(57)【要約】【課題】リトライ時の読み取り確度を高めてドライブ性能を向上させることが可能な光ディスク再生装置を提供する。【解決手段】光ディスク１１から情報を読み取り出力するピックアップ１２、情報を与えられ情報信号、サーボエラー信号を出力するアンプ１５、サーボエラー信号を与えられピックアップの読み取りを制御するサーボ制御回路１６、１９、光ディスクの回転角に対応した回転アドレスを生成する回転アドレス生成部１３、情報信号、サーボエラー信号、回転アドレスを与えられ対応付けた状態で格納するメモリ３６、情報信号にエラーが存在するとエラーフラグを生成するエラーフラグ生成部３３、エラーフラグが生成されるとサーボエラー信号と回転アドレスとを用いてエラーフラグの要因を判定しサーボ制御回路のサーボパラメータを調整するシステムコントローラ３８を備える。【選択図】図１
2009043321.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクから情報を情報信号、サーボエラー信号として出力するアンプと、
前記サーボエラー信号を与えられてピックアップの読み取り動作を制御するサーボ制御回路と、
前記光ディスクの回転角に対応した回転アドレスを生成する回転アドレス生成部と、
前記情報信号と、前記サーボエラー信号と、前記回転アドレスとを与えられ、対応付けた状態で格納するメモリと、
前記情報信号にエラーが存在すると判定するとエラーフラグを生成するエラーフラグ生成部と、
前記エラーフラグ生成部により前記エラーフラグが生成されると、前記メモリに格納された前記サーボエラー信号と前記回転アドレスとを用いて前記エラーフラグが生成された要因を判定し、その結果に応じて前記サーボ制御回路におけるサーボパラメータを調整するシステムコントローラと、
を備えることを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項２】
前記サーボ制御回路には、前記ピックアップのトラッキングを制御するトラッキングサーボ制御回路が含まれ、前記サーボパラメータは前記トラッキングサーボ制御回路のゲインであることを特徴とする請求項１記載の光ディスク再生装置。
【請求項３】
前記システムコントローラは、前記メモリに格納されている、前記エラーフラグが生成された時の前記回転アドレスにおける前記サーボエラー信号と、前記回転アドレスに対して１回転前における前記サーボエラー信号とを含む情報を用いて、前記エラーフラグが生成された要因が、前記光ディスクの回転に同期したものであるか否かを判定することを特徴とする請求項１又は２記載の光ディスク再生装置。
【請求項４】
前記システムコントローラは、前記エラーフラグが生成された要因が、前記光ディスクの回転に同期したものであると判定した場合は、前記トラッキングサーボ制御回路のゲインを低下させ、前記光ディスクの回転に同期したものでないと判定した場合は、前記トラッキングサーボ制御回路のゲインを増加させることを特徴とする請求項３記載の光ディスク再生装置。
【請求項５】
前記システムコントローラは、第１の回転アドレスにおける前記サーボエラー信号及び前記情報信号のレベルにそれぞれ乱れが存在すると判定した場合は、前記トラッキングサーボ制御回路のゲインを低下させ、第２の回転アドレスにおける前記サーボエラー信号に乱れが存在し、前記第２の回転アドレスにおける前記情報信号のレベルには乱れが存在しないと判定した場合は、前記トラッキングサーボ制御回路のゲインを増加させることを特徴とする請求項２記載の光ディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク再生装置では、通常、データを読み出してデータの信頼性を示すエラーチェックコード等がエラーを示す場合、エラーとなったデータの存在する領域の前までシークし直して再度データを読み出すリトライ処理を行う。
【０００３】
ところで、データの読み取りが正しく行われない要因が、光ディスクに付着したゴミや傷等の物理的な要因である場合、あるいは振動等の突発的な要因である場合に、サーボ系回路のパラメータを変えずに単純に前回と同じ条件でリトライ処理を行っても再び読み取りエラーが生じることが多い。
【０００４】
そこで、これまでに読み取りエラーを改善するための手法がいろいろと提案されてきた。例えば、後述する特許文献１に記載された手法では、リトライ回数に応じてサーボパラメータを変更している。
【０００５】
また、リトライ処理時のエラー要因情報に基づいて、特にエラー頻度が多いものを優先してリトライ処理時のパラメータを変更するという手法も提案されている。
【０００６】
あるいは、成功したリードリトライの結果を保持してこれを反映することでリトライ処理時の読み取り確度を上げるという手法も提案されている。
【０００７】
しかしいずれの提案であっても、エラーの要因を分析することなく試行錯誤的にリトライを繰り返し、そのリトライの回数、エラー頻度、リトライが成功例した時の条件等に基づいて読み取り確度を向上させようとするものに過ぎず、エラーの要因を直接分析してリトライ処理時における読み取り確度を向上させることはできなかった。従ってリトライの回数が徒に増えてデータ読み出しに時間を要し、ドライブ性能の低下を招いていた。
【０００８】
従来の光ディスク再生装置を開示した文献名を以下に記載する。
【特許文献１】特開２００１−２０２６３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、リトライ処理時における読み取り確度を確実に高めてドライブ性能を向上させることができる光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一態様による光ディスク再生装置は、光ディスクから情報を情報信号、サーボエラー信号として出力するアンプと、前記サーボエラー信号を与えられてピックアップの読み取り動作を制御するサーボ制御回路と、前記光ディスクの回転角に対応した回転アドレスを生成する回転アドレス生成部と、前記情報信号と、前記サーボエラー信号と、前記回転アドレスとを与えられ、対応付けた状態で格納するメモリと、前記情報信号にエラーが存在すると判定するとエラーフラグを生成するエラーフラグ生成部と、前記エラーフラグ生成部により前記エラーフラグが生成されると、前記メモリに格納された前記サーボエラー信号と前記回転アドレスとを用いて前記エラーフラグが生成された要因を判定し、その結果に応じて前記サーボ制御回路におけるサーボパラメータを調整するシステムコントローラとを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の光ディスク再生装置によれば、リトライ処理時における読み取り確度を確実に高めてドライブ性能を向上させることが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施の形態による光ディスク再生装置について、図１を参照して説明する。
【００１３】
光ディスク１１からピックアップ１２により情報が読み出されてＲＦアンプ１５に入力され、サーボエラー信号と、情報信号ＲＦとが出力される。
【００１４】
サーボエラー信号のうち、光ディスク１１にレーザビームの焦点を合わせるためのフォーカスサーボエラー信号ＦＥは、ＲＦアンプ１５から出力された後、アナログディジタル（以下、ＡＤと称する）変換器１９ａでディジタルデータに変換されてフォーカスサーボ制御回路１９に入力される。
【００１５】
フォーカスサーボ制御回路１９から出力されたデータと、フォーカスサーボを起動するときに必要なフォーカスレンズ駆動信号発生回路２２から生成されたデータとが加算器１０１により加算されて、ディジタルアナログ（以下、ＤＡと称する）変換器２１ａに送られてアナログ信号に変換される。このアナログ信号は、フォーカスアクチュエータドライバ２１に与えられて駆動信号が出力され、ピックアップ１２のフォーカスアクチュエータが駆動される。
【００１６】
サーボエラー信号のうち、光ディスク１１上のトラック方向の制御を行うためのトラッキングエラー信号ＴＥは、フォーカスサーボエラー信号ＦＥと同様に、ＲＦアンプ１５から出力されＡＤ変換器１６ａに与えられ、トラッキングサーボ制御回路１６に入力される。トラッキングサーボ制御回路１６から出力されたデータは、トラック方向へアドレスシーク時にジャンプさせるためのレンズ駆動信号発生回路２２ａからの出力データと加算器１０２により加算され、ＤＡ変換器２０ａへ送られてアナログ信号に変換される。このアナログ信号は、トラッキングアクチュエータドライバ２０に与えられ、駆動信号が生成されてピックアップ１２のトラッキングアクチュエータが駆動される。
【００１７】
また、トラッキングサーボ制御回路１６からの出力データは、送りモータ制御回路１７へも送られる。送りモータ制御回路１７において、ピックアップ１２を光ディスク１１の半径方向へ移動させるために必要な低域成分が増幅されて出力される。出力されたこの信号は、ＤＡ変換器１８ａに与えられてアナログ信号に変換され、送りモータドライバ１８に与えられて駆動信号が生成され、送りモータ１４が駆動される。これらのサーボ系は、システムコントローラ３８によって制御される。
【００１８】
情報信号ＲＦは、再生クロックＰＬＬ（Phase-Locked Loop）２８に与えられてビットクロックが抽出される。抽出されたクロックと情報信号ＲＦとが復調回路３１に与えられて同期信号の分離、復調が行われ、ＣＤ／ＤＶＤ／ＨＤ・ＤＶＤデータ訂正処理回路／パリティ生成回路３３へ送られ、訂正ＲＡＭ３４が用いられて訂正処理が行われる。
【００１９】
ここで、訂正処理されたデータは、バッファコントローラ３５による制御に基づきデータバッファＲＡＭ３６において一旦格納された後、ＡＴＡＰＩインタフェース（以下、Ｉ／Ｆと称する）３７を介して図示されていないホストコンピュータへ送信される。
【００２０】
ＣＤ／ＤＶＤ／ＨＤ・ＤＶＤデータ訂正処理回路／パリティ生成回路３３は、訂正処理を行うと共にエラーフラグ生成部として動作する。読み出されたデータの訂正状態が判定され、エラーが存在すると判定されるとエラーフラグが生成される。このエラーフラグがシステムコントローラ３８へ送られて、読み取られた各データの品位が判定される。
【００２１】
ところで光ディスク１１は、再生クロックＰＬＬ２８から抽出されたビットクロックを基準としてディスクモータ制御回路２９ａで制御信号が生成され、ドライバ３０によりディスクモータ１３が駆動されて回転する。
【００２２】
記録時では、先ず図示されていないホストコンピュータからデータが送られてきて、バッファコントローラ３５を介してデータバッファＲＡＭ３６に一旦蓄積される。このデータは、ＣＤ／ＤＶＤ／ＨＤ・ＤＶＤデータ訂正処理回路／パリティ生成回路３３へ送られてパリティデータが付加され、変調回路３２に送られる。
【００２３】
変調回路３２により変調されて生成されたストリーム信号が、レーザパワー変調回路２９に与えられてパルス信号に変調され、ピックアップ１２により光ディスク１１上にパターンが記録される。
【００２４】
記録時におけるディスク回転制御は、ＲＦアンプ１５で生成されたウォブル信号がウォブルＰＬＬ＆デコーダ２６に与えられて生成されたウォブルクロックを基準として行われる。
【００２５】
またウォブルＰＬＬ＆デコーダ２６は、与えられたウォブル信号に変調されて書き込まれている光ディスク１１のアドレス情報もデコードし、記録位置の判断が可能なアドレス情報を生成してシステムコントローラ３８に出力する。
【００２６】
ウォブルＰＬＬ＆デコーダ２６から出力されたウォブルクロックは記録クロックＰＬＬ２７にも与えられ、記録用の変調クロックが生成されて変調回路３２に与えられる。
【００２７】
以上の各回路の動作は、システムコントローラ３８からの命令で制御される。
【００２８】
ＲＦアンプ１５から出力された情報信号ＲＦは平均値検波器２３にも与えられ、この情報信号ＲＦが平均値に基づいて検波され、出力された信号がＡＤ変換器２３ａによりディジタルデータに変換される。
【００２９】
このディジタルデータはディフェクト検出回路２３ｂに与えられ、予め定められた所定値と比較されて、光ディスク１１に存在するディフェクトが検出されて判定フラグとして出力される。出力された判定フラグは、セレクタ２５により選択的に出力されてデータ転送回路２５ａに与えられる。
【００３０】
一方、光ディスク１１を回転させると共に回転アドレス生成部として動作するディスクモータ１３から出力された回転角に対応した回転アドレスを示すＦＧ信号がＦＧアドレス生成回路２４に与えられ、回転角度を示すＦＧアドレスデータが生成されてセレクタ２５に与えられる。このＦＧアドレスデータは、光ディスク１１上の位置情報として、任意の角度を基準とする絶対角度あるいは相対確度のいずれであってもよい。
【００３１】
このＦＧアドレスデータもセレクタ回路２５を介してデータ転送回路２５ａへ送られ、順次バッファコントローラ３５へ送られデータバッファＲＡＭ３６に格納される。
【００３２】
また、ＡＤ変換器１６ａ、１９ａからそれぞれ出力されたトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥのディジタルデータも、セレクタ２５を介してデータ転送回路２５ａに与えられ、バッファコントローラ３５に送られてデータバッファＲＡＭ３６に格納される。データバッファＲＡＭ３６には、例えば、本来の読み出しあるいは書き込み用のデータとは別の領域に、サーボエラー信号としてトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥ蓄積用のリングバッファが設けられており、そこへ例えば２〜３回転分のデータが格納される。
【００３３】
システムコントローラ３８は、リングバッファ領域を直接アクセスして、過去のトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥの状態を再度モニターすることができる。
【００３４】
図２に、システムコントローラ３８がアクセス可能なＦＧアドレス、トラッキングエラー信号ＴＥ、情報信号ＲＦ、エラーフラグ、光ディスク１１上の位置を示す論理アドレスの波形を示す。
【００３５】
ＦＧアドレス生成回路２４から生成されるＦＧアドレスは、鋸歯状波の波形から成り、ディスク１回転を周期とする位置情報を示している。トラッキングエラー信号ＴＥと情報信号ＲＦとがＦＧアドレスに対応した光ディスク１１の回転角度に同期した形で記録されて行く。
【００３６】
尚、図２ではサーボエラー信号としてトラッキングエラー信号ＴＥが表示されフォーカスエラー信号ＦＥは表示されていない。この二つの信号はエラー発生の要因判定に関しては同様の波形変化を示すので、双方を用いてもよく、あるいはいずれか一方を用いてもよい。
【００３７】
エラーフラグ情報や、光ディスク１１の論理アドレス情報もバッファコントローラ３５に格納される。ここで、論理アドレス情報は常時光ディスク１１上の全ての位置情報を記録する必要はなく、エラーが発生した位置等、ＦＧアドレスと各サーボエラー信号との関係が分かる程度の分解能を有するものであればよい。
【００３８】
このように、データバッファＲＡＭ３６上に光ディスク１１の物理的な位置情報を示すＦＧアドレス、サーボエラー信号、情報信号ＲＦ、エラーフラグ、論理アドレスが時系列的にリンクされた状態で記録されて行く。
【００３９】
ＣＤ／ＤＶＤ／ＨＤ・ＤＶＤデータ訂正処理回路／パリティ生成回路３３からエラーフラグが出力されると一旦データバッファＲＡＭ３６に格納される。システムコントローラ３８は、データバッファＲＡＭ３６をアクセスしてエラーフラグの有無を監視する。そして、エラーフラグが発生すると、エラーフラグが記録された位置に対応するトラッキングエラー信号ＴＥ、情報信号ＲＦ、ＦＧアドレス、論理アドレスを読み取る。論理アドレスにエラーが発生している場合は、その前後の論理アドレスから正常な論理アドレスを取得することができる。
【００４０】
通常、エラーフラグは、訂正処理やエラーフラグ処理等、様々な処理が施された後にエラーの有無が判定され生成されるためエラー発生から時間的な遅れが生じる。このため、エラーフラグの生成時期とエラー発生時の各情報とは時間的に一致しない場合が多い。これに対し、論理アドレスはシーク時等に多用されるため、訂正処理を必要とせず時間的遅れは小さい。
【００４１】
従って、エラーが発生したデータの論理アドレスを、データバッファＲＡＭ３６に記録されているトラッキングエラー信号ＴＥやＦＧアドレスと照らし合わせることで、エラーが発生した位置におけるサーボエラー信号を探し出すことができる。
【００４２】
次に、エラーが発生した時のＦＧアドレスをデータバッファＲＡＭ３６に格納し、その一回転前あるいは一回転後における同じＦＧアドレスのトラッキングエラー信号ＴＥ、情報信号ＲＦを探し出す。これらの信号に、同様な乱れ（暴れ）が存在する場合には、エラーの要因が回転に依存した光ディスク１１の傷等に起因するものであると判定できる。
【００４３】
トラッキングエラー信号ＴＥ及び情報信号ＲＦの乱れ（暴れ）Ａ、Ｂ、Ｃは、光ディスク１１の傷を表している。このような要因でエラーフラグＥｂが発生した場合は、まず論理アドレスＬＡｂをデータバッファＲＡＭ３６に格納する。この論理アドレスＬＡｂの少し手前に存在している情報に、トラッキングエラー信号ＴＥや情報信号ＲＦの双方に乱れ（暴れ）が存在しているか否かを調べる。このような信号の乱れ（暴れ）の検出は、所定レベルを超えているか否かにより簡単に行うことができる。
【００４４】
そして、信号の乱れ（暴れ）が生じた時のＦＧアドレスＦＧＡ（Ｂ）を読み取り、一回転前の同一位置におけるＦＧアドレスＦＧＡ（Ａ）と一回転後の同一位置におけるＦＧアドレスＦＧＡ（Ｃ）におけるトラッキングエラー信号ＴＥと情報信号ＲＦを読み出し、それぞれのレベル変化を観測する。
【００４５】
ＦＧアドレスＦＧＡ（Ａ）、ＦＧＡ（Ｂ）、ＦＧＡ（Ｃ）におけるトラッキングエラー信号ＴＥと情報信号ＲＦのように、双方に乱れ（暴れ）が検出された時は、光ディスク１１に傷が存在すると判断することができる。このような場合は、サーボ系回路のパラメータとして、トラッキングサーボ制御回路１６あるいはフォーカスサーボ制御回路１９、あるいはまたピックアップ１２のゲインを下げるように制御することで、光ディスク１１の傷に対するサーボの耐性を向上することができる。そして、ゲインを下げた後リトライ処理を行うことで、データの読み取り確度を向上させることができる。
【００４６】
一方、ＦＧアドレスＦＧＡ（Ｄ）、ＦＧＡ（Ｅ）のようにトラッキングエラー信号ＴＥのみに乱れ（暴れ）が観測され、情報信号ＲＦには生じていない場合は、多くの場合振動等のように回転に依存しない偶発的な外部要因によりデータの読み取りにエラーが生じている。このような場合は、一回転前あるいは後の同一位置におけるＦＧアドレスＦＧＡ（Ｄ’）、ＦＧＡ（Ｄ’’）、ＦＧアドレスＦＧＡ（Ｅ’）、ＦＧＡ（Ｅ’’）においてトラッキングエラー信号ＴＥ、情報信号ＲＦに同様に乱れ（暴れ）は観測されない。
【００４７】
この場合には、同じゲインのままでリトライ処理を行うか、あるいはゲインを上げるように設定パラメータを変えてリトライ処理を行うことにより、より読み取り確度を向上させることができる。
【００４８】
ＦＧアドレスＦＧＡ（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）のような場合は、トラッキングエラー信号ＴＥ及び情報信号ＲＦの両方のレベルに乱れ（暴れ）が観測される。しかし、光ディスク１１上の細いスクラッチ傷のようなものは、傷に影響されてレベルが変化する時間が短いために情報信号ＲＦのレベル変動が観測されない場合も多い。このような場合は、トラッキングエラー信号ＴＥにおけるレベル変動のみが観測されることになる。
【００４９】
ＦＧアドレスＦＧＡ（Ｇ）において、トラッキングエラー信号ＴＥに乱れ（暴れ）が発生しているが、情報信号ＲＦのレベルには殆ど変化がない。一回転前のＦＧアドレスＦＧＡ（Ｆ）、ＦＧＡ（Ｈ）においても同様である。即ち、光ディスク１１上に照射した光が反射され受光されることにより、情報信号ＲＦには乱れ（暴れ）が殆ど生じていないが、トラッキングエラー信号ＴＥに乱れ（暴れ）を発生させている。このような場合、光ディスク１１表面における幅の狭いクラッチ傷による要因と判断することができる。そこで、ゲインを下げる処理を行った後リトライ処理を行うことで、読み取り確度を向上させることができる。
【００５０】
ここで、上記シーケンスで読み取りエラーの要因を判定する際に、傷が原因となって読み取り位置が離れた位置までいきなりジャンプしたような場合は、もう１回転分データを取り込まないと１回転前あるいは一回転後における信号レベルの乱れ（暴れ）を検出できないことが可能性として考えられる。
【００５１】
しかし、通常の光ディスク１１の傷ではこのような現象が発生する確率は低い。ビームスポット径は非常に小さいため、少しづつ傷の内側領域に入っていくことにより、サーボエラー信号や情報信号ＲＦにおいて徐々に傷によるレベル変動の挙動が現れることがほとんどである。
【００５２】
図３に、ディジタル回路で構成されたフォーカスサーボ制御回路１９又はトラッキングサーボ制御回路１６により実行される演算処理の内容を示す。
【００５３】
フォーカスエラー信号ＦＥ又はトラッキングエラー信号ＴＥが入力され、ハイパスフィルタを経て出力され、さらにローパスフィルタを経て出力される。
【００５４】
ハイパスフィルタにおいて、フォーカスエラー信号ＦＥ又はトラッキングエラー信号ＴＥに乗算係数ＭＰ１１が乗算され、サンプルディレイレジスタＤＲ１１により遅延され乗算係数ＭＰ１２が乗算された値と加算器ＡＤ１１において加算された後出力される。出力された値は、サンプルディレイレジスタＤＲ１１により遅延された後乗算係数ＭＰ１４が乗算された値と、乗算係数ＭＰ１３が乗算された値とが加算器ＡＤ１２により加算され、さらに加算器ＡＤ１３に出力される。
【００５５】
同様にローパスフィルタにおいて、フォーカスエラー信号ＦＥ又はトラッキングエラー信号ＴＥに乗算係数ＭＰ２１が乗算され、サンプルディレイレジスタＤＲ２１により遅延され乗算係数ＭＰ２２が乗算された値と加算器ＡＤ２１において加算された後出力される。出力された値は、サンプルディレイレジスタＤＲ２１により遅延された後乗算係数ＭＰ２４が乗算された値と、乗算係数ＭＰ２３が乗算された値とが加算器ＡＤ２２により加算され、さらに加算器ＡＤ１３に出力される。そして、ハイパスフィルタにおいて加算器ＡＤ１３に出力された値と、ローパスフィルタにおいて加算器ＡＤ１３に出力された値とが加算されて最終的なフォーカスエラーイコライズ信号ＦＥＥＱ又はトラッキングエラーイコライズ信号ＴＥＥＱとして出力される。
【００５６】
このようなフォーカスサーボ制御回路１９又はトラッキングサーボ制御回路１６により得られたイコライザゲイン特性を図４に示す。
【００５７】
ローパスフィルタのゲイン特性は周波数がｆ１より高くなるに従い降下し、逆にハイパスフィルタのゲイン特性は周波数がｆ３（ｆ３＞ｆ１）より高くなるに従い上昇してｆ４以降は一定となる。このような両者のゲイン特性が加算されると、図４において点線で示されたように、周波数の上昇に伴い、周波数０からｆ１まで一定でｆ２までの間降下し、ｆ３まで低いレベルで一定を維持し、ｆ３からｆ４まで上昇した後ｆ４から一定を維持するという特性が得られる。
【００５８】
ここで、光ディスク１１の回転周波数付近におけるゲインが高くなる特性が得られるように設定することが望ましい。このように全体のゲインを設定することで、フォーカスサーボイコライザ回路１９やトラッキングサーボイコライザ回路１６の特性を変化させることが可能となる。
【００５９】
図５に、ピックアップ１２におけるトラッキングサーボ特性を示す。この開ループ特性曲線において、ゲインが０ｄＢをクロスした時のゼロクロス周波数ｆ0Cがトラッキングサーボの応答周波数に相当する。
【００６０】
図４に示されたイコライザ回路全体のイコライザゲインを上昇させると、ゼロクロス周波数ｆ0Cは高くなる。逆に、回路全体のイコライザゲインを低下させると、ゼロクロス周波数ｆ0Cは低くなる。
【００６１】
ゼロクロス周波数ｆ0Cを高く設定することで、回転周期に依存しない、振動等の突発的な外乱に対する耐性が向上する。ゼロクロス周波数ｆ0Cを低く設定すると、回転周期に依存した、光ディスク１１に付いた傷等に対して影響を受け難い特性が得られ、傷等に対する耐性を向上させることが可能となる。
【００６２】
この２つの要求は通常相反する特性を示すため、いずれに対する耐性を向上させるかを選択しパラメータを最適化することで、リトライ処理時の読み取り確度を改善することができる。
【００６３】
図６のフローチャートに、本実施の形態における読み取り処理にシーケンスを示し、図７のフローチャートに後述するリトライ処理のシーケンスを示す。尚、以下の処理はシステムコントローラ３８が行う。
【００６４】
ステップＳ４０として、目標とする論理アドレスのシークを行う。
【００６５】
ステップＳ４２として、シーケンシャルリード処理を行い、光ディスク１１から読み取ったデータをデータバッファＲＡＭ３６に格納すると共にホストコンピュータに出力する。
【００６６】
ステップＳ４４として、シーケンシャルリード処理中に、データバッファＲＡＭ３６内にＦＧアドレスやサーボエラー信号を記録して行き、これらのアドレスやサーボエラー信号と光ディスク１１上の論理アドレスとの関係を示す情報も同時に記録して行く。
【００６７】
図８に、サーボエラー信号としてのフォーカスエラー信号ＦＥ、フォーカスエラー信号ＦＥ、ＦＧアドレスがそれぞれアドレスに対応付けられてフォーカスエラー信号ＦＥ（ａ）、トラッキングエラー信号ＴＥ（ａ）、ＦＧアドレス（ａ）としてデータバッファＲＡＭ３６内のリングバッファに格納される。
【００６８】
一方、情報信号ＲＦが、データバッファＲＡＭ３６においてセクタ単位で格納される。図９に示されたように、フォーカスエラー信号ＦＥ（ａ）、トラッキングエラー信号ＴＥ（ａ）、ＦＧアドレス（ａ）におけるアドレス（＝ｎ−ｉ、ｎ、ｎ＋ｉ、ｎ＋２ｉ、ｎ＋３ｉ、ｎ＋４ｉ）と、情報信号のアドレス（＝ｊ−ｋ、ｊ、ｊ＋ｋ、ｊ＋２ｋ、ｊ＋３ｋ、ｊ＋４ｋ）とが対応付けられている。また、各情報信号においてセクタを単位としてエラーフラグの有無（「１」又は「０」）がデータバッファＲＡＭ３６に格納される。
【００６９】
このようにＦＧアドレスと関連付けてサーボエラー信号を格納することで、データ読み取りエラーが起きた位置におけるサーボエラー信号を容易に探し出すことが可能となる。
【００７０】
ステップＳ４６において、エラーデテクションコード（ＥＤＣ）に該当するか否かを判断し、該当する場合はエラーフラグを生成し後述のリトライ処理を行う。また、ステップＳ４８において全てのデータを読み取ったか否かを判断し、全てを読み取るまで上述の処理を繰り返す。
【００７１】
図７のフローチャートに、リトライ処理のシーケンスを示す。
【００７２】
ステップＳ１０において、先ずデータの読み取りエラーが発生した時の論理アドレスの連続性、光ディスク１１上における現在位置の確認処理を行う。
【００７３】
ステップＳ１２として、データバッファＲＡＭ３６に蓄積されたサーボエラー信号と、読み出しアドレスとの関係に基づいて、読み取りエラーが発生した異常なサーボエラー信号を検出する。
【００７４】
ステップＳ１４において、検出したサーボエラー信号とＦＧアドレスとの関係から、読み取りエラーが発生した位置を判定し、その時のＦＧアドレスをデータバッファＲＡＭ３６に格納する。
【００７５】
ステップＳ１６において、データバッファＲＡＭ３６に格納されている１回転前のＦＧアドレスにおけるサーボエラー信号を取得する。
【００７６】
ステップＳ１８として、１回転前のサーボエラー信号に乱れ（暴れ）が生じているか否かを判断する。サーボエラー信号に乱れ（暴れ）が生じている場合はステップＳ２０、生じていない場合はステップＳ２４へ移行し、読み取りエラーが発生した位置より前の位置へシークする。
【００７７】
サーボエラー信号に乱れ（暴れ）が生じている場合は、ステップＳ２２において、読み取りエラーの原因が光ディスク１１に付いた傷である可能性があると判断し、トラッキングサーボゲインを所定値δ（ｄＢ）下げる処理を行う。
【００７８】
一方、サーボエラー信号に乱れ（暴れ）が生じていない場合は、ステップＳ２６において、読み取りエラーの原因が振動等の突発的なものである可能性があると判断し、トラッキングサーボゲインを所定値△（ｄＢ）上げる処理を行う。あるいは、トラッキングサーボゲインを変えずに同一ゲインで以下のリトライ処理を行う。
【００７９】
ステップＳ２２又はＳ２６における処理の後、ステップＳ２８へ移行してデータを再度読み取るリトライ処理を行う。
【００８０】
ステップＳ３２として、ＥＤＣコードと対比してエラーであるか判断し、エラーでない場合はステップＳ４０へ戻る。エラーである場合は、ステップＳ３０へ移行し、リトライ処理が成功するまで予め定められた所定回数だけステップＳ１０からステップＳ３０までの処理を繰り返す。所定値に到達しても依然として読み取りエラーが解消しない場合は、リード処理を停止する。
【００８１】
上記実施の形態によれば、データの読み取りエラーが発生した時に、その要因が光ディスクの回転に依存した傷等に起因するものであるか、あるいは回転に依存しない突発的な振動等に起因するものかを判別することにより、リトライ処理時のデータ読み取り確度を、大幅に向上させることができる。この結果、読み取りエラー発生時におけるリトライ処理の高速化やドライブの読み取り能力の向上等、光ディスクの再生性能を大幅に改善することが可能である。
【００８２】
上述した実施の形態はいずれも一例であって、本発明を限定するものではなく、本発明の技術的範囲内において様々に変形することが可能である。例えば、上記実施の形態ではトラッキングサーボゲインの設定について述べたが、フォーカスサーボゲインについて同様な設定を行ってもよい。あるいは、データ読み取り系の設定等に対しても、トラッキングサーボゲインについて述べたように回転に依存した光ディスクの傷や依存しない突発的な振動等の要因に応じて、それぞれに最適化されたパラメータに設定することで、リトライ時のデータ読み取り確度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】本発明の実施の形態による光ディスク再生装置の構成を示したブロック図。
【図２】同光ディスク再生装置におけるＦＧアドレス、トラッキングエラー信号ＴＥ、情報信号ＲＦ、エラーフラグ、論理アドレスを示す波形図。
【図３】同光ディスク再生装置におけるフォーカス又はトラッキングサーボ制御回路の構成を示した回路図。
【図４】同光ディスク再生装置におけるイコライザゲイン特性を示す説明図。
【図５】同光ディスク再生装置における開ループゲイン特性を示す説明図。
【図６】同光ディスク再生装置における読み取り処理のシーケンスを示すフローチャート。
【図７】同光ディスク再生装置におけるリトライ処理のシーケンスを示すフローチャート。
【図８】同光ディスク再生装置においてサーボエラー信号と情報信号とがＦＧアドレスに対応付けられてデータバッファＲＡＭに格納されることを示す説明図。
【図９】同光ディスク再生装置においてサーボエラー信号のアドレス、情報信号のアドレス、情報信号のエラーフラグの対応関係を示す説明図。
【符号の説明】
【００８４】
１１  光ディスク
１２  ピックアップ
１３  ディスクモータ
１６  トラッキングサーボ制御回路
１９  フォーカスサーボ制御回路
３３  ＣＤ／ＤＶＤ／ＨＤ・ＤＶＤデータ訂正処理回路／パリティ生成回路
３６  データバッファＲＡＭ
３８  システムコントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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