【事件の表示】
　特願２０１０−１５１９５７「光透過性部材」拒絶査定不服審判事件〔平成２４年１月１９日出願公開，特開２０１２−１４０５１〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　事案の概要
　１　手続の経緯
平成２２年　７月　２日：特許出願
平成２６年　１月１６日：拒絶理由通知（同年同月２０日発送）
平成２６年　３月１２日：意見書
平成２６年　３月１２日：手続補正
平成２６年　４月３０日：拒絶査定（同年５月２日送達）
平成２６年　７月３１日：審判請求
平成２７年　８月１１日：拒絶理由通知（同年同月１２日発送）
平成２７年１０月　９日：意見書
平成２７年１０月　９日：手続補正（以下「本件補正」という。）
　２　当合議体の拒絶の理由
　平成２７年８月１１日付けの拒絶理由通知による当合議体の拒絶の理由のうち，理由１は，以下のとおりである。
「１　本件出願は，明細書，特許請求の範囲及び図面の記載が下記の点で不備のため，特許法第３６条第４項第１号（委任省令要件・実施可能要件）並びに第６項第１号及び第２号に規定する要件を満たしていない。
…（省略）…
［理由１］記載不備について
（１）明細書及び図面の記載に以下の点で不備がある。
ア　図１〜図３では，「平坦部」と指し示された箇所に凹凸があるように表現される一方，「平坦部」と指し示されていない箇所が平坦なように見受けられる。よって，図１〜図３をどのように把握すればよいのかが理解しがたいとともに，「平坦部」の意義も不明確になっているので，委任省令要件違反となる。
イ　【００３０】によれば，高さの最小値Ｈｍｉｎ（谷の最深部）を高さゼロとしているとのことであるが，図３では，「Ｈ」の位置が谷の最深部に対応するように表現されていない。よって，【００３０】の記載が不明となるので，委任省令要件違反となる。
ウ　【００５２】の【表１】には以下の不備があるので，製造条件が示されていないことになり，実施可能要件違反となる。
（ア）「ＷＡ」の意義が不明である。
（イ）「研磨材」として記載された番号（「１０００」，「２０００」など）の意義が不明である。
（ウ）実施例・比較例のＮｏが異なり，ヒストグラム形状が異なるにもかかわらず，製造条件が同じものがある（実施例１と４，実施例１２と比較例１など）。よって，製造条件の開示が十分でない。
（エ）「加工速度」欄について，ノズルが「１０×２」のものは，加工速度の数値が記載される一方，ノズルが「Ｆ２−４」のものは，「ｃｖｇ」の値が記載されている。しかしながら，ノズルの種類が異なることにより，なぜ，「加工速度」の特定の仕方が異なることになるのかが不明瞭である。
（カバレッジ（ｃｏｖｅｒａｇｅ）の通常の意味を辞書等で明らかにし，意見書において説明されたい。）
エ　【００６１】によれば，図２９〜図３２には，実施例及び比較例のヒストグラムが記載されているとのことであるが，これらの図では，いずれも，面高さ０から一定程度の面高さの値まで確率密度が０となっている。例えば，実施例１（図２９）では少なくとも面高さ３μｍまでが，実施例１０（図３２）では少なくとも面高さ４μｍまでが，確率密度０である。
　他方，面高さ０は谷の最深部に対応する（【００３０】）のであり，実施例及び比較例はブラスト加工により製造している（【００５０】等）ことからすると，面高さ０から一定程度の面高さの値までであっても，ある程度の確率密度が存在するものと解される。
　そうすると，図２９〜図３２の各実施例及び各比較例において，面高さ０から一定程度の面高さの値までの確率密度が０になっていることは不自然であり，よって，これらの測定結果は信憑性に乏しいことになる。
　その結果，これらの測定結果により特定された種々の条件についても信憑性に欠けることになり，本願の請求項に係る発明が，課題が解決できるように実施できるのかが不明であって，実施可能要件違反となる。
オ　【００６８】には，「反射率が全角度において７％以下であり（図３７参照）」と記載されているところ，この記載の意味が不明である。
　すなわち，「全角度に」おける「反射率」との文言と，図３７の「３０度傾斜光　反射率」との表題とからすると，「反射率が全角度において７％以下であ」るとは，３０度傾斜光（「３０度」は入射角の大きさを意味すると解するのが自然である。）を入射させたときの反射光の反射角が，実施例のものでは，乱反射が生じることにより，０〜９０度の範囲たり得るところ，そのすべての角度範囲において，反射率が７％以下ということを意味していると思われる。しかしながら，図３７の横軸は波長となっており，「角度」とは無関係であるため，上記の理解と図３７とが対応しない。このように，【００６８】に「（図３７参照）」と記載された結果，上記記載の意味が不明となっているので，委任省令要件違反となる。
（【００６８】の上記記載により，出願人がそもそも何を表現したかったのかを意見書において明らかにした上で，その表現したかった内容が的確に表現されるように，新規事項追加とならない範囲で補正をすることを検討されたい。）
カ　請求項１には，最頻値の確率密度の上限として３０％が特定されているが，このような上限とする技術的意義が明細書及び図面の記載からは不明である。
（２）請求項の記載には以下の点で不備がある。
ア　請求項１について
（ア）「高さ」の意義が，上記（１）イ及びエを踏まえると，明確でない。
（後記［理由２］では，とりあえず，高さの最小値Ｈｍｉｎ（谷の最深部）が高さゼロであると解することにする。）
（イ）「所定サイズ毎の微小な区画」が明確でない。
　「所定サイズ」を小さくすれば，最頻値の確率密度や分散の値は収束するものと解されるが，「微小」と記載されているにとどまり，所定サイズの取り方によっては，ある具体的態様が，請求項１の範囲に含まれたり含まれなかったりすることが生じ得るので問題となる。
（請求項２の特定事項を請求項１に追加する方向で検討されたい。）
（ウ）「前記ヒストグラムにおける最頻値の確率密度が１０〜３０％」との特定があるが，「最頻値」を計測するための前提となる高さの区分の単位（【００３７】では０．１μｍ毎とされている。）が明確でない。
　すなわち，一の具体的態様であっても，高さの区分の単位を変更すると，最頻値の確率密度が変化してしまうと解され（例えば，図２９の実施例３で，高さの区分の単位を０．５μｍとすると，確率密度のピークは３０％を超えると解される。），よって，高さの区分の単位の取り方によって，ある具体的態様が，請求項１の範囲に含まれたり含まれなかったりすることが生じ得るので問題となる。
（エ）「前記反射面の反射率が全角度において７％以下である」の意義が，上記（１）オを踏まえると，明確でない。
（オ）上記（１）エを踏まえると，請求項に係る発明が，課題を解決できていることになるのかが不明であり，サポート要件違反となる。
イ　請求項２〜６についても，上記アの各指摘事項が，関連する限りにおいて成り立つ。」
　３　特許請求の範囲
　本件出願の特許請求の範囲の記載は，以下のとおりである。
「　　【請求項１】
　光学的に透明な材質によって形成された光透過性部材の反射面に微細な凹凸が形成されており，
　前記反射面を撮影した１０００倍画像における０．２９１３μm四方の１ピクセルの範囲を１区画として分割して，各区画における高さを測定して得た測定値に基づくヒストグラムを形成したとき，前記ヒストグラムにおける最頻値の確率密度が１０〜３０％であり，かつ，前記高さに基づいて算出した前記ヒストグラムにおける分散（σ２）が０．４（μm2）未満となるよう前記反射面の凹凸が形成されていることを特徴とする光透過性部材。
　　【請求項２】
　前記反射面の表面粗さがＲａで０．５μm以下である請求項１記載の光透過性部材。
　　【請求項３】
　前記反射面の表面粗さがＲｚで３μm以下である請求項１又は２記載の光透過性部材。
　　【請求項４】
　前記光透過性部材が透明板であり，前記反射面を前記透明板の片面に形成したことを特徴とする請求項１〜３いずれか１項記載の光透過性部材。
　　【請求項５】
　平行透過率が２０％以上，ヘイズ値２０〜７０％であると共に，前記反射面に対する３０度傾斜光の反射率が全角度において７％以下である請求項１〜４いずれか１項記載の光透過性部材。」
第２　当合議体の判断
　１　理由１（１）ウについて
　(1) 段落【００５２】の表１（本件補正後のもの，以下，同じ。）には，「研磨材（ＷＡ）」の表頭が記載され，また，セルには，「１０００」等の数字が記載されている。加えて，表１には，「加工程度（ｃｖｇ）」の表頭が記載され，そのセルには，「１００％ｃｖｇ」等と記載されている。
　この点に関し，請求人は，「ＷＡ」が「ホワイトアランダム」の略称であることは当業者において周知であり，また，「１０００」等が粒度範囲を表すことも，当業者において周知であると主張する。加えて，請求人は，「ｃｖｇ」はショットピーニングの加工程度を示すもので，被加工材への加工全面積ＡとＡに含まれる圧痕面積の総和Ｂより，カバレージＣ=Ｂ／Ａ×１００（％）と定義するものであると主張する。
　確かに，ホワイトアランダムは周知であり，「ＷＡ」と略称されることもある。また，研磨材の粒度範囲を「１０００」等の値で表すことも周知である。加えて，「カバレージ」が「ｃｖｇ」と略称されることも多い。
　しかしながら，周知性に関する請求人の立証は不十分であるから，表１に記載の用語等が，請求人主張の意味であることが，明確であるとまではいえない。すなわち，第１号証は請求人の特許公報であり，また，本件出願時点における公知文献ではない（職権により公開公報に置き換えて善解しても公知でない。）。さらに，第２号証も請求人のホームページであり，また，職権により調査・閲覧したところ，その著作権表示は２０１５年である。加えて，「ショットピーニング」と「ブラスト加工」は，表面処理手法としては類似するものの，処理目的，ショット材等においては全く異なる。
　請求人の主張のように，請求人は表１に記載の用語等を請求人が主張する意味で使用したかもしれないけれども，請求人の主張及び証拠等を考慮しても，当業者において，表１に記載の用語等が，請求人主張の意味であることが明確であるとまではいえない。
　(2) 仮に，周知性等について措くとしても，表１に加え，本件出願の発明の詳細な説明及び各図を参照すると，「ＷＡ」，「１０００」，「ｃｖｇ」等の意味を，請求人が主張するように解釈することは，困難である。あるいは，本件補正により表１において重複する製造条件のものが削除され，表１の外見において整合性が図られたとしても，本件出願の発明の詳細な説明及び各図を参照すると，依然として，表１の製造条件の開示は十分であるとはいえない。その理由は，以下のとおりである。
　ア　表１の実施例１０と実施例１１は，表１に開示された範囲では製造条件が同一である。また，実施例１０に対応する図１２からは，「ＷＡ＃１０００（６０％）」との記載が見て取れ，これは，表１において「研磨材（ＷＡ）」が「１０００」であるとの記載と整合する。しかしながら，実施例１１に対応する図１３からは，「ＷＡ＃１０００（６０％）＋ＷＡＡ＃３０００」との記載が見て取れ，表１からは不明な製造工程の存在がうかがえる。そして，図２９（Ａ）からは，実施例１０及び実施例１１のヒストグラムが，それぞれ，異なることが見て取れる。
　そうしてみると，実施例１０と実施例１１は，「ＷＡＡ＃３０００」の製造条件の有無で異なると思われるところ，「ＷＡＡ」の意義が不明であり，また，表１とも整合しない。加えて，実施例１〜実施例９に対応する図４〜図１１からは，「Ｎａｎｏ　Ａ」〜「Ｎａｎｏ　Ｇ」，「ＡＲ＃１２００」〜「ＡＲ＃３０００」との記載が見て取れ，「Ｎａｎｏ」及び「ＡＲ」の意義が不明であり，また，表１とも整合しない。さらに，表１によると，実施例１，実施例２及び実施例５の研磨材は同一と思われるが，図４，図５及び図７からは，それぞれ，「Ｎａｎｏ　Ａ」，「Ｎａｎｏ　Ｂ」及び「Ｎａｎｏ　Ｇ」との記載が見て取れ，異なっている。また，アランダムの英語表記は「ａｌｕｎｄｕｍ」であるから，「ＡＲ」は「アランダム」の略称とは考え難い。
　イ　さらに，段落【００２７】，【００３０】及び【００３１】には，それぞれ，「そこで，本発明の発明者は反射面の表凹凸形状が一例として図１に断面形状を模式的に示すように，山頂に平坦部が形成されている場合，又は，図２に示すように，山間（谷）に平坦部が形成されている場合，更にはこれらが混在したものである場合等，一定の割合で平坦部を備えるものであれば，この平坦部においては透過像（透過光）の乱反射が抑制できる結果，透過像にある程度の輪郭の鮮明さを維持することが可能であり，これにより，光透過性部材に防眩性を付与しつつ，透過像の鮮明さを維持するという，相反する特性を同時に付与できるのではないかと予測した。」，「光透過性部材の反射面に，図１に示したような平坦部が形成されていると仮定すると，この反射面を細かい区画に分割して，各区画における高さ〔凹凸面における表面の高さの最小値Ｈmin（谷の最深部）をゼロとし，これを基準とした高さ〕を測定すると，平坦部に位置する区画の高さは，略同一の高さとして測定される筈である。」及び「この測定データに基づいてヒストグラムを作成した場合，
平坦部が反射面中に所定の割合で形成されていれば，平坦部の高さに対応する高さが最頻値として出現する
　しかしながら，実施例６〜実施例９の加工１の加工程度（ｃｖｇ）は１００％であり，また，加工１の後，研磨材の粒度範囲がより粗い加工２が施されているから，ガラス表面の加工全面積に圧痕が存在し，平坦部は消失しているはずである。
　それにもかかわらず，実施例６〜実施例９は，良好な結果が得られている。
　ウ　加えて，表１の実施例１０は，加工程度が６０％ｃｖｇである。したがって，ガラス表面の加工全面積の６０％に圧痕（凹部）が存在し，残り４０％は図１の山頂の平坦部のようになるから，そのヒストグラムは，ピークが約４０％で，かつ，ピークよりも面高さが高い所の確率密度は０％になるはずである。
　しかしながら，図２９（Ａ）からは，ピークが３０％を下回り，かつ，ピークよりも面高さが０．５μｍ以上高い所まで確率密度が０％でない様子が見て取れるから，表１と整合的に理解することができない。また，「平坦部が反射面中に所定の割合で形成されていれば，平坦部の高さに対応する高さが最頻値として出現する」（段落【００３１】）という知見とも整合しない。
　エ　さらに加えて，表１の実施例７と比較例１３は，表１によると，実施例７が加工２を施すのに対し，実施例１３が加工２を施さない点で相違している。
　ここで，比較例１３に関して，図２８（Ａ）からは，確率密度のピークが１０％を下回り，約２μｍの広がりを持つヒストグラムが見て取れる。また，加工２（実施例１の加工）に関して，図２６（Ａ）からは，確率密度のピークが１０％を上回るものの，１μｍ以上の広がりを持つヒストグラムが見て取れる。
　ここで，比較例１３の構造に対し実施例１の加工を施した場合のヒストグラムは，比較例１３のヒストグラム特性を持つ表面に対して実施例１のヒストグラムの加工を施したものとなるから，ヒストグラムのピークは，比較例１３のピークより低くなり，ヒストグラムの広がりは比較例１３より広くなり，ヒストグラムの位置は，面高さが高い方へシフトするはずである。
　しかしながら，実施例７のヒストグラムのピークは，比較例１３のピークより高くなり，広がりは同様で，ヒストグラムの位置も同様である。加えて，比較例１３より微細なヒストグラム構造（ヒストグラムの凹凸）が現れている。
　表１の実施例６についても同様である。実施例６の粒度範囲は比較例１３よりも大きいから，実施例６の加工１を施した段階では，比較例１３よりも低く，広いヒストグラムが観測されるはずである。ところが，加工１の後に加工２を施すと，図２７（Ａ）のようなヒストグラムとなっている。
　したがって，表１と図２６〜図２８との，整合的な理解が困難である。
　オ　以上のとおりであるから，仮に周知性について措くとしても，「ＷＡ」，「１０００」，「ｃｖｇ」等を，請求人が主張するように解釈することは困難である。
　また，表１の製造条件の開示は，不十分である。
　(3) 小括
　本件出願は，発明の詳細な説明の記載が，経済産業省令で定めるところにより，その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえないから，特許法３６条４項１号（委任省令要件及び実施可能要件）に規定する要件を満たしていない。
　２　理由１（１）オについて
　(1) 段落【００６８】には，「前述したテストピースのうち，本発明の構造を備えたテストピース（実施例１〜３，５〜１２）では…（省略）…反射面に対する３０度傾斜光の反射率が全角度において７％以下であり（図３４参照）」と記載されている。ここで，「反射面に対する３０度傾斜光の反射率が全角度において７％以下であり」との記載は，３０度傾斜光を入射させたときの反射光が，本発明の構造を備えたテストピースでは，散乱により全角度に拡散反射するところ，その全ての角度範囲において，反射率が７％以下であることを意味していると思われる。
　しかしながら，図３４を参照すると，表の横軸は波長であり，角度ではないから，図３４を参照しても，「反射面に対する３０度傾斜光の反射率が
全波長
全角度
　また，段落【００４６】を参照すると，「反射率(30度傾斜光)の測定機器は，日立分光光度計（「U4100」株式会社日立ハイテクノロジーズ）を使用した。」と記載されている。ここで，分光光度計は，光を回折格子等により分光し，波長毎の光強度を測定する機器であるから，例えば，国際公開第２００７／１４８８０７号（当合議体の拒絶の理由の引用文献１）の１３頁１６行〜１４頁１行に開示されるような，角度毎の光強度を測定する機器とは異なる。なお，職権により調査したところ，Ｕ４１００に付属する検知器は標準積分球である。標準積分球は，全光束の平均を測定するための機器であり，角度毎の光強度を測定することに適さない。
　(2) 請求人は，意見書において，「理由１（１）オの，本願明細書［００６８］欄の「反射率が全角度において７％以下であり」との記載の意味が不明であるとの認定に対して，本願明細書［００６８］欄の記載について，「
前記反射面に対する３０度傾斜光の
　しかしながら，上述のとおりであるから，「反射面に対する３０度傾斜光の反射率が全角度において７％以下」であることについて，請求人の釈明は不十分である。
　(3) 本件出願は，発明の詳細な説明の記載が，経済産業省令で定めるところにより，その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者がその実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえないから，特許法３６条４項１号（委任省令要件及び実施可能要件）に規定する要件を満たしていない。
　３　理由１（２）アの（ウ）〜（オ）及びイについて
　(1) 図２６〜図２９のヒストグラムに関して，段落【００５９】には，「この高さを，０．１μm毎の数値群にまとめてＸ軸を取り，各数値群に属する標本数を全標本数である７８６，４３２で割って得た確率密度をＹ軸としたヒストグラムを作成し，このヒストグラムより最頻値の確率密度を求めた。」と記載されている。したがって，図２６〜図２９のヒストグラムの横軸（面高さ（μｍ））の区分の単位は，０．１μｍである。
　ここで，仮に，図２６〜図２９のヒストグラムの横軸の区分の単位を２倍，すなわち，０．２μｍ毎の数値群にまとめてＸ軸を取ったならば，各数値群に属する標本数は，隣接する０．１μｍ毎の数値群の和となる。したがって，例えば，図２６（Ａ）の実施例２や実施例３のヒストグラムの２０〜３０％のピークは，約２倍の４０〜６０％となるから，１０〜３０％の範囲に入らなくなり，逆に，図２６（Ｂ）の比較例２や比較例３のヒストグラムの１０％弱のピークは，約２倍の２０％程度となるから，１０〜３０％の範囲に入り，図２６（Ｃ）の比較例４のヒストグラムのピークも，１０〜３０％の範囲に入り，また，図２８（Ａ）の比較例１３のヒストグラムのピークも，１０〜３０％の範囲に入ることとなる。
　すなわち，ヒストグラムは，その原理上，区分の単位の取り方によって，最頻値の確率密度が１０〜３０％の範囲に入ったり，入らなかったりする。
　そこで，請求項１を参照する。
　請求項１には，「前記反射面を撮影した１０００倍画像における０．２９１３μm四方の１ピクセルの範囲を１区画として分割して，各区画における高さを測定して得た測定値に基づくヒストグラムを形成したとき，前記ヒストグラムにおける最頻値の確率密度が１０〜３０％であり」と記載されている。
　しかしながら，請求項１には，ヒストグラムの横軸の区分の単位が記載されていない。区分の単位が記載されていない以上，ヒストグラムにおける最頻値の確率密度について，どのようなものが１０〜３０％の範囲に入り，どのようなものが１０〜３０％の範囲に入らないか，当業者は，請求項１の記載から理解できない。
　したがって，請求項１に係る発明は明確であるとはいえない。
　また，発明の詳細な説明の記載からみて，比較例２〜比較例４及び比較例１３は，発明の詳細な説明に記載された，発明が解決しようとする課題（段落【００１１】〜【００１３】）を解決できない態様である。
　しかしながら，比較例２及び比較例３の分散は０．２であり，比較例４の分散は０．１４弱であり，また，比較例１３の分散は０．１９程度（図３０）である。そして，区分の単位を０．２μｍ毎とすれば，ヒストグラムにおける最頻値の確率密度は，１０〜３０％の範囲に入るから，請求項１に係る発明の要旨に入る。
　したがって，請求項１に係る発明は，発明が解決しようとする課題を解決できるとは限らない。
　請求人は，意見書において，「本願請求項１には，構成として明確に「最頻値の確率密度が１０〜３０％」と記載されており，つまり，本願発明においては，高さの区分の単位の取り方は，「最頻値の確率密度が１０〜３０％」となるように取るものであり，そもそも，最頻値の確率密度が１０〜３０％に入らないような高さの区分の単位の取り方は，本願発明の範囲外のものである。」と主張する。
　請求人の主張は本末転倒であり，また，請求項１に係る発明は，発明が解決しようとする課題を解決できるとは限らないことの証左でもある。
　(2) 請求項５には，「前記反射面に対する３０度傾斜光の反射率が全角度において７％以下である」と記載されている。
　しかしながら，反射率が何％になるかは，反射面を見込む角度を規定するアパーチャーの開口率に依存する。すなわち，反射面を見込む角度が１°のアパーチャーで反射率が７％未満（例：６％）であるとしても，反射面を見込む角度が２°のアパーチャーの場合は，反射率が７％以上（例：１２％）となり得る。
　また，請求項５はもちろん，発明の詳細な説明においても，反射率の角度分布の測定条件は開示されておらず，反射率の角度分布とは異なる，反射光の波長分布の測定結果しか開示されていない。
　したがって，どのようなものが７％以下となり，どのようなものが７％を超えるか，当業者は，請求項５の記載から理解できないから，請求項５に係る発明は発明が解決しようとする課題を解決できるとは限らない。また，発明の詳細な説明を参照すると，「全角度」は「全波長」の意味とも解され，したがって，「前記反射面に対する３０度傾斜光の反射率が全角度において７％以下である」の意義が，明確であるとはいえない。
　(3) 小括
　この出願は，特許請求の範囲の請求項１及び５の記載が，特許法３６条６項１号及び２号に規定する要件を満たしていない。
第３　まとめ
　以上のとおりであるから，本願は拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。