(57)【要約】【課題】  応答速度を向上させた表面電位測定装置を提供する。【解決手段】  測定対象と表面電位測定装置の関係を利用し、二点からの演算を行う事で電位を測定し、応答時間の短縮を可能とする。【選択図】  図１
2009156594.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電位測定対象となる測定面に対向配置される測定電極と、
前記測定電極に現れる信号を測定する測定手段と、
駆動信号により機械的振動を発生し前記測定面と前記測定電極間の容量を変動させる容量変動手段と、
前記容量変動手段を駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成手段と、
前記測定手段により測定された信号の信号量を検知する測定信号量検知手段と、
前記駆動信号生成手段から同期用の信号を生成する同期信号生成手段と、
一定値を出力可能な第一の電源装置と、
前記第一の電源装置とは異なる一定値を出力可能な第二の電源装置と、
前記第一の電源と前記第二の電源を切り替え可能な切替手段と、
前記信号量検知手段から演算で前記測定対象の電位を割り出す演算装置とで構成されることを特徴とする表面電位測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の表面電位測定装置において、
前記第一の電源装置及び前記第二の電源装置及び前記切替手段は一つの可変電源装置である事を特徴とする表面電位測定装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の表面電位測定装置において、
前記測定信号量検知手段により複数の検知を行い、前記演算装置で演算された演算結果の平均を測定対象の電位とする制御を行う事を特徴とする表面電位測定装置。
【請求項４】
請求項３に記載の表面電位測定装置において、
前記複数の検知により演算された値のうち、かけ離れたものを除外する制御を行う事を特徴とする表面電位測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象の表面電位を測定する表面電位測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より感光体を用いた電子写真方式による画像形成装置が知られているが、常に安定した高画質を得る為には、どのような環境下にあっても感光体表面の帯電電位を均一にする必要がある。感光体表面の帯電電位を均一にする為、感光体表面の電位を表面電位測定装置により測定し、その測定結果を元に感光体を帯電させる装置の出力の制御を行う。
【０００３】
従来の表面電位測定装置の測定原理を図６に示す。測定対象601に対向して測定電極603が配置され、その間に開口部を持った遮蔽電極602が配置される。遮蔽電極602が図中左の矢印の方向に交互に振動すると測定電極603から見える測定対象601の面積が変化し、両者の間に生じている容量分C(t)が変化する。この容量C(t)の変化分に応じて測定電極603に流れる交流電流I(t)を、検出抵抗RSと、2段接続されたトランジスタ(MOS型、またはNPN型)の増幅回路で構成される測定回路604によりVOとして検出する。この交流電流I(t)がゼロになるように(VOがゼロになるように)遮蔽電極602の電圧VMを制御する事で測定対象601の電位V(x)を得るという原理を用いる。今日では、遮蔽電極602を音叉とし、音叉の共振により駆動周波数を安定させる音叉型振動子を用いた表面電位測定装置が用いられている。
【０００４】
従来の音叉型振動子703を用いた表面電位測定装置の構成を図７に示す。駆動部701は駆動側の圧電素子702aに駆動信号を印加し、検出側の圧電素子702bより受信した検出信号に応じて音叉型振動子703の駆動周波数を制御している。タイミング回路704は駆動信号の所定のタイミングでタイミング信号を生成している。駆動部701による駆動側の圧電素子702aへの信号印加が始まると、音叉型振動子703が振動を開始し、測定対象705と測定電極706の間の電位差に応じた交流信号が得られる。測定回路707より出力される交流信号より、所望の周波数成分のみを抽出する為、バンドパスフィルタ709を通すが、その結果得られる信号は微弱であるので増幅回路710を通して増幅する。増幅回路710で増幅された信号は、タイミング回路704によって生成されたタイミング信号に基いてクランプ回路711で基準電位712にクランプされる。図８に駆動信号、タイミング信号、増幅回路の出力、基準電位、クランプ回路711の出力の関係を示す。図中、(a)が駆動信号、(b1)が測定電極706よりも測定対象705の方が電位が高い場合の増幅回路710の出力、(b2)は測定電極706よりも測定対象705の方が電位が低い場合の増幅回路710の出力である。増幅回路710の出力のピークタイミングはは駆動信号(a)の立ち上がり、立ち下がりと同期している。(c)はタイミング信号であり、駆動信号の立ち下がりと同期した信号である。(d)は基準電位712である。(e1)は測定電極706よりも測定対象705の方が電位が高い場合のクランプ回路711の出力であり、タイミング信号に同期して増幅回路710の出力(b1)が基準電位712(d)にクランプされている。また、(e2)は測定電極706よりも測定対象705の方が電位が低い場合のクランプ回路711の出力であり、タイミング信号に同期して増幅回路710の出力(b2)が基準電位712(d)にクランプされている。積分回路713はクランプ回路711の出力を積分しＤＣ化している。つまり、測定電極706よりも測定対象705の方が電位が高い場合は積分回路713の出力は基準電位712よりも大きくなり、さらに測定電極706と測定対象705の電位差が大きければ大きいほど積分回路713の出力は大きくなる。逆に、測定電極706よりも測定対象705の方が電位が低い場合は積分回路713の出力は基準電位712よりも低くなり、さらに測定電極706と測定対象705の電位差が大きければ大きいほど積分回路713の出力は小さくなる。つまり、積分回路713の出力と基準電位712との差分がゼロになった時が測定電極706の電位＝測定対象705の電位となる。誤差増幅回路714は、積分回路713の出力と基準電位712との差分信号を出力する。積分回路713の出力が基準電位712よりも大きい場合は誤差増幅回路714の出力が上昇し、積分回路713の出力が基準電位712よりも小さい場合は誤差増幅回路714の出力が下降する。可変電源回路715は誤差増幅回路714の出力に対応した電圧を出力し、常に積分回路713の出力が基準電位712と等しくなるようフィードバック制御が行われ、結果的に抵抗RSに流れる電流がゼロとなり、可変電源回路715の出力が測定対象705の電圧となる。さらに、分圧回路716で可変電源回路715の出力を所定の分圧比で分圧し出力する。ＶOUTには対象電位の分圧比に相当する電位が出力される。この場合の応答波形の例を図９に示す。(9-a)は測定対象の電位であり、(9-b)は測定対象705と測定電極706の間の容量変化により流れる交流電流を増幅回路710で増幅した検出交流信号、(9-c)は表面電位測定装置の電位である可変電源回路715の出力である。測定開始から検出信号に応じて電圧を可変し、測定対象705の電位に近付いていく事で検出信号の信号量は減少していく。検出信号がゼロになった時点の電圧が測定対象705の電位となり、応答時間は検出信号がゼロになるまで待たねばならない。
【特許文献１】特開2004-61282号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年、画像形成装置の高速性が求められており、それに伴いプロセススピードも上昇傾向にある。その為、その速度に追随可能な表面電位測定装置が必要となる。
【０００６】
画像形成装置について図１０を用いて簡便に説明する。像担持体たる感光ドラム1001a〜1001dを帯電器1002a〜1002dにより帯電させ、露光装置1004a〜1004dにより潜像を形成し、その潜像を現像器1006a〜1006dにより顕像化して可視画像を得る複数の画像形成部と、上記各画像形成部から中間転写体へ、順次可視画像を転写する一次転写手段と、前記可視画像基づいて複数色画像を形成する中間転写体1010と、中間転写体1010上の複数色画像を記録材に転写する二次転写手段1012と、記録材上に転写された複数色画像を記録材上に定着するための定着装置1014とを有している装置である。中間転写体1010には、複数のローラに張架され無端回動するベルト状の中間転写ベルト、若しくはドラム軸を中心に回動する円筒状の中間転写ドラムなどが使用される。画像形成のプロセスにおいて、中間転写体1010が複数の前記画像形成部に近接することにより、感光ドラム上に形成された可視画像が、画像形成部と中間転写体に対して対向する位置に配設され、高電圧基板1009a〜1009dによって帯電された一次転写装置1008a〜1008dによって中間転写体1010上に一次転写される。複数の感光ドラムより一次転写された可視画像は、中間転写体上において重ね合わされ、中間転写体が回転することによって記録材に転写される位置まで搬送される。中間転写体1010上の可視画像は、ポスト帯電器1011により電荷を慣らされ、給紙された記録材に転写位置において高電圧基板1013によって帯電された二次転写装置1012によって二次転写され、さらに前記定着手段1014において定着される事でフルカラー画像が得られる。また、単色画像を得る場合、特定の画像形成部より中間転写体上に単色の可視画像が一次転写され、その後フルカラー画像を形成する場合と同様のプロセスを経て、単色画像が得られる。露光装置1004a〜1004dによって感光体上には、所謂潜像が形成されるが、その潜像は、粉体状のトナーによって現像される。トナーは、各感光体に近接して配置された現像装置1006a〜1006d内に収納されおり、この現像装置に高圧基板1007a〜1007dによって高圧を印加する事により感光体上の潜像を現像することになる。感光体や、現像装置、または中間転写ベルトなどは、DCコントローラ1016により制御されるモーターなどの駆動源により回転駆動されている。定着装置1014は、ヒータをその内部に収納した定着ローラと、前記定着ローラに対して加圧する加圧ローラとで構成され、また、前記ヒータはDCコントローラ1016により温調される。この定着装置を、転写材である用紙（記録材）が搬送されることで、用紙はヒータにより加熱され、ローラ対により加圧され、用紙上のトナー像は溶融し、用紙に定着される事で画像が形成され、排出される。
【０００７】
次に図１１を用いて作像プロセスをより具体的に説明する。図１０では図示及び説明を省略していた、一次帯電グリッド1101a〜1101d及び表面電位測定装置1102a〜1102dを図示している。a〜dというのは、４ステーションある場合を考慮したものである。ここで、一次帯電グリッド1101a〜1101dは、一次帯電器と感光ドラム1001a〜1001dとの間に、一次帯電器1002a〜1002dと平行に配設された、所定電圧に調整される電極である。一次帯電グリッド1101a〜1101dは、一次帯電器から感光ドラム1001a〜1001dに流れ込む電流量を調整して、感光ドラム1001a〜1001d表面の帯電量を制御可能にするものである。次に、表面電位測定装置1102a〜1102dは、感光ドラム1001a〜1001dの回転方向に沿っての露光位置（露光装置1004a〜1004dからのレーザーが照射される位置）の下流側で、かつ現像装置1006a〜1006dの上流側に配設されている。表面電位測定装置1102a〜1102dは、感光ドラム1001a〜1001d表面の帯電電位を測定することで、画像濃度の安定化や画質などを制御可能にするものである。所定の時間毎にこのような調整を行う事で画質を一定に保とうとするが、画像形成中に調整が入る等、生産性に影響が出る事の無いように紙間(２つの静電潜像間)において電位測定を行う事が望ましい。
【０００８】
図１２に、感光ドラム1001a〜1001dの帯電特性を示す。帯電特性は、画像品位を決定する、感光ドラム1001a〜1001dの表面電位と現像装置1004a〜1004dに印加される現像バイアスとの関係を表すものである。同図中の横軸は前述の一次帯電グリッド1101a〜1101dが設定された設定電位（グリッド電位）Vgであり、縦軸は感光ドラム1001a〜1001dの表面電位（電位量）Vである。また、同図中の符号VDは暗部電位（感光ドラム表面の帯電後、露光しない時の感光ドラム1001a〜1001dの表面電位）、VLは明部電位（最大に露光した場合の感光ドラム1001a〜1001dの表面電位）、Vdcは現像バイアスの設定電位をそれぞれ示している。VLは上述の暗部電位VDの増大に従って上昇する傾向を有しており、明部電位VLの上昇カーブはこの特性を表している。現像バイアスの設定値は、画像形成しない部分の地かぶり量の許容値で決定されるが、この地かぶりの発生は、現像装置1006a〜1006d中に例外的に存在する帯電量の異なるトナー（例えば、例外的に帯電量が高いトナー）が、明部電位VDに対して現像するのに十分な電位をもってしまうことで発生する。したがって、現像バイアスVdcの設定は、前述のような例外的なトナーによる地かぶりが発生しないように、暗部電位VDに対して、前述の例外的なトナーをやや引き付けるレベルに設定される。また、この引き付けないための現像バイアスVdcからの電位をかぶり取り電位Vbackと称し、通常１００〜２００V程度で設定される。以上のようにして現像バイアスVdcは決定されるが、これによって、明部電位VLと前述の現像バイアスVdcとの間のコントラスト電位Vcontによって明暗の階調（コントラスト）表現が行われることになる。
【０００９】
画像階調を保つ為に紙間において上記VD及びVLの値を表面電位測定装置1102a〜1102dにより測定するが、プロセススピード・紙間距離により、表面電位測定装置1102a〜1102dの応答時間の必要条件が導き出せる。プロセススピードをvPS、紙間距離をLblankとすると、紙間時間tblankは概略として
【００１０】
【数１】
2009156594.tif 000003
と表せる。例えば、プロセススピード500[mm/s]、紙間距離25[mm]とすれば、紙間時間は50[ms]である。つまり、50[ms]以内で応答せねばならない。つまり、表面電位測定装置1102a〜1102dの応答時間は最低でも50[ms]以下でなくてはならない。この時VLは最大露光電位の為、紙の後端直後に電位の変更が可能であるのでほぼ50[ms]と言えるが、VDにおいては帯電電位である為に後端余白後にVDになるまでの応答時間があるので、その応答時間を7.5[ms]とすれば両端を考えると表面電位測定装置の応答時間としては35[ms]が必要となる。また、本発明において応答というのは電位が完全に安定した時間を指し、半導体などの応答時間のように出力の10%-90%で規定した時間ではない。
【００１１】
従来の表面電位測定装置では音叉型振動子の共振周期及び回路中ゲインにより応答が決定されてしまうが、音叉型振動子を変えるには共振周波数を速くする必要があるので振幅を大きくすることが困難な事や、ゲインを上げすぎると不安定になるというデメリットが内在する。本発明では、それらのデメリットを抑えつつ、感光体表面の電位を測定する表面電位測定装置の応答速度を向上させる事を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の表面電位測定装置は、電位測定対象となる測定面に対向配置される測定電極と、前記測定電極に現れる信号を測定する測定手段と、駆動信号により機械的振動を発生し前記測定面と前記測定電極間の容量を変動させる容量変動手段と、前記容量変動手段を駆動する駆動信号を生成する駆動信号生成手段と、前記測定手段により測定された信号の信号量を検知する測定信号量検知手段と、前記駆動信号生成手段から同期用の信号を生成する同期信号生成手段と、一定値を出力可能な第一の電源装置と、前記第一の電源装置とは異なる定値を出力可能な第二の電源装置と、前記第一の電源と前記第二の電源を切り替え可能な切替手段と、前記信号量検知手段から演算で前記測定対象の電位を割り出す演算装置とで構成されることを特徴とする。
【００１３】
請求項２に記載の表面電位測定装置は、請求項１に記載の表面電位測定装置において、前記第一の電源装置及び前記第二の電源装置及び前記切替手段は一つの可変電源装置である事を特徴とする。
【００１４】
請求項３に記載の表面電位測定装置は、請求項１又は請求項２に記載の表面電位測定装置において、前記測定信号量検知手段により複数の検知を行い、前記演算装置で演算された演算結果の平均を測定対象の電位とする制御を行う事を特徴とする。
【００１５】
請求項４に記載の発明は、請求項３に記載の表面電位測定装置において、前記複数の検知により演算された値のうち、かけ離れたものを除外する制御を行う事を特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
応答速度を向上させた表面電位測定装置を提供出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
次に、本発明の詳細を実施例の記述に従って説明する。
【００１８】
以下、本発明の実施形態を、図を参照し詳細に説明する。
【実施例１】
【００１９】
本発明の第一の実施例を示す。
【００２０】
図１は本発明の第一の実施例における構成図、図２はその動作フローである。
【００２１】
音叉型振動子の駆動部101は駆動用圧電素子102aに駆動信号を印加し、検出用圧電素子102bより受信した検出信号に応じて音叉型振動子103の駆動周波数を制御している。タイミング回路104は駆動信号の所定のタイミングでタイミング信号を生成している。音叉型振動子の駆動部101による駆動用圧電素子102aへの信号印加が始まると、音叉型振動子103が振動を開始し、測定対象105と測定電極106の間の電位差に応じた交流信号が得られる。この時、測定電極106は電源A115または電源B 116により電力が供給されており、電源A 115及び電源B 116は定値を出力するものであるので、既知の電位になっている。測定回路107はフロート電圧生成部108によって電圧が供給されており、測定回路107より出力される交流信号から所望の周波数成分のみを抽出する為、バンドパスフィルタ109を通すが、その結果得られる信号は微弱であるので増幅回路110を通して増幅する。増幅回路110で増幅された信号は、タイミング回路104によって生成されたタイミング信号に同期してクランプ回路111で基準電圧に対しクランプされ、A/D変換によりデジタルサンプリング112され、演算部113に入力される。ここでクランプ回路のクランプは図８に示した従来例と同様の動きをする。演算部113は値を受け取ると、その値と基準との差分値を交流信号の信号値として内部に格納しておき、選択部114により、現在測定電極106に電力を供給している電源と異なる側の電源(現在が電源A115ならば電源B116、現在が電源B116ならば電源A115)を切り換え、完全に測定電極106の電位が安定するまで待ってからその電位での信号量を同様の流れで得、その二つの値により測定対象105の電位を演算する。
【００２２】
上記構成の動作フローを図２を用いて簡便に説明する。測定開始信号を受け取ると測定が開始され、音叉駆動(S201)により得られるタイミング信号を検知し(S202)、同時に音叉を第一の既知の電位に遷移させ(S203)、測定対象105と測定電極106の間の容量変化により流れる交流信号及を検出し(S204)、交流信号の極性と信号量を検出し(S205)、演算部113のメモリ内に格納する(S206)。次に音叉を第二の既知の電位に遷移させ(S207)、測定対象105と測定電極106の間の容量変化により流れる交流信号及を検出し(S208)、交流信号の極性と信号量を検出し(S209)、演算部113のメモリ内に格納する(S210)。S206での値とS210での値とを用いて測定対象105の電位を演算により得る(S211)。また、演算部113はS207において遷移が完了するまでウェイト時間を設ける。
【００２３】
図１３に本発明の概要図を示す。測定回路107からの交流信号は測定電極106と測定対象105の距離及び音叉型振動子103の劣化や環境変化等によりその振幅が経時変化するので、振幅をαという変数とする。交流信号を増幅してその極性・信号量を分析した値をVSIGとし、現在の出力をVOとすると測定対象となる電位をVXとの関係は次の式で表せる。
【００２４】
【数２】
2009156594.tif 000004
演算部が交流信号の増幅ピーク値をタイミング信号に同期して2点分取り込むとし、その値をそれぞれVSIG1及びVSIG2とし、その時点での可変電源の出力値をそれぞれVO1及びVO2とすると、上記の式より、
【００２５】
【数３】
2009156594.tif 000005
となり、αは次式で計算が可能である。
【００２６】
【数４】
2009156594.tif 000006
VXの値は計算したαを用いて
【００２７】
【数５】
2009156594.tif 000007
と表す事が可能となる。この演算がS211における演算の方法であり、検出の交流信号の検知にかかる時間(交流信号二波分)と電源回路切替の時間(電位差が在る方が良いが、電位差が少なくとも検出精度が良ければ演算可能であり、例えば100Vならば交流信号一波分で十分である)で検出が可能となる。
【実施例２】
【００２８】
本発明の第二の実施例を示す。
【００２９】
本発明の第二の実施例における構成図は図１と同様であり、図３に本発明の第二の実施例における動作フロー、図４に第二の実施例におけるデータ取得形式、図５に第二の実施例における演算フローを示す。
【００３０】
構成図の説明は実施例１と同様である為、省略する。
【００３１】
動作フローを図３を用いて簡便に説明する。測定開始信号を受け取ると測定が開始され、音叉駆動(S201)により得られるタイミング信号を検知し(S202)、同時に音叉を第一の既知の電位に遷移させ(S203)、タイミング信号から任意の時間間隔で測定対象105と測定電極106の間の容量変化により流れる交流信号を検出し(S204)、交流信号の極性と信号量を検出し(S205)、演算部113のメモリ内に複数の値をそれぞれ格納する(S301)。次に音叉を第二の既知の電位に遷移させ(S207)、タイミング信号から任意の時間間隔で測定対象105と測定電極106の間の容量変化により流れる交流信号及を検出し(S208)、交流信号の極性と信号量を検出し(S209)、演算部113のメモリ内に複数の値をそれぞれ格納する(S302)。S206での値とS210での値とを用いて測定対象105の電位を演算により得る(S211)。また、演算部113はS207において遷移が完了するまでウェイト時間を設ける。
【００３２】
前記任意の時間間隔での検出より出力電位を求める方法を図４を用いて説明する。タイミング信号からn回検出を行うとする。この時検出の周波数をFDとすると、少なくとも一波分で値を出すならばサンプリング周期TSは次式が成り立つ。
【００３３】
【数６】
2009156594.tif 000008
また、電源A 115が供給源である場合のタイミング信号からn×TS時間経過した時点での検出値をVSIGAnとし、電源B 116が供給源である場合のタイミング信号からn×TS時間経過した時点での検出値をVSIGBnとして、これらの値からそれぞれ前記した式に基いて計算して各VXn値を得る。しかし、これらのVXnの中には検出時のノイズ等により値が大きく外れているものがある可能性がある為、それらを除外するよう制御を行う。除外する数をm個とすると、まずVXn値の合計から平均値を出し、それに最も値が離れているものを1個除外する。これでVXn値の数はn-1個となり、これをm回繰り返す事でm個の除外が出来、結果として残るn-m個のVXn値の平均を算出し、その結果を最終的なVX値とする。
【００３４】
動作フローを図５を用いて簡便に説明する。前記した動作フロー中のS301及びS302で格納した値を元に実施例１中の式から演算を行い(S501)、複数の演算結果であるVXn値をメモリに格納する（S502）。この時点で予め設定された除外数に対する大小を判断し(S503)、大きい場合は平均算出して(S506)その値をVX値として出力して演算を終了し、予め設定された除外数よりも小さい場合は、格納されたVXn値の平均値を算出し(S504)、差分が大きいデータを除外し(S505)、S503に戻る。また、残っているデータ数を変数とし、データの除外をゼロの書き込みとすれば、平均算出は常にVXn値を格納しているメモリの全データの合計を残データ数で割ったものとなり、演算がし易い。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の第１の実施形における構成図である。
【図２】本発明の第1の実施例における動作フローチャートである。
【図３】本発明の第２の実施例における動作フローチャートである。
【図４】本発明の第２の実施例におけるデータ取得形式を示す図である。
【図５】本発明の第２の実施例における演算フローチャートである。
【図６】測定の原理を示す図である。
【図７】従来例の構成図である。
【図８】出力の関係を示す図である。
【図９】従来例における応答波形を示す図である。
【図１０】画像形成装置の概略構成を示す縦断面図である。
【図１１】画像形成装置の作像部（画像形成部）の概略構成を模式的に示す図である。
【図１２】一次帯電器のグリッド電位と感光ドラムの表面電位との関係を説明する図である。
【図１３】本発明の概要を示す図である。
【符号の説明】
【００３６】
101  音叉型振動子の駆動部
102a  駆動用圧電素子
102b  検出用圧電素子
103  音叉型振動子
104  タイミング回路
105  測定対象
106  測定電極
107  測定回路
108  フロート電圧生成部
109  アナログバンドパスフィルタ
110  アナログ増幅回路
111  クランプ回路
112  デジタルサンプリング(A/Dコンバータ)
113  演算部
114  選択部
115  第一の出力を出力する電源
116  第二の出力を出力する電源
601  測定対象
602  遮蔽電極
603  測定電極
604  測定回路
701  音叉型振動子の駆動部
702a  駆動用圧電素子
702b  検出用圧電素子
703  音叉型振動子
704  タイミング回路
705  測定対象
706  測定電極
707  測定回路
709  バンドパスフィルタ
710  増幅回路
711  クランプ回路
712  基準電位
713  積分回路
714  誤差増幅回路
715  可変電源回路
716  分圧回路
1001  感光ドラム
1002  一次帯電器
1101  一次帯電グリッド
1102  表面電位測定装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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