(57)【要約】【課題】最適なフォーカス位置の高精度での検出を可能とする光ディスク装置および最適フォーカス位置の決定方法を提供する。【解決手段】光ディスク装置が，光ディスクに光を照射してデータを記録および再生する光照射部と，前記光照射部から前記光ディスクに照射される光のフォーカス位置を調整するフォーカス位置調整部と，前記光照射部を制御して，所定のフォーカス位置での前記光ディスクへのデータの記録時における光量と記録品質の対応関係を測定する測定部と，前記測定の結果に基づき，最適フォーカス位置を決定する決定部と，を具備する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光を照射してデータを記録および再生する光照射部と，
前記光照射部から前記光ディスクに照射される光のフォーカス位置を調整するフォーカス位置調整部と，
前記光照射部を制御して，所定のフォーカス位置での前記光ディスクへのデータの記録時における光量と記録品質の対応関係を測定する測定部と，
前記測定の結果に基づき，最適フォーカス位置を決定する決定部と，
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記測定部が，互いに異なる複数のフォーカス位置それぞれでの，前記光量と記録品質との対応関係を測定し，
前記決定部が，前記記録品質が所定基準より良好で，かつ前記光量が最小のときのフォーカス位置を最適フォーカス位置と決定する，
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記決定部が，
所定の許容範囲より悪い記録品質に対応する光量を選択する選択部と，
前記選択された光量での，フォーカス位置と記録品質の対応関係を測定する第２の測定部と，
前記測定された記録品質が最良のときのフォーカス位置を最適フォーカス位置と判断する判断部と，を有する，
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記記録品質が，前記光ディスクから再生したデータに含まれるエラー，前記ディスクから再生した信号に含まれるジッタの何れかにより規定される
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
所定のフォーカス位置での光ディスクへのデータの記録時における光量と記録品質の対応関係を測定するステップと，
前記測定の結果に基づき，最適フォーカス位置を決定するステップと，
を具備することを特徴とする最適フォーカス位置の決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，光ディスク装置および最適フォーカス位置の決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクにデータを記録，再生する場合，フォーカスエラー信号を用いて，光ディスクへの集光状態が制御される。ここで，フォーカスエラー信号について，オフセットの調整が必要な場合がある。フォーカスエラー信号のオフセットを調整することで，最適なフォーカス位置に光が集光されるようになる。例えば，ＯＰＣ（Optimum Power Control）により最適記録パワーを探索し，この最適記録パワーを用いて，最適記録フォーカスオフセットを探索する技術が開示されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００４−８６９５５号公報，段落番号００２３
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで，最適なフォーカス位置を精度良く検出することは必ずしも容易でない。
上記に鑑み，本発明は，最適なフォーカス位置の高精度での検出を可能とする光ディスク装置および最適フォーカス位置の決定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の一態様に係る光ディスク装置は，光ディスクに光を照射してデータを記録および再生する光照射部と，前記光照射部から前記光ディスクに照射される光のフォーカス位置を調整するフォーカス位置調整部と，前記光照射部を制御して，所定のフォーカス位置での前記光ディスクへのデータの記録時における光量と記録品質の対応関係を測定する測定部と，前記測定の結果に基づき，最適フォーカス位置を決定する決定部と，を具備する。
【０００５】
本発明の一態様に係る最適フォーカス位置の決定方法は，所定のフォーカス位置での光ディスクへのデータの記録時における光量と記録品質の対応関係を測定するステップと，前記測定の結果に基づき，最適フォーカス位置を決定するステップと，を具備する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば，最適なフォーカス位置の高精度での検出を可能とする光ディスク装置および最適フォーカス位置の決定方法を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下，図面を参照して，本発明の実施の形態を詳細に説明する。
（第１の実施形態）
図１は，本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置１００を表すブロック図である。光ディスク装置１００は，光ディスクＤに情報を記録及び再生する。
【０００８】
光ディスクＤは，例えば，ＤＶＤ（Digital Versatile Disc），ＨＤ−ＤＶＤ等の情報記憶媒体である。光ディスクＤには，同心円状，又は螺旋状に溝が刻まれている。この溝の一周をトラックと呼ぶ。このトラックに沿って，強度変調されたレーザ光を照射してマーク（ピット等）を形成することで，ユーザデータが記録される。データの再生時には，記録時より弱いレーザ光がトラックに沿って照射される。トラック上のマークからの反射光強度の変化を検出することで，データが再生される。
【０００９】
光ディスクＤは，ディスクモータ１１によって回転駆動される。ディスクモータ１１は，ディスクモータ制御回路１２によって制御される。光ピックアップ１３は，光ディスクＤに光を照射して情報を記録，再生する。即ち，光ピックアップ１３は，光ディスクに光を照射してデータを記録および再生する光照射部として機能する。
【００１０】
情報記録時（マーク形成時）には，インターフェース回路２４を介して，ホスト装置２５から変調回路１４にユーザデータが供給される。変調回路１４は，このユーザデータをＥＦＭ変調（例えば，８−１４変調）し，データ信号Ｓｄｔとして，レーザ制御回路３１に出力する。
【００１１】
レーザ制御回路３１は，変調回路１４から供給されるデータ信号Ｓｄｔに基づいて，書き込み用電流（駆動電流Ｉｄ）を半導体レーザ（レーザダイオード）３２に供給する。このとき，ＣＰＵ２１からの制御信号Ｓｃｒｌが用いられる。情報読取り時には，レーザ制御回路３１は前記書き込み用電流より小さい読取り用電流（駆動電流Ｉｄ）を半導体レーザ３２に供給する。
【００１２】
光検出器（フロントモニタ）３４は半導体レーザ３２が発生するレーザ光の光量（発光パワー）を検出し，光量検出電流Ｉｐをレーザ制御回路３１に供給する。
レーザ制御回路３１は，光検出器３４からの検出電流に基づいて，半導体レーザ３２を制御する。その結果，半導体レーザ３２は，ＣＰＵ２１により設定された再生時レーザパワー（再生光量），および記録時レーザパワー（記録光量）で発光する。
【００１３】
半導体レーザ３２から発せられるレーザ光は，ハーフプリズム３３，コリメータレンズ３５，ハーフプリズム３６，対物レンズ３７を介して光ディスクＤ上に照射される。光ディスクＤからの反射光は，対物レンズ３７，ハーフプリズム３６，集光レンズ４１，およびシリンドリカルレンズ４２を介して，光検出器４３に導かれる。光検出器４３は，例えば４分割の光検出セルからなり，これら光検出セルの検知信号がＲＦアンプ１５に出力される。
【００１４】
ＲＦアンプ１５は光検知セルからの信号を処理し，ＲＦ信号，トラッキングエラー信号ＴＥ，およびフォーカスエラー信号ＦＥを生成する。ＲＦ信号は，光検知セルからの信号の全てを加算した信号であり，光ディスクＤのトラック上に形成されたマークからの反射光が反映される。トラッキングエラー信号ＴＥは，レーザ光のビームスポット中心とトラック中心のズレ（誤差）を示す。フォーカスエラー信号ＦＥは，４分割の光検出セルの対角和の差分により得られ（非点収差法），光ディスクＤの記録層へのジャストフォーカスからのズレ（誤差）を示す。
【００１５】
ＲＦ信号が，データ再生回路１６に供給され，データが再生される。
トラッキングエラー信号ＴＥ，フォーカスエラー信号ＦＥがそれぞれ，トラッキング制御部１７，フォーカス制御部１８に供給され，トラック駆動信号およびフォーカス駆動信号が生成される。トラック駆動信号およびフォーカス駆動信号は，駆動コイル４４に供給され，対物レンズ３７がトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）およびフォーカシング方向（レンズの光軸方向）に移動される。この結果，トラッキングサーボ（レーザ光が光ディスクＤ上に形成されたトラック上を常にトレースする），フォーカスサーボ（レーザ光が光ディスクＤの記録層に常時ジャストフォーカスとなる）がなされる。
【００１６】
フォーカスエラー信号ＦＥのオフセット（フォーカスオフセット）ＦＥＯＦＦが，オフセット調整部１９により調整される。フォーカスオフセットＦＥＯＦＦを変更することで，対物レンズ３７が光軸方向に移動し，光ピックアップ１３から光ディスクＤに照射されるレーザ光のフォーカス位置（集光位置）が変化する。オフセット調整部１９は，フォーカスオフセットＦＥＯＦＦを記憶し，これをフォーカスエラー信号ＦＥに加算する。オフセット調整部１９が記憶するフォーカスオフセットＦＥＯＦＦはＣＰＵ２１によって適宜に変更される。オフセット調整部１９は，光ディスクＤに照射される光のフォーカス位置を調整するフォーカス位置調整部として機能する。
【００１７】
光ピックアップ１３の構成のバラツキ等の理由から，フォーカスエラー信号ＦＥにバイアス成分（不要なＤＣ成分）が発生する場合があり，フォーカスオフセットＦＥＯＦＦの調整が必要となる。フォーカスエラー信号ＦＥにバイアス成分が有ると，フォーカス位置（集光位置）が記録層から外れ，記録品質の低下を招く。本実施形態では，最適フォーカス位置に対応する最適フォーカスオフセットＦＥ０ＯＦＦを決定する。最適フォーカス位置は，光ディスクＤの記録層にレーザ光が集光していることを意味する。
【００１８】
ＣＰＵ(Central Processing Unit)２１はインターフェース回路２４を介してホスト装置２５から提供される動作コマンドに従って，光ディスク装置１００を総合的に制御する。ＣＰＵ２１は，ＲＡＭ（Random Access Memory）２２を作業エリアとして使用し，ＲＯＭ（Read Only Memory）２３に記録された制御プログラムに従って，動作する。
【００１９】
ＣＰＵ２１は，制御プログラムに従って動作することで，次の１），２）として機能する。
１）光ディスクＤへのデータの記録時における光量と記録品質の対応関係を測定する測定部
２）最適フォーカス位置を決定する決定部
【００２０】
（記録光量と記録品質の対応関係）
本実施形態では，記録時の光量（記録光量）と記録品質の対応関係を用いて，最適なフォーカス位置を検出する。図２は，記録光量と記録品質の対応関係を表すグラフの一例である。本図の横軸，縦軸がそれぞれ，記録光量Ｐ［ｍＷ］，バイトエラーレート（Byte Error Rate: ＢＥＲ）に対応する。本図のグラフＧ１，Ｇ０はそれぞれ，最適フォーカス位置，最適フォーカス位置からずれたフォーカス位置での記録光量ＰとＢＥＲの関係を表す。
【００２１】
記録光量Ｐは，記録時に半導体レーザ３２から発せられるレーザ光の光量（パワー）である。記録光量Ｐは，制御信号Ｓｃｒｌによってレーザ制御回路３１に光量設定値Ｎを設定することで変更できる。光量設定値Ｎは，０から所定の最大値Ｍの間の整数であり，記録光量Ｐと，Ｐ＝Ａ＊Ｎの関係を有する（Ａ：比例定数）。
【００２２】
ＢＥＲは，記録品質の指標の一種であり，ディスクＤへのデータの記録時での１バイト当たりでの誤りの発生確率を意味する。具体的には，記録データ中での誤りデータのバイト数を記録データのバイト数で割ることで，ＢＥＲが算出される。光ディスクＤに所定のデータを記録し（書き込み），その後にデータを再生し（読み出し），記録したデータと再生されたデータとを比較することで，誤りが検出される。即ち，記録したデータと再生されたデータとの相違を誤り（エラー）とする。
【００２３】
図２から次のことが判る。
（１）記録光量Ｐが小さいときには，ＢＥＲが大きい（書き込み誤りが多い）。記録光量Ｐをある程度以上大きくすることで，ＢＥＲが低下する（書き込み誤りが減少する）。十分に記録光量Ｐを大きくすると，ＢＥＲを十分小さくし，基準値Ｂｓ１（例えば，１０−４〜１０−５）以下とすることができる。基準値Ｂｓ１は，光ディスクＤへの書き込みにおいて誤りを許容できる基準である。誤り訂正処理により，書き込み時でのエラーのある程度の発生が許容可能となる。
【００２４】
（２）記録光量Ｐが十分大きければ，フォーカス位置に関わりなく，ＢＥＲは基準値Ｂｓ１以下となる。このことは，記録光量Ｐが大きい状態での最適フォーカス位置の検出が困難であることを意味する。逆に言えば，中間的な記録光量を用いることで，最適フォーカス位置の検出が容易となる。
【００２５】
（３）グラフＧ１，Ｇ０から，記録光量とＢＥＲの対応関係がフォーカス位置によって変化することが判る。最適でないフォーカス位置と比べて，最適なフォーカス位置では，より低い記録光量（記録パワー）でＢＥＲが低下する。本実施形態ではこの特性を利用して，最適フォーカス位置を検出する。
【００２６】
なお，ＢＥＲ以外の記録品質の指標でも同様の傾向を有する。記録品質の指標として，ＢＥＲ以外に，ジッタ，エラーライン数を挙げることができる。
ジッタは，光ディスクＤに記録されたデータを再生したＲＦ信号での時間的なズレや揺らぎを意味する。
【００２７】
エラーライン数は，記録したデータに含まれる訂正コードを用いても訂正されなかった一連のデータの個数を意味する。例えば，ＤＶＤでは，１８２バイトの一連のデータ（ＲＯＷ）毎に５バイトの訂正コードが存在し，この訂正コードを用いて一連のデータが誤り訂正される。この訂正コードによって，対応する一連のデータ（１８２バイト）が訂正されなかったときに，エラーライン数を１とカウントする。
【００２８】
（光ディスク装置１００の動作）
光ディスク装置１００の動作につき説明する。図３は，光ディスク装置１００の動作手順の一例を表すフロー図である。
【００２９】
（１）光ディスクＤの装着（ステップＳ１１）
光ディスクＤが光ディスク装置１００に装着される。ＣＰＵ２１がこの装着を検出することで，最適フォーカス位置（最適フォーカスオフセットＦＥ０ＯＦＦ）の決定手順が開始される。
【００３０】
（２）記録光量−記録品質の関係の測定（ステップＳ１２〜Ｓ１６）
次の手順で記録光量と記録品質の対応関係が測定される。
１）光量（光量設定値Ｎ）およびフォーカス位置（フォーカスオフセットＦＥＯＦＦ）が初期値に設定される。
光量の初期値として，最小光量（光量設定値Ｎが０）を利用できる。また，適宜な値を光量（光量設定値Ｎ）とすることができる。図２に示されるように，記録光量Ｐがある程度の値Ｐｔｈを越えなければ，ＢＥＲが変化しない。フォーカス位置として，フォーカスエラー信号ＦＥのゼロ点を利用できる。即ち，フォーカスオフセットＦＥＯＦＦを０とする。
【００３１】
２）ＢＥＲを測定する。
光量設定値Ｎ，およびフォーカスオフセットＦＥＯＦＦが初期値のときのＢＥＲを測定する。その後，記録光量Ｐを増加し，ＢＥＲを測定する。光ディスクＤの試し書き領域にデータを書き込み，書き込んだデータを読み出して比較することで，書き込みエラーを検出する。
【００３２】
全ての光量で（光量設定値Ｎが最大値Ｍとなるまで）ＢＥＲが測定されるか，または測定されたＢＥＲが基準値Ｂｓ１以下となるまで，ＢＥＲの測定が繰り返される。例えば，グラフＧ０がフォーカス位置の初期値に対応していた場合，記録光量Ｐが０からＰ０に至るまで，ＢＥＲが測定される。記録光量（記録パワー）Ｐを低い値から順次に増加し，記録ならびに再生を行う。そして，ＢＥＲが基準値Ｂｓ１以下となった記録光量（記録パワー）Ｐを記憶しておく。
【００３３】
基準値Ｂｓ１は，光ディスクＤへの書き込みが実用的に可能な範囲（許容範囲）の値，例えば，１０−４以下，より好ましくは１０−５以下である。
なお，既述のように，ＢＥＲに替えて，ジッタ，エラーライン数などを用いることも可能である。
【００３４】
（３）フォーカス位置の変更（ステップＳ１７，Ｓ１８）
フォーカス位置が初期値のときでのＢＥＲの測定が完了したら，次のフォーカス位置で，記録光量−記録品質の関係が測定される（ステップＳ１２〜Ｓ１６）。即ち，フォーカスオフセットＦＥＯＦＦが変更される。フォーカス位置（フォーカスオフセットＦＥＯＦＦ）の変更範囲（変更の大きさ，幅）は，予め決めておく。以上の結果，例えば，グラフＧ０，Ｇ２，Ｇ１において，ＢＥＲが基準値Ｂｓ１以下となった記録光量（記録パワー）Ｐ０，Ｐ２，Ｐ１が順に求められる。
【００３５】
（４）フォーカス位置の決定（ステップＳ１９）
ＢＥＲが基準値Ｂｓ１以下となった光量（記録パワー）Ｐが最小のときのフォーカス位置を最適フォーカス位置とする。また，このときの記録光量Ｐを最小記録光量Ｐminとする。最小記録光量Ｐminは，光ディスクＤへの記録が可能な光量の下限を意味する。例えば，グラフＧ１が最適フォーカス位置に対応していた場合，記録光量Ｐ１が最小記録光量Ｐminとなる。
【００３６】
最適フォーカス位置の決定後，必要に応じて，ＯＰＣ（Optimum Power Control）等で最適記録光量を決定する。この最適フォーカス位置（最適フォーカスオフセットＦＥ０ＯＦＦ）および最適記録光量で，光ディスクＤにデータを記録する。なお，最適記録光量に替えて，最小記録光量Ｐminを用いることで，光ディスクＤへの不要なダメージを低減できる。
【００３７】
以上のように本実施形態では，数種類のフォーカス位置（フォーカスオフセットＦＥＯＦＦ）にて，記録光量Ｐを低パワーから順次に上げて記録ならびに再生を行う。そして，記録光量Ｐができるだけ小さく，かつ記録品質が良好なフォーカス位置を探す。この結果，データの記録（および再生）に最適なフォーカス位置（最適フォーカスオフセットＦＥ０ＯＦＦ）が決定される。
【００３８】
以下，本実施形態での利点を説明する。
（１）最適フォーカス位置の決定精度の向上
光ディスクＤ（例えば，ＤＶＤ−ＲＡＭ）へのデータ記録，再生に最適なフォーカス位置を精度良く決定することが可能となる。この結果，記録品質が向上する。また，再生性能が向上し，再生時のエラー頻度が少なくなる。例えば，仕様の異なる光ディスク装置（異なるメーカ製の光ディスク装置も含む）で記録された光ディスクＤからの確実な再生が可能となる（再生互換性の確保）。また，欠陥のある光ディスクＤや記録状態の悪い光ディスクＤを再生する場合のエラー頻度の低減が可能となる。
【００３９】
比較例として，ＯＰＣ後にフォーカスオフセットＦＥＯＦＦを決定する場合を考える。例えば，ＯＰＣにて決定された最適な記録光量でデータを記録し，ジッタ等の記録品質を測定することで，フォーカスオフセットＦＥＯＦＦを決定する。この場合，最適フォーカス位置からずれたフォーカス位置で，最適記録光量が決定される。このときの最適記録光量は，例えば，図２の記録光量Ｐ０であり，最小記録光量Ｐmin（図２での記録光量Ｐ１）よりかなり大きい値となる。このような大きな記録光量でフォーカス位置を変化させた場合，記録品質（例えば，ＢＥＲ）の変化は小さい（図２参照）。このため，このような手法で決定した最適フォーカス位置の精度は低くなる。
【００４０】
これに対して，本実施形態では，記録光量を変化させた結果，比較的低い記録光量（例えば，図２の記録光量Ｐ２，Ｐ１）での記録品質を利用して最適フォーカス位置を決定する。この結果，フォーカス位置を変化させたときの記録品質の変化が大きくなり，より精度良く最適フォーカス位置を決定できる。
【００４１】
（２）光ディスクＤへのダメージの低減
本実施形態では，記録光量を順次に増加することで，光ディスクＤの記録層へのダメージが低減される。
【００４２】
（第２の実施形態）
以下，本発明の第２の実施形態に係る光ディスク装置２００につき説明する。光ディスク装置２００の基本構成は，第１の実施形態に係る光ディスク装置１００と同様に図１で示されるので説明を省略する。
【００４３】
（光ディスク装置２００の動作）
光ディスク装置２００の動作につき説明する。図４は，光ディスク装置２００の動作手順の一例を表すフロー図である。
【００４４】
（１）光ディスクＤの装着（ステップＳ１１）
光ディスクＤが光ディスク装置２００に装着される。ＣＰＵ２１がこの装着を検出することで，最適フォーカス位置（最適フォーカスオフセットＦＥ０ＯＦＦ）の決定手順が開始される。
【００４５】
（２）記録光量−記録品質の関係の測定（ステップＳ１２〜Ｓ１３，Ｓ２４，Ｓ１５Ｓ１６）
記録光量−記録品質の関係の測定は，基本的には，第１の実施形態と同様であり，記録光量Ｐを変化させて，記録品質（ＢＥＲ）が測定される。全ての光量で（光量設定値Ｎが最大値Ｍとなるまで）ＢＥＲが測定されるか，または測定されたＢＥＲが基準値Ｂｓ２以下となるまで，ＢＥＲの測定が繰り返される。
【００４６】
但し，ステップＳ２４での基準値Ｂｓ２は第１の実施形態での基準値Ｂｓ１より大きい（図５参照）。既述のように，基準値Ｂｓ１は，光ディスクＤへの書き込みが実用的に可能な範囲（許容範囲）の値，例えば，１０−４以下，より好ましくは１０−５以下である。これに対して，基準値Ｂｓ２は，光ディスクＤへの書き込みが実用的に可能と言えない範囲（許容範囲より記録品質が悪い範囲）の値，例えば，１０−２〜１０−３程度である。基準値Ｂｓ２は，フォーカス位置を変化させたときの記録品質の変化が大きくなるような記録光量Ｐを選択するためのものである。
【００４７】
（３）記録光量Ｐの決定・設定（ステップＳ２５）
基準値Ｂｓ２と対応する記録光量Ｐが決定され，この記録光量Ｐに対応する光量設定値Ｎが設定される。基準値Ｂｓ２に最も近接するＢＥＲのときの記録光量Ｐを選択する。既述のように，記録光量Ｐは連続でなく離散的な量であり，記録光量Ｐを自由に選択できる訳ではないからである。
図５に，記録光量Ｐを決定する例を示す。例えば，グラフＧ０がフォーカス位置の初期値に対応していた場合，記録光量Ｐｓが決定，設定される。
【００４８】
（４）フォーカス位置−記録品質の関係の測定（ステップＳ２６〜Ｓ２８）
フォーカス位置と記録品質の対応関係が測定される。即ち，フォーカス位置を変更し，ＢＥＲの測定が繰り返される。光ディスクＤの試し書き領域にデータを書き込み，書き込んだデータを読み出して比較することで，書き込みエラーを検出する。
【００４９】
全てのフォーカス位置でＢＥＲが測定されるまで，ＢＥＲの測定が繰り返される。例えば，記録光量ＰｓのラインＬ１上で，ＢＥＲが測定される。
なお，既述のように，ＢＥＲに替えて，ジッタ，エラーライン数などを用いることも可能である。
【００５０】
（５）フォーカス位置の決定（ステップＳ２９）
ＢＥＲが最小となったフォーカス位置を最適フォーカス位置とする。その後，ＯＰＣ等で記録光量が決定される。
最適フォーカス位置および記録光量の決定後は，この最適フォーカス位置（最適フォーカスオフセットＦＥ０ＯＦＦ）および記録光量で，光ディスクＤにデータを記録する。
【００５１】
第１の実施形態と同様に，本実施形態も次の利点を有する。
（１）最適フォーカス位置の決定精度の向上
（２）光ディスクＤへのダメージの低減
【００５２】
（その他の実施形態）
本発明の実施形態は上記の実施形態に限られず拡張，変更可能であり，拡張，変更した実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】第１の実施形態に係る光ディスク装置を表すブロック図である。
【図２】記録光量と記録品質の対応関係を表すグラフの一例である。
【図３】第１の実施形態に係る光ディスク装置の動作手順の一例を表すフロー図である。
【図４】第２の実施形態に係る光ディスク装置の動作手順の一例を表すフロー図である。
【図５】記録光量と記録品質の対応関係を表すグラフの一例である。
【符号の説明】
【００５４】
１００…光ディスク装置，１１…ディスクモータ，１２…ディスクモータ制御回路，１３…光ピックアップ，１４…変調回路，１５…ＲＦアンプ，１６…データ再生回路，１７…トラッキング制御部，１８…フォーカス制御部，１９…オフセット調整部，２１…ＣＰＵ，２２…ＲＡＭ，２３…ＲＯＭ，２４…インターフェース回路，２５…ホスト装置，３１…レーザ制御回路，３２…半導体レーザ，３３…ハーフプリズム，３４…フロントモニタ，３５…コリメータレンズ，３６…ハーフプリズム，３７…対物レンズ，４１…集光レンズ，４２…シリンドリカルレンズ，４３…光検出器，４４…駆動コイル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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