【手続補正書】
【提出日】令和2年7月30日(2020.7.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
集積回路であって、
測定回路と、
前記集積回路の被試験デバイスへの接続のために適合された第１の入力であって、前記被試験デバイスは、周波数を有する信号を生成する、第１の入力と、
計算エンジン回路であって、
前記測定回路によって測定された前記信号の周波数を、メモリに記憶された基準周波数と比較することと、
前記比較に基づいて、前記被試験デバイスによって生成された前記信号の前記周波数を調整することと
を行うように構成されている、計算エンジン回路と、
基準周波数を受信するために適合された第２の入力と、
前記測定回路と結合されるように前記第１の入力と前記第２の入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと
を備える、集積回路。
【請求項２】
前記測定回路は、１つ以上のスイッチ及びキャパシタを含み、
前記測定回路は、前記第１の入力の周波数に従って前記スイッチを操作するように構成されている、請求項１に記載の集積回路。
【請求項３】
アナログデジタル変換器と、電流源及び前記アナログデジタル変換器の入力と結合される試験抵抗とを更に備える、請求項１に記載の集積回路。
【請求項４】
前記電流源は、ＰＴＡＴ電流源である、請求項３に記載の集積回路。
【請求項５】
前記集積回路は、アナログデジタル変換器を更に含み、
前記測定回路は、前記第１の入力における周波数に従った前記スイッチの操作に起因する電圧を出力するように構成されており、前記電圧は、前記アナログデジタル変換器に出力され、
前記アナログデジタル変換器は、前記電圧の変換から前記測定された周波数を出力するように構成されている、請求項１に記載の集積回路。
【請求項６】
前記計算エンジン回路は、パッケージング前後で、電流を前記試験抵抗に供給するように前記電流源を構成し、異なる時間に前記試験抵抗の抵抗値を測定し、前記メモリ内にそれぞれの抵抗比を記憶し、前記異なる時間の間で前記集積回路の状態を反映するメモリに前記記憶された抵抗比に基づいて、前記被試験デバイスによって生成された前記信号の前記周波数を調整するように更に構成されている、請求項３に記載の集積回路。
【請求項７】
前記計算エンジンは、温度性能曲線を反映するメモリに記憶された温度比に基づいて、前記被試験デバイスの周波数を調整するように更に構成されている、請求項１〜４のいずれかに記載の集積回路。
【請求項８】
前記第２の入力が選択される場合、前記測定回路は、結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されている、請求項１〜６のいずれかに記載の集積回路。
【請求項９】
基準周波数入力と、
周波数試験回路に適用されるように前記被試験デバイス入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと
を更に備え、
前記測定回路は、前記第２の入力の選択に基づいて、前記第２の入力の結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されている、請求項１に記載の集積回路。
【請求項１０】
前記測定回路は、前記第１の入力の選択に基づいて、前記第１の入力の結果として得られた測定値を前記計算エンジン回路に提供するように構成されている、請求項１に記載の集積回路。
【請求項１１】
前記集積回路は、マイクロコントローラである、請求項１〜１０のいずれかに記載の集積回路。
【請求項１２】
請求項１〜１０のいずれかに記載の集積回路を動作させるための方法であって、
前記集積回路の入力モードを選択することであって、前記集積回路は、前記測定回路に適用されるように前記第２の入力を選択することによって、基準周波数を記憶する前記入力モードで動作可能である、ことと、
前記集積回路の前記測定回路の第２の入力における前記基準周波数を適用することと、
前記測定回路によって前記基準周波数の周波数を測定することと、
前記周波数を表すデジタルコードを前記メモリに記憶することと
を含む、方法。
【請求項１３】
前記測定回路に適用されるように前記第１の入力を選択することを更に含む、請求項１２の記載の方法。
【請求項１４】
前記集積回路のパッケージング前に、前記測定回路の前記試験抵抗にわたる電圧に基づいて、前記測定回路の第１の抵抗を測定することと、
前記集積回路のパッケージング後に、前記測定回路の前記電流源と結合される前記試験抵抗にわたる電圧に基づいて、前記測定回路の第２の抵抗を測定することと、
前記第１の抵抗と第２の抵抗との比を、前記メモリに記憶することと
を更に含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記第１の入力における周波数に従って周波数を試験するようにスイッチを操作することと、
前記第１の入力における前記周波数に従ったスイッチの操作に起因する電圧をアナログデジタル変換器に出力することと、
前記アナログデジタル変換器から、前記電圧の変換から前記測定された周波数を出力することと
を更に含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１６】
異なる時間に前記マイクロコントローラの状態を反映するメモリに記憶された比の値に基づいて、前記被試験デバイスによって生成された前記信号の前記周波数を調整することを更に含み、前記比の値は、異なる時間に前記試験抵抗にわたる電圧の測定から判定される、請求項１２に記載の方法。
【請求項１７】
前記測定は、電流を前記試験抵抗内へ供給しかつ前記試験抵抗にわたる電圧を測定するようにＰＴＡＢ電流源を構成することによって、実施される、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記第１の入力の選択に基づいて、前記第１の入力における信号の結果として得られた測定値を計算エンジン回路に提供することを更に含む、請求項１４に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本開示の実施形態は、周波数試験回路と、被試験デバイス（ｄｅｖｉｃｅ−ｕｎｄｅｒ−ｔｅｓｔ、ＤＵＴ）入力と、ＤＵＴ入力から測定された、周波数試験回路からの測定された周波数を、メモリに記憶された基準周波数と比較し、かつ比較に基づいて、ＤＵＴ入力を生成するＤＵＴの周波数を調整するように構成されている、計算エンジン回路と、を含む、集積回路を含む。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、集積回路は、１つ以上のスイッチ及びキャパシタを更に含むことができる。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、周波数試験回路は、ＤＵＴ入力の周波数に従ってスイッチを操作するように構成されてもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、集積回路は、アナログデジタル変換器（ａｎａｌｏｇ−ｔｏ−ｄｉｇｉｔａｌ  ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ、ＡＤＣ）を更に含むことができる。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、周波数試験回路は、ＤＵＴ入力の周波数に従ってスイッチを操作するように構成されてもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、周波数試験回路は、ＤＵＴ入力の周波数に従うスイッチの操作に起因する電圧をアナログデジタル変換器に出力するように構成されてもよく、電圧はＡＤＣに出力される。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、ＡＤＣは、電圧の変換から測定された周波数を出力するように構成されている。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、計算エンジン回路が、パッケージング前後の集積回路の状態を反映するメモリに記憶された応力比に基づいて、ＤＵＴの周波数を調整するように更に構成されてもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、計算エンジンが、温度性能曲線を反映するメモリに記憶された温度比に基づいて、ＤＵＴの周波数を調整するように更に構成されてもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、集積回路は、基準周波数入力と、周波数試験回路に適用される入力をＤＵＴ入力と基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に含んでもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、基準周波数入力が選択される場合、周波数試験回路が、結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されてもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、周波数試験回路が、基準周波数入力の選択に基づいて、基準周波数入力の結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されてもよい。上記の実施形態のうちのいずれかと組み合わせて、周波数試験回路が、ＤＵＴ入力の選択に基づいて、ＤＵＴ入力の結果として得られた測定値を計算エンジン回路に提供するように構成されてもよい。本開示の実施形態は、上述の集積回路のうちのいずれかを含むマイクロコントローラを含んでもよい。本開示の実施形態は、上述のマイクロコントローラ又は集積回路のうちのいずれかによって実行される方法を含んでもよい。
本発明は、例えば、以下を提供する。
（項目１）
集積回路であって、
周波数試験回路と、
被試験デバイス（ＤＵＴ）入力と、
計算エンジン回路であって、
前記ＤＵＴ入力から測定された、前記周波数試験回路からの測定された周波数を、メモリに記憶された基準周波数と比較し、かつ
前記比較に基づいて、前記ＤＵＴ入力を生成する前記ＤＵＴの周波数を調整するように構成されている、計算エンジン回路と、を備える、集積回路。
（項目２）
前記周波数試験回路が、１つ以上のスイッチ及びキャパシタを含み、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の周波数に従って前記スイッチを操作するように構成されている、項目１又は４〜９のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目３）
前記集積回路が、アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）を更に含み、
前記周波数試験回路が、１つ以上のスイッチ及びキャパシタを含み、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の周波数に従って前記スイッチを操作するように構成されており、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の周波数に従った前記スイッチの操作に起因する電圧を出力するように構成されており、前記電圧が、前記ＡＤＣに出力され、
前記ＡＤＣが、前記電圧の変換から前記測定された周波数を出力するように構成されている、項目１又は４〜９のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目４）
前記計算エンジン回路が、パッケージング前後の前記集積回路の状態を反映するメモリに記憶された応力比に基づいて、前記ＤＵＴの周波数を調整するように更に構成されている、項目１〜３又は５〜９のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目５）
前記計算エンジンが、温度性能曲線を反映するメモリに記憶された温度比に基づいて、前記ＤＵＴの周波数を調整するように更に構成されている、項目１〜３又は５〜９のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目６）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備える、項目１〜５のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目７）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備え、
前記基準周波数入力が選択される場合、前記周波数試験回路が、結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されている、項目１〜５又は８〜９のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目８）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備え、
前記周波数試験回路が、前記基準周波数入力の選択に基づいて、前記基準周波数入力の結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されている、項目１〜５、７、又は９のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目９）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備え、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の選択に基づいて、前記ＤＵＴ入力の結果として得られた測定値を前記計算エンジン回路に提供するように構成されている、項目１〜５又は７〜８のいずれか一項に記載の集積回路。
（項目１０）
マイクロコントローラであって、
周波数試験回路と、
被試験デバイス（ＤＵＴ）入力と、
計算エンジン回路であって、
前記ＤＵＴ入力から測定された、前記周波数試験回路からの測定された周波数を、メモリに記憶された基準周波数と比較し、かつ
前記比較に基づいて、前記ＤＵＴ入力を生成する前記ＤＵＴの周波数を調整するように構成されている、計算エンジン回路と、を備える、マイクロコントローラ。
（項目１１）
前記周波数試験回路が、１つ以上のスイッチ及びキャパシタを含み、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の周波数に従って前記スイッチを操作するように構成されている、項目１０又は１３〜１８のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１２）
前記マイクロコントローラが、アナログデジタル変換器（ＡＤＣ）を更に含み、
前記周波数試験回路が、１つ以上のスイッチ及びキャパシタを含み、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の周波数に従って前記スイッチを操作するように構成されており、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の周波数に従った前記スイッチの操作に起因する電圧を出力するように構成されており、前記電圧が、前記ＡＤＣに出力され、
前記ＡＤＣが、前記電圧の変換から前記測定された周波数を出力するように構成されている、項目１０又は１３〜１８のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１３）
前記計算エンジン回路が、パッケージング前後の前記マイクロコントローラの状態を反映するメモリに記憶された応力比に基づいて、前記ＤＵＴの周波数を調整するように更に構成されている、項目１０〜１２又は１４〜１８のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１４）
前記計算エンジンが、温度性能曲線を反映するメモリに記憶された温度比に基づいて、前記ＤＵＴの周波数を調整するように更に構成されている、項目１０〜１２又は１４〜１８のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１５）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備える、項目１０〜１４のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１６）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備え、
前記基準周波数入力が選択される場合、前記周波数試験回路が、結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されている、項目１０〜１４又は１７〜１８のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１７）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備え、
前記周波数試験回路が、前記基準周波数入力の選択に基づいて、前記基準周波数入力の結果として得られた測定値をメモリに記憶するように構成されている、項目１０〜１４、１６、又は１８のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１８）
基準周波数入力と、
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と前記基準周波数入力との間で選択するように構成されているマルチプレクサと、を更に備え、
前記周波数試験回路が、前記ＤＵＴ入力の選択に基づいて、前記ＤＵＴ入力の結果として得られた測定値を前記計算エンジン回路に提供するように構成されている、項目１０〜１４又は１６〜１７のいずれか一項に記載のマイクロコントローラ。
（項目１９）
方法であって、
集積回路の入力モードを選択することであって、前記集積回路が基準周波数を記憶する前記入力モードで動作可能である、入力モードを選択することと、
前記集積回路の周波数試験回路に基準周波数を適用することと、
前記周波数試験回路から結果として得られた周波数を測定することと、
前記結果として得られた周波数を表すデジタルコードを前記集積回路のメモリに記憶することと、を含む、方法。
（項目２０）
前記集積回路のパッケージング前に、前記周波数試験回路の抵抗に基づいて、前記周波数試験回路の第１の出力電圧を測定することと、
前記集積回路のパッケージング後に、前記周波数試験回路の変更された抵抗に基づいて、前記周波数試験回路の第２の出力電圧を測定することと、
前記抵抗と変更された抵抗との比を、前記集積回路のメモリに記憶することと、を更に含む、項目１９に記載の方法。
（項目２１）
被試験デバイス（ＤＵＴ）入力の周波数に従って周波数を試験するようにスイッチを操作することを更に含む、項目２１に記載の方法。
（項目２２）
前記ＤＵＴ入力の前記周波数に従ったスイッチの操作に起因する電圧をアナログデジタル変換器に出力することと、
前記アナログデジタル変換器から、前記電圧の変換から前記測定された周波数を出力することと、
を更に含む、項目２１に記載の方法。
（項目２３）
パッケージング前後の前記マイクロコントローラの状態を反映するメモリに記憶された応力比に基づいて、前記ＤＵＴの周波数を調整することを更に含む、項目２１に記載の方法。
（項目２４）
温度性能曲線を反映するメモリに記憶された温度比に基づいて、前記ＤＵＴの周波数を調整することを更に含む、項目２１に記載の方法。
（項目２５）
前記周波数試験回路に適用される入力を前記ＤＵＴ入力と基準周波数入力との間で選択することを更に含む、項目２１に記載の方法。
（項目２６）
前記基準周波数入力の選択に基づいて、前記基準周波数入力の結果として得られた測定値をメモリに記憶することを更に含む、項目２５に記載の方法。
（項目２７）
前記ＤＵＴ入力の選択に基づいて、前記ＤＵＴ入力の結果として得られた測定値を計算エンジン回路に提供することを更に含む、項目２１に記載の方法。