(57)【要約】【課題】SAMjitterとPathSNRという２つの異なる信号品質評価指標を計算する場合において構成の簡素化を図る。【解決手段】SAMjitterとPathSNRとを計算する上で共通に用いることのできる中間値を計算した上で、該中間値からそれぞれSAMjitterとPathSNRを計算する。或いは、SAMjitter、PathSNRのうち何れか一方を計算した上で、他方の評価指標を換算して求める。これにより、例えば複数の評価指標のそれぞれを独立して計算する構成を個別に設けるとした場合よりも、構成の簡素化を図ることができる。【選択図】図１３
2009272006.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体からの再生信号から最尤データ系列検出法を用いて上記記録媒体の記録情報を検出すると共に、上記記録情報の検出過程において、最尤データ系列検出における最も確からしい状態の組の尤度を表すメトリックと次に確からしい状態の組のメトリックとの間の差分を差分メトリックとして計算する最尤データ系列検出手段と、
上記最尤データ系列検出手段により計算される上記差分メトリック、又は上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列、又は上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号の少なくとも何れかに基づき、上記再生信号についてそれぞれ異なる信号品質評価指標を計算する上で共通に用いることのできる中間値を計算する中間値計算手段と、
上記中間値計算手段が計算した上記中間値に基づき第１の信号品質評価指標を計算する第１評価指標計算手段と、
上記中間値計算手段が計算した上記中間値に基づき第２の信号品質評価指標を計算する第２評価指標計算手段と
を備える再生信号評価器。
【請求項２】
請求項１に記載の再生信号評価器において、
上記中間値計算手段は、
所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象について上記最尤データ系列検出手段が計算した上記差分メトリックの値から、上記所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象についての最も確からしい信号系列ベクトルと次に確からしい信号系列ベクトルとの間の二乗ユークリッド距離を減算した値の二乗値を計算し、該二乗値を規定回数累加算した値を上記中間値として計算し、
上記第１評価指標計算手段は、
上記中間値計算手段により計算された累加算値の平方根を上記二乗ユークリッド距離を定数倍した値で除算することで、上記第１の信号品質評価指標を計算し、
上記第２評価指標計算手段は、
上記中間値計算手段により計算された累加算値により上記二乗ユークリッド距離の二乗値を定数倍した値を除算することで、上記第２の信号品質評価指標を計算する。
【請求項３】
請求項２に記載の再生信号評価器において、
ΔＭmを上記所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象について上記最尤データ系列検出手段が計算した上記差分メトリックの値、ｄab2を上記二乗ユークリッド距離、Ｍを上記規定回数としたとき、
上記中間値計算手段と上記第１評価指標計算手段とによっては、下記[式１]に相当する演算が行われてSAMjitterとしての上記第１の信号品質評価指標が計算され、
上記中間値計算手段と上記第２評価指標計算手段とによっては、下記[式２]に相当する演算が行われてPathSNRとしての上記第２の信号品質評価指標が計算される。
【数１】
2009272006.tif 000026
【数２】
2009272006.tif 000027
【請求項４】
請求項１に記載の再生信号評価器において、
上記中間値計算手段は、
上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列と上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号とに基づき、所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象についての最も確からしい信号系列ベクトルと次に確からしい信号系列ベクトルとの差ベクトルと、残留等化誤差と雑音との和のサンプルを成分とするベクトルとの内積演算を行うと共に、該内積演算による演算結果値の二乗値を規定回数累加算した値を上記中間値として計算し、
上記第１評価指標計算手段は、
上記中間値計算手段により計算された累加算値の平方根を、上記所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象についての最も確からしい信号系列ベクトルと次に確からしい信号系列ベクトルとの間の二乗ユークリッド距離を定数倍した値で除算することで、上記第１の信号品質評価指標を計算し、
上記第２評価指標計算手段は、
上記中間値計算手段により計算された累加算値により上記二乗ユークリッド距離の二乗値を定数倍した値を除算することで、上記第２の信号品質評価指標を計算する。
【請求項５】
記録媒体からの再生信号から最尤データ系列検出法を用いて上記記録媒体の記録情報を検出すると共に、上記記録情報の検出過程において、最尤データ系列検出における最も確からしい状態の組の尤度を表すメトリックと次に確からしい状態の組のメトリックとの間の差分を差分メトリックとして計算する最尤データ系列検出手段と、
上記最尤データ系列検出手段により計算される上記差分メトリック、又は上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列、又は上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号の少なくとも何れかに基づき、上記再生信号についての複数の信号品質評価指標のうちの何れかを計算する第１評価指標計算手段と、
上記第１評価指標計算手段が計算した信号品質評価指標から第２の信号品質評価指標を計算する第２評価指標計算手段と
を備える再生信号評価器。
【請求項６】
請求項５に記載の再生信号評価器において、
上記第１評価指標計算手段は、
所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象について上記最尤データ系列検出手段が計算した上記差分メトリックの値について、その時系列分布の標準偏差を計算し、該標準偏差の値を、上記所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象についての最も確からしい信号系列ベクトルと次に確からしい信号系列ベクトルとの間の二乗ユークリッド距離の二倍の値により除算することで、上記第１の信号品質評価指標を計算し、
上記第２評価指標計算手段は、
上記第１の信号品質評価指標の値の二乗値の逆数を０．２５倍することで上記第２の信号品質評価指標を計算する。
【請求項７】
請求項６に記載の再生信号評価器において、
ΔＭを上記所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象について上記最尤データ系列検出手段が計算した上記差分メトリックの値、ｄ2を上記二乗ユークリッド距離、Ｍを上記規定回数としたとき、
上記第１評価指標計算手段は、下記[式３]に相当する演算を行ってSAMjitterとしての上記第１の信号品質評価指標を計算し、
上記第２評価指標計算手段は、下記[式４]に相当する演算を行ってPathSNRとしての上記第２の信号品質評価指標を計算する。
但し、[式３]においてVar[・]は統計的分散を計算する演算子を表す。
【数３】
2009272006.tif 000028
【数４】
2009272006.tif 000029
【請求項８】
請求項７に記載の再生信号評価器において、
上記第１評価指標計算手段は、
複数の異なる情報検出エラーパターンの各々について上記最尤データ系列検出手段が計算した上記差分メトリックの値に基づき、上記複数の情報検出エラーパターンごとに上記SAMjitterの値を計算し、
さらに、上記第１評価指標計算手段が計算した上記複数の情報検出エラーパターンごとのSAMjitterの値のうち最大の数値を選択する選択手段を備えると共に、
上記第２評価指標計算手段は、
上記選択手段が選択したSAMjitterの値の二乗値の逆数を０．２５倍した値を計算することで、上記PathSNRの代表値を得る。
【請求項９】
請求項７に記載の再生信号評価器において、
上記第１評価指標計算手段は、
複数の異なる情報検出エラーパターンの各々について上記最尤データ系列検出手段が計算した上記差分メトリックの値に基づき、上記複数の情報検出エラーパターンごとに上記SAMjitterの値を計算し、
上記第２評価指標計算手段は、
上記第１評価指標計算手段が計算した上記複数の情報検出エラーパターンごとのSAMjitterの値のそれぞれについて、その二乗値の逆数を０．２５倍した値を計算することで、上記複数の情報検出エラーパターンごとのPathSNRの値を計算すると共に、
さらに、上記第２評価指標計算手段が計算した上記複数の情報検出エラーパターンごとのPathSNRの値のうち最小の数値を選択することで上記PathSNRの代表値を得る選択手段を備える。
【請求項１０】
請求項５に記載の再生信号評価器において、
上記第１評価指標計算手段は、
上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列と上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号とに基づき、所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象についての最も確からしい信号系列ベクトルと次に確からしい信号系列ベクトルとの差ベクトルと、残留等化誤差と雑音との和のサンプルを成分とするベクトルとの内積演算を行い、該内積演算による演算結果値の二乗値を規定回数累加算すると共に、該累加算値により、上記所定の情報検出エラーパターンに対応するパス分岐合流事象についての最も確からしい信号系列ベクトルと次に確からしい信号系列ベクトルとの間の二乗ユークリッド距離の値の二乗値を定数倍した値を除算することで、上記第１の信号品質評価指標を計算し、
上記第２評価指標計算手段は、
上記第１の信号品質評価指標の平方根により定数０．５を除算することで上記第２の信号品質評価指標を計算する。
【請求項１１】
請求項１０に記載の再生信号評価器において、
PathSNRを上記第１評価指標計算手段により計算される上記第１の信号品質評価指標の値、ｄab2を上記二乗ユークリッド距離、ｓａiを最も確からしい信号系列ベクトル、ｓｂkを次に確からしい信号系列ベクトル、ｎiを残留等化誤差と雑音との和のサンプルを成分とするベクトル、Ｌをパーシャルレスポンスの拘束長としたとき、
上記第１評価指標計算手段による計算内容は下記[式５]に相当するものであり、
上記第２評価指標計算手段は、下記[式６]に相当する演算を行ってSAMjitterとしての上記第２の信号品質評価指標を計算する。
但し、[式５]においてVar[・]は統計的分散を計算する演算子を表す。
【数５】
2009272006.tif 000030
【数６】
2009272006.tif 000031
【請求項１２】
請求項１又は請求項５に記載の再生信号評価器において、
上記最尤データ系列検出手段は、上記最尤データ系列検出をビタビ復号アルゴリズムに従って逐次実行するビタビ復号器である。
【請求項１３】
記録媒体に記録される情報についての再生信号を得る再生手段と、
上記再生手段により得られた上記再生信号から最尤データ系列検出法を用いて上記記録媒体の記録情報を検出すると共に、上記記録情報の検出過程において、最尤データ系列検出における最も確からしい状態の組の尤度を表すメトリックと次に確からしい状態の組のメトリックとの間の差分を差分メトリックとして計算する最尤データ系列検出手段と、
上記最尤データ系列検出手段により計算される上記差分メトリック、又は上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列、又は上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号の少なくとも何れかに基づき、上記再生信号についてそれぞれ異なる信号品質評価指標を計算する上で共通に用いることのできる中間値を計算する中間値計算手段と、
上記中間値計算手段が計算した上記中間値に基づき第１の信号品質評価指標を計算する第１評価指標計算手段と、
上記中間値計算手段が計算した上記中間値に基づき第２の信号品質評価指標を計算する第２評価指標計算手段と
を備える再生装置。
【請求項１４】
記録媒体に記録される情報についての再生信号を得る再生手段と、
上記再生手段により得られた上記再生信号から最尤データ系列検出法を用いて上記記録媒体の記録情報を検出すると共に、上記記録情報の検出過程において、最尤データ系列検出における最も確からしい状態の組の尤度を表すメトリックと次に確からしい状態の組のメトリックとの間の差分を差分メトリックとして計算する最尤データ系列検出手段と、
上記最尤データ系列検出手段により計算される上記差分メトリック、又は上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列、又は上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号の少なくとも何れかに基づき、上記再生信号についての複数の信号品質評価指標のうちの何れかを計算する第１評価指標計算手段と、
上記第１評価指標計算手段が計算した信号品質評価指標から第２の信号品質評価指標を計算する第２評価指標計算手段と
を備える再生信号評価器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体からの再生信号についての信号品質評価指標として複数の指標を計算する場合に好適な再生信号評価器、及び再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
【特許文献１】特開２００６−１６４３１８号公報
【特許文献２】特開２００４−２１３８６２号公報
【０００３】
レーザ光の照射により情報の再生の行われる光ディスク記録媒体（以下、光ディスクとする）が広く知られている。
このような光ディスクとして、赤色レーザ光による再生が行われる従来の光ディスクは、記録密度が比較的低く、再生信号の信号対雑音比（S/N）としても比較的良好なものとされている。また、このように記録密度が比較的低いことから、データ検出には、２値閾値検出方式が用いられるものとされている。
【０００４】
ここで、これらの特徴を有する従来の光ディスクでは、データ再生の誤り発生の要因としては、記録マーク位置ずれによる時間揺らぎ（ジッタ）が支配的なものとなる。このため、従来の光ディスクについての再生信号品質の評価指標としては、２値閾値検出器入力における等化後信号の零レベル交差点のジッタ（jitter）を、１チャネルデータビット長に対する割合で表し、用いるものとされていた。
【０００５】
一方、近年において光ディスクとしては、再生レーザ光として青紫色レーザ光が用いられる高密度光ディスクが普及し始めている。このような近年の高密度光ディスクについて再生を行うドライブ装置では、高記録密度で記録されたデータを適正に再生できるように、ＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum Likelihood）再生データ検出方式を採用するものが一般的となっている。
周知のようにＰＲＭＬは、記録再生チャネルにおける既知の線型符号間干渉を積極的に利用するパーシャルレスポンス信号方式に、雑音耐性に優れる最尤データ系列推定方式を組み合わせたものである。
【０００６】
ここで、ＰＲＭＬは、再生信号サンプルの振幅値を扱うため、伝統的信号品質評価尺度である再生信号ジッタは有効な信号品質評価指標とはならない。従って、最尤データ系列検出誤り率に相関を持つ評価指標として、データ検出を実行するビタビ復号器の正しいパスと誤りパスとの間の差分メトリック（Differential metric：ΔＭ）のばらつきを統計処理するものや、再生信号における雑音と残留等化誤差の自己相関を用いて信号系列の多次元空間表現における信号対雑音比を計算するものなど、規格や製造者によって異なる評価指標が提案されている。これら既存の評価指標について、特に代表的なものとしては、上記による各特許文献に開示される評価指標を挙げることができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記のようにしてＰＲＭＬ方式によるデータ検出を行うドライブ装置における再生信号品質評価には、複数の異なる評価指標が存在し、記録／再生対象とする光ディスクの規格に応じて特定の指標が用いられる場合がある。また、ドライブ装置の製造者の選択により、製品によって異なる指標が用いられることもある。
【０００８】
ここで、規格の異なる複数種の光ディスクに対応するとした場合には、それぞれ異なる評価指標を計算できるように構成することが考えられる。
例えば、先に挙げた各特許文献に記載される評価指標は、それぞれ演算内容が全く異なるものとなっており、算出値としても全く異なる値となる。このため、それぞれの評価指標を計算する複数の評価器を実装するのが順当な構成として考えられる。
【０００９】
しかしながら、このように複数の評価器を実装する場合には、当然のことながらその分の回路実装面積の増加、及び製造コストの増加を招くものとなる。実際において、上記評価器としては、例えばビタビ復号器を含む再生信号処理用のＬＳＩ（Large Scale Integrated circuit）に対して評価指標の計算回路を組み込むことで実現されるものである。従って実際には、上記ＬＳＩのチップ面積の増化、部品コストの増加が問題として生じることになる。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記のような問題点に鑑み、本発明では再生信号評価器として以下のように構成することとした。
すなわち、記録媒体からの再生信号から最尤データ系列検出法を用いて上記記録媒体の記録情報を検出すると共に、上記記録情報の検出過程において、最尤データ系列検出における最も確からしい状態の組の尤度を表すメトリックと次に確からしい状態の組のメトリックとの間の差分を差分メトリックとして計算する最尤データ系列検出手段を備える。
また、上記最尤データ系列検出手段により計算される上記差分メトリック、又は上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列、又は上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号の少なくとも何れかに基づき、上記再生信号についてそれぞれ異なる信号品質評価指標を計算する上で共通に用いることのできる中間値を計算する中間値計算手段を備える。
また、上記中間値計算手段が計算した上記中間値に基づき第１の信号品質評価指標を計算する第１評価指標計算手段と、上記中間値計算手段が計算した上記中間値に基づき第２の信号品質評価指標を計算する第２評価指標計算手段とを備えるようにした。
【００１１】
また、本発明では再生信号評価器として以下のようにも構成することとした。
つまり、記録媒体からの再生信号から最尤データ系列検出法を用いて上記記録媒体の記録情報を検出すると共に、上記記録情報の検出過程において、最尤データ系列検出における最も確からしい状態の組の尤度を表すメトリックと次に確からしい状態の組のメトリックとの間の差分を差分メトリックとして計算する最尤データ系列検出手段を備える。
また、上記最尤データ系列検出手段により計算される上記差分メトリック、又は上記最尤データ系列検出手段により検出される最尤データ系列、又は上記最尤データ系列検出手段に入力される上記再生信号の少なくとも何れかに基づき、上記再生信号についての複数の信号品質評価指標のうちの何れかを計算する第１評価指標計算手段を備える。
また、上記第１評価指標計算手段が計算した信号品質評価指標から第２の信号品質評価指標を計算する第２評価指標計算手段を備えるようにした。
【００１２】
上記本発明によれば、記録媒体からの再生信号についてそれぞれ異なる信号品質評価指標を計算する上で共通に用いることのできる中間値を計算することで、該中間値から、それぞれ異なる評価指標を計算することができる。
或いは、上記本発明によれば、所定の評価指標を計算した上で、この評価指標から他の評価指標を換算して求めることができる。
【発明の効果】
【００１３】
上記のようにして本発明によれば、再生信号についてそれぞれ異なる信号品質評価指標を計算する上で共通に用いることのできる中間値を計算し、該中間値からそれぞれ異なる評価指標を計算することができる。
これによれば、複数の評価指標を計算するにあたり、上記中間値を求める構成を共通化することができ、その結果、複数の評価指標のそれぞれを独立して計算する構成を個別に設けるとした場合よりも構成の簡素化を図ることができる。
【００１４】
或いは、上記本発明によれば、所定の評価指標を計算した上で、この評価指標から他の評価指標を換算して求めることができる。これによっても、複数の評価指標のそれぞれを独立して計算する構成を個別に設けるとした場合よりも構成の簡素化を図ることができる。
【００１５】
このように構成が簡素化されることで、複数の評価指標を計算する評価器の製造コストの削減を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
[ディスクドライブ装置の全体構成]
図１は、本発明の一実施形態としてのディスクドライブ装置の内部構成を示している。
先ず、本実施の形態のディスクドライブ装置としては、図中の光ディスクＤに対する情報記録機能を有さない再生専用装置である場合を例示する。
このディスクドライブ装置において、光ディスクＤに対しては、光学ピックアップ（ＯＰ）１によるレーザ光の照射が行われ、該レーザ光の照射に応じて情報の再生が行われる。
【００１７】
ここで、実施の形態のディスクドライブ装置は、上記光ディスクＤとして、例えばそれぞれ異なる構造を有する２種の光ディスクに対応可能に構成される。この場合、それぞれの光ディスクＤ（第１の光ディスクＤ、第２の光ディスクＤとする）は、共に波長λ＝４０５nm程度のいわゆる青紫色レーザ光の照射により情報再生が行われるものとされる。一方で、開口数ＮＡについては、第１の光ディスクＤがＮＡ＝０．８５、第２の光ディスクＤがＮＡ＝０．６５の条件で再生が行われるものとされる。
光学ピックアップ１は、これら第１,第２の光ディスクＤのそれぞれに対応可能とすべく、ＮＡ＝０．８５の条件とＮＡ＝０．６５の条件とによるレーザ光照射を選択的に行うことができるように構成されている。
【００１８】
光学ピックアップ１により光ディスクＤから再生された（読み出された）信号は、ＡＧＣ（自動利得制御増幅器）２により振幅を所定値に制御された後、アナログフィルタ３によって雑音帯域制限と符号間干渉を緩和するためのおおまかな波形等化を受ける。
このアナログフィルタ３によるアナログ等化後信号は、図示するようにＡ−Ｄ変換器４とＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路５とに分岐して供給される。ＰＬＬ回路５は上記アナログ等化後信号からチャネルビット同期クロックを再生する。そして、上記Ａ−Ｄ変換器４は、このように再生されるクロックに同期したサンプリングタイミングにより、上記アナログ等化後信号をディジタルサンプリングする。このＡ／Ｄ変換器４により、上記アナログ等化後信号は、時刻ｔ＝ｋＴch（ｋは整数、Ｔchは１チャネルビット長）ごとにディジタル信号サンプル系列に変換されることになる。
【００１９】
Ａ−Ｄ変換器４により得られたディジタル信号サンプル系列は、適応等化器６によってＰＲ（パーシャルレスポンス）等化のための所定の信号特性が与えられるようにして波形等化された後、ビタビ復号器７に供給される。
ビタビ復号器７は、上記適応等化器６により波形等化されたディジタル信号サンプル系列ｚkに基づき、ブランチメトリック計算、及びパスメトリック計算（更新）を行うと共に、該パスメトリックの値に基づくパス比較を行うことで、ディジタル信号サンプル系列ｚkに対して最尤とされるパス（データ系列）を選出する。すなわち、これによって記録データ系列ｂkへの復号化が行われる。このようなビタビ復号器７の最尤データ系列検出による復号結果として得られた記録データ系列ｂkは、再生データ列（２値データ列）として後段の回路（図示は省略）に供給される。
【００２０】
ここで、実施の形態において、光ディスクＤに記録されたデータは（１，７）ＲＬＬＣ（Run Length Limited Code）によってチャネル符号化されている。チャネル符号の最小ゼロ連続長制限により、再生信号の最小極性反転間隔は２Ｔchである。
【００２１】
また、実施の形態の場合、光ディスクＤからの再生信号は、適応等化器６によって、パーシャルレスポンス特性がPR(１，２，１)となるように波形等化されるものとする。これは、記録データ“１”がディジタル信号サンプル系列“１，２，１”に対応するものとなるように等化するものである。
【００２２】
また、本実施の形態のディスクドライブ装置には、評価指標計算部８が設けられる。この評価指標計算部８は、上記ビタビ復号器７の復号処理の過程において得られる差分メトリックΔＭkの値と、復号結果として得られる記録データ系列ｂkの値とに基づき、再生信号品質を評価するための評価指標として、第１評価指標（SAMjitter）と第２評価指標（PathSNR）の２つの異なる評価指標を計算する。
なお、これら２つの評価指標については以下で詳述する。また、評価指標計算部８の内部構成については後に改めて説明する。
【００２３】
[ＰＲＭＬと再生信号品質評価指標]
ここで、上記による説明からも理解されるように、本実施の形態のディスクドライブ装置は、再生データ検出方式として、ＰＲＭＬ（Partial Response and Maximum Likelihood）方式が採用されるものである。以下、このようなＰＲＭＬ方式が採用される場合の再生信号品質評価指標について、ビタビ復号の概念と併せて説明していく。
【００２４】
先ず、図２に、PR(１，２，１)と(１，７)ＲＬＬＣとを組み合わせた場合のビタビ復号器７の状態遷移図を示す。
PR(１，２，１)は、拘束長が３、メモリ長が２であるため、ビタビ復号器７の状態は、２つの連続する２進チャネルデータ{ｂk-1,ｂk},{ｂk}∈{0,1}で決まるS0, S1, S2, S3の４通りである。これら４状態の間の遷移は、記録されるチャネルデータ系列の時間遷移と、(１，７)ＲＬＬＣによる最小ゼロ連続長制限により決定されている。図２の各遷移経路には、その遷移を起こす記録データｂkの値と、PR(１，２，１)の信号レベルを一般化しPR(ａ0/２,ａ1,ａ0/２) としたときの再生信号値ｓkとが示されている。ここで再生信号値ｓkは、記録データｂk∈{0,1}を双極性のｂ※k＝２ｂk−１∈{-1,1}に変換した上で、次の[式１]に従ってPR(ａ0/２,ａ1,ａ0/２)の孤立応答波形を重ねて求めたものである。
【数１】
2009272006.tif 000003
この場合、ランダムデータの再生信号波形の平均値はほぼ０である。
【００２５】
図３は、図２に示した状態遷移図を時系列状に展開したトレリス線図の一区間である。
時刻(ｋ−１)ＴchからｋＴchのある状態に流入するブランチには、ブランチメトリックが定義される。このブランチメトリックは、雑音や符号間干渉が重畳したチャネル等化後の再生信号標本値をｚk、雑音や符号間干渉が存在しないときの理想的再生信号標本値をｓkとするとき、(ｚk−ｓk)2である。
参考として、PR(ａ0/２,ａ1,ａ0/２)の場合の全てのブランチメトリックの値を次の図４に示しておく。
【００２６】
図５は、時刻ｔ＝(ｋ−３)Ｔchからｔ＝ｋＴchまでのトレリス線図の例である。
図５において、例えば時刻ｔ＝(ｋ−３)Ｔchにて状態Ｓ０k-3が正しいと確定していた場合、そこから出発して、再生信号サンプル値に応じて状態はさまざまに遷移するが、パスPaとパスPbとに分岐して、時刻ｔ＝ｋＴchにおける状態Ｓ２kで合流することになる。この状態Ｓ２kでは、パスPaとパスPbのどちらが確からしいかについて、各ブランチメトリックを累加算したパスメトリックを比較し、小さい方を正しいパスとして採用し、分岐から合流するまでに遷移した状態の履歴と、それに伴う記録データを確定する。この操作は、ビタビ復号器７によって、時刻が進むごとに逐次行われる。
このときのビタビ復号器７の演算内容を、次の図６に示しておく。この図６では、図５に示される各状態Ｓ０k,Ｓ１k,Ｓ２k,Ｓ３kごとに、ブランチメトリック加算と比較、ブランチ選択、パスメトリック更新、及び検出データ（時刻ｋ−１及び時刻ｋ）を示している。
【００２７】
ここで、ある時刻(ｋ−Ｌ)Ｔchにおける分岐から時刻ｋＴchの合流に至るまでのパスメトリックＭkは、パスを構成する全ブランチメトリックの総和であって、次の[式２]で表される。
【数２】
2009272006.tif 000004
パスメトリックＭkは、等化信号標本系列{ｚi}と理想的信号標本系列{ｓi}とをそれぞれＬ次元ベクトルと見なすとき、Ｌ次元空間における２乗Euclid距離である。
時刻ｋＴchの状態で２つのパスPaとPbが合流するとき、パスPaに伴う理想的再生信号系列{ｓａi}、パスPbに伴う理想的再生信号系列{ｓｂi}について、それらのパス間のメトリックの差（差分メトリック＝ΔＭk）は次の[式３]で表される。
【数３】
2009272006.tif 000005
【００２８】
図７は、先の図６に示したビタビ復号器７の演算内容を差分メトリックで書き直したものである。ビタビ復号器７は、時刻ｋＴch において、「ΔＭk＞０」となるようパスを選択することになる。誤ったパスPbのパスメトリックに比べ、正しいパスPaのパスメトリックが小さいほど、等化信号標本系列{ｚi}は{ｓｂi}よりも{ｓａi}に近い。もし、真の記録データ系列に対してパスPaが対応するにもかかわらず、等化信号標本系列{ｚi}がパスPbの理想的再生信号標本系列{ｚi}に近い場合、ビタビ復号器７はパスPbを選択し再生誤りが発生するが、このときΔＭk＜０となる。よって、ΔＭkは再生信号品質に関係する量であり、ΔＭkを統計処理することによって、再生信号品質の評価指標を得ることができる。
【００２９】
差分メトリックΔＭkは、次の[式４]に示すように、理想的信号標本系列{ｓａi}と{ｓｂi}とで決まる確定値と、雑音と等化誤差（残留符号間干渉）からなるｎiを重み付け総和した確率変数の和とみなすことができる。
【数４】
2009272006.tif 000006
この[式４]における最右辺第一項は再生信号標本系列{ａi}と{ｂi}との２乗Euclid距離ｄab,k2あり、正の確定値である。これを[式５]に示す。
【数５】
2009272006.tif 000007
【００３０】
ここで、Ｅ[・]を統計的平均演算子として、ΔＭkの平均を求めておく。[式４]の最右辺第二項の確率変数についてＥ[ｎi]＝０となるため、次の[式６]に示すように、ΔＭkの平均はｄab,k2に等しくなる。
【数６】
2009272006.tif 000008
すなわち、ΔＭkは、エラーパターン種別によって決まった正の確定値である２乗Euclid距離ｄab,k2を平均値として、その周りに分布する確率変数である。ここで、ｄab,k2は時刻ｋによらない定数であるため、以下ではｄab2と記す。確率変数ΔＭkのばらつきが平均値に比べて大きく、その値が負になるとビタビ復号器７はデータ検出を誤る。よって、ΔＭkのばらつきを、その平均値ｄab2を基準として表した量は、再生信号品質の評価指標として用いることができる。
【００３１】
なお、実際には、差分メトリックの値が負になるには、どちらのパスが正しいかが、事前情報として既知である必要がある。これは、再生を行う前に、記録データ系列{ｂk} が既知であることと等価である。そのようなことは実使用状態ではありえず、例えば所定のデータを記録した光ディスクＤを用い、記録データと同期を取りながら再生性能を測定するなど特別な場合に限られる。
実使用時において、記録データは未知である。よって、パス合流時点でビタビ復号器７がデータ系列を確定した段階で、真の記録データに関わらず、パスPaにおけるデータ系列は正しいと確信される。この点から差分メトリックΔＭkは必ず正であり、該ΔＭkが負となる確率に相関を持つ指標を考えることはできないが、確率分布を統計処理した指標には意味がある。
【００３２】
上記により説明したような差分メトリックΔＭkに基づく再生信号品質評価指標を導く考え方は、もともと磁気記録メディア用に提案され、例えば次の参考文献１にも開示されているものでもある。
参考文献１・・・Tim Perkins and Zachary A. Keirn, “A Window-Margin-Like Procedure for Evaluating PRML Channel Performance”, IEEE Transactions on Magnetics, Vol. 31, No. 2, pp. 1108-1114, March 1995.
【００３３】
[SAMjitter]
ここで、先にも述べたように、再生データ検出方式としてＰＲＭＬ方式を採用する場合の再生信号品質評価指標については、種々の指標が提案されている。そのうちで代表的なものとして、例えば先に挙げた特許文献１(特開２００６−１６４３１８号公報)に記載されるものを挙げることができる。
この特許文献１に記載される評価指標は、「SAMjitter」と称され、上記により説明したような差分メトリックΔＭkに基づく評価指標となる。
【００３４】
以下、この特許文献１に記載されるSAMjitterについての説明を行う。なお、以下においては次の点に注意されたい。
上記特許文献１は、高密度記録時において異なる種別によるエラーパターンが発生する場合に好適な評価指標を提案するものであり、上記SAMjitterとしては、特定のエラーパターンのパス分岐合流事象について求めるものとしている。
これまでの説明においては、信号サンプル時刻ごとに差分メトリックを計算するものとしたため、差分メトリックの番号ｋが信号サンプル番号ｋと同じであった。しかしながら以下で説明するSAMjitterについては、上記のように特定のエラーパス分岐合流事象について求めるものとなるので、差分メトリックの番号をｍに置き換えるものとする。番号ｍの集合は、サンプル時刻ｋ全体の集合の部分集合である。
【００３５】
先ずは、SAMjitterの定義式を示す。
第ｍ分岐合流事象におけるSAMjitterは、次の[式７]で表されるものとなる。
【数７】
2009272006.tif 000009
この[式７]において、SAMjitterの分子は、差分メトリックΔＭmの平均値ｄab2のまわりの標準偏差であり、分母は平均値である。よってSAMjitterは、ΔＭmのばらつきを平均値ｄab2を基準として表したものであり、前述のように再生信号品質評価指標として機能するものとなる。
【００３６】
ここで、SAMjitterは、分母の２乗Euclid距離ｄab2が小さいときに大きくなるが、この場合にビタビ復号器７もデータ検出エラーを生じやすいことになる。SAMjitterの値は、等化後再生標本系列{ｚi}が正パスの理想的再生信号系列{ｓａi}に一致するときに０あるいは０％となり、誤パスの理想的再生信号系列{ｓｂi}に一致するとき１あるいは１００％になる。すなわち、SAMjitterは、再生信号品質が良好な場合に小さくなり、良好でない場合には大きな値をとる。
【００３７】
ここで、Euclid距離ｄabは、正誤パス間の分岐合流の形態によって異なるため、Euclid距離が同程度となる複数の分岐合流形態が存在する場合は、それぞれの形態についてSAMjitterを計算する必要がある。
先の図５に示した分岐合流の例では、正パスPaの記録データは{ｂk-2＝０,ｂk-1＝１,ｂk＝１}、誤パスPbの記録データは{ｂk-2＝１,ｂk-1＝１,ｂk＝１}であり、ｂk-2が１ビット異なるだけである。
このようなエラーパターンは、光ディスクＤ上の記録マークの前端位置の１ビットずれに対応するので、１ビットエッジシフトエラーと呼ばれる。この場合の正パスの再生信号系列は、双極性記録データｂ※k＝２ｂk−１∈{-1,1}により、ｓk＝(ａ0/２)ｂ※kー2＋ａ1ｂ※kー1＋(ａ0/２)ｂ※kで計算される。
具体的に、正パスの再生信号系列ｓａkは次の[式８]で求められる。
【数８】
2009272006.tif 000010
同様に、誤パスの再生信号系列ｓｂkは次の[式９]で求まる。
【数９】
2009272006.tif 000011
よって正誤パスの再生信号点間の２乗Euclid距離ｄab2は、次の[式１０]のようになる。
【数１０】
2009272006.tif 000012
例えばPR(１，２，１)の場合はａ0＝２,ａ1＝２であるので、２乗Euclid距離ｄab2は２４となる。
【００３８】
第２のエラーパターンは、次の図８の分岐合流例２に示すように、正パスの記録データ{ｂk-3＝０,ｂk-2＝０,ｂk-1＝０,ｂk＝０}に対して、誤パスが{ｂk-3＝１,ｂk-2＝１,ｂk-1＝０,ｂk＝０}となる場合である。これは、２Ｔエラーと呼ばれる。この場合、正誤パスの再生信号点間の２乗Euclid距離はｄab2＝４ａ02＋４ａ12＋４ａ0ａ1である。従って、PR(１，２，１)の場合、２乗Euclid距離ｄab2は４８である。
【００３９】
第３のエラーパターンは、図９の分岐合流例３に示すように、記録データが正パスで{ｂk-4＝０,ｂk-3＝１,ｂk-2＝１,ｂk-1＝０,ｂk＝０}、誤パスで{ｂk-4＝１,ｂk-3＝１,ｂk-2＝０,ｂk-1＝０,ｂk＝０}となるものである。これは、２Ｔシフトエラーと呼ばれる。この場合の再生信号点間の２乗Euclid距離ｄab2は、PR(１，２，１)の場合に４０である。
【００４０】
以上の３種の分岐合流パターンとその２乗Euclid距離との関係を、次の図１０にまとめた。これら３種のエラーパターンにおけるSAMjitter計測結果は、そのまま評価指標として用いても良い。あるいは、３種のエラーパターンのうち、１ビットエッジシフトエラーは他の２種に比べて、かなり２乗Euclid距離ｄab2が小さいため、支配的なエラー原因となる。よって、PR(1,2,1)の場合には、１ビットエッジシフトエラーを起こすデータ系列パターンを抽出し、それらにおいてのみSAMjitterを計測しても、良好な再生信号評価指標とすることができる。
【００４１】
上記のようなSAMjitterの計算を行うための手順を、実際の構成に照らして整理しておく。
先ず、ビタビ復号器７は、先の図６に示したような演算内容によるデータ検出動作を実時間で実行する。一般に、ビタビ復号器はＬＳＩハードウエア上のディジタル信号処理回路として実現される。
先の説明からも理解されるように、ビタビ復号器７では、このデータ検出動作の進行に伴って、パスの分岐合流事象が完了する時刻ｔ＝ｋＴchごとに、先の図７に定義された差分メトリックΔＭkが算出されることになる。また同時に、そのパス分岐合流事象から検出された記録データ系列{ｂk}も得られる。
【００４２】
この前提を踏まえた上で、先ず、SAMjitterを計算するにあたっては、上記のように得られる記録データ系列{ｂk}から、現在の分岐合流事象が特定のエラーパターンに対応する分岐合流事象であるかを判定する。ここで、先に例示した各エラーパターンは、それぞれ特定の記録データ系列が得られるときに生じることが分かっている。従って上記判定は、このように対象とするエラーパターンが生じることが判明している記録データ系列の情報を用いて、該記録データ系列と、ビタビ復号器７の復号結果として得られる記録データ系列との間のパターンマッチングによって行う。
そして、このようなパターンマッチングによる判定結果に基づいて、それぞれのエラーパターンごとに、ビタビ復号器７から取り出した差分メトリックΔＭk（ΔＭm）と２乗Euclid距離ｄab2との差の２乗値の累加算を、所定の分岐合流事象数Ｍに達するまで繰り返し行う。その結果に対し、先の[式７]に示したSAMjitter定義式に従って、Ｍによる除算と平方根演算、及び２乗Euclid距離ｄab2の２倍による除算を行う。これにより、SAMjitterとしての評価指標を算出できる。
【００４３】
[PathSNR]
光ディスクの分野におけるＰＲＭＬ再生信号評価指標としては、上記SAMjitterと共に、先に挙げた特許文献２(特開２００４−２１３８６２号公報)に記載されるような、多次元信号空間における信号対雑音比を挙げることができる。
以下、図１１を参照し、この特許文献２に記載されている多次元信号空間における信号対雑音比について説明する。
【００４４】
先ず、この場合の評価指標では、時刻(ｋ−Ｌ)Ｔchのパス分岐から時刻ｋＴchの合流までにおけるエラー事象を、多次元信号空間で考える。具体的に、再生信号サンプル系列{ｚ(ｋ−Ｌ−１),・・・,ｚ(ｋ)}をＬ次元ベクトルｚkで表す。同様に、正しいパスに伴う理想的再生信号サンプル系列{ｓａ(ｋ−Ｌ−１),・・・,ｓａ(ｋ)}≡ｓａkと、誤ったパスに伴う理想的再生信号サンプル系列{ｓｂ(ｋ−Ｌ−１),・・・,ｓｂ(ｋ)}≡ｓｂkも、Ｌ次元ベクトルで表す。
図１１では、Ｌ次元線形ベクトル空間内におけるこれらｚk（再生信号ベクトル、図中再生信号点）、ｓａk(正パスの信号ベクトル、図中正パスの信号点）、ｓｂk（誤パスの信号ベクトル、図中誤パスの信号点）の関係を表している。
【００４５】
このＬ次元線形ベクトル空間内において、２乗Euclid距離を定義する。ビタビ復号器７が正しいパスを選択するか否かはΔＭkの極性で決まり、次の[式１１]でΔＭkが負になるとパス選択誤りが発生し、そのパスに伴うデータ系列は誤りとなる。
【数１１】
2009272006.tif 000013
これは次の[式１２]の２乗Euclid距離の大小比較に等価であり、多次元空間内で再生信号ベクトルｚkに近い理想再生信号を持つパスを選択することと同じである。
【数１２】
2009272006.tif 000014
【００４６】
別の見方をすると、図１１において、信号ベクトルｓａkとｓｂkとを直線で結び、その上方へのベクトルｚk−ｓａkの正射影を考え、その長さと、直線長の１／２の大小を比較することによっても、パス選択エラーの有無を判定することができる。すなわち、前記の直線をデータ判別軸と考え、その軸上において、信号点間距離の１／２をパス選択の判別境界とする。次の[式１３]に示すように、実際の再生信号ｚkが、その境界よりも信号点ｓａkに近ければｓａkを選択し、逆にｓｂkに近ければｓｂkを選択する。
【数１３】
2009272006.tif 000015
【００４７】
ここで、等化誤差と雑音を表すベクトルをｎk＝ｚk−ｓａk、正パスと誤パスとの間の理想再生信号の差分ベクトルをｅk＝ｓａk−ｓｂkと表し、正射影をベクトル成分で表現すると、次の[式１４]になる。
【数１４】
2009272006.tif 000016
【００４８】
次に、例えば１ビットエッジシフトなどの、或る特定のエラーパターンについての正誤パス分岐合流事象のみを選択的に評価対象とすることを考える。この場合、SAMjitterと同様に、全てのサンプル時刻ｋにおいて正射影を計算するのでなく、総数Ｍを持つ特定パス分岐合流事象の集合の中の事象番号ｍにおいてのみ、正射影を計算し統計処理を行う。
【００４９】
ここで、第ｍ事象におけるノイズベクトルｎmの成分ｎm,iは確率変数なので、確率平均をＭサンプルの平均で代行すれば、次の[式１５]のように統計的分散を計算できる。なお、正誤パス間の再生信号差分値ｅm,iは、一つのパス分岐合流パターン種別においては分岐合流事象番号ｍによらず同じであるので、以下においてｍは記載しないものとする。
この正射影の分散は、データ判別軸上で見た残留等化誤差と雑音の和の電力に相当するものとなる。
【数１５】
2009272006.tif 000017
【００５０】
また、正しいパスと誤ったパスの理想再生信号ベクトル間の２乗Euclid距離ｄab2も、分岐合流事象の番号ｍによらず同じであって、次の[式１６]で表される。
【数１６】
2009272006.tif 000018
【００５１】
[式１５]に示した正射影の分散（雑音成分）と、正誤パスの理想再生信号ベクトル間の２乗Euclid距離ｄab2の１／２の値（正誤パス信号差分ベクトルの１／２の電力：[式１６]の値の１／２）とを用いることで、信号対雑音比としての値を求める。具体的に、多次元信号空間における信号対雑音比（PathSNRと称する）は、次の[式１７]によって計算されるものである。
【数１７】
2009272006.tif 000019
この[式１７]の分子は、或る特定のエラー事象におけるパス分岐合流パターンで決まる定数である。既に述べたが、分母の統計的分散の計算は、測定対象再生信号の全サンプルＮ個のうち、間欠的に存在するＭ個の特定パス分岐合流事象のみを対象に、選択的に行うものである。[式１７]に示すPathSNRは、再生信号品質が良好な場合に大きな値となり、良好でない場合には小さな値となる。
【００５２】
[SAMjitterとPathSNRの双方の計算回路を備える構成]
ここで、前述もしたように、例えば規格の異なる複数種の光ディスクＤに対応するなどとした場合には、それらの規格に応じた異なる評価指標を計算できるように構成することが考えられる。
現状において、情報再生のために青紫色レーザ光が用いられる光ディスクＤに関しては、その再生信号品質を評価するための評価指標として、上記により説明したSAMjitterとPathSNRとが代表的なものとして用いられている。このことから、これらSAMjitterとPathSNRの双方を計算するような構成が考えられる。
【００５３】
上記のようにしてSAMjitterとPathSNRの双方を計算できるようにするとした場合、先の計算式に基づきそれぞれSAMjitterとPathSNRとを計算する別々の計算回路を備える構成とすることが順当に考えられる。
図１２は、このようにSAMjitterとPathSNRを計算するためのそれぞれの計算回路を実装したディスクドライブ装置の構成例を示した図である。
なお、この図に示すディスクドライブ装置としては、評価指標計算部８に代えて当該評価指標計算部１００が備えられる以外は、先の図１のディスクドライブ装置の構成と同様となる。すなわち、光学ピックアップ１、ＡＧＣ２、アナログフィルタ３、Ａ−Ｄ変換器４、ＰＬＬ回路５、適応等化器６、ビタビ復号器７は図１の場合と共通の構成となる。
但し、この場合の評価指標計算部１００に対しては、PathSNRの計算で使用するために、適応等化器６からのディジタル信号サンプル系列（等化信号標本系列）ｚkがさらに入力されるようになっている点が異なる。
また、以下では一例として、PR（ａ0/２,ａ1,ａ0/２）であるものとする。また、エラーパターンについては、１ビットエッジシフトエラーのみを対象とする場合を例示する。
【００５４】
先ず、評価指標計算部１００には、特定のエラーパターンに対応するパス分岐合流事象であるか否かを判定するための特定パス分岐合流事象判定器１０が設けられる。先に述べたように、特定のエラーパターンの判定にあたっては、予めそのエラーパターンが発生することが判明している記録データ系列の情報を用いたパターンマッチングにより行う。具体的に、上記特定パス分岐合流事象判定器１０は、ビタビ復号器７の検出結果として得られる記録（再生）データ系列{ｂk}のパターンが、予め設定された１ビットエッジシフトエラーに対応する記録データ系列のパターンと合致するか否かを判定することで、ビタビ復号器７にて復号対象とされたパス分岐合流事象が、特定のエラーパターンに対応するパス分岐合流事象であるか否かを判定する。
特定パス分岐合流事象判定器１０は、上記による判定の結果、復号対象とされたパス分岐合流事象が特定のエラーパターンに対応するパス分岐合流事象であるとした場合はFlag=1を出力し、また特定のエラーパターンに対応するパス分岐合流事象ではないとした場合はFlag=0を出力する。
【００５５】
また、評価指標計算部１００には、PathSNRを計算する上で必要となる正しいパスに伴う理想的再生信号サンプル系列ｓａk（図中ではｓkと表記）を得るための、理想的等化信号生成器１６が設けられる。この理想的等化信号生成器１６は、ビタビ復号器７からの再生データ系列{ｂk}に対し、PR(ａ0/２,ａ1,ａ0/２)による信号特性の畳み込みを行って正しいパスに伴う理想的再生信号サンプル系列ｓk（以下、理想的再生信号値ｓkとも表記する）を得る。
【００５６】
そして、評価指標計算部１００には、ビタビ復号器７で得られる差分メトリックΔＭKに基づきSAMjitterを計算するための構成（SAMjitter計算部とする）として、第１スイッチＳＷ１、減算器１１、二乗演算器１２、累加算器１３、平方根演算器１４、及び除算器１５が設けられる。
またこれと共に、上記理想的等化信号生成器１６により得られる理想的再生信号値ｓkと、適応等化器６により得られるディジタル信号サンプル系列（等化信号標本系列）ｚkと基づいてPathSNRを計算するための構成（PathSNR計算部）として、ベクトル内積演算器１７、二乗演算器２２、第２スイッチＳＷ２、累加算器２３、及び除算器２４が設けられている。
【００５７】
先ず、SAMjitter計算部側において、ビタビ復号器７より出力される差分メトリックΔＭkの値は、上記第１スイッチＳＷ１に対して供給される。この第１スイッチＳＷ１は、上記差分メトリックΔＭkの値と共に値「０」を入力し、それらの値のうち一方を、上述した特定パス分岐合流事象判定器１０からのFlagの値に応じて選択し、上記減算器１１に出力する。具体的に、この第１スイッチＳＷ１は、上記特定パス分岐合流事象判定器１０よりFlag=1が与えられたときは上記差分メトリックΔＭkの値を選択し、Flag=0が与えられたときは値「０」を選択する。
【００５８】
減算器１１は、上記第１スイッチＳＷ１による出力値から定数である２乗Euclid距離ｄab2の値を減算する。ここでは特定のエラーパターンとして１ビットエッジシフトエラーパターンを対象とするので、上記２乗Euclid距離ｄab2としては、例えば信号レベルがａ0＝ａ1＝２の場合には「２４」の定数が与えられる。
【００５９】
上記減算器１１の出力（ΔＭk−ｄab2）は、二乗演算器１２により二乗された後、累加算器１３にて累加算される。図示するように累加算器１３は、上記二乗演算器１２の出力値を入力する加算器１３ａと該加算器１３ａの出力値を入力する遅延器１３ｂとを備え、該遅延器１３ｂの出力値が２つに分岐出力されそのうち一方が上記二乗演算器１２の出力値と加算されるようにして構成されている。
【００６０】
ここで、これまでで説明した構成によれば、上記累加算器１３による累加算は、特定パターンのパス分岐合流事象であることが判定された場合にのみ有効に行われるものとなる。これは、特定パターンのパス分岐合流事象でないと判定される場合には、第１スイッチＳＷ１により「０」が選択出力されることによる。そして、このことによれば、上記累加算器１３による出力値は、有効な累加算の回数が規定のＭ回となったとき（すなわち特定パターンのパス分岐合流事象であることがＭ回判定されたとき）に、SAMjitterの定義式である[式７]中の最右辺の項における分子のうち、√内の１／Ｍを除いた値となることが判る。
【００６１】
上記累加算器１３による累加算結果値は、平方根演算器１４にてその平方根が計算され、該平方根の値は、除算器１５に対して供給される。
除算器１５には、上記平方根の値と、定数である「２ｄab2√Ｍ」とが入力される。除算器１５は上記平方根の値をＸ、上記定数「２ｄab2√Ｍ」をＹとおいたとき、Ｘ／Ｙによる除算を行う。
図示するようにして、この除算器１５の除算結果値（図中ではＺと表記）が、SAMjitter（第１評価指標）として出力される。
【００６２】
続いて、PathSNR計算部側について説明する。
先ず、ベクトル内積演算器１７は、減算器１８、Ｌ−１個の遅延器１９（１９1〜１９L-1）、Ｌ個の乗算器２０1〜２０L、及び加算器２１を備える。ここで「Ｌ」はパーシャルレスポンス系列の拘束長である。
なお、図示の都合上、遅延器１９1〜１９L-1については、１番目の遅延器１９1、２番目の遅延器１９2、ｉ番目の遅延器１９i、Ｌ−１番目の遅延器１９L-1のみを抽出して示している。また、乗算器２０1〜２０Lについては、１番目の乗算器２０1、２番目の乗算器２０2、ｉ番目の乗算器２０i、Ｌ−１番目の乗算器２０L-1、及びＬ番目の乗算器２０Lのみを抽出して示している。
【００６３】
このベクトル内積演算器１７は、正パスの信号ベクトルと誤パスの信号ベクトルとの差ベクトルと、残留等化誤差と雑音との和のサンプルを成分とするベクトルとの内積演算を行う。具体的には、先の[式１４]の最右辺の項における分子の値に相当する値を計算するために設けられたものである。
ベクトル内積演算器１７において、減算器１８は、適応等化器６により得られるディジタル信号サンプル系列（等化信号標本系列）ｚkと、理想的等化信号生成器１６からの理想的再生信号ｓk（ｓａk）とを入力し、「ｚk−ｓk」による減算を行う。減算器１８による減算結果値は、遅延器１９1→遅延器１９2→・・・遅延器１９i→・・・遅延器１９L-1の順で各遅延器１９が配列されたディレイラインに対して入力される。
また、上記減算器１８による減算結果値は、分岐して乗算器２０1に対しても供給される。
また、図示するようにして、遅延器１９1の出力は乗算器２０2に供給され、また遅延器１９L-1の出力は乗算器２０Lに供給されるといったように、各遅延器１９の出力は、対応する乗算器２０（符号における下付番号の値が１つ大きい乗算器２０）に対しても供給されるようになっている。但し、上記ディレイラインの最後段に配置される遅延器１９L-1の出力は、乗算器２０Lに対してのみ供給されることになる。
【００６４】
各乗算器２０は、上記のようにしてそれぞれ対応する遅延器１９から供給される値に対して、予め定められた定数ｅを乗じる。図示するように各乗算器２０と定数ｅとの対応関係は、乗算器２０L＝定数ｅ0、乗算器２０L-1＝定数ｅ1 、乗算器２０i＝定数ｅi 、乗算器２０2＝定数ｅL-2、乗算器２０1＝定数ｅL-1となる。すなわち、時刻ｋ−Ｌから時刻ｋにかけて定数ｅ0→ｅL-1が設定されているものである。
【００６５】
ここで、上記定数ｅ0〜ｅL-1は、先の[式１４]において、正パスと誤パスの間の理想再生信号の差分ベクトルｅk＝ｓａk−ｓｂkと説明したものに相当する。具体的に、これら定数ｅ0〜ｅL-1は、対象とするエラーパターンのときの正パス理想再生信号系列{ｓａk}と誤パス理想再生信号系列{ｓｂk}とについての、各時刻における差（ｓａk−ｓｂk）の値となる。すなわち、例えば先の図５で言えば、「ｓａk−ｓｂk」「ｓａk-1−ｓｂk-1」「ｓａk-2−ｓｂk-2」がこれらの値に該当するものである。
なお、確認のために述べておくと、対象とするエラーパターンが同種であっても、正パスと誤パスのパターン自体は同一とは限らないが、各時刻における正パス理想再生信号系列{ｓａk}と誤パス理想再生信号系列{ｓｂk}の差（ｓａk−ｓｂk）の値としては、エラーパターンが同種であれば同値となる。従って上記定数ｅ0〜ｅL-1としては固定値を用いることができる。
【００６６】
また、この説明からも理解されるように、図５によれば、１ビットエッジシフトエラーのみを対象とするのであれば、定数ｅの値としては３種であればよく、従って図中の遅延器１９としては２つ、乗算器２０としては３つが少なくとも設けられればよいことになる。
この図１２においては、例えば２Ｔエラーや２Ｔシフトエラーなど他のエラーパターンを対象とするときの構成も視野に入れ、ベクトル内積演算器１７の内部構成を概念的に示しているため、これら遅延器１９、乗算器２０の個数について、１ビットエッジシフトエラーを対象とする場合の必要個数以上の個数を示しているが、当然のことながら実際には、これら遅延器１９、乗算器２０は必要個数だけ設ければよい。
【００６７】
上記ベクトル内積演算器１７において、各乗算器２０による乗算結果値は加算器２１に入力され、それぞれが加算される。この加算器２１による加算結果値が、ベクトル内積演算器１７の演算結果値となる。
【００６８】
ベクトル内積演算器１７による演算結果値は、二乗演算器２２にて二乗された後、第２スイッチＳＷ２に供給される。
第２スイッチＳＷ２は、上記ベクトル内積演算器１７による演算結果値と共に値「０」を入力し、それらの入力値のうち一方を、上述した特定パス分岐合流事象判定器１０からのFlagの値に応じて選択し、累加算器２３に出力する。具体的に、第２スイッチＳＷ２は、Flag=1が与えられたとき（特定パターンであると判定されたとき）は上記ベクトル内積演算器１７による演算結果値を選択し、Flag=0が与えられたときは値「０」を選択する。
【００６９】
累加算器２３は、上記第２スイッチＳＷ２からの出力値を累加算する。図示するように累加算器２３は、上記二乗演算器２２からの出力値を入力する加算器２３ａと該加算器２３ａの出力値を入力する遅延器２３ｂとを備え、該遅延器２３ｂの出力値が２つに分岐出力され、そのうち一方が上記二乗演算器２２の出力値と加算されるようにして構成される。
【００７０】
ここで、これまでで説明したPathSNR計算部側の構成において、特定パターンのパス分岐合流事象であることが判定されたときには、上述したベクトル内積演算器１７におけるディレイラインには、特定パターンのパスにおける残留等化誤差と雑音の和の標本値系列がロードされた状態となる。この点からも理解されるように、特定パターンのパス分岐合流事象であることが判定されたとき（すなわち第２スイッチＳＷ２が二乗演算器２２の出力を選択するとき）には、ベクトル内積演算器１７の演算結果値として、先の[式１４]の最右辺の項における分子の値（[式１５]の最右辺の項における分子の値のうち、１／Ｍと二乗演算とを除いた値）が得られるようになる。つまり、換言すれば、特定パターンのパス分岐合流事象ではないと判定される状態ではベクトル内積演算器１７にて有効な値の演算は行われないものとなっており、特定パス分岐合流事象であると判定された時点においてのみ、有効な値が演算されるようになっている。
そして、この有効な値は、先の[式１５]で示した正射影の分散としての値が計算されるべく、上記二乗演算器２２による二乗演算を受けた上で、第２スイッチＳＷ２を介して累加算器２３に供給される。これによって累加算器２３においては、特定パス分岐合流事象であると判定された場合にのみ有効な累加算動作が行われるようになっている。
上記累加算器２３にて有効な累加算動作が規定のＭ回行われることで、先のPathSNRの定義式である[式１７]の最右辺の項における、分母の１／Ｍと分子のｄab4／４とを除いた値が得られることになる。
【００７１】
上記累加算器２３による累加算結果は、除算器２４に対して供給される。
除算器２４には、上記累加算器２３による累加算値と、定数である「Ｍ・ｄab4／４」とが入力される。除算器２４は上記累加算値をＹ、上記定数「Ｍ・ｄab4／４」をＸとおいたとき、Ｘ／Ｙによる除算を行う。すなわちこれにより、[式１７]における最右辺の演算が行われることになる。
この除算器２４の除算結果（Ｚと表記）が、PathSNR（第２評価指標）として出力されることになる。
【００７２】
ここで、この図１２に示した構成とする場合、SAMjitterとPathSNRの双方とも、特定のパス分岐合流事象であるとの判定結果が規定のＭ回得られたときに評価指標として定義される有効な値が得られることになる。このことから、実際には、特定のパス分岐合流事象であるとの判定結果が得られた回数をカウントし、該カウント値がＭとなった時点での計算値が有効な評価指標の値として取得されるようにするための構成を付加することになる。具体的には、特定パス分岐合流事象判定器１０による「Flag=1」の出力回数をカウントし、そのカウント値がＭとなったときの除算器１５、除算器２４による演算結果値をそれぞれSAMjitter、PathSNRの値として取得する構成を付加する。一例としては、上記除算器１５及び除算器２４の後段に各々スイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なSAMjitter、PathSNRの値のみが出力されるようにする。
或いは、上記累加算器１３及び累加算器２３の後段に各々スイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なSAMjitter、PathSNRの値のみが計算・出力されるようにすることもできる。
【００７３】
なお、図１２において、除算器、平方根演算器は比較的構成が複雑なものとなるので、実際にはそれらの演算をソフトウエア処理で実現することが望ましい。具体的には、SAMjitter計算部における累加算器１３の出力値をＣＰＵ（Central Processing Unit）に対して入力し、PathSNR計算部側における累加算器２３の出力値も上記ＣＰＵに対して入力する。そして、このＣＰＵにおいて、上記累加算器１３の出力値に対する平方根演算及び「２ｄab2√Ｍ」による除算と、上記累加算器２３の出力値による定数「Ｍ・ｄab4／４」の除算を行うようにする。これにより、平方根演算器１４、及び除算器１５,２４を省略でき、ハードウエアの簡素化を図ることができる。
【００７４】
上記により説明した図１２の構成とすることで、SAMjitterとPathSNRという２つの異なる評価指標のそれぞれを計算することができる。
ここで、この図１２に示される構成は、順当にSAMjitterの計算部とPathSNRの計算部とをそれぞれ個別に設けるようにしたものであるが、このように２つの計算部を個別に設ける場合には、図１２からも明らかなように全体のハードウエア規模が非常に大きくなってしまうという点が問題となる。特に、SAMjitter計算部側のうち累加算器１３までの部分と、PathSNR計算部測の大部分を占めるベクトル内積演算器１７は、数十から数百Ｍbit/s程度の高速なチャネルビットレートで動作させる必要があるため、専用のディジタル信号処理回路を用いる必要があり、ソフトウエア処理など他の手段によってハードウエアの簡略化を図ることは非常に困難となる。
【００７５】
以下において説明する本発明の各実施の形態は、このようにSAMjitterとPathSNRという２つの評価指標を計算する場合における回路規模の増大化の防止を図り、これによって装置製造コストの抑制を図ることを目的としている。
【００７６】
＜第１の実施の形態＞
先ずは、第１の実施の形態について説明する。
第１の実施の形態のディスクドライブ装置は、SAMjitterとPathSNRの計算上で共通となる値（中間値）を計算した上で、該中間値からそれぞれの評価指標を並列的に計算するものである。具体的には、差分メトリックの２乗値のＭ回分の累加算値から共通に出発して、SAMjitterとPathSNRを並列的に求めるものである。
【００７７】
ここで、前述のSAMjitter表現式（[式７]）の導出過程を参照して、PathSNR表現式（[式１７]）を変形すると、次の[式１８]を得る。
【数１８】
2009272006.tif 000020
この[式１８]と、SAMjitterの表現式を比較すると、信号点間２乗ユークリッド距離ｄab2と、信号点間差分ベクトルとノイズベクトルの内積の２乗平均である下記の[式１９]で表す値
【数１９】
2009272006.tif 000021
とが共通することが判る。ここで、計測対象差分メトリックΔＭmは、ビタビ復号器７が常時計算している全ての差分メトリックから、計測対象とするパス分岐合流事象についての値のみを選択することで得られる。よって、このΔＭmを出発点として、上記[式１９]による値を中間値として共通に計算し、さらに共通の定数ｄab2を用いることによって、少ない演算回数によって、２つの異なる評価指標であるSAMjitterとPathSNRとを計測することができる。
【００７８】
図１３は、このような考えに基づき構成された第１の実施の形態としての評価指標計算部８の構成について説明するための図である。この図１３では、先の図１と同様にディスクドライブ装置全体の内部構成も併せて示している。
なお、以下の説明において、既に説明済みとなる部分については同一符号を付して説明を省略する。
また、第１の実施の形態においても、評価指標としては、１ビットエッジシフトエラーとしての特定のエラーパターンについての計測を行うものとする。
【００７９】
先ず、この図１３に示される第１の実施の形態としてのディスクドライブ装置の構成としては、先の図１２に示したディスクドライブ装置と比較して、評価指標計算部１００が評価指標計算部８に変更される点が異なる。そして、評価指標計算部１００と評価指標計算部８との比較では、特定パス分岐合流事象判定器１０、第１スイッチＳＷ１、減算器１１、二乗演算器１２、累加算器１３、平方根演算器１４、及び除算器１５が図１２の場合と共通の構成として設けられることになる。すなわち、図１２におけるSAMjitter計算部としての構成がそのまま設けられているものである。
【００８０】
但しこの場合、上記累加算器１３の出力値は、上記平方根演算器１４と共に、除算器３１に対しても分岐して供給されることになる。
この除算器３１は、上記累加算器１３から供給される値（Ｙとおく）と、定数であるＭｄab4（Ｘとおく）とについて、Ｘ／Ｙによる除算を行う。先の図１２の説明からも理解されるように、累加算器１３の出力値は、特定のパス分岐合流事象である旨の判定回数が規定のＭ回に達したとき、(ΔＭm−ｄab2)2のＭ回分の累加算値となる。すなわち、[式７]中の最右辺の項における分子のうち、√内の１／Ｍを除いた値である。従って、上記除算器３１による除算が行われることで、該除算器３１の出力Ｚとしては、PathSNRとしての値が出力されることになる。
【００８１】
このような第１の実施の形態としての構成により、SAMjitterとPathSNRという２つの評価指標を、それぞれの計算回路を個別に設けない簡素な構成により求めることができる。
なお、この図１３に示した評価指標計算部８としても、実際には、特定のパス分岐合流事象であるとの判定結果が得られた回数をカウントし、該カウント値が規定のＭとなった時点での計算値が有効な評価指標の値として取得されるようにするための構成を付加する。すなわち、例えば特定パス分岐合流事象判定器１０による「Flag=1」の出力回数をカウントし、そのカウント値がＭとなったときの除算器１５、除算器３１による演算結果値をそれぞれSAMjitter、PathSNRの値として取得する構成を付加する。一例としては、上記除算器１５及び除算器３１の後段に各々スイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なSAMjitter、PathSNRの値のみが出力されるようにするものを挙げることができる。
或いは、上記累加算器１３の直後にスイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なSAMjitter、PathSNRの値のみが計算・出力されるようにすることもできる。
【００８２】
ここで、図１３に示される評価指標計算部８において、累加算器１４までの演算処理は、チャネルビットレートを超えない高速度においてディジタル信号処理回路によりリアルタイムで実行する必要性がある。換言すれば、累加算器１４以降の、図中の破線により囲った平方根演算器１４、除算器１５、及び除算器３１としての演算処理は、リアルタイムで高速に行う必要性はないため、これらの演算についてはＣＰＵによるソフトウエア処理で実現することもできる。
【００８３】
図１４は、これら平方根演算器１４、除算器１５、及び除算器３１としての演算処理をソフトウエア処理で実現する場合の構成例を示した図である。
先ずこの場合には、ＣＰＵ３９、ＲＯＭ（Reed Only Memory）３７、ＲＡＭ（Random Access Memory）３８を設ける。上記ＲＯＭ３７には、SAMjitterとPathSNRとを計算するための後述する処理をＣＰＵ３９に実行させるための演算プログラム３７ａが格納されている。また、上記ＲＡＭ３８はＣＰＵ３９のワーク領域として用いられる。なお、図示されるようにＲＯＭ３７としては読み出し専用の不揮発性メモリではなくフラッシュメモリなどの書き込み可能な不揮発性メモリを用いることもできる。
【００８４】
そして、上記ＣＰＵ３９に対しては、図中のバス３６を介して累加算値入力用レジスタ３２、SAMjitter出力用レジスタ３３、計測命令入力用レジスタ３４、及びPathSNR出力用レジスタ３５が接続されている。
上記累加算値入力用レジスタ３２に対しては、図１３に示した累加算器１３の出力値が入力される。また、上記計測命令入力用レジスタ３４に対しては、図示されない例えばホスト機器などからの計測開始命令が入力される。
【００８５】
また、ＣＰＵ３９に対しては、図１３に示した特定パス分岐合流事象判定器１０からのFlagの値が入力される。ＣＰＵ３９は、該Flagの値として「１」が供給された回数をカウントし、累加算器１３にて有効な累加算が規定のＭ回に達したか否かについて判別処理を行う。
【００８６】
図１５は、上記ＣＰＵ３９によりSAMjitter及びPathSNRを計算するための処理手順を示したフローチャートである。なお、この図に示す処理は、ＣＰＵ３９が演算プログラム３７ａに基づき実行するものである。
図１５において、先ずステップＳ１０１では、計測開始命令を待機する処理を実行する。すなわち、図１４に示される計測命令入力用レジスタ３４に計測開始命令としての値が入力されるまで待機する。
そして、計測命令があった場合には、ステップＳ１０２において、カウント値＝Ｍとなるまで待機する処理を行う。すなわち、上述したFlagの値に基づく判別処理によりカウント値＝Ｍであるとの判別結果が得られるまで待機する。
【００８７】
カウント値＝Ｍとなった場合には、ステップＳ１０３において、累加算値を入力する。つまり、累加算値入力用レジスタ３２に入力された累加算器１３からの累加算値をバス３６を介して入力する。図示されるように、このステップＳ１０３にて入力した累加算値をＡとおく。
【００８８】
このステップＳ１０３による累加算値の入力処理を実行すると、以下、SAMjitterとPathSNRの計算のための並列処理を実行することになる。
先ず、SAMjitter計算のための処理としては、ステップＳ１０４において、Ａの平方根を計算する。次いでステップＳ１０５において、SAMjitter＝√Ａ／２ｄab2√Ｍを計算することで、SAMjitterとしての値を得る。さらに、次のステップＳ１０６において、SAMjitterの値をSAMjitter出力用レジスタ３３に書き込む。
上記ステップＳ１０６による書き込み処理を実行すると、SAMjitter計算のための処理は終了となる。
【００８９】
一方、PathSNRの計算のための処理としては、ステップＳ１０７において、PathSNR＝Ｍｄab4／Ａを計算することで、PathSNRとしての値を得る。そして次のステップＳ１０８において、計算したPathSNRの値をPathSNR出力用レジスタ３５に書き込む。
このステップＳ１０８による書き込み処理を実行すると、PathSNR計算のための処理は終了となる。
【００９０】
ここで、先にも述べたように、平方根や除算の演算は、ハードウエアで実現するとなると構成が複雑化してしまう。上記のようにして平方根の演算や除算の演算をＣＰＵ３９によるソフトウエア処理で実現する構成とすれば、ハードウエア構成の複雑化を抑制でき、それによってSAMjitterとPathSNRの双方を計算するための構成のさらなる簡素化を図ることができる。
【００９１】
上記のようにして第１の実施の形態としてのディスクドライブ装置によれば、SAMjitterとPathSNRという２つの異なる評価指標の計算を行うための構成を、図１２に示したように単に個別の計算回路を設けるとした場合よりも大幅に簡素化することができる。このように構成の簡素化が図られることで、回路規模の縮小化、それによる低コスト化を図ることができる。
また、上記のようにして平方根や除算の演算をソフトウエア処理で実現する構成とすることで、ハードウエア構成をさらに簡素化することができ、それによってさらなる回路規模の縮小化、及び低コスト化を図ることができる。
【００９２】
また、本実施の形態では、それぞれ異なる評価指標を共通の評価指標計算部により計算するようにされるが、このことで、例えば光学ピックアップ１など記録信号再生用の部品を評価するとき、一度の計測により複数の異なる評価指標値を得ることが可能となる。これによれば、それぞれの評価指標を計算する２種類の評価器を用意する必要がなく、設備投資費用を削減でき、部品製造工程における測定時間も短縮できる。よって、部品の製造原価の低減を図ることができる。
【００９３】
＜第２の実施の形態＞
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、先ずはSAMjitterを計算し、それをPathSNRに換算するという計算手法を採るものである。
ここで、前述のSAMjitter表現式を変形すると、次の[式２０]とおくことができる。この場合、評価指標としては特定のエラーパターン種別について独立して計測することを前提としているので、２乗Euclid距離ｄab2は定数である。
【数２０】
2009272006.tif 000022
この[式２０]によるSAMjitterの式と、先のPathSNR変形式（[式１８]）を比較すると、次の[式２１]による関係が成り立つことが判る。
【数２１】
2009272006.tif 000023
この[式２１]において、分子の「0.25」は比例定数である。これは、多次元ベクトル空間において、PathSNRの信号電力が、判別境界を基点とした正パスの信号系列ベクトルｓａkまでの２乗Euclid距離(ｄab／２)2に相当するためである。この[式２１]に従えば、SAMjitterの計算結果に対して、２乗演算と逆数演算を行うことによっても、PathSNRを容易に求めることができる。
【００９４】
図１６は、上記による考えに基づきSAMjitterからPathSNRを換算する第２の実施の形態としての評価指標計算部４０の構成について説明するための図である。
なお、この図１６においてもディスクドライブ装置全体の構成を併せて示しているが、光学ピックアップ１〜ビタビ復号器７までの構成はこれまでに説明したディスクドライブ装置と同様となることから改めて説明は省略する。この場合のディスクドライブ装置は、先の図１３に示した第１の実施の形態としてのディスクドライブ装置と比較して評価指標計算部８が評価指標計算部４０に変更される点が異なる。
また、第２の実施の形態においても、評価指標としては、１ビットエッジシフトエラーとしての特定のエラーパターンについての計測を行うものとする。
【００９５】
図１６に示される評価指標計算部４０において、この場合もSAMjitterを計算するための構成としては、先の図１２及び図１３の場合と同様となる（特定パス分岐合流事象判定器１０、第１スイッチＳＷ１、減算器１１、二乗演算器１２、累加算器１３、平方根演算器１４、及び除算器１５）。
この場合の評価指標計算部４０としては、先の図１３に示した除算器３１が省略された上で、上記除算器１５にて得られるSAMjitterの値を入力する二乗演算器４１と、該二乗演算器４１の演算結果値と定数「0.25」とに基づく除算を行う除算器４２とが設けられる。この除算器４２は、上記定数「0.25」をＸ、上記二乗演算器４１よる二乗演算結果値をＹとおいたとき、Ｘ／Ｙによる除算を行う。
【００９６】
これら二乗演算器４１及び除算器４２による演算により、上記除算器１５にて得られるSAMjitterの値について先の[式２１]が計算されることになる。すなわちこれにより、上記除算器４２の出力値ＺとしてPathSNRの値が得られる。
【００９７】
なお、この評価指標計算部４０においても、実際には特定のパス分岐合流事象であるとの判定結果が得られた回数をカウントし、該カウント値が規定のＭとなった時点での計算値が有効な評価指標の値として取得されるようにするための構成を付加することになる。例えばこの場合は、特定パス分岐合流事象判定器１０による「Flag=1」の出力回数をカウントし、そのカウント値がＭとなったときの除算器１５、除算器４２による演算結果値をそれぞれSAMjitter、PathSNRの値として取得する構成を付加するものとすればよい。或いは、累加算器１３の直後、又は除算器１５の直後に対してスイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なSAMjitter、PathSNRの値のみが計算・出力されるようにすることもできる。
【００９８】
また、この場合としても、図中の破線により囲った平方根演算及び除算を含む演算処理は、ＣＰＵ３９によるソフトウエア処理で実現することもできる。
その場合、ハードウエア構成としては先の図１４に示したものと同様でよく、ＣＰＵ３９の処理動作としては、先の図１５に示したステップＳ１０７とＳ１０８の処理を省略した上で、ステップＳ１０５の直後に分岐する並列処理として、SAMjitterの二乗演算処理と、二乗演算結果値による定数「0.25」の除算処理と、さらにその計算結果値のPathSNR出力用レジスタ３５への書き込み処理とを実行するものとすればよい。
【００９９】
上記のような第２の実施の形態としての評価指標計算部４０によっても、先の図１２に示した構成と比較して、SAMjitterとPathSNRの双方の計算に必要な構成を大幅に簡略化することができる。
【０１００】
＜第３の実施の形態＞
第３の実施の形態は、例えばこれまでのように１ビットエッジシフトエラーパターンなど特定のエラーパターンのみを対象とした評価指標の計算を行うのではなく、複数のエラーパターンの各々についての評価指標を計算し、その結果から最終的な評価指標を得るようにするものである。
【０１０１】
ここで、先の図１０におけるPR(1,2,1)の例からも判るように、情報検出エラーパターンとしては、一般に複数の種類のエラーパターンが存在する。エラー原因として支配的なのは最も信号点間Euclid距離が小さいパターンであるが、その他のパターンに起因するエラーが無視できない率で存在する場合は、複数のエラーパターンについて評価指標を計測することが望ましい。
この点に鑑み、第３の実施の形態では、各エラーパターンごとの評価指標を計算し、そのうちで最悪の値が得られたものを、最終的な評価指標の値（代表値）として出力する構成を提案する。
【０１０２】
このような第３の実施の形態としての構成については、図１７に示される第１例としての構成、及び図１８に示される第２例としての構成を例示する。
第１例としての構成は、各エラーパターンごとに計算したSAMjitterの値から代表値を選択し、該選択したSAMjitterの代表値から、PathSNRの代表値を換算するものである。
一方で、第２例としての構成は、各エラーパターンごとにSAMjitterの値を計算するまでは共通となるが、それらを個別にPathSNRに換算することでエラーパターンごとのPathSNRを求め、それらPathSNRのうちからPathSNRの代表値を選択するものである。
なお、これら図１７、図１８に示される第３の実施の形態としてのディスクドライブ装置としても、光学ピックアップ１〜ビタビ復号器７までの構成についてはこれまでで説明したディスクドライブ装置の場合と同様となるので改めて説明は省略する。先の第２の実施の形態のディスクドライブ装置と比較して、図１７に示される第１例のディスクドライブ装置は、評価指標計算部４０に代えて評価指標計算部５０が設けられる点が、また図１８に示されるディスクドライブ装置は評価指標計算部４０に代えて評価指標計算部６０が設けられる点がそれぞれ異なる。
[第１例]
【０１０３】
先ず、図１７に示される第１例としての構成から説明する。
この図１７に示される評価指標計算部５０には、SAMjitter計算部５１、最大値選択部５２、及びPathSNRへの換算部５３が設けられる。
上記SAMjitter計算部５１は、ビタビ復号器７で得られる差分メトリックΔＭkと再生データ系列{ｂk}とに基づき、１ビットエッジシフトエラーについてのSAMjitter（SAMj-1Tとする）の値、及び２ＴエラーについてのSAMjitter（SAMj-2T）の値、及び２ＴシフトエラーについてのSAMjitter（SAMj-2Tshift）の値をそれぞれ計算する。
また、上記最大値選択部５２は、上記SAMjitter計算部５１にて計算されたSAMj-1T、SAMj-2T、及びSAMj-2Tshiftの値を入力し、それらのうち値が最も大きいものをSAMjitterの代表値として選択する。このように選択されたSAMjitterの代表値は、評価指標計算部５０によるSAMjitterの計算結果値として出力されると共に、PathSNRへの換算部５３にも分岐して供給される。
PathSNRへの換算部５３は、上記最大値選択部５２から入力されたSAMjitterの代表値をPathSNRに換算する（PathSNRの代表値）。このPathSNRへの換算部５３で得られたPathSNRの値が、評価指標計算部５０によるPathSNRの代表値として出力される。
【０１０４】
ここで、上記SAMjitter計算部５１の具体的な構成としては、例えば図１３や図１６に示したSAMjitter計算部（特定パス分岐合流事象判定器１０,第１スイッチＳＷ１,減算器１１,二乗演算器１２,累加算器１３,平方根演算器１４,除算器１５）を、計測対象とするエラーパターンの数と同数設けるといった構成を挙げることができる。例えば、１ビットエッジシフトエラーについてのSAMjitterを計算する計算部としては、上記特定パス分岐合流事象判定器１０として、１ビットエッジシフトエラーに対応するパス分岐合流事象であるか否かを判定するものを設けるようにすればよい。同様に、２Ｔエラー、２ＴシフトエラーについてのSAMjitterを計算する計算部としては、それぞれ２Ｔエラーに対応するパス分岐合流事象であるか否かを判定する特定パス分岐合流事象判定器１０、２Ｔシフトエラーに対応するパス分岐合流事象であるか否かを判定する特定パス分岐合流事象判定器１０を設けるものとすればよい。
【０１０５】
また、PathSNRへの変換部５３の構成としては、先の図１６に示したように二乗演算器４１と除算器４２とを設けるものとすればよい。
【０１０６】
なお、この図１７に示される評価指標計算部５０としても、リアルタイムで行う必要性のない処理については、ソフトウエア処理で実現することもできる。具体的には、上述したエラーパターンごとのSAMjitter計算部における平方根演算器１４と除算器１５としての処理、及び最大値選択部５２とPathSNRへの換算部５３としての処理は、ＣＰＵ３９によるソフトウエア処理で実現することもできる。
その場合のハードウエア構成としては、先の図１４にて示した累加算値入力用レジスタ３２として、各エラーパターンごとに設けられたそれぞれの累加算器１３からの累加算値を入力する計３つを設ける。そして、ＣＰＵ３９としては、上述したエラーパターンごとの特定パス分岐合流事象判定器１０の各々が出力するFlagの値をそれぞれ入力し、各特定パス分岐合流事象判定器１０ごとに、個別にFlag=1の出力回数をカウントし、カウント値が規定のＭとなるか否かを判別する。カウント値がＭとなったことに応じて、対応する累加算値入力用レジスタ３２に保持された累加算値（Ａ）を入力し、SAMjitter＝√Ａ／２ｄab2√Ｍを計算することで、対応するエラーパターンについてのSAMjitterの値を得る。これによって、SAMj-1T、SAMj2T、SAMj2Tshiftの各値を計算する。
その上で、これらSAMj-1T、SAMj2T、SAMj2Tshiftのうち最大値を代表値として選択し、選択したSAMjitterの代表値をSAMjitter出力用レジスタ３３に書き込む。またこれと共に、選択したSAMjitterの代表値を二乗し、該二乗値により定数0.25を除算することで、PathSNRへの換算を行い、このように得られたPathSNRの代表値をPathSNR出力用レジスタ３５に書き込む。
【０１０７】
[第２例]
続いて、図１８により第２例としての構成について説明する。
図１８に示される評価指標計算部６０は、SAMjitter計算部５１、PathSNRへの換算部６１、及び最小値選択部６２を備える。
上記SAMjitter計算部５１は先の第１例の場合に備えられていたものと同様に、ビタビ復号器７で得られる差分メトリックΔＭkと再生データ系列{ｂk}とに基づき、SAMj-1T、SAMj-2T、SAMj-2Tshiftの値をそれぞれ計算する。
そして、上記PathSNRへの換算部６１は、上記SAMjitter計算部５１にて計算されたSAMj-1T、SAMj-2T、SAMj-2Tshiftの値をそれぞれPathSNRに換算することで、１ビットエッジシフトエラーについてのPathSNR（PathSNR-1とする）の値、及び２ＴエラーについてのPathSNR（PathSNR-2）の値、及び２ＴシフトエラーについてのPathSNR（PathSNR-3）の値を得る。
さらに、上記最小値選択部６２は、上記PathSNRへの換算部６１にて得られたPathSNR-1、PathSNR-2、PathSNR-3の値のうち最小のものをPathSNRの代表値として選択する。図示するように当該最小値選択部６２で得られたPathSNRの代表値が、評価指標計算部６０による評価指標計算結果として出力される。
【０１０８】
ここで、上記PathSNRへの換算部６１の具体的な構成としては、上記SAMjitter計算部５１にて得られるSAMj-1T、SAMj-2T、SAMj-2Tshiftごとに、図１６に示した[二乗演算器４１・除算器４１]の組を設けるものとすればよい。
【０１０９】
また、この図１８に示される評価指標計算部６０としても、リアルタイムで行う必要性のない処理についてはソフトウエア処理で実現することもできる。具体的に、この場合としても、SAMjitter計算部５１においてエラーパターンごとに設けられた平方根演算器１４と除算器１５としての処理はソフトウエア処理で実現できる。またこれと共に、上記PathSNRへの換算部６１における各[二乗演算器４１・除算器４１]の組による処理、及び最小値選択部６２としての処理もソフトウエア処理で実現することができる。
この場合もハードウエア構成としては、先の図１４にて示した累加算値入力用レジスタ３２として、各エラーパターンごとに設けられたそれぞれの累加算器１３からの累加算値を入力する計３つを設ける。但しこの場合、最終的な評価指標の出力値はPathSNRの代表値のみとなることから、SAMjitter出力用レジスタ３３は省略することになる。そして、ＣＰＵ３９としては、この場合もSAMjitter計算部５１が備えるエラーパターンごとの特定パス分岐合流事象判定器１０からのFlagの値をそれぞれ入力し、各特定パス分岐合流事象判定器１０ごとに、個別にFlag=1の出力回数をカウントし、カウント値が規定のＭとなるか否かを判別する。カウント値がＭとなったことに応じて、対応する累加算値入力用レジスタ３２に保持された累加算値（Ａ）を入力し、SAMjitter＝√Ａ／２ｄab2√Ｍを計算することで、対応するエラーパターンについてのSAMjitterの値を得る。つまりこれにより、SAMj-1T、SAMj2T、SAMj2Tshiftの各値を得る。
その上で、この場合のＣＰＵ３９としては、これらSAMj-1T、SAMj2T、SAMj2Tshiftのそれぞれを二乗し、該二乗値により定数0.25をそれぞれ除算することで、PathSNR-1、PathSNR-2、PathSNR-3への換算を行う。さらに、これらPathSNR-1、PathSNR-2、PathSNR-3のうち最小値を代表値として選択し、選択したPathSNRの代表値をPathSNR出力用レジスタ３５に書き込む。
【０１１０】
上記により説明した第３の実施の形態としての構成により、或る特定のエラーパターンのみでなく複数のエラーパターンについての評価指標計算結果を考慮して最終的な評価指標を選択することができる。これにより、再生信号品質についての評価をより適正に行うことができ、評価指標の信頼性向上を図ることができる。
【０１１１】
＜第４の実施の形態＞
第４の実施の形態は、正射影法によりPathSNRを求めた上で、該PathSNRからSAMjitterへの換算を行うものである。
ここで、或る特定のエラーパターンに伴う正誤パス分岐合流事象を対象として、残留等化誤差と雑音の正射影成分を計算すれば、PathSNRは次の[式２２]で与えられる。
【数２２】
2009272006.tif 000024
これを、SAMjitterの定義式（[式７]）と比較すれば、次の[式２３]を用いてSAMjitterを求めることができる。
【数２３】
2009272006.tif 000025
【０１１２】
図１９は、PathSNRを計算し、上記[式２３]に従い該PathSNRからSAMjitterへの換算を行う第４の実施の形態としての評価指標計算部７０の構成について説明するための図である。
なお、この図１９に示されるディスクドライブ装置においても光学ピックアップ１〜ビタビ復号器７までの構成についてはこれまでで説明したものと同様となるので改めての説明は省略する。また、この場合も１ビットエッジシフトエラーパターンなど特定のエラーパターンのみについての評価指標を計算する場合の構成を例示する。
【０１１３】
先ず、この場合の評価指標計算部７０は、先の図１２に示した評価指標計算部１００と同様に正射影法によりPathSNRを計算するための構成として、特定パス分岐合流事象判定器１０、理想的等化信号生成器１６、ベクトル内積演算器１７、二乗演算器２２、第２スイッチＳＷ２、累加算器２３、除算器２４が設けられる。先の図１２の説明からも理解されるように、上記除算器２４による演算結果値がPathSNRとなる。
なお確認のために述べておくと、正射影法によりPathSNRを計算する場合、再生データ系列{ｂk}とディジタル信号サンプル系列（等化信号標本系列）ｚkのみを用いることになる。つまり、評価指標計算部７０に対しては、ビタビ復号器７からの差分メトリックΔＭkの入力は行われないことになる。
【０１１４】
そして、評価指標計算部７０には、上記除算器２４により得られるPathSNRの値を入力し、その平方根を計算する平方根演算器７１と、該平方根演算器７１による演算結果値により定数「0.５」を除算する除算器７２が備えられる。これら平方根演算器７１と除算器７２により、PathSNRについて先の[式２３]に示される計算が行われる。つまりこれにより、PathSNRからSAMjitterへの換算が行われる。
【０１１５】
なお、この評価指標計算部７０においても、実際には特定のパス分岐合流事象であるとの判定結果が得られた回数をカウントし、該カウント値が規定のＭとなった時点での計算値が有効な評価指標の値として取得されるようにするための構成を付加することになる。例えばこの場合、特定パス分岐合流事象判定器１０による「Flag=1」の出力回数をカウントし、そのカウント値がＭとなったときの除算器２４、除算器７２による演算結果値をそれぞれPathSNR、SAMjitterの値として取得する構成を付加するものとすればよい。或いは、累加算器２３の直後、又は除算器２４の直後に対してスイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なPathSNR、SAMjitterの値のみが計算・出力されるようにすることもできる。
【０１１６】
また、この場合においては、累加算器２３よりも後段の処理はリアルタイムに行う必要性がないため、除算器２４、平方根演算器７１、除算器７２による演算をソフトウエア処理で実現するように構成することもできる。その場合のＣＰＵ３９による処理内容としては、演算内容がこれら除算器２４、平方根演算器７１、除算器７２に対応したものとなる以外は先に説明したものと同様とされればよい。
【０１１７】
このような第４の実施の形態としての構成によっても、SAMjitterの計算部とPathSNRの計算部とをそれぞれ個別に設けるとした場合よりも構成の簡素化を図ることができる。具体的にこの場合は、SAMjitterの計算のための構成は平方根演算器７１と除算器７２のみとすることができ、図１２の場合と比較して大幅な簡素化が図られる。
【０１１８】
＜第５の実施の形態＞
図２０は、第５の実施の形態としての評価指標計算部８０の構成について説明するための図である。なおこの場合のディスクドライブ装置としても光学ピックアップ１〜ビタビ復号器７までの構成についてはこれまでで説明したものと同様となるので改めての説明は省略する。また、この場合も、１ビットエッジシフトエラーパターンなど特定のエラーパターンのみについての評価指標を計算する場合の構成を例示する。
【０１１９】
第５の実施の形態は、正パスの信号ベクトルと誤パスの信号ベクトルとの差ベクトルと、残留等化誤差と雑音との和のサンプルを成分とするベクトルとの内積計算（ベクトル内積演算器１７）、及び該ベクトル内積の二乗（二乗演算器２２）、及び該二乗値の累加算（累加算器２３）までを共通して行い、この累加算値を中間値として、該中間値からPathSNRとSAMjitterとを並列的に計算するものである。
ここで、上記累加算器２３による累加算値として、特定パス分岐合流事象であるとの判定が規定のＭ回行われた時点での累加算値は、先の[式１８]にも示されているように、(ΔＭm−ｄab2)／２の二乗値についてのＭ回分の累加算値に相当するものとなる。従って、上記累加算器２３による累加算値からSAMjitterの値を求めるとした場合には、先の[式７]より、上記累加算値の平方根を計算し、さらにｄab2による除算、及び√(１／Ｍ)の乗算（√Ｍによる除算）を行うものとすればよい。
【０１２０】
図２０において、この場合の評価指標計算部８０の構成としては、先の第４の実施の形態の評価指標計算部７０の構成と比較して、平方根演算器７１が累加算器２３による累加算値を入力するようにして設けられる点と、該平方根演算器７１による演算結果値を定数ｄab2√Ｍにより除算する除算器８１が設けられる点とが異なる。
この場合も、除算器２４による演算結果値がPathSNRとして出力される。
そして、上記平方根演算器７１と上記除算器８１とによる演算により、累加算器２３による累加算値に対して上述した平方根の計算及び該平方根の値のｄab2及び√Ｍによる除算が行われる。つまりこれにより、上記除算器８１の演算結果値としてSAMjitterの値が得られるものとなる。
【０１２１】
なお、この評価指標計算部８０においても、実際には特定のパス分岐合流事象であるとの判定結果が得られた回数をカウントし、該カウント値が規定のＭとなった時点での計算値が有効な評価指標の値として取得されるようにするための構成を付加することになる。例えばこの場合、特定パス分岐合流事象判定器１０による「Flag=1」の出力回数をカウントし、そのカウント値がＭとなったときの除算器２４、除算器８１による演算結果値をそれぞれPathSNR、SAMjitterの値として取得する構成を付加するものとすればよい。或いは、累加算器２３の直後に対してスイッチを設けておき、上記カウント値がＭ以外では該スイッチをオフとしＭとなったときに該スイッチをオンとする構成を付加することで、有効なPathSNR、SAMjitterの値のみが計算・出力されるようにすることもできる。
【０１２２】
また、この場合としても、累加算器２３より後段の処理はリアルタイムに行う必要性はなく、従って除算器２４、平方根演算器７１、除算器８１による演算をソフトウエア処理で実現するように構成することもできる。その場合のＣＰＵ３９による処理内容としては、演算内容がこれら除算器２４、平方根演算器７１、除算器８１に対応したものとなる以外は先に説明したものと同様とされればよい。
【０１２３】
上記により説明した第５の実施の形態としての構成によっても、SAMjitterの計算部とPathSNRの計算部とをそれぞれ個別に設けるとした場合よりも構成の簡素化を図ることができる。具体的にこの場合は、SAMjitterの計算のために必要な構成は平方根演算器７１と除算器８１のみとすることができる。
【０１２４】
＜変形例＞
以上、本発明の各実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでに説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば、これまでの説明においては、複数のエラーパターンごとに評価指標を求める構成例として、第２の実施の形態のように、先ずSAMjitterを計算し該SAMjitterからPathSNRへの換算を行う場合への適用例のみを示したが、他の実施の形態（第１、第４、第５の実施の形態）で例示した手法によりSAMjitterとPathSNRとの双方を計算する構成とする場合にも、同様に複数のエラーパターンごとの評価指標を計算することができる。
また、同様に、複数のエラーパターンごとに求めた評価指標から代表値を選択することもできる。
但し、第１及び第５の実施の形態は、第３の実施の形態で例示したように何れかの評価指標を計算した上で他方の評価指標への換算を行うという手法を採るものではなく、先ずはSAMjitterとPathSNRの双方の計算に必要な中間値を求め、該中間値からSAMjitterとPathSNRとを並列計算する手法を採るので、その場合には、エラーパターンごとにSAMjitterとPathSNRとを求めた上で、それぞれの最悪値を選択し、選択した値をそれぞれSAMjitterの代表値、PathSNRの代表値として出力するものとすればよい。
第４の実施の形態のようにPathSNRからSAMjitterへの換算を行う場合には、第３の実施の形態と同様に、換算元の値となるPathSNRの値を複数のエラーパターンごとに求めそのうちの最小値を代表値として選択・出力すると共に、該代表値としてのPathSNRの値からSAMjitterの代表値を換算・出力する手法（第１例）か、或いは、PathSNRを複数のエラーパターンごとに求めそれらのPathSNRの値からエラーパターンごとにSAMjitterの換算を行い、これらSAMjitterの値のうちの最大値を代表値として選択・出力する手法（第２例）の何れかを採ることができる。
【０１２５】
また、これまでの説明では、ＰＲＭＬ再生データ検出方式としてPR（ａ0/２,ａ1,ａ0/２）と（１，７）ＲＬＬＣとを組み合わせる場合について説明したが、ＰＲＭＬ再生データ検出方式としては他にPR（１,２,２,１）やPR(１,２,２,２,１)なども用いられる場合があり、また組み合わされるチャネル符号として（１，７）ＲＬＬＣ以外のものもあるが、それらの様々な組み合わせにおいても本発明は同様に適用することができる。
【０１２６】
また、これまでの説明では、ビタビ復号器（逐次型の二者択一選択を行うデコーダ）からの出力に基づき評価指標を計算する場合を例示したが、再生データ系列を得るためのデコーダとしては、正パスの導出過程で差分メトリックΔＭkの算出を行うものであれば、他のデコーダを用いることもできる。
【０１２７】
また、これまでの説明では、本発明の再生装置が再生専用装置とされる場合を例示したが、記録も可能な記録再生装置として構成することもできる。
また、これまでの説明では、本発明の再生装置が、記録媒体として光ディスク記録媒体（光の照射により記録情報の再生が行われる記録媒体）に対応する場合を例示したが、例えば磁気記録媒体などの他の記録媒体に対応する構成とする場合にも本発明は好適に適用することができる。
【０１２８】
また、これまでの説明では、SAMjitterとPathSNRの双方を計算する評価指標計算部が再生装置に対し一体的に組み込まれて形成される場合を例示したが、本発明の再生信号評価器としては、再生装置により得られる記録媒体からの再生信号に基づき再生信号品質評価を行う装置として、上記再生装置とは別体の独立した装置として構成することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１２９】
【図１】本発明の第１の実施の形態としてのディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【図２】PR（ａ0/２,ａ1,ａ0/２）の状態遷移図である。
【図３】PR（１,２,１）と（１，７）ＲＬＬＣとを組み合わせた場合のトレリス図である。
【図４】PR（ａ0/２,ａ1,ａ0/２）と（１，７）ＲＬＬＣとを組み合わせた場合の各ブランチの再生信号値とメトリック値との関係を表した図である。
【図５】パス分岐合流例（１ビットエッジシフトエラー時）をトレリス図上で示した図である。
【図６】ビタビ復号器の演算内容を表した図である。
【図７】PR（１,２,１）と（１，７）ＲＬＬＣとを組み合わせた場合の差分メトリックについて説明するための図である。
【図８】パス分岐合流例（２Ｔエラー時）をトレリス図上で示した図である。
【図９】パス分岐合流例（２Ｔシフトエラー時）をトレリス図上で示した図である。
【図１０】PR（１,２,１）におけるパス分岐合流の各種形態とその２乗Euclid距離との関係を表した図である。
【図１１】多次元信号空間における信号対雑音比（PathSNR）について説明するための図である。
【図１２】SAMjitterとPathSNRの双方の計算回路を実装した場合の構成例を示した図である。
【図１３】第１の実施の形態としての評価指標計算部を備えるディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【図１４】評価指標計算部の一部の演算をソフトウエア処理により実現するための構成例を示した図である。
【図１５】評価指標計算部の一部の演算をソフトウエア処理により実現する場合の処理手順を示したフローチャートである。
【図１６】第２の実施の形態としての評価指標計算部を備えるディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【図１７】第３の実施の形態の第１例としての評価指標計算部を備えるディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【図１８】第３の実施の形態の第２例としての評価指標計算部を備えるディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【図１９】第４の実施の形態としての評価指標計算部を備えるディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【図２０】第５の実施の形態としての評価指標計算部を備えるディスクドライブ装置の内部構成を示したブロック図である。
【符号の説明】
【０１３０】
１  光学ピックアップ、２  ＡＧＣ、３  アナログフィルタ、４  Ａ−Ｄ変換器４、５  ＰＬＬ回路、６  適応等化器、７  ビタビ復号器、８,４０,５０,６０,７０,８０  評価指標計算部、１０  特定パス分岐合流事象判定器、１１,１８  減算器、１２,２２,４１  二乗演算器、１３,２３  累加算器、１４,７１  平方根演算器、１５,２４,３１,４２,７２,８１  除算器、１６  理想的等化信号生成器、１７  ベクトル内積演算器、１９1〜１９L-1  遅延器、２０1〜２０L  乗算器、２１  加算器、３２  累加算値入力用レジスタ、３３  SAMjitter出力用レジスタ、３４  計測命令入力用レジスタ、３５  PathSNR出力用レジスタ、３６  バス、３７  ＲＯＭ、３７ａ  演算プログラム、３８  ＲＡＭ  ３９  ＣＰＵ、５１  SAMjitter計算部、５２  最大値選択部、５３,６１  PathSNRへの換算部、６２  最小値選択部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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