(57)【要約】  適切な変調度及び高いアシンメトリで、波形歪みの少ない情報の記録が可能な情報記録装置、情報記録方法及び情報記録プログラムを提供する。  情報記録装置は、例えばＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷなどの記録媒体に対してレーザ光を照射し、記録信号に対応した記録マークを形成することにより情報を記録する。記録信号に対応する記録マークを形成するための記録パルス信号は、記録マークを形成するマーク期間と、記録マークを形成しないスペース期間とを有する。実際の情報記録に先だって行われる試し書き（テスト記録）においては、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させる。好適には、試し書き中の短マークの記録パワーは、アシンメトリ及び／又はβ値が所望の範囲の値となるように変更される。これにより、所望の記録特性が得られるように、短マークの記録パワーが適切に決定される。また、そうして決定された記録パワーを用いて、実際の記録が行われる。【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録装置であって、
前記レーザ光を出射する光源と、
前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成手段と、
前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動して試し書きを行う試し書き手段と、を備え、
前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、
前記試し書き手段は、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させて試し書きを行うことを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】
前記長マークの記録パワーは、再生互換性が確保される記録パワーであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項３】
前記長マークの記録パワーは、変調度が所定範囲内となる記録パワーであることを特徴とする請求の範囲第２項に記載の情報記録装置。
【請求項４】
前記長マークの記録パワーは、波形歪みが所定値以下となる記録パワーであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項５】
前記短マークの記録パワーは、アシンメトリが−０．０５〜０．１５の範囲内となる記録パワーであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項６】
前記短マークの記録パワーは、β値が０となる記録パワーであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項７】
前記試し書き手段は、試し書きにより形成された記録マークを読み出し、読み出された記録マークに基づいて得られたアシンメトリ及び／又はβ値が所定の条件を満足するまで、試し書きを繰り返すことを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項８】
前記短マークは最短マークであり、前記長マークは前記短マーク以外のマークであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項９】
前記短マークは最短マーク及び２番目に短いマークであり、前記長マークは前記短マーク以外のマークであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項１０】
前記短マークはレベルが最大振幅とならないマークであり、前記長マークはレベルが最大振幅となるマークであることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の情報記録装置。
【請求項１１】
記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録方法であって、
前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成工程と、
前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動して試し書きを行う試し書き工程と、を備え、
前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、
前記試し書き工程は、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させて試し書きを行うことを特徴とする情報記録方法。
【請求項１２】
光源を備える情報記録装置において実行され、記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成するための情報記録プログラムであって、
前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成工程と、
前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動して試し書きを行う試し書き工程と、を前記情報記録装置に実行させ、
前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、
前記試し書き工程は、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させて試し書きを行うことを特徴とする情報記録プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光線などを利用して光ディスクに情報を記録する技術に属する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ−Ｒ（DVD-Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ（DVD-Re-recordable）などの書き込み又は書き換え可能な光ディスクには、ディスクの記録面上にレーザ光を照射して情報を記録する。光ディスクの記録面上のレーザ光が照射された部分は、温度が上昇するために光ディスクを構成する光記録媒体に変化が生じ、これにより記録マークが記録面上に形成される。【０００３】
よって、記録すべき情報に応じた時間幅を有する記録パルスでレーザ光を変調して記録すべき信号に応じた長さのレーザパルスを生成し、これを光ディスクに照射することにより、記録すべき情報に応じた長さの記録マークを光ディスク上に形成することができる。【０００４】
一方、最近では１つの記録マークを１つのレーザパルスで形成するのではなく、複数の短いパルスを含むパルス列部（パルストレインとも呼ばれる）により記録マークを形成するレーザパワーの制御手法が利用されている。また、高速記録時には、パルストレインを含む記録パルス波形に代えて、トップパルス期間と、ラストパルス期間と、その間の中間バイアス期間とから構成される記録パルス波形を使用する手法などが提案されている（例えば、特許文献１及び２を参照）。【０００５】
上記のような記録方式においては、パルス列期間、トップパルス期間及びラストパルス期間などにおけるレーザパワーはマーク長に拘わらず固定値を有している。例えば、ＤＶＤ−Ｒの８倍速記録用のライトストラテジーでは、３Ｔ及び４Ｔのマークは単一の記録パルスで記録され、５Ｔ以上のマークは上述のようにトップパルス期間と、ライトパルス期間と、中間バイアス期間とを有する記録パルス波形により記録されるが、それらのレベル、即ち記録パワーは同一である。【０００６】
一方、ＤＶＤ＋Ｒの４倍速記録方式においては、全ての長さのマークが単一の記録パルスにより形成されるが、３Ｔ及び４Ｔの記録パルスのレベル、即ち記録パワーは、５Ｔ以上のマークのレベルより大きくなっている。具体的には、３Ｔマークと、４Ｔマークと、５Ｔ以上の長さのマークの記録パワーの比が一定となるように決定されている。【０００７】
１種類の記録パワー又は固定比率の記録パワーを有する記録パルス波形で記録を行う場合、記録速度が高速になるほど、変調度が大きくなる。しかし、変調度が過大になると、ＡＲ（Aperture Ratio）、ＬＰＰエラー、ＡＤＩＰエラーなどに悪影響が及ぶ可能性が高くなる。また、熱干渉が発生するアシンメトリが規格値あるいは再生可能な範囲の下限に近くなっており、そのマージンが狭くなる。【０００８】
【特許文献１】特開２００３−７７１２８号公報
【特許文献２】特開２００３−８５７５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明が解決しようとする課題は上記のようなものが例として挙げられる。本発明は、高倍速記録時においても、適切な変調度及び高いアシンメトリで、波形歪みの少ない情報の記録が可能な情報記録装置、情報記録方法及び情報記録プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の１つの実施形態では、記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録装置は、前記レーザ光を出射する光源と、前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成手段と、前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動して試し書きを行う試し書き手段と、を備え、前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、前記試し書き手段は、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させて試し書きを行う。【００１１】
上記の情報記録装置は、例えばＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷなどの記録媒体に対してレーザ光を照射し、記録信号に対応した記録マークを形成することにより情報を記録する。記録信号に対応する記録マークを形成するための記録パルス信号は、記録マークを形成するマーク期間と、記録マークを形成しないスペース期間とを有する。実際の情報記録に先だって行われる試し書き（テスト記録）においては、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させる。これにより、所望の記録特性が得られるように、短マークの記録パワーが適切に決定される。また、そうして決定された記録パワーを用いて、実際の記録が行われる。【００１２】
上記の情報記録装置の一態様では、前記長マークの記録パワーは、再生互換性が確保される記録パワーとすることができ、その場合の特に好適な実施例では前記長マークの記録パワーは、変調度が所定範囲内となる記録パワーとすることができる。【００１３】
上記の情報記録装置の他の一態様では、前記長マークの記録パワーは、波形歪みが所定値以下となる記録パワーとすることができる。【００１４】
上記の情報記録装置の他の一態様では、前記短マークの記録パワーは、アシンメトリが−０．０５〜０．１５の範囲内となる記録パワーとすることができる。また、他の一態様では、前記短マークの記録パワーは、β値が０となる記録パワーとすることができる。【００１５】
上記の情報記録装置の他の一態様では、前記試し書き手段は、試し書きにより形成された記録マークを読み出す手段と、読み出された記録マークに基づいて得られたアシンメトリ及び／又はβ値が所定の条件を満足するまで、試し書きを繰り返す。これにより、所定の条件を具備する適切な記録パワーを得ることができる。【００１６】
上記の情報記録装置の好適な実施例では、前記短マークは最短マークとし、前記長マークは前記短マーク以外のマークとすることができる。また、他の好適な実施例では、前記短マークは最短マーク及び２番目に短いマークとし、前記長マークは前記短マーク以外のマークとすることができる。さらに他の好適な実施例では、前記短マークはレベルが最大振幅とならないマークとし、前記長マークはレベルが最大振幅となるマークとすることができる。【００１７】
本発明の他の実施形態では、記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録方法は、前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成工程と、前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動して試し書きを行う試し書き工程と、を備え、前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、前記試し書き工程は、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させて試し書きを行う。【００１８】
上記の情報記録方法によっても、上記の情報記録装置と同様に、所望のアシンメトリ及び／又はβ値を実現する適正な記録パワーを決定することができる。【００１９】
本発明の他の実施形態では、光源を備える情報記録装置において実行され、記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成するための情報記録プログラムは、前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成工程と、前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動して試し書きを行う試し書き工程と、を前記情報記録装置に実行させ、前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、前記試し書き工程は、長マークの記録パワーを一定とし、短マークの記録パワーを変化させて試し書きを行う。【００２０】
上記の情報記録プログラムを情報記録装置において実行することにより、前述の情報記録装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の第１実施例による記録パルス波形を示す図である。
【図２】変調度及びアシンメトリを説明する図である。
【図３】波形歪み（歪み率）の定義を説明する図である。
【図４】記録パワーと、変調度及び歪み率との関係を示すグラフである。
【図５】従来の記録方法と実施例の記録方法によって記録されたデータの再生ＲＦ信号波形例を示す。
【図６】β値の定義を模式的に示す図である。
【図７】第２実施例による記録パルス波形を示す図である。
【図８】第３実施例による記録パルス波形を示す図である。
【図９】本発明を適用した情報記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【図１０】図９に示す記録制御部の構成を示すブロック図である。
【図１１】図１０に示すＬＤドライバの構成を示すブロック図である。
【図１２】ＬＤの駆動電流と出力パワーの関係を示すグラフである。
【図１３】実施例による記録条件決定処理のフローチャートである。
【図１４】実施例の情報記録再生装置による記録処理のフローチャートである。
【符号の説明】
【００２２】
１  情報記録再生装置
２  光ピックアップ
３  スピンドルモータ
１０  記録制御部
１２  ＬＤドライバ
１３  ＡＰＣ回路
１４  サンプルホールド回路
１５  コントローラ
１６  フロントモニタダイオード
２０  再生制御部
３０  サーボ制御部
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明は、記録パルス信号によりレーザ光源を駆動して情報の記録を行う情報記録装置において、長マークと短マークの記録パワーを別々に設定する。そして、長マークの記録パワーを固定しておき、短マークの記録パワーを変更しつつ試し書きを行って、短マークの最適な記録パワーを決定する。【００２４】
［第１実施例］
まず、本発明の第１実施例について説明する。なお、以下の説明では、試し書きを行う実施例に先立ち、短マークと長マークの記録パワーについて説明する。【００２５】
図１に、本発明の第１実施例による記録パルス波形（ライトストラテジー）を示す。なお、比較のため、通常のＤＶＤ−Ｒの８倍速記録時の記録パルス波形を図１の上段に示し、第１実施例による記録パルス波形を図１の下段に示す。【００２６】
図１において、記録データは、記録データ長に対応する長さのマーク期間Ｔwdと、同じく記録データ長に対応する長さのスペース期間Ｔspにより構成される。なお、本発明においてはスペース期間の長さは問題とはならないので、その一部を省略して図示している。【００２７】
ＤＶＤ−Ｒにおいては、３Ｔ及び４Ｔの長さのマークは単一のパルスからなる記録パルス波形により形成され、５Ｔ以上の長さのマークはトップパルス６０tpとラストパルス６０lpと中間バイアス部６０ｍとからなる略凹型の記録パルス波形により形成される。具体的には、図１の上段に示すように、ＤＶＤ−Ｒの８倍速記録においては、３Ｔ及び４Ｔの記録パルス波形はバイアスパワーＰbの期間と、ピークパワーＰoの期間と、ゼロレベルの期間とを有する。また、５Ｔ以上の記録パルス波形は、バイアスパワーＰbの期間と、ピークパワーＰoのトップパルス期間６０tp及びラストパルス期間６０lpと、中間バイアスパワーＰmの期間６０mと、ゼロレベルの期間とを有する。ここで、図示のように、通常のＤＶＤ−Ｒの８倍速記録時の記録パルス波形では、３Ｔ及び４Ｔマークのパワー、及び、５Ｔ以上のマークのトップパルス及びラストパルスの部分の記録パワー（これらを「ピークパワーＰo」とも呼ぶ。）が同一となっている。【００２８】
なお、本明細書では、「記録パワー」はピークパワーと中間バイアスパワーを含む概念である。即ち、記録パルス波形が図１における３Ｔ及び４Ｔマークの場合には記録パワーはピークパワーのみであるが、５Ｔマーク以上の場合には記録パワーはピークパワーと中間バイアスパワーを指す。【００２９】
これに対し、本発明では、長マークの記録パワーと短マークの記録パワーとを異ならせる。第１実施例では、「短マーク」とは最短マーク及び２番目に短いマークを指し、「長マーク」とは短マーク以外のマークを指すものと規定する。即ち、短マークは３Ｔ及び４Ｔマークであり、長マークは５Ｔ以上の長さのマークとする。【００３０】
即ち、図１の下段に示すように、３Ｔマークの記録パルス波形のピークパワーＰo1及び４Ｔマークの記録パルス波形のピークパワーＰo2は、５Ｔ以上のマークの記録パルス波形のピークパワーＰonと異なっている。５Ｔ以上のマークのピークパワーＰonは、どの長さのマークであっても同一である。【００３１】
なお、図１においては３ＴマークのピークパワーＰo1の方が４ＴマークのピークパワーＰo2より大きいが、これは一例であり、これに限定されるものではない。よって、３ＴマークのピークパワーＰo1と４ＴマークのピークパワーＰo2とは、同一であってもよく、一方が他方より大きくてもよい。但し、いずれにしても、３ＴマークのピークパワーＰo1及び４ＴマークのピークパワーＰo2は、５Ｔ以上のマークのピークパワーＰonとは異なる。【００３２】
次に、短マークと長マークの記録パワーの決定方法について説明する。本実施例では、記録状態の評価パラメータとして、変調度、アシンメトリ、波形歪み及びβ値を考慮して、記録パワーを決定する。【００３３】
図２に変調度及びアシンメトリを概念的に示す。「変調度」とは、記録媒体に記録したデータを読み出して得られるＲＦ信号（記録媒体からの戻り光を光電変換して得られるものであり、ＤＣ成分を含むＲＦ信号）の振幅と、ＲＦ信号のゼロレベルとピークレベルとの差との割合をいう。図２には、記録媒体を再生して得られるＲＦ信号波形の例を示している。即ち、変調度は、ＲＦ信号振幅Ｉ14と、ゼロレベルとピークレベルとの差Ｉ14Hとの割合であり、下式で与えられる。【００３４】
変調度  ＝  Ｉ14／Ｉ14H                    （１）
一般に、記録媒体に対する記録マークの形成が不十分であると変調度が低くなり、再生信号におけるノイズの影響が大きくなる。よって、Ｓ／Ｎ比が低下し、再生互換性に悪影響が生じる。なお、「再生互換性がある」とは、ある記録装置により記録した記録媒体を他の再生装置により適正に再生できることをいう。【００３５】
「アシンメトリ」とは、記録媒体から再生されたＲＦ信号において、最大振幅を与える所定の長マークに対する、最短マークの位置をいい、具体的には下式で与えられる。【００３６】
アシンメトリ  ＝  ｛（Ｉ14H＋Ｉ14L）／２−（Ｉ3H＋Ｉ3L）／２｝／Ｉ14    （２）
即ち、図２に示すように、所定の長マーク（１４Ｔマーク）に対応するＲＦ信号のレベルＩ14HとＩ14Lとの中間レベルと、最短マークに対応するＲＦ信号のレベルＩ3HとＩ3Lの中間レベルとの位置関係を示している。【００３７】
図３に波形歪み（歪み率）の定義を模式的に示す。図３において、波形歪みは、ＲＦ信号の振幅Ｗに対する、歪み量Ｄの割合である。なお、歪み量とは、本来とるべきレベルＬLと実際にＲＦ信号波形に現れたレベルとの差を示す。図３において、破線のグラフ７０は歪みがないときのＲＦ信号波形であり、歪み量は「０」である。グラフ７０ａは歪みが生じたＲＦ信号波形の一例であり、歪み量はＤａで与えられる。また、グラフ７０ｂは歪みが生じたＲＦ信号波形の他の例であり、歪み量はＤｂで与えられる。グラフ７０ａ及び７０ｂの場合に示されるように、波形歪みは、ＲＦ信号波形が一時的にほぼフラット（即ち、傾きがほぼゼロ）となったレベルと、本来とるべきレベルＬLとの差ともいうことができる。【００３８】
また、図３には、ＲＦ信号波形のボトムレベル側に歪みが発生している例を示しているが、ＲＦ信号波形のピークレベル側に歪みが発生する場合もある。本実施例における歪み率はいずれの場合も対象としている。【００３９】
図７に、β値の定義を模式的に示す。β値は、ＲＦ信号の平均レベルと、ＲＦ信号の振幅レベルのセンター値（全マークのセンター値）とのずれ量を示すパラメータである。ＲＦ信号の平均レベルは、例えばＲＦ信号をＬＰＦに通過させることにより得ることができる。また、ＲＦ信号の振幅レベルのセンター値は、再生した記録データに対応するＲＦ信号の最小レベルと最大レベルから計算により求めることができる。β値は、「０」に近い値、即ちＲＦ信号の平均レベルと、ＲＦ信号の振幅レベルのセンター値とのずれが小さいほど好ましい。【００４０】
次に、長マーク及び短マークの記録パワーの決定方法について説明する。まず、長マークの記録パワーについて説明する。本実施例では、長マークの記録パワーは、
（条件Ａ）再生互換性が確保できる範囲の記録パワーとする、
（条件Ｂ）波形歪みが発生しない又は所定値以下となる記録パワーとする、
（条件Ｃ）条件Ａと条件Ｂの両方を具備する記録パワーとする、
の３つの方法が挙げられる。【００４１】
まず、再生互換性に関する条件Ａについて説明する。図４に記録パワーと、変調度及び歪み率との関係を示す。図示のように、記録パワーの増加とともに変調度が大きくなるが、その増加はある程度の記録パワーで飽和する。ＤＶＤの規格では、再生互換性を確保するため、変調度は６０％以上が要求されており、上限は規定されていない。【００４２】
しかし、変調度が大きくなるほど、ＤＶＤ−Ｒの場合のＬＰＰエラー率やＡＲなど、ＤＶＤ＋Ｒの場合のＡＤＩＰエラー率などに悪影響が及ぶ可能性が高くなる。ＡＲは、ＤＶＤ−ＲにおけるＬＰＰ検出波形の開口率を示し、ＬＰＰが正しく検出できるか否かの指標である。ＬＰＰエラー率は再生ＲＦ信号中のＬＰＰ信号のエラー率を示す。前述のように、再生互換性を確保するためには、変調度は６０％以上とすることが望ましいが、変調度が大きくなり過ぎると、記録媒体のグルーブ上に形成されるピット幅が大きくなり、グルーブに隣接して形成されているＬＰＰを読み取り不能としてしまうことがある。これによりＡＲやＬＰＰエラー率が悪化する。また、ＤＶＤ＋Ｒの場合も、変調度が大きくなり過ぎると、形成されるピットが大きくなりすぎ、ディスク上に予め記録されているプリアドレスなどが読み取り不能となる。これにより、ＡＤＩＰエラー率などが悪化する。【００４３】
また、変調度が大きいと、隣接する他のマーク、特に短いマークに対する熱的影響が増加し、熱干渉などにより記録特性の劣化が生じる。さらには、図４に示されるように、記録パワーの変化に対する変調度の変化量が小さくなるので、例えばＲＯＰＣ（Running Optimum Power Control）など、変調度を特性の検出などに使用する場合には検出精度が低下する。【００４４】
このように、変調度が大きすぎると各種の不具合が生じうる。よって、変調度は、再生互換性が保たれる範囲内でできる限り小さくすること、例えば「０．６」（６０％）程度とすることが望ましい。また、上記の各種の不具合を防止する観点からは、図４において、変調度の上限を「０．８」（８０％）程度とすることが望ましい。以上より、長マークのピークパワーＰonは、再生互換性が保たれる範囲とすることが望ましく、具体的には変調度が０．６〜０．８程度の範囲内となる値とすることが望ましく、特に変調度を０．６程度とすることが望ましい。【００４５】
次に、波形歪み（歪み率）に関する条件Ｂについて説明する。波形歪みは記録条件、記録媒体によって異なるが、図４の例では、記録パワーが減少するにつれて歪み率が増加している。歪み率が大きくなるほど、記録特性は悪化する。よって、長マークのピークパワーＰonは波形歪みが発生しないか、又は、十分に小さくなる（例えば１０％以下）ように決定することが望ましい。なお、図４に示した歪み率のグラフは一例に過ぎず、記録条件や記録媒体によっては、記録パワーが増加するにつれて歪み率が増加する特性を示す場合もありうる。【００４６】
以上より、条件Ｃに示すように、再生互換性に関する条件Ａと、波形歪みに関する条件Ｂを同時に満足するように長マークの記録パワーを決定することが最も望ましい。【００４７】
次に、短マークの記録パワーの決定方法について説明する。図５に、従来の手法による場合と本実施例による場合の熱干渉の影響を比較するための波形図を示す。図５（ａ）は従来の手法によるものであり、図１の上段に示すように、全ての長さのマークを同一の記録パワーで形成した場合の再生ＲＦ信号波形である。一方、図５（ｂ）は図１の下段に示すように、短マーク（３Ｔ及び４Ｔ）と長マーク（５Ｔ以上）を異なる記録パワーで形成した場合の再生ＲＦ信号波形である。いずれの場合も、アシンメトリは適正な範囲内に収まっている。【００４８】
図５（ａ）に示すように、３Ｔマークの波形は熱干渉の影響でレベルが変動し、薄いひげのような波形が発生している。これにより、アシンメトリは適正範囲にあるにも拘わらず、記録特性（ジッタ）が悪化してしまう。【００４９】
これに対し、図５（ｂ）に示すように、本実施例の場合には、３Ｔマークの波形に熱干渉の影響が生じていない。このように、短マークと長マークの記録パワーを異ならせて記録することにより、従来のように全てのマークを同一記録パワーで記録する場合と比較して、長マークを記録する際のパワーが短マークに及ぼす熱的影響を軽減し、短マークを熱干渉が発生しない範囲で記録することができる。即ち、本実施例のように、短マークの記録パワーを長マークの記録パワーと異ならせることとし、短マークのピークパワーＰo1及びＰo2は、適正なアシンメトリ（例えばＤＶＤ規格による−０．０５〜０．１５）が得られる範囲となるように決定することが望ましい。【００５０】
また、短マークの適切な記録パワーを決定するためのパラメータとしては、前述のβ値を使用することができる。この場合、β値が「０」に近い所定の範囲内の値となるように短マークの記録パワーを決定することが好ましい。【００５１】
次に、第１実施例による試し書きについて説明する。本発明においては、記録媒体毎により良好な記録条件を決定するために、長マークの記録パワー、即ちピークパワー及び中間バイアスパワーを固定したまま、短マークの記録パワーを変化させて試し書き（テスト記録）を行い、最適な短マークの記録パワーを決定する。なお、短マークの記録パワーを決定する際に用いるパラメータは、前述のように、アシンメトリ及びβ値の少なくとも一方とする。【００５２】
図７の上段に第１実施例による試し書きの様子を模式的に示す。第１実施例においては、前述のように最短マーク（３Ｔマーク）及び２番目に短いマーク（４Ｔマーク）を短マークと定義し、それ以外のマークを長マークと定義する。よって、試し書きにおいて、５Ｔマーク以上のマークの記録パワー、即ちピークパワーＰon及び中間バイアスパワーＰmnは図７に示すように一定値とする。【００５３】
なお、試し書きにおいて使用される長マークのピークパワーＰon及び中間バイアスパワーＰmは、既知の各種方法により、短マークの記録パワーとは独立に事前に決定されており、例えば後述のコントローラなどに記憶されている。【００５４】
図７に示すように、試し書きにおいて、短マーク、即ち３Ｔマーク及び４Ｔマークの記録パワーを徐々に変化させる。図７の例では、３ＴマークのピークパワーＰo1をＰonから開始し、徐々に増加させている。同様に、４ＴマークのピークパワーＰo2もＰonから開始し、徐々に増加させている。こうして、短マークの記録パワーを所定の初期値から徐々に変化させつつ記録媒体に試し書きを行う。【００５５】
そして、試し書きした記録データを読み取って、アシンメトリ、β値などのパラメータを算出して評価する。試し書きは、試し書きしたデータを再生して得られたアシンメトリ、β値などのパラメータが所定の条件を満足するまで繰り返し実行される。これにより、短マークの最適な記録パワー（ピークパワーＰo1、Ｐo2など）が決定される。【００５６】
具体的には、図７の例では、１回目の試し書きにおいては、３ＴマークのピークパワーをＰo1（＝Pon）、４ＴマークのピークパワーをＰo2（＝Ｐon）、５Ｔマーク以上のマークのピークパワーをＰonとして試し書きを行う。また、２回目の試し書きにおいては、３ＴマークのピークパワーをＰo1a、４ＴマークのピークパワーをＰo2a、５Ｔマーク以上のマークのピークパワーをＰonとして試し書きを行う。さらに、３回目の試し書きにおいては、３ＴマークのピークパワーをＰo1b、４ＴマークのピークパワーをＰo2b、５Ｔマーク以上のマークのピークパワーをＰonとして試し書きを行う。こうして、所定の条件を満足する記録パワーが得られるまで、試し書きが繰り返し実行される。【００５７】
なお、図７の例では、短マークの試し書きを開始するパワー値を、既に決定されている長マークのピークパワーＰonと一致させているが、本発明の適用はこれには限定されない。即ち、短マークの試し書きは、長マークのピークパワーＰonよりも小さい値から開始しても構わない。【００５８】
また、図７の例では、複数回の試し書きにおいて、短マークの記録パワーを段階的に増加させているが、逆に、所定の初期パワー値から記録パワーを段階的に減少させることとしてもよい。【００５９】
なお、試し書きにおいて使用される記録データとしては、以下のものが挙げられる。まず、実際の記録時と同等のデータを含むランダムパターンを試し書き用の記録データとして使用することができる。このランダムパターンを使用することにより、試し書きの評価パラメータとしてアシンメトリ及びβ値を得ることができる。【００６０】
また、データアドレスを含めた実際のデータを試し書き用記録データとして使用することもできる。この場合には、上記と同様にアシンメトリ及びβ値を得ることができるのに加え、データのエラーレートも得ることができるという利点がある。【００６１】
また、データに含まれるパターンのうち、試し書きの評価パラメータに関連する値の検出感度が増加する特定のパターンを試し書き用記録データとして使用することもできる。特定のパターンの例としては、最短マーク／スペース（３Ｔマーク／３Ｔスペース）と、最大振幅を与えるマーク／スペース（例えば１１Ｔマーク／１１Ｔスペース）の繰り返しから構成されるパターンなどが挙げられる。これによれば、上記のランダムパターンや実際のデータを使用する場合と比較して、アシンメトリやβ値の検出感度を向上させることができる。【００６２】
［第２実施例］
次に、本発明の第２実施例について説明する。第２実施例は、長マーク及び短マークの規定方法のみが第１実施例と異なる。図７の下段に第２実施例における記録パルス波形を示す。図示のように、第１実施例においては、最短マーク（３Ｔ）及び２番目に短いマーク（４Ｔ）を短マークと規定し、それ以外のマーク（５Ｔ以上）を長マークと規定した。そして、長マークの記録パワーを固定し、短マークのピークパワーＰo1及びＰo2を変化させて試し書きを行った。【００６３】
これに対し、第２実施例では、最短マーク（３Ｔ）のみを短マークと規定し、それ以外のマーク（４Ｔ以上）を長マークと規定する。よって、図示のように、長マークである４Ｔ以上のマークのピークパワーＰon及び中間バイアスパワーＰmを固定し、短マークである３ＴマークのピークパワーＰo1を変化させて試し書きを行う。【００６４】
なお、試し書きによる短マークの記録パワーの決定方法は第１実施例と同様である。即ち、短マークのピークパワーＰo1は、アシンメトリ及び／又はβ値が適切な範囲となるように決定される。【００６５】
［第３実施例］
次に、第３実施例について説明する。第３実施例も、長マーク及び短マークの規定方法のみが第１実施例と異なる。図８に、第３実施例における記録パルス波形図を示す。なお、図８の上段には、６Ｔマークが最大振幅にならない場合の記録パルス波形を示し、下段には６Ｔマークが最大振幅になる場合の記録パルス波形を示す。【００６６】
第３実施例では、ＲＦ信号波形が最大振幅にならないマークを短マークと規定し、ＲＦ信号波形が最大振幅になるマークを長マークと規定する。但し、あるマークが最大振幅になるか否かは記録条件や記録媒体などにより変化する場合がある。通常、３Ｔ〜５Ｔマークは最大振幅にならず、７Ｔマーク以上のマークは最大振幅になるが、６Ｔマークは最大振幅になる場合とならない場合とがある。よって、６Ｔマークが最大振幅にならない場合には、３Ｔ〜６Ｔマークを短マークと規定し、７Ｔマーク以上を長マークと規定する（図７の上段参照）。一方、６Ｔマークが最大振幅となる場合には、３Ｔ〜５Ｔマークを短マークと規定し、６Ｔマーク以上を長マークと規定する。【００６７】
具体的には、図８の上段に示すように、６Ｔマークが最大振幅にならない場合には、最大振幅とならないマーク、即ち３Ｔマーク〜６Ｔマークを短マークと規定し、それ以外のマーク（７Ｔ以上）を長マークと規定する。よって、図示のように、長マークである７Ｔ以上のマークのピークパワーＰon及び中間バイアスパワーＰmnを固定する。そして、短マークである３Ｔマーク〜６Ｔマークについては、トップパルス６０tp及びラストパルス６０lpのピークパワーＰo1〜Ｐo4を変化させて試し書きを行う。また、図示のように５Ｔマーク及び６Ｔマークについては、中間バイアス部６０mのパワーＰm3及びＰm4も同時に変化させつつ試し書きを行う。【００６８】
一方、図８の下段に示すように、６Ｔマークが最大振幅になる場合には、最大振幅とならないマーク、即ち３Ｔマーク〜５Ｔマークを短マークと規定し、それ以外のマーク（６Ｔ以上）を長マークと規定する。よって、図示のように、長マークである６Ｔ以上のマークのピークパワーＰon及び中間バイアスパワーＰmnを固定する。そして、短マークである３Ｔマーク〜５Ｔマークについては、トップパルス６０tp及びラストパルス６０lpのピークパワーＰo1〜Ｐo5を変化させて試し書きを行う。また、図示のように５Ｔマークについては、中間バイアス部６０mのパワーＰm3も同時に変化させつつ試し書きを行う。【００６９】
なお、試し書きによる短マークの記録パワーの決定方法は第１実施例と同様である。即ち、短マークのピークパワーＰo1〜Ｐo4及び中間バイアスパワーＰm3〜Ｐm4は、アシンメトリ及び／又はβ値が適切な範囲となるように決定される。【００７０】
［情報記録再生装置の実施例］
図９に、本発明を適用した情報記録再生装置の全体構成を概略的に示す。情報記録再生装置１は、光ディスクＤに情報を記録し、また、光ディスクＤから情報を再生するための装置である。光ディスクＤとしては、例えばＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷなどを含む種々の光ディスクを使用することができる。【００７１】
情報記録再生装置１は、光ディスクＤに対して記録ビーム及び再生ビームを照射する光ピックアップ２と、光ディスクＤの回転を制御するスピンドルモータ３と、光ディスクＤへの情報の記録を制御する記録制御部１０と、光ディスクＤに既に記録されている情報の再生を制御する再生制御部２０と、スピンドルモータ３の回転を制御するスピンドルサーボ、並びに光ピックアップ２の光ディスクＤに対する相対的位置制御であるフォーカスサーボ及びトラッキングサーボを含む各種サーボ制御を行うためのサーボ制御部３０と、を備える。【００７２】
記録制御部１０は記録信号を受け取り、後述の処理により光ピックアップ２内部のレーザダイオードを駆動するための駆動信号ＳDを生成して、これを光ピックアップ２へ供給する。【００７３】
再生制御部２０は、光ピックアップ２から出力される読取ＲＦ信号Ｓrfを受け取り、これに対して所定の復調処理、復号化処理などを施して再生信号を生成して出力する。【００７４】
サーボ制御部３０は、光ピックアップ２からの読取ＲＦ信号Ｓrfを受け取り、これに基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカス信号などのサーボ信号Ｓ１を光ピックアップ２へ供給するとともに、スピンドルサーボ信号Ｓ２をスピンドルモータ３へ供給する。これにより、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボなどの各種サーボ処理が実行される。【００７５】
なお、本発明は主として記録制御部１０における記録方法に関するものであり、再生制御及びサーボ制御については既知の種々の方法が適用できるので、それらについての詳細な説明は行わない。【００７６】
また、図９には本発明の１つの実施例として情報記録再生装置を例示しているが、本発明は記録専用の情報記録装置に適用することも可能である。【００７７】
図１０に、光ピックアップ２及び記録制御部１０の内部構成を示す。図１０に示すように、光ピックアップ２は、光ディスクＤに対して情報を記録するための記録ビーム及び光ディスクＤから情報を再生するための再生ビームを生成するレーザダイオードＬＤと、レーザダイオードＬＤから出射されたレーザ光を受光して、レーザ光に対応するレーザパワーレベル信号ＬＤoutを出力するフロントモニタダイオード（ＦＭＤ）１６とを備える。【００７８】
なお、光ピックアップ２は、この他に再生ビームの光ディスクＤによる反射ビームを受光して読取ＲＦ信号Ｓrfを生成するための光検出器や、記録ビーム及び再生ビーム並びに反射ビームを適切な方向に案内する光学系などの既知の構成要素を備えるが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。【００７９】
一方、記録制御部１０は、レーザダイオード（ＬＤ）ドライバ１２と、ＡＰＣ（Automatic Power Control）回路１３と、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１４と、コントローラ１５とを備える。【００８０】
ＬＤドライバ１２は、記録信号に応じた電流をレーザダイオードＬＤに供給して、光ディスクＤへ情報の記録を行う。フロントモニタダイオード１６は、光ピックアップ２内のレーザダイオードＬＤの近傍に配置され、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光を受光して、そのレベルを示すレーザパワーレベル信号ＬＤoutを出力する。【００８１】
サンプルホールド回路１４は、サンプルホールド信号APC-S/Hにより規定されるタイミングでレーザパワーレベル信号ＬＤoutのレベルをサンプルし、ホールドする。ＡＰＣ回路１３は、サンプルホールド回路１４の出力信号に基づき、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光のバイアスパワーレベルが一定となるようにＬＤドライバ１２のパワー制御を行う。【００８２】
コントローラ１５は、主として記録動作とＡＰＣ動作とを行う。まず、記録動作について説明する。記録動作では、コントローラ１５はレーザダイオードＬＤへ供給される電流量を制御するスイッチの切換信号ＳＷR、ＳＷW1及びＳＷW2、並びに制御信号Ｓｖｒを生成して、ＬＤドライバ１２へ供給する。【００８３】
図１１にＬＤドライバ１２の詳細構成を示す。図１１に示すように、ＬＤドライバ１２は、バイアスレベル用の電流源１７Ｒ、ライトレベル用の電流源１７Ｗ１及び１７Ｗ２、スイッチ１８Ｒ、１８Ｗ１及び１８Ｗ２を備える。【００８４】
バイアスレベル用の電流源１７Ｒは、レーザダイオードＬＤにバイアスパワーＰｂでレーザ光を出射させるための駆動電流ＩRを流す電流源であり、駆動電流ＩRはスイッチ１８Ｒを介してレーザダイオードＬＤに供給される。よって、スイッチ１８ＲをオンにするとレーザダイオードＬＤにバイアスパワーの駆動電流ＩRが供給され、スイッチ１８Ｒをオフにすると駆動電流ＩRの供給は停止される。電流源１７Ｒからの駆動電流ＩRの大きさは、制御信号ＳAPCにより変化する。【００８５】
ライトレベル用の電流源１７Ｗ１及び１７Ｗ２は、それぞれレーザダイオードＬＤにライトパワーでレーザ光を出射させるための駆動電流ＩW1及びＩW2を流す電流源である。駆動電流ＩW1はスイッチ１８Ｗ１を介してレーザダイオードＬＤに供給され、駆動電流ＩW2はスイッチ１８Ｗ２を介してレーザダイオードＬＤに供給される。【００８６】
本発明によるライトストラテジーでは、第１のライトパワー（ピークパワー）Ｐoと、それより低い第２のライトパワー（中間バイアスパワー）Ｐmの２つのレベルのライトパワーが使用される（図１など参照）。スイッチ１８Ｒをオンにした状態で、スイッチ１８Ｗ１をオンにすると、レーザダイオードＬＤに駆動電流ＩR及びＩW1の合計駆動電流が供給され、これにより第２のライトパワーＰmでレーザダイオードが駆動される。また、スイッチ１８Ｒ及び１８Ｗ１をオンにした状態でさらにスイッチ１８Ｗ２をオンにすると、レーザダイオードＬＤにはさらに駆動電流ＩW2が供給され、その結果、レーザダイオードには駆動電流ＩR、ＩW1及びＩW2の合計の駆動電流が流れてレーザダイオードは第１のライトパワーＰoで駆動される。スイッチ１８Ｗ１をオフにすると駆動電流ＩW1の供給は停止され、スイッチ１８Ｗ２をオフにすると駆動電流ＩW2の供給は停止される。電流源１７Ｗ２にはコントローラ１５から制御信号Ｓｖｒが供給されており、電流源１７Ｗ２は制御信号Ｓｖｒに応じた駆動電流ＩW2をレーザダイオードＬＤへ供給する。【００８７】
図１２に、レーザダイオードＬＤに供給される駆動電流と、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光の出力パワーとの関係を示す。図１２からわかるように、レーザダイオードＬＤに駆動電流ＩRを供給すると、バイアスパワーＰbでレーザ光が出射される。その状態でさらに駆動電流ＩW1を加えると、第２のライトパワーＰmでレーザ光が出射される。また、さらに駆動電流ＩW2を加えると、第１のライトパワーＰoでレーザ光が出射される。【００８８】
光ディスクへの情報の記録時には、基本的には駆動電流ＩRを常に供給してバイアスパワーＰbでレーザ光を出射しておき、さらに記録パルスに従って駆動電流ＩW1及びＩW2を追加することにより第１のライトパワーＰo又は第２のライトパワーＰmが印加されて、情報が光ディスクに記録される。【００８９】
また、コントローラ１５から供給される制御信号Ｓｖｒに応じて、第１のライトパワー（ピークパワー）Ｐoが変化する。図１０に示すように、コントローラ１５は記録信号を受け取り、記録信号に含まれる各記録データが短マークであるか長マークであるかを判定し、その結果に応じて制御信号Ｓｖｒを電流源１７Ｗ２へ供給する。これにより、記録データが長マークである場合には、第１のライトパワーＰoが一定のピークパワーＰonとなるように電流源１７Ｗ２が制御され、記録データが短データである場合には、第１のライトパワーＰoが一定のピークパワーＰonと異なるピークパワーＰo1、Ｐo2などとなるように電流源１７Ｗ２が制御される。これにより、上記の各実施例に示したように、短マークと長マークの記録パワーと異ならせることができる。なお、コントローラ１５による短マークと長マークの判別は、前述のように、第１乃至第３実施例の各々において異なる。【００９０】
次に、ＡＰＣ動作について説明する。ＡＰＣ動作は、レーザダイオードＬＤにより出力されるレーザ光のバイアスパワーのレベルが一定となるように、ＬＤドライバ１２からレーザダイオードＬＤに供給される駆動電流レベルを調整するものである。より詳細には、記録信号（８−１６変調されており、３Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔの長さのマーク期間及びスペース期間を有する）のスペース部のうち、長いスペース期間（例えば５Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔのスペース期間）中において、バイアスパワーＰbのレベルが一定となるように記録制御部１０からの駆動信号ＳDを調整する。【００９１】
具体的には以下のように動作する。コントローラ１５は、上述のように記録信号に対応する記録パルスを生成して、当該記録パルスによってＬＤドライバ１２を駆動してレーザダイオードＬＤからレーザ光を出射させる。【００９２】
フロントモニタダイオード１６は、光ピックアップ２内のレーザダイオードＬＤの近傍に配置され、レーザダイオードＬＤから出射したレーザ光を受光してそのレベルを示すレーザパワーレベル信号ＬＤoutを生成し、サンプルホールド回路１４に供給する。【００９３】
サンプルホールド回路１４は、コントローラ１５から入力されるサンプルホールド信号APC-S/Hにより与えられるタイミングで、フロントモニタダイオード１６から供給されるレーザパワーレベル信号ＬＤoutをサンプルし、そのレベルを所定期間ホールドする。コントローラ１５から出力されるサンプルホールド信号APC-S/Hは、ＡＰＣを実行する期間（「ＡＰＣ期間」と呼ぶ。）を示すパルスである。【００９４】
よってサンプルホールド回路１４は、記録信号のスペース期間中のＡＰＣ期間においてレーザパワーレベル信号ＬＤoutのレベルをホールドしてＡＰＣ回路１３へ供給する。ＡＰＣ回路１３は、ＡＰＣ期間におけるレーザパワーレベル信号ＬＤoutのレベルが一定となるように、ＬＤドライバ１２へ制御信号ＳAPCを供給する。【００９５】
制御信号ＳAPCは、図１１に示すように、ＬＤドライバ１２内のバイアスレベル用電流源１７Ｒに入力される。これにより、制御信号ＳAPCに応じて、バイアスレベル用電流源１７Ｒから流れる電流ＩRが変化する。つまり、レーザダイオードＬＤにより得られるバイアスパワーレベルが一定となるようにＡＰＣが実行される。【００９６】
次に、上記の情報記録再生装置による記録条件決定処理について説明する。記録条件決定処理は、記録媒体への実際の情報記録に先立って実行される処理であり、本発明では特に適切な記録パワーを決定する処理である。【００９７】
図１３に記録条件決定処理のフローチャートを示す。なお、記録条件決定処理は、基本的に図１０に示すコントローラ１５が予め用意されたプログラムを実行することにより実現することができる。【００９８】
まず、コントローラ１５は、情報記録再生装置内にディスクが存在するか否かを判定する（ステップＳ１１）。これは、光源よりレーザ光を出射し、その戻り光を検出するなどの既知の方法により実行される。ディスクが挿入されるまでは、記録条件決定処理は進行しない。【００９９】
ディスクが検出されると（ステップＳ１１；Yes）、コントローラ１５は例えば図示しない内部メモリなどから、長マークの記録条件情報を取得する（ステップＳ１２）。記録条件情報には、記録パワー、ライトストラテジーなどが含まれる。上述の各実施形態では、前述のように長マークの記録パワー（ピークパワーＰon及び中間バイアスパワーＰmn）は既に決定済みであり、内部メモリなどに記憶されている。よって、コントローラ１５はそれを読み出す。【０１００】
次に、コントローラ１５は短マークの記録条件を決定するための試し書きを行う。具体的には、まず、短マークの試し書き条件を設定する（ステップＳ１３）。ここで、「短マークの試し書き条件」は、短マークの記録パワーの設定範囲、即ち、記録パワーの初期値や変更範囲、変更ステップなどを含み、さらにパラメータとして使用されるアシンメトリやβ値の適切な範囲なども含む。【０１０１】
試し書き条件が決定されると、コントローラ１５は試し書きを行う（ステップＳ１４）。具体的には、記録パワーの初期値で試し書きが行われるように、ＬＤドライバ１２に信号ＳＷW1、ＳＷW2、ＳＷR、Ｓvrなどを供給し、ディスク上に試し書きを行う。そして、試し書きにより記録されたデータをディスクから読み取り（ステップＳ１５）、ＲＦ信号などから、評価パラメータであるアシンメトリ、β値を取得して、それらの値が目標条件を満足しているか否かを判定する（ステップＳ１６）。【０１０２】
目標条件が満足されていない場合（ステップＳ１６；No）、処理はステップＳ１３へ戻り、記録パワーを変更してステップＳ１３〜Ｓ１６を実行する。一方、目標条件が満足されている場合（ステップＳ１６；Yes）、そのときの記録パワーを含む記録条件を短マークの最適な記録条件として確定し（ステップＳ１７）、処理を終了する。【０１０３】
以上のように、記録条件決定処理により、短マークの記録パワーを変更しつつアシンメトリ、β値などを評価し、適切なアシンメトリ及び／又はβ値を与える記録パワーを決定する。【０１０４】
次に、上記の情報記録再生装置による記録処理について説明する。以下に述べる記録処理は、主として図１０に示すコントローラ１５が、外部から供給される記録信号に基づいて、ＬＤドライバ１２などを制御することにより実行される。図１４に記録処理のフローチャートを示す。なお、コントローラ１５は、以下に示す処理に対応する予め用意されたプログラムを実行することにより、記録処理を実行することができる。【０１０５】
まず、複数の記録データを含む記録信号を受け取ると（ステップＳ１）、コントローラ１５はその記録信号に含まれる各記録データが短マークに該当するか長マークに該当するかを判定する。なお、この判定は、前述のように、第１乃至第３実施例で異なる。記録データが短マークであると判定すると（ステップＳ２；Yes）、コントローラ１５はマーク長に応じた記録パワー（即ち、ピークパワー及び中間バイアスパワー）を決定する（ステップＳ３）。例えば第１実施例の場合では、その短マークが３ＴであればピークパワーをＰo1と決定し、４ＴであればピークパワーをＰo2と決定する。この時の記録パワーは、前述の記録条件決定処理によって得られたものである。一方、記録データが長マークであると判定された場合（ステップＳ２：No）、コントローラ１５は記録パワーを固定値に設定する（ステップＳ４）。即ち、ピークパワー及び中間バイアスパワーをそれぞれ固定値Ｐon及びＰmnと決定する。【０１０６】
そして、コントローラ１５はステップＳ３又はＳ４で決定された記録パワーに対応する制御信号ＳvrをＬＤドライバ１２へ供給する（ステップＳ１２）。ＬＤドライバ１２は、供給された制御信号Ｓvrに基づいてレーザダイオードＬＤを駆動し、その記録データに対応する記録マークをディスクＤに記録する（ステップＳ６）。こうして、入力された記録信号がディスクＤに記録される。【０１０７】
［変形例］
上記の実施例は、記録パルス波形の記録パワーを変化させて試し書きを行い、最適な記録パワーを得るものであるが、これを、記録パルス波形の時間幅を変化させて（即ち、ストラテジを変化させて）試し書きを行う手法と組み合わせることもできる。記録パルス波形の時間幅を変化させるとは、例えば図１に示すトップパルス６０tp、中間バイアス部６０m、ラストパルス６０lpの時間幅などを変化させつつ試し書きを行い、記録データを読み出して、例えばジッタなどの評価パラメータを評価する。そして、その評価パラメータが所定の条件を満たすストラテジを最適なストラテジと決定する。【０１０８】
本実施例との組み合わせ方法としては、本実施例により記録パワーを変化させて試し書きを行い、短マークの適切な記録パワーを決定した後、上記のストラテジを変化させて試し書きを行い適切なストラテジを決定すればよい。また、必要に応じて、その後再度本実施例により記録パワーを変化させて試し書きを行うこととしてもよい。これにより、記録パルス波形のパワーと時間幅の両方を最適化することが可能となる。【０１０９】
なお、上記の実施例では、本発明をＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷに適用した例を示したが、本発明は同様にブルーレイ（Blu-ray）ディスク、ＨＤ  ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどにも適用することが可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１１０】
本発明は、レーザ光などを照射することにより、光ディスクなどの記録媒体に情報を記録し、及び／又は、記録媒体から情報を再生する情報記録装置、情報再生装置、情報記録再生装置などに利用することができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【国際調査報告】
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