(57)【要約】【課題】検査対象である基板の検査を行う基板検査装置に基板を取り付けるための基板検査用治具に用いることができる受具であって、検査点の変更に柔軟に対応することができ、且つ検査に要する装置全体のコストを安価にすることができるようにする。【解決手段】受具３０は、本体３２と、本体３２に設けられて基板検査用治具２０の検査ピン２８の一端を着脱可能に拘束して、検査ピン２８と接触可能となったピン受部と、本体３２に設けられて基板検査用治具２０の下板２４に対して着脱可能に固定される凸部と、一端がピン受部に電気的に接続され、本体３２から導出されて他端が基板検査装置のレセプタクルに着脱可能に電気的に接続可能となったリード線３８と、備え、基板検査用治具２０及び基板検査装置１０に対して着脱可能となっている。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
基板検査装置に基板を取り付けるために、前記基板検査装置に載置されると共に基板を支持する基台部と、該基台部に着脱可能に保持されて基板の検査点に接触する検査ピンと、を有する基板検査用治具に用いることができる受具であって、
本体と、
該本体に設けられて前記基板検査用治具の検査ピンの一端を着脱可能に拘束して、該検査ピンと接触可能となったピン受部と、
前記本体に設けられて前記基板検査用治具の基台部に対して着脱可能に固定される固定部と、
前記本体から導出されて端部が前記基板検査装置に電気的に接続可能となっており、前記ピン受部と基板検査装置とを導通するリード線と、
を備えて、前記基板検査用治具及び基板検査装置に対して着脱可能となったことを特徴とする受具。
【請求項２】
基板検査装置に基板を取り付けるために、前記基板検査装置に載置されると共に基板を支持する基台部を有する基板検査用治具に用いることができる受具であって、
本体と、
該本体に設けられて基板の検査点に接触する検査ピンを摺動可能に有するピン受部と、
前記本体に設けられて前記基板検査用治具の基台部に対して着脱可能に固定される固定部と、
前記本体から導出されて端部が前記基板検査装置に電気的に接続可能となっており、前記ピン受部と基板検査装置とを導通するリード線と、
を備えて、前記基板検査用治具及び基板検査装置に対して着脱可能となったことを特徴とする受具。
【請求項３】
前記受具のリード線の端部は、他の受具のリード線の端部とまとめられて基板検査装置のコネクタに接続可能なコネクタを構成することを特徴とする請求項１または２記載の受具。
【請求項４】
前記固定部は、前記基台部に形成された凹部または凸部に係合可能となった凸部または凹部であることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の受具。
【請求項５】
前記固定部は、前記基台部に対して磁力により吸着可能な磁石を有することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の受具。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、検査対象である基板の検査を行う基板検査装置に基板を取り付けるための基板検査用治具に用いることができる受具に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、基板の電気的導通状態の良否や電気的特性の検査を行う基板検査装置としては、ユニバーサルテスタと称されているユニバーサルタイプの基板検査装置と、専用治具を用いる専用タイプの基板検査装置の２種類の装置が一般的に知られている。
【０００３】
ユニバーサルタイプの基板検査装置では、図５に示すように、治具載置台６０に一定のピッチ（例えば０．１インチ（２．５４ｍｍ））で二次元状に配設された多数のピン受け孔６０ａが穿設されており、各ピン受け孔６０ａ内に検査回路に接続されるスプリングピン６２が配設されている。そして、このユニバーサルタイプの基板検査装置に基板を取り付けるための基板検査用治具６４は、上板６６と、下板６８と、上板６６と下板６８とを間隔をあけて保持するスタット７０とを備えており、上板６６と下板６８にはそれぞれ基板の検査点に相当する位置に貫通孔６６ａ、６８ａが形成されて、これらの貫通孔６６ａ、６８ａに検査ピン７２が挿通されている。検査ピン７２の頭部は貫通孔よりも拡径されて貫通孔を挿通することができないために、検査ピン７２は、上板６６に保持されている。また、上板６６には、基板Ｓの位置決め用ピン６６ｂが取り付けられる。
【０００４】
この治具６４を基板検査装置の治具載置台６０の上に載せて、治具６４の上に基板Ｓを位置決め用ピン６６ｂに合わせるようにして載せた後、基板Ｓを治具６４の方へと押圧すると、治具６４の検査ピン７２の頭部が基板Ｓの所定の検査点に接触すると同時に検査ピン７２の下端が基板検査装置のいずれかのピン受け孔６０ａに挿入して、スプリングピン６２に弾接するために、基板Ｓの各検査点が基板検査装置の検査回路と導通し、導通状態の良否や電気的特性の検査を行うことができる。
【０００５】
一方、専用タイプの基板検査装置では、図６に示すように、治具載置台８０と、検査回路に接続されるレセプタクル８２とを有している。この専用タイプの基板検査装置に基板を取り付けるための基板検査用治具８４は、上板８６と、下板８８と、上板８６と下板８８とを間隔をあけて保持するスタット９０と、を有しており、上板８６には基板の検査点に相当する位置にスプリングピン９２が貫通しており、スプリングピン９２は上板８６に着脱不能に保持されている。そして、各スプリングピン９２の下端にはリード線９４の一端が接続されており、複数のリード線９４の他端はまとめられてプラグ９６となっている。上板８６には、基板の位置決め用ピン８６ａが固定される。
【０００６】
この治具８４を基板検査装置の治具載置台８０に載せて、プラグ９６をレセプタクル８２に差し込み、治具８４の上に基板Ｓを位置決め用ピン８６ａに合わせるようにして載せた後、基板Ｓを治具８４の方へと押圧すると、治具８４のスプリングピン９２の頭部が基板Ｓの所定の検査点に弾接する。これによって、基板Ｓの各検査点が基板検査装置の検査回路と導通し、導通状態の良否や電気的特性の検査を行うことができる。
【０００７】
以上のような２つのタイプの基板検査装置のうち、ユニバーサルタイプでは、治具の各構成部品は比較的安価なもので構成されており、それぞれの構成部品は分解可能で、簡単に構成することができるため、治具は安価で検査点の変更にも柔軟に対応することができるが、多数のスプリングピン及びそのスプリングピンに接続される検査回路を備えた基板検査装置自体が高価であるという問題がある。
【０００８】
一方、専用タイプでは、基板検査装置自体は検査回路が簡素化されるために、安価に構成することができるが、治具自体が高価で保存に嵩張るという問題がある。また、治具は分解不可能であり１つの種類の基板専用となっているため検査点の変更に対して柔軟に対応することができないという問題もある。
【０００９】
これらの既存のタイプの基板検査装置に対してより安価で検査点の変更に対して柔軟に対応することが要望されている。このような要望に対して、例えば、特許文献１で提案される基板検査装置では、検査用治具の上フィクスチャにソケットを多数配設し、あるソケットにプローブピンを装着したときには、接触部として機能するようにし、あるソケットに非導電部材で形成したダミーのロッド状部材を装着したときには、基板押えとして機能するようにして、そのソケットに対応する位置の検査を行うかどうかを変更することができるようになっている。
【００１０】
【特許文献１】特開平１１−２４２０６７号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、特許文献１の構成では、多数設けられたソケットにブロープピンを装着するかダミーのロッド状部材を装着するかの決定を行わなければならず、その決定が困難であるという問題がある。また、ソケットが多数配設される上フィクスチャの製造にコストがかかるという問題がある。
【００１２】
本考案は、かかる課題に鑑みなされたもので、その目的は、検査点の変更に柔軟に対応することができ、且つ検査に要する装置全体のコストを安価にすることができる基板検査用治具に用いることができる受具を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前述した目的を達成するために、請求項１記載の考案は、基板検査装置に基板を取り付けるために、前記基板検査装置に載置されると共に基板を支持する基台部と、該基台部に着脱可能に保持されて基板の検査点に接触する検査ピンと、を有する基板検査用治具に用いることができる受具であって、
本体と、
該本体に設けられて前記基板検査用治具の検査ピンの一端を着脱可能に拘束して、該検査ピンと接触可能となったピン受部と、
前記本体に設けられて前記基板検査用治具の基台部に対して着脱可能に固定される固定部と、
前記本体から導出されて端部が前記基板検査装置に電気的に接続可能となっており、前記ピン受部と基板検査装置とを導通するリード線と、
を備えて、前記基板検査用治具及び基板検査装置に対して着脱可能となったことを特徴とする。
【００１４】
請求項２記載の考案は、基板検査装置に基板を取り付けるために、前記基板検査装置に載置されると共に基板を支持する基台部を有する基板検査用治具に用いることができる受具であって、
本体と、
該本体に設けられて基板の検査点に接触する検査ピンを摺動可能に有するピン受部と、
前記本体に設けられて前記基板検査用治具の基台部に対して着脱可能に固定される固定部と、
前記本体から導出されて端部が前記基板検査装置に電気的に接続可能となっており、前記ピン受部と基板検査装置とを導通するリード線と、
を備えて、前記基板検査用治具及び基板検査装置に対して着脱可能となったことを特徴とする。
【００１５】
請求項３記載の考案は、請求項１または２記載の前記受具のリード線の端部が、他の受具のリード線の端部とまとめられて基板検査装置のコネクタに接続可能なコネクタを構成することを特徴とする。
【００１６】
請求項４記載の考案は、請求項１ないし３のいずれか１項に記載の前記固定部が、前記基台部に形成された凹部または凸部に係合可能となった凸部または凹部であることを特徴とする。
【００１７】
請求項５記載の考案は、請求項１ないし３のいずれか１項に記載の前記固定部が、前記基台部に対して磁力により吸着可能な磁石を有することを特徴とする。
【考案の効果】
【００１８】
請求項１記載の本考案によれば、受具の固定部を基板検査用治具の基台部に着脱可能に固定し、基板検査用治具の各検査ピンを基台部に保持させると共にその一端をピン受部によって着脱可能に拘束することにより、基板検査用治具を完成させることができる。また、請求項２記載の本考案によれば、受具の固定部を基板検査用治具の基台部に着脱可能に固定することにより、基板検査用治具を完成させることができる。基板検査用治具の基台部に基板を支持すると、基板の各検査点は、検査ピン、ピン受部、リード線を介して基板検査装置と導通される。よって、基板の検査点の検査を行うことができる。
【００１９】
基板検査用治具、基板検査装置及び受具の全てを安価に構成することができるので、装置全体のコストを抑えることができる。
【００２０】
検査点が異なる基板を検査する場合でも、受具自体は共通に使用することができるので、簡単に且つ安価に検査点の変更に対応することができる。
【００２１】
請求項３記載の考案によれば、複数の受具のリード線の端部がまとめられたコネクタを基板検査装置のコネクタに接続するだけで各受具と基板検査装置との接続を簡単に行うことができる。
【００２２】
請求項４記載の考案によれば、凹部と凸部との係合によって簡単に受具を基台部に固定することができる。
【００２３】
請求項５記載の考案によれば、磁力によって簡単に受具を基台部に固定することができる。基台部には固定するための手段を形成する必要がないので、基台部の汎用性を高めることができる。
【考案を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、図面を用いて本考案の実施の形態を説明する。尚、本考案は下記実施形態に限定されるものではない。
【００２５】
図１は本考案の受具を用いた基板検査用治具とその基板検査用治具を用いた基板検査装置の要部を表す全体斜視図、図２は本考案の受具を用いた基板検査用治具の断面図である。この基板検査装置１０は、従来の専用タイプの基板検査装置とほぼ同等の構成となっており、治具載置台１２と、基板検査装置１０の検査回路と接続されるコネクタとしてのレセプタクル１４と、を備えている。図示しないが、基板検査装置１０には、基板を押圧するプレス機構が設けられ、また、検査点に所定の電圧を印加する検査回路が内蔵される。
【００２６】
この基板検査装置１０に検査対象である基板を取り付けるための基板検査用治具２０は、上板２２、下板２４及び上板２２と下板２４とを所定間隔をあけて保持するスタット２６とからなる基台部２７と、該基台部２７に保持されて基板の検査点に接触する検査ピン２８と、を備えている。
【００２７】
基台部２７の上板２２は、非導電性材料で構成されて、その上に検査対象である基板が載置されるものであり、基板の位置決めを行う位置決めピン２２ａが取り付けられると共に、所望の検査点に対応して複数の貫通孔２２ｂが穿設されている。
【００２８】
基台部２７の下板２４は、前記基板検査装置１０の治具載置台１２に載置されるものであり、前記貫通孔２２ｂに上下方向に整合する位置に、ガイド孔２４ａが穿設されている。
【００２９】
これらの上板２２及び下板２４はスタット２６を介して互いに組み付けられて基台部２７を構成することができ、且つ簡単に分解可能となっている。
【００３０】
前記検査ピン２８は、導電性材料からなり頭部２８ａと軸部２８ｂとから構成される。頭部２８ａは軸部２８ｂよりも拡径されて貫通孔２２ｂを挿通不可となっている。軸部２８ｂは貫通孔２２ｂを挿通しており、頭部２８ａが貫通孔２２ｂに係止されて貫通孔２２ｂに保持された状態で、その下端が上板２２と下板２４との間に位置付けられるようになっている。
【００３１】
以上のように構成される基板検査用治具２０の下板２４に本考案による受具３０が着脱可能に設置される。
【００３２】
本考案による受具３０は、図３に示すように、適宜複数のブロックが組み合わされることで構成される非導電性材料からなる本体３２と、本体３２の上部に設けられたピン受部３４と、本体３２の下部に設けられた固定部３６と、本体３２から導出されるリード線３８と、を有している。
【００３３】
ピン受部３４は、本体３２の上面に穿設されて検査ピン２８の一端を拘束する孔３４ａと、孔３４ａ内に配設されたスプリングピン４０とから構成される。スプリングピン４０は、その上端に検査ピン２８の下端を受けることができるようになった凹部４２ａが形成された摺動ピン４２と、摺動ピン４２の下端が摺動可能に挿入される細管４４と、細管４４内であって摺動ピン４２を上方に付勢するスプリング４６と、を備え、摺動ピン４２、細管４４及びスプリング４６は全て導電性材料から構成される。
【００３４】
固定部３６は、本体３２の下端に形成されて、前記下板２４のガイド孔２４ａに係合可能となった凸部となっている。
【００３５】
リード線３８は、その一端がスプリングピン４０に接続されて、本体３２から導出される。リード線３８の他端は、他の受具３０のリード線３８の他端と共にまとめられて、前記基板検査装置１０のレセプタクル１４に接続されるコネクタであるプラグ５０を構成する。但し、必ずしもリード線３８の他端は他のリード線とまとめる必要はなく、単独でコネクタであるプラグ５０を構成することも可能である。
【００３６】
基板検査用治具２０を構成する上板２２及び下板２４は、異なる検査点の位置及び個数を持つ検査パターンに応じて、該検査パターンに対応する貫通孔２２ｂとガイド孔２４ａが形成されたものが、それぞれ用意されている。これに対して、受具３０は共通部品として同じものが予め複数個準備されている。ある検査パターンを持つ基板の検査を行う際には、対応した貫通孔２２ｂとガイド孔２４ａがそれぞれ形成された上板２２と下板２４を用意し、図４（ａ）に示すように、スタット２６の上端と下端に上板２２と下板２４とをそれぞれ連結して、基台部２７を組み立てる。そして、各ガイド孔２４ａに受具３０の固定部３６を係合する（図４（ｂ））。そして、最後に、各貫通孔２２ｂに上方から検査ピン２８を挿入すると、検査ピン２８の下端が受具３０のピン受部３４に挿入されて（図４（ｃ））、基板検査用治具２０の組立が完成する。
【００３７】
この基板検査用治具２０を基板検査装置１０の治具載置台１２に載せて、各受具３０のリード線３８がまとまったプラグ５０を基板検査装置１０のレセプタクル１４に接続した後、基板Ｓを上板２２の上に位置決めピン２２ａを合わせるようにして載せて、図示しないプレス機構で基板Ｓを下方へと押圧すると、各検査ピン２８の下端がスプリングピン４０の摺動ピン４２を下方へ押圧しつつ、摺動ピン４２の凹部４２ａに係合する。これにより、検査ピン２８は、ピン受部３４及びリード線３８を介して基板検査装置１０の検査回路に導通されるため、検査に供することができる。
【００３８】
順次、同じ検査パターンの基板を検査した後には、受具３０を基板検査用治具２０から取り外し、基板検査用治具２０も分解すると、上板２２、下板２４をまとめて収納しておくことができるので、収納に嵩張ることはない。
【００３９】
以上のようにこの考案による受具３０を用いることにより、基板検査装置１０は従来の専用タイプの基板検査装置と同じ構成の装置を用いることができるため、安価となり、かつ基板検査用治具２０も簡単に構成することができるため、安価となり、受具３０も異なる検査パターンに共通に使用することができるため安価とすることができ、検査に要する費用全体を安価にすることができる。
【００４０】
特に、検査点が少ない検査を行う場合には、本考案の受具３０を使用することで、コスト面での効果を図ることができる。例えば、ある基板について、多数の検査点に対する通常の検査では従来の基板検査装置の治具を用いて検査を行い、少数の検査点に対する特別の検査（例えば、高圧の耐圧検査など）では本考案の受具を用いた基板検査用治具を用いて検査を行うと効果的である。
【００４１】
図７は、通常の検査と特別な検査とを同じ工程で行うようにした例である。図示の例の基板検査用治具２０は、多数の検査点に対する検査に対してはユニバーサルタイプの治具として機能すると共に、少数の検査点に対する検査に対しては本考案による受具３０及びコネクタ５０を介してユニバーサルタイプの検査回路とは異なる検査回路で構成される基板検査装置によって検査を行う。これによって、基板Ｓを都度、置き換えることなく、２種類の検査を同時または順次に行うことができる。
【００４２】
尚、以上の実施形態では、下板２４に凹部であるガイド孔２４ａを設け、受具３０の固定部３６が凸部であったが、これに限るものではなく、下板２４に凸部を設け、受具３０の固定部３６を凹部で構成することも可能である。
【００４３】
また、以上の実施形態では、下板２４を検査パターンに応じたガイド孔２４ａのような位置決め手段を持つものとしたが、これに限るものではなく、受具３０の固定部３６を本体３２に埋設された磁石で構成し、下板２４を磁石との間で磁力による吸着力を発生する磁性体材料の平坦な板で構成することも可能である。この場合には、受具３０は、下板２４上において、上板２２の貫通孔２２ｂのほぼ真下の位置に設置して、磁力によって下板２４との間の固定を行う。受具３０は、厳密に貫通孔２２ｂと整合する必要はなく、貫通孔２２ｂとピン受部３４との間に多少のずれがあっても、検査ピン２８とピン受部３４のスプリングピン４０との接触が確保されれば支障がない。この場合には、下板２４を検査パターンにかかわらず共通部品とすることができ汎用性が高まるので、装置全体をより安価に構成することができる。
【００４４】
尚、以上の実施形態では、受具３０は検査ピン２８と別体であったが、これに限るものではなく、図８に示すように、受具３０が検査ピン２８を一体的に有するものとすることも可能である。この場合、受具３０のスプリングピン４０の摺動ピン４２が検査ピン２８と一体となっており、基台部２７の上板２２は検査ピン２８を保持せず、基板を位置決め可能に支持できるようになっているとよい。この例では、基台部２７の上板２２を検査パターンにかかわらず共通部品とすることが可能となるので、汎用性が高まり、装置全体をより安価に構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本考案の受具を用いた基板検査用治具とその基板検査用治具を用いた基板検査装置の要部を表す全体斜視図である。
【図２】図１の受具を用いた基板検査用治具の断面図である。
【図３】図１の受具の断面図である。
【図４】受具を用いた基板検査用治具の組立手順を表す斜視図である。
【図５】従来のユニバーサルタイプの基板検査装置で用いられる基板検査用治具を表す断面図である。
【図６】従来の専用タイプの基板検査装置で用いられる基板検査用治具を表す断面図である。
【図７】本考案の受具を用いた基板検査用治具をユニバーサルタイプの治具として兼用した例を表す断面図である。
【図８】本考案の他の実施形態による受具を用いた基板検査用治具の断面図である。
【符号の説明】
【００４６】
１０  基板検査装置
１２  治具載置台
１４  レセプタクル（コネクタ）
２０  基板検査用治具
２２  上板（基台部）
２４  下板（基台部）
２６  スタット（基台部）
２８  検査ピン
３０  受具
３２  本体
３４  ピン受部
３６  固定部
３８  リード線
５０  プラグ（コネクタ）
【図１】
0003134296.tif 000003
【図２】
0003134296.tif 000004
【図３】
0003134296.tif 000005
【図４】
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【図５】
0003134296.tif 000007
【図６】
0003134296.tif 000008
【図７】
0003134296.tif 000009
【図８】
0003134296.tif 000010