(57)【要約】【課題】ライニング層の欠陥を精度良く検出することができると共に、抜管することなく外部から欠陥の位置を容易に検出することができるライニング処理配管の劣化診断方法を提供する。【解決手段】ライニング処理配管１０の劣化診断方法は、金属製の配管１１の内面に電気絶縁性を有する高分子製のライニング層１２が形成されたライニング処理配管１０におけるライニング層１２の劣化によって生じた欠陥を検出してライニング処理配管１０の劣化を診断する方法である。つまり、ライニング処理配管１０内に酸性液体１６を満たした状態で、欠陥により発生する気泡破裂音等を超音波として検出するための超音波測定装置１８を構成する超音波センサ１９を配管１１に取付け、超音波を検出する。該超音波に基づく電圧を配管１１の複数箇所にて測定し、その電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属製の配管の内面に電気絶縁性を有する高分子製のライニング層が形成されたライニング処理配管におけるライニング層の劣化によって生じた欠陥を検出してライニング処理配管の劣化を診断するに際し、ライニング処理配管内に酸性液体を満たした状態で、前記欠陥に基づいて発生する気泡破裂音又はクラック音を超音波として検出するための超音波測定装置を構成する超音波センサを配管に取付け、該超音波センサによって検出される超音波に基づく電圧の変化を超音波測定装置で測定して欠陥を検出する方法であって、
前記超音波センサにより測定される超音波に基づく電圧を配管の複数箇所にて測定し、得られた電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定することを特徴とするライニング処理配管の劣化診断方法。
【請求項２】
前記超音波センサによる測定周波数は２０〜２５０ｋＨｚであることを特徴とする請求項１に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。
【請求項３】
前記超音波測定装置は、背景ノイズを除去するためのフィルターを備えていることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。
【請求項４】
前記酸性液体は無機酸の水溶液であることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。
【請求項５】
前記ライニング層を形成する高分子は、ポリオレフィン又はゴムであることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば火力発電所において硫酸水溶液や塩酸水溶液等を送液するためのライニング処理配管に生じたピンホールなどの欠陥を検出するためのライニング処理配管の劣化診断方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、金属製の配管内に硫酸水溶液、塩酸水溶液などの液体を流通させると、配管内面にその液体が常に接触していることによって配管内面に腐食が発生するため、配管内面に樹脂やゴムなどのライニング材が被覆されたライニング処理配管が用いられる。しかしながら、このライニング処理配管においても、配管内に硫酸水溶液、塩酸水溶液などの液体を長期間に渡って流通させると、ライニング材の配管との密着力の低下、強度、硬さの低下、またクラックやピンホールの発生が起こる場合がある。配管との密着力の低下を決定する方法として超音波を用いる方法が知られている。
【０００３】
具体的には、次のような母材にライニング材が被覆されてなるライニング体の劣化診断方法が知られている（例えば、特許文献１を参照）。すなわち、まずライニング体における母材とライニング材との密着力を測定するステップと、超音波共振法に基づいてライニング体の音響インピーダンスを測定するステップと、前記音響インピーダンスの値から超音波の振幅値を検出するステップと、振幅値と密着力の値との関係式を求めるステップとを備えている。そして、検査対象のライニング体の音響インピーダンスから超音波の振幅値を検出するステップと、該振幅値と前記関係式から検査対象のライニング体の密着力を検出する方法である。
【特許文献１】特開２００２−５９０２号公報（第２頁及び第３頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載されている発明は母材とライニング材との密着力を測定することができると共に、ライニング材の耐用年数特に余寿命を推定することができるものであって、ライニング材に生ずるピンホールなどの欠陥を見い出すものではない。また、測定にはライニング材に直接超音波センサを接着させる必要があり、抜管が必要になる。このため、配管を抜管することなく外部からライニング材に発生するピンホールなどの欠陥の存在やその位置を検出することはできなかった。ライニング処理配管において、外部からライニング材（ライニング層）に欠陥が存在するか否かを検出し、その欠陥がどこに位置しているかを特定することは欠陥を補修する上で極めて重要である。
【０００５】
本発明は、このような従来技術に存在する問題点に着目してなされたものであり、その目的とするところは、ライニング層の欠陥を精度良く検出することができると共に、抜管することなく外部から欠陥の位置を容易に検出することができるライニング処理配管の劣化診断方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するために、請求項１のライニング処理配管の劣化診断方法は、金属製の配管の内面に電気絶縁性を有する高分子製のライニング層が形成されたライニング処理配管におけるライニング層の劣化によって生じた欠陥を検出してライニング処理配管の劣化を診断するに際し、ライニング処理配管内に酸性液体を満たした状態で、前記欠陥に基づいて発生する気泡破裂音又はクラック音を超音波として検出するための超音波測定装置を構成する超音波センサを配管に取付け、該超音波センサによって検出される超音波に基づく電圧の変化を超音波測定装置で測定して欠陥を検出する方法である。そして、超音波センサにより測定される超音波に基づく電圧を配管の複数箇所にて測定し、得られた電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定することを特徴とする。
【０００７】
請求項２のライニング処理配管の劣化診断方法は、請求項１に係る発明において、前記超音波センサによる測定周波数は２０〜２５０ｋＨｚであることを特徴とする。
請求項３のライニング処理配管の劣化診断方法は、請求項１又は請求項２に係る発明において、前記超音波測定装置は、背景ノイズを除去するためのフィルターを備えていることを特徴とする。
【０００８】
請求項４のライニング処理配管の劣化診断方法は、請求項１から請求項３のいずれか１項に係る発明において、前記酸性液体は無機酸の水溶液であることを特徴とする。
請求項５のライニング処理配管の劣化診断方法は、請求項１から請求項４のいずれか１項に係る発明において、前記ライニング層を形成する高分子は、ポリオレフィン又はゴムであることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、次のような効果を発揮することができる。
請求項１のライニング処理配管の劣化診断方法においては、超音波センサにより測定される超音波に基づく電圧を配管の複数箇所にて測定する。そして、得られた複数の電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求める。このようにして求められた箇所を欠陥の位置であると特定する。この場合、超音波の測定位置と欠陥の位置との距離に応じて超音波による電圧が変化する。従って、抜管することなく、ライニング層の欠陥を精度良く検出することができると共に、抜管することなく外部から欠陥の位置を容易に検出することができる。
【００１０】
請求項２のライニング処理配管の劣化診断方法では、超音波センサによる測定周波数は２０〜２５０ｋＨｚである。このため、請求項１に係る発明の効果に加えて、欠陥に基づいて発生する超音波を感度良く測定することができる。
【００１１】
請求項３のライニング処理配管の劣化診断方法では、超音波測定装置が背景ノイズを除去するためのフィルターを備えている。従って、請求項１又は請求項２に係る発明の効果に加えて、フィルターによって背景ノイズが除去され、超音波の測定精度を向上させることができる。
【００１２】
請求項４のライニング処理配管の劣化診断方法では、酸性液体が無機酸の水溶液である。このため、請求項１から請求項３のいずれかに係る発明の効果に加えて、無機酸の水溶液によって水素気泡が発生することから、その水素気泡の破裂音による超音波を検出することができる。
【００１３】
請求項５のライニング処理配管の劣化診断方法では、ライニング層を形成する高分子は、ポリオレフィン又はゴムである。そのため、請求項１から請求項４のいずれかに係る発明の効果に加えて、ポリオレフィン又はゴム製のライニング層に発生した欠陥を容易に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の最良と思われる実施形態について詳細に説明する。
図１に示すように、ライニング処理配管１０は、円筒状をなす金属製の配管１１の内面に電気絶縁性を有する高分子製のライニング層１２が形成されて構成されている。該ライニング層１２は常法に従って所定厚さに形成され、金属製の配管１１の内面を保護し、錆の発生を防止している。このライニング処理配管１０は、端部のフランジ１３間がボルト１４及びナット１５により締結され、所定の長さになるように形成されている。配管１１を形成する金属としては、鋼鉄のほか、銅、アルミニウム等の金属材料が用いられる。ライニング層１２を形成する高分子としては、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン、ブチルゴム、ニトリルゴム、シリコーンゴム、硬質ゴム（炭素粉末により架橋したもの）等のゴムが好適に用いられる。
【００１５】
係るライニング処理配管１０内には酸性液体１６などの流体が流通するようになっている。酸性液体１６としては、硫酸水溶液、塩酸水溶液、硝酸水溶液などが用いられる。このライニング処理配管１０を長期間に渡って使用するとライニング層１２が劣化してピンホール１７やクラックなどの欠陥が発生する場合がある。従って、ライニング処理配管１０のライニング層１２に発生した欠陥を早期に検出し、欠陥の補修を速やかに行う必要がある。
【００１６】
そこで、本実施形態におけるライニング処理配管１０の劣化診断方法は、上記ライニング層１２の劣化によって生じた欠陥を検出してライニング処理配管１０の劣化を診断するものである。すなわち、ライニング処理配管１０内に酸性液体１６を満たした状態で、ライニング処理配管１０の外面に気泡破裂音又はクラック音を超音波として検出するための超音波測定装置１８を構成する超音波センサ１９を取付け、該超音波センサ１９によって検出される超音波に基づく電圧の変化を測定して欠陥を検出する方法である。
【００１７】
超音波測定装置１８について説明すると、該超音波測定装置１８は装置本体２０と、その装置本体２０に接続線２１を介して接続され、ライニング処理配管１０の外面に所定間隔をおいて配置される複数の超音波センサ１９とより構成されている。超音波センサ１９は、配管１１との接触面積が大きい方が好ましい。例えば、図２に示すように、超音波センサ１９を底面が断面円弧状に形成されたアクリル樹脂板２２を介してライニング処理配管１０の外面にエポキシ系接着剤により接着する方法がある。超音波センサ１９をライニング処理配管１０の外面に取付ける際にアクリル樹脂板２２を用いることにより、ライニング処理配管１０外面の曲面に超音波センサ１９を密着させて取付けることができ、超音波の測定を正確に行うことができる。なお、超音波センサ１９は、センサホルダー２３内に収容されている。
【００１８】
図１に示すように、装置本体２０は、超音波センサ１９で検出された超音波の電圧を増幅するためのプリアンプ２４と、該プリアンプ２４に接続されるフィルター２５と、フィルター２５に接続され信号を表示するオシロスコープ２６と、オシロスコープ２６に表示された信号を解析、記憶するコンピュータ２７とにより構成されている。前記フィルター２５を備えることにより、背景ノイズを除去することができ、必要な超音波に基づいて測定精度を高めることができる。
【００１９】
次に、上記の該超音波測定装置１８を用いたライニング処理配管１０の劣化診断方法について説明する。
ライニング処理配管１０として例えばポリエチレンによるライニング層１２を形成した鋼鉄製の配管１１を用意し、その内部に酸性液体１６として２０質量％硫酸水溶液を満たす。次いで、ライニング処理配管１０の外周面に所定距離（例えば１００ｍｍ間隔）をおいて複数位置（図１では５箇所）に超音波センサ１９を配置する。そして、ライニング層１２に欠陥として例えばピンホール１７が存在する場合には、そのピンホール１７内に硫酸水溶液が浸透し、配管１１内面に達して鉄と硫酸とが反応することにより水素気泡が発生する。このとき、発生した水素気泡が破裂する破裂音により超音波が生じ、その超音波を超音波センサ１９が検出する。超音波センサ１９で検出された超音波は超音波測定装置１８で解析される。
【００２０】
この場合、超音波の測定周波数は、２０〜２５０ｋＨｚに設定されることが好ましい。測定周波数が２０ｋＨｚ未満又は２５０ｋＨｚを超える場合には、モータなどの機器の低周波振動や電気的ノイズの影響により、測定精度の向上を図ることができなくなる。また、超音波センサ１９においても、２０〜２５０ｋＨｚの間に共振周波数があるものが好ましい。
【００２１】
そして、オシロスコープ２６には超音波の到達時間と超音波の電圧との関係を表す波形が得られる。この場合、超音波による電圧の変化と超音波の到達時間とは、ほぼ比例関係を示す。オシロスコープ２６に表示された信号がコンピュータ２７により解析される。すなわち、電圧の最大値を示す箇所を求め、該箇所が欠陥の位置であると特定することができる。よって、ライニング層１２に発生したピンホール１７の検出と、そのピンホール１７の位置を特定することができる。
【００２２】
以上詳述した実施形態によって発揮される効果を以下にまとめて記載する。
・  本実施形態におけるライニング処理配管１０の劣化診断方法においては、超音波センサ１９により測定される超音波に基づく電圧を配管１１の複数箇所にて測定し、得られた複数の電圧に基づいて電圧の最大値を示す箇所を求める。そのようにして求められた箇所を欠陥の位置であると特定することができる。従って、抜管することなく、ライニング層１２の欠陥としてのピンホール１７を精度良く検出することができると共に、抜管することなく外部からピンホール１７の位置を容易に検出することができる。
【００２３】
・  超音波センサ１９による測定周波数を２０〜２５０ｋＨｚに設定することにより、ピンホール１７に基づいて発生する超音波を感度良く測定することができる。
・  超音波測定装置１８がフィルター２５を備えていることにより、背景ノイズを除去することができ、超音波の測定精度を向上させることができる。
【００２４】
・  酸性液体が無機酸の水溶液であることにより、水素気泡が発生し、その水素気泡の破裂音により十分な超音波を検出することができる。
・  ライニング層１２を形成する高分子がポリオレフィン又はゴムであることにより、ポリオレフィン又はゴム製のライニング層１２に発生したピンホール１７の存在及びその位置を容易に検出することができる。
【実施例】
【００２５】
以下、参考例及び実施例を挙げて前記実施形態をさらに具体的に説明するが、本発明はそれら実施例の範囲に限定されるものではない。
（参考例１）
この参考例１において予備試験を行った。図３に示すように、ライニング処理配管１０として、内面に電気絶縁性を有する高分子としてブチルゴムによるライニング層１２を形成し、かつ欠陥としてのピンホール１７（直径０．５ｍｍの円孔）を設けた鋼鉄製の配管１１（内径３２ｍｍ、長さ４００ｍｍ）を用意した。ライニング処理配管１０の内部に酸性液体１６として２０質量％の硫酸水溶液を満たした。ピンホール１７は、ライニング処理配管１０の一端から５０ｍｍの位置に形成した。超音波センサ１９は、ピンホール１７の位置及びそこから１００ｍｍ間隔で合計４箇所の位置でライニング処理配管１０の外面に取付け、超音波測定装置１８（図示略）を測定可能な状態とした。超音波センサ１９の測定周波数は２０〜２４０ｋＨｚで、１４０ｋＨｚに共振周波数を有しているものである。また、前記フィルター２５で２０ｋＨｚ以下の周波数信号を除去した。
【００２６】
そして、ライニング処理配管１０にピンホール加工を施し、ライニング処理配管１０内に硫酸水溶液を満たすことにより、硫酸がピンホール１７から配管１１内面に浸透し、鉄と硫酸とが反応して水素気泡が発生した。その水素気泡の破裂音によって超音波を生じさせた。発生した超音波を各位置における超音波センサ１９で検出し、超音波測定装置１８で解析を行った。それらの結果、すなわち超音波が伝播する到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係を図４（ａ）〜（ｃ）に示した。
【００２７】
これらの図において、電圧の振幅が急に大きくなったところが水素気泡の破裂音による超音波の到達を表している。図４（ａ）は超音波センサ１９がピンホール１７の位置にある場合を示し、到達時間約２００μｓで電圧の振幅がほぼ±０．４Ｖに大きくなっている。図４（ｂ）は超音波センサ１９がピンホール１７の位置から１００ｍｍ離れた位置にある場合を示し、到達時間約２４０μｓで電圧の振幅が±０．１Ｖに大きくなっている。図４（ｃ）は超音波センサ１９がピンホール１７の位置から２００ｍｍ離れた位置にある場合を示し、到達時間約２８０μｓで電圧の振幅が±０．０５Ｖに大きくなっている。
【００２８】
図４（ａ）〜（ｃ）の結果から、超音波の到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係は、ほぼ直線関係（比例関係）（すなわち図４（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）を結ぶ二点鎖線）を示すと共に、電圧の最大値がピンホール１７の位置を示すことが明らかになった。従って、ライニング処理配管１０の複数の位置に超音波センサ１９を取付け、各位置における電圧値を測定し、その最大値を求めることにより、ピンホール１７の位置を特定できることが判明した。
（参考例２）
参考例１において、ライニング層１２を形成する高分子としてポリエチレンを使用した以外は参考例１と同様に実施した。その結果を図５（ａ）〜（ｄ）に示した。これらの結果より、超音波の到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係は、ほぼ直線関係（比例関係）を示す（すなわち図５（ａ）、（ｂ）、（ｃ）及び（ｄ）を結ぶ二点鎖線）と共に、電圧の最大値がピンホール１７の位置を示すことが明らかになった。従って、ライニング処理配管１０の複数の位置に超音波センサ１９を取付け、各位置における電圧値を測定し、その最大値を求めることにより、ピンホール１７の位置を特定できることが判明した。
（参考例３）
参考例１において、ライニング層１２を形成する高分子として硬質ゴムを使用した以外は参考例１と同様に実施した。その結果を図６（ａ）〜（ｄ）に示した。これらの結果より、超音波の到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係は、直線関係（比例関係）を示す（すなわち図６（ａ）、（ｂ）、（ｃ）及び（ｄ）を結ぶ二点鎖線）と共に、電圧の最大値がピンホール１７の位置を示すことが明らかになった。従って、ライニング処理配管１０の複数の位置に超音波センサ１９を取付け、各位置における電圧値を測定し、その最大値を求めることにより、ピンホール１７の位置を特定できることが判明した。
【００２９】
前記参考例１〜３の結果について、ピンホール１７からの距離（ｍｍ）と超音波の到達時間（μｓ）との関係を図７（ａ）に示した。この図７（ａ）の結果から、ライニング層１２を形成する高分子の種類に拘らず、ピンホール１７からの距離が離れるほど超音波の到達時間が長くなる関係が得られた。
【００３０】
また、同じく参考例１〜３の結果について、ピンホール１７からの距離（ｍｍ）と電圧（Ｖ）との関係を図７（ｂ）に示した。この図７（ｂ）の結果から、ライニング層１２を形成する高分子の種類に拘らず、ピンホール１７からの距離が１００ｍｍまでは超音波による電圧値が低下し、その後３００ｍｍまでは電圧値がほとんど変化しなかった。
（実施例１）
この実施例１では参考例１と同様に、ライニング処理配管１０として鋼鉄製の配管１１の内面にブチルゴム製のライニング層１２を形成したものを用い、ライニング処理配管１０の内部に２０質量％硫酸水溶液を流通させ、長期間に渡って使用した。このライニング処理配管１０について、２００ｍｍ間隔で第１箇所、第２箇所及び第３箇所の３箇所に超音波センサ１９を取付け、超音波測定装置１８で超音波による電圧値（振幅値）を測定し、超音波の到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係を示す波形を得た。
【００３１】
その波形から、ライニング処理配管１０の３箇所における超音波の伝播による到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）は、第１箇所において８０μｓで±０．０５Ｖ、第２箇所において４０μｓで±０．１Ｖ及び第３箇所において１０μｓで±０．４Ｖであった。従って、電圧の最大値を示す第３箇所の近傍位置にピンホール１７が存在するものとして特定することができた。
（実施例２）
実施例２では参考例２と同様に、ライニング処理配管１０として鋼鉄製の配管１１の内面にポリエチレン製のライニング層１２を形成したものを用い、ライニング処理配管１０の内部に２０質量％硫酸水溶液を流通させ、長期間に渡って使用した。このライニング処理配管１０について、２００ｍｍ間隔で第１箇所、第２箇所、第３箇所及び第４箇所の４箇所に超音波センサ１９を取付け、超音波測定装置１８で超音波による電圧値（振幅値）を測定し、超音波の到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係を示す波形を得た。
【００３２】
その波形から、ライニング処理配管１０の４箇所における超音波の伝播による到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）は、第１箇所において５０μｓで±０．２Ｖ、第２箇所において１０μｓで±１．０Ｖ、第３箇所において１１０μｓで±０．２Ｖ及び第４箇所において１７０μｓで±０．１Ｖであった。従って、電圧の最大値を示す第２箇所の近傍位置にピンホール１７が存在するものとして特定することができた。
（実施例３）
実施例３では参考例３と同様に、ライニング処理配管１０として鋼鉄製の配管１１の内面に硬質ゴム製のライニング層１２を形成したものを用い、ライニング処理配管１０の内部に２０質量％硫酸水溶液を流通させ、長期間に渡って使用した。このライニング処理配管１０について、２００ｍｍ間隔で第１箇所、第２箇所、第３箇所及び第４箇所の４箇所に超音波センサ１９を取付け、超音波測定装置１８で超音波による電圧値（振幅値）を測定し、超音波の到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）との関係を示す波形を得た。
【００３３】
その波形から、ライニング処理配管１０の４箇所における超音波の伝播による到達時間（μｓ）と電圧（Ｖ）は、第１箇所において１００μｓで±０．２Ｖ、第２箇所において５０μｓで±０．３Ｖ、第３箇所において１０μｓで±１．０Ｖ及び第４箇所において１３０μｓで±０．２Ｖであった。従って、電圧の最大値を示す第３箇所の近傍位置にピンホール１７が存在するものとして特定することができた。
【００３４】
なお、前記実施形態を次のように変更して具体化することも可能である。
・  欠陥の位置の特定方法として、超音波の到達時間が最も短い箇所を欠陥の位置として特定することもできる。
【００３５】
・  前記超音波の伝播ができるだけ大きくなるように、例えば酸性液体１６の種類、濃度、超音波の周波数などを設定することが望ましい。この場合、欠陥の検出精度を高めることができる。
【００３６】
・  酸性液体１６としては、実際のライニング処理配管１０に使用されている液体を、欠陥を検出する際に別の酸性を有する液体に置換して行うこともできる。
・  ライニング処理配管１０の劣化診断方法を、火力発電所以外の化学プラント装置、水処理装置などにおいて適用することもできる。
【００３７】
次に、前記実施形態から把握できる技術的思想について以下に記載する。
・  前記電圧の最大値は、電圧の振幅の最大値であることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。このように構成した場合、請求項１から請求項５のいずれかに係る発明の効果に加えて、ピンホールなどの欠陥の位置検出精度を向上させることができる。
【００３８】
・  前記超音波センサは、樹脂板を介して接着剤で配管外面に接着されていることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。このように構成した場合、請求項１から請求項５のいずれかに係る発明の効果に加えて、配管外面の曲面に超音波センサを密着させて取付けることができ、超音波の測定を正確に行うことができる。
【００３９】
・  前記欠陥はピンホールであって、その孔径は０．５〜３ｍｍであることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のライニング処理配管の劣化診断方法。このように構成した場合、ピンホールについて請求項１から請求項５のいずれかに係る発明の効果を有効に発揮させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】ライニング処理配管の劣化診断方法を実施する装置を模式的に示す概略説明図。
【図２】ライニング処理配管の外周面に対する超音波センサの取付構造を示す部分拡大断面図。
【図３】参考例１〜３において、ライニング処理配管にピンホールを形成すると共に、超音波センサを取付けた状態を示す正面図。
【図４】（ａ）〜（ｃ）は、参考例１において、ピンホールからの距離を変えて超音波センサを取付けた場合の超音波の到達時間と電圧との関係を示す波形図。
【図５】（ａ）〜（ｄ）は、参考例２において、ピンホールからの距離を変えて超音波センサを取付けた場合の超音波の到達時間と電圧との関係を示す波形図。
【図６】（ａ）〜（ｄ）は、参考例３において、ピンホールからの距離を変えて超音波センサを取付けた場合の超音波の到達時間と電圧との関係を示す波形図。
【図７】（ａ）は、参考例１〜３において、ピンホールからの距離と超音波の到達時間との関係を示すグラフ、（ｂ）は参考例１〜３において、ピンホールからの距離と電圧との関係を示すグラフ。
【符号の説明】
【００４１】
１０…ライニング処理配管、１１…配管、１２…ライニング層、１６…酸性液体、１７…欠陥としてのピンホール、１８…超音波測定装置、１９…超音波センサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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