(57)【要約】      （修正有）【課題】配線基板への取付作業が煩雑化するのを抑制しながら、配線基板が破損することを防止することが可能なテスト用端子部材を提供する。【解決手段】このテスト用端子部材２０は、配線基板５に取り付けられるテスト用端子部材２０であって、所定の内径を有する端子用穴部２２ａが設けられた支持板２２と、支持板２２の端子用穴部２２ａに挿入され、正側および負側がそれぞれ接続される一対のテスト用端子ピン２１とを備えている。そして、支持板２２の端子用穴部２２ａの所定の内径は、テスト用端子ピン２１の外径と実質的に等しくなるように構成されており、テスト用端子ピン２１が支持板２２の端子用穴部２２ａに挿入された状態で、配線基板５に取り付けられる。【選択図】図７
2009038133.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
配線基板に取り付けられるテスト用端子部材であって、
所定の内径を有する端子用穴部が設けられた支持板と、
前記支持板の前記端子用穴部に挿入され、正側および負側がそれぞれ接続される一対のテスト用端子ピンとを備え、
前記支持板の前記端子用穴部の所定の内径は、前記テスト用端子ピンの外径と実質的に等しくなるように構成されており、
前記テスト用端子ピンが前記支持板の前記端子用穴部に挿入された状態で、前記配線基板に取り付けられる、テスト用端子部材。
【請求項２】
前記テスト用端子ピンは、前記支持板の前記端子用穴部に圧入されており、
前記テスト用端子ピンが圧入された前記支持板は、前記配線基板に接触された状態で、前記テスト用端子ピンが前記配線基板に固定されるように構成されている、請求項１に記載のテスト用端子部材。
【請求項３】
前記テスト用端子ピンは、前記支持板に挿入された状態で、前記配線基板に設けられた端子挿入穴に挿入され、
前記テスト用端子ピンは、前記支持板に当接することによって、前記配線基板に挿入されたテスト用端子ピンの前記配線基板の裏面からの突出量を所定の突出量に設定するためのフランジを含む、請求項１または２に記載のテスト用端子部材。
【請求項４】
前記支持板は、前記配線基板の第１電子部品が取り付けられる第１領域と、第１領域と所定の間隔を隔てて隣接するように設けられ、前記第１電子部品とは別の第２電子部品が取り付けられる第２領域との間の前記第１電子部品および第２電子部品が取り付けられない境界領域から割り取られることにより形成されている、請求項１〜３のいずれかに記載のテスト用端子部材。
【請求項５】
配線基板に取り付けられるテスト用端子部材の取付方法であって、
所定の内径を有する端子用穴部が設けられた支持板が一体的に形成された前記配線基板から前記支持板を割り取る工程と、
前記端子用穴部にテスト用端子ピンを挿入した状態で、前記支持板の前記端子用穴部の所定の内径が前記テスト用端子ピンの外径と実質的に等しくなるように、前記支持板の前記端子用穴部に前記テスト用端子ピンを挿入する工程と、
前記テスト用端子ピンが前記支持板の端子用穴部に挿入された状態で、前記配線基板に取り付ける工程とを備えた、テスト用端子部材の取付方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、テスト用端子部材およびテスト用端子部材の取付方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、テスト用端子部材や電子部品の端子の取付構造などにおいては、支持板や補強板が設けられている。また、支持板や補強板は、種々の取り付け構造により配線基板に取り付けられている（たとえば、特許文献１および２参照）。
【０００３】
上記特許文献１には、補強板を電子部品と基板との間に設ける構造が開示されている。この特許文献１に記載の構造では、電子部品の端子を補強板の穴部に挿入して、電子部品と補強板とを一緒に配線基板の穴部に挿入することによって、配線基板への取り付けを行っている。この特許文献１による補強板の穴部は、電子部品の端子の外径よりも大きい内径を有している。この特許文献１では、補強板を設けることによって、配線基板の電子部品の取付穴周辺が破損することを防止している。
【０００４】
また、上記特許文献２には、補強板を配線基板に取り付ける構造が開示されている。この特許文献２に記載の構造では、配線基板の不要な部分から補強板を割り取り、配線基板の補強したい部分の上に乗せて、配線基板と補強板とを半田付けなどによって固定している。
【０００５】
【特許文献１】実開平０２−１１３３６１号公報
【特許文献２】特開２００２−１７１０３４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特許文献１に記載の構造では、電子部品と基板との間に設ける補強板によって、配線基板の電子部品の取付穴周辺が破損することを防止することが可能である一方、補強板の穴部が電子部品の端子よりも大きくなるように形成されているため、電子部品の端子を補強板に挿入した状態で、電子部品の端子から補強板が簡単に抜け落ちてしまうという不都合がある。このため、電子部品および補強板の配線基板への取付作業が煩雑になるという問題点がある。この問題点は、電子部品をテスト用端子部材に代えた場合にも同様である。
【０００７】
また、上記特許文献２に記載の構造では、配線基板と補強板とを半田付けするため、このような構造を、たとえば、テスト用端子部材が配線基板に取り付けられる構造に適用すると、配線基板に補強板を半田付けした後、さらに、テスト用端子部材を配線基板に半田付けなどにより固定する必要がある。このため、テスト用端子部材および補強板を配線基板に対して取り付ける作業が煩雑になるという問題点があると考えられる。
【０００８】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、配線基板への取付作業が煩雑化するのを抑制しながら、配線基板が破損することを防止することが可能なテスト用端子部材およびテスト用端子部材の取付方法を提供することである。
【課題を解決するための手段および発明の効果】
【０００９】
この発明の第１の局面によるテスト用端子部材は、配線基板に取り付けられるテスト用端子部材であって、所定の内径を有する端子用穴部が設けられた支持板と、支持板の端子用穴部に挿入され、正側および負側がそれぞれ接続される一対のテスト用端子ピンとを備え、支持板の端子用穴部の所定の内径は、テスト用端子ピンの外径と実質的に等しくなるように構成されており、テスト用端子ピンが支持板の端子用穴部に挿入された状態で、配線基板に取り付けられている。
【００１０】
この第１の局面によるテスト用端子部材では、上記のように、テスト用端子ピンが支持板の端子用穴部に挿入された状態で配線基板に取り付けられることによって、たとえば、テスト用端子ピンに横方向の力がかかり、配線基板に対して負荷がかかったとしても、支持板によって、配線基板にかかる力を緩和することができる。この結果、配線基板が破損するのを防止することができる。また、支持板の端子用穴部の所定の内径は、テスト用端子ピンの外径と実質的に等しくなるように構成されていることによって、テスト用端子ピンを支持板の端子用穴部に挿入すると、テスト用端子ピンは支持板によって固定される。この結果、テスト用端子ピンが支持板から簡単に抜け落ちることがないので、配線基板への取付が容易となる。また、支持板をテスト用端子ピンに固定することができるので、テスト用端子ピンを配線基板に取り付ける際に、支持板を、別途、配線基板に半田付けなどにより取り付ける必要がない。これらにより、配線基板にテスト用端子部材を取り付ける際の取付作業が煩雑になることもない。
【００１１】
この第１の局面によるテスト用端子部材において、好ましくは、テスト用端子ピンは、支持板の端子用穴部に圧入されており、テスト用端子ピンが圧入された支持板は、配線基板に接触された状態で、テスト用端子ピンが配線基板に固定されるように構成されている。このように構成すれば、テスト用端子ピンは支持板の端子用穴部に強固に固定されるため、テスト用端子ピンが支持板の端子用穴部から脱落するのを確実に防止することができる。このため、テスト用端子ピンおよび支持板を配線基板により容易に取り付けることができる。
【００１２】
この第１の局面によるテスト用端子部材において、好ましくは、テスト用端子ピンは、支持板に挿入された状態で、配線基板に設けられた端子挿入穴に挿入され、テスト用端子ピンは、支持板に当接することによって、配線基板に挿入されたテスト用端子ピンの配線基板の裏面からの突出量を所定の突出量に設定するためのフランジを含んでいる。このように構成すれば、配線基板に挿入されたテスト用端子ピンの配線基板の裏面からの突出量を調整する必要がなくなる。このため、テスト用端子部材を配線基板に取り付ける際の作業をさらに容易に行うことができる。
【００１３】
この第１の局面によるテスト用端子部材において、好ましくは、支持板は、配線基板の第１電子部品が取り付けられる第１領域と、第１領域と所定の間隔を隔てて隣接するように設けられ、第１電子部品とは別の第２電子部品が取り付けられる第２領域との間の第１電子部品および第２電子部品が取り付けられない境界領域から割り取られることにより形成されている。このように構成すれば、配線基板の不要部分から支持板を割り取ることができるので、別途、支持板を形成する必要がなく、その分、材料を削減することができる。
【００１４】
この発明の第２の局面によるテスト用端子部材の取付方法は、配線基板に取り付けられるテスト用端子部材の取付方法であって、所定の内径を有する端子用穴部が設けられた支持板が一体的に形成された配線基板から支持板を割り取る工程と、端子用穴部にテスト用端子ピンを挿入した状態で、支持板の端子用穴部の所定の内径がテスト用端子ピンの外径と実質的に等しくなるように、支持板の端子用穴部にテスト用端子ピンを挿入する工程と、テスト用端子ピンが支持板の端子用穴部に挿入された状態で、配線基板に取り付ける工程とを備えている。
【００１５】
この第２の局面によるテスト用端子部材の取付方法では、上記のように、所定の内径を有する端子用穴部が設けられた支持板が一体的に形成された配線基板から支持板を割り取る工程を備えることによって、配線基板から支持板を割り取ることができるので、別途、支持板を形成する必要がなく、その分、材料を削減することができる。また、端子用穴部にテスト用端子ピンを挿入した状態で、支持板の端子用穴部の所定の内径がテスト用端子ピンの外径と実質的に等しくなるように、支持板の端子用穴部にテスト用端子ピンを挿入する工程を備えることによって、テスト用端子ピンを支持板の端子用穴部に挿入すると、テスト用端子ピンは支持板によって固定される。この結果、テスト用端子ピンが支持板から簡単に抜け落ちることがないので、配線基板への取付が容易となる。また、支持板をテスト用端子ピンに固定することができるので、テスト用端子ピンを配線基板に取り付ける際に、支持板を、別途、配線基板に半田付けなどにより取り付ける必要がない。これらにより、配線基板にテスト用端子部材を取り付ける際の取付作業が煩雑になることもない。また、テスト用端子ピンが支持板の端子用穴部に挿入された状態で、配線基板に取り付ける工程を備えることによって、たとえば、テスト用端子ピンに横方向の力がかかり、配線基板に対して負荷がかかったとしても、支持板によって、配線基板にかかる力を緩和することができる。この結果、配線基板が破損するのを防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明を具体化した実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１７】
図１は、本発明の一実施形態によるテスト用端子部材が取り付けられる配線基板を含むテレビジョン受像機の全体構成を示す斜視図である。図２〜図８は、本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付構造の詳細を示す図である。まず、図１〜図８を参照して、本発明の一実施形態によるテスト用端子部材を説明する。なお、本実施形態では、テレビジョン受像機１に含まれる配線基板に取り付けられるテスト用端子部材に本発明を適用した場合について説明する。
【００１８】
本実施形態によるテスト用端子部材を含むテレビジョン受像機１は、図１および図２に示すように、テレビジョン受像機１の外枠を構成するフロントキャビネット２およびリアキャビネット３と、表示部（ＣＲＴ）４と、配線基板５と、配線基板５を固定するためのねじ６と、配線基板５を固定するための樹脂製のホルダ７とを備えている。
【００１９】
また、フロントキャビネット２およびリアキャビネット３には、映像を表示するための表示部（ＣＲＴ）４が収納されているとともに、表示部（ＣＲＴ）４は、フロントキャビネット２の枠部２ａに沿って配置されている。また、フロントキャビネット２には、底面２ｂと、底面２ｂに形成された一対のレール部２ｃとが設けられている。リアキャビネット３には、底面３ａと、底面３ａに形成された一対のレール部３ｂと、配線基板５を保持するための保持用リブ部３ｃとが設けられている。また、配線基板５はねじ６によって樹脂製のホルダ７に固定されている。
【００２０】
また、図２に示すように、樹脂製のホルダ７は、レール係合部７ａおよびねじ取付穴７ｂを含んでいる。また、レール係合部７ａは、フロントキャビネット２の一対のレール部２ｃおよびリアキャビネット３の一対のレール部３ｂに係合する。また、樹脂製のホルダ７のレール係合部７ａが、フロントキャビネット２のレール部２ｃおよびリアキャビネット３のレール部３ｂと係合することにより、樹脂製のホルダ７がフロントキャビネット２およびリアキャビネット３に取り付けられるように構成されている。
【００２１】
ここで、本実施形態では、図３および図４に示すように、配線基板５には、１次領域５ａと２次領域５ｂと境界領域５ｃとが設けられている。この１次領域５ａおよび２次領域５ｂは、それぞれ、本発明の「第１領域」および「第２領域」の一例である。また、１次領域５ａと２次領域５ｂとは、所定の間隔を隔てて隣接するように設けられている。１次領域５ａと２次領域５ｂとは、それぞれ、異なる種類の電子部品が配置されている。また、１次領域５ａと２次領域５ｂとの間には、電子部品が配置されていない境界領域５ｃが設けられている。ここで、１次領域５ａとは、人体が触れる可能性が少ない領域を意味し、２次領域５ｂとは、人体が触れる可能性が高い領域を意味する。そのため、１次領域５ａには、感電などの危険度が高い第１電子部品８が配置されている。また、２次領域５ｂには、感電などの危険度が低い第２電子部品９が配置されている。また、境界領域５ｃには、後述するテスト用端子部材２０の支持板２２が割り取られることにより設けられた支持板割取穴５ｄが形成されている。
【００２２】
また、１次領域５ａには、電源コード１０が接続されている。また、１次領域５ａには、テスト用端子部材２０が配置されている。このテスト用端子部材２０は、図７および図８に示すように、一対のテスト用端子ピン２１と、配線基板５の境界領域５ｃから割り取ることにより形成された支持板２２とから構成されている。また、図３に示すように、配線基板５の２次領域５ｂには、配線基板５を樹脂製のホルダ７に取り付けるためのねじ挿入穴５ｅが設けられている。
【００２３】
ここで、本実施形態では、図５に示すように、配線基板５の１次領域５ａの電源コード１０およびテスト用端子ピン２１が配置される領域の裏面には、ランド部１１が設けられている。このランド部１１には、テスト用端子ピン２１および電源コード１０の端子１０ａがそれぞれ半田１２により電気的に接続されている。これにより、テスト用端子ピン２１および電源コード１０の端子１０ａは、配線基板５の裏面側で導電性のランド部１１を介して電気的に接続されている。
【００２４】
また、本実施形態では、図６に示すように、支持板２２には、所定の内径を有する端子用穴部２２ａが設けられている。また、支持板２２の端子用穴部２２ａの内径は、テスト用端子ピン２１の外径と実質的に等しくなるように構成されている。また、テスト用端子ピン２１は、支持板２２の端子用穴部２２ａに圧入された状態で、配線基板５に取り付けられている。また、テスト用端子ピン２１は、配線基板５に設けられた端子挿入穴５ｆに挿入されている。また、テスト用端子ピン２１には、支持板２２の上面に当接することにより、テスト用端子ピン２１の配線基板５の裏面からの突出量を所定の突出量に設定するための位置決め機能を有するフランジ２１ａが、一体的に設けられている。このフランジ２１ａは、円形状を有し、テスト用端子ピン２１の外形よりも大きくなるように構成されている。また、テスト用端子ピン２１が圧入された支持板２２の下面が、配線基板５の上面に接触された状態で、テスト用端子ピン２１の先端部が配線基板５の裏面のランド部１１に半田付けされるように構成されている。
【００２５】
また、本実施形態では、一対のテスト用端子ピン２１には、テスト用電源コード３０（図１６参照）の正側および負側がそれぞれ接続される。
【００２６】
図９〜図１６は、本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付方法を説明するための図である。次に、図９〜図１６を参照して、本発明の一実施形態によるテスト用端子部材２０の取付方法について説明する。
【００２７】
まず、本実施形態では、図９〜図１２に示すように、配線基板５を製造する際に、１次領域５ａ、２次領域５ｂおよび境界領域５ｃを設ける。また、１次領域５ａには、端子挿入穴５ｆと電源コードの端子挿入穴５ｇと第１電子部品取付穴５ｈとを形成する。また、２次領域５ｂには、第２電子部品取付穴５ｉと配線基板５を樹脂製のホルダ７に取り付けるためのねじ穴５ｅとを設ける。また、境界領域５ｃの支持板割取穴５ｄには、所定の内径を有する端子用穴部２２ａが設けられた支持板２２が２つ分連結されている。この支持板割取穴５ｄから支持板２２を割り取る工程としては、配線基板５の表面に対して垂直な方向に手で支持板２２を押圧することにより、配線基板５から支持板２２を割り取る。また、配線基板５から割り取られた支持板２２は、図１１および図１２に示すような形状を有している。この後、２つ分の支持板２２を半分に割り、テスト用端子部材２０を構成する支持板２２として使用する。
【００２８】
次に、図１３に示すように、テスト用端子ピン２１を支持板２２の端子用穴部２２ａに圧入する。この圧入は、図１４に示すように、テスト用端子ピン２１のフランジ２１ａが支持板２２の表面に当接するように行う。また、本実施形態では、図１４に示すように、端子用穴部２２ａにテスト用端子ピン２１を圧入した状態で、支持板２２の端子用穴部２２ａの内径が、テスト用端子ピン２１の外形と実質的に等しくなっている。まず、圧入前の状態では、支持板２２の端子用穴部２２ａは、端子用穴部２２ａの内径がテスト用端子ピン２１の外形以下の大きさになるように予め形成されている。これにより、容易に圧入することが可能になる。
【００２９】
次に、図１５に示すように、図１４に示されるように形成されたテスト用端子部材２０のテスト用端子ピン２１の先端部側は、配線基板５の端子挿入穴５ｆ（図９および図１０参照）に挿入される。この端子挿入穴５ｆは、テスト用端子ピン２１の外径よりも若干大きい内径を有している。そして、図５および図６に示したように、テスト用端子ピン２１の先端部は、配線基板５の裏面のランド部１１に半田１２により半田付けされて、配線基板５に固定される。この際、支持板２２の下面が配線基板５の上面に接触された状態で、半田付けが行われる。
【００３０】
この後、図１６に示すように、テスト用端子部材２０を用いて、配線基板５の作動テストを行う。具体的には、テスト用端子部材２０の一対のテスト用端子ピン２１の上部に、それぞれ、テスト用電源コード３０の正側および負側の端子３０ａを接続する。そして、テスト用電源コード３０の端子３０ａを介してテスト用端子ピン２１に電流を供給する。テスト用端子ピン２１に供給された電流は、配線基板５に設けられている第１電子部品８および第２電子部品９に供給されて第１電子部品８および第２電子部品９が正常に作動するかどうかのテストを行う。そして、テストが終了した後、テスト用電源コード３０の端子３０ａをテスト用端子ピン２１から取り外す。また、テストが終了した後、電源コード１０の端子１０ａ（図６参照）を配線基板５の電源コードの端子挿入穴５ｇに挿入して、配線基板５の裏面のランド部１１（図５参照）で半田付けを行う。
【００３１】
本実施形態では、上記のように、テスト用端子ピン２１が支持板２２の端子用穴部２２ａに圧入された状態で配線基板５に取り付けられることによって、たとえば、テスト用端子ピン２１に横方向の力がかかり、配線基板５に対して負荷がかかったとしても、支持板２２によって、配線基板５にかかる力を緩和することができる。この結果、配線基板５が破損するのを防止することができる。また、テスト用端子ピン２１が支持板２２に圧入された状態で、支持板２２の端子用穴部２２ａの所定の内径は、テスト用端子ピン２１の外径と実質的に等しくなるように構成されていることによって、テスト用端子ピン２１を支持板２２の端子用穴部２２ａに圧入すると、テスト用端子ピン２１は支持板２２によって固定される。この結果、テスト用端子ピン２１が支持板２２から簡単に抜け落ちることがないので、配線基板５への取付が容易となる。また、支持板２２をテスト用端子ピン２１に固定することができるので、テスト用端子ピン２１を配線基板５に取り付ける際に、支持板２２を、別途、配線基板５に半田付けなどにより取り付ける必要がない。これらにより、配線基板５にテスト用端子部材２０を取り付ける際の取付作業が煩雑になることもない。
【００３２】
また、本実施形態では、上記のように、テスト用端子ピン２１は、支持板２２の端子用穴部２２ａに圧入されており、テスト用端子ピン２１が圧入された支持板２２は、配線基板５に接触された状態で、テスト用端子ピン２１が配線基板５に固定されるように構成することによって、テスト用端子ピン２１は支持板２２の端子用穴部２２ａに強固に固定されるため、テスト用端子ピン２１が支持板２２の端子用穴部２２ａから脱落するのを確実に防止することができる。このため、テスト用端子ピン２１および支持板２２を配線基板５により容易に取り付けることができる。
【００３３】
また、本実施形態では、上記のように、テスト用端子ピン２１は、支持板２２に圧入された状態で、配線基板５に設けられた端子挿入穴５ｆに挿入され、テスト用端子ピン２１は、支持板２２に当接することによって、配線基板５に挿入されたテスト用端子ピン２１の配線基板５の裏面からの突出量を所定の突出量に設定するためのフランジ２１ａを含むように構成することによって、配線基板５に挿入されたテスト用端子ピン２１の配線基板５の裏面からの突出量を調整する必要がなくなる。このため、テスト用端子部材２０を配線基板５に取り付ける際の作業をさらに容易に行うことができる。
【００３４】
また、本実施形態では、上記のように、支持板２２は、配線基板５の第１電子部品８が取り付けられる１次領域５ａと、１次領域５ａと所定の間隔を隔てて隣接するように設けられ、第１電子部品８とは別の第２電子部品９が取り付けられる２次領域５ｂとの間の第１電子部品８および第２電子部品９が取り付けられない境界領域５ｃから割り取られることにより形成されるように構成することによって、配線基板５の不要部分から支持板２２を割り取ることができるので、別途、支持板２２を形成する必要がなく、その分、材料を削減することができる。
【００３５】
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
【００３６】
たとえば、上記実施形態では、テレビジョン受像機に設けられている配線基板にテスト用端子部材を取り付けた例を示したが、本発明はこれに限らず、テスト用端子部材が設けられる配線基板を備える機器であれば、テレビジョン受像機以外の機器などにも適用可能である。
【００３７】
また、上記実施形態では、テスト用端子部材２０に１枚の支持板２２を設けている例を示したが、本発明はこれに限らず、必要に応じて支持板２２の枚数を増減させてもよい。たとえば、図１７および図１８に示す変形例のように、２枚の支持板２２からなるテスト用端子部材２０ａを設けてもよい。
【００３８】
また、上記実施形態では、テスト用端子部材の製造方法として、支持板の端子用穴部にテスト用端子ピンを圧入する例を示したが、本発明はこれに限らず、端子用穴部の内径とテスト用端子ピンの外径とが同じであれば、圧入ではなく軽圧入や単なる挿入でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の一実施形態によるテレビジョン受像機の全体構成を示す斜視図である。
【図２】本発明の一実施形態によるテレビジョン受像機の分解斜視図である。
【図３】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付構造を示す斜視図である。
【図４】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付構造を示す平面図である。
【図５】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付構造の裏面を示す平面図である。
【図６】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付構造の裏面を示す図５の１００−１００線に沿った側面図である。
【図７】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の取付構造の裏面を示す図５の２００−２００線に沿った側面図である。
【図８】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の全体構成を示す斜視図である。
【図９】本発明の一実施形態による配線基板を示す斜視図である。
【図１０】本発明の一実施形態による配線基板を示す平面図である。
【図１１】本発明の一実施形態による支持板を示す斜視図である。
【図１２】本発明の一実施形態による支持板を示す平面図である。
【図１３】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の製造工程を示す斜視図である。
【図１４】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材を側面から見た場合を示す断面図である。
【図１５】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材を配線基板に取り付けた場合を示す斜視図である。
【図１６】本発明の一実施形態による配線基板の作動テストを示す斜視図である。
【図１７】本発明の一実施形態によるテスト用端子部材の変形例を示す斜視図である。
【図１８】本発明の一実施形態による図１７のテスト用端子部材を配線基板に取り付けた場合を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００４０】
５        配線基板
５ａ      １次領域（第１領域）
５ｂ      ２次領域（第２領域）
５ｃ      境界領域
５ｆ      端子挿入穴
８        第１電子部品
９        第２電子部品
２０      テスト用端子部材
２１      テスト用端子ピン
２１ａ    フランジ
２２      支持板
２２ａ    端子用穴部
【図１】
2009038133.tif 000003
【図２】
2009038133.tif 000004
【図３】
2009038133.tif 000005
【図４】
2009038133.tif 000006
【図５】
2009038133.tif 000007
【図６】
2009038133.tif 000008
【図７】
2009038133.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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