(57)【要約】【課題】撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える撮像装置の技術を提供する。【解決手段】撮像装置では、撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の分割領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能である。この撮像装置が起動される際には、まず各分割領域毎に欠陥画素検出に関する直近の検査完了日時から現時点までの経過期間を算出する（ステップＳ１）。次に、一定期間(例えば１週間)が経過した分割領域がある場合には、この分割領域を検査対象領域に設定する一方、一定期間が経過した分割領域がない場合には、検査完了日時が最も古い分割領域を検査対象領域に設定する（ステップＳ２〜４）。そして、検査対象領域に対しての欠陥画素検出を行う（ステップＳ７）。以上のような撮像装置の動作により、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。【選択図】図９
2009267593.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像面で受光した光像に基づき画像信号を生成する撮像素子と、
前記撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能な欠陥画素検出手段と、
前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御手段と、
撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御手段と、
を備え、
前記検出制御手段は、
前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第１選択制御手段と、
前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第２選択制御手段と、
を有する撮像装置。
【請求項２】
前記複数の領域は、前記撮像素子のインターレース読出しに関する各フィールドに基づいた領域分割および／または前記撮像素子の各チャンネルに基づいた領域分割により、前記撮像面を分割して得られる請求項１の撮像装置。
【請求項３】
前記第１選択制御手段は、
前記複数の領域のうち前記直近実行時点が最も古い領域を前記一部の領域として設定する手段、
を有する請求項１の撮像装置。
【請求項４】
撮像装置に設けられる撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出を行う欠陥画素検出工程と、
前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御工程と、
前記撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御工程と、
を備え、
前記検出制御工程は、
前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第１選択制御工程と、
前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第２選択制御工程と、
を有する欠陥画素検出方法。
【請求項５】
撮像装置に内蔵されたコンピュータに、
前記撮像装置に設けられる撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出を行う欠陥画素検出工程と、
前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御工程と、
前記撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御工程と、
を実行させ、
前記検出制御工程は、
前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第１選択制御工程と、
前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第２選択制御工程と、
を有する欠陥画素検出プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子を備えた撮像装置の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラなどの撮像装置に設けられる撮像素子は、近年、高画素化が進んでいる。ここで、高画素な撮像素子ほど各画素の特性を完全に均一化して欠陥のないものを製造するのは、一般に困難である。そして、欠陥画素が存在する撮像素子で取得した画像には、本来のレベルより大きい画素信号が記録された部分（白欠陥）や、本来のレベルより小さい画素信号が記録された部分（黒欠陥）が生じることとなる。
【０００３】
以上のような欠陥画素の対策としては、撮像素子の全画素を対象に行う製品出荷前の検査で予め取得された欠陥画素のデータ(欠陥画素の位置データなど)に基づき、例えば欠陥画素周辺の画素信号による画素補間を行って、欠陥画素で生じた異常な画素信号を排除する技術がある。
【０００４】
一方、製品出荷後において撮像装置がユーザの手許にわたってからも、撮像装置の使用される環境などにより撮像素子が劣化または損傷を受けて欠陥画素が新たに発生する場合があるが、このように後発的に生じた欠陥画素(以下では「後発的欠陥画素」ともいう)は、上述した製品出荷前の検査では把握できない。なお、製品出荷前の検査と同様の検査を製品出荷後に実施すれば後発的欠陥画素の検出が可能となるが、撮像素子の全画素を検査したのでは、その処理時間が長くかかりユーザがシャッターチャンスを逃す恐れがある。
【０００５】
このような後発的欠陥画素の検出処理を改善する技術として、特許文献１に開示されるものがある。この技術によれば、撮像素子の撮像面を領域分割し、ランダムに選択した分割領域に対して欠陥画素検出を行うことにより、後発的欠陥画素の迅速な検出が図られている。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−８９９８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記の特許文献１の技術では、撮像面に規定された各分割領域をランダムに選択して後発的欠陥画素を検出するため、撮像素子の全画素についての確実な欠陥画素検出が保証されておらず、長期間にわたって未検出の後発的欠陥画素が存在する可能性がある。
【０００８】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える撮像装置の技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の１つの側面は、撮像装置であって、撮像面で受光した光像に基づき画像信号を生成する撮像素子と、前記撮像面を領域分割して得られた複数の領域それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能な欠陥画素検出手段と、前記複数の領域それぞれについて前記欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点に関する情報を所定の記録手段に記録させる記録制御手段と、撮像装置が起動される際に、前記複数の領域から選択された選択領域に対して前記欠陥画素の検出を実行する検出制御手段とを備え、前記検出制御手段は、前記複数の領域において前記直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、前記複数の領域のうち一部の領域を前記選択領域として選択する第１選択制御手段と、前記複数の領域において前記直近実行時点から前記所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を前記選択領域として選択する第２選択制御手段とを有する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、撮像素子の撮像面を領域分割して得られた複数の領域において、欠陥画素の検出を直近に実行した直近実行時点から所定の期間が経過した領域がない場合には、複数の領域のうち一部の領域を選択領域として選択し、この選択領域に対して欠陥画素の検出を実行する。また、複数の領域において直近実行時点から所定の期間が経過した領域がある場合には、当該所定の期間が経過した領域を選択領域として選択し、この選択領域に対して欠陥画素の検出を実行する。その結果、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
＜撮像装置の外観構成＞
図１および図２は、本発明の実施形態に係る撮像装置１の外観構成を示す図である。ここで、図１および図２は、それぞれ正面図および背面図を示している。
【００１２】
撮像装置１は、例えば一眼レフレックスタイプのデジタルスチルカメラとして構成されており、カメラボディ１０と、カメラボディ１０に着脱自在な撮影レンズとしての交換レンズ２とを備えている。
【００１３】
図１において、カメラボディ１０の正面側には、正面略中央に交換レンズ２が装着されるマウント部３０１と、マウント部３０１の右横に配置されたレンズ交換ボタン３０２と、把持可能とするためのグリップ部３０３とが設けられている。また、カメラボディ１０には、その正面左上部に配置されたモード設定ダイアル３０５と、正面右上部に配置された制御値設定ダイアル３０６と、グリップ部３０３の上面に配置されたシャッターボタン３０７とが設けられている。
【００１４】
また、図２において、カメラボディ１０の背面側には、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）３１１と、ＬＣＤ３１１の左方に配置された設定ボタン群３１２と、ＬＣＤ３１１の右方に配置された十字キー３１４と、十字キー３１４の中央に配置されたプッシュボタン３１５とが備えられている。また、カメラボディ１０の背面側には、ＬＣＤ３１１の上方に配設された光学ファインダ３１６と、光学ファインダ３１６の周囲を囲むアイカップ３２１と、光学ファインダ３１６の左方に配設されたメインスイッチ３１７とが備えられている。さらに、カメラボディ１０の背面側には、光学ファインダ３１６の右方に配設された露出補正ボタン３２３およびＡＥロックボタン３２４と、光学ファインダ３１６の上方に配設されたフラッシュ部３１８および接続端子部３１９とが備えられている。
【００１５】
マウント部３０１には、装着された交換レンズ２との電気的接続を行うためコネクタ（不図示）や、機械的接続を行うためのカプラ（不図示）が設けられている。
【００１６】
レンズ交換ボタン３０２は、マウント部３０１に装着された交換レンズ２を取り外す際に押下されるボタンである。
【００１７】
グリップ部３０３は、ユーザが撮影時に撮像装置１を把持する部分であり、フィッティング性を高めるために指形状に合わせた表面凹凸が設けられている。なお、グリップ部３０３の内部には電池収納室およびカード収納室(不図示)が設けられている。電池収納室にはカメラの電源として電池が収納されており、カード収納室には撮影画像の画像データを記録するためのメモリカード９０(図５参照)が着脱可能に収納されるようになっている。なお、グリップ部３０３には、当該グリップ部３０３をユーザが把持したか否かを検出するためのグリップセンサを設けるようにしても良い。
【００１８】
モード設定ダイアル３０５及び制御値設定ダイアル３０６は、カメラボディ１０の上面と略平行な面内で回転可能な略円盤状の部材からなる。モード設定ダイアル３０５は、自動露出（ＡＥ）制御モードや自動焦点（ＡＦ；オートフォーカス）制御モード、或いは１枚の静止画を撮影する静止画撮影モードや連続撮影を行う連続撮影モード等の各種撮影モード、記録済みの画像を再生する再生モード等、撮像装置１に搭載されたモードや機能を択一的に選択するためのものである。一方、制御値設定ダイアル３０６は、撮像装置１に搭載された各種の機能に対する制御値を設定するためのものである。
【００１９】
シャッターボタン３０７は、途中まで押し込んだ「半押し状態」の操作と、さらに押し込んだ「全押し状態」の操作とが可能とされた押下スイッチである。静止画撮影モードにおいてシャッターボタン３０７が半押しされると、被写体の静止画を撮影するための準備動作（露出制御値の設定や焦点検出等の準備動作）が実行され、シャッターボタン３０７が全押しされると、撮影動作（撮像素子１０１(図３参照)を露光する。そして、その露光によって得られた画像信号に所定の画像処理を施してメモリカード等に記録する一連の動作）が実行される。
【００２０】
ＬＣＤ３１１は、画像表示が可能なカラー液晶パネルを備えており、撮像素子１０１(図３参照)により撮像された画像の表示や記録済みの画像の再生表示等を行うとともに、撮像装置１に搭載される機能やモードの設定画面を表示するものである。なお、ＬＣＤ３１１に代えて、有機ＥＬやプラズマ表示装置を用いるようにしても良い。
【００２１】
設定ボタン群３１２は、撮像装置１に搭載された各種の機能に対する操作を行うボタンである。この設定ボタン群３１２には、例えばＬＣＤ３１１に表示されるメニュー画面で選択された内容を確定するための選択確定スイッチ、選択取り消しスイッチ、メニュー画面の内容を切り替えるメニュー表示スイッチ、表示オン／オフスイッチ、表示拡大スイッチなどが含まれる。
【００２２】
十字キー３１４は、円周方向に一定間隔で配置された複数の押圧部（図中の三角印の部分）を備える環状の部材を有し、各押圧部に対応して備えられた図示省略の接点（スイッチ）により押圧部の押圧操作が検出されるように構成されている。また、プッシュボタン３１５は、十字キー３１４の中央に配置されている。十字キー３１４及びプッシュボタン３１５は、撮影倍率の変更（交換レンズ２内のズームレンズのワイド方向やテレ方向への移動）、ＬＣＤ３１１等に再生する記録画像のコマ送り、及び撮影条件（絞り値、シャッタスピード、フラッシュ発光の有無等）の設定等の指示を入力するためのものである。
【００２３】
光学ファインダ３１６は、被写体が撮影される範囲を光学的に表示するものである。すなわち、光学ファインダ３１６には、交換レンズ２からの被写体像が導かれており、ユーザは、この光学ファインダ３１６を覗くことにより、実際に撮像素子１０１にて撮影される被写体を視認することができる。
【００２４】
メインスイッチ３１７は、左右にスライドする２接点のスライドスイッチからなり、左にセットすると撮像装置１の電源がオンされ、右にセットすると電源がオフされる。
【００２５】
フラッシュ部３１８は、ポップアップ式の内蔵フラッシュとして構成されている。一方、外部フラッシュ等をカメラボディ１０に取り付ける場合には、接続端子部３１９を使用して接続する。
【００２６】
アイカップ３２１は、遮光性を有して光学ファインダ３１６への外光の侵入を抑制する「コ」字状の遮光部材である。
【００２７】
露出補正ボタン３２３は、露出値（絞り値やシャッタースピード）を手動で調整するためのボタンであり、ＡＥロックボタン３２４は、露出を固定するためのボタンである。
【００２８】
交換レンズ２は、被写体からの光（光像）を取り込むレンズ窓として機能するとともに、当該被写体光をカメラボディ１０の内部に配置されている撮像素子１０１に導くための撮影光学系として機能するものである。この交換レンズ２は、上述のレンズ交換ボタン３０２を押下操作することで、カメラボディ１０から取り外すことが可能となっている。
【００２９】
交換レンズ２は、光軸ＬＴ(図３参照)に沿って直列的に配置された複数のレンズからなるレンズ群を備えている。このレンズ群には、焦点の調節を行うためのフォーカスレンズと、変倍を行うためのズームレンズとが含まれており、それぞれ光軸ＬＴ(図３参照)方向に駆動されることで、変倍や焦点調節が行われる。また、交換レンズ２には、その鏡胴の外周適所に該鏡胴の外周面に沿って回転可能な操作環が備えられ、上記のズームレンズは、マニュアル操作或いはオート操作により、上記操作環の回転方向及び回転量に応じて光軸方向に移動し、その移動先の位置に応じたズーム倍率(撮影倍率)に設定される。
【００３０】
＜撮像装置１の内部構成＞
次に、撮像装置１の内部構成について説明する。図３は、撮像装置１の縦断面図である。図３に示すように、カメラボディ１０の内部には、撮像素子１０１、ファインダ部１０２（ファインダ光学系）、ミラー部１０３、位相差ＡＦモジュール１０７などが備えられている。
【００３１】
撮像素子１０１は、カメラボディ１０に交換レンズ２が装着された場合の当該交換レンズ２が備えているレンズ群の光軸ＬＴ上において、光軸ＬＴに対して垂直となる方向に配置されている。撮像素子１０１としては、例えばフォトダイオードを有して構成される複数の画素がマトリクス状に２次元配置された撮像面１０１ｆ(図４参照)を備えたＣＭＯＳカラーエリアセンサ（ＣＭＯＳ型の撮像素子）が用いられる。撮像素子１０１は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）に関する３原色フィルタがベイヤー配列で設けられており、交換レンズ２を通って受光された被写体光束に関するＲＧＢ各色成分のアナログの電気信号（画像信号）を生成し、ＲＧＢ各色の画像信号として出力する。
【００３２】
上記の光軸ＬＴ上において、被写体光をファインダ部１０２へ向けて反射される位置には、ミラー部１０３が配置されている。交換レンズ２を通過した被写体光は、ミラー部１０３（後述の主ミラー１０３１）によって上方へ反射される。交換レンズ２を通過した被写体光の一部はこのミラー部１０３を透過する。
【００３３】
ファインダ部１０２は、ペンタプリズム１０５、接眼レンズ１０６及び光学ファインダ３１６を備えている。ペンタプリズム１０５は、断面５角形を呈し、その下面から入射された被写体光像を内部での反射によって当該光像の天地左右を入れ替えて正立像にするためのプリズムである。接眼レンズ１０６は、ペンタプリズム１０５により正立像にされた被写体像を光学ファインダ３１６の外側に導く。このような構成により、ファインダ部１０２は、本撮影前の撮影待機時において被写界を確認するためのファインダとして機能する。
【００３４】
ミラー部１０３は、主ミラー１０３１及びサブミラー１０３２から構成されており、主ミラー１０３１の背面側において、サブミラー１０３２が主ミラー１０３１の背面に向けて倒れるように回動可能に設けられている。主ミラー１０３１を透過した被写体光の一部はサブミラー１０３２によって反射され、この反射された被写体光は位相差ＡＦモジュール１０７に入射される。
【００３５】
上記のミラー部１０３は、所謂クイックリターンミラーとして構成されており、露光時(本撮影時)には図４に示すように回転軸１０３３を回動支点として上方に向けて跳ね上がる。この際、サブミラー１０３２は、上記のミラー部１０３がペンタプリズム１０５の下方位置で停止したときには、主ミラー１０３１と略平行となるように折り畳まれた状態となる。これにより、交換レンズ２からの被写体光がミラー部１０３によって遮られることなく撮像素子１０１上に届き、該撮影素子１０１が露光される。撮像素子１０１での撮像動作が終了すると、ミラー部１０３は元の位置（図３に示す位置）に復帰する。
【００３６】
また、ミラー部１０３を本撮影(画像記録用の撮影)の前に図４に示すミラーアップの状態にすることにより撮像装置１は、撮像素子１０１で順次に生成される画像信号に基づき動画的態様で被写体をＬＣＤ３１１に表示するライブビュー(プレビュー)表示が可能である。すなわち、本撮影前の撮像装置１では、上記のライブビュー表示が行われる電子ファインダ(ライブビューモード)、または光学ファインダを選択して被写体の構図決めが可能となっている。なお、電子ファインダと光学ファインダとの切替えは、図２に示す切替スイッチ８５を操作することにより行われる。
【００３７】
位相差ＡＦモジュール１０７は、被写体のピント情報を検出する測距素子等からなる所謂ＡＦセンサとして構成されている。この位相差ＡＦモジュール１０７は、ミラー部１０３の底部に配設されており、位相差検出方式の焦点検出（以下では「位相差ＡＦ」ともいう）により合焦位置を検出する。すなわち、撮影待機時においてユーザが光学ファインダ３１６で被写体を確認する場合には、図３に示すように主ミラー１０３１およびサブミラー１０３２がダウンされた状態で位相差ＡＦモジュール１０７に被写体からの光が導かれる。そして、この位相差ＡＦモジュール１０７からの出力に基づき交換レンズ２内のフォーカスレンズが駆動されてピント合わせが行われる。
【００３８】
撮像素子１０１の光軸方向前方には、シャッタユニット４０が配置されている。このシャッタユニット４０は、上下方向に移動する幕体を備え、その開動作および閉動作により光軸ＬＴに沿って撮像素子１０１に導かれる被写体光の光路開口動作および光路遮断動作を行うメカニカルフォーカルプレーンシャッタとして構成されている。なお、シャッタユニット４０は、撮像素子１０１が完全電子シャッター可能な撮像素子である場合には省略可能である。
【００３９】
＜撮像装置１の機能構成＞
図５は、撮像装置１の機能構成を示すブロック図である。
【００４０】
図５に示すように、撮像装置１は、上述した交換レンズ２およびＬＣＤ３１１を備えるとともに、交換レンズ２を通った被写体光像が結像される撮像素子１０１を有している。
【００４１】
撮像素子１０１は、上述のように撮像面１０１ｆで受光した被写体の光像に基づき光電変換作用によって本撮影画像に係る画像信号（記録用の画像信号）を生成する。そして、撮像素子１０１で生成された画像信号は、Ａ／Ｄ変換回路等を備えたアナログフロントエンド（ＡＦＥ）５１に出力される。
【００４２】
撮像素子１０１の各画素に蓄積された電荷信号(画素信号)は、インタレース方式による信号読出しが可能である。具体的には、図６に示すように撮像面１０１ｆにおいて奇数行の電荷信号を読出す第１フィールドＦａ(平行斜線部)の読出しを行った後に、第１フィールドＦａの読出しが完了した後に、偶数行の電荷信号を読出す第２フィールドＦｂの読出しが行われる。
【００４３】
また、撮像素子１０１については、４つの出力チャンネルから電荷信号を読出すことが可能である。具体的には、図７に示すように撮像面１０１ｆにおいて水平方向に分割された第１チャンネルＨａ、第２チャンネルＨｂ、第３チャンネルＨｃおよび第４チャンネルＨｄごとに電荷信号の読出しを行えるようになっている。
【００４４】
撮像素子１０１からアナログ電気信号として出力された画像信号は、ＡＦＥ５１によってデジタル画像データ（画像データ）に変換される。この画像データは、例えばＣＰＵを備えて構成される信号処理部６に入力される。
【００４５】
信号処理部６は、ＡＦＥ５１から出力された画像データに対してデジタル信号処理を行い、撮像画像に係る画像データを生成する。この信号処理部６では、画素補間処理や、画像データを構成する各画素データの黒レベルを基準の黒レベルに補正したり、画像のホワイトバランスを調整するなどの各種の画像処理が行われる。そして、各画像処理で生成される画像データを一時的に記憶するためのＲＡＭ５２が信号処理部６とデータ伝送可能に設けられている。
【００４６】
信号処理部６でデジタル信号処理が施された画像データは、ＬＣＤ３１１に画像表示させることが可能である。この画像表示によって、撮影画像を確認するための確認表示（アフタービュー）、および撮影済みの画像を再生する再生表示等が実現される。また、信号処理部６においてデジタル信号処理が施されＲＡＭ５２に一時記憶される画像データは、信号処理部６にてＪＰＥＧ形式のデータ圧縮処理等が施された後、記録媒体としてのメモリカード９０に記憶させることも可能である。また、信号処理部６は、計時機能を有しており、現在の日時を取得することが可能である。
【００４７】
信号処理部６には、データ伝送可能にフラッシュＲＯＭ５３が接続している。そして、フラッシュＲＯＭ５３には、信号処理部６のＣＰＵで実行されることにより後述の欠陥検出制御部６１として機能する欠陥検出プログラムＰＧが格納されている。なお、メモリカード９０に記録されている欠陥検出プログラムＰＧなどのプログラムデータを、フラッシュＲＯＭ５３にインストールすることで、そのプログラムを撮像装置１の動作に反映できる。
【００４８】
信号処理部６は、撮像素子１０１で後発的に（例えば工場出荷後にユーザが撮像装置を購入してから）生じた異常な欠陥画素(後発的欠陥画素)の検出処理を実行・制御する欠陥検出制御部６０と、撮像素子１０１で取得した画像信号に対して欠陥画素の補正を行う欠陥画素補正部６５とを備えている。この欠陥画素補正部６５では、後述するフラッシュＲＯＭ５３内の欠陥データ格納領域５３０に記憶された欠陥画素の位置データに基づき、例えば欠陥画素の周辺画素から出力された画素信号で画素補間する欠陥画素の補正処理が行われる。なお、欠陥検出制御部６０および欠陥画素補正部６５は、上述したＣＰＵによって機能的に実現されている。
【００４９】
欠陥検出制御部６０は、欠陥画素の検出処理を管理する検出処理管理部６１と、欠陥画素の検出処理で必要な画素信号を撮像素子１０１から読み出す画素信号読出し部６２と、欠陥画素の検出処理を実行する欠陥画素検出部６３と、検出された欠陥画素の位置データ等を欠陥データ格納領域５３０に記録するデータ記録制御部６４とを備えている。この画素信号読出し部６２によって撮像素子１０１から読出された画素信号は、ＲＡＭ５２内の画素信号格納領域５２０に記憶されるとともに、この記憶された画素信号に対して欠陥画素検出部６３による欠陥画素検出が行われる。なお、欠陥画素検出部６３では、例えばシャッターユニット４０を閉止状態にして撮像素子１０１で生成された各画素信号の平均レベルに対して、一定以上高いレベルの画素が欠陥画素(白欠陥の画素)として検出されることとなる。そして、欠陥画素検出部６３においては、撮像面１０１ｆを領域分割して得られた８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄ(図８参照)それぞれに属する画素群ごとに欠陥画素の検出が可能である(後で詳述)。
【００５０】
以上のような構成の欠陥検出制御部６による欠陥画素の検出処理を、以下で詳しく説明する。
【００５１】
＜欠陥画素の検出処理について＞
撮像装置１では、既述のように欠陥検出制御部６を用いて後発的欠陥画素の検出が可能である。そして、この欠陥画素の検出処理においては、撮像素子１０１の撮像面１０１ｆを分割し、分割された領域(以下では「分割領域」ともいう)ごとに実施することにより、各分割領域での欠陥画素検出時を分散させ、その処理負担を軽減しつつ、撮像装置１を使用する際には撮像素子１０１の全画素についての欠陥画素の検査を適切に完了している状態とする。
【００５２】
具体的には、撮像素子１０１の撮像面１０１ｆを、上述した第１・第２フィールドＦａ、Ｆｂ毎に分割するとともに、第１〜第４チャンネルＨａ〜Ｈｄ毎にも分割して、図８に示す８つの分割領域Ｅａａ、Ｅａｂ、Ｅａｃ、Ｅａｄ、Ｅｂａ、Ｅｂｂ、Ｅｂｃ、Ｅｂｄに区分けする。このように撮像素子１０１のインターレース読出しに関する各フィールドに基づいた領域分割および撮像素子１０１の各チャンネルに基づいた領域分割により撮像面１０１ｆを分割して８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄを得るようにすれば、各分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄからの画素信号読出しを簡易に実現できることとなる。そして、欠陥画素検出を行ってから新たな欠陥画素が撮像素子１０１で発生する可能性が低い期間(例えば１週間)が経過するまでは、撮像装置１が起動される度に、その時点で欠陥画素検出の完了時点が最も古い１つの分割領域に対して欠陥画素検出を行う。このように分割領域毎に欠陥画素検出を行うことにより、撮像素子１０１の全画素に対しての一括した欠陥画素検出に比べて、画素信号格納領域５２０として使用するＲＡＭ５２のメモリ領域を１/８程度に削減できるとともに、欠陥画素検出で必要な画素信号の読出し時間を約１/８に短縮できる。なお、各分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄで欠陥画素検出の検査が完了すると、その分割領域で検出された欠陥画素の位置データ(以下では「欠陥画素データ」とも略称する)と検査完了日時とがデータ記録制御部６４によりフラッシュＲＯＭ５３内の欠陥データ格納領域５３０に記憶される。すなわち、８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄそれぞれについて欠陥画素検出を直近に実行した時点(直近実行時点)に関する日時情報が欠陥データ格納領域５３０に記録されることとなる。
【００５３】
以上のような欠陥画素の検出処理を行う撮像装置１の具体的な動作を、次で説明する。
【００５４】
＜撮像装置１の動作＞
図９は、撮像装置１の基本的な動作を示すフローチャートである。この動作については、特に撮像装置１が起動した直後に行う欠陥画素の検出処理を示しており、欠陥検出プログラムＰＧが信号処理部６０のＣＰＵで実行されることによって実施される。
【００５５】
まず、メインスイッチ３１７に対するユ−ザ操作により電源がオンにされ撮像装置１が起動されると、各分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄ(図８)に関する欠陥画素検出の検査完了日時をフラッシュＲＯＭ５３内の欠陥データ格納領域５３０から検出処理管理部６１に読出す。そして、検出処理管理部６１は、信号処理部６０の計時機能を用いて現在の日時を取得し、各分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄ毎に検査完了日時から現在までの経過時間を算出する(ステップＳ１)。
【００５６】
ステップＳ２では、欠陥画素検出の検査完了時点から一定期間(例えば１週間)が経過した分割領域があるかを検出処理管理部６１で判定する。ここで、一定期間が経過した分割領域がある場合には、ステップＳ３に進み、そのような分割領域がない場合には、ステップＳ４に進む。
【００５７】
ステップＳ３では、欠陥画素検出の検査完了時点から一定期間が経過した分割領域全てを、検査対象領域として検出処理管理部６１で設定する。すなわち、８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄにおいて直近に欠陥画素検出を実行した時点(直近実行時点)から一定期間が経過した分割領域がある場合には、該当する分割領域全てが検査対象領域(選択領域)として選択される。これにより、一定期間が経過し新たな欠陥画素が発生している可能性がある分割領域全てについての欠陥画素検出を撮像装置１の起動時に行える。その結果、起動された撮像装置１を実際に使用する時には撮像素子１０１の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行った状態で、欠陥画素補正を実施できることとなる。
【００５８】
ステップＳ４では、８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄのうち欠陥画素検出の検査完了日時、つまり欠陥画素検出を直近に実行した時点(直近実行時点)が最も古い分割領域を、検査対象領域として検出処理管理部６１で設定する。すなわち、８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄにおいて欠陥画素検出の直近実行時点から一定期間が経過した分割領域がない場合には、８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄのうち一部の分割領域が検査対象領域(選択領域)として選択される。これにより、撮像装置１が起動される度に、撮像素子１０１に対する欠陥画素検出を徐々に進めることが可能となるため、一定期間が経過した分割領域の発生を抑制して、ステップＳ３で検査対象領域に設定される分割領域の数を低減できる。また、１つの分割領域だけが検査対象領域に設定されるため、検査時間が短くて済み、これにより撮像装置１の起動完了が遅延するのを最小限に抑えることができる。その結果、ユーザがシャッターチャンスを逃す確率を小さくできることとなる。
【００５９】
ステップＳ５では、ステップＳ３またはステップＳ４で設定された検査対象領域に属する画素群で生成される画素信号を撮像素子１０１から読出すために、その検査対象領域に関する撮像素子１０１の駆動モードと読出しモードとを設定する。例えば、図８に示す分割領域Ｅａｂが検査対象領域に設定されている場合には、第１フィールドＦａ(図６)のうちの第２チャンネルＨｂ(図７)が読出されるように撮像素子１０１についての設定が行われる。
【００６０】
ステップＳ６では、ステップＳＴ５で設定された駆動モードおよび読出しモードに従って、例えばシャッターユニット４０を閉じた状態で生成された検査対象領域の画素信号を撮像素子１０１から画素信号読出し部６２に読出す。ここで、画素信号読出し部６２に読み出された画素信号は、ＲＡＭ５２内の画素信号格納領域５２０に記憶される。
【００６１】
ステップＳ７では、画素信号格納領域５２０に格納されている画素信号に基づき、検査対象領域に対する欠陥画素検出を欠陥画素検出部６３で行い、欠陥データ格納領域５３０の欠陥画素データを更新する。すなわち、撮像装置１が起動される際には、８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄから選択された検査対象領域(選択領域)に対しての欠陥画素検出が欠陥画素検出部６３で実行され、その検出結果が、データ記録制御部６４により欠陥データ格納領域５３０に記録される。
【００６２】
ステップＳ８では、検査対象領域に設定され欠陥画素検出が行われた分割領域の検査完了日時を現在の日時に更新する。具体的には、フラッシュＲＯＭ５３内の欠陥データ格納領域５３０に格納されている分割領域毎の検査完了日時を書き換える。
【００６３】
以上のような撮像装置１の動作により、撮像装置１の起動時に欠陥画素検出の検査完了時点から一定期間が経過した分割領域全てを検査対象領域に設定して欠陥画素検出を行うため、撮像素子の全画素に関する後発的欠陥画素の検出を的確に行える。これにより、ユーザが撮像装置１を使用する際には、撮像素子１０１の後発的欠陥画素で生成される画素信号に対して適切な欠陥画素補正を行えることとなる。
【００６４】
＜変形例＞
・上記の実施形態におけるステップＳ４(図９)の動作については、検査完了日時が最も古い分割領域を検査対象領域として設定するのは必須でなく、任意に選択された１つの分割領域を検査対象領域として設定するようにしても良い。また、分割領域に係る分割数より少ない２以上の分割領域を検査対象領域として設定しても良い。
【００６５】
・上記の実施形態においては、撮像面１０１ｆを８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄに分割するのは必須でなく、インターレース読出しに関する各フィールドに基づいた領域分割により撮像面１０１ｆを２つに分割しても、撮像素子１０１の各チャンネルに基づいた領域分割により撮像面１０１ｆを４つに分割するようにしても良い。また、フィールドやチャンネルに基づく領域分割に拘泥されず、撮像面１０１ｆを２以上の領域に分割しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置１の外観構成を示す図である。
【図２】撮像装置１の外観構成を示す図である。
【図３】撮像装置１の縦断面図である。
【図４】ミラー部１０３におけるミラーアップの状態を示す図である。
【図５】撮像装置１の機能構成を示すブロック図である。
【図６】撮像面１０１ｆに規定される第１フィールドＦａおよび第２フィールドＦｂを説明するための図である。
【図７】撮像面１０１ｆに規定される各チャンネルＨａ〜Ｈｄを説明するための図である。
【図８】撮像面１０１ｆに規定される８つの分割領域Ｅａａ〜Ｅｂｄを説明するための図である。
【図９】撮像装置１の基本的な動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６７】
１  撮像装置
２  交換レンズ
６  信号処理部
１０  カメラボディ
５２  ＲＡＭ
５３  フラッシュＲＯＭ
６０  欠陥検出制御部
６１  検出処理管理部
６２  画素信号読出し部
６３  欠陥画素検出部
６４  データ記録制御部
６５  欠陥画素補正部
９０  メモリカード
１０１  撮像素子
１０１ｆ  撮像面
５２０  画素信号格納領域
５３０  欠陥データ格納領域
Ｅａａ〜Ｅｂｄ  分割領域
Ｆａ  第１フィールド
Ｆｂ  第２フィールド
Ｈａ  第１チャンネル
Ｈｂ  第２チャンネル
Ｈｃ  第３チャンネル
Ｈｄ  第４チャンネル
ＰＧ  欠陥検出プログラム
【図１】
2009267593.tif 000003
【図２】
2009267593.tif 000004
【図３】
2009267593.tif 000005
【図４】
2009267593.tif 000006
【図５】
2009267593.tif 000007
【図６】
2009267593.tif 000008
【図７】
2009267593.tif 000009
【図８】
2009267593.tif 000010
【図９】
2009267593.tif 000011