(57)【要約】【課題】高精度なサーボパラメータの検出を可能にする。【解決手段】光ピックアップ検査装置３は、アクチュエータ駆動回路１６にデフォーカスオフセット量を変化させる指令を送出して各デフォーカスオフセット量を設定し、光ピックアップ装置１の再生信号生成回路１４からの再生信号に基づいて各デフォーカスオフセット量毎のジッタ値を算出する。そして、各デフォーカスオフセット量に対するジッタ値の２次近似曲線を求め、当該２次近似曲線と実測値との相関係数Ｒ2を算出する。この相関係数Ｒ2が閾値以下の場合には、上記デフォーカスオフセット量の設定と上記ジッタ値の算出とを再度実行し、上記閾値を超える場合には、上記２次近似曲線におけるジッタのボトム値に対応するデフォーカスオフセット量を、デフォーカスオフセット量の最適値として求める。したがって、誤差の少ない高精度な上記デフォーカスオフセット量の最適値を得ることができる。【選択図】図１
2009146529.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を用いて光記録再生媒体に記録再生を行う光ピックアップ装置に対して、光ピックアップ検査装置からサーボパラメータを変化させる指令を出力して、上記光ピックアップ装置の上記サーボパラメータを順次変化させるステップと、
上記サーボパラメータを順次変化させて上記光ピックアップ装置から出射されたレーザ光が、上記サーボパラメータの調整を行う際の基準となる基準ディスクで反射された反射光に基づいて、上記光ピックアップ装置の再生信号生成回路によって順次再生信号を生成するステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記再生信号生成回路で生成された上記各サーボパラメータ毎の再生信号に基づいて、上記再生信号の品質を表すジッタを求めるステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの関係を近似曲線で近似するステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの上記近似曲線での近似値と実測値との相関係数を算出するステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記算出された相関係数が所定値以下の場合には、再度、上記光ピックアップ装置に対して上記サーボパラメータを変化させる指令を出力して、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの上記近似値と実測値との相関係数を算出する一方、上記算出された相関係数が上記所定値を超えた場合には、上記ジッタの最良値に対応するサーボパラメータ値を、当該光ピックアップ装置のサーボパラメータとして検出するステップと
を備えたことを特徴とするサーボパラメータの検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載のサーボパラメータの検出方法において、
上記光ピックアップ装置のサーボパラメータは、球面収差補正量であることを特徴とするサーボパラメータの検出方法。
【請求項３】
請求項１に記載のサーボパラメータの検出方法において、
上記光ピックアップ装置のサーボパラメータは、ピックアップの傾角であることを特徴とするサーボパラメータの検出方法。
【請求項４】
請求項１に記載のサーボパラメータの検出方法において、
上記光ピックアップ装置のサーボパラメータは、デフォーカスオフセット量であることを特徴とするサーボパラメータの検出方法。
【請求項５】
請求項２に記載のサーボパラメータの検出方法において、
上記光ピックアップ検査装置からの指令に呼応して、上記光ピックアップ装置によってコリメートレンズを光軸方向に順次移動させて上記球面収差補正を順次変化させるに際して、上記コリメートレンズの光軸方向への稼動範囲が限られるために上記ジッタの最良値を得るのに十分な範囲の上記ジッタが得られない場合には、上記近似曲線を用いて上記ジッタの最良値を得る
ことを特徴とするサーボパラメータ検出方法。
【請求項６】
レーザ光を用いて光記録再生媒体に記録再生を行うと共に、
請求項１に記載のサーボパラメータの検出方法によって検出された上記サーボパラメータを記録するサーボパラメータ記録部を備えた
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光ピックアップ装置において、
上記サーボパラメータ記録部は、上記サーボパラメータを表すＱＲコードが記録されたＱＲコード記録部であることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項８】
請求項６に記載の光ピックアップ装置において、
上記サーボパラメータ記録部は、半導体メモリであることを特徴とする光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、情報記録再生装置に搭載される光ピックアップ装置の製造時におけるサーボパラメータの検出方法、および、それを利用した光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＢＤ(Blu-ray Disc),ＤＶＤ(Digital Versatile Disc)およびＣＤ(Compact Disc)等の光ディスクの記録再生に必要なサーボパラメータの最適値を検出する際には、再生信号やそのジッタを用いた最適パラメータ検出が必要となる。
【０００３】
近年、光ディスクの高密度化が求められており、この高密度化を実現するために、光ディスクの情報記録層における線記録密度の向上やトラックの狭ピッチ化が押し進められてきた。また、光ディスクの高密度化には、光ディスクの情報記録層上に集光される光ビームのビーム径を小さくする必要がある。そして、光ビームのビーム径を小さくするには、光ピックアップ装置の集光光学系としての対物レンズから照射される光ビームの開口数を大きくすることと、光ビームの波長を短波長化することが考えられる。
【０００４】
光源からの光ビームが光ディスクのカバーガラスを通過すると、球面収差が発生する。この球面収差の大きさは、一般的に開口数の４乗に比例するため、高開口数の対物レンズを用いる場合には球面収差の誤差の影響が無視できず、情報の読み取りに影響がでることになる。そのため、高開口数の対物レンズを用いる場合には、高い精度で球面収差を補正する必要がある。
【０００５】
また、ビームスポット径が常に略一定となるように、フォーカスサーボは高い追従性能を満たす必要がある。一般的に、フォーカスサーボは、光源の波長に比例し、対物レンズの開口数(ＮＡ)の２乗に反比例する焦点深度よりも十分小さい範囲に制御される必要がある。さらに、ディスクの反りや光ピックアップのアクチュエータの取り付け誤差等によってディスクに対する傾きが生じると、上記ディスクの記録面上での集束光にコマ収差が発生する。このコマ収差の量はＮＡ値の３乗に比例するため、特にＢＤのような高いＮＡ値である場合には、ディスクのわずかな特性変化でも非常に大きなコマ収差を発生させてしまうことになる。
【０００６】
フォーカスオフセット量および球面収差の調整を高精度に行う方法としては、例えば特開２００７‐８７４８３号公報(特許文献１)に開示された情報記録再生方法のように、ジッタが最良となる時の球面収差量とトラッキング誤差信号振幅が最大になる時の球面収差量との差分を学習し、上記差分の最適値を求める方法がある。
【０００７】
しかしながら、上記特許文献１に開示された従来の情報記録再生方法においては、以下のような問題がある。
【０００８】
すなわち、上記球面収差量の最適値(サーボパラメータ)を検出する際に、球面収差量を振ってジッタが最小なときの面収差量を求めるような場合には、サーボ動作が不安定な光ピックアップではジッタが安定せず、ジッタの最小値にばらつきが生じることがある。また、光ピックアップの小型化や薄型化に伴う形状の制約によって、球面収差補正量のようなサーボパラメータを十分に振って近似曲線を描くことが困難な場合が生ずる。
【特許文献１】特開２００７‐８７４８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
そこで、この発明の課題は、サーボ動作が不安定な光ピックアップや小型化および薄型化が図られた光ピックアップであっても高精度なサーボパラメータの検出が可能なサーボパラメータの検出方法、および、それを利用した光ピックアップ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため、この発明のサーボパラメータの検出方法は、
レーザ光を用いて光記録再生媒体に記録再生を行う光ピックアップ装置に対して、光ピックアップ検査装置からサーボパラメータを変化させる指令を出力して、上記光ピックアップ装置の上記サーボパラメータを順次変化させるステップと、
上記サーボパラメータを順次変化させて上記光ピックアップ装置から出射されたレーザ光が、上記サーボパラメータの調整を行う際の基準となる基準ディスクで反射された反射光に基づいて、上記光ピックアップ装置の再生信号生成回路によって順次再生信号を生成するステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記再生信号生成回路で生成された上記各サーボパラメータ毎の再生信号に基づいて、上記再生信号の品質を表すジッタを求めるステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの関係を近似曲線で近似するステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの上記近似曲線での近似値と実測値との相関係数を算出するステップと、
上記光ピックアップ検査装置によって、上記算出された相関係数が所定値以下の場合には、再度、上記光ピックアップ装置に対して上記サーボパラメータを変化させる指令を出力して、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの上記近似値と実測値との相関係数を算出する一方、上記算出された相関係数が上記所定値を超えた場合には、上記ジッタの最良値に対応するサーボパラメータ値を、当該光ピックアップ装置のサーボパラメータとして検出するステップと
を備えたことを特徴としている。
【００１１】
上記構成によれば、光ピックアップ装置の製造時等において、上記光ピックアップ装置のサーボパラメータを検出する際に、上記サーボパラメータを順次変化させた際の上記各サーボパラメータ毎の再生信号に基づいてジッタを求める。そして、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの関係を近似曲線で表し、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの上記近似曲線での近似値と実測値との相関係数を算出するようにしている。したがって、上記相関係数によって、サーボ動作の不安定性による上記ジッタの不連続性を検知することができる。
【００１２】
さらに、上記相関係数が所定値以下の場合には、再度、上記各サーボパラメータおよび上記各ジッタの上記近似値と実測値との相関係数を算出する一方、上記相関係数が上記所定値を超える場合には、上記ジッタの最良値に対応するサーボパラメータ値を当該光ピックアップ装置のサーボパラメータとして検出するようにしている。したがって、誤差の少ない高精度なサーボパラメータを検出することが可能になる。
【００１３】
また、１実施の形態のサーボパラメータの検出方法では、
上記光ピックアップ装置のサーボパラメータは、球面収差補正量である。
【００１４】
この実施の形態によれば、誤差の少ない高精度な球面収差補正量を検出することが可能になる。
【００１５】
また、１実施の形態のサーボパラメータの検出方法では、
上記光ピックアップ装置のサーボパラメータは、ピックアップの傾角である。
【００１６】
この実施の形態によれば、誤差の少ない高精度なピックアップの傾角を検出することが可能になる。
【００１７】
また、１実施の形態のサーボパラメータの検出方法では、
上記光ピックアップ装置のサーボパラメータは、デフォーカスオフセット量である。
【００１８】
この実施の形態によれば、誤差の少ない高精度なデフォーカスオフセット量を検出することが可能になる。
【００１９】
また、１実施の形態のサーボパラメータの検出方法では、
上記光ピックアップ検査装置からの指令に呼応して、上記光ピックアップ装置によってコリメートレンズを光軸方向に順次移動させて上記球面収差補正を順次変化させるに際して、上記コリメートレンズの光軸方向への稼動範囲が限られるために上記ジッタの最良値を得るのに十分な範囲の上記ジッタが得られない場合には、上記近似曲線を用いて上記ジッタの最良値を得る。
【００２０】
この実施の形態によれば、ピックアップの形状による制約等によって上記コリメートレンズの光軸方向への稼動範囲が限られて、上記ジッタの実測値から上記ジッタの最良値を得ることができない場合であっても、上記近似曲線を用いて上記ジッタの最良値を得ることができ、誤差の少ない高精度な球面収差補正量を検出することが可能になる。
【００２１】
また、この発明の光ピックアップ装置は、
レーザ光を用いて光記録再生媒体に記録再生を行うと共に、
請求項１に記載のサーボパラメータの検出方法によって検出された上記サーボパラメータを記録するサーボパラメータ記録部を備えた
ことを特徴としている。
【００２２】
上記構成によれば、誤差の少ない高精度なサーボパラメータを光ピックアップ装置のサーボパラメータ記録部に記録している。したがって、当該光ピックアップ装置を光情報記録再生装置に搭載する際に、上記サーボパラメータ記録部に記録されているサーボパラメータを読み出して、上記光情報記録再生装置の記憶装置等に記憶しておく。そして、当該光ピックアップ装置を動作させる場合に制御データとして使用することによって、球面収差の補正やピックアップの傾角の設定やデフォーカスオフセット量の設定を高精度に制御することが可能になる。
【００２３】
また、１実施の形態の光ピックアップ装置では、
上記サーボパラメータ記録部は、上記サーボパラメータを表すＱＲコードが記録されたＱＲコード記録部である。
【００２４】
この実施の形態によれば、上記サーボパラメータの検出方法によって検出された上記サーボパラメータを、バーコードの数十倍から数百倍の情報量を有し、バーコードと同じ情報量であれば１０分の１程度の小さなスペースでよく、汚れ・破損に強く、どの方向からでも読み取り可能なＱＲコードで記録している。したがって、本光ピックアップ装置を単体で出荷し、光情報記録装置に組み込む場合でも、上記サーボパラメータを容易に且つ正確に読み出して当該光情報記録装置に登録して使用することができる。
【００２５】
また、１実施の形態の光ピックアップ装置では、
上記サーボパラメータ記録部は、半導体メモリである。
【００２６】
この実施の形態によれば、上記サーボパラメータの検出方法によって検出された上記サーボパラメータを半導体メモリに記録している。したがって、記録されている上記サーボパラメータの書き換え変更を簡単に行うことができる。
【発明の効果】
【００２７】
以上より明らかなように、この発明のサーボパラメータの検出方法は、光ピックアップ装置のサーボパラメータを順次変化させた際の上記各サーボパラメータ毎の再生信号に基づいて、上記再生信号の品質を表すジッタを求め、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの関係を近似曲線で表し、上記各サーボパラメータと上記各ジッタとの上記近似曲線での近似値と実測値との相関係数を算出するので、上記相関係数によって、サーボ動作の不安定性による上記ジッタの不連続性を検知することが可能になる。
【００２８】
さらに、上記相関係数が所定値以下の場合には、再度、上記各サーボパラメータおよび上記各ジッタの上記近似値と実測値との相関係数を算出する一方、上記相関係数が上記所定値を超える場合には、上記ジッタの最良値に対応するサーボパラメータ値を当該光ピックアップ装置のサーボパラメータとして検出するので、誤差の少ない高精度なサーボパラメータを検出することができる。
【００２９】
また、この発明の光ピックアップ装置は、上記サーボパラメータの検出方法によって検出された誤差の少ない高精度なサーボパラメータをサーボパラメータ記録部に記録しているので、当該光ピックアップ装置を光情報記録再生装置に搭載する際に、上記サーボパラメータ記録部に記録されているサーボパラメータを読み出して、上記光情報記録再生装置の記憶装置等に記憶しておく。そして、当該光ピックアップ装置を動作させる場合に制御データとして使用することによって、球面収差の補正やピックアップの傾角の設定やデフォーカスオフセット量の設定を高精度に制御することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。図１は、本実施の形態のサーボパラメータの検出方法を実現させる光ピックアップ装置と基準ディスクと光ピックアップ検査装置とを示す。図１において、１は光ピックアップ装置であり、２はサーボパラメータの調整を行う際の基準となる基準ディスクであり、３は光ピックアップ検査装置である。
【００３１】
上記光ピックアップ装置１においては、レーザ駆動ＩＣ(集積回路)４からの駆動信号に基づいてレーザダイオード５から出射されたレーザ光を、コリメートレンズ６によって平行光束とし、球面収差補正機構７によって所定の球面収差を付加し、立ち上げミラー８で反射し、スピンドルモータ９によって回転駆動されている基準ディスク２の方向に進路を変える。その後、レーザ光を対物レンズ１０によって集光し、基準ディスク２の情報記録面に光スポットを形成させる。
【００３２】
上記基準ディスク２の情報記録面で反射したレーザ光は、対物レンズ１０を通り、立ち上げミラー８によってビームスプリッタ１１の方向に反射され、ビームスプリッタ１１によって光検出器１３の方向に反射され、検出レンズ１２等によって光検出器１３上に集光される。そして、光検出器１３からの信号に基づいて、再生信号生成回路１４によって再生信号が生成され、光ピックアップ検査装置３に出力される。
【００３３】
上記光ピックアップ検査装置３は、マイクロプロセッサ１５によってアクチュエータ駆動回路１６に指令を送ることによってアクチュエータ１７を駆動し、デフォーカスオフセット量を順次変化させる。そして、デフォーカスオフセット量を順次変化させながら、光ピックアップ装置１の再生信号生成回路１４から入力される上記再生信号に基づいて、再生信号の品質を表すジッタを算出し、デフォーカスオフセット量と対応付けてメモリ１８に格納していく。そして、メモリ１８に格納された上記デフォーカスオフセット量とジッタとに基づいて、以下のようにして、高精度なサーボパラメータ(デフォーカスオフセット量の最適値)の検出を行うのである。
【００３４】
図２に、上記光ピックアップ検査装置３のマイクロプロセッサ１５によって実行されるデフォーカスオフセット量最適値算出処理のフローチャートを示す。以下、図１および図２に従って、デフォーカスオフセット量最適値算出処理動作について詳細に説明する。
【００３５】
図２において、ステップＳ1で、上記アクチュエータ駆動回路１６に対して、デフォーカスオフセット量をフォーカスのプラス方向とマイナス方向とに一定のステップで変化させる指令を送出し、上記各デフォーカスオフセット量を設定する。この場合、各デフォーカスオフセット量は、サーボ制御動作から外れないように、ジッタがそのボトムの予測値から所定％(およそ１％〜２％)悪化する範囲内で設定される。
【００３６】
ステップＳ2で、上記光ピックアップ装置１の再生信号生成回路１４から、上記ステップＳ1において設定された各デフォーカスオフセット量毎に入力される再生信号に基づいて、上記各再生信号のジッタ値が算出される。そして、上記ステップＳ1において設定されたデフォーカスオフセット量と本ステップＳ2において算出されたジッタ値とが関連づけられて、メモリ１８に格納される。
【００３７】
ステップＳ3で、上記メモリ１８に格納された全てのデフォーカスオフセット量とジッタ値との組に基づいて、各デフォーカスオフセット量に対してジッタ値をプロットした場合の２次近似曲線が求められる。ステップＳ4で、デフォーカスオフセット量およびジッタ値に関する当該２次近似曲線での近似値と実測値との相関係数Ｒ2が算出される。
【００３８】
仮に、上記各デフォーカスオフセット量に対するジッタの実測値とその２次近似曲線とが図３に示すように得られたとする。この場合、各デフォーカスオフセット量に対する各ジッダの実測値をｙ軸上の値とする一方当該２次近似曲線上における値をｘ軸上の値とするグラフを求め、この分布の相関係数を求めると、およそＲ2＝９.９９１９と得られる。尚、この場合におけるデフォーカスオフセット量の最適値は、３.３７％である。
【００３９】
これに対して、組立調整の誤差等によってジッタが不安定である光ピックアップ装置の場合には、上記デフォーカスオフセット量に対するジッタの実測値は、図４に示すように不連続となる。そして、このようなばらつきのあるジッタ値の２次近似曲線を求め、この２次近似曲線から相関係数を求めると、Ｒ2＝０.８３７１と得られる。尚、この場合におけるデフォーカスオフセット量の最適値は−１１.３％であり、図３に示すようなばらつきのない測定結果と比べて、最適値の測定結果に誤差が生じることになる。
【００４０】
このように、上記光ピックアップ装置の不安定性やその他様々な要因によって生じる上記デフォーカスオフセット量の最適値の誤差は、上記相関係数Ｒ2に現れる。そこで、上記相関係数Ｒ2の値に閾値(本実施の形態においては、閾値＝０.９)を定め、ステップＳ5で、上記ステップＳ4において求められた相関係数Ｒ2の値が、上記閾値以下であるか否かが判別される。その結果、上記閾値以下である場合には、上記ジッタ値の測定結果にばらつきがあると判断し、上記ステップＳ1に戻って、上記各デフォーカスオフセット量の設定と、上記各再生信号のジッタ値の算出とが、再度実行される。これに対し、上記閾値を超える場合には、ステップＳ6に進む。
【００４１】
ステップＳ6で、上記ステップＳ3において求められた２次近似曲線におけるジッタのボトム値に対応するデフォーカスオフセット量が、デフォーカスオフセット量の最適値として求められる。ステップＳ7で、上記ステップＳ6において求められたデフォーカスオフセット量の最適値(サーボパラメータ)が、当該光ピックアップ装置１に設けられたデータ記録部１９に記録される。そして、最終的に、当該光ピックアップ装置１を搭載する光情報記録再生装置の制御データとして利用される。そうした後、デフォーカスオフセット量最適値算出処理動作を終了する。
【００４２】
ここで、上述のようにして求められたデフォーカスオフセット量の最適値(サーボパラメータ)が記録された当該光ピックアップ装置１のデータ記録部１９の一例として、ＱＲコード(Quick Response code)が記録された記録媒体がある。この場合には、上記求められたデフォーカスオフセット量の最適値(サーボパラメータ)をコード変換装置(図示せず)によってＱＲコードに変換する。そして、変換されたＱＲコードデータ２０が記録された記録媒体を、図５に示すように、光ピックアップ装置１に貼り付けて出荷し、光情報記録再生装置に組み込む際には、別体のコード読取装置(図示せず)によってＱＲコードデータ２０に記録されたデフォーカスオフセット量の最適値(サーボパラメータ)を読み取り、その値を光情報記録装置の記憶装置等に記憶させることによって、当該光ピックアップ装置１の制御データとして利用することができるのである。
【００４３】
また、当該光ピックアップ装置１のデータ記録部１９の他の一例として、図５に示すような、当該光ピックアップ装置１に搭載された半導体メモリ２１を用いることができる。この半導体メモリ２１には、光ピックアップ装置１の外部から電気的に記録データの書き込み読み出しを行うための電気配線(図示せず)を有している。そして、光ピックアップ検査装置３のマイクロプロセッサ１５によって、上記電気配線を介して、デフォーカスオフセット量の最適値(サーボパラメータ)を半導体メモリ２１に書き込むのである。当該光ピックアップ装置１を光情報記録再生装置に組み込む際には、半導体メモリ２１に書き込まれたデフォーカスオフセット量の最適値(サーボパラメータ)を上記光情報記録再生装置から読み取り、当該光ピックアップ装置１の制御データとして利用するのである。
【００４４】
次に、図２に示すデフォーカスオフセット量最適値算出処理動作における上記ステップＳ3において実行される２次近似曲線の算出と、上記ステップＳ4において実行される相関係数Ｒ2の算出方法について、具体的に説明する。
【００４５】
上記ステップＳ1において設定された各デフォーカスオフセット量の際に得られた上記各再生信号のジッタの実測値を、最小二乗法によって式(１)に示す２次曲線で近似する。
2009146529.tif 000003
その場合、式(２)に示すＥが最小値となるようにａ,ｂ,ｃを決定する。
2009146529.tif 000004
但し、ｉは、上記設定されたデフォーカスオフセット量とその際に得られた上記再生信号のジッタ値との組の番号であり、ｎは、上記組の数である。
【００４６】
こうして得られた２次近似曲線と実測値との相関係数を、式(３)によって求める。
2009146529.tif 000005
但し、バー付きのｙは、デフォーカスオフセット量の平均値である。また、バー付きのｘは、ジッタ値の平均値である。
【００４７】
上記式(１),式(２)および式(３)の演算は、上記光ピックアップ検査装置３のマイクロプロセッサ１５によって実行される。
【００４８】
以上のごとく、本実施の形態においては、上記光ピックアップ検査装置３によって、アクチュエータ駆動回路１６に対して、デフォーカスオフセット量をフォーカスのプラス方向とマイナス方向とに一定のステップで変化させる指令を送出して光ピックアップ装置１の各デフォーカスオフセット量を設定し、光ピックアップ装置１の再生信号生成回路１４から入力される上記設定された各デフォーカスオフセット量毎の再生信号のジッタ値を算出する。そして、全てのデフォーカスオフセット量とジッタ値との組に基づいて、各デフォーカスオフセット量に対してジッタ値をプロットした場合の２次近似曲線を求め、各デフォーカスオフセット量と各ジッタ値とに関する当該２次近似曲線による近似値と実測値との相関係数Ｒ2を算出する。
【００４９】
そして、上記相関係数Ｒ2の値が上記閾値以下である場合には、上記ジッタ値の測定結果にばらつきがあるため、上記デフォーカスオフセット量の設定と上記各再生信号のジッタ値の算出とを再度実行する。これに対して、上記閾値を超える場合には、上記２次近似曲線におけるジッタのボトム値に対応するデフォーカスオフセット量を、デフォーカスオフセット量の最適値として求めるようにしている。したがって、誤差の少ない上記デフォーカスオフセット量の最適値を安定して得ることができるのである。
【００５０】
尚、上記実施の形態においては、上記サーボパラメータとして、デフォーカスオフセット量の最適値を検出する場合を例に説明している。しかしながら、この発明はこれに限定されるものではなく、上記サーボパラメータとして、光ピックアップ装置１の傾角の最適値や、コリメートレンズ駆動方式による球面収差補正時におけるコリメートレンズの最適位置を、検出する場合にも適用することができる。
【００５１】
この場合、特に、上記ＢＤのような球面収差の補正が必要となる光ピックアップ装置において、小型化や薄型化に伴う形状の制約よってコリメートレンズを光軸方向に稼動する稼動範囲が限られている場合には、コリメートレンズのポジションを光軸方向に振って、再生信号のジッタ値がボトム値の予測値からおよそ１％〜２％悪化する範囲内で上記ポジションを設定することができない場合が生ずる。
【００５２】
そのように、上記コリメートレンズのストロークが十分に得られないような光ピックアップ装置の場合には、上記コリメートレンズの光軸方向の位置に対するジッタは図６に示すようになる。この場合、ジッタがボトム値の予測値から１％程度に悪化するまで上記コリメートレンズの位置を振ることができない。そのため、従来のように、ジッタがボトム値から１％悪化する２点を結ぶ直線の中点を上記コリメートレンズの最適位置とするような検出方法を適用することができなくなる。
【００５３】
しかしながら、上記実施の形態のように、２次近似曲線を利用することによって、上記ジッタがボトム値の片側のみに部分的に得られた場合のジッタの各実測値から、上記コリメートレンズの最適位置を推測することが可能になるのである。
【００５４】
また、上記実施の形態においては述べていないが、上記光ピックアップ装置１に、トラッキング誤差信号生成回路およびフォーカス誤差信号生成回路が設けられていることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】この発明のサーボパラメータの検出方法を実現させる光ピックアップ装置と基準ディスクと光ピックアップ検査装置とを示す図である。
【図２】図１における光ピックアップ検査装置のマイクロプロセッサによって実行されるデフォーカスオフセット量最適値算出処理のフローチャートである。
【図３】各デフォーカスオフセット量に対するジッタの実測値とその２次近似曲線とを示す図である。
【図４】図３とは異なるジッタの実測値とその２次近似曲線とを示す図である。
【図５】光ピックアップ装置に設けられたＱＲコードデータおよび半導体メモリの説明図である。
【図６】ストロークが十分に得られないコリメートレンズの光軸方向の位置に対するジッタの分布を示す図である。
【符号の説明】
【００５６】
１…光ピックアップ装置、
２…基準ディスク、
３…光ピックアップ検査装置、
４…レーザ駆動ＩＣ、
５…レーザダイオード、
６…コリメートレンズ、
７…球面収差補正機構、
８…立ち上げミラー、
９…スピンドルモータ、
１０…対物レンズ、
１１…ビームスプリッタ、
１２…検出レンズ、
１３…光検出器、
１４…再生信号生成回路、
１５…マイクロプロセッサ、
１６…アクチュエータ駆動回路、
１７…アクチュエータ、
１８…メモリ、
１９…データ記録部、
２０…ＱＲコードデータ、
２１…半導体メモリ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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