(57)【要約】  一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測るものであり、光センサの受光面を直接前記発光体の表面に接触させて測定を行う。光センサとしては半導体センサパネルまたは太陽電池パネルが好ましく使用される。これにより、微弱な発光であっても、暗室やレンズ集光システムという複雑で面倒な手段を採用しなくても、簡便、容易に、しかも適切に輝度が測定できるようになる。【特許請求の範囲】
【請求項１】
一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測る方法であって、光センサの受光面を直接前記発光体の表面に接触させて測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法。
【請求項２】
光センサとして半導体センサパネルを用いることを特徴とする請求の範囲１に記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項３】
光センサとして太陽電池パネルを用いることを特徴とする請求の範囲１に記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項４】
発光体の表面の面積と光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じに設定して測定を行うことを特徴とする請求の範囲１から３のいずれかに記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項５】
前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を配置して測定を行うことを特徴とする請求の範囲１から４のいずれかに記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項６】
予め定めら得れたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定して記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする請求の範囲１から５のいずれかに記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項７】
一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測定する装置であって、光センサを有し、前記発光体の表面に前記光センサの受光面を直接接触させて測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定装置。
【請求項８】
前記光センサが半導体センサパネルであることを特徴とする請求の範囲７に記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項９】
前記光センサが太陽電池パネルであることを特徴とする請求の範囲７に記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１０】
前記発光体の表面の面積と前記光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じであることを特徴とする請求の範囲７から９のいずれかに記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１１】
前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を有することを特徴とする請求の範囲７から１０のいずれかに記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１２】
前記光センサが検出した輝度を信号処理する処理部と、前記処理部で処理された測定データを記憶する記憶部と、測定した輝度の値を表示する表示部を備えることを特徴とする請求の範囲７から１１のいずれかに記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１３】
前記処理部が、予め定められたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を前記表示部に表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを前記記憶部が保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定し、前記記憶部に記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶部に記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする請求の範囲１２に記載の発光体の輝度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光体の輝度測定方法とその装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、輝度を測定する方法として、発光体の発光面から発せられた光を遮蔽板等の穴から通過させ、レンズ等で収束し、輝度計の受光面にて輝度を測定していた。【０００３】
しかしながら、上記のとおりの従来の輝度測定の方法やそのための装置には以下のような問題点があった。【０００４】
１．発光体から発する光が例えば１〜数カンデラと弱い場合、これを測定することは困難であることから、これを測定するには、暗い部屋でレンズで集光し測定していた。このため、測定には大変に負担がかかっていた。【０００５】
２．通常、発光体と受光体は一定距離を離す方法が用いられている。これは、レンズによる集光が必要であったため、発光体と受光体の間にレンズを配置することによる。発光体の光が弱い程、レンズによる集光は欠かせないと考えられていた。だが、このようなレンズによる集光システムでは光学系が複雑になり、操作も面倒であった。
【発明の開示】
【０００６】
そこで、本発明は、以上のような問題点を解決し、微弱な発光であっても、従来のような暗室やレンズ集光システムという複雑で面倒な手段を採用しなくても、簡便、容易に、しかも適切に輝度を測定することのできる技術手段を提供することを課題としている。
【０００７】
かかる課題を解決するため、本発明によれば、第１には、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測る方法であって、光センサの受光面を直接前記発光体の表面に接触させて測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
【０００８】
また、第２には、上記第１の発明において、光センサとして半導体センサパネルを用いることを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
【０００９】
また、第３には、上記第１の発明において、光センサとして太陽電池パネルを用いることを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
【００１０】
また、第４には、上記第１から第３の発明のいずれかにおいて、発光体の表面の面積と光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じに設定して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
【００１１】
また、第５には、上記第１から第４の発明のいずれかにおいて、前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を配置して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
【００１２】
また、第６には、上記第１から第５の発明のいずれかにおいて、予め定めら得れたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定して記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
【００１３】
また、第７には、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測定する装置であって、光センサを有し、前記発光体の表面に前記光センサの受光面を直接接触させて測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【００１４】
また、第８には、上記第７の発明において、前記光センサが半導体センサパネルであることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【００１５】
また、第９には、上記第７の発明において、前記光センサが太陽電池パネルであることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【００１６】
また、第１０には、上記第７から第９の発明のいずれかにおいて、前記発光体の表面の面積と前記光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じであることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【００１７】
また、第１１には、上記第７から第１０のいずれかにおいて、前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を有することを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【００１８】
また、第１２には、上記第７から第１１の発明のいずれかにおいて、前記光センサが検出した輝度を信号処理する処理部と、前記処理部で処理された測定データを記憶する記憶部と、測定した輝度の値を表示する表示部を備えることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【００１９】
さらに、第１３には、上記第１２の発明において、前記処理部が、予め定められたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を前記表示部に表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを前記記憶部が保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定し、前記記憶部に記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶部に記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】図１は、本発明の輝度測定の基本構成を示した概要図である。
【図２】図２（ａ）、（ｂ）は、それぞれ本発明の輝度測定を発光体として蓄光板とした例を模式的に示す構成の側面断面図、背面図である。
【図３】図３（ａ）、（ｂ）（ｃ）、（ｄ）は、それぞれ本発明の一構成例の輝度測定装置を示す正面図、側面図、背面図、底面図である。
【図４】図４は、図３の装置を用いた測定データの例を示す図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下に本発明の実施形態について述べる。【００２２】
本発明による発光体の輝度測定は、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測るものであり、光センサの受光面を直接前記発光体の表面に接触させて測定を行うことを特徴とする。【００２３】
本発明による発光体の輝度測定では、光センサを用いて、発光体が発する光を受光し、その光を電気信号に変換し、発生する電力を測ることで輝度を特定する。【００２４】
本発明による発光体の輝度測定では、接触式の測定が行われることから、光の拡散、収束がなく、特に従来用いていたレンズ集光システムを用いる必要がない。従って、測定装置を小型にすることができる。【００２５】
光センサとしては、半導体センサパネルと、太陽電池パネルを好ましく用いることができる。半導体センサパネルや太陽電池パネルには、単結晶や多結晶、アモルファス、あるいはハイブリッドのシリコンやその他の材料を用いたものがあるが、受光した光を効率的に電気信号に変換し、発生する電力を精度よく測定できるものであれば、適宜の材料を使用することができる。【００２６】
図１は、本発明による発光体の輝度測定の基本的構成を例示したものである。発光体１の中には、光源２である各種電球、蛍光灯、ＬＥＤ、ＥＬ素子等を配設することができる。発光体１は、部屋の壁等に取り付ける「非常口」を示す発光器や、看板等が例えとしてあり得る。また、昼の間に光を蓄え夜間等に暗い場所にて光る蓄光体といわれる、プラスチック、石等も対象となり得る。【００２７】
受光体５としての半導体センサパネルや太陽電池パネル３は、フラットな平面を有するものであれば各種のものであってよい。また、その大きさは適宜選択されるが、３０ｍｍ×３０ｍｍ前後が好ましく、１００ｍｍ×１００ｍｍ程度までのものが通常使用される。【００２８】
発光体１の微少な光を、発光体１とほぼ同じ面積の広さ（１００〜１２０％程度）の受光体５にて、受止めるようにすることが好適に考慮される。【００２９】
また、受光体５には半導体センサパネル又は太陽電池パネル３を支える支持板８と外部の光が半導体センサパネルや太陽電池パネル３に入り込まない様にフード４を両位置に設けている。【００３０】
半導体に適当なエネルギーである光が入射すると、光と半導体を構成する格子との相互作用で、電子と正孔の対が発生する。半導体中にＰ−Ｎ接合があると、電子はＮ型半導体に、正孔はＰ型半導体に拡散し、両方の電極部に集まる。この両電極を結線すると電流が流れ、電力が発生する。【００３１】
ここでは受光体５に取り付けられている、半導体センサパネル又は太陽電池パネル３に発光体１からの光が入り込むと、起電力を生じる。前記起電力をＡ／Ｄ変換してカンデラ表示させる。表示器７は電線６により半導体センサパネル又は太陽電池パネル３と繋がれている。表示はアナログ表示でもよい。なお表示器はメータ、ＬＥＤブザーでも代用できる。ここでは、測定結果をカンデラ「ｃｄ／ｍ2」で表わしているが、測定対象によりミリカンデラ「ｍｃｄ／ｍ2」で表してもよい。【００３２】
図２（ａ）、（ｂ）は、それぞれ本発明の輝度測定を発光体１として蓄光板とした例を示す構成を模式的に示す側面断面図及び背面図である。図２において、図１と同様な要素には同じ符号を付してある。ここでは、測定結果をミリカンデラ「ｍｃｄ／ｍ2」で表している。【００３３】
次に、より具体的な例を挙げて、本発明について詳述する。【００３４】
図３（ａ）、（ｂ）（ｃ）、（ｄ）は、それぞれ本発明の一構成例の輝度測定装置を示す正面図、側面図、背面図、底面図である。【００３５】
本例の輝度測定装置１０は、半導体センサパネル又は太陽電池パネルを用いたセンサ受光部１１を有し、その下方には電源電池（本例の場合は３個の単三電池）を収容する電池収容部１２が形成されている。センサ受光部１１は図３（ｂ）に示すように前方に突出して設けられている。輝度測定装置１０の一側面には電源スイッチ１３が設けられている。また、センサ受光部１１の周囲には遮光フード１４が設けられ、より正確な測定が行えるようになっている。【００３６】
輝度測定装置１０の背面側には、図３（ｃ）に示すように表示部１５とスイッチ１６Ａ〜１６Ｄが設けられている。本例では、表示部１５は４桁の７セグメント表示器が使用され、スイッチ１６Ａ〜１６ＤにはＬＥＤ付きスイッチが使用されている。さらに、輝度測定装置１０の底部には、通信用コネクタ１７が設けられ、図示しないプリンタやパソコン等に接続可能となっている。【００３７】
また、輝度測定装置１０の本体内には、処理部と記憶部を備えた制御基板１８が設けられている。処理部は、センサ受光部１１で発生した起電力の値を測定し、その測定値を数値化して表示部センサ受光部１１で受光した光により発生した電流を取り込み、電圧に変換し、信号処理を行うことにより輝度の値を求め、表示部１５にデジタル表示させるとともに、記憶部にその輝度値を測定時間と関連させて記憶させるほか、輝度測定装置１０の測定動作を制御する各種役割を行う。特に、本例では、下記の３つのモードで測定を行うようにしている。【００３８】
＜１＞デフォルトでセットされたサンプリング時間でリニアに輝度を測定し、その測定値を表示部１５に表示させるノーマル測定モード
＜２＞任意に選択したサンプリング時間で自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを記憶部が保持する自動測定記録モード
＜３＞複数の基準物の輝度データを予め測定し、記憶部に記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、記憶部に記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を短時間で求める予測測定モード
これらの各モードの機能や選択は、スイッチ１６Ａ〜１６Ｄにより設定ないし選択できるようになっている。【００３９】
各スイッチ１６Ａ〜１６Ｄには次のような表示が記載されている。【００４０】
１６Ａ・・・測定／保留
１６Ｂ・・・予測／結果
１６Ｃ・・・自動記録／印刷
１６Ｄ・・・記録／読出
実際に作製した輝度測定装置の諸元は次のようになっている。もちろん、ここに記載のものは例示であり、本発明を限定するものではない。【００４１】
検出器：              アモルファスシリコン半導体パネル（光センサ）
測定面積：            ３０ｍｍ×３０ｍｍ（正方形）
測定単位：            ｍｃｄ／ｍ2
測定範囲：            ０〜１０００ｍｃｄ／ｍ2
測定精度：            ±４％
温度特性：            ±３％（２３℃を基準）
湿度特性：            ±３％（６０ＲＨを基準）
使用温度：            ５℃〜４０℃
使用湿度：            ８５％ＲＨ
連続測定可能時間：    約２０時間（ＵＭ３アルカリ乾電池を使用した場合）
測定値記憶回数：      ２４０回以下
表示：                ７セグメント表示器  ４桁
電源：                ＤＣ４．５Ｖ（ＵＭ３アルカリ乾電池×３本）
寸法：                Ｗ６５×Ｈ１６０×Ｄ４０ｍｍ（突出部を除く）
重量：                約２００ｇ（乾電池含まず）
次に、本例の輝度測定装置１０を用いた測定の操作について述べる。【００４２】
電源スイッチ１３をオンにする。ここで表示部１５には、光を全く検知しない状態では、「００００」（初期設定）と表示され、測定範囲以上の光を検知した状態では、「ＯＶＥＲ」と表示され、それ以外の測定範囲内の光を検知した場合には、その輝度値が表示される。そして図示しない測定対象である発光体に対し、センサ受光部１１の受光平面を接触させ、遮光フード１４を輝度測定装置１０本体に密着させ、遮光状態とする。次に、スイッチ１６Ａ〜１６Ｄを操作して測定モードを選択して、測定を行う。【００４３】
ノーマル測定モードで測定を行う場合、スイッチ１６Ａを操作して「測定」とするとその対応ＬＥＤがオンとなる。たとえば１秒間隔で輝度を測定し、測定値を表示部１５に表示させる。測定が終了するとスイッチ１６Ａを操作して「保留」とすると、その対応ＬＥＤがオフとなる。次に、スイッチ１６Ｃを操作して「印刷」とすると印刷が行われる。印刷は、通信用コネクタ１７に図示しないプリンタを接続させて行うことができる。また、スイッチ１６Ｄを操作して「読出」とすると記憶部（メモリ）の内容が表示される。たとえば１秒間メモリ番号が左詰で表示され、その後、記録された測定値が表示される。さらにスイッチ１６Ｄを押すと、次のメモリ番号とその後に測定値が表示される。【００４４】
ノーマル測定モードで測定した結果例を図４に示す。【００４５】
自動測定記録モードで測定を行う場合、スイッチ１６Ｃを操作して「自動記録」とすると対応ＬＥＤがオンとなり、一定間隔で記憶部に測定値が記録されるモードとなる。スイッチ１６Ｃを押した直後は１分間隔のサンプリング時間となり、表示部１５に‘１’が表示される。１分以内にもう一度スイッチ１６Ｃを押すと、表示部１５に‘２’と表示され、２分間隔となる。以降同様にしてサンプリング時間の設定を任意に行うことができる。【００４６】
予測測定モードで測定を行う場合、スイッチ１６Ｂを操作して「予測」とすると対応ＬＥＤがオンとなり、次に、たとえば計測を最低４分間行う。得られたデータを記憶部に記憶させておいたデータと比較し、短時間の測定でより長い時間のデータ予測値を求める。短時間の測定したデータに基づきより長い時間でのデータ予測値を求める方法としては、従来公知の各種の方法を用いることができる。【００４７】
以上、本発明を具体例に基づいて詳細に説明したが、本発明は上記実施形態及び具体例に限定されるものではなく、種々の変形、変更を行うことができることはいうまでもない。
【図１】
2006126544.tif 000002
【図２】
2006126544.tif 000003
【図３】
2006126544.tif 000004
【図４】
2006126544.tif 000005
【手続補正書】
【提出日】平成19年8月29日(2007.8.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（削除）
【請求項２】
光センサの受光面を直接、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の表面に接触させて、前記発光体の輝度を測定する方法であって、予め定められたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定して記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法。
【請求項３】
光センサとして半導体センサパネルを用いることを特徴とする請求の範囲２に記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項４】
光センサとして太陽電池パネルを用いることを特徴とする請求の範囲２に記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項５】
発光体の表面の面積と光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じに設定して測定を行うことを特徴とする請求の範囲２に記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項６】
前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を配置して測定を行うことを特徴とする請求の範囲２に記載の発光体の輝度測定方法。
【請求項７】
（削除）
【請求項８】
光センサを有し、前記光センサの受光面を直接、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の表面に接触させて、前記発光体の輝度を測定する装置であって、前記光センサが検出した輝度を信号処理する処理部と、前記処理部で処理された測定データを記憶する記憶部と、測定した輝度の値を表示する表示部を備え、前記処理部が、予め定められたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を前記表示部に表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを前記記憶部が保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定し、前記記憶部に記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶部に記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定装置。
【請求項９】
前記光センサが半導体センサパネルであることを特徴とする請求の範囲８に記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１０】
前記光センサが太陽電池パネルであることを特徴とする請求の範囲８に記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１１】
前記発光体の表面の面積と前記光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じであることを特徴とする請求の範囲８に記載の発光体の輝度測定装置。
【請求項１２】
前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を有することを特徴とする請求の範囲８に記載の発光体の輝度測定装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
技術分野
本発明は、発光体の輝度測定方法とその装置に関するものである。
背景技術
従来、輝度を測定する方法として、発光体の発光面から発せられた光を遮蔽板等の穴から通過させ、レンズ等で収束し、輝度計の受光面にて輝度を測定していた。
しかしながら、上記のとおりの従来の輝度測定の方法やそのための装置には以下のような問題点があった。
１．発光体から発する光が例えば１〜数カンデラと弱い場合、これを測定することは困難であることから、これを測定するには、暗い部屋でレンズで集光し測定していた。このため、測定には大変に負担がかかっていた。
２．通常、発光体と受光体は一定距離を離す方法が用いられている。これは、レンズによる集光が必要であったため、発光体と受光体の間にレンズを配置することによる。発光体の光が弱い程、レンズによる集光は欠かせないと考えられていた。だが、このようなレンズによる集光システムでは光学系が複雑になり、操作も面倒であった。
発明の開示
そこで、本発明は、以上のような問題点を解決し、微弱な発光であっても、従来のような暗室やレンズ集光システムという複雑で面倒な手段を採用しなくても、簡便、容易に、しかも適切に輝度を測定することのできる技術手段を提供することを課題としている。
かかる課題を解決するため、本発明によれば、第１には、光センサの受光面を直接、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の表面に接触させて、前記発光体の輝度を測定する方法であって、予め定められたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリ
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００２】
ング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定して記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
また、第２には、上記第１の発明において、光センサとして半導体センサパネルを用いることを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
また、第３には、上記第１の発明において、光センサとして太陽電池パネルを用いることを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
また、第４には、上記第１の発明において、発光体の表面の面積と光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じに設定して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する。
また、第５には、上記第１の発明において、前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を配置して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定方法を提供する
また、第６には、光センサを有し、前記光センサの受光面を直接、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の表面に接触させて、前記発光体の輝度を測定する装置であって、前記光センサが検出した輝度を信号処理する処理部と、前記処理部で処理された測定データを記憶する記憶部と、測定した輝度の値を表示する表示部を備え、前記処理部が、予め定められたサンプリング時間で輝度を測定し、その測定値を前記表示部に表示させるノーマル測定モードと、任意にサンプリング時間を選択し、自動的かつ継続的に測定を行い、その測定データを前記記憶部が保持する自動測定記録モードと、複数の基準物の輝度データを予め測定し、前記記憶部に記憶しておき、測定対象の輝度を一定時間測定し、前記記憶部に記憶している測定対象と同じか類似する基準物の輝度データに基づき予測
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００３】
値を求める予測測定モードのうちのいずれかのモードを選択して測定を行うことを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
また、第７には、上記第６の発明において、前記光センサが半導体センサパネルであることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
また、第８には、上記第６の発明において、前記光センサが太陽電池パネルであることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
また、第９には、上記第６の発明において、前記発光体の表面の面積と前記光センサの受光面の面積とが同じかもしくはほぼ同じであることを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
さらに、第１０には、上記第６の発明において、前記光センサの受光面と前記発光体の表面とを接触させた状態で前記光センサの受光面に外部光の入り込みを防止する光遮蔽部材を有することを特徴とする発光体の輝度測定装置を提供する。
図面の簡単な説明
図１は、本発明の輝度測定の基本構成を示した概要図である。
図２（ａ）、（ｂ）は、それぞれ本発明の輝度測定を発光体として蓄光板とした例を模式的に示す構成の側面断面図、背面図である。
図３（ａ）、（ｂ）（ｃ）、（ｄ）は、それぞれ本発明の一構成例の輝度測定装置を示す正面図、側面図、背面図、底面図である。
図４は、図３の装置を用いた測定データの例を示す図である。
発明を実施するための最良の形態
以下に本発明の実施形態について述べる。
本発明による発光体の輝度測定は、一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測るものであり、光センサの受光面を直接前記発光体の表面に接触させて測定を行うことを特徴とする。
本発明による発光体の輝度測定では、光センサを用いて、発光体が発する光を受
【国際調査報告】
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