(57)【要約】【課題】本発明は、液晶パネルなどの表示装置に関し、検査に要するコストの上昇を抑えつつ、線欠陥発生の要因を明確に判別可能な表示装置を得ることを目的とする。【解決手段】本発明の表示装置は、交差状に配線された複数のソース配線８と複数のゲート配線９の各交点に対応して画素が形成されている表示装置であって、複数のソース配線８を集約するＳ配線集約端子３、複数のゲート配線９を集約するＧ配線集約端子４を備えて構成される。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
交差状に配線された複数の映像信号線と複数の走査線の各交点に対応して画素が形成されている表示装置であって、
前記複数の映像信号線を集約する第１の集約端子と、
前記複数の走査線を集約する第２の集約端子と、
を備える表示装置。
【請求項２】
一端が前記第１の集約端子に接続され、他端が第１のスイッチを介して前記複数の映像信号線に接続される第１の配線と、
一端が前記第２の集約端子に接続され、他端が第２のスイッチを介して前記複数の走査線に接続される第２の配線と、
をさらに備える、請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記第１および第２のスイッチは、前記第２の集約端子に印加される電圧により制御される、
請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の表示装置を検査する方法であって、
前記第１および第２の集約端子を使わずに前記表示装置の表示を検査する工程と、
前記第１および第２の集約端子から前記複数の映像信号線および前記複数の走査線に同時に電圧を与えて表示を確認する工程と、
を備える、表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置および表示装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ノート型やデスクトップ型のパソコンやテレビ、モニター、携帯電話等に用いられる液晶表示パネルなどの表示装置における、フルプローブコンタクト機種（複数の映像信号線および走査線の検査端子に、同時に個別のプローブを接触させて表示検査を行う機種）のパネル検査において、プローブと検査端子間とのコンタクト不良による疑似線欠陥が発生する場合がある。このとき、異物の噛み込みや、針ずれなどのプローブコンタクト不良による疑似線欠陥（検査装置起因）なのか、あるいはパネルのパターン欠陥（断線等）によるライン不良欠陥（パネル起因）なのかの明確な判別方法が無いため、検査時の誤判定により後工程への不良流出などを招くといった問題があった。
【０００３】
これに対し、線欠陥発生の要因を判別する方法が下記文献に示されている。特許文献１については、表示装置に入力する信号波形や駆動電圧を変化させて判別する方法が示されており、特許文献２については、表示装置の複数の信号線にそれぞれ入力端子と出力端子が形成され、両端子を使用して複数の表示装置にシリアルに信号を入力することにより、判別する方法が示されている。
【０００４】
【特許文献１】特開平９−０９６８２５号公報
【特許文献２】特開２００６−１０５７１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記文献に示されている信号波形や駆動電圧を変化させる方法については、明確な判別が難しい場合があり、また複数の表示装置にシリアルに信号を入力する方法については、プローブを多数用意する必要があり、検査時におけるコストアップにつながるといった問題があった。
【０００６】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、コストアップを抑えつつ、線欠陥発生の要因を明確に判別可能な表示装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の表示装置は、交差状に配線された複数の映像信号線と複数の走査線の各交点に対応して画素が形成されている表示装置であって、前記複数の映像信号線を集約する第１の集約端子、前記複数の走査線を集約する第２の集約端子を備えて構成される。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の表示装置は、フルプローブコンタクト機種のパネル検査を行えるよう形成された従来のＴＦＴ構造に加え、ソース信号、ゲート配線を一括して駆動させることが出来る集約端子が同時に形成されるため、検査に要するコストアップを抑えつつ、線欠陥発生の要因を明確に判別することが可能となり、検査時の誤判断が低下し、後工程への不良流出や不要な歩留まりの低下を防止することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、この発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する。
【００１０】
（構成）
図１は、本実施の形態に係る液晶パネル（表示装置）１７を、カラーフィルタ基板５側から見た図である。液晶パネル１７は、アレイ基板６とカラーフィルタ基板５がスペーサなどを介して対向して貼り付けられ、さらにその間に液晶が充填されて構成されている。図１のように、アレイ基板６の方がカラーフィルタ基板５より大きく形成されており、アレイ基板６における露出された部分が、図１に示す液晶パネルの上部および左部に形成されている。また、貼り合わされた部分について、アレイ基板６にはＴＦＴ等（図示せず）が、カラーフィルタ基板５にはカラーフィルターや共通電極等（図示せず）が形成されており、表示部となる。
【００１１】
図２は、図１に示す角部７を拡大した図である。図２に示すように、アレイ基板６が露出された部分の横方向には、ＴＦＴのソース端子と接続され、ＴＦＴへ映像信号を入力するためのソース配線（映像信号線）８が配列されており、また露出された部分の縦方向には、ＴＦＴのゲート端子に接続され、ＴＦＴのオン／オフを制御するためのゲート配線（走査線）９が配列されている。アレイ基板６において、交差状に配線された複数のソース配線８と複数のゲート配線９の各交点に対応して画素が形成されている。また、ソース配線８およびゲート配線９は、Ｓ／Ｒガード抵抗（図示せず）を介して、シフトレジスタ（Ｓ／Ｒ）回路（図示せず）に接続される。
【００１２】
ソース配線８について、Ｓ／Ｒガード抵抗とＴＦＴとの間に、フルコンタクト検査に使用されるＳ端子１が形成される。また、Ｓ／Ｒガード抵抗とＳ端子１との間には、Ｓ配線（第１の配線）１２およびＧ配線１３がソース配線８を横切るように形成されており、ソース配線８との交差部分にはスイッチとして動作するＮチャネルトランジスタが形成されている。
【００１３】
図３は、図２のスイッチ部１０を拡大した図である。各配線の交差部にはＮチャネルトランジスタ１４が形成され、Ｎチャネルトランジスタ１４のゲート端子はＧ配線１３、ソース端子はＳ配線１２、ドレイン端子はソース配線８と接続されている。
【００１４】
また、Ｓ配線１２の端部には、Ｓ配線集約端子３（第１の集約端子）が形成される。すなわち、Ｓ配線１２は一端がＳ配線集約端子３に接続され、他端がＮチャネルトランジスタ１４を介して複数のソース配線８に接続される。Ｓ配線集約端子３は複数のソース配線８を集約する端子となる。また、Ｇ配線１３の端部にはＧ配線集約端子４（第２の集約端子）が形成される。
【００１５】
ゲート配線９について、図２に示すように、Ｓ／Ｒガード抵抗とＴＦＴとの間に、フルコンタクト検査に使用されるＧ端子２が形成される。また、Ｓ／Ｒガード抵抗とＧ端子２との間には、Ｇ配線（第２の配線）１６がゲート配線９を横切るように形成されており、ゲート配線９との交差部分にはスイッチとして動作するＮチャネルトランジスタが形成されている。
【００１６】
図４は、図２のスイッチ部１１を拡大した図である。配線の交差部にはＮチャネルトランジスタ１５が形成され、Ｎチャネルトランジスタ１５のゲート端子およびソース端子はＧ配線１６と接続され、ドレイン端子は、ゲート配線９と接続される。
【００１７】
また、Ｇ配線１６の端部は上述したＧ配線集約端子４と接続されている。すなわち、Ｇ配線は一端がＧ配線集約端子４に接続され、他端がＮチャネルトランジスタ１５を介して複数のゲート配線９に接続される。Ｇ配線集約端子４は複数のゲート配線９を集約する端子となる。
【００１８】
また、上述したように、Ｎチャネルトランジスタ１４，１５のゲート端子は、ともにＧ配線集約端子４に接続されており、Ｎチャネルトランジスタ１４，１５はＧ配線集約端子４に印加される電圧により制御される。
【００１９】
（検査法）
次に、本発明に係る、液晶パネルの表示検査の方法について説明する。
【００２０】
まず、全ての液晶パネルについて、フルプローブ検査が行われる。このとき、Ｓ配線集約端子３、Ｇ配線集約端子４はともに使用されない。
【００２１】
複数のＳ端子１およびＧ端子２にそれぞれ一本ずつプローブが接触され、Ｓ端子１には映像信号用の電位が与えられ、Ｇ端子２には、ＴＦＴをオンさせるための電位が与えられる。その他、カラーフィルタ基板５の共通電極へも電圧が印加され、偏光板やバックライト等の検査に必要な準備が完了した状態で、表示検査が行われる。
【００２２】
表示検査については、点欠陥や線欠陥等の表示不良の有無が確認される。ここで、フルプローブ検査は、各端子に個別にプローブが当てられているため、プローブとＳ端子１あるいはＧ端子２が接触不良になることによって、線欠陥が発生する可能性がある。
【００２３】
次に、本発明においては、フルプローブ検査にて線欠陥と判定されたパネルについて、集約端子を用いた検査が行われる。
【００２４】
Ｇ配線集約端子４にプローブが接触され、Ｎチャネルトランジスタ１４，１５をオンさせるための電位が与えられる。また、Ｇ配線集約端子４に印加される電圧は、Ｎチャネルトランジスタ１５を介してゲート配線９にも印加され、表示部のＴＦＴをオンさせる電圧となる。
【００２５】
Ｓ配線集約端子３にもプローブが接触され、映像信号用の電位が与えられる。電位は、オンとなったＮチャネルトランジスタ１４、およびソース配線８を介して、ＴＦＴへ画素電位として供給される。全ての画素へ供給される映像信号用の電位は同じであるため、表示はベタ表示となる。
【００２６】
その他、フルプローブ検査と同様に、共通電極への電圧の印加や、偏光板等の準備が完了した状態で、フルプローブ検査時に確認された線欠陥が見られるか、再検査が行われる。すなわち、Ｇ配線集約端子４およびＳ配線集約端子３から複数のソース配線８および複数のゲート配線９に同時に電圧を与えて、表示の確認が行われる。集約端子を用いた検査では、複数のソース配線８および複数のゲート配線９について、それぞれ１つのプローブにより電圧が供給されるため、プローブとの接触不良による線欠陥が起こることは考えられない。
【００２７】
（効果）
フルプローブ検査のあとに集約端子を用いた検査が行われることにより、フルプローブ検査時において線欠陥が発生したパネルについて、検査装置起因か、あるいはパネル起因かを明確に確認することが可能であり、検査時の誤判断が低下し、後工程への不良流出や不要な歩留まりの低下を防止することが可能となる。また、集約端子を用いた検査はプローブを２つしか必要とせず、検査に必要なコストの上昇を抑えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明に係る液晶パネルの構成図である。
【図２】本発明に係る液晶パネルの拡大図である。
【図３】本発明に係る液晶パネルの拡大図である。
【図４】本発明に係る液晶パネルの拡大図である。
【符号の説明】
【００２９】
１  Ｓ端子、２  Ｇ端子、３  Ｓ配線集約端子、４  Ｇ配線集約端子、５  カラーフィルタ基板、６  アレイ基板、７  角部、８  ソース配線、９  ゲート配線、１０，１１  スイッチ部、１２  Ｓ配線、１３，１６  Ｇ配線、１４，１５  Ｎチャネルトランジスタ、１７  液晶パネル。
【図１】
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【図２】
2009042516.tif 000004
【図３】
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【図４】
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