(57)【要約】【課題】ライトストラテジの、特にパルス幅に関するパラメータを効率良く最適化する、光記録再生方法及び光記録再生装置を得る。【解決手段】各々の記録マークのパルス幅を制御するパラメータが含まれるライトストラテジを用いて光ディスクに記録する光記録再生方法及び光記録再生装置であって、記録された信号のスペースに対応する信号部分幅を読み取り、読み取ったスペース部分の幅を、スペースの直前と直後のマークに対応するパターンの長さ別に比較し、パルス幅を修正する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データのマーク長に応じたライトストラテジのパラメータに従って、光記録媒体にレーザ光を照射することによりデータを記録し、記録されるデータを再生する光記録再生方法であって、
前記記録されるデータのマークの長さに応じて、単一あるいは複数のパルスを含み、前記パルスの幅を制御するパラメータを含む、マルチパルス型のライトストラテジでレーザ光を照射することによりマークを形成し、マークと、マーク相互間に位置するスペースとで構成された記録部を形成する記録部形成工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、再生信号のうちのスペースに対応する信号部分の幅を読み取るスペース幅読み取り工程と、
前記スペースに対応する信号部分と、前記スペースに対応する信号部分の前後のマークに対応する信号部分との組み合わせで構成された前記再生信号の任意の２つの信号パターンであって、前記スペースの長さが互いに等しく、当該スペースの直前及び直後のマークのうちの一方のマークの長さが互いに等しく、他方のマークの長さが互いに異なる２つの信号パターンを検出するパターン検出工程と、
前記パターン検出工程で検出した２つの信号パターンの、前記スペース幅読み取り工程で読み取った、スペースに対応する信号部分の幅を比較するスペース幅比較工程と、
前記スペースに対応する信号部分の幅の比較の結果に基づいて前記ライトストラテジのパルス幅を修正するパルス幅修正工程と、
前記修正したパルス幅を用いて前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と
を有する光記録再生方法。
【請求項２】
前記スペース幅比較工程は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号部分の幅として、前記記録データのスペース長が最短の場合における、信号部分の幅を比較することを特徴とする請求項１に記載の光記録再生方法。
【請求項３】
前記パルス幅修正工程は、
単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録される、前記単一のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直後のマークの長さが互いに等しく、前記スペースの直前のマークの長さが互いに異なる場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行い、
前記２つの信号パターンの一方の前記スペースの直前のマークは、前記単一のパルスで記録されるものであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光記録再生方法。
【請求項４】
前記パルス幅修正工程は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの先頭のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークの長さが互いに等しく、前記スペースの直後のマーク長が互いに異なる場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行い、
前記２つの信号パターンの一方の前記スペースの直後のマークは、前記特定の複数のパルスを含むライトストラテジで記録されるものである
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項５】
前記パルス幅修正工程は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの、
最終のパルスの幅又は先頭のパルスと最終のパルスの間に位置する中間パルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直後のマークの長さが互いに等しく、前記スペースの直前のマークの長さが互いに異なる場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行い、
前記２つの信号パターンの一方の前記スペースの直前のマークは、前記特定の複数のパルスを含むライトストラテジで記録されるものである
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項６】
前記パルス幅修正工程は、
単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録される、前記単一のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークが、前記単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直前のマークが、前記複数のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項７】
前記パルス幅修正工程は、
前記スペースの直前のマークが、前記複数のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合として、
前記ライトストラテジを構成するパルスの数があらゆる値の場合のものを用いる
ことを特徴とする請求項６に記載の光記録再生方法。
【請求項８】
前記パルス幅修正工程は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの先頭のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直後のマークが、前記単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直後のマークが、前記特定の複数のパルスを含むライトストラテジで記録されるものである場合
の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行う
ことを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項９】
前記パルス幅修正工程は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうち、最終のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークが、前記単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直前のマークが、前記特定の複数のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合
の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１０】
前記パルス幅修正工程は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの前記複数のパルスのうち、先頭のパルスと最終のパルスの間に位置する中間パルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークが、前記中間パルスを１つだけ有するライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直前のマークが、前記中間パルスを２つ以上有するライトストラテジで記録されるものである場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１１】
前記パルス幅修正工程は、
前記スペースの直前のマークが、前記中間パルスを２つ以上有するライトストラテジで記録されるものである場合として、
前記中間パルスの数が２つ以上の特定の値の場合あるいは任意の組み合わせの場合のものを用いる
ことを特徴とする請求項１０に記載の光記録再生方法。
【請求項１２】
前記パルス幅修正工程は、
前記単一のパルスで構成されるライトストラテジのパルス幅の修正を行った後に、
前記複数のパルスで構成されるライトストラテジの複数のパルスのうちの、先頭のパルス及び最終のパルスのパルス幅の修正を行う
ことを特徴とする請求項１乃至１１のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１３】
前記パルス幅修正工程は、前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差が、予め設定した目標値に一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１４】
前記パルス幅修正工程は、
前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差が、予め設定した許容範囲内に収まるように前記修正を行うことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１５】
前記パルス幅修正工程は、前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差と、前記予め設定した目標値との大小関係により、前記パルス幅の修正の方向を決定することを特徴とする請求項１乃至１４のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１６】
前記パルス幅修正工程は、前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差と、パルス幅の変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１乃至１５のいずれかに記載の光記録再生方法。
【請求項１７】
記録データのマーク長に応じたライトストラテジのパラメータに従って、光記録媒体にレーザ光を照射することによりデータを記録し、記録されるデータを再生する光記録再生装置であって、
前記記録されるデータのマークの長さに応じて、単一あるいは複数のパルスを含み、前記パルスの幅を制御するパラメータを含む、マルチパルス型のライトストラテジでレーザ光を照射することによりマークを形成し、マークと、マーク相互間に位置するスペースとで構成された記録部を形成する記録部形成手段と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、再生信号のうちのスペースに対応する信号部分の幅を読み取るスペース幅読み取り手段と、
前記スペースに対応する信号部分と、前記スペースに対応する信号部分の前後のマークに対応する信号部分との組み合わせで構成された前記再生信号の任意の２つの信号パターンであって、前記スペースの長さが互いに等しく、当該スペースの直前及び直後のマークのうちの一方のマークの長さが互いに等しく、他方のマークの長さが互いに異なる２つの信号パターンを検出するパターン検出手段と、
前記パターン検出手段で検出した２つの信号パターンの、前記スペース幅読み取り手段で読み取った、スペースに対応する信号部分の幅を比較するスペース幅比較手段と、
前記スペースに対応する信号部分の幅の比較の結果に基づいて前記ライトストラテジのパルス幅を修正するパルス幅修正手段と、
前記修正したパルス幅を用いて前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段と
を有する光記録再生装置。
【請求項１８】
前記スペース幅比較手段は、前記記録部を読み出すことにより得られる、前記スペースに対応する信号部分の幅として、前記記録データのスペース長が最短の場合における、信号部分の幅を比較することを特徴とする請求項１７に記載の光記録再生装置。
【請求項１９】
前記パルス幅修正手段は、
単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録される、前記単一のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直後のマークの長さが互いに等しく、前記スペースの直前のマークの長さが互いに異なる場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行い、
前記２つの信号パターンの一方の前記スペースの直前のマークは、前記単一のパルスで記録されるものであることを特徴とする請求項１７又は１８に記載の光記録再生装置。
【請求項２０】
前記パルス幅修正手段は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの先頭のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークの長さが互いに等しく、前記スペースの直後のマーク長が互いに異なる場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行い、
前記２つの信号パターンの一方の前記スペースの直後のマークは、前記特定の複数のパルスを含むライトストラテジで記録されるものである
ことを特徴とする請求項１７乃至１９のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２１】
前記パルス幅修正手段は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの、
最終のパルスの幅又は先頭のパルスと最終のパルスの間に位置する中間パルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直後のマークの長さが互いに等しく、前記スペースの直前のマークの長さが互いに異なる場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行い、
前記２つの信号パターンの一方の前記スペースの直前のマークは、前記特定の複数のパルスを含むライトストラテジで記録されるものである
ことを特徴とする請求項１７乃至２０のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２２】
前記パルス幅修正手段は、
単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録される、前記単一のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークが、前記単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直前のマークが、前記複数のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１７乃至２１のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２３】
前記パルス幅修正手段は、
前記スペースの直前のマークが、前記複数のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合として、
前記ライトストラテジを構成するパルスの数があらゆる値の場合のものを用いる
ことを特徴とする請求項２２に記載の光記録再生装置。
【請求項２４】
前記パルス幅修正手段は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの先頭のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直後のマークが、前記単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直後のマークが、前記特定の複数のパルスを含むライトストラテジで記録されるものである場合
の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行う
ことを特徴とする請求項１７乃至２３のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２５】
前記パルス幅修正手段は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうち、最終のパルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークが、前記単一のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直前のマークが、前記特定の複数のパルスで構成されるライトストラテジで記録されるものである場合
の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１７乃至２４のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２６】
前記パルス幅修正手段は、
特定の複数のパルスを含むライトストラテジの、前記複数のパルスのうちの前記複数のパルスのうち、先頭のパルスと最終のパルスの間に位置する中間パルスの幅を修正する場合、
前記スペースの直前のマークが、前記中間パルスを１つだけ有するライトストラテジで記録されるものである場合と、
前記スペースの直前のマークが、前記中間パルスを２つ以上有するライトストラテジで記録されるものである場合の２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の比較結果を基に前記パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１７乃至２５のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２７】
前記パルス幅修正手段は、
前記スペースの直前のマークが、前記中間パルスを２つ以上有するライトストラテジで記録されるものである場合として、
前記中間パルスの数が２つ以上の特定の値の場合あるいは任意の組み合わせの場合のものを用いる
ことを特徴とする請求項２６に記載の光記録再生装置。
【請求項２８】
前記パルス幅修正手段は、
前記単一のパルスで構成されるライトストラテジのパルス幅の修正を行った後に、
前記複数のパルスで構成されるライトストラテジの複数のパルスのうちの、先頭のパルス及び最終のパルスのパルス幅の修正を行う
ことを特徴とする請求項１７乃至２７のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項２９】
前記パルス幅修正手段は、前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差が、予め設定した目標値に一致するように前記修正を行うことを特徴とする請求項１７乃至２８のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項３０】
前記パルス幅修正手段は、
前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差が、予め設定した許容範囲内に収まるように前記修正を行うことを特徴とする請求項１７乃至２８のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項３１】
前記パルス幅修正手段は、前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差と、前記予め設定した目標値との大小関係により、前記パルス幅の修正の方向を決定することを特徴とする請求項１７乃至３０のいずれかに記載の光記録再生装置。
【請求項３２】
前記パルス幅修正手段は、前記２つの信号パターンのスペースに対応する信号部分の幅の差と、パルス幅の変化量の関係を予め求めておき、その関係に基づいて、パルス幅の修正を行うことを特徴とする請求項１７乃至３１のいずれかに記載の光記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに対してデータの記録を行うための光記録再生方法及び光記録再生装置に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジ(記録に用いられるレーザ発光波形規則)を最適化する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光記録再生装置において、近年、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃなどの大容量の光ディスクが広まりつつある。このような光ディスクに対し、記録時に用いるライトストラテジを光ディスクの特性に合わせて最適化する必要がある。
【０００３】
この対応策として、試し書きにより形成されるマークを読み取り、読み取ったマークに対応する信号部分のデビエーション（マークに対応する信号部分の理想的な長さとの差）を評価して、前記デビエーションが所定の範囲内になるようにライトストラテジの修正を繰り返して行うことが提案されている（例えば特許文献１〜５参照）。なお、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ等のマルチパルス型ライトストラテジの形状を開示した文献もある（非特許文献１）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−００４６０１号公報（第１−１４貢、第１−１６図）
【特許文献２】特開２００６−０３１９１５号公報（第１−１３貢、第１−１０図）
【特許文献３】特開２００６−０４８９０７号公報（第１−１６貢、第１−１９図）
【特許文献４】特開２００６−１６４４８６号公報（第１−１３貢、第１−１７図）
【特許文献５】特開２００７−０１８５８２号公報（第１−１１貢、第１−１１図）
【非特許文献１】シャープ技報、第９０号２００４年１２月（第１１−１５頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の光記録再生装置では、試し書きにより形成されるピット部分を読み取った信号のデビエーションが所定の範囲内になるようにライトストラテジの修正をおこなっているが、記録に用いるライトストラテジのパラメータが記録マークの始端と終端のみを規定するようなライトストラテジではなく、パルス幅や位相を規定した複数のパラメータを組み合わせたライトストラテジを用いる場合には、デビエーションの変動が複数のパラメータによって引き起こされるため、デビエーションのみを用いた場合、全てのライトストラテジのパラメータを簡単には最適化できないという問題点があった。
【０００６】
本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジの、特にパルス幅に関するパラメータを、前記光ディスクに対して効率良く最適化できるようにした光記録再生方法及び光記録再生装置を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光記録再生方法は、
記録データのマーク長に応じたライトストラテジのパラメータに従って、光記録媒体にレーザ光を照射することによりデータを記録し、記録されるデータを再生する光記録再生方法であって、
前記記録されるデータのマークの長さに応じて、単一あるいは複数のパルスを含み、前記パルスの幅を制御するパラメータを含む、マルチパルス型のライトストラテジでレーザ光を照射することによりマークを形成し、マークと、マーク相互間に位置するスペースとで構成された記録部を形成する記録部形成工程と、
前記記録部を読み出すことにより得られる、再生信号のうちのスペースに対応する信号部分の幅を読み取るスペース幅読み取り工程と、
前記スペースに対応する信号部分と、前記スペースに対応する信号部分の前後のマークに対応する信号部分との組み合わせで構成された前記再生信号の任意の２つの信号パターンであって、前記スペースの長さが互いに等しく、当該スペースの直前及び直後のマークのうちの一方のマークの長さが互いに等しく、他方のマークの長さが互いに異なる２つの信号パターンを検出するパターン検出工程と、
前記パターン検出工程で検出した２つの信号パターンの、前記スペース幅読み取り工程で読み取った、スペースに対応する信号部分の幅を比較するスペース幅比較工程と、
前記スペースに対応する信号部分の幅の比較の結果に基づいて前記ライトストラテジのパルス幅を修正するパルス幅修正工程と、
前記修正したパルス幅を用いて前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程と
を有する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、記録されたデータのスペースに対応する再生信号部分の幅を、スペースの直前と直後のマークの長さ別に比較し、比較結果に基づいてライトストラテジの、特にパルス幅に関するパラメータを修正することで、パルス幅の最適化を高速に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
実施の形態．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
以下に説明する実施の形態における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザをライトストラテジ（記録に用いられるレーザ発光波形規則）に従いマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録を行っている。即ち、以下の実施の形態で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものである。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、ライトストラテジの、特にパルス幅に関するパラメータを、試し書きした信号から読み取ったスペースに対応する信号の幅を基に修正する。
【００１０】
さらにまた、マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生に用いられるチャンネルクロックの周期Ｔを単位として表され、光ディスクへのデータの記録が、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃに代表される１−７変調の２Ｔ〜９Ｔのマーク、即ちクロック周期数ｎが２乃至９のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。
【００１１】
以下に、この発明の実施の形態において参照する図面について説明する。図１は光記録再生装置の基本的な構成例を示す図である。図２は光記録再生装置において、光ディスクへの記録時に生成するライトストラテジの例を示す図であり、非特許文献１を参照している。図２は更に再生波形を示している。
【００１２】
図３は光記録再生方法において、光ディスク挿入から記録までの手順の一例を示すフローチャートである。図４乃至図７は光記録再生方法において、パルス幅修正の手順の一例を示すフローチャートである。図８乃至図１１はスペース幅検出部において、前マークと後マークの長さ別に検出される再生信号の２Ｔスペースに対応する信号部分の幅の例を示す図である。図１２乃至図１７は光記録再生方法において、各々のパルス幅と２Ｔスペースに対応する信号部分の幅の差分量との関係、及びパルス幅とジッタ値との関係を示す図である。
【００１３】
図１において、レーザ光源としての半導体レーザ１１０はレーザー駆動部１２０により駆動制御されている。
データ再生時においては、半導体レーザ１１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。光ディスク１６０からの反射光は、対物レンズ１５０を通った後にビームスプリッタ１４０により入射光と分離され、検出レンズ１７０を介して受光素子１８０で受光される。
【００１４】
上記のうち、半導体レーザ１１０と、コリメートレンズ１３０と、ビームスプリッタ１４０と、対物レンズ１５０と、検出レンズ１７０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子１８０と、レーザ駆動部１２０とで光ピックアップＰＵが構成されている。
【００１５】
受光素子１８０は光信号を電気信号に変換する。受光素子１８０において変換された電気信号は、ヘッドアンプ１９０を介してプリピット検出部２００とアシンメトリ検出部２１０とイコライザ２２０とに入力される。プリピット検出部２００は、入力された電気信号から、光ディスク１６０のプリピット部に予め記録された、アシンメトリαの推奨値等の光ディスク固有の情報を検出する。
【００１６】
また、イコライザ２２０に入力されたヘッドアンプ１９０からの電気信号は整形され、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）信号処理部２６０で波形等化及び最尤復号を行うことで信号の誤り率を小さくし、データデコーダ２７０に入力される。また、ジッタ値検出部２８０には、イコライザ２２０により整形された信号が入力される。データデコーダ２７０は、入力された電気信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク１６０に記録されたデータを生成（再生）する。
【００１７】
ジッタ値検出部２８０は、再生信号と図示しないＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）によって生成クロック間の位相誤差の絶対値から求める指標であるジッタ値を検出する。
【００１８】
アシンメトリ検出部２１０は、入力された電気信号をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値αを算出する。
α＝（Ａ１＋Ａ２）／２（Ａ１−Ａ２）・・・（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。
【００１９】
データ記録時においては、データエンコーダ２３０は、中央制御部２５０から与えられる、記録すべき元データに対して、エラー訂正符号を付与し、データ変調を行って、半導体レーザ１１０への駆動信号の基本となる記録データを生成する。レーザ波形制御部２４０は、記録データに基きライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２５０からライトストラテジが設定された後、データエンコーダ２３０から、クロック周期数ｎを指定する記録データ、即ち、２Ｔ乃至９Ｔのいずれかを指定する記録データが与えられると、レーザ波形制御部２４０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。
【００２０】
レーザ駆動部１２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザ１１０を駆動する。半導体レーザ１１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。
【００２１】
図２（ａ）〜（ｅ）は、光記録再生装置１００において、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図２（ａ）に、記録のために用いられる周期Ｔを有するチャネルクロック（記録用チャネルクロック）を示す。図２（ｂ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図２（ｃ）に、図２（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光パルスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、３値のパワーレベル、すなわち記録パワーレベルＰＷ、消去パワーレベルＰＥ、バイアスパワーレベルＰＢＷを持ち、パルス状に変調された記録パルス波形である。先頭パルスＦの幅をＴｔｏｐ、図２（ｂ）に示す記録データのマーク部ＭＡの立ち上がり位置から１Ｔ右へシフトしたところを基点とした時の先頭パルス始端位置のシフト量（相対位置）をｄＴｔｏｐ、中間パルス（先頭パルス以外のパルス）Ｍの幅をＴＭＰ、図２（ｂ）に示す記録データのマーク部ＭＡの立ち下がり位置を基点とした時の消去パルス始端位置のシフト量（相対位置）をｄＴＥで表している。
【００２２】
なお、以下では、中間パルス（先頭パルス以外のパルス）Ｍのうち、最終のパルスＬの幅をＴＬＰと呼び、最終パルスＬ以外のパルス、すなわち先頭パルスＦと最終パルスＬの間に位置するパルスを、狭い意味での「中間パルス」Ｍと呼ぶことにする。但し、周期数ｎが３、すなわち記録マーク長が３Ｔの場合、ライトストラテジ信号は、先頭パルスＦと最終パルスＬの２つのパルスを有する。中間パルスＭは、周期数ｎが４以上、すなわち記録マーク長が４Ｔ以上の場合に存在し、ｎが４以上の時、中間パルスＭの数はｎ−３となる。
【００２３】
ここで、パルス幅（Ｔｔｏｐ、ＴＭＰ、ＴＬＰ）やパルスの位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）に関するパラメータは、記録マーク長に応じて各々個別に修正しなければならないが、周期数ｎが５以上、すなわち記録マーク長が５Ｔ以上の場合は、周期数ｎが４、すなわち記録マーク長が４Ｔの場合の各々のパラメータと同一の値である。すなわち、修正すべきライトストラテジのパラメータは、周期数ｎが２、すなわち記録マーク長が２Ｔの場合のパルス幅（Ｔｔｏｐ）及びパルスの位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）、周期数ｎが３、すなわち記録マーク長が３Ｔの場合のパルス幅（Ｔｔｏｐ、ＴＬＰ）及びパルスの位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）、周期数ｎが４、すなわち記録マーク長が４Ｔの場合のパルス幅（Ｔｔｏｐ、ＴＭＰ、ＴＬＰ）及びパルスの位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）の計１２種類となる。
【００２４】
図２（ｄ）に、図２（ｃ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成される光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。図２（ｄ）の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ（位置）であるが、便宜上図２（ｃ）の発光パルスパターンに対応させて示してある。
図２（ｅ）に、図２（ｄ）のマークＭＫ及びスペースＳＰを読み出すことにより得られる再生信号を示す。この再生信号はマークＭＫに対応する信号部分（「再生信号のマーク部分」と言うこともあり、単に「マーク部分」と言うこともある）ＭＢとスペースＳＰに対応する信号部分（「再生信号のスペース部分」と言うこともあり、単に「スペース部分」と言うこともある）ＳＢとを有する。
【００２５】
最短マークは、周期数ｎ＝２、即ち２Ｔに対応する長さを有し、最長マークは周期数ｎ＝９、即ち９Ｔに対応する長さを有する。
図２（ｂ）及び図２（ｃ）は、最短マーク、即ち２Ｔのマークを記録し、次に２番目に短いマーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に３番目に短いマーク、即ち４Ｔのマークを記録する場合を示している。
【００２６】
図示のように、マルチパルス型のライトストラテジ信号は、記録マーク長が２Ｔのときは単一のパルスのみから成り、記録マーク長が３Ｔ以上のときは、複数のパルスを含む。
【００２７】
図１における中央制御部２５０は、光記録再生装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、プリピット検出部２００からのプリピット情報、及びアシンメトリ検出部２１０からのアシンメトリ値、データデコーダ２７０からの再生データ、ジッタ値検出部２８０からのジッタ値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、レーザ駆動部１２０に制御信号を与える。
【００２８】
中央制御部２５０はまた、後に図３乃至図７を参照して説明するライトストラテジの特にパルス幅の修正、アシンメトリ値の計算、及び修正されたライトストラテジとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。
【００２９】
中央制御部２５０は例えばＣＰＵ２５０ａと該ＣＰＵ２５０ａの動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２５０ｂとデータを記憶するＲＡＭ２５０ｃとを備えている。ＲＯＭ２５０ｂに格納されたプログラムは、後に図４乃至図７を参照して説明するパルス幅の調整のための計算、及び図８乃至図１１を参照して説明する
パルス幅の修正を定義する部分を含む。また、ＲＯＭ２５０ｂには、後述のパルス幅を修正する際に、パルス幅の変更量を設定するための係数や、比較する２つのスペース部分のターゲット差分量や、調整精度を定める為の許容誤差量等の、種々の定数が記憶されている。
【００３０】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。
【００３１】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した２Ｔ〜９Ｔのマーク部とスペース部とからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２１０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。
【００３２】
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせる記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。
【００３３】
このような光記録方法を基本として、本実施の形態においては、試し書きにより形成されたマークＭＫ及びスペースＳＰを読み取って信号を再生する際に、スペース幅検出部２９０で検出された、スペースＳＰに対応する信号部分ＳＢの幅を、当該スペースＳＰの直前と直後に位置するマークＭＫの長さ（マークＭＫに対応する再生信号部分ＭＢの、クロック周期数で表される長さ）別に検出し、比較し、比較結果に基づいてパルス幅を修正する。
【００３４】
以下、図３を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク１６０が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して光ディスク１６０から、予めディスクメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリα値の推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ１１）。
【００３５】
次にステップＳ１２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、パルス幅の修正を行う際の初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｃ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定された特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。代わりに、初期ライトストラテジとして、光ディスク１６０から読み取った値と、光記録再生装置１００に予め設定された関係式により決まるライトストラテジを用いるようにしても良い。
【００３６】
次にステップＳ１３において、読み取られたアシンメトリα値の推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｃ内に）設定する。なお、アシンメトリα値の目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録再生装置１００に予め設定した特定の値を用いても良い。あるいは、アシンメトリα値の目標値として、光ディスク１６０から読み取った値と、光記録再生装置１００に予め設定された関係式により決まる値を用いるようにしても良い。
【００３７】
然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（Ｓ１４）、ステップＳ１５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するストラテジ）をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ１３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。
【００３８】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ１６で、パルス幅の修正を行う。なお、ステップＳ１６では、パルス幅の修正と共に、再度パワー調整を行っても良い。
【００３９】
最後にステップＳ１７において、ステップＳ１６で修正されたパルス幅をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来の書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ１６において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ１５で決定された値ではなく、ステップＳ１６で決定された値を用いても良い。
【００４０】
上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ１１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、プリピット検出部２００、イコライザ２２０、ＰＲＭＬ信号処理部２６０、データデコーダ２７０、及び中央制御部２５０により行われ、ステップＳ１２及びＳ１３の処理は、中央制御部２５０により行われ、ステップＳ１４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２５０とにより行われ、ステップＳ１５及びＳ１６の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１７の処理は、中央制御部２５０、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。
【００４１】
図３のステップＳ１６においては、図４乃至図７の処理が行われる。
図４は、図３のステップＳ１６の処理において、記録マークが２Ｔの場合の先頭パルスＦの幅２Ｔｔｏｐの修正を行う手順を示した図である。
この処理が開始される（Ｓ１６０）と、ステップＳ１６１においては、ステップＳ１２において設定された初期ライトストラテジとステップＳ１５において決定された記録パワーを用いて、光ディスク１６１へ試し書きを行い、ステップＳ１６２において、ステップＳ１６１で試し書きした信号を再生する。
【００４２】
ステップＳ１６１の処理は、中央制御部２５０、レーザ波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１６２の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、ＰＲＭＬ信号処理部２６０により行われる。
【００４３】
次に、ステップＳ１６３においては、スペース幅検出部２９０で、ステップＳ１６２において再生された信号の、記録データのスペース長が２Ｔの場合に対応する再生信号のスペース幅（スペースＳＰに対応する信号部分ＳＢの幅）を、前記スペースの前後のマークの長さ別に検出する。
【００４４】
次に、ステップＳ１６４においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークが３Ｔ〜９Ｔ、後マークが２Ｔの場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（２Ｔｔ）を算出する。
次に、ステップＳ１６５においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークと後マークが共に２Ｔの場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（２Ｔ）を算出する。
ステップＳ１６４、Ｓ１６５で、上記のスペース幅を抽出した理由は、後に図８を参照して説明する。
なお、ステップＳ１６４及びＳ１６５におけるスペース幅として、スペースの後マークが共に２Ｔの場合のスペース幅の平均値を用いたが、後マークが２Ｔ以外の特定のｎＴの場合のスペース幅の平均値を用いても良い。なおこの場合、ステップＳ１６４で抽出したスペースの後マーク長と、ステップＳ１６５で抽出したスペースの後マーク長は等しくなければならない。（即ち、ステップＳ１６４のｎとステップＳ１６５のｎは互いに等しくなければならない。）これも、後に図８を参照して説明する。
【００４５】
次に、ステップＳ１６６においては、ステップＳ１６４において抽出した前マークが３Ｔ〜９Ｔで、後マークが２Ｔの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（２Ｔｔ）と、ステップＳ１６５において抽出した前マークと後マークが共に２Ｔの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（２Ｔ）から、その差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）を算出する。
【００４６】
次に、ステップＳ１６７においては、ステップＳ１６６において計算した差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）と、予め設定した許容範囲を比較し、差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が許容範囲内となっていれば、パルス幅（２Ｔｔｏｐ）の修正を終了する（Ｓ１７１）。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が許容範囲外の場合は、ステップＳ１６８の処理を行う。
【００４７】
ステップＳ１６８においては、前記差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）と、予め設定したターゲットの差分量ＴＨ（２Ｔ）とを比較し、どちらが大きいかを判断する。
前記差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（２Ｔ）よりも大きい場合は、ステップＳ１６９において、ライトストラテジのパルス幅（記録マークが２Ｔの場合のパルスＦの幅）２Ｔｔｏｐを増加させるように修正する。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（２Ｔ）よりも小さい場合は、ステップＳ１７０において、パルス幅２Ｔｔｏｐを減少させるように修正する。
【００４８】
ここで、パルス幅２Ｔｔｏｐの修正は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）に対するパルス幅２Ｔｔｏｐの変化量を予め求めておき、求められた差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）に応じて、パルス幅２Ｔｔｏｐの変更幅を決定して修正しても良いし、レーザ制御部２４０で変更できる最小値を用いて修正しても良い。
ステップＳ１６４〜Ｓ１７０の処理は、中央制御部２５０で行われる。
【００４９】
ステップＳ１６９及びＳ１７０において、パルス幅２Ｔｔｏｐが修正されたあとは、修正されたパルス幅２Ｔｔｏｐを用いて、ステップＳ１６１において再度試し書きをし、以降の動作をステップＳ１６７において、差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が許容範囲内となるまでパルス幅２Ｔｔｏｐの修正を繰り返し行う。
なお、ステップＳ１６１において試し書きをする前に、再度記録パワーの調整を行うようにしても良い。
【００５０】
図５は、図３のステップＳ１６の処理において、記録マークがｍＴ（ｍ＝３、４）の場合の先頭パルスＦの幅ｍＴｔｏｐの修正を行う手順を示した図である。
この処理が開始される（Ｓ１７２）と、ステップＳ１６１において、光ディスク１６０へ試し書きを行う。
ステップＳ１６１〜Ｓ１６３の処理は、図４に示すものと同様であり、その詳細な説明は省略する。
【００５１】
ステップＳ１７３においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの特定のｎＴ（前マークがｎＴ（ｎは２〜９のうちの任意のものであり、例えば予め定められ、それを示す情報が例えばＲＯＭ２５０ｂ内に格納されている）、後マークが２Ｔの場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（ｍＴｔ）を算出する。
次に、ステップＳ１７４においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの、上記の特定のｎＴ、後マークがｍＴの場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（ｍＴ）を算出する。
なお、ステップＳ１７３で抽出したスペースの前マーク長と、ステップＳ１７４で抽出したスペースの前マーク長は等しくなければならない。（即ち、ステップＳ１７３のｎとステップＳ１７４のｎは互いに等しい。）この理由は、後に図９を参照して説明する。ステップＳ１７３、Ｓ１７４で、上記のスペース幅を抽出した理由も、後に図９を参照して説明する。
【００５２】
次に、ステップＳ１７５においては、ステップＳ１７３において抽出した前マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴ、後マークが２Ｔの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｍＴｔ）と、ステップＳ１７４において抽出した前マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴ、後マークがｍＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｍＴ）から、その差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）を算出する。
【００５３】
次に、ステップＳ１７６においては、ステップＳ１７５において計算した差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）と、予め設定した許容範囲を比較し、差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）が許容範囲内となっていれば、パルス幅（ｍＴｔｏｐ）の修正を終了する（Ｓ１８０）。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）が許容範囲外の場合は、ステップＳ１７７の処理を行う。
【００５４】
ステップＳ１７７においては、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）と、予め設定したターゲットの差分量ＴＨ（ｍＴ）とを比較し、どちらが大きいかを判断する。
前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｍＴ）よりも大きい場合は、ステップＳ１７８において、ライトストラテジのパルス幅（記録マークがｍＴの場合の先頭パルスＦの幅）ｍＴｔｏｐを増加させるように修正する。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｍＴ）よりも小さい場合は、ステップＳ１７９において、パルス幅ｍＴｔｏｐを減少させるように修正する。
【００５５】
ここで、ステップＳ１７７における差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）とターゲット差分量ＴＨ（ｍＴ）の比較及び、ステップＳ１７８、Ｓ１７９におけるパルス幅ｍＴｔｏｐの修正は、パルス幅を表す周期数ｍの大きさ別に行い、ステップＳ１７６で差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）が許容範囲外と判定されたｍについてのみ行えばよい。例えば、ステップＳ１７６でｍ＝３の場合の差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）が許容範囲外と判定され、ｍ＝４の場合の差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）が許容範囲内と判定された場合、ステップＳ１７７においては、ｍ＝３の場合の差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）とｍ＝３の場合のターゲット差分量ＴＨ（３Ｔ）の比較のみ行い、ステップＳ１７８及びＳ１７９において、ｍ＝３の場合の先頭パルス幅３Ｔｔｏｐを修正する。
【００５６】
ここで、パルス幅ｍＴｔｏｐの修正は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）に対するパルス幅ｍＴｔｏｐの変化量を予め求めておき、求められた差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）に応じて、パルス幅ｍＴｔｏｐの変更量を決定して修正しても良いし、レーザ制御部２４０で変更できる最小値を用いて修正しても良い。
ステップＳ１７３〜Ｓ１７９の処理は、中央制御部２５０で行われる。
【００５７】
ステップＳ１７８及びＳ１７９において、パルス幅ｍＴｔｏｐが修正されたあとは、修正されたパルス幅ｍＴｔｏｐを用いて、ステップＳ１６１において再度試し書きをし、以降の動作をステップＳ１７６において、差分量ＤＬ２Ｓ（ｍＴ）が許容範囲内となるまでパルス幅ｍＴｔｏｐの修正を繰り返し行う。
なお、ステップＳ１６１において試し書きをする前に、再度記録パワーの調整を行うようにしても良い。
【００５８】
図６は、図３のステップＳ１６の処理において、記録マークがｐＴ（ｐ＝３、４）の場合の最終パルスＬの幅ｐＴＬＰの修正を行う手順を示した図である。
この処理が開始される（Ｓ１８１）と、ステップＳ１６１において、光ディスク１６０へ試し書きを行う。
ステップＳ１６１〜Ｓ１６３の処理は、図４に示すものと同様であり、その詳細な説明は省略する。
【００５９】
ステップＳ１８２においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの特定のｎＴ（後マークがｎＴ（ｎは２〜９のうちの任意のものであり、例えば予め定められ、それを示す情報が例えばＲＯＭ２５０ｂ内に格納されている）の場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（ｐＬｔ）を算出する。
次に、ステップＳ１８３においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークがｐＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴの場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（ｐＬ）を算出する。
なお、ステップＳ１８２で抽出したスペースの後マーク長と、ステップＳ１８３で抽出したスペースの後マーク長は等しくなければならない。（即ち、ステップＳ１８２のｎとステップＳ１８３のｎは互いに等しい。）この理由は、後に図１０を参照して説明する。ステップＳ１８２、Ｓ１８３で、上記のスペース幅を抽出した理由も、後に図１０を参照して説明する。
【００６０】
次に、ステップＳ１８４においては、ステップＳ１８２において抽出した前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｐＬｔ）と、ステップＳ１８３において抽出した前マークがｐＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｐＬ）から、その差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）を算出する。
【００６１】
次に、ステップＳ１８５においては、ステップＳ１８４において計算した差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）と、予め設定した許容範囲を比較し、差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）が許容範囲内となっていれば、パルス幅（ｐＴＬＰ）の修正を終了する（Ｓ１８９）。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）が許容範囲外の場合は、ステップＳ１８６の処理を行う。
【００６２】
ステップＳ１８６においては、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）と、予め設定したターゲットの差分量ＴＨ（ｐＬ）とを比較し、どちらが大きいかを判断する。
前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｐＬ）よりも大きい場合は、ステップＳ１８７において、ライトストラテジのパルス幅（記録マークがｐＴの場合の最終パルスＬの幅）ｐＴＬＰを増加させるように修正する。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｐＬ）よりも小さい場合は、ステップＳ１８８において、パルス幅ｐＴＬＰを減少させるように修正する。
【００６３】
ここで、ステップＳ１８６における差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）とターゲット差分量ＴＨ（ｐＬ）の比較及び、ステップＳ１８７、Ｓ１８８におけるパルス幅ｐＴＬＰの修正は、パルス幅を表す周期数ｐの大きさ別に行い、ステップＳ１８５で差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）が許容範囲外と判定されたｐについてのみ行えばよい。例えば、ステップＳ１８５でｐ＝３の場合の差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）が許容範囲外と判定され、ｐ＝４の場合の差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）が許容範囲内と判定された場合、ステップＳ１８６においては、ｐ＝３の場合の差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）とｐ＝３の場合のターゲット差分量ＴＨ（３Ｌ）の比較のみ行い、ステップＳ１８７及びＳ１８８において、ｐ＝３の場合の最終パルス幅３ＴＬＰを修正する。
【００６４】
ここで、パルス幅ｐＴＬＰの修正は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）に対するパルス幅ｐＴＬＰの変化量を予め求めておき、求められた差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）に応じて、パルス幅ｐＴＬＰの変更量を決定して修正しても良いし、レーザ制御部２４０で変更できる最小値を用いて修正しても良い。
ステップＳ１８２〜Ｓ１８８の処理は、中央制御部２５０で行われる。
【００６５】
ステップＳ１８７及びＳ１８８において、パルス幅ｐＴＬＰが修正されたあとは、修正されたパルス幅ｐＴＬＰを用いて、ステップＳ１６１において再度試し書きをし、以降の動作をステップＳ１８５において、差分量ＤＬ２Ｓ（ｐＬ）が許容範囲内となるまでパルス幅ｐＴＬＰの修正を繰り返し行う。
なお、ステップＳ１６１において試し書きをする前に、再度記録パワーの調整を行うようにしても良い。
【００６６】
図７は、図３のステップＳ１６の処理において、記録マークがｋＴ（ｋ≧４）の場合の中間パルスＭの幅ｋＴＭＰの修正を行う手順を示した図である。
この処理が開始される（Ｓ１９０）と、ステップＳ１６１において、光ディスク１６０へ試し書きを行う。ステップＳ１６１〜Ｓ１６３は、図４に示すものと同様のため、説明は省略する。
【００６７】
ステップＳ１９１においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークが４Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの特定のｎＴ（後マークがｎＴ（ｎは２〜９のうちの任意のものであり、例えば予め定められ、それを示す情報が例えばＲＯＭ２５０ｂ内に格納されている）の場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（ｋＭ４）を算出する。
次に、ステップＳ１９２においては、ステップＳ１６３で検出したスペース幅から、前マークがｓＴ（ｓは５以上の全ての値）、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴの場合のスペース幅を抽出して、その平均値Ｌ２Ｓ（ｋＭｓ）を算出する。
なお、ステップＳ１９１で抽出したスペースの後マーク長と、ステップＳ１９２で抽出したスペースの後マーク長は等しくなければならない。（即ち、ステップＳ１９１のｎとステップＳ１９２のｎは互いに等しくなければならない。）この理由は、後に図１１を参照して説明する。ステップＳ１９１、Ｓ１９２で、上記のスペース幅を抽出した理由も、後に図１１を参照して説明する。
【００６８】
なお、ステップＳ１９２で、前記スペースの前マークがｓＴの場合のスペース幅としては、前マークが５Ｔ以上の全ての場合のスペース幅の平均値を用いたが、前マークが５Ｔ以上の特定のｎＴの場合のみを用いたり、前マークの長さが５Ｔ以上の複数の場合（複数のｎＴの値の場合）の平均値を用いても良い。
【００６９】
次に、ステップＳ１９３においては、ステップＳ１９１において抽出した前マークが４Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの上記の特定のｎＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｋＭ４）と、ステップＳ１９２において抽出した前マークがｓＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔののうちの上記の特定のｎＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｋＭｓ）から、その差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）を算出する。
【００７０】
次に、ステップＳ１９４においては、ステップＳ１９３において計算した差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）と、予め設定した許容範囲を比較し、差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が許容範囲内となっていれば、パルス幅（ｋＴＭＰ）の修正を終了する（Ｓ１９８）。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が許容範囲外の場合は、ステップＳ１９５の処理を行う。
【００７１】
ステップＳ１９５においては、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）と、予め設定したターゲットの差分量ＴＨ（ｋＭ）とを比較し、どちらが大きいかを判断する。
前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｋＭ）よりも大きい場合は、ステップＳ１９６において、ライトストラテジのパルス幅（記録マークがｋＴの場合の中間パルスＭの幅）ｋＴＭＰを増加させるように修正する。
また、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が前記ターゲット差分量ＴＨ（ｋＭ）よりも小さい場合は、ステップＳ１９７において、パルス幅ｋＴＭＰを減少させるように修正する。
【００７２】
ここで、パルス幅ｋＴＭＰの修正は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）に対するパルス幅ｋＴＭＰの変化量を予め求めておき、求められた差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）に応じて、パルス幅ｋＴＭＰの変更量を決定して修正しても良いし、レーザ制御部２４０で変更できる最小値を用いて修正しても良い。
ステップＳ１９１〜Ｓ１９７の処理は、中央制御部２５０で行われる。
【００７３】
ステップＳ１９６及びＳ１９７において、パルス幅ｋＴＭＰが修正されたあとは、修正されたパルス幅ｋＴＭＰを用いて、ステップＳ１６１において再度試し書きをし、以降の動作をステップＳ１９４において、差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が許容範囲内となるまでパルス幅ｋＴＭＰの修正を繰り返し行う。
なお、ステップＳ１６１において試し書きをする前に、再度記録パワーの調整を行うようにしても良い。
【００７４】
以上、図４乃至図７の処理が図３の処理のステップＳ１６として、光ディスク装置の記録動作の開始時に自動的に行われる場合について説明したが、同様の処理を、光ディスク装置開発段階において、開発技術者が行う場合もあり得る。その場合には、開発技術者が手入力（パルス幅修正を行うツール等で、処理開始の指示を与え、これに応じて図４〜図７の処理が開始される。
【００７５】
図４乃至図７におけるパルス幅の修正において、各々のパルス幅の修正回数の制限値を予め設定しておき、パルス幅を修正した回数がその制限値を超えた場合は、パルス幅の修正を終了するようにしても良い。
【００７６】
また、記録マークがｍＴ（ｍ＝３、４）の場合の先頭パルスＦの幅ｍＴｔｏｐ及び記録マークがｐＴ（ｐ＝３、４）の場合の最終パルスＬの幅ｐＴＬＰの修正は、記録マークが２Ｔの場合のパルスＦの幅２Ｔｔｏｐを最適に修正した後に行わなければならない。その理由は、後に図９及び図１０を参照して説明する。
【００７７】
図８（ａ）乃至図１１（ｊ）は、図１に示される光記録再生装置１００において、光ディスク１６０への信号の記録の際に用いられるライトストラテジ信号のパルス幅、及び記録された信号を再生することで得られる再生信号の波形を示す。いずれの場合も、記録データのスペース長２Ｔであり、その前後のマークのうち一方の長さが互いに異なる例を示している。
【００７８】
図８（ａ）〜（ｅ）は、前マークと後マークが共に２Ｔの場合を示し、図８（ｆ）〜（ｊ）は、前マークが３Ｔ〜９Ｔ、後マークが２Ｔの場合を示しており、
図９（ａ）〜（ｅ）は、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークがｍＴの場合を示し、
図９（ｆ）〜（ｊ）は、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークが２Ｔの場合を示しており、
図１０（ａ）〜（ｅ）は、前マークがｐＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合を示し、
図１０（ｆ）〜（ｊ）は、前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合を示しており、
図１１（ａ）〜（ｅ）は、前マークが４Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合を示し、
図１１（ｆ）〜（ｊ）は、前マークがｓＴ以上、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合を示している。
【００７９】
図８（ａ）、図８（ｆ）、図９（ａ）、図９（ｆ）、図１０（ａ）、図１０（ｆ）、図１１（ａ）及び図１１（ｆ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データを示す。また、図８（ｂ）〜（ｄ）及び図８（ｇ）〜（ｉ）、図９（ｂ）〜（ｄ）及び図９（ｇ）〜（ｉ）、図１０（ｂ）〜（ｄ）及び図１０（ｇ）〜（ｉ）、図１１（ｂ）〜（ｄ）及び図１０（ｇ）〜（ｉ）に、図８（ａ）及び図８（ｆ）、図９（ａ）及び図９（ｆ）、図１０（ａ）及び図１０（ｆ）、図１１（ａ）及び図１１（ｆ）の記録データを記録するためのライトストラテジを示す。
【００８０】
図８（ｂ）及び図８（ｇ）には、最適な２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐ（１）の場合（ライトストラテジのパルス幅２Ｔｔｏｐが最適である場合）を示し、図８（ｃ）及び図８（ｈ）には、前記２Ｔｔｏｐ（１）よりも大きくしたパルス幅２Ｔｔｏｐ（２）の場合を示し、図８（ｄ）及び図８（ｉ）には、前記２Ｔｔｏｐ（１）よりも小さくしたパルス幅２Ｔｔｏｐ（３）の場合を示している。
図９（ｂ）及び図９（ｇ）には、最適なｍＴの先頭パルス幅ｍＴｔｏｐ（１）の場合（ライトストラテジの先頭パルス幅ｍＴｔｏｐが最適である場合）を示し、図９（ｃ）及び図９（ｈ）には、前記ｍＴｔｏｐ（１）よりも大きくしたパルス幅ｍＴｔｏｐ（２）の場合を示し、図９（ｄ）及び図９（ｉ）には、前記ｍＴｔｏｐ（１）よりも小さくしたパルス幅ｍＴｔｏｐ（３）の場合を示している。
図１０（ｂ）及び図１０（ｇ）には、最適なｐＴの最終パルス幅ｐＴＬＰ（１）の場合（ライトストラテジの最終パルス幅ｐＴＬＰが最適である場合）を示し、図１０（ｃ）及び図１０（ｈ）には、前記ｐＴＬＰ（１）よりも大きくしたパルス幅ｐＴＬＰ（２）の場合を示し、図１０（ｄ）及び図１０（ｉ）には、前記ｐＴＬＰ（１）よりも小さくしたパルス幅ｐＴＬＰ（３）の場合を示している。
図１１（ｂ）及び図１１（ｇ）には、最適なｋＴの中間パルス幅ｋＴＭＰ（１）の場合（ライトストラテジの中間パルス幅ｋＴＭＰが最適である場合）を示し、図１１（ｃ）及び図１１（ｈ）には、前記ｋＴＭＰ（１）よりも大きくしたパルス幅ｋＴＭＰ（２）の場合を示し、図１１（ｄ）及び図１１（ｉ）には、前記ｋＴＭＰ（１）よりも小さくしたパルス幅ｋＴＭＰ（３）の場合を示している。
【００８１】
図８（ｅ）及び図８（ｊ）、図９（ｅ）及び図９（ｊ）、図１０（ｅ）及び図１０（ｊ）、図１１（ｅ）及び図１１（ｊ）に、図８（ｂ）〜（ｄ）及び図８（ｇ）〜（ｉ）、図９（ｂ）〜（ｄ）及び図９（ｇ）〜（ｉ）、図１０（ｂ）〜（ｄ）及び図１０（ｇ）〜（ｉ）、図１１（ｂ）〜（ｄ）及び図１１（ｇ）〜（ｉ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成される光ディスク上のマークと、マーク相互間に位置するスペースとを読み出すことにより得られる再生信号を示す。
【００８２】
図８（ｂ）に示すように、２Ｔの場合のパルス幅が最適な値（２Ｔｔｏｐ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図８（ｅ）に曲線ＲＤ２Ｔ（１）に示すごとくとなる。
図８（ｃ）に示すように、前記２Ｔｔｏｐ（１）よりも大きくしたパルス幅２Ｔｔｏｐ（２）で記録された場合、図８（ｅ）に曲線ＲＤ２Ｔ（２）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記２Ｔｔｏｐ（１）で記録された場合よりも大きくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は小さくなる。
逆に、図８（ｄ）に示すように、前記２Ｔｔｏｐ（１）よりも小さくしたパルス幅２Ｔｔｏｐ（３）で記録された場合、図８（ｅ）に曲線ＲＤ２Ｔ（３）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記２Ｔｔｏｐ（１）で記録された場合よりも小さくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は大きくなる。
【００８３】
これに対し、図８（ｆ）〜図８（ｊ）に示すように、前マークが３Ｔ〜９Ｔ、後マークが２Ｔの場合は、２Ｔスペース部分ＳＢの幅は多少変化が生じるが、その変化は、図８（ａ）〜図８（ｅ）に示す、前マークと後マークが共に２Ｔの場合の２Ｔスペース部分ＳＢの幅の変化に比べて顕著ではない。図８（ｇ）に示すように、２Ｔの場合のパルス幅が最適な値（２Ｔｔｏｐ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図８（ｊ）に曲線ＲＤ２Ｔｔ（１）に示すごとくとなる。
【００８４】
図８（ｈ）に示すように、前記２Ｔｔｏｐ（１）よりも大きくしたパルス幅２Ｔｔｏｐ（２）で記録された場合、図８（ｊ）に曲線ＲＤ２Ｔｔ（２）で示す様に、再生信号の後マーク部分ＭＢは、前記２Ｔｔｏｐ（１）で記録された場合よりも大きくなるが、前記マーク部分ＭＢの立ち下がり位置はほぼ同じであるため、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅にはそれほど影響を与えない。
【００８５】
同様に、図８（ｉ）に示すように、前記２Ｔｔｏｐ（１）よりも小さくしたパルス幅２Ｔｔｏｐ（３）で記録された場合、図８（ｊ）に曲線ＲＤ２Ｔｔ（３）で示す様に、再生信号の後マーク部分ＭＢは、前記２Ｔｔｏｐ（１）で記録された場合よりも小さくなるが、前記マーク部分ＭＢの立ち下がり位置はほぼ同じであるため、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅にはそれほど影響を与えない。
【００８６】
ここで、図８（ａ）〜（ｄ）、及び図８（ｆ）〜（ｉ）で、後マークが共に２Ｔの場合を示したが、２Ｔ以外の特定のｎＴの場合でも良い。但しこの場合、図８（ａ）〜（ｄ）における前マーク長と、図８（ｆ）〜（ｉ）における前マーク長は等しくなければならない。これは、例えば前マークを、図８に示すように共に２Ｔとした場合、２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐが変化しても、図８（ｅ）における、前記マークの直前のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（２Ｔ）と、図８（ｊ）における、前記マークの直前のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（２Ｔｔ）の変化量は同じであるため、前記Ｌ２Ｓ（２Ｔ）とＬ２Ｓ（２Ｔｔ）との差は変化しないためである。もし両者の前マーク長が異なる場合、２Ｔｔｏｐ以外のパルス幅に対する影響も考慮しなければならないため、２Ｔｔｏｐを最適に修正しにくくなる。
【００８７】
以上、前マークが３Ｔ〜９Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース信号の幅を基準に、前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分の幅との差により２Ｔｔｏｐを最適に修正することができる。
【００８８】
図９（ｂ）に示すように、ｍＴの先頭パルス幅が最適な値（ｍＴｔｏｐ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図９（ｅ）に曲線ＲＤｍＴ（１）に示すごとくとなる。
図９（ｃ）に示すように、前記ｍＴｔｏｐ（１）よりも大きくしたパルス幅ｍＴｔｏｐ（２）で記録された場合、図９（ｅ）に曲線ＲＤｍＴ（２）で示す様に、再生信号の後マーク部分ＭＢは、前記ｍＴｔｏｐ（１）で記録された場合よりも大きくなり、その影響で、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は小さくなる。
逆に、図９（ｄ）に示すように、前記ｍＴｔｏｐ（１）よりも小さくしたパルス幅ｍＴｔｏｐ（３）で記録された場合、図９（ｅ）に曲線ＲＤｍＴ（３）で示す様に、再生信号の後マーク部分ＭＢは、前記ｍＴｔｏｐ（１）で記録された場合よりも小さくなり、その影響で、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は大きくなる。
【００８９】
これに対し、図９（ｆ）〜図９（ｊ）に示すように、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークが２Ｔの場合は、２Ｔスペース部分ＳＢの幅に変化が生じない。図９（ｇ）に示すように、ｍＴの先頭パルス幅が最適な値（ｍＴｔｏｐ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図９（ｊ）に曲線ＲＤｍＴｔ（１）に示すごとくとなる。
【００９０】
図９（ｈ）に示すように、前記ｍＴｔｏｐ（１）よりも大きくしたパルス幅ｍＴｔｏｐ（２）で記録された場合、図９（ｊ）に曲線ＲＤｍＴｔ（２）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｍＴｔｏｐ（１）で記録された場合よりも大きくなるが、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの立ち上がり位置は同じであるため、前記直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅には何ら影響を与えない。
【００９１】
同様に、図９（ｉ）に示すように、前記ｍＴｔｏｐ（１）よりも小さくしたパルス幅ｍＴｔｏｐ（３）で記録された場合、図９（ｊ）に曲線ＲＤｍＴｔ（３）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｍＴｔｏｐ（１）で記録された場合よりも小さくなるが、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの立ち上がり位置は同じであるため、前記直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅には何ら影響を与えない。
【００９２】
ここで、図９（ａ）〜（ｄ）における前マーク長と、図９（ｆ）〜（ｉ）における前マーク長は等しくなければならない。これは、例えば前マークを共に２Ｔとした場合、２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐが変化しても、図９（ｅ）における、前記マークの直後のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（ｍＴ）と、図９（ｊ）における、前記マークの直後のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（ｍＴｔ）の変化量は同じであるため、前記Ｌ２Ｓ（ｍＴ）とＬ２Ｓ（ｍＴｔ）との差は変化しないためである。もし両者の前マーク長が異なる場合、ｍＴｔｏｐ以外のパルス幅に対する影響も考慮しなければならないため、ｍＴｔｏｐを最適に修正しにくくなる。
【００９３】
以上、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークが２Ｔの場合の２Ｔスペース部分の幅を基準に、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークがｍＴの場合の２Ｔスペース部分の幅との差によりｍＴｔｏｐを最適に修正することができる。
【００９４】
なお、２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐを変化させると、図９（ｅ）における２Ｔスペース部分の幅は、後マークにより影響を受けないが、図９（ｊ）における２Ｔスペース部分の幅は、図８（ｊ）の場合と同様、後マークにより多少影響を受けるため、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークがｍＴの場合の２Ｔスペース部分の幅と、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークが２Ｔの場合の２Ｔスペース部分の幅との差は変化する。よって、ｍＴｔｏｐを最適に修正するには、まずは２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐを最適に修正しなければならない。
【００９５】
図１０（ｂ）に示すように、ｐＴの最終パルス幅が最適な値（ｐＴＬＰ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図１０（ｅ）に曲線ＲＤｐＬ（１）に示すごとくとなる。
【００９６】
図１０（ｃ）に示すように、前記ｐＴＬＰ（１）よりも大きくしたパルス幅ｐＴＬＰ（２）で記録された場合、図１０（ｅ）に曲線ＲＤｐＬ（２）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｐＴＬＰ（１）で記録された場合よりも大きくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は小さくなる。
【００９７】
逆に、図１０（ｄ）に示すように、前記ｐＴＬＰ（１）よりも小さくしたパルス幅ｐＴＬＰ（３）で記録された場合、図１０（ｅ）に曲線ＲＤｐＬ（３）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｐＴＬＰ（１）で記録された場合よりも小さくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は大きくなる。
【００９８】
これに対し、図１０（ｆ）〜図１０（ｊ）に示すように、前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合は、２Ｔスペース部分ＳＢの幅に変化が生じない。図１０（ｇ）に示すように、ｐＴの最終パルス幅が最適な値（ｐＴＬＰ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図１０（ｊ）に曲線ＲＤｐＬｔ（１）に示すごとくとなる。
【００９９】
図１０（ｈ）に示すように、前記ｐＴＬＰ（１）よりも大きくしたパルス幅ｐＴＬＰ（２）で記録された場合、図１０（ｊ）に曲線ＲＤｐＬｔ（２）で示す様に、再生信号の後マーク部分ＭＢは、前記ｐＴＬＰ（１）で記録された場合よりも大きくなるが、前記マーク部分ＭＢの立ち下がり位置は同じであるため、直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅には何ら影響を与えない。
【０１００】
同様に、図１０（ｉ）に示すように、前記ｐＴＬＰ（１）よりも小さくしたパルス幅ｐＴＬＰ（３）で記録された場合、図１０（ｊ）に曲線ＲＤｐＬｔ（３）で示す様に、再生信号の後マーク部分ＭＢは、前記ｐＴＬＰ（１）で記録された場合よりも小さくなるが、前記マーク部分ＭＢの立ち下がり位置は同じであるため、前記直前の２Ｔスペース部分ＳＢの幅には何ら影響を与えない。
【０１０１】
ここで、図１０（ａ）〜（ｄ）における後マーク長と、図１０（ｆ）〜（ｉ）における後マーク長は等しくなければならない。これは、例えば後マークを共に３Ｔとした場合、３Ｔの先頭パルス幅３Ｔｔｏｐが変化しても、図１０（ｅ）における、前記マークの直前のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（ｎＬ）と、図１０（ｊ）における、前記マークの直前のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（ｎＬｔ）の変化量は同じであるため、前記Ｌ２Ｓ（ｎＬ）とＬ２Ｓ（ｎＬｔ）との差は変化しないためである。もし両者の後マーク長が異なる場合、ｐＴＬＰ以外のパルス幅に対する影響も考慮しなければならないため、ｐＴＬＰを最適に修正しにくくなる。
【０１０２】
以上、前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分の幅を基準に、前マークがｐＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分の幅との差によりｐＴＬＰを最適に修正することができる。
【０１０３】
なお、２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐを変化させると、図１０（ｅ）における２Ｔスペース部分の幅は、図８（ｅ）の場合と同様、前マークにより影響を受け、図１０（ｊ）における２Ｔスペース部分の幅は、図８（ｊ）の場合と同様、前マークにより影響を受けないため、前マークがｐＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔのうちの特定の値の場合の２Ｔスペース部分の幅と、前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分の幅との差は変化する。よって、ｐＴＬＰを最適に修正するには、ｍＴｔｏｐの修正の時と同様、まずは２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐを最適に修正しなければならない。
【０１０４】
図１１（ｂ）に示すように、ｋＴの中間パルス幅が最適な値（ｋＴＭＰ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図１１（ｅ）に曲線ＲＤｋＭ４（１）に示すごとくとなる。
【０１０５】
図１１（ｃ）に示すように、前記ｋＴＭＰ（１）よりも大きくしたパルス幅ｋＴＭＰ（２）で記録された場合、図１１（ｅ）に曲線ＲＤｋＭ４（２）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｋＴＭＰ（１）で記録された場合よりも大きくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は小さくなる。
【０１０６】
逆に、図１１（ｄ）に示すように、前記ｋＴＭＰ（１）よりも小さくしたパルス幅ｋＴＭＰ（３）で記録された場合、図１１（ｅ）に曲線ＲＤｋＭ４（３）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｋＴＭＰ（１）で記録された場合よりも小さくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は大きくなる。
【０１０７】
これに対し、図１１（ｆ）〜図１１（ｊ）に示すように、前マークがｓＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分ＳＢの幅の変化は、図１１（ｅ）に示す２Ｔスペース部分ＳＢの幅の変化よりも顕著になる。図１１（ｇ）に示すように、ｋＴの中間パルス幅が最適な値（ｋＴＭＰ（１））の場合、スペース部分ＳＢと前後のマーク部分ＭＢとで構成される再生信号は、図１１（ｊ）に曲線ＲＤｋＭｓ（１）に示すごとくとなる。
【０１０８】
図１１（ｈ）に示すように、前記ｋＴＭＰ（１）よりも大きくしたパルス幅ｋＴＭＰ（２）で記録された場合、図１１（ｊ）に曲線ＲＤｋＭｓ（２）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｐＴＬＰ（１）で記録された場合よりも大きくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は小さくなる。この場合、図１１（ｂ）〜（ｅ）とは異なり、中間パルスの数は１つではなく複数であるため、図１１（ｅ）に示す曲線ＲＤｋＭ４（２）の変化よりも顕著になる。
【０１０９】
逆に、図１１（ｉ）に示すように、前記ｋＴＭＰ（１）よりも小さくしたパルス幅ｋＴＭＰ（３）で記録された場合、図１１（ｊ）に曲線ＲＤｋＭｓ（３）で示す様に、再生信号の前マーク部分ＭＢは、前記ｋＴＭＰ（１）で記録された場合よりも小さくなり、その影響で、直後の２Ｔスペース部分ＳＢの幅は大きくなる。この場合、図１１（ｊ）に示す曲線ＲＤｋＭｓ（２）の変化が図１１（ｅ）に示す曲線ＲＤｋＭ４（２）の変化よりも顕著になるのと同様、図１１（ｊ）に示す曲線ＲＤｋＭｓ（３）の変化は、図１１（ｅ）に示す曲線ＲＤｋＭ４（３）の変化よりも顕著になる。
【０１１０】
ここで、図１１（ａ）〜（ｄ）における後マーク長と、図１１（ｆ）〜（ｉ）における後マーク長は等しくなければならない。これは、例えば後マークを共に３Ｔとした場合、３Ｔの先頭パルス幅３Ｔｔｏｐが変化しても、図１１（ｅ）における、前記マークの直前のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（ｋＭ４）と、図１１（ｊ）における、前記マークの直前のスペース部分ＳＢの幅Ｌ２Ｓ（ｋＭｓ）の変化量は同じであるため、前記Ｌ２Ｓ（ｋＭ４）とＬ２Ｓ（ｋＭｓ）との差は変化しないためである。もし両者の後マーク長が異なる場合、ｋＴＭＰ以外のパルス幅に対する影響も考慮しなければならないため、ｋＴＭＰを最適に修正しにくくなる。
【０１１１】
以上、前マークが４Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分の幅と、前マークがｓＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合の２Ｔスペース部分の幅との差によりｋＴＭＰを最適に修正することができる。
【０１１２】
本発明者等は、各々のパルス幅と、２Ｔスペース部分の幅の差分量との関係、及び各々のパルス幅と、記録品質の指標であるジッタ値との関係を調べる為に、ライトストラテジのパルス幅を変更した場合の２Ｔスペース部分の幅の差分量及びジッタ値を求める実験を行った。そして、ジッタ値を最小にするパルス幅と、前記スペース部分の幅の差分量との関係を求めた。
【０１１３】
図１２は、２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐを＋方向と−方向に３ステップ変更した時の再生ジッタ値（○印）、及び図４のステップＳ１６６において算出した差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）（△印）を示しており、図１３は、３Ｔの先頭パルス幅３Ｔｔｏｐを＋方向と−方向に３ステップ変更した時の再生ジッタ値（○印）、及び図５のステップＳ１７５において算出した差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）（△印）を示しており、図１４は、４Ｔの先頭パルス幅４Ｔｔｏｐを＋方向と−方向に３ステップ変更した時の再生ジッタ値（○印）、及び図５のステップＳ１７５において算出した差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）（△印）を示しており、図１５は、３Ｔの最終パルス幅３ＴＬＰを＋方向と−方向に３ステップ変更した時の再生ジッタ値（○印）、及び図６のステップＳ１８４において算出した差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）（△印）を示しており、図１６は、４Ｔの最終パルス幅４ＴＬＰを＋方向と−方向に３ステップ変更した時の再生ジッタ値（○印）、及び図６のステップＳ１８４において算出した差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）（△印）を示しており、図１７は、ｋＴの中間パルス幅ｋＴＭＰを＋方向と−方向に３ステップ変更した時の再生ジッタ値（○印）、及び図７のステップＳ１９３において算出した差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）（△印）を示している。なお、図１７は、ｓ＝５の時の結果である。すなわち、図中の前記ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）は、ステップＳ１９１において抽出した前マークが４Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｋＭ４）と、ステップＳ１９２において抽出した前マークが５Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合のスペース幅Ｌ２Ｓ（ｋＭ５）との差である。
【０１１４】
図１２より、２Ｔの場合のパルス幅２Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）の関係はほぼ線形近似できる。また、２Ｔｔｏｐが最適となる、すなわちジッタ値が最小となる場合の差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）の値は約−０．１３である。従って、２Ｔｔｏｐを最適に修正する場合は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が約−０．１３となるように２Ｔｔｏｐを修正すれば良いことがわかる。この時、図４のステップＳ１６８におけるターゲット差分量ＴＨ（２Ｔ）の値は−０．１３である。また、２Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）から、２Ｔｔｏｐの修正量を知ることができる。更に、差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が−０．１３より大きい場合には、２Ｔｔｏｐを大きくし、差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）が−０．１３より小さい場合には、２Ｔｔｏｐを小さくすれば良いことがわかる。
【０１１５】
ここで、図４のステップＳ１６７に示すように、差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）をちょうど−０．１３にする必要はなく、ある許容範囲内となるようにすれば良い。この場合の前記許容範囲は、最適なジッタ値からのジッタ値劣化量が最大で約０．５％となるような範囲とした。よって、この場合の許容範囲は、−０．１３±０．０４となる。後に２Ｔｔｏｐ以外のパルス幅の修正を行う際にも、前記０．０４をターゲット差分量からのズレ量の許容値として用いることで、全てのパルス幅の修正を行う場合において、ジッタ値劣化量を０．５％以下に抑えることができる。これは後の図１３乃至１７を参照して説明する。
【０１１６】
図１３より、３Ｔの先頭パルス幅３Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）の関係はほぼ線形近似できる。また、３Ｔｔｏｐが最適となる、すなわちジッタ値が最小となる場合の差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）の値は約０．２１である。従って、３Ｔｔｏｐを最適に修正する場合は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）が約０．２１となるように３Ｔｔｏｐを修正すれば良いことがわかる。この時、図５のステップＳ１７７におけるターゲット差分量ＴＨ（３Ｔ）の値は０．２１である。また、３Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）から、３Ｔｔｏｐの修正量を知ることができる。更に、差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）が０．２１より大きい場合には、３Ｔｔｏｐを大きくし、差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）が０．２１より小さい場合には、３Ｔｔｏｐを小さくすれば良いことがわかる。
【０１１７】
ここで、図５のステップＳ１７６に示すように、差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）をちょうど０．２１にする必要はなく、２Ｔｔｏｐの修正の時と同様、０．２１±０．０４の間であればよい。この時、ジッタ値の最大劣化量をわずか約０．５％に抑えることができる。
【０１１８】
図１４より、４Ｔの先頭パルス幅４Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）の関係はほぼ線形近似できる。また、４Ｔｔｏｐが最適となる、すなわちジッタ値が最小となる場合の差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）の値は約０．０４である。従って、４Ｔｔｏｐを最適に修正する場合は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）が約０．０４となるように４Ｔｔｏｐを修正すれば良いことがわかる。この時、図５のステップＳ１７７におけるターゲット差分量ＴＨ（４Ｔ）の値は０．０４である。また、４Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）から、４Ｔｔｏｐの修正量を知ることができる。更に、差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）が０．０４より大きい場合には、４Ｔｔｏｐを大きくし、差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）が０．０４より小さい場合には、４Ｔｔｏｐを小さくすれば良いことがわかる。
【０１１９】
ここで、図５のステップＳ１７６に示すように、差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）をちょうど０．０４にする必要はなく、２Ｔｔｏｐの修正の時と同様、０．０４±０．０４の間であればよい。この時、ジッタ値の最大劣化量をわずか約０．５％に抑えることができる。
【０１２０】
図１５より、３Ｔの最終パルス幅３ＴＬＰと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）の関係はほぼ線形近似できる。また、３ＴＬＰが最適となる、すなわちジッタ値が最小となる場合の差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）の値は約０．１８である。従って、３ＴＬＰを最適に修正する場合は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）が約０．１８となるように３ＴＬＰを修正すれば良いことがわかる。この時、図６のステップＳ１８６におけるターゲット差分量ＴＨ（３Ｌ）の値は０．１８である。また、３ＴＬＰと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）から、３ＴＬＰの修正量を知ることができる。更に、差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）が０．１８より大きい場合には、３ＴＬＰを大きくし、差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）が０．１８より小さい場合には、３ＴＬＰを小さくすれば良いことがわかる。
【０１２１】
ここで、図６のステップＳ１８５に示すように、差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）をちょうど０．１８にする必要はなく、２Ｔｔｏｐの修正の時と同様、０．１８±０．０４の間であればよい。この時、ジッタ値の最大劣化量をわずか約０．２％に抑えることができる。
【０１２２】
図１６より、４Ｔの最終パルス幅４ＴＬＰと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）の関係はほぼ線形近似できる。また、４ＴＬＰが最適となる、すなわちジッタ値が最小となる場合の差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）の値は約０．１である。従って、４ＴＬＰを最適に修正する場合は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）が約０．１となるように４ＴＬＰを修正すれば良いことがわかる。この時、図６のステップＳ１８６におけるターゲット差分量ＴＨ（４Ｌ）の値は０．１である。また、４ＴＬＰと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）から、４ＴＬＰの修正量を知ることができる。更に、差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）が０．１より大きい場合には、４ＴＬＰを大きくし、差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）が０．１より小さい場合には、４ＴＬＰを小さくすれば良いことがわかる。
【０１２３】
ここで、図６のステップＳ１８５に示すように、差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）をちょうど０．１にする必要はなく、２Ｔｔｏｐの修正の時と同様、０．１±０．０４の間であればよい。この時、ジッタ値の最大劣化量をわずか約０．２％に抑えることができる。
【０１２４】
図１７より、ｋＴの中間パルス幅ｋＴＭＰと差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）の関係はほぼ線形近似できる。また、ｋＴＭＰが最適となる、すなわちジッタ値が最小となる場合の差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）の値は約−０．０２である。従って、ｋＴＭＰを最適に修正する場合は、前記差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が約−０．０２となるようにｋＴＭＰを修正すれば良いことがわかる。この時、図７のステップＳ１９５におけるターゲット差分量ＴＨ（ｋＭ）の値は−０．０２である。また、ｋＴＭＰと差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）の関係がほぼ線形近似できることから、この近似直線の傾きと差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）から、ｋＴＭＰの修正量を知ることができる。更に、差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が−０．０２より大きい場合には、ｋＴＭＰを大きくし、差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）が−０．０２より小さい場合には、ｋＴＭＰを小さくすれば良いことがわかる。
【０１２５】
ここで、図７のステップＳ１９４に示すように、差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）をちょうど−０．０２にする必要はなく、２Ｔｔｏｐの修正の時と同様、−０．０２±０．０４の間であればよい。この時、ジッタ値の最大劣化量をわずか約０．５％に抑えることができる。
【０１２６】
以上のように本実施の形態においては、２Ｔスペース部分の幅を、前後マークの長さ別に検出することで、ライトストラテジの特にパルス幅に関するパラメータを全て最適に修正することができ、修正方向及び修正量を知ることができる。
【０１２７】
この発明の実施の形態においては、光ディスクへの情報の記録が、１−７変調の２Ｔ〜９Ｔのマークを記録する場合について説明したが、ＤＶＤ等で利用されているＥＦＭ＋（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマークを記録する様な他の場合においても、ライトストラテジのうち、パルス幅を修正できるようなパラメータを含んでいれば、この発明の実施の形態と同様のパルス幅の修正方法が適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１２８】
【図１】この発明の実施の形態における光記録再生装置の構成例である。
【図２】（ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態における光記録再生装置において、光ディスクへの記録時に生成するライトストラテジの例を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、光ディスク挿入から記録までの手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、パルス幅のうち２Ｔｔｏｐの修正手順の一例を示すフローチャートである。
【図５】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、パルス幅のうちｍＴｔｏｐの修正手順の一例を示すフローチャートである。
【図６】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、パルス幅のうちｐＴＬＰの修正手順の一例を示すフローチャートである。
【図７】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、パルス幅のうちｋＴＭＰの修正手順の一例を示すフローチャートである。
【図８】この発明の実施の形態におけるスペース幅検出部において、前マークと後マークが共に２Ｔの場合に検出される再生信号のスペース幅、及び前マークが３Ｔ〜９Ｔ、後マークが２Ｔの場合に検出される再生信号のスペース幅の例を示す図である。
【図９】この発明の実施の形態におけるスペース幅検出部において、前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークがｍＴの場合に検出される再生信号のスペース幅、及び前マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴ、後マークが２Ｔの場合に検出される再生信号のスペース幅の例を示す図である。
【図１０】この発明の実施の形態におけるスペース幅検出部において、前マークがｐＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合に検出される再生信号のスペース幅、及び前マークが２Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合に検出される再生信号のスペース幅の例を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態におけるスペース幅検出部において、前マークが４Ｔ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合に検出される再生信号のスペース幅、及び前マークがｓＴ、後マークが２Ｔ〜９Ｔの特定のｎＴの場合に検出される再生信号のスペース幅の例を示す図である。
【図１２】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、２Ｔｔｏｐとジッタ値、及び２Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（２Ｔ）との関係を示す図である。
【図１３】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、３Ｔｔｏｐとジッタ値、及び３Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｔ）との関係を示す図である。
【図１４】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、４Ｔｔｏｐとジッタ値、及び４Ｔｔｏｐと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｔ）との関係を示す図である。
【図１５】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、３ＴＬＰとジッタ値、及び３ＴＬＰと差分量ＤＬ２Ｓ（３Ｌ）との関係を示す図である。
【図１６】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、４ＴＬＰとジッタ値、及び４ＴＬＰと差分量ＤＬ２Ｓ（４Ｌ）との関係を示す図である。
【図１７】この発明の実施の形態における光記録再生方法において、ｋＴＭＰとジッタ値、及びｋＴＭＰと差分量ＤＬ２Ｓ（ｋＭ）との関係を示す図である。
【符号の説明】
【０１２９】
１００  光記録再生装置、  １１０  半導体レーザ、  １２０  レーザ駆動部、  １３０  コリメートレンズ、  １４０  ビームスプリッタ、  １５０  対物レンズ、  １６０  光ディスク、  １７０  検出レンズ、  １８０  受光素子、  １９０  ヘッドアンプ、  ２００  プリピット検出部、  ２１０  アシンメトリ検出部、  ２２０  イコライザ、  ２３０  データエンコーダ、  ２４０  レーザ波形制御部、  ２５０  中央制御部、  ２６０  ＰＲＭＬ信号処理部、  ２７０  データデコーダ、  ２８０  ジッタ値検出部、  ２９０  スペース幅検出部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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