(57)【要約】【課題】設計図面と試験仕様との相違を防止するとともに、工数を削減してコストダウンを実現することができる自動試験システムを提供する。【解決手段】製品の設計図面３１の作成を支援する設計支援部２１と、設計支援部２１に接続された計算機２の画面と、設計図面３１に基づいて、製品に対する試験の試験仕様３２を作成する試験仕様作成部２２と、試験仕様３２に基づいて、試験を実施する試験装置４と、を備え、設計支援部２１は、複数の機器シンボルと複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態とが互いに関連づけて登録された機器シンボル群２７を含み、機器シンボル群２７から選択された機器シンボルを画面上の描画エリア２８に表示することにより設計図面３１の作成を支援し、試験仕様作成部２２は、設計図面３１に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、試験仕様３２を作成するものである。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品の設計図面の作成を支援する設計支援手段と、
前記設計支援手段に接続された表示手段と、
前記設計図面に基づいて、前記製品に対する試験の試験仕様を作成する試験仕様作成手段と、
前記試験仕様に基づいて、前記試験を実施する試験手段と、を備え、
前記設計支援手段は、複数の機器シンボルと前記複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態とが互いに関連づけて登録された機器シンボル群を含み、前記機器シンボル群から選択された機器シンボルを前記表示手段の描画エリアに表示することにより前記設計図面の作成を支援し、
前記試験仕様作成手段は、前記設計図面に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、前記試験仕様を作成すること
を特徴とする自動試験システム。
【請求項２】
前記試験の実施中に、前記試験手段からの試験応答データをモニタリングするとともに、前記試験応答データを前記描画エリア上に表示する表示制御手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の自動試験システム。
【請求項３】
前記試験仕様の記述に基づいて、前記試験手段に対する自動試験用データを作成する試験用データ作成手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載の自動試験システム。
【請求項４】
前記自動試験用データを前記描画エリア上で実行して、前記自動試験用データの正当性の検証を支援する試験用データ検証支援手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の自動試験システム。
【請求項５】
前記試験の実施中に、前記試験手段からの試験応答データをモニタリングするとともに、前記試験応答データを前記描画エリア上に表示する表示制御手段を備えたことを特徴とする請求項３または請求項４に記載の自動試験システム。
【請求項６】
前記自動試験用データおよび前記試験応答データに基づいて、前記自動試験用データに混入する不具合、または試験対象である製品の製造不良による不具合を監視する監視手段を備えたことを特徴とする請求項５に記載の自動試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、製品の設計から試験までを一元的に実施する自動試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、製品の設計を行うためのＣＡＤをはじめとしたツール群と、製品の試験を実施するための試験環境および試験設備の情報化とが、急速に進歩している。
また、複雑かつ高機能化する製品に対して、試験を自動化して効率化を図り、競合他社との競争力を強化することが求められている。
【０００３】
従来の試験手順書自動作成システムは、試験仕様（検査仕様書）の記述に基づいて、通信端末の自動試験に用いる自動試験用データ（試験手順書）を自動的に作成する試験手順書ファイル作成部を有している（例えば、特許文献１参照）。
なお、このシステムにおいて、試験仕様は、設計図面が作成された後に、設計図面を参照しながら人手により作成されている。すなわち、設計段階においては、製品の試験を自動化することを考慮した設計図面の作成は行われていない。
【０００４】
【特許文献１】特開平９−９１１６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の試験手順書自動作成システムでは、設計図面および試験仕様は、それぞれ異なるツールまたはシステム環境により作成されている。
そのため、試験仕様の作成に要する工数が増えてコストが高くなるとともに、設計要求の伝達ミスによって、設計図面と試験仕様との相違が生じ、不具合が発生する恐れがあるという問題点があった。
【０００６】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであって、その目的は、
設計図面と試験仕様との相違を防止するとともに、工数を削減してコストダウンを実現することができる自動試験システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明に係る自動試験システムは、製品の設計図面の作成を支援する設計支援手段と、設計支援手段に接続された表示手段と、設計図面に基づいて、製品に対する試験の試験仕様を作成する試験仕様作成手段と、試験仕様に基づいて、試験を実施する試験手段と、を備え、設計支援手段は、複数の機器シンボルと複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態とが互いに関連づけて登録された機器シンボル群を含み、機器シンボル群から選択された機器シンボルを表示手段の描画エリアに表示することにより設計図面の作成を支援し、試験仕様作成手段は、設計図面に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、試験仕様を作成するものである。
【発明の効果】
【０００８】
この発明の自動試験システムによれば、設計支援手段は、複数の機器シンボルと、複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態とが互いに関連づけて登録された機器シンボル群を含んでいる。また、設計支援手段は、機器シンボル群から選択された機器シンボルを表示手段の描画エリアに表示することにより、設計図面の作成を支援する。また、試験仕様作成手段は、設計図面に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、試験仕様を作成する。
そのため、設計図面と試験仕様との相違を防止するとともに、工数を削減してコストダウンを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、この発明の各実施の形態について図に基づいて説明するが、各図において同一、または相当する部材、部位については、同一符号を付して説明する。
【００１０】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１に係る自動試験システムを示すブロック構成図である。なお、本実施の形態では、この自動試験システムが通信機装置を有する製品の通信系試験を実施する場合について説明する。
ここで、通信機装置とは、例えば、数百のスイッチやモジュールと、アンテナとを組み合わせた装置であり、アンテナに入力される電気信号の経路が、スイッチの状態やモジュールの状態によって数千パターンになるような装置である。
【００１１】
図１において、この自動試験システムは、ネットワーク１を介して互いに接続された計算機２と、記憶装置３と、試験装置４（試験手段）とから構成されている。計算機２と記憶装置３と試験装置４とは、ネットワーク１を通じて互いにデータ通信を行う。
設計者は、計算機２上で製品の設計作業を行う。また、製品に対する自動試験を実施する試験装置４には、製品の供試体５が接続されている。
【００１２】
計算機２は、設計支援部２１（設計支援手段）と、試験仕様作成部２２（試験仕様作成手段）と、試験用データ作成部２３（試験用データ作成手段）と、試験用データ検証支援部２４（試験用データ検証支援手段）と、表示制御部２５（表示制御手段）と、監視部２６（監視手段）とを備えている。
ここで、計算機２は、ＣＰＵとプログラムを格納したメモリとを有するマイクロプロセッサ（図示せず）で構成されており、計算機２を構成する各ブロックは、メモリ内にソフトウェアとして記憶されている。
【００１３】
設計支援部２１は、通信機装置で一般的に使用される複数の機器の機器シンボルと、複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態とが互いに関連づけて登録された機器シンボル群２７を含んでいる。また、設計支援部２１は、機器シンボル群２７から選択された機器シンボルを計算機２の画面（表示手段）上の描画エリア（後述する）に表示することにより、設計者による製品の設計図面３１の作成を支援する。
【００１４】
試験仕様作成部２２は、作成された設計図面３１に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、製品に対する試験の試験仕様３２を自動的に作成する。
試験用データ作成部２３は、試験仕様作成部２２で作成された試験仕様３２の記述に基づいて、試験装置４に対する自動試験用データ３３を作成する。
ここで、作成された設計図面３１、試験仕様３２および自動試験用データ３３は、それぞれ記憶装置３に保管されて管理される。
【００１５】
試験用データ検証支援部２４は、試験用データ作成部２３で作成された自動試験用データ３３を描画エリア上で実行して、試験用データ作成部２３の正当性の検証を支援する。すなわち、試験用データ検証支援部２４は、試験仕様３２の要求通りに自動試験用データ３３が作成されているか否かを検証することを支援する。
表示制御部２５は、試験装置４による製品の試験の実施中に、試験装置４からの試験応答データ（後述する）をモニタリングするとともに、試験応答データを画面上に表示する。
監視部２６は、試験装置４による製品の試験の実施中に、自動試験用データ３３および試験装置４からの試験応答データに基づいて、自動試験用データ３３に混入する不具合、または試験対象である製品の製造不良による不具合を監視する。
【００１６】
続いて、図１とともに、図２を参照しながら、計算機２の設計環境について説明する。
図２は、この発明の実施の形態１に係る計算機２の設計環境を示す説明図である。
図２において、計算機２の画面上には、前述した機器シンボル群２７と、機器シンボル群２７から選択された機器シンボルが表示される描画エリア２８とが準備されている。
【００１７】
機器シンボル群２７に登録される機器シンボルとしては、発信機３４、フィルタ機器３５、分波機器３６、混合機器３７、スイッチ機器３８等が挙げられる。
発信機３４は、特定の命令により発信を行う。フィルタ機器３５は、特定の値に設定された波長だけを通過させる。分波機器３６は、１つの信号を複数の波長の信号に分配する。混合機器３７は、複数の波長の信号を１つの信号に混合する。スイッチ機器３８は、経路を変更する。
機器シンボル群２７に登録される機器シンボルは、製造する通信機装置に応じて自由に拡充することができる。
【００１８】
また、機器シンボル群２７には、複数の機器シンボルと、複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態とが互いに関連づけて登録されている。すなわち、機器シンボル群２７は、複数の機器シンボルの各々が取り得る全ての状態を属性として有している。
なお、設計者は、機器シンボルの状態属性の変化をグラフィカルに確認することができる。
【００１９】
ここで、図２とともに、図３を参照しながら、機器シンボルの状態属性の変化について説明する。
図３は、この発明の実施の形態１に係る機器シンボルの状態属性の変化を、発信機３４およびスイッチ機器３８について示す説明図である。
図３において、発信機３４は、（ａ）第１発信状態、（ｂ）第２発信状態、（ｃ）第３発信状態および（ｄ）第４発信状態等を属性として有している。
【００２０】
第１発信状態では、発信機３４そのものがオンになっている（ＯＮ状態）。第２発信状態では、発信機３４そのものがオフになっている（ＯＦＦ状態）。第３発信状態では、発信機３４に何らかの入力があると発信機３４がオンになる（ＩＮＯＮ状態）。第４発信状態では、発信機３４に何らかの入力があるが発信機３４がオフのままである（ＩＮＯＦＦ状態）。
【００２１】
また、図３において、４つのポートを持つスイッチ機器３８は、（ｅ）第１スイッチ状態、（ｆ）第２スイッチ状態および（ｇ）第３スイッチ状態等を属性として有している。
第１スイッチ状態では、左と上とのポート、および下と右とのポートの接続が確立されている（ＰＯＳ１状態）。第２スイッチ状態では、左と下とのポート、および上と右とのポートの接続が確立されている（ＰＯＳ２状態）。第３スイッチ状態では、左と右とのポート、および上と下とのポートの接続が確立されている（ＰＯＳ３状態）。
【００２２】
以下、上記構成の自動試験システムにおける動作について説明する。
まず、製品の設計図面３１を作成する処理について説明する。
設計者は、機器シンボル群２７から製品に要求される機器シンボルを選択して描画エリア２８に配置し、描画エリア２８上の機器シンボルどうしを接続線で接続することにより、製品の設計図面３１を作成する。また、この処理は、設計意図に沿って全ての機器シンボルを配置し、接続した時点で終了となる。
【００２３】
ここで、図１〜図３とともに、図４を参照しながら、例として、第１発信機からの出力を、第１フィルタ機器、第２フィルタ機器および第３フィルタ機器の何れかのフィルタ機器に通し、第２発信機に入力する設計を行う場合について説明する。
図４は、この発明の実施の形態１による設計図面３１の作成処理を示す説明図である。
【００２４】
図４において、まず設計者は、第１発信機４１（描画エリア２８では、「Ａ」と表記する）を選択して描画エリア２８に配置する。
続いて、設計者は、第１スイッチ機器４２（描画エリア２８では、「ＳＷ１」と表記する）を選択して描画エリア２８に配置し、第１発信機４１と第１スイッチ機器４２の１つのポートとを接続線で接続する。
【００２５】
次に、設計者は、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５（描画エリア２８では、それぞれ「Ｆ１」、「Ｆ２」および「Ｆ３」と表記する）を選択して描画エリア２８に配置する。また、設計者は、第１スイッチ機器４２の残りのポートと、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５のそれぞれとを接続線で接続する。
【００２６】
続いて、設計者は、第２スイッチ機器４６（描画エリア２８では、「ＳＷ２」と表記する）を選択して描画エリア２８に配置する。また、設計者は、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５のそれぞれと、第２スイッチ機器４６の３つのポートとを接続線で接続する。
次に、設計者は、第２発信機４７（描画エリア２８では、「Ｂ」と表記する）を選択して描画エリア２８に配置し、第２スイッチ機器４６の残りのポートと第２発信機４７とを接続線で接続して、設計図面３１の作成処理を終了する。
【００２７】
続いて、図１〜図４とともに、図５を参照しながら、図４に示された設計図面３１に基づいて、試験仕様３２を作成する処理について説明する。
図５は、この発明の実施の形態１による試験仕様３２の作成処理を示す説明図である。
図４に示された設計図面３１による製品に対する試験の第１の目的は、第１発信機４１からの出力を、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５の何れか、もしくは全てに正確に通して、第２発信機４７の入力となることを確認することである。また、この試験の第２の目的は、試験パターンが、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５の何れかに通す３パターンと、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５の全てに順を変えて通す６パターンとの合計９パターンであり、試験仕様３２の抜けがないことを確認することである。
【００２８】
図５において、まず、試験仕様作成部２２は、描画エリア２８に表示されている第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５の何れかのフィルタ機器を選択する。続いて、試験仕様作成部２２は、第１発信機４１からの出力が第２発信機４７の入力となるように、接続線をたどりながら経路を確立する。また、経路上にスイッチ機器が存在する場合には、スイッチ機器の状態を変化させながら経路を確立する。
【００２９】
ここでは、経路上に第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６が存在するので、試験仕様作成部２２は、第１発信機４１から第１フィルタ機器４３までの経路が確立するように第１スイッチ機器４２の状態を変化させる。また、試験仕様作成部２２は、第１フィルタ機器４３から第２発信機４７までの経路が確立するように第２スイッチ機器４６の状態を変化させる。
【００３０】
同様にして、試験仕様作成部２２は、第１発信機４１からの出力が、第２フィルタ機器４４および第３フィルタ機器４５の何れかを通って第２発信機４７の入力となるように、第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６の状態を変化させる。
【００３１】
また、図５において、試験仕様作成部２２は、描画エリア２８に表示されている複数のフィルタ機器を第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４、第３フィルタ機器４５の順に選択する。続いて、試験仕様作成部２２は、第１発信機４１からの出力が第２発信機４７の入力となるように、接続線をたどりながら経路を確立する。また、経路上にスイッチ機器が存在する場合には、スイッチ機器の状態を変化させながら経路を確立する。
【００３２】
ここでは、経路上に第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６が存在するので、試験仕様作成部２２は、第１発信機４１から第１フィルタ機器４３までの経路が確立するように第１スイッチ機器４２の状態を変化させる。また、試験仕様作成部２２は、第１フィルタ機器４３から第２フィルタ機器４４までの経路が確立するように第２スイッチ機器４６の状態を変化させる。また、試験仕様作成部２２は、第２フィルタ機器４４から第３フィルタ機器４５までの経路が確立するように第１スイッチ機器４２の状態を変化させる。また、試験仕様作成部２２は、第３フィルタ機器４５から第２発信機４７までの経路が確立するように第２スイッチ機器４６の状態を変化させる。
【００３３】
同様にして、試験仕様作成部２２は、第１発信機４１からの出力が、第１フィルタ機器４４、第３フィルタ機器４５、第２フィルタ機器４４の順に通って第２発信機４７の入力となるように、第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６の状態を変化させる。
同様に、全ての機器に対し順を変えて通るパターンは、６パターン存在する。
これにより、試験仕様作成部２２は、設計図面３１に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、試験の目的と試験に必要な一連の機器の動作とを試験仕様３２として抜けなく作成する。
【００３４】
次に、試験装置４に対する自動試験用データ３３を作成する処理について説明する。
ここでは、図１〜図５とともに、図６のフローチャートを参照しながら、例として、第１発信機４１からの出力を第１フィルタ機器４３に通し、第２発信機４７に入力させるための自動試験用データ３３を作成する場合について説明する。
【００３５】
図６において、まず、試験用データ作成部２３は、試験対象の機器を選択する（ステップＳ１）。この例において、第１発信機４１からの出力を通したい経路は、第１フィルタ機器４３を通る経路なので、試験用データ作成部２３は、試験対象として、第１フィルタ機器４３を選択する。
【００３６】
続いて、試験用データ作成部２３は、第１発信機４１から第１フィルタ機器４３までの経路（以下、「第１経路」と称する）が存在しているか否かを判定する（ステップＳ２）。
ステップＳ２において、第１経路が存在している（すなわち、Ｙｅｓ）と判定された場合には、試験用データ作成部２３は、第１経路を自動で選択する（ステップＳ３）。
【００３７】
次に、試験用データ作成部２３は、第１フィルタ機器４３から第２発信機４７までの経路（以下、「第２経路」と称する）が存在しているか否かを判定する（ステップＳ４）。
ステップＳ４において、第２経路が存在している（すなわち、Ｙｅｓ）と判定された場合には、試験用データ作成部２３は、第２経路を自動で選択する（ステップＳ５）。
【００３８】
一方、ステップＳ２において、第１経路が存在していない（すなわち、Ｎｏ）と判定された場合には、試験用データ作成部２３は、第１経路未確定エラーを画面上に表示し（ステップＳ６）、図６の処理を終了する。
また、ステップＳ４において、第２経路が存在していない（ずなわち、Ｎｏ）と判定された場合には、試験用データ作成部２３は、第２経路未確定エラーを画面上に表示し（ステップＳ７）、図６の処理を終了する。
【００３９】
続いて、試験用データ作成部２３は、第１発信機４１から第２発信機４７までの経路（第１経路および第２経路）上に存在する機器シンボルの各々の状態属性を読み取る（ステップＳ８）。
次に、試験用データ作成部２３は、ステップＳ８で読み取った機器シンボルの状態属性を、自動試験用データ３３として出力する（ステップＳ９）。
【００４０】
続いて、試験用データ作成部２３は、出力起点である第１発信機４１の状態属性を第１発信状態（ＯＮ状態、図３参照）に変化させる自動試験用データ３３を作成して出力する（ステップＳ１０）。これにより、自動試験用データ３３の作成が完了する。
次に、試験用データ作成部２３は、自動試験用データ３３による機器の動作を描画エリア２８に再生して（ステップＳ１１）、図６の処理を終了する。
このとき、試験用データ検証支援部２４は、自動試験用データ３３を描画エリア２８上で実行して、自動試験用データ３３の正当性をグラフィカルに検証することを支援する。自動試験用データ３３の正当性を検証する処理については、後述する。
【００４１】
ここで、試験用データ作成部２３によって作成された自動試験用データ３３の出力例を図７に示す。
図７において、自動試験用データ３３の２〜３行目は、第１経路および第２経路上に存在する第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６の名称（ＳＷ１およびＳＷ２）、および状態属性（ＰＯＳ１状態およびＰＯＳ２状態、図３参照）を示している。
また、自動試験用データ３３の４行目は、出力起点である第１発信機４１の状態属性を第１発信状態（ＯＮ状態）に変化させることを示している。
【００４２】
以上のことから、この自動試験システムによれば、設計者による設計図面３１の作成から、試験仕様作成部２２による試験仕様３２の作成、試験用データ作成部２３による自動試験用データ３３の作成までを、一元化された環境の下で実施することができる。
【００４３】
続いて、自動試験用データ３３の正当性を検証する処理について説明する。
ここでは、図１〜図７とともに、図８および図９を参照しながら、設計図面３１を作成する設計部門で自動試験用データ３３の正当性を検証する場合について説明する。
【００４４】
まず、図１を参照しながら、設計図面３１、試験仕様３２および自動試験用データ３３の管理および取得について説明する。
設計者によって作成された設計図面３１、試験仕様作成部２２で作成された試験仕様３２および試験用データ作成部２３で作成された自動試験用データ３３は、それぞれ記憶装置３に保管されて管理される。
設計部門で自動試験用データ３３の正当性を検証する場合には、記憶装置３から設計図面３１、試験仕様３２および自動試験用データ３３を取り込むこととなる。
【００４５】
次に、図８を参照しながら、自動試験用データ３３の正当性をグラフィカルに検証する処理について、その基本的な構成を説明する。
図８は、この発明の実施の形態１による自動試験用データ３３の正当性を検証する処理を行うための構成を示す説明図である。
【００４６】
図８（ａ）において、描画エリア２８には、記憶装置３から取り込んだ設計図面３１が示されている。ここでは、第１発信機４１、第１スイッチ機器４２、第１フィルタ機器４３、第２フィルタ機器４４、第３フィルタ機器４５、第２スイッチ機器４６および第２発信機４７が配置されている。
【００４７】
また、描画エリア２８に配置された機器シンボルの各々は、自身が取り得る全ての状態を属性としてグラフィカルに有しており、現在の状態属性のみを描画エリア２８上に表示している。例えば、第１スイッチ機器４２については、第１スイッチ状態（ＰＯＳ１状態）、第２スイッチ状態（ＰＯＳ２状態）および第３スイッチ状態（ＰＯＳ３状態）を属性としてグラフィカルに有し、第１スイッチ状態（ＰＯＳ１状態）のみを表示している。
【００４８】
また、描画エリア２８に配置された機器シンボルの各々は、それぞれ接続線４８等によって接続されており、入力の受付と機器シンボルに個別に設定された出力とを行う。例えば、第１フィルタ機器４３については、所定の周波数帯域の信号が入力された場合には、その信号を出力し、所定の周波数帯域以外の信号が入力された場合には、その信号を遮断する。
また、入力および出力の状態は、描画エリア２８上で接続線４８の太さや色等を変更することにより、グラフィカルに表示することができる。
【００４９】
また、図８（ｂ）において、試験仕様３２には、試験対象となる機器の名称と、対象機器のシンボル名称と、要求される試験結果とが記載されている。
例えば、第１フィルタ機器４３については、試験対象機器の欄に第１フィルタ機器と記載され、対象機器シンボル名称の欄にＦ１と記載されている。また、試験結果の欄には、第１発信機４１（Ａ）の出力を受信し、所定の周波数帯域の信号を通過させて、第２発信機４７（Ｂ）の入力とすること、と記載されている。
【００５０】
また、図８（ｃ）において、自動試験用データ３３には、機器シンボルに対する試験を実施するために、機器シンボルの状態属性をどのように変化させる必要があるかが、機器シンボルの名称と状態属性との組み合わせで時系列に記載されている。
なお、図８（ｃ）に示した自動試験用データ３３は、図７に示したものと同様なので、詳述を省略する。
【００５１】
続いて、図９を参照しながら、自動試験用データ３３の正当性をグラフィカルに検証する処理について、時系列に説明する。
図９は、この発明の実施の形態１による自動試験用データ３３の正当性を検証する処理を時系列に示す説明図である。
まず、図９（ａ）において、第１フィルタ機器４３に対する試験の実行前には、それぞれの機器シンボルの初期状態属性は、以下のように設定されている。なお、これらの属性状態は、設計図面３１が作成されたときに設定されている。
【００５２】
第１発信機４１および第２発信機４７の状態属性は、それぞれＯＦＦ状態に設定されている。また、第１発信機４１は、状態属性がＯＮ状態になると、発信を開始する。また、第２発信機４７は、外部から何らかの入力があると、状態属性がＯＮ状態になり、発信を開始する。
第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６は、それぞれ左と上とのポート、および下と右とのポートの接続が確立されているＰＯＳ１状態に設定されている。また、第１スイッチ機器４２および第２スイッチ機器４６は、外部から何らかの入力があると、状態属性がＯＮ状態になり、反対側のポートへの出力を開始する。
第１フィルタ機器４３は、外部から何らかの入力があると、状態属性がＯＮ状態になり、フィルタ処理の結果を出力する。
【００５３】
次に、図９（ｂ）に示す第１フィルタ機器４３に対する試験の実行後の状態を参照しながら、自動試験用データ３３を実行した場合について説明する。
まず、自動試験用データ３３（図８（ｃ）参照）の２行目が実行されると、第１スイッチ機器４２は、状態属性がＯＮ状態になり、左と上とのポート、および下と右とのポートの接続が確立されているＰＯＳ１状態を保持する。
【００５４】
続いて、自動試験用データ３３の３行目が実行されると、第２スイッチ機器４６は、状態属性がＯＮ状態になり、左と下とのポート、および上と右とのポートの接続が確立されているＰＯＳ２状態になる。
次に、自動試験用データ３３の４行目が実行されると、第１発信機４１は、状態属性がＯＮ状態になり、発信を開始する。
【００５５】
第１発信機４１からの出力は、第１スイッチ機器４２への入力となり、第１スイッチ機器４２は、この入力を反対側のポート（ここでは、上方向）に出力する。また、第１スイッチ機器４２からの出力は、第１フィルタ機器４３への入力となり、第１フィルタ機器４３は、この入力に対するフィルタ処理の結果を出力する。
第１フィルタ機器４３からの出力は、第２スイッチ機器４６への入力となり、第２スイッチ機器４６は、この入力を反対側のポート（ここでは、右方向）に出力する。第２スイッチ機器４６からの出力は、第２発信機４７への入力となり、第２発信機４７は、状態属性がＯＮ状態になり、発信を開始する。
【００５６】
これにより、第１発信機４１からの出力を第１フィルタ機器４３に通し、第２発信機４７に入力させる一連の接続経路が確立される。
以上のことから、この自動試験システムによれば、試験用データ作成部２３によって作成された自動試験用データ３３の正当性を、グラフィカルに検証することができる。
【００５７】
次に、試験装置４による製品の試験の実施中に、試験装置４からの試験応答データを描画エリア２８上にグラフィカルに表示する処理について説明する。
このとき、図１において、設計図面３１への入力としては、自動試験用データ３３に代えて、製品の供試体５が接続された試験装置４からの試験応答データが用いられる。
【００５８】
ここでは、図１〜図９とともに、図１０を参照しながら、試験装置４による製品の試験の実施中に、表示制御部２５が試験装置４からの試験応答データをモニタリングするとともに、試験応答データを描画エリア２８上に表示する処理について説明する。
図１０は、この発明の実施の形態１による試験応答データの表示処理を示す説明図である。
なお、描画エリア２８に示される設計図面３１についての情報は、図８（ａ）に示したものと同様なので、詳述を省略する。
【００５９】
図１０（ａ）において、表示制御部２５がモニタリングする試験応答データ５１には、設計図面３１に示された全ての機器シンボルの名称と、ステータス情報とが含まれている。表示制御部２５は、このステータス情報に基づいて、設計図面３１上の特定の機器シンボルの状態属性を変化させ、試験応答データ５１を描画エリア２８上にグラフィカルに表示する。
なお、試験応答データ５１は、あらかじめ設定された所定の間隔で、試験装置４から送信される。
【００６０】
続いて、図１０（ｂ）（ｃ）とともに、試験応答データ５１の受信前の状態と、試験応答データ５１の受信後の状態とを比較しながら、試験応答データ５１をグラフィカルに表示する処理について、時系列に説明する。
まず、表示制御部２５は、試験応答データ５１に含まれる機器シンボルの名称と、ステータス情報とから、各機器シンボルの状態属性を取得する。ここでは、第１発信機４１および第２発信機４７の状態属性は、それぞれＯＮ状態になっている。また、第１スイッチ機器４２の属性状態は、ＰＯＳ１状態になっており、第２スイッチ機器４６の属性状態は、ＰＯＳ２状態になっている。
【００６１】
次に、表示制御部２５は、第１発信機４１の状態属性をＯＮ状態に変化させ、第２発信機４７の状態属性をＯＮ状態に変化させる。また、表示制御部２５は、第１スイッチ機器４２の状態属性をＰＯＳ１状態に変化させ、第２スイッチ機器４６の状態属性をＰＯＳ２状態に変化させる。
以上のことから、この自動試験システムによれば、表示制御部２５は、確立している一連の接続経路をグラフィカルに表示することができる。
【００６２】
続いて、図１〜図１０とともに、図１１を参照しながら、試験装置４による製品の試験の実施中に、自動試験用データ３３に混入する不具合や、供試体５の製造不良による不具合を監視する処理について説明する。
図１１は、この発明の実施の形態１による自動試験の監視処理を示す説明図である。
【００６３】
図１１において、描画エリア２８には、図９（ｂ）に示した自動試験用データ３３の検証画面（図の上側）と、図１０（ｃ）に示した試験応答データ５１の表示画面（図の下側）とが、同期して表示されている。
このとき、監視部２６は、自動試験用データ３３に応じて供試体５に送信される実行命令に対して、試験応答データ５１が正常であるか否かをリアルタイムに監視し、自動試験用データ３３に混入する不具合や、供試体５の製造不良による不具合を監視する。
【００６４】
図１１に示した例では、第２スイッチ機器４６について、自動試験用データ３３に含まれる状態属性（ＰＯＳ２状態）と、試験応答データ５１に含まれる状態属性（ＰＯＳ１状態）とが、互いに異なっている。
このとき、監視部２６は、例えば、描画エリア２８上に不具合が発生したことを表示するとともに、音声によって不具合の発生を周囲に報知する。
【００６５】
以上のことから、この自動試験システムによれば、監視部２６は、自動試験用データ３３に混入する不具合や、供試体５の製造不良による不具合を監視するとともに、不具合が発生した場合には、周囲に報知することができる。
【００６６】
この発明の実施の形態１による自動試験システムによれば、設計支援部２１は、機器シンボル群２７から選択された機器シンボルを計算機２の画面上の描画エリア２８に表示することにより、設計者による製品の設計図面３１の作成を支援する。また、試験仕様作成部２２は、作成された設計図面３１に示された機器シンボルがそれぞれ取り得る全ての状態に応じて、製品に対する試験の試験仕様３２を自動的に作成する。
そのため、設計図面３１と試験仕様３２との相違を防止することにより、試験仕様３２の作成ミスを削減し、試験仕様３２の抜けを防止することができる。また、工数を削減してコストダウンを実現することができる。
【００６７】
また、試験用データ作成部２３は、試験仕様作成部２２で作成された試験仕様３２の記述に基づいて、試験装置４に対する自動試験用データ３３を作成する。
そのため、試験仕様３２と自動試験用データ３３との相違を防止することにより、自動試験用データ３３の作成ミスを削減し、自動試験用データ３３の抜けを防止することができる。また、工数を削減してコストダウンを実現することができる。
【００６８】
また、試験用データ検証支援部２４は、試験用データ作成部２３で作成された自動試験用データ３３を描画エリア２８上で実行して、試験用データ作成部２３の正当性の検証を支援する。
そのため、製品に対する試験の失敗を防止するとともに、自動試験用データ３３の正当性の検証に要する時間および労力を大幅に削減して、コストダウンを実現することができる。
【００６９】
また、表示制御部２５は、試験装置４による製品の試験の実施中に、試験装置４からの試験応答データ５１をモニタリングするとともに、試験応答データ５１を画面上に表示する。
そのため、製品に対する試験の失敗を防止するとともに、工数を削減してコストダウンを実現することができる。
【００７０】
また、監視部２６は、試験装置４による製品の試験の実施中に、自動試験用データ３３および試験装置４からの試験応答データ５１に基づいて、自動試験用データ３３に混入する不具合、または試験対象である製品の製造不良による不具合を監視する。
そのため、製品に対する試験の失敗を防止するとともに、工数を削減してコストダウンを実現することができる。また、不具合による損失を防止することができる。
【００７１】
なお、上記実施の形態１では、計算機２で作成された設計図面３１、試験仕様３２および自動試験用データ３３は、記憶装置３に保管されるとしたが、これに限定されない。設計図面３１、試験仕様３２および自動試験用データ３３は、計算機２で作成されて、計算機２内のメモリに記憶されてもよい。
この場合も、上記実施の形態１と同様の効果を奏することができる。
【００７２】
また、上記実施の形態１では、試験用データ検証支援部２４は、計算機２に設けられるとしたが、これに限定されない。試験用データ検証支援部は、試験装置４に設けられて、試験実施部門で試験を実施する前に、自動試験用データ３３の正当性を検証してもよい。
この場合も、上記実施の形態１と同様の効果を奏することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】この発明の実施の形態１に係る自動試験システムを示すブロック構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１に係る計算機の設計環境を示す説明図である。
【図３】この発明の実施の形態１に係る機器シンボルの状態属性の変化を示す説明図である。
【図４】この発明の実施の形態１による設計図面の作成処理を示す説明図である。
【図５】この発明の実施の形態１による試験仕様の作成処理を示す説明図である。
【図６】この発明の実施の形態１による自動試験用データの作成処理を示すフローチャートである。
【図７】この発明の実施の形態１による自動試験用データの出力例を示す説明図である。
【図８】この発明の実施の形態１による自動試験用データの正当性を検証する処理を行うための構成を示す説明図である。
【図９】この発明の実施の形態１による自動試験用データの正当性を検証する処理を時系列に示す説明図である。
【図１０】この発明の実施の形態１による試験応答データの表示処理を示す説明図である。
【図１１】この発明の実施の形態１による自動試験の監視処理を示す説明図である。
【符号の説明】
【００７４】
４  試験装置（試験手段）、２１  設計支援部（設計支援手段）、２２  試験仕様作成部（試験仕様作成手段）、２３  試験用データ作成部（試験用データ作成手段）、２４  試験用データ検証支援部（試験用データ検証支援手段）、２５  表示制御部（表示制御手段）、２６  監視部（監視手段）、２７  機器シンボル群、２８  描画エリア、３１  設計図面、３２  試験仕様、３３  自動試験用データ、５１  試験応答データ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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