(57)【要約】【課題】量産テストでの使用に適したイコライザのテスト回路および集積回路の評価システムを提供する。【解決手段】テスト回路１は、擬似乱数データ生成部１１が、擬似乱数データを生成し、重み付け係数生成部１２が、符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成し、擬似符号間干渉データ生成部１３が、擬似乱数データのビット系列に応じて擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成し、ドライバ１４が、生成された擬似符号間干渉データを差動信号として出力する。比較部１５は、イコライザ１００の出力をサンプリング回路２００によりサンプリングしたデータを、符号間干渉発生前の元の擬似乱数データと比較し、カウント部１６が、比較部１５により検出された不一致の数をカウントする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成手段と、
符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成手段と、
前記擬似乱数データのビット系列に応じて前記擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、前記重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成手段と、
前記擬似符号間干渉データを差動信号として出力するドライバと、
前記ドライバから出力された前記差動信号に対する前記イコライザの出力データを前記擬似乱数データ生成手段により生成された前記擬似乱数データと比較する比較手段と、
前記比較手段により検出された不一致の数をカウントするカウント手段と
を備えることを特徴とするイコライザのテスト回路。
【請求項２】
前記重み付け係数生成手段が、ｎ個の重み付け係数を生成し、
前記擬似符号間干渉データ生成手段が、
前記擬似乱数データの現在のデータに対してｎビット前までのビット系列に応じた擬似的な符号間干渉を発生させ、前記ｎ個の重み付け係数により振幅を調整する
ことを特徴とする請求項１に記載のイコライザのテスト回路。
【請求項３】
前記重み付け係数生成手段により生成する前記重み付け係数の値を変化させ、その変化に対する前記カウント手段のカウント値の変化特性により前記イコライザの性能を評価することを特徴とする請求項１または２に記載のイコライザのテスト回路。
【請求項４】
イコライザが内蔵される集積回路の外部に、
擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成手段と、
符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成手段と、
前記擬似乱数データのビット系列に応じて前記擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、前記重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成手段と
を設け、
前記集積回路の内部に、
前記ドライバから出力された前記差動信号に対する前記イコライザの出力データを前記擬似乱数データ生成手段により生成された前記擬似乱数データと比較する比較手段と、
前記比較手段により検出された不一致の数をカウントするカウント手段と
を備え、
前記ドライバを前記イコライザに接続して前記イコライザの評価を行う
ことを特徴とする集積回路の評価システム。
【請求項５】
前記重み付け係数生成手段により生成する前記重み付け係数の値を変化させ、その変化に対する前記カウント手段のカウント値の変化特性により前記イコライザの性能を評価することを特徴とする請求項４に記載の集積回路の評価システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、イコライザのテスト回路および集積回路の評価システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ケーブル伝送路を用いた高速差動信号伝送では、ケーブルで発生する符号間干渉（ＩＳＩ）により高周波の信号ほど減衰が大きくなる。そこで、このケーブルを通過した差動信号を受信する、例えば、集積回路では、内蔵したイコライザにより、減衰した高周波成分を補正し、元の信号波形へ戻すことが行なわれている。
【０００３】
このようなイコライザを内蔵する集積回路の評価を行う場合、イコライザの性能評価を行う必要があり、そのための性能評価方法が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
従来、このようなイコライザの試験を行なう場合、例えば擬似乱数発生器などの高周波の信号発生器から出力される信号を、ケーブル特性を模したケーブルエミュレータ（もしくは実際のケーブル）を介してイコライザへ入力するようにしているため、高速で動作する高周波の信号発生器およびケーブルエミュレータが必要であった。
【０００５】
しかし、高速の信号発生器は非常に高価であり、また、ケーブルエミュレータは伝送線路の劣化を再現するのが非常に困難であるため、集積回路の量産テストでの使用には不向きである、という問題があった。
【特許文献１】特開平８−１８１６３８号公報  （第２ページ、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明の目的は、量産テストでの使用に適したイコライザのテスト回路および集積回路の評価システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によれば、擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成手段と、符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成手段と、前記擬似乱数データのビット系列に応じて前記擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、前記重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成手段と、前記擬似符号間干渉データを差動信号として出力するドライバと、前記ドライバから出力された前記差動信号に対する前記イコライザの出力データを前記擬似乱数データ生成手段により生成された前記擬似乱数データと比較する比較手段と、前記比較手段により検出された不一致の数をカウントするカウント手段とを備えることを特徴とするイコライザのテスト回路が提供される。
【０００８】
また、本発明の別の一態様によれば、イコライザが内蔵される集積回路の外部に、擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成手段と、符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成手段と、前記擬似乱数データのビット系列に応じて前記擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、前記重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成手段とを設け、前記集積回路の内部に、前記ドライバから出力された前記差動信号に対する前記イコライザの出力データを前記擬似乱数データ生成手段により生成された前記擬似乱数データと比較する比較手段と、前記比較手段により検出された不一致の数をカウントするカウント手段とを備え、前記ドライバを前記イコライザに接続して前記イコライザの評価を行うことを特徴とする集積回路の評価システムが提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、イコライザを内蔵する集積回路の量産テストを容易に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１１】
図１は、本発明の実施例１に係るイコライザのテスト回路の構成の例を示すブロック図である。
【００１２】
本実施例のテスト回路１は、入力端子ＩＮＰ、ＩＮＮから入力される差動信号の高周波成分の波形等価を行うイコライザ１００のテストを行う回路であり、擬似乱数データを生成する擬似乱数データ生成部１１と、符号間干渉の干渉強度設定用の重み付け係数を生成する重み付け係数生成部１２と、生成された擬似乱数データのビット系列に応じて擬似乱数データに擬似的な符号間干渉を発生させ、上述の重み付け係数により振幅を変化させた擬似符号間干渉データを生成する擬似符号間干渉データ生成部１３と、生成された擬似符号間干渉データを差動信号として出力するするドライバ１４と、イコライザ１００の出力をサンプリング回路２００によりサンプリングしたデータを擬似乱数データ生成部１１により生成された、元の擬似乱数データと比較する比較部１５と、比較部１５により検出された不一致の数をカウントするカウント部１６と、を備える。
【００１３】
ここで、このテスト回路１は、イコライザ１００およびサンプリング回路２００とともに1つの集積回路に内蔵されるものとする。ドライバ１４の出力ＴＰ、ＴNは、テスト信号により開閉が制御されるスイッチＳＷ１、ＳＷ２を有するテスト回路接続部４００により、テスト時のみイコライザ１００に接続されるものとする。
【００１４】
また、イコライザ１００へ入力される差動信号は、終端部３００の抵抗Ｒ１、Ｒ２により終端電位Ｖｔｅｒｍに接続されるものとする。
【００１５】
擬似符号間干渉データ生成部１３は、擬似乱数データ生成部１１により出力された現在のデータに対して、予め定めたｎビット前までのビット系列に応じた擬似的な符号間干渉を発生させる。
【００１６】
重み付け係数生成部１２は、このビット系列のビット数ｎに応じて、ｎ個の重み付け係数を生成する。
【００１７】
擬似符号間干渉データ生成部１３は、重み付け係数生成部１２で生成されたｎ個の重み付け係数により、符号間干渉による振幅の変化を調整する。
【００１８】
図２に、ビット系列のビット数ｎを１（ｎ＝１）としたときの擬似符号間干渉データ生成部１３の回路構成の例を示す。
【００１９】
図２に示す回路では、擬似乱数データの現在のビットのデータＡ１と、擬似乱数データを１ビット遅延回路Ｚ−１で遅延させた１ビット前のデータＢ１とデータＡ１とが一致しているかどうかを示す信号Ｑ１とを演算回路１３へ入力し、１ビットの重み付け係数αとの演算を行っている。
【００２０】
この演算により、擬似符号間干渉データ生成部１３から出力される擬似符号間干渉データの信号強度Ｐは、現在のビットデータＡ１と１ビット前のデータＢ１の値が同じときは本来の信号強度のままとなり、現在のビットデータＡ１と１ビット前のデータＢ１の値が異なるときは重み付け係数α分減少する。
【００２１】
すなわち、データ値１に対する本来の信号強度をＩ、データ値０に対する本来の信号強度を０とすると、Ａ１＝１のときＢ＝０ならばＰ＝Ｉ−αとなり、Ａ１＝０のときＢ＝１ならばＰ＝αとなる。
【００２２】
この信号強度Ｐは、次に接続されるドライバ１４の出力調整に使用される。これにより、ドライバ１４の出力振幅は、擬似乱数データの現在のビットと１ビット前の信号系列により変化する。現在のビットと１ビット前の信号の間の値の変化が頻繁、すなわち高周波であるほど、ドライバ１４の出力の振幅が減衰する頻度、すなわち符号間干渉の発生頻度も高くなる。
【００２３】
図３は、ドライバ１４の具体的な回路例であるが、ここでは、図２に示した演算部１３１と一体化して形成した回路の例を示す。
【００２４】
入力Ａ１の値により、トランジスタＴ１あるいはＴ２のいずれかが導通して電流源（Ｉ−α）に接続され、入力Ｑ１の値により、トランジスタＴ３あるいはＴ４のいずれかが導通して電流源αに接続される。
【００２５】
ドライバ１４の出力ＴＰには、トランジスタＴ２とＴ４を流れる電流を加算した電流が出力され、出力ＴＮには、トランジスタＴ１とＴ３を流れる電流を加算した電流が出力される。なお、ドライバ１４の出力ＴＰ、ＴＮは、テスト時にはテスト回路接続部４００により終端部３００に接続され、終端電位Ｖｔｅｒｍに接続される。
【００２６】
図４に、図３に示したドライバ１４の出力波形の例を示す。
【００２７】
擬似乱数データ生成部１１から出力される擬似乱数データＡ１の変化が頻繁であると、ドライバ１４の出力ＴＰ、ＴＮの振幅は減衰する。その減衰の程度は、重み付け係数αに依存する。重み付け係数αの値が大きいほど、出力ＴＰ、ＴＮの振幅の減衰も大きくなる。
【００２８】
そこで、ドライバ１４の出力の出力をイコライザ１００へ入力し、重み付け係数αをパラメータとしてカウント部１６から出力されるエラー数を観測すると、重み付け係数αが大きいほど、カウント部１６から出力されるエラー数は増加する。これは、重み付け係数αが大きいほどイコライザ１００へ入力される信号の高周波成分の減少が大きいためイコライザ１００による高周波成分の増幅が不足し、サンプリング回路２００によりサンプリングされたデータが元の擬似乱数データとは異なるデータとなることに由来する。
【００２９】
したがって、重み付け係数αをパラメータとして、カウント部１６から出力されるエラー数を観測することにより、イコライザ１００の等価性能を評価することができる。
【００３０】
図５に、重み付け係数αとカウント部１６から出力されるエラー数の関係にもとづいて、イコライザ１００の等価性能の評価を行ったときの例を示す。
【００３１】
図５（ａ）は、重み付け係数αの規定値α０に対して、エラー数の規定値をＥ０としたときに、カウント部１６でカウントされたエラー数の実測値ＥがＥ０以下（Ｅ≦Ｅ０）であったときの例を示す。この場合は、イコライザ１００の等価性能は良好と判定される。
【００３２】
一方、図５（ｂ）は、重み付け係数αの規定値α０に対して、カウント部１６でカウントされたエラー数の実測値Ｅが規定値Ｅ０より大（Ｅ＞Ｅ０）であったときの例を示す。この場合は、イコライザ１００の等価性能は不良と判定される。
【００３３】
このような本実施例によれば、符号間干渉を擬似的に発生させた擬似符号間干渉データを容易に生成することができ、その符号間干渉による高周波成分の減衰の程度を重み付け係数により任意に設定することができる。したがって、この重み付け係数をパラメータとして、イコライザの等価性能の評価を容易に行うことができる。これにより、イコライザ評価用の高速の信号発生器やケーブルエミュレータが不要となり、テストコストを削減することができる
また、テスト回路をイコライザを内蔵する集積回路に一緒に内蔵することにより、集積回路単体での自己診断が可能であり、イコライザを内蔵する集積回路の量産テストを容易に行うことができる。
【実施例２】
【００３４】
実施例１では、符号間干渉に関係するビット系列のビット数ｎをｎ＝１としたときの擬似符号間干渉データ生成部１３の回路構成の例を示したが、本実施例では、ｎ＝２としたときの擬似符号間干渉データ生成部１３Ａの回路構成の例を示す。なお、この場合、重み付け係数生成部１２からは、２個の重み付け係数α、βが出力されるものとする。
【００３５】
図６は、この擬似符号間干渉データ生成部１３Ａの回路構成の例を示すブロック図である。
【００３６】
図６に示す回路では、擬似乱数データの現在のビットのデータＡ１と、擬似乱数データを１ビット遅延回路Ｚ−１で遅延させた１ビット前のデータＢ１と、データＢ１をさらに１ビット遅延回路Ｚ−１で遅延させた２ビット前のデータＣ１との間でのデータの一致度を示す信号Ｑ１およびＱ２を生成し、データＡ１と、信号Ｑ１およびＱ２を演算回路１３１Ａへ入力し、重み付け係数α、βとの演算を行っている。
【００３７】
信号Ｑ１は、データＡ１とデータＢ１との一致度を示し、信号Ｑ２は、データＢ１とデータＣ１との一致度に対するデータＡ１の一致度を示す。すなわち、信号Ｑ１は、現在のビットに対する１ビット前のデータの変化の傾向を示し、信号Ｑ２は、現在のビットに対する１ビット前および２ビット前のデータの変化の傾向を示す。
【００３８】
演算回路１３１Ａは、データＡ１を（Ｉ−α−β）で重み付けし、信号Ｑ１をαで重み付けし、信号Ｑ２をβで重み付けし、その結果を加算する。
【００３９】
この演算により、擬似符号間干渉データ生成部１３Ａから出力される擬似符号間干渉データの信号強度Ｐは、現在のビットのデータＡ１と１ビット前のデータＢ１と２ビット前のデータＣ１の値が同じときは本来の信号強度のままとなり、それぞれの値が異なるときは、その値の変化の度合いにより、重み付け係数α、βおよびα＋β分減少する。
【００４０】
ここで、β＜αと設定すれば、現在のビットのデータに及ぼす２ビット前のデータの影響度を、１ビット前のデータの影響度よりも少なくすることができる。
【００４１】
図７に、図６に示した演算部１３１Ａと一体化して形成した、本実施例のドライバ１４Ａの具体的な回路の例を示す。
【００４２】
入力Ａ１の値により、トランジスタＴ１あるいはＴ２のいずれかが導通して電流源（Ｉ−α−β）に接続され、入力Ｑ１の値により、トランジスタＴ３あるいはＴ４のいずれかが導通して電流源αに接続され、入力Ｑ２の値により、トランジスタＴ５あるいはＴ６のいずれかが導通して電流源βに接続される。
【００４３】
ドライバ１４の出力ＴＰには、トランジスタＴ２とＴ４とＴ６とを流れる電流を加算した電流が出力され、出力ＴＮには、トランジスタＴ１とＴ３とＴ５とを流れる電流を加算した電流が出力される。なお、ドライバ１４の出力ＴＰ、ＴＮは、テスト時にはテスト回路接続部４００により終端部３００に接続され、終端電位Ｖｔｅｒｍに接続される。
【００４４】
図８に、図７に示したドライバ１４Ａの出力波形の例を示す。
【００４５】
図４に示した実施例１のドライバ１４の出力波形と比べると、本実施例では、より複雑な波形を出力することができる。
【００４６】
このような本実施例によれば、現在のビットよりも２ビット前までのデータの変化を現在のビットのデータに影響させることにより、より複雑な擬似的符号間干渉データを発生させることができる。これにより、より精度の高い、イコライザの等価特性の評価を行うことができる。
【実施例３】
【００４７】
本実施例では、実施例１で示したテスト回路１を、イコライザが内蔵される集積回路の内部と外部に分割して設け、イコライザの評価を行う集積回路の評価システムの例を示す。
【００４８】
図９に、本実施例の評価システムの構成の例を示す。
【００４９】
本実施例では、イコライザ１００が内蔵される集積回路１０００の内部に、比較部１５と、カウント部１６とを設け、集積回路１０００の外部に、擬似乱数データ生成部１１と、重み付け係数生成部１２と、擬似符号間干渉データ生成部１３と、ドライバ１４と、を設ける。
【００５０】
イコライザ１００のテストを行うときは、ドライバ１４の出力端子ＴＰ、ＴＮを、集積回路１０００の入力端子ＩＮＰ、ＩＮＮにそれぞれ接続し、擬似符号間干渉データ生成部１３で生成され、ドライバ１４で差動信号化された、擬似符号間干渉データをイコライザ１００へ入力する。
【００５１】
テスト回路１の動作自体は、実施例１と同じであるので、ここではその詳細な説明を省略する。
【００５２】
従来の、外付けの信号発生器およびケーブルエミュレータを用いてイコライザの評価を行う方法でも、イコライザが内蔵される集積回路の内部には、比較部と、カウント部とが設けられていた。
【００５３】
そこで、本実施例によれば、このような比較部とカウント部とを搭載した既設計の集積回路であっても、擬似符号間干渉データ生成部で生成される擬似符号間干渉データを用いたイコライザの評価が可能となり、イコライザを内蔵する集積回路の量産テストを容易に行うことができる。
【００５４】
また、擬似乱数データ生成部、重み付け係数生成部、擬似符号間干渉データ生成部およびドライバを搭載しないことにより、イコライザを内蔵する集積回路のチップサイズを小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の実施例１に係るイコライザのテスト回路の構成の例を示すブロック図。
【図２】実施例１の擬似符号間干渉データ生成部の構成の例を示すブロック図。
【図３】図２に示す演算部と一体化して形成したドライバの構成の例を示す回路図。
【図４】図３に示すドライバの出力波形の例を示す波形図。
【図５】重み付け係数とエラー数の関係を示す図。
【図６】本発明の実施例２に係る擬似符号間干渉データ生成部の構成の例を示すブロック図。
【図７】図６に示す演算部と一体化して形成したドライバの構成の例を示す回路図。
【図８】図７に示すドライバの出力波形の例を示す波形図。
【図９】本発明の実施例３に係る集積回路の評価システムの構成の例を示すブロック図。
【符号の説明】
【００５６】
１  テスト回路
１１  擬似乱数データ生成部
１２  重み付け係数生成部
１３、１３Ａ  擬似符号間干渉データ生成部
１４、１４Ａ  ドライバ
１５  比較部
１６  カウント部
１３１、１３１Ａ  演算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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