(57)【要約】【課題】処理効率の向上を可能とする自動分析装置及び自動分析装置の試薬ボトルの配置方法の提供。【解決手段】試薬庫４１，４５は、被検試料の複数の測定項目に対応する複数の試薬ボトル３９，４３を保持する。記憶部１６は、複数の測定項目のそれぞれについて測定回数を記憶する。配置決定部２０は、測定回数に基づいて複数の試料ボトル３９，４３の試薬庫４１，４５での配置を決定する。自動ローディング機構２４は、決定された配置に従って複数の試薬ボトル３９，４３を移動する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検試料の複数の測定項目に対応する複数の試薬ボトルを保持する試薬庫と、
前記複数の測定項目のそれぞれについて測定回数を記憶する記憶部と、
前記測定回数に基づいて前記複数の試料ボトルの前記試薬庫での配置を決定する配置決定部と、
前記決定された配置に従って前記複数の試薬ボトルを移動する移動機構と、
を具備する自動分析装置。
【請求項２】
前記配置決定部は、前記測定回数に基づいて、前記複数の試料ボトルを複数の測定ラインに割振ることによって前記配置を決定し、
前記移動機構は、前記決定された配置に従って、前記試薬庫での前記複数の測定ラインに応じた位置に前記複数の試料ボトルを移動する、
請求項１記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記記憶部は、前記複数の測定項目のそれぞれについて、一日の測定回数を記憶し、
前記配置決定部は、前記一日の測定回数に基づいて、所定期間内での一日あたりの測定回数の平均値を算出し、前記算出された平均値に基づいて前記複数の試料ボトルを複数の測定ラインに割振る、
請求項１記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記測定項目の測定ラインへの割振り結果を表示する表示部をさらに備える請求項１記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記試薬ボトルの移動可否を設定する設定部をさらに備え、
前記配置決定部は、前記設定された可否と前記測定回数とに基づいて、前記複数の試薬ボトルを前記測定ラインに割振る、
請求項１記載の自動分析装置。
【請求項６】
被検試料の複数の測定項目の測定回数に基づいて試薬庫内での複数の試料ボトルの配置を決定し、
前記決定された配置に従って前記複数の試料ボトルを移動する、
自動分析装置の試薬ボトルの配置方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、血液や尿等に含まれる成分の濃度や活性値を、検査試薬との化学反応を利用して光学的あるいは電気的に測定する自動分析装置及び自動分析装置の試薬ボトルの配置方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
単位時間あたりの処理能力を向上させるために、複数の測定ラインを有する自動分析装置がある（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
このような複数の測定ライン（Ａライン及びＢラインとする）を有する自動分析装置では、１サイクルタイムの間にＡラインとＢラインとに被検試料や試薬をそれぞれ分注する方式が一般的である。しかし、Ａラインに分注する試薬を収容する試薬ボトルと、Ｂラインに分注する試薬を収容する試薬ボトルとは独立しているため、測定項目が一方の測定ラインに偏ってしまうと、１サイクルタイムあたり１測定項目ずつしか分注することができない。そのため、処理効率が低下してしまう。
【０００４】
ところで、試薬庫内での試薬ボトルを再配置するための様々な技術が提案されている（例えば特許文献２参照）。これら技術は、ユーザによって設定された配置に従って試薬ボトルを配置するものであり、配置設定の手間等がかかり効率的ではない。
【特許文献１】特開平０４―２７９８６２号公報
【特許文献２】特開平０４―３６６５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、処理効率の向上を可能とする自動分析装置及び自動分析装置の試薬ボトルの配置方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１局面に係る自動分析装置は、被検試料の複数の測定項目に対応する複数の試薬ボトルを保持する試薬庫と、前記複数の測定項目のそれぞれについて測定回数を記憶する記憶部と、前記測定回数に基づいて前記複数の試料ボトルの前記試薬庫での配置を決定する配置決定部と、前記決定された配置に従って前記複数の試薬ボトルを移動する移動機構と、を具備する。
【０００７】
本発明の第２局面に係る自動分析装置の試薬ボトルの配置方法は、被検試料の複数の測定項目の測定回数に基づいて試薬庫内での複数の試料ボトルの配置を決定し、前記決定された配置に従って前記複数の試料ボトルを移動する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、処理効率の向上を実現する自動分析装置及び自動分析装置の試薬ボトルの配置方法を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態に係る自動分析装置と自動分析装置の試料ボトルの配置方法とを図面を参照しながら説明する。本実施形態に係る自動分析装置は、複数の測定ラインを有し、任意の測定項目を２以上の測定ラインで共通の測光部で測定可能な、いわゆるセミランダムアクセス方式を採用する。また、本実施形態に係る自動分析装置は、特許文献２に記載のような、試薬庫に試薬ボトルを供給／排出する自動ローディング機構を備えるとする。なお、本実施形態において測定ラインはＡラインとＢラインとの二種類であるとするが、本実施形態は二以上の測定ラインにも適用可能である。
【００１０】
図１は、本実施形態に係る自動分析装置１の構成を示す図である。図１に示すように、自動分析装置１は、制御部１０を中枢として、分析部１２、測定回数計数部１４、記憶部１６、平均測定回数算出部１８、配置決定部２０、自動ローディング機構駆動部２２、自動ローディング機構２４、操作部２６、及び表示部２８を備える。
【００１１】
分析部１２は、複数の反応管３１を円周状に保持する反応ディスク３３を有する。複数の反応管３１は、Ａライン又はＢラインに割振られる。Ａラインに属する反応管３１ＡとＢラインに属する反応管３１Ｂとは、反応ディスク３３上に、例えば、交互に配置される。換言すれば、反応ディスク３３の反応管３１の保持部分は複数のブロックに分割され、各ブロックはＡラインに属する反応管３１ＡとＢラインに属する反応管３１Ｂとを、例えば一つずつ保持している。反応ディスク３３は、ある一定のサイクルで所定の角度だけ回転して停止する間欠的な回転動作を行う。
【００１２】
反応ディスク３３の近傍には、サンプルディスク３５が配置される。サンプルディスク３５は、被検試料を収容する試料容器３７を保持する。
【００１３】
反応ディスク３３の内側には、被検試料の各測定項目に選択的に反応する第１試薬を収容する第１試薬ボトル３９が保持される第１試薬庫４１が配置されている。第１試薬庫４１には、Ａラインに属する第１試薬ボトル３９Ａと、Ｂラインに属する第１試薬ボトル３９Ｂとが交互に配置されている。また、反応ディスク３３の近傍には、第１試薬に対応する第２試薬を収容する第２試薬ボトル４３が保持される第２試薬庫４５が配置される。第２試薬庫４５にも第１試薬庫４１と同様に、Ａラインに属する第２試薬ボトル４３Ａと、Ｂラインに属する第２試薬ボトル４３Ｂとが交互に配置される。
【００１４】
サンプルディスク３５は、制御部１０の制御により、指定の反応管３１が所定位置（サンプル位置と呼ぶ）に位置決めされるように回転駆動される。また、第１試薬庫４１及び第２試薬庫４５は、それぞれ制御部１０の制御により、指定の第１試薬ボトル３９及び第２試薬ボトル４３が所定位置に位置決めされるように回転駆動される。
【００１５】
反応ディスク３３とサンプルディスク３５との間にはサンプリングアーム４７が配置される。サンプリングアーム４７の先端には、サンプリングプローブ４９が取り付けられている。サンプリングアーム４７は、サンプリングプローブ４９を、サンプルディスク３５上にある所定のサンプル吸入位置に移動する。そして、サンプリングプローブ４９は、サンプル吸入位置にある試料容器３７内へ降下し、液面を検知すると、さらに所定量だけ降下して試料容器３７内の被検試料を所定量だけ吸入し、吸入し終わると上昇する。
【００１６】
サンプリングプローブ４９が上昇し終わると、サンプリングアーム４７は回動して、サンプリングプローブ４９を、反応ディスク３３のＡラインに対応する所定のサンプル分注位置Ａ、又はＢラインに対応する所定のサンプル分注位置Ｂへ移動させる。その後、サンプリングプローブ４９は、サンプル分注位置Ａ又はＢにある反応管３１に、吸入した被検試料を所定量だけ吐出する。サンプリングプローブ４９のサンプル分注位置Ａへの移動及び吐出と、サンプル分注位置Ｂへの移動及び吐出とは、例えば、交互に繰り返される。
【００１７】
反応ディスク３３の外周近傍にはＡラインに対応する第１試薬アーム５１ＡとＢラインに対応する第１試薬アーム５１Ｂとが配置される。第１試薬アーム５１Ａの先端には第１試薬プローブ５３Ａが、第１試薬アーム５１Ｂの先端には第１試薬プローブ５３Ｂが取り付けられている。第１試薬アーム５１Ａは、第１試薬プローブ５３Ａを第１試薬庫４１上にあるＡラインに対応する所定の第１試薬吸入位置Ａに移動させる。第２試薬アーム５１Ｂは、第１試薬プローブ５３Ｂを第１試薬庫４１上にあるＢラインに対応する所定の第１試料吸入位置Ｂに移動させる。そして、第１試薬プローブ５３Ａ，５３Ｂは、第１試薬吸入位置Ａ，Ｂにある第１試薬ボトル３１Ａ，３１Ｂ内へ降下し、液面を検知すると、さらに所定量だけ降下して第１試薬を所定量だけ吸入し、吸入し終わると上昇する。
【００１８】
第１試薬プローブ５３Ａが上昇し終わると、第１試薬アーム５１Ａは回動し、第１試薬プローブ５３Ａを反応ディスク３３の所定の第１試薬吐出位置Ａへ移動させる。また、第１試薬プローブ５３Ｂが上昇し終わると、第１試薬アーム５１Ｂは回動し、第１試薬プローブ５３Ｂを反応ディスク３３の所定の第１試薬吐出位置Ｂへ移動させる。第１試薬吐出位置Ｂへ移動させる。その後、第１試薬プローブ５３Ａは、第１試薬吐出位置Ａにある反応管３１Ａに第１試薬を所定量だけ吐出する。また同様に、第１試薬プローブ５３Ｂは、第１試薬吐出位置Ｂにある反応管３１Ｂに第１試薬を所定量だけ吐出する。
【００１９】
反応ディスク３３と第２試薬庫４５との間にはＡラインに対応する第２試薬アーム５５Ａと、Ｂラインに対応する第２試薬アーム５５Ｂとが配置される。第２試薬アーム５５Ａの先端には第２試薬プローブ５７Ａが、第２試薬アーム５５Ｂの先端には第２試薬プローブ５７Ｂが取り付けられている。第２試薬アーム５５Ａは、第２試薬プローブ５７Ａを第２試薬庫４５上にある所定の第２試薬吸入位置Ａに移動させる。第２試薬アーム５５Ｂは、第２試薬プローブ５７Ｂを第２試薬庫４５上にある第２試薬吸入位置Ｂに移動させる。第２試薬プローブ５７Ａ，Ｂは、第２試薬吸入位置Ａ，Ｂにある第２試薬ボトル４３Ａ，Ｂ内へ降下し、液面を検知すると、さらに所定量だけ降下して第２試薬を所定量だけ吸入し、吸入し終えると上昇する。
【００２０】
第２試薬プローブ５７Ａが上昇し終わると、第２試薬アーム５５Ａは回動して、第２試薬プローブ５７Ａを反応ディスク３３上にある所定の第２試薬吐出位置Ａへ移動させる。また、第２試薬プローブ５７Ｂが上昇し終わると、第２試薬アーム５５Ｂは回動して、第２試薬プローブ５７Ｂを反応ディスク３３上にある所定の第２試薬吐出位置Ｂへ移動させる。その後、第２試薬プローブ５７Ａ，Ｂは、第２試薬吐出位置Ａ，Ｂにある反応管３１Ａ，Ｂに第２試薬を所定量だけ吐出する。
【００２１】
また、反応ディスク３３の外周近傍には、Ａラインに対応する撹拌アーム５９Ａと、Ｂラインに対応する撹拌アーム５９Ｂとが配置される。撹拌アーム５９Ａ，Ｂの先端には撹拌子がそれぞれ取り付けられている。撹拌アーム５９Ａ，Ｂは、反応ディスク３３の撹拌位置にある反応管３１Ａ，Ｂ内の溶液（被検試料と試薬との混合液）を撹拌子によって撹拌する。
【００２２】
反応ディスク３３には、測光部６１が設けられている。測光部６１は、発光部を備え、発光部からの光を反応ディスク３３の測光位置にある反応管３１に照射し、反応管３１内の混合液の透過光の光量を測定し、被検試料の第１試薬及び第２試薬による光学的な変化を分析する。変化を分析することによって、被検試料の測定項目が測定される。
【００２３】
また、反応ディスク３３の外周近傍には、図示しない電極部が配置可能になっており、この電極部は、反応ディスク３３の電解質測定位置にある反応管３１内の混合液の電解質分析を行うことができる。
【００２４】
反応ディスク３３の外周近傍には、洗浄部６３が配置され、洗浄部６３には、複数本の洗浄ノズルと、乾燥ノズルが取り付けられている。洗浄部６３は、反応ディスク３３の洗浄位置にある反応管３１を洗浄ノズルにより洗浄し、乾燥ノズルにより乾燥する。
【００２５】
分析部１２内の各装置は、操作部２６から供給されるオペレータからの各種指示信号、測定項目の分析条件、被検体情報、被検試料毎の測定項目等の情報に基づいて、一定サイクルの所定シーケンスで測定動作させるように制御部１０により制御される。１サイクルの間にＡラインに割振られた測定項目とＢラインに割振られた測定項目とが１つずつ測定される。
【００２６】
測定回数計数部１４は、測定が行なわれる度に、測定が行なわれた項目の測定回数を計数する。計数するタイミングは、実際に測光部６１等で測定が行われた時や、第１試薬又は第２試薬が吸入又は吐出された時等である。計数された測定回数は測定回数計数部１４内部の一時メモリに記憶される。制御部１０に設定されている日付が変わると、測定回数計数部１４は、一時メモリに記憶されている測定項目ごとの一日の測定回数を記憶部１６に記憶させる。
【００２７】
図２は、測定項目ごとに一日の測定回数を示した一覧を示す図である。図２に示すように記憶部１６は、ＴＰ，Ｃａ，ＡＳＴ，ＬＤＨ，ＣＲＰ，ＲＦ等の測定項目のそれぞれについて日ごとに一日の測定回数を記憶する。
【００２８】
平均測定回数算出部１８は、測定項目ごとに、測定回数を所定期間で平均して、所定期間内での一日あたりの測定回数の平均値（以下、平均測定回数と呼ぶ）を算出する。例えば、平均測定回数算出部１８は、一週間、一月、曜日ごと等の平均測定回数を算出する。算出された平均測定回数は、記憶部１６に記憶される。
【００２９】
図３は、測定項目ごとのある月の平均測定回数の一覧を示す図である。図３に示すように、測定項目ＴＰのある月（例えば５月）の平均測定回数は、８６回である。すなわち、５月は平均して一日あたり８６回ＴＰを測定した、ということを示す。
【００３０】
図４は、測定項目ごとのある期間における曜日ごとの平均測定回数の一覧を示す図である。図４に示すように、測定項目ＡＳＴの火曜日の平均測定回数は、１２５回である。すなわち、ある期間の火曜日（例えば、５月の火曜日）は平均して一日あたり１２５回ＡＳＴを測定した、ということを示す。
【００３１】
配置決定部２０は、各測定項目について算出された平均測定回数に基づいて、各測定項目をＡライン又はＢラインに割振ることによって、各測定項目に対応する第１試料ボトル３１と第２試料ボトル４３との配置を決定する。配置決定部２０は、各測定ラインに割振られた測定項目の測定回数が均等になるように測定項目の測定ラインへの割振りを行なうことにより、第１試料ボトル３９及び第２試料ボトル４３の最適配置を決定する。配置決定部２０は、例えばオペレータ等により操作部２６を介して設定された特定の測定項目を配置換えしない、すなわち測定ラインを入れ替えないことも可能である。特定の測定項目は、例えば、測定ラインを変更することで試薬のコンタミネーション（汚染）が懸念される測定項目がある。
【００３２】
自動ローディング機構駆動部２２は、制御部１０からの制御信号の供給を受けて、自動ローディング機構２４に駆動信号を供給する。
【００３３】
自動ローディング機構２４は、自動ローディング機構駆動部２２からの駆動信号の供給を受けて、配置決定部２０により決定された配置に各試料ボトル３９Ａ，３９Ｂ，４３Ａ，４３Ｂを配置換えする。なお、移動される試料ボトルは、配置決定処理により異なる測定ラインに移動することとなったものに限られる。自動ローディング機構２４は、例えば、特許文献２に記載の技術を用いる。
【００３４】
操作部２６は、キーボードやマウス、ボタン、タッチキーパネル等の入力デバイスを備える。具体的には、操作部２６は、配置換え要求や、測定項目ごとの配置換え可否設定等の様々な操作を行う。
【００３５】
表示部２８は、試薬ボトルの配置表示画面や、測定ライン入換え可否の設定画面等を表示する。図５は、配置換え可否の設定画面の一例を示す図である。図５に示すように、測定ラインの入換を禁止するためのチェックボックスＢＸは、測定項目の各種項目パラメータとともに表示される。項目パラメータとしては、測定ラインの入換え可否の他に、サンプル量（被検試料量）や第１試薬量、第２試薬量等の項目がある。オペレータが操作部２６を介して、例えば、画面上でチェックボックスＢＸにチェックを入れることで、制御部１０により当該測定項目は入換え禁止項目に設定される。設定された項目パラメータは、記憶部１６に記憶される。
【００３６】
次に、制御部１０による試薬ボトルの自動配置処理の流れを説明する。図６は、自動配置処理の流れを示す図である。なお、各測定項目について相当数の測定が行なわれており、記憶部１６には各測定項目についての平均測定回数が記憶されているものとする。制御部１０は、操作部２６からの自動配置処理の開始要求を待機している（ステップＳ１）。待機中、表示部２８は、例えば図７に示すような待機画面を表示している。
【００３７】
図７に示す待機画面には、平均測定回数ボタンＢ１と、最適配置表示ボタンＢ２とが表示される。オペレータが操作部２６を介して画面上のボタンＢ１を押すことを契機として制御部１０は、表示部２８に平均測定回数の表示画面を表示させる。平均測定回数の表示画面には、例えば、測定項目ごとの平均測定回数が一覧で表示される。
【００３８】
オペレータが操作部２６を介して画面上のボタンＢ２を押すことを契機として制御部１０は、表示部２８に例えば図８に示すような最適配置表示画面を表示させる。最適配置表示画面には、測定ラインごとの測定項目とその平均測定回数とが一覧で表示される。また、各測定ラインに割振られた測定項目の平均測定回数の総和（合計測定回数）が表示される。また、自動配置を開始するための実行ボタンＢ３が表示されている。オペレータが操作部２６を介して画面上のボタンＢ３を押すことを契機として（ステップＳ１：ＹＥＳ）、制御部１０は、配置決定部２０に配置決定処理を行なわせる。
【００３９】
配置決定処理において配置決定部２０は、複数の測定項目のそれぞれについて、平均測定回数に基づいて測定項目をＡライン又はＢラインに割振る（ステップＳ２）。配置決定処理のアルゴリズムの具体例を以下に説明する。
【００４０】
（アルゴリズム例１）
まず、配置決定部２０は、各測定項目の平均測定回数に従って、測定項目を平均測定回数の多い順に並べ替える。配置決定部２０は、平均測定回数の最も多い項目をＡライン、２番目に多い項目をＢライン、３番目に多い項目をＡライン、・・・というように、測定項目を平均測定回数が多い順に交互に割振る。配置決定部２０は、Ａラインに割り振られた測定項目の平均測定回数の総和（仮にａとおく）とＢラインに割り振られた測定項目の平均測定回数の総和（仮にｂとおく）とを計算する。配置決定部２０は、平均測定回数がｃ＝｜ａ−ｂ｜／２に最も近い測定項目を平均測定回数の総和が多い方の測定ラインから探す。そして配置決定部２０は、探し出した測定項目を平均測定回数の総和が少ない方の測定ラインに割振る。このとき、禁止項目に設定されている測定項目については測定ラインの割振りを行なわないようにする。
【００４１】
（アルゴリズム例２）
まず、配置決定部２０は、禁止項目を優先的に割振る。禁止項目を優先的に割振った後、配置決定部２０は、禁止項目以外の測定項目を測定回数の多い順に並び替える。ここで、測定回数の多い順に測定項目ｄ１，ｄ２，ｄ３・・・の順に並び替えられたと仮定する。配置決定部２０は、優先割振りが完了した時点での各測定ラインの測定回数の総和を算出し、測定回数の総和が少ない方の測定ラインに測定項目ｄ１を割振る。次に配置決定部２０は、再び各測定ラインの測定回数の総和（ｄ１も含む）を算出し、測定回数の総和が少ない方の測定ラインに測定項目ｄ２を割振る。その後、再度各測定ラインの測定回数の総和（ｄ１、ｄ２も含む）を算出し、測定回数の総和が少ない方の測定ラインに測定項目ｄ３を割振る。以下、同様の方法で測定項目ｄ４、ｄ５、・・・を割振る。
【００４２】
アルゴリズム例１又はアルゴリズム例２により、Ａラインに割振られた測定項目の平均測定回数の総計と、Ｂラインに割振られた測定項目の平均測定回数の総計とは近似する。さらにアルゴリズム例２によれば、禁止項目も考慮して割振りを行なうために、アルゴリズム例１に比して、より両ラインの平均測定回数の総計が一致する。
【００４３】
配置が決定されると制御部１０は、決定された配置に従って自動ローディング機構駆動部２２に制御信号を供給する。制御信号の供給を受けて自動ローディング機構駆動部２２は、自動ローディング機構２４に駆動信号を供給して、第１試薬ボトル３９及び第２試薬ボトル４３を配置換えする（ステップＳ３）。具体的には、自動ローディング機構２４は、制御部１０からの駆動信号の供給を受け、測定ラインの変更がある第１試料ボトル３９に限って、第１試薬庫４１のＡラインにある第１試薬ボトル３９Ａを第１試薬庫４１のＢラインに、第１試薬庫４１のＢラインにある第１試薬ボトル３９Ｂを第１試薬庫４１のＡラインに移動する。また、自動ローディング機構２４は、測定ラインの変更がある第２試料ボトル４３に限って、第２試薬庫４５のＡラインにある第２試薬ボトル４３Ａを第２試薬庫４５のＢラインに、第２試薬庫４５のＢラインにある第２試薬ボトル４３Ｂを第２試薬庫４５のＡラインに移動する。
【００４４】
なお、自動配置処理は、操作部２６からの開始要求をトリガとして開始されるとした。しかしこれに限定する必要はなく、例えば、自動分析装置の電源を入れたとき等に自動的に開始するようにしてもよい。
【００４５】
上記構成により、測定項目の平均測定回数に基づいて試料ボトル３９Ａ，３９Ｂ，４３Ａ，４３Ｂの配置を決定することで、各測定ラインの測定項目の測定回数が均等に配分される。かくして本実施形態によれば、処理効率の向上を可能とする自動分析装置と自動分析装置の試料ボトルの配置方法を提供することが可能となる。
【００４６】
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の実施形態に係る自動分析装置の構成を示す図。
【図２】図１の記憶部に記憶される測定項目ごとの一日の測定回数の一覧を示す図。
【図３】図１の記憶部に記憶される測定項目ごとのある月の平均測定回数の一覧を示す図。
【図４】図１の記憶部に記憶される測定項目ごとのある期間の曜日ごとの平均測定回数の一覧を示す図。
【図５】図１の表示部に表示される配置換え可否の設定画面の一例を示す図。
【図６】図１の制御部による試料ボトルの自動配置処理の流れを示す図。
【図７】図６のステップＳ１において表示される待機画面の一例を示す図。
【図８】図６のステップＳ１において表示される最適配置表示画面の一例を示す図。
【符号の説明】
【００４８】
１…自動分析装置、１０…制御部、１２…分析部、１４…測定回数計数部、１６…記憶部、１８…平均測定回数算出部、２０…配置決定部、２２…自動ローディング機構駆動部、２４…自動ローディング機構、２６…操作部、２８…表示部、３１Ａ，Ｂ…反応管、３３…反応ディスク、３５…サンプルディスク、３７…試料容器、３９Ａ，Ｂ…第１試薬ボトル、４１…第１試薬庫、４３Ａ，Ｂ…第２試薬ボトル、４５…第２試薬庫、４７…サンプルアーム、４９…サンプルプローブ、５１Ａ，Ｂ…第１試薬アーム、５３Ａ，Ｂ…第１試薬プローブ、５５Ａ，Ｂ…第２試薬アーム、５７Ａ，Ｂ…第２試薬プローブ、５９Ａ，Ｂ…撹拌アーム、６１…測光部、６３…洗浄部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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