(57)【要約】【課題】本発明は、光ピックアップ、記録再生装置及び記録再生装置の光量制御方法に関し、例えば相変化型光ディスクの記録再生装置に適用して、発光素子の微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持できるようにする。【解決手段】本発明は、フィードバックループによりレーザービームの光量を制御するようにして、このフィードバックループに設けられたループフィルタの出力電圧の変化を監視してレーザービームの出射光量を補正する。【選択図】        図１
2009087414.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光量をパルス状に立ち上げてレーザービームを照射してマークを作成すると共に、スペース作成用の一定光量により前記レーザービームを照射してスペースを作成することにより、光記録媒体にマーク及びスペースを作成して所望のデータを記録する記録再生装置において、
前記レーザービームを出射する発光素子と、
前記レーザービームの光量検出信号を出力する受光素子と、
前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドしてサンプルホールド結果を出力するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を出力する誤差アンプと、
前記誤差電圧を処理するループフィルタと、
前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算回路と、
前記加算回路の出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動回路と、
前記加算回路で加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える制御回路とを備え、
前記制御回路は、
前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する
ことを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
前記記録再生装置は、
再生時、再生時の一定光量により前記レーザービームを照射し、
前記ループフィルタは、
再生時、前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧に代えて、前記再生時の一定光量による光量検出信号と再生時の基準電圧との誤差電圧を入力し、
前記制御回路は、
前記再生時に得られる前記ループフィルタの出力電圧と前記サンプルホールド結果による誤差電圧との比較により、前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視する
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項３】
前記記録再生装置は、
再生時、再生時の一定光量により前記レーザービームを照射し、
前記ループフィルタは、
再生時、前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧に代えて、前記再生時の一定光量による光量検出信号と再生時の基準電圧との誤差電圧を入力し、
前記制御回路は、
記録を開始した後の異なる時点で検出される前記ループフィルタの出力電圧の比較により、前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視する
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項４】
光量をパルス状に立ち上げてレーザービームを照射してマークを作成すると共に、スペース作成用の一定光量により前記レーザービームを照射してスペースを作成することにより、光記録媒体にマーク及びスペースを作成して所望のデータを記録する光ピックアップにおいて、
前記レーザービームを出射する発光素子と、
前記レーザービームの光量検出信号を出力する受光素子と、
前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドしてサンプルホールド結果を出力するサンプルホールド回路と、
前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を出力する誤差アンプと、
前記誤差電圧を処理するループフィルタと、
前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算回路と、
前記加算回路の出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動回路と、
前記加算回路で加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える制御回路とを備え、
前記制御回路は、
前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する
ことを特徴とする光ピックアップ。
【請求項５】
光量をパルス状に立ち上げてレーザービームを照射してマークを作成すると共に、スペース作成用の一定光量により前記レーザービームを照射してスペースを作成することにより、光記録媒体にマーク及びスペースを作成して所望のデータを記録する記録再生装置の光量制御方法において、
発光素子から前記レーザービームを出射するレーザービーム出射ステップと、
受光素子により前記レーザービームの光量検出信号を取得する光量検出ステップと、
前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドするサンプルホールドのステップと、
前記サンプルホールドのステップのサンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を生成する誤差電圧生成ステップと、
ループフィルタにより前記誤差電圧を処理するループフィルタの処理ステップと、
前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算ステップと、
前記加算ステップの出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動ステップと、
前記加算ステップで加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える光量切り換えステップと、
前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する光量設定電圧の可変ステップとを有する
ことを特徴とする記録再生装置の光量制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップ、記録再生装置及び記録再生装置の光量制御方法に関し、例えば相変化型光ディスクの記録再生装置に適用することができる。本発明は、フィードバックループによりレーザービームの光量を制御するようにして、このフィードバックループに設けられたループフィルタの出力電圧の変化を監視してレーザービームの出射光量を補正することにより、発光素子の微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持することができるようにする。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置は、光ディスクに照射するレーザービームの光量を精度良く制御することが求められる。しかしながらレーザービームを出射する発光素子である半導体レーザーは、しきい値電流のばらつき、温度変化が大きい欠点がある。そこで従来、光ディスク装置は、光ピックアップにオートパワーコントロール（ＡＰＣ）回路を設け、半導体レーザーの駆動電流をフィードバック制御している。
【０００３】
ここで図６は、書き換え可能な相変化型光ディスクにおけるレーザービームの光量ＬＰを具体的に示すタイムチャートである。ここで記録データＤＷ（図６（Ａ））は、マーク及びスペースを作成する期間でそれぞれ論理１及び論理０に設定される光ピックアップ駆動用の信号である。光ディスク装置は、記録データＤＷが論理１に設定されると、レーザービームの光量ＬＰをパルス状にバイアスパワーＰｂから記録パワーＰｐに立ち上げ、いわゆるパルス記録方式によりマークを作成する。また記録データＤＷが論理０に設定されると、記録パワーＰｐとバイアスパワーＰｂとの間の光量である消去パワーＰｅにレーザービームの光量ＬＰを保持してスペースを作成する。ここで消去パワーＰｅは、書き換え可能な光ディスクにおけるスペース作成用の光量である。なお再生時、光ディスク装置は、消去パワーＰｅとバイアスパワーＰｂとの間の光量である再生パワーＰｒにレーザービームの光量を保持する。
【０００４】
このようなパルス記録方式の記録において、記録パワーＰｐ、バイアスパワーＰｂは、精度良く測定することが困難なものの、消去パワーＰｅは、精度良く測定することができる。そこで従来、パルス記録方式による光ディスク装置は、記録時、オートパワーコントロール回路で消去パワーＰｅの光量検出結果をサンプルホールドし、半導体レーザーの駆動電流をフィードバック制御している。また記録時と再生時とでループフィルタの出力電圧が変化しないようにフィードバックループを構成し、記録再生の動作切り換え時間を短縮している。
【０００５】
ここで図７は、図６の光量制御に係る光ピックアップの構成を示すブロック図である。ここでこの光ピックアップ１において、半導体レーザー２は、例えばレーザーダイオードである。半導体レーザー２は、アノード及びカソードがそれぞれ電源及びレーザー駆動回路３に接続され、レーザー駆動回路３による電流駆動によりレーザービームを出射する。光ピックアップ１は、この半導体レーザー２のレーザービームを図示しない対物レンズで光ディスクに照射し、またその結果得られる光ディスクからの戻り光を図示しない光学系で受光する。光ディスク装置は、この戻り光の受光結果を処理して光ディスクに記録されたデータを再生する。光ピックアップ１は、対物レンズと半導体レーザー２との間に設けられた光学系により、光ディスクに照射するレーザービームの一部を分離して受光素子であるフォトディテクタ４で受光し、いわゆるフロントモニタ方式によりレーザービームの光量に応じて電流値が変化する光量検出信号Ｓ１を出力する。
【０００６】
電流電圧変換回路（Ｉ−Ｖ変換）５は、この光量検出信号Ｓ１を電流電圧変換処理し、レーザービームの光量に応じて電圧値が変化する光量検出信号Ｓ２を出力する。ディジタルアナログ変換回路（ＤＡＣ）６は、マイクロコンピュータ７から出力される基準電圧設定データＤ１をディジタルアナログ変換処理し、再生時の基準電圧を出力する。誤差アンプ８は、差動増幅回路構成の演算増幅回路であり、光量検出信号Ｓ２の電圧値と再生時の基準電圧との誤差電圧を出力する。
【０００７】
サンプルホールド回路（ＳＨ）９は、パルス発生回路１０から出力されるサンプルホールドパルスＳＨＰに応じて光量検出信号Ｓ２をサンプルホールドして出力する。ディジタルアナログ変換回路（ＤＡＣ）１１は、マイクロコンピュータ７から出力される基準電圧設定データＤ２をディジタルアナログ変換処理し、記録時の基準電圧を出力する。誤差アンプ１２は、差動増幅回路構成の演算増幅回路であり、サンプルホールド回路９の出力電圧と記録時の基準電圧との誤差信号を出力する。
【０００８】
選択回路１３は、マイクロコンピュータ７から出力される制御信号ＷＧにより接点を切り換え、再生時、誤差アンプ８の出力電圧を選択出力する。また記録時、誤差アンプ１２の出力電圧を選択出力する。
【０００９】
ループフィルタ１４は、抵抗及びコンデンサの並列回路により帰還回路が構成された演算増幅回路であり、選択回路１３の出力電圧を帯域制限して出力する。加算回路１５は、それぞれスイッチ回路１７、１８、１９を介してディジタルアナログ変換回路２０、２１、２２から光量設定電圧を入力し、ループフィルタ１４の出力電圧に加算して出力する。レーザー駆動回路３は、この加算回路１５の出力電圧に比例した電流値で半導体レーザー２を電流駆動する。
【００１０】
スイッチ回路１７、１８、１９は、それぞれパルス発生回路１０から出力される制御信号ＷＰ３、ＷＰ２、ＷＰ１によりオンオフ動作する。ディジタルアナログ変換回路２０、２１、２２は、それぞれマイクロコンピュータ７から出力される光量設定データＤ３、Ｄ４、Ｄ５をディジタルアナログ変換処理し、それぞれ再生パワーＰｒ、記録パワーＰｐ、消去パワーＰｅの光量設定電圧を出力する。
【００１１】
パルス発生回路１０は、マイクロコンピュータ７の制御により記録データＤＷに応じて各種制御信号ＷＰ３、ＷＰ２、ＷＰ１、サンプルホールドパルスＳＨＰを出力する。マイクロコンピュータ７は、本体装置に設けられたコントローラの制御により、各部の動作を制御する。
【００１２】
ここで図８は、このマイクロコンピュータ７及びパルス発生回路１０の動作の説明に供するタイムチャートである。再生時、光ピックアップ１は、マイクロコンピュータ７により選択回路１３の接点が誤差アンプ８側に設定され（図８（Ａ））、またスイッチ回路１７のみオン動作するように制御信号ＷＰ３、ＷＰ２、ＷＰ１が設定される（図８（Ｂ）〜（Ｄ）及び（Ｆ））。その結果、光ピックアップ１は、再生時、半導体レーザー２、フォトディテクタ４、電流電圧変換回路５、誤差アンプ８、選択回路１３、ループフィルタ１４、加算回路１５、レーザー駆動回路３によりフィードバックループが作成され、ディジタルアナログ変換回路６、２０に出力する基準電圧設定データＤ１、光量設定データＤ２に応じた光量によりレーザービームを出射する。光ピックアップ１では、この再生時のレーザービームの光量である再生パワーＰｒが所定の光量となるように、またループフィルタ１４の出力電圧がバイアスパワーＰｂの駆動電流に対応する電圧となるように、基準電圧設定データＤ１、光量設定データＤ２が設定される。
【００１３】
また記録時、光ピックアップ１は、マイクロコンピュータ７により選択回路１３の接点が誤差アンプ１２側に設定され（図８（Ａ））、消去パワーＰｅの期間で光量検出信号Ｓ２をサンプルホールドするようにサンプルホールドパルスＳＨＰ（図８（Ｅ））が出力される。その結果、光ピックアップ１は、記録時、半導体レーザー２、フォトディテクタ４、電流電圧変換回路５、サンプルホールド回路９、誤差アンプ１２、選択回路１３、ループフィルタ１４、加算回路１５、レーザー駆動回路３によりフィードバックループが作成される。
【００１４】
また記録時、光ピックアップ１は、バイアスパワーＰｂの期間で、スイッチ回路１７〜１９の全てがオフ動作するように制御信号ＷＰ３、ＷＰ２、ＷＰ１が設定される（図８（Ｂ）〜（Ｄ））。その結果、光ピックアップ１は、バイアスパワーＰｂの期間の間、サンプルホールド回路９でサンプルホールドした光量検出信号Ｓ２の電圧値が記録時の基準電圧となるようにフィードバックループを形成して半導体レーザー２を電流駆動する。光ピックアップ１は、このバイアスパワーＰｂの期間におけるレーザービームの光量が所定光量となるように、より具体的にはループフィルタ１４の出力電圧がバイアスパワーＰｂを所定値に設定する駆動電流に対応する電圧となるように、ディジタルアナログ変換回路１１に出力する基準電圧設定データＤ２が設定される。
【００１５】
また光ピックアップ１は、消去パワーＰｅの期間の間、スイッチ回路１９のみオン動作するように、制御信号ＷＰ３、ＷＰ２、ＷＰ１が設定される（図８（Ｂ）〜（Ｄ））。その結果、光ピックアップ１は、消去パワーＰｅの期間では、バイアスパワーＰｂの期間の光量に、ディジタルアナログ変換回路２２から出力される光量設定用電圧による光量を加算した光量によりレーザービームを出射する。光ピックアップ１は、この消去パワーＰｅの期間の光量が、所定光量となるように、ディジタルアナログ変換回路２２に出力する光量設定データＤ５が設定される。
【００１６】
また光ピックアップ１は、記録パワーＰｐの期間の間、スイッチ回路１８及び１９のみがオン動作するように、制御信号ＷＰ３、ＷＰ２、ＷＰ１が設定される（図８（Ｂ）〜（Ｄ））。この結果、光ピックアップ１は、記録パワーＰｐの期間では、バイアスパワーＰｂの期間の光量に、ディジタルアナログ変換回路２１から出力される光量設定用電圧による光量及びディジタルアナログ変換回路２２から出力される光量設定用電圧による光量を加算した光量によりレーザービームを出射する。光ピックアップ１は、この記録パワーＰｐの期間の光量が所定光量となるように、ディジタルアナログ変換回路２１に出力する光量設定データＤ４が設定される。
【００１７】
光ピックアップ１では、これらの基準電圧設定データＤ１、Ｄ２、光量設定データＤ３〜Ｄ５の設定により、記録再生時、ループフィルタ１４の出力電圧をバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧値に保持した状態で、このループフィルタ１４の出力電圧に加算回路１５で加算する光量設定電圧をスイッチ回路１７〜１９により切り換えて再生パワーＰｒ、消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐ、バイアスパワーＰｂを所定の光量に設定する。なお図７では、再生パワーＰｒ、消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐ、バイアスパワーＰｂにおける駆動電流Ｉｒ、Ｉｅ、Ｉｐ、Ｉｂと、ループフィルタ１４の出力電圧、ディジタルアナログ変換回路２０〜２２から出力される各光量設定電圧との関係を駆動電流の符号を用いて符号Ｉｂ、Ｉｒ−Ｉｂ、Ｉｐ−Ｉｅ、Ｉｅ−Ｉｂにより示す。
【００１８】
ここで図９（Ａ）において符号Ｌにより電流発光特性を示すように、半導体レーザー２は、しきい値電流Ｉｔｈ以下の駆動電流では出射光量がほぼ０である。また駆動電流がしきい値電流Ｉｔｈ以上となると、駆動電流の増大に比例して直線的に出射光量が増大する。半導体レーザーでは、この直線的に出射光量が増大する領域における駆動電流の変化に対する出射光量の変化が微分効率と定義されており、微分効率が大きい場合程、駆動電流の変化に対して出射光量の変化が大きくなる。
【００１９】
従来の光ディスク装置では、しきい値電流Ｉｔｈがばらつく場合、しきい値電流Ｉｔｈが温度により変化する場合でも、微分効率はほぼ一定と見なすことができ、その結果、再生パワーＰｒ、消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐ、バイアスパワーＰｂと、対応する駆動電流Ｉｒ、Ｉｅ、Ｉｐ、Ｉｂとの間には、次式の関係式が成立する。なおここでｋ０は微分効率とする。
【００２０】
【数１】
2009087414.tif 000003
【００２１】
光ディスク装置は、この（１）式に対応するように、光量設定データＤ３〜Ｄ４がそれぞれ再生パワーＰｒ及びバイアスパワーＰｂの光量差と微分係数ｋ０との乗算値に対応する値、記録パワーＰｐ及び消去パワーＰｅの光量差と微分係数ｋ０との乗算値に対応する値、消去パワーＰｅ及びバイアスパワーＰｂの光量差と微分係数ｋ０との乗算値に対応する値に設定され、これによりループフィルタ１４の出力電圧がバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧となるようにフィードバック制御して、各光量Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｂ、Ｐｐを所定の光量に保持する。
【００２２】
また図９（Ｂ）において矢印により示すように、温度によりしきい値電流Ｉｔｈが変化した場合でも、このしきい値電流Ｉｔｈの変化に対応するように、ループフィルタ１４の出力電圧がフィードバック制御により補正され、各光量Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｂ、Ｐｐを所定の光量に保持する。
【００２３】
また図１０（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、記録時及び再生時、ループフィルタ１４の出力電圧をバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧値に保持することにより、記録、再生の動作の切り換え時におけるこのループフィルタ１４の出力電圧の変動を防止し、記録再生の動作の切り換えを短時間で実行する。
【００２４】
なお光ディスク装置は、工場出荷時、ディジタルアナログ変換回路６、１１、２０〜２２の出力電圧値と半導体レーザー２の出射光量との対応関係が測定され、この測定結果に基づいてマイクロコンピュータ７のメモリに基準電圧設定データＤ１、Ｄ２、光量設定データＤ３〜Ｄ５が設定される。
【００２５】
光ディスク装置における記録時の光量設定に関して、特開平６−３３８０７３号公報には、光ディスクへの試し書きにより、半導体レーザーの微分効率を測定し、測定結果に基づいて記録時の光量を補正する方法が提案されている。
【００２６】
ところで実際上、半導体レーザー２では、温度上昇により微分効率が僅かに低下し、その結果、記録時の光量が僅かではあるが変化する問題がある。
【００２７】
すなわち上述した図７の例による場合、図９（Ｃ）において矢印により示すように、微分効率の低下により、バイアスパワーＰｂが増大し、また記録パワーＰｐが低下することになる。
【００２８】
図１１は、このバイアスパワーＰｂ及び記録パワーＰｐの変化の説明に供するタイムチャートである。再生時（図１１（Ａ））、光ディスク装置は、ループフィルタ１４の出力電圧をバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧値に保持するようにフィードバックループが機能し、ディジタルアナログ変換回路２０から出力される光量設定電圧を加算回路１５でループフィルタ１４の出力電圧に加算することにより、この駆動電流Ｉｂを基準にして再生パワーＰｒが設定される。その結果、微分効率が低下すると、ディジタルアナログ変換回路２０の出力電圧の加算による出射光量の増大分が低下し、その結果、再生パワーＰｒが低下することになる。
【００２９】
また再生から記録に動作を切り換えた直後は（図１１（Ｂ））、この再生時におけるループフィルタ１４の出力電圧をバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧値に保持するようにフィードバックループが機能した状態で、微分効率が低下した分、ディジタルアナログ変換回路２０、２１から出力される光量設定電圧の加算による出射光量の増大分が低下し、その結果、消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐが低下することになる。なおこの時点で、バイアスパワーＰｂは微分効率が低下する前の光量に保持される。
【００３０】
その後、サンプルホールド回路９でサンプルホールドされる消去パワーＰｅによりループフィルタ１４の出力電圧をバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧値に保持するようにフィードバックループが機能することにより（図１１（Ｃ））、消去パワーＰｅは、目的とする光量に設定される。しかしながら消去パワーＰｅが目的とする光量に設定されると、今度はバイアスパワーＰｂが目的とする光量から増加することになる。なお記録パワーＰｐは、目的とする光量から減少したままである。
【００３１】
従来の光ディスク装置において、この微分効率の温度変化による各光量Ｐｐ、Ｐｂの変化にあっては、十分に無視できる範囲のものであるものの、これらの光量Ｐｐ、Ｐｂの変化は、信頼性を阻害する要因の１つであることから、光ディスクの記録密度が上昇すると無視できなくなる。
【００３２】
この問題を解決する１つの方法として、特開平６−３３８０７３号公報に開示の手法を適用することが考えられる。しかしながらこの方法では、光ディスク上に試し書き用の領域を設ける等の制約がある問題がある。
【特許文献１】特開平６−３３８０７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３３】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、半導体レーザーの微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持することができる光ピックアップ、記録再生装置及び記録再生装置の光量制御方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００３４】
上記の課題を解決するため請求項１の発明は、光量をパルス状に立ち上げてレーザービームを照射してマークを作成すると共に、スペース作成用の一定光量により前記レーザービームを照射してスペースを作成することにより、光記録媒体にマーク及びスペースを作成して所望のデータを記録する記録再生装置に適用して、前記レーザービームを出射する発光素子と、前記レーザービームの光量検出信号を出力する受光素子と、前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドしてサンプルホールド結果を出力するサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を出力する誤差アンプと、前記誤差電圧を処理するループフィルタと、前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算回路と、前記加算回路の出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動回路と、前記加算回路で加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える制御回路とを備え、前記制御回路は、前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する。
【００３５】
また請求項４の発明は、光量をパルス状に立ち上げてレーザービームを照射してマークを作成すると共に、スペース作成用の一定光量により前記レーザービームを照射してスペースを作成することにより、光記録媒体にマーク及びスペースを作成して所望のデータを記録する光ピックアップに適用して、前記レーザービームを出射する発光素子と、前記レーザービームの光量検出信号を出力する受光素子と、前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドしてサンプルホールド結果を出力するサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を出力する誤差アンプと、前記誤差電圧を処理するループフィルタと、前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算回路と、前記加算回路の出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動回路と、前記加算回路で加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える制御回路とを備え、前記制御回路は、前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する。
【００３６】
また請求項５の発明は、光量をパルス状に立ち上げてレーザービームを照射してマークを作成すると共に、スペース作成用の一定光量により前記レーザービームを照射してスペースを作成することにより、光記録媒体にマーク及びスペースを作成して所望のデータを記録する記録再生装置の光量制御方法に適用して、発光素子から前記レーザービームを出射するレーザービーム出射ステップと、受光素子により前記レーザービームの光量検出信号を取得する光量検出ステップと、前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドするサンプルホールドのステップと、前記サンプルホールドのステップのサンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を生成する誤差電圧生成ステップと、ループフィルタにより前記誤差電圧を処理するループフィルタの処理ステップと、前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算ステップと、前記加算ステップの出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動ステップと、前記加算ステップで加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える光量切り換えステップと、前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する光量設定電圧の可変ステップとを有するようにする。
【００３７】
請求項１又は請求項４の構成により、前記レーザービームを出射する発光素子と、前記レーザービームの光量検出信号を出力する受光素子と、前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドしてサンプルホールド結果を出力するサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を出力する誤差アンプと、前記誤差電圧を処理するループフィルタと、前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算回路と、前記加算回路の出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動回路と、前記加算回路で加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える制御回路とを備えるようにすれば、フィードバックループにより発光素子のしきい値電流のばらつき、温度変化を補正して、レーザービームの光量を光量設定用電圧に応じた光量に設定することができる。このときループフィルタの出力電圧は、発光素子の微分効率の変化による光量の変化を補正するように変動することから、前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変すれば、発光素子の微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持することができる。
【００３８】
また請求項５の構成により、発光素子から前記レーザービームを出射するレーザービーム出射ステップと、受光素子により前記レーザービームの光量検出信号を取得する光量検出ステップと、前記スペース作成用の一定光量による前記光量検出信号をサンプルホールドするサンプルホールドのステップと、前記サンプルホールドのステップのサンプルホールド結果と記録時の基準電圧との誤差電圧を生成する誤差電圧生成ステップと、ループフィルタにより前記誤差電圧を処理するループフィルタの処理ステップと、前記ループフィルタの出力電圧に光量設定用電圧を加算する加算ステップと、前記加算ステップの出力電圧に応じて、前記発光素子を駆動する駆動ステップと、前記加算ステップで加算する前記光量設定用電圧を切り換えて前記レーザービームの光量を切り換える光量切り換えステップとを有するようにすれば、フィードバックループにより発光素子のしきい値電流のばらつき、温度変化を補正して、レーザービームの光量を光量設定用電圧に応じた光量に設定することができる。このときループフィルタの出力電圧は、発光素子の微分効率の変化による光量の変化を補正するように変動することから、さらに前記ループフィルタの出力電圧の変化を監視して前記光量設定用電圧を可変する光量設定電圧の可変ステップとを有するようにすれば、発光素子の微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持することができる。
【発明の効果】
【００３９】
本発明によれば、発光素子の微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。
【実施例１】
【００４１】
（１）実施例の構成
図２は、本発明の実施例１の光ディスク装置に適用される光ピックアップを示すブロック図である。この光ピックアップ３１において、図６について上述した光ピックアップ１と同一の構成は、対応する符号を付して示し、重複した説明は省略する。
【００４２】
この実施例の光ディスク装置は、撮像結果によるビデオデータ及びオーディオデータ若しくは各種映像機器によるビデオデータ及びオーディオデータをデータ圧縮処理した後、多重化処理し、光ディスクに記録するデータ列を生成する。またこのデータ列に誤り訂正符号等を付加した後、光ディスクへの記録に適した変調方式により変調して記録データＤＷを生成する。光ディスク装置は、この記録データＤＷのデータ転送速度に比して高いデータ転送速度でこの記録データＤＷを所定データ量単位で間欠的に光ディスクに記録する。すなわち光ディスク装置は、大容量のメモリを介してこの記録データＤＷをこの所定データ量単位で間欠的に光ピックアップ３１に入力する。光ピックアップ３１は、この間欠的に入力される記録データＤＷを光ディスクに記録する。なお以下において、この間欠的に記録する所定データ量を記録単位と呼ぶ。
【００４３】
光ピックアップ３１は、マイクロコンピュータ７に代えてアナログディジタル変換回路（ＡＤ）３２、マイクロコンピュータ３７が設けられた点を除いて、図６の光ピックアップ１と同一に構成される。従って光ピックアップ３１は、ループフィルタ１４の出力電圧値がバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧値となるようにフィードバックループが機能した状態で、加算回路１５で加算する電圧の切り換えにより、記録時及び再生時の各光量Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｂ、Ｐｐを所定値に保持する。
【００４４】
ここでアナログディジタル変換回路３２は、図３に示すように、マイクロコンピュータ３７から出力される制御信号ＡＤＴＲＧにより、記録単位毎に、記録開始直前の時点ｔ１と、記録を開始した後、ループフィルタ１４の出力電圧が安定した時点ｔ２とでループフィルタ１４の出力電圧をアナログディジタル変換処理する（図３（Ａ）及び（Ｂ））。アナログディジタル変換回路３２は、このアナログディジタル変換結果をマイクロコンピュータ３７に通知する。なおこの図３は、レーザービームの光量が消去パワーＰｅに連続して保持されている例である。
【００４５】
ここで図１０について上述したように、微分効率が温度変化していない場合、再生から記録に動作を切り換えても、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４は、バイアスパワーＰｂの駆動電流値に対応する電圧値に保持されていることになる（図３（Ｃ１）及び（Ｄ１））。しかしながら微分効率が温度変化している場合には、図１１（Ｂ）及び（Ｃ）について上述したように、再生から記録への動作の切り換えにより、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４は、微分効率の変化により消去パワーＰｅが変化した分だけ、フィードバックループの機能により変化する。その結果、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４は、微分効率が減少すると、再生時から上昇することになる（図３（Ｃ２）及び（Ｄ２））。また微分効率が増大すると、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４は、再生時から減少することになる（図３（Ｃ３）及び（Ｄ３））。
【００４６】
マイクロコンピュータ３７は、上位のコントローラにより、記録単位で順次入力される記録データＤＷを光ディスクに記録するように、また光ディスクに記録されたデータを再生するように各部の動作を制御する。この各部の制御において、マイクロコンピュータ７は、図１の処理手順を実行し、微分効率の変化による記録時の各光量Ｐｂ、Ｐｐの変化を補正する。
【００４７】
ここでマイクロコンピュータ３７は、光ディスクへの記録を開始すると、ステップＳＰ１からステップＳＰ２に移り、１記録単位だけ光ディスクに記録データＤＷを記録する。またこのときアナログディジタル変換回路３２により時点ｔ１及びｔ２におけるループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４を検出する。マイクロコンピュータ３７は、この時点ｔ１及びｔ２で検出される出力電圧Ｖ１４を減算して電圧変化量ΔＶを計算する。
【００４８】
続いてマイクロコンピュータ３７は、ステップＳＰ３に移り、上位のコントローラから記録の終了が通知されたか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ステップＳＰ３からステップＳＰ４に移ってこの処理手順を終了する。これに対してステップＳＰ３で否定結果が得られると、ステップＳＰ３からステップＳＰ５に移り、電圧変化量ΔＶが所定電圧以下か否か判断する。
【００４９】
ここで肯定結果が得られると、マイクロコンピュータ３７は、ステップＳＰ２に戻り、続く１記録単位を光ディスクに記録する。これに対してステップＳＰ５で否定結果が得られると、ステップＳＰ５からステップＳＰ６に移る。ここで事前に設定された微小電流値ΔＩｅ及びＩｐの分だけ、バイアスパワーＰｂ及び記録パワーＰｐに係る光量設定データＤ４、Ｄ５の値を補正し、ステップＳＰ２に戻る。
【００５０】
（２）実施例の動作
以上の構成において、撮像結果によるビデオデータ及びオーディオデータ、又は各種の映像機器によるビデオデータ及びオーディオデータは、データ圧縮処理された後、多重化処理されて光ディスクに記録するデータ列に変換され、光ディスクに形成するマーク及びスペースに対応する記録データＤＷに変換される。光ディスク装置では、この記録データＤＷが所定データ量による記録単位で間欠的に光ピックアップ３１に入力される。また光ピックアップ３１においては、この記録データＤＷに応じて光ディスクに照射するレーザービームの光量が切り換えられ、その結果、光ディスクにビデオデータ及びオーディオデータが記録される。
【００５１】
すなわち再生時、光ディスク装置では（図２）、再生パワーＰｒにより光ディスクにレーザービームが照射される。また記録時、スペースを作成する場合には、再生パワーＰｒより大きな消去パワーＰｅによりレーザービームが照射される。またマークを作成する場合には、再生パワーＰｒより小さなバイアスパワーＰｂから短い時間間隔でパルス状にレーザービームの光量を記録パワーＰｐに立ち上げてレーザービームが照射される。光ディスク装置では、光ピックアップ３１により、これらの光量Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｂ、Ｐｐによるレーザービームの照射が記録データＤＷに応じて切り換えられて記録データＤＷに応じたマーク及びスペースが光ディスクに作成され、ビデオデータ及びオーディオデータが光ディスクに記録される。
【００５２】
また光ピックアップ３１（図２）では、このレーザービームが半導体レーザー２から出射され、このレーザービームの一部がフォトディテクタ４で受光されて光量検出信号Ｓ１が得られる。またこの光量検出信号Ｓ１が電流電圧変換回路５により電流電圧変換処理されて光量検出信号Ｓ２が得られる。光ピックアップ３１では、この光量検出信号Ｓ２を用いたフィードバック制御により、半導体レーザー２のしきい値電圧のばらつき、温度変化を補正してレーザービームの光量が再生パワーＰｒ、消去パワーＰｅ、バイアスパワーＰｂ、記録パワーＰｐに設定される。
【００５３】
すなわち光ピックアップ３１では、再生時、光量検出信号Ｓ２の電圧値とディジタルアナログ変換回路６から出力される基準電圧との誤差電圧が誤差アンプ８で求められ、この誤差電圧が選択回路１３を介してループフィルタ１４に入力される。またこのループフィルタ１４の出力電圧にディジタルアナログ変換回路２０から出力される光量設定電圧が加算回路１５で加算され、この加算回路１５の出力電圧に比例した駆動電流によりレーザー駆動回路３で半導体レーザー２が駆動される。その結果、光ピックアップ３１では、再生時、半導体レーザー２、フォトディテクタ４、電流電圧変換回路５、誤差アンプ８、選択回路１３、ループフィルタ１４、加算回路１５、レーザー駆動回路３によりフィードバックループが作成され、ディジタルアナログ変換回路６、２０に出力する基準電圧設定データＤ１及び光量設定データＤ２に応じた光量によりレーザービームを光ディスクに照射する。
【００５４】
また記録時、光ピックアップ３１では、消去パワーＰｅの光量検出信号Ｓ２がサンプルホールド回路９でサンプルホールドされ、またこのサンプルホールド回路９の出力電圧とディジタルアナログ変換回路１１から出力される基準電圧との誤差電圧が誤差アンプ１２で生成される。光ピックアップ３１では、記録時、選択回路１３の接点がこの誤差アンプ１２側に切り換えられる。その結果、記録時、光ピックアップ３１は、半導体レーザー２、フォトディテクタ４、電流電圧変換回路５、サンプルホールド回路９、誤差アンプ１２、選択回路１３、ループフィルタ１４、加算回路１５、レーザー駆動回路３によりフィードバックループが作成される。
【００５５】
光ピックアップ３１では、バイアスパワーＰｂによりレーザービームを照射する場合、スイッチ回路１７〜１９が全てオフ状態に設定され、ループフィルタ１４の出力電圧に応じた駆動電流で半導体レーザー２が駆動される。光ピックアップ３１では、ループフィルタ１４の出力電圧が目的とするバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧となるように、ディジタルアナログ変換回路１１に入力される基準電圧設定データＤ２が事前に設定され、その結果、ループフィルタ１４の出力電圧に応じた駆動電流で半導体レーザー２を駆動してレーザービームの光量が目的とするバイアスパワーＰｂに設定される。その結果、記録時、フィードバック制御によりしきい値電圧のばらつき、温度変化を補正してレーザービームの光量を目的とするバイアスパワーＰｂに保持することが可能となる。
【００５６】
また再生時においても、ループフィルタ１４の出力電圧が目的とするバイアスパワーＰｂの駆動電流Ｉｂに対応する電圧となるように、ディジタルアナログ変換回路６に出力する基準電圧設定データＤ１が設定され、その結果、記録、再生の動作の切り換えによるフィードバックループの変動を防止し、短時間で記録再生の動作の切り換えを実行できるように設定される。
【００５７】
また再生時、加算回路１５でループフィルタ１４の出力電圧に加算するディジタルアナログ変換回路２０による光量設定電圧が、目的とする再生パワーＰｒとバイアスパワーＰｂとの差分の駆動電流に対応する電圧となるように、ディジタルアナログ変換回路２０に出力する光量設定データＤ３が事前に設定され、その結果、再生時、しきい値電圧のばらつき、温度変化を補正してレーザービームの光量を目的とする再生パワーＰｒに保持することができる。
【００５８】
これに対して記録時、消去パワーＰｅによりレーザービームを照射する場合、スイッチ回路１９のみがオン状態に設定され、ディジタルアナログ変換回路２２から出力される光量設定電圧が加算回路１５によりループフィルタ１４の出力電圧に加算される。従ってこの場合、ディジタルアナログ変換回路２２から出力される光量設定電圧に対応する駆動電流の分だけ、バイアスパワーＰｂによるレーザービーム照射時に比して大きな駆動電流により半導体レーザー２を駆動する。
【００５９】
また記録時、記録パワーＰｐによりレーザービームを照射する場合、スイッチ回路１８及び１９がオン状態に設定され、ディジタルアナログ変換回路２１及び２２から出力される光量設定電圧が加算回路１５によりループフィルタ１４の出力電圧に加算される。従ってこの場合、ディジタルアナログ変換回路２１及び２２から出力されるこれら光量設定電圧に対応する駆動電流の分だけ、バイアスパワーＰｂによるレーザービーム照射時に比して大きな駆動電流により半導体レーザー２を駆動する。
【００６０】
光ピックアップ３１では、この駆動電流の増大分が、それぞれ目的とする消去パワーＰｅとバイアスパワーＰｂとの光量差分、目的とする記録パワーＰｐとバイアスパワーＰｂとの光量差分の駆動電流となるように、ディジタルアナログ変換回路２１、２２に出力する光量設定データＤ４及びＤ５が事前に設定される。その結果、光ピックアップ３１では、消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐによりレーザービームを照射する場合、バイアスパワーＰｂを基準にしたフィードバック制御により消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐが設定され、この場合も、しきい値電圧のばらつき、温度変化を補正してレーザービームの光量を目的とする消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐに保持することができる。
【００６１】
しかしながらこのように単に加算回路１５で加算する光量設定電圧をスイッチ回路１７〜１９で切り換えて、バイアスパワーＰｂの駆動電流を基準にしたフィードバック制御により各光量Ｐｒ、Ｐｅ、Ｐｂ、Ｐｐを設定する場合、しきい値電圧のばらつき、温度変化については補正できるものの、微分効率が変化すると、光量Ｐｒ、Ｐｂ、Ｐｐが変化することになる。その結果、光ディスクに高密度にデータを記録する場合には、ジッタの増大等により正しくデータを記録再生できなくなる。
【００６２】
そこでこの光ピックアップ３１では（図３）、記録単位毎に、記録開始直前の時点ｔ１と、記録を開始した後のループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４が安定している時点ｔ２とでループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４がアナログディジタル変換回路３２によりアナログディジタル変換処理されてマイクロコンピュータ３７に入力される。マイクロコンピュータ３７では、この時点ｔ１と時点ｔ２とにおけるループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４により、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４の変化を監視し、微分効率が温度変化したか否か判定する。
【００６３】
すなわち光ピックアップ３１では、サンプルホールド回路９でサンプルホールドされた消去パワーＰｅの光量検出信号Ｓ２からディジタルアナログ変換回路１１の出力信号を減算してループフィルタ１４に出力し、バイアスパワーＰｂの照射時、このループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４により半導体レーザー２を電流駆動してフィードバック制御していることから、半導体レーザー２の微分効率が温度変化すると、この温度変化による微分効率の変化を補うようにループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４が変化することになる（図３）。従ってこのループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４の変化を監視すれば、微分効率の変化を監視することができる。
【００６４】
光ピックアップ３１では、この原理に基づいて（図１）、記録単位毎に、時点ｔ１及びｔ２で検出した出力電圧Ｖ１４の電位差ΔＶを判定し、この電位差ΔＶが所定電圧以上の場合には、消去パワーＰｅ及び記録パワーＰｐの光量設定データＤ３、Ｄ４が微小量だけ補正される。その結果、光ピックアップ３１では、微分効率の変化による出射光量の変化が防止され、従来に比して格段的に精度の高いレーザービームの光量制御が可能となり、光ディスク装置においては、従来に比して信頼性を向上することができる。
【００６５】
（３）実施例の効果
以上の構成によれば、フィードバックループによりレーザービームの光量を制御するようにして、このフィードバックループに設けられたループフィルタの出力電圧の変化を監視してレーザービームの出射光量を補正することにより、発光素子の微分効率が変化した場合でも記録時の各光量を所望の光量に保持することができる。
【００６６】
また記録時と再生時とでループフィルタの出力電圧が変化しないように光量設定データ等を設定して、記録を開始する直前のループフィルタの出力電圧と、記録を開始した後のループフィルタの出力電圧との差分電圧によるこれら出力電圧の比較により、ループフィルタの出力電圧の変化を監視することにより、確実に微分効率の変化を検出して記録時の各光量を所望の光量に保持することができる。
【００６７】
また記録単位毎に、ループフィルタの出力電圧の変化を監視してレーザービームの出射光量を補正することにより、記録の繰り返しによる温度変化に対応して確実に微分効率の変化を検出して記録時の各光量を所望の光量に保持することができる。
【実施例２】
【００６８】
図４は、図２との対比により本発明の実施例２の光ディスク装置に適用される光ピックアップを示すブロック図である。また図５は、図３との対比によりこの実施例の光ピックアップの動作の説明に供するタイムチャートである。この実施例の光ピックアップ４１では、パルス発生回路４０によりアナログディジタル変換回路３２の制御信号ＡＤＴＲＧを生成する。またこの制御信号ＡＤＴＲＧを基準にしてマイクロコンピュータ４７でアナログディジタル変換回路３２のアナログディジタル変換結果を取得する。
【００６９】
ここで図５に示すように、この実施例では、記録単位毎に、記録開始の直前の時点ｔ１に代えて（図３）、記録を開始した直後の、微分効率が変化している場合にループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４が変動している時点ｔ１で、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４を取得して過度応答時の電圧変動を検出する点を除いて、実施例１の光ピックアップ３１と同一に構成される。
【００７０】
この実施例によれば、記録を開始する直前に代えて、記録を開始した直後にループフィルタの出力電圧を測定して、ループフィルタの出力電圧の変化を監視するようにしても、実施例１と同様の効果を得ることができる。
【実施例３】
【００７１】
この実施例においては、実施例１及び２の構成における記録単位毎の微小量の光量設定データＤ３、Ｄ４の補正に代えて、変化した微分効率を計算して光量設定データＤ３、Ｄ４を設定する点を除いて、実施例１又は２の光ディスク装置と同一に構成される。
【００７２】
ここで光ピックアップ４１では、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４がバイアスパワーＰｂの駆動電流に対応する電圧となるようにフィードバック制御し、それぞれ加算回路１５により光量設定電圧を加算して再生パワーＰｒ及び消去パワーＰｅを設定していることから、微分効率の変化によるループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４の変化量ΔＶは、次式により表すことができる。なおここでＶ２０及びＶ２２は、ディジタルアナログ変換回路２０及び２２から出力される光量設定電圧値であり、ｋ０及びｋ１は、それぞれ変化の前後の微分効率である。
【００７３】
【数２】
2009087414.tif 000004
【００７４】
この（２）式を解けば変化した微分効率ｋ１を求めることができる。この実施例においてマイクロコンピュータ４７は、この（２）式の関係式を用いて変化した微分効率ｋ１を計算により求め、この求めた微分効率ｋ１により光量設定データＤ３、Ｄ４を補正して消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐを補正する。なおこの場合に、（２）式の関係式を利用して直接、ループフィルタ１４の出力電圧Ｖ１４の変化量ΔＶから消去パワーＰｅ、記録パワーＰｐを求めるようにしてもよい。
【００７５】
この実施例のように、計算式により光量設定データを補正して微分効率の変化による光量の変化を補正するようにしても、実施例１と同様の効果を得ることができる。
【実施例４】
【００７６】
なお上述の実施例１においては、記録時と再生時とでループフィルタの出力電圧が変化しないように基準電圧設定データ等を設定して、記録を開始する直前の時点ｔ１のループフィルタの出力電圧と記録を開始した後の時点ｔ２のループフィルタの出力電圧との比較によりループフィルタの出力電圧の変化を監視する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、記録を開始する直前の時点ｔ１のループフィルタの出力電圧に代えて、例えば直前の記録単位の記録時における時点ｔ２のループフィルタの出力電圧との比較により、ループフィルタの出力電圧の変化を監視するようにしてもよい。
【００７７】
また上述の各実施例においては、記録単位でループフィルタの出力電圧の変化を監視する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば記録を開始した後の一定の時間間隔でループフィルタの出力電圧の変化を監視する場合等、必要に応じて監視の時点は種々に設定することができる。
【００７８】
また上述の実施例においては、ループフィルタの出力電圧がバイアスパワーの駆動電流に対応する電圧となるように設定してレーザービームの光量を制御する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばバイアスパワーの駆動電流に対応する電圧に代えて消去パワーの駆動電流に対応する電圧にループフィルタの出力電圧を設定してレーザービームの光量を制御する場合等、ループフィルタの出力電圧については、種々の電圧に設定する場合に広く適用することができる。
【００７９】
また上述の各実施例においては、記録時と再生時とでループフィルタの出力電圧が変化しないように光量設定データ等を設定して、ループフィルタの出力電圧の変化を監視する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、記録時と再生時とでループフィルタの出力電圧が変化するように設定する場合にあっても、広く適用することができる。なおこの場合、ループフィルタの出力電圧の変化は、例えば直前の記録単位の記録時における記録を開始した後のループフィルタの出力電圧との比較等により監視することができる。
【００８０】
また上述の各実施例においては、再生用及び記録用に誤差アンプをそれぞれ設け、記録再生でループフィルタの入力を切り換える場合について述べたが、本発明はこれに限らず、記録及び再生で誤差アンプを兼用するようにしてもよい。なおこの場合、誤差アンプの入力を記録再生で切り換えることにより記録及び再生で誤差アンプを兼用することができる。またこれとは逆に、記録時と再生時とで、専用のループアンプ等を設ける場合にも広く適用することができる。
【００８１】
また上述の実施例においては、フロントモニタ方式によりレーザービームの光量をモニタする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、リアモニタ方式によりレーザービームの光量をモニタしてもよい。
【００８２】
また上述の各実施例においては、相変化型の光ディスクに所望のデータを記録する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、パルス記録方式により所望のデータを記録する場合に広く適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明は、例えば相変化型光ディスクの記録再生装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明の実施例１の光ディスク装置に適用される光ピックアップのマイクロコンピュータの処理手順を示すフローチャートである。
【図２】本発明の実施例１の光ディスク装置に適用される光ピックアップを示すブロック図である。
【図３】図２の光ピックアップの動作の説明に供するタイムチャートである。
【図４】本発明の実施例２の光ディスク装置に適用される光ピックアップを示すブロック図である。
【図５】図４の光ピックアップの動作の説明に供するタイムチャートである。
【図６】書き換え可能な相変化型光ディスクにおけるレーザービームの光量を具体的に示すタイムチャートである。
【図７】図６の光量制御に係る光ピックアップの構成を示すブロック図である。
【図８】図７の光ピックアップのマイクロコンピュータの動作の説明に供するタイムチャートである。
【図９】図７の光ピックアップの動作の説明に供するタイムチャートである。
【図１０】微分効率が変化しない場合の動作の説明に供するタイムチャートである。
【図１１】微分効率が変化する場合の動作の説明に供するタイムチャートである。
【符号の説明】
【００８５】
１、３１、４１……光ピックアップ、２……半導体レーザー、３……レーザー駆動回路、４……フォトディテクタ、６、１１、２０、２１、２２……ディジタルアナログ変換回路、７、３７、４７……マイクロコンピュータ、８、１２……誤差アンプ、１０、４０……パルス発生回路、１３……選択回路、１４……ループフィルタ、１７〜１９……スイッチ回路、３２……アナログディジタル変換回路
【図１】
2009087414.tif 000005
【図２】
2009087414.tif 000006
【図３】
2009087414.tif 000007
【図４】
2009087414.tif 000008
【図５】
2009087414.tif 000009
【図６】
2009087414.tif 000010
【図７】
2009087414.tif 000011
【図８】
2009087414.tif 000012
【図９】
2009087414.tif 000013
【図１０】
2009087414.tif 000014
【図１１】
2009087414.tif 000015