(57)【要約】【課題】より正確なエンベロープ検出ができるようにする。【解決手段】正極性側のエンベロープ検出、負極性側のエンベロープ検出のそれぞれについて、読出信号の絶対値が増加傾向にあるときは、サンプリング値と蓄積エンベロープ値との差分に応じた値を与えて上記蓄積エンベロープ値の絶対値を増加させるようにして、蓄積エンベロープ値の更新を行う。逆に絶対値が減少傾向にあるときは、エンベロープ値をサンプリングされた値に応じて追従させずに、蓄積エンベロープ値に比例した値で蓄積エンベロープ値の絶対値を減少させる。これにより、読出信号を整流・平滑する従来手法と比較して実際の波形をより反映したエンベロープ検出を行うことができる。すなわち、従来よりも正確なエンベロープ検出を行うことができる。【選択図】図４
2009146514.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体に対する少なくとも再生を行う再生装置であって、
上記光記録媒体に対するレーザ光照射及び反射光検出を行って上記光記録媒体に記録された信号を読み出す読出手段と、
上記読出手段により得られた読出信号について、正極性側のエンベロープを検出するための正極性側エンベロープ検出手段であって、
上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が増加傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるか否かを判定し、
上記判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積エンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にない、又は上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大ではないとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積エンベロープ値を減少させるようにして更新を行う正極性側エンベロープ検出手段と、
上記読出手段により得られた読出信号について、負極性側のエンベロープを検出するための負極性側エンベロープ検出手段であって、
上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が減少傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるか否かを判定し、
上記判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積エンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にない、又は上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小ではないとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積エンベロープ値を増加させるようにして更新を行う負極性側エンベロープ検出手段と、
を備えることを特徴とする再生装置。
【請求項２】
上記読出信号中に含まれる所定長記録パターンの波形についての正極性側のエンベロープを検出するための正極性側特定パターンエンベロープ検出手段であって、
対象とするサンプリング時刻を基準とした所定期間に亘り取得した上記読出信号のサンプリング値について、各サンプリング時刻間の差分値の極性の出現パターンが予め定められたパターンと合致するか否かを判定することで、上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が所定長記録パターンの波形の正極性側ピーク値であるか否かを判定すると共に、
上記判定の結果、上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の正極性側ピーク値であるとされた場合は、蓄積される正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の正極性側ピーク値ではないとされた場合は、上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を減少させるようにして更新を行う正極性側特定パターンエンベロープ検出手段と、
上記読出信号中に含まれる所定長記録パターンの波形についての負極性側のエンベロープを検出するための負極性側特定パターンエンベロープ検出手段であって、
対象とするサンプリング時刻を基準とした所定期間に亘り取得した上記読出信号のサンプリング値について、各サンプリング時刻間の差分値の極性の出現パターンが予め定められたパターンと合致するか否かを判定することで、上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が所定長記録パターンの波形の負極性側ピーク値であるか否かを判定すると共に、
上記判定の結果、上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の負極性側ピーク値であるとされた場合は、蓄積される負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の負極性側ピーク値ではないとされた場合は、上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を増加させるようにして更新を行う負極性側特定パターンエンベロープ検出手段と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の再生装置。
【請求項３】
上記正極性側特定パターンエンベロープ検出手段は、
上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の正極性側ピーク値であるとされ、且つ上記対象とする時刻のサンプリング値が上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値よりも大であるとされた場合に、上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値の更新を行い、
上記負極性側特定パターンエンベロープ検出手段は、
上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の負極性側ピーク値であるとされ、且つ上記対象とする時刻のサンプリング値が上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値よりも小であるとされた場合に、上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値の更新を行う、
ことを特徴とする請求項２に記載の再生装置。
【請求項４】
上記正極性側特定パターンエンベロープ検出手段は、
上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の正極性側ピーク値であるとされ、且つ上記サンプリング値が上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値よりも大であるとされ、且つ上記対象とする時刻のサンプリング値が所定値よりも大であるとされた場合に、上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積特定パターンエンベロープ値の更新を行い、
上記負極性側特定パターンエンベロープ検出手段は、
上記対象とするサンプリング時刻のサンプリング値が上記所定長記録パターンの波形の負極性側ピーク値であるとされ、且つ上記対象とする時刻のサンプリング値が上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値よりも小であるとされ、且つ上記対象とする時刻のサンプリング値が所定値よりも小であるとされた場合に、上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積特定パターンエンベロープ値の更新を行う、
ことを特徴とする請求項３に記載の再生装置。
【請求項５】
上記正極性側エンベロープ検出手段と上記負極性側エンベロープ検出手段により検出された正極性側エンベロープ値と負極性側エンベロープ値と、上記正極性側特定パターンエンベロープ検出手段と上記負極性側特定パターンエンベロープ検出手段により検出された正極性側特定パターンエンベロープ値と負極性側特定パターンエンベロープ値とに基づき、上記読出信号のアシンメトリ補正を行うアシンメトリ補正手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項４に記載の再生装置。
【請求項６】
上記アシンメトリ補正手段は、
上記正極性側エンベロープ値と上記負極性側エンベロープ値と、上記正極性側特定パターンエンベロープ値と上記負極性側特定パターンエンベロープ値とに基づき、アシンメトリ補正特性を計算により求めた上で、該補正特性に基づき上記読出信号のアシンメトリ補正を行う、
ことを特徴とする請求項５に記載の再生装置。
【請求項７】
上記アシンメトリ補正手段は、
二次関数により表現される上記アシンメトリ補正特性に従ってアシンメトリ補正を行うように構成されると共に、
上記アシンメトリ補正特性としての二次関数を、
補正前の入力読出信号をｙ軸、補正後の出力読出信号をｘ軸に置いたとき、上記正極性側エンベロープ値と上記負極性側エンベロープ値と、予め定められた読出信号についての最大値と最小値とで定まる２つの座標点と、上記正極性側特定パターンエンベロープ値と上記負極性側特定パターンエンベロープ値との中点を０に補正することを前提とした場合に定まる１つの座標点との計３つの座標点に基づき求める、
ことを特徴とする請求項６に記載の再生装置。
【請求項８】
上記正極性側エンベロープ値と上記負極性側エンベロープ値との中点を上記読出信号のオフセット値として検出すると共に、該検出したオフセット値に基づき上記読出信号のオフセット補正を行うオフセット補正手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項７に記載の再生装置。
【請求項９】
上記正極性側エンベロープ値と上記負極性側エンベロープ値との差分値と、予め設定されたゲイン目標値との差分値をゲイン誤差として計算すると共に、該計算したゲイン誤差に基づき上記読出信号のゲイン補正を行うゲイン補正手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項８に記載の再生装置。
【請求項１０】
光記録媒体に対するレーザ光照射及び反射光検出を行って読み出した読出信号についてエンベロープを検出するエンベロープ検出方法であって、
上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が増加傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるか否かを判定する正極性側判定ステップと、
上記正極性側判定ステップによる判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積エンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にない、又は上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大ではないとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積エンベロープ値を減少させるようにして更新を行う正極性側エンベロープ検出ステップと、
上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が減少傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるか否かを判定する負極性側判定ステップと、
上記負極性側判定ステップによる判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積エンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にない、又は上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小ではないとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積エンベロープ値を増加させるようにして更新を行う負極性側エンベロープ検出ステップと、
を備えることを特徴とするエンベロープ検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光の照射により記録信号の読み出しが行われる光記録媒体について少なくとも再生を行う再生装置として、特にエンベロープの検出（検波）を行う再生装置とエンベロープ検出方法とに関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルデータを記録・再生するための技術として、例えばＣＤ（Compact Disc），ＭＤ（Mini-Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの、光ディスク記録媒体（光磁気ディスクを含む）を記録メディアに用いたデータ記録再生技術がある。光ディスク記録媒体（単に光ディスクとも言う）は、ピットやマークによって信号が記録される円盤にレーザ光を照射し、その反射光の変化で信号が読み取られる記録メディアの総称である。
【０００３】
光ディスクについての再生を行う再生装置では、読出信号についてエンベロープ検出（包絡線検波）を行うようにされたものがある。例えば、読出信号に対するオフセット補正やＡＧＣ（Automatic Gain Control）などを行うにあたってエンベロープ検出を行うようにされたものが知られている。
従来において、エンベロープの検出手法としては、読出信号を整流・平滑する手法が一般的に知られている。
【０００４】
なお、関連する従来技術については下記の特許文献１を挙げることができる。
【特許文献１】特開平８−３１０９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記のようにして読出信号を整流・平滑する従来手法では、エンベロープは本来よりも減衰されたレベルで検出される傾向となり、全体の波形を平均化したような中間的なレベルが検出されてしまう。つまり、この手法では、本来の波形を反映した正確なエンベロープ検出を行うことが困難である。
また、従来においては、このような問題の改善を図るために、検波後のエンベロープに所要のオフセットを与える（例えば１．２倍にするなど）ことも行われるが、ここで与えられるオフセットは、あくまで経験上から推測されたものであって、必ずしも実際に生じる誤差を反映したものとならない虞がある。すなわち、このような手法では問題の根本的な解決を図ることはできない。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は以上のような問題点に鑑み為されたものであり、光記録媒体からの読出信号についてのエンベロープ検出を、より正確に行うことができるようにすることを目的としている。
本発明の再生装置は、光記録媒体に対する少なくとも再生を行う再生装置であって、以下の各手段を備える。
すなわち、上記光記録媒体に対するレーザ光照射及び反射光検出を行って上記光記録媒体に記録された信号を読み出す読出手段を備える。
また、上記読出手段により得られた読出信号について、正極性側のエンベロープを検出するための正極性側エンベロープ検出手段であって、
上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が増加傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるか否かを判定し、
上記判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積エンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にない、又は上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大ではないとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積エンベロープ値を減少させるようにして更新を行う正極性側エンベロープ検出手段を備える。
また、上記読出手段により得られた読出信号について、負極性側のエンベロープを検出するための負極性側エンベロープ検出手段であって、
上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が減少傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるか否かを判定し、
上記判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積エンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にない、又は上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小ではないとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積エンベロープ値を増加させるようにして更新を行う負極性側エンベロープ検出手段を備えるものである。
【０００７】
また、本発明のエンベロープ検出方法は、光記録媒体に対するレーザ光照射及び反射光検出を行って読み出した読出信号についてエンベロープを検出するエンベロープ検出方法であって、以下の各ステップを備える。
つまり、上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が増加傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるか否かを判定する正極性側判定ステップを備える。
また、上記正極性側判定ステップによる判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記正極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積エンベロープ値を増加させるように上記正極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が増加傾向にない、又は上記サンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大ではないとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積エンベロープ値を減少させるようにして更新を行う正極性側エンベロープ検出ステップを備える。
また、上記読出信号の対象とするサンプリング時刻におけるサンプリング値とその１時刻前のサンプリング値との差分値に基づき、上記読出信号の値が減少傾向にあるか否かを判定すると共に、上記対象とする時刻のサンプリング値が、蓄積されている負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるか否かを判定する負極性側判定ステップを備える。
さらに、上記負極性側判定ステップによる判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にあり且つ上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に対して上記対象とする時刻のサンプリング値と上記負極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積エンベロープ値を減少させるように上記負極性側蓄積エンベロープ値の更新を行い、
上記判定の結果、上記読出信号の値が減少傾向にない、又は上記サンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小ではないとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積エンベロープ値を増加させるようにして更新を行う負極性側エンベロープ検出ステップを備えるものである。
【０００８】
上記本発明によれば、正極性側のエンベロープ検出、負極性側のエンベロープ検出のそれぞれについて、読出信号の絶対値が増加傾向にあるときは、サンプリング値と蓄積エンベロープ値との差分に応じた値を与えて上記蓄積エンベロープ値の絶対値を増加させるようにして、蓄積エンベロープ値の更新が行われる。つまりこれにより、正極性側と負極性側のそれぞれにおいて、読出信号の絶対値が増加傾向の場合には、サンプリングされた値に応じた分だけエンベロープ値を追従させることができる。
また、逆に絶対値が減少傾向にあるときは、エンベロープ値をサンプリングされた値に応じて追従させずに、蓄積エンベロープ値に比例した値で蓄積エンベロープ値の絶対値を減少させるようにしている。つまり、絶対値が減少傾向となる場合には、サンプリングされた値に影響されずに、エンベロープ値を一定の割合で減衰させることができる。
【発明の効果】
【０００９】
上記本発明によれば、読出信号を整流・平滑する従来手法と比較して、実際の波形をより反映したエンベロープ検出を行うことができる。すなわち、従来よりも正確なエンベロープ検出を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
＜第１の実施の形態＞
[再生装置の全体構成]
図１は、本発明の再生装置の一実施形態としての、ディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
先ず、本例のディスクドライブ装置としては、図示する光ディスク５０として、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）のそれぞれに対応可能に構成される。これに伴い、図中光ピックアップ１としては、波長λ＝７８０nm、６５０nm、４０５nmのそれぞれ波長の異なるレーザ光を照射可能に構成されている。
また、この場合、ディスクドライブ装置としては、データ再生のみが可能な再生専用装置とされる場合を例示する。再生可能な光ディスク５０としては、ピット・ランドの組み合わせでデータが記録された再生専用のＲＯＭディスクのみならず、記録可能型として、ライトワンス型やリライタブル型の光ディスク５０にも対応する。例えばＢＤの場合であればＢＤ−Ｒ（ライトワンス型）やＢＤ−ＲＥ（リライタブル型）などが該当する。
【００１１】
図１において、光ディスク５０は、ディスクドライブ装置に装填されると図示しないターンテーブルに積載され、スピンドルモータ２によって一定線速度（ＣＬＶ）で回転駆動される。
再生時には、光ピックアップ（光学ヘッド）１によって光ディスク５０上のトラックにピット或いはマークで記録された情報の読出が行われる。
なお、光ディスク５０には、再生専用の管理情報として、例えばディスクの物理情報等がエンボスピット又はウォブリンググルーブによって記録されるが、これらの情報の読出も光ピックアップ１により行われる。さらに記録可能型の光ディスク５０に対しては、グルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報が記録されているが、その読み出しも光ピックアップ１によって行うことができる。
【００１２】
光ピックアップ１内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系等が形成される（図示は省略）。この場合のレーザダイオードは、例えば波長７８０nm、６５０nm、４０５nmのレーザ光を選択的に出力可能に構成される。光ピックアップ１内において、上記対物レンズは２軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
またこの場合、光ピックアップ１内には、ＢＤとしての光ディスク５０に対応可能とすべく、球面収差補正機構が備えられている。
また、図示するようにして光ピックアップ１全体はスレッド機構３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
【００１３】
光ディスク５０からの反射光情報は上記フォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路４に供給される。
マトリクス回路４には、上記フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。すなわち、光ディスク５０からの読出信号（再生信号）に相当するＲＦ信号（再生データ信号ＲＦ）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥなどを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、即ちウォブリングを検出するための信号としてプッシュプル信号ＰＰを生成する。
マトリクス回路４から出力されるＲＦ信号はエンベロープ検出・補正処理部５へ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥはサーボ回路１１へ、プッシュプル信号ＰＰはウォブル信号処理回路８へ、それぞれ供給される。
【００１４】
エンベロープ検出・補正処理部５は、上記ＲＦ信号についてエンベロープ検出を行う部位と、アシンメトリ補正、オフセット調整、ゲイン調整による各種の補正（調整）処理を行う部位とを包括的に表している。
なお、このエンベロープ検出・補正処理部５は、実施の形態としての特徴的な動作を行う部位であり、その内部構成及び動作については後に改めて説明する。
【００１５】
データ信号処理回路６は、上記エンベロープ検出・補正処理部５による各種の補正（調整）後のＲＦ信号を入力し、ＰＬＬによる再生クロックの生成処理、及び２値化処理を行う。２値化処理により得られた２値データ列は後段のデコーダ７に供給される。また、図示は省略したが、生成された再生クロックは必要な各部の動作クロック、各種タイミング指示信号として供給される。
なお、このデータ信号処理回路６の内部構成についても後述する。
【００１６】
デコーダ７は、上記データ信号処理回路６で得られた２値データ列についての復調を行う。即ち、データ復調、デインターリーブ、ＥＣＣデコード、アドレスデコード等を行う。これによって光ディスク５０からの再生データを得る。
デコーダ７で再生データにまでデコードされたデータは、ホストインターフェース１６に転送され、システムコントローラ１５の指示に基づいてホスト機器１００に転送される。
ホスト機器１００とは、例えばコンピュータ装置やＡＶ（Audio-Visual）システム機器などである。
【００１７】
光ディスク５０が記録可能型ディスクである場合、その再生時にＡＤＩＰ情報の処理が行われる。
即ちグルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路４から出力されるプッシュプル信号ＰＰは、ウォブル信号処理回路８においてデジタル化されたウォブルデータとされる。またＰＬＬ処理によりプッシュプル信号に同期したクロックが生成される。
ウォブルデータはＡＤＩＰ復調回路９でＭＳＫ復調、ＳＴＷ復調され、ＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ１０に供給される。
アドレスデコーダ１０は、供給されるデータについてのデコードを行い、アドレス値を得て、システムコントローラ１５に供給する。
【００１８】
サーボ回路１１は、マトリクス回路４からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥから、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。即ちフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、光ピックアップ１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによって光ピックアップ１、マトリクス回路４、サーボ回路１１、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
またサーボ回路１１は、システムコントローラ１５からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
【００１９】
またサーボ回路１１は、システムコントローラ１５からの指示に応じて、フォーカスサーボループにフォーカスバイアスを与える。
またサーボ回路１１は、システムコントローラ１５からの指示に応じて、光ピックアップ１が備える、上述した球面収差補正機構に対して球面収差補正のための駆動信号を供給する。
【００２０】
またサーボ回路１１は、トラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ１５からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッドドライバ１４によりスレッド機構３を駆動する。スレッド機構３には、図示しないが、光ピックアップ１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、光ピックアップ１の所要のスライド移動が行われる。
【００２１】
スピンドルサーボ回路１２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得て、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
或いは、光ディスク５０が再生専用のＲＯＭディスクである場合は、データ信号処理回路６のＰＬＬ処理によって生成される再生クロックが現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成する。
そしてスピンドルサーボ回路１２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルドライバ１３によりスピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１２は、システムコントローラ１５からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００２２】
以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータによって形成されたシステムコントローラ１５により制御される。
システムコントローラ１５は、ホストインターフェース１６を介して与えられるホスト機器１００からのコマンドに応じて各種処理を実行する。
例えば、ホスト機器１００から、光ディスク５０に記録されている或るデータの転送を求めるリードコマンドが供給された場合、システムコントローラ１５は指示されたアドレスを目標（ターゲット）としてシーク動作制御を行う。即ちサーボ回路１１に指示を行って、リードコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとする光ピックアップ１のアクセス動作を実行させる。
その後、その指示されたデータ区間のデータをホスト機器１００に転送するために必要な動作制御を行う。即ち光ディスク５０からの信号読出し、及び読み出し信号についてのデータ信号処理回路６、デコーダ７における再生処理を実行させ、要求されたデータを転送する。
【００２３】
なお、この図１の例では、ホスト機器１００に接続されるディスクドライブ装置として説明したが、本発明の再生装置としては他の機器に接続されない形態もあり得る。その場合は、操作部や表示部が設けられたり、データ入出力のインターフェース部位の構成が、図１とは異なるものとなる。つまり、ユーザの操作に応じて再生が行われるとともに、各種データの入出力のための端子部が形成されればよい。
もちろん再生装置の構成例としては他にも多様に考えられ、例えば記録が可能な構成とすることもできる。すなわち、本発明の再生装置としては、記録再生装置の形態もあり得る。
【００２４】
[エンベロープ検出・補正処理部の内部構成]
図２は、図１に示したエンベロープ検出・補正処理部５の内部構成を示した図である。この図２では、図１に示したデータ信号処理回路６の内部構成についても併せて示している。また、この図２には図１に示したマトリクス回路４も示している。
【００２５】
なお、この図２において、データ信号処理回路６の内部構成については、光ディスク５０としてＢＤが装填された場合に行われるべき処理を実現するための構成のみを抽出して示している。具体的に、光ディスク５０としてＢＤが装填された場合に対応しては、２値化処理として、ＰＲ（Partial Response）等化処理、ビタビ復号（最尤復号）処理が行われる。ここでは、このようなパーシャルレスポンス最尤復号処理（ＰＲＭＬ検出方式：Partial Response Maximum Likelihood検出方式）により２値データ列を得るための構成と、先に述べたＰＬＬ処理を実現するための構成のみを抽出して示している。
なお、光ディスク５０としてＣＤ、ＤＶＤが装填された場合、２値データ列は、所定のスライスレベルを基準とした閾値検出（エッジ検出）により得るようにされる。従って実際には、図示されるＰＬＬ処理部５による位相同期後の信号について、上記ＰＲ等化→ビタビ復号を行うＢＤ対応の２値化処理系と、上記エッジ検出による２値化処理を行うためのＣＤ・ＤＶＤ対応の系とが設けられ、それらへの入力を選択可能に構成されることになる。
【００２６】
図２において、エンベロープ検出・補正処理部５内には、図示するようにしてＡ／Ｄ変換器２０、アシンメトリ補正回路２１、オフセット補正回路２２、ゲイン補正回路（ＡＧＣ）２３、及びエンベロープ検出回路２４が備えられる。
【００２７】
マトリクス回路４からのＲＦ信号は、エンベロープ検出・補正処理部５内におけるＡ／Ｄ変換器２０に入力される。
ここで、本実施の形態のディスクドライブ装置では、ＩＴＲ（Interpolated Timing Recovery）方式によるＰＬＬ処理が行われる関係から、上記Ａ／Ｄ変換器２０によるサンプリングは、チャネルクロック周期よりも早い周期で行われることになる。具体的に、ＩＴＲ方式によるＰＬＬ処理では、データレートよりも多少オーバーサンプリングしたデジタルデータに基づくデジタル演算を行って波形同期（位相同期）を行うようにされる（例えば特開２００５−１０８２９５号公報を参照）。このため、上記Ａ／Ｄ変換器２０に対しては、上記オーバーサンプリングのための比較的高速なクロック（図中オーバーサンプリングクロック）が入力される。Ａ／Ｄ変換器２０は当該オーバーサンプリングクロックに従った周期でＲＦ信号についてのサンプリングを行う。
【００２８】
Ａ／Ｄ変換器２０によってサンプリングされたＲＦ信号は、アシンメトリ補正回路２１に入力され、ここでアシンメトリの補正が行われる。
また、アシンメトリ補正後のＲＦ信号はオフセット補正回路２２においてオフセットが補正され、オフセット補正後のＲＦ信号は、ゲイン補正回路２３にてゲインが補正される。
【００２９】
ゲイン補正回路２３によるゲイン補正後のＲＦ信号は、図示するようにしてデータ信号処理回路６に対して供給されると共に、分岐して、エンベロープ検出回路２４に入力される。
ここで、以降、ゲイン補正回路２３からエンベロープ検出回路２４に入力されるＲＦ信号（サンプリング値）については、「信号ＲＦin」と表記する。
【００３０】
エンベロープ検出回路２４は、後に説明する構成によって、上記信号ＲＦinに基づき、ＲＦ信号のエンベロープ（包絡線）を検出（検波）する。当該エンベロープ検出回路２４によって検出されたエンベロープ値として、正極性側のエンベロープ値ENV_MAX_POS、及び負極性側のエンベロープ値ENV_MAX_NEGは、オフセット補正回路２２、及びゲイン補正回路２３に供給される。
【００３１】
ここで、これらオフセット補正回路２２によるオフセット補正動作、及びゲイン補正回路２３によるゲイン補正動作について説明しておく。
先ず、オフセット補正回路２２は、上記のようにしてエンベロープ検出回路２４から供給されるエンベロープ値ENV_MAX_POS（p1とおく）と、エンベロープ値ENV_MAX_NEG（p0とおく）とに基づき、オフセット誤差Eoを求める。具体的には、
Eo＝(p0＋p1)／２
による演算を行って、エンベロープ値ENV_MAX_POSとエンベロープ値ENV_MAX_NEGとの中点をオフセット誤差Eoとして求める。その上で、このオフセット誤差Eoの値に基づき、ＲＦ信号についてのオフセット補正（調整）を行う。
ここで、オフセット補正回路２２によるオフセット補正は、実際にはフィードバックループを用いて行われるものとなる。この場合、ループフィルタを通して時刻ｋにおけるオフセット補正量Ofst(k)を演算するのが妥当であり、更新ゲインをβとして、次の式によるフィルタ演算を行う。
ofst(k)＝ofst(k-1)＋β・Eo
このようにして求まったオフセット補正量ofst(k)を、時刻ｋにおけるＲＦ信号から減算することでオフセット補正を行う。
【００３２】
また、ゲイン補正回路２３では、エンベロープ検出回路２４から供給されるエンベロープ値ENV_MAX_POS（p1とおく）と、エンベロープ値ENV_MAX_NEG（p0とおく）とに基づき、下記の式で表される演算を行ってゲイン誤差Egを求める。但し、下記式においてGpはエンベロープの目標値である。
Eg＝(p1−p0)／２−Gp
ここで、ゲイン補正回路２３におけるゲイン補正としてもフィードバックループを用いて行われるものとなり、ループフィルタを通して時刻ｋにおけるゲインG(k)を演算する。従って、更新ゲインをγとして、次の式によるフィルタ演算を行う。
G(k)＝G(k-1)−γ・Eg
このG(k)を時刻ｋにおけるＲＦ信号に与えることでゲイン補正を行う。
【００３３】
ここで、説明は前後するが、後に説明するエンベロープ検出回路２４によって検出されるエンベロープ値ENV_MAX_POS、エンベロープ値ENV_MAX_NEGは、従来よりも正確な値を検出することができる。つまり、このことから、上記により説明したオフセット補正回路２２によるオフセット補正、及びゲイン補正回路２３によるゲイン補正が行われることで、従来よりも正確なオフセット補正及びゲイン補正を行うことができる。
【００３４】
続いて、データ信号処理回路６内において、ＰＬＬ処理部２５は、上述のようにしてゲイン補正回路２３から供給されるＲＦ信号に基づき、先に述べたＩＴＲ方式によるＰＬＬ処理を行って位相同期を確立する。
【００３５】
ＰＲ等化回路２６は、上記ＰＬＬ処理部２５より得られる同期確立後のＲＦ信号について、ＰＲ等化処理を行う。
また、ビタビ復号回路２７は、上記ＰＲ等化回路２６によるＰＲ等化後のＲＦ信号を入力し、ビタビ復号処理を行って２値データ列を得る。この２値データ列がデータ信号処理回路６の出力として、図１に示したデコーダ７に供給される。
【００３６】
[実施の形態のエンベロープ検出手法]
図３は、第１の実施の形態としてのエンベロープ検出手法について説明するための図である。なお、この図３において、実線による波形はＲＦ信号波形を示し、波形中における菱形マークは各時刻におけるサンプリング値（信号ＲＦin）を表している。また、図中の黒丸は、逐次更新されるエンベロープ値を表している。
【００３７】
先ず、前提として、本実施の形態では、エンベロープを正極性側と負極性側とでそれぞれ独立して検出するものとしている。但し、正極性側、負極性側も共に、同様の手法に基づく検出が行われる。
具体的に、正極性側のエンベロープ検出について説明すると、この場合は先ず、対象とする時刻（ｋ）のサンプリング値について、１つ前の時刻（ｋ−１）のサンプリング値との差分値を計算し、この差分値の極性に応じてＲＦ信号の値が増加傾向にあるか否かを判定する。具体的には、上記差分値の極性が[＋]であるか否かを判定する。
またこれと共に、対象とする時刻（ｋ）のサンプリング値が、蓄積されている正極性側のエンベロープ値（つまり時刻(ｋ−１)において更新された正極性側の蓄積エンベロープ値）よりも大であるか否かを判定する。
その上で、これらの判定の結果、ＲＦ信号の値が増加傾向にあり且つ上記時刻（ｋ）のサンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大であるとされた場合に、上記正極性側蓄積エンベロープ値に対して、上記時刻（ｋ）のサンプリング値と上記正極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積エンベロープ値を増加させるように、正極性側蓄積エンベロープ値の更新を行う。
一方、上記判定の結果、ＲＦ信号の値が増加傾向にない、又は上記時刻（ｋ）におけるサンプリング値が上記正極性側蓄積エンベロープ値よりも大ではないとされた場合は、上記正極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積エンベロープ値を減少させるようにして正極性側エンベロープ値の更新を行う。
【００３８】
また、負極性側のエンベロープ検出については、対象とする時刻（ｋ）のサンプリング値と１つ前の時刻（ｋ−１）のサンプリング値との差分値の極性に基づき、ＲＦ信号の値が減少傾向にあるか否かを判定する。すなわち、上記差分値の極性が[−]であるか否かを判定する。また、これと共に、対象とする時刻（ｋ）のサンプリング値が、蓄積されている負極性側エンベロープ値よりも小であるか否かを判定する。
そして、これらの判定の結果、ＲＦ信号の値が減少傾向にあり且つ上記時刻（ｋ）のサンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小であるとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に対して、上記時刻（ｋ）のサンプリング値と上記負極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積エンベロープ値を減少させるように、負極性側蓄積エンベロープ値の更新を行う。
また、上記判定の結果、ＲＦ信号の値が減少傾向にない、又は上記時刻（ｋ）におけるサンプリング値が上記負極性側蓄積エンベロープ値よりも小ではないとされた場合は、上記負極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積エンベロープ値を増加させるようにして負極性側エンベロープ値の更新を行う。
【００３９】
このような手法によれば、正極性側のエンベロープ検出、負極性側のエンベロープ検出のそれぞれについて、ＲＦ信号の絶対値が増加傾向にあるときは、サンプリング値と蓄積エンベロープ値との差分に応じた値を与えて上記蓄積エンベロープ値の絶対値を増加させるようにして、蓄積エンベロープ値の更新が行われる。つまり、これにより正極性側・負極性側の双方において、ＲＦ信号の絶対値が増加傾向の場合には、サンプリングされた値に応じた分だけエンベロープ値を追従させることができる。
また、逆にＲＦ信号の絶対値が減少傾向にあるときは、エンベロープ値をサンプリングされた値に応じて追従させずに、蓄積エンベロープ値に比例した値で蓄積エンベロープ値の絶対値を減少させるようにしている。つまり、正極性側・負極性側の双方において、絶対値が減少傾向となる場合には、サンプリングされた値に影響されずに、エンベロープ値を一定の割合で減衰させることができる。
【００４０】
なお確認のために述べておくと、上記のようにしてエンベロープ値をサンプリング値に追従させるにあたって、サンプリング値が蓄積エンベロープ値よりも大、又は小であることを条件としているのは、この条件が無ければ、正極性側、負極性側の双方でエンベロープ値が逆極性側のサンプリング値に追従してしまうからである。
【００４１】
図３は、上記により説明した手法によってエンベロープ検出を行った結果のイメージを示している。
なおこの図において、図中の実線による波形はＲＦ信号波形を表し、波形中の菱形マークは、各時刻で得られる信号ＲＦｉｎ（サンプリング値）を表している。そして、図中の黒丸が、検出されるエンベロープ値を表す。
【００４２】
この図３に示される正極性側エンベロープ値、負極性側エンベロープ値を参照してわかるように、上記手法によれば、実際のＲＦ信号波形を適度に反映したエンベロープの検出を行うことができる。つまり、ＲＦ信号を整流・平滑する従来手法よりも正確なエンベロープ検出を行うことができる。
【００４３】
[エンベロープ検出のための構成]
図４、図５は、上記により説明した第１の実施の形態としてのエンベロープ検出手法を実現するためのエンベロープ検出回路２４の内部構成について示した回路図である。
なお、ここでは図示の都合上、正極性側のエンベロープ値ENV_MAX_POSについて検出する正極性側エンベロープ検出回路（図４）と、負極性側のエンベロープ値ENV_MAX_NEGについて検出する負極性側エンベロープ検出回路（図５）とを別々に示しているが、これらは同じエンベロープ検出回路２４内において、それぞれ信号ＲＦinを入力するようにして設けられるものとなる。
【００４４】
先ずは、図４に示される正極性側エンベロープ検出回路について説明する。
先ず、この正極性側エンベロープ検出回路においては、図中の遅延回路３９Ｐにて、各時刻ごとに更新される正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POSが順次蓄積（保持）されることになる。
【００４５】
図４において、遅延回路３３Ｐ、減算器３４Ｐ、比較回路３５Ｐは、時刻(ｋ)のサンプリング値（信号ＲＦｉｎ）とその１つ前の時刻(ｋ−１)のサンプリング値との差分値の極性が[＋]であるか否かを判定するために設けられる。具体的に、上記遅延回路３３Ｐは、信号ＲＦinを入力し、これを１時刻分遅延して上記減算器３４Ｐに供給する。減算器３４Ｐは、信号ＲＦin（時刻(ｋ)のサンプリング値）を入力し、該信号ＲＦinから上記遅延回路３３Ｐより供給された１時刻前のサンプリング値を減算し、この減算結果を比較器３５Ｐに供給する。
比較器３５Ｐは、上記減算器３４Ｐによる減算結果と入力値＝０とを比較し、上記減算結果が０よりも大であるとされる場合はＨ（High）、０より大でない場合はＬ（Low）による信号出力を行う。
比較器３５Ｐによる出力信号はＡＮＤ回路３６Ｐに入力される。
【００４６】
また、図中の減算器３１Ｐ、比較器３２Ｐは、時刻(ｋ)におけるサンプリング値が、蓄積されている正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POS（時刻（ｋ−１）で更新された正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POS）よりも大であるか否かを判定するために設けられる。
上記減算器３１Ｐは、信号ＲＦinと、遅延回路３９Ｐから出力される正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POSとを入力し、信号ＲＦinから正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POSを減算する。
比較器３２Ｐは、上記減算器３１Ｐによる減算結果と入力値＝０とを比較し、上記減算器３１Ｐによる減算結果が０より大である場合は出力信号をＨ、０よりも大でない場合は出力信号をＬとする。
この比較器３２Ｐによる出力信号もＡＮＤ回路３６Ｐに入力される。
【００４７】
ＡＮＤ回路３６Ｐ、及びスイッチＳＷ−Ｐは、上記比較器３５Ｐの出力信号が表す、時刻(ｋ)のサンプリング値と時刻（ｋ−１）のサンプリング値との差分が正であるか否かの判定結果と、上記比較器３２Ｐの出力信号が表す、正極性側蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSが時刻（ｋ）のサンプリング値よりも大であるか否かの判定結果とに基づき、正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POSの更新動作を切り換えるために設けられる。
ＡＮＤ回路３６Ｐは、上記比較器３５Ｐの出力信号と上記比較器３２Ｐの出力信号とが共にＨである場合は出力信号をＨ、上記比較器３５Ｐの出力信号と上記比較器３２Ｐの出力信号の何れか一方がＨでない場合は出力信号をＬとする。
【００４８】
スイッチＳＷ−Ｐは、端子ｔ１に対し端子ｔ２又は端子ｔ３を択一的に選択可能に構成される。
図示するように、スイッチＳＷ−Ｐの端子ｔ２に対しては、乗算器３７Ｐの乗算結果が入力されるようになっている。この乗算器３７Ｐは、上述した減算器３１Ｐによる減算結果に対して所定の係数α_incを乗算する。このことより、上記端子ｔ２に対しては、時刻（ｋ）におけるサンプリング値と蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSとの差分に応じた（所定係数が乗算された）値が入力されるようになっている。なお確認のために述べておくと、上記係数α_incの極性は[＋]である。
また、スイッチＳＷ−Ｐの端子ｔ３に対しては、乗算器４０Ｐによる乗算結果が入力される。図示するように乗算器４０Ｐは、遅延回路３９Ｐに蓄積された蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSに所定の係数−α_decを乗算する。従って上記端子ｔ３に対しては、蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSに比例した（所定の係数−α_decが乗算された）値が入力されるようになっている。なお、上記係数−α_decの極性は[−]である。
また、スイッチＳＷ−Ｐの端子ｔ１は、加算器３８Ｐの一方の入力側と接続される。これにより上記加算器３８Ｐに対しては、上記端子ｔ２、又は上記端子ｔ３に対する入力値の何れかが端子ｔ１を介して入力されることになる。この加算器３８Ｐは、遅延回路３９Ｐに蓄積された蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSに対して、上記端子ｔ１からの入力値を加算し、その加算結果を遅延回路３９Ｐに出力する。
【００４９】
スイッチＳＷ−Ｐは、ＡＮＤ回路３６Ｐからの出力信号がＨのときは端子ｔ２を選択し、ＡＮＤ回路３６Ｐからの出力信号がＬのときは端子ｔ３を選択するように構成される。これにより、時刻（ｋ）と時刻（ｋ−１）のサンプリング値の差分値の極性が[＋]であってＲＦ信号の値が上昇傾向にあるとされ、且つ時刻（ｋ）のサンプリング値が蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSよりも大である場合には、時刻（ｋ）におけるサンプリング値と蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSとの差分に応じた値が蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSに加算されて、蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSの値を上昇させるようにして更新が行われる。
また、ＲＦ信号の値が上昇傾向ではない、又は時刻（ｋ）のサンプリング値が蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSよりも大ではないとされた場合は、蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSから該蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSに比例した値を減算して、蓄積エンベロープ値ENV_MAX_POSの値を減少させるようにして更新が行われることになる。
【００５０】
図５は、負極性側エンベロープ検出回路の構成を示している。図４に示した回路構成と比較してわかるように、負極性側エンベロープ検出回路の構成は、正極性側エンベロープ検出回路の構成とほぼ同様となる。
但し、負極性側エンベロープ検出回路では、時刻（ｋ）のサンプリング値と時刻（ｋ−１）のサンプリング値との差分値については、その極性が[−]であるか否かの判定を行い、また時刻（ｋ）のサンプリング値が蓄積エンベロープ値よりも小であるか否かを判定するように構成されている必要がある。
このため、図中の比較器３５Ｎとしては、減算器３４Ｎによる減算結果（時刻（ｋ）のサンプリング値と時刻（ｋ−１）のサンプリング値との差分値）が入力値＝０よりも小である場合に出力信号をＨとし、入力値＝０より小でない場合には出力信号をＬとするように構成される。
また、比較器３２Ｎは、減算器３１Ｎによる減算結果（時刻（ｋ）のサンプリング値から負極性側蓄積エンベロープ値ENV_MAX_NEGを減算した値）が入力値＝０よりも小である場合に出力信号をＨとし、入力値＝０より小でないとされた場合に出力信号をＬとするように構成される。
これら以外の各部（減算器３１Ｎ,遅延回路３３Ｎ,減算器３４Ｎ,ＡＮＤ回路３６Ｎ,乗算器３７Ｎ,加算器３８Ｎ,遅延回路３９Ｎ,乗算器４０Ｎ,スイッチＳＷ−Ｎ）については、図４において同一の符号（但しＰとＮは異なる）を付したものと同様となるので説明は省略する。またこの場合、乗算器３７Ｎに入力される係数α_inc、乗算器４０Ｎに入力される係数−α_decについても図４にて説明したものと同値が設定される。
【００５１】
ここで、先の説明では、このような構成によるエンベロープ検出回路２４によって実現されるエンベロープの検出が、ＩＴＲによるＰＬＬ処理の前の（つまり位相同期前の）ＲＦ信号を対象として行われる場合について例示したが、位相同期後のＲＦ信号を対象としたエンベロープ検出を行った場合にも、先に説明したものと同様の効果を得ることができる。
図６は、ＰＬＬ処理部２５による位相同期後のＲＦ信号を対象としてエンベロープ検出を行った場合の正極性側エンベロープ値、負極性側エンベロープ値の検出結果を模式的に示している。なお、この図において、図中白丸は位相同期後のＲＦ信号のサンプリング値を示している。またこの場合も実線波形がＲＦ信号波形を表し、黒丸が検出動作により逐次得られるエンベロープ値を表す。
この図６より、位相同期後のＲＦ信号を対象として第１の実施の形態としてのエンベロープ検出を行った場合としても、正確なエンベロープの検出ができることが分かる。
【００５２】
＜第２の実施の形態＞
[特定パターンについてのエンベロープ検出]
ここで、光ディスク５０に記録される信号のうち、特定長の信号パターンの波形のエンベロープを検出することを考える。
このように特定パターンの波形のエンベロープを検出するとしたときには、ＲＦ信号中の特定パターンを検出することが考えられる。この際、エンベロープ検出は、先に説明したようにしてデータ信号処理回路６により２値データ列が得られる前段階で行うようにされるが、このように２値データ列が得られる前段において、特定パターンを検出するといったときは、所定の閾値でＲＦ信号をスライスして（例えばゼロクロス検出）エッジ検出を行い、ＲＦ信号の２値化を行うようにされる。
【００５３】
しかしながら、このような閾値検出による２値化処理では、閾値（例えば０）付近の信号がノイズに埋もれて誤検出が生じやすい。特に、ＢＤのような高密度ディスクにおいて、最短パターンを検出するとしたときには、振幅がノイズに埋もれやすく、正確な検出を行うことは非常に困難となる。
このことから、２値データ列取得の前段で特定パターンを検出することが非常に困難とされており、従って特定パターンについてのエンベロープ検出を行うことが困難とされている。
【００５４】
そこで、第２の実施の形態では、２値データ列取得の前段において、ＲＦ信号中の特定パターンの識別が可能となるようにし、これによって最短パターンについてのエンベロープ検出が可能となるようにする。
【００５５】
図７は、第２の実施の形態としての特定パターンの検出手法について説明するための図である。図中の実線による波形はＲＦ信号波形を表し、菱形マークは各サンプリング値を表す。なお、この図では参考として、位相同期後のサンプリング点を白丸によって示している。
また、以下の説明では、特定パターンとして、ＢＤの場合の最短パターンとなる２Ｔパターンを検出対象とする手法について説明する。
【００５６】
ここで、特定パターンのエンベロープを検出するためには、特定パターンの波形のピーク値が取得できればよい。以下で説明する手法は、このような特定パターンについての波形のピーク値を検出するための手法となる。
【００５７】
図７において、図中のＲＦ信号波形としては、２Ｔパターンが５つ連続した場合の波形を示している。すなわち、データとして「…0011001100…」が記録された区間のＲＦ信号波形を示している。
【００５８】
ここで、先ず前提として本例では、２Ｔパターンが少なくとも２以上連続している部分でのピーク値を取得することを目的とする。すなわち、２Ｔパターンが単発で得られた場合は、その波形のピーク値は取得しないものとしている。
ＢＤのような高密度ディスクにおいては、２Ｔパターンが単発で得られた場合、これと隣接するパターンが比較的長いパターンであるときには、当該長いパターンの波形によって２Ｔパターンの波形に歪みが生じる。具体的には、長いパターン側に引き寄せられるようにして２Ｔパターンの波形に歪みが生じる。
当然のことながら、このように波形に歪みが生じた場合、ピーク値としても本来の値とは異なる値となってしまう。そこで、このような歪みが生じた場合のピーク値によってエンベロープ値の検出精度が悪化してしまうことの防止を図るため、本例では、少なくとも２以上連続した２Ｔ区間におけるピーク値を取得するものとしている。
【００５９】
具体的な手法について説明していくと、先ず、第２の実施の形態では、このようなピーク値の取得のための手法として、各時刻におけるサンプリング値の差分値の極性に着目した手法を採る。
図７に示されるようにして、２Ｔパターンが複数連続する場合には、各時刻間のサンプリング値の差分値の極性は、図中に「…−−＋＋−−＋＋…」と示すように、２区間ごとに正／負が異なるようなパターンが得られる。このことから、各時刻間のサンプリング値の差分値を求め、その極性の出現パターンとして、このような２Ｔパターンが２以上連続する区間であるときのパターンが得られているか否かを判別した結果に基づき、対象とする時刻のサンプリング値が、２Ｔパターンの２以上連続する部分のピーク値であるか否かを判定する。
【００６０】
具体的に、正極性側のピーク値を検出するとしたときは、図中の正極性側ピーク値2T_POS_PKとして示すような、正→負の２Ｔ波形が連続して得られたとき（つまりデータパターンとしては「００１１」）の、正極性側のピーク値を取得すればよい。また、負極性側のピーク値を検出するとしたときは、図中の負極性側ピーク値2T_NEG_PKとして示すような、負→正の２Ｔ波形が連続して得られたとき（「１１００」）の負極性側のピーク値を取得すればよい。
【００６１】
ここで、対象とする時刻（時刻(ｋｎ)とおく）のサンプリング値が、正負交互に得られる連続した２Ｔ波形内のピーク値であるか否かを判定するにあたっては、図中の区間Ａ_POS、区間Ａ_NEGと示すような、対象とする時刻（ｋｎ）を基準とした７時刻分の差分値の出現パターンを確認すればよい。具体的には、時刻（ｋｎ）を含めて、該時刻（ｋｎ）よりも時間的に前となる時刻（ｋｎ−２）、時刻（ｋｎ−１）と、時刻（ｋｎ）よりも時間的に後となる時刻（ｋｎ＋１）、時刻（ｋｎ＋２）、時刻（ｋｎ＋３）、時刻（ｋｎ＋４）の計７時刻のサンプリング値について、各時刻間の差分値の極性の出現パターンを確認すればよい。
【００６２】
このとき、最も新しい側となる時刻（ｋｎ＋４）から最も古い側となる時刻（ｋｎ−２）への順で各時刻のサンプリング値をy(0),y(-1)，y(-2)，y(-3)，y(-4)，y(-5)，y(-6)とおき、各時刻間のサンプリング値の差分値を[y(0)−y(-1)]＝ｘ(0)、[y(-1)−y(-2)]＝x(-1)、[y(-2)−y(-3)]＝x(-2)、[y(-3)−y(-4)]＝x(-3)、[y(-4)−y(-5)]＝x(-4)、[y(-5)−y(-6)]＝x(-5)とおく。
図からも分かるように、x(0),x(-1)，x(-2)，x(-3)，x(-4)，x(-5)の順の極性の出現パターンが、[＋＋−−＋＋]であれば、時刻（ｋｎ）におけるサンプリング値が２Ｔパターンの２以上連続する区間内の正極性側のピーク値2T_POS_PKであると判定できる。
また、負極性側のピーク値2T_NEG_PKについては、差分値x(0),x(-1)，x(-2)，x(-3)，x(-4)，x(-5)の極性の出現パターンが、[−−＋＋−−]であるか否かを判別すればよい。
【００６３】
ここで、確認のために述べておくと、上記のような正極性側、負極性側についての判定動作は、それぞれ同じ７時刻分の区間を対象として、同時進行で並行して行われるものである。すなわち、或る時刻（ｋｎ）を基準とした７時刻分の区間で得られた各時刻間のサンプリング値の差分値x(0),x(-1)，x(-2)，x(-3)，x(-4)，x(-5)について、その極性の出現パターンが[−−＋＋−−]であるか否か、[−−＋＋−−]であるか否かの各判定を並行して行い、上記[−−＋＋−−]であれば対象とする時刻（ｋｎ）のサンプリング値が正極性側ピーク値2T_POS_PKであるとし、上記[−−＋＋−−]であれば時刻（ｋｎ）のサンプリング値が負極性側ピーク値2T_NEG_PKであると判定することになる。
【００６４】
上記説明からも理解されるように、第２の実施の形態では、特定パターンについてのピーク値を検出するにあたり、従来の閾値検出による２値化処理は行わずに、特定パターンが得られるときのＲＦ信号の局所的な波形パターンを見るようにしている。具体的には、実際に得られる波形パターンが、予め想定された波形パターンと合致しているか否かを判定した結果に基づき、ピーク値の検出を行うようにしている。
このように波形パターンの合致について判定する手法としたことで、検出対象とするパターンの波形がゼロクロス付近でノイズに埋もれてしまうような場合にも、正確に特定パターンのピーク値を検出することができる。
【００６５】
また、このように波形パターンの合致について判定する手法とすることで、図７に示されているように、位相が非同期の状態においても特定パターンのピーク値検出を正確に行うことができる。
ここで、図７においては白丸によって位相同期後のサンプリング値も示しているが、このような位相同期後のサンプリング値であれば、従来のゼロクロス検出は比較的正確に行うことができる。しかしながら、菱形マークにより示すＩＴＲ前のサンプリング値については（この場合は位相が５０％程度ずれている場合を例示している）、各ピーク値の間のサンプリング値がゼロレベル付近の値となる可能性が高く、その場合にはノイズ等の影響で正しいゼロクロス点の検出を行うことができないものとなってしまう。
これに対し、上記のように波形パターンの合致について判定する第２の実施の形態の手法によれば、位相同期前のサンプリング値を用いても正確に特定パターンのピーク値検出を行うことができる。
【００６６】
[２Ｔエンベロープ検出回路の構成]
続いては、上記により説明した手法により２Ｔパターンのピーク値を検出し、その検出結果に基づき２Ｔパターンのエンベロープを検出する２Ｔエンベロープ検出回路の回路構成について、次の図８の回路図を参照して説明する。
【００６７】
なお、第２の実施の形態において、ディスクドライブ装置の全体構成は、先の図１に示したものと同様となる。第２の実施の形態のディスクドライブ装置では、図２に示したエンベロープ検出回路２４内に、先の図４、図５に示した正極性側エンベロープ検出回路、負極性側エンベロープ検出回路と共に、この図８に示す２Ｔエンベロープ検出回路が設けられることになる。すなわち、第２の実施の形態のディスクドライブ装置では、図４、図５に示した正極性側エンベロープ検出回路、負極性側エンベロープ検出回路によってＲＦ信号波形全体を対象としたエンベロープ（最大値側エンベロープと最小値側エンベロープ）を検出すると共に、この図８に示される２Ｔエンベロープ検出回路によって、２Ｔパターンについてのエンベロープも検出するように構成される。
【００６８】
図８において、先ず２Ｔエンベロープ検出回路においては、先に説明した手法による２Ｔパターンについての正極性側ピーク値2T_POS_PK、負極性側ピーク値2T_NEG_PKを検出するための構成が設けられる。具体的には、減算器４１、遅延回路４２及び遅延回路４３−１,４３−２,４３−３,４３−４,４３−５による計６つの遅延回路、及び判定回路４４である。
【００６９】
上記遅延回路４２に対しては信号ＲＦinが入力され、該遅延回路４２によって１時刻遅延された信号ＲＦinが、上記減算器４１に供給される。減算器４１は、信号ＲＦin（先に説明したサンプリング値y(0)に相当）と、上記遅延回路４２から供給される１時刻遅延された信号ＲＦin（サンプリング値y(-1)に相当）とを入力し、サンプリング値ｙ(0)からサンプリング値y(-1)を減算する。この減算器４１による減算結果は、先に説明した差分値x(0)に相当する。減算器４１により得られた差分値x(0)は、図のように遅延回路４３−１と共に、判定回路４４に入力される。
【００７０】
遅延回路４３−１,４３−２,４３−３,４３−４,４３−５としても、入力値を１時刻分遅延して出力する。つまり、このことから遅延回路４３−１の出力は差分値x(-1)、遅延回路４３−２の出力は差分値x(-2)、遅延回路４３−３の出力は差分値x(-3)、遅延回路４３−４の出力は差分値x(-4)、遅延回路４３−５の出力は差分値x(-5)に相当するものとなる。
これら遅延回路４３−１〜４３−５より出力される差分値x(-1)〜x(-5)としても上記判定回路４４に入力される。
【００７１】
判定回路４４は、上記のようにして入力される差分値x(0)〜x(-5)について、それらの値の極性の出現パターンが先に説明した[−−＋＋−−]であるか否か、[−−＋＋−−]であるか否かの各判定を行う。
具体的には、
[x(0)＞０、x(-1)＞０、x(-2)＜０、x(-3)＜０、x(-4)＞０、x(-5)＞０]
による条件が満たされているか否かについての正極性側の判定と、
[x(0)＜０、x(-1)＜０、x(-2)＞０、x(-3)＞０、x(-4)＜０、x(-5)＜０]
による条件が満たされているか否かについての負極性側の判定とを行う。
そして、上記正極性側の判定により上記条件が満たされたとした場合は、正極性側のピーク値2T_POS_PKが検出された旨を表す正極性側ピーク検出信号2T_POS_PK_detを出力する。つまり、正極性側ピーク検出信号2T_POS_PK_detをＨとする。一方、上記負極性側の判定により上記条件が満たされたとした場合は、負極性側のピーク値2T_NEG_PKが検出された旨を表す負極性側ピーク検出信号2T_NEG_PK_detを出力する。すなわち、負極性側ピーク検出信号2T_NEG_PK_detをＨとする。
【００７２】
また、２Ｔエンベロープ検出回路には、ピーク値検出にあたって対象とする時刻(ｋｎ)のサンプリング値（つまり先に説明したy(-4)）を、正極性側ピーク値2T_POS_PK、又は負極性側ピーク値2T_NEG_PKとして出力するための構成として、計４つの遅延回路４５−１,４５−２,４５−３,４５−４、及び比較器４６Ｐ、ＡＮＤ回路４７Ｐ、比較器４６Ｎ、ＡＮＤ回路４７Ｎが設けられる。
【００７３】
ここで、この２Ｔエンベロープ検出回路においては、図４、図５に示した正極性側エンベロープ検出回路、負極性側エンベロープ検出回路のうち、遅延回路３３Ｐ,３３Ｎ、減算器３４Ｐ,３４Ｎ、及び比較器３５Ｐ,３５Ｎを除いた各部が備えられている。
つまり、この２Ｔエンベロープ検出回路としては、上記のようなピーク検出の結果に応じて出力される正極性側ピーク値2T_POS_PK、負極性側ピーク値2T_NRG_PKを入力として、それぞれ正極性側と負極性側とについて、先の第１の実施の形態で説明した手法と同様のエンベロープ値更新動作を行うようにされている。
なお、２Ｔエンベロープ検出回路に備えられる、上記遅延回路３３Ｐ,３３Ｎ、減算器３４Ｐ,３４Ｎ、及び比較器３５Ｐ,３５Ｎを除いた正極性側エンベロープ検出回路、負極性側エンベロープ検出回路の構成は、先の図４，図５に示したものと同様となることから、同様の動作を行う部分については同一符号を付して改めての説明は省略する。
【００７４】
遅延回路４５−１,４５−２,４５−３,４５−４は、入力される信号ＲＦin（つまりy(0)）を４時刻分遅延させる遅延処理部として機能する。つまり、これによって対象とする時刻（ｋｎ）のサンプリング値（y(-4)）を出力する。遅延回路４５−４から出力されるサンプリング値（y(-4)）は、減算器３１Ｐ、減算器３１Ｎ、比較器４６Ｐ、比較器４６Ｎにそれぞれ入力される。
【００７５】
減算器３１Ｐは、上記のようにして入力されるサンプリング値（y(-4)）から、遅延回路３９Ｐより出力される正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSを減算し、その減算結果を比較器３２Ｐに出力する。すなわち、サンプリング値（y(-4)）が、蓄積される正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSよりも大であるか否かを示す信号を比較器３２Ｐに出力する。
また、減算器３１Ｎは、入力されるサンプリング値（y(-4)）から、遅延回路３９Ｎより出力される負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGを減算し、その減算結果を比較器３２Ｎに出力する。つまり、サンプリング値（y(-4)）が、蓄積される負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGよりも小であるか否かを示す信号を比較器３２Ｐに出力する。
【００７６】
ここで、第２の実施の形態では、エンベロープ値を検出されたピーク値に追従させるようにして増加（又は減少）させるにあたっては、上記のようにピーク値が蓄積エンベロープ値よりも大（又は小）となるという条件と、さらに、ピーク値が所定値よりも大きい（又は小さい）値であるという条件も付加するものとしている。
具体的に、正極性側については、検出された正極性側ピーク値2T_POS_PKが０より大であることを条件として付加する。また、負極性側については、検出された負極性側ピーク値2T_NEG_PKが０より小であることを条件として加える。
【００７７】
このための構成として、上述した比較器４６Ｐ、ＡＮＤ回路４７Ｐ、及び比較器４６Ｎ、ＡＮＤ回路４７Ｎを備えている。
先ず、正極性側から説明すると、比較器４６Ｐは、上述のようにして入力されるサンプリング値（y(-4)）と、入力される所定値＝０とを比較し、サンプリング値（y(-4)）が上記所定値＝０より大である場合は出力信号をＨとし、またサンプリング値（y(-4)）が上記所定値＝０より大ではないとした場合は出力信号をＬとする。
【００７８】
ＡＮＤ回路４７Ｐは、先に説明した判定回路４４が出力する正極性側ピーク検出信号2T_POS_PK_detと、上記比較器４６Ｐの出力信号とを入力し、これらが共にＨである場合に、出力信号をＨとする。一方、何れか一方の入力信号がＨでない場合には、出力信号をＬとする。
このＡＮＤ回路４７Ｐの出力信号のＨ／Ｌによっては、正極性側ピーク値2T_POS_PKが検出され且つサンプリング値（y(-4)）が０より大であるか否かが表されるものとなる。すなわち、検出された正極性側ピーク値2T_POS_PKが０より大であるか否かを表すものとなる。
ＡＮＤ回路４７Ｐによる出力信号は、ＡＮＤ回路３６Ｐに対して入力される。
【００７９】
このような構成により、検出された正極性側ピーク値2T_POS_PKの値が正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSよりも大であり、且つこの正極性側ピーク値2T_POS_PKの値が０より大である場合には、正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSに対して、[サンプリング値（y(-4)）−２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POS]に係数α_incを乗じた値が加算されて、正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSの値が更新される。すなわち、正極性側蓄積エンベロープ値に対して、サンプリング値（y(-4)）と上記正極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記正極性側蓄積エンベロープ値を増加させるように、正極性側蓄積エンベロープ値の更新が行われる。
一方、検出された正極性側ピーク値2T_POS_PKの値が正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSよりも大ではない、又は正極性側ピーク値2T_POS_PKの値が０より大ではない場合には、正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSに対して、該２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSに係数−α_incを乗じた値が加算されて、正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSの値が更新される。つまり、正極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該正極性側蓄積エンベロープ値を減少させるようにして正極性側エンベロープ値の更新が行われる。
【００８０】
また、負極性側について、比較器４６Ｎは、入力されるサンプリング値（y(-4)）と所定値＝０とを比較し、サンプリング値（y(-4)）が上記所定値＝０より小である場合は出力信号をＨとし、サンプリング値（y(-4)）が上記所定値＝０より小ではないとした場合は出力信号をＬとする。
【００８１】
ＡＮＤ回路４７Ｎは、判定回路４４が出力する負極性側ピーク検出信号2T_NEG_PK_detと、上記比較器４６Ｎの出力信号とを入力し、これらが共にＨである場合に出力信号をＨとする。一方、何れか一方の入力信号がＨでない場合には出力信号をＬとする。
つまり、このＡＮＤ回路４７Ｎの出力信号のＨ／Ｌは、負極性側ピーク値2T_NEG_PKが検出され且つサンプリング値（y(-4)）が０より小であるか否か、すなわち検出された負極性側ピーク値2T_NEG_PKが０より小であるか否かを表すものとなる。
ＡＮＤ回路４７Ｎによる出力信号は、ＡＮＤ回路３６Ｎに対して入力される。
【００８２】
このような負極性側の構成により、検出された負極性側ピーク値2T_NEG_PKの値が負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGよりも小であり、且つ負極性側ピーク値2T_NEG_PKの値が０より小である場合には、負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGに対して、[サンプリング値（y(-4)）−２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEG]に係数α_incを乗じた値が加算されて、負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGの値が更新される。すなわち、負極性側蓄積エンベロープ値に対して、サンプリング値（y(-4)）と上記負極性側蓄積エンベロープ値との差分値に応じた値を与えて上記負極性側蓄積エンベロープ値を減少させるように、負極性側蓄積エンベロープ値の更新が行われる。
一方、検出された負極性側ピーク値2T_NEG_PKの値が負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGよりも小ではない、又は負極性側ピーク値2T_NEG_PKの値が０より小ではない場合には、負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGに対して、該２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGに係数−α_incを乗じた値が加算されて、負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGの値が更新される。つまり、負極性側蓄積エンベロープ値に比例した値で該負極性側蓄積エンベロープ値を増加させるようにして負極性側エンベロープ値の更新が行われる。
【００８３】
図９は、上記により説明した２Ｔエンベロープ検出回路による２Ｔエンベロープの検出結果のイメージを示している。なお、この図９においても実線による波形がＲＦ信号波形を示し、菱形マークが信号ＲＦin（サンプリング値）を表す。そしてこの図では、図中の黒丸が２Ｔエンベロープの検出値を表す。
この図より、図８に示した２Ｔエンベロープ検出回路によれば、２Ｔパターンについてのエンベロープを正確に検出できていることが分かる。
また、この図９に示されているように、本例の２Ｔエンベロープ検出回路によれば、位相同期前のＲＦ信号を対象とした場合にも、２Ｔエンベロープを正確に検出することができる。
【００８４】
また、図１０は、参考として、位相同期後のＲＦ信号について２Ｔエンベロープの検出を行った結果のイメージを示す。なお図１０では白丸が位相同期後のＲＦ信号のサンプリング値を示す。
この図１０より、本例の２Ｔエンベロープ検出によれば、位相同期後のＲＦ信号についても正確な２Ｔエンベロープ検出ができることが理解される。
【００８５】
図１１は、実際の実験結果として、第２の実施の形態のディスクドライブ装置が備えるエンベロープ検出回路２４によるエンベロープ検出結果を示している。
なお、確認のために述べておくと、第２の実施の形態のエンベロープ検出回路２４は、先の図４，図５に示した正極性側エンベロープ検出回路及び負極性側エンベロープ検出回路と、図８に示した２Ｔエンベロープ検出回路の双方を備えて、正極性側（最大値側）エンベロープENV_MAX_POSと負極性側（最小値側）エンベロープENV_MAX_NEG、及び正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSと負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGを検出するものである。
【００８６】
図１１において、図中のプロット点は信号ＲＦinを表し、太実線は正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POSの検出結果を、太破線は負極性側エンベロープ値ENV_MAX_NEGの検出結果を表す。また、細実線は正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POSの検出結果を、また細破線は負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGの検出結果を表している。
この場合、ＲＦ信号のオーバーサンプリングはデータレートに対し１０５％で行った。またこの場合のＲＦ信号には最短で２Ｔパターン、最長で９Ｔパターンが含まれている。
【００８７】
この場合のＲＦ信号には、比較的大きなアシンメトリが生じており、２Ｔパターンの波形の中心は、０レベルよりも小さな値となっている。このような大きなアシンメトリの生じたＲＦ信号についてゼロクロス検出による２値化処理を行うと、特に２Ｔパターンについて正しい検出を行うことができなくなってしまうが、この図の実験結果が示すように、第２の実施の形態のエンベロープ検出回路２４によれば、２Ｔパターン、９Ｔパターンのエンベロープを正確に抽出できていることが理解される。
このようにして第２の実施の形態によれば、非同期でアシンメトリの大きな波形に対しても、エンベロープを正確に検出できる。また、アシンメトリだけでなく、比較的大きな歪みが生じる波形や、或いはＳＮＲが低い波形に対してもエンベロープ検出を適正に行うことができる。
【００８８】
＜第３の実施の形態＞
[アシンメトリ補正]
ところで、実施の形態のディスクドライブ装置では、先の図２において説明したようにして、ＲＦ信号についてアシンメトリ補正を行うようにされているが、第３の実施の形態では、このようなアシンメトリ補正を、第２の実施の形態のエンベロープ検出回路２４で検出される最大・最小エンベロープと２Ｔエンベロープの値を用いて行う手法を提案する。
【００８９】
先ずは確認のために、次の図１２を参照してアシンメトリについて説明しておく。
なお、この図１２ではＲＦ信号のアイパターンを例示している。
この図１２に示されるように、アシンメトリは、それぞれパターン長の異なる波形に生じる、正極性側のエンベロープ、負極性側のエンベロープの非対称性、すなわち波形の上下非対称性を指すものである。
このような非対称性を定量的に表す値としてのアシンメトリＡＳは、図中に示されるように正極性側エンベロープ（最大値側エンベロープ）をp1、負極性側エンベロープ（最小値側エンベロープ）をp0、最短パターン（この場合は２Ｔパターン）の正極性側エンベロープをq1、負極性側エンベロープをq0とした場合、以下の[式１]で定義される。
【数１】
2009146514.tif 000003
【００９０】
このようにして定義されるアシンメトリについて、本実施の形態では、その補正を次の図１３に示すような補正特性に基づき行うものとする。
図１３は、アシンメトリ補正器（図２に示したアシンメトリ補正回路２１）に入力されるＲＦ信号の値をｙ軸、アシンメトリ補正器から出力される補正後のＲＦ信号の値をｘ軸においたときの、アシンメトリ補正特性の一例を示した図である。
【００９１】
本実施の形態では、このようなアシンメトリ補正特性を所要の関数ｆ(ｘ)により定義する。
ここで、この図に示される補正特性（ｆ(ｘ)）によると、補正器への入力ｙがp1（最大値側エンベロープ）のときは、補正器の出力ｘがｒに補正されるようにすればよいことになる。また、補正器への入力ｙがq1（２Ｔパターンの正極性側エンベロープ）であるときは、補正器の出力ｘがｓとされるようにすればよい。同様にして、補正器への入力ｙがq2（２Ｔパターンの負極性側エンベロープ）であるときは補正器の出力ｘを−ｓ、また補正器への入力ｙがp2（最小値側エンベロープ）のときは補正器の出力ｘを−ｒとすればよい。
【００９２】
ここで、アシンメトリは、ディスクドライブ装置ごと（光ピックアップ１ごと）に異なる特性で生じることが予想されるので、ドライブ装置ごとにその補正特性を設定できることが好ましい。このために本例では、実際にＲＦ信号の値を検出して得られる実測値に基づき、補正特性としての関数ｆ(ｘ)を近似により求める。
【００９３】
図１３において、座標点（ｘ、ｙ）としては、（p1,ｒ）、（q1,ｓ）、（q0,−ｓ）、（p0,−ｒ）の４点を示しているが、これら４点の全てを用いるとした場合には、三次関数による近似が可能となる。
しかしながら、実際の理想的な補正特性としては、図１３に示されているように二次関数に近い形となる。また、実際の近似による関数導出のための処理負担を考慮しても、関数の次数は低い方が好ましいといえる。
このため本例では、関数ｆ(ｘ)を二次関数（ｙ＝ａｘ2＋ｂｘ＋ｃ）で近似する手法を採る。
【００９４】
このように関数ｆ(ｘ)を二次関数とする場合、近似に必要な座標点は少なくとも３点となる。
ここで、図１３に示される４つの座標点について、それぞれ入力ｙの値となる最大値側エンベロープp1、最小値側エンベロープp0、２Ｔパターンの正極性側エンベロープq1、負極性側エンベロープq0については、エンベロープ検出回路２４によるエンベロープ検出を行うことで求められる値である。すなわち、これらの値は関数ｆ(ｘ)を導出する上での実測値となり、既知の値とできる。
また、入力ｙ＝p1のときの出力ｘの値＝ｒと、入力ｙ＝p0のときの出力ｘの値＝−ｒの値としても、既知の値とすることができる。つまり、これらｒ,−ｒの値は、ＲＦ信号の最大値、最小値として想定される値が設定されればよいものであって、既知の値とできる。
【００９５】
但し、入力ｙ＝q1のときの出力ｘの値＝ｓと、入力ｙ＝q0のときの出力ｘの値＝−ｓについては、これらを予め定義しておくことはできない。つまり、順当に考えると、既知の値とできるのは（p1,ｒ）、（p0,−ｒ）の２つの座標点のみとなってしまうことになる。
【００９６】
そこで本例では、二次関数によるｆ(ｘ)の導出にあたり必要となる残りの１点の座標を、次のようにして求めるものとしている。
上記のようにして、２Ｔパターンの正極性側エンベロープq1、負極性側エンベロープq0は共に既知の値とできるので、これら２値を用いて３点目の座標を定義する。具体的に、この場合は最短パターンとなる２Ｔパターンのアシンメトリによる歪みの影響は非常に小さいとの仮定の下で、２Ｔエンベロープの中点を０レベルに補正することを条件として定める。すなわち、このような条件を定めることで、３つ目の座標点
{(q1＋q0)／２,０｝
が定まる。
ここで、該３点目の座標点について、ｙの値が０であることから理解されるように、該座標点における入力ｘの値(q1＋q0)／２は、二次関数によるｆ(ｘ)における「ｃ」の値に相当するものとなる。
【００９７】
このようにして二次関数ｆ(ｘ)における「ｃ」の値が求まる。
残りの「ａ」「ｂ」の値については、次のようにして求める。
先ず、座標点（p1,ｒ）、（p0,−ｒ）を代入して、次の[式２][式３]とおく。
【数２】
2009146514.tif 000004
【数３】
2009146514.tif 000005
[式２]＋[式３]、及びｃ＝(q1＋q0)／２より、次のようにしてａの値が求まる。
【数４】
2009146514.tif 000006
また、[式２]−[式３]より、次のようにｂの値が求まる。
【数５】
2009146514.tif 000007
【００９８】
このようにして、二次関数ｆ(ｘ)のａ，ｂ，ｃの値が計算により求まる。あとは、該二次関数ｆ(ｘ)を用いて、入力ｙの値から出力ｘを求めればよい。具体的には、ｙの値としてＲＦ信号のサンプリング値を代入してこれを解くことで、出力ｘの値を求める。
【００９９】
図１４は、上記により説明した第３の実施の形態としてのアシンメトリ補正を行うための構成について説明するための図である。
この図１４では、第３の実施の形態のディスクドライブ装置の内部構成のうち、エンベロープ検出・補正処理部５内に備えられるＡ／Ｄ変換器２０、アシンメトリ補正回路２１、エンベロープ検出回路２４と、システムコントローラ１５のみを抽出して示している。なお、第３の実施の形態のディスクドライブ装置の他部分の構成については先の図１、図２にて説明したものと同様となるので説明は省略する。
【０１００】
先ず、エンベロープ検出回路２４は、先の第２の実施の形態で説明したものであり、信号ＲＦinに基づきＲＦ信号の正極性側エンベロープ値ENV_MAX_POS、負極性側エンベロープ値ENV_MAX_NEG、及び正極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_POS、負極性側２Ｔエンベロープ値ENV_2T_NEGをそれぞれ検出する。
エンベロープ検出回路２４にて検出された各エンベロープ値ENVは、この場合はシステムコントローラ１５に対しても供給される。
【０１０１】
システムコントローラ１５は、エンベロープ検出回路２４から入力される各エンベロープ値ENVに基づき、アシンメトリ補正回路２１に設定されるべき関数ｆ(ｘ)を計算により求める。
この場合のシステムコントローラ１５には、例えば内部のメモリにｒ、−ｒの値が予め設定されており、該設定されたｒ，−ｒの値と、上記各エンベロープ値ENVとしてのp1、p0、q1、q0の値とに基づき、先に説明した各計算を行って関数ｆ(ｘ)のａ，ｂ，ｃの値を求める。具体的には、先に説明した(q1＋q0)／２による計算を行ってｃの値を求めると共に、先の[式４][式５]に示した計算を行うことで、ａ，ｂの値を求める。
システムコントローラ１５は、これらａ，ｂ，ｃの値をアシンメトリ補正回路２１に設定する。
【０１０２】
アシンメトリ補正回路２１は、Ａ／Ｄ変換器２０を介して入力されるＲＦ信号のサンプリング値を入力ｙの値として入力し、上記システムコントローラ１５によって設定されたａ，ｂ，ｃの値で定まる二次関数ｆ(ｘ)に基づき上記入力ｙの値から出力ｘの値を計算し、その値を出力する。
先の図２において説明したように、アシンメトリ補正回路２１による補正出力はオフセット補正回路２２に対して供給される。
【０１０３】
このような第３の実施の形態としてのアシンメトリ補正によれば、実測した各エンベロープ値EVNに基づきディスクドライブ装置ごとに適応的にアシンメトリ補正を行うことができる。この点で、従来よりも正確なアシンメトリ補正を行うことができる。
また、検出される各エンベロープ値ENVとしても正確な値が検出されるので、この点においてもより正確なアシンメトリ補正を行うことができる。
【０１０４】
＜変形例＞
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでで説明してきた具体例に限定されるべきものではない。
例えば、先の第２の実施の形態では、特定パターンとして、２Ｔパターンを検出する場合のみを例示したが、以下で説明するようにして３Ｔパターンについての検出を行うこともできる。
【０１０５】
図１５は、３Ｔパターンの検出手法について説明するための図として、ＲＦ信号波形（実線による波形）と、信号ＲＦin（菱形マーク）とを示している。またこの図では位相同期後のＲＦ信号のサンプリング値（白丸）も併せて示している。
先ず、この場合も先の第２の実施の形態の場合と同様の主旨から、３Ｔパターンの波形が少なくとも２以上連続する区間でのピーク値を検出するものとする。具体的に、正極性側のピーク値については、例えば図中の正極性側ピーク値3T_POS_PKと示すように、負極性側に凸となる３Ｔ波形が得られた後に正極性側に凸となる３Ｔ波形が得られた部分でのピーク値を検出し、また、負極性側のピーク値については、図中の負極性側ピーク値3T_NEG_PKと示すように正極性側に凸となる３Ｔ波形が得られた後に負極性側に凸となる３Ｔ波形が得られた部分でのピーク値を検出する。
【０１０６】
対象とする時刻（ｋｎ）でのサンプリング値が正極性側ピーク値3T_POS_PKとなっている場合には、図示するようにして該時刻（ｋｎ）を基準として（ｋｎ−３）〜（ｋｎ＋６）までの１０時刻分の区間（図中Ａ_POS）において、各時刻間のサンプリング値の差分値の極性出現パターンが「＋＋＋−−−＋＋＋」となる。
また、対象とする時刻（ｋｎ）でのサンプリング値が負極性側ピーク値3T_NEG_PKとなっている場合には、該時刻（ｋｎ）を基準として（ｋｎ−３）〜（ｋｎ＋６）までの１０時刻分の区間（図中Ａ_NEG）において、各時刻間のサンプリング値の差分値の極性出現パターンが「−−−＋＋＋−−−」となる。
従ってこの場合は、最も新しい側となる時刻（ｋｎ＋６）から最も古い側となる時刻（ｋｎ−３）への順で各時刻のサンプリング値をy(0),y(-1)，y(-2)，y(-3)，y(-4)，y(-5)，y(-6)，y(-7)，y(-8),y(-9)とおき、各時刻間のサンプリング値の差分値を[y(0)−y(-1)]＝ｘ(0)、[y(-1)−y(-2)]＝x(-1)、[y(-2)−y(-3)]＝x(-2)、[y(-3)−y(-4)]＝x(-3)、[y(-4)−y(-5)]＝x(-4)、[y(-5)−y(-6)]＝x(-5)、[y(-6)−y(-7)]＝x(-6)、[y(-7)−y(-8)]＝x(-7)、[y(-8)−y(-9)]＝x(-8)とおいたとき、x(0),x(-1)，x(-2)，x(-3)，x(-4)，x(-5)，x(-6)，x(-7),x(-8)の順の極性の出現パターンが[＋＋＋−−−＋＋＋]であるか否かを判別することで、時刻（ｋｎ）におけるサンプリング値が３Ｔパターンの２以上連続する区間内の正極性側のピーク値3T_POS_PKであるか否かを判定し、また、差分値x(0),x(-1)，x(-2)，x(-3)，x(-4)，x(-5)，x(-6)，x(-7)，x(-8)の極性の出現パターンが[−−−＋＋＋−−−]であるか否かを判別することで、時刻（ｋｎ）におけるサンプリング値が３Ｔパターンの２以上連続する区間内の負極性側のピーク値3T_NEG_PKであるか否かを判定する。
【０１０７】
図１６は、３Ｔエンベロープ検出回路の構成を示した回路図である。
先の図８と比較して分かるように、基本的な構成としては、２Ｔパターン検出回路の場合と同様となる。但しこの場合、判定にあたっては差分値x(0)〜x(-8)までを用いる必要があるので、遅延回路４３としては、遅延回路４３−１〜４３−８の計８個を縦列接続している。
これによって、図中の判定回路４８に対しては、減算器４１からの差分値x(0)と、上記８つの遅延回路４３からの差分値x(-1)〜x(-8)が入力されるものとなる。
【０１０８】
判定回路４８では、このように入力される差分値x(0)〜x(-8)の極性の出現パターンが、予め定められたパターンと合致するか否かを判別することで、対象とする時刻(ｋｎ)のサンプリング値（つまりこの場合はy(-6)）が、３Ｔパターンが２以上連続する部分での正極性側ピーク値3T_POS_PK、又は負極性側ピーク値3T_NEG_PKであるか否かを判定する。
すなわち、正極性側の判定として、
[x(0)＞０,x(-1)＞０，x(-2)＞０，x(-3)＜０，x(-4)＜０，x(-5)＜０，x(-6)＞０，x(-7)＞０，x(-8)＞０]
であるか否かを判定すると共に、負極性側の判定として、
[x(0)＜０,x(-1)＜０，x(-2)＜０，x(-3)＞０，x(-4)＞０，x(-5)＞０，x(-6)＜０，x(-7)＜０，x(-8)＜０]
であるか否かを判定する。
正極性側の判定について、上記条件が満たされた場合には、正極性側ピーク検出信号3T_POS_PK_detをＨとする。また負極性側の判定により上記条件が満たされたとした場合は、負極性側ピーク検出信号3T_NEG_PK_detをＨとする。
図示するように正極性側ピーク検出信号3T_POS_PK_detはＡＮＤ回路４７Ｐへ、また負極性側ピーク検出信号3T_NEG_PK_detはＡＮＤ回路４７Ｎへ入力される。
【０１０９】
また、この場合は、対象とする時刻(ｋｎ)のサンプリング値y(-6)を得るための構成として、遅延回路４５−１〜４５−６の計６つの遅延回路４５が縦列接続される。これら遅延回路４５−１〜４５−６によって得られるサンプリング値y(-6)は、図示するようにして比較器４６Ｐと減算器３１Ｐ、及び比較器４６Ｎと減算器３１Ｎに供給される。
【０１１０】
なお、ここでは先の図８に示した２Ｔエンベロープ検出回路の構成と異なる部分についてのみ説明したが、他の部分の構成については同様となることから同一符号を付して説明は省略する。
【０１１１】
この図１６に示した３Ｔエンベロープ検出回路の構成により、３Ｔパターンについても波形パターンの合致について判定することで適正なピーク値検出を行うことができる。そして、このように適正に検出されるピーク値に基づき、３Ｔパターンの正極性側エンベロープ値ENV_3T_POSと負極性側エンベロープ値ENV_3T_NEGの検出を正確に行うことができる。
【０１１２】
ここで、ＤＶＤの場合、最短パターンは３Ｔパターンとなる。従って、例えば先に説明したアシンメトリ補正を、ＤＶＤが装填された場合に対応して行うとしたときなどには、エンベロープ検出回路２４としては図１６に示した３Ｔエンベロープ検出回路も備えるようにしておき、先の第３の実施の形態の説明における正極性側エンベロープ値ENV_2T_POSを正極性側エンベロープ値ENV_3T_POS、負極性側エンベロープ値ENV_2T_NEGを負極性側エンベロープ値ENV_3T_NEGとして、関数ｆ(ｘ)の計算、及び計算した関数ｆ(ｘ)に基づくアシンメトリ補正を行うようにすればよい。
【０１１３】
また、第２の実施の形態では、各時刻の差分値の極性を判定するにあたり、[＋]の部分については０＞ｘ、[−]の部分については０＜ｘを判定するものとしたが、図７の白丸で示した位相同期後のサンプリング値について、特にピークの直前・直後となるサンプリング値は同値となる可能性が高い。すなわち、これら２つのサンプリング値の差分値ｘは、０となる可能性が高い。そこで、位相同期後のＲＦ信号を対象として２Ｔパターンのピーク値検出を行うとするときには、この部分の差分値ｘについて、[＋]であるか否かは０≦ｘ、[−]であるか否かは０≧ｘを判定するようにもできる。つまりこの場合、正極性側ピーク値2T_POS_PKであるか否かの判定は、
[x(0)≧０、x(-1)＞０、x(-2)≦０、x(-3)＜０、x(-4)≧０、x(-5)＞０]
を条件として行い、また負極性側ピーク値2T_NEG_PKであるか否かの判定は、
[x(0)≦０、x(-1)＜０、x(-2)≧０、x(-3)＞０、x(-4)≦０、x(-5)＜０]
を条件として行うことになる。
【０１１４】
また、これまでの説明では、オフセット誤差Eo、ゲイン誤差Egを、エンベロープ値ENV_MAX_POS（最大値側）とエンベロープ値ENV_MAX_NEG（最小値側）から求める場合を例示したが、２Ｔパターンや３Ｔパターンなど特定パターンについて検出したエンベロープ値からこれらオフセット誤差Eoやゲイン誤差Egを求めるようにすることもできる。
例えば、エンベロープ検出回路２４にて検出された特定パターンによる正極性側エンベロープ値をu1、負極性側エンベロープ値をu0とおいたとき、オフセット誤差Eoを次のように求める。
Eo＝(u0＋u1)／２
また、ゲイン誤差Egについては次のように求める。（この場合、下記式におけるGpは特定パターンのエンベロープの目標値である。）
Eg＝(u1−u0)／２−Gp
【０１１５】
また、第３の実施の形態において、補正特性を表す関数ｆ(ｘ)は二次関数で近似するものとしたが、４点の座標を用いて三次関数で近似することもできる。
【０１１６】
また、これまでの説明では、光記録媒体としてディスク状の記録媒体を例示したが、本発明としては、ディスク状以外の他の光記録媒体に対して広く好適に適用することができる。光記録媒体とは、光照射により信号の読出が行われる記録媒体である。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】本発明における実施の形態としての再生装置の内部構成について示したブロック図である。
【図２】実施の形態の再生装置が備えるエンベロープ検出・補正処理部及びデータ信号処理回路の内部構成を示した図である。
【図３】第１の実施の形態としてのエンベロープ検出手法について説明するための図である。
【図４】正極性側エンベロープ検出回路の構成について示した回路図である。
【図５】負極性側エンベロープ検出回路の構成について示した回路図である。
【図６】位相同期後の信号を対象として第１の実施の形態の手法によりエンベロープ検出を行った結果について模式的に示した図である。
【図７】特定パターンの波形のピーク値を検出するための手法について説明するための図である。
【図８】第２の実施の形態としてのエンベロープ検出回路の構成について示した回路図である。
【図９】第２の実施の形態のエンベロープ検出手法によるエンベロープ検出結果のイメージを示した図である。
【図１０】位相同期後の信号を対象として第２の実施の形態の手法によりエンベロープ検出を行った結果のイメージを示した図である。
【図１１】第２の実施の形態としての手法によるエンベロープ検出について実験を行った結果を示した図である。
【図１２】アシンメトリについて説明するための図である。
【図１３】アシンメトリ補正特性について説明するための図である。
【図１４】第３の実施の形態としての動作を実現するための構成について示した図である。
【図１５】３Ｔパターンの波形のピーク値を検出するための手法について説明するための図である。
【図１６】３Ｔパターンのエンベロープを検出するための構成について示した回路図である。
【符号の説明】
【０１１８】
１  光ピックアップ、２  スピンドルモーター、３  スレッド機構、４  マトリクス回路、５  エンベロープ検出・補正処理部、６  データ信号処理回路、７  デコーダ、８  ウォブル信号処理回路、９  ＡＤＩＰ復調回路、１０  アドレスデコーダ、１１  サーボ回路、１２  スピンドルサーボ回路、１３  スピンドルモーター、１４  スレッドドライバ、１０  システムコントローラ、１６  ホストＩ／Ｆ、２０  Ａ／Ｄ変換器、２１  アシンメトリ補正回路、２２  オフセット補正回路、２３  ゲイン補正回路、２４  エンベロープ検出回路、２５  ＰＬＬ処理部（ＩＴＲ）、２６  ＰＲ等化回路、２７  ビタビ復号回路、３１Ｐ,３１Ｎ,３４Ｐ,３４Ｎ,４１  減算器、３２Ｐ,３２Ｎ,３５Ｐ,３５Ｎ,４６Ｐ,４６Ｎ  比較器、３３Ｐ,３３Ｎ,３９Ｐ,３９Ｎ,４２,４３−１〜４３−８,４５−１〜４５−６  遅延回路、３６Ｐ,３６Ｎ,４７Ｐ,４７Ｎ  ＡＮＤ回路、３７Ｐ,３７Ｎ,４０Ｐ,４０Ｎ  乗算器、３８Ｐ,３８Ｎ  加算器、４４,４８  判定回路、５０  光ディスク、１００  ホスト機器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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