(57)【要約】【課題】従来のターミナルと電極とをはんだ付けるするはんだ付け装置では、一定量のはんだを電極表面に供給するようにしていたので、ターミナルの電極表面からの突き出し長さが短くなっている場合には、ターミナルがはんだに埋もれてしまっていた。【解決手段】ワーク１０から突出するターミナル１１に電極２０を嵌装し、電極２０とターミナル１１とをはんだ付けする方法であって、ターミナル１１に電極２０を嵌装する工程と、ターミナル１１の軸方向における該ターミナル１１の先端位置Ａを測定する工程と、ターミナル１１の軸方向における電極２０の表面位置Ｃを測定する工程と、測定したターミナル１１の先端位置Ａと、測定した電極２０の表面位置Ｃとの差分を測定差分値（Ｃ−Ａ）として算出する工程と、算出した差分の大きさに対応した量のはんだ３を、ターミナル１１と電極２０とのはんだ付け部９に供給する工程とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワークから突出するターミナルに電極を嵌装し、嵌装した前記電極とターミナルとをはんだ付けするはんだ付け方法であって、
前記ターミナルに電極を嵌装する電極嵌装工程と、
前記ターミナルの軸方向における該ターミナルの先端位置を測定するターミナル測定工程と、
前記ターミナルの軸方向における前記電極の位置を測定する電極測定工程と、
前記ターミナル測定工程にて測定したターミナルの先端位置と、前記電極測定工程にて測定した電極の位置との差分を測定差分値として算出する算出工程と、
前記算出工程にて算出した差分の大きさに対応した量のはんだを、前記ターミナルと電極とのはんだ付け部に供給するはんだ供給工程とを備える、
ことを特徴とするはんだ付け方法。
【請求項２】
前記はんだ供給工程では、
単位時間当たりのはんだ供給量を一定にして前記はんだ付け部へのはんだ供給が行われ、
はんだ供給時間を制御することにより前記はんだ付け部へのはんだ供給量を調整する、
ことを特徴とする請求項１に記載のはんだ付け方法。
【請求項３】
前記はんだ供給工程では、
前記はんだ供給時間を、
前記算出工程にて算出した測定差分値と、
予め設定された、前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合のターミナルの先端位置と電極の位置との基準差分値と、
前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合に前記はんだ付け部へ適量のはんだを供給することができる基準はんだ供給時間とを用いて表わされる下記の式
はんだ供給時間＝基準はんだ供給時間×（測定差分値／基準差分値）
により決定する、
ことを特徴とする請求項２に記載のはんだ付け方法。
【請求項４】
ワークから突出するターミナルに嵌装した電極と、該ターミナルとをはんだ付けするはんだ付け装置であって、
前記ターミナルに嵌装された電極と該ターミナルとのはんだ付け部にはんだを供給するはんだ供給具と、
前記ターミナルの軸方向における該ターミナルの先端位置、および前記ターミナルの軸方向における該ターミナルに嵌装された電極の位置を測定する位置測定器と、
前記位置測定器により測定された前記ターミナルの先端位置と前記電極の位置との差分を測定差分値として算出し、算出した差分の大きさに応じて前記はんだ供給具からのはんだ供給量を制御する制御装置とを備える、
ことを特徴とするはんだ付け装置。
【請求項５】
前記はんだ供給具は、単位時間当たりのはんだ供給量が一定になるように前記はんだ付け部へはんだを供給するように構成され、
前記制御装置は、前記はんだ供給具によるはんだ付け部に対するはんだ供給時間を制御することにより、前記はんだ付け部へのはんだ供給量を調整する、
ことを特徴とする請求項４に記載のはんだ付け装置。
【請求項６】
前記制御装置では、
前記はんだ供給時間を、
算出した測定差分値と、
予め設定された、前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合のターミナルの先端位置と電極の位置との基準差分値と、
前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合に前記はんだ付け部へ適量のはんだを供給することができる基準はんだ供給時間とを用いて表わされる下記の式
はんだ供給時間＝基準はんだ供給時間×（測定差分値／基準差分値）
により決定する、
ことを特徴とする請求項５に記載のはんだ付け装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ワークから突出するターミナルに電極を嵌装し、嵌装した前記電極とターミナルとをはんだ付けするはんだ付け方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＩＰＭ（Ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｔ  Ｐｏｗｅｒ  Ｍｏｄｕｌｅ）などのワークから突出するターミナルに電極をはんだ付けする際には、例えばピン状に突出するターミナルに電極に形成された孔を嵌合させて該電極をターミナルに嵌装し、嵌装した電極表面にレーザー光を照射するとともに糸状のはんだを供給して、照射したレーザー光により供給されたはんだを溶融させて、電極の表面側に突出するターミナルと該電極とをはんだ付けすることが行われている。
【０００３】
前述のようにはんだ付けする際には、はんだ供給ユニットなどを用いて一定量のはんだを電極表面に供給するように構成して、はんだ付け状態を一定に保つようにしており、ターミナルに正常に嵌装された電極をはんだ付けした場合には、ターミナルの先端部がはんだから若干突出した状態となる。
【０００４】
例えば図６に示すように、ワーク１０のターミナル１１に孔２１を嵌合させることにより該ターミナル１１に正常に嵌装された電極２０と、前記ターミナル１１とをはんだ３により接合した場合には、ターミナル１１の先端部がはんだ３から若干突出しており、はんだ付け部の外観を目視することによりターミナル１１の先端部を確認することが可能となっている。
なお、ここで、「電極２０がターミナル１１に正常に嵌装されている」とは、電極２０が突出しているターミナル１１の基端部まで押し込まれて、電極２０とワーク１０との間に殆ど隙間がない状態をいう。
【０００５】
このように、従来ターミナルに電極をはんだ付けする際には、はんだ供給ユニットなどを用いて一定量の糸状のはんだを電極表面に供給するように構成しているが、一定量のはんだを供給する構成としては、特許文献１に示すようなものもある。
つまり、特許文献１には、基板のクリームはんだ塗布予定部の高さを測定し、該測定結果に基づいてクリームはんだを吐出するクリームはんだ吐出ノズルの高さを移動させて補正し、常に基板とクリームはんだ吐出ノズルとの間隔を一定とした状態でクリームはんだを基板に塗布し、常に一定量のクリームはんだを塗布することができる塗布装置が開示されている。
【０００６】
また、従来のはんだ付け装置においては、はんだ付けを行う電極表面に一定量のはんだを供給するように構成しているが、はんだ供給時のばらつきによりはんだ不足が生じる場合があるが、このような場合には次のようにしてはんだを補充し、はんだ供給量を補正することが可能となっている。
つまり、特許文献２に示すはんだ付け装置は、電子部品のリード線をレーザー光により加熱し、この被加熱部に糸状のはんだを供給することにより、前記電子部品のリード線を前記基板にはんだ付けするはんだ付け装置であって、はんだ付け後に、実際のはんだ供給量を計算によって求め、この計算値があらかじめ設定された適正な供給量の範囲にあるかどうかを判断し、計算値が適正な供給量の範囲を超えて不足しているとき、再はんだ付けに必要なはんだ充填量を計算によって算出し、同一はんだ付け部に対する再はんだ時の初期入力として設定して、設定した充填量のはんだをはんだが不足している部分に再はんだを行うように構成されている。
【０００７】
【特許文献１】特開平５−２００５４０号公報
【特許文献２】特開昭６１−２３５０６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
前述のように、一定量のはんだを電極表面に供給するように構成して、はんだ付け状態を一定に保つように構成したはんだ付け装置の場合、電極がターミナルに正常に嵌装された状態では一定のはんだ付け状態ではんだ付けすることができる。
しかし、例えば図７に示すように、電極２０をターミナル１１に嵌装する際に電極２０のターミナル１１に対する押し込み量が不足している場合（すなわち、ワーク１０と電極２０との間に隙間が生じている場合）には、ターミナル１１の電極２０表面からの突き出し長さが短くなっているため、電極２０が正常に嵌装されている場合と同量のはんだ３が電極２０表面に供給されると、ターミナル１１の長さに対して供給されるはんだ３の量が多くなって、ターミナル１１がはんだ３に全体的に埋もれてしまい、ターミナル１１を外観にて目視することができなくなってしまう。
【０００９】
このように、はんだ付け後にターミナル１１を外観にて目視することができない場合、は、ターミナル１１が折れているなどの不良が発生しているおそれがあるため、ターミナル１１を目視できないはんだ付け部が存在しているワーク１０は廃却処分されてしまうこととなり、歩留り低下の原因となる。
【００１０】
また、前述の特許文献２には、はんだ付け状態がばらついたときに供給するはんだ量を補正して再はんだ付けを行う構成が開示されているが、特許文献２に記載されるはんだ付け装置では、はんだ付け部のはんだ量が不足したときに、その不足分を補充する技術であるため、前述の電極２０のターミナル１１に対する押し込み量が不足している場合のように、供給されるはんだ３の量が多い場合に適用することはできない。
【００１１】
そこで、本発明においては、電極のターミナルに対する押し込み量が不足している場合などでも、適量のはんだを電極の表面に供給することができ、ターミナルを外観にて目視することを可能とするはんだ付け方法および装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するはんだ付け方法および装置は、以下の特徴を有する。
即ち、請求項１記載の如く、ワークから突出するターミナルに電極を嵌装し、嵌装した前記電極とターミナルとをはんだ付けするはんだ付け方法であって、前記ターミナルに電極を嵌装する電極嵌装工程と、前記ターミナルの軸方向における該ターミナルの先端位置を測定するターミナル測定工程と、前記ターミナルの軸方向における前記電極の位置を測定する電極測定工程と、前記ターミナル測定工程にて測定したターミナルの先端位置と、前記電極測定工程にて測定した電極の位置との差分を測定差分値として算出する算出工程と、前記算出工程にて算出した差分の大きさに対応した量のはんだを、前記ターミナルと電極とのはんだ付け部に供給するはんだ供給工程とを備える。
これにより、電極が、正常に嵌装されている状態に比べてワークとの間に隙間が生じた状態でターミナルに嵌装されており、ターミナルの電極表面からの突き出し長さが短くなっている場合においても、電極表面に供給されたはんだによりターミナルが全体的に埋もれてしまうことがなく、ターミナルの先端がはんだから突出した状態となるため、ターミナルを外観にて目視することが可能となる。
従って、ターミナルに折れなどの不良が発生していない良品のワークが不用意に不良と判断されて廃却処分されることがなく、製品の歩留りを向上することができる。
【００１３】
また、請求項２記載の如く、前記はんだ供給工程では、単位時間当たりのはんだ供給量を一定にして前記はんだ付け部へのはんだ供給が行われ、はんだ供給時間を制御することにより前記はんだ付け部へのはんだ供給量を調整する。
特に、請求項３記載の如く、前記はんだ供給工程では、前記はんだ供給時間を、前記算出工程にて算出した測定差分値と、予め設定された、前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合のターミナルの先端位置と電極の位置との基準差分値と、前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合に前記はんだ付け部へ適量のはんだを供給することができる基準はんだ供給時間とを用いて表わされる下記の式
はんだ供給時間＝基準はんだ供給時間×（測定差分値／基準差分値）
により決定する。
これにより、はんだ供給ユニットの動作時間（はんだ供給時間）を制御するだけで電極の表面位置に応じた量のはんだを容易に供給することが可能となる。
【００１４】
また、請求項４記載の如く、ワークから突出するターミナルに嵌装した電極と、該ターミナルとをはんだ付けするはんだ付け装置であって、前記ターミナルに嵌装された電極と該ターミナルとのはんだ付け部にはんだを供給するはんだ供給具と、前記ターミナルの軸方向における該ターミナルの先端位置、および前記ターミナルの軸方向における該ターミナルに嵌装された電極の位置を測定する位置測定器と、前記位置測定器により測定された前記ターミナルの先端位置と前記電極の位置との差分を測定差分値として算出し、算出した差分の大きさに応じて前記はんだ供給具からのはんだ供給量を制御する制御装置とを備える。
これにより、電極が、正常に嵌装されている状態に比べてワークとの間に隙間が生じた状態でターミナルに嵌装されており、ターミナルの電極表面からの突き出し長さが短くなっている場合においても、電極表面に供給されたはんだによりターミナルが全体的に埋もれてしまうことがなく、ターミナルの先端がはんだから突出した状態となるため、ターミナルを外観にて目視することが可能となる。
従って、ターミナルに折れなどの不良が発生していない良品のワークが不用意に不良と判断されて廃却処分されることがなく、製品の歩留りを向上することができる。
【００１５】
また、請求項５記載の如く、前記はんだ供給具は、単位時間当たりのはんだ供給量が一定になるように前記はんだ付け部へはんだを供給するように構成され、前記制御装置は、前記はんだ供給具によるはんだ付け部に対するはんだ供給時間を制御することにより、前記はんだ付け部へのはんだ供給量を調整する。
特に、請求項６記載の如く、前記制御装置では、前記はんだ供給時間を、前記算出工程にて算出した測定差分値と、予め設定された、前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合のターミナルの先端位置と電極の位置との基準差分値と、前記電極がターミナルの基準位置に嵌装された場合に前記はんだ付け部へ適量のはんだを供給することができる基準はんだ供給時間とを用いて表わされる下記の式
はんだ供給時間＝基準はんだ供給時間×（測定差分値／基準差分値）
により決定する。
これにより、はんだ供給ユニットの動作時間（はんだ供給時間）を制御するだけで電極の表面位置に応じた量のはんだを容易に供給することが可能となる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、電極が正常に嵌装されている状態に比べて、ターミナルの電極表面からの突き出し長さが短くなっている場合においても、電極表面に供給されたはんだによりターミナルが全体的に埋もれてしまうことがなく、ターミナルを外観にて目視することが可能となり、良品のワークが不用意に不良と判断されて廃却処分されることがなく、製品の歩留りを向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
次に、本発明を実施するための形態を、添付の図面を用いて説明する。
【００１８】
図１、図２に示すはんだ付け装置は、ＩＰＭ（Ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｔ  Ｐｏｗｅｒ  Ｍｏｄｕｌｅ）などのワーク１０から突出するターミナル１１に嵌装された電極２０と前記ターミナル１１とをはんだ付けするためのはんだ付け装置であって、前記ターミナル１１に嵌装された電極２０と該ターミナル１１とのはんだ付け部９にはんだ３を供給するはんだ供給具であるはんだ供給ユニット１と、前記電極２０の表面にレーザー光を照射するレーザー照射ユニット２と、前記ターミナル１１の軸方向（図１における上下方向）における該ターミナル１１の先端位置（図１における上端位置）、および前記ターミナル１１の軸方向における該ターミナル１１に嵌装された電極２０の表面位置を測定する位置測定器であるレーザー変位計５と、前記レーザー変位計５により測定された前記ターミナル１１の先端位置と前記電極２０の表面位置との差分を測定差分値として算出し、算出した差分の大きさに応じて前記はんだ供給ユニット１からのはんだ供給量を制御する制御装置６とを備えている。
【００１９】
前記ワーク１０のターミナル１１に嵌装される電極２０は、電極２０に形成される孔２１を該ターミナル１１に嵌合させることで嵌装されている
また、前記電極２０は、前記ターミナル１１に正常に嵌装された状態では、電極２０の表面側に突出しているターミナル１１の基端部まで押し込まれていて、電極２０とワーク１０との間に殆ど隙間がない状態となっている。
【００２０】
前記はんだ供給ユニット１は、具体的には、ノズル１ａからフラックス入りの糸状のはんだ（糸はんだ）３を前記電極２０の表面に供給するものであり、本例では電極２０の表面の斜め上方からはんだ３を供給するように構成されている。
また、はんだ供給ユニット１によるはんだ３の供給は前記制御装置６の制御により行われるものであり、はんだ供給ユニット１からのはんだ３の供給量は、前記ノズル１ａから押し出される糸状のはんだ３の長さにより決定される。
【００２１】
前記はんだ供給ユニット１においては、はんだ３の単位時間当たりの供給量が一定となるように、該はんだ３をノズル１ａから押し出すように制御しており、前記電極２０に対するはんだ３の供給量は、はんだ３の電極２０への供給時間を制御することにより調整可能となっている。
【００２２】
前記レーザー照射ユニット２は、ターミナル１１に嵌装された電極２０の上方に配置されており、上方からレーザー光を照射することにより電極２０の表面が加熱される。
また、前記電極２０の表面にはんだ３を供給した状態で前記レーザー照射ユニット２からレーザー光を照射することにより、電極２０の表面に供給されたはんだ３を加熱して溶融させることができる。
【００２３】
このように、電極２０の表面に供給されたはんだ３をレーザー光の照射により加熱・溶融させることで、前記電極２０と、該電極２０の表面側に突出しているターミナル１１とをはんだ付けが行われる。
なお、前記レーザー照射ユニット２は前記制御装置６に接続されており、該レーザー照射ユニット２からのレーザー光の照射は前記制御装置６により制御されている。
【００２４】
前記レーザー変位計５は、位置計測対象に対してレーザー光を照射する投光部５ａと、位置計測対象に照射されたレーザー光の反射光を受光する受光部５ｂとを備えている。
また、前記レーザー変位計５は、ターミナル１１に嵌装された電極２０の上方に配置されており、レーザー光をターミナル１１の先端に照射して、該ターミナル１１の先端位置（前記投光部５ａからターミナル１１の先端までの距離、図２参照）を測定したり、レーザー光を前記電極２０の表面に照射して、該電極２０の表面位置（前記投光部５ａから電極２０の表面までの距離、図３参照）を測定したりするように構成されている。
【００２５】
なお、前記レーザー変位計５は前記制御装置６に接続されており、前記投光部５ａからの投光は前記制御装置６により制御されている。
また、前記レーザー変位計５にて測定された前記ターミナル１１の先端位置や前記電極２０の表面位置のデータは前記制御装置６に入力されて、該制御装置６内にて処理される。
【００２６】
以上のように構成されるはんだ付け装置により、前記ターミナル１１に嵌装された電極２０と該ターミナル１１とのはんだ付けを行う方法について説明する。
【００２７】
図４に示すように、まず、ワーク１０のターミナル１１に電極２０の孔２１を嵌合させて、該電極２０をターミナル１１に嵌装する（Ｓ０１）。
次に、前記レーザー変位計５により、ターミナル１１の先端にレーザー光を照射して、該ターミナル１１の先端位置（図２における寸法Ａ）を測定する（Ｓ０２）。
また、前記レーザー変位計５により、前記電極２０の表面にレーザー光を照射して、該電極２０の表面位置（図３における寸法Ｃ）を測定する（Ｓ０３）。
【００２８】
前記レーザー変位計５により測定されたターミナル１１の先端位置Ａのデータ、および電極２０の表面位置Ｃのデータが、前記制御装置６に入力され、ターミナル１１の先端位置Ａのデータと電極２０の表面位置Ｃのデータとの差分が制御装置６にて算出される（Ｓ０４）。
【００２９】
さらに、制御装置６においては、算出された前記差分の大きさに応じて、はんだ３の電極２０の表面への供給量を決定する（Ｓ０５）。
この場合、はんだ３の供給量は、制御装置６により次のようにして決定される。
【００３０】
つまり、前記制御装置６においては、ターミナル１１の先端位置Ａと電極２０の表面位置Ｃとの差分値である測定差分値（Ｃ−Ａ）が算出される。
【００３１】
また、前記制御装置６内には、ターミナル１１に対して正常に嵌装された状態の電極２０の表面位置（以降、「基準電極位置」と呼ぶ）が、予め設定されている。
前記基準電極位置は、前記投光部５ａから、図３において２点鎖線にて表わされる正常に嵌装された電極２０の表面までの距離であり、寸法Ｂで表わされる。
そして、前記制御装置６において、ターミナル１１の先端位置Ａと前記基準電極位置Ｂとの差分値である基準差分値（Ｂ−Ａ）が算出される。
【００３２】
また、前記制御装置６内には、はんだ３を電極２０の表面へ供給する際の、「はんだ基準供給時間Ｔｓ」が設定されている。
前記はんだ基準供給時間Ｔｓは、前記基準電極位置Ｂにある電極２０に対して適量のはんだ３を供給するために要する時間である。
また、「電極２０に対して供給するはんだ３の量が適量である」とは、図６に示すように、電極２０とターミナル１１とをはんだ付けすることにより、両者を十分な接合強度で確実に接合するのに必要な量、かつはんだ付け後にターミナル１１の先端がはんだ３に埋もれずに外観にて目視することができるだけの量である。
【００３３】
このように、制御装置６において算出された測定差分値（Ｃ−Ａ）および基準差分値（Ｂ−Ａ）、ならびに制御装置６に予め設定されている「はんだ基準供給時間Ｔｓ」を用いて、電極２０の表面に供給するはんだ３の供給量が、「はんだ供給時間Ｔ」として次式（１）により決定される。
Ｔ＝Ｔｓ×（Ｃ−Ａ）／（Ｂ−Ａ）  ・・・（１）
【００３４】
なお、本例のはんだ付け装置のはんだ供給ユニット１においては、はんだ３の単位時間当たりの供給量が一定となるように、該はんだ３のノズル１ａからの押し出し量が制御されているので、上述のようにはんだ供給時間Ｔを決定することで、実際のはんだ３の供給量を決定することが可能となっている。
【００３５】
制御装置６にて電極２０の表面へのはんだ３の供給量を決定した後、前記はんだ供給ユニット１のノズル１ａから糸状のはんだ３を押し出して電極２０の表面に供給するとともに、レーザー照射ユニット２から前記電極２０の表面に対してレーザー光を照射し、供給したはんだ３を加熱・溶融して電極２０とターミナル１１とのはんだ付けを行う（Ｓ０６）。
【００３６】
このように、制御装置６により、前記測定差分値（Ｃ−Ａ）の大きさに対応してはんだ３の供給量を決定した上で、はんだ３が電極２０の表面に対して供給されるが、例えば電極２０がターミナル１１に対して正常に嵌装されていた場合は、測定した電極２０の表面位置Ｃが基準電極位置Ｂと等しくなる（つまり、Ｃ＝Ｂとなる）ため、前記式（１）によると電極２０の表面に供給するはんだ３の供給量を示すはんだ供給時間Ｔは、はんだ基準供給時間Ｔｓと等しい値に決定される（つまり、Ｔ＝Ｔｓとなる）。
【００３７】
これに対して、ターミナル１１への押し込み量が不足していて、ワーク１０との間に隙間が生じた状態で電極２０が嵌装されていた場合、測定した電極２０の表面位置Ｃは基準電極位置Ｂよりも小さい値を示す（つまり、Ｃ＜Ｂとなる）ため、前記式（１）によるとはんだ供給時間Ｔは、はんだ基準供給時間Ｔｓよりも小さな値に決定される（つまり、Ｔ＜Ｔｓとなる）。
【００３８】
このように、電極２０のターミナル１１に対する押し込み量が不足して、ターミナル１１の電極２０表面からの突き出し長さが短くなっている場合には、はんだ供給時間Ｔがはんだ基準供給時間Ｔｓよりも短く決定され、電極２０が正常に嵌装されている場合に比べて、電極２０の表面へのはんだ３の供給量が少なくなる。
【００３９】
この場合、はんだ供給時間Ｔは、当該表面位置Ｃにある電極２０に供給されるはんだ３の量が適量（電極２０とターミナル１１とをはんだ付けすることにより、両者を十分な接合強度で確実に接合するのに必要な量、かつはんだ付け後にターミナル１１の先端がはんだ３に埋もれずに外観にて目視することができるだけの量）となる時間に設定される。
【００４０】
従って、図５に示すように、ワーク１０との間に隙間が生じた状態で電極２０が嵌装され、ターミナル１１の電極２０表面からの突き出し長さが短くなっている場合においても、供給されたはんだ３によりターミナル１１が全体的に埋もれてしまうことがなく、ターミナル１１の先端がはんだ３から突出した状態となるため、ターミナル１１を外観にて目視することが可能となる。
これにより、ターミナル１１に折れなどの不良が発生していない良品のワーク１０が不用意に不良と判断されて廃却処分されることがなく、製品の歩留りを向上することができる。
【００４１】
また、本例のはんだ付け装置の場合、電極２０に対するはんだ３の供給量は、単位時間当たりのはんだ供給量を一定にしつつ、前記式（１）を用いてはんだ供給時間Ｔを制御することにより調整するようにしているので、はんだ供給ユニット１の動作時間を制御するだけで電極２０の表面位置Ｃに応じた量のはんだ３を容易に供給することが可能となっている。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】ワークのターミナルに嵌装された電極と該ターミナルとのはんだ付けを行うはんだ付け装置に備えられる、はんだ供給ユニットおよびレーザー照射ユニットを示す側面断面図である。
【図２】はんだ付け装置に備えられるレーザー変位計によりターミナルの先端位置を測定している様子を示す側面断面図である。
【図３】はんだ付け装置に備えられるレーザー変位計により電極の表面位置を測定している様子を示す側面断面図である。
【図４】はんだ付け装置によりはんだ付けを行う方法のフローを示す図である。
【図５】ワークとの間に隙間が生じた状態でターミナルに嵌装された電極に供給量を制御したはんだが供給され、ターミナルの先端がはんだから突出した状態ではんだ付けされた電極およびターミナルを示す側面断面図である。
【図６】ターミナルに正常に嵌装された電極に対して適量のはんだを供給して、電極とターミナルとをはんだ付けした状態を示す側面断面図である。
【図７】ワークとの間に隙間が生じた状態でターミナルに嵌装されている電極に対して、正常に嵌装された電極に供給される適量のはんだと同量のはんだが供給され、ターミナルの先端がはんだに埋もれてしまった状態を示す側面断面図である。
【符号の説明】
【００４３】
１    はんだ供給ユニット
２    レーザー照射ユニット２
３    はんだ
５    レーザー変位計
６    制御装置
９    はんだ付け部
１０    ワーク
１１    ターミナル
２０    電極
【図１】
2009190073.tif 000003
【図２】
2009190073.tif 000004
【図３】
2009190073.tif 000005
【図４】
2009190073.tif 000006
【図５】
2009190073.tif 000007
【図６】
2009190073.tif 000008
【図７】
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