(57)【要約】【課題】本発明は、評価装置及び評価方法に関し、例えば光ディスクの評価に適用して、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができるようにする。【解決手段】本発明は、所望のパターンによりトリガ信号ＳＴを出力するようにして、このトリガ信号ＳＴの出力までの期間だけ再生信号ＲＦを遅延させる。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体を評価する評価装置において、
前記記録媒体から得られる再生信号からクロックを再生するクロック再生部と、
前記再生信号を２値識別して２値化信号を出力する２値化部と、
前記クロックを基準にして前記再生信号が所定の信号レベルを横切るタイミングを測定し、前記クロックに対する前記再生信号のタイミングのずれ量を検出するずれ量部と、
前記ずれ量を表示する表示手段と、
前記２値化信号に現れる変化パターンの入力を受け付ける変化パターン入力部と、
前記入力部で入力を受け付けた変化パターンが前記２値化信号に現れるとトリガ信号を出力するパターン検出部と、
前記パターン検出部で前記トリガ信号を出力するまでの分、前記再生信号を遅延させる遅延部とを備える
ことを特徴とする評価装置。
【請求項２】
前記記録媒体が、光ディスクであり、
前記ずれ量が、前記光ディスクに作成されたピット又はマークの前縁エッジ及び後縁エッジのエッジシフト量である
ことを特徴とする請求項１に記載の評価装置。
【請求項３】
前記表示手段は、
前記ピット及びスペースの組み合わせ毎に、又は前記マーク及びスペースの組み合わせ毎に、前記ずれ量を集計して一覧表示し、
前記変化パターン入力部は、
前記一覧表示における前記ピット及びスペースの組み合わせ、又は前記一覧表示における前記マーク及びスペースの組み合わせの選択により、前記変化パターンの入力を受け付ける
ことを特徴とする請求項２に記載の評価装置。
【請求項４】
前記再生信号をアナログディジタル変換処理してディジタル再生信号を出力するアナログディジタル変換部を有し、
前記遅延部は、
前記ディジタル再生信号を遅延させることにより、前記再生信号を遅延させ、
前記評価装置は、
前記遅延部で遅延した前記ディジタル再生信号をアナログ信号に変換して出力するディジタルアナログ変換部を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の評価装置。
【請求項５】
記録媒体を評価する評価方法において、
前記記録媒体から得られる再生信号からクロックを再生し、前記クロックを基準にして前記再生信号が所定の信号レベルを横切るタイミングを測定し、前記クロックに対する前記再生信号のタイミングのずれ量を検出するずれ量のステップと、
前記再生信号に現れる変化パターンの入力を受け付ける変化パターン入力のステップと、
前記変化パターンが前記再生信号に現れるとトリガ信号を出力するパターン検出のステップと、
前記トリガ信号を検出するまでの分、前記再生信号を遅延させる遅延のステップとを備える
ことを特徴とする評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、評価装置及び評価方法に関し、例えば光ディスクの評価に適用することができる。本発明は、所望のパターンによりトリガ信号を出力するようにして、このトリガ信号の出力までの期間だけ再生信号を遅延させることにより、光ディスクの検討、評価等において、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができる。
【背景技術】
【０００２】
従来、各種光ディスクでは、所定の基本周期Ｔの整数倍の周期によりピット列、マーク列を作成して所望のデータが記録されており、このピット列、マーク列の作成に係る記録波形のストラテジが例えば日本工業規格（ＪＩＳ）Ｘ−６２４３で規定されている。
【０００３】
ここで図７は、この日本工業規格で規定された相変化型光ディスクにおける記録波形のストラテジを示すタイムチャートである。この図７の例は、例えば１１Ｔ、５Ｔ、３Ｔのマークを作成する場合であり、これらマークに対応するＮＲＺＩ変調信号（図７（Ａ））を光ディスク装置で生成する。１１Ｔ、５Ｔのマークでは、ＮＲＺＩ変調信号に対して一定の遅延時間Ｔｆｄだけ遅延してレーザービームの光量を間欠的にバイアスパワーＬＢからピークパワーＬＰに立ち上げ、いわゆるマルチパルス方式（パルストレイン方式）によりマークを作成する。また最短の３Ｔのマークを作成する場合、一定の遅延時間Ｔｆｄだけ遅延してレーザービームの光量を連続してバイアスパワーＬＢからピークパワーＬＰに立ち上げる。また図７の例では、各マークの最後に一定期間ＴＣＷの間、レーザービームの光量を冷却用の光量ＬＣに立ち下げる。なおこの図７において、符号ＬＲは再生時の光量である。
【０００４】
ここで光ディスクでは、光量ＬＰ、ＬＢ、ＬＣが適切に設定されていない場合には、正しくピット、マークを作成することが困難になり、再生信号における位相余裕がジッターにより著しく劣化する。また隣接ピット又はマークによる符号間干渉によっても、再生信号が変化する。
【０００５】
そこで光ディスクは、レーザービームの光量制御に係る書込み時の光量、再生時の光量が光ディスクに記録されており、光ディスク装置は、この光ディスクに記録された光量を基準にした試し書き領域による試し書により書込み時の光量を適切に設定する。また再生時、孤立波形等化方式（ＰＲ方式）により符号間干渉による再生歪を補正した後、例えばビタビ復号回路による最尤判定により再生信号を２値識別している。
【０００６】
このような光ディスクに作成されたピット、マークの評価に関して、例えば特開平１０−２６９５７７号公報には、エッジシフト量を計測してピット長及びピット間隔の組み合わせ毎に平均値を計算する構成が開示されており、特開２００６−３４４３３８号公報には、さらにエッジシフト量の標準偏差を計算する構成が開示されている。
【０００７】
ところで光ディスクにおける素材、記録波形のストラテジの検討等においては、これらの先行文献に記載の構成を使用してピット及びスペースの組み合わせ毎にエッジシフト量を求めることにより検討に要する時間を短縮することができると考えられる。
【０００８】
しかしながらこれらの先行文献に記載の手法の適用により、特定のマーク長及びスペース長の組み合わせにおいてエッジシフトが著しく劣化していることが判っても、素材、記録波形のストラテジの検討においては、結局、光ディスクから得られる再生信号をオシロスコープで詳細に観察することが必要になる。
【０００９】
この場合、従来の光ディスクの検討では、再生信号をディジタルオシロスコープに取り込んで所望するマーク長及びスペース長の組み合わせを見つけ出すことが必要になり、結局、信号波形の観察に時間を要する問題があり、これにより光ディスクの検討に時間を要する問題があった。
【特許文献１】特開平１０−２６９５７７号公報
【特許文献２】特開２００６−３４４３３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクの検討、評価等において、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができる評価装置及び評価方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の課題を解決するため請求項１の発明は、記録媒体を評価する評価装置に適用して、前記記録媒体から得られる再生信号からクロックを再生するクロック再生部と、前記再生信号を２値識別して２値化信号を出力する２値化部と、前記クロックを基準にして前記再生信号が所定の信号レベルを横切るタイミングを測定し、前記クロックに対する前記再生信号のタイミングのずれ量を検出するずれ量部と、前記ずれ量を表示する表示手段と、前記２値化信号に現れる変化パターンの入力を受け付ける変化パターン入力部と、前記入力部で入力を受け付けた変化パターンが前記２値化信号に現れるとトリガ信号を出力するパターン検出部と、前記パターン検出部で前記トリガ信号を出力するまでの分、前記再生信号を遅延させる遅延部とを備えるようにする。
【００１２】
また請求項２の発明は、請求項１の構成において、前記記録媒体が、光ディスクであり、前記ずれ量が、前記光ディスクに作成されたピット又はマークの前縁エッジ及び後縁エッジのエッジシフト量であるようにする。
【００１３】
また請求項３の発明は、請求項２の構成において、前記表示手段は、前記ピット及びスペースの組み合わせ毎に、又は前記マーク及びスペースの組み合わせ毎に、前記ずれ量を集計して一覧表示し、前記変化パターン入力部は、前記一覧表示における前記ピット及びスペースの組み合わせ、又は前記一覧表示における前記マーク及びスペースの組み合わせの選択により、前記変化パターンの入力を受け付ける。
【００１４】
また請求項４の発明は、請求項１の構成において、前記再生信号をアナログディジタル変換処理してディジタル再生信号を出力するアナログディジタル変換部を有し、前記遅延部は、前記ディジタル再生信号を遅延させることにより、前記再生信号を遅延させ、前記評価装置は、前記遅延部で遅延した前記ディジタル再生信号をアナログ信号に変換して出力するディジタルアナログ変換部を有する。
【００１５】
また請求項５の発明は、記録媒体を評価する評価方法に適用して、前記記録媒体から得られる再生信号からクロックを再生し、前記クロックを基準にして前記再生信号が所定の信号レベルを横切るタイミングを測定し、前記クロックに対する前記再生信号のタイミングのずれ量を検出するずれ量のステップと、前記再生信号に現れる変化パターンの入力を受け付ける変化パターン入力のステップと、前記変化パターンが前記再生信号に現れるとトリガ信号を出力するパターン検出のステップと、前記トリガ信号を検出するまでの分、前記再生信号を遅延させる遅延のステップとを備えるようにする。
【００１６】
請求項１の構成によれば、前記記録媒体から得られる再生信号からクロックを再生するクロック再生部と、前記再生信号を２値識別して２値化信号を出力する２値化部と、前記クロックを基準にして前記再生信号が所定の信号レベルを横切るタイミングを測定し、前記クロックに対する前記再生信号のタイミングのずれ量を検出するずれ量部と、前記ずれ量を表示する表示手段とを備えることにより、例えば光ディスクにおけるエッジシフト量を計測して計測結果を表示することができる。また前記２値化信号に現れる変化パターンの入力を受け付ける変化パターン入力部と、前記入力部で入力を受け付けた変化パターンが前記２値化信号に現れるとトリガ信号を出力するパターン検出部と、前記パターン検出部で前記トリガ信号を出力するまでの分、前記再生信号を遅延させる遅延部とを備えることにより、測定結果に基づいて所望のピット及びスペース、又はマーク及びスペースの組み合わせに係る変化パターンについて、トリガ信号により選択的に再生信号を波形観測することができ、これにより各種の記録媒体の検討、評価等において、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができる。
【００１７】
また請求項２の構成によれば、光ディスクの検討、評価等において、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができる。
【００１８】
また請求項３の構成によれば、ピット及びスペースの組み合わせ毎に、又はマーク及びスペースの組み合わせ毎に、前記ずれ量を集計して一覧表示し、特定の変化パターンにおける異常を簡易に確認することができ、またこの特定の変化パターンについて、迅速に再生信号を波形観測することができる。
【００１９】
また請求項４の構成によれば、ディジタル再生信号を遅延させて再生信号を遅延させることにより、簡易な構成で再生信号を遅延させて波形観測することができる。
【００２０】
また請求項５の構成によれば、光ディスクの検討、評価等において、問題とされる箇所の再生信号を迅速に観察することができる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、光ディスクの検討、評価等において、問題とされる箇所の再生信号を迅速に観察することができ、これにより光ディスクの検討、評価に要する時間を従来に比して格段的に短くすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。
【実施例１】
【００２３】
（１）図１は、本発明の実施例１に係る光ディスク評価装置を示すブロック図である。この光ディスク評価装置１は、所望の光ディスクの評価に使用される。この光ディスク評価装置１において、書込み信号発生回路（ＷＳＧ）２は、コンピュータＰＣの制御によりコンピュータＰＣにより指示されたストラテジによる書込み信号Ｓ１を生成して出力する。
【００２４】
光ディスク装置３は、コンピュータＰＣの制御により、書込み信号発生回路２から出力される書込み信号Ｓ１に応動して光量が変化するレーザービームを光ピックアップ（ＯＰ）３Ａから光ディスクに照射し、これによりこの書込み信号Ｓ１に応じたレーザービームの光量制御により、光ディスクに順次マーク列を構成する。なお例えばライトワンス型の光ディスクに適用して、ピット列を作成する場合にも広く適用することができる。
【００２５】
光ディスク装置３は、さらにコンピュータＰＣの制御により動作モードを再生モードに切り換え、光ディスクにレーザービームを照射して得られる戻り光を光ピックアップ３Ａで受光し、光ディスクに作成されたマーク列に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦを出力する。
【００２６】
アナログディジタル変換回路（ＡＤＣ）４は、再生信号ＲＦのチャンネルクロックに比して十分に周波数の高いサンプリングクロックにより、再生信号ＲＦをアナログディジタル変換処理し、ディジタル再生信号ＤＲＦを出力する。イコライザ（ＥＱ）５は、ＦＩＲフィルタにより構成され、ディジタル再生信号ＤＲＦを波形等化して出力する。この実施例では、この波形等化に孤立波形等化方式（ＰＲ方式）が適用され、これにより符号間干渉による再生歪を補正してディジタル再生信号ＤＲＦ１を出力する。
【００２７】
デコーダ（ＤＥＣ）６は、このイコライザ５から出力されるディジタル再生信号ＤＲＦ１を内蔵のＰＬＬ回路で処理し、再生信号ＲＦからチャンネルクロックＣＬＫを再生する。またデコーダ６は、イコライザ５から出力されるディジタル再生信号ＤＲＦ１を２値識別することにより、再生したチャンネルクロックＣＬＫに同期して、光ディスクに作成されたピット列及びマーク列に応じて論理レベルが変化する再生データＤ１を生成する。ここでこの実施例において、デコーダ６は、ビタビ復号回路により構成され、これにより、この２値識別にビタビ復号の手法が適用される。
【００２８】
シフト量演算回路（ＣＡＬ）７は、この再生データＤ１の論理Ｈレベル、論理Ｌレベルの期間を判定して、再生信号ＲＦにおけるマーク長及びスペース長を順次検出し、検出結果Ｓ３を順次出力する。またシフト量演算回路７は、対応するチャンネルクロックの信号レベルの切り換わりを基準にして、ディジタル再生信号ＤＲＦ１が０クロスするタイミングを検出し、これによりエッジシフト量を検出する。シフト量演算回路７は、エッジを構成するマーク及びスペースの長さ、前縁エッジ、後縁エッジで分類して、検出したエッジシフト量ΔをコンピュータＰＣに出力する。
【００２９】
セレクタ（ＳＥＬ）８は、シフト量演算回路７で検出されたマーク長及びスペース長の検出結果Ｓ３を入力して判定し、コンピュータＰＣにより指示されたスペース長、マーク長によるスペース、マークの連続が現れるとトリガ信号ＳＴを出力する。
【００３０】
選択回路９は、コンピュータＰＣの制御により、イコライザ５に入力されるディジタル再生信号ＤＲＦ、又はイコライザ５から出力されるディジタル再生信号ＤＲＦ１を選択して出力する。
【００３１】
遅延回路（Ｄ）１０は、対応するトリガ信号ＳＴがセレクタ８から出力されるまでの期間の間、選択回路９の出力信号を遅延させて出力する。ディジタルアナログ変換回路（ＤＡＣ）１１は、遅延回路１０の出力信号をディジタルアナログ変換処理して出力する。
【００３２】
オシロスコープ（ＯＳＣ）１２は、遅延回路１０の出力信号、又は選択回路９から出力されるトリガ信号ＳＴをトリガにして、遅延回路１０の出力信号の出力信号波形を表示する。
【００３３】
コンピュータＰＣは、オペレータの操作により光ディスクの評価プログラムを立ち上げ、オペレータにより光ディスクに記録する記録波形のストラテジの設定を受け付ける。またこの受け付けたストラテジによる書込み信号Ｓ１の生成を書込み信号発生回路２に指示し、評価対象の光ディスクにこの書込み信号Ｓ１によるマーク列を一定期間作成する。また続いてこの作成したマーク列による再生信号ＲＦの処理を各部に指示し、シフト量演算回路７から出力されるマークの前縁エッジ及び後縁エッジ、エッジを構成するマーク及びスペースの長さで分類したエッジシフト量Δを取得する。
【００３４】
この再生信号ＲＦの処理において、コンピュータＰＣは、オペレータが再生信号ＲＦのオシロスコープによるモニタを指示すると、オペレータの指示に応動して選択回路９の接点を切り換え、図２に示すように、この選択回路９の出力信号のトリガによりこの選択回路９の出力信号をオシロスコープ１２で表示する。なおここで図２（Ａ）は、波形等化前の再生信号ＲＦの信号波形を示すディジタル再生信号ＤＲＦのモニタ波形であり、図２（Ｂ）は波形等化後の再生信号ＲＦの信号波形を示すディジタル再生信号ＤＲＦ１のモニタ波形である。
【００３５】
コンピュータＰＣは、取得したエッジシフト量Δをエッジを構成するマーク長及びスペース長、前縁エッジ、後縁エッジの組み合わせにより分類する。またさらに分類毎に、平均値及び標準偏差を計算する。コンピュータＰＣは、オペレータによる測定結果の表示の指示により、図３に示すように、このようにして集計した平均値及び標準偏差を分類毎の表形式により表示する。なお図３は、前縁エッジ又は後縁エッジについて、オペレータが測定結果の表示を指示した場合である。
【００３６】
このようにして測定結果を表示して、例えば符号Ａにより示す領域をマウスによりクリックして、オペレータがマーク長２Ｔのマークについて、測定結果の詳細表示を指示すると、コンピュータＰＣは、図４に示すように、マーク及びスペースを順次配置した視覚的な表現手法により測定結果を表示する。すなわちこの図４の例では、最上段に、周期２Ｔのスペース、周期２Ｔのマーク、周期２Ｔのスペースのシンボルが表示され、この周期２Ｔのマークの前縁エッジ、後縁エッジに対して、エッジシフト量の平均値の分だけ変位した位置を中心にして、測定した標準偏差によるヒストグラムが表示される。従ってこの図４の例では、周期２Ｔのマークの後縁エッジが大きく前側にエッジシフトしていることが示されている。
【００３７】
また続いて周期３Ｔのスペース、周期２Ｔのマーク、周期３Ｔのスペースのシンボルが表示され、この周期２Ｔのマークに同様にヒストグラムが表示される。また続いて、周期４Ｔのスペース、周期２Ｔのマーク、周期４Ｔのスペースのシンボルがヒストグラムと共に表示され、周期５Ｔのスペース、周期２Ｔのマーク、周期５Ｔのスペースのシンボルがヒストグラムと共に表示される。
【００３８】
また図３において符号Ｂにより示すように、スペースの側がオペレータにより選択されると、図６に示すように、周期２Ｔのスペースに挟まれたマークのシンボルを順次表示し、このマークの前縁エッジ、後縁エッジにそれぞれ対応する測定結果によるヒストグラムを表示する。
【００３９】
これに対してオペレータにより再生信号波形の特定パターンのリアルタイム観察が指示されると、コンピュータＰＣは、連続するマーク、スペースの各長さにより観察するパターンの入力を受け付ける。またこの入力を受け付けたパターンでトリガ信号ＳＴを出力するように、セレクタ８を設定した後、各部に光ディスクの再生を指示する。これにより図６に示すように、コンピュータＰＣは、オペレータが指示した特定のパターン（この図６の例では例えば２Ｔのスペース、２Ｔのマーク、３Ｔのスペース、３Ｔのマークによるパターン）が再生信号ＲＦに現れた場合にトリガ信号ＳＴを出力するようにして、このパターンによる再生信号波形をオシロスコープ１２によりリアルタイムで観察できるようにする。
【００４０】
またこのときコンピュータＰＣは、このオシロスコープ１２で表示する特定のパターンの再生信号波形に対応するマーク及びスペースのシンボルをそれまでの測定結果によるヒストグラムと共に表示し、これによりオシロスコープで表示した信号波形とマーク、スペースとの関係を一段と容易に把握できるようにする。
【００４１】
これに対して図３について上述した一覧表示において、例えば符号Ｃにより示すように、所望のマーク及びスペースの組み合わせを選択した後、マーク及びスペースの前後関係を指定して再生信号波形のリアルタイム観察を指示すると、図６について上述したと同様にしてマーク及びスペースのシンボルを表示してそれまでの測定結果を表示すると共に、指定されたマーク及びスペースによりトリガ信号ＳＴを出力するようにセレクタ８を設定する。これによりこの実施例では、異常の発生しているマーク及びスペースの組み合わせについて、簡易に信号波形を観察することができるようになされている。
【００４２】
（２）実施例の動作
以上の構成において、この光ディスク評価装置１では、コンピュータＰＣにおける設定により記録波形のストラテジが設定され、この設定に従って書込み信号発生回路で書込み信号Ｓ１が生成され、この書込み信号Ｓ１に応動した光ディスク装置３によるレーザービームの照射によりこの光ディスク装置３に装填された評価対象の光ディスクに順次マーク列が作成される。
【００４３】
この光ディスク評価装置１では、マーク列を一定量だけ作成すると、光ディスクにレーザービームを照射して得られる戻り光を受光してマーク列に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦが検出される。またこの再生信号ＲＦがアナログディジタル変換回路４によりディジタル再生信号ＤＲＦに変換された後、等化回路５により波形等化された後、デコーダ６により処理され、光ディスクに作成されたマーク列に対応する再生データＤ１が再生される。
【００４４】
光ディスク評価装置１では、イコライザ５に入力するディジタル再生信号ＤＲＦ又はイコライザ５から出力されるディジタル再生信号ＤＲＦ１が選択回路９により選択された後、遅延回路１０を介してディジタルアナログ変換回路１１に入力され、このディジタルアナログ変換回路から出力されるアナログ信号がオシロスコープ１２に入力される。これによりこの光ディスク評価装置１では、波形等化前の再生信号ＲＦ（図２（Ａ））、波形等化した後の再生信号ＲＦ（図２（Ｂ））の信号波形をオシロスコープ１２により観察することができる。
【００４５】
また光ディスク評価装置１では、シフト量演算回路７において、この再生データＤ１により光ディスクに作成されたマーク長、スペース長が検出される。またディジタル再生信号ＤＲＦ１よりチャンネルクロックＣＬＫが再生され、このチャンネルクロックＣＬＫを基準にして各マークのエッジシフト量Δが検出される。
【００４６】
この光ディスク評価装置１では、コンピュータＰＣによりこのエッジシフト量Δがマーク及びスペースの組み合わせ毎に、さらには前縁エッジ及び後縁エッジ毎に、集計されてそれぞれ平均値及び標準偏差が求められ、オペレータによる指示により、この集計結果が一覧表示される（図３）。これによりこの光ディスク評価装置１では、所望のストラテジにより記録した場合におけるエッジシフト量をマーク及びスペースの組み合わせ毎にばらつきをも含めて確認することができ、光ディスクにおける素材、記録波形のストラテジの検討に利用して、効率良く検討することができる。
【００４７】
この光ディスク評価装置１では、さらにこの一覧表示において、オペレータが所望のマーク長を選択すると、オペレータの選択したマーク長のマークを間に挟む、各スペース長のスペースとの組み合わせにおける測定結果がマーク及びスペースのシンボルと共に一覧表示される（図４）。またオペレータが所望のスペース長のスペースを選択すると、この選択したスペース長のスペースを間に挟む、各マーク長のマークとの組み合わせにおける測定結果がマーク及びスペースのシンボルと共に一覧表示される（図５）。これによりこの光ディスク評価装置１では、隣接マーク、隣接ピットの符号間干渉による影響を簡易に確認することができ、これによっても光ディスクにおける素材、記録波形のストラテジの検討に利用して、効率良く検討することができる。
【００４８】
またオペレータがこの一覧表示において所望のスペース及びマークの組み合わせを選択した後、マーク及びスペースの前後関係を指定して再生信号波形のリアルタイム観察を指示すると、さらには別途、マーク、スペースの組み合わせを入力して再生信号波形のリアルタイム観察を指示すると、この光ディスク評価装置１では、コンピュータＰＣによりこのマーク及びスペースの組み合わせでトリガ信号ＳＴを出力するように、セレクタ８が設定される。また光ディスクに記録されたマークの再生を開始し、セレクタ８から出力されるトリガ信号ＳＴをトリガにしてディジタルアナログ変換回路１１の出力信号がオシロスコープ１２により表示される（図６）。
【００４９】
これによりこの光ディスク評価装置１では、例えば測定結果の一覧表示において、何らかの異常が見つけられ、この異常に係る再生信号波形を観察する場合に、従来の所望するマーク長及びスペース長の組み合わせを見つけ出す作業を省略して、所望するマーク長及びスペース長に係る再生信号波形を簡易に観察することができる。これによりこの光ディスク評価装置１では、従来に比して格段的に効率良く光ディスクにおける素材、記録波形のストラテジを検討することができる。
【００５０】
（３）実施例の効果
以上の構成によれば、所望のパターンによりトリガ信号を出力するようにして、このトリガ信号の出力までの期間だけ再生信号を遅延させることにより、光ディスクの検討、評価等において、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができる。
【００５１】
これにより光ディスクの評価に適用して、所望のパターンによる再生信号波形を迅速に観察することができる。
【００５２】
またピット及びスペースの組み合わせ毎に、又はマーク及びスペースの組み合わせ毎に、ずれ量を集計して一覧表示し、この一覧表示におけるピット及びスペースの組み合わせ、又はマーク及びスペースの組み合わせの選択により、観測対象の変化パターンの入力を受け付けることにより、簡易に所望のパターンによる再生信号波形を観察することができる。
【実施例２】
【００５３】
なお上述の実施例においては、ビタビ復号回路により再生信号を処理して２値識別する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば単なる比較回路により再生信号を２値識別する場合、ターボ復号により再生信号を２値識別する場合等、再生信号の２値識別にあっては、種々の手法を広く適用することができる。
【００５４】
また上述の実施例においては、本発明を光ディスクの評価装置に適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばハードディスク等の磁気記録媒体等、各種の記録媒体の評価に広く適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
本発明は、評価装置及び評価方法に関し、例えば光ディスクの評価に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の実施例１に係る光ディスク評価装置を示すブロック図である。
【図２】図１の光ディスク評価装置における再生信号波形を示す信号波形図である。
【図３】図１の光ディスク評価装置における測定結果の表示を示す平面図である。
【図４】図１の光ディスク評価装置における測定結果の他の例による表示を示す平面図である。
【図５】図４とは異なる例による表示を示す平面図である。
【図６】図１の光ディスク評価装置における再生信号波形の観察の説明に供する平面図である。
【図７】光ディスクにおける記録波形を示す信号波形図である。
【符号の説明】
【００５７】
１……光ディスク評価装置、２……書込み信号発生回路、３……光ディスク装置、３Ａ……光ピックアップ、４……アナログディジタル変換回路、５……等化回路、６……デコーダ、７……シフト量演算回路、８……セレクタ、９……選択回路、１０……遅延回路、１１……ディジタルアナログ変換回路、１２……オシロスコープ、ＰＣ……コンピュータ
【図１】
2009009647.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
2009009647.tif 000006
【図５】
2009009647.tif 000007
【図６】
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【図７】
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