(57)【要約】【課題】画質を劣化させることなく、複数のレーザビームの間隔を正確に把握する。【解決手段】２つの光ビーム検知手段の検知領域の主走査方向始端側の端縁が互に非平行となるように主走査方向に並べて配設し、一方の光ビームを走査・入射させて２つの光ビーム検知手段で検知される走査時間を測定する第一走査時間計測手段と、他方の光ビームを走査・入射させて２つの光ビーム検知手段で検知される走査時間を測定する第二走査時間計測手段と、第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに計測された走査時間の偏差（走査時間偏差）を演算し、像担持体面における光ビームの走査速度と光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差により、２つの光ビームの主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出する副走査方向光ビーム間隔算出手段とを含む。【選択図】図１
2009184145.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光ビームにより像担持体上を同時に主走査方向に平行に走査して複数ラインを同時に記録する画像形成装置であって、
２つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設する一方、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第一走査時間計測手段と、
該第一走査時間計測手段で走査される光ビームとは別の１つの光ビームを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第二走査時間計測手段と、
前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに計測された走査時間の偏差（走査時間偏差）を演算し、前記像担持体面における光ビームの走査速度と前記光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて前記走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出する副走査方向光ビーム間隔算出手段と、
を含んで構成されることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記走査時間偏差の補正は、前記像担持体の受光面と前記光ビーム検知手段の検知面とがなす角度に応じて生じる走査速度の違いに基づいた補正係数により実行される、
ことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】
それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設された第二の２つの光ビーム検知手段と、
前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームを前記第二の２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記第二の２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する補正係数算出用走査時間計測手段と、
を更に備え、
前記走査時間偏差の補正は、前記像担持体の受光面と前記光ビーム検知手段の検知面とが平行である場合に前記第二の２つの光ビーム検知手段で計測される走査時間と、実際に前記第二の２つの光ビーム検知手段で計測された走査時間との比により求められる補正係数により実行される、
ことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項４】
複数の光ビームにより像担持体上を同時に主走査方向に平行に走査して複数ラインを同時に記録する画像形成装置を制御する画像形成装置制御プログラムであって、
２つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設する一方、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第一走査時間計測手段、
該第一走査時間計測手段で走査される光ビームとは別の１つの光ビームを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第二走査時間計測手段、
前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに計測された走査時間の偏差（走査時間偏差）を演算し、前記像担持体面における光ビームの走査速度と前記光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて前記走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出する副走査方向光ビーム間隔算出手段、
としてコンピュータを動作させることを特徴とする画像形成装置制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機やプリンタなどの画像形成装置と画像形成装置制御プログラムとに関し、特に、複数の光源からのレーザビームを用いて複数ライン分の画像を１回の走査で感光体などの記録媒体に書き込む機能を有するマルチビーム型の画像形成装置とその制御プログラムとに関する。
【０００２】
更に詳しくは、複数の光ビームにより像担持体上を同時に主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録させる画像形成装置における、前記複数の光ビームの間隔（ピッチ）ずれを検知する技術に関する。
【背景技術】
【０００３】
画像形成装置として、画像データに応じた主走査方向の１ラインの画像形成を行うと共に、主走査方向の１ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
【０００４】
その一例として、電子写真方式の画像形成装置では、画像データに応じて変調したレーザビームを像担持体の主走査方向にポリゴンミラーなどによって走査し、これと並行して、副走査方向に回転する像担持体（感光体ドラム）上に、前記レーザビームによって画像を形成している。この場合に、ドットクロックと呼ばれるクロック信号（画素クロック）を基準にして、レーザビームを画像データで変調するようにしている。
【０００５】
また、画像形成を高速に、または、高解像度で行うために、２または３以上の複数のレーザダイオード（ＬＤ）などの光源を備え、この複数の光源からのレーザビームを用いて、画像データに応じた主走査方向の複数ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。このようなマルチビーム型の画像形成装置は、たとえば以下の特許文献１などに記載されている。なお、マルチビームの画像形成装置に関しては、たとえば、以下の特許文献１、２などに各種記載されている。
【特許文献１】特開昭63-124664号公報
【特許文献２】特開平7-72399号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、前述のように、複数のレーザビームを同時に走査させる場合には、複数のレーザビームそれぞれの間隔（ピッチ）がずれて、忠実な画像形成に影響が出ることがあった。
【０００７】
ここで、以上の特許文献１は一般的なマルチビームの画像形成装置に関する技術が記載されているが、複数レーザビーム間の間隔のずれについては何ら配慮されていなかった。
また、以上の特許文献２では、複数レーザビームの間隔ずれを検知し、間隔ずれについて一定に保つような制御がなされている。
【０００８】
ところで、この特許文献２で提案されている複数レーザビームの間隔ずれ補正においては、光ビーム検知手段で２つのレーザビームの走査時間の違いから間隔を検知している。
この場合において、図１０において、感光体ドラム１６１に露光する様子を平面図とした状態で示す。この図１０において、複数レーザビームを発生させる複数の光源としての半導体レーザ１５１、レーザビームを光学的に各種補正をするコリメータレンズ１５２とシリンドリカルレンズ１５３、レーザビームを主走査方向に走査するポリゴンミラー１５４、光学的に走査角度の補正を行うｆθレンズ１５５、光学的な補正を行うシリンドリカルレンズ１５６、水平同期信号検出のためのミラー１５７、水平同期信号検出のためのセンサ１５８とを備えて構成されている。なお、このセンサ１５８が、複数のレーザビームの間隔を検出するセンサ（光ビーム検知手段）を兼ねている。
【０００９】
そして、以上のようにして走査される複数のレーザビームが像担持体としての感光体ドラム１６１上に走査され、感光体ドラム１６１の回転を副走査方向の走査として、感光体ドラム１６１表面にはレーザビームに応じた潜像が形成される。なお、カラー画像形成装置の場合には、ここに示した露光ユニット１５０を色数分配置する。
【００１０】
ここで、感光体ドラム１６１上の端部での走査速度ａと、センサ１５８での走査速度ａ’が異なったものとして検出される問題がある。これは、光の乱反射などによる誤動作を防止するため、センサ１５８に対して、ミラー１５７からのレーザビームが垂直に入射するように構成していることに起因している。
【００１１】
なお、走査速度ａと走査速度ａ’とが一致するようにセンサ１５８を傾けた場合（感光体ドラム１６１と平行な検出面を有するようにセンサ１５８を設置した場合）には、光の乱反射などによってセンサ１５８で誤った検知をすることが希にあり、これによって正しい制御信号が作成できないという更に大きな問題が発生することになる。
【００１２】
すなわち、上記特許文献２の手法では、センサ１５８での誤動作を防止するために垂直にレーザビームを入射させた場合に、センサ１５８の検出面が感光体ドラム１６１面と平行していない状態になるため、以上のような走査速度ａと走査速度ａ’との違いが生じて、複数のレーザビームの間隔を正確に検知できないという問題が存在していることを、本件出願の発明者が見いだした。そして、この場合、画質が低下する問題を生じていた。
【００１３】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、画質を劣化させることなく、複数のレーザビームの間隔を正確に把握し、良好な画質で画像形成を実現可能な画像形成装置および画像形成装置制御プログラムを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
すなわち、課題を解決する手段としての本発明は以下に説明するようなものである。
（１）請求項１記載の発明は、複数の光ビームにより像担持体上を同時に主走査方向に平行に走査して複数ラインを同時に記録する画像形成装置であって、２つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設する一方、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第一走査時間計測手段と、該第一走査時間計測手段で走査される光ビームとは別の１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第二走査時間計測手段と、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに計測された走査時間の偏差（走査時間偏差）を演算し、前記像担持体面における光ビームの走査速度と前記光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて前記走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出する副走査方向光ビーム間隔算出手段と、を含んで構成されることを特徴とする画像形成装置である。
【００１５】
（２）請求項２記載の発明は、前記走査時間偏差の補正は、前記像担持体の受光面と前記光ビーム検知手段の検知面とがなす角度に応じて生じる走査速度の違いに基づいた補正係数により実行される、ことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
【００１６】
（３）請求項３記載の発明は、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設された第二の２つの光ビーム検知手段と、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームを前記第二の２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記第二の２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する補正係数算出用走査時間計測手段と、を更に備え、前記走査時間偏差の補正は、前記像担持体の受光面と前記光ビーム検知手段の検知面とが平行である場合に前記第二の２つの光ビーム検知手段で計測される走査時間と、実際に前記第二の２つの光ビーム検知手段で計測された走査時間との比により求められる補正係数により実行される、ことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置である。
【００１７】
（４）請求項４記載の発明は、複数の光ビームにより像担持体上を同時に主走査方向に平行に走査して複数ラインを同時に記録する画像形成装置を制御する画像形成装置制御プログラムであって、２つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設する一方、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第一走査時間計測手段、該第一走査時間計測手段で走査される光ビームとは別の１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する第二走査時間計測手段、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに計測された走査時間の偏差（走査時間偏差）を演算し、前記像担持体面における光ビームの走査速度と前記光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて前記走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出する副走査方向光ビーム間隔算出手段、としてコンピュータを動作させることを特徴とする画像形成装置制御プログラムである。
【発明の効果】
【００１８】
以上、説明したように、本発明によれば、以下のような効果が得られる。
この発明は、複数の光ビームにより像担持体上を同時に主走査方向に平行に走査して複数ラインを同時に記録する画像形成装置において、２つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設する一方、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を第一走査時間として測定し、別の１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を第二走査時間として測定し、それぞれに計測された走査時間の偏差（第一走査時間と第二走査時間との差＝走査時間偏差）を演算し、前記像担持体面における光ビームの走査速度と前記光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて前記走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出する。
【００１９】
この構成の画像形成装置によると、２つの光ビーム検知手段が、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設されるから、前記端縁間の距離は、主走査方向に直交する副走査方向に沿って変化することになる。
【００２０】
従って、１つの光ビームのみを２つの光ビーム検知手段に検知させる場合には、各光ビーム検知手段によって光ビームが検知される立ち上がりの間隔時間は、副走査方向における走査位置によって変化することになる。ここで、比較対象とする２つの光ビームについて、それぞれに前記立ち上がり間隔時間を測定すると、各光ビームにおける間隔時間の差は、各光ビームの副走査方向における間隔に相関する値となり、前記間隔時間の差の変化は副走査方向における光軸のずれ（副走査方向における光ビームの間隔の変化）を示すことになる。
【００２１】
そして、像担持体面における光ビームの走査速度と光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出しているため、像担持体面に平行しない状態の検出面を有する光ビーム検知手段を用いて、光ビーム検知手段の検知面に垂直にレーザビームを入射させた場合に、以上のような走査速度ａと走査速度ａ’との違いが生じるものの、複数のレーザビームの間隔を正確に検知できるようになる。
【００２２】
そして、像担持体面における光ビームの走査速度と光ビーム検知手段における光ビームの走査速度との違いに応じて走査時間偏差を補正し、補正後の走査時間偏差に基づいて、前記第一及び第二走査時間計測手段でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に直交する副走査方向における間隔を算出しているため、像担持体面に平行しない状態の検出面を有する光ビーム検知手段を用いて、光ビーム検知手段の検知面に垂直にレーザビームを入射させた場合に、以上のような走査速度ａと走査速度ａ’との違いが生じるものの、複数のレーザビームの間隔を正確に検知できるようになる。
【００２３】
なお、走査時間偏差の補正は、像担持体の受光面と光ビーム検知手段の検知面とがなす角度に応じて生じる走査速度の違いに基づいた補正係数により実行される。
また、光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設された第二の２つの光ビーム検知手段と、複数の光ビームのうちの１つの光ビームを第二の２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、第二の２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される走査時間を測定する補正係数算出用走査時間計測手段と、を更に備えた場合に、走査時間偏差の補正は、像担持体の受光面と光ビーム検知手段の検知面とが平行である場合に、第二の２つの光ビーム検知手段で計測される走査時間と、実際に第二の２つの光ビーム検知手段で計測された走査時間との比により求められる補正係数により実行される。
【００２４】
従って、画質を劣化させることなく、複数のレーザビームの間隔を正確に把握し、良好な画質で画像形成を実現可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態（実施形態）を詳細に説明する。本実施形態が適用される画像形成装置は、複数の光源からの複数のレーザビームを像担持体の主走査方向に走査して、複数ライン分の露光を並行して行うマルチビーム型の画像形成装置である。
【００２６】
以下、本実施形態のマルチビーム型の画像形成装置１００の第１の実施形態の電気的な構成を、図１に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態では、画質を劣化させることなく、複数のレーザビームを露光に用いる画像形成装置１００の基本的な構成要件を中心に説明する。したがって、画像形成装置として一般的であり、周知となっている構成要件については省略している。
【００２７】
また、以下の実施形態では、複数のレーザビームとして２本のレーザビームＬ１，Ｌ２を用いる画像形成装置を具体例にして説明を行う。
〔第一の実施形態〕
１０１は画像形成装置１００の各部を制御するためにＣＰＵなどで構成された制御部である。１１０は画像データに応じて所定の画像処理を実行する画像処理部である。１２０は画像データや所定の命令データに応じてレーザの発光の制御を行うレーザ制御回路である。１３０はレーザ制御回路１２０の制御に基づいて光源を駆動するレーザ駆動回路である。１４０は露光により画像形成を行うプリントエンジンであり、複数のレーザビームで走査を行う露光ユニット１５０と、プロセスユニット１６０とを備えて構成されている。
【００２８】
図２はレーザ制御回路１２０、レーザ駆動回路１３０、および露光ユニット１５０の周辺を、一部斜視図として模式的に示す説明図である。
この図２において、露光ユニット１５０は、複数レーザビームを発生させる複数の光源としての半導体レーザ１５１ａと半導体レーザ１５１ｂとを有している。これら半導体レーザ１５１ａと半導体レーザ１５１ｂとは、レーザ駆動回路１３０により駆動されて画像データに応じてレーザビームＬ１，Ｌ２を発生する。
【００２９】
半導体レーザ１５１ａからのレーザビームＬ１はビーム合成プリズム１５２ｐの一方の入力面に入射する。
また、半導体レーザ１５１ｂからのレーザビームＬ２は、ビーム間隔調整部１５２ｃを経由して、ビーム合成プリズム１５２ｐの他方の入力面に入射する。そして、レーザビームＬ１とレーザビームＬ２とが合成され、所定間隔の２つのレーザビームとされる。
【００３０】
なお、ビーム間隔調整部１５２ｃは所定厚の板状の光学素子であり、前傾あるいは後傾姿勢をとることで、レーザビームの上下方向の位置が変化する。このビーム間隔調整部１５２ｃは、ビーム間隔調整回路１８０により駆動される。
【００３１】
そして、複数のレーザビームＬ１，Ｌ２は、該レーザビームを光学的に各種補正をするコリメータレンズ１５３ａとシリンドリカルレンズ１５３ｂ、レーザビームを主走査方向に走査するポリゴンミラー１５４、光学的に走査角度の補正を行うｆθレンズ１５５、光学的な補正を行うシリンドリカルレンズ１５６、水平同期信号検出のためのミラー１５７、水平同期信号検出等のためのセンサ１５８とを備えて構成されている。
【００３２】
なお、このセンサ１５８は、たとえば、図３のような複数の受光素子（光ビーム検知手段）１５８ａ，１５８ｂ，１５８ｃ，１５８ｄを備えて構成されており、水平同期信号検出のほかに、本実施形態においては、レーザビームＬ１，Ｌ２の間隔測定のためにＬ１とＬ２とを受光できる副走査方向高さを有しているものとする。
【００３３】
ここで、紙面水平方向にレーザビームＬ１，Ｌ２が走査する場合に、このセンサ１５８に含まれる、受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとは、レーザビームＬ１，Ｌ２に直交する方向を長手方向としている。
【００３４】
また、センサ１５８に含まれる２つの受光素子１５８ｂ，１５８ｄとは、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設されている。なお、受光素子１５８ｂと１５８ｄとは角度βとなるように、互いに平行しないように配置されている。
【００３５】
すなわち、この場合に、受光素子１５８ｂ，１５８ｄの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が相互に非平行となる場合、受光素子１５８ｂ，１５８ｄの光ビーム検知領域の主走査方向終端側の端縁が相互に非平行となる場合、が考えられる。
【００３６】
また、こののほかに、受光素子１５８ｂの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁と受光素子１５８ｄの光ビーム検知領域の主走査方向終端側の端縁とが相互に非平行となる場合、受光素子１５８ｂの光ビーム検知領域の主走査方向終端側の端縁と受光素子１５８ｄの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁とが相互に非平行となる場合、も考えられる。
【００３７】
なお、以下の実施形態の説明では、また、センサ１５８に含まれる２つの受光素子１５８ｂ，１５８ｄとは、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設され、これらを横切る時間Ｔ１とＴ２を計測する場合を具体例とする。
【００３８】
なお、このセンサ１５８では、レーザビーム間隔を調整するための受光素子１５８ｂと１５８ｄの他に、水平同期信号を生成するための受光素子１５８ａと１５８ｃとを兼ね備えた構成になっている。
【００３９】
そして、以上のようにして走査される複数のレーザビームが像担持体としての感光体ドラム１６１上に走査され、感光体ドラム１６１の回転を副走査方向の走査として、感光体ドラム１６１表面にはレーザビームに応じた潜像が形成される。なお、カラー画像形成装置の場合には、ここに示した露光ユニット１５０を色数分配置する。
【００４０】
以上の構成において、画像処理部１１０は画像形成に必要な各種の画像処理を施す画像処理部であり、この実施形態では複数の光源で同時露光を行うために、複数の光源に対応して、各ライン分の画像データを並行して出力する機能を有している。
【００４１】
以下、本実施形態の画像形成装置１００の第一の動作（第一の実施形態）について、図４のフローチャートと図５の説明図とを参照して説明する。
まず、工場出荷調整時、使用開始後所定時間経過時、定期点検時などに、制御部１０１の指示により、レーザビーム間隔調整の作業が開始される（図４中のスタート）。
【００４２】
ここで、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ａを駆動して第一のレーザビームＬ１を発生させ（図４中のステップＳ４０１）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ１は感光体ドラム１６１上を走査する。また、レーザビームＬ１は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ１のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ１がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図４中のステップＳ４０２）。
【００４３】
したがって、この第一の実施形態では、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとが、請求項における「それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設された２つの光ビーム検知手段」を構成している。また、ビーム間隔調整回路１８０が、請求項における、「第一走査時間計測手段」を構成している。
【００４４】
そして、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ｂを駆動して第二のレーザビームＬ２を発生させ（図４中のステップＳ４０３）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ２は感光体ドラム１６１上を走査する。また、レーザビームＬ２は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ２のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ２がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図４中のステップＳ４０４）。すなわち、ビーム間隔調整回路１８０が、請求項における、「第二走査時間計測手段」を構成している。
【００４５】
ここで、ビーム間隔調整回路１８０は、上記Ｔ１とＴ２との差ΔＴ＝（Ｔ２−Ｔ１）を求める（図４中のステップＳ４０５）。なお、従来（上記特許文献２）は、このＴ２−Ｔ１から直接にビーム間隔を求めていた。
【００４６】
しかし、上述したように、感光体ドラム１６１面と、センサ１５８受光面とが平行でない場合には、レーザビーム走査速度が異なってしまい、検知結果に誤差が生じ、正確なレーザビームの間隔が測定できない問題が生じることになる。
【００４７】
図５は感光体ドラム１６１の表面のレーザビームの走査と、センサ１５８での受光面のレーザビームの走査とを、同一位置に模式的に重ねて記載した図面である。実際には、センサ１５８はミラー１５７での反射光を受けるが、この図５のように角度を等価的に示すことができる。
【００４８】
ここで、感光体ドラム１６１の表面でのレーザビームの走査速度がＶ（図２では走査速度ａ）であり、ドラム１６１の表面とセンサ１５８の受光面のなす角度をθとした場合、センサ１５８の受光面での走査速度Ｖ’はＶ’＝Ｖ・ｃｏｓθ（図２での走査速度ａ’）となる。すなわち、センサ１５８の受光面上では、感光体ドラム面上の速度より遅いｃｏｓθ倍の速度となっている。よって、Ｔ１とＴ２とは、実際には本来の時間よりもｃｏｓθ倍の長い時間として計測されていることになる。
【００４９】
受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとの間の距離がＤである場合、感光体ドラム面上でのレーザビーム走査時間Ｔorgは、Ｔorg＝Ｄ／Ｖである。一方、センサ１５８の受光面上でのレーザビーム走査時間Ｔは、Ｔ＝Ｄ／Ｖ’＝Ｄ／（Ｖ・ｃｏｓθ）＝Ｔorg／ｃｏｓθ、である。
【００５０】
すなわち、計測されたＴは本来のＴorgと比較して、１／ｃｏｓθの誤差を含んだ状態である。後述するようにレーザビーム間隔はＴ（Ｔorg）に比例するものであるため、制御されるレーザビーム間隔にそのまま誤差が含まれてしまうことになる。なお、θが２５°であるとすると、ｃｏｓθ＝０．９０６であり、約１割の誤差が生じることになる。
【００５１】
このθは光学系の設計により定まる値であるため、このθを元にして走査時間Ｔ１とＴ２との測定値を補正すればよいことになる。
すなわち、補正係数α＝１／ｃｏｓθを用いて走査時間を補正する。
補正後の計測値Ｔnewは、Ｔnew＝Ｔ／α＝（Ｔorg／ｃｏｓθ）・ｃｏｓθ＝Ｔorgとなり、ドラム面上でのレーザビーム走査時間と同じ正しい計測値が得られるようになる。
【００５２】
ビーム間隔調整回路１８０は、以上のように補正して、Ｔ２newとＴ１newとを求め、ΔＴnew＝Ｔ２new−Ｔ１new＝（Ｔ２／α）−（Ｔ１／α）を計算する（図４中のステップＳ４０６）。
【００５３】
そして、ビーム間隔調整回路１８０は、このΔＴnewを用いて、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとのなす角度β（図３）を参照し、レーザビーム間隔Ｈについて、Ｈ＝（ΔＴnew／２）／ｔａｎ（β／２）として算出する（図４中のステップＳ４０７）。
【００５４】
または、ビーム間隔調整回路１８０は、ΔＴとαとを用いて、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとのなす角度β（図３）を参照し、レーザビーム間隔Ｈについて、Ｈ＝（（ΔＴ／２）／α）／ｔａｎ（β／２）として算出する（図４中のステップＳ４０７）。すなわち、ビーム間隔調整回路１８０が、請求項における、「副走査方向光ビーム間隔算出手段」を構成している。
【００５５】
そして、ビーム間隔調整回路１８０は、このようにして求められたレーザビーム間隔Ｈと、本来のレーザビーム間隔Ｈorgとの差を解消するように、図示されないステッピングモータ等を用いてビーム間隔調整部１５２ｃを所定角度だけ傾けてＨとＨorgとを一致させる（図４中のステップＳ４０８）。
【００５６】
なお、ここでは、ビーム間隔調整部１５２ｃとして板状の光学素子を図６のように傾けることで光の屈折を利用して光路をずらし、レーザビーム間隔Ｈを調整している。この場合に、他の素子を用いたり、半導体レーザ１５１ａまたは１５１ｂをアクチュエータ等で移動させる方式を用いてもよい。
【００５７】
以上のようにすることで、レーザビーム間隔Ｈが本来のレーザビーム間隔Ｈorgに近づけて誤差を小さくすることができるようになる。従って、画質を劣化させず、複数のレーザビームの間隔を正確に把握し、良好な画質で画像形成を実現可能になる。
【００５８】
なお、この実施形態のセンサ１５８では、レーザビーム間隔を調整するための受光素子１５８ｂと１５８ｄの他に、水平同期信号を生成するための受光素子１５８ａと１５８ｃとを兼ね備えた構成になっている。すなわち、既存の画像形成装置の水平同期信号生成用のセンサ１５８に、本実施形態の受光素子部分を追加することで、実質的には新たな部品を追加する必要がなくなる。また、逆に、本実施形態のレーザビーム間隔の調整のためだけであれば、センサ１５８において受光素子１５８ａと１５８ｃとを設ける必要はない。
【００５９】
〔第二の実施形態〕
以下、本実施形態の画像形成装置１００の第二の動作（第二の実施形態）について、図７のフローチャートを参照して説明する。
【００６０】
以上の第一の実施形態では、センサ１５８では受光面で垂直にレーザビームを受けており、ドラム１６１の表面とセンサ１５８の受光面のなす角度をθとした場合、センサ１５８の受光面での走査速度Ｖ’はＶ’＝Ｖ・ｃｏｓθ（図２での走査速度ａ’）となるという前提であった。
【００６１】
しかし、センサ１５８でレーザビームを受光する角度が変化した場合には、上述した第一の実施形態におけるθを用いた計算に誤差が生じることになる。従って、レーザビームの間隔が意図した状態からずれて、画質の劣化を生じることになる。
【００６２】
そこで、この第二の実施形態では、センサ１５８の受光面でレーザビームを受光する角度のずれにかかわらず、上記第一の実施形態のθに相当する角度を実測し、正確にレーザビーム間隔を制御して画質劣化を生じさせないことを目的とする。
【００６３】
まず、工場出荷調整時、使用開始後所定時間経過時、定期点検時などに、制御部１０１の指示により、レーザビーム間隔調整の作業が開始される（図７中のスタート）。
ここで、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ａを駆動して第一のレーザビームＬ１を発生させ（図７中のステップＳ７０１）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ１は感光体ドラム１６１上を走査する。
【００６４】
また、レーザビームＬ１は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ１のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ１がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図７中のステップＳ７０２）。
【００６５】
なお、このセンサ１５８は、たとえば、図８のような複数の受光素子（光ビーム検知手段）１５８ａ，１５８ｂ，１５８ｃ，１５８ｄを備えて構成されており、水平同期信号検出のほかに、本実施形態においては、レーザビームＬ１，Ｌ２の間隔測定のためにＬ１とＬ２とを受光できる副走査方向高さを有しているものとする。
【００６６】
なお、この第二の実施形態のセンサ１５８では、レーザビーム間隔を調整するための受光素子１５８ｂと１５８ｄの他に、受光素子１５８ａと１５８ｃもレーザビーム間隔調整に用いることにする。
【００６７】
ここで、センサ１５８に含まれる２つの受光素子１５８ｂ，１５８ｄとは、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設されている。なお、受光素子１５８ｂと１５８ｄとは角度βとなるように、互いに並行しないように配置されている。
【００６８】
また、ここで、センサ１５８に含まれる２つの受光素子１５８ａ，１５８ｃとは、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設されている。
【００６９】
すなわち、この場合に、受光素子１５８ａ，１５８ｃの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が相互に平行となる場合、受光素子１５８ａ，１５８ｃの光ビーム検知領域の主走査方向終端側の端縁が相互に平行となる場合、が考えられる。
【００７０】
また、こののほかに、受光素子１５８ａの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁と受光素子１５８ｃの光ビーム検知領域の主走査方向終端側の端縁とが相互に平行となる場合、受光素子１５８ａの光ビーム検知領域の主走査方向終端側の端縁と受光素子１５８ｃの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁とが相互に平行となる場合、も考えられる。
【００７１】
なお、以下の第二の実施形態の説明では、また、センサ１５８に含まれる２つの受光素子１５８ａ，１５８ｃとは、それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設されて、これらを横切る時間ｔ１を測定する場合を具体例とする。
【００７２】
そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ１がビーム間隔調整回路１８０で測定されるのに合わせて、受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとを横切った時間ｔ１がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図７中のステップＳ７０２）。
【００７３】
したがって、この第二の実施形態では、受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとが、請求項における「それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設された第二の２つの光ビーム検知手段」を構成している。また、ビーム間隔調整回路１８０が、請求項における、「複数の光ビームのうちの１つの光ビームを第二の２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、第二の２つの光ビーム検知手段で光ビームが検知される走査時間を測定する補正係数算出用走査時間計測手段」を構成している。
【００７４】
また、この第二の実施形態では、センサ１５８の受光面が感光体ドラム１６１の感光面と平行である場合に、センサ１５８の受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとをレーザビームが横切った際に発生する時間ｔ０を予め求めておく。
【００７５】
そして、実際の装置の受光素子１５８ａｂと受光素子１５８ｃとをレーザビームが実際に横切った時間ｔ１と、上記ｔ０とから、ビーム間隔調整回路１８０は、補正係数α’を求める（図７中のステップＳ７０３）。ここで、α’＝ｔ１／ｔ０とする。
【００７６】
なお、この補正係数α’は、センサ１５８の受光面が予め定められた所定の角度である場合には、第一の実施形態の補正係数αと一致する。そして、この補正係数α’は、センサ１５８の受光面が予め定められた所定の角度と異なっている場合には、センサ１５８の受光面の実際の角度に応じた適切な補正係数となる。
【００７７】
なお、ここでは、Ｔ１測定と並行して、ｔ１とｔ０とから補正係数α’を求めるようにしたが、後述するＴ２を測定する際に、ｔ２（＝ｔ１）と、上記ｔ０とから補正係数α’を求めてもよい。
【００７８】
そして、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ｂを駆動して第二のレーザビームＬ２を発生させ（図７中のステップＳ７０４）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ２は感光体ドラム１６１上を走査する。また、レーザビームＬ２は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ２のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ２がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図７中のステップＳ７０５）。
【００７９】
ここで、ビーム間隔調整回路１８０は、上記Ｔ１とＴ２との差ΔＴ＝（Ｔ２−Ｔ１）を求める（図７中のステップＳ７０６）。
なお、従来（上記特許文献２）は、このＴ２−Ｔ１から直接にビーム間隔を求めていた。しかし、上述したように、感光体ドラム１６１面と、センサ１５８受光面とが平行でない場合には、レーザビーム走査速度が異なってしまい、検知結果に誤差が生じ、正確なレーザビームの間隔が測定できない問題が生じることになる。
【００８０】
図５は感光体ドラム１６１の表面のレーザビームの走査と、センサ１５８での受光面のレーザビームの走査とを、同一位置に模式的に重ねて記載した図面である。実際には、センサ１５８はミラー１５７での反射光を受けるが、この図５のように角度を等価的に示すことができる。
【００８１】
ここで、感光体ドラム１６１の表面でのレーザビームの走査速度がＶ（図２では走査速度ａ）であり、ドラム１６１の表面とセンサ１５８の受光面のなす角度をθとした場合、センサ１５８の受光面での走査速度Ｖ’はＶ’＝Ｖ・ｃｏｓθ（図２での走査速度ａ’）となる。すなわち、センサ１５８の受光面上では、感光体ドラム面上の速度より遅いｃｏｓθ倍の速度となっている。よって、Ｔ１とＴ２とは、実際には本来の時間よりもｃｏｓθ倍の長い時間として計測されていることになる。
【００８２】
受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとの間の距離がＤである場合、感光体ドラム面上でのレーザビーム走査時間Ｔorgは、Ｔorg＝Ｄ／Ｖである。一方、センサ１５８の受光面上でのレーザビーム走査時間Ｔは、Ｔ＝Ｄ／Ｖ’＝Ｄ／（Ｖ・ｃｏｓθ）＝Ｔorg／ｃｏｓθ、である。
【００８３】
すなわち、計測されたＴは本来のＴorgと比較して、１／ｃｏｓθの誤差を含んだ状態である。後述するようにレーザビーム間隔はＴ（Ｔorg）に比例するものであるため、制御されるレーザビーム間隔にそのまま誤差が含まれてしまうことになる。
【００８４】
このθは光学系の設計により定まる値であるため、このθを元にして走査時間Ｔ１とＴ２との測定値を補正すればよいことになる。
ただし、以上の説明は、センサ１５８の受光面に対して垂直にレーザビームが入射しており、上述したθだけによって走査時間の誤差が生じていると仮定した場合である。
【００８５】
実際には、センサ１５８の取り付け誤差などによって、センサ１５８の受光面に対して垂直あるいは予め定められた所定の角度でレーザビームが入射しているとは限らない。
そこで、この第二の実施形態では、補正係数α’＝ｔ１／ｔ０を用いて走査時間を補正する。補正後の計測値Ｔnewは、Ｔnew＝Ｔ／α’＝（Ｔorg／（ｔ１／ｔ０））・（ｔ１／ｔ０））＝Ｔorgとなり、ドラム面上でのレーザビーム走査時間と同じ正しい計測値が得られるようになる。
【００８６】
ビーム間隔調整回路１８０は、以上のように補正して、Ｔ２newとＴ１newとを求め、ΔＴnew＝Ｔ２new−Ｔ１new＝（Ｔ２／α’）−（Ｔ１／α’）を計算する（図７中のステップＳ７０７）。
【００８７】
そして、ビーム間隔調整回路１８０は、このΔＴnewを用いて、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとのなす角度β（図３）を参照し、レーザビーム間隔Ｈについて、Ｈ＝（ΔＴnew／２）／ｔａｎ（β／２）として算出する（図７中のステップＳ７０８）。
【００８８】
または、ビーム間隔調整回路１８０は、ΔＴとα’とを用いて、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとのなす角度β（図３）を参照し、レーザビーム間隔Ｈについて、Ｈ＝（（ΔＴ／２）／α’）／ｔａｎ（β／２）として算出する（図７中のステップＳ７０８）。
【００８９】
そして、ビーム間隔調整回路１８０は、このようにして求められたレーザビーム間隔Ｈと、本来のレーザビーム間隔Ｈorgとの差を解消するように、図示されないステッピングモータ等を用いてビーム間隔調整部１５２ｃを所定角度だけ傾けてＨとＨorgとを一致させる（図７中のステップＳ７０９）。
【００９０】
なお、ここでは、ビーム間隔調整部１５２ｃとして板状の光学素子を図６のように傾けることで光の屈折を利用して光路をずらし、レーザビーム間隔Ｈを調整している。この場合に、他の素子を用いたり、半導体レーザ１５１ａまたは１５１ｂをアクチュエータ等で移動させる方式を用いてもよい。
【００９１】
以上のようにすることで、レーザビーム間隔Ｈが本来のレーザビーム間隔Ｈorgに近づけて誤差を小さくすることができるようになる。従って、画質を劣化させず、複数のレーザビームの間隔を正確に把握し、良好な画質で画像形成を実現可能になる。そして、この第二の実施形態では、センサ１５８の受光面が予め定められた所定の角度からずれていた場合であっても、そのずれに影響されることなく、補正係数α’によって適切な補正をすることが可能になる。
【００９２】
また、この第二の実施形態では、センサ１５８とレーザビームの入射角との関係を厳密に固定せずに、取付の際の角度が予め定められた所定の角度でなくても、また、圭二変化でセンサ１５８の取り付け角度が狂ったとしても、補正係数α’によって適切な補正がなされるため、誤差などの問題は生じないという効果が得られる。
【００９３】
〔第三の実施形態〕
以下、本実施形態の画像形成装置１００の第二の動作（第三の実施形態）について、図９のフローチャートを参照して説明する。
【００９４】
以上の第一の実施形態では、センサ１５８では受光面で垂直にレーザビームを受けており、ドラム１６１の表面とセンサ１５８の受光面のなす角度をθとした場合、センサ１５８の受光面での走査速度Ｖ’はＶ’＝Ｖ・ｃｏｓθ（図２での走査速度ａ’）となるという前提であった。
【００９５】
しかし、センサ１５８でレーザビームを受光する角度が変化した場合には、上述した第一の実施形態におけるθを用いた計算に誤差が生じることになる。従って、レーザビームの間隔が意図した状態からずれて、画質の劣化を生じることになる。
【００９６】
そこで、この第三の実施形態では、センサ１５８の受光面でレーザビームを受光する角度のずれにかかわらず、上記第一の実施形態のθに相当する角度を実測し、正確にレーザビーム間隔を制御して画質劣化を生じさせないことを目的とする。
【００９７】
まず、工場出荷調整時、使用開始後所定時間経過時、定期点検時などに、制御部１０１の指示により、レーザビーム間隔調整の作業が開始される（図９中のスタート）。
ここで、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ａを駆動して第一のレーザビームＬ１を発生させ（図９中のステップＳ９０１）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ１は感光体ドラム１６１上を走査する。
【００９８】
また、レーザビームＬ１は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ１のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとを横切った時間ｔ１がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図９中のステップＳ９０２）。
【００９９】
したがって、この第三の実施形態では、受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとが、請求項における「それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側あるいは終端側の端縁が相互に平行となるように主走査方向に並べて配設された第二の２つの光ビーム検知手段」を構成している。また、ビーム間隔調整回路１８０が、請求項における、「複数の光ビームのうちの１つの光ビームを第二の２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、第二の２つの光ビーム検知手段で光ビームが検知される走査時間を測定する補正係数算出用走査時間計測手段」を構成している。
【０１００】
また、この第三の実施形態では、センサ１５８の受光面が感光体ドラム１６１の感光面と平行である場合に、センサ１５８の受光素子１５８ａと受光素子１５８ｃとをレーザビームが横切った際に発生する時間ｔ０を予め求めておく。
【０１０１】
そして、実際の装置の受光素子１５８ａｂと受光素子１５８ｃとをレーザビームが実際に横切った時間ｔ１と、上記ｔ０とから、ビーム間隔調整回路１８０は、補正係数α’を求める（図９中のステップＳ９０３）。ここで、α’＝ｔ１／ｔ０とする。
【０１０２】
なお、この補正係数α’は、センサ１５８の受光面が予め定められた所定の角度である場合には、第一の実施形態の補正係数αと一致する。そして、この補正係数α’は、センサ１５８の受光面が予め定められた所定の角度と異なっている場合には、センサ１５８の受光面の実際の角度に応じた適切な補正係数となる。
【０１０３】
なお、ここでは、レーザビームＬ１によってｔ１とｔ０とから補正係数α’を求めるようにしたが、レーザビームＬ２によってｔ１とｔ０とから補正係数α’を求めるようにしてもよい。
【０１０４】
さらに、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ａを駆動して第一のレーザビームＬ１を発生させ（図９中のステップＳ９０４）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ１は感光体ドラム１６１上を走査する。
【０１０５】
また、レーザビームＬ１は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ１のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ１がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図９中のステップＳ９０５）。
【０１０６】
そして、制御部１０１の指示を受けたレーザ制御部１２０とレーザ駆動回路１３０とは、半導体レーザ１５１ｂを駆動して第二のレーザビームＬ２を発生させ（図９中のステップＳ９０６）、ポリゴンミラー１５４の回転反射によってレーザビームＬ２は感光体ドラム１６１上を走査する。また、レーザビームＬ２は端部でミラー１５７で反射されて、センサ１５８に入射する。このとき、図３のＬ２のように、センサ１５８を構成する複数の受光素子を横切る。そして、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとを横切った時間Ｔ２がビーム間隔調整回路１８０で測定される（図９中のステップＳ９０７）。
【０１０７】
ここで、ビーム間隔調整回路１８０は、上記Ｔ１とＴ２との差ΔＴ＝（Ｔ２−Ｔ１）を求める（図９中のステップＳ９０８）。
なお、従来（上記特許文献２）は、このＴ２−Ｔ１から直接にビーム間隔を求めていた。しかし、上述したように、感光体ドラム１６１面と、センサ１５８受光面とが平行でない場合には、レーザビーム走査速度が異なってしまい、検知結果に誤差が生じ、正確なレーザビームの間隔が測定できない問題が生じることになる。
【０１０８】
図５は感光体ドラム１６１の表面のレーザビームの走査と、センサ１５８での受光面のレーザビームの走査とを、同一位置に模式的に重ねて記載した図面である。実際には、センサ１５８はミラー１５７での反射光を受けるが、この図５のように角度を等価的に示すことができる。
【０１０９】
ここで、感光体ドラム１６１の表面でのレーザビームの走査速度がＶ（図２では走査速度ａ）であり、ドラム１６１の表面とセンサ１５８の受光面のなす角度をθとした場合、センサ１５８の受光面での走査速度Ｖ’はＶ’＝Ｖ・ｃｏｓθ（図２での走査速度ａ’）となる。すなわち、センサ１５８の受光面上では、感光体ドラム面上の速度より遅いｃｏｓθ倍の速度となっている。よって、Ｔ１とＴ２とは、実際には本来の時間よりもｃｏｓθ倍の長い時間として計測されていることになる。
【０１１０】
受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとの間の距離がＤである場合、感光体ドラム面上でのレーザビーム走査時間Ｔorgは、Ｔorg＝Ｄ／Ｖである。一方、センサ１５８の受光面上でのレーザビーム走査時間Ｔは、Ｔ＝Ｄ／Ｖ’＝Ｄ／（Ｖ・ｃｏｓθ）＝Ｔorg／ｃｏｓθ、である。
【０１１１】
すなわち、計測されたＴは本来のＴorgと比較して、１／ｃｏｓθの誤差を含んだ状態である。後述するようにレーザビーム間隔はＴ（Ｔorg）に比例するものであるため、制御されるレーザビーム間隔にそのまま誤差が含まれてしまうことになる。
【０１１２】
このθは光学系の設計により定まる値であるため、このθを元にして走査時間Ｔ１とＴ２との測定値を補正すればよいことになる。
ただし、以上の説明は、センサ１５８の受光面に対して垂直にレーザビームが入射しており、上述したθだけによって走査時間の誤差が生じていると仮定した場合である。
【０１１３】
実際には、センサ１５８の取り付け誤差などによって、センサ１５８の受光面に対して垂直あるいは予め定められた所定の角度でレーザビームが入射しているとは限らない。
そこで、この第三の実施形態では、補正係数α’＝ｔ１／ｔ０を用いて走査時間を補正する。補正後の計測値Ｔnewは、Ｔnew＝Ｔ／α’＝（Ｔorg／（ｔ１／ｔ０））・（ｔ１／ｔ０））＝Ｔorgとなり、ドラム面上でのレーザビーム走査時間と同じ正しい計測値が得られるようになる。
【０１１４】
ビーム間隔調整回路１８０は、以上のように補正して、Ｔ２newとＴ１newとを求め、ΔＴnew＝Ｔ２new−Ｔ１new＝（Ｔ２／α’）−（Ｔ１／α’）を計算する（図９中のステップＳ９０９）。
【０１１５】
そして、ビーム間隔調整回路１８０は、このΔＴnewを用いて、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとのなす角度β（図３）を参照し、レーザビーム間隔Ｈについて、Ｈ＝（ΔＴnew／２）／ｔａｎ（β／２）として算出する（図９中のステップＳ９１０）。
【０１１６】
または、ビーム間隔調整回路１８０は、ΔＴとα’とを用いて、受光素子１５８ｂと受光素子１５８ｄとのなす角度β（図３）を参照し、レーザビーム間隔Ｈについて、Ｈ＝（（ΔＴ／２）／α’）／ｔａｎ（β／２）として算出する（図９中のステップＳ９１０）。
【０１１７】
そして、ビーム間隔調整回路１８０は、このようにして求められたレーザビーム間隔Ｈと、本来のレーザビーム間隔Ｈorgとの差を解消するように、図示されないステッピングモータ等を用いてビーム間隔調整部１５２ｃを所定角度だけ傾けてＨとＨorgとを一致させる（図９中のステップＳ９１１）。
【０１１８】
なお、ここでは、ビーム間隔調整部１５２ｃとして板状の光学素子を図６のように傾けることで光の屈折を利用して光路をずらし、レーザビーム間隔Ｈを調整している。この場合に、他の素子を用いたり、半導体レーザ１５１ａまたは１５１ｂをアクチュエータ等で移動させる方式を用いてもよい。
【０１１９】
以上のようにすることで、レーザビーム間隔Ｈが本来のレーザビーム間隔Ｈorgに近づけて誤差を小さくすることができるようになる。従って、画質を劣化させず、複数のレーザビームの間隔を正確に把握し、良好な画質で画像形成を実現可能になる。そして、この第三の実施形態では、センサ１５８の受光面が予め定められた所定の角度からずれていた場合であっても、そのずれに影響されることなく、補正係数α’によって適切な補正をすることが可能になる。
【０１２０】
また、この第三の実施形態では、センサ１５８とレーザビームの入射角との関係を厳密に固定せずに、取付の際の角度が予め定められた所定の角度でなくても、また、圭二変化でセンサ１５８の取り付け角度が狂ったとしても、補正係数α’によって適切な補正がなされるため、誤差などの問題は生じないという効果が得られる。
【０１２１】
〔その他の実施形態〕
以上の実施形態では、第一走査時間計測手段と、第二走査時間計測手段と、副走査方向光ビーム間隔算出手段との機能を、ビーム間隔調整回路１８０が兼用していたが、それぞれを独立した回路で構成するようにしてもよい。
【０１２２】
また、第一走査時間計測手段と、第二走査時間計測手段と、副走査方向光ビーム間隔算出手段との機能を、制御部１０１で構成するようにしてもよい。
また、以上の実施形態では、レーザビームを用いた電子写真方式の画像形成装置について説明してきたが、これに限定されるものではない。たとえば、レーザビームを用いて印画紙に露光を行うレーザイメージャなど、各種の画像形成装置に本発明の各実施形態を適用することが可能であり、良好な結果を得ることが可能である。
【０１２３】
また、光源としては、半導体レーザ（ＬＤ）以外の他の光源を用いた場合であっても適用することが可能である。
また、レーザビームの合成については実施形態で用いたビーム合成プリズム１５２ｐ以外の素子を用いることも可能である。また、レーザビームの間隔調整については実施形態で用いたビーム間隔調整部１５２ｃ以外の素子を用いることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１２４】
【図１】本発明の実施形態の画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態の画像形成装置の構成を示す構成図である。
【図３】本発明の一実施形態の画像形成装置のセンサの構成を示す説明図である。
【図４】本発明の第一実施形態の画像形成装置の動作状態を説明するフローチャートである。
【図５】本発明の実施形態の画像形成装置の動作状態を説明する説明図である。
【図６】本発明の実施形態の画像形成装置の動作状態を説明する説明図である。
【図７】本発明の第二実施形態の画像形成装置の動作状態を説明するフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態の画像形成装置のセンサの構成を示す説明図である。
【図９】本発明の第二実施形態の画像形成装置の動作状態を説明するフローチャートである。
【図１０】画像形成装置のレーザビーム検知を説明する説明図である。
【符号の説明】
【０１２５】
１００  画像形成装置
１０１  制御部
１１０  画像処理部
１２０  レーザ制御回路
１３０  レーザ駆動回路
１４０  プリントエンジン
１５０  露光ユニット
１６０  プロセスユニット
１８０  ビーム間隔調整回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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