(57)【要約】      （修正有）【課題】安価な構成で高精度のジッタ計測を行うことが可能なジッタ計測器、及び、これを用いた光ディスク装置を提供する。【解決手段】ジッタ計測器８は、２値化ＲＦ信号からその復調処理に必要なチャネルクロックを生成するＰＬＬ回路７に接続され、ＶＣＯクロック等を用いて、チャネルクロックのパルスエッジを位相中心とした所定のパルス幅を有する判定信号を生成する判定信号生成回路８１と、位相誤差信号と判定信号に基づいて、２値化ＲＦ信号の論理反転毎に、その反転位置が判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に入っているか否かを判定する位相判定回路８２と、位相判定回路８２の出力信号に基づいて、２値化ＲＦ信号の反転位置が判定区間内に入っていない回数をカウントする位相カウンタ８３と、を有し、位相カウンタ８３のカウント値をジッタ計測値として出力する構成とされている。【選択図】図３
2009099169.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２値信号からその信号処理に必要なクロック信号を生成するＰＬＬ回路に接続され、前記２値信号のジッタを計測するジッタ計測器であって、
前記ＰＬＬ回路を構成する電圧制御発振器の出力信号またはその分周信号、若しくは、前記電圧制御発振器を構成するリングオシレータ各段の出力信号を用いることで、前記クロック信号のパルスエッジを位相中心とした所定のパルス幅を有する判定信号を生成する判定信号生成回路と；
前記ＰＬＬ回路を構成する位相比較器の出力信号と前記判定信号に基づいて、前記２値信号の論理反転が生じる度に、その反転位置が前記判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に入っているか否かを判定する位相判定回路と；
前記位相判定回路の出力信号に基づいて、前記２値信号の反転位置が前記判定区間内に入っていない回数、若しくは、入っている回数をカウントする位相カウンタと；
を有して成り、
前記位相カウンタのカウント値をジッタ計測値として出力することを特徴とするジッタ計測器。
【請求項２】
前記位相カウンタのカウント値をホールドし、これをジッタ計測値として出力するホールド回路と；
前記２値信号の論理反転回数をカウントし、そのカウント値が所定値に達する毎に、前記位相カウンタのカウント値をリセットするとともに、前記ホールド回路のホールド値を更新する計測周期カウンタと；
を有して成ることを特徴とする請求項１に記載のジッタ計測器。
【請求項３】
光ディスクに光ビームを照射し、その反射光の強弱に応じた再生信号を生成する光ピックアップと；
前記再生信号に２値化処理を施して、２値信号を生成する２値化回路と；
前記２値信号に復調処理を施す復調回路と；
前記２値信号からその復調処理に必要なクロック信号を生成し、これを前記復調回路に送出するＰＬＬ回路と；
前記ＰＬＬ回路に接続され、前記２値信号のジッタを計測する請求項１または請求項２に記載のジッタ計測器と；
を有して成ることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
前記ジッタ計測値に応じて、前記光ディスクに対する前記光ピックアップのトラッキングサーボやフォーカスサーボを行うサーボ回路を有して成ることを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、２値信号のジッタを計測するジッタ計測器、及び、これを用いた光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光ディスクの記録／再生を行う光ディスク装置には、２値化された再生高周波信号（以下、２値化ＲＦ［Radio Frequency］信号と呼ぶ）のジッタを計測するジッタ計測器が搭載されている。
【０００３】
なお、ジッタ計測器に関連する従来技術の一例としては、特許文献１〜４を挙げることができる。
【特許文献１】特開２００１−２６６３５９号公報
【特許文献２】特開２００５−１８８４３号公報
【特許文献３】特開２００５−２９３８１２号公報
【特許文献４】特開２００６−１２７６２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
確かに、ジッタ計測器を搭載した光ディスク装置であれば、２値化ＲＦ信号のジッタ計測値に基づいて、フォーカスサーボやオフセットサーボのオフセット量、ＲＦアンプの波形等化特性、並びに、光ピックアップの諸特性を最適に調整することが可能である。
【０００５】
しかしながら、特許文献１において、従来技術として挙げられたジッタ計測器は、位相比較器の出力を絶対値変換した後、積分器を通してＡ／Ｄ［Analog/Digital］変換を行うことにより、ジッタ計測を行う構成であるため、精度の高いアナログ積分器やＡ／Ｄ変換器が必要であった。
【０００６】
また、特許文献１に記載の発明は、ジッタが正規分布をしていることを利用し、チャネルクロックから少し位相のずれたクロックを用いて２値化信号の反転位置を計測することにより、ジッタ計測を行う構成であるため、信号再生用のＰＬＬ［Phase Locked Loop］回路だけでなく、ジッタ計測専用のＰＬＬ回路が別途必要であった。
【０００７】
また、特許文献２に記載の発明は、チャネルクロックと同期したＮ相クロックを用いて２値化信号をサンプリングし、時間方向にＮ倍の分解能を持った情報を得ることにより、ジッタ計測を行う構成であるため、ジッタ計測専用の電圧制御発振器（ＶＣＯ［Voltage Controlled Oscillator］）が必要であり、また、Ｎ相クロックの精度の高いレイアウトが必要であった。
【０００８】
また、特許文献３に記載の発明は、チャネルクロックよりもかなり高速なクロックを用いて、２値化信号のハイレベル幅及びローレベル幅をカウントすることにより、ジッタ計測を行う構成であるため、チャネルクロックよりもかなり高速なクロックを生成するためのクロック生成回路が必要であり、それに伴い消費電力が大きくなっていた。
【０００９】
また、特許文献４に記載の発明は、Ｓ段の遅延素子を用いて２値化信号を基準周期１Ｔ／Ｓずつ順次遅延させ、各遅延信号をチャネルクロックでサンプリングすることにより、高分解能でジッタ計測を行う構成であるため、追加のＰＬＬ回路なしでは、ばらつきが大きく、かつ、様々な再生速度に対応できなかった。また、ジッタ計測を高精度に行うためには、ＰＬＬ回路を追加する必要があった。
【００１０】
このように、上記従来のジッタ計測器は、高速のクロック生成回路や高精度のＡ／Ｄ変換器、ジッタ計測専用のＰＬＬ回路やＶＣＯなどを必要とするので、デジタル方式のシステムＬＳＩに安価に組み込むことができなかった。
【００１１】
本発明は、上記の問題点に鑑み、安価な構成で高精度のジッタ計測を行うことが可能なジッタ計測器、及び、これを用いた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために、本発明に係るジッタ計測器は、２値信号からその信号処理に必要なクロック信号を生成するＰＬＬ回路に接続され、前記２値信号のジッタを計測するジッタ計測器であって、前記ＰＬＬ回路を構成する電圧制御発振器の出力信号またはその分周信号、若しくは、前記電圧制御発振器を構成するリングオシレータ各段の出力信号を用いることで、前記クロック信号のパルスエッジを位相中心とした所定のパルス幅を有する判定信号を生成する判定信号生成回路と；前記ＰＬＬ回路を構成する位相比較器の出力信号と前記判定信号に基づいて、前記２値信号の論理反転が生じる度に、その反転位置が前記判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に入っているか否かを判定する位相判定回路と；前記位相判定回路の出力信号に基づいて、前記２値信号の反転位置が前記判定区間内に入っていない回数、若しくは、入っている回数をカウントする位相カウンタと；を有して成り、前記位相カウンタのカウント値をジッタ計測値として出力する構成（第１の構成）とされている。
【００１３】
なお、上記第１の構成から成るジッタ計測器は、前記位相カウンタのカウント値をホールドし、これをジッタ計測値として出力するホールド回路と；前記２値信号の論理反転回数をカウントし、そのカウント値が所定値に達する毎に、前記位相カウンタのカウント値をリセットすると共に、前記ホールド回路のホールド値を更新する計測周期カウンタと；  を有して成る構成（第２の構成）にするとよい。
【００１４】
また、本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクに光ビームを照射し、その反射光の強弱に応じた再生信号を生成する光ピックアップと；前記再生信号に２値化処理を施して２値信号を生成する２値化回路と；前記２値信号に復調処理を施す復調回路と；前記２値信号からその復調処理に必要なクロック信号を生成し、これを前記復調回路に送出するＰＬＬ回路と；前記ＰＬＬ回路に接続され、前記２値信号のジッタを計測する上記第１または第２の構成から成るジッタ計測器と；を有して成る構成（第３の構成）とされている。
【００１５】
なお、上記第３の構成から成る光ディスク装置は、前記ジッタ計測値に応じて、前記光ディスクに対する前記光ピックアップのトラッキングサーボやフォーカスサーボを行うサーボ回路を有して成る構成（第４の構成）にするとよい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係るジッタ計測器であれば、安価な構成で高精度のジッタ計測を行うことが可能となり、また、本発明に係る光ディスク装置であれば、２値化ＲＦ信号のジッタ計測値に基づいて、フォーカスサーボやオフセットサーボのオフセット量、ＲＦアンプの波形等化特性、並びに、光ピックアップの諸特性を最適に調整することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下では、本発明に係るジッタ計測器を光ディスク装置に搭載した場合を例に挙げて、本発明の詳細な説明を行う。
【００１８】
図１は、本発明に係る光ディスク装置の一実施形態を示すブロック図である。
【００１９】
図１に示すように、本実施形態の光ディスク装置は、光ピックアップ１と、ＲＦアンプ２と、２値化回路３と、復調回路４と、サーボ回路５と、マイクロプロセッサ６（以下、ＭＰＵ［Micro Processing Unit］６と呼ぶ）と、ＰＬＬ回路７と、ジッタ計測器８と、を有して成る。
【００２０】
光ピックアップ１は、光ディスクＤの再生動作に際して、光ディスクＤに光ビームを照射し、その反射光の強弱に応じた再生ＲＦ信号を生成する手段である。
【００２１】
ＲＦアンプ２は、再生ＲＦ信号に波形等化処理を施して、その振幅レベルを均一化する手段である。
【００２２】
２値化回路３は、波形等化処理済みの再生ＲＦ信号に２値化処理を施して、２値化ＲＦ信号（例えば、ＥＦＭ［Eight-Fourteen Modulation］信号やＥＦＭｐｌｕｓ信号）を生成する手段である。
【００２３】
復調回路４は、２値化ＲＦ信号に復調処理（サンプリング処理やエラー訂正処理等を含む）を施して、光ディスクＤの再生データを生成する手段である。
【００２４】
サーボ回路５は、光ディスクＤに対する光ピックアップ１のトラッキングサーボやフォーカスサーボ等を行う手段である。
【００２５】
ＭＰＵ６は、光ディスク装置の動作を統括的に制御する手段である。
【００２６】
ＰＬＬ回路７は、２値化ＲＦ信号からその復調処理に用いられるチャネルクロック信号を生成し、これを復調回路４に送出する手段である。
【００２７】
ジッタ計測器８は、２値化ＲＦ信号のジッタを計測し、その計測結果であるジッタ計測値をサーボ回路５やＭＰＵ６に送出する手段である。
【００２８】
次に、ジッタ計測器８の詳細を説明するのに先立ち、その計測対象である２値化ＲＦ信号のジッタについて説明する。
【００２９】
図２は、ジッタとジッタ分布との関係を示す相関図であり、上から順に、２値化ＲＦ信号、チャネルクロック信号、及び、２値化ＲＦ信号の反転位置確率分布が示されている。
【００３０】
図２で示すように、２値化ＲＦ信号は、様々なノイズ要因により、これに位相同期したチャネルクロック信号の立下がりエッジを位相中心としたジッタを持つ（２値化ＲＦ信号と共に描写された破線及び矢印を参照）。
【００３１】
一般に、ジッタは２値化ＲＦ信号の反転位置確率分布を用いて表した場合、正規分布の特性を持つ。例えば、ＤＶＤ［Digital Versatile Disc］規格では、この分布のσ（標準偏差）をＴ（チャネルクロック信号の周期）で除算したもの、すなわちσ／Ｔをジッタと定義している。
【００３２】
そこで、本実施形態の光ディスク装置に搭載されるジッタ計測器８は、上記の特性に鑑み、２値化ＲＦ信号の論理反転が生じる度に、その反転位置がチャネルクロック信号の立下がりエッジを位相中心とした所定の判定区間内に入っているか否かをカウントすることで、ジッタの計測を行う構成とされている。
【００３３】
より具体的に述べると、ジッタ計測器８は、チャネルクロック信号の立下がりエッジを位相中心とした所定のパルス幅（チャネルクロック信号のパルス幅に対して１０％（±５％）〜３０％（±１５％）のパルス幅）を有する判定信号を生成し、この判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に、２値化ＲＦ信号の反転位置が入っていない回数をカウントすることで、ジッタの計測を行う構成とされている。もちろん、本実施形態とは逆に、所定の判定区間内に、２値化ＲＦ信号の反転位置が入っている回数をカウントすることでジッタの計測を行う構成としても構わない。
【００３４】
なお、図２下段の実線Ｌ１〜Ｌ３を比較すれば、ジッタが大きいほど、２値化ＲＦ信号の反転位置が所定の判定区間に入らない確率が高くなることが分かる。
【００３５】
次に、ＰＬＬ回路７及びジッタ計測器８の内部構成及び動作について詳細に説明する。
【００３６】
図３は、ＰＬＬ回路７及びジッタ計測器８の一構成例を示すブロック図である。
【００３７】
図３に示す通り、本構成例のＰＬＬ回路７は、位相比較器７１と、ループフィルタ７２と、電圧制御発振器７３（以下、ＶＣＯ５３と呼ぶ）と、分周器７４と、を有して成る。
【００３８】
位相比較器７１は、２値化ＲＦ信号とチャネルクロック信号の位相を比較して、位相誤差信号を生成する手段である。なお、位相誤差信号は、２値化ＲＦ信号の論理反転エッジで立ち下がり、そこから２つ後のチャネルクロック信号の立下がりエッジで立ち上がる。
【００３９】
ループフィルタ７２は、位相誤差信号の交流成分を遮断して、ＶＣＯ７３の制御電圧を生成する手段である。
【００４０】
ＶＣＯ７３は、制御電圧に応じた周波数のＶＣＯクロック信号を生成する手段である。
【００４１】
分周器７４は、ＶＣＯクロック信号を任意の分周比（例えば１／４分周）で分周することにより、２値化ＲＦ信号に位相同期したチャネルクロック信号を生成する手段である。
【００４２】
また、本構成例のジッタ計測器８は、判定信号生成回路８１と、位相判定回路８２と、位相カウンタ８３と、ホールド回路８４と、計測周期カウンタ８５と、を有して成る。
【００４３】
判定信号生成回路８１は、ＶＣＯ７３から直接ないしは分周器７４を介して出力されるＶＣＯクロック信号またはその分周信号を用いることで、チャネルクロック信号のパルスエッジを位相中心とした所定のパルス幅を有する判定信号を生成する手段である。
【００４４】
例えば、ＶＣＯクロック信号がチャネルクロック信号の４倍の発振周波数を有している場合であれば、ＶＣＯクロック信号を分周することなく、直接これを判定信号の生成処理に用いることができ、後出の図５で示すように、チャネルクロック信号のパルスエッジを位相中心とした所定のパルス幅（チャネルクロック信号のパルス幅の２５％（±１２．５％）のパルス幅）を有する判定信号を容易に生成することができる。
【００４５】
また、例えば、ＶＣＯクロック信号がチャネルクロック信号の８倍の発振周波数を有している場合であれば、ＶＣＯクロック信号を１／２分周することで、チャネルクロック信号の４倍の発振周波数を有する分周信号を生成し、これを判定信号の生成処理に用いればよく、これにより、上記と同様の判定信号を容易に生成することができる。
【００４６】
一方、ＶＣＯクロック信号がチャネルクロック信号の２倍の発振周波数しか有していない場合には、ＶＣＯクロック信号やその分周信号を位相シフトさせない限り、これらを用いても、上記所望の判定信号を生成することはできない。
【００４７】
ただし、図４に示すように、ＶＣＯ７３としてリングオシレータが用いられている場合には、リングオシレータ各段の出力信号（より具体的には、リング状に接続されたインバータ各段の出力信号）がチャネルクロック信号に対して所定の位相ずれを有する信号であることに鑑み、これらの信号を適宜用いることで、別途の位相シフト回路を要することなく、上記所望の判定信号を生成することが可能となる。
【００４８】
位相判定回路８２は、位相比較器７１の出力信号（位相誤差信号）と、判定信号生成回路８１で生成された判定信号に基づいて、２値化ＲＦ信号の論理反転が生じる度に、その反転位置が判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に入っているか否かを判定する手段である。より具体的に述べると、位相判定回路８２は、２値化ＲＦ信号の反転位置（位相誤差信号の立下がりエッジ）をトリガとして、判定信号がローレベルであるかハイレベルであるかをラッチし、そのラッチ信号を出力する。
【００４９】
位相カウンタ８３は、位相判定回路８２で生成されたラッチ信号に基づいて、２値化ＲＦ信号の反転位置が前記判定区間内に入っていない回数をカウントする手段である。より具体的に述べると、位相カウンタ８３は、計測周期カウンタ８５を介して入力される位相誤差信号の立上がりエッジをトリガとして、ラッチ信号がハイレベルであるか否かをモニタし、ラッチ信号がハイレベルであれば、そのカウント値をインクリメントする。なお、位相カウンタ８３のカウント値は、所定の計測周期毎にリセットされる。
【００５０】
ホールド回路８４は、所定の計測周期毎に、位相カウンタ８３のカウント値をホールドし、これをジッタ計測値として出力する手段である。
【００５１】
計測周期カウンタ８５は、２値化ＲＦ信号の論理反転回数（位相誤差信号の立上がりエッジ数）をカウントし、そのカウント値が所定値に達する毎に、カウンタクリア信号を送出することで、所定の計測周期毎に、位相カウンタ８３のカウント値をリセットするとともに、ホールド回路８４のホールド値を更新する手段である。
【００５２】
図５は、ジッタ計測動作を説明するためのタイミングチャートであり、上から順に、ＶＣＯクロック信号、判定信号、チャネルクロック信号、２値化ＲＦ信号、位相誤差信号、ラッチ信号、位相カウンタ値、計測周期カウンタ値、カウンタクリア信号、及び、カウンタホールド値をそれぞれ示している。
【００５３】
なお、図５では、チャネルクロック信号の４倍の発振周波数を有するＶＣＯクロック信号を用いて、チャネルクロック信号の立下がりエッジを位相中心とし、チャネルクロック信号のパルス幅の２５％（±１２．５％）のパルス幅を有する判定信号を生成した構成を例に挙げて説明を行う。
【００５４】
時刻（Ａ）では、２値化ＲＦ信号がチャネルクロック信号の立下がりエッジに対して、位相の進んだところで論理反転しているが、その進み位相は１２．５％よりも小さく、２値化ＲＦ信号の反転位置は、判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に入っている。そのため、２値化ＲＦ信号の反転位置（位相誤差信号の立下がりエッジ）をトリガとするラッチ信号の出力論理は、ローレベルとなる。
【００５５】
その後、時刻（ａ）において、位相カウンタ８３は、位相誤差信号の立上がりエッジをトリガとして、ラッチ信号がハイレベルであるか否かをモニタするが、時刻（ａ）では、ラッチ信号がローレベルであるため、位相カウンタ８３は、そのカウンタ値をインクリメントせず、従前のカウント値（１Ｆ４ｈ）を維持する。一方、計測周期カウンタ８５は、２値化ＲＦ信号の論理反転回数（位相誤差信号の立上がりエッジ数）をカウントし、そのカウント値をインクリメント（１ＦＦＣｈ→１ＦＦＤｈ）する。
【００５６】
時刻（Ｂ）では、２値化ＲＦ信号がチャネルクロック信号の立下がりエッジに対して、位相の遅れたところで論理反転しているが、その遅れ位相は１２．５％よりも小さく、２値化ＲＦ信号の反転位置は、判定信号のパルス幅で定められる判定区間内に入っている。そのため、２値化ＲＦ信号の反転位置（位相誤差信号の立下がりエッジ）をトリガとするラッチ信号の出力論理は、ローレベルとなる。
【００５７】
その後、時刻（ｂ）において、位相カウンタ８３は、位相誤差信号の立上がりエッジをトリガとして、ラッチ信号がハイレベルであるか否かをモニタするが、時刻（ｂ）では、ラッチ信号がローレベルであるため、位相カウンタ８３は、そのカウンタ値をインクリメントせず、従前のカウント値（図５の例では１Ｆ４ｈ）を維持する。一方、計測周期カウンタ８５は、２値化ＲＦ信号の論理反転回数（位相誤差信号の立上がりエッジ数）をカウントし、そのカウント値をインクリメント（１ＦＦＤｈ→１ＦＦＥｈ）する。
【００５８】
時刻（Ｃ）では、２値化ＲＦ信号がチャネルクロック信号の立下がりエッジに対して、位相の進んだところで論理反転しているが、その進み位相は１２．５％よりも大きく、２値化ＲＦ信号の反転位置は、判定信号のパルス幅で定められる判定区間から外れている。そのため、２値化ＲＦ信号の反転位置（位相誤差信号の立下がりエッジ）をトリガとするラッチ信号の出力論理は、ハイレベルとなる。
【００５９】
その後、時刻（ｃ）において、位相カウンタ８３は、位相誤差信号の立上がりエッジをトリガとして、ラッチ信号がハイレベルであるか否かをモニタするが、時刻（ｃ）では、ラッチ信号がハイレベルであるため、位相カウンタ８３は、そのカウンタ値をインクリメント（１Ｆ４ｈ→１Ｆ５ｈ）する。また、計測周期カウンタ８５は、２値化ＲＦ信号の論理反転回数（位相誤差信号の立上がりエッジ数）をカウントし、そのカウント値をインクリメント（１ＦＦＥｈ→１ＦＦＦｈ）する。ここで、計測周期カウンタ８５のカウント値が、予め設定された目標周期−１（＝１ＦＦＦｈ）と等しくなったので、計測周期カウンタ８５は、カウンタクリア信号をハイレベルにセットする。
【００６０】
時刻（Ｄ）では、２値化ＲＦ信号がチャネルクロック信号の立下がりエッジに対して、位相の遅れたところで論理反転しているが、その遅れ位相は１２．５％よりも大きく、２値化ＲＦ信号の反転位置は、判定信号のパルス幅で定められる判定区間から外れている。そのため、２値化ＲＦ信号の反転位置（位相誤差信号の立下がりエッジ）をトリガとするラッチ信号の出力論理は、ハイレベルとなる。
【００６１】
その後、時刻（ｄ）では、カウントクリア信号がハイレベルであることに鑑み、位相カウンタ８３及び計測周期カウンタ８５の両カウント値がゼロ値（０ｈ）にクリアされる。また、これと同時に、ホールド回路８４のホールド値（ジッタ計測値）が従前のホールド値（１Ｅ０ｈ）から新たなホールド値（１Ｆ６ｈ）に更新される。
【００６２】
なお、図５の例では、時刻（ｄ）でラッチ信号がハイレベルであったために、位相カウンタ８３をリセットする直前のカウント値（１Ｆ５ｈ）を１つだけインクリメントしたカウント値（１Ｆ６ｈ）がホールド回路８４でホールドされているが、時刻（ｄ）でラッチ信号がローレベルであった場合には、リセット直前のカウント値（１Ｆ５ｈ）がそのままホールドされる形となる。
【００６３】
図６は、２値化ＲＦ信号のジッタとジッタ計測値との関係を示す相関図であり、本図では、判定信号のパルス幅をチャネルクロック信号のパルス幅の２５％（±１２．５％）とし、ジッタ計測周期（ジッタ計測回数）を８１９２回とした場合の結果が示されている。
【００６４】
図６に示すように、２値ＲＦ信号のジッタにほぼ比例する形で、ジッタ計測器８で得られるジッタ計測値が変化していることが分かる。
【００６５】
上記で説明した通り、本実施形態の光ディスク装置に搭載されたジッタ計測器８であれば、ジッタ計測専用のアナログ回路（高速のクロック生成回路や高精度のＡ／Ｄ変換器、ジッタ計測専用のＰＬＬ回路やＶＣＯなど）を何ら要することなく、光ディスクＤの通常再生動作に必要な回路群（先出の図１に示した回路ブロック１〜７）に、わずか数百ゲート程度の簡単なデジタル回路を追加するだけで、２値化ＲＦ信号のジッタ計測を行うことができる。従って、デジタルＬＳＩへの導入に際しても、安価かつ高精度にジッタ計測を行うことが可能となる。
【００６６】
なお、上記の実施形態では、本発明に係るジッタ計測器を光ディスク装置に搭載した構成を例に挙げて説明を行ったが、本発明の適用対象はこれに限定されるものではなく、本発明は、その他の用途に供されるジッタ計測器にも広く適用することが可能である。
【００６７】
また、本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。
【００６８】
例えば、上記実施形態では、判定信号のパルス幅をチャネルクロック信号のパルス幅に対して２５％（±１２．５％）に設定した構成を例に挙げて説明を行ったが、本発明の構成はこれに限定されるものではなく、２値化ＲＦ信号のジッタに対して、これを十分に反映したジッタ計測値を得ることができる限り、いかなるパルス幅に設定しても構わない。
【００６９】
図７は、判定信号のパルス幅（チャネルクロック信号のパルス幅に対する比率）とカウンタ比（計測周期直後における位相カウンタ８３のカウント値（ジッタ計測値に相当）と計測周期カウンタ８５のカウント値との比率）との関係を示す相関図であり、本図では、ジッタが５％〜１７％の間で変化した場合の様子が示されている。
【００７０】
図７に示すように、チャネルクロック信号のパルス幅に対して、１０％（±５％）〜３０％（±１５％）のパルス幅を有する判定信号を用いれば、５％〜１７％の間で変動するジッタに対して、これを十分に反映したジッタ計測値を得られることが分かる。従って、判定信号のパルス幅については、チャネルクロック信号のパルス幅に対して、１０％（±５％）〜３０％（±１５％）の範囲内に設定することが望ましい。
【００７１】
また、上記実施形態では、チャネルクロック信号のパルスエッジを位相中心として、所定のパルス幅でローレベルとなる判定信号を生成する構成を例に挙げて説明を行ったが、本発明の構成はこれに限定されるものではなく、判定信号の論理については、上記実施形態と逆であっても構わない。
【産業上の利用可能性】
【００７２】
本発明は、光ディスク再生機能を搭載する電子機器全般（パソコン用の光ディスクドライブ、光ディスクプレーヤ、光ディスクレコーダ、光ディスクを用いたゲーム機、光ディスクに記録可能なデジカムなど）に好適な技術である。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】は、本発明に係る光ディスク装置の実施形態を示すブロック図である。
【図２】は、ジッタとジッタ分布との関係を説明するための図である。
【図３】は、ＰＬＬ回路５及びジッタ計測器８の一構成例を示すブロック図である。
【図４】は、判定信号生成手法の一変形例を説明するためのブロック図である。
【図５】は、ジッタ計測動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図６】は、２値化ＲＦ信号のジッタとジッタ計測値との関係を示す相関図である。
【図７】は、判定信号の幅とカウンタ比との関係を示す相関図である。
【符号の説明】
【００７４】
１    光ピックアップ
２    ＲＦアンプ
３    ２値化回路
４    復調回路
５    サーボ回路
６    マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）
７    ＰＬＬ回路
７１    位相比較器
７２    ループフィルタ
７３    電圧制御発振器（ＶＣＯ）
７４    分周器
８    ジッタ計測器
８１    判定信号生成回路
８２    位相判定回路
８３    位相カウンタ
８４    ホールド回路
８５    計測周期カウンタ
Ｄ    光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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