(57)【要約】【課題】ディスク上のダストを除去して、適切なギャップ制御を可能にする光ディスク装置を提供する。【解決手段】光を出射する光源と、信号を記録可能な記録面を有するディスク２０を回転させる回転機構と、ディスク２０に対向して配置され、光源から出射された光を近接場光として、回転するディスク２０の記録面に集光させることが可能な集光素子と、ディスク２０に接触してディスク２０の表面をクリーニングするためのクリーニング機構４０とを具備し、このクリーニング機構４０が、テープ状のクリーニング材４１をディスク２０の表面に接触させてクリーニングを行う、光ディスク装置を構成する。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を出射する光源と、
信号を記録可能な記録面を有する光ディスクを回転させる回転機構と、
前記光ディスクに対向して配置され、前記光源から出射された前記光を近接場光として、前記光ディスクの前記記録面に集光させることが可能な集光素子と、
前記光ディスクに接触して前記ディスクの表面をクリーニングするためのクリーニング機構とを具備し、
前記クリーニング機構は、テープ状のクリーニング材を、前記光ディスクの表面に接触させてクリーニングを行う構成である
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記集光素子と前記光ディスクとのギャップを検出する前に、前記クリーニング機構によって、前記光ディスクの全面のクリーニングがなされることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記集光素子の移動に対して先行或いは追従して、前記クリーニング機構による前記光ディスクの表面のクリーニングが行われることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記光ディスクを取り出す前に、前記クリーニング機構によって、前記光ディスクの全面のクリーニングがなされることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記集光素子と前記光ディスクとのギャップを検出するギャップサーボを実行している状態において、ギャップサーボが外れたときに、該当する箇所の前記光ディスクの表面のクリーニングが行われることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対して、近接場光を用いて信号の記録及び再生のうち少なくとも一方を行う光ディスク装置に係わる。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザ光を用いた光ディスクの記録密度を向上させるため、近接場光を用いて信号を記録または再生する光ディスク装置が提案されている。近接場光を用いる光ディスク装置では、ディスクと、対物レンズ部等の集光素子に設置されるＳＩＬ（Solid Immersion Lens）の端面との間のギャップを、近接場光が生じる距離（ニアフィールド）に制御する必要がある。
レーザ光の短波長化に伴い、このギャップは、数十ｎｍ程度となっている。
【０００３】
このような近接場光が用いられる光ディスク装置では、ギャップ制御において、ディスクに付着するゴミや埃等のダストが重要な問題となる。
ディスクに付着するダストとしては、空気中に浮遊しているもの（埃や衣服繊維等）、ユーザーがディスクを取り扱うときに付着する可能性のあるもの（指紋や唾液等）がある。
【０００４】
ダストは、ギャップの目標値より大きい幅（高さ）を有するものが多いため、ディスク上にダストが付着していると、ギャップ制御が不能になる。
【０００５】
製造時にダストを除去することは、ある程度までは可能であるが、完全に除去することは困難である。また、製造時にダストを除去したとしても、その後、ディスクを使用する際にダストが付着することがある。
ダストの付着を防ぐためには、ハードディスクドライブのようにドライブとディスクを一体型にして完全密閉型にすると良いが、光ディスクシステムでは、ディスクのリムーバブル性が要求されるため、ディスクをドライブに密閉固定することはできない。
そこで、ディスクをカートリッジに入れることで、ダストの影響を防ぐことが行われている。
しかしながら、カートリッジの開口部からダストが進入する可能性があり、完全にダストフリーにするのは極めて困難である。
【０００６】
そこで、ディスクへの信号の記録または再生がなされる前に、ディスクを任意の回転数で回転させて、ディスクに付着したダストをディスクの外周側へ吹き飛ばす技術が、提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００７】
しかしながら、ディスクを回転させるだけでは、ディスク上のダストを除去しきれないという懸念がある。
また、ディスク上のダストが除去されていても、対物レンズ等にダストが付着している場合には、ギャップ制御ができない。
さらにまた、ディスク又はレンズ等にダストが付着している場合に、これを自動で検出することができ、適切にギャップサーボがなされることが望ましい。
【０００８】
上述の問題を解決する構成として、本出願人は、先に、レンズクリーニング機構を設けた光ディスク装置を提案している（特許文献２参照。）。
レンズクリーンニング機構を設けたことにより、レンズに付着したダストを除去して、適切にギャップ制御を行うことができる。
【０００９】
【特許文献１】特開２００２−３１９１４９号公報（段落［００１８］、図２）
【特許文献２】特開２００７−１２１２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、レンズクリーニング機構を設けただけでは、光ディスクの表面にあるダスト等が除去されるわけではないため、レンズをクリーニングした後でも、光ディスクのダスト付着した同じ場所で、再びギャップ制御が不能になる。
【００１１】
また、上記特許文献２には、光ディスクの表面をクリーンニングする、ディスククリーニング機構を設けることも、提案されている。
しかしながら、上記特許文献２において提案されているディスククリーニング機構は、クリーニング部材の同じ部分が光ディスクに当接する構成となっているため、クリーニング部材に除去したダスト等が蓄積していく。そのため、クリーニング部材を頻繁に交換しない限り、クリーニングの効果を持続させることが難しい。
【００１２】
上述した問題の解決のために、本発明においては、光ディスク上のダストを除去して、適切なギャップ制御を可能にする光ディスク装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の光ディスク装置は、光を出射する光源と、信号を記録可能な記録面を有する光ディスクを回転させる回転機構と、光ディスクに対向して配置され、光源から出射された光を近接場光として、光ディスクの記録面に集光させることが可能な集光素子と、光ディスクに接触して光ディスクの表面をクリーニングするためのクリーニング機構とを具備し、このクリーニング機構が、テープ状のクリーニング材を光ディスクの表面に接触させてクリーニングを行う構成であるものである。
【００１４】
上述の本発明の光ディスク装置の構成によれば、光ディスクに接触して光ディスクの表面をクリーニングするためのクリーニング機構を具備していることにより、クリーニング機構によって、光ディスクの表面をクリーニングして、光ディスクの表面に付着したダスト等を除去することが可能になる。
また、クリーニング機構が、テープ状のクリーニング材を光ディスクの表面に接触させてクリーニングを行う構成であることにより、常にテープの新しい部分で光ディスクの表面のクリーニングを行うことができる。これにより、テープの残量がなくなるまで、長くクリーニングの効果を持続させることが可能になる。
【発明の効果】
【００１５】
上述の本発明によれば、光ディスクの表面をクリーニングして、光ディスクの表面に付着したダスト等を除去することが可能になるため、ダストの影響を除去して、良好なギャップ制御を安定して行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明の一実施の形態の光ディスク装置の概略構成図を、図１に示す。
この光ディスク装置１００は、光学ピックアップ装置３０と、光ディスク２０を装着する装着部２５と、装着部２５を駆動する駆動部２６とを備えて、構成されている。
装着部２５の駆動部２６は、装着部２５を例えば一点鎖線Ｃｓを回転軸として回転駆動させる。
【００１７】
光学ピックアップ装置３０は、レーザダイオード等の光源１、コリメートレンズ２、ビームスプリッタ３、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）４、λ／４板（ＱＷＰ）５、光学レンズ６、ソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ）７、ビームエクスパンダ８、集光レンズ１２，１３、４分割フォトダイオード等のフォトダイオードＰＤ１，ＰＤ２から成る光検出部を備えている。また、図示しないが、光源１のパワーの制御部やサーボの制御を行う制御部等を備えている。
光学レンズ６は、非球面レンズ等よりなる対物レンズであり、ＳＩＬ７は超半球状となっている。これら光学レンズ６及びＳＩＬ７により、集光光学系１０が構成されている。この集光光学系１０は、駆動部１１により駆動される。
集光光学系１０の駆動部１１は、例えばボイスコイルモータを含む２軸アクチュエータや３軸アクチュエータ等より構成される。
なお、集光光学系１０のＳＩＬ７として、超半球状のＳＩＬの代わりに、半球状のＳＩＬを用いても良い。
【００１８】
ビームエクスパンダ８は、２枚のレンズ８Ａ，８Ｂにより構成され、入射光のビームを調整して、光ディスク２０の信号面へのフォーカスを調整するものである。
集光レンズ１２は、ビームスプリッタ３で分岐する光の光路上に配置されている。
集光レンズ１３は、偏光ビームスプリッタ４で分岐する光の光路上に配置されている。
光検出部の第１のフォトダイオードＰＤ１によって検出される検出信号を演算して、集光光学系１０の駆動部１１を制御する制御信号（ギャップエラー信号）を、図示しない制御部等で生成する。
光検出部の第２のフォトダイオードＰＤ２によって検出される検出信号を演算して、トラッキングサーボのサーボエラー信号や、光ディスク２０の記録情報に対応するＲＦ（高周波）信号を、図示しない制御部等で生成する。
【００１９】
この構成の光ディスク装置１００においては、以下のようにして、光ディスク２０に対して、情報の記録や、記録された情報の再生が行われる。
【００２０】
まず、光源１のパワーの制御部によって、光源１の出力を制御する。例えば、情報の記録の際には、図示しない情報記憶部からの記録情報に対応して、光源１の出力を制御する。例えば、再生の際には、記録された情報を書き換えないように、光源１の出力を制御する。なお、再生の際には、制御部からの出力制御を省略して、光源１の出力を一定とすることも可能である。
【００２１】
光源１から出射された光は、コリメートレンズ２により平行光とされてビームスプリッタ３を透過し、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）４を透過し、さらに、λ／４板（ＱＷＰ）５によって直線偏光から円偏光に変換された後に、ビームエクスパンダ８により調整されて、集光光学系１０に入射する。
そして、集光光学系１０によって、光ディスク２０の情報が記録される記録面に近接場光として照射される。
光ディスク２０から反射された戻り光は、λ／４板（ＱＷＰ）５により、再び直線偏光に戻される。
さらに、偏光ビームスプリッタ４において、入射光の偏光の方向と平行な偏光成分と垂直な偏光成分とに分離される。入射光の偏光の方向と垂直な偏光成分は、偏光ビームスプリッタ４で反射されて、集光レンズ１３により、第２のフォトダイオードＰＤ２に集光される。
そして、入射光の偏光の方向と平行な偏光成分は、偏光ビームスプリッタ４を透過した後に、ビームスプリッタ３で反射されて光源１からの光路とは分岐した光路を通り、集光レンズ１２により第１のフォトダイオードＰＤ１に集光される。
【００２２】
さらにまた、この光学ピックアップ装置３０には、図１に示す各光学部品の他に、収差補正用等の種々の光学素子を付加的に配置することが可能である。
【００２３】
光学ピックアップ装置３０は、例えば、光ディスク２０の記録面に沿って平行移動する水平移動機構（図示せず）に搭載される。
そして、この水平移動機構と装着部２５の駆動部２６との連動によって、集光光学系１０から照射される近接場光が、光ディスク２０の記録トラックに沿って、例えばスパイラル状又は同心円状に走査される。
【００２４】
次に、近接場光を用いた光学ピックアップ装置３０における、光ディスク２０とＳＩＬ７の端面との間のギャップと、全反射戻り光量とについて、説明する。
光学レンズ６及びＳＩＬ７より成る集光光学系１０の、ＳＩＬ７の端面と光ディスク２０との間のギャップｇを、模式的に図２に示す。
また、ＳＩＬ７の端面と光ディスク２０と間のギャップｇに対する、全反射戻り光量の関係を、図３に示す。
この場合、全反射戻り光量は、ＳＩＬ７の光ディスク２０と対向する端面に、全反射する角度で入射した光（開口率≧１の成分）の戻り光量である。
図３に示すように、ギャップｇがある程度以上（図３の場合には７０ｎｍ以上）となると、近接場状態でないファーフィールド領域となり、ＳＩＬ７の端面で光が全て反射されるため、全反射戻り光量は一定となる。
一方、図３の場合、ギャップｇが７０ｎｍ未満となると、近接場状態（ニアフィールド領域）となる。
なお、ニアフィールド領域となるギャップｇの大きさは、光の波長や、光ディスク２０やＳＩＬ７の材料構成等によって変化する。
【００２５】
そして、図１の光学ピックアップ装置３０では、図３に示すような全反射戻り光量を用いて、ギャップｇのサーボを行い、ギャップｇを一定に保つ。
このとき、例えば、ギャップｇのサーボの目標値ｒを、図３に示すように、ニアフィールド領域のうち、全反射戻り光量がギャップｇに対して線形に変化する、線形領域内に設定する。
この目標値ｒを設定することにより、目標値ｒの近傍の線形領域でサーボを行って、ギャップｇを目標値ｒに相当するギャップ長に一定に保持することが可能となる。
【００２６】
このようにして、ギャップサーボを行ったときの全反射戻り光量を、図４に示す。図４の横軸は、光ディスク２０上に光学ピックアップ装置３０を走査させた時間であり、光ディスク２０上の走査位置に対応する。
図４は、光ディスク２０にダストがない場合の波形を示しており、この場合には、全反射戻り光量は一定となり、ギャップサーボは安定である。
【００２７】
これに対して、光ディスク２０にダストがあると、ギャップサーボが不安定になる。
ダストが付着している場合の全反射戻り光量を、図５に示す。
光ディスク２０上にダストがあると、ダストの外乱によりＳＩＬ７がはじかれる。そのため、図５に示すように、全反射戻り光量は、図４と異なり“ヒゲ“が出る。
そして、最悪の場合、ＳＩＬ７の端面にダストが付着して、図５の右側に示すように、適切な全反射戻り光量が得られなくなり、ギャップサーボは外れてしまう。
【００２８】
このようにダストがある場合、ＳＩＬ７の表面をクリーニング（例えば、特開２００７−１２１２６号公報参照）すれば、ＳＩＬ７はダスト付着前の状態に戻る。
しかしながら、光ディスク２０の表面は汚れたままであるため、ギャップサーボを再び行っても、光ディスク２０の同じ位置で、再びギャップサーボが破綻してしまう可能性が大きい。
【００２９】
そこで、本実施の形態の光ディスク装置１００では、図１に示した構成に加えて、光ディスク２０の表面をクリーニングして、ダストを除去するための、ディスククリーニング機構を備える。
【００３０】
このディスククリーニング機構について、図６〜図７を参照して説明する。
本実施の形態のディスククリーニング機構の概略構成を、図６に示す。
図６に示すディスククリーニング機構４０は、テープ型のクリーナーであり、回転ドラム４２，４３と、補助ローラ４４，４５，４６とを有し、２つの回転ドラム４２，４３の間にクリーニングテープ４１を走行させる構成である。
回転ドラム４２，４３が回転することにより、補助ローラ４４，４５，４６に沿って、クリーニングテープ４１が走行する。
【００３１】
クリーニングテープ４１は、好ましくは、柔らかい樹脂等の材質とする。
より好ましくは、クリーニングテープ４１に、不織布のような、編み目がなく繊維の並び方がランダムであるものを使用する。編み目があると、編み目（ポケット）にダストが挟まって残ることがあるからである。
【００３２】
次に、図６のディスククリーニング機構４０の動作を、図７Ａ〜図７Ｃに沿って説明する。
クリーニングを行っていないときには、図７Ａに示すように、クリーニングテープ４１が光ディスク２０から離れている状態にある。
クリーニングを行う際には、この図７Ａに示した状態から、ディスククリーニング機構４０全体を、光ディスク２０の方へ移動させて、図７Ｂに示すように、クリーニングテープ４１を光ディスク２０に押し当てる。
そして、図中矢印で示すように、光ディスク２０を回転させる。
このとき、光ディスク２０又はディスククリーニング機構（クリーナー）４０を、光ディスク２０の内周側から外周側へ、或いは、外周側から内周側へとスレッドさせることにより、光ディスク２０の全面にクリーナー４０が接触するようにする。
クリーニングが終了すると、図７Ｃに示すように、クリーニングテープ４１を光ディスク２０から離す。
【００３３】
このような構成のディスククリーンニング機構４０を設けることにより、光ディスク２０の記録面の表面をクリーニングして、ダスト等を除去することができる。
【００３４】
図６に示したディスククリーニング機構４０を、動作させるタイミングとしては、例えば、以下のような態様が考えられる。
（１）ギャップサーボの開始前に、光ディスク２０の全面をクリーニングする。
（２）集光光学系（光ヘッド）１０に先行させて、光ディスク２０をクリーニングする。
（３）集光光学系（光ヘッド）１０に追従させて、その後方で光ディスク２０をクリーニングする。
（４）カートリッジを用いた光ディスク２０の場合において、光ディスク２０をディスク装置１００から取り出すときに、光ディスク２０の全面をクリーニングする。
（５）ギャップサーボにエラーが生じた箇所の光ディスク２０に対して、その箇所をクリーニングする。例えば、エラーが生じた箇所を記憶させておいて、その記憶させた箇所を狙って、クリーナー４０を移動させる。
なお、クリーニングのタイミングは、上述の（１）〜（５）の態様に限定されるものではなく、その他のタイミングとすることも考えられる。
【００３５】
まず、（１）のギャップサーボの開始前に、光ディスク２０の全面をクリーニングする態様における手順を、図８のフローチャートを参照して説明する。
ステップＳＴ１において、クリーニングテープ４１の残量を確認する。
残量がない場合には、ステップＳＴ２に進んで、クリーニングテープ４１を交換して、終了する。
残量がある場合には、ステップＳＴ３に進んで、クリーニングテープ４１を光ディスク２０に押しあてる。
次に、ステップＳＴ４において、光ディスク２０を回転させて、同じ半径位置の全周のクリーニングを行う。
続いて、ステップＳＴ５において、クリーナー４０を全半径移送させて、光ディスク２０の全面をクリーニングする。
その後、ステップＳＴ６において、クリーニングテープ４１を巻き取って、クリーニングに使用した部分を移して、未使用の部分を光ディスク２０に対向させて、終了する。
このようにして、クリーニングテープ４１の残量がある場合には、光ディスク２０の全面がクリーニングされる。
【００３６】
光ディスク２０の全面のクリーニングが完了したら、ギャップサーボを開始する。その際の手順を、図９のフローチャートを参照して説明する。
ダストの影響を受けて、ギャップサーボが外れると、図５に示したように、“ヒゲ”が出たり、最悪の場合には外れたりしてしまうが、この状態は、全反射戻り光量の閾値α（図１０参照）を設定することで検出できる。
まず、ステップＳＴ１１において、ギャップサーボを開始し、全反射戻り光量をモニターする。
次に、ステップＳＴ１２において、全反射戻り光量が、閾値αよりも大きいかどうかを確認する。
全反射戻り光量が閾値α以下である場合には、ギャップサーボを終了する。そして、図示しないが、全反射戻り光量を目標値ｒ付近にするようにギャップｇを調整する過程を行う。
一方、全反射戻り光量＞αになると、ギャップが外れたと判断して、ステップＳＴ１３に進み、ギャップサーボを停止する。
その後、ステップＳＴ１４において、クリーニングテープ４１の残量を確認する。
残量がない場合には、ステップＳＴ１５に進んで、クリーニングテープ４１を交換して、終了する。
残量がある場合には、ステップＳＴ１６に進んで、クリーニングテープ４１を光ディスク２０に押しあてる。
適当な時間を経てクリーニングが完了した後に、ステップＳＴ１７に進み、クリーナー４０全体を光ディスク２０から引き離す。
その後、ステップＳＴ１８において、クリーニングテープ４１を巻き取って、クリーニングに使用した部分を移して、未使用の部分を光ディスク２０に対向させる。そして、ステップＳＴ１１に戻り、再びギャップサーボを開始する。
【００３７】
全反射戻り光量の閾値αは、例えば、図１０に示すように設定する。
この閾値αは、図３に示した目標値ｒよりは、大きい値に設定する。
そして、全反射戻り光量が閾値αを超えている場合には、ギャップが外れていると判断して、前述したように、ギャップサーボを停止してクリーニングを行う。
一方、全反射戻り光量が閾値α以下である場合には、ギャップが外れていないと判断して、前述した、全反射戻り光量をサーボの目標値ｒ付近にするようにギャップｇを調整する過程を行う。
【００３８】
次に、（２）の集光光学系（光ヘッド）１０に先行させて、光ディスク２０をクリーニングする態様の場合のクリーナー４０の動作を、図１１Ａ〜図１１Ｄを参照して説明する。
図１１Ａは、集光光学系１０のＳＩＬ７が光ディスク２０の近くにあり、クリーナー４０は、光ディスク２０から離れている状態を示している。
ここで、ギャップサーボ中（図９のステップＳＴ１１）に、クリーニング指令があった場合は、ギャップサーボを停止、つまり、図１１Ｂに示すように、ＳＩＬ７をディスクから引き離す。
次に、図１１Ｃに示すように、クリーナー４０を光ディスク２０に押し当てて、クリーニングを行う。
クリーニングが完了した後に、図１１Ｄに示すように、クリーナー４０を光ディスク２０から引き離す。
【００３９】
この図１１Ａ〜図１１Ｄに動作を示した構成では、ＳＩＬ７を含む集光光学系１０とクリーナー４０とが、光ディスク２０のディスク面に沿った方向（図１１Ａに矢印で示す光ディスク２０のタンジェンシャル方向Ｔ等）においては、一体化して移動する構造となっている。光ディスク２０のディスク面に垂直な方向（図中上下方向）においては、集光光学系１０と独立して、クリーナー４０が移動する構造となっている。
（３）の集光光学系（光ヘッド）１０に追従させて、その後方で光ディスク２０をクリーニングする態様の場合も、このように集光光学系１０とクリーナー４０とが、光ディスク２０のディスク面に沿った方向においては、一体化して移動する構造を採用する。
【００４０】
一方、（１）のギャップサーボの開始前に、光ディスク２０の全面をクリーニングする態様や、（４）の光ディスク２０をディスク装置１００から取り出すときに、光ディスク２０の全面をクリーニングする態様や、（５）のギャップサーボにエラーが生じた箇所の光ディスク２０に対して、その箇所をクリーニングする態様では、集光光学系１０とクリーナー４０とが、互いに独立してディスク面に沿った方向に移動する構造を採用する。
この構造では、例えば、図１２Ａに示すように、集光光学系１０のＳＩＬ７が光ディスク２０の記録面に対向した状態から、ギャップサーボの破綻を生じている等、クリーニングの指示があると、図中破線の矢印で示すように、集光光学系１０を光ディスク２０よりも外に移動させる。
そして、図１２Ｂに示すように、クリーニングを行う位置、例えば、ギャップサーボの破綻を起こした光ディスク２０の半径位置に、クリーナー４０を移動させて、クリーニングを行う。
【００４１】
なお、（１）のギャップサーボの開始前のクリーニングと、（４）の光ディスク２０の取り出し時のクリーニングとを、両方行うようにしても良い。
また、図１１に示した移動を行うための構造と、図１２に示した移動を行うための構造とは、基本的に異なるものであるが、両方の移動を行うことができる構造とすることも可能である。このような構造とすれば、（１）〜（５）のそれぞれの態様の実行が可能になるが、構造（移動機構）が複雑になる。
【００４２】
ここで、実際に、本実施の形態の光ディスク装置１００を製作して、クリーニングの効果を調べた。
光ディスク２０の同一半径位置における、クリーニング前後での全反射戻り光量の様子を、図１３Ａ及び図１３Ｂに示す。
図１３Ａに示すように、クリーニング前は、図中右の部分で、ギャップサーボが外れてしまっている。おそらく、ダストの影響でギャップサーボが外れていると推測される。
図１３Ｂに示すように、クリーニング後は、ダストの影響がなくなり、ギャップサーボが安定してかかっていることが確認できる。
【００４３】
上述の本実施の形態の光ディスク装置１００の構成によれば、ＳＩＬ７を含む集光光学系１０を有する光学ピックアップ装置３０を具備していることにより、近接場光を用いた光ディスク２０への信号の記録及び／又は光ディスク２０に記録された信号の再生が可能になる。
そして、光ディスク２０の記録面の表面をクリーニングする、ディスククリーニング機構（クリーナー）４０を備えていることにより、このディスククリーニング機構（クリーナー）４０によって光ディスク２０の表面をクリーニングして、光ディスク２０の表面のダスト等を除去することができる。
また、ディスククリーニング機構（クリーナー）４０が、クリーニングテープ４１を使用した構成であるため、クリーニングを行った後にテープを巻き取ることにより、常にテープ４１の新しい部分で、光ディスク２０の表面のクリーニングを行うことができる。これにより、クリーニングテープ４１の残量がなくなるまで、長くクリーニングの効果を持続させることが可能になる。
【００４４】
従って、本実施の形態の光ディスク装置１００によれば、ディスククリーニング機構（クリーナー）４０で光ディスク２０の表面のクリーニングを行って、光ディスク２０の表面のダスト等を除去することができ、良好なギャップ制御を安定して行うことができる。
【００４５】
本発明の光ディスク装置は、テープ状のクリーニング部材を有するクリーニング機構を光ディスクの表面に接触させることにより、光ディスクの表面をクリーニングする構成である。
そのため、光ディスクは、クリーニング部材の接触及び摺動に耐え得る必要がある。
そこで、光ディスクの最表面にハードコート等を施す。
従来から、近接場光を利用した光ディスク駆動装置用の光ディスクとして、ハードコートを施した光ディスクが使用されている。このような構成の光ディスクは、本発明の光ディスク駆動装置においても使用可能であり、クリーニング部材を摺動させても、問題を生じない。
例えば、本願の出願人が先に提案した、特開２００６−３４４３４７号公報に記載されているような、光透過性材料中に高い屈折率を有する材料の粒子を分散させた混合層を、ハードコートとして使用することも好適である。
【００４６】
上述の実施の形態では、ディスククリーニング機構（クリーナー）４０を動かして、光ディスク２０に対して、押しあてたり離したりしていたが、光ディスクを動かして、光ディスクをディスククリーニング機構のテープ状のクリーニング部材に押しあてるように、装置を構成しても構わない。
【００４７】
上述の実施の形態では、ＳＩＬ７及び光学レンズ６から成る集光光学系１０を構成していたが、本発明においては、光ディスクに対して、近接場光を集光照射することが可能な構成であれば、集光光学系の構成は特に限定されない。
また、ＳＩＬのチルトサーボ、トラッキングサーボ、フォーカシングサーボを行うための各構成や、それぞれのサーボの制御方法等は、従来から提案されている近接場光を用いる光ディスク装置と同様の構成・方法を採用することができる。
【００４８】
上述の実施の形態では、クリーニング機構として、ディスククリーニング機構４０のみを設けた構成としていたが、本発明においては、ディスククリーニング機構と、前記特許文献２に開示されているようなレンズクリーニング機構とを、併せて設けることも可能である。
【００４９】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに対して、信号の記録のみを行う記録装置、記録された信号の再生を行う再生装置、記録及び再生の両方を行う記録再生装置、のいずれの装置にも適用することができる。
また、必要に応じて、信号を処理する信号処理回路や、光ディスクの挿入や取り出しを行うローディング機構、ソフトウェア等を備えた構成とする。
【００５０】
本発明は、上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成が取り得る。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の一実施の形態の光ディスク装置の概略構成図である。
【図２】図１のＳＩＬの端面と光ディスクとの間のギャップを模式的に示す図である。
【図３】ギャップに対する全反射戻り光量の関係を示す図である。
【図４】ギャップサーボを行ったときの全反射戻り光量を示す図である。
【図５】ダストが付着している場合の全反射戻り光量を示す図である。
【図６】本発明の一実施の形態の光ディスク装置のディスククリーニング機構の概略構成を示す図である。
【図７】Ａ〜Ｃ  図６のディスククリーニング機構の動作を説明する図である。
【図８】ギャップサーボの開始前に、光ディスクの全面をクリーニングする場合の手順を説明するフローチャートである。
【図９】ギャップサーボの動作の手順を説明するフローチャートである。
【図１０】全反射戻り光量の閾値αを説明する図である。
【図１１】Ａ〜Ｄ  集光光学系に先行させて、光ディスクをクリーニングする態様の場合のクリーナーの動作を説明する図である。
【図１２】Ａ、Ｂ  集光光学系とクリーナーとを互いに独立して移動させる構造における動作を説明する図である。
【図１３】Ａ  クリーニング前の全反射戻り光量を示す図である。Ｂ  クリーニング後の全反射戻り光量を示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
１  光源、２  コリメートレンズ、３  ビームスプリッタ、４  偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、５  λ／４板、６  光学レンズ、７  ＳＩＬ、８  ビームエクスパンダ、１０  集光光学系（光ヘッド）、１１  （集光光学系の）駆動部、１２，１３  集光レンズ、２０  光ディスク、３０  光学ピックアップ装置、４０  ディスククリーニング機構（クリーナー）、４１  クリーニングテープ、４２，４３  回転ドラム、４４，４５，４６  補助ローラ、１００  光ディスク装置、ｇ  ギャップ、α  （全反射戻り光量の）閾値
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図４】
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【図５】
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【図１３】
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