(57)【要約】【課題】各サブ光検出器でのメインビームの戻り光ビームの迷光の影響を高精度で除去する。【解決手段】メインビームの戻り光ビームをメイン光検出器４１に、２つのサブビームの戻り光ビームをサブ光検出器４２，４３に投射する第１光学系と、サブ光検出器４２，４３と同一構成で、かつ同一の位置関係に規定されたサブ光検出器４４，４５と、メインビームの戻り光ビームを、サブ光検出器４２，４３に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して、光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつシフト方向が逆の戻り光ビームに変換してサブ光検出器４４，４５に投射する第２光学系と、サブ光検出器４２からの信号をサブ光検出器４５からの信号で補正し、サブ光検出器４３からの信号をサブ光検出器４４からの信号で補正して得られた各信号に基づきトラッキングエラー信号を演算するトラッキング制御部とを備えている。【選択図】図４
2009059415.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出射する光源と、
対物レンズと、
前記対物レンズを光情報媒体と平行な平面内でシフトさせるトラッキング用のレンズ駆動部と、
メイン光検出器と、
前記メイン光検出器を挟んで配設された第１サブ光検出器および第２サブ光検出器と、
前記光源から出射された前記光ビームをメインビームおよび２つのサブビームに分割すると共に前記対物レンズを介して光情報媒体に投射し、かつ前記対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記メインビームの戻り光ビームを前記メイン光検出器に投射すると共に、前記対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記２つのサブビームの各戻り光ビームを前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器に投射する第１光学系と、
前記メイン光検出器、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器から出力されるそれぞれでの受光量を示す各信号に対して差動プッシュプル法による演算処理を行ってトラッキングエラー信号を演算すると共に当該トラッキングエラー信号に基づいて前記レンズ駆動部を制御して前記対物レンズをシフトさせるトラッキング制御部とを備えた光ピックアップ装置であって、
前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器と同一構成で、かつ互いの位置関係が当該第１サブ光検出器および当該第２サブ光検出器の位置関係と同一に規定された第３サブ光検出器および第４サブ光検出器と、
前記対物レンズで受光した前記メインビームの前記戻り光ビームを、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器に投射される前記メインビームの前記戻り光ビームに対して、光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつ前記対物レンズのシフト時のシフト方向が逆になる戻り光ビームに変換して、前記第３サブ光検出器および前記第４サブ光検出器に投射する第２光学系とを備え、
前記トラッキング制御部は、前記演算処理に際して、前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を前記第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を前記第３サブ光検出器から出力される信号で補正する光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記トラッキング制御部は、前記第４サブ光検出器から出力される前記信号を所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を補正し、かつ前記第３サブ光検出器から出力される前記信号を当該所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を補正する請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記メイン光検出器、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器から出力されるそれぞれでの受光量を示す各信号に対して差動非点収差法による演算処理を行ってフォーカスエラー信号を演算すると共に当該フォーカスエラー信号に基づいて前記レンズ駆動部を制御して前記対物レンズを前記光情報媒体に対して接離動させるフォーカス制御部とを備え、前記フォーカス制御部は、前記演算処理に際して、前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を前記第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を前記第３サブ光検出器から出力される信号で補正する請求項１または２記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記フォーカス制御部は、前記第４サブ光検出器から出力される前記信号を所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を補正し、かつ前記第３サブ光検出器から出力される前記信号を当該所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を補正する請求項３記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
光源から出射された光ビームを第１光学系を介してメインビームおよび２つのサブビームに分割すると共に対物レンズを介して光情報媒体に投射し、前記対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記メインビームの戻り光ビームを前記第１光学系を介してメイン光検出器に投射すると共に、当該対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記２つのサブビームの戻り光ビームを当該メイン光検出器を挟んで配設された第１サブ光検出器および第２サブ光検出器に前記第１光学系を介して投射し、前記メイン光検出器、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器から出力されるそれぞれでの受光量を示す各信号に対して差動プッシュプル法による演算処理を行ってトラッキングエラー信号を演算し、当該トラッキングエラー信号に基づいて前記対物レンズを駆動するトラッキング制御方法であって、
前記対物レンズで受光した前記メインビームの前記戻り光ビームを、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器に投射される前記メインビームの前記戻り光ビームに対して、光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつ前記対物レンズのシフト時のシフト方向が逆になる戻り光ビームに第２光学系を介して変換して、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器と同一構成で、かつ互いの位置関係が当該第１サブ光検出器および当該第２サブ光検出器の位置関係と同一に規定された第３サブ光検出器および第４サブ光検出器に投射し、
前記演算処理に際して、前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を前記第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を前記第３サブ光検出器から出力される信号で補正するトラッキング制御方法。
【請求項６】
前記演算処理に際して、前記第４サブ光検出器から出力される前記信号を所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を補正し、かつ前記第３サブ光検出器から出力される前記信号を当該所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を補正する請求項５記載のトラッキング制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源から出射される光ビームを分割して得られるメインビームおよび２つのサブビームの３つの光ビームでトラッキング制御を行う光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の光ピックアップ装置が有するトラッキング制御装置として、下記の特許文献１に開示されたトラッキング制御装置が知られている。このトラッキング制御装置では、一般的なＤＰＰ法における受光器の構成（つまり、メインビームの戻り光ビーム（反射光）を受光する２分割ディテクタ（メインディテクタ）、２つのサブビームのうちの一方のサブビームの戻り光ビームを受光する２分割ディテクタ（第１サブディテクタ）および他方のサブビームの戻り光ビームを受光する２分割ディテクタ（第２サブディテクタ）を有する構成）に加えて、第１サブディテクタの近傍に２つの第１および第２迷光ディテクタが配置されると共に、第２サブディテクタの近傍にも２つの第３および第４迷光ディテクタが配置されている。この場合、第１および第２迷光ディテクタは、第１サブディテクタを挟んだ状態で、トラック幅方向（ディスク半径方向）に沿って離間して配置されている。また、第３および第４迷光ディテクタは、第２サブディテクタを挟んだ状態で、トラック幅方向（ディスク半径方向）に沿って離間して配置されている。また、第１および第２迷光ディテクタは、その受光面積が互いに等しく、かつ第１サブディテクタを構成する２分割ディテクタの受光面積に等しい構成となっている。また、第３および第４迷光ディテクタも同様にして、互いの受光面積は等しく、かつ第２サブディテクタを構成する２分割ディテクタの受光面積に等しい構成となっている。
【０００３】
また、このトラッキング制御装置では、２分割ディテクタである第１サブディテクタの一方のディテクタから出力される受光量を示す信号から、この一方のディテクタの近傍に配置された第１迷光ディテクタから出力される受光量を示す信号を減算し、また第１サブディテクタの他方のディテクタから出力される受光量を示す信号から、この他方のディテクタの近傍に配置された第２迷光ディテクタから出力される受光量を示す信号を減算することにより、第１サブディテクタが受光するサブビームの戻り光ビームに含まれているメインビームの戻り光ビームについての迷光によるオフセット成分を除去している。また、２分割ディテクタである第２サブディテクタについても同様にして、第２サブディテクタの一方のディテクタから出力される信号から、この一方のディテクタの近傍に配置された第３迷光ディテクタから出力される信号を減算し、また第２サブディテクタの他方のディテクタから出力される信号から、この他方のディテクタの近傍に配置された第４迷光ディテクタから出力される信号を減算することにより、第２サブディテクタが受光するサブビームの戻り光ビームに含まれているメインビームの戻り光ビームについての迷光によるオフセット成分を除去している。したがって、このトラッキング制御装置によれば、メインビームの戻り光ビームについての迷光の影響の少ないトラッキングエラー信号を得ることができ、このトラッキングエラー信号に基づいてメインビームをトラックに対して良好にトラッキングさせることができる。なお、ここで、迷光とは、多層光情報媒体の複数の層のうち、情報の記録または再生を行うべき層以外の層からの戻り光ビーム（反射光）を意味する。
【特許文献１】特開２００５−３５３２５２号公報（第３−７頁、第１，３，１１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、従来のトラッキング制御装置には、以下の問題点がある。すなわち、迷光の大きさが、第１サブディテクタ、この近傍に配設された第１および第２迷光ディテクタ、第２サブディテクタ、並びにこの近傍に配設された第３および第４迷光ディテクタ全体を覆う大きさであるときには、上記のようにして各サブディテクタに含まれる迷光によるオフセット成分を各迷光ディテクタを使用して除去できる。しかしながら、迷光の大きさが、第１サブディテクタ、第１および第２迷光ディテクタ、第２サブディテクタ、並びに第３および第４迷光ディテクタ全体を覆う大きさではないとき（迷光が各サブディテクタおよび各迷光ディテクタの一部にしかかかっていないとき）には、迷光の外形や位置によっては、互いに近傍に配置された２つのディテクタ（第１サブディテクタの一方のディテクタおよび第１迷光ディテクタ、第１サブディテクタの他方のディテクタおよび第２迷光ディテクタ、第２サブディテクタの一方のディテクタおよび第３迷光ディテクタ、並びに第２サブディテクタの他方のディテクタおよび第４迷光ディテクタ）が受光するメインビームの迷光の各光量が相違する状況が発生する。したがって、このトラッキング制御装置には、このような状況下では、各サブディテクタ（サブ光検出器）でのメインビームの戻り光ビームについての迷光の影響を高精度で除去できないため、より精度の高いトラッキングエラー信号を得ることができない結果、メインビームをトラックに対して一層良好にトラッキングさせることが困難であるという問題点が存在している。
【０００５】
本発明は、かかる問題点を解決すべくなされたものであり、各サブ光検出器でのメインビームの戻り光ビームについての迷光の影響を高精度で除去して、メインビームをトラックに対して一層良好にトラッキングさせ得る光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく本発明に係る光ピックアップ装置は、光ビームを出射する光源と、対物レンズと、前記対物レンズを光情報媒体と平行な平面内でシフトさせるトラッキング用のレンズ駆動部と、メイン光検出器と、前記メイン光検出器を挟んで配設された第１サブ光検出器および第２サブ光検出器と、前記光源から出射された前記光ビームをメインビームおよび２つのサブビームに分割すると共に前記対物レンズを介して光情報媒体に投射し、かつ前記対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記メインビームの戻り光ビームを前記メイン光検出器に投射すると共に、前記対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記２つのサブビームの各戻り光ビームを前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器に投射する第１光学系と、前記メイン光検出器、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器から出力されるそれぞれでの受光量を示す各信号に対して差動プッシュプル法による演算処理を行ってトラッキングエラー信号を演算すると共に当該トラッキングエラー信号に基づいて前記レンズ駆動部を制御して前記対物レンズをシフトさせるトラッキング制御部とを備えた光ピックアップ装置であって、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器と同一構成で、かつ互いの位置関係が当該第１サブ光検出器および当該第２サブ光検出器の位置関係と同一に規定された第３サブ光検出器および第４サブ光検出器と、前記対物レンズで受光した前記メインビームの前記戻り光ビームを、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器に投射される前記メインビームの前記戻り光ビームに対して、光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつ前記対物レンズのシフト時のシフト方向が逆になる戻り光ビームに変換して、前記第３サブ光検出器および前記第４サブ光検出器に投射する第２光学系とを備え、前記トラッキング制御部は、前記演算処理に際して、前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を前記第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を前記第３サブ光検出器から出力される信号で補正する。
【０００７】
また、本発明に係る光ピックアップ装置は、前記トラッキング制御部は、前記第４サブ光検出器から出力される前記信号を所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を補正し、かつ前記第３サブ光検出器から出力される前記信号を当該所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を補正する。
【０００８】
さらに、本発明に係る光ピックアップ装置は、前記メイン光検出器、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器から出力されるそれぞれでの受光量を示す各信号に対して差動非点収差法による演算処理を行ってフォーカスエラー信号を演算すると共に当該フォーカスエラー信号に基づいて前記レンズ駆動部を制御して前記対物レンズを前記光情報媒体に対して接離動させるフォーカス制御部とを備え、前記フォーカス制御部は、前記演算処理に際して、前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を前記第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を前記第３サブ光検出器から出力される信号で補正する。
【０００９】
また、本発明に係る光ピックアップ装置は、前記フォーカス制御部は、前記第４サブ光検出器から出力される前記信号を所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を補正し、かつ前記第３サブ光検出器から出力される前記信号を当該所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を補正する。
【００１０】
上記目的を達成すべく本発明に係るトラッキング制御方法は、光源から出射された光ビームを第１光学系を介してメインビームおよび２つのサブビームに分割すると共に対物レンズを介して光情報媒体に投射し、前記対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記メインビームの戻り光ビームを前記第１光学系を介してメイン光検出器に投射すると共に、当該対物レンズで受光した前記光情報媒体からの前記２つのサブビームの戻り光ビームを当該メイン光検出器を挟んで配設された第１サブ光検出器および第２サブ光検出器に前記第１光学系を介して投射し、前記メイン光検出器、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器から出力されるそれぞれでの受光量を示す各信号に対して差動プッシュプル法による演算処理を行ってトラッキングエラー信号を演算し、当該トラッキングエラー信号に基づいて前記対物レンズを駆動するトラッキング制御方法であって、前記対物レンズで受光した前記メインビームの前記戻り光ビームを、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器に投射される前記メインビームの前記戻り光ビームに対して、光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつ前記対物レンズのシフト時のシフト方向が逆になる戻り光ビームに第２光学系を介して変換して、前記第１サブ光検出器および前記第２サブ光検出器と同一構成で、かつ互いの位置関係が当該第１サブ光検出器および当該第２サブ光検出器の位置関係と同一に規定された第３サブ光検出器および第４サブ光検出器に投射し、前記演算処理に際して、前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を前記第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を前記第３サブ光検出器から出力される信号で補正する。
【００１１】
また、本発明に係るトラッキング制御方法は、前記演算処理に際して、前記第４サブ光検出器から出力される前記信号を所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第１サブ光検出器から出力される前記信号を補正し、かつ前記第３サブ光検出器から出力される前記信号を当該所定の増幅率で増幅すると共に、当該増幅された信号で前記第２サブ光検出器から出力される前記信号を補正する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明に係る光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法では、対物レンズで受光したメインビームの戻り光ビームを、第１光学系用の第１および第２サブ光検出器に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつシフト方向が逆になる戻り光ビームに第２光学系を介して変換して、第２光学系用の第３および第４サブ光検出器に投射し、差動プッシュプル法によるトラッキングエラー信号の演算処理に際して、第１サブ光検出器から出力される信号の差信号を第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ第２サブ光検出器から出力される信号を第３サブ光検出器から出力される信号で補正する。
【００１３】
したがって、この光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法によれば、第１光学系を介して、メイン光検出器、第１サブ光検出器および第２サブ光検出器に投射されるメインビームの戻り光ビームについての迷光の位置が対物レンズのシフトに起因していかなる方向にシフトしたとしても、第３サブ光検出器および第４光検出器には、第２光学系を介して、第１光学系側の迷光に対して光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつシフト方向が逆になるようにメインビームの戻り光ビームについての迷光が投射されるため、対物レンズのシフト方向に拘わらず、サブビーム用の第１および第２サブ光検出器に入射するメインビームの迷光の影響を、第３および第４光検出器から出力される信号によってキャンセルすることができる結果、高精度のトラッキングエラー信号を生成することができ、このトラッキングエラー信号に基づいて対物レンズを駆動することにより、対物レンズから光情報媒体上に投射されるメインビームのビームスポットを目標のトラック上に、より正確に投射することができる。
【００１４】
また、本発明に係る光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法では、トラッキングエラー信号の演算処理に際して、第４サブ光検出器から出力される信号を所定の増幅率で増幅すると共に、この増幅された信号で第１サブ光検出器から出力される信号を補正し、かつ第３サブ光検出器から出力される信号を前述した所定の増幅率で増幅すると共に、この増幅された信号で第２サブ光検出器から出力される信号を補正する。
【００１５】
したがって、この光ピックアップ装置およびトラッキング制御方法によれば、第１光学系からメイン光検出器に投射されるメインビームの戻り光ビームの強度に対して、第２光学系から第３および第４サブ光検出器側に投射されるメインビームの戻り光ビームの強度が両光学系の光学部品の透過率の違いなどに起因して相違するときであっても、第１および第２サブ光検出器に入射するメインビームの迷光の影響を、所定の増幅率で増幅された第３および第４サブ光検出器からの信号によって確実にキャンセルすることができる結果、高精度のトラッキングエラー信号を生成することができ、このトラッキングエラー信号に基づいて対物レンズを駆動することにより、対物レンズから光情報媒体上に投射されるメインビームのビームスポットを目標のトラック上に、一層正確に投射することができる。
【００１６】
また、本発明に係る光ピックアップ装置では、差動非点収差法によるフォーカスエラー信号の演算処理に際しても、第１サブ光検出器から出力される信号の差信号を第４サブ光検出器から出力される信号で補正し、かつ第２サブ光検出器から出力される信号を第３サブ光検出器から出力される信号で補正する。したがって、このこの光ピックアップ装置によれば、第１光学系を介して、メイン光検出器、第１サブ光検出器および第２サブ光検出器に投射されるメインビームの戻り光ビームについての迷光の位置が対物レンズのシフトに起因していかなる方向にシフトしたとしても、第３サブ光検出器および第４光検出器には、第２光学系を介して、第１光学系側の迷光に対して光強度分布が光軸を中心として点対称で、かつシフト方向が逆になるようにメインビームの戻り光ビームについての迷光が投射されるため、対物レンズのシフト方向に拘わらず、サブビーム用の第１および第２サブ光検出器に入射するメインビームの迷光の影響を、第３および第４光検出器から出力される信号によってキャンセルすることができる結果、高精度のフォーカスエラー信号を生成することができ、このフォーカスエラー信号に基づいて対物レンズを駆動することにより、対物レンズから光情報媒体における所望の記録層に対してメインビームのビームスポットをより正確に集光させることができる。
【００１７】
また、本発明に係る光ピックアップ装置では、フォーカスエラー信号の演算処理に際して、第４サブ光検出器から出力される信号を所定の増幅率で増幅すると共に、この増幅された信号で第１サブ光検出器から出力される信号を補正し、かつ第３サブ光検出器から出力される信号を前述した所定の増幅率で増幅すると共に、この増幅された信号で第２サブ光検出器から出力される信号を補正する。したがって、この光ピックアップ装置によれば、第１光学系からメイン光検出器に投射されるメインビームの戻り光ビームの強度に対して、第２光学系から第３および第４サブ光検出器側に投射されるメインビームの戻り光ビームの強度が両光学系の光学部品の透過率の違いなどに起因して相違するときであっても、第１および第２サブ光検出器に入射するメインビームの迷光の影響を、所定の増幅率で増幅された第３および第４サブ光検出器からの信号によって確実にキャンセルすることができる結果、高精度のフォーカスエラー信号を生成することができ、このフォーカスエラー信号に基づいて対物レンズを駆動することにより、所望の記録層に対してメインビームのビームスポットを一層正確に集光させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明に係るトラッキング制御方法および光ピックアップ装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
最初に、光ピックアップ装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００２０】
図１に示す光ピックアップ装置１は、例えば、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標））−Ｒ、ＢＤ−ＲＥ、ＨＤ（Ｈｉｇｈ  Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ）−Ｒ、ＨＤ−ＲＷ、ＨＤ−ＲＡＭなどの記録型ＤＶＤや、ＣＤ−ＲおよびＣＤ−ＲＷなどの記録型ＣＤのように、記録および再生の双方が行われる光情報媒体に対する記録・再生動作、およびＤＶＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−ＲＯＭおよびＨＤ−ＲＯＭやＣＤ−ＲＯＭなどの再生のみが行われる光情報媒体に対する再生動作を少なくとも実行するドライブ装置に組み込み可能に構成されている。具体的には、この光ピックアップ装置１は、同図に示すように、レーザビームなどの光ビームを出射する光源２、第１光学系３、第２光学系４、対物レンズ５、光検出部６、トラッキング制御部７およびレンズ駆動部８を有するトラッキングサーボ機構ＴＭを備え、図２に示すように、光情報媒体１１に形成されたトラック１２に対して３つの光ビーム（メインビームおよび２つのサブビーム）を投射して、目的とする１つのトラック１２（一例として同図中の真中のトラック１２）上にメインビームのビームスポットＳＰａを精度良く位置させるトラッキング制御（３ビーム法によるトラッキング制御）が可能に構成されている。また、光ピックアップ装置１は、上記の光源２、第１光学系３、第２光学系４、対物レンズ５、光検出部６およびレンズ駆動部８に、フォーカス制御部９を加えて構成されるフォーカスサーボ機構ＦＭも備えて、複数の記録層のうちの所望の記録層に対してメインビームのビームスポットＳＰａを正確に集光させるフォーカス制御が可能に構成されている。
【００２１】
第１光学系３は、本発明における第１光学系の一例であって、図１に示すように、一例として、回折格子２１、偏光ビームスプリッタ２２、コリメータレンズ２３、ミラー２４、ハーフミラー２５、１／４波長板２６およびセンサレンズ（シリンドリカルレンズ）２７を備え、ハーフミラー２５以外は、３ビーム法によるトラッキングサーボ機構において使用される一般的な光学系と同等に構成されて、同図において模式的に示すように、光源２から出射された１本の光ビームを回折格子２１でメインビームおよび２つのサブビームの３ビームに分割して対物レンズ５に入射させると共に、対物レンズ５で受光した光情報媒体１１からのメインビームおよび２つのサブビームの各戻り光ビームを光検出部６上に投射する。なお、ハーフミラー２５は、対物レンズ５で受光した光情報媒体１１からのメインビームの一部および２つのサブビームの一部をミラー２４側に透過させると共に、メインビームの残りの一部および２つのサブビームの残りの一部を第２光学系４のミラー３１側に反射させるためのものであり、偏光ビームスプリッタ２２およびセンサレンズ２７と共に第２光学系４の一部をも構成する。
【００２２】
また、第１光学系３から対物レンズ５に入射されたメインビームおよび２つのサブビームは、対物レンズ５によってそれぞれ光情報媒体１１上の異なる位置に集光される。この際に、２つのサブビームのビームスポットＳＰｂ，ＳＰｃは、図２に示すように、メインビームのビームスポットＳＰａを中心としてトラック方向（トラック１２の接線方向（タンジェンシャル方向）。同図中のＹ方向）に並び、かつメインビームのビームスポットＳＰａを基準としてトラック方向に直交する方向（光情報媒体１１のラジアル方向。同図中のＸ方向）に沿って互いに逆方向に１／２トラックピッチだけずれた位置にそれぞれ集光される。
【００２３】
また、光ピックアップ装置１では、メインビームの戻り光ビームを利用してフォーカスサーボが可能なように、センサレンズ２７によってメインビームの戻り光ビームに非点収差を付加する構成となっている。具体的には、センサレンズ２７は、図３に示すように、その母線が、偏光ビームスプリッタ２２から投射されるメインビームおよび各サブビームの戻り光ビームの各ビームスポットＳＰａ１，ＳＰｂ１，ＳＰｃ１のシフト方向（対物レンズ５のシフトによって移動する方向）に対して所定角度（本例では一例として４５°）傾き、かつメインビームのビームスポットＳＰａ１については本例では一例として母線Ｌ１にかかるように（母線Ｌ１上に位置するように）、各戻り光ビームがセンサレンズ２７に投射される。この構成により、対物レンズ５と光情報媒体１１との距離が適正であって、対物レンズ５からの光ビームが光情報媒体１１上に正確に集光されているときには、光検出部６上におけるメインビームのビームスポットがほぼ円形となり、対物レンズ５と光情報媒体１１との距離が近すぎるときには光検出部６上におけるメインビームのビームスポットが後述する光検出部６の分割線に対して４５°傾いた細長い円になり、逆に遠すぎたときにはこの分割線に対して逆方向に４５°傾いた細長い円になる。このため、非点収差を利用した後述のフォーカスサーボの構成を採用することにより、光情報媒体１１に投射されるビームスポットＳＰａに対するフォーカスサーボ制御が良好に行われる。また、この結果、他のビームスポットＳＰｂ，ＳＰｃも光情報媒体１１上に良好にフォーカスされる。
【００２４】
第２光学系４は、本発明における第２光学系の一例であって、対物レンズ５で受光したメインビームの戻り光ビームを、第１光学系３によって光検出部６上に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して、光検出部６上での光強度分布の傾向が光軸を中心として点対称で、シフト方向（対物レンズ５のレンズシフト時にそのレンズシフトに応じて戻り光ビームの移動する方向）が逆になり、かつビームスポットの大きさが同一となる他の戻り光ビームに変換して光検出部６上に投射する機能を備えている。本例ではこの機能を実現するため、第２光学系４は、一例として、図１に示すように、ミラー３１、集光レンズ３２、ピンホール３３ａが形成されたピンホール板３３、集光レンズ３４、１／２波長板３５およびコリメータレンズ３６、並びに第１光学系３を構成するハーフミラー２５、偏光ビームスプリッタ２２およびセンサレンズ２７を備えて構成されている。
【００２５】
この第２光学系４では、図１において模式的に示すように、ハーフミラー２５が、対物レンズ５で受光したメインビームおよび各サブビームの各戻り光ビームの一部をミラー３１に向けて直角に反射する。ミラー３１は、この反射されたメインビームおよび各サブビームの戻り光ビームを、集光レンズ３２に向けて直角に反射する。集光レンズ３２は、ミラー３１で反射されたメインビームおよび各サブビームの戻り光ビームをピンホール板３３上に集光させる。この際に、メインビームの戻り光ビームは、ピンホール板３３におけるピンホール３３ａの形成位置上に集光される。一方、２つのサブビームの戻り光ビームは、ピンホール板３３におけるピンホール３３ａの非形成位置上に集光される。この構成により、２つのサブビームの戻り光ビームはピンホール板３３で遮断され、かつメインビームの戻り光ビームのみがピンホール３３ａを介してピンホール板３３を通過する。また、ピンホール板３３を通過したメインビームの戻り光ビームは、ピンホール板３３を通過する前の戻り光ビームに対して、その光強度分布が光軸を中心として点対称となり、かつそのシフト方向が逆方向となるように変換される。集光レンズ３４は、ピンホール板３３を通過したメインビームの戻り光ビームを平行光に戻し、１／２波長板３５は、集光レンズ３４から出射されるメインビームの戻り光ビームについての偏波方向を９０°回転させる。これにより、コリメータレンズ３６から出射されたメインビームの戻り光ビームは、光源２から出射された光ビームの偏波方向と同じ偏波方向に戻される結果、偏光ビームスプリッタ２２を通過して、センサレンズ２７を介して光検出部６上に集光される。
【００２６】
また、第２光学系４では、偏光ビームスプリッタ２２から出力されるメインビームの戻り光ビームは、センサレンズ２７に対して図３に示すように投射される。具体的には、この第２光学系４のメインビームについての戻り光ビームのビームスポットＳＰｄ１は、本例では一例としてセンサレンズ２７の母線Ｌ１にかかる位置であって、第１光学系３のメインビームについての戻り光ビームのビームスポットＳＰａ１から離間した位置に投射される。詳細には、第１光学系３から光検出部６上に投射された迷光が第２光学系４側の各光検出器４４〜４６にかからず、かつ第２光学系４から光検出部６上に投射された迷光が第１光学系３側の各光検出器４１〜４３にかからないように、ビームスポットＳＰｄ１はビームスポットＳＰａ１から離間した位置に投射される。また、第２光学系４のビームスポットＳＰｄ１は、例えば、第１光学系３のビームスポットＳＰａ１，ＳＰｂ１，ＳＰｃ１が対物レンズ５のシフトに起因して矢印方向にシフトしたときには、矢印で示すように逆方向にシフトする。
【００２７】
光検出部６は、図４に示すように、６つの光検出器４１，４２，４３，４４，４５，４６を備え、このうちの光検出器４１，４２，４３は第１光学系３用の光検出器として、また他の光検出器４４，４５，４６は第２光学系４用の光検出器として構成されている。具体的には、光検出器４１は、互いに直交する２つの分割線Ｌ２，Ｌ３で分割された４つの受光領域４１ａ，４１ｂ，４１ｃ，４１ｄを備え、４つの受光領域４１ａ，４１ｂ，４１ｃ，４１ｄがこの２つの分割線Ｌ２，Ｌ３の交点Ｇの周囲に一例として反時計回り方向でこの順に配設されて構成されている。この場合、受光領域４１ａ，４１ｂは、分割線Ｌ２によって受光領域４１ｃ，４１ｄと分割されている。また、他の光検出器４２，４３も同様にして、互いに直交する２つの分割線Ｌ２，Ｌ３で分割された４つの受光領域４２ａ〜４２ｄ，４３ａ〜４３ｄを備え、４つの受光領域４２ａ〜４２ｄが２つの分割線Ｌ２，Ｌ３の交点Ｇの周囲に光検出器４１と同方向（本例では反時計回り方向）でこの順に配設されて構成され、４つの受光領域４３ａ〜４３ｄが２つの分割線Ｌ２，Ｌ３の交点Ｇの周囲に光検出器４１と同方向（本例では反時計回り方向）でこの順に配設されて構成されている。また、各光検出器４２，４１，４３は、それぞれの分割線Ｌ２と平行な方向（同図中のＸ方向）に沿ってこの順に１列に並んで配設されて、中央の光検出器（第１メイン光検出器：本発明におけるメイン光検出器）４１にメインビームの戻り光ビームについてのビームスポットＳＰａ２が、またその両側の光検出器（本発明における第１サブ光検出器および第２サブ光検出器）４２，４３にサブビームの戻り光ビームについてのビームスポットＳＰｂ２，ＳＰｃ２が第１光学系３からそれぞれ投射される。また、光検出部６は、対物レンズ５がラジアル方向へシフトしたときに、各ビームスポットＳＰａ２，ＳＰｂ２，ＳＰｃ２が分割線Ｌ２と平行な方向（同図中のＸ方向）にシフトするように配設されている。また、光検出器４１は、図５に示すように、各受光領域４１ａ，４１ｂ，４１ｃ，４１ｄで受光するメインビームについての戻り光ビームの受光量を示す電気信号Ｓ１ａ，Ｓ１ｂ，Ｓ１ｃ，Ｓ１ｄを出力する。一方、光検出器４２は、同図に示すように、受光領域４２ａ〜４２ｄで受光するサブビームについての戻り光ビームの受光量を示す電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄを出力し、光検出器４３は、受光領域４３ａ〜４３ｄで受光する他のサブビームについての戻り光ビームの受光量を示す電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄを出力する。この場合、図４に示すように、このメインビームの迷光（同図では一例として、多層の記録層のうちの焦点のあった記録層よりも近い方の記録層からの迷光を示している）についてのビームスポットＳＰａｍも各光検出器４２，４３に投射される。このため、光検出器４２，４３から出力される各電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄ，Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄにはこの迷光成分も含まれることになる。
【００２８】
また、第２光学系４用の光検出器４４，４５，４６は、図４に示すように、光検出器４２，４３，４１と同様に構成された４つの受光領域４４ａ〜４４ｄ、４つの受光領域４５ａ〜４５ｄ、および４つの受光領域４６ａ〜４６ｄをそれぞれ備えている。また、光検出器４４，４５，４６は互いの位置関係（並び方向および間隔）が、光検出器４２，４３，４１の位置関係と同一となるように配設されて、第２光学系４からのメインビームの戻り光ビームのビームスポットＳＰｄ２が中央の光検出器４６（第２メイン光検出器）に投射される。本例では、上記したように、第２光学系４から光検出器４４，４５，４６側に投射されるメインビームは、光検出器４１〜４３側に投射されるメインビームに対して、そのビームスポットＳＰｄ２内の光強度分布が光軸Ｏ２を中心として点対称となり、そのシフト方向が逆となり、その大きさが同一となるように第２光学系４によって変換されている。このため、図４に示すように、光検出器４４，４５（本発明における第３および第４サブ光検出器）側に投射されるメインビームの迷光についても、光検出器４１〜４３側に投射されるメインビームの迷光についてのビームスポットＳＰａｍに対して、そのビームスポットＳＰｄｍ内の光強度分布が光軸Ｏ２を中心として点対称となり、そのシフト方向が逆となり、その形状が同一となるように第２光学系４によって変換されている。なお、同図では、第１光学系３側のメインビームの迷光についてのビームスポットＳＰａｍの光強度分布と、第２光学系４側のメインビームの迷光についてのビームスポットＳＰｄｍの光強度分布とが光軸Ｏ２を中心として点対称となる様子を、長軸と短軸とで４分割された各ビームスポットＳＰａｍ，ＳＰｄｍの対応する４つの領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが点対称に配置されることで簡易的に表している。
【００２９】
また、光検出器４４は、図５に示すように、各受光領域４４ａ〜４４ｄで受光する第２光学系４からのメインビームの迷光の受光量を示す電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄを出力し、また光検出器４５も各受光領域４５ａ〜４５ｄで受光する第２光学系４からのメインビームの迷光の受光量を示す電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄを出力し、また光検出器４６も各受光領域４６ａ〜４６ｄで受光する第２光学系４からのメインビームの迷光の受光量を示す電気信号Ｓ６ａ〜Ｓ６ｄを出力する。この場合、光検出器４２，４３において受光される第１光学系３側のメインビームの迷光についてのビームスポットＳＰａｍと、光検出器４４，４５において受光される第２光学系４側のメインビームの迷光についてのビームスポットＳＰｄｍとの関係（光強度分布、シフト方向および大きさについての関係）が上記の関係となっているため、光検出器４４の受光領域４４ａで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ４ａのレベル）に対する、受光領域４４ａと同じ位置関係にある光検出器４２の受光領域４２ａに対して迷光の光軸Ｏ１を中心として点対称の位置にある光検出器４３の受光領域４３ｃで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ３ｃのレベル）の比率、光検出器４４の受光領域４４ｂで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ４ｂのレベル）に対する、受光領域４４ｂと同じ位置関係にある光検出器４２の受光領域４２ｂに対して迷光の光軸Ｏ１を中心として点対称の位置にある光検出器４３の受光領域４３ｄで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ３ｄのレベル）の比率、光検出器４４の受光領域４４ｃで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ４ｃのレベル）に対する、受光領域４４ｃと同じ位置関係にある光検出器４２の受光領域４２ｃに対して迷光の光軸Ｏ１を中心として点対称の位置にある光検出器４３の受光領域４３ａで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ３ａのレベル）の比率、および光検出器４４の受光領域４４ｄで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ４ｄのレベル）に対する、受光領域４４ｄと同じ位置関係にある光検出器４２の受光領域４２ｄに対して迷光の光軸Ｏ１を中心として点対称の位置にある光検出器４３の受光領域４３ｂで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ３ｂのレベル）の比率は同じ値ｋ１となる。
【００３０】
また、光検出器４５および光検出器４２についても、上記した光検出器４４および光検出器４３と同様にして、光検出器４５の受光領域４５ａで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ５ａのレベル）に対する光検出器４２の受光領域４２ｃで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ２ｃのレベル）の比率、光検出器４５の受光領域４５ｂで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ５ｂのレベル）に対する光検出器４２の受光領域４２ｄで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ２ｄのレベル）の比率、光検出器４５の受光領域４５ｃで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ５ｃのレベル）に対する光検出器４２の受光領域４２ａで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ２ａのレベル）の比率、および光検出器４５の受光領域４５ｄで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ５ｄのレベル）に対する光検出器４２の受光領域４２ｂで受光するメインビームの迷光についての受光量（電気信号Ｓ２ｂのレベル）の比率は同じ値となり、かつその値は上記した光検出器４４および光検出器４３についての値ｋ１と同じになる。
【００３１】
トラッキング制御部７は、一例として、図５に示すように、１１個の加算器７ａ，７ｂ，７ｃ，７ｈａ，７ｈｂ，７ｉａ，７ｉｂ，７ｊａ，７ｊｂ，７ｋａ，７ｋｂ、３つの増幅器７ｄ，７ｅ，７ｆ、８つの減算器７ｇ，７ｈ，７ｉ，７ｊ，７ｋ，７ｌ，７ｍ，７ｎ、およびゲイン算出回路７ｐを備え、光検出部６から出力される電気信号Ｓ１ａ〜Ｓ１ｄ，Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄ，Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄ，Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄ，Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄ，Ｓ６ａ〜Ｓ６ｄ（本例では、後述するように、電気信号Ｓ６ｃを用いる）に基づいてトラッキングエラー信号Ｓ１を生成する演算処理を実行すると共に、生成したトラッキングエラー信号Ｓ１を出力する。具体的には、加算器７ａが光検出器４１から出力される２つの電気信号Ｓ１ａ，Ｓ１ｄの和信号を出力し、加算器７ｂが光検出器４１から出力される２つの電気信号Ｓ１ｂ，Ｓ１ｃの和信号を出力し、減算器７ｇがこれらの和信号の差分をメインプッシュプル信号Ｓｍｐ（＝（Ｓ１ａ＋Ｓ１ｄ）−（Ｓ１ｂ＋Ｓ１ｃ））として出力する。
【００３２】
加算器７ｈａは光検出器４２から出力される２つの電気信号Ｓ２ａ，Ｓ２ｄの和信号を電気信号Ｓｅとして出力し、加算器７ｈｂは光検出器４２から出力される２つの電気信号Ｓ２ｂ，Ｓ２ｃの和信号を電気信号Ｓｆとして出力し、さらに減算器７ｈが電気信号Ｓｅ，Ｓｆの差信号（Ｓｅ−Ｓｆ）を出力する。加算器７ｉａは光検出器４３から出力される２つの電気信号Ｓ３ａ，Ｓ３ｄの和信号を電気信号Ｓｈとして出力し、加算器７ｉｂは光検出器４３から出力される２つの電気信号Ｓ３ｂ，Ｓ３ｃの和信号を電気信号Ｓｇとして出力し、さらに減算器７ｉが電気信号Ｓｇ，Ｓｈの差信号（Ｓｈ−Ｓｇ）を出力する。加算器７ｊａは光検出器４４から出力される２つの電気信号Ｓ４ａ，Ｓ４ｄの和信号を電気信号Ｓｉとして出力し、加算器７ｊｂは光検出器４２から出力される２つの電気信号Ｓ４ｂ，Ｓ４ｃの和信号を電気信号Ｓｊとして出力し、さらに減算器７ｊが電気信号Ｓｉ，Ｓｊの差信号（Ｓｊ−Ｓｉ）を出力する。加算器７ｋａは光検出器４５から出力される２つの電気信号Ｓ５ａ，Ｓ５ｄの和信号を電気信号Ｓｋとして出力し、加算器７ｋｂは光検出器４５から出力される２つの電気信号Ｓ５ｂ，Ｓ５ｃの和信号を電気信号Ｓｌとして出力し、さらに減算器７ｋが電気信号Ｓｋ，Ｓｌの差信号（Ｓｌ−Ｓｋ）を出力する。また、増幅器７ｄは差信号（Ｓｊ−Ｓｉ）を、増幅器７ｅは差信号（Ｓｌ−Ｓｋ）を所定の増幅率ｋ１でそれぞれ増幅して出力する。
【００３３】
減算器７ｌは、光検出器４２から出力される電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄを光検出器４５から出力される電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄで補正して、具体的には、減算器７ｈから出力される差信号（Ｓｅ−Ｓｆ）に対して、増幅器７ｅから出力される信号（ｋ１×（Ｓｌ−Ｓｋ））を減算する補正を行うことにより、差信号（（Ｓｅ−Ｓｆ）−ｋ１×（Ｓｌ−Ｓｋ））を第１サブプッシュプル信号Ｓｓｐ１として生成して出力する。一方、減算器７ｍは、光検出器４３から出力される電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄを光検出器４４から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄで補正して、具体的には、減算器７ｉから出力される差信号（Ｓｈ−Ｓｇ）に対して、増幅器７ｄから出力される信号（ｋ１×（Ｓｊ−Ｓｉ））を減算する補正を行うことにより、差信号（（Ｓｈ−Ｓｇ）−ｋ１×（Ｓｊ−Ｓｉ））を第２サブプッシュプル信号Ｓｓｐ２として生成して出力する。加算器７ｃは、第１サブプッシュプル信号Ｓｓｐ１および第２サブプッシュプル信号Ｓｓｐ２の和信号を出力し、増幅器７ｆはこの和信号を所定の増幅率ｋ２で増幅して出力する。減算器７ｎは、上記のメインプッシュプル信号Ｓｍｐと増幅器７ｆから出力される信号との差信号をトラッキングエラー信号Ｓ１として出力する。この場合、トラッキングエラー信号Ｓ１は、下記式（１）で表される。
Ｓ１＝Ｓｍｐ−ｋ２×（Ｓｓｐ１＋Ｓｓｐ２）
＝（Ｓ１ａ＋Ｓ１ｄ）−（Ｓ１ｂ＋Ｓ１ｃ）
−ｋ２×（（Ｓｅ−Ｓｆ）−ｋ１×（Ｓｌ−Ｓｋ）
＋（Ｓｈ−Ｓｇ）−ｋ１×（Ｓｊ−Ｓｉ））  ・・・・・（１）    
【００３４】
また、第１光学系３から光検出部６に投射される光ビームの強度と第２光学系４から光検出部６に投射される光ビームの強度とは通常相違する。このため、トラッキング制御部７では、メインビームの迷光のみが第１光学系３側の各光検出器４２，４３に照射されたときに、各減算器７ｌ，７ｍに入力される２つの信号のレベルが一致するように、ゲイン算出回路７ｐが、お互いの配置が点対称となる第１光学系３側の受光領域と第２光学系４側の受光領域とから出力される２つの電気信号（本例では一例として、受光領域４１ａから出力される電気信号Ｓ１ａと、受光領域４６ｃから出力される電気信号Ｓ６ｃ）に基づき、電気信号Ｓ６ｃに対する電気信号Ｓ１ａの比率（電気信号Ｓ１ａのレベルを電気信号Ｓ６ｃのレベルで除算した値）を算出し、この算出した値を増幅器７ｄ，７ｅに対してその増幅率ｋ１として設定する。また、トラッキング制御部７による対物レンズ５に対するトラッキングサーボ制御が良好に行われて、図４に示すように、メインビームのビームスポットＳＰａ２の中心（光軸）が、光検出器４１における各分割線Ｌ２，Ｌ３の交点Ｇ上に位置しているときのトラッキングエラー信号Ｓ１のレベルがゼロになるように、増幅器７ｆの増幅率ｋ２が予め設定されている。
【００３５】
フォーカス制御部９は、一例として、図６に示すように、１２個の加算器９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｎ，９ｈａ，９ｈｂ，９ｉａ，９ｉｂ，９ｊａ，９ｊｂ，９ｋａ，９ｋｂ、３つの増幅器９ｄ，９ｅ，９ｆおよび７つの減算器９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍを備え、光検出部６から出力される電気信号Ｓ１ａ〜Ｓ１ｄ，Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄ，Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄ，Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄ，Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄに基づいてフォーカスエラー信号Ｓ２を生成する演算処理を実行すると共に、生成したフォーカスエラー信号Ｓ２を出力する。具体的には、加算器９ａが光検出器４１から出力される２つの電気信号Ｓ１ａ，Ｓ１ｃの和信号を出力し、加算器９ｂが光検出器４１から出力される２つの電気信号Ｓ１ｂ，Ｓ１ｄの和信号を出力し、減算器９ｇがこれらの和信号の差分をメインプッシュプル信号Ｓｍｆ（＝（Ｓ１ａ＋Ｓ１ｃ）−（Ｓ１ｂ＋Ｓ１ｄ））として出力する。
【００３６】
加算器９ｈａは光検出器４２から出力される２つの電気信号Ｓ２ａ，Ｓ２ｃの和信号を電気信号Ｓｎとして出力し、加算器９ｈｂは光検出器４２から出力される２つの電気信号Ｓ２ｂ，Ｓ２ｄの和信号を電気信号Ｓｏとして出力し、さらに減算器９ｈが電気信号Ｓｎ，Ｓｏの差信号（Ｓｎ−Ｓｏ）を出力する。加算器９ｉａは光検出器４３から出力される２つの電気信号Ｓ３ａ，Ｓ３ｃの和信号を電気信号Ｓｐとして出力し、加算器９ｉｂは光検出器４３から出力される２つの電気信号Ｓ３ｂ，Ｓ３ｄの和信号を電気信号Ｓｑとして出力し、さらに減算器９ｉが電気信号Ｓｐ，Ｓｑの差信号（Ｓｐ−Ｓｑ）を出力する。加算器９ｊａは光検出器４４から出力される２つの電気信号Ｓ４ａ，Ｓ４ｃの和信号を電気信号Ｓｒとして出力し、加算器９ｊｂは光検出器４４から出力される２つの電気信号Ｓ４ｂ，Ｓ４ｄの和信号を電気信号Ｓｓとして出力し、さらに減算器９ｊが電気信号Ｓｒ，Ｓｓの差信号（Ｓｒ−Ｓｓ）を出力する。加算器９ｋａは光検出器４５から出力される２つの電気信号Ｓ５ａ，Ｓ５ｃの和信号を電気信号Ｓｔとして出力し、加算器９ｋｂは光検出器４５から出力される２つの電気信号Ｓ５ｂ，Ｓ５ｄの和信号を電気信号Ｓｕとして出力し、さらに減算器９ｋが電気信号Ｓｔ，Ｓｕの差信号（Ｓｔ−Ｓｕ）を出力する。また、増幅器９ｄは差信号（Ｓｒ−Ｓｓ）を、増幅器９ｅは差信号（Ｓｔ−Ｓｕ）を所定の増幅率ｋ１でそれぞれ増幅して出力する。
【００３７】
減算器９ｌは、光検出器４２から出力される電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄを光検出器４５から出力される電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄで補正して、具体的には、減算器９ｈから出力される差信号（Ｓｎ−Ｓｏ）に対して、増幅器９ｅから出力される信号（ｋ１×（Ｓｔ−Ｓｕ））を減算する補正を行うことにより、差信号（（Ｓｎ−Ｓｏ）−ｋ１×（Ｓｔ−Ｓｕ））を第１サブプッシュプル信号Ｓｓｆ１として生成して出力する。一方、減算器９ｍは、光検出器４３から出力される電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄを光検出器４４から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄで補正して、具体的には、減算器９ｉから出力される差信号（Ｓｐ−Ｓｑ）に対して、増幅器９ｄから出力される信号（ｋ１×（Ｓｒ−Ｓｓ））を減算する補正を行うことにより、差信号（（Ｓｐ−Ｓｑ）−ｋ１×（Ｓｒ−Ｓｓ））を第２サブプッシュプル信号Ｓｓｆ２として生成して出力する。加算器９ｃは、第１サブプッシュプル信号Ｓｓｆ１および第２サブプッシュプル信号Ｓｓｆ２の和信号を出力し、増幅器９ｆはこの和信号を所定の増幅率ｋ３で増幅して出力する。加算器９ｎは、上記のメインプッシュプル信号Ｓｍｆと増幅器９ｆから出力される信号との和信号をフォーカスエラー信号Ｓ２として出力する。この場合、フォーカスエラー信号Ｓ２は、下記式（２）で表される。
Ｓ２＝Ｓｍｆ＋ｋ３×（Ｓｓｆ１＋Ｓｓｆ２）
＝（Ｓ１ａ＋Ｓ１ｃ）−（Ｓ１ｂ＋Ｓ１ｄ）
＋ｋ３×（（Ｓｎ−Ｓｏ）−ｋ１×（Ｓｔ−Ｓｕ）
＋（Ｓｐ−Ｓｑ）−ｋ１×（Ｓｒ−Ｓｓ））  ・・・・・（２）    
また、フォーカス制御部９による対物レンズ５に対するフォーカスサーボ制御が良好に行われて、メインビームのビームスポットＳＰａ２が光検出器４１上に真円に近い状態で投射されているときのフォーカスエラー信号Ｓ２のレベルがゼロになるように、増幅器９ｆの増幅率ｋ３が予め設定されている。
【００３８】
レンズ駆動部８は、トラッキングエラー信号Ｓ１に基づいて、ラジアル方向に沿って対物レンズ５を駆動する（シフトさせる）。具体的には、レンズ駆動部８は、トラッキングエラー信号Ｓ１の極性に応じて対物レンズ５の駆動方向を決定し、かつトラッキングエラー信号Ｓ１のレベルに応じて対物レンズ５の駆動量を決定して、対物レンズ５を光情報媒体１１とほぼ平行な平面内で駆動する。これにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａが、目的とするトラック１２上に正しく投射されるように、ビームスポットＳＰａの位置が制御（トラッキング制御）される。また、レンズ駆動部８は、フォーカスエラー信号Ｓ２に基づいて、光情報媒体１１に対して接離する方向に対物レンズ５を駆動する機能も備えている。具体的には、レンズ駆動部８は、フォーカスエラー信号Ｓ２の極性に応じて対物レンズ５の駆動方向を決定し、かつフォーカスエラー信号Ｓ２のレベルに応じて対物レンズ５の駆動量を決定して、対物レンズ５を光情報媒体１１に対してほぼ直交する方向に沿って駆動する。これにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａが、目的とするトラック１２上に正しく集光するように制御される。
【００３９】
次に、光ピックアップ装置１のトラッキング制御動作について説明する。
【００４０】
作動状態において、光ピックアップ装置１では、光源２が光ビームを出射し、回折格子２１がこの光ビームをメインビームおよび２つのサブビームに分割する。第１光学系３は、この３つの光ビームを光情報媒体１１上に対物レンズ５を介して投射する。また、第１光学系３は、対物レンズ５を介して入射された光情報媒体１１からのメインビームおよび２つのサブビームについての戻り光ビームのうちのハーフミラー２５を透過したこれらの３つのビームの戻り光ビームを光検出部６上に投射する。一方、第２光学系４は、対物レンズ５を介して第１光学系３に入射された光情報媒体１１からのメインビームおよび２つのサブビームについての戻り光ビームのうちのハーフミラー２５で反射されたこれらの３つのビームについての戻り光ビームを入力し、さらにこのうちのメインビームの戻り光ビームのみを、図４に示すように、第１光学系３から光検出器４１〜４３側に投射されるメインビームの迷光についてのビームスポットＳＰａｍに対して、そのビームスポットＳＰｄｍ内の光強度分布の傾向が光軸Ｏ２を中心として点対称となり、そのシフト方向が逆となり、かつその形状が同一となるように変換して、光検出部６の各光検出器４４，４５に投射する。
【００４１】
この場合、対物レンズ５がシフトしたときには、このシフト方向に対応して、光検出部６上において、第１光学系３側のメインビームおよび２つのサブビームについての戻り光ビームの各ビームスポットＳＰａ２，ＳＰｂ２，ＳＰｃ２は図４中におけるＸ方向にシフトし、かつこのメインビームの迷光（同図では一例として、多層の記録層のうちの焦点のあった記録層よりも近い方の記録層からの迷光を示している）のビームスポットＳＰａｍは同図において矢印で示すようにＸ方向およびＹ方向のそれぞれに対して傾く方向にシフトする。一方、第２光学系４側のメインビームのビームスポットＳＰｄ２はＸ方向に沿って第１光学系３のビームスポットＳＰａ２等とは逆方向にシフトし、かつこのメインビームの迷光のビームスポットＳＰｄｍは同図に示すようにビームスポットＳＰａｍとは逆の方向に同じ距離だけシフトする。
【００４２】
このため、ビームスポットＳＰａｍの大きさが各光検出器４２，４３全体を覆う大きさでないときには、各光検出器４２，４３の受光領域４２ａ〜４２ｄ，４３ａ〜４３ｄにおいて受光するメインビームの迷光のビームスポットＳＰａｍの各面積、および各光検出器４４，４５の受光領域４４ａ〜４４ｄ，４５ａ〜４５ｄにおいて受光するメインビームの迷光のビームスポットＳＰｄｍの各面積はシフト量に応じて変化するものの、光検出器４２の受光領域４２ａが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４５の受光領域４５ｃが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致し、光検出器４２の受光領域４２ｂが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４５の受光領域４５ｄが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致し、光検出器４２の受光領域４２ｃが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４５の受光領域４５ａが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致し、光検出器４２の受光領域４２ｄが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４５の受光領域４５ｂが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致する関係が維持される。また、光検出器４３の受光領域４３ａが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４４の受光領域４４ｃが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致し、光検出器４３の受光領域４３ｂが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４４の受光領域４４ｄが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致し、光検出器４３の受光領域４３ｃが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４４の受光領域４４ａが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致し、光検出器４３の受光領域４３ｄが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４４の受光領域４４ｂが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致する関係も維持される。
【００４３】
さらに、光検出器４１と光検出器４６との間においても、光検出器４１の受光領域４１ａが受光するビームスポットＳＰａ２およびその迷光のビームスポットＳＰａｍの各面積と光検出器４６の受光領域４６ｃが受光するビームスポットＳＰｄ２およびその迷光のビームスポットＳＰｄｍの各面積とが一致し、光検出器４１の受光領域４１ｂが受光するビームスポットＳＰａ２およびその迷光のビームスポットＳＰａｍの各面積と光検出器４６の受光領域４６ｄが受光するビームスポットＳＰｄ２およびその迷光のビームスポットＳＰｄｍの各面積とが一致し、光検出器４１の受光領域４１ｃが受光するビームスポットＳＰａ２およびその迷光のビームスポットＳＰａｍの各面積と光検出器４６の受光領域４６ａが受光するビームスポットＳＰｄ２およびその迷光のビームスポットＳＰｄｍの各面積とが一致し、光検出器４１の受光領域４１ｄが受光するビームスポットＳＰａ２およびその迷光のビームスポットＳＰａｍの各面積と光検出器４６の受光領域４６ｂが受光するビームスポットＳＰｄ２およびその迷光のビームスポットＳＰｄｍの各面積とが一致する関係が維持される。
【００４４】
また、光検出部６では、光検出器４１が、各受光領域４１ａ〜４１ｄで受光している第１光学系３から投射されるメインビームおよびその迷光の受光量を示す各電気信号Ｓ１ａ〜Ｓ１ｄを出力する。また、光検出器４２が、各受光領域４２ａ〜４２ｄで受光しているサブビームおよび第１光学系３から投射されるメインビームの迷光の受光量を示す各電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄを出力し、光検出器４３も、各受光領域４３ａ〜４３ｄで受光している他のサブビームおよび第１光学系３から投射されるメインビームの迷光の受光量を示す各電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄを出力する。一方、光検出器４４は、各受光領域４４ａ〜４４ｄで受光している第２光学系４から投射されるメインビームの迷光の受光量を示す各電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄを出力し、光検出器４５も、各受光領域４５ａ〜４５ｄで受光しているこのメインビームの迷光の受光量を示す各電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄを出力する。また、光検出器４６は、各受光領域４６ａ〜４６ｄで受光している第２光学系４のメインビームおよびその迷光の受光量を示す各電気信号Ｓ６ａ〜Ｓ６ｄを出力する。
【００４５】
また、トラッキング制御部７は、光検出部６から出力される上記の各電気信号Ｓ１ａ〜Ｓ５ｄ，Ｓ６ｃに基づいて、上記式（１）に示すプッシュプル演算を行ってトラッキングエラー信号Ｓ１を生成して出力する。この場合、光ピックアップ装置１では、第２光学系４によって各光検出器４４，４５，４６に投射されるメインビームの迷光におけるビームスポットＳＰｄｍ内の光強度分布の傾向が、第１光学系３によって各光検出器４１，４２，４３に投射されるメインビームの迷光におけるビームスポットＳＰａｍ内の光強度分布の傾向に対して点対称となる関係となっている。また、光ピックアップ装置１では、ビームスポットＳＰｄｍの大きさがビームスポットＳＰａｍの大きさと一致すると共にビームスポットＳＰｄｍのシフト方向がビームスポットＳＰａｍのシフト方向と逆方向となることに起因して、光検出器４２の受光領域４２ａが受光する迷光のビームスポットＳＰａｍの面積と光検出器４５の受光領域４５ｂが受光する迷光のビームスポットＳＰｄｍの面積とが一致する等の上記した面積についての関係が維持される。このため、光ピックアップ装置１では、この２つの要素が相俟って、トラッキング制御部７における減算器７ｌでの減算処理、すなわち減算器７ｈから出力される差信号（Ｓｅ−Ｓｆ）と、増幅器７ｅから出力される信号（ｋ１×（Ｓｌ−Ｓｋ））との差信号（（Ｓｅ−Ｓｆ）−ｋ１×（Ｓｌ−Ｓｋ））を生成する処理において、差信号（Ｓｅ−Ｓｆ）に含まれる光検出器４２に投射されたメインビームの迷光の成分が、光検出器４５に第２光学系４から投射されたメインビームの迷光の成分でキャンセルされる。また、同様にして、トラッキング制御部７における減算器７ｍでの減算処理、すなわち減算器７ｉから出力される差信号（Ｓｈ−Ｓｇ）と、増幅器７ｄから出力される信号（ｋ１×（Ｓｊ−Ｓｉ））との差信号（（Ｓｈ−Ｓｇ）−ｋ１×（Ｓｊ−Ｓｉ））を生成する処理において、差信号（Ｓｈ−Ｓｇ）に含まれる光検出器４３に投射されたメインビームの迷光の成分が、光検出器４４に第２光学系４から投射されたメインビームの迷光の成分でキャンセルされる。したがって、トラッキング制御部７は、サブビーム用の光検出器４２，４３に照射されたメインビームの迷光成分が良好にキャンセルされた高精度のトラッキングエラー信号Ｓ１を生成してレンズ駆動部８に出力する。
【００４６】
また、フォーカス制御部９も、光検出部６から出力される上記の各電気信号Ｓ１ａ〜Ｓ５ｄに基づいて、上記式（２）に示すプッシュプル演算を行ってフォーカスエラー信号Ｓ２を生成して出力する。このフォーカスエラー信号Ｓ２についても、上記したトラッキングエラー信号Ｓ１の生成のときと同様にして、フォーカス制御部９における減算器９ｌでの減算処理、すなわち減算器９ｈから出力される差信号（Ｓｎ−Ｓｏ）と、増幅器９ｅから出力される信号（ｋ１×（Ｓｔ−Ｓｕ））との差信号（（Ｓｎ−Ｓｏ）−ｋ１×（Ｓｔ−Ｓｕ））を生成する処理において、差信号（Ｓｎ−Ｓｏ）に含まれる光検出器４２に投射されたメインビームの迷光の成分が、光検出器４５に第２光学系４から投射されたメインビームの迷光の成分でキャンセルされる。また、同様にして、フォーカス制御部９における減算器９ｍでの減算処理、すなわち減算器９ｉから出力される差信号（Ｓｐ−Ｓｑ）と、増幅器９ｄから出力される信号（ｋ１×（Ｓｒ−Ｓｓ））との差信号（（Ｓｐ−Ｓｑ）−ｋ１×（Ｓｒ−Ｓｓ））を生成する処理において、差信号（Ｓｐ−Ｓｑ）に含まれる光検出器４３に投射されたメインビームの迷光の成分が、光検出器４４に第２光学系４から投射されたメインビームの迷光の成分でキャンセルされる。したがって、フォーカス制御部９は、サブビーム用の光検出器４２，４３に照射されたメインビームの迷光成分が良好にキャンセルされた高精度のフォーカスエラー信号Ｓ２を生成してレンズ駆動部８に出力する。
【００４７】
レンズ駆動部８は、このようにして生成されたフォーカスエラー信号Ｓ２に基づいて、対物レンズ５を光情報媒体１１に対して接離動させ、このようにして生成されたトラッキングエラー信号Ｓ１に基づいて、ラジアル方向に沿って対物レンズ５を駆動する（シフトさせる）。これにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａが、光情報媒体１１の所望の記録層に正しく集光されるようにフォーカス制御される。また、この記録層の目的とするトラック１２上に正しく投射されるように、ビームスポットＳＰａの位置が制御（トラッキング制御）される。
【００４８】
このように、この光ピックアップ装置１、および光ピックアップ装置１によって実行されるトラッキング制御方法では、第２光学系４が、対物レンズ５で受光したメインビームの戻り光ビームを、第１光学系３用の光検出器４２，４３に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して光強度分布が光軸Ｏ２を中心として点対称で、かつシフト方向が逆になる戻り光ビームに変換して、第２光学系４用の光検出器４４，４５に投射し、トラッキング制御部７が、差動プッシュプル法によるトラッキングエラー信号Ｓ１の演算処理に際して、光検出器４２から出力される各電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｅ，Ｓｆの差信号に対して光検出器４５から出力される各電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｋ，Ｓｌの差信号を減算する補正を実行し、かつ光検出器４３から出力される各電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｈ，Ｓｇの差信号に対して光検出器４４から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｊ，Ｓｉの差信号を減算する補正を実行する。
【００４９】
したがって、この光ピックアップ装置１および光ピックアップ装置１が実行するトラッキング制御方法によれば、サブビーム用の光検出器４２，４３に入射するメインビームの迷光の影響を、光検出器４４，４５から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄ，Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄによってキャンセルすることができる結果、高精度のトラッキングエラー信号Ｓ１を生成することができ、このトラッキングエラー信号Ｓ１に基づいて対物レンズ５を駆動することにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａを目標のトラック１２上に、より正確に投射することができる。
【００５０】
また、この光ピックアップ装置１、および光ピックアップ装置１によって実行されるトラッキング制御方法では、トラッキング制御部７において、光検出器４２から出力される電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｅ，Ｓｆの差信号に対して、光検出器４５から出力される電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｋ，Ｓｌの差信号を増幅率ｋ１で増幅してから減算する補正を実行し、かつ光検出器４３から出力される電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｈ，Ｓｇの差信号に対して、光検出器４４から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｉ，Ｓｊの差信号を増幅率ｋ１で増幅してから減算する補正を実行する。
【００５１】
したがって、この光ピックアップ装置１および光ピックアップ装置１が実行するトラッキング制御方法によれば、第１光学系３から光検出部６に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して、第２光学系４から光検出部６に投射されるメインビームの戻り光ビームの強度が両光学系の光学部品の透過率の違いなどに起因して相違するときであっても、サブビーム用の光検出器４２，４３に入射するメインビームの迷光の影響を、増幅された電気信号Ｓｉ〜Ｓｌによって確実にキャンセルすることができる結果、高精度のトラッキングエラー信号Ｓ１を生成することができ、このトラッキングエラー信号Ｓ１に基づいて対物レンズ５を駆動することにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａを目標のトラック１２上に、一層正確に投射することができる。
【００５２】
さらに、この光ピックアップ装置１では、フォーカス制御部９が、メインビームおよび２つのサブビームを利用した３ビームでの差動非点収差法によるフォーカスエラー信号Ｓ２の演算処理に際して、光検出器４２から出力される各電気信号Ｓ２ａ〜Ｓ２ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｎ，Ｓｏの差信号に対して光検出器４５から出力される各電気信号Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｔ，Ｓｕの差信号を減算する補正を実行し、かつ光検出器４３から出力される各電気信号Ｓ３ａ〜Ｓ３ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｐ，Ｓｑの差信号に対して光検出器４４から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄに基づいて生成される電気信号Ｓｒ，Ｓｓの差信号を減算する補正を実行する。
【００５３】
したがって、この光ピックアップ装置１によれば、サブビーム用の光検出器４２，４３に入射するメインビームの迷光の影響を、光検出器４４，４５から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄ，Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄによってキャンセルすることができる結果、高精度のフォーカスエラー信号Ｓ２を生成することができ、このフォーカスエラー信号Ｓ２に基づいて対物レンズ５を駆動することにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａを目標の記録層上に、正確に集光させることができる。
【００５４】
また、この光ピックアップ装置１によれば、フォーカス制御部９においても、電気信号Ｓｎ，Ｓｏの差信号に対して、電気信号Ｓｕ，Ｓｔの差信号を増幅率ｋ１で増幅してから減算する補正を実行し、かつ電気信号Ｓｐ，Ｓｑの差信号に対して、電気信号Ｓｓ，Ｓｒの差信号を増幅率ｋ１で増幅してから減算する補正を実行することにより、第１光学系３から光検出部６に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して、第２光学系４から光検出部６に投射されるメインビームの戻り光ビームの強度が両光学系の光学部品の透過率の違いなどに起因して相違するときであっても、サブビーム用の光検出器４２，４３に入射するメインビームの迷光の影響を、増幅された電気信号Ｓｒ，Ｓｓ，Ｓｔ，Ｓｕによって確実にキャンセルすることができる結果、高精度のフォーカスエラー信号Ｓ２を生成することができ、メインビームのビームスポットＳＰａを目標の記録層上に、一層正確に集光させることができる。
【００５５】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、光検出器４１から出力される電気信号Ｓ１ａ〜Ｓ１ｄにのみ基づいてフォーカスサーボを行う構成（１ビームによるフォーカス制御の構成）とすることもできる。この構成では、フォーカスエラー信号Ｓ２として図６中のメインプッシュプル信号Ｓｍｆを使用する。このため、図６におけるメインプッシュプル信号Ｓｍｆと加算器９ｎの出力信号とを切り替えるスイッチ（図示せず）を備えて、このスイッチで切り替えてフォーカスエラー信号Ｓ２として出力する構成を採用することもできる。この場合、各光検出器４２，４３，４４，４５はトラッキング制御でのみ使用されるため、各検出器におけるａ領域（例えば光検出器４２の受光領域４２ａ）とｄ領域（例えば光検出器４２の受光領域４２ｄ）とが１つの受光領域として構成され、かつｂ領域（例えば光検出器４２の受光領域４２ｂ）とｃ領域（例えば光検出器４２の受光領域４２ｃ）とが１つの受光領域で構成された光検出器（２つの受光領域を備えた光検出器）を使用することができる。また、フォーカスサーボ専用の光学系および光検出器を別途配設する構成を採用することもでき、この構成では、光検出器４１を４つの受光領域４１ａ〜４１ｄを備える光検出器４１で構成する必要性がなくなるため、受光領域４１ａ，４１ｄが１つの受光領域となり、受光領域４１ｂ，４１ｃが他の１つの受光領域となる２分割の光検出器で光検出器４１を構成することができる。また、光検出部６に投射されるメインビームの戻り光ビームに非点収差を付加する必要性もなくなるため、センサレンズ２７の配設を省略することができ、この構成においては、受光領域が２分割の光検出器の一方の受光領域からの電気信号および他方の受光領域からの電気信号をプッシュプル演算することにより、トラッキングエラー信号Ｓ１を生成する。
【００５６】
また、第１光学系３および第２光学系４のそれぞれから光検出部６に投射されるメインビームの迷光の光強度分布の傾向だけでなく、迷光内の各部位の強度自体も同等（すなわち、両迷光の光強度分布が同一）に設定できるときには、光検出器４２で受光するメインビームの迷光の光強度と、光検出器４５で受光するメインビームの迷光の光強度とが同等となり、また光検出器４３で受光するメインビームの迷光の光強度と、光検出器４４で受光するメインビームの迷光の光強度とが同等となって、トラッキング制御部７の減算器７ｈから出力される差信号（Ｓｅ−Ｓｆ）に含まれる迷光成分のレベルと、減算器７ｋから出力される差信号（Ｓｌ−Ｓｋ）のレベルとが一致し、減算器７ｉから出力される差信号（Ｓｈ−Ｓｇ）に含まれる迷光成分のレベルと、減算器７ｊから出力される差信号（Ｓｊ−Ｓｉ）のレベルとが一致する。また、フォーカス制御部９の減算器９ｈから出力される差信号（Ｓｎ−Ｓｏ）に含まれる迷光成分のレベルと、減算器９ｋから出力される差信号（Ｓｔ−Ｓｕ）のレベルとが一致し、減算器９ｉから出力される差信号（Ｓｐ−Ｓｑ）に含まれる迷光成分のレベルと、減算器９ｊから出力される差信号（Ｓｒ−Ｓｓ）のレベルとが一致する。このため、図５に示すトラッキング制御部７の構成において、各増幅器７ｄ，７ｅの配設を省略して、差信号（Ｓｌ−Ｓｋ）を減算器７ｌに直接入力し、かつ差信号（Ｓｊ−Ｓｉ）を減算器７ｍに直接入力する構成とすることができ、これにより、トラッキング制御部７をより簡易に構成することができる。また、同様にして、図６に示すフォーカス制御部９の構成において、各増幅器９ｄ，９ｅの配設を省略して、差信号（Ｓｔ−Ｓｕ）を減算器９ｌに直接入力し、かつ差信号（Ｓｒ−Ｓｓ）を減算器９ｍに直接入力する構成とすることができ、これにより、フォーカス制御部９をより簡易に構成することができる。
【００５７】
また、図７に示す光ピックアップ装置１Ａのように、第１光学系３Ａおよび第２光学系４Ａから出射される各戻り光ビームを１つのコリメータレンズ２３を用いて光検出部６に集光させる構成を採用することもできる。以下、この光ピックアップ装置１Ａの概要について同図を参照して説明する。なお、光ピックアップ装置１と同一の構成については同一の符号を付して重複する説明を省略する。第１光学系３Ａは、本発明における第１光学系の一例であって、同図に示すように、一例として、回折格子２１、偏光ビームスプリッタ２２、コリメータレンズ２３、ハーフミラー２５、１／４波長板２６およびセンサレンズ（シリンドリカルレンズ）２７を備え、同図において模式的に示すように、光源２から出射された１本の光ビームを回折格子２１でメインビームおよび２つのサブビームの３ビームに分割して対物レンズ５に入射させると共に、対物レンズ５で受光した光情報媒体１１からのメインビームおよび２つのサブビームの各戻り光ビームを光検出部６上に投射する。なお、ハーフミラー２５は、対物レンズ５で受光した光情報媒体１１からのメインビームの一部および２つのサブビームの一部をコリメータレンズ２３側に反射させると共に、メインビームの残りの一部および２つのサブビームの残りの一部をミラー３１側に透過させる。
【００５８】
第２光学系４Ａは、本発明における第２光学系の一例であって、対物レンズ５で受光したメインビームの戻り光ビームを、第１光学系３Ａによって光検出部６上に投射されるメインビームの戻り光ビームに対して、光検出部６上での光強度分布の傾向が光軸を中心として点対称で、シフト方向が逆になり、かつビームスポットの大きさがほぼ同一となる他の戻り光ビームに変換して光検出部６上に投射する。本例では第２光学系４Ａは、図７に示すように、ミラー３１、集光レンズ３２、ピンホール３３ａが形成されたピンホール板３３および集光レンズ３４、並びに第１光学系３Ａを構成する偏光ビームスプリッタ２２、コリメータレンズ２３、ハーフミラー２５およびセンサレンズ２７を備えて構成されている。
【００５９】
この第２光学系４Ａでは、図７において模式的に示すように、ハーフミラー２５が、対物レンズ５で受光したメインビームおよび各サブビームの各戻り光ビームの一部をミラー３１に向けて透過させ、ミラー３１は、この透過したメインビームおよび各サブビームの戻り光ビームを、集光レンズ３２に向けて直角に反射する。集光レンズ３２は、ミラー３１で反射されたメインビームおよび各サブビームの戻り光ビームをピンホール板３３上に集光させる。ピンホール板３３は、光ピックアップ装置１と同様にして、メインビームの戻り光ビームのみを通過させる。集光レンズ３４は、ピンホール板３３を通過したメインビームの戻り光ビームを平行光に戻して、コリメータレンズ２３に出射する。コリメータレンズ２３から出射されるメインビームの戻り光ビームは、偏光ビームスプリッタ２２で反射されて、センサレンズ２７を介して光検出部６上に集光される。
【００６０】
また、この光ピックアップ装置１Ａでは、偏光ビームスプリッタ２２からセンサレンズ２７に対して、第１光学系３Ａからのメインビームおよび各サブビームの戻り光ビームについての各ビームスポットＳＰａ１〜ＳＰｃ１は、図８に示すように、光ピックアップ装置１と同様の状態で投射される。一方、第２光学系４Ａからのメインビームの戻り光ビームについてのビームスポットＳＰｄ１は、センサレンズ２７の母線Ｌ１から外れた位置に投射されるが、そのシフト方向は、同図に示すように、各ビームスポットＳＰａ１〜ＳＰｃ１のシフト方向と逆方向となる。このため、光ピックアップ装置１Ａにおいても、光ピックアップ装置１と同様にして、サブビーム用の光検出器４２，４３に入射するメインビームの迷光の影響を、光検出器４４，４５から出力される電気信号Ｓ４ａ〜Ｓ４ｄ，Ｓ５ａ〜Ｓ５ｄによってキャンセルすることができる結果、高精度のトラッキングエラー信号Ｓ１を生成することができ、このトラッキングエラー信号Ｓ１に基づいて対物レンズ５を駆動することにより、対物レンズ５から光情報媒体１１上に投射されるメインビームのビームスポットＳＰａを目標のトラック１２上に、より正確に投射することができる。また、この光ピックアップ装置１Ａによれば、光ピックアップ装置１の第１光学系３および第２光学系４を構成する光学部品の点数に比べて、第１光学系３Ａおよび第２光学系４Ａを構成する光学部品を多数削減できるため、両光学系の小形化および製品コストの低減を図ることができる。なお、光ピックアップ装置１Ａでは、コリメータレンズ２３を第１光学系３および第２光学系４で共用しているが、両光学系３，４でコリメータレンズ２３を別個にそれぞれ備える構成を採用することもできる。
【００６１】
また、ピンホール板３３を用いて第２光学系４，４Ａを構成する例について上記したが、これに限定されず、同等の機能を備えた他の光学系で第２光学系４，４Ａを構成してもよいのは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】光ピックアップ装置１の構成図である。
【図２】光情報媒体１１上に投射された各ビームスポットＳＰａ，ＳＰｂ，ＳＰｃの位置関係を示す説明図である。
【図３】光ピックアップ装置１のセンサレンズ２７上に投射された各ビームスポットＳＰａ１，ＳＰｂ１，ＳＰｃ１，ＳＰｄ１の位置関係を示す説明図である。
【図４】光検出部６の構成と、光検出部６上に投射された各ビームスポットＳＰａ２，ＳＰｂ２，ＳＰｃ２，ＳＰａｍ，ＳＰｄｍの位置関係とを示す説明図である。
【図５】光検出部６およびトラッキング制御部７の構成を示す回路図である。
【図６】光検出部６およびフォーカス制御部９の構成を示す回路図である。
【図７】光ピックアップ装置１Ａの構成図である。
【図８】光ピックアップ装置１Ａのセンサレンズ２７上に投射された各ビームスポットＳＰａ１，ＳＰｂ１，ＳＰｃ１，ＳＰｄ１の位置関係を示す説明図である。
【符号の説明】
【００６３】
１，１Ａ  光ピックアップ装置
２  光源
３，３Ａ  第１光学系
４，４Ａ  第２光学系
５  対物レンズ
６  光検出部
７  トラッキング制御部
８  レンズ駆動部
９  フォーカス制御部
１１  光情報媒体
１２  トラック
４１，４１，４３，４４，４５，４６  光検出器
Ｓ１  トラッキングエラー信号
Ｓ２  フォーカスエラー信号
【図１】
2009059415.tif 000003
【図２】
2009059415.tif 000004
【図３】
2009059415.tif 000005
【図４】
2009059415.tif 000006
【図５】
2009059415.tif 000007
【図６】
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【図７】
2009059415.tif 000009
【図８】
2009059415.tif 000010