(57)【要約】【課題】欠陥画素により撮像された画像データを図柄の変化点に応じて補正する。【解決手段】エッジ検出及びパターン算出部１は画像センサの欠陥画素の外側の画素の上下、左右、斜めの各ブロックにおいてそれぞれ、上下方向、左右方向、斜め方向のエッジ、及びエッジを有する画像パターンを検出し、画パターン演算部２及び補間画素演算部３は欠陥画素の位置と、エッジ及び画像パターンとに基づいて、欠陥画素の周囲の複数の画素のデータの１つから、欠陥画素を補間するデータを選択する。【選択図】図１
2009076964.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像センサの欠陥画素が出力する欠陥画素データを補正する、画像センサの欠陥補正回路において、
補正対象欠陥画素の外側の複数の所定画素のブロックであって前記補正対象欠陥画素の上下、左右、右上、右下、左上、左下の位置にある画素を含む各ブロックにおいてそれぞれ、上下方向、左右方向、斜め方向のエッジ、及び前記エッジを有する画像パターンを検出するエッジ及び画像パターン検出手段と、
前記補正対象欠陥画素の位置と、前記エッジ及び画像パターンにより検出された前記エッジ及び画像パターンとに基づいて、前記補正対象欠陥画素の周囲の複数の画素のデータの１つを選択し、前記補正対象欠陥画素のデータと置換する手段とを、
備えたことを特徴とする画像センサの欠陥補正回路。
【請求項２】
画像センサの欠陥画素が出力する欠陥画素データを補正する、画像センサの欠陥補正回路において、
前記画像センサの欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された各欠陥画素の位置に基づいて、補正対象欠陥画素の左右画素の両方が欠陥画素でない場合に前記左右画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出し、前記補正対象欠陥画素の上下画素の両方が欠陥画素でない場合に前記上下画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出し、前記補正対象欠陥画素の左右画素の１つ又は両方が欠陥画素であり、かつ前記補正対象欠陥画素の上下画素の１つ又は両方が欠陥画素である場合に、前記補正対象欠陥画素の斜め画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出し、前記斜め画素が欠陥画素である場合にはその外側の正常画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出して、前記補正対象欠陥画素のデータと置換する手段とを、
備えたことを特徴とする画像センサの欠陥補正回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＣＤ（Charge  Coupled  Device）センサ、ＣＭＯＳ（Complementary  Metal  Oxide  Semiconductor）センサなどの画像センサの欠陥画素が出力する欠陥画素データを補正する、画像センサの欠陥補正回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＣＤセンサ、ＣＭＯＳセンサなどの画像センサでは、例えば下記の特許文献１に記載されているように、被写体に関係なく常に白点となる白欠陥（以下、キズとも記す）画素や、常に黒点となる黒キズ画素が発生するので、キズ画素により撮像された画像データは使用することができない。従来、キズ画素により撮像された画像データを補正（補間）する場合には、補正対象キズ画素の周囲の画素を参考にして直線補間を行ってきた。また、その参考する画素は、固定であって補正対象キズ画素の水平方向の両隣、あるいは上下で隣り合う画素が一般的である。
図１６（ａ）は補正対象キズ画素（画素値ｂ1）の水平方向の両隣の画素（画素値ｂ0、ｂ2）を使用する左右補間方式を示し、補正対象キズ画素の値ｂ1は
ｂ1＝（ｂ0＋ｂ2）／２
で、図１６（ｃ）のように直線補間される。
また、図１６（ｂ）は補正対象キズ画素（画素値ｂ1）の上下で隣り合う画素（画素値ａ1、ｃ1）を使用する上下補間方式を示し、補正対象キズ画素の値ｂ1は
ｂ1＝（ａ1＋ｃ1）／２
で、図１６（ｃ）のように直線補間される。
【特許文献１】特開２００１−１２８０６８号公報（段落０００４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
＜課題１＞
しかしながら、上記従来技術では、キズ画素値を強制的に隣接画素の直線補間値で補正をするため、キズ画素が微妙な画柄（レベルの急激な変化点や極めて面積の小さいドットの中にある場合等）である場合、本来のデータレベルとはかけ離れた値のデータに置換されてしまうという問題点がある。また、ランダムデータで周波数が高いような画であれば置換するデータが少々違う場合でも特に不具合は、視覚上感じられないが、静止画に近くかつ周波数が比較的低い画でのエッジ部分に従来の処理を行うと、擬似信号的なドットになったり、時にはちらちらと点滅するようなドットになるという問題点がある。また、参考画素のレベル（画素平均、最大・最小平均など）で画柄を判別しようとした場合、参考画素のサンプル数が少ないと、注目画素が画柄の変化点に掛かってるか、掛かってないかを把握するのが難しく、正確なパターンを把握できない。
【０００４】
＜課題２＞
ＣＣＤセンサの場合はキズ画素が少なく、キズ画素が左右方向、上下方向に連続することが稀であり、仮に左右方向に連続したキズ画素が有れば参考画素を上下方向に、また、上下方向に連続したキズ画素が有れば参考画素を左右方向にと、設定をセット単体で製造ラインにおいて切り替えればほぼ解決できる。一方、ＣＭＯＳセンサはＣＣＤセンサに比べ、白キズ・黒キズ画素ともその個数が格段に多いのが特徴である。このため、キズ画素を補間するための左右（あるいは上下）の参考画素もキズ画素である確率が増えることとなり、上下、左右どちらにもキズ画素があることも大いに考えられる。したがって、上記の従来の方法では、キズ画素を補間するための上下・左右どちらの参考画素も使えないという問題点があり、また、使ってしまった場合は、補間後の画質が低下するという問題点がある。
【０００５】
本発明は上記の課題１に鑑み、欠陥画素により撮像された画像データを図柄の変化点に応じて補正（補間）することができる画像センサの欠陥補正回路を提供することを目的とする。
また、本発明は上記の課題２に鑑み、欠陥画素が左右方向、上下方向に連続する場合にも欠陥画素により撮像された画像データを補正（補間）することができる画像センサの欠陥補正回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は上記目的を達成するために、画像センサの欠陥画素が出力する欠陥画素データを補正する、画像センサの欠陥補正回路において、
補正対象欠陥画素の外側の複数の所定画素のブロックであって前記補正対象欠陥画素の上下、左右、右上、右下、左上、左下の位置にある画素を含む各ブロックにおいてそれぞれ、上下方向、左右方向、斜め方向のエッジ、及び前記エッジを有する画像パターンを検出するエッジ及び画像パターン検出手段と、
前記補正対象欠陥画素の位置と、前記エッジ及び画像パターンにより検出された前記エッジ及び画像パターンとに基づいて、前記補正対象欠陥画素の周囲の複数の画素のデータの１つを選択し、前記補正対象欠陥画素のデータと置換する手段とを、
備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、本発明は上記目的を達成するために、画像センサの欠陥画素が出力する欠陥画素データを補正する、画像センサの欠陥補正回路において、
前記画像センサの欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された各欠陥画素の位置に基づいて、補正対象欠陥画素の左右画素の両方が欠陥画素でない場合に前記左右画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出し、前記補正対象欠陥画素の上下画素の両方が欠陥画素でない場合に前記上下画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出し、前記補正対象欠陥画素の左右画素の１つ又は両方が欠陥画素であり、かつ前記補正対象欠陥画素の上下画素の１つ又は両方が欠陥画素である場合に、前記補正対象欠陥画素の斜め画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出し、前記斜め画素が欠陥画素である場合にはその外側の正常画素の各データから前記補正対象欠陥画素の補間データを算出して、前記補正対象欠陥画素のデータと置換する手段とを、
備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、欠陥画素の外側の複数の所定画素のブロックであって前記補正対象欠陥画素の上下、左右、右上、右下、左上、左下の位置にある画素を含む各ブロックにおいてそれぞれ、上下方向、左右方向、斜め方向のエッジ、及び前記エッジを有する画像パターンを検出して、欠陥画素の周囲の複数の画素のデータの１つから、欠陥画素を補間する画素のデータを選択して欠陥画素と置換するので、欠陥画素により撮像された画像データを図柄の変化点に応じて補正（補間）することができる。
また本発明によれば、補正対象欠陥画素の左右画素の１つ又は両方が欠陥画素であり、かつ補正対象欠陥画素の上下画素の１つ又は両方が欠陥画素である場合に、補正対象欠陥画素の斜め画素の各データから補正対象欠陥画素の補間データを算出し、さらに斜め画素が欠陥画素である場合にはその外側の正常画素の各データから補正対象欠陥画素の補間データを算出して、補正対象欠陥画素と置換するので、欠陥画素が左右方向、上下方向に連続する場合にも欠陥画素により撮像された画像データを補正（補間）することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
＜第１の実施の形態＞
第１の実施の形態では、補正対象の画像の周辺を数ブロックに分け、その各々のブロックでの画柄の変化状態を検出し、その各ブロックの検出結果を持ち寄り、それの結果より最適な補間画素を求める方法である。特に画の変化点（エッジ）を検出し、それを基に画柄のパターンを推測する。従来の各ブロック間のレベルの違いを求めて画パターンを得る方法ではなく、各ブロック内で画パターン（主に大きな変化点）をそれぞれ算出するところが大きな違いである。
【００１０】
図１は本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第１の実施の形態を示す説明図、図２は本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第１の実施の形態を示すブロック図である。補正方法を簡単に説明すると、
１．図１及び以下のように補正対象の注目画素（画素値ｄ3）の周りの７×７画素を参考画素とする。以下、注目画素の参照符号とその値の参照符号については、同じ参照符号を用いる。
【数１】
2009076964.tif 000003
【００１１】
２．エッジ検出及びパターン算出部１及び画パターン演算部２で、周りの参考画素を使ってその部分の画柄のパターン（変化点状況）を解析する。このとき、７×７画素のブロックを、以下のように隣接画素が重複した３×３画素ごとに、中心ブロックＱ０に対して上下、左右、右上、右下、左上、左下の８つの小ブロックＱ１〜Ｑ８に分割し、小ブロックＱ１〜Ｑ８のそれぞれについて演算する。
【数２】
2009076964.tif 000004
【００１２】
【数３】
2009076964.tif 000005
【００１３】
【数４】
2009076964.tif 000006
【００１４】
３．８つの小ブロックＱ１〜Ｑ８より絵柄パターンが判明したら、補間画素演算部３で、中心ブロックＱ０の８つの参考画素
【数５】
2009076964.tif 000007
から、１番適した補間データｄ3'を作る。
４．セレクタ４及び置換信号で、補正対象の注目画素（キズ画素）ｄ3をその補間データｄ3'と置換する。
【００１５】
以下に詳しく説明する。エッジ検出及びパターン算出部１では、各々３×３画素の小ブロックＱ１〜Ｑ８をあるスレッシュ値により二値化し、それぞれが二値の画柄パターンのいずれかかを算出する。まず、図３に示す画柄の二値の１０パターン<1>〜<10>を使用して、中心ブロックＱ０の上下左右の小ブロックＱ２、Ｑ４、Ｑ５、Ｑ７について、それぞれ上、下、左、右に変化するパターンを優先で検出する。次に図４に示す画柄の二値の１８パターン<1>〜<13>、<14>〜<19>を使用して、中心ブロックＱ０の斜め方向の小ブロックＱ１、Ｑ３、Ｑ６、Ｑ８について斜め方向に変化するパターンを検出する。
【００１６】
図５は画パターン演算部２を詳しく示すブロック図である。画パターン演算部２では、エッジ検出及びパターン算出部１により算出された小ブロックＱ１〜Ｑ８の画パターンを元にキズ画素ｄ3の周りの画柄を算出する。変化位置判別部２１−２及び変化パターン判別部２２−２は、上下左右の小ブロックＱ２、Ｑ４、Ｑ５、Ｑ７のそれぞれに対して設けられ、縦横の変化位置（４種類）と変化位置の上下又は左右どちらが白あるいは黒か（２種類）を判別して、小ブロックＱ２、Ｑ４、Ｑ５、Ｑ７が図３に示す８種類のパターン<3>〜<10>の内、どれか１種類であるかを決定する。
また、変化位置判別部２１−１及び変化パターン判別部２２−１は、斜め方向の小ブロックＱ１、Ｑ３、Ｑ６、Ｑ８のそれぞれに対して設けられ、斜めの変化位置（８種類）と変化位置を境にどちらが白あるいは黒か（２種類）を判別して、図４に示す１６種類のパターン<3>〜<13>、<14>〜<19>の内、どれか１種類であるかを決定する。
【００１７】
変化位置・画パターン算出部２３は、変化位置判別部２１−２、２１−１及び変化パターン判別部２２−２、２２−１によりそれぞれ判定された変化位置及びパターン種別に基づいて、図６に示す２１種類の位置検出パターン<1>〜<21>のうち、どれに該当するかを判別し、その結果を補間画素演算部３に送る。ここで、図６に示す位置検出パターン<1>〜<21>は、白・黒反転の場合もあるので４２パターンになるが、変化点（エッジ）検出としては２１パターンである。
【００１８】
補間画素演算部３では、図５に示す画パターン演算部２の変化位置・画パターン算出部２３により判別された位置検出パターン<1>〜<21>に応じて、キズ画素ｄ3周辺の８つの参考画素ｃ2，ｃ3，ｃ4，ｄ2，ｄ4，ｅ2，ｅ3，ｅ4から、キズ画素ｄ3を置換するのに最も適した補間画素データｄ3'を演算する。セレクタ４では、置換信号がＯＮの場合には補間画素データｄ3'とキズ画素ｄ3の入れ替えを行い、置換信号がＯＦＦの場合は、キズ画素ｄ3をそのまま出力する。
【００１９】
図７は補間画素演算部３を詳しく示すブロック図である。パターンデコード回路３１は、位置検出パターン<1>〜<21>を、参考画素ｃ2，ｃ3，ｃ4，ｄ2，ｄ4，ｅ2，ｅ3，ｅ4の画素データを使用／不使用とするスイッチ群３２（ＳＷ１〜ＳＷ８）のＯＮ／ＯＦＦ信号にデコードする。重み付け回路３３は、ＳＷ１〜ＳＷ８の出力する画素値ｃ2，ｃ3，ｃ4，ｄ2，ｄ4，ｅ2，ｅ3，ｅ4ごとに重み付けの演算を行う。例えば、キズ画素ｄ3の上下左右の画素ｃ3，ｄ2，ｄ4，ｅ3は重み付け大、斜めの画素ｃ2，ｃ4，ｅ2，ｅ4は重み付け小とする。加算部（Σ）３４は重み付け回路３３の各演算結果を加算し、除算部３５は加算部（Σ）３４の演算結果を、参考画素ｃ2，ｃ3，ｃ4，ｄ2，ｄ4，ｅ2，ｅ3，ｅ4のうち、使用した画素の総数ｎで割ることにより補間画素データｄ3'の値を算出して、図２のセレクタ４に出力する。
【００２０】
図８は第１の実施の形態を従来技術と比較した一例を示す説明図である。図８（ａ）は原画像の一例を示し、７×７画素のブロックにおいてキズ画素ｄ3の左上の、キズ画素ｄ3を含む４×４画素がすべて黒画素（０％）、それ以外がすべて白画素（１００％）である。図８（ｂ）は図８（ａ）に示す原画像を従来の直線補間で補間した場合を示し、補間画素データｄ3'は、左右の画素ｄ2，ｄ4又は上下の画素ｃ3，ｅ3を参考画素とすると５０％グレーとなり、８画素ｃ2，ｃ3，ｃ4，ｄ2，ｄ4，ｅ2，ｅ3，ｅ4のすべてを参考画素とすると６２．５％グレーとなる。このため、キズ画素ｄ3のデータは本来、黒画素（０％）であるにもかかわらずグレーとなるので、エッジがぼけることになる。
【００２１】
これに対し、図８（ｃ）は図８（ａ）に示す原画像を第１の実施の形態で補間した場合を示す。この原画像の場合には、まず、キズ画素ｄ3の上ブロックＱ２と左ブロックＱ４のみで変化点を検出する。他のブロックＱ１、Ｑ３、Ｑ５〜８では均一レベルで変化点がないとみなし、演算に含まない。次に、変化点があるブロックＱ２、Ｑ４からその変化点位置を算出し、その変化点位置より、矢印で示すように中心ブロックＱ０においてキズ画素ｄ3の上方向、左方向のデータを使用した方がよいことを類推する。そして、このデータを使用してキズ画素ｄ3を補間すると、補間画素データｄ3'は黒画素（０％）となるので、エッジがシャープになる。
【００２２】
図９は第１の実施の形態を従来技術と比較した他の例を示す説明図である。図９（ａ）は原画像の一例を示し、７×７画素のブロックにおいてキズ画素ｄ3より斜め左上の画素がすべて黒画素（０％）、それ以外が白画素（１００％）である。図９（ｂ）は図９（ａ）に示す原画像を従来の直線補間で補間した場合を示し、補間画素データｄ3'は図８と同様に、左右の画素ｄ2，ｄ4又は上下の画素ｃ3，ｅ3を参考画素とすると５０％グレーとなり、８画素ｃ2，ｃ3，ｃ4，ｄ2，ｄ4，ｅ2，ｅ3，ｅ4のすべてを参考画素とすると６２．５％グレーとなる。このため、キズ画素ｄ3のデータは本来、白画素（１００％）であるにもかかわらずグレーとなるので、エッジがぼけることになる。
【００２３】
これに対し、図９（ｃ）は図９（ａ）に示す原画像を第１の実施の形態で補間した場合を示す。この原画像の場合には、まず、キズ画素ｄ3の上ブロックＱ２と、右上ブロックＱ３と、左ブロックＱ４と左下ブロックＱ６で変化点を検出する。他のブロックＱ１、Ｑ５、Ｑ７、Ｑ８では均一レベルで変化点がないとみなし、演算に含まない。次に、変化点があるブロックＱ２、Ｑ３、Ｑ４、Ｑ６からその変化点位置を算出し、その変化点位置より、矢印で示すように中心ブロックＱ０においてキズ画素ｄ3の右下方向のデータを使用した方がよいことを類推する。そして、このデータを使用してキズ画素ｄ3を補間すると、補間画素データｄ3'は白画素（１００％）となるので、エッジがシャープになる。
【００２４】
＜第２の実施の形態＞
図１０は本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第２の実施の形態を説明するためのフローチャート、図１１は本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第２の実施の形態の要部を示すブロック図である。
【００２５】
図１０において、まず、キズ補正対象画素の隣接左右画素の両方がキズ画素でない場合（ステップＳ１でＮｏ）、ステップＳ４において従来の上下左右方式の左右画素を参照画素（補間画素）として選択し、続くステップＳ５では図１６（ａ）に示した左右補間（キズ画素を補間画素に置換）による補正を行う。キズ補正対象画素の隣接上下画素の両方がキズ画素でない場合（ステップＳ２でＮｏ）、ステップＳ４において従来の上下左右方式の上下画素を参照画素（補間画素）として選択し、続くステップＳ５では図１６（ｂ）に示した上下補間（キズ画素を補間画素に置換）による補正を行う。また、キズ補正対象画素の隣接左右画素の１つ又は両方がキズ画素であり（ステップＳ１でＹｅｓ）、かつキズ補正対象画素の上下画素の１つ又は両方がキズ画素である場合（ステップＳ２でＹｅｓ）には、続くステップＳ３において補正対象キズ画素の斜め画素を参照画素（補間画素）として選択し、続くステップＳ５では、斜め補間（キズ画素を補間画素に置換）による補正を行い、さらに斜め画素がキズ画素である場合にはその外側の正常画素で補正を行う。これは従来のように参照画素が固定ではなく、参考画素のキズ画素の現れ方で参考画素を可変的に変更して補正する方法である。
【００２６】
図１１はステップＳ３の処理を実行する構成を示す。キズ座標記憶装置１０１には、補正対象のＣＣＤセンサ、ＣＭＯＳセンサなどの画像センサのどの画素がキズか否かを示すキズ座標があらかじめ記憶されている。注目画素キズ判別部１０２は、キズ座標記憶装置１０１に記憶されているキズ座標に基づいて注目画素がキズ画素か否かを判別し、キズ画素でない場合には画像センサの出力を選択する置換判別信号（ｎｏ）を、キズ画素の場合には置換データを選択する置換判別信号（ｙｅｓ）を置換回路（セレクタ）１０５に出力する。また、隣接画素キズ判別回路１０３及び置換画素演算回路１０４は、キズ座標記憶装置１０１に記憶されているキズ座標に基づいて注目画素の隣接画素がキズか否かを判別して、キズでない隣接画素のデータを使用して置換データを演算し、置換回路（セレクタ）１０５に出力する。
【００２７】
（１）図１２は画像センサの画素配置の一例として、３ＣＣＤセンサ（各色が独立）の画素配置を示し、ＲＧＢの各画素ともに
【数６】
2009076964.tif 000008
の３×３画素を１ブロックとして中心のキズ補正対象画素ｂ1を補間する。
【００２８】
（１−１）補正対象キズ画素ｂ1の左右画素ｂ0、ｂ2の１つ又は両方がキズ画素であり、かつ補正対象キズ画素ｂ1の上下画素ａ1、ｃ1の１つ又は両方がキズ画素である場合には、図１３（ａ）に示すように正常な斜め画素ａ0、ａ2、ｃ0、ｃ2で以下式（１−１）のように補正対象キズ画素ｂ1を補間する。
【数７】
2009076964.tif 000009
【００２９】
（１−２）また、補正対象キズ画素ｂ1の左右画素ｂ0、ｂ2、上下画素ａ1、ｃ1のいずれかにキズがある場合に、その補正対象キズ画素ｂ1に近い（かつ正常な）斜め画素ａ0、ａ2、ｃ0、ｃ2を代わりに参照画素として使用する。図１３（ｂ）は一例として、キズ画素（図の×）が右画素ｂ2と下画素ｃ1であるので、正常な上画素ａ1、左画素ｂ0はそのまま使用し、キズ画素ｂ2、ｃ1の代わりにそれぞれ右下画素ｃ2、左下画素ｃ0を使用する。また、以下の式（１−２）のように上画素ａ1、左画素ｂ0より遠い斜め画素ｃ0、ｃ2には重み付けを行い、また、２個の斜め画素ｃ0、ｃ2を使用した分の重み付け（係数ｋ／４）を行って、補正対象キズ画素ｂ1を補間する。
【００３０】
【数８】
2009076964.tif 000010
【００３１】
（１−３）図１３（ｃ）は他の例として、補正対象キズ画素ｂ1の回りの８画素のうち、正常な画素は３画素（上画素ａ1、左画素ｂ0、右下画素ｃ2）しかない場合を示す。この場合には、３画素ａ1、ｂ0、ｃ2のみを使用し、また、以下の式（１−３）のように上画素ａ1、左画素ｂ0より遠い斜め画素ｃ2には重み付けを行い、また、１個の斜め画素ｃ2を使用した分の重み付け（係数ｋ／３）を行って、補正対象キズ画素ｂ1を補間する。
【００３２】
【数９】
2009076964.tif 000011
【００３３】
（２）図１４は画像センサの画素配置の他の例として、一般的なベイヤー配列の場合のＧ画素の配置を示し、
【数１０】
2009076964.tif 000012
の５×５画素を用いて中心の補正対象キズ画素ｃ2を補間する。
【００３４】
（２−１）ここで、補正対象キズ画素ｃ2を斜め画素で補間する場合には、基本的には図１５（ａ）に示すように
【数１１】
2009076964.tif 000013
の３×３画素において、補正対象キズ画素ｃ2の左右画素ｃ1、ｃ3、上下画素ｂ2、ｄ2のいずれかにキズがある場合に、代わりにその補正対象キズ画素ｃ2の斜め（かつ正常な）画素ｂ1、ｂ3、ｄ1、ｄ3を参照画素として使用し、以下の式（２−１）のように補正対象キズ画素ｃ2を補間する。
【数１２】
2009076964.tif 000014
【００３５】
（２−２）そして、その補正対象キズ画素ｃ2の斜め画素ｂ1、ｂ3、ｄ1、ｄ3にもキズがある場合には、上記の３×３画素の外側の画素を参照画素として使用する。図１５（ｂ）はその一例を示し、左上画素ｂ1と左下画素ｄ1にキズがある場合には画素ｂ1、ｄ1の代わりに、左画素ｃ1より１つ左の画素ｃ0を参照画素として使用し、以下の式（２−２）のようにキズ補正対象画素ｃ2を補間する。
【００３６】
【数１３】
2009076964.tif 000015
【００３７】
（２−３）図１５（ｃ）は他の例として、左上画素ｂ1と、右上画素ｂ3と左下画素ｄ1とにキズがある場合を示す。この場合には、これらのキズ画素ｂ1、ｂ3、ｄ1の代わりに、外側であって方向が近い画素ａ0、ａ2、ｃ0を参照画素として使用し、以下の式（２−３）のように補正対象キズ画素ｃ2を補間する。定数ｋは、縦横に加え斜めの画素をそれぞれ重み漬けするため、本来よりも値が少なく出る傾向を補正するための補正値である。
【００３８】
【数１４】
2009076964.tif 000016
【００３９】
上記のように、左右又は上下の画素がキズ画素で使えない場合、斜め方向の画素に、注目画素からの距離に応じて重み付けすることにより、キズが多い場合でも残りの正常な画素で補正が行える。上記の例では、左右又は上下の画素の重み付けを１とした場合、斜め方向の画素は  
【００４０】
【数１５】
2009076964.tif 000017
【００４１】
としているが、斜め方向の重み付けの値は、センサの画素配列で変わる。したがって、キズ補正後の画質が向上し、また、隣接の左右又は上下画素にキズが無いセンサを選択する作業を省くことによるコストダウンが図れる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第１の実施の形態を示す説明図である。
【図２】本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第１の実施の形態を示すブロック図である。
【図３】上下方向及び左右方向のエッジ及び画像パターンを示す説明図である。
【図４】斜め方向のエッジ及び画像パターンを示す説明図である。
【図５】図２の画パターン演算部を詳しく示すブロック図である。
【図６】図５の変化位置・画パターン算出部の処理を示す説明図である。
【図７】図２の補間画素演算部を詳しく示すブロック図である。
【図８】第１の実施の形態の処理の一例を従来技術と比較して示す説明図である。
【図９】第１の実施の形態の処理の他の例を従来技術と比較して示す説明図である。
【図１０】本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第２の実施の形態を説明するためのフローチャートである。
【図１１】本発明に係る画像センサのキズ補正回路の第２の実施の形態の要部を示すブロック図である。
【図１２】画像センサの画素配置例を示す説明図である。
【図１３】図１２に示す画素配置における補間データ算出処理を示す説明図である。
【図１４】画像センサの画素配置の他の例を示す説明図である。
【図１５】図１４に示す画素配置における補間データ算出処理を示す説明図である。
【図１６】従来の補間データ算出処理を示す説明図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  エッジ検出及びパターン算出部
２  画パターン演算部
３  補間画素演算部
４  セレクタ
１０１  キズ座標記憶装置
１０２  注目画素キズ判別部
１０３  隣接画素キズ判別部
１０４  置換画素演算回路
１０５  置換回路（セレクタ）
【図１】
2009076964.tif 000018
【図２】
2009076964.tif 000019
【図３】
2009076964.tif 000020
【図４】
2009076964.tif 000021
【図５】
2009076964.tif 000022
【図６】
2009076964.tif 000023
【図７】
2009076964.tif 000024
【図８】
2009076964.tif 000025
【図９】
2009076964.tif 000026
【図１０】
2009076964.tif 000027
【図１１】
2009076964.tif 000028
【図１２】
2009076964.tif 000029
【図１３】
2009076964.tif 000030
【図１４】
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【図１５】
2009076964.tif 000032
【図１６】
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