(57)【要約】【課題】光ディスクの再生信号の波形を適切に評価できる、波形評価方法及び光ディスク装置を提供すること。【解決手段】本発明による波形評価方法は、光ディスクの再生信号に含まれる、任意の符号長のマーク部及びスペース部の少なくとも一方の再生信号波形を、複数の分割領域（領域Ａ、Ｂ、Ｃ、及びＤ）に分割し、当該複数の分割領域それぞれについて波形特徴量（面積ａ、ｂ、ｃ、ｄ）を算出する。この波形特徴量から、再生信号の波形を評価するための評価指標（ａ−ｂの値等）を算出し、前記評価指標に基づいて再生信号の波形を評価する。【選択図】      図５
2009158056.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの再生信号に含まれる、任意の符号長のマーク部及びスペース部の少なくとも一方の再生波形を複数の領域に分割し、
当該複数の分割領域それぞれについて波形特徴量を算出し、
前記波形特徴量から、前記再生波形を評価するための評価指標を算出し、
前記評価指標に基づいて前記再生波形を評価する波形評価方法。
【請求項２】
前記分割領域それぞれの面積を、前記波形特徴量として算出する、請求項１に記載の波形評価方法。
【請求項３】
マーク部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域、又は波形等化処理前の波形と理想波形とによって囲まれる領域を、複数の分割領域に分割し、
前記複数の分割領域それぞれの面積を、前記波形特徴量として算出する、請求項２に記載の波形評価方法。
【請求項４】
前記マーク部と同符号長で同位相のスペース部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域、又は波形等化処理前の波形と理想波形によって囲まれる領域を複数の分割領域に分割し、
前記複数の分割領域それぞれの面積を、前記波形特徴量として算出する、請求項３に記載の波形評価方法。
【請求項５】
前記マーク部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を第１の分割領域及び第２の分割領域とに分割し、
前記スペース部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を第３の分割領域及び第４の分割領域とに分割し、
前記第１の分割領域の面積を第１の波形特徴量として算出し、前記第２の分割領域の面積を第２の波形特徴量として算出し、前記第３の分割領域の面積を第３の波形特徴量として算出し、前記第４の分割領域の面積を第４の波形特徴量として算出する、請求項４に記載の波形評価方法。
【請求項６】
前記第１の波形特徴量及び前記第３の波形特徴量の和である第１の和と、前記第２の波形特徴量及び前記第４の波形特徴量の和である第２の和との差を、前記評価指標として算出し、
前記評価指標に基づいて前記マーク部及び前記スペース部の再生波形の左右対称性を評価する、請求項５に記載の波形評価方法。
【請求項７】
前記第１の波形特徴量及び前記第２の波形特徴量の和である第１の和と、前記第３の波形特徴量及び前記第４の波形特徴量の和である第２の和との差を、前記評価指標として算出し、
前記評価指標に基づいて前記マーク部及び前記スペース部の再生波形の上下対称性を評価する、請求項５に記載の波形評価方法。
【請求項８】
前記第１の波形特徴量及び前記第４の波形特徴量の和である第１の和と、前記第２の波形特徴量及び前記第３の波形特徴量の和である第２の和との差を、前記評価指標として算出し、
前記評価指標に基づいて前記マーク部及び前記スペース部の再生波形の対角方向の対称性を評価する、請求項５に記載の波形評価方法。
【請求項９】
前記マーク部の再生波形について、前記波形等化処理前の波形と前記波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域、又は前記波形等化処理前の波形と前記理想波形とによって囲まれる領域を第１の分割領域及び第２の分割領域に分割し、
前記第１の分割領域の面積を第１の波形特徴量として算出し、前記第２の分割領域の面積を第２の波形特徴量として算出し、
前記第１の波形特徴量と前記第２の波形特徴量との差を、前記評価指標として算出し、
前記評価指標に基づいて前記再生波形の左右対称性を評価する、請求項３又は請求項４に記載の波形評価方法。
【請求項１０】
前記評価指標に基づいて行われた波形評価に応じて、光ディスク装置の記録ストラテジを調整する、請求項１乃至請求項９のいずれか１項に記載の波形評価方法。
【請求項１１】
前記記録ストラテジの調整は、記録パルスのマルチパルス幅の調整を含む、請求項１０に記載の波形評価方法。
【請求項１２】
光ディスクの再生信号に含まれる、任意の符号長のマーク部及びスペース部の少なくとも一方の再生波形を複数の分割領域に分割する波形分割手段と、
当該複数の分割領域それぞれについて波形特徴量を算出する波形特徴量算出手段と、
前記波形特徴量から、前記再生波形を評価するための評価指標を算出する評価指標算出手段と、
を備える光ディスク装置。
【請求項１３】
前記波形特徴量算出手段は、前記複数の分割領域それぞれの面積を、前記波形特徴量として算出する、請求項１２に記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記再生信号の波形等化処理を行う波形等化手段をさらに備え、
前記波形分割手段は、マーク部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を複数の分割領域に分割する、請求項１３に記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記波形分割手段は、前記マーク部と同符号長で同位相のスペース部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を複数の分割領域に分割する、請求項１４に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記波形分割手段は、前記マーク部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を第１の分割領域及び第２の分割領域とに分割し、前記スペース部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を第３の分割領域及び第４の分割領域とに分割し、
前記波形特徴量算出手段は、前記第１の分割領域の面積を第１の波形特徴量として算出し、前記第２の分割領域の面積を第２の波形特徴量として算出し、前記第３の分割領域の面積を第３の波形特徴量として算出し、前記第４の分割領域の面積を第４の波形特徴量として算出する、請求項１５に記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記評価指標算出手段は、前記第１の波形特徴量及び前記第３の波形特徴量の和である第１の和と、前記第２の波形特徴量及び前記第４の波形特徴量の和である第２の和との差を、前記マーク部及び前記スペース部の再生信号の波形の左右対称性を評価するための評価指標として算出する、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記評価指標算出手段は、前記第１の波形特徴量及び前記第２の波形特徴量の和である第１の和と、前記第３の波形特徴量及び前記第４の波形特徴量の和である第２の和との差を、前記マーク部及び前記スペース部の再生信号の波形の上下対称性を評価するための評価指標として算出する、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
前記評価指標算出手段は、前記第１の波形特徴量及び前記第４の波形特徴量の和である第１の和と、前記第２の波形特徴量及び前記第３の波形特徴量の和である第２の和との差を、前記マーク部及び前記スペース部の再生信号の波形の対角方向の対称性を評価するための評価指標として算出する、請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記波形分割手段は、前記マーク部の再生波形について、波形等化処理前の波形と波形等化処理後の波形とによって囲まれる領域を、第１の分割領域及び第２の分割領域に分割し、
前記波形特徴量算出手段は、前記第１の分割領域の面積を第１の波形特徴量として、前記第２の分割領域の面積を第２の波形特徴量として算出し、
前記評価指標算出手段は、前記第１の波形特徴量と前記第２の波形特徴量との差を、前記再生波形の左右対称性を評価するための評価指標として算出する、請求項１４又は請求項１５に記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記再生信号の理想波形を取得する理想波形取得手段をさらに備え、
前記波形分割手段は、波形等化処理前のマーク部の波形と、理想波形取得手段によって取得されたマーク部の理想波形とによって囲まれる領域を複数の分割領域に分割する、請求項１２に記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記評価指標に基づく前記再生波形の評価に応じて、記録ストラテジを調整する調整手段をさらに備える、請求項１２乃至請求項２１の何れか１項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの再生信号波形を評価するための波形評価方法、及び光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに情報を記録する際には、適切な記録ストラテジを設定して、記録パルスの波形を制御する必要がある。記録パルスには様々な設定パラメータがあるが、なかでもマルチパルス幅は、長符号マークの形状に大きな影響を与える。マルチパルス幅が広すぎたり狭すぎたりすると、長符号のマークが涙目型となりマークの再生品質が悪化する。再生品質を向上させるためには、マルチパルス幅を適切に調整して記録品質を向上させる必要がある。このように、適切な記録ストラテジを設定するためには、再生信号の波形形状を評価する必要がある。
【０００３】
特許文献１には、再生信号を結ぶ直線の傾きがほぼ０となるときの記録パルス幅を、最適な記録パルス幅とする記録条件決定方法が記載されている。
【特許文献１】特開２００６−１２７５６８号公報（段落０１４９）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述の傾きの測定感度はＡ／Ｄ変換器の分解能に依存するため、充分な測定感度が得られないことがあり、サーボの揺れといった外乱の影響により、測定結果がばらついてしまう。このため、再生信号の波形を適切に評価できない可能性がある。
【０００５】
本発明の目的は、光ディスクの再生信号の波形を適切に評価できる、波形評価方法及び光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様による波形評価方法は、光ディスクの再生信号に含まれる、任意の符号長のマーク部及びスペース部の少なくとも一方の再生波形を複数の分割領域に分割し、当該複数の分割領域それぞれについて波形特徴量を算出し、前記波形特徴量から、前記再生波形を評価するための評価指標を算出し、前記評価指標に基づいて前記再生波形を評価する。
【０００７】
また、本発明の一態様による光ディスク装置は、光ディスクの再生信号に含まれる、任意の符号長のマーク部及びスペース部の少なくとも一方の再生波形を複数の分割領域に分割する波形分割手段と、当該複数の分割領域それぞれについて波形特徴量を算出する波形特徴量算出手段と、前記波形特徴量から、前記再生波形を評価するための評価指標を算出する評価指標算出手段と、を備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の波形評価方法によれば、光ディスクの再生信号に含まれる、任意の符号長のマーク部及びスペース部の一方の再生信号波形の複数の分割領域それぞれについて算出された波形特徴量から、再生信号の波形を評価するための評価指標が算出され、この評価指標に基づいて再生信号の波形が評価される。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明による光ディスク装置の実施形態を説明する。
【００１０】
図１は、本発明の一実施形態による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。光ディスク装置は、ＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ等の追記型光ディスクやＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え型光ディスク１００に情報を記録し、また光ディスク１００に記録された情報を読み出して再生を行う。
【００１１】
ディスクモータ１０２は、光ディスク１００を回転駆動する。光ディスク１００に対しては、光ピックアップによって情報の記録及び再生が行われる。
【００１２】
光ディスク１００に情報を記録する際には、メモリ１１０に記憶されたデータ（記録データ）が変調回路１１２に送られて変調される。レーザ駆動回路１１４は、変調された記録データに応じてレーザダイオード（ＬＤ）を駆動し、光ディスク１００にレーザ光（記録パルス）を照射する。光ディスク１００の記録層に刻まれているトラックに沿ってレーザ光が照射され、記録データの符号長に対応するマークとスペースが形成されて記録データが記録される。記録パルスの強度やパルス幅、タイミング微調整情報等は、記録データの符号パターンごとに予め設定されている。レーザ駆動回路１１４は、タイミング微調整情報に基づいてタイミング調整されたレーザ駆動電流によって、レーザダイオードを駆動する。
【００１３】
光ディスク１００に記録された情報を再生する際は、レーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上のマークとスペースとの反射光強度の相違を検出する。フォトディテクタは、光ディスク１００からの反射光の光電変換を行う。光電変換された再生データは、プリアンプ１３４を経由してＲＦアンプ１３６に入力する。再生データは、適切な振幅に増幅され、波形整形を施されたＲＦ信号(再生信号)として出力される。Ａ／Ｄコンバータ１３８は、再生信号のＡ／Ｄ変換を行い、多値のデジタルデータに変換する。デジタル化された再生信号系列（等化前波形）は、デジタル等化器１４２及びビタビ復号器１４４によってＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）方式で復調される。
【００１４】
等化器１４２は、光ディスク１００の再生信号特性に近似したパーシャルレスポンス（ＰＲ）特性に基づき、波形等化処理を行う。実際の再生信号は雑音を含むため、等化処理後の再生信号系列（等化後波形）は、ＰＲ特性に応じた理想的な再生信号系列（パス）とは必ずしも一致しない。このため、ビタビ復号器１４４がＭＬ復号により、等化後の再生信号系列の復号を行う。ＭＬ復号では、すべてのパスの中から、実際の再生信号系列との差が最も小さい（ユークリッド距離が最も近い）パス（理想波形）が選択される。選択されたパスに対応する信号系列が識別信号として出力される。
【００１５】
光ディスク１００の特性や光ヘッドのバラツキなどにより再生信号の特性が変化すると、等化器１４２による波形等化処理が正しく行われず、識別の誤りが生じることがある。係数制御器１４８は、再生信号特性に応じて自動的に等化器１４２のパラメータを調整する。係数制御器１４８は、適応等化処理によって等化器１４２のパラメータを調整し、適切なＰＲ特性に補正する。係数制御器１４８は、識別信号に対応するパスと等化再生信号との自乗誤差が最小になるように、パラメータを調整する。
【００１６】
等化器１４２による等化処理前の再生信号系列（等化前波形）、及び等化処理後の再生信号系列（等化後波形）のデータ（波高値）は、デジタルデータとしてデータプロセッサ１２０がアクセスできるメモリ１１０に格納される。また、理想波形のデータも、メモリ１１０に格納される。
【００１７】
波形特徴量演算回路１４６は、後述する波形特徴量を、メモリ１１０に格納された等化前波形、等化後波形、理想波形から求める。求められた波形特徴量は、メモリ１１０に記憶されてもよい。
【００１８】
次に、再生信号の波形に基づいた再生品質の評価について説明する。
【００１９】
光ディスク１００に記録された情報を再生する際には、等化処理される前の再生信号系列（等化前波形）の形状が理想波形の形状に近いほど、高い再生品質が得られる。また、等化前波形のマーク形状およびスペース形状の上下対称性が高いほど、等化器１４２によって等化処理された等化後波形の形状が理想波形に近づき、高い再生品質が得られる。
【００２０】
このように、等化前波形の形状と、等化後波形あるいは理想波形の形状とを比較評価することは、高品位な情報記録及び情報再生を実現する上で重要である。すなわち、比較評価の結果に基づいて、再生信号の波形が理想波形に近くなるように記録ストラテジを設定することで、再生品質の向上を図ることが可能になる。
【００２１】
図２は、光ディスク１００に記録される記録データと、この記録データに対応する記録パルスの一例を示す図である。
【００２２】
光ディスク装置では、基準クロックの周期Ｔの整数倍の符号長（例えば２Ｔ〜１１Ｔ）のマーク及びスペースを、光ディスク１００上でトラックに沿って形成することでデータを記録する。図２には、符号長が１１Ｔのマークを記録するための記録パルスの例が示されている。レーザ駆動回路１１４は、図２に示すような記録パルス波形に基づいてレーザダイオードを発光させて、ディスク上に符号長１１Ｔのマークを記録する。この際、適切な記録のためには、記録パルスの波形をディスクに応じて調整する必要がある。
【００２３】
記録パルス波形の調整には、様々な設定パラメータが用いられる。設定パラメータのうち、マルチパルス幅は記録マークの形状に大きな影響を与える。マルチパルス幅が広すぎたり狭すぎたりすると、長符号（特に９Ｔ以上）のマークの形状が歪んで、マークの前方あるいは後方が膨らんだ涙目型となり、再生品質が低下する。このため、マークの形状を評価して、適切なマルチパルス幅での記録が可能となるよう、記録ストラテジを調整する必要がある。
【００２４】
図３は長符号（符号長１１Ｔ）の記録マークを再生した再生信号波形の一例を示す図である。ここでは、再生信号レベルは、ＬＳＩの信号分解能［ＬＳＢ］で表されている。マルチパルス幅が広すぎると、図３に示すように、再生信号の後方部の信号レベルが高くなりすぎてしまう。このため、中間部に傾きが生じて再生信号の左右対称性が破れ、再生品質が低下してしまう。マルチパルス幅は、この中間部の傾きが０となるように設定されることが望ましい。あるいは、マルチパルス幅が適切に設定されていないと、再生信号の波形に歪みが生じることもある。
【００２５】
複数のマルチパルス幅を用いて同じ符号長のマークを複数記録し、各々のマーク部を再生して再生信号波形の傾きをそれぞれ算出すると、算出結果からマルチパルス幅と再生信号波形の傾きとの間の関係を得ることができる。図４は、マルチパルス幅を変化させて記録した複数の記録マークをそれぞれ再生した際の、再生信号の傾きの一例を示す。図４では、マルチパルス幅の単位は基準クロックの周期Ｔの４０分の１である。図４に示すように、マークの再生信号の傾きとマルチパルス幅の関係は、ほぼ直線をなす。すなわち、マークの再生信号の傾きは、マルチパルス幅に対してほぼ線形性を有する。このため、この直線関係を利用して、再生信号波形の傾きが０となるマルチパルス幅を取得することが可能となる。
【００２６】
しかしながら、上述の再生信号波形の傾きの測定感度は、Ａ／Ｄコンバータの分解能に依存する。このため、サーボの揺れなどの外乱の影響を受けて測定結果がばらつき、充分な測定感度が得られないことがある。また、測定回数を増やして測定精度を上げることも考えられるが、測定回数の増加は調整時間の増加を招く。従って一回の測定で、より高感度の測定を行えることが望ましい。
【００２７】
そこで、本実施の形態では、波形特徴量演算回路１４６が算出する波形特徴量に基づいて、適切なマルチパルス幅を取得する。
【００２８】
本実施形態では、マークおよびスペースの波形を任意の領域に分割し、各領域の波形特徴量を符号長ごとに求める。波形特徴量演算回路１４６は、等化前波形及び等化後波形から、あるいは等化前波形及び理想波形から、波形特徴量を算出する。再生信号の波形評価指標は、算出された波形特徴量から符号長ごとに算出され、記録パルスの調整に利用される。
【００２９】
図５は、波形特徴量の一例を説明するための図である。図５では、等しい符号長のマーク及びスペースについて、等化器１４２による等化処理前の再生信号（等化前波形）及び等化処理後の再生信号（等化後波形）が、それぞれ同位相で重ね合わされている。マークの等化前波形と等化後波形で囲まれた領域は、位相中心を境にして、左右に領域Ａ及び領域Ｂに分割される。同様に、スペースの等化前波形と等化後波形で囲まれた領域は、位相中心を境として、左右に領域Ｃ及び領域Ｄに分割される。なお、符号間の干渉が生じる符号間干渉領域は、本実施形態の波形特徴量の計算においては使用されない。
【００３０】
本実施形態では、各領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの面積ａ、ｂ、ｃ、ｄを波形特徴量として用いる。図６は、面積ａ、ｂ、ｃ、ｄを求める方法を示す図である。
【００３１】
図６では、符号長が１１Ｔであるマーク及びスペースの等化前波形及び等化後波形が、それぞれ位相をそろえて示されている。この例では、マーク及びスペースの等化前波形及び等化後波形が、等しいサンプリング周波数でサンプリング（サンプル数は１１）されている。図６では、マークの等化後波形の各サンプリング点での再生信号レベルは、ｍａｉ（ｉ＝１〜１１）で表され、マークの等化前波形については、ｍｂｉ（ｉ＝１〜１１）で表される。同様に、スペースの等化後波形については、ｓａｉ（ｉ＝１〜１１）が各サンプルの再生信号レベルを表し、スペースの等化前波形については、ｓｂｉ（ｉ＝１〜１１）が各サンプルの再生信号レベルを表す。
【００３２】
本実施形態においては、マークの等化前波形及び等化後波形に囲まれる領域Ａ、Ｂの面積ａ、ｂは、次のような式（１）、（２）によって定義する。
【数１】
2009158056.tif 000003
【００３３】
面積ａ及びｂは、マークの等化前波形及び等化後波形において、同じｉの値で指定される再生信号レベル間の距離（差）を二乗した値を用いて求められる。
【００３４】
同様に、スペースの等化前波形及び等化後波形に囲まれる領域Ｃ、Ｄの面積ｃ、ｄは、次のような式（３）、（４）によって定義される。
【数２】
2009158056.tif 000004
【００３５】
面積ｃ及びｄもまた、スペースの等化前波形及び等化後波形において、同じｉの値で指定される再生信号レベル間の距離（差）を二乗した値を用いて求められる。
【００３６】
図６の例では、符号長が１１Ｔのマーク及びスペースを、サンプル数１１でサンプリングした場合が示されている。サンプル数が奇数個であるため、位相中心（ｉ＝６）での再生信号の値が面積の計算に含まれていない。
【００３７】
サンプル数が奇数である場合は、もう一つの方法として、以下のように位相中心での再生信号の値を面積ａ、ｂの計算に含めるようにしてもよい。
【数３】
2009158056.tif 000005
【００３８】
同様に、面積ｃ、ｄの計算にも、以下のようにして位相中心での再生信号の値を含めることができる。
【数４】
2009158056.tif 000006
【００３９】
サンプル数が偶数個であり、位相中心がサンプリング点ではない場合は、位相中心を境にサンプリング点を半数ずつ使用すればよい。
【００４０】
波形特徴量演算回路１４６は、上述の定義に従って波形特徴量（面積ａ、ｂ、ｃ、及びｄ）を算出し、算出結果をメモリ１１０に格納する。
【００４１】
なお、図６の例では、符号長が１１Ｔのマーク及びスペースが示されているが、実際には、同様の定義を用いて、各符号長について波形特徴量を求めることができる。
【００４２】
また、ここでは等化前波形及び等化後波形によって囲まれる領域を分割し、分割された各領域の面積を波形特徴量とした。しかしながら、この他にも、等化前波形及び理想波形によって囲まれる各領域の面積を同様の定義を用いて算出し、算出された面積を波形特徴量としてもよい。あるいは、等化後波形及び理想波形によって囲まれる領域の面積が波形特徴量とされてもよい。
【００４３】
次に、各領域の波形特徴量（面積）から、波形の形状についての評価指標を求める方法について説明する。
【００４４】
上述のように各領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄの面積ａ、ｂ、ｃ、ｄを波形特徴量とした場合、面積ａ、ｂ、ｃ、ｄの線形演算の結果を評価指標とすることができる。例えば、以下のような評価指標が考えられる。
【００４５】
（１）ａ−ｂ：マークの左右形状の比較
（２）ｃ−ｄ：スペースの左右形状の比較
（３）（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）：マークとスペースを合わせた左右形状の比較
（４）（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）：マークとスペースを合わせた上下形状の比較
（５）（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）：マークとスペースを合わせた対角形状の比較
一例として、評価指標ａ−ｂを用いたマークの波形形状の評価について、図７を用いて説明する。
【００４６】
図７は、長符号マーク部の等化前波形および等化後波形の各例を示している。図７（ａ）に示すようにａ−ｂ＞０（ａ−ｂの値が正）であれば、等化前波形の後方部（右側）の波高値（再生信号レベル）が高く、再生信号レベルに傾きが生じている。これは、マルチパルス幅が広すぎて、マーク形状の後方が膨らんだ場合に対応する。
【００４７】
逆に、図７（ｃ）に示すようにａ−ｂ＜０（ａ−ｂの値が負）であれば、等化前波形の後方部の波高値が低く、やはり再生信号レベルに傾きが生じている。これは、マルチパルス幅が狭い場合に相当する。
【００４８】
一方、図７（ｂ）に示すようにａ−ｂ＝０であれば、マークの等化前波形の波高値が左右で等しく、理想波形に近い。
【００４９】
このように波形特徴量ａ及びｂから求められるａ−ｂは、マーク形状の左右対称性を評価するための評価指標として用いられることができる。
【００５０】
等化前波形の左右対称性が高いほど高い再生品質が得られるため、等化前波形が左右対称となるように記録パルスのマルチパルス幅を設定することが望ましい。図４に示すように、マーク部の再生信号波形の傾きとマルチパルス幅との線形性に基づいて、再生信号波形の傾きが０となるようなマルチパルス幅を算出する場合には、充分な測定感度が得られないことがある。これに対して、本実施形態においては、領域Ａ、Ｂの面積から求めた評価指標ａ−ｂを用いてマーク形状の左右対称性を評価し、マルチパルス幅を調整する。すなわち、評価指標ａ−ｂは、マルチパルス幅と再生信号の傾きとの間の線形関係に代わって、マークの左右形状を比較する指標である。ａ−ｂは面積量なので、測定感度が高く外乱に強いというメリットがある。
【００５１】
図８は、符号長１１Ｔのマークについての、マルチパルス幅と評価指標ａ−ｂの関係の一例を示す図である。図８に示すように、マルチパルス幅と評価指標ａ−ｂの間にもほぼ線形性が成り立っている。また、図８において評価指標ａ−ｂの値が０となるマルチパルス幅と、図４において傾きが０となるマルチパルス幅とはほぼ等しい。従って、評価指標ａ−ｂは、等化前波形の左右対称性を評価するための有効な指標として用いられ得る。
【００５２】
マルチパルス幅と評価指標ａ−ｂとの線形性を示す直線（近似直線）の傾きは、マルチパルス幅を１単位変化させたら評価指標ａ−ｂがどの程度変化するかという、評価指標の感度を表す。以下では、直線（近似直線）の傾きを当該評価指標ａ−ｂの感度と称する。
【００５３】
本実施形態では、評価指標ａ−ｂの値を複数のマルチパルス幅について算出し、算出結果に基づいて、マルチパルス幅に対する評価指標ａ−ｂの関係を示す近似直線を求める。この近似直線から、評価指標ａ−ｂの感度を算出することができる。算出された感度に基づいて、最適なマルチパルス幅が取得される。
【００５４】
次に、任意の符号長のマークについて、評価指標ａ−ｂを利用してマルチパルス幅を調整する処理について説明する。図９は、マルチパルス幅の調整処理のフローチャートである。
【００５５】
調整処理では、まず、レーザ駆動回路１１４では、記録パルスのパラメータが所定の初期値に設定される（ブロックＦ１００)。次に、レーザ駆動回路１１４は、設定されたパラメータに基づいてレーザダイオードＬＤを駆動して、光ディスク１００のテスト記録エリアにランダムデータを記録する(ブロックＦ１０１)。その後、記録されたデータの再生処理が行われる(ブロックＦ１０２)。すなわち、フォトディテクタによって光電変換された再生データが、プリアンプ１３４を経由してＲＦアンプ１３６によって増幅され、Ａ／Ｄコンバータ１３８によってＡ／Ｄ変換される。デジタル化された等化前波形が、デジタル等化器１４２及びビタビ復号器１４４によってＰＲＭＬ方式で復調され等化後波形（及び理想波形）が得られる。
【００５６】
波形特徴量演算回路１４６は、当該符号長のマークについて、等化前波形及び等化後波形から評価指標ａ−ｂを算出し、メモリ１１０に格納する(ブロックＦ１０３)。
【００５７】
マルチパルス幅に対する評価指標ａ−ｂの感度を求めるためには、少なくとも２つ以上のマルチパルス幅に対して測定を行う必要がある。このため、マルチパルス幅を変えて（ブロックＦ１０４）、ランダムデータの記録及び再生処理（ブロックＦ１０１、Ｆ１０２）を行い、当該符号長について評価指標ａ−ｂの算出（ブロックＦ１０３）を繰り返す必要がある。マルチパルス幅は、例えばＴ／８（＝５Ｔ／４０）毎など、所定の間隔で変化させる。
【００５８】
所定のマルチパルス幅に対する評価指標ａ−ｂのデータが取得されたら（ブロックＦ１０５でＹｅｓ）、取得したデータから、マルチパルス幅に対する評価指標ａ−ｂの感度が算出される(ブロックＦ１０６)。すなわち、取得されたデータから、マルチパルス幅と評価指標ａ−ｂの関係を表す直線（近似直線）が求められる。近似直線に基づいて、マルチパルス幅に対する評価指標ａ−ｂの感度（当該直線の傾き）が算出される。
【００５９】
次に、求められた直線（近似直線）から、評価指標ａ−ｂの値が０となるマルチパルス幅Ｗｍを算出する(ブロックＦ１０７)。
【００６０】
ブロックＦ１０６で得られた近似直線には、誤差が含まれている可能性がある。このため、以下のように、算出されたマルチパルス幅Ｗｍに対応する評価指標ａ−ｂの値を実際に求めて確認するようにしてもよい。
【００６１】
すなわち、算出されたマルチパルス幅Ｗｍを記録パルスのマルチパルス幅として設定し（ブロックＦ１０８）、再び記録処理及び再生処理行い、設定されたマルチパルス幅Ｗｍに対する実際の評価指標ａ−ｂの値を求める（ブロックＦ１０９）。そして、実際に求められた評価指標ａ−ｂの絶対値が、所定の閾値よりも小さいか否かが判断される（ブロックＦ１１０）。
【００６２】
評価指標ａ−ｂの絶対値が閾値以上である場合には（ブロックＦ１１０でＮｏ）、近似直線が誤差を含むとみなされ、評価指標ａ−ｂの値が０となるようにマルチパルス幅Ｗｍを補正する（ブロックＦ１１１）。評価指標ａ−ｂの値を感度（傾き）で割った量は、マルチパルス幅と同じ次元の量であり、本実施形態では、この量を補正量とする。補正量が正の値であれば、当該補正量の分だけ、マルチパルス幅Ｗｍを狭くする。一方、補正量が負の値をとる場合は、当該補正量の分だけマルチパルス幅Ｗｍを広くする。その後、再び記録処理及び再生処理行い、設定されたマルチパルス幅Ｗｍに対する実際の評価指標ａ−ｂの値を求める（ブロックＦ１０９）。評価指標ａ−ｂの絶対値が閾値より小さくなるまで（ブロックＦ１１０の判断結果がＹｅｓになるまで）、マルチパルス幅Ｗｍの補正処理（ブロックＦ１１１→Ｆ１０９）が繰り返される。
【００６３】
評価指標ａ−ｂの絶対値が所定の閾値より小さければ（ブロックＦ１１０でＹｅｓ）、適切なマルチパルス幅Ｗｍが設定されていると見なされ、処理は終了する。
【００６４】
以上のように、評価指標ａ−ｂを用いて適切なマルチパルス幅となるような調整を行うことができる。波形形状に基づく評価指標を用いて記録パルスの調整を行うことで、記録パルスの調整精度を高めることができ、記録品位が向上する。
【００６５】
以上のように本実施形態では、再生信号の等化前波形及び等化後波形が囲む領域を分割し、それぞれの分割領域について波形特徴量を求めた。波形特徴量の一例として、各領域の面積が用いられた。この波形特徴量を用いて再生信号の波形の比較評価することが可能である。波形特徴量に基づいた評価指標（ａ−ｂ）によりマーク波形の左右形状が比較され、マークの波形に歪みや傾きが生じない適切なマルチパルス幅が検出される。検出されたマルチパルス幅を設定することにより、記録ストラテジの適切な調整が可能となる。
【００６６】
また、マルチパルス幅の調整に際して、マルチパルス幅と評価指標の関係を示す近似直線及び当該近似直線の傾き（感度）が算出された。算出された近似直線に誤差が含まれていても、感度に基づいてマルチパルス幅を増減させることで、マルチパルス幅を補正することができる。
【００６７】
上述の例では、マークの左右形状を比較する指標である評価指標ａ−ｂについて説明した。一般に、スペース形状には記録パルスが大きく影響せず、歪みや傾きが生じることは少ない。このような場合、マークの左右形状を比較する評価指標ａ−ｂに基づいたマルチパルス幅の調整は、充分有効である。しかしながら、他の評価指標も用いて記録ストラテジを調整することも可能である。
【００６８】
例えば、マークを形成する際に用いられた記録パルスの熱量がスペース部にも流れて、スペース形状にも歪みや傾きが生じてしまうことがある。この場合には、マーク形状だけではなく、スペース形状の左右対称性も評価することが必要になる。
【００６９】
スペース形状の左右対称性は、図５に示す領域Ｃの面積ｃと領域Ｄの面積ｄの大小を比較すること評価することができる。すなわち、スペース形状の左右対称性を比較するための評価指標として、ｃ−ｄの値を用いることができる。あるいは、領域Ａの面積ａと領域Ｃの面積ｃの和ａ＋ｃと、領域Ｂの面積ｂと領域Ｄの面積ｄの和ｂ＋ｄを比較して、マークとスペースを合わせた左右形状を評価することも考えられる。すなわち、マークとスペースを合わせた左右形状を比較するために（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）の値を評価指標として用いることができる。評価指標ｃ−ｄの値、あるいは（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）の値が０となるマルチパルス幅を検出し、当該マルチパルス幅を設定することで、記録品質の向上が図られる。
【００７０】
これらの評価指標ｃ−ｄあるいは（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）を用いる場合も、図９のフローチャートに示す調整処理と同様の処理によって、マルチパルス幅を調整することができる。すなわち、図９のフローチャートにおける評価指標ａ−ｂをｃ−ｄあるいは（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）に置き換えればよい。
【００７１】
また、さらに他の評価指標を用いて、マルチパルス幅を調整することも可能である。
【００７２】
係数制御器１４８が適応等化処理を行う際に、同符号長のマークおよびスペースの形状の上下の対称性が高いほど、再生波形がより理想波形に近くなるようにパラメータの調整を行うことができる。例えば図５の例では、領域Ａと領域Ｃの形状が類似し、領域Ｂと領域Ｄの形状が類似している場合に、上下の対称性が高い。マークおよびスペースの形状が上下対称である場合、以下の式が成り立つと考えられる。
【数５】
2009158056.tif 000007
【００７３】
従って、（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）の値を、再生信号の上下対称性を評価する評価指標として用いることが可能である。評価指標（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）の値が０となるマルチパルス幅を検出し、当該マルチパルス幅を設定すると、再生波形がより理想波形に近づくように適応等化処理によってパラメータを調整することができるようになる。このようにして記録品質の向上を図ることもできる。
【００７４】
評価指標（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）を用いる場合も、図９のフローチャートにおける評価指標ａ−ｂを（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）に置き換えた処理によって、マルチパルス幅を調整することができる。
【００７５】
また、上下の対称性から、以下の式が成り立つ。
【数６】
2009158056.tif 000008
【００７６】
これより、マークとスペースを合わせた対角形状の比較のために、（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）の値も評価指標として用いることができる。（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）＝（ａ−ｂ）−（ｃ−ｄ）であり、ａ−ｂはマーク形状の傾き（マーク部の左右の相違）を示し、ｃ−ｄはスペース形状の傾き（スペース部の左右の相違）を示す。このため、この対角形状の評価指標は、再生信号の上下での傾きの対称性を示す。すなわち、評価指標（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）の値が０であれば、マーク形状の傾きとスペース形状の傾きが上下対称である。
【００７７】
評価指標（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）の値が０となるマルチパルス幅を検出し、当該マルチパルス幅を設定すると、再生波形がより理想波形に近づくように適応等化処理によってパラメータを調整することができるようになる。このようにして記録品質の向上を図ることもできる。
【００７８】
評価指標（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）を用いる場合も、図９のフローチャートにおける評価指標ａ−ｂを（ａ＋ｄ）−（ｂ＋ｃ）に置き換えた処理によって、マルチパルス幅を調整することができる。
【００７９】
このように、波形特徴量ａ、ｂ、ｃ、ｄに基づいて、再生信号波形の形状を評価するための様々な評価指標を得ることが可能である。それぞれの評価指標を用いた記録ストラテジの調整も可能となる。
【００８０】
上述の例では、等化前波形と等化後波形で囲まれる領域を分割し波形特徴量を求めた。しかしながら、等化前波形と理想波形で囲まれた領域を分割して、同様に波形特徴量を求めることも可能である。この場合は、等化前波形が理想波形にどの程度近いのかを、評価することも可能となる。また、等化後波形と理想波形で囲まれた領域、等化前波形のみ、もしくは等化後波形のみを分割して波形特徴量を求めることもできる。
【００８１】
上述の例では領域を４分割したが、さらに細かく分割し、波形特徴量を求めても良い。分割領域の数を増やすことで、より詳細で精密な波形特徴量を得ることができる。
【００８２】
また、上述の例ではマルチパルス幅と評価指標ａ−ｂの線形関係を利用してマルチパルス幅の調整を行った。一方、マルチパルスの記録パワー(ピークパワー、ボトムパワー)を操作しても同様な効果が得られることが分かっている。従って、マルチパルス幅の調整に換えて、マルチパルスの記録パワーを調整することもできる。この場合、マルチパルスの幅を狭めることとマルチパルスの記録パワーを下げることが対応しており、またマルチパルスの幅を広めることとマルチパルスの記録パワーを上げることが対応している。このため、評価指標ａ−ｂを用いた記録パワー調整を行うことも可能である。
【００８３】
また、記録パルスの設定パラメータで、波形特徴量あるいは波形特徴量に基づく評価指標との関係がわかるパラメータであれば、同様の方法で調整することが可能である。
【００８４】
以上説明したように、本実施形態では、光ディスク１００に記録された各符号長のマーク及びスペースの再生波形を複数の領域に分割した。各分割領域で求めた波形特徴量（分割領域の面積）から符号長毎の波形形状の評価指標が得られる。従って、簡略な演算で波形形状を様々に評価することが可能となる。また、波形特徴量の定義に面積を用いることで、評価指標の精度を高めることができる。
【００８５】
さらに得られた評価指標を用いて記録パルスの調整を行うことが可能である。これにより、記録パルスの調整精度を高めることができ、記録品位が向上する。
【００８６】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【００８７】
また、本発明は、コンピュータに所定の手段を実行させるための（あるいはコンピュータを所定の手段として機能させるための、あるいはコンピュータに所定の機能を実現させるための）プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体としても実施することもできる。
【００８８】
また、上述の説明は個々の実施例それぞれについて行ったが、複数の実施例を適宜組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】本発明の一実施形態による光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】光ディスクに記録される記録データと、この記録データに対応する記録パルスの一例を示す図。
【図３】長符号の記録マークを再生した再生信号波形の一例を示す図。
【図４】マルチパルス幅に対する再生信号の傾きの一例を示す図。
【図５】波形特徴量の一例を説明するための図。
【図６】波形特徴量（面積）を求める方法を示す図。
【図７】長符号マーク部の等化前波形および等化後波形の各例を示す図。
【図８】符号長１１Ｔのマークについての、マルチパルス幅と評価指標ａ−ｂの関係の一例を示す図。
【図９】マルチパルス幅の調整処理のフローチャート。
【符号の説明】
【００９０】
１００…光ディスク、１０２…ディスクモータ、１１０…メモリ、１１２…変調回路、１１４…レーザ駆動回路、１２０…データプロセッサ、１３４…プリアンプ、１３６…ＲＦアンプ、１３８…Ａ／Ｄコンバータ、１４２…等化器、１４４…ビタビ復号器、１４６…波形特徴量演算回路、１４８…係数制御器。
【図１】
2009158056.tif 000009
【図２】
2009158056.tif 000010
【図３】
2009158056.tif 000011
【図４】
2009158056.tif 000012
【図５】
2009158056.tif 000013
【図６】
2009158056.tif 000014
【図７】
2009158056.tif 000015
【図８】
2009158056.tif 000016
【図９】
2009158056.tif 000017