(57)【要約】  記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）は、第１本体部分（８０２、１８０２）と、第２本体部分（８０４、１８０４）と、を有する輸送器本体（８１０、１８１０）を含む。第１本体部分（８０２、１８０２）は、記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）を操作するための自動機械装置と係合するように構成される。第２本体部分（８０４、１８０４）は、記憶装置を受容及び支持するように構成される。第１本体部分（８０２、１８０２）は空気流（３０５、１９５０）を受容し、これを第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される。
2012533833.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）であって、
Ａ）輸送器本体（８１０、１８１０）であって、
ｉ）前記記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成された第１本体部分（８０２、１８０２）と、
ｉｉ）記憶装置を受容及び支持するように構成された第２本体部分（８０４、１８０４）と
を含む輸送器本体（８１０、１８１０）
を含み、
前記第１本体部分（８０２、１８０２）は空気流を受容し、かつ、空気流を前記第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される、記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）。
【請求項２】
前記第１本体部分（８０２、１８０２）は、空気を前記第１本体部分（８０２、１８０２）内に受容し、かつ、空気を前記第２本体部分（８０４、１８０４）内に方向付けるための、１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ、１８３２）を有する空気方向付け器（８３０、１８３０）を含む、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項３】
前記１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ、１８３２）は、前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）を操作するための自動機械装置と係合するように構成される、請求項２に記載に記憶装置輸送器。
【請求項４】
前記第２本体部分（８０４、１８０４）は、間に記憶装置を受容するように配置される第１側壁（８２２、１８２２）及び第２側壁（８２４、１８２４）を含む、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項５】
前記第１本体部分（８０４）は１つ以上の視覚的基準（８３６）を含む、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項６】
前記第２本体部分（８０４、１８０４）内で記憶装置をクランプするように動作可能なクランプ機構（８４０、１８４０）を更に含む、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項７】
前記第１本体部分（８０２、１８０２）は、空気を前記第２本体部分（８０４、１８０４）内に支持される記憶装置の頂面及び底面上に方向付けるように構成される、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項８】
前記第１本体部分（８０２）は、空気を前記第１本体部分（８０２）内に受容し、かつ、空気を前記第２本体部分（８０４）内に方向付けるための、１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ）を有する空気方向付け器（８３０）を含み、
前記１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ）は、前記記憶装置輸送器が前記自動機械装置と係合する際に、前記記憶装置輸送器をＸ、Ｙ及び回転方向に位置合わせするように配置される、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項９】
前記第２本体部分（８０４、１８０４）は実質的にＵ字型の開口部を画定し、これは空気が前記記憶装置輸送器内に支持される記憶装置の底面上に流れることを可能にする、請求項１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項１０】
Ａ）記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）であって、
ｉ）輸送器本体（８１０、１８１０）であって、
ａ）前記記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成された第１本体部分（８０２、１８０２）と、
ｂ）記憶装置を受容及び支持するように構成された第２本体部分（８０４、１８０４）であって、前記第１本体部分が、空気流を受容し、これを前記第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される第２本体部分（８０４、１８０４）と
を含む輸送器本体（８１０、１８１０）
を含む記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）と、
Ｂ）試験スロット（３３０、３３０’、１３３０）であって、
ｉ）ハウジング（３４０、１３４０）であって、
ａ）前記記憶装置輸送器を受容及び支持する試験区画と、
ｂ）ディスクドライブ輸送器の挿入及び取り外しのために、前記試験区画にアクセスを提供する開放端部（３４６、１３４６）と
を画定するハウジング（３４０、１３４０）と
を含む試験スロット（３３０、３３０’、１３３０）と
を含む試験スロットアセンブリ。
【請求項１１】
前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）は、前記試験区画から完全に取り外し可能である、請求項１０に記載の試験スロットアセンブリ。
【請求項１２】
前記記憶装置輸送器（８００’）は、記憶装置を受容するための引き出し部を形成するような方法で前記試験スロット（３３０’）に接続される、請求項１０に記載の試験スロットアセンブリ。
【請求項１３】
Ａ）自動機械装置と、
Ｂ）記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）であって、
ｉ）輸送器本体（８１０、１８１０）であって、
ａ）前記記憶装置輸送器を操作するための前記自動機械装置と係合するように構成された第１本体部分（８０２、１８０２）と、
ｂ）記憶装置を受容及び支持するように構成された第２本体部分（８０４、１８０４）であって、前記第１本体部分が、空気流を受容し、これを前記第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される第２本体部分（８０４、１８０４）と
を含む輸送器本体（８１０、１８１０）
を含む記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）と
を含む、記憶装置試験システム。
【請求項１４】
前記第１本体部分（８０２）は、空気を前記第１本体部分内に受容し、かつ、空気を前記第２本体部分内に方向付けるための１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ）を有する空気方向付け器を含み、
前記１つ以上の吸気口は、前記記憶装置輸送器を操作するための前記自動機械装置と係合するように構成される、請求項１３に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１５】
前記自動機械装置は、１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ）と係合するように適合される機械作動装置（２４０）を含む、請求項１４に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１６】
前記第１本体部分（８０２）は１つ以上の視覚的基準（８３６）を含み、
前記自動機械装置は前記視覚的基準を検出するための光学システム（２１２）を含む、請求項１３に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１７】
前記自動機械装置は支柱（２４４）を含み、
前記第１本体部分は、空気を前記第１本体部分内に受容し、かつ、空気を前記第２本体部分内に方向付けるための１つ以上の吸気口（８３２ａ〜ｃ）を含み、
前記吸気口（８３２ｃ）は、前記記憶装置輸送器が前記自動機械装置と係合する際に、前記記憶装置輸送器をＸ、Ｙ及び回転方向に位置合わせするべく前記支柱と係合するように配置される、請求項１３の記憶装置試験システム。
【請求項１８】
前記第１本体部分（８０２）は一対のスロット（８３４）を含み、
前記自動機械装置は、前記スロットと係合するように動作可能な一対の爪（２４６ａ、２４６ｂ）を含む、請求項１３に記載の記憶装置試験システム。
【請求項１９】
前記第２本体部分（８０４、１８０４）内に記憶装置をクランプするように動作可能なクランプ機構（８４０、１８４０）を更に含み、
前記自動機械装置は前記クランプ機構を作動するように動作可能である、請求項１３に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２０】
前記自動機械装置は、ロボットアーム（２００）及び前記ロボットアームに取り付けられたマニピュレータ（２１０）を含み、
前記マニピュレータは前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）と係合するように構成される、請求項１３に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２１】
少なくとも１つのラック（３００）と、
各ラックに収容される少なくとも１つの試験スロット（３３０、３３０’）であって、各試験スロットが入口（３４６）及び出口（３４８）を有する試験スロットハウジング（３４０）を含み、かつ、前記入口が記憶装置を受容するように構成される、試験スロット（３３０、３３０’）と、
前記少なくとも１つの試験スロットと空気連通する少なくとも１つのエアムーバ（９００）と
を含む記憶装置試験システム（１００）であって、
前記少なくとも１つのエアムーバは、前記少なくとも１つのラックの外側の空気を各試験スロットハウジングの前記入口内、前記受容される記憶装置上、及び各試験スロットハウジングの前記出口の外に移動させるように構成される、記憶装置試験システム（１００）。
【請求項２２】
各ラック（３００）は、前記ラックの前記スロットを前記少なくとも１つのエアムーバに空気連通させる空気導管（３０４）を含み、
前記少なくとも１つのエアムーバが空気を、前記空気導管を通じて各試験スロットハウジングの前記出口の外に及び前記ラックの外側の環境に移動させる、請求項２１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２３】
全てのラックの各試験スロットハウジングの前記出口が、前記少なくとも１つのエアムーバと空気連通する、請求項２２に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２４】
前記少なくとも１つのエアムーバ（９００）が、前記対応するラックの前記試験スロット（３３０）と空気連通する各ラック（３００）上に配置される、請求項２２に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２５】
各試験スロットハウジング（３４０）が第１部分（３４２）及び第２部分（３４４）を有し、
前記試験スロットハウジングの前記第１部分（３４２）が前記入口（３４６）を画定し、かつ、記憶装置を受容するように構成され、
前記少なくとも１つのエアムーバ（９００）は、前記試験スロットハウジングの前記第２部分（３４４）と空気連通する、請求項２１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２６】
前記エアムーバ（９００）は吸気口（９０２）及び排気口（９０６）を含み、
前記エアムーバは、空気を第１方向（９０４）に沿って、その吸気口を通じて受容し、かつ、空気をその排気口の外に、前記第１方向と実質的に垂直な第２方向（９０８）に沿って供給する、請求項２５に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２７】
前記試験スロットハウジングの入口（３４６）は記憶装置輸送器（８００、８００’）を受容するように構成され、
前記記憶装置輸送器（８００、８００’）は第１部分及び第２部分を有し、
前記記憶装置輸送器の前記第１部分（８０２）は空気方向付け器（８３０）を含み、
前記記憶装置輸送器の前記第２部分（８０４）は前記記憶装置を受容するように構成され、
前記空気方向付け器は空気を、前記記憶装置輸送器内に受容される前記記憶装置の少なくとも頂面及び底面上に実質的に同時に方向付ける、請求項２１に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２８】
前記ラックの外側の空気は、前記少なくとも１つのエアムーバにより、前記各試験スロットの前記受容される記憶装置輸送器の空気方向付け器内、前記受容される記憶装置上、及び前記各試験スロットの出口の外側に、移動させられる、請求項２７に記載の記憶装置試験システム。
【請求項２９】
前記受容される記憶装置輸送器（８００、８００’）の前記空気方向付け器（８３０）は少なくとも１つの吸気口（８３２ａ〜ｃ）を画定し、
前記記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有し、
前記記憶装置の前面は電気コネクタを有し、
前記記憶装置は、その後面が前記記憶装置輸送器の前記第１部分と実質的に面するように受容され、
前記少なくとも１つの吸気口（８３２ａ〜ｃ）は、空気を、前記受容される記憶装置の少なくとも前記頂面及び底面上に方向付ける、請求項２７に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３０】
記憶装置試験システム（１００）であって、
少なくとも１つのラック（３００）と、
少なくとも１つのラックと空気連通する空気熱交換器（３５０）と
各ラックに収容される試験スロット（３３０、３３０’）であって、
各試験スロットが、
入口（３４６）及び出口（３４８）を画定する試験スロットハウジング（３４０）であって、前記入口は記憶装置を受容するように構成され、前記入口及び前記出口の少なくとも一方が前記空気熱交換器と空気連通する試験スロットハウジング（３４０）と、
前記試験スロットハウジングと空気連通するように配置され、空気を前記試験スロットハウジングの入口内、前記受容される記憶装置上及び前記試験スロットハウジングの出口の外に移動させるように構成される試験スロットエアムーバ（９００）と
を含む試験スロット（３３０、３３０’）と
を含み、
各試験スロットエアムーバにより、前記ラックの外側の空気が、前記試験スロットハウジング入口、前記受容される記憶装置上に移動させられ、かつ、各試験スロットハウジングの出口の外及び前記対応するラックの外に移動させられ、
前記空気は、前記受容された記憶装置を通過する前及び後の少なくとも一方で前記熱交換器を通じて移動させられる、記憶装置試験システム（１００）。
【請求項３１】
各ラック（３００）は、各試験スロットハウジング（３４０）と前記空気熱交換器（３５０）との間の空気連通を提供する空気導管（３０４）を含む、請求項３０に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３２】
前記熱交換器（３５０）は、
入口（３５１）、出口（３５３）及びその間の空気流経路（３０４）を画定する空気熱交換器ハウジング（３５２）と、
前記空気流経路内に配置される冷却要素（３５４）と、
前記空気熱交換器から蓄積した凝結物を前記熱交換器の外に供給するためのポンプ（３５６）及び排出管の少なくとも一方と
を含む、請求項３０に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３３】
前記空気熱交換器（３５０）は、空気を前記空気熱交換器ハウジングの入口内、前記冷却要素上、及び前記空気熱交換器ハウジングの出口外へと移動させるための空気熱交換器エアムーバ（３５８）を更に含む、請求項３２に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３４】
前記空気熱交換器（３５０）は蒸発器（３６０）を更に含み、
前記蒸発器（３６０）は、前記空気熱交換器の前記対応するラック上に配置され、かつ、前記ポンプ（３５６）及び前記排出管の少なくとも一方と流体連通する、請求項３２に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３５】
前記試験スロットハウジングの入口（３４６）は記憶装置輸送器（８００、８００’）を受容するように構成され、
前記記憶装置輸送器（８００、８００’）は第１部分（８０２）及び第２部分（８０４）を有し、
前記記憶装置輸送器の前記第１部分（８０２）は空気方向付け器（８３０）を含み、
前記記憶装置輸送器の前記第２部分（８０４）は前記記憶装置を受容するように構成され、
前記空気方向付け器は空気を、前記記憶装置輸送器内に受容される前記記憶装置の少なくとも頂面及び底面上に実質的に同時に方向付ける、請求項３０に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３６】
各試験スロットエアムーバ（９００）により、前記ラック（３００）の外側の空気が、前記対応する試験スロット（３３０、３００’）の前記受容される記憶装置輸送器（８００、８００’）の前記空気方向付け器（８３０）内、前記受容される記憶装置上に移動させられ、かつ、前記空気熱交換器（３５０）を通じて前記対応する試験スロット出口（３４８）の外及び前記対応するラックの外に移動させられる、請求項３５に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３７】
前記受容される記憶装置輸送器（８００、８００’）の前記空気方向付け器（８３０）が少なくとも１つの吸気口（８３２ａ〜ｃ）を画定し、
前記記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有し、
前記記憶装置の前面は電気コネクタを有し、
前記記憶装置は、その後面が前記記憶装置輸送器の前記第１部分と実質的に面するように受容され、
前記少なくとも１つの吸気口は、空気を、前記受容される記憶装置の少なくとも前記頂面及び底面上に方向付ける、請求項３５に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３８】
前記エアムーバ（９００）は吸気口（９０２）及び排気口（９０６）を含み、
前記エアムーバは、空気を第１方向（９０４）に沿って、その吸気口を通じて受容し、かつ、空気をその排気口の外に、前記第１方向と実質的に垂直な第２方向（９０８）に沿って供給する、請求項３０に記載の記憶装置試験システム。
【請求項３９】
前記エアムーバ（９００）は、約４５ｍｍの幅、約４５ｍｍの長さ及び約１０ｍｍの高さを有するエアムーバ本体を含む、請求項３８に記載の記憶装置試験システム。
【請求項４０】
床部表面と実質的に垂直な第１軸（２０５）を画定する少なくとも１つのロボットアーム（２００）を更に含み、
前記ロボットアームは前記第１軸を中心とする既定の弧を通じて回転し、ここから半径方向に延びるように動作可能であり、
前記ラックはロボットアームで扱うために、前記ロボットアームの周囲に配置される、請求項３０に記載の記憶装置試験システム。
【請求項４１】
記憶装置試験システム内に受容される記憶装置の温度調節方法であって、
空気流（３０５）を、ラック（３００）に受容される試験スロット（３３０、３３０’）の試験スロットハウジング（３４０）の吸気口（３４６）内に移動させる工程と、
前記空気流（３０５）を前記試験スロットに受容される記憶装置（５００）上を移動させる工程と、
前記空気を前記試験スロットの前記試験スロットハウジングの排気口（３４８）の外に移動させる工程と、
前記空気を前記ラックの外側に解放する工程と
を含む、温度調節方法。
【請求項４２】
前記空気流（３０５）を、前記試験スロット（３３０、３３０’）に受容される記憶装置の少なくとも頂面（５１２）及び底面（５１４）の上に実質的に同時に移動させる工程を更に含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項４３】
前記ラック（３００）の外の空気を前記試験スロットハウジング入口（３４６）内、前記受容される記憶装置の上に移動させる工程と、
前記空気を、空気導管（３０４）を通じて試験スロットハウジングの出口（３４８）の外に、及び前記ラック（３００）の外に移動させる工程と
を更に含み、
前記空気導管（３０４）は、前記ラックの各試験スロットハウジングの前記出口（３４８）と空気連通する、請求項４１に記載の方法。
【請求項４４】
前記空気を前記試験スロット（３３０、３３０’）及び前記空気導管（３０４）を通じ、前記空気導管と空気連通するエアムーバで移動させる工程を更に含む、請求項４３に記載の方法。
【請求項４５】
前記空気を、試験スロットエアムーバ（９００）で、前記試験スロット（３３０、３３０’）を通じて、及び前記ラック（３００）外に供給するために前記空気導管（３０４）内に移動させる工程を更に含む、請求項４３に記載の方法。
【請求項４６】
前記試験スロットの試験スロットエアムーバ（９００）により、前記ラック（３００）の外の空気を前記試験スロットハウジング入口（３４６）内、前記受容される記憶装置上に移動させる工程と、
前記空気を空気熱交換器（３５０）を通じて前記試験スロットハウジングの出口（３４８）の外に移動させる工程と
を更に含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項４７】
前記空気を前記空気熱交換器（３５０）へと前記試験スロットハウジングの出口（３４８）の外に移動させる工程は、前記空気を、前記ラックの各試験スロット（３３０、３３０’）の前記試験スロットハウジングの出口（３４８）及び前記空気熱交換器（３５０）と空気連通する空気導管（３０４）を通じて移動させる工程を含む、請求項４６に記載の方法。
【請求項４８】
前記空気を、空気熱交換器エアムーバ（３５８）で、前記空気熱交換器（３５０）を通じて移動させる工程を更に含み、
前記空気熱交換器エアムーバは、空気を前記空気導管から前記空気熱交換器の入口（３５１）の中、前記空気熱交換器の冷却要素（３５４）上、及び前記空気熱交換器（３５０）の出口（３５３）の外に移動させる、請求項４６に記載の方法。
【請求項４９】
凝結物を前記ラックの外にポンプ移送する工程を更に含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項５０】
前記空気流（３０５）を、前記受容される記憶装置（５０００の上から、エアムーバ（９００）内へと、第１方向（９０４）に沿って受容し、前記空気流を前記エアムーバから前記試験スロットハウジングの出口（３４８）へと、前記第１方向と実質的に垂直な第２方向（９０８）に沿って供給する工程とを更に含む、請求項４１に記載の方法。
【請求項５１】
前記空気流（３０５）を、前記試験スロットハウジング（３４０）の前記入口（３４６）内に受容される記憶装置輸送器（８００、８００’）の吸気口（８３２ａ〜ｃ）内へと移動させる工程を更に含み、
前記記憶装置輸送器（８００、８００’）は、前記記憶装置輸送器（８００、８００’）の前記吸気口と空気連通する前記受容された記憶装置を支持する、請求項４１に記載の方法。
【請求項５２】
前記空気流（３０５）を、前記記憶装置輸送器（８００、８００’）の空気方向付け器（８３０）を通じて移動させる工程を更に含み、
前記空気方向付け器は前記空気流を前記受容される記憶装置（５００）の少なくとも頂面（５１２）及び底面（５１４）の上に方向付ける、請求項５１に記載の方法。
【請求項５３】
前記記憶装置輸送器（８００、８００’）は、第１部分（８０２）及び第２部分（８０４）を有し、
前記第１部分（８０２）は前記空気方向付け器（８３０）を含み、
前記第２部分（８０４）は前記記憶装置（５００）を受容するように構成され、
前記記憶装置は、頂面（５１２）、底面（５１４）、前面（５１６）、後面（５１８）、右側側面（５２０）及び左側側面（５２２）を有し、
前記記憶装置の前面（５１６）は電気コネクタ（５３２）を有し、
前記方法は、前記記憶装置を、その後面（５２８０が前記記憶装置輸送器の前記第１部分（８０２）に実質的に面するようにして受容する工程を更に含む、請求項５１に記載の方法。
【請求項５４】
記憶装置試験システムのための試験スロット冷却システムであって、
第１部分（８０２、１８０２）及び第２部分（８０４、１８０４）を有する記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）であって、前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）の前記第１部分（８０２、１８０２）は空気方向付け器（８３０、１８３０）を含み、前記記憶装置輸送器の前記第２部分（８０４、１８０４）は記憶装置を受容するように構成される記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）と、
吸気口（１３２６）、及び前記記憶装置輸送器を受容するための輸送器開口部（３４６、１３４６）を画定する試験スロットハウジング（３４０、１３４０）であって、前記吸気口は前記受容される記憶装置輸送器の前記空気方向付け器（８３０、１８３０）と空気連通する試験スロットハウジング（３４０、１３４０）と、
空気を前記空気方向付け器に供給するために、前記試験スロットハウジングの前記吸気口と空気連通するエアムーバ（９３０、１９３０）と
を含み、
前記空気方向付け器は空気を、前記記憶装置輸送器内に受容される前記記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に方向付ける、試験スロット冷却システム。
【請求項５５】
前記空気方向付け器（１８３０）は、吸気口（１８３２）、並びに第１排気口（１８３４）及び第２排気口（１８３５）を含み、
前記空気方向付け器は、その吸気口を通じて受容される空気を前記第１排気口及び第２排気口の外に方向付け、
前記記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側側面及び左側側面を有し、
前記記憶装置はその後面が前記記憶装置輸送器の前記第１部分（１８０２）に実質的に面するように受容され、
前記第１排気口（１８３４）は空気を前記受容される記憶装置の少なくとも前記底面上に方向付け、
前記第２排気口（１８３５）は空気を前記受容される記憶装置の少なくとも前記頂面上に方向付ける、請求項５４に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項５６】
前記空気方向付け器（１８３０）は、前記空気方向付け器の前記吸気口（１８３２）及び排気口（１８３４、１８３５）と空気連通する空洞（１８３１）を画定し、
前記空気方向付け器は前記空洞内に配置されるプレナム（１８３６）を含み、
前記プレナムは前記空洞内に受容される前記空気の少なくとも一部を前記第１排気口（１８３４）の外に方向付ける、請求項５５に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項５７】
前記プレナム（１８３６）は、前記試験スロットハウジング（１３４０）内の前記記憶装置輸送器（１８００）の移動を低減するような重さの重しを含む、請求項５６に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項５８】
前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）の前記第２部分（８０４、１８０４）は、記憶装置を受容するように構成された第１アーム（８２２、１８２２）及び第２アーム（８２４、１８２４）を含む、請求項５４に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項５９】
前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）の前記第２部分（８０４、１８０４）は、受容される記憶装置と取り外し可能に係合するクランプシステム（８４０、１８４０）を含む、請求項５４に記載に試験スロット冷却システム。
【請求項６０】
前記試験スロットハウジング（１３４０）の付近に配置される冷却システムハウジング（１９１０）を更に含み、
前記冷却システムハウジング（１９１０）は、
前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記排気口（１３４８）と空気連通する吸気口（１９１４）と、
前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）と空気連通する排気口（１９１２）と
を有し、
前記エアムーバ（１９３０）は、前記冷却システムハウジング（１９１０）内に配置され、前記冷却システムハウジングの吸気口（１９１４）を通じて受容された空気を前記冷却システムハウジングの排気口（１９１２）外へと循環させ、
前記空気は、閉ループ経路（１９５０）に沿って、前記試験スロットハウジング（１３４０）及び前記冷却システムハウジング（１９１０）を通じて移動する、請求項５４に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６１】
前記エアムーバ（１９３０）は吸気口（１９３２）及び排気口（１９３６）を含み、
前記排気口は前記冷却システムハウジングの排気口（１９１２）と空気連通し、
前記エアムーバは空気を第１方向（１９３４）に沿ってその吸気口を通じて受容し、かつ、空気をその排気口の外に、前記第１方向と実質的に垂直な第２方向（１９３８）に沿って供給する、請求項６０に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６２】
前記エアムーバ（１９３０）は、約４５ｍｍの幅、約４５ｍｍの長さ及び約１０ｍｍの高さを有するエアムーバ本体を含む、請求項６１に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６３】
前記エアムーバ（１９３０）は、最大０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０４．８Ｐａ（２０．８８ｍｍＨ２Ｏ（０．８２２インチＨ２Ｏ））の気圧を生じるように構成される、請求項６１に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６４】
前記エアムーバ（１９３０）と空気連通する空気冷却器（１９２０）を更に含み、
前記空気冷却器は、空気冷却器本体（１９２２）及び前記空気冷却器本体上に配置される少なくとも１つのフィン（１９２４）を含み、
前記少なくとも１つのフィンがその上を通過する空気を冷却する、請求項５４に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６５】
前記空気冷却器（１９２０）は、前記エアムーバ（１９３０）の上流の前記冷却システムハウジング内に配置され、
前記エアムーバは前記空気を閉ループ経路内の前記試験スロットハウジングと前記冷却システムハウジングとの間で移動させる、請求項６４に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６６】
記憶装置試験システムのための試験スロット冷却システムであって、
吸気口（１３２６）、及び記憶装置を受容するための装置開口部（１３４６）を画定する試験スロットハウジング（１３４０）と、
前記試験スロットハウジング（１３４０）の外側に配置され、空気を前記受容される記憶装置に供給するべく前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）と空気連通するエアムーバ（１９３０）と
を含み、
前記エアムーバ（１９３０）は吸気口（１９３２）及び排気口（１９３６）を含み、
前記排気口（１９３６）は前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）と空気連通し、
前記エアムーバは、空気を第１方向（１９３４）に沿ってその吸気口（１９３２）を通じて受容し、かつ、空気をその排気口（１９３６）の外に、前記第１方向と実質的に垂直な第２方向（１９３８）に沿って供給する、試験スロット冷却システム。
【請求項６７】
前記試験スロットハウジング（１３４０）の付近に配置される冷却システムハウジング（１９００）を更に含み、
前記冷却システムハウジング（１９００）は
前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記排気口（１３４８）と空気連通する吸気口（１９１４）と、
前記試験スロットハウジングの前記吸気口（１３２６）と空気連通する排気口（１９１２）と
を有し、
前記エアムーバ（１９３０）は、前記冷却システムハウジング（１９００）内に配置され、前記冷却システムハウジングの吸気口（１９１４）を通じて受容された空気を、前記冷却システムハウジングの排気口（１９１２）外へと循環させ、
前記空気は、閉ループ経路に沿って、前記試験スロットハウジング（１３４０）及び前記冷却システムハウジング（１９００）を通じて移動する、請求項６６に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６８】
前記エアムーバ（１９３０）は、約４５ｍｍの幅、約４５ｍｍの長さ及び約１０ｍｍの高さを有するエアムーバ本体を含む、請求項６６に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項６９】
前記エアムーバ（１９３０）は、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０４．８Ｐａ（２０．８８ｍｍＨ２Ｏ（０．８２２インチＨ２Ｏ））の気圧を生じるように構成される、請求項６６に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項７０】
前記エアムーバと空気連通する空気冷却器（１９２０）を更に含み、
前記空気冷却器は空気冷却器本体（１９２２）及び前記空気冷却器本体上に配置される少なくとも１つのフィン（１９２４）を含み、
前記少なくとも１つのフィンがその上を通過する空気を冷却する、請求項６６に記載の試験スロット冷却システム。
【請求項７１】
記憶装置試験システムのための記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）であって、
第１部分（８０２、１８０２）及び第２部分（８０４、１８０４）を有する本体（８１０、１８１０）であって、前記第１本体部分（８０２、１８０２）は空気方向付け器（８３０、１８３０）を含み、前記第２本体部分（８０４、１８０４）は、頂面、底面、前面、底面、右側面及び左側面を有する記憶装置を受容するように構成され、前記記憶装置は、その後面が前記第１本体部分に実質的に面するように受容される本体（８１０、１８１０）を含み、
前記空気方向付け器（８３０、１８３０）は、空気流を受容し、前記空気流を、受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に方向付ける、記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）。
【請求項７２】
前記空気方向付け器（１８３０）は吸気口（１８３２）、並びに第１排気口（１８３４）及び第２排気口（１８３５）を含み、
前記空気方向付け器（１８３０）は、前記吸気口（１８３２）を通じて受容される空気を前記第１排気口（１８３４）及び第２排気口（１８３５）の外に方向付け、
前記第１排気口（１８３４）は空気を、前記受容される記憶装置の少なくとも前記底面上に方向付け、
前記第２排気口（１８３５）は空気を、前記受容される記憶装置の少なくとも前記頂面上に方向付ける、請求項７１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項７３】
前記空気方向付け器（１８３０）は、前記吸気口（８３２）及び排気口（１８３４、１８３５）と空気連通する空洞（１８３１）を画定し、
前記空気方向付け器（１８３０）は前記空洞（１８３１）内に配置されるプレナムを含み、
前記プレナム（１８３６）は前記空洞（１８３１）内に受容される前記空気の少なくとも一部を前記第１排気口（１８３４）の外に方向付ける、請求項７１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項７４】
前記プレナム（１８３６）は、前記記憶装置試験システムに受容されている間の、前記記憶装置輸送器（１８００）の移動を低減するような重さの重しを含む、請求項７３に記載の記憶装置輸送器。
【請求項７５】
前記第２本体部分（８０４、１８０４）は、受容される記憶装置と取り外し可能に係合するためのクランプシステム（８４０、１８４０）を含む、請求項７１に記載の記憶装置輸送器。
【請求項７６】
記憶装置試験システム（１００）に受容される記憶装置（５００）の温度の調節方法であって、
空気流（３０５、１９５０）を試験スロットハウジング（３４０、１３４０）の吸気口（３４６、１３２６）内に供給する工程と、
前記空気流（３０５、１９５０）を、前記記憶装置（５００）の少なくとも頂面（５１２）及び底面（５１４）上に実質的に同時に方向付ける工程と
を含む、調節方法。
【請求項７７】
前記空気流（３０５、１９５０）を、前記空気流を前記記憶装置（５００）の少なくとも前記頂面（５１２）及び底面（５１４）上に方向付ける空気方向付け器（８３０、１８３０）に供給する工程を更に含む、請求項７６に記載の方法。
【請求項７８】
前記試験スロットハウジング（３４０、１３４０）内に受容される記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）内に記憶装置（５００）を支持する工程を更に含み、
前記記憶装置輸送器（８００、８００’、１８００）は第１部分（８０２、１８０２）及び第２部分（８０４、１８０４）を有し、
前記第１部分（８０２、１８０２）は前記空気方向付け器（８３０、１８３０）を含み、
前記第２部分（８０４、１８０４）は前記記憶装置（５００）を受容するように構成され、
前記記憶装置は、頂面（５１２）、底面（５１４）、前面（５１６）、後面（５１８）、右側側面（５２０）及び左側側面（５２２）を有し、その後面（５１８）が前記第１本体部分（８０２、１８０２）に実質的に面するように受容される、請求項７７に記載の方法。
【請求項７９】
前記記憶装置試験システムに受容されている間、記憶装置輸送器（１８００）の移動を低減するように前記空気方向付け器（１８３０）に重みを加える工程を更に含む、請求項７８に記載の方法。
【請求項８０】
前記空気流（１９５０）を前記空気方向付け器（１８３０）の吸気口（１８３２）内に供給する工程を更に含み、
前記空気方向付け器（１８３０）は前記吸気口（１８３２）を通じて受容した前記空気を、前記空気方向付け器（１８３０）の第１排気口（１８３４）及び第２排気口（１８３５）の外に方向付け、
前記第１排気口（１８３４）は空気を、前記受容される記憶装置（５００）の少なくとも前記底面上（５１４）に方向付け、
前記第２排気口（１８３５）は空気を、前記受容される記憶装置の少なくとも前記頂面（５１２）上に位置付ける、請求項７７に記載の方法。
【請求項８１】
前記空気方向付け器（１８３０）は、前記空気方向付け器（１８３０）の前記吸気口（１８３２）及び排気口（１８３４、１８３５）と空気連通する空洞（１８３１）を画定し、
前記空気方向付け器（１８３０）は前記空洞（１８３１）内に配置されるプレナム（１８３６）を含み、
前記プレナム（１８３６）は前記空洞（１８３１）内に受容される前記空気の少なくとも一部を前記第１排気口（１８３４）の外に方向付ける、請求項８０に記載の方法。
【請求項８２】
前記記憶装置試験システムにより受容されている間、記憶装置輸送器（１８００）の移動を低減するように前記プレナム（１８３６）に重みを加える工程を更に含む、請求項７６に記載の方法。
【請求項８３】
前記空気流（１９５０）を、試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）と空気連通するエアムーバ（１９３０）に方向付ける工程を更に含み、
前記エアムーバ（１９３０）は前記空気流（１９５０）を試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）内に供給し、前記空気流は閉ループ経路に沿って移動する、請求項７６に記載の方法。
【請求項８４】
前記空気流（１９５０）を前記エアムーバ（１９３０）内に、第１方向（１９３４）に沿って受容する工程と、
前記空気流（１９５０）を前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）に、前記第１方向（１９３４）と実質的に垂直な第２方向（１９３８）に沿って供給する工程と
を更に含む、請求項８３に記載の方法。
【請求項８５】
空気流（１９５０）を前記エアムーバ（１９３０）の上流の前記空気流経路（１９５０）内に配置された空気冷却器（１９２０）上に方向付ける工程を更に含む、請求項８３に記載の方法。
【請求項８６】
前記空気流（１９５０）を前記試験スロットハウジング（１３４０）の前記吸気口（１３２６）内へと、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０４．８Ｐａ（２０．８８ｍｍＨ２Ｏ（０．８２２インチＨ２Ｏ））の気圧で供給する工程を更に含む、請求項７６に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、記憶装置試験システムの冷却に関連する。
【背景技術】
【０００２】
記憶装置メーカーは典型的には、一連の要件に従うために、製造された記憶装置を試験する。大量の記憶装置を連続的に又は同時に試験するための、試験機器及び技術が存在する。メーカーは、大量の記憶装置を同時に試験する傾向がある。記憶装置試験システムは典型的には、試験のための記憶装置を受容する多数の試験スロットを有する、１つ以上のラックを含む。
【０００３】
ディスクドライブ又は他の記憶装置の製造中、記憶装置が既定の温度範囲で動作することを確実にするために、記憶装置の温度を制御することが一般的である。この理由により、試験装置の極周辺の試験環境は、プログラム制御下で変化し得る。場合により「バッチ試験機」と称されるいくつかの試験システムにおいて、複数の記憶装置の温度が、全ての記憶装置に共通の冷却又は加熱空気の使用により調節される。
【０００４】
バッチ試験機は一般的に、全ての記憶装置試験が実質的に同じ温度で行われることを必要とし、全ての装置が実質的に同時に試験システムに挿入され、これから取り除かれることを必要とする。記憶装置は一般的に、これらを試験を必要とする時期、及び特定の室温で各試験が必要とする時間量の両方において実質的に変動し得る。この変動のため、バッチ試験機は利用可能な試験能力を非効率に使用する傾向にある。各記憶装置の挿入、取り外し及び温度の別個の制御を可能にする既知の試験装置がまた存在する。これらの試験システムは利用可能な試験能力をより効率的に使用する傾向にあるが、全ての試験スロットにわたり温度制御構成要素を複製すること又は少数の試験スロット間でこれらの構成要素を共有することを必要とする。
【０００５】
いくつかの記憶装置試験システムは記憶装置を加熱又は冷却するために、加熱又は冷却された空気を使用する。各記憶装置の別個の熱制御に関し、空気流内に配置された加熱器又は冷却機と共に、場合により使用される別個の閉ループ空気流が使用される。いくつかの場合において、記憶装置は自己発熱させられ、したがって冷却器のみが使用される。加熱はまた、空気流を低減させるか、ないしは別の方法で制御することによって向上させられ得、冷却はまた空気流を増加させることによって向上させられ得る。各記憶装置の別個の熱制御のいくつかの実施例において、閉ループ空気流から熱を引く冷却器ではなく、空気が試験機の外側の周囲空気から引かれる。
【０００６】
各試験スロットのための別個の熱制御を有するシステムの不利点としては、各試験スロットのために多くの別個の熱制御構成要素（例えば、加熱器、冷却器、ファン及び／又は制御可能バッフル）を必要とすることが挙げられる。加えて、エネルギーの効率的な使用は、各試験スロットが少なくともいくらかの動作時間中に閉ループ空気流システムを有することを必要とする。閉ループ空気流システムは典型的には、ループを完成させるために空気が双方向に流れるためのダクトを必要とし、これは空気戻し経路のための追加的な空間を必要とする。加えて、冷却器は、空気の露点未満で動作する際に凝結物を生成する場合がある。凝結物の形成は、冷却温度を制限することにより、冷却性能の低減を犠牲に回避され得る。あるいは、凝結物の形成は、空気中の湿分含量を制御及び／除去することによって回避され得る。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本開示は、一般的に必要とされる温度制御構成要素の数を低減する一方で、依然として各試験スロットの温度の別個の制御を可能にし、したがって、より高い試験スロット密度及びより低い費用を達成する、記憶装置試験システムを提供する。記憶装置試験システムは、比較的より少ない熱制御構成要素で、かつ各試験スロットに対する別個の閉ループ空気流経路を有さずに、各記憶装置試験スロットのための別個の熱制御を提供する。記憶装置試験システムのための熱制御は、空気の湿分含量を管理する必要なく、試験スロット内又は試験スロット付近に形成する凝結物を実質的に生じさせない。記憶装置試験システムは、比較的少ない熱変換器により冷却される、冷却された空気の共通のリザーバを使用する。熱交換器上に形成される凝結物は、比較的少ない位置で凝結され、蒸発又は排出などの従来的な方法によって取り除かれ得る。あるいは、熱変換器は、露点を超えて作動するように制御され得る。共通のリザーバからの空気が、各試験スロットに関して別個の制御可能なエアムーバを使用して、各試験スロットを通じて引かれる。冷却の度合いは、エアムーバの速度によって制御され得る。試験スロット内に受容される記憶装置を加熱するため、加熱器が試験スロットへの吸気経路内に配置され得るか、直接接触加熱器が受容される記憶装置上に配置され得るか、又は記憶装置が試験スロットを通る空気流を低減若しくは遮蔽することによって自己発熱させられ得る。いくつかの実施において、冷却された空気のリザーバは、別個のエンクロージャではなく、記憶装置試験システムの形状によって形成される。冷却空気はまた、記憶装置試験システム内に配置される他の電子機器を冷却するために使用され得る。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本開示の一態様は、第１本体部分及び第２本体部分を有する輸送器本体を含む、記憶装置輸送器を提供する。第１本体部分は、記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成される。第２本体部分は、記憶装置を受容及び支持するように構成される。第１本体部分は空気流を受容し、これを第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される。
【０００９】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。
【００１０】
いくつかの実施において、第１本体部分は、空気を第１本体部分内に受容し、空気を第２本体部分内に方向付けるための１つ以上の吸気口を有する空気方向付け器を含む。１つ以上の吸気口は、記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成され得る。
【００１１】
いくつかの実施例において、第２本体部分は、その間に記憶装置を受容するように配置第１側壁及び第２側壁を含む。
【００１２】
いくつかの場合において、第１本体部分は、１つ以上の視覚的基準を含み得る。
【００１３】
記憶装置輸送器は、第２本体部分内で記憶装置をクランプするように動作可能なクランプ機構を含み得る。
【００１４】
いくつかの実施において、第１本体部分は、第２本体部分内に支持される記憶装置の頂面及び底面上に空気を方向付けるように構成される。
【００１５】
いくつかの実施において、第１本体部分は、空気を第１本体部分内に受容し、空気を第２本体部分内に方向付けるための１つ以上の吸気口を有する空気方向付け器を含み得る。１つ以上の吸気口は、記憶装置輸送器が自動機械装置と係合する際に、記憶装置輸送器をＸ、Ｙ及び回転方向に位置合わせするように配置され得る。
【００１６】
いくつかの実施例において、第２本体部分は実質的にＵ字形の開口部を画定し、これは空気が記憶装置輸送器内に支持される記憶装置の底面上に流れることを可能にする。
【００１７】
本開示の別の態様は、記憶装置輸送器及び試験スロットを含む試験スロットアセンブリを提供する。記憶装置輸送器は、第１本体部分及び第２本体部分を有する輸送器本体を含む。第１本体部分は記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成され、第２本体部分は記憶装置を受容及び支持するように構成される。第１本体部分は空気流を受容し、これを第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される。試験スロットはハウジングを含む。ハウジングは、記憶装置輸送器を受容及び支持するための試験区画、及びディスクドライブ輸送器の挿入及び取り外しのために、試験区画にアクセスを提供する開放端部を画定する。
【００１８】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、記憶装置輸送器は試験区画から完全に取り外し可能である。
【００１９】
いくつかの実施において、記憶装置輸送器は、記憶装置を受容するための引き出し部を形成するような方法で試験スロットに接続される。
【００２０】
本開示の別の態様は、自動機械装置及び記憶装置輸送器を含む記憶装置試験システムを提供する。記憶装置輸送器は、第１本体部分及び第２本体部分を有する輸送器本体を含む。本体部分は、記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成される。第２本体部分は、記憶装置を受容及び支持するように構成される。第１本体部分は空気流を受容し、これを第２本体部分内に支持される記憶装置の１つ以上の表面上に方向付けるように構成される。
【００２１】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。
【００２２】
いくつかの実施において、第１本体部分は、空気を第１本体部分内に受容し、空気を第２本体部分内に方向付けるための１つ以上の吸気口を有する空気方向付け器を含み、１つ以上の吸気口は、記憶装置輸送器を操作するための自動機械装置と係合するように構成される。
【００２３】
特定の実施において、自動機械装置は１つ以上の吸気口と係合するように適合された機械作動装置を含む。
【００２４】
いくつかの実施において、第１本体部分は１つ以上の視覚的基準を含み、自動機械装置は視覚的基準を検出するための光学システムを含む。
【００２５】
いくつかの実施において、自動機械装置は支柱を含み、第１本体部分は空気を第１本体部分内に受容し、空気を第２本体部分内に方向付けるための１つ以上の吸気口を含む。吸気口は、記憶装置輸送器が自動機械装置と係合する際に、記憶装置輸送器をＸ、Ｙ及び回転方向に位置合わせするように、支柱と係合するように構成される。
【００２６】
いくつかの実施において、第１本体部分は一対のスロットを含み、自動機械装置は、スロットと係合するように動作可能な一対の爪を含む。
【００２７】
いくつかの実施において、記憶装置試験システムは、第２本体部分内で記憶装置をクランプするように動作可能なクランプ機構を含む。自動機械装置は、クランプ機構を作動するように動作可能である。
【００２８】
いくつかの実施において、自動機械装置は、ロボットアーム及びロボットアームに取り付けられたマニピュレータを含む。マニピュレータは記憶装置輸送器と係合するように構成される。
【００２９】
本開示の更なる態様は、少なくとも１つのラックと、各ラックによって収容される少なくとも１つの試験スロットと、この試験スロットと空気連通する少なくとも１つのエアムーバと、を含む、記憶装置試験システムを提供する。各試験スロットは、入口及び出口を有する試験スロットハウジングを含み、入口は記憶装置を受容するように構成される。少なくとも１つのエアムーバは、少なくとも１つのラックの外側の空気を各試験スロットハウジングの入口内、受容される記憶装置上、及び各試験スロットハウジングの出口の外に移動するように構成される。
【００３０】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、各ラックは、ラックの試験スロットを少なくとも１つのエアムーバに空気連通させる空気導管を含む。少なくとも１つのエアムーバが空気を、空気導管を通じて各試験スロットハウジングの出口の外、及びラックの外側の環境に移動させる（例えば、ラックの排気口を通じて）。いくつかの実施例において、各ラックの各試験スロットハウジングの出口は、少なくとも１つのエアムーバと空気連通している。他の実施例において、少なくとも１つのエアムーバが、対応するラックの試験スロットと空気連通する各ラック上に配置される。いくつかの実施において、各試験スロットハウジングは第１部分及び第２部分を有する。試験スロットハウジングの第１部分は入口を画定し、記憶装置を受容するように構成される。少なくとも１つのエアムーバは、試験スロットを通る空気流を制御するために、その指定の試験スロット専用である。いくつかの実施例において、少なくとも１つのエアムーバが試験スロットハウジングの第２部分と空気連通し、一方で他の実施例では、エアムーバが試験スロットハウジングの外側又は付近に配置される。エアムーバは、いくつかの実施例において、吸気口及び排気口を含む。エアムーバは空気を第１方向に沿って、その吸気口を通じて受容し、空気をその排気口の外に、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する。
【００３１】
試験スロットハウジング入口は、第１部分及び第２部分を有する記憶装置輸送器を受容するように構成され得る。記憶装置輸送器の第１部分は、空気方向付け器を含み、記憶装置輸送器の第２部分は、記憶装置を受容するように構成される。空気方向付け器は空気を、記憶装置輸送器内に受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に方向付ける。ラックの外側の空気は、少なくとも１つのエアムーバにより、各試験スロットの受容される記憶装置輸送器の空気方向付け器内、受容される記憶装置上、及び各試験スロット出口の外側に、移動させられる。受容される記憶装置輸送器の空気方向付け器は、少なくとも１つの吸気口を画定し、記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有する。記憶装置前面は電気コネクタを有する。記憶装置は、その後面が記憶装置輸送器の第１部分と実質的に面するように受容され、少なくとも１つの吸気口は、空気を、受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面上に方向付ける。
【００３２】
本開示の別の態様は、少なくとも１つのラックと、少なくとも１つのラックと空気連通する空気熱交換器と、各ラックに収容される試験スロットと、を含む、記憶装置試験システムを提供する。各試験スロットは、入口及び出口を画定する試験スロットハウジングを含む。入口は記憶装置を受容するように構成され、出口は空気熱交換器と空気連通している。試験スロットエアムーバは、試験スロットハウジングと空気連通するように配置され、空気を試験スロットハウジング入口内、受容される記憶装置上及び試験スロットハウジング出口の外に移動させるように構成される。ラックの外側の空気は、対応する試験スロットエアムーバにより、試験スロットハウジング入口、受容される記憶装置上で移動させられ、各試験スロットハウジング出口の外に、及び対応するラックの外に移動させられる。空気は、受容される記憶装置を通過する前及び／又は後に空気熱交換器を通じて移動させられる。
【００３３】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、各ラックは各試験スロットハウジング出口と空気熱交換器との間の空気連通を提供する空気導管を含む。空気熱交換器は、試験スロットと離れているか、又は試験スロットに隣接している場合がある。空気熱交換器は、入口、出口及びその間の空気流経路を画定する空気熱交換器を含む。空気熱交換器は、空気流経路内に配置される冷却要素を含み、例えば蒸発又は排出のために、空気熱交換器（露点未満で動作している場合）から蓄積された凝結物を空気熱交換器の外に供給するポンプ又は排出管を含み得る。蒸発器が、ポンプ及び排出管の少なくとも一方と流体連通する空気熱交換器の対応するラック上に配置され得る。いくつかの実施例において、空気熱交換器は、空気を空気熱交換器ハウジング入口内、冷却要素上、及び空気熱交換器ハウジング出口の外に移動させるため、空気熱交換器エアムーバを含む。
【００３４】
いくつかの実施において、試験スロットハウジング入口は、記憶装置輸送器を受容するように構成される。記憶装置輸送器は、第１部分及び第２部分を有する。記憶装置輸送器の第１部分は、空気方向付け器を含み、記憶装置輸送器の第２部分は、記憶装置を受容するように構成される。空気方向付け器は空気を、記憶装置輸送器内に受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に方向付ける。ラックの外側の空気は、対応する試験スロットエアムーバにより、対応する試験スロットの受容される記憶装置輸送器の空気方向付け器内、受容される記憶装置上に移動させられ、空気熱交換器を通じて対応する試験スロット出口の外及び対応するラックの外に移動させられる。いくつかの実施例において、受容される記憶装置輸送器の空気方向付け器は、少なくとも１つの吸気口を画定する。記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有し、記憶装置前面は電気コネクタを有する。記憶装置は、その後面が記憶装置輸送器の第１部分に実質的に面するように受容される。少なくとも１つの吸気口は、空気を、受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面上に方向付ける。いくつかの実施において、記憶装置輸送器の第２部分は、記憶装置を受容するように構成された第１アーム及び第２アームを含む。
【００３５】
いくつかの実施において、エアムーバは、吸気口及び排気口を含む。エアムーバは空気を第１方向に沿って、その吸気口を通じて受容し、空気をその排気口の外に、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する。エアムーバは、約４５ｍｍの幅、約４５ｍｍの長さ、約１０ｍｍの高さを有するエアムーバ本体を含み得る。エアムーバは、０〜約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量、及び０〜約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）の気圧を生じるように構成され得る。
【００３６】
記憶装置試験システムは、いくつかの実施において、床部表面と実質的に垂直な第１軸を画定する少なくとも１つのロボットアームを含む。ロボットアームは、第１軸を中心に既定の弧を通じて回転し、かつこれから半径方向に延びるように動作可能である。ラックは、ロボットアームで扱うために、ロボットアームの周囲に配置される。いくつかの実施例において、ラックは、ロボットアームの第１軸から半径方向に等距離に離れるように配置される。
【００３７】
本開示の別の態様は、記憶装置試験システム内に受容される記憶装置の温度の調整方法を提供する。方法は、空気流を、ラック内に受容される試験スロットの試験スロットハウジングの吸気口内に移動させる工程と、空気流を試験スロット内に受容される記憶装置上に移動させる工程と、空気を試験スロットの試験スロットハウジングの排気口の外に移動させる工程と、空気をラックの外側に解放する工程と、を含む。
【００３８】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、方法は、空気流を、試験スロットに受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に移動させる工程を含む。方法は、ラックの外の空気を試験スロットハウジング入口内、受容される記憶装置上に移動させる工程と、空気を空気導管を通じて試験スロットハウジングの外及びラックの外に移動させる工程と、を含む。空気導管は、ラック内の各試験スロットハウジングの出口と空気連通している。いくつかの実施例において、空気は試験スロット及び空気導管を通じて移動させられ、エアムーバは空気導管と空気連通している。空気は、試験スロットエアムーバにより、試験スロットを通じ、ラックの外に供給するために空気導管内へと移動させられ得る。
【００３９】
方法は、試験スロットの試験スロットエアムーバにより、ラックの外の空気を試験スロットハウジング入口内に、受容される記憶装置上に移動させる工程と、空気を空気熱交換器を通じて試験スロットハウジング出口の外に移動させる工程と、を含む。空気を試験スロットハウジング出口の外、空気熱交換器へと移動させる工程は、ラックの各試験スロットの試験スロットハウジング出口及び空気熱交換器と空気連通する空気導管を通じて空気を移動させる工程を含み得る。
【００４０】
いくつかの実施において、方法は、空気を、熱交換器エアムーバで、空気熱交換器を通じて移動させる工程を含む。空気熱交換器エアムーバは、空気を空気導管から空気熱交換器の入口内、空気熱交換器の冷却要素上、及び空気熱交換器の出口の外に移動させる。方法は、凝結物（例えば、空気熱交換器の）をポンプ移送する、ないしは別の方法でラックの外に（例えば、蒸発器又は排出管に）移動させる工程を含み得る。
【００４１】
いくつかの実施において、方法は、空気流を、受容される記憶装置上から、エアムーバ内へと、第１方向に沿って受容する工程と、空気流をエアムーバから試験スロットハウジング出口へと、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する工程と、を含む。方法は、空気流を試験スロットハウジングの入口に受容される記憶装置輸送器の吸気口内へと移動させる工程を含み得る。記憶装置輸送器は、記憶装置輸送器の吸気口と空気連通する、受容される記憶装置を支持する。いくつかの実施例において、方法は、空気流を記憶装置輸送器の空気方向付け器を通じて移動させる工程を含む。空気方向付け器は、空気流を、受容される記憶装置の頂面及び底面上に方向付ける。いくつかの実施において、記憶装置輸送器は第１部分及び第２部分を有する。第１部分は、空気方向付け器を含み、第２部分は記憶装置を受容するように構成される。記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有し、記憶装置前面は電気コネクタを有する。方法は、記憶装置を、その後面が記憶装置輸送器の第１部分と実質的に面するように受容する工程を含み得る。
【００４２】
本開示の別の態様により、記憶装置試験システムのための試験スロット冷却システムは、第１部分及び第２部分を有する記憶装置輸送器を含む。記憶装置輸送器の第１部分は、空気方向付け器を含み、記憶装置輸送器の第２部分は、記憶装置を受容するように構成される。試験スロット冷却システムは、吸気口及び記憶装置輸送器を受容するための輸送器開口部を画定する試験スロットハウジングを含む。吸気口は、受容される記憶装置輸送器の空気方向付け器と空気連通している。試験スロット冷却システムはまた、空気を空気方向付け器に供給するために、試験スロットハウジングの吸気口と空気連通するエアムーバを含む。空気方向付け器は空気を、記憶装置輸送器内に受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に方向付ける。
【００４３】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、空気方向付け器は、吸気口、並びに第１排気口及び第２排気口を含む。空気方向付け器は、その吸気口を通じて受容される空気を第１排気口及び第２排気口の外に方向付ける。記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有し、その後面が記憶装置輸送器の第１部分に実質的に面するように受容される。第１排気口は、空気を少なくとも受容される記憶装置の底面上に方向付け、第２排気口は空気を少なくとも受容される記憶装置の頂面上に方向付ける。いくつかの実施において、空気方向付け器は、空気方向付け器の吸気口及び排気口と空気連通する空洞を画定する。空気方向付け器は、空洞内に受容される空気の少なくとも一部を第１排気口の外に方向付けるために、空洞内に配置されるプレナムを含む。いくつかの実施例において、プレナムは、試験スロットハウジング内の記憶装置輸送器の移動を低減するような重さの重しを含む。
【００４４】
いくつかの実施において、記憶装置輸送器の第２部分は、記憶装置を受容するように構成された第１アーム及び第２アームを含む。記憶装置輸送器の第２部分は、受容される記憶装置と取り外し可能に係合するためのクランプシステムを含み得る。
【００４５】
いくつかの実施において、試験スロット冷却システムは、試験スロットハウジングの付近に配置される冷却システムハウジングを含む。冷却システムハウジングは、試験スロットハウジングの排気口と空気連通する吸気口及び試験スロットハウジングの吸気口と空気連通する排気口を有する。エアムーバは、冷却システムハウジング内に配置され、冷却システムハウジング吸気口を通じて受容される空気を、冷却システムハウジング排気口の外へと循環させる。空気は閉ループ経路に沿って、試験スロットハウジング及び冷却システムハウジングを通じて移動する。いくつかの実施例において、エアムーバは吸気口及び排気口を含み、これは、冷却システムハウジング排気口と空気連通している。エアムーバは空気を第１方向に沿って、その吸気口を通じて受容し、空気をその排気口の外に、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する。エアムーバは、約４５ｍｍの幅、約４５ｍｍの長さ、約１０ｍｍの高さを有するエアムーバ本体を有し得る。いくつかの実施例において、エアムーバは、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）の空気圧を生じるように構成される。
【００４６】
試験スロット冷却システムは、いくつかの実施において、エアムーバと空気連通する空気冷却器を含む。空気冷却器は、空気冷却器本体及び空気冷却器本体上に配置される少なくとも１つのフィンを含む。少なくとも１つのフィンが、その上を通過する空気を冷却する。空気冷却器は、エアムーバの上流の冷却システムハウジング内に配置され得、エアムーバは、空気を閉ループ経路内の試験スロットハウジングと冷却システムハウジングとの間で移動させる。
【００４７】
本開示の別の態様は、吸気口及び記憶装置を受容するための装置開口部を画定する試験スロットハウジングを含む記憶装置試験システムのための試験スロット冷却システムである。試験スロット冷却システムは、試験スロットハウジングの外側に配置され、空気を受容される記憶装置に供給するために、試験スロットハウジングの吸気口と空気連通するエアムーバを含む。エアムーバは吸気口及び排気口を含み、これは、試験スロットハウジングの吸気口と空気連通している。エアムーバは空気を第１方向に沿って、その吸気口を通じて受容し、空気をその排気口の外に、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する。
【００４８】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、スロット冷却システムは、試験スロットハウジングの付近に配置される冷却システムハウジングを含む。冷却システムハウジングは、試験スロットハウジングの排気口と空気連通する吸気口及び試験スロットハウジングの吸気口と空気連通する排気口を有する。エアムーバは、冷却システムハウジング内に配置され、冷却システムハウジング吸気口を通じて受容される空気を、冷却システムハウジング排気口の外へと循環させる。空気は閉ループ経路に沿って、試験スロットハウジング及び冷却システムハウジングを通じて移動する。いくつかの実施例において、エアムーバは、約４５ｍｍの幅、約４５ｍｍの長さ、約１０ｍｍの高さを有するエアムーバ本体を含む。試験エアムーバは、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）の空気圧を生じるように構成され得る。いくつかの実施例において、試験スロット冷却システムは、エアムーバと空気連通する空気冷却器を含む。空気冷却器は、空気冷却器本体及び空気冷却器本体上に配置される少なくとも１つのフィンを含み、少なくとも１つのフィンがその上を通過する空気を冷却する。
【００４９】
本開示の更に別の態様は、第１部分及び第２部分を含む記憶装置試験システムのための記憶装置輸送器である。第１本体部分は空気方向付け器を含み、第２本体部分は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有する記憶装置を受容するように構成される。記憶装置は、その後面が第１本体部分と実質的に面するように受容される。空気方向付け器は、空気流を受容し、空気流を、受容される記憶装置の少なくとも頂面及び底面の上に実質的に同時に方向付ける。
【００５０】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、空気方向付け器は、吸気口、並びに第１排気口及び第２排気口を含む。空気方向付け器は、その吸気口を通じて受容される空気を第１排気口及び第２排気口の外に方向付ける。第１排気口は、空気を少なくとも受容される記憶装置の底面上に方向付け、第２排気口は空気を少なくとも受容される記憶装置の頂面上に方向付ける。いくつかの実施例において、空気方向付け器は、吸気口及び排気口と空気連通する空洞を画定する。空気方向付け器は、空洞内に受容される空気の少なくとも一部を第１排気口の外に方向付けるために、空洞内に配置されるプレナムを含む。プレナムは、記憶装置試験システムに受容されている間、記憶装置輸送器の移動を低減するような重さの重しであるか、これを含み得る。いくつかの実施において、記憶装置輸送器の第２本体部分は、受容される記憶装置と取り外し可能に係合するクランプシステムを含む。
【００５１】
本開示の別の態様は、記憶装置試験システム内に受容される記憶装置の温度の調整方法である。方法は、空気流を試験スロットハウジングの吸気口内に供給する工程と、空気流を、記憶装置の少なくとも頂面及び底面上に実質的に同時に方向付ける工程と、を含む。
【００５２】
本開示のいくつかの実施は、次の特徴の１つ以上を含み得る。いくつかの実施において、方法は、空気流を、記憶装置の少なくとも頂面及び底面上に方向付ける空気方向付け器に供給する工程を含み得る。方法は、試験スロットハウジング内に受容される記憶装置輸送器内に記憶装置を支持する工程を含み得る。記憶装置輸送器は、第１部分及び第２部分を有する。記憶装置輸送器第１部分は空気方向付け器を含み、記憶装置輸送器第２部分は記憶装置を受容するように構成される。記憶装置は、頂面、底面、前面、後面、右側面及び左側面を有し、その後面が第１本体部分に実質的に面するように記憶装置輸送器内に受容される。
【００５３】
いくつかの実施において、方法は記憶装置試験システムに受容されている間（例えば、記憶装置試験システムの試験スロット内に受容されている間）、記憶装置輸送器の移動を低減するように空気方向付け器に重みを加える工程を含む。方法は、空気流を空気方向付け器の吸気口内に供給する工程を含み得る。空気方向付け器は、吸気口を通じて受容される空気を空気方向付け器の第１排気口及び第２排気口の外に方向付ける。第１排気口は、空気を少なくとも受容される記憶装置の底面上に方向付け、第２排気口は空気を少なくとも受容される記憶装置の頂面上に方向付ける。いくつかの実施例において、空気方向付け器は、空気方向付け器の吸気口及び排気口と空気連通する空洞を画定する。空気方向付け器は、空洞内に受容される空気の少なくとも一部を第１排気口の外に方向付けるために、空洞内に配置されるプレナムを含む。方法は、記憶装置試験システムに受容されている間、記憶装置輸送器の移動を低減するようにプレナムに重みを加える工程を含み得る。
【００５４】
いくつかの実施において、方法は、空気流を試験スロットハウジングの吸気口と空気連通するエアムーバに方向付ける工程を含む。エアムーバは、空気流を試験スロットハウジング内に供給する。空気流は閉ループ経路に沿って移動する。方法は、空気流をエアムーバ内に、第１方向に沿って受容する工程と、空気流を試験スロットハウジングの吸気口に、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する工程と、を含む。いくつかの実施例において、方法は、空気流をエアムーバの上流の空気流経路内に配置された空気冷却器上に方向付ける工程を含む。いくつかの実施において、方法は、空気流を試験スロットハウジングの吸気口内へと（例えば、エアムーバによって）、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）の気圧で供給する工程を含む。
【００５５】
本開示の１つ以上の実施の詳細を添付図面及び以下の記載で説明する。他の特徴、目的及び利点は、明細書及び図面により、並びに請求の範囲により明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】実質的に円形の構成に配置されるラックを有する記憶装置試験システムの斜視図。
【図２】図１に示される記憶装置試験システムの平面図。
【図３】記憶装置試験システム及び移送ステーションの斜視図。
【図４】マニピュレータの斜視図。
【図５Ａ】記憶装置輸送器の側方斜視図。
【図５Ｂ】図４Ａに示される記憶装置輸送器の前方斜視図。
【図５Ｃ】記憶装置を保持する記憶装置輸送器の底面斜視図。
【図５Ｄ】記憶装置を受容する記憶装置輸送器の側面斜視図。
【図５Ｅ】記憶装置輸送器の前側パネルの斜視図。
【図６Ａ】試験スロットを保持する試験スロットキャリアを受容するラックの斜視図。
【図６Ｂ】試験スロットを保持する試験スロットキャリアを受容するラックの斜視図。
【図７Ａ】その１つが、記憶装置を保持する記憶装置輸送器を受容する、試験スロットを保持する試験スロットキャリアの斜視図。
【図７Ｂ】図７Ａの試験スロットキャリアの後方斜視図。
【図７Ｃ】図６Ａの６Ｃ−６Ｃに沿った試験スロットキャリアの断面図。
【図８Ａ】記憶装置を保持する記憶装置輸送器を受容する試験スロットの斜視図。
【図８Ｂ】記憶装置を保持する記憶装置輸送器を受容する試験スロットの斜視図。
【図８Ｃ】試験スロットの後方斜視図。
【図９】エアムーバの斜視図。
【図１０Ａ】ラック、及びラックに収容される試験スロットを通じた空気流経路を示す、記憶装置試験システムのラックの斜視図。
【図１０Ｂ】ラック、及びラックに収容される試験スロットを通じた空気流経路を示す、記憶装置試験システムのラックの斜視図。
【図１１Ａ】記憶装置輸送器を含む試験スロットアセンブリの分解斜視図。
【図１１Ｂ】試験スロットと組み合わされる引き出し部の形態の記憶装置輸送器を含む図１１Ａの試験スロットアセンブリの斜視図。
【図１２Ａ】記憶装置試験システムの試験スロット内に挿入されるように受容される、記憶装置を保持する記憶装置輸送器の斜視図。
【図１２Ｂ】記憶装置試験システムの試験スロット内に挿入されるように受容される、記憶装置を保持する記憶装置輸送器の斜視図。
【図１３】図１２Ａの線１３−１３に沿った試験スロットの断面図。
【図１４】記憶装置輸送器の側面斜視図。
【図１５】記憶装置輸送器の前方斜視図。
【図１６】記憶装置輸送器の底面斜視図。
【図１７】記憶装置を受容する記憶装置輸送器の斜視図。
【図１８】記憶装置試験システムのラック内の試験スロット及び試験スロット冷却システムの斜視図。
【図１９】空気冷却器の斜視図。
【図２０】エアムーバの斜視図。
【図２１】試験スロット及び試験スロット冷却システムを通じた空気流経路を示す、記憶装置試験システムのラックの試験スロット及び試験スロット冷却システムの平面図。
【図２２】試験スロット内に受容された記憶装置の頂面及び底面上の空気流経路を示す、試験スロットの側方断面図。
【００５７】
様々な図面における同様の参照記号は同様の要素を示す。
【発明を実施するための形態】
【００５８】
記憶装置の温度調節は、記憶装置の試験中の（例えば、妥当性検証、品質認証、機能試験など）、重要な要因であり得る。温度調節を実行する１つの方法としては、試験中に記憶装置の上及び／又は周囲で空気を移動させることを含む。より詳細に記載されるように、とりわけ、試験中に記憶装置に対して移動させられる空気の容積、温度及び流路はそれぞれ、記憶装置の確実で有効でかつ効率的な温度制御を提供する要因であり得る。
【００５９】
本明細書において使用される記憶装置は、ディスクドライブ、ソリッドステートドライブ、メモリ装置及び妥当性検証のための非同期試験で利益を有する任意の装置を含む。ディスクドライブは一般的に、磁気表面と共に迅速に回転するプラター上にデジタル処理でエンコードされたデータを保存する、不揮発性記憶装置である。ソリッドステートドライブ（ＳＳＤ）は、固定データを記憶するためにソリッドステートメモリを使用する、データ記憶装置である。ＳＲＡＭ又はＤＲＡＭ（フラッシュメモリの代わりに）を使用するＳＳＤは、ＲＡＭドライブと称されることが多い。用語ソリッドステートは一般的に、ソリッドステート電子機器を電気機械装置から区別する。
【００６０】
図１〜３を参照し、いくつかの実施において、記憶装置試験システム１００は、床部表面１０と実質的に垂直である第１軸２０５（図３参照）を画定する少なくとも１つの自動輸送器２００（例えば、ロボット、ロボットアーム、ガントリシステム又は多軸線形作動装置）を含む。示される実施例において、自動輸送器２００は第１軸２０５の周囲の既定の弧を通じて回転し、第１軸２０５から半径方向に延びるように動作可能なロボットアーム２００を含む。ロボットアーム２００は、第１軸２０５を中心におよそ３６０°回転するように動作可能であり、ロボットアーム２００の遠位端２０２に配置されるマニピュレータ２１０を含み、１つ以上の記憶装置５００及び／又は記憶装置５００を保持する記憶装置輸送器８００（図５Ａ〜５Ｅ参照）を扱う。多数のラック３００が、ロボットアーム２００による扱いのために、ロボットアーム２００の周囲に配置される。各ラック３００が、試験のために記憶装置５００を受容するように構成された多数の試験スロット３３０を収容する。ロボットアーム２００は、実質的に円筒形の作業包囲容積２２０を画定し、ラック３００は、ロボットアーム２００による扱いのために、各試験スロット３３０のアクセス可能性のため、作業包囲部２２０内に配置される。実質的に円筒形の作業包囲体積２２０は小さな設置面積を有し、一般的に高さの制約によってのみ能力を制限される。いくつかの実施例において、ロボットアーム２００は床部表面１０上の基台又はリフト２５０上で持ち上げられ、かつ支持される。基台又はリフト２５０は、ロボットアーム２００が、試験スロット３３０を扱うために、上方のみではなくまた下方に到達するのを可能にすることにより、作業包囲体積２２０の大きさを増加させる。作業包囲体積２２０の大きさは、垂直作動装置を基台又はリフト２５０に追加することによって更に増加させられ得る。コントローラ４００（例えば、計算装置）は、各自動輸送器２００及びラック３００と通信する。コントローラ４００は、自動輸送器２００による試験スロット３３０の作業を調整する。
【００６１】
ロボットアーム２００は、試験装置１００による記憶装置５００の連続的な流れを提供するために、各試験スロット３３０を個別に扱うように構成されている。試験システム１００による個別の記憶装置５００の連続的な流れは、各記憶装置５００の異なる開始及び停止時間を可能にし、一方で記憶装置５００のバッチ処理を必要とする他のシステムは全試験負荷が全て同じ開始及び終了時間を有さなくてはならないため、全て同時に実行される。したがって、連続的な流れにおいて、異なる能力の記憶装置５００は同時に実行され、かつ必要に応じて扱われ得る（装填される／取り外される）。
【００６２】
図１〜３を参照し、記憶装置試験システム１００はロボットアーム２００に記憶装置５００を大量供給するように構成された移送ステーション６００を含む。ロボットアーム２００は、移送ステーション６００と試験スロット３３０との間で試験装置５００を移送することにより、各試験スロット３３０を個別に扱う。移送ステーション６００は、ロボットアーム２００による取り扱いのために、提供される多数の記憶装置５００を保持する１つ以上の運搬箱７００を収容する。移送ステーション６００は、記憶装置５００を記憶装置試験システム１００に供給し、ここから回収するための、サービスポイントである。運搬箱７００は、操作者が移送ステーション６００に一連の記憶装置５００を供給し、ここから回収することを可能にする。図３に示される例において、各回収箱７００は、提示位置において各運搬箱提供支持システム７２０からアクセス可能であり、試験のために一連の記憶装置５００を供給するための供給源運搬箱７００として、又は試験された記憶装置５００を受容するための送り先運搬箱７００（あるいは両方）として指定され得る。送り先運搬箱７００は、機能試験を合格した又は不合格であった各記憶装置５００をそれぞれ受容するために、「合格返却運搬箱」又は「不合格返却運搬箱」として分類され得る。
【００６３】
記憶装置５００を操作するために、記憶装置輸送器８００（図５Ａ〜５Ｅ）を利用する実施において、ロボットアーム２００は、記憶装置輸送器８００を試験スロット３３０の１つからマニピュレータ２１０で取り除き、その後、記憶装置５００を移送ステーション６００又は他の提示システム（例えば、コンベヤー、装填／取り外しステーションなど）において運搬箱７００の１つから記憶装置輸送器８００で取得し、その後、記憶装置５００の試験のために、内部に記憶装置５００を有する記憶装置輸送器８００を試験スロット３３０に戻すように構成される。試験の後、ロボットアーム２００は、試験された記憶装置５００を保持する記憶装置輸送器８００を試験スロット３３０から（すなわち、マニピュレータ２１０で）取り除き、記憶装置輸送器８００内の試験された記憶装置５００を移送ステーション６００へと運搬し、記憶装置輸送器８００を操作して試験された記憶装置５００を移送ステーション６００又は他のシステム（例えば、コンベヤー、装填／取り外しステーションなど）において運搬箱７００の１つに返却することにより、試験された記憶装置５００を試験スロット３３０から回収する。
【００６４】
図４を参照し、マニピュレータ２１０は、光学システム２１２及び機械作動装置２４０を含み得る。光学システム２１２は、カメラ２２０及び光源２３０を含み得る。記憶装置５００は、機械作動装置２４０により、マニピュレータ２１０に把持される記憶装置輸送器８００（図５Ａ〜５Ｅ）に保持され得る。
【００６５】
図５Ａ〜５Ｅに例示されるように、記憶装置輸送器８００は、第１部分８０２及び第２部分８０４を有する輸送器本体８１０を含む。輸送器本体８１０の第１部分８０２は、輸送のためにマニピュレータ２１０を受容し、ないしは別の方法でこれと係合するように構成された操作機構８１２（例えば、凹部、突出部、開口部など）を含む。輸送器本体８１０の第２部分８０４は、記憶装置５００を受容するように構成されている。いくつかの実施例において、第２輸送器本体部分８０４は、輸送器本体８１０の第１側壁８２２及び第２側壁８２４、並びに基部プレート８２６によって形成される、実質的にＵ字型の開口部８２０を画定する。記憶装置５００は、Ｕ字型開口部８２０内に受容される。図５Ｃ〜５Ｄは、頂面５１２、底面５１４、前面５１６、後面５１８、左表面５２０及び右表面５２２を有するハウジング５１０を含む代表的な記憶装置５００を例示する。Ｕ字型開口部８２０は、空気が試験スロット３３０を通じて移動し、記憶装置５００の底面５１４上を流れることを可能にする。記憶装置５００は典型的に、その後面５１８が記憶装置輸送器本体８１０の第１部分８０２に実質的に面するように受容される。輸送器本体８１０の第１部分８０２は空気方向付け器８３０（前側パネル）を含み、これは記憶装置輸送器８００内に受容される記憶装置５００の少なくとも頂面５１２及び底面５１４上に、空気を実質的に同時に（例えば、平行に）受容し、方向付ける。空気方向付け器８３０は、輸送器本体８１０の第１部分８０２内に空気を受容し、これを輸送器本体８００の第２部分８０４内へと方向付けて出すための１つ以上の吸気口８３２ａ〜ｃ（例えば、開口部、スロットなど）を画定し、それによって空気が少なくとも受容される記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４の上を移動し得る。いくつかの実施において、空気方向付け器８３０は、受容される記憶装置５００上に空気を案内するための、案内部（例えば、分流器、フィン、プレナムなど）を含む。
【００６６】
図５Ａを参照し、機械作動装置２４０の把持部２４２（図４）が係合するための追加的な機械的突出部又は空洞を含むための領域が残されていないように見える。しかしながら、図４に例示されるように、把持部２４２を、これが突出部ではなく空洞を利用するように設計することにより、吸気口の機能性と、機械的作動装置２４０の把持部２４２を組み合わせることが可能である。この実施例において（図５Ｅに拡大図が示される）、把持部２４２は、中央の矩形切り取り部８３２ａ及び２つの丸い孔８３２ｂと係合することができ、吸気口がまた係合機構としても機能することを可能にする。
【００６７】
丸い孔８３２ａは、把持部２４２上の支柱２４４が、記憶装置輸送器８００をＸ及びＹ寸法に、加えて回転可能に位置合わせすることを可能にするが、これは多数の孔が位置合わせに使用されるためである。矩形切り取り部８３２ａは、把持部２４２の爪２４６ａ、２４６ｂのための内部スロット８３４を含み、記憶装置輸送器８００と係合し、これを、Ｚ寸法において把持部２４２の面上の位置合わせ点に引く。
【００６８】
図５Ａ及び５Ｃに例示されるように、機械的剛性のための、かつ光学システム２１２（図３）が検出するための２つの基準マーク８３６を配置するための十分な領域が残っている。代替的に、又は加えて、吸気口８３２ａ〜ｃ自体が、視覚的基準として使用され得る。
【００６９】
いくつかの実施例において、記憶装置輸送器８００は、受容される記憶装置５００との直接的な接触による伝導熱、又は記憶装置輸送器８００及び受容される記憶装置５００の中及び／又は上を流れる加熱空気による対流熱のいずれかを提供する、加熱器８６０を含む。加熱器８６０の詳細な記載、並びに本明細書において記載されるものと組み合わせることができる他の詳細及び特徴が、２００９年６月１５日に出願された以下の米国特許出願第１２／５０３，５９３号に見出され得、その全内容が本明細書において参照として組み込まれる。
【００７０】
いくつかの記憶装置５００は、振動の影響を受けやすい場合がある。多数の記憶装置５００を単一の試験ラック３３０に適合させ、記憶装置５００を実行し（例えば、試験中）、加えて、それぞれ任意により記憶装置５００を保持する記憶装置輸送器８００を試験ラック３００内の様々な試験スロット３３０に挿入し、これから取り除くことが、望ましくない振動の原因となり得る。いくつかの場合において、例えば、記憶装置５００の１つが試験下において試験スロット３３０の１つの中で動作しており、一方で他のものが取り除かれ、同じラック３００の試験スロット３３０の付近に挿入されていることがある。記憶装置輸送器８００が試験スロット３３０内に完全に挿入された後、記憶装置輸送器８００を試験スロット３３０へとクランプすることは、記憶装置輸送器８００の挿入及び取り外し中の、記憶装置輸送器８００と試験スロット３３０との間の接触及び擦過を制限させることによって振動を低減又は制限するのを助ける場合がある。
【００７１】
いくつかの実施において、マニピュレータ２１０は、記憶装置輸送器８００内に配置されるクランプ機構８４０の作動を開始するように構成される。これは、記憶装置輸送器８００が試験スロット３３０に、及びここから移動する前に、クランプ機構８４０を作動して、移動中の記憶装置５００の記憶装置輸送器８００に対する移動を阻止することを可能にする。試験スロット３３０内への挿入の前に、マニピュレータ２１０が再びクランプ機構８４０を作動して、輸送器本体８００内の記憶装置５００を解放し得る。これは、記憶装置５００が試験スロット３３０と係合する試験位置に来る（例えば、記憶装置５００の記憶装置コネクタ５３２（例えば、電気コネクタ）（図７Ｃ）が試験スロット３３０の試験スロットコネクタ３９２（図７Ｃ）（例えば、電気コネクタ）と係合する）まで、記憶装置輸送器８００が試験スロット３３０の１つに挿入されることを可能にする。クランプ機構８４０はまた、一度内部に受容されると、試験スロット３３０と係合し、記憶装置輸送器８００が試験スロット３３０に対して移動することを阻止するように構成され得る。このような実施において、一度記憶装置５００が試験位置に来ると、クランプ機構８４０が再び係合し（例えば、マニピュレータ２１０により）、記憶装置輸送器８００の試験スロット３３０に対する移動を阻止する。このような方法で、記憶装置輸送器８００をクランプすることは、試験中の振動の低減を助け得る。いくつかの実施例において、挿入後、記憶装置輸送器８００及び内部に保持される記憶装置５００は両方とも、試験スロット３３０内で組み合わせで又は個別にクランプ又は固定される。記憶装置輸送器８００の詳細な説明、並びに本明細書に記載されるものと組み合わせることができる他の詳細及び特徴が、２００９年６月１５日に出願された米国特許出願番号第１２／５０３，６８７号及び２００９年６月１５日に出願された米国特許出願番号第１２／５０３，５６７号に見出され得る。これらの出願は本明細書においてその全体を参照として組み込まれる。
【００７２】
図６Ａ及び図６Ｂに例示される実施例において、各ラック３００は、１つ以上の試験スロット３３０を保持する試験スロットキャリア３２０を受容するようにそれぞれ構成された１つ以上のキャリア容器３１０を含む。試験スロットキャリア３２０は、ラック３００内への試験スロット３３０の大量装填を可能にする、一連の試験スロット３３０を提供する。ラック３００は、一種類の試験スロット３３０を有する１つの試験スロットキャリア３２０を、その対応するキャリア容器３１０から取り除き、異なる種類又は分類の試験スロット３３０を有する別のキャリア３２０を装填することにより、各種類の試験スロット３３０の特定の搭載空間に適合するようにラック３００を修正する必要性なく、異なる種類の試験スロット３３０に交換するように迅速に扱うことができる。いくつかのキャリア容器３１０は、補完的な標準寸法の試験スロットキャリア３２０を受容するために、一般的な標準寸法を有し得る。任意の特定の試験スロットキャリア３２０が保持し得る試験スロット容器３２４の数は、内部に受容される試験スロット３３０の種類によって変化し得る。例えば、試験スロットキャリア３２０は、比較的より小さい記憶装置５００のための比較的より小さい（より薄い）試験スロット３００と比較して、比較的より大きな記憶装置５００を受容するための（four receiving）、より少ない比較的より大きな試験スロット３３０と適合する。
【００７３】
各ラック３００は、各ラック３００の各試験スロット３３０とラック３００の出口３５３との間の空気連通を提供する、空気導管３０４（図１０Ａ及び図１０Ｂに示される）を含む。いくつかの実施において、空気導管３０４は、試験スロット３３０とラック３００の後方壁部３０３との間の空間により形成される。空気導管３０４はまた、図６Ｂに示される楔形の導管３０４などのラック３００の外面に取り付けられ得る。図３に示されるように、いくつかの実施において、空気導管３０４は、ラック３００とラック３００の周囲の環境との間で空気を移動させるために、システムエアムーバ１９０（例えば、一般的なシステム空気導管３４５による）及び／又はラック３００の外側の空気と空気連通する。この場合、システムエアムーバ１９０は、記憶装置試験システム１００の全ての空気導管３０４と空気連通し（例えば、試験スロット３３０の下のラック３００の底部を含み得る共通システム空気導管３４５により）、各空気導管を通じて空気を移動させ得る。システムエアムーバ１９０は、ラック３００の外側の空気を、試験スロット３３０を通じて空気導管３０４内に、及びラック３００の外に戻すように移動させる。
【００７４】
図６Ｂに示される実施例において、空気導管３０４（また図１０Ａ及び図１０Ｂに示される）は、各ラック３００の各試験スロット３３０と空気熱交換器３５０との間の空気連通を提供する。空気熱交換器３５０は、受容された試験スロット３３０と離れて、キャリア容器３１０の下に配置される。空気熱交換器３５０は、入口３５１、出口３５３及びその間の流路３０５を画定する空気熱交換器ハウジング３５２を含む。いくつかの実施において、冷却要素３５４は空気流経路３０５内のハウジング３５２内に配置され、ポンプ３５６は熱交換器３５０から蓄積された凝結物を空気熱交換器３５０の対応するラック３００上に（例えば、キャリア容器３１０の上に）配置され得る蒸発器３６０へと、又は排出管へと供給する。空気熱交換器３５０はエアムーバ３５８を含んでもよく、これは空気を空気導管３０４から熱交換器ハウジング３５２の入口３５１内（実施される場合は冷却要素３５４の上に）に引き、空気を空気熱交換器ハウジング出口３５３の外に、及びラック３００の外に移動させる。
【００７５】
図７Ａ〜７Ｃを参照し、各試験スロットキャリア３２０は、それぞれ試験スロット３３０を受容するように構成される試験スロット容器３２４を有する本体３２２を含む。各試験スロット３３０は、記憶装置輸送器８００を受容するように構成され、記憶装置輸送器８００は、記憶装置５００を受容し、ロボットアーム２００のマニピュレータ２１０によって扱われるように構成される。使用中、記憶装置輸送器８００の１つは、ロボットアーム２００によって試験スロット３３０の１つから取り除かれるか、又はこれに供給される。各試験スロット容器３２４は、キャリア本体３２２と受容される記憶装置５００との間の振動を減衰させるか、又は分離するための１つ以上の防振装置３２６（例えば、ゴム性グロメット）を含む場合がある。試験スロットキャリア３２０の詳細な記載、並びに本明細書において記載されるものと組み合わせることができる他の詳細及び特徴が、２０１０年の２月２日に出願される以下の米国特許出願、（表題「Ｔｅｓｔ  Ｓｌｏｔ  Ｃａｒｒｉｅｒｓ」、代理人整理番号第１８５２３−０１０２００１、発明者Ｂｒｉａｎ  Ｍｅｒｒｏｗら、指定番号第１２／６９８，６０５号を有する）に見出すことができ、これらの全内容が本明細書において参照として組み込まれる。
【００７６】
図７Ｃ及び８Ａ〜８Ｃを参照し、各試験スロット３３０は、ラック３００による受容のための試験スロットハウジング３４０又は試験スロットキャリア３２０の試験スロット容器３２４を含む。試験スロットハウジング３４０は、第１部分３４２及び第２試験スロット３４４を有する。試験スロットハウジング３４０の第１部分３４２は、記憶装置５００及び／又は記憶装置５００を保持する記憶装置輸送器８００を受容する大きさである装置開口部３４６を画定する。試験スロットハウジング３４０の第２部分３４４は、排気口３４８、電子機器３９０（例えば、回路基板）及び任意のエアムーバ９００を含む。電子機器３９０は、試験スロットコネクタ３９２と通信し、これは、記憶装置５００の記憶装置コネクタ５３２を受容し、これと電気的通信を形成するように構成される。電子機器３９０はまた、ラック３００と電気的通信を形成するための、スロット−ラックコネクタ３９４も含む。試験スロット３００を通じて移動する空気は、電子機器３９０の上で方向付けられ得る。
【００７７】
図９は、代表的なエアムーバ９００を例示し、これは第１方向９０４に沿って空気を受容する吸気口９０２、及び第１方向と実質的に垂直な第２方向９０８に沿って空気を供給する排気口９０６を有する。エアムーバ９００内の空気の移動方向を変更することは、導管内の空気流の方向の変更の効率損失を排除し、それによって記憶装置試験システム１００の冷却効率を向上させる。いくつかの実施において、エアムーバ９００は毎分約７１００回転（ｒｐｍ）で回転するインペラ９１０を含み、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）（ゼロ静圧において）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）（ゼロ流量において）の空気圧を生じる。いくつかの場合において、エアムーバ９００は、試験スロット３３０の冷却システムの最大の構成要素である。記憶装置試験システム１００内のエアムーバ９００の実質的に水平の配置は、試験スロット３３０の比較的より低い全体高さを可能にする（ラック３００及び／又は試験スロットキャリア３２０内のより高い試験スロット密度を可能にする）。
【００７８】
図７Ｃ及び１０Ａ〜１０Ｂは、記憶装置試験システム１００内に受容される記憶装置５００の温度を調節するための、エアスルー試験スロット３３０及びラック３００の流れ経路３０５を例示する。ラック３００内に収容される各試験スロット３３０のエアムーバ９００は、空気流をラック３００の外側空間から、試験スロット３３０内に受容される記憶装置輸送器８００の空気方向付け器８３０の少なくとも１つの吸気口８３２内へと移動させる。空気流は、記憶装置輸送器８００内に受容される記憶装置５００の少なくとも頂面５１２及び底面５１４上に、実質的に同時に方向付けられる。図７Ｃは、試験スロット３３０及び受容される記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４の上の空気流経路３０５の側方断面図を提供する。空気はまた、記憶装置５００の他の表面上を流れ得る（例えば、前側５１６、後側５１８、左側５２０及び右側５２２）。記憶装置５００又は記憶装置輸送器８００が試験スロット３３０に受容されていない場合、空気は試験ハウジング３４０の第１部分３４２を通じてエアムーバ９００に直接流れ得る。エアムーバ９００は、試験スロットハウジング３４０の第２部分３４４を通じて、試験スロット３３０の排気口３４８（図７Ｂ）を出て空気導管３０４内へと空気を移動させる。空気は空気導管３０４を通じて空気熱交換器３５０又はラック３００の外側の環境へと移動する。空気熱交換器３５０を通過した後、空気がラック３００の外側空間内へと解放されて戻る。
【００７９】
いくつかの実施例において、エアムーバ９００は記憶装置輸送器８００の空気方向付け器８３０内に空気を引き、これが空気３０５を、記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４の上に方向付ける。エアムーバ９００は空気流を、受容される記憶装置５００の上から、第１方向に沿って受容し、空気流をエアムーバ９００から試験スロット３３０の出口３４８に、第１方向と実質的に垂直な第２方向に沿って供給する。
【００８０】
示される実施例において、記憶装置輸送器８００は、一度内部に受容されると、試験スロットハウジング３４０の装置開口部３４６の密閉を提供する。エアムーバ９００が空気を空気経路３０５に沿って循環するように移動させると、空気は試験スロットハウジング３４０の第１部分３４２から、一般的な方向に沿って試験スロットハウジング３４０の第２部分３４４に移動し、この間に受容される記憶装置５００の全体長さを横断する。空気は少なくとも記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４に沿って実質的に同時に移動するため、空気は記憶装置５００の実質的に均等な冷却を提供する。空気が最初に記憶装置の一面、例えば頂面５１２に沿って経路付けされ、その後、順次第２の別の面、例えば底面５１４に沿って方向付けられると、空気は記憶装置５００の第１面の上を通過した後、記憶装置のいずれかの追加的な面の上を通過する前に予備加熱され、それによって、空気を記憶装置５００の２つ以上の面の上に実質的に同時に流す、及び／又は空気熱交換器３５０を通過する前に記憶装置５００の上で再循環させることなく流すよりも、比較的非効率的な冷却を提供する。
【００８１】
記憶装置試験を実行する方法は、１つ以上の記憶装置５００を、供給源位置（例えば、装填／取り外しステーション６００、記憶装置運搬箱７００、試験スロット３３０など）における試験のために、記憶装置試験システム１００に提供する工程と、自動輸送器２００（例えば、ロボットアーム）を作動して、１つ以上の記憶装置５００を供給源位置から回収して、回収した記憶装置５００を記憶装置試験システム１００のラック３００上に配置される対応する試験スロット３３０に供給する工程と、を含む。方法は、自動輸送器２００を作動して各回収した記憶装置５００をその対応する試験スロット３３０内に挿入する工程と、試験スロット３３０によって受容される記憶装置５００の試験（例えば、機能性、出力、接続性等）を実行する工程と、を含む。方法はまた、自動輸送器２００を作動して、試験された記憶装置５００を試験スロット３３０から回収して試験された記憶装置５００を送り先位置（例えば、別の試験スロット３３０、記憶装置運搬箱７００、装填／取り外しステーション６００など）に供給する工程を含む。
【００８２】
記憶装置試験システム１００内に受容される記憶装置５００の温度の調節方法は、空気流をラック３００の試験スロット３３０の試験スロットハウジング３４０の吸気口３４６内へと移動させる工程と、空気流を試験スロット３３０内に受容される記憶装置５００の上で移動させる工程と、空気を試験スロット３３０の試験スロットハウジング３４０の排気口３４８の外に移動させる工程と、空気をラック３００の外側に解放する工程と、を含む。この方法は記憶装置試験システム１００で実行されて、一般的に必要とされる温度制御構成要素の相対数を低減し、一方で依然として各試験スロット３３０の温度の別個の制御を可能にし得る。この方法は、記憶装置試験システム１００が、比較的より少ない熱制御構成要素で、かつ各試験スロット３３０に対する別個の閉ループ空気流経路なくして、各記憶装置試験スロット３３０の別個の熱制御を有することを可能にする。いくつかの実施例において、方法は、空気の湿分含量を管理する必要なく、試験スロット３３０内又は付近に形成する凝結物を実質的に生じない。
【００８３】
いくつかの実施において、方法は、１つ以上の空気熱交換器３５０によって冷却され得る、冷却された空気の共通のリザーバを使用する工程を含む。空気熱交換器３５０上に形成される凝結物は、比較的少ない位置で凝結され、蒸発又は排出などの従来的な方法によって取り除かれ得る。あるいは、熱交換器３５０は露点を超えて動作するように制御され得る。共通のリザーバからの空気が、各試験スロット３３０に関して別個の制御可能なエアムーバ９００を使用して、各試験スロット３３０を通じて引かれる。冷却の度合いは、エアムーバ９００の速度によって制御され得る。試験スロット３３０内に受容される記憶装置５００を加熱するため、加熱器８６０は、受容される記憶装置５００を直接又は間接的に加熱するように配置され得る。例えば、加熱器８６０は、試験スロット３３０への吸気経路３４６内の及び／又は受容される記憶装置と直接接触するように配置され得る。いくつかの実施例において、方法は受容される記憶装置５００が試験スロット３００を通じた空気流を低減するか、又は遮蔽することによって自己発熱させることを含む。いくつかの実施において、冷却された空気のリザーバは、別個のエンクロージャではなく、記憶装置試験システム１００の形状によって形成される。冷却空気はまた、記憶装置試験システム１００内に配置される他の電子機器を冷却するために使用され得る。
【００８４】
いくつかの実施例において、空気は、試験スロット３３０内に受容される記憶装置５００の少なくとも頂面５１２及び下面５１４の上に実質的に同時に流れるように移動される。いくつかの実施において、方法は、試験スロットハウジング３４０内に配置されるエアムーバ９００で、ラック３００の外側の空気を試験スロットハウジング３４０の第１部分３４２内に引く工程と、その後空気を試験スロットハウジング３４０の第２部分３４４を通じて、第２部分３４４内に配置される電子機器３５０上、試験スロットハウジング３４０の排気口３４８の外へと移動する工程と、を含む。空気流をエアムーバ９００内へと第１方向９０４に沿って受容する工程と、流れをエアムーバ９００の排気口９０６へと第１方向９０４と実質的に垂直な第２方向９０８に沿ってと移動させる工程と、を含み得る。いくつかの実施例において、方法は、空気流をエアムーバ９００の外へと、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）の空気圧で供給する工程を含む。
【００８５】
方法は、記憶装置５００を保持し、試験スロット３３０内に受容される記憶装置輸送器８００の空気方向付け器８３０を通じて空気流を移動させる工程を含み得る。空気方向付け器８３０は、少なくとも記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４の上で空気流を受容し、方向付ける１つ以上の吸気口８３２を画定する。記憶装置輸送器８００は、第１部分８０２及び第２部分８０４を有する本体８００を含む。いくつかの実施例において、方法は、頂面５１２、底面５１４、前面５１６、後面５１８、右側面５２０及び左側面５２２を記憶装置輸送器８００内に有する記憶装置５００を、後面５１８が記憶装置輸送器本体８００の第１本体部分８０２に実質的に面するように、記憶装置輸送器８００内に受容する工程を含む。
【００８６】
いくつかの実施において、方法は、空気流を、試験スロット３３０から空気熱交換器３５０へと、その間に空気連通を提供する導管３０４を通じて移動させる工程を含む。空気熱交換器３５０はいくつかの実施例において、空気を空気導管３０４から空気熱交換器ハウジング３５２の吸気口３５１内へと、冷却要素３５４上で引き、空気を空気熱変換器ハウジング出口３５３の外に、及びラック３００の外に移動させる、エアムーバ３５８を含む。方法はまた、空気熱交換器３５０の凝結物を、ラック３００上に配置される蒸発器３６０にポンプ移送するか、若しくは排出管にポンプ移送するか、又は凝結物を重力により排出させることを含み得る。
【００８７】
他の実施
【００８８】
数多くの実施例を記載してきた。しかし、本開示の趣旨及び範囲を逸脱することなく、様々な変更が行われてもよいと理解されるであろう。例えば、空気は代表的な実施形態に示される方向と反対の方向に流れてもよい。空気はまた、頂面及び底面の上の代わりに記憶装置の一面の上のみに流れてもよい。試験スロット当たり１つのエアムーバを有するシステムにおいて、試験スロットエアムーバは、多くの位置に配置されることがあり、いくつかはスロットの物理的に接続されていない。試験スロットの熱制御は、試験スロットの吸入気流内に加熱器を追加することにより、空気を加熱する手段を含み得る。上記の実施は、試験スロットから全体的に取り外し可能な、取り外し可能なキャリアの形態の記憶装置輸送器を含んだが、いくつかの実施においては、記憶装置輸送器は試験スロットから全体的に取り外し可能ではなく、引き出し部の形態で試験スロットに接続された状態に留まる。例えば、図１１Ａ及び図１１Ｂは、試験スロットアセンブリの実施を例示し、ここで記憶装置輸送器８００’は、試験スロット３３０’の壁部内の凹状スロット３３５内で摺動する突起部８０５を含む。記憶装置輸送器８００’の前方の移動及び完全な取り外しは、凹状スロット３３５の端部によって阻害される（例えば、防がれる）。したがって、この実施例において、記憶装置輸送器８００’は、試験スロット３３０’に対して摺動可能な引き出し部として機能し、記憶装置の試験スロット３３０’への挿入及びここからの取り外しを可能にする。
【００８９】
図１２Ａ〜２２は、上記のような記憶装置試験システムに利用され得る、試験スロットの別の実施を例示する。図１２Ａ〜１３に例示される実施例において、各試験スロット１３３０は、記憶装置輸送器１８００を受容するように構成される。記憶装置輸送器１８００は、記憶装置５００を受容し、ロボットアーム２００（図１）のマニピュレータ２１０（図４）によって扱われるように構成される。使用中、記憶装置輸送器１８００の１つは、ロボットアーム２００によって試験スロット１３３０の１つから取り除かれるか、又はこれに供給される。各試験スロット１３３０は、ラック３００により受容され、第１部分１３４２及び第２部分１３４４を有する試験スロットハウジング１３４０を含む。試験スロットハウジング１３４０の第１部分１３４２は、記憶装置５００及び／又は記憶装置５００を保持する記憶装置輸送器１８００を受容するような大きさの装置開口部１３４６、加えて空気開口部１３２６（すなわち、吸気口）を画定する。試験スロットハウジング１３４０の第２部分１３４４は、第２空気開口部１３４８（すなわち、排気口）を画定し、電子機器１３９０を収容する。
【００９０】
図１４〜図１７に例示されるように、記憶装置輸送器１８００は、第１部分１８０２及び第２部分１８０４を有する輸送器本体１８１０を含む。輸送器本体１８１０の第１部分１８０２は、輸送のためにマニピュレータ２１０を受容し、ないしは別の方法でこれと係合するように構成された操作機構１８１２（例えば、凹部、突出部など）を含む。輸送器本体１８１０の第２部分１８０４は、記憶装置５００を受容するように構成されている。いくつかの実施例において、第２輸送器本体部分１８０４は、輸送器本体１８１０の第１側壁１８２２及び第２側壁１８２４、並びに基部プレート１８２６によって形成される、実質的にＵ字型の開口部１８２０を画定する。記憶装置１５００はＵ型開口部１８２０内に受容され、少なくとも基部プレート１８２６によって支持される。図１７は、頂面５１２、底面５１４、前面５１６、後面５１８、左表面５２０及び右表面５２２を有するハウジング５１０を含む代表的な記憶装置５００を例示する。記憶装置５００は典型的に、その後面５１８が記憶装置輸送器本体１８００の第１部分１８０２に実質的に面するようにして受容される。輸送器本体１８１０の第１部分１８０２は、空気方向付け器１８３０を含み、これは記憶装置輸送器１８００内に受容される記憶装置５００の少なくとも頂面５１２及び底面５１４の上で実質的に同時に（例えば、平行に）空気を受容し、これを方向付ける。空気方向付け器１８３０は、吸気口１８３２、並びに第１排気口１８３４及び第２排気口１８３５を有する空洞１８３１を画定する。空気方向付け器１８３０は、その吸気口１８３２を通じて受容される空気を第１排気口１８３４及び第２排気口１８３５の外に方向付ける。第１排気口１８３４は、空気を受容される記憶装置１８００の頂面５１２の上に方向付け、第２排気口１８３５は空気を受容される記憶装置５００の底面５１４上に方向付ける。
【００９１】
いくつかの実施において、空気方向付け器１８３０は、吸気口１８３２を通じ受容される空気の少なくとも一部を第１排気口１８３４を通じて外に、かつ受容される記憶装置５００の少なくとも底面５１４の上に方向付けるために、空洞１８３１内に配置されるプレナム１８３６を含む。いくつかの実施において、空気方向付け器１８３０は、記憶装置輸送器１８００を振動に対して安定化させるような重さである。例えば、プレナム１８３６は、好適な重量を有する材料で重みを付けられるか、作製され得る。空気空洞１８３１に入る空気はまた、区画１８３８上を流れ（その上には第２排気口１８３５がある）、記憶装置５００の少なくとも頂面５１２上を流れ得る。記憶装置５００が輸送器本体１８１０内に受容され、記憶装置輸送器１８１０及び記憶装置５００は共に、試験スロット３１０内に配置するために自動輸送器２００（図１）により移動され得る。
【００９２】
いくつかの記憶装置５００は、振動の影響を受けやすい場合がある。多数の記憶装置５００を単一の試験ラック３００に適合させ、記憶装置５００を実行し（例えば、試験中）、加えて、それぞれ任意により記憶装置５００を保持する記憶装置輸送器５５０を試験ラック３００内の様々な試験スロット１３３０に挿入し、これから取り除くことが、望ましくない振動の原因となり得る。いくつかの場合において、例えば、記憶装置５００の１つが試験下において試験スロット１３３０の１つの中で動作しており、一方で他のものが同じラック３００の試験スロット１３３０の付近で取り除かれるか挿入されていることがある。記憶装置輸送器５５０が試験スロット１３３０内に完全に挿入された後、記憶装置輸送器１８００を試験スロット１３３０へとクランプすることは、記憶装置輸送器１８００の挿入及び取り外し中の、記憶装置輸送器１８００と試験スロット１３３０との間の接触及び擦過を制限することによって振動を低減又は制限するのを助ける場合がある。
【００９３】
いくつかの実施において、マニピュレータ２１０（図２及び図４参照）は、記憶装置輸送器１８００内に配置されるクランプ機構１８４０の作動を開始するように構成される。これは、記憶装置輸送器１８００が試験スロット１３３０に、及びここから移動する前に、クランプ機構１８４０を作動して、移動中の記憶装置５００の記憶装置輸送器１８００に対する移動を阻止することを可能にする。試験スロット１３３０内への挿入の前に、マニピュレータ２１０が再びクランプ機構１８４０を作動して、輸送器本体１８１０内の記憶装置５００を解放し得る。これは、記憶装置５００が試験スロット１３３０と係合する試験位置に来る（例えば、記憶装置５００の記憶装置コネクタ５３２（図１７）が試験スロット１３３０の試験スロットコネクタ１３９２（図１８）と係合する）まで、記憶装置輸送器１８００が試験スロット１３３０の１つへと挿入されることを可能にする。クランプ機構１８４０はまた、一度内部に受容されると、試験スロット１３３０と係合し、記憶装置輸送器１８００が試験スロット１３３０に対して移動することを阻止するように構成され得る。このような実施において、一度記憶装置５００が試験位置に来ると、クランプ機構１８４０が再び係合し（例えば、マニピュレータ２１０により）、記憶装置輸送器１８００の試験スロット１３３０に対する移動を阻止する。このような方法で、記憶装置輸送器１８００をクランプすることは、試験中の振動の低減を助け得る。いくつかの実施例において、挿入後、記憶装置輸送器１８００及び内部に保持される記憶装置５００は両方とも、試験スロット１３３０内で組み合わせで又は個別にクランプ又は固定される。
【００９４】
図１２Ａ〜１３、加えて図１８を参照し、ラック３００は、各試験スロット１３３０の付近に配置される試験スロット冷却システム１９００を含む。試験スロット冷却システム１９００は第１開口部１９１２及び第２開口部１９１４（すなわち、排気口及び吸気口）を有するハウジング１９１０を含む。ハウジング１９１０は、試験スロット１３３０から、第２空気開口部１９１４を通じて空気を受容し、空気冷却器１９２０を通じてエアムーバ１９３０（例えば、送風機又はファンなど）へと空気を方向付ける。図１９に示される実施例において、空気冷却器１９２０は、上部に配置された１つ以上のフィン又はプレート１９２４を有する空気冷却器本体１９２２を含む。空気冷却器１９２０は、冷却管１９２６に連結されるか、又は取り付けられ、これを通じて冷却された液体（例えば水）が流れる。冷却された冷却管１９２６は、対流によりフィン１９２４の上を流れる空気から熱を受容する空気冷却器１９２０からの熱を伝導する。エアムーバ１９３０は第１開口部１９１２を通じて空気を動かし、試験スロット１３３０へとその第１空気開口部１３２６を通じて戻す。試験スロットハウジング１３４０の第１空気開口部１３２６は、試験スロット冷却システムハウジング１９００の第１空気開口部１９１２と実質的に位置合わせされ、試験スロットハウジング１３４０の第２空気開口部１３４８は、試験スロット冷却システムハウジング１９００の第２空気開口部１９１４と実質的に位置合わせされる。記憶装置輸送器１８００を使用する実施例において、試験スロットハウジング１３４０の第１空気開口部１３２６は、温度を制御された空気を記憶装置輸送器１８００によって保持される記憶装置５００の上に供給するために、輸送器本体１８１０の吸気口１８３２と実質的に位置合わせされる。
【００９５】
図２０は、代表的なエアムーバ１９３０を例示し、これは第１方向１９３４に沿って空気を受容する吸気口１９３２、及び第１方向と実質的に垂直な第２方向１９３８に沿って空気を供給する排気口１９３６を有する。エアムーバ１９３０内の空気の移動方向を変更することは、導管内の空気流の方向の変更の効率損失を排除し、それによって試験スロット冷却システム１９００の冷却効率を向上させる。いくつかの実施において、エアムーバ１９３０は毎分約７１００回転（ｒｐｍ）で回転するインペラ１９３５を含み、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）（ゼロ静圧において）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）（ゼロ流量において）の空気圧を生じる。いくつかの場合において、エアムーバ１９３０は、試験スロット冷却システム１９００の最大の構成要素であり、したがって試験スロット冷却システム１９００の大きさを決定する。いくつかの実施において、エアムーバ１９３０は、約４５ｍｍの長さＬ、約４５ｍｍの幅Ｗ及び約１０ｍｍの高さＨを有する（例えば、Delta Electronics,Inc.（Taoyuan Plant,252 Shang Ying Road,Kuei San Industrial Zone,Yaoyuan Shien,Taiwan R.O.C.）により提供されるDC Blower BFB04512HHA-8A60）。試験スロット冷却システム１９００内における、エアムーバ１９３０の実質的に水平方向の配置は、試験スロット冷却システム１９００の比較的より低い全体高さ、したがって関連する試験スロット１３３０の比較的より低い全体高さを可能にする（ラック３００におけるより高い試験スロット密度を可能にする）。エアムーバ１９３０が空気流経路１９５０（図２１）を向け直す能力は、空気流経路１９５０内の空気抵抗を低減し、それによってエアムーバ１９３０が空気流量の閾値を維持するための電力消費を低下させる。
【００９６】
図２１は、ラック３００の平面図を提供し、試験スロット冷却システム１９００及び試験スロット１３３０を通じた空気流経路１９５０を例示する。図２２は、試験スロット１３３０及び受容される記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４の上の空気流経路１９５０の側方断面図を提供する。空気はまた、記憶装置５００の他の表面上を流れ得る（例えば、前側５１６、後側５１８、左側５２０及び右側５２２）。エアムーバ１９３０は、試験スロット冷却システムハウジング１９００の第１空気開口部１９１２（すなわち、吸気口）及び試験スロットハウジング１３４０の第１空気開口部１３２６（すなわち、吸気口）を通じて、記憶装置輸送器本体１８１０の空気方向付け器１８３０内に供給する。空気は空気方向付け器１８３０の吸気口１８３２を通じて空気空洞１８３１内に流れる。空気は、空気方向付け器１８３０の第１排気口１８３４の外に（例えば、プレナム１８３６によって方向付けられる）、及び記憶装置５００の少なくとも底面５１４上に流れる。空気はまた、第２排気口１８３５を通じて（例えば、区画１８３８上）、記憶装置５００の少なくとも頂面５１２上に流れる。空気は、試験スロットハウジング１３４０の第１部分１３４２から、試験スロットハウジング１３４０の第２部分１３４４へと移動する。空気は、試験スロットハウジング１３４０の第２部分１３４４内の電子機器１３９０上を移動し得る。空気は試験スロットハウジング１３４０から、その第２空気開口部１３４８（すなわち、排気口）を通じて出て、試験スロット冷却システムハウジング１９００の第２空気開口部１９１４（すなわち、吸気口）内に入る。空気は、空気流経路１９５０内又はその付近に配置される空気冷却器１９２０上（例えば、空気冷却ファン１９２４上）を移動し、その後、エアムーバ１９３０の吸気口１９３２内に戻る。
【００９７】
示される実施例において、記憶装置輸送器１８００は、一度内部に受容されると、試験スロットハウジング１３４０の装置開口部１３４６の密閉を提供する。記憶装置輸送器１８００の空気方向付け器１８３０、及びエアムーバ１９３０は、試験スロットハウジング１３４０の装置開口部１３４６の入口付近に位置する。エアムーバ１９３０が空気を空気経路１９５０に沿って循環するように移動させると、空気は試験スロットハウジング１３４０の第１部分１３４２から、一般的な方向に沿って試験スロットハウジング１３４０の第２部分１３４４に移動し、この間に受容される記憶装置５００の全体長さを横断する。空気は少なくとも記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４に沿って実質的に同時に移動するため、空気は記憶装置５００の実質的に均等な冷却を提供する。空気が最初に記憶装置の一面（once side）、例えば頂面５１２に沿って経路付けされ、その後順次第２の別の面、例えば底面５１４に沿って方向付けられると、空気は記憶装置５００の第１面の上を通過した後、記憶装置のいずれかの追加的な面の上を通過する前に予備加熱され、それによって空気を記憶装置５００の２つ以上の面の上に実質的に同時に流す、及び／又は空気冷却器１９２０を通過する前に記憶装置５００の上で再循環させることなく流すよりも、比較的非効率的な冷却を提供する。
【００９８】
記憶装置試験を実行する方法は、１つ以上の記憶装置５００を、供給源位置（例えば、装填／取り外しステーション６００、記憶装置運搬箱７００、試験スロット３１０など）における試験のために、記憶装置試験システム１００に提供する工程と、自動輸送器２００（例えば、ロボットアーム）を作動して、１つ以上の記憶装置５００を供給源位置から回収して、回収した記憶装置５００を記憶装置試験システム１００のラック３００上に配置される対応する試験スロット１３３０に供給する工程と、を含む。方法は、自動輸送器２００を作動して各回収した記憶装置５００をその対応する試験スロット１３３０内に挿入する工程と、試験スロット１３３０によって受容される記憶装置５００の試験（例えば、機能性、出力、接続性等）を実行する工程と、を含む。方法はまた、自動輸送器２００を作動して試験された記憶装置５００を試験スロット３１０から回収して試験された記憶装置５００を送り先位置（例えば、別の試験スロット３１０、記憶装置運搬箱７００、装填／取り外しステーション６００など）に供給する工程を含む。
【００９９】
記憶装置試験システム１００に受容される記憶装置５００の温度を調節する方法は、空気流を試験スロットハウジング１３４０の吸気口１３４６内に供給する工程と、空気流を実質的に同時に、記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４上に方向付ける工程と、を含む。方法は、空気流を少なくとも記憶装置５００の頂面５１２及び底面５１４上に方向付ける空気方向付け器１８３０に空気流を供給する工程を含み得る。いくつかの実施において、方法は、試験スロットハウジング１３４０内に受容される記憶装置輸送器１８００内に記憶装置５００を支持する工程を含む。記憶装置輸送器１８００は、第１部分１８０２及び第２部分１８０４を有する本体１８１０を含む。第１記憶装置輸送器本体部分１８０２は空気方向付け器１８３０を含み、第２記憶装置輸送器本体部分１８０４は、記憶装置５００を受容するように構成される。記憶装置５００は、頂面５１２、底面５１４、前面５１６、後面５１８、右側面５２０及び左側面５２２を有し、その後面５１８が記憶装置輸送器本体１８１０の第１本体部分１８０２に実質的に面するように受容される。方法は、記憶装置試験システムに受容されている間、記憶装置輸送器の移動を低減するために、空気方向付け器１８３０（いくつかの実施形態においてはプレナム１８３６）に重みを加える工程を含み得る。
【０１００】
いくつかの実施において、方法は、空気流を、空気方向付け器１８３０の吸気口１８３２内に供給する工程を含む。空気方向付け器１８３０は、吸気口１８３２を通じて受容される空気を空気方向付け器１８３０の第１排気口１８３４及び第２排気口１８３５の外に方向付ける。第１排気口１８３４は、空気を少なくとも受容される記憶装置５００の底面５１４上に方向付け、第２排気口１８３５は空気を少なくとも受容される記憶装置５００の頂面５１２上に方向付ける。空気方向付け器１８３０は、空気方向付け器１８３０の吸気口１８３２及び排気口１８３４、１８３５と空気連通する空洞１８３１を画定し得る。空気方向付け器１８３０は、空洞１８３１内に受容される空気の少なくとも一部を第１排気口１８３４の外に方向付けるために、空洞１８３１内に配置されるプレナム１８３６を含む。いくつかの実施例において、方法は、記憶装置試験システム１００に受容されている間（例えば、試験スロット１３３０に受容されている間）、記憶装置輸送器１８００の移動を低減するためにプレナム１８３６に重みを加える工程を含む。
【０１０１】
いくつかの実施において、方法は、空気流を試験スロットハウジング１３４０の吸気口１３２５と空気連通するエアムーバ１９３０に方向付ける工程を含む。エアムーバ１９３０は、空気流を試験スロットハウジング３２０の吸気口１３２６内に供給し、空気流は閉ループ経路９５０（図１５）に沿って移動する。方法は、空気流をエアムーバ１９３０内に第１方向１９３４に沿って受容する工程と、空気流を試験スロットハウジング１３４０の吸気口１３２６に、第１方向１９３４と実質的に垂直な第２方向１９３８に沿って供給する工程と、を含み得る。方法は、空気流を、エアムーバ１９３０の上流の空気流経路１９５０内に配置される空気冷却器１９２０上に方向付ける工程を含む。いくつかの実施例において、方法は、空気流を試験スロットハウジング１３４０の吸気口１３２６内へと（例えば、エアムーバ１９３０によって）、最大約０．１２２ｍ３／分（４．３０８ＣＦＭ）の空気流量及び最大約２０．８８ｍｍＨ２Ｏ、０．８２２インチＨ２Ｏ（２０４．８Ｐａ）の気圧で供給する工程を含む。
【０１０２】
それゆえに、他の実施例は次の請求項の範囲内である。
【図１】
2012533833.tif 000003
【図２】
2012533833.tif 000004
【図３】
2012533833.tif 000005
【図４】
2012533833.tif 000006
【図５Ａ】
2012533833.tif 000007
【図５Ｂ】
2012533833.tif 000008
【図５Ｃ】
2012533833.tif 000009
【図５Ｄ】
2012533833.tif 000010
【図５Ｅ】
2012533833.tif 000011
【図６Ａ】
2012533833.tif 000012
【図６Ｂ】
2012533833.tif 000013
【図７Ａ】
2012533833.tif 000014
【図７Ｂ】
2012533833.tif 000015
【図７Ｃ】
2012533833.tif 000016
【図８Ａ】
2012533833.tif 000017
【図８Ｂ】
2012533833.tif 000018
【図８Ｃ】
2012533833.tif 000019
【図９】
2012533833.tif 000020
【図１０Ａ】
2012533833.tif 000021
【図１０Ｂ】
2012533833.tif 000022
【図１１Ａ】
2012533833.tif 000023
【図１１Ｂ】
2012533833.tif 000024
【図１２Ａ】
2012533833.tif 000025
【図１２Ｂ】
2012533833.tif 000026
【図１３】
2012533833.tif 000027
【図１４】
2012533833.tif 000028
【図１５】
2012533833.tif 000029
【図１６】
2012533833.tif 000030
【図１７】
2012533833.tif 000031
【図１８】
2012533833.tif 000032
【図１９】
2012533833.tif 000033
【図２０】
2012533833.tif 000034
【図２１】
2012533833.tif 000035
【図２２】
2012533833.tif 000036
【国際調査報告】
2012533833.tif 000037
2012533833.tif 000038