(57)【要約】光ゆらぎ測定装置であって、顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび／または試料の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる発光測定ユニットのパラメータを設定するパラメータ設定部２と、各パラメータを記憶するパラメータ記憶部４と、顕微鏡像取得ユニットにより顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、発光測定ユニットにより所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択するモード選択部３と、選択されたモードに基づいてパラメータ記憶部４に記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータを顕微鏡像取得ユニットまたは発光測定ユニットに入力して制御する制御部１とを具備する。【特許請求の範囲】
【請求項１】
観察対象である試料からの発光を時系列に観測して測定を行う発光測定装置であって、
入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記試料の顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得ユニットと、
入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記顕微鏡像に対応する前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測する発光測定ユニットと、
前記顕微鏡像を取得するのに用いられる前記顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび／または前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる前記発光測定ユニットのパラメータを設定するパラメータ設定部と、
前記パラメータ設定部によって設定された各パラメータを記憶するパラメータ記憶部と、
前記顕微鏡像取得ユニットにより前記顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、前記発光測定ユニットにより前記所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択するモード選択部と、
前記モード選択部により選択されたモードに基づいて前記記憶部に記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータを前記顕微鏡像取得ユニットまたは前記発光測定ユニットに入力して前記顕微鏡像取得ユニットおよび／または前記発光測定ユニットを制御する制御部と、
を具備する発光測定装置。
【請求項２】
前記発光測定装置は、前記発光の揺らぎを測定するものである請求項１に記載の発光測定装置。
【請求項３】
前記発光は、蛍光である請求項１記載の発光測定装置。
【請求項４】
前記顕微鏡像取得ユニットは、レーザー走査型顕微鏡部である請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項５】
前記レーザー走査型顕微鏡部は、共焦点型である請求項４に記載の発光測定装置。
【請求項６】
前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットの光学系に係るパラメータである請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項７】
前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットのレンズおよび／またはフィルターおよび／またはピンホールに係るものである請求項６に記載の発光測定装置。
【請求項８】
前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、前記顕微鏡像取得モードの終了時に前記パラメータ記憶部に記憶される請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項９】
前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、前記顕微鏡像取得モードの開始時に前記パラメータ記憶部から読み出される請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１０】
前記パラメータ記憶部に入力される前記発光測定ユニットに係るパラメータは、前記顕微鏡像取得ユニットの設定に連動する請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１１】
前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、当該発光測定ユニットの光学系に係るパラメータである請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１２】
前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットの観測領域を規定する光学系に係るものである請求項１１に記載の発光測定装置。
【請求項１３】
前記観測領域は複数箇所である請求項１２に記載の発光測定装置。
【請求項１４】
前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、当該発光測定ユニットのレンズおよび／またはフィルターおよび／またはミラーおよび／またはＡＯＴＦおよび／またはピンホールに係るものである請求項１１に記載の発光測定装置。
【請求項１５】
前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、前記発光測定モードの終了時に前記パラメータ記憶部に記憶される請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１６】
前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、前記発光測定モードの開始時に前記パラメータ記憶部から読み出される請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１７】
前記パラメータ記憶部に入力される前記顕微鏡像取得ユニットに係るパラメータは、前記発光測定ユニットの設定に連動する請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１８】
前記顕微鏡像取得ユニットに係るパラメータの変更が行われた場合は、前記発光測定モードの開始時に、前記発光測定ユニットの変更入力を確認する表示を行う請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項１９】
前記顕微鏡像取得ユニットと、前記発光測定ユニットとは、一部の光学系を共有している請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項２０】
前記顕微鏡像取得ユニットと前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットと前記発光測定ユニットに共有される光学系に係るものを含む請求項１９に記載の発光測定装置。
【請求項２１】
前記パラメータ設定部は、発光の観測を行なう領域を前記顕微鏡像に対応して設定する観測位置設定部を含む請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項２２】
前記発光測定装置は、観測結果を表示あるいは印刷する出力部をさらに有する請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項２３】
前記出力部はパラメータと関連付けて上記表示を行なう請求項２２に記載の発光測定装置。
【請求項２４】
前記発光測定装置は、時間相関演算を行なうデータ処理部をさらに有する請求項３に記載の発光測定装置。
【請求項２５】
前記発光測定装置は、前記時間相関演算を行なった結果をグラフ化して表示する表示部をさらに有する請求項２２に記載の発光測定装置。
【請求項２６】
前記グラフは、縦軸に相関値を取り、横軸に遅延時間を取る請求項２５に記載の発光測定装置。
【請求項２７】
前記表示部は、前記パラメータのいずれかと関連付けて上記表示を行なう請求項２５に記載の発光測定装置。
【請求項２８】
観察対象である試料からの発光を時系列に観測して測定を行う発光測定方法であって、
入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記試料の顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得ステップと、
入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記顕微鏡像に対応する前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測する発光測定ステップと、
前記顕微鏡像を取得するのに用いられる前記顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび／または前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる前記発光測定ユニットのパラメータを設定するパラメータ設定ステップと、
前記パラメータ設定ステップで設定された各パラメータを記憶するパラメータ記憶ステップと、
前記顕微鏡像取得ステップで前記顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、前記発光測定ステップで前記所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択するモード選択ステップと、
前記モード選択ステップで選択されたモードに基づいて前記記憶ステップで記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータに基づいて前記顕微鏡像取得ステップまたは前記発光測定ステップを制御する制御ステップと、
を具備する発光測定方法。
【請求項２９】
前記発光測定方法は、前記発光の揺らぎを測定するものである請求項２８に記載の発光測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、例えば、発光ゆらぎ装置などの発光測定装置及び発光測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】  以下に、発光の一例である蛍光のゆらぎの解析例として、蛍光相関分光について述べる。蛍光相関分光に関しては、例えば、”Ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ  ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ  ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ”Ｒ．Ｒｉｇｌｅｒ，Ｅ．Ｓ．Ｅｌｓｏｎ（ｅｄｓ．）Ｓｐｒｉｎｇｅｒ（Ｂｅｒｌｉｎ）や、金城政孝「蛋白質  核酸  酵素（１９９９）Ｖｏｌ．４４，Ｎｏ．９，ｐ１４３１−１４３７、特表平１１−５０２６０８などに論じられている。蛍光相関分光を行う装置は共焦点光学顕微鏡をベースに製作されることが多い。共焦点光学顕微鏡については″Ｃｏｎｆｏｃａｌ  Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ″Ｔ．Ｗｉｌｓｏｎ（ｅｄ．）Ａｃａｄｅｍｉｃ  ｐｒｅｓｓ（Ｌｏｎｄｏｎ）に論じられている。共焦点光学顕微鏡の１つであるレーザー走査型共焦点光学顕微鏡がベースに用いられることもある。共焦点レーザー走査型光学顕微鏡については、例えば特開平１０−２０６７４２に記述されている。蛍光相関分光解析装置が共焦点光学顕微鏡に組み合わされていることにより、蛍光顕微鏡像を観察、または記録しながら、蛍光の相関分光解析などの統計解析演算などを行なうことができる。【０００３】  また、特表２００３−５２４１８０は、蛍光検出装置及びその検出方法において、蛍光相関性分光技術（ＦＣＳ）とレーザー走査顕微鏡（ＬＳＭ）とを切替えて使用することを開示している。
【発明の開示】
【０００４】  試料上の任意の地点における蛍光相関解析を行う場合、レーザー走査型顕微鏡像で任意の測定点を指定し、その地点における蛍光相関解析値を容易に得るという方法が望まれている。装置の光学系で用いられるフィルター、光路、レーザー強度等の設定は、一般的に、顕微鏡像取得用と蛍光相関測定用とでは異なる。しかしながら、顕微鏡像取得用の光学系の設定および蛍光相関測定用の光学系を自動的に再現する仕組みはこれまで存在しなかった。このため、従来は顕微鏡像の取得と蛍光相関の切替が発生するたびに数多くの光学系の設定を装置の操作者自身が変更する必要があり作業が煩雑になりかつ少なからぬ時間を要していた。
【０００５】  本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、顕微鏡像測定と蛍光揺らぎ測定の切替の利便性を向上させることが可能な発光ゆらぎ測定装置及び発光ゆらぎ測定方法を提供することにある。
【０００６】  上記の目的を達成するために、本発明の第１の側面は、観察対象である試料からの発光を時系列に観測して測定を行う発光測定装置であって、入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記試料の顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得ユニットと、入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記顕微鏡像に対応する前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測する発光測定ユニットと、前記顕微鏡像を取得するのに用いられる前記顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび／または前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる前記発光測定ユニットのパラメータを設定するパラメータ設定部と、前記パラメータ設定部によって設定された各パラメータを記憶するパラメータ記憶部と、前記顕微鏡像取得ユニットにより前記顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、前記発光測定ユニットにより前記所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択するモード選択部と、前記モード選択部により選択されたモードに基づいて前記記憶部に記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータを前記顕微鏡像取得ユニットまたは前記発光測定ユニットに入力して前記顕微鏡像取得ユニットおよび／または前記発光測定ユニットを制御する制御部と、を具備する。
【０００７】  また、本発明の第２の側面は、第１の側面に関わり、前記発光測定装置は、前記発光の揺らぎを測定するものである。
【０００８】  また、本発明の第３の側面は、第１の側面に関わり、前記発光は、蛍光である。
【０００９】  また、本発明の第４の側面は、第３の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットは、レーザー走査型顕微鏡部である。
【００１０】  また、本発明の第５の側面は、第４の側面に関わり、前記レーザー走査型顕微鏡部は、共焦点型である。
【００１１】  また、本発明の第６の側面は、第３の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットの光学系に係るパラメータである。
【００１２】  また、本発明の第７の側面は、第６の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットのレンズおよび／またはフィルターおよび／またはピンホールに係るものである。
【００１３】  また、本発明の第８の側面は、第３の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、前記顕微鏡像取得モードの終了時に前記パラメータ記憶部に記憶される。
【００１４】  また、本発明の第９の側面は、第３の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、前記顕微鏡像取得モードの開始時に前記パラメータ記憶部から読み出される。
【００１５】  また、本発明の第１０の側面は、第３の側面に関わり、前記パラメータ記憶部に入力される前記発光測定ユニットに係るパラメータは、前記顕微鏡像取得ユニットの設定に連動する。
【００１６】  また、本発明の第１１の側面は、第３の側面に関わり、前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、当該発光測定ユニットの光学系に係るパラメータである。
【００１７】  また、本発明の第１２の側面は、第１１の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットの観測領域を規定する光学系に係るものである。
【００１８】  また、本発明の第１３の側面は、第１２の側面に関わり、前記観測領域は複数箇所である。
【００１９】  また、本発明の第１４の側面は、第１１の側面に関わり、前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、当該発光測定ユニットのレンズおよび／またはフィルターおよび／またはミラーおよび／またはＡＯＴＦおよび／またはピンホールに係るものである。
【００２０】  また、本発明の第１５の側面は、第３の側面に関わり、前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、前記発光測定モードの終了時に前記パラメータ記憶部に記憶される。
【００２１】  また、本発明の第１６の側面は、第３の側面に関わり、前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、前記発光測定モードの開始時に前記パラメータ記憶部から読み出される。
【００２２】  また、本発明の第１７の側面は、第３の側面に関わり、前記パラメータ記憶部に入力される前記顕微鏡像取得ユニットに係るパラメータは、前記発光測定ユニットの設定に連動する。
【００２３】  また、本発明の第１８の側面は、第３の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットに係るパラメータの変更が行われた場合は、前記発光測定モードの開始時に、前記発光測定ユニットの変更入力を確認する表示を行う。
【００２４】  また、本発明の第１９の側面は、第３の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットと、前記発光測定ユニットとは、一部の光学系を共有している。
【００２５】  また、本発明の第２０の側面は、第１９の側面に関わり、前記顕微鏡像取得ユニットと前記発光測定ユニットに入力されるパラメータは、当該顕微鏡像取得ユニットと前記発光測定ユニットに共有される光学系に係るものを含む。
【００２６】  また、本発明の第２１の側面は、第３の側面に関わり、前記パラメータ設定部は、発光の観測を行なう領域を前記顕微鏡像に対応して設定する観測位置設定部を含む。
【００２７】  また、本発明の第２２の側面は、第３の側面に関わり、前記発光測定装置は、観測結果を表示あるいは印刷する出力部をさらに有する。
【００２８】  また、本発明の第２３の側面は、第２２の側面に関わり、前記出力部はパラメータと関連付けて上記表示を行なう。
【００２９】  また、本発明の第２４の側面は、第３の側面に関わり、前記発光測定装置は、時間相関演算を行なうデータ処理部をさらに有する。
【００３０】  また、本発明の第２５の側面は、第２２の側面に関わり、前記発光測定装置は、前記時間相関演算を行なった結果をグラフ化して表示する表示部をさらに有する。
【００３１】  また、本発明の第２６の側面は、第２５の側面に関わり、前記グラフは、縦軸に相関値を取り、横軸に遅延時間を取る。
【００３２】  また、本発明の第２７の側面は、第２５の側面に関わり、前記表示部は、前記パラメータのいずれかと関連付けて上記表示を行なう。
【００３３】  また、本発明の第２８の側面は、観察対象である試料からの発光を時系列に観測して測定を行う発光測定方法であって、入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記試料の顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得ステップと、入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、前記顕微鏡像に対応する前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測する発光測定ステップと、前記顕微鏡像を取得するのに用いられる顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび／または前記試料の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる発光測定ユニットのパラメータを設定するパラメータ設定ステップと、前記パラメータ設定ステップで設定された各パラメータを記憶するパラメータ記憶ステップと、前記顕微鏡像取得ステップで前記顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、前記発光測定ステップで前記所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択するモード選択ステップと、前記モード選択ステップで選択されたモードに基づいて前記記憶ステップで記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータに基づいて前記顕微鏡像取得ステップまたは前記発光測定ステップを制御する制御ステップと、を具備する。
【００３４】  また、本発明の第２９の側面は、第２８の側面に関わり、前記発光測定方法は、前記発光の揺らぎを測定するものである。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】図１は、本発明に係る発光測定装置の基本的な構成を示す図である。
【図２】図２は、本発明に係る発光測定装置の基本的な測定の流れを説明するためのフローチャートである。
【図３】図３は、本発明の実施の形態に係る蛍光揺らぎ測定装置の光学系を示す図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態に係る蛍光揺らぎ測定装置のハードウェア構成を示す図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態に係る蛍光揺らぎ測定装置の操作画面を示す図であり、ＬＳＭ操作パネルが前面にある状態を示している。
【図６】図６は、本発明の実施の形態に係る蛍光揺らぎ測定装置の操作画面を示す図であり、ＦＣＳ操作パネルが前面にある状態を示している。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】  以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。図１は、本発明に係る発光測定装置の基本的な構成を示しており、観察対象である試料８からの発光のゆらぎや強度を時系列に観測して測定を行うものである。この発光測定装置は、制御部１と、パラメータ設定部２と、モード選択部３と、パラメータ記憶部４と、表示部５と、光学系６と、対物レンズ７とを備える。光学系６及び対物レンズ７は、入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、試料８の顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得ユニット（ＬＳＭ）と、入力されるパラメータに基づいて設定される条件下で、顕微鏡像に対応する試料８の所望の領域における発光を時系列的に観測する発光測定ユニット（ＦＣＳ）とを含む。パラメータ設定部２は、顕微鏡像を取得するのに用いられる顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび／または試料８の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる発光測定ユニットのパラメータを設定する。パラメータ記憶部４は、パラメータ設定部２によって設定された各パラメータを記憶する。モード選択部３は、顕微鏡像取得ユニットにより顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、発光測定ユニットにより所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択する。【００３７】  制御部１は、モード選択部３で選択されたモードに基づいてパラメータ記憶部４に記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータを顕微鏡像取得ユニットまたは発光測定ユニットに入力して顕微鏡像取得ユニットおよび／または発光測定ユニットを制御する。【００３８】  図２は、本発明に係る発光測定装置の基本的な測定の流れを説明するためのフローチャートである。まず、顕微鏡像取得用のパラメータを読み込む（ステップＳ１）。次に、顕微鏡像取得用に装置を設定する（ステップＳ２）。より具体的には、装置内で使用されているフィルター、光路、レーザー強度等の設定を行う。次に、顕微鏡像取得ユニットによって顕微鏡像を取得する（ステップＳ３）。次に、後述するＦＣＳタブが選択されたことに応答して蛍光測定モードへ切替える（ステップＳ４）。次に、顕微鏡像取得用パラメータを記憶する（ステップＳ５）。次に、蛍光測定用パラメータの変更があるか否かをチェックし、変更有りの場合にはパラメータ変更入力確認メッセージを表示して（ステップＳ７）、ステップＳ８に進む。また、ステップＳ６において変更無しの場合には直ちにステップＳ８に進む。【００３９】  ステップＳ８では、蛍光測定用パラメータを読み込む。次に、蛍光測定用に装置を設定する（ステップＳ９）。より具体的には、装置内で使用されているフィルター、光路、レーザー強度等の設定を行う。次に蛍光測定を行い（ステップＳ１０）、蛍光測定用パラメータを記憶する（ステップＳ１１）。次に、顕微鏡像取得の終了判断を行い（ステップＳ１２）、終了であると判断された場合には処理を終了するが、終了でない場合にはステップＳ１に戻って上記した処理を実行する。【００４０】  図３は、本発明の実施の形態に係る蛍光揺らぎ測定装置の光学系を示す図である。【００４１】この装置の光学系は、レーザーコンバイナー１０１と、レーザー走査型顕微鏡（ＬＳＭ��ユニット１０２と、顕微鏡部１０３と、蛍光相関分光法（ＦＣＳ）ユニット１０４からなる。顕微鏡部１０３は光学顕微鏡として機能する。レーザーコンバイナー１０１は光源である。ＬＳＭユニット１０２はレーザー走査顕微像を取得する機能を付加するためのユニットである。レーザーコンバイナー１０１とＬＳＭユニット１０２と顕微鏡部１０３を組み合わせることにより、顕微鏡像に加え、レーザー走査顕微像を取得できる。ＦＣＳユニット１０４はＦＣＳ取得機能を付加するためのユニットである。本実施形態のＦＣＳユニット１０４は、ＦＳＣ取得機能に加えクロスコリレーション取得機能も付加させることが出来る。レーザーコンバイナー１０１とＬＳＭユニット１０２と顕微鏡部１０３とＦＣＳユニット１０４を組み合わせることにより、顕微鏡像とレーザー走査顕微像とＦＣＳとクロスコリレーションを取得することが出来る。【００４２】  レーザーコンバイナー１０１は、マルチラインアルゴンレーザー１０５と、グリーンヘリウムネオンレーザー１０６と、ヘリウムネオンレーザー１０７と、３つのメカニカルシャッター１０８と、３つのダイクロイックミラー１０９と、ＡＯＴＦ（Ａｃｏｕｓｔｏ−Ｏｐｔｉｃ  Ｔｕｎａｂｌｅ  Ｆｉｌｔｅｒ：音響光学可変波長フィルター）１１０を有する。【００４３】  マルチラインアルゴンレーザー１０５は４５８ｎｍと４８８ｎｍと５１４ｎｍの光を、グリーンヘリウムネオンレーザー１０６は５４３ｎｍの光を、ヘリウムネオンレーザー１０７は６３３ｎｍの光を発光することが出来る。【００４４】  なお、レーザーには他の波長を発振するものを用いてもよい。後述の光を同一光路上に重ね合わせる機能を失わない範囲内でダイクロイックミラーの代わりにガラス板やミラーを用いても良い。また、メカニカルシャッターやＡＯＴＦを用いずに、レーザーへの印加電流等を制御することでレーザー光強度を制御しても良い。【００４５】  ＬＳＭユニット１０２は、第１、第２ガルバノスキャナーミラー１１５、１１６と、励起ダイクロイックミラー１８０と、第１、第２レンズ１１２、１１４と、ピンホール１２３と、第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１と、第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２と、第１、第２、第３フォトマルチプライヤー１２７、１３０、１３３と、水銀ランプ１１８と、水銀ランプ光導光ミラー１１７とを有する。【００４６】  励起ダイクロイックミラー１８０、第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１及び第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２はそれぞれ６穴のレボルバーターレットにセットされている。このレボルバーターレットには任意の波長特性を持つダイクロイックミラーやバンドパスフィルターをセットすることが出来る。このようにレボルバーターレットを使用することにより、簡易にこれらのダイクロイックミラー及びバンドパスフィルターを交換することが出来る。【００４７】  例えば、励起ダイクロイックミラー設置部に、５１４ｎｍの光を反射しそれ以外の波長の光を透過するダイクロイックミラー、４５８ｎｍと５４３ｎｍの光を反射しそれ以外を透過するミラー、４８８ｎｍと５４３ｎｍの光���反射しそれ以外を透過するミラー、４８８ｎｍと５４３ｎｍと６３３ｎｍの光を反射しそれ以外を透過するミラー、波長によらず２０％の光を反射し８０％の光を透過するビームスプリッターなどをセットすることができる。【００４８】  例えば、第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１として、それぞれ５６０ｎｍ以下の光を反射し５６０ｎｍ以上の光を透過するダイクロイックミラー、６３０ｎｍ以下の光を反射し６３０ｎｍ以上の光を透過するダイクロイックミラー、全反射ミラーをセットする。これと同時に第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２として、それぞれ５０５〜５２５ｎｍ、５６０〜６００ｎｍ、６６０ｎｍ以上を透過するロングパスフィルターをセットする。これにより、第１、第２、第３フォトマルチプライヤー１２７、１３０、１３３では、それぞれ５０５〜５２５ｎｍ、５６０〜６００ｎｍ、６６０ｎｍ以上の蛍光を感知することが出来る。【００４９】各ダイクロイックミラーターレットには、この他にも任意の波長特性のダイクロイックミラー、全反射ミラー、光を透過させるためのガラス板など、任意の光学素子をセットすることが出来る。各バンドパスフィルターターレットには、この他にも任意の波長特性のバンドパスフィルター、光を透過させるためのガラス板や空穴など、任意の光学素子をセットすることが出来る。特に、第１、第２バンドパスフィルター１２６、１２９の位置に、それぞれ５０５，５６０ｎｍ以上の光を透過するロングパスフィルターを設置できるようにし、第１，２ダイクロイックミラー１２５、１２８の位置に全反射ミラーを必要に応じてセットできる用にしておくと、前出のバンドパスフィルターセットとの対応上、使い勝手がよくなる。【００５０】  ピンホール１２３には、ピンホール径が可変であるものが用いられる。ピンホール径を変化させることにより、ＦＣＳの測定領域の大きさと形状を変化させることが出来る。水銀ランプ１１８は水銀ランプ光導光ミラー１１７に入射する。このミラーが図に直線で表される位置にあるときには、水銀ランプからの光は顕微鏡部１０３へは導かれない。一方、このミラーが図に点線で表される位置にあるときには、水銀ランプの光が顕微鏡部１０３へ導かれる。【００５１】  顕微鏡部１０３は、ミラー１１９と対物レンズ１２０を有する。試料１２１は顕微鏡部１０３に保持される。顕微鏡部のミラー１１９は、以下のように設置される。すなわち、通常の顕微鏡における蛍光観察用のダイクロイックミラーキューブのダイクロイックミラー設置部に全反射ミラーを設置する。このようにすることにより、顕微鏡部１０３の蛍光観察用の水銀ランプ用の光路に図のＬＳＭユニット１０２を接続することが出来る。また、ＬＳＭユニット１０２に水銀ランプ１１８からの蛍光像観察用の光を導入し、顕微鏡部１０３のダイクロイックミラーキューブを蛍光像観察用のものにすることにより、通常の蛍光観察を行うことが出来る。なお、この際のダイクロイックミラーキューブの交換は通常のダイクロイックミラーキューブ用のターレットを使用することが出来る。顕微鏡部１０３の対物レンズ１２０には、４０倍もしくは６０倍の水浸対物レンズが用いられる���【００５２】  ＦＣＳユニット１０４は、第４ダイクロイックミラー１３７と、第４，５バンドパスフィルター１３８、１４２と、第５，６カップリングレンズ１３９、１４３と、第３，４光ファイバー１４０、１４４と、第１，２アバランシェフォトダイオード１４１、１４５とを有する。【００５３】  第４ダイクロイックミラー１３７は６穴の、第４，５バンドパスフィルター１３８、１４２は４穴のレボルバーターレットにセットされている。このレボルバーターレットには任意の波長特性を持つダイクロイックミラーやバンドパスフィルターをセットすることが出来る。このようにレボルバーターレットを使用することにより、簡易にこれらのダイクロイックミラー及びバンドパスフィルターを交換することが出来る。【００５４】  第３，４光ファイバー１４０、１４４には、マルチモードのものを用いる。マルチモードのものを用いることにより、蛍光の導光を行うことが出来る。【００５５】  ＬＳＭユニット１０２とレーザーコンバイナー１０１は第１光ファイバー１９０と第１、第２カップリングレンズ１１１、１１３により光学的に接続されている。レーザーコンバイナー１０１とＦＣＳユニット１０４は第２光ファイバー１３５と第３，第４カップリングレンズ１３４、１３６により光学的に接続されている。【００５６】  第１光ファイバー１９０にはシングルモードのものを用いる。シングルモードファイバーであるので、出射端におけるビームのプロファイルは良好である。このシングルモードファイバーは、複数の波長の励起光を１本の光ファイバーにより導くことが可能である。第２光ファイバー１３５にはマルチモードのものを用いる。マルチモードのものを用いることにより、蛍光の導光を行うことが出来る。なお、第３及び第４カップリングレンズ１３４、１３６を適当なものに交換することにより、第２光ファイバー１３５から出射した光の第１，２光アバランシェフォトダイオード１４１、１４５への結合効率を高めることが出来る。【００５７】  本実施の形態においては、測定対象粒子をＣＦＰ，ＹＦＰ，ＧＰＦ，ＲＦＰ，ＤｓＲｅｄ，ローダミングリーン、ローダミン６Ｇ，Ａｌｅｘａ６３３，Ｃｙ３，Ｃｙ５など多くの種類の色素で標識することが出来る。本実施形態においては、使用する色素に応じて励起光源１０５〜１０７、励起ダイクロイックミラー１８０、第１、第２、第３、第４ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１、１３７、第１、第２、第３、第４、第５バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２、１３８、１４２を選択することが可能である。【００５８】  次に、上記した光学系の作用を説明する。励起光は、レーザーコンバイナー１０１より射出され、第１光ファイバー１９０、ＬＳＭユニット１０２、顕微鏡部１０３を通過して試料１２１に到る。試料１２１からの蛍光は、顕微鏡部１０３、ＬＳＭユニット１０２、第２光ファイバー１３５を通過してＦＣＳユニット１０４に到る。【００５９】  マルチラインアルゴンレーザー１０５は４５８ｎｍと４８８ｎｍと５１４ｎｍの光を、グリーンヘリウムネオンレーザー１０６は５４３ｎｍの光を、ヘリウムネオンレーザー１０７は６３３ｎｍの光を発光する。各レーザーから出力された光はダイクロイックミラー１０９によって同一光路に重ね合わせられる。各レーザーのレーザー光射出口に設けたシャッター１０８とＡＯＴＦ１１０により、各レーザー波長について所望の出力を組み合わせた光が得られる。これを第１カップリングレンズ１１１を通して第１光ファイバー１９０へ結合する。【００６０】  第１光ファイバー１９０からのレーザー光はＬＳＭユニット１０２に入射され、第２カップリングレンズ１１３により平行光にされる。この光は励起ダイクロイックミラー１８０によって反射され、第１ガルバノスキャナーミラー１１５、第２ガルバノスキャナーミラー１１６を経て顕微鏡部１０３へ入射される。【００６１】  顕微鏡部１０３へ入射された光はミラー１１９で反射され、対物レンズ１２０で試料１２１に集光される。試料１２１から発せられた蛍光は、対物レンズ１２０で集光され、ミラー１１９で反射されてＬＳＭユニット１０２に入射される。【００６２】  ＬＳＭユニット１０２に入射した蛍光は第１、第２ガルバノスキャナーミラー１１５、１１６で反射され、励起ダイクロイックミラー１８０を透過する。その後、第１レンズ１２２で集光される。集光位置に設置されたピンホール１２３を通過した蛍光は第２レンズ１２４で平行光にされる。第２レンズ１２４を通過した後、第１の波長領域の蛍光は第１ダイクロイックミラー１２５で反射され、第１バンドパスフィルター１２６を通過して第１フォトマルチプライヤー１２７で感知される。第２の波長領域の蛍光は第１ダイクロイックミラー１２５を透過し、第２ダイクロイックミラー１２８で反射され、第２バンドパスフィルター１２９を通過して第２フォトマルチプライヤー１３０で感知される。第３の波長領域の蛍光は第１ダイクロイックミラー１２５及び第２ダイクロイックミラー１２８を透過し、第３ダイクロイックミラー１３１で反射され、第３バンドパスフィルター１３２を通過して第３フォトマルチプライヤー１３３で感知される。【００６３】  第３ダイクロイックミラー１３１を通過した蛍光は第３カップリングレンズ１３４で集光され、第２光ファイバー１３５へ結合される。第２光ファイバー１３５からのレーザー光はＦＣＳユニット１０４に入射され、第４カップリングレンズ１３６により平行光にされる。この光は第４ダイクロイックミラー１３７によって分光される。第４の波長領域の光は第４ダイクロイックミラー１３７によって反射され、第４バンドパスフィルター１３８を透過し、第５カップリングレンズ１３９をとおして第３光ファイバー１４０へ結合される。この蛍光は第１アバランシェフォトダイオード１４１により感知される。第５の波長領域の光は第４ダイクロイックミラー１３７を透過し、第５バンドパスフィルター１４２を透過し、第６カップリングレンズ１４３をとおして第４光ファイバー１４４へ結合される。この蛍光は第２アバランシェフォトダイオード１４５により感知される。【００６４】  試料１２１上の励起レーザー光の焦点及び観察位置は、互いに走査方向が直交している第１ガルバノスキャナーミラー１１５と第２ガルバノスキャナーミラー１１６とにより、Ｘ軸走査とＹ軸走査が行われる。これにより、試料１２１上の励起レーザー光の焦点及び観察位置は��料面内で２次元走査される。これに、対物レンズ１２０または試料１２１の光軸方向の移動を加えることにより、試料上の励起レーザー光の焦点及び観察位置を試料内で３次元走査することも可能である。【００６５】  図４は、本発明の実施の形態に係る蛍光揺らぎ測定装置のハードウェア構成を示す図である。この装置は、レーザーコンバイナー１０１と、ＬＳＭユニット１０２と、顕微鏡部１０３と、ＦＣＳユニット１０４と、制御装置２０５と、相関解析ボード２０６と、パーソナルコンピューター２０７よりなる。【００６６】  レーザーコンバイナー１０１と、ＬＳＭユニット１０２と、顕微鏡部１０３と、ＦＣＳユニット１０４内の各電動部はこの制御装置２０５により制御可能である。顕微鏡１０３内では、対物レンズ１２０の位置が制御可能である。レーザーコンバイナー１０１内では、各メカニカルシャッター１０８とＡＯＴＦ１１０が、制御装置２０５により制御される。ＬＳＭ１０２内では、第１，第２ガルバノスキャナーミラー１１５、１１６の角度と、第１レンズ１２２の位置またはピンホール１２３の位置と、第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１の種類と、第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２の種類と、水銀ランプ光導光ミラー１１７と、水銀ランプシャッターが制御装置により制御可能である。ＦＣＳユニット１０４の中では、第４ダイクロイックミラー１３７の種類と、第４、第５バンドパスフィルター１３８、１４２の種類と、第３、第４光ファイバー１４０、１４４のバンドパスフィルター側の端面の位置が制御可能である。これらの電動パーツの制御及び状態把握はパーソナルコンピューター２０７を介して行われる。【００６７】  ＦＣＳユニット１０４からは第１及び第２アバランシェフォトダイオード１４１、１４５から第４及び第５の波長領域の蛍光の強度を示す光強度値が出力される。相関解析ボード２０６では、該光強度値の統計解析がなされ、その結果である光強度統計解析値が出力される。光強度統計解析値はパーソナルコンピューター２０７へ出力される。次に時間相関演算により、第４及び第５の波長領域のそれぞれの蛍光の自己相関関数が求められる。演算結果はグラフ化して表示部に表示することも可能である。この場合、縦軸に相関値を取り、横軸に遅延時間を取る。また、第４と第５の波長領域の蛍光の相互相関関数を求めることが可能である。【００６８】  試料画像については、従来のＬＳＭ装置と同様に取得する。すなわち、第１、第２ガルバノスキャナーミラー１１５、１１６及び対物レンズ１２０の制御により、測定点を３次元的に走査する。各測定点における、各蛍光波長の強度をそれぞれ第１、第２、第３フォトマルチプライヤー１２７、１３０、１３３により検出する。各測定点位置及び各測定点における各蛍光波長領域の蛍光信号強度はパーソナルコンピューター２０７上で処理され、画像化される。これにより、各蛍光波長域の３次元ＬＳＭ画像を取得する。この試料画像上で、１つもしくは複数のＦＣＳ測定点を指定する。これにより、指定された点におけるＦＣＳ測定が同時もしくは擬似的に同時に行われる。【００６９】  本測定装置はコンピューターにより制御されるが、���実施形態の操作画面は図５および図６のようなものである。図５はＬＳＭ操作パネルが前面にある状態を示し、図６はＦＣＳ操作パネルが前面にある状態を示す。【００７０】  図５のＬＳＭタブ３０１を押すことでＬＳＭ操作パネルを前面に出すことができ、図６のＦＣＳタブ４０１を押すことでＦＣＳ操作パネルを前面に出すことができる。ＦＣＳ操作パネルが前面にあるときにＬＳＭタブ３０１を押すと、ＬＳＭ操作パネルが前面になると同時にＦＣＳ操作パネル内のすべてのパラメーターが保存され、直前のＬＳＭ測定に用いられていたＬＳＭ操作パネル内のすぺてのパラメーターにしたがって装置の状態がＬＳＭ測定用に再設定される。一方、ＬＳＭ操作パネルが前面にあるときにＦＣＳタブ４０１を押すと、ＦＣＳ操作パネルが前面になると同時にＬＳＭ操作パネル内のすべてのパラメーターが保存され、直前のＦＣＳ測定に用いられていたＦＣＳ操作パネル内のすぺてのパラメーターにしたがって装置の状態がＦＣＳ測定用に再設定される。【００７１】  以下に、図５のＬＳＭ操作パネルを説明する。ＬＳＭタブ３０１を押すことで、この操作パネルを前面に出すことが出来る。ＬＳＭ設定読み込みボタン３０２およびＬＳＭ設定保存ボタン３０３により、本操作パネル内のすべてのパラメーターの読み込みおよび保存が出来る。なお、保存されたデータの内容は実験終了後も容易に確認できる。本操作パネル内のすべのパラメーターとは、すなわちズーム倍率、ＬＳＭ画像取得速度、第１、第２、第３チャンネルの表示色、第１、第２、第３チャンネルの印加電圧、第１、第２、第３チャンネルのゲイン、第１、第２、第３チャンネルのオフセット、蛍光の光軸とピンホール１２３の中心のＸ軸およびＹ軸上の相対位置、ピンホール１２３径の大きさ、マルチラインアルゴンレーザー用レーザーシャッター１０８の状態、グリーンヘリウムネオンレーザー用レーザーシャッター１０８の状態、ヘリウムネオンレーザー用レーザーシャッター１０８の状態、４５８ｎｍのレーザー光強度、４８８ｎｍのレーザー光強度、５１５ｎｍのレーザー光強度、５４３ｎｍのレーザー光強度、６３３ｎｍのレーザー光強度、水銀ランプシャッターの状態、水銀ランプ導光用ミラー１１７の状態、励起ダイクロイックミラー１８０、第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１、第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２を含む。【００７２】  なお、第１、第２、第３のチャンネルの信号は第１、第２、第３のフォトマルチプライヤー１２７、１３０、１３３からの信号に対応する。ＬＳＭの測定の開始および終了はＬＳＭ動作開始／終了ボタン３０４によって指示される。ＬＳＭ像はＬＳＭ像表示ウィンドゥ３０５に表示される。ＬＳＭ像は縦５１２ｘ横５１２画素で構成される。ＬＳＭ画像読み込みボタン３０６およびＬＳＭ画像保存ボタン３０７により、前記顕微鏡像の読み込みおよび保存が可能である。ズーム倍率設定スライダー３０８によりＬＳＭ画像の拡大倍率が１倍から１０倍まで設定できる。ＬＳＭ画像取得速度設定ボタン３０９により、ＬＳＭ画像の取得速度の設定が可能である。前記速度はｓｌｏｗ、ｎｏｒｍａｌ、ｆａｓｔの３つより選択でき、それぞれ５，０���０、５０，０００、５００，０００Ｈｚで各画素のデータを取得する。第１、第２、第３チャンネルのデータの表示色設定ボタン３１０、３１４、３１８の操作により、第１、第２、第３チャンネルの表示色はＢｌｕｅ、Ｇｒｅｅｎ、Ｒｅｄの３つより選択可能であるが、既に他のチャンネルの表示用に選択されたものは重ねてすることのないように選択不可になる。また、Ｎｏｎｅを選択することにより表示しないこと可能である。第１、第２、第３チャネルの印加電圧設定スライダー３１１、３１５、３１９により第１、第２、第３のフォトマルチプライヤー１２７、１３０、１３３の印加電圧を設定することが可能である。設定可能な範囲は０Ｖより使用されるフォトマルチプライヤーが耐えられる最大値までである。第１、第２、第３チャンネルのゲイン設定スライダー３１２、３１６、３２０およびオフセット設定スライダー３１３、３１７、３２１により、第１、第２、第３チャンネルのゲインおよびオフセットを設定できる。これらの設定により、第１、第２、第３チャンネルのＬＳＭシグナルを調整して重ねあわせて表示することが出来る。蛍光の光軸とピンホール１２３の中心の相対位置は、グラフィカルなボタン３２２またはＸ軸３２３、Ｙ軸３２４用のピンホール位置調整スライダーによって制御される。これにおいて、Ｘ，Ｙ軸ともに光軸に垂直であり両軸とも最大移動範囲１ｍｍ以上であり、１０００ステップより細かい分解能で動作させることが出来る。ピンホール径調整スライダー３２５によって、ピンホール径を調整することが出来る。【００７３】  マルチラインアルゴンレーザー１０５、グリーンヘリウムネオンレーザー１０６、ヘリウムネオンレーザー１０７のシャッター１０８は、それぞれ対応するシャッター制御ボタン３２６、３２７、３２８によって開閉が制御される。４５８，４８８，５１５，５４３，６３３ｎｍの励起光強度は、それぞれ対応するスライダー３２９〜３３３によって０％から１００％間での範囲で１％より細かい分解能で制御される。本実施形態では、ＬＳＭ像の取得とは別に、水銀ランプ１１８を使用した通常の蛍光像観察も可能である。このための水銀ランプのシャッターの開閉は水銀ランプシャッター制御ボタン３３４で行う。また、水銀ランプ光を導入する際には水銀ランプ導光用ミラー１１７をセットする必要があるが、これは水銀ランプ導光用ミラー制御ボタン３３５で行う。励起光を透過し蛍光を反射する励起ダイクロイックミラー１８０は、励起光波長と蛍光波長によって選択される必要があるが、励起ダイクロイックミラー制御ボタン３３６によりターレット内の６枚のミラーから選択できる。【００７４】  第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２および第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１は、それぞれのターレット内にある６枚の素子の中からの一枚を、それぞれの制御ボタンによって選択することが出来る。【００７５】  以下に、図６のＦＣＳ操作パネルを説明する。ＦＣＳタブ４０１を押すことで、この操作パネルを前面に出すことが出来る。ＦＣＳ設定読み込みボタン４０２およびＦＣＳ設定保存ボタン４０３により、本操作パネル内のすべてのパラメータの読み込みおよび保���が出来る。なお、保存されたデータの内容は実験終了後も容易に確認できる。本操作パネル内のすべのパラメータとは、すなわちＦＣＳ測定点数、各ＦＣＳ測定点の位置、各点のＦＣＳ測定時間、蛍光の光軸とピンホール１２３の中心のＸ軸およびＹ軸上の相対位置、ピンホール１２３径の大きさ、マルチラインアルゴンレーザー用レーザーシャッター１０８の状態、グリーンヘリウムネオンレーザー用レーザーシャッター１０８の状態、ヘリウムネオンレーザー用レーザーシャッター１０８の状態、４５８ｎｍのレーザー光強度、４８８ｎｍのレーザー光強度、５１５ｎｍのレーザー光強度、５４３ｎｍのレーザー光強度、６３３ｎｍのレーザー光強度、水銀ランプシャッターの状態、水銀ランプ導光用ミラー１１７の状態、励起ダイクロイックミラー１８０、第１、第２、第３ダイクロイックミラー１２５、１２８、１３１、第１、第２、第３バンドパスフィルター１２６、１２９、１３２を含む。なお、本実施形態では複数点のＦＣＳ測定の実施に際して、まず各地点の測定を順番に行い（これを１サイクルとする）、このサイクルを複数回実施している。この１サイクルを微小時間で実施することにより、各点を擬似的に同時に測定している。ＦＣＳ測定の開始および中断はＦＣＳ動作開始／終了ボタン４０４によって指示される。ＦＣＳ測定点数設定ボタン４０８によりＦＣＳの測定点数を１点から４点まで設定できる。ＦＣＳ測定点位置設定ボタン４０９により、ＦＣＳの各測定点のＬＳＭ像上での位置を取得したＬＳＭ像の範囲内で１画素の分解能で設定することが可能である。ＬＳＭ像はＬＳＭ像表示ウィンドウ４０５に表示され、ＦＣＳの測定点もこの画像上に十字で表示される。この表示をマウスのドラッグアンドドロップで移動させることでも、ＦＣＳ測定点位置の設定が可能である。なお、マウスカーソルを前記表示にあわせることによっても各測定点の座標を表示させることが出来る。ＬＳＭ画像読み込みボタン４０６およびＬＳＭ画像保存ボタン４０７により、前記ＬＳＭ像の読み込みおよび保存が可能であるが、このときＬＳＭ像とＦＣＳ測定点位置表示が重ねられたイメージが読み込みまたは保存される。その他の操作ボタン４２２〜４４２の機能は対応するＬＳＭ測定の設定用のボタン３２２〜３４２と同様であるが、もっぱらＦＣＳ測定の設定用である。【００７６】  本実施形態では、上記の構成を用いて、試料画像上で１つもしくは複数のＦＣＳ測定点を指定し、前記指定された点におけるＦＣＳ測定が同時もしくは擬似的に同時に行われる。これにより、各地点における被測定物質の拡散時間の変化の起こるタイミングがわかる。また、このようにして複数の地点において同時もしくは擬似的に同時に取得されたＦＣＳデータより、各地点間の自己相関の比較が行われる。これにより、例えば地点Ａにおける被測定物質の拡散時間の変化と、地点Ｂにおけるそれが比較され、両地点を拡散時間の変化が伝わる速度を知ることが出来る。【００７７】  本実施形態において、試料に細胞を用い、細胞内のタンパク質の拡散時間の変化を測定することが可能である。この拡散時間の変化は被測定タンパク質と他のタンパク質との結合状態や、被測定タンパク質の重合状態、立体構造などを示す。細胞の情報伝達はこれらの変化を介しておこなわれるため、拡散速度の変化を追跡することで細胞内や細胞間の情報伝達の様子を知ることが出来る。また、この測定を細胞を対象に複数点において同時、もしくは擬似的に同時に行うことにより、両地点を情報が伝わる速度などを知ることが出来る。【００７８】  この発明の実施の形態の各構成は、当然、各種の変形、変更が可能である。例えば、複数の励起光学系や複数の検出光学系で構成したり、検出された信号を様々に処理したりして、特殊な効果を得ることができる。特にＬＳＭおよびＦＣＳの状態の読み込み、保存の対象は本実施形態に挙げたものだけでなく、ＦＣＳユニット、顕微鏡内の各種設定、制御を対象にしてもよい。【００７９】  その他、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を変更しない範囲で種々変更することが可能である。【００８０】さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出できる。例えば、実施の形態に示されている全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が実施しようとする課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出できる。
【産業上の利用可能性】
【００８１】  本発明によれば、顕微鏡像測定と蛍光揺らぎ測定の切替時に各種の設定をいちいち行う手間を省くことができ、装置の利便性を向上させることができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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