(57)【要約】【課題】  ３軸方向及び１軸方向・２軸方向に限定された軸方向の微細傷を誰もが容易に検出可能なパルス電流式パルス電流式磁粉探傷磁化装置を開発・提供する事にある。【解決手段】  Ｘ軸コイルと、Ｙ軸コイルと、Ｚ軸コイルを組合せた３軸磁化コイルと、パルス電流をそれぞれの軸に通電制御するパルス電流制御装置から成り、且つ、該被検査物の微細傷検査時は被検査物を３軸磁化コイル内に挿入し、且つ、該３軸磁化コイル内のＸ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＹ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＺ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電するようにパルス電流制御装置を設定して、被検査物の３軸方向に磁界を与えて微細傷を検出するものである。【選択図】  図３
0003135541.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
磁粉探傷検査のコイル法により、三次元方向に磁界を与えて、被検査物の微細傷を検出する装置であって、該装置は前後Ｘ軸（１ａ’）方向に磁界を発生させるＸ軸コイル（１ａ）と、左右一対に対向させてＹ軸（１ｂ’）方向に磁界を発生させるＹ軸コイル（１ｂ）と、上下一対に対向させてＺ軸（１ｃ’）方向に磁界を発生させるＺ軸コイル（１ｃ）を組合せた３軸磁化コイル（１）と、パルス電流をそれぞれの軸に通電制御するパルス電流制御装置（２）から成り、且つ、該被検査物（３）の微細傷検査時は被検査物（３）を３軸磁化コイル（１）内に挿入し、且つ、該３軸磁化コイル（１）内のＸ軸コイル（１ａ）に１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＹ軸コイル（１ｂ）に１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＺ軸コイル（１ｃ）に１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電するようにパルス電流制御装置を設定して、被検査物（３）の３軸方向に磁界を与えて微細傷を検出する事を特徴とするパルス電流式磁粉探傷磁化装置。
【請求項２】
微細傷の発生方向が２軸限定時は、限定された一方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電し、休止時間０．５秒から２秒間隔を空けて、更に他方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電するようにパルス電流制御装置をそれぞれ設定して、被検査物（３）の限定軸方向に磁界をそれぞれ与えて微細傷を検出する事を特徴とするパルス電流式磁粉探傷磁化装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この考案は、Ｌ／Ｄ比が３以下の強磁性体金属部品の３軸方向の微細表面傷を探傷するパルス電流を用いたパルス電流式磁粉探傷磁化装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、位相をずらす複数交番式コイル磁化や、２通りのコイルに同時磁化通電するＨ型コイルによるパルス電流を用いたコイル法による磁粉探傷装置がある。
【０００３】
しかしながら、複数交番式コイル磁化方法は、Ｌ／Ｄ比が３以下の場合は反磁界の影響を受け易く、微細欠陥の検出が困難とＪＩＳ規格に明記され、又、Ｈ型コイルによるパルス電流を用いたコイル法は、２種類のコイルに同時通電磁化する為に、磁化方向がベクトル合成され、１方向の磁化と成り、１方向の傷検査と成る。
【０００４】
従って、上記問題を解決すべく３軸方向の傷検査が同時に出来る装置の早期開発が望まれている。
【０００５】
これまでに、出願されている磁粉探傷用磁化装置の特許文献を参考の為、紹介する。（特許文献１〜７参照。）
【特許文献１】特開平５−１０７２０２
【特許文献２】特開平５−２８１１９７
【特許文献３】特開平６−００３３３０
【特許文献４】特開平６−０９４６７９
【特許文献５】特開平６−１７４６９６
【特許文献６】特開平８−１０５８５９
【特許文献７】特開平８−１１０３２２
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、上記課題を解決する為に、この考案は３軸方向及び２軸方向に限定された軸方向の微細傷を誰もが容易に検出可能にし、金属部品の品質・性能を向上する為のパルス電流式磁粉探傷磁化装置を開発・提供する事にある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この課題を解決する為の手段として、前後Ｘ軸方向に磁界を発生させるＸ軸コイルと、左右一対に対向させてＹ軸方向に磁界を発生させるＹ軸コイルと、上下一対に対向させてＺ軸方向に磁界を発生させるＺ軸コイルを組合せた３軸磁化コイルと、パルス電流をそれぞれの軸に通電制御するパルス電流制御装置から成り、且つ、該被検査物の微細傷検査時は被検査物を３軸磁化コイル内に挿入し、且つ、該３軸磁化コイル内のＸ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＹ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＺ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電するようにパルス電流制御装置を設定して、被検査物の３軸方向に磁界を与えて微細傷を検出するものである。
【０００８】
又、微細傷の発生方向が２軸限定時は、限定された一方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒間隔を空けて、更に他方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電するようにパルス電流制御装置をそれぞれ設定して、被検査物の限定軸方向に磁界をそれぞれ与えて微細傷を検出するものである。
【考案の効果】
【０００９】
この考案の効果として、前後Ｘ軸方向に磁界を発生させるＸ軸コイルと、左右一対に対向させてＹ軸方向に磁界を発生させるＹ軸コイルと、上下一対に対向させてＺ軸方向に磁界を発生させるＺ軸コイルを組合せた３軸磁化コイルと、パルス電流をそれぞれの軸に通電制御するパルス電流制御装置から成り、且つ、該被検査物の微細傷検査時は被検査物を３軸磁化コイル内に挿入し、且つ、該３軸磁化コイル内のＸ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＹ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒後にＺ軸コイルに１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電するようにパルス電流制御装置を設定して、被検査物の３軸方向に磁界を与えて微細傷を検出するものである。又、微細傷の発生方向が２軸限定時は、限定された一方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間０．５秒から２秒間隔を空けて、更に他方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電するようにパルス電流制御装置をそれぞれ設定して、被検査物の限定軸方向に磁界をそれぞれ与えて微細傷を検出する事で、被検査物の微細傷が確実に検出可能に成り、各金属製品の品質・性能の向上を図ると共に、信頼向上に役立つ等、極めて有益なる効果を奏するものである。
【考案を実施するための最良の形態】
【００１０】
この考案の最良の形態として、３軸磁化コイルの大きさは被検査物の大きさに適合し、且つ、作業性・耐久性・経済性・安全性等を考慮した最適な寸法・形状に設定する事が重要である。
【実施例１】
【００１１】
そこで、この考案の一実施例を図１〜図３に基づいて詳述すると、磁粉探傷検査のコイル法により、三次元方向に磁界を与えて、被検査物の微細傷を検出する装置であって、該装置は前後Ｘ軸（１ａ’）方向に磁界を発生させるＸ軸コイル（１ａ）と、左右一対に対向させてＹ軸（１ｂ’）方向に磁界を発生させるＹ軸コイル（１ｂ）と、上下一対に対向させてＺ軸（１ｃ’）方向に磁界を発生させるＺ軸コイル（１ｃ）を組合せた３軸磁化コイル（１）と、パルス電流をそれぞれの軸に通電制御するパルス電流制御装置（２）から成り、且つ、該被検査物（３）の微細傷検査時は被検査物（３）を３軸磁化コイル（１）内に挿入し、且つ、該３軸磁化コイル（１）内のＸ軸コイル（１ａ）に１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電し、休止時間（ＳＴ）０．５秒から２秒後にＹ軸コイル（１ｂ）に１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流を通電し、休止時間（ＳＴ）０．５秒から２秒後にＺ軸コイル（１ｃ）に１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電するようにパルス電流制御装置を設定して、被検査物（３）の３軸方向に磁界を与えて微細傷を検出する事を特徴とするパルス電流式磁粉探傷磁化装置から構成される。
【００１２】
次に、参考の為、一例を挙げて解り易く説明すると、例えば被検査物の形状が箱型形状時の微細傷検出範囲を各軸方向（Ｘ軸・Ｙ軸・Ｚ軸）別に示すと、まずＸ軸方向に磁界を発生させた場合は、図４（Ａ）に示す様に、被検査物の上下面と左右面の微細傷が検出可能で、又、Ｙ軸方向に磁界を発生させた場合は、図４（Ｂ）に示す様に、被検査物の上下面と前後面の微細傷が検出可能で、又、Ｚ軸方向に磁界を発生させた場合は、図４（Ｃ）に示す様に、被検査物の前後面と左右面の微細傷が検出可能である。但し、被検査物の形状が異なった場合はこの限りではない。
【００１３】
図５はＸ軸・Ｙ軸・Ｚ軸の３軸磁化コイルによって発生する磁界の方向を示す斜視図である。
【００１４】
図６は横方向の通電経過時間と縦方向のパルス電流値の関係を各軸（Ｘ・Ｙ・Ｚ）別に表した関係図である。
【００１５】
次に、この考案の作業手順について説明すると、図７に示す様に、まず、被検査物（３）をコンベア（Ｃ）に載せて矢印方向に搬送する。そして、コンベア（Ｃ）上に設置された光電管（ＬＣ）が被検査物（３）を感知し、被検査物（３）が３軸磁化コイル（１）の中で磁化通電する様に通電指令を出す。そして、光電管（ＬＣ）から通電指令を受けたパルス電流（２）をパルス電流制御装置（２）により、Ｘ軸・Ｙ軸・Ｚ軸コイルの各コイルに通電時間１／１００秒から１／１２０秒のパルス電流を、０．５秒から２秒の休止時間おきに磁化通電する。そして、ポンプ（Ｐ）によって汲み上げられた蛍光磁粉液をシャワーノズル（ＳＮ）により被検査物（３）に散布する。次に暗幕によって包囲された暗室（ＤＲ）内に搬入された被検査物（３）を作業員（Ｍ）が手に取り、ブラックライト（ＢＬ）を照射する事によって傷部分に磁着した蛍光磁粉を蛍光剤の輝きにより現出した部分を目視確認により検査チェックする。この時、磁着した蛍光剤の指示模様を作業員（Ｍ）が判定し、傷の指示模様がある物はＮＧとして弾かれる。そして、目視検査されて傷が無い被検査物（３）は、再度コンベア（Ｃ）上に置かれて、脱磁コイル（ＤＣ）中を通って脱磁される。尚、上記説明の中の搬送方法に関しては、一例で有りコンベアに限ることはない。
【実施例２】
【００１６】
この考案のその他の実施例について説明すると、微細傷の発生方向が２軸限定時は、限定された一方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電し、休止時間（ＳＴ）０．５秒から２秒間隔を空けて、更に他方の軸コイルに対して１／１００秒から１／１２０秒間パルス電流（ＰＩ）を通電するようにパルス電流制御装置をそれぞれ設定して、被検査物（３）の限定軸方向に磁界をそれぞれ与えて微細傷を検出する事を特徴とするパルス電流式磁粉探傷磁化装置から構成される。
【００１７】
又、作業手順について説明すると、被検査物の傷発生方向がＸ軸・Ｙ軸方向の２軸方向に限定された場合は、Ｘ軸・Ｙ軸コイルを組み上げ、２軸磁化コイルとし、それぞれのコイルに通電時間１／１００秒から１／１２０秒のパルス電流を０．５秒から２秒の休止時間おきに磁化通電する。又、Ｘ軸・Ｙ軸方向の２方向、Ｙ軸・Ｚ軸方向の２軸方向も同等である。
【産業上の利用可能性】
【００１８】
この考案のパルス電流式磁粉探傷磁化装置は、３軸方向及び２軸方向に限定された軸方向の微細傷を誰もが容易に検出可能にし、商品の品質・性能を向上する為、多くの金属部品を製造する関係市場に寄与する点で産業上の利用可能性を有する。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】この考案の一実施例を示し、（Ａ）はＸ軸コイルの斜視図で、（Ｂ）はＹ軸コイルの斜視図で、（Ｃ）はＺ軸コイルの斜視図である。
【図２】この考案の一実施例を示し、３軸磁化コイルの斜視図である。
【図３】この考案の一実施例を示し、３軸磁化コイルとパルス電流制御装置を接続し、被検査物を３軸コイル内に設置した状態を示す斜視図である。
【図４】この考案の一実施例を示し、箱型形状被検査物時の各軸方向別微細傷検出範囲図で、（Ａ）はＸ軸方向時で、（Ｂ）はＹ軸方向時で、（Ｃ）はＺ軸方向時を示す斜視図である。
【図５】この考案の一実施例を示し、被検査物と３軸方向の磁界を示す斜視図である。
【図６】この考案の一実施例を示し、パルス電流値と通電経過時間を示す関係図である。
【図７】この考案の使用例を示し、パルス電流式磁粉探傷磁化装置全体の平面図である。
【符号の説明】
【００２０】
１  ３軸磁化コイル
１ａ  Ｘ軸コイル
１ａ’  Ｘ軸（前後方向）
１ａ”  Ｘ軸方向に磁界をあてて検出された微細傷
１ｂ  Ｙ軸コイル
１ｂ’  Ｙ軸（左右方向）
１ｂ”  Ｙ軸方向に磁界をあてて検出された微細
１ｃ  Ｚ軸コイル
１ｃ’  Ｚ軸（上下方向）
１ｃ”  Ｚ軸方向に磁界をあてて検出された微細傷
２  パルス電流制御装置
３  被検査物
ＢＬ  ブラックライト
Ｃ  コンベア
ＤＣ  脱磁コイル
ＤＲ  暗室
Ｉ  電流値
ＬＣ  光電管
Ｍ  作業員
Ｐ  ポンプ
ＰＩ  パルス電流
ＳＮ  シャワーノズル
ＳＴ  休止時間
Ｔ  経過時間
ＸＴ  Ｘ軸パルス電流通電時間
ＹＴ  Ｙ軸パルス電流通電時間
ＺＴ  Ｚ軸パルス電流通電時間
【図１】
0003135541.tif 000003
【図２】
0003135541.tif 000004
【図３】
0003135541.tif 000005
【図４】
0003135541.tif 000006
【図５】
0003135541.tif 000007
【図６】
0003135541.tif 000008
【図７】
0003135541.tif 000009