(57)【要約】【課題】光透過性樹脂シートに形成されるダイラインを、透過光を利用して生産ライン上で連続的に検査することができるダイラインの検査装置および検査方法を目的する。【解決手段】光透過性樹脂シートＦの一方の側から該光透過性樹脂シートＦの表面に向かって光を照射する光照射手段１０と、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦの間に配置され、複数のスリットを有するマスク１２と、光透過性樹脂シートＦの他方の側に配置され、光透過性樹脂シートＦからの透過光を撮像する撮像手段１４と、撮像した画像を微分処理する微分処理手段１６とを備え、前記スリットの方向と光透過性樹脂シートＦの走行方向とがなす角度が２０〜４０°であり、スリット幅が０．１〜３ｍｍであり、スリット間隔が前記幅の１／３〜３倍であるダイラインの検査装置１。また、検査装置１を用いるダイラインの検査方法。【選択図】図１
2009264743.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走行する光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を検査する装置であって、
前記光透過性樹脂シートの一方の側から該光透過性樹脂シートの表面に向かって光を照射する光照射手段と、該光照射手段と前記光透過性樹脂シートの間に配置され、複数のスリットが並行して設けられたマスクと、前記光透過性樹脂シートの他方の側に配置され、前記光透過性樹脂シートからの透過光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像した画像を微分処理する微分処理手段とを備え、
前記スリットの方向と前記光透過性樹脂シートの走行方向とがなす角度が２０〜４０°であり、スリット幅が０．１〜３ｍｍであり、スリット間隔が前記スリット幅の１／３〜３倍であるダイラインの検査装置。
【請求項２】
走行する光透過性樹脂シートの一方の側から、該光透過性樹脂シートの表面に向かって、複数のスリットが並行して形成されているマスクを介して光を照射し、前記光透過性樹脂シートの他方の側で該光透過性樹脂シートからの透過光を撮像し、撮像した画像を微分処理して、前記光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を検査する方法であって、
前記スリットを、該スリットの方向と前記光透過性樹脂シートの走行方向とがなす角度が２０〜４０°となるように設け、かつ、スリット幅を０．１〜３ｍｍ、スリット間隔を前記スリット幅の１／３〜３倍とするダイラインの検査方法。
【請求項３】
前記光透過性樹脂シートがアクリルフィルムである、請求項２に記載のダイラインの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ダイラインの検査装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光透過性樹脂シートは、導光フィルムなどの光学的用途に用いられ、例えば、スリット状の吐出口を有するＴダイから溶融樹脂を押し出して吐出させ、フィルム状に成形し、冷却ロールで固化させるとともに引き取るＴダイ法などにより製造されている。Ｔダイ法によれば、均一な膜厚の光透過性樹脂シートを精度良く、かつ容易に製造することができる。しかし、Ｔダイ法では、製造される光透過性樹脂シートにダイライン（スジ）が形成されてしまうことがある。光透過性樹脂シートにこのようなダイラインが形成されると、該光透過性樹脂シートからの透過光により得られる像にひずみが生じ、製品の品質が低下してしまう。
【０００３】
ダイラインには、凸状のダイラインと凹状のダイラインの２種類がある。
凸状のダイラインは、Ｔダイの吐出口に一般的にメヤニと呼ばれるしずく状の付着物が形成され、吐出されるフィルム状の溶融樹脂の表面に該付着物が付着することにより、光透過性樹脂シートの走行方向に沿って直線的に形成される欠陥である。
凹状のダイラインは、Ｔダイの内部にゲル状の滞留物が形成されることで、Ｔダイから吐出されてフィルム状に成形される溶融樹脂が該滞留物によって削られることにより、光透過性樹脂シートの走行方向に沿って直線的に形成される欠陥である。
Ｔダイ法を用いた光透過性樹脂シートの製造では、ダイラインの形成が確認されると生産ラインを一旦停止し、Ｔダイを清掃することによりメヤニや滞留物を取り除き、その後に再稼動させる。このようなメヤニや滞留物の形成を抑制することは非常に困難であるため、光透過性樹脂シートの製造にはダイラインの形成を検査することが必要となっている。
【０００４】
光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無の検査方法としては、一定の割合で切り出してきた光透過性樹脂シートの断片を目視により検査する方法が用いられていた。しかし、この方法では、ダイラインの形成の有無を判別する基準が判別者に依存するため、基準が不明確になりやすい。また、光透過性樹脂シートの断片にダイラインの形成が認められると、その断片が含まれていた製品を全て廃棄する必要があったため、生産性の低下および製造コストの高騰の要因となっていた。そのため、光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を生産ライン上で連続的に検査する方法が求められている。
【０００５】
一方、特許文献１には、板状で透明な被検査体（透明板）の欠陥検査装置として、前記被検査体の一方の側から照明光を当てる照明光源と、前記照明光源による前記被検査体の透過光を撮像するテレビカメラと、前記被検査体と前記照明光源との間に、透明部と不透明部をストライプ状もしくはメッシュ状に設けたマスクとを有する検査装置が示されている。
【特許文献１】特開平７−１１０３０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１の検査装置は、透明板に形成された気泡を検出することができる。しかし、透明板に形成される気泡に比べて、一般的に５００μ以下の厚みである光透過性樹脂シートに形成されるダイラインは非常に微細であることから、特許文献１のような検査装置を光透過性樹脂シートのダイラインの検査にそのまま適用してもダイラインの有無を正確に検査することはできなかった。
また、透過光を利用する方法の他に、光透過性樹脂シートに当てた光の反射光を撮像してダイラインの有無を検査する方法も知られている。しかし、反射光を利用する方法は光透過性樹脂シートのばたつきの影響が大きく、反射光により得られる画像が乱れやすいためにダイラインの検査が不安定である。
以上のような理由から、光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を、透過光を利用して生産ライン上で連続的に検査する方法が望まれている。
【０００７】
そこで本発明は、光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を、透過光を利用して生産ライン上で連続的に検査することができるダイラインの検査装置および検査方法を目的する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のダイラインの検査装置は、走行する光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を検査する装置であって、前記光透過性樹脂シートの一方の側から該光透過性樹脂シートの表面に向かって光を照射する光照射手段と、該光照射手段と前記光透過性樹脂シートの間に配置され、複数のスリットが並行して設けられたマスクと、前記光透過性樹脂シートの他方の側に配置され、前記光透過性樹脂シートからの透過光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像した画像を微分処理する微分処理手段とを備え、前記スリットの方向と前記光透過性樹脂シートの走行方向とがなす角度が２０〜４０°であり、スリット幅が０．１〜３ｍｍであり、スリット間隔が前記スリット幅の１／３〜３倍である。
【０００９】
また、本発明のダイラインの検査方法は、走行する光透過性樹脂シートの一方の側から、該光透過性樹脂シートの表面に向かって、複数のスリットが並行して形成されているマスクを介して光を照射し、前記光透過性樹脂シートの他方の側で該光透過性樹脂シートからの透過光を撮像し、撮像した画像を微分処理して、前記光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を検査する方法であって、前記スリットを、該スリットの方向と前記光透過性樹脂シートの走行方向とがなす角度が２０〜４０°となるように設け、かつ、スリット幅を０．１〜３ｍｍ、スリット間隔を前記スリット幅の１／３〜３倍とする方法である。
また、本発明のダイラインの検査方法は、前記光透過性樹脂シートがアクリルフィルムであることが好ましい。
【発明の効果】
【００１０】
本発明のダイラインの検査装置および検査方法は、透過光を利用して、光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を生産ライン上で連続的に検査することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
［ダイラインの検査装置］
本発明のダイラインの検査装置は、走行する光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を検査する装置である。本発明の検査装置の検査対象は特に制限されるものではないが、特に厚みが５００μｍ以下の光透過性樹脂シートに形成される幅１００μｍ以下のダイラインの検査を対象とする。
【００１２】
以下、本発明のダイラインの検査装置の実施形態の一例について、図１〜３に基づいて詳細に説明する。
本実施形態のダイラインの検査装置１は、図１に示すように、光透過性樹脂シートＦの一方の側から該光透過性樹脂シートＦの表面に向かって光を照射する光照射手段１０と、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦの間に配置されたマスク１２と、光透過性樹脂シートＦの他方の側に配置され、光透過性樹脂シートＦからの透過光を撮像する撮像手段１４と、撮像手段１４により撮像した画像を微分処理する微分処理手段１６と、微分処理手段１６により微分処理した結果を出力する外部出力手段１８とを備えている。
【００１３】
光照射手段１０は、光透過性樹脂シートＦの表面に光を照射する手段である。本実施形態の検査装置１では、光照射手段１０が光透過性樹脂シートＦの下方に位置するように設置されており、光透過性樹脂シートＦの下側表面に光を照射するようになっている。
光照射手段１０は、光透過性樹脂シートＦに光を照射できるものであれば特に限定はなく、光透過性樹脂シートＦの幅方向に均一に光を照射できるものであることが好ましい。光照射手段１０としては、例えば、均一に光を照射する面発光体などが挙げられる。具体的には、液晶パネル用のバックライトを使用することができる。
【００１４】
光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦとの距離は、光透過性樹脂シートＦからの透過光が充分に得られる範囲であればよく、光照射手段１０の種類、光透過性樹脂シートＦの種類によって適宜調節すればよい。また、本発明の検査装置１では、光透過性樹脂シートＦが着色されている場合であっても、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦとの距離を調節することにより充分な量の透過光が得られるようにできるため、新たに特別な手段を講じることなく無色の場合と同様にダイラインの有無を検査することができる。
【００１５】
光照射手段１０から光透過性樹脂シートＦに照射する光の角度は、光透過性樹脂シートＦに形成されるダイラインの有無を検査できる範囲であれば特に制限はないが、検査が安定かつ容易に行える点から、光透過性樹脂シートＦの表面に対して垂直方向に光を照射することが好ましい。
【００１６】
マスク１２は、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦとの間に配置される。マスク１２が配置される位置は、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦの間であれば特に限定されず、光照射手段１０が面発光体である場合は、マスク１２の設置が容易である点から、光照射手段１０の発光面上に配置することが好ましい。
【００１７】
マスク１２は、図２に示すように、複数のスリット２０が連続して並行に設けられており、スリット２０以外の部分で光照射手段１０からの光を遮光できるようになっている。
マスク１２の材質は、スリット２０以外の部分で光を遮光することができるものであればよく、例えば、紙、遮光性フィルムなどが挙げられる。
【００１８】
スリット２０のスリット幅ａ（図３）は、０．１〜３ｍｍであり、１．５〜２．５ｍｍであることが好ましい。スリット幅ａが０．１ｍｍ以上であれば、光透過性樹脂シートＦからの透過光が充分に得られるため、ダイラインの有無を正確に検査することができる。また、スリット幅ａが３ｍｍ以下であれば、撮像手段１４および微分処理手段１６により得られる結果においてダイラインを明確に確認することができる。
スリット２０は、前記範囲内であれば各々のスリット２０がそれぞれ異なるスリット幅ａを有していてもよいが、スリット２０ごとに透過する光量が同じで、微分処理でのダイライン評価がより正確になる点から、全てのスリット２０が同じスリット幅ａを有していることが好ましい。
【００１９】
スリット２０のスリット間隔ｂ（図３）は、スリット２０のスリット幅ａの１／３〜３倍であり、１倍であることが好ましい。
スリット２０のスリット間隔ｂがスリット幅ａの１／３倍以上であれば、微分処理後の結果において、スリット２０に対応する部分（明部）が占める面積の割合が大きくなりすぎてダイラインの有無の検査が困難になることを防ぐことができる。また、スリット２０のスリット間隔ｂが幅ａの３倍以下であれば、微分処理後の結果において、マスク１２におけるスリット２０以外の部分に対応する部分（暗部）が占める割合が大きくなりすぎてダイラインの有無の検査が困難になることを防ぐことができる。
スリット２０は、前記範囲内であれば各々のスリット２０がそれぞれ異なるスリット間隔ｂで設けられていてもよいが、スリット２０ごとに透過する光量が同じで、微分処理でのダイライン評価がより正確になる点から、全てのスリット２０が等間隔に設けられていることが好ましい。
【００２０】
また、スリット２０は、マスク１２に、スリット２０の方向と光透過性樹脂シートＦの走行方向とがなす角度θが２０〜４０°となるように設けられている（図２）。ダイラインは光透過性樹脂シートＦの走行方向に沿って形成されることから、これによりスリット２０が、スリット２０の方向と形成されるダイラインの方向とがなす角度が２０〜４０°となるように設けられる。
スリット２０の前記角度θが２０〜４０°であれば、幅や高さの小さい微細なダイラインであっても、ダイラインの有無を判別することができる。スリット２０の前記角度θは、ダイラインの評価がより正確になる点から、２５°程度であることが好ましい。
【００２１】
スリット２０の数は、ダイラインの有無を判別できる範囲であれば特に限定されず、スリット２０のスリット幅ａ、スリット間隔ｂ、および撮像手段１４による撮像範囲に応じて適宜調整すればよい。
【００２２】
撮像手段１４は、光透過性樹脂シートＦを透過した透過光を撮像する手段である。本実施形態の検査装置１では、撮像手段１４が光透過性樹脂シートＦの上方に位置するように設置されている。
撮像手段１４は、光透過性樹脂シートＦからの透過光を撮像できるものであれば特に限定されず、必ずしも顕微鏡のような高感度なものを必要とはしない。撮像手段１４は、メガピクセルカメラを用いることもできる。
撮像手段１４の具体例としては、例えば、ＦＵＪＩＮＯＮ  １：１．４／２５ｍｍ  ＨＦ２５ＨＡ−１Ｂメガピクセルカメラ（フジノン（株）製）などが挙げられる。
【００２３】
撮像手段１４と光透過性樹脂シートＦとの距離は、光透過性樹脂シートＦからの透過光を撮像してダイラインの有無が判別できる範囲であればよく、光照射手段１０および撮像手段１４の種類、光透過性樹脂シートＦの種類によって適宜調節すればよい。
【００２４】
撮像手段１４の光透過性樹脂シートＦの走行方向に沿った位置は、光照射手段１０から光透過性樹脂シートＦに照射する光の角度に合わせ、透過光を撮像できるように調節される。
本発明の検査装置においては、ダイラインの検査が安定かつ容易になる点から、光照射手段１０および撮像手段１４が、本実施形態のように、光透過性樹脂シートＦの表面に対する垂直方向に沿って配置されていることが好ましい。
【００２５】
微分処理手段１６は、撮像手段１４により撮像された画像を微分処理する手段である。微分処理手段１６による微分処理とは、ある部分の画素（注目画素）とその近隣の部分の画素（比較画素）との輝度差を算出し、その輝度差から注目画素の位置の輝度を新たな輝度に変換してプロットする処理である。新たな輝度に変換する処理としては、輝度差が正であるときにその絶対値に合わせて輝度を向上させ、輝度差が負であるときにその絶対値に合わせて輝度を低下させる処理などが挙げられる。
微分処理を行うことにより、光透過性樹脂シートＦに形成されたダイラインの形状（凸状、凹状）や、その幅、長さを正確に判別することができる。
【００２６】
微分処理手段１６は、撮像手段１４により撮像された画像を微分処理することができるものであればよく、例えば、Ｐａｎａｓｏｎｉｃ  ＩＭＡＧＥＣＨＥＣＫＥＲ  ＡＧ５０Ｖ２（松下電器産業（株）製）などが挙げられる。
【００２７】
外部出力手段１８は、微分処理手段１６により微分処理を施した画像を出力する手段である。外部出力手段１８は画像を出力できるものであれば特に限定されず、例えば、液晶モニタなどが挙げられる。
透過光を撮像することにより得られる画像におけるダイラインに起因する歪みを、微分処理手段１６の微分処理後に外部出力手段１８により明暗として出力することにより、ダイラインの形成の有無を正確に判別することが容易になる。ダイラインの形成の有無の判別は、ダイラインが形成されていない場合（正常時）の光透過性樹脂シートＦの画像との比較などにより行うことができる。
【００２８】
尚、本発明のダイラインの検査装置は、図１〜３に例示した装置には限定されない。例えば、微分処理後の画像を出力することなくダイラインの形成を判別することができる機器を追加するような場合は、外部出力手段１８が備えられていなくてもよい。
また、光照射手段１０およびマスク１２が光透過性樹脂シートＦの上方に位置するように設置され、撮像手段１４が光透過性樹脂シートＦの下方に位置するように設置されていてもよい。
【００２９】
［ダイラインの検査方法］
本発明のダイラインの検査方法は、走行する光透過性樹脂シートの一方の側から該光透過性樹脂シートの表面に向かって、複数のスリットが並行して設けられているマスクを介して光を照射し、前記光透過性樹脂シートの他方の側で該光透過性樹脂シートからの透過光を撮像し、撮像した画像を微分処理して、前記光透過性樹脂シートに形成されるダイラインを検査する方法である。
【００３０】
複数のスリットが並行して設けられているマスクを用いることにより、透過光を撮像して得られる画像に連続した明暗が形成されるため、形成されたダイラインによる歪みを認識することができ、その画像を微分処理してダイラインの有無を判別することができる。本発明の検査方法は、特に、厚み５００μｍ以下の光透過性樹脂シートＦに形成される幅１００μｍ以下のダイラインの検査を対象とする。
以下、本発明の検査方法の実施形態の一例として、前述の検査装置１を用いる方法について説明する。
【００３１】
光透過性樹脂シートＦを形成する樹脂は、用途に応じて選択することができ、例えば、アクリル樹脂を含有するアクリルフィルムが挙げられる。また、光透過性樹脂シートＦは、光透過性を有しているものであれば、着色されているものであってもよい。
光透過性樹脂シートＦの厚みは特に制限はないが、通常は５００μｍ以下である。また、光透過性樹脂シートＦの幅は特に制限はなく、用途に応じて適宜選択すればよい。
【００３２】
光透過性樹脂シートＦの製造方法としては、例えば、Ｔダイ法が挙げられる。すなわち、Ｔダイから溶融樹脂を押し出して吐出させ、フィルム状に成形し、冷却ロールなどで冷却して光透過性樹脂シートＦとした後、該光透過性樹脂シートＦを引取り手段により引き取る方法を用いることができる。Ｔダイとしては、例えば、マニホールドダイ、フィッシュテールダイ、コートハンガーダイ、スクリューダイなどが挙げられる。Ｔダイの幅には特に制限はなく、用途に応じて適宜選択すればよい。
【００３３】
本発明のダイラインの検査方法の実施は、生産ライン上における光透過性樹脂シートＦを引き取る前であることが好ましい。また、ダイラインの検査を実施せずに光透過性樹脂シートＦを一旦引き取った後、検査を目的として再度光透過性樹脂シートＦを一定方向に走行させて、改めてダイラインの検査を実施してもよい。
【００３４】
本実施形態では、光照射手段１０により、走行する光透過性樹脂シートＦの下方から光透過性樹脂シートＦの下側表面に向かって光を照射する。このとき、光照射手段１０から照射される光を、複数のスリット２０が並行して設けられたマスク１２により部分的に遮光し、スリット２０を通過する光のみが光透過性樹脂シートＦに到達するようにする。これにより、撮像手段１４により撮像する画像に連続した明暗が形成される。
【００３５】
マスク１２は、スリット２０の方向と光透過性樹脂シートＦの走行方向とがなす角度θが２０〜４０°となるように設ける。このようにスリット２０を設けることにより、スリット２０が、スリット２０の方向と形成されるダイラインの方向とがなす角度が２０〜４０°となるように設けられる。
スリット２０の方向と光透過性樹脂シートＦの走行方向とがなす角度θは、前述のとお２５°程度であることが好ましい。
【００３６】
また、スリット２０は、スリット幅ａが０．１〜３ｍｍ、スリット間隔ｂがスリット幅ａの１／３〜３倍となるように設ける。これにより、光透過性樹脂シートＦに形成されるダイラインの有無を正確に検査することができる。スリット２０は、充分な光量が得られ、かつダイラインの判別が容易になる点から、スリット幅ａを１．５〜２．５ｍｍとすることが好ましく、スリット間隔ｂをスリット幅ａの１倍とすることが好ましい。
【００３７】
光照射手段１０からマスク１２を介して照射された光は、光透過性樹脂シートＦを透過した後に、光透過性樹脂シートＦの上方に配置された撮像手段１４により撮像される。
撮像手段１４の焦点は、画像が明瞭になるように調整すればよく、光透過性樹脂シートＦのやや上である１０ｍｍ程度上方に設定することが好ましい。
【００３８】
撮像手段１４により透過光が撮像されると、そのデータが微分処理手段１６に送られて微分処理が行われる。ついで、微分処理後のデータが外部出力手段１８に送られてその結果が出力される。そして、ダイラインが形成されていない場合（正常時の光透過性樹脂シートＦの結果）と比較することにより、ダイラインの形状（凸状、凹状）、その幅および長さなどを判別する。以上のようにして、走行する透過性樹脂シートＦに形成されるダイラインを検査することができる。
【００３９】
本発明のダイラインの検査方法では、ダイラインの幅および高さの基準値を予め設定しておけば、微分処理の結果その基準値を超えたものが認められたときにダイラインが形成されたとみなすことができるため、ダイラインの有無を明確な基準に従って判別することができる。この基準値は、光透過性樹脂シートＦの用途に応じて設定すればよい。
【００４０】
光透過性樹脂シートＦの製造にあっては、生産ライン上で本発明の検査方法を実施する場合、その検査結果に基づいてダイラインが形成された部分を切断して取り除き、製品にその部分が含まれないようにすることができる。また、ダイラインの形成が確認された時点で直ちに生産ラインを停止し、Ｔダイの清掃を行った後に再稼動することができる。これらは、例えば、本発明の検査装置でダイラインが形成されたことが認められた場合、それを信号として送って自動的に欠陥部分の切断除去および生産ラインの停止が行えるようにしてもよい。
【００４１】
以上説明した本発明のダイラインの検査装置および検査方法は、走行する光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を検査することができる。そのため、生産ライン上で光透過性樹脂シートのダイラインの検査を実施することができる。
これは、スリット幅が０．１〜３ｍｍ、スリット間隔が前記スリット幅の１／３〜３倍である複数のスリットが、スリットの方向と光透過性樹脂シートの走行方向とがなす角度が２０〜４０°となるように設けられていることで、厚みが５００μｍ以下の光透過性樹脂シートに形成される微細なダイラインであっても、その有無を明確に判別することができるためである。
また、本発明のダイラインの検査装置および検査方法を用いることで、目視によるダイラインの検査に比べて明確な基準で検査を行うことができるため、良品質な製品を安定して製造できるようになる。
【００４２】
また、本発明の検査装置および検査方法によれば、光透過性樹脂シートに形成されるダイラインの有無を生産ライン上で連続的に検査できることから、ダイラインが形成されていない光透過性樹脂シートと、ダイラインが形成された光透過性樹脂シートとを効率的に分断することができ、またダイラインの形成に即時に対応することができる。そのため、欠陥を含んだ光透過性樹脂シートの廃棄量を大幅に低減することができ、またダイラインが形成されている状態で生産ラインが稼動している時間を短くすることができるため、生産性を大きく向上させることができる。
【００４３】
また、本発明の検査装置および検査方法では、光透過性樹脂シートが着色されている場合であっても、光照射手段と該光透過性樹脂シートとの距離や撮像手段の感度を調節して充分な量の透過光が得られるようにすれば、無色の場合と同様にしてダイラインの検査が行えるため、様々な光透過性樹脂シートの検査に適用することができる。
【実施例】
【００４４】
以下、実施例および比較例を示して本発明を詳細に説明する。ただし、本発明は以下の記載によっては限定されない。
＜スリット幅ａの影響＞
［実施例１］
コートハンガー型のＴダイにより製膜した平均厚み７５μｍのアクリルフィルム（幅３００ｍｍ、長さ５００ｍｍ）であって、幅０．０３〜０．０８ｍｍ、高さ−０．５〜０．５μｍ（ただし、負の数値は凹状のダイラインの深さを意味する。）のダイラインが形成されたものを光透過性樹脂シートＦとして用いた。
【００４５】
ダイラインの検査装置として、図１に例示した検査装置１を用いた。
光照射手段１０として液晶パネル用バックライト、撮像手段１４としてＦＵＪＩＮＯＮ  １：１．４／２５ｍｍ  ＨＦ２５ＨＡ−１Ｂメガピクセルカメラ（フジノン（株）製）、微分処理手段１６としてＰａｎａｓｏｎｉｃ  ＩＭＡＧＥＣＨＥＣＫＥＲ  ＡＧ５０Ｖ２（松下電器工業（株）製）、外部出力手段１８として液晶モニタを用いた。
前記光透過性樹脂シートＦを設置台に配置し、光照射手段１０をその下方に配置することで、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦとの距離Ｌを３００ｍｍとした。また、光透過性樹脂シートＦの上方に撮像手段１４を配置し、光透過性樹脂シートＦと撮像手段１４との距離を２１０ｍｍとした。また、マスク１２は、光照射手段１０の発光面上に設置した。
マスク１２のスリット２０は、スリット幅ａを１．５ｍｍ、スリット間隔ｂを３ｍｍ（ｂ／ａ＝２）とした。また、スリット２０の方向と前記光透過性樹脂シートＦの長さ方向とがなす角度θ、すなわちスリット２０の方向と光透過性樹脂シートＦの走行方向とがなす角度θを３７．５°とした。
以上のような検査装置１により、光照射手段１０からマスク１２を介して光透過性樹脂シートＦに光を照射し、光透過性樹脂シートＦからの透過光を撮像手段１４により撮像し、微分処理手段１６により微分処理した後、その結果を外部出力手段１８により確認した。撮像手段１４の感度は、できるだけ明るい画像が得られるように調整した。
【００４６】
［実施例２〜４］
スリット２０のスリット幅ａおよびスリット間隔ｂを表１に示すように変更した以外は、実施例１と同様にして微分処理後の結果を確認した。
実施例１〜４で得られた結果を図４に示す。
【００４７】
［比較例１］
スリット２０のスリット幅ａおよびスリット間隔ｂを表１に示すように変更した以外は、実施例１と同様にして微分処理後の結果を確認した。
比較例１で得られた結果を図５に示す。
【００４８】
＜スリット間隔ｂの影響＞
［実施例５〜６］
スリット２０のスリット幅ａおよびスリット間隔ｂを表１に示すように変更した以外は、実施例１と同様にして微分処理後の結果を確認した。
実施例５〜６で得られた結果を図６に示す。
【００４９】
［比較例２］
スリット２０のスリット幅ａおよびスリット間隔ｂを表１に示すように変更した以外は、実施例１と同様にして微分処理後の結果を確認した。
比較例２で得られた結果を図７に示す。
【００５０】
＜スリットの角度θの影響＞
［実施例７〜８］
スリット２０のスリット幅ａおよびスリット間隔ｂおよび角度θを表１に示すように変更した以外は、実施例１と同様にして微分処理後の結果を確認した。
実施例７〜８で得られた結果を図８に示す。
【００５１】
［比較例３〜６］
スリット２０のスリット幅ａおよびスリット間隔ｂおよび角度θを表１に示すように変更した以外は、実施例１と同様にして微分処理後の結果を確認した。
比較例３〜６で得られた結果を図９に示す。
【００５２】
【表１】
2009264743.tif 000003
【００５３】
＜着色された光透過性樹脂シートＦの検査＞
［実施例９〜１４］
表１に示すように着色されている以外は同じ条件である光透過性樹脂シートＦを用い、スリット２０の幅ａを２ｍｍ、間隔ｂを２ｍｍ、傾斜角度θを３７．５°とした。光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦとの距離Ｌ（図１）を表２に示すように変更した以外は実施例１と同様の方法で微分処理後の結果を確認した。ただし、撮像手段１４の感度は各条件においてできるだけ明るい画像が得られるように調整した。
実施例８および９〜１４で得られた結果を図１０に示す。
【００５４】
図４、６、および８に示すように、本発明の検査装置および検査方法を用いた実施例１〜８は、厚みが５００μｍ以下の光透過性樹脂シートに形成された幅１００μｍ以下のダイラインであっても、ダイラインを正確に確認することができた。
また、図１０に示すように、光透過性樹脂シートが着色されている実施例９〜１４でも、光照射手段１０と光透過性樹脂シートＦとの距離Ｌや、撮像手段１４の感度を調節することによりダイラインを正確に確認することができた。
【００５５】
一方、スリット２０のスリット幅ａが広すぎる比較例１では、図５に示すように、実施例１〜４に比べてダイラインが不明瞭となった。
また、スリット２０のスリット間隔ｂが広すぎる比較例２においても、図７に示すように、実施例５〜６に比べてダイラインが不明瞭となった。
また、スリット２０の角度θが２０〜４０°の範囲外である比較例３〜６では、図９に示すように、実施例７および８に比べてダイラインが不明瞭となった。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
本発明のダイラインの検査装置および検査方法は、光透過性樹脂シートに形成されるダイラインを、透過光を利用して生産ライン上で連続的に検査することができるため、各種の光透過性樹脂シートの検査に好適に使用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明のダイラインの検査装置の一実施形態例を示した概略構成図である。
【図２】図１におけるマスクを光透過性樹脂シート側から見た平面図である。
【図３】図２のマスクの一部分を拡大した平面図である。
【図４】実施例１〜４における微分処理後の画像を示した図である。
【図５】比較例１における微分処理後の画像を示した図である。
【図６】実施例５〜６における微分処理後の画像を示した図である。
【図７】比較例２における微分処理後の画像を示した図である。
【図８】実施例７〜８における微分処理後の画像を示した図である。
【図９】比較例３〜６における微分処理後の画像を示した図である。
【図１０】実施例８および９〜１４における微分処理後の画像を示した図である。
【符号の説明】
【００５８】
１  検査装置  １０  光照射手段  １２  マスク  １４  撮像手段  １６  微分処理手段  ２０  スリット  ａ  スリット幅  ｂ  スリット間隔
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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