(57)【要約】【課題】各種の粒子を分級するため、篩網に設けた孔の内壁が分級作業によって磨耗して当該篩網の寿命を検知するのに絶えず上記孔径を測定する必要があったのを、分級作業工程における作業者の目視で篩網の変化、即ち金属基材１の露出あるいは複数の膜の最外郭の膜の磨耗による変化を検知して上記作業工程で使用している篩網の寿命が分かることにより篩網の交換が容易となる。【解決手段】分級のための篩網において、上記篩網を構成する金属基材の孔の周面を含めて、金属基材の上面及び下面に単層の膜を設けるか、あるいは第1の膜及び第2の膜を順次積層した状態で形成し、上記第2の膜の磨耗量により孔径を想定可能になり、当該篩網の寿命を作業者の目視によって検知できるようにしたことで、従来のように篩網に設けた孔の内径を逐次測定する作業を除去することを目的とする。【選択図】図1
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の孔を有し、上記孔を通過させて所定の径の粒子を分級する篩網において、
金属基材１に設けた孔2の内周面を含めて上記金属基材の色と異なる材料によって膜を形成し、分級作業工程における当該膜の磨耗による上記金属基材１の露出によって上記膜が研磨除去されたことを観察可能にし、当該篩網の寿命が検知できることを特徴とした篩網。
【請求項２】
複数の孔を有し、上記孔を通過させて所定の径の粒子を分級する篩網において、
金属基材１の孔２の内周面を含めて上記金属機材に複数層の膜を順次積層して形成し、当該複数層のうち、上記第1の膜３と最上層である第2の膜４を色の異なった部材によって構成し、分級作業工程における上記第2の膜４の磨耗による第1の膜３の露出によって上記第2の膜4が研磨除去されたことを観察可能にし、篩網の寿命が検知できることを特徴とした篩網。
【請求項３】
上記金属基材１をニッケル又はその合金、第1の膜３を銅又はその他の金属、第２の膜４を上記第1の膜を構成する材料の色と異なるニッケル又はニッケル合金、もしくはその他の金属を使用したことを特徴とする請求項２記載の篩網。
【請求項４】
上記金属基材又は第1の膜３に対して異なる色を有する研磨代として孔径を管理可能としたことを特徴とする請求項２記載の篩網。
【請求項５】
上記第1の膜３の厚さを３00ミクロン以下、上記第2の膜４の厚さを１００ミクロン以下に設定したことを特徴とする請求項３記載の篩網。
【請求項６】
上記第2の膜４の厚さを当該篩網の寿命とする使用限界値に設定したことを特徴とする請求項２記載の篩網。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の微細な孔を備える金属基材から成る篩網をある種の粉体を篩にかける間に篩表面が研磨され、結果として篩の孔径が大きくなる現象に関するもので、例えばダイヤモンドあるいは研磨剤のような硬度の大なる粒子を分級する際は容易に篩いの孔を拡大せしめるため、上記微細な孔における孔周面の磨耗量を簡単に目視によって検知可能にするために篩いの表面に追加で表面加工を施した篩網に関する。
【背景技術】
【０００２】
粉体等の粒子を分級するときに使用する篩網に設けた複数の微細な孔が分級する粒子の所定の直径に対応する必要がある。
ところが上記孔は分級作業を行うことによって、どうしても粒子によって研磨される事により、その結果内径が大きくなってしまい、所定の外径を有する粒子として分級することが出来なくなってしまう。
【０００３】
仮に上記孔の表面に硬度が大なる材質のもの、例えば引用文献特開2005―314758号に示されたダイヤモンドライクカーボン（ＤＬＣ）の膜を形成したとしても時間と共に上述の欠点は避けることが困難である。
そこで一般的には分級作業工程において、使用する篩網の孔の内径を絶えず監視する必要があり、分級途中で篩の孔径を測定したり、篩われた粒子の径を度々測定したりして、所定の内径が保持されているか否かを検査する必要があった。
そして、研磨拡大した篩の孔の使用限界を所定の値に決めて篩いの寿命としていた。このような方法で篩の寿命を決定させる事は煩雑でなお且つ設備コスト、作業コストを含めると極めて高額の作業で問題になっている。
【特許文献１】特開2005−314758号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述したように粉体等の粒子を分級すると言うことは一定の穴から粒子を通過させる事で行われている事が基本原理である以上、篩の孔の管理は厳格に行われなければならない。上記篩の孔の内径を検査するには種々の測定装置、例えば電子顕微鏡によって上記孔が所定の範囲内にあるか否かを判定しながら、その範囲を超えて初めて、使用している篩網が寿命に達したことを作業者が判断し、新たな篩と交換していた。
【０００５】
このような作業では上記孔径の測定は例えば篩が大型の場合などは測定器は限られており、精度の良い測定が出来ない。
一方、孔径の測定以外に分級中に分級された粒子の測定により篩の寿命を決定することも出来る。粒子の測定は抜き取りの測定であり全体の粒度を考えると不安なデーターであるばかりでなく煩雑で、測定のための特別な装置が必須となる。
【０００６】
これに伴って測定作業の時間的な間隔、即ち測定時期をかなり頻繁に行わなければならず、この測定作業が完全でなければ、分級される粒子の直径の管理が不完全となってしまう。
分級中の測定を疎かにすることは、目的とする直径の粒子として分級することが困難となるばかりでなく、一定の孔径を有した篩網を通過した粒子の意味を失う。
【０００７】
篩は拡大方向に変化し、粒子を分級し始めると同時に孔径が研磨作用によって始まる初期の分級粒子径と後期の分級粒子径に差を生じることを考慮しなければならない。
そこで、本発明はあらゆる分野で広く使用されている篩に対し篩として用いる篩網の孔径を容易に管理可能な方法として発明したものである。特に例えばダイヤモンド、あるいは硬い研磨剤のような硬度の大なる粒子を分級する時などは、使用される篩網の表面は常に研磨材と接触し、なお且つ高速に振動させられているのが現実で篩網の孔径が容易に変化し、篩網の寿命を早期終了せざるを得ない。
このような場合に高価な測定器や複雑な測定をしないで簡単に目視によって篩網の交換時期を検知できる新規な有用な技術を提供する目的で本発明がなされたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、分級する対象の材料として、例えばダイヤモンド、あるいは研磨材のような硬度が大なる場合の分級工程において、篩網の孔の内周面が磨耗した結果当該孔の内径が所定の大きさより大きくなった場合に、ベースとなる金属基材に設けられた複数の孔の内周面を含めて当該金属基材とは異なる色を有する金属又は異なる色を有する素材で所定の厚さにコートした後に篩作業を行う。
篩作業で孔を始め全てが研磨状態に晒された結果として孔径が拡大して行く。拡大する孔径が研磨される表面の予めコーティングされた色と異なる色の金属又はその他の膜の除去をもって終点とする。
即ち本発明はコーティングされた膜の磨耗によって孔径の管理を容易に可能とする技術を提供するものである。
【０００９】
また本発明は、金属基材に孔の内周面を含めて第1の膜及び第2の膜を順次積層して第２の膜が磨耗したことで異なった部材によって設けた第１の膜が露出すると目視によって作業者は篩網が寿命に達したことを検知し、新しい篩網に交換する作業可能な篩網を提供できるものである。
更に本発明は、上記篩網を構成する金属基材にニッケルあるいはニッケル合金を、第1の膜に銅あるいはその他の金属を、第２の膜にニッケル又はニッケル合金あるいはその他の金属を使用する構成である。
また本発明は、上記篩網として設ける孔近傍の内周面を第１の金属膜、その上に第２の金属膜を所定の厚さで設ける構成である。
更に本発明は、上記第1及び第2の金属膜を異なった色を有する金属による構成である。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係わる技術は、例えばダイヤモンド、あるいは研磨剤のような硬度の大なる材料を分級する場合に、その製作工程において作業者が極めて容易に篩網の使用限界としての寿命を目視によって検知できる利点が得られる。
従来使用されている各種の篩網に本発明を応用すると、分級作業工程の作業者が篩網の寿命を容易に検知出来るので、当該篩網の交換を迅速に行うことが可能となり、その結果分級される粒子の直径が所定の範囲に入るように作業がスムーズに進められ、作業能率の改善を図ることが可能となる。
従って、本発明は各種の粒子の分級用の篩網に利用すれば、その効果は極めて大きく、製品のコストダウンに寄与する効果は大である。
【本発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明は、先ず硬度の大なるダイヤモンド、あるいは研磨剤の分級を行う篩網において、それに設けた孔の内周面に金属基材とは異なった色を有する膜を設けたもので、金属基材に対して当該金属基材とは異なる色を有する部材の膜を塗料の塗布等によって設ける。
次に金属基材１に複数の膜を設けた例について説明すると、図1に篩網の一実施例を示す要部断面図を示す。
図１で、１は金属基材、２は当該篩網に設けた孔、３は第1の膜、４は第2の膜を示す。
【００１２】
先ず図１において、ニッケルあるいはニッケル合金で製作された金属基材１に第1の膜３を孔２の周面を含み所定の厚さで形成する。
この場合、例えば孔２の内径を１５０ミクロン（μｍ）に設定した場合、即ち篩の孔径を１５０ミクロン（μｍ）とした場合、第1の膜３を銅（Ｃｕ）で0.1ミクロン（μｍ）の膜厚にする。
次に第2の金属膜4を上記第1の金属膜３の上にニッケル（Ｎｉ）で２ミクロン（μｍ）の膜厚にして設ける。
ニッケルは一般的に耐研磨性を有している表面である第２の膜と望ましい材料である。
【００１３】
このような構造にした場合、先ず新規に分級工程に使用するときは、第1の膜３と第2の膜4の膜厚合計が２．１ミクロン（μｍ）になっている。分級工程で分級作業を行った結果、硬度の大なる材料、例えばダイヤモンドあるいは研磨剤の分級によって第２の膜４が磨耗し、第１の膜３が露出することになる。
このとき篩網の使用範囲は１５０ミクロンから１５４ミクロンであり、上記孔２の内径が１５４ミクロンに達した時第２の膜４が検知されこの時が使用限界であるとき決めておけば粒子の径は１５０μと１５４μの間で通過した物と認識される。
【００１４】
このとき、第２の膜４を２μｍの厚さを有する白色（Ｎｉ）に、第１の膜３を０．１μの赤色（Ｃｕ）にしておけばこれにより膜の色が第２の膜４の白色（Ｎｉ）から第１の膜３の赤色（Ｃｕ）に変わることになる。分級を行う作業者は、上記第１の膜３が露出したことを検知して、当該篩網が寿命に達したと判断でき、新規な篩網を用意して交換して分級作業を継続して行うことが出来る。
従って孔径の管理時に従来であれば篩網の寿命を逐次測定装置によって篩網の孔２の内径を測定しなければならなかったが、この作業は全く不要となる。
【００１５】
次に上記篩網の金属基材１を構成する材料について説明すると、ニッケル又
はニッケル合金を使用し、その上に設ける膜としてＤＬＣ膜（黒色）を形成し
た場合、分級作業工程において上記ＤＬＣ膜が磨耗すると、金属基材1の色即
ち白が露出する。
この色の変化を作業者は使用している篩網の寿命に達したことが目視で検知
できるので、新規の篩網に交換する作業に移ることがスムーズに行うことが可
能となる。
【００１６】
次に金属基材１に複数の膜を設ける場合には、最外周に形成した膜、例えば
図1に示すように2層のときには第1及び第2の膜を順次形成した後、第2の
膜が磨耗して第1の膜が露出したときに作業者は新規の篩網と交換する。
ここで第２の膜４としてニッケル又はニッケル合金、第１の膜３として銅、金、銀、錫又はこれらの合金を使用すれば上記第2の膜が分級作業による磨耗で、第1の膜が露出して部材の変化によって作業者は目視で容易に篩網の寿命が検知できることになる。
【００１７】
次に本発明の実施例における具体的な製造工程を記載する。
（１）電鋳ニッケルを用いて約100μの厚さで通常のフォトリソグラフィーのプロセスと電鋳を用いてＲ形状の入り口と１５４μ径の出口を垂直に近い形状に作る。
この工程後０．１μ厚の第1の膜３を形成する次の工程に進む。
（２）孔2の内周面から金属基材１に設けた孔2の内径を１５４ミクロンとし、上面及び下面にわたって、第1の膜３を０．１ミクロンの厚さで形成する。
（３）上記第1の膜３（Ｃｕ）に対して第2の膜（Ｎｉ）を形成する。このとき、上記第2の膜４は厚さを１．９ミクロンにしておく。
（４）この結果、金属基材１に対して、第1の膜３及び第2の膜４が形成されたことになる。上記第1及び第2の膜の膜厚の合計は２ミクロンとなるので、孔2の初期内径は１５０ミクロン、即ち篩作業によって孔径が拡大し、第２の膜４が研磨除去され、第１の膜３が露出した時点を使用限界として上記第2の膜４が磨耗するまで、即ち孔2の内径が１５３．８ミクロンに達するまでを許容範囲として使用できる。
【産業上の利用可能性】
【００１８】
本発明の篩網は、上述の例で特にダイヤモンド、あるいは研磨剤のような硬
度が大なる粒子の分級に有効であることを説明したが、被分級材によっては上
述の例に限定することなく、各種金属粒子等の製造に適することはいうまでも
ない。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の篩網の一実施例を示す要部断面図
【符号の説明】
【００２０】
１  金属基材
２  孔
３  第1の膜
４  第2の膜
【図１】
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