(57)【要約】【課題】  正確な位置合わせ（アライメント）を行うことができ、しかも、そのためのアライメント機構による測定光の照射および受光の機能に影響が少ない光干渉式断層撮影用の測定光照射装置の提供。【解決手段】  撮影対象に測定光を照射し、撮影対象で反射された測定光である信号光を捕捉する測定光照射光学系４と、測定光照射光学系４に配置された、対物レンズ７および測定光の照射方向を変更して撮影対象を走査する走査機構６と、撮影対象の表面に対物レンズ７を通して指標光を照射する指標光照射光学系１２、および、撮影対象で反射された指標光を対物レンズ７を通して受光する指標光検出装置２２を有するアライメント光学系１１とを備えており、指標光照射光学系１２の、対物レンズ７に至るまでの光路がアフォーカル光路にされており、このアフォーカル光路に走査機構６の少なくとも一部（ガルバノミラー）１０が配置されている。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光干渉を利用した断層撮影に用いられる測定光照射装置であって、
撮影対象に測定光を照射し、撮影対象で反射された測定光である信号光を捕捉する測定光照射光学系と、
該測定光照射光学系に配置された対物レンズと、
上記測定光照射光学系に配置された、測定光の照射方向を変更して撮影対象を走査する走査機構と、
撮影対象の表面に上記対物レンズを通して位置決め用の指標光を照射する指標光照射光学系、および、撮影対象で反射された指標光を対物レンズを通して受光する検出手段を有するアライメント光学系とを備えており、
上記指標光照射光学系の、対物レンズに至るまでの光路の少なくとも一部がアフォーカル光路にされており、該アフォーカル光路に走査機構の少なくとも一部が配置されている、測定光照射装置。
【請求項２】
上記走査機構が、測定光照射光学系の光路上に配置された一またはそれ以上のガルバノミラーを有しており、そのうちの一のガルバノミラーが上記アフォーカル光路に配置されている請求項１記載の測定光照射装置。
【請求項３】
上記測定光照射光学系と、走査機構と、アライメント光学系とを収容するハウジングをさらに備え、このハウジングが、スリットランプに形成されている付属品取付部に対して着脱可能な接続部を有している請求項１記載の測定光照射装置。
【請求項４】
上記対物レンズの被検眼へ向かう光軸を屈曲させるためのハーフミラーをさらに備えており、
上記ハウジングが上記スリットランプに取り付けられた状態において、スリットランプに備えられた顕微鏡が上記ハーフミラーに対して被検眼とは反対側に位置し、該顕微鏡の光軸が、屈曲された対物レンズの被検眼へ向かう光軸と一致するかまたは平行になるように、上記ハーフミラーが配置されている請求項３記載の測定光照射装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光干渉式断層撮影に用いられる測定光照射装置に関する。さらに詳しくは、分離された参照光と撮影対象物からの反射光とを干渉させて上記撮影対象物の組織等を撮影する光干渉式断層撮影用の測定光照射装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光の干渉を利用して工業製品、工業材料、生体組織等の断層撮影を行うオプティカル・コヒーレント・トモグラフィー（以下、ＯＣＴともいう）という技術が知られている。この方法は、低コヒーレント光を測定光と参照光とに分離し、測定光を撮影対象に導いてそこで反射した光（信号光と呼ぶ）と上記参照光とを干渉させることにより撮影対象物の断層像を測定する。
【０００３】
かかるＯＣＴ適用技術の一例として、特許文献１には眼底の断層像を測定するための装置が開示されている。この装置は、低コヒーレンス光を発行する光源と、この光源からの低コヒーレンス光を二分割するスプリッタと、分割された一方の光（参照光）を反射する参照ミラーを有する参照光学系と、分割された他方の光（測定光）を被検眼に照射する測定光照射光学系と、スペクトロメータとを備えている。スペクトロメータは、参照ミラーで反射された参照光と被検眼で反射された測定光（信号光）とが重なり合って干渉した干渉光を、電気的な画像信号に変換するための装置である。上記測定光照射光学系は測定光を被検眼上にＸ−Ｙ方向に走査させるための一対のガルバノミラーを備えている。
【０００４】
しかしながら、特許文献１はＯＣＴが眼底撮影に適用された場合の動作原理を示したものであり、眼科用の装置としての必須の機構をも含めた具体的な構成として開示しているものではない。たとえば、この装置を用いて被検眼の眼底の断層像を測定しようとした場合、被検眼に対して装置を正確に位置決めする必要があるが、特許文献１はそのための構成について一切教えていない。
【０００５】
特許文献２にも、同様にＯＣＴが前眼部の断層像撮影装置に適用された例が示されている。この装置で使用する光源は周波数を変更することができる可変波長光源である。この光源から波長を変化させながら光を出射することにより、被検部の深さ方向の画像を測定することができる。
【０００６】
しかしながら、この特許文献２においても、断層像撮影装置の測定光の照射光学系については、被検眼に対する位置決め機構を含めて眼撮影用の装置としての必須の機構を開示してはいない。
【特許文献１】特開２００７−１３０４０３号公報
【特許文献２】特開２００６−３００８０１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
前述した現状にかんがみ、本発明は、光の干渉を利用して対象物、とくに人眼の断層撮影を行う場合に、その対象物に測定光を照射する際、対象物の被検部に対して装置の正確な位置決めを行うことができる、光干渉式断層撮影用の測定光照射装置を提供することを目的としている。さらに、その位置決め機構の装備によっても撮影対象物への断層撮影用測定光の照射および受光の機能に影響が少ない測定光照射装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
1)  本発明の測定光照射装置は、
光干渉を利用した断層撮影に用いられる測定光照射装置であって、
撮影対象に測定光を照射し、撮影対象で反射された測定光である信号光を捕捉する測定光照射光学系と、
この測定光照射光学系に配置された対物レンズと、
上記測定光照射光学系に配置された、測定光の照射方向を変更して撮影対象を走査する走査機構と、
撮影対象の表面に上記対物レンズを通して位置決め用の指標光を照射する指標光照射光学系、および、撮影対象で反射された指標光を対物レンズを通して受光する検出手段を有するアライメント光学系とを備えており、
上記指標光照射光学系の、対物レンズに至るまでの光路の少なくとも一部がアフォーカル光路にされており、このアフォーカル光路に走査機構の少なくとも一部が配置されている。
【０００９】
かかる構成により、本発明の測定光照射装置は、そのアライメント用の指標光照射光学系の光路のうち、アフォーカルにされている部分に走査機構の少なくとも一部が配置されているため、アライメント用指標光の光量の減少は生じるがアライメントのための視野の欠損は生じない。したがって、アライメント機能には影響を及ぼさず、正確なアライメントが期待できる。
2)  上記走査機構として、測定光照射光学系の光路上に配置された一またはそれ以上のガルバノミラーを採用し、そのうちの一のガルバノミラーを上記アフォーカル光路に配置することができる。
3)  上記測定光照射光学系と、走査機構と、アライメント光学系とを収容するハウジングをさらに備え、このハウジングに、スリットランプに形成されている付属品取付部に対して着脱可能な接続部を備えることができる。こうすることにより、眼科用として広く使用されているスリットランプに取り付けるだけで、スリットランプの機能を阻害することなくそのＸＹＺの三軸移動機構を利用することができる。
4)  上記対物レンズの被検眼へ向かう光軸を屈曲させるためのハーフミラーをさらに備えるとともに、上記ハウジングを上記スリットランプに取り付けた状態において、スリットランプに備わった顕微鏡が上記ハーフミラーに対して被検眼とは反対側に位置するようにし、この顕微鏡の光軸が、屈曲された対物レンズの被検眼へ向かう光軸と一致するかまたは平行になるように、上記ハーフミラーを配置するのが好ましい。スリットランプによって被検眼を観察する必要があるときに、スリットランプから測定光照射装置を取り外す必要なくスリットランプの顕微鏡によって被検眼を観察することができるからである。
【００１０】
上記対物レンズとしてｆ−θレンズを採用してもよい。走査機構としてガルバノミラーのような回転式のものを採用する場合に、ｆ−θレンズではその回転角度とレンズ透過後の測定光の移動量（走査量）とが比例するので、走査を容易且つ正確に行える。
【００１１】
上記ハウジングに、外部から導入する上記測定光および外部へ送出する信号光の光路を接続するための接続部材を設けることができる。
【００１２】
上記測定光および信号光の光路を光ファイバーから形成してもよい。こうすればＯＣＴ装置から独立した測定光照射装置を自在に移動させることが可能となる。
【００１３】
被検者が固視するための固視標を提示する固視標光学系をさらに備え、この固視標光学系として、固視灯と、この固視灯からの固視標光を上記指標光照射光学系の光路に沿わせるためのペリクルミラーとを設け、上記固視標光が上記対物レンズによって平行光にされて撮影対象である被検眼に照射されるように構成することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、撮影対象に対する正確な位置合わせ（アライメント）を行うことができ、しかも、そのためのアライメント機構による測定光の照射および受光の機能に影響が少ない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
添付図面を参照しながら、光干渉式断層撮影装置に用いられる本発明の実施形態にかかる測定光照射装置を説明する。
【００１６】
図１は本発明の一実施形態にかかる測定光照射装置１が用いられた光干渉式断層撮影装置（ＯＣＴ装置）の一例を簡単に示す概略構成図である。
【００１７】
このＯＣＴ装置１００は、出射する光の周波数を変更することができる可変波長光源１０１を備えている。この可変波長光源１０１からの出射光路１０１ａは、光を分割するスプリッターとしての機能を有する第一カップラ１０２に接続されている。第一カップラ１０２からの一方側の光路１０２ａは測定光を送出する光路であり、光進行方向制御手段としてのオプティカルサーキュレータ（以下、単にサーキュレータと呼ぶ）１０３に接続されている。他方側の光路１０２ｂは参照光を送出する光路であり、後述する合波機能を有する第二カップラ１０４に接続されている。可変波長光源１０１から出射される光の周波数を変更することによって測定光と参照光との光路差を調節し、対象物の深さ方向の測定を行う。
【００１８】
上記サーキュレータ１０３には測定光照射装置１が接続されている。このサーキュレータ１０３からの第一光路１０３ａは測定光照射装置１に接続されている。そして、サーキュレータ１０３は、第一光路１０３ａを通して測定光照射装置１に測定光を送出するとともに、測定光照射装置１からの信号光（被検眼で反射した測定光）を受光する。さらにこのサーキュレータ１０３からの第二光路１０３ｂは上記第二カップラ１０４に接続されている。第二カップラ１０４からの光路１０４ａは、信号光と参照光とのコヒーレンス干渉波形を合成する演算装置１０５に接続されている。この演算装置１０５と前述した合波機能を有する第二カップラ１０４とを干渉装置と呼ぶことができる。演算装置１０５には画像処理された断層画像を出力するための表示装置１０７が接続されている。
【００１９】
以上は、本ＯＣＴ装置の基本的な構成であって、詳細部分について省略したものである。
【００２０】
前述した測定光照射装置１は、構造的には前述したＯＣＴ装置１００から分離して独立した機器として構成されている。そして、光学的には光ファイバ１０６によって接続されている。この光ファイバ１０６が上記サーキュレータ１０３からの第一光路１０３ａの一部を構成している。
【００２１】
この測定光照射装置１はスリットランプ１１０に取り付けられている。これは、通常のスリットランプ１１０に備わっている位置合わせ操作機構、すなわちＸＹＺ三軸方向に移動させることができる三軸架台１１０ａを利用するためである。図２にはスリットランプ１１０への測定光照射装置１の取付要領が示されている。図２（ａ）は取り付け前の状態を示し、図２（ｂ）は取り付け後の状態を示している。スリットランプ１１０の顕微鏡鏡体１１１には、トノメータ（眼圧計）等を接続するための軸状のアダプター（外付け用接続部）１１０ｂが上方に向けて突設されている（図２（ａ））。測定光照射装置１はこのアダプター１１０ｂに上から嵌合することにより接続される。この場合、スリットランプ１１０に対しては、そこにもともと備わっている照明装置１１２等の付属機器を取り外すことなく測定光照射装置１を取り付けることができる。そして、検者は三軸架台１１０ａに配設されたジョイスティック１１０ｃを操作することにより、測定光照射装置１を三軸方向に移動させて被検眼に対して位置合わせ（アライメント）を行う。
【００２２】
図３は測定光照射装置１の各光路を立体的に示す斜視図である。図４は測定光照射装置１の機器配置を示す正面図であり、図５はその側面図である。図示のごとく、測定光照射装置１は、各種機器からなる各種光学系を収容したハウジング２を有している。このハウジング２には、上記サーキュレータ１０３からの光ファイバ１０６を接続する接続部材としてのコネクタ３が取り付けられている。
【００２３】
また、ハウジングに２は、前述したスリットランプ顕微鏡の鏡体１１１に取り付けるための接続部２ａが形成されている。この接続部２ａは、前述した鏡体１１１に軸状のアダプター１１０ｂに上から嵌合しうる嵌合孔２ｂが形成されている。そして、嵌合後に固定ネジ１１０ｃによって固定する。もちろん、接続部２ａはかかる構成に限定されず、鏡体１１１のアダプターの形状構造に対応するように構成すればよい。
【００２４】
また、ハウジング２内には、上記光ファイバ１０６を通して送られてくる測定光を被検眼Ｅに照射する測定光照射光学系４が配設されている。この測定光照射光学系４の照射光路４ａに沿って、上記コネクタ３、測定光を平行光とするためのコリメータレンズ５、測定光の照射方向を変更して被検眼Ｅを走査するための走査機構６、対物レンズ７、および、測定光を被検眼Ｅに向ける第一ハーフミラー８が配置されている。コリメータレンズ５によって平行光にされた測定光は、対物レンズ７によって収束される。
【００２５】
上記第一ハーフミラー８は、上記スリットランプ１１０の鏡体１１１の光軸１１１ａが透過するように配置している。また、鏡体１１１の光軸１１１ａは、第一ハーフミラー８によって屈曲された対物レンズ７の光軸に一致するかまたは平行にされている。したがって、スリットランプ１１０によって被検眼Ｅを観察する必要があるときに、三軸架台１１０ａから測定光照射装置１等の他の部品をを取り外す必要なくスリットランプ１１０を使用することができる。この測定光照射光学系４は、照射光路とともに、被検眼Ｅで反射された上記測定光である信号光を照射方向と逆の方向に戻す信号光路をも構成している。信号光は、信号光路から上記光ファイバー１０６を通ってサーキュレータ１０３に至る。サーキュレータ１０３から第二カップラ１０４に送られた信号光は、第一カップラ１０２からの参照光と干渉する。この干渉光は演算装置１０５において画像処理されて表示装置１０７から出力される。
【００２６】
上記走査機構６として、照射光路４ａ上に配置された一対のガルバノミラー９、１０が採用されている。一対のガルバノミラー９、１０はそれぞれ自己の回動軸９ａ、１０ａ回りに回動可能であり、これら回動軸９ａ、１０ａは互いに直交している。図３に示す態様では、第一ガルバノミラー９は鉛直軸９ａ回りに回動し、第二ガルバノミラー１０は水平軸１０ａ回りに回動する。かかる構成により、第二ガルバノミラー１０を停止した状態で第一ガルバノミラー９を回動させると、測定光は後述のペリクルミラー２８および対物レンズ７を通って被検眼面Ｅ上を上下に照射方向を変える。また、第一ガルバノミラー９を停止した状態で第二ガルバノミラー１０を回動させると、測定光は対物レンズ７を通って被検眼面Ｅ上を左右に照射方向を変える。これらガルバノミラー９、１０の回動により、測定光をＸＹの二方向に走査することができる。
【００２７】
図６には、この走査が具体的示されている。図６では、第二ミラー１９、一対のガルバノミラー９、１０および対物レンズ７のみが示され、他の機器についてはその図示が省略されている。第一ハーフミラー８を省略したので、対物レンズ７から被検眼Ｅに至る光路は屈折されない直線状態で示されている。ガルバノミラー９、１０で反射した平行光の測定光Ｍは、対物レンズ７を透過することにより被検眼Ｅ上に収束している。この状態で、第二ガルバノミラー１０を回動させると、図示のごとく測定光Ｍは被検眼Ｅ上を上下に移動する。また、第一ガルバノミラー９を回動させると、図では表現できないが被検眼Ｅ上を左右（紙面に垂直な方向）に測定光Ｍが移動する。したがって、第一ガルバノミラー９がＸ方向（Ｙ方向）走査用とすれば、第二ガルバノミラー１０がＹ方向（Ｘ方向）走査用として機能する。
【００２８】
走査機構の構成としてはＸＹ方向の走査（二次元走査）に限定はされない。たとえば、一個のガルバノミラーのみを用いてＸ方向のみまたはＹ方向のみの直線走査（一次元走査）を行う構成を採用しても良い。かかる一次元走査機構を採用する場合には、図６における第一ガルバノミラー９の位置にコリメータレンズ５を配置しても良い。
【００２９】
上記対物レンズとしてｆ−θレンズを用いても良い。ｆ−θレンズを用いた場合、ガルバノミラー９、１０の回転角度とレンズ透過後の測定光Ｍの移動量（走査量）とが比例するので、このように光束の操作を行う場合には好ましい。
【００３０】
図３〜図５に示すように、ハウジング２内には、被検眼Ｅに対する測定光照射装置１の正確な位置合わせを行わしめるための第一アライメント光学系１１が配設されている。この第一アライメント光学系１１は、被検眼Ｅの所定部位に指標が結像するように指標光を照射し、被検眼Ｅの表面におけるこの反射光を検出して位置合わせのための標的にする機構である。第一アライメント光学系１１は、指標光源１４からのアライメント用指標光を被検眼Ｅに向けて照射する指標光照射光学系１２と、被検眼表面で反射した像を指標像検出装置２２によって検出する指標像検出光学系１３とから構成されている。
【００３１】
指標光照射光学系１２は、指標光を出射する赤外ＬＥＤ（赤外光または近赤外光を発光する発光ダイオード）からなる指標光源１４を有している。この指標光源１４から出射された光はコンデンサレンズ１５および指標板１６を透過して指標光となる。指標板１６は指標が描かれた部分のみ照明光を透過させるように形成されている。この指標は、たとえば十字形や二重丸等でもよく、前述した収束した測定光がＸＹ方向に走査される範囲を囲むような四角枠状にしてもよい。この指標光は、第一ミラー１７によって方向転換させられ、合成用レンズ１８によって平行光にされる。すなわち、指標光照射光路１２ａのうちの合成用レンズ１８から対物レンズ７までの間はアフォーカル光路Ａとなる。合成用レンズ１８を透過して平行光となった指標光は第二ミラー１９によって方向転換させられる。ついで、指標光は、後述する第二ハーフミラー２０および後述のペリクルミラー２８を透過し、対物レンズ７によって収束させられる。そして、第一ハーフミラー８を経て被検眼Ｅの表面に至る。第一ハーフミラー８、第一ミラー１７および第二ミラー１９等によって光路を屈曲させることにより、全光学系がコンパクトにハウジング２内に収まる。
【００３２】
この指標光が収束する光軸方向（いわゆるＺ軸方向）の位置は、前述した測定光照射光学系４の測定光が収束する位置と一致するように両光学系４、１１が構成されている。すなわち、第一アライメント光学系１１の指標光が結像する位置に測定光が収束するようにされている。こうすることにより、被検眼Ｅに対する測定光照射装置１のＸＹ方向のアライメントとともに、Ｚ方向の位置決めが可能となる。
【００３３】
指標像検出光学系１３は、被検眼Ｅで反射した指標光を検出するための指標像検出装置２２を有している。被検眼Ｅの表面で反射した指標光は指標光照射光路１２ａを通って前述の第二ハーフミラー２０まで戻る。ついで、この第二ハーフミラー２０に反射され、結像レンズ２１を透過した指標光は指標像検出装置２２にいたる。具体的には、指標光は指標像検出装置２２に装備されたＣＣＤ２２ａに結像する。指標像検出光学系１３の光路１３ａは、上記第二ハーフミラー２０から被検眼Ｅまでの間は、指標光照射光路１２ａと共通である。したがって、被検眼Ｅで反射した指標光は、対物レンズ７から結像レンズ２１までの間は平行光となっている。すなわち、指標像検出光路１３ａの対物レンズ７から結像レンズ２１までの間はアフォーカル光路Ａとなっている。
【００３４】
対物レンズ７の近傍には、被検眼Ｅの前眼部を照明するための、赤外ＬＥＤからなる照明灯２３が配設されている。この照明灯２３は、検者がジョイスティック１１０ｃを操作して被検眼Ｅに対する装置１のアライメントを行うときに前眼部を観察するために設けられている。
【００３５】
ここで、アライメント操作を説明する。検者はジョイスティック１１０ｃを前後左右に傾動したり中心軸回りに捻ることにより、測定光照射装置１を被検眼Ｅに対して前後（Ｚ方向）、左右（Ｘ方向）および上下（Ｙ方向）に位置合わせを行う。このとき、被検眼Ｅの前眼部で反射された照明灯２３からの照明光が、指標像検出光路１３ａを通して指標像検出装置２２に前眼部像として検出され、図示しない表示装置に表示される。そして、検者はその表示画面の前眼部像を観察しながら、たとえば十字形の指標像が被検眼Ｅ上の被検部位に明確に現れるように、測定光照射装置１を被検眼Ｅに対して前後左右上下に移動させる。このようにしてアライメントを完了したときには、Ｚ方向の位置決めも完了しているので、被検部にフォーカス（合焦）されたことになる。
【００３６】
図３〜図６に示すごとく、第一アライメント光学系１１の光路１１ａ（１２ａ、１３ａと同じであり、以下、アライメント光路とも呼ぶ）内に、前述した測定光照射光学系４の第二ガルバノミラー１０が配置されている。この測定光照射装置１は、測定光も指標光も同じ光路を通って被検眼Ｅに至るように構成されているからである。換言すれば、アライメント用の指標光が、収束した測定光の走査範囲の中心に収束するようにしているからである。また、こうすることにより、測定光照射装置１の構成が簡素になり、軽量コンパクトになるからである。このように構成したとしても、第二ガルバノミラー１０の存在が第一アライメント光学系１１の機能に大きな影響を及ぼすことはない。それは、第二ガルバノミラー１０が侵入しているアライメント光路１１ａの部分は、前述したようにアフォーカル光路Ａとして構成しているからである。アフォーカル光路Ａに第二ガルバノミラー１０が侵入しても、指標光の光量の減少は生じるが視野の明確な欠損がない。したがって、アライメント機能には大きな影響を及ぼさない。指標光の光量の減少もできるだけ少なくなるように指標光束の断面積をガルバノミラーの占める面積に比べてはるかに大きくしている。
【００３７】
しかし、アライメント光路１１ａのアフォーカル光路Ａに配置するのは、必ずしもいずれかのガルバノミラーである必要はない。必要であれば、全てのガルバノミラーをアフォーカル光路Ａの外に配し、アフォーカル光路Ａ内にはたとえばミラーを配することによって測定光をアライメント光路１１ａに一致させてもよい。
【００３８】
このように、本実施形態では、第一アライメント光学系１１を構成する主要機器である指標光源１４、コンデンサレンズ１５、指標板１６および指標像検出装置２２を、走査機構６の後側（走査機構６を挟んで対物レンズ７の反対側）に配置するとともに、走査機構６が侵入するアライメント光路１１ａの部分をアフォーカル光路Ａとした。こうすることにより、眼計測を目的としたＯＣＴ装置１００とって必要なアライメント機構を、効率よく測定光照射装置１のハウジング内に収容することができた。その上、第一アライメント光学系１１と測定光照射光学系４の走査機構６とを、互いの機能を損ねることなく巧みに配置することができた。
【００３９】
この測定光照射装置１には、被検者に固視標を固視させることによって被検眼Ｅの視軸の方向を固定させるための固視標光学系２５が設けられている。固視標光学系２５は固視灯２４を有しており、この固視灯２４から出射される光は可視光である。固視標光学系２５は、その光路２５ａに沿って上記固視灯２４からピンホール板２６、第三ハーフミラー２７およびペリクルミラー２８を有している。上記第三ハーフミラー２７は、後述する第二アライメント光学系３１と光路を共通にするために設けられており、赤外光を透過して可視光を反射する。また、ペリクルミラー２８は前述のアライメント光路１１ａに配置されており、このペリクルミラー２８から被検眼Ｅに至る固視標光路２５ａは測定光照射光路４ａおよびアライメント光路１１ａと共通となる。固視灯２４からピンホール板２６のピンホール２６ａを通った固視標光はペリクルミラー２８で反射され、アライメント光路１１ａに沿って対物レンズ７に至る。ついで、この固視標光は対物レンズ７によって平行光にされてから被検眼に至り、被検者はピンホール２６ａの像（固視標）を視認する。なお、必要に応じて複数組の固視灯およびピンホール板等の固視手段をそれぞれ異なる位置に配置してもよい。そうすることにより、被検眼の視軸を複数方向それぞれに固定することができる。
【００４０】
本実施形態では、前述したように、被検眼Ｅの表面に指標が結像するように指標光を照射し、検出したその反射像によって位置合わせをするアライメント機構を採用している。しかし、採用しうるアライメント機構としてはかかる方式のみに限定されない。被検眼におけるプルキンエ像に基づいて位置合わせをするアライメント機構を必要に応じて併用することもできる。このアライメント機構は、測定光照射装置１の光軸を被検眼表面の頂点、つまり、被検眼表面における装置に最も近い点に一致させるためのものであり、第二アライメント光学系３１として図示されている。この第二アライメント光学系３１は赤外ＬＥＤからなるアライメント光源３２を有している。図３および図４に示すように、第二アライメント光学系３１の光路３１ａは、上記第三ハーフミラー２７から先は固視標光路２５ａと一致している。
【００４１】
上記アライメント光源３２からのアライメント光は対物レンズ７によって平行光にされて被検眼Ｅの前眼部にその正面から照射される。さらに、アライメント光の被検眼Ｅ頂点における反射像（プルキンエ像）は、対物レンズ７およびペリクルミラー２８を透過し、第二ハーフミラー２０に反射して指標像検出装置２２によって受光される。図示しない表示装置のモニタ画面では、その中心に測定光照射装置１の光軸（対物レンズ７の光軸）が設定されている。そして、当該モニタ画面に映し出されているアライメント光の像（プルキンエ像）がモニタ画面の中心（前記光軸）に一致するように測定光照射装置１を移動させることによりＸＹ方向のアライメントを行う。したがって、測定光照射装置１の光軸は前述した被検眼表面の頂点に一致することとなる。
【００４２】
このアライメント法を採用した場合、被検眼Ｅの頂点に対する上下左右（ＸＹ方向）の位置決めがなされる。したがって、これと並行して、またはそののちに、被検部に対する前後方向（Ｚ方向）の位置決め、すなわちの装置１の焦点を一致させる合焦操作を行う必要がある。しかし、Ｚ方向の位置決めも可能な指標光を用いた前述の第一アライメント光学系１１を併用しているため、この要求は充足している。
【００４３】
併用している第一アライメント機構（第一アライメント光学系１１）による指標像も同時に観察されている。この第一アライメント光学系１１による指標像は測定光操作量域やその中心（測定光照射装置１の光軸）を示しているので、プルキンエ像をこの指標像に一致させるアライメントを行うことにより、被検眼の頂点を中心とした断層撮影が行われることになる。
【００４４】
本実施形態の測定光照射装置１は、そのハウジング２内に測定光照射光学系４、走査機構６およびアライメント光学系１１という眼科用としての光学的機能を十分に備えているため、あとは、スリットランプのようにＸＹＺ三軸移動機構を備えた装置に取り付けるだけでＯＣＴ装置として使用することができる。また、スリットランプを利用することにより、ＯＣＴ装置用のスペースを確保する必要もない。
【００４５】
以上説明した実施形態では、測定光照射装置１が適用されるＯＣＴ装置１００は可変波長光源１０１を用いており、この可変波長光源１０１から出射された光は、スプリッターとしての第一カップラ１０２によって測定光路１０２ａと参照光路１０２ｂとに分割されるように構成されたものである。しかしながら、かかる方式のＯＣＴ装置に限定されない。たとえば、特許文献１に示されたような、低コヒーレント光を発するスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）等の他の光源を採用してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
本発明の測定光照射装置は、被検眼に対する正確な位置合わせ（アライメント）を行うことができ、しかも、このアライメント機構を装備することによってはＯＣＴの測定光の照射および受光の機能に対して影響を及ぼすおそれがない。したがって、この測定光照射装置はＯＣＴを眼科用に用いる際に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の一実施形態にかかる測定光照射装置が用いられた光干渉式断層撮影装置の一例を簡単に示す概略構成図である。
【図２】図２（ａ）はスリットランプへの測定光照射装置の取り付け前の状態を示す概略構成図であり、図２（ｂ）は取り付け後の状態を示す概略構成図である。
【図３】図１における測定光照射装置の各光路を立体的に示す斜視図である。
【図４】図３の測定光照射装置の機器配置を示す正面図である。
【図５】図３の測定光照射装置の機器配置を示す側面図である。
【図６】図３の測定光照射装置の、被検眼に照射される測定光およびアライメント光それぞれの光束を示す光路図である。
【符号の説明】
【００４８】
１・・・測定光照射装置
２・・・ハウジング
２ａ・・接続部
３・・・コネクタ
４・・・測定光照射光学系
５・・・コリメータレンズ
６・・・走査機構
７・・・対物レンズ
８・・・第一ハーフミラー
９・・・第一ガルバノミラー
１０・・・第二ガルバノミラー
１１・・・第一アライメント光学系
１２・・・指標光照射光学系
１３・・・指標像検出光学系
１４・・・指標光源
１５・・・コンデンサレンズ
１６・・・指標板
１７・・・第一ミラー
１８・・・合成用レンズ
１９・・・第二ミラー
２０・・・第二ハーフミラー
２１・・・結像レンズ
２２・・・指標像検出装置
２３・・・照明灯
２４・・・固視灯
２５・・・固視標光学系
２６・・・ピンホール板
２７・・・第三ハーフミラー
２８・・・ペリクルミラー
３１・・・第二アライメント光学系
３２・・・アライメント光源
１０１・・・可変波長光源
１０２・・・第一カップラ
１０３・・・サーキュレータ
１０４・・・第二カップラ
１０５・・・演算装置
１０６・・・光ファイバ
１０７・・・表示装置
１１０・・・スリットランプ
１１１・・・鏡体
１１２・・・照明装置
Ａ・・・アフォーカル光路
Ｅ・・・被検眼
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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