【事件の表示】
　特願２０１１−５０５５９４「物質を検査するための方法および装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２１年１０月２９日国際公開、ＷＯ２００９／１３０４９１、平成２３年　６月３０日国内公表、特表２０１１−５１９０３１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、２００９年３月２４日（優先権主張２００８年４月２４日、英国）を国際出願日とする出願であって、平成２５年６月１７日付けで拒絶理由が通知され、これに対して同年１１月１４日に意見書が提出されるとともに同日付けで手続補正がなされたが、平成２６年４月１７日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年８月２２日に拒絶査定不服審判が請求され、同時に手続補正がなされたものである。
第２　平成２６年８月２２日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成２６年８月２２日付けの手続補正（以下「本件補正」という。）を却下する。
［理由］
１　本件補正について
（１）　本件補正は、補正前の特許請求の範囲、すなわち平成２５年１１月１４日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲、の請求項１の記載を、以下のとおり、補正後の特許請求の範囲の請求項１のものに補正する事項を含むものである（下線は補正箇所を示す）。
（補正前）
「【請求項１】
　物体から放射線透過データを取得する方法であって、
　放射線源および放射線検出器システムの間にあるスキャニング領域を規定するために、放射線源およびそこから間隔を置かれた放射線検出器システムを提供する工程であって、前記検出器システムは、入射放射線についての分光学的に分解可能な情報の検出および収集が可能である、工程と、
　前記物体を透過し、前記検出器システムにおいて受信された放射線から、前記検出器システムにおける放射線入射についての強度情報の１つ以上のデータセット、すなわち、少なくとも１つのスキャニング位置における前記スキャニング領域内の物体の透過率である、を収集する工程と、
　各々の周波数または周波数帯域の強度データアイテムを生成するために、各々の前記強度情報のデータセットを、前記放射線源のスペクトル内の複数の周波数または周波数帯域に亘って分光学的に分解する工程と、
　前記スキャニング領域における前記物体の複数の予期される構成要素物質の各々の強度データアイテムを、前記構成要素物質に関して、指数関数的な減衰則、
Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］
ここでμ／ρは質量減衰係数であり、物質の重み付けられた元素の組成に特有な物質定数、
Ｉは最終強度、
Ｉ０は初期強度、
ρは物質の密度、
ｔは物質の厚さ、
によって与えられる関係に一致させ、かつ、そこから、前記強度データアイテムを生成する複数の透過経路内の各々の構成要素物質の相対的な比率の指標を導き出すために、前記強度データアイテムを、質量減衰データを保存する質量減衰データライブラリと数値的に比較する工程と、を含み、
　前記強度データアイテムを比較する工程は、
　強度データアイテムについて、その周波数にて、質量減衰係数全体を導き出す工程と、
　前記周波数において、前記各々の構成要素物質についての質量減衰係数を読み出す工程と、
　前記強度データアイテムを生成するために必要な各々の構成要素物質の相対的な比率に対して、単一の一意の解答が導き出され得ることを、十分な周波数にて繰り返す工程と、
　を含み、
　前記強度データアイテムを数値的に比較する工程は、各々の構成要素物質の計算された前記相対的な比率および既知の物体の厚さから、各透過経路方向における各々の要素物質の相対的な累積奥行きを導き出す工程を含み、
　前記検出器において収集された入射放射線についての情報の前記データセットは、前記スキャニング領域内の物体の画像を生成するために用いられる、方法。」
（補正後）
「【請求項１】
　物体から放射線透過データを取得する方法であって、
　放射線源および放射線検出器システムの間にあるスキャニング領域を規定するために、放射線源およびそこから間隔を置かれた放射線検出器システムを提供する工程で
あり
放射線
あり、さらに、検出器が、Ｘ線のスペクトルの異なる部分に対する直接的な可変電気的応答を、直接的な物質特性として固有的に表すために選択された物質から製造されることによって、分光学的な分解を行うために適合している、
　前記物体を透過し、前記
放射線
放射線
１つ以上の透過
前記透過強度情報
透過能を表している
　
各々の周波数帯域
透過
の各々
範囲内の、少なくとも３つの
　
前記
の各々
関する
Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］
ここで、μ／ρは質量減衰係数であり、物質の重み付けられた元素の組成に特有な物質定数、
Ｉは最終強度、
Ｉ０は初期強度、
ρは物質の密度、
ｔは物質の厚さ、
によって与えられる関係
の等式
適合
るため
前記スキャニング領域における前記物体の複数の予測される構成要素物質の
が保存されている
　前記強度データアイテムを比較する工程は、
　
前記各々の周波数帯域において、
　前記
各々の周波数帯域
おける
　前記強度データアイテムを生成するために必要な各々の構成要素物質の相対的な比率
のための、
で唯一の解
ように
数の周波数帯域
　を含み、
　前記強度データアイテムを数値的に比較する工程は、各々の構成要素物質の計算された前記相対的な比率および既知の物体の厚さから、各透過経路方向
の
　前記検出器において収集された入射放射線についての前記
透過強度情報の
（２）　本件補正は、補正前の特許請求の範囲の請求項１に係る発明の発明特定事項の、「提供する工程」について、本件補正による特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下「本願補正発明」という。）において、「検出器が、Ｘ線のスペクトルの異なる部分に対する直接的な可変電気的応答を、直接的な物質特性として固有的に表すために選択された物質から製造されることによって、分光学的な分解を行うために適合している」点を限定することを含む。
　よって、本件補正による特許請求の範囲の補正は、補正前の特許請求の範囲の請求項１に係る発明の限定的減縮を目的としているから、特許法第１７条の２第５項第２号に掲げる事項を目的とするものであるといえる。
　そこで、次に、本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第６項において準用する特許法第１２６条第７項の規定に違反しないか）について検討する。
２　本願補正発明
　本願補正発明は、平成２６年８月２２日付け手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのもの（上記「１」の（１）の記載を参照。）である。
３　引用例
（１）　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開２００７−２１８８４５公報（以下、「引用例」という。）には、次の事項が記載されている（下線は当審において付加したものである）。
ア　「【００２２】
　本発明に係る
透過Ｘ線測定方法
【００２３】
　図１において、Ｘ線管等の
Ｘ線源１から出射されたＸ線２は被測定物３に照射され、被測定物３中を透過した透過Ｘ線がＸ線検出器４に入射する
所定のエネルギー範囲
のＸ線
を出射可能な
【００２４】
　
Ｘ線検出器４では入射したＸ線の
エネルギーに応じた
発生し、この検出信号は検出信号処理部５に入力され、
被測定物３に含まれる各元素のエネルギーに対応している
各階段の高さに応じた波高を持つ
パルスに成形され
【００２５】
　マルチチャンネルアナライザ５３は入力されたパルス信号の
波高値に応じて各パルスをエネルギー毎に弁別した後に、弁別された各パルスをそれぞれ計数する
任意のエネルギーの透過Ｘ線のＸ線強度
値をデータ処理部６に出力する
データ処理部６はこのＸ線強度値の実測データに対し
演算処理を実行することで、被測定物３に含まれる各元素
の
含有量
を算出し、その結果を表示部７に表示する。
【００２６】
　次に、上記構成の透過Ｘ線測定装置を用いて、被測定物３に含まれる各種元素及び／又は各種元素の含有量及び密度や厚さを得るための方法について述べる。ここでは、
被測定物３が種類が既知である
５種の元素ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅを含んでいる
イ　「【００３３】
［Ａ］各元素の厚さを求めたい場合
　各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さを求めたい場合には次のような連立方程式を用いる。
　　　ln(ＩEah/ＩEal)＝｛(μ/ρ)aEal−(μ/ρ)aEah｝・ρaｔa＋｛(μ/ρ)bEal−(μ/ρ)bEah｝・ρbｔb＋…＋｛(μ/ρ)eEal−(μ/ρ)eEah｝・ρeｔe 　　…(1)
　　　ln(ＩEbh/ＩEbl)＝｛(μ/ρ)aEbl−(μ/ρ)aEbh｝・ρaｔa＋｛(μ/ρ)bEbl−(μ/ρ)bEbh｝・ρbｔb＋…＋｛(μ/ρ)eEbl−(μ/ρ)eEbh｝・ρeｔe 　　…(2)
　　　　………
　　　ln(ＩEeh/ＩEel)＝｛(μ/ρ)aEel−(μ/ρ)aEeh｝・ρaｔa＋｛(μ/ρ)bEel−(μ/ρ)bEeh｝・ρbｔb＋…＋｛(μ/ρ)eEel−(μ/ρ)eEeh｝・ρeｔe 　　…(3)
　ここで、
　　　ＩEah：元素ａの吸収端波長のエネルギーよりも少し高いエネルギーの透過Ｘ線強度
　　　ＩEbh：元素ｂの吸収端波長のエネルギーよりも少し高いエネルギーの透過Ｘ線強度
　　　ＩEeh：元素ｅの吸収端波長のエネルギーよりも少し高いエネルギーの透過Ｘ線強度
　　　ＩEal：元素ａの吸収端波長のエネルギーよりも少し低いエネルギーの透過Ｘ線強度
　　　ＩEbl：元素ｂの吸収端波長のエネルギーよりも少し低いエネルギーの透過Ｘ線強度
　　　ＩEel：元素ｅの吸収端波長のエネルギーよりも少し低いエネルギーの透過Ｘ線強度
　　　(μ/ρ)aEal：エネルギーＥalにおける元素ａの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)aEah：エネルギーＥahにおける元素ａの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)bEal：エネルギーＥalにおける元素ｂの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)bEah：エネルギーＥahにおける元素ｂの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)eEal：エネルギーＥalにおける元素ｅの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)eEah：エネルギーＥahにおける元素ｅの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)aEbl：エネルギーＥblにおける元素ａの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)aEbh：エネルギーＥbhにおける元素ａの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)bEbl：エネルギーＥblにおける元素ｂの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)bEbh：エネルギーＥbhにおける元素ｂの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)eEbl：エネルギーＥblにおける元素ｅの質量吸収係数
　　　(μ/ρ)eEbh：エネルギーＥbhにおける元素ｅの質量吸収係数
　　　
ρ
a
：元素ａの密度
　　　
ρ
b
：元素ｂの密度
　　　
ρ
e
：元素ｅの密度
　　　
ｔ
a
：元素ａの厚さ
　　　
ｔ
b
：元素ｂの厚さ
　　　
ｔ
e
：元素ｅの厚さ
【００３４】
［Ｂ］元素の重量比を求めたい場合
　各元素ａ、ｂ、…、ｅの含有量や全体の密度を算出するために重量比を求めたい場合には次のような連立方程式を用いる。
　　ln(ＩEah/ＩEal)＝[{(μ/ρ)aEal−(μ/ρ)aEah}・ｗa＋{(μ/ρ)bEal−(μ/ρ)bEah}・ｗb＋…＋{(μ/ρ)eEal−(μ/ρ)eEah}・ｗe]・ρmｔm　　　…(4)
　　ln(ＩEbh/ＩEbl)＝[{(μ/ρ)aEbl−(μ/ρ)aEbh}・ｗa＋{(μ/ρ)bEbl−(μ/ρ)bEbh}・ｗb＋…＋{(μ/ρ)eEbl−(μ/ρ)eEbh}・ｗe]・ρmｔm　　　…(5)
　　………
　　ln(ＩEeh/ＩEel)＝[{(μ/ρ)aEel−(μ/ρ)aEeh}・ｗa＋{(μ/ρ)bEel−(μ/ρ)bEeh}・ｗb＋…＋{(μ/ρ)eEel−(μ/ρ)eEeh}・ｗe]・ρmｔm　　　…(6)
　ここで、上記［Ａ］で記載した以外のパラメータについて、
　　
ｗ
a
：元素ａの重量比
　　
ｗ
b
：元素ｂの重量比
　　
ｗ
e
：元素ｅの重量比
　　
ρ
m
：混合物
全体の密度
　　
ｔ
m
：混合物
全体の厚さ
であり、且つ全ての含有元素の重量比の和は１、つまり
　　ｗa＋ｗb＋…＋ｗe＝１
である。」
ウ　「【００４１】
［Ａ］元素の厚さを求めたい場合
　
各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さを求めたい
　　ln(Ｉ0E1/ＩE1)＝(μ/ρ)aEl・ρaｔa＋(μ/ρ)bE1・ρbｔb＋…＋(μ/ρ)eE1・ρeｔe　　…(7)
　　ln(Ｉ0E2/ＩE2)＝(μ/ρ)aE2・ρaｔa＋(μ/ρ)bE2・ρbｔb＋…＋(μ/ρ)eE2・ρeｔe　　…(8)
        ………
　　ln(Ｉ0En/ＩEn)＝(μ/ρ)aEn・ρaｔa＋(μ/ρ)bEn・ρbｔb＋…＋(μ/ρ)eEn・ρeｔe　　…(9)
　
ここで、
　　
Ｉ
0E1
：エネルギーＥ1における直接Ｘ線強度
　　
Ｉ
0E2
：エネルギーＥ2における直接Ｘ線強度
　　
Ｉ
0En
：エネルギーＥn（ｎは被測定物に含まれる元素の種類と同数以上の値）における直接Ｘ線強度
　　
Ｉ
E1
：エネルギーＥ1における透過Ｘ線強度
　　
Ｉ
E2
：エネルギーＥ2における透過Ｘ線強度
　　
Ｉ
En
：エネルギーＥnにおける透過Ｘ線強度
　　
(μ/ρ)
aEl
：元素ａのエネルギーＥ1における質量吸収係数
　　
(μ/ρ)
bE1
：元素ｂのエネルギーＥ1における質量吸収係数
　　
(μ/ρ)
eE1
：元素ｅのエネルギーＥ1における質量吸収係数
　　
(μ/ρ)
aE2
：元素ａのエネルギーＥ2における質量吸収係数
　　
(μ/ρ)
bE2
：元素ｂのエネルギーＥ2における質量吸収係数
　　
(μ/ρ)
eE2
：元素ｅのエネルギーＥ2における質量吸収係数
【００４２】
［Ｂ］
元素の重量比を求めたい場合
　　
ln(Ｉ
0E1
/Ｉ
El
)＝｛(μ/ρ)
aE1
・ｗ
a
＋(μ/ρ)
bE1
・ｗ
b
＋…＋(μ/ρ)
eE1
・ｗ
e
］・ρ
m
ｔ
m
　　
ln(Ｉ
0E2
/Ｉ
E2
)＝｛(μ/ρ)
aE2
・ｗ
a
＋(μ/ρ)
bE2
・ｗ
b
＋…＋(μ/ρ)
eE2
・ｗ
e
］・ρ
m
ｔ
m
        ………
　　
ln(Ｉ
0En
/Ｉ
En
)＝｛(μ/ρ)
aEn
・ｗ
a
＋(μ/ρ)
bEn
・ｗ
b
＋…＋(μ/ρ)
eEn
・ｗ
e
］・ρ
m
ｔ
m
であり、且つ全ての含有元素の重量比の和は１、つまり
　　
ｗ
a
＋ｗ
b
＋…＋ｗ
e
＝１
である。」
エ　「【００４４】
  前述したように
上記連立方程式におけるパラメータの中で、各種の元素
の各エネルギーでの質量吸収係数などは既知であり、
予めデータベース化して又はテーブル化してメモリ装置に格納しておく
各エネルギーにおける直接Ｘ線強度及び透過Ｘ線強度は
既知である
混合物
全体の厚さｔ
m
は、
既知とする
各元素
の
重量比
の未知の値は、こうした既知の値を上記連立方程式に代入してこれを解くことにより求めること
オ　「【００５０】
　図１の実施例は、
Ｘ線の通過方向に対する或る１つの領域のみにおいて、被測定物３の１次元的な各元素
の含有量
を測定するものであり、
被測定物３についての二次元的な情報を得るために
被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４とを組として被測定物３の延展方向
で移動させ、その移動毎に同様の測定を繰り返す
カ　「【００５２】
　二次元Ｘ線検出器１４において、透過Ｘ線が入射した各微小Ｘ線検出素子ではそのＸ線の波長つまりエネルギーに応じた電気信号が発生する。つまり、二次元Ｘ線検出器１４の検出面上の異なる位置の微小Ｘ線検出素子で生成された検出信号は被測定物１３の異なる位置に存在する各元素の情報を含む。したがって、ここでは検出信号処理部５は二次元Ｘ線検出器１４の各微小Ｘ線検出素子毎に受光した透過Ｘ線の強度に対応した値をデータ処理部６に与える。そして、データ処理部６はこの実測値データに対しそれぞれ演算処理を実行することで、
被測定物３に含まれる各元素
の
含有量
を
微小領域毎に算出し、
二次元分布情報を作成して表示部７に表示する。
（２）　引用例に記載された発明の認定
　上記（１）のアないしカを含む引用例全体の記載を総合すると、引用例には、
「所定のエネルギー範囲のＸ線を出射可能なＸ線源１から出射されたＸ線２は被測定物３に照射され、被測定物３中を透過した透過Ｘ線がＸ線検出器４に入射し、
　Ｘ線検出器４では入射したＸ線のエネルギーに応じた検出信号が発生し、この検出信号は検出信号処理部５に入力され、被測定物３に含まれる各元素のエネルギーに対応している各階段の高さに応じた波高を持つパルスに成形され、
　波高値に応じて各パルスをエネルギー毎に弁別した後に、弁別された各パルスをそれぞれ計数し、
　任意のエネルギーの透過Ｘ線のＸ線強度値をデータ処理部６に出力し、データ処理部６はこのＸ線強度値の実測データに対し演算処理を実行することで、被測定物３に含まれる各元素の含有量を算出し、その結果を表示部７に表示する透過Ｘ線測定方法において、
　被測定物３が、種類が既知である５種の元素ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅを含んでおり、
　元素の重量比を求めたい場合、
　　ｌｎ（Ｉ０Ｅ１／ＩＥｌ）＝｛（μ／ρ）ａＥ１・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ１・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ１・ｗｅ］・ρｍｔｍ　　…（１０）
　　ｌｎ（Ｉ０Ｅ２／ＩＥ２）＝｛（μ／ρ）ａＥ２・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ２・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ２・ｗｅ］・ρｍｔｍ　　…（１１）
　　………
　　ｌｎ（Ｉ０Ｅｎ／ＩＥｎ）＝｛（μ／ρ）ａＥｎ・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥｎ・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥｎ・ｗｅ］・ρｍｔｍ　　…（１２）
　　ｗａ＋ｗｂ＋…＋ｗｅ＝１
　ここで、
　　ｗａ：元素ａの重量比
　　ｗｂ：元素ｂの重量比
　　ｗｅ：元素ｅの重量比
　　ρｍ：混合物全体の密度
　　ｔｍ：混合物全体の厚さ
　　Ｉ０Ｅ１：エネルギーＥ１における直接Ｘ線強度
　　Ｉ０Ｅ２：エネルギーＥ２における直接Ｘ線強度
　　Ｉ０Ｅｎ：エネルギーＥｎ（ｎは被測定物に含まれる元素の種類と同数以上の値）における直接Ｘ線強度
　　ＩＥ１：エネルギーＥ１における透過Ｘ線強度
　　ＩＥ２：エネルギーＥ２における透過Ｘ線強度
　　ＩＥｎ：エネルギーＥｎにおける透過Ｘ線強度
　　（μ／ρ）ａＥｌ：元素ａのエネルギーＥ１における質量吸収係数
　　（μ／ρ）ｂＥ１：元素ｂのエネルギーＥ１における質量吸収係数
　　（μ／ρ）ｅＥ１：元素ｅのエネルギーＥ１における質量吸収係数
　　（μ／ρ）ａＥ２：元素ａのエネルギーＥ２における質量吸収係数
　　（μ／ρ）ｂＥ２：元素ｂのエネルギーＥ２における質量吸収係数
　　（μ／ρ）ｅＥ２：元素ｅのエネルギーＥ２における質量吸収係数
なる連立方程式におけるパラメータの中で、各種の元素の各エネルギーでの質量吸収係数などは既知であり、予めデータベース化して又はテーブル化してメモリ装置に格納しておき、各エネルギーにおける直接Ｘ線強度及び透過Ｘ線強度は既知であり、混合物全体の厚さｔｍは既知として、各元素の重量比の未知の値は、こうした既知の値を上記連立方程式に代入してこれを解くことにより求めることで、Ｘ線の通過方向に対する或る１つの領域のみにおいて、被測定物３の１次元的な各元素の含有量を測定するものであり、
　被測定物３についての二次元的な情報を得るために、被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４とを組として被測定物３の延展方向で移動させ、その移動毎に同様の測定を繰り返す、方法。」
　
の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
４　本願補正発明と引用発明との対比
（１）　対比
ア　引用発明の「被測定物３」、「Ｘ線源１」、「Ｘ線検出器４」、「Ｘ線」、「エネルギー毎に弁別」、「透過Ｘ線強度」、「元素」、「格納」、「質量吸収係数」、「ρｍ：混合物全体の密度」、及び「ｔｍ：混合物全体の厚さ」は、それぞれ本願補正発明の「物体」、「放射線源」、「放射線検出器システム」、「放射線」、「分光学的に分解」、「強度データアイテム」、「構成要素物質」、「保存」、「質量減衰係数」、「ρは物質の密度」、及び「ｔは物質の厚さ」に相当する。
イ　引用発明の、「被測定物３」から「透過Ｘ線のＸ線強度」「値の実測データ」を取得する「透過Ｘ線測定方法」は、本願補正発明の「物体から放射線透過データを取得する方法」に相当する。
ウ
（ア）　引用発明では、「Ｘ線源１とＸ線検出器４と」が「被測定物３を挟む」ことから、「Ｘ線検出器４」は「Ｘ線源１」から間隔を置かれて配置されたものとなっている。
　また、引用発明では、「被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４とを組として被測定物３の延展方向で移動させ、その移動毎に同様の測定を繰り返す」ことから、「被測定物３」において「測定」が行われる領域は、「被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４」の間において「被測定物３の延展方向」にスキャンされることとなっている。
　よって、上記アを踏まえると、引用発明において、「被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４とを組として被測定物３の延展方向で移動させ、その移動毎に同様の測定を繰り返す」ことができるように「Ｘ線源１とＸ線検出器４と」を配置することは、本願補正発明の「放射線源および放射線検出器システムの間にあるスキャニング領域を規定するために、放射線源およびそこから間隔を置かれた放射線検出器システムを提供する工程」に相当する。
（イ）　引用発明において、「Ｘ線検出器４」で「発生」する「入射したＸ線のエネルギーに応じた検出信号」とは、当該「検出信号」に基づく「パルス」を「エネルギー毎に弁別し」「計数」することによって、「エネルギー毎に」分解された「任意のエネルギーの透過Ｘ線のＸ線強度値」が得られるように、検出及び収集された情報である。
　よって、引用発明において、「Ｘ線検出器４」が、「入射したＸ線のエネルギーに応じた検出信号」を「発生」することが可能であることは、本願補正発明の「前記放射線検出器システムは、入射放射線についての分光学的に分解可能な情報の検出および収集が可能であ」ることに相当する。
エ
（ア）　引用発明において、「被測定物３中を透過し」「Ｘ線検出器４に入射し」た「透過Ｘ線」から、「Ｘ線検出器４」における「入射したＸ線のエネルギーに応じた検出信号」を、「透過Ｘ線のＸ線強度値」に関するデータとして、収集することは、本願補正発明の「前記物体を透過し、前記放射線検出器システムにおいて受信された放射線から、前記放射線検出器システムにおける放射線入射についての」「透過強度情報のデータセット」「を収集する工程」に相当する。
（イ）　引用発明において、「透過Ｘ線のＸ線強度値」に基づく「含有量」の「測定」は、「被測定物３についての二次元的な情報を得るために、被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４とを組として被測定物３の延展方向で移動させ、その移動毎に」「繰り返」されるものである。よって、引用発明において、「透過Ｘ線のＸ線強度値」を得るための「検出信号」とは、各「移動毎」に対応する各位置にある「被測定物３中」の領域「を透過した透過Ｘ線がＸ線検出器４に入射し」て得られるものである。
　また、引用発明において「透過Ｘ線のＸ線強度値」を得るための「検出信号」とは、「Ｘ線」が「透過」した領域の「Ｘ線」を「透過」する能力を表したものである。
　よって、引用発明の「検出信号」が、各「移動毎」に対応する各位置にある「被測定物３中」の領域「を透過した透過Ｘ線がＸ線検出器４に入射し」て得られるものであることは、本願補正発明の「前記透過強度情報は、少なくとも１つのスキャニング位置における前記スキャニング領域内の物体の透過能を表している」ことに相当する。
オ　引用発明の「ｎ」は「被測定物に含まれる元素の種類と同数以上の値」であって、「被測定物３が５種の元素ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅを含んで」いることから、「ｎ」は「５」「以上の値」である。
　よって、引用発明において、「エネルギーＥ１」、「Ｅ２」、…「Ｅｎにおける透過Ｘ線強度」を生成するために、「検出信号」を「パルスに成形」して、「Ｘ線源１」の「所定のエネルギー範囲」内で「エネルギー毎に弁別」することと、本願補正発明の「各々の周波数帯域の強度データアイテムを生成するために、前記透過強度情報のデータセットの各々を、前記放射線源のスペクトル範囲内の、少なくとも３つの周波数帯域に亘って分光学的に分解する工程」とは、「各々の帯域の強度データアイテムを生成するために、前記透過強度情報のデータセットを、前記放射線源のスペクトル範囲内の、少なくとも３つの帯域に亘って分光学的に分解する工程」の点で共通する。
カ
（ア）　引用発明において、「Ｉ０Ｅ１」、「Ｉ０Ｅ２」、…「Ｉ０Ｅｎ」が「各エネルギーにおける」「既知」の「直接Ｘ線強度」であることは、本願補正発明の「Ｉ０は初期強度」であることに相当する。
（イ）　引用発明において、「ＩＥ１」、「ＩＥ２」、…「ＩＥｎ」が「各エネルギーにおける」「透過Ｘ線強度」であることは、本願補正発明の「Ｉは最終強度」であることに相当する。
（ウ）　引用発明の式（１０）ないし式（１２）は、「（μ／ρ）ａＥｌ：元素ａのエネルギーＥ１における質量吸収係数」、「（μ／ρ）ｂＥ１：元素ｂのエネルギーＥ１における質量吸収係数」、「（μ／ρ）ｅＥ１：元素ｅのエネルギーＥ１における質量吸収係数」、「（μ／ρ）ａＥ２：元素ａのエネルギーＥ２における質量吸収係数」、及び「（μ／ρ）ｂＥ２：元素ｂのエネルギーＥ２における質量吸収係数」等の、各「元素」の各「エネルギー」「における質量吸収係数」を含んでいるから、「元素」に関する等式となっている。また、当該式（１０）ないし式（１２）は、「Ｉ０Ｅ１」、「Ｉ０Ｅ２」、…「Ｉ０Ｅｎ」、「ＩＥ１」、「ＩＥ２」、…「ＩＥｎ」、「ρｍ」及び「ｔｍ」を用いている。
　よって、上記ア、（ア）及び（イ）を踏まえると、引用発明の式（１０）ないし式（１２）と、本願補正発明の「構成要素物質に関する指数関数的な減衰則、Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］」「によって与えられる関係の等式」とは、「構成要素物質に関する、Ｉ、Ｉ０、ρ及びｔを用いた等式」の点で共通する。
（エ）　引用発明の「元素の重量比」は、「Ｘ線２」が透過する「被測定物３中」の経路内にある各「元素」の相対的な「比」の指標である。よって、引用発明の「元素の重量比」は、本願補正発明の「前記強度データアイテムを生成する複数の透過経路内の各々の構成要素物質の相対的な比率の指標」に相当する。
（オ）　引用発明の「元素」は、「測定」が行われる領域の「被測定物３」において「種類が既知」のものである。よって、引用発明の「各種の元素の各エネルギーでの質量吸収係数」は、本願補正発明の「前記スキャニング領域における前記物体の複数の予測される構成要素物質の質量減衰データ」に相当する。
（カ）　引用発明の「データベース化」「又はテーブル化」された「質量吸収係数」が「格納」されている「メモリ装置」は、本願補正発明の「質量減衰データが保存されている質量減衰データライブラリ」に相当する。
（キ）　上記（エ）ないし（カ）を踏まえると、引用発明において、「各エネルギーにおける」「透過Ｘ線強度」の各々を、式（１０）ないし式（１２）なる「連立方程式に代入してこれを解くことにより」「各元素の重量比の未知の値」を「求める」ために、「メモリ装置」に「格納」された「既知の値を上記連立方程式に代入」することは、本願補正発明の「前記強度データアイテムの各々を、」「等式に適合させるため、かつ、そこから」「相対的な比率の指標を導き出すために、前記強度データアイテムを」「質量減衰データライブラリと数値的に比較する工程」に相当する。
キ
（ア）　引用発明の「各種の元素の各エネルギーでの質量吸収係数」は、本願補正発明の「前記各々の」「帯域における前記各々の構成要素物質の質量減衰係数」に相当する。
（イ）　引用発明において、「格納」された「質量減衰係数」を「代入」することは、本願補正発明において、「質量減衰係数を読み出す工程」に相当する。
ク　引用発明において、「各エネルギーにおける」「透過Ｘ線強度」を生成するために必要な「各元素の重量比の未知の値」を「求めること」ができるように、「ｎは被測定物に含まれる元素の種類と同数以上の値」となるような、「エネルギーＥ１」、「Ｅ２」、…「Ｅｎ」について、式（１０）ないし式（１２）の各「方程式」を「連立」させることが、本願補正発明の「前記強度データアイテムを生成するために必要な各々の構成要素物質の相対的な比率のための、単一で唯一の解が導き出され得るように、十分な数の」「帯域にて繰り返す工程」に相当する。
ケ　上記エを踏まえると、引用発明において、「Ｘ線検出器４」において収集された「透過Ｘ線」についての「検出信号」を、「被測定物３」の「各元素の含有量」についての「二次元的な情報を得」るために用いることと、本願補正発明の「前記検出器において収集された入射放射線についての前記透過強度情報のデータセットは、前記スキャニング領域内の物体の画像を生成するために用いられる」こととは、「前記検出器において収集された入射放射線についての前記透過強度情報のデータセットは、前記スキャニング領域内の物体の情報を生成するために用いられる」ことの点で共通する。
（２）　一致点
　よって、本願補正発明と引用発明とは、
「物体から放射線透過データを取得する方法であって、
　放射線源および放射線検出器システムの間にあるスキャニング領域を規定するために、放射線源およびそこから間隔を置かれた放射線検出器システムを提供する工程であり、前記放射線検出器システムは、入射放射線についての分光学的に分解可能な情報の検出および収集が可能である、工程と、
　前記物体を透過し、前記放射線検出器システムにおいて受信された放射線から、前記放射線検出器システムにおける放射線入射についての透過強度情報のデータセット、前記透過強度情報は、少なくとも１つのスキャニング位置における前記スキャニング領域内の物体の透過能を表している、を収集する工程と、
　各々の帯域の強度データアイテムを生成するために、前記透過強度情報のデータセットを、前記放射線源のスペクトル範囲内の、少なくとも３つの帯域に亘って分光学的に分解する工程と、
　前記強度データアイテムの各々を、構成要素物質に関する、Ｉ、Ｉ０、ρ及びｔを用いた等式
ここで、
Ｉは最終強度、
Ｉ０は初期強度、
ρは物質の密度、
ｔは物質の厚さ、
に適合させるため、かつ、そこから、前記強度データアイテムを生成する複数の透過経路内の各々の構成要素物質の相対的な比率の指標を導き出すために、前記強度データアイテムを、前記スキャニング領域における前記物体の複数の予測される構成要素物質の質量減衰データが保存されている質量減衰データライブラリと数値的に比較する工程と、を含み、
　前記強度データアイテムを比較する工程は、
　前記各々の帯域における前記各々の構成要素物質の質量減衰係数を読み出す工程と、
　前記強度データアイテムを生成するために必要な各々の構成要素物質の相対的な比率のための、単一で唯一の解が導き出され得るように、十分な数の帯域にて繰り返す工程と、
　を含み、
　前記検出器において収集された入射放射線についての前記透過強度情報のデータセットは、前記スキャニング領域内の物体の情報を生成するために用いられる、方法。」
の発明である点で一致し、次の点で相違する。
　
（３）　相違点
　（相違点１）
　「分光学的に分解」（「エネルギー毎に弁別」）するための「検出器」（「Ｘ線検出器４」）が、本願補正発明では、具体的には、「Ｘ線のスペクトルの異なる部分に対する直接的な可変電気的応答を、直接的な物質特性として固有的に表すために選択された物質から製造されることによって、分光学的な分解を行うために適合している」のに対し、引用発明ではそのようには具体化されていない点。
　（相違点２）
　本願補正発明では、「透過強度情報のデータセット」が「１つ以上」であり、「透過強度情報のデータセットの各々を」「分光学的に分解」されており、実質的に複数の「透過強度情報のデータセット」を「分光学的に分解」することが意図されているのに対し、引用発明では、「分光学的に分解」される「透過強度情報のデータセット」の数が明記されていない点。
　（相違点３）
　「帯域」を定める変数が、本願補正発明では、「周波数」であるのに対して、引用発明では「エネルギー」である点。
　（相違点４）
　「Ｉ、Ｉ０、ρ及びｔを用いた等式」「に適合させる」「強度データアイテムを比較する工程」について、本願補正発明では、当該「Ｉ、Ｉ０、ρ及びｔを用いた等式」が「指数関数的な減衰則、
Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］
ここで、μ／ρは質量減衰係数であり、物質の重み付けられた元素の組成に特有な物質定数」「によって与えられる関係の等式」であって、また、「各々の」「帯域において、強度データアイテムの質量減衰係数全体を導き出す工程」を含むのに対し、引用発明では、「Ｉ、Ｉ０、ρ及びｔを用いた等式」が、そのような「関係の等式」であることが明示されてなく、またそのような「質量減衰係数全体を導き出す工程」も明示されていない点。
　（相違点５）
　本願補正発明は「各々の構成要素物質の計算された前記相対的な比率および既知の物体の厚さから、各透過経路方向の各々の要素物質の相対的な累積奥行きを導き出す工程」を含むのに対し、引用発明はその点を具備していない点。
　（相違点６）
　生成される「物体の情報」が、本願補正発明では、具体的には「物体の画像」であるのに対し、引用発明にはそのようには具体化されていない点。
５　当審の判断
　各相違点について検討する。
（１）　相違点１について
ア　Ｘ線などの放射線に高い感度を有する直接変換型半導体のＣｄＴｅを検出素子として、各ＣｄＴｅ検出素子に入射するフォトンを、５つのエネルギー領域に弁別し、各エネルギー領域ごとのフォトン数を計測する、エネルギー弁別型のＣｄＴｅ放射線ラインセンサが、例えば、本願の優先権主張日前に頒布された［“ＣｄＴｅ放射線ラインセンサ「Ｃ１０４１３」を世界で初めて製品化”，ＮＥＷＳ　ＲＥＬＥＡＳＥ，浜松ホトニクス株式会社，２００６年８月，全７頁］の第２頁に記載されているとおり、周知技術である。
イ　そして、引用発明の「Ｘ線検出器４」は、「入射したＸ線のエネルギーに応じた検出信号」に基づく「パルス」を「エネルギー毎に弁別し」「計数」することによって、「エネルギー毎に」分解された「任意のエネルギーの透過Ｘ線のＸ線強度値」を得るものであって、特に「エネルギーＥ１」、「Ｅ２」、…「Ｅｎにおける透過Ｘ線強度」を「ｎ」が「５」「以上の値」（上記「４」の（１）のオを参照。）で得るという機能・作用が特定されたものであるから、そのような機能・作用を有する具体的な「Ｘ線検出器」を決めるに当たり、上記アの周知技術を採用して、「Ｘ線検出器４」として、直接変換型半導体のＣｄＴｅを検出素子としたものを用いることで、上記相違点１に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
（２）　相違点２について
　引用発明では、「Ｘ線の通過方向に対する或る１つの領域のみにおいて、被測定物３の１次元的な各元素の含有量を測定する」ことを踏まえて、「被測定物３についての二次元的な情報を得るために、被測定物３を挟むＸ線源１とＸ線検出器４とを組として被測定物３の延展方向で移動させ、その移動毎に同様の測定を繰り返す」こととしている。
　そして、引用発明において、「各元素の含有量」は、「各エネルギーにおける」「透過Ｘ線強度」を「Ｘ線強度値の実測データ」とすることで「算出」されている。
　してみれば、引用発明において、「Ｘ線強度値の実測データ」を得るための、「検出信号」（「透過強度情報のデータセット」）は、「被測定物３の１次元」の各位置、あるいは「被測定物３についての二次元」の各位置のそれぞれで得られた複数のものである。また、上記「Ｘ線強度値の実測データ」を得るために「エネルギー毎に弁別」することは、これらの位置、すなわち、「１次元」の各位置、あるいは「二次元」の各位置に対応する「検出信号」の各々に対して行われることとなっており、複数のデータセットが得られているものといえる。
　よって、上記相違点２は、実質的な相違点ではない。
（３）　相違点３について
　フォトンのエネルギーＥと周波数νとが、プランク定数ｈを比例係数とする比例関係にあること（Ｅ＝ｈν）は、本願の優先権主張の日前より技術常識である。
　すると、引用発明において、帯域を定める変数として、エネルギーに代えて周波数を採用することによって、上記相違点３に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
（４）　相違点４について
ア　当該相違点４は、引用発明において式（１０）ないし式（１２）の「連立方程式」を具体的に解くにあたって、当業者が適宜なし得る設計的事項に過ぎない。
　以下、念のため、この点について詳細に検討する。
イ
（ア）　引用発明の、式（１０）ないし式（１２）は、それぞれ
　　ＩＥ１／Ｉ０Ｅｌ＝ｅｘｐ［−｛（μ／ρ）ａＥ１・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ１・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ１・ｗｅ｝・ρｍｔｍ］
　　ＩＥ２／Ｉ０Ｅ２＝ｅｘｐ［−｛（μ／ρ）ａＥ２・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ２・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ２・ｗｅ｝・ρｍｔｍ］
　　ＩＥｎ／Ｉ０Ｅｎ＝ｅｘｐ［−｛（μ／ρ）ａＥｎ・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥｎ・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥｎ・ｗｅ｝・ρｍｔｍ］
と等価である。
（イ）　上記（ア）の式の｛｝内（あるいは式（１０）ないし式（１２）の｛］内）の項、すなわち、「（μ／ρ）ａＥ１・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ１・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ１・ｗｅ」、「（μ／ρ）ａＥ２・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ２・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ２・ｗｅ」、「（μ／ρ）ａＥｎ・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥｎ・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥｎ・ｗｅ」は、「各種の元素の各エネルギーでの質量吸収係数」を「元素の重量比」で重み付け平均したものとなっているから、「質量吸収係数」の次元の項である。
　そして、「被測定物３」における「元素の重量比」は、「被測定物３」の組成によって一意に定まり、また、「各種の元素の各エネルギーでの質量吸収係数」は「既知」であるから、上記項は、いずれも、「被測定物３」の重み付けられた「元素」の組成に特有な定数である。
　よって、上記項は、本願補正発明の「μ／ρ」すなわち「質量減衰係数であり、物質の重み付けられた元素の組成に特有な物質定数」に相当する。
（ウ）　また、上記（ア）の式は、「ＩＥ１／Ｉ０Ｅｌ」、「ＩＥ２／Ｉ０Ｅ２」、及び「ＩＥｎ／Ｉ０Ｅｎ」が、「ρｍ」及び「ｔｍ」に対して指数関数的に減衰するという、指数関数的な減衰則の式を示している。
　よって、上記（イ）を踏まえると、上記（ア）の式は本願補正発明の「指数関数的な減衰則、」「Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］」「によって与えられる関係の等式」に相当する。
（エ）　上記（ア）ないし（ウ）により、引用発明の、式（１０）ないし式（１２）は、実質的に、本願補正発明の「指数関数的な減衰則、」「Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］」「ここで、μ／ρは質量減衰係数であり、物質の重み付けられた元素の組成に特有な物質定数」「によって与えられる関係の等式」に相当する。
ウ　上記イ（イ）で示した上記項は、上記イ（ア）の式（あるいは式（１０）ないし式（１２））のとおり、引用発明における、「各エネルギー」ごとの「透過Ｘ線強度」（「強度データアイテム」）「ＩＥ１」、「ＩＥ２」、…「ＩＥｎ」に関係する、「質量吸収係数」の次元のものであるから、本願補正発明の「各々の」「帯域に」おける「強度データアイテムの質量減衰係数全体」に相当する。
（ただし、本願補正発明の「Ｉ／Ｉ０＝ｅｘｐ［−（μ／ρ）ρｔ］」なる「等式」について、発明の詳細な説明の
「スペクトル的に分解された全体のＩ０はその放射源について既知であり、サンプル全体の厚さｔは既知であるか、または定数として正規化でき、μ／ρの値は、各々の可能性のある要素物質毎に保存され、スペクトル的に分解された全体のＩは、複数の周波数または複数の周波数帯域において導き出される。」（【００２４】）、及び
「ここで唯一問題となる変数は質量減衰係数全体である。これは、ＩおよびＩ０から決定できる。単一の周波数において、決定可能なものの全ては、サンプルについてのこの質量減衰係数全体である。…未知のものは各寄与の相対的な比率、すなわち、各要素物質の相対的な比率、として生成され得る。」（【００２５】）
の記載を踏まえると、「各要素物質の相対的な比率」が「未知」であるため、上記「等式」のうち「サンプルについての」「μ／ρ」及び「サンプルについての」「ρ」が未知であるから、「唯一問題となる変数」である「質量減衰係数全体」は、上記「等式」のうちの（質量減衰係数の次元の量ではなく）「（μ／ρ）ρ」を意味すると解することもできる。
　この意味では、引用発明の上記項に「ρｍ」を掛けたもの、すなわち、式（１０）ないし式（１２）における、「｛（μ／ρ）ａＥ１・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ１・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ１・ｗｅ］・ρｍ」、「｛（μ／ρ）ａＥ２・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥ２・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥ２・ｗｅ］・ρｍ」、「｛（μ／ρ）ａＥｎ・ｗａ＋（μ／ρ）ｂＥｎ・ｗｂ＋…＋（μ／ρ）ｅＥｎ・ｗｅ］・ρｍ」の部分が、本願補正発明の「各々の」「帯域に」おける「強度データアイテムの質量減衰係数全体」に相当する。）
エ　上記イ及びウを踏まえると、引用発明において、式（１０）ないし式（１２）の「連立方程式」を具体的に解くにあたり、単なる中間段階として、上記イ（イ）で示した項を、単に「μ／ρ」及び（上記ウのただし書きの意味にあっては、当該項に「ρｍ」を掛けたものを）「質量減衰係数全体」と名付けて、当該「連立方程式」に等価な上記イ（ア）の式により、それらの値を求めるようにすることで、上記相違点４に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
（５）　相違点５について
ア　引用例の、上記「３」の（１）の摘記事項ウにおける「各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さ」は、「Ｘ線２」が透過する「被測定物３中」の経路内にある各「元素」の「厚さ」であるから、本願補正発明の「各透過経路方向の各々の要素物質の相対的な累積奥行き」に相当する。
イ　上記アを踏まえると、引用例は、上記「３」の（１）の摘記事項ウのとおり、（「元素の重量比を求めたい」という動機のみならず）式（７）ないし式（９）の連立方程式を用いることによって、「各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さを求めたい」という、本願補正発明の「各透過経路方向の各々の要素物質の相対的な累積奥行きを導き出す」に相当する動機を有する。
ウ　ここで、引用例の式（７）ないし式（９）と、式（１０）ないし式（１２）を対比すれば、明らかに、
　ρａｔａ＝ｗａρｍｔｍ，ρｂｔｂ＝ｗｂρｍｔｍ，…，ρｅｔｅ＝ｗｅρｍｔｍ
である（各記号の定義は、引用発明の他、上記「３」の（１）の摘記事項イでの定義を参照）。よって、「各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さ」である「ｔａ」、「ｔｂ」、…、「ｔｅ」は、「元素の重量比」である「ｗａ」、「ｗｂ」、…、「ｗｅ」及び「混合物全体の厚さｔｍ」に依存する。
　したがって、引用発明において、上記イの「各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さを求めたい」という動機のもとに、式（１０）ないし式（１２）から得られた「元素の重量比」及び「既知」の「混合物全体の厚さｔｍ」から、「各元素ａ、ｂ、…、ｅの厚さ」である「ｔａ」、「ｔｂ」、…、「ｔｅ」を導出することによって、上記相違点５に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
（６）　相違点６について
ア　引用発明における「二次元的な情報」を構成する各位置の「情報」は、「被測定物３の」「各元素の含有量を算出し」た「結果」であるから、「表示部７に表示」されるものである。
イ　一方、引用例には、上記「３」の（１）の摘記事項オのとおり、「被測定物３に含まれる各元素」の「含有量」を「微小領域毎に算出し、」「二次元分布情報を作成して表示部７に表示する」ことも記載されている。当該「二次元分布情報」は、「被測定物３」の「二次元」の情報であって「表示部７に表示」されるものであるから、本願補正発明の「物体の画像」に相当する。
ウ　上記ア及びイを踏まえると、引用発明の「二次元的な情報」と、引用例の「表示部７に表示」される「二次元分布情報」とは、いずれも「被測定物３に含まれる各元素」の「含有量」についての「二次元」の情報であるから、引用発明において、「二次元的な情報」における各位置の「結果」を「二次元分布情報」のように「表示部７に表示する」ようにすることで、上記相違点６に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうることである。
（３）　本願補正発明の奏する作用効果
　
　また、本願補正発明の作用効果は、引用発明及び周知技術から、当業者が予測できる範囲のものである。
　
（４）　まとめ
　したがって、本願補正発明は、引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
６　むすび
　したがって、本件補正後の請求項１に係る発明は、その特許出願の際独立して特許を受けることができないから、本件補正は、特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に違反するものである。よって、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
第３　本願発明について
１　本願発明
　平成２６年８月２２日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という）は、平成２５年１１月１４日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのもの（上記「第２」の「１」の（１）を参照。）である。
２　引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例、及びその記載事項は上記「第２」の「３」の（１）ないし（２）に記載したとおりである。
３　当審の判断
　上記「第２」の「１」の（２）を踏まえると、本願発明は、上記「第２」で検討した本願補正発明から、少なくとも「検出器が、Ｘ線のスペクトルの異なる部分に対する直接的な可変電気的応答を、直接的な物質特性として固有的に表すために選択された物質から製造されることによって、分光学的な分解を行うために適合している」の構成を省いたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件をすべて含み、さらに他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、上記「第２」で検討したとおり、引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も同様の理由により、引用発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
４　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。