【手続補正書】
【提出日】令和2年6月1日(2020.6.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高温プラズマ内の磁場を測定する非摂動方法であって、
第１の複数のレーザビームをＦＲＣプラズマの中に半径方向に注入することであって、前記第１の複数のレーザビームはそれぞれ、異なる偏光を有する、ことと、
２つの場所において、前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場内のヌル場所と交差させることと、
前記第１の複数のレーザビームの経路をＣＣＤの垂直方向において撮像することと、
複屈折結晶を使用して、前記垂直方向における光を直交偏光に分裂させることと、
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を含む、方法。
【請求項２】
レーザビームを前記ＦＲＣ磁場の中に軸方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
第２の複数のレーザビームを前記ＦＲＣ磁場の中に半径方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所の場所を前記ＦＲＣプラズマの直径に沿った２つの点に提供することと、
前記ヌル場所の場所を使用して、前記ＦＲＣプラズマの半径および中心を計算することと、
前記半径および中心をフィードバック制御システムに提供することと
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記フィードバック制御システムは、外部から印加される磁場を制御することによって、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の場所およびサイズを制御する、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
高温プラズマ内の磁場を測定する非摂動方法であって、
ＣＣＤの水平軸方向に沿ってＦＲＣプラズマの波長を撮像することと、
前記ＣＣＤの垂直軸方向に沿って前記ＦＲＣプラズマの半径方向の範囲を撮像することと、
複屈折結晶を使用して、前記垂直軸方向における光を直交偏光に分裂させることと、
前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を含む、方法。
【請求項７】
第１の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第１のＸ点の場所を測定することと、
をさらに含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
同時に、第２の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第２のＸ点の場所を測定することと、
前記第１のＸ点と前記第２のＸ点との間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
をさらに含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所の場所を前記ＦＲＣプラズマの直径に沿った２つの点に提供することと、
前記ヌル場所の場所を使用して、前記ＦＲＣプラズマの半径および中心を計算することと、
前記半径および中心をフィードバック制御システムに提供することと
をさらに含む、請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
前記フィードバック制御システムは、外部から印加される磁場を制御することによって、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の場所およびサイズを制御する、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
高温プラズマ内の磁場の非摂動測定のための分光偏光計であって、
分光計と、
高速撮像ＣＣＤカメラと、
３つのレーザビームと、
複屈折結晶と
を備える、分光偏光計。
【請求項１２】
前記３つのレーザビームは、異なる偏光、類似波長を有し、相互から小距離だけ分離される、請求項１１に記載の分光偏光計。
【請求項１３】
前記３つのレーザビームを撮像するための３つのスリットをさらに備える、請求項１１に記載の分光偏光計。
【請求項１４】
前記３つのレーザビームをＦＲＣプラズマの中に半径方向に注入することと、
２つの場所において、前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場内のヌル場所と交差させることと、
前記３つのレーザビームの経路を前記ＣＣＤカメラの垂直方向において撮像することと、
前記複屈折結晶を使用して、前記垂直方向における光を直交偏光に分裂させることと、
前記ＣＣＤカメラを使用して、前記ＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を行うように構成される、請求項１２に記載の分光偏光計。
【請求項１５】
レーザビームを前記ＦＲＣ磁場の中に軸方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
を行うようにさらに構成される、請求項１４に記載の分光偏光計。
【請求項１６】
第２の複数のレーザビームを前記ＦＲＣ磁場の中に半径方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
を行うようにさらに構成される、請求項１４に記載の分光偏光計。
【請求項１７】
前記ＣＣＤカメラの水平軸方向に沿って、ＦＲＣプラズマの波長を撮像することと、
前記ＣＣＤカメラの垂直軸方向に沿って、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の範囲を撮像することと、
前記複屈折結晶を使用して、垂直軸方向における光を直交偏光に分裂させることと、
前記ＣＣＤカメラを使用して、前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を行うように構成される、請求項１１に記載の分光偏光計。
【請求項１８】
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所の場所を前記ＦＲＣプラズマの直径に沿った２つの点に提供することと、
前記ヌル場所の場所を使用して、前記ＦＲＣプラズマの半径および中心を計算することと、
前記半径および中心をフィードバック制御システムに提供することと
を行うようにさらに構成される、請求項１７に記載の分光偏光計。
【請求項１９】
前記フィードバック制御システムは、外部から印加される磁場を制御することによって、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の場所およびサイズを制御する、請求項１８に記載の分光偏光計。
【請求項２０】
高温プラズマ内の磁場の非摂動測定のためのシステムであって、
第１の分光偏光計および第２の分光偏光計を備え、
前記第１の分光偏光計は、
前記第１の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第１のＸ点の場所を測定することと
を行うように構成され、
前記第２の分光偏光計は、
同時に、前記第２の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第２のＸ点の場所を測定することと、
前記第１のＸ点と前記第２のＸ点との間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
を行うように構成される、システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
例示的実施形態の他のシステム、方法、特徴、および利点は、以下の図および発明を実施するための形態の検討に応じて、当業者に明白である、または明白となるであろう。
本発明は、例えば、以下を提供する。
（項目１）
高温プラズマ内の磁場を測定する非摂動方法であって、
第１の複数のレーザビームをＦＲＣプラズマの中に半径方向に注入することであって、前記レーザビームはそれぞれ、異なる偏光を有する、ことと、
２つの場所において、前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場内のヌル場所と交差させることと、
前記第１の複数のレーザビームの経路をＣＣＤの垂直方向において撮像することと、
複屈折結晶を使用して、直交偏光にさらに分裂されるように前記垂直方向における光を分裂させることと、
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を含む、方法。
（項目２）
レーザビームを前記ＦＲＣ磁場の中に軸方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
をさらに含む、項目１に記載の方法。
（項目３）
第２の複数のレーザを前記ＦＲＣ磁場の中に半径方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
をさらに含む、項目１に記載の方法。
（項目４）
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所の場所を前記ＦＲＣプラズマの直径に沿った２つの点に提供することと、
前記ヌル場所の場所を使用して、前記ＦＲＣプラズマの半径および中心を計算することと、
前記半径および中心をフィードバック制御システムに提供することと
をさらに含む、項目１に記載の方法。
（項目５）
前記フィードバック制御システムは、外部から印加される磁場を制御することによって、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の場所およびサイズを制御する、項目４に記載の方法。
（項目６）
高温プラズマ内の磁場を測定する非摂動方法であって、
ＣＣＤの水平軸方向に沿ってＦＲＣプラズマの波長を撮像することと、
前記ＣＣＤの垂直軸方向に沿って前記ＦＲＣプラズマの半径方向の範囲を撮像することと、
複屈折結晶を使用して、前記垂直方向における光を直交偏光に分裂させることと、
前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を含む、方法。
（項目７）
第１の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第１のＸ点の場所を測定することと、
をさらに含む、項目６に記載の方法。
（項目８）
同時に、第２の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第２のＸ点の場所を測定することと、
前記第１のＸ点と前記第２のＸ点との間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
をさらに含む、項目６に記載の方法。
（項目９）
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所の場所を前記ＦＲＣプラズマの直径に沿った２つの点に提供することと、
前記ヌル場所の場所を使用して、前記ＦＲＣプラズマの半径および中心を計算することと、
前記半径および中心をフィードバック制御システムに提供することと
をさらに含む、項目６に記載の方法。
（項目１０）
前記フィードバック制御システムは、外部から印加される磁場を制御することによって、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の場所およびサイズを制御する、項目９に記載の方法。
（項目１１）
高温プラズマ内の磁場の非摂動測定のための分光偏光計であって、
分光計と、
高速撮像ＣＣＤカメラと、
３つのレーザビームと、
複屈折結晶と
を備える、分光偏光計。
（項目１２）
前記３つのレーザビームは、異なる偏光、類似波長を有し、相互から小距離だけ分離される、項目１１に記載の分光偏光計。
（項目１３）
前記３つのレーザビームを撮像するための３つのスリットをさらに備える、項目１１に記載の分光偏光計。
（項目１４）
前記３つのレーザビームをＦＲＣプラズマの中に半径方向に注入することと、
２つの場所において、前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場内のヌル場所と交差させることと、
前記第１の複数のレーザビームの経路をＣＣＤの垂直方向において撮像することと、
前記複屈折結晶を使用して、直交偏光にさらに分裂されるように前記垂直方向における光を分裂させることと、
前記ＣＣＤを使用して、前記ＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を行うように構成される、項目１２に記載の分光偏光計。
（項目１５）
レーザビームを前記ＦＲＣ磁場の中に軸方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
を行うようにさらに構成される、項目１４に記載の分光偏光計。
（項目１６）
第２の複数のレーザを前記ＦＲＣ磁場の中に半径方向に注入することと、
前記ＦＲＣ磁場の２つのＸ点のそれぞれを照明することと、
前記２つのＸ点間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
を行うようにさらに構成される、項目１４に記載の分光偏光計。
（項目１７）
前記ＣＣＤの水平軸方向に沿って、ＦＲＣプラズマの波長を撮像することと、
前記ＣＣＤの垂直軸方向に沿って、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の範囲を撮像することと、
前記複屈折結晶を使用して、垂直方向における光を直交偏光に分裂させることと、
前記ＣＣＤを使用して、前記ＦＲＣプラズマのＦＲＣ磁場のヌル場所を測定することと
を行うように構成される、項目１１に記載の分光偏光計。
（項目１８）
前記ＦＲＣ磁場のヌル場所の場所を前記ＦＲＣプラズマの直径に沿った２つの点に提供することと、
前記ヌル場所の場所を使用して、前記ＦＲＣプラズマの半径および中心を計算することと、
前記半径および中心をフィードバック制御システムに提供することと
を行うようにさらに構成される、項目１７に記載の分光偏光計。
（項目１９）
前記フィードバック制御システムは、外部から印加される磁場を制御することによって、前記ＦＲＣプラズマの半径方向の場所およびサイズを制御する、項目１８に記載の分光偏光計。
（項目２０）
高温プラズマ内の磁場の非摂動測定のためのシステムであって、
第１の分光偏光計および第２の分光偏光計を備え、
前記第１の分光偏光計は、
前記第１の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第１のＸ点の場所を測定することと
を行うように構成され、
前記第２の分光偏光計は、
同時に、前記第２の分光偏光計のスリットを前記ＦＲＣプラズマの軸方向に向かって整列させることと、
前記ＦＲＣ磁場の第２のＸ点の場所を測定することと、
前記第１のＸ点と前記第２のＸ点との間の距離を測定し、前記ＦＲＣ磁場の長さを生み出すことと
を行うように構成される、システム。