(57)【要約】【課題】昇圧回路と透光部材との双方の温度を適切に管理することが可能なフラッシュ装置およびそれに関連する技術を提供する。【解決手段】フラッシュ装置２０は、電源部３１の電圧を昇圧する昇圧回路３２と、昇圧回路３２により昇圧された電力を用いて発光する発光部３５と、発光部３５に近接して配置され発光部３５からの光を透過する透光部材と、昇圧回路２３の温度を測定する測定手段３７と、測定手段３７による測定温度に応じて発光部３５の発光を制御する制御手段４０とを備える。制御手段４０は、測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、発光部３５による発光動作を禁止し、測定温度が第２の設定温度（ただし、当該第２の設定温度は第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、発光部３５による発光動作を禁止する。【選択図】図４
2009180923.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フラッシュ装置であって、
電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、
前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、
前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、
前記昇圧回路の温度を測定する測定手段と、
前記測定手段による測定温度に応じて前記発光部の発光を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、
前記測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止し、
前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、前記発光部による発光動作を禁止することを特徴とするフラッシュ装置。
【請求項２】
請求項１に記載のフラッシュ装置において、
前記制御手段は、前記発光動作が禁止された後において、更に第２の期間が経過し且つ前記測定温度が第３の設定温度よりも低いときには、前記発光部による発光動作を再び許可することを特徴とするフラッシュ装置。
【請求項３】
請求項１に記載のフラッシュ装置において、
前記測定手段は、前記昇圧回路のトランジスタ近傍に設けられることを特徴とするフラッシュ装置。
【請求項４】
撮像装置であって、
電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、
前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、
前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、
前記昇圧回路の温度を測定する測定手段と、
前記測定手段による測定温度に応じて前記発光部の発光を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、
前記測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止し、
前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、前記発光部による発光動作を禁止することを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段とを有するフラッシュ装置に関する発光制御を行う撮像装置であって、
前記測定手段による測定温度を取得する取得手段と、
前記測定温度に応じて前記発光部の発光を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、
前記測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止し、
前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、前記発光部による発光動作を禁止することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段とを備えるフラッシュ装置の制御方法であって、
a)前記測定手段による測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップと、
b)前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップと、
を含むことを特徴とする、フラッシュ装置の制御方法。
【請求項７】
電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段とを備えるフラッシュ装置の制御動作を実現するプログラムであって、
a)前記測定手段による測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップと、
b)前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップと、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フラッシュ装置およびそれに関連する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
カメラのフラッシュ装置においては、フラッシュ装置における昇圧回路等が発熱する。特に、連続通電して連続発光を行う場合には、この発熱により昇圧回路等の温度が大きく上昇する。また、過度の連続発光が行われる場合には、昇圧回路等が熱で損傷を受け、動作不能になることもある。
【０００３】
このような故障を防止するため、昇圧回路の近傍に温度検出回路を設けて、昇圧回路の温度が所定温度ＳＡ以上になると、昇圧回路の動作を停止させる技術が提案されている（特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開昭６０−２１８８００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、電源電池には複数の種類が存在する。例えば、アルカリ電池およびニッケル水素電池が存在する。
【０００６】
これらの複数の種類の電池は、その電力供給能力が互いに相違する。そのため、或る種類の電池を使用したときと、他の種類の電池を使用したときとでは、昇圧回路等の温度上昇特性は互いに相違する。例えば、ニッケル水素電池を用いた場合には連続発光に伴って昇圧回路の温度は比較的急激に上昇するが、アルカリ電池を用いた場合には連続発光に伴って昇圧回路の温度は比較的緩やかに上昇する。
【０００７】
また、上記のような連続発光時には、昇圧回路以外の部分、具体的には、閃光管に近接して配置され閃光管からの光を透過する発光パネル（透光部材とも称する）の温度も上昇する。なお、一般に、この発光パネルの耐熱温度（例えば１００℃）は、昇圧回路の耐熱温度（例えば１５０℃）よりも低い。
【０００８】
そして、この発光パネルの温度は、電池の種類ごとに互いに異なる態様で上昇する。
【０００９】
例えば、ニッケル水素電池を用いた場合には、この発光パネルの温度上昇は昇圧回路の温度上昇よりも小さい。すなわち、ニッケル水素電池を用いた場合には、昇圧回路の温度が比較的高い温度に到達していたとしても、発光パネルの温度は比較的低い温度にまでしか上昇していない。
【００１０】
一方、アルカリ電池を用いた場合の発光パネルの温度は、昇圧回路の温度に比較的近い温度まで上昇することがある。すなわち、アルカリ電池を用いた場合には、昇圧回路の温度がニッケル水素電池使用時の温度までには上がっていない場合であっても、発光パネルの温度は比較的高い温度にまで到達していることがある。
【００１１】
そのため、後者の場合には、温度測定回路による昇圧回路の測定温度が所定温度ＳＡに到達する前に、発光パネルの温度が当該発光パネルの耐熱温度を超える程度にまで既に上昇していることもあり得る。したがって、上記の従来技術を用いるとしても、当該後者の場合（即ちアルカリ電池を用いた場合）には発光パネルの温度を適切に管理できないことがある。
【００１２】
そこで、この発明の課題は、昇圧回路と透光部材との双方の温度を適切に管理することが可能なフラッシュ装置およびそれに関連する技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の第１の側面は、フラッシュ装置であって、電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段と、前記測定手段による測定温度に応じて前記発光部の発光を制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止し、前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、前記発光部による発光動作を禁止するものである。
【００１４】
本発明の第２の側面は、撮像装置であって、電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段と、前記測定手段による測定温度に応じて前記発光部の発光を制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止し、前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、前記発光部による発光動作を禁止するものである。
【００１５】
本発明の第３の側面は、電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段とを有するフラッシュ装置に関する発光制御を行う撮像装置であって、前記測定手段による測定温度を取得する取得手段と、前記測定温度に応じて前記発光部の発光を制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止し、前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときにも、前記発光部による発光動作を禁止するものである。
【００１６】
本発明の第４の側面は、電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段とを備えるフラッシュ装置の制御方法であって、a)前記測定手段による測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップと、b)前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップとを含むものである。
【００１７】
本発明の第５の側面は、電源部の電圧を昇圧する昇圧回路と、前記昇圧回路により昇圧された電力を用いて発光する発光部と、前記発光部に近接して配置され前記発光部からの光を透過する透光部材と、前記昇圧回路の温度を測定する測定手段とを備えるフラッシュ装置の制御動作を実現するプログラムであって、a)前記測定手段による測定温度が第１の設定温度よりも高いときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップと、b)前記測定温度が第２の設定温度（ただし、前記第２の設定温度は前記第１の設定温度よりも低い）よりも高い状態が第１の期間にわたって継続するときには、前記発光部による発光動作を禁止するステップとをコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、昇圧回路と透光部材との双方の温度を適切に管理することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２０】
＜１．構成＞
図１および図２は、フラッシュ装置２０（閃光装置とも称する）の外観を示す斜視図である。図１は、フラッシュ装置２０を前側（発光面側）から見た図であり、図２は、フラッシュ装置２０を背面側から見た図である。また、図３は、フラッシュ装置２０の内部構成を示す断面図であり、図４は、フラッシュ装置２０の機能構成等を示すブロック図である。
【００２１】
図１および図２に示すように、フラッシュ装置２０は、下部筐体２１と上部筐体２２とを備えている。上部筐体２２は、下部筐体２１に対して回動可能であり、上下方向における発光角度を変更することが可能である。
【００２２】
フラッシュ装置２０は、下部筐体２１の背面側において、表示部４１と操作入力部４３とを備えている（図２参照）。表示部４１は、各種情報（警告情報等を含む）を表示し、操作入力部４３は操作者からの各種情報（設定情報等を含む）の入力を受け付ける。
【００２３】
また、フラッシュ装置２０は、上部筐体２２の前面側において透光部材（発光パネルとも称する）２３を備えている（図１）。
【００２４】
図３に示すように、フラッシュ装置２０は、上部筐体２２の内部に、発光部３５と、反射部材２４とを備えている。
【００２５】
発光部３５は、閃光管（例えば、キセノン（Ｘｅ）チューブ）等を備えて構成される。また、反射部材２４は、放物線形状等の反射面を有し、発光部３５からの光を反射するとともに当該光を集光して所定方向へと進行させる。透光部材２３は、発光部３５よりもフラッシュ装置２０の前面側において、当該発光部３５に近接して配置される。透光部材２３は、発光部３５からの光を透過し、フラッシュ装置２０の外部へと進行させる。
【００２６】
また、フラッシュ装置２０は、図４に示すような機能構成を備えている。具体的には、フラッシュ装置２０は、電源部（電源電池）３１と昇圧回路３２と高圧検出回路３３とコンデンサ（メインコンデンサ）３４と発光部３５と発光制御回路３６と温度検出回路３７とコントローラ４０と信号入出力部４２とを備えている。
【００２７】
電源部３１は、フラッシュ装置２０の各部へ電力を供給する。フラッシュ装置２０は、電源部３１として、複数の種類の電池を用いることが可能である。具体的には、ニッケル水素電池とアルカリ電池とを利用することが可能である。ニッケル水素電池は充電可能な二次電池であり、アルカリ電池は一次電池である。例えば、二次電池であるニッケル水素電池を通常使用することによってランニングコストを低減する一方で、充電できない環境下においては一次電池であるアルカリ電池を使用する等の利用形態が想定される。また、両電池は、互いにその電力供給能力が相違する。この相違等に起因する現象等については後に詳述する。
【００２８】
また、昇圧回路３２は、電源部３１の電圧（電源電圧）を昇圧する回路である。昇圧回路３２は、昇圧用のトランスおよびトランジスタ等を備えて構成される。
【００２９】
コンデンサ３４は、昇圧回路３２によって昇圧された（比較的高い）電圧で急速充電される。また、高圧検出回路３３は、コンデンサ３４の充電電圧を検出し、コンデンサ３４の充電の完了を検知する。発光部３５は、昇圧回路３２により昇圧された電力（より詳細には、コンデンサ３４に充電された電力）を用いて発光する。
【００３０】
温度検出回路３７は、昇圧回路３２内もしくは昇圧回路３２の近傍に設けられる。温度検出回路３７は、昇圧回路３２の温度を測定する測定部である。温度検出回路３７における温度検出素子としては、サーミスタなどが用いられる。例えば、温度検出回路３７におけるサーミスタは、昇圧回路３２内のトランジスタ近傍（あるいはトランス近傍）に設けられる。
【００３１】
信号入出力部４２は、フラッシュ装置２０と当該フラッシュ装置２０が装着された撮像装置１との間の信号の授受を行う処理部である。撮像装置１から発光要求信号が入力されると、当該発光要求信号は信号入出力部４２を介してコントローラ４０へと伝達される。
【００３２】
コントローラ４０は、フラッシュ装置２０内の各処理部を統括的に制御する制御部である。コントローラ４０は、マイクロコンピュータとして構成され、主にＣＰＵ、メモリ、及びＲＯＭ等を備え、ＲＯＭ内に格納されるプログラムを読み出し、当該プログラムをＣＰＵで実行することによって、発光部３５による発光動作を制御する。例えば、コントローラ４０は、撮像装置１の信号入出力部９からの発光要求信号を信号入出力部４２を介して受信すると、昇圧回路３２、高圧検出回路３３、コンデンサ３４、および発光制御回路３６（トリガー回路等を含む）等を用いて、キセノンチューブ等を放電させて発光部３５を発光させる。
【００３３】
ところで、このような動作を繰り返すことによれば、フラッシュ装置２０は連続発光することが可能である。ただし、連続発光期間が長くなると、昇圧回路３２の温度上昇が大きくなる。そして、温度上昇が過度になると、昇圧回路３２が熱損傷するおそれがある。
【００３４】
そこで、このフラッシュ装置２０は、温度検出回路３７による測定温度に応じて発光部３５の発光を制御する。具体的には、次述するように、温度検出回路３７による測定温度が設定温度ＳＢ（例えば１２５℃）よりも高いときには、発光部３５による発光動作を禁止する。これによれば、連続発光を際限なく継続する場合に生じ得る昇圧回路３２の熱損傷を回避することが可能である。なお、この設定温度ＳＢは、昇圧回路３２の耐熱温度（例えば１５０℃）よりも若干低めの値に設定されればよい。より詳細には、設定温度ＳＢは、実験結果等に基づいて適宜の値に定められればよい。
【００３５】
＜２．比較例に係る動作＞
ここでは、まず、温度検出回路３７による測定温度が設定温度ＳＢよりも高いときにのみ発光部３５による発光動作を禁止する技術（以下、「比較例」と称する）について、説明する。
【００３６】
図９および図１０は、この比較例に係る動作を示す図であり、所定周期間隔（約４秒間隔）での連続発光時における各部位の温度の経時変化を示している。図９および図１０には、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈの変化が示されているとともに、昇圧回路３２のトランジスタの温度ＴＭｔの変化と、透光部材（発光パネル）２３の温度ＴＭｐの変化とが併せて示されている。また、図９は、電源部３１としてニッケル水素電池を用いたときの温度変化を示す図であり、図１０は、電源部３１としてアルカリ電池を用いたときの温度変化を示す図である。なお、昇圧回路３２のトランジスタの温度ＴＭｔ、および透光部材（発光パネル）２３の温度ＴＭｐは、フラッシュ装置２０では実際には測定されないが、ここでは温度検出回路３７とは別の（実験用の）温度測定装置を仮に用いて当該各部位の温度を測定した結果が示されている。
【００３７】
図９に示すように、比較的電力供給能力が高いニッケル水素電池を使用する場合には、昇圧回路３２のトランジスタの温度ＴＭｔは比較的急激に上昇する。また、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈも、温度ＴＭｔを反映して急激に上昇する。一方、透光部材（発光パネル）２３の温度ＴＭｐは、温度ＴＭｔ，ＴＭｈよりもかなり小さな値にまでしか上昇していない。
【００３８】
そして、この比較例では、時刻Ｔ１１（連続発光開始時点から約２００秒が経過した時点）にて温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢ（ここでは１２５℃）に到達し、この時刻Ｔ１１以後の発光が禁止される。そのため、時刻Ｔ１１以後においては、温度ＴＭｔおよび温度ＴＭｐも低減していく。
【００３９】
一方、図１０に示すように、比較的電力供給能力が低いアルカリ電池を使用する場合には、昇圧回路３２のトランジスタの温度ＴＭｔは比較的緩やかに上昇する。また、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈも、温度ＴＭｔを反映して緩やかに上昇する。一方、透光部材２３の温度ＴＭｐは、温度ＴＭｔ，ＴＭｈに近い値まで上昇している。
【００４０】
そして、この比較例では、連続発光開始時点から十数分が経過しても温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢ（ここでは１２５℃）に到達しないため、発光は禁止されない。そのため、温度ＴＭｔおよび温度ＴＭｐも増大し続ける。そして、透光部材２３の温度ＴＭｐが当該透光部材２３の耐熱温度（例えば１００℃）に近い温度にまで上昇している。なお、温度ＴＭｐは透光部材２３の耐熱温度を超える程度にまで上昇してしまうこともあり得る。
【００４１】
＜３．本実施形態に係る動作＞
そこで、この実施形態では、上記の設定温度ＳＢよりも低い別の設定温度ＳＣ（ここでは、８０℃）をも用いる。そして、温度検出回路３７の測定温度ＴＭｈが当該設定温度ＳＣよりも高い状態が所定期間（ここでは５分）にわたって継続するときには、透光部材２３の温度が所定の基準値（基準温度とも称する）ＳＥ（例えば８５℃）に到達しているものと推定して、発光部３５による発光動作を禁止する。なお、この設定温度ＳＣは、透光部材２３の耐熱温度（例えば１００℃）よりも若干低めの値に設定されればよい。より詳細には、設定温度ＳＣは、実験結果等に基づいて適宜の値に定められればよい。以下では、本実施形態に係る動作について、図５〜図７を参照しつつ詳細に説明する。
【００４２】
図５は本実施形態に係る動作を示すフローチャートである。図５のフローチャートの処理ルーチンは微小時間（例えば数百ミリ秒）間隔で実行される。また、図６および図７は、本実施形態に係る動作を示す図であり、所定周期間隔（約４秒間隔）での連続発光時における各部位の温度の経時変化を示している。図６および図７には、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈの変化が示されているとともに、昇圧回路３２のトランジスタの温度ＴＭｔの変化と、透光部材（発光パネル）２３の温度ＴＭｐの変化とが併せて示されている。また、図６は、電源部３１としてニッケル水素電池を用いたときの温度変化を示す図であり、図７は、電源部３１としてアルカリ電池を用いたときの温度変化を示す図である。なお、昇圧回路３２のトランジスタの温度ＴＭｔ、および透光部材（発光パネル）２３の温度ＴＭｐは、実際のフラッシュ装置２０では測定されないが、ここでは温度検出回路３７とは別の（実験用の）温度測定装置を仮に用いて当該各部位の温度を測定した結果が示されている。
【００４３】
図５に示すように、ステップＳ１１で測定した温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈが、ステップＳ１２およびステップＳ１３で判定される。ステップＳ１２では、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢ以上であるか否かが判定される。また、ステップＳ１３では測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＣ以上であるか否かが判定される。なお、設定温度ＳＣは、設定温度ＳＢよりも低い値として定められる（ＳＣ＜ＳＢ）。
【００４４】
測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＣよりも低い場合には、ステップＳ１４に進み、発光部３５による発光動作が許可される。なお、ステップＳ１８については後述する。
【００４５】
一方、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢ（ここでは１２５℃）よりも高い場合には、ステップＳ１２からステップＳ１５に進む。
【００４６】
ステップＳ１５では、昇圧回路３２（または透光部材２３）に関する「高温状態」が検出された旨が判定される。次のステップＳ１６では、「高温状態」が検出されたことが、フラッシュ装置２０の背面側の表示部４１（図２）に表示される。換言すれば、「警告表示」が表示部４１に表示される。さらに、ステップＳ１７では、発光部３５による発光動作（および発光動作用のコンデンサ充電動作も）が禁止される。これによって、昇圧回路３２の温度が過度に高くなることを回避することができる。
【００４７】
また、この発光禁止状態は、待ち時間ｔｗ（ここでは５分）が経過した後において、測定温度ＴＭｈが更に別の設定温度ＳＤ（ここでは７０℃）以下にまで低下した旨が判定されるまで継続される。具体的には、所定時間（例えば数百ミリ秒）間隔でこのルーチンが実行される際に、ステップＳ１１，Ｓ１２，Ｓ１３の処理の後、ステップＳ１８に進み且つ「発光禁止中」であると判定された場合にはステップＳ１９に進む。そしてステップＳ１９で所定の待ち時間ｔｗが経過したこと、および測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＤ以下にまで低下したことの双方が確認されると、「高温状態」の判定が解除され、発光部３５による発光が再び許可される（ステップＳ２０）。なお、この設定温度ＳＤは、昇圧回路３２および透光部材２３が適度に冷却された状態に対応する値に設定されればよい。より詳細には、設定温度ＳＤは、実験結果等に基づいて適宜の値に定められればよい。一方、ステップＳ１９で、所定の待ち時間ｔｗが未だ経過していないこと、あるいは、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＤ以下にまで未だ低下していないことが確認されると、「高温状態」の判定が継続される。
【００４８】
このように、発光部３５による発光動作が禁止された後において、更に所定の期間ｔｗが経過し且つ測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＤよりも低いときには、発光部３５による発光動作が再び許可される。換言すれば、発光部３５による発光動作が禁止された後であっても、所定の期間ｔｗが経過していないとき、あるいは、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＤよりも未だ大きいときには、発光部３５による発光動作が引き続き継続される。これによって、適切なタイミングで「発光禁止」が解除される。
【００４９】
また、特にこの実施形態では、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢ（ここでは１２５℃）よりも低く且つ設定温度ＳＣ（ここでは８０℃）よりも高い場合には、ステップＳ１３からステップＳ２１に進む。ステップＳ２１では、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢ（ここでは１２５℃）よりも低く且つ設定温度ＳＣ（ここでは８０℃）よりも高い状態が所定期間ｔｃ（ここでは５分）にわたって継続しているか否かが判定される。当該状態が所定期間ｔｃにわたって継続していると判定される場合にはステップＳ１５に進み、透光部材２３（または昇圧回路３２）に関する「高温状態」が検出された旨が判定される。その後、上述のステップＳ１６，Ｓ１７の処理が同様に実行される。また、当該発光禁止の解除に関しても上記と同様の動作が実行される。
【００５０】
一方、当該状態の継続時間が所定期間ｔｃ未満であると判定される場合には（ステップＳ１８を経由して）、透光部材２３が未だ所定の「高温状態」に到達していないと推定して、ステップＳ１４に進み、発光部３５による発光が許可される。
【００５１】
ここで、図６を参照する。電源部３１としてニッケル水素電池を使用する場合には、まず、時刻Ｔ１１において、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢに到達し、その後の発光動作が少なくとも待ち時間ｔｗにわたって禁止される（ステップＳ１２，Ｓ１５〜Ｓ１７）。この待ち時間ｔｗが経過する間においては、昇圧回路３２および透光部材２３等が自然冷却され、測定温度ＴＭｈが下降する。そして、時刻Ｔ１２において、発光禁止後において待ち時間ｔｗが経過し且つ測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＤ以下になっていると判定されると、再び発光が許可される（ステップＳ１８，Ｓ１９，Ｓ２０）。その後、連続発光が再開され、再び時刻Ｔ１３において測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢに到達すると、同様の動作が繰り返される。
【００５２】
次に図７を参照する。電源部３１としてアルカリ電池を使用する場合には、図６と比較すると判るように、測定温度ＴＭｈの温度上昇の程度が小さく、測定温度ＴＭｈは設定温度ＳＢよりも低い状態で推移する。しかし、その一方で、透光部材２３の温度ＴＭｐは、時刻Ｔ２１において設定温度ＳＣに近い温度にまで到達した後もさらに上昇する。この実施形態においては、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＣ（＜ＳＢ）よりも高い状態が、期間ｔｃにわたって継続するときには、透光部材２３の温度ＴＭｐが所定の基準値ＳＥに到達しているものと推定して、発光部３５による発光動作が禁止される。具体的には、時刻Ｔ２１から所定時間ｔｃ後の時刻Ｔ２２まで、測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＣを超えた状態が継続していると判定され、時刻Ｔ２２において発光部３５による発光が禁止される（ステップＳ１３，Ｓ２１，Ｓ１５〜Ｓ１７）。その後、待ち時間ｔｗが経過するまでの間においては、昇圧回路３２および透光部材２３等が自然冷却され、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈが下降する。そして、時刻Ｔ２３において、発光禁止後において待ち時間ｔｗが経過し且つ測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＤ以下になっていると判定されると、再び発光が許可される（ステップＳ１８，Ｓ１９，Ｓ２０）。その後、連続発光が再開される。以後、同様の動作が繰り返される。
【００５３】
上記実施形態の動作によれば、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈが設定温度ＳＢよりも高いときには、発光部３５による発光動作が禁止されるので、昇圧回路３２の温度を適切に管理することができる。
【００５４】
また特に、温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈが、別の設定温度ＳＣ（ただし、ＳＣ＜ＳＢ）よりも高い状態が期間ｔｃにわたって継続するときには、透光部材２３の温度ＴＭｐが所定の基準値ＳＥ（例えば８５℃）に到達しているもの（換言すれば透光部材２３が所定の「高温状態」である）と推定して、発光部３５による発光動作が禁止される。したがって、透光部材２３の温度をも適切に管理することができる。
【００５５】
以上のように、本実施形態の動作によれば、昇圧回路３２と透光部材２３との双方の温度を適切に管理することが可能である。
【００５６】
＜４．その他＞
以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
【００５７】
たとえば、上記実施形態においては、いわゆる外付けのフラッシュ装置２０を例示したが、これに限定されない。例えば、撮像装置１に内蔵されたフラッシュ装置に上記と同様の思想を適用してもよい。
【００５８】
図８は、そのような変形例に係る撮像装置１を示す図である。この撮像装置１は、全体制御部２に加えて、フラッシュ部３（図４の破線で囲まれる各要素と同様の要素を有する）、撮像素子（例えばＣＣＤ）５、画像信号処理部６、表示部７、および操作部８等を備える。このような撮像装置１のフラッシュ部３内の昇圧回路３２において温度検出回路３７が設けられ、上記実施形態と同様にして発光動作が制御される。具体的には、マイクロコンピュータ（ＣＰＵ等を含む）として構成される全体制御部２において、プログラムを実行することによって、発光部３５による発光動作が制御される。これにより、温度検出回路３７の測定温度ＴＭｈに基づいて撮像装置１内部の昇圧回路の温度と撮像装置１の内蔵フラッシュの透光部材（発光パネル）の温度との双方が管理される。また、このような撮像装置１においては、撮像装置１の背面等に設けられた表示部７に警告表示を行うようにしてもよい。
【００５９】
また、上記実施形態においては、フラッシュ装置２０の発光制御が当該フラッシュ装置２０内のコントローラ４０を用いて行われる場合を例示したが、これに限定されない。例えば、撮像装置１（図８参照）内のコントローラ（全体制御部２等）を用いてフラッシュ装置２０の発光制御が行われるようにしてもよい。より具体的には、撮像装置１の信号入出力部９が、フラッシュ装置２０の信号入出力部４２（図４）との通信によって、フラッシュ装置２０内の温度検出回路３７による測定温度ＴＭｈを取得して、撮像装置１の全体制御部２に伝送する。そして、全体制御部２が、測定温度ＴＭｈに応じてフラッシュ装置２０の発光制御を行うようにすればよい。
【００６０】
また、上記実施形態においては、測定温度ＴＭｈと設定温度ＳＢ，ＳＣ，ＳＤとの比較処理結果、および所定状態の継続時間と閾値ｔｃ，ｔｗとの比較処理結果に基づいて所定の動作を行う場合を例示した。このような比較処理における等号成立時には、上記動作における判定結果とは逆の判定結果に基づく動作を行うようにしてもよい。
【００６１】
また、上記実施形態においては、各設定温度の一例を示したが、設定温度は上記で例示した値に限定されず、装置構成等に応じて適宜に設定されればよい。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】フラッシュ装置の外観構成（前面側）を示す斜視図である。
【図２】フラッシュ装置の外観構成（背面側）を示す斜視図である。
【図３】フラッシュ装置の内部構成を示す断面図である。
【図４】フラッシュ装置の機能構成を示すブロック図である。
【図５】本実施形態に係る動作を示すフローチャートである。
【図６】本実施形態に係る連続発光動作時における各部位の温度の経時変化を示す図である（ニッケル水素電池使用時）。
【図７】本実施形態に係る連続発光動作時における各部位の温度の経時変化を示す図である（アルカリ電池使用時）。
【図８】変形例に係る撮像装置を示す図である。
【図９】比較例に係る連続発光動作時における各部位の温度の経時変化を示す図である（ニッケル水素電池使用時）。
【図１０】比較例に係る連続発光動作時における各部位の温度の経時変化を示す図である（アルカリ電池使用時）。
【符号の説明】
【００６３】
１  撮像装置
３  フラッシュ回路
２０  フラッシュ装置
２２  上部筐体
２３  透光部材（発光パネル）
２４  反射部材
３１  電源部（電池）
３２  昇圧回路
３５  発光部
３７  温度検出回路
ＳＢ，ＳＣ，ＳＤ  設定温度
ＴＭｈ  温度検出回路３７による測定温度
ＴＭｐ  透光部材２３の温度
ＴＭｔ  昇圧回路３２のトランジスタの温度
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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