(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスク装置において、対物レンズと光ディスクとの衝突を防止するための電磁力制御機構を作動させた際に迅速に通常状態に戻せるようにする。【解決手段】光ディスク装置は、レーザ光源と、対物レンズ１１ａと、対物レンズ１１ａを保持して光軸方向に駆動するフォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２と、制御部と、対物レンズ１１ａを挟んで光ディスク媒体８０と対向する側に対物レンズ１１ａと接触しないように配置され、電磁力を発生する電磁力制御機構１３と、を備える。なお、対物レンズ１１ａには金属部品１２ｄが付属する。制御部は、対物レンズ１１ａが光ディスク媒体８０に接近した異常状態を検出し、電磁力制御機構１３に電磁力を発生させ、金属部品１２ｄと共に対物レンズ１１ａを光ディスク媒体８０から引き離させる。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源が照射するレーザ光を光ディスクに集光する対物レンズと、前記対物レンズを保持して光軸方向に駆動するアクチュエータと、を備える光ディスク装置であって、
前記対物レンズに付属する金属部品と、
前記対物レンズが前記光ディスクに接近した異常状態を検出する異常状態検出手段と、
前記対物レンズを挟んで前記光ディスクと対向する側に配置され、前記アクチュエータの駆動に伴い、前記異常状態検出手段が前記異常状態を検出した場合に電磁力により前記金属部品と共に前記対物レンズを前記光ディスクから引き離して基準位置に戻す電磁力制御手段と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記電磁力制御手段は、電磁石を含み、当該電磁石に電力を供給することにより電磁力を発生させて前記対物レンズを前記光ディスクから引き離す、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記アクチュエータは、
前記電磁力制御手段が前記電磁石に所定時間、電力を供給して前記対物レンズを前記光ディスクから引き離した後、前記対物レンズを基準位置に戻す、
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記アクチュエータを制御して前記光ディスクに照射するレーザ光の焦点を調節するサーボ制御手段をさらに備え、
前記サーボ制御手段は、
前記電磁力制御手段が前記電磁石に電力を供給して電磁力を発生させると共に、前記対物レンズが前記光ディスクから離れるように前記アクチュエータを制御する、
ことを特徴とする請求項２又は３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記異常状態検出手段は、前記光ディスクからの反射光に応じた信号が一定値より小さいときに異常状態であると判別する、
ことを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記異常状態検出手段は、
通常状態における前記光ディスクからの反射光に応じた信号値を計測し、
前記光ディスクからの反射光に応じた信号値が、前記通常状態における信号値から一定値を引いた値より小さくなったときに異常状態であると判別する、
ことを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記レーザ光源と前記対物レンズと前記アクチュエータと前記金属部品と前記電磁力制御手段とは、光ピックアップの内部に配置される、
ことを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記レーザ光源と前記対物レンズと前記アクチュエータと前記金属部品とは、光ピックアップの内部に配置され、
前記電磁力制御手段は、前記光ピックアップの外部に配置される、
ことを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対物レンズと光ディスクとの衝突を防止する機能を備える光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、対物レンズと光ディスクとの衝突を防止して、対物レンズ及び光ディスクの破損を防止する光ディスク装置が提案されている。
【０００３】
例えば、特許文献１の光ディスク装置は、光ディスクと、レーザ光源と、対物レンズと、対物レンズを保持し光軸方向に駆動するアクチュエータとの他に、電磁力制御機構を備える。電磁力制御機構は、非通電時に電磁力によってアクチュエータを対物レンズと光ディスクとが接しない退避位置に吸着固定し、通電時に上記と反対方向の電磁力を発生することでアクチュエータの吸着固定を解除する。
【特許文献１】特開２００２−２５１７５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の技術では、電磁力によってアクチュエータを対物レンズと光ディスクとが接しない退避位置に吸着固定してしまうため、その後にアクチュエータ及び対物レンズを通常の状態に戻すのに時間がかかるという問題があった。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもので、対物レンズと光ディスクとの衝突を防止するための電磁力制御機構を作動させた際に迅速に通常状態に戻すことのできる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明の観点に係る光ディスク装置は、
レーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源が照射するレーザ光を光ディスクに集光する対物レンズと、前記対物レンズを保持して光軸方向に駆動するアクチュエータと、を備える光ディスク装置であって、
前記対物レンズに付属する金属部品と、
前記対物レンズが前記光ディスクに接近した異常状態を検出する異常状態検出手段と、
前記対物レンズを挟んで前記光ディスクと対向する側に配置され、前記アクチュエータの駆動に伴い、前記異常状態検出手段が前記異常状態を検出した場合に電磁力により前記金属部品と共に前記対物レンズを前記光ディスクから引き離して基準位置に戻す電磁力制御手段と、を備える、
ことを特徴とする。
【０００６】
例えば、前記電磁力制御手段は、電磁石を含み、当該電磁石に電力を供給することにより電磁力を発生させて前記対物レンズを前記光ディスクから引き離してもよい。
【０００７】
例えば、前記アクチュエータは、
前記電磁力制御手段が前記電磁石に所定時間、電力を供給して前記対物レンズを前記光ディスクから引き離した後、前記対物レンズを基準位置に戻してもよい。
【０００８】
例えば、前記アクチュエータを制御して前記光ディスクに照射するレーザ光の焦点を調節するサーボ制御手段をさらに備え、
前記サーボ制御手段は、
前記電磁力制御手段が前記電磁石に電力を供給して電磁力を発生させると共に、前記対物レンズが前記光ディスクから離れるように前記アクチュエータを制御してもよい。
【０００９】
例えば、前記異常状態検出手段は、前記光ディスクからの反射光に応じた信号が一定値より小さいときに異常状態であると判別してもよい。
【００１０】
例えば、前記異常状態検出手段は、
通常状態における前記光ディスクからの反射光に応じた信号値を計測し、
前記光ディスクからの反射光に応じた信号値が、前記通常状態における信号値から一定値を引いた値より小さくなったときに異常状態であると判別してもよい。
【００１１】
例えば、前記レーザ光源と前記対物レンズと前記アクチュエータと前記金属部品と前記電磁力制御手段とは、光ピックアップの内部に配置されてもよい。
【００１２】
例えば、前記レーザ光源と前記対物レンズと前記アクチュエータと前記金属部品とは、光ピックアップの内部に配置され、
前記電磁力制御手段は、前記光ピックアップの外部に配置されてもよい。
【発明の効果】
【００１３】
光ディスク装置において、対物レンズと光ディスクとの衝突を防止するための電磁力制御機構を作動させた際に迅速に通常状態に戻すことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置１００について説明する。この光ディスク装置１００は、図１に示すように、光ピックアップ１０と信号生成回路２０と信号処理回路３０と制御部４０とサーボ制御回路５０と増幅器５１，５２とスピンドルモータドライバ回路６０とスピンドルモータ７０とから構成される。また、光ディスク装置１００は、光ディスク媒体８０を装填し、記録されている情報を読み出す。ただし、レーザ光を制御するためのＡＰＣ（Automatic Power Control）回路や光ピックアップ１０を光ディスク媒体８０の半径方向に移動させるためのステッピングモータ等は、簡略化のため省略されている。
【００１５】
光ピックアップ１０は、レーザ光を光ディスク媒体８０に照射して、その反射信号を電気信号に変換し、信号生成回路２０に供給する。光ピックアップ１０は、図１に示すように、光学系１１とフォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２と電磁力制御機構１３とから構成される。
【００１６】
光学系１１は、対物レンズ１１ａやＬＤ（Laser Diode）や受光素子等から構成され、ＬＤが発光したレーザを光ディスク媒体８０に照射し、その反射光を受光素子に受光させ、光電変換により電気信号に変換させて出力させる。
【００１７】
対物レンズ１１ａは、ＬＤから照射されたレーザ光を光ディスク媒体８０の記録面上に集光する。また、対物レンズ１１ａは、フォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２によってフォーカス方向とトラック方向とに可動し、レーザ光の焦点位置を調整する。
【００１８】
フォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２は、サーボ制御回路５０の制御に基づいて、対物レンズ１１ａをフォーカス方向とトラック方向とに駆動させることによって、レーザ光の焦点位置を移動させる。
フォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２は、図２（ａ）、図３（ａ）（ｂ）に示すように、アクチュエータ基部１２ａと、支持ワイヤ１２ｂと、レンズフォルダ１２ｃと、金属部品１２ｄと、フォーカスコイル１２ｅと、マグネット１２ｆと、を備える。なお、レンズフォルダ１２ｃは、内部に対物レンズ１１ａを固持する。
【００１９】
アクチュエータ基部１２ａは、支持ワイヤ１２ｂを介してレンズフォルダ１２ｃと共に対物レンズ１１ａ及び金属部品１２ｄを支持する。
【００２０】
支持ワイヤ１２ｂは、一方をアクチュエータ基部１２ａに固定され、もう一方をレンズフォルダ１２ｃに固定され、レンズフォルダ１２ｃと共に対物レンズ１１ａ及び金属部品１２ｄを支持する。支持ワイヤ１２ｂは、撓むことによってレンズフォルダ１２ｃと共に対物レンズ１１ａをフォーカス方向とトラック方向とに駆動させる。
【００２１】
レンズフォルダ１２ｃは、図３（ａ）に示すように、フォーカスコイル１２ｅをその側面周囲に巻きつけるようにして備え、内部に対物レンズ１１ａを、底部に金属部品１２ｄを固持する。また、レンズフォルダ１２ｃは、その電磁石に増幅器５１からの電力を供給して電磁力を発生させ、マグネット１２ｆと作用させることによって、支持ワイヤ１２ｃを撓ませ、対物レンズ１１ａ及び金属部品１２ｄと共にフォーカス方向とトラック方向とに駆動する。また、レンズフォルダ１２ｃは、図示しないトラックコイルを備える。
【００２２】
金属部品１２ｄは、電磁力制御機構１３と作用することにより、対物レンズ１１ａ及びレンズフォルダ１２ｃを光ディスク媒体８０から引き離す。
【００２３】
電磁力制御機構１３は、図２（ａ）に示すように、電磁石１３ａを含み、増幅器５２からの電力を電磁石１３ａに供給することによって電磁力を発生させる。そして、その電磁力によって金属部品１２ｄと作用させて対物レンズ１１ａ及びレンズフォルダ１２ｃを光ディスク媒体８０から引き離す。
【００２４】
信号生成回路２０は、光ピックアップ１０から供給された電気信号をデコードし、全加算信号とＲＦ信号とＦＥ信号とＴＥ信号とを生成する。それから、ＲＦ信号を信号処理回路３０の復調回路３２に供給し、全加算信号とＦＥ信号とＴＥ信号とを信号処理回路３０の位相補償回路３１に供給する。なお、全加算信号とは、光ピックアップ１０の全ての受光素子が検出した反射信号を加算した信号である。
【００２５】
信号処理回路３０は、制御部４０の制御にもとづいて全加算信号やＲＦ信号やＦＥ信号やＴＥ信号に処理を施す。信号処理回路３０は、位相補償回路３１と復調回路３２とＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路３３とから構成される。
【００２６】
位相補償回路３１は、信号生成回路２０から供給された全加算信号とＦＥ信号とＴＥ信号とに位相補償を施し、光ピックアップ１０から照射されるレーザ光の焦点位置を制御するアクチュエータ制御信号を生成する。
【００２７】
復調回路３２は、信号生成回路２０より供給されたＲＦ信号をデコードし、光ディスク媒体８０に記録されているデジタル信号を制御部４０に供給する。また、復調回路３２は、ＲＦ信号に含まれる同期信号を抽出し、ＰＬＬ回路３３に供給する。
【００２８】
ＰＬＬ回路３３は、復調回路３２より供給された同期信号と制御部４０により定められた基準信号との位相差に応じたスピンドルモータ制御信号を生成する。
【００２９】
制御部４０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭ（Random Access Memory）等から構成され、光ディスク装置１００全体を制御する。
【００３０】
サーボ制御回路５０は、位相補償回路３１より供給されたアクチュエータ制御信号に応じた電力（フォーカスコイル駆動信号、トラックコイル駆動信号）を、増幅器５１を介してフォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２に供給する。そして、フォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２を動作させて対物レンズ１１ａを駆動させ、レーザの焦点を光ディスク媒体８０の記録面上に維持し、光ディスク媒体８０のトラックに追従させる。
また、サーボ制御回路５０は、アクチュエータ制御信号に含まれる全加算信号の値が所定の閾値未満になった場合には、フォーカスコイル駆動信号をマイナスにすると共に電磁力駆動信号を増幅器５２に供給する。そして、増幅器５２は、電磁力駆動信号に応じた電力を電磁力制御機構１３に供給する。ただし、フォーカスコイル駆動信号がプラスのときには、対物レンズ１１ａは、光ディスク媒体８０に近づき、フォーカスコイル駆動信号がマイナスのときには、離れるものとする。
【００３１】
増幅器５１，５２は、それぞれサーボ制御回路５０からの電力を増幅してフォーカシング・トラッキングアクチュエータ１２、電磁力制御機構１３それぞれに供給する。
【００３２】
スピンドルモータドライバ回路６０は、スピンドルモータ７０を駆動させるために、ＰＬＬ回路３３より供給されたスピンドルモータ制御信号に応じた電力をスピンドルモータ７０に供給する。
【００３３】
スピンドルモータ７０は、スピンドルモータドライバ回路７０より供給された電力により駆動し、光ディスク媒体８０を回転駆動させる。
【００３４】
以下、上記構成の光ディスク装置１００の動作を説明する。
【００３５】
先ず、光ディスク媒体８０の装填を検出すると、又は、ユーザの操作に応じて、光ディスク装置１００は、スピンドルモータ７０を制御して光ディスク媒体８０を回転させる。次に、光ディスク装置１００は、サーボ制御回路５０を制御して、対物レンズ１１ａを駆動させ、レーザの焦点を光ディスク媒体８０の記録面上に維持し、光ディスク媒体８０のトラックに追従させるサーボ制御を開始する。ここで、図２（ｂ）に示すように、対物レンズ１１ａが光ディスク媒体８０に異常接近すると（フォーカスサーボが外れると）、図４（ａ）に示すように、光ディスク装置１００が検出している全加算信号の値が低下し始めて、所定の閾値未満となる。その場合には、光ディスク装置１００は、図４（ｂ）に示すように、フォーカスコイル信号をマイナスとし、図２（ｃ）及び図４（ｃ）に示すように、電磁力駆動信号を電磁力制御機構１３に供給して、対物レンズ１１ａを光ディスク媒体８０から引き離す。その結果、図４（ｄ）の（Ａ）に示すように、光ディスク装置１００は、対物レンズ１１ａの位置を、電磁力制御機構１３を使用しない場合（図４（ｄ）の（Ｂ）参照）よりも迅速に基準位置に戻すことができる。
【００３６】
次に、第１の実施形態に係る光ディスク装置１００が行うサーボ制御処理を、図５のフローチャートを参照して詳細に説明する。
【００３７】
先ず、光ディスク媒体８０の装填を検出すると、又は、ユーザの操作に応じて、制御部４０は、スピンドルモータ７０を制御して光ディスク媒体８０を回転させる（ステップＳ１０１）。
【００３８】
次に、制御部４０は、サーボ制御回路５０を制御して、対物レンズ１１ａを駆動させ、レーザの焦点を光ディスク媒体８０の記録面上に維持し、光ディスク媒体８０のトラックに追従させるサーボ制御を開始する（ステップＳ１０２）。
【００３９】
制御部４０は、全加算信号の値が所定の閾値未満であるか否かを判別する（ステップＳ１０３）。
【００４０】
全加算信号の値が所定の閾値以上であると判別すると（Ｓ１０３；ＮＯ）、制御部４０は、処理をステップＳ１０３に戻す。
【００４１】
全加算信号の値が所定の閾値未満であると判別すると（Ｓ１０３；ＹＥＳ）、つまり、対物レンズ１１ａが光ディスク媒体８０に異常接近すると（フォーカスサーボが外れると）、制御部４０は、フォーカスコイル信号をマイナスとし、電磁力駆動信号を電磁力制御機構１３に供給して、対物レンズ１１ａを光ディスク媒体８０から引き離し（ステップＳ１０４）、処理を終了する。
【００４２】
このようにして、第１の実施形態におけるサーボ制御処理によれば、光ディスク装置１００は、対物レンズ１１ａと光ディスク媒体８０との衝突を防止し、迅速に対物レンズ１１ａを基準位置に戻すことができる。
【００４３】
（第２の実施形態）
第１の実施形態においては、全加算信号の値が所定の閾値未満であることを検出すると、電磁石駆動信号を電磁力制御機構１３に供給し続けて処理を終了したが、第２の実施形態においては、その場合には、所定の時間だけ電磁石駆動信号を電磁力制御機構１３に供給し、その後にサーボ制御を再開するようにしてもよい。なお、第２の実施形態に係る光ディスク装置の構成は、第１の実施形態と同様である。
【００４４】
次に、第２の実施形態に係る光ディスク装置１００が行うサーボ制御処理を、図６のフローチャートを参照して詳細に説明する。
【００４５】
先ず、ステップＳ２０１からステップＳ２０４までの処理は、ステップＳ１０１よりステップＳ１０４までの処理と同様である。
【００４６】
ステップＳ２０４の処理の後、制御部４０は、電磁力駆動信号の供給を停止し（ステップＳ２０５）、処理をステップＳ２０２に戻して再びサーボ制御を開始する。
【００４７】
このようにして、第２の実施形態におけるサーボ制御処理によれば、光ディスク装置１００は、対物レンズ１１ａと光ディスク媒体８０との衝突を防止し、迅速にサーボ制御の再開を行うことができる。
【００４８】
（第３の実施形態）
第１の実施形態においては、光ディスク装置は、全加算信号が一定値より小さいときに異常状態であると判別して対物レンズを光ディスク媒体から引き離した。しかし、第３の実施形態においては、図７に示すように、サーボ制御が正常に行われている状態（通常状態）における全加算信号Ｉａを測定し、全加算信号が、通常状態における全加算信号Ｉａから一定値αを引いた値より小さくなったときに異常状態であると判別して対物レンズを光ディスク媒体から引き離してもよい。なお、第３の実施形態に係る光ディスク装置の構成は、第１の実施形態と同様である。
【００４９】
第３の実施形態に係る光ディスク装置１００が行うサーボ制御処理を、図８のフローチャートを参照して詳細に説明する。
【００５０】
先ず、光ディスク媒体８０の装填を検出すると、又は、ユーザの操作に応じて、制御部４０は、スピンドルモータ７０を制御して光ディスク媒体８０を回転させる（ステップＳ３０１）。
【００５１】
次に、制御部４０は、サーボ制御回路５０を制御して、対物レンズ１１ａを駆動させ、レーザの焦点を光ディスク媒体８０の記録面上に維持し、光ディスク媒体８０のトラックに追従させるサーボ制御を開始する（ステップＳ３０２）。
【００５２】
制御部４０は、所定時間の全加算信号の平均値Ｉａを算出する（ステップＳ３０３）。
【００５３】
制御部４０は、全加算信号の値が、平均値Ｉａから一定値αを引いた値未満であるか否かを判別する（ステップＳ３０４）。
【００５４】
全加算信号の値が、平均値Ｉａから一定値αを引いた値以上であると判別すると（Ｓ３０４；ＮＯ）、制御部４０は、処理をステップＳ３０４に戻す。
【００５５】
全加算信号の値が、平均値Ｉａから一定値αを引いた値未満であると判別すると（Ｓ３０４；ＹＥＳ）、つまり、対物レンズ１１ａが光ディスク媒体８０に異常接近すると（フォーカスサーボが外れると）、制御部４０は、フォーカスコイル信号をマイナスとし、電磁力駆動信号を電磁力制御機構１３に供給して、対物レンズ１１ａを光ディスク媒体８０から引き離し（ステップＳ３０５）、処理を終了する。
【００５６】
このようにして、第３の実施形態におけるサーボ制御処理によれば、光ディスク装置１００は、サーボ制御を行うごとに全加算信号の値が大きく異なる場合でも、それに応じて適切に対物レンズ１１ａと光ディスク媒体８０との衝突を防止して対物レンズ１１ａを基準位置に戻すことができる。
【００５７】
（第４の実施形態）
第３の実施形態においては、全加算信号の値が、その通常状態における平均値から所定の値を引いた値より小さいことを検出した場合には、電磁石駆動信号を電磁力制御機構１３に供給し続けて処理を終了した。しかし、第４の実施形態においては、その場合には、所定の時間だけ電磁石駆動信号を電磁力制御機構１３に供給し、その後にサーボ制御を再開するようにしてもよい。なお、第４の実施形態に係る光ディスク装置の構成は、第１の実施形態と同様である。
【００５８】
次に、第４の実施形態に係る光ディスク装置１００が行うサーボ制御処理を、図９のフローチャートを参照して詳細に説明する。
【００５９】
先ず、ステップＳ４０１からステップＳ４０５までの処理は、ステップＳ３０１よりステップＳ３０５までの処理と同様である。
【００６０】
ステップＳ４０５の処理の後、制御部４０は、電磁力駆動信号の供給を停止し（ステップＳ４０６）、処理をステップＳ４０２に戻して再びサーボ制御を開始する。
【００６１】
このようにして、第４の実施形態におけるサーボ制御処理によれば、光ディスク装置１００は、対物レンズ１１ａと光ディスク媒体８０との衝突を防止し、迅速にサーボ制御の再開を行うことができる。
【００６２】
（第５の実施形態）
第１乃至４の実施形態においては、光ディスク装置１００は、光ピックアップ１０内に電磁力制御機構１３を備えたが、図１０に示すように、光ピックアップ１０の外部に電磁力制御機構９０を備えてもよい。
【００６３】
第５の実施形態に係る光ディスク装置２００は、図１０に示すように、光ピックアップ１０と信号生成回路２０と信号処理回路３０と制御部４０とサーボ制御回路５０と増幅器５１，５２とスピンドルモータドライバ回路６０とスピンドルモータ７０と電磁力制御機構９０とから構成される。
【００６４】
第５の実施形態における光ピックアップ１０は、電磁力制御機構を備えず、図１１（ａ）（ｂ）に示すように、その外部且つ下側に電磁力制御機構９０が配置される。電磁力制御機構９０は、電磁石９０ａを含み、増幅器５２からの電力を電磁石９０ａに供給することによって電磁力を発生させる。そして、その電磁力によって金属部品１２ｄと作用させて対物レンズ１１ａ及びレンズフォルダ１２ｃを光ディスク媒体８０から引き離す。
【００６５】
光ディスク装置２００は、図示しないステッピングモータと、そのステッピングモータの駆動力を用いて光ピックアップ１０を光ディスク媒体８０の半径方向に移動させるピックアップ移動用軸１４とをさらに備える。
【００６６】
電磁力制御機構９０及び電磁石９０ａは、図１１（ａ）に示すように、光ピックアップ１０がピックアップ移動用軸１４の何れの箇所にある場合にも作用できるように、ピックアップ移動用軸１４の長さに応じた形状を取る。
【００６７】
なお、第５の実施形態に係る光ディスク装置２００の動作は、第１乃至４の実施形態の何れかと同様である。
【００６８】
第５の実施形態に係る光ディスク装置２００によれば、電磁力制御機構を光ピックアップの外側に設けることによって、光ピックアップの小型化を図ることができる。
【００６９】
なお、本発明は上記実施形態に限定されず、種々の応用及び変形が可能である。
【００７０】
上記実施形態においては、全加算信号に基づいて、電磁力制御機構を動作させたが、ＲＦ信号に基づいて動作させてもよいし、光ディスク媒体の反射光から生成される他の信号に基づいて動作させてもよい。
【００７１】
また、その他、具体的な細部構成等についても適宜変更可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明の第１乃至４の実施形態に係る光ディスク装置の構成図である。
【図２】図１の光ピックアップの動作を説明するための図である。
【図３】図１のフォーカシング・トラッキングアクチュエータを説明するための図である。
【図４】本発明の第１及び２の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するための図である。
【図５】第１の実施形態におけるサーボ制御処理を説明するためのフローチャートである。
【図６】第２の実施形態におけるサーボ制御処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】本発明の第３及び４の実施形態に係る光ディスク装置の動作を説明するための図である。
【図８】第３の実施形態におけるサーボ制御処理を説明するためのフローチャートである。
【図９】第４の実施形態におけるサーボ制御処理を説明するためのフローチャートである。
【図１０】本発明の第５の実施形態に係る光ディスク装置の構成図である。
【図１１】図１０の光ピックアップ及び電磁力制御機構の斜視図と構成図である。
【符号の説明】
【００７３】
１０      光ピックアップ
１１      光学系
１１ａ    対物レンズ
１２      フォーカシング・トラッキングアクチュエータ
１２ａ    アクチュエータ基部
１２ｂ    支持ワイヤ
１２ｃ    レンズフォルダ
１２ｄ    金属部品
１２ｅ    フォーカスコイル
１２ｆ    マグネット
１３      電磁力制御機構
１３ａ    電磁石
１４      ピックアップ移動用軸
２０      信号生成回路
３０      信号処理回路
３１      位相補償回路
３２      復調回路
３３      ＰＬＬ回路
４０      制御部
５０      サーボ制御回路
５１      増幅器
５２      増幅器
６０      スピンドルモータドライバ回路
７０      スピンドルモータ
８０      光ディスク媒体
９０      電磁力制御機構
９０ａ    電磁石
１００    光ディスク装置
２００    光ディスク装置
【図１】
2009146466.tif 000003
【図２】
2009146466.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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