(57)【要約】光ヘッドの光学特性や再生伝送路特性の影響を極力低減し、より適切な記録条件を調整することを目的とする。本発明の記録条件最適化方法は、光ディスク（１００）に情報記録する際の記録条件を最適化する方法であって、所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを光ディスクに記録する記録工程（１１０３）と、記録工程（１１０３）において記録された記録パターンを再生する再生工程（１１０２）と、記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定工程（１１０１）と、等化特性設定工程（１１０１）により設定された波形等化特性を用いて、再生工程（１１０２）が再生した再生信号を波形等化する等化工程（１１０５）と、等化工程（１１０５）により波形等化された再生信号を用いて、記録条件を調整する調整工程（１１０４）とを備える。【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する方法であって、
所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを前記光ディスクに記録する記録工程と、
前記記録工程において記録された前記記録パターンを再生する再生工程と、
前記記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、
前記等化特性設定工程により設定された前記波形等化特性を用いて、前記再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化工程と、
前記等化工程により波形等化された前記再生信号を用いて、前記記録条件を調整する調整工程と、
を備える記録条件最適化方法。
【請求項２】
前記記録条件とは、光ディスクに情報記録する際の変調パルスに関する条件であることを特徴とする、
請求項１に記載の記録条件最適化方法。
【請求項３】
前記調整工程では、前記変調パルスの位置が調整されることを特徴とする、
請求項２に記載の記録条件最適化方法。
【請求項４】
少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含まないことを特徴とする、
請求項１〜３のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項５】
少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含むことを特徴とする、
請求項１〜４のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項６】
最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性の高域ゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性の高域ゲインより小さいことを特徴とする、
請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項７】
前記記録パターンにおいて、それぞれの前記記録マークは、ほぼ均等に発生することを特徴とする、
請求項１〜６のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項８】
前記波形等化特性は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性であることを特徴とする、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項９】
前記調整工程は、再生信号の位相誤差情報を検出する工程を含み、前記位相誤差情報もとに前記位相誤差情報が概略小さくなるように変調パルスを調整することを特徴とする、
請求項１〜８のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項１０】
光ディスクにレーザ等の光源を用いて情報を記録および再生する装置であって、
所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを前記光ディスクに記録する記録手段と、
前記記録手段により記録された前記記録パターンを再生する再生手段と、
前記記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定手段と、
前記等化特性設定手段が設定した前記波形等化特性を用いて、前記再生手段が再生した再生信号を波形等化する等化手段と、
前記等化手段が波形等化した前記再生信号を用いて、前記記録条件を調整する調整手段と、
を備える情報記録再生装置。
【請求項１１】
前記等化特性設定手段は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性を元に前記波形等化特性を変化させることを特徴とする、
請求項１０に記載の情報記録再生装置。
【請求項１２】
最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインより小さいことを特徴とする、
請求項１０または１１に記載の情報記録再生装置。
【請求項１３】
光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する装置であって、
所定の記録条件を用いて前記光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定部と、
前記光ディスクに記録された前記記録パターンを再生した再生信号を、前記波形等化特性により波形等化した信号を用いて、前記記録条件を調整する調整部と、
を備える集積回路装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、半導体レーザ等の光源からの光ビームを利用して光学的に情報を記録再生するための記録条件最適化方法、情報記録再生装置および集積回路装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】  パーソナルコンピュータの普及に伴い、光ディスク装置、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、光磁気ディスク装置などの、デジタル情報を記録する情報記録装置が広く利用されている。これらの情報記録装置において、記録容量を増加するために、高密度化技術開発が盛んに行われている。
中でも情報担体である光ディスクを用いる光ディスク装置に関しては、ＣＤからＤＶＤと高密度記録化が実現されている。また、現在では、青色レーザを用いた２３Ｇバイトの容量を有するＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）が登場している。さらに、将来には、より高密度記録化が実現される装置の登場が期待されている。
こういった高密度な情報担体に光を用いて微小なマークを記録する際には、情報担体である光ディスクに照射するレーザに対してパルス変調を行う。次に、マークエッジに情報を有するようなマークエッジ記録を行う際には、マークエッジを正確に合わせるための記録パルスを補正して記録するのが一般的である。こうした記録条件補正方法の提案がなされている（例えば特許文献１参照）。
ここで、図１０を用いて記録条件を探査（調整）する従来の方法について説明する。
図１０は、従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
光ディスク装置は、光ディスク１００に対して情報を記録し、再生する光ヘッド１０１と、光ヘッド１０１の出力を増幅するプリアンプ１０５と、光ディスク１００を回転させるためのモータ１１２と、再生信号の波形等化を行う波形等化回路１０６と、波形等化された信号を２値化するための２値化回路１０８と、２値化データからクロックを抽出するＰＬＬ回路１０９と、２値化再生データを弁別復調する弁別復調回路１１０と、記録データを光ディスク１００に記録するためにデータ列を記録パルス列である変調データに変調する変調回路１０４と、変調データに応じて記録パルスを設定する記録パルス設定回路１０３と、設定された記録パルスに応じてレーザを駆動するためのレーザ駆動回路１０２と、を有している。また、さらに、光ディスク装置は、予め記録パルス値を保存しておくためのランダムアクセスメモリを備え、装置を制御するシステムコントローラ１１１を有している。
このような構成において、光ディスク１００に記録を行うための記録パルスの調整をする際には、所望の指定データ（記録パターン）を光ディスク１００上に一旦記録し、この記録した信号を再生する。予め記録する指定データは分かっているので、再生したデータが記録した指定データと一致しているかどうかを判断できる。もし、予め記録した指定データと再生したデータとが異なっている場合には、記録パルスを補正して再度、指定データを記録するとともに、記録したデータを再生する。このようにして予め記録する指定データと再生データとが一致するまで記録パルス探査を繰り返すような方法が提案されている。
【特許文献１】特許第３２２２９３４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】  上記構成のような従来の情報記録装置において、さらなる高密度化のためには、以下の課題を解決することが求められている。すなわち、再生伝送路の波形歪の影響を受けるため、再生信号を用いた記録条件の調整では、必ずしも光ディスク上に良好なマークを記録することができていないという課題である。これは、光ヘッドから照射されるビームの絞りのばらつきにより、光学特性が変化し、結果として再生信号の波形歪が現れることに起因する。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、光ヘッドの光学特性や再生伝送路特性の影響を極力低減し、より適切な記録条件を調整することを目的とする。
【課題を解決するための手段】  前記従来課題を解決するために、本発明の記録条件最適化方法は、光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する方法であって、所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを光ディスクに記録する記録工程と、記録工程において記録された記録パターンを再生する再生工程と、記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、等化特性設定工程により設定された波形等化特性を用いて、再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化工程と、等化工程により波形等化された再生信号を用いて、記録条件を調整する調整工程と、を備える。これにより上記目的が達成される。
ここで、記録パターンは、例えば、記録条件を調整するために予め設定されており、複数の記録マークを含んでいる。より具体的には、記録パターンは、複数種類の記録マーク長の記録マークを含んでいてもよい。等化工程では、記録パターンに応じた波形等化特性により波形等化を行う。さらに、調整工程では、適切に波形等化された再生信号を用いて、記録条件を調整する。
再生信号を用いて記録条件の調整を行う際、光ヘッドの光学特性や再生伝送路特性により、基準となるべき再生信号が影響を受ける場合がある。本発明の記録条件最適化方法では、再生信号に対して適切な波形等化特性を設定し波形等化した信号を用いて記録条件の調整を行う。よって、より適切な記録条件を調整することが可能となる。
なお、記録パターンは複数備えられていて、複数の記録パターンのそれぞれに対して、記録条件の調整を行うものであってもよい。
また、記録条件とは、光ディスクに情報記録する際の変調パルスに関する条件である。これにより上記目的を達成できる。
また、調整工程では、変調パルスの位置が調整される。この変調パルスの位置の調整により、例えば、変調パルス幅などを変化させることが可能となる。これにより上記目的を達成できる。
また、少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含まない。これにより上記目的を達成できる。
ここで、最短マークとは、例えば、光ディスクに情報記録される記録マークのうち、最も短い記録マーク長を有する記録マークである（以下、この欄において同じ。）。例えば、情報記録に際して、２Ｔ〜８Ｔの記録マーク長の記録マークが用いられる場合（より具体的には、例えば（１，７）ＲＬＬ符号が用いられる場合）、最短マークとは２Ｔの記録マークを意味する。なお、情報記録とは、例えば、ユーザデータを記録することである。
また、少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含む。これにより上記目的を達成できる。
また、最短マークを含まない記録パターンを記録再生する際の波形等化特性の高域ゲインは、最短マークを含む記録パターンを記録再生する際の波形等化特性の高域ゲインより小さい。これにより上記目的を達成できる。
また、記録パターンにおいて、それぞれの記録マークは、ほぼ均等に発生する。一般に、ユーザデータを記録する場合に、記録マーク長の短い記録マークの発生頻度は高く、記録マーク長の長い記録マークの発生頻度は低い。本発明で用いられる記録パターンでは、ユーザデータを記録する場合に比して、記録マーク長の短い記録マークの発生頻度を低くし、記録マーク長の長い記録マークの発生頻度を高くしている。これにより、上記目的を達成できる。
また、波形等化特性は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性である。これにより上記目的を達成できる。
また、調整工程は、再生信号の位相誤差情報を検出する工程を含み、前記位相誤差情報もとに前記位相誤差情報が概略小さくなるように変調パルスを調整する。これにより上記目的を達成できる。
前記従来課題を解決するために、本発明の情報記録再生装置は、光ディスクにレーザ等の光源を用いて情報を記録および再生する装置であって、所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを光ディスクに記録する記録手段と、記録手段により記録された記録パターンを再生する再生工程と、記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定手段と、等化特性設定手段が設定した波形等化特性を用いて、再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化手段と、等化手段が波形等化した再生信号を用いて、記録条件を調整する調整手段と、を備える。
ここで、記録手段は、例えば、光源を変調するレーザ駆動パルス変調手段と、２つ以上の所定の記録パターンで記録する記録実行手段とを有していてもよい。これにより上記目的を達成できる。
また、等化特性設定手段は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性を元に波形等化特性を変化させる。これにより上記目的を達成できる。
最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインより小さい。これにより上記目的を達成できる。
前記従来課題を解決するために、本発明の集積回路装置は、光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する装置であって、所定の記録条件を用いて光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定部と、光ディスクに記録された記録パターンを再生した再生信号を、波形等化特性により波形等化した信号を用いて、記録条件を調整する調整部と、を備える。これにより上記目的を達成できる。
【発明の効果】  以上のように、本発明では、記録条件を調整する際に波形等化特性を切り替えることにより、より信頼性の高い信号を記録することが可能となる。すなわち、再生伝送路特性の影響を極力低減し、均一な記録マークを形成することが可能となる。さらに付随的には、光ヘッドなどの素子ばらつきの許容範囲を拡大することが可能となり、低コストを実現する光ディスク装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００４】
【図１】本発明の実施形態における記録変調パルス調整方法の機能構成を示す模式図
【図２】本発明の実施の形態における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図３】本発明の実施の形態における再生信号とＰＬＬクロックとのタイムチャート
【図４】本発明の実施の形態における記録パルスの記録クロックに対するタイムチャート
【図５】本発明の実施の形態における記録時の記録パルスのパラメータリストを示す図
【図６】本発明の実施の形態における記録変調パルスを調整するための記録領域の模式図
【図７】本発明の実施の形態における記録変調パルス領域を調整する記録領域を再生した際の位相誤差検出結果を示す図
【図８】本発明の実施の形態における記録パターンを２種類用いた記録変調パルス調整方法を示すフローチャート
【図９】本発明の実施の形態における波形等化回路のゲイン特性を示す図
【図１０】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図１１】本発明の実施の形態における情報記録再生装置の動作を説明するためのフローチャート
【符号の説明】
【０００５】  １００  ディスク
１１０１  波形等化特性設定工程
１１０２  再生工程
１１０３  記録工程
１１０４  調整工程
１１０５  等化工程
１０００  光ディスク装置
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】  本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお図面中、同様の機能を有する部材には、同一の参照符号を示す。
本発明の情報記録再生装置では、光ディスクに情報記録する際の記録条件（記録変調パルス条件）を探査する。具体的には、情報記録再生装置は、所定の記録マークの記録を行い、記録された記録マークを再生し、再生された再生信号を用いて記録条件を探査する。この記録条件の探査に際して、所定の記録マークに応じて定められた波形等化特性を用いて、再生信号が波形等化される。すなわち、波形等化特性を切り替えることにより、より信頼性の高い信号を記録することが可能となり、均一な記録マークを形成することが可能となる。
図１に、本発明による情報記録再生装置１０００の機能構成図を模式的に示す。情報記録再生装置１０００は、光ディスク１００にデータを記録する記録工程１１０３と、光ディスク１００上の情報を再生する再生工程１１０２と、光ディスク１００上の情報を再生する際の波形等化を行うための等化工程１１０５と、波形等化特性を設定するための波形等化特性設定工程１１０１と、再生工程１１０２より得られた検出情報を用いて最適記録条件を探査する調整工程１１０４とを備える。
図１１に、情報記録再生装置１０００の動作を説明するためのフローチャートを示す。情報記録再生装置１０００が記録変調パルス調整を開始する（ＳＴＥＰ  Ａ）と、記録工程１１０３は、光ディスク１００上に所定の記録パターンを記録する（ＳＴＥＰ  Ｂ）。次に、記録したデータを再生する際の波形等化特性を設定する（ＳＴＥＰ  Ｃ）。この波形等化特性の設定に際しては、波形等化特性設定工程１１０１は、記録パターンに応じた波形等化特性の設定を行う。次に、再生信号からクロックを抽出し、位相情報などの再生信号情報を検出するための再生工程１１０２（ＳＴＥＰ  Ｄ）が実行される。次に、再生工程１１０２から得られた結果に基づいて、調整工程１１０４は、記録変調パルスの条件を調整する（ＳＴＥＰ  Ｅ）。本実施の形態の記録変調パルス調整では、複数の記録パターンを記録する。このため、記録していない記録パターンが有る場合（ＳＴＥＰ  Ｆ）には、記録パターンを変更し（ＳＴＥＰ  Ｇ）、記録工程１１０３（ＳＴＥＰ  Ｂ）から調整工程１１０４（ＳＴＥＰ  Ｅ）を再度繰り返す。所定の記録パターンの記録が全て終了した場合（ＳＴＥＰ  Ｆ）には、記録変調パルス調整を終了する（ＳＴＥＰ  Ｈ）。
このような本発明の実施の形態にかかる記録変調パルス調整方法を含む光ディスク装置制御方法を以下に詳細に説明する。
なお、図１１には簡潔さのために図示していないが、本発明による情報記録再生装置１０００は、上記構成の他に、ディスクの回転や情報の記録及び再生のための必要な構成を備えている。
また、本願明細書において説明を省略する構成には、公知の構成を用いることができる（例えば、特許文献１参照）。
図２は、本発明の実施の形態としての光ディスク装置（情報記録再生装置）のブロック図である。
また、分かりやすくするために、記録パターンは、（１，７）ＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号であるとし、調整のために用いられる記録パターンは、２つであるとして説明を行う。この符号では、単位クロック周期をＴとすると、最短マークの記録マーク長は２Ｔであり、最長マークの記録マーク長は８Ｔである。
図２において、光ディスク装置は、光ディスク１０に対して情報を記録再生するための光ヘッド１１と、光ヘッド１１の出力を増幅するプリアンプ１５と、光ディスク１０を回転させるためのモータ２２と、再生信号の波形等化を行う波形等化回路１６と、波形等化された信号を２値化するための２値化回路１８と、２値化データからクロックを抽出するＰＬＬ回路１９と、２値化再生データの位相誤差を検出する位相誤差検出回路２０と、を有しており、光ディスク１０上の情報を再生する。
さらに、光ディスク装置は、記録データを光ディスクに記録するためにデータ列を記録パルス列である変調データに変調する変調回路１４と、変調データに応じて記録パルスを設定する変調パルス設定回路１３と、設定された記録パルスに応じてレーザを駆動するためのレーザ駆動回路１２とを有し、光ディスク１０上への情報の記録を行う。
また、さらに、光ディスク装置は、予め変調パルス設定値等を保存しておくためのランダムアクセスメモリと、装置全体を制御するシステムコントローラ２１とを有している。「記録手段」は、変調回路１４、変調パルス設定回路１３、レーザ駆動回路１２、光ヘッド１１により構成される。「再生手段」は、光ヘッド１１、プリアンプ１５により構成される。「等化特性設定手段、等化特性設定部」は、システムコントローラ２１により構成される。「等化手段」は、波形等化回路１６により構成される。「調整手段、調整部」は、システムコントローラ２１により構成される。
情報を記録再生するためのトラッキング、フォーカス制御については一般的な手法を用いてもよい。
まず本発明における波形等化回路１６の波形等化特性及び波形等化特性設定方法について説明する。
図９は、波形等化回路１６のゲイン特性を示しており、横軸に周波数、縦軸にゲインを示している。また、記録マークに応じた周波数のうち２Ｔ、３Ｔ、４Ｔの周波数位置を模式的に示している。短い記録マークに対するゲインをより大きくするために、高域でゲインが高くなる特性が必要である。ゲイン特性を図９に示す特性Ａや特性Ｂに切り替えるためには、システムコントローラ２１から波形等化回路１６に対して、デジタル値を設定する、あるいは電圧値もしくは電流値を設定する。
図９に示す特性Ｃは、適切に記録されたディスクを再生する場合に最適な波形等化特性を示す。より具体的には、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生する場合に最適な波形等化特性を示す。さらに具体的には、各記録マーク長及びマークエッジのばらつきが極めて少なく、例えば記録マーク長については基準クロック長に対して２％以下のばらつきであり、マークエッジについては基準クロック長に対して５％以下のばらつきであるように適切に記録してあるディスクを再生する場合に最適な波形等化特性が特性Ｃであるとする。この場合、光ヘッド等のばらつきにより再生信号の特性が緩やかなあるいは急峻なゲイン特性となり、２Ｔや３Ｔの記録マーク長の記録マークを記録した信号を再生した再生信号に対しては、特性Ｃは適切でない状態となる。
そこで、最短マークである２Ｔを含まない記録パターンを再生して記録条件を調整する場合には、特性Ｂを波形等化特性として設定し、記録変調パルス調整を行う。続けて、２Ｔを含む記録パターンを再生して記録条件を調整する場合には、特性Ａを波形等化特性として設定し、記録変調パルス調整を行う。以上のように、記録パターンに応じて波形等化特性を切り替えて記録条件を調整することで、それぞれの記録マークに対して特性Ｃと同様な波形等化特性を実現することが可能となる。なお、特性Ａは、特性Ｂに比して、特定周波数（具体的には、２Ｔの記録マークに応じた周波数）におけるゲインが高くなるように定められている。
またこの波形等化特性Ｃを実現するための波形等化特性Ａおよび波形等化特性Ｂは、予め理想的な信号を記録したディスクを再生する際の波形等化特性設定値（特性Ｃ）をシステムコントローラ２１等、情報記録装置内に保存しておき、装置の記録変調パルス調整時に、用いられる記録パターンに応じて特性Ｃを変化させることにより得られる。なお、予め用いられる記録パターンが決まっている場合には、それぞれの記録パターンに応じた波形等化特性（例えば、特性Ａや特性Ｂ）を予め装置内に保存しておくものであってもよい。この場合、記録パターンに応じた波形等化特性が再生時の波形等化特性として設定される。
なお、波形等化回路１６は、一般的なローパスフィルタ、ハイパスフィルタにより構成され、符号に応じた周波数帯（特に、高い周波数領域）を図９に示すように持ち上げるようなゲイン特性を実現可能なものであればどのようなものでもよい。
次に本発明における波形等化された再生信号から位相誤差情報を検出する方法について図３を用いて説明する。
図３は、再生信号とＰＬＬクロックのタイムチャートを示している。
図３では、再生信号３０と、２値化回路１８の出力信号である２値化信号３２と、再生信号３０を２値化するためのスライスレベル３１とを示している。２値化信号３２は、再生信号３０がスライスレベル３１より上側であれば１、再生信号３０がスライスレベル３１より下側であれば０を出力する。ＰＬＬ回路１９は、ＰＬＬループを構成しており、２値化信号３２へクロックを同期させる過程において、ＰＬＬクロック３３と２値化信号３２との位相誤差を用いる。この位相誤差は、次のように検出される。すなわち、記録された信号あるいは記録マークが適正な長さである場合には、位相誤差ａ、位相誤差ｂに示すように、２値化信号３２の立ち上がり及び立下りエッジ位置がＰＬＬクロック３３のエッジ位置と一致する。それに対して、例えば記録した信号あるいは記録マークが適正な長さより短い場合には、位相誤差ｃ、位相誤差ｄに示すように、２値化信号３２とＰＬＬクロック３３とのずれが発生する。なお、この位相誤差量は、電圧情報、あるいはデジタル値として検出される。
ここで波形等化特性とこの２値化信号３２との関係について説明する。波形等化特性のゲインが高い場合には、より再生信号３０が大きくなるため、２値化信号３２が長くなる。逆に、波形等化特性のゲインが低い場合には、より再生信号３０が小さくなるため、２値化信号３２が短くなる。このような波形等化特性の違い、さらには光ヘッドのばらつき、再生伝送路特性の変化などを位相誤差として検出することが可能となる。
次に、本発明の記録時に用いる記録変調パルスについて、図４と図５とを用いて説明する。
図４は、記録パルスの記録クロックに対するタイムチャートを示している。
図５は、記録時の記録パルスの記録パラメータリストを示している。
記録するためのパルス列をシステムコントローラ２１で生成し、変調回路１４において記録クロック４２に対応した記録パルス４１に変調する。ここで、記録パルスの立ち上がりエッジをＬＭ４３とし、立ち上がりパルスの幅をＴＰＷ４４とし、記録パルス最後尾のパルス幅をＦＭＷ４５とする。変調パルス設定回路１３は、図５に示した記録パラメータリストにしたがってそれぞれの値を設定することで記録パルスを設定する。
図５の記録パラメータリストは、それぞれの記録マーク（記録マーク長２Ｔ〜５Ｔ）に対するＬＭ４３、ＴＰＷ４４、ＦＭＷ４５の設定値の一例を示している。図５では、位相誤差が０となるところを基準位置とし、その基準位置に合うように記録変調パルスのそれぞれの値を設定する場合を値［０］として示している。さらに、その基準位置よりも進める場合には負設定（例えば、値［−１］）とし、遅らせる場合には正設定（例えば、値［１］）とする。一般にパルス設定は、基準クロック長をＴとすると、ディスクの特性に応じて１／１６Ｔから１／６４Ｔの範囲で設定される。
また、本発明において、パルス設定は、ＬＭ、ＴＰＷ、ＦＭＷの３つとしているが、特に記録変調パルスを調整できるパラメータを可変設定できればその他のものであってもよい。
次に、記録変調パルスを調整するための記録領域と記録領域から得られる結果について図６と図７とを用いて説明する。
図６は、記録パルス調整するための記録領域の模式図を示している。記録変調パルス条件を調整するために、図５の記録パラメータを変化させたそれぞれの条件で複数の領域に記録し、記録された複数の領域を再生し、記録変調パルス条件の調整を行う。例えば、記録マーク長２Ｔの記録マークのＬＭ４３のエッジを調整しようとする場合には、ＬＭ４３を値［−２］に設定して記録領域６１に記録し、ＬＭ４３を値［−１］に設定して記録領域６２に記録し、ＬＭ４３を値［０］に設定して記録領域６３に記録し、ＬＭ４３を値［＋１］に設定して記録領域６４に記録する。次にこの領域を再生し、位相誤差情報を取得する。
図７は、記録変調パルスを調整するための記録領域６１〜６４を再生した際の位相誤差検出結果について示している。
横軸に記録変調パルス設定を示し、縦軸に位相誤差を示している。記録変調パルス設定が負の場合には、記録したマークが小さくなり、位相誤差信号も負の出力となる。逆に記録変調パルス設定が正の場合には、記録したマークが大きくなり、位相誤差信号も大きく出力される。例えば、図７に示すような結果となった場合には、記録パルス設定が値［０］の時に位相誤差が［０］という結果であることから、記録変調パルスは値［０］に設定する。すなわち、位相誤差信号の絶対値が小さくなるように、記録変調パルスの値が設定される。
以下、本発明の記録パルス調整方法についてフローチャート図８を用いて説明する。
図８は、記録パターンを２種類用いた記録変調パルス調整方法のフローチャートを示している。
記録条件探査の開始時（８００）では、記録変調パルスの初期設定を行う。初期設定とは、予めディスクに記載してある情報でも良いし、装置に予め保有しているものでも良い。次に、波形等化特性を図９に示す特性Ｂに設定する（８０１）。この特性Ｂは、予めシステムコントローラ２１に保存されているパラメータであり、後述する記録パターンＡに対応して設定されている波形等化特性である。次に、記録パターンＡを光ディスク１０上で記録が許可されている領域（例えば、図６の記録領域６１〜６４など）に記録する（８０２）。ここで記録パターンＡは、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの記録マーク長の記録マークを含むマーク群、すなわち最短マークである２Ｔの記録マークを含まないマーク群である。次に記録パターンＡで記録された領域を再生し（８０３）、各記録マーク別に前エッジと後ろエッジとのそれぞれの位相誤差情報を検出する（８０４）。さらに、図７に示すように、各記録マーク毎の位相誤差が小さくなるような記録変調パルス設定条件Ａを求める（８０６）。
特に、記録パターンＡの中で一番短いマークである３Ｔの記録マークの位相誤差検出情報に基づいて、記録変調パルス設定条件の調整を行う。具体的には、位相誤差が大きい場合には記録パルス設定条件を初回の設定変化範囲外にも変化させ（８０５）、再度、記録パターンＡを記録（８０２）し、位相誤差検出（８０４）動作を行う。
以上の動作を所定の回数（例えば２回以上）（８１３）繰り返した場合あるいは位相誤差が所定の範囲になった場合に、次のステップ（８０７）へ移行する。この時点で３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの記録マークに対する記録変調パルス設定条件が求まったことになる。
次に、波形等化特性を図９に示す特性Ａとなるように設定する（８０７）。この特性も予めシステムコントローラ２１等に保存されているパラメータであり、後述する記録パターンＢに対応して設定されている波形等化特性である。次に記録パターンを変更し記録パターンＢを記録する（８０８）。記録パターンＢは、記録パターンＡよりも短い記録マークである２Ｔを含むマーク群である。すなわち、記録パターンＢは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの記録マーク長の記録マークから構成されるマーク群、すなわち最短マークである２Ｔの記録マークを含むマーク群である。
次に、記録パターンＢで記録された領域（例えば、図６の記録領域６１〜６４など）を再生し（８０９）、各記録マーク別に前エッジと後ろエッジとのそれぞれの位相誤差情報を検出する（８１０）。さらに、図７に示すように、各記録マーク毎の位相誤差が小さくなるような記録変調パルス設定条件Ｂを求める（８１２）。
特に、記録パターンＢの中で一番短いマークである２Ｔの記録マークの位相誤差検出情報に基づいて、記録変調パルス設定条件の調整を行う。具体的には、位相誤差が大きい場合には記録パルス設定条件を記録変調パルス設定変化範囲外にも変化させ（８１１）、再度、記録パターンＢを記録（８０８）し、位相誤差検出（８１０）動作を行う。
以上の動作を所定の回数（例えば２回以上）（８１４）繰り返した場合あるいは位相誤差が所定の範囲になった場合に、記録条件探査を完了する（８１５）。この時点で２Ｔの記録変調パルス設定条件が求まる。
以上の動作により、すべての記録マークに対する記録変調パルス設定条件が求まり、光ディスク装置は、求められた記録変調パルス設定条件を用いて適切な記録動作を行うことが可能となる。
なお、６Ｔ以上の記録変調パルス設定においては、予め定められた初期設定値を用いた設定がおこなわれてもよいし、他の調整方法により本実施の形態の実行以前に設定がおこなわれてもよい。これにより本発明が制限されることはない。
また、本実施の形態では記録パターンとして５Ｔの記録マークまでのものを示したが、５Ｔ以上の記録マークを含む記録パターンを用いても良い。
ここで、２Ｔの記録マークと３Ｔの記録マークとで調整を分けて行う理由を説明する。
本実施の形態で説明した記録変調パルス設定条件の調整では、所定の記録パターンの記録を行い、記録された記録マークの位置および長さを確認するために、記録を行った領域を再生する。
この記録マークの位置および長さを検出するための再生経路は、図２に示す、光ヘッド１１、プリアンプ１５、波形等化回路１６、２値化回路１８、位相誤差検出回路２０である。特に、記録マークの位置および長さは、位相誤差検出回路２０において、各マークの始端および終端で検出される位相誤差から算出される。そのため、位相誤差検出回路２０の前段にある、波形等化回路１６の特性によっては、位相誤差検出回路２０で検出される位相誤差量が異なる。より具体的には、波形等化特性によって、ＰＬＬ回路１９で検出される波形のスライス基準レベル（一般的には、波形レベルの中心辺りのレベル）と、各マークの始端および終端の位置が異なって検出される。よって、波形等化特性が異なれば、同じ記録条件で記録した記録マークが異なった長さで検出される。すなわち、所望の記録を行うためには、波形等化特性の設定は、適切に設定されなければならない。
また、ユーザデータを記録する記録マークでは、例えば、２Ｔから８Ｔの７種類の記録マーク長の記録マークが存在するが、記録マーク長が短い記録マークほど、発生確率が高い。このため、記録状態の良し悪しは、短い記録マーク長である２Ｔおよび３Ｔの記録マークの記録状態に大きく影響を受ける。
さらに、２Ｔと３Ｔとの記録マークでは、適切に記録を行うための波形等化特性の設定が異なる。例えば、２Ｔの記録マークは、３Ｔの記録マークに比べて、形成される記録マークが小さい。このため、２Ｔの記録マークに対する波形等化特性は、３Ｔの記録マークに対する波形等化特性よりも、特定周波数のゲインが高く設定される傾向にある。そこで、２Ｔの記録マークに対する波形等化特性設定で、３Ｔの記録マークの長さを検出すると、所望の記録マーク長よりも長く検出されてしまう。そのため、このような波形等化特性を用いて３Ｔの記録マークの記録条件の調整を行うと、３Ｔの記録マークを短くする方向に記録条件の調整が行われ、最終的に形成される３Ｔの記録マークは、所望の記録マーク長よりも短い記録マーク長を有することとなり、記録特性が劣化してしまう。一方、３Ｔの記録マークに対する波形等化特性設定で、２Ｔの記録マークの長さを検出すると、所望の記録マーク長よりも短く検出されてしまう。そのため、このような波形等化特性を用いて２Ｔの記録マークの記録条件の調整を行うと、２Ｔの記録マークを長くする方向に記録条件の調整が行われ、最終的に形成される２Ｔの記録マークは、所望の記録マーク長よりも長い記録マーク長を有することとなり、記録特性が劣化してしまう。
以上説明したように、波形等化特性の異なる記録マークに対する記録条件の調整では、それぞれの記録マークの位置および長さが位相誤差により検出されているため、１つの波形等化特性を設定した状態でそれぞれの記録マークに対する記録条件を同時に調整することは難しい。また、上記したように２Ｔと３Ｔとの記録マークの記録状態が記録品質に与える影響は大きい。そこで、本発明では、２Ｔと３Ｔとの記録マークに対する記録条件の調整を分けることによって、所望の記録を行うことを可能としている。
ここで、それぞれの記録マークの調整に際して用いられる記録パターンについて説明を加える。
記録変調パルス条件の調整用の記録パターンは、ユーザデータのパターンである必要はない。記録パターンとしては、調整に都合の良い記録パターンが用いられる。例えば、２Ｔの記録マークの調整に際して、ユーザーデータを用いると、２Ｔの記録マークの発生確率が大きいため、２Ｔの記録マークの記録状態の変化により急激に記録特性が悪化してしまい、上記の位相誤差検出を適切に行うことができない場合がある。そこで、各記録マーク長の発生確率を均等にした記録パターンが使用される。このような記録パターンでは、２Ｔの記録マークの記録状態の変化が記録特性に与える影響は、ユーザデータを用いる場合に比べて小さく、上記の位相誤差検出を適切に行うことができ、適切な記録変調パルス条件を調整することが可能となる。
また、２Ｔの記録マークに対する記録条件の調整時と３Ｔの記録マークに対する記録条件の調整時とで異なる記録パターンを用いてもよい。本実施の形態では、３Ｔの記録マークの調整時に２Ｔの記録マークの影響を除去するために、２Ｔの記録マークが含まれていない記録パターンを使用している。ここで、２Ｔの記録マークの影響とは、次のようなものである。すなわち、調整前の２Ｔの記録マークが含まれていると、上記で説明したＰＬＬ回路１９のスライス基準レベルが所望のレベルからずれて、３Ｔの記録マークの位置および長さが適切に検出されなくなる、という影響である。本実施の形態では、３Ｔの記録マークの調整後、２Ｔの記録マークの調整を行うため、２Ｔの記録マークの調整時には、３Ｔの記録マークは適切に調整されている。よって、２Ｔの記録マークの調整時には、３Ｔの記録マークを含んだ記録パターンを使用することができる。なお、この２Ｔの記録マークと３Ｔの記録マークとの調整順序は、逆であってもよい。
本実施の形態で説明した装置は、集積回路等により実現されてもよい。具体的には、上記実施形態で図２を用いて説明した光ディスク装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
具体的には、図２において、光ディスク１０、光ヘッド１１、レーザ駆動回路１２、プリアンプ１５、モータ２２以外の各ブロック（変調パルス設定回路１３、変調回路１４、波形等化回路１６、２値化回路１８、位相誤差検出回路２０、ＰＬＬ回路１９、システムコントローラ２１）は、個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてありえる。
以上のように記録変調パルス条件を調整することにより、情報記録再生装置は、光ディスク上により均一な記録を行うことができ、装置の信頼性及び互換性を確保できる。
【産業上の利用可能性】
【０００７】  本発明にかかる記録条件最適化方法、情報記録再生方法、情報記録再生装置および集積回路は、例えば、ＤＶＤやＢＤなどの高密度な光ディスクを記録再生する光ディスク装置等に有用である。
【図１】
2006006360.tif 000002
【図２】
2006006360.tif 000003
【図３】
2006006360.tif 000004
【図４】
2006006360.tif 000005
【図５】
2006006360.tif 000006
【図６】
2006006360.tif 000007
【図７】
2006006360.tif 000008
【図８】
2006006360.tif 000009
【図９】
2006006360.tif 000010
【図１０】
2006006360.tif 000011
【図１１】
2006006360.tif 000012
【手続補正書】
【提出日】平成17年11月18日(2005.11.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【書類名】請求の範囲
【請求項１】光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する方法であって、
所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを前記光ディスクに記録する記録工程と、
前記記録工程において記録された前記記録パターンを再生する再生工程と、
前記記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、
前記等化特性設定工程により設定された前記波形等化特性を用いて、前記再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化工程と、
前記等化工程により波形等化された前記再生信号を用いて、前記記録条件を調整する調整工程と、
を備える記録条件最適化方法。
【請求項２】前記記録条件とは、光ディスクに情報記録する際の変調パルスに関する条件であることを特徴とする、
請求項１に記載の記録条件最適化方法。
【請求項３】前記調整工程では、前記変調パルスの位置が調整されることを特徴とする、
請求項２に記載の記録条件最適化方法。
【請求項４】少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含まないことを特徴とする、
請求項１〜３のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項５】少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含むことを特徴とする、
請求項１〜４のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項６】最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性の高域ゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性の高域ゲインより小さいことを特徴とする、
請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項７】前記記録パターンにおいて、それぞれの前記記録マークは、ほぼ均等に発生することを特徴とする、
請求項１〜６のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項８】前記波形等化特性は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性であることを特徴とする、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項９】前記調整工程は、再生信号の位相誤差情報を検出する工程を含み、前記位相誤差情報もとに前記位相誤差情報が概略小さくなるように変調パルスを調整することを特徴とする、
請求項１〜８のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項１０】光ディスクにレーザ等の光源を用いて情報を記録および再生する装置であって、
所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを前記光ディスクに記録する記録手段と、
前記記録手段により記録された前記記録パターンを再生する再生手段と、
前記記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定手段と、
前記等化特性設定手段が設定した前記波形等化特性を用いて、前記再生手段が再生した再生信号を波形等化する等化手段と、
前記等化手段が波形等化した前記再生信号を用いて、前記記録条件を調整する調整手段と、
を備える情報記録再生装置。
【請求項１１】前記等化特性設定手段は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性を元に前記波形等化特性を変化させることを特徴とする、
請求項１０に記載の情報記録再生装置。
【請求項１２】最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインより小さいことを特徴とする、
請求項１０または１１に記載の情報記録再生装置。
【請求項１３】光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する装置であって、
所定の記録条件を用いて前記光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定部と、
前記光ディスクに記録された前記記録パターンを再生した再生信号を、前記波形等化特性により波形等化した信号を用いて、前記記録条件を調整する調整部と、
を備える集積回路装置。
【請求項１４】（追加）  光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化するプログラムであって、
所定の記録条件を用いて前記光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、
前記光ディスクに記録された前記記録パターンを再生した再生信号を、前記波形等化特性により波形等化した信号を用いて、前記記録条件を調整する調整工程と、
をコンピュータに行わせる記録条件最適化プログラム。
【手続補正書】
【提出日】平成18年12月28日(2006.12.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する方法であって、
所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを前記光ディスクに記録する記録工程と、
前記記録工程において記録された前記記録パターンを再生する再生工程と、
前記記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、
前記等化特性設定工程により設定された前記波形等化特性を用いて、前記再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化工程と、
前記等化工程により波形等化された前記再生信号を用いて、前記記録条件を調整する調整工程と、
を備える記録条件最適化方法。
【請求項２】
前記記録条件とは、光ディスクに情報記録する際の変調パルスに関する条件であることを特徴とする、
請求項１に記載の記録条件最適化方法。
【請求項３】
前記調整工程では、前記変調パルスの位置が調整されることを特徴とする、
請求項２に記載の記録条件最適化方法。
【請求項４】
少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含まないことを特徴とする、
請求項１〜３のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項５】
少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含むことを特徴とする、
請求項１〜４のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項６】
最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性の高域ゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性の高域ゲインより小さいことを特徴とする、
請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項７】
前記記録パターンにおいて、それぞれの前記記録マークは、ほぼ均等に発生することを特徴とする、
請求項１〜６のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項８】
前記波形等化特性は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性であることを特徴とする、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項９】
前記調整工程は、再生信号の位相誤差情報を検出する工程を含み、前記位相誤差情報もとに前記位相誤差情報が概略小さくなるように変調パルスを調整することを特徴とする、
請求項１〜８のいずれか一項に記載の記録条件最適化方法。
【請求項１０】
光ディスクにレーザ等の光源を用いて情報を記録および再生する装置であって、
所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを前記光ディスクに記録する記録手段と、
前記記録手段により記録された前記記録パターンを再生する再生手段と、
前記記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定手段と、
前記等化特性設定手段が設定した前記波形等化特性を用いて、前記再生手段が再生した再生信号を波形等化する等化手段と、
前記等化手段が波形等化した前記再生信号を用いて、前記記録条件を調整する調整手段と、
を備える情報記録再生装置。
【請求項１１】
前記等化特性設定手段は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性を元に前記波形等化特性を変化させることを特徴とする、
請求項１０に記載の情報記録再生装置。
【請求項１２】
最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインより小さいことを特徴とする、
請求項１０または１１に記載の情報記録再生装置。
【請求項１３】
光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する装置であって、
所定の記録条件を用いて前記光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定部と、
前記光ディスクに記録された前記記録パターンを再生した再生信号を、前記波形等化特性により波形等化した信号を用いて、前記記録条件を調整する調整部と、
を備える集積回路装置。
【請求項１４】
光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化するプログラムであって、
所定の記録条件を用いて前記光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、
前記光ディスクに記録された前記記録パターンを再生した再生信号を、前記波形等化特性により波形等化した信号を用いて、前記記録条件を調整する調整工程と、
をコンピュータに行わせる記録条件最適化プログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体レーザ等の光源からの光ビームを利用して光学的に情報を記録再生するための記録条件最適化方法、情報記録再生装置および集積回路装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
パーソナルコンピュータの普及に伴い、光ディスク装置、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、光磁気ディスク装置などの、デジタル情報を記録する情報記録装置が広く利用されている。これらの情報記録装置において、記録容量を増加するために、高密度化技術開発が盛んに行われている。
中でも情報担体である光ディスクを用いる光ディスク装置に関しては、ＣＤからＤＶＤと高密度記録化が実現されている。また、現在では、青色レーザを用いた２３Ｇバイトの容量を有するＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）が登場している。さらに、将来には、より高密度記録化が実現される装置の登場が期待されている。
こういった高密度な情報担体に光を用いて微小なマークを記録する際には、情報担体である光ディスクに照射するレーザに対してパルス変調を行う。次に、マークエッジに情報を有するようなマークエッジ記録を行う際には、マークエッジを正確に合わせるための記録パルスを補正して記録するのが一般的である。こうした記録条件補正方法の提案がなされている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
ここで、図１０を用いて記録条件を探査（調整）する従来の方法について説明する。
図１０は、従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
光ディスク装置は、光ディスク１００に対して情報を記録し、再生する光ヘッド１０１と、光ヘッド１０１の出力を増幅するプリアンプ１０５と、光ディスク１００を回転させるためのモータ１１２と、再生信号の波形等化を行う波形等化回路１０６と、波形等化された信号を２値化するための２値化回路１０８と、２値化データからクロックを抽出するＰＬＬ回路１０９と、２値化再生データを弁別復調する弁別復調回路１１０と、記録データを光ディスク１００に記録するためにデータ列を記録パルス列である変調データに変調する変調回路１０４と、変調データに応じて記録パルスを設定する記録パルス設定回路１０３と、設定された記録パルスに応じてレーザを駆動するためのレーザ駆動回路１０２と、を有している。また、さらに、光ディスク装置は、予め記録パルス値を保存しておくためのランダムアクセスメモリを備え、装置を制御するシステムコントローラ１１１を有している。
【０００４】
このような構成において、光ディスク１００に記録を行うための記録パルスの調整をする際には、所望の指定データ（記録パターン）を光ディスク１００上に一旦記録し、この記録した信号を再生する。予め記録する指定データは分かっているので、再生したデータが記録した指定データと一致しているかどうかを判断できる。もし、予め記録した指定データと再生したデータとが異なっている場合には、記録パルスを補正して再度、指定データを記録するとともに、記録したデータを再生する。このようにして予め記録する指定データと再生データとが一致するまで記録パルス探査を繰り返すような方法が提案されている。
【特許文献１】特許第３２２２９３４号公報
【発明の開示】
【０００５】
（発明が解決しようとする課題）
上記構成のような従来の情報記録装置において、さらなる高密度化のためには、以下の課題を解決することが求められている。すなわち、再生伝送路の波形歪の影響を受けるため、再生信号を用いた記録条件の調整では、必ずしも光ディスク上に良好なマークを記録することができていないという課題である。これは、光ヘッドから照射されるビームの絞りのばらつきにより、光学特性が変化し、結果として再生信号の波形歪が現れることに起因する。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、光ヘッドの光学特性や再生伝送路特性の影響を極力低減し、より適切な記録条件を調整することを目的とする。
（課題を解決するための手段）
前記従来課題を解決するために、本発明の記録条件最適化方法は、光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する方法であって、所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを光ディスクに記録する記録工程と、記録工程において記録された記録パターンを再生する再生工程と、記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、等化特性設定工程により設定された波形等化特性を用いて、再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化工程と、等化工程により波形等化された再生信号を用いて、記録条件を調整する調整工程と、を備える。これにより上記目的が達成される。
【０００６】
ここで、記録パターンは、例えば、記録条件を調整するために予め設定されており、複数の記録マークを含んでいる。より具体的には、記録パターンは、複数種類の記録マーク長の記録マークを含んでいてもよい。等化工程では、記録パターンに応じた波形等化特性により波形等化を行う。さらに、調整工程では、適切に波形等化された再生信号を用いて、記録条件を調整する。
再生信号を用いて記録条件の調整を行う際、光ヘッドの光学特性や再生伝送路特性により、基準となるべき再生信号が影響を受ける場合がある。本発明の記録条件最適化方法では、再生信号に対して適切な波形等化特性を設定し波形等化した信号を用いて記録条件の調整を行う。よって、より適切な記録条件を調整することが可能となる。
なお、記録パターンは複数備えられていて、複数の記録パターンのそれぞれに対して、記録条件の調整を行うものであってもよい。
【０００７】
また、記録条件とは、光ディスクに情報記録する際の変調パルスに関する条件である。これにより上記目的を達成できる。
また、調整工程では、変調パルスの位置が調整される。この変調パルスの位置の調整により、例えば、変調パルス幅などを変化させることが可能となる。これにより上記目的を達成できる。
また、少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含まない。これにより上記目的を達成できる。
ここで、最短マークとは、例えば、光ディスクに情報記録される記録マークのうち、最も短い記録マーク長を有する記録マークである（以下、この欄において同じ。）。例えば、情報記録に際して、２Ｔ〜８Ｔの記録マーク長の記録マークが用いられる場合（より具体的には、例えば（１，７）ＲＬＬ符号が用いられる場合）、最短マークとは２Ｔの記録マークを意味する。なお、情報記録とは、例えば、ユーザデータを記録することである。
【０００８】
また、少なくとも一つの記録パターンは、最短マークを含む。これにより上記目的を達成できる。
また、最短マークを含まない記録パターンを記録再生する際の波形等化特性の高域ゲインは、最短マークを含む記録パターンを記録再生する際の波形等化特性の高域ゲインより小さい。これにより上記目的を達成できる。
また、記録パターンにおいて、それぞれの記録マークは、ほぼ均等に発生する。一般に、ユーザデータを記録する場合に、記録マーク長の短い記録マークの発生頻度は高く、記録マーク長の長い記録マークの発生頻度は低い。本発明で用いられる記録パターンでは、ユーザデータを記録する場合に比して、記録マーク長の短い記録マークの発生頻度を低くし、記録マーク長の長い記録マークの発生頻度を高くしている。これにより、上記目的を達成できる。
【０００９】
また、波形等化特性は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性である。これにより上記目的を達成できる。
また、調整工程は、再生信号の位相誤差情報を検出する工程を含み、前記位相誤差情報もとに前記位相誤差情報が概略小さくなるように変調パルスを調整する。これにより上記目的を達成できる。
前記従来課題を解決するために、本発明の情報記録再生装置は、光ディスクにレーザ等の光源を用いて情報を記録および再生する装置であって、所定の記録条件を用いて、複数の記録マークを含む記録パターンを光ディスクに記録する記録手段と、記録手段により記録された記録パターンを再生する再生工程と、記録パターンに応じて波形等化特性を設定する等化特性設定手段と、等化特性設定手段が設定した波形等化特性を用いて、再生工程が再生した再生信号を波形等化する等化手段と、等化手段が波形等化した再生信号を用いて、記録条件を調整する調整手段と、を備える。
【００１０】
ここで、記録手段は、例えば、光源を変調するレーザ駆動パルス変調手段と、２つ以上の所定の記録パターンで記録する記録実行手段とを有していてもよい。これにより上記目的を達成できる。
また、等化特性設定手段は、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生して決めた特性を元に波形等化特性を変化させる。これにより上記目的を達成できる。
最短マークを含まない記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインは、最短マークを含む記録パターンを再生する際の波形等化特性のゲインより小さい。これにより上記目的を達成できる。
前記従来課題を解決するために、本発明の集積回路装置は、光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化する装置であって、所定の記録条件を用いて光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定部と、光ディスクに記録された記録パターンを再生した再生信号を、波形等化特性により波形等化した信号を用いて、記録条件を調整する調整部と、を備える。これにより上記目的を達成できる。
【００１１】
前記従来課題を解決するために、本発明の記録条件最適化プログラムは、光ディスクに情報記録する際の記録条件を最適化するプログラムであって、所定の記録条件を用いて光ディスクに記録され、複数の記録マークを含む記録パターンに応じて、波形等化特性を設定する等化特性設定工程と、光ディスクに記録された記録パターンを再生した再生信号を、波形等化特性により波形等化した信号を用いて、記録条件を調整する調整工程と、をコンピュータに行わせる。これにより上記目的を達成できる。
（発明の効果）
以上のように、本発明では、記録条件を調整する際に波形等化特性を切り替えることにより、より信頼性の高い信号を記録することが可能となる。すなわち、再生伝送路特性の影響を極力低減し、均一な記録マークを形成することが可能となる。さらに付随的には、光ヘッドなどの素子ばらつきの許容範囲を拡大することが可能となり、低コストを実現する光ディスク装置を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお図面中、同様の機能を有する部材には、同一の参照符号を示す。
本発明の情報記録再生装置では、光ディスクに情報記録する際の記録条件（記録変調パルス条件）を探査する。具体的には、情報記録再生装置は、所定の記録マークの記録を行い、記録された記録マークを再生し、再生された再生信号を用いて記録条件を探査する。この記録条件の探査に際して、所定の記録マークに応じて定められた波形等化特性を用いて、再生信号が波形等化される。すなわち、波形等化特性を切り替えることにより、より信頼性の高い信号を記録することが可能となり、均一な記録マークを形成することが可能となる。
図１に、本発明による情報記録再生装置１０００の機能構成図を模式的に示す。情報記録再生装置１０００は、光ディスク１００にデータを記録する記録工程１１０３と、光ディスク１００上の情報を再生する再生工程１１０２と、光ディスク１００上の情報を再生する際の波形等化を行うための等化工程１１０５と、波形等化特性を設定するための波形等化特性設定工程１１０１と、再生工程１１０２より得られた検出情報を用いて最適記録条件を探査する調整工程１１０４とを備える。
【００１３】
図１１に、情報記録再生装置１０００の動作を説明するためのフローチャートを示す。情報記録再生装置１０００が記録変調パルス調整を開始する（ＳＴＥＰ  Ａ）と、記録工程１１０３は、光ディスク１００上に所定の記録パターンを記録する（ＳＴＥＰ  Ｂ）。次に、記録したデータを再生する際の波形等化特性を設定する（ＳＴＥＰ  Ｃ）。この波形等化特性の設定に際しては、波形等化特性設定工程１１０１は、記録パターンに応じた波形等化特性の設定を行う。次に、再生信号からクロックを抽出し、位相情報などの再生信号情報を検出するための再生工程１１０２（ＳＴＥＰ  Ｄ）が実行される。次に、再生工程１１０２から得られた結果に基づいて、調整工程１１０４は、記録変調パルスの条件を調整する（ＳＴＥＰ  Ｅ）。本実施の形態の記録変調パルス調整では、複数の記録パターンを記録する。このため、記録していない記録パターンが有る場合（ＳＴＥＰ  Ｆ）には、記録パターンを変更し（ＳＴＥＰ  Ｇ）、記録工程１１０３（ＳＴＥＰ  Ｂ）から調整工程１１０４（ＳＴＥＰ  Ｅ）を再度繰り返す。所定の記録パターンの記録が全て終了した場合（ＳＴＥＰ  Ｆ）には、記録変調パルス調整を終了する（ＳＴＥＰ  Ｈ）。
【００１４】
このような本発明の実施の形態にかかる記録変調パルス調整方法を含む光ディスク装置制御方法を以下に詳細に説明する。
なお、図１１には簡潔さのために図示していないが、本発明による情報記録再生装置１０００は、上記構成の他に、ディスクの回転や情報の記録及び再生のための必要な構成を備えている。
また、本願明細書において説明を省略する構成には、公知の構成を用いることができる（例えば、特許文献１参照）。
図２は、本発明の実施の形態としての光ディスク装置（情報記録再生装置）のブロック図である。
また、分かりやすくするために、記録パターンは、（１，７）ＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号であるとし、調整のために用いられる記録パターンは、２つであるとして説明を行う。この符号では、単位クロック周期をＴとすると、最短マークの記録マーク長は２Ｔであり、最長マークの記録マーク長は８Ｔである。
【００１５】
図２において、光ディスク装置は、光ディスク１０に対して情報を記録再生するための光ヘッド１１と、光ヘッド１１の出力を増幅するプリアンプ１５と、光ディスク１０を回転させるためのモータ２２と、再生信号の波形等化を行う波形等化回路１６と、波形等化された信号を２値化するための２値化回路１８と、２値化データからクロックを抽出するＰＬＬ回路１９と、２値化再生データの位相誤差を検出する位相誤差検出回路２０と、を有しており、光ディスク１０上の情報を再生する。
さらに、光ディスク装置は、記録データを光ディスクに記録するためにデータ列を記録パルス列である変調データに変調する変調回路１４と、変調データに応じて記録パルスを設定する変調パルス設定回路１３と、設定された記録パルスに応じてレーザを駆動するためのレーザ駆動回路１２とを有し、光ディスク１０上への情報の記録を行う。
【００１６】
また、さらに、光ディスク装置は、予め変調パルス設定値等を保存しておくためのランダムアクセスメモリと、装置全体を制御するシステムコントローラ２１とを有している。
「記録手段」は、変調回路１４、変調パルス設定回路１３、レーザ駆動回路１２、光ヘッド１１により構成される。「再生手段」は、光ヘッド１１、プリアンプ１５により構成される。「等化特性設定手段、等化特性設定部」は、システムコントローラ２１により構成される。「等化手段」は、波形等化回路１６により構成される。「調整手段、調整部」は、システムコントローラ２１により構成される。
情報を記録再生するためのトラッキング、フォーカス制御については一般的な手法を用いてもよい。
まず本発明における波形等化回路１６の波形等化特性及び波形等化特性設定方法について説明する。
【００１７】
図９は、波形等化回路１６のゲイン特性を示しており、横軸に周波数、縦軸にゲインを示している。また、記録マークに応じた周波数のうち２Ｔ、３Ｔ、４Ｔの周波数位置を模式的に示している。短い記録マークに対するゲインをより大きくするために、高域でゲインが高くなる特性が必要である。ゲイン特性を図９に示す特性Ａや特性Ｂに切り替えるためには、システムコントローラ２１から波形等化回路１６に対して、デジタル値を設定する、あるいは電圧値もしくは電流値を設定する。
図９に示す特性Ｃは、適切に記録されたディスクを再生する場合に最適な波形等化特性を示す。より具体的には、予めディスク上に所望の信号が記録あるいは形成してある部分を再生する場合に最適な波形等化特性を示す。さらに具体的には、各記録マーク長及びマークエッジのばらつきが極めて少なく、例えば記録マーク長については基準クロック長に対して２％以下のばらつきであり、マークエッジについては基準クロック長に対して５％以下のばらつきであるように適切に記録してあるディスクを再生する場合に最適な波形等化特性が特性Ｃであるとする。この場合、光ヘッド等のばらつきにより再生信号の特性が緩やかなあるいは急峻なゲイン特性となり、２Ｔや３Ｔの記録マーク長の記録マークを記録した信号を再生した再生信号に対しては、特性Ｃは適切でない状態となる。
【００１８】
そこで、最短マークである２Ｔを含まない記録パターンを再生して記録条件を調整する場合には、特性Ｂを波形等化特性として設定し、記録変調パルス調整を行う。続けて、２Ｔを含む記録パターンを再生して記録条件を調整する場合には、特性Ａを波形等化特性として設定し、記録変調パルス調整を行う。以上のように、記録パターンに応じて波形等化特性を切り替えて記録条件を調整することで、それぞれの記録マークに対して特性Ｃと同様な波形等化特性を実現することが可能となる。なお、特性Ａは、特性Ｂに比して、特定周波数（具体的には、２Ｔの記録マークに応じた周波数）におけるゲインが高くなるように定められている。
またこの波形等化特性Ｃを実現するための波形等化特性Ａおよび波形等化特性Ｂは、予め理想的な信号を記録したディスクを再生する際の波形等化特性設定値（特性Ｃ）をシステムコントローラ２１等、情報記録装置内に保存しておき、装置の記録変調パルス調整時に、用いられる記録パターンに応じて特性Ｃを変化させることにより得られる。なお、予め用いられる記録パターンが決まっている場合には、それぞれの記録パターンに応じた波形等化特性（例えば、特性Ａや特性Ｂ）を予め装置内に保存しておくものであってもよい。この場合、記録パターンに応じた波形等化特性が再生時の波形等化特性として設定される。
【００１９】
なお、波形等化回路１６は、一般的なローパスフィルタ、ハイパスフィルタにより構成され、符号に応じた周波数帯（特に、高い周波数領域）を図９に示すように持ち上げるようなゲイン特性を実現可能なものであればどのようなものでもよい。
次に本発明における波形等化された再生信号から位相誤差情報を検出する方法について図３を用いて説明する。
図３は、再生信号とＰＬＬクロックのタイムチャートを示している。
図３では、再生信号３０と、２値化回路１８の出力信号である２値化信号３２と、再生信号３０を２値化するためのスライスレベル３１とを示している。２値化信号３２は、再生信号３０がスライスレベル３１より上側であれば１、再生信号３０がスライスレベル３１より下側であれば０を出力する。ＰＬＬ回路１９は、ＰＬＬループを構成しており、２値化信号３２へクロックを同期させる過程において、ＰＬＬクロック３３と２値化信号３２との位相誤差を用いる。この位相誤差は、次のように検出される。すなわち、記録された信号あるいは記録マークが適正な長さである場合には、位相誤差ａ、位相誤差ｂに示すように、２値化信号３２の立ち上がり及び立下りエッジ位置がＰＬＬクロック３３のエッジ位置と一致する。それに対して、例えば記録した信号あるいは記録マークが適正な長さより短い場合には、位相誤差ｃ、位相誤差ｄに示すように、２値化信号３２とＰＬＬクロック３３とのずれが発生する。なお、この位相誤差量は、電圧情報、あるいはデジタル値として検出される。
【００２０】
ここで波形等化特性とこの２値化信号３２との関係について説明する。波形等化特性のゲインが高い場合には、より再生信号３０が大きくなるため、２値化信号３２が長くなる。逆に、波形等化特性のゲインが低い場合には、より再生信号３０が小さくなるため、２値化信号３２が短くなる。このような波形等化特性の違い、さらには光ヘッドのばらつき、再生伝送路特性の変化などを位相誤差として検出することが可能となる。
次に、本発明の記録時に用いる記録変調パルスについて、図４と図５とを用いて説明する。
図４は、記録パルスの記録クロックに対するタイムチャートを示している。
図５は、記録時の記録パルスの記録パラメータリストを示している。
記録するためのパルス列をシステムコントローラ２１で生成し、変調回路１４において記録クロック４２に対応した記録パルス４１に変調する。ここで、記録パルスの立ち上がりエッジをＬＭ４３とし、立ち上がりパルスの幅をＴＰＷ４４とし、記録パルス最後尾のパルス幅をＦＭＷ４５とする。変調パルス設定回路１３は、図５に示した記録パラメータリストにしたがってそれぞれの値を設定することで記録パルスを設定する。
【００２１】
図５の記録パラメータリストは、それぞれの記録マーク（記録マーク長２Ｔ〜５Ｔ）に対するＬＭ４３、ＴＰＷ４４、ＦＭＷ４５の設定値の一例を示している。図５では、位相誤差が０となるところを基準位置とし、その基準位置に合うように記録変調パルスのそれぞれの値を設定する場合を値［０］として示している。さらに、その基準位置よりも進める場合には負設定（例えば、値［−１］）とし、遅らせる場合には正設定（例えば、値［１］）とする。一般にパルス設定は、基準クロック長をＴとすると、ディスクの特性に応じて１／１６Ｔから１／６４Ｔの範囲で設定される。
また、本発明において、パルス設定は、ＬＭ、ＴＰＷ、ＦＭＷの３つとしているが、特に記録変調パルスを調整できるパラメータを可変設定できればその他のものであってもよい。
【００２２】
次に、記録変調パルスを調整するための記録領域と記録領域から得られる結果について図６と図７とを用いて説明する。
図６は、記録パルス調整するための記録領域の模式図を示している。記録変調パルス条件を調整するために、図５の記録パラメータを変化させたそれぞれの条件で複数の領域に記録し、記録された複数の領域を再生し、記録変調パルス条件の調整を行う。例えば、記録マーク長２Ｔの記録マークのＬＭ４３のエッジを調整しようとする場合には、ＬＭ４３を値［−２］に設定して記録領域６１に記録し、ＬＭ４３を値［−１］に設定して記録領域６２に記録し、ＬＭ４３を値［０］に設定して記録領域６３に記録し、ＬＭ４３を値［＋１］に設定して記録領域６４に記録する。次にこの領域を再生し、位相誤差情報を取得する。
【００２３】
図７は、記録変調パルスを調整するための記録領域６１〜６４を再生した際の位相誤差検出結果について示している。
横軸に記録変調パルス設定を示し、縦軸に位相誤差を示している。記録変調パルス設定が負の場合には、記録したマークが小さくなり、位相誤差信号も負の出力となる。逆に記録変調パルス設定が正の場合には、記録したマークが大きくなり、位相誤差信号も大きく出力される。例えば、図７に示すような結果となった場合には、記録パルス設定が値［０］の時に位相誤差が［０］という結果であることから、記録変調パルスは値［０］に設定する。すなわち、位相誤差信号の絶対値が小さくなるように、記録変調パルスの値が設定される。
以下、本発明の記録パルス調整方法についてフローチャート図８を用いて説明する。
【００２４】
図８は、記録パターンを２種類用いた記録変調パルス調整方法のフローチャートを示している。
記録条件探査の開始時（８００）では、記録変調パルスの初期設定を行う。初期設定とは、予めディスクに記載してある情報でも良いし、装置に予め保有しているものでも良い。次に、波形等化特性を図９に示す特性Ｂに設定する（８０１）。この特性Ｂは、予めシステムコントローラ２１に保存されているパラメータであり、後述する記録パターンＡに対応して設定されている波形等化特性である。次に、記録パターンＡを光ディスク１０上で記録が許可されている領域（例えば、図６の記録領域６１〜６４など）に記録する（８０２）。ここで記録パターンＡは、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの記録マーク長の記録マークを含むマーク群、すなわち最短マークである２Ｔの記録マークを含まないマーク群である。次に記録パターンＡで記録された領域を再生し（８０３）、各記録マーク別に前エッジと後ろエッジとのそれぞれの位相誤差情報を検出する（８０４）。さらに、図７に示すように、各記録マーク毎の位相誤差が小さくなるような記録変調パルス設定条件Ａを求める（８０６）。
【００２５】
特に、記録パターンＡの中で一番短いマークである３Ｔの記録マークの位相誤差検出情報に基づいて、記録変調パルス設定条件の調整を行う。具体的には、位相誤差が大きい場合には記録パルス設定条件を初回の設定変化範囲外にも変化させ（８０５）、再度、記録パターンＡを記録（８０２）し、位相誤差検出（８０４）動作を行う。
以上の動作を所定の回数（例えば２回以上）（８１３）繰り返した場合あるいは位相誤差が所定の範囲になった場合に、次のステップ（８０７）へ移行する。この時点で３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの記録マークに対する記録変調パルス設定条件が求まったことになる。
次に、波形等化特性を図９に示す特性Ａとなるように設定する（８０７）。この特性も予めシステムコントローラ２１等に保存されているパラメータであり、後述する記録パターンＢに対応して設定されている波形等化特性である。次に記録パターンを変更し記録パターンＢを記録する（８０８）。記録パターンＢは、記録パターンＡよりも短い記録マークである２Ｔを含むマーク群である。すなわち、記録パターンＢは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの記録マーク長の記録マークから構成されるマーク群、すなわち最短マークである２Ｔの記録マークを含むマーク群である。
【００２６】
次に、記録パターンＢで記録された領域（例えば、図６の記録領域６１〜６４など）を再生し（８０９）、各記録マーク別に前エッジと後ろエッジとのそれぞれの位相誤差情報を検出する（８１０）。さらに、図７に示すように、各記録マーク毎の位相誤差が小さくなるような記録変調パルス設定条件Ｂを求める（８１２）。
特に、記録パターンＢの中で一番短いマークである２Ｔの記録マークの位相誤差検出情報に基づいて、記録変調パルス設定条件の調整を行う。具体的には、位相誤差が大きい場合には記録パルス設定条件を記録変調パルス設定変化範囲外にも変化させ（８１１）、再度、記録パターンＢを記録（８０８）し、位相誤差検出（８１０）動作を行う。
以上の動作を所定の回数（例えば２回以上）（８１４）繰り返した場合あるいは位相誤差が所定の範囲になった場合に、記録条件探査を完了する（８１５）。この時点で２Ｔの記録変調パルス設定条件が求まる。
【００２７】
以上の動作により、すべての記録マークに対する記録変調パルス設定条件が求まり、光ディスク装置は、求められた記録変調パルス設定条件を用いて適切な記録動作を行うことが可能となる。
なお、６Ｔ以上の記録変調パルス設定においては、予め定められた初期設定値を用いた設定がおこなわれてもよいし、他の調整方法により本実施の形態の実行以前に設定がおこなわれてもよい。これにより本発明が制限されることはない。
また、本実施の形態では記録パターンとして５Ｔの記録マークまでのものを示したが、５Ｔ以上の記録マークを含む記録パターンを用いても良い。
ここで、２Ｔの記録マークと３Ｔの記録マークとで調整を分けて行う理由を説明する。
本実施の形態で説明した記録変調パルス設定条件の調整では、所定の記録パターンの記録を行い、記録された記録マークの位置および長さを確認するために、記録を行った領域を再生する。
【００２８】
この記録マークの位置および長さを検出するための再生経路は、図２に示す、光へッド１１、プリアンプ１５、波形等化回路１６、２値化回路１８、位相誤差検出回路２０である。特に、記録マークの位置および長さは、位相誤差検出回路２０において、各マークの始端および終端で検出される位相誤差から算出される。そのため、位相誤差検出回路２０の前段にある、波形等化回路１６の特性によっては、位相誤差検出回路２０で検出される位相誤差量が異なる。より具体的には、波形等化特性によって、ＰＬＬ回路１９で検出される波形のスライス基準レべル（一般的には、波形レべルの中心辺りのレベル）と、各マークの始端および終端の位置が異なって検出される。よって、波形等化特性が異なれば、同じ記録条件で記録した記録マークが異なった長さで検出される。すなわち、所望の記録を行うためには、波形等化特性の設定は、適切に設定されなければならない。
【００２９】
また、ユーザデータを記録する記録マークでは、例えば、２Ｔから８Ｔの７種類の記録マーク長の記録マークが存在するが、記録マーク長が短い記録マークほど、発生確率が高い。このため、記録状態の良し悪しは、短い記録マーク長である２Ｔおよび３Ｔの記録マークの記録状態に大きく影響を受ける。
さらに、２Ｔと３Ｔとの記録マークでは、適切に記録を行うための波形等化特性の設定が異なる。例えば、２Ｔの記録マークは、３Ｔの記録マークに比べて、形成される記録マークが小さい。このため、２Ｔの記録マークに対する波形等化特性は、３Ｔの記録マークに対する波形等化特性よりも、特定周波数のゲインが高く設定される傾向にある。そこで、２Ｔの記録マークに対する波形等化特性設定で、３Ｔの記録マークの長さを検出すると、所望の記録マーク長よりも長く検出されてしまう。そのため、このような波形等化特性を用いて３Ｔの記録マークの記録条件の調整を行うと、３Ｔの記録マークを短くする方向に記録条件の調整が行われ、最終的に形成される３Ｔの記録マークは、所望の記録マーク長よりも短い記録マーク長を有することとなり、記録特性が劣化してしまう。一方、３Ｔの記録マークに対する波形等化特性設定で、２Ｔの記録マークの長さを検出すると、所望の記録マーク長よりも短く検出されてしまう。そのため、このような波形等化特性を用いて２Ｔの記録マークの記録条件の調整を行うと、２Ｔの記録マークを長くする方向に記録条件の調整が行われ、最終的に形成される２Ｔの記録マークは、所望の記録マーク長よりも長い記録マーク長を有することとなり、記録特性が劣化してしまう。
【００３０】
以上説明したように、波形等化特性の異なる記録マークに対する記録条件の調整では、それぞれの記録マークの位置および長さが位相誤差により検出されているため、１つの波形等化特性を設定した状態でそれぞれの記録マークに対する記録条件を同時に調整することは難しい。また、上記したように２Ｔと３Ｔとの記録マークの記録状態が記録品質に与える影響は大きい。そこで、本発明では、２Ｔと３Ｔとの記録マークに対する記録条件の調整を分けることによって、所望の記録を行うことを可能としている。
ここで、それぞれの記録マークの調整に際して用いられる記録パターンについて説明を加える。
記録変調パルス条件の調整用の記録パターンは、ユーザデータのパターンである必要はない。記録パターンとしては、調整に都合の良い記録パターンが用いられる。例えば、２Ｔの記録マークの調整に際して、ユーザーデータを用いると、２Ｔの記録マークの発生確率が大きいため、２Ｔの記録マークの記録状態の変化により急激に記録特性が悪化してしまい、上記の位相誤差検出を適切に行うことができない場合がある。そこで、各記録マーク長の発生確率を均等にした記録パターンが使用される。このような記録パターンでは、２Ｔの記録マークの記録状態の変化が記録特性に与える影響は、ユーザデータを用いる場合に比べて小さく、上記の位相誤差検出を適切に行うことができ、適切な記録変調パルス条件を調整することが可能となる。
【００３１】
また、２Ｔの記録マークに対する記録条件の調整時と３Ｔの記録マークに対する記録条件の調整時とで異なる記録パターンを用いてもよい。本実施の形態では、３Ｔの記録マークの調整時に２Ｔの記録マークの影響を除去するために、２Ｔの記録マークが含まれていない記録パターンを使用している。ここで、２Ｔの記録マークの影響とは、次のようなものである。すなわち、調整前の２Ｔの記録マークが含まれていると、上記で説明したＰＬＬ回路１９のスライス基準レベルが所望のレベルからずれて、３Ｔの記録マークの位置および長さが適切に検出されなくなる、という影響である。本実施の形態では、３Ｔの記録マークの調整後、２Ｔの記録マークの調整を行うため、２Ｔの記録マークの調整時には、３Ｔの記録マークは適切に調整されている。よって、２Ｔの記録マークの調整時には、３Ｔの記録マークを含んだ記録パターンを使用することができる。なお、この２Ｔの記録マークと３Ｔの記録マークとの調整順序は、逆であってもよい。
【００３２】
本実施の形態で説明した装置は、集積回路等により実現されてもよい。具体的には、上記実施形態で図２を用いて説明した光ディスク装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
具体的には、図２において、光ディスク１０、光ヘッド１１、レーザ駆動回路１２、プリアンプ１５、モータ２２以外の各ブロック（変調パルス設定回路１３、変調回路１４、波形等化回路１６、２値化回路１８、位相誤差検出回路２０、ＰＬＬ回路１９、システムコントローラ２１）は、個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
【００３３】
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてありえる。
以上のように記録変調パルス条件を調整することにより、情報記録再生装置は、光ディスク上により均一な記録を行うことができ、装置の信頼性及び互換性を確保できる。
【産業上の利用可能性】
【００３４】
本発明にかかる記録条件最適化方法、情報記録再生方法、情報記録再生装置および集積回路は、例えば、ＤＶＤやＢＤなどの高密度な光ディスクを記録再生する光ディスク装置等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の実施形態における記録変調パルス調整方法の機能構成を示す模式図
【図２】本発明の実施の形態における光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図３】本発明の実施の形態における再生信号とＰＬＬクロックとのタイムチャート
【図４】本発明の実施の形態における記録パルスの記録クロックに対するタイムチャート
【図５】本発明の実施の形態における記録時の記録パルスのパラメータリストを示す図
【図６】本発明の実施の形態における記録変調パルスを調整するための記録領域の模式図
【図７】本発明の実施の形態における記録変調パルス領域を調整する記録領域を再生した際の位相誤差検出結果を示す図
【図８】本発明の実施の形態における記録パターンを２種類用いた記録変調パルス調整方法を示すフローチャート
【図９】本発明の実施の形態における波形等化回路のゲイン特性を示す図
【図１０】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図１１】本発明の実施の形態における情報記録再生装置の動作を説明するためのフローチャート
【符号の説明】
【００３６】
１００  ディスク
１１０１  波形等化特性設定工程
１１０２  再生工程
１１０３  記録工程
１１０４  調整工程
１１０５  等化工程
１０００  光ディスク装置
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2006006360.tif 000013
【図２】
2006006360.tif 000014
【図３】
2006006360.tif 000015
【図４】
2006006360.tif 000016
【図５】
2006006360.tif 000017
【図６】
2006006360.tif 000018
【図７】
2006006360.tif 000019
【図８】
2006006360.tif 000020
【図９】
2006006360.tif 000021
【図１０】
2006006360.tif 000022
【図１１】
2006006360.tif 000023
【国際調査報告】
2006006360.tif 000024
2006006360.tif 000025
2006006360.tif 000026