(57)【要約】【課題】  測定対象物に照射される光の偏光状態を、簡単、低コストで制御することができる、新規な光コヒーレンストモグラフィを提供する。【解決手段】  照射光学系ｂにおいて、レンズ７とビームスプリッタ２の間に、測定対象物100に向けて光を照射する偏波保持ファイバ１１と、ビームスプリッタ２で分岐された他方の光を、偏波保持ファイバ１１の遅軸ｙに対し直線偏光の振動面を少なくとも４５度傾けて入力する導入光学系（導入偏波保持ファイバ１４）を有する。偏波保持ファイバ１１から測定対象物100に向けて照射される光の偏光状態は、偏波保持ファイバ１１の長さに応じて調整される。【選択図】  図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出力された直線偏光を、偏波保持ファイバを通して測定対象物に照射する光コヒーレンストモグラフィであって、
前記偏波保持ファイバの遅軸に対し前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段を少なくとも有し、測定対象物に向けて照射される光の偏光状態を調整可能に形成したことを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項２】
請求項１記載の光コヒーレンストモグラフィであって、
コヒーレンス長が短い直線偏光を出力する光源と、
前記光源から出力された光を二分岐するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタで分岐された一方の光を、1/4波長板を経由してミラーで反射させ前記ビームスプリッタに戻す参照光学系と、
前記ビームスプリッタで分岐された他方の光を、レンズを介して測定対象物に照射し、前記測定対象物で反射、散乱した光を、前記レンズを介してビームスプリッタに戻す照射光学系と、
前記ビームスプリッタにおいて結合された前記参照光学系からの光と前記照射光学系からの光を、偏波ビームスプリッタで異なる偏光状態に分離し、それぞれの光強度を検出する検出光学系と、を備え、
前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段が、前記ビームスプリッタで分岐された他方の光を、前記偏波保持ファイバの遅軸に対し直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する導入光学系であり、
前記照射光学系は、前記レンズと前記ビームスプリッタの間に、測定対象物に向けて光を照射する偏波保持ファイバと、前記導入光学系と、を配したことを特徴とする請求項１記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項３】
前記偏波保持ファイバの長さ可変手段を有し、前記偏波保持ファイバの長さの変更により、測定対象物に向けて照射される光の偏光状態を調整可能に形成したことを特徴とする請求項１又は２に記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項４】
前記偏波保持ファイバの長さ可変手段がファイバストレッチャであることを特徴とする請求項３記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項５】
前記偏波保持ファイバの遅軸に対し、前記直線偏光の振動面を少なくとも４５度傾けて入力することを特徴とする請求項３又は４に記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項６】
前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段が、前記偏波保持ファイバに対し４５度回転した状態で接続されている導入偏波保持ファイバであり、
前記直線偏光は、その振動面が、前記導入偏波保持ファイバの速軸または遅軸のどちらかになるよう前記導入偏波保持ファイバに入力されることを特徴とする請求項３乃至５のいずれかに記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項７】
前記偏波保持ファイバの長さが実質的にビート長以下であることを特徴とする請求項３乃至６のいずれかに記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項８】
前記偏波保持ファイバは、
測定対象物に照射される光の偏光状態を変化させる偏光調整偏波保持ファイバと、
前記偏光調整偏波保持ファイバと略同一長さで偏光調整偏波保持ファイバに対し９０度回転した状態で接続されている波長依存性補償ファイバと、からなることを特徴とする請求項３乃至６のいずれかに記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項９】
前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段が1/2波長板であり、
測定対象物に向けて照射される光の偏光状態を、前記1/2波長板により調整可能としたことを特徴とする請求項１又は２に記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項１０】
前記1/2波長板は、前記偏波保持ファイバの遅軸に対し、前記直線偏光の振動面を０度または４５度のいずれかの角度に選択し傾けて入力可能に形成されていることを特徴とする請求項９に記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項１１】
前記偏波保持ファイバの長さは、前記直線偏光の振動面を４５度に傾けて入力したときの測定対象物に照射される光が円偏光になるように調整されていることを特徴とする請求項９又は１０に記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項１２】
前記偏波保持ファイバの長さが実質的にビート長以下であることを特徴とする請求項９乃至１１のいずれかに記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【請求項１３】
前記偏波保持ファイバは、
測定対象物に照射される光の偏光状態を変化させる偏光調整偏波保持ファイバと、
前記偏光調整偏波保持ファイバと略同一長さで偏光調整偏波保持ファイバに対し９０度回転した状態で接続されている波長依存性補償ファイバと、からなることを特徴とする請求項９乃至１２のいずれかに記載の光コヒーレンストモグラフィ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光コヒーレンストモグラフィに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、測定対象物の内部を非破壊により検査する技術が各種提案されている。例えば、光を用いて測定対象物の断層像を得る光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ；Optical Coherence Tomography）が知られている。
【０００３】
光コヒーレンストモグラフィは一般的に、コヒーレンス長が短い直線偏光を出力する広帯域光源、この光源から出力された光を二分岐する分岐／結合手段（例えばビームスプリッタ）、分岐された一方の光を1/4波長板を経由して可動ミラーで反射させ分岐／結合手段に戻す参照光学系、分岐された他方の光をレンズを介して測定対象物に照射しその測定対象物で反射・散乱した光を前記レンズを介して分岐／結合手段に戻す照射光学系、分岐／結合手段において結合された参照光学系からの光と照射光学系からの光を、偏波ビームスプリッタでｓ偏光とｐ偏光に分離し、それぞれの光強度を検出する検出光学系、などを備えている。そして、光源から出力されたコヒーレンス長の短い（十数μｍ程度）光を測定対象物に照射する。照射した光の一部は測定対象物の内部に浸透し、内部で反射又は散乱されて後方に伝播する。内部で反射又は散乱された光の位置と強度を、検出光学系の干渉計を用いて測定し、断層構造を可視化するようになっている。
【０００４】
また、このようなＯＣＴ技術を利用した偏光ＯＣＴも知られている。複屈折を有する測定対象物に光を照射すると、その光は、測定対象物の内部で散乱又は反射し、後方に伝播する光の偏光状態が変化する。偏光ＯＣＴでは、この変化を検出することにより、測定対象物の複屈折特性の断層分布を可視化する。詳しくは、測定対象物で散乱又は反射した光の垂直成分の強度、水平成分の強度、垂直成分の直線偏光と水平成分の直線偏光の位相差などを測定している。
【０００５】
これらＯＣＴ技術において、照射する光の偏光状態の制御には通常、1/4波長板、1/2波長板、ＥＯ位相変調器などの光学機器が用いられている。
1/4波長板は、入射光線に1/4波長の位相差を生じさせる機能を持った波長板で、直線偏光を円偏光に変えることができる。
1/2波長板は、入射光線に1/2波長の位相差を生じさせる機能を持った波長板で、直線偏光の振動方向を回転させることができる。
ＥＯ位相変調器は電気光学効果を用いた位相変調器で、異方性を有する電気光学効果を用いた位相変調器に、異方性の軸に対して４５度傾いた直線偏光を入射することにより、直線偏光を構成する互いに直交する固有波（直線偏光）の一方にだけ位相変調を与えることができる。これにより、位相変調器から出力される光の偏光状態を変化させることができる。
【０００６】
これら光学機器を用いて、照射する光の偏光状態を制御するＯＣＴ技術を開示した文献として、非特許文献１乃至６をあげることができる。
非特許文献１は、測定対象物に照射する光の偏光状態を、1/4波長板を用いて、直線偏光から円偏光に変化させている。
非特許文献２では、測定対象物に照射する光は、1/4波長板で直線偏光から円偏光にしており、参照光は、1/4波長板を回転させて偏光状態を変化させている。
非特許文献３では、測定対象物に照射する光を、1/2波長板により、直線偏光の振動面を０度、４５度、９０度に変化させている。
非特許文献４では、光源から出力した直後の光の偏光状態を、電気光学（ＥＯ）位相変調器により、ビームスプリッタの前で変化させている。
非特許文献５では、LCD-based addressable wave plateの速軸に対して、４５度傾いた直線偏光を入射し、wave plateのリタデーション量を変化させ、偏光状態を制御している。
非特許文献６では、ＥＯ位相変調器の結晶の電場軸に対して、振動方向が４５度傾いた直線偏光を入射することにより、測定対象物に照射される光の偏光状態を変化させている。
【０００７】
【非特許文献１】M.R.Hee et al., J. Opt. Soc. Am. B, vol.9, no.6, pp.903-908, 1992.
【非特許文献２】J.F.de Boer et al., Opt. Lett., vol.22, no.12, pp.934-936, 1997.
【非特許文献３】J.F.de Boer et al., Opt. Lett., vol.24, no.5, pp.300-302, 1999.
【非特許文献４】C.E.Saxer et al., Opt. Lett., vol.25, no.18, pp.1355-1357, 2000.
【非特許文献５】J.E.Roth et al., Opt. Lett., vol.26, no.14, pp.1069-1071, 2001.
【非特許文献６】J.Zhang et al., Opt. Express, vol.11, no.24, pp.3262-3270, 2003.
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
前述したように、従来の光コヒーレンストモグラフィ技術においては、測定対象物に照射される光の偏光状態の制御に、1/2波長板、1/4波長板、ＥＯ位相変調器などの光学機器を用いている。よって、測定機器の小型化、低コスト化などを阻害するという問題があった。
【０００９】
本発明はこのような従来事情に鑑みて成されたもので、その目的とする処は、測定対象物に照射される光の偏光状態を、簡単、低コストで制御することができる、新規な光コヒーレンストモグラフィを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
以上の目的を達成するために本発明は、光源から出力された直線偏光を、偏波保持ファイバを通して測定対象物に照射する光コヒーレンストモグラフィであって、前記偏波保持ファイバの遅軸（または速軸）に対し前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段を少なくとも有し、測定対象物に向けて照射される光の偏光状態を調整可能に形成したことを特徴とする。
【００１１】
より具体的には、
コヒーレンス長が短い直線偏光を出力する光源と、
前記光源から出力された光を二分岐するビームスプリッタと、
前記ビームスプリッタで分岐された一方の光を、1/4波長板を経由してミラーで反射させ前記ビームスプリッタに戻す参照光学系と、
前記ビームスプリッタで分岐された他方の光を、レンズを介して測定対象物に照射し、前記測定対象物で反射、散乱した光を、前記レンズを介してビームスプリッタに戻す照射光学系と、
前記ビームスプリッタにおいて結合された前記参照光学系からの光と前記照射光学系からの光を、偏波ビームスプリッタで異なる偏光状態に分離し、それぞれの光強度を検出する検出光学系と、を備え、
前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段が、前記ビームスプリッタで分岐された他方の光を、前記偏波保持ファイバの遅軸に対し直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する導入光学系であり、
前記照射光学系は、前記レンズと前記ビームスプリッタの間に、測定対象物に向けて光を照射する偏波保持ファイバと、前記導入光学系と、を配したことを特徴とする。
【００１２】
図１に示すように、偏波保持ファイバの遅軸（または速軸）に対して、振動面が所定角度、この例では４５度傾いた直線偏光を入力すると、偏波保持ファイバを伝播する光は、直線偏光→楕円偏光、楕円偏光→円偏光、円偏光→楕円偏光、楕円偏光→入力した直線偏光に対して振動面が９０度回転した直線偏光、へと順次変化する。このような偏光状態の変化は繰り返され、ビート長の整数倍のところで、入力した偏光状態に戻る。このような特性を利用して、偏波保持ファイバの遅軸（または速軸）に対し、振動面が４５度傾いた直線偏光を入力した箇所から、光が出力される箇所までの、偏波保持ファイバの長さを任意に調整することにより、偏光状態が変化した光を作り出すことができる。よって、測定対象物に照射される光の偏光状態を、容易に制御することが可能になる。
【００１３】
前記偏波保持ファイバの長さ可変手段として、例えば、ファイバストレッチャをあげることができる。
【００１４】
ファイバストレッチャの具体的一態様として、例えば、ファイバの中途部分を円柱状のピエゾ素子に巻き付け、このピエゾ素子を径方向に拡張させるなどの態様をあげることができる。このようなストレッチ手段を用いてファイバを伸ばすことにより、光路長を変化させることができる。これにより、偏波保持ファイバの長さを、測定対象物に照射される光が直線偏光、円偏光、楕円偏光のいずれかになるように、任意に調整することが可能になる。ピエゾ素子を拡張させるためには、通常、電圧を制御するコントローラなどを用いることは言うまでもない。
【００１５】
偏光状態の制御を容易に行うには、偏波保持ファイバの遅軸（または速軸）に対し、直線偏光の振動面を４５度傾けて入力することが、より好ましい。
【００１６】
前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段は、前記偏波保持ファイバに対し４５度回転した状態で接続されている導入偏波保持ファイバとすることができる。この場合、前記直線偏光は、その振動面が、前記導入偏波保持ファイバの速軸または遅軸のどちらかになるよう前記導入偏波保持ファイバに入力され、さらに、前記接続箇所を経由して前記偏波保持ファイバに入力することにより、測定対象物に向けて照射する光の偏光状態を前記偏波保持ファイバにて調整可能となる。
【００１７】
前記偏波保持ファイバの長さは、実質的にビート長以下であることが好ましい。
【００１８】
前記偏波保持ファイバは、測定対象物に照射される光の偏光状態を変化させる偏光調整偏波保持ファイバと、前記偏光調整偏波保持ファイバと略同一長さで偏光調整偏波保持ファイバに対し９０度回転した状態で接続されている波長依存性補償ファイバとからなることが好ましい。
【００１９】
また、前記直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段として、波長板をあげることができる。この場合、測定対象物に向けて照射される光の偏光状態を、前記波長板により調整可能に形成する。
【００２０】
前記波長板として1/2波長板を用い、前記偏波保持ファイバの遅軸に対し、前記直線偏光の振動面を０度または４５度のいずれかの角度に選択し傾けて入力可能に形成することが好ましい。
【００２１】
前記偏波保持ファイバの長さは、測定対象物に照射される光が円偏光になるように調整されていると良い。
【００２２】
またこの場合も、前記偏波保持ファイバは、測定対象物に照射される光の偏光状態を変化させる偏光調整偏波保持ファイバと、前記偏光調整偏波保持ファイバと略同一長さで偏光調整偏波保持ファイバに対し９０度回転した状態で接続されている波長依存性補償ファイバとからなることが好ましい。
【発明の効果】
【００２３】
本発明に係る光コヒーレンストモグラフィは以上説明したように、偏波保持ファイバの遅軸に対し直線偏光の振動面を所定角度、好ましくは４５度傾けて入力する手段を少なくとも有し、当該手段により、前記偏波保持ファイバから測定対象物に向けて照射される光の偏光状態を調整可能な構成とした。これにより、偏波保持ファイバを所定の長さに調整することで、円偏光、楕円偏光、９０度回転した直線偏光を、選択的に作り出すことができる。
血管内などの狭い部分に挿入するためのＯＣＴプローブ（光を測定対象物に照射するプローブ）には、当然のことながら小型化が要求される。小型化を実現するためには部品点数を減らす必要がある。
本発明は、波長板やＥＯ位相変調器などの光学機器を用いる代わりに、前記した偏波保持ファイバの特性を有効に利用して、測定対象物に照射する光の偏光状態を容易に制御することができる。
よって、光測定機器の小型化や操作性の向上、低コスト化の促進にも寄与するなど、多くの効果が期待できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の実施形態の例を図面に基づいて説明する。
【００２５】
図１は、本例の光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ）の基本原理となる、偏波保持ファイバの特性を示す。
偏波保持ファイバ１の遅軸ｙ（または速軸ｘ）に対して、４５度傾いている直線偏光を入射すると、その直線偏光は伝播距離に応じて、直線偏光→楕円偏光、楕円偏光→円偏光、円偏光→楕円偏光、楕円偏光→入力した直線偏光に対して振動面が９０度回転した直線偏光、へと順次変化する。このような偏光状態の変化は繰り返され、ビート長の整数倍のところで、入力した偏光状態に戻る。よって、所望の偏光状態の光を取り出すためには、伝播距離を調整する。
すなわち、振動面が４５度傾いた直線偏光を入力した部分から、光が出力されるまでの、偏波保持ファイバ１の長さを任意に調整すればよい。
なお、直線偏光の振動面の傾きは必ずしも４５度に限定されるものではないが、偏光状態を容易に制御可能とするには、４５度傾いている直線偏光を入力することが好ましい。
【００２６】
図２に、本例の光コヒーレンストモグラフィの概略を示す。
この光コヒーレンストモグラフィＡは、光源１、この光源１から出力された光を二分岐するビームスプリッタ２、光源１とビームスプリッタ２の間に配置されたレンズ３および偏光子４に加え、参照光学系ａ、照射光学系ｂ、検出光学系ｃなどを備えている。
【００２７】
光源１は、コヒーレンス長が短い光（一般的に十数μｍ）を発生する光源を用いても良いし、コヒーレンス長の長い光を発生する光源からコヒーレンス長が短い光を生成する機器を用いるなど、ＯＣＴに搭載可能な各種光源を用いることができる。
【００２８】
参照光学系ａは、ビームスプリッタ２で分岐された一方の光を、1/4波長板５を経由してミラー６で反射させ、ビームスプリッタ２に戻すように形成されている。ミラーには通常、可動ミラーを用い、不図示の制御部で動作制御を行うようにする。
【００２９】
照射光学系ｂは、ビームスプリッタ２で分岐された他方の光を、レンズ７を介して測定対象物100に照射し、測定対象物100で反射、散乱した光を、レンズ７を介してビームスプリッタ２に戻すように形成されている。
【００３０】
検出光学系ｃは、前記した参照光学系ａから戻ってきた光と、照射光学系ｂから戻ってきた光をビームスプリッタ２で結合し、その結合された光を、偏波ビームスプリッタ８で、直交する二つの直線偏光、具体的にはｓ偏光とｐ偏光に分離し、それぞれの光強度を、干渉計としての光検出器９、１０などで検出するように形成されている。
【００３１】
照射光学系ｂは、前記したレンズ７とビームスプリッタ２の間に、偏波保持ファイバ１１と、この偏波保持ファイバ１１の遅軸ｙ（または速軸ｘ）に対して、直線偏光の振動面を少なくとも４５度傾けて入力する手段としての導入光学系（図２では不図示）と、ビームスプリッタ２と偏波保持ファイバ１１の間に配したレンズ１２と、を有し、測定対象物100に照射される光の偏光状態を、偏波保持ファイバ１１で調整し得るように形成されている。
【００３２】
図３に、前記した導入光学系を具体化した光コヒーレンストモグラフィの概略を示す。なお、図２の例と同様の構成要素については図中に前記と同一の符号を付し、重複する説明を一部省略する。
【００３３】
この例の導入光学系は、偏波保持ファイバ１１の基端側（ビームスプリッタ２側）に、偏波保持ファイバ１１に対し４５度回転した状態で接続（融着１３）されている、導入偏波保持ファイバ１４で構成されている。
この例では、ビームスプリッタ２から出力された直線偏光は、その振動面が、導入偏波保持ファイバ１４の速軸または遅軸のどちらかになるよう導入偏波保持ファイバ１４に入力され、前記融着１３箇所を経由して、偏波保持ファイバ１１に入力される。
【００３４】
このような光コヒーレンストモグラフィＡによれば、導入偏波保持ファイバ１４を介して、偏波保持ファイバ１１の遅軸ｙ（または速軸ｘ）に対し、振動面が４５度傾いた直線偏光が入力される。偏波保持ファイバ１１を伝播する光は、直線偏光→楕円偏光、楕円偏光→円偏光、円偏光→楕円偏光、楕円偏光→入力した直線偏光に対して振動面が９０度回転した直線偏光、へと順次変化する。
この特性を利用して、偏波保持ファイバ１１の遅軸（速軸）に対し振動面が４５度傾いた直線偏光を入力した箇所（前記融着１３箇所）から、光が出力される箇所（偏波保持ファイバ１１の先端）に至る、偏波保持ファイバ１１の長さを任意に調整することにより、偏光状態が変化した光を作り出すことができる。
【００３５】
図４に、偏波保持ファイバ１１の長さを調整する可変手段（長さ可変手段）を備えた光コヒーレンストモグラフィＡの概略を示す。なお、図２、図３の例と同様の構成要素については図中に前記と同一の符号を付し、重複する説明を省略する。
【００３６】
この例の長さ可変手段は、円柱状のピエゾ素子１５と、このピエゾ素子１５を径方向に拡張させるための電圧コントローラ（不図示）などからなるファイバストレッチャである。そして、偏波保持ファイバ１１の中途部分を前記ピエゾ素子１５に巻き付け、このピエゾ素子１５を径方向に拡張させて偏波保持ファイバ１１を伸ばすことにより、偏波保持ファイバ１１の長さを変化させることができる。
この例では、偏波保持ファイバ１１の長さ（後述する偏光調整領域１１ａの長さ）を、測定対象物に照射される光が、直線偏光と円偏光のいずれかになるように調整可能としている。
【００３７】
また、偏波保持ファイバ１１は、ビート長以下の長さであるとよい。この場合、偏波保持ファイバにおける光路長の波長依存性を小さくできるが、長さを変化させることは難しい。そこで、測定対象物100に照射される光の偏光状態を変化させる偏光調整偏波保持ファイバ１１ａと、この偏光調整偏波保持ファイバ１１ａを先端側に有し、実使用の長さを稼ぐための延長領域である波長依存性補償ファイバ１１ｂと、からなる構成とすると良い。波長依存性補償ファイバ１１ｂは、偏光調整偏波保持ファイバ１１ａと略同一長さで、偏光調整偏波保持ファイバ１１ａに対し９０度回転した状態で接続され、前記した長さ調整のための部分、測定時の操作用の部分などとして機能する。
【００３８】
図５に、偏波保持ファイバと、この偏波保持ファイバの遅軸に対し直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段の具体例をまとめて示す。
【００３９】
図中の（１）は、ビート長以下の長さの偏波保持ファイバに対し、４５度回転した状態で、導入偏波保持ファイバを融着した例を示す。
【００４０】
（２）は、偏波保持ファイバが、偏光調整偏波保持ファイバ（Ｌ２）と、この偏光調整偏波保持ファイバと略同一長さをもって９０度回転した状態で接続されている波長依存性補償ファイバ（Ｌ１）からなる例を示す。Ｌ１−Ｌ２は、偏波保持ファイバにおける光路長の波長依存性を小さくするためビート長以下の長さとしている。波長依存性補償ファイバ（Ｌ１）に対し、４５度回転した状態で、導入偏波保持ファイバが融着されている。
【００４１】
（３）は、直線偏光の振動面を所定角度傾けて入力する手段に1/2波長板を用いて、これにより対象物に向けて照射される光の偏光状態を調整可能とした例を示す。この場合、偏波保持ファイバの長さにおいて、Ｌ１とＬ２との差を、測定対象物に照射される光が円偏光になる長さとする。
【００４２】
（４）は、前記した（２）の例において、波長依存性補償ファイバ（Ｌ１）の中途部分をファイバストレッチャで長さ調整可能とした例を示す。
【００４３】
それぞれの例において、図示を省略した要素は、図２〜図４のいずれかに示された構成と同様であることは言うまでもない。
【００４４】
ちなみに、上述した各例において、偏波保持ファイバ１１の先端を捻ることで、測定対象物100に照射する偏光の振動方向を回転させることもできる。特に、偏波保持ファイバ１１の長さがビート長の1/2の整数倍であるとき、測定対象物100に照射する直線偏光の振動方向を回転させることができる。
この場合、直線偏光の振動方向の回転により引き起こされる直交する二つの成分の光強度変化は、９０度周期であるため、９０度の回転範囲で十分である。また、振動方向が４５度異なる直線偏光を照射することにより、一方の振動方向の直線偏光が、測定対象物の複屈折の遅軸又は速軸に一致したため偏光状態の変化が生じなくても、もう一方の振動方向の直線偏光（前記直線偏光の振動方向より４５度回転している）では確実に偏光状態の変化が生じ、感度よい測定が出来る。
【００４５】
以上、本発明に係る光コヒーレンストモグラフィの実施形態の数例を図面に基づき説明したが、本発明はこれらの例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇において各種の変更が可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明に係る光コヒーレンストモグラフィの基本原理を説明する概念図。
【図２】本発明に係る光コヒーレンストモグラフィの実施形態例の概略図。
【図３】本発明に係る光コヒーレンストモグラフィの実施形態例の概略図。
【図４】本発明に係る光コヒーレンストモグラフィの実施形態例の概略図。
【図５】本発明に係る光コヒーレンストモグラフィの実施形態例の説明図。
【符号の説明】
【００４７】
１：光源
２：ビームスプリッタ
ａ：参照光学系
５：1/4波長板
６：ミラー
ｂ：照射光学系
７：レンズ
１１：偏波保持ファイバ
１１ａ：偏光調整偏波保持ファイバ
１１ｂ：波長依存性補償ファイバ
１４：導入偏波保持ファイバ
１５：ピエゾ素子
ｃ：検出光学系
８：偏波ビームスプリッタ
９、１０：光検出器
【図１】
2009264826.tif 000003
【図２】
2009264826.tif 000004
【図３】
2009264826.tif 000005
【図４】
2009264826.tif 000006
【図５】
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