【手続補正書】
【提出日】令和2年6月12日(2020.6.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料中の１つまたは複数の種を検出する方法であって、
プローブ光が前記１つまたは複数の種の各々の少なくとも１つの赤外吸収スペクトル特徴にわたって１つまたは複数の周波数掃引を完了するように前記プローブ光を生成することと、
前記試料を含む試料体積と、既知の濃度の前記１つまたは複数の種を含む１つまたは複数の基準体積とを含む、複数の吸収体積を提供することと、
前記プローブ光を経路に沿って単一の検出器素子に向けて、前記単一の検出器素子から検出器信号を出力することとを備え、前記単一の検出器素子への完全な経路は一度に前記吸収体積の１つのみを通過し、前記方法はさらに、
前記経路が前記試料体積を含むときに前記検出器信号が試料セグメントを含み、前記経路が基準体積を含むときに前記検出器信号が基準セグメントを含むように、各周波数掃引中に前記吸収体積の各々を複数回、順次選択するように、前記単一の検出器要素への前記経路を切換えることと、
前記基準セグメントを用いる較正を含んで、前記試料セグメントから前記１つまたは複数の種を検出することとを備える、試料中の１つまたは複数の種を検出する方法。
【請求項２】
前記１つまたは複数の種は前記試料中に少なくとも第１および第２の種を含み、前記検出するステップは前記試料セグメントから前記第１の種の少なくとも第１のスペクトル特徴および前記第２の種の少なくとも第２のスペクトル特徴を検出することを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記検出するステップは、前記１つまたは複数の基準体積の各々における前記少なくとも２つの種の既知の濃度に対して較正される前記第１および第２の種の両方の濃度を判断することを含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１および第２の種は同じ分子のアイソトポログであり、前記少なくとも２つの種の濃度を判断するステップは、前記２つの種の同位体比を判断することを含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記試料セグメントから１つまたは複数の種を検出するステップは、特定の周波数掃引からの試料セグメントを同じ周波数掃引からの基準セグメントのみを用いて較正することを含む、請求項１〜請求項４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
前記試料セグメントから１つまたは複数の種を検出するステップは、前記検出器信号において、較正されるべき試料セグメントに対して近位または隣接する基準セグメントのみを用いて、試料セグメントを較正することを含む、請求項１〜請求項５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記少なくとも１つの基準体積は２つ以上の基準体積を含み、各基準体積は、ゼロ濃度であり得る既知の濃度の、前記種のうちの少なくとも１つを含み、前記既知の濃度は、他の基準体積の各々におけるその種の前記既知の濃度とは異なる、請求項１〜請求項６のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
前記１つまたは複数の種を検出するステップは、前記基準体積の各々からの前記検出器信号間の内挿および／または前記基準体積の各々からの前記検出器信号からの外挿を用いて前記試料体積からの前記検出器信号を較正することを含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記経路は、前記試料体積が少なくとも５０Ｈｚの繰り返し速度で選択されるように、
切換えられる、請求項１〜請求項８のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１０】
前記経路は、前記試料体積と同じ繰り返し速度で各基準体積を選択するように切換えられる、請求項１〜請求項９のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１１】
前記経路は、微細機械加工された電気機械光学スイッチを用いて切換えられる、請求項１〜請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記複数の吸収体積は、各々異なる試料を含む複数の試料体積を含み、前記試料セグメントは異なる前記試料体積の各々からの試料セグメントを含み、前記検出するステップは、前記基準セグメントを用いる較正を含んで、前記試料体積の各々からの前記試料セグメントから前記１つ以上の種のいずれかを別々に検出することを含む、請求項１〜請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
試料中の１つまたは複数の種を検出するための分光計であって、
プローブ光が前記１つまたは複数の種の各々の少なくとも１つの赤外吸収スペクトル特徴にわたって１つまたは複数の周波数掃引を完了するように前記プローブ光を生成するための１つ以上のレーザ源と、
前記試料を含む試料体積と、既知の濃度の前記１つまたは複数の種を含む１つまたは複数の基準体積とを含む、複数の吸収体積と、
検出信号を出力するように構成された光検出器と、
前記プローブ光を、任意の一度に前記吸収体積の１つのみを含む光路に沿って、前記光検出器に向け、前記光路を切換えて、前記経路が前記試料体積を含むときに前記検出器信号が試料セグメントを含み、前記経路が各基準体積を含むときに前記検出器信号が基準セグメントを含むように、各周波数掃引中に前記吸収体積の各々を複数回、順次選択する経路光学系と、
対応する１つまたは複数の基準セグメントを用いて前記試料セグメントの複数の各々を較正し、前記較正された試料セグメントから前記１つまたは複数の種を検出するように構成される分析器とを備える、分光計。
【請求項１４】
前記１つまたは複数の種は前記試料中に少なくとも第１および第２の種を含み、前記試料セグメントは前記第１の種の少なくとも第１のスペクトル特徴および前記第２の種の少なくとも第２のスペクトル特徴を表すセグメントを含み、前記分析器は、前記第１および第２のスペクトル特徴を表す前記試料セグメントから前記第１および第２の種を検出する、請求項１３に記載の分光計。
【請求項１５】
前記分析器は、前記１つまたは複数の基準体積の各々における前記少なくとも２つの種の既知の濃度に対して較正される前記第１および第２の種の両方の濃度を判断するよう構成される、請求項１４に記載の分光計。
【請求項１６】
前記第１および第２の種は同じ分子のアイソトポログであり、前記分析器は、前記２つの種の同位体比を判断するよう構成される、請求項１５に記載の分光計。
【請求項１７】
前記分析器は、特定の周波数掃引からの試料セグメントを同じ周波数掃引からの基準セグメントのみを用いて較正するよう構成される、請求項１３〜請求項１６のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項１８】
前記分析器は、前記検出器信号において、較正されるべき試料セグメントに対して近位または隣接する基準セグメントのみを用いて、試料セグメントを較正するよう構成される、請求項１３〜請求項１７のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項１９】
前記少なくとも１つの基準体積は２つ以上の基準体積を含み、各基準体積は、ゼロ濃度であり得る既知の濃度の、前記種のうちの少なくとも１つを含み、前記既知の濃度は、他の基準体積の各々におけるその種の前記既知の濃度とは異なる、請求項１３〜請求項１８のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項２０】
前記分析器は、前記２つ以上の基準体積の各々の前記基準セグメント間の内挿および／または前記２つ以上の基準体積の各々の前記基準セグメントからの外挿によって前記試料セグメントを較正するように構成される、請求項１９に記載の分光計。
【請求項２１】
前記経路は、前記試料体積が少なくとも５０Ｈｚの繰り返し速度で選択されるように、切換えられるように、前記分光計は構成される、請求項１３〜請求項２０のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項２２】
前記経路は、前記試料体積と同じ繰り返し速度で各基準体積を選択するように切換えられるように、前記分光計は構成される、請求項１３〜請求項２１のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項２３】
前記経路光学系は、各周波数掃引中に複数回前記吸収体積の各々を順次選択するように前記経路を切換えるように構成される微細機械加工された電気機械光学スイッチを含む、請求項１３〜請求項２２のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項２４】
前記光検出器は、一連の連続する試料セグメントおよび基準セグメントに分割可能な単一の検出器信号を出力する単一の検出器素子である、請求項１３〜請求項２３のいずれか１項に記載の分光計。
【請求項２５】
前記単一の検出器素子は単一の半導体基板を含む、請求項２４に記載の分光計。
【請求項２６】
前記複数の吸収体積は、各々異なる試料を含む複数の試料体積を含み、前記試料セグメントは異なる前記試料体積の各々からの試料セグメントを含み、前記分析器は、前記試料体積の各々から試料セグメントを別々に較正し、前記較正された試料セグメントから前記試料体積の各々における前記１つまたは複数の種を検出するよう構成される、請求項１３〜請求項２５のいずれか１項に記載の分光計。