(57)【要約】      （修正有）【課題】実際の使用形態に近い状態でタッチパネル構造体の打鍵耐久性を試験する方法及びそのための試験機を提供する。【解決手段】抵抗膜式タッチパネル構造体の耐久打鍵試験方法において、（１）固定盤１上に該タッチパネル構造体５を設置し、（２）該タッチパネル構造体５の表面を打鍵棒９を上下に一定位置に作動させるに当たり、打鍵棒９の打鍵中心点から１〜５ｍｍの範囲内においてランダム方向に該タッチパネル構造体５を固定盤上に並行に移動せしめる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
抵抗膜式タッチパネル構造体の耐久打鍵試験方法において、（１）固定盤上に該タッチパネル構造体を設置し、（２）該タッチパネル構造体の表面を打鍵棒を上下に一定位置に作動させるに当たり、打鍵棒の打鍵中心点から１〜５ｍｍの範囲内においてランダム方向に該タッチパネル構造体を固定盤上に並行に移動せしめることを特徴とする抵抗膜式タッチパネル構造体の耐久性打鍵試験方法。
【請求項２】
（a）可動盤が水平方向に移動範囲を規制する枠を表面に設けた固定盤、
（b）該固定盤上の枠内において、１〜５ｍｍ範囲にランダムに水平方向に自動的に移動することができる可動盤、
（c）該可動盤に設置されたタッチパネル構造体の表面に、打鍵棒を上下にかつ該固定盤上の定位置（中心点）に作動させるための打鍵器、
より構成された抵抗膜式タッチパネルの構造体の耐久性打鍵試験機。
【請求項３】
該固定盤の表面に設けられた枠は、該固定盤の表面に形成された凹部形状である請求項２記載の耐久性打鍵試験機
【請求項４】
該可動盤は、固定盤上の枠内において２〜５方向に自動的且つ連続的に移動可能な可動装置が連動している請求項２記載の耐久性打鍵試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネル構造体の打鍵試験方法及びそのための試験機に関する。さらに詳しくはタッチパネル構造体の打鍵による耐久性を調べるための試験方法及びそのための試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、指入力またはペン入力によるモバイル情報端末として抵抗膜式タッチパネルの用途が拡大しつつある。抵抗膜式タッチパネルは、特殊なペンを使用しないで、指または通常のペンで容易に入力でき、しかも低コスト化が比較的簡単であるという利点を有している。
一方抵抗膜式タッチパネルは、上部基板と下部基板との間にスペーサーによる空気層を有し、上部基板と下部基板の内部の表面に形成された透明導電性膜を物理的に接触（タッチ）させることによって接触位置を感知する構造となっている。
このタッチパネルの上部基板および下部基板の基板材料としてガラス、高分子フィルム、プラスチックシートなどが使用され、それぞれの基板材料の組合に基いて種々の利点および欠点を有している。
殊に、上部基板（タッチ面）の材料として高分子フィルム（例えばＰＥＴフィルムの如きポリエステルフィルム）は、割れない、軽量である、薄い、屈曲性に優れているなどの多くの利点のために、広く利用されてきた。しかし上部基板として高分子フィルムを使用した場合、その優れた屈曲性のために局所的なタッチ圧が容易に感知される。
【０００３】
抵抗膜式タッチパネルは、その製品の信頼性のために種々の検査や試験が行われる。その１つに打鍵による耐久性試験がある。この打鍵による試験は、１ケ所〜数ヶ所を打鍵しその耐久性を調べるものである。この打鍵試験は電圧を印加して、上部基板と下部基板のそれぞれに形成された導電性膜が打鍵によって接触させて評価するものである。電圧を印加して評価するために、上下の導電性膜が接触し、次いで接触が開放された時、接触点においてアーク放電が生じる。
そのため、電圧を印加して打鍵する試験法はタッチパネルの機械的な損傷と電気的な損傷を同時に調べることになる。
前述したように打鍵試験では、予め決められた箇所に打鍵棒（ペン先）を固定し、ペンを繰り返し上下運動させる。試験の再現性を確保するために、通常打鍵する位置を正確に固定する。しかしタッチパネルの実際の使用においては、或る表示位置をタッチする場合、指先またはペン先は、決まった狭い位置を正確に押圧することはなく、一定の範囲でズレを生じる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで本発明者は、実際の押圧の位置のずれに近い状態で打鍵試験を実施する方法及び試験機の開発について研究を進めた。通常打鍵試験では打鍵棒の直径が１〜２ｍｍ程度のものが使用され、この径の打鍵棒の先を固定位置（中心点）で打鍵して評価されるが、その中心点から２〜５ｍｍの範囲でランダム方向に打鍵棒の位置をずらすことにより、一層実用的で且つ現実の使用形態に近い評価結果が得られることが判明した。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、前記究明事実に基いて到達されたものであって、本発明によれば下記の抵抗膜式タッチパネル構造体のランダム打鍵試験方法及びそのための試験機が提供される。
（１）抵抗膜式タッチパネル構造体の耐久打鍵試験方法において、（１）固定盤上に該タッチパネル構造体を設置し、（２）該タッチパネル構造体の表面を打鍵棒を上下に一定位置に作動させるに当たり、打鍵棒の打鍵中心点から１〜５ｍｍの範囲内においてランダム方向に該タッチパネル構造体を固定盤上に並行に移動せしめることを特徴とする抵抗膜式タッチパネル構造体の耐久性打鍵試験方法。
（２）（a）可動盤が水平方向に移動範囲を規制する枠を表面に設けた固定盤、
（b）該固定盤上の枠内において、１〜５ｍｍ範囲にランダムに水平方向に自動的に移動することができる可動盤、
（c）該可動盤に設置されたタッチパネル構造体の表面に、打鍵棒を上下にかつ該固定盤上の定位置（中心点）に作動させるための打鍵器、
より構成された抵抗膜式タッチパネルの構造体の耐久性打鍵試験機。
（３）該固定盤の表面に設けられた枠は、該固定盤の表面に形成された凹部形状である前記（２）項に記載の耐久性打鍵試験機。
（４）該可動盤は、固定盤上の枠内において２〜５方向に自動的且つ連続的に移動可能な可動装置が連動している前記２項に記載の耐久性打鍵試験機。
【０００６】
以下本発明の試験方法及び試験機を図面により説明する。
図１は本発明の試験機の中心部における直角縦断面の模式図である。図１において試験すべきタッチパネル構造体５は可動盤３の上部に固定して設置されている。タッチパネル構造体５は上部基板６および下部基板７より構成され、上部基板６及び下部基板７より構成され、上部基板６及び下部基板７の間には空間部８が存在する。また上部基板６及び下部基板７のそれぞれ空間部８側の表面には、透明導電性膜が形成されているが、これら透明導電性膜は図面上省略されている。タッチパネル構造体５は、その上部基板５の上部表面から打鍵棒９によって押圧される。打鍵棒９の押圧の結果、上部基板６及び下部基板７のそれぞれの導電性膜が接触しその位置が感知される。タッチパネル構造体５の打鍵棒９による押圧の位置を感知するための回路端子並びにその回路端子からの検出器は図１に表示されていない。
固定盤１の中心部には可動盤３が水平方向に移動する範囲を規制する枠である凹部２が設けられて、この凹部２は通常円形のくぼみの形状を有している。この円形の凹部の内部に可動盤３が収納されている。可動盤３は図１に示すように逆凸部形状の断面を有し、その凸部４は通常円形であり、固定盤１の凹部２の円形状のくぼみの直径は可動盤３の凸部の円形状の直径よりも２〜５ｍｍ大きい。従って可動盤３は固定盤１の凹部の直径（内径）によって可動範囲が規制され、その範囲の幅は２〜５ｍｍの範囲、好ましくは２．５〜４．５ｍｍの範囲である。この範囲は固定盤１の凹部２の内径と可動盤３の凹部２の内径と可動盤３の凸部４の直径の差である。
【０００７】
可動盤３は固定盤１の上に設置された可動装置によってランダム方向に水平方向に移動するように設計されている。図１には可動盤３を水平方向に移動させる可動装置は図示されていない。
打鍵棒９は固定盤１に対して定位置で上下に運動し、その棒の先がタッチパネル構造体５の上部基板６の表面を押圧する。図１では打鍵棒９は１本の棒で表示されているが、棒の数は１個のみならず複数個であってもよい。つまり棒の数は１〜１５個、好ましくは１〜１０個であることができる。棒の数が複数個の場合、個々の棒の先は中心点は５〜２０ｍｍの間隔となるように配置することが望ましい。
図１の試験機において打鍵棒９は固定盤１に対して定位置で上下運動し、タッチパネル構造体５の表面を押圧する。これに対して可動盤３は固定盤１の凹部内で移動範囲を規制する枠内で、ランダム方向に水平方向に移動する。可動盤３の移動に伴い、その可動盤３上に固定されたタッチパネル構造体５もランダム方向に水平移動する。かくして結果として打鍵棒９はタッチパネル構造体５の表面をランダム方向に押圧することになり、その移動範囲は、固定盤１の凹部の円径（直径）と可動盤３の凸部の円径（直径）の差ということになる。固定盤１の凹部２の底部において可動盤３の水平方向を助けるために、底部の表面に滑材を存在させてもよいし、また小球（ベアリング）を存在させてもよい。
【０００８】
可動盤３をランダム方向に移動する手段は、特に制限されないが図２に示すように３個のバネ１１及び３個のソレノイド１０とを交互に可動盤３の周囲にラインにより設置して、固定盤１上に可動盤３を仮固定し、３個のソレノイドを矢印方向に電気的にランダムに可動せしめる手段を採用することができる。可動盤３のランダム方向の移動間隔と打鍵ペンの上下運動間隔は任意にすることが望ましい。
上記ソレノイドによる移動はソレノイドの磁力による引張り力を利用するものであり、個々のソレノイドの電磁力を交互に作動させてソレノイドの矢印方向に引張り力を変化させればよい。図２は３個のソレノイドを使用する態様を示しているが、ソレノイドは３〜６個使用することもできる。
本発明の打鍵試験機に使用される打鍵棒はその先端が通常１〜２ｍｍ、好ましくは１．２〜１．８ｍｍ程度のものが有利であり、その先端はＲが０．５〜１．２ｍｍの丸味を有しているものが通常である。その打鍵棒は１本当たり約１００〜３５０ｇ、好ましくは１５０〜３００ｇ程度であるのが望ましい。一方打鍵する打鍵棒を高速で振動させることによって、試験する測定時間を短縮することが可能となる。例えばソレノイド方式の打鍵棒の振動によって打鍵棒に１〜１５Ｈｚの高速振動を与えることが可能となり、高速による試験時間の短縮化を達成出来る。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば抵抗膜式タッチパネルの耐久打鍵試験において打鍵棒の中心点から２〜５ｍｍの範囲でランダム方向にずれた位置で、数百万回及びそれ以上の打鍵テストを実施でき、現実のタッチパネルの使用形態に近いずれで試験することができる。従ってその結果は実用化したときの耐久性に近い評価結果を反映したものとなる。その上本発明の試験方法並びに試験機は比較的簡単な手段及び装置であってコストも安価であり、実用性が高いものである。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の試験機の構造を示すための縦断面図の模式図である。
【図２】本発明の試験機における可動盤３をランダム方向に移動するため可動手段を示す模式図である。
【符号の説明】
【００１１】
１：固定盤
２：凹部
３：可動盤
４：凸部
５：タッチパネル構造体
６：上部基板
７：下部基板
８：空間部
９：打鍵棒
１０：ソレノイド
１１：バネ
【図１】
2009042817.tif 000003
【図２】
2009042817.tif 000004