(57)【要約】【課題】レーザー照射することなく容易に欠陥箇所を特定する液晶表示装置を得ることを目的とする。【解決手段】本発明における液晶表示装置３０は、基板上に平行に配設された複数の走査線１０と、該走査線１０と直交するように配設された複数の信号線１１を有する液晶表示装置３０において、走査線１０を第１の所定ピッチ毎に集約する複数の検査用走査線入力端子１，２と、信号線１１を第２の所定ピッチ毎に集約する複数の検査用信号線入力端子３，４，５と、走査線１０を第１の所定ピッチよりも間隔が広い第３の所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用走査線入力端子１５と、信号線１１を第２の所定ピッチよりも間隔が広い第４の所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用信号線入力端子１６とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に平行に配設された複数の走査線と、該走査線と直交するように配設された複数の信号線を有する液晶表示装置において、
前記走査線を第１の所定ピッチ毎に集約する複数の検査用走査線入力端子と、
前記信号線を第２の所定ピッチ毎に集約する複数の検査用信号線入力端子と、
前記走査線を前記第１の所定ピッチよりも間隔が広い第３の所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用走査線入力端子と、
前記信号線を前記第２の所定ピッチよりも間隔が広い第４の所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用信号線入力端子と、を備える液晶表示装置。
【請求項２】
前記複数の検査用走査線入力端子は、
奇数番目の前記走査線を集約する第１の検査用走査線入力端子と、
偶数番目の前記走査線を集約する第２の検査用走査線入力端子と、を備え、
前記複数の検査用信号線入力端子は、
R信号の前記信号線を集約する第１の検査用信号線入力端子と、
G信号の前記信号線を集約する第２の検査用信号線入力端子と、
B信号の前記信号線を集約する第３の検査用信号線入力端子と、を備え、
前記アドレス特定用走査線入力端子は、所定数毎の前記奇数番目の走査線または前記偶数番目の走査線を集約し、
前記アドレス特定用信号線入力端子は、所定数毎の前記R信号の信号線、前記G信号の信号線または前記B信号の信号線を集約する請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記検査用走査線入力端子と前記アドレス特定用走査線入力端子、および前記検査用信号線入力端子と前記アドレス特定用信号線入力端子に異なるタイミングの信号を入力する請求項１または２に記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記検査用信号線入力端子と前記アドレス特定用信号線入力端子に異なる電圧を印加する請求項１から３のいずれかに記載の液晶表示装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載の液晶表示装置を検査する検査方法において、
前記検査用走査線入力端子、前記検査用信号線入力端子、前記アドレス特定用走査線入力端子と前記アドレス特定用信号線入力端子に検査用信号を入力し、前記液晶表示装置を表示させる第１のステップと、
前記アドレス特定用走査線入力端子と前記アドレス特定用信号線入力端子にアドレス特定用信号を入力し、前記液晶表示装置に格子状のパターンを表示させる第２のステップと、を備え、
前記第１のステップにおいて欠陥した画素部があったとき、前記第２のステップにおける前記格子状のパターンとの距離から前記欠陥した画素部のアドレスを特定することが可能な液晶表示装置を検査する検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アクティブマトリクス型の液晶表示装置、及びこの液晶表示装置を検査する検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、アクティブマトリクス型の液晶表示装置は、液晶パネルのアレイ基板上に個々の独立した画素部がマトリクス状に配置され、これら画素部に画素電極及びスイッチング素子がそれぞれ設けられている。このアレイ基板は、液晶層を介して対向基板に対向して配置されており、画素電極は、対向基板上の対向電極と液晶層を介して対向配置される。このアクティブマトリクス型の液晶表示装置は、スイッチング素子を介して駆動電圧を画素電極に印加し、この画素電極と液晶を介して画素電極に対向して配置されている対向電極との電位差によって液晶を駆動し、投射光もしくは反射光を光変調することで液晶パネルに画像を表示するようになっている。
【０００３】
スイッチング素子が薄膜トランジスタ（以下TFTと記載）である場合には、アレイ基板上に走査用の複数の走査線および画像信号用の複数の信号線が交差するように配線され、これら走査線および信号線の各交差部分にそれぞれ画素が設けられている。TFTのゲート電極はスイッチング素子を制御する走査信号を入力するための走査線に、ソース電極は液晶パネルに表示する画像の信号を入力するための信号線にそれぞれ電気的に接続され、さらにドレイン電極は画素電極に電気的に接続されている。
【０００４】
各走査線は、上方から順次に水平走査周期に対応する電圧が印加される。また各信号線には画像信号に対応する電圧が印加される。これによって、TFTは、走査線を通じて電圧が印加されたタイミングでオン状態になり、信号線からの画像信号に対応する電圧をサンプリングして画素電極に与える。液晶層には、画素電極に加わった電圧と、対向電極に加わった電圧との差分が充電され、液晶層が駆動して光学応答によって表示動作が行われる。
【０００５】
一般にこの液晶表示装置の検査の１つとして、画素表示による点灯検査を行っている。この点灯検査を行う際に、高精細パネルの挟ピッチパネルをセル状態で表示させる方法として、ゲート配線とソース配線を束ねることによって、信号入力端子を減らして検査を行う方法がある。これにより、検査治具のコスト削減、及び信号入力端子数が減ることで信号入力端子のパッドサイズを大きくすることができ、プロービング不良を出さずに容易に表示させることが出来る。
【０００６】
ゲート配線及びソース配線を束ねる方法としては、例えば、ゲート配線を奇数番目のゲート信号入力端子を束ねた奇数配線、偶数番目のゲート信号入力端子を束ねた偶数配線の２本に束ねる。ソース配線をR信号入力端子を束ねたR配線、G信号入力端子を束ねたG配線、B信号入力端子を束ねたB配線の３本で束ねている（下記特許文献１参照）。
【０００７】
ここで、上述したようにゲート配線およびソース配線を束ねているため、ベタ表示は可能であるが特殊な表示をさせることは出来ない。このようなパネルで点欠陥もしくは線欠陥が発生し、欠陥箇所の解析を行うときは、欠陥箇所を特定することが困難になる。そこで、従来の欠陥箇所を特定させる方法としては、点灯表示状態を確認し、欠陥箇所にペンでマーキングを行う。ペンでマーキングを行った後、レーザー装置へパネルを持っていき、ペンでマーキングされた周辺にレーザー照射を行う。再度、点灯表示させながら、マーキング箇所から欠陥箇所の画素数をルーペ等で測定し、欠陥部を特定する。
【０００８】
【特許文献１】特開２００２−９８９９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、従来の欠陥箇所を特定する方法では、レーザー照射を行い、ルーペ等で欠陥部を特定するため、時間と手間がかかるという問題があった。
【００１０】
そこで本発明はかかる問題を解決するためになされたものであり、レーザー照射することなく容易に欠陥箇所を特定する液晶表示装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明における液晶表示装置は、基板上に平行に配設された複数の走査線と、該走査線と直交するように配設された複数の信号線を有する液晶表示装置において、前記走査線を第１の所定ピッチ毎に集約する複数の検査用走査線入力端子と、前記信号線を第２の所定ピッチ毎に集約する複数の検査用信号線入力端子と、前記走査線を前記第１の所定ピッチよりも間隔が広い第３の所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用走査線入力端子と、前記信号線を前記第２の所定ピッチよりも間隔が広い第４の所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用信号線入力端子とを備える。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の液晶表示装置によれば、走査線及び信号線を所定のピッチで集約したアドレス特定用入力端子を備えることで、格子パターンを表示し、この格子パターンからの距離を確認することでレーザーマーキングを行わず欠陥箇所のアドレスの特定が可能となり、従来の欠陥箇所特定方法に比べ時間と手間を省くことが出来る。また、レーザーマーキングを行わずに欠陥箇所の特定が出来るようになるので、欠陥修復によるパネルの良品化も可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
＜実施の形態＞
図１は、本発明の実施の形態における液晶表示装置３０を示した図である。図１を参照して、本発明の液晶表示装置３０の構成について説明する。液晶表示装置３０は、アレイ基板２０上に平行に配設された複数の走査線１０と、この走査線１０と直交するように複数の信号線１１が配線されている。この液晶表示装置３０は、表示検査を行うための検査端子を設けており、この検査端子は、走査線１０を所定ピッチ毎に集約する複数の検査用走査線入力端子と、信号線１１を所定ピッチ毎に集約する複数の検査用信号線入力端子とを備えている。すなわち、簡易にベタ表示の表示検査を行うために、走査線１０（走査線入力端子）と信号線１１（信号線入力端子）を束ねることによって、信号入力端子を減らしている。
【００１４】
また、走査線１０を検査用走査線入力端子の所定ピッチよりも間隔が広い所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用走査線入力端子１５と、信号線１１を検査用信号線入力端子の所定ピッチよりも間隔が広い所定ピッチ毎に集約するアドレス特定用信号線入力端子１６とを備えている。すなわち、このアドレス特定用走査線入力端子１５およびアドレス特定用信号線入力端子１６に信号を入力することにより、液晶表示装置３０に格子状のパターンを表示させることが出来る。
【００１５】
次に、走査線１０および信号線１１を集約する方法を説明する。例えば、走査線１０を集約する方法として、奇数番目と偶数番目にわけて走査線１０を集約する方法がある。すなわち、図１に示すように、１，３，５・・・と奇数番目の走査線入力端子８を集約した奇数配線の検査用走査線入力端子１と、２，４，６・・・と偶数番目の走査線入力端子９を集約した偶数配線の検査用走査線入力端子２を備え、走査線１０を集約する。また、例えば、信号線１１を集約する方法として、R信号、G信号、B信号にわけて信号線１１を集約する方法がある。すなわち、図１に示すように、R信号の信号線入力端子１２（３N＋１、（N＝０，１，２・・・））を集約したR信号の検査用信号線入力端子４、G信号の信号線入力端子１３（３N＋２）を集約したG信号の検査用信号線入力端子５、B信号の信号線入力端子１４（３N＋３）を集約したB信号の検査用信号線入力端子６を備え、信号線１１を集約する。
【００１６】
次に、アドレス特定用走査線入力端子１５およびアドレス特定用信号線入力端子１６の集約方法について説明する。アドレス特定用走査線入力端子１５が走査線１０を集約する方法は、所定数毎の奇数番目の走査線入力端子８および偶数番目の走査線入力端子９を集約する。例えば、図１に示すように、１０本置きの走査線１０を集約する。また、アドレス特定用信号線入力端子１６が信号線１１を集約する方法は、所定数毎のR信号の信号線入力端子４，G信号の信号線入力端子５、B信号の信号線入力端子６を集約する。例えば、図１に示すように、３M＋１（M＝３，６，９・・・）の信号線入力端子４を集約する。
【００１７】
なお、３，７は、集約した端子１，２，１５，４，５，６，１６と集約しない端子８，９，１３，１４との間の導通／遮断を制御するスイッチング入力端子である。
【００１８】
次に、図１を参照して表示検査を行うときの動作について説明する。まず、以下のように通常表示を行い、パネルに点欠陥もしくは線欠陥が発生していないか表示検査を行う。通常表示を行う際、検査用走査線入力端子１，２と検査用信号線入力端子４，５，６に検査用信号を入力する。また、アドレス特定用走査線入力端子１５には、検査用走査線入力端子２へ入力する検査用信号を入力し、アドレス特定用信号線入力端子１６には、検査用信号線入力端子４へ入力する検査用信号を入力する。このような信号を入力することで、液晶表示装置３０をベタ表示することが出来る。
【００１９】
次に、前述の表示検査において、表示欠陥があったとき、以下のように液晶表示装置３０に格子状のパターンを表示する。格子パターンを表示させる際、アドレス特定用走査線入力端子１５およびアドレス特定用信号線入力端子１６にアドレス特定用信号を入力する。このアドレス特定用走査線入力端子１５へ入力するアドレス特定用信号は、前述した検査用走査線入力端子１，２へ入力する検査用信号とは異なるタイミングの信号を入力する。同様に、アドレス特定用信号線入力端子１６へ入力するアドレス特定用信号は、前述した検査用信号線入力端子４，５，６へ入力する検査用信号とは異なるタイミングの信号を入力する。また、アドレス特定用信号線入力端子１６へ入力するアドレス特定用信号は、前述した検査用信号線入力端子４，５，６へ入力する検査用信号とは異なる電圧を印加して、ベタ表示したときとは異なる色調整を行い、ベタ表示時の表示と区別する。
【００２０】
次に、欠陥した画素部が上述した方法で表示された格子パターンのどこにあるかを確認し、格子パターンからの画素数を確認することで、欠陥した画素部のアドレスを特定することが出来る。
【００２１】
以上より、液晶表示装置３０に格子状のパターンを表示させることが可能となり、格子パターンと欠陥箇所の距離を確認することで、レーザー光によるマーキングを行わずに欠陥箇所のアドレスの特定が可能となり、従来の欠陥箇所特定方法に比べ時間と手間を省くことが出来る。また、レーザーマーキングを行わずに欠陥箇所の特定が可能となるため、欠陥修復によるパネルの良品化も可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施の形態における液晶表示装置を示した図である。
【符号の説明】
【００２３】
１，２  検査用走査線入力端子、３，７  スイッチング入力用端子、４，５，６  検査用信号線入力端子、８  奇数番目の走査線入力端子、９  偶数番目の走査線入力端子、１０  走査線、１１  信号線、１２  R信号の信号線入力端子、１３  G信号の信号線入力端子、１４  B信号の信号線入力端子、１５  アドレス特定用走査線入力端子、１６  アドレス特定用信号線入力端子、２０  アレイ基板、３０  液晶表示装置。
【図１】
2009014883.tif 000003