(57)【要約】【課題】測定対象回路のインピーダンスを正確に測定する。【解決手段】注入クランプ部１１でクランプされた配線に検査用電圧Ｖｘを注入するための交流信号Ｓ１を生成する電圧生成部５１と、検出クランプ部２１の巻線２３に流れる検出電流Ｉｄを測定する電流測定部５２と、抵抗Ｒ１が既知のキャリブレーション回路４１の配線４２が両クランプ部１１，２１でクランプされて検査用電圧Ｖｘが注入されている状態において、電流測定部５２で測定された検出電流Ｉｄの第１電流値Ｉｄ１および抵抗Ｒ１の乗算値を算出して基礎値Ｄｂとして記憶し、測定対象回路５の配線５ａが両クランプ部１１，２１でクランプされて検査用電圧Ｖｘが注入されている状態において、電流測定部５２によって測定される検出電流Ｉｄの第２電流値Ｉｄ２で基礎値Ｄｂを除算して測定対象回路５の抵抗Ｒｘを算出する処理部５４とを備えている。【選択図】図１
2009139205.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
配線をクランプ可能に構成されると共に、当該配線をクランプした状態において当該配線が貫通される第１環状コアおよび当該第１環状コアに巻回された第１巻線を有する注入クランプ部と、
前記第１巻線を介して前記配線に検査用電圧として注入される交流電圧を生成する電圧生成部と、
前記配線をクランプ可能に構成されると共に、当該配線をクランプした状態において当該配線が貫通される第２環状コアおよび当該第２環状コアに巻回された第２巻線を有する検出クランプ部と、
前記検査用電圧の注入状態において前記第２巻線に流れる検出電流の電流値を測定する電流測定部と、
回路インピーダンスが既知のキャリブレーション回路の一部を構成する配線が前記注入クランプ部および前記検出クランプ部によってクランプされ、かつ当該注入クランプ部を介して当該キャリブレーション回路に前記検査用電圧が注入されている状態において前記電流測定部によって測定される第１電流値と前記回路インピーダンスとの乗算値を算出して基礎値として記憶するキャリブレーション処理、および測定対象回路の一部を構成する配線が前記注入クランプ部および前記検出クランプ部によってクランプされ、かつ当該注入クランプ部を介して当該測定対象回路に前記検査用電圧が注入されている状態において当該電流測定部によって測定される第２電流値で前記基礎値を除算して当該測定対象回路のインピーダンスを算出するインピーダンス測定処理を実行する処理部とを備えているインピーダンス測定装置。
【請求項２】
前記キャリブレーション回路を備えている請求項１記載のインピーダンス測定装置。
【請求項３】
前記キャリブレーション回路は、当該キャリブレーション回路を閉路状態および開路状態のいずれか一方に選択的に移行させる切替回路を備えて構成されると共に、当該キャリブレーション回路の前記配線は、前記注入クランプ部の前記第１環状コア内および前記検出クランプ部の前記第２環状コア内を貫通した状態で配設されている請求項２記載のインピーダンス測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象回路のインピーダンスを測定するインピーダンス測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のインピーダンス測定装置として、下記の特許文献１に開示された抵抗測定装置が知られている。この抵抗測定装置は、測定回路網の接続導線をクリップして測定回路網（測定対象）に流れる第１周波数の電流と弁別し得る第２周波数の電流を測定回路網に注入する注入用変成器と、測定回路網に流れている上記の２種類の電流を接続導線にクリップして検出する検出用変成器と、検出用変成器の出力のうち第２周波数の成分を取り出す周波数選択回路と、周波数選択回路の出力を表示する表示手段を具備し、さらに、注入用変成器は、発振器の出力電圧が与えられて第２周波数の電流を測定回路網に注入する注入コイル、および帰還コイルを有し、帰還コイルに誘起する電圧が一定値に制御されるように注入コイルに供給される電圧を可変するようにした帰還ループを備えて構成されている。この抵抗測定装置では、帰還コイルに誘起する電圧を測定回路網の接続導線数（クリップされる本数。１本）に対する帰還コイルの巻線数の比で除算して得られる注入電圧についても一定値に制御されるため、検出用変成器に流れる電流に起因してこの検出用変成器に接続された抵抗に発生する電圧を検出することにより、この検出用変成器に接続された抵抗の抵抗値、この抵抗に発生する電圧、帰還コイルに発生する電圧、注入用変成器の巻数および検出用変成器の巻数に基づいて、測定回路網に接続された抵抗素子の値（被測定抵抗）を測定することが可能となっている。
【特許文献１】特公平２−７０３１号公報（第１−４頁、第２図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記の抵抗測定装置には、以下の問題点が存在する。すなわち、この抵抗測定装置においても、検出用変成器に接続された抵抗に発生する電圧を測定する測定回路（検出用変成器に流れる電流を測定しているとも言えるため、電流の測定回路を採用する構成では電流測定回路）自体に測定誤差（例えば、測定された値Ｘに対して０．０５％の誤差（Ｘ×０．０５／１００））が存在するときには、この誤差の影響により、測定回路網に接続された抵抗素子の値を正確に測定できないという問題点が存在している。
【０００４】
本発明は、かかる問題点を解決すべくなされたものであり、測定対象回路のインピーダンスを正確に測定し得るインピーダンス測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載のインピーダンス測定装置は、配線をクランプ可能に構成されると共に、当該配線をクランプした状態において当該配線が貫通される第１環状コアおよび当該第１環状コアに巻回された第１巻線を有する注入クランプ部と、前記第１巻線を介して前記配線に検査用電圧として注入される交流電圧を生成する電圧生成部と、前記配線をクランプ可能に構成されると共に、当該配線をクランプした状態において当該配線が貫通される第２環状コアおよび当該第２環状コアに巻回された第２巻線を有する検出クランプ部と、前記検査用電圧の注入状態において前記第２巻線に流れる検出電流の電流値を測定する電流測定部と、回路インピーダンスが既知のキャリブレーション回路の一部を構成する配線が前記注入クランプ部および前記検出クランプ部によってクランプされ、かつ当該注入クランプ部を介して当該キャリブレーション回路に前記検査用電圧が注入されている状態において前記電流測定部によって測定される第１電流値と前記回路インピーダンスとの乗算値を算出して基礎値として記憶するキャリブレーション処理、および測定対象回路の一部を構成する配線が前記注入クランプ部および前記検出クランプ部によってクランプされ、かつ当該注入クランプ部を介して当該測定対象回路に前記検査用電圧が注入されている状態において当該電流測定部によって測定される第２電流値で前記基礎値を除算して当該測定対象回路のインピーダンスを算出するインピーダンス測定処理を実行する処理部とを備えている。
【０００６】
また、請求項２記載のインピーダンス測定装置は、請求項１記載のインピーダンス測定装置において、前記キャリブレーション回路を備えている。
【０００７】
また、請求項３記載のインピーダンス測定装置は、請求項２記載のインピーダンス測定装置において、前記キャリブレーション回路は、当該キャリブレーション回路を閉路状態および開路状態のいずれか一方に選択的に移行させる切替回路を備えて構成されると共に、当該キャリブレーション回路の前記配線は、前記注入クランプ部の前記第１環状コア内および前記検出クランプ部の前記第２環状コア内を貫通した状態で配設されている。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１記載のインピーダンス測定装置では、処理部が、キャリブレーション処理を実行して、キャリブレーション回路に検査用電圧が注入されている状態において電流測定部によって測定される第１電流値と回路インピーダンス（既知）との乗算値を算出して基礎値として記憶し、インピーダンス測定処理を実行して、測定対象回路に検査用電圧が注入されている状態において電流測定部によって測定される第２電流値で基礎値を除算して測定対象回路のインピーダンスを算出する。したがって、このインピーダンス測定装置によれば、実際に注入クランプ部から測定対象回路に注入される検査用電圧が未知の状態であっても、測定対象回路のインピーダンスを測定することができると共に、このインピーダンスの測定に際して、キャリブレーション処理において電流測定部によって測定された第１電流値をインピーダンス測定処理において電流測定部によって測定された第２電流値で除算しているため、電流測定部で発生する測定誤差をキャンセルすることができる結果、測定対象回路のインピーダンスを正確に算出（測定）することができる。
【０００９】
また、請求項２記載のインピーダンス測定装置によれば、キャリブレーション回路を備えていることにより、キャリブレーション回路を用意する手間を省くことができ、これによってキャリブレーション処理を必要なときにいつでも実施して基礎値を更新することができるため、注入クランプ部や検出クランプ部の第１環状コアや第２環状コアの電気的特性が経年変化した場合においても、測定対象回路のインピーダンスを正確に算出（測定）することができる。
【００１０】
また、請求項３記載のインピーダンス測定装置によれば、キャリブレーション回路が、この回路を閉路状態および開路状態のいずれか一方に選択的に移行させる切替回路を備えて構成されると共に、キャリブレーション回路の一部を構成する配線が注入クランプ部の第１環状コア内および検出クランプ部の第２環状コア内を貫通した状態で配設されているため、クランプ部を閉状態とし、かつ切替回路を閉状態とするだけでキャリブレーション処理を実施することができる。このため、キャリブレーション処理をより一層容易に実施することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係るインピーダンス測定装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１２】
最初に、本発明に係るインピーダンス測定装置の一例である抵抗測定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１３】
図１に示す抵抗測定装置１は、クランプ部２、およびクランプ部２とケーブル３を介して接続された装置本体部４を備え、測定対象回路５のインピーダンス（本例では一例として抵抗（ループ抵抗）Ｒｘ）を測定可能に構成されている。
【００１４】
クランプ部２は、図１に示すように、注入クランプ部１１、検出クランプ部２１、ハウジング３１、および後述するキャリブレーション回路４１の一部を構成する配線４２を備えて構成されている。一例として、本例では、注入クランプ部１１は、２つに分割された第１環状コア１２、および第１環状コア１２に巻回された第１巻線１３（既知のターン数：Ｎ１）を有している。また、検出クランプ部２１は、２つに分割された第２環状コア２２、および第２環状コア２２に巻回された第２巻線２３（既知のターン数：Ｎ２）を有している。また、注入クランプ部１１および検出クランプ部２１は、先端が開閉自在なクランプ型の樹脂製ハウジング３１に共に収容されて、このハウジング３１の開閉動作に伴い、それぞれの第１環状コア１２および第２環状コア２２が同時に開閉するように構成されている。この構成により、ハウジング３１を開状態としてその内側に測定対象回路５の一部を構成する配線５ａを導入することで、開状態となった第１環状コア１２および第２環状コア２２のそれぞれの内側にも配線５ａが導入され、この状態においてハウジング３１を閉状態とすることで、閉状態となった第１環状コア１２および第２環状コア２２によって配線５ａが同時にクランプされた状態、すなわちクランプ部２によって配線５ａがクランプされた状態となる。
【００１５】
また、ハウジング３１内には、図１に示すように、配線４２が、第１環状コア１２および第２環状コア２２を貫通した状態で配設されている。このため、ハウジング３１が閉状態となったときには、それに伴い閉状態となる第１環状コア１２および第２環状コア２２によって配線４２がクランプされた状態（言い換えれば、第１環状コア１２および第２環状コア２２が配線４２に外嵌された状態）となる。なお、このクランプ状態では、配線４２は、第１環状コア１２および第２環状コア２２に対して１ターンの巻線として機能する。この場合、第１環状コア１２および第２環状コア２２での配線４２の各ターン数は、１ターンに限定されないが、互いに同じターン数となるように規定する。
【００１６】
装置本体部４は、キャリブレーション回路４１、電圧生成部５１、電流測定部５２、操作部５３、処理部５４、記憶部５５および表示部５６を備えている。
【００１７】
キャリブレーション回路４１は、クランプ部２内に配設された配線４２、装置本体部４に配設されたスイッチ４３（本発明における切替回路の一例）および抵抗４４（抵抗値Ｒ１は既知）を備え、これらがケーブル３内の接続配線３ａ，３ａを介して互いに直列に接続されて閉ループとなるように構成されている。本例では、スイッチ４３は、装置本体部４の表面に配設されて、装置本体部４の外部から操作可能となっている。なお、このスイッチ４３に代えて、リレーや半導体スイッチで本発明における切替回路を構成することができる。また、本発明の理解を容易にするため、配線４２および接続配線３ａ，３ａの各抵抗値、並びにスイッチ４３の閉（オン）状態時の接触抵抗はゼロオームであるとする。したがって、キャリブレーション回路４１では、抵抗４４の抵抗値Ｒ１が回路インピーダンスとなっている。
【００１８】
電圧生成部５１は、処理部５４から制御信号Ｓｃを入力しているときに、振幅が一定（電圧Ｖ１）の交流電圧Ｓ１を生成して出力する。また、電圧生成部５１は、ケーブル３内の接続配線３ｂ，３ｂを介してクランプ部２内に配設された第１巻線１３に接続されている。この構成により、電圧生成部５１は、接続配線３ｂ，３ｂを介して第１巻線１３に交流電圧Ｓ１を印加することにより、測定対象回路５やキャリブレーション回路４１に注入クランプ部１１を介して検査用電圧Ｖｘを注入する。この場合、検査用電圧Ｖｘは、理論上は、クランプ部２でクランプされる配線（測定対象回路５の配線５ａやキャリブレーション回路４１の配線４２）のターン数Ｎ０（本例では１ターン）を第１巻線１３のターン数Ｎ１で除算して得られた値に交流電圧Ｓ１の電圧Ｖ１を乗算して得られる値（Ｎ０×Ｖ１／Ｎ１＝Ｖ１／Ｎ１）となるが、実際に注入される検査用電圧Ｖｘの電圧値は、第１環状コア１２の電気的特性や、第１環状コア１２に巻回された第１巻線１３および配線５ａ（または配線４２）の結合度合いによって変化するため、厳密には上記の理論値（Ｖ１／Ｎ１）と完全に一致したものとはならない。
【００１９】
電流測定部５２は、ケーブル３内の接続配線３ｃ，３ｃを介してクランプ部２内に配設された第２巻線２３に接続されて、検査用電圧Ｖｘの注入時において検出クランプ部２１に流れる検出電流Ｉｄ（具体的には検出クランプ部２１の第２巻線２３に流れる電流。本発明における検出電流）を測定する。また、電流測定部５２は、測定した検出電流Ｉｄの電流値を示す電流データＤｉを処理部５４に出力する。この場合、検出電流Ｉｄと、検査用電圧Ｖｘの印加に起因して配線５ａ（または配線４２）に流れる検査用電流Ｉｘとの間には、理論上、Ｉｄ＝Ｉｘ／Ｎ２の関係が成り立つが、第２環状コア２２の電気的特性や、第２環状コア２２に巻回された第２巻線２３および配線５ａ（または配線４２）の結合度合いによって変化するため、検出電流Ｉｄは、厳密には上記の理論値（Ｉｘ／Ｎ２）と完全に一致したものとはならない。
【００２０】
操作部５３は、キャリブレーション開始スイッチおよび測定開始スイッチ（不図示）を少なくとも備え、キャリブレーション開始スイッチが操作されたときにはキャリブレーション開始信号Ｓ２を処理部５４に対して出力し、測定開始スイッチが操作されたときには開始指示信号Ｓ３を処理部５４に対して出力する。処理部５４は、ＣＰＵ（図示せず）などを備えて構成されて、キャリブレーション開始信号Ｓ２を入力したときにキャリブレーション処理を実行し、開始指示信号Ｓ３を入力したときにインピーダンス測定処理（抵抗測定処理）を実行する。記憶部５５は、ＲＯＭやＲＡＭなどの半導体メモリで構成されて、ＣＰＵの動作プログラム、第１巻線１３および第２巻線２３の各ターン数Ｎ１，Ｎ２、並びに抵抗４４の抵抗値Ｒ１が予め記憶されている。また、記憶部５５は、処理部５４のワーキングメモリとしても機能する。表示部５６は、一例としてモニタ装置などで構成されて、抵抗測定処理の結果を表示する。
【００２１】
次に、抵抗測定装置１の動作について、図面を参照して説明する。
【００２２】
まず、抵抗測定装置１のキャリブレーション動作について説明する。このキャリブレーション動作は、スイッチ４３が閉（オン）状態（キャリブレーション回路４１が閉路状態）となり、かつクランプ部２が何もクランプしていない状態（配線４２を除く他の配線をクランプしていない状態）で閉状態となっているときに実行される。この状態において、操作部５３のキャリブレーション開始スイッチが操作されたときには、操作部５３は、キャリブレーション開始信号Ｓ２を処理部５４に出力する。処理部５４は、このキャリブレーション開始信号Ｓ２を入力することにより、キャリブレーション処理を実行する。
【００２３】
このキャリブレーション処理では、処理部５４は、まず、電圧生成部５１への制御信号Ｓｃの出力を開始して、交流電圧Ｓ１の生成および出力を開始させる。これにより、注入クランプ部１１の第１巻線１３に交流電圧Ｓ１が印加されてキャリブレーション回路４１の配線４２に検査用電圧Ｖｘが注入され、この検査用電圧Ｖｘにより、キャリブレーション回路４１に電流Ｉｃが流れる。また、同時に、配線４２が貫通している第２環状コア２２の第２巻線２３には、キャリブレーション回路４１の配線４２に電流Ｉｃが流れることに起因して、検出電流Ｉｄが流れる。電流測定部５２は、検出電流Ｉｄを測定して、その電流値Ｉｄ１（本発明における第１電流値）を示す電流データＤｉを処理部５４に出力する。処理部５４は、入力した電流データＤｉで示される検出電流Ｉｄの電流値Ｉｄ１と、記憶部５５から読み出したキャリブレーション回路４１の抵抗４４の抵抗値Ｒ１とを乗算して、この乗算値（＝Ｉｄ１×Ｒ１）を記憶部５５に基礎値Ｄｂとして記憶する。これにより、キャリブレーション処理が完了する。
【００２４】
次に、抵抗測定装置１の抵抗測定動作について説明する。この抵抗測定動作は、キャリブレーション処理が少なくとも一回実行されて、記憶部５５に基礎値Ｄｂ（＝Ｉｄ１×Ｒ１）が記憶されており、かつキャリブレーション回路４１のスイッチ４３が開（オフ）状態（キャリブレーション回路４１が開路状態）であって、クランプ部２が測定対象回路５の配線５ａのみをクランプした閉状態のときに実行される。具体的には、この状態において、操作部５３の測定開始スイッチが操作されたときには、操作部５３は、開始指示信号Ｓ３を処理部５４に出力する。処理部５４は、この開始指示信号Ｓ３を入力することにより、抵抗測定処理を実行する。
【００２５】
この抵抗測定処理では、処理部５４は、まず、電圧生成部５１への制御信号Ｓｃの出力を開始して、交流電圧Ｓ１の生成および出力を開始させる。これにより、注入クランプ部１１の第１巻線１３に交流電圧Ｓ１が印加されて測定対象回路５の配線５ａに検査用電圧Ｖｘが注入され、この検査用電圧Ｖｘにより、測定対象回路５に検査用電流Ｉｘが流れる。また、同時に、配線５ａが貫通している第２環状コア２２の第２巻線２３には、測定対象回路５の配線５ａに検査用電流Ｉｘが流れることに起因して、検出電流Ｉｄが流れる。電流測定部５２は、検出電流Ｉｄを測定して、その電流値Ｉｄ２（本発明における第２電流値）を示す電流データＤｉを処理部５４に出力する。処理部５４は、入力した電流データＤｉで示される検出電流Ｉｄの電流値Ｉｄ２で、記憶部５５から読み出した基礎値Ｄｂ（＝Ｉｄ１×Ｒ１）を除算することにより、測定対象回路５の抵抗Ｒｘ（＝Ｉｄ１×Ｒ１／Ｉｄ２）を算出する。
【００２６】
この場合、キャリブレーション処理において、電流測定部５２で測定される検出電流Ｉｄの電流値がＩｄ１のときには、キャリブレーション回路４１に流れる電流Ｉｃの電流値Ｉｃ１は（Ｉｄ１×Ｎ２）となり、またキャリブレーション回路４１の抵抗４４の抵抗値はＲ１であるため、注入クランプ部１１からキャリブレーション回路４１に注入される検査用電圧Ｖｘは（Ｒ１×Ｉｄ１×Ｎ２）となる。一方、抵抗測定処理において、電流測定部５２で測定される検出電流Ｉｄの電流値がＩｄ２のときには、測定対象回路５に流れる検査用電流Ｉｘの電流値Ｉｘ１は（Ｉｄ２×Ｎ２）となり、また測定対象回路５の抵抗をＲｘとしたときの注入クランプ部１１から測定対象回路５に注入される検査用電圧Ｖｘは（Ｒｘ×Ｉｄ２×Ｎ２）となる。
【００２７】
ここで、注入クランプ部１１の第１巻線１３に印加される交流電圧Ｓ１の電圧Ｖ１は一定であり、かつキャリブレーション処理において注入クランプ部１１および検出クランプ部２１でクランプされるキャリブレーション回路４１の配線４２は第１環状コア１２および第２環状コア２２に対して１ターンに構成され、また抵抗測定処理において注入クランプ部１１および検出クランプ部２１でクランプされる測定対象回路５の配線５ａも第１環状コア１２および第２環状コア２２に対して同じく１ターンに構成されている。このため、キャリブレーション処理および抵抗測定処理における検査用電圧Ｖｘは同一電圧となることから、式（Ｒ１×Ｉｄ１×Ｎ２＝Ｒｘ×Ｉｄ２×Ｎ２）が成り立ち、この式に基づいて、測定対象回路５の抵抗Ｒｘは上記式（Ｉｄ１×Ｒ１／Ｉｄ２）によって算出される。この式によれば、キャリブレーション処理において電流測定部５２で測定された電流値Ｉｄ１を抵抗測定処理において電流測定部５２で測定された電流値Ｉｄ２で除算しているため、電流測定部５２で発生する測定誤差がキャンセルされる。したがって、電流測定部５２で測定される電流の電流値に誤差が含まれていたとしても、測定対象回路５の抵抗Ｒｘが正確に算出される。
【００２８】
最後に、処理部５４は、算出した抵抗Ｒｘを表示部５６に表示させる。これにより、抵抗測定処理が完了する。
【００２９】
このように、この抵抗測定装置１では、処理部５４が、回路インピーダンスが既知（抵抗値Ｒ１）のキャリブレーション回路４１の配線４２に注入クランプ部１１および検出クランプ部２１がクランプされ、かつ注入クランプ部１１を介してキャリブレーション回路４１に検査用電圧Ｖｘが注入されている状態においてキャリブレーション処理を実行して、電流測定部５２によって測定される検出電流Ｉｄの電流値Ｉｄ１と抵抗値Ｒ１との乗算値を算出して基礎値Ｄｂとして記憶し、かつ注入クランプ部１１を介して測定対象回路５に検査用電圧Ｖｘが注入されている状態において抵抗測定処理を実行して、電流測定部５２によって測定される検出電流Ｉｄの電流値Ｉｄ２で基礎値Ｄｂを除算して測定対象回路５の抵抗値Ｒｍを算出する。
【００３０】
したがって、この抵抗測定装置１によれば、実際に注入クランプ部１１から測定対象回路５に注入される検査用電圧Ｖｘが未知の状態であっても、測定対象回路５の抵抗値Ｒｘを測定することができると共に、この抵抗値Ｒｘの測定に際して、キャリブレーション処理において電流測定部５２によって測定された電流値Ｉｄ１を抵抗測定処理において電流測定部５２によって測定された電流値Ｉｄ２で除算しているため、電流測定部５２で発生する測定誤差をキャンセルすることができる結果、測定対象回路５の抵抗Ｒｘを正確に算出（測定）することができる。
【００３１】
また、この抵抗測定装置１によれば、キャリブレーション回路４１を備えている（キャリブレーション回路４１が内蔵されている）ことにより、キャリブレーション回路４１を用意する手間を省くことができ、これによってキャリブレーション処理を必要なときにいつでも実施して基礎値Ｄｂを更新することができるため、注入クランプ部１１や検出クランプ部２１の第１環状コア１２や第２環状コア２２の電気的特性が経年変化した場合においても、測定対象回路５の抵抗Ｒｘを正確に算出（測定）することができる。
【００３２】
さらに、この抵抗測定装置１によれば、キャリブレーション回路４１が、本回路を閉路状態および開路状態のいずれか一方に選択的に移行させるスイッチ４３を備えて構成されると共に、キャリブレーション回路４１の一部を構成する配線４２が注入クランプ部１１の第１環状コア１２内および検出クランプ部２１の第２環状コア２２内を貫通した状態で配設されているため、クランプ部２を閉状態とし、かつスイッチ４３を閉状態とするだけでキャリブレーション処理を実施することができる。このため、キャリブレーション処理をより一層容易に実施することができる。
【００３３】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、注入クランプ部１１の第１環状コア１２内および検出クランプ部２１の第２環状コア２２内を貫通するようにキャリブレーション回路４１の配線４２を配設した構成について上記したが、この構成に代えて、図２に示す抵抗測定装置１Ａのように、装置本体部４の表面から突出した状態で配線４２を配設する構成を採用することもできる。この抵抗測定装置１Ａでは、図３に示すように、装置本体部４の表面から突出している配線４２にクランプ部２をクランプさせ、かつスイッチ４３を閉状態とした状態で、キャリブレーション処理を実行する。この抵抗測定装置１Ａによれば、キャリブレーション処理において、抵抗測定装置１と比較して、配線４２へのクランプ部２の装着（クランプ）および配線４２からのクランプ部２の取り外しという手順が追加になるものの、これ以外に関しては、抵抗測定装置１と同様の作用効果を奏することができる。なお、抵抗測定装置１と同様の構成および動作については、同一の符号を付して重複する説明を省略した。
【００３４】
また、上記の抵抗測定装置１，１Ａでは、装置本体部４の表面にスイッチ４３を配設して、装置本体部４の外部から手動で操作可能な構成を採用したが、操作部５３のキャリブレーション開始スイッチのオン／オフに連動して、オン状態／オフ状態となるようにする構成を採用することもできる。
【００３５】
また、操作部５３のキャリブレーション開始スイッチが操作されたときにキャリブレーション処理を開始する構成について上記したが、キャリブレーション回路４１の配線４２がクランプ部２内に配設されている構成を採用した抵抗測定装置１では、装置本体部４の電源の投入時（使用開始直後）に、処理部５４が自動的にキャリブレーション処理を実行して基礎値Ｄｂを算出し、この算出した基礎値Ｄｂと記憶部５５に記憶されている基礎値Ｄｂとを比較して、算出した基礎値Ｄｂと記憶されている基礎値Ｄｂとが予め決められた範囲を超えて相違するときには、その旨（または基礎値Ｄｂを更新すべき旨）を表示部５６に表示させる構成とすることもできる。さらには、算出した新たな基礎値Ｄｂで記憶部５５に記憶されている基礎値Ｄｂを自動的に更新する構成とすることもできる。この構成により、クランプ部２の最新の状態での基礎値Ｄｂを使用して測定対象回路５の抵抗Ｒｘを測定することができるため、この抵抗Ｒｘの測定精度を向上させることができる。なお、通常、本例におけるクランプ部２のように、先端が開閉自在なクランプ型の構造を採用したクランプ式センサでは、クランプ部２を閉状態に移行させるように常時付勢するバネなどが内蔵されているため、クランプ部２は初期状態では閉状態となっており、キャリブレーション回路４１の配線４２のみをクランプした状態にある。このため、上記のように装置本体部４の電源投入時に、処理部５４がキャリブレーション処理を実行可能である。
【００３６】
また、測定対象回路５における配線５ａのターン数は通常は１ターンとなるため、これに合わせて、測定対象回路５における配線５ａおよびキャリブレーション回路４１における配線４２の第１環状コア１２および第２環状コア２２へのターン数Ｎ０を１ターンとした例について上記したが、配線４２の第１環状コア１２および第２環状コア２２へのターン数Ｎ０については複数ターンとすることもできる。この構成には、処理部５４は、基礎値Ｄｂ（＝Ｉｄ１×Ｒ１）を、入力した電流データＤｉで示される検出電流Ｉｄの電流値Ｉｄ２で除算すると共に、ターン数Ｎ０の二乗値で除算することにより、測定対象回路５の抵抗Ｒｘ（＝Ｉｄ１×Ｒ１／（Ｉｄ２×Ｎ０×Ｎ０）を算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】抵抗測定装置１の構成を示す構成図である。
【図２】抵抗測定装置１Ａの構成を示す構成図である（抵抗測定時）。
【図３】抵抗測定装置１Ａの構成を示す構成図である（キャリブレーション時）。
【符号の説明】
【００３８】
１  抵抗測定装置
５  測定対象回路
５ａ  配線
１１  注入クランプ部
１２  第１環状コア
１３  第１巻線
２１  検出クランプ部
２２  第２環状コア
２３  第２巻線
４１  キャリブレーション回路
４２  配線
５１  電圧生成部
５２  電流測定部
Ｄｂ  基礎値
Ｉｄ１  第１電流値
Ｉｄ２  第２電流値
Ｒｘ  抵抗
Ｖｘ  検査用電圧
【図１】
2009139205.tif 000003
【図２】
2009139205.tif 000004
【図３】
2009139205.tif 000005