(57)【要約】【課題】  信号ワイヤーを切断することなく短時間で端子電極の着脱が容易にできる磁気ディスク用グライドヘッドを提供する。【解決手段】  グライドヘッドの端子基板に、端子基板保持具の端子基板保持部を引っ掛かける切欠き部と孔もしくはいずれか一方を設ける。【選択図】      図１
0003134530.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク上の突起物を検査する磁気ディスク用グライドヘッドであって、グライド
ハイトテスターのコネクター部にグライドヘッドの信号ワイヤー端に接続された端子基板
を端子基板保持具を用い着脱し、端子基板保持具が保持する端子基板の保持部分に、端子
基板保持具の少なくとも一部が引っ掛かる切り欠き部と孔もしくはいずれか一方を有する
端子基板であることを特徴とする磁気ディスク用グライドヘッド。
【請求項２】
端子基板保持具の少なくとも一部が引っ掛かる切り欠き部または孔は、端子基板長手方
向の信号ワイヤー接続側から３分の１以内の領域に設けられていることを特徴とする請求
項１に記載の磁気ディスク用グライドヘッド。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、磁気ディスクの製造検査に使用される磁気ディスク用グライドヘッドに係る
もので、特にグライドヘッドの信号ワイヤー端に接続される端子基板に係るものである。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスク装置に使用される磁気ディスクは、円盤状のガラスあるいはアルミニウ
ム等の非磁性材基板を用いている。非磁性材基板の表面に磁性材料と主に炭素からなる保
護膜を、スパッター等を用いて成膜、さらにフルオロカーボン系の潤滑剤を塗布している
。このように作られた磁気ディスクは磁気ヘッドと組み合わせ、情報を記録あるいは再生
する記録装置として用いられている。磁気ディスク用グライドヘッド（以降、単にグライ
ドヘッドと呼称することもある）は、この磁気ディスクの表面に発生した微小な突起ある
いは異物等（以降、突起物と称する）を検出するためのセンサーとして、磁気ディスクの
検査工程で用いられている。グライドヘッドは数種実用化されているが、圧電素子を搭載
したものが主流となっている。
【０００３】
図５に、圧電素子を搭載したグライドヘッド１０１の斜視図を示す。スライダー１は、
一対の浮上レール３を有する。スライダー１の側面に張り出し部４が設けられ、張り出し
部４のスライダー背面側に圧電素子９を固着している。スライダー１は接着剤でサスペン
ション２と固着されている。圧電素子９の出力電圧は圧電素子の両端から信号ワイヤー１
０により取り出され、サスペンション２に設けた絶縁性チューブ１１を通じて外部に出さ
れ、端子基板１２に半田にて固着される。以後、説明を判り易くするため、同一の部品お
よび部位には同じ符号を用いている。
【０００４】
グライドヘッドの動作原理を、図６を用いて簡単に説明する。図６では、信号ワイヤー
１０、端子基板１２等の図示は省略している。スライダ−１の背面にサスペンション２に
設けられたフレキシャー７が熔接される。フレキシャー７に形成されたピボット８の頂点
にサスペンション２がスライダー１を磁気ディスク５５に押付ける力である荷重を与えて
いる。ピボット８を支点としてスライダー１が、僅かであるが上下左右に動けるようにな
っている。ピボット８がスライダーに荷重を与える位置が荷重点となる。スライダー１は
磁気ディスク５５の回転に伴う空気流の作用により浮上する。空気流はスライダー１の流
入端１５から流出端１６に向かって流れる。グライドヘッドの浮上量ｈは種々の要素で決
まるが、主に空気流の流速とスライダーのレール幅、荷重によって決まる。レール幅と荷
重はグライドヘッドによって決まっているため、磁気ディスク５５の回転数と磁気ディス
ク上のグライドヘッド位置によって決まる線速度で浮上量ｈが決まる。磁気ディスク５５
の回転数を変え、線速度を磁気ディスク面内で一定とすることで、磁気ディスク５５上を
一定の浮上量ｈで浮上させることができる。本願では、サスペンションの一部であるフレ
キシャー７を含めてサスペンション２と称している。
【０００５】
一般に、グライドヘッドは、磁気ディスク面内を一定の条件、すなわち、突起物５６の
高さｎを検出する浮上量ｈを磁気ディスク面内で一定とし、かつ、突起とグライドヘッド
の衝突時に発生するエネルギーを揃える（突起物とグライドヘッドの相対速度を一定にす
る）ために、線速度を磁気ディスク面内で一定としている。スライダー１が磁気ディスク
上の突起物５６に接触あるいは衝突すると、衝突により発生する振動はスライダー１を伝
播して圧電素子９を振動変形させる。圧電素子９の電極に電荷が誘起されるので、リード
線１０から電極間電圧を取り出し、電極端子１２を通して電圧信号をグライドハイトテス
ター内の電気回路に導き、増幅やバンドパスフィルターによる周波数選択処理をして、測
定することにより突起物の検出ができる。さらに、所定の浮上量ｈを持つスライダー１を
磁気ディスクの表面で移動すると、浮上量ｈより高い突起物にスライダーが接触（衝突）
する。このとき発生する圧電素子の電圧と磁気ディスクの位置を求めれば、磁気ディスク
表面にある規格外の突起物を検知、特定することができる。
【０００６】
図７に、グライドヘッドの圧電素子９の電圧信号をグライドハイトテスターに導く端子
基板１２を示す。端子基板は概長方形である。図７では端子基板の角部１２５はｒ付けし
ているが、Ｃ面取りを行ったものやｒ付けなしのものもある。端子基板は、強度と絶縁性
に優れるガラスエポキシ系の材料基材１２１に導電性部分である電極１２２が２本、端子
基板の長手方向に形成されている。電極１２２は高い導電性で、信号ワイヤー１０との半
田接続を容易にするため、少なくとも電極１２２の表面は金やニッケル、銅、半田等で形
成されている。
【０００７】
図８に、グライドヘッドの端子基板１２をグライドハイトテスターのコネクター部４１
に装着した状態を示している。端子基板保持具３５はピンセットや指、専用治具を用いる
ことができる。図８では、端子基板保持具３５にピンセットを用いた状態を示している。
コネクター部４１はコネクター電極３１と基台４０からなっている。基台４０には端子基
板１２の装着をスムーズに行うためのガイド溝４２が形成されている。コネクター電極３
１からグライドハイトテスター内の電気回路までの接続線の図示は省略している。電極端
子１２をピンセットで掴みガイド溝４２に沿って押し込み、基台４０とコネクター電極３
１間で挟み込み接続が終了する。コネクター電極３１自身が持つバネ特性で、電極端子１
２は固定保持され同時に電気的に接続される。
【０００８】
グライドヘッドに限らず磁気記録再生ヘッドでも端子基板は用いられていた。磁気記録
再生ヘッドの端子基板は２本ないし４本またはそれ以上の電極が形成されていた。磁気記
録再生ヘッドの電極端子に関しては、特許文献１から４に開示されている。しかし、現在
主に使用されている記録再生分離型ヘッドでは、端子基板を用いることは全く無くなって
いる。これは、再生素子の耐静電気特性を確保しなければ成らなくなったことと、ハード
ディスクドライブの生産性向上の観点から、ＦＰＣ（ｆｌｅｘｉｂｌｅ  ｐｒｉｎｔｅｄ
ｃｉｒｃｕｉｔ）による信号取り出し方法が一般的となったことによる。
【０００９】
【特許文献１】特開平８−１０２０２１号公報
【特許文献２】特開平１１−６６９７７号公報
【特許文献３】特開平１１−２３８２１５号公報
【特許文献４】特開平８−３１５３２１号公報
【００１０】
しかし、グライドヘッドは突起検出原理や方式は変わらず、信号ワイヤー１０端には端
子基板１２が接続されている。従来はグライドヘッドで検出する突起物も大きく、突起物
との衝突で大きな出力信号が得られていたため、グライドハイトテスターとグライドヘッ
ドの接続は電気的な接触が保てれば良く、図９ａ）に示すように、テスターのコネクター
部の電極３１ａの接触部分も狭い範囲で、また弱いバネ力で端子基板を保持することで不
具合はなかった。現在は、記録密度の向上が図られるにつれ浮上量も低下している。言い
変えると、検出すべき突起物の大きさは小さくなっており、突起物との衝突で発生する圧
電素子の出力信号も非常に小さくなってきている。電気的な信号処理の観点から、電気的
接触部分でのノイズを無視できなくなってきている。電気的接触部分での低ノイズをグラ
イドヘッドの寿命が来るまでの長い時間維持する必要があるため、図９ｂ）に示すように
テスターのコネクター部の電極３１ｂは、基板端子の広い範囲を強いバネ力で押さえる方
式に変わってきている。なお、図９においてバネ力の大小は電極の太さで表現している。
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【００１１】
グライドヘッドの端子基板の着脱は、図８で示したように端子基板保持具３５にピンセ
ットを用いる事が多い。コネクター部の電極が基板端子の広い範囲を強いバネ力で押さえ
る方式に変わってきているため、端子基板の着脱時にピンセットが滑り信号ワイヤーを切
断するトラブルが多発している。また、端子基板１２をコネクター電極の最深部（ガイド
溝４２の奥）まで差し込めず信号が安定しない。更に、ディスク検査中にコネクター部４
１から電極端子１２が外れてしまう不具合も発生している。これら端子基板装着時に発生
する不具合のため、グライドヘッドの交換作業時間が増加する問題も生じていた。
【００１２】
そこで、本考案ではコネクター部の電極が端子基板の広い範囲を強いバネ力で押さえる
方式でも、信号ワイヤーを切断することなく短時間で端子電極の着脱が容易にできる磁気
ディスク用グライドヘッドを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本考案の磁気ディスク用グライドヘッドは、グライドハイトテスターのコネクター部に
グライドヘッドの信号ワイヤー端に接続された端子基板を端子基板保持具を用い着脱し、
端子基板保持具が保持する端子基板の保持部分に、端子基板保持具の少なくとも一部が引
っ掛かる切り欠き部と孔もしくはいずれか一方を有する端子基板であることが好ましい。
【００１４】
グライドハイトテスターのコネクター部にグライドヘッドの端子基板を端子基板保持具
を用いて装着するとき、端子基板保持具にピンセットを用いることは非常に利便性が高い
。ピンセットは、掴む動作や押す動作、引く動作、引っ掛ける動作等を行うことができる
ので、端子基板保持具ととしては最適である。ケースからグライドヘッドを掴んで取り出
し、グライドヘッド取付け治具に装着する。装着したグライドヘッドの基板端子を掴んで
コネクター部に移動し、基板端子をコネクター部に押し込み装着する等の動作をこなす事
ができる。勿論、指で作業することや専用の治工具を用いることもできるが、ピンセット
の利便性には及ばない。端子基板の着脱時にピンセットで掴む端子基板の幅方向や厚み方
向の面は滑り易く、ピンセットで強く挟んでいても着脱作業中にピンセット先が滑る事が
起こる。特に、コネクター部のバネ力が強い時、装着時に端子基板がピンセット端から弾
け飛んで、再度掴み直しが必要になったり、弾け飛んだ勢いでワイヤーが切れてしまった
りする事がある。そのため、端子基板の装着に時間が掛かっていた。また、取外し時も同
様に、ピンセット端が滑ってワイヤーに引っ掛かり断線させることがある。
【００１５】
端子基板保持具が保持する端子基板の保持部分に、端子基板保持具の少なくとも一部が
引っ掛かる切り欠き部と孔もしくはいずれか一方を設ける事で、確実に着脱を行うことが
できる。切欠き部は端子基板の長手方向の側面に、端子基板厚み分設けられていることが
良い。切欠き部は両側面に形成されることがより好ましいものである。切り欠き部は端子
基板保持具の端子基板保持部が入る大きさで、着脱時に端子基板保持具の端子基板保持部
に力が掛かる方向に滑り止めとなる面がある方形や半円形、Ｕ字形、不定形が良い。Ｖ字
形の切欠き部は滑り易いので余り好ましい形状ではない。ラック装着回路基板では基板側
面に切欠き部を設け、切欠き部にフックを掛けることで基板回路の脱落を防止することが
行われている。しかし、本考案は着脱を確実に行うための切欠きであり、ラック装着回路
基板の切欠き部とは目的や機能が全く異なるものである。
【００１６】
端子基板に孔を設け、孔に端子基板保持具の端子基板保持部を差し込んで着脱すること
で、全くと言えるほど滑り難い端子基板とすることができる。孔は端子基板の幅方向の中
心線上に設ける事で、装着時に基板端子の首振りを無くすことができコネクター端子にス
ムーズに差し込むことができる。また、端子基板の２つの電極の間で電気抵抗の差が生じ
ない。孔は円形や楕円形、方形、多角形、不定形等何れも採用することができる。
【００１７】
切り欠き部と孔の両方、もしくはいずれか一方を設ける事ができる。孔と切欠き部の両
方を設けるときは、端子基板の幅方向に引いた線上に孔の中心と切欠き部の中心が乗るよ
うに、一直線に配置することが好ましい。孔と切欠き部の中心がずれていると、孔と一方
の切欠き部で掴んだとき基板端子が首振りを起こし、装着が難しくなるためである。孔を
設ける事で着脱がより容易となり、切欠き部を設ける事で基板端子をより掴み易くなるの
で、切欠き部と孔の両方を設けることがより好ましい。
【００１８】
本考案の磁気ディスク用グライドヘッドの、端子基板保持具の少なくとも一部が引っ掛
かる切り欠き部または孔は、端子基板の長手方向の信号ワイヤー接続側から３分の１以内
の領域に設けられていることが好ましい。
【００１９】
半田を用いて端子基板の電極とグライドヘッドのワイヤーを電気的に固着することが一
般に行なわれている。この半田固着部は厚みを持つことから、グライドハイトテスターの
コネクター部への挿入は避けることが好ましい。特に、コネクター電極と半田固着部が接
触すると電気的接続不良を起こし易くなるため、避ける必要がある。そのため、半田固着
部は基板端子の長手方向の端から４分の１程度までの範囲とすることが好ましい。
【００２０】
コネクター部に挿入される端子基板の長さは、コネクター電極と端子基板の電極間の接
触抵抗（接続抵抗）を下げるためと、端子基板の保持力を上げるため出来得る限り大きい
方が良い。半田固着部長との兼ね合いから、切欠き部や孔を基板端子長手方向の３分の１
以内の範囲に形成することで、確実な電気的接続と充分な端子基板の保持力、端子基板の
着脱作業の容易さを得ることができる。
【考案の効果】
【００２１】
磁気ディスク上の突起物を検査する磁気ディスク用グライドヘッドの端子基板に、端子
基板保持具の端子基板保持部を引っ掛かける切欠き部と孔もしくはいずれか一方を設ける
ことで、コネクター部の電極が基板端子の広い範囲を強いバネ力で押さえる方式でも、電
極端子の着脱が容易にできた。着脱が容易になることで信号ワイヤーを切る事が無くなり
、着脱に要する作業時間も短くなりグライドヘッド交換作業コストの削減ができた。
【考案を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下本考案を、図面を参照しながら実施例に基づいて詳細に説明する。説明を判り易く
するため、同一の部品、部位には同じ符号を用いている。
【実施例１】
【００２３】
図１に、本考案のグライドヘッド１００を示す。スライダー１は、一対の浮上レール３
を有する。スライダー１の側面に張り出し部４を設け、張り出し部４のスライダー背面側
に圧電素子９を固着した。スライダー１は接着剤でサスペンション２と固着されている。
圧電素子９の出力電圧は圧電素子の両端から信号ワイヤー１０により取り出され、サスペ
ンション２に設けた絶縁性チューブ１１を通じて外部に出され、切欠き部と孔を設けた端
子基板１３に半田で固着した。
【００２４】
図２に、端子基板１３の詳細を示す。基材１３１は、ガラス繊維製の布を重ねたものに
エポキシ樹脂を滲みこませたガラスエポキシ材で、厚みｔ１＝０．５ｍｍで、長さＬ＝１
４ｍｍ、幅Ｗ＝３．３ｍｍである。角部１３５には、端子基板１３がコネクター基台４０
に設けたガイド溝４２にスムーズに挿入できる様に、曲率半径０．４ｍｍのｒ付けを行っ
ている。基材１３１の幅Ｗ方向を３分割して両端側に電極１３２を形成した。電極１３２
は厚みｔ２＝０．１ｍｍの半田めっきである。基材１３２の長手Ｌ方向のＬ／３以内の領
域に切欠き部１３３と孔１３４を形成している。切欠き部１３３は半径４ｍｍの半円形で
孔１３４は長さ２ｍｍ×幅１．０ｍｍの長孔とした。端子基板の幅方向に引いた仮想線１
４０上に孔１３４の中心と切欠き部１３３の中心が乗るように配置した。
【００２５】
図３に、本考案のグライドヘッドの端子基板１３の装着作業状況を示す。端子基板１３
の孔１３４に端子基板保持具３５のピンセットの一方の先端部を挿入し、ピンセットの他
方の先端部は切欠き部１３３に位置させピンセットで端子基板１３を保持し、コネクター
部４１の基台４０に設けられたガイド溝４２に沿わせて押し込む。コネクター電極３１の
先端は端子基板の挿入を容易にするため曲げている。端子基板保持具３５のピンセットの
先端は孔１３４と切欠き部１３３で確実に保持されているため、ガイド溝４２に端子基板
を押し込むことができた。端子基板を引抜く作業も同様に、孔１３４と切欠き部１３３に
ピンセットを保持させる事で容易に引抜くことができ、また信号ワイヤーを切るようなこ
ともない。
【００２６】
次のａ）からｄ）の一連の作業動作、ａ）端子基板を掴む、ｂ）コネクター部に装着す
る、ｃ）コネクター部からの引抜く、ｄ）端子基板を離す、を１００回行い作業性の評価
を行った。比較に図５で示した従来の端子基板１２を持つグライドヘッドも供試した。ａ
）からｄ）動作１００回の累計時間が、従来のグライドヘッドでは１５分掛かったが、本
考案のグライドヘッドでは６分と４０％まで短縮することができた。また、従来のグライ
ドヘッドでは装着時に２回、引き抜き時に４回の信号ワイヤー切れを起こしたが、本考案
グライドヘッドでは信号ワイヤー切れはなかった。装着時に信号ワイヤーが切れると再度
半田付けを行う必要あり、この半田付け作業時間も累計時間に含めて考える必要がある。
従来のグライドヘッドの１５分には再度の半田付け作業時間を含めていないので、本考案
のグライドヘッドは４０％までの短縮だけでなく、実質的にはより大幅な作業工数の低減
がなされたことは容易に理解できる。
【実施例２】
【００２７】
図４に、端子基板の他の実施形態を示す。切込み部１３３と孔１３４の形状と組合せを
変えたものである。また、基材１３１の角部１３５の形状も変えている。図４に示してい
ない形状や組合せも可能であるものである。図４ａ）は方形の切込み部、図４ｂ）はＵ字
形の切込み部、図４ｃ）は不定形の切込み部、図４ｄ）は方形の孔、図４ｅ）は多角形の
孔、図４ｆ）は不定形の孔、図４ｇ）は片側だけに設けた方形の切込み部と方形の孔、図
４ｈ）は多角形の切込み部と多角形の孔である。図４ａ）から図４ｈ）の基材１３１の角
部１３５はｒ付けがされている。図４ｉ）は方形の切込み部で角部１３５が略直角、図４
ｊ）は方形の切込み部で角部１３５にＣ面取りを施している。図４ａ）から図４ｊ）まで
は実施例１と同じ作業性の評価を行っても、信号ワイヤー切れは発生せず累計時間も５分
から７分と、実施例１と同程度の結果が得られた。図４ｋ）はＶ字形の切込み部を設けた
もので、Ｖ字の開き角は約１２０度としている。開き角度を小さくすると開口部が狭くな
るのでピンセットが入らない、また開口部を確保すると切込み深さが深くなり過ぎ電極１
３２を分断する危険性があるためである。Ｖ字形切込み部の斜面部でピンセットが滑って
しまい作業性が著しく低下し、装着と引き抜き時で各１回の信号ワイヤー切れを起こし、
累計時間も１０分と大幅に悪化してしまったが、従来品に比べると改善されている。図４
ｌ）は、図４ｋ）のＶ字形の切込み部に円形の孔を追加したものである。円形の孔を追加
することで、信号ワイヤー切れは無くなり累計時間も６分とすることができた。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本考案実施例１のグライドヘッドを示す斜視図である。
【図２】本考案実施例１の基板端子を示す図である。
【図３】本考案実施例１のグライドヘッドの端子基板１３の装着作業状況を示す図である。
【図４】本考案実施例２の端子基板の他の実施形態を示す図である。
【図５】従来のグライドヘッドを示す斜視図である。
【図６】グライドヘッドの動作原理を説明する図である。
【図７】従来の基板端子を示す図である。
【図８】従来のグライドヘッドの端子基板１３の装着作業状況を示す図である。
【図９】コネクター部の電極と端子基板の接続を側面から説明する図である。
【符号の説明】
【００２９】
１  スライダー、
２  サスペンション、
３  浮上レール、
４  張出し部、
７  フレキシャー、
８  ピボット、
９  圧電素子、
１０  信号ワイヤー、
１１  絶縁性チューブ、
１２，１３  端子基板、
１５  流入端、
１６  流出端、
３１，３１ａ，３１ｂ  テスターコネクタ電極、
３５  端子基板保持具、
４０  テスター基台、
４１  コネクター部、
４２  ガイド溝、
５５  磁気ディスク、
５６  突起物、
１００，１０１  グライドヘッド、
１２１  基材、
１２２  電極、
１２５  角部、
１３１  基材、
１３２  電極、
１３３  切欠き部、
１３４  孔、
１３５  角部、
１４０  仮想線。
【図１】
0003134530.tif 000003
【図２】
0003134530.tif 000004
【図３】
0003134530.tif 000005
【図４】
0003134530.tif 000006
【図５】
0003134530.tif 000007
【図６】
0003134530.tif 000008
【図７】
0003134530.tif 000009
【図８】
0003134530.tif 000010
【図９】
0003134530.tif 000011