(57)【要約】      （修正有）【課題】マイコン基板のＣＰＵが変更され、その結果マイコン基板の入出力用のコネクタの各ピンの機能が変更された場合でも、従来の評価用基板が使用することができるようにするための配列変換システムを提供する。【解決手段】マイコン基板７の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタ４とを有する評価用基板１と、前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板５とからなることを特徴とする配列変換システム。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
マイコン基板の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタとを有する評価用基板と、
前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板とからなることを特徴とする配列変換システム。
【請求項２】
前記評価用基板と前記配列変換基板との接続がコネクタ対で行われることを特徴とする請求項１記載の配列変換システム。
【請求項３】
前記配列変換基板の電気信号の変換が、該配列変換基板上のパターンによって、又は該配列変換基板のコネクタが有する複数のピン間の配線によって行われることを特徴とする請求項１又は２記載の配列変換システム。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、マイコン基板の電気的評価に使用される配列変換システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在種々の電子機器に利用される１個のＣＰＵを搭載したマイコン基板が使用されている。このマイコン基板の標準的な構成を図４に示す。部品搭載面側の中央にＣＰＵのＩＣ１０が取り付けられており（図４（ａ）参照）、マイコン基板７の周縁部には種々の機能を有する複数のコネクタが配置されている（図４（ｂ）参照）。
【０００３】
ここで、マイコン基板の部品搭載面側に取り付けられている複数のコネクタ８ａ、８ｂは、ＣＰＵへのプログラムの書き込み用、又は検査用のコネクタである。また、部品搭載面と反対側の面に半田付けされている２個のコネクタ９ａ、９ｂは、マイコン基板の入出力（Ｉ／Ｏ）用のコネクタである。
【０００４】
このようなマイコン基板を電気的に検査する際には、所謂評価用基板を使用するのが一般的である。その評価用基板の一般的な外観を図６に示す。
【０００５】
この評価用基板のコネクタ２ａ、２ｂは、それぞれ上記マイコン基板７の入出力コネクタ９ａ、９ｂに接続可能であり雄雌の関係にある。
【０００６】
マイコン基板の電気的評価を行おうとする者は、マイコン基板を前記評価用基板７のコネクタ２ａ、２ｂにマイコン基板のコネクタ９ａ、９ｂを接続した後、検査用コネクタ端子４に所定のコネクタを挿入して、自己の希望する信号等を取り出してマイコン基板の評価を行うことができる。
【０００７】
また、例えば特許文献１には端子配列変換基板の一例が示されている。
【特許文献１】特開平０８−００８２９８号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、上記のような評価用基板２０を使用したマイコン基板７の電気的な検査方法において、マイコン基板７のＣＰＵ１０がＣＰＵメーカの都合により順次、変更若しくはバージョンアップされて製造されているのが現状である。つまり、ＣＰＵの端子の数が、従来のＣＰＵの端子数と同数であったとしても、前のＩＣと同一の位置にあるＩＣの端子が異なる機能を有するＣＰＵとして製造される場合がある。
【０００９】
この場合、当然のことながら図６のコネクタ２ａ、２ｂの端子ごとの機能も変わることになり、前記評価基板２０も再度、設計・製造をしなければならなかった。
【００１０】
特に、マイコン基板の種類が例えば、数十種類にもなった場合、それに合わせて評価用基板を数十種類と準備しなければならないという問題があった。
【００１１】
本考案は、かかる課題を解決するためになされたものであり、マイコン基板のＣＰＵが変更され、その結果マイコン基板の入出力用のコネクタの各ピンの機能が変更された場合でも、従来の評価用基板が使用することができるようにするための配列変換システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本考案は、上述の目的を達成するため、以下（１）〜（３）の構成を備えるものである。
【００１３】
（１）マイコン基板の信号が入出力されるコネクタと、前記マイコン基板の信号を検査するためのコネクタとを有する評価用基板と、
前記評価用基板に接続され、該評価用基板に流れる電気信号を変換する配列変換基板とからなることを特徴とする配列変換システム。
【００１４】
（２）前記評価用基板と前記配列変換基板との接続がコネクタ対で行われることを特徴とする前記（１）記載の配列変換システム。
【００１５】
（３）前記配列変換基板の電気信号の変換が、該配列変換基板上のパターンによって、又は該配列変換基板のコネクタが有する複数のピン間の配線によって行われることを特徴とする前記（１）又は（２）記載の配列変換システム。
【考案の効果】
【００１６】
本考案の配列変換基板を使用することで、マイコン基板のＣＰＵが変更になった場合に、評価用基板を再製作しなければならないという無駄を防止することができる。
【考案を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本考案を実施するための最良の形態を、実施例により詳しく説明する。
【実施例１】
【００１８】
図１に本考案の第１の実施例を示す。
【００１９】
本考案においては、新しい評価用基板１と配列変換基板５を基本としている。新しい評価用基板１は、従来の評価用基板２０と同様の入出力（Ｉ／Ｏ）用のコネクタ２と検査用コネクタ端子４を有しているものとする。そして、配列変換基板用コネクタ３を更に備えているものとする（図２参照）。このコネクタは、配列変換基板に取り付けられたコネクタ６と嵌合する（図３参照）。
【００２０】
図１は新評価用基板１にマイコン基板７及び配列変換基板５を接続した状態を示す。本実施例における配列変換基板５のコネクタのピン間は、配列変換基板上のパターンによって接続されているものとする（図３参照）。
【００２１】
このような構成とすることによって、マイコン基板７のＣＰＵ１０が変更され接続Ｉ／Ｏコネクタのピンの機能が変わったとしても、新評価用基板のパターンを変更することなく検査用コネクタ端子４から検査用の信号を外部に取り出すことができる。すなわち、マイコン基板のＣＰＵが変更になったとしても配列変換基板５のパターンを変えることのみで、ＣＰＵの変更に対応することが可能となるのである。
【００２２】
その結果、ＣＰＵの変更に伴い評価用基板をその都度設計、変更しなければならないという不都合を回避することができる。
【実施例２】
【００２３】
図５に本考案の第二の実施例を示す。
【００２４】
実施例２の考案は、実施例１とほぼ同一の構成であるが、配列変換基板のコネクタの接続が異なる。
【００２５】
実施例１では配列変換基板に取り付けられたコネクタのピンは、プリント基板上のパターンによって接続されていたが、本実施例におけるそのコネクタのピンは長く線で接続されているものとする。なお、図５ではコネクタのピンの接続用の線は省略されている。このような構造とすることで、マイコン基板上のＣＰＵが変更されたとしても、逐一配列変換基板のパターンを変更せずとも、線の接続を変えるだけで、ＣＰＵの変更に対応することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】実施例１の配列変換基板を使用したマイコン基板の評価を行っている状態を示す図
【図２】実施例１の考案に係る評価用基板を示した図
【図３】実施例１の考案に係る配列変換基板を示した図
【図４】マイコン基板を示す図
【図５】実施例２の配列変換基板を使用したマイコン基板の評価を行っている状態を示す図
【図６】従来の評価用基板を示す図
【図７】従来の評価用基板を使ってマイコン基板の評価を行っている図
【符号の説明】
【００２７】
１  評価用基板
２ａ、２ｂ  入出力用コネクタ
３ａ、３ｂ  配列変換用コネクタ
４  検査用コネクタ
５  配列変換基板
６ａ、６ｂ  配列変換用コネクタ
７  マイコン基板
８ａ、８ｂ  コネクタ
９ａ、９ｂ  入出力用コネクタ
１０  ＩＣ
１５  配列変換基板
１５ａ  コネクタのピン
２０  従来の評価用基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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