(57)【要約】【課題】伝送線路にかかわらず、イコライザ単体の利得を正確に測定することができる半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法を提供する。【解決手段】半導体集積回路装置は、イコライザ１１と、入力が前記イコライザの入力信号および出力信号に接続され、いずれか一方の信号を選択する選択回路１２と、前記選択回路の出力を入力とし、入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路１３とを具備する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
イコライザと、
入力が前記イコライザの入力信号および出力信号に接続され、いずれか一方の信号を選択する選択回路と、
前記選択回路の出力を入力とし、入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路とを具備すること
を特徴とする半導体集積回路装置。
【請求項２】
周波数と信号振幅を制御可能であって、出力が前記イコライザの入力に接続された信号発生器を更に具備し、
前記信号発生器は、少なくとも前記イコライザと同一チップ内であること
を特徴とする請求項１に記載の半導体集積回路装置。
【請求項３】
前記イコライザの入力と前記選択回路の入力の間に設けられたスイッチング回路を更に具備し、
前記スイッチング回路は、少なくとも前記イコライザの出力信号に前記レベル検知回路が接続されている際に、前記選択信号の制御により、導通経路を開放状態とすること
を特徴とする請求項１または２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項４】
イコライザと、
周波数と信号振幅を制御可能であって、出力が前記イコライザの入力に接続された信号発生器と、
入力が前記イコライザの入力信号および出力信号に接続され、いずれか一方の信号を選択する選択回路と、
前記選択回路の出力を入力とし、入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路とを具備すること
を特徴とするイコライザ評価システム。
【請求項５】
イコライザと、周波数と信号振幅を制御可能であって出力が前記イコライザの入力に接続された信号発生器と、入力が前記信号発生器の出力信号および前記イコライザの出力信号に接続されいずれか一方の信号を選択する選択回路と、前記選択回路の出力を入力とし入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路とを具備し、
前記選択信号を制御し、前記イコライザの入力を前記レベル検知回路に接続し、
前記信号発生器から測定する周波数に設定した正弦波を出力し、
前記レベル検知回路の出力結果をモニターし、出力結果が切り替わる電圧を測定することにより、前記イコライザの入力振幅を測定し、
前記選択信号を制御し、前記イコライザの出力を信号レベル検知回路に接続し、
前記信号発生器から前記周波数に設定した前記正弦波を出力し、
前記レベル検知回路の出力結果をモニターし、出力結果が切り替わる電圧を測定することにより、前記イコライザの出力振幅を測定し、
前記入力振幅および前記出力振幅の値から、その周波数の前記イコライザの利得を計算すること
を特徴とするイコライザ評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、イコライザ評価方法に関し、例えば、高速信号伝送システムの受信器側に用いられるイコライザ回路の評価方法等に関するものである。しかし、上記イコライザの詳細な性能を評価するものに限られず、要求される性能を満たしているかの簡易的な評価（量産テスト等）を行うその他の半導体集積回路装置等に適用可能なものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、高速信号伝送システムの受信器側等には、イコライザ（Equalizer）が用いられている。上記イコライザは、受信器の入力とレシーバ（Receiver）の入力との間に配置され、伝送線路の周波数特性によって歪んでしまった信号波形を修正し、レシーバに送信する機能を有する回路である。ここで、従来のイコライザの評価方法を行う構成として、例えば、以下のようなものが一例として用いられる。
【０００３】
まず、伝送線路での信号劣化を再現することのできる高価な信号再現発生器を用いる一例がある。この例によれば、信号再現発生器と受信器との間に実際に伝送線路を挿入し、信号波形を歪ませて故意に歪んだ波形の信号を受信器に入力し、受信した信号に対してクロックを再生（Clock Recovery: CR）し、その再生したクロック（Recovered Clock）で信号をサンプリングさせ、シリアルからパラレルに変換（Serial In Parallel Out: SIPO）し、期待通りのデータが受信できたか否かでイコライザの性能の評価を判断する。
【０００４】
また、イコライザの出力をテスト用のバッファを介してチップ外に出力し、その波形の品質でイコライザの性能を判断する例もある。
【０００５】
しかし、従来の構成では、下記のような問題点がある。
【０００６】
１）伝送線路での信号劣化を再現するのが困難である。
【０００７】
２）用いる伝送線路によって測定結果が左右される。
【０００８】
２−１)他の回路を介したデータで判断する為、他の回路の性能によって結果が左右される。
【０００９】
２−２）直接イコライザの出力を判断材料にしていないため、イコライザ単体の評価として曖昧である。
【００１０】
２−３）テスト用のバッファを介したデータで判断する為、バッファ等の性能によって結果が左右される。
【００１１】
上記のように、従来の半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法では、用いる伝送線路によって測定結果が左右され、イコライザ単体の評価を行うことができない、という問題があった。
【００１２】
この出願の発明に関連する文献公知発明としては、次のような特許文献１，２がある。
【特許文献１】特表２００１−５１６１７４号公報
【特許文献２】特開平７−１９３５２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
この発明は、イコライザ単体の利得を正確に測定することができる半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
この発明の一態様によれば、イコライザと、入力が前記イコライザの入力信号および出力信号に接続され、いずれか一方の信号を選択する選択回路と、前記選択回路の出力を入力とし、入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路とを具備する半導体集積回路装置を提供できる。
【００１５】
この発明の一態様によれば、イコライザと、周波数と信号振幅を制御可能であって、出力が前記イコライザの入力に接続された信号発生器と、入力が前記イコライザの入力信号および出力信号に接続され、いずれか一方の信号を選択する選択回路と、前記選択回路の出力を入力とし、入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路とを具備するイコライザ評価システムを提供できる。
【００１６】
この発明の一態様によれば、イコライザと、周波数と信号振幅を制御可能であって出力が前記イコライザの入力に接続された信号発生器と、入力が前記信号発生器の出力信号および前記イコライザの出力信号に接続されいずれか一方の信号を選択する選択回路と、前記選択回路の出力を入力とし入力された信号のレベルを検知するレベル検知回路とを具備し、前記選択信号を制御し、前記イコライザの入力を前記レベル検知回路に接続し、前記信号発生器から測定する周波数に設定した正弦波を出力し、前記レベル検知回路の出力結果をモニターし、出力結果が切り替わる電圧を測定することにより、前記イコライザの入力振幅を測定し、前記選択信号を制御し、前記イコライザの出力を信号レベル検知回路に接続し、前記信号発生器から前記周波数に設定した前記正弦波を出力し、前記レベル検知回路の出力結果をモニターし、出力結果が切り替わる電圧を測定することにより、前記イコライザの出力振幅を測定し、前記入力振幅および前記出力振幅の値から、その周波数の前記イコライザの利得を計算するイコライザ評価方法を提供できる。
【発明の効果】
【００１７】
この発明によれば、伝送線路にかかわらず、イコライザ単体の利得を正確に測定することができる半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、この発明の実施形態について図面を参照して説明する。尚、この説明においては、全図にわたり共通の部分には共通の参照符号を付す。
【００１９】
[第１の実施形態]  
まず、図１および図２を用いて、この発明の第１の実施形態に係る半導体集積回路装置およびイコライザ評価システムを説明する。  
＜１．全体構成例（半導体集積回路装置、イコライザ評価システム）＞  
この実施形態に係る全体構成例（半導体集積回路装置、イコライザ評価システム）について、図１を用いて説明する。図１は、この実施形態に係る全体構成例を示すブロック図である。
【００２０】
図示するように、この実施形態に係る半導体集積回路装置は、受信器１０と信号発生器２１を備えている。
【００２１】
受信器１０は、イコライザ１１、選択回路１２、レベル検知回路１３、終端回路１４、レシーバ１５、サンプラー１６、Ｓ／Ｐ変換回路１７、クロック再生回路１８により構成されている。
【００２２】
イコライザ（Equalizer）１１は、受信器１０の入力とレシーバ１５との間に配置され、伝送線路の周波数特性によって歪んでしまった信号波形を修正し、一定の利得（Gain）を持って信号波形をレシーバ１５に送信する機能を有する回路である。上記伝送線路とは、受信器１０の入力ピンＰ１、Ｐ２と送信器の出力との間に設けられた線路をいう。
【００２３】
選択回路１２は、イコライザ１１の入力および出力から信号を取り出した信号を入力とし、いずれかの信号を出力するかを選択信号ＳＳ（Select Signal）により選択する。
【００２４】
レベル検知回路（Signal Level Detector）１３は、選択回路１２の出力を入力とし、入力された信号のレベルを検知し、“Ｈ”レベルまたは“Ｌ”レベルの検知結果ＤＲ（Detected Result）として出力する。後述するように、レベル検知回路１３は、入力信号の振幅が所定の閾値よりも大きいか小さいかを、“Ｈ”レベルまたは“Ｌ”レベルの検知結果ＤＲとして出力する回路である。
【００２５】
終端回路（Termination）１４は、受信器１０外部とのインピータンスマッチングをとる回路である。
【００２６】
レシーバ（Receiver）１５は、イコライザ１１の出力信号ＥＤ（Equalized Data）を入力とし、所定の受信信号ＲＤ（Received Data）を出力する。
【００２７】
サンプラー（Sampler）１６は、レシーバ１５の出力信号を入力とし、クロック再生回路１８からの再生クロックＲＣでの信号をサンプリングした出力信号ＲＤをＳ／Ｐ変換回路１７に出力する。
【００２８】
Ｓ／Ｐ変換回路１７は、入力された信号ＲＤをシリアルからパラレルに変換（Serial In Parallel Out: SIPO）し、この受信器１０の出力信号ＯＤ（Output Data）として出力する。
【００２９】
クロック再生回路１８は、上記のようにサンプラー１６が受信したエッジ情報ＥＩ（Edge Information）を元に、クロックを再生し、再生クロックＣＲ（Clock Recovery）を再びサンプラー１６に出力する。
【００３０】
信号発生器（Signal Generator）２１は、周波数と信号振幅を制御可能であって、出力（選択された周波数および信号振幅を有する正弦波）がイコライザの入力に接続されている。周波数は周波数制御信号ＦＣＳ（Frequency Control Signal）により制御され、信号振幅はレベル制御信号ＬＣＳ（Level Control Signal）により制御される。また、この実施形態に係る信号発生器２１は、受信器１０のチップ外に設けられるものである。例えば、信号発生器２１は、受信器１０および図示しない送信器からなる高速信号伝送システムの送信器側等に設けられるものである。
【００３１】
上記のように、本例に係る半導体集積回路装置は、選択回路１２によりイコライザ１１の入力および出力双方から信号を取り出している。また、入力および出力の信号の選択は、選択回路１２により行う。さらに、選択回路１２の出力信号のレベルを検知するレベル検知回路１３を備えている。
【００３２】
＜２．レベル検知回路＞  
次に、レベル検知回路１３について、図２を用いてさらに詳しく説明する。図示するように、レベル検知回路１３は、選択回路１２からの出力を入力信号（Input Signal and Differential）としているが、これはイコライザ１１の入力信号（信号発生器２１の出力信号）またはイコライザ１１の出力信号となる正弦波である。また、レベル検知回路１３は、所定のしきい値を有している。
【００３３】
そのため、レベル検知回路１３は、
（Ａ）入力信号の振幅Amplitudeが、所定の閾値よりも大きい場合（Amplitude is larger than threshold）は、例えば、“Ｈ”レベルの検知結果ＲＤを出力する。
【００３４】
一方、レベル検知回路１３は、
（Ｂ）入力信号の振幅Amplitudeが、所定の閾値よりも小さいかまたは等しい場合（Amplitude is less than or equal to threshold）は、例えば、“Ｌ”レベルの検知結果ＲＤを出力する。
【００３５】
＜３．イコライザ評価方法（受信器外部の信号発生器を利用した一例）＞  
次に、本例に係るイコライザ評価方法について、図３乃至図１１を用いて説明する。本例は、上記のように受信器１０の外部の信号発生器２１を利用した場合のイコライザ評価方法の一例に関する。また、この説明においては、イコライザ評価方法と関係しないその他の回路等の図示を省略する。
【００３６】
ここで、上記のようにイコライザ１１は、一定の利得（Gain）を持って信号波形を送信する回路である。そのため、ある周波数（Ｆ）におけるイコライザ１１の利得（Gain）は、イコライザ１１に入力される信号の入力振幅をAmplitude_B（Ｆ）、出力される信号の振幅をAmplitude_A（Ｆ）とすれば、以下の式（１）のように示される。
【００３７】
Gain（Ｆ） ＝ Amplitude_OUT（Ｆ） ／ Amplitude_IN（Ｆ）  …  式（１）
そのため、本例では、以下のステップを行うことにより、イコライザ１１のある周波数（Ｆ＿１）の入力振幅Amplitude_IN1、および出力振幅Amplitude_OUT1を求めることにより、イコライザ１１単体の利得（Gain_1）を求める場合を一例に挙げて説明する。この説明においては、図３のフローに沿って説明する。
【００３８】
（ステップＳＴ１−１）  
まず、図４に示すように、選択回路１２の選択信号ＳＳ_INを制御し、イコライザ１１の入力をレベル検知回路１３に接続する。この際、レベル検知回路１３の閾値は、所定の入力振幅の閾値（threshold）であったとする。
【００３９】
（ステップＳＴ１−２）  
続いて、図５に示すように、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、閾値thresholdよりも大きな入力振幅Amplitude（入力振幅Amplitude＞閾値threshold）に設定した正弦波を出力する。そのため、レベル検出回路１３は、入力振幅が閾値よりも大きいと、判断し、“Ｈ”レベルの検出結果を出力する。
【００４０】
（ステップＳＴ１−３（出力振幅Amplitude_OUTの検知））  
続いて、図６に示すように、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、入力する振幅を徐々に小さくし、レベル検知回路１３の出力結果をモニターする。
【００４１】
そして、入力振幅の閾値を超えるレベル、即ち、出力結果ＤＲが切り替わる（“Ｈ”レベル→“Ｌ”レベル）電圧（第１電圧）を測定する。このステップＳＴ１−３により測定した値を、周波数Ｆ＿１におけるイコライザ１１の出力振幅Amplitude_OUTとする。
【００４２】
尚、上記ステップＳＴ１−１〜ＳＴ１−３においては、閾値よりも大きな振幅の正弦波を入力し、検出結果ＤＲが切り替わる（“Ｈ”レベル→“Ｌ”レベル）まで、徐々に小さくして出力振幅Amplitude_OUTを測定する場合を説明した。しかし、閾値よりも小さな振幅の正弦波を入力し、検出結果ＤＲが切り替わる（“Ｌ”レベル→“Ｈ”レベル）まで、徐々に大きくして出力振幅Amplitude_OUTを測定することも同様に可能である。
【００４３】
（ステップＳＴ１−４）  
続いて、図７に示すように、選択回路１２の選択信号ＳＳ_OUTを制御し、イコライザ１１の出力をレベル検知回路１３に接続する。
【００４４】
（ステップＳＴ１−５）  
続いて、図８に示すように、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、ある振幅Amplitudeの正弦波を出力する。ここで、イコライザ１１は、入力信号に対して一定の利得（Gain）を持って、信号を出力する。そのため、レベル検知回路１３には、例えば、イコライザ１１から上記一定の利得（Gain）を持って増幅された出力振幅Amplitude_OUT´の正弦波が出力される。この際、出力振幅Amplitude_OUT´は、閾値thresholdよりも小さいとする（Amplitude_OUT´＜threshold）。そのため、レベル検出回路１３は、閾値よりも小さいと、判断し、“Ｌ”レベルの検出結果を出力する。
【００４５】
（ステップＳＴ１−６（出力振幅Amplitude_A1の検知））  
続いて、図９に示すように、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、イコライザ１１に入力する振幅を徐々に大きくし、レベル検知回路１３の出力結果をモニターする。
【００４６】
そして、閾値を超えるレベル、即ち、出力結果ＤＲが切り替わる（“Ｌ”レベル→“Ｈ”レベル）電圧（第２電圧）を測定する。このステップＳＴ１−６により、周波数Ｆ＿１におけるイコライザ１１の入力振幅Amplitude_INを測定することができる。
【００４７】
尚、上記ステップＳＴ１−４〜ＳＴ１−６においては、出力振幅よりも小さな振幅の正弦波を入力し、検出結果ＤＲが切り替わる（“Ｌ”レベル→“Ｈ”レベル）まで、徐々に大きくして入力振幅Amplitude_INを測定する場合を説明した。しかし、出力振幅よりも大きな振幅の正弦波を入力し、検出結果ＤＲが切り替わる（“Ｈ”レベル→“Ｌ”レベル）まで、徐々に小さくして入力振幅Amplitude_INを測定することも同様に可能である。
【００４８】
（ステップＳＴ１−７）  
続いて、図１０に示すように、ＳＴ１−３とＳＴ１−６で測定した出力振幅Amplitude_OUTおよび入力振幅Amplitude_INから、ある周波数Ｆにおけるイコライザ１１の利得Gainを計算する。
【００４９】
ここで周波数F_1における入力振幅がAmplitude_IN1、出力振幅がAmplitude_OUT1だったとすると、周波数Ｆ＿１における利得Gain_1は、以下の式（１）のように計算することができる。
【００５０】
Gain_1 ＝ Amplitude_OUT1 ／ Amplitude_IN1  …  式（１）
このようにして、周波数Ｆ＿１における利得Gain_1を計算する。
【００５１】
（ステップＳＴ１−８）  
続いて、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、測定する周波数を変更し、上記ステップＳＴ１−１〜ＳＴ１−７を繰り返す。
【００５２】
例えば、周波数Ｆ＿１よりも周波数が高い、周波数Ｆ＿２における利得Gain_2を同様に計算した場合は、図１１のように示される。
【００５３】
このように、上記に説明したステップＳＴ１−１〜ＳＴ１−７を所定の周波数ごとに繰り返すことによって、各周波数に対するイコライザ単体の利得を求めることができる。
【００５４】
＜４．この実施形態に係る効果＞  
この実施形態に係る半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法によれば、少なくとも下記（１）および（２）の効果が得られる。
【００５５】
（１）イコライザ単体の利得を正確に測定することができる。
【００５６】
上記のように、この実施形態に係る構成によれば、イコライザ１１と、イコライザ１１の入力および出力から信号を取り出した信号を入力とし、いずれかの信号を出力するかを選択信号ＳＳにより選択する選択回路１２と、選択信号の出力信号のレベルを検知した検知結果ＤＲを出力するレベル検知回路１３とを備えている。
【００５７】
このように、イコライザ１１の入力および出力をレベル検知回路１３により検知することにより、イコライザ１１の入力信号の振幅Amplitude_INおよびイコライザ１１の出力信号の振幅Amplitude_OUTを直接測定することができる。
【００５８】
ここで、ある周波数Ｆにおける利得Gainは、以下の式（１）のように計算することができる。
【００５９】
Gain ＝ Amplitude_OUT ／ Amplitude_IN  …  式（１）
その結果、低周波数側Ｆ_lowから高周波数側Ｆ_highにおける所定の範囲でのイコライザ１１の利得は、例えば、図１２のように示される。図中の実線２５は本例のイコライザ評価方法によって得られたイコライザ単体の利得特性である。
【００６０】
一方、図中の破線２６は、伝送線路（Transmission Line）による伝送線路特性である。図中の実線２７は、上記イコライザ単体の特性２５と伝送線路特性２６が合算された（Transmission Line + Equalizer）特性である。このように、イコライザ単体の特性と伝送線路特性が合算された特性２７では、イコライザ１１単体の利得特性を正確に測定することができない。
【００６１】
しかし、この実施形態に係る構成によれば、上記のように、イコライザ１１の入力および出力をレベル検知回路１３により検知することにより、イコライザ１１の入力信号の振幅Amplitude_INおよびイコライザ１１の出力信号の振幅Amplitude_OUTを直接測定することができる。そのため、伝送線路にかかわらず、イコライザ単体の利得特性２５を正確に測定することができる。
【００６２】
（２）製造コストの低減に対して有利である。
【００６３】
上記のように、本例の構成によれば、イコライザ１１の入力および出力をレベル検知回路１３により検知することにより、イコライザ１１の入力信号の振幅Amplitude_INおよびイコライザ１１の出力信号の振幅Amplitude_OUTを直接測定することができる。
【００６４】
そのため、伝送線路での信号劣化を再現することのできる高価な信号再現発生器を用いる必要がなく、周波数と信号振幅を制御可能な比較的安価である信号発生器２１をイコライザ１１の入力に接続させるだけでよい。
【００６５】
また、イコライザ１１の入力および出力をレベル検知回路１３により検知することができるため、実際に伝送線路を挿入することで信号波形を歪ませたりして故意に歪んだ波形の信号を再現する必要もない。
【００６６】
その結果、半導体集積回路装置の製造コストの低減に対して有利である。
【００６７】
［第２の実施形態（信号発生器を受信器チップ内部に設けた一例）］
次に、第２の実施形態に係る半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法について、図１３乃至図１５を用いて説明する。この実施形態は、信号発生器２１を受信器１０のチップ内部に設けた一例に関するものである。この説明において、上記第１の実施形態と重複する部分の詳細な説明を省略する。
【００６８】
＜全体構成例＞  
まず、本例の全体構成例について、図１３を用いて説明する。  
図示するように、本例では、信号発生器２１が受信器１０のチップ内部に設けられている点で、上記第１の実施形態と相違している。上記構成により、本例では、信号発生器２１からの出力信号により、受信器１０のチップ内部で上記イコライザ評価方法を行うことができる。
【００６９】
＜イコライザ評価方法（イコライザの利得が仕様として決定している場合）＞  
次に、図１４を用いて、本例に係るイコライザ評価方法について説明する。本例に係るイコライザ評価方法は、イコライザ１１の仕様が明確であるため、簡易テストで十分な場合の一例に関するものである。この説明において、上記第１の実施形態と重複する部分の詳細な説明を省略する。例えば、ここでは、仕様として要求されるイコライザの利得Gainが、仕様に記載されたある周波数において、１．２倍程度〜１．３倍程度の範囲である場合を一例に挙げて説明する。この説明において、図１４のフロー図に則して説明する。
【００７０】
（ステップＳＴ２−１）  
まず、上記と同様に、選択回路１２の選択信号ＳＳ_INを制御し、イコライザ１１の入力を信号レベル検知回路１３に接続する。この際、レベル検知回路１３の閾値は、所定の閾値であったとする。
【００７１】
（ステップＳＴ２−２）  
続いて、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、所定の正弦波を出力する。
【００７２】
（ステップＳＴ２−３（出力振幅Amplitude_OUTの検知））  
続いて、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、徐々に振幅を変化させ、レベル検知回路１３の出力結果をモニターし、上記ステップＳＴ１−３と同様に、出力結果ＤＲが切り替わる（例えば、“Ｈ”→“Ｌ”）電圧を測定する。このステップＳＴ２−３により測定した値を、その周波数におけるイコライザ１１の出力信号の入力振幅Amplitude_OUTとする。
【００７３】
（ステップＳＴ２−４）  
続いて、選択回路１２の選択信号ＳＳ_OUTを制御し、イコライザ１１の出力を信号レベル検知回路１３に接続する。
【００７４】
（ステップＳＴ２−５）  
続いて、信号発生器２１の振幅を上記ステップＳＴ２−３で測定した信号の振幅Amplitude_OUTの1/1.2倍にして制御した正弦波を出力する。このとき、検出結果がHならば仕様で定められた最小の利得(1.2倍)より大きな利得を持っていることが分かる。
【００７５】
（ステップＳＴ２−６）  
続いて、信号発生器２１の振幅を上記ステップＳＴ２−３で測定した信号の振幅Amplitude_OUTの1/1.3倍にして制御した正弦波を出力する。このとき、検出結果がLならば、仕様で定められた最大の利得(1.3倍)より小さな利得を持っていることが分かる。
【００７６】
（ステップＳＴ２−７）  
続いて、上記ステップＳＴ２−５、ＳＴ２−６におけるレベル検知回路１３の検知結果ＲＤをモニターし、測定する周波数Ｆ_senseで得られた利得Gain_senseが、基準の周波数Ｆ_reにおける利得Gain_reの１．２倍程度〜１．３倍程度の範囲にあるか否か（１．２Gain_re≦Gain_sense≦１．３Gain_re）を確認する。
【００７７】
（ステップＳＴ２−８）  
必要に応じて、信号発生器２１の周波数制御信号ＦＣＳおよびレベル制御信号ＬＣＳを選択し、測定する周波数を変更し、上記ステップＳＴ２−１〜ＳＴ２−７を繰り返す。
【００７８】
＜この実施形態に係る効果＞  
上記のように、この実施形態に係る半導体集積回路装置およびイコライザ評価システムによれば、少なくとも上記（１）および（２）と同様の効果が得られる。
【００７９】
さらに、本例では、信号発生器２１が受信器１０のチップ内部に設けられている点で、上記第１の実施形態と相違している。上記構成により、本例では、信号発生器２１からの出力信号により、受信器１０のチップ内部で上記イコライザ評価方法を行うことができる。
【００８０】
このように、受信器１０のチップ内部に信号発生器２１を設けることで、コスト的に低速な機器しか用いられない量産テストなどでもイコライザの性能評価をすることができる点で有利である。このように、必要に応じて、本例のような構成を適用することが可能である。
【００８１】
加えて、本例のように、コライザ１１の仕様が明確な場合には、本例に係るイコライザ評価方法（簡易テスト）を行うことができる。
【００８２】
即ち、コライザ１１の仕様が明確な場合には、２点の利得の、例えば、低周波数側Ｆ_lowにおける利得と、高周波数側Ｆ_highにおける利得とを、上記式（１）を用いて計算し、得られた２点の利得が所定の範囲内にあることを確認すれば良い。そのため、上記第１の実施形態のように、上記ステップＳＴ１−１〜ＳＴ１−７を所定の周波数ごとに繰り返す必要がない点で、高速化に対して有利である。
【００８３】
例えば、この実施形態の場合、即ち、仕様として要求されるイコライザの利得Gainが、１．２倍程度〜１．３倍程度の範囲である場合は、図１５に示すように求めることができる。図示するように、本例では、上記式（１）を用いて計算した、低周波数側Ｆ_lowにおける利得Gain_1.2と、高周波数側Ｆ_highにおける利得をGain_1.3とが、所定の範囲内（入力の１．２倍程度〜１．３倍程度）にあることを確認すれば良い。
【００８４】
［第３の実施形態（入力容量（ＡＣカップリング）を低減する一例）］
次に、第２の実施形態に係る半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法について、図１６および図１７を用いて説明する。この実施形態は、イコライザ１１の入力と選択回路１２との間の入力容量を低減する一例に関するものである。この説明において、上記第１の実施形態と重複する部分の詳細な説明を省略する。
【００８５】
図１６に示すように、この実施形態に係る構成は、イコライザ１１の入力と選択回路１２との間にスイッチング回路５５を更に備えている点で、上記第１の実施形態と相違している。
【００８６】
ここで、受信器１０が通常動作（データ通信）をしている際、およびイコライザ１１の出力信号がレベル検知回路１３に接続されている際（上記ステップＳＴ１−４〜ＳＴ１−６等）では、受信器１０の入力容量を減らす観点から、イコライザ１１の入力をレベル検知回路１３の入力から外しておくべきである。そのため、イコライザ１１の入力と選択回路１２との間にスイッチング回路５５を設け、上記の際（データ通信、ステップＳＴ１−４〜ＳＴ１−６等）には、スイッチング回路５５をオフにするように制御する。この制御には、上記選択信号ＳＳを用いることができる。
【００８７】
＜スイッチング回路５５の構成例および動作例＞
次に、図１７を用いて、スイッチング回路５５の構成例および動作例について説明する。この説明では、受信器１０が通常動作（データ通信）をしている際であって、イコライザ１１の入力部分にそれぞれＡＣカップリングＣ１〜Ｃ４を有していること前提として説明する。
【００８８】
図示するように、スイッチング回路５５は、スイッチＳＷ１，ＳＷ２，および終端抵抗Ｒ１〜Ｒ４により構成されている。
【００８９】
スイッチＳＷ１の一端は、終端抵抗Ｒ１，Ｒ２の一端に接続され、他端はイコライザ１１の終端電圧（Termination Voltage for Equalizer）に接続されている。スイッチＳＷ１のオンまたはオフは、選択信号ＳＳにより制御される。例えば、スイッチＳＷ１は、選択信号ＳＳが“Ｈ”レベルの場合はオン（Ｈ：ＯＮ）し、選択信号ＳＳが“Ｌ”レベルの場合はオフ（Ｌ：ＯＦＦ）する。
【００９０】
スイッチＳＷ２の一端は、終端抵抗Ｒ３，Ｒ４の一端に接続され、他端はレベル検知回路１３の終端電圧（Termination Voltage for Signal Level Detector）に接続されている。スイッチＳＷ２のオンまたはオフは、選択信号ＳＳにより制御される。例えば、スイッチＳＷ２は、選択信号ＳＳが“Ｈ”レベルの場合はオフ（Ｈ：ＯＦＦ）し、選択信号ＳＳが“Ｌ”レベルの場合はオン（Ｌ：ＯＮ）する。
【００９１】
終端抵抗Ｒ１の他端は、正側のイコライザ入力（Equalizer Input (positive)）およびＡＣカップリングＣ１の一端に接続されている。
【００９２】
終端抵抗Ｒ２の他端は、負側のイコライザ入力（Equalizer Input (negative)）およびＡＣカップリングＣ２の一端に接続されている。
【００９３】
終端抵抗Ｒ３の他端は、正側のレベル検知回路入力（Signal Level Detector Input (positive)）およびＡＣカップリングＣ３の一端に接続されている。
【００９４】
終端抵抗Ｒ４の他端は、負側のレベル検知回路入力（Signal Level Detector Input (negative)）およびＡＣカップリングＣ４の一端に接続されている。
【００９５】
図示するように、スイッチング回路５５は、通常動作時（およびイコライザ出力信号に対して信号レベル検知回路を接続している上記ステップＳＴ１−４〜ＳＴ１−６等の時）には、選択信号ＳＳを“Ｈ”レベルに制御し、レベル検知回路１３側のＡＣカップリングＣ３，Ｃ４の終端抵抗Ｒ３，Ｒ４をOPEN状態（開放状態）とすることができる。そのため、入力信号（Input Signal）側から見て、レベル検知回路１３側の容量を見えなくすることができる点で、受信器１０の入力容量（ＡＣカップリング）の低減に対して有利である。
【００９６】
尚、イコライザ評価方法についは、上記第１、第２の実施形態と同様であるため、詳細な説明を省略する。
【００９７】
＜この実施形態に係る効果＞  
上記のように、この実施形態に係る半導体集積回路装置、イコライザ評価システム、およびイコライザ評価方法によれば、少なくとも上記（１）および（２）と同様の効果が得られる。
【００９８】
さらに、本例に係る構成では、イコライザ１１の入力と選択回路１２との間にスイッチング回路５５を更に備えている。
【００９９】
そのため、スイッチング回路５５は、通常動作時（およびイコライザ出力信号に対して信号レベル検知回路を接続している上記ステップＳＴ１−４〜ＳＴ１−６等の時）には、選択信号ＳＳを“Ｈ”レベルに制御し、レベル検知回路１３側のＡＣカップリングＣ３，Ｃ４の終端抵抗Ｒ３，Ｒ４をOPEN（開放状態）とすることができる。そのため、入力信号（Input Signal）側から見て、レベル検知回路１３側の容量を見えなくすることができる点で、受信器１０の入力容量の低減に対して有利である。
【０１００】
尚、上記第１乃至第３の実施形態においては、高速信号伝送システムの受信器側に用いられるイコライザを一例に挙げてその説明を行った。しかし、本発明は、上記イコライザの詳細な性能を評価するものに限られず、例えば、要求される性能を満たしているかの簡易的な評価（量産テスト等）を行うその他の半導体集積回路装置等に適用可能なものである。
【０１０１】
以上、第１乃至第３の実施形態を用いて本発明の説明を行ったが、この発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、上記各実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件の適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば各実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題の少なくとも１つが解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果の少なくとも１つが得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【図面の簡単な説明】
【０１０２】
【図１】この発明の第１の実施形態に係る半導体集積回路装置を示すブロック図。
【図２】第１の実施形態に係るレベル検知回路を説明するための図。
【図３】第１の実施形態に係るイコライザ評価方法を示すフロー図。
【図４】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−１）を示す図。
【図５】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−２）を示す図。
【図６】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−３）を示す図。
【図７】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−４）を示す図。
【図８】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−５）を示す図。
【図９】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−６）を示す図。
【図１０】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−７）を説明するための利得と周波数との関係を示す図。
【図１１】第１の実施形態に係る一イコライザ評価方法（ＳＴ１−８）を説明するための利得と周波数との関係を示す図。
【図１２】第１の実施形態に係る半導体集積回路装置の利得と周波数との関係を示す図。
【図１３】この発明の第２の実施形態に係る半導体集積回路装置を示すブロック図。
【図１４】第２の実施形態に係るイコライザ評価方法を示すフロー図。
【図１５】第２の実施形態に係る半導体集積回路装置の利得と周波数との関係を示す図。
【図１６】この発明の第３の実施形態に係る半導体集積回路装置を示すブロック図。
【図１７】第３の実施形態に係るスイッチング回路を示すブロック図。
【符号の説明】
【０１０３】
１０…受信器、１１…イコライザ、１２…選択回路、１３…レベル検知回路、１４…終端回路、１５…レシーバ、１６…サンプラー、１７…Ｓ／Ｐ変換回路、１８…クロック再生回路、２１…信号発生器。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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