(57)【要約】【課題】再生信号のマーク部とスペース部を区別して、評価指標を求めることができる光ディスク装置を提供すること。【解決手段】  イネーブル信号生成手段（１５０）は、光ディスク（１００）からの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成する。第１の指標算出手段（１５２）は、イネーブル信号による区別に応じて、マーク部の信号品質を評価するための評価指標を算出する。また、第２の指標算出手段（１５４）は、イネーブル信号による区別に応じて、スペース部の信号品質を評価するための評価指標を算出する。【選択図】      図１
2009158046.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成手段と、
前記イネーブル信号による区別に応じて、マーク部の信号品質を評価するための評価指標を算出する第１の指標算出手段と、
前記イネーブル信号による区別に応じて、スペース部の信号品質を評価するための評価指標を算出する第２の指標算出手段と、
を備える光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクの再生信号を復号して、復号信号を出力する信号復号手段と、
前記復号信号に対応する理想信号を生成する理想信号生成手段と、
前記復号信号と前記理想信号との誤差を検出する誤差検出手段と、をさらに備え、
前記第１の指標算出手段は、前記誤差検出手段が検出したマーク部についての誤差に基づいて、マーク部の評価指標を算出し、
前記第２の指標算出手段は、前記誤差検出手段が検出したスペース部についての誤差に基づいて、スペース部の評価指標を算出する、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１の指標算出手段は、前記誤差検出手段が検出したマーク部についての誤差の二乗平均を、マーク部の評価指標として算出し、
前記第２の指標算出手段は、前記誤差検出手段が検出したスペース部についての誤差の二乗平均を、スペース部の評価指標として算出する、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記イネーブル信号生成手段は、前記復号信号のレベルに応じて、マーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成する、請求項２又は請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記イネーブル信号生成手段は、前記復号信号が第１のレベルである間は、前記第１の指標算出手段にマーク部についての評価指標を算出させ、前記復号信号が第２のレベルである間は、前記第２の指標算出手段にスペース部についての評価指標を算出させるイネーブル信号を生成する、請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記イネーブル信号生成手段は、前記復号信号がマーク部に相当する間は、前記第１の指標算出手段にイネーブル信号を出力し、前記復号信号がスペース部に相当する間は、前記第２の指標算出手段にイネーブル信号を出力する、請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記マーク部の評価指標及び前記スペース部の評価指標に応じて、記録パルスの設定を調整する記録パルス調整手段を、さらに備える請求項１乃至請求項６に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記記録パルス調整手段は、前記スペース部の評価指標に基づいて、記録パルスの消去パワーを調整する、請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記記録パルス調整手段は、前記マーク部の評価指標に基づいて、記録パルスの記録パワーを調整する、請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスクの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成し、
前記イネーブル信号による区別に応じて、マーク部の信号品質を評価するための評価指標を算出し、
前記イネーブル信号による区別に応じて、スペース部の信号品質を評価するための評価指標を算出する、
評価指標算出方法。
【請求項１１】
光ディスクの再生信号を復号して、復号信号を出力し、
前記復号信号に対応する理想信号を生成し、
前記復号信号と前記理想信号との誤差を検出し、
前記マーク部の評価指標を、前記マーク部についての誤差に基づいて算出し、
前記スペース部の評価指標を、前記スペース部についての誤差に基づいて算出する、請求項１０に記載の評価指標算出方法。
【請求項１２】
前記マーク部についての誤差の二乗平均を、マーク部の評価指標として算出し、
前記スペース部についての誤差の二乗平均を、スペース部の評価指標として算出する、請求項１１に記載の評価指標算出方法。
【請求項１３】
前記イネーブル信号は、前記復号信号のレベルに応じて生成される、請求項１１又は請求項１２に記載の評価指標算出方法。
【請求項１４】
前記イネーブル信号は、前記復号信号が第１のレベルである間は、前記マーク部についての評価指標が算出され、前記復号信号が第２のレベルである間は、前記スペース部についての評価指標が算出されるように生成される、請求項１２又は請求項１３に記載の評価指標算出方法。
【請求項１５】
前記イネーブル信号は、前記復号信号がマーク部に相当する間は、前記マーク部についての評価指標が算出され、前記復号信号がスペース部に相当する間は、前記スペース部についての評価指標が算出されるように生成される、請求項１４に記載の評価指標算出方法。
【請求項１６】
光ディスクの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成し、
前記イネーブル信号による区別に応じて、マーク部の信号品質を評価するための評価指標を算出し、
前記イネーブル信号による区別に応じて、スペース部の信号品質を評価するための評価指標を算出し、
前記マーク部についての評価指標及び前記スペース部についての評価指標に応じて、記録パルスの設定を調整する、
記録パルス調整方法。
【請求項１７】
前記スペース部の評価指標に基づいて、記録パルスの消去パワーを調整する、請求項１６に記載の記録パルス調整方法。
【請求項１８】
前記マーク部の評価指標に基づいて、記録パルスの記録パワーを調整する、請求項１６に記載の記録パルス調整方法。
【請求項１９】
前記マーク部についての誤差の二乗平均を、マーク部の評価指標として算出し、
前記スペース部についての誤差の二乗平均を、スペース部の評価指標として算出する、請求項１６乃至請求項１８に記載の記録パルス調整方法。
【請求項２０】
前記イネーブル信号は、前記復号信号のレベルに応じて生成される、請求項１６乃至請求項１９に記載の記録パルス調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、再生信号のマーク部とスペース部を区別して、評価指標を求めることができる光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置では、光ディスクからの再生信号に対して波形等化処理が行われる。波形等化された再生信号からは理想信号が得られる。波形等化された再生信号と、対応する理想信号との誤差を等化誤差と呼ぶ。等化誤差の二乗平均値は、再生信号の品質あるいは再生能力を示す指標として利用することができる。従来、この等化誤差の二乗平均値が適切な値になるよう、レーザ光の各種パラメータの調整する調整方法が行われている。
【０００３】
例えば特許文献１には、等化処理によって得られる等化量に基づいて、現在の再生パワーと最適再生パワーとの誤差を検出し、誤差が０に近づくようにレーザビームの再生パワーを制御する再生パワー制御方法が記載されている。
【特許文献１】特開２００３−１６６５３号公報（段落００５２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１の再生パワー制御方法と同様の方法で、等化誤差が０に近づくように記録パワーや消去パワーを調整することも考えられる。しかしながら、一般に、記録パワーの強弱はマーク部の再生品質に強く影響し、消去パワーの強弱はスペース部の再生品質に強く影響する。従って、マーク部とスペース部とが区別されず、両者が平均化された値である等化誤差二乗平均値に基づいては、再生品質を適切に評価できないことがある。また、再生品質が適切に評価できないと、記録パワー及び消去パワーの調整も適切に行うことができない。
【０００５】
本発明の目的は、再生信号のマーク部とスペース部を区別して、評価指標を求めることができる光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様による光ディスク装置は、光ディスクの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成するイネーブル信号生成手段と、前記イネーブル信号による区別に応じて、マーク部についての評価指標を算出する第１の評価指標算出手段と、前記イネーブル信号による区別に応じて、スペース部についての評価指標を算出する第２の評価指標算出手段と、を備える。
【０００７】
また、本発明の一態様による評価指標算出方法は、光ディスクの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成し、前記イネーブル信号による区別に応じて、マーク部についての評価指標を算出し、前記イネーブル信号による区別に応じて、スペース部についての評価指標を算出する。
【０００８】
また、本発明の一態様による記録パルス調整方法は、光ディスクの再生信号に含まれるマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号を生成し、前記イネーブル信号による区別に応じて、マーク部についての評価指標を算出し、前記イネーブル信号による区別に応じて、スペース部についての評価指標を算出し、前記マーク部についての評価指標及び前記スペース部についての評価指標に応じて、記録パルスの設定を調整する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の光ディスク装置によれば、イネーブル信号生成手段が生成する光ディスクの再生信号のマーク部とスペース部とを区別するためのイネーブル信号による区別に応じて、第１の評価指標算出手段がマーク部についての評価指標を算出し、第２の評価指標算出手段がスペース部についての評価指標を算出する。このため、マーク部とスペース部とを区別して、評価指標を算出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明による光ディスク装置の実施形態を説明する。
【００１１】
図１は、本発明の一実施形態による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。光ディスク装置は、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等の相変化型光ディスクや書き換え型光ディスク等１００に情報を記録し、また光ディスク１００に記録された情報を読み出して再生を行う。
【００１２】
ディスクモータ１０２は、光ディスク１００を回転駆動する。光ディスク１００に対しては、光ピックアップによって情報の記録及び再生が行われる。
【００１３】
光ディスク１００に情報を記録する際には、メモリ１１０に記憶されたデータ（記録データ）が変調回路１１２に送られて変調される。レーザパワー制御回路１１４は、変調された記録データに応じてレーザダイオード（ＬＤ）を駆動し、光ディスク１００にレーザ光（記録パルス）を照射する。光ディスク１００の記録層に刻まれているトラックに沿ってレーザ光が照射され、記録データに対応するマークが形成されて記録データが記録される。マークとマークの間隙がスペースである。本実施形態による光ディスク装置では、基準クロックの周期Ｔの整数倍の符号長（例えば２Ｔ〜１１Ｔ）のマーク及びスペースを、光ディスク１００上でトラックに沿って形成することでデータを記録する。記録パルスの強度やパルス幅、タイミング微調整情報等は、記録データの符号パターンごとに予め設定されている。レーザパワー制御回路１１４は、タイミング微調整情報に基づいてタイミング調整されたレーザ駆動電流によって、レーザダイオードを駆動する。
【００１４】
マークの記録に用いられる記録パルス出力の主要なレベルとして、記録パワーや消去パワー等がある。高パワーの記録パワーでレーザ光が照射されて光ディスク１００の記録層が非晶質化すると、記録マークが形成される。消去パワーは、記録パワーよりも小さい（例えば半分程度）パワーである。消去パワーのレーザ光が照射されると、以前に記録されていたマーク部が結晶化し、当該マーク部が消去される。
【００１５】
光ディスク１００に記録された情報を再生する際は、レーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上のマークとスペースとの反射光強度の相違を検出する。フォトディテクタは、光ディスク１００からの反射光の光電変換を行う。光電変換された再生データは、プリアンプ１３４を経由してＲＦアンプ１３６に入力する。再生データは、適切な振幅に増幅され、波形整形を施されたＲＦ信号(再生信号)として出力される。Ａ／Ｄコンバータ１３８は、再生信号を所定のサンプリング周波数でサンプリングして、多値のデジタルデータに変換する。デジタル化された再生信号系列は、デジタル等化器１４２及びビタビ復号部１４４によってＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）方式で復号される。
【００１６】
デジタル化された再生信号系列が等化器１４２に入力すると、等化器１４２は、光ディスク１００の再生信号特性に近似したパーシャルレスポンス（ＰＲ）特性に基づき、波形等化処理を行う。ビタビ復号器１４４は、ＭＬ復号によって、波形等化された再生信号系列の各サンプルを元データ（復号データ）に復号する。この復号データは図示しないエラー訂正回路に送られてユーザデータに変換されてもよい。
【００１７】
等化誤差演算回路１４６は、復号データの各サンプルに対して、理想的なパーシャルレスポンスを持つ基準データ(理想再生信号)を生成し、この理想再生信号と入力された再生信号との誤差を算出する。この誤差は等化誤差と呼ばれる。算出された等化誤差の系列は、二乗回路１４８に出力される。
【００１８】
二乗回路１４８は、等化誤差の二乗値の算出を行う。二乗回路１４８によって算出された再生信号の等化誤差の二乗値の系列は、マーク部二乗平均算出回路１５２およびスペース部二乗平均算出回路１５４にそれぞれ送られる。
【００１９】
ビタビ復号部１４４から出力された復号データは、イネーブル信号発生回路１５０にも入力する。イネーブル信号発生回路１５０は、例えば図２に示すようなイネーブル信号を生成して、マーク部二乗平均算出回路１５２及びスペース部二乗平均算出回路１５４に送信する。
【００２０】
図２は、復号データと、当該復号データに応じて生成されるイネーブル信号との関係の一例を示す図である。図２に示すように、イネーブル信号発生回路１５０は、復号データがマーク部に相当している間は、マーク部二乗平均算出回路１５２にハイレベルのイネーブル信号を送信し、スペース部二乗平均算出回路１５４にローレベル（あるいは０）のイネーブル信号を送信する。一方、復号データがスペース部に相当している間は、イネーブル信号発生回路１５０は、マーク部二乗平均算出回路１５２にローレベル（あるいは０）のイネーブル信号を送信し、スペース部二乗平均算出回路１５４にハイレベルのイネーブル信号を送信する。
【００２１】
マーク部二乗平均算出回路１５２及びスペース部二乗平均算出回路１５４は、ハイレベルのイネーブル信号が入力している間のみ、二乗回路１４８から送られる等化誤差の二乗平均を算出する。等化誤差ｎの二乗平均Ｒを表す式の一例としては、Ｒ＝Ｅ［ｎ・ｎ］を用いることができる。ただし、Ｅ［ｘ］は、ｘの期待値を求める演算である。
【００２２】
等化誤差の二乗平均は、各サンプル点における、理想信号と再生信号との距離を示す。二乗平均が小さいほど、そのサンプル点では理想信号に近い再生信号が得られていることになる。従って、等化誤差の二乗平均は、再生信号の品質を評価するための指標となり得る。
【００２３】
マーク部二乗平均算出回路１５２から出力される等化誤差の二乗平均のデータと、スペース部二乗平均算出回路１５４から出力される二乗平均のデータとは、データプロセッサ１２０がアクセスできるメモリ１１０に別個に記憶されてもよい。
【００２４】
本実施形態ではこのようにして、二乗回路１４８から出力された等化誤差の二乗値を、復号データに応じて区別することが可能となり、マーク部及びスペース部の二乗平均を別個に得ることができる。すなわち、マーク部の再生品質を示す評価指標と、スペース部の再生品質を示す評価指標とが別個に得られる。従って、マーク部とスペース部とで再生品質を独立して評価することができるようになる。
【００２５】
次に、このようにして算出されたマーク部及びスペース部に対する等化誤差二乗平均を用いた、記録波形制御の一例について説明する。
【００２６】
例えばＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え可能な光ディスク１００に対して情報の上書き記録を行う場合、以前に記録されたマークに消去パワーのレーザ光を照射して、当該マークを消去する必要がある。この際に、適切な消去パワーが設定されていないと、マークが充分に消去できないことがある。
【００２７】
図３は、異なる消去パワーのレーザ光をマーク部に照射することによって形成された長スペース部について、それぞれの再生信号の概形を示す図である。
【００２８】
記録マークを消去するには、消去パワーのレーザ光を照射して、記録層を再度結晶化する必要がある。適切な消去パワーが設定されていると、図３（ａ）に示すように記録マークが消去され、スペース部が形成される。しかしながら、消去パワーが低く設定されている場合には、図３（ｂ）に示すような記録マークの消し残しが生じる。また、消去パワーが高く設定されている場合には、図３の（ｃ）及び（ｄ）に示すように、高パワーによる非晶質化が起こる。このため、記録マークを消去したにもかかわらず、情報が記録されてしまうという事態が生じかねない。
【００２９】
消去パワーの設定が適切ではない場合、過去に記録された記録マークやスペースの形状が一部残ってしまうなどして、再生信号品質が劣化する。したがって、上書きを行う場合は消去パワーを最適化する必要がある。また、記録パワーについても適切に設定する必要がある。
【００３０】
次に、従来のマーク部及びスペース部を弁別しない等化誤差二乗平均を用いた、記録パワー及び消去パワーの調整で問題になるような場合について説明する。図４は、等化誤差二乗平均を用いたパワー調整の一例を示す図である。図４で、破線は理想信号を示し、実線は再生信号を示す。
【００３１】
図４（ａ）は、等化誤差がマーク部、スペース部共に同程度である場合を示しているのに対して、図４（ｂ）は、消去パワーが不足したため、スペース部に消し残しがあるような場合を示す。図４（ａ）及び（ｂ）に示す波形全体の等化誤差二乗平均は、ともに同程度である。
【００３２】
図４（ａ）のように、マーク部の等化誤差がスペース部の等化誤差と同程度である場合には、マーク部もスペース部も区別せずに、二乗回路１４８から出力される等化誤差の二乗値をそのまま平均し、当該二乗平均に基づいて記録パワー及び消去パワーを調整することも出来る。
【００３３】
図４（ｂ）では、消し残しが原因で、スペース部の等化誤差が、マーク部の等化誤差に比べて大きく上下アンバランスである。このような場合、適切なパワー調整をするのが困難である。
【００３４】
以下にどのように困難なのか具体例を挙げて説明する。
【００３５】
従来の方法では、図４（ｂ）のように波形全体の等化誤差が大きい場合、記録パワーを上げる調整を行う。記録パワーを上げると、図４（ｂ）では再生品質が高かったマーク部も、図４（ｃ）に示すように理想波形から離れ、再生品質が劣化してしまう。さらに、図４（ｃ）の状態の波形に対して、ゲイン・オフセット制御が行われ、振幅が圧縮されると、図４（ｄ）に示す再生波形が得られる。図４（ｄ）では、振幅が圧縮されるため、スペース部の劣化具合は相対的に小さくなる。
【００３６】
この結果、波形は、図４（ｂ）から図４（ｄ）のようになり、等化誤差二乗平均は確かに小さくはなっているが、本質であるスペース部の消し残しは改善されない。
【００３７】
このまま波形全体について等化誤差二乗平均が小さくなるように記録パワーの調整が行われていくと、記録パワーが増大し続けて、再結晶化が起こるような過パワーの状態に至ることもありうる。
【００３８】
このように、消去パワーの不足による消し残しのためにスペース部の再生品質が劣化している場合、波形全体の等化誤差二乗平均に基づいたパワー調整では、記録パワーを増加させるという誤った調整が選択されることがある。
【００３９】
以上のように、マーク部とスペース部とを合わせた波形全体の等化誤差二乗平均に基づくパワー調整は、記録品質の悪化を招きかねない。また、このような方法でパワー調整を行うと、調整に時間がかかり、また適切なパワーを得るために、テスト記録を繰り返す必要が出てくる。結果として上書き可能回数が低減し、調整時間が増大してしまうことになる。
【００４０】
これに対して、本実施形態による光ディスク装置では、マーク部二乗平均算出回路１５２からは、マーク部についての等化誤差二乗平均が出力され、スペース部二乗平均算出回路１５４からは、スペース部についての等化誤差二乗平均が出力される。このため、マーク部の再生品質を示す評価指標と、スペース部の再生品質を示す評価指標とが別個に得られ、マーク部とスペース部とで再生品質を独立して評価することができる。
【００４１】
例えば図４（ｂ）に示す再生波形が得られた場合、本実施形態の光ディスク装置によれば、再生波形のマーク部は理想波形に近く、スペース部の劣化が大きいことが認識可能となる。また、マーク部とスペース部のどちらの劣化が大きいかを判断することも可能となる。このため、記録パワーは調整せず、スペース部についての等化誤差二乗平均を最小化するように消去パワーのみを調整するといったパワー調整を行うことができる。
【００４２】
また、上書きを繰り返すことによって生じるメディア劣化は、スペース部の劣化として現れることが多いが、このようなメディア劣化をいち早く認識し、消去パワー調整という適切な調整方法で対応することが可能となる。
【００４３】
さらに、図４（ｂ）の場合とは逆に、マーク部は理想波形に近いが、スペース部が大きく理想波形から外れているような場合でも、本実施形態の光ディスク装置によれば、適切に波形を認識できるようになる。この場合は、記録パワーの調整を行えばよい。
【００４４】
本実施形態によるパワー調整では、マーク部の等化誤差二乗平均に基づいて記録パワーを調整し、スペース部の等化誤差二乗平均に基づいて消去パワーを調整する、というように、２元的な情報から記録/消去パワーの調整ができるようになる。このため波形全体の等化誤差二乗平均に基づいたパワー調整を用いるよりも、さらに適切な記録パワー及び消去パワーを決定することができる。このため、様々なディスクに対してそれぞれ適切な記録パワーや消去パワーを設定できるようになり、記録品質が向上する。結果として上書き可能回数が増し、パワー調整時間も短くなる。
【００４５】
次に、本実施形態の光ディスク装置による、マーク部とスペース部を区別した評価指標の取得、及びこの評価指標に基づくパワー調整処理について説明する。図５は、任意の符号長のマーク部及びスペース部の評価指標を取得し、当該評価指標に応じてパワーを調整するための処理のフローチャートである。図５のフローチャートに示す評価指標取得・パワー調整処理は、光ディスク装置の起動時や、通常のユーザデータ記録時に起動される。特にユーザデータの記録時には、記録を進めながら最適なレーザパワーを自動調整するＯＰＣ（Optimum Power Control）方式が利用できる。ＯＰＣ方式では、ユーザーエリアへ実際に記録する前に、まずＯＰＣエリアでテスト記録を行い、ここで得た記録パワー及び消去パワーで実際の記録を行う。
【００４６】
図５の評価指標取得・パワー調整処理が起動すると、まず、レーザパワー制御回路１１４では、記録パルスのパラメータが所定の初期値に設定される（ブロックＦ１００)。続いて、レーザパワー制御回路１１４は、設定されたパラメータに基づいてレーザダイオードＬＤを駆動して、光ディスク１００のテスト記録エリア（あるいはＯＰＣエリア）に対して、ランダムデータのテスト記録を行う(ブロックＦ１０１)。
【００４７】
その後、記録されたデータの再生処理が行われる(ブロックＦ１０２)。すなわち、フォトディテクタによって光電変換された再生データが、プリアンプ１３４を経由してＲＦアンプ１３６によって増幅され、Ａ／Ｄコンバータ１３８によってデジタル変換される。デジタル化された再生信号系列は、等化器１４２及びビタビ復号器１４４によってＰＲＭＬ方式で復調される。
【００４８】
続いて、マーク部とスペース部とを区別した等化誤差二乗平均が算出される（ブロックＦ１０３）。すなわち、等化誤差検出回路１４６は、再生信号系列の各サンプルについて等化誤差を算出して当該等化誤差系列を二乗回路１４８に出力し、二乗回路１４８は、この等化誤差系列の各サンプルの二乗値を算出する。そして、マーク部二乗平均算出回路１５２がイネーブル信号発生回路１５０からのハイレベルのイネーブル信号を受信している間は、当該マーク部二乗平均算出回路１５２がマーク部の等化誤差二乗平均を算出する。また、スペース部二乗平均算出回路１５４がイネーブル信号発生回路１５０からのハイレベルのイネーブル信号を受信している間は、当該スペース部二乗平均算出回路１５４が、スペース部の等化誤差二乗平均を算出する。
【００４９】
このようにして、波形の評価指標である等化誤差の二乗平均を、マーク部とスペース部とに弁別して求めることが可能となる。算出された等化誤差二乗平均系列の各データは、マーク部及びスペース部に区別されて、符号長毎にメモリ１１０に格納されてもよい。
【００５０】
求められたマーク部及びスペース部それぞれの評価指標を用いて、以下のような記録パルスのパワー調整を行うこともできる。
【００５１】
評価指標としてメモリ１１０に格納された等化誤差二乗平均系列に基づいて、任意の符号長のマーク部の再生信号品質に、劣化が生じているか否かが判断可能となる（ブロックＦ１０４）。すなわち、マーク部の再生品質の良否を判断することができる。ここで、当該符号長のマーク部について、等化誤差二乗平均系列の各サンプルが所定の閾値以上であるか否かが判断されてもよい。この場合、等化誤差二乗平均が閾値以上となるサンプルの数が所定数より多いと、マーク部の再生品質が劣化していると判断される。あるいは、等化誤差二乗平均系列の各サンプルの和を算出し、この和が所定の閾値以上であるか否かが判断されてもよい。この場合、和が閾値以上であれば、マーク部の再生品質が劣化していると判断される。ただし、これらは品質判断方法の例であって、これ以外にも、再生品質の良否が判断できる方法ならば、適用可能である。
【００５２】
マーク部の再生信号品質が劣化していないと判断された場合（ブロックＦ１０４でＮＯ）、次に、メモリ１１０に格納された等化誤差二乗平均系列に基づいて、当該符号長のスペース部の再生信号品質に劣化が生じているか否かが判断できる（ブロックＦ１０５）。ここで、ブロックＦ１０４でのマーク部の品質判断と同様に、当該符号長のスペース部について、等化誤差二乗平均系列の各サンプルが所定の閾値以上であるか否かが判断されてもよい。あるいは、等化誤差二乗平均系列の各サンプルの和を算出し、この和が所定の閾値以上であるか否かが判断されてもよい。
【００５３】
スペース部の再生信号品質も劣化していないと判断された場合（ブロックＦ１０５でＮＯ）、マーク部、スペース部ともに再生品質は良好であると見なされ、パワー調整処理は終了する。
【００５４】
一方、スペース部の再生信号品質が劣化していると判断された場合（ブロックＦ１０５でＹＥＳ）、劣化を補正するために消去パワーの調整が行われる（ブロックＦ１０６）。消去パワーの調整は、スペース部の等化誤差が小さくなるように行われる。この後、再びブロックＦ１０１に戻り、パワー調整の結果に基づいてテスト記録を繰り返してもよい。
【００５５】
また、ブロックＦ１０４で、マーク部の再生信号品質が劣化していると判断された場合には（ブロックＦ１０４でＹＥＳ）、劣化を補正するために記録パワーの調整が行われる（ブロックＦ１０７）。記録パワーの調整は、マーク部の等化誤差が小さくなるように行われる。
【００５６】
記録パワーが調整されると、続いて、当該符号長のスペース部の再生信号品質に劣化が生じているか否かが判断されてもよい（ブロックＦ１０８）。ブロックＦ１０８でのスペース部の再生信号品質の判断は、ブロックＦ１０５でのスペース部の品質判断と同様に行われる。
【００５７】
スペース部の再生信号品質は劣化していないと判断された場合（ブロックＦ１０８でＮＯ）、スペース部の再生品質は良好であると見なされる。この後、再びブロックＦ１０１に戻り、記録パワー調整の結果に基づいてテスト記録を繰り返してもよい。
【００５８】
一方、スペース部の再生信号品質も劣化していると判断されると（ブロックＦ１０８でＹＥＳ）、劣化を補正するために消去パワーの調整が行われる（ブロックＦ１０９）。消去パワーの調整は、スペース部の等化誤差が小さくなるように行われる。この後、再びブロックＦ１０１に戻り、記録パワー及び消去パワーの調整結果に基づいてテスト記録を繰り返してもよい。
【００５９】
以上のような処理により、マーク部とスペース部それぞれについて、品質評価指標として、等化誤差二乗平均を算出することができる。マーク部の品質評価指標に基づいて、マーク部の再生品質を評価することができる。また、マーク部とは別に、スペース部の品質評価指標に基づいてスペース部の再生品質を評価することができる。従って、記録パワーと消去パワーとを互いに独立に、適切に調整することが可能となる。
【００６０】
図５に示すように、記録パワーの調整（ブロックＦ１０７）、あるいは消去パワーの調整（ブロックＦ１０６又はブロックＦ１０９）の後、ブロックＦ１０１の処理に戻るような構成をとれば、記録パワーや消去パワーが適切な値になるまで、パワー調整を繰り返すことができる。
【００６１】
ブロックＦ１０１でテスト記録されるデータは、ランダムデータに限定されず、必要に応じたテストデータを用いればよい。
【００６２】
図５の評価指標取得・パワー調整処理では、ブロックＦ１０７で記録パワーを調整した後に、スペース部の再生品質を評価した。しかしながら、スペース部の品質評価を行わずにブロックＦ１０１の処理に戻ってもよい。また、このパワー調整処理では、任意の符号長のマーク部及びスペース部双方の再生品質を評価した。しかしながら、必要に応じて、マーク部のみの再生品質を評価して記録パワーのみを制御したり、スペース部のみの再生品質を評価して消去パワーのみを制御したりするよう構成することも可能である。
【００６３】
あるいは、マーク部とスペース部とで、どちらの劣化が大きいかを判断するようにしてもよい。マーク部の劣化が大きい場合には、記録パワーの調整を行えばよい。逆に、スペース部の劣化が大きい場合には、消去パワーの調整を行えばよい。
【００６４】
図５の評価指標取得・パワー調整処理では、主にブロックＦ１００からブロックＦ１０３の処理によって評価指標を取得し、ブロックＦ１０４以降の処理によって、記録パルスのパワー調整を行った。この評価指標の取得処理（ブロックＦ１００からＦ１０３）と、記録パルスのパワー調整処理（ブロックＦ１０４以降）とを独立の処理として、別個に行うようにしてもよい。
【００６５】
以上のように、本実施形態の光ディスク装置によれば、マーク部とスペース部それぞれの等化誤差二乗平均を、再生品質の評価指標として別個に算出することができ、マーク部とスペース部の再生品質を別個に評価することが可能になる。
【００６６】
従って、スペース部の劣化に対して記録パワーの調整が行われるなど、誤った対処が行われることを防ぐことができる。また、マーク部の再生品質の評価に基づいて記録パワーを調整し、スペース部の再生品質の評価に基づいて消去パワーを調整することにより、適切なパワー調整が可能となる。例えば、消去パワーが小さく、マーク部の消し残しが生じているような場合であっても、適切に消去パワーの調整が行われる。
【００６７】
評価指標である再生信号の等化誤差二乗平均Ｒを表す式の一例として、Ｒ＝Ｅ［ｎ・ｎ］を用いることができる。しかしながら、二乗平均の求め方はこれに限らない。相加平均や相乗平均、時間平均等が用いられてもよい。
【００６８】
また、再生信号品質の評価に、等化誤差平均以外の評価指標が用いられてもよい。例えば、記録パワーの調整は、等化誤差二乗平均などの信号波形品質を簡易化したシンメトリ（β）や変調度（γ）を最適化することによって行われてもよい。
【００６９】
また、等化誤差二乗平均のかわりに、ジッタ、ＰＲＳＮＲ(Partial Response Signal-to-Noise Ratio)、ＳｂＥＲ(Simulated bit Error Rate)等を用いても同じようにマーク部とスペース部とを分けて評価することができる。
【００７０】
ジッタは、再生信号が２値化のための閾値を通過するタイミングのバラツキを評価するための指標である。ジッタが評価指標として用いられる場合、再生信号の、再生クロックを基準とした時間軸のズレを評価することができるようになる。
【００７１】
ＰＲＳＮＲは、ＰＲＭＬにおける信号対雑音比及び線形性を評価する指標として使用される。また、ＳｂＥＲは、記録データを用いないでビットエラー率を推定するための評価指標である。
【００７２】
これらの評価指標を併用することで、再生信号の品質をさらに詳細に評価することもできるようになる。
【００７３】
さらに、イネーブル信号を復号データの高低そのものではなく、長マークの中心部や短マークの中心部に合わせて生成することで、より短いマークの符号間干渉の影響を除去できる。
【００７４】
以上説明したように、本実施形態では、再生信号と理想信号との差である等化誤差を再生信号品質の評価指標として用いた。イネーブル信号発生回路１５０は、復号データがマーク部に相当している間は、マーク部二乗平均算出回路１５２にハイレベルのイネーブル信号を送信し、一方、復号データがスペース部に相当している間は、スペース部二乗平均算出回路１５４にハイレベル（Ｈ）のイネーブル信号を送信する。このため、マーク部二乗平均算出回路１５２が、ハイレベルのイネーブル信号を受信している間は、マーク部についての等化誤差二乗平均が、マーク部の評価指標として算出される。また、スペース部二乗平均算出回路１５４が、ハイレベルのイネーブル信号を受信している間は、スペース部についての等化誤差二乗平均が、スペース部の評価指標として算出される。従って、イネーブル信号発生回路１５０が発生させるイネーブル信号により、マーク部とスペース部の評価指標を別々に求めることができる。
【００７５】
また、マーク部の評価指標に応じて記録パワーを調整し、スペース部の評価指標に応じて消去パワーを制御することができる。これにより、記録パルスの調整精度を高めることができ、記録品質が向上する。
【００７６】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【００７７】
また、本発明は、コンピュータに所定の手段を実行させるための（あるいはコンピュータを所定の手段として機能させるための、あるいはコンピュータに所定の機能を実現させるための）プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体としても実施することもできる。
【００７８】
また、上述の説明は個々の実施例それぞれについて行ったが、複数の実施例を適宜組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の一実施形態による光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】復号データと、当該復号データに応じて生成されるイネーブル信号との関係の一例を示す図。
【図３】異なる消去パワーのレーザ光をマーク部に照射することによって形成された長スペース部について、それぞれの再生信号の概形を示す図。
【図４】等化誤差二乗平均を用いたパワー調整の一例を示す図。
【図５】評価指標取得・パワー調整処理のフローチャート。
【符号の説明】
【００８０】
１００…光ディスク、１０２…ディスクモータ、１１０…メモリ、１１２…変調回路、１１４…レーザパワー制御回路、１２０…データプロセッサ、１３４…プリアンプ、１３６…ＲＦアンプ、１３８…Ａ／Ｄコンバータ、１４２…等化器、１４４…ビタビ復号器、１４６…等化誤差検出器、１４８…二乗回路、１５０…イネーブル信号発生回路、１５２…マーク部二乗平均算出回路、１５４…スペース部二乗平均算出回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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