(57)【要約】【課題】本発明は、各画像処理段階でその画像処理内容に応じて適切にテストパターンを順次合成する画像処理装置及び画像処理方法に関する。【解決手段】複合装置１は、異常解析時に、テストパターン決定部１５が、画像処理工程に沿って複数の画像処理部１０〜１４で順次画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理部１０〜１４に入力される画像データに対して合成する異常画像確認用のテストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン生成条件を生成し、テストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン生成部が、該生成されたテストパターン生成条件に基づいて該画像データ毎にテストパターンを生成して、テストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン合成部が、該生成されたテストパターンを該画像データに合成する。【選択図】          図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データに対して所定の画像処理工程に沿って複数の画像処理手段で順次種々の画像処理を施す画像処理装置において、異常画像確認用の種々のテストパターンを前記各画像処理手段に入力される画像データ毎に生成するテストパターン生成手段と、前記各画像処理手段に入力される画像データに対して該テストパターン生成手段の生成した該画像データに対応する該テストパターンを合成する合成手段と、前記各画像処理手段によって前記画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理手段に入力される画像データに対して合成する前記テストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン情報を生成するテストパターン決定手段と、異常解析時に、該各テストパターン決定手段が生成したテストパターン情報に基づいて該テストパターン生成手段が該テストパターンを生成し、該合成手段が、該生成されたテストパターンを該対応する画像データに合成することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記テストパターン決定手段は、前記各画像処理手段に入力される画像データの種類に応じた前記テストパターンの合成条件を決定して合成条件情報を生成し、前記各合成手段は、自己に対応する該合成条件に基づいて該テストパターンを該画像データに合成することを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記テストパターン決定手段は、前記生成した前記各画像データ毎の前記テストパターン情報または／及び前記合成条件情報を所定の情報記憶手段に保管し、前記各テストパターン生成手段は、該情報記憶手段の自己の処理対象の画像データに対応する該テストパターン情報に基づいた前記テストパターンを生成し、また、前記合成手段は、該情報記憶手段の自己の処理対象の画像データに対応する該合成条件情報に基づいた合成を行うことを特徴とする請求項１または請求項２記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記テストパターン決定手段は、前記各画像データ毎の前記テストパターンの該画像データへの合成位置を、該各テストパターンの重なりの発生しない合成位置に決定して、該合成位置情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該合成位置に応じた該テストパターンを生成することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記テストパターン決定手段は、前記テストパターンとして主走査方向または／及び副走査方向の所定幅のライン状テストパターンを決定するとともに、前記各画像データ毎の該ライン状テストパターンが相互に重なり合わない前記画像データへの合成位置を決定して、該合成位置情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該合成位置に応じた該ライン状テストパターンを生成することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記テストパターン決定手段は、前記テストパターンとして主走査方向または／及び副走査方向のライン状テストパターンを決定するとともに、該ライン状テストパターンのライン幅を該ライン状テストパターン合成後に実施される全ての前記画像処理内容に応じて決定して、該ライン幅情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該ライン幅情報に応じたライン幅の該ライン状テストパターンを生成することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記テストパターン決定手段は、前記画像データの種類に基づいて前記テストパターンの画像種を決定して、該画像種情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該画像種幅情報に応じた該テストパターンを生成することを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記テストパターン決定手段は、前記画像処理手段の画像処理する色毎に前記テストパターンを決定して、該色毎の画像種情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該テストパターンを生成することを特徴とする請求項１から請求項７のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記合成手段による前記画像データへの前記テストパターンの合成のオン／オフを行うオン／オフ手段、または、該合成手段による該画像データへの該テストパターンの合成後の画像データと該合成手段による該テストパターンの合成前の該画像データのいずれかを選択する選択手段を該合成手段毎に備えていることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項１０】
画像データに対して所定の画像処理工程に沿って複数の画像処理手段で順次種々の画像処理を施す画像処理方法において、異常画像確認用の種々のテストパターンを前記各画像処理手段に入力される画像データ毎に生成するテストパターン生成処理ステップと、前記各画像処理手段に入力される画像データに対して該テストパターン生成処理ステップで生成された該画像データに対応する該テストパターンを合成する合成処理ステップと、前記各画像処理手段によって前記画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理手段に入力される画像データに対して合成する前記テストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン情報を生成するテストパターン決定処理ステップと、異常解析時に、該各テストパターン決定処理ステップで生成したテストパターン情報に基づいて該テストパターン生成処理ステップで該テストパターンを生成し、該合成処理ステップで、該生成されたテストパターンを該対応する画像データに合成することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１１】
前記画像処理方法は、前記テストパターン決定ステップで、前記各画像処理手段に入力される画像データの種類に応じた前記テストパターンの合成条件を決定して合成条件情報を生成し、前記各合成処理ステップで、該自己に対応する合成条件に基づいて該テストパターンを該画像データに合成することを特徴とする請求項１０記載の画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置及び画像処理方法に関し、詳細には、各画像処理段階でその画像処理内容に応じて適切にテストパターンを順次合成する画像処理装置及び画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
複合装置、プリンタ装置等の画像処理装置においては、縮小、回転、γ補正等の各種画像処理を施して印刷出力等を行っている。ところが、最終的に異常画像画発生している場合、各種画像処理を行っているため、どの段階で異常画像画発生したかを解析する必要がある。
【０００３】
そこで、従来、画像読取手段の読み取ったテストパターン原稿のテストパターン原稿画像、画像処理手段の生成する処理用テストパターン及び画像記録手段の生成する記録用テストパターンを合成して合成画像を合成し、該合成画像を１枚の記録媒体に記録出力して、各段階のいずれに異常があったかを確認する技術が提案されている（特許文献１参照）。
【０００４】
そして、これらの各段階でのテストパターンは、予め用意された固定のテストパターンである。
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−２７７８４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記従来技術にあっては、各画像処理段階用いるテストパターンは予め用意されている固定のテストパターンであり、画像処理が複雑化してきている今日、適切かつ確実に複数の画像処理段階のいずれの段階で異常が発生したかを解析する上で改良の必要があった。すなわち、従来技術は、画像処理の処理内容を考慮した画像を合成しているとはいえず、例えば、テストパターンを合成した後に、画像縮小処理を行うと、テストパターンがかすれたり、消失することがあり、このような状況になると、異常解析の目的を達成することができない。また、主走査ずれの異常画像を解析する目的で、副走査方向のライン状のテストパターンを合成した場合、画像処理の過程で出力用紙方向に合わせるために、画像が９０度または２７０度回転されると、回転処理前のテストパターンが主走査方向のラインとなってしまい、適切な解析を行う上で、改良の必要があった。
【０００７】
そこで、本発明は、複数の画像処理段階で画像処理する各画像処理段階での異常を適切かつ確実に解析することのできる画像処理装置及び画像処理方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１記載の発明の画像処理装置は、画像データに対して所定の画像処理工程に沿って複数の画像処理手段で順次種々の画像処理を施す画像処理装置において、異常画像確認用の種々のテストパターンを前記各画像処理手段に入力される画像データ毎に生成するテストパターン生成手段と、前記各画像処理手段に入力される画像データに対して該テストパターン生成手段の生成した該画像データに対応する該テストパターンを合成する合成手段と、前記各画像処理手段によって前記画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理手段に入力される画像データに対して合成する前記テストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン情報を生成するテストパターン決定手段と、異常解析時に、該各テストパターン決定手段が生成したテストパターン情報に基づいて該テストパターン生成手段が該テストパターンを生成し、該合成手段が、該生成されたテストパターンを該対応する画像データに合成することにより、上記目的を達成している。
【０００９】
この場合、例えば、請求項２に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記各画像処理手段に入力される画像データの種類に応じた前記テストパターンの合成条件を決定して合成条件情報を生成し、前記各合成手段は、自己に対応する該合成条件に基づいて該テストパターンを該画像データに合成してもよい。
【００１０】
また、請求項１または請求項２の場合、例えば、請求項３に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記生成した前記各画像データ毎の前記テストパターン情報または／及び前記合成条件情報を所定の情報記憶手段に保管し、前記各テストパターン生成手段は、該情報記憶手段の自己の処理対象の画像データに対応する該テストパターン情報に基づいた前記テストパターンを生成し、また、前記合成手段は、該情報記憶手段の自己の処理対象の画像データに対応する該合成条件情報に基づいた合成を行ってもよい。
【００１１】
さらに、請求項１から請求項３の場合、例えば、請求項４に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記各画像データ毎の前記テストパターンの該画像データへの合成位置を、該各テストパターンの重なりの発生しない合成位置に決定して、該合成位置情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該合成位置に応じた該テストパターンを生成してもよい。
【００１２】
また、請求項１から請求項３の場合、例えば、請求項５に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記テストパターンとして主走査方向または／及び副走査方向の所定幅のライン状テストパターンを決定するとともに、前記各画像データ毎の該ライン状テストパターンが相互に重なり合わない前記画像データへの合成位置を決定して、該合成位置情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該合成位置に応じた該ライン状テストパターンを生成してもよい。
【００１３】
さらに、請求項１から請求項５の場合、例えば、請求項６に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記テストパターンとして主走査方向または／及び副走査方向のライン状テストパターンを決定するとともに、該ライン状テストパターンのライン幅を該ライン状テストパターン合成後に実施される全ての前記画像処理内容に応じて決定して、該ライン幅情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該ライン幅情報に応じたライン幅の該ライン状テストパターンを生成してもよい。
【００１４】
また、請求項１から請求項６の場合、例えば、請求項７に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記画像データの種類に基づいて前記テストパターンの画像種を決定して、該画像種情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該画像種幅情報に応じた該テストパターンを生成してもよい。
【００１５】
さらに、請求項１から請求項７の場合、例えば、請求項８に記載するように、前記テストパターン決定手段は、前記画像処理手段の画像処理する色毎に前記テストパターンを決定して、該色毎の画像種情報を前記テストパターン情報に組み込み、前記各テストパターン生成手段は、該テストパターン情報に基づいて該テストパターンを生成してもよい。
【００１６】
また、請求項１から請求項８の場合、例えば、請求項９に記載するように、前記合成手段による前記画像データへの前記テストパターンの合成のオン／オフを行うオン／オフ手段、または、該合成手段による該画像データへの該テストパターンの合成後の画像データと該合成手段による該テストパターンの合成前の該画像データのいずれかを選択する選択手段を該合成手段毎に備えていてもよい。
【００１７】
請求項１０記載の発明の画像処理方法は、画像データに対して所定の画像処理工程に沿って複数の画像処理手段で順次種々の画像処理を施す画像処理方法において、異常画像確認用の種々のテストパターンを前記各画像処理手段に入力される画像データ毎に生成するテストパターン生成処理ステップと、前記各画像処理手段に入力される画像データに対して該テストパターン生成処理ステップで生成された該画像データに対応する該テストパターンを合成する合成処理ステップと、前記各画像処理手段によって前記画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理手段に入力される画像データに対して合成する前記テストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン情報を生成するテストパターン決定処理ステップと、異常解析時に、該各テストパターン決定処理ステップで生成したテストパターン情報に基づいて該テストパターン生成処理ステップで該テストパターンを生成し、該合成処理ステップで、該生成されたテストパターンを該対応する画像データに合成することにより、上記目的を達成している。
【００１８】
請求項１０の場合、例えば、請求項１１に記載するように、前記画像処理方法は、前記テストパターン決定ステップで、前記各画像処理手段に入力される画像データの種類に応じた前記テストパターンの合成条件を決定して合成条件情報を生成し、前記各合成処理ステップで、該自己に対応する合成条件に基づいて該テストパターンを該画像データに合成してもよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、異常解析時に、画像処理工程に沿って複数の画像処理手段で順次画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理手段に入力される画像データに対して合成する異常画像確認用のテストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン情報を生成し、該生成したテストパターン情報に基づいて該画像データ毎にテストパターンを生成して、該生成されたテストパターンを該対応する画像データに合成するので、複数の画像処理段階で画像処理する各画像処理段階で該画像処理内容に適したテストパターンを合成することができ、各画像処理段階での異常を適切かつ確実に解析することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる実施例は、本発明の好適な実施例であるから、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるものではない。
【実施例１】
【００２１】
図１〜図９は、本発明の画像処理装置及び画像処理方法の一実施例を示す図であり、図１は、本発明の画像処理装置及び画像処理方法の一実施例を適用した複合装置１の要部ブロック構成図である。
【００２２】
図１において、複合装置１は、バス２にＣＰＵ３、メモリ４、ＡＳＩＣ５等が接続され、ＡＳＩＣ５には、画像読み取り部６、画像印刷部７及び外部機器８等が接続されているとともに、デバッグ用機器ＤＭが接続される。
【００２３】
ＡＳＩＣ５は、画像入力部１０、画像出力部１１、外部Ｉ／Ｆ１２、複数（図１では、２つ）の画像処理部１３、１４、テストパターン決定部１５、デバッグ用コマンド入力／ステータス表示部１６、ＡＲＢ１７、バスＩ／Ｆ１８、各部１０〜１４用のライトＤＭＡＣ１９、リードＤＭＡＣ２０、リードＤＭＡＣ２１、ライトＤＭＡＣ２２、リードＤＭＡＣ２３、ライトＤＭＡＣ２４、リードＤＭＡＣ２５、ライトＤＭＡＣ２６及び各部１０〜１４用のテストパターン挿入部３０〜３７等を備えており、各部１０〜１４は、ＡＲＢ１７を介して相互に接続されているとともに、ＡＲＢ１７とバスＩ／Ｆ１８及びバス２を介してＣＰＵ３及びメモリ４に接続されている。
【００２４】
メモリ４は、必要な各種プログラムやデータを記憶するとともに、処理途中の画像データや処理済の画像データの保管に利用され、特に、テストパターン選択テーブル４０を記憶している。このメモリ４は、テストパターン選択テーブル４０に、後述するテストパターン決定部１５の生成した各画像データ毎のテストパターン生成条件（テストパターン情報）や合成条件を記憶する情報記憶手段として機能している。
【００２５】
ＣＰＵ３は、複合装置１の各部を制御して、複合装置１としての機能を実行するとともに、画像処理内容に応じたテストパターンを選択して該選択したテストパターンを用いた解析処理を実行する。
【００２６】
画像読み取り部６は、例えば、ＣＣＤ(Charge Coupled Device）を利用したラインイメージセンサ等が用いられており、一般にＡＤＦ（Auto Document Feeder）を備えている。ＡＤＦには、複数枚の原稿がセットされ、ＡＤＦは、セットされた原稿を１枚ずつ画像読み取り部６の原稿読取位置に送給する。画像読み取り部６は、ＡＤＦから搬送されてきた原稿を走査し、原稿の画像を所定の解像度で読み取って、画像入力部１０に出力する。
【００２７】
画像印刷部７としては、例えば、電子写真式のものが用いられており、画像印刷部７は、外部機器８からの画像データ、画像読み取り部６で読み取られた原稿の画像等を外部出力部１１から受け取って記録紙に印刷出力するとともに、必要な各種レポート等を記録紙に記録出力する。なお、画像印刷部７としては、他の記録方式のもの、例えば、サーマル素子を備えたサーマル記録装置、あるいは、インク噴射式記録装置等であってもよい。
【００２８】
外部機器８は、外部記憶部（ハードディスク等）、外部ホストコンピュータ等であり、外部Ｉ／Ｆ１２を介してＡＳＩＣ５との間で各種データを授受する。
【００２９】
ＡＳＩＣ５の画像入力部１０は、テストパターン挿入部３０及びライトＤＭＡＣ１９を介してＡＲＢ１７に接続されており、画像読み取り部６で読み取られた画像データを受け取って必要な画像処理を施す。ライトＤＭＡＣ１９は、画像入力部１０で画像処理された画像データやテストパターン挿入部３０で該画像データにテストパターンの挿入された画像データをメモリ４に転送する。
【００３０】
リードＤＭＡＣ２０は、画像印刷部７で印刷出力する画像データをメモリ４から読み出してテストパターン挿入部３１を介して画像出力部１１に出力する。画像出力部１１は、リードＤＭＡＣ２０から送られてきた画像データに必要な画像処理、例えば、ＲＧＢからＣＭＹＫへの階調処理等を施して、画像印刷部７に出力する。
【００３１】
リードＤＭＡＣ２１は、外部機器８に出力する画像データをメモリ４から読み出してテストパターン挿入部３２を介して外部Ｉ／Ｆ１２に渡し、ライトＤＭＡＣ２２は、外部Ｉ／Ｆ１２が外部機器８から受け取ったデータをメモリ４に転送する。外部Ｉ／Ｆ１２は、外部機器８との間でデータの授受を行って、リードＤＭＡＣ２１及びライトＤＭＡＣ２２を介してメモリ４上に保管し、また、メモリ４上に保管されているデータを外部機器に送信する。
【００３２】
画像処理部１３は、所定の画像処理、例えば、縮小変倍処理や回転処理等を施し、リードＤＭＡＣ２３は、メモリ４上の画像データをテストパターン挿入部３４を介して画像処理部１３に転送し、ライトＤＭＡＣ２４は、画像処理部１３の処理した画像データをテストパターン挿入部３５を介して受け取ってメモリ４に転送する。
【００３３】
画像処理部１４は、所定の画像処理、例えば、縮小変倍処理や回転処理等を施し、リードＤＭＡＣ２５は、メモリ４上の画像データをテストパターン挿入部３６を介して画像処理部１４に転送し、ライトＤＭＡＣ２６は、画像処理部１４の処理した画像データをテストパターン挿入部３７を介して受け取ってメモリ４に転送する。
【００３４】
テストパターン挿入部３０〜３７は、テストパターン挿入部３５、３７について、図２に示すように、テストパターン生成部（テストパターン生成手段）５１、テストパターン合成部（合成手段）５２、データ入力部５３、セレクタ（選択手段）５４及びデータ出力部５５等を備えており、複合装置１の異常解析時に、テストパターンを生成して画像データにテストデータを適宜の合成方法で合成する。このテストパターンは、複合装置１の各画像処理の前後で異常が発生していないかの解析を行うための異常解析用のテストパターン画像である。
【００３５】
すなわち、図２のテストパターン挿入部３５、３７の場合、画像処理部１３、１４で画像処理された画像データがデータ入力部５３に入力され、データ入力部５３は、入力される画像データをテストパターン合成部５２とセレクタ５４に出力する。テストパターン生成部５１には、テストパターン決定部１５の決定したテストパターン、テストパターンの合成位置、テストパターンの幅、テストパターンの方向等がテストパターン生成条件として入力され、テストパターン生成部５１は、テストパターン生成条件に基づいてテストパターンを生成してテストパターン合成部５２に出力する。テストパターン合成部５２には、さらに、テストパターン決定部１５の決定したテストパターンの画像データへの合成方法がテストパターン合成条件として入力され、テストパターン合成部５２は、テストパターン生成部５１からのテストパターンをテストパターン合成条件に基づいて、データ入力部５３から入力される画像データに合成して、セレクタ５４に出力する。
【００３６】
セレクタ５４は、画像データ入力部５３から入力されるテストパターンの合成されていない画像データとテストパターン合成部５２から入力されるテストパターンの合成されている合成画像データとをテストパターン合成条件の合成オン／オフ情報に基づいて選択してデータ出力部５５に出力する。この合成オン／オフ情報は、デバッグ用機器ＤＭからの設定等に基づいた異常解析に必要なテストパターンであるか否かによって、テストパターン挿入部３０〜３７毎、すなわち、テストパターン合成部５２毎に設定される。
【００３７】
データ出力部５５は、セレクタ５５から入力される画像データをライトＤＭＡＣ２４、２６を介してメモリ４に格納する。
【００３８】
なお、上記説明では、テストパターン挿入部３５、３７について説明したが、他のテストパターン挿入部３０〜３４、３６についても同様の構成であり、同様の処理を行うが、ただ、画像データの入力元と、出力先が異なるだけである。
【００３９】
テストパターン決定部（テストパターン決定手段）１５は、ＡＳＩＣ５の入力から出力まで、すなわち、画像入力部１０、画像出力部１１、外部Ｉ／Ｆ１２、画像処理部１３及び画像処理部１４の各部の画像処理内容を把握し、画像データに適切にテストパターンが合成されるように、各テストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン生成部５１で生成すべきテストパターンを決定してテストパターン生成条件として出力する。また、テストパターン決定部１５は、合成対象となる画像データの画像種（点順次／面順次、２値画像／多値画像）によって合成方法が異なるため、各テストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン合成部５２が合成すべきテストパターンの画像データへの合成方法を決定してテストパターン合成条件として出力する。さらに、テストパターン決定部１５は、テストパターンの合成を行うか否かを決定してテスト合成オン／オフ情報を出力する。また、テストパターン決定部１５は、画像処理の処理する色毎に異なるテストパターンを決定する。さらに、テストパターン決定部１５は、画像データの種類に基づいてテストパターンの画像種を決定して、該画像種情報をテストパターン情報であるテストパターン生成条件に組み込む。
【００４０】
テストパターン決定部１５の上記決定したテストパターン生成条件、テストパターン合成条件及びテスト合成オン／オフ情報は、メモリ４に送られて、メモリ４上の各画像処理毎のＤＭＡＣ２９〜２６用のディスクリプタに保存され、ＤＭＡＣ１９〜２６がＤＭＡＣ情報としてディスクリプタから転送画像データを取得するのと同時に、テストパターン生成条件、テストパターン合成条件及びテスト合成オン／オフ情報取得し、ＤＭＡＣ１９〜２６の対応するテストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン生成部５１、テストパターン合成部及びセレクタ５４に伝達する。
【００４１】
また、テストパターン決定部１５は、決定した各テストパターン挿入部３０〜３７毎に決定したテストパターン生成条件、テストパターン合成条件及びテスト合成オン／オフ情報を、テストパターン選択テーブル４０としてメモリ４上に画像データ毎に保存してもよい。この場合、各テストパターン挿入部３０〜３７がメモリ４のテストパターン選択テーブル４０から自己の処理対象としている画像データに対応付けて保存されているテストパターン生成条件、テストパターン合成条件及びテスト合成オン／オフ情報を読み出して利用する。
【００４２】
次に、本実施例の作用を説明する。本実施例の複合装置１は、画像読み取り部６から画像印刷部７または外部機器８までの画像処理工程の各画像処理を施す各部１０〜１４毎に、該各部１０〜１４での画像処理内容に応じたテストパターンをその合成方法を決定して画像データに合成することで、異常解析を適切に行う。
【００４３】
そして、テストパターン決定部１５は、各テストパターンの配置を、図３に示すように、出力画像の主走査サイズ、または／及び、副走査サイズとテストパターンの合成回数を取得し、出力画像の主走査方向または／及び副走査方向に均等な位置に副走査方向または／及び主走査方向のラインが合成処理の順序に配置されるように、各テストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン配置情報を決定する。また、テストパターン決定部１５は、縮小変倍前に合成されるテストパターンが縮小変倍後に合成されるテストパターンと同じ幅となるようにライン幅情報を決定する。
【００４４】
すなわち、いま、図１において、画像読み取り部６で読み取られた画像に対して、各部１０〜１４で画像処理を施して、最終的に画像データとして画像印刷部７から印刷出力する場合に、正常であれば、図４に示すように、正常な画像が出力されるはずのところ、図５に示すように、画像の主走査ずれが異常画像として現れる際に、デバッグ用機器ＤＭを複合装置１に接続して、異常解析処理を行う。なお、以下の説明では、テストパターン挿入部３０〜３７のうちの適宜のテストパターン挿入部をテストパターン挿入部Ｔａ〜Ｔｄ、画像処理を行う各部１０〜１４のうち適宜の各部を画像処理部Ｓａ〜Ｓｃとし、合成するテストパターンをテストパターンＰａ〜Ｐｄとして説明する。
【００４５】
複合装置１は、デバッグ用機器ＤＭがデバッグ用コマンド入力／ステータス表示部１６に接続されて、必要なコマンドが入力されると、まず、図６に示すように、テストパターン決定部１５が、最後に合成されるテストパターンＰｄがＣＭＹＫの２階調であることを確認し、テストパターンＰｄとしてテストパターン挿入部Ｔｄに２階調のテストパターンを副走査方向のラインとして生成するよう決定するとともに、合成方法として２値画像合成を行うことを決定する。
【００４６】
次に、テストパターン決定部１５は、テストパターンＰｃの合成後に、画像処理部Ｓｃで階調処理が行われることを確認し、合成対象画像である画像データＰｅがＲＧＢの２５６階調であることから、テストパターンＰｃとして、テストパターン挿入部Ｔｃのテストパターン生成部５１に副走査方向のライン状の２５６階調のテストパターンを、テストパターンＰｄと重ならない位置に生成するよう決定するとともに、合成方法として２５６値画像合成をすることを決定する。
【００４７】
さらに、テストパターン決定部１５は、テストパターンＰｂの合成後に縮小変倍と階調処理が行われることを確認し、合成対象画像である画像データｃがＲＧＢの２５６階調であることから、テストパターンＰｂとして、テストパターン挿入部Ｔｂに副走査方向のライン状の２５６階調のテストパターンを、縮小変倍時にかすれたり消えてしまわないようにラインに幅を持たせ、かつ、テストパターンＰｄ及びテストパターンＰｃと重ならない位置に生成するよう決定するとともに、合成方法として２５６値の画像合成を行うことを決定する。
【００４８】
次に、テストパターン決定部１５は、テストパターンＰａの合成後に画像の９０度回転と縮小変倍と階調処理が行われることを確認し、合成対象画像である画像データａがＲＧＢの２５６階調であることから、テストパターンＰａとして、テストパターン挿入部Ｔａに主走査方向のライン状の２５６階調のテストパターンを、縮小変倍時にかすれたり消えてしまわないようにラインに幅を持たせ、かつ、テストパターンＰｄ及びテストパターンＰｃ及びテストパターンＰｂと重ならない位置に生成するよう決定するとともに、合成方法として２５６値の画像合成をすることを決定する。
【００４９】
すなわち、上記処理において、図７に示すように、各テストパターン挿入部Ｔａ〜Ｔｄは、各テストパターン挿入部Ｔａ〜ＴｄによるテストパターンＰａ〜Ｐｄが重なり合わないように、全てのテストパターンＰａ〜Ｐｄを一枚の画像に合成する。
【００５０】
そして、図８に示すように、入力画像「Ａ」に各テストパターン挿入部Ｔａ〜ＴｃでテストパターンＰａ〜Ｐｃを合成すると、テストパターン挿入部Ｔｂの後、テストパターン挿入部Ｔｃまでの間に主走査ずれの異常画像が発生していることが分かる。
【００５１】
そして、上記処理においては、画像処理部１０〜１４が、画像圧縮と符号伸長の両方を行う機能がある場合、例えば、符号伸長処理を行う場合には、入力は一次元の圧縮符号データであるが、出力は二次元画像データである。この場合、テストパターン決定部１５は、一次元符号データには、テストパターンの合成処理を行わず、復号後の二次元画像データには、合成処理を行うように決定し、テストパターン選択テーブル４０に設定して、上記テストパターン生成・合成処理を行う。また、画像処理部１０〜１４が画像圧縮処理を行う場合には、入力は二次元画像データであるが、出力は一次元の圧縮符号データであるので、この場合、テストパターン決定部１５は、二次元画像データではテストパターン合成処理を行い、圧縮後の一次元符号データでは合成処理を行わないように決定して、テストパターン選択テーブル４０に設定して、上記テストパターン生成・合成処理を行う。
【００５２】
なお、上記説明においては、テストパターン合成後の出力先がメモリ４であり、テストパターン挿入部３０〜３７が画像入力部１０から画像処理部１４までの画像処理手段とＤＭＡＣ１９〜２６との間に配設されている場合について説明したが、上記構成に限るものではなく、例えば、図９に示すように、画像処理部１３と画像処理部１４との間にテストパターン挿入部３０〜３７を配設して、画像処理部１３からの画像データにテストパターンを合成して直接画像処理部１４に出力する構成であってもよい。
【００５３】
また、図９に示すように、テストパターン挿入部３０〜３７の構成は、図２に示した構成に限るものではなく、テストパターン生成条件設定部６０とテストパターン合成条件設定部６１を備えていてもよい。この場合、テストパターン決定部１５は、各テストパターン挿入部３０〜３７毎に、そのテストパターン挿入部３０〜３７に対応するテストパターン生成条件をテストパターン生成条件設定部６０に出力して設定し、そのテストパターン挿入部３０〜３７に対応するテストパターン合成条件及びテスト合成オン／オフ情報をテストパターン生成条件設定部６１に出力して設定する。
【００５４】
テストパターン生成条件設定部６０は、テストパターン決定部１５から送られてきたテストパターン生成条件をテストパターン生成部５１に設定し、テストパターン生成部５１が該設定されたテストパターン生成条件に基づいたテストパターンを生成してテストパターン合成部５２に出力する。テストパターン生成条件設定部６１は、テストパターン決定部１５から送られてきたテストパターン合成条件をテストパターン合成部５２に設定し、また、テスト合成オン／オフ情報をセレクタ５４に出力する。テストパターン合成部５２は、テストパターン生成部５１からのテストパターンをテストパターン合成条件に基づいて、データ入力部５３から入力される画像データに合成して、セレクタ５４に出力する。
【００５５】
このように、本実施例の複合装置１は、異常解析時に、テストパターン決定部１５が、画像処理工程に沿って複数の画像処理部１０〜１４で順次画像データに対して施される画像処理内容を確認して、該各画像処理部１０〜１４に入力される画像データに対して合成する異常画像確認用のテストパターンを該画像データ毎に決定してテストパターン情報であるテストパターン生成条件を生成し、テストパターン挿入部３０〜３７のテストパターン生成部５１が、該生成されたテストパターン生成条件に基づいて該画像データ毎にテストパターンを生成して、テストパターン合成部５２が、該生成されたテストパターンを該画像データに合成している。
【００５６】
したがって、複数の画像処理段階で画像処理する各画像処理段階で該画像処理内容に適したテストパターンを合成することができ、テストパターン合成後の画像縮小や回転等の画像処理によってテストパターンがかすれたり、意図する向きと異なる向きのテストパターンとなることを防止して、各画像処理段階での異常を適切かつ確実に解析することができる。
【００５７】
また、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、各画像処理部１０〜１４に入力される画像データの種類に応じたテストパターンの合成条件を決定して合成条件情報を生成し、各テストパターン合成部５２が、自己に対応する該テストパターン合成条件に基づいてテストパターンを画像データに合成している。
【００５８】
したがって、点順次、面順次、２値画像、多値画像等の画像データの種類に応じて、テストパターンの合成方法を決定して合成することができ、テストパターンを画像データに適切に合成することができる。
【００５９】
さらに、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、生成した各画像データ毎のテストパターン生成条件または／及びテストパターン合成条件をメモリ４のテストパターン選択テーブル４０に保管し、各テストパターン生成部５１が、該メモリ４のテストパターン選択テーブル４０の自己の処理対象の画像データに対応する該テストパターン生成条件に基づいたテストパターンを生成し、また、テストパターン合成部５２が、該メモリ４のテストパターン選択テーブル４０の自己の処理対象の画像データに対応する該テストパターン合成条件に基づいた合成を行っている。
【００６０】
したがって、複数枚の画像データを連続して出力し、かつそれぞれの画像データの画像処理工程や方法が異なる場合であっても、各画像処理部１０〜１４の間に設置されたテストパターン合成部５２によって合成されたテストパターンが重なったり、かすれたり、向きが異なったりすることなく合成することができ、異常画像解析に必要な情報として出力することができる。
【００６１】
また、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、各画像データ毎のテストパターンの該画像データへの合成位置を、該各テストパターンの重なりの発生しない合成位置に決定して、該合成位置情報をテストパターン生成条件に組み込み、各テストパターン生成部５１が、該テストパターン生成条件に基づいて該合成位置に応じたテストパターンを生成している。
【００６２】
したがって、各テストパターンを合成位置をずらして生成することができ、各テストパターンが重なることを防止して、異常画像の解析を適切に行うことのできるテストパターンを合成することができる。
【００６３】
さらに、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、テストパターンとして主走査方向または／及び副走査方向の所定幅のライン状テストパターンを決定するとともに、各画像データ毎の該ライン状テストパターンが相互に重なり合わない画像データへの合成位置を決定して、該合成位置情報をテストパターン生成条件に組み込み、各テストパターン生成部５１が、該テストパターン情報に基づいて該合成位置に応じた該ライン状テストパターンを生成している。
【００６４】
したがって、各ライン状のテストパターンを合成位置をずらして生成することができ、例えば、テストパターン合成後に９０度または２７０度回転してから次の画像処理及びテストパターン合成を行う場合でも、ライン状のテストパターンが重なることを防止して、異常画像の解析を適切に行うことができる。
【００６５】
また、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、テストパターンとして主走査方向または／及び副走査方向のライン状テストパターンを決定するとともに、該ライン状テストパターンのライン幅を該ライン状テストパターン合成後に実施される全ての画像処理内容に応じて決定して、該ライン幅情報をテストパターン情報に組み込み、各テストパターン生成部５１が、該テストパターン情報に基づいて該ライン幅情報に応じたライン幅の該ライン状テストパターンを生成している。
【００６６】
したがって、主走査方向または／及びパターン幅を変更してテストパターンを設定することができ、テストパターン合成後に縮小変倍を行った場合にも、副走査方向または／及び主走査方向のライン状のテストパターンがかすれたり、消えたりすることを防止することができるとともに、副走査方向または／及び主走査方向のライン状テストパターンのライン幅をある一定の値とすることで、主走査方向または／及び副走査方向への変倍処理を行った前後でテストパターンが正確に変倍処理されているか否かを確認することができる。
【００６７】
さらに、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、画像データの種類に基づいてテストパターンの画像種を決定して、該画像種情報をテストパターン生成条件に組み込み、各テストパターン生成部５１が、該テストパターン情報に基づいて該画像種幅情報に応じた該テストパターンを生成している。
【００６８】
したがって、合成対象の画像データが、多値画像であっても、また、２値画像であっても異常画像解析に適したテストパターンを合成することができ、異常画像の解析を適切に行うことができる。
【００６９】
また、本実施例の複合装置１は、テストパターン決定部１５が、画像処理部１０〜１４の画像処理する色毎にテストパターンを決定して、該色毎の画像種情報をテストパターン生成条件に組み込み、各テストパターン生成部５１が、該テストパターン生成条件に基づいてテストパターンを生成している。
【００７０】
したがって、画像データを処理する色毎に異常画像の発生が異なる場合に、該異常画像発生原因の解析を行うのに適した出力画像を得ることができる。
【００７１】
さらに、本実施例の複合装置１は、テストパターン合成部５２による画像データへのテストパターンの合成後の画像データとテストパターン合成部５２によるテストパターンの合成前の画像データのいずれかを選択するセレクタ５４をテストパターン合成部５２毎に備えている。
【００７２】
したがって、異常画像解析に不要なテストパターンが出力画像に合成されるのを防止して、異常画像解析に必要なテストパターンのみが出力画像に合成されるようにすることができ、解析に必要な出力画像を見やすくして、解析効率と精度を向上させることができる。
【００７３】
なお、上記説明では、テストパターン挿入部３０〜３７毎にセレクタ５４を設けているが、テストパターン合成部５２による画像データへのテストパターンの合成のオン／オフを行うオン／オフ手段を設けてもよい。
【００７４】
以上、本発明者によってなされた発明を好適な実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記のものに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
本発明は、データに対して各種データ処理を施す複写装置、プリンタ装置、複合装置等のデータ処理装置及びデータ処理方法に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の一実施例を適用した複合装置の要部ブロック構成図。
【図２】図１のテストパターン挿入部の詳細なブロック構成図。
【図３】図１の複合装置で解析時に合成されるテストパターンの一例の説明図。
【図４】図１の複合装置で正常時に出力される画像の一例を示す図。
【図５】図１の複合装置で異常時に出力される画像の一例を示す図。
【図６】図１の複合装置による異常解析手順の説明図。
【図７】図６の異常解析手順で合成されるテストパターンの一例を示す図。
【図８】図６の異常解析手順で合成されるテストパターンと画像を示す図。
【図９】図２のテストパターン挿入部の他の例のブロック構成図。
【符号の説明】
【００７７】
１  複合装置
２  バス
３  ＣＰＵ
４  メモリ
５  ＡＳＩＣ
６  画像読み取り部
７  画像印刷部
８  外部機器
ＤＭ  デバッグ用機器
１０  画像入力部
１１  画像出力部
１２  外部Ｉ／Ｆ
１３、１４  画像処理部
１５  テストパターン決定部
１６  デバッグ用コマンド入力／ステータス表示部
１７  ＡＲＢ
１８  バスＩ／Ｆ
１９、２２、２４、２６  ライトＤＭＡＣ
２０、２１、２３、２５  リードＤＭＡＣ
３０〜３７  テストパターン挿入部
４０  テストパターン選択テーブル
５１  テストパターン生成部
５２  テストパターン合成部
５３  データ入力部
５４  セレクタ
５５  データ出力部
Ｔａ〜Ｔｄ  テストパターン挿入部
Ｓａ〜Ｓｃ  画像処理部
Ｐａ〜Ｐｄ  テストパターン
６０  テストパターン生成条件設定部
６１  テストパターン合成条件設定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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