(57)【要約】適正な記録パルス条件を決定しないと、記録劣化が発生し、再生時にエラーが発生するという課題がある。本発明の記録パルス制御方法は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、マーク長調整工程と、マーク位置調整工程とを備えている。マーク長調整工程は、記録マーク長調整パラメータを調整する工程であり、記録マーク長調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。マーク位置調整工程は、マーク長調整工程の後、記録マーク位置調整パラメータを調整する工程であり、記録マーク位置調整パラメータを、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する。【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、
記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程であって、前記記録マーク長調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する第１工程と、
前記第１工程の後、前記記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程であって、前記記録マーク位置調整パラメータを、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する第２工程と、
を備える記録パルス制御方法。
【請求項２】
前記第１工程は、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を調整する第１の第１工程を含み、
前記第１の第１工程は、前記前端位置調整パラメータを、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する、
請求項１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項３】
前記第１工程は、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を調整する第２の第１工程をさらに含み、
前記第２の第１工程は、前記第１の第１工程の後、前記後端位置調整パラメータを、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する、
請求項２に記載の記録パルス制御方法。
【請求項４】
前記第１工程は、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する第３の第１工程を含む、
請求項１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項５】
前記第１工程は、前記第３の第１工程の後、前記前端位置調整パラメータと前記後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータを調整する第４の第１工程をさらに含む、
請求項４に記載の記録パルス制御方法。
【請求項６】
前記前端位置調整パラメータは、前記記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む、
請求項２に記載の記録パルス制御方法。
【請求項７】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項６に記載の記録パルス制御方法。
【請求項８】
前記前端位置調整パラメータは、少なくとも前記記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２に記載の記録パルス制御方法。
【請求項９】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である、
請求項８に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１０】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項３に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１１】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項３に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１２】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項１１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１３】
前記第２工程は、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
請求項１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１４】
前記所定のパルスは、ファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの少なくとも１つを含み、
前記第２の工程は、前記所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
請求項１３に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１５】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、
記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、
前記記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程と、
を備え、
前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
記録パルス制御方法。
【請求項１６】
前記所定のパルスは、前記記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む、
請求項１５に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１７】
前記書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである、
請求項１５または請求項１６に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１８】
前記書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合には、前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの前記所定のパルスのパルス幅を調整する、
請求項１５に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１９】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整し、
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に前記記録マーク長調整パラメータを調整し、
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
記録パルス制御装置。
【請求項２０】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、前記前端位置調整パラメータを調整する、
請求項１９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２１】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記前端位置調整パラメータの調整の後、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、前記後端位置調整パラメータを調整する、
請求項２０に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２２】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する、
請求項１９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２３】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記前端位置調整パラメータと前記後端位置調整パラメータとの変化の後、前記前端位置調整パラメータと前記後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータをさらに調整する、
請求項２２に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２４】
前記前端位置調整パラメータは、前記記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む、
請求項２０に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２５】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項２４に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２６】
前記前端位置調整パラメータは、少なくとも前記記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２０に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２７】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である、
請求項２６に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２８】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２１に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２９】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２１に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３０】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項２９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３１】
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
請求項１９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３２】
前記所定のパルスは、ファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの少なくとも１つを含み、
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
請求項３１に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３３】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行い、
前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
記録パルス制御装置。
【請求項３４】
前記所定のパルスは、前記記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む、
請求項３３に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３５】
前記書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである、
請求項３３または請求項３４に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３６】
前記書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合には、前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの前記所定のパルスのパルス幅を調整する、
請求項３３に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３７】
レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する光学ヘッドと、
前記再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御手段と、
を備え、
前記記録パルス制御手段は、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を有し、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整し、
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に前記記録マーク長調整パラメータを調整し、
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
光ディスク装置。
【請求項３８】
レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する光学ヘッドと、
前記再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御手段と、
を備え、
前記記録パルス制御手段は、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を有し、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行い、
前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
光ディスク装置。
【請求項３９】
前記誤差検出手段では、前記光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルを用いて前記誤差を検出する、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４０】
前記誤差検出手段では、前記光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルを用いて前記誤差を検出する、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４１】
記録パルス制御手段に対して、前記記録パルス制御手段における調整対象となる記録マークを含む所定の記録パターンを出力する記録パターン発生回路をさらに備え、
前記所定の記録パターンは、異なる長さの記録マークと異なる長さのスペースとをそれぞれほぼ同一の割合で含む、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４２】
前記記録パルス制御手段は、前記光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルあるいは波形の全エネルギーの中心となるレベルをほぼ一定に維持しつつ、前記記録マーク長調整パラメータおよび前記記録マーク位置調整パラメータの調整を行う、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４３】
前記記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する前記記録マーク長調整パラメータの調整を行う際、一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを前記一部の記録マークが長くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行うとともに、他の一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを前記他の一部の記録マークが短くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行う、
請求項４２に記載の光ディスク装置。
【請求項４４】
前記記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する前記記録マーク位置調整パラメータの調整を行う際、前記記録マーク位置調整パラメータを前記異なる記録マークがそれぞれ逆方向に移動するように試し記録を行いそれぞれの前記異なる記録マークの記録マーク位置の調整を行う、
請求項４２に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、光ディスク記録パルス制御方法、その制御装置および光ディスク装置、特に、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する光ディスク記録パルス制御方法、その制御装置および光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  可搬記録媒体に原デジタル情報を記録し、再生する記録再生装置では、同一の記録パルスの形状を用いても、装置や記録媒体の個体差によって、媒体上に形成されるマークの形状がばらつき、再生される信号品質は大きく異なる場合がある。このようなばらつきによる信頼性の低下を防ぐために、記録媒体の脱着時などに校正動作を行っている。校正とは、ユーザデータの信頼性を確保するために、再生系の特性の設定、記録パルスの形状などの最適化を行う制御である。
一般的な情報再生装置においては、再生信号に含まれるクロック情報を抽出し再生信号から抽出されたクロックをもとに原デジタル情報を弁別するＰＬＬ回路が用いられている。図２０に、従来の光ディスクドライブの構成図を示す。光ディスク３７からの反射光は、光学ヘッド３８により再生信号に変換される。再生信号は、波形等化器３９により波形整形される。波形整形された再生信号は、コンパレータ２０で２値化される。通常コンパレータ２０のしきい値は、２値化出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。位相比較器２１は、２値化出力と再生クロックとの位相誤差を求める。求められた位相誤差は、ＬＰＦ２２により平均処理され、ＶＣＯ２３の制御電圧となる。位相比較器２１から出力される位相誤差が常に０になるようにフィードバック制御が行われる。熱記録される記録媒体においては、媒体上の熱干渉のため、前後の記録パターンに応じて媒体上に形成されるマークの形状が異なる。したがって個々のパターンの記録に最適な記録パラメータ設定をすることが求められる。
記録パラメータを評価する指標が上記誤差検出出力である。誤差検出出力が最小となるように、記録パラメータの設定を行う。具体的には、記録補償回路２７は、初期設定された記録パラメータを用いて、パターン発生回路２６から出力された記録パターンを所定のパルス波形とする。レーザ駆動回路２８は、このパルス波形を用いて、光ディスクに記録を行う。さらに、所定の記録パターンが記録されたトラックを再生し、誤差検出回路２４は、コンパレータ２０の出力とＶＣＯ２３の出力との位相誤差の絶対値を積分することで再生クロックと２値化パルスエッジとのジッタと相関を持つ検出信号を得る。さらに、記録パラメータを変化させ記録し、再生を繰り返す。検出値が最小となるときの記録パラメータを最適とする。
誤差検出回路２４の具体的な動作の様子を図２１に示す。例えば６Ｔ、４Ｔ、６Ｔ、８Ｔから成る繰り返し記録パルスを用いて、４Ｔマークと６Ｔスペースの記録パターンにおけるマーク終端エッジの最適化を図る場合について説明する。６Ｔスペースと８Ｔマークとのマーク始端エッジ、８Ｔマークと６Ｔスペースとの終端エッジは、既に最適な記録パラメータで記録されているものとする。図２１（ａ）のような周期的なＮＲＺＩ信号がパターン発生回路２６から与えられると、一般的な書換え型光ディスクに対しては、記録補償回路２７は、図２１（ｂ）のようなレーザ駆動波形を生成する。ここで、Ｔｓｆｐは、マーク始端位置を設定するパラメータで、Ｔｅｌｐは、マーク終端位置を設定するパラメータである。レーザ駆動回路２８は、図２１（ｂ）のような発光パワーの変調をかける。レーザ発光により、図２１（ｃ）に示すように、トラック上に物理的にアモルファス領域が形成される。ここで、４Ｔマークの終端位置を定めるＴｅｌｐをＴｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合、形成されるマークの形状は、図２１（ｃ）のように変化する。このようなトラックを再生した場合について説明を加える。
４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値のＴｅｌｐ２としたとき、図２１（ｄ−１）の実線の再生信号が得られる。コンパレータ出力の積分値が０となるよう、しきい値が定められる。コンパレータ出力と再生クロックとの位相差を検出し、位相誤差の積分値が０となるよう図２１（ｅ−１）のような再生クロックが生成される。
次に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より小さくし、Ｔｅｌｐ１とした場合について説明を加える。このとき、図２１（ｄ−２）の実線の再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値は、図２１（ｄ−１）に示したしきい値に比べ、図２１（ｄ−２）に示す一点鎖線のように大きくなる。しきい値の変化によりコンパレータ出力が変化するため、位相誤差の積分値が０となるよう生成される再生クロックは、図２１（ｅ−１）に示した再生クロックに比べ、図２１（ｅ−２）に示すように位相が進む。
逆に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より大きくし、Ｔｅｌｐ３とした場合について説明を加える。このとき、図２１（ｄ−３）の実線の再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値は、図２１（ｄ−１）に示したしきい値に比べ、図２１（ｄ−３）に示す一点鎖線のように小さくなる。しきい値の変化によりコンパレータ出力が変化するため、位相誤差の積分値が０となるよう生成される再生クロックは、図２１（ｅ−１）に示した再生クロックに比べ、図２１（ｅ−３）に示すように位相が遅れる。
マーク終端エッジ（再生信号の立ち上がり）と再生クロックとの時間差（いわゆるデータ−クロック間ジッタ）を測定すると、図２１（ｆ）のような分布が得られる。ただし、４Ｔマーク終端、８Ｔマーク終端エッジは、同じ分散値の正規分布となるようなばらつきを持つことを仮定している。図２１（ｄ−１）、図２１（ｅ−１）のような再生信号と再生クロックの場合、立ち上がりエッジ（マーク終端エッジ）のコンパレータ出力と再生クロックとの時間差の分布を求めると、図２１（ｆ−２）のようになる。すなわち、４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端との分布のそれぞれの平均値が０となる。
しかし、４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ１（最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値とした場合）のときは、図２１（ｆ−１）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布の平均値とは０とはならず、同じ距離だけ０から離れた分布を示す。したがって、立ち上がりエッジのトータルの分散は、図２１（ｆ−２）の場合に比べて大きくなる。同様に、４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ３（最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値とした場合）のときは、図２１（ｆ−３）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布の平均値とは０とはならず、同じ距離だけ０から離れた分布となる。ただし、図２１（ｆ−１）とは、４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端との分布が入れ替わっていることになる。この場合も立ち上がりエッジのトータルの分散は、図２１（ｆ−２）の場合に比べて大きくなる。
図２０のように位相誤差の絶対値を累積し誤差検出出力とする場合、記録パラメータＴｅｌｐの変化に従って、図２１（ｇ）のように誤差検出値が変化する。したがって記録パラメータを変化させ、誤差検出回路２４の出力が最小となるパラメータを最適値とする。上記の例では、４Ｔマーク終端のパラメータＴｅｌｐを最適化する際の手順について説明したが、その他のパラメータについてもそれぞれに対応した特定パターンを用いてテスト記録を行い、誤差検出出力から最適パラメータを求める。
以上の手順をすべての記録パラメータを求める際の動作をフローチャートで示すと、図２２のようになる。テスト記録を行う媒体の領域にジャンプし、マーク始端あるいはマーク終端の記録パラメータを領域（例えばセクタ）ごとに変化させながら記録を行う。記録領域の再生を行い、パラメータを変化させた領域ごとに誤差検出出力を取り込む。さらに、誤差検出出力が最小となるパラメータを求める。次のパラメータを求めるため、以上の動作をすべてのパラメータが求められるまで繰り返す。例えば、上記方法は、特許文献１、特許文献２に記載されている。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報（図１）
【特許文献２】特開２００１−１０９５９７号公報（図１）
【特許文献３】特開２００２−１４１８２３号公報（図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】  光ディスクの記録再生装置を量産した時、使用部品の特性ばらつきや、環境変化などで、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。例えば、記録に関係のあるレーザ駆動手段とレーザを搭載したヘッドは、レーザ特性のばらつきを主要因として、たとえ同一の電流波形をレーザに供給しても、パルス幅が変わる。個々の装置で常に同じ発光波形が得られるとは限らない。同様に光ディスク自体も量産時に、ある程度の特性ばらつきが発生し、同一の発光波形で記録しても個々のディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。
従って、標準的な特性を有する基準ディスクを用いて、標準的な特性を有する基準装置で決定された記録パルス標準条件を、特性のばらつきを有する量産したディスクと装置とでそのまま使用すると、組み合わせによっては適正な記録再生が行われず、品質不良が発生するという課題がある。
更に、十分な品質管理の元で製造された特性ばらつきの小さいディスクであれば問題は少ないが、ディスク上に予め記録してある記録パルス標準条件が、ディスク性能と大きくずれている場合は、装置がディスクから読み出した記録パルス標準条件を忠実に再現しても、このディスクでは特性を発揮することができないという課題が発生する。
更に、ディスク上に記録マークを形成するための記録パルス条件の組み合わせは、一つでなく、何種類も存在する。所定のマーク長およびマークの位置が適切であるように、記録パルス標準条件からその装置とディスクとの組み合わせによる最適な記録パルスを調整するのであるが、ディスク上に何回も繰り返し記録することで、ディスク劣化を引き起こす繰り返し記録劣化、記録されているディスクに上書きするときに適切でない記録パワーで記録した場合に発生する記録劣化、温度湿度等の環境変化による記録劣化を考慮する必要がある。例えば、マーク長調整において、記録パルスパラメータの中でも積極的に調整してよいパラメータとそうでないパラメータが存在する。従来では、そのような記録パルス条件パラメータの特性を考慮しない記録パルス条件の調整を行っており、記録劣化が発生する課題がある。
本発明は、上述の課題を解決するものであり、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響および上記各種記録劣化を低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】  第１の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、第１工程と第２工程とを備えている。第１工程は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程である。第１工程は、記録マーク長調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。第２工程は、第１工程の後、記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程である。第２工程は、記録マーク位置調整パラメータを、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する。
ここで、第１工程では、例えば、記録パルスパラメータの基準値を取得し、この基準値からの調整を行う。第２工程は、例えば、第１工程で少なくとも一部が調整された記録パルスパラメータからの調整を行う。なお、第１工程および第２工程において、調整の対象とならない記録パルスパラメータについては、この基準値が用いられる。この基準値は、例えば、光ディスクに予め記録されていても良い。
第２の発明は、第１の発明であって、第１工程は、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を調整する第１の第１工程を含む。第１の第１工程は、前端位置調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。
第３の発明は、第２の発明であって、第１工程は、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を調整する第２の第１工程をさらに含む。第２の第１工程は、第１の第１工程の後、後端位置調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。
第４の発明は、第１の発明であって、第１工程は、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する第３の第１工程を含む。なお、第３の第１工程では、例えば、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとを同時に変化することにより、調整を行ってもよい。
第５の発明は、第４の発明であって、第１工程は、第３の第１工程の後、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータを調整する第４の第１工程をさらに含む。
第６の発明は、第２の発明であって、前端位置調整パラメータは、記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む。
第７の発明は、第６の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第８の発明は、第２の発明であって、前端位置調整パラメータは、少なくとも記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む。なお、前端位置調整パラメータは、さらにファーストパルスの位置を調整するパラメータをさらに含んでいてもよい。
第９の発明は、第８の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である。
第１０の発明は、第３の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第１１の発明は、第３の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第１２の発明は、第１１の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第１３の発明は、第１の発明であって、第２工程は、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
第１４の発明は、第１３の発明であって、所定のパルスは、少なくともファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの２つを含む。第２の工程は、所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように記録マーク位置調整パラメータを調整する。ここで、所定のパルスは、記録パルスが含む全てのパルスでもよく、この場合、全てのパルスのパルス位置が同じ方向に同じ量だけ変化されてもよい。
第１５の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程とを備えている。記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
第１６の発明は、第１５の発明であって、所定のパルスは、記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む。
第１７の発明は、第１５または第１６の発明であって、書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである。
第１８の発明は、第１５の発明であって、書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合、記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を調整する。
ここで、書き込み可能な光ディスクが追記型であるか、それ以外（例えば、書き換え型）であるかの判断は、例えば、光ディスクから取得される判別信号などにより行われる。
第１９の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する。記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に記録マーク長調整パラメータを調整する。記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に記録マーク位置調整パラメータを調整する。
第２０の発明は、第１９の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、前端位置調整パラメータを調整する。
第２１の発明は、第２０の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、前端位置調整パラメータの調整の後、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、後端位置調整パラメータを調整する。
第２２の発明は、第１９の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する。なお、記録マーク長調整パラメータの調整では、例えば、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとを同時に変化することにより、調整を行ってもよい。
第２３の発明は、第２２の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとの変化の後、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータをさらに調整する。
第２４の発明は、第２０の発明であって、前端位置調整パラメータは、記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む。
第２５の発明は、第２４の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第２６の発明は、第２０の発明であって、前端位置調整パラメータは、少なくとも記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む。なお、前端位置調整パラメータは、さらにファーストパルスの位置を調整するパラメータをさらに含んでいてもよい。
第２７の発明は、第２６の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である。
第２８の発明は、第２１の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第２９の発明は、第２１の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第３０の発明は、第２９の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第３１の発明は、第１９の発明であって、記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
第３２の発明は、第３１の発明であって、所定のパルスは、少なくともファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの２つを含む。記録マーク位置調整パラメータの調整では、所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように記録マーク位置調整パラメータを調整する。ここで、所定のパルスは、記録パルスが含む全てのパルスでもよく、この場合、全てのパルスのパルス位置が同じ方向に同じ量だけ変化されてもよい。
第３３の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行う。記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
第３４の発明は、第３３の発明であって、所定のパルスは、記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む。
第３５の発明は、第３３または第３４の発明であって、書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである。
第３６の発明は、第３３の発明であって、書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合、記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を調整する。
第３７の発明は、光ディスク装置であって、光学ヘッドと、誤差検出手段と、記録パルス制御手段とを備えている。光学ヘッドは、レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する。誤差検出手段は、再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する。記録パルス制御手段は、誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する。また、記録パルス制御手段は、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを有している。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する。記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に記録マーク長調整パラメータを調整する。記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に記録マーク位置調整パラメータを調整する。
第３８の発明は、光ディスク装置であって、光学ヘッドと、誤差検出手段と、記録パルス制御手段とを備えている。光学ヘッドは、レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する。誤差検出手段は、再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する。記録パルス制御手段は、誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する。また、記録パルス制御手段は、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを有している。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行う。記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
第３９の発明は、第３７または第３８の発明であって、誤差検出手段では、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルを用いて誤差を検出する。ここで、波形の全エッジの中心となるレベルとは、例えば、そのレベルをしきい値として再生波形の位相誤差を検出した場合に、検出される位相誤差を最小化するレベルのことである。
第４０の発明は、第３７または第３８の発明であって、誤差検出手段では、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルを用いて誤差を検出する。
第４１の発明は、第３７または第３８の発明であって、記録パルス制御手段に対して、記録パルス制御手段における調整対象となる記録マークを含む所定の記録パターンを出力する記録パターン発生回路をさらに備えている。所定の記録パターンは、異なる長さの記録マークと異なる長さのスペースとをそれぞれほぼ同一の割合で含む。
第４２の発明は、第３７または第３８の発明であって、記録パルス制御手段は、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルあるいは波形の全エネルギーの中心となるレベルをほぼ一定に維持しつつ、記録マーク長調整パラメータおよび記録マーク位置調整パラメータの調整を行う。
第４３の発明は、第４２の発明であって、記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する記録マーク長調整パラメータの調整を行う際、一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを一部の記録マークが長くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行うとともに、他の一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを他の一部の記録マークが短くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行う。
第４４の発明は、第４２の発明であって、記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する記録マーク位置調整パラメータの調整を行う際、記録マーク位置調整パラメータを異なる記録マークがそれぞれ逆方向に移動するように試し記録を行いそれぞれの前記異なる記録マークの記録マーク位置の調整を行う。
【発明の効果】  以上のように、本発明によれば、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、かつ適正な記録パルス調整制御を行うことで、記録状態を良好とし、再生時のエラーを低減することができる。さらに付随的には、光ディスクおよび記録再生装置の大量生産時の歩留まりが向上し、製品の品質向上とコスト削減を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００４】
【図１】本発明の実施の形態における記録パルス調整フローチャートの概略図
【図２】本発明の実施の形態における記録パルス条件の説明図
【図３】本発明の実施の形態における各マーク長の記録パルスの波形図
【図４】本発明の実施の形態におけるエッジシフト検出の説明図
【図５】本発明の実施の形態における記録パルス調整の手順フローチャート図
【図６】２Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図７】２Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図８】２Ｔマークのマーク位置調整における記録パルス調整説明図
【図９】２Ｔマークの記録パルス調整時に求められるエッジシフト量の変化を示す図
【図１０】クロスパワー特性と繰り返し特性を示す図
【図１１】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１２】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１３】３Ｔマークのマーク位置調整における記録パルス調整説明図
【図１４】３Ｔマークの記録パルス調整時に求められるエッジシフト量の変化を示す図
【図１５】記録パルス条件を示す図
【図１６】本発明の実施の形態における記録再生装置の一構成例を示すブロック図
【図１７】本発明の実施の形態における記録再生装置の一構成例を示すブロック図
【図１８】記録マークの始端位置と終端位置とを示す説明図
【図１９】ディスクに応じた記録パルスの調整について説明する記録パルス調整説明図
【図２０】従来の記録再生装置の構成を示すブロック図
【図２１】従来例の誤差検出回路の具体的な動作の様子を示した図
【図２２】従来例の記録パルスパラメータを求める動作のフローチャート図
【符号の説明】
【０００５】  １，３８  光学ヘッド
２，３７  光ディスク
３，３９  波形等化器
４        Ａ／Ｄ変換器
５        高域通過フィルタ
６，２１  位相比較器
７，２２  ＬＰＦ
８        Ｄ／Ａ変換器
９，２３  ＶＣＯ
１０        ２値化回路
１１        パターン検出回路
１２        エッジシフト検出回路
１３，２５  光ディスクコントローラ
１４，２６  パターン発生器
１５，２７  記録補償回路
１６，２８  レーザ駆動回路
１７        ＦＩＲフィルタ
１８        ＬＭＳブロック
１９        ビタビ復号回路
２０        コンパレータ
２４        誤差検出回路
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】  以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態）
まず、本記録パルス制御の目的は、光ディスク上に記録されたデータを最小のエラーで再生するために、最良の記録を行うことである。最良の記録状態を実現するために、記録に係わるパラメータを最適にする必要がある。記録に係わるパラメータには、主に、記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータ、記録時のサーボパラメータ等あるが、本発明は特に、記録パルスパラメータ、すなわち後述する記録時パルス波形の形状に係わるパラメータの調整制御に関する。
本実施の形態で用いる記録方式について述べる。光ディスクにデータを書き込む場合にマルチパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報としてディスクに書き込む。また、マークの長さが、２Ｔから９Ｔ（Ｔはクロック１周期分の時間）、スペースの長さが、２Ｔから９Ｔの整数値の組み合わせである変調方式を使うものとする。さらに、本実施の形態では、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のマーク（２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍと略す。）と、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のスペース（２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓと略す。）との組合せにおいて、マークとスペースとの境界部分で、マーク形状のひずみやマーク間熱干渉が発生すると仮定する。ひとつのマークについて、スペースと隣接する部分は、マークの前端と後端との２箇所ある。したがって、記録時に用いる記録パルスのエッジ位置を、これらの組み合わせで記録パルス調整（記録補償）することで正しいマーク長の記録状態が達成される。４Ｔｍ以上と４Ｔｓ以上との組み合わせを一つの組合せとすると、マーク前端パルス条件は３×３の９通り、マーク後端パルス条件も３×３の９通りの組み合わせがあり、それぞれ異なる値の条件を設定することが出来、合計１８の条件の設定値を持つ。
図１５は、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件との値の表である。たとえば、図１５の表（Ａ）において、右下の「４Ｔｓ４Ｔｍ」は、４Ｔ以上のスペースとそれに続く４Ｔ以上のマークとの境界におけるマーク前端パルスの条件が入っていることを示す。図１５の表（Ｂ）において、右上の「２Ｔｍ４Ｔｓ」は、２Ｔのマークとそれに続く４Ｔ以上のスペースとの境界におけるマーク後端パルスの条件が入っていることを示す。図１５の表で示したように、記録マーク長とスペース長との組み合わせごとに記録パルス条件を調整、決定する必要がある。
特性の基準となる代表ディスクと、基準となる代表記録再生装置を用いて、図１５に示す１８個の条件を決定する。決定された記録パルス条件を、記録パルス標準条件として、ディスク上の特定領域に予め記録しておくものとする。なお、記録パルス標準条件には、例えば、記録パルスのファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）、ファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）、マルチパルスの幅（Ｔｍｐ）、最終パルスの後ろに付ける冷却パルスの幅（ｄＴｅ）などがある。本実施の形態では、一例として、記録するマークとスペースとの組み合わせパターンによって適応的に値が変わるパルス条件を対象として説明する。
図１は、本発明の実施の形態における記録パルス制御方法を説明するためのフローチャートである。記録パルスの調整を行うための手順として、まず、ディスク上の特定領域に予め記録されている記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス条件として設定する。特定の記録領域に試し記録を行い、試し記録を行った領域を再生する。このとき、記録状態を調査するために、再生時のエラーと相関のあるパラメータを求める。本実施例では、後述するエッジシフト量を求めて、記録状態を確認する。エッジシフト量が所定量以下または、最小付近であればＯＫとし、記録パルス調整を終了する。一方、エッジシフト量が所定量以上また、最小付近でなければＮＧとし、エッジシフト量から最良となる記録パルス条件を予測し、その記録パルス条件を設定し、上述した試し記録からのシーケンスを繰り返し行い、エッジシフト量が所定量以下、または最小付近になれば終了とする。
また、読み出された記録パルス標準条件を基点に、予め記録パルス条件を数パターン用意しておき、試し記録時に記録パルス条件を変えながら一度に記録し、試し記録を行った領域を再生する。再生時には、記録パルス条件ごとに、エッジシフト量を求めて、エッジシフト量が最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件として採用する。しかし、前述した記録パルス標準条件を基点から用意した記録パルス条件よりもさらに異なった記録パルス条件の方が、エッジシフト量が小さくなると判断した場合は、エッジシフト量が小さくなると思われる記録パルス条件を数パターン用意しておき、試し記録時に記録パルス条件を変えながら一度に記録し、試し記録を行った領域を再生する。上述と同様に再生時には、記録パルス条件ごとに、エッジシフト量を求めて、エッジシフト量が最小付近となる記録パルス条件を決定記録パルス条件として採用する。これは、第一の記録では記録パルス標準条件に比較的近い設定にパラメータの最適点を求めたが最適条件を求めることができず、さらに第二の記録を行うことで、パラメータの探索範囲を広げたことを意味する。このようなことは、ディスクの特性と記録パルス標準条件との特性が異なった場合にあり得る。また、ディスクと記録再生装置との組み合わせにより、記録再生特性が標準特性と大きく異なった場合にもあり得る。
図２に、記録するオリジナル信号（ＮＲＺＩ信号）と、記録パルス波形および記録パルス波形を構成するパラメータと、記録パルスを用いて記録した場合のディスク上のマークとの関係を示す。図２の例は、２Ｔ幅マークと３Ｔ幅スペースと３Ｔ幅マークの２Ｔｍ３Ｔｓ３Ｔｍの記録系列である。最短マークである２Ｔ幅のマークを形成するための記録パルスのパラメータは、上でも触れたが、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）とファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）とクーリングパルスの幅（ｄＴｅ）である。３Ｔ幅以上のマークを形成するための記録パルスのパラメータは、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）とファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）とマルチパルスの幅（Ｔｍｐ）とクーリングパルスの幅（ｄＴｅ）である。図３に、２Ｔから９Ｔまでの記録パルスの形状を示す。２Ｔだけマルチパルスが無い形状となっている。
ここで、図４を用いて、エッジシフト量の求め方を説明する。図４では、３Ｔマークの終端エッジ位置を、図２で説明したクーリングパルスの幅のパラメータであるｄＴｅパラメータを用いて変化させ、形成されるマークとそのマークを再生した場合の再生信号の様子を示している。記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃは、それぞれｄＴｅを例えば、−１、０、１とし、クーリングパルス幅を変えながら形成されるマーク幅を変化させている。図４（ｂ）の再生信号から、エッジシフト検出ポイントにおいて、コンパレータしきい値基準からの再生信号の振幅レベルをサンプリングして、エッジシフト値を求めている。ここでは、振幅値を時間軸のズレとしてエッジシフトを求めたが、もちろん時間軸のズレそのものでもよい。すなわち、上述の図２１で説明したように、再生クロックとコンパレータによる２値化パルスとの時間差であってもよい。図４に示すように、記録パルス条件Ａで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｘとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｘは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、プラスの値として求まり、マーク長が基準より短いと判断できる。一方、記録パルス条件Ｃで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｚとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｚは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、マイナスの値として求まり、マーク長が基準より長いと判断できる。記録パルス条件Ｂで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｙとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｙは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、ほぼ０として求まり、マーク長はほぼ最適と判断できる。再生時に、これらのエッジシフトを所定区間積算する、または所定区間の平均を求めることで、エッジシフト量を求めることができる。上述の図１５で示したマーク長とスペース長との組み合わせごとにエッジシフト量を求めれば、どの長さのマークが最適設定からずれているかを判断することができる。
なお、コンパレータのしきい値としては、例えば、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルが用いられてもよい。ここで、波形の全エッジの中心となるレベルとは、例えば、そのレベルをしきい値として再生波形の位相誤差を検出した場合に、検出される位相誤差を最小化するレベルのことである。また、コンパレータのしきい値としては、例えば、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルが用いられてもよい。
先に、本発明の記録パルス調整の流れを図１のフローチャートを用いて説明した。次に、記録パルスの詳細な調整方法および調整手順について説明する。
図５に、調整手順のフローチャートを示す。まず、マークの長さが適切な長さになるように調整する。以下、２Ｔマークの調整方法について説明する。２Ｔマークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したようにＴｔｏｐとｄＴｔｏｐとｄＴｅとである。
第１のステップは、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを調整することによるマーク長調整である。図６は、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成される２Ｔのマーク長が変化している様子を示している。ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させるということは、ファーストパルスの立下り位置およびクーリングパルス幅は固定で、ファーストパルス幅のみ変化させることを意味する。ファーストパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図９（ａ）に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。図３で示したように、２Ｔマークを形成する記録パルスには、マルチパルスが存在しない。そのため、ファーストパルス幅が終端エッジにも大きく影響を与え、ファーストパルス幅を変化させると、始端エッジだけでなく終端エッジも変化する。すなわち、マーク幅が始端方向と終端方向とに同時に変化することを意味する。
第２のステップは、ｄＴｅパラメータを調整することによるマーク長調整である。図７は、ｄＴｅパラメータを変化させることによりクーリングパルス幅を変化させることで、形成される２Ｔのマーク長が変化している様子を示している。ｄＴｅパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅およびファーストパルスの立下り位置は固定で、クーリングパルス幅のみ変化させることを意味する。クーリングパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図９（ｂ）に、ｄＴｅパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。
第３のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとによるマーク位置調整である。図８は、ｄＴｔｏｐとｄＴｅパラメータとを同時に同方向に変化させることにより記録パルス全体の位置を変化させることで、形成される２Ｔのマークの位置が変化している様子を示している。ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとを同時に同方向に変化させるということは、ファーストパルス幅およびクーリングパルス幅は固定で、記録パルス全体の位置を変化させることを意味する。記録パルス全体の位置を変化させると、形成されるマークの位置が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算は、マークの位相ずれを示し、０が理想的なマークの位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図９（ｃ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄｔｅパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。このように、第１のステップから第３のステップで、マーク調整およびマーク位置調整を行う。
マーク長調整は、第１のステップと第２のステップとで行うが、第２のステップにおけるクーリングパルス幅の変化によるマーク長調整は、第１のステップの補助的な役割である。このため、クーリングパルス幅は、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。または、クーリングパルス幅は、記録パルス標準条件から全く変化させなくともよい。これは、クーリングパルス幅の変化は、ディスク上に何回も繰り返し記録することで、ディスク劣化を引き起こす繰り返し記録劣化、記録されているディスクに上書きするときに適切でない記録パワーで記録した場合に発生する記録劣化、温度湿度等の環境変化による記録劣化などの原因となる可能性が高いためである。
これに関し、図１０を用いてさらに詳しく説明を加える。図１０（ａ）は、最適パワーで記録された領域に記録パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。これをクロスパワー特性と呼ぶこととする。図１０（ｂ）は、最適パワーで同じ領域を繰り返し記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。これを繰り返し記録特性と呼ぶこととする。クロスパワー特性および繰り返し記録特性は、意図的に記録ストレスを与え、記録劣化が発生した領域を作成し、その領域を再生した場合のエラーが発生する確率を求めたものである。図１０において、クーリングパルス幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、クーリングパルス幅が、記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、エラー発生確率が大きくなり、記録劣化が進行しやすい状態となる可能性がある。
次に、３Ｔマーク以上の調整方法について説明する。３Ｔ以上マークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したようにＴｍｐとＴｔｏｐとｄＴｔｏｐとｄＴｅとである。一例として、３Ｔマーク調整について説明する。
第１のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータによるマーク長調整である。２Ｔマーク調整と同様に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成されるマーク長を変化させることも可能である。しかし、本発明の実施の形態では、ファーストパルス幅のパラメータであるＴｔｏｐパラメータは、記録パルス標準設定とし、ファーストパルスの位置を制御するパラメータであるｄＴｔｏｐパラメータのみで、マーク長の調整を行うことに特徴がある。このとき、マルチパルス幅を制御するパラメータであるＴｍｐパラメータも記録パルス標準設定とする。ｄＴｔｏｐパラメータを変化させるということは、ファーストパルス幅、マルチパルス幅およびクーリングパルス幅は固定で、ファーストパルスの立下り位置のみ変化させることを意味する。図１１の設定Ａから設定Ｃで示すように、ファーストパルスの立下り位置を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴとの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１４（ａ）に、ｄＴｔｏｐパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。マークの始端エッジに係わるパラメータｄＴｔｏｐのみを変化させたので、始端のエッジシフト量Ｌのみが変化しており、終端エッジシフト量Ｔは変化していない。そのため、｜Ｌ＋Ｔ｜で示すマーク長は、変化しており、｜Ｌ＋Ｔ｜が最小となるｄＴｔｏｐ設定は、設定０もしくは１として選択される。
第２のステップは、ｄＴｅパラメータによるマーク長調整である。ｄＴｅパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ファーストパルスの立下り位置およびマルチパルス幅は固定で、クーリングパルス幅のみ変化させることを意味する。図１２の設定Ａから設定Ｃで示すように、クーリングパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１４（ｂ）に、ｄＴｅパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定１が選択される。
第３のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとによるマーク位置調整である。ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとを同時に同方向に変化させることにより、マルチパルス幅およびマルチパルス位置を固定したまま、記録パルス全体の位置を変化させることで、形成される３Ｔのマークの位置を変化させる。図１３の設定Ａから設定Ｃで示すように、記録パルス全体の位置を変化させると、形成されるマークの位置が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算は、マークの位相ずれを示し、０が理想的なマークの位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１４（ｃ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。このように、３Ｔ以上のマーク長に対して、第１のステップから第３のステップで、マーク調整およびマーク位置調整を行う。
第１のステップでのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を短い側に変化させると、上述したクロスパワー特性が悪化する可能性がある。また、第１のステップでのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を長い側に変化させると、上述した繰り返し記録特性が悪化する可能性がある。図１０において、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、記録劣化が起こりやすい状態となる可能性がある。これに対し、本発明では、第１のステップにおけるマーク長調整では、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件とし、ファーストパルスの位置のみを調整することに特徴がある。マーク長調整は、第１のステップと第２のステップとで行うが、第２のステップにおけるクーリングパルス幅を変化させることによるマーク長調整は、第１のステップの補助的な役割である。このため、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。
なお、マーク長調整では、マークの前端位置と後端位置とを同時に変化させるようにパラメータを調整してもよい。さらに、この調整を主調整とし、その後に微調整を行ってもよい。微調整では、マークの前端位置を変化させるパラメータと、後端位置を変化させるパラメータとのうち、パラメータの変化により形成されるマークの変化の小さいパラメータの調整が行われてもよい。
本発明の光ディスクの記録パルス制御方法を実現する光ディスクの記録再生装置（光ディスク装置）について説明する。図１６に、本発明の記録再生装置の一例を示す。光学ヘッド１から光ディスク２に照射されたレーザ光は、反射により媒体上の情報を再生信号に変換する。再生信号は、波形等化器３により波形整形される。波形整形された再生信号は、再生クロックに基づいて、Ａ／Ｄ変換器４により量子化される。量子化された再生信号は、高域通過フィルタ５により低周波数成分を除去される。位相比較器６は、高域通過フィルタ５の出力から位相誤差情報を検出する。検出された位相誤差から、ＬＰＦ７は、追随すべき周波数成分を検出する。ＬＰＦ７の出力は、Ｄ／Ａ変換器８によりアナログ信号に変換される。変換されたアナログ信号により、ＶＣＯ９は制御され、再生クロックを生成する。位相比較器６で検出された位相誤差の平均が０となるよう、再生クロックの位相はフィードバック制御されている。以上に説明した、Ａ／Ｄ変換器４、高域通過フィルタ５、位相比較器６、ＬＰＦ７、Ｄ／Ａ変換器８、ＶＣＯ９により、再生クロックを生成するためのＰＬＬ回路が構成されている。
また高域通過フィルタ５からの出力から、２値化回路１０は、原デジタル情報を判別する。判別された２値化データから、パターン検出回路１１は、所定長のマークとスペースとの組み合わせからなるパターンを識別する。エッジシフト検出回路１２は、パターン検出回路１１で検出された所定長のマークとスペースとに含まれる位相誤差情報をパターンごとに累積加算し、記録パルスパラメータの最適値からのずれ（エッジシフト）を求める。ここでは、上記図４で説明したエッジシフト検出が行われる。以上に説明した、２値化回路１０、パターン検出回路１１、エッジシフト検出回路１２により、エッジシフト量を検出するエッジ検出回路が構成されている。さらに、ＰＬＬ回路（Ａ／Ｄ変換器４、高域通過フィルタ５、位相比較器６、ＬＰＦ７、Ｄ／Ａ変換器８、ＶＣＯ９により構成）と、エッジ検出回路（２値化回路１０、パターン検出回路１１、エッジシフト検出回路１２により構成）とにより、光ディスク２に形成された記録マークと所定の基準との誤差を検出する誤差検出回路（誤差検出手段）が構成されている。
光ディスクコントローラ１３は、パターンごとのエッジシフト量から、変更が必要と判断された記録パルスパラメータを変更する。記録パルスパラメータの変更方法は、上記で説明したため、説明を省略する。パターン発生回路１４は、試し記記録用の記録補償学習用パターンを出力する。記録補償回路１５は、光ディスクコントローラ１３からの記録パルスパラメータをもとに、記録補償学習パターンにしたがってレーザ発光波形を作成する。以上の光ディスクコントローラ１３と記録補償回路１５とにより、上記誤差検出回路が検出する誤差に基づいて、光ディスク２に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御回路（記録パルス制御手段）が構成されている。作成されたレーザ発光パターンにしたがって、レーザ駆動回路１６は、光学ヘッド１のレーザを駆動する。
（その他）
〈１〉
図１６に示す本発明の記録再生装置では、高域通過フィルタ５の出力を２値化回路１０で２値化し、２値化結果からパターン検出を行う構成とした。しかし、これに限らず、図１７のように記録再生装置を構成し、パターン検出を行ってもよい。すなわち、高域通過フィルタ５の出力をＦＩＲフィルタ１７に入力し、ＦＩＲフィルタ１７の出力から等化誤差を求めてＦＩＲフィルタ１７のタップ係数を更新するＬＭＳブロック１８により、適応等化を行うとともに、ＦＩＲフィルタ１７の出力から、確率的に最も確からしい状態遷移を推定するビタビ復号回路１９が２値化結果を出力する。ビタビ復号回路１９の２値化結果を用いて、パターン検出回路１１は、パターン検出を行う。このようにしてパターン検出を行い、エッジシフト量を求める構成であれば、より確からしい２値化結果を用いることができるために、より正確なエッジシフト量を求めることができる。
〈２〉
上記実施の形態では、記録パルス調整手順として、マーク長調整後、マーク位置調整を行う例を示したが、マークの位置調整後にマーク長調整を行ってもよい。
〈３〉
上記実施の形態では、記録パルス調整手順として、マーク長調整後、マーク位置調整を行う例を示したが、マーク長調整とマーク位置調整とを同時に行ってもよい。
〈４〉
上記実施の形態では、記録パルス条件が記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、マルチパルス幅、クーリングパルス幅をパラメータとする記録パルス制御について説明したが、本発明はこれに限定しない。本発明は、他の形態をとる記録パルスの制御にも適用することができる。
〈５〉
上記実施の形態では、ディスク上の特定領域に予め記録されている記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス標準条件を基点に記録パルス条件を調整すると説明した。ここで、同一のディスクと記録再生装置の組み合わせにおいて、記録パルス条件を決定した後、その記録パルス条件をディスク上の特定の領域に記録しておき、その記録パルス条件を基点に上記記録パルス制御方法を用いて記録パルス条件を再調整してもよい。同一のディスクと記録再生装置の組み合わせにおいては、記録パルス条件は、大きく変化しないので、微小な調整、または、ほとんど無調整で、最適な記録パルス条件を決定することができる。これにより、調整時間を短縮できるという利点がある。また、温度湿度等の環境変化に比較的影響を受けやすいのは、最短マーク長の記録である。そのため、最短マーク長に関する調整のみは、上記実施の形態で説明した記録パルス制御方法を用いて行うとしてもよい。
〈６〉
上記実施の形態では、再生時の特定のパラメータとして、エッジシフト量を求め、エッジシフト量を用いた所定の計算が最小となるように記録パルス条件を決定するとしたが、本発明はこれに限定しない。他の計算方法を用いてもよい。
〈７〉
上記実施の形態では、再生時の特定のパラメータとして、エッジシフト量を用いたが、本発明はこれに限定しない。例えば、特許文献３に記載されているＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式の再生信号評価指標を再生時の特定のパラメータとして用いてもよい。
〈８〉
上記実施の形態で説明した記録パルス調整方法は、主にリライタブルディスク（ＲＥディスク）に対して用いられ、ライトワンスディスク（Ｒディスク）に対しては、異なる制御方法が用いられてもよい。
ＲＥディスクは、繰り返し可能なディスクであり、既に記録されている領域の上に、新たな情報（データ）を上書きできることが必要となる。そのため、オーバーライト特性（上書きによる記録品質の特性）を維持することが非常に重要となる。このオーバーライト特性を維持するためには、記録時にディスク面に照射される記録パワーを一定にすることが最も重要であるが、その他にも、記録パルスの形状を調整することが重要となる。記録パルスの形状の係わる調整に際して、ＲＥディスクでは、オーバーライト特性を維持するために、記録パルスの幅を一定に保ちながらパルスの位置を変化させることが望ましい。
一方、Ｒディスクは、オーバーライト特性を考慮する必要がなく、記録パルス形状により形成される記録マークが影響を受けやすい（感度が高い）ため、記録パルスの幅を変化させながら調整することが望ましい。
例えば、記録パルスの調整において、図１８に示すように、記録マークの始端（Ｌｅａｄ）位置と終端（Ｔｒａｉｌ）位置とを変化させて、形成される記録マークの長さ及び位置を調整する工程があるとする。
ＲＥディスクの場合、図１８の記録マークの長さに係わる調整、またはＬｅａｄ位置とＴｒａｉｌ位置とを調整する工程において、図１９（ａ）に示すように、記録パルスの幅を一定に保ちながら調整を行う。すなわち、Ｌｅａｄ位置を変化させる場合は、ファーストパルスの立ち上がり位置と立ち下がり位置とに関するパラメータであるＴｓｔｐパラメータとＴｅｔｐパラメータとを同一方向に同一量変化させる。これにより、ファーストパルスの幅を変化させずにファーストパルスの位置を変化させ、Ｌｅａｄ位置を調整する。同様に、Ｔｒａｉｌ位置を変化させる場合は、ラストパルスの立ち上がり位置と立ち下がり位置とに関するパラメータであるＴｓｌｐパラメータとＴｅｔｐパラメータ、およびクーリングパルス幅を決定するパラメータであるＴｅｃｐパラメータを、同一方向に同一量変化させる。これにより、ラストパルスの幅およびクーリングパルスの幅を一定に保ちながらＴｒａｉｌ位置を調整する。以上により、ＲＥディスクは、記録パルスの幅を変化させないで、記録パルスの位置を調整することで、オーバーライト特性を維持している。
一方、Ｒディスクの場合、図１８の記録マークの長さに係わる調整、またはＬｅａｄ位置とＴｒａｉｌ位置とを調整する工程において、図１９（ｂ）に示すように、記録パルスの幅を変化させながら調整を行う。すなわち、Ｌｅａｄ位置を変化させる場合は、ファーストパルスの立ち上がり位置に関するパラメータであるＴｓｔｐパラメータのみを変化させる。これにより、ファーストパルスの幅を変化させ、Ｌｅａｄ位置を調整する。同様に、Ｔｒａｉｌ位置を変化させる場合は、ラストパルスの立ち下がり位置に関するパラメータであるＴｅｌｐパラメータのみを変化させる。これにより、ラストパルスの幅を変化させ、Ｔｒａｉｌ位置を調整する。なお、Ｔｒａｉｌ位置の調整に際しては、ラストパルスの立ち下がり位置に関するパラメータであるＴｅｌｐパラメータとクーリングパルス幅を決定するパラメータであるＴｅｃｐパラメータとを同一方向に同一量変化させ、クーリングパルス幅を一定にした状態でＴｒａｉｌ位置を調整してもよい。
なお、ここでは、調整対象となるパラメータがそれぞれのパルスの位置を示すパラメータである場合について説明したが、ここに説明した技術的思想は、調整対象となるパラメータが上記実施の形態で説明したそれぞれのパルスの位置と幅とを示すパラメータである場合についても同様に適用可能である。
以上のディスクに応じた制御方法の切り換えは、図１６に示す記録再生装置において、光ディスクコントローラ１３により実現可能である。すなわち、光ディスクコントローラ１３は、光ディスク２のコントロールトラックあるいはその他の領域に予め記録されているディスクを判別するための判別情報を取得し、ＲＥディスクとＲディスクとで記録パルスの調整方法を切り換える。ＲＥディスクであると判別する場合には、光ディスクコントローラ１３は、本欄で記載したＲＥディスクに対する方法あるいは本実施の形態で記載した方法により記録パルスの調整を行う。Ｒディスクであると判別する場合には、光ディスクコントローラ１３は、本欄で記載したＲディスクに対する方法により記録パルスの調整を行う。
以上により、ＲＥディスクとＲディスクとの特性の違いに応じた記録を行うことが可能となり、より適切な記録を行うことが可能となる。
〈９〉
実施の形態で説明した装置は、集積回路等により実現されてもよい。具体的には、上記実施の形態で図１６や図１７で説明した記録再生装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
具体的には、光ディスクコントローラ１３と記録補償回路１５とが１チップ化されてもよい。また、図１６や図１７で符号４０で示す構成、すなわち光学ヘッド１および光ディスク２以外の構成が半導体装置として１チップ化されてもよい。さらに、符号４０で示す構成のうち、レーザ駆動回路１６以外の構成だけが半導体装置として１チップ化されてもよい。なお、半導体装置として製造されるとした構成、例えば、符号４０で示す構成は、半導体装置として実装されるだけでなく、例えば、ＲＯＭやＲＡＭなどの記憶装置とＣＰＵなどの演算装置との協働により実現されるものであってもよい。この場合、ＲＯＭは、符号４０で示す構成により実現される記録パルスの調整を行うプログラムを予め記憶しており、ＣＰＵは、ＲＯＭが記憶するプログラムを実行する。また、ＲＡＭは、符号４０で示す構成により実現される記録パルスの調整を行うプログラムを読み込み、ＣＰＵは、ＲＡＭに読み込まれたプログラムを実行する。
なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてありえる。
〈１０〉
なお、本発明は、以下のものであってもよい。
本発明の光ディスク記録パルス制御方法及びその制御装置は、マーク長とスペース長の複数の組み合わせに対し、それぞれにについて記録パルスの情報を特定した記録パルス標準条件が予め記載されている書き込み可能な光ディスクから記録パルス標準条件を読み出し、前記記録パルス標準条件を調整し、記録パルス条件を求める記録パルス制御方法及びその制御装置であって、前記記録パルス条件は、記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、マルチパルス幅、クーリングパルス幅であって、ファーストパルス幅とマルチパルス幅は前記記録パルス標準条件とし、試し記録と試し記録の再生のステップを少なくとも一回以上行い、再生時の特定のパラメータが略々所望の値となるファーストパルス位置とクーリングパルス幅の条件を決定する。
また、ファーストパルス位置またはクーリングパルス幅を変更することによりマーク長調整するステップと、ファーストパルス位置とクーリングパルス幅を同時に同方向に変更することによりマークの位置調整するステップとを有する。
また、前記記録パルス制御は、記録するオリジナル信号の最短マーク長を除くマーク長に適用する。
また、マーク長とスペース長の複数の組み合わせに対し、それぞれにについて記録パルスの情報を特定した記録パルス標準条件が予め記載されている書き込み可能な光ディスクから記録パルス標準条件を読み出し、前記記録パルス標準条件を調整し、記録パルス条件を求める記録パルス制御方法及びその制御装置であって、前記記録パルス条件は、記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、クーリングパルス幅であって、試し記録と試し記録の再生のステップを少なくとも一回以上行い、ファーストパルス幅変更によるマーク長調整ステップまたはクーリングパルス幅変更によるマーク長調整ステップと、ファーストパルス位置とクーリングパルス幅を同時に同方向に変更することによりマークの位置を調整するステップとを有し、再生時の特定のパラメータが略々所望の値となる記録パルス条件を決定する。
また、前記記録パルス制御は、記録するオリジナル信号の最短マーク長に適用する。
また、マーク長とスペース長の複数の組み合わせに対し、それぞれにについて記録パルスの情報を特定した記録パルス標準条件が予め記載されている書き込み可能な光ディスクから記録パルス標準条件を読み出し、前記記録パルス標準条件を調整し、記録パルス条件を求める記録パルス制御方法及びその制御装置であって、前記記録パルス条件は、記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、マルチパルス幅、クーリングパルス幅であって、試し記録と試し記録の再生のステップを少なくとも一回以上行い、前記記録するオリジナル信号のマーク長に応じて、変更する前記記録パルス条件を可変し、それぞれのマーク長ごとにマーク長調整とマーク位置調整を行い、それぞれのマーク長ごとに再生時の特定のパラメータが略々所望の値となる記録パルス条件を決定する。
また、クーリングパルス幅によるマーク長調整は、ファーストパルス位置によるマーク長調整よりも記録パルス標準条件からの調整量を小とする。
また、前記再生時の特定のパラメータは、形成されたマークを再生するときに求められるマークの立ち上がりおよび立下りそれぞれのエッジシフト量とする。
また、マーク長とスペース長の複数の組み合わせそれぞれにおいて、形成されたマークの立ち上がりエッジシフト量と立ち下がりエッジシフト量を求め、マーク長調整時は、立ち上がりエッジシフト量と立ち下がりエッジシフト量の加算値が略々最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件とし、マーク位置の調整時は、立ち上がりエッジシフト量の絶対値と立ち下がりエッジシフト量の絶対値の加算値が略々最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件とする。
〈１１〉
パターン発生回路１４が発生する記録補償学習用パターンは、次のようなものであってよい。例えば、記録パルス調整用の記録パターンは、ユーザデータのパターンである必要はない。より詳しくは、例えば、２Ｔマークの調整にユーザデータを用いると、２Ｔマークの発生確率が大きいため、２Ｔマークの変化により、記録パターンの再生波形から求められるコンパレータのしきい値（図４参照）、すなわち基準レベルが変化する。基準レベルが変動すると、マーク長とマーク位置とを適切に検出することができなくなる。
そこで、記録パルス調整用の記録パターンとしては、基準レベルが変化しにくい記録パターンが用いられることが好ましい。例えば、変復調規則で発生する最短から最長までのマーク長（例えば、２Ｔ〜９Ｔまで）を含み、その各マーク長の発生確率がほぼ同一なパターンが用いられることが好ましい。この場合、ある１つの記録マークのマーク長あるいはマーク位置などを変化させると、その影響は、全エッジ（２Ｔ〜９Ｔ）に対しては、１／１６の影響に過ぎず、基準レベルを全エッジの中心となるレベルとして決めた場合でも、基準レベルに与える影響はほとんどなく、マーク長とマーク位置とを適切に検出することが可能となる。
〈１２〉
記録マークの調整は、波形のしきい値（基準レベル）への影響を抑制するような手順で行われても良い。例えば、１つの記録パターンで、同時に複数の記録マーク（例えば、２Ｔと３Ｔなど）のマーク長を調整する場合、２Ｔマークに対しては、短い方向から長い方向へ変化するようにパラメータの調整を行い、３Ｔマークに対しては、長い方向から短い方向へ変化するようにパラメータの調整を行う。このようにすることで、波形の全エッジの中心または波形の全エネルギーの中心はほとんど変化せず、記録マークの調整による基準レベルへの影響はほとんどなくなる。これにより、マーク長とマーク位置とを適切に検出することが可能となる。また、マーク位置の調整においても同様に、波形のしきい値への影響を抑制するような手順で調整が行われることが好ましい。具体的には、同時に複数の記録マーク（例えば、２Ｔと３Ｔなど）のマーク長を調整する場合、２Ｔマークと３Ｔマークとが逆位相に移動するように、すなわち２Ｔマークと３Ｔマークとが逆方向（時間進み方向と時間遅れ方向）に移動するように調整が行われる。
【産業上の利用可能性】
【０００７】  本発明にかかる光ディスク記録パルス制御方法、その制御装置および光ディスク装置は、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス標準条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録パルス条件調整方法において、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、かつ適正な記録パルス調整制御を行うことで、記録状態を良好とし、再生時のエラーを低減することができる。
したがって、光ディスクおよび記録再生装置の大量生産時の歩留まりが向上し、製品の品質向上とコスト削減に効果がある。
【図１】
2006009204.tif 000002
【図２】
2006009204.tif 000003
【図３】
2006009204.tif 000004
【図４】
2006009204.tif 000005
【図５】
2006009204.tif 000006
【図６】
2006009204.tif 000007
【図７】
2006009204.tif 000008
【図８】
2006009204.tif 000009
【図９】
2006009204.tif 000010
【図１０】
2006009204.tif 000011
【図１１】
2006009204.tif 000012
【図１２】
2006009204.tif 000013
【図１３】
2006009204.tif 000014
【図１４】
2006009204.tif 000015
【図１５】
2006009204.tif 000016
【図１６】
2006009204.tif 000017
【図１７】
2006009204.tif 000018
【図１８】
2006009204.tif 000019
【図１９】
2006009204.tif 000020
【図２０】
2006009204.tif 000021
【図２１】
2006009204.tif 000022
【図２２】
2006009204.tif 000023
【手続補正書】
【提出日】平成19年1月12日(2007.1.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、
記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程であって、前記記録マーク長調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する第１工程と、
前記第１工程の後、前記記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程であって、前記記録マーク位置調整パラメータを、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する第２工程と、
を備える記録パルス制御方法。
【請求項２】
前記第１工程は、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を調整する第１の第１工程を含み、
前記第１の第１工程は、前記前端位置調整パラメータを、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する、
請求項１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項３】
前記第１工程は、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を調整する第２の第１工程をさらに含み、
前記第２の第１工程は、前記第１の第１工程の後、前記後端位置調整パラメータを、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する、
請求項２に記載の記録パルス制御方法。
【請求項４】
前記第１工程は、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する第３の第１工程を含む、
請求項１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項５】
前記第１工程は、前記第３の第１工程の後、前記前端位置調整パラメータと前記後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータを調整する第４の第１工程をさらに含む、
請求項４に記載の記録パルス制御方法。
【請求項６】
前記前端位置調整パラメータは、前記記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む、
請求項２に記載の記録パルス制御方法。
【請求項７】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項６に記載の記録パルス制御方法。
【請求項８】
前記前端位置調整パラメータは、少なくとも前記記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２に記載の記録パルス制御方法。
【請求項９】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である、
請求項８に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１０】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項３に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１１】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項３に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１２】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項１１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１３】
前記第２工程は、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
請求項１に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１４】
前記所定のパルスは、ファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの少なくとも１つを含み、
前記第２の工程は、前記所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
請求項１３に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１５】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、
記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、
前記記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程と、
を備え、
前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
記録パルス制御方法。
【請求項１６】
前記所定のパルスは、前記記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む、
請求項１５に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１７】
前記書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである、
請求項１５または請求項１６に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１８】
前記書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合には、前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの前記所定のパルスのパルス幅を調整する、
請求項１５に記載の記録パルス制御方法。
【請求項１９】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整し、
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に前記記録マーク長調整パラメータを調整し、
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
記録パルス制御装置。
【請求項２０】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、前記前端位置調整パラメータを調整する、
請求項１９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２１】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記前端位置調整パラメータの調整の後、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、前記所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、前記後端位置調整パラメータを調整する、
請求項２０に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２２】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する、
請求項１９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２３】
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記前端位置調整パラメータと前記後端位置調整パラメータとの変化の後、前記前端位置調整パラメータと前記後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータをさらに調整する、
請求項２２に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２４】
前記前端位置調整パラメータは、前記記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む、
請求項２０に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２５】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項２４に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２６】
前記前端位置調整パラメータは、少なくとも前記記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２０に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２７】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である、
請求項２６に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２８】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２１に記載の記録パルス制御装置。
【請求項２９】
前記後端位置調整パラメータは、前記記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む、
請求項２１に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３０】
前記所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である、
請求項２９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３１】
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
請求項１９に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３２】
前記所定のパルスは、ファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの少なくとも１つを含み、
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
請求項３１に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３３】
書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を備え、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行い、
前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
記録パルス制御装置。
【請求項３４】
前記所定のパルスは、前記記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む、
請求項３３に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３５】
前記書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである、
請求項３３または請求項３４に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３６】
前記書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合には、前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの前記所定のパルスのパルス幅を調整する、
請求項３３に記載の記録パルス制御装置。
【請求項３７】
レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する光学ヘッドと、
前記再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御手段と、
を備え、
前記記録パルス制御手段は、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を有し、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整し、
前記記録マーク長調整パラメータの調整では、前記記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に前記記録マーク長調整パラメータを調整し、
前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に前記記録マーク位置調整パラメータを調整する、
光ディスク装置。
【請求項３８】
レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する光学ヘッドと、
前記再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する誤差検出手段と、
前記誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御手段と、
を備え、
前記記録パルス制御手段は、
記録パルスパラメータの調整を行うパラメータ調整部と、
前記パラメータ調整部により調整された前記記録パルスパラメータに従って、前記記録パルスを調整する記録パルス調整部と、
を有し、
前記パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行い、
前記記録マーク長調整パラメータまたは前記記録マーク位置調整パラメータの調整では、前記記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する、
光ディスク装置。
【請求項３９】
前記誤差検出手段では、前記光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルを用いて前記誤差を検出する、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４０】
前記誤差検出手段では、前記光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルを用いて前記誤差を検出する、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４１】
記録パルス制御手段に対して、前記記録パルス制御手段における調整対象となる記録マークを含む所定の記録パターンを出力する記録パターン発生回路をさらに備え、
前記所定の記録パターンは、異なる長さの記録マークと異なる長さのスペースとをそれぞれほぼ同一の割合で含む、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４２】
前記記録パルス制御手段は、前記光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルあるいは波形の全エネルギーの中心となるレベルをほぼ一定に維持しつつ、前記記録マーク長調整パラメータおよび前記記録マーク位置調整パラメータの調整を行う、
請求項３７または請求項３８に記載の光ディスク装置。
【請求項４３】
前記記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する前記記録マーク長調整パラメータの調整を行う際、一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを前記一部の記録マークが長くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行うとともに、他の一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを前記他の一部の記録マークが短くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行う、
請求項４２に記載の光ディスク装置。
【請求項４４】
前記記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する前記記録マーク位置調整パラメータの調整を行う際、前記記録マーク位置調整パラメータを前記異なる記録マークがそれぞれ逆方向に移動するように試し記録を行いそれぞれの前記異なる記録マークの記録マーク位置の調整を行う、
請求項４２に記載の光ディスク装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録パルス制御方法、その制御装置および光ディスク装置、特に、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する光ディスク記録パルス制御方法、その制御装置および光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
可搬記録媒体に原デジタル情報を記録し、再生する記録再生装置では、同一の記録パルスの形状を用いても、装置や記録媒体の個体差によって、媒体上に形成されるマークの形状がばらつき、再生される信号品質は大きく異なる場合がある。このようなばらつきによる信頼性の低下を防ぐために、記録媒体の脱着時などに校正動作を行っている。校正とは、ユーザデータの信頼性を確保するために、再生系の特性の設定、記録パルスの形状などの最適化を行う制御である。
一般的な情報再生装置においては、再生信号に含まれるクロック情報を抽出し再生信号から抽出されたクロックをもとに原デジタル情報を弁別するＰＬＬ回路が用いられている。図２０に、従来の光ディスクドライブの構成図を示す。光ディスク３７からの反射光は、光学ヘッド３８により再生信号に変換される。再生信号は、波形等化器３９により波形整形される。波形整形された再生信号は、コンパレータ２０で２値化される。通常コンパレータ２０のしきい値は、２値化出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。位相比較器２１は、２値化出力と再生クロックとの位相誤差を求める。求められた位相誤差は、ＬＰＦ２２により平均処理され、ＶＣＯ２３の制御電圧となる。位相比較器２１から出力される位相誤差が常に０になるようにフィードバック制御が行われる。熱記録される記録媒体においては、媒体上の熱干渉のため、前後の記録パターンに応じて媒体上に形成されるマークの形状が異なる。したがって個々のパターンの記録に最適な記録パラメータ設定をすることが求められる。
【０００３】
記録パラメータを評価する指標が上記誤差検出出力である。誤差検出出力が最小となるように、記録パラメータの設定を行う。具体的には、記録補償回路２７は、初期設定された記録パラメータを用いて、パターン発生回路２６から出力された記録パターンを所定のパルス波形とする。レーザ駆動回路２８は、このパルス波形を用いて、光ディスクに記録を行う。さらに、所定の記録パターンが記録されたトラックを再生し、誤差検出回路２４は、コンパレータ２０の出力とＶＣＯ２３の出力との位相誤差の絶対値を積分することで再生クロックと２値化パルスエッジとのジッタと相関を持つ検出信号を得る。さらに、記録パラメータを変化させ記録し、再生を繰り返す。検出値が最小となるときの記録パラメータを最適とする。
誤差検出回路２４の具体的な動作の様子を図２１に示す。例えば６Ｔ、４Ｔ、６Ｔ、８Ｔから成る繰り返し記録パルスを用いて、４Ｔマークと６Ｔスペースの記録パターンにおけるマーク終端エッジの最適化を図る場合について説明する。６Ｔスペースと８Ｔマークとのマーク始端エッジ、８Ｔマークと６Ｔスペースとの終端エッジは、既に最適な記録パラメータで記録されているものとする。図２１（ａ）のような周期的なＮＲＺＩ信号がパターン発生回路２６から与えられると、一般的な書換え型光ディスクに対しては、記録補償回路２７は、図２１（ｂ）のようなレーザ駆動波形を生成する。ここで、Ｔｓｆｐは、マーク始端位置を設定するパラメータで、Ｔｅｌｐは、マーク終端位置を設定するパラメータである。レーザ駆動回路２８は、図２１（ｂ）のような発光パワーの変調をかける。レーザ発光により、図２１（ｃ）に示すように、トラック上に物理的にアモルファス領域が形成される。ここで、４Ｔマークの終端位置を定めるＴｅｌｐをＴｅｌｐ１、Ｔｅｌｐ２、Ｔｅｌｐ３と変化させた場合、形成されるマークの形状は、図２１（ｃ）のように変化する。このようなトラックを再生した場合について説明を加える。
【０００４】
４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値のＴｅｌｐ２としたとき、図２１（ｄ−１）の実線の再生信号が得られる。コンパレータ出力の積分値が０となるよう、しきい値が定められる。コンパレータ出力と再生クロックとの位相差を検出し、位相誤差の積分値が０となるよう図２１（ｅ−１）のような再生クロックが生成される。
次に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より小さくし、Ｔｅｌｐ１とした場合について説明を加える。このとき、図２１（ｄ−２）の実線の再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値は、図２１（ｄ−１）に示したしきい値に比べ、図２１（ｄ−２）に示す一点鎖線のように大きくなる。しきい値の変化によりコンパレータ出力が変化するため、位相誤差の積分値が０となるよう生成される再生クロックは、図２１（ｅ−１）に示した再生クロックに比べ、図２１（ｅ−２）に示すように位相が進む。
【０００５】
逆に、４Ｔマーク終端の記録パラメータを最適値より大きくし、Ｔｅｌｐ３とした場合について説明を加える。このとき、図２１（ｄ−３）の実線の再生信号が得られる。４Ｔマーク終端エッジが時間軸方向に変化するため、コンパレータのしきい値は、図２１（ｄ−１）に示したしきい値に比べ、図２１（ｄ−３）に示す一点鎖線のように小さくなる。しきい値の変化によりコンパレータ出力が変化するため、位相誤差の積分値が０となるよう生成される再生クロックは、図２１（ｅ−１）に示した再生クロックに比べ、図２１（ｅ−３）に示すように位相が遅れる。
マーク終端エッジ（再生信号の立ち上がり）と再生クロックとの時間差（いわゆるデータ−クロック間ジッタ）を測定すると、図２１（ｆ）のような分布が得られる。ただし、４Ｔマーク終端、８Ｔマーク終端エッジは、同じ分散値の正規分布となるようなばらつきを持つことを仮定している。図２１（ｄ−１）、図２１（ｅ−１）のような再生信号と再生クロックの場合、立ち上がりエッジ（マーク終端エッジ）のコンパレータ出力と再生クロックとの時間差の分布を求めると、図２１（ｆ−２）のようになる。すなわち、４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端との分布のそれぞれの平均値が０となる。
【０００６】
しかし、４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ１（最適値Ｔｅｌｐ２より小さい値とした場合）のときは、図２１（ｆ−１）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布の平均値とは０とはならず、同じ距離だけ０から離れた分布を示す。したがって、立ち上がりエッジのトータルの分散は、図２１（ｆ−２）の場合に比べて大きくなる。同様に、４Ｔマーク終端のパラメータがＴｅｌｐ３（最適値Ｔｅｌｐ２より大きい値とした場合）のときは、図２１（ｆ−３）のように４Ｔマーク終端エッジの分布の平均値と８Ｔマーク終端エッジの分布の平均値とは０とはならず、同じ距離だけ０から離れた分布となる。ただし、図２１（ｆ−１）とは、４Ｔマーク終端と８Ｔマーク終端との分布が入れ替わっていることになる。この場合も立ち上がりエッジのトータルの分散は、図２１（ｆ−２）の場合に比べて大きくなる。
【０００７】
図２０のように位相誤差の絶対値を累積し誤差検出出力とする場合、記録パラメータＴｅｌｐの変化に従って、図２１（ｇ）のように誤差検出値が変化する。したがって記録パラメータを変化させ、誤差検出回路２４の出力が最小となるパラメータを最適値とする。上記の例では、４Ｔマーク終端のパラメータＴｅｌｐを最適化する際の手順について説明したが、その他のパラメータについてもそれぞれに対応した特定パターンを用いてテスト記録を行い、誤差検出出力から最適パラメータを求める。
以上の手順をすべての記録パラメータを求める際の動作をフローチャートで示すと、図２２のようになる。テスト記録を行う媒体の領域にジャンプし、マーク始端あるいはマーク終端の記録パラメータを領域（例えばセクタ）ごとに変化させながら記録を行う。記録領域の再生を行い、パラメータを変化させた領域ごとに誤差検出出力を取り込む。さらに、誤差検出出力が最小となるパラメータを求める。次のパラメータを求めるため、以上の動作をすべてのパラメータが求められるまで繰り返す。例えば、上記方法は、特許文献１、特許文献２に記載されている。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報（図１）
【特許文献２】国際公開第０２／０８４６５３号パンフレット（図１）
【特許文献３】特開２００２−１４１８２３号公報（図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
光ディスクの記録再生装置を量産した時、使用部品の特性ばらつきや、環境変化などで、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。例えば、記録に関係のあるレーザ駆動手段とレーザを搭載したヘッドは、レーザ特性のばらつきを主要因として、たとえ同一の電流波形をレーザに供給しても、パルス幅が変わる。個々の装置で常に同じ発光波形が得られるとは限らない。同様に光ディスク自体も量産時に、ある程度の特性ばらつきが発生し、同一の発光波形で記録しても個々のディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。
従って、標準的な特性を有する基準ディスクを用いて、標準的な特性を有する基準装置で決定された記録パルス標準条件を、特性のばらつきを有する量産したディスクと装置とでそのまま使用すると、組み合わせによっては適正な記録再生が行われず、品質不良が発生するという課題がある。
【０００９】
更に、十分な品質管理の元で製造された特性ばらつきの小さいディスクであれば問題は少ないが、ディスク上に予め記録してある記録パルス標準条件が、ディスク性能と大きくずれている場合は、装置がディスクから読み出した記録パルス標準条件を忠実に再現しても、このディスクでは特性を発揮することができないという課題が発生する。
更に、ディスク上に記録マークを形成するための記録パルス条件の組み合わせは、一つでなく、何種類も存在する。所定のマーク長およびマークの位置が適切であるように、記録パルス標準条件からその装置とディスクとの組み合わせによる最適な記録パルスを調整するのであるが、ディスク上に何回も繰り返し記録することで、ディスク劣化を引き起こす繰り返し記録劣化、記録されているディスクに上書きするときに適切でない記録パワーで記録した場合に発生する記録劣化、温度湿度等の環境変化による記録劣化を考慮する必要がある。例えば、マーク長調整において、記録パルスパラメータの中でも積極的に調整してよいパラメータとそうでないパラメータが存在する。従来では、そのような記録パルス条件パラメータの特性を考慮しない記録パルス条件の調整を行っており、記録劣化が発生する課題がある。
【００１０】
本発明は、上述の課題を解決するものであり、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響および上記各種記録劣化を低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
第１の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、第１工程と第２工程とを備えている。第１工程は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程である。第１工程は、記録マーク長調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。第２工程は、第１工程の後、記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程である。第２工程は、記録マーク位置調整パラメータを、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に調整する。
ここで、第１工程では、例えば、記録パルスパラメータの基準値を取得し、この基準値からの調整を行う。第２工程は、例えば、第１工程で少なくとも一部が調整された記録パルスパラメータからの調整を行う。なお、第１工程および第２工程において、調整の対象とならない記録パルスパラメータについては、この基準値が用いられる。この基準値は、例えば、光ディスクに予め記録されていても良い。
【００１２】
第２の発明は、第１の発明であって、第１工程は、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を調整する第１の第１工程を含む。第１の第１工程は、前端位置調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。
第３の発明は、第２の発明であって、第１工程は、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を調整する第２の第１工程をさらに含む。第２の第１工程は、第１の第１工程の後、後端位置調整パラメータを、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に調整する。
第４の発明は、第１の発明であって、第１工程は、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する第３の第１工程を含む。なお、第３の第１工程では、例えば、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとを同時に変化することにより、調整を行ってもよい。
【００１３】
第５の発明は、第４の発明であって、第１工程は、第３の第１工程の後、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータを調整する第４の第１工程をさらに含む。
第６の発明は、第２の発明であって、前端位置調整パラメータは、記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む。
第７の発明は、第６の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第８の発明は、第２の発明であって、前端位置調整パラメータは、少なくとも記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む。なお、前端位置調整パラメータは、さらにファーストパルスの位置を調整するパラメータをさらに含んでいてもよい。
【００１４】
第９の発明は、第８の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である。
第１０の発明は、第３の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第１１の発明は、第３の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第１２の発明は、第１１の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第１３の発明は、第１の発明であって、第２工程は、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
【００１５】
第１４の発明は、第１３の発明であって、所定のパルスは、少なくともファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの２つを含む。第２の工程は、所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように記録マーク位置調整パラメータを調整する。ここで、所定のパルスは、記録パルスが含む全てのパルスでもよく、この場合、全てのパルスのパルス位置が同じ方向に同じ量だけ変化されてもよい。
第１５の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御方法であって、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整する工程と、記録パルスパラメータのうち、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する工程とを備えている。記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
【００１６】
第１６の発明は、第１５の発明であって、所定のパルスは、記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む。
第１７の発明は、第１５または第１６の発明であって、書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである。
第１８の発明は、第１５の発明であって、書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合、記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を調整する。
ここで、書き込み可能な光ディスクが追記型であるか、それ以外（例えば、書き換え型）であるかの判断は、例えば、光ディスクから取得される判別信号などにより行われる。
第１９の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する。記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に記録マーク長調整パラメータを調整する。記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置に最も近い記録マークを形成する値に記録マーク位置調整パラメータを調整する。
【００１７】
第２０の発明は、第１９の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、前端位置調整パラメータを調整する。
第２１の発明は、第２０の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、前端位置調整パラメータの調整の後、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）を変化させて記録された記録マークにおいて、所定の記録マーク長に最も近い記録マークを形成する値に、後端位置調整パラメータを調整する。
第２２の発明は、第１９の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータのうち、記録マークの前端位置の調整に関するパラメータ（以下、前端位置調整パラメータ）と、記録マークの後端位置の調整に関するパラメータ（以下、後端位置調整パラメータ）とを調整する。なお、記録マーク長調整パラメータの調整では、例えば、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとを同時に変化することにより、調整を行ってもよい。
【００１８】
第２３の発明は、第２２の発明であって、記録マーク長調整パラメータの調整では、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとの変化の後、前端位置調整パラメータと後端位置調整パラメータとのうち、形成される記録マークの記録マーク長に与える影響が少ない方のパラメータをさらに調整する。
第２４の発明は、第２０の発明であって、前端位置調整パラメータは、記録パルスのファーストパルスの位置を調整するパラメータを含む。
第２５の発明は、第２４の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第２６の発明は、第２０の発明であって、前端位置調整パラメータは、少なくとも記録パルスのファーストパルスの幅を調整するパラメータを含む。なお、前端位置調整パラメータは、さらにファーストパルスの位置を調整するパラメータをさらに含んでいてもよい。
【００１９】
第２７の発明は、第２６の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長である。
第２８の発明は、第２１の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのクーリングパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第２９の発明は、第２１の発明であって、後端位置調整パラメータは、記録パルスのラストパルスの幅を調整するパラメータを含む。
第３０の発明は、第２９の発明であって、所定の記録マーク長とは、記録に際して用いられる記録マーク長のうち、最短の記録マーク長を除く記録マーク長である。
第３１の発明は、第１９の発明であって、記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
【００２０】
第３２の発明は、第３１の発明であって、所定のパルスは、少なくともファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのうちの１つを含む。記録マーク位置調整パラメータの調整では、所定のパルスのパルス位置を、それぞれ同じ方向に同じ量だけ変化させるように記録マーク位置調整パラメータを調整する。ここで、所定のパルスは、記録パルスが含む全てのパルスでもよく、この場合、全てのパルスのパルス位置が同じ方向に同じ量だけ変化されてもよい。
第３３の発明は、書き込み可能な光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御装置であって、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを備えている。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行う。記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
【００２１】
第３４の発明は、第３３の発明であって、所定のパルスは、記録パルスのファーストパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルスのいずれかを含む。
第３５の発明は、第３３または第３４の発明であって、書き込み可能な光ディスクは、書き換え型光ディスクである。
第３６の発明は、第３３の発明であって、書き込み可能な光ディスクが追記型光ディスクである場合、記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を調整する。
第３７の発明は、光ディスク装置であって、光学ヘッドと、誤差検出手段と、記録パルス制御手段とを備えている。光学ヘッドは、レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する。誤差検出手段は、再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する。記録パルス制御手段は、誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する。また、記録パルス制御手段は、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを有している。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）を調整した後に、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）を調整する。記録マーク長調整パラメータの調整では、記録マーク長調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク長との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に記録マーク長調整パラメータを調整する。記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録マーク位置調整パラメータを変化させて記録された記録マークのうち、所定の記録マーク位置との誤差が最も小さい記録マークを形成する値に記録マーク位置調整パラメータを調整する。
【００２２】
第３８の発明は、光ディスク装置であって、光学ヘッドと、誤差検出手段と、記録パルス制御手段とを備えている。光学ヘッドは、レーザを光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号に変換する。誤差検出手段は、再生信号を取得し、光ディスクに形成された記録マークと基準となる記録マークとの誤差を検出する。記録パルス制御手段は、誤差検出手段が検出する誤差に基づいて、光ディスクに対して記録を行うための記録パルスを調整する。また、記録パルス制御手段は、パラメータ調整部と、記録パルス調整部とを有している。パラメータ調整部は、記録パルスパラメータの調整を行う。記録パルス調整部は、パラメータ調整部により調整された記録パルスパラメータに従って、記録パルスを調整する。また、パラメータ調整部は、記録パルスパラメータのうち、記録マーク長の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク長調整パラメータ）の調整と、記録マーク位置の調整に関するパラメータ（以下、記録マーク位置調整パラメータ）の調整とを行う。記録マーク長調整パラメータまたは記録マーク位置調整パラメータの調整では、記録パルスのうちの所定のパルスのパルス幅を維持しつつ、パルス位置を調整する。
【００２３】
第３９の発明は、第３７または第３８の発明であって、誤差検出手段では、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルを用いて誤差を検出する。ここで、波形の全エッジの中心となるレベルとは、例えば、そのレベルをしきい値として再生波形の位相誤差を検出した場合に、検出される位相誤差を最小化するレベルのことである。
第４０の発明は、第３７または第３８の発明であって、誤差検出手段では、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルを用いて誤差を検出する。
第４１の発明は、第３７または第３８の発明であって、記録パルス制御手段に対して、記録パルス制御手段における調整対象となる記録マークを含む所定の記録パターンを出力する記録パターン発生回路をさらに備えている。所定の記録パターンは、異なる長さの記録マークと異なる長さのスペースとをそれぞれほぼ同一の割合で含む。
【００２４】
第４２の発明は、第３７または第３８の発明であって、記録パルス制御手段は、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルあるいは波形の全エネルギーの中心となるレベルをほぼ一定に維持しつつ、記録マーク長調整パラメータおよび記録マーク位置調整パラメータの調整を行う。
第４３の発明は、第４２の発明であって、記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する記録マーク長調整パラメータの調整を行う際、一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを一部の記録マークが長くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行うとともに、他の一部の記録マークに対応する記録長調整パラメータを他の一部の記録マークが短くなるように試し記録を行い前記一部の記録マークの記録マーク長の調整を行う。
【００２５】
第４４の発明は、第４２の発明であって、記録パルス制御手段は、異なる記録マークに対応する記録マーク位置調整パラメータの調整を行う際、記録マーク位置調整パラメータを異なる記録マークがそれぞれ逆方向に移動するように試し記録を行いそれぞれの前記異なる記録マークの記録マーク位置の調整を行う。
【発明の効果】
【００２６】
以上のように、本発明によれば、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、かつ適正な記録パルス調整制御を行うことで、記録状態を良好とし、再生時のエラーを低減することができる。さらに付随的には、光ディスクおよび記録再生装置の大量生産時の歩留まりが向上し、製品の品質向上とコスト削減を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態）
まず、本記録パルス制御の目的は、光ディスク上に記録されたデータを最小のエラーで再生するために、最良の記録を行うことである。最良の記録状態を実現するために、記録に係わるパラメータを最適にする必要がある。記録に係わるパラメータには、主に、記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータ、記録時のサーボパラメータ等あるが、本発明は特に、記録パルスパラメータ、すなわち後述する記録時パルス波形の形状に係わるパラメータの調整制御に関する。
本実施の形態で用いる記録方式について述べる。光ディスクにデータを書き込む場合にマルチパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報としてディスクに書き込む。また、マークの長さが、２Ｔから９Ｔ（Ｔはクロック１周期分の時間）、スペースの長さが、２Ｔから９Ｔの整数値の組み合わせである変調方式を使うものとする。さらに、本実施の形態では、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のマーク（２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍと略す。）と、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のスペース（２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓと略す。）との組合せにおいて、マークとスペースとの境界部分で、マーク形状のひずみやマーク間熱干渉が発生すると仮定する。ひとつのマークについて、スペースと隣接する部分は、マークの前端と後端との２箇所ある。したがって、記録時に用いる記録パルスのエッジ位置を、これらの組み合わせで記録パルス調整（記録補償）することで正しいマーク長の記録状態が達成される。４Ｔｍ以上と４Ｔｓ以上との組み合わせを一つの組合せとすると、マーク前端パルス条件は３×３の９通り、マーク後端パルス条件も３×３の９通りの組み合わせがあり、それぞれ異なる値の条件を設定することが出来、合計１８の条件の設定値を持つ。
【００２８】
図１５は、マーク前端パルス条件とマーク後端パルス条件との値の表である。たとえば、図１５の表（Ａ）において、右下の「４Ｔｓ４Ｔｍ」は、４Ｔ以上のスペースとそれに続く４Ｔ以上のマークとの境界におけるマーク前端パルスの条件が入っていることを示す。図１５の表（Ｂ）において、右上の「２Ｔｍ４Ｔｓ」は、２Ｔのマークとそれに続く４Ｔ以上のスペースとの境界におけるマーク後端パルスの条件が入っていることを示す。図１５の表で示したように、記録マーク長とスペース長との組み合わせごとに記録パルス条件を調整、決定する必要がある。
特性の基準となる代表ディスクと、基準となる代表記録再生装置を用いて、図１５に示す１８個の条件を決定する。決定された記録パルス条件を、記録パルス標準条件として、ディスク上の特定領域に予め記録しておくものとする。なお、記録パルス標準条件には、例えば、記録パルスのファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）、ファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）、マルチパルスの幅（Ｔｍｐ）、最終パルスの後ろに付ける冷却パルスの幅（ｄＴｅ）などがある。本実施の形態では、一例として、記録するマークとスペースとの組み合わせパターンによって適応的に値が変わるパルス条件を対象として説明する。
【００２９】
図１は、本発明の実施の形態における記録パルス制御方法を説明するためのフローチャートである。記録パルスの調整を行うための手順として、まず、ディスク上の特定領域に予め記録されている記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス条件として設定する。特定の記録領域に試し記録を行い、試し記録を行った領域を再生する。このとき、記録状態を調査するために、再生時のエラーと相関のあるパラメータを求める。本実施例では、後述するエッジシフト量を求めて、記録状態を確認する。エッジシフト量が所定量以下または、最小付近であればＯＫとし、記録パルス調整を終了する。一方、エッジシフト量が所定量以上また、最小付近でなければＮＧとし、エッジシフト量から最良となる記録パルス条件を予測し、その記録パルス条件を設定し、上述した試し記録からのシーケンスを繰り返し行い、エッジシフト量が所定量以下、または最小付近になれば終了とする。
【００３０】
また、読み出された記録パルス標準条件を基点に、予め記録パルス条件を数パターン用意しておき、試し記録時に記録パルス条件を変えながら一度に記録し、試し記録を行った領域を再生する。再生時には、記録パルス条件ごとに、エッジシフト量を求めて、エッジシフト量が最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件として採用する。しかし、前述した記録パルス標準条件を基点から用意した記録パルス条件よりもさらに異なった記録パルス条件の方が、エッジシフト量が小さくなると判断した場合は、エッジシフト量が小さくなると思われる記録パルス条件を数パターン用意しておき、試し記録時に記録パルス条件を変えながら一度に記録し、試し記録を行った領域を再生する。上述と同様に再生時には、記録パルス条件ごとに、エッジシフト量を求めて、エッジシフト量が最小付近となる記録パルス条件を決定記録パルス条件として採用する。これは、第一の記録では記録パルス標準条件に比較的近い設定にパラメータの最適点を求めたが最適条件を求めることができず、さらに第二の記録を行うことで、パラメータの探索範囲を広げたことを意味する。このようなことは、ディスクの特性と記録パルス標準条件との特性が異なった場合にあり得る。また、ディスクと記録再生装置との組み合わせにより、記録再生特性が標準特性と大きく異なった場合にもあり得る。
【００３１】
図２に、記録するオリジナル信号（ＮＲＺＩ信号）と、記録パルス波形および記録パルス波形を構成するパラメータと、記録パルスを用いて記録した場合のディスク上のマークとの関係を示す。図２の例は、２Ｔ幅マークと３Ｔ幅スペースと３Ｔ幅マークの２Ｔｍ３Ｔｓ３Ｔｍの記録系列である。最短マークである２Ｔ幅のマークを形成するための記録パルスのパラメータは、上でも触れたが、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）とファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）とクーリングパルスの幅（ｄＴｅ）である。３Ｔ幅以上のマークを形成するための記録パルスのパラメータは、ファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）とファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）とマルチパルスの幅（Ｔｍｐ）とクーリングパルスの幅（ｄＴｅ）である。図３に、２Ｔから９Ｔまでの記録パルスの形状を示す。２Ｔだけマルチパルスが無い形状となっている。
【００３２】
ここで、図４を用いて、エッジシフト量の求め方を説明する。図４では、３Ｔマークの終端エッジ位置を、図２で説明したクーリングパルスの幅のパラメータであるｄＴｅパラメータを用いて変化させ、形成されるマークとそのマークを再生した場合の再生信号の様子を示している。記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃは、それぞれｄＴｅを例えば、−１、０、１とし、クーリングパルス幅を変えながら形成されるマーク幅を変化させている。図４（ｂ）の再生信号から、エッジシフト検出ポイントにおいて、コンパレータしきい値基準からの再生信号の振幅レベルをサンプリングして、エッジシフト値を求めている。ここでは、振幅値を時間軸のズレとしてエッジシフトを求めたが、もちろん時間軸のズレそのものでもよい。すなわち、上述の図２１で説明したように、再生クロックとコンパレータによる２値化パルスとの時間差であってもよい。図４に示すように、記録パルス条件Ａで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｘとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｘは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、プラスの値として求まり、マーク長が基準より短いと判断できる。一方、記録パルス条件Ｃで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｚとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｚは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、マイナスの値として求まり、マーク長が基準より長いと判断できる。記録パルス条件Ｂで形成されたマークを再生した場合は、エッジシフト値Ｙとして求まる。この場合、エッジシフト値Ｙは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、ほぼ０として求まり、マーク長はほぼ最適と判断できる。再生時に、これらのエッジシフトを所定区間積算する、または所定区間の平均を求めることで、エッジシフト量を求めることができる。上述の図１５で示したマーク長とスペース長との組み合わせごとにエッジシフト量を求めれば、どの長さのマークが最適設定からずれているかを判断することができる。
【００３３】
なお、コンパレータのしきい値としては、例えば、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エッジの中心となるレベルが用いられてもよい。ここで、波形の全エッジの中心となるレベルとは、例えば、そのレベルをしきい値として再生波形の位相誤差を検出した場合に、検出される位相誤差を最小化するレベルのことである。また、コンパレータのしきい値としては、例えば、光ディスクに形成された記録マークを再生した場合の波形の全エネルギーの中心となるレベルが用いられてもよい。
先に、本発明の記録パルス調整の流れを図１のフローチャートを用いて説明した。次に、記録パルスの詳細な調整方法および調整手順について説明する。
図５に、調整手順のフローチャートを示す。まず、マークの長さが適切な長さになるように調整する。以下、２Ｔマークの調整方法について説明する。２Ｔマークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したようにＴｔｏｐとｄＴｔｏｐとｄＴｅとである。
【００３４】
第１のステップは、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを調整することによるマーク長調整である。図６は、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成される２Ｔのマーク長が変化している様子を示している。ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させるということは、ファーストパルスの立下り位置およびクーリングパルス幅は固定で、ファーストパルス幅のみ変化させることを意味する。ファーストパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図９（ａ）に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。図３で示したように、２Ｔマークを形成する記録パルスには、マルチパルスが存在しない。そのため、ファーストパルス幅が終端エッジにも大きく影響を与え、ファーストパルス幅を変化させると、始端エッジだけでなく終端エッジも変化する。すなわち、マーク幅が始端方向と終端方向とに同時に変化することを意味する。
【００３５】
第２のステップは、ｄＴｅパラメータを調整することによるマーク長調整である。図７は、ｄＴｅパラメータを変化させることによりクーリングパルス幅を変化させることで、形成される２Ｔのマーク長が変化している様子を示している。ｄＴｅパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅およびファーストパルスの立下り位置は固定で、クーリングパルス幅のみ変化させることを意味する。クーリングパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図９（ｂ）に、ｄＴｅパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。
【００３６】
第３のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとによるマーク位置調整である。図８は、ｄＴｔｏｐとｄＴｅパラメータとを同時に同方向に変化させることにより記録パルス全体の位置を変化させることで、形成される２Ｔのマークの位置が変化している様子を示している。ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとを同時に同方向に変化させるということは、ファーストパルス幅およびクーリングパルス幅は固定で、記録パルス全体の位置を変化させることを意味する。記録パルス全体の位置を変化させると、形成されるマークの位置が変化する。このとき、２Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算は、マークの位相ずれを示し、０が理想的なマークの位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図９（ｃ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄｔｅパラメータとを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。このように、第１のステップから第３のステップで、マーク調整およびマーク位置調整を行う。
【００３７】
マーク長調整は、第１のステップと第２のステップとで行うが、第２のステップにおけるクーリングパルス幅の変化によるマーク長調整は、第１のステップの補助的な役割である。このため、クーリングパルス幅は、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。または、クーリングパルス幅は、記録パルス標準条件から全く変化させなくともよい。これは、クーリングパルス幅の変化は、ディスク上に何回も繰り返し記録することで、ディスク劣化を引き起こす繰り返し記録劣化、記録されているディスクに上書きするときに適切でない記録パワーで記録した場合に発生する記録劣化、温度湿度等の環境変化による記録劣化などの原因となる可能性が高いためである。
これに関し、図１０を用いてさらに詳しく説明を加える。図１０（ａ）は、最適パワーで記録された領域に記録パワーを段階的に変化させて記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。これをクロスパワー特性と呼ぶこととする。図１０（ｂ）は、最適パワーで同じ領域を繰り返し記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。これを繰り返し記録特性と呼ぶこととする。クロスパワー特性および繰り返し記録特性は、意図的に記録ストレスを与え、記録劣化が発生した領域を作成し、その領域を再生した場合のエラーが発生する確率を求めたものである。図１０において、クーリングパルス幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、クーリングパルス幅が、記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、エラー発生確率が大きくなり、記録劣化が進行しやすい状態となる可能性がある。
【００３８】
次に、３Ｔマーク以上の調整方法について説明する。３Ｔ以上マークを記録するための記録パルスパラメータは、上述したようにＴｍｐとＴｔｏｐとｄＴｔｏｐとｄＴｅとである。一例として、３Ｔマーク調整について説明する。
第１のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータによるマーク長調整である。２Ｔマーク調整と同様に、ＴｔｏｐパラメータとｄＴｔｏｐパラメータとを同時に同方向に変化させることによりファーストパルス幅を変化させることで、形成されるマーク長を変化させることも可能である。しかし、本発明の実施の形態では、ファーストパルス幅のパラメータであるＴｔｏｐパラメータは、記録パルス標準設定とし、ファーストパルスの位置を制御するパラメータであるｄＴｔｏｐパラメータのみで、マーク長の調整を行うことに特徴がある。このとき、マルチパルス幅を制御するパラメータであるＴｍｐパラメータも記録パルス標準設定とする。ｄＴｔｏｐパラメータを変化させるということは、ファーストパルス幅、マルチパルス幅およびクーリングパルス幅は固定で、ファーストパルスの立下り位置のみ変化させることを意味する。図１１の設定Ａから設定Ｃで示すように、ファーストパルスの立下り位置を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴとの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１４（ａ）に、ｄＴｔｏｐパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。マークの始端エッジに係わるパラメータｄＴｔｏｐのみを変化させたので、始端のエッジシフト量Ｌのみが変化しており、終端エッジシフト量Ｔは変化していない。そのため、｜Ｌ＋Ｔ｜で示すマーク長は、変化しており、｜Ｌ＋Ｔ｜が最小となるｄＴｔｏｐ設定は、設定０もしくは１として選択される。
【００３９】
第２のステップは、ｄＴｅパラメータによるマーク長調整である。ｄＴｅパラメータを変化させるということは、ファーストパルスの幅、ファーストパルスの立下り位置およびマルチパルス幅は固定で、クーリングパルス幅のみ変化させることを意味する。図１２の設定Ａから設定Ｃで示すように、クーリングパルス幅を変化させると、形成されるマーク長が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、ＬとＴとの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は、マーク長を示し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１４（ｂ）に、ｄＴｅパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定１が選択される。
第３のステップは、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとによるマーク位置調整である。ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータとを同時に同方向に変化させることにより、マルチパルス幅およびマルチパルス位置を固定したまま、記録パルス全体の位置を変化させることで、形成される３Ｔのマークの位置を変化させる。図１３の設定Ａから設定Ｃで示すように、記録パルス全体の位置を変化させると、形成されるマークの位置が変化する。このとき、３Ｔマークの始端のエッジシフト量Ｌと終端のエッジシフト量Ｔとを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値との加算は、マークの位相ずれを示し、０が理想的なマークの位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１４（ｃ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータを変化させながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜とを求めた具体例を示す。ここでは、設定０が選択される。このように、３Ｔ以上のマーク長に対して、第１のステップから第３のステップで、マーク調整およびマーク位置調整を行う。
【００４０】
第１のステップでのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を短い側に変化させると、上述したクロスパワー特性が悪化する可能性がある。また、第１のステップでのマーク長調整で、ファーストパルスの幅を長い側に変化させると、上述した繰り返し記録特性が悪化する可能性がある。図１０において、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準条件からほとんど変化していない設定にして記録した場合を実線で示している。このように、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件から大きく異なった設定にして記録した場合、記録劣化が起こりやすい状態となる可能性がある。これに対し、本発明では、第１のステップにおけるマーク長調整では、ファーストパルスの幅を記録パルス標準条件とし、ファーストパルスの位置のみを調整することに特徴がある。マーク長調整は、第１のステップと第２のステップとで行うが、第２のステップにおけるクーリングパルス幅を変化させることによるマーク長調整は、第１のステップの補助的な役割である。このため、記録パルス標準条件から大きく変化させないことが好ましい。
【００４１】
なお、マーク長調整では、マークの前端位置と後端位置とを同時に変化させるようにパラメータを調整してもよい。さらに、この調整を主調整とし、その後に微調整を行ってもよい。微調整では、マークの前端位置を変化させるパラメータと、後端位置を変化させるパラメータとのうち、パラメータの変化により形成されるマークの変化の小さいパラメータの調整が行われてもよい。
本発明の光ディスクの記録パルス制御方法を実現する光ディスクの記録再生装置（光ディスク装置）について説明する。図１６に、本発明の記録再生装置の一例を示す。光学ヘッド１から光ディスク２に照射されたレーザ光は、反射により媒体上の情報を再生信号に変換する。再生信号は、波形等化器３により波形整形される。波形整形された再生信号は、再生クロックに基づいて、Ａ／Ｄ変換器４により量子化される。量子化された再生信号は、高域通過フィルタ５により低周波数成分を除去される。位相比較器６は、高域通過フィルタ５の出力から位相誤差情報を検出する。検出された位相誤差から、ＬＰＦ７は、追随すべき周波数成分を検出する。ＬＰＦ７の出力は、Ｄ／Ａ変換器８によりアナログ信号に変換される。変換されたアナログ信号により、ＶＣＯ９は制御され、再生クロックを生成する。位相比較器６で検出された位相誤差の平均が０となるよう、再生クロックの位相はフィードバック制御されている。以上に説明した、Ａ／Ｄ変換器４、高域通過フィルタ５、位相比較器６、ＬＰＦ７、Ｄ／Ａ変換器８、ＶＣＯ９により、再生クロックを生成するためのＰＬＬ回路が構成されている。
【００４２】
また高域通過フィルタ５からの出力から、２値化回路１０は、原デジタル情報を判別する。判別された２値化データから、パターン検出回路１１は、所定長のマークとスペースとの組み合わせからなるパターンを識別する。エッジシフト検出回路１２は、パターン検出回路１１で検出された所定長のマークとスペースとに含まれる位相誤差情報をパターンごとに累積加算し、記録パルスパラメータの最適値からのずれ（エッジシフト）を求める。ここでは、上記図４で説明したエッジシフト検出が行われる。以上に説明した、２値化回路１０、パターン検出回路１１、エッジシフト検出回路１２により、エッジシフト量を検出するエッジ検出回路が構成されている。さらに、ＰＬＬ回路（Ａ／Ｄ変換器４、高域通過フィルタ５、位相比較器６、ＬＰＦ７、Ｄ／Ａ変換器８、ＶＣＯ９により構成）と、エッジ検出回路（２値化回路１０、パターン検出回路１１、エッジシフト検出回路１２により構成）とにより、光ディスク２に形成された記録マークと所定の基準との誤差を検出する誤差検出回路（誤差検出手段）が構成されている。
【００４３】
光ディスクコントローラ１３は、パターンごとのエッジシフト量から、変更が必要と判断された記録パルスパラメータを変更する。記録パルスパラメータの変更方法は、上記で説明したため、説明を省略する。パターン発生回路１４は、試し記記録用の記録補償学習用パターンを出力する。記録補償回路１５は、光ディスクコントローラ１３からの記録パルスパラメータをもとに、記録補償学習パターンにしたがってレーザ発光波形を作成する。以上の光ディスクコントローラ１３と記録補償回路１５とにより、上記誤差検出回路が検出する誤差に基づいて、光ディスク２に対して記録を行うための記録パルスを調整する記録パルス制御回路（記録パルス制御手段）が構成されている。作成されたレーザ発光パターンにしたがって、レーザ駆動回路１６は、光学ヘッド１のレーザを駆動する。
（その他）
〈１〉
図１６に示す本発明の記録再生装置では、高域通過フィルタ５の出力を２値化回路１０で２値化し、２値化結果からパターン検出を行う構成とした。しかし、これに限らず、図１７のように記録再生装置を構成し、パターン検出を行ってもよい。すなわち、高域通過フィルタ５の出力をＦＩＲフィルタ１７に入力し、ＦＩＲフィルタ１７の出力から等化誤差を求めてＦＩＲフィルタ１７のタップ係数を更新するＬＭＳブロック１８により、適応等化を行うとともに、ＦＩＲフィルタ１７の出力から、確率的に最も確からしい状態遷移を推定するビタビ復号回路１９が２値化結果を出力する。ビタビ復号回路１９の２値化結果を用いて、パターン検出回路１１は、パターン検出を行う。このようにしてパターン検出を行い、エッジシフト量を求める構成であれば、より確からしい２値化結果を用いることができるために、より正確なエッジシフト量を求めることができる。
【００４４】
〈２〉
上記実施の形態では、記録パルス調整手順として、マーク長調整後、マーク位置調整を行う例を示したが、マークの位置調整後にマーク長調整を行ってもよい。
〈３〉
上記実施の形態では、記録パルス調整手順として、マーク長調整後、マーク位置調整を行う例を示したが、マーク長調整とマーク位置調整とを同時に行ってもよい。
〈４〉
上記実施の形態では、記録パルス条件が記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、マルチパルス幅、クーリングパルス幅をパラメータとする記録パルス制御について説明したが、本発明はこれに限定しない。本発明は、他の形態をとる記録パルスの制御にも適用することができる。
【００４５】
〈５〉
上記実施の形態では、ディスク上の特定領域に予め記録されている記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス標準条件を基点に記録パルス条件を調整すると説明した。ここで、同一のディスクと記録再生装置の組み合わせにおいて、記録パルス条件を決定した後、その記録パルス条件をディスク上の特定の領域に記録しておき、その記録パルス条件を基点に上記記録パルス制御方法を用いて記録パルス条件を再調整してもよい。同一のディスクと記録再生装置の組み合わせにおいては、記録パルス条件は、大きく変化しないので、微小な調整、または、ほとんど無調整で、最適な記録パルス条件を決定することができる。これにより、調整時間を短縮できるという利点がある。また、温度湿度等の環境変化に比較的影響を受けやすいのは、最短マーク長の記録である。そのため、最短マーク長に関する調整のみは、上記実施の形態で説明した記録パルス制御方法を用いて行うとしてもよい。
【００４６】
〈６〉
上記実施の形態では、再生時の特定のパラメータとして、エッジシフト量を求め、エッジシフト量を用いた所定の計算が最小となるように記録パルス条件を決定するとしたが、本発明はこれに限定しない。他の計算方法を用いてもよい。
〈７〉
上記実施の形態では、再生時の特定のパラメータとして、エッジシフト量を用いたが、本発明はこれに限定しない。例えば、特許文献３に記載されているＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式の再生信号評価指標を再生時の特定のパラメータとして用いてもよい。
〈８〉
上記実施の形態で説明した記録パルス調整方法は、主にリライタブルディスク（ＲＥディスク）に対して用いられ、ライトワンスディスク（Ｒディスク）に対しては、異なる制御方法が用いられてもよい。
【００４７】
ＲＥディスクは、繰り返し可能なディスクであり、既に記録されている領域の上に、新たな情報（データ）を上書きできることが必要となる。そのため、オーバーライト特性（上書きによる記録品質の特性）を維持することが非常に重要となる。このオーバーライト特性を維持するためには、記録時にディスク面に照射される記録パワーを一定にすることが最も重要であるが、その他にも、記録パルスの形状を調整することが重要となる。記録パルスの形状の係わる調整に際して、ＲＥディスクでは、オーバーライト特性を維持するために、記録パルスの幅を一定に保ちながらパルスの位置を変化させることが望ましい。
一方、Ｒディスクは、オーバーライト特性を考慮する必要がなく、記録パルス形状により形成される記録マークが影響を受けやすい（感度が高い）ため、記録パルスの幅を変化させながら調整することが望ましい。
【００４８】
例えば、記録パルスの調整において、図１８に示すように、記録マークの始端（Ｌｅａｄ）位置と終端（Ｔｒａｉｌ）位置とを変化させて、形成される記録マークの長さ及び位置を調整する工程があるとする。
ＲＥディスクの場合、図１８の記録マークの長さに係わる調整、またはＬｅａｄ位置とＴｒａｉｌ位置とを調整する工程において、図１９（ａ）に示すように、記録パルスの幅を一定に保ちながら調整を行う。すなわち、Ｌｅａｄ位置を変化させる場合は、ファーストパルスの立ち上がり位置と立ち下がり位置とに関するパラメータであるＴｓｔｐパラメータとＴｅｔｐパラメータとを同一方向に同一量変化させる。これにより、ファーストパルスの幅を変化させずにファーストパルスの位置を変化させ、Ｌｅａｄ位置を調整する。同様に、Ｔｒａｉｌ位置を変化させる場合は、ラストパルスの立ち上がり位置と立ち下がり位置とに関するパラメータであるＴｓｌｐパラメータとＴｅｌｐパラメータ、およびクーリングパルス幅を決定するパラメータであるＴｅｃｐパラメータを、同一方向に同一量変化させる。これにより、ラストパルスの幅およびクーリングパルスの幅を一定に保ちながらＴｒａｉｌ位置を調整する。以上により、ＲＥディスクは、記録パルスの幅を変化させないで、記録パルスの位置を調整することで、オーバーライト特性を維持している。
【００４９】
一方、Ｒディスクの場合、図１８の記録マークの長さに係わる調整、またはＬｅａｄ位置とＴｒａｉｌ位置とを調整する工程において、図１９（ｂ）に示すように、記録パルスの幅を変化させながら調整を行う。すなわち、Ｌｅａｄ位置を変化させる場合は、ファーストパルスの立ち上がり位置に関するパラメータであるＴｓｔｐパラメータのみを変化させる。これにより、ファーストパルスの幅を変化させ、Ｌｅａｄ位置を調整する。同様に、Ｔｒａｉｌ位置を変化させる場合は、ラストパルスの立ち下がり位置に関するパラメータであるＴｅｌｐパラメータのみを変化させる。これにより、ラストパルスの幅を変化させ、Ｔｒａｉｌ位置を調整する。なお、Ｔｒａｉｌ位置の調整に際しては、ラストパルスの立ち下がり位置に関するパラメータであるＴｅｌｐパラメータとクーリングパルス幅を決定するパラメータであるＴｅｃｐパラメータとを同一方向に同一量変化させ、クーリングパルス幅を一定にした状態でＴｒａｉｌ位置を調整してもよい。
【００５０】
なお、ここでは、調整対象となるパラメータがそれぞれのパルスの位置を示すパラメータである場合について説明したが、ここに説明した技術的思想は、調整対象となるパラメータが上記実施の形態で説明したそれぞれのパルスの位置と幅とを示すパラメータである場合についても同様に適用可能である。
以上のディスクに応じた制御方法の切り換えは、図１６に示す記録再生装置において、光ディスクコントローラ１３により実現可能である。すなわち、光ディスクコントローラ１３は、光ディスク２のコントロールトラックあるいはその他の領域に予め記録されているディスクを判別するための判別情報を取得し、ＲＥディスクとＲディスクとで記録パルスの調整方法を切り換える。ＲＥディスクであると判別する場合には、光ディスクコントローラ１３は、本欄で記載したＲＥディスクに対する方法あるいは本実施の形態で記載した方法により記録パルスの調整を行う。Ｒディスクであると判別する場合には、光ディスクコントローラ１３は、本欄で記載したＲディスクに対する方法により記録パルスの調整を行う。
【００５１】
以上により、ＲＥディスクとＲディスクとの特性の違いに応じた記録を行うことが可能となり、より適切な記録を行うことが可能となる。
〈９〉
実施の形態で説明した装置は、集積回路等により実現されてもよい。具体的には、上記実施の形態で図１６や図１７で説明した記録再生装置において、各ブロックは、ＬＳＩなどの半導体装置により個別に１チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように１チップ化されても良い。
具体的には、光ディスクコントローラ１３と記録補償回路１５とが１チップ化されてもよい。また、図１６や図１７で符号４０で示す構成、すなわち光学ヘッド１および光ディスク２以外の構成が半導体装置として１チップ化されてもよい。さらに、符号４０で示す構成のうち、レーザ駆動回路１６以外の構成だけが半導体装置として１チップ化されてもよい。なお、半導体装置として製造されるとした構成、例えば、符号４０で示す構成は、半導体装置として実装されるだけでなく、例えば、ＲＯＭやＲＡＭなどの記憶装置とＣＰＵなどの演算装置との協働により実現されるものであってもよい。この場合、ＲＯＭは、符号４０で示す構成により実現される記録パルスの調整を行うプログラムを予め記憶しており、ＣＰＵは、ＲＯＭが記憶するプログラムを実行する。また、ＲＡＭは、符号４０で示す構成により実現される記録パルスの調整を行うプログラムを読み込み、ＣＰＵは、ＲＡＭに読み込まれたプログラムを実行する。
【００５２】
なお、ここでは、ＬＳＩとしたが、集積度の違いにより、ＩＣ、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。ＬＳＩ製造後に、プログラムすることが可能なＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）や、ＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりＬＳＩに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適応等が可能性としてありえる。
〈１０〉
なお、本発明は、以下のものであってもよい。
【００５３】
本発明の光ディスク記録パルス制御方法及びその制御装置は、マーク長とスペース長の複数の組み合わせに対し、それぞれにについて記録パルスの情報を特定した記録パルス標準条件が予め記載されている書き込み可能な光ディスクから記録パルス標準条件を読み出し、前記記録パルス標準条件を調整し、記録パルス条件を求める記録パルス制御方法及びその制御装置であって、前記記録パルス条件は、記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、マルチパルス幅、クーリングパルス幅であって、ファーストパルス幅とマルチパルス幅は前記記録パルス標準条件とし、試し記録と試し記録の再生のステップを少なくとも一回以上行い、再生時の特定のパラメータが略々所望の値となるファーストパルス位置とクーリングパルス幅の条件を決定する。
また、ファーストパルス位置またはクーリングパルス幅を変更することによりマーク長調整するステップと、ファーストパルス位置とクーリングパルス幅を同時に同方向に変更することによりマークの位置調整するステップとを有する。
【００５４】
また、前記記録パルス制御は、記録するオリジナル信号の最短マーク長を除くマーク長に適用する。
また、マーク長とスペース長の複数の組み合わせに対し、それぞれにについて記録パルスの情報を特定した記録パルス標準条件が予め記載されている書き込み可能な光ディスクから記録パルス標準条件を読み出し、前記記録パルス標準条件を調整し、記録パルス条件を求める記録パルス制御方法及びその制御装置であって、前記記録パルス条件は、記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、クーリングパルス幅であって、試し記録と試し記録の再生のステップを少なくとも一回以上行い、ファーストパルス幅変更によるマーク長調整ステップまたはクーリングパルス幅変更によるマーク長調整ステップと、ファーストパルス位置とクーリングパルス幅を同時に同方向に変更することによりマークの位置を調整するステップとを有し、再生時の特定のパラメータが略々所望の値となる記録パルス条件を決定する。
【００５５】
また、前記記録パルス制御は、記録するオリジナル信号の最短マーク長に適用する。
また、マーク長とスペース長の複数の組み合わせに対し、それぞれにについて記録パルスの情報を特定した記録パルス標準条件が予め記載されている書き込み可能な光ディスクから記録パルス標準条件を読み出し、前記記録パルス標準条件を調整し、記録パルス条件を求める記録パルス制御方法及びその制御装置であって、前記記録パルス条件は、記録するオリジナル信号のマーク長に応じたファーストパルス幅、ファーストパルス位置、マルチパルス幅、クーリングパルス幅であって、試し記録と試し記録の再生のステップを少なくとも一回以上行い、前記記録するオリジナル信号のマーク長に応じて、変更する前記記録パルス条件を可変し、それぞれのマーク長ごとにマーク長調整とマーク位置調整を行い、それぞれのマーク長ごとに再生時の特定のパラメータが略々所望の値となる記録パルス条件を決定する。
【００５６】
また、クーリングパルス幅によるマーク長調整は、ファーストパルス位置によるマーク長調整よりも記録パルス標準条件からの調整量を小とする。
また、前記再生時の特定のパラメータは、形成されたマークを再生するときに求められるマークの立ち上がりおよび立下りそれぞれのエッジシフト量とする。
また、マーク長とスペース長の複数の組み合わせそれぞれにおいて、形成されたマークの立ち上がりエッジシフト量と立ち下がりエッジシフト量を求め、マーク長調整時は、立ち上がりエッジシフト量と立ち下がりエッジシフト量の加算値が略々最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件とし、マーク位置の調整時は、立ち上がりエッジシフト量の絶対値と立ち下がりエッジシフト量の絶対値の加算値が略々最小となる記録パルス条件を決定記録パルス条件とする。
【００５７】
〈１１〉
パターン発生回路１４が発生する記録補償学習用パターンは、次のようなものであってよい。例えば、記録パルス調整用の記録パターンは、ユーザデータのパターンである必要はない。より詳しくは、例えば、２Ｔマークの調整にユーザデータを用いると、２Ｔマークの発生確率が大きいため、２Ｔマークの変化により、記録パターンの再生波形から求められるコンパレータのしきい値（図４参照）、すなわち基準レベルが変化する。基準レベルが変動すると、マーク長とマーク位置とを適切に検出することができなくなる。
そこで、記録パルス調整用の記録パターンとしては、基準レベルが変化しにくい記録パターンが用いられることが好ましい。例えば、変復調規則で発生する最短から最長までのマーク長（例えば、２Ｔ〜９Ｔまで）を含み、その各マーク長の発生確率がほぼ同一なパターンが用いられることが好ましい。この場合、ある１つの記録マークのマーク長あるいはマーク位置などを変化させると、その影響は、全エッジ（２Ｔ〜９Ｔ）に対しては、１／１６の影響に過ぎず、基準レベルを全エッジの中心となるレベルとして決めた場合でも、基準レベルに与える影響はほとんどなく、マーク長とマーク位置とを適切に検出することが可能となる。
【００５８】
〈１２〉
記録マークの調整は、波形のしきい値（基準レベル）への影響を抑制するような手順で行われても良い。例えば、１つの記録パターンで、同時に複数の記録マーク（例えば、２Ｔと３Ｔなど）のマーク長を調整する場合、２Ｔマークに対しては、短い方向から長い方向へ変化するようにパラメータの調整を行い、３Ｔマークに対しては、長い方向から短い方向へ変化するようにパラメータの調整を行う。このようにすることで、波形の全エッジの中心または波形の全エネルギーの中心はほとんど変化せず、記録マークの調整による基準レベルへの影響はほとんどなくなる。これにより、マーク長とマーク位置とを適切に検出することが可能となる。また、マーク位置の調整においても同様に、波形のしきい値への影響を抑制するような手順で調整が行われることが好ましい。具体的には、同時に複数の記録マーク（例えば、２Ｔと３Ｔなど）のマーク長を調整する場合、２Ｔマークと３Ｔマークとが逆位相に移動するように、すなわち２Ｔマークと３Ｔマークとが逆方向（時間進み方向と時間遅れ方向）に移動するように調整が行われる。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明にかかる光ディスク記録パルス制御方法、その制御装置および光ディスク装置は、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光ディスクから、前記記録パルス標準条件を読み出して、記録再生装置の記録パルス条件を設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録パルス条件調整方法において、書き込み可能な光ディスク、および記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、かつ適正な記録パルス調整制御を行うことで、記録状態を良好とし、再生時のエラーを低減することができる。
したがって、光ディスクおよび記録再生装置の大量生産時の歩留まりが向上し、製品の品質向上とコスト削減に効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施の形態における記録パルス調整フローチャートの概略図
【図２】本発明の実施の形態における記録パルス条件の説明図
【図３】本発明の実施の形態における各マーク長の記録パルスの波形図
【図４】本発明の実施の形態におけるエッジシフト検出の説明図
【図５】本発明の実施の形態における記録パルス調整の手順フローチャート図
【図６】２Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図７】２Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図８】２Ｔマークのマーク位置調整における記録パルス調整説明図
【図９】２Ｔマークの記録パルス調整時に求められるエッジシフト量の変化を示す図
【図１０】クロスパワー特性と繰り返し特性を示す図
【図１１】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１２】３Ｔマークのマーク長調整における記録パルス調整説明図
【図１３】３Ｔマークのマーク位置調整における記録パルス調整説明図
【図１４】３Ｔマークの記録パルス調整時に求められるエッジシフト量の変化を示す図
【図１５】記録パルス条件を示す図
【図１６】本発明の実施の形態における記録再生装置の一構成例を示すブロック図
【図１７】本発明の実施の形態における記録再生装置の一構成例を示すブロック図
【図１８】記録マークの始端位置と終端位置とを示す説明図
【図１９】ディスクに応じた記録パルスの調整について説明する記録パルス調整説明図
【図２０】従来の記録再生装置の構成を示すブロック図
【図２１】従来例の誤差検出回路の具体的な動作の様子を示した図
【図２２】従来例の記録パルスパラメータを求める動作のフローチャート図
【符号の説明】
【００６１】
１，３８  光学ヘッド
２，３７  光ディスク
３，３９  波形等化器
４        Ａ／Ｄ変換器
５        高域通過フィルタ
６，２１  位相比較器
７，２２  ＬＰＦ
８        Ｄ／Ａ変換器
９，２３  ＶＣＯ
１０        ２値化回路
１１        パターン検出回路
１２        エッジシフト検出回路
１３，２５  光ディスクコントローラ
１４，２６  パターン発生器
１５，２７  記録補償回路
１６，２８  レーザ駆動回路
１７        ＦＩＲフィルタ
１８        ＬＭＳブロック
１９        ビタビ復号回路
２０        コンパレータ
２４        誤差検出回路
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2006009204.tif 000024
【図２】
2006009204.tif 000025
【図３】
2006009204.tif 000026
【図４】
2006009204.tif 000027
【図５】
2006009204.tif 000028
【図６】
2006009204.tif 000029
【図７】
2006009204.tif 000030
【図８】
2006009204.tif 000031
【図９】
2006009204.tif 000032
【図１０】
2006009204.tif 000033
【図１１】
2006009204.tif 000034
【図１２】
2006009204.tif 000035
【図１３】
2006009204.tif 000036
【図１４】
2006009204.tif 000037
【図１５】
2006009204.tif 000038
【図１６】
2006009204.tif 000039
【図１７】
2006009204.tif 000040
【図１８】
2006009204.tif 000041
【図１９】
2006009204.tif 000042
【図２０】
2006009204.tif 000043
【図２１】
2006009204.tif 000044
【図２２】
2006009204.tif 000045
【国際調査報告】
2006009204.tif 000046
2006009204.tif 000047
2006009204.tif 000048
2006009204.tif 000049
2006009204.tif 000050
2006009204.tif 000051
2006009204.tif 000052