(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスクの記録又は再生を行う記録層からの受光部への戻り光に対して他の記録層からの迷光が入射することにより発生する干渉により信号にノイズ成分が発生することを低減して良好な各種信号を得る。【解決手段】複数の記録層を有する光ディスク２に対して情報の記録及び／又は再生を行う光ピックアップ３において、光源３１と、光ディスク２の一の記録層に集光する対物レンズ３２と、戻り光の光路を光源３１から出射された光ビームの光路と分離する光路分離手段３３と、戻り光を受光する受光部３４を有する光検出器３５と、光路分離手段３３と受光部３４との間に配置され、入射した光ビームの偏光方向を回転させる旋光子３６とを備え、旋光子３６は、光ビームが集光された一の記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射され一の記録層で反射された光ビームとは異なる角度で入射する光ビームとの偏光方向を可干渉性を低減させる状態とする。【選択図】図２
2009099176.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも光ビームの入射方向に複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録及び／又は再生を行う光ピックアップにおいて、
所定の波長の光ビームを出射する光源と、
上記光源から出射された光ビームを光ディスクの一の記録層に集光する対物レンズと、
上記光源と上記対物レンズとの間に配置され、上記光ディスクで反射された戻り光の光路を上記光源から出射された光ビームの光路と分離する光路分離手段と、
上記光路分離手段で分離された上記戻り光を受光する受光部を有する光検出器と、
上記光路分離手段と上記受光部との間に配置され、入射した光ビームの偏光方向を回転させる旋光子とを備え、
上記旋光子は、上記光ビームが集光された一の記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射され上記一の記録層で反射された光ビームとは異なる角度で入射する光ビームとの偏光方向を、可干渉性を低減させる状態とする光ピックアップ。
【請求項２】
上記旋光子は、らせん構造を持つ液晶で構成される請求項１記載の光ピックアップ。
【請求項３】
上記旋光子は、高分子又は無機化合物結晶で構成される請求項１記載の光ピックアップ。
【請求項４】
上記光路分離手段は、入射した光ビームの偏光状態に応じて上記光ビームを反射又は透過させる偏光ビームスプリッタであり、上記光ディスクで反射された戻り光を上記受光部側に導く請求項１記載の光ピックアップ。
【請求項５】
少なくとも光ビームの入射方向に複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録及び／又は再生を行う光ピックアップと、上記光ディスクを回転する回転駆動手段とを備える光ディスク装置において、
上記光ピックアップは、所定の波長の光ビームを出射する光源と、
上記光源から出射された光ビームを光ディスクの一の記録層に集光する対物レンズと、
上記光源と上記対物レンズとの間に配置され、上記光ディスクで反射された戻り光の光路を上記光源から出射された光ビームの光路と分離する光路分離手段と、
上記光路分離手段で分離された上記戻り光を受光する受光部を有する光検出器と、
上記光路分離手段と上記受光部との間に配置され、入射した光ビームの偏光方向を回転させる旋光子とを備え、
上記旋光子は、上記光ビームが集光された一の記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射され上記一の記録層で反射された光ビームとは異なる角度で入射する光ビームとの偏光方向を、可干渉性を低減させる状態とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報信号の記録を行い、光ディスクに記録された情報信号の再生を行うために用いられる光ピックアップ及びこれを用いた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、情報信号の記録媒体として、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ(Digital Versatile Disc)等の光ディスクが用いられ、この種の光ディスクに情報信号の記録を行い、あるいは光ディスクに記録された情報信号の再生を行うための光ディスク装置があり、この光ディスク装置には、光ディスクの半径方向へ移動され、この光ディスクに対して光ビームを照射する光ピックアップが設けられている。
【０００３】
この光ピックアップは、一般的に、光源、ビームスプリッタ、対物レンズ、受光素子等を有しており、光源から出射された光ビームがビームスプリッタを透過して、対物レンズによって集光されて光ディスクの情報記録層（以下、「記録層」ともいう。）に光ビームのスポットが形成される。また、光ディスクの記録層に集光された光ビームは、反射されて再びビームスプリッタに入射され、このビームスプリッタによって光路が変更されて受光素子に入射される。
【０００４】
光ディスクには、単一の記録層を有する一層型のタイプのものと、記録層が複数設けられている多層型のタイプのものがある。この多層型のタイプの一例として、記録層を２層有し、光ピックアップの信号の読み書きの際には、対物レンズを上下に動かすことで光ビームの焦点を読み書きの対象となる記録層に合わせることで２つの記録層を区別して読み書きする、所謂２層メディアといった規格が存在する。さらに、記録層を２層より増やして、メディア一枚あたりの記録情報容量を増やすための多層メディアの規格化も検討されている。
【０００５】
このような多層型の光ディスクに対して情報の記録及び／又は再生を行う際に、例えば、記録又は再生を行う一の記録層に光ビームが集光されている場合に、光ビームの焦点の合っていない記録層、すなわち情報の読み書きの対象となる記録層とは別の記録層でも光ビームが反射され、このような別の記録層からの反射光ビーム（反射迷光）による影響が問題となる（以下、別の記録層からの反射迷光を「迷光」ともいい、また、光ビームの焦点が合っている記録層からの反射光を「信号光」ともいう。）。
【０００６】
上述のような迷光の一部は、光検出器の受光部に到達し、受光部で受光される信号光とともに光検出器によってその光強度が再生信号として変換されるため、信号光に対する外乱となってしまう。特に、光検出器上で迷光と信号光とが干渉を起こし、受光部上に干渉縞が形成されることで、この外乱は、著しく増大する。このように、多層型の光ディスクに対して情報の記録及び／又は再生を行う際には、この外乱により、サーボ信号に不要な変動が発生したり、再生信号のエラー発生が増大するといった問題があった。
【０００７】
上述のような迷光の影響を軽減するために、例えば迷光のうち光検出器に照射される部分を光検出器のない方向に向けるための回折光学素子や、迷光のうち光検出器に照射される部分を光検出器に到達させないように遮蔽するための遮蔽部を備えた光学部品を光ピックアップの光学系の戻りの光路内に備える光ピックアップも検討されている。しかし、このような光ピックアップでは、信号光である光ビームの一部も光検出器に到達しなくなり、このことによる信号光の劣化の問題が発生してしまう。
【０００８】
【特許文献１】特開２００５−６３５９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明の目的は、光ディスクの記録又は再生を行う記録層からの受光部への戻り光に対して他の記録層からの迷光が入射することにより発生する干渉を防止して、この戻り光により検出される信号にノイズ成分が発生してしまうことを防止することを可能とする光ピックアップ及び光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る光ピックアップは、少なくとも光ビームの入射方向に複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録及び／又は再生を行う光ピックアップにおいて、所定の波長の光ビームを出射する光源と、上記光源から出射された光ビームを光ディスクの一の記録層に集光する対物レンズと、上記光源と上記対物レンズとの間に配置され、上記光ディスクで反射された戻り光の光路を上記光源から出射された光ビームの光路と分離する光路分離手段と、上記光路分離手段で分離された上記戻り光を受光する受光部を有する光検出器と、上記光路分離手段と上記受光部との間に配置され、入射した光ビームの偏光方向を回転させる旋光子とを備え、上記旋光子は、上記光ビームが集光された一の記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射され上記一の記録層で反射された光ビームとは異なる角度で入射する光ビームとの偏光方向を、可干渉性を低減させる状態とする。
【００１１】
また、本発明に係る光ディスク装置は、少なくとも光ビームの入射方向に複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録及び／又は再生を行う光ピックアップと、上記光ディスクを回転する回転駆動手段とを備える光ディスク装置であり、この光ディスク装置に用いる光ピックアップとして、上述したようなものを用いたものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明は、光ディスクで反射され受光部で受光される光ビームの光路中に設けられる旋光子が、記録又は再生を行う記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射された光ビームとの偏光方向をそれぞれ回転させ、旋光子から出射されるこれらの偏光方向を、可干渉性を低減させる状態とすることにより、これらの光ビームが干渉して光検出器で検出される信号にノイズ成分が発生してしまうことを防止して、良好な記録及び／又は再生を実現する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明を適用した光ピックアップを用いた光ディスク装置について、図面を参照して説明する。
【００１４】
本発明が適用された光ディスク装置１は、記録層が積層化された光ディスク等に対して情報信号の記録及び／又は再生を行う記録再生装置である。具体的に、光ディスク装置１は、図１に示すように、光ディスク２から情報記録再生を行う光ピックアップ３と、光ディスク２を回転操作する駆動手段としてのスピンドルモータ４と、光ピックアップ３を光ディスク２の径方向に移動させる送りモータ５とを備えている。
【００１５】
ここで用いられる光ディスクは、例えば、発光波長が７８５ｎｍ程度の半導体レーザを用いたＣＤ(Compact Disc）、ＣＤ−Ｒ（Recordable）、ＣＤ−ＲＷ（ReWritable）等の光ディスクや、発光波長を６５５ｎｍ程度の半導体レーザを用いたＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ−Ｒ（Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ（ReWritable）、ＤＶＤ＋ＲＷ（ReWritable）等の光ディスクや、さらに発光波長が短い４０５ｎｍ程度（青紫色）の半導体レーザを用いた高密度記録が可能なＢＤ（Blu-ray Disc（登録商標））等の高密度記録光ディスクである。
【００１６】
特に以下では、この光ディスク装置１で用いられる光ディスクとして、図２に示すように、多層型のタイプとして、２つの記録層を有する光ディスク２を用いるものとして説明するが、この光ディスク装置１及び光ピックアップにより情報信号の記録又は再生を行う光ディスクは、これに限られるものではなく、光ビームの入射方向に一又は複数の記録層が積層されて形成された光ディスクであればよい。具体的に、光ディスク２は、光ビームの入射側から順に、保護層（カバー層）２ａ、記録層Ｌ１、記録層Ｌ０が形成されている。ここで、保護層２ａの厚みは、７５μｍに形成され、記録層Ｌ１と記録層Ｌ０との間隔は、２５μｍに形成されている。
【００１７】
光ディスク装置１において、スピンドルモータ４及び送りモータ５は、ディスク種類判別手段ともなるシステムコントローラ７からの指令に基づいて制御されるサーボ制御部９によりディスク種類に応じた所定の回転数で駆動制御される。
【００１８】
光ピックアップ３は、光ディスクの記録層に対して所定の波長の光ビームを保護層側から照射するとともに、この光ビームの記録層における反射光を検出する。光ピックアップ３は、検出した反射光から各光ビームに対応する信号を出力する。
【００１９】
光ディスク装置１は、光ピックアップ３から出力された信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号等を生成するプリアンプ１４と、プリアンプ１４からの信号を復調し又は外部コンピュータ１７等からの信号を変調するための信号変復調器及びエラー訂正符号ブロック（以下、信号変復調器＆ＥＣＣブロックと記す。）１５と、インターフェース１６と、Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１８と、オーディオ・ビジュアル処理部１９と、オーディオ・ビジュアル信号入出力部２０とを備える。
【００２０】
このプリアンプ１４は、光検出器からの出力に基づいて、非点収差法等によってフォーカスエラー信号を生成し、また、ＤＰＰ法等によってトラッキングエラー信号を生成し、更にＲＦ信号を生成し、ＲＦ信号を、信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５に出力する。また、プリアンプ１４は、フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号とをサーボ制御部９に出力する。
【００２１】
信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５は、光ディスク２に対して、データの記録を行うとき、例えば、インターフェース１６又はＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１８から入力されたディジタル信号に対して、ＬＤＣ−ＥＣＣ及びＢＩＳ等のエラー訂正方式によってエラー訂正処理を行い、次いで、１−７ＰＰ方式等の変調処理を行う。そして、信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５は、変調されたデータをレーザ制御部２１に出力する。更に、信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５は、各光ディスクの再生を行うとき、プリアンプ１４から入力されたＲＦ信号に基づいて復調処理を行い、更に、エラー訂正処理を行って、インターフェース１６又はデータをＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１８に出力する。
【００２２】
なお、データ圧縮してデータ記録するときには、圧縮伸長部を信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５とインターフェース１６又はＤ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１８との間に設けても良い。この場合、データは、ＭＰＥＧ２やＭＰＥＧ４といった方式でデータが圧縮される。
【００２３】
サーボ制御部９は、プリアンプ１４からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が入力される。サーボ制御部９は、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が０となるようなフォーカスサーボ信号やトラッキングサーボ信号を生成し、これらのサーボ信号に基づいて、対物レンズを駆動する２軸アクチュエータ等の対物レンズ駆動部を駆動制御する。また、プリアンプ１４からの出力より、同期信号等を検出して、ＣＬＶ（Constant Linear Velocity）やＣＡＶ（Constant Angular Velocity）、更にはこれらの組み合わせの方式等で、スピンドルモータをサーボ制御する。
【００２４】
レーザ制御部２１は、光ピックアップ３のレーザ光源を制御する。特に、この具体例では、レーザ制御部２１は、記録モード時と再生モード時とでレーザ光源の出力パワーを異ならせる制御を行っている。
【００２５】
尚、ここで説明する光ディスク装置１は、一の波長の光ビームを用いて、光ディスクに対して記録、再生を行うものとして説明するが、本発明は、複数波長互換を実現するものに適用してもよく、その場合には、ディスク種類判別部を設けて、このディスク種類判別部で検出された光ディスク２の種類に応じてレーザ制御部２１が光ピックアップ３のレーザ光源を切り換えるように構成すればよい。その場合に設けられるディスク種類判別部２２は、複数種類の光ディスク間の表面反射率、形状的及び外形的な違い等から反射光量の変化を検出し光ディスク２の異なるフォーマットを検出することができる。
【００２６】
システムコントローラ７は、ユーザからの操作入力に応じて、光ディスク最内周にあるプリマスタードピットやグルーブ等に記録されたアドレス情報や目録情報（Table Of Contents；ＴＯＣ）に基づいて、記録再生を行う光ディスクの記録位置や再生位置を特定し、特定した位置に基づいて、各部を制御する。
【００２７】
以上のように構成された光ディスク装置１は、スピンドルモータ４によって、光ディスク２を回転操作し、サーボ制御部９からの制御信号に応じて送りモータ５を駆動制御し、光ピックアップ３を光ディスク２の所望の記録トラックに対応する位置に移動することで、光ディスク２に対して情報の記録再生を行う。
【００２８】
具体的には、光ディスク装置１により記録再生するときには、サーボ制御部９は、ＣＡＶやＣＬＶやこれらの組み合わせで光ディスク２を回転する。光ピックアップ３は、光源から光ビームを照射して光検出器により光ディスク２からの戻りの光ビームを検出し、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、これらフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号に基づいて対物レンズ駆動機構により対物レンズを駆動してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボを行う。
【００２９】
また、光ディスク装置１により記録する際には、外部コンピュータ１７からの信号がインターフェース１６を介して信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５に入力される。信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５は、インターフェース１６又はＡ／Ｄ変換器１８から入力されたディジタルデータに対して上述したような所定のエラー訂正符号を付加し、更に所定の変調処理を行った後に記録信号を生成する。レーザ制御部２１は、信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５で生成された記録信号に基づいて、光ピックアップ３のレーザ光源を制御して、所定の光ディスクに記録する。
【００３０】
また、光ディスク２に記録された情報を光ディスク装置１により再生する際には、光検出器で検出された信号に対して、信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５が復調処理を行う。信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５により復調された記録信号がコンピュータのデータストレージ用であれば、インターフェース１６を介して外部コンピュータ１７に出力される。これにより、外部コンピュータ１７は、光ディスク２に記録された信号に基づいて動作することができる。また、信号変復調器＆ＥＣＣブロック１５により復調された記録信号がオーディオビジュアル用であれば、Ｄ／Ａ変換器１８でデジタルアナログ変換され、オーディオ・ビジュアル処理部１９に供給される。そしてオーディオ・ビジュアル処理部１９でオーディオビジュアル処理が行われ、オーディオ・ビジュアル信号入出力部２０を介して、図示しない外部のスピーカやモニターに出力される。
【００３１】
ここで、上述した記録再生用光ピックアップ３について詳しく説明する。
【００３２】
本発明を適用した光ピックアップ３は、図２に示すように、所定の波長の光ビームを出射する光源３１と、光源３１から出射された光ビームを光ディスク２の選択された一の記録層に集光する対物レンズ３２と、光源３１と対物レンズ３２との間に配置され、光ディスク２で反射された戻り光（戻りの光ビーム）の光路を光源３１から出射された光ビームの光路と分離する光路分離手段として偏光ビームスプリッタ３３と、偏光ビームスプリッタ３３で分離された戻り光を受光する受光部３４を有する光検出器３５と、偏光ビームスプリッタ３３と受光部３４との間に配置され、入射した光ビームの偏光方向を入射角度に応じて回転させる旋光手段として旋光子３６とを有する。
【００３３】
また、光ピックアップ３は、光源３１と偏光ビームスプリッタ３３との間の光路上に、光源３１から出射された光ビームをトラッキングエラー信号等を得るために少なくとも３本の光ビームに回折して分割する回折格子３８と、回折格子３８で分割され入射された光ビームの発散角を変換して略平行光とするコリメータレンズ３９とを有する。
【００３４】
また、光ピックアップ３は、偏光ビームスプリッタ３３と対物レンズ３２との間の光路上に、入射した光ビームの波面曲率を調整して、対物レンズ３２により光ディスク２に集光される光ビームの球面収差を補正するための球面収差補正手段としてビームエキスパンダ４０と、ビームエキスパンダ４０から出射された光ビームを反射して対物レンズ３２側に向けて出射する立ち上げミラー４１と、立ち上げミラー４１により立ち上げ反射された光ビームに１／４波長の位相差を付与する１／４波長板４２とを有する。
【００３５】
さらに、光ピックアップ３は、偏光ビームスプリッタ３３と旋光子３６との間の光路上に、入射した光ビームを光検出器３５の受光部３４上に集光する集光レンズ４３と、フォーカスエラー信号を得るための非点収差を付与するためのシリンダーレンズ４４とを有する。
【００３６】
光源３１は、例えば、波長４０５ｎｍ程度の光ビームを出射する半導体レーザである。尚、光源３１から出射される光ビームの波長は、４０５ｎｍ程度に限られるものではなく、記録又は再生を行う光ディスクに対応したものであり、例えば、６５０ｎｍ程度、７８０ｎｍ程度の波長の光ビームを出射するように構成してもよい。また、以下では、単一の波長の光ビームを出射する場合について説明するが、二以上の複数種類の波長の光ビームを出射する一又は複数の光源部を設けるように構成してもよい。
【００３７】
回折格子３８は、所定の回折構造を有し、光源３１から出射され入射された光ビームをトラッキングエラー信号を生成するために回折し、０次光（以下、「メインビーム」ともいう。）及び±１次回折光（以下、「サブビーム」ともいう。）からなる３ビームに分割して出射する。この回折格子３８により、分割された複数の光ビームにより、トラッキングエラー信号を得ることができる。
【００３８】
コリメータレンズ３９は、回折格子３８と偏光ビームスプリッタ３３との間に設けられ、回折格子３８側から入射された光ビームの発散角を変換して略平行光として偏光ビームスプリッタ３３側に出射させる。
【００３９】
偏光ビームスプリッタ３３は、コリメータレンズ３９により平行光とされて入射された往路の光ビームを反射してビームエキスパンダ４０及び対物レンズ３２側に向けて出射させるとともに、光ディスク２の記録層で反射され対物レンズ３２、ビームエキスパンダ４０等を経由して入射された戻りの光ビーム（「復路の光ビーム」ともいう。）を透過して、集光レンズ４３及び受光部３４側に向けて出射させる。具体的に、偏光ビームスプリッタ３３は、Ｐ偏光成分を透過させ、Ｓ偏光成分を反射させるような偏光特性を有する光学薄膜が形成された分離面３３ａを有し、往路の光ビームのＳ偏光成分を反射して対物レンズ３２側に向けて出射させるとともに、光ディスク２で反射されたＰ偏光成分とされた復路の光ビームを透過して集光レンズ４３側に向けて出射させる。また、この光ピックアップ３に設けられる偏光ビームスプリッタ３３は、通過する光ビーム（信号光及び迷光）を同一の偏光状態で後述の旋光子３６に入射させる。
【００４０】
ビームエキスパンダ４０は、例えば少なくとも負レンズ及び正レンズと、いずれか一方のレンズを光軸方向に移動させる駆動手段とを有し、入射光ビームの発散角を変えて発散状態又は収束状態として出射させることができる。ビームエキスパンダ４０は、発散角を調整して光ビームを出射させることにより、光ディスクの記録層に集光される光ビームに発生する球面収差を補正することができる。すなわち、このビームエキスパンダ４０は、発散角の変化に伴うデフォーカス成分により、振動、衝撃、温度変化等による焦点位置のズレを補正することができるとともに、多層光ディスクにおける各記録層間に発生する球面収差を補正することができるので各記録層に対して球面収差が補正された状態でスポットを集光することを可能とする。
【００４１】
立ち上げミラー４１は、ビームエキスパンダ４０により発散角を調整された光ビームを反射して、対物レンズ３２の光軸に合わせた状態で１／４波長板４２側に出射させる。
【００４２】
１／４波長板４２は、立ち上げミラー４１からの光ビームに１／４波長の位相差を付与して対物レンズ３２側に出射させる。ここで、１／４波長板４２は、Ｓ偏光の状態で入射された往路の光ビームを円偏光の状態で対物レンズ３２側に出射させ、また、円偏光の状態で入射された復路の光ビームのＰ偏光の状態でビームエキスパンダ４０及び偏光ビームスプリッタ３３側に出射させる。
【００４３】
対物レンズ３２は、入射した光ビームを光ディスク２の信号記録面上に集光させる。この対物レンズ３２は、図示しない２軸アクチュエータ等の対物レンズ駆動機構によって移動自在に保持されている。そして、この対物レンズ３２は、光検出器３５で検出された光ディスク２からの戻り光により生成されたトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号に基づいて、２軸アクチュエータ等により移動操作されることにより、光ディスク２に近接離間する方向及び光ディスク２の径方向の２軸方向へ移動される。対物レンズ３２は、入射された光ビームが光ディスク２の信号記録面上で常に焦点が合うように、この光ビームを集束するとともに、この集束された光ビームを光ディスク２の信号記録面上に形成された記録トラックに追従させる。
【００４４】
集光レンズ４３は、偏光ビームスプリッタ３３とシリンダーレンズ４４との間に設けられ、偏光ビームスプリッタ３３により透過された復路の光ビームの発散角を変換して、所定の発散角でこの光ビームを光検出器３５の受光部３４上に集束させるような状態でシリンダーレンズ４４及び受光部３４側に出射させる。
【００４５】
シリンダーレンズ４４は、集光レンズ４３からの光ビームに、フォーカスエラー信号を非点収差法により検出するための非点収差を発生させて旋光子３６側に出射させる。
【００４６】
旋光子３６は、光ビームが集光された一の記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射され一の記録層で反射された光ビームとは異なる角度で入射する光ビームとの偏光方向を、可干渉性を低減させる偏光状態として出射させる。ここで、可干渉性とは、２つの光ビーム（ここでは、一の記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射された光ビームと）が、干渉しやすい状態であることを示し、換言すると、２つの光ビームの偏光面が揃っているか又は２つの光ビームの偏光面のなす角度が近い状態であることを示す。すなわち、可干渉性を低減させる偏光状態とは、２つの光ビームの偏光面（偏光方向）が干渉しにくい状態である略９０°程度の角度を有した状態であることを意味する。
【００４７】
すなわち、旋光子３６は、この素子を通過する光ビームの偏光面を回転する性質（「旋光性」ともいう。）を有する素子である。この旋光子３６は、微視的なスケールで見ると螺旋構造（らせん構造）を持つ液晶や高分子又は無機化合物結晶で構成されている。具体的には、旋光子３６は、例えば、水晶やコレステリック液晶、液晶のスメクティックＣ＊相等からなる。尚、一般的に旋光性を有する素子として、特定の条件でこれに近似する旋光性を有する位相子も存在するが、後述のように信号光と迷光との偏光面を干渉を低減する程度にまで回転させる旋光能を有する位相子は厚みが厚くなりすぎ光利用効率（光量ロス）の観点から現実的ではない。換言すると、本発明を適用する光ピックアップに用いられる旋光手段は、後述のように迷光と信号光との振動方向（偏光方向）の違いが略９０°になるのに十分な旋光性を有する旋光素子であり、具体的には上述したようなものである。また、本発明を適用する光ピックアップに用いられる旋光手段は、上述の位相子等のような特定の条件によらずとも、あらゆる入射偏光状態に対して旋光性を有する旋光素子である。
【００４８】
このような螺旋構造を有する旋光子３６は、入射光線の向き（入射角度）が変わることにより旋光性の大きさ、すなわち、回転される偏光面の回転角度の大きさが変化することとなる。また、図３に示すように、この旋光子３６に入射する、記録再生を行う記録層（以下、「フォーカス記録層」ともいう。）で反射された戻り光ＢＬ１２，ＢＬ１３と、記録再生を行う記録層とは異なる記録層（以下、「他の記録層」ともいう。）で反射された迷光となる戻り光ＢＬ０と、の旋光子３６への入射角度γ、δは異なっている。これは、フォーカス記録層からの光ビームの波面は、集光レンズ４３により受光部３４上にスポットを形成するように集光され、曲面とされた曲がった波面であるのに対して、他の記録層からの光ビームの波面は、集光レンズ４３により発散角を変換された後も受光面に対して適切に集光されない状態（デフォーカス状態）であり、上述の曲面よりも曲率が大きい平面に近い波面となっているからである。尚、図３中実線で示すＢＬ１２，ＢＬ１３は、フォーカス記録層で反射されたサブビーム（±１次回折光）の戻り光（信号光）を示すものであり、γは、このサブビームの戻り光の光束の外周部の入射角度を示すものであり、破線で示すＢＬ０は、他の記録層で反射されたメインビーム及びサブビームの戻り光（迷光）を示すものであり、δは、これらの光束の受光部３４ｂ，３４ｃ上のフォーカス記録層で反射されたサブビームと同じ部分に入射する部分の外周部の入射角度を示すものである。図３では、フォーカス記録層で反射されたメインビーム（０次光）の戻り光についての図示は省略するが、上述したγ，δと同様に、フォーカス記録層で反射されたメインビームの光束の入射角度と、これに対応する他の記録層で反射されたメインビーム及びサブビームの光束の入射角度とは異なる角度で旋光子３６に入射することとなる。
【００４９】
このように旋光子３６は、フォーカス記録層からの戻りの光ビームの偏光方向と、他の記録層からの戻りの光ビームの偏光方向とを異なる方向に調整して、両光ビームを出射させ、すなわち、この偏光方向を互いに直交する偏光状態にして受光部３４側に出射させることにより、受光部３４上でこれらの光ビームが重なったとしても干渉を発生することを防止する。
【００５０】
光検出器３５は、回折格子により分割された各ビームの光ディスク２からの戻り光を受光するとともに各種信号を検出できるような複数の受光領域を有した受光部３４を備え、この受光部３４によりこれらの光ビームを受光し、情報信号とともにトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号等の各種信号を検出する。尚、ここで、トラッキングエラー信号は、ＤＰＰ法により検出され、フォーカスエラー信号は、非点収差法により検出されている。
【００５１】
具体的に、図４に示すように、受光部３４ａは、互いに直交する方向にそれぞれ２分割された４分割の受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを有し、受光部３４ｂ，３４ｃは、それぞれ２分割の受光領域Ｅ，Ｆ及び受光領域Ｇ，Ｈを有し、メインビームの戻り光ＢＬ１１を受光した受光部３４ａにより検出した信号強度Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから得られるメインプッシュプル信号ＭＰＰ＝（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）と、サブビームの戻り光ＢＬ１２，ＢＬ１３を受光した受光部３４ｂ，３４ｃにより検出した信号強度Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈから得られるサブプッシュプル信号ＳＰＰ１＝Ｅ−Ｆ，ＳＰＰ２＝Ｇ−Ｈとにより、所謂ＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号が検出できる。すなわち、トラッキングエラー信号ＤＰＰは、ＤＰＰ＝ＭＰＰ−（Ｋ１×ＳＰＰ１＋Ｋ２×ＳＰＰ２）により得られる（ここでＫ１，Ｋ２は補正係数である。）。このＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号を検出するため、光ディスク上のサブビームのスポットは、グルーブピッチの半分だけメインビームのスポットからずらして配置されている。
【００５２】
また、受光部３４ａの各受光領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより検出した信号強度Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから非点収差方式のフォーカスエラー信号ＦＥは、関係式ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）により算出される。
【００５３】
以上のように構成された光ピックアップ３は、光検出器３５によって得られたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて、対物レンズ３２を駆動変位させることによって、光ディスク２の信号記録面に対して対物レンズ３２が合焦位置に移動されて、光ビームが光ディスク２の信号記録面に合焦されて、光ディスク２に対して情報の記録又は再生が行われる。
【００５４】
ここで、上述したような旋光子３６を設けることにより、記録再生を行う記録層（フォーカス記録層）で反射された戻り光（信号光）と、記録再生を行う記録層とは異なる記録層（他の記録層）で反射された戻り光（迷光）との可干渉性を低減できることについて説明するが、可干渉低減の原理についての説明に先立ち、本発明を適用した光ピックアップを構成する旋光子３６を備えないような従来の光ピックアップの問題点について説明する。尚、以下の説明において、記録再生を行う記録層で反射された戻り光のことを「信号光」といい、記録再生を行う記録層とは異なる記録層で反射された迷光となる戻り光のことを「迷光」という。
【００５５】
上述した旋光子を有しないような従来の光ピックアップでは、信号光と迷光とは、可干渉性が最も高い偏光状態になっている。すなわち、一般的に、２つの光ビームが重なり合い干渉縞を形成する場合、２つの光ビームの偏光状態（楕円率、楕円偏光の長軸方向、直線偏光の偏光方向）が一致している場合に干渉縞のコントラストが最大になる。具体的に、２つの光ビームがそれぞれ強度１の直線偏光の状態の場合を例にとると、偏光面が一致している場合は位相差に応じて強度が０〜４まで変化する干渉縞を形成するが、偏光面が直交する場合は強度が２の一様な光ビームとなる。従来の光ピックアップでは、信号光と迷光との偏光状態が一致しており、最も干渉縞のコントラストが高い状態になっている。
【００５６】
その一方で、図５に示すように、フォーカス記録層Ｌ１からの信号光Ｂ１の波面の、シリンダーレンズ４４の光軸とシリンダーレンズ４４の母線（その線上を通る光線束に対してシリンドリカル面の屈折力がゼロになる線）とを含む面による切断面は、光検出器３５付近では略曲面とされた曲がった波面であるのに対して、他の記録層Ｌ０からの迷光Ｂ２の波面のシリンダーレンズ４４の光軸と母線とを含む面による切断面は、光検出器３５付近で略平面に近い曲率半径の大きな曲面とされた波面となっている。この二つの光ビームの光路差が波長の整数倍のところでは、互いに光強度を強め合うことで明部となり、光路差が波長の整数倍から半波長ずれているところでは、互いに光強度を弱め合うことで暗部となることにより、干渉縞が光路差に応じて図６に示すように発生する。尚、図６は、上述した光ピックアップ３と同様に非点収差を付与した場合の干渉縞を示すものであり、非点収差を付与しないとした場合には同心円状の干渉縞が発生することとなる。また、図６は、模式的に明部と暗部とを示しているが、光路差の波長の整数倍からのずれに応じて明部と暗部との中間的な光強度の部分も存在し、光路差に応じて順次明るさが変化しており、その結果として干渉縞が形成されている。
【００５７】
また、フォーカス記録層と、他の記録層との層間隔には、光ディスクの面内の位置に応じて微小な変化があり、この微小な変化等により干渉縞の明暗状態が変化する。すなわち、図６に示すような明部及び暗部が形成される場合と、明部及び暗部が反転して形成される場合とに亘って明暗状態が順次変化する。そして、明暗状態が順次変化することにより、この干渉縞が形成されたスポットを受光する受光部により検出される信号が変動してしまうこととなる。
【００５８】
特に、このような従来の光ピックアップにおいて、上述した光ピックアップ３と同様に、例えば所謂ＤＰＰ法によりトラッキングエラー信号を得る場合のように、サブビーム（回折格子の±１次回折光）を用いて検出信号を得る場合には、この光量の少ないサブビームの信号光と、メインビームの迷光との光強度が近いため、これらの干渉が問題となる。すなわち、サブビーム用の受光部上に上述した干渉縞が形成され、例えば、回転される光ディスク２の層間厚さの僅かな変動により、フォーカス光と迷光との光路長差が僅かに変化することで、干渉縞の明暗部分が変化することとなり、これにより検出される信号に変動が発生してしまうといった問題があった。
【００５９】
本発明は、このような点に着眼して上述したような旋光子３６を用いて信号光と迷光の偏光状態を互いに一致しなくなるように変化させる。ここで、旋光子とは、上述したように、素子を透過する光ビームの偏光面を回転する性質（旋光性）を持つ素子のことである。旋光子は微視的なスケールで見るとらせん構造を持つ物質で構成されており、水晶やコレステリック液晶、液晶のスメクテッィクＣ＊相等が知られている。この螺旋構造に対して入射光線の向きが変化すると、図７に示すように、旋光性の大きさも変化する。図７は、上述したような旋光子３６に対して偏光状態（電場振動方向ＰＡ１，ＰＢ１）がそろった光線ＢＡと光線ＢＢを入射した場合の偏光状態の変化の例を示している。旋光子が図７の光軸Ｏ１の回りを周るらせん構造を持つとすると、光線ＢＡと光線ＢＢとはこの素子の光軸方向Ｏ１に対する角度が異なっており、素子通過後の電場振動方向ＰＡ２，ＰＢ２が異なり、すなわち、基準方向Ｏ２に対する角度α及び角度βが異なることとなる。
【００６０】
次に、上述した内容に基づき、旋光子３６を有する光ピックアップ３が信号光と迷光との可干渉性を低減できることについて説明する。本発明を適用した光ピックアップ３において、信号光と迷光とは上述と同様に波面の曲率が異なっており、したがって上述した旋光子３６に入射する光線角度が異なっている。このため、旋光子３６を通過すると信号光及び迷光の両者の偏光状態が異なることとなり、少なくとも上述した従来の光ピックアップのような可干渉性が最も高い状態と比較して可干渉性が低下することとなる。
【００６１】
そして、本発明を適用した光ピックアップ３においては、図３に示すように、サブビームＢＬ１２，ＢＬ１３の光束の周辺光線の角度γと、光検出器３５の受光部３４ｂ，３４ｃ上で同位置に到達する迷光光線ＢＬ０の角度δとは、必ず異なるため、旋光子３６によりこれらの光線の偏光面が一致していない状態で出射させることとなる。これらの光線の偏光面どうしの角度差の計算例について図８に示す。尚、図８中横軸は、旋光子３６に用いる液晶材料のピッチ（液晶らせんピッチ（μ））を示し、縦軸は、これらの光線の偏光面の角度差（度）を示すものである。図８に示すように、６μ程度の適切なピッチの液晶材料を用いることで、出射させる信号光及び迷光の偏光面同士を直交させることができ、これにより可干渉性を著しく低減することを実現する。
【００６２】
上述したような旋光子３６を備える光ピックアップ３は、多層構造とされ記録容量の大容量化を可能とする光ディスク２に対して記録及び／又は再生を行う際に従来問題となっていた、記録又は再生を行うフォーカス記録層に集光されて反射された戻り光（信号光）を受光する各受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃ上に、さらに他の記録層からの不要な迷光が入射した場合のサーボ信号に不要な変動が発生したり、再生信号のエラー発生が増大するといった問題を、信号光及び迷光の可干渉性を低減することにより解消する。
【００６３】
特に、光ピックアップ３は、入射強度が近く干渉の問題が大きい受光部３４ｂ，３４ｃに入射する、フォーカス記録層からのサブビームの戻り光（信号光）と、他の記録層からのメインビームの戻り光（迷光）との可干渉性を、上述した入射光線角度γ、δの違いに対応して出射光の偏光方向の差が９０度程度にまで大きくすることで、大幅に低減し、すなわち、受光部３４ｂ，３４ｃ上で受光される光ビームの干渉を低減して、この受光部３４ｂ，３４ｃで受光した光ビームにより検出される例えばＤＰＰ方式のトラッキングエラー信号等の各種検出信号にノイズ成分が発生することを防止して、良好な各種検出信号を得ることにより良好なトラッキングサーボ等を行い、これにより良好な記録及び／又は再生を可能とする。尚、この光ピックアップ３は、受光部３４ｂ，３４ｃに入射する他の記録層からのサブビームの戻り光（迷光）の影響についても、上述と同様に低減することが可能である。
【００６４】
また、光ピックアップ３は、上述の受光部３４ｂ，３４ｃにおける効果のみならず、入射強度には違いがあり干渉の影響がそれほど大きくない受光部３４ａに対しても問題を解消するものであり、すなわち、この受光部３４ａに入射する、フォーカス記録層からのメインビームの戻り光（信号光）と、他の記録層からのメインビーム及びサブビームの戻り光（迷光）との可干渉性についても、入射光線角度の違いに対応して出射光の偏光方向の差を大きくすることで、大幅に低減し、すなわち、受光部３４ａ上で受光される光ビームの干渉を低減して、この受光部３４ａで受光した光ビームにより検出される例えば、トラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、ＲＦ信号等の各種検出信号にノイズ成分が発生することを防止して、良好な各種検出信号を得ることにより良好なサーボ等を行うとともに、再生信号のエラー発生を防止して、これにより良好な記録及び／又は再生を可能とする。
【００６５】
このように、光ピックアップ３は、光ディスク２で反射され受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃで受光される光ビームの光路中に設けられた旋光子３６が、フォーカス記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射された光ビームとの偏光方向をそれぞれ入射角度に応じて回転させ、旋光子３６から出射されるこれらの光ビームの可干渉性を低減させることで、光検出器３５で検出される信号にノイズ成分が発生してしまうことを防止する。
【００６６】
尚、上述した本実施の形態としての光ピックアップ３の場合、光軸付近の信号光及び迷光の光線角度の差は小さく、干渉の抑制の効果があるのは主に光束の周辺部（外周部）である。また、ここでは、旋光子３６を光検出器３５とシリンダーレンズ４４との間に配置するように構成したが、本発明を適用した光ピックアップ３を構成する旋光子が配置される場所は、これに限られるものではなく、例えば、検出光学系の集光レンズ４３と偏光ビームスプリッタ３３との間に配置するように構成してもよい。この場合、迷光と信号光とのなす角度差が小さくなり、上述した例よりも大きな旋光能を有する旋光子が必要となるが、光束の周辺部と光軸付近での干渉抑制効果の差は小さくなり、結果として、メインビーム及びサブビームの各受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃ上の干渉を低減することができる。
【００６７】
次に、上述のように構成された光ピックアップ３における、光源部から出射された光ビームの光路について、図２を用いて説明する。
【００６８】
光源３１から出射された光ビームは、回折格子３８によって３ビームに分割され、コリメータレンズ３９によって平行光とされ、偏光ビームスプリッタ３３によってビームエキスパンダ４０側に反射される。
【００６９】
偏光ビームスプリッタ３３により反射された光ビームは、ビームエキスパンダ４０により発散角を変換され、立ち上げミラー４１により反射されて対物レンズ３２側に立ち上げられ、１／４波長板４２により円偏光の状態とされ、対物レンズ３２によって集光されて光ディスク２のフォーカス記録層にスポットが形成される。尚、対物レンズ３２により集光される光ビームは、ビームエキスパンダ４０により発散角を変換されることにより、球面収差が低減されて光ディスク２のフォーカス記録層に適切なスポットが形成される。
【００７０】
光ディスク２の記録層に集光された光ビーム（戻りの光ビーム）は、反射されて対物レンズ３２、１／４波長板４２、立ち上げミラー４１及びビームエキスパンダ４０を介して再び偏光ビームスプリッタ３３に入射される。このとき、戻りの光ビームは、１／４波長板４２を経由することにより、Ｐ偏光の状態で偏光ビームスプリッタ３３に入射される。
【００７１】
偏光ビームスプリッタ３３に入射された戻りの光ビームは、透過されて集光レンズ４３側に導かれ、集光レンズ４３により発散角を変換されて受光部３４上に収束される状態とされ、シリンダーレンズ４４にフォーカス検出のための非点収差を付与され、旋光子３６により偏光方向（偏光面）を回転されて、受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃ上に集光されて受光される。
【００７２】
このとき、例えば、光ビームがフォーカス記録層としての一の記録層Ｌ１に集光されている場合には、図４に示すように、フォーカス記録層としての記録層Ｌ１に集光されたメインビームは、集光レンズ４３によって受光素子の受光部３４ａに集光されてスポットＳ１１が形成される。また、記録層Ｌ１に集光された一方のサブビームは、集光レンズ４３によって受光素子の受光部３４ｂに集光され、スポットＳ１２が形成される。同様に、記録層Ｌ１に集光された他方のサブビームは、集光レンズ４３によって受光素子の受光部３４ｃに集光され、スポットＳ１３が形成される。
【００７３】
同時に、他の記録層Ｌ０で反射されたメインビーム並びに第１及び第２のサブビームは、集光レンズ４３によって受光素子の受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃと同一平面内に集光され、フォーカス記録層としての記録層Ｌ１からの光ビームより大きなスポットＳ２が形成される。
【００７４】
ここで、光ピックアップ３は、旋光子３６を備えることにより、上述したように、フォーカス記録層からの戻り光（信号光）と、他の記録層からの戻り光（迷光）との偏光状態を可干渉性を低減させた状態、すなわち、互いの偏光方向を直交した状態に近い状態とすることができ、信号光と迷光との干渉を低減することができる。そして、このとき、旋光子３６を設けなかったとすれば、サブビーム用の受光部３４ｂ，３４ｃ上に集光されるフォーカス記録層からの戻りのサブビーム（±１次回折光）と、この受光部３４ｂ，３４ｃ上に入射される他の記録層からの戻りの光ビームとの光強度が近く干渉が問題となるが、これらの干渉を防止することができる。
【００７５】
本発明を適用した光ピックアップ３は、所定の波長の光ビームを出射する光源３１と、光源３１から出射された光ビームを光ディスク２の一の記録層に集光する対物レンズ３２と、光源３１と対物レンズ３２との間に配置され、光ディスク２で反射された戻り光の光路を光源３１から出射された往路の光ビームの光路と分離する偏光ビームスプリッタ３３と、偏光ビームスプリッタ３３で分離された戻り光を受光する受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃを有する光検出器３５と、偏光ビームスプリッタ３３と受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃとの間に配置され、入射した光ビームの偏光方向を回転させる旋光子３６とを備え、旋光子３６は、光ビームが集光されたフォーカス記録層で反射された光ビーム（信号光）と、他の記録層で反射されフォーカス記録層で反射された光ビームとは異なる角度で入射する光ビーム（迷光）との偏光方向を可干渉性を低減させる状態とすることにより、光ディスク２で反射され受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃで受光される光ビームの光路中に設けられる旋光子３６が、フォーカス記録層で反射された光ビームと、他の記録層で反射された光ビームとの偏光方向をそれぞれ入射角度に応じて回転させ、旋光子３６から出射されるこれらの偏光方向を可干渉性を低減させる状態とすることにより、これらの光ビームが干渉して光検出器３５で検出される信号にノイズ成分が発生してしまうことを簡易な構成で低減して、良好な各種信号を得て良好な記録及び／又は再生を実現する。
【００７６】
このように、本発明を適用した光ピックアップ３は、複数の記録層を持つ光ディスクの記録又は再生の際に、記録又は再生を行っている記録層とは異なる記録層からの反射迷光による各種信号（再生信号、サーボ信号等）の外乱を抑制し、安定した記録又は再生を行うことを実現する。
【００７７】
さらに、本発明を適用した光ピックアップ３は、迷光のうち光検出器に照射される部分を回折、遮蔽等により取り除き干渉を防止するような既存の技術と比較しても、フォーカス記録層からの戻りの光ビーム（信号光）が部分的に欠落することがないため、これに伴う再生信号、サーボ信号等の各種信号の特性劣化を抑えることができるとともに、光量ロス等の問題もなく、良好な各種信号を得ることを実現する。このように、光ピックアップ３は、多層構造とされ記録容量の大容量化を可能とする光ピックアップにおけるフォーカス記録層とは異なる記録層からの迷光の影響を下げて良好な記録再生を可能とする。
【００７８】
また、本発明を適用した光ディスク装置１は、上述の光ピックアップ３を備えることにより、フォーカス記録層で反射された光ビームを受光する受光部３４ａ，３４ｂ，３４ｃ上に他の記録層で反射された光ビームが入射してしまうことにより、光検出器３５で検出される信号に発生するノイズ成分を旋光子３６を設けるといった簡易な構成で低減して、良好な各種信号を得ることを実現するとともに、従来の新たな回折、遮蔽等を行う素子を追加する必要がなくなり、この新たな回折又は遮蔽素子等を追加することによる光量ロス等を排除できる。さらに、光ディスク装置１は、多層構造とされ記録容量の大容量化を実現する光ディスクに対して迷光の影響度を下げることにより良好な記録再生特性を実現する。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明を適用した光ディスク装置を示すブロック回路図である。
【図２】本発明を適用した光ピックアップの光学系を説明する光路図である。
【図３】光ピックアップを構成する旋光子に入射する迷光及び信号光の入射角度について説明する図であり、旋光子及び受光部を示す側面図である。
【図４】光ピックアップを構成する各受光部の各受光領域と、各受光部上に形成されるスポットを示す平面図である。
【図５】受光部に集光されるフォーカス記録層及び他の記録層からの戻りの光ビームの光路差を説明するための図である。
【図６】受光部に集光されるフォーカス記録層及び他の記録層からの戻りの光ビームの光路差により形成される干渉縞を模式的に示す図であり、光ピックアップを構成する受光部の平面図である。
【図７】光ピックアップを構成する旋光子に異なる入射角度の光線が入射した場合に、出射される光線の電場振動方向の違いを説明するための図であり、旋光子の斜視図である。
【図８】旋光子のらせんピッチを変化させたときの信号光と迷光と受光部上での偏光面の角度差の変化を示す図である。
【符号の説明】
【００８０】
１  光ディスク装置、  ２  光ディスク、  ３  光ピックアップ、  ４  スピンドルモータ、  ５  送りモータ、  ９  サーボ制御部、３１  光源、  ３２  対物レンズ、  ３３  偏光ビームスプリッタ、  ３４  受光部、  ３５  光検出器、  ３６  旋光子、  ３８  回折格子、  ３９  コリメータレンズ、  ４０  ビームエキスパンダ、  ４１  立ち上げミラー、  ４２  １／４波長板、  ４３  集光レンズ、  ４４  シリンダーレンズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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