(57)【要約】【課題】塗布ラインの蛇行をある程度許容しつつ塗布ラインの幅が適正であるか否かを検査する塗布ライン検査方法、装置、プログラムおよび記憶媒体を提供する。【解決手段】検査装置１００に、ワーク１の所定の特徴点に基づいて塗布ライン画像３１のワーク１の位置を補正した位置補正画像３２を生成する位置補正画像生成部１１２と、位置補正画像３２のうち塗布ライン２に対応する部分とそれ以外の部分をそれぞれ異なる色とする二値化画像３３ａ・二値化画像３３ｂを生成する二値化画像生成部１１３と、二値化画像３３ａにおける境界線２ａ・２ｂの全てが上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあり、かつ二値化画像３３ｂにおける境界線２ａ・２ｂの全てが下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にある場合には塗布ライン２が良好であると判定する塗布ライン判定部１１４と、を具備した。【選択図】図１
2009180613.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより塗布ライン画像を生成する塗布ライン撮像・塗布ライン画像生成工程と、
前記塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成工程と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成工程と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定工程と、
を具備する塗布ライン検査方法。
【請求項２】
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線となる塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像における前記塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定される請求項１に記載の塗布ライン検査方法。
【請求項３】
前記塗布ライン判定工程は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定工程と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定工程と、
を具備する請求項２に記載の塗布ライン検査方法。
【請求項４】
前記塗布ライン判定工程は、
前記上限判定工程において前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定工程において前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定工程を具備する請求項３に記載の塗布ライン検査方法。
【請求項５】
前記塗布ライン判定工程は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出工程を具備する請求項１から請求項４までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査方法。
【請求項６】
前記位置補正画像生成工程において、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正する請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査方法。
【請求項７】
予めワークの所定の特徴点に基づいて前記ワークの位置を補正した状態で前記ワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより位置補正画像を生成する塗布ライン撮像・位置補正画像生成工程と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成工程と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定工程と、
を具備する塗布ライン検査方法。
【請求項８】
撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成部と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成部と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定部と、
を具備する塗布ライン検査装置。
【請求項９】
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線となる塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像における前記塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定される請求項８に記載の塗布ライン検査装置。
【請求項１０】
前記塗布ライン判定部は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定部と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定部と、
を具備する請求項９に記載の塗布ライン検査装置。
【請求項１１】
前記塗布ライン判定部は、
前記上限判定部が前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定部が前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定部を具備する請求項１０に記載の塗布ライン検査装置。
【請求項１２】
前記塗布ライン判定部は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出部を具備する請求項８から請求項１１までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査装置。
【請求項１３】
前記位置補正画像生成部は、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正する請求項８から請求項１２までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査装置。
【請求項１４】
ワークの所定の特徴点に基づいて撮像装置の撮像方向およびワークと前記撮像装置との相対位置を補正する撮像位置補正部と、
前記撮像位置補正部により前記撮像装置の撮像方向および前記ワークと前記撮像装置との相対位置を予め補正した状態で前記撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した画像である位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成部と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定部と、
を具備する塗布ライン検査装置。
【請求項１５】
コンピュータに、
撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成機能と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるための塗布ライン検査プログラム。
【請求項１６】
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線となる塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像における前記塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定される請求項１５に記載の塗布ライン検査プログラム。
【請求項１７】
前記塗布ライン判定機能は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定機能と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定機能と、
を具備する請求項１６に記載の塗布ライン検査プログラム。
【請求項１８】
前記塗布ライン判定機能は、
前記上限判定機能が前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定機能が前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定機能を具備する請求項１７に記載の塗布ライン検査プログラム。
【請求項１９】
前記塗布ライン判定機能は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出機能を具備する請求項１５から請求項１８までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査プログラム。
【請求項２０】
前記位置補正画像生成機能は、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正する請求項１５から請求項１９までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査プログラム。
【請求項２１】
コンピュータに、
ワークの所定の特徴点に基づいて予め撮像装置の撮像方向および前記ワークと前記撮像装置との相対位置を補正した状態で前記撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した画像である位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるための塗布ライン検査プログラム。
【請求項２２】
コンピュータに、
撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成機能と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるための塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２３】
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定される請求項２２に記載の塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２４】
前記塗布ライン判定機能は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定機能と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定機能と、
を具備する請求項２３に記載の塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２５】
前記塗布ライン判定機能は、
前記上限判定機能が前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定機能が前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定機能を具備する請求項２４に記載の塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２６】
前記塗布ライン判定機能は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出機能を具備する請求項２２から請求項２５までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２７】
前記位置補正画像生成機能は、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正する請求項２２から請求項２６までのいずれか一項に記載の塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【請求項２８】
コンピュータに、
ワークの所定の特徴点に基づいて予め撮像装置の撮像方向および前記ワークと前記撮像装置との相対位置を補正した状態で前記撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した画像である位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるための塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えば自動車のシリンダブロックとオイルパンとの当接部位のように、気密性あるいは液密性が要求される当接部位には成形ガスケットが介装される。
一般に、成形ガスケットはリング状あるいは紐状に成形された固体状のゴム、エラストマー等で構成される。
成形ガスケットを複数の部品の当接部位に介装し、当該当接部位をボルト締結等の方法で相互に押し付けて成形ガスケットを弾性変形させることにより、成形ガスケットが当該当接部位に密着し、当該当接部位における気密性あるいは液密性が確保される。
【０００３】
近年、複数の部品の当接部位の気密性あるいは液密性を確保するために、成形ガスケットに代わってＦＩＰＧ（Ｆｏｒｍｅｄ  Ｉｎ  Ｐｌａｃｅ  Ｇａｓｋｅｔ）が広く用いられている。
ＦＩＰＧは一般にエラストマー等で構成され、硬化前には流動性を有する液体状、ペースト状あるいはゲル状であり、硬化後には固体状となる。
硬化前のＦＩＰＧを複数の部品の当接部位に線状に（あるいはリング状に）塗布し、複数の部品の当接部位を相互に押し付けた状態で当該ＦＩＰＧが硬化するまで保持することにより、硬化後のＦＩＰＧが複数の部品の当接部位に密着し、当該当接部位における気密性あるいは液密性が確保される。
【０００４】
ＦＩＰＧは、（ａ）複数の部品の当接部位における気密性あるいは液密性が高いこと、（ｂ）複数の部品の当接部位の面形状の自由度が高いこと（当接部位が平面状でなくても気密性あるいは液密性を確保することが可能であること）、（ｃ）複数の部品の当接部位の面精度が低くても（当接部位の表面に多少の凹凸があっても）気密性あるいは液密性を容易に確保可能であること、といった点において従来の成形ガスケットよりも優れている。
【０００５】
しかし、ＦＩＰＧは硬化後に複数の部品の当接部位に強固に密着するため、当該当接部位に塗布されたＦＩＰＧの量が適正でない場合には修正が困難であるという問題を有する。
ここで、「複数の部品の当接部位に塗布されたＦＩＰＧの量が適正でないこと」とは、複数の部品の当接部位に塗布したＦＩＰＧの量が不足しているために当該当接部位における気密性あるいは液密性が確保されないこと、あるいは複数の部品の当接部位に塗布したＦＩＰＧの量が過多であるために余剰のＦＩＰＧが当該当接部位の外側にはみ出して周囲に悪影響を及ぼすこと（例えば、複数の部品の当接部位の近傍に形成される作動油の経路を閉塞したり、はみ出した余剰のＦＩＰＧが硬化後に剥がれて異物となったりすること等）を指す。
【０００６】
複数の部品の当接部位に塗布されたＦＩＰＧが硬化した後に当該ＦＩＰＧの量が適正でないことが判明した場合、当該複数の部品を剥離し、複数の部品の当接部位に付着した硬化後のＦＩＰＧを除去し、当該当接部位に硬化前のＦＩＰＧを再度塗布し、複数の部品を相互に押し付けるという一連の作業を行う必要が生じ、非常に煩雑である。
【０００７】
従来、上記問題を解消する手段として、作業者が複数の部品間の当接部位に塗布された硬化前のＦＩＰＧの塗布量あるいは塗布位置が適正であるか否かを目視で判定する検査が行われている。
しかし、このような作業者による目視検査は、作業者の間の検査結果がばらつきやすいこと、ＦＩＰＧの塗布量あるいは塗布位置について定量的な検査を行うことが困難であること、といった問題を有する。
【０００８】
上記作業者による目視検査の問題を解消する手段として、ＦＩＰＧが塗布された部品（の当接部位）を撮像することにより得られた画像に基づいてＦＩＰＧの塗布量が適正であるか否かを判定するシステムあるいは方法が知られている。
例えば、特許文献１から特許文献５に記載の如くである。
【０００９】
特許文献１に記載の方法は、検査対象物をカラーカメラで撮像し、当該撮像により得られたカラー画像をＲ（赤）信号、Ｇ（緑）信号、Ｂ（青）信号に分けて各信号に対応する濃淡画像を生成し、検査対象物の色に対応する濃淡画像から検査対象物の色に対応しない濃淡画像を減算して差分画像を生成し、差分画像に二値化処理を施して検査対象物を抽出する。
しかし、特許文献１に記載の方法は、周辺の明るさの影響を受けずに検査対象物の画像を抽出することを目的としており、抽出された検査対象物の画像をどのように取り扱うかについては具体的には開示されていない。
【００１０】
特許文献２に記載の方法は、被塗布面に塗布されたシール剤の所定領域を真上から撮像し、得られた画像のシール剤の両側輪郭線を一時的に折れ線近似し、折れ線の各エッジの座標に基づいて画像内のシール剤を複数のシール剤部分に等分し、各シール剤部分と中心と一致するウインドウを設定し、各ウインドウ内のシール剤部分の幅あるいは位置といった塗布状態を検出する。
しかし、特許文献２に記載の方法は、各ウインドウ内のシール剤部分の幅あるいは位置といった塗布状態を検出する手法として、撮像された画像におけるシール剤の長さあるいは断面積を予め設定された標準パターンとのマッチング対比により推定する（言い換えれば、パターンマッチングを用いて塗布状態の良否判定を行う）旨を開示しているが、シール剤の長さあるいは断面積の具体的な推定手法を開示していない。
特に、ＦＩＰＧを部品の当接部位に塗布する場合、多少の蛇行や塗布位置の幅方向のずれが生じていても気密性あるいは液密性については良好な場合があるため、一般的なパターンマッチングによる判定手法を適用した場合には、判定対象となる画像のパターンと基準となるパターンとの間で少しのずれが生じただけで、実際には気密性あるいは液密性については良好であるにも関わらず不良品であると誤判定されるという問題を有する。
【００１１】
特許文献３に記載の方法は、容器の蓋載置部に環状に塗布したシール剤塗布部を撮像し、撮像された画像においてシール剤塗布部の外側に設定される外部点を起点としてシール剤塗布部の外側をシール剤塗布部と異なる色で塗り潰したときに、シール剤塗布部の内側も外側と同じ色で塗り潰されるか否かによりシール剤塗布部の良否判定を行う。
しかし、特許文献３に記載の方法は、シール剤塗布部が途中で切れているか否かを判定するものであり、シール剤塗布部の幅が適正か否かを判定することは実質的には不可能である。
【００１２】
特許文献４に記載のシステムは、シール材が塗布されたワーク接合面を撮像し、撮像された画像データ上に予め定められた検査ポイントを中心とした検査幅部分の画素位置を検索し、検査幅の両端位置から検査ポイントまでの画素のうち濃度変化値が設定値以上となった画素の位置をシール材の幅方向両端位置と判定し、シール材の幅方向両端位置が検出されない場合には検査ポイントにおいてシール材に切れ目が生じていると判定する。
しかし、特許文献４に記載のシステムは、シール材の幅方向における画素の濃度変化に基づいてシール材に切れ目が生じているか否かを判定するため、撮像される画像の視野内においてシール材に切れ目が生じていないがシール材が大きく蛇行している場合にも良好であると誤判定されるという問題を有する。
【００１３】
特許文献５に記載の方法は、ビード状の塗布物をワークに塗布する前後の画像の差に基づいてビード状の塗布物の形状を検出し、検出されたビード状の塗布物の形状に基づいてビード状の塗布物が連続しているか否か、必要十分な幅を有しているか否か、基準の領域外にはみ出しているか否かを判別する。
しかし、特許文献５に記載の方法は、ビード状の塗布物が連続しているか否か、必要十分な幅を有しているか否か、基準の領域外にはみ出しているか否かを判別する具体的な手法については開示していない。
【特許文献１】特開２００２−５６３７５号公報
【特許文献２】特開平１１−３７７２４号公報
【特許文献３】特開平１０−２６１３８８号公報
【特許文献４】特開平８−３３４４７８号公報
【特許文献５】特開平６−５８７３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
本発明は以上の如き状況に鑑みてなされたものであり、塗布ラインが蛇行することをある程度許容しつつ塗布ラインの幅が適正であるか否かを検査することが可能な塗布ライン検査方法、塗布ライン検査装置、塗布ライン検査プログラムおよび塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
【００１６】
即ち、請求項１においては、
ワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより塗布ライン画像を生成する塗布ライン撮像・塗布ライン画像生成工程と、
前記塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成工程と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成工程と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定工程と、
を具備するものである。
【００１７】
請求項２においては、
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線となる塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像における前記塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定されるものである。
【００１８】
請求項３においては、
前記塗布ライン判定工程は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定工程と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定工程と、
を具備するものである。
【００１９】
請求項４においては、
前記塗布ライン判定工程は、
前記上限判定工程において前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定工程において前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定工程を具備するものである。
【００２０】
請求項５においては、
前記塗布ライン判定工程は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出工程を具備するものである。
【００２１】
請求項６においては、
前記位置補正画像生成工程において、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正するものである。
【００２２】
請求項７においては、
予めワークの所定の特徴点に基づいて前記ワークの位置を補正した状態で前記ワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより位置補正画像を生成する塗布ライン撮像・位置補正画像生成工程と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成工程と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定工程と、
を具備するものである。
【００２３】
請求項８においては、
撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成部と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成部と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定部と、
を具備するものである。
【００２４】
請求項９においては、
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線となる塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像における前記塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定されるものである。
【００２５】
請求項１０においては、
前記塗布ライン判定部は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定部と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定部と、
を具備するものである。
【００２６】
請求項１１においては、
前記塗布ライン判定部は、
前記上限判定部が前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定部が前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定部を具備するものである。
【００２７】
請求項１２においては、
前記塗布ライン判定部は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出部を具備するものである。
【００２８】
請求項１３においては、
前記位置補正画像生成部は、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正するものである。
【００２９】
請求項１４においては、
ワークの所定の特徴点に基づいて撮像装置の撮像方向およびワークと前記撮像装置との相対位置を補正する撮像位置補正部と、
前記撮像位置補正部により前記撮像装置の撮像方向および前記ワークと前記撮像装置との相対位置を予め補正した状態で前記撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した画像である位置補正画像に二値化処理を施すことにより前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成部と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定部と、
を具備するものである。
【００３０】
請求項１５においては、
コンピュータに、
撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成機能と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるためのものである。
【００３１】
請求項１６においては、
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線となる塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像における前記塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定されるものである。
【００３２】
請求項１７においては、
前記塗布ライン判定機能は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定機能と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定機能と、
を具備するものである。
【００３３】
請求項１８においては、
前記塗布ライン判定機能は、
前記上限判定機能が前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定機能が前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定機能を具備するものである。
【００３４】
請求項１９においては、
前記塗布ライン判定機能は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出機能を具備するものである。
【００３５】
請求項２０においては、
前記位置補正画像生成機能は、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正するものである。
【００３６】
請求項２１においては、
コンピュータに、
ワークの所定の特徴点に基づいて予め撮像装置の撮像方向および前記ワークと前記撮像装置との相対位置を補正した状態で前記撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した画像である位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるためのものである。
【００３７】
請求項２２においては、
コンピュータに、
撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した塗布ライン画像における前記ワークの所定の特徴点に基づいて前記塗布ライン画像におけるワークの位置を補正した画像である位置補正画像を生成する位置補正画像生成機能と、
前記位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるためのものである。
【００３８】
請求項２３においては、
前記一対の上限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線を挟み、かつ前記塗布予定線に平行となる位置に設定され、
前記一対の下限ラインは、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線を挟み、前記塗布予定線に平行となり、かつ前記一対の上限ラインよりも前記塗布予定線に近接する位置に設定されるものである。
【００３９】
請求項２４においては、
前記塗布ライン判定機能は、
前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに前記一対の上限ラインで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像と前記第一の二値化画像との論理積に基づいて前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定機能と、
前記一対の下限ラインで挟まれる領域の内側を白色とするとともに前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像と前記第二の二値化画像との論理積に基づいて前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線が前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定機能と、
を具備するものである。
【００４０】
請求項２５においては、
前記塗布ライン判定機能は、
前記上限判定機能が前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに前記下限判定機能が前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には前記塗布ラインが良好であると判定する総合判定機能を具備するものである。
【００４１】
請求項２６においては、
前記塗布ライン判定機能は、
前記第一の二値化画像および前記第二の二値化画像におけるワークの塗布予定線に平行な区画線により区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像と前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像との論理積を、前記区画線を前記塗布予定線に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより前記第一の二値化画像または前記第二の二値化画像における塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出機能を具備するものである。
【００４２】
請求項２７においては、
前記位置補正画像生成機能は、
前記位置補正画像におけるワークの塗布予定線の長手方向が前記位置補正画像の画素の配列方向に一致するように前記塗布ライン画像を補正するものである。
【００４３】
請求項２８においては、
コンピュータに、
ワークの所定の特徴点に基づいて予め撮像装置の撮像方向および前記ワークと前記撮像装置との相対位置を補正した状態で前記撮像装置がワークおよび前記ワークに塗布された線状の塗布物である塗布ラインを撮像することにより生成した画像である位置補正画像に二値化処理を施すことにより、前記塗布ラインに対応する部分を抽出し、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を白色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像を生成するとともに、抽出した前記塗布ラインに対応する部分を黒色に変換するとともに前記塗布ラインに対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像を生成する二値化画像生成機能と、
前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第一の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の上限値だけ互いに離隔して配置される一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが前記第二の二値化画像に予め設定され許容し得る塗布ラインの幅の下限値だけ互いに離隔して配置される一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には前記塗布ラインが良好であると判定し、前記第一の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第一の二値化画像における一対の上限ラインで挟まれる領域の内側にあることおよび前記第二の二値化画像における塗布ラインの一対の境界線の全てが予め設定された前記第二の二値化画像における一対の下限ラインで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には前記塗布ラインが不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるためのものである。
【発明の効果】
【００４４】
本発明は、塗布ラインが蛇行することをある程度許容しつつ塗布ラインの幅が適正であるか否かを検査することが可能である、という効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４５】
以下では、図１から図１４を用いて検査システム５１について説明する。
図１に示す検査システム５１はワーク１に塗布された塗布ライン２を検査するためのシステムである。
【００４６】
ワーク１は本発明に係るワークの実施の一形態であり、塗布ライン２が塗布される物品を指す。
本実施形態のワーク１は上下に板面を有する矩形の板状の部材であり、ワーク１の四隅には上下の板面を貫通するボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ・１ｄが形成される。
【００４７】
本実施形態では説明の便宜上、ワーク１の形状を上下に板面を有する矩形の板状の部材としたが、本発明に係るワークはこれに限定されるものではない。
本発明に係るワークの具体例としては、エンジンのシリンダブロックあるいはエンジンのオイルパン等が挙げられる。
【００４８】
塗布ライン２は本発明に係る塗布ラインの実施の一形態であり、線状の塗布物（線状に塗布される物質）である。
本実施形態の塗布ライン２は、ワーク１の上側の板面においてボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ・１ｄに囲まれる部分に略矩形のリング状に塗布された硬化前のＦＩＰＧからなる。
塗布ライン２は、ロボットハンド等を用いてディスペンサをワーク１の上側の板面に沿って走査（移動）させつつ当該ディスペンサの先端部から硬化前のＦＩＰＧを吐出することによりワーク１の上側の板面に形成される。
【００４９】
本発明に係る塗布ラインを構成する塗布物は本実施形態の塗布ライン２の如き硬化前のＦＩＰＧに限定されず、ワークの表面に線状に塗布可能な物質を広く含む。本発明に係る塗布ラインを構成する塗布物の他の実施例としては接着剤、塗料等が挙げられる。
本発明に係る塗布ラインを構成する塗布物の検査時における状態は本実施形態の塗布ライン２の如く液体状、ペースト状あるいはゲル状に限定されず、固体状でも良い。
また、塗布ラインの形状である「線状」には、両端を有する形状（両端が繋がっていない形状）の他、無端状（両端が繋がった形状、すなわちリング状）も含まれる。
【００５０】
検査システム５１は撮像装置７０および検査装置１００を具備する。
【００５１】
撮像装置７０は本発明に係る撮像装置の実施の一形態であり、ワーク１およびワーク１に塗布された塗布ライン２を撮像することにより、図２に示す如き塗布ライン画像３１を生成する装置である。
撮像装置７０の具体例としては、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）カメラ、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）カメラ等の各種のカメラ、あるいはラインセンサカメラが挙げられる。また、塗布物の性状によっては赤外線カメラあるいは紫外線カメラ等を撮像装置７０として用いることも可能である。
本実施形態の撮像装置７０は白黒画像（白黒の濃淡で表される画像）を撮像するものであるが、本発明はこれに限定されず、カラー画像を撮像可能な撮像装置であっても良い。
【００５２】
なお、本実施形態では以降の説明の便宜上、塗布ライン２には他の部分より幅が広い部分である幅広部３、他の部分より幅が狭い部分である幅狭部４、小さく蛇行している部分である蛇行部５、および大きく蛇行している部分である蛇行部６が形成されている。
また、塗布ライン２において外周側の境界を成す線を境界線２ａ、塗布ライン２において内周側の境界を成す線を境界線２ｂとする。
【００５３】
検査装置１００は本発明に係る塗布ライン検査装置の実施の一形態であり、ワーク１に塗布された塗布ライン２を検査する装置である。
検査装置１００は検査装置本体１１０、入力装置１２０および表示装置１３０を具備する。
【００５４】
検査装置本体１１０は後述する塗布ライン検査プログラム等の種々のプログラム等を格納することができ、これらのプログラム等を展開することができ、これらのプログラム等に従って所定の演算を行うことができ、当該演算の結果等を記憶することができる。
【００５５】
検査装置本体１１０は、実体的には、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ−Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）等がバスで相互に接続される構成であっても良く、あるいはワンチップのＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ；大規模集積回路）等からなる構成であっても良い。
本実施形態における検査装置本体１１０は専用品であるが、市販のパーソナルコンピュータやワークステーション等に上記プログラム等を格納したもので達成することも可能である。
【００５６】
検査装置本体１１０は撮像装置７０に接続される。検査装置本体１１０は、撮像装置７０により撮像されて生成された塗布ライン画像３１（より厳密には、塗布ライン画像３１を構成する各画素の座標および輝度に係る情報）を取得することが可能である。
【００５７】
入力装置１２０は検査システム５１による塗布ライン２の検査に係る種々の情報・指示等を検査装置本体１１０に入力するものであり、検査装置本体１１０に接続される。
本実施形態の入力装置１２０は専用品であるが、例えば市販のキーボード、マウス、ポインティングデバイス、ボタン、スイッチ等を用いても良い。
【００５８】
表示装置１３０は入力装置１２０から検査装置本体１１０への入力内容、検査システム５１の動作状況、塗布ライン２の検査結果等を表示するものであり、検査装置本体１１０に接続される。
本実施形態の表示装置１３０は専用品であるが、例えば市販の液晶ディスプレイ（ＬＣＤ；Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）やＣＲＴディスプレイ（Ｃａｔｈｏｄｅ  Ｒａｙ  Ｔｕｂｅ  Ｄｉｓｐｌａｙ）等を用いても良い。
【００５９】
以下では、検査装置本体１１０の構成の詳細について説明する。
検査装置本体１１０は、機能的には記憶部１１１、位置補正画像生成部１１２、二値化画像生成部１１３および塗布ライン判定部１１４を具備する。
【００６０】
記憶部１１１は位置補正画像生成部１１２、二値化画像生成部１１３および塗布ライン判定部１１４による演算等を行う際に用いられる各種パラメータ（数値）、検査ユニット１０の動作状況の履歴、検査結果等を記憶するものである。
記憶部１１１は、実体的にはＲＡＭ等のメモリ、あるいはＨＤＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体からなる。
記憶部１１１は、検査装置本体１１０が撮像装置７０から取得した塗布ライン画像３１を記憶する。
【００６１】
位置補正画像生成部１１２は本発明に係る位置補正画像生成部の実施の一形態であり、撮像装置７０がワーク１およびワーク１に塗布された線状の塗布物である塗布ライン２を撮像することにより生成した塗布ライン画像３１におけるワーク１（塗布ライン画像３１に写っているワーク１）の「特徴点」に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正することにより位置補正画像３２を生成するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、位置補正画像生成部１１２としての機能を果たす。
【００６２】
「特徴点」は、撮像されたワークの外観において何らかの画像処理を施すことにより識別する（他の部分と区別して認識する）ことが可能な部分を指す。
本実施形態では、ワーク１に形成されたボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ・１ｄのうち、三つのボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃを特徴点として用いる。
【００６３】
位置補正画像生成部１１２は、塗布ライン画像３１におけるボルト孔１ａの中心点の座標（ｘ１１，ｙ１１）、ボルト孔１ｂの中心点の座標（ｘ１２，ｙ１２）およびボルト孔１ｃの中心点の座標（ｘ１３，ｙ１３）を算出する。
本実施形態の場合、撮像装置７０はワーク１の上側の板面に光を照射した状態でワーク１を撮像するため、塗布ライン画像３１に写っているボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃは周囲よりも暗い色で表示される。
従って、塗布ライン画像３１に二値化処理を施す等して暗い色の部分を抽出することにより、塗布ライン画像３１におけるボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃを容易に識別することが可能であり、ひいてはボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃの中心座標を算出する（塗布ライン画像３１におけるボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃの中心に対応する画素を特定する）ことが可能である。なお、図２では説明の便宜上、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃを暗い色で表示していない。
【００６４】
図３に示す如く、位置補正画像生成部１１２は、塗布ライン画像３１に拡大・縮小処理、平行移動処理、回転処理、剪断処理等の幾何変換処理を適宜施すことにより位置補正画像３２を生成する。生成された位置補正画像３２は、記憶部１１１に記憶される。
【００６５】
図３に示す如く、位置補正画像３２におけるボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃの中心点の座標は、予め設定された（記憶部１１１に記憶された）所定の位置補正座標（ｘ２１，ｙ２１）、位置補正座標（ｘ２２，ｙ２２）および位置補正座標（ｘ２３，ｙ２３）にそれぞれ一致する。
位置補正座標（ｘ２１，ｙ２１）、位置補正座標（ｘ２２，ｙ２２）および位置補正座標（ｘ２３，ｙ２３）は、位置補正画像３２における塗布ライン２の直線状の部分の長手方向、より厳密には塗布予定線７の直線状の部分の長手方向と位置補正画像３２を構成する画素の配列方向（本実施形態の場合、Ｘ方向またはＹ方向）とが一致するように設定される。
ここで「塗布予定線」は、ワーク上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ラインが塗布された場合の塗布ラインの中心線（理想的な塗布ラインの幅方向の中心を通る線）を指す。
本実施形態の場合、図３中の二点鎖線で示す如く、塗布予定線７は、位置補正画像３２の中央に正対した姿勢で写っているワーク１に塗布された「理想的な塗布ラインの幅方向の中心を通る線」である。
従って、位置補正画像生成部１１２は、位置補正画像３２におけるワーク１の塗布予定線７の（直線状の部分の）長手方向が位置補正画像３２の画素の配列方向に一致するように塗布ライン画像３１を補正することとなる。
【００６６】
本実施例では塗布ライン画像３１におけるボルト孔１ａの中心点、ボルト孔１ｂの中心点およびボルト孔１ｃの中心点の計三つの点（同一直線上に無い三つの点）を特徴点として用いたが、本発明において設定すべき特徴点の数はこれに限定されない。
例えば、撮像装置およびワークを固定する治具の構成等により「撮像装置に対するワークの傾斜」が発生しないことが予め確認されている場合には、二つの特徴点に基づいて位置補正画像を生成することが可能である。
また、撮像装置およびワークを固定する治具の構成等により「撮像装置に対するワークの傾斜」および「撮像装置からワークまでの距離の変化」が発生しないことが予め確認されている場合には、一つの特徴点に基づいて位置補正画像を生成することが可能である。
さらに、特徴点は点状のポイントだけでなく、ワークのエッジの如き直線状のものでも良い。
【００６７】
二値化画像生成部１１３は本発明に係る二値化画像生成部の実施の一形態であり、位置補正画像生成部１１２により生成された位置補正画像３２に二値化処理を施すことにより、位置補正画像３２における塗布ライン２に対応する部分を抽出し、図４に示す二値化画像３３ａおよび図５に示す二値化画像３３ｂを生成するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、二値化画像生成部１１３としての機能を果たす。
【００６８】
「二値化処理」は、多数の階調にて表わされる濃淡画像を構成する各画素の輝度値を、所定の閾値を境界として「０（黒）」および「１（白）」の二種類の階調の輝度値のいずれかに変換することにより、濃淡画像を当該二種類の輝度値を有する画素の集合体（白色の画素および黒色の画素の集合体）たる二値化画像に変換する画像処理を指す。
【００６９】
本実施形態では、位置補正画像３２の輝度値は、ワーク１の表面に対応する部分、塗布ライン２に対応する部分、ワーク１の外側の部分（背景部分）、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ・１ｄの空洞部分の順に高い（白っぽく表示される）。
【００７０】
本実施形態では、位置補正画像３２に写っているワーク１の表面に対応する部分の輝度値よりも低く、かつ塗布ライン２に対応する部分の輝度値よりも高い輝度値として、第一閾値が定義される。
また、塗布ライン２に対応する部分の輝度値よりも低く、かつワーク１の外側の部分の輝度値よりも高い輝度値として、第二閾値が定義される。第一閾値および第二閾値は予め実験等により求められる。
このようにして得られた第一閾値および第二閾値は、記憶部１１１により記憶される。
【００７１】
二値化画像生成部１１３は、（ａ１）第一閾値よりも高い輝度値を有する画素の輝度値を「０（黒）」、（ｂ１）第二閾値以上かつ第一閾値以下の輝度値を有する画素の輝度値を「１（白）」、（ｃ１）第二閾値よりも低い輝度値を有する画素の輝度値を「０（黒）」、にそれぞれ変換する二値化処理を位置補正画像３２に施すことにより、塗布ライン２に対応する部分を抽出し、抽出した塗布ライン２に対応する部分を白色に変換するとともにその他の部分を黒色に変換した画像である二値化画像３３ａを生成する（図４参照）。
【００７２】
二値化画像生成部１１３は、（ａ２）第一閾値よりも高い輝度値を有する画素の輝度値を「１（白）」、（ｂ２）第二閾値以上かつ第一閾値以下の輝度値を有する画素の輝度値を「０（黒）」、（ｃ２）第二閾値よりも低い輝度値を有する画素の輝度値を「１（白）」、にそれぞれ変換する二値化処理を位置補正画像３２に施すことにより、塗布ライン２に対応する部分を抽出し、抽出した塗布ライン２に対応する部分を黒色に変換するとともにその他の部分を白色に変換した画像である二値化画像３３ｂを生成する（図５参照）。
二値化画像３３ｂは、ちょうど二値化画像３３ａの黒色と白色とを反転した画像に相当する。
記憶部１１１は、生成された二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂを記憶する。
【００７３】
本実施形態は白黒の濃淡画像である位置補正画像３２に二値化処理を施す構成であるが、本発明はこれに限定されない。例えば、カラーの濃淡画像である位置補正画像の三原色（ＲＧＢ）のうち、塗布ラインとそれ以外の部分（ワーク、ワークの特徴点および背景部分）とを識別することが容易な原色に対応する輝度値に基づいて二値化処理を施しても良い。
【００７４】
塗布ライン判定部１１４は本発明に係る塗布ライン判定部の実施の一形態であり、二値化画像生成部１１３により生成された二値化画像３３ａ・３３ｂに基づいて塗布ライン２が良好であるか不良であるかを判定するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、塗布ライン判定部１１４としての機能を果たす。
【００７５】
ここで、「塗布ラインが良好である」とは、（Ａ）塗布ラインの幅が全長にわたって許容し得る範囲内にあること、および（Ｂ）塗布ラインの蛇行量（本来塗布されるべき位置からのずれ）が許容し得る範囲内にあること、の両方が満たされることを指す。
また、「塗布ラインが不良である」とは、（Ａ）塗布ラインの幅が全長にわたって許容し得る範囲内にあること、または（Ｂ）塗布ラインの蛇行量が許容し得る範囲内にあること、のうち少なくとも一方が満たされないことを指す。
【００７６】
塗布ライン判定部１１４は上限判定部１１４ａ、下限判定部１１４ｂ、総合判定部１１４ｃおよび凹凸面積算出部１１４ｄを具備する。
【００７７】
上限判定部１１４ａは本発明に係る上限判定部の実施の一形態であり、塗布ライン２が一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれている領域の内側にあるか否かを判定するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、上限判定部１１４ａとしての機能を果たす。
【００７８】
図６に示す如く、一対の上限ライン８ａ・８ｂは、四隅を除いて二値化画像３３ａ・３３ｂにおけるワーク１の塗布予定線７を挟み、かつ塗布予定線７に平行となる位置に設定される。
本実施形態では、塗布予定線７の直線状の部分は二値化画像３３ａ・３３ｂにおける画素の配列方向、すなわちＸ方向またはＹ方向に対して平行であることから、一対の上限ライン８ａ・８ｂも二値化画像３３ａ・３３ｂにおける画素の配列方向に対して平行である。
なお、図６では説明の便宜上、二値化画像３３ａ・３３ｂにおける塗布ライン２を省略するとともに、二値化画像３３においては本来見えないワーク１の外形線およびボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ・１ｄの開口部を点線で表している。
【００７９】
塗布予定線７から上限ライン８ａまでの距離および塗布予定線７から上限ライン８ｂまでの距離は、気密性あるいは液密性の観点、あるいは塗布ライン２がはみ出ることによる周囲への悪影響の観点から許容し得る塗布ライン２の幅の上限、および塗布ライン２の蛇行量の上限に基づいて予め定められる。
従って、一対の上限ライン８ａ・８ｂは、二値化画像３３ａにおいて許容し得る塗布ライン２の幅の上限値だけ互いに離隔して配置されることとなる。より詳細には、一対の上限ライン８ａ・８ｂの間隔は全く蛇行していない場合における塗布ライン２の幅の上限値に対応する。
【００８０】
記憶部１１１は一対の上限ライン８ａ・８ｂ、より厳密には二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂの位置（座標）を予め記憶している。
また、記憶部１１１は、一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側に位置する画素の輝度値が「０（黒）」であり、かつ一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の外側に位置する画素の輝度値が「１（白）」である上限マスク画像４１（図７参照）を予め記憶している。
【００８１】
上限判定部１１４ａは上限マスク画像４１と二値化画像３３ａとの論理積に基づいて上限論理積画像３４（図８参照）を生成する。
より具体的には、上限マスク画像４１および二値化画像３３ａにおいて同じ座標に位置する画素の輝度値の積を算出し、算出された積が「１」である場合には上限論理積画像３４において同じ座標に位置する画素の輝度値を「１（白色）」とし、算出された積が「０」である場合には上限論理積画像３４において同じ座標に位置する画素の輝度値を「０（黒色）」とする。
上限判定部１１４ａは、上記演算を上限マスク画像４１および二値化画像３３ａの全ての画素について行うことにより、上限論理積画像３４を生成する。
【００８２】
上限判定部１１４ａは、上限論理積画像３４に白色で表示される部分（輝度値が「１（白）」である画素）がある場合には「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域（上限マスク画像４１において黒色で表示される領域）の外側にある」と判定し、上限論理積画像３４に白色で表示される部分（輝度値が「１（白）」である画素）がない場合には「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にある」と判定する。
【００８３】
本実施形態の場合、上限論理積画像３４では、図４に示す二値化画像３３ａにおいて塗布ライン２に対応する部分のうち、幅広部３の突出している部分および蛇行部６の突出している部分が図８に示す如く白色で表示されるので、上限判定部１１４ａは「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の外側にある」と判定することとなる。
記憶部１１１は、上限判定部１１４ａによる判定結果を記憶する。
【００８４】
本実施形態では塗布予定線７から上限ライン８ａまでの距離と塗布予定線７から上限ライン８ｂまでの距離とは等しいが、本発明はこれに限定されず、塗布予定線から一方の上限ラインまでの距離と塗布予定線から他方の上限ラインまでの距離とは異なっていても良い。
【００８５】
下限判定部１１４ｂは本発明に係る下限判定部の実施の一形態であり、塗布ライン２が一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれている領域の外側にあるか否かを判定するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、下限判定部１１４ｂとしての機能を果たす。
【００８６】
図６に示す如く、一対の下限ライン９ａ・９ｂは、四隅を除いて二値化画像３３ａ・３３ｂにおけるワーク１の塗布予定線７を挟み、塗布予定線７に平行となり、かつ一対の上限ライン８ａ・８ｂよりも塗布予定線７に近接する位置に設定される。
本実施形態では、塗布予定線７の直線状の部分は二値化画像３３ａ・３３ｂにおける画素の配列方向、すなわちＸ方向またはＹ方向に対して平行であることから、一対の下限ライン９ａ・９ｂも二値化画像３３ａ・３３ｂにおける画素の配列方向に対して平行である。
【００８７】
塗布予定線７から下限ライン９ａまでの距離および塗布予定線７から下限ライン９ｂまでの距離は、気密性あるいは液密性の観点、あるいは塗布ライン２がはみ出ることによる周囲への悪影響の観点から許容し得る塗布ライン２の幅の下限、および塗布ライン２の蛇行量の上限に基づいて予め定められる。
従って、一対の下限ライン９ａ・９ｂは、二値化画像３３ｂにおいて許容し得る塗布ライン２の幅の下限値だけ互いに離隔して配置されることとなる。より詳細には、一対の下限ライン９ａ・９ｂの間隔は全く蛇行していない場合における塗布ライン２の幅の下限値に対応する。
【００８８】
記憶部１１１は一対の下限ライン９ａ・９ｂ、より厳密には二値化画像３３ｂにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂの位置（座標）を予め記憶している。
また、記憶部１１１は、一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の内側に位置する画素の輝度値が「１（白）」であり、かつ一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側に位置する画素の輝度値が「０（黒）」である下限マスク画像４２（図９参照）を予め記憶している。
【００８９】
下限判定部１１４ｂは下限マスク画像４２と二値化画像３３ｂとの論理積に基づいて下限論理積画像３５（図１０参照）を生成する。
より具体的には、下限マスク画像４２および二値化画像３３ｂにおいて同じ座標に位置する画素の輝度値の積を算出し、算出された積が「１」である場合には下限論理積画像３５において同じ座標に位置する画素の輝度値を「１（白色）」とし、算出された積が「０」である場合には下限論理積画像３５において同じ座標に位置する画素の輝度値を「０（黒色）」とする。
下限判定部１１４ｂは、上記演算を下限マスク画像４２および二値化画像３３ｂの全ての画素について行うことにより、下限論理積画像３５を生成する。
【００９０】
下限判定部１１４ｂは、下限論理積画像３５に白色で表示される部分（輝度値が「１（白）」である画素）がある場合には「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域（下限マスク画像４１において白色で表示される領域）の内側にある」と判定し、下限論理積画像３５に白色で表示される部分（輝度値が「１（白）」である画素）がない場合には「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にある」と判定する。
【００９１】
本実施形態の場合、下限論理積画像３５では、図５に示す二値化画像３３ｂにおいて塗布ライン２に対応する部分のうち、幅狭部４の凹んでいる部分および蛇行部６の凹んでいる部分が図１０に示す如く白色で表示されるので、下限判定部１１４ｂは「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の内側にある」と判定することとなる。
記憶部１１１は、下限判定部１１４ｂによる判定結果を記憶する。
【００９２】
なお、「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の内側にある」場合には、塗布ライン２には幅がゼロになっている部分、すなわち塗布ライン２には途中で切れている部分が存在することが含まれる。
【００９３】
本実施形態では塗布予定線７から下限ライン９ａまでの距離と塗布予定線７から下限ライン９ｂまでの距離とは等しいが、本発明はこれに限定されず、塗布予定線から一方の下限ラインまでの距離と塗布予定線から他方の下限ラインまでの距離とは異なっていても良い。
【００９４】
総合判定部１１４ｃは本発明に係る総合判定部の実施の一形態であり、上限判定部１１４ａによる判定結果および下限判定部１１４ｂによる判定結果に基づいて総合的な判定、すなわち塗布ライン２が良好であるか不良であるかを判定するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、総合判定部１１４ｃとしての機能を果たす。
【００９５】
総合判定部１１４ｃは、上限判定部１１４ａが「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にある」と判定し、かつ下限判定部１１４ｂが「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にある」と判定した場合には、「塗布ライン２が良好である」と判定する。
総合判定部１１４ｃは、上限判定部１１４ａが「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の外側にある」と判定し、下限判定部１１４ｂが「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にある」と判定した場合には、「塗布ライン２が不良である」と判定する。
総合判定部１１４ｃは、上限判定部１１４ａが「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にある」と判定し、かつ下限判定部１１４ｂが「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の内側にある」と判定した場合には、「塗布ライン２が不良である」と判定する。
総合判定部１１４ｃは、上限判定部１１４ａが「二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の外側にある」と判定し、かつ下限判定部１１４ｂが「二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの少なくとも一部が一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の内側にある」と判定した場合には、「塗布ライン２が不良である」と判定する。
記憶部１１１は、総合判定部１１４ｃによる判定結果を記憶する。
【００９６】
このように、塗布ライン判定部１１４は、（α）二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあること、および（β）二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあること、の両方が満たされる場合には塗布ライン２が良好であると判定する。
また、塗布ライン判定部１１４は、上記（α）および（β）のうち少なくとも一方が満たされない場合には塗布ライン２が不良であると判定する。
【００９７】
凹凸面積算出部１１４ｄは本発明に係る凹凸面積算出部の実施の一形態であり、二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の凹部および凸部の面積を算出するものである。
実体的には、検査装置本体１１０が、検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、凹凸面積算出部１１４ｄとしての機能を果たす。
【００９８】
塗布ライン２の凸部の面積は、塗布ライン２において塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの直線状の部分よりも内側に凹んでいる部分の面積であり、図１１の（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）において右下がりの斜線を施した部分に相当する。
塗布ライン２の凸部の面積は、塗布ライン２において塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの直線状の部分よりも外側に突出している部分の面積であり、図１１の（ａ）、（ｃ）および（ｄ）において右上がりの斜線を施した部分に相当する。
【００９９】
以下では、図１２、図１３および図１４を用いて凹凸面積算出部１１４ｄによる塗布ライン２の凹部および凸部の面積算出の手順を説明する。
【０１００】
記憶部１１１は、予め凹凸面積算出用マスク画像４３を記憶している。
凹凸面積算出用マスク画像４３は直線状の区画線４３ａによって区画された二つの領域のうち、一方の領域が白色（一方の領域に属する画素の輝度値が「１」）、他方の領域が黒色（他方の領域に属する画素の輝度値が「０」）となる画像である。
本実施形態における区画線４３ａの長手方向は凹凸面積算出用マスク画像４３の画素の配列方向に平行である。また、区画線４３ａは凹凸面積算出用マスク画像４３上において区画線４３ａに垂直な方向にシフトする（移動する）ことが可能である。
なお、図１２、図１３および図１４では説明の便宜上、説明に用いる画像をいずれも１０ピクセル×１０ピクセルの正方形とし、説明に用いる画像の右辺が二値化画像３３ｂにおける塗布予定線７に一致し、かつ、説明に用いる画像に塗布ライン２の境界線２ａが表れているものとする。
【０１０１】
凹凸面積算出部１１４ｄは、「凹凸面積算出用マスク画像４３」と「塗布ライン２に対応する部分が黒色で表示されるとともにそれ以外の部分が白色で表示される二値化画像３３ｂ」との論理積を算出することにより凹凸論理積画像３６を生成する。
ここで、論理積の値は、凹凸面積算出用マスク画像４３および二値化画像３３ｂにおいて同じ座標に位置する画素の輝度値がいずれも「１（白）」である場合には凹凸論理積画像３６において同じ座標に位置する画素の輝度値を「１（白）」とし、凹凸面積算出用マスク画像４３および二値化画像３３ｂにおいて同じ座標に位置する画素の輝度値のうち少なくとも一方が「０（黒）」である場合には凹凸論理積画像３６において同じ座標に位置する画素の輝度値を「０（黒）」とする。
【０１０２】
また、凹凸面積算出部１１４ｄは、凹凸面積算出用マスク画像４３の区画線４３ａを塗布予定線７から離間する方向に向かって１ピクセルずつ移動させ、その都度「凹凸面積算出用マスク画像４３」と「二値化画像３３ｂ」との論理積を算出するとともに凹凸論理積画像３６を生成する。
さらに、凹凸面積算出部１１４ｄは、生成された凹凸論理積画像３６において白色で表示される（輝度値が「１」である）画素の個数、すなわち論理積の和を算出する。
【０１０３】
以下では図１２を用いて塗布ライン２の境界線２ａが塗布予定線７に平行な直線状である場合、すなわち塗布ライン２に凹部および凸部が形成されていない場合において区画線４３ａを移動させたときの論理積の和の推移について説明する。
【０１０４】
図１２に示す如く、「フェーズＡ−１」、「フェーズＡ−２」および「フェーズＡ−３」では論理積の和は「０（ゼロ）」となるのに対して、「フェーズＡ−４」では論理積の和が「１０」となり、「フェーズＡ−５」では論理積の和が「２０」となる。
【０１０５】
このように、塗布ライン２に凹部および凸部が形成されていない場合、区画線４３ａが塗布ライン２の境界線２ａよりも塗布予定線７に近い位置にあるとき（「フェーズＡ−１」、「フェーズＡ−２」および「フェーズＡ−３」に相当する）には、区画線４３ａが移動しても論理積の和はゼロのままで増加しない。
【０１０６】
また、区画線４３ａが塗布ライン２の境界線２ａよりも塗布予定線７から遠い位置にあるとき（「フェーズＡ−４」および「フェーズＡ−５」に相当する）には、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に１ピクセル分移動するたびに論理積の和が区画線４３ａの長手方向における凹凸論理積画像３６の画素の配列数（図１２、図１３および図１４の場合「１０」）だけ増加する。
【０１０７】
以下では図１３を用いて塗布ライン２の境界線２ａの一部が塗布予定線７に近接する方向に湾曲している場合、すなわち塗布ライン２に凹部が形成されている場合において区画線４３ａを移動させたときの論理積の和の推移について説明する。
【０１０８】
図１３に示す如く、「フェーズＢ−１」では論理積の和は「０（ゼロ）」、「フェーズＢ−２」では論理積の和は「１」、「フェーズＢ−３」では論理積の和は「４」、「フェーズＢ−４」では論理積の和は「９」、「フェーズＢ−５」では論理積の和は「１９」となる。
【０１０９】
このように、塗布ライン２に凹部が形成されている場合、区画線４３ａが塗布ライン２の境界線２ａよりも塗布予定線７に近い位置にあるとき（「フェーズＢ−１」に相当する）には、論理積の和はゼロである。
【０１１０】
また、区画線４３ａが境界線２ａにおいて凹部に対応する部分と交差しているとき（「フェーズＢ−２」、「フェーズＢ−３」、「フェーズＢ−４」に相当する）には、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に１ピクセル分移動するたびに論理積の和が増加する。
しかし、当該論理積の増加量は区画線４３ａの長手方向における凹凸論理積画像３６の画素の配列数（図１２、図１３および図１４の場合「１０」）よりは小さい。
【０１１１】
さらに、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に移動して塗布ライン２の境界線２ａと交差しない状態となったとき（「フェーズＢ−５」に相当する）には、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に１ピクセル分移動するたびに論理積の和が区画線４３ａの長手方向における凹凸論理積画像３６の画素の配列数「１０」だけ増加する。
【０１１２】
以下では図１４を用いて塗布ライン２の境界線２ａの一部が塗布予定線７から離間する方向に湾曲している場合、すなわち塗布ライン２に凸部が形成されている場合において区画線４３ａを移動させたときの論理積の和の推移について説明する。
【０１１３】
図１４に示す如く、「フェーズＣ−１」では論理積の和は「０（ゼロ）」、「フェーズＣ−２」では論理積の和は「５」、「フェーズＣ−３」では論理積の和は「１２」、「フェーズＣ−４」では論理積の和は「２１」、「フェーズＣ−５」では論理積の和は「３１」となる。
【０１１４】
このように、塗布ライン２に凸部が形成されている場合、区画線４３ａが塗布ライン２の境界線２ａよりも塗布予定線７に近い位置にあるとき（「フェーズＣ−１」に相当する）には、論理積の和はゼロである。
【０１１５】
また、区画線４３ａが境界線２ａにおいて凸部に対応する部分と交差しているとき（「フェーズＣ−２」、「フェーズＣ−３」、「フェーズＣ−４」に相当する）には、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に１ピクセル分移動するたびに論理積の和が増加する。
しかし、当該論理積の増加量は区画線４３ａの長手方向における凹凸論理積画像３６の画素の配列数（図１２、図１３および図１４の場合「１０」）よりは小さい。
【０１１６】
さらに、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に移動して塗布ライン２の境界線２ａと交差しない状態となったとき（「フェーズＣ−５」に相当する）には、区画線４３ａが塗布予定線７から離間する方向に１ピクセル分移動するたびに論理積の和が区画線４３ａの長手方向における凹凸論理積画像３６の画素の配列数「１０」だけ増加する。
【０１１７】
凹凸面積算出部１１４ｄは、区画線４３ａを移動させたときの論理積の和の増加量、すなわち「区画線４３ａを１ピクセル分移動させる前の論理積の和」と「区画線４３ａを１ピクセル分移動させた後の論理積の和」との差分に基づいて、塗布ライン２の凹部および凸部の面積を算出する。
より詳細には、凹凸面積算出部１１４ｄは、区画線４３ａを移動させたときの論理積の和の増加量が区画線４３ａの長手方向における凹凸論理積画像３６の画素の配列数より小さいときには区画線４３ａが塗布ライン２の凹部および凸部と交差していると判定し、論理積の増加量を積算する。
【０１１８】
図１３の場合、「フェーズＢ−１」と「フェーズＢ−２」との間の論理積の増加量は「１」、「フェーズＢ−２」と「フェーズＢ−３」との間の論理積の増加量は「３」、「フェーズＢ−３」と「フェーズＢ−４」との間の論理積の増加量は「５」であるから、凹凸面積算出部１１４ｄは論理積の増加量の積算値を「９（＝１＋３＋５）」と算出する。
算出された論理積の増加量の積算値は図１３に示す二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の凹部に対応する画素の数に相当し、当該凹部の面積に比例する。
凹凸面積算出部１１４ｄは算出された論理積の増加量の積算値に所定の係数を乗算することにより、塗布ライン２の凹部の面積を算出する。
【０１１９】
図１４の場合、「フェーズＣ−１」と「フェーズＣ−２」との間の論理積の増加量は「５」、「フェーズＣ−２」と「フェーズＣ−３」との間の論理積の増加量は「７」、「フェーズＣ−３」と「フェーズＣ−４」との間の論理積の増加量は「９」であるから、凹凸面積算出部１１４ｄは論理積の増加量の積算値を「２１（＝５＋７＋９）」と算出する。
算出された論理積の増加量の積算値は「フェーズＣ−１」から「フェーズＣ−４」までの間、すなわち区画線４３ａが塗布ライン２の凸部に交差しているときに区画線４３ａが走査した画素の数である「３０」から図１３に示す二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の凸部に対応する画素の数を減算した値に相当する。
従って、図１３に示す二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の凸部に対応する画素の数は「９（＝３０−２１）」となる。二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の凸部に対応する画素の数は当該凸部の面積に比例する。
凹凸面積算出部１１４ｄは「区画線４３ａが塗布ライン２の凸部に交差しているときに区画線４３ａが走査した画素の数から算出された論理積の増加量の積算値を減算した値に所定の係数を乗算することにより、塗布ライン２の凸部の面積を算出する。
【０１２０】
記憶部１１１は、凹凸面積算出部１１４ｄにより算出された塗布ライン２の凹部および凸部の面積を記憶する。
【０１２１】
本実施形態では凹凸面積算出部１１４ｄが二値化画像３３ｂを用いて（二値化画像３３ｂに基づいて）塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出する構成としたが、本発明はこれに限定されず、塗布ラインの凸部および凹部の面積を算出する際に第一の二値化画像および第二の二値化画像のいずれを用いても良い。
また、本実施形態では区画線４３ａを塗布予定線７から離間する方向に移動させつつ凹凸面積算出用マスク画像４３と二値化画像３３ａとの論理積を算出する構成としたが、本発明はこれに限定されず、区画線を塗布予定線に接近する方向に移動させつつ凹凸面積算出用マスク画像と第一の二値化画像または第二の二値化画像との論理積を算出する構成としても良い。
【０１２２】
以上の如く、検査装置１００は、
撮像装置７０がワーク１およびワーク１に塗布された線状の塗布物である塗布ライン２を撮像することにより生成した塗布ライン画像３１におけるワーク１の所定の特徴点（本実施形態の場合、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ）に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正した画像である位置補正画像３２を生成する位置補正画像生成部１１２と、
位置補正画像３２に二値化処理を施すことにより、位置補正画像３２において塗布ライン２に対応する部分を抽出し、抽出した塗布ライン２に対応する部分を白色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像（二値化画像３３ａ）を生成するとともに、抽出した塗布ライン２に対応する部分を黒色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像（二値化画像３３ｂ）を生成する二値化画像生成部１１３と、
二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には塗布ライン２が良好であると判定し、二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には塗布ライン２が不良であると判定する塗布ライン判定部１１４と、
を具備する。
このように構成することにより、塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを検査することが可能である。
特に、検査装置１００は、ワーク１および塗布ライン２を撮像する撮像装置７０として市販のカメラ等をそのまま適用することが可能であるとともに、撮像装置７０による撮像時にワーク１を厳密に位置決めする必要がないので、取り扱いが容易である。
【０１２３】
また、検査装置１００の一対の上限ライン８ａ・８ｂは、
二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂにおけるワーク１上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ライン２が塗布された場合の塗布ライン２の中心線となる塗布予定線７を挟み、かつ塗布予定線７に平行となる位置に設定され、
検査装置１００の一対の下限ライン９ａ・９ｂは、
二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂにおける塗布予定線７を挟み、塗布予定線７に平行となり、かつ一対の上限ライン８ａ・８ｂよりも塗布予定線７に近接する位置に設定される。
このように構成することは、以下の利点を有する。
すなわち、塗布ライン２の性状や用途等に応じて許容し得る塗布ライン２の幅の上限値および下限値、並びに許容し得る塗布ライン２の蛇行量の上限値に対応する塗布予定線７から一対の上限ライン８ａ・８ｂまでの距離および塗布予定線７から一対の下限ライン９ａ・９ｂまでの距離を選択することにより、検査装置１００の判定精度が向上する。
【０１２４】
また、検査装置１００の塗布ライン判定部１１４は、
一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側を黒色とするとともに一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の外側を白色とした上限マスク画像４１と二値化画像３３ａとの論理積に基づいて二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定部１１４ａと、
一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の内側を白色とするとともに一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側を黒色とした下限マスク画像４２と二値化画像３３ｂとの論理積に基づいて二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定部１１４ｂと、
を具備する。
このように構成することにより、簡単な演算で塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを判定することが可能である。
【０１２５】
また、検査装置１００の塗布ライン判定部１１４は、
上限判定部１１４ａが二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに下限判定部１１４ｂが二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には塗布ライン２が良好であると判定する総合判定部１１４ｃを具備する。
このように構成することにより、塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを検査することが可能である。
【０１２６】
また、検査装置１００の塗布ライン判定部１１４は、
二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂにおけるワーク１の塗布予定線７に平行な区画線４３ａにより区画された二つの領域のうち一方の領域が白色であり他方の領域が黒色となる画像である凹凸面積算出用マスク画像４３と二値化画像３３ａとの論理積を、区画線４３ａを塗布予定線７に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出部１１４ｄを具備する。
このように構成することにより、塗布ライン２の蛇行量および塗布ライン２の幅を定量的に把握することが可能である。
特に、総合判定部１１４ｃによる塗布ライン２の判定結果が良好であっても、ワーク１に塗布ライン２を塗布する装置の状態が変化すればそれに応じて塗布ライン２の凸部および凹部の面積が変動することがあることから、総合判定部１１４ｃによる塗布ライン２の判定結果が不良となる前に塗布ライン２の凸部および凹部の面積の算出結果に基づいてワーク１に塗布ライン２を塗布する装置の状態の変化を察知することが可能であり、ワーク１に塗布ライン２を塗布する装置の作業歩留まりの向上（不良品の発生の防止）に寄与する。
【０１２７】
また、検査装置１００の位置補正画像生成部１１２は、
位置補正画像３２におけるワーク１の塗布予定線７の長手方向が位置補正画像３２の画素の配列方向に一致するように塗布ライン画像３１を補正する。
このように構成することにより、一対の上限ライン８ａ・８ｂおよび一対の下限ライン９ａ・９ｂの長手方向が塗布ライン画像３１の画素の配列方向に一致する（塗布ライン画像３１の画素の配列方向と平行になる）こととなるので、簡単な演算で二値化画像３３ａと上限マスク画像４１との論理積および二値化画像３３ｂと下限マスク画像４２との論理積を算出することが可能である。
また、塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出する際には区画線３４ａの長手方向が塗布ライン画像３１の画素の配列方向に一致する（塗布ライン画像３１の画素の配列方向と平行になる）こととなるので、簡単な演算で塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出することが可能である。
【０１２８】
以下では、図１５を用いて検査システム５２について説明する。
図１５に示す検査システム５２はワーク１に塗布された塗布ライン２を検査するためのシステムであり、撮像装置７０、支持装置７５および検査装置２００を具備する。
ここで、撮像装置７０は図１における撮像装置７０と略同じ構成であることから説明を省略する。
【０１２９】
支持装置７５は撮像装置７０を姿勢変更可能に支持する装置である。ここで、「撮像装置７０を姿勢変更可能に支持する」とは、撮像装置７０の撮像方向を変更する（傾ける）こと、撮像装置７０をワーク１に対して接近および離間する方向に移動すること、および撮像装置７０をワーク１において塗布ライン２が塗布される面に平行な方向に移動することが可能な状態で撮像装置７０を支持することを指す。
支持装置７５はヒンジおよびリニアガイド等により連結された複数の部材と、これら複数の部材を相対移動あるいは回転移動させるためのアクチュエータ群とを具備する。
【０１３０】
検査装置２００は本発明に係る塗布ライン検査装置の第二実施形態であり、検査装置本体２１０、入力装置２２０および表示装置２３０を具備する。
なお、入力装置２２０および表示装置２３０については図１に示す入力装置２２０および表示装置２３０と略同じ構成であることから説明を省略する。
【０１３１】
検査装置本体２１０は撮像装置７０に接続される。検査装置本体２１０は、撮像装置７０により撮像されて生成された塗布ライン画像３１（より厳密には、塗布ライン画像３１を構成する各画素の座標および輝度に係る情報）を取得することが可能である。
【０１３２】
検査装置本体２１０は支持装置７５、より厳密には支持装置７５を構成するアクチュエータ群に接続される。
【０１３３】
以下では、検査装置本体２１０の構成の詳細について説明する。
検査装置本体２１０は、機能的には記憶部２１１、二値化画像生成部２１３および塗布ライン判定部２１４および撮像装置位置制御部２１５を具備する。
なお、記憶部２１１、二値化画像生成部２１３および塗布ライン判定部２１４については図１に示す記憶部１１１、二値化画像生成部１１３および塗布ライン判定部１１４と略同じ構成であることから説明を省略する。
【０１３４】
撮像装置位置制御部２１５は撮像装置７０の位置、より詳細には撮像装置７０がワーク１およびワーク１に塗布された塗布ライン２を撮像する位置を補正するものである。
実体的には、検査装置本体２１０が、検査装置本体２１０に格納された塗布ライン検査プログラムに従って所定の演算等を行うことにより、撮像装置位置制御部２１５としての機能を果たす。
【０１３５】
撮像装置位置制御部２１５は撮像装置７０により撮像される塗布ライン画像３１におけるワーク１（塗布ライン画像３１に写っているワーク１）の「特徴点」に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正し、補正後に撮像装置７０にワーク１およびワーク１に塗布された塗布ライン２を撮像させることにより位置補正画像３２を生成する。
【０１３６】
支持装置７５および撮像装置位置制御部２１５を合わせたものは、本発明に係る撮像位置補正部の実施の一形態であり、撮像装置７０の撮像方向およびワーク１と撮像装置７０との相対位置を補正するものである。
【０１３７】
以上の如く構成することにより、検査装置２００は図１における位置補正画像生成部１１２を省略しても実質的には図１における検査システム５１と同様の効果を奏する。
なお、本実施形態では撮像装置７０を適宜相対移動あるいは傾斜させることにより撮像装置７０の撮像方向およびワーク１と撮像装置７０との相対位置を補正する構成としたが、本発明はこれに限定されず、撮像装置を固定しておき、ワークを適宜相対移動あるいは傾斜させることにより撮像装置の撮像方向およびワークと撮像装置との相対位置を補正する構成としても良い。
【０１３８】
以下では、図１６を用いて検査システム５３について説明する。
図１６に示す検査システム５３はワーク１に塗布された塗布ライン２を検査するためのシステムであり、ワーク位置決め治具１５、撮像装置７０および検査装置３００を具備する。
ここで、撮像装置７０は図１における撮像装置７０と略同じ構成であることから説明を省略する。
【０１３９】
ワーク位置決め治具１５はワーク１を所定の撮像位置に固定するものである。
ワーク位置決め治具１５は基板１５ａおよび係止突起１５ｂ・１５ｂ・・・を具備する。
基板１５ａは板状の部材であり、その上面にはワーク１が載置される。基板１５ａは撮像装置７０との相対的な位置が固定される。
係止突起１５ｂ・１５ｂ・・・は基板１５ａの上面に形成された突起である。係止突起１５ｂ・１５ｂ・・・はそれぞれ基板１５ａの上面に載置されたワーク１の側面に当接する。ワーク１は係止突起１５ｂ・１５ｂ・・・により基板１５ａの上面に平行な方向への移動および回転が規制される。
その結果、ワーク位置決め治具１５の基板１５ａの上面に載置されたワーク１と撮像装置７０との相対位置および撮像装置７０の撮像方向が一義的に定まる。
【０１４０】
以上の如く構成することにより、検査装置３００は図１における位置補正画像生成部１１２を省略しても実質的には図１における検査システム５１と同様の効果を奏する。
なお、撮像装置７０の撮像方向およびワーク１と撮像装置７０との相対位置を一義的に決定する手段は本実施形態の如きワーク位置決め治具１５に限定されず、種々の構成が考えられる。他の構成としては、ワークをマニピュレータで把持してハンドリングするような作業を行う場合において当該マニピュレータが所定の姿勢をとっているときに撮像する構成が挙げられる。
【０１４１】
検査装置２００は本発明に係る塗布ライン検査装置の第二実施形態であり、検査装置本体２１０、入力装置２２０および表示装置２３０を具備する。
なお、入力装置２２０および表示装置２３０については図１に示す入力装置２２０および表示装置２３０と略同じ構成であることから説明を省略する。
【０１４２】
以下では図１７を用いて本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態について説明する。
本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態は検査システム５１を用いて塗布ライン２を検査する方法である。
【０１４３】
図１７に示す如く、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態は主として撮像・塗布ライン画像生成工程Ｓ１１００、位置補正画像生成工程Ｓ１２００、二値化画像生成工程Ｓ１３００および塗布ライン判定工程Ｓ１４００を具備する。
【０１４４】
撮像・塗布ライン画像生成工程Ｓ１１００はワーク１およびワーク１に塗布された塗布ライン２を撮像することにより、塗布ライン画像３１を生成する工程である。
撮像・塗布ライン画像生成工程Ｓ１１００が終了したら、位置補正画像生成工程Ｓ１２００に移行する。
【０１４５】
位置補正画像生成工程Ｓ１２００は塗布ライン画像３１におけるワーク１（塗布ライン画像３１に写っているワーク１）の特徴点（本実施形態の場合、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ）に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正することにより位置補正画像３２を生成する工程である。
位置補正画像生成工程Ｓ１２００が終了したら、二値化画像生成工程Ｓ１３００に移行する。
【０１４６】
二値化画像生成工程Ｓ１３００は位置補正画像３２に二値化処理を施すことにより二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂを生成する工程である。
二値化画像生成工程Ｓ１３００が終了したら、塗布ライン判定工程Ｓ１４００に移行する。
【０１４７】
塗布ライン判定工程Ｓ１４００は二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には塗布ライン２が良好であると判定し、二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には塗布ライン２が不良であると判定する工程である。
塗布ライン判定工程Ｓ１４００は主として上限判定工程Ｓ１４１０、下限判定工程Ｓ１４２０、総合判定工程Ｓ１４３０および凹凸面積算出工程Ｓ１４４０を具備する。
【０１４８】
上限判定工程Ｓ１４１０は上限マスク画像４１と二値化画像３３ａとの論理積に基づいて二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する工程である。
上限判定工程Ｓ１４１０が終了したら、下限判定工程Ｓ１４２０に移行する。
【０１４９】
下限判定工程Ｓ１４２０は下限マスク画像４２と二値化画像３３ｂとの論理積に基づいて二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する工程である。
下限判定工程Ｓ１４２０が終了したら、総合判定工程Ｓ１４３０に移行する。
【０１５０】
総合判定工程Ｓ１４３０は上限判定工程Ｓ１４１０において二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに下限判定工程Ｓ１４２０において二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には塗布ライン２が良好であると判定する工程である。
総合判定工程Ｓ１４３０が終了したら、凹凸面積算出工程Ｓ１４４０に移行する。
【０１５１】
凹凸面積算出工程Ｓ１４４０は凹凸面積算出用マスク画像４３と二値化画像３３ａとの論理積を、凹凸面積算出用マスク画像４３の区画線４３ａを塗布予定線７に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出する工程である。
凹凸面積算出工程Ｓ１４４０が終了したら、塗布ライン判定工程Ｓ１４００が終了する。
【０１５２】
以上の如く、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態は、
ワーク１およびワーク１に塗布された塗布ライン２を撮像することにより、塗布ライン画像３１を生成する撮像・塗布ライン画像生成工程Ｓ１１００と、
塗布ライン画像３１におけるワーク１（塗布ライン画像３１に写っているワーク１）の特徴点（本実施形態の場合、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ）に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正することにより位置補正画像３２を生成する位置補正画像生成工程Ｓ１２００と、
位置補正画像３２に二値化処理を施すことにより位置補正画像３２において塗布ライン２に対応する部分を抽出し、抽出した塗布ライン２に対応する部分を白色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である二値化画像３３ａを生成するとともに、抽出した塗布ライン２に対応する部分を黒色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である二値化画像３３ｂを生成する二値化画像生成工程Ｓ１３００と、
二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には塗布ライン２が良好であると判定し、二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には塗布ライン２が不良であると判定する塗布ライン判定工程Ｓ１４００と、
を具備する。
このように構成することにより、塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを検査することが可能である。
【０１５３】
また、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態の一対の上限ライン８ａ・８ｂは、
二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂにおけるワーク１上の予め設定された位置に予め設定された幅の塗布ライン２が塗布された場合の塗布ライン２の中心線となる塗布予定線７を挟み、かつ塗布予定線７に平行となる位置に設定され、
本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態の一対の下限ライン９ａ・９ｂは、
二値化画像３３ａおよび二値化画像３３ｂにおけるワーク１の塗布予定線７を挟み、塗布予定線７に平行となり、かつ一対の上限ライン８ａ・８ｂよりも塗布予定線７に近接する位置に設定される。
このように構成することは、以下の利点を有する。
すなわち、塗布ライン２の性状や用途等に応じて許容し得る塗布ライン２の幅の上限値および下限値、並びに許容し得る塗布ライン２の蛇行量の上限値に対応する塗布予定線７から一対の上限ライン８ａ・８ｂまでの距離および塗布予定線７から一対の下限ライン９ａ・９ｂまでの距離を選択することにより、検査装置１００の判定精度が向上する。
【０１５４】
また、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態の塗布ライン判定工程Ｓ１４００は、
上限マスク画像４１と二値化画像３３ａとの論理積に基づいて二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあるか否かを判定する上限判定工程Ｓ１４１０と、
下限マスク画像４２と二値化画像３３ｂとの論理積に基づいて二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあるか否かを判定する下限判定工程Ｓ１４２０と、
を具備する。
このように構成することにより、簡単な演算で塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを判定することが可能である。
【０１５５】
また、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態の塗布ライン判定工程Ｓ１４００は、
上限判定工程Ｓ１４１０において二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあると判定するとともに下限判定工程Ｓ１４２０において二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあると判定した場合には塗布ライン２が良好であると判定する総合判定工程Ｓ１４３０を具備する。
このように構成することにより、塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを検査することが可能である。
【０１５６】
また、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態の塗布ライン判定工程Ｓ１４００は、
凹凸面積算出用マスク画像４３と二値化画像３３ａとの論理積を、凹凸面積算出用マスク画像４３の区画線４３ａを塗布予定線７に垂直な方向にシフトしつつ算出することにより二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出する凹凸面積算出工程Ｓ１４４０を具備する。
このように構成することにより、塗布ライン２の蛇行量および塗布ライン２の幅を定量的に把握することが可能である。
【０１５７】
また、本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態は、
位置補正画像生成工程Ｓ１２００において、
位置補正画像３２におけるワーク１の塗布予定線７の長手方向が位置補正画像３２の画素の配列方向に一致するように塗布ライン画像３１を補正する。
このように構成することにより、一対の上限ライン８ａ・８ｂおよび一対の下限ライン９ａ・９ｂの長手方向が塗布ライン画像３１の画素の配列方向に一致する（塗布ライン画像３１の画素の配列方向と平行になる）こととなるので、簡単な演算で二値化画像３３ａと上限マスク画像４１との論理積および二値化画像３３ｂと下限マスク画像４２との論理積を算出することが可能である。
また、塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出する際には区画線３４ａの長手方向が塗布ライン画像３１の画素の配列方向に一致する（塗布ライン画像３１の画素の配列方向と平行になる）こととなるので、簡単な演算で塗布ライン２の凸部および凹部の面積を算出することが可能である。
【０１５８】
本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態では上限判定工程Ｓ１４１０→下限判定工程Ｓ１４２０→総合判定工程Ｓ１４３０→凹凸面積算出工程Ｓ１４４０の順に行う構成としたが、本発明はこれに限定されず、上限判定工程Ｓ１４１０、下限判定工程Ｓ１４２０および凹凸面積算出工程Ｓ１４４０を行う順序を任意に変更した構成としても良く、上限判定工程Ｓ１４１０、下限判定工程Ｓ１４２０および凹凸面積算出工程Ｓ１４４０のうちの二つまたは三つの工程を同時並行的に行う構成としても良い。
【０１５９】
また、図１８に示す本発明に係る塗布ライン検査方法の第二実施形態の如く、総合判定工程Ｓ１４３０における判定結果が良好である場合には凹凸面積算出工程Ｓ１４４０に移行し、総合判定工程Ｓ１４３０における判定結果が良好である場合には凹凸面積算出工程Ｓ１４４０に移行せずに塗布ライン２の検査を終了する構成としても良い。
これは、塗布ライン２の凸部および凹部の面積の算出結果をワーク１に塗布ライン２を塗布する装置の状態の変化を察知することによりワーク１に塗布ライン２を塗布する装置の作業歩留まりの向上（不良品の発生の防止）を図る目的に用いる場合に特に有効である。
【０１６０】
また、図１９に示す本発明に係る塗布ライン検査方法の第三実施形態の如く、上限判定工程Ｓ１４１０における判定結果が良好である場合には下限判定工程Ｓ１４２０に移行し、上限判定工程Ｓ１４１０における判定結果が不良である場合には下限判定工程Ｓ１４２０に移行せずに塗布ライン２の検査を終了し、下限判定工程Ｓ１４２０における判定結果が良好である場合には凹凸面積算出工程Ｓ１４４０に移行し、下限判定工程Ｓ１４２０における判定結果が不良である場合には凹凸面積算出工程Ｓ１４４０に移行せずに塗布ライン２の検査を終了することにより、総合判定工程Ｓ１４３０を省略する構成としても良い。
【０１６１】
以下では、本発明に係る塗布ライン検査プログラムの実施の一形態について説明する。
本発明に係る塗布ライン検査プログラムの実施の一形態は、図１に示す検査装置１００の検査装置本体１１０に格納されたものであり、
コンピュータ（本実施形態では検査装置本体１１０）に、
撮像装置７０がワーク１およびワーク１に塗布された線状の塗布物である塗布ライン２を撮像することにより生成した塗布ライン画像３１におけるがワーク１の所定の特徴点（本実施形態の場合、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ）に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正した画像である位置補正画像３２を生成する位置補正画像生成機能と、
位置補正画像３２に二値化処理を施すことにより、位置補正画像３２のうち塗布ライン２に対応する部分を白色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像（二値化画像３３ａ）を生成するとともに、位置補正画像３２のうち塗布ライン２に対応する部分を黒色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像（二値化画像３３ｂ）を生成する二値化画像生成機能と、
二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には塗布ライン２が良好であると判定し、二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には塗布ライン２が不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるためのものである。
このように構成することにより、塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを検査することが可能である。
【０１６２】
以下では、本発明に係る塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体の実施の一形態について説明する。
本発明に係る塗布ライン検査プログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体の実施の一形態は、図１に示す検査装置１００の検査装置本体１１０に格納された塗布ライン検査プログラムをコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に記憶したものであり、
コンピュータ（本実施形態では検査装置本体１１０）に、
撮像装置７０がワーク１およびワーク１に塗布された線状の塗布物である塗布ライン２を撮像することにより生成した塗布ライン画像３１におけるがワーク１の所定の特徴点（本実施形態の場合、ボルト孔１ａ・１ｂ・１ｃ）に基づいて塗布ライン画像３１におけるワーク１の位置を補正した画像である位置補正画像３２を生成する位置補正画像生成機能と、
位置補正画像３２に二値化処理を施すことにより、位置補正画像３２のうち塗布ライン２に対応する部分を白色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を黒色に変換した画像である第一の二値化画像（二値化画像３３ａ）を生成するとともに、位置補正画像３２のうち塗布ライン２に対応する部分を黒色に変換するとともに塗布ライン２に対応する部分以外の部分を白色に変換した画像である第二の二値化画像（二値化画像３３ｂ）を生成する二値化画像生成機能と、
二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることの両方が満たされる場合には塗布ライン２が良好であると判定し、二値化画像３３ａにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ａにおける一対の上限ライン８ａ・８ｂで挟まれる領域の内側にあることおよび二値化画像３３ｂにおける塗布ライン２の一対の境界線２ａ・２ｂの全てが予め設定された二値化画像３３ｂにおける一対の下限ライン９ａ・９ｂで挟まれる領域の外側にあることのうち少なくとも一方が満たされない場合には塗布ライン２が不良であると判定する塗布ライン判定機能と、
を実現させるためのものである。
このように構成することにより、塗布ライン２が蛇行することをある程度許容しつつ塗布ライン２の幅が適正であるか否かを検査することが可能である。
「コンピュータ読み取り可能な記憶媒体」の具体例としては、フレキシブルディスクカートリッジ、メモリーカード、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＨＤＤ等が挙げられる。
【図面の簡単な説明】
【０１６３】
【図１】本発明に係る塗布ライン検査装置の第一実施形態を具備する検査システムを示す図。
【図２】塗布ライン画像の一例を示す図。
【図３】位置補正画像の一例を示す図。
【図４】第一の二値化画像の一例を示す図。
【図５】第二の二値化画像の一例を示す図。
【図６】塗布予定線、一対の上限ラインおよび一対の下限ラインの関係を示す図。
【図７】上限マスク画像の一例を示す図。
【図８】上限論理積画面の一例を示す図。
【図９】下限マスク画像の一例を示す図。
【図１０】下限論理積画面の一例を示す図。
【図１１】塗布ラインの凹部および凸部を示す図。
【図１２】塗布ラインに凹部および凸部が形成されていない場合の二値化画像、凹凸面積算出用マスク画像および凹凸論理積画像の関係を示す図。
【図１３】塗布ラインに凹部が形成されている場合の二値化画像、凹凸面積算出用マスク画像および凹凸論理積画像の関係を示す図。
【図１４】塗布ラインに凸部が形成されている場合の二値化画像、凹凸面積算出用マスク画像および凹凸論理積画像の関係を示す図。
【図１５】本発明に係る塗布ライン検査装置の第二実施形態を具備する検査システムを示す図。
【図１６】本発明に係る塗布ライン検査装置の第三実施形態を具備する検査システムを示す図。
【図１７】本発明に係る塗布ライン検査方法の第一実施形態を示すフロー図。
【図１８】本発明に係る塗布ライン検査方法の第二実施形態を示すフロー図。
【図１９】本発明に係る塗布ライン検査方法の第三実施形態を示すフロー図。
【符号の説明】
【０１６４】
１                ワーク
１ａ・１ｂ・１ｃ  ボルト孔（特徴点）
２                塗布ライン
２ａ・２ｂ        境界線
８ａ・８ｂ        上限ライン
９ａ・９ｂ        下限ライン
３１              塗布ライン画像
３２              位置補正画像
３３ａ            二値化画像（第一の二値化画像）
３３ｂ            二値化画像（第二の二値化画像）
５０              検査システム
７０              撮像装置
１００            検査装置（塗布ライン検査装置の実施の一形態）
１１２            位置補正画像生成部
１１３            二値化画像生成部
１１４            塗布ライン判定部
【図１】
2009180613.tif 000003
【図２】
2009180613.tif 000004
【図３】
2009180613.tif 000005
【図４】
2009180613.tif 000006
【図５】
2009180613.tif 000007
【図６】
2009180613.tif 000008
【図７】
2009180613.tif 000009
【図８】
2009180613.tif 000010
【図９】
2009180613.tif 000011
【図１０】
2009180613.tif 000012
【図１１】
2009180613.tif 000013
【図１２】
2009180613.tif 000014
【図１３】
2009180613.tif 000015
【図１４】
2009180613.tif 000016
【図１５】
2009180613.tif 000017
【図１６】
2009180613.tif 000018
【図１７】
2009180613.tif 000019
【図１８】
2009180613.tif 000020
【図１９】
2009180613.tif 000021