(57)【要約】【課題】任意の入射角度におけるＢＫ７ガラスの実測絶対反射率の正確さを全波長域にわたって的確に確認できる絶対反射測定装置を提供する。【解決手段】任意の入射角度（θ１）において、測定されたＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線である曲線Ｃｆと、連続する波長での絶対反射理論曲線からのずれの許容範囲例えば±０．５％の上限を示す曲線Ｃｄと、下限を示す曲線Ｃｅが同一画面上に表示される。操作者は、曲線Ｃｆが全ての波長域で曲線Ｃｅと曲線Ｃｄの間に入っていることを確認する。【選択図】          図３
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
光源と、この光源から出射する光束を分光する分光器と、この分光器を出射する単色光束を試料に照射しその反射光を検出する検出器と、この検出器の出力信号を処理すると共に前記分光器などを制御する制御演算部と、演算結果などを表示する表示器で構成される絶対反射測定装置において、前記表示器にＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線と、ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線に所定率を加算した曲線および前記絶対反射理論曲線から所定率を減算した曲線を追加表示できるよう構成されていることを特徴とする絶対反射測定装置。
【請求項２】
ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線は、入射角度と、各波長ごとのＢＫ７ガラスの光学的パラメータを用いて理論式から算出されることを特徴とする請求項１記載の絶対反射測定装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、分光光度計と組み合わせて試料の絶対反射率を測定する装置、特には的確に測定精度を確認できる絶対反射測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
絶対反射測定装置では、試料が無い状態で分光器で分光された光束を直接検出器に入射して測定した信号を所定の波長域にわたって一定の大きさ（１００％）になるように測定系の感度を設定した後、分光器で分光された光束を試料に入射し、入射した角度と同じ角度で反射する光束を検出器に入射させ、所定波長域にわたって前回と同一感度条件の測定系で測定される信号の大きさ（％）を絶対反射率としている。このように、絶対反射測定は基準試料を用いない測定法である（特許文献１参照）。
【０００３】
反射測定では入射角度が大きい場合、入射面に垂直な振動成分（ｓ偏光）と入射面に平行な振動成分（ｐ偏光）の反射率が異なる。このため、大きな入射角で絶対反射測定を行う場合は、偏光子を用いて入射光をｓ偏光またはｐ偏光のどちらか一方に設定し、それぞれを別々に測定する。
【０００４】
絶対反射測定装置の測定手順は、試料が無い状態で分光器で分光された光束を直接検出器に入射させてベースライン補正を行い、次に測定したい入射角度にチェック用試料（例えばＢＫ７ガラス）をセットし、また検出器も適切位置に移動させて予備測定を開始する。測定されたＢＫ７ガラスの絶対反射率と理論値とを数箇所の波長で比較し、そのずれが許容値（例えば±０．５％）以内であれば装置は正常であると判断し、測定したい未知試料の測定を開始する。そのずれが許容値を超えている場合は、光学系の調整をし再度ＢＫ７ガラスの絶対反射率の測定をし理論値からのずれの確認をする。
【０００５】
【特許文献１】特開平７−１１３７４４号公報
【考案の開示】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の絶対反射測定装置においては、測定されたＢＫ７ガラスの絶対反射率と紙上に記載された理論値とを数箇所の波長で逐一比較し、そのずれが許容値以内か否か確認する必要があり、これにかなりの労力を要した。また、記載されていない波長および入射角度における測定値の確認ができないと言う課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
光源と、この光源から出射する光束を分光する分光器と、この分光器を出射する単色光束を試料に照射しその反射光を検出する検出器と、この検出器の出力信号を処理すると共に前記分光器などを制御する制御演算部と、演算結果などを表示する表示器で構成される絶対反射測定装置において、前記表示器にＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線と、ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線に所定率を加算した曲線および前記絶対反射理論曲線から所定率を減算した曲線を追加表示できるよう構成されている。また、ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線は、入射角度と、各波長ごとのＢＫ７ガラスの光学的パラメータを用いて理論式から算出される。したがって、任意の入射角度で測定されたＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線と連続する波長での絶対反射理論曲線からのずれの許容範囲が表示器上に同時に表示できる。
【考案の効果】
【０００８】
任意の入射角度において、測定されたＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線と連続する波長での絶対反射理論曲線からのずれの許容範囲が表示器上に同時に表示できる。したがって、任意の入射角度において測定波長域全てにわたり、迅速かつ的確に実測絶対反射曲線の正確さを視認できる絶対反射測定装置の提供が可能となる。
【考案を実施するための最良の形態】
【０００９】
光束が入射する検出器は積分球と光電子増倍管で構成され、測定される光束は先ず積分球に入射し、そこで拡散され光電子増倍管で検出される。
【実施例】
【００１０】
本考案の実施例について図１〜図４を参照して説明する。図１は、本考案の実施例による絶対反射測定装置の概略構成図である。図２は、ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線作成の概要を示す図である。図３は、ＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線とそのずれの許容範囲を示すグラフである。図４は、実施例の絶対反射測定装置における絶対反射測定のフローチャートである。
【００１１】
本考案の絶対反射測定装置は、図１に示すように、光源１と、この光源１から出射する光束を分光する分光器２と、この分光器２を出射する単色光束をサンプル光とリファレンス光に分けるハーフミラー３と、サンプル光の方向を変換するミラー４、５と、試料６に照射されるサンプル光の入射角度を設定するレバー１０と、試料６から反射する光束を検出器８へ導入するミラー７と、検出器８と、リファレンス光が導入される検出器９と、検出器８、９の信号を処理する信号処理回路１１と、信号処理回路１１の出力信号を処理すると共に分光器２を制御し各種演算などをする制御演算部１２と、表示器１３と、操作部１４などで構成される。
【００１２】
レバー１０は、サンプル光の試料６への照射点を支点としてレバー回転方向ａの方向に回転し、測定する入射角度をθ１に設定する。ミラー７と検出器８は、図示しない同一支持体に支持され、サンプル光の試料６への照射点を支点として検出器移動方向ｂの方向に回転し、測定する反射角度をθ１に設定する。検出器８、９は、積分球と光電子増倍管で構成される。
【００１３】
ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線を作成するソフトウェアは、図２に示すように、表２１と、式２２と、式２３と、式２４と、式２５などで構成され、制御演算部１２に格納されている。制御演算部１２は、表２１に記録されている入射角度（θ１）と、空気の屈折率（ｎ１）と、ＢＫ７ガラスの複素屈折率（ｎ２＋ｉｋ２）の実数部（ｎ２）と虚数部（ｋ２）を読み出し式２２〜式２５に代入して、ｓ偏光の各波長の絶対反射率計算値（Ｒｓ）とｐ偏光の各波長の絶対反射率計算値（Ｒｐ）を計算し、表２１の対応するセルに保存する。
【００１４】
その後、図３に示すように、制御演算部１２は、指定された偏光の絶対反射率計算値から絶対反射理論曲線を作成し、曲線Ｃｃとして表示器１３の画面に表示する。また、この曲線Ｃｃから＋０．５％シフトした曲線Ｃｄと−０．５％シフトした曲線Ｃｅを表示器１３の画面に表示する。図３において、縦軸は絶対反射率（単位は％）で、横軸は波長（単位はｎｍ）である。
【００１５】
絶対反射測定装置における絶対反射測定は、図４に示すように実行される。先ず、操作者は、絶対反射測定装置の電源を投入する（ステップＳ１）。表示器１３の画面で入射角度の入力とｓ偏光かｐ偏光かの指定の要求がある。操作者は、操作部１４より入射角度θ１を入力し偏光の種別を指定する（ステップＳ２）。ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線を作成するソフトウェアが格納されている制御演算部１２は、図２に示すように、式２２〜式２５により、ｓ偏光の各波長の絶対反射率計算値（Ｒｓ）とｐ偏光の各波長の絶対反射率計算値（Ｒｐ）を計算し、表２１の対応するセルに保存する。その後、図３に示すように、制御演算部１２は、指定された偏光の絶対反射率計算値から作成した絶対反射理論曲線の曲線Ｃｃと、この曲線Ｃｃから＋０．５％シフトした曲線Ｃｄと−０．５％シフトした曲線Ｃｅを表示器１３の画面に表示する（ステップＳ３）。
【００１６】
次に、操作者は、図示しない同一支持体に支持されたミラー７と検出器８を点線の位置まで回転し、試料６を取り外してミラー５で反射したサンプル光を直接ミラー７に入射させ検出器８に導入する。この状態で、操作部１４を操作し制御演算部１２に指定した偏光でのベースライン補正の実行を指示する。制御演算部１２は、分光器２の波長を例えば１０００ｎｍから３００ｎｍまで走査させ信号処理回路１１の出力信号を走査波長域にわたって一定の大きさ（１００％）になるように信号処理回路１１の感度を設定する（ステップＳ４）。
【００１７】
操作者は、試料６としてＢＫ７ガラスを装着し、次いでレバー１０を操作してサンプル光の試料６への入射角度をθ１に設定する。一方、図示しない同一支持体に支持されたミラー７と検出器８を実線の位置まで回転させ、反射角度をθ１に設定する。この状態で、操作部１４を操作し制御演算部１２にＢＫ７ガラスの指定した偏光での測定を指示する。制御演算部１２は、分光器２の波長を例えば１０００ｎｍから３００ｎｍまで走査させ、走査波長域にわたって信号処理回路１１の出力信号を得る。この出力信号は、前記信号処理回路１１の各波長での感度がベースライン補正（ステップＳ４）で設定されたものであるので、ＢＫ７ガラスの絶対反射率（％）となる。この絶対反射率から作成したＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線は、曲線Ｃｆとして図３に示すように、表示器１３の画面に表示される（ステップＳ５）。
【００１８】
操作者は、図３において、曲線Ｃｆが曲線Ｃｅと曲線Ｃｄの間に入っているか否か全ての波長域で確認し、入っている場合は未知試料の絶対反射曲線の測定（ステップＳ８）に進むが、入っていない波長域がある場合（ステップＳ６）は、光学系の調整（ステップＳ７）を行う。光学系の調整を終えると再びベースライン補正（ステップＳ４）へ戻る。操作者は、試料６をＢＫ７ガラスから未知試料に交換し、操作部１４を操作し制御演算部１２に測定波長域と未知試料の指定した偏光での測定を指示する。制御演算部１２は、指定された波長域にわたって信号処理回路１１より未知試料の絶対反射率を入手し、その絶対反射率から作成した未知試料の絶対反射曲線を表示器１３の画面に表示する（ステップＳ８）。
【００１９】
本考案は以上の構成であるから、図３に示すように、任意の入射角度（θ１）において、測定されたＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線（曲線Ｃｆ）と連続する波長での絶対反射理論曲線からのずれの許容範囲（例えば±０．５％）の上限を示す曲線Ｃｄと下限を示す曲線Ｃｅを表示器１３の画面上に同時に表示できる。したがって、操作者が測定したい任意の入射角度について測定波長域全てにわたり迅速かつ的確に測定絶対反射曲線の正確さを確認できる絶対反射測定装置が提供可能となる。
【００２０】
図１に示す実施例においては、ハーフミラー３でサンプル光とリファレンス光に分け、リファレンス光を検出器９に導入するダブルビーム方式の構成になっているが、ハーフミラー３と検出器９を削除し、シングルビーム方式の構成にしても本考案は適用可能であり装置は図示例に限定されない。また、図３に示す実施例においては、絶対反射理論曲線（曲線Ｃｃ）が表示されているが、この曲線Ｃｃの表示が無くても本考案は適用可能である。このように、装置は種々の構成とすることができ、本考案はこれら変形例を包含する。
【産業上の利用可能性】
【００２１】
本考案は、分光光度計と組み合わせて試料の絶対反射率を測定する装置、特には的確に測定精度を確認できる絶対反射測定装置に関する。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本考案の実施例による絶対反射測定装置の概略構成図である。
【図２】ＢＫ７ガラスの絶対反射理論曲線作成の概要を示す図である。
【図３】ＢＫ７ガラスの実測絶対反射曲線とそのずれの許容範囲を示すグラフである。
【図４】実施例の絶対反射測定装置における絶対反射測定のフローチャートである。
【符号の説明】
【００２３】
１  光源
２  分光器
３  ハーフミラー
４  ミラー
５  ミラー
６  試料
７  ミラー
８  検出器
９  検出器
１０  レバー
１１  信号処理回路
１２  制御演算部
１３  表示器
１４  操作部
２１  表
２２  式
２３  式
２４  式
２５  式
ａ  レバー回転方向
ｂ  検出器移動方向
Ｃｃ  曲線
Ｃｄ  曲線
Ｃｅ  曲線
Ｃｆ  曲線
【図１】
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【図２】
0003134465.tif 000004
【図３】
0003134465.tif 000005
【図４】
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