(57)【要約】【課題】  内部情報とエラーとの因果関係に対する判断を容易にすることができる記憶装置、内部情報保存プログラム、内部情報保存方法を提供する。【解決手段】  データを記憶領域へ記録する記憶装置であって、予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断部（ＭＰＵ９）と、判断部により所定の条件が満たされたと判断された場合に、満たされた条件と記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理部（ＭＰＵ９）とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
データを記憶領域へ記録する記憶装置であって、
予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断部と、
前記判断部により前記所定の条件が満たされたと判断された場合に、該満たされた条件と前記記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理部と
を備える記憶装置。
【請求項２】
請求項１に記載の記憶装置において、
時間の経過をカウントするカウント部をさらに備え、
前記判断部は、前記カウント部によりカウントされる時間が予め設定された所定の時間に達した場合、前記所定の条件が満たされたと判断し、
前記内部情報管理部は、前記所定の時間と該所定の時間に達するまでの内部情報とを対応付けて管理することを特徴とする記憶装置。
【請求項３】
請求項１に記載の記憶装置において、
前記判断部は、前記内部情報における所定の値が予め設定された所定の値に達した場合、前記所定の条件が満たされたと判断し、
前記内部情報管理部は、前記所定の値と該所定の値に達するまでの内部情報とを対応付けて管理することを特徴とする記憶装置。
【請求項４】
請求項２に記載の記憶装置において、
前記内部情報管理部は、管理する内部情報の情報密度を前記所定の時間に基づいて変更することを特徴とする記憶装置。
【請求項５】
請求項３に記載の記憶装置において、
前記内部情報管理部は、管理する内部情報の情報密度を前記所定の値に基づいて変更することを特徴とする記憶装置。
【請求項６】
データを記憶領域へ記録する記憶装置における内部情報保存方法であって、
予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断ステップと、
前記判断ステップにより前記所定の条件が満たされたと判断された場合に、該満たされた条件と前記記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理ステップと
を備える内部情報保存方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は内部情報を保存する記憶装置及び内部情報保存方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えばハードディスクのような記憶装置は、エラーに対する原因解析の為の情報として、エラー発生時の記憶装置の情報だけでなく、記憶装置本体の温度、Ｒｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ  Ｓｅｃｔｏｒカウント、リカバードカウント、ショックイベント数、Ｌｏａｄ／Ｕｎｌｏａｄ数などを内部情報として収集している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、内部情報は、現時点までのトータルカウント（温度に関しては過去最高温度、過去最低温度）として収集されるものであり、この内部情報とエラーとの因果関係を解明することは困難であるという問題がある。また、この問題により内部情報に基づくエラーに対する改善も困難であるという問題がある。
【０００４】
これらの問題について具体的な例を図により説明する。図９は、従来の内部情報の一例を示す図である。この内部情報には、記憶装置の起動時間、リード数、リードエラー数、ライト数、ライトエラー数、外部ショック検出カウント数、記憶装置の最大温度及び最低温度が記録されており、最大温度、最低温度を除くこれらの情報は記憶装置の初回起動からのトータルカウントである。この内部情報によれば、記憶装置は今までにリードエラーが１０回、ライトエラーが３０回検出されている。また、原因として考えられる外部ショック検出カウント数が１０００回であり、最大温度が６０℃である。しかしながら、このような内部情報から、リードエラー数及びライトエラー数が多い原因が外部ショック、温度のいずれであるのかを判断することはできない。
【０００５】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、内部情報とエラーとの因果関係に対する判断を容易にすることができる記憶装置及び内部情報保存方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決するため、記憶装置は、データを記憶領域へ記録する装置であって、予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断部と、前記判断部により前記所定の条件が満たされたと判断された場合に、該満たされた条件と前記記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理部とを備える。
【０００７】
また、内部情報保存方法は、データを記憶領域へ記録する記憶装置における方法であって、予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断ステップと、前記判断ステップにより前記所定の条件が満たされたと判断された場合に、該満たされた条件と前記記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理ステップとを備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、内部情報とエラーとの因果関係に対する判断を容易にすることができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態について図を用いて説明する。なお、実施の形態では、磁気ディスク装置（ＨＤＤ）を記憶装置の一例として説明するが、態様を限定するものではない。
【００１０】
実施の形態１．
まず、本実施の形態に係るＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）について説明する。図１は、実施の形態１に係るＨＤＤの構成を示すブロック図である。また、図２は、実施の形態１に係るＨＤＤ及びそのホスト装置を示すブロック図である。
【００１１】
図１に示すように、ＨＤＤ１は、ホストＩＦ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）制御部２、バッファ制御部３、バッファメモリ４、不揮発性メモリ５、フォーマット制御部６、リードチャネル７、ヘッドＩＣ８、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ、判断部、内部情報管理部、カウント部）９、メモリ１０、プログラムメモリ１１、サーボ制御部１２、ヘッドアクチュエータ１３、スピンドルモータ１４、リードライトヘッド１５、ディスク媒体１６（記憶領域）、コモンバス１７を備えるものである。
【００１２】
ホストＩＦ制御部２は、図１に図示しないホストインターフェイスを制御する制御回路である。また、バッファ制御部３は、バッファメモリ４及び不揮発性メモリ５を制御する制御回路である。また、バッファメモリ４は、ディスク媒体１６に読み書きされるデータを一時的に格納するものである。また、不揮発性メモリ５は、ＨＤＤ１の内部情報を格納するものである。また、フォーマット制御部６は、フォーマットを制御する制御回路である。また、リードチャネル７は、ディスク媒体１６に対してリードライトヘッド１５により読み書きされるデータの復調及び変調を行うものである。また、ヘッドＩＣ８は、ディスク媒体１６からリードライトヘッド１５により読み取られた信号を増幅するものである。また、ＭＰＵ９は、ＨＤＤ１の制御に係る処理を行うものである。また、メモリ１０は、ＨＤＤ１の制御に係るデータ及びプログラムを一時的に格納するものである。また、プログラムメモリ１１は、ＨＤＤ１の制御に係るプログラムを格納する不揮発性メモリ（ＦＲＯＭ）である。また、サーボ制御部１２は、ヘッドアクチュエータ１３及びスピンドルモータ１４の動作を制御するものである。また、ヘッドアクチュエータ１３は、リードライトヘッド１５を駆動するものである。また、スピンドルモータ１４は、ディスク媒体１６を回転させるものである。また、リードライトヘッド１５は、ディスク媒体１６に磁気によりデータを記憶させ、記憶させたデータを読み取るものである。また、コモンバス１７は、ホストＩＦ制御部２、バッファ制御部３、フォーマット制御部６、リードチャネル７、ヘッドＩＣ８、ＭＰＵ９、メモリ１０、プログラムメモリ１１、サーボ制御部１２を接続するバスである。
【００１３】
また、図２に示すように、本実施の形態に係るＨＤＤ１は、図１に図示しないホストインターフェイス１８により例えばパーソナルコンピュータのようなホスト装置１００と接続されているものである。
【００１４】
次に、本実施の形態に係るＨＤＤの動作について説明する。図３は、実施の形態１に係る内部情報保存処理の動作を示すフローチャートである。また、図４は、実施の形態１に係る内部情報保存領域を示す図である。
【００１５】
まず、ＭＰＵ９は、１時間のタイマをセットし（Ｓ１０１、カウントステップ）、ＨＤＤ１におけるリードコマンド数、ライトコマンド数などを内部情報として収集し、カウントアップしつつメモリ１０に格納する（Ｓ１０２）。なお、ＨＤＤ１の温度に関しては、タイマとしてセットされた１時間内の平均温度、最高温度、最低温度を算出するために、一定間隔で温度をメモリに格納する。
【００１６】
次に、ＭＰＵ９は、タイマをセットしてから１時間経過したかどうかを判断する（Ｓ１０３、判断ステップ）。
【００１７】
タイマをセットしてから１時間経過している場合（Ｓ１０３，ＹＥＳ）、ＭＰＵ９は、収集した内部情報を内部情報保存領域に保存する（Ｓ１０４、内部情報管理ステップ）。ここで内部情報保存領域について説明する。この内部情報保存領域は、図４に示すように、ディスク媒体１６におけるユーザ領域とは異なる所定の領域である。なお、本実施の形態に係るＨＤＤ１は、内部情報保存領域を不揮発性メモリ５に保存することもできる。また、内部情報の保存の際、ＭＰＵ９は、１時間内の一定間隔でメモリに格納した温度から平均温度、最高温度、最低温度をそれぞれ算出するものとする。
【００１８】
内部情報を内部情報保存領域に保存すると、ＭＰＵ９は、メモリ１０上の内部情報をクリアし（Ｓ１０５）、１時間のタイマをリセットし（Ｓ１０６、カウントステップ）、再び内部情報を収集しメモリ１０に格納する（Ｓ１０２）。
【００１９】
また、ステップＳ１０３において、タイマをセットしてから１時間経過していない場合（Ｓ１０３，ＮＯ）、ＭＰＵ９は、再び内部情報を収集しメモリ１０に格納する（Ｓ１０２）。
【００２０】
上述したように、所定の時間毎に内部情報が保存されることによって、エラーとその原因の因果関係について判断することが容易となる。なお、図３において、タイマの時間を１時間としたが、この時間は可変であり、ホスト装置１００側から設定を変更することによって内部情報を保存するタイミングを変えることができる。また、タイミングによって収集する情報の密度を変化させても良い。例えば、１時間毎にエラー発生回数だけを保存し、３時間毎に温度、リードライトセクタ数、リードライトコマンド数、ショックイベント数などを保存する。これにより収集する情報の重要度に応じて保存するタイミングを変えることができ、結果として内部情報保存領域の容量を消費せずに内部情報のログをより多く保存することができる。また、内部情報保存領域に保存された内部情報は、一定期間経過した情報から消去されるようにしても良い。
【００２１】
次に、内部情報保存領域に保存された内部情報と、この内部情報による効果について説明する。図５は、実施の形態１に係る対策前の保存内部情報の一例を示す図である。また、図６は、実施の形態１に係る対策後の保存内部情報の一例を示す図である。
【００２２】
図５に示すように、内部情報保存領域に保存された内部情報である保存内部情報は、１時間毎に区切られた装置の起動時間と、それぞれのタイミングにおいて収集された内部情報が対応付けられて保存されているものである。この保存内部情報において１〜２時間のタイミングにおいてリードエラーが１０回発生しており、２〜３時間のタイミングにおいてライトエラーが３０回発生している。また、１〜２時間のタイミングにおいて、ＨＤＤ１の最大温度が６０℃に達している。また、２〜３時間のタイミングにおいて、外部ショック検出カウント数が１０００回に達している。これらの情報からＨＤＤ１のエラーに対する解析を行う解析者は、リードエラーの原因として最も可能性が高いのが最大温度であり、ライトエラーの原因として最も可能性が高いのが外部ショックであると容易に判断することができる。また、例えば、エラーが起こったタイミングにおいて、最も平均値との差が大きい内部情報をエラーに対する原因としてＭＰＵ９に判断させても良い。
【００２３】
上述のように、温度と外部ショックがエラーの原因と判断した解析者は、これらの原因に対して対策を施す。また、解析者は、図５に示した対策前の保存内部情報と、図６に示すような対策後の保存内部情報を比較することによって、エラーに対する対策の効果を確認することができる。図６に示す対策後の保存内部情報において、最大温度が６０℃であるタイミングにおけるリードエラー数は０回である。また、外部ショック検出カウント数が１０００回であるタイミングにおけるライトエラー数は０回である。これらの結果から、解析者はエラーに対する対策の効果を容易に確認することができる。
【００２４】
実施の形態２．
上述した実施の形態１における内部情報を内部情報保存領域に保存する条件である保存条件は所定の時間の経過であるが、本実施の形態における保存条件は内部情報の値である。具体的には、いずれかの内部情報の値が予め設定された所定の値に達した場合に内部情報を内部情報保存領域に保存する。本実施の形態に係るＨＤＤの構成は実施の形態１と同様であるが、保存条件が異なるために内部情報保存処理の動作が異なる。図７は、実施の形態２に係る内部情報保存処理の動作を示すフローチャートである。なお、この実施の形態では、リード数が１０００回に達することを保存条件とする。
【００２５】
まず、ＭＰＵ９は、ＨＤＤ１におけるリードコマンド数、ライトコマンド数などを内部情報として収集し、カウントアップしつつメモリ１０に格納する（Ｓ２０１）。なお、ＨＤＤ１の温度に関しては、設定された条件に達するまでの平均温度、最高温度、最低温度を算出するために、一定間隔で温度をメモリに格納する。
【００２６】
次に、ＭＰＵ９は、設定された条件を満たしたかどうか、つまりリード数が１０００回に達したかどうかを判断する（Ｓ２０２、判断ステップ）。
【００２７】
リード数が１０００回に達した場合（Ｓ２０２，ＹＥＳ）、ＭＰＵ９は、収集した内部情報を内部情報保存領域に保存する（Ｓ２０３、内部情報管理ステップ）。この際、ＭＰＵ９は、保存条件を満たすまで一定間隔でメモリに格納した温度から平均温度、最高温度、最低温度をそれぞれ算出するものとする。
【００２８】
内部情報を内部情報保存領域に保存すると、ＭＰＵ９は、メモリ１０上の内部情報をクリアし（Ｓ２０４）、再び内部情報を収集しメモリ１０に格納する（Ｓ２０１）。
【００２９】
また、ステップＳ２０２において、リード数が１０００回に達していない場合（Ｓ２０２，ＮＯ）、ＭＰＵ９は、再び内部情報を収集しメモリ１０に格納する（Ｓ２０１）。
【００３０】
上述したように、本実施の形態に係るＨＤＤ１は、内部情報の数値に基づいて内部情報を保存することができる。また、本実施の形態に係るＨＤＤ１は、保存条件とする内部情報の値のトータルカウントをクリアせず、保存条件とする内部情報の値によって収集する情報の密度を変化させても良い。例えば、リード数１０００回毎にエラー発生回数だけを保存し、リード数３０００回毎に温度、リードライトセクタ数、リードライトコマンド数、ショックイベント数などを保存する。これにより収集する情報の重要度に応じて保存するタイミングを変えることができ、結果として内部情報保存領域の容量を消費せずに内部情報のログをより多く保存することができる。
【００３１】
次に、実施の形態２に係る保存内部情報について説明する。図８は、実施の形態２に係る保存内部情報の一例を示す図である。
【００３２】
図８に示すように、実施の形態２に係る保存内部情報は、条件を満たしたタイミングにおける保存内部情報を示す保存内部情報Ｎｏ．と、条件を満たすまでの内部情報の値が対応付けられているものである。このように対応付けられることによって、時間による間隔ではなく、動作または状態間隔におけるエラー回数を知ることができる。例えば、エラーの原因である可能性が高い動作または状態を保存条件とすることによって、エラーの原因を特定することができる。
【００３３】
以上実施の形態１及び実施の形態２により説明したように、本発明によれば、所定の条件をトリガーとして内部情報をログとして保存することができる。なお、上述した各実施の形態の動作を組み合わせ、例えば時間と内部情報の両方を内部情報を保存するための条件としても良い。また、実施の形態１及び実施の形態２において、本発明に係る処理をＨＤＤ１内で行ったが、内部情報をホスト装置１００が取得し、ホスト装置１００により本発明に係る処理が実行されても良い。また、ホスト装置１００を介してネットワークにより接続された機器により本発明に係る処理が実行されても良い。
【００３４】
本発明は、その要旨または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
【００３５】
以上、本実施の形態によれば、以下の付記で示す技術的思想が開示されている。
（付記１）  データを記憶領域へ記録する記憶装置であって、
予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断部と、
前記判断部により前記所定の条件が満たされたと判断された場合に、該満たされた条件と前記記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理部と
を備える記憶装置。
（付記２）  付記１に記載の記憶装置において、
時間の経過をカウントするカウント部をさらに備え、
前記判断部は、前記カウント部によりカウントされる時間が予め設定された所定の時間に達した場合、前記所定の条件が満たされたと判断し、
前記内部情報管理部は、前記所定の時間と該所定の時間に達するまでの内部情報とを対応付けて管理することを特徴とする記憶装置。
（付記３）  付記１に記載の記憶装置において、
前記判断部は、前記内部情報における所定の値が予め設定された所定の値に達した場合、前記所定の条件が満たされたと判断し、
前記内部情報管理部は、前記所定の値と該所定の値に達するまでの内部情報とを対応付けて管理することを特徴とする記憶装置。
（付記４）  付記１乃至付記３のいずれかに記載の記憶装置において、
前記内部情報管理部は、前記内部情報を前記記憶領域とは異なる記憶領域に保存することを特徴とする記憶装置。
（付記５）  付記２に記載の記憶装置において、
前記内部情報管理部は、管理する内部情報の情報密度を前記所定の時間に基づいて変更することを特徴とする記憶装置。
（付記６）  付記３に記載の記憶装置において、
前記内部情報管理部は、管理する内部情報の情報密度を前記所定の値に基づいて変更することを特徴とする記憶装置。
（付記７）  データを記憶領域へ記録する記憶装置における内部情報保存方法であって、
予め設定された所定の条件が満たされたかどうかを判断する判断ステップと、
前記判断ステップにより前記所定の条件が満たされたと判断された場合に、該満たされた条件と前記記憶装置の動作または状態に関する情報である内部情報とを対応付けて管理する内部情報管理ステップと
を備える内部情報保存方法。
（付記８）  付記１３に記載の内部情報保存方法において、
時間の経過をカウントするカウントステップをさらに備え、
前記判断ステップは、前記カウントステップによりカウントされる時間が予め設定された所定の時間に達した場合、前記所定の条件が満たされたと判断し、
前記内部情報管理ステップは、前記所定の時間と該所定の時間に達するまでの内部情報とを対応付けて管理することを特徴とする内部情報保存方法。
（付記９）  付記７に記載の内部情報保存方法において、
前記判断ステップは、前記内部情報における所定の値が予め設定された所定の値に達した場合、前記所定の条件が満たされたと判断し、
前記内部情報管理ステップは、前記所定の値と該所定の値に達するまでの内部情報とを対応付けて管理することを特徴とする内部情報保存方法。
（付記１０）  付記７乃至付記９のいずれかに記載の内部情報保存方法において、
前記内部情報管理ステップは、前記内部情報を前記記憶領域とは異なる記憶領域に保存することを特徴とする内部情報保存方法。
（付記１１）  付記８に記載の内部情報保存方法において、
前記内部情報管理ステップは、管理する内部情報の情報密度を前記所定の時間に基づいて変更することを特徴とする内部情報保存方法。
（付記１２）  付記９に記載の内部情報保存方法において、
前記内部情報管理ステップは、管理する内部情報の情報密度を前記所定の値に基づいて変更することを特徴とする内部情報保存方法。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】実施の形態１に係るＨＤＤの構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１に係るＨＤＤ及びそのホスト装置を示すブロック図である。
【図３】実施の形態１に係る内部情報保存処理の動作を示すフローチャートである。
【図４】実施の形態１に係る内部情報保存領域を示す図である。
【図５】実施の形態１に係る対策前の保存内部情報の一例を示す図である。
【図６】実施の形態１に係る対策後の保存内部情報の一例を示す図である。
【図７】実施の形態２に係る内部情報保存処理の動作を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態２に係る保存内部情報の一例を示す図である。
【図９】従来の内部情報の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００３７】
１  ＨＤＤ、２  ホストＩＦ制御部、３  バッファ制御部、４  バッファメモリ、５  不揮発性メモリ、６  フォーマット制御部、７  リードチャネル、８  ヘッドＩＣ、９  ＭＰＵ（判断部、内部情報管理部）、１０  メモリ、１１  プログラムメモリ、１２  サーボ制御部、１３  ヘッドアクチュエータ、１４  スピンドルモータ、１５  リードライトヘッド、１６  ディスク媒体、１７  コモンバス、１８  ホストインターフェイス、１００  ホスト装置、Ｓ１０１  カウントステップ、Ｓ１０３  判断ステップ、Ｓ１０４  内部情報管理ステップ、Ｓ１０６  カウントステップ、Ｓ２０１  カウントステップ、Ｓ２０２  判断ステップ、Ｓ２０３  内部情報管理ステップ。
【図１】
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【図２】
2009238277.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2009238277.tif 000009
【図８】
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【図９】
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