(57)【要約】【課題】  光ディスク装置に使用される光ピックアップ装置の互換性を維持するための規格を提供する。【解決手段】  光ディスク装置に設けられている主軸が挿通されるとともに径の最小公差値及び最大公差値が規定されている主軸用穴３及び前記主軸に対して平行に設けられている副軸に係合されるとともにギャップ幅の最小公差値及び最大公差値が規定されている副軸用ギャップ５が設けられた光ピックアップ装置であり、光ディスク面に対して平行となる平行面上における主軸用穴３と副軸用ギャップ５間の距離及び光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸用穴３と副軸用ギャップ間５の距離とを規定値として設定するとともに主軸用穴３の径と副軸用ギャップ５のギャップ幅とを略等しくなるように設定する。【選択図】  図４
2009169997.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置に設けられている主軸が挿通されるとともに径の最小公差値及び最大公差値が規定されている主軸用穴及び前記主軸に対して平行に設けられている副軸に係合されるとともにギャップ幅の最小公差値及び最大公差値が規定されている副軸用ギャップが設けられ、且つ前記主軸及び副軸よって光ディスクの径方向への変位動作を行うように構成された光ピックアップ装置であり、光ディスク面に対して平行となる平行面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離及び光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離とを規定値として設定するとともに主軸用穴の径と副軸用ギャップのギャップ幅とを略等しくなるように設定したことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
平行面上における主軸用穴と対物レンズとの間の距離と公差値が規定値として設定されていることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
垂直面上における主軸用穴と対物レンズとの間の距離が規定値として設定されていることを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
垂直面上における主軸用穴と光ディスクの表面との間の距離が規定値として設定されていることを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ピックアップ装置の検査方法であり、光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴に挿入されるとともに該主軸用穴の最小公差値を含む径又は副軸用ギャップの最小公差値を含むギャップ幅の中の小さい方の径より僅かに小さい径の第１検査用主軸及び副軸用ギャップに係合されるとともに前記第１検査用主軸の径と同一の径の第１検査用副軸が固定されている第１検査用保持装置と光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴に挿入されるとともに該主軸用穴の最大公差値を含む径より僅かに大きい径の第２検査用主軸及び副軸用ギャップに係合されるとともに該副軸用ギャップの最大公差値を含むギャップ幅より僅かに大きい径の第２検査用副軸が固定されている第２検査用保持装置とを使用し、第１検査用保持装置に設けられている第１検査用主軸及び第１検査用副軸への主軸用穴及び副軸用ギャップの挿入及び係合動作を行った後第２検査用保持装置に設けられている第２検査用主軸及び第２検査用副軸への主軸用穴及び副軸用ギャップの挿入及び係合動作にて光ピックアップ装置の規格に対する合否を判定するようにしたことを特徴とする光ピックアップ装置の検査方法。
【請求項６】
第２検査用主軸及び第２検査用副軸に主軸用穴及び副軸用ギャップを挿入及び係合させるとき、大きな力の要否によって規格に対する合否を判定するようにしたことを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ装置の検査方法。
【請求項７】
第１検査用主軸及び第１検査用副軸に主軸用穴及び副軸用ギャップを挿入及び係合させた状態にて光ピックアップ装置の傾きを測定した後第１検査用主軸及び第１検査用副軸に副軸用ギャップ及び主軸用穴を係合及び挿入させた状態にて光ピックアップ装置の傾きを測定し、測定された傾きの差が所定の範囲内にあるとき、光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離が規定値の範囲にあると判定するようにしたことを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ装置の検査方法。
【請求項８】
光ピックアップ装置の傾きをレーザー光の反射特性を利用したオートコリメータにて測定するようにしたことを特徴とする請求項７に記載の光ピックアップ装置の検査方法。
【請求項９】
光ピックアップ装置の上面に反射ミラーを設け、該反射ミラーから反射されるレーザー光にて光ピックアップ装置の傾きを測定するようにしたことを特徴とする請求項８に記載の光ピックアップ装置の検査方法。
【請求項１０】
対物レンズに設けられているコバ面から反射されるレーザー光にて光ピックアップ装置の傾きを測定するようにしたことを特徴とする請求項８に記載の光ピックアップ装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録されている信号の読み出し動作や光ディスクに信号の記録動作を行う光ピックアップ装置及び光ピックアップ装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップ装置から照射されるレーザー光を光ディスクの信号記録層に照射することによって信号の読み出し動作や信号の記録動作を行うことが出来る光ディスク装置が普及している。
【０００３】
光ディスク装置としては、ＣＤやＤＶＤと呼ばれる光ディスクを使用するものが一般に普及しているが、最近では記録密度を向上させた光ディスク、即ちＢｌｕ−ｒａｙ規格やＨＤ  ＤＶＤ（High Density Digital Versatile Disk）規格の光ディスクを使用するものが開発されている。
【０００４】
ＣＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うレーザー光としては、波長が７８０ｎｍである赤外光が使用され、ＤＶＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作行うレーザー光としては、波長が６５０ｎｍの赤色光が使用されている。
【０００５】
そして、前記ＣＤ規格の光ディスクにおける信号記録層の上面、即ち信号記録層とレーザー光が入射する表面との間に設けられている保護層の厚さは１．２ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は０．４５と規定されている。また、ＤＶＤ規格の光ディスクにおける信号記録層の上面に設けられている保護層の厚さは０．６ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は０．６と規定されている。
【０００６】
斯かるＣＤ規格及びＤＶＤ規格の光ディスクに対して、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格やＨＤ  ＤＶＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うレーザー光としては、波長が短いレーザー光、例えば波長が４０５ｎｍの青紫色光が使用されている。
【０００７】
Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクにおける信号記録層の上面に設けられている保護層の厚さは、０．１ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は、０．８５と規定されている。
【０００８】
一方、ＨＤ  ＤＶＤ規格の光ディスクにおける信号記録層の上面に設けられている保護層の厚さは、０．６ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うために使用される対物レンズの開口数は、０．６５と規定されている。
【０００９】
前述したようにＢｌｕ−ｒａｙ規格やＨＤ  ＤＶＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うためのレーザー光としては、波長が４０５ｎｍの青紫色光を使用することが出来るので、レーザーダイオードを兼用することによって両規格の光ディスクから信号の読み出し動作を行うことが出来る光ピックアップ装置を作ることが出来る。
【００１０】
しかしながら、両光ディスクから信号を読み出すためには、信号記録層の位置が大きく相違し、対物レンズの必要とする開口数が大きく異なるため、各光ディスクに対応させて開口数を切り換える必要があり、斯かる動作を行うことが出来る光ピックアップ装置が開発されている。（特許文献１参照。）
また、最近では、前述したＣＤ規格及びＤＶＤ規格の光ディスクだけでなく、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格やＨＤ  ＤＶＤ規格の光ディスクも使用することが出来る光ディスク装置の製品化が行われている。斯かる光ディスク装置に使用される光ピックアップ装置は、当然使用可能な規格の光ディスクに設けられている信号記録層から信号の読み出し動作や該信号記録層への信号の記録動作を行うことが出来るように構成されることになる。
【００１１】
斯かる光ピックアップ装置は、前述した波長のレーザー光を単一の対物レンズにて光ディスクの信号記録層に照射させることが困難であるため、例えばＣＤ規格及びＤＶＤ規格の光ディスクにレーザー光を照射する対物レンズと例えばＢｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクにレーザー光を照射する対物レンズの２つの対物レンズが使用されることになる。（特許文献２参照。）
光ピックアップ装置は、光ディスク装置に設けられている主軸及び副軸によって光ディスクの径方向への変位動作を行うことが出来るように構成されている。（特許文献３参照。）
また、光ピックアップ装置には、レーザーダイオードから放射されるレーザー光を光ディスクに設けられている信号記録層に集光させる対物レンズが設けられているが、斯かる対物レンズの光軸は光ディスクに対して垂直になるように構成されている。対物レンズは光ディスクの信号面に対して垂直方向、即ちフォーカス方向への変位動作及び光ディスクの径方向、即ちトラッキング方向への変位動作を行うことが出来るように構成されているが、斯かる対物レンズはレンズホルダーと呼ばれる部材の上面に接着剤等によって固定されるように構成されている。
【００１２】
対物レンズをレンズホルダー上の所定の位置に接着固定する場合、対物レンズの光軸が最適な状態になるように調整されるが、斯かる調整動作はオートコリメータと呼ばれる装置によって一般的に行われている。（特許文献４参照。）
【特許文献１】特開２００６−１７２６０５号公報
【特許文献２】特開平１１−２３９６０号公報
【特許文献３】特開２００６−２３６４０１号公報
【特許文献４】特開平１０−９１９６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
光ピックアップ装置が組み込まれる光ディスク装置は、前述したようにＣＤ規格、ＤＶＤ規格、ＨＤ  ＤＶＤ規格及びＢｌｕ−ｒａｙ規格等の各種の光ディスクを使用するものがある。そして、斯かる光ディスク装置としては据え置き型やコンピュータ装置に組み込まれるもの等種々なタイプがある。
【００１４】
パーソナルコンピュータ特にノート型と呼ばれるコンピュータは、薄型化が行われており、斯かるコンピュータに組み込まれる光ディスク装置も薄型化が行われている。光ディスク装置の薄型化が行われると、その内部に組み込まれる光ピックアップ装置も薄型化が要求されることになる。
【００１５】
そして、最近では高密度記録動作を行うことが出来るＨＤ  ＤＶＤ規格やＢｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスク装置が普及しつつあるが、斯かる光ディスク装置に組み込まれる光ピックアップ装置は、それ自体の精度が要求されるだけでなく径方向への変位動作を行う駆動機構における精度も向上させる必要がある。
【００１６】
光ピックアップ装置の径方向への変位動作は前述したように主軸と副軸によって行うように構成されているが、光ディスク面に対して平行となる平行面上における主軸と副軸との間の距離や光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸と副軸との間の距離
が光ディスク装置の製造会社や異なる機種によって大きく相違している。
【００１７】
そのため、光ピックアップ装置における互換性がないため、異なる製造会社の光ピックアップ装置を使用する場合には、光ピックアップ装置の駆動機構を設計変更する必要があるという問題がある。また、機能が向上した光ピックアップ装置に交換する場合においても互換性がないので、交換することが出来ないという問題がある。更に、高精度な特性を有する光ピックアップ装置や精度の高い駆動機構を必要としている光ディスク装置に粗悪な光ピックアップ装置が組み込まれることによって光ディスクから信号の読み取り動作等を正確に行うことが出来ないという問題が発生している。
【００１８】
本発明は、斯かる問題を解決することが出来る光ピックアップ装置及び光ピックアップ装置の検査方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明は、光ディスク装置に設けられている主軸が挿通されるとともに径の最小公差値及び最大公差値が規定されている主軸用穴及び前記主軸に対して平行に設けられている副軸に係合されるとともにギャップ幅の最小公差値及び最大公差値が規定されている副軸用ギャップが設けられ、且つ前記主軸及び副軸よって光ディスクの径方向への変位動作を行うように構成され、光ディスク面に対して平行となる平行面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離及び光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離とを規定値として設定するとともに主軸用穴の径と副軸用ギャップのギャップ幅とを略等しくなるように設定したことを特徴とするものである。
【００２０】
また、本発明は、平行面上における主軸用穴と対物レンズとの間の距離と公差値が規定値として設定されていることを特徴とするものである。
【００２１】
そして、本発明は、垂直面上における主軸用穴と対物レンズとの間の距離が規定値として設定されていることを特徴とするものである。
【００２２】
また、本発明は、垂直面上における主軸用穴と光ディスクの表面との間の距離が規定値として設定されていることを特徴とするものである。
【００２３】
そして、本発明は、光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴に挿入されるとともに該主軸用穴の最小公差値を含む径又は副軸用ギャップの最小公差値を含むギャップ幅の中の小さい方の径より僅かに小さい径の第１検査用主軸及び副軸用ギャップに係合されるとともに前記第１検査用主軸の径と同一の径の第１検査用副軸が固定されている第１検査用保持装置と光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴に挿入されるとともに該主軸用穴の最大公差値を含む径より僅かに大きい径の第２検査用主軸及び副軸用ギャップに係合されるとともに該副軸用ギャップの最大公差値を含むギャップ幅より僅かに大きい径の第２検査用副軸が固定されている第２検査用保持装置とを使用し、第１検査用保持装置に設けられている第１検査用主軸及び第１検査用副軸への主軸用穴及び副軸用ギャップの挿入及び係合動作を行った後第２検査用保持装置に設けられている第２検査用主軸及び第２検査用副軸への主軸用穴及び副軸用ギャップの挿入及び係合動作にて光ピックアップ装置の規格に対する合否を判定するようにしたことを特徴とするものである。
【００２４】
そして、本発明は、第２検査用主軸及び第２検査用副軸に主軸用穴及び副軸用ギャップを挿入及び係合させるとき、大きな力の要否によって規格に対する合否を判定するようにしたことを特徴とするものである。
【００２５】
また、本発明は、第１検査用主軸及び第１検査用副軸に主軸用穴及び副軸用ギャップを
挿入及び係合させた状態にて光ピックアップ装置の傾きを測定した後第１検査用主軸及び第１検査用副軸に副軸用ギャップ及び主軸用穴を係合及び挿入させた状態にて光ピックアップ装置の傾きを測定し、測定された傾きの差が所定の範囲内にあるとき、光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離が規定値の範囲にあると判定するようにしたことを特徴とするものである。
【００２６】
そして、本発明は、光ピックアップ装置の傾きをレーザー光の反射特性を利用したオートコリメータにて測定するようにしたことを特徴とするものである。
【００２７】
また、本発明は、光ピックアップ装置の上面に反射ミラーを設け、該反射ミラーから反射されるレーザー光にて光ピックアップ装置の傾きを測定するようにしたことを特徴とするものである。
【００２８】
更に、本発明は、対物レンズに設けられているコバ面から反射されるレーザー光にて光ピックアップ装置の傾きを測定するようにしたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２９】
本発明の光ピックアップ装置は、光ディスク装置に設けられている主軸が挿通されるとともに径の最小公差値及び最大公差値が規定されている主軸用穴及び前記主軸に対して平行に設けられている副軸に係合されるとともにギャップ幅の最小公差値及び最大公差値が規定されている副軸用ギャップが設けられ、且つ前記主軸及び副軸よって光ディスクの径方向への変位動作を行うように構成され、光ディスク面に対して平行となる平行面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離及び光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における主軸用穴と副軸用ギャップ間の距離を規定値として設定するとともに主軸用穴の径と副軸用ギャップのギャップ幅とを略等しくなるように設定したので、規定値と一致した光ピックアップ装置との互換性を確保することが出来る。
【００３０】
また、本発明の検査方法は、光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴に挿入されるとともに該主軸用穴の最小公差値を含む径又は副軸用ギャップの最小公差値を含むギャップ幅の中の小さい方の径より僅かに小さい径の第１検査用主軸及び副軸用ギャップに係合されるとともに前記第１検査用主軸の径と同一の径の第１検査用副軸が固定されている第１検査用保持装置と光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴に挿入されるとともに該主軸用穴の最大公差値を含む径より僅かに大きい径の第２検査用主軸及び副軸用ギャップに係合されるとともに該副軸用ギャップの最大公差値を含むギャップ幅より僅かに大きい径の第２検査用副軸が固定されている第２検査用保持装置とを使用し、第１検査用保持装置に設けられている第１検査用主軸及び第１検査用副軸への主軸用穴及び副軸用ギャップの挿入及び係合動作を行った後第２検査用保持装置に設けられている第２検査用主軸及び第２検査用副軸への主軸用穴及び副軸用ギャップの挿入及び係合動作にて光ピックアップ装置の規格に対する合否を判定するようにしたので、本発明の検査方法によれば規格に合致した光ピックアップ装置の選別を正確に且つ容易に行うことが出来る。
【実施例】
【００３１】
図１は本発明の光ピックアップ装置の一実施例を示す正面図、図２は光ピックアップ装置の平面図、図３は光ピックアップ装置を光ディスク装置に組み込んだ状態を示す平面図である。
【００３２】
図において、１は光ピックアップ装置を構成するハウジングであり、図３に示すように光ディスク装置に設けられている基板(図示せず)に固定されている主軸２が挿通される主軸用穴３及び光ディスク装置に設けられている基板に固定されている副軸４と係合する副軸用ギャップ５が形成されている。また、前記ハウジング１内にはレーザー光を放射する
レーザーダイオードや各種のレンズを含む光学部品が組み込まれている。
【００３３】
６は前記ハウジング１上に設けられているアクチュエータ部、７及び８は前記アクチュエータ部６内に４本又は６本の弾性を有する支持ワイヤーによってフォーカス方向及びトラッキング方向への変位動作を行うことが出来るように支持されたレンズホルダー９上に固定されている第１対物レンズ及び第２対物レンズであり、各レンズにはコバ面７ａ、８ａが設けられている。斯かるレンズホルダー９の支持構成等は周知であり、その説明は省略する。
【００３４】
１０は前記アクチュエータ部６の上面６ａに固定されている反射ミラーであり、後述するようにオートコリメータ装置によって光ピックアップ装置の傾きを測定する場合に使用されるものである。
【００３５】
前述したように構成された光ピックアップ装置は、主軸用穴３及び副軸用ギャップ５を光ディスク装置に設けられている基板に固定されている主軸２及び副軸４に挿通及び係合させることによって光ディスクの径方向、即ち図３に示すように矢印Ａ及びＢ方向への変位動作を行うことが出来るように光ディスク装置内に組み込まれることになる。図３において、１１は光ディスクが載置されるターンテーブルであり、電動機によって回転駆動されるように構成されている。
【００３６】
斯かる構成において、光ディスク装置に組み込まれるターンテーブル１１、主軸２及び副軸４は光ディスク装置に組み込まれる基板に対して正確な位置及び互いの関係が正確になるように固定されることになる。
【００３７】
また、光ピックアップ装置を構成するハウジング１に設けられているとともに光学部品が組み込まれているアクチュエータ部６は勿論のこと、該アクチュエータ部６に組み込まれているレンズホルダー９上に固定される第１対物レンズ７及び第２対物レンズ８は正確な位置に固定されている。
【００３８】
前記第１対物レンズ７及び第２対物レンズ８は、各対物レンズの光軸がターンテーブル上に載置される光ディスクの信号面に対して垂直になるようにレンズホルダー９上に接着固定されるが、斯かる接着固定を行う場合におけるオートコリメータによる角度調整は、各対物レンズに設けられているコバ面７ａ及び８ａにレーザー光を照射させることによって行われる。斯かるオートコリメータによる角度調整動作は周知の技術を利用すればよく、その説明は省略する。
【００３９】
前述した構成の光ピックアップ装置において、異なる光ピックアップ装置と互換性を維持するために規格化することが重要であり、本発明では次の点を規格化するように構成されている。
【００４０】
斯かる光ピックアップ装置の規格化について図１を参照にして説明する。光ピックアップ装置を構成するハウジング１に設けられている主軸用穴３の中心点と副軸用ギャップ５の副軸４が係合する位置の中心点との間の距離、即ち光ディスク面に対して平行となる平行面上における距離Ｌの値と主軸用穴３の中心点と副軸用ギャップ５の副軸４が係合する位置の中心点との間の距離、即ち光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における距離Ｅとの値を規格化する。
【００４１】
現在、製品化されているデスクトップ型と呼ばれるパーソナルコンピュータに組み込まれる光ディスク装置に採用される光ピックアップ装置におけるＥの値は０．５ｍｍであり、ノート型と呼ばれるパーソナルコンピュータに組み込まれる光ディスク装置に採用され
る光ピックアップ装置におけるＥの値は０ｍｍであり、これらの値が標準値として採用されている。
【００４２】
また、主軸用穴３の径をＣ、副軸用ギャップ５のギャップ幅をＤとしたとき、ＣとＤの値を略等しい値にするように設定されている。即ち、主軸用穴３の径であるＣには、該主軸用穴３に挿通される主軸２の径との関係から公差として＋ａ１〜＋ｂ１が付与され、副軸用ギャップ５のギャップ幅であるＤには、該副軸用ギャップ５と係合する副軸４の径との関係から公差として＋ａ２〜＋ｂ２が付与されている。
【００４３】
前述したように主軸用穴３及び副軸用ギャップ５に対する水平距離Ｌ、垂直距離Ｅ、穴の径Ｃ及びギャップ幅Ｄの値が設定されているので、主軸用穴３及び副軸用ギャップ５が斯かる値に設定された光ピックアップ装置を製造すれば、異なる光ディスク装置間において光ピックアップ装置を交換使用することが出来る。即ち、光ピックアップ装置において、互換性を維持することが可能となる。
【００４４】
前述したように光ディスク装置に組み込まれる主軸２及び副軸４と光ピックアップ装置との関係は設定されるが、次に対物レンズ７，８が配置される位置について説明する。主軸用穴３の中心点と第１対物レンズ７の中心点との間の距離、即ち、光ディスク面に対して平行となる平行面上における距離Ｓ(公差を含む)の値を規定する。更に、主軸用穴３の中心点と光ディスクＤの表面との間の距離、即ち、光ディスク面に対して垂直となる垂直面上における距離Ｈの値を規定する。斯かる距離Ｈは、一般に光ピックアップ装置において、対物レンズからの出射光が光ディスクの信号面に結像された状態における対物レンズの最端部から光ディスクの表面までの距離を考慮して設定されている。
【００４５】
前述したように主軸用穴３の中心点と第１対物レンズ７の中心点との間の水平面上の距離Ｓ及び主軸用穴３の中心点と光ディスクＤの表面との間の垂直面上の距離Ｈを規格化することによって据え置き型の光ディスク装置やデスクトップ型コンピュータ装置等に組み込まれる光ディスク装置に対応させた光ピックアップ装置を規格化することが出来る。
【００４６】
尚、本説明では、主軸用穴３の中心点と第１対物レンズ７の中心点及び光ディスクＤの表面との間の距離を規格化する場合について説明したが、第２対物レンズ８であっても良いことは勿論である。また、本実施例では、第１対物レンズ７と第２対物レンズ８の２つの対物レンズを備えた光ピックアップ装置について説明したが、１つの対物レンズが組み込まれている光ピックアップ装置に実施することは勿論可能である。
【００４７】
また、本実施例では、主軸用穴３の中心点と光ディスクＤの表面との間の距離Ｈの値を規格化する場合について説明したが、主軸用穴３の中心点と対物レンズ７、８の上面との間の垂直面上の距離をＨとして規格化することも出来る。
【００４８】
以上に説明したように光ピックアップ装置の規格化は行われるが、次に製造された光ピックアップ装置が前述した規格に合致しているか否かを検査する方法について説明する。
【００４９】
斯かる検査は、径が等しい検査用主軸と検査用副軸が固定されている第１検査用保持装置Ｍ１と径が異なる検査用主軸と検査用副軸が固定されている第２検査用保持装置Ｍ２とを使用することによって行われる。
【００５０】
図４は第１検査用保持装置Ｍ１に固定されている第１検査用主軸１２及び第１検査用副軸１３に夫々光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴３及び副軸用ギャップ５を挿通及び係合させた状態を示すものである。斯かる第１検査用保持装置Ｍ１は検査用の治具であり、第１検査用主軸１２と第１検査用副軸１３との位置関係が、前述した光ピックア
ップ装置の規格である光ディスク面に平行となる平行面上の距離Ｌ及び光ディスク面に垂直となる垂直面上の距離Ｅと正確に合致するように固定されている。
【００５１】
前述したように第１検査用主軸１２と第１検査用副軸１３は第１検査用保持装置Ｍ１に固定されているが、第１検査用主軸１２の径及び第１検査用副軸１３の径は、互いに等しく、且つその値は主軸用穴３の径Ｃの最小公差値＋ａ１を含む径と副軸用ギャップ５のギャップ幅Ｄの最小公差値＋ａ２を含む径の中の小さい方の径より僅かに小さい径になるように設定されている。
【００５２】
前述したように位置関係及び径が決定されている第１検査用主軸１２及び第１検査用副軸１３が固定されている第１検査用保持装置Ｍ１に対して検査対象となる光ピックアップ装置の主軸用穴３及び副軸用ギャップ５を第１検査用主軸１２及び第１検査用副軸１３に対して挿通及び係合させる作業を行う。
【００５３】
図４は斯かる作業によって光ピックアップ装置が第１検査用保持装置Ｍ１に装着された状態を示す斜視図であり、斯かる装着作業が軽く円滑に行われた場合には、検査対象となる光ピックアップ装置は規格に対して該当する製品であると判断できる。即ち、斯かる検査作業によって光ピックアップ装置を第１検査用保持装置Ｍ１に装着させることが出来ない場合、または規定より大きな力を要する場合には、検査対象となる光ピックアップ装置は規格外の製品であり、互換性のない不良品であると判断することが出来る。
【００５４】
以上に説明したように第１検査用保持装置Ｍ１を使用した第一段階の検査は行われるが、次に斯かる検査に合格した製品に対する次の検査について説明する。
【００５５】
図５は第１検査用保持装置Ｍ１に対し光ピックアップ装置を正方向に装着させた状態、即ち正装着状態を示す正面図であり、斯かる状態においてオートコリメータを使用してアクチュエータ部６の上面６ａの傾きを測定する。斯かる測定動作は、前記上面６ａに固定されている反射ミラー１０にオートコリメータからのレーザー光を照射させることによって行われる。
【００５６】
斯かる作業によってアクチュエータ部６の上面６ａの傾きが測定されるが、測定される傾きは、例えば基準面となる光ディスクＤの表面に対する傾きである。斯かる傾き測定作業が完了すると、光ピックアップ装置を第１検査用保持装置Ｍ１から取り外した後、外した光ピックアップ装置を前記第１検査用保持装置Ｍ１に対して逆方向から再度装着させる作業が行われる。
【００５７】
即ち、検査対象となる光ピックアップ装置の主軸用穴３及び副軸用ギャップ５を各々第１検査用副軸１３及び第１検査用主軸１２に対して挿通及び係合させる作業を行う。図６及び図７は斯かる装着動作が行われた逆装着状態を示す斜視図及び正面図である。斯かる状態において、オートコリメータを使用してアクチュエータ部６の上面６ａの傾きを測定する。斯かる測定動作は、前述した動作と同様に前記上面６ａに固定されている反射ミラー１０にオートコリメータからのレーザー光を照射させることによって行われる。
【００５８】
前述した作業によって正装着状態及び逆装着状態におけるアクチュエータ部６の上面６ａの傾きが測定されるが、このようにして測定された傾斜角度の差を求める処理が行われる。正装着状態及び逆装着状態にて測定された傾斜角度の差は、主軸用穴３と副軸用ギャップ５との間の垂直面上の距離Ｅに起因して生じるものである。従って、この傾斜角度の差が所定値以内であれば、検査対象の光ピックアップ装置における主軸用穴３と副軸用ギャップ５との間の垂直面上の距離Ｅが規定値の範囲にあると判断することが出来る。
【００５９】
このようにして光ピックアップ装置に設けられている主軸用穴３と副軸用ギャップ５との間の垂直面上の距離Ｅが規定値にあるか否かを判定する第２段階の検査が行われるが、次に斯かる検査に合格した光ピックアップ装置の次の検査について説明する。
【００６０】
前述した検査にて合格した光ピックアップ装置は、第２検査用保持装置Ｍ２を使用して行われる。斯かる第２検査用保持装置Ｍ２は、前述した第１検査保持装置Ｍ１と同一の構成であるが、相違点は第２検査用主軸１４の径は、主軸用穴３の径Ｃの最大公差値＋ｂ１より僅かに大きい径になるように設定され、第２検査用主軸１５の径は、副軸用ギャップ５のギャップ幅Ｄの最大公差値＋ｂ２より僅かに大きい径になるように設定されている点にある。
【００６１】
前述したように位置関係及び径が決定されている第２検査用主軸１４及び第２検査用副軸１５が固定されている第２検査用保持装置Ｍ２に対して検査対象となる光ピックアップ装置の主軸用穴３及び副軸用ギャップ５を各々第２検査用主軸１４及び第２検査用副軸１５に対して挿通及び係合させる作業を行う。
【００６２】
斯かる作業によって光ピックアップ装置を第２検査用保持装置Ｍ２に対して大きな力でなければ装着させることが出来ない場合には、検査対象である光ピックアップ装置は、規格に合致した製品であると判定することが出来る。
【００６３】
尚、本実施例では、光ピックアップ装置の傾きを検出するための手段としてアクチュエータ部６の上面６ａに設けられた反射ミラー１０を使用するようにしたが、第１対物レンズ７のコバ面７ａや第２対物レンズ８のコバ面８ａを使用することも出来る。
【００６４】
以上に説明した実施例は、図４に示した斜視図より明らかなようにデスクトップ型のパーソナルコンピュータに組み込まれる光ディスク装置に採用される光ピックアップ装置であり、主軸用穴３及び副軸用ギャップ５がハウジング１の上方に配置されている。
【００６５】
前述した光ピックアップ装置に対してノート型のパーソナルコンピュータに組み込まれる光ディスク装置に採用される光ピックアップ装置はスリム型と呼ばれており、薄型化されている。図８は斯かるスリム型の光ピックアップ装置を検査用保持装置に装着させた状態を示す斜視図であり、同図より明らかなように主軸用穴３及び副軸用ギャップ５がハウジング１の厚みの中に配置されている。
【００６６】
斯かるスリム型の光ピックアップ装置においても同様に規格化されているとともその規格に合致した光ピックアップ装置であるか否かの検査は同様に行われるので、その説明は省略する。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の光ピックアップ装置の一実施例を示す正面図である。
【図２】本発明の光ピックアップ装置の平面図である。
【図３】本発明の光ピックアップ装置に係る光ディスク装置の平面図である。
【図４】本発明に係る検査方法を説明するための斜視図である。
【図５】本発明に係る検査方法を説明するための正面図である。
【図６】本発明に係る検査方法を説明するための斜視図である。
【図７】本発明に係る検査方法を説明するための正面図である。
【図８】本発明に係る検査方法を説明するための斜視図である。
【符号の説明】
【００６８】
１      ハウジング
２      主軸
３      主軸用穴
４      副軸
５      副軸用ギャップ
６      アクチュエータ部
７      第１対物レンズ
８      第２対物レンズ
１０    反射ミラー
１２    第１検査用主軸
１３    第１検査用副軸
１４    第２検査用主軸
１５    第２検査用副軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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