(57)【要約】【課題】複数の記録面をもつ情報記録媒体の記録再生を行う際に、光検出器に記録再生をしている記録層からの反射光の他に、記録再生をしていない他の記録層からの反射光が同時に入射するため、記録再生時の制御信号を適切に検出することが困難であるという課題がある。【解決手段】光源から出射された光を回折することにより０次光のメインビームと、メインビームの偏光方向と直交する＋１次光および−１次光から構成される一対のサブビームとを形成する偏光性ホログラムを用いることにより、サブビームの検出光から適切な制御信号を得ることができるため、良好な記録性能を有す光ピックアップ装置を実現できる。【選択図】図２
2009146528.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録層を有する光ディスクに光を出射する光源と、
前記光源より出射された光の少なくとも一部を回折することにより、０次光のメインビームと、０次光を挟んで両側に形成され、メインビームの偏光方向と略直交する＋１次光および−１次光から構成される一対のサブビームとを形成する回折手段と、
前記回折手段で回折されたメインビームおよび一対のサブビームを前記光ディスクが有する複数の記録層のうち所望の記録層へ集光する対物レンズと、
前記対物レンズで集光され、光ディスクで反射されたメインビームを検出する第１の光検出手段と、
前記対物レンズで集光され、光ディスクで反射されたサブビームを検出する第２の光検出手段とを備えることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記回折手段は複屈折性を有す基板上に回折格子を施した構成を備えることを特徴とする、請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記回折手段によって生成されるメインビームとサブビームとの光強度比率を所定の値に設定するビーム強度比率設定手段をさらに備えることを特徴とする、請求項１または請求項２記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記ビーム強度比率設定手段は、回折手段へ入射する光の偏光方向を制御する偏光制御手段であることを特徴とする、請求項３記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記偏光制御手段は波長板であることを特徴とする、請求項４記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
前記ビーム強度比率設定手段は、回折手段を構成する複屈折性を有す基板の結晶軸方向と回折格子の格子方向とに所定の角度を設定するものであることを特徴とする、請求項４記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】
前記第１の光検出手段は第１の検光子を介して入射するメインビームを検出し、前記第２の光検出手段は第２の検光子を介して入射するサブビームを検出することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかの請求項記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】
複数の記録層を有する光ディスクに光を出射する光源と、
前記光源より出射された光の少なくとも一部を回折することにより、０次光のメインビームと、０次光を挟んで両側に形成され、メインビームの偏光方向と略直交する＋１次光および−１次光から構成される一対のサブビームとを形成する回折手段と、
前記回折手段で回折されたメインビームおよび一対のサブビームを該光ディスクが有する複数の記録層のうち所望の記録層へ集光する対物レンズと、
前記対物レンズで集光され、該光ディスクで反射されたメインビームを検出する第１の光検出手段と、
前記対物レンズで集光され、該光ディスクで反射されたサブビームを検出する複数の光検出器を有する第２の光検出手段と、
前記第１の光検出手段で検出された光量から得られる差動出力と前記第２の光検出手段で検出された光量から得られる差動出力とを演算し、トラッキングエラー信号を生成する演算手段と、
前記演算手段で演算された信号を用いて、トラッキング制御する制御手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
前記回折手段は複屈折性を有す基板上に回折格子を施した構成を備えることを特徴とする、請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記回折手段によって生成されるメインビームとサブビームとの光強度比率を所定の値に設定するビーム強度比率設定手段をさらに備えることを特徴とする、請求項８または請求項９記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記ビーム強度比率設定手段は、前記回折手段へ入射する光の偏光方向を制御する偏光制御手段であることを特徴とする、請求項１０記載の光ピックアップ装置。
【請求項１２】
前記偏光制御手段は波長板であることを特徴とする、請求項１１記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記ビーム強度比率設定手段は、回折手段を構成する複屈折性を有す基板の結晶軸方向と回折格子の格子方向とに所定の角度を設定するものであることを特徴とする、請求項１１記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記第１の光検出手段は第１の検光子を介して入射するメインビームを検出し、前記第２の光検出手段は第２の検光子を介して入射するサブビームを検出することを特徴とする請求項９から請求項１３のいずれかの請求項に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記ビーム強度比率設定手段はメインビームとサブビームとの光強度比率を複数の値に切替えることを特徴とする、請求項１０から請求項１４のいずれかの請求項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光源を用いて光ディスク等の情報記録媒体に対して情報を光学的に記録あるいは再生する光ピックアップ装置および光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＤＶＤや次世代の高密度光ディスクにおいて、１枚あたりの記録容量を増やすために、２つ以上の記録層を有す光ディスクが提案されている。
【０００３】
従来の光ピックアップ装置を図１から４、図８を用いて示す。図１に示した光ピックアップ装置は、第１の情報記録層２０６ａ、第２の情報記録層２０６ｂの２層の情報記録層を有す光ディスク２０６の記録再生に対応する。図８は、光ピックアップ装置の光学系１３の構成を示しており、この光学系１３では、レーザ光源２０１から出射された光ビームの往路中に設置された回折格子２０２により、０次回折光（メインビーム）と０次光を挟んで両側に２つの１次回折光（サブビーム）の３つのビーム光が生成され、ビームスプリッタ２０３、コリメートレンズ２０４、および対物レンズ２０５を介して光ディスク２０６の第１の情報記録層２０６ａ上に３つの光スポットを形成する。このとき、第１の情報記録層２０６ａ上に焦点が合っているものとする。光ディスク２０６の第１の情報記録層２０６ａによって反射されたメインビームおよびサブビーム反射光は、対物レンズ２０５、ビームスプリッタ２０３および検出レンズ２０７を介して、光検出器２０８に入射する。
【０００４】
図３は、光検出器２０８の詳細な構成を示している。図３に示すように、光検出器２０８は、光ディスク２０６で反射されたメインビーム反射光３０の照射を受けるメインビーム用光検出部３０１と、光ディスク２０６で反射されたサブビーム反射光３１、３２の照射をそれぞれ受けるサブビーム用光検出部３０２、３０３を有しており、光電変換により、各々の光検出部が受けた光の強さに応じた電気信号を出力する。
【０００５】
メインビーム用光検出部３０１、サブビーム用光検出部３０２、３０３は、それぞれ４つの検出素子に分割されており、分割された各検出素子３０１ａ、３０１ｂ、３０１ｃ、３０１ｄ、３０２ｅ、３０２ｆ、３０２ｇ、３０２ｈ、３０３ｉ、３０３ｊ、３０３ｋ、３０３ｌは、それぞれ、信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊ、Ｋ、Ｌを出力する。これらの信号Ａ〜Ｌにより、公知の非点収差法によりフォーカスエラー信号ＦＥは、公知のブッシュプル法によりトラッキングエラー信号ＴＥが検出される。すなわち、メインビーム用光検出部３０１から出力される信号Ａ〜Ｄに基づいてメイン信号演算回路３０４がメインプッシュプル信号（ＭＰＰ）およびメインフォーカスエラー信号（ＭＦＥ）を生成する。各サブビーム用光検出部３０２、３０３から出力される信号Ｅ〜Ｌに基づいてサブ信号演算回路３０５がサブプッシュプル信号（ＳＰＰ）およびサブフォーカスエラー信号（ＳＦＥ）を生成し、制御信号演算回路３０６がトラッキングエラー（ＴＥ）信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ）、および情報信号（ＲＦ）を生成する。
【０００６】
メイン信号演算回路３０４、サブ信号演算回路３０５、制御信号演算回路３０６で行われる上記の演算は、それぞれ以下に示す数式１から数式７に従って実行される。
【０００７】
【数１】
2009146528.tif 000003
【０００８】
【数２】
2009146528.tif 000004
【０００９】
【数３】
2009146528.tif 000005
【００１０】
【数４】
2009146528.tif 000006
【００１１】
【数５】
2009146528.tif 000007
【００１２】
【数６】
2009146528.tif 000008
【００１３】
【数７】
2009146528.tif 000009
【００１４】
ここで、α、βは定数である。
【００１５】
このとき図１において、光検出器２０８の制御信号演算回路３０６により生成されたＴＥ信号、ＦＥ信号に基づき制御信号処理回路１０１は制御信号を対物レンズ駆動回路１０２へ出力し、対物レンズ駆動装置１０３を駆動し、対物レンズ２０５を光ディスク２０６の厚み方向および半径方向に移動させる。
【特許文献１】特開２００１−３０７３５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
ところが、このとき図１において第１の情報記録層２０６ａに焦点があっている場合について述べたが、このとき同時に第１の情報記録層２０６ａを透過し、デフォーカスした状態で第２の情報記録層２０６ｂへ入射し、反射される光も存在する。この光は対物レンズ２０５からビームスプリッタ２０３を通り、検出レンズ２０７を介し、光検出器２０８へ入射する。このうち、メインビームによる反射光は、デフォーカスした状態で光検出器２０８へ入射し、図４に示した４０のように、光検出器２０８が備えるすべての光検出素子３０１ａ、３０１ｂ、３０１ｃ、３０１ｄ、３０２ｅ、３０２ｆ、３０２ｇ、３０２ｈ、３０３ｉ、３０３ｊ、３０３ｋ、３０３ｌへ入射する。
【００１７】
一般に、レーザ光源２０１として用いられる半導体レーザから出射された光はある所定の方向に揃った直線偏光であり、図８において、レーザ光源の出射する光は、図中Ｘ軸に沿った方向に偏光されているとする。すなわち、レーザ光源２０１から出射された光は、回折格子２０２によってメインビームとサブビームとになるが、それぞれの光の偏光方向は変わらず、ビームスプリッタ２０３によって反射され、光ディスク２０６へ向かうメインビームおよびサブビームの偏光方向はＺ軸に沿った方向となり、コリメートレンズ２０４、対物レンズ２０５を介し光ディスク２０６へ集光される。さらに光ディスク２０６によって反射されたメインビームおよびサブビームは入射光と同じくＺ軸に沿った偏光方向を保ちながら、対物レンズ２０５、コリメートレンズ２０４、ビームスプリッタ２０３を透過し、検出レンズ２０７を経て検出器２０８へ入射する。こうして、光ディスク２０６の第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０、サブビーム反射光３１、３２、および第２の情報記録層２０６ｂからの反射光４０はいずれも同じＺ軸方向に沿った偏光方向を持つ。
【００１８】
ここで、偏光方向が異なる複数の光が存在する場合、互いに等しい偏光方向をもつ光では互いに干渉が発生する。この光の干渉が発生する場合、観測位置においてそれぞれの光がもつ位相によって光強度の重ね合わせ、すなわち例えば互いに同位相である場合はその光強度が足し合わされ、互いに逆の位相である場合ではその光強度は打ち消しあう現象が発生し、光強度の増減が起こる。
【００１９】
従って、メインビーム用光検出部３０１上においては第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０の一部とが、サブビーム用光検出部３０２上においては第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光３２と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０の一部とが、サブビーム用光検出部３０３上においては第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光３３と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０の一部とが、互いに干渉し、光強度の増減が発生する。
【００２０】
ここで一般に、レーザ光源２０１を構成する半導体レーザから出射される光は中心の光強度が最も大きく中心から離れるに従って光強度が小さくなるという連続的な光強度分布を有すが、回折格子２０２により生成されるメインビームおよびサブビームもその連続的な光強度分布を保ち、光ディスク２０６へ集光され、反射された後に光検出器２０８へ入射するメインビーム反射光およびサブビーム反射光の光強度分布についてもその連続性が保たれる。
【００２１】
しかしながら、従来の光ピックアップ装置においては、光検出部３０１、３０２、３０３上の反射光３０、３１、３２、４０において光の干渉が発生し、それぞれ干渉する光同士の位相関係は不規則、不連続であるために、光強度の増減が不規則、不連続に起こり、結果として光検出部３０１、３０２、３０３による検出光の光強度分布は反射光３０、３１、３２、４０のそれとは異なり、不規則で不連続となる。
【００２２】
ここで、従来の光ピックアップ装置においては、上述した中心の光強度が最も大きく中心から離れるに従って光強度が小さくなるという連続的な光強度分布をもつ光ディスクの情報記録層からのメインビームおよびサブビーム反射光を用いて、数式１から数式６に基づいて生成したＴＥ、ＦＥを用いて安定した制御を行うことが可能な構成となっている。ところがこのとき、サブビーム光検出部３０２、３０３によって検出される光において光の干渉が発生し不規則で不連続な光強度分布を持つため、第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光を検出して数式３および数式４にて生成される信号ＳＰＰ、ＳＦＥ信号を適切に得ることができない。
【００２３】
一方、第２の情報記録層２０６ｂからの反射光４０はデフォーカスして光検出部３０１、３０２、３０３へ入射するため、その光強度は第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０の光強度に対しては小さく、メインビーム用光検出部３０１上においてこれらの光の干渉により発生する光強度の増減の大きさは十分小さいため、その光強度分布の連続性に与える影響も小さいため、第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０を検出して数式１および数式２により生成される信号ＭＰＰ、ＭＦＥを適切に得ることができる。
【００２４】
これは、従来の光ピックアップ装置においては、一般にメインビームとサブビームの光強度比が１０：１程度となるように設定されているが、この場合図３における第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０の光強度に対する、第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０の光強度の比率は、サブビーム用光検出部３０２、３０３へ入射するサブビーム反射光３２、３３の光強度の比率の約１／１０となるためである。すなわち、これらの光が干渉することで発生する不規則で不連続な光強度の増減がサブビーム反射光３２、３３の光強度分布に対する影響は、メインビーム反射光３０の光強度分布に対する影響よりも約１０倍大きいということである。従って、従来の光ピックアップ装置においては、メインプッシュプル信号ＭＰＰ、メインフォーカスエラー信号ＭＦＥは適切に生成できるが、サブプッシュプル信号ＳＰＰ、サブフォーカスエラー信号ＳＦＥは不正確なものとなり、数式５、数式６に基づいてトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する上で、適切な制御信号を得ることができないために、記録再生性能が低下するという問題があった。
【００２５】
本発明は、以上の問題点に着目してなされたものであり、メインビームとサブビームの偏光方向を直交させることにより、記録再生の対象となる情報記録層からのサブビーム反射光と、記録再生の対象外である情報記録層からのメインビーム反射光との干渉が発生しないために、安定した制御信号が得られるため、それによるトラッキングおよびフォーカシング制御を行うことができるため、良好な記録再生性能を有す光ピックアップ装置の実現が可能となる。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
この課題を解決するために、本発明の光ピックアップ装置は、複数の記録層を有する光ディスクに光を出射する光源と前記光源より出射された光の少なくとも一部を回折することにより、０次光のメインビームと、０次光を挟んで両側に形成され、メインビームの偏光方向と略直交する＋１次光および−１次光から構成される一対のサブビームとを形成する回折手段と、前記回折手段で回折されたメインビームおよび一対のサブビームを前記光ディスクが有する複数の記録層のうち所望の記録層へ集光する対物レンズと、前記対物レンズで集光され、光ディスクで反射されたメインビームを検出する第１の光検出手段と、前記対物レンズで集光され、光ディスクで反射されたサブビームを検出する第２の光検出手段とを備えることにより、安定したトラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号などの制御信号の検出が可能となるため、良好な記録再生性能を実現できる。
【００２７】
また、本発明の光ピックアップ装置は、回折手段へ入射する光の偏光方向を制御し、回折手段によって生成されるメインビームとサブビームとの光強度比率を所定の値に設定するビーム強度比率設定手段を備えることが望ましい。
【００２８】
さらに、本発明の光ピックアップ装置は、ビーム強度比率設定手段として、回折手段へ入射する光の偏光方向を制御する偏光制御手段を備えることが望ましい。
【００２９】
本発明の光ピックアップ装置は、第１の光検出手段は第１の検光子を介して入射するメインビームを検出し、第２の光検出手段は第２の検光子を介して入射するサブビームを検出することにより、メインビームとサブビームを光学的に分離し、それぞれを独立して検出することができるため、さらに安定した制御信号の検出が可能となり、優れた記録再生性能を実現できる。
【００３０】
また、本発明の光ディスク装置は、複数の記録層を有する光ディスクに光を出射する光源と前記光源より出射された光の少なくとも一部を回折することにより、０次光のメインビームと、０次光を挟んで両側に形成され、メインビームの偏光方向と略直交する＋１次光および−１次光から構成される一対のサブビームとを形成する回折手段と、前記回折手段で回折されたメインビームおよび一対のサブビームを前記光ディスクが有する複数の記録層のうち所望の記録層へ集光する対物レンズと、前記対物レンズで集光され、光ディスクで反射されたメインビームを検出する第１の光検出手段と、前記対物レンズで集光され、光ディスクで反射されたサブビームを検出する複数の光検出器を有する第２の光検出手段と、前記第１の光検出手段で検出された光量から得られる差動出力と前記第２の光検出手段で検出された光量から得られる差動出力とを演算し、トラッキングエラー信号を生成する演算手段と、前記演算手段で演算された信号を用いて、トラッキング制御する制御手段とを備えることにより、安定したトラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号などの制御信号の検出が可能となるため、良好な記録再生性能を実現できる。
【００３１】
また、本発明の光ディスク装置は、回折手段へ入射する光の偏光方向を制御し、回折手段によって生成されるメインビームとサブビームとの光強度比率を所定の値に設定するビーム強度比率設定手段を備えることが望ましい。
【００３２】
さらに、本発明の光ディスク装置は、ビーム強度比率設定手段として、回折手段へ入射する光の偏光方向を制御する偏光制御手段を備えることが望ましい。
【００３３】
本発明の光ディスク装置は、第１の光検出手段は第１の検光子を介して入射するメインビームを検出し、第２の光検出手段は第２の検光子を介して入射するサブビームを検出することにより、メインビームとサブビームを光学的に分離し、それぞれを独立して検出することができるため、さらに安定した制御信号の検出が可能となり、優れた記録再生性能を実現できる。
【発明の効果】
【００３４】
本発明によれば、複数の情報記録層を有す光ディスクに対して安定したトラッキング制御を実現できるため、優れた記録性能を持つ小型で低コストである光ピックアップ装置および光ディスク装置の実現に有効である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１を図１から図５に基づいて説明する。なお、従来例と共通の要素については、同一図、同一の番号を振って説明する。
【００３６】
図１は本発明の第１の実施の形態における光ピックアップ装置の概略を示すものであり、本光ピックアップ装置は、第１の情報記録層２０６ａ、第２の情報記録層２０６ｂの２層の情報記録層を有す光ディスク２０６の記録再生に対応する。図１に示した光ピックアップ装置の光学系構成１０について詳細を図２に示す。図中２０１はレーザ光源で、このレーザ光源２０１からの光ビームは偏光性ホログラム２０９へ入射し、偏光性ホログラム２０９の有す回折機能により０次回折光（メインビーム）と０次光を挟んで両側に２つの１次回折光（サブビーム）の３つのビーム光を生成する。偏光性ホログラム２０９による回折によって生成された上記３つのビーム光は、ビームスプリッタ２０３によって反射され、コリメートレンズ２０４および対物レンズ２０５を介して光ディスク２０６の第１の情報記録層２０６ａ上に３つの光スポットを形成する。このとき、第１の情報記録層２０６ａ上に焦点が合っているものとする。光ディスク２０６の第１の情報記録層２０６ａによって反射されたメインビームおよびサブビーム反射光は、対物レンズ２０５、ビームスプリッタ２０３および検出レンズ２０７を介して、光検出器２０８に入射する。
【００３７】
図３、図４は、光検出器２０８の詳細な構成を示している。図３に示すように、光検出器は２０８、光ディスク２０６で反射されたメインビーム反射光３０の照射を受けるメインビーム用光検出部３０１と、光ディスク２０６で反射されたサブビーム反射光３１、３２の照射をそれぞれ受けるサブビーム用光検出部３０２、３０３を有しており、光電変換により、各々の光検出部が受けた光の強さに応じた電気信号を出力する。
【００３８】
さらに、メインビーム用光検出部３０１は、４つの検出素子３０１ａ、３０１ｂ、３０１ｃ、３０１ｄに、サブビーム用光検出部３０２は、４つの検出素子３０２ｅ、３０２ｆ、３０２ｇ、３０２ｈに、サブビーム用光検出部３０３は検出素子３０３ｉ、３０３ｊ、３０３ｋ、３０３ｌの４つに分割されている。
【００３９】
なお、分割された各検出素子３０１ａ、３０１ｂ、３０１ｃ、３０１ｄ、３０２ｅ、３０２ｆ、３０２ｇ、３０２ｈ、３０３ｉ、３０３ｊ、３０３ｋ、３０３ｌは、それぞれ、信号Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｉ、Ｊ、Ｋ、Ｌを出力する。これらの信号Ａ〜Ｌを演算することにより、トラッキングサーボエラー信号およびフォーカスエラー信号が生成される。なお、ＦＥは公知の非点収差法、ＴＥは公知のブッシュプル法により検出される。すなわち、メインビーム用光検出部３０１から出力される信号Ａ〜Ｄに基づいてメイン信号演算回路３０４がメインプッシュプル信号（ＭＰＰ）およびメインフォーカスエラー信号（ＭＦＥ）を生成する。各サブビーム用光検出部３０２、３０３から出力される信号Ｅ〜Ｌに基づいてサブ信号演算回路３０５がサブプッシュプル信号（ＳＰＰ）およびサブフォーカスエラー信号（ＳＦＥ）を生成し、制御信号演算回路３０６がトラッキングエラー（ＴＥ）信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ）、および情報信号（ＲＦ）を生成する。
【００４０】
メイン信号演算回路３０４、サブ信号演算回路３０５、制御信号演算回路３０６で行われる上記の演算は、それぞれ以下に示す数式８から数式１４に従って実行される。
【００４１】
【数８】
2009146528.tif 000010
【００４２】
【数９】
2009146528.tif 000011
【００４３】
【数１０】
2009146528.tif 000012
【００４４】
【数１１】
2009146528.tif 000013
【００４５】
【数１２】
2009146528.tif 000014
【００４６】
【数１３】
2009146528.tif 000015
【００４７】
【数１４】
2009146528.tif 000016
【００４８】
ここで、α、βは定数である。
【００４９】
このとき図１において、光検出器２０８の制御信号演算回路３０６により生成されたＴＥ信号、ＦＥ信号に基づき制御信号処理回路１０１は制御信号を対物レンズ駆動回路１０２へ出力し、対物レンズ駆動装置１０３を駆動し、対物レンズ２０５を光ディスク２０６の厚み方向および半径方向に移動させる。
【００５０】
図５に偏光性ホログラム２０９の断面形状を示す。複屈折性を有しその異方性結晶軸が図中Ｘ軸に沿った方向に設定されたニオブ酸リチウム基板５０１上に、プロトン交換領域５０２および位相補償膜５０３から成る回折格子が形成されている。位相補償膜５０３としては、例えばＮｂ２Ｏ５が用いられる。
【００５１】
回折格子のライン部とスペース部の位相差は、図２中Ｘ軸に沿った方向に偏光成分を持つ光（常光）に対しては０、それに直交するＹ軸（紙面に垂直な方向）に沿った偏光成分を持つ光（異常光）に対してはπに設定されている。
【００５２】
ここで、レーザ光源２０１として用いられる半導体レーザから出射された光はある所定の方向に揃った直線偏光であるが、所定の方向に平行な偏光成分とそれに直行する偏光成分との比率（偏光比）は、一般には１００：１以上である。本実施の形態における光ピックアップ装置でのレーザ光源２０１が出射する光において偏光比の最も高い成分の偏光方向は、図２中Ｘ軸に沿った方向と一致している。
【００５３】
本実施の形態における光ピックアップ装置の偏光性ホログラム２０９に形成された回折格子のライン部とスペース部との位相差は、レーザ光源２０１から出射された光のうち偏光比の最も高い（図２におけるＸ軸に沿った方向に偏光方向をもつ）成分（常光）に対して０、それに垂直な方向（Ｙ軸に沿った方向）に偏光をもつ成分（異常光）に対してπとなるため、レーザ光源２０１から出射された光のうち大部分は偏光性ホログラム２０９によって回折されずに透過し、０次回折光としてメインビームとなり、それと直交する偏光成分は透過せず回折され、１次回折光としてサブビームとなる。
【００５４】
従って、このとき０次回折光であるメインビームと１次回折光であるサブビームの偏光方向は互いに直交することになり、レーザ光源２０１として用いる半導体レーザの偏光比が１００：１とすると、メインビームとサブビームとの光強度の比率は１００：１となる。
【００５５】
このメインビームとサブビームは、ビームスプリッタ２０３によって反射されメインビームの偏光方向はＺ軸に沿った方向、サブビームの偏光方向はＹ軸に沿った方向となり、コリメートレンズ２０４、対物レンズ２０５を介し、光ディスク２０６に照射される。さらに光ディスク２０６によって反射されたメインビームおよびサブビームは、反射して再び対物レンズ２０５、コリメートレンズ２０４を通り、ビームスプリッタ２０３を透過し、検出レンズ２０７を介し光検出器２０８に至るが、このときの偏光方向は、メインビーム反射光はＺ軸に沿った方向、サブビームはＹ軸に沿った方向に偏光方向を持つ。すなわち、光検出器２０８へ入射するメインビーム反射光とサブビーム反射光の偏光方向は互いに直交している。
【００５６】
このとき、上述したように第１の情報記録層２０６ａに焦点が合っている場合、同時に第１の情報記録層２０６ａを透過し、デフォーカスした状態で第２の情報記録層２０６ｂへ入射し、反射された光は第１の情報記録層２０６ａの反射光と同様に対物レンズ２０５からビームスプリッタ２０３を通り、検出レンズ２０７を介し光検出器２０８へ入射する。このうち、メインビームによる反射光は、デフォーカスした状態で光検出器２０８へ入射し、図４に示した４０のように、光検出器２０８が備えるすべての光検出素子３０１ａ、３０１ｂ、３０１ｃ、３０１ｄ、３０２ｅ、３０２ｆ、３０２ｇ、３０２ｈ、３０３ｉ、３０３ｊ、３０３ｋ、３０３ｌへ入射する。
【００５７】
ここで、偏光方向が異なる複数の光が存在する場合、互いに等しい偏光方向をもつ光では互いに干渉が発生する。この光の干渉が発生する場合、観測位置においてそれぞれの光がもつ位相によって光強度の重ね合わせ、すなわち例えば互いに同位相である場合はその光強度が足し合わされ、互いに逆の位相である場合ではその光強度は打ち消しあう現象が発生し、光強度の増減が起こる。
【００５８】
本発明の実施の形態における光ピックアップ装置においては、上述したようにメインビーム反射光とサブビーム反射光の偏光方向はそれぞれＺ軸方向、Ｙ軸方向であり、互いに直交しているため、図４におけるサブビーム用光検出部３０２、３０３へ入射するサブビーム反射光３２、３３と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０とでは光の干渉は発生しない。一方、メインビーム用光検出部３０１上へ入射する第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０とでは偏光方向が同じＺ軸方向となり互いに平行であるため、光の干渉が発生する。
【００５９】
ここで一般に、レーザ光源２０１を構成する半導体レーザから出射される光は中心の光強度が最も大きく中心から離れるに従って光強度が小さくなるという連続的な光強度分布を有すが、偏光性ホログラム２０９により生成されるメインビームおよびサブビームもその連続的な光強度分布を保ち、光ディスク２０６へ集光され、反射された後に光検出器２０８へ入射するメインビーム反射光およびサブビーム反射光の光強度分布についてもその連続性が保たれるが、この連続的な光強度分布をもつメインビーム反射光およびサブビーム反射光を用いて、数式８から数式１３に基づいて生成したＴＥ、ＦＥにより安定した制御を行うことが可能な構成となっている。
【００６０】
従って、サブビーム用光検出部３０２、３０３へ入射する第２の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０と第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光３１、３２では光の干渉は発生せず光強度の増減は発生しないため、第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光３１、３２の光強度分布の連続性は保たれ、数式１０および数式１１により適切なＳＰＰ、ＳＦＥ信号が得られる。
【００６１】
一方、第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０と第２の情報記録層２０６ｂからの反射光４０の光の干渉が発生するが、第２の情報記録層２０６ｂからの反射光４０はデフォーカスして光検出部３０１、３０２、３０３へ入射するため、その光強度は第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０の光強度に対しては十分小さく、メインビーム用光検出部３０１上においてこれらの光の干渉により発生する光強度の増減の大きさは十分小さいために、反射光３０の光強度分布の連続性に与える影響も小さいため、数式８および数式９により適切なＭＰＰ、ＭＦＥ信号が得られる。
【００６２】
なお、サブビームについても同様にデフォーカスした状態で第２の情報記録層２０６ｂへ入射して反射され光検出器２０８へ入射する光も存在するが、上述した様にメインビームに対してサブビームの光強度は小さいため、その光強度は第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０、第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光３１、３２の光強度に対しては十分小さく、数式８から数式１１により得られるＭＰＰ、ＭＦＥ、ＳＰＰ、ＳＦＥ信号への影響は極めて小さい。
【００６３】
従って、以上の様な構成をとることにより、複数の情報記録層を持つ光ディスクの記録再生を行う際において、記録再生を行う情報記録層とは別の情報記録層からの迷光の影響を小さくすることができ、安定したトラッキング信号およびフォーカスエラー信号の検出が可能となるため、良好な記録再生性能を実現することができる。
【００６４】
なお、本実施の形態においては光学系、検出器構成として図２から図４に示すような構成を挙げたが、他の構成であっても本発明の効果は同様であり、本実施の形態の光ピックアップ装置の構成に限定されるものではない。
【００６５】
また、本実施の形態における光ピックアップ装置が搭載する各回路についての構成については一例であり、例えば、信号演算回路１０１が対物レンズ駆動回路１０５の機能を含んでいてもよく、回路構成は本発明の実施の形態に限定されるものではない。
【００６６】
また、本実施の形態において、光ディスクから得られる各信号を演算する各演算回路は光ディスク装置が備えていてもよく、本発明の実施の形態に限定されるものではない。
【００６７】
さらに、本実施の形態においてメインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成について述べる。
【００６８】
上述したように、偏光ホログラム２０９が有す回折格子のライン部とスペース部の位相差は、図２中Ｘ軸に沿った方向に偏光成分を持つ光（常光）に対しては０、それに直交するＹ軸（紙面に垂直な方向）に沿った偏光成分を持つ光（異常光）に対してはπに設定されており、レーザ光源２０１から出射され、偏光ホログラム２０９へ入射する光のうち、回折されずに透過する常光がメインビームとなり、回折される異常光がサブビームとなる。
【００６９】
従って、偏光ホログラム２０９へ入射する光において常光と異常光との比率はメインビームとサブビームとの比率に等しい。すなわち、メインビームとサブビームとの光強度比率を設定するには、偏光ホログラム２０９へ入射する光において常光と異常光との光強度比率を設定すればよい。
【００７０】
そこで、図２においてレーザ光源２０１を光学系１０の光軸２０（Ｚ軸に沿った方向）を中心軸として回転し、偏光比の最も高い成分の偏光方向をＸ軸に沿った方向とは異なるある所定の角度に設定する構成を考える。
【００７１】
この場合、レーザ光源２０１の回転角度の設定により、レーザ光源２０１から出射され偏光性ホログラム２０９へ入射する光において常光と異常光との光強度比率が設定され、光ディスク２０６へ照射されるメインビームとサブビームとの光強度比率、光検出器２０８によって検出されるメインビームとサブビームとの光強度比率が設定される。
【００７２】
従って、このような構成をとることにより、数式８から数式１４に基づいて生成される信号の大きさを適切に設定し、良好な品質の信号を検出することができるため、光ピックアップ装置における安定したトラッキングおよびフォーカス制御、良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【００７３】
また、偏光性ホログラム２０９へ入射する光の偏光方向を制御し、メインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成として、図６に示した光学系１０に１／２波長板６０１を追加した光学系１１を用い、レーザ光源２０１から出射される光を１／２波長板６０１に入射させる構成を考える。
【００７４】
このとき、レーザ光源２０１から出射された光は１／２波長板６０１を通り、偏光性ホログラム２０９へ入射する。１／２波長板６０１は入射する光の偏光方向を、光軸２０を中心軸としてある所定の角度だけ回転させる構成となっており、その回転角度の設定によりレーザ光源２０１から出射され１／２波長板６０１を通る光は、偏光ホログラム２０９へ入射する常光と異常光との光強度比率が設定され、光ディスク２０６へ照射されるメインビームとサブビームとの光強度比率、光検出器２０８によって検出されるメインビームとサブビームとの光強度比率が設定される。
【００７５】
従って、このような構成をとることにより、数式８から数式１４に基づいて生成される信号の大きさを適切に設定し、良好な品質の信号を検出することができるため、光ピックアップ装置における安定したトラッキングおよびフォーカス制御、良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【００７６】
また、さらにメインビームとサブビームの光強度の比率を設定するために、以下のような構成も可能である。本実施の形態における偏光性ホログラム２０９において設定された図２中Ｘ軸に沿った方向に設定された回折格子の格子に対して、ニオブ酸リチウム基板５０１の異方性結晶軸方向がある所定の角度をもって設定される場合について述べる。
【００７７】
この場合、偏光性ホログラム２０９へ入射する光において、異方性結晶軸に沿った方向に偏光方向を有す光がこのときの常光、異常光となり、これらの光に対して回折格子のライン部とスペース部の位相差がそれぞれ０、πとなるため、このときの常光が偏光性ホログラム２０９によって回折されずメインビームとなり、異常光が回折されてサブビームとなる。
【００７８】
よって、回折格子の格子に対して所定の角度を設定することで、一定の偏光比を有すレーザ光源２０１から出射され偏光性ホログラム２０９へ入射する光のうち、常光と異常光との比率を所定の値に設定することができ、光ディスク２０６へ照射されるメインビームとサブビームとの光強度比率、光検出器２０８によって検出されるメインビームとサブビームとの光強度比率の設定が可能となる。
【００７９】
従って、このような構成をとることにより、数式８から数式１４に基づいて生成される信号の大きさを適切に設定し、良好な品質の信号を検出することができるため、光ピックアップ装置における安定したトラッキングおよびフォーカス制御、良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【００８０】
なお、上述した構成を組み合わせてメインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成も可能であり、その効果は同様である。
【００８１】
なお、上述した構成を組み合わせてメインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成も可能であり、その効果は同様である。
【００８２】
さらに、上述したメインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成を用いてメインビームとサブビームの比率を切替えてもよい。一例として、光ディスクの再生時、記録時によりメインビームとサブビームの比率を切替える場合が挙げられる。
【００８３】
一般に、光ディスクを記録する際にはメインビームに大きい光強度が必要であるため、記録時にメインビームの光強度比率を大きく設定することにより、記録時に適切な光強度に設定することができるため、さらに良好な記録性能が実現可能となる。一方で再生時には、メインビームを小さく設定することにより、第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０の光強度が小さくなるため、本発明を用いることにより、良好な品質の信号を検出することができるため、より良好な再生性能が得られる。
【００８４】
従って、このような構成をとることにより、より良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【００８５】
（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２を図１から図７に基づいて説明する。なお、従来例、実施の形態１と同じ要素については、同一の番号を振って説明する。本実施例は、第1の光検出手段が第1の検光子を介して入射するメインビームを検出し、第2の光検出手段が第2の検出手段が第2の検光子を介して入射するサブビームを検出する光ピックアップ装置および光ディスク装置に係わるものである。
【００８６】
本実施の形態における光ピックアップ装置および光ディスク装置は、実施の形態１に記載の光ピックアップ装置および光ディスク装置において、図７に示す光検出器２０８を用いた構成である。
【００８７】
図７によると、光検出器２０８は第１の検光子７０１、第２の検光子７０２を搭載し、第１の検光子７０１はメインビーム光検出部３０１に入射する光のうち、図中Ｚ軸に沿った偏光方向をもつ光のみを透過させる機能を有し、第２の検光子７０２はサブビーム光検出部３０２、３０３に入射する光のうち、図中Ｙ軸に沿った偏光方向をもつ光のみを透過させる機能を有する。
【００８８】
図５に偏光性ホログラム２０９の断面形状を示すが、複屈折性を有しその異方性結晶軸が図中Ｘ軸に沿った方向に設定されたニオブ酸リチウム基板５０１上に、プロトン交換領域５０２および位相補償膜５０３から成る回折格子が形成されており、回折格子のライン部とスペース部の位相差は、図２中Ｘ軸に沿った方向に偏光成分を持つ光（常光）に対しては０、それに直交するＹ軸（紙面に垂直な方向）に沿った偏光成分を持つ光（異常光）に対してはπに設定されており、本実施の形態における光ピックアップ装置でのレーザ光源２０１が出射する光において偏光比の最も高い成分の偏光方向は、図２中Ｘ軸に沿った方向と一致している。
【００８９】
このとき、本実施の形態における光ピックアップ装置の偏光性ホログラム２０９に形成された回折格子のライン部とスペース部との位相差は、レーザ光源２０１から出射された光のうち偏光比の最も高い（図２におけるＸ軸に沿った方向に偏光方向をもつ）成分（常光）に対して０、それに垂直な方向（Ｙ軸に沿った方向）に偏光をもつ成分（異常光）に対してπとなるため、レーザ光源２０１から出射された光のうち大部分は偏光性ホログラム２０９によって回折されずに透過し、０次回折光としてメインビームとなり、それと直交する偏光成分は透過せず回折され、１次回折光としてサブビームとなる。
【００９０】
従って、このとき０次回折光であるメインビームと１次回折光であるサブビームの偏光方向は互いに直交することになり、レーザ光源２０１として用いる半導体レーザの偏光比が１００：１とすると、メインビームとサブビームとの光強度の比率は１００：１となる。
【００９１】
このメインビームとサブビームは、ビームスプリッタ２０３によって反射されメインビームの偏光方向はＺ軸に沿った方向、サブビームの偏光方向はＹ軸に沿った方向となり、コリメートレンズ２０４、対物レンズ２０５を介し、光ディスク２０６に照射される。さらに光ディスク２０６によって反射されたメインビームおよびサブビームは、反射して再び対物レンズ２０５、コリメートレンズ２０４を通り、ビームスプリッタ２０３を透過し、検出レンズ２０７を介し光検出器２０８に至るが、このときの偏光方向は、メインビーム反射光はＺ軸に沿った方向、サブビームはＹ軸に沿った方向に偏光方向を持つ。すなわち、光検出器２０８へ入射するメインビーム反射光とサブビーム反射光の偏光方向は互いに直交している。
【００９２】
このとき、上述したように第１の情報記録層２０６ａに焦点が合っている場合、同時に第１の情報記録層２０６ａを透過し、デフォーカスした状態で第２の情報記録層２０６ｂへ入射し、反射された光は第１の情報記録層２０６ａの反射光と同様に対物レンズ２０５からビームスプリッタ２０３を通り、検出レンズ２０７を介し光検出器２０８へ入射する。このうち、メインビームによる反射光は、デフォーカスした状態で光検出器２０８へ入射するが、その偏光方向はＺ軸に沿った方向となるため、図７における第２の検光子７０２により、サブビーム光検出部３０２、３０３へは入射せず、メインビーム光検出部３０１が備える光検出素子３０１ａ、３０１ｂ、３０１ｃ、３０１ｄにのみ入射する。従って、サブビーム用光検出部３０２、３０３には第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光は入射せず、それぞれ第１の情報記録層２０６ａからのサブビーム反射光３１、３２のみを検出するため、数式１０および数式１１により適切なＳＰＰ、ＳＦＥ信号が得られる。
【００９３】
一方、メインビーム用光検出部３０１上へ入射する第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０とは、いずれも偏光方向がＺ軸方向であるため第１の検光子７０１を透過し、その偏光方向が互いに平行であることにより光の干渉が発生する。しかしながら、第２の情報記録層２０６ｂからの反射光４０はデフォーカスしてメインビーム用光検出部３０１へ入射するため、その光強度は第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０の光強度に対しては十分小さく、メインビーム用光検出部３０１上においてこれらの光の干渉により発生する光強度の増減の大きさは十分小さいために、反射光３０の光強度分布の連続性に与える影響も小さいため、数式８および数式９により適切なＭＰＰ、ＭＦＥが得られる。このとき、第２の情報記録層２０６ｂへ入射して反射されたサブビーム反射光は、Ｙ軸に沿った方向に偏光方向を持つことにより第１の検光子７０１を透過せず、メインビーム用光検出部３０１へは入射しないため、より適切なＭＰＰ、ＭＦＥを得ることが可能となる。
【００９４】
以上の様に、メインビームとサブビームの偏光方向が互いに直交させることにより、第１および第２の県光子を用いてメインビーム反射光とサブビーム反射光とを光学的に分離し、それぞれメインビーム光検出部、サブビーム光検出部へ入射させることができる。よって、複数の情報記録層を持つ光ディスクの記録再生を行う際において、記録再生を行う情報記録層とは別の情報記録層からの迷光の影響をさらに小さくすることができ、さらに安定したトラッキング信号およびフォーカスエラー信号の検出が可能となるため、良好な記録再生性能を実現することができる。
【００９５】
なお、本実施の形態の光ピックアップ装置において、第１の検光子７０１を搭載せず、光検出器２０８が第２の検光子７０２のみを搭載する構成でもよい。この場合、メインビーム用光検出部３０１上へ入射する第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０と第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０とでは偏光方向が同じＺ軸方向となり互いに平行であるため、光の干渉が発生する。しかしながら、第２の情報記録層２０６ｂからの反射光４０はデフォーカスしてメインビーム用光検出部３０１へ入射するため、その光強度は第１の情報記録層２０６ａからのメインビーム反射光３０の光強度に対しては十分小さく、メインビーム用光検出部３０１上においてこれらの光の干渉により発生する光強度の増減の大きさは十分小さいために、反射光３０の光強度分布の連続性に与える影響も小さいため、数式８および数式９により適切なＭＰＰ、ＭＦＥが得られる。
【００９６】
また、本実施の形態においては、光検出器２０８が第１の検光子７０１、第２の検光子７０２を備える場合について述べたが、第１の検光子７０１、第２の検光子７０２は光検出器２０８が搭載せず、検出レンズ２０７と光検出器２０８の間に備えられていても効果は同様である。
【００９７】
なお、本実施の形態においては光学系、検出器構成として図２、図３、図７のような構成を挙げたが、他の構成であっても本発明の効果は同様であり、本実施の形態の光ピックアップ装置の構成に限定されるものではない。
【００９８】
また、本実施の形態における光ピックアップ装置が搭載する各回路についての構成については一例であり、例えば、信号演算回路１０１が対物レンズ駆動回路１０５の機能を含んでいてもよく、回路構成は本発明の実施の形態に限定されるものではない。
【００９９】
さらに、本実施の形態において、光ディスクから得られる各信号を演算する各演算回路は光ディスク装置が備えていてもよく、本発明の実施の形態に限定されるものではない。
【０１００】
さらに、図２においてレーザ光源２０１を光学系１０の光軸２０（Ｚ軸に沿った方向）を中心軸として回転し、偏光比の最も高い成分の偏光方向をＸ軸に沿った方向とは異なるある所定の角度に設定し、レーザ光源２０１から出射され偏光性ホログラム２０９へ入射する光において常光と異常光との光強度比率を所定の値に設定し、光ディスク２０６へ照射されるメインビームとサブビームとの光強度比率、すなわち光検出器２０８によって検出されるメインビームとサブビームとの光強度比率を設定する場合においては、数式８から数式１４に基づいて生成される信号の大きさを適切に設定し、良好な品質の信号を検出することができるため、光ピックアップ装置における安定したトラッキングおよびフォーカス制御、良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【０１０１】
また、偏光性ホログラム２０９へ入射する光の偏光方向を制御し、メインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成として、図６に示した光学系１０に、入射する光の偏光方向を、光軸２０を中心軸としてある所定の角度だけ回転させる１／２波長板６０１を追加した光学系１１を用い、レーザ光源２０１から出射される光を１／２波長板６０１に入射させる構成をとる場合においては、その回転角度の設定により偏光ホログラム２０９へ入射する常光と異常光との光強度比率が設定され、光ディスク２０６へ照射されるメインビームとサブビームとの光強度比率、すなわち光検出器２０８によって検出されるメインビームとサブビームとの光強度比率を設定することが可能となり、数式８から数式１４に基づいて生成される信号の大きさを適切に設定し、良好な品質の信号を検出することができるため、光ピックアップ装置における安定したトラッキングおよびフォーカス制御、良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【０１０２】
また、さらにメインビームとサブビームの光強度の比率を設定するために、偏光性ホログラム２０９において設定された図２中Ｘ軸に沿った方向に設定された回折格子の格子に対して、ニオブ酸リチウム基板５０１の異方性結晶軸方向がある所定の角度をもって設定される場合においては、一定の偏光比を有すレーザ光源２０１から出射され偏光性ホログラム２０９へ入射する光のうち、常光と異常光との比率を所定の値に設定することができ、光ディスク２０６へ照射されるメインビームとサブビームとの光強度比率、光検出器２０８によって検出されるメインビームとサブビームとの光強度比率の設定が可能となるため、数式８から数式１４に基づいて生成される信号の大きさを適切に設定し、良好な品質の信号を検出することができるため、光ピックアップ装置における安定したトラッキングおよびフォーカス制御、良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【０１０３】
なお、上述した構成を組み合わせてメインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成も可能であり、その効果は同様である。
【０１０４】
さらに、上述したメインビームとサブビームの光強度比率を設定する構成を用いてメインビームとサブビームの比率を切替えてもよい。一例として、光ディスクの再生時、記録時によりメインビームとサブビームの比率を切替える場合が挙げられる。
【０１０５】
一般に、光ディスクを記録する際にはメインビームに大きい光強度が必要であるため、記録時にメインビームの光強度比率を大きく設定することにより、記録時に適切な光強度に設定することができるため、さらに良好な記録性能が実現可能となる。一方で再生時には、メインビームを小さく設定することにより、第２の情報記録層２０６ｂからのメインビーム反射光４０の光強度が小さくなるため、本発明を用いることにより、良好な品質の信号を検出することができるため、より良好な再生性能が得られる。
【０１０６】
従って、このような構成をとることにより、より良好な記録再生性能を実現することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１０７】
以上のように、本発明にかかる光ピックアップ装置および光ディスク装置は、レーザ光源を用いて光ディスク等の光情報記録装置に対して情報を光学的に記録あるいは再生する光情報記録装置等の光ピックアップ装置および光ディスク装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１０８】
【図１】従来の光ピックアップ装置および本発明の第１、第２の実施の形態における光ピックアップ装置の構成を示す図
【図２】本発明の第１、第２の実施の形態における光ピックアップ装置の光学系の構成を示す図
【図３】従来の光ピックアップ装置および本発明の第１、第２の実施の形態における光ピックアップ装置の光検出器の詳細を示す図
【図４】従来の光ピックアップ装置および本発明の第１の実施の形態における光ピックアップ装置の光検出器の詳細を示す図
【図５】本発明の第１、第２の実施の形態における光ピックアップ装置の偏光性ホログラムの断面形状を示す図
【図６】本発明の第１、第２の実施の形態における光ピックアップ装置の光学系の構成を示す図
【図７】本発明の第２の実施の形態の光ピックアップ装置における光検出器の構成を示す図
【図８】従来の光ピックアップ装置の光学系の構成を示す図
【符号の説明】
【０１０９】
１０，１１，１２，１３    光学系
１０１    制御信号処理回路
１０２    対物レンズ駆動回路
１０３    対物レンズ駆動装置
２０    光軸
２０１    レーザ光源
２０２    回折格子
２０３    ビームスプリッタ
２０４    コリメートレンズ
２０５    対物レンズ
２０６    光ディスク
２０６ａ    第１の情報記録層
２０６ｂ    第２の情報記録層
２０７    検出レンズ
２０８    検出器
２０９    偏光性ホログラム
３０    第１の情報記録層からのメインビーム反射光
３１，３２    第１の情報記録層からのサブビーム反射光
３０１    メインビーム用光検出部
３０２，３０３    サブビーム用光検出部
３０４    メイン信号演算回路
３０５    サブ信号演算回路
３０６    制御信号演算回路
４０    第２の情報記録層からのメインビーム反射光
５０１    ニオブ酸リチウム基板
５０２    プロトン交換領域
５０３    位相補償膜
６０１    １／２波長板
７０１    第１の検光子
７０２    第２の検光子
７０３    光検出器基板
【図１】
2009146528.tif 000017
【図２】
2009146528.tif 000018
【図３】
2009146528.tif 000019
【図４】
2009146528.tif 000020
【図５】
2009146528.tif 000021
【図６】
2009146528.tif 000022
【図７】
2009146528.tif 000023
【図８】
2009146528.tif 000024