(57)【要約】電磁妨害の低減手段であるスペクトラム拡散による電磁妨害低減量の計算方法であって、スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、振幅の合計の最大値を電磁妨害信号の振幅で除算することにより、電磁妨害低減量を算出することを特徴とする。【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁妨害の低減手段であるスペクトラム拡散による電磁妨害低減量の計算方法であって、
前記スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように前記測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、
前記振幅の合計の最大値を前記電磁妨害信号の振幅で除算することにより、電磁妨害低減量を算出することを特徴とする電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項２】
前記電磁妨害低減量の測定帯域幅が前記スペクトラム拡散により設定される周波数の変動幅である変調周波数よりも広い場合に、前記スペクトラムの振幅の合計を行うことを特徴とする請求項１に記載の電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項３】
前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計する際、前記測定帯域幅の端部周波数近傍のスペクトラムについて、前記端部周波数での測定機器の感度低下の影響を補正することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項４】
前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムをベッセル関数により算出する際、前記スペクトラム拡散により設定される周波数の広がりである最大周波数偏移を前記変調周波数で除算した値から、前記測定帯域幅を前記変調周波数で除算した値の整数部に１を加えた値を減算した値に対応するベッセル関数の次数を起点とし、前記最大周波数偏移を前記変調周波数で除算した値に前記整数部に１を加えた値に対応するベッセル関数の次数に至る迄の、複数の異なる次数についてベッセル関数の計算を行い、前記複数の異なる次数のベッセル関数のうちで、振幅が最大となる次数のベッセル関数の振幅から前記振幅が最大となるスペクトラムの振幅を算出することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項５】
前記振幅の合計の最大値を前記複数の異なる次数のベッセル関数の振幅を用いて算出することを特徴とする請求項４に記載の電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項６】
前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された前記電磁妨害信号に含まれる基本波の周波数を整数倍した高調波のスペクトラムをベッセル関数により算出する際、前記基本波の前記スペクトラム拡散により設定される周波数の広がりである最大周波数偏移の前記整数倍を前記変調周波数で除算した値から、前記測定帯域幅を前記変調周波数で除算した値の整数部に１を加えた値の前記整数倍した値を減算した値に対応するベッセル関数の次数を起点とし、前記最大周波数偏移の前記整数倍を前記変調周波数で除算した値に前記整数倍した値を加算した値に対応するベッセル関数の次数に至る迄の、複数の異なる次数についてベッセル関数の計算を行い、前記複数の異なる次数のベッセル関数のうちで、振幅が最大となる次数のベッセル関数の振幅から前記振幅が最大となるスペクトラムの振幅を算出することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項７】
前記スペクトラム拡散により前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから複数のスペクトラムを生成する際、前記スペクトラム拡散を設定するための入力データとして、クロック周波数、変調周波数、最大周波数偏移及び測定帯域幅を用いることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の電磁妨害低減量の計算方法。
【請求項８】
電磁妨害の低減手段であるスペクトラム拡散による電磁妨害低減量を算出する電磁妨害低減量計算装置であって、
スペクトラム拡散の設定条件を入力する入力部と、
スペクトラム拡散による電磁妨害低減量を算出する演算処理部と、
前記電磁妨害低減量の算出結果を出力する出力部を備え、
前記演算処理部で、前記スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように前記測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、前記振幅の合計の最大値を前記電磁妨害信号の振幅で除算することにより電磁妨害低減量を算出することを特徴とする電磁妨害低減量計算装置。
【請求項９】
前記演算処理部で、前記電磁妨害低減量の測定帯域幅が前記スペクトラム拡散により設定される周波数の変動幅である変調周波数よりも広い場合に、前記スペクトラムの振幅の合計を行うことを特徴とする請求項８に記載の電磁妨害低減量計算装置。
【請求項１０】
前記演算処理部で、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計する際、前記測定帯域幅の端部周波数近傍のスペクトラムについて、前記端部周波数での測定機器の感度低下の影響を補正することを特徴とする請求項８又は請求項９に記載の電磁妨害低減量計算装置。
【請求項１１】
前記演算処理部で、前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムをベッセル関数により算出する際、前記スペクトラム拡散により設定される周波数の広がりである最大周波数偏移を前記変調周波数で除算した値から、前記測定帯域幅を前記変調周波数で除算した値の整数部に１を加えた値を減算した値に対応するベッセル関数の次数を起点とし、前記最大周波数偏移を前記変調周波数で除算した値に前記整数部に１を加えた値に対応するベッセル関数の次数に至る迄の、複数の異なる次数についてベッセル関数の計算を行い、前記複数の異なる次数のベッセル関数のうちで、振幅が最大となる次数のベッセル関数の振幅から前記振幅が最大となるスペクトラムの振幅を算出することを特徴とする請求項８から請求項１０のいずれか１項に記載の電磁妨害低減量計算装置。
【請求項１２】
前記演算処理部で、前記振幅の合計の最大値を前記複数の異なる次数のベッセル関数の振幅を用いて算出することを特徴とする請求項１１に記載の電磁妨害低減量計算装置。
【請求項１３】
前記演算処理部で、前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された前記電磁妨害信号に含まれる基本波の周波数を整数倍した高調波のスペクトラムをベッセル関数により算出する際、前記基本波の前記最大周波数偏移の前記整数倍を前記変調周波数で除算した値から、前記測定帯域幅を前記変調周波数で除算した値の整数部に１を加えた値の前記整数倍した値を減算した値に対応するベッセル関数の次数を起点とし、前記スペクトラム拡散により設定される周波数の広がりである最大周波数偏移の前記整数倍を前記変調周波数で除算した値に前記整数倍した値を加算した値に対応するベッセル関数の次数に至る迄の、複数の異なる次数についてベッセル関数の計算を行い、前記複数の異なる次数のベッセル関数のうちで、振幅が最大となる次数のベッセル関数の振幅から前記振幅が最大となるスペクトラムの振幅を算出することを特徴とする請求項８から請求項１０のいずれか１項に記載の電磁妨害低減量計算装置。
【請求項１４】
前記入力部で、電磁妨害信号の基本周波数、変調周波数、最大周波数偏移及び測定帯域幅の入力がなされることを特徴とする請求項８から請求項１３のいずれか１項に記載の電磁妨害低減量計算装置。
【請求項１５】
電磁妨害の低減手段であるスペクトラム拡散による電磁妨害低減量を算出する電磁妨害低減量計算装置上で実行される計算プログラムであって、
前記スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように前記測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、
前記振幅の合計の最大値を前記電磁妨害信号の振幅で除算することにより電磁妨害低減量を算出する機能を実行することを特徴とする計算プログラム。
【請求項１６】
前記電磁妨害低減量の測定帯域幅が前記スペクトラム拡散により設定される周波数の変動幅である変調周波数よりも広い場合に、前記スペクトラムの振幅の合計を行う機能を有することを特徴とする請求項１５に記載の計算プログラム。
【請求項１７】
前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計する際、前記測定帯域幅の端部周波数近傍のスペクトラムについて、前記端部周波数での測定機器の感度低下の影響を補正する機能を有することを特徴とする請求項１５又は請求項１６に記載の計算プログラム。
【請求項１８】
前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムをベッセル関数により算出する際、前記スペクトラム拡散により設定される周波数の広がりである最大周波数偏移を前記変調周波数で除算した値から、前記測定帯域幅を前記変調周波数で除算した値の整数部に１を加えた値を減算した値に対応するベッセル関数の次数を起点とし、前記最大周波数偏移を前記変調周波数で除算した値に前記整数部に１を加えた値に対応するベッセル関数の次数に至る迄の、複数の異なる次数についてベッセル関数の計算を行い、前記複数の異なる次数のベッセル関数のうちで、振幅が最大となる次数のベッセル関数の振幅から前記振幅が最大となるスペクトラムの振幅を算出する機能を有することを特徴とする請求項１５から請求項１７のいずれか１項に記載の計算プログラム。
【請求項１９】
前記振幅の合計の最大値を前記複数の異なる次数のベッセル関数の振幅を用いて算出する機能を有することを特徴とする請求項１８に記載の計算プログラム。
【請求項２０】
前記電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された前記電磁妨害信号に含まれる基本波の周波数を整数倍した高調波のスペクトラムをベッセル関数により算出する際、前記基本波の前記スペクトラム拡散により設定される周波数の広がりである最大周波数偏移の前記整数倍を前記変調周波数で除算した値から、前記測定帯域幅を前記変調周波数で除算した値の整数部に１を加えた値の前記整数倍した値を減算した値に対応するベッセル関数の次数を起点とし、前記最大周波数偏移の前記整数倍を前記変調周波数で除算した値に前記整数倍した値を加算した値に対応するベッセル関数の次数に至る迄の、複数の異なる次数についてベッセル関数の計算を行い、前記複数の異なる次数のベッセル関数のうちで、振幅が最大となる次数のベッセル関数の振幅から前記振幅が最大となるスペクトラムの振幅を算出する機能を有することを特徴とする請求項１５から請求項１７のいずれか１項に記載の計算プログラム。
【請求項２１】
クロック信号がスペクトラム拡散されたスペクトラム拡散クロックを用いた電子回路であって、
前記スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように前記測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、
前記振幅の合計の最大値を前記電磁妨害信号の振幅で除算することにより、電磁妨害低減量を算出する計算方法により、
クロック周波数、最大周波数偏移及び測定帯域幅をそれぞれ一定とした場合に、前記電磁妨害低減量を最大とする変調周波数を算出し、
前記クロック周波数、前記最大周波数偏移、前記測定帯域幅及び前記変調周波数のそれぞれの値に基づき、前記スペクトラム拡散を設定することを特徴とする電子回路。
【請求項２２】
前記電磁妨害低減量の測定帯域幅が前記スペクトラム拡散により設定される周波数の変動幅である変調周波数よりも広い場合に、前記スペクトラムの振幅の合計を行うことを特徴とする請求項２１に記載の電子回路。
【請求項２３】
前記計算方法より導かれる、前記変調周波数が前記測定帯域幅に等しい場合に前記電磁妨害低減量が最大となること、また前記計算方法より導かれる、前記測定帯域幅の端部周波数での測定機器の感度低下の影響により前記電磁妨害低減量を最大とする変調周波数は前記測定帯域幅を越えた周波数となることに基づき、前記変調周波数の最小値を前記測定帯域幅、また前記変調周波数の最大値は前記測定帯域幅を越えた一定の周波数とし、前記変調周波数の最小値から前記変調周波数の最大値の範囲で前記変調周波数の設定を行うことを特徴とする請求項２１又は請求項２２に記載の電子回路。
【請求項２４】
国際無線障害特別委員会の「ＣＩＳＰＲ２２」規格で規定する、各クロック周波数範囲での測定帯域幅の規定に基づき、
クロック周波数が１５０ｋＨｚ以上で３０ＭＨｚ未満の場合、前記変調周波数の最小値は９ｋＨｚであり、また前記変調周波数の最大値は１１．７ｋＨｚであり、
前記クロック周波数が３０ＭＨｚ以上１ＧＨｚ未満の場合、前記変調周波数の最小値は１２０ｋＨｚであり、また前記変調周波数の最大値は１５６ｋＨｚであり、
前記クロック周波数が１ＧＨｚ以上の場合、前記変調周波数の最小値は１ＭＨｚであり、また前記変調周波数の最大値は１．３ＭＨｚであることを特徴とする請求項２３に記載の電子回路。
【請求項２５】
電磁妨害の測定を行う際に、測定帯域幅を、妨害を受ける機器の占有帯域幅に等しく設定することに基づき、携帯電話の占有帯域幅である１２．５ｋＨｚ近傍又は２５ｋＨｚ近傍に、前記変調周波数の設定を行うことを特徴とする請求項２３に記載の電子回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  本発明は、電磁妨害低減量の予測方法に関し、特に、電磁妨害低減量を測定する際に、測定機器の測定帯域幅の影響により必要となる電磁妨害低減量の測定による補正を不要とし、電磁妨害低減量を計算のみにより算出できる電磁妨害低減量の計算方法、電磁妨害低減量計算装置、計算プログラム及び電子回路に関する。
【背景技術】  電子機器の小型化に伴い、高密度実装された電子回路においては、伝送線路間の電磁結合の影響も無視することができなくなり、予期しない電子回路の誤動作の原因となる電磁妨害（ＥＭＩ）が発生することがある。特に、デジタル回路で使用されるクロック波形で電磁妨害が発生しやすいことが知られている。
電磁妨害に関する規制では、電磁妨害の放出量に関する試験方法と許容値を規定しており、市場の製品については該当するＥＭＩ規格を満たす必要がある。
電磁妨害測定では、測定時の測定機器の測定帯域幅を規定しており、測定対象の周波数範囲として１５０ｋＨｚから３０ＭＨｚでの測定においては測定帯域幅を９ｋＨｚとすることを、３０ＭＨｚから１ＧＨｚでの測定においては測定帯域幅を１２０ｋＨｚとすることを、１ＧＨｚを超える周波数においては測定帯域幅を１ＭＨｚとすることを標準規格（国際無線障害特別委員会の「ＣＩＳＰＲ２２」規格およびこの国際規格に準じた「ＶＣＣＩ規格」）によって規定されている。
スペクトラム拡散クロック技術は、コンピュータ内部の処理動作タイミングを規定するクロック波形に、周波数変調などの技術により変調を加えることで周波数スペクトラムを広げ、それにより電力分散を発生させることで特定の周波数における電磁妨害を低減させる技術である。電磁妨害の低減量は変調のためのパラメータを変更して制御を行う。
この方法では、周波数変調のためのパラメータを変更することで電磁妨害の低減量を制御するが、従来の設計方法では、電磁妨害低減効果は、装置完成後の電磁妨害の特性評価により行われていた。このため、目標とする効果が得られなかった場合には、設計変更を繰り返す必要があった。
また、電磁妨害低減量の測定の場合、測定機器の帯域幅が変調周波数よりも広い場合には、測定される電磁妨害低減量が測定機器の帯域幅に依存するという問題があり、測定機器の帯域幅によるレベル差を補正する必要があった。
このような状況の解決に類する方法の一例が、例えば特開２００３−１５０６６０号公報（文献１）に記載されている。
文献１に開示される方法では、与えられた周波数変調のためのパラメータの条件で、クロック信号を周波数変調した際の信号のスペクトル分布を算出して電磁妨害低減量の理論値を算出する。
文献１の方法の場合、測定機器の帯域幅が変調周波数よりも広い場合には、最初に、測定される電磁妨害低減量が測定機器の帯域幅に依存しない、測定機器の帯域幅が変調周波数よりも狭い場合の計算方法を用いて計算を行い、次に測定機器での測定を行ない、これにより得た測定値を用いて計算値を補正することにより、電磁妨害低減量の理論値を算出するというものである。
文献１の方法の場合、測定機器の帯域幅によるレベル差については、測定値と計算値の差分を求め、差分を用いて計算値を補正することにより、電磁妨害抑制効果を計算により推定することができる。
上述した従来の技術は、以下に述べるような問題点があった。
文献１の方法では、測定機器の帯域幅を考慮しなくても良い場合、すなわち測定機器の帯域幅が変調周波数よりも狭い場合には、計算式を用いて電磁妨害低減量を算出することができる。
しかしながら、測定機器の測定帯域幅を考慮しなければならない場合、つまりは測定機器の測定帯域幅が変調周波数より広い帯域幅となる場合においては、その際に必要となるレベル補正値は測定により求めていた。このため、測定帯域幅が変調周波数より広い周波数幅となる場合には、レベル補正のために別途測定を必要とするという問題があった。
また、文献１の方法を含めた従来の方法の場合、理想的と仮定した測定機器の測定帯域幅の定義と、実測による現実的な測定帯域幅の定義が異なることが考慮されていないために、計算誤差が発生するという問題がある。
すなわち、理想的と仮定した測定帯域幅の定義では、指定帯域内においては入力信号レベルに変化を与えず、指定帯域外においては入力信号を除去するというものである。つまり、測定機器の測定帯域幅内で理想的なフィルタ特性が実現されている場合には、計算値をそのまま使用することができる。
しかしながら、実際の測定機器では、その帯域内の中心周波数付近における入力信号には変化がないが、測定帯域内の端部周波数付近における入力信号に対する感度が低下してしまい、測定帯域の端部周波数における感度低下の影響を考慮する必要がある。
さらに、指定帯域外であっても入力信号は完全に除去されることなく、一定の割合で測定機器に検出されてしまうこともあり、その影響による誤差の発生も無視できないという問題があった。
本発明の第１の目的は、上記従来技術の欠点を解決し、与えられた測定帯域幅を有する測定機器で測定される、スペクトラム拡散による電磁妨害低減量を計算する際に、測定機器の測定帯域幅が変調周波数よりも広い場合に必要としていた測定による電磁妨害低減量の補正を不要とし、電磁妨害低減量を計算のみにより算出できる電磁妨害低減量の計算方法、電磁妨害低減量計算装置、計算プログラム及び電子回路を提供することにある。
本発明の第２の目的は、測定帯域幅内の端部周波数付近での測定機器の感度低下の影響を補正できる電磁妨害低減量の計算方法、電磁妨害低減量計算装置、計算プログラム及び電子回路を提供することにある。
【発明の開示】
上記目的を達成するための本発明は、電磁妨害の低減手段であるスペクトラム拡散による電磁妨害低減量の計算方法であって、前記スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように前記測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、前記振幅の合計の最大値を前記電磁妨害信号の振幅で除算することにより、電磁妨害低減量を算出することを特徴とする。
また、請求項２の本発明は、前記測定帯域幅が前記スペクトラム拡散により設定される周波数の変動幅である変調周波数よりも広い場合に、前記スペクトラムの振幅の合計を行うことを特徴とする。
従来から行われている電磁妨害低減量の測定値の計算方法では、電磁妨害低減量の測定帯域幅がスペクトラム拡散により設定される周波数の変動幅である変調周波数よりも広い場合、前記スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、測定帯域幅内に含まれかつ振幅が最大となるスペクトラムの振幅を電磁妨害信号の振幅で除算して、電磁妨害低減量を算出していた。
この方法による計算では、振幅が最大となるスペクトラム以外のスペクトラムの影響は含まないで算出を行うために、信頼のできる電磁妨害低減量の計算値を計算することはできなかった。このため、この方法では、予めこの方法による計算値と同じ条件で測定した測定値との差分を調べておき、電磁妨害低減量を算出する際に、当該差分の結果を用いて計算値の補正をするというものであった。
従来の方法による計算値と測定値との差分の原因は、ひとつには従来方法では計算の対象となっていなかった、振幅が最大となるスペクトラム以外のスペクトラムの影響に加え、請求項２の本発明で述べている測定帯域幅の端部周波数での測定機器の感度低下の影響がある。このように、従来の方法による計算値と測定値との差分の原因は２つある。従来方法での計算値と測定値との差分には、振幅が最大となるスペクトラム以外のスペクトラムが及ぼす影響と測定帯域幅の端部周波数での測定機器の感度低下が及ぼす影響のいずれもが含まれる。
本発明の方法による計算は、従来の方法による測定値と次のように対応づけることができる。
最初に、前記測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計して、電磁妨害低減量を算出するが、これにより得られる値は、従来の方法で得られる電磁妨害低減量に、振幅が最大となるスペクトラム以外の振幅が与える影響による補正を行ったものである。
次に、前記算出された前記電磁妨害低減量に対して、測定帯域幅の端部周波数での測定機器の感度低下が及ぼす影響による第２の補正を行うことにより、従来方法での測定値を、計算のみにより算出することができる。
【図面の簡単な説明】  図１は、本発明の第１の実施例による電磁妨害低減量算出の流れを示すフローチャートである。
図２は、本発明の第１の実施例を説明するための包絡線表示での周波数スペクトラム波形の一例を示す図である。
図３は、本発明の第１の実施例を説明するための線スペクトラム表示での周波数スペクトラム波形の一例を示す図である。
図４は、本発明の第１の実施例を説明するためのフィルタの特性例を示す図である。
図５は、本発明の第１の実施例による電磁妨害低減量の計算値と測定値の比較を示す図である。
図６は、本発明の第１の実施例を説明するためのベッセル関数で得られる振幅を示す図である。
図７は、本発明の第１の実施例を説明するための測定機器のフィルタ特性例を示す図である。
図８は、本発明の第１の実施例による電磁妨害低減量計算装置でなされる処理を説明するためのフローチャートである。
図９は、本発明の第１の実施例による電磁妨害低減量計算装置の構成を示す図である。
図１０は、本発明の第２の実施例による電子回路からのスペクトラム拡散信号の携帯電話への干渉を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】  以下、本発明の好適な実施例について図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本実施例による電磁妨害低減量算出の流れを示すフローチャートである。
図１を参照すると、本発明による電磁妨害低減量の算出は５つのステップより構成される。
最初に、データ入力を行う。ここでは、クロック周波数、変調周波数、最大周波数偏移及び測定機器の測定帯域幅が入力される（ステップ１０１）。
次に、電磁妨害低減量の概算を行う（ステップ１０２）。
このステップは従来技術により行う。
次の、電磁妨害低減量の第１の補正（ステップ１０３）、及び電磁妨害低減量（ステップ１０４）の第２の補正は本発明による計算である。
以上の結果を用いて、電磁妨害低減量の算出が完了する（ステップ１０５）。
以下、図１の各ステップについて詳細に説明する。
最初に、従来技術である電磁妨害低減量の概算処理を説明する。
搬送周波数がｆ（Ｈｚ）のサイン（正弦）波を変調周波数がｆｍ（Ｈｚ）のサイン波で、最大周波数偏移Δｆ（Ｈｚ）＝ｆ×変調度ｐ（％）で周波数変調した際の波形は式１で与えられることが知られている。
式１は例えば、細野俊夫他  「周波数解析・変調と雑音の理論」  ｐ１６８−１７８  光琳書院（１９６４）、又は、谷村功  「無線通信工学」  ｐ４６−４９  コロナ社（１９６０）に記載されている。
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ここに、Ｊｎ（ｘ）はベッセル関数を示し、θ０は角周波数の初期値を、Ａはクロック波形の振幅を、ｔは時間を、ｎはベッセル関数の次数を示す。
Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）の項はそれぞれのスペクトラムの振幅を表し、ｓｉｎ｛２π（ｆ＋ｎｆｍ）ｔ｝の項はそれぞれのスペクトラムの時間変化を表す。
つまり、式１は、異なる振幅と周波数を有する信号の集合体である。この集合体の中で、最も振幅の大きい「項」に対応した信号成分を選択すれば、電磁妨害低減量が最も小さいことになる。電磁妨害低減量の評価は、最も振幅の大きい「項」に対応した電磁妨害低減量（最悪値）の測定により行われている。
図２は、本実施例を説明するための包絡線表示での周波数スペクトラム波形の一例を示す図である。
図２を参照すると、変調前のスペクトラム４１は幅が狭く、周波数帯域が狭いことがわかる。変調前のスペクトラム４１は、スペクトラム拡散クロック技術を適用する前のスペクトラムに対応する。図の低減量は変調前の振幅を０ｄＢ（デシベル）として表示してある。
しかし、変調後のスペクトラム４２は、周波数変調することにより周波数帯域が広がりを示すと共に、電磁妨害も低減されたスペクトラムとなっている。
図２では、変調による電磁妨害低減は最小で約１２ｄＢと読みとることができる。
スペクトラム拡散クロック技術は、このような周波数変調を用いた電磁妨害レベル低減の技術であり、変調にはサイン波以外の波形を用いることもある。サイン波以外の波形を用いた場合の周波数スペクトラム成分は、図２とは異なるが、概ね、同様のスペクトラムとなることから、サイン波以外の各種の変調においても数１の式を用いれば概算することができる。
以上に、従来技術による電磁妨害低減量の概算計算処理について説明した。
次に、本実施例による電磁妨害低減量の計算方法について説明する。
図１で説明したように、本発明の電磁妨害低減量の計算方法は、電磁妨害低減量の第１の補正及び電磁妨害低減量の第２の補正で構成される。
最初に、電磁妨害低減量の第１の補正を説明する。
図３は、本実施例を説明するための線スペクトラム表示での周波数スペクトラム波形の一例を示す図である。
図３で、スペクトラム群２０のそれぞれの時間変化と振幅は、上記の説明のように式１を構成する、ｓｉｎ｛２π（ｆ＋ｎｆｍ）ｔ｝、Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）で算出できるので、各線スペクトラムの時間変化と振幅は容易に算出することができる。
つまり、最大周波数偏移Δｆと変調周波数ｆｍがわかり、ベッセル関数の次数を特定できれば、ベッセル関数を用いて振幅を算出することができる。また、時間変化については、ｓｉｎ｛２π（ｆ＋ｎｆｍ）ｔ｝の２π（ｆ＋ｎｆｍ）ｔによって算出することができる。
このような計算は、帯域フィルタ２２の帯域幅が変調周波数２１よりも狭い場合には、測定機器で検出されるスペクトラムは１本のみのスペクトラムとなるため、問題なく実行できる。
しかしながら、帯域フィルタ２２の帯域幅が変調周波数２１よりも広い場合には、測定機器の帯域フィルタ２２を複数のスペクトラムが通過して測定機器に入力されることになる。この場合には、全てのスペクトラムの振幅をベクトル合算した値が真の測定値となる。
このように、測定機器の帯域フィルタ２２を複数のスペクトラムが通過して測定機器に入力する場合に、複数のスペクトラムの測定値への影響を考慮して補正を行うのが、本発明による電磁妨害低減量の第１の補正である。
以下、電磁妨害低減量の第１の補正について説明する。
最初に、電磁妨害低減が最小となる、つまりは、振幅Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）が最大となるスペクトラムを選択する。
ここで、測定機器の測定帯域幅が変調周波数より狭い帯域幅となる場合は計算対象のスペクトラムは１本となるので、この振幅の絶対値（＜１）がそのまま低減率となり、補正をする必要はない。ここで、変調をかける前の振幅を１としている。
次に、測定機器の測定帯域幅（ＲＢＷ）が変調周波数より広い帯域幅となる場合は計算対象のスペクトラムは複数となる。このため、従来技術により、振幅Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）が最大となるスペクトラムのみを１本選択する算出方法に対しては、補正が必要となる。
具体的には、測定帯域幅（ＲＢＷ）内で隣接する複数のスペクトラムの振幅Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）をすべて加算し、その結果がもっとも大きくなる値の絶対値から算出される値を電磁妨害低減量とするというものである。
すなわち、電磁妨害低減量の第１の補正によれば、一般に行われているスペクトラム１本の場合よりもレベル低減率は目減りして測定されることになり、この目減りは、補正によるものということになる。
また、この時の周波数は選択したｎから容易に決定され、周波数は（ｆ＋ｎｆｍ）及び（ｆ−ｎｆｍ）の両方から計算することができる。
このときの計算対象のスペクトラム本数Ｓｎは、式２で与えられる。例えば、ＲＢＷ＝１００ｋＨｚであれば、ｆｍ＝１００ｋＨｚのときには、測定帯域幅の帯域の両端にスペクトラムが位置し、２本のスペクトラムが対象となる。
また、ｆｍ＝５０ｋＨｚであれば、測定帯域幅の両端と中心にスペクトラムが位置することになり、全部で３本のスペクトラムが対象になる。
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ここに、Ｉｎｔ（ｘ）はｘの切り捨て整数化を意味するものとし、ＲＢＷは測定機器の測定帯域幅を示している。
次に、図１に示した電磁妨害低減量の第２の補正についてその方法を説明する。この補正は、測定機器のフィルタ特性の理想特性からのずれに起因するスペクトラムの感度低下に対する補正である。
図４は、本実施例を説明するためのフィルタの特性例を示す図である。
図４を参照すると、矩形の振幅で表される理想のフィルタ特性３１に対して、現実のフィルタ特性３２は矩形からずれた曲線からなり、結果として、周波数帯域制限をもつものとなる。現実のフィルタ特性３２は、電磁妨害低減量の測定機器であるスペクトラムアナライザで見られる。
具体例であるが、代表的なスペクトラムアナライザでは、中心周波数の感度に対して、−３ｄＢの感度低下３３が発生するフィルタ帯域３４を測定帯域幅として定義している。
図４を参照すると、理想的なフィルタ特性３１を用いた計算では、４本のスペクトラムが振幅に影響を受けることなく通過できるのに対し、現実のフィルタ形状３２を考慮した計算では、４本のスペクトラムのうち、フィルタの端部に近い２本のスペクトラムに関しては振幅に制限を受けることがわかる。
このような制限を考慮することが第２の補正である。
つまり、従来方法である式１を用いて求められたスペクトラムの振幅を求めた後、フィルタの端部にあたるスペクトラムにはそれぞれ、相応の感度低下に起因する補正を与えて計算を行うことが、電磁妨害低減量の第２の補正である。
次に、本発明の高調波への適用例について説明する。
上述した説明では、時間変化がサイン（正弦）波の電磁妨害信号を、サイン波で変調した場合について述べた。一方、スペクトラム拡散クロック技術による変調では、電磁妨害信号はクロック波、つまり矩形波を変調することになる。
矩形波は、基本波となるサイン波とその高次高調波の合成波であり、電磁妨害低減はその高調波においても重要であり、矩形波に含まれる高調波での電磁妨害低減計算が必要となる。
高調波を考える場合も基本的にはサイン波と同様の扱いができ、Ｎ次高調波の変調にかかる変数を下記のように扱うことによって同様の計算が可能となる。
クロックの基本波となるサイン波のＮ次高調波の計算を行う場合に、搬送波として計算に用いる搬送周波数ｆＮは、クロック周波数（＝搬送周波数）ｆを用いて、次のように表される。
ｆＮ＝Ｎｆ（Ｈｚ）    ・・・・式（３）
Ｎ次高調波の計算を行う場合に、変調周波数として計算に用いる変調周波数ｆｍＮは、クロック周波数に対する変調周波数ｆｍをそのまま用いて、次のように表される。
ｆｍＮ＝ｆｍ（Ｈｚ）  ・・・・式（４）
Ｎ次高調波の計算を行う場合、最大周波数偏移として計算に用いる最大周波数偏移ΔｆＮは、クロック周波数の最大周波数偏移Δｆを用いて、次のように表される。
ΔｆＮ＝ＮΔｆ（Ｈｚ）  ・・・・式（５）
Ｎ次高調波とした場合に、ここで扱うスペクトラム本数ＳｎＮは、クロック周波数に対する変調周波数ｆｍと測定機器の測定帯域幅を用いて、次のように表される。
つまり、式２と同じ式を用いることになる。
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次に、図１のフローチャートを参照して、高調波への適用例を詳細に説明する。なお、図１のフローチャートに対応する説明については、文末括弧内に図１のステップ番号を示した。また、図１による計算結果の測定結果との比較についても説明する。
最初に、クロック周波数（搬送周波数）、変調周波数、最大周波数偏移（＝クロック周波数×変調度（％）／１００）、測定器の測定帯域幅を入力する（ステップ１０１）。
次に、電磁妨害低減量の概算を計算する。入力した数値に式１を適用して、ベッセル関数で与えられる振幅を計算する。そこで、最大値を示す振幅の絶対値を探索し、振幅の最大値を与えるベッセル関数Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）の次数ｎをｎｍａｘとしておく（ステップ１０２）。
次に、式２を用いて測定機器の帯域幅と変調周波数を比較し、測定機器の測定帯域幅内に入るスペクトラムの本数を計算する。
ここで算出されるスペクトラムの本数により、ベッセル関数の次数ｎｍａｘの周辺次数、例えばｎｍａｘ−１やｎｍａｘ−２、・・、又はｎｍａｘ＋１、ｎｍａｘ＋２、・・などから、隣接するスペクトラム群の組み合わせとして、その振幅の係数の総和が最大になる組み合わせを選別する。
具体的には、式２で得られる本数が２本ならば、ｎｍａｘの次数で与えられるベッセル関数の絶対値とｎｍａｘ−１との絶対値の総和、又はｎｍａｘの次数で与えられるベッセル関数の絶対値と、ｎｍａｘ＋１との絶対値の総和である２組の組み合わせから、総和のより大きい１つの組み合わせを選ぶ。
このようにして得られた総和が、電磁妨害低減量の第１の補正に対応する（ステップ１０３）。
次に、このようにして得られた結果と測定値の比較について説明する。
図５は、本実施例による電磁妨害低減量の計算値と測定値の比較を示す図である。
図では、搬送周波数を５０ＭＨｚとし、変調度を１．２５％とし、変調周波数を横軸変数とした場合の電磁妨害低減効果測定値をプロットしている。測定は、ＲＢＷ＝３ｋＨｚの場合（●印で示す）とＲＢＷ＝１００ｋＨｚ（■印で示す）の場合の２種類について行った。
次に、「補正なし」の計算結果（△印で示す）は、図１のステップ１０２で述べた従来技術による電磁妨害低減量の概算で得られる結果であり、ＲＢＷ＝３ｋＨｚの測定値と一致していることがわかる。この結果は、測定帯域幅が、変調周波数ｆｍよりも狭い場合においては、補正が不要であることを表している。
次に、ＲＢＷ＝１００ｋＨｚの測定結果を見ると、変調周波数ｆｍが測定帯域幅より狭くなる範囲で大きな偏差を生じていることが示され、この部分が補正を必要とすることがわかる。
そこで、本実施例による電磁妨害低減量の第１の補正を行う（◇印で示す）と、変調周波数が６０ｋＨｚとなるまではほぼ計算結果と合致することがわかる。しかしながら、６０ｋＨｚ以上ではまた測定値との乖離がみられる。
そこで、本実施例による電磁妨害低減量の第２の補正（○印で示す）を行う。補正後は測定値との一致が見られ、電磁妨害低減量の第１の補正で見られた乖離の原因はフィルタ帯域幅３４の端部における感度低下が原因であったことがわかる。
このように、本実施例による電磁妨害低減量の第１の補正と電磁妨害低減量の第２の補正を組み合わせることにより、測定帯域幅が変調周波数よりも広い場合においても、計算により正確に電磁妨害低減量を見積もることができる。
次に、本実施例による計算処理の簡略化を行う方法について説明する。
ベッセル関数Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）が振幅を表し、その振幅が電磁妨害低減レベルに関与すること及びその振幅を最大とする次数ｎを検索することなどを説明したが、この最大値をより簡便に探索する方法について説明する。
図６は、本実施例を説明するためのベッセル関数で得られる振幅を示す図である。なお、図の横軸はベッセル関数のｎ値である。
図６を参照すると、ベッセル関数Ｊｎ（Δｆ／ｆｍ）ではｎ＝Δｆ／ｆｍの付近で零（ゼロ）への収束が起こる。このようなベッセル関数の特性に基づき、最初にｎ＝Δｆ／ｆｍの付近を探索する。
また、このｎ＝Δｆ／ｆｍの付近でベッセル関数は最大値となる。
以上から、簡便に振幅の最大値を求める方法としてｎ＝Δｆ／ｆｍをまず計算し、次に式２で得られるＳｎを考慮し、ｎ＝Δｆ／ｆｍ−Ｓｎからｎ＝Δｆ／ｆｍ＋Ｓｎの範囲で振幅を計算すればよいことが導かれる。
上記の簡便に最大値を探索する方法では、ｎ＝Δｆ／ｆｍ−Ｓｎからｎ＝Δｆ／ｆｍ＋Ｓｎ迄のベッセル関数の次数の中に、振幅最大となる次数を見出すことができる。また、この範囲の次数の中で、測定帯域幅に含まれる本数に該当するスペクトラム振幅の最大の組み合わせを、容易に見出すことができる。
Ｎ次の高調波においては、ｎ＝ΔｆＮ／ｆｍ−ＮＳｎからｎ＝ΔｆＮ／ｆｍ＋ＮＳｎ迄を求めればよい。
このようにすることにより、最大値の探索を大いに簡略化できることになる。
上記の実施例では、与えられたパラメータから電磁妨害低減量を計算する例を示してきたが、変調周波数、変調度などの各パラメータの組み合わせによる電磁妨害の低減量が測定によらず計算だけで実現できることを利用し、最適なパラメータの組み合わせを理論的に導くことができ、電子回路を設計する時点で、スペクトラム拡散のパラメータを設定するための設計手段としても利用することができる。
次に、本実施例による具体的な動作例について、図を用いて説明する。
下記の条件例の場合について、計算例を示す。
〔条件例〕
クロック周波数：５０ＭＨｚ
変調周波数：１００ｋＨｚ
変調度：１％
測定機器であるスペクトラムアナライザの測定帯域幅（ＲＢＷ）：１００ｋＨｚ
以上の条件例について、基本波、２次高調波での電磁妨害低減量を求める。なお、図１を参照し、図のフローチャートに対応する説明については、文末括弧内に図１のステップ番号を示した。
最初に、図１の電磁妨害低減量の概算を行う（ステップ１０２）。
最大の電磁妨害低減量を示すＪｎ（Δｆ／ｆｍ）を算出すると、ｎ＝４の時（周波数では、４９．６ＭＨｚ、５０．４ＭＨｚ）に係数の絶対値が０．３９１となり、最大を示す。つまり、５０ＭＨｚ付近において、もっとも電磁妨害低減が少ない周波数でのレベル低減値は変調前の０．３９１倍であることになる。
次に、電磁妨害低減量の第１の補正を行う（ステップ１０３）。式２により、測定器のＲＢＷで一度に捉えられるスペクトラム本数Ｓｎは２本であることを算出できる。
ここでは、本実施例による計算処理の簡略化を行う方法を用いる。
そこで、ｎ＝４の付近のＪ４−１（Δｆ／ｆｍ）とＪ４＋１（Δｆ／ｆｍ）で表される係数をそれぞれ求めると、それぞれ０．３６５、０．２６１となる。
この結果から、測定器のＲＢＷによる影響を考慮した振幅の最大値は、最初に得られた０．３９１と、それに隣接する０．３６５の係数を持つスペクトラム（４９．６ＭＨｚと４９．７ＭＨｚ）の組み合わせにより得られることがわかる。
次に、電磁妨害低減量の第２の補正を行う（ステップ１０４）。第２の補正では、測定機器の検出感度低下の影響を補正する。
図７は、本実施例を説明するための測定機器のフィルタ特性例を示す図である。
図７を参照すると、測定機器の検出感度は中心周波数で最も高く、中心周波数からずれると低下することがわかる。
以下に述べる電磁妨害低減量の第２の補正は、図７を用いて行った。
振幅の最大値の計算に用いられるスペクトラムは、測定帯域幅の両端に位置することになるので、測定器の感度低下を図７から求め、それぞれ−３ｄＢの補正を行う。
その結果、０．３９１と０．３６５はそれぞれ０．２７７と０．２５８となり、その合算値は０．５３５となり、電磁妨害低減は変調前のレベルの０．５３５倍であることが求まられる。
次に、周波数１００ＭＨｚの２次高調波での電磁妨害低減量であるが、式３、式４、式５、式６の各式により設定パラメータをクロック周波数の２次高調波に対応したパラメータに置き換え、上記と同様の計算を行う。その結果、第１の補正の段階で扱うそれぞれの計数が０．３１８と０．２９１となり、また第２の補正を行った後の総和が０．４３１と求められ、２次高調波においては０．４３１倍に電磁妨害が低減することを計算により求めることができる。
以上述べたように本実施例の方法は、電磁妨害の低減手段であるスペクトラム拡散による電磁妨害低減量の計算方法であって、スペクトラム拡散により電磁妨害信号の周波数スペクトラムから生成された複数のスペクトラムのうち、振幅が最大となるスペクトラムが測定帯域幅内に含まれるように測定帯域幅の中心周波数を変化させた場合に、測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を合計し、前記振幅の合計の最大値を電磁妨害信号の振幅で除算することにより、電磁妨害低減量を算出することができる。
次に、本発明の方法を提供する電磁妨害低減量計算装置について説明する。
図８は、本実施例による電磁妨害低減量計算装置でなされる処理を説明するためのフローチャートである。なお、図でフローチャート右側の枠内は、各ステップに対応する説明の概略である。
図８を参照すると、最初に入力手段により数値データの入力を行う（ステップ８０１）。
計算に必要なパラメータとして、クロック周波数ｆ、変調周波数ｆｍ、最大周波数偏移Δｆ、測定器の測定帯域幅ＲＢＷを、キーボードなどの入力装置から入力する。なお、最大周波数偏移をクロック周波数に与えられる変調度（％）から求めなければならない場合は、変調度を入力し、Δｆ＝ｆ×（変調度／１００）から最大周波数偏移を求めることもできる。
次に、振幅が最大となるベッセル関数の仮次数をｎ＝Δｆ／ｆｍの関係を用いて算出する（ステップ８０２）。
ここで、ベッセル関数の仮次数とはｎを指す。前述したように、仮次数ｎの付近の次数で、ベッセル関数は振幅が最大となる。
次に、振幅が最大となるベッセル関数の次数をｎ＝Δｆ／ｆｍ−Ｓｎからｎ＝Δｆ／ｆｍ＋Ｓｎの次数について行い、振幅が最大となる次数を決定する（ステップ８０３）。
次に、振幅を最大とする次数ｎに対応する振幅とｎの前後に対応する次数の振幅を加え、振幅の和が最大となる組み合わせを決定し、次数ｎの振幅を補正するための第１の補正値を算出する（ステップ８０４）。
次に、測定帯域幅端部での第２の補正値を算出する（ステップ８０５）。
次に、第１の補正値と第２の補正値を加え、振幅を算出する（ステップ８０６）。
次に、このようにして計算した振幅を用いて電磁妨害低減量を算出し、表示する（ステップ８０７）。
以上の処理により、データを入力すると電磁妨害低減量を算出することができる。
図９は、本実施例による電磁妨害低減量計算装置の構成を示す図である。
本実施例による電磁妨害低減量計算装置は入力部１１０と、演算処理部１２０と、記憶部１３０及び出力部１４０で構成される。
入力部１１０では、スペクトラム拡散の設定パラメータを入力する。クロック波形の電磁妨害低減量を計算する場合には、クロック周波数、変調周波数、最大周波数偏移及び測定帯域幅を入力する。
演算処理部１２０では、スペクトラム拡散による電磁妨害低減量を算出する。
ここでは、最初に、振幅が最大となるベッセル関数の仮次数の算出、振幅が最大となるベッセル関数の次数の算出を行うことができる。
次に、スペクトラムが複数の場合に対する補正値の算出、測定帯域幅端部での補正値の算出を行うことができる。
また、演算処理部１２０では、振幅を算出し、電磁妨害低減量を算出することができる。
記憶部１３０は、演算処理部１２０で行う計算に必要なデータを格納することができる。
また、出力部１４０は、演算処理部１２０で算出された電磁妨害低減量を出力することができる。
以上説明した実施例によれば、与えられた測定帯域幅を有する測定機器で測定される、スペクトラム拡散による電磁妨害低減量を計算する際に、測定による補正を必要とした電磁妨害低減量の測定帯域幅が変調周波数よりも広い場合に、測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を加算した和の最大値から電磁妨害低減量を算出することにより、測定帯域幅の影響により必要としていた電磁妨害レベル補正が不要になると共に、電磁妨害低減量を計算のみにより算出することが可能となる。
本発明の電磁妨害低減量計算装置は、その動作をハードウェア的に実現することは勿論として、上記した各計算を実行する計算プログラム（アプリケーション）２００をコンピュータ装置である電磁妨害低減量計算装置で実行することにより、ソフトウェア的に実現することができる。この計算プログラム２００は、磁気ディスク、半導体メモリその他の記録媒体に格納され、その記録媒体から電磁妨害低減量計算装置にロードされ、その動作を実行することにより、上述した各数値情報を算出する。
【実施例】  （実施例２）
次に、本発明の第２の実施例について図面を用いて説明する。
本実施例では、第１の実施例による計算方法に基づき、電磁妨害低減量を最大とする電子回路例について説明する。
第１の実施例で述べた計算方法を用いて、クロック周波数、最大周波数偏移及び測定帯域幅を一定とした場合の、電磁妨害低減量を最大とする変調周波数を算出し、クロック周波数、最大周波数偏移及び測定帯域幅並びに変調周波数のそれぞれの値を用いて電子回路のスペクトラム拡散を設定することもできる。
図５を参照すると、測定器の測定帯域幅による影響を考慮しない場合の低減効果の計算値（ＲＢＷ＝３ｋＨｚのグラフ、●印で示される値）は、変調周波数が増大すると減少することが読みとれる。
一方で、補正が必要な場合の低減効果の計算値（ＲＢＷ＝１００ｋＨｚのグラフ、■印で示される値）は、変調周波数が増大すると、その効果が増大する。
これらの２つのグラフは、変調周波数が測定器の測定帯域幅と等しくなる周波数で漸近してくることがわかる。これらの２つのグラフが交わる点は、以下に述べるようにフィルタ特性により左右される。
２つのグラフが交わる点は、測定帯域幅を越える帯域で感度低下が急激に落ち込むような理想的な矩形波形状のフィルタ特性が得られるときには、その交点はｆｍ＝ＲＢＷで現れる。一方、図７に示したような現実の矩形からずれたフィルタ特性の場合には、その交点は右側、つまり、変調周波数ｆｍの大きな方へとずれる。
これらの結果から、電磁妨害の低減効果が最大となる変調周波数ｆｍが、概ね測定機器の測定帯域幅と同じ周波数となるときに現れることが説明できる。よって、変調周波数ｆｍをＲＢＷと同じ値に設定することで、ほぼ最大の効果を得ることができる。
このような効果を利用すれば、背景技術の項で説明したように、対象とする測定の標準規格（国際無線障害特別委員会の「ＣＩＳＰＲ２２」規格およびこの国際規格に準じた「ＶＣＣＩ規格」）で測定帯域幅が決められる場合には、周波数が１５０ｋＨｚから３０ＭＨｚの周波数範囲で最大の低減効果を期待する場合にはスペクトラム拡散技術による変調周波数を９ｋＨｚとすることを、また周波数が３０ＭＨｚから１ＧＨｚの周波数範囲で最大の低減効果を期待する場合には変調周波数を１２０ｋＨｚとすることを、また周波数が１ＧＨｚを超える周波数で最大の低減効果を期待する場合には変調周波数を１ＭＨｚとすることを選定すればよいことがわかる。
なお、上述したフィルタ特性の影響のため、電磁妨害の低減効果が最大となる変調周波数ｆｍは、測定帯域幅を越えた周波数となる。このため、フィルタ特性を考慮すると、電磁妨害の低減効果が最大となる変調周波数ｆｍは、測定帯域幅から当該測定帯域幅を越えた周波数迄の範囲となる。
図１０は、本実施例による、電子回路３１０からのスペクトラム拡散信号３２０の携帯電話３３０への干渉を示す図である。
図で、電子回路３１０から携帯電話３３０への干渉を最小にするためには、スペクトラム拡散信号３２０の変調周波数ｆｍを携帯電話の占有帯域幅である１２．５ｋＨｚや２５ｋＨｚに等しくすることで、達成することができる。なお、電磁妨害の測定を行う場合には、測定帯域幅を、妨害を受ける機器の占有帯域幅に等しくして測定することが定められている。
以上好ましい複数の実施例をあげて本発明を説明したが、本発明は必ずしも、上記実施例に限定されるものでなく、その技術的思想の範囲内において様々に変形して実施することができる。
本発明の電磁妨害低減量の計算方法、電磁妨害低減量計算装置、計算プログラム及び電子回路によれば、以下の効果が達成される。
第１に、与えられた測定帯域幅を有する測定機器で測定される、スペクトラム拡散による電磁妨害低減量を計算する際に、測定による補正を必要とした電磁妨害低減量の測定帯域幅が変調周波数よりも広い場合に、測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を加算した和の最大値から電磁妨害低減量を算出することにより、測定による補正が不要になり、したがって電磁妨害低減量を計算のみにより算出することが可能となる。
第２に、測定帯域幅内に含まれる全てのスペクトラムの振幅を加算する際、測定帯域幅内の端部周波数付近のスペクトラムに対する測定機器の感度低下の影響を補正することにより、電磁妨害低減量を計算により高い精度で算出することが可能となる。
第３に、計算により見積もられる電磁妨害低減量を最大とする条件で電子回路にスペクトラム拡散を行うことにより、電磁妨害が最小の電子回路素子を作製することが可能となる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2006019196.tif 000012
【図９】
2006019196.tif 000013
【図１０】
2006019196.tif 000014
【国際調査報告】
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2006019196.tif 000016