【事件の表示】
　特願２０１２−２２８６１９「光検出器」拒絶査定不服審判事件〔平成２６年　５月　８日出願公開、特開２０１４−　８１２５３、請求項の数（７）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２４年１０月１６日の出願であって、平成２６年８月２１日付けで拒絶理由が通知され、同年１０月８日に意見書が提出されるとともに手続補正がなされたが、平成２７年３月２６日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年５月２１日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、その後、当審において平成２８年５月２５日付けで拒絶理由が通知され、同年７月２０日に意見書が提出されるとともに手続補正がなされたものである。
　
第２　本願発明
　本願の請求項１〜７に係る発明は、平成２８年７月２０日の手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１〜７に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は以下のとおりである。
　
「光の入射を受けて、フォトン入射の有無を示すパルス幅が一定であり２値のパルスを出力するフォトンカウント型の受光素子を含む受光手段と、
　測定期間に亘って前記パルスのパルス幅の合計値を積分又は累積加算した出力値を求める累積手段と、
を備えることを特徴とする光検出器。」
　
第３　原査定の理由について
１　原査定の理由の概要
　本願発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　刊行物１：特開２００４−１４４７３４号公報（特に、段落【００２２】〜【００４０
】、【００６４】、及び、図１〜４を参照のこと。）
　刊行物２：特開平０４−０３６６８２号公報（特に、第２頁左下欄第２行〜第３頁左上欄第１３行、及び、第１、２図を参照のこと。）
　刊行物１には、光検出器１１から出力されるパルスをＡＤ変換し、ＡＤ変換したデジタルデータ１６が所定の閾値ｈよりも大きいか否かを判別し、１画素毎にデジタルデータ１６が所定の閾値ｈよりも大きい場合には輝度値レジスタに「１」を加算する処理を行い、パルスの時間幅に応じた数のデジタル輝度データを得る光検出器が記載されている（段落【００２２】〜【００４０】、図１〜４）。
　そして、請求項１に係る発明と刊行物１に記載された発明とを比較すると、両者は下記の点で相違している。
　相違点：請求項１に係る発明は、受光手段はフォトン入射の有無を示す２値のパルスを出力するフォトンカウント型の受光素子を含み、累算手段はパルスのパルス幅の合計値を積分又は累算加算した出力値を求めるのに対し、刊行物１に記載された発明は、光検出器１１から出力されるパルスをＡＤ変換し、ＡＤ変換したデジタルデータ１６が所定の閾値ｈよりも大きいか否かを判別し、１画素毎にデジタルデータ１６が所定の閾値ｈよりも大きい場合には輝度値レジスタに「１」を加算する処理を行い、パルスの時間幅に応じた数のデジタル輝度データを得るものである点。
　上記相違点について検討する。
　刊行物２には、半導体放射線検出器２のパルス出力をコンパレータ１１及び単安定マルチバイブレータ１３に与えて２値のパルスとし、この２値のパルスと発振器１６が発生するクロック信号との論理積の信号を計数してパルスの幅に対応したパルス数を計数することが記載されている。
　ここで、刊行物１に記載された発明は、１画素毎にデジタルデータ１６が所定の閾値ｈよりも大きい場合には輝度値レジスタに「１」を加算する処理を行い、パルスの時間幅に応じた数のデジタル輝度データを得るものであり、１画素毎にパルスの時間幅の合計値を加算した値を求めるものであると認められる。
　この刊行物１に記載された発明においてパルスの時間幅を求めるに際して刊行物２に記載の検出器のパルス出力を２値のパルスとしこの２値のパルスに基づいてパルスの幅を求める技術を採用して、光検出器１１から出力されるパルスを２値のパルスとし、この２値のパルスに基づいてパルスの時間幅を求め、１画素毎にパルスの時間幅の合計値を加算した値を求めることとして、上記相違点に係る本願発明の構成を採用することは当業者が容易に想到出来たことである。
２　原査定の理由の判断
（１）刊行物の記載事項
　刊行物１には次の事項が記載されている（下線は当審において付したものである）。　
「【００２５】
…
図２は、上記測光装置７の構成を示すブロック図である。
測光装置７は
標本５より発せられた光をアナログ電気信号に変換する例えばフォトマルからなる光検出器１１と、この光検出器１１により変換されたアナログ電気信号をシステムコントローラ８から入力されるＡ／Ｄ変換クロックａに同期してデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器１２と、このＡ／Ｄ変換器１２により変換されたデジタルデータをシステムコントローラ８から入力される画素クロックｐに同期して演算して１画素毎の輝度データを出力する演算装置１３と、この演算装置１３から出力される輝度データを記憶する記憶装置１４とから構成される
【００２６】
図３は、測光装置７による処理の流れを示すフローチャートである。同図に示す処理は、測光装置７の演算装置１３の制御の下に、各部により演算装置１３を中心として行われる処理である。
図４は、上記の処理で行われる信号の処理を分かりやすく図解して示す図である。同図（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）　は、いずれも横軸に時間を示している。
【００２７】
図４（ａ）　に示すＡ／Ｄ変換クロックａは、例えば周期が１０ｎｓｅｃのパルスであり、パルスの立ち上がりと立ち下りのエッジが共に検出信号をＡ／Ｄ変換するタイミング示している。また、画素クロックｐは、例えば周期が１μｓｅｃのパルスであり、１画素の測光期間を指定するものであるが、この場合もこの画素クロックｐのパルス１周期で１画素の測光期間を指定するのではなく、パルスの立ち上がりのエッジから立ち下りのエッジまで、及びその立ち下りのエッジから次の立ち上がりのエッジまでが、共に隣接の１画素の測光期間の区切りを示している。つまりパルスの１周期で２画素分の測光期間を指定している。
【００２８】
また、図４（ｂ）　は、縦軸に
光検出器１１から出力される
３つのアナログパルス１５（１５−１、１５−２、１５−３、ただし３番目のパルス１５−３は複数の検出信号が重畳して連続する１つの変形パルスになっている）は、検出信号の一例を示している
【００２９】
これらの図３及び図４を用いて、測光装置７による処理を説明する。尚、この処理では、特には図示しないが、演算装置１３に内蔵される輝度値レジスタ及び閾値レジスタが使用される。閾値レジスタには予め所定の閾値が設定されている。図３において、先ず、輝度値レジスタの内容がゼロクリアされて、輝度値レジスタが初期設定される（ＳＴ１）。
【００３０】
次に、Ａ／Ｄ変換クロックａがＡ／Ｄ変換器１２に入力しているか否かが判別される（ＳＴ２）。そして、Ａ／Ｄ変換クロックａが入力していなければ入力されるまで待機する（ＳＴ２がＮＯ）。
そして、
Ａ／Ｄ変換クロックａがＡ／Ｄ変換器１２に入力すると
、Ａ／Ｄ変換器１２は、Ａ／Ｄ変換クロックａのエッジに同期して、検出信号をＡ／Ｄ変換する
【００３１】
この処理では、
Ａ／Ｄ変換クロックａのパルスの立ち上がり及び立ち下りに同期して、
検出信号のパルス１５−１がデジタルデータ１６−１に変換され、検出信号のパルス１５−２がデジタルデータ１６−２に変換され、そして、検出信号のパルス１５−３が５個のデジタルデータ１６−３〜１６−７に変換される
【００３２】
ここでＡＤ変換クロックａのエッジからエッジまでの時間間隔は検出信号の単一パルスの時間幅よりも小さく、つまり少なくとも単一パルスを検出できる程度の間隔以下であることが望ましい
【００３３】
続いて、図３において、
演算装置１３は、
入力される各デジタルデータ１６（１６−１〜１６−７）が、それぞれ所定の閾値よりも大きいか否かを判別する
この処理では、図４（ｄ）　に示すように、演算装置１３には所定の閾値ｈが予め設定されている。また、この閾値ｈは、通常想定されるノイズレベルよりも大きな値を設定されている。この閾値ｈと上記入力されてくる各デジタルデータ１６（１６−１〜１６−７）とが順次比較される。
【００３４】
そして、デジタルデータ１６のほうが閾値ｈよりも大きい場合は、輝度値レジスタに「１」が加算される（ＳＴ５）。図４（ｄ）　の例では最初のデジタルデータ１６−１は閾値ｈよりも大きいので、輝度値レジスタに「１」が加算される。
続いて、演算装置１３は、次の画素クロックの期間に変化したか否かを判別する（ＳＴ６）。この判別処理では、図４（ａ）　に示す画素クロックｐのパルスが立ち下がっている（“Ｌ”）のであれば、立ち上がり（“Ｈ”）に変化したかを判別し、又は画素クロックｐのパルスが立ち上がっている（“Ｈ”）のであれば、立ち下がり（“Ｌ”）に変化したかを判別する。
【００３５】
そして、画素クロックｐのパルスに変化がなければ（ＳＴ６がＮＯ）、処理ＳＴ２の処理に戻って、処理ＳＴ２〜ＳＴ６を繰り返す。これにより、上記の
デジタルデータ１６−１に続いて
デジタルデータ１６−２から１６−４までの各値が、順次閾値ｈと比較され、いずれも値が閾値ｈよりも大きいことにより輝度値レジスタに「１」が加算されていく
【００３６】
そして、上記ＳＴ６の判別処理で、画素クロックｐのパルスが変化して（図４（ａ）　の例では“Ｌ”から“Ｈ”に変化して）、次の画素クロックになったとき、すなわち図４（ｄ）　に示すそれまでの画素測光期間ｐ１から次の画素の測光期間ｐ２になったときは（ＳＴ６がＹＥＳ）、輝度値レジスタに加算されていた値を記憶装置１４の所定の記憶領域に出力して（ＳＴ７）、ＳＴ１の処理に戻る。
【００３７】
これにより、１画素ごとに、Ａ／Ｄ変換クロックａに同期して閾値ｈと比較演算された検出信号のデジタルデータが加算されて、その加算された輝度値レジスタ内の演算結果が、１画素ごとに、記憶装置１４の所定の記憶領域に記憶されていく。
【００３８】
次の画素の測光では、図４（ｄ）　に示すように、
デジタルデータ１６−５及び１６−６の値は閾値ｈよりも大きいので、輝度値レジスタに加算されるが、次のデジタルデータ１６−７の値は閾値ｈ以下であるので無視されて
、輝度値レジスタには加算されない
＜第１の実施形態の作用・効果＞
このように、本例では、単一パルスを検出できる程度の時間間隔以下のＡ／Ｄ変換クロックａを発生させ、このＡ／Ｄ変換クロックａで指定されるタイミングで、検出信号をデジタルデータ化しているので、例えばフォトンカウンタと同様にフォトマル光検出器を用いた場合でも、図１７（ａ），（ｂ）　に示した従来の検出方法では、同図（ｂ）　に示したパルスが重畳してパルス時間幅が広く強い輝度を示す検出信号に対しても、１個のデジタルデータとしてしか検出できなかったものが、本例の検出方法では、図４（ｄ）　に示すように４個のデジタルデータ１６−３〜１６−６として検出することができる。
【００３９】
すなわち、
測定した標本の輝度が強く、そのアナログ検出信号の単一パルスが重畳して１パルスの時間幅が広がった場合でも、そのパルスの時間幅に応じた数のデジタル輝度データが得られる
【００４０】
また、光検出器から出力された直後に、つまりアナログ信号にノイズが入りにくい段階で、そのアナログ信号をＡ／Ｄ変換するので、ノイズを拾う虞がなく、この点でも標本に対するより忠実度の高い輝度データを得ることができる。
また、たとえ、アナログ信号にノイズが入るようなことがあったとしても、アナログ信号からＡ／Ｄ変換したデジタルデータを、通常想定されるノイズレベルよりも大きな閾値ｈを設けて取捨選択しているので、この点でもノイズを拾うことがなく、標本に対するより忠実度の高い輝度データを得ことができる。」 
　上記記載事項から、刊行物１には、以下の発明が記載されていると認められる。
「標本５より発せられた光をアナログ電気信号に変換する例えばフォトマルからなる光検出器１１と、この光検出器１１により変換されたアナログ電気信号をシステムコントローラ８から入力されるＡ／Ｄ変換クロックａに同期してデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換器１２と、このＡ／Ｄ変換器１２により変換されたデジタルデータをシステムコントローラ８から入力される画素クロックｐに同期して演算して１画素毎の輝度データを出力する演算装置１３と、この演算装置１３から出力される輝度データを記憶する記憶装置１４とから構成される測光装置７であって、
　検出信号の一例として、光検出器１１から３つのアナログパルス１５（１５−１、１５−２、１５−３、ただし３番目のパルス１５−３は複数の検出信号が重畳して連続する１つの変形パルスになっている）が出力されるとき、　
　Ａ／Ｄ変換クロックａがＡ／Ｄ変換器１２に入力すると、Ａ／Ｄ変換器１２は、Ａ／Ｄ変換クロックａのエッジに同期して、検出信号をＡ／Ｄ変換するものであり、
　この処理では、Ａ／Ｄ変換クロックａのパルスの立ち上がり及び立ち下りに同期して、検出信号のパルス１５−１がデジタルデータ１６−１に変換され、検出信号のパルス１５−２がデジタルデータ１６−２に変換され、そして、検出信号のパルス１５−３が５個のデジタルデータ１６−３〜１６−７に変換されるものであり、
　ここでＡ／Ｄ変換クロックａのエッジからエッジまでの時間間隔は検出信号の単一パルスの時間幅よりも小さく、つまり少なくとも単一パルスを検出できる程度の間隔以下であることが望ましいものであり、
　演算装置１３は、入力される各デジタルデータ１６（１６−１〜１６−７）が、それぞれ所定の閾値よりも大きいか否かを判別するものであり、
　デジタルデータ１６−１に続いてデジタルデータ１６−２から１６−４までの各値が、順次閾値ｈと比較され、いずれも値が閾値ｈよりも大きいことにより輝度値レジスタに「１」が加算されていき、
　デジタルデータ１６−５及び１６−６の値は閾値ｈよりも大きいので、輝度値レジスタに加算されるが、次のデジタルデータ１６−７の値は閾値ｈ以下であるので無視されて、輝度値レジスタには加算されないものであり、
　測定した標本の輝度が強く、そのアナログ検出信号の単一パルスが重畳して１パルスの時間幅が広がった場合でも、そのパルスの時間幅に応じた数のデジタル輝度データが得られる測定装置７。」（以下「引用発明」という。） 
　また、刊行物２には、次の事項が記載されている（下線は当審において付したものである）。
「第１図は本発明の一実施例による放射線量計の構成を示す回路図である。本図において前述した従来例と同一部分は同一符号を付して詳細な説明を省略する。本実施例においては半導体放射線検出器２の出力を増幅器３によって増幅し、その増幅出力を第１のコンパレータ５及び第２のコンパレータ１１に与える。コンパレータ１１には基準電源４の閾値レベルＶｒｅｆ１より高い所定の閾値レベルＶｒｅｆ２の基準電源１２が接続されており、このレベルを越える信号を単安定マルチバイブレータ（ＭＭ）１３に与える。単安定マルチバイブレータ１３には可変抵抗器１４によってその動作時間が定められており、その出力をアンド回路１５に与える。アンド回路１５の他方の入力端には発振器１６の出力が接続される。
発振器１６は
１つの放射線の増幅器の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号を発振する
　次に本実施例の動作について説明する。
半導体放射線検出器２に放射線が断続的に入射した場合には
１つのパルスが増幅器５の出力がオア回路１７を介してカウンタ６に与えられる。この場合には基準電源１２の閾値レベルは基準電源４の閾値レベルより高いレベルに設定されるため、コンパレータ１１より比較出力が得られることはない
　一方前述したように
短時間に放射線が連続して半導体放射線検出器２に入射する
パイルアップ現象が発生すれば
半導体放射線検出器２の
出力レベルは高くなる
この信号を閾値Ｖｒｅｆ２で弁別することによって第２のコンパレータ１１より
得られる
信号を単安定マルチバイブレータ１３で引き延ばし、アンド回路１５によって
クロック信号を発生している発振器１６との論理積をとる
信号が得られ、この信号がオア回路１７に与えられる
信号を計数することによってパイルアップ現象が生じているときも適切なパルス数を計数することができる
（２）本願発明と引用発明との対比
ア　引用発明の「標本５より発せられた光をアナログ電気信号に変換するフォトマルからなる光検出器１１」は、「検出信号の一例として」「３つのアナログパルス１５（１５−１、１５−２、１５−３、ただし３番目のパルス１５−３は複数の検出信号が重畳して連続する１つの変形パルスになっている）が出力される」ものであり、これら３つのアナログパルスは「パルス幅が一定であり２値のパルス」とはいえないから、これら引用発明の構成と、本願発明の「光の入射を受けて、フォトン入射の有無を示すパルス幅が一定であり２値のパルスを出力するフォトンカウント型の受光素子を含む受光手段」とは、「光の入射を受けて、フォトン入射の有無を示すパルスを出力するフォトンカウント型の受光素子を含む受光手段」の点で共通する。
　
イ　引用発明の「検出信号の一例として、光検出器１１から出力される３つのアナログパルス１５（１５−１、１５−２、１５−３、ただし３番目のパルス１５−３は複数の検出信号が重畳して連続する１つの変形パルスになっている）が出力されるとき、Ａ／Ｄ変換クロックａのパルスの立ち上がり及び立ち下りに同期して、検出信号のパルス１５−１」を「デジタルデータ１６−１に変換」し、「検出信号のパルス１５−２」を「デジタルデータ１６−２に変換」し、「そして、検出信号のパルス１５−３」を「５個のデジタルデータ１６−３〜１６−７に変換」する「Ａ／Ｄ変換器１２」と、「デジタルデータ１６−１に続いてデジタルデータ１６−２から１６−４までの各値」を、「順次閾値ｈと比較」し、「いずれも値が閾値ｈよりも大きいことにより輝度値レジスタに「１」」を「加算」し「ていき、デジタルデータ１６−５及び１６−６の値は閾値ｈよりも大きいので、輝度値レジスタに加算」す「るが、次のデジタルデータ１６−７の値は閾値ｈ以下であるので無視」し「て、輝度値レジスタには加算」し「ない」「演算装置１３」からなるものは、「測定した標本の輝度が強く、そのアナログ検出信号の単一パルスが重畳して１パルスの時間幅が広がった場合でも、そのパルスの時間幅に応じた数のデジタル輝度データが得られる」ものであるから、これら引用発明の構成と、本願発明の「測定期間に亘って前記パルスのパルス幅の合計値を積分又は累積加算した出力値を求める累積手段」とは、「測定期間に亘って前記パルスのパルス幅」に応じた「出力値を求める累積手段」の点で共通する。
ウ　引用発明の「測光装置７」は、本願発明の「光検出器」に相当する。
 
　そうすると、両者は
「光の入射を受けて、フォトン入射の有無を示すパルスを出力するフォトカウント型の受光素子を含む受光手段と、
　測定期間に亘って前記パルスのパルス幅に応じた出力値を求める累積手段と、
を備える光検出器。」 
の点で一致し、次の点で相違する。
　
（相違点１）
　受光手段に含まれ、光の入射を受けて、フォトン入射の有無を示すパルスを出力するフォトカウント型の受光素子が、本願発明では「パルス幅が一定であり２値のパルスを出力する」ものであるのに対して、引用発明では「検出信号の一例として」「３つのアナログパルス１５（１５−１、１５−２、１５−３、ただし３番目のパルス１５−３は複数の検出信号が重畳して連続する１つの変形パルスになっている）が出力される」ものであって「パルス幅が一定であり２値のパルスを出力する」ものではない点。
（相違点２）
　累積手段において測定期間に亘って求められる前記パルスのパルス幅に応じた出力値が、本願発明では「フォトカウンタ型の受光素子」が出力する「パルスのパルス幅の合計値を積分又は累積加算した出力値」であるのに対し、引用発明では「光検出器１１」の「検出信号を」「Ａ／Ｄ変換器１２」により「Ａ／Ｄ変換クロックａのパルスの立ち上がり及び立ち下りに同期して」「Ａ／Ｄ変換」し生成された「デジタルデータ１６」のうち「閾値ｈ」よりも「大き」な「デジタルデータ１６」の「数」が「加算され」たものである点。
（３）相違点についての検討・判断
（相違点１について）
　刊行物２には、上記（１）の記載事項から、「半導体放射線検出器２に放射線が断続的に入射した場合には」「１つのパルスが増幅器５の出力がオア回路１７を介してカウンタ６に与えられ」、「この場合には基準電源１２の閾値レベルは基準電源４の閾値レベルより高いレベルに設定されるため、コンパレータ１１より比較出力が得られることはな」く、「短時間に放射線が連続して半導体放射線検出器２に入射」して「パイルアップ現象が発生すれば」、「半導体放射線検出器２の」「出力レベルは高くな」り、「この信号を閾値Ｖｒｅｆ２で弁別することによって第２のコンパレータ１１より」「得られる」「信号を単安定マルチバイブレータ１３で引き延ばし、アンド回路１５によって」「クロック信号を発生している発振器１６との論理積をとる」ことにより「得られ」た「信号がオア回路１７に与えられ」て「この信号を計数することによってパイルアップ現象が生じているときも適切なパルス数を計数することができる」ことが開示されているものといえる。
　ここで、刊行物２に記載の「半導体放射線検出器２」が本願発明の「受光素子」に対応するものといえるところ、「半導体放射線検出器２」の出力は、「増幅器５」により「増幅」されて、「放射線が断続的に入射した場合」は「閾値Ｖｒｅｆ２」より低い「１つのパルス」となり、「連続して」「入射」した場合は「閾値Ｖｒｅｆ２」より高い「パイルアップ現象が発生」した１つのパルスとなり、ここでの両者のパルスの幅も出力レベルも異なるのであるから、増幅前の「半導体放射線検出器２」の出力も、放射線が断続的に入射した場合と連続して入射した場合とで、パルスの幅も出力レベルも異なるものであることは明らかである。
　したがって、刊行物２は、上記相違点１に係る本願発明の構成を開示するものではないので、刊行物２に記載の技術事項を引用発明に適用したとしても相違点１に係る本願発明の構成に想到するものではない。
（相違点２について）
　刊行物２において、「短時間に放射線が連続して半導体放射線検出器２に入射」して「パイルアップ現象が発生」し、「半導体放射線検出器２の」「出力レベルは高くな」るときに、「この信号を閾値Ｖｒｅｆ２で弁別することによって第２のコンパレータ１１より」「得られる」「信号を単安定マルチバイブレータ１３で引き延ばし、アンド回路１５によって」「クロック信号を発生している発振器１６との論理積をとる」ことにより「得られ」た「信号がオア回路１７に与えられ」て「この信号を計数することによってパイルアップ現象が生じているときも適切なパルス数を計数する」ことは、「発振器１６」が「１つの放射線の増幅器の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号を発振する」ものであるから、「パイルアップ現象が発生」したパルスを、「１つの放射線の増幅器の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号」に変換された、すなわち、パルス幅が一定であり２値のパルスに変換された出力を「計数する」ものということができる。
　しかしながら、刊行物２の「１つの放射線の増幅器の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号」に変換された、すなわち、パルス幅が一定であり２値のパルスに変換してされた出力は、本願発明の「受光素子」に相当する「半導体放射線検出器２」の出力ではない。さらに、「１つの放射線の増幅器の出力にほぼ等しい周期を有するクロック信号」に変換された、すなわち、パルス幅が一定であり２値のパルスに変換された出力を「計数する」ことは、引用発明と同様に、本願発明の「パルス幅」自体「の合計値を積分又は累積加算」するものでもない。
　したがって、刊行物２は、上記相違点２に係る本願発明の構成を開示するものではないので、刊行物２に記載の技術事項を引用発明に適用したとしても相違点２に係る本願発明の構成に想到するものではない。
（４）小括
　したがって、本願発明は、当業者が引用発明及び刊行物２の記載事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
　また、本願の請求項２〜７に係る発明は、本願発明をさらに限定したものであるので、同様に、当業者が引用発明及び刊行物２の記載事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
　よって、原査定の理由によっては、本願を拒絶することができない。
第４　当審拒絶理由について
１　当審拒絶理由の概要
　本願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で、特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない。 
 　 
 　　　　　　　　　　　　　　　　　記 
（１）請求項１の「前記パルスのパルス幅」について、請求人が審判請求書において参考図１を用いて主張するように、刊行物１との差異を明確にするためには、本願請求項１に係る発明ではパルス幅が一定であることが前提となっているものと思料するが、請求項１の「フォトンの入射の有無を示す２値のパルス」という記載だけでは、パルス幅が一定のもののみを規定するのか否か明確でない。 
  
（２）請求項４に係る発明は、発明の詳細な説明の図１の実施形態である、受光素子の出力を電流の積分値として出力する構成としたものに対応するものであるが、図４の変形例である、サンプリングを含むデジタル処理する構成に対応する請求項２を引用する請求項３を引用しており、明確でない。 
 　 
　よって、請求項１及び４並びにそれらを引用する請求項２〜３、５〜７に係る発明は明確でない。 
   
２　当審拒絶理由の判断
（１）平成２８年７月２０日の手続補正によって、補正前の請求項１の「フォトンの入射の有無を示す２値のパルス」が、「フォトンの入射の有無を示す
パルス幅が一定であり
（２）また、同手続補正によって、補正前の請求項２を補正後の請求項３に繰り下げ、補正前の請求項３を補正後の請求項２に繰り上げ、これに伴い、補正後の請求項２を請求項１のみに従属されるものとし、補正後の請求項３及び４を補正後の請求項１及び２に従属されるものとし、さらに、補正後の請求項５を補正後の請求項２のみに従属させるものとして、アナログ処理に対応する補正後の請求項４とデジタル処理に対応する補正後の請求項３及び５との引用関係はなくなり、明確となった。
　よって、当審拒絶理由は解消した。
第５　むすび
　以上のとおり、原査定の理由及び当審の拒絶の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。