(57)【要約】      （修正有）【課題】偏芯量の大きなディスクでオフセットライトが発生することを防止できるようにする。【解決手段】記録処理を行う前に、トラック乗り越え数を計数し、回転位相毎に所定の区間における偏芯量変化率Ｒを算出してメモリに記憶する。そして、記録処理を行っているときに傷を検出した場合に、メモリに記憶されている回転位相毎の偏芯量変化率から、傷が存在する区間の予測偏芯量を算出し、予測偏芯量が閾値偏芯量以上である場合に記録動作を停止するようにして、対物レンズから照射される光ビームがデータ記録済みの隣接トラック上に照射されて、データを上書きしてしまうことを未然にかつ迅速に防止することができるようにする。【選択図】図３
2009146503.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
多数のトラックが形成されたディスク状記録媒体に対して光ビームを照射する照射部と、前記光ビームの反射光を検出する受光部とを有する光ピックアップ手段と、
前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記照射部の中心を前記トラックの中心へ移動させるトラッキング制御手段と、
前記光ピックアップ手段を制御して光ビームを照射して、前記ディスク状記録媒体にデータを記録する記録手段と、
前記ディスク状記録媒体の回転位相を検出する回転位相検出手段と、
前記ディスク状記録媒体の偏芯量を検出して、前記検出した偏芯量から前記回転位相に応じた単位回転角あたりの偏芯量変化率を算出する偏芯量変化率算出手段と、
前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記ディスク状記録媒体の傷を検出する傷検出手段と、
前記偏芯量変化率算出手段によって算出された偏芯量変化率に基づいて、前記回転位相検出手段によって検出された回転位相をもとに前記傷検出手段によって検出された傷が存在する傷区間における予測偏芯量を算出する予測偏芯量算出手段と、
前記予測偏芯量算出手段によって算出された予測偏芯量が所定値以上である場合に、記録位置が前記傷区間に達したことに応じて前記ディスク状記録媒体に対する記録動作を停止するように前記記録手段を制御する記録制御手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記予測偏芯量算出手段は、前記偏芯量変化率算出手段によって算出された偏芯量変化率と、前記傷区間の回転位相との積により前記予測偏芯量を算出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記予測偏芯量算出手段は、前記傷検出手段によって前記傷が最初に検出された時点の回転位相に応じた偏芯量変化率に基づいて、前記予測偏芯量を算出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記偏芯量変化率算出手段によって算出された偏芯量変化率を回転位相ごとにメモリに記憶する記憶手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記記録制御手段は、前記記録動作を停止した後に、前記ディスク状記録媒体から位置情報を取得して前記記録動作を再開するように前記記録手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記偏芯量変化率算出手段は、前記光ピックアップ手段によって光ビームが照射されている範囲を通過したトラックの数から前記偏芯量を検出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
多数のトラックが形成されたディスク状記録媒体に対して光ビームを照射する照射部と、前記光ビームの反射光を検出する受光部とを有する光ピックアップ手段で検出された反射光をもとに、前記照射部の中心を前記トラックの中心へ移動させるトラッキング制御工程と、
前記光ピックアップ手段を制御して光ビームを照射して、前記ディスク状記録媒体にデータを記録する記録工程と、
前記ディスク状記録媒体の回転位相を検出する回転位相検出工程と、
前記ディスク状記録媒体の偏芯量を検出して、前記検出した偏芯量から前記回転位相に応じた単位回転角あたりの偏芯量変化率を算出する偏芯量変化率算出工程と、
前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記ディスク状記録媒体の傷を検出する傷検出工程と、
前記偏芯量変化率算出工程において算出した偏芯量変化率に基づいて、前記回転位相検出工程において検出した回転位相をもとに前記傷検出工程において検出した傷が存在する傷区間における予測偏芯量を算出する予測偏芯量算出工程と、
前記予測偏芯量算出工程において算出した予測偏芯量が所定値以上である場合に、記録位置が前記傷区間に達したことに応じて前記ディスク状記録媒体に対する記録動作を停止するように前記記録工程における処理を制御する記録制御工程とを備えたことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項８】
前記予測偏芯量算出工程においては、前記偏芯量変化率算出工程において算出した偏芯量変化率と、前記傷区間の回転位相との積により前記予測偏芯量を算出することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項９】
前記予測偏芯量算出工程においては、前記傷検出工程において前記傷が最初に検出された時点の回転位相に応じた偏芯量変化率に基づいて、前記予測偏芯量を算出することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項１０】
前記偏芯量変化率算出工程において算出した偏芯量変化率を回転位相ごとにメモリに記憶する記憶工程を備えたことを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項１１】
前記記録制御工程においては、前記記録動作を停止した後に、前記ディスク状記録媒体から位置情報を取得して前記記録動作を再開するように前記記録工程における処理を制御することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項１２】
前記偏芯量変化率算出工程においては、前記光ピックアップ手段によって光ビームが照射されている範囲を通過したトラックの数から前記偏芯量を検出することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の制御方法。
【請求項１３】
多数のトラックが形成されたディスク状記録媒体に対して光ビームを照射する照射部と、前記光ビームの反射光を検出する受光部とを有する光ピックアップ手段で検出された反射光をもとに、前記照射部の中心を前記トラックの中心へ移動させるトラッキング制御工程と、
前記光ピックアップ手段を制御して光ビームを照射して、前記ディスク状記録媒体にデータを記録する記録工程と、
前記ディスク状記録媒体の回転位相を検出する回転位相検出工程と、
前記ディスク状記録媒体の偏芯量を検出して、前記検出した偏芯量から前記回転位相に応じた単位回転角あたりの偏芯量変化率を算出する偏芯量変化率算出工程と、
前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記ディスク状記録媒体の傷を検出する傷検出工程と、
前記偏芯量変化率算出工程において算出した偏芯量変化率に基づいて、前記回転位相検出工程において検出した回転位相をもとに前記傷検出工程において検出した傷が存在する傷区間における予測偏芯量を算出する予測偏芯量算出工程と、
前記予測偏芯量算出工程において算出した予測偏芯量が所定値以上である場合に、記録位置が前記傷区間に達したことに応じて前記ディスク状記録媒体に対する記録動作を停止するように前記記録工程における処理を制御する記録制御工程とをコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１４】
請求項１３に記載のプログラムを記憶したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置、光ディスク装置の制御方法、プログラム及び記憶媒体に関し、特に、偏芯量が大きいディスクに対して記録処理を行うために用いて好適な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＤＶＤなどの光ディスクに対し、光ビームを照射してデータを記録再生する装置が知られている。この種の装置では、データの書き込み中に、ディスク上の傷やごみなど（以下、これらを代表して傷と称す）によりオフセットライトが発生し、正常にデータの書き込みや読み出しができないことがある。
【０００３】
そこで、この場合を想定して、例えば、書き込み或いは読み出しエラーの可能性のあるトラックへライトリトライを行ったのち、上書きしてしまった可能性のある隣接トラックのデータの再読み出し及び再書き込みを行っている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−１４６０６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
前記特許文献１に記載されているディスク装置では、オフセットライトを防止するのではなく、オフセットライトが発生した後にデータの再読み出し及び再書き込みを行っている。したがって、オフセットライトされたデータを修復するまでに要する時間が長くなり、そのプロセスも複雑なものであった。
【０００６】
また、一般的に傷が存在するディスクでは、傷部においてトラッキング制御が不能となり、さらに偏芯量が大きいディスクの場合、傷部を通り抜けた所で隣接するトラック上に光ビームが照射された状態でトラッキング制御を行ってしまう。つまり、記録動作状態で偏芯量の大きなディスクの傷部を通過すると、オフセットライトが発生する可能性が非常に高いという問題点があった。
【０００７】
本発明は前述の問題点に鑑み、偏芯量の大きなディスクでオフセットライトが発生することを防止できるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の光ディスク装置は、多数のトラックが形成されたディスク状記録媒体に対して光ビームを照射する照射部と、前記光ビームの反射光を検出する受光部とを有する光ピックアップ手段と、前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記照射部の中心を前記トラックの中心へ移動させるトラッキング制御手段と、前記光ピックアップ手段を制御して光ビームを照射して、前記ディスク状記録媒体にデータを記録する記録手段と、前記ディスク状記録媒体の回転位相を検出する回転位相検出手段と、前記ディスク状記録媒体の偏芯量を検出して、前記検出した偏芯量から前記回転位相に応じた単位回転角あたりの偏芯量変化率を算出する偏芯量変化率算出手段と、前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記ディスク状記録媒体の傷を検出する傷検出手段と、前記偏芯量変化率算出手段によって算出された偏芯量変化率に基づいて、前記回転位相検出手段によって検出された回転位相をもとに前記傷検出手段によって検出された傷が存在する傷区間における予測偏芯量を算出する予測偏芯量算出手段と、前記予測偏芯量算出手段によって算出された予測偏芯量が所定値以上である場合に、記録位置が前記傷区間に達したことに応じて前記ディスク状記録媒体に対する記録動作を停止するように前記記録手段を制御する記録制御手段とを備えたことを特徴とする。
【０００９】
本発明の光ディスク装置の制御方法は、多数のトラックが形成されたディスク状記録媒体に対して光ビームを照射する照射部と、前記光ビームの反射光を検出する受光部とを有する光ピックアップ手段で検出された反射光をもとに、前記照射部の中心を前記トラックの中心へ移動させるトラッキング制御工程と、前記光ピックアップ手段を制御して光ビームを照射して、前記ディスク状記録媒体にデータを記録する記録工程と、前記ディスク状記録媒体の回転位相を検出する回転位相検出工程と、前記ディスク状記録媒体の偏芯量を検出して、前記検出した偏芯量から前記回転位相に応じた単位回転角あたりの偏芯量変化率を算出する偏芯量変化率算出工程と、前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記ディスク状記録媒体の傷を検出する傷検出工程と、前記偏芯量変化率算出工程において算出した偏芯量変化率に基づいて、前記回転位相検出工程において検出した回転位相をもとに前記傷検出工程において検出した傷が存在する傷区間における予測偏芯量を算出する予測偏芯量算出工程と、前記予測偏芯量算出工程において算出した予測偏芯量が所定値以上である場合に、記録位置が前記傷区間に達したことに応じて前記ディスク状記録媒体に対する記録動作を停止するように前記記録工程における処理を制御する記録制御工程とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
本発明のプログラムは、多数のトラックが形成されたディスク状記録媒体に対して光ビームを照射する照射部と、前記光ビームの反射光を検出する受光部とを有する光ピックアップ手段で検出された反射光をもとに、前記照射部の中心を前記トラックの中心へ移動させるトラッキング制御工程と、前記光ピックアップ手段を制御して光ビームを照射して、前記ディスク状記録媒体にデータを記録する記録工程と、前記ディスク状記録媒体の回転位相を検出する回転位相検出工程と、前記ディスク状記録媒体の偏芯量を検出して、前記検出した偏芯量から前記回転位相に応じた単位回転角あたりの偏芯量変化率を算出する偏芯量変化率算出工程と、前記光ピックアップ手段によって検出された反射光をもとに、前記ディスク状記録媒体の傷を検出する傷検出工程と、前記偏芯量変化率算出工程において算出した偏芯量変化率に基づいて、前記回転位相検出工程において検出した回転位相をもとに前記傷検出工程において検出した傷が存在する傷区間における予測偏芯量を算出する予測偏芯量算出工程と、前記予測偏芯量算出工程において算出した予測偏芯量が所定値以上である場合に、記録位置が前記傷区間に達したことに応じて前記ディスク状記録媒体に対する記録動作を停止するように前記記録工程における処理を制御する記録制御工程とをコンピュータに実行させることを特徴とする。
【００１１】
本発明の記憶媒体は、前記に記載のプログラムを記憶したことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ディスク状記録媒体の偏芯量から、傷が存在する傷区間の予測偏芯量を算出し、予測偏芯量が所定値以上である場合に記録動作を停止するようにした。これにより、対物レンズから照射される光ビームがデータ記録済みの隣接トラック上に照射されて、データを上書きしてしまうことを未然にかつ迅速に防止することができる。したがって、偏芯量の大きな傷付きディスクに対して記録動作を行っている場合であってもオフセットライトが発生することを防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
（第１の実施形態）
以下、図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明する。
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。
図１において、２６３は光ピックアップであり、２６５は光ピックアップ２６３の主軸であり、２５１は光ピックアップ２６３の副軸である。２０１はシステムコントローラであり、光ディスク装置１００全体の制御を行う。２０３はトラッキングアクチュエータドライバであり、トラックの中心に光ビームを照射するためのトラッキング制御手段として機能する。２５９はアクチュエータコイルであり、２６１はマグネットである。
【００１４】
２０５はレーザーダイオードドライバであり、２５５はレーザーダイオードである。２５７は対物レンズ（照射部）であり、２５３は反射光を検知する受光センサー（受光部）である。２１１はセンサーアンプであり、２０９はトラッキングエラー演算回路である。２０７はトラッククロスカウンタであり、２７１はＲＦ演算回路である。
【００１５】
２１３はスピンドルモータドライバであり、２６９はスピンドルモータである。２７５はスピンドルモータのＦＧ発振器であり、２７７はＦＧカウンタである。２７９はスピンドルモータのＰＧ発振器であり、２８１はＰＧカウンタである。２６７はスレッドモータであり、２８７はスレッドモータドライバである。
【００１６】
図１０は、本実施形態の光ディスク装置１００において、ディスク２８３と光ピックアップ２６３との位置関係を示している。ディスク２８３はディスク状記録媒体であり、多数のトラックが形成されている。また、ディスク２８３はスピンドルモータ２６９によって所定の速度で回転制御されている。光ピックアップ２６３は、制御部１０５によってディスク２８３に対して種々の制御が行われている。
【００１７】
次に、本実施形態における記録動作の概要について説明する。まず準備段階において、ディスクマウント時にディスク１回転分の偏芯量変化率を回転位相と対応させて測定する。次に、記録時において、傷検出を行いながら記録処理を行い、傷を検知した時に、傷部に対応する回転位相量と、傷部突入時の偏芯量変化率との積により予測偏芯量を演算する。そして、演算した予測偏芯量が閾値以上である場合は、オフセットライトの可能性が高いと判定して記録を中止する動作を行う。
【００１８】
次に、図６〜図８を参照しながらオフセットライトについて説明する。図６は、傷が存在しない場合のディスク上における記録状態を示す模式図である。また、図７は小さな傷がある場合のディスク上における記録状態を示す模式図であり、図８は大きな傷がある場合のディスク上における記録状態を示す模式図である。
【００１９】
図６に示すように傷が存在しない場合は、正確にトラッキング制御され、トラックに沿って記録済領域６０１を広げていくことができる。
【００２０】
一方、図７に示すように、ディスク上に小さな傷７０２がある場合は、傷７０２を通過する状態においてトラッキング制御に必要な光センサーの出力値が０を示し、トラッキング制御が不可能となる。この状態では、ディスクの偏芯量が十分小さければトラッキング制御を停止して、傷区間の直前でのトラッキング制御状態（アクチュエータ電圧）を維持したままディスクを回転させる。これにより、光ビームを照射していたトラック上へ再び光ビームを照射することができる。この結果、再記録領域７０３が正しいトラックに書き込まれる。
【００２１】
また、図８に示すように、ディスク上に大きな傷８０２がある場合でも、傷８０２を通過する状態においてトラッキング制御に必要な光センサーの出力値が０を示し、トラッキング制御が不可能になる。そこで、傷区間の直前でのトラッキング制御状態（アクチュエータ電圧）を維持したままディスクを回転させると、傷が大きい場合は、傷区間を脱出した直後、偏芯の影響により隣接トラック上に光ビームが照射される。そして、隣接トラック上の記録済み有効データ上へ再記録領域８０３をオーバーライトしてしまう可能性がある。そこで本実施形態では、傷区間における偏芯量が大きいと予測した場合には、オフセットライトの可能性が高いと判定して記録動作を中止する。
【００２２】
次に、ディスクマウント時にディスク１回転分の偏芯量変化率を回転位相と対応させて測定する方法について図４を参照しながら説明する。図４は、偏芯したトラックを含むディスクを示す図である。図４において、２８４は対物レンズ２５７から光ビームが照射される範囲を示すスポットであり、２８５はディスク２８３上の一周分のトラックである。
【００２３】
一般的に、固有ディスクにおけるトラックの偏芯状態は、内周から外周にかけてトラックのどの周においてもほぼ同じ傾向となる。したがって、固有ディスクの記録領域中のトラック一周分の偏芯量を測定し、内周から外周までの偏芯量の代表とする。そして、１回転分の偏芯量は対物レンズ２５７を固定させた状態で得られるトラッキングエラー信号から求める。つまり、対物レンズ２５７から光ビームが照射される範囲におけるトラックの乗り越え数を計数することにより偏芯量を測定する。
【００２４】
対物レンズ２５７から光ビームが照射される範囲におけるトラックの乗り越え数は、例えば、図９に示すように観測される。図９は、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）、及び再生ＲＦ信号の波形を示す図である。なお、偏芯量を測定する際に、一本のトラックを乗り越えた状態で、トラッキングエラー信号の波形の一周期が観測できる。さらにＲＦ信号を同時に観測すると、トラックの移動方向が判別できる。
【００２５】
図９に示す例では、トラッキングエラー信号に対してＲＦ信号が１／４周期進んだ位相関係であるが、トラックの移動方向が逆方向になると、トラッキングエラー信号に対してＲＦ信号が１／４周期遅れた位相関係になる。また、単位回転角あたりの偏芯量変化率が大きなところでは、観測されるトラッキングエラー信号の周波数が高くなり、単位回転角あたりの偏芯量変化率が小さなところでは、観測されるトラッキングエラー信号の周波数が低くなる。偏芯方向が反転すると、トラッキングエラー信号に対するＲＦ信号の進み位相方向が反転するため、トラッキングエラー信号の周波数及びＲＦ信号の位相からトラックの乗り越え数を計数することができる。
【００２６】
次に、図１及び図２を参照しながら具体的な手順について説明する。図２は、挿入されたディスクにおける一周分の各回転位相での偏芯量変化率を測定する手順の一例を示すフローチャートである。
図２のステップＳ３５１において処理を開始すると、ステップＳ３５２において、システムコントローラ２０１は、装置へディスクが挿入されたか否かを判断する。この判断の結果、ディスクが挿入されていない場合はそのまま待機し、挿入された場合は、次のステップＳ３５３に進む。
【００２７】
そして、ステップＳ３５３において、まず、１回転分の偏芯量を回転位相に対応させて一旦記録する。具体的には、システムコントローラ２０１はレーザーダイオードドライバ２０５を介してレーザーダイオード２５５を再生パワーで発光させる。さらに、スピンドルモータドライバ２１３を介してスピンドルモータ２６９を一定角速度で回転制御する。
【００２８】
続いて、システムコントローラ２０１はスレッドモータドライバ２８７を介してスレッドモータ２６７を駆動制御し、光ピックアップ２６３を記録領域上の代表点半径位置へ移動させる。そして、アクチュエータコイル２５９へ駆動電圧を与えずに無制御状態で、対物レンズ２５７の下においてトラック乗り越え数を計数する。
【００２９】
このトラック乗り越え数については、まず、センサーアンプ２１１を介して、受光センサー２５３の読取り値をトラッキングエラー演算回路２０９及びＲＦ演算回路２７１へ入力する。そして、トラッキングエラー信号とＲＦ信号とを元に、トラッククロスカウンタ２０７は偏芯量変化率算出手段として機能し、トラック乗り越え数を計数する。トラック乗り越え数は回転位相検出手段として機能するＰＧカウンタ２８１及びＦＧカウンタ２７７から得られるスピンドルモータ２６９の回転位相と対応させて、システムコントローラ２０１によって図示しないメモリに記録される。
【００３０】
次に、ステップＳ３５４において、システムコントローラ２０１は偏芯量変化率算出手段として機能し、各回転位相での（トラック乗り越え数で表現される）偏芯量変化率Ｒを算出する。具体的には、回転角度Ａ１での偏芯量をＳ１、回転角度Ａ２での偏芯量をＳ２とした場合、以下の数１に示す式を用いて回転位相毎に所定の区間における偏芯量変化率Ｒを算出する。
【００３１】
【数１】
2009146503.tif 000003
【００３２】
例えば、回転位相が１°毎に、偏芯量変化率Ｒを算出する場合は、以下の数２に示す式を用いてＮ＝０〜３５９まで算出し、図示しないメモリに記録する。
【００３３】
【数２】
2009146503.tif 000004
【００３４】
次に、記録時において傷の検出しながら記録処理を行い、傷を検知した時には傷部に対応する回転位相量と傷部突入時の偏芯量変化率との積により予測偏芯量を演算する方法において図５を参照しながら説明する。図５（ａ）は、ディスク１周分の各回転位相に対応させた一般的なディスクの偏芯量の一例を示した図である。
【００３５】
図５（ａ）において、縦軸は偏芯量を示しており、横軸は回転位相を示している。偏芯量は必ず１周を１周期とする回転同期性があり、回転位相０°及び回転位相３６０°の偏芯量は同一となる。また、単位回転角あたりの偏芯量変化率も回転同期性があり、偏芯量変化率が大きい位相区間と偏芯量変化率が小さい位相区間とが交互に出現する。
【００３６】
一方、図５（ｂ）は、図５（ａ）に示した偏芯量のディスクにおける予測偏芯量の算出方法を表現した模式図である。図５（ｂ）に示す例では、位相９０°及び２７０°付近で傷部へ突入した場合は、突入した位置の偏芯量変化率が小さいため、傷部位相巾が大きくても傷部を通過した後の予測偏芯量は比較的小さい。
【００３７】
一方、位相０°及び１８０°付近で傷部へ突入した場合は、突入した位置の偏芯量変化率が大きいため、傷部位相巾が小さくても傷部を通過した後の予測偏芯量は比較的大きい。すなわち、予測偏芯量は、傷部へ突入した時点の偏芯量変化率と傷部位相巾との積により表現できる。本実施形態では、以上のように予測偏芯量を算出し、この予測偏芯量が閾値以上である場合に、オフセットライトの可能性が高いと判定して記録動作を中止する。
【００３８】
次に、図１及び図３を参照しながら具体的な手順について説明する。図３は、本実施形態における記録制御手順の一例を示すフローチャートである。なお、図３に示す各処理は、システムコントローラ２０１によって制御させる。
図３のステップＳ３０１において、記録処理を開始すると、まず、ステップＳ３０２において、システムコントローラ２０１は傷検出手段として機能し、傷検出動作を行って、傷を検出したか否かを判断する。具体的には、受光センサー２５３の検知出力が０となることにより傷を検知する。この判断の結果、傷を検出していない場合はそのまま傷検出を続け、傷を検出した場合は、記録位置が傷区間に達したと判断して次のステップＳ３０３に進む。
【００３９】
そして、ステップＳ３０３において、傷を最初に検出した時点でのスピンドルモータ２６９の回転位相を読み取り、その回転位相での偏芯量変化率Ｒを傷突入時偏芯量変化率ＲSとして設定する。具体的には、その時点でのＰＧカウンタ２８１及びＦＧカウンタ２７７から得られるスピンドルモータの回転位相が傷突入時回転位相ＡSとしてシステムコントローラ２０１に送られる。そして、図２のステップＳ３５４でシステムコントローラ２０１によって記録された各回転位相での偏芯量変化率Ｒのテーブルから、傷突入時回転位相ＡSにおける偏芯量変化率Ｒを傷突入時偏芯量変化率ＲSとして設定する。なお、傷区間においては継続的に、現時点でのＰＧカウンタ２８１及びＦＧカウンタ２７７から得られるスピンドルモータの回転位相を傷中現在位置回転位相ＡNとしてシステムコントローラ２０１に送られる。
【００４０】
次に、ステップＳ３０４において、傷突入時回転位相ＡSと傷中現在位置回転位相ＡNとの差分から傷部位相巾ＡWIDを算出する。そして、ステップＳ３０５において、システムコントローラ２０１は予測偏芯量算出手段として機能し、ステップＳ３０３で設定された傷突入時偏芯量変化率ＲSと、ステップＳ３０４で算出された傷部位相巾ＡWIDとから、予測偏芯量を算出する。具体的には、以下の数３に示す式により予測偏芯量ＳESTを算出する。
【００４１】
【数３】
2009146503.tif 000005
【００４２】
そして、ステップＳ３０６において、予測偏芯量ＳESTと閾値偏芯量ＳTHとを比較する。この比較の結果、ＳEST＜ＳTHの場合は、偏芯の影響が小さく、傷部を通過した後に光ビームを照射していたトラック上へ再び光ビームを照射できると予測できる。したがって、ステップＳ３０７に進み、記録処理を継続する。このとき、傷区間ではトラッキングエラー信号を得ることができないので、傷区間の直前におけるトラッキング制御の状態を維持する。
【００４３】
一方、ステップＳ３０６の比較の結果、ＳEST≧ＳTHの場合は、偏芯の影響により隣接トラック上に光ビームが照射され、隣接トラック上の記録済み有効データ上へオーバーライトしてしまう可能性が高い。したがって、ステップＳ３０８に進み、システムコントローラ２０１は記録制御手段として機能し、オフセットライトの可能性が高いと判定して記録処理を中止する。
【００４４】
そして、ステップＳ３０９において、次にデータ記録されるべき物理アドレス位置をディスク２８３上に形成されているウォブルやランドプリピット（ＬＰＰ）などの位置情報から検索する。そして、記録されるべき物理アドレス位置を検知したか否かを判断する。この判断の結果、物理アドレスを検知していない場合は検知するまで継続し、検知した場合は、次のステップＳ３１０に進む。そして、ステップＳ３１０において、検知した物理アドレスの情報を取得してデータが記録されるべき物理アドレス位置上へ対物レンズ２５７をアクチュエータコイル２５９によって移動し、記録動作を再開する。
【００４５】
以上のように本実施形態においては、ディスクの偏芯量変化率から、傷が存在する区間の予測偏芯量ＳESTを算出し、予測偏芯量ＳESTが閾値偏芯量ＳTH以上である場合に記録動作を停止するようにした。これにより、対物レンズから照射される光ビームがデータ記録済みの隣接トラック上に照射されて、データを上書きしてしまうことを未然にかつ迅速に防止することができる。したがって、偏芯量の大きな傷付きディスクに対して記録動作を行っている場合であってもオフセットライトが発生することを防止することができる。
【００４６】
（本発明に係る他の実施形態）
前述した本発明の実施形態における光ディスク装置を構成する各手段、並びに光ディスク装置の制御方法の各工程は、コンピュータのＲＡＭやＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び前記プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明に含まれる。
【００４７】
また、本発明は、例えば、システム、装置、方法、プログラムもしくは記憶媒体等としての実施形態も可能であり、具体的には、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、また、一つの機器からなる装置に適用してもよい。
【００４８】
なお、本発明は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラム（実施形態では図２、３に示すフローチャートに対応したプログラム）を、システムまたは装置に直接、または遠隔から供給する場合も含む。そして、そのシステムまたは装置のコンピュータが前記供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される場合を含む。
【００４９】
したがって、本発明の機能処理をコンピュータで実現するために、前記コンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、本発明は、本発明の機能処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も含まれる。
【００５０】
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等の形態であってもよい。
【００５１】
プログラムを供給するための記憶媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスクなどがある。さらに、ＭＯ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ、ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ）などもある。
【００５２】
その他、プログラムの供給方法としては、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページに接続する方法がある。そして、前記ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記憶媒体にダウンロードすることによっても供給できる。
【００５３】
また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードすることによっても実現可能である。つまり、本発明の機能処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるＷＷＷサーバも、本発明に含まれるものである。
【００５４】
また、その他の方法として、本発明のプログラムを暗号化してＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に格納してユーザに配布し、所定の条件をクリアしたユーザに対し、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせる。そして、その鍵情報を使用することにより暗号化されたプログラムを実行してコンピュータにインストールさせて実現することも可能である。
【００５５】
また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現される。さらに、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが、実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現され得る。
【００５６】
さらに、その他の方法として、まず記憶媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。そして、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によっても前述した実施形態の機能が実現される。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態において、ディスク一周分における各回転位相での偏芯量変化率の測定手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施形態における記録制御手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】偏芯したトラックを含むディスクを示す図である。
【図５】本発明の実施形態における予測偏芯量を演算する方法を示す図である。
【図６】ディスク上において、傷がない場合の記録状態を示す拡大図である。
【図７】ディスク上において、小さな傷がある場合の記録状態を示す拡大図である。
【図８】ディスク上において、大きな傷がある場合の記録状態を示す拡大図である。
【図９】ＴＥ信号及びＲＦ信号の波形を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態の光ディスク装置において、ディスクと光ピックアップとの位置関係を示す図である。
【符号の説明】
【００５８】
２０１  システムコントローラ
２０３  トラッキングアクチュエータドライバ
２０５  レーザーダイオードドライバ
２０７  トラッククロスカウンタ
２０９  トラッキングエラー演算回路
２１１  センサーアンプ
２１３  スピンドルモータドライバ
２５１  光ピックアップの副軸
２５３  受光センサー
２５５  レーザーダイオード
２５７  対物レンズ
２５９  アクチュエータコイル
２６１  マグネット
２６３  光ピックアップ
２６５  光ピックアップの主軸
２６７  スレッドモータ
２６９  スピンドルモータ
２７１  ＲＦ演算回路
２７５  スピンドルモータのＦＧ発振器
２７７  ＦＧカウンタ
２７９  スピンドルモータのＰＧ発振器
２８１  ＰＧカウンタ
２８７  スレッドモータドライバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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