【事件の表示】
　特願２００９−２７４５２６「Ｘ線走査システム」拒絶査定不服審判事件〔平成２２年　３月　４日出願公開，特開２０１０−　４８８２９〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本願発明
　本願は，平成１８年１２月１５日（パリ条約による優先権主張日　平成１７年１２月１６日，英国）を国際出願日として出願した特願２００８−５４５０８９号の一部を平成２１年１２月２日に新たな特許出願としたものであって，平成２５年８月５日付けで拒絶査定されたのに対し，同年１２月９日に拒絶査定不服審判の請求がなされ，それと同時に手続補正がなされ，そして，当審において平成２７年３月６日付けで拒絶理由を通知し，これに対し，同年９月９日付けで意見書及び手続補正書が請求人より提出されたものである。
　そして，本願の請求項１〜１３に係る発明は，平成２７年９月９日付け手続補正書で補正された特許請求の範囲の請求項１〜１３に記載された事項により特定されるものと認められるところ，そのうち請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は，以下のとおりのものである。
「【請求項１】
　走査装置と処理手段を有するＸ線走査システムであって、
　前記走査装置は、複数のＸ線源ユニットが走査容積の周りに実質的に円状に間隔をおいて配置されるＸ線放射源を有し、
　　前記複数のＸ線源ユニットの各々は、異なる物質からなる２つのターゲット領域とエミッタ素子とを有し、前記エミッタ素子は、前記２つのターゲット領域の一方に向けられる電子ビームを生成するように起動され、
　　前記電子ビームは、前記２つのターゲット領域の間で切り替えられて、前記走査容積を通過するエネルギスペクトルの異なるＸ線を生成し、
　前記走査装置は、さらに、前記ターゲット領域の各々からの前記Ｘ線を検出して２つの画像データセットを生成するように構成される検出器を有し、
　前記走査装置は対象物の複数の領域を走査するように構成され、
　前記処理手段は、複数の断層撮影画像データのセットを生成するために、前記検出器からの信号を処理し、前記処理は前記２つの画像データセットの合成を含み、前記断層撮影画像データのセットを合成して前記対象物の３次元画像を生成するように構成されていることを特徴とするＸ線走査システム。」
　
第２　当審の拒絶理由
　当審において平成２７年３月６日付けで通知した拒絶の理由は，理由１として，本件出願は，特許請求の範囲の記載が不備のため，特許法第３６条第６項第２号に規定する要件を満たしていない，理由２として，本件出願は，発明の詳細な説明の記載が不備のため，特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない，理由３として，本件出願の請求項１〜１３に係る発明は，その優先日前日本国内または外国において頒布された刊行物に記載された発明に基づいて，その優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないことを通知したものである。
　そのうち，理由３は，下記の刊行物を提示した上で，
・国際公開２００４／０９７３８６号（以下「引用例１」という。） 
・特開昭５４−２７７９３号公報（以下「引用例２」という。） 
・特開昭６１−４１９３号公報（以下「引用例３」という。） 
・特開２００１−３５１５５１号公報（以下「引用例４」という。） 
・特開２００２−１９５９６１号公報（以下「引用例５」という。） 
・特表２００２−５０３８１６号公報（以下「引用例６」という。） 
引用例１には，いわゆるデュアルエネルギースキャン方式について記載されていないが，デュアルエネルギースキャン方式は優先日前に周知技術であり，引用例１に記載された発明は，具体的には不審物のセキュリティチェック等に使用するもので，不審物の発見のために画質の向上は当然に必要とされるものであるから，引用例１に記載された発明において，デュアルエネルギースキャン方式を採用することは当業者が容易になし得たことである旨をその概要とするものである。
　
第３　引用例及びその記載事項
１　引用例１について
（１）引用例１の記載事項
　上記引用例１には，次の事項が記載されている。なお，日本語訳については特表２００６−５２４８０９号公報を参照しており，引用発明の認定に関連する箇所の訳部分に下線を付与した。
（１−ア）
「The present invention relates to X-ray scanning in which X-rays are directed through an object from a number of positions around the object and the X-rays transmitted through the object are detected and used to build up an image of the object. This type of scanning is referred to as computed tomography (CT) scanning.」（１頁３〜７行）
（訳：
本発明は、Ｘ線が対象物の周りの複数の位置から対象物に通され、対象物を透過したＸ線を検出及び使用して対象物の画像を形成する
コンピュータ断層撮影（ＣＴ）
　
（１−イ）
「As the use of X-ray scanners, for example in security applications, increases, there is an increasing demand for scanners which operate quickly and which have a long lifetime.
Accordingly the present invention provides an X-ray imaging apparatus comprising X-ray production means arranged to produce X-rays from a plurality of source positions spaced around an object location and spaced from each other by a source spacing, a plurality of X-ray sensors arranged to be spaced around the object position so as to detect X-rays emitted from the source positions and passing through the object position, and control means arranged to control the order in which the source positions are active such that the average smallest displacement between an active source position in one emission period and an active source position in the subsequent period is greater than the source spacing.」（１頁１６〜２９行）
（訳：例えばセキュリティ用途でのＸ線スキャナの使用が多くなるにつれて、迅速に動作し、寿命が長いスキャナに対する需要が高まっている。
　したがって、
本発明は、対象物の場所の周りで離間しているとともに或る線源間隔で互いに離間している複数の線源位置からＸ線を発生するように配置されるＸ線発生手段と、線源位置から放射されて対象物の位置を通過するＸ線を検出するように対象物の位置の周りで離間しているように配置される複数のＸ線センサと、１つの放射期間のアクティブな線源位置と次の期間のアクティブな線源位置との間の平均最小変位が線源間隔よりも大きくなるように線源位置がアクティブになる順序を制御するように配置される制御手段と、を備える
　
（１−ウ）
「The source 10 is enclosed in a housing 24 of an emitter unit 25 with the former 12 being supported on the base 24a of the housing. The focusing wires 22 are supported on two support rails 26a, 26b which extend parallel to the emitter element 18, and are spaced from the former 12, the support rails being mounted on the base 24a of the housing. The support rails 26a, 26b are electrically conducting so that all of the focusing wires 22 are electrically connected together. One of the support rails 26a is connected to a connector 28 which projects through the base 24a of the housing to provide an electrical connection for the focusing wires 22. Each of the grid wires 20 extends down one side 16 of the former and is connected to a respective electrical connector 30 which provide separate electrical connections for each of the grid wires 20.
An anode 32 is supported between the side walls 24b, 24c of the housing. The anode extends parallel to the emitter element 18. The grid and focusing wires 20, 22 therefore extend between the emitter element 18 and the anode 32. An electrical connector 34 to the anode extends through the side wall 24b of the housing.
The emitter element 18 is supported in the ends of the former and is heated by means of an electric current supplied to it via further connectors 36, 38 in the housing. In order to produce a beam of electrons from one position, a pair of adjacent grid wires 20 can be connected to an extracting potential which is positive with respect to the element 18 while the remaining grid wires are connected to a blocking potential which is negative with respect to the element 18. By selecting which pair of wires 20 is used to extract electrons, the position of the beam of electrons can be chosen. As the X- rays will be emitted from the anode 32 at a point where the electrons strike it, the position of the X-ray source can also be chosen by choosing the extracting pair of grid wires. The focusing elements 22 are all kept at a positive potential with respect to the grid wires 20 so that electrons extracted between any pair of the grid wires will also pass between, and be focussed by, a corresponding pair of focusing elements 22.
Referring to Figure 2, an X-ray scanner 50 is set up in a conventional geometry and comprises an array of emitter units 25 arranged in an arc around a central scanner axis X, and orientated so as to emit X-rays towards the scanner axis X. A ring of sensors 52 is placed inside the emitters, directed inwards towards the scanner axis. The sensors 52 and emitter units 25 are offset from each other along the axis X so that X-rays emitted from the emitter units pass by the sensors nearest to them, through the object, and are detected by a number of sensors furthest from them. The number of sensors 52 that will detect X-rays from each source depends on the width of the fan of X-rays that is emitted from each source position in the tubes 25. The scanner is controlled by a control system which operates a number of functions represented by functional blocks in Figure 5. A system control block 54 controls, and receives data from, an image display unit 56, an X-ray tube control block 58 and an image reconstruction block 60. The X-ray tube control block 58 controls a focus control block 62 which controls the potentials of the focus wires 22 in each of the emitter units 25, a grid control block 64 which controls the potential of the individual grid wires 20 in each emitter unit 25, and a high voltage supply 68 which provides the power to the anode 32 of each of the emitter blocks and the power to the emitter elements 18. The image reconstruction block 60 controls and receives data from a sensor control block 70 which in turn controls and receives data from the sensors 52.
In operation, an object to be scanned is passed along the axis X, and X- ray beams are directed through the object from the X-ray tubes 25. In each scanning cycle each source position in each tube 25 is used once, the scanning cycle being repeated as the object moves along the axis X.」（４頁１０行〜６頁１０行）
（訳：線源１０は、
エミッタユニット２５
　
アノード３２
　
エミッタ素子１８
　
１つの位置から電子ビームを発生させる
電子ビームの位置を選択することができる。Ｘ線は、電子が衝突する位置でアノード３２から放射されるため、Ｘ線源の位置も、引き出しに使用するグリッドワイヤの対を選択することにより選択することができる
　図２を参照すると、Ｘ線スキャナ５０が従来の形状で設置され、中心スキャナ軸Ｘの回りに弧状に配置されるとともにスキャナ軸Ｘに向けてＸ線を放射するような向きのエミッタユニット２５のアレイを備える。センサ５２の輪が、スキャナ軸に向かって内方を向いて、エミッタの内側に配置される。センサ５２及びエミッタユニット２５は、軸Ｘに沿って互いにオフセットしているため、エミッタユニットから放射されるＸ線は、そのエミッタユニットから最も近いセンサを通って対象物を通過し、そのエミッタユニットから最も遠い複数のセンサにより検出される。各線源から放射されるＸ線を検出するセンサ５２の数は、管２５の各線源位置から放射されるＸ線のファン（fan：扇形）の幅に応じて変わる。スキャナは、図５の機能ブロックにより表される複数の機能を実行する制御システムにより制御される。
システム制御ブロック５４は、画像表示ユニット５６、Ｘ線管制御ブロック５８、及び画像再構成ブロック６０を制御し
画像再構成ブロック６０は、センサ制御ブロック７０を制御してそこからデータを受け取り、センサ制御ブロック７０はさらに、センサ５２を制御してそこからデータを受け取る
　
動作時には、走査すべき対象物を軸Ｘに沿って通過させ、Ｘ線ビームをＸ線管２５から対象物に通す。各走査サイクルにおいて、各管２５の各線源位置が一度使用され、走査サイクルは、対象物が軸Ｘに沿って移動するごとに繰り返される
（１−エ）Fig.1，Fig.2として，以下の図面が記載されている。
　
（２）引用発明
ア　上記摘記事項における「エミッタユニット」と「Ｘ線管」は，ともに図面における参照番号が「２５」であることから同じものであり，それらは「Ｘ線発生手段」である。してがって，下記の引用発明においては「Ｘ線管」を「エミッタユニット」と記載している。
イ　上記摘記事項における「Ｘ線」と「Ｘ線ビーム」，「センサ」と「Ｘ線センサ」は同じものであるから，下記の引用発明においては「Ｘ線ビーム」を「Ｘ線」，「センサ」を「Ｘ線センサ」と記載している。
ウ　上記摘記（１−エ）のFig.1には，エミッタユニット（２５）がエミッタ素子（１８）及びアノード（３２）を備えていることが図示されている。
エ　上記摘記（１−エ）のFig.2には，エミッタユニット（２５）が，走査容積の周りに実質的に円状に間隔をおいて複数配置されるていることが図示されている。
オ　上記摘記事項（１−イ）における「線源位置がアクティブになる順序を制御するように配置される制御手段」は，摘記（１−ウ）における「Ｘ線管制御ブロック」に含まれるものである。
　
　してみれば，上記引用例１の記載事項を総合すると，引用例１には，以下の発明が記載されていると認められる。 
「Ｘ線が対象物の周りの複数の位置から対象物に通され，対象物を透過したＸ線を検出及び使用して対象物の画像を形成するコンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置において，
　対象物の場所の周りで離間しているとともに或る線源間隔で互いに離間している複数の線源位置からＸ線を発生するように配置されるＸ線発生手段と，線源位置から放射されて対象物の位置を通過するＸ線を検出するように対象物の位置の周りで離間しているように配置される複数のＸ線センサと，１つの放射期間のアクティブな線源位置と次の期間のアクティブな線源位置との間の平均最小変位が線源間隔よりも大きくなるように線源位置がアクティブになる順序を制御するように配置される制御手段と，を備えるものであって，
　上記Ｘ線発生手段であるエミッタユニットは，走査容積の周りに実質的に円状に間隔をおいて複数配置されており，
　エミッタユニットはエミッタ素子及びアノードを備え，そのエミッタ素子の１つの位置から電子ビームを発生させ，電子ビームの位置を選択することができ，Ｘ線は，電子が衝突する位置でアノードから放射されるため，Ｘ線源の位置も，引き出しに使用するグリッドワイヤの対を選択することにより選択することができ，
　システム制御ブロックは，画像表示ユニット、上記制御手段を含むＸ線管制御ブロック，及び画像再構成ブロックを制御し，その画像再構成ブロックは，Ｘ線センサ制御ブロックを制御してそこからデータを受け取り，Ｘ線センサ制御ブロックはさらに、Ｘ線センサを制御してそこからデータを受け取るもので，
　動作時には，走査すべき対象物を軸Ｘに沿って通過させ，Ｘ線をエミッタユニットから対象物に通し，各走査サイクルにおいて，各エミッタユニットの各線源位置が一度使用され，走査サイクルは，対象物が軸Ｘに沿って移動するごとに繰り返される，
　コンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置。」（以下「引用発明」という。）
　
２　引用例２について
　上記引用例２には，次の事項が記載されている。
（２−ア）
「本発明は、被検体について多方向からの放射線投影を行ない、得られた放射線投影データに基いて前記被検体の断層像を再構成するコンピユータ断層法（Computerized Tomography）を用いたＸ線断層診断装置（以下「ＣＴ装置」と略称する）に関するものである。」（２頁左上欄７〜１２行）
（２−イ）
「本発明は、このような事情に基いてなされたもので、Ｘ線吸収係数μの測定精度を向上することかでき、高精度、高品質の再構成画像を得ることを可能とするＣＴ装置を提供することを目的としている。
　すなわち、本発明の特徴とするところは、複数種の異なる陽極材料を使用したＸ線管装置により異なる複数種の特性Ｘ線を発生せしめ、検出器により得られる検出信号を上記各特性Ｘ線に対応して弁別して各特性Ｘ線についての投影データおよびこれらの相互の関係に基いて画像再構成を行なうことにある。」（２頁右上欄１５行〜左下欄６行）
（２−ウ）
「また、第５図に示すように、第２図（ａ）、（ｂ）と同様の構成をなす回転陽極１０に対し、陰極１２を単一のフィラメント１２ａ及びグリツト１２ｂにより構成し、グリツド１２ｂに制御信号を与えることによつて焦点軌道を適宜切換えてＸ線Ｘ１、Ｘ２を発生させることもできる。」（３頁左下欄１６行〜右下欄１行）
（２−エ）
「以上述べたように、本発明によれば枚数の陽極材料による複数種の特性Ｘ線を用いて、それぞれについてＸ線断層像を再構成するための投影データを得るようにすることにより、高精度の再構成画像が得られる」（３頁右下欄７〜１１行）
　
３　引用例５について
　上記引用例５には，次の事項が記載されている。
「【００１４】・・・この映像記憶部４３では、複数のフレーム分の画像を個別に記憶することができ、制御部４１からの指令に基づき、銅パターン１３ｂに電子線を照射することにより発生したＸ線を用いて得た試料ＷのＸ線透過像と、タングステンパターン１３ｃに電子線を照射することにより発生したＸ線を用いて得た同じ試料ＷのＸ線透過像をそれぞれ個別に記憶する。
【００１５】差分演算部４４は、制御部４１からの指令に基づき、映像記憶部４３に記憶されている上記した同じ試料Ｗの異なるＸ線による２種のＸ線透過像の、互いに対応する各画素の濃淡情報の差を算出して、画像処理部４５に供給する。画像処理部４５では、差分演算後の画素情報を用いて試料ＷのＸ線透過像を構築し、表示器４６の画面上に表示する。」
　
４　引用例６について
　上記引用例には，次の事項が記載されている。
（４−ア）
「【発明の分野】
　本発明は概ねコンピュータ断層撮影（ＣＴ）スキャナ、特にＣＴ技術を使用する手荷物走査システムの標的検出装置および方法に関する。
【００２８】
【発明の背景】
　手荷物を商用飛行機に搭載する前に荷物または旅行用携行品内に爆発物および他の禁止品目が存在するか検出するため、種々のＸ線手荷物走査システムが知られている。」
（４−イ）
「【００７１】
　本発明は、前述した利点に加え、前述した先行するシステムに対して実質上の利点を提供する。例えば、本発明のシステムは、バッグの完全なＣＴ走査を提供し、したがってバッグの完全な３次元画像データを分析することができる。」
（４−ウ）
「【０１００】
　本明細書を通して、「３次元画像」という用途およびＣ（ｉ，ｊ，ｋ）という記号は、１組のＣＴスライス画像を表すのに使用される。」
　
第４　対比・判断
１　対比
　本願発明と引用発明とを対比すると，以下のとおりである。
（１）本願発明の「走査装置」は「Ｘ線放射源を有し」「検出器を有」するものであり，「Ｘ線走査システム」は「走査装置と処理手段を有する」ものである。
　一方，引用発明の「Ｘ線発生手段」，「Ｘ線センサ」は，各々本願発明の「Ｘ線放射源」，「検出器」に相当するから，引用発明の「Ｘ線発生手段」及び「Ｘ線センサ」は，本願発明の「走査装置」に相当する。そして，引用発明の「システム制御ブロック」は本願発明の「処理手段」に相当するといえることから，引用発明の「Ｘ線発生手段」及び「Ｘ線センサ」と「システム制御ブロック」を有する「コンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置」は，本願発明の「走査装置と処理手段を有するＸ線走査システム」に相当する。
　
（２）引用発明の「Ｘ線発生手段」及び「Ｘ線センサ」は，その「Ｘ線発生手段」から発生した「Ｘ線が対象物の周りの複数の位置から対象物に通され，対象物を透過したＸ線を」「Ｘ線センサ」で「検出」するものであるから，本願発明の「対象物の複数の領域を走査するように構成され」る「走査装置」に相当する。
　
（３）引用発明の「エミッタユニット」は，本願発明の「Ｘ線源ユニット」に相当し，引用発明の「エミッタユニット」が「走査容積の周りに実質的に円状に間隔をおいて複数配置されて」いる「Ｘ線発生手段」は，本願発明の「複数のＸ線源ユニットが走査容積の周りに実質的に円状に間隔をおいて配置されるＸ線放射源」に相当する。
　
（４）引用発明の「エミッタ素子」及び「アノード」は，本願発明の「エミッタ素子」及び「ターゲット領域」に相当するから，引用発明の「複数」の「エミッタユニットはエミッタ素子及びアノードを備え，そのエミッタ素子の１つの位置から電子ビームを発生させ」「アノード」に「電子が衝突する」ことと，本願発明の「複数のＸ線源ユニットの各々は、異なる物質からなる２つのターゲット領域とエミッタ素子とを有し、前記エミッタ素子は、前記２つのターゲット領域の一方に向けられる電子ビームを生成するように起動され」ることとは，「複数のＸ線源ユニットの各々は，ターゲット領域とエミッタ素子とを有し，前記エミッタ素子は，前記ターゲット領域に向けられる電子ビームを生成するように起動され」ることで共通する。
　
（５）引用発明は「電子ビームの位置を選択すること」で「Ｘ線源の位置も」「選択」できる，すなわち「電子が衝突する」「アノード」の「位置」を選択することができるものであるから，電子ビームはアノード領域で切り替えられるといえる。そして，「アノードから放射される」「Ｘ線」がエネルギスペクトルを持っていることは自明のことである。
　してみれば，引用発明の「対象物の周りの複数の位置から対象物に通され」る「Ｘ線」が「電子ビームの位置を選択すること」で「電子が衝突する位置でアノードから放射される」ことと，本願発明の「電子ビームは、前記２つのターゲット領域の間で切り替えられて、前記走査容積を通過するエネルギスペクトルの異なるＸ線を生成」することとは，「電子ビームは，前記ターゲット領域で切り替えられて，前記走査容積を通過するエネルギスペクトルのＸ線を生成」することで共通する。
　
（６）引用発明は「画像再構成ブロックは，Ｘ線センサ制御ブロックを制御してそこからデータを受け取り，Ｘ線センサ制御ブロックはさらに，Ｘ線センサを制御してそこからデータを受け取るもので」あるから，Ｘ線センサからのデータによって画像再構成を行う，すなわち，画像データセットを生成するといえることから，Ｘ線センサは画像データセットを生成するように構成されるものといえる。
　してみれば，引用発明の「画像再構成ブロックは，Ｘ線センサ制御ブロックを制御してそこからデータを受け取り，Ｘ線センサ制御ブロックはさらに，Ｘ線センサを制御してそこからデータを受け取る」ところの「線源位置から放射されて対象物の位置を通過するＸ線を検出するように対象物の位置の周りで離間しているように配置される複数のＸ線センサ」と，本願発明の「ターゲット領域の各々からの前記Ｘ線を検出して２つの画像データセットを生成するように構成される検出器」とは，「ターゲット領域からの前記Ｘ線を検出して画像データセットを生成するように構成される検出器」の点で共通する
　
（７）引用発明は「Ｘ線が対象物の周りの複数の位置から対象物に通され，対象物を透過したＸ線を検出及び使用して対象物の画像を形成するコンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置」であるから，「画像再構成ブロック」では，「Ｘ線センサ制御ブロック」を介して「Ｘ線センサ」で得た「データ」から複数の断層撮影画像データのセットを生成しているといえる。
　してみれば，引用発明の「Ｘ線が対象物の周りの複数の位置から対象物に通され，対象物を透過したＸ線を検出及び使用して対象物の画像を形成するコンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置」における「Ｘ線センサ制御ブロックを制御してそこからデータを受け取り，Ｘ線センサ制御ブロックはさらに，Ｘ線センサを制御してそこからデータを受け取る」「画像再構成ブロック」を「制御」する「システム制御ブロック」と，本願発明の「複数の断層撮影画像データのセットを生成するために、前記検出器からの信号を処理し、前記処理は前記２つの画像データセットの合成を含み、前記断層撮影画像データのセットを合成して前記対象物の３次元画像を生成するように構成されている」「処理手段」とは，「複数の断層撮影画像データのセットを生成するために，前記検出器からの信号を処理し，前記処理は前記画像データセットの処理を含むように構成されている」「処理手段」の点で共通する。
　
　してみれば，本願発明と引用発明とは， 
 （一致点） 
 「走査装置と処理手段を有するＸ線走査システムであって，
　前記走査装置は，複数のＸ線源ユニットが走査容積の周りに実質的に円状に間隔をおいて配置されるＸ線放射源を有し，
　　前記複数のＸ線源ユニットの各々は，ターゲット領域とエミッタ素子とを有し，前記エミッタ素子は，前記ターゲット領域に向けられる電子ビームを生成するように起動され，
　　前記電子ビームは，前記ターゲット領域で切り替えられて，前記走査容積を通過するエネルギスペクトルのＸ線を生成し、
　前記走査装置は，さらに，前記ターゲット領域からの前記Ｘ線を検出して画像データセットを生成するように構成される検出器を有し，
　前記走査装置は対象物の複数の領域を走査するように構成され，
　前記処理手段は，複数の断層撮影画像データのセットを生成するために，前記検出器からの信号を処理し，前記処理は前記画像データセットの処理を含むように構成されている，Ｘ線走査システム。」
　の点で一致し，以下の点で相違する。
（相違点１）
　ターゲット領域，電子ビーム，Ｘ線，画像データセット，処理手段について，本願発明では，各々，「異なる物質からなる２つの」ターゲット領域，「２つの」ターゲット領域の間で切り替えられて「２つの」ターゲット領域の「一方」に向けられる電子ビーム，「異なる」エネルギスペクトルのＸ線，ターゲット領域の「各々からの」前記Ｘ線を検出した「２つの」画像データセット，「２つの」画像データセット「の合成」を含む処理手段であるのに対し，引用発明では，それらについて，そのようなものでない点。
　
（相違点２）
　処理手段が，本願発明では，断層撮影画像データのセットを合成して対象物の３次元画像を生成するように構成されているのに対し，引用発明では，そのように構成されているか不明である点。
　
２　当審の判断
（１）相違点１について
　上記引用例２の摘記（２−ア）〜（２−エ）にも記載されているように，複数種の異なる陽極材料（本願発明の「異なる物質からなる２つのターゲット領域」に相当）を使用し，陽極に対し，陰極を単一のフィラメント及びグリッドにより構成し，グリッドに制御信号を与えることによって焦点軌道を適宜切換えて（本願発明の「電子ビームは、２つのターゲット領域の間で切り替えられて」「２つのターゲット領域の一方に向けられる」ことに相当），異なる複数種の特性Ｘ線であるＸ線Ｘ１，Ｘ２（本願発明の「エネルギスペクトルの異なるＸ線」に相当）を発生させ，検出器により得られる検出信号を上記各特性Ｘ線に対応して弁別して各特性Ｘ線についての投影データ（本願発明の「ターゲット領域の各々からの前記Ｘ線を検出して２つの画像データセット」に相当）を得て，これらの相互の関係に基いて画像再構成を行なう（本願発明の「前記２つの画像データセットの合成」に相当）こと，いわゆるデュアルエネルギースキャン方式は優先日前に周知であり，当該方式は，同じ引用例２の摘記（２−ア），（２−イ）及び（２−エ）に記載されているように，コンピュータ断層法（Computerized Tomography）を用いたＸ線断層診断装置において，高精度、高品質の画像を得るために行われることも優先日前に周知である。また，このようなデュアルエネルギースキャン方式が優先日前に周知であることは，引用例２以外にも上記引用例５にも記載されている。
　引用発明は，コンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置についての発明であり，それは引用例１の摘記（１−イ）に「セキュリティ用途」と記載されているように，不審物のセキュリティチェック等に使用するものであるから，不審物の発見のために画像の高精度化，高品質化は当然に望まれることである。してみれば，引用発明において，画像の高精度化，高品質化を図るために，上記周知技術に鑑みて，周知のデュアルエネルギースキャン方式を採用すること，すなわち，アノード，電子ビーム，Ｘ線，画像再構成するセンサからのデータ，システム制御ブロックについて，上記相違点１に係る本願発明の構成とすることは当業者が容易になし得たことである。
　
（２）相違点２について
　引用発明は，「Ｘ線が対象物の周りの複数の位置から対象物に通され，対象物を透過したＸ線を検出及び使用して対象物の画像を形成するコンピュータ断層撮影（ＣＴ）装置」において，「動作時には，走査すべき対象物を軸Ｘに沿って通過させ，Ｘ線をエミッタユニットから対象物に通し，各走査サイクルにおいて，各エミッタユニットの各線源位置が一度使用され，走査サイクルは，対象物が軸Ｘに沿って移動するごとに繰り返される」ものであるから，「対象物が軸Ｘに沿って移動するごとに」，「断層撮影」「画像」である「再構成」「画像」を得ているものである。引用例６の摘記（４−ア）〜（４−ウ）に記載されているように，手荷物を検査するコンピュータ断層撮影（ＣＴ）において３次元画像を得ることは優先日前に周知のことであるから，セキュリティ用途として用いる引用発明において，「対象物が軸Ｘに沿って移動するごとに」得る「再構成」「画像」を合成して対象物の３次元画像を生成することは当業者が容易になし得たことである。
（３）効果について
　本願発明の本願明細書に記載されている効果は，上記引用例１の記載及び周知技術に鑑みて，格別顕著なものとはいえない。
　
（４）請求人の主張について
　請求人は，平成２７年９月９日付け意見書で，
「確かに、審判官殿が認定なさるように、マルチエネルギアノードそのものは、例えば引用例２に開示されるように、本願の優先日前の１９７７年には既に周知の技術です。また、Ｘ線走査システムに係る分野においては、不審物の発見のための画質の向上は、終わりなき課題です。
　しかしながら、引用例１に開示されるシステムにおいて、ターゲットをマルチエネルギアノードに置換しただけでは、当業者といえども、デュアルエネルギシステムを容易に実現できるわけではありません。例えば、Ｘ線放射源を構成する複数のＸ線源ユニット間の動作シーケンスや、一連のシーケンスにおける１のＸ線源ユニットにおける２つのターゲット領域の切り替えタイミングなど、対象物のより優れた画質を有する画像データセットを生成するためには、アノードに置換だけで達成し得るものではなく、アノードの置換によってシステムに生じる多様な要因やパラメータの検討が必要になります。」と主張しているが，「動作シーケンス」，「一連のシーケンスにおける１のＸ線源ユニットにおける２つのターゲット領域の切り替えタイミング」，「システムに生じる多様な要因やパラメータ」に関する技術的事項が本願発明の発明特定事項とされておらず，本願発明において，それらについてどのような創意工夫がなされているのか不明であるから，上記主張は，本願発明に基づかないものであり，当を得たものではない。
　
３　小括
　したがって，本願発明は，引用発明並びに引用例１に記載された事項及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明することができたものである。 
 　 
第５　むすび
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により，特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について言及するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。