(57)【要約】【課題】  特別な３次元ファントムを必要とせず、被検体の撮影で得られる投影画像のみを用いて、被検体の相対的な回転軸の位置及び傾きを精度良く推定し、最終的に高画質な断層画像を再構成する。【解決手段】  Ｘ線発生回路１０１から放射した放射線中で被検体１０３を相対的に回転させながら被検体を挟んでＸ線発生回路１０１と対向配置した２次元Ｘ線センサ１０４で投影画像を取得する。第１の再構成回路１１４は、取得した投影画像に基づいて複数の回転軸位置に関するパラメータ値の１つを用いて断層画像を再構成することを前記複数の回転軸位置に関するパラメータの全てについて行い、１スライス位置について複数の断層画像を得る。回転軸位置決定回路１１５は、得られた複数の断層画像に基づいて、複数の回転軸位置に関するパラメータのうちのいずれか１つを選択する。第２の再構成回路１１６は、選択されたパラメータを用いて、取得した投影画像に基づいて被検体の断層画像を再構成し、最終的な断層画像を得る。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線発生源から放射した放射線中で被検体を相対的に回転させながら被検体を挟んで前記放射線発生源と対向配置した２次元放射線センサで投影画像を取得する取得手段と、
前記取得手段が取得した投影画像に基づいて複数の幾何学的較正パラメータ値のうちの１つを用いて被検体の断層画像を再構成することを前記複数の幾何学的較正パラメータ値の全てについて行うことにより、被検体の所定の１スライス位置について複数の断層画像を得る第１の再構成手段と、
前記第１の再構成手段により得られた前記複数の断層画像に基づいて、前記複数の幾何学的較正パラメータ値のうちのいずれか１つを選択する選択手段と、
前記選択手段により選択された幾何学的較正パラメータ値を用いて、前記取得手段が取得した被検体の各スライス位置における投影画像に基づいて前記各スライス位置における断層画像を再構成する第２の再構成手段と、
を備えることを特徴とするＣＴ撮影装置。
【請求項２】
前記幾何学的較正パラメータは、前記放射線発生源及び２次元放射線センサに対する被検体の相対的な回転軸の位置及び傾きのパラメータであることを特徴とする請求項１に記載のＣＴ撮影装置。
【請求項３】
前記第１の再構成手段は、前記取得手段が前記放射線発生源及び前記２次元放射線センサと前記被検体とが相対的に一回転する間に取得した投影画像のうちの一部の投影画像に基づいて被検体の断層画像を再構成することを特徴とする請求項１又は２に記載のＣＴ撮影装置。
【請求項４】
前記選択手段は、前記第１の再構成手段により得られた前記複数の断層画像を表示する表示手段を備え、前記表示手段に表示された前記複数の断層画像からユーザが指定した断層画像を前記第１の再構成手段が再構成した際に用いた幾何学的較正パラメータ値を選択することを特徴とする請求項１から３までのいずれか１項に記載のＣＴ撮影装置。
【請求項５】
前記選択手段は、前記第１の再構成手段により得られた前記複数の断層画像のそれぞれについてボケ量を評価するボケ量評価手段を備え、前記ボケ量が最小となる断層画像を前記第１の再構成手段が再構成した際に用いた幾何学的較正パラメータを選択することを特徴とする請求項１から３までのいずれか１項に記載のＣＴ撮影装置。
【請求項６】
前記ボケ量評価手段は、前記断層画像の有効視野領域の標準偏差を算出し、前記標準偏差が大きいほどボケ量は小さいと評価することを特徴とする請求項５に記載のＣＴ撮影装置。
【請求項７】
放射線発生源から放射した放射線中で被検体を相対的に回転させながら被検体を挟んで前記放射線発生源と対向配置した２次元放射線センサで投影画像を取得する取得工程と、
前記取得工程で取得した投影画像に基づいて複数の幾何学的較正パラメータ値のうちの１つを用いて被検体の断層画像を再構成することを前記複数の幾何学的較正パラメータ値の全てについて行うことにより、被検体の所定の１スライス位置について複数の断層画像を得る第１の再構成工程と、
前記第１の再構成工程で得られた前記複数の断層画像に基づいて、前記複数の幾何学的較正パラメータ値のうちのいずれか１つを選択する選択工程と、
前記選択工程で選択された幾何学的較正パラメータ値を用いて、前記取得工程で取得した被検体の各スライス位置における投影画像に基づいて前記各スライス位置における断層画像を再構成する第２の再構成工程と、
を有することを特徴とするＣＴ撮影装置の制御方法。
【請求項８】
請求項７に記載のＣＴ撮影装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項９】
請求項８に記載のプログラムを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＴ再構成により断層画像を得るＣＴ撮影装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般にＣＴ撮影装置では、被検体を挟んで放射線発生源と２次元放射線センサを対向配置し、放射線発生源が放射する放射線中で被検体を相対的に回転させる。そして、この回転中に得られる被検体の様々な方向からの投影画像をＣＴ再構成して被検体の断層画像を得ている。
【０００３】
このＣＴ再構成には、放射線発生源及び２次元放射線センサに対する、被検体の相対的な回転軸の位置及び傾きに関するパラメータが必要であり、これらパラメータを正確に把握していないと高画質の断層画像を得ることはできない。
【０００４】
そのため、被検体の相対的な回転軸の位置及び傾きを推定する方法として、一連のセル構造を有し予め寸法が分かっている３次元ファントムを利用し、この３次元ファントムをＣＴ撮影して得た投影画像に基づいて推定する方法が知られている（特許文献１）。また、被検体をＣＴ撮影して得た投影画像からサイノグラムを生成し、このサイノグラムの対称性を利用して推定する方法が知られている（特許文献２）。
【０００５】
【特許文献１】特許第３６９８１６７号明細書
【特許文献２】特許第３８４６５７７号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、３次元ファントムを用いる方法は、特別な３次元ファントムを必要とし、被検体の撮影とは別に３次元ファントムの撮影を必要とする。また、被検体の撮影時における回転軸の位置及び傾きと、３次元ファントムの撮影時におけるそれらとが、完全に一致する保証は得られない。さらに、３次元ファントムの製造精度が最適パラメータの推定精度に影響を及ぼすおそれもある。
【０００７】
また、サイノグラムによる方法は、投影画像の座標系における最適パラメータの推定であり、その推定誤差が再構成後の断層画像の画質に影響を与える可能性がある。
【０００８】
そこで、本発明は、特別な３次元ファントムを必要とせず、被検体の撮影で得られる投影画像のみを用いて、被検体の相対的な回転軸の位置及び傾きを精度良く推定し、最終的に高画質な断層画像を得ることができるＣＴ撮影の技術を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一側面によれば、放射線発生源から放射した放射線中で被検体を相対的に回転させながら被検体を挟んで前記放射線発生源と対向配置した２次元放射線センサで投影画像を取得する取得手段と、前記取得手段が取得した投影画像に基づいて複数の幾何学的較正パラメータ値のうちの１つを用いて被検体の断層画像を再構成することを前記複数の幾何学的較正パラメータ値の全てについて行うことにより、被検体の所定の１スライス位置について複数の断層画像を得る第１の再構成手段と、前記第１の再構成手段により得られた前記複数の断層画像に基づいて、前記複数の幾何学的較正パラメータ値のうちのいずれか１つを選択する選択手段と、前記選択手段により選択された幾何学的較正パラメータ値を用いて、前記取得手段が取得した被検体の各スライス位置における投影画像に基づいて前記各スライス位置における断層画像を再構成する第２の再構成手段とを備えることを特徴とするＣＴ撮影装置が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、特別な３次元ファントムを必要とせず、被検体の撮影で得られる投影画像のみを用いて、被検体の相対的な回転軸の位置及び傾きを精度良く推定し、最終的に高画質な断層画像を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の実施に有利な具体例を示すにすぎない。また、以下の実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の課題解決手段として必須のものであるとは限らない。
【００１２】
（実施形態１）
図１は、本実施形態におけるＣＴ撮影装置１００の構成を示す図である。本実施形態におけるＣＴ撮影装置１００は、被検体の回転軸の位置を決定する機能を有するＣＴ撮影装置である。具体的には、前処理回路１０６、ＣＰＵ１０８、メインメモリ１０９、操作パネル１１０、ディスプレイモニタ１１１、画像処理回路１１２を備え、バス１０７を介して互いにデータ授受されるように構成されている。
【００１３】
前処理回路１０６にはデータ収集回路１０５が接続されており、このデータ収集回路１０５には、放射線発生源であるＸ線発生回路１０１、被検体１０３を回転させる回転装置１２０、２次元放射線センサとしての２次元Ｘ線センサ１０４が接続されている。データ収集回路１０５はバス１０７に接続される。Ｘ線発生回路１０１と２次元Ｘ線センサ１０４とは、被検体１０３を挟んで対向配置されている。
【００１４】
メインメモリ１０９は、ＣＰＵ１０８での処理に必要な各種データ等を記憶すると共に、ＣＰＵ１０８の作業用としてのワークメモリを含む。ＣＰＵ１０８は、メインメモリ１０９を用いて、操作パネル１１０からの操作に従って装置全体の動作制御等を行う。具体的には、ＣＴ撮影装置１００は以下のように動作する。
【００１５】
はじめに回転装置１２０を作動状態にし、被検体１０３を回転させる。次にＸ線発生回路１０１は、被検体１０３に対してＸ線ビーム１０２を放射する。Ｘ線発生回路１０１から放射されたＸ線ビーム１０２は、被検体１０３を減衰しながら透過して２次元Ｘ線センサ１０４に到達し、２次元Ｘ線センサ１０４により撮影データとして出力される。
【００１６】
データ収集回路１０５は、２次元Ｘ線センサ１０４から出力された撮影データを電気信号に変換して前処理回路１０６に供給する。前処理回路１０６は、データ収集回路１０５からの撮影データ信号に対して、オフセット補正処理やゲイン補正処理等の前処理を行う。この前処理回路１０６で前処理が行われた撮影データ信号は投影画像として、ＣＰＵ１０８の制御により、バス１０７を介して、メインメモリ１０９、画像処理回路１１２に転送される。なお、本実施形態では２次元Ｘ線センサ１０４、データ収集回路１０５、前処理回路１０６は分離した構成となっているが、２次元Ｘ線センサ１０４、データ収集回路１０５、前処理回路１０６をセンサユニットとして同一のユニット内に構成してもよい。
【００１７】
ＣＰＵ１０８は、回転装置１２０を作動状態にし、被検体１０３を回転させながらＸ線ビーム１０２を連続又は不連続に放射するようにＸ線発生回路１０１を制御する。この動作状態、すなわちＣＴ撮影状態中に、２次元Ｘ線センサ１０４は逐次的に撮影データを取得し、取得した撮影データを順次、データ収集回路１０５に送付する。例えば、２次元Ｘ線センサ１０４は、被検体１０３が一回転する間に１０００の撮影データを取得しデータ収集回路１０５に転送する。データ収集回路１０５は、前処理回路１０６に撮影データ信号を転送し、前処理回路１０６は上述の処理を行って、画像処理回路１１２及びメインメモリ１０９に投影画像を転送する。以上の撮影動作により、被検体１０３を様々な方向から撮影した投影画像が順次に画像処理回路１１２に転送されることになる。また、投影画像は同時にメインメモリ１０９にも転送され記憶される。
【００１８】
図１に示すように、画像処理回路１１２は、投影画像取得回路１１３，第１の再構成回路１１４、回転軸位置決定回路１１５、第２の再構成回路１１６を備える。投影画像取得回路１１３は、ＣＴ撮影中に前処理回路１０６により処理された投影画像を順次取得する。第１の再構成回路１１４は、取得した投影画像を用いて較正用のＣＴ再構成を行う。回転軸位置決定回路１１５は、複数の較正用の断層画像に基づいて被検体の回転軸の位置を決定する。第２の再構成回路１１６は、決定した回転軸位置を用いて最終的なＣＴ再構成を行う。
【００１９】
図２は、本実施形態の画像処理回路１１２における処理の流れを示すフローチャートである。図３は、ＣＴ撮影中に順次取得したそれぞれ異なる方向から撮影された投影画像Ｐｉ（ｉ＝１〜Ｘ）を示す図である。また、図４は、第１の再構成回路１１４により再構成された較正用の断層画像Ｔｊ（ｊ＝１〜Ｙ）を示す図、図５は、第２の再構成回路１１６により再構成された最終的な断層画像Ｃｋ（ｋ＝１〜Ｚ）を示す図である。なお、図２に示したフローチャートに従ったプログラムはメインメモリ１０９又は図不示のＲＯＭに格納され、ＣＰＵ１０８により読み出されて実行されるものとする。
【００２０】
以下、画像処理回路１１２の動作を、図２のフローチャートに従い説明する。
【００２１】
まず、投影画像取得回路１１３は、バス１０７を介して前処理回路１０６で処理された所定の１スライス位置における投影画像Ｐｉ（ｉ＝１〜Ｘ）を順次取得する（ステップＳ２０１）。
【００２２】
第１の再構成回路１１４は、投影画像Ｐｉ（ｉ＝１〜Ｘ）から較正用の断層画像Ｔｊ（ｊ＝１〜Ｙ）を再構成する（ステップＳ２０２）。このとき、第１の再構成回路１１４は、複数の異なる幾何学的較正パラメータ値としての回転軸位置に関するパラメータ値Ｇｊ（ｊ＝１〜Ｙ）を設定してＹ回のＣＴ再構成を行い、各Ｇｊに対応する較正用の複数の断層画像Ｔｊを出力する。ここで、「回転軸位置に関するパラメータ」とは、Ｘ線発生回路１０１及び２次元Ｘ線センサ１０４に対する被検体１０３の相対的な回転軸の位置のパラメータをいう。Ｇｊの最小間隔は投影画像及び／又は断層画像の解像度より十分小さな値とすることが望ましく、例えば５０μｍ間隔と定める。またＹは許容可能な回転軸位置の範囲に基づいて定める必要があり、例えばＹ＝１００と定める。この場合、５０μｍ間隔で１００のＧｊを設定するため許容可能な回転軸位置の範囲は５ｍｍとなり、この範囲内で最適なパラメータを決定することができる。
【００２３】
次に、回転軸位置決定回路１１５は、較正用の複数の断層画像Ｔｊ（ｊ＝１〜Ｙ）を、表示手段であるディスプレイモニタ１１１に表示する（ステップＳ２０３）。ここでユーザは、このディスプレイモニタ１１１に表示された較正用の複数の断層画像Ｔｊ（ｊ＝１〜Ｙ）のうち最も高画質と判断する較正用の断層画像Ｔｊを、操作パネル１１０を利用して指定する。選択手段としての回転軸位置決定回路１１５は、指定された断層画像ＴｊをステップＳ２０２で再構成した際に用いた回転軸位置に関するパラメータＧｊを、最適パラメータ値として選択する（ステップＳ２０４）。
【００２４】
そして、第２の再構成回路１１６は、ステップＳ２０４で選択した最適な回転軸位置に関するパラメータ値Ｇｊを用いて、各スライス位置ｋ（ｋ＝１〜Ｚ）について、投影画像Ｐｉ（ｉ＝１〜Ｘ）から最終的な断層画像Ｃｋを再構成する（ステップＳ２０５）。
【００２５】
なお、本実施形態では回転軸の位置に関するパラメータを扱ったが、回転軸の傾きに関するパラメータについても同様の処理により最適パラメータ値を決定可能である。ここで、「回転軸の傾きに関するパラメータ」とは、Ｘ線発生回路１０１及び２次元Ｘ線センサ１０４に対する被検体１０３の相対的な回転軸の傾きのパラメータをいう。例えばＧｊの最小間隔を０．１度、Ｙ＝５０と定めると、許容可能な回転軸の傾きの範囲は５度となり、この範囲内で最適パラメータを決定することができる。また更に、回転軸の位置及び傾きに関するパラメータの組み合わせを様々に変化させることにより、これらの最適パラメータを同時に決定することも可能である。
【００２６】
また、本実施形態では、投影画像取得手段を、回転装置１２０によって被検体１０３を回転させる構成とした。しかしこれは、Ｘ線発生回路１０１と２次元Ｘ線線センサとを一体的に被検体１０３の周りを回転させる構成としても、同様の効果を得ることができることはいうまでもない。すなわち、本発明の投影画像取得手段は、放射線発生源から放射された放射線中で被検体を相対的に回転させながら被検体を挟んで放射線発生源と対向配置した２次元放射線センサで投影画像を取得するものを含む。
【００２７】
以上のように本実施形態によれば、特別な３次元ファントムを必要とせず、被検体の撮影で得られる投影画像のみを用いて、被検体の相対的な回転軸の位置及び／又は傾きを精度良く推定することが可能になるという効果がある。また、その結果として、最終的に高画質な断層画像を得られるという効果もある。
【００２８】
（実施形態２）
本実施形態においても、上述の実施形態１と同様の構成（図１）のＣＴ撮影装置１００を使用する。ただし、本実施形態では、画像処理回路１１２に備わる第１の再構成回路１１４及び回転軸位置決定回路１１５の機能が、実施形態１とは異なる。したがって、以下では主にこれらに関連する部分について説明する。
【００２９】
図６は、本実施形態の画像処理回路１１２における処理の流れを示すフローチャートである。
【００３０】
実施形態１と同様のＣＴ撮影動作により、被検体１０３の所定のスライス位置を様々な方向から撮影した投影画像が画像処理回路１１２に転送される（ステップＳ６０１）。
【００３１】
第１の再構成回路１１４は、複数の異なる回転軸位置に関するパラメータの値Ｇｊ（ｊ＝１〜Ｙ）を用いてＹ回のＣＴ再構成を行い、各Ｇｊに対応する較正用の断層画像Ｔｊを得る（ステップＳ６０２）。このとき、第１の再構成回路１１４は、全ての投影画像Ｐｉ（ｉ＝１〜Ｘ）を用いてＣＴ再構成を行うのではなく、一部の投影画像、例えば１０画像おきの投影画像Ｐ１、Ｐ１１、Ｐ２１、・・・、ＰＸ’を用いてＣＴ再構成を行うとよい。これにより、実施形態１における第１の再構成回路１１４による処理（ステップＳ２０２）と比べて処理時間を短縮できる。
【００３２】
次に、回転軸位置決定回路１１５は、較正用の断層画像Ｔｊ（ｊ＝１〜Ｙ）の有効視野領域（ＦＯＶ）における標準偏差ＳＤｊ（ｊ＝１〜Ｙ）を算出する（ステップＳ６０３）。回転軸位置決定回路１１５はその後、ＳＤｊ（ｊ＝１〜Ｙ）が最大となるｊを抽出し、この抽出したｊに対応する、回転軸位置に関するパラメータの値Ｇｊを、最適パラメータ値として自動的に選択する（ステップＳ６０４）。これはＣＴ再構成の原理上、再構成に用いた回転軸位置と真の回転軸位置との差が大きいほど再構成される断層画像のボケ量は大きくなるという特徴を利用しており、逆にボケ量が最小となる回転軸位置が真の回転軸位置に最も近いと言える。また、ボケ量評価の方法は様々考えられるが、本実施形態では有効視野領域（ＦＯＶ）の標準偏差を用いている。
【００３３】
そして、第２の再構成回路１１６は、ステップＳ６０４で決定した最適な回転軸位置に関するパラメータの値Ｇｊを用いて、各スライス位置ｋ（ｋ＝１〜Ｚ）について、投影画像Ｐｉ（ｉ＝１〜Ｘ）から最終的な断層画像Ｃｋを再構成する（ステップＳ６０５）。
【００３４】
以上のように、本実施形態によれば、特別な３次元ファントムを必要とせず、被検体の撮影で得られる投影画像のみを用いて、被検体の相対的な回転軸の位置及び／又は傾きを精度良く、なおかつ、自動的に推定することができるという効果がある。また、その結果として、最終的に高画質な断層画像を得られるという効果もある。
【００３５】
（他の実施形態）
以上、本発明の実施形態を詳述したが、本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、また、一つの機器からなる装置に適用してもよい。
【００３６】
なお、本発明は、前述した実施形態の各機能を実現するプログラムを、システム又は装置に直接又は遠隔から供給し、そのシステム又は装置に含まれるコンピュータがその供給されたプログラムコードを読み出して実行することによっても達成される。
【００３７】
したがって、本発明の機能・処理をコンピュータで実現するために、そのコンピュータにインストールされるプログラムコード自体も本発明を実現するものである。つまり、上記機能・処理を実現するためのコンピュータプログラム自体も本発明の一つである。
【００３８】
その場合、プログラムの機能を有していれば、オブジェクトコード、インタプリタにより実行されるプログラム、ＯＳに供給するスクリプトデータ等、プログラムの形態を問わない。
【００３９】
プログラムを供給するためのコンピュータ読み取り可能な記録媒体としては、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＭＯ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなどがある。また、記録媒体としては、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ、ＤＶＤ（ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−Ｒ）などもある。
【００４０】
また、プログラムは、クライアントコンピュータのブラウザを用いてインターネットのホームページからダウンロードしてもよい。すなわち、ホームページから本発明のコンピュータプログラムそのもの、もしくは圧縮され自動インストール機能を含むファイルをハードディスク等の記録媒体にダウンロードしてもよい。また、本発明のプログラムを構成するプログラムコードを複数のファイルに分割し、それぞれのファイルを異なるホームページからダウンロードする形態も考えられる。つまり、本発明の機能・処理をコンピュータで実現するためのプログラムファイルを複数のユーザに対してダウンロードさせるＷＷＷサーバも、本発明の構成要件となる場合がある。
【００４１】
また、本発明のプログラムを暗号化してコンピュータ読み取り可能なＣＤ−ＲＯＭ等のコンピュータ読み取り可能な記憶媒体に格納してユーザに配布してもよい。この場合、所定条件をクリアしたユーザにのみ、インターネットを介してホームページから暗号化を解く鍵情報をダウンロードさせ、その鍵情報で暗号化されたプログラムを復号して実行し、プログラムをコンピュータにインストールしてもよい。
【００４２】
また、コンピュータが、読み出したプログラムを実行することによって、前述した実施形態の機能が実現されてもよい。なお、そのプログラムの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが、実際の処理の一部又は全部を行ってもよい。もちろん、この場合も、前述した実施形態の機能が実現され得る。
【００４３】
さらに、記録媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれてもよい。そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部又は全部を行ってもよい。このようにして、前述した実施形態の機能が実現されることもある。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】実施形態におけるＣＴ撮影装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施形態１の画像処理回路における処理の流れを示すフローチャートである。
【図３】ＣＴ撮影中に順次取得したそれぞれ異なる方向から撮影された投影画像を示す図である。
【図４】第１の再構成回路により再構成された較正用の断層画像を示す図である。
【図５】第２の再構成回路により再構成された最終的な断層画像を示す図である。
【図６】実施形態２の画像処理回路における処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４５】
１００：ＣＴ撮影装置
１０１：Ｘ線発声回路
１０２：Ｘ線ビーム
１０３：被検体
１０４：２次元Ｘ線センサ
１０５：データ収集回路
１０６：前処理回路
１０７：バス
１０８：ＣＰＵ
１０９：メインメモリ
１１０：操作パネル
１１１：ディスプレイモニタ
１１２：画像処理回路
１１３：投影画像取得回路
１１４：第１の再構成回路
１１５：回転軸位置決定回路
１１６：第２の再構成回路
【図１】
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【図２】
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【図６】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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