【事件の表示】
　特願２００９−１８２２２９「光学フィルム枚葉体の検査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２３年　２月１７日出願公開，特開２０１１−　３３５６４〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　事案の概要
　１　手続の経緯
平成２１年　８月　５日：特許出願
平成２５年　５月２７日：拒絶理由通知（同年６月４日発送）
平成２５年　７月２９日：意見書
平成２５年　７月２９日：手続補正
平成２６年　１月３０日：拒絶理由通知（同年２月４日発送）
平成２６年　３月２５日：意見書
平成２６年　３月２５日：手続補正（以下「手続補正２」という。）
平成２６年　６月２４日：手続補正２の補正却下
平成２６年　６月２４日：拒絶査定（同年７月１日送達）
平成２６年　９月２９日：審判請求
平成２７年　６月１９日：拒絶理由通知（同月２３日発送）
平成２７年　８月２１日：意見書
平成２７年　８月２１日：手続補正
平成２７年　９月　８日：拒絶理由通知（同月１５日発送）
平成２７年１１月１６日：意見書
　２　本願発明
　本件出願の特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は，以下のとおりである。
「　光学異方性を有する光学フィルム枚葉体の偏光解消の程度を検査する方法であって，
　互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルム枚葉体の光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と一致させて配置し，
　前記第１の偏光板の前記第２の偏光板とは反対側に検査用光源を設置し，
　前記第１の偏光板および前記第２の偏光板は，前記検査用光源から出射される光の波長における偏光度が９９．９９５％以上であり，
　前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルム枚葉体および前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光の透過率を測定することを特徴とする光学フィルム枚葉体の検査方法。」
　３　拒絶の理由
　平成２７年９月８日の拒絶理由通知による拒絶の理由は，概略，（理由１）本願発明は，その出願前に日本国内又は外国において頒布された引用例１に記載された発明であるから，特許法２９条１項３号に該当し，特許を受けることができない，（理由２）本願発明は，その出願前に日本国内又は外国において頒布された引用例１及び２に記載された発明に基づいて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない，というものである。
引用例１：特開２００６−２５０６３１号公報
引用例２：特開２００１−１５３８１２号公報
第２　当合議体の判断
　１　引用例の記載及び引用発明
　(1) 引用例１の記載
　引用例１には，以下の事項が記載されている（下線は，当合議体が付した。以下同じ。）。
　ア　「【技術分野】
【０００１】
　本発明は，液晶表示パネルの視野角拡大など，複屈折性を利用する画像表示素子の表示性能向上のために適用される光学補償シートの検査方法と検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
　近年の
液晶パネルには，視野角拡大など表示性能向上の目的で，液晶セルとその片面もしくは両面における偏光板との間に，一軸性の位相差シート
を配置している。
【０００３】
　この光学補償シートの
製造過程での位相差値や均一性を確認することは，安定した製品供給という面で非常に重要である。光学補償シートの検査は，平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に光学補償シートを配置して，この時の漏れ光を観察するといった方法により行われている。
【０００４】
　
このとき，光学補償シートによる複屈折のために，入射側に設置した偏光板にて形成された直線偏光が乱れ，出射側の偏光板から漏れる光量が多くなると，この光によって光学補償シートの検査がしずらくなってしまうという問題があった。
従来では，上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸
を略一致させることにより，漏れ光量を抑えて検査を行っている。
　イ　「【０００５】
　このような問題を解決する技術として，特許文献１記載の装置が提案されている。この装置は，２枚の電極基板間に棒状型液晶化合物であるネマティック液晶を挟持した液晶セルからなる液晶フィルタを用意し，この液晶フィルタを，被検査フィルムと共に一対の偏光子間に被検査フィルムに平行に配置し，この状態で照明手段からの偏光子への投光に対する透過光状況を検査するというものである。
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−５９７９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
　しかし，特許文献１記載の装置は，液晶セルを使用するため，液晶セルの駆動用電源を用意したり，液晶セルの位相差を制御したりする必要があり，その構成及び制御が複雑となってしまう。
【０００８】
　本発明は上記状況に鑑みてなされたもので，液晶パネルへの光学補償シートの実際の適用状態での構成に即し，且つ検査光量を適切に制御して簡単かつ高精度に実施可能な，光学補償シートの検査方法及び検査装置を提供することにある。」
　ウ　「【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
　以下，本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
　以下に本発明に関わる光学補償シートの検査方法および検査装置について図面を参照して説明する。
　（第一実施形態）
　図１は，本発明の第一実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の概略構成を示す図である。図２は，本発明の第一実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の検査対象となる被検査対象セットの積層状態を示す概略図であり，（ａ）は被検査対象セットの側面図，（ｂ）は各積層体の偏光軸または遅相軸を模式的に示す平面図である。
【図１】
【図２】
【００２２】
　図１に示すように，検査装置１０の台座１８には，被検査対象セットＳを保持するトレー１４が配置されている。台座１８には基台１２が設置され，被検査対象セットＳの上方で受光部１６を被検査対象セットＳの法線に対して平行な方向へ移動可能に保持している。トレー１４には被検査対象セットＳが載置される部分に被検査対象セットＳと接するように平面検査用光源１５が埋設されている。平面検査用光源１５は，被検査対象セットＳに下方から光を照明する。受光部１６には，ここで検出した光に基づいて光学補償シート２３の検査を行う図示しない検査装置が接続される。
【００２３】
　図２に示すように，平面検査用光源１５上には，偏光軸が互いに直交するように偏光板２１（特許請求の範囲の第１の偏光板に該当）と偏光板２２（特許請求の範囲の第２の偏光板に該当）が対向配置される。そして，この一対の偏光板２１，２２の間に検査対象となる光学補償シート２３（本実施形態では面内位相差１２０ｎｍの一軸性位相差シートとする）が配置される。光学補償シート２３は，その遅相軸と，偏光板２１，２２それぞれの偏光軸とのなす角度が４５°となるように配置されるが，この角度はこれに限定されない。更に，偏光板２２と光学補償シート２３の間には，光学補償シート２３と同じ面内位相差１２０ｎｍを有する一軸性位相差シート２５が挿入配置される。この一軸性位相差シート２５は，その遅相軸が光学補償シート２３の遅相軸と直交するように挿入配置される。これにより，一軸性位相差シート２５は，光学補償シート２３の面内位相差を相殺する相殺用位相差シートとして機能する。
【００２４】
　検査装置１０は，互いの偏光軸を直交させて対向配置した偏光板２１と偏光板２２の間に，光学補償シート２３と，相殺用位相差シートとして機能する一軸性位相差シート２５を挿入した状態で，偏光板２２から出射される平面検査用光源１５からの光を受光部１６により検出し，検出した光に基づいて，光学補償シート２３の検査を行う。この際，一軸性位相差シート２５によって光学補償シート２３の面内位相差は相殺されるため，偏光板２１の遅相軸と光学補償シート２３の遅相軸とが略一致していなくとも，光学補償シート２３の光学異方性に起因した漏れ光を抑えた状態で検査を行うことができる。また，この装置によれば，偏光板２１の遅相軸と光学補償シート２３の遅相軸が交差する構成の液晶表示パネルの使用形態に近い方法で光学補償シートの検査を行うことができる。また，この装置によれば，一軸性位相差シート２５を光学補償シート２３と偏光板２２との間に設けただけで上記効果を得ることができるため，装置構成や制御が容易となる。
【００２５】
　なお，一軸性位相差シート２５は，欠陥が無く，均一性の優れたものが望ましいのは言うまでもない。また，この一軸性位相差シート２５の材質としては，光学異方性を有する高分子材料が適用できる。
【００２６】
　また，受光部１６は，ＣＣＤ型やＭＯＳ型イメージセンサなどが一般的に利用できるが，勿論，目視による確認作業とすることもできる。
【００２７】
　また，平面検査用光源１５は，被検査対象である光学補償シート２３の欠陥部分を投影する投影光を照射する光源で，可視域にスペクトルを有する投影光の光源であれば制限はなく，特に白色光源が好ましい。
【００２８】
　また，上記では，一軸性位相差シート２５を光学補償シート２３と偏光板２２との間に設けた構成としているが，一軸性位相差シート２５を光学補償シート２３と偏光板２１との間に設けた構成としても，同様の効果を得ることができる。また，光学補償シート２３は，一軸性の位相差シートとしたが，これは二軸性の位相差シートであっても同様の効果を得ることができる。」
　エ　「【００４６】
　以上の実施形態で説明した検査装置を光学補償シートの製造工程に利用することで，精度の高い検査を手軽に且つ高速で行うことができる。」
　(2) 引用発明１
　引用例１の背景技術（段落【０００２】〜【０００４】）からは，(A)液晶パネルには，視野角拡大など表示性能向上の目的で，液晶セルとその片面もしくは両面における偏光板との間に，一軸性の位相差シートを配置しているが，(B)製造過程での位相差値や均一性を確認することは，安定した製品供給という面で非常に重要であり，(C)検査は，平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に光学補償シートを配置して，この時の漏れ光を観察するといった方法により行われており，(D)このとき，光学補償シートによる複屈折のために，入射側に設置した偏光板にて形成された直線偏光が乱れ，出射側の偏光板から漏れる光量が多くなると，この光によって光学補償シートの検査がしずらくなってしまうという問題があったため，(E)従来では，上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸を略一致させることにより，漏れ光量を抑えて検査を行っていたことが理解できる。
　そうしてみると，引用例１には，以下の発明が記載されている（以下「引用発明１」という。なお，検査対象のシートは，「一軸性位相差シート」で統一した。）。
「　一軸性位相差シートの製造過程での均一性を確認する検査は，
　平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に一軸性位相差シートを配置して，この時の漏れ光を観察するといった方法により行われ，ここで，
　上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸を略一致させることにより，漏れ光量を抑えて，
　検査を行う方法。」
　(3) 引用例２の記載
　引用例２には，以下の事項が記載されている。
　ア　「【特許請求の範囲】
【請求項１】被検査フィルムのフィルム面の両側に被検査フィルムと平行に配置する第１の偏光子および第２の偏光子と，
前記第１の偏光子の外側に配置され，この第１の偏光子を介して被検査フィルムを投光する照明手段と，
前記第２の偏光子の外側に略密着して配置され，前記照明手段によって投光されて被検査フィルムのフィルム面から前記第２の偏光子を介して垂直に透過した透過光を受光する受光手段とを備え，
前記受光手段により前記被検査フィルムから透過した前記被検査フィルムの透過光の画像信号を得ることによって被検査フィルムの透過特性分布を検査することを特徴とするフィルム検査装置。」
　イ　「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は，
被検査フィルムの光学的透過特性分布の検査を定量的に行うことのできるフィルム検査装置
　ウ　「【０００２】
【従来の技術】今日，液晶表示装置として，ＴＦＴ液晶表示装置やＤＳＴＮ液晶表示装置が広く利用されている。しかし，これらの液晶表示装置は，視認可能な領域に視野角依存性があるため，視認可能な領域からはずれると表示画面を見ることが困難になる。たとえば，視野角を上下左右方向に傾けた場合，全体に表示画面の色が薄くなってコントラストが低下したり，黒表示部分での階調反転が生じ，視認が困難となる。また，大型の液晶表示装置の画面では表示画面の拡大に伴い視野角が広がるため，上記コントラストの低下や階調反転が生じ易い。そのため，広い視認可能な領域を持つ液晶表示装置が望まれている。
【０００３】このような状況下，液晶表示装置の視野角を拡大するために，液晶表示装置の液晶の配向分割方法や負の複屈折率を持つ光学補償膜を用いた位相差膜の方法等が種々検討されている。例えば，本出願人により開示された特開平６−２１１４１１６号公報では，光学異方素子及びその製造方法が提案されている。それによると，液晶表示装置の液晶セルの液晶分子は，正の一軸性光学異方素子とみなすことができるので，負の一軸性光学異方素子の特徴を備える位相差膜を用いて，液晶表示装置の光学特性を補償することが提案され，本出願人より液晶用視野角拡大フィルムが市販されている。
【０００４】ところで，光学異方素子である低分子液晶から成る位相差膜は，最適化された液晶セルの補償状態を画面上で均一に維持するため，厳しい均質性が要求されている。しかし，液晶用視野角拡大フィルムの場合，液晶の可撓性支持体上に液晶を塗布し乾燥し，さらに配向し，膜を硬化する各種複雑な工程を経て製造されるため，製造工程中に液晶の塗布工程や乾燥工程で塗装むらができたり，さらに配向工程において配向むらが生ずる場合がある。このようなむらは，位相差膜を液晶表示装置に取り付けた場合，部分的な模様となって液晶表示画面上に現れるため好ましくなく，むらを予め製造段階で検出して市場にむらを含んだ位相差膜が出荷されるのを防止するために，あるいは製造工程でのむら発生の原因を調査するために，液晶用視野角拡大フィルムのむら検査装置を必要としている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで，
液晶用視野角拡大フィルムのむら検査装置
【０００６】しかし，たとえ，偏光子面より数メートル離れた位置でＣＣＤ型イメージセンサ等によって受光したとしても，依然として
視野角が画素位置によって変化するため，得られた画像もむらに起因する輝度値の分布のほかに視野角に依存した輝度値の分布が混在する。そのため，液晶用視野角拡大フィルムの光学的むらを正しく検査することは困難であった。
【０００７】また，ＣＣＤ型イメージセンサで透過光を受光する際，視野角が無くなるように，検査する液晶用視野角拡大フィルムのフィルムサイズと同程度の広い受光面を有するＣＣＤ型イメージセンサを備えることも考えられる。しかし，液晶用視野角拡大フィルムのフィルムサイズと同程度の広い受光面を有するＣＣＤ型イメージセンサ，例えば，１４インチや１６インチ等の液晶表示装置の画面サイズと同程度のＣＣＤ型イメージセンサは非常に高価なものであり，実用上むら検査装置に用いることは困難である。
【０００８】また，偏光子を垂直に透過して，すなわち視野角をゼロにして出てきた透過光を光学系レンズを用いて透過光の担持する画像を縮小して，ＣＣＤ型イメージセンサ等の受光面に結像させて画像を読み取ることも考えられる。しかし，偏光子を垂直に透過して出てきた透過光を光学系レンズを用いて集光するためには，１４インチや１６インチ等の液晶表示装置の画面サイズと同程度の大きな光学系レンズが必要となるが，このような大きな光学系レンズは非常に高価なものである。
【０００９】さらに，液晶用視野角拡大フィルムのむら検査装置の受光手段として一般的に用いられるＣＣＤ型イメージセンサの画像濃度分解能は一般的に１０ビットであるため，液晶用視野角拡大フィルムの僅かな光学的むらを透過した透過光の輝度値の分布によって検知するには，同一被検査フィルムの液晶用視野角拡大フィルムの画像を多数回，例えば数１０回撮影して画像を重ね合わせることによって輝度値の分布を強調し，その後各種画像処理を加えて光学的むらの定量化をしなければならないといった作業の煩雑さもあった。
このような問題は，液晶用視野角拡大フィルムの光学的むらのみならず，複屈折率を利用する位相差膜の光学的透過特性全体に共通する問題である。
【００１０】そこで，本発明は，上記問題点を解消し，
被検査フィルムの一方から偏光子を介して投光し，この被検査フィルムから偏光子を介して透過した透過光の視野角をゼロにして受光し，得られた画像データの輝度値より被検査フィルムの光学的透過特性分布を，定量的に検査することのできる，実用的なフィルム検査装置を提供することを目的とする。
　エ　「【００１６】図１は，本発明のフィルム検査装置の一例である液晶用視野角拡大フィルムの光学的むらの検査を行うむら検査装置１０の概略を示す。
【図１】
本発明のフィルム検査装置は，液晶用視野角拡大フィルムのむら検査に限られず，複屈折率を利用する位相差膜の透過特性分布の検査に適用することができる。むら検査装置１０は，光学的むらの検査を行う液晶用視野角拡大フィルム（以降，被検査フィルムという）Ｆのフィルム面の両側に被検査フィルムＦのフィルム面に平行に配置する一対の偏光子１２ａおよび１２ｂと，偏光子１２ａの外側下方に配置し，偏光子１２ａを介して被検査フィルムＦを均一に投光する平板状光源１４と，偏光子１２ｂの外側上方に偏光子１２ｂと光学系レンズを用いることなく略密着して配置され，被検査フィルムＦのフィルム面から偏光子１２ｂを介して垂直に透過した透過光を受光する撮像センサ１６と，撮像センサ１６で得られた信号を増幅してＡ／Ｄ変換してデジタル画像信号を取得する画像取込部１８と，得られたデジタル画像信号に対してシェディング補正やＬｏｇ変換等を行って画像データとし，画像データに基づいて，むらの評価を行う画像処理部２０と，画像データを画像表示するディスプレイ２２とを備える。
【００１７】むら検査装置１０は，概説すると，
光学的むらを検査する被検査フィルムＦの両側に平行に偏光子１２ａおよび１２ｂを配置し，偏光子１２ａの外側下方から，偏光子１２ａを介して被検査フィルムＦに平板状光源１４から投光して，視野角ゼロ，すなわち，被検査フィルムＦに対して垂直に入射光を入射させ，偏光子１２ｂから垂直に出てくる被検査フィルムＦの透過光を，偏光子１２ｂの外側上方に略密着して配置した撮像受光面を有する撮像センサ１６で受光し，受光して得られた信号より，画像データを得て，光学的むらの輝度値を測定する
　オ　「【００１８】偏光子１２ａは，平板状光源１６から照射される投影光を直線偏光あるいは，ほぼ直線偏光して，被検査フィルタＦに入射させる部位であり，公知の偏光子が用いられる。
偏光子１２ｂは，偏光子１２ａと平行に配置され，被検査フィルムＦを透過して所定の一方向に直線偏光した透過光，あるいは楕円偏光した光学的むらの透過光の一部分を透過させ
偏光子１２ａと１２ｂは，お互いにクロスニコル方式に偏光方向が配置され，偏光子１２ｂの偏光方向に透過光が偏光成分を持たない場合，偏光子１２ｂから透過光が透過することはない。
【００１９】平板状光源１４は，被検査フィルムＦの広さに対応して均一な投影光を照射する平板状の光源で，平板状光源１４から照射された投影光が偏光子１２ａに入射する。平板状光源１４は，可視域にスペクトルを有する投影光の平板状光源であれば制限はなく，特に白色光源が好ましい。
【００２０】撮像センサ１６は，平板状光源１４から，偏光子１２ａに垂直に入射して，偏光子１２ｂａ，被検査フィルムＦおよび偏光子１２ｂを介して垂直方向に透過した透過光を受光するセンサで，偏光子１２ｂの上方に略密着して，例えば１ｍｍから数ｃｍ程度しか離すことなく配置される。偏光子１２ｂに略密着して配置することで，光学系レンズを用いることなく視野角をゼロとすることができる。さらに，撮像センサ１６で検知する光学的むらは，被検査フィルムＦが用いられる，単色で８ビットの階調を基本とする液晶画像表示装置において，８ビット階調の画像濃度や色濃度等に影響を与えることのないように，画像濃度や色濃度としてむらが１０ビット以上の分解能で初めて識別される程度に小さいことが求められることから，撮像センサ１６はこのわずかなむらを検出することができるように，得られた画像データのノイズが小さく，しかも１０ビット以上でＡ／Ｄ変換されるものが望ましい。」
　カ　「【００２５】画像取込部１８は，撮像センサ１６で得られた画像信号を増幅しＡ／Ｄ変換してデジタル画像信号とする部分であり，公知の増幅器およびＡ／Ｄ変換器が用いられる。画像処理部２０は，画像取込部１８で得られたデジタル画像信号に対して，暗時補正，シェーディング補正等の所定のデータ処理を施し，Ｌｏｇ変換してデジタルの画像データ（濃度データ）を得るとともに，得られた画像データに基づいて，被検査フィルムＦの光学的むらを定量的に評価する部分である。すなわち，撮像センサ１６により被検査フィルムＦから透過した被検査フィルムＦの光学的むらを含む透過光の画像信号を得ることによって，光学的むらに起因する画像むらを含んだ画像データを得，光学的むらを定量的に検査する。また，ディスプレイ２０に画像表示するための画像データ変換も行う。暗時補正は，光を遮断した際に光電撮像素子に発生する暗電流を除去する補正であり，シェディング補正は，平板状光源１４が均一な投影光を照射しない場合，予めこの投影光の輝度分布を補正用画像データとして取り込んでおき，被検査フィルムＦのむら検査の際の画像データから補正用画像データを差し引くことによって行われる補正である。ディスプレイ２２は，画像処理部２０で画像表示に適合するように画像変換された画像データに基づいて画像表示する部分である。以上むら検査装置１０の構成について説明した。次にむら検査装置１０の作用について説明する。
【００２６】まず，お互いにクロスニコル方式に配置した偏光子１２ａと偏光子１２ｂとの間に視野角拡大フィルムの被検査フィルムＦをフィルム面が偏光子１２ａおよび１２ｂと平行になるように挿入し，被検査フィルムＦを所望の方向に向けて配置する。平板状光源１４から投影光を偏光子１２ａに入射する。偏光子１２ａは，平板状光源１４からの投影光を所定の一方向に直線偏光した後，複屈折率を有し負の一軸性光学異方素子である被検査フィルムＦに入射する。直線偏光した投影光は，被検査フィルムＦの複屈折により楕円偏光し，楕円偏光した投影光のうち，クロスニコル方式に配置された偏光子１２ｂの偏光方向の投影光の偏光成分のみが偏光子１２ｂから透過する。この透過光を撮像センサ１６で読み取ることによって，一定の輝度値を持った画像信号を得ることができる。ところが，光学的むら，すなわち複屈折率が正常な部分と異なった複屈折率を有するむらの部分では，被検査フィルムＦを透過した投影光は，正常な部分を透過した投影光と異なる楕円偏光を起こしているため，クロスニコル方式に配置され偏光方向成分しか透過しない偏光子１２ｂから出てくる透過光の偏光成分も異なり，偏光子１２ｂから出てくる輝度も変化する。その結果，撮像センサ１６で読み取られる画像信号は，光学的むらのある部分が高い値あるいは低い値となる。
【００２７】また，被検査フィルムＦは，光学異方素子であるため，透過する方向によって偏光子１２ａを透過する透過光の輝度が異なが，撮像センサ１６は，偏光子１２ｂに略密着して配置され，受光面に配置された各画素に対応した光電変換素子は，偏光子１２ｂと被検査フィルムＦの面に対して垂直に透過した透過光を読み取るため，視野角がすべてゼロとなって視野角の依存性が全くない。そのため，透過した透過光の輝度の分布は被検査フィルムＦの光学的むらの分布に対応する。
【００２８】このようにして偏光子１２ａを透過した透過光は，輝度に応じて撮像センサ１６の光電変換素子によって電荷信号とされ，各画素位置での電荷信号が水平走査回路と垂直走査回路とを用いてＸＹアドレス方式による走査読取が行われ，画像信号（輝度信号）が得られる。画像信号は，画像取込部１８で増幅されＡ／Ｄ変換されて，デジタル画像信号として画像処理部２０に送られる。画像処理部２０では，暗時補正，シェーディング補正等の所定のデータ処理が施され，さらにＬｏｇ変換されてデジタルの画像データ（濃度データ）が得られ，この画像データに基づいて，被検査フィルムＦの光学的むらを定量的に評価される。例えば，画像データの平均値から一定範囲を超える画像データ値を持つ画像領域を抽出してむら領域とし，このむら領域が複数ある場合には，むら領域の個数や各領域ごとに画像データの平均値や専有面積を求め，被検査フィルムＦの光学的むらの評価を定量的に行う。また，評価は，３段階評価や５段階評価等の段階評価であってもよい。
【００２９】このようなむら検査装置は，例えば，フィルムサイズが９０ｍｍ×８０ｍｍの被検査フィルムＦを，受光面のサイズが９７．５ｍｍ×８１．２ｍｍである上述したアモルファスシリコンＣＭＯＳ型イメージセンサを用いることで，光学系レンズを用いることなく，視野角の全くない光学的むら検査のための画像を読み取ることができる。」
　キ　「【００３７】
【発明の効果】以上，詳細に説明したように，本発明によれば，撮像センサを偏光子に略密着させて配置するので，また，偏光子と撮像センサ間に溶融光ファイバ製テーパを略密着させて配置するので，視野角依存性の強い被検査フィルムの光学的むらを視野角をゼロにして画像を読み取るコストのかからない実用的なむら検査装置を提供することができる。その際，ＣＭＯＳ型イメージセンサを用いることによって，ノイズの少ない高階調の画像データを得ることができ，光学的濃度むらを精度良く検査することができる。また，偏光子と撮像センサ間に溶融光ファイバ製テーパを略密着させて配置する場合，ＣＭＯＳ型イメージセンサのみならず，受光面の小さなＣＣＤ型イメージセンサを用いることができ，コストを低減することができる。」
　(4) 引用発明２
　引用例２には，(A)被検査フィルムの光学的透過特性分布の検査を定量的に行うことのできるフィルム検査装置において（段落【０００１】），(B)従来の液晶用視野角拡大フィルムのむら検査装置では，視野角が画素位置によって変化するため，得られた画像もむらに起因する輝度値の分布のほかに視野角に依存した輝度値の分布が混在する結果，液晶用視野角拡大フィルムの光学的むらを正しく検査することは困難であったこと（段落【０００５】〜【０００６】），また，(C)このような問題は，液晶用視野角拡大フィルムの光学的むらのみならず，複屈折率を利用する位相差膜の光学的透過特性全体に共通する問題であること（段落【０００９】），そこで，(D)被検査フィルムの一方から偏光子を介して投光し，この被検査フィルムから偏光子を介して透過した透過光の視野角をゼロにして受光し，得られた画像データの輝度値より被検査フィルムの光学的透過特性分布を，定量的に検査することのできる，実用的なフィルム検査装置を提供することを目的として（段落【００１０】），(E)図１のフィルム検査装置（【請求項１】及び段落【００１６】〜【００２８】）によって，(F)視野角依存性の強い被検査フィルムの光学的むらを視野角をゼロにして画像を読み取るコストのかからない実用的なむら検査装置を提供することができた（段落【００３７】）ことが記載されている。
　そうしてみると，引用例２には，フィルム検査装置による検査方法として，以下の発明が記載されている（以下「引用発明２」という。なお，発明に対応する記載を明示するため，段落番号を併記する。また，用語を統一して表記する。）。
「【００１７】光学的むらを検査する被検査フィルムＦの両側に平行に偏光子１２ａおよび１２ｂを配置し，
　偏光子１２ａの外側下方から，偏光子１２ａを介して被検査フィルムＦに平板状光源１４から投光して，視野角ゼロ，すなわち，被検査フィルムＦに対して垂直に入射光を入射させ，
　偏光子１２ｂから垂直に出てくる被検査フィルムＦの透過光を，偏光子１２ｂの外側上方に略密着して配置した撮像受光面を有する撮像センサ１６で受光し，
　受光して得られた信号より，画像データを得て，光学的むらの輝度値を測定し，ここで，
　【００１８】偏光子１２ｂは，偏光子１２ａと平行に配置され，被検査フィルムＦを透過して所定の一方向に直線偏光した透過光，あるいは楕円偏光した光学的むらの透過光の一部分を透過させ，偏光子１２ａと１２ｂは，お互いにクロスニコル方式に偏光方向が配置され，偏光子１２ｂの偏光方向に透過光が偏光成分を持たない場合，偏光子１２ｂから透過光が透過することはないようにされ，
　【００２９】例えば，フィルムサイズが９０ｍｍ×８０ｍｍの被検査フィルムＦを，受光面のサイズが９７．５ｍｍ×８１．２ｍｍである上述したアモルファスシリコンＣＭＯＳ型イメージセンサを用いることで，光学系レンズを用いることなく，視野角の全くない光学的むら検査のための画像を読み取ることができ，
　【０００１】被検査フィルムの光学的透過特性分布の検査を定量的に行うことのできる，
　フィルム検査方法。」
　２　引用発明１に基づく容易推考について
　(1) 対比
　本願発明と引用発明１を対比すると，以下のとおりとなる。
　ア　引用発明１の検査対象は，「一軸性位相差シート」である。
　ここで，引用発明１の「一軸性位相差シート」と本願発明の「光学フィルム枚葉体」は，「光学フィルム」の点で共通する。また，引用発明１の「一軸性位相差シート」は，本願発明の「光学異方性を有する」の要件を満たすから，引用発明１の「検査を行う方法」は，本願発明の「光学異方性を有する光学フィルム枚葉体の偏光解消の程度を検査する方法」のうち，「光学異方性を有する光学フィルム」「を検査する方法」の要件を満たす。
　イ　引用発明１は，「平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に一軸性位相差シートを配置して」いるところ，「上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸を略一致させ」ている。
　ここで，引用発明１の「２枚の偏光板」は，本願発明の「第１の偏光板と第２の偏光板」に相当する。また，引用発明１の一軸性位相差シートの配置と，本願発明の「互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルム枚葉体の光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と一致させて配置し」の構成は，「互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルム」「の光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と」対応「させて配置し」の点で共通する。
　ウ　引用発明１は，「平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に一軸性位相差シートを配置して」いる。
　ここで，引用発明１の「平面検査用光源」は，本願発明の「検査用光源」に相当する。また，引用発明１の「平面検査用光源」は，本願発明の「前記第１の偏光板の前記第２の偏光板とは反対側に検査用光源を設置し」の要件を満たす。
　エ　引用発明１の「検査を行う方法」は，「平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に一軸性位相差シートを配置して，この時の漏れ光を観察する」という構成を具備する。
　ここで，検査の原理を考慮すると，引用発明１の「漏れ光」と，本願発明の「前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルム枚葉体および前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光」は，「前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルム」「および前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光」の点で共通する。また，引用発明１の「検査を行う方法」と本願発明の「検査方法」は，「前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルム」「および前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光」を調べる「光学フィルム」「の検査方法」の点で共通する。
　(2) 一致点
　本願発明と引用発明１は，以下の構成において一致する。
「　光学異方性を有する光学フィルムを検査する方法であって，
　互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルムの光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と対応させて配置し，
　前記第１の偏光板の前記第２の偏光板とは反対側に検査用光源を設置し，
　前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルムおよび前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光を調べる光学フィルムの検査方法。」
　(3) 相違点
　本願発明と引用発明１は，以下の点で相違する。
　ア　相違点１
　本願発明は，光学フィルムの「偏光解消の程度」を検査する方法であるのに対して，引用発明１は，「製造過程での位相差値や均一性を確認する検査」である点。
　イ　相違点２
　本願発明は，光学フィルムの光学異方性軸を偏光板の偏光軸と「一致」させて配置しているのに対し，引用発明１は，「略一致」させて配置している点。
　ウ　相違点３
　本願発明の「前記第１の偏光板および前記第２の偏光板は，前記検査用光源から出射される光の波長における偏光度が９９．９９５％以上」であるのに対して，引用発明１の偏光度は不明である点。
　エ　相違点４
　本願発明は，第２の偏光板から法線方向に出射する光の「透過率を測定する」構成を具備するのに対して，引用発明１は，「観察する」ものである点。
　オ　相違点５
　本願発明の「光学フィルム」は「光学フィルム枚葉体」であるのに対して，引用発明１の「一軸性位相差シート」は，「枚葉体」であるか，一応，明らかではない点。
　(4) 判断
　相違点に対する判断は，以下のとおりである。
　ア　相違点１について
　引用発明１は，漏れ光の観察によって一軸性位相差シートの均一性を確認するものであるから，偏光解消の程度を検査しているものといえる。そうすると，相違点１は実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，一軸性位相差シートの均一性を確認するに際し，均一性の程度（偏光解消の程度）を定量化したのち，製品としての合格基準に達しているかを確認する構成とすることは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　イ　相違点２について
　引用発明１において「上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸を略一致させ」ているのは，「漏れ光量を抑え」るためであるから，引用発明１は，事実上，上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸を一致させて漏れ光量を十分に抑える態様である。また，「略一致」は，「一致」を含むから，実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，漏れ光量を抑えるという作用効果を重視する当業者において，上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸を一致させて検査を行うことは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　ウ　相違点３について
　引用発明１は検査方法の発明であるから，検査する側の光学性能は十分に高いはずである。したがって，引用発明１の上下の偏光板も「偏光度が９９．９９５％以上」の要件を事実上満たすといえる。そうすると，相違点３は実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，「偏光度が９９．９９５％以上」を満たす性能の偏光板は周知であるから，均一性の程度を厳格に確認しようとする当業者ならば，適宜採用しうる構成にすぎない。
　エ　相違点４について
　引用発明１は，製品供給のために漏れ光を観察しているのであるから，製品に関する評価値として光の透過率を定量化し，製品の性能データとすることは，引用発明１においても当然行われている。そうすると，相違点４は実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，当業者において，製品に関する性能データとして，光の透過率を定量化することは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　オ　相違点５について
　引用例１の段落【０００３】の「光学補償シートの検査は，平面検査用光源上に，互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し，この偏光板の間に光学補償シートを配置して，この時の漏れ光を観察する」との記載からみて，引用発明１の光学補償シートも枚葉体である。そうすると，相違点５は実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，検査装置の具体的態様として引用例２に記載されたものを採用することは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　(5) 効果について
　本願発明の効果は，「光学異方性を有する光学フィルムの偏光解消の程度を精度良く簡易的に検査することが可能となる。」（段落【００１４】）というものであるから，本願発明の効果は引用発明１から予測可能な範囲内のものにすぎない。
　(6) 小括
　本願発明は，その出願前に日本国内又は外国において頒布された引用例１に記載された発明であるから，特許法２９条１項３号に該当し，特許を受けることができない。
　あるいは，本願発明は，その出願前に日本国内又は外国において頒布された引用例１及び２に記載された発明に基づいて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　３　引用発明２に基づく容易推考について
　(1) 対比
　本願発明と引用発明２を対比すると，以下のとおりとなる。
　ア　引用発明２の「偏光子１２ｂは，偏光子１２ａと平行に配置され，被検査フィルムＦを透過して所定の一方向に直線偏光した透過光，あるいは楕円偏光した光学的むらの透過光の一部分を透過させ」るものとされている。また，引用発明２では，「例えば，フィルムサイズが９０ｍｍ×８０ｍｍの被検査フィルムＦを，受光面のサイズが９７．５ｍｍ×８１．２ｍｍである上述したアモルファスシリコンＣＭＯＳ型イメージセンサを用いることで，光学系レンズを用いることなく，視野角の全くない光学的むら検査のための画像を読み取ることができ」るとされている。
　そうしてみると，引用発明２の検査対象である「被検査フィルムＦ」は光学異方性を有し，また，枚葉体である。
　したがって，引用発明２の「フィルム検査方法」と本願発明の「光学異方性を有する光学フィルム枚葉体の偏光解消の程度を検査する方法」は，「光学異方性を有する光学フィルム枚葉体」「を検査する方法」の点で共通する。
　イ　引用発明２は，「光学的むらを検査する被検査フィルムＦの両側に平行に偏光子１２ａおよび１２ｂを配置し」という構成を具備する。
　ここで，引用発明２の「偏光子１２ａ」及び「偏光子１２ｂ」は，それぞれ，本願発明の「第１の偏光板」及び「第２の偏光板」に相当する。また，引用発明２の「偏光子１２ｂは，偏光子１２ａと平行に配置され，被検査フィルムＦを透過して所定の一方向に直線偏光した透過光，あるいは楕円偏光した光学的むらの透過光の一部分を透過させ」るものとされているから，偏光子１２ａと光学フィルムＦの光学異方性軸は，偏光子１２ａの偏光軸と所定の角度で配置されている。
　したがって，引用発明２の「光学的むらを検査する被検査フィルムＦの両側に平行に偏光子１２ａおよび１２ｂを配置し」という構成と，本願発明の「互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルム枚葉体の光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と一致させて配置し」の構成は，「互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルム枚葉体の光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と」所定の角度で「配置し」の点で共通する。
　なお，引用発明２の「光学的むらを検査する被検査フィルムＦの両側に平行に偏光子１２ａおよび１２ｂを配置し」という構成は，あたかも，被検査フィルムＦに対して，偏光子１２ａ及び偏光子１２ｂを配置するように解される構成であるが，引用例２の段落【００２６】に，「まず，お互いにクロスニコル方式に配置した偏光子１２ａと偏光子１２ｂとの間に視野角拡大フィルムの被検査フィルムＦをフィルム面が偏光子１２ａおよび１２ｂと平行になるように挿入し，被検査フィルムＦを所望の方向に向けて配置する。」と記載されているとおり，引用発明２においても，配置するのは被検査フィルムの方である。
　ウ　引用発明２では，「偏光子１２ａの外側下方から，偏光子１２ａを介して被検査フィルムＦに平板状光源１４から投光して，視野角ゼロ，すなわち，被検査フィルムＦに対して垂直に入射光を入射させ」ている。
　ここで，引用発明２の「平板状光源１４」は，本願発明の「検査用光源」に相当する。また，引用発明２の「平板状光源１４」は，本願発明の「前記第１の偏光板の前記第２の偏光板とは反対側に検査用光源を設置し」の要件を満たす。
　エ　引用発明２の「フィルム検査方法」は，「偏光子１２ａの外側下方から，偏光子１２ａを介して被検査フィルムＦに平板状光源１４から投光して，視野角ゼロ，すなわち，被検査フィルムＦに対して垂直に入射光を入射させ，偏光子１２ｂから垂直に出てくる被検査フィルムＦの透過光を，偏光子１２ｂの外側上方に略密着して配置した撮像受光面を有する撮像センサ１６で受光し，受光して得られた信号より，画像データを得て，光学的むらの輝度値を測定し」，「被検査フィルムの光学的透過特性分布の検査を定量的に行う」ものである。
　そうしてみると，引用発明２の「フィルム検査方法」と本願発明の「検査方法」は，「前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルム枚葉体および前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光」「を測定する」「光学フィルム枚葉体の検査方法」の点で共通する。
　(2) 一致点
　本願発明と引用発明２は，以下の構成において一致する。
「　光学異方性を有する光学フィルム枚葉体を検査する方法であって，
　互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に，前記光学フィルム枚葉体の光学異方性軸を第１の偏光板もしくは第２の偏光板の偏光軸と所定の角度で配置し，
　前記第１の偏光板の前記第２の偏光板とは反対側に検査用光源を設置し，
　前記検査用光源から出射される光を前記第１の偏光板にその法線方向から入射し，前記第１の偏光板，前記光学フィルム枚葉体および前記第２の偏光板を通過して前記第２の偏光板から法線方向に出射する光を測定する光学フィルム枚葉体の検査方法。」
　(3) 相違点
　本願発明と引用発明２は，以下の点で相違する。
　ア　相違点１
　本願発明は，光学フィルムの「偏光解消の程度」を検査する方法であるのに対して，引用発明２は，「光学的ムラ」を検査する方法である点。
　イ　相違点２
　本願発明は，光学フィルムの光学異方性軸を偏光板の偏光軸と「一致」させて配置しているのに対し，引用発明２は，「所定の角度」で配置している点。
　ウ　相違点３
　本願発明の「前記第１の偏光板および前記第２の偏光板は，前記検査用光源から出射される光の波長における偏光度が９９．９９５％以上」であるのに対して，引用発明２の偏光度は不明である点。
　エ　相違点４
　本願発明は，第２の偏光板から法線方向に出射する光の「透過率」を測定する構成を具備するのに対して，引用発明２は，「輝度値」を測定するものである点。
　(4) 判断
　ア　相違点１について
　引用発明２は，被検査フィルムＦの光学むらを定量評価するものであるから，偏光解消の程度を検査しているものといえる。そうすると，相違点１は実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，引用発明２の「偏光子１２ｂは，偏光子１２ａと平行に配置され，被検査フィルムＦを透過して所定の一方向に直線偏光した透過光，あるいは楕円偏光した光学的むらの透過光の一部分を透過させ」るものであり，そして，「偏光子１２ｂから垂直に出てくる被検査フィルムＦの透過光を，偏光子１２ｂの外側上方に略密着して配置した撮像受光面を有する撮像センサ１６で受光し，受光して得られた信号より，画像データを得て，光学的むらの輝度値を測定し」ているから，当業者において，引用発明２の輝度値により定量化された「光学むら」を「偏光解消の程度」を表す量として活用することは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　イ　相違点２について
　引用例１の段落【０００４】には，「光学補償シートによる複屈折のために，入射側に設置した偏光板にて形成された直線偏光が乱れ，出射側の偏光板から漏れる光量が多くなると，この光によって光学補償シートの検査がしずらくなってしまうという問題があった。そこで，従来では，上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸もしくはディスコティック液晶の配向方向とを略一致させることにより，漏れ光量を抑えて検査を行っている。」と記載されている。
　被検査フィルムＦの光学異方性軸を偏光子１２ａ又は偏光子１２ｂの偏光軸と一致させて配置することは，漏れ光量を抑えて検査を行おうとする当業者が，当然行う事項である。
　あるいは，引用例１の段落【０００５】には，「２枚の偏光板のいずれかの偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸もしくはディスコティック液晶の配向方向とが略一致する構成の液晶表示パネルには有効であるが，これらが一致しない構成の液晶表示パネルの場合には，位相差により直線偏光が乱れるために光漏れ量が多くなり，光学補償シートの検査が正確にできなかった。」と記載されている。
　したがって，２枚の偏光板のいずれかの偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸が略一致する液晶表示パネル用の一軸性位相差シートや，特定の液晶表示パネルを念頭に置かず純粋に一軸性位相差シートの性能を評価することを念頭に置いた当業者において，被検査フィルムＦの光学異方性軸を偏光子１２ａ又は偏光子１２ｂの偏光軸と一致させて配置することは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　ウ　相違点３について
　引用発明２は検査方法の発明であるから，検査する側の光学性能は十分に高いはずである。したがって，引用発明２の偏光子１２ａ及び偏光子１２ｂも「偏光度が９９．９９５％以上」の要件を事実上満たすといえる。そうすると，相違点３は実質的な相違点とはいえない。
　あるいは，「偏光度が９９．９９５％以上」を満たす性能の偏光子は周知であるから，光学むらを厳密に定量化しようとする当業者ならば，適宜採用しうる構成にすぎない。
　エ　相違点４について
　引用発明２は，「輝度値」を測定しているものであるが，輝度値は，平板状光源１４の輝度値に応じて変化する量であるから，「被検査フィルムの光学的透過特性分布の検査を定量的に行う」ことには適しているとしても，製品の性能データとするためには，平板状光源１４の輝度値で除して（透過率として）規格化しなければならない。したがって，製品に関する評価値として光の透過率を定量化し，製品の性能データとすることは，引用例２発明においても当然行われていると考えられる。
　あるいは，製品に関する性能データとして，光の透過率を定量化することは，当業者における通常の創意工夫の範囲内の事項である。
　(5) 　効果について
　本願発明の効果は，「光学異方性を有する光学フィルムの偏光解消の程度を精度良く簡易的に検査することが可能となる。」（段落【００１４】）というものであるから，本願発明の効果は引用発明２から予測可能な範囲内のものにすぎない。
　(6) 小括
　本願発明は，その出願前に日本国内又は外国において頒布された引用例２及び１に記載された発明に基づいて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　４　請求人の主張について
　(1) 引用例１に関して
　ア　相違点１及び４の判断に対し
　請求人は，平成２７年１１月１６日の意見書において，概略，引用例１の段落【００２６】及び【００２７】の記載を考慮すると，引用発明１でいうところの「検査」とは，平面検査用光源を用いて，光学補償シートの欠陥部分を投影し，これを二次元のイメージとして視覚化して当該欠陥部分を確認することであるから，相違点１及び４は実質的な相違点であり，また，当業者が容易推考できたものでもない旨主張する。
　請求人が引用する記載は引用発明１に関するものではないが，引用発明１を含めて，本件出願前の当業者の技術水準を示すものではあるから，念のため，引用例１の【発明の開示】（段落【０００７】〜【００４７】）に記載された技術（以下「引用例１記載技術」という。）を考慮すると，以下のとおりである。
　すなわち，引用例１の段落【０００８】，【００２２】，【００２６】及び【００４６】には，それぞれ，「本発明は上記状況に鑑みてなされたもので，液晶パネルへの光学補償シートの実際の適用状態での構成に即し，且つ検査光量を適切に制御して簡単かつ高精度に実施可能な，光学補償シートの検査方法及び検査装置を提供することにある。」，「受光部１６には，ここで検出した光に基づいて光学補償シート２３の検査を行う図示しない検査装置が接続される。」，「受光部１６は，ＣＣＤ型やＭＯＳ型イメージセンサなどが一般的に利用できるが，勿論，目視による確認作業とすることもできる。」及び「以上の実施形態で説明した検査装置を光学補償シートの製造工程に利用することで，精度の高い検査を手軽に且つ高速で行うことができる。」と記載されている。
　そうしてみると，引用例１記載技術は，イメージセンサに接続された検査装置を具備し，光学補償シートの製造工程に利用することで，精度の高い検査を手軽にかつ高速で行うことができる，簡単かつ高精度に実施可能な光学補償シートの検査方法と理解するのが妥当である。また，光学補償シートの製造工程において，精度の高い検査を手軽にかつ高速で行う手段として，目視による確認作業は，あまりにも，低速，煩雑，感覚的なものであるから，「目視による確認作業」は，あくまで検査方法の付随的機能にすぎないものと解するのが妥当である。
　そして，光学補償シートの製造工程において，高速，簡単，高精度に検査を行う手段としては，目視による確認作業よりは，機械によって検査を自動化・定量化して評価する方が妥当であるから，請求人が指摘する引用例１の記載は，むしろ，相違点１及び４が実質的な相違点ではないこと，あるいは，相違点１及び４に係る構成を当業者が容易推考できたことを裏付ける記載といえる。
　請求人は，引用発明１がいうところの「均一性」が仮に「位相差値の均一性」を意味するとして，この程度を定量化すること自体は仮に容易想到であったとしても，その定量化された数値は，「位相差値のシート面内におけるムラ」を数値化したものに過ぎず，本願発明の「フィルム自体としての偏光解消の程度」を評価することとは何ら関連性がないとも主張する。
　しかしながら，引用例１の段落【０００３】の記載は「光学補償シートの製造過程での位相差値や均一性を確認することは，安定した製品供給という面で非常に重要である。」というものであるから，引用例１の「位相差値」と「均一性」を同一視することはできない。また，引用例１の段落【０００４】には「光学補償シートによる複屈折のために，入射側に設置した偏光板にて形成された直線偏光が乱れ，出射側の偏光板から漏れる光量が多くなると，この光によって光学補償シートの検査がしずらくなってしまうという問題があった。そこで，従来では，上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸もしくはディスコティック液晶の配向方向とを略一致させることにより，漏れ光量を抑えて検査を行っている。」と記載されているところ，この記載に対応する引用発明１の検査対象は，「光学補償シートによる複屈折のために，入射側に設置した偏光板にて形成された直線偏光が乱れ」ない配置にもかかわらず観測される漏れ光，すなわち，偏光解消されることによって観測される漏れ光と解するのが妥当であるから，引用例１の前記段落【０００４】の記載に対応する引用発明１の検査対象は，「光学補償シートの製造過程での均一性」と解するのが妥当である。少なくとも，引用例１の前記記載に接した当業者において，偏光解消の程度を検査することは，当業者において容易にできたことである。
　イ　相違点２の判断に対し
　請求人は，引用発明２における「漏れ光を観察する」とは，目視でも観察できるほどに大きな位相差値のバラツキを観察対象としており，本願発明が測定しようとする透過光の量よりもはるかに大きい量の漏れ光を観察しているものと認められるから，引用例１の［０００３］に記載のとおり，「上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸もしくはディスコティック液晶の配向方向とを『略一致』させ」れば必要十分であると主張する。
　しかしながら，人間の眼は，光の量の違いよりも光の有無の方を知覚しやすいものであるから，(A)観察領域全面に光の漏れが視認される状況で，領域毎の光の明るさの違いを目視観察する配置よりも，(B)観察領域全面が暗黒の状況で，均一でない領域の光の漏れを目視観察する配置の方が，容易に観察可能と考えられる。あるいは，前記(A)の配置よりも前記(B)の配置の方が，光の漏れの違いを観察しやすいと考えられる。
　したがって，請求人が主張する事項は，むしろ，相違点２が実質的な相違点ではないこと，あるいは，相違点２に係る構成を当業者が容易推考できたことを裏付ける記載といえる。
　(2) 引用例２について
　請求人は，概略，引用例１についての議論が引用例２にも同様に当てはまると主張している。
　しかしながら，引用発明２は，「被検査フィルムの光学的透過特性分布の検査を定量的に行うことのできる，フィルム検査方法」である。また，相違点１〜４については，前記３(4)のとおり判断されるものである。
第３　まとめ
　以上のとおりであるから，他の請求項について審理するまでもなく，本願は拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。