(57)【要約】三つの記録パルス条件のそれぞれを用いて特定の記録パターンを連続して光ディスクに試し書きし、それらの記録パターンを連続して再生する。各再生信号からは三つの記録パルス条件の各々に対応するマークのエッジシフト量が測定され、その測定値から線形近似による演算で記録パルス条件の補正値が計算される。【特許請求の範囲】
【請求項１】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、前記記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録するステップ；
前記複数の記録パルス条件のそれぞれで前記特定のパターンが記録された前記トラックの各領域から信号を再生し、前記領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定するステップ；
前記領域ごとに前記エッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算するステップ；及び、
前記領域間でのマークの長さの差又は位相差が、前記記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、前記複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求めるステップ；
を有する、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項２】
前記二種類以上のマークが、最短マークとその次に長いマークとを含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項３】
前記記録パルスに対応する記録信号の中に各符号長が実質的に同じ頻度で出現する、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項４】
前記複数の記録パルス条件間では、一つの種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が進むとき、別の種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が遅れる、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項５】
前記記録パルスが、先頭パルス、最終パルス、又は冷却パルスを含み、
前記複数の記録パルス条件間では、前記先頭パルス、前記最終パルス、又は前記冷却パルスの少なくともいずれかの長さ、位相、又は位置が異なる、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項６】
前記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間では、前記先頭パルスの長さと立ち上がり位置とのいずれか一方又は両方が異なり、
前記複数の記録パルス条件の別の二つの間では、前記最終パルスの長さと位相とのいずれか一方又は両方、前記先頭パルスの位相、及び前記冷却パルスの位相、が異なる、請求項５に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項７】
前記特定のパターンが、記録クロック周期の２倍から８倍までのマークとスペースとを含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項８】
前記複数の記録パルス条件間では二つのパラメータについて値の組み合わせが異なり、
前記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、Ｌ１２、Ｐ１２とし、
前記複数の記録パルス条件の別の二つの間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、Ｌ１３、Ｐ１３とし、
前記複数の記録パルス条件のいずれか一つでトラックに記録されたマークの長さのずれと位相のずれとをそれぞれ、Ｌ、Ｐとし、
マークの長さのずれと位相のずれとの各目標値を、Ｌｔ、Ｐｔとするとき、
前記二つのパラメータの各補正値ｍ、ｎが次式で求まる、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法：
ｍ＝（Ｐ×Ｌ１３−Ｌ×Ｐ１３）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）
＋（Ｐｔ×Ｌ１３−Ｌｔ×Ｐ１３）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）、
ｎ＝（Ｌ×Ｐ１２−Ｐ×Ｌ１２）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）
＋（Ｌｔ×Ｐ１２−Ｐｔ×Ｌ１２）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）。
【請求項９】
前記再生信号の品質が良好となるように前記目標値Ｌｔ、Ｐｔが決められる、請求項８記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１０】
前記目標値Ｌｔ、Ｐｔがマーク長ごとに可変である、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１１】
前記目標値Ｌｔ、Ｐｔのいずれか一方又は両方が０である、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１２】
前記補正値ｍ、ｎが四捨五入により整数化される、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１３】
前記補正値ｍ、ｎがいずれも０になるまで、各ステップを繰り返す、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１４】
前記再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、
前記再生信号から生成されたデジタル信号を最尤復号法で２値化信号に変換するステップ、
前記２値化信号に基づき、マークのエッジに対応する前記デジタル信号の部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群の中から選択するステップ、及び、
選択されたパターンを前記デジタル信号の部分の形状と比較するステップ、
を含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１５】
前記再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、
マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれに対して前記エッジシフト量を測定するステップ；
マークの種類ごとにマークの始端と終端とのそれぞれのエッジシフト量の平均値と、前記組み合わせのそれぞれのエッジシフト量と、の間の差について、前記組み合わせ間での分散値ＳＰを次式で計算するステップ：
ＳＰ＝Σｉ，ｊＣｓｍ［ｉ］［ｊ］×（ＳＭ［ｉ］［ｊ］−ＡｖｅＳＭ［ｊ］）２
＋Σｉ，ｊＣｍｓ［ｉ］［ｊ］×（ＭＳ［ｉ］［ｊ］−ＡｖｅＭＳ［ｉ］）２
ここで、整数の対（ｉ、ｊ）は、（２、２）を除く、２以上の整数の対であり、
変数ＳＭ［ｉ］［ｊ］は、記録クロック周期Ｔのｉ倍の長さのスペース（以下、ｉＴスペースという）と、その直後の、記録クロック周期Ｔのｊ倍の長さのマーク（以下、ｊＴマークという）との間のエッジシフト量であり、
変数ＭＳ［ｉ］［ｊ］はｉＴマークとその直後のｊＴスペースとの間のエッジシフト量であり、
変数ＡｖｅＳＭ［ｊ］はｊＴマークの始端のエッジシフト量の平均値であり、
変数ＡｖｅＭＳ［ｉ］はｉＴマークの終端のエッジシフト量の平均値であり、
第一の係数Ｃｓｍ［ｉ］［ｊ］と第二の係数Ｃｍｓ［ｉ］［ｊ］とはそれぞれ、所定数である；
分散値ＳＰが所定値より小さいときは記録パルス条件をマークごとに調整し、分散値ＳＰが前記所定値より大きいときは記録パルス条件を前記組み合わせごとに調整するステップ；
を含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１６】
前記第一の係数Ｃｓｍ［ｉ］［ｊ］がｉＴスペースとその直後のｊＴマークとの組み合わせの出現確率で表され、前記第二の係数Ｃｍｓ［ｉ］［ｊ］がｉＴマークとその直後のｊＴスペースとの組み合わせの出現確率で表される、請求項１５に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１７】
前記第一の係数Ｃｓｍ［ｉ］［ｊ］と前記第二の係数Ｃｍｓ［ｉ］［ｊ］とが１又は０である、請求項１５に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１８】
前記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間でのマークの長さの差又は位相差、を表すデータを前記光学的情報記録媒体に記録するステップ、を更に有する、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１９】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、前記記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録し、前記複数の記録パルス条件のそれぞれで前記特定のパターンが記録された前記トラックの各領域から信号を再生し、前記領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定する記録再生装置であり、
前記領域ごとに前記エッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算し、
前記領域間でのマークの長さの差又は位相差が、前記記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、前記複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求める、
記録再生装置。
【請求項２０】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、前記記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録し、前記複数の記録パルス条件のそれぞれで前記特定のパターンが記録された前記トラックの各領域から信号を再生し、前記領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定する記録再生装置、に搭載される半導体集積回路であり、
前記領域ごとに前記エッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算し、
前記領域間でのマークの長さの差又は位相差が、前記記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、前記複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求める、
半導体集積回路。
【請求項２１】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる二つの記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録されたマーク間での長さの差又は位相差、を表すデータが記録された領域、を有する光学的情報記録媒体。
【請求項２２】
所定数の種類のマークとスペースとが実質的に等しい出現確率で記録された領域、を含む記録条件学習領域、を有する光学的情報記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射して物理的性質を変化させることで情報を記録する方法に関し、特に、その記録時に利用される記録パルス条件の最適化に関する。
【背景技術】
【０００２】  従来の光学的情報記録媒体としては、例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＷ等の書換型光ディスクが知られている。これらの書換型光ディスクでは、レーザ光を使って情報が次のように書き換えられる。第１に、記録再生装置が光ディスクのキャリブレーション用領域から記録パルス標準条件を読み出し、それに基づいて記録パルス条件を設定する。第２に、記録再生装置が、記録パルス条件に応じた波形でレーザ光を光ディスクに照射して情報を記録する。ここで、光ディスクの特性や記録再生装置の記録特性のばらつきにより記録品質の受ける影響を低減させるには、設定されるべき記録パルス条件が最適化されねばならない。特に、記録パルス標準条件が光ディスクの実際の特性と合っていない場合、記録パルス条件の最適化により、良好な記録品質が確保されねばならない。【０００３】  相変化光ディスクでは、照射されたレーザ光の熱によりアモルファスの領域（マーク）が形成され、光反射率が変化する。その光反射率の変化としてデータは光ディスクに記録される。特に高密度記録では、形成されるマークやスペース（マーク間の領域）のサイズが小さい。従って、マークを形成するために加えたレーザ光の熱が、そのマークのみならず、スペースを伝わって前後のマークにまで到達し、各マークの形状にひずみを与えやすい。そのひずみを回避する目的で、記録パルス条件が例えば次のように設定される（例えば特許文献１、２参照）。レーザ光が複数のパルス列（マルチパルス）で構成される場合、その先頭パルスの位置が自己マーク長と前スペース長との間の組み合わせに応じて変化する。一方、最終パルスの位置が自己マーク長と後スペース長との間の組み合わせに応じて変化する。そのような記録パルスの変位により、マーク間の熱干渉が相殺される。このような記録パルスの位置制御は一般に、記録補償と呼ばれている。【０００４】  特許文献１に開示された記録方法によると、マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれについて記録パルスの位置が特定されている。この位置情報が記録パルス標準条件である。記録パルス標準条件は記録に先立ち、光ディスクから読み出される。更に、読み出された記録パルス標準条件が修正され、記録パルス条件が次のように最適化される。第１に、記録パルス標準条件に含まれるマーク長とスペース長との間の全ての組み合わせに関する位置情報を用い、光ディスクに対する第１の試し書きが行われる。第２に、第１の試し書きで記録されたデータが再生され、その再生信号から第１ジッタが検出される。第３に、記録パルス標準条件に含まれるマーク長とスペース長との間の全ての組み合わせに関する位置情報が一律に変更される。第４に、一律に変更された位置情報を用い、光ディスクに第２の試し書きが行われる。第５に、第２の試し書きで記録されたデータが再生され、その再生信号から第２ジッタが検出される。第６に、第１ジッタが第２ジッタと比較され、小さいジッタに対応する試し書きに用いられた位置情報が最適な記録パルス条件として選択される。【０００５】  記録パルス条件の最適化には、例えば特許文献２に開示されているように、再生信号のジッタの比較ではなく、最尤復号法が用い���れても良い。最尤復号法では、再生信号の実際の波形からその再生信号のあるべきパターンが推定される。更に、再生信号の実際の波形と推定されたパターンとの間の比較に基づき、最も確からしいパターンが決定される。ここで、復号時にエラーの発生する確率が最小となるように、記録パルス条件が最適化される。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００４−３３５０７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】  特許文献１に記載されているような従来の記録パルス条件の最適化方法では、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとに複数回ずつ、試し書き、その試し書きで記録されたデータの再生、及びその再生信号からのジッタの検出が繰り返される。従って、電源投入時や光ディスクの新規投入時、記録パルス条件の学習に費やされる時間を更に短縮することが困難である。従って、画像やデータの記録開始までに必要な待ち時間を更に短縮することが困難である。更に、試し書きに用いられる記録パルス条件が記録パルス標準条件から、例えば、±２、±１、０というように単純に、かつ場当たりに変更される。従って、最適な記録パルス条件が記録パルス標準条件から大きく外れている場合、何ステップにもわたって記録パルス条件が変更されねばならない。その結果、試し書きの回数の更なる削減が困難であるので、学習時間の更なる短縮が困難である。一方、特許文献２に記載されているように、最尤復号法が記録パルス条件の最適化に利用される場合、その効率化による試し書き回数の削減方法までは未だ知られていない。
本発明は、試し書きの回数を更に削減することで学習に要する時間を更に短縮できる記録パルス条件の最適化方法、及びそれを用いる記録再生装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】  本発明による記録再生装置は好ましくは、記録パルス条件の最適化に以下の方法を用いる。その最適化方法は、好ましくは、
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、その記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体（好ましくは、光ディスク）のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録するステップ；
複数の記録パルス条件のそれぞれで上記の特定のパターンが記録されたトラックの各領域から信号を再生し、それらの領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定するステップ；
上記の領域ごとに測定されたエッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算するステップ；及び、
上記の領域間でのマークの長さの差又は位相差が、記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求めるステップ；
を有する。ここで、好ましくは、それらのステップが、記録再生装置に搭載された半導体集積回路により実行される。
本発明によるこの最適化方法では、記録パルス条件の補正値が、線形近似を用いた演算で求められる。従って、必要な試し書きの回数が容易に削減可能であるので、記録パルス条件の学習に要する時間が短い。【０００８】  好ましくは、上記の二種類以上のマークが最短マークとその次に長いマークとを含む。例えばＢＤでは、最短マークの長さが記録クロック周期の２倍であり、その次に長いマークの長さが記録クロック周期の３倍である。一般に、これらの短マークでは長マークより、最適な記録パルス条件が光ディスクごとに、又は記録再生装置ごとに大きなばらつきを示す。本発明による上記の最適化方法は特に、短マークに関する記録パルス条件を対象とすることで、全体の処理時間を効率良く短縮できる。【０００９】  好ましくは、記録パルスに対応する記録信号の中に各符号長が実質的に同じ頻度で出現する。その記録信号では特に、通常の変調方式による記録信号より、長マークの出現確率が高い。従って、その記録信号を用いて試し書きされた光学的情報記録媒体のトラックの領域から再生されるクロックは安定性が高い。更に、その領域にはマーク長とスペース長との間の様々な組み合わせが含まれている。それ故、その領域から再生される信号のエッジシフト量が記録パルス条件の最適化に利用されることで、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとの補正値のばらつきが効率良く平均化される。【００１０】  好ましくは、上記複数の記録パルス条件間では、一つの種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が進むとき、別の種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が遅れる。それにより、それらの記録パルス条件を用いて試し書きされたトラックの各領域から再生されるクロックは、位相の変動が小さい。従って、再生信号のエッジシフト量が正確に測定される。【００１１】  好ましくは、記録パルスが、先頭パルス、最終パルス、又は冷却パルスを含み、上記複数の記録パルス条件間では、先頭パルス、最終パルス、又は冷却パルスの少なくともいずれかの長さ、位相、又は位置が異なる。更に好ましくは、上記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間では、先頭パルスの長さと立ち上がり位置とのいずれか一方又は両方が異なり、別の二つの記録パルス条件間では、最終パルスの長さと位相とのいずれか一方又は両方、先頭パルスの位相、及び冷却パルスの位相、が異なる。好ましくは、光学的情報記録媒体のトラックに試し書きされる特定のパターンが、記録クロック周期の２倍から８倍までのマークとスペースとを含む。【００１２】  本発明による上記の最適化方法では、記録パルス条件の補正値を求める演算が、好ましくは、次のような線形近似を用いる。まず、複数の記録パルス条件間では二つのパラメータについて値の組み合わせが異なる。次に、いずれか二つの記録パルス条件間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、Ｌ１２、Ｐ１２とし、別の二つの記録パルス条件間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、Ｌ１３、Ｐ１３とし、いずれか一つの記録パルス条件でトラックに記録されたマークの長さのずれと位相のずれとをそれぞれ、Ｌ、Ｐとし、マークの長さのずれと位相のずれとの各目標値を、Ｌｔ、Ｐｔとする。そのとき、上記二つの��ラメータの各補正値ｍ、ｎが次式で求まる：【００１３】  ｍ＝（Ｐ×Ｌ１３−Ｌ×Ｐ１３）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）
＋（Ｐｔ×Ｌ１３−Ｌｔ×Ｐ１３）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）、
ｎ＝（Ｌ×Ｐ１２−Ｐ×Ｌ１２）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）
＋（Ｌｔ×Ｐ１２−Ｐｔ×Ｌ１２）／（Ｌ１２×Ｐ１３−Ｐ１２×Ｌ１３）。【００１４】ここで、好ましくは、再生信号の品質が良好となるように目標値Ｌｔ、Ｐｔが決められる。更に好ましくは、目標値Ｌｔ、Ｐｔがマーク長ごとに可変であり、特に目標値Ｌｔ、Ｐｔのいずれか一方又は両方が０である。一方、補正値ｍ、ｎは好ましくは四捨五入により整数化される。更に、補正値ｍ、ｎがいずれも０になるまで、各ステップが繰り返される。【００１５】  好ましくは、再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、
再生信号から生成されたデジタル信号を最尤復号法で２値化信号に変換するステップ、
その２値化信号に基づき、マークのエッジに対応するデジタル信号の部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群の中から選択するステップ、及び、
選択されたパターンをデジタル信号の上記の部分の形状と比較するステップ、
を含む。更に好ましくは、再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、以下の三つのステップを含む。
一．マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれに対してエッジシフト量を測定するステップ；
二．マークの種類ごとにマークの始端と終端とのそれぞれのエッジシフト量の平均値と、マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれのエッジシフト量と、の間の差について、それら組み合わせ間での分散値ＳＰを次式で計算するステップ：【００１６】  ＳＰ＝Σｉ，ｊＣｓｍ［ｉ］［ｊ］×（ＳＭ［ｉ］［ｊ］−ＡｖｅＳＭ［ｊ］）２
＋Σｉ，ｊＣｍｓ［ｉ］［ｊ］×（ＭＳ［ｉ］［ｊ］−ＡｖｅＭＳ［ｉ］）２【００１７】ここで、整数の対（ｉ、ｊ）は、（２、２）を除く、２以上の整数の対であり、変数ＳＭ［ｉ］［ｊ］は、記録クロック周期Ｔのｉ倍の長さのスペース（以下、ｉＴスペースという）と、その直後の、記録クロック周期Ｔのｊ倍の長さのマーク（以下、ｊＴマークという）との間のエッジシフト量であり、変数ＭＳ［ｉ］［ｊ］はｉＴマークとその直後のｊＴスペースとの間のエッジシフト量であり、変数ＡｖｅＳＭ［ｊ］はｊＴマークの始端のエッジシフト量の平均値であり、変数ＡｖｅＭＳ［ｉ］はｉＴマークの終端のエッジシフト量の平均値であり、第一の係数Ｃｓｍ［ｉ］［ｊ］と第二の係数Ｃｍｓ［ｉ］［ｊ］とはそれぞれ所定数である；【００１８】三．分散値ＳＰが所定値より小さいときは記録パルス条件をマーク長ごとに調整し、分散値ＳＰがその所定値より大きいときは記録パルス条件をマーク長とスペース長との間の可能な組み合わせごとに調整するステップ。
これら三つのステップにより、最尤復号法を利用して試し書きの回数が効率良く削減される。従って、記録パルス条件の最適化に要する時間が更に短縮される。ここで、好ましくは、第一の係数Ｃｓｍ［ｉ］［ｊ］がｉＴスペースとその直後のｊＴマークとの組み合わせの出現確率で表され、第二の係数Ｃｍｓ［ｉ］［ｊ］がｉＴマークとその直後のｊＴスペースとの組み合わせの出現確率で表される。更に好ましくは、第一の係数Ｃｓｍ［ｉ］［ｊ］と第二の係数Ｃｍｓ［ｉ］［ｊ］とが１又は０である。【００１９】  本発明による光学的情報記録媒体は、本発明による上記の記録パルス条件の最適化方法で最適化された記録パルス条件を用いてデータが記録された光学的情報記録媒体である。ここで、所定数の種類のマークとスペースとが実質的に等しい出現確率で記録された領域、を含む記録条件学習領域、をその光学的情報記録媒体が有しても良い。好ましくは、本発明によるこの光学的情報記録媒体が、上記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間でのマークの長さの差又は位相差、を表すデータが記録された領域、を有する。ここで、本発明による上記の記録パルス条件の最適化方法が、上記のデータを光学的情報記録媒体に記録するステップ、を更に有しても良い。好ましくは、本発明による上記の最適化方法が本発明によるこの光学的情報記録媒体に適用されるとき、その光学的情報記録媒体から上記のデータを予め読み出す。それにより、記録パルス条件が更に速やかに最適化される。
【発明の効果】
【００２０】  本発明による上記の記録パルス条件の最適化方法は、書き込み可能な光学的情報記録媒体の特性や記録再生装置の記録特性のばらつきに関わらず、最適な記録パルス条件でのデータ記録を可能にする。従って、その最適化方法を用いた記録再生装置によりデータが記録された光学的情報記録媒体では、再生信号の品質が高い。本発明による上記の最適化方法では特に、記録パルス条件の学習に必要な試し書きの回数が更に削減可能である。それにより、記録再生装置の起動時間が更に短縮され、画像やデータの記録開始までの待ち時間が更に短縮される。その上、追記型光ディスクのように１度しか書き込みができない光学的情報記録媒体では、試し書きに必要な領域が節約されるので、記録パルス条件の学習回数の許容上限が増大する。その結果、更に長期間にわたって記録パルス条件の最適化が安定に実行可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施形態による光学的情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２Ａ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図２Ａでは破線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークＡ−の始端が理想的なマークＡの始端より遅い。
【図２Ｂ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図２Ｂでは破線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークＡ＋の始端が理想的なマークＡの始端より早い。
【図３Ａ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図３Ａでは太い実線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークＢ−の始端が理想的なマークＢの始端より遅い。
【図３Ｂ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図３Ｂでは太い実線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークＢ＋の始端が理想的なマークＢの始端より早い。
【図４】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第１のステップで生成された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図５】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第４のステップで生成された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図６】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法で利用される記録パルス条件のパラメータと記録パルスの波形との間の対応関係を示す波形図である。
【図７】図５に表示された記録パルス条件間でのパラメータの値の変化と記録パルスの波形の変化との間の対応関係を示す波形図である。
【図８】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークのエッジに対応する再生信号の理想的な八つのパターンを表すグラフである。
【図９】図８に示されているパターンの中から、スペース長とマーク長との間の各組み合わせに対応するパスを指定する表である。
【図１０】本発明の実施形態による光学的情報記録媒体の構成を示す平面図である。
【図１１】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第５のステップで得られるエッジシフト量をマーク長とスペース長との間の組み合わせ別に示す表である。
【図１２】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第７のステップで補正された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図１３】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第９のステップで生成された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図１５】図７に示されている各記録パルスで光ディスクのトラックに形成された２Ｔマーク、３Ｔマーク、及び５Ｔマークを模式的に示す平面図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】  以下、本発明の最適な実施形態を説明する。
本発明の実施形態による光学的情報記録媒体では、外部から照射されるレーザ光が物理的性質の異なるマークを形成することでデータが記録される。そのような光学的情報記録媒体として好ましくは、書換型相変化光ディスク（特にＢＤ−ＲＥ（書換型ブルーレイディスク）。以下、単に光ディスクという）が利用される。光ディスク１０１は好ましくは、図１０に示されているように、データ領域１００１、記録条件学習領域１００２、及び初期値記録領域１００３に分かれている。データ領域１００１は光ディスク１０１の大部分を占める。データ領域１００１にはユーザーデータが記録される。記録学習領域１００２は光ディスク１０１の内周部に設けられ、データ領域１００１に隣接している。記録学習領域１００２では記録条件の学習を目的とする試し記録が行われる。ここで、試し記録は、記録再生装置の起動時や温度変動時、データ領域１００１に対するデータ記録の前に行われる。記録再生装置は試し記録により記録条件（特に、記録パワーや記録パルス条件）を調整する。初期値記録領域１００３は光ディスク１０１の最内周部に設けられ、記録学習領域１００２に隣接している。初期値記録領域１００３には、光ディスク１０１ごとに予め設定された、記録パワーの推奨値、記録パルス条件の推奨値（以下、記録パルス標準条件という）、記録線速度、及びディスクＩＤ等が記録されている。初期値記録領域１００３は再生専用領域であり、情報が好ましくは、トラックの蛇行（ウォブリング）やピット等、光ディスク１０１の基板上の成形部分を用いて半永久的に記録されている。【００２３】  本発明の実施形態による記録再生装置は、図１に示されている通り、光照射部１０２、プリアンプ部１０３、ＡＧＣ部１０４、波形等化部１０５、Ａ／Ｄ変換部１０６、ＰＬＬ部１０７、パターン検出部１０８、エッジシフト検出部１０９、記録パルス条件復調部１１４、記録パルス条件演算部１１０、記録パターン発生部１１１、記録補償部１１２、及びレーザ駆動部１１３を有する。好ましくは、レーザ駆動部１１３以外の構成要素が一つの半導体集積回路１００に統合されている。更に、レーザ駆動部１１３がその半導体集積回路１００に集積化されても良い。【００２４】  光照射部１０２は好ましくは光ピックアップであり、レーザダイオードと光検出器とを搭載する。レーザダイオードは上記の光ディスク１０１にレーザ光を照射する。光検出器は、光ディスク１０１により反射されたレーザ光を検出して電気信号に変換し、アナログ再生信号として出力する。そのアナログ再生信号は、プリアンプ部１０３、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）部１０４、波形等化部１０５、及びＡ／Ｄ変換部１０６で順番に処理され、デジタル再生信号に変換される。ここで、ＰＬＬ部１０７はデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。一方、Ａ／Ｄ変換部１０６はその再生クロックに従ってアナログ再生信号をサンプリングする。【００２５】  パターン検出部１０８は好ましくは、最尤復号部（好ましくはビタビ復号部）を含む。パターン検出部１０８は、まず、デジタル再生信号を整形し、最尤復号部の周波数特性（好ましくはＰＲ（１，２，２，１）特性）に適合させる。最尤��号部はそのデジタル再生信号を最尤復号法（好ましくはビタビ復号法）で２値化信号（好ましくはＮＲＺＩ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）信号）に変換する。パターン検出部１０８は更に、その２値化信号に基づき、マークのエッジに対応するデジタル再生信号の部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群（図８参照）の中から選択する。エッジシフト検出部１０９は、パターン検出部１０８により選択されたパターンをデジタル再生信号の上記の部分の形状と比較し、マークのエッジシフト量（理想的なマークのエッジ位置に対する、実際のマークのエッジ位置のずれ）を測定する。【００２６】  記録パルス条件復調部１１４は上記の２値化信号から、光ディスク１０１に記録された記録パルス標準条件を抽出する。記録パルス条件演算部１１０は、記録パルス標準条件に含まれているパラメータを変化させる。記録パルス条件演算部１１０は特に、測定されたエッジシフト量に基づいて上記のパラメータを補正する。記録パターン発生部１１１は、光ディスク１０１に対するデータ記録時に所定の記録信号を、好ましくはＮＲＺＩ信号として出力する。記録補償部１１２は、記録パルス条件演算部１１０による演算結果に応じて記録パルス条件を設定し、その記録パルス条件に従って上記のＮＲＺＩ信号を記録パルスに変換する。レーザ駆動部１１３は、光照射部１０２内のレーザダイオードを駆動する。レーザ駆動部１１３は特に光ディスク１０１に対するデータ記録時では、上記の記録パルスに従ってレーザ光のパワーを制御し、光ディスク１０１にデータを記録する。【００２７】  以下の説明では次の数値的条件を想定する。光照射部１０２は、波長４０５ｎｍのレーザとＮＡ＝０．８５の対物レンズとを用いる。光ディスク１０１では、トラックピッチが０．３２μｍであり、レーザ光の入射面を覆うカバー層の厚みが７５μｍ〜１００μｍである。更に、光ディスク１０１に記録されるマークの最短長は記録クロック周期Ｔの２倍（＝２Ｔ）であり、０．１３８μｍ〜０．１６０μｍである。マーク長の種類とスペース長の種類とはいずれも、記録クロック周期Ｔの２、３、…、８倍（＝２Ｔ、３Ｔ、…、８Ｔ）である。記録再生装置の記録速度は、ＢＤ１倍速（チャネルレート６６ＭＨｚ（Ｔｗ＝１５．１５ｎｓｅｃ））又はＢＤ２倍速（チャネルレート１３２ＭＨｚ（Ｔｗ＝７．５８ｎｓｅｃ））である。【００２８】  本発明の実施形態による記録再生装置は好ましくは、光ディスク１０１に対するデータ記録時に記録パルス条件を、図１３に示されているフローチャートに従って以下のように最適化する。【００２９】［第１のステップ］
記録再生装置はまず、光ディスク１０１の初期値記録領域１００３にアクセスし、初期値情報を読み出す。そのとき、記録パルス条件復調部１１４が読み出された初期値情報の中から記録パルス標準条件を抽出する。抽出された記録パルス標準条件は、パラメータごとに異なるメモリ領域に格納される。記録パルス条件は好ましくは、図４に示されているパラメータを含む。それらのパラメータは、２Ｔマークに関するパラメータ、３Ｔマークに関するパラメータ、及び長さが４Ｔ以上のマークに関するパラメータに分類されている。図４に示されている各パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅは記録パルスの波形を決める（図６参照）。図６では、２Ｔマーク、３Ｔマーク、及び５Ｔマークの記録を指示するＮＲＺＩ信号の各部分２Ｔｍ、３Ｔｍ、５Ｔｍに対応する記録パルスの波形が示されている。記録パルスは好ましくは、先頭パルスＰＴ、中間パルスＰＭ、最終パルスＰＬ、及び冷却パルスＰＣを含む。先頭パルスＰＴと冷却パルスＰＣとは全てのマークの記録に利用される。最終パルスＰＬは好ましくは、長さ３Ｔ以上のマークの記録に利用される。中間パルスＰＭは好ましくは、長さ４Ｔ以上のマークの記録に利用され、特にその個数がマーク長と共に増加する。第１のパラメータｄＴｔｏｐは、ＮＲＺＩ信号の所定の基準位置に対する先頭パルスＰＴの始端を表す。第２のパラメータＴｔｏｐは先頭パルスＰＴの幅を表す。第３のパラメータＴｌｐは最終パルスＰＬの幅を表す。第４のパラメータＴｍｐは中間パルスＰＭの幅を表す。第５のパラメータｄＴｅは、ＮＲＺＩ信号の所定の基準位置に対する冷却パルスＰＣの終端を表す。ここで、第１のパラメータｄＴｔｏｐと第５のパラメータｄＴｅとは極性を持つ。図６では、左方向（マークの終端から始端に向かう方向）が正である。【００３０】  図４に示されている各パラメータの値ａ〜ｋの単位は好ましくは、記録クロックで決まる基準時間間隔Ｔｗで表される。ＢＤ−ＲＥの場合、その単位が基準時間間隔Ｔｗの１６分の１（＝Ｔｗ／１６。ここで、ＢＤ２倍速では、Ｔｗ＝７．５８ｎｓｅｃ）に等しい。更に、図４に示されている各パラメータの値ａ〜ｋがその単位Ｔｗ／１６の整数倍で表される。例えば、記録パルス標準条件Ａでは、長さ４Ｔ以上のマークに関する第１のパラメータｄＴｔｏｐの値ｈが「ＮＲＺＩ信号の所定の基準位置に対して先頭パルスＰＴの始端がｈ×Ｔｗ／１６［ｎｓｅｃ］の位置にあること」を表している。尚、光ディスク１０１に記録されている記録パルス標準条件の値が同じ単位Ｔｗ／１６で表されている場合、記録再生装置は光ディスク１０１に記録された値をそのまま用いる。一方、光ディスク１０１に記録されている記録パルス標準条件の値がナノ秒単位で表されている場合、記録再生装置はその値を単位Ｔｗ／１６に最も近い整数値に変換する。その他に、記録再生装置が単位を光ディスク１０１に記録された値の単位より細かくしても良い。それにより、補償精度が向上するので、マークのエッジ位置が高精度に調整される。従って、書き込まれたマークから読み出される信号の品質が向上する。具体的には、光ディスク１０１に記録されている記録パルス標準条件の値が単位Ｔｗ／１６で表され��いる場合、記録再生装置は光ディスク１０１から読み出された値を倍にしてメモリに格納する。それにより、単位が上記の半値Ｔｗ／３２に設定される。【００３１】  記録パルス条件演算部１１０は、光ディスク１０１から読み出された記録パルス標準条件Ａに含まれているパラメータのうち、長さ４Ｔ以上のマークに関する四つのパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの各値ｈ、ｉ、ｊ、ｋを基準値として設定する。記録パルス条件演算部１１０は更に、各基準値を次のように変更し、二つの異なる記録パルス条件Ｂ、Ｃを設定する（図４参照）。記録パルス条件演算部１１０はまず、三つのパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｌｐの各基準値ｈ、ｉ、ｊを１単位ずつ加算し、第４のパラメータｄＴｅの基準値ｋを１単位減算し、記録パルス条件Ｂとしてメモリに格納する。記録パルス条件演算部１１０は次に、三つのパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｌｐの各基準値ｈ、ｉ、ｊを１単位ずつ減算し、第４のパラメータｄＴｅの基準値ｋを１単位加算し、別の記録パルス条件Ｃとしてメモリに格納する。図６から容易に理解される通り、記録パルス条件Ｂでは記録パルス標準条件Ａと比べ、５Ｔマークに対応する記録パルスの部分に含まれている先頭パルスＰＴの幅が拡大し、かつ立ち上がり位置が早いので、５Ｔマークの始端が早い。更に、最終パルスＰＬの幅が拡大し、かつ冷却パルスＰＣの位相が遅れるので、５Ｔマークの終端が遅い。従って、記録パルス条件Ｂでは記録パルス標準条件Ａより長さ４Ｔ以上のマークが伸びる。一方、記録パルス条件Ｃでは記録パルス標準条件Ａと比べ、５Ｔマークに対応する記録パルスの部分に含まれている先頭パルスＰＴの幅が縮小し、かつ立ち上がり位置が遅いので、５Ｔマークの始端が遅い。更に、最終パルスＰＬの幅が縮小し、かつ冷却パルスＰＣの位相が進むので、５Ｔマークの終端が早い。従って、記録パルス条件Ｃでは記録パルス標準条件Ａより、長さ４Ｔ以上のマークが縮む。【００３２】［第２のステップ］
記録再生装置はまず、光照射部１０２から光ディスク１０１に照射される光スポットを記録条件学習領域１００２内のトラックに移動させ、フォーカシングとトラッキングとを行う。記録再生装置は次に、上記三つの記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃのそれぞれを用い、光ディスク１０１の記録学習領域１００２（図１０参照）に所定の同じパターンの記録信号を試し書きする。ここで、使用されるパターンに含まれているマークとスペースとはいずれも好ましくは、光照射部１０２のレーザのスポットサイズに比べて十分に長い。更に好ましくは、記録パターン発生部１１１がそのパターンとして、５Ｔマークと５Ｔスペースとの繰り返しから成る単一パターン（以下、５Ｔ単一信号という）を発生させる。記録補償部１１２は５Ｔ単一信号と各記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃとから記録パルスを生成する。レーザ駆動部１１３はその記録パルスに従って光照射部１０２内のレーザダイオードを駆動し、５Ｔ単一信号を光ディスク１０１のトラックにセクタ単位で連続して書き込む。それにより、光ディスク１０１の記録条件学習領域１００２には５Ｔ単一信号のパターンが、三種類の記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃごとに連続して記録される。【００３３】［第３のステップ］
記録再生装置は、以下のように、光ディスク１０１の記録条件学習領域１００２から記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃを用いて書き込まれた５Ｔ単一信号を連続して再生し、各再生信号のエッジシフト量又はアシンメトリを測定する。
まず、光照射部１０２から出力された再生信号が、プリアンプ部１０３、ＡＧＣ部１０４、波形等化部１０５、Ａ／Ｄ変換部１０６で順番に処理され、パターン検出部１０８内の最尤復号部により２値化信号に変換される。次に、パターン検出部１０８がその２値化信号に基づき、再生信号のエッジシフト量を以下のように測定する。ここで、最尤復号部がＰＲ（１，２，２，１）方式に対応している場合を想定する。【００３４】  まず、パターン検出部１０８が、最尤復号部に入力されるデジタル再生信号（以下、入力信号という）のうち、マークのエッジに対応する部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群（図８参照）の中から選択する。そのパターン群は好ましくは八つのパターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）を含み、各パターンが更に二種類のパスＰＸＡ、ＰＸＢ（Ｘ＝１、２、…、８）を含む。図８では、横軸が時間を表し（１目盛がチャネルクロックの１周期を表す）、縦軸が、パターン検出部１０８によりＰＲ（１，２，２，１）特性に合わせて整形された入力信号のレベルを表す。図８に示されている破線と実線とはそれぞれ、二種類のパスＰＸＡ、ＰＸＢ（Ｘ＝１、２、…、８）を表す。図８に示されている丸印は、各パスにチャネルクロック間隔で含まれるべきサンプルの期待値に相当し、特にＰＲ（１，２，２，１）特性では六つのレベル０〜６を取り得る。各パターンは、連続する７ビットの符号を表し、特に、真ん中のビットを除く６ビットの可能な組み合わせの一つに対応している（例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ−２はビット列「１，１，１，ｘ，０，０，０」（ｘ＝０，１）を表す）。更に、二種類のパスＰＸＡ、ＰＸＢは真ん中のビットの二値に対応している（例えば、Ｐａｔｔｅｒｎ−２のパスＰ２Ａはビット列「１，１，１，０，０，０，０」を表す）。マークの始端では反射光が減るので、マークの始端に対応する入力信号の部分は下向きの波形として再生される。マークの終端では逆に反射光が増すので、マークの終端に対応する入力信号の部分は上向きの波形として再生される。従って、図８では、上段に示されている四つのパターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１、Ｐａｔｔｅｒｎ−２、Ｐａｔｔｅｒｎ−３、Ｐａｔｔｅｒｎ−４）がマークの始端に対応し、下段に示されている四つのパターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−５、Ｐａｔｔｅｒｎ−６、Ｐａｔｔｅｒｎ−７、Ｐａｔｔｅｒｎ−８）がマークの終端に対応する。更に、図９に表示されているように、各パターンのパスがマーク長とスペース長との間の組み合わせの一つに対応している。第２のステップで光ディスク１０１に記録される単一パターンは５Ｔマークと５Ｔスペースとの繰り返しである。その場合、５Ｔマークの始端に対応する入力信号の部分の形状はＰａｔｔｅｒｎ−２である（図９参照）。それ故、パターン検出部１０８は５Ｔマークの始端についてはＰａｔｔｅｒｎ−２を選択する。一方、５Ｔマークの終端に対応する入力信号の部分の形状はＰａｔｔｅｒｎ−７である（図９参照）。それ故、パターン検出部１０８は５Ｔマークの終端についてはＰａｔｔｅｒｎ−７を選択する。【００３５】  次に、エッジシフト検出部１０９が、パターン検出部１０８により選択されたＰａｔｔｅｒｎ−２を��５Ｔマークの始端に対応する入力信号の部分の形状と比較し、５Ｔマークの始端でのエッジシフト量を次のように測定する（図２、３参照）。
５Ｔマークの始端に対応する入力信号の部分は、理想的には、Ｐａｔｔｅｒｎ−２に含まれている二つのパスＡ、Ｂ（図２、３には破線と太い実線とで示されている）のいずれかの形状を示す。従って、実際の入力信号のその部分も、二つのパスＡ、Ｂのいずれかの形状に近似しているはずである。図２、３では細い実線が実際の入力信号を示す。図２はパスＡが正解である場合を示し、実際の入力信号の形状がパスＡに近似している。図３はパスＢが正解である場合を示し、実際の入力信号の形状がパスＢに近似している。図２、３では更に、実際の入力信号からチャネルクロック間隔でサンプリングされたサンプル値が三角印で示されている。エッジシフト検出部１０９は、パスＡに含まれている各サンプルの期待値（図２では黒い丸印で示されている）と実際のサンプル値（三角印）との間の差の二乗和を計算し、パスＡと実際の入力信号との間の距離Ｐａとして決定する。同様に、エッジシフト検出部１０９はパスＢと実際の入力信号との間の距離Ｐｂを決定する。エッジシフト検出部１０９は更にそれら二つの距離Ｐａ、Ｐｂを比較し、前者の距離Ｐａが小さいときはパスＡを正解とみなし、後者の距離Ｐｂが小さいときはパスＢを正解とみなす。それにより、実際の入力信号のサンプル群が、パスＡを正解とするサンプル群と、パスＢを正解とするサンプル群とに分別される。【００３６】  エッジシフト検出部１０９は上記二つの距離Ｐａ、Ｐｂ間の差｜Ｐａ−Ｐｂ｜から正の定数Ｐｓｔｄを除いた値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを計算する。ここで、正の定数Ｐｓｔｄは、入力信号が二つのパスＡ、Ｂのいずれかと一致するときの二つの距離Ｐａ、Ｐｂ間の差を表す。すなわち、距離Ｐａ、Ｐｂのいずれかが０に等しいとき（Ｐａ＝０、又はＰｂ＝０）、二つの距離Ｐａ、Ｐｂ間の差｜Ｐａ−Ｐｂ｜が正の定数Ｐｓｔｄと等しい：｜Ｐａ−Ｐｂ｜＝Ｐｓｔｄ。計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄが負であるとき、実際の入力信号の波形が二つのパスＡ、Ｂ間の領域に収まっている。計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄが正であるとき、実際の入力信号の波形が二つのパスＡ、Ｂ間の領域から外れている。従って、計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄが負であるときより正であるときの方が、最尤復号にエラーが生じにくい。この特徴を考慮し、エッジシフト検出部１０９は計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄからエッジシフト量を次のように決定する。まず、エッジシフト量の大きさは計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの大きさで定義される。次に、エッジシフト量の符号はエッジ位置のずれの方向に対応するように定義される。図２、３では、エッジ位置のずれが左方向（マークの終端から始端に向かう方向）であるとき、エッジシフト量の符号が正に定義される。ここで、パスＡを正解とするサンプル群とパスＢを正解とするサンプル群との間では、計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの符号とエッジ位置のずれの方向との間の対応関係が逆であるので、エッジシフト量の符号が計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの符号に基づいて以下のように定義される。【００３７】  図２Ａでは、実際の入力信号に対応するマークＡ−の始端が理想的なマークＡの始端より遅い。すなわち、実際のマークＡ−の始端は理想的なマークＡの��端から負方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスＡ、Ｂの間の領域に収まっているので、計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄは負である。従って、５Ｔスペースとその直後の５Ｔマークとの間のエッジシフト量５Ｓ５ＭＡ＝ΔＡ−は計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ自体で定義される：【００３８】  ５Ｓ５ＭＡ＝ΔＡ−＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ＜０。【００３９】  図２Ｂでは、実際の入力信号に対応するマークＡ＋の始端が理想的なマークＡの始端より早い。すなわち、実際のマークＡ＋の始端は理想的なマークＡの始端から正方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスＡ、Ｂの間の領域から外れているので、計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄは正である。従って、５Ｔスペースとその直後の５Ｔマークとの間のエッジシフト量５Ｓ５ＭＡ＝ΔＡ＋は計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ自体で定義される：【００４０】  ５Ｓ５ＭＡ＝ΔＡ＋＝｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ＞０。【００４１】  図３Ａでは、実際の入力信号に対応するマークＢ−の始端が理想的なマークＢの始端より遅い。すなわち、実際のマークＢ−の始端は理想的なマークＢの始端から負方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスＡ、Ｂの間の領域から外れているので、計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄは正である。従って、５Ｔスペースとその直後の５Ｔマークとの間のエッジシフト量５Ｓ５ＭＢ＝ΔＢ−は計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの逆符号で定義される：【００４２】  ５Ｓ５ＭＢ＝ΔＢ−＝−［｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ］＜０。【００４３】  図３Ｂでは、実際の入力信号に対応するマークＢ＋の始端が理想的なマークＢの始端より早い。すなわち、実際のマークＢ＋の始端は理想的なマークＢの始端から正方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスＡ、Ｂの間の領域に収まっているので、計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄは負である。従って、５Ｔスペースとその直後の５Ｔマークとの間のエッジシフト量５Ｓ５ＭＢ＝ΔＢ＋は計算値｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの逆符号で定義される：【００４４】  ５Ｓ５ＭＢ＝ΔＢ＋＝−［｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ］＞０。【００４５】  エッジシフト検出部１０９は続いて、パターン検出部１０８により選択されたＰａｔｔｅｒｎ−７の各パスＡ、Ｂを、５Ｔマークの終端に対応する入力信号の部分の形状と比較し、上記と同様に、各パスＡ、Ｂを正解とするサンプル群ごとに５Ｔマークの終端でのエッジシフト量５Ｍ５ＳＡ、５Ｍ５ＳＢを計算する。エッジシフト検出部１０９は更に、二つのサンプル群間で５Ｔマークの始端と終端とでの各エッジシフト量を平均し、各平均値を５Ｔマークの始端と終端とでの各エッジシフト量５Ｓ５Ｍ、５Ｍ５Ｓとして決定し、それら二つの平均値の差を５Ｔマークの長さのずれＬ５Ｔとして決定する：【００４６】  ５Ｓ５Ｍ＝（５Ｓ５ＭＡ＋５Ｓ５ＭＢ）／２、
５Ｍ５Ｓ＝（５Ｍ５ＳＡ＋５Ｍ５ＳＢ）／２、
Ｌ５Ｔ＝５Ｓ５Ｍ−５Ｍ５Ｓ。【００４７】  長さのずれＬ５Ｔは５Ｔマークの正規の長さ５Ｔからのずれ量を表す。長さのずれＬ５Ｔが０であれば５Ｔマークが５Ｔスペースと同じ長さであり、長さのずれＬ５Ｔが正であれば５Ｔマークが５Ｔスペースより長く、長さのずれＬ５Ｔが負であれば５Ｔマークが５Ｔスペースより短い。すなわち、長さのずれＬ５Ｔが大きければ、アシンメトリがマークに偏った状態であり、長さのずれＬ５Ｔが小さければ、アシンメトリがスペースに偏った状態である。【００４８】  長さのずれＬ５Ｔは、各記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃを用いて光ディスク１０１に記録された単一パターンのそれぞれについて計算される。エッジシフト検出部１０９は、得られた三つのずれＬ５Ｔのうち、所定の目標値に最も近いずれＬ５Ｔを選択する。ここで、その目標値は好ましくは、光ディスク１０１の初期値記録領域１００３（図１０参照）に予め記録されているターゲットアシンメトリ情報である。ターゲットアシンメトリ情報が初期値記録領域１００３に記録されていない場合は、記録再生装置に予め記憶された初期値（好ましくは、アシンメトリがない状態を表す「０」）が上記の目標値として設定される。もし、アシンメトリ情報に準じる情報（例えばβ値）が光ディスク１０１の初期値記録領域１００３に予め記録されている場合、その情報の示す値を長さのずれＬ５Ｔに対応させる変換係数が記録再生装置に予め設定されていても良い。その場合、その変換係数を用いて変換された値が上記の目標値として設定可能である。【００４９】  エッジシフト検出部１０９は更に、選択された長さのずれＬ５Ｔに対応する単一パターンを記録したときに用いた記録パルス条件を最適な条件として選択する。例えば、記録パルス条件Ａを用いて記録された単一パターンから得られた長さのずれＬ５Ｔが最も０に近い場合、記録パルス条件Ａが最適な条件として選択される。記録パルス条件Ｂ、Ｃについても同様である。最適な条件として選択された記録パルス条件に含まれている長さ４Ｔ以上のマーク長に関する四つのパラメータの値ｄＴｔｏｐ＝ｈ’、Ｔｔｏｐ＝ｉ’、Ｔｌｐ＝ｊ’、ｄＴｅ＝ｋ’が最適値としてメモリに保持される（図５参照）。【００５０】  但し、三つの記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃのいずれについても、実測された長さのずれＬ５Ｔが目標値から所定の閾値以上乖離している場合は、記録パルス条件が再度設定された上で上記の処理が第２のステップ（試し書き）から繰り返される。例えば、記録パルス条件Ｃに対応する長さのずれＬ５Ｔが最も０に近い場合でも、その長さのずれＬ５Ｔが閾値より大きい正値である場合は処理が繰り返される。ここで、好ましくは、記録パルス条件演算部１１０が記録パルス標準条件Ａに代え、記録パルス条件Ｃに含まれているパラメータの各値を基準値として設定し、残り二つの記録パルス条件を第１のステップと同様に生成する。そのような処理の繰り返しの結果、実測された長さのずれＬ５Ｔと目標値との間の差が閾値未満になった場合、その長さのずれＬ５Ｔに対応する記録パルス条件が最適な条件として選択される。【００５１】  第１のステップでは、記録パルス条件演算部１１０が記録パルス標準条件Ａに含まれているパラメータの各値を基準値とし、それらの基準値を±１単位変更して二種類の記録パルス条件Ｂ、Ｃを新たに設定する（図４参照）。その他に、光ディスク１０１に予め記録されている記録パルス標準条件と記録再生装置の記録再生特性との間の差異が大きい場合、記録パルス条件演算部１１０が上記の基準値を±１単位だけでなく±２単位変更し、記録パルス標準条件Ａと合わせて五種類の記録パルス条件を設定しても良い。更に好ましくは、第２のステップで記録再生装置がそれら五つの記録パルス条件のそれぞれを用い、光ディスク１０１の記録学習領域１００２に単一パターンを試し書きしても良い。それにより、第３のステップでは長さのずれＬ５Ｔのサンプル数が増えるので、一回の試し記録で最適な記録パルス条件が決定される確率が高まる。こうして、長マークに関しては記録パルス条件の学習時間が更に短縮可能である。【００５２】  本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法では、長さ４Ｔ以上のマークに対して同一の記録パルス条件が設定される（図４参照）。従って、上記の単一パターンは５Ｔ単一信号に限らず、長さ４Ｔ以上のマークと長さ４Ｔ以上のスペースとの間の組み合わせから成る単一パターンであれば良い。尚、記録信号の変調方式が１７ＰＰ変調である場合、マーク長分布の中心値が約５Ｔである。従って、５Ｔ単一信号が記録パルス条件の最適化に利用されることで、長さ４Ｔ以上の長マークのエッジシフトの平均値が揃いやすい。それ故、記録品質の更なる向上という効果を発揮する点では、５Ｔ単一信号の利用が好ましい。その他に、５Ｔ単一信号に代え、例えば、８Ｔマークと８Ｔスペースとの組み合わせから成る単一パターン（以下、８Ｔ単一信号という）が試し記録に用いられても良い。５Ｔ単一信号の再生波形は正弦波に近い。それに対し、８Ｔ単一信号では、基本波、２次高調波、３次高調波、及び４次高調波が信号帯域となるので、８Ｔ単一信号の再生波形は矩形状である。従って、その矩形状の波形を検出することで再生信号の調整が可能である。例えば、記録時にマークの終端が過熱された場合、そのマークの終端近傍が適正な形状から更に膨らむ。８Ｔ単一信号の再生波形からはそのようなマークの膨らみが容易に検出可能であるので、マークの終端に関する記録パルス条件のパラメータを補正するための情報が容易に得られる、と期待できる。【００５３】［第４のステップ］
記録再生装置は、第３のステップで最適化された長マークに関するパラメータに加え、記録パルス標準条件Ａに含まれている２Ｔマークと３Ｔマークとに関するパラメータを用い、新たな三種類の記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆを生成する（図５参照）。更に、それら新たな記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれを用い、光ディスク１０１の記録学習領域１００２（図１０参照）に特定のパターンの記録信号を試し書きする。【００５４】  図５に記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆを示す。記録パルス条件Ｄでは、２Ｔマークと３Ｔマークとに関するパラメータの値が記録パルス標準条件Ａでの値ａ〜ｇと等しい。一方、長さ４Ｔ以上のマークに関するパラメータの値は、第３のステップで得られた最適値ｄＴｔｏｐ＝ｈ’、Ｔｔｏｐ＝ｉ’、Ｔｌｐ＝ｊ’、ｄＴｅ＝ｋ’である。記録パルス条件演算部１１０はまず、記録パルス条件Ｄに含まれている、２Ｔマークと３Ｔマークとに関する七つのパラメータの値ａ〜ｇを基準値として設定する。記録パルス条件演算部１１０は次に、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの基準値ａ、ｂ、ｄ、ｅをそれぞれ１単位ずつ加算し、他の基準値ｃ、ｆ、ｇと共に、記録パルス条件Ｅとしてメモリに格納する。記録パルス条件演算部１１０は更に、２Ｔマークに関する二つのパラメータｄＴｔｏｐ、ｄＴｅの基準値ａ、ｃをそれぞれ１単位ずつ減算し、３Ｔマークに関する二つのパラメータｄＴｔｏｐ、ｄＴｅの基準値ｄ、ｇをそれぞれ１単位ずつ加算し、３Ｔマークに関するパラメータＴｌｐの基準値ｆを１単位減算し、残り二つの基準値ｂ、ｅと共に、記録パルス条件Ｆとしてメモリに格納する。【００５５】  図７と図１５とから容易に理解される通り、記録パルス条件Ｅでは記録パルス条件Ｄと比べ、２Ｔマーク２Ｔｍと３Ｔマーク３Ｔｍとのそれぞれに対応する記録パルスの各部分に含まれている先頭パルスＰＴの幅が拡大し、かつ立ち上がり位置が早い（図７では左側にシフトする）。従って、記録パルス条件Ｅでは記録パルス条件Ｄより、２Ｔマーク２Ｔｍと３Ｔマーク３Ｔｍとの各始端が早く、かつそれぞれが伸びる（図１５参照）。このように、記録パルス条件Ｅは主にマーク長の調整を目的として設定される。ここで、２Ｔマーク２Ｔｍの中心の位相Ｐ２Ｔ（Ｅ）は３Ｔマーク３Ｔｍの中心の位相Ｐ３Ｔ（Ｅ）と同一方向に変化する。一方、記録パルス条件Ｆでは記録パルス条件Ｄと比べ、２Ｔマーク２Ｔｍに対応する記録パルスの部分に含まれている先頭パルスＰＴと冷却パルスＰＣとの各位相が遅れる（図７では右側にシフトする）。更に３Ｔマーク３Ｔｍに対応する記録パルスの部分では、先頭パルスＰＴの位相が進み、最終パルスＰＬの幅が縮小し、冷却パルスＰＣの位相が進む（図７では左側にシフトする）。従って、記録パルス条件Ｆでは記録パルス条件Ｄより、２Ｔマーク２Ｔｍの位相が遅れ、３Ｔマーク３Ｔｍの位相が進む（図１５参照）。このように、記録パルス条件Ｆは主にマークの位相の調整を目的として設定される。特に、２Ｔマーク２Ｔｍの中心の位相Ｐ２Ｔ（Ｆ）が３Ｔマーク３Ｔｍの中心の位相Ｐ３Ｔ（Ｆ）とは逆方向に変化する。【００５６】  記録パルス条件Ｅを用いて光ディスク１０１に記録された２Ｔマーク２Ｔｍと３Ｔマーク３Ｔｍとの各位相Ｐ２Ｔ（Ｅ）、Ｐ３Ｔ（Ｅ）は記録パルス条件Ｄでの各マークの位相Ｐ２Ｔ（Ｄ）、Ｐ３Ｔ（Ｄ）に対して同一方向に変化する（図１５参照）。従って、二つの記録パルス条件Ｄ、Ｅのそれぞれを用いて記録された各マークから再生される信号間では一般に、ＰＬＬ部１０７（図１参照）により得られる再生クロックに位相差が生じる。その場合、２Ｔマーク２Ｔｍの位相のずれが３Ｔマークのエッジシフト量の測定誤差として含まれ、逆に、３Ｔマーク３Ｔｍの位相のずれが２Ｔマークのエッジシフト量の測定誤差として含まれる。それらの誤差が過大な場合、各エッジシフト量の正確な測定が阻まれる。一方、記録パルス条件Ｆでは上記の通り、２Ｔマーク２Ｔｍの位相Ｐ２Ｔ（Ｆ）が３Ｔマーク３Ｔｍの位相Ｐ３Ｔ（Ｆ）とは逆方向に変化するので、再生クロックの位相に与える影響が相殺される。従って、二つの記録パルス条件Ｄ、Ｆのそれぞれを用いて記録された各マークから再生される信号間では一般に、再生クロックの位相差が小さい。その結果、エッジシフト量の測定誤差が更に低減可能である。尚、記録パルス条件Ｅでは記録パルス条件Ｆと同様に、２Ｔマークと３Ｔマークとの間で各始端が逆方向に変化しても良い。すなわち、２Ｔマーク２Ｔｍと３Ｔマーク３Ｔｍとの各位相Ｐ２Ｔ（Ｅ）、Ｐ３Ｔ（Ｅ）が記録パルス条件Ｄでの各マークの位相Ｐ２Ｔ（Ｄ）、Ｐ３Ｔ（Ｄ）に対して逆方向に変化しても良い。それにより、記録パルス条件Ｆと同様に、エッジシフト量の測定誤差が低減し得る。【００５７】  記録パルス条件Ｅの設定方法は上記の方法（図５、７参照）とは別でも良い。例えば、マークの始端を移動させる目的で、先頭パルスの幅Ｔｔｏｐを固定した状態で先頭パルスの位置ｄＴｏｐを（例えば１単位）変えても良い。その他に、先頭パルスの立ち上がり位置ｄＴｔｏｐを固定した状態で先頭パルスの幅Ｔｔｏｐを（例えば１単位）変えても良い。更に、マークの終端を移動させる目的で、最終パルスの幅Ｔｌｐを例えば１単位変え、又は、冷却パルスの立ち上がり位置ｄＴｅを例えば１単位変えても良い。但し、上記の設定方法のように先頭パルスの立ち上がり位置ｄＴｔｏｐと幅Ｔｔｏｐとを同時に変える場合、先頭パルスの立ち下がり位置が固定されているので、先頭パルスの後端が後続のパルス（中間パルス又は最終パルス）の前端と重ならず、更に、先頭パルスと後続のパルスとの間隔が過小にならない。従って、記録パルスの正確な波形が得られる。尚、特にＢＤ２倍速以上の高速記録時では、レーザの応答速度に起因するレーザ光のパルス波形の歪みを避けるには、記録パルスの間隔が少なくとも２ｎｓ以上確保されることが望ましい。【００５８】  記録パルス条件Ｆの設定方法は上記の方法（図５、７参照）とは別でも良い。例えば、最終パルスの幅Ｔｌｐを固定した状態で最終パルスの位相を変えても良い。それにより、３Ｔマークの長さの変化量Ｌ３Ｔ（Ｆ）（図１５参照）が抑えられる。従って、マークの長さと位相との間の干渉が低減するので、更に正確な位相の変化量Ｐ３Ｔ（Ｆ）（図１５参照）が検出可能である。【００５９】  記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆを用いた試し書きで利用されるべき記録パターンでは好ましくは、２Ｔから８Ｔまでの各符号長の出現頻度がほぼ均等であり、かつＤＳＶ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｕｍ  Ｖａｌｕｅ）制御が施されている。これは、従来の記録パターンとは異なる。従来の記録パターンは、ユーザーデータと同様に、１７ＰＰ変調方式で変調される。従って、従来の記録パターンでは、２Ｔマークの出現確率が約３８％であり、３Ｔマークの出現確率が約２５％であり、４Ｔマークの出現確率が約１６％である。長さ５Ｔ以上の長マークの各出現確率は更に低い。すなわち、各符号長の出現頻度が符号長の増大と共に低下する。このように符号長ごとに出現頻度の異なる記録パターンが上記の試し書きに利用される場合、光ディスク１０１に書き込まれた記録パターンからＰＬＬ部１０７により得られる再生クロックの位相が出現頻度の高い短マーク（特に出現確率が１／３以上である２Ｔマーク）の位相でほぼ決まる。しかし、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆ間では上記の通り、短マークのエッジ位置が大きく異なるので、従来の記録パターンから得られる再生クロックの位相が大きく異なる。その結果、（特に第３のステップによりエッジシフト量が既に小さいはずである）長さ４Ｔ以上の長マークから測定されるエッジシフト量や位相が顕著な誤差を含む。それらの誤差は、第５のステップで行われる短マークのエッジシフト量の高精度な測定を阻む。それに対し、第４のステップで用いられる記録パターンでは各符号長の出現頻度がほぼ均等である。従って、２Ｔマークと３Ｔマークとの各出現確率が１／７であるのに対し、長さ４Ｔ以上のマークのいずれかが出現する頻度が５／７である。すなわち、第４のステップで用いられる記録パターンでは長さ４Ｔ以上の長マークが大勢を占める。この場合、光ディスク１０１に書き込まれたその記録パターンからＰＬＬ部１０７により得られる再生クロックの位相が長マークの位相でほぼ決まる。その結果、２Ｔマークや３Ｔマークのエッジ位置の変化に関わらず、再生クロックの位相が安定しているので、第５のステップでは２Ｔマークや３Ｔマークのエッジシフト量が高精度に測定可能である。【００６０】  記録再生装置は記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれを用いて上記の記録パターンを、第２のステップと同様に、光ディスク１０１の記録学習領域１００２（図１０参照）に試し書きする。すなわち、記録条件学習領域１００２には上記の記録パターンが、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆごとに連続して記録される。【００６１】  尚、好ましくは、４Ｔマークのエッジ位置が長さ５Ｔ以上のマークの平均エッジ位置から大きく外れている場合、４Ｔマークに関する記録パルス条件のパラメータを３Ｔマークに関するパラメータと同様に変化させて試し記録を行っても良い。それにより、第５のステップ以降の処理では、短マークと共に４Ｔマークについてもエッジシフト量が測定され、更にその測定結果に基づいて４Ｔマークに関するパラメータが補正される。【００６２】  記録パルス条件Ｅ、Ｆの設定では、パラメータｄＴｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの変化量が、記録再生装置により設定可能な最小単位の等倍の他に、その単位の２倍以上であっても良い。その場合、好ましくは、第５のステップで測定されるエッジシフト量から、パラメータが１単位変化した場合のエッジシフト量が換算��れる。それにより、記録パルス条件の変化に伴うエッジシフト量の変化が微細な光ディスクに対しても、パラメータが１単位変化した場合のエッジシフト量が正確に測定可能である。【００６３】［第５のステップ］
記録再生装置は、以下のように、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆで上記の記録パターンが記録されたトラックから各記録パターンを連続して再生し、再生信号のエッジシフト量を測定する。
まず、光照射部１０２から出力された再生信号が、プリアンプ部１０３、ＡＧＣ部１０４、波形等化部１０５、Ａ／Ｄ変換部１０６で順番に処理され、パターン検出部１０８内の最尤復号部により２値化信号に変換される。次に、パターン検出部１０８がその２値化信号に基づき、再生信号のエッジシフト量を以下のように測定する。ここで、最尤復号部がＰＲ（１，２，２，１）方式に対応している場合を想定する。【００６４】  エッジシフト量の測定の基本原理は、第３のステップの説明に記載されている通りである。但し、第５のステップでは第３のステップとは特に、パターン検出部１０８により選択されるパターンが異なる（図８、９参照）。パターン検出部１０８は図９に示されている分類に従い、２Ｔマークの始端を検出する場合はＰａｔｔｅｒｎ−３とＰａｔｔｅｒｎ−４とを用い、２Ｔマークの終端を検出する場合はＰａｔｔｅｒｎ−６とＰａｔｔｅｒｎ−８とを用い、３Ｔマークの始端を検出する場合はＰａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−４を用い、３Ｔマークの終端を検出する場合はＰａｔｔｅｒｎ−５〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８を用いる。更に詳細には、例えば、２Ｔスペースに続く３Ｔマークの始端を検出する場合、Ｐａｔｔｅｒｎ−３のパスＰ３Ａが選択される。３Ｔスペースに続く３Ｔマークの始端を検出する場合、Ｐａｔｔｅｒｎ−１のパスＰ１ＢとＰａｔｔｅｒｎ−４のパスＰ４Ａとが選択される。尚、図９に示されている分類から明らかな通り、２Ｔマークと２Ｔスペースとのいずれかを含むパターンでは正解のパスの候補が一つしか存在しない。一方、２Ｔマークと２Ｔスペースとのいずれも含まないパターンでは正解のパスの候補が常に二つ存在する。以下のステップでは、マークの始端と終端とのそれぞれに対応する再生信号の部分が、マーク長とスペース長との間のあらゆる組み合わせについて、図９に示されている各パスに近づくように、記録パルス条件のパラメータが最適化される。そのようなパラメータが最尤復号法によるデータ再生にとっては最適である。【００６５】  尚、図９では、２Ｔスペースの直後に２Ｔマークがあるパターンと、２Ｔマークの直後に２Ｔスペースがあるパターンとのいずれに対してもパスが設定されていない。それらのパターンは図８に示されている八つのパターン（Ｐａｔｔｅｒｎ−１〜Ｐａｔｔｅｒｎ−８）では検出不能である。従って、それらのパターンについては以下の方法とは別の方法でエッジシフト量が測定されても良い。但し、最尤復号法によるデータ再生では、それらのパターンが、１７ＰＰ変調には用いられない符号長１Ｔのパターンとして誤って検出されやすい。しかし、それらのパターンに起因するエラーは容易に識別可能である。従って、それらのパターンについては記録パルス条件が光ディスク１０１ごとに最適化されなくても良く、適切な初期値が一律に利用されても良い。【００６６】  次に、エッジシフト検出部１０９が第３のステップと同様に、２Ｔマークと３Ｔマークとのそれぞれのエッジシフト量を測定する。例えば、３Ｔマークの始端については、パターン検出部１０８により選択された正解のパスの候補Ｐ３Ａ、Ｐ１Ｂ、Ｐ４Ａ、Ｐ２Ｂの四つのそれぞれに対し、エッジシフト検出部１０９がエッジシフト量を以下のように測定する。
４Ｔスペースが３Ｔマークの直前にある場合、パターン検出部１０８はＰａｔｔｅｒｎ−２のパスＰ２ＢとＰａｔｔｅｒｎ−４のパスＰ４Ａとを選択する（図８、９参照）。エッジシフト検出部１０９は最尤復号部への入力信号の対応部分の波形を各パスＰ２Ｂ、Ｐ４Ａと比較し、それらの間の距離から、各パスＰ２Ｂ、Ｐ４Ａを正解とするサンプル群ごとにエッジシフト量４Ｓ３ＭＢ、４Ｓ３ＭＡを計算する。エッジシフト検出部１０９は更に、それら二つのエッジシフト量４Ｓ３ＭＢ、４Ｓ３ＭＡを平均し、その平均値を、４Ｔスペースが３Ｔマークの直前にある場合のエッジシフト量４Ｓ３Ｍとして決定する：【００６７】  ４Ｓ３Ｍ＝（４Ｓ３ＭＢ＋４Ｓ３ＭＡ）／２。【００６８】  長さ５Ｔ以上のスペースが３Ｔマークの直前にある場合も同様に、入力信号の対応部分の波形が各パスＰ２Ｂ、Ｐ４Ａと比較され、それらの間の距離から、各パスＰ２Ｂ、Ｐ４Ａを正解とするサンプル群ごとにエッジシフト量５Ｓ３ＭＢ、５Ｓ３ＭＡが計算される。更に、それらの平均値が、長さ５Ｔ以上のスペースが３Ｔマークの直前にある場合のエッジシフト量５Ｓ３Ｍとして決定される。こうして、３Ｔマークの直前にあるスペースの長さごとに、図８、９に示されているパターンが入力信号の対応部分の波形と比較されてエッジシフト量が測定される。それらのエッジシフト量はマーク長とスペース長との間の組み合わせ別に図１１に表示されている。尚、正解のパスの候補が二つ（ＰＸＡ、ＰＹＢ（Ｘ、Ｙ＝１、２、…、８））存在する組み合わせについては、図１１に表示された変数は、各パスＰＸＡ、ＰＹＢを正解とするサンプル群間でのエッジシフト量の平均値を意味する。【００６９】  エッジシフト検出部１０９は更に、マーク長とスペース長との間の組み合わせ別に得られたエッジシフト量から、前後のスペース長に依らない、マーク長ごとの平均エッジシフト量を以下のように求める。例えば、３Ｔマークの始端の平均エッジシフト量ｘＳ３Ｍは次式で得られる：【００７０】  ｘＳ３Ｍ＝（Ｃ２Ｓ３Ｍ＊２Ｓ３Ｍ＋Ｃ３Ｓ３Ｍ＊３Ｓ３Ｍ＋Ｃ４Ｓ３Ｍ＊４Ｓ３Ｍ＋Ｃ５Ｓ３Ｍ＊５Ｓ３Ｍ）
／（Ｃ２Ｓ３Ｍ＋Ｃ３Ｓ３Ｍ＋Ｃ４Ｓ３Ｍ＋Ｃ５Ｓ３Ｍ）。【００７１】ここで、四つの定数ＣｉＳ３Ｍ（ｉ＝２、３、４、５）は、エッジシフト量の測定に利用されたｉＴスペースとその直後の３Ｔマークとの組み合わせのサンプル数を表す。すなわち、各長さのマークについて、直前のスペース長ごとのエッジシフト量が上記のサンプル数に応じた重み付けで平均されることで、各マークの始端の平均エッジシフト量が得られる。こうして、エッジシフト検出部１０９が２Ｔマークと３Ｔマークとのそれぞれについて、始端の平均エッジシフト量ｘＳ２Ｍ、ｘＳ３Ｍ、及び終端の平均エッジシフト量２ＭｘＳ、３ＭｘＳを演算で求める。【００７２】［第６のステップ］
記録パルス条件演算部１１０はまず、エッジシフト検出部１０９により測定された平均エッジシフト量を利用し、２Ｔマークと３Ｔマークとのそれぞれについて、長さのずれＬ２Ｔ、Ｌ３Ｔと位相のずれＰ２Ｔ、Ｐ３Ｔとを記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆごとに次式で求める：【００７３】  Ｌ２Ｔ＝ｘＳ２Ｍ−２ＭｘＳ、
Ｌ３Ｔ＝ｘＳ３Ｍ−３ＭｘＳ、
Ｐ２Ｔ＝ｘＳ２Ｍ＋２ＭｘＳ、
Ｐ３Ｔ＝ｘＳ３Ｍ＋３ＭｘＳ。【００７４】ここで、長さのずれＬｉＴ（ｉ＝２、３）は、光ディスク１０１に実際に記録されたｉＴマークの長さと正規の長さ（再生クロック間隔Ｔのｉ倍＝ｉＴ）との間の差を表す。長さのずれＬｉＴが０であれば実際のｉＴマークの長さが正規の長さと一致し、長さのずれＬｉＴが正であれば実際のｉＴマークが正規の長さより長く、長さのずれＬｉＴが負であれば実際のｉＴマークが正規の長さより短い。一方、位相のずれＰｉＴ（ｉ＝２、３）は、光ディスク１０１に実際に記録されたｉＴマークの位相と正規の位相（再生クロックの位相）との間の差を表す。位相のずれＰｉＴが０であれば実際のｉＴマークの位相が正規の位相と一致し、位相のずれＰｉＴが正であれば実際のｉＴマークの位相が正規の位相より進み、位相のずれＬｉＴが負であれば実際のｉＴマークの位相が正規の位相より遅れている。【００７５】  記録パルス条件演算部１１０は次に、記録パルス条件Ｄを用いて記録された記録パターンを再生した信号について、２Ｔマークと３Ｔマークとのそれぞれの長さのずれＬ２Ｔ、Ｌ３Ｔと位相のずれＰ２Ｔ、Ｐ３Ｔとを所定の閾値と比較する。長さのずれＬ２Ｔ、Ｌ３Ｔと位相のずれＰ２Ｔ、Ｐ３Ｔとがいずれも閾値以下であった場合、記録パルス条件演算部１１０は記録パルス条件Ｄを最適な記録パルス条件として決定し、記録パルス条件の最適化処理を終える。その他に、後述の第７のステップで求められた補正値ｍ、ｎがいずれも０になった場合も、記録パルス条件演算部１１０は記録パルス条件の最適化処理を終える。一方、長さのずれＬ２Ｔ、Ｌ３Ｔと位相のずれＰ２Ｔ、Ｐ３Ｔとのいずれかが閾値を超えた場合、記録パルス条件演算部１１０は第７のステップ以降の処理を続行し、記録パルス条件の補正を行う。尚、この判定に使われるべき指標としては、長さのずれＬ２Ｔ、Ｌ３Ｔと位相のずれＰ２Ｔ、Ｐ３Ｔとの他に、それらの二乗和、再生信号のジッタ、又は、再生信号の品質を表すその他の指標（例えば、ＭＬＳＥ、ｂＥＲ、ＳＥＲ）の組み合わせが用いられても良い。【００７６】［第７のステップ］
記録パルス条件演算部１１０は、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれについて得られた２Ｔマークと３Ｔマークとのそれぞれの長さのずれＬ２Ｔ、Ｌ３Ｔと位相のずれＰ２Ｔ、Ｐ３Ｔとに基づき、記録パルス条件の補正値を以下のように演算で求める。その演算では以下のパラメータが用いられる：
・記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれでの長さのずれＬ２Ｔ（Ｄ）、Ｌ３Ｔ（Ｄ）、Ｌ２Ｔ（Ｅ）、Ｌ３Ｔ（Ｅ）、Ｌ２Ｔ（Ｆ）、Ｌ３Ｔ（Ｆ）、及び位相のずれＰ２Ｔ（Ｄ）、Ｐ３Ｔ（Ｄ）、Ｐ２Ｔ（Ｅ）、Ｐ３Ｔ（Ｅ）、Ｐ２Ｔ（Ｆ）、Ｐ３Ｔ（Ｆ）；
・基準の記録パルス条件Ｄとマーク長調整用の記録パルス条件Ｅとの間での、長さのずれの差Ｌ１２２Ｔ、Ｌ１２３Ｔと位相のずれの差Ｐ１２２Ｔ、Ｐ１２３Ｔ；
・基準の記録パルス条件Ｄとマーク位相調整用の記録パルス条件Ｆとの間での、長さのずれの差Ｌ１３２Ｔ、Ｌ１３３Ｔと位相のずれの差Ｐ１３２Ｔ、Ｐ１３３Ｔ；
・マーク長の補正量ｍ２Ｔ、ｍ３Ｔとマークの位相の補正量ｎ２Ｔ、ｎ３Ｔ。好ましくは、補正量ｍ２Ｔ、ｍ３Ｔ、ｎ２Ｔ、ｎ３Ｔがいずれも、記録パルス条件のパラメータの単位の整数倍で表される。【００７７】  記録パルス条件演算部１１０は、長さのずれの差Ｌ１２２Ｔ、Ｌ１２３Ｔ、Ｌ１３２Ｔ、Ｌ１３３Ｔ、及び位相のずれの差Ｐ１２２Ｔ、Ｐ１２３Ｔ、Ｐ１３２Ｔ、Ｐ１３３Ｔをそれぞれ、以下のように計算する。記録パルス条件演算部１１０はまず、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれＬ２Ｔ（Ｄ）、Ｌ２Ｔ（Ｅ）の差、及びＬ３Ｔ（Ｄ）、Ｌ３Ｔ（Ｅ）の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれの差Ｌ１２２Ｔ、Ｌ１２３Ｔとして次式で求める：【００７８】  Ｌ１２２Ｔ＝Ｌ２Ｔ（Ｅ）−Ｌ２Ｔ（Ｄ）、
Ｌ１２３Ｔ＝Ｌ３Ｔ（Ｅ）−Ｌ３Ｔ（Ｄ）。【００７９】  記録パルス条件演算部１１０は次に、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での位相のずれＰ２Ｔ（Ｄ）、Ｐ２Ｔ（Ｅ）の差、及びＰ３Ｔ（Ｄ）、Ｐ３Ｔ（Ｅ）の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での位相のずれの差Ｐ１２２Ｔ、Ｐ１２３Ｔとして次式で求める：【００８０】  Ｐ１２２Ｔ＝Ｐ２Ｔ（Ｅ）−Ｐ２Ｔ（Ｄ）、
Ｐ１２３Ｔ＝Ｐ３Ｔ（Ｅ）−Ｐ３Ｔ（Ｄ）。【００８１】  記録パルス条件演算部１１０は続いて、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれＬ２Ｔ（Ｄ）、Ｌ２Ｔ（Ｆ）の差、及びＬ３Ｔ（Ｄ）、Ｌ３Ｔ（Ｆ）の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれの差Ｌ１３２Ｔ、Ｌ１３３Ｔとして次式で求める：【００８２】  Ｌ１３２Ｔ＝−［Ｌ２Ｔ（Ｆ）−Ｌ２Ｔ（Ｄ）］、
Ｌ１３３Ｔ＝Ｌ３Ｔ（Ｆ）−Ｌ３Ｔ（Ｄ）。【００８３】  記録パルス条件演算部１１０は更に、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での位相のずれＰ２Ｔ（Ｄ）、Ｐ２Ｔ（Ｆ）の差、及びＰ３Ｔ（Ｄ）、Ｐ３Ｔ（Ｆ）の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での位相のずれの差Ｐ１３２Ｔ、Ｐ１３３Ｔとして次式で求める：【００８４】  Ｐ１３２Ｔ＝−［Ｐ２Ｔ（Ｆ）−Ｐ２Ｔ（Ｄ）］、
Ｐ１３３Ｔ＝Ｐ３Ｔ（Ｆ）−Ｐ３Ｔ（Ｄ）。【００８５】  記録パルス条件演算部１１０は長さのずれの差Ｌ１２ｘ、Ｌ１３ｘ［ｘ＝２Ｔ、３Ｔ］と位相のずれの差Ｐ１２ｘ、Ｐ１３ｘとに基づき、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのうちエッジシフト量が最も小さい記録パルス条件（ここでは、記録パルス条件Ｄ）での長さのずれＬｘと位相のずれＰｘとのそれぞれを目標値０まで変化させるのに必要な補正量ｍｘ、ｎｘを、線形の連立方程式（１）〜（４）（以下、シフト補正方程式という）で求める：【００８６】  Ｌ２Ｔ＋Ｌ１２２Ｔ＊ｍ２Ｔ＋Ｌ１３２Ｔ＊ｎ２Ｔ＝０、                    （１）
Ｐ２Ｔ＋Ｐ１２２Ｔ＊ｍ２Ｔ＋Ｐ１３２Ｔ＊ｎ２Ｔ＝０、                    （２）
Ｌ３Ｔ＋Ｌ１２３Ｔ＊ｍ３Ｔ＋Ｌ１３３Ｔ＊ｎ３Ｔ＝０、                    （３）
Ｐ３Ｔ＋Ｐ１２３Ｔ＊ｍ３Ｔ＋Ｐ１３３Ｔ＊ｎ３Ｔ＝０。                    （４）【００８７】  シフト補正方程式（１）〜（４）は以下のことを意味する：
第４のステップでの設定により、記録パルス条件Ｅは記録パルス条件Ｄと比べ、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの値が＋１単位ずつ異なる（図５、７参照）。従って、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれの差Ｌ１２ｘと位相のずれの差Ｐ１２ｘとはパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの＋１単位の変化によって生じる。ここで、「パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの変化に伴う長さのずれの変化と位相のずれの変化とがいずれもパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの変化に比例する」と仮定する（線形近似）。その仮定からは次のことが言える：もし、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの基準値ａ、ｂを補正量ｍ２Ｔずつ変化させ、かつ基準値ｄ、ｅを補正量ｍ３Ｔずつ変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号では、長さのずれが記録パルス条件Ｄでの長さのずれＬｘから、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれの差Ｌ１２ｘと補正量ｍｘとの積だけ変化し、位相のずれが記録パルス条件Ｄでの位相のずれＰｘから、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での位相のずれの差Ｐ１２ｘと補正量ｍｘとの積だけ変化する。【００８８】  記録パルス条件Ｆは記録パルス条件Ｄと比べ、２Ｔマークに関するパラメータｄＴｔｏｐ、ｄＴｅの値が−１単位ずつ異なり、３Ｔマークに関するパラメータｄＴｔｏｐ、ｄＴｅの値が＋１単位ずつ異なり、３Ｔマークに関するパラメータＴｌｐの値が−１単位異なる（図５、７参照）。そのようなパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの±１単位の変化によって記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれの差Ｌ１３ｘと位相のずれの差Ｐ１３ｘとが生じる。ここで、「パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの変化に伴う長さのずれの変化と位相のずれの変化とがいずれもパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの変化に比例する」と仮定する（線形近似）。その仮定からは次のことが言える：もし、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの基準値ａ、ｃ、ｄ、ｆ、ｇをそれぞれ、−ｎ２Ｔ、−ｎ２Ｔ、ｎ３Ｔ、−ｎ３Ｔ、ｎ３Ｔ変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号では、長さのずれが記録パルス条件Ｄでの長さのずれＬｘから、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれの差Ｌ１３ｘと補正量ｎｘとの積だけ変化し、位相のずれが記録パルス条件ＤでのＰｘから、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での位相のずれの差Ｐ１３ｘと補正量ｎｘとの積だけ変化する。【００８９】  それ故、シフト補正方程式（１）〜（４）を同時に満たす補正量ｍｘ、ｎｘを用いてパラメータの値を基準値から変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号では長さのずれと位相のずれとがいずれも目標値０に一致する。【００９０】  記録パルス条件Ｅは主にマーク長の調整を目的として設定され、記録パルス条件Ｆは主にマーク長の調整を目的として設定される。しかし、記録パルス条件Ｅで記録されたパターンを再生した信号では、マーク長のずれＬｘだけでなく、マークの位相のずれＰｘも変化する。逆に、記録パルス条件Ｆで記録されたパターンを再生した信号では、マークの位相のずれＰｘだけでなく、マーク長のずれＬｘも変化する。すなわち、記録パルス条件の変更に伴うマーク長の変化���マークの位相の変化とが互いに独立ではなく、むしろ相互に依存する。それらの関係をシフト補正方程式（１）〜（４）で線形に近似することにより、長さのずれの差Ｌ１２ｘ、Ｌ１３ｘと位相のずれの差Ｐ１２ｘ、Ｐ１３ｘとの各測定値から、記録パルス条件の最適化に必要な補正量が演算で決定可能である。尚、補正量ｍｘ、ｎｘは好ましくは、シフト補正方程式（１）〜（４）を解いた次式（５）〜（８）から計算される：【００９１】  ｍ２Ｔ＝（Ｐ２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ−Ｌ２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ）／（Ｌ１２２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ−Ｐ１２２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ）、      （５）
ｎ２Ｔ＝（Ｌ２Ｔ＊Ｐ１２２Ｔ−Ｐ２Ｔ＊Ｌ１２２Ｔ）／（Ｌ１２２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ−Ｐ１２２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ）、      （６）
ｍ３Ｔ＝（Ｐ３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ−Ｌ３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ）／（Ｌ１２３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ−Ｐ１２３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ）、      （７）
ｎ３Ｔ＝（Ｌ３Ｔ＊Ｐ１２３Ｔ−Ｐ３Ｔ＊Ｌ１２３Ｔ）／（Ｌ１２３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ−Ｐ１２３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ）。      （８）【００９２】式（５）〜（８）から得られた補正量ｍｘ、ｎｘは更に、好ましくは小数点以下を四捨五入することにより、整数値に丸められる。こうして得られた補正量ｍｘ、ｎｘを用い、記録パルス条件演算部１１０は記録パルス条件を次のように補正する（図１２参照）。記録パルス条件演算部１１０は、まず、２Ｔマークに関し、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの各基準値ａ、ｂをマーク長の補正量ｍ２Ｔずつ加算する。更に、パラメータｄＴｔｏｐ、ｄＴｅの各基準値ａ、ｃをマークの位相の補正量ｎ２Ｔずつ加算する：【００９３】  ２Ｔ：ｄＴｔｏｐ＝ａ＋ｍ２Ｔ＋ｎ２Ｔ、
２Ｔ：Ｔｔｏｐ＝ｂ＋ｍ２Ｔ、
２Ｔ：ｄＴｅ＝ｃ＋ｎ２Ｔ。【００９４】  記録パルス条件演算部１１０は、次に、３Ｔマークに関し、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｅの各基準値ｄ、ｅ、ｆ、ｇを補正量ｍ３Ｔ、ｎ３Ｔを使って次式のように補正する：【００９５】  ３Ｔ：ｄＴｔｏｐ＝ｄ＋ｍ３Ｔ＋ｎ３Ｔ、
３Ｔ：Ｔｔｏｐ＝ｅ＋ｍ３Ｔ、
３Ｔ：Ｔｌｐ＝ｆ−ｍ３Ｔ、
３Ｔ：ｄＴｅ＝ｇ＋ｎ３Ｔ。【００９６】  記録パルス条件演算部１１０は上記の補正で得られた記録パルス条件Ｇを、記録パルス条件Ｄに代えて初期条件として設定する。それにより、次の第８のステップで第４のステップからの処理の繰り返しが判断された場合、次の第４のステップでは記録パルス条件Ｄに代え、記録パルス条件Ｇのパラメータの値が基準値として設定される。【００９７】  シフト補正方程式（１）〜（４）では長さのずれと位相のずれとの各目標値が一律に、０に設定されている。それにより、最尤復号処理でのエラーの発生確率が最小化されるように、記録パルス条件が最適化される。ここで、最尤復号処理でのエラーの発生確率と、再生信号の品質を表す他の指標（例えば、ジッタやリミットイコライザ後のジッタ）との間の良好なバランスが望まれている場合、各目標値が０以外の値に設定されても良く、更に２Ｔマークと３Ｔマークとの間で異なっていても良い。長さのずれと位相のずれとの各目標値をＬｔｘ、Ｐｔｘ（ｘ＝２Ｔ、３Ｔ）とするとき、シフト補正方程式は以下の連立方程式（９）〜（１２）で表され、その解は式（１３）〜（１６）で表される：【００９８】  Ｌ２Ｔ＋Ｌｔ２Ｔ＋Ｌ１２２Ｔ＊ｍ２Ｔ＋Ｌ１３２Ｔ＊ｎ２Ｔ＝０、        （９）
Ｐ２Ｔ＋Ｐｔ２Ｔ＋Ｐ１２２Ｔ＊ｍ２Ｔ＋Ｐ１３２Ｔ＊ｎ２Ｔ＝０、        （１０）
Ｌ３Ｔ＋Ｌｔ３Ｔ＋Ｌ１２３Ｔ＊ｍ３Ｔ＋Ｌ１３３Ｔ＊ｎ３Ｔ＝０、        （１１）
Ｐ３Ｔ＋Ｐｔ３Ｔ＋Ｐ１２３Ｔ＊ｍ３Ｔ＋Ｐ１３３Ｔ＊ｎ３Ｔ＝０。        （１２）
ｍ２Ｔ＝（Ｐ２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ−Ｌ２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ）／（Ｌ１２２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ−Ｐ１２２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ）
＋（Ｐｔ２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ−Ｌｔ２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ）／（Ｌ１２２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ−Ｐ１２２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ）、  （１３）
ｎ２Ｔ＝（Ｌ２Ｔ＊Ｐ１２２Ｔ−Ｐ２Ｔ＊Ｌ１２２Ｔ）／（Ｌ１２２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ−Ｐ１２２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ）
＋（Ｌｔ２Ｔ＊Ｐ１２２Ｔ−Ｐｔ２Ｔ＊Ｌ１２２Ｔ）／（Ｌ１２２Ｔ＊Ｐ１３２Ｔ−Ｐ１２２Ｔ＊Ｌ１３２Ｔ）、  （１４）
ｍ３Ｔ＝（Ｐ３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ−Ｌ３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ）／（Ｌ１２３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ−Ｐ１２３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ）
＋（Ｐｔ３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ−Ｌｔ３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ）／（Ｌ１２３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ−Ｐ１２３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ）、  （１５）
ｎ３Ｔ＝（Ｌ３Ｔ＊Ｐ１２３Ｔ−Ｐ３Ｔ＊Ｌ１２３Ｔ）／（Ｌ１２３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ−Ｐ１２３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ）
＋（Ｌｔ３Ｔ＊Ｐ１２３Ｔ−Ｐｔ３Ｔ＊Ｌ１２３Ｔ）／（Ｌ１２３Ｔ＊Ｐ１３３Ｔ−Ｐ１２３Ｔ＊Ｌ１３３Ｔ）。  （１６）【００９９】ここで、補正量ｍｘ、ｎｘ（ｘ＝２Ｔ、３Ｔ）は好ましくは、小数点以下を四捨五入することで整数に丸められる。尚、記録再生装置は好ましくは、各目標値Ｌｔｘ、Ｐｔｘを光ディスクの種類別に予め記憶している。【０１００】［第８のステップ］
第１〜第７のステップでは、マーク長とその前後のスペース長との間の組み合わせごとにエッジシフト量が測定され、各測定結果からマーク長ごとの平均エッジシフト量が求められ、その平均エッジシフト量に基づいて記録パルス条件が調整される。ここで、平均エッジシフト量では、マークの前後のスペース長の違いによるエッジシフト量の変動が均されている。しかし、光ディスク１０１の種類によっては、マークとスペースとの間での熱の干渉がマークの前後のスペース長に応じて顕著に変動し得る。そのような光ディスクにデータが書き込まれるときは、記録パルス条件が、マーク長だけでなく、前後のスペース長にも応じて変化しなければならない。ここで、マークの前後のスペース長が考慮される場合、記録パルス条件に含まれるべきパラメータの組み合わせの数が、マーク長とスペース長との間の組み合わせの数と共に著しく増加する。試し記録により調整されるべきパラメータの数が多い場合、学習に要する時間が長く、しかも、記録条件学習領域１００３のトラックが多数消費される。特に追記型ディスクのようにデータを一回しか記録できない光ディスクでは記録条件学習領域のトラック数の制限から学習回数が制限されるので、一回の学習で消費されるトラック数はできるだけ少ないことが好ましい。従って、第８のステップでは、光ディスク１０１の種類や第１〜第７のステップの結果に基づき、マークの前後のスペース長を考慮した更なる補償が必要か否かが判断される。その補償が不要である場合、第９のステップ以降がスキップされ、処理が第４のステップから繰り返される。特に二回目の第４のステップでは、図５に示されている記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆに代え、図１２に示されている記録パルス条件Ｇ、Ｈ、Ｉが利用される。従って、記録パルス条件の補正にはマーク長ごとの平均エッジシフト量のみが利用される。このように補正対象のパラメータが限定されることで、記録パルス条件の調整時間が更に短縮可能であり、かつ、マークの品質が更に向上可能である。一方、マークの前後のスペース長を考慮した更なる補償が必要である場合（例えば、光ディスク１０１の種類がそのような光ディスクである場合や、第１〜第７のステップの結果ではマークのエッジシフト量の補償が不十分であった場合）、処理が第９のステップに進み、マークの前後スペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整が実行される。【０１０１】  第８のステップでは好ましくは、マークの前後のスペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整の必要性が次のように定量的に判断される。記録パルス条件演算部１１０は、マーク長ｉＴ（ｉ＝２、３、４以上）ごとに、前後のスペース長ｊＴ（ｊ＝２、３、４、５以上）に応じたエッジシフト量ｊＳｉＭ、ｉＭｊＳの各分散値σｘＳｉＭ２、σｉＭｘＳ２（エッジシフト量ｊＳｉＭ、ｉＭｊＳと平均エッジシフト量ｘＳｉＭ、ｉＭｘＳとの間の差の二乗平均値）を求め、得られた分散値σｘＳｉＭ２、σｉＭｘＳ２の平均値の平方根を指標σＳＰとして決定する：【０１０２】  σｘＳ２Ｍ２
＝［（３Ｓ２Ｍ−ｘＳ２Ｍ）２＋（４Ｓ２Ｍ−ｘＳ２Ｍ）２＋（５Ｓ２Ｍ−ｘＳ２Ｍ）２］／３、        （１７）
σｘＳ３Ｍ２
＝［（２Ｓ３Ｍ−ｘＳ３Ｍ）２＋（３Ｓ３Ｍ−ｘＳ３Ｍ）２
＋（４Ｓ３Ｍ−ｘＳ３Ｍ）２＋（５Ｓ３Ｍ−ｘＳ３Ｍ）２］／４、        （１８）
σｘＳ４Ｍ２
＝［（２Ｓ４Ｍ−ｘＳ４Ｍ）２＋（３Ｓ４Ｍ−ｘＳ４Ｍ）２
＋（４Ｓ４Ｍ−ｘＳ４Ｍ）２＋（５Ｓ４Ｍ−ｘＳ４Ｍ）２］／４、        （１９）
σ２ＭｘＳ２
＝［（２Ｍ３Ｓ−２ＭｘＳ）２＋（２Ｍ４Ｓ−２ＭｘＳ）２＋（２Ｍ５Ｓ−２ＭｘＳ）２］／３、        （２０）
σ３ＭｘＳ２
＝［（３Ｍ２Ｓ−３ＭｘＳ）２＋（３Ｍ３Ｓ−３ＭｘＳ）２
＋（３Ｍ４Ｓ−３ＭｘＳ）２＋（３Ｍ５Ｓ−３ＭｘＳ）２］／４、        （２１）
σ４ＭｘＳ２
＝［（４Ｍ２Ｓ−４ＭｘＳ）２＋（４Ｍ３Ｓ−４ＭｘＳ）２
＋（４Ｍ４Ｓ−４ＭｘＳ）２＋（４Ｍ５Ｓ−４ＭｘＳ）２］／４、        （２２）
σＳＰ＝ｓｑｒｔ［（σｘＳ２Ｍ２＋σｘＳ３Ｍ２＋σｘＳ４Ｍ２＋σ２ＭｘＳ２＋σ３ＭｘＳ２＋σ４ＭｘＳ２）／６］。（２３）【０１０３】ここで、偏差σｘＳｉＭは、ｉＴマーク（ｉ＝２、３、４以上）についてその直前のスペース長に応じた始端のばらつきの大きさを表す。偏差σｉＭｘＳは、ｉＴマークについてその直後のスペース長に応じた終端のばらつきの大きさを表す。式（２３）で得られた指標σＳＰは、前後のマーク長に依らない、スペース長ごとの長さのばらつきの大きさを表す指標として用いられる。尚、例えば分散σｘＳ２Ｍ２は式（１７）に代え、次式（２４）のように重み係数Ｃｓｍ３２、Ｃｓｍ４２、Ｃｓｍ５２を用いて計算されても良い：【０１０４】  σｘＳ２Ｍ２
＝［Ｃｓｍ３２＊（３Ｓ２Ｍ−ｘＳ２Ｍ）２＋Ｃｓｍ４２＊（４Ｓ２Ｍ−ｘＳ２Ｍ）２
＋Ｃｓｍ５２＊（５Ｓ２Ｍ−ｘＳ２Ｍ）２］／３。                      （２４）【０１０５】ここで、各重み係数Ｃｓｍｊ２（ｊ＝３、４、５）は、ｊＴスペースに続いて２Ｔマークが出現する確率を表す。他の分散値も同様な重み付けで計算されても良い。それにより、マーク長とスペース長との間の各組み合わせが出現する頻度に応じた分散値が得られる。【０１０６】  記録パルス条件演算部１１０は更に、指標σＳＰを所定の基準値と比較する。指標σＳＰが基準値より大きい場合、マークの前後のスペース長に応じてエッジシフト量が過大に変化しているので、「マークの前後のスペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整が必要である」と判断される。その場合、処理が第９のステップに進み、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとに記録パルス条件が調整される。一方、指標σＳＰが基準値より小さい場合、「マークの前後のスペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整が不要である」と判断され、処理が第４のステップに戻り、マーク長ごとに記録パルス条件の補正が繰り返される。【０１０７】［第９のステップ］
マーク長とスペース長との間の組み合わせごとに記録パルス条件を調整する目的で、試し書きが以下のように行われる。
ここで、試し書きに利用される記録パルス条件を図１４に示す。記録パルス条件Ｇは、第７のステップの補正で得られた記録パルス条件である。記録パルス条件演算部１１０はまず、記録パルス条件Ｇに含まれているパラメータの値を初期値として設定する。記録パルス条件演算部１１０は次に、記録パルス条件Ｇに含まれている、２Ｔスペースとその直後の３Ｔマークとの組み合わせ、２Ｔスペースとその直後の長さ４Ｔ以上のマークとの組み合わせ、及び長さ５Ｔ以上のスペースとその直後の２Ｔマークとの組み合わせに関し、二つのパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの初期値をそれぞれ１単位ずつ加算し、他の初期値と共に、記録パルス条用Ｊとしてメモリに格納する。【０１０８】  記録再生装置は記録パルス条件Ｇ、Ｊのそれぞれを用い、第４のステップで用いられた特定の記録パターンを、第２のステップと同様に、光ディスク１０１の記録学習領域１００２（図１０参照）に試し書きする。すなわち、記録条件学習領域１００２には上記の記録パターンが記録パルス条件Ｇ、Ｊごとに連続して記録される。【０１０９】  尚、マークとスペースとの間の熱干渉がエッジシフト量に与える影響は、短いスペースに続くマークと最短マーク（２Ｔマーク）とで大きい。従って、第９のステップでは上記の通り、２Ｔスペースと３Ｔマークとの組み合わせ、２Ｔスペースと長さ４Ｔ以上のマークとの組み合わせ、及び長さ５Ｔ以上のスペースと２Ｔマークとの組み合わせ、の三種類に関するパラメータが１単位ずつ加算される（図１４参照）。しかし、パラメータの動かし方はこれらに限られない。特に、他のマーク長と他のスペース長との組み合わせに関するパラメータが変更されても良い。その他に、マークの直前のスペースごとに分類されたパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの各値に代え、マークの直後のスペース長ごとに分類されたパラメータＴｌｐ、ｄＴｅの各値が変更されても良い。【０１１０】［第１０のステップ］
記録再生装置は、以下のように、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとにエッジシフト量を測定する。まず、記録パルス条件Ｇ、Ｊのそれぞれで上記の記録パターンが記録されたトラックから各記録パターンが再生される。更に、エッジシフト検出部１０９がその再生信号のエッジシフト量を、第３及び第５のステップと同様に測定する。それにより、図１１に示されている、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとのエッジシフト量が全て測定される。【０１１１】［第１１のステップ］
記録再生装置は第８のステップと同様な判断を行う。すなわち、記録パルス条件演算部１１０がまず、第１０のステップで得られたエッジシフト量に基づいて上記の指標σＳＰを計算し、得られた指標σＳＰを所定の基準値と比較する。指標σＳＰが基準値より大きい場合、「マークの前後のスペース長に応じたエッジシフト量が過大である」と判断される。その場合、処理が第１２のステップに進む。一方、指標σＳＰが基準値より小さい場合、「マークの前後のスペース長に応じたエッジシフト量が十分に小さい」と判断され、記録パルス条件の最適化処理が終了する。【０１１２】［第１２のステップ］
記録パルス条件演算部１１０は、第１０のステップでエッジシフト検出部１０９により測定されたエッジシフト量に基づき、記録パルス条件の補正量を演算で求める。その演算に用いられるパラメータは次の通りである：
・記録パルス条件Ｇ、Ｊでのエッジシフト量２Ｓ３Ｍ（Ｇ）、２Ｓ４Ｍ（Ｇ）、５Ｓ２Ｍ（Ｇ）、２Ｓ３Ｍ（Ｊ）、２Ｓ４Ｍ（Ｊ）、５Ｓ２Ｍ（Ｊ）；
・記録パルス条件Ｇ、Ｊ間でのエッジシフト量の差ｅ２Ｓ３Ｍ、ｅ２Ｓ４Ｍ、ｅ５Ｓ２Ｍ；
・記録パルス条件の補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍ。好ましくは、補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍがいずれも、記録パルス条件のパラメータの単位の整数倍で表される。【０１１３】  記録パルス条件演算部１１０は、まず、記録パルス条件Ｇ、Ｊのそれぞれで記録された各記録パターンを再生した信号間で、エッジシフト量２Ｓ３Ｍ、２Ｓ４Ｍ、５Ｓ２Ｍの差ｅ２Ｓ３Ｍ、ｅ２Ｓ４Ｍ、ｅ５Ｓ２Ｍを次式で求める：【０１１４】  ｅ２Ｓ３Ｍ＝２Ｓ３Ｍ（Ｊ）−２Ｓ３Ｍ（Ｇ）、
ｅ２Ｓ４Ｍ＝２Ｓ４Ｍ（Ｊ）−２Ｓ４Ｍ（Ｇ）、
ｅ５Ｓ２Ｍ＝５Ｓ２Ｍ（Ｊ）−５Ｓ２Ｍ（Ｇ）。【０１１５】  記録パルス条件演算部１１０は次に、エッジシフト量の差ｅ２Ｓ３Ｍ、ｅ２Ｓ４Ｍ、ｅ５Ｓ２Ｍに基づき、記録パルス条件Ｇでのエッジシフト量２Ｓ３Ｍ、２Ｓ４Ｍ、５Ｓ２Ｍをいずれも目標値０まで変化させるのに必要な補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍを、次のシフト補正方程式（２５）〜（２７）で求める：【０１１６】  ２Ｓ３Ｍ＋ｅ２Ｓ３Ｍ＊ｑ２Ｓ３Ｍ＝０、                                （２０）
２Ｓ４Ｍ＋ｅ２Ｓ４Ｍ＊ｑ２Ｓ４Ｍ＝０、                                （２１）
５Ｓ２Ｍ＋ｅ５Ｓ２Ｍ＊ｑ５Ｓ２Ｍ＝０。                                （２２）【０１１７】  シフト補正方程式（２０）〜（２２）は以下のことを意味する：
第９のステップでの設定により、記録パルス条件Ｊは記録パルス条件Ｇと比べ、２Ｔスペースとその直後の３Ｔマークとの組み合わせ、２Ｔスペースとその直後の長さ４Ｔ以上のマークとの組み合わせ、及び長さ５Ｔ以上のスペースとその直後の２Ｔマークとの組み合わせのそれぞれに関するパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの値が＋１単位ずつ異なる（図１４参照）。従って、記録パルス条件Ｇ、Ｊ間でのエッジシフト量の差ｅ２Ｓ３Ｍ、ｅ２Ｓ４Ｍ、ｅ５Ｓ２ＭはパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの＋１単位の変化によって生じる。ここで、「パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの変化に伴うエッジシフト量の変化がいずれもパラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの変化に比例する」と仮定する（線形近似）。その仮定からは次のことが言える：もし、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの各初期値を補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍ変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号ではエッジシフト量が、記録パルス条件Ｇでのエッジシフト量２Ｓ３Ｍ、２Ｓ４Ｍ、５Ｓ２Ｍから、記録パルス条件Ｇ、Ｊ間でのエッジシフト量の差ｅ２Ｓ３Ｍ、ｅ２Ｓ４Ｍ、ｅ５Ｓ２Ｍと補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍとの積だけ変化する。それ故、シフト補正方程式（２０）〜（２２）を同時に満たす補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍを用いてパラメータの値を初期値から変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号ではエッジシフト量がいずれも目標値０に一致する。こうして、シフト補正方程式（２０）〜（２２）による線形近似に基づき、エッジシフト量の差の各測定値から、記録パルス条件の最適化に必要な補正量が演算で決定可能である。尚、補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍは好ましくは、シフト補正方程式（２０）〜（２２）を解いた次式（２３）〜（２５）から計算される：【０１１８】  ｑ２Ｓ３Ｍ＝−２Ｓ３Ｍ／ｅ２Ｓ３Ｍ、                                  （２３）
ｑ２Ｓ４Ｍ＝−２Ｓ４Ｍ／ｅ２Ｓ４Ｍ、                                  （２４）
ｑ５Ｓ２Ｍ＝−５Ｓ２Ｍ／ｅ５Ｓ２Ｍ。                                  （２５）【０１１９】式（２３）〜（２５）から得られた補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍは更に、好ましくは小数点以下を四捨五入することにより、整数値に丸められる。こうして得られた記録パルス条件の補正量ｑ２Ｓ３Ｍ、ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍを用い、記録パルス条件演算部１１０は記録パルス条件を次のように補正する。記録パルス条件演算部１１０は、まず、２Ｔスペースと３Ｔマークとの組み合わせに関し、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの各初期値Ｇを補正量ｑ２Ｓ３Ｍずつ加算する：【０１２０】  ２Ｔスペース／３Ｔマーク：ｄＴｔｏｐ＝Ｇ＋ｑ２Ｓ３Ｍ、
２Ｔスペース／３Ｔマーク：Ｔｔｏｐ＝Ｇ＋ｑ２Ｓ３Ｍ。【０１２１】  記録パルス条件演算部１１０は、２Ｔスペースと長さ４Ｔ以上のマークとの組み合わせ、及び長さ５Ｔ以上のスペースと２Ｔマークとの組み合わせのそれぞれに関しても同様に、パラメータｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐの各初期値Ｇを補正量ｑ２Ｓ４Ｍ、ｑ５Ｓ２Ｍを使って次式のように補正する：【０１２２】  ２Ｔスペース／４Ｔ以上マーク：ｄＴｔｏｐ＝Ｇ＋ｑ２Ｓ４Ｍ、
２Ｔスペース／４Ｔ以上マーク：Ｔｔｏｐ＝Ｇ＋ｑ２Ｓ４Ｍ、
５Ｔ以上スペース／２Ｔマーク：ｄＴｔｏｐ＝Ｇ＋ｑ５Ｓ２Ｍ、
５Ｔ以上スペース／２Ｔマーク：Ｔｔｏｐ＝Ｇ＋ｑ５Ｓ２Ｍ。【０１２３】  記録パルス条件演算部１１０は上記の補正で得られた記録パルス条件Ｋを、記録パルス条件Ｇに代えて初期条件に設定する。その後、処理が第９のステップから繰り返される。特に、次の第９のステップでは記録パルス条件Ｇに代え、記録パルス条件Ｋのパラメータの値が初期値として設定される。【０１２４】  シフト補正方程式（２３）〜（２５）ではエッジシフト量の目標値が一律に、０に設定されている。それにより、最尤復号処理でのエラーの発生確率が最小化されるように、記録パルス条件が最適化される。ここで、最尤復号処理でのエラーの発生確率と、再生信号の品質を表す他の指標（例えば、ジッタやリミットイコライザ後のジッタ）との間の良好なバランスが望まれている場合、各目標値が０以外の値に設定されても良く、更にマーク長とスペース長との間の組み合わせごとに異なっていても良い。【０１２５】  好ましくは、光ディスク１０１の初期値記録領域１００３等に、基準の記録パルス条件とマーク長調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差、及び、基準の記録パルス条件とマーク位相調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差が記録されている。その他に、二つの記録パルス条件間でのエッジシフト量の差がマーク長とスペース長との間の組み合わせごとに記録されていても良い。その場合、更に好ましくは、例えば光ディスク１０１のローディング時、記録パルス条件復調部１１４（図１参照）が光ディスク１０１の初期値記録領域１００３から長さのずれの差と位相のずれの差とを読み出す。それにより、第７のステップでは光ディスク１０１から読み出された長さのずれの差と位相のずれの差とが補正に利用されても良い。同様に、第１２のステップでは、光ディスク１０１から予め読み出されたエッジシフト量の差が補正に利用されても良い。その結果、実際の試し書きには基準の記録パルス条件のみが用いられれば良いので、試し書きの回数が更に削減可能である。【０１２６】  その他に、記録再生装置が、上記の最適化処理で利用された、基準の記録パルス条件とマーク長調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差、基準の記録パルス条件とマーク位相調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差、又は二つの記録パルス条件間でのエッジシフト量の差を光ディスク１０１に記録しても良い。それにより、次の記録時では、記録パルス条件復調部１１４がそれらの値を参照する。その結果、記録パルス条件が更に速やかに最適化される。
【産業上の利用可能性】
【０１２７】  本発明は光ディスク記録再生装置及びそのデータ記録方法に関し、上記の通り、記録パルス条件を最適化する。このように、本発明は明らかに産業上利用可能である。
【図１】
2006112277.tif 000002
【図２Ａ】
2006112277.tif 000003
【図２Ｂ】
2006112277.tif 000004
【図３Ａ】
2006112277.tif 000005
【図３Ｂ】
2006112277.tif 000006
【図４】
2006112277.tif 000007
【図５】
2006112277.tif 000008
【図６】
2006112277.tif 000009
【図７】
2006112277.tif 000010
【図８】
2006112277.tif 000011
【図９】
2006112277.tif 000012
【図１０】
2006112277.tif 000013
【図１１】
2006112277.tif 000014
【図１２】
2006112277.tif 000015
【図１３】
2006112277.tif 000016
【図１４】
2006112277.tif 000017
【図１５】
2006112277.tif 000018
【手続補正書】
【提出日】平成19年10月12日(2007.10.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、前記記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録するステップ；
前記複数の記録パルス条件のそれぞれで前記特定のパターンが記録された前記トラックの各領域から信号を再生し、前記領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定するステップ；
前記領域ごとに前記エッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算するステップ；及び、
前記領域間でのマークの長さの差又は位相差が、前記記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、前記複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求めるステップ；
を有する、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項２】
前記二種類以上のマークが、最短マークとその次に長いマークとを含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項３】
前記記録パルスに対応する記録信号の中に各符号長が実質的に同じ頻度で出現する、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項４】
前記複数の記録パルス条件間では、一つの種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が進むとき、別の種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が遅れる、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項５】
前記記録パルスが、先頭パルス、最終パルス、又は冷却パルスを含み、
前記複数の記録パルス条件間では、前記先頭パルス、前記最終パルス、又は前記冷却パルスの少なくともいずれかの長さ、位相、又は位置が異なる、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項６】
前記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間では、前記先頭パルスの長さと立ち上がり位置とのいずれか一方又は両方が異なり、
前記複数の記録パルス条件の別の二つの間では、前記最終パルスの長さと位相とのいずれか一方又は両方、前記先頭パルスの位相、及び前記冷却パルスの位相、が異なる、請求項５に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項７】
前記特定のパターンが、記録クロック周期の２倍から８倍までのマークとスペースとを含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項８】
前記複数の記録パルス条件間では二つのパラメータについて値の組み合わせが異なり、
前記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、L12、P12とし、
前記複数の記録パルス条件の別の二つの間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、L13、P13とし、
前記複数の記録パルス条件のいずれか一つでトラックに記録されたマークの長さのずれと位相のずれとをそれぞれ、L、Pとし、
マークの長さのずれと位相のずれとの各目標値を、Lt、Ptとするとき、
前記二つのパラメータの各補正値m、nが次式で求まる、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法：
m＝(P×L13−L×P13)／(L12×P13−P12×L13)
＋(Pt×L13−Lt×P13)／(L12×P13−P12×L13)、
n＝(L×P12−P×L12)／(L12×P13−P12×L13)
＋(Lt×P12−Pt×L12)／(L12×P13−P12×L13)。
【請求項９】
前記再生信号の品質が良好となるように前記目標値Lt、Ptが決められる、請求項８記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１０】
前記目標値Lt、Ptがマーク長ごとに可変である、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１１】
前記目標値Lt、Ptのいずれか一方又は両方が0である、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１２】
前記補正値m、nが四捨五入により整数化される、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１３】
前記補正値m、nがいずれも0になるまで、各ステップを繰り返す、請求項８に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１４】
前記再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、
前記再生信号から生成されたデジタル信号を最尤復号法で２値化信号に変換するステップ、
前記２値化信号に基づき、マークのエッジに対応する前記デジタル信号の部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群の中から選択するステップ、及び、
選択されたパターンを前記デジタル信号の部分の形状と比較するステップ、
を含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１５】
前記再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、
マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれに対して前記エッジシフト量を測定するステップ；
マークの種類ごとにマークの始端と終端とのそれぞれのエッジシフト量の平均値と、前記組み合わせのそれぞれのエッジシフト量と、の間の差について、前記組み合わせ間での分散値SPを次式で計算するステップ：
SP＝Σi,jCsm[i][j]×(SM[i][j]−AveSM[j])2
＋Σi,jCms[i][j]×(MS[i][j]−AveMS[i])2
ここで、整数の対（i、j）は、（2、2）を除く、2以上の整数の対であり、
変数SM[i][j]は、記録クロック周期Tのi倍の長さのスペース（以下、iTスペースという）と、その直後の、記録クロック周期Tのj倍の長さのマーク（以下、jTマークという）との間のエッジシフト量であり、
変数MS[i][j]はiTマークとその直後のjTスペースとの間のエッジシフト量であり、
変数AveSM[j]はjTマークの始端のエッジシフト量の平均値であり、
変数AveMS[i]はiTマークの終端のエッジシフト量の平均値であり、
第一の係数Csm[i][j]と第二の係数Cms[i][j]とはそれぞれ、所定数である；
分散値SPが所定値より小さいときは記録パルス条件をマークごとに調整し、分散値SPが前記所定値より大きいときは記録パルス条件を前記組み合わせごとに調整するステップ；
を含む、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１６】
前記第一の係数Csm[i][j]がiTスペースとその直後のjTマークとの組み合わせの出現確率で表され、前記第二の係数Cms[i][j]がiTマークとその直後のjTスペースとの組み合わせの出現確率で表される、請求項１５に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１７】
前記第一の係数Csm[i][j]と前記第二の係数Cms[i][j]とが1又は0である、請求項１５に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１８】
前記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間でのマークの長さの差又は位相差、を表すデータを前記光学的情報記録媒体に記録するステップ、を更に有する、請求項１に記載の、記録パルス条件の最適化方法。
【請求項１９】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、前記記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録し、前記複数の記録パルス条件のそれぞれで前記特定のパターンが記録された前記トラックの各領域から信号を再生し、前記領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定する記録再生装置であり、
前記領域ごとに前記エッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算し、
前記領域間でのマークの長さの差又は位相差が、前記記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、前記複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求める、
記録再生装置。
【請求項２０】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、前記記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録し、前記複数の記録パルス条件のそれぞれで前記特定のパターンが記録された前記トラックの各領域から信号を再生し、前記領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定する記録再生装置、に搭載される半導体集積回路であり、
前記領域ごとに前記エッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算し、
前記領域間でのマークの長さの差又は位相差が、前記記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、前記複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求める、
半導体集積回路。
【請求項２１】
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる二つの記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録されたマーク間での長さの差又は位相差、を表すデータが記録された領域、を有する光学的情報記録媒体。
【請求項２２】
所定数の種類のマークとスペースとが実質的に等しい出現確率で記録された領域、を含む記録条件学習領域、を有する光学的情報記録媒体。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的情報記録媒体にレーザ光を照射して物理的性質を変化させることで情報を記録する方法に関し、特に、その記録時に利用される記録パルス条件の最適化に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光学的情報記録媒体としては、例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＷ等の書換型光ディスクが知られている。これらの書換型光ディスクでは、レーザ光を使って情報が次のように書き換えられる。第１に、記録再生装置が光ディスクのキャリブレーション用領域から記録パルス標準条件を読み出し、それに基づいて記録パルス条件を設定する。第２に、記録再生装置が、記録パルス条件に応じた波形でレーザ光を光ディスクに照射して情報を記録する。ここで、光ディスクの特性や記録再生装置の記録特性のばらつきにより記録品質の受ける影響を低減させるには、設定されるべき記録パルス条件が最適化されねばならない。特に、記録パルス標準条件が光ディスクの実際の特性と合っていない場合、記録パルス条件の最適化により、良好な記録品質が確保されねばならない。
【０００３】
相変化光ディスクでは、照射されたレーザ光の熱によりアモルファスの領域（マーク）が形成され、光反射率が変化する。その光反射率の変化としてデータは光ディスクに記録される。特に高密度記録では、形成されるマークやスペース（マーク間の領域）のサイズが小さい。従って、マークを形成するために加えたレーザ光の熱が、そのマークのみならず、スペースを伝わって前後のマークにまで到達し、各マークの形状にひずみを与えやすい。そのひずみを回避する目的で、記録パルス条件が例えば次のように設定される（例えば特許文献１、２参照）。レーザ光が複数のパルス列（マルチパルス）で構成される場合、その先頭パルスの位置が自己マーク長と前スペース長との間の組み合わせに応じて変化する。一方、最終パルスの位置が自己マーク長と後スペース長との間の組み合わせに応じて変化する。そのような記録パルスの変位により、マーク間の熱干渉が相殺される。このような記録パルスの位置制御は一般に、記録補償と呼ばれている。
【０００４】
特許文献１に開示された記録方法によると、マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれについて記録パルスの位置が特定されている。この位置情報が記録パルス標準条件である。記録パルス標準条件は記録に先立ち、光ディスクから読み出される。更に、読み出された記録パルス標準条件が修正され、記録パルス条件が次のように最適化される。第１に、記録パルス標準条件に含まれるマーク長とスペース長との間の全ての組み合わせに関する位置情報を用い、光ディスクに対する第１の試し書きが行われる。第２に、第１の試し書きで記録されたデータが再生され、その再生信号から第１ジッタが検出される。第３に、記録パルス標準条件に含まれるマーク長とスペース長との間の全ての組み合わせに関する位置情報が一律に変更される。第４に、一律に変更された位置情報を用い、光ディスクに第２の試し書きが行われる。第５に、第２の試し書きで記録されたデータが再生され、その再生信号から第２ジッタが検出される。第６に、第１ジッタが第２ジッタと比較され、小さいジッタに対応する試し書きに用いられた位置情報が最適な記録パルス条件として選択される。
【０００５】
記録パルス条件の最適化には、例えば特許文献２に開示されているように、再生信号のジッタの比較ではなく、最尤復号法が用いられても良い。最尤復号法では、再生信号の実際の波形からその再生信号のあるべきパターンが推定される。更に、再生信号の実際の波形と推定されたパターンとの間の比較に基づき、最も確からしいパターンが決定される。ここで、復号時にエラーの発生する確率が最小となるように、記録パルス条件が最適化される。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００４−３３５０７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載されているような従来の記録パルス条件の最適化方法では、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとに複数回ずつ、試し書き、その試し書きで記録されたデータの再生、及びその再生信号からのジッタの検出が繰り返される。従って、電源投入時や光ディスクの新規投入時、記録パルス条件の学習に費やされる時間を更に短縮することが困難である。従って、画像やデータの記録開始までに必要な待ち時間を更に短縮することが困難である。更に、試し書きに用いられる記録パルス条件が記録パルス標準条件から、例えば、±2、±1、0というように単純に、かつ場当たりに変更される。従って、最適な記録パルス条件が記録パルス標準条件から大きく外れている場合、何ステップにもわたって記録パルス条件が変更されねばならない。その結果、試し書きの回数の更なる削減が困難であるので、学習時間の更なる短縮が困難である。一方、特許文献２に記載されているように、最尤復号法が記録パルス条件の最適化に利用される場合、その効率化による試し書き回数の削減方法までは未だ知られていない。
本発明は、試し書きの回数を更に削減することで学習に要する時間を更に短縮できる記録パルス条件の最適化方法、及びそれを用いる記録再生装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明による記録再生装置は好ましくは、記録パルス条件の最適化に以下の方法を用いる。その最適化方法は、好ましくは、
二種類以上のマークのそれぞれに対応する記録パルスの部分の長さ又は位相が異なる複数の記録パルス条件、のそれぞれを用いて記録パルスを生成し、その記録パルスに基づいて書き込み可能な光学的情報記録媒体（好ましくは、光ディスク）のトラックにマークとスペースとの特定のパターンを記録するステップ；
複数の記録パルス条件のそれぞれで上記の特定のパターンが記録されたトラックの各領域から信号を再生し、それらの領域ごとに再生信号のエッジシフト量を測定するステップ；
上記の領域ごとに測定されたエッジシフト量からマークの長さのずれ、又は位相のずれを計算するステップ；及び、
上記の領域間でのマークの長さの差又は位相差が、記録パルスの部分の長さの差又は位相差に比例する、という近似を用い、複数の記録パルス条件間でのマークの長さの差又は位相差に基づいて記録パルス条件の補正値を求めるステップ；
を有する。ここで、好ましくは、それらのステップが、記録再生装置に搭載された半導体集積回路により実行される。
本発明によるこの最適化方法では、記録パルス条件の補正値が、線形近似を用いた演算で求められる。従って、必要な試し書きの回数が容易に削減可能であるので、記録パルス条件の学習に要する時間が短い。
【０００８】
好ましくは、上記の二種類以上のマークが最短マークとその次に長いマークとを含む。例えばＢＤでは、最短マークの長さが記録クロック周期の２倍であり、その次に長いマークの長さが記録クロック周期の３倍である。一般に、これらの短マークでは長マークより、最適な記録パルス条件が光ディスクごとに、又は記録再生装置ごとに大きなばらつきを示す。本発明による上記の最適化方法は特に、短マークに関する記録パルス条件を対象とすることで、全体の処理時間を効率良く短縮できる。
【０００９】
好ましくは、記録パルスに対応する記録信号の中に各符号長が実質的に同じ頻度で出現する。その記録信号では特に、通常の変調方式による記録信号より、長マークの出現確率が高い。従って、その記録信号を用いて試し書きされた光学的情報記録媒体のトラックの領域から再生されるクロックは安定性が高い。更に、その領域にはマーク長とスペース長との間の様々な組み合わせが含まれている。それ故、その領域から再生される信号のエッジシフト量が記録パルス条件の最適化に利用されることで、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとの補正値のばらつきが効率良く平均化される。
【００１０】
好ましくは、上記複数の記録パルス条件間では、一つの種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が進むとき、別の種類のマークに対応する記録パルスの部分の位相が遅れる。それにより、それらの記録パルス条件を用いて試し書きされたトラックの各領域から再生されるクロックは、位相の変動が小さい。従って、再生信号のエッジシフト量が正確に測定される。
【００１１】
好ましくは、記録パルスが、先頭パルス、最終パルス、又は冷却パルスを含み、上記複数の記録パルス条件間では、先頭パルス、最終パルス、又は冷却パルスの少なくともいずれかの長さ、位相、又は位置が異なる。更に好ましくは、上記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間では、先頭パルスの長さと立ち上がり位置とのいずれか一方又は両方が異なり、別の二つの記録パルス条件間では、最終パルスの長さと位相とのいずれか一方又は両方、先頭パルスの位相、及び冷却パルスの位相、が異なる。好ましくは、光学的情報記録媒体のトラックに試し書きされる特定のパターンが、記録クロック周期の２倍から８倍までのマークとスペースとを含む。
【００１２】
本発明による上記の最適化方法では、記録パルス条件の補正値を求める演算が、好ましくは、次のような線形近似を用いる。まず、複数の記録パルス条件間では二つのパラメータについて値の組み合わせが異なる。次に、いずれか二つの記録パルス条件間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、L12、P12とし、別の二つの記録パルス条件間でのマークの長さの差と位相差とをそれぞれ、L13、P13とし、いずれか一つの記録パルス条件でトラックに記録されたマークの長さのずれと位相のずれとをそれぞれ、L、Pとし、マークの長さのずれと位相のずれとの各目標値を、Lt、Ptとする。そのとき、上記二つのパラメータの各補正値m、nが次式で求まる：
【００１３】
m＝(P×L13−L×P13)／(L12×P13−P12×L13)
＋(Pt×L13−Lt×P13)／(L12×P13−P12×L13)、
n＝(L×P12−P×L12)／(L12×P13−P12×L13)
＋(Lt×P12−Pt×L12)／(L12×P13−P12×L13)。
【００１４】
ここで、好ましくは、再生信号の品質が良好となるように目標値Lt、Ptが決められる。更に好ましくは、目標値Lt、Ptがマーク長ごとに可変であり、特に目標値Lt、Ptのいずれか一方又は両方が0である。一方、補正値m、nは好ましくは四捨五入により整数化される。更に、補正値m、nがいずれも0になるまで、各ステップが繰り返される。
【００１５】
好ましくは、再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、
再生信号から生成されたデジタル信号を最尤復号法で２値化信号に変換するステップ、
その２値化信号に基づき、マークのエッジに対応するデジタル信号の部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群の中から選択するステップ、及び、
選択されたパターンをデジタル信号の上記の部分の形状と比較するステップ、
を含む。更に好ましくは、再生信号のエッジシフト量を測定するステップが、以下の三つのステップを含む。
一．マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれに対してエッジシフト量を測定するステップ；
二．マークの種類ごとにマークの始端と終端とのそれぞれのエッジシフト量の平均値と、マーク長とスペース長との間の可能な組み合わせのそれぞれのエッジシフト量と、の間の差について、それら組み合わせ間での分散値SPを次式で計算するステップ：
【００１６】
SP＝Σi,jCsm[i][j]×(SM[i][j]−AveSM[j])2
＋Σi,jCms[i][j]×(MS[i][j]−AveMS[i])2
【００１７】
ここで、整数の対（i、j）は、（2、2）を除く、2以上の整数の対であり、変数SM[i][j]は、記録クロック周期Tのi倍の長さのスペース（以下、iTスペースという）と、その直後の、記録クロック周期Tのj倍の長さのマーク（以下、jTマークという）との間のエッジシフト量であり、変数MS[i][j]はiTマークとその直後のjTスペースとの間のエッジシフト量であり、変数AveSM[j]はjTマークの始端のエッジシフト量の平均値であり、変数AveMS[i]はiTマークの終端のエッジシフト量の平均値であり、第一の係数Csm[i][j]と第二の係数Cms[i][j]とはそれぞれ所定数である；
【００１８】
三．分散値SPが所定値より小さいときは記録パルス条件をマーク長ごとに調整し、分散値SPがその所定値より大きいときは記録パルス条件をマーク長とスペース長との間の可能な組み合わせごとに調整するステップ。
これら三つのステップにより、最尤復号法を利用して試し書きの回数が効率良く削減される。従って、記録パルス条件の最適化に要する時間が更に短縮される。ここで、好ましくは、第一の係数Csm[i][j]がiTスペースとその直後のjTマークとの組み合わせの出現確率で表され、第二の係数Cms[i][j]がiTマークとその直後のjTスペースとの組み合わせの出現確率で表される。更に好ましくは、第一の係数Csm[i][j]と第二の係数Cms[i][j]とが1又は0である。
【００１９】
本発明による光学的情報記録媒体は、本発明による上記の記録パルス条件の最適化方法で最適化された記録パルス条件を用いてデータが記録された光学的情報記録媒体である。ここで、所定数の種類のマークとスペースとが実質的に等しい出現確率で記録された領域、を含む記録条件学習領域、をその光学的情報記録媒体が有しても良い。好ましくは、本発明によるこの光学的情報記録媒体が、上記複数の記録パルス条件のいずれか二つの間でのマークの長さの差又は位相差、を表すデータが記録された領域、を有する。ここで、本発明による上記の記録パルス条件の最適化方法が、上記のデータを光学的情報記録媒体に記録するステップ、を更に有しても良い。好ましくは、本発明による上記の最適化方法が本発明によるこの光学的情報記録媒体に適用されるとき、その光学的情報記録媒体から上記のデータを予め読み出す。それにより、記録パルス条件が更に速やかに最適化される。
【発明の効果】
【００２０】
本発明による上記の記録パルス条件の最適化方法は、書き込み可能な光学的情報記録媒体の特性や記録再生装置の記録特性のばらつきに関わらず、最適な記録パルス条件でのデータ記録を可能にする。従って、その最適化方法を用いた記録再生装置によりデータが記録された光学的情報記録媒体では、再生信号の品質が高い。本発明による上記の最適化方法では特に、記録パルス条件の学習に必要な試し書きの回数が更に削減可能である。それにより、記録再生装置の起動時間が更に短縮され、画像やデータの記録開始までの待ち時間が更に短縮される。その上、追記型光ディスクのように１度しか書き込みができない光学的情報記録媒体では、試し書きに必要な領域が節約されるので、記録パルス条件の学習回数の許容上限が増大する。その結果、更に長期間にわたって記録パルス条件の最適化が安定に実行可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の最適な実施形態を説明する。
本発明の実施形態による光学的情報記録媒体では、外部から照射されるレーザ光が物理的性質の異なるマークを形成することでデータが記録される。そのような光学的情報記録媒体として好ましくは、書換型相変化光ディスク（特にＢＤ−ＲＥ（書換型ブルーレイディスク）。以下、単に光ディスクという）が利用される。光ディスク101は好ましくは、図１０に示されているように、データ領域1001、記録条件学習領域1002、及び初期値記録領域1003に分かれている。データ領域1001は光ディスク101の大部分を占める。データ領域1001にはユーザーデータが記録される。記録学習領域1002は光ディスク101の内周部に設けられ、データ領域1001に隣接している。記録学習領域1002では記録条件の学習を目的とする試し記録が行われる。ここで、試し記録は、記録再生装置の起動時や温度変動時、データ領域1001に対するデータ記録の前に行われる。記録再生装置は試し記録により記録条件（特に、記録パワーや記録パルス条件）を調整する。初期値記録領域1003は光ディスク101の最内周部に設けられ、記録学習領域1002に隣接している。初期値記録領域1003には、光ディスク101ごとに予め設定された、記録パワーの推奨値、記録パルス条件の推奨値（以下、記録パルス標準条件という）、記録線速度、及びディスクＩＤ等が記録されている。初期値記録領域1003は再生専用領域であり、情報が好ましくは、トラックの蛇行（ウォブリング）やピット等、光ディスク101の基板上の成形部分を用いて半永久的に記録されている。
【００２２】
本発明の実施形態による記録再生装置は、図１に示されている通り、光照射部102、プリアンプ部103、ＡＧＣ部104、波形等化部105、Ａ／Ｄ変換部106、ＰＬＬ部107、パターン検出部108、エッジシフト検出部109、記録パルス条件復調部114、記録パルス条件演算部110、記録パターン発生部111、記録補償部112、及びレーザ駆動部113を有する。好ましくは、レーザ駆動部113以外の構成要素が一つの半導体集積回路100に統合されている。更に、レーザ駆動部113がその半導体集積回路100に集積化されても良い。
【００２３】
光照射部102は好ましくは光ピックアップであり、レーザダイオードと光検出器とを搭載する。レーザダイオードは上記の光ディスク101にレーザ光を照射する。光検出器は、光ディスク101により反射されたレーザ光を検出して電気信号に変換し、アナログ再生信号として出力する。そのアナログ再生信号は、プリアンプ部103、ＡＧＣ（Automatic Gain Control）部104、波形等化部105、及びＡ／Ｄ変換部106で順番に処理され、デジタル再生信号に変換される。ここで、ＰＬＬ部107はデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。一方、Ａ／Ｄ変換部106はその再生クロックに従ってアナログ再生信号をサンプリングする。
【００２４】
パターン検出部108は好ましくは、最尤復号部（好ましくはビタビ復号部）を含む。パターン検出部108は、まず、デジタル再生信号を整形し、最尤復号部の周波数特性（好ましくはＰＲ(1,2,2,1)特性）に適合させる。最尤復号部はそのデジタル再生信号を最尤復号法（好ましくはビタビ復号法）で２値化信号（好ましくはＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverted）信号）に変換する。パターン検出部108は更に、その２値化信号に基づき、マークのエッジに対応するデジタル再生信号の部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群（図８参照）の中から選択する。エッジシフト検出部109は、パターン検出部108により選択されたパターンをデジタル再生信号の上記の部分の形状と比較し、マークのエッジシフト量（理想的なマークのエッジ位置に対する、実際のマークのエッジ位置のずれ）を測定する。
【００２５】
記録パルス条件復調部114は上記の２値化信号から、光ディスク101に記録された記録パルス標準条件を抽出する。記録パルス条件演算部110は、記録パルス標準条件に含まれているパラメータを変化させる。記録パルス条件演算部110は特に、測定されたエッジシフト量に基づいて上記のパラメータを補正する。記録パターン発生部111は、光ディスク101に対するデータ記録時に所定の記録信号を、好ましくはＮＲＺＩ信号として出力する。記録補償部112は、記録パルス条件演算部110による演算結果に応じて記録パルス条件を設定し、その記録パルス条件に従って上記のＮＲＺＩ信号を記録パルスに変換する。レーザ駆動部113は、光照射部102内のレーザダイオードを駆動する。レーザ駆動部113は特に光ディスク101に対するデータ記録時では、上記の記録パルスに従ってレーザ光のパワーを制御し、光ディスク101にデータを記録する。
【００２６】
以下の説明では次の数値的条件を想定する。光照射部102は、波長405nmのレーザとNA＝0.85の対物レンズとを用いる。光ディスク101では、トラックピッチが0.32μmであり、レーザ光の入射面を覆うカバー層の厚みが75μm〜100μmである。更に、光ディスク101に記録されるマークの最短長は記録クロック周期Tの2倍（＝2T）であり、0.138μm〜0.160μmである。マーク長の種類とスペース長の種類とはいずれも、記録クロック周期Tの2、3、…、8倍（＝2T、3T、…、8T）である。記録再生装置の記録速度は、ＢＤ１倍速（チャネルレート66MHz（Tw＝15.15nsec））又はＢＤ２倍速（チャネルレート132MHz（Tw＝7.58nsec））である。
【００２７】
本発明の実施形態による記録再生装置は好ましくは、光ディスク101に対するデータ記録時に記録パルス条件を、図１３に示されているフローチャートに従って以下のように最適化する。
【００２８】
［第１のステップ］
記録再生装置はまず、光ディスク101の初期値記録領域1003にアクセスし、初期値情報を読み出す。そのとき、記録パルス条件復調部114が読み出された初期値情報の中から記録パルス標準条件を抽出する。抽出された記録パルス標準条件は、パラメータごとに異なるメモリ領域に格納される。記録パルス条件は好ましくは、図４に示されているパラメータを含む。それらのパラメータは、2Tマークに関するパラメータ、3Tマークに関するパラメータ、及び長さが4T以上のマークに関するパラメータに分類されている。図４に示されている各パラメータdTtop、Ttop、Tlp、dTeは記録パルスの波形を決める（図６参照）。図６では、2Tマーク、3Tマーク、及び5Tマークの記録を指示するＮＲＺＩ信号の各部分2Tm、3Tm、5Tmに対応する記録パルスの波形が示されている。記録パルスは好ましくは、先頭パルスPT、中間パルスPM、最終パルスPL、及び冷却パルスPCを含む。先頭パルスPTと冷却パルスPCとは全てのマークの記録に利用される。最終パルスPLは好ましくは、長さ3T以上のマークの記録に利用される。中間パルスPMは好ましくは、長さ4T以上のマークの記録に利用され、特にその個数がマーク長と共に増加する。第１のパラメータdTtopは、ＮＲＺＩ信号の所定の基準位置に対する先頭パルスPTの始端を表す。第２のパラメータTtopは先頭パルスPTの幅を表す。第３のパラメータTlpは最終パルスPLの幅を表す。第４のパラメータTmpは中間パルスPMの幅を表す。第５のパラメータdTeは、ＮＲＺＩ信号の所定の基準位置に対する冷却パルスPCの終端を表す。ここで、第１のパラメータdTtopと第５のパラメータdTeとは極性を持つ。図６では、左方向（マークの終端から始端に向かう方向）が正である。
【００２９】
図４に示されている各パラメータの値a〜kの単位は好ましくは、記録クロックで決まる基準時間間隔Twで表される。ＢＤ−ＲＥの場合、その単位が基準時間間隔Twの16分の1（＝Tw／16。ここで、ＢＤ２倍速では、Tw＝7.58nsec）に等しい。更に、図４に示されている各パラメータの値a〜kがその単位Tw／16の整数倍で表される。例えば、記録パルス標準条件Ａでは、長さ4T以上のマークに関する第１のパラメータdTtopの値hが「ＮＲＺＩ信号の所定の基準位置に対して先頭パルスPTの始端がh×Tw／16［nsec］の位置にあること」を表している。尚、光ディスク101に記録されている記録パルス標準条件の値が同じ単位Tw／16で表されている場合、記録再生装置は光ディスク101に記録された値をそのまま用いる。一方、光ディスク101に記録されている記録パルス標準条件の値がナノ秒単位で表されている場合、記録再生装置はその値を単位Tw／16に最も近い整数値に変換する。その他に、記録再生装置が単位を光ディスク101に記録された値の単位より細かくしても良い。それにより、補償精度が向上するので、マークのエッジ位置が高精度に調整される。従って、書き込まれたマークから読み出される信号の品質が向上する。具体的には、光ディスク101に記録されている記録パルス標準条件の値が単位Tw／16で表されている場合、記録再生装置は光ディスク101から読み出された値を倍にしてメモリに格納する。それにより、単位が上記の半値Tw／32に設定される。
【００３０】
記録パルス条件演算部110は、光ディスク101から読み出された記録パルス標準条件Ａに含まれているパラメータのうち、長さ4T以上のマークに関する四つのパラメータdTtop、Ttop、Tlp、dTeの各値h、i、j、kを基準値として設定する。記録パルス条件演算部110は更に、各基準値を次のように変更し、二つの異なる記録パルス条件Ｂ、Ｃを設定する（図４参照）。記録パルス条件演算部110はまず、三つのパラメータdTtop、Ttop、Tlpの各基準値h、i、jを1単位ずつ加算し、第４のパラメータdTeの基準値kを1単位減算し、記録パルス条件Ｂとしてメモリに格納する。記録パルス条件演算部110は次に、三つのパラメータdTtop、Ttop、Tlpの各基準値h、i、jを1単位ずつ減算し、第４のパラメータdTeの基準値kを1単位加算し、別の記録パルス条件Ｃとしてメモリに格納する。図６から容易に理解される通り、記録パルス条件Ｂでは記録パルス標準条件Ａと比べ、5Tマークに対応する記録パルスの部分に含まれている先頭パルスPTの幅が拡大し、かつ立ち上がり位置が早いので、5Tマークの始端が早い。更に、最終パルスPLの幅が拡大し、かつ冷却パルスPCの位相が遅れるので、5Tマークの終端が遅い。従って、記録パルス条件Ｂでは記録パルス標準条件Ａより長さ4T以上のマークが伸びる。一方、記録パルス条件Ｃでは記録パルス標準条件Ａと比べ、5Tマークに対応する記録パルスの部分に含まれている先頭パルスPTの幅が縮小し、かつ立ち上がり位置が遅いので、5Tマークの始端が遅い。更に、最終パルスPLの幅が縮小し、かつ冷却パルスPCの位相が進むので、5Tマークの終端が早い。従って、記録パルス条件Ｃでは記録パルス標準条件Ａより、長さ4T以上のマークが縮む。
【００３１】
［第２のステップ］
記録再生装置はまず、光照射部102から光ディスク101に照射される光スポットを記録条件学習領域1002内のトラックに移動させ、フォーカシングとトラッキングとを行う。記録再生装置は次に、上記三つの記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃのそれぞれを用い、光ディスク101の記録学習領域1002（図１０参照）に所定の同じパターンの記録信号を試し書きする。ここで、使用されるパターンに含まれているマークとスペースとはいずれも好ましくは、光照射部102のレーザのスポットサイズに比べて十分に長い。更に好ましくは、記録パターン発生部111がそのパターンとして、5Tマークと5Tスペースとの繰り返しから成る単一パターン（以下、5T単一信号という）を発生させる。記録補償部112は5T単一信号と各記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃとから記録パルスを生成する。レーザ駆動部113はその記録パルスに従って光照射部102内のレーザダイオードを駆動し、5T単一信号を光ディスク101のトラックにセクタ単位で連続して書き込む。それにより、光ディスク101の記録条件学習領域1002には5T単一信号のパターンが、三種類の記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃごとに連続して記録される。
【００３２】
［第３のステップ］
記録再生装置は、以下のように、光ディスク101の記録条件学習領域1002から記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃを用いて書き込まれた5T単一信号を連続して再生し、各再生信号のエッジシフト量又はアシンメトリを測定する。
まず、光照射部102から出力された再生信号が、プリアンプ部103、ＡＧＣ部104、波形等化部105、Ａ／Ｄ変換部106で順番に処理され、パターン検出部108内の最尤復号部により２値化信号に変換される。次に、パターン検出部108がその２値化信号に基づき、再生信号のエッジシフト量を以下のように測定する。ここで、最尤復号部がＰＲ(1,2,2,1)方式に対応している場合を想定する。
【００３３】
まず、パターン検出部108が、最尤復号部に入力されるデジタル再生信号（以下、入力信号という）のうち、マークのエッジに対応する部分の形状に近似したパターンを所定のパターン群（図８参照）の中から選択する。そのパターン群は好ましくは八つのパターン（Pattern−1〜Pattern−8）を含み、各パターンが更に二種類のパスPXA、PXB（X＝1、2、…、8）を含む。図８では、横軸が時間を表し（１目盛がチャネルクロックの１周期を表す）、縦軸が、パターン検出部108によりＰＲ(1,2,2,1)特性に合わせて整形された入力信号のレベルを表す。図８に示されている破線と実線とはそれぞれ、二種類のパスPXA、PXB（X＝1、2、…、8）を表す。図８に示されている丸印は、各パスにチャネルクロック間隔で含まれるべきサンプルの期待値に相当し、特にＰＲ(1,2,2,1)特性では六つのレベル0〜6を取り得る。各パターンは、連続する7ビットの符号を表し、特に、真ん中のビットを除く6ビットの可能な組み合わせの一つに対応している（例えば、Pattern−2はビット列「1,1,1,x,0,0,0」(x＝0,1)を表す）。更に、二種類のパスPXA、PXBは真ん中のビットの二値に対応している（例えば、Pattern−2のパスP2Aはビット列「1,1,1,0,0,0,0」を表す）。マークの始端では反射光が減るので、マークの始端に対応する入力信号の部分は下向きの波形として再生される。マークの終端では逆に反射光が増すので、マークの終端に対応する入力信号の部分は上向きの波形として再生される。従って、図８では、上段に示されている四つのパターン（Pattern−1、Pattern−2、Pattern−3、Pattern−4）がマークの始端に対応し、下段に示されている四つのパターン（Pattern−5、Pattern−6、Pattern−7、Pattern−8）がマークの終端に対応する。更に、図９に表示されているように、各パターンのパスがマーク長とスペース長との間の組み合わせの一つに対応している。第２のステップで光ディスク101に記録される単一パターンは5Tマークと5Tスペースとの繰り返しである。その場合、5Tマークの始端に対応する入力信号の部分の形状はPattern−2である（図９参照）。それ故、パターン検出部108は5Tマークの始端についてはPattern−2を選択する。一方、5Tマークの終端に対応する入力信号の部分の形状はPattern−7である（図９参照）。それ故、パターン検出部108は5Tマークの終端についてはPattern−7を選択する。
【００３４】
次に、エッジシフト検出部109が、パターン検出部108により選択されたPattern−2を、5Tマークの始端に対応する入力信号の部分の形状と比較し、5Tマークの始端でのエッジシフト量を次のように測定する（図２、３参照）。
5Tマークの始端に対応する入力信号の部分は、理想的には、Pattern−2に含まれている二つのパスA、B（図２、３には破線と太い実線とで示されている）のいずれかの形状を示す。従って、実際の入力信号のその部分も、二つのパスA、Bのいずれかの形状に近似しているはずである。図２、３では細い実線が実際の入力信号を示す。図２はパスAが正解である場合を示し、実際の入力信号の形状がパスAに近似している。図３はパスBが正解である場合を示し、実際の入力信号の形状がパスBに近似している。図２、３では更に、実際の入力信号からチャネルクロック間隔でサンプリングされたサンプル値が三角印で示されている。エッジシフト検出部109は、パスAに含まれている各サンプルの期待値（図２では黒い丸印で示されている）と実際のサンプル値（三角印）との間の差の二乗和を計算し、パスAと実際の入力信号との間の距離Paとして決定する。同様に、エッジシフト検出部109はパスBと実際の入力信号との間の距離Pbを決定する。エッジシフト検出部109は更にそれら二つの距離Pa、Pbを比較し、前者の距離Paが小さいときはパスAを正解とみなし、後者の距離Pbが小さいときはパスBを正解とみなす。それにより、実際の入力信号のサンプル群が、パスAを正解とするサンプル群と、パスBを正解とするサンプル群とに分別される。
【００３５】
エッジシフト検出部109は上記二つの距離Pa、Pb間の差｜Pa−Pb｜から正の定数Pstdを除いた値｜Pa−Pb｜−Pstdを計算する。ここで、正の定数Pstdは、入力信号が二つのパスA、Bのいずれかと一致するときの二つの距離Pa、Pb間の差を表す。すなわち、距離Pa、Pbのいずれかが0に等しいとき（Pa＝0、又はPb＝0）、二つの距離Pa、Pb間の差｜Pa−Pb｜が正の定数Pstdと等しい：｜Pa−Pb｜＝Pstd。計算値｜Pa−Pb｜−Pstdが負であるとき、実際の入力信号の波形が二つのパスA、B間の領域に収まっている。計算値｜Pa−Pb｜−Pstdが正であるとき、実際の入力信号の波形が二つのパスA、B間の領域から外れている。従って、計算値｜Pa−Pb｜−Pstdが負であるときより正であるときの方が、最尤復号にエラーが生じにくい。この特徴を考慮し、エッジシフト検出部109は計算値｜Pa−Pb｜−Pstdからエッジシフト量を次のように決定する。まず、エッジシフト量の大きさは計算値｜Pa−Pb｜−Pstdの大きさで定義される。次に、エッジシフト量の符号はエッジ位置のずれの方向に対応するように定義される。図２、３では、エッジ位置のずれが左方向（マークの終端から始端に向かう方向）であるとき、エッジシフト量の符号が正に定義される。ここで、パスAを正解とするサンプル群とパスBを正解とするサンプル群との間では、計算値｜Pa−Pb｜−Pstdの符号とエッジ位置のずれの方向との間の対応関係が逆であるので、エッジシフト量の符号が計算値｜Pa−Pb｜−Pstdの符号に基づいて以下のように定義される。
【００３６】
図２Ａでは、実際の入力信号に対応するマークA−の始端が理想的なマークAの始端より遅い。すなわち、実際のマークA−の始端は理想的なマークAの始端から負方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスA、Bの間の領域に収まっているので、計算値｜Pa−Pb｜−Pstdは負である。従って、5Tスペースとその直後の5Tマークとの間のエッジシフト量5S5MA＝ΔA−は計算値｜Pa−Pb｜−Pstd自体で定義される：
【００３７】
5S5MA＝ΔA−＝｜Pa−Pb｜−Pstd＜0。
【００３８】
図２Ｂでは、実際の入力信号に対応するマークA＋の始端が理想的なマークAの始端より早い。すなわち、実際のマークA＋の始端は理想的なマークAの始端から正方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスA、Bの間の領域から外れているので、計算値｜Pa−Pb｜−Pstdは正である。従って、5Tスペースとその直後の5Tマークとの間のエッジシフト量5S5MA＝ΔA＋は計算値｜Pa−Pb｜−Pstd自体で定義される：
【００３９】
5S5MA＝ΔA＋＝｜Pa−Pb｜−Pstd＞0。
【００４０】
図３Ａでは、実際の入力信号に対応するマークB−の始端が理想的なマークBの始端より遅い。すなわち、実際のマークB−の始端は理想的なマークBの始端から負方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスA、Bの間の領域から外れているので、計算値｜Pa−Pb｜−Pstdは正である。従って、5Tスペースとその直後の5Tマークとの間のエッジシフト量5S5MB＝ΔB−は計算値｜Pa−Pb｜−Pstdの逆符号で定義される：
【００４１】
5S5MB＝ΔB−＝−[｜Pa−Pb｜−Pstd]＜0。
【００４２】
図３Ｂでは、実際の入力信号に対応するマークB＋の始端が理想的なマークBの始端より早い。すなわち、実際のマークB＋の始端は理想的なマークBの始端から正方向にずれている。その場合、実際の入力信号の波形は二つのパスA、Bの間の領域に収まっているので、計算値｜Pa−Pb｜−Pstdは負である。従って、5Tスペースとその直後の5Tマークとの間のエッジシフト量5S5MB＝ΔB＋は計算値｜Pa−Pb｜−Pstdの逆符号で定義される：
【００４３】
5S5MB＝ΔB＋＝−[｜Pa−Pb｜−Pstd]＞0。
【００４４】
エッジシフト検出部109は続いて、パターン検出部108により選択されたPattern−7の各パスA、Bを、5Tマークの終端に対応する入力信号の部分の形状と比較し、上記と同様に、各パスA、Bを正解とするサンプル群ごとに5Tマークの終端でのエッジシフト量5M5SA、5M5SBを計算する。エッジシフト検出部109は更に、二つのサンプル群間で5Tマークの始端と終端とでの各エッジシフト量を平均し、各平均値を5Tマークの始端と終端とでの各エッジシフト量5S5M、5M5Sとして決定し、それら二つの平均値の差を5Tマークの長さのずれL5Tとして決定する：
【００４５】
5S5M＝(5S5MA＋5S5MB)／2、
5M5S＝(5M5SA＋5M5SB)／2、
L5T＝5S5M−5M5S。
【００４６】
長さのずれL5Tは5Tマークの正規の長さ5Tからのずれ量を表す。長さのずれL5Tが0であれば5Tマークが5Tスペースと同じ長さであり、長さのずれL5Tが正であれば5Tマークが5Tスペースより長く、長さのずれL5Tが負であれば5Tマークが5Tスペースより短い。すなわち、長さのずれL5Tが大きければ、アシンメトリがマークに偏った状態であり、長さのずれL5Tが小さければ、アシンメトリがスペースに偏った状態である。
【００４７】
長さのずれL5Tは、各記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃを用いて光ディスク101に記録された単一パターンのそれぞれについて計算される。エッジシフト検出部109は、得られた三つのずれL5Tのうち、所定の目標値に最も近いずれL5Tを選択する。ここで、その目標値は好ましくは、光ディスク101の初期値記録領域1003（図１０参照）に予め記録されているターゲットアシンメトリ情報である。ターゲットアシンメトリ情報が初期値記録領域1003に記録されていない場合は、記録再生装置に予め記憶された初期値（好ましくは、アシンメトリがない状態を表す「0」）が上記の目標値として設定される。もし、アシンメトリ情報に準じる情報（例えばβ値）が光ディスク101の初期値記録領域1003に予め記録されている場合、その情報の示す値を長さのずれL5Tに対応させる変換係数が記録再生装置に予め設定されていても良い。その場合、その変換係数を用いて変換された値が上記の目標値として設定可能である。
【００４８】
エッジシフト検出部109は更に、選択された長さのずれL5Tに対応する単一パターンを記録したときに用いた記録パルス条件を最適な条件として選択する。例えば、記録パルス条件Ａを用いて記録された単一パターンから得られた長さのずれL5Tが最も0に近い場合、記録パルス条件Ａが最適な条件として選択される。記録パルス条件Ｂ、Ｃについても同様である。最適な条件として選択された記録パルス条件に含まれている長さ4T以上のマーク長に関する四つのパラメータの値dTtop＝h'、Ttop＝i'、Tlp＝j'、dTe＝k'が最適値としてメモリに保持される（図５参照）。
【００４９】
但し、三つの記録パルス条件Ａ、Ｂ、Ｃのいずれについても、実測された長さのずれL5Tが目標値から所定の閾値以上乖離している場合は、記録パルス条件が再度設定された上で上記の処理が第２のステップ（試し書き）から繰り返される。例えば、記録パルス条件Ｃに対応する長さのずれL5Tが最も0に近い場合でも、その長さのずれL5Tが閾値より大きい正値である場合は処理が繰り返される。ここで、好ましくは、記録パルス条件演算部110が記録パルス標準条件Ａに代え、記録パルス条件Ｃに含まれているパラメータの各値を基準値として設定し、残り二つの記録パルス条件を第１のステップと同様に生成する。そのような処理の繰り返しの結果、実測された長さのずれL5Tと目標値との間の差が閾値未満になった場合、その長さのずれL5Tに対応する記録パルス条件が最適な条件として選択される。
【００５０】
第１のステップでは、記録パルス条件演算部110が記録パルス標準条件Ａに含まれているパラメータの各値を基準値とし、それらの基準値を±1単位変更して二種類の記録パルス条件Ｂ、Ｃを新たに設定する（図４参照）。その他に、光ディスク101に予め記録されている記録パルス標準条件と記録再生装置の記録再生特性との間の差異が大きい場合、記録パルス条件演算部110が上記の基準値を±1単位だけでなく±2単位変更し、記録パルス標準条件Ａと合わせて五種類の記録パルス条件を設定しても良い。更に好ましくは、第２のステップで記録再生装置がそれら五つの記録パルス条件のそれぞれを用い、光ディスク101の記録学習領域1002に単一パターンを試し書きしても良い。それにより、第３のステップでは長さのずれL5Tのサンプル数が増えるので、一回の試し記録で最適な記録パルス条件が決定される確率が高まる。こうして、長マークに関しては記録パルス条件の学習時間が更に短縮可能である。
【００５１】
本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法では、長さ4T以上のマークに対して同一の記録パルス条件が設定される（図４参照）。従って、上記の単一パターンは5T単一信号に限らず、長さ4T以上のマークと長さ4T以上のスペースとの間の組み合わせから成る単一パターンであれば良い。尚、記録信号の変調方式が17PP変調である場合、マーク長分布の中心値が約5Tである。従って、5T単一信号が記録パルス条件の最適化に利用されることで、長さ4T以上の長マークのエッジシフトの平均値が揃いやすい。それ故、記録品質の更なる向上という効果を発揮する点では、5T単一信号の利用が好ましい。その他に、5T単一信号に代え、例えば、8Tマークと8Tスペースとの組み合わせから成る単一パターン（以下、8T単一信号という）が試し記録に用いられても良い。5T単一信号の再生波形は正弦波に近い。それに対し、8T単一信号では、基本波、２次高調波、３次高調波、及び４次高調波が信号帯域となるので、8T単一信号の再生波形は矩形状である。従って、その矩形状の波形を検出することで再生信号の調整が可能である。例えば、記録時にマークの終端が過熱された場合、そのマークの終端近傍が適正な形状から更に膨らむ。8T単一信号の再生波形からはそのようなマークの膨らみが容易に検出可能であるので、マークの終端に関する記録パルス条件のパラメータを補正するための情報が容易に得られる、と期待できる。
【００５２】
［第４のステップ］
記録再生装置は、第３のステップで最適化された長マークに関するパラメータに加え、記録パルス標準条件Ａに含まれている2Tマークと3Tマークとに関するパラメータを用い、新たな三種類の記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆを生成する（図５参照）。更に、それら新たな記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれを用い、光ディスク101の記録学習領域1002（図１０参照）に特定のパターンの記録信号を試し書きする。
【００５３】
図５に記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆを示す。記録パルス条件Ｄでは、2Tマークと3Tマークとに関するパラメータの値が記録パルス標準条件Ａでの値a〜gと等しい。一方、長さ4T以上のマークに関するパラメータの値は、第３のステップで得られた最適値dTtop＝h'、Ttop＝i'、Tlp＝j'、dTe＝k'である。記録パルス条件演算部110はまず、記録パルス条件Ｄに含まれている、2Tマークと3Tマークとに関する七つのパラメータの値a〜gを基準値として設定する。記録パルス条件演算部110は次に、パラメータdTtop、Ttopの基準値a、b、d、eをそれぞれ1単位ずつ加算し、他の基準値c、f、gと共に、記録パルス条件Ｅとしてメモリに格納する。記録パルス条件演算部110は更に、2Tマークに関する二つのパラメータdTtop、dTeの基準値a、cをそれぞれ1単位ずつ減算し、3Tマークに関する二つのパラメータdTtop、dTeの基準値d、gをそれぞれ1単位ずつ加算し、3Tマークに関するパラメータTlpの基準値fを1単位減算し、残り二つの基準値b、eと共に、記録パルス条件Ｆとしてメモリに格納する。
【００５４】
図７と図１５とから容易に理解される通り、記録パルス条件Ｅでは記録パルス条件Ｄと比べ、2Tマーク2Tmと3Tマーク3Tmとのそれぞれに対応する記録パルスの各部分に含まれている先頭パルスPTの幅が拡大し、かつ立ち上がり位置が早い（図７では左側にシフトする）。従って、記録パルス条件Ｅでは記録パルス条件Ｄより、2Tマーク2Tmと3Tマーク3Tmとの各始端が早く、かつそれぞれが伸びる（図１５参照）。このように、記録パルス条件Ｅは主にマーク長の調整を目的として設定される。ここで、2Tマーク2Tmの中心の位相P2T(E)は3Tマーク3Tmの中心の位相P3T(E)と同一方向に変化する。一方、記録パルス条件Ｆでは記録パルス条件Ｄと比べ、2Tマーク2Tmに対応する記録パルスの部分に含まれている先頭パルスPTと冷却パルスPCとの各位相が遅れる（図７では右側にシフトする）。更に3Tマーク3Tmに対応する記録パルスの部分では、先頭パルスPTの位相が進み、最終パルスPLの幅が縮小し、冷却パルスPCの位相が進む（図７では左側にシフトする）。従って、記録パルス条件Ｆでは記録パルス条件Ｄより、2Tマーク2Tmの位相が遅れ、3Tマーク3Tmの位相が進む（図１５参照）。このように、記録パルス条件Ｆは主にマークの位相の調整を目的として設定される。特に、2Tマーク2Tmの中心の位相P2T(F)が3Tマーク3Tmの中心の位相P3T(F)とは逆方向に変化する。
【００５５】
記録パルス条件Ｅを用いて光ディスク101に記録された2Tマーク2Tmと3Tマーク3Tmとの各位相P2T(E)、P3T(E)は記録パルス条件Ｄでの各マークの位相P2T(D)、P3T(D)に対して同一方向に変化する（図１５参照）。従って、二つの記録パルス条件Ｄ、Ｅのそれぞれを用いて記録された各マークから再生される信号間では一般に、ＰＬＬ部107（図１参照）により得られる再生クロックに位相差が生じる。その場合、2Tマーク2Tmの位相のずれが3Tマークのエッジシフト量の測定誤差として含まれ、逆に、3Tマーク3Tmの位相のずれが2Tマークのエッジシフト量の測定誤差として含まれる。それらの誤差が過大な場合、各エッジシフト量の正確な測定が阻まれる。一方、記録パルス条件Ｆでは上記の通り、2Tマーク2Tmの位相P2T(F)が3Tマーク3Tmの位相P3T(F)とは逆方向に変化するので、再生クロックの位相に与える影響が相殺される。従って、二つの記録パルス条件Ｄ、Ｆのそれぞれを用いて記録された各マークから再生される信号間では一般に、再生クロックの位相差が小さい。その結果、エッジシフト量の測定誤差が更に低減可能である。尚、記録パルス条件Ｅでは記録パルス条件Ｆと同様に、2Tマークと3Tマークとの間で各始端が逆方向に変化しても良い。すなわち、2Tマーク2Tmと3Tマーク3Tmとの各位相P2T(E)、P3T(E)が記録パルス条件Ｄでの各マークの位相P2T(D)、P3T(D)に対して逆方向に変化しても良い。それにより、記録パルス条件Ｆと同様に、エッジシフト量の測定誤差が低減し得る。
【００５６】
記録パルス条件Ｅの設定方法は上記の方法（図５、７参照）とは別でも良い。例えば、マークの始端を移動させる目的で、先頭パルスの幅Ttopを固定した状態で先頭パルスの位置dTopを（例えば1単位）変えても良い。その他に、先頭パルスの立ち上がり位置dTtopを固定した状態で先頭パルスの幅Ttopを（例えば1単位）変えても良い。更に、マークの終端を移動させる目的で、最終パルスの幅Tlpを例えば1単位変え、又は、冷却パルスの立ち上がり位置dTeを例えば1単位変えても良い。但し、上記の設定方法のように先頭パルスの立ち上がり位置dTtopと幅Ttopとを同時に変える場合、先頭パルスの立ち下がり位置が固定されているので、先頭パルスの後端が後続のパルス（中間パルス又は最終パルス）の前端と重ならず、更に、先頭パルスと後続のパルスとの間隔が過小にならない。従って、記録パルスの正確な波形が得られる。尚、特にＢＤ２倍速以上の高速記録時では、レーザの応答速度に起因するレーザ光のパルス波形の歪みを避けるには、記録パルスの間隔が少なくとも2ns以上確保されることが望ましい。
【００５７】
記録パルス条件Ｆの設定方法は上記の方法（図５、７参照）とは別でも良い。例えば、最終パルスの幅Tlpを固定した状態で最終パルスの位相を変えても良い。それにより、3Tマークの長さの変化量L3T(F)（図１５参照）が抑えられる。従って、マークの長さと位相との間の干渉が低減するので、更に正確な位相の変化量P3T(F)（図１５参照）が検出可能である。
【００５８】
記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆを用いた試し書きで利用されるべき記録パターンでは好ましくは、2Tから8Tまでの各符号長の出現頻度がほぼ均等であり、かつＤＳＶ（Digital Sum Value）制御が施されている。これは、従来の記録パターンとは異なる。従来の記録パターンは、ユーザーデータと同様に、17PP変調方式で変調される。従って、従来の記録パターンでは、2Tマークの出現確率が約38％であり、3Tマークの出現確率が約25％であり、4Tマークの出現確率が約16％である。長さ5T以上の長マークの各出現確率は更に低い。すなわち、各符号長の出現頻度が符号長の増大と共に低下する。このように符号長ごとに出現頻度の異なる記録パターンが上記の試し書きに利用される場合、光ディスク101に書き込まれた記録パターンからＰＬＬ部107により得られる再生クロックの位相が出現頻度の高い短マーク（特に出現確率が1／3以上である2Tマーク）の位相でほぼ決まる。しかし、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆ間では上記の通り、短マークのエッジ位置が大きく異なるので、従来の記録パターンから得られる再生クロックの位相が大きく異なる。その結果、（特に第３のステップによりエッジシフト量が既に小さいはずである）長さ4T以上の長マークから測定されるエッジシフト量や位相が顕著な誤差を含む。それらの誤差は、第５のステップで行われる短マークのエッジシフト量の高精度な測定を阻む。それに対し、第４のステップで用いられる記録パターンでは各符号長の出現頻度がほぼ均等である。従って、2Tマークと3Tマークとの各出現確率が1／7であるのに対し、長さ4T以上のマークのいずれかが出現する頻度が5／7である。すなわち、第４のステップで用いられる記録パターンでは長さ4T以上の長マークが大勢を占める。この場合、光ディスク101に書き込まれたその記録パターンからＰＬＬ部107により得られる再生クロックの位相が長マークの位相でほぼ決まる。その結果、2Tマークや3Tマークのエッジ位置の変化に関わらず、再生クロックの位相が安定しているので、第５のステップでは2Tマークや3Tマークのエッジシフト量が高精度に測定可能である。
【００５９】
記録再生装置は記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれを用いて上記の記録パターンを、第２のステップと同様に、光ディスク101の記録学習領域1002（図１０参照）に試し書きする。すなわち、記録条件学習領域1002には上記の記録パターンが、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆごとに連続して記録される。
【００６０】
尚、好ましくは、4Tマークのエッジ位置が長さ5T以上のマークの平均エッジ位置から大きく外れている場合、4Tマークに関する記録パルス条件のパラメータを3Tマークに関するパラメータと同様に変化させて試し記録を行っても良い。それにより、第５のステップ以降の処理では、短マークと共に4Tマークについてもエッジシフト量が測定され、更にその測定結果に基づいて4Tマークに関するパラメータが補正される。
【００６１】
記録パルス条件Ｅ、Ｆの設定では、パラメータdTop、Ttop、Tlp、dTeの変化量が、記録再生装置により設定可能な最小単位の等倍の他に、その単位の2倍以上であっても良い。その場合、好ましくは、第５のステップで測定されるエッジシフト量から、パラメータが1単位変化した場合のエッジシフト量が換算される。それにより、記録パルス条件の変化に伴うエッジシフト量の変化が微細な光ディスクに対しても、パラメータが1単位変化した場合のエッジシフト量が正確に測定可能である。
【００６２】
［第５のステップ］
記録再生装置は、以下のように、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆで上記の記録パターンが記録されたトラックから各記録パターンを連続して再生し、再生信号のエッジシフト量を測定する。
まず、光照射部102から出力された再生信号が、プリアンプ部103、ＡＧＣ部104、波形等化部105、Ａ／Ｄ変換部106で順番に処理され、パターン検出部108内の最尤復号部により２値化信号に変換される。次に、パターン検出部108がその２値化信号に基づき、再生信号のエッジシフト量を以下のように測定する。ここで、最尤復号部がＰＲ(1,2,2,1)方式に対応している場合を想定する。
【００６３】
エッジシフト量の測定の基本原理は、第３のステップの説明に記載されている通りである。但し、第５のステップでは第３のステップとは特に、パターン検出部108により選択されるパターンが異なる（図８、９参照）。パターン検出部108は図９に示されている分類に従い、2Tマークの始端を検出する場合はPattern−3とPattern−4とを用い、2Tマークの終端を検出する場合はPattern−6とPattern−8とを用い、3Tマークの始端を検出する場合はPattern−1〜Pattern−4を用い、3Tマークの終端を検出する場合はPattern−5〜Pattern−8を用いる。更に詳細には、例えば、2Tスペースに続く3Tマークの始端を検出する場合、Pattern−3のパスP3Aが選択される。3Tスペースに続く3Tマークの始端を検出する場合、Pattern−1のパスP1BとPattern−4のパスP4Aとが選択される。尚、図９に示されている分類から明らかな通り、2Tマークと2Tスペースとのいずれかを含むパターンでは正解のパスの候補が一つしか存在しない。一方、2Tマークと2Tスペースとのいずれも含まないパターンでは正解のパスの候補が常に二つ存在する。以下のステップでは、マークの始端と終端とのそれぞれに対応する再生信号の部分が、マーク長とスペース長との間のあらゆる組み合わせについて、図９に示されている各パスに近づくように、記録パルス条件のパラメータが最適化される。そのようなパラメータが最尤復号法によるデータ再生にとっては最適である。
【００６４】
尚、図９では、2Tスペースの直後に2Tマークがあるパターンと、2Tマークの直後に2Tスペースがあるパターンとのいずれに対してもパスが設定されていない。それらのパターンは図８に示されている八つのパターン（Pattern−1〜Pattern−8）では検出不能である。従って、それらのパターンについては以下の方法とは別の方法でエッジシフト量が測定されても良い。但し、最尤復号法によるデータ再生では、それらのパターンが、17PP変調には用いられない符号長1Tのパターンとして誤って検出されやすい。しかし、それらのパターンに起因するエラーは容易に識別可能である。従って、それらのパターンについては記録パルス条件が光ディスク101ごとに最適化されなくても良く、適切な初期値が一律に利用されても良い。
【００６５】
次に、エッジシフト検出部109が第３のステップと同様に、2Tマークと3Tマークとのそれぞれのエッジシフト量を測定する。例えば、3Tマークの始端については、パターン検出部108により選択された正解のパスの候補P3A、P1B、P4A、P2Bの四つのそれぞれに対し、エッジシフト検出部109がエッジシフト量を以下のように測定する。
4Tスペースが3Tマークの直前にある場合、パターン検出部108はPattern−2のパスP2BとPattern−4のパスP4Aとを選択する（図８、９参照）。エッジシフト検出部109は最尤復号部への入力信号の対応部分の波形を各パスP2B、P4Aと比較し、それらの間の距離から、各パスP2B、P4Aを正解とするサンプル群ごとにエッジシフト量4S3MB、4S3MAを計算する。エッジシフト検出部109は更に、それら二つのエッジシフト量4S3MB、4S3MAを平均し、その平均値を、4Tスペースが3Tマークの直前にある場合のエッジシフト量4S3Mとして決定する：
【００６６】
4S3M＝(4S3MB＋4S3MA)／2。
【００６７】
長さ5T以上のスペースが3Tマークの直前にある場合も同様に、入力信号の対応部分の波形が各パスP2B、P4Aと比較され、それらの間の距離から、各パスP2B、P4Aを正解とするサンプル群ごとにエッジシフト量5S3MB、5S3MAが計算される。更に、それらの平均値が、長さ5T以上のスペースが3Tマークの直前にある場合のエッジシフト量5S3Mとして決定される。こうして、3Tマークの直前にあるスペースの長さごとに、図８、９に示されているパターンが入力信号の対応部分の波形と比較されてエッジシフト量が測定される。それらのエッジシフト量はマーク長とスペース長との間の組み合わせ別に図１１に表示されている。尚、正解のパスの候補が二つ（PXA、PYB（X、Y＝1、2、…、8））存在する組み合わせについては、図１１に表示された変数は、各パスPXA、PYBを正解とするサンプル群間でのエッジシフト量の平均値を意味する。
【００６８】
エッジシフト検出部109は更に、マーク長とスペース長との間の組み合わせ別に得られたエッジシフト量から、前後のスペース長に依らない、マーク長ごとの平均エッジシフト量を以下のように求める。例えば、3Tマークの始端の平均エッジシフト量xS3Mは次式で得られる：
【００６９】
xS3M＝(C2S3M＊2S3M＋C3S3M＊3S3M＋C4S3M＊4S3M＋C5S3M＊5S3M)
／(C2S3M＋C3S3M＋C4S3M＋C5S3M)。
【００７０】
ここで、四つの定数CiS3M（i＝2、3、4、5）は、エッジシフト量の測定に利用されたiTスペースとその直後の3Tマークとの組み合わせのサンプル数を表す。すなわち、各長さのマークについて、直前のスペース長ごとのエッジシフト量が上記のサンプル数に応じた重み付けで平均されることで、各マークの始端の平均エッジシフト量が得られる。こうして、エッジシフト検出部109が2Tマークと3Tマークとのそれぞれについて、始端の平均エッジシフト量xS2M、xS3M、及び終端の平均エッジシフト量2MxS、3MxSを演算で求める。
【００７１】
［第６のステップ］
記録パルス条件演算部110はまず、エッジシフト検出部109により測定された平均エッジシフト量を利用し、2Tマークと3Tマークとのそれぞれについて、長さのずれL2T、L3Tと位相のずれP2T、P3Tとを記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆごとに次式で求める：
【００７２】
L2T＝xS2M−2MxS、
L3T＝xS3M−3MxS、
P2T＝xS2M＋2MxS、
P3T＝xS3M＋3MxS。
【００７３】
ここで、長さのずれLiT（i＝2、3）は、光ディスク101に実際に記録されたiTマークの長さと正規の長さ（再生クロック間隔Tのi倍＝iT）との間の差を表す。長さのずれLiTが0であれば実際のiTマークの長さが正規の長さと一致し、長さのずれLiTが正であれば実際のiTマークが正規の長さより長く、長さのずれLiTが負であれば実際のiTマークが正規の長さより短い。一方、位相のずれPiT（i＝2、3）は、光ディスク101に実際に記録されたiTマークの位相と正規の位相（再生クロックの位相）との間の差を表す。位相のずれPiTが0であれば実際のiTマークの位相が正規の位相と一致し、位相のずれPiTが正であれば実際のiTマークの位相が正規の位相より進み、位相のずれPiTが負であれば実際のiTマークの位相が正規の位相より遅れている。
【００７４】
記録パルス条件演算部110は次に、記録パルス条件Ｄを用いて記録された記録パターンを再生した信号について、2Tマークと3Tマークとのそれぞれの長さのずれL2T、L3Tと位相のずれP2T、P3Tとを所定の閾値と比較する。長さのずれL2T、L3Tと位相のずれP2T、P3Tとがいずれも閾値以下であった場合、記録パルス条件演算部110は記録パルス条件Ｄを最適な記録パルス条件として決定し、記録パルス条件の最適化処理を終える。その他に、後述の第７のステップで求められた補正値m、nがいずれも0になった場合も、記録パルス条件演算部110は記録パルス条件の最適化処理を終える。一方、長さのずれL2T、L3Tと位相のずれP2T、P3Tとのいずれかが閾値を超えた場合、記録パルス条件演算部110は第７のステップ以降の処理を続行し、記録パルス条件の補正を行う。尚、この判定に使われるべき指標としては、長さのずれL2T、L3Tと位相のずれP2T、P3Tとの他に、それらの二乗和、再生信号のジッタ、又は、再生信号の品質を表すその他の指標（例えば、ＭＬＳＥ、ｂＥＲ、ＳＥＲ）の組み合わせが用いられても良い。
【００７５】
［第７のステップ］
記録パルス条件演算部110は、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれについて得られた2Tマークと3Tマークとのそれぞれの長さのずれL2T、L3Tと位相のずれP2T、P3Tとに基づき、記録パルス条件の補正値を以下のように演算で求める。その演算では以下のパラメータが用いられる：
・記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのそれぞれでの長さのずれL2T(D)、L3T(D)、L2T(E)、L3T(E)、L2T(F)、L3T(F)、及び位相のずれP2T(D)、P3T(D)、P2T(E)、P3T(E)、P2T(F)、P3T(F)；
・基準の記録パルス条件Ｄとマーク長調整用の記録パルス条件Ｅとの間での、長さのずれの差L122T、L123Tと位相のずれの差P122T、P123T；
・基準の記録パルス条件Ｄとマーク位相調整用の記録パルス条件Ｆとの間での、長さのずれの差L132T、L133Tと位相のずれの差P132T、P133T；
・マーク長の補正量m2T、m3Tとマークの位相の補正量n2T、n3T。好ましくは、補正量m2T、m3T、n2T、n3Tがいずれも、記録パルス条件のパラメータの単位の整数倍で表される。
【００７６】
記録パルス条件演算部110は、長さのずれの差L122T、L123T、L132T、L133T、及び位相のずれの差P122T、P123T、P132T、P133Tをそれぞれ、以下のように計算する。記録パルス条件演算部110はまず、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれL2T(D)、L2T(E)の差、及びL3T(D)、L3T(E)の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれの差L122T、L123Tとして次式で求める：
【００７７】
L122T＝L2T(E)−L2T(D)、
L123T＝L3T(E)−L3T(D)。
【００７８】
記録パルス条件演算部110は次に、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での位相のずれP2T(D)、P2T(E)の差、及びP3T(D)、P3T(E)の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での位相のずれの差P122T、P123Tとして次式で求める：
【００７９】
P122T＝P2T(E)−P2T(D)、
P123T＝P3T(E)−P3T(D)。
【００８０】
記録パルス条件演算部110は続いて、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれL2T(D)、L2T(F)の差、及びL3T(D)、L3T(F)の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれの差L132T、L133Tとして次式で求める：
【００８１】
L132T＝−[L2T(F)−L2T(D)]、
L133T＝L3T(F)−L3T(D)。
【００８２】
記録パルス条件演算部110は更に、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での位相のずれP2T(D)、P2T(F)の差、及びP3T(D)、P3T(F)の差をそれぞれ、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での位相のずれの差P132T、P133Tとして次式で求める：
【００８３】
P132T＝−[P2T(F)−P2T(D)]、
P133T＝P3T(F)−P3T(D)。
【００８４】
記録パルス条件演算部110は長さのずれの差L12x、L13x［x＝2T、3T］と位相のずれの差P12x、P13xとに基づき、記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆのうちエッジシフト量が最も小さい記録パルス条件（ここでは、記録パルス条件Ｄ）での長さのずれLxと位相のずれPxとのそれぞれを目標値0まで変化させるのに必要な補正量mx、nxを、線形の連立方程式(1)〜(4)（以下、シフト補正方程式という）で求める：
【００８５】
L2T＋L122T＊m2T＋L132T＊n2T＝0、                                    (1)
P2T＋P122T＊m2T＋P132T＊n2T＝0、                                    (2)
L3T＋L123T＊m3T＋L133T＊n3T＝0、                                    (3)
P3T＋P123T＊m3T＋P133T＊n3T＝0。                                    (4)
【００８６】
シフト補正方程式(1)〜(4)は以下のことを意味する：
第４のステップでの設定により、記録パルス条件Ｅは記録パルス条件Ｄと比べ、パラメータdTtop、Ttopの値が＋1単位ずつ異なる（図５、７参照）。従って、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれの差L12xと位相のずれの差P12xとはパラメータdTtop、Ttopの＋1単位の変化によって生じる。ここで、「パラメータdTtop、Ttopの変化に伴う長さのずれの変化と位相のずれの変化とがいずれもパラメータdTtop、Ttopの変化に比例する」と仮定する（線形近似）。その仮定からは次のことが言える：もし、パラメータdTtop、Ttopの基準値a、bを補正量m2Tずつ変化させ、かつ基準値d、eを補正量m3Tずつ変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号では、長さのずれが記録パルス条件Ｄでの長さのずれLxから、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での長さのずれの差L12xと補正量mxとの積だけ変化し、位相のずれが記録パルス条件Ｄでの位相のずれPxから、記録パルス条件Ｄ、Ｅ間での位相のずれの差P12xと補正量mxとの積だけ変化する。
【００８７】
記録パルス条件Ｆは記録パルス条件Ｄと比べ、2Tマークに関するパラメータdTtop、dTeの値が−1単位ずつ異なり、3Tマークに関するパラメータdTtop、dTeの値が＋1単位ずつ異なり、3Tマークに関するパラメータTlpの値が−1単位異なる（図５、７参照）。そのようなパラメータdTtop、Tlp、dTeの±1単位の変化によって記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれの差L13xと位相のずれの差P13xとが生じる。ここで、「パラメータdTtop、Tlp、dTeの変化に伴う長さのずれの変化と位相のずれの変化とがいずれもパラメータdTtop、Tlp、dTeの変化に比例する」と仮定する（線形近似）。その仮定からは次のことが言える：もし、パラメータdTtop、Tlp、dTeの基準値a、c、d、f、gをそれぞれ、−n2T、−n2T、n3T、−n3T、n3T変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号では、長さのずれが記録パルス条件Ｄでの長さのずれLxから、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での長さのずれの差L13xと補正量nxとの積だけ変化し、位相のずれが記録パルス条件ＤでのPxから、記録パルス条件Ｄ、Ｆ間での位相のずれの差P13xと補正量nxとの積だけ変化する。
【００８８】
それ故、シフト補正方程式(1)〜(4)を同時に満たす補正量mx、nxを用いてパラメータの値を基準値から変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号では長さのずれと位相のずれとがいずれも目標値0に一致する。
【００８９】
記録パルス条件Ｅは主にマーク長の調整を目的として設定され、記録パルス条件Ｆは主にマーク位相の調整を目的として設定される。しかし、記録パルス条件Ｅで記録されたパターンを再生した信号では、マーク長のずれLxだけでなく、マークの位相のずれPxも変化する。逆に、記録パルス条件Ｆで記録されたパターンを再生した信号では、マークの位相のずれPxだけでなく、マーク長のずれLxも変化する。すなわち、記録パルス条件の変更に伴うマーク長の変化とマークの位相の変化とが互いに独立ではなく、むしろ相互に依存する。それらの関係をシフト補正方程式(1)〜(4)で線形に近似することにより、長さのずれの差L12x、L13xと位相のずれの差P12x、P13xとの各測定値から、記録パルス条件の最適化に必要な補正量が演算で決定可能である。尚、補正量mx、nxは好ましくは、シフト補正方程式(1)〜(4)を解いた次式(5)〜(8)から計算される：
【００９０】
m2T＝(P2T＊L132T−L2T＊P132T)／(L122T＊P132T−P122T＊L132T)、        (5)
n2T＝(L2T＊P122T−P2T＊L122T)／(L122T＊P132T−P122T＊L132T)、        (6)
m3T＝(P3T＊L133T−L3T＊P133T)／(L123T＊P133T−P123T＊L133T)、        (7)
n3T＝(L3T＊P123T−P3T＊L123T)／(L123T＊P133T−P123T＊L133T)。        (8)
【００９１】
式(5)〜(8)から得られた補正量mx、nxは更に、好ましくは小数点以下を四捨五入することにより、整数値に丸められる。こうして得られた補正量mx、nxを用い、記録パルス条件演算部110は記録パルス条件を次のように補正する（図１２参照）。記録パルス条件演算部110は、まず、2Tマークに関し、パラメータdTtop、Ttopの各基準値a、bをマーク長の補正量m2Tずつ加算する。更に、パラメータdTtop、dTeの各基準値a、cをマークの位相の補正量n2Tずつ加算する：
【００９２】
2T：dTtop＝a＋m2T＋n2T、
2T：Ttop＝b＋m2T、
2T：dTe＝c＋n2T。
【００９３】
記録パルス条件演算部110は、次に、3Tマークに関し、パラメータdTtop、Ttop、Tlp、dTeの各基準値d、e、f、gを補正量m3T、n3Tを使って次式のように補正する：
【００９４】
3T：dTtop＝d＋m3T＋n3T、
3T：Ttop＝e＋m3T、
3T：Tlp＝f−m3T、
3T：dTe＝g＋n3T。
【００９５】
記録パルス条件演算部110は上記の補正で得られた記録パルス条件Ｇを、記録パルス条件Ｄに代えて初期条件として設定する。それにより、次の第８のステップで第４のステップからの処理の繰り返しが判断された場合、次の第４のステップでは記録パルス条件Ｄに代え、記録パルス条件Ｇのパラメータの値が基準値として設定される。
【００９６】
シフト補正方程式(1)〜(4)では長さのずれと位相のずれとの各目標値が一律に、0に設定されている。それにより、最尤復号処理でのエラーの発生確率が最小化されるように、記録パルス条件が最適化される。ここで、最尤復号処理でのエラーの発生確率と、再生信号の品質を表す他の指標（例えば、ジッタやリミットイコライザ後のジッタ）との間の良好なバランスが望まれている場合、各目標値が0以外の値に設定されても良く、更に2Tマークと3Tマークとの間で異なっていても良い。長さのずれと位相のずれとの各目標値をLtx、Ptx（x＝2T、3T）とするとき、シフト補正方程式は以下の連立方程式(9)〜(12)で表され、その解は式(13)〜(16)で表される：
【００９７】
L2T＋Lt2T＋L122T＊m2T＋L132T＊n2T＝0、                              (9)
P2T＋Pt2T＋P122T＊m2T＋P132T＊n2T＝0、                              (10)
L3T＋Lt3T＋L123T＊m3T＋L133T＊n3T＝0、                              (11)
P3T＋Pt3T＋P123T＊m3T＋P133T＊n3T＝0。                              (12)
m2T＝(P2T＊L132T−L2T＊P132T)／(L122T＊P132T−P122T＊L132T)
＋(Pt2T＊L132T−Lt2T＊P132T)／(L122T＊P132T−P122T＊L132T)、    (13)
n2T＝(L2T＊P122T−P2T＊L122T)／(L122T＊P132T−P122T＊L132T)
＋(Lt2T＊P122T−Pt2T＊L122T)／(L122T＊P132T−P122T＊L132T)、    (14)
m3T＝(P3T＊L133T−L3T＊P133T)／(L123T＊P133T−P123T＊L133T)
＋(Pt3T＊L133T−Lt3T＊P133T)／(L123T＊P133T−P123T＊L133T)、    (15)
n3T＝(L3T＊P123T−P3T＊L123T)／(L123T＊P133T−P123T＊L133T)
＋(Lt3T＊P123T−Pt3T＊L123T)／(L123T＊P133T−P123T＊L133T)。    (16)
【００９８】
ここで、補正量mx、nx（x＝2T、3T）は好ましくは、小数点以下を四捨五入することで整数に丸められる。尚、記録再生装置は好ましくは、各目標値Ltx、Ptxを光ディスクの種類別に予め記憶している。
【００９９】
［第８のステップ］
第１〜第７のステップでは、マーク長とその前後のスペース長との間の組み合わせごとにエッジシフト量が測定され、各測定結果からマーク長ごとの平均エッジシフト量が求められ、その平均エッジシフト量に基づいて記録パルス条件が調整される。ここで、平均エッジシフト量では、マークの前後のスペース長の違いによるエッジシフト量の変動が均されている。しかし、光ディスク101の種類によっては、マークとスペースとの間での熱の干渉がマークの前後のスペース長に応じて顕著に変動し得る。そのような光ディスクにデータが書き込まれるときは、記録パルス条件が、マーク長だけでなく、前後のスペース長にも応じて変化しなければならない。ここで、マークの前後のスペース長が考慮される場合、記録パルス条件に含まれるべきパラメータの組み合わせの数が、マーク長とスペース長との間の組み合わせの数と共に著しく増加する。試し記録により調整されるべきパラメータの数が多い場合、学習に要する時間が長く、しかも、記録条件学習領域1003のトラックが多数消費される。特に追記型ディスクのようにデータを一回しか記録できない光ディスクでは記録条件学習領域のトラック数の制限から学習回数が制限されるので、一回の学習で消費されるトラック数はできるだけ少ないことが好ましい。従って、第８のステップでは、光ディスク101の種類や第１〜第７のステップの結果に基づき、マークの前後のスペース長を考慮した更なる補償が必要か否かが判断される。その補償が不要である場合、第９のステップ以降がスキップされ、処理が第４のステップから繰り返される。特に二回目の第４のステップでは、図５に示されている記録パルス条件Ｄ、Ｅ、Ｆに代え、図１２に示されている記録パルス条件Ｇ、Ｈ、Ｉが利用される。従って、記録パルス条件の補正にはマーク長ごとの平均エッジシフト量のみが利用される。このように補正対象のパラメータが限定されることで、記録パルス条件の調整時間が更に短縮可能であり、かつ、マークの品質が更に向上可能である。一方、マークの前後のスペース長を考慮した更なる補償が必要である場合（例えば、光ディスク101の種類がそのような光ディスクである場合や、第１〜第７のステップの結果ではマークのエッジシフト量の補償が不十分であった場合）、処理が第９のステップに進み、マークの前後スペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整が実行される。
【０１００】
第８のステップでは好ましくは、マークの前後のスペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整の必要性が次のように定量的に判断される。記録パルス条件演算部110は、マーク長iT（i＝2、3、4以上）ごとに、前後のスペース長jT（j＝2、3、4、5以上）に応じたエッジシフト量jSiM、iMjSの各分散値σxSiM2、σiMxS2（エッジシフト量jSiM、iMjSと平均エッジシフト量xSiM、iMxSとの間の差の二乗平均値）を求め、得られた分散値σxSiM2、σiMxS2の平均値の平方根を指標σSPとして決定する：
【０１０１】
σxS2M2
＝[(3S2M−xS2M)2＋(4S2M−xS2M)2＋(5S2M−xS  2M)2]／3、            (17)
σxS3M2
＝[(2S3M−xS3M)2＋(3S3M−xS3M)2
＋(4S3M−xS3M)2＋(5S3M−xS3M)2]／4、                           (18)
σxS4M2
＝[(2S4M−xS4M)2＋(3S4M−xS4M)2
＋(4S4M−xS4M)2＋(5S4M−xS4M)2]／4、                           (19)
σ2MxS2
＝[(2M3S−2MxS)2＋(2M4S−2MxS)2＋(2M5S−2M  xS)2]／3、            (20)
σ3MxS2
＝[(3M2S−3MxS)2＋(3M3S−3MxS)2
＋(3M4S−3MxS)2＋(3M5S−3MxS)2]／4、                           (21)
σ4MxS2
＝[(4M2S−4MxS)2＋(4M3S−4MxS)2
＋(4M4S−4MxS)2＋(4M5S−4MxS)2]／4、                           (22)
σSP＝sqrt［(σxS2M2＋σxS3M2＋σxS4M2＋σ  2MxS2＋σ3MxS2＋σ4MxS2)／6］。  (23)
【０１０２】
ここで、偏差σxSiMは、iTマーク（i＝2、3、4以上）についてその直前のスペース長に応じた始端のばらつきの大きさを表す。偏差σiMxSは、iTマークについてその直後のスペース長に応じた終端のばらつきの大きさを表す。式(23)で得られた指標σSPは、前後のマーク長に依らない、スペース長ごとの長さのばらつきの大きさを表す指標として用いられる。尚、例えば分散σxS2M2は式(17)に代え、次式(24)のように重み係数Csm32、Csm42、Csm52を用いて計算されても良い：
【０１０３】
σxS2M2
＝[Csm32＊(3S2M−xS2M)2＋Csm42＊(4S2M−xS2M)2
＋Csm52＊(5S2M−xS2M)2]／3。                                  (24)
【０１０４】
ここで、各重み係数Csmj2（j＝3、4、5）は、jTスペースに続いて2Tマークが出現する確率を表す。他の分散値も同様な重み付けで計算されても良い。それにより、マーク長とスペース長との間の各組み合わせが出現する頻度に応じた分散値が得られる。
【０１０５】
記録パルス条件演算部110は更に、指標σSPを所定の基準値と比較する。指標σSPが基準値より大きい場合、マークの前後のスペース長に応じてエッジシフト量が過大に変化しているので、「マークの前後のスペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整が必要である」と判断される。その場合、処理が第９のステップに進み、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとに記録パルス条件が調整される。一方、指標σSPが基準値より小さい場合、「マークの前後のスペース長に応じた記録パルス条件の更なる調整が不要である」と判断され、処理が第４のステップに戻り、マーク長ごとに記録パルス条件の補正が繰り返される。
【０１０６】
［第９のステップ］
マーク長とスペース長との間の組み合わせごとに記録パルス条件を調整する目的で、試し書きが以下のように行われる。
ここで、試し書きに利用される記録パルス条件を図１４に示す。記録パルス条件Ｇは、第７のステップの補正で得られた記録パルス条件である。記録パルス条件演算部110はまず、記録パルス条件Ｇに含まれているパラメータの値を初期値として設定する。記録パルス条件演算部110は次に、記録パルス条件Ｇに含まれている、2Tスペースとその直後の3Tマークとの組み合わせ、2Tスペースとその直後の長さ4T以上のマークとの組み合わせ、及び長さ5T以上のスペースとその直後の2Tマークとの組み合わせに関し、二つのパラメータdTtop、Ttopの初期値をそれぞれ1単位ずつ加算し、他の初期値と共に、記録パルス条件Ｊとしてメモリに格納する。
【０１０７】
記録再生装置は記録パルス条件Ｇ、Ｊのそれぞれを用い、第４のステップで用いられた特定の記録パターンを、第２のステップと同様に、光ディスク101の記録学習領域1002（図１０参照）に試し書きする。すなわち、記録条件学習領域1002には上記の記録パターンが記録パルス条件Ｇ、Ｊごとに連続して記録される。
【０１０８】
尚、マークとスペースとの間の熱干渉がエッジシフト量に与える影響は、短いスペースに続くマークと最短マーク（2Tマーク）とで大きい。従って、第９のステップでは上記の通り、2Tスペースと3Tマークとの組み合わせ、2Tスペースと長さ4T以上のマークとの組み合わせ、及び長さ5T以上のスペースと2Tマークとの組み合わせ、の三種類に関するパラメータが1単位ずつ加算される（図１４参照）。しかし、パラメータの動かし方はこれらに限られない。特に、他のマーク長と他のスペース長との組み合わせに関するパラメータが変更されても良い。その他に、マークの直前のスペースごとに分類されたパラメータdTtop、Ttopの各値に代え、マークの直後のスペース長ごとに分類されたパラメータTlp、dTeの各値が変更されても良い。
【０１０９】
［第１０のステップ］
記録再生装置は、以下のように、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとにエッジシフト量を測定する。まず、記録パルス条件Ｇ、Ｊのそれぞれで上記の記録パターンが記録されたトラックから各記録パターンが再生される。更に、エッジシフト検出部109がその再生信号のエッジシフト量を、第３及び第５のステップと同様に測定する。それにより、図１１に示されている、マーク長とスペース長との間の組み合わせごとのエッジシフト量が全て測定される。
【０１１０】
［第１１のステップ］
記録再生装置は第８のステップと同様な判断を行う。すなわち、記録パルス条件演算部110がまず、第１０のステップで得られたエッジシフト量に基づいて上記の指標σSPを計算し、得られた指標σSPを所定の基準値と比較する。指標σSPが基準値より大きい場合、「マークの前後のスペース長に応じたエッジシフト量が過大である」と判断される。その場合、処理が第１２のステップに進む。一方、指標σSPが基準値より小さい場合、「マークの前後のスペース長に応じたエッジシフト量が十分に小さい」と判断され、記録パルス条件の最適化処理が終了する。
【０１１１】
［第１２のステップ］
記録パルス条件演算部110は、第１０のステップでエッジシフト検出部109により測定されたエッジシフト量に基づき、記録パルス条件の補正量を演算で求める。その演算に用いられるパラメータは次の通りである：
・記録パルス条件Ｇ、Ｊでのエッジシフト量2S3M(G)、2S4M(G)、5S2M(G)、2S3M(J)、2S4M(J)、5S2M(J)；
・記録パルス条件Ｇ、Ｊ間でのエッジシフト量の差e2S3M、e2S4M、e5S2M；
・記録パルス条件の補正量q2S3M、q2S4M、q5S2M。好ましくは、補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mがいずれも、記録パルス条件のパラメータの単位の整数倍で表される。
【０１１２】
記録パルス条件演算部110は、まず、記録パルス条件Ｇ、Ｊのそれぞれで記録された各記録パターンを再生した信号間で、エッジシフト量2S3M、2S4M、5S2Mの差e2S3M、e2S4M、e5S2Mを次式で求める：
【０１１３】
e2S3M＝2S3M(J)−2S3M(G)、
e2S4M＝2S4M(J)−2S4M(G)、
e5S2M＝5S2M(J)−5S2M(G)。
【０１１４】
記録パルス条件演算部110は次に、エッジシフト量の差e2S3M、e2S4M、e5S2Mに基づき、記録パルス条件Ｇでのエッジシフト量2S3M、2S4M、5S2Mをいずれも目標値0まで変化させるのに必要な補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mを、次のシフト補正方程式(25)〜(27)で求める：
【０１１５】
2S3M＋e2S3M＊q2S3M＝0、                                            (25)
2S4M＋e2S4M＊q2S4M＝0、                                            (26)
5S2M＋e5S2M＊q5S2M＝0。                                            (27)
【０１１６】
シフト補正方程式(25)〜(27)は以下のことを意味する：
第９のステップでの設定により、記録パルス条件Ｊは記録パルス条件Ｇと比べ、2Tスペースとその直後の3Tマークとの組み合わせ、2Tスペースとその直後の長さ4T以上のマークとの組み合わせ、及び長さ5T以上のスペースとその直後の2Tマークとの組み合わせのそれぞれに関するパラメータdTtop、Ttopの値が＋1単位ずつ異なる（図１４参照）。従って、記録パルス条件Ｇ、Ｊ間でのエッジシフト量の差e2S3M、e2S4M、e5S2MはパラメータdTtop、Ttopの＋1単位の変化によって生じる。ここで、「パラメータdTtop、Ttopの変化に伴うエッジシフト量の変化がいずれもパラメータdTtop、Ttopの変化に比例する」と仮定する（線形近似）。その仮定からは次のことが言える：もし、パラメータdTtop、Ttopの各初期値を補正量q2S3M、q2S4M、q5S2M変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号ではエッジシフト量が、記録パルス条件Ｇでのエッジシフト量2S3M、2S4M、5S2Mから、記録パルス条件Ｇ、Ｊ間でのエッジシフト量の差e2S3M、e2S4M、e5S2Mと補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mとの積だけ変化する。それ故、シフト補正方程式(25)〜(27)を同時に満たす補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mを用いてパラメータの値を初期値から変化させた記録パルス条件でデータを記録すれば、その記録パターンを再生した信号ではエッジシフト量がいずれも目標値0に一致する。こうして、シフト補正方程式(25)〜(27)による線形近似に基づき、エッジシフト量の差の各測定値から、記録パルス条件の最適化に必要な補正量が演算で決定可能である。尚、補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mは好ましくは、シフト補正方程式(25)〜(27)を解いた次式(28)〜(30)から計算される：
【０１１７】
q2S3M＝−2S3M／e2S3M、                                              (28)
q2S4M＝−2S4M／e2S4M、                                              (29)
q5S2M＝−5S2M／e5S2M。                                              (30)
【０１１８】
式(28)〜(30)から得られた補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mは更に、好ましくは小数点以下を四捨五入することにより、整数値に丸められる。こうして得られた記録パルス条件の補正量q2S3M、q2S4M、q5S2Mを用い、記録パルス条件演算部110は記録パルス条件を次のように補正する。記録パルス条件演算部110は、まず、2Tスペースと3Tマークとの組み合わせに関し、パラメータdTtop、Ttopの各初期値Gを補正量q2S3Mずつ加算する：
【０１１９】
2Tスペース／3Tマーク：dTtop＝G＋q2S3M、
2Tスペース／3Tマーク：Ttop＝G＋q2S3M。
【０１２０】
記録パルス条件演算部110は、2Tスペースと長さ4T以上のマークとの組み合わせ、及び長さ5T以上のスペースと2Tマークとの組み合わせのそれぞれに関しても同様に、パラメータdTtop、Ttopの各初期値Gを補正量q2S4M、q5S2Mを使って次式のように補正する：
【０１２１】
2Tスペース／4T以上マーク：dTtop＝G＋q2S4M、
2Tスペース／4T以上マーク：Ttop＝G＋q2S4M、
5T以上スペース／2Tマーク：dTtop＝G＋q5S2M、
5T以上スペース／2Tマーク：Ttop＝G＋q5S2M。
【０１２２】
記録パルス条件演算部110は上記の補正で得られた記録パルス条件Ｋを、記録パルス条件Ｇに代えて初期条件に設定する。その後、処理が第９のステップから繰り返される。特に、次の第９のステップでは記録パルス条件Ｇに代え、記録パルス条件Ｋのパラメータの値が初期値として設定される。
【０１２３】
シフト補正方程式(28)〜(30)ではエッジシフト量の目標値が一律に、0に設定されている。それにより、最尤復号処理でのエラーの発生確率が最小化されるように、記録パルス条件が最適化される。ここで、最尤復号処理でのエラーの発生確率と、再生信号の品質を表す他の指標（例えば、ジッタやリミットイコライザ後のジッタ）との間の良好なバランスが望まれている場合、各目標値が0以外の値に設定されても良く、更にマーク長とスペース長との間の組み合わせごとに異なっていても良い。
【０１２４】
好ましくは、光ディスク101の初期値記録領域1003等に、基準の記録パルス条件とマーク長調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差、及び、基準の記録パルス条件とマーク位相調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差が記録されている。その他に、二つの記録パルス条件間でのエッジシフト量の差がマーク長とスペース長との間の組み合わせごとに記録されていても良い。その場合、更に好ましくは、例えば光ディスク101のローディング時、記録パルス条件復調部114（図１参照）が光ディスク101の初期値記録領域1003から長さのずれの差と位相のずれの差とを読み出す。それにより、第７のステップでは光ディスク101から読み出された長さのずれの差と位相のずれの差とが補正に利用されても良い。同様に、第１２のステップでは、光ディスク101から予め読み出されたエッジシフト量の差が補正に利用されても良い。その結果、実際の試し書きには基準の記録パルス条件のみが用いられれば良いので、試し書きの回数が更に削減可能である。
【０１２５】
その他に、記録再生装置が、上記の最適化処理で利用された、基準の記録パルス条件とマーク長調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差、基準の記録パルス条件とマーク位相調整用の記録パルス条件との間での長さのずれの差と位相のずれの差、又は二つの記録パルス条件間でのエッジシフト量の差を光ディスク101に記録しても良い。それにより、次の記録時では、記録パルス条件復調部114がそれらの値を参照する。その結果、記録パルス条件が更に速やかに最適化される。
【産業上の利用可能性】
【０１２６】
本発明は光ディスク記録再生装置及びそのデータ記録方法に関し、上記の通り、記録パルス条件を最適化する。このように、本発明は明らかに産業上利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１２７】
【図１】本発明の実施形態による光学的情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２Ａ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図２Ａでは破線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークA−の始端が理想的なマークAの始端より遅い。
【図２Ｂ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図２Ｂでは破線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークA＋の始端が理想的なマークAの始端より早い。
【図３Ａ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図３Ａでは太い実線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークB−の始端が理想的なマークBの始端より遅い。
【図３Ｂ】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークの始端に対応する再生信号の理想的なパターンを表す二つのパスと実際の波形との間の関係を示す図である。図３Ｂでは太い実線で示されたパスが正解であり、実際の入力信号に対応するマークB＋の始端が理想的なマークBの始端より早い。
【図４】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第１のステップで生成された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図５】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第４のステップで生成された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図６】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法で利用される記録パルス条件のパラメータと記録パルスの波形との間の対応関係を示す波形図である。
【図７】図５に表示された記録パルス条件間でのパラメータの値の変化と記録パルスの波形の変化との間の対応関係を示す波形図である。
【図８】本発明の実施形態によるエッジシフト量の検出方法で利用される、マークのエッジに対応する再生信号の理想的な八つのパターンを表すグラフである。
【図９】図８に示されているパターンの中から、スペース長とマーク長との間の各組み合わせに対応するパスを指定する表である。
【図１０】本発明の実施形態による光学的情報記録媒体の構成を示す平面図である。
【図１１】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第５のステップで得られるエッジシフト量をマーク長とスペース長との間の組み合わせ別に示す表である。
【図１２】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第７のステップで補正された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図１３】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の実施形態による記録パルス条件の最適化方法の第９のステップで生成された記録パルス条件のパラメータの値を示す表である。
【図１５】図７に示されている各記録パルスで光ディスクのトラックに形成された2Tマーク、3Tマーク、及び5Tマークを模式的に示す平面図である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2006112277.tif 000019
【図２Ａ】
2006112277.tif 000020
【図２Ｂ】
2006112277.tif 000021
【図３Ａ】
2006112277.tif 000022
【図３Ｂ】
2006112277.tif 000023
【図４】
2006112277.tif 000024
【図５】
2006112277.tif 000025
【図６】
2006112277.tif 000026
【図７】
2006112277.tif 000027
【図８】
2006112277.tif 000028
【図９】
2006112277.tif 000029
【図１０】
2006112277.tif 000030
【図１１】
2006112277.tif 000031
【図１２】
2006112277.tif 000032
【図１３】
2006112277.tif 000033
【図１４】
2006112277.tif 000034
【図１５】
2006112277.tif 000035
【国際調査報告】
2006112277.tif 000036
2006112277.tif 000037
2006112277.tif 000038
2006112277.tif 000039
2006112277.tif 000040