(57)【要約】【課題】ホスト装置からは測定できないストレージ装置の性能情報を収集するストレージシステム及びその性能情報収集方法を提案する。【解決手段】保守端末と、少なくとも１つのディスクドライブと、少なくとも１つのディスクドライブから提供される、複数のホスト装置からライトされるデータを保存する複数のボリュームとを含むストレージシステムにおいて、保守端末は、ストレージ装置の性能を測定するための情報の設定を受付け、ストレージ装置は、複数のボリュームに保存されたデータに関する性能を、設定を受け付けた情報を取得し、その情報に基づいて測定し、その測定した性能に関する性能情報を保守端末へ送信する。【選択図】図１３
2009294949.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ストレージ装置と、このストレージ装置を保守するための保守端末と、複数の前記ストレージ装置に対するホスト装置とを含むストレージシステムであって、
前記保守端末は、
前記ストレージ装置の性能を測定するための情報を設定する設定部を有し、
前記ストレージ装置は、
少なくとも１つのディスクドライブと、
前記少なくとも１つのディスクドライブから提供される、前記複数のホスト装置からライトされるデータを保存する複数のボリュームと、
前記設定部で設定された情報を取得し、前記複数のボリュームに保存されたデータに関する性能を前記情報に基づいて測定する測定部と、
前記測定部で測定された性能に関する性能情報を前記保守端末へ送信する送信部とを有することを特徴とするストレージシステム。
【請求項２】
前記設定部で設定される情報は、前記複数のボリュームのうち測定の対象となるボリュームを指定する情報を含むことを特徴とする請求項１記載のストレージシステム。
【請求項３】
前記性能は、前記複数のホスト装置が前記対象となるボリュームに保存されたデータをリードするリード性能、前記複数のホスト装置が前記対象となるボリュームにデータをライトするライト性能、又は前記リード性能及び前記ライト性能のいずれかを含むことを特徴とする請求項２記載のストレージシステム。
【請求項４】
前記保守端末は、表示装置を有し、
前記設定部での前記情報の設定は前記表示装置の画面に従ったユーザの入力に基づいて取得され、前記送信部から送信される前記性能情報は前記表示装置に表示されることを特徴とする請求項１記載のストレージシステム。
【請求項５】
前記保守端末は、前記情報を前記ストレージ装置へ送信した後前記情報の設定を行なう画面を前記ユーザの指示に基づいて閉じ、前記性能の測定が終了した旨のメッセージが前記表示画面上に表示された後、ユーザの指示に基づいて前記性能情報を前記表示装置に表示することを特徴とする請求項４記載のストレージシステム。
【請求項６】
前記設定部で設定される情報は、デフォルトでパラメータ設定されている第１の情報と、ユーザに指定されてパラメータ設定される第２の情報とのいずれかであることを特徴とする請求項１記載のストレージシステム。
【請求項７】
ストレージ装置と、このストレージ装置を保守するための保守端末と、複数の前記ストレージ装置に対するホスト装置とを含むストレージシステムの性能測定方法であって、
前記ストレージ装置は、
少なくとも１つのディスクドライブと、
前記少なくとも１つのディスクドライブから提供される、前記複数のホスト装置からライトされるデータを保存する複数のボリュームとを有し、
前記保守端末は、前記ストレージ装置の性能を測定するための情報の設定を受付け、
前記ストレージ装置は、前記設定を受け付けた情報を取得し、前記複数のボリュームに保存されたデータに関する性能を前記情報に基づいて測定し、その測定した性能に関する性能情報を前記保守端末へ送信することを特徴とするストレージシステムの性能測定方法。
【請求項８】
ストレージ装置と、このストレージ装置を保守するための保守端末と、複数の前記ストレージ装置に対するホスト装置とを含むストレージシステムであって、
前記保守端末は、
前記ストレージ装置の性能を測定するための情報を設定する設定部を有し、
前記ストレージ装置は、
少なくとも１つのディスクドライブと、
前記少なくとも１つのディスクドライブから提供される、前記複数のホスト装置からライトされるデータを保存する複数のボリュームと、
前記ストレージシステムの構成に関する構成情報の変更を検知する検知部と、
前記検知部で構成の変更を検知すると、前記設定部で設定された情報を取得し、前記複数のボリュームに保存されたデータに関する性能を前記情報に基づいて測定する測定部と、
前記測定部で測定された性能に関する性能情報を前記保守端末へ送信する送信部とを有することを特徴とするストレージシステム。
【請求項９】
前記構成情報の変更は、前記ストレージ装置内に記憶されるプログラムのバージョンアップであることを特徴とする請求項８記載のストレージシステム。
【請求項１０】
前記構成情報の変更は、前記複数のボリュームのペア構成の変更であることを特徴とする請求項８記載のストレージシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ストレージ装置及びその性能測定方法に関し、特に、複数のホスト装置からデータがライトされるストレージ装置及びその性能測定方法に適用しても好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
ストレージ装置の性能を測定する場合に用いられる基本的機能は、Ｉ／Ｏの発行、測定を行う機能である。Ｉ／Ｏ発行のためには目的とするデバイスの指定、負荷の指定及び制御が必要であり、これらは主にホスト装置上で実行されるのが通例である。なお、ホスト装置からのリード／ライト要求は、一般的にＬＵ（Logical Unit）と呼ばれる記憶装置の論理ボリューム単位で行なわれる。
【０００３】
また、大型のストレージ装置は、複数のホスト装置を接続することを前提に設計されており、近年の技術の進歩とともにストレージ装置内にホスト装置１台で認識できるＬＵ数を超えて定義できるようになった。これにより、ストレージ装置の性能を測定するためには複数のホスト装置が必要となってきた。
【０００４】
性能測定のうち所定の測定については、ストレージ装置側の監視機能、負荷管理機能を使用することによって一度に全ての論理ボリュームを測定することは可能である。例えば、各論理ボリュームについてのＩ／Ｏレスポンス時間、Ｉ／Ｏ数、ディスク占有率、ＣＲＣエラー数をある一定時間毎に測定することが可能である（特許文献１参照）。また、例えば、各内部バスにおける転送性能、負荷状況の測定、及び各部への通知をＬＵごとに行なうことも可能である（特許文献２参照）。さらに、例えば、ホスト装置Ｉ／Ｏに応じた負荷制御を行なうためにＩ／Ｏの平均応答時間を測定することも可能である（特許文献３参照）。
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−３２３５６０号公報
【特許文献２】特開２００２−２１５３３５号公報
【特許文献３】特開２００４−２０６６２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、ホスト装置上で稼動しているソフトウェアでは認識できるＬＵ数に制限があり、多数のＬＵを一度に測定することはできない。また、複数のホスト装置が別々にＬＵの負荷測定をしても、ホスト装置ごとにハード、ソフト環境が異なるため、統一した環境での測定とならないため、ストレージ装置における多数のＬＵに対する一括での性能測定が重要である。さらに、ホスト装置からストレージ装置までの経路パスはそれぞれ異なるため、ホスト装置からの測定ではホスト装置そのものの稼動負荷だけではなく、通信に要する負荷も含むため、正確な測定ができない。
【０００７】
本発明は、以上の点を考慮してなされたもので、ホスト装置からは測定できないストレージ装置の性能情報を収集するストレージシステム及びその性能情報収集方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、ストレージ装置と、このストレージ装置を保守するための保守端末と、複数の前記ストレージ装置に対するホスト装置とを含むストレージシステムであって、前記保守端末は、前記ストレージ装置の性能を測定するための情報を設定する設定部を有し、前記ストレージ装置は、少なくとも１つのディスクドライブと、前記少なくとも１つのディスクドライブから提供される、前記複数のホスト装置からライトされるデータを保存する複数のボリュームと、前記設定部で設定された情報を取得し、前記複数のボリュームに保存されたデータに関する性能を前記情報に基づいて測定する測定部と、前記測定部で測定された性能に関する性能情報を前記保守端末へ送信する送信部とを有するものである。
【０００９】
この構成によると、例えば、ボリューム毎の負荷測定を行なう設定において、ホスト装置からでは認識できないボリューム数や容量を測定対象とでき、さらに、ボリュームを指定することによりボリュームごとに負荷を換えて測定することも可能となる。したがって、保守端末でストレージ装置の構成変更に応じた測定が可能となる。
【００１０】
また、他の本発明は、ストレージ装置と、このストレージ装置を保守するための保守端末と、複数の前記ストレージ装置に対するホスト装置とを含むストレージシステムであって、前記保守端末は、前記ストレージ装置の性能を測定するための情報を設定する設定部を有し、前記ストレージ装置は、少なくとも１つのディスクドライブと、前記少なくとも１つのディスクドライブから提供される、前記複数のホスト装置からライトされるデータを保存する複数のボリュームと、前記ストレージシステムの構成に関する構成情報の変更を検知する検知部と、前記検知部で構成の変更を検知すると、前記設定部で設定された情報を取得し、前記複数のボリュームに保存されたデータに関する性能を前記情報に基づいて測定する測定部と、前記測定部で測定された性能に関する性能情報を前記保守端末へ送信する送信部とを有するものである。
【００１１】
この構成によると、ストレージ装置は、ストレージ装置内のマイクロプログラムのバージョンアップなどの構成変更があった場合にその変更を検知して性能測定を開始することができ、また、ストレージ装置間でペア構成を組んだ場合にその変更を検知して性能測定を行なうことができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ホスト装置からは測定できないストレージ装置の性能情報を収集するストレージシステム及びその性能情報収集方法を提案しようとするものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１４】
（第１の実施形態）
図１は、ストレージシステム１の構成を示すブロック図である。図１に示すように、ストレージシステム１は、ストレージ装置１００及び保守端末２００を含んでいる。ストレージ装置１００は、データを記憶する装置であり、保守端末２００はストレージ装置１００の保守を行なうための端末である。
【００１５】
ストレージ装置１００は、ファイバーポート１０１〜１０５、ディスクコントローラ１５０、キャッシュ１６０、ドライブ制御装置１７０、ディスクドライブ１８１〜１８４、を有している。
【００１６】
ディスクコントローラ１５０は、複数のホスト装置（一般的なものであるため図示を省略している。）からのコマンドに基づいて、ディスクドライブ１８１〜１８４にデータを書き込み、または、ディスクドライブ１８１〜１８４からデータを読み出す。なお、これらの制御については一般的な制御であるため説明を省略する。また、ディスクコントローラ１５０は、保守端末２００からのコマンドに基づいて、ディスクドライブ１８１〜１８４により提供されるボリュームの構成に関する設定、変更等の処理に加え、ストレージ装置１００の性能測定を行なう。この性能測定の処理については後述する。
【００１７】
キャッシュ１６０は、ディスクコントローラ１５０がディスクドライブ１８１〜１８４にデータを書き込む際にデータを一時的に保存する。また、キャッシュ１６０は、ディスクコントローラ１５０がディスクドライブ１８１〜１８４からデータを読み出す際にデータを一時的に保存する。
【００１８】
ドライブ制御装置１７０は、ディスクドライブ１８１〜１８４にデータを書き込み、又は、ディスクドライブ１８１〜１８４からデータを読み出す制御を行なう。ディスクドライブ１８１〜１８４は、データを保存する。
【００１９】
ディスクコントローラ１５０は、Ｉ／Ｏ発行部１１０、共有メモリ１４０を有している。Ｉ／Ｏ発行部１１０は、ストレージ装置１００の性能を測定するためのコマンドを発行する。このＩ／Ｏ発行部１１０は、Ｉ／Ｏ計測部１２０、構成変更検知部１３０を含んでいる。Ｉ／Ｏ計測部１２０は、Ｉ／Ｏ発行部で発行されたコマンドに基づいてストレージ装置１００のデータのリード／ライト等の性能を測定する。構成変更検知部１３０は、ディスクドライブ１８１〜１８４から提供されるボリュームの構成の変更、パリティグループの変更、ディスクコントローラ１５０内に記憶されたマイクロプログラムのバージョンアップ等のストレージ装置１００内の構成の変更を検知する。この検知は、ストレージ装置１００内の構成の変更がされたときにその変更を示す情報をストレージ装置１００内の所定のメモリに保存しておき、その情報参照することにより行なわれる。
【００２０】
共有メモリ１４０は、論理ボリューム情報記憶部１４１、構成変更情報記憶部１４２、性能情報記憶部１４３を有している。論理ボリューム情報記憶部１４１は、論理ボリュームに関する論理ボリューム情報を記憶する。構成変更情報記憶部１４２は、ストレージ装置１００内の構成の変更に関する構成変更情報を記憶する。例えば、ディスクドライブ１８１〜１８４から提供されるボリュームの構成の変更（例えば、ペアの作成、削除等）、パリティグループの変更、ディスクコントローラ１５０内に記憶されたマイクロプログラムのバージョンアップ等の情報である。性能情報記憶部１４３は、性能情報の測定が行なわれたときに測定結果を記憶する。なお、性能情報記憶部１４３に記憶された性能情報は、後述のタイミングでストレージ装置１００へ送信される。
【００２１】
保守端末２００は、パラメータ設定部２１０、結果表示部２２０を有している。保守端末２００は、性能を測定するためのパラメータを設定し、また、測定結果を表示するための表示装置（図示を省略。）を備えている。ユーザは、表示装置の表示に基づいて、保守端末の操作を行なう。
【００２２】
パラメータ設定部２１０は、ストレージ装置１００の性能の測定を行なう際のパラメータの設定を行なう。パラメータ設定部２１０で設定されたパラメータは、パラメータ設定部２１０内に保存される。なお、パラメータ設定部２１０内には、デフォルトのパラメータの設定も保存される。結果表示部２２０は、ストレージ装置１００の性能の測定結果を表示する。パラメータ及び測定結果の詳細については後述する。
【００２３】
図２は、論理ボリューム情報記憶部１４１に記憶される論理ボリューム情報を説明するための図である。図２に示すように、論理ボリューム情報３００は、制御ファイバーポート番号フィールド３１０、ＬＵＮ（Logical Unit Number）フィールド３２０、容量フィールド３３０、閉塞フィールド３４０、ペア状態フィールド３５０が設けられている。
【００２４】
制御ファイバーポート番号フィールド３１０は論理ボリュームを制御するためのファイバーポートの番号を記憶する。ＬＵＮ（Logical Unit Number）フィールド３２０は、論理ボリュームの番号を記憶する。容量フィールド３３０は、論理ボリュームの容量を記憶する。閉塞フィールド３４０は、閉塞しているか否かの状態を示す情報を記憶する。ペア状態フィールド３５０は、ペアが組まれているか否かの状態を示す情報を記憶する。
【００２５】
例えば、制御ファイバーポート番号フィールド３１０に“Ｎｏｎ”、ＬＵＮ（Logical Unit Number）フィールド３２０に“ＮＯｎ”、容量フィールド３３０に“２０９７１５２”、閉塞フィールド３４０に“Ｙ（ＹＥＳ）”、ペア状態フィールド３５０に“Ｎ（ＮＯ）”と記憶される。
【００２６】
図３は、パリティグループを説明するための図である。パリティグループは、データの信頼性を保持するために、複数のディスクドライブから構成される。例えば、図３に示すようにディスクドライブ１８１〜１８４で１つのパリティグループが構成される。
【００２７】
図４は、性能情報記憶部１４３に記憶される性能情報４００の一例を示す図である。性能情報４００は、テストセット、テストＩＤ、リード（ＩＯＰＳ：Ｉ／Ｏ Per Sec、ＭＢＰＳ：Mega Byte Per Sec、レスポンス）、ライト（ＩＯＰＳ、ＭＢＰＳ、レスポンス）、ＳＳＢを保存するテストセットフィールド４１０、テストＩＤフィールド４２０、リードフィールド（ＩＯＰＳフィールド４３１、ＭＢＰＳフィールド４３２、レスポンスフィールド４３３）４３０、ライトフィールド（ＩＯＰＳフィールド４４１、ＭＢＰＳフィールド４４２、レスポンスフィールド４４３）４４０、ＳＳＢフィールド４５０が設けられている。
【００２８】
図５及び図６は、パラメータの設定を示すテーブルである。図５は、パラメータがデフォルトのときのテーブルの一例を示しており、図６は、ユーザにパラメータが指定されたときのテーブルの一例を示している。
【００２９】
図５は、デフォルトのパラメータ設定を示すテーブルである。このテーブル５００には、テストセット、テストＩＤ、測定対象ファイバーポート、測定対象デバイス（論理ボリューム）、Ｉ／Ｏ種別、Ｒｅａｄ、Ｂｌｏｃｋ、開始アドレス、終了アドレス、負荷、時間を設定するために、テストセットフィールド５１０、テストＩＤフィールド５２０、測定対象ファイバーポートフィールド５３０、測定対象デバイス（論理ボリューム）フィールド５４０、Ｉ／Ｏ種別フィールド５５０、Ｒｅａｄフィールド５６０、Ｂｌｏｃｋフィールド５７０、開始アドレスフィールド５８０、終了アドレスフィールド５９０、負荷フィールド５９１、時間フィールド５９２が設けられている。
【００３０】
テストセットフィールド５１０には、テストのセットを示す番号が保存される。テストＩＤフィールド５２０には、テストのＩＤを示す番号が保存される。測定対象ファイバーポートフィールド５３０には、測定の対象となるファイバーポートの番号が保存される。測定対象デバイス（論理ボリューム）フィールド５４０には、測定の対象となる論理ボリュームを特定する番号が保存される。Ｉ／Ｏ種別フィールド５５０には、“random”などのＩ／Ｏの種別が保存される。Ｒｅａｄフィールド５６０には、所定時間のコマンドのうちリードのコマンドの割合を示す情報が保存される。Ｂｌｏｃｋフィールド５７０には、読み出すデータのＢｌｏｃｋを特定する番号が保存される。開始アドレスフィールド５８０には、Ｂｌｏｃｋの開始場所を示すアドレスが保存される。終了アドレスフィールド５９０には、Ｂｌｏｃｋの終了場所を示すアドレスが保存される。負荷フィールド５９１には、１秒当たりのＩ／Ｏの回数を示す情報（ＩＯＰＳ）が保存される。時間フィールド５９２には、測定をする時間の情報が分単位で保存される。
【００３１】
テーブル５００には、例えば、テストセット“１”、テストＩＤ“１”、測定対象ファイバーポート“１Ａ”、測定対象デバイス“ＬＵＮ（Logical Unit Number）１”、Ｉ／Ｏ種別“random”、Ｒｅａｄ“１００”、Ｂｌｏｃｋ“２ｋ”、開始アドレス“０ｋ”、終了アドレス“２５６ｋ”、負荷“１００”、時間“１”が保存される。
【００３２】
図６は、ユーザに指定されたパラメータの設定を示すテーブル５０１である。このユーザのパラメータの設定は、例えば、保守端末２００から入力される。
【００３３】
このテーブル５０１には、テーブル５００と同様に、テストセット、テストＩＤ、測定対象ファイバーポート、測定対象デバイス（論理ボリューム）、Ｉ／Ｏ種別、Ｒｅａｄ、Ｂｌｏｃｋ、開始アドレス、終了アドレス、負荷、時間を設定するために、テストセットフィールド５１０、テストＩＤフィールド５２０、測定対象ファイバーポートフィールド５３０、測定対象デバイス（論理ボリューム）フィールド５４０、Ｉ／Ｏ種別フィールド５５０、Ｒｅａｄフィールド５６０、Ｂｌｏｃｋフィールド５７０、開始アドレスフィールド５８０、終了アドレスフィールド５９０、負荷フィールド５９１、時間フィールド５９２が設けられている。なお、各フィールドの説明はテーブル５００の場合と同様であるため説明を省略する。
【００３４】
テーブル５０１には、例えば、テストセット“１”、テストＩＤ“１”、測定対象ファイバーポート“１Ａ”、測定対象デバイス“ＡＬＬ”、Ｉ／Ｏ種別“sequential”、Ｒｅａｄ“１００”、Ｂｌｏｃｋ“２ｋ”、負荷“ＭＡＸ”、時間“６０”が保存される。なお、測定対象としてすべての論理ボリュームを対象としているため、開始アドレス、終了アドレスのフィールドはブランクとなっている。
【００３５】
図７は、ストレージ装置１００の性能測定をデフォルトのパラメータで行なうときの保守端末２００の画面６００を示す図である。
【００３６】
画面６００にはテストシーケンスを表示するテストシーケンスフィールド６１０、測定結果を表示する測定結果フィールド６３０が設けられている。また、これらフィールドの下側には、デフォルトパラメータ設定部６５５、デフォルトパラメータ読み込みボタン６５１、パラメータ読み込みボタン６５２、テスト実行ボタン６５３、終了ボタン６５４が設けられている。
【００３７】
テストシーケンスフィールド６１０には、テストセット、テストＩＤ、測定対象ファイバーポート、測定対象デバイス（論理ボリューム）、Ｉ／Ｏ種別、Ｒｅａｄ、Ｂｌｏｃｋ、開始アドレス、終了アドレス、負荷、時間を表示するために、テストセットフィールド６１１、テストＩＤフィールド６１２、測定対象ファイバーポートフィールド６１３、測定対象デバイス（論理ボリューム）フィールド６１４、Ｉ／Ｏ種別フィールド６１５、Ｒｅａｄフィールド６１６、Ｂｌｏｃｋフィールド６１７、開始アドレスフィールド６１８、終了アドレスフィールド６１９、負荷フィールド６２０、時間フィールド６２１が設けられている。これら各フィールドは、既述のテーブル５００の内容と対応している。
【００３８】
デフォルトパラメータ設定部６５５は、デフォルトパラメータ読み込みボタン６５１がユーザによって入力されるとポップアップ表示される。デフォルトパラメータ設定部６５５には、“デフォルトパラメータを設定しますか？”というメッセージとともに、ＹＥＳボタン６５５Ａ、ＮＯボタン６５５Ｂが設けられている。ユーザがデフォルトのパラメータでストレージ装置１００の性能測定の続行を希望すれば、ＹＥＳボタン６５５Ａを入力する。すると、図７に示すように、テストシーケンスフィールド６１０に図５を参照して説明したデフォルトのパラメータが表示される。
【００３９】
図８は、ストレージ装置１００の性能測定をユーザ指定のパラメータで行なうときの保守端末２００の画面６０１を示す図である。
【００４０】
画面６０１には、図７の場合と同様に、テストシーケンスを表示するテストシーケンスフィールド６１０、測定結果を表示する測定結果フィールド６３０が設けられている。また、これらフィールドの下側には、ユーザパラメータ設定部６５６、デフォルトパラメータ読み込みボタン６５１、パラメータ読み込みボタン６５２、テスト実行ボタン６５３、終了ボタン６５４が設けられている。
【００４１】
ユーザパラメータ設定部６５６は、パラメータ読み込みボタン６５２がユーザによって入力されるとポップアップ表示される。ユーザパラメータ設定部６５６には、“テストシーケンファイルを読み込みますか？”というメッセージとともに、ＹＥＳボタン６５６Ａ、ＮＯボタン６５６Ｂが設けられている。ユーザがユーザ指定のパラメータでストレージ装置１００の性能測定の続行を希望すれば、ＹＥＳボタン６５６Ａを入力する。すると、図８に示すように、テストシーケンスフィールド６１０に図６を参照して説明したユーザ指定のパラメータが表示される。
【００４２】
図９は、図７においてデフォルトパラメータを設定した後、ユーザがテスト実行ボタン６５３を入力したときの画面６０２を示す図である。
【００４３】
ユーザがテスト実行ボタン６５３を入力すると、図９に示すように、テスト実行部６５７がポップアップ表示される。テスト実行部６５７には“テストを実行しますか？”というメッセージとともにＹＥＳボタン６５７Ａ、ＮＯボタン６５７Ｂが表示される。ＹＥＳボタン６５７Ａが入力されると、デフォルトパラメータでのテストを実行するためのフラグが立てられ、テスト実行の開始を指示するコマンドがストレージ装置１００に送信される。そして、ユーザは終了ボタン６５４を入力する。これにより、保守端末２００に表示されていた画面６０２が閉じられる。
【００４４】
なお、ＮＯボタ６５７Ｂンが入力されると、テスト実行ボタン６５３の入力がキャンセルされる。そして、ユーザがユーザ指定のパラメータでのテストを実行する場合には、ユーザはパラメータ読み込みボタン６５１を入力する。また、テストを終了する場合には、ユーザは終了ボタン６５４を入力する。
【００４５】
また、図８においてユーザ指定パラメータを設定した後、ユーザがテスト実行ボタン６５３を入力した場合は、テストシーケンスフィールド６１０にユーザ指定パラメータが表示される以外は同様となる。
【００４６】
図１０は、デフォルトパラメータでのストレージ装置１００の性能測定の結果が表示されたときの保守端末２００の画面６０３を示す図である。ストレージ装置１００の性能測定が終了したことを示す情報が保守端末２００上にポップアップ表示されるので、その表示に基づきユーザが操作をすることにより、この画面６０３が表示される。
【００４７】
測定結果フィールド６３０に測定結果が表示されている。測定結果フィールド６３０には、テストセット、テストＩＤ、リード（ＩＯＰＳ、ＭＢＰＳ、レスポンス）ライト（ＩＯＰＳ、ＭＢＰＳ、レスポンス）、ＳＳＢを表示するテストセットフィールド６３１、テストＩＤフィールド６３２、リードフィールド（ＩＯＰＳフィールド６３４、ＭＢＰＳフィールド６３５、レスポンスフィールド６３６）６３３、ライトフィールド（ＩＯＰＳフィールド６３８、ＭＢＰＳフィールド６３９、レスポンスフィールド６４０）６３７、ＳＳＢフィールド６４１が設けられている。これらフィールドは、図４で説明した性能情報と対応している。
【００４８】
テストセットフィールド６３１、テストＩＤフィールド６３２には、デフォルトパラメータのときと同じ番号が表示される。リードフィールド６３３のＩＯＰＳフィールド６３４、ＭＢＰＳフィールド６３５、レスポンスフィールド６３６には、それぞれＩＯＰＳ、ＭＢＰＳ、レスポンスが表示される。なお、デフォルトの設定では、ライト性能と、ＳＳＢについての性能は測定しないため、ライトフィールド６３７、ＳＳＢフィールド６４１はブランクとなっている。
【００４９】
例えば、測定結果フィールド６３０には、テストセット“１”、テストＩＤ“１”、ＩＯＰＳ“１００”ＭＢＰＳ“０．２”、レスポンス“０．２”と表示される。
【００５０】
次に、上述したストレージ装置１００の性能測定を行なうための処理について説明する。
【００５１】
図１１は、保守端末２００がユーザの操作によってストレージ装置１００の性能測定を行なうときに、保守端末２００がストレージ装置１００のパラメータ設定を読込むときの処理を示すフローチャートである。
【００５２】
ステップＳ１０１において、パラメータ読み込みボタン６５２が入力されたか否かが判定され、パラメータ読み込みボタン６５２の入力でないと判定されると（Ｓ１０１：ＮＯ）、ステップＳ１０２において、デフォルトパラメータ読み込みボタン６５１が入力されたか否かが判定される。
【００５３】
パラメータ読み込みボタン６５２が入力されたと判定されると（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、ステップＳ１０３において、テーブル５０１に設定されたユーザ指定パラメータ（ＣＳＶファイル）が読取られる。そして、ステップＳ１０４において、ファイル形式がＣＳＶファイル形式か否かが判定される。ファイル形式がＣＳＶ形式でないと判定されると（Ｓ１０４：ＮＯ）、ステップＳ１０５において、エラー終了がなされる。一方、ファイル形式がＣＳＶ形式である場合は、ステップＳ１０６において値チェック及び設定処理が行われる。このステップＳ１０６の処理についての詳細は、後述する。これにより、例えば、図８を用いて説明したように、ユーザ指定パラメータがテストシーケンスフィールド６１０に表示される。
【００５４】
また、デフォルトパラメータ読み込みボタン６５１が入力されたと判定されると（Ｓ１０２：ＹＥＳ）、ステップＳ１０７において、デフォルトパラメータの設定値の読み込みが行なわれる。これにより、例えば、図７を用いて説明したように、デフォルトパラメータがテストシーケンスフィールド６１０に表示される。
【００５５】
ステップＳ１０６，Ｓ１０７にてテストシーケンスフィールド６１０へのパラメータ表示が行なわれると、ステップＳ１０８において、終了ボタン６５４が入力されたか否かが判定される。そして、終了ボタン６５４が入力されると（Ｓ１０８：ＹＥＳ）、処理を終了する。
【００５６】
図１２Ａ及び図１２Ｂは、ステップＳ１０６の値チェック及び設定処理の詳細を示すフローチャートである。
【００５７】
先ず、ステップＳ２０１において、テストシーケンスが一行読み込まれる。ステップＳ２０２において、テストセット番号が共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２０３において、テストＩＤ番号が共有メモリ１４０内テーブルにセットされる、ステップＳ２０４において、当該ファイバーポートのＬＵ構成情報が共有メモリ１４０から読み込まれる。
【００５８】
そして、ステップＳ２０５において構成情報が参照され測定対象ＬＵ番号がファイバーポート上に存在するか否かが判定される。存在しなければ（Ｓ２０５：ＮＯ）、ステップＳ２０６において、この処理はエラー終了される。存在すれば（Ｓ２０５：ＹＥＳ）、ステップＳ２０６において、構成情報が参照され当該ＬＵは閉塞状態か否かが判定される。閉塞状態であれば（Ｓ２０７：ＹＥＳ）、ステップＳ２０８において、この処理はエラー終了される。
【００５９】
一方、閉塞状態でなければ（Ｓ２０７：ＮＯ）、ステップＳ２０９において、構成情報が参照され当該ＬＵはコピーなどの副ボリュームとして使用されており、かつペア状態か否かが判定される。このステップＳ２０９においてＹＥＳと判定されると、ステップＳ２１０において、リード比率１００％か否かが判定される。このステップＳ２１０においてＮＯと判定されると、ステップＳ２１１においてこの処理はエラー終了される。
【００６０】
ステップＳ２０９でＹＥＳと判定されると、又は、ステップＳ２１０でＹＥＳと判定されると、ステップＳ２１２において測定対象ファイバーポートが共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２１３において測定対象ＬＵＮが共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２１４においてＩ／Ｏ種別が共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２１５においてリード比率が共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２１６においてＩ／Ｏブロックサイズが共有メモリ１４０内テーブルにセットされる。
【００６１】
そして、ステップＳ２１７において構成情報が参照されＩ／Ｏレンジの上限、下限がＬＵのアドレス範囲を出ていないか否かが判定される。上限、下限がＬＵのアドレス範囲を出ていれば（Ｓ２１７：ＹＥＳ）、ステップＳ２１８においてこの処理はエラー終了される。
【００６２】
一方、上限、下限がＬＵのアドレス範囲を出ていなければ（Ｓ２１７：ＮＯ）、ステップＳ２１９において開始アドレスと終了アドレスが共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２２０において負荷（ＩＯＰＳ）が共有メモリ１４０内テーブルにセットされ、ステップＳ２２１において測定時間が共有メモリ１４０内テーブルにセットされる。
【００６３】
そして、ステップＳ２２２においてテストシーケンスの全行読み込み終了か否かが判定される。全行の読み込みが終了していなければ（Ｓ２２２：ＮＯ）、ステップＳ２０１の処理へ戻る。全行の読み込みが終了していれば（Ｓ２２２：ＹＥＳ）、この処理が終了される。
【００６４】
図１３は、保守端末２００からストレージ装置１００の性能測定を行なう処理全体を示すフローチャートである。図１３において左側の処理（Ｓ１００１〜Ｓ１００９）は保守端末２００で実行される処理であり、右側の処理（Ｓ１１０１〜Ｓ１１０９）はストレージ装置１００で実行される処理である。
【００６５】
ステップＳ１００１で画面に表示されたテスト開始ボタンが押されたと判定されると、ステップＳ１００２において共有メモリ１４０に開始のフラグが立てられる。このフラグが立つことにより、保守端末２００によるストレージ装置１００の性能測定の処理が開始され、性能測定開始を指示するコマンドが保守端末２００からストレージ装置１００に送信される。
【００６６】
そして、ステップＳ１００３において終了ボタンが入力されたか否かが判定される。終了ボタンが入力されると、ステップＳ１００４において性能測定を行なうための画面が閉じられる。
【００６７】
次に、ステップＳ１００５においてストレージ装置１００からテストＩＤ毎の測定結果が受信されると、ステップＳ１００６においてその測定結果が保存される。ステップＳ１００７において終了メッセージが受信されたか否かが判定される。受信していない場合は（Ｓ１００７：ＮＯ）、処理はステップＳ１００５へ戻る。なお、終了メッセージは、全てのテストＩＤの測定結果が送信された後にストレージ装置１００から送信されるメッセージである。
【００６８】
終了メッセージが受信した場合は（Ｓ１００７：ＹＥＳ）、ステップＳ１００８にて画面上に終了メッセージを受信したことがポップアップ表示される。ユーザは、このポップアップ表示により性能測定が終了したことを視認できる。
【００６９】
そして、ユーザに性能測定結果を表示するための画面を立ち上げる操作がされると、ステップＳ１００９においてテスト結果が、例えば、図１０で説明したように、画面６０３に表示される。これにより、ユーザは、測定結果を確認することができる。
【００７０】
一方、ストレージ装置１００では、ステップＳ１１００において保守端末２００からのコマンドを監視する処理が常時行われている。この監視処理では、ステップＳ１１０１においてテスト開始のフラグがＯＮとなったか否かが判定され、また、ステップＳ１１０２においては構成変更に変更があったか否かが判定される。
【００７１】
ステップＳ１１０１の判定は保守端末２００からテスト開始のフラグが立てられたことを示すコマンドを受信したか否かで判定される。また、ステップＳ１１０２の判定は、例えば、マイクロプログラムのバージョンアップがあったか否か、ＬＵの情報に変化（具体的には、ペアの作成、解除）があったか否かについて判定される。バージョンアップがあったか否かの情報やＬＵの構成情報は既述のようにストレージ装置１００内の所定のメモリに記憶される。
【００７２】
フラグがＯＮと判定されると（Ｓ１１０１：ＹＥＳ）、又は、構成変更があったと判定されると（Ｓ１１０２：ＹＥＳ）、ステップＳ１１０３においてテストシーケンスの情報が共有メモリ１４０内テーブルから取得される。そして、ステップＳ１１０４において性能を測定するためのＩ／Ｏ発行処理がテストＩＤ毎に行われる。このＩ／Ｏ発行処理についての詳細は後述する。
【００７３】
そして、ステップＳ１１０５において、ステップＳ１１０４において得られた１つのテストＩＤに対応する測定結果が保守端末２００へ送信される。次に、ステップＳ１１０６において全テストシーケンスが終了したか否かが判定される。
【００７４】
全テストシーケンスが終了していなければ（Ｓ１１０６：ＮＯ）、ステップＳ１１０７において５分ウェイトされ、ステップＳ１１０８においてライトペンディングが０となっているか否かが判定される。ライトペンディングが０となっていなければ（Ｓ１１０８：ＮＯ）、処理はステップＳ１１０７へ戻る。また、ライトペンディングが０となっていれば（Ｓ１１０８：ＹＥＳ）、処理はステップＳ１１０３の処理へ戻る。そして、次のテストＩＤについての処理が行われる。
【００７５】
なお、ライトペンディングは、ディスクドライブ１８１〜１８４に未反映のキャッシュ１６０に一時的に記憶されているデータである。ライトペンディングデータがキャッシュ１６０に残っている限り、ディスクドライブ１８１〜１８４への書き込みは行なわれているため、正確な測定ができない。よって、ステップＳ１１０７，Ｓ１１０８の処理が実行される。
【００７６】
一方、ステップＳ１１０６において全テストシーケンスが終了していれば（Ｓ１１０６：ＹＥＳ）、ステップＳ１１０９において終了メッセージが保守端末２００へ送信される。
【００７７】
なお、既述の処理では、テストＩＤ毎に性能測定結果をストレージ装置１００に送信する場合で説明したが、この処理に限るものではない。例えば、ストレージ装置１００の共有メモリ１４０にテストＩＤ毎の測定結果を保存しておき、全テストシーケンスが終了した場合に、終了メッセージとともにテストセットの性能結果をストレージ装置１００に送信するようにしても良い。
【００７８】
図１４は、Ｉ／Ｏ発行処理を示すフローチャートである。ステップＳ４０１において共有メモリ１４０内テーブルからテスト時間パラメータが読込まれタイマがセットされる。ステップＳ４０２において共有メモリ１４０内テーブルからＩＯＰＳパラメータが読み込まれ必要数だけのＪＯＢが起動される。そして、ステップＳ４０３においてリード／ライトコマンド発行処理が行われる。このリード／ライトコマンド発行処理の詳細は後述する。
【００７９】
そして、ステップＳ４０４においてテスト時間が終了したか否かが判定される。テスト時間が終了していなければ（Ｓ４０４：ＮＯ）、処理はステップＳ４０３へ戻る。テスト時間が終了していれば（Ｓ４０４：ＹＥＳ）、ステップＳ４０５において性能データ収集が行なわれる。
【００８０】
この性能データ収集は、性能測定ルーチンよりリードＩ／Ｏカウンタ（ＲＣとする）、ライトＩ／Ｏカウンタ（ＷＣとする）、リードＩ／Ｏレスポンスカウンタ（ＲＲとする）、ライトＩ／Ｏレスポンスカウンタ（ＷＲとする）の値を使う。具体的には、平均リードＩＯＰＳ＝ＲＣ／テスト時間（ｓ）、平均ライトＩＯＰＳ＝ＷＣ／テスト時間（ｓ）、平均リードＭＢＰＳ＝ＲＣ＊ブロックサイズ（ＭＢ）／テスト時間（ｓ）、平均ライトＭＢＰＳ＝ＷＣ＊ブロックサイズ（ＭＢ）／テスト時間（ｓ）、平均リードレスポンス＝ＲＲ／テスト時間（ｍｓ）、平均リードレスポンス＝ＷＲ／テスト時間（ｍｓ）である。
【００８１】
そして、ステップＳ４０６においてＳＳＢ（ディスクのログ情報）が取得される。
【００８２】
図１５Ａは、ステップＳ４０３のリード／ライトコマンド発行処理を示すフローチャートである。
【００８３】
ステップＳ５０１においてブロックサイズがコマンド実行パラメータにセットされ、ステップＳ５０２においてターゲットデバイスがコマンド実行パラメータにセットされる。図１５Ｂは、コマンド実行パラメータの一例を示す図である。コマンド実行パラメータ７００は、ターゲットデバイスフィールド７１０、アドレスフィールド７２０、ブロックサイズ７３０、リード／ライトフィールド７４０を有しており、例えば、ＬＵＮ１、０、１０２４、リードのようにパラメータが設定される。
【００８４】
ステップＳ５０３においてアドレス算出処理が呼び出され、ステップＳ５０４においてリード・ライト判定処理が行われる。ステップＳ５０３のアドレス算出処理及びステップＳ５０４のリード・ライト判定処理の詳細については後述する。
【００８５】
ステップＳ５０５においてシステム時刻（Ａ）が取得され、ステップＳ５０６においてコマンドが発行され、ステップＳ５０７において性能測定が行なわれる。このステップＳ５０７の性能測定処理については後述する。そして、ステップＳ５０８において負荷を調整するための一定時間が経過するまで待たれ、処理はステップＳ５０３へ戻る。
【００８６】
図１６は、ステップＳ５０３のアドレス処理を示すフローチャートである。ステップＳ６０１においてシーケンシャルか否かが判定される。シーケンシャルでなければ（Ｓ６０１：ＮＯ）、ステップＳ６０２においてアドレスがランダムに算出される。
【００８７】
シーケンシャルであれば（Ｓ６０２：ＹＥＳ）、ステップＳ６０３において現アドレスがインクリメントされ、ステップＳ０４において終了アドレス＜算出アドレス（インクリメントされたアドレス）であるか否かが判定される。ステップＳ６０４でＹＥＳであれば、ステップＳ６０５においてその算出アドレスの先頭がＬＵの先頭アドレスとされる。
【００８８】
ステップＳ６０２の処理が終了したとき、ステップＳ６０５の処理が終了したとき、又はステップＳ０４でＮＯと判定されたときは、ステップＳ６０６においてコマンド実行パラメータにアドレスが設定される。
【００８９】
図１７は、ステップＳ５０４のリード・ライト判定処理を示すフローチャートである。ステップＳ７０１において１００以内の整数がランダムに算出される。ステップＳ０２において、戻り値＜リード％であるか否かが算出される。
【００９０】
ステップＳ７０２でＹＥＳであれば、ステップＳ７０３においてコマンド実行パラメータにリードが設定される。ステップＳ７０２でＮＯであれば、ステップＳ７０４においてコマンド実行パラメータにライトが設定される。このようにリード又はライトが設定されると、この処理が終了される。
【００９１】
図１８は、ステップＳ５０７の性能測定処理を示すフローチャートである。ステップＳ８０１においてＩ／Ｏ正常終了の報告があったか否かが判定される。報告があれば（Ｓ８０１：ＹＥＳ）、ステップＳ８０２においてシステム時刻（Ｂ）が取得される。そして、ステップＳ８０３においてリードか否かが判定される。
【００９２】
ステップＳ８０３でＹＥＳであれば、ステップＳ８０４においてリードＩ／Ｏ終了カウンタに“１”が加算され、ステップＳ８０５においてレスポンス計算（Ｃ＝Ｂ−Ａ）され、ステップＳ８０６においてリードＩ／Ｏレスポンスカウンタに“Ｃ”が加算される。
【００９３】
ステップＳ８０３でＮＯであれば、ステップＳ８０７においてライトＩ／Ｏ終了カウントに“１”が加算され、ステップＳ８０８においてレスポンス計算（Ｃ＝Ｂ−Ａ）され、ステップＳ８０９においてライトＩ／Ｏレスポンスカウンタに“Ｃ”が加算される。
【００９４】
一方、ステップＳ８０１においてＮＯであれば、ステップＳ８１０においてリトライ処理（リード／ライトコマンド発行のコマンド発行）がされる。
【００９５】
以上の処理を行うことにより、ストレージ装置１００に複数のホスト装置が接続されていても、ストレージ装置１００の性能測定を、デフォルト設定のパラメータごとに、ユーザ指定のパラメータごとに、又はストレージ装置１００の構成情報に変更があったときに、ＬＵ毎に正確に測定することができる。
【００９６】
なお、上記実施の形態ではストレージ装置１００と保守端末２００が一対一で対応しているストレージシステムに本発明を適用した場合で説明したが、本発明はこの構成に適用するものに限られるものではない。
【００９７】
例えば、図１９に示すように、ストレージ装置１００と保守端末２００からなるストレージシステム１と、ストレージ装置１００と保守端末２００からなるストレージシステム１´を含んで構成されるストレージシステム２において本発明を適用し、ストレージシステム１内の保守端末２００からストレージシステム１´内ストレージ装置１００の性能を測定し、また、ストレージシステム１´内の保守端末２００からストレージシステム１内ストレージ装置１００の性能を測定するように構成することもできる。
【産業上の利用可能性】
【００９８】
本発明は、ストレージシステム及びその性能測定方法に広く適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００９９】
【図１】本発明の実施形態に係わるストレージシステムの構成を示す図である。
【図２】同実施形態に係わる論理ボリューム情報記憶部に記憶される論理ボリューム情報を説明するための図である。
【図３】同実施形態に係わるパリティグループを説明するための図である。
【図４】同実施形態に係わる性能情報記憶部に記憶される性能情報の一例を示す図である。
【図５】同実施形態に係わるデフォルトパラメータが設定されたテーブルの一例を示す図である。
【図６】同実施形態に係わるユーザ指定パラメータが設定されたテーブルの一例を示す図である。
【図７】同実施形態に係わる保守端末の画面の一例を示す図である。
【図８】同実施形態に係わる保守端末の画面の一例を示す図である。
【図９】同実施形態に係わる保守端末の画面の一例を示す図である。
【図１０】同実施形態に係わる保守端末の画面の一例を示す図である。
【図１１】同実施形態に係わるパラメータ設定を読み込むときの処理を示すフローチャートである。
【図１２Ａ】同実施形態に係わる値チェック及び設定処理を示すフローチャートの前半である。
【図１２Ｂ】同実施形態に係わる値チェック及び設定処理を示すフローチャートの後半である。
【図１３】同実施形態に係わる性能測定の処理全体を示すフローチャートである。
【図１４】同実施形態に係わるＩ／Ｏ発行処理を示すフローチャートである。
【図１５Ａ】同実施形態に係わるリード／ライトコマンド発行処理を示すフローチャートである。
【図１５Ｂ】同実施形態に関わるコマンド実行パラメータを示す図である。
【図１６】同実施形態に係わるアドレス処理を示すフローチャートである。
【図１７】同実施形態に係わるリード・ライト判定処理を示すフローチャートである。
【図１８】同実施形態に係わる性能測定処理を示すフローチャートである。
【図１９】同実施形態に係わるストレージシステムの構成の変形例を示す図である。
【符号の説明】
【０１００】
１，２…ストレージシステム
１０１〜１０５…ファイバーポート
１８１〜１８４…ディスクドライブ
１００…ストレージ装置
１１０…発行部
１２０…計測部
１３０…構成変更検知部
１４０…共有メモリ
１４０…共有メモリ
１４１…論理ボリューム情報記憶部
１４２…構成変更情報記憶部
１４３…性能情報記憶部
１５０…ディスクコントローラ
１６０…キャッシュ
１７０…ドライブ制御装置
２００…保守端末
２１０…パラメータ設定部
２２０…結果表示部
３００…論理ボリューム情報
４００…性能情報
６００〜６０３…画面
６１０…テストシーケンスフィールド
６３０…測定結果フィールド
６５３…テスト実行ボタン
６５４…終了ボタン
６５５…デフォルトパラメータ設定部
６５６…ユーザパラメータ設定部
６５７…テスト実行部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2009294949.tif 000012
【図１１】
2009294949.tif 000013
【図１２Ａ】
2009294949.tif 000014
【図１２Ｂ】
2009294949.tif 000015
【図１３】
2009294949.tif 000016
【図１４】
2009294949.tif 000017
【図１５Ａ】
2009294949.tif 000018
【図１５Ｂ】
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【図１６】
2009294949.tif 000020
【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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