(57)【要約】【課題】  配管における隠蔽部を合理的に検査することの可能な海水配管検査方法及び各部位を迅速に検査することのできる検査方法を提供すること。【解決手段】  海水配管１００の内面を外面から検査する。フランジ１０４、貫通１０３又はサポートバンド１０５等による隠蔽部Ａ１の外部で配管のうち直管部Ａ２の外面に探触子１１を接触させる。探触子１１から隠蔽部Ａ１にガイド波を送信する。このガイド波を受信することにより、隠蔽部Ａ１における配管１００内面を検査する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
海水配管の内面を外面から検査する海水配管検査方法であって、フランジ、貫通又はサポートバンド等による隠蔽部の外部で前記配管のうち直管部（以下、「露出直管部」）の外面に探触子を接触させ、当該探触子から前記隠蔽部にガイド波を送信し、このガイド波を受信することにより、当該隠蔽部における配管内面を検査する海水配管検査方法。
【請求項２】
前記配管の内面に腐食防止用のライニングが施されている請求項１記載の海水配管検査方法。
【請求項３】
前記露出直管部の外面に磁気飽和型過流探傷装置を配置し、当該磁気飽和型過流探傷装置で前記露出直管部を走査することにより、前記露出直管部の内面を検査する請求項２記載の海水配管検査方法。
【請求項４】
マルチチャンネル式超音波探傷装置を前記海水配管の曲管部又は分岐部（以下、「曲管部等」）に配置し、当該マルチチャンネル式超音波探傷装置で当該曲管部等の外面を走査することにより、当該曲管部等の内面を検査する請求項２記載の海水配管検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、海水配管検査方法に関する。さらに詳しくは、海水配管の内面を外面から検査する海水配管検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
海水配管に限らず、配管の内面を外面から検査するのに利用できる方法としては、次の特許文献１，２に記載のものが知られている。特許文献１はガイド波を用いる方式であり、特許文献２はマルチチャンネル式超音波探傷装置を用いるものである。しかし、両方式共、海水配管等について、好適に用いられる検査部位については示唆がみられない。
【０００３】
ところで、海水配管は配管内部を流れる海水により配管内面の腐食が激しく、運転中に漏洩を生じてはならない。また、海水配管の内面には貝等が付着し、その除去作業に伴い内面保護ライニングの剥離が不測に発生する。そして、ライニング剥離部が特定困難であることから、腐食部を特定することも困難であり、このため配管外部から配管内面の腐食等による減肉状況を配管全長にわたって迅速に把握できる検査法が求められている。
【０００４】
配管の検査に当たり、最も困難な部位は、探触子を設置困難であるという点から、フランジ、貫通又はサポートバンド等による隠蔽部であり、そのような部位の合理的な検査方法が求められている。また、配管内面の腐食等による減肉状況を配管全長にわたって把握する必要があることから、各部位を迅速に検査することのできる検査方法が求められている。
【特許文献１】特開２００８−６４５４０号公報
【特許文献２】特開２００６−２３４７７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
かかる従来の実情に鑑みて、本発明の第一の目的は、配管における隠蔽部を合理的に検査することの可能な海水配管検査方法を提供することにある。
【０００６】
また、本発明の第二の目的は、各部位を迅速に検査することのできる検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記第一の目的を達成するため、本発明に係る海水配管検査方法の特徴は、海水配管の内面を外面から検査する方法において、フランジ、貫通又はサポートバンド等による隠蔽部の外部で前記配管のうち直管部（以下、「露出直管部」）の外面に探触子を接触させ、当該探触子から前記隠蔽部にガイド波を送信し、このガイド波を受信することにより、当該隠蔽部における配管内面を検査することにある。
【０００８】
同方法によれば、直管部は探触子を設置しやすく、検査効率がよい。しかも、発明者らの実験によれば、ガイド波を利用すれば、隠蔽部を確実に検査できることが判明した。
【０００９】
特に、貝等の除去の必要性を考慮すれば、前記配管の内面に腐食防止用のライニングが施されている構成に特に好適に実施することができる。
【００１０】
また、上記第二の目的を達成するため、上記両構成に加え、前記露出直管部の外面に磁気飽和型過流探傷装置を配置し、当該磁気飽和型過流探傷装置で前記露出直管部を走査することにより、前記露出直管部の内面を検査することが望ましい。発明者らの実験によれば、ライニング等の剥離部に生じるきずは、きず体積と検査値とがほぼ比例することが判明し、当該部位に好適に、且つ、効率的に実施できることが判明した。さらに、直管部は探触子を設置しやすく、検査のための配管側準備がガイド波検査と共通で済み、省力化がより一層推進できる。
【００１１】
さらに、上記構成に加え、マルチチャンネル式超音波探傷装置を前記海水配管の曲管部又は分岐部（以下、「曲管部等」）に配置し、当該マルチチャンネル式超音波探傷装置で当該曲管部等の外面を走査することにより、当該曲管部等の内面を検査するとよい。同方法によれば、曲管部等の検査時間の短縮が図れ、変形部の検査が行えるようになった。そして、これにより全面検査が可能となった。
【発明の効果】
【００１２】
このように、上記本発明の特徴によれば、配管における隠蔽部を合理的に検査することの可能な海水配管検査方法を提供することが可能となった。
【００１３】
また、各部位を迅速に検査することのできる検査方法を提供することも可能となった。そして、これらを組み合わせ、海水配管外部から配管内面の腐食等による減肉状況を配管全長にわたって迅速に把握可能となった。
【００１４】
本発明の他の目的、構成及び効果については、以下の発明の実施の形態の項から明らかになるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
次に、適宜添付図面を参照しながら、本発明をさらに詳しく説明する。
本発明に係る海水配管検査装置１の検査対象は、発電設備等に設置される海水配管１００である。図１に示すように、この海水配管１００は、直管１０１とエルボー１０２を適宜連結して構成され、貫通孔１０３ａにより壁体１０３を貫通させてある。また、海水配管１００には、適宜フランジ１０４やサポートバンド１０５を設けてある。
【００１６】
この海水配管検査装置１は、大略、超音波探傷装置１０、磁気飽和式渦流探傷装置２０及びマルチチャンネル式超音波探傷装置３０よりなる。超音波探傷装置１０は、ガイド波を用いて海水配管１００の外面が露出していない隠蔽部Ａ１の検査に用いられる。本実施形態において、隠蔽部Ａ１は、海水配管１００が貫通する壁体１０３の貫通孔１０３ａ近傍の壁貫通部Ａ１ａ、フランジ１０４に覆われるフランジ部Ａ１ｂ及びサポートバンド１０５に覆われるサポートバンド部Ａ１ｃである。磁気飽和式渦流探傷装置２０は、上述の隠蔽部Ａ１の外部で海水配管１００の直管部（以下、露出直管部Ａ２）である直管１０１の検査に用いられる。また、マルチチャンネル式超音波探傷装置３０は、海水配管１００の曲管部等Ａ３であるエルボー１０２の検査に用いられる。
【００１７】
図２、３に示すように、この海水配管１００の内面には、防食のためにライニング１１０が施されている。ライニング１１０の種類としては、例えばゴムライニング、エポキシライニングが用いられ、その厚さは通常２〜４ｍｍ程度である。
【００１８】
ところで、ライニングを施していない配管の場合、内部流体の流速変化部やスケール堆積部などが腐食減肉する傾向にあり、ある程度減肉される位置が推定可能である。そのため、腐食減肉傾向の強い位置を検査部位としておくことで、配管の内容物の漏洩を抑制することができる。
【００１９】
しかし、本発明の検査対象となる海水配管１００では、ライニング１１０内面に貝等が付着するため、プラントの運転を安定させるために定期的に貝等を除去する必要がある。貝等の除去は金属ヘラ等を使用して人的に除去するため、除去作業時にライニング１１０を破損させてしまう場合がある。その破損部分から海水が浸透し海水配管１００内面に腐食が生じることとなる。そのため、腐食が発生する部位を予測して管理することは困難であり、海水配管１００の内面全面について検査する必要がある。ライニング加工の性質上、図３に示す如き屈曲部分等においても破損しやすい。
【００２０】
また、貝等の除去はプラントの運転を停止し海水配管１００を分解して行うので、プラントの効率運転のために停止時間を出来るだけ短くする必要がある。そのため、最低限の配管補修や取替えのみとして、検査を運転中に実施しておき補修等の必要が認められた部分について材料などを手配し、次回の停止期間の補修を行うとよい。このように、プラント運転中に海水配管１００外面から効率よく且つ迅速に海水配管１００内面の腐食減肉が把握できる検査手法が求められている。
【００２１】
次に、超音波探傷装置１０で用いるガイド波について説明する。
ガイド波とは、縦波や横波等の超音波とは異なり、海水配管１００等の板状の対象物の肉厚全体が振動して伝播する波をいう。このガイド波は、海水配管１００の管軸方向Ｓに伝播する。
【００２２】
図２に示す如き壁体１０３の貫通孔１０３ａ近傍の検査では、壁体１０３と検査対象の海水配管１００の外表面との隙間が小さく直接探触子を設置することができず、従来の縦波等を使った超音波検査は不可能であった。また、図３に示す如きフランジ１０４の隠れ部１０４ａの検査は、従来、横波や縦波等を使った斜角探傷により行われていた。しかし、この手法では、海水配管１００の内表面や外表面での反射を繰り返して超音波を検査箇所に到達させるため、超音波が減衰して十分な検査が困難であった。サポートバンド１０５の内側の海水配管１００の検査についても、サポートバンド１０５を外さないと検査対象の海水配管１００外表面に探触子を設置することができない。サポートバンド１０５を外すためには、時間と費用がかかり、従来の縦波等を使った超音波検査は不可能であった。
【００２３】
そのため、上述のガイド波を用いることで、従来海水配管１００外面から検査が十分に行えなかった壁貫通部Ａ１ａ、フランジ部Ａ１ｂ、サポートバンド部Ａ１ｃ等による隠蔽部Ａ１の海水配管１００内面の減肉等の検査が可能となった。しかも、ガイド波は管軸方向Ｓに伝播するので、探触子の設置が容易な海水配管１００の露出直管部Ａ２外面に設置することができ、隠蔽部Ａ１を効率よく確実に検査することができる。
【００２４】
このガイド波を用いた超音波探傷装置１０は、図３に示すように、大略、超音波を送受信する探触子１１及び検出ユニット１２よりなる。探触子１１は、海水配管１００に超音波を送信して海水配管１００にガイド波を発生させると共に、ガイド波が伝播し海水配管１００内面のきず１２０で反射した反射波を受信する。この探触子１１は露出直管部Ａ１となる直管１０１上に設置され、超音波を送受信する。ガイド波の周波数は３００Ｈｚ〜８００Ｈｚである。なお、伝播したガイド波がきず１２０で反射した反射波を受信する例を示すが、きず１２０を透過した透過波を用いても構わない。
【００２５】
検出ユニット１２は、パルサーレシーバー１３、検出器１４、モニター１５よりなる。パルサーレシーバー１３は上述の探触子１１を介して超音波を送受信し、検出器１４で受信された信号を検出し、その結果はモニター１５に表示される。
【００２６】
ここで、上述の超音波探傷装置１０を用いた検査結果の例を図７に示す。図７ａはテストピースを用いた結果であり、図７ｂは実機の検査結果である。縦軸は探触子からの距離を示す。図７ａに示すように、φ５ｍｍ深さ１ｍｍ以上の模擬欠陥を明瞭に検出できることが判明した。また、図７ｂに示すように、実機の検査においても、φ８ｍｍ深さ２．１ｍｍの孔食を検出可能であることが判明した。このように、ガイド波を用いた検査により、露出直管部Ａ２から隠蔽部Ａ１を確実に検査できることが分かった。
【００２７】
次に、磁気飽和式渦流探傷の原理について説明する。
図４（ａ）に示すように、直管１０１等の鋼材等の強磁性体材料を直流磁化させると、磁化された直管１０１内には均一な磁束が発生する。このとき、同図（ａ）に示す如き、きずのない健全部に対して飽和磁束密度以下になるように磁界を与えると、図４（ｂ）に示すように、減肉等のきず１２０が存在し磁路が狭く（断面積が小さく）なった薄肉部１０１ｘでは局部的に磁束密度が増加する。すなわち、材料の磁気特性が変化することになる。この磁気特性の変化を渦流探傷で検出することで、材料の減肉を検出して磁気特性の変化量から減肉の大きさを評価するのが本実施形態に用いる磁気飽和式渦流探傷の原理である。加える磁界の強さは、断面積の変化に起因する磁束密度の変化によって、磁気特性ができる限り大きく影響する条件を選定することが望ましい。例えば、磁気特性として透磁率を考えた場合、その磁気ヒステリシス曲線から、飽和磁束密度の７０〜８０％程度が適している。
【００２８】
従来、海水配管１００の外面が露出した部分の検査は、放射線検査や超音波探傷で内面の腐食減肉を検出し測定していた。しかし、上述の磁気飽和式渦流探傷の原理を利用した検査手法を用いることで、海水配管１００内面の腐食減肉を効率よく行うことが可能となる。
【００２９】
上記原理を利用する磁気飽和式渦流探傷装置２０は、図４，５に示すように、大略、検査ヘッド２１と検出ユニット２７とよりなる。検査ヘッド２１は、励磁コイル２３と検出コイル２４からなる。励磁コイル２３の端部２３ａを介して露出直管部Ａ２である直管１０１内に磁束を発生させ、検出コイル２４により磁気特性の変化を検出する。この検査ヘッド２１は、ハンドル２２ａを設けたフレーム２２に取り付けられている。フレーム２２には車輪２５が設けてあり、検査ヘッド２１を管軸方向Ｓに走査可能としてある。本実施形態において、検査ヘッド２１は検出コイル２４を複数個並列に配置し、１回の探傷で幅１５０〜２００ｍｍ程度が検査範囲となるように、第一〜第四チャンネルＣＨ１〜４を備えている。
【００３０】
検出ユニット２７は、励磁コイル２３を励磁するための励磁電源２７ａと、検出コイルで受信した受信信号を検出する検出器２７ｂとを備え、その検出結果はモニター２７ｃに表示される。
【００３１】
ここで、図８，９を参照しながら、磁気飽和式渦流探傷の検出能力について説明する。
図８ａにテストピースの概略図を示す。同図において、着色部分は図８ｂ，８ｃの画像範囲を示す。図８ｂは、比較例としての超音波垂直探傷結果のＣスコープ画像である。同図に示すように、超音波垂直探傷法では、図中符号ａで示す５ｍｍφ２０％ｔ平底穴の模擬欠陥のみ検出された。また、２ｍｍφのピッチング部の波形は、底面エコーの低下等が認められる程度であり、検出は困難であった。
【００３２】
他方、図８ｃに磁気飽和式渦流探傷の結果を示す。同図に示すように、磁気飽和式渦流探傷では、図中符号ｂ〜ｆに対応する２ｍｍφ８０％ｔ〜１００％ｔの模擬欠陥を検出している。また、符号ａに対応する模擬欠陥でも各欠陥の区別は明瞭に検出されなかったものの欠陥の存在は認識可能であった。なお、２ｍｍφ３０％ｔ以上のきずであれば検出可能であることが判明した。このように、磁気飽和式渦流探傷の特徴は、検査効率が良いことであり、きずの検出能に関しても、超音波探傷で見落としやすいピッチング状のきずに対し検出感度が優れている。
【００３３】
また、図９に磁気飽和式渦流探傷振幅ときずの欠損体積との関係を示す。検査条件は、板厚６ｍｍ、リフトオフ２ｍｍ、周波数１００ｋＨｚである。同図に示すように、きずの欠損体積が大きいほど大きな振幅が得られた。きず径が５ｍｍφ以下であれば、概ね比例関係にあり、きず径が大きくなる程振幅は小さくなった。上述したように、配管内部のライニング１１０の破損により、その破損箇所に腐食等のきず１２０が生じ、きず１２０が拡大していく。よって、きず体積と検査値（磁気飽和式渦流探傷振幅）との比例関係から、きず１２０が小さいものであっても、確実に検出することができる。
【００３４】
このように、上述の磁気飽和式渦流探傷装置２０により、直管部Ａ２を効率よく且つ迅速に検査することができる。しかも、ガイド波検査と同じ直管部Ａ２において検査を行うので、検査のための配管側準備が共通で済み、省力化がより一層推進できる。
【００３５】
次に、マルチチャンネル式超音波探傷装置３０について説明する。
マルチチャンネル式超音波探傷装置３０は、上述の磁気飽和式渦流探傷装置２０で検査が困難なエルボー１０２や、フランジ１０４近傍あるいは狭隘な場所等の曲管部等Ａ３における検査に用いられる。従来、このような箇所は、放射線検査や、超音波探傷（一探触子垂直法）にて行っていた。しかし、放射線検査では放射線の透過力に限界があるため、検査可能な配管サイズに限度があり、超音波探傷に比べ精度が低下していた。また、通常の一探触子垂直法による超音波探傷法では、検査範囲が狭く検査効率が低くなっていた。そこで、本装置においては、探触子を複数個（例えば５個）並列に接続することで、検査範囲を拡大させ検査効率を高めている。
【００３６】
同図に示すように、マルチチャンネル式超音波探傷装置３０は、大略、検査ヘッド３１と検出ユニット３５よりなる。検査ヘッド３１は一対の送信子３２及び受信子３３より複数チャンネルを構成してある。また、検出ユニット３５は、各チャンネルの送信子３２及び受信子３３で超音波を送受信させるパルサー３５ａ及びレシーバー３５ｂと、受信した受信信号を検出する検出器３５ｃと、その結果を表示するモニター３５ｄよりなる。
【００３７】
各チャンネルの送信子３２及び受信子３３はパルサー３５ａ及びレシーバー３５ｂに対し並列接続してある。これにより、同時に送信子を励起することによって曲管部等Ａ３に超音波を同時に送信させ、腐食等からの受信信号をモニター３５ｄに重畳表示させた表示波形で探傷を行なう。これにより、探傷速度は設置したチャンネル数分だけ早くなる。
【００３８】
図１０，１１を参照しながら、マルチチャンネル式超音波探傷装置３０の検出波形例について説明する。図１０に示すように、テストピースには、模擬欠陥としてφ３ｍｍ残厚２．５ｍｍの第一縦穴ｇと、φ３ｍｍ残厚３．５ｍｍの第二縦穴ｈを設けてある。板厚は１５ｍｍとしてある。
【００３９】
図１１ａは、第一検査ヘッド３１ａ’における第一縦穴ｇの検出波形を示し、図１１ｂは、第二検査ヘッド３１ｂ’における第二縦穴ｈの検出波形を示す。これらの図に示すように、残厚の差異により波形にも差異が生じており、図中符号ｇ、ｈにより残厚が推定可能である。
【００４０】
一方、第一、第二検査ヘッド３１ａ’，ｂ’の各送信子３２及び受信子３３を並列接続して第一、第二チャンネルＣＨ１，２とした検査ヘッド３１’により検査した場合の検出波形を図１１ｃに示す。同図に示すように、第一、第二チャンネルＣＨ１，２で受信した信号を重畳表示させた波形においては、図１１ａと同様の信号（符号ｇ部分）が確認できた。この符号ｇに対応する第一縦穴ｇは、第二縦穴ｈより深刻なきずであり、そのようなきずが検出できればよい。よって、送信子３２及び受信子３３をパルサー３５ａ及びレシーバー３５ｂに対し並列接続することで、検査速度を向上させると共にきずを確実に検出することが可能となる。
【００４１】
上述のガイド波を用いた超音波探傷、磁気飽和式渦流探傷、マルチチャンネル式超音波探傷における検査効率について説明する。
ガイド波を用いた超音波探傷検査においては、検査員２名にて一日１０カ所を検査することが可能である。従来は、海水配管１００を分解して検査していたので、大幅な作業時間の短縮が達成される。また、磁気飽和式渦流探傷では、３名で一日２５ｍ2〜３０ｍ2の検査が可能となった。マルチチャンネル式超音波探傷では、２名で一日８ｍ2の面探傷が可能となる。１チャンネルの超音波探傷では、一日３ｍ2の面探傷が可能であるので、大幅な高速化が図られた。このように、上述の検査手法により各部位を迅速に検査することが可能となり、海水配管１００全長における減肉を迅速且つ確実に把握することができる。
【００４２】
最後に、本発明のさらに別の実施形態の可能性を列挙する。なお、上記実施形態と同様の部材には同一の符号を付してある。
上記実施形態において、隠蔽部Ａ１は、海水配管１００が貫通する壁体１０３の貫通孔１０３ａ近傍の壁貫通部Ａ１ａ、フランジ１０４に覆われるフランジ部Ａ１ｂ及びサポートバンド１０５に覆われるサポートバンド部Ａ１ｃであった。しかし、これらに限られるものではなく、例えば海水配管１００に取り付けるハンガーや当て板等の部位であってもよい。すなわち、隠蔽部Ａ１には配管外面が露出していない部位が含まれる。
【００４３】
また、曲管部等Ａ３としてエルボー１０２やフランジ１０４近傍を例示した。これらの他、例えば配管の分岐部分も曲管部等Ａ３に含まれる。
【００４４】
上記実施形態において、磁気飽和式渦流探傷装置２０の検査ヘッド２１を車輪２５により管軸方向Ｓに走査した。しかし、管周方向Ｔに走査させるように構成しても構わない。
【００４５】
また、上記実施形態において、磁気飽和式渦流探傷装置２０及びマルチチャンネル式超音波探傷装置３０の各検査ヘッド２１，３１のチャンネル数は検査対象に合わせて適宜増減させるとよい。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
本発明は、例えば、海水配管の内面を外面から検査する海水配管検査方法や、配管の全面検査システムとして利用することができる。また、海水配管に限られず、内面にライニングが施された各種管状体の検査にも利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明に係る海水配管検査装置の検査対象となる海水配管の概略図である。
【図２】海水配管の壁体近傍の拡大図である。
【図３】海水配管のフランジ近傍の拡大図である。
【図４】磁気飽和式渦流探傷の原理を説明する説明図である。
【図５】磁気飽和式渦流探傷装置の概略図である。
【図６】マルチチャンネル式超音波探傷装置の概略図である。
【図７ａ】テストピースにおけるガイド波の検出波形例を示す図である。
【図７ｂ】実配管におけるガイド波の検出波形例を示す図である。
【図８ａ】テストピースの概略図である。
【図８ｂ】図８ａのテストピースでの超音波垂直探傷法の検出結果の超音波Ｃスコープ画像を示す図である。
【図８ｃ】図８ａのテストピースでの磁気飽和渦流探傷の検出結果を示す図である。
【図９】磁気飽和式渦流探傷の振幅とキズ体積との関係を示すグラフである。
【図１０】テストピースと検査ヘッドの配置を説明する説明図である。
【図１１ａ】図１０のテストピースでの第一の検査ヘッドでの検出波形例を示す図である。
【図１１ｂ】図１０のテストピースでの第二の検査ヘッドでの検出波形例を示す図である。
【図１１ｃ】図１０のテストピースでのマルチチャンネル式超音波探傷での検出波形例を示す図である。
【符号の説明】
【００４８】
１：海水配管検査装置、１０：超音波探傷装置、１１：探触子、１２：検出ユニット、１３：パルサーレシーバー、１４：検出器、１５：モニター、２０：磁気飽和式渦流探傷装置、２１：検査ヘッド、２２：フレーム、２２ａ：ハンドル、２３：励磁コイル、２３ａ：端部、２４：検出コイル、２５：車輪、２７：検出ユニット、２７ａ：励磁電源、２７ｂ：検出器、２７ｃ：モニター、３０：マルチチャンネル式超音波探傷装置、３１：検査ヘッド、３２：送信子、３３：受信子、３５：検出ユニット、３５ａ：パルサー、３５ｂ：レシーバー、３５ｃ：検出器、３５ｄ：モニター、１００：海水配管（被検査体）、１０１：直管、１０１ｘ：薄肉部、１０２：エルボー、１０３：壁体、１０３ａ：貫通孔、、１０４：フランジ、１０４ａ：隠れ部、１０４ｂ：ボルト孔、１０４ｃ，ｄ：溶着部、１０５：サポートバンド、１１０：ライニング、１２０：きず、Ａ１：隠蔽部、Ａ１ａ：壁貫通部、Ａ１ｂ：フランジ部、Ａ１ｃ：サポートバンド部、Ａ２：直管部（露出直管部）、Ａ３：曲管部等、ＣＨ１〜４：チャンネル、Ｓ：管軸方向、Ｔ：管周方向、
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図１０】
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【図７ａ】
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【図７ｂ】
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【図８ａ】
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【図８ｂ】
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【図８ｃ】
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【図９】
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【図１１ａ】
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【図１１ｂ】
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【図１１ｃ】
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