロニクス社　発行，「レンズ辞典＆事典」，３１ページ右欄）を意味する技術用語であり，「焦点」という用語は，一般に，「光学系の主点から軸上で焦点距離だけ離れた点。物体側と像側で定義できる。物側焦点に置かれた点光源から出射した発散球面波は，光学系の物側主平面において平面波となる。また，平面波は，光学系の像側主平面において収束球面波となり，像側焦点において点に集光する。」（河合滋　編・著，株式会社オプトロニクス社　発行，「レンズ辞典＆事典」，２１ページ右欄）を意味する技術用語であって，当該一般的な意味での「瞳」や「焦点」は光学系に対する概念でありビームに対する概念ではないところ，請求項１に記載された「ビームの瞳位置および／または焦点位置」なる文言がどのようなことを指しているのか，明確に特定できない。
　そこで，本願明細書の記載を参酌すると，発明の詳細な説明の【００１８】には，請求項１に記載された「ビームの瞳位置および／または焦点位置」に作用する「作動要素（２６）」に相当する部材として，「２つの軸の周りを，好ましくは回転または傾斜できるミラー」を用いることができることが記載されており，当該「ミラー」によって，反射したビームの光路の位置を調整することができることが明らかであるから，「瞳位置」及び「焦点位置」がいずれも光路の位置といえる概念であろうと推察することはできるが，「瞳位置」及び「焦点位置」が，それぞれ，光路における何の位置であるのかまでは理解することができない。
　しかるに，平成２７年６月２４日提出の意見書において，請求人は，
「【参考図】
・・・（中略）・・・参考図に示すとおり，瞳２７と焦点２８は対物レンズ１６に含まれている。」
と主張しており，請求人が示した参考図を参酌すると，瞳２７が対物レンズ１６におけるビームの光束を，焦点２８が対物レンズ１６によってビームが集光する点を指していると解され，対物レンズにおけるビームの光束の位置や対物レンズによってビームが集光する位置は，いずれも光路の位置といえる概念であって，前述した本願明細書記載の「ミラー」によって，調整することが可能である。
　したがって，本願発明における「瞳」及び「瞳位置」とは，対物レンズにおける各ビームの光束及び当該光束の位置を意味し，本願発明における「焦点」及び「焦点位置」とは，対物レンズによって各ビームが集光する点及び当該点の位置を意味するものと認める。
　
３　当審で通知した拒絶理由の概要
　当審において平成２６年１２月１７日付けで通知した拒絶の理由（以下，「当審拒絶理由」という。）の一つは，本願の請求項１に係る発明は，特開２００４−３１７７４１号公報（以下，「引用文献」という。）に記載された発明に基いて，その優先権主張の日（以下，「本願優先日」という。）より前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない，というものである。
　
４　引用例
（１）引用文献の記載
　当審拒絶理由で引用した引用文献は，本願優先日より前に頒布された刊行物であって，当該引用文献には次の記載がある。
　ア　「【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は，顕微鏡，特に染色した試料を機能性の高いレーザ光源からの複数の波長の光により照明して，高い空間分解能を得る高性能かつ高機能の新しい光学顕微鏡およびその光学調整方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光学顕微鏡の技術は古く，種々のタイプの顕微鏡が開発されてきた。また，近年では，レーザ技術および電子画像技術をはじめとする周辺技術の進歩により，更に高機能の顕微鏡システムが開発されている。
【０００３】
このような背景の中，複数波長の光で試料を照明することにより発する二重共鳴吸収過程を用いて，得られる画像のコントラストの制御のみならず化学分析も可能にした高機能な顕微鏡が提案されている（例えば，特許文献１参照）。
・・・（中略）・・・
【００１１】
また，最近では，二重共鳴吸収過程を用いて回折限界を越える高い空間分解能をもつ蛍光顕微鏡も提案されている（例えば，特許文献２参照）。
・・・（中略）・・・
【００１７】
図１０は，通常のレーザ走査型蛍光顕微鏡を前提にした従来の超解像顕微鏡の概略構成を示すものである。この超解像顕微鏡は，主に，光源ユニット５０，スキャンユニット６０および顕微鏡ユニット７０の独立した三つのユニットから構成されている。
【００１８】
光源ユニット５０は，波長５３２ｎｍ（２倍高調波）のポンプ光を発生するＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ５１と，波長６４７ｎｍのイレース光を発生する連続発振型のＫｒレーザ５２と，イレース光を空間変調する位相板５３と，ポンプ光およびイレース光を同軸上に融合するビームコンバイナ５４とを有しており，ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ５１からのポンプ光と，Ｋｒレーザ５２から発生されて位相板５３で空間変調されたイレース光とをビームコンバイナ５４で同軸上に合成してスキャンユニット６０に出射するようになっている。
【００１９】
ここで，位相板５３は，光軸対称位置を通過するイレース光の位相が反転するように光学薄膜を蒸着して構成され，例えば図１１に示すように，光軸の周りにイレース光の波長に対して１／４ずつ位相を異ならせた独立した四つの領域を有して構成される。したがって，この位相板５３を透過した光を集光すれば，光軸上で電場が相殺された中空状のイレース光が生成される。
【００２０】
スキャンユニット６０は，ハーフミラー６１，ガルバノミラー６２および６３，投影レンズ６４，ピンホール６５，ノッチフィルタ６６および６７，光電子増倍管６８を有し
光源ユニット５０からのポンプ光およびイレース光を，ハーフミラー６１を透過させた後，ガルバノミラー６２および６３により二次元方向に偏向させて顕微鏡ユニット７０に出射させると共に，顕微鏡ユニット７０で検出される蛍光を，ガルバノミラー６３および６２を経てハーフミラー６１で反射させた後，投影レンズ６４，ピンホール６５，ノッチフィルタ６６および６７を経て光電子増倍管６８で受光する
【００２１】
ここで，ピンホール６５は，共焦点位置に配置されており，空間フィルタとして機能する。これは，顕微鏡ユニット７０にセットされる試料以外から発する，例えば光学系からの蛍光や散乱光をカットして測定のＳ／Ｎを高める作用をなすのと同時に，試料内の特定の深さ部分から発光した蛍光のみを選別するオプティカルセクショニングの機能をもつ。また，ノッチフィルタ６６および６７は，蛍光に混入したポンプ光およびイレース光を除去する役目をする。
【００２２】
顕微鏡ユニット７０は，
ーフミラー７１，対物レンズ７２および接眼レンズ７３を有し
スキャンユニット６０からのポンプ光およびイレース光を，ハーフミラー７１で反射させた後，集光光学系を構成する対物レンズ７２により試料７４に集光させ，これにより試料７４から発する蛍光を，対物レンズ７２を経てハーフミラー７１で反射させてスキャンユニット６０に出射させると共に，ハーフミラー７１を透過した蛍光を観察手段を構成する接眼レンズ７３に導いて蛍光像を目視観察できる
【００２３】
この超解像顕微鏡によると，試料７４の集光点上において，イレース光の強度がゼロとなる光軸近傍以外の蛍光が抑制されるので，ポンプ光（波長λ１）の広がりより狭い領域（Δ＜０．６１・λ１／ＮＡ，ＮＡは対物レンズ７２の開口数）に存在する蛍光ラベラー分子のみが観察され，結果的に超解像性が発現することになる。したがって，ポンプ光およびイレース光をスキャンユニット６０で走査しながら蛍光信号を測定すれば，超解像の２次元蛍光像を得ることができる。
・・・（中略）・・・
【００２５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら，従来提案されている超解像顕微鏡にあっては，実用上，以下に説明するような問題がある。すなわち，超解像顕微鏡では，ポンプ光の中心部とイレース光の中心部とを確実に位置合わせして，集光したポンプ光の辺縁部の蛍光を消去することが最大のキーテクノロジーであり，ポンプ光およびイレース光の集光位置がずれると，ポンプ光の中央部の蛍光も消去されて，結果として全体の蛍光強度が低下するだけで，空間分解能は向上せず，Ｓ／Ｎだけが悪くなることになる。
【００２６】
ところが，超解像顕微鏡では，ポンプ光およびイレース光を回折限界に絞り込んだサイズが数１００ｎｍとなるため，その位置合わせ精度は少なくとも１００ｎｍのオーダを上回ることになる。このため，図１０に示したように，単に，ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ５１から出射されるポンプ光と，Ｋｒレーザ５２から位相板５３を経て出射されるイレース光とを，ビームコンバイナ５４に直接入射させて高精度に位置合わせするのは極めて困難である。
【００２７】
したがって，かかる点に鑑みてなされた本発明の目的は，第１の光および第２の光の光学的調整を容易かつ高精度に行うことができ，超解像効果や期待する光学性能を確実に発現できる顕微鏡およびその光学調整方法を提供することにある。」
　
　イ　「【００２８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する請求項１に係る発明は，少なくとも基底状態を含む３つの電子状態を有する分子を含む試料に対して，上記分子を基底状態から第１電子励起状態に励起するための第１の光源からの第１の光と，上記分子を上記第１電子励起状態から，よりエネルギー準位の高い第２電子励起状態に励起するための第２の光源からの第２の光とを，集光光学系により一部重ね合わせて照射して，上記試料からの発光を検出するようにした顕微鏡において，
上記第１の光源からの第１の光を二次元的に偏向する第１の偏向手段と，
上記第２の光源からの第２の光を二次元的に偏向する第２の偏向手段と，
上記第１の偏向手段により偏向された第１の光および上記第２の偏向手段により偏向された第２の光を，同一光軸上または互いに平行な光軸上を同一方向に進行するように合成する合成手段と，
上記合成手段で合成された第１の光および第２の光を同時に偏向する第３の偏向手段とを有することを特徴とするものである。
・・・（中略）・・・
【００４５】
本発明は，波長の異なる第１の光および第２の光を同時に照射する光走査型顕微鏡に適用可能であり，第１の偏向手段および第２の偏向手段により第１の光および第２の光の偏向方向を独立して調整することで，合成手段において第１の光および第２の光を同一光軸上または互いに平行な光軸上を同一方向に進行するように合成することが可能となり，また合成された第１の光および第２の光の偏向方向を第３の偏向手段により同時に調整することで，焦点面における第１の光および第２の光の位置合わせを容易かつ高精度で行うことが可能となり，その結果，超解像顕微鏡においては超解像効果を確実に発現することが可能となる。」
　
　ウ　「【００４８】
【発明の実施の形態】
以下，本発明の実施の形態について，図面を参照して詳細に説明する。
【００４９】
図１は，本発明の一実施の形態における顕微鏡の概略構成を示すもので，蛍光抑制効果を用いた超解像顕微鏡に適用した場合の構成を示している。この
超解像顕微鏡
光源ユニット１０，スキャンユニット３０および顕微鏡ユニット４０
から構成され
スキャンユニット３０および顕微鏡ユニット４０については，図１０に示したスキャンユニット６０および顕微鏡ユニット７０と同様の構成
【００５０】
ローダミン６Ｇは，波長５３０ｎｍ近傍に基底状態（Ｓ０）から第１電子励起状態（Ｓ１）に励起される吸収帯があり，また，波長６００ｎｍ〜６５０ｎｍの帯域に第１電子励起状態（Ｓ１）から，よりエネルギー準位の高い第２電子励起状態（Ｓ２）に励起される二重共鳴吸収帯域が存在することが確認されている（例えば，Ｅ．Ｓａｈａｒ  ａｎｄ  Ｄ．Ｔｒｅｖｅｓ：ＩＥＥＥ，Ｊ．Ｑｕａｎｔｕｍ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎ．，ＱＥ−１３，６９２（１９７７）参照）。
【００５１】
そこで，本実施の形態では，
第１の光源としてＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１を用い，このＮｄ：ＹＡＧレーザ１１から出力される２倍高調波の波長５３２ｎｍのレーザ光をポンプ光（第１の光）として用いる。また，第２の光源は連続発振型のＫｒレーザ１２を用い，このＫｒレーザ１２から出力される波長６４７ｎｍのレーザ光をイレース光（第２の光）として用い，このイレース光を，
位相板１３を透過させることにより空間変調して中空ビームに整形する
【００５２】
ところで，超解像顕微鏡では，顕微鏡ユニット４０の試料焦点面で，ポンプ光とイレース光とが完全に同光軸で，集光点が一致することが不可欠である。そのためには，Ｎｄ：ＹＡＧレーザ１１からのポンプ光およびＫｒレーザ１２からのイレース光のそれぞれの発散角を調整して，完全に平行光とすることが要求される。また，ポンプ光とイレース光とを最小サイズで集光するためには，それらのビーム径と顕微鏡ユニット４０の集光光学系を構成する対物レンズ７２の口径とを一致させることも要求される。
【００５３】
このため，本実施の形態では，
Ｎｄ：ＹＡＧレーザ１１からのポンプ光を，第１の偏向手段としての例えば二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂにより二次元的に偏向して光軸を調整する
【００５４】
同様に，Ｋｒレーザ１２からのイレース光についても，第２の偏向手段としての例えば
二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂにより二次元的に偏向して光軸を調整すると共に
発散角調整レンズ１８により完全な平行光に調整して，ビームコンバイナ１６に入射させる
ビームコンバイナ１６においてポンプ光とイレース光とを同軸上に合成する
【００５５】
また，ビームコンバイナ１６で同軸上に合成されて出射されるポンプ光およびイレース光は，第３の偏向手段としての例えば二枚の角度調整ミラー１９ａ，１９ｂにより二次元的に同時に偏向して，スキャンユニット３０に対する光軸を調整すると共に，ビーム径調整手段としての例えばアイリス２０によりポンプ光およびイレース光のビーム径を，顕微鏡ユニット４０の対物レンズ７２の口径と一致するように調整してスキャンユニット３０に出射する。さらに，必要に応じて，ビームコンバイナ１６の出射側にも，第３の発散角調整手段としての例えば発散角調整レンズ２１を設け，これによりポンプ光およびイレース光を，同時に平行光に調整し直す。
【００５６】
上述した
調整作業
顕微鏡ユニット４０の焦点面に反射部材としての例えばスライドガラスを配置し，このスライドガラスで反射されるポンプ光およびイレース光を，観察手段を構成する接眼レンズ７３を通して観察しながら行う
【００５７】
さらに詳しくは，先ず，
位相板１３をイレース光の光路から外した状態で，接眼レンズ７３を通して焦点面を観察しながら，上述したようにしてポンプ光とイレース光との光軸を調整する。次に，イレース光の光路に位相板１３を挿入してイレース光を中空状に空間変調し，その状態で，イレース光が焦点面において期待通りの中空状になっているか否かを，同様に接眼レンズ７３を通して確認する。ここで，イレース光が完全な中空状になっていない場合には，接眼レンズ７３を通して焦点面におけるイレース光のスポット形状を観察しながら，位相板１３の中心とイレース光の光軸とが完全に一致するように，位相板１３の挿入位置を微調整する
【００５８】
以上の調整により，
顕微鏡ユニット４０の焦点面において，イレース光の中空部中央とポンプ光の強度中心とを一致させ
【００５９】
その後は，顕微鏡ユニット４０の焦点面に色素発光体を含む試料７４を設置し，スキャンユニット３０のガルバノミラー６２，６３によりポンプ光およびイレース光を二次元走査しながら，試料７４からの蛍光を光電子増倍管６８で受光すれば，コンピュータ上で二次元蛍光画像を得ることができる。また，接眼レンズ７３を含む観察光学系に散乱光を取り除くための適当なフィルタを挿入すれば，試料面における蛍光抑制効果も直接目視することができる。」
　エ　「【００７１】
【発明の効果】
本発明によれば，波長の異なる第１の光および第２の光を一部重ね合わせて試料に照射する顕微鏡において，第１の光を二次元的に偏向する第１の偏向手段，第２の光を二次元的に偏向する第２の偏向手段，第１の光および第２の光を同時に偏向する第３の偏向手段を設けたので，第１の光および第２の光の光学的調整を容易かつ高精度に行うことができ，超解像効果や期待する光学性能を確実に発現することができる。」
　
（２）引用文献に記載された発明
　前記（１）アないしエから，ポンプ光とイレース光を同軸上に合成して試料に照射する超解像顕微鏡における調整作業に用いる装置についての発明を把握することができるところ，当該発明の構成は次のとおりである。
　
「２倍高調波の波長５３２ｎｍのポンプ光を発生するＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１と，波長６４７ｎｍのイレース光を発生する連続発振型のＫｒレーザ１２と，前記連続発振型のＫｒレーザ１２が発生したイレース光を空間変調して中空ビームに整形する位相板１３と，ポンプ光およびイレース光を同軸上に合成するビームコンバイナ１６とを有する光源ユニット１０と，
　ハーフミラー６１，ガルバノミラー６２および６３，投影レンズ６４，ピンホール６５，ノッチフィルタ６６および６７，光電子増倍管６８を有し，前記光源ユニット１０からのポンプ光およびイレース光を，前記ハーフミラー６１を透過させた後，前記ガルバノミラー６２および６３により二次元方向に偏向させて前記顕微鏡ユニット４０に出射させると共に，前記顕微鏡ユニット４０で検出される蛍光を，前記ガルバノミラー６３および６２を経てハーフミラー６１で反射させた後，前記投影レンズ６４，前記ピンホール６５，前記ノッチフィルタ６６および６７を経て前記光電子増倍管６８で受光するよう構成されたスキャンユニット３０と，
　ハーフミラー７１，対物レンズ７２および接眼レンズ７３を有し，前記スキャンユニット３０からのポンプ光およびイレース光を，前記ハーフミラー７１で反射させた後，集光光学系を構成する前記対物レンズ７２により試料７４に集光させ，これにより試料７４から発する蛍光を，前記対物レンズ７２を経て前記ハーフミラー７１で反射させて前記スキャンユニット３０に出射させると共に，前記ハーフミラー７１を透過した蛍光を観察手段を構成する前記接眼レンズ７３に導いて蛍光像を目視観察できるよう構成された顕微鏡ユニット４０とから構成された超解像顕微鏡における，顕微鏡ユニット４０の焦点面におけるイレース光の中空部中央とポンプ光の強度中心とを一致させる調整作業に用いる装置であって，
　前記ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１と前記ビームコンバイナ１６の間に設けられ，前記ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１からのポンプ光を二次元的に偏向して光軸を調整する二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂと，
　前記位相板１３と前記ビームコンバイナ１６の間に設けられ，前記位相板１３からのポンプ光を二次元的に偏向して光軸を調整する二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂと，
　前記顕微鏡ユニット４０の焦点面に配置される反射部材とを備え，
　前記位相板１３をイレース光の光路から外した状態で，前記顕微鏡ユニット４０の焦点面に前記反射部材を配置し，当該反射部材で反射されるポンプ光およびイレース光を，観察手段を構成する前記接眼レンズ７３を通して観察しながら，ポンプ光とイレース光との光軸を調整し，次に，イレース光の光路に前記位相板１３を挿入してイレース光を中空状に空間変調し，その状態で，イレース光が焦点面において期待通りの中空状になっているか否かを，前記接眼レンズ７３を通して確認し，イレース光が完全な中空状になっていない場合には，前記接眼レンズ７３を通して焦点面におけるイレース光のスポット形状を観察しながら，前記位相板１３の中心とイレース光の光軸とが完全に一致するように，前記位相板１３の挿入位置を微調整することによって，顕微鏡ユニット４０の焦点面におけるイレース光の中空部中央とポンプ光の強度中心とを一致させることができる，
　装置。」（以下，「引用発明」という。）
　
５　対比
（１）　引用発明の「『ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１』及び『連続発振型のＫｒレーザ１２』」，「ビームコンバイナ１６」，「試料７４」，「顕微鏡ユニット４０の焦点面におけるイレース光の中空部中央とポンプ光の強度中心とを一致させる調整作業に用いる装置」，「対物レンズ７２」，「反射部材」，及び「『二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂ』及び『二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂ』」は，本願発明の「２つの相互に独立した光源（１，２）」，「ビーム結合器（７）」，「サンプル（１７）」，「ビーム調整のための装置」，「対物レンズ（１６）」，「較正サンプル（２２）」，及び「少なくとも１つの作動要素（２６）」にそれぞれ相当する。
　
（２）　引用発明が適用される超解像顕微鏡においては，ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１が発生する２倍高調波の波長５３２ｎｍのポンプ光と，連続発振型のＫｒレーザ１２が発生し，位相板１３が中空ビームに整形する波長６４７ｎｍのイレース光とが，ビームコンバイナ１６によって同軸上に合成され，当該同軸上に合成されたポンプ光およびイレース光が対物レンズ７２により試料７４に集光されるところ，「ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１」（２つの相互に独立した光源（１，２）のうちの一方）から「ビームコンバイナ１６」（ビーム結合器（７））までの光路，及び「連続発振型のＫｒレーザ１２」（２つの相互に独立した光源（１，２）のうちの他方）から「ビームコンバイナ１６」（ビーム結合器（７））までの光路をそれぞれ「ビーム経路」と，「ビームコンバイナ１６」（ビーム結合器（７））から「試料７４」（サンプル（１７））までの光路を「共通ビーム経路」と，ビームコンバイナ１６によって同軸上に合成されたポンプ光およびイレース光を「結合ビーム」や「結合されたビーム」ということができるから，引用発明が適用される超解像顕微鏡は，「少なくとも２つの相互に独立した光源と，前記少なくとも２つの相互に独立した光源から共通ビーム経路に出射され，結合ビームを形成するそれぞれのビームの各ビーム経路を結合するビーム結合器と，結合されたビームが向けられるサンプルとを備え」ている。
　また，引用発明が適用される超解像顕微鏡においては，引用発明を用いた調整作業により，顕微鏡ユニット４０の焦点面におけるイレース光の中空部中央とポンプ光の強度中心とを一致させるのであるから，引用発明は，「各ビーム経路におけるビーム調整のための装置であって，光源から出射された各ビームが，共通ビーム経路において重畳される必要がある装置であ」るといえる。
　したがって，本願発明と引用発明とは，「少なくとも２つの相互に独立した光源と，前記少なくとも２つの相互に独立した光源から共通ビーム経路に出射され，結合ビームを形成するそれぞれのビームの各ビーム経路を結合するビーム結合器と，結合されたビームが向けられるサンプルとを備え，前記各ビーム経路におけるビーム調整のための装置であって，前記光源から出射された各ビームが，前記共通ビーム経路において重畳される必要がある装置であ」る点で一致する。
　
（３）　引用発明が適用される超解像顕微鏡の顕微鏡ユニット４０の焦点面には，試料７４の観察時には当該試料７４が，調整作業時には反射部材が配置されるのであるから，引用発明の「反射部材」（較正サンプル（２２））は，「共通ビーム経路（ビームコンバイナ１６から試料７４までの光路）に組み入れられ，かつそこから取り出すことができる」ものであるといえる。
　また，引用発明の「反射部材」（較正サンプル（２２））は，調整作業時に，ビームコンバイナ１６によって同軸上に合成されたポンプ光およびイレース光を反射しているのだから，「重畳される少なくとも２つの各ビームにより照射される」ものであるといえる。
　さらに，引用発明を用いたポンプ光とイレース光との光軸の調整は，「対物レンズにおける各ビームの光束の位置」（瞳位置）や「対物レンズによって各ビームが集光する点の位置」（焦点位置）であるといえるところ，当該ポンプ光とイレース光との光軸の調整は，反射部材により反射したポンプ光およびイレース光を接眼レンズ７３を通して観察しながら行われるのだから，引用発明の「反射部材」（較正サンプル（２２））は「ビームの瞳位置および／または焦点位置をチェックできるように支援する」ものであるといえる。
　したがって，本願発明の「較正サンプル（２２）」と引用発明の「反射部材」とは，「共通ビーム経路に組み入れられ，かつそこから取り出すことができる較正サンプルであって，重畳される少なくとも２つの各ビームにより照射される較正サンプルであって，前記ビームの瞳位置および／または焦点位置をチェックできるように支援する較正サンプル」である点で一致する。
　
（４）　引用発明を用いた調整作業においては，反射部材で反射されるポンプ光およびイレース光を，観察手段を構成する前記接眼レンズ７３を通して観察しながら，ポンプ光とイレース光との光軸を調整しているところ，前記観察によって把握するのが，「反射部材に写ったポンプ光の像とイレース光の像の位置ずれ」であり，当該位置ずれがゼロになるように，二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂ及び二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂによってポンプ光とイレース光の光軸の位置を調整していることが自明であり，「反射部材に写ったポンプ光の像とイレース光の像の位置ずれ」が本願発明の「較正サンプル（２２）により写される画像のオフセット」に相当するから，引用発明の「二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂ及び二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂ」は，「結合される各ビームの少なくとも１つのビームの位置ずれを調整して，較正サンプルにより写される画像のオフセットを調整する」点で，本願発明の「作動要素（２６）」と一致する。
　さらに，引用発明の二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂ及び二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂは，ＬＤ励起型モードロックＮｄ：ＹＡＧレーザ１１からのポンプ光及び位相板１３からのイレース光をそれぞれ二次元的に偏向してポンプ光及びイレース光の光軸を調整するものであるところ，当該光軸の調整は，ポンプ光の光束とイレース光の光束の位置を調整して，ポンプ光の集光点とイレース光の集光点を一致させることに他ならず，「対物レンズにおける光束の位置」（瞳位置）や「対物レンズによって各ビームが集光する点の位置」（焦点位置）の調整であるといえるから，引用発明の「二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂ及び二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂ」（少なくとも１つの作動要素（２６））は，「結合される各ビームの少なくとも１つのビームの瞳位置および／または焦点位置に作用するために，各ビーム経路の少なくとも１つのビーム経路に，設けられた少なくとも１つの作動要素」である点で，本願発明の「作動要素（２６）」と一致する。
　したがって，本願発明の「作動要素（２６）」と引用発明の「二枚の角度調整ミラー１４ａ，１４ｂ及び二枚の角度調整ミラー１７ａ，１７ｂ」とは，「調整のために，結合される各ビームの少なくとも１つのビームの位置ずれを調整して，較正サンプルにより写される画像のオフセットを調整する少なくとも１つの作動要素であって，結合される各ビームの少なくとも１つのビームの瞳位置および／または焦点位置に作用するために，各ビーム経路の少なくとも１つのビーム経路に，設けられた少なくとも１つの作動要素」である点で一致する。
（５）　前記（１）ないし（４）から，本願発明と引用発明とは，
「少なくとも２つの相互に独立した光源と，前記少なくとも２つの相互に独立した光源から共通ビーム経路に出射され，結合ビームを形成するそれぞれのビームの各ビーム経路を結合するビーム結合器と，結合されたビームが向けられるサンプルとを備え，前記各ビーム経路におけるビーム調整のための装置であって，前記光源から出射された各ビームが，前記共通ビーム経路において重畳される必要がある装置であって，
　前記共通ビーム経路に組み入れられ，かつそこから取り出すことができる較正サンプルであって，重畳される前記少なくとも２つの前記各ビームにより照射される較正サンプルであって，前記ビームの瞳位置および／または焦点位置をチェックできるように支援する較正サンプルと，
　前記調整のために，前記結合される前記各ビームの少なくとも１つのビームの位置ずれを調整して，前記較正サンプルにより写される画像のオフセットを調整する少なくとも１つの作動要素であって，前記結合される前記各ビームの少なくとも１つのビームの瞳位置および／または焦点位置に作用するために，前記各ビーム経路の少なくとも１つのビーム経路に，設けられた少なくとも１つの作動要素とを備えたビーム経路におけるビーム調整のための装置。」
である点で一致し，次の点で相違する。
　
相違点：
　本願発明では，「較正サンプル（２２）」が，「ビーム結合器（７）と，瞳と焦点を含む対物レンズ（１６）との間の位置」に設けられるのに対して，
　引用発明では，「反射部材」が，「顕微鏡ユニット４０の焦点面」に設けられている点。
　
６　判断
（１）相違点の容易想到性について
　ア　「対象物にレーザーを照射する顕微鏡において，反射部材を中間結像面に挿抜自在に設け，顕微鏡の校正時には反射部材を中間結像面に挿入し，当該反射部材によるレーザーの反射光を利用して校正を行うこと」（以下，「周知技術」という。）は，本願優先日前に周知であり（例えば，原査定の拒絶の理由で「引用文献３」として引用された特表２００１−５２２４７９号公報（以下，「周知例１」という。）の６ページ１７ないし２０行の「レーザ顕微鏡の構成装置において，中間結像面に校正手段が配置されており，この校正手段も同じく走査ビームによって走査される。」との記載，６ページ末行ないし７ページ１行の「校正手段は中間結像面で本来の画像野の領域に旋回導入可能である。」との記載，７ページ６行の「校正手段は・・・（中略）・・・基準構造体とすることができる。」との記載，７ページ下から２行ないし８ページ１行の「基準構造体を走査ビームと交互作用を示す手段として構成することも可能である。ここでは有利には公知の反射手段・・・（中略）・・とすることができる。」との記載等や，原査定の拒絶の理由で「引用文献２」として引用された特開２００５−１５７１４６号公報の「【００４４】・・・（中略）・・・基準反射ミラー４１を中間像位置Ｉ’へ挿入する。【００４５】この状態でレーザ光源３１からレーザ光が発生すると，レーザ光は，・・・（中略）・・・中間像位置Ｉ’に集光され・・・（中略）・・・基準反射ミラー４１で反射し，・・・（中略）・・・光検出器４４に入射する。【００４６】光検出器４４は，基準反射ミラー４１からの光の量に応じた信号を出力し，この信号は，制御部４５に入力され・・・（中略）・・・制御部４５よりミラー制御部３５に制御命令が発せられ，可変ミラー３４に印加される電圧が調整され・・・（中略）・・・【００４７】・・・（中略）・・・可変ミラー３４の初期形状が設定される。・・・（中略）・・・【００４９】その後，制御部４５により図示しないモータを駆動し基準反射ミラー４１を中間像位置Ｉ’から退避させる。【００５０】この状態で，走査型レーザ顕微鏡による通常の走査観察が行われる。」との記載等を参照。），当該周知技術を用いると，顕微鏡による対象物の撮像中に，対象物を取り外さないで校正を行うことができることが当業者に自明である（周知例１の６ページ２６ないし２７行の「校正を本来の撮像中に，ないしは対象物の走査前および／または操作後に行うことができる。」との記載，９ページ２ないし３行の「校正を対象物走査ないしは画像撮像の前および／または後に実行することもできる。」との記載等を参照。）。
　
　イ　引用発明の「反射部材」は，ポンプ光とイレース光との光軸を調整を行う際に，顕微鏡ユニット４０の焦点面に配置されて，イレース光およびポンプ光を反射し，当該反射光を利用して前記調整が行われるものであるところ，前記調整は顕微鏡の「校正」の一種であるから，校正時に，レーザー光を反射して，当該反射光を校正に利用するという点で，前記アで認定した周知技術の「反射部材」と同じ作用，機能を有する部材である。
　しかるに，引用発明が適用される超解像顕微鏡においても，光電子増倍管６８による試料７４の撮像中に，試料７４を取り外さずに前記調整が行うことができるほうが，ユーザーにとって便利であることは明らかであるから，引用発明において，前記周知技術を適用し，「反射部材」をイレース光およびポンプ光の光路内に挿入する位置を，顕微鏡ユニット４０の焦点面から中間結像面に変更すること，具体的には，引用発明が適用される超解像顕微鏡の光学系を，ハーフミラー７１と対物レンズ７２の間で中間結像を形成するようなものとして構成し，当該中間結像の位置に「反射部材」を挿抜するよう構成することは，当業者が容易になし得たことである。（なお，引用発明が適用される超解像顕微鏡において，中間結像を形成するような光学系を採用することに，特に阻害要因は存在しない（例えば，特開２００７−５０４４９８号公報の図１における走査光学系４１と鏡胴光学系４３の間に位置する光束を参照。）。）
　ウ　前記イで述べた中間結像面の位置は，「ビームコンバイナ１６」（ビーム結合器（７））と「対物レンズ７２」（対物レンズ（１６））の間の位置であるから，引用発明において前記イで述べた構成の変更を行うことは，引用発明を，相違点に係る本願発明の発明特定事項に相当する構成を具備したものとすることに他ならない。
　したがって，引用発明を，相違点に係る本願発明の発明特定事項に相当する構成を具備したものとすることは，周知技術に基づいて，当業者が容易になし得たことである。
　
（２）効果について
　本願明細書の発明の詳細な説明に記載された本願発明の奏する効果は，引用発明及び周知技術に基づいて，当業者が予測できた程度のものである。
　
（３）まとめ
　以上のとおりであるから，本願発明は，当業者が引用発明及び周知技術に基づいて容易に発明をすることができたものである。
　
７　むすび
　本願発明は，当業者が引用発明及び周知技術に基づいて容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　よって，結論のとおり審決する。