(57)【要約】 【課題】電子機器から放出される電磁波を介して漏洩する情報量の指標となるチャネル容量を計測する測定装置等を提供する。【解決手段】測定装置１０１の測定部１０２は、所定の周波数範囲について、測定対象近傍の電磁波の周波数fにおける強度P(f)を測定し、分割部１０３は、周波数範囲を、強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、略増加する区間g[1]〜f[1]、当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、略減少する区間f[2]〜g[2]略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]の５つに分割し、雑音推定部１０４は、下側一定区間と上側一定区間の平均強度Nを雑音強度と推定し、容量計算部１０５は、当該放出区間についてP(f)から、Nを除去した強度S(f)を、信号強度と推定し、雑音強度Nと、信号強度S(f)と、から、当該測定対象のチャネル容量C = ∫f[1]f[2] log2(1 + S(f)/N) dfを計算する。【選択図】図１
2009128025.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の周波数の範囲について、測定対象の電子機器が配置された空間を伝搬する電磁波の周波数fにおける強度P(f)を測定する測定部、
前記測定された電磁波の強度から、当該所定の周波数の範囲を、
（ａ）強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、
（ｂ）強度が略増加する増加区間g[1]〜f[1]
（ｃ）当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、
（ｄ）強度が略減少する減少区間f[2]〜g[2]
（ｅ）強度が略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]
の５つに分割する分割部、
前記測定された電磁波の強度のうち、当該下側一定区間と、当該上側一定区間と、の平均強度Nを雑音強度と推定する雑音推定部、
前記測定された電磁波の強度のうち、当該放出区間のそれぞれの周波数fについて前記測定された電磁波の強度P(f)から、前記推定された雑音レベルNを除去した強度S(f)を、当該周波数fにおける信号強度と推定し、前記推定された雑音強度Nと、前記推定された信号強度S(f)と、から、当該測定対象のチャネル容量
C = ∫f[1]f[2] log2(1 + S(f)/N) df
を計算する容量計算部
を備えることを特徴とする測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の測定装置であって、
前記測定部は、電磁波の強度をdB単位で、周波数サンプリング幅Δfで測定し、
前記容量計算部は、当該チャネル容量を、
Σi=1(f[2]-f[1])/Δf log2(1 + 10(M〔f[1]+(i-1)Δf〕- N)/20) Δf
と計算する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の測定装置であって、
前記分割部は、前記測定された電磁波の強度を４本の線分からなる折線により、最小自乗推定して、当該折線の第１の頂点からg[1]を、第１の頂点と第２の頂点の中点からf[1]を、第３の頂点と第４の頂点の中点からf[2]を、第４の頂点からg[2]を、をそれぞれ同定して、５つの区間に分割する
ことを特徴とする測定装置。
【請求項４】
測定部、分割部、雑音推定部、容量計算部を有する測定装置が実行する測定方法であって、
前記測定部が、所定の周波数の範囲について、測定対象の電子機器が配置された空間を伝搬する電磁波の周波数fにおける強度P(f)を測定する測定工程、
前記分割部が、前記測定された電磁波の強度から、当該所定の周波数の範囲を、
（ａ）強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、
（ｂ）強度が略増加する増加区間g[1]〜f[1]
（ｃ）当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、
（ｄ）強度が略減少する減少区間f[2]〜g[2]
（ｅ）強度が略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]
の５つに分割する分割工程、
前記雑音推定部が、前記測定された電磁波の強度のうち、当該下側一定区間と、当該上側一定区間と、の平均強度Nを雑音強度と推定する雑音推定工程、
前記容量計算部が、前記測定された電磁波の強度のうち、当該放出区間のそれぞれの周波数fについて前記測定された電磁波の強度P(f)から、前記推定された雑音レベルNを除去した強度S(f)を、当該周波数fにおける信号強度と推定し、前記推定された雑音強度Nと、前記推定された信号強度S(f)と、から、当該測定対象のチャネル容量
C = ∫f[1]f[2] log2(1 + S(f)/N)df
を計算する容量計算工程
を備えることを特徴とする測定方法。
【請求項５】
請求項４に記載の測定方法であって、
前記測定工程では、電磁波の強度をdB単位で、周波数サンプリング幅Δfで測定し、
前記容量計算工程では、当該チャネル容量を、
Σi=1(f[2]-f[1])/Δf log2(1 + 10(M〔f[1]+(i-1)Δf〕- N)/20)Δf
と計算する
ことを特徴とする測定方法。
【請求項６】
請求項４または５に記載の測定方法であって、
前記分割工程では、前記測定された電磁波の強度を４本の線分からなる折線により、最小自乗推定して、当該折線の第１の頂点からg[1]を、第１の頂点と第２の頂点の中点からf[1]を、第３の頂点と第４の頂点の中点からf[2]を、第４の頂点からg[2]を、をそれぞれ同定して、５つの区間に分割する
ことを特徴とする測定方法。
【請求項７】
コンピュータを、請求項１から３のいずれか１項に記載の測定装置の各部として機能させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器から放出される電磁波を介して漏洩する情報量の指標となるチャネル容量を計測するのに好適な測定装置、測定方法、ならびに、これらをコンピュータにより実現するためのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、パーソナルコンピュータが画面表示に用いるディスプレイ装置等の電子機器が発する電磁波を取得して、情報を抽出し、画面表示されている情報等を盗み出す不正行為に対応するための対策が種々提案されている。
【０００３】
情報漏洩を防止するためのハードウェア的な対策としては、漏れ電磁波を低減するために、各種のシールドを設ける手法が考えられるが、ソフトウェア的な技術も存在する。そのような技術は、たとえば以下の文献に開示されている。
【非特許文献１】H.Tanaka，O.Takizawa and A.Yamamura, Evaluation and Improvement of the Tempest Fonts, Information Security Applications, 5th International Workshop (WISA 2004), Lecture Notes in Computer Science, vol.3325, pp.457--469, Sringer-Verlag, ２００４年８月
【０００４】
ここで、[非特許文献１]に開示の技術では、表示装置で用いられる文字の形状に画像処理を施し、漏れ電磁波からの文字画像の視認性を低下させることにより、情報漏洩を防止する技術が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、このような情報漏洩を防止する一般的な技術を開発する観点からは、ある電子機器から、どの程度の情報が抽出可能であるか、を客観的に評価する指標が必要となる。したがって、このような指標を測定するための技術が強く求められている。
【０００６】
本発明は、上記のような課題を解決するためのもので、電子機器から放出される電磁波を介して漏洩する情報量の指標となるチャネル容量を計測するのに好適な測定装置、測定方法、ならびに、これらをコンピュータにより実現するためのプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するため、本発明の原理にしたがい、以下の発明を開示する。
【０００８】
本発明の第１の観点に係る測定装置は、測定部、分割部、雑音推定部、容量計算部を備え、以下のように構成する。
【０００９】
すなわち、測定部は、所定の周波数の範囲について、測定対象の電子機器が配置された空間を伝搬する電磁波の周波数fにおける強度P(f)を測定する。
【００１０】
一方、分割部は、測定された電磁波の強度から、当該所定の周波数の範囲を、
（ａ）強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、
（ｂ）強度が略増加する増加区間g[1]〜f[1]
（ｃ）当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、
（ｄ）強度が略減少する減少区間f[2]〜g[2]
（ｅ）強度が略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]
の５つに分割する。
【００１１】
さらに、雑音推定部は、測定された電磁波の強度のうち、当該下側一定区間と、当該上側一定区間と、の平均強度Nを雑音強度と推定する。
【００１２】
そして、容量計算部は、測定された電磁波の強度のうち、当該放出区間のそれぞれの周波数fについて前記測定された電磁波の強度P(f)から、前記推定された雑音レベルNを除去した強度S(f)を、当該周波数fにおける信号強度と推定し、前記推定された雑音強度Nと、前記推定された信号強度S(f)と、から、当該測定対象のチャネル容量
C = ∫f[1]f[2] log2(1 + S(f)/N) df
を計算する。
【００１３】
また、本発明の測定装置において、測定部は、電磁波の強度をdB単位で、周波数サンプリング幅Δfで測定し、容量計算部は、当該チャネル容量を、
Σi=1(f[2]-f[1])/Δf log2(1 + 10(M〔f[1]+(i-1)Δf〕- N)/20) Δf
と計算するように構成することができる。
【００１４】
また、本発明の測定装置において、分割部は、測定された電磁波の強度を４本の線分からなる折線により、最小自乗推定して、当該折線の第１の頂点からg[1]を、第１の頂点と第２の頂点の中点からf[1]を、第３の頂点と第４の頂点の中点からf[2]を、第４の頂点からg[2]を、をそれぞれ同定して、５つの区間に分割するように構成することができる。
【００１５】
本発明のその他の観点に係る測定方法は、測定部、分割部、雑音推定部、容量計算部を有する測定装置が実行し、測定工程、分割工程、雑音推定工程、容量計算工程を備え、以下のように構成する。
【００１６】
すなわち、測定工程では、測定部が、所定の周波数の範囲について、測定対象の電子機器が配置された空間を伝搬する電磁波の周波数fにおける強度P(f)を測定する。
【００１７】
一方、分割工程では、分割部が、測定された電磁波の強度から、当該所定の周波数の範囲を、
（ａ）強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、
（ｂ）強度が略増加する増加区間g[1]〜f[1]
（ｃ）当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、
（ｄ）強度が略減少する減少区間f[2]〜g[2]
（ｅ）強度が略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]
の５つに分割する。
【００１８】
さらに、雑音推定工程では、雑音推定部が、測定された電磁波の強度のうち、当該下側一定区間と、当該上側一定区間と、の平均強度Nを雑音強度と推定する。
【００１９】
そして、容量計算工程では、容量計算部が、測定された電磁波の強度のうち、当該放出区間のそれぞれの周波数fについて前記測定された電磁波の強度P(f)から、前記推定された雑音レベルNを除去した強度S(f)を、当該周波数fにおける信号強度と推定し、前記推定された雑音強度Nと、前記推定された信号強度S(f)と、から、当該測定対象のチャネル容量
C = ∫f[1]f[2] log2(1 + S(f)/N)df
を計算する。
【００２０】
また、本発明の測定方法において、測定工程では、電磁波の強度をdB単位で、周波数サンプリング幅Δfで測定し、容量計算工程では、当該チャネル容量を、
Σi=1(f[2]-f[1])/Δf log2(1 + 10(M〔f[1]+(i-1)Δf〕- N)/20)Δf
と計算するように構成することができる。
【００２１】
また、本発明の測定方法において、分割工程では、測定された電磁波の強度を４本の線分からなる折線により、最小自乗推定して、当該折線の第１の頂点からg[1]を、第１の頂点と第２の頂点の中点からf[1]を、第３の頂点と第４の頂点の中点からf[2]を、第４の頂点からg[2]を、をそれぞれ同定して、５つの区間に分割するように構成することができる。
【００２２】
本発明のその他の観点に係るプログラムは、コンピュータを、上記の測定装置の各部として機能させ、コンピュータに、上記の測定方法の各工程を実行させるように構成する。
【００２３】
当該プログラムは、コンピュータ読取可能な情報記録媒体（コンパクトディスク、フレキシブルディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、ディジタルビデオディスク、磁気テープ、または、半導体メモリを含む。）に記録することができる。
【００２４】
そして、上記の情報記録媒体は、コンピュータとは独立して配布、販売することができるほか、インターネット等のコンピュータ通信網を介して上記のプログラムそのものを配布、販売することができる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、電子機器から放出される電磁波を介して漏洩する情報量の指標となるチャネル容量を計測するのに好適な測定装置、測定方法、ならびに、これらをコンピュータにより実現するためのプログラムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下に本発明の実施形態を説明する。なお、以下にあげる実施形態は、説明のためのものであり、本発明の範囲を制限するものではない。したがって、当業者であれば、これらの各要素または全要素を、これと均等なものに置換した実施形態を採用することが可能であるが、これらの実施形態も、本発明の範囲に含まれる。
【実施例１】
【００２７】
図１は、本発明の一つの実施形態に係る測定装置の概要構成を示す模式図である。図２は、当該測定装置にて実行される測定処理の制御の流れを示すフローチャートである。以下、これらの図を参照して説明する。
【００２８】
本実施形態に係る測定装置１０１は、測定部１０２、分割部１０３、雑音推定部１０４、容量計算部１０５を備える。
【００２９】
測定部１０２は、所望の周波数について電磁波の強度を測定することができるプローブないしセンサである。すなわち、設定された周波数の電磁波をアンテナでキャッチして、これを整流ならびに平滑化することによって電磁波の強度を測定する。また、後述する各種の計算がコンピュータ上で可能なように、Ａ／Ｄ変換を行って、ディジタルデータとするのが典型的である。また、測定部１０２に周波数を指定して測定を行わせる等の制御は、測定部１０２が接続されたコンピュータが行う。
【００３０】
そこで、測定処理が開始されると、測定部１０２は、所定の周波数の範囲（後述する周波数g[0]〜周波数g[3]の範囲）のそれぞれについて、周波数サンプリング幅Δfで、測定対象の電子機器が配置された空間を伝搬する電磁波の周波数fにおける強度P(f)を測定する（ステップＳ２０１）。この強度P(f)は、dB単位で測定するのが典型的である。測定された強度は、ＲＡＭやハードディスク等、コンピュータが有する記憶媒体に、たとえば配列の形式で記録される。
【００３１】
図３は、ある電子機器について測定部１０２が測定した結果を示すグラフである。以下、本図を参照して説明する。横軸は周波数[MHz]、縦軸は強度[dBm]であり、それぞれ、310MHz〜410Hz／１目盛は10MHz、0dBm〜100dBm／１目盛は10dBmである。
【００３２】
本図に示す例では、周波数帯310MHz〜410MHzについて測定が行われている。310MHz〜340MHzの範囲では、強度は略一定であるが、その後強度は上昇し、360MHz付近でピークとなり、その後強度は下降する。そして、375MHz〜410MHzの範囲では、強度は略一定となっている。
【００３３】
このような分布から、発明者らは、ピーク付近の所定の区間が、当該電子機器の放出する電磁波のバンド幅である、と推定することとした。これを求めるのが、分割部１０３である。
【００３４】
所定の周波数範囲についての電磁波の強度の測定が終わったら、分割部１０３は、測定された電磁波の強度から、当該所定の周波数の範囲を、
（ａ）強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、
（ｂ）強度が略増加する増加区間g[1]〜f[1]
（ｃ）当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、
（ｄ）強度が略減少する減少区間f[2]〜g[2]
（ｅ）強度が略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]
の５つに分割する（ステップＳ２０２）。
【００３５】
なお、[・]は、添字を意味する符号であるが、コンピュータ上でこれらの計算を行う場合には、配列の添字として利用することも可能であるし、それぞれを別個独立の変数領域に確保して計算を行うこととしても良い。
【００３６】
上記のように、測定対象の周波数範囲は、g[0]〜g[3]である。これは、測定部１０２の性能もしくは測定装置１０１を利用するユーザによって定められる。
【００３７】
一方、分割点の周波数軸方向の座標値を表すg[1]，f[1]，f[2]，g[2]は、本実施形態では、以下のような処理によって近似的に同定される。
【００３８】
すなわち、本実施形態では、上記５区間への分割を行うために、４本の折線によって強度グラフを近似する手法を採用する。
【００３９】
図４は、このような折線近似の様子を示す模式図であり、図５は、折線近似の処理の流れを示すフローチャートである。以下、本図を参照して説明する。
【００４０】
上記のように、本実施形態では、周波数帯g[0]〜g[3]について、サンプリング幅Δf刻みで、電磁波の強度p = P(f)が測定されている。
【００４１】
そこで、４つの折線の頂点の周波数軸の座標x[0]，x[1]，x[2]，x[3]，x[4]を、以下のように初期化する（ステップＳ５０１）。
x[0] ← g[0]；
x[1] ← (3・g[0]+g[3])/4；
x[2] ← (g[0]+g[2])/2；
x[3] ← (g[0]+3・g[3])/4；
x[4] ← g[3]；
【００４２】
すなわち、４点の座標値を、周波数軸上で等間隔に初期化する（図４（ａ）初期状態）。
【００４３】
ついで、４つの区間
x[0]≦f≦x[1],
x[1]≦f≦x[2],
x[2]≦f≦x[3],
x[3]≦f≦x[4]
のそれぞれについて、強度P(f)を近似する直線A[0]，A[1]，A[2]，A[3]を最小自乗法により求める。
【００４４】
すなわち、i = 0，1，2，3のそれぞれについて、区間x[i]≦f≦x[i+1]において、縦軸p（測定された電磁波の強度）、横軸f（測定対象の周波数）のグラフp = P(f)を近似する直線A[i]: p = a[i]・f + b[i]の係数a[i]，b[i]を、最小自乗法により求めるのである（ステップＳ５０２）。
【００４５】
さらに、
直線A[0]と直線A[1]の交点の座標を求め、その周波数軸方向の座標値をx[1]に設定し、
直線A[1]と直線A[2]の交点の座標を求め、その周波数軸方向の座標値をx[2]に設定し、
直線A[2]と直線A[3]の交点の座標を求め、その周波数軸方向の座標値をx[3]に設定する（ステップＳ５０３）。
【００４６】
図４（ｂ）には、初期状態からx[1]，x[2]，x[3]を移動した様子を示している。
【００４７】
そして、ステップＳ５０２〜ステップＳ５０３を、x[1]，x[2]，x[3]が収束するまで（ステップＳ５０４）繰り返す。
【００４８】
ステップＳ５０３により各区間が変化するから、ステップＳ５０２に戻って各区間を最小自乗近似する直線を求めると、その位置も微小に変化するはずである。ただし、殆どの場合には、収束したか否かを直接判定するのではなく、単純に所定の回数繰り返すだけで十分である。
【００４９】
このようにして、折線の頂点の周波数軸方向の座標x[0]，x[1]，x[2]，x[3]，x[4]が得られたら、
g[1] ← x[1]；
f[1] ← (x[1]+x[2])/2；
f[2] ← (x[2]+x[3])/2；
g[2] ← x[4]
のように、分割する座標値を同定して（ステップ５０５）、本処理を終了する。
【００５０】
多くの実験から、電子機器が発する電磁波は、所定のバンド幅を占有し、それ以外の周波数帯では、各種雑音が生じているのが一般的であることがわかっている。
【００５１】
すなわち、略平坦なA[0]、増加するA[1]、減少するA[2]、略平坦なA[3]の４つの直線（線分）により測定結果を近似した場合、線分A[1]の中点から線分A[2]の中点までを、電子機器が発する電磁波のバンド幅であると同定するのである。
【００５２】
したがって、上記のように区間を分割することで、ごく例外的な状況（たとえば、電子機器が発する電磁波の周波数帯が、測定された周波数範囲に含まれていない場合や、その他の電磁波源が存在する場合等）をのぞいて、ほとんどの場合に、
（ａ）強度が略一定の下側一定区間g[0]〜g[1]、
（ｂ）強度が略増加する増加区間g[1]〜f[1]
（ｃ）当該電子機器が電磁波を放出する周波数帯と推定される放出区間f[1]〜f[2]、
（ｄ）強度が略減少する減少区間f[2]〜g[2]
（ｅ）強度が略一定の上側一定区間g[2]〜g[3]
が得られる。
【００５３】
このようにして、分割部１０３による分割が行われると、雑音推定部１０４は、測定された電磁波の強度のうち、当該下側一定区間と、当該上側一定区間と、の平均強度Nを雑音強度と推定する（ステップＳ２０３）。
【００５４】
具体的には、
N ←〔Σk=1(g[1]-g[0])/Δf P(g[1] + (i-1)Δf) + Σk=1(g[3]-g[2])/Δf P(g[2] + (i-1)Δf)〕/〔(g[1]-g[0] + g[3]-g[2])/Δf〕
のように、平均を計算すれば良い。
【００５５】
そして、容量計算部１０５は、測定された電磁波の強度のうち、当該放出区間のそれぞれの周波数fについて前記測定された電磁波の強度P(f)から、前記推定された雑音レベルNを除去した強度S(f)を、当該周波数fにおける信号強度と推定し、前記推定された雑音強度Nと、前記推定された信号強度S(f)と、から、当該測定対象のチャネル容量
C = ∫f[1]f[2] log2(1 + S(f)/N) df
を計算して（ステップＳ２０４）、本処理を終了する。このチャネル容量Cが、当該電子機器から電磁波により情報が漏洩する指標として利用できるようになるのである。
【００５６】
なお、本実施形態では、測定部１０２は、電磁波の強度をdB単位で、周波数サンプリング幅Δfで測定していることから、容量計算部１０５は、当該チャネル容量を、
Σi=1(f[2]-f[1])/Δf log2(1 + 10(M〔f[1]+(i-1)Δf〕- N)/20) Δf
と、数値積分により計算することができる。
【００５７】
上記のように、本実施形態では、測定部１０２は、コンピュータに接続されたセンサやプローブにより実現され、分割部１０３、雑音推定部１０４、容量計算部１０５における処理は、コンピュータのＣＰＵが所定のプログラムを実行することにより実現される。
【００５８】
（実験と測定結果の利用）
以下では、測定の実際および測定されたチャネル容量Cを利用する例について説明する。
【００５９】
測定対象の電子機器として、パーソナルコンピュータを近接磁場プローブ（アンリツ社製品ＭＰ６６６Ａ（商標名並びに商品番号））を測定部１０２として利用して、放出される電磁波を受信した。プローブは、パーソナルコンピュータの表面に配置した。測定結果は、図３に示すグラフである。
【００６０】
このとき、ディスプレイに画像を表示するための、ビデオ信号の量V[bps]は、
色のビット数[bit]、
ディスプレイの解像度[pixel]、
フレームレート[fps]
の積であり、典型的な構成では、
V = 24×(1024×768)×60
となる。また、モノクロ画像の場合には、色のビット数は２４ではなく１となるので、
V = 1×(1024×768)×60
すなわち、V ≒ 47[Mbps]のように計算される。
【００６１】
一方、推定された雑音レベルNは、およそ29.4dBmであった。また、f[1]〜f[2]が350MHz〜370MHzに相当して、チャネル容量Cは、C ≒ 100[Mbps]のように得られた。
【００６２】
この実験では、C > Vであるから、漏洩した電磁波から画像が再現できるものと考えられる。そこで、バンド幅を20MHzとし、周波数中心を360MHzとして、画像を再構成したところ、元の画像がほぼ再現された。元の画像を図６に、再現された画像を図７に示す。これらの画像は１０２４×７６８ピクセルのサイズである。
【００６３】
一般に、C > Vであるときは、盗聴者は漏洩したビデオ信号から十分にクリアな画像を再現することができる。一方、C < Vであるときは、画像再現のための情報が多少得られるため、画像を再現したとしてもぼやけることになる。S(f) = Nである場合、Cの値はf[2]-f[1]に等しくなり、この場合には、画像を再現することはできない。
【００６４】
さらに、再現されたCを、ディスプレイ解像度とフレームレートの積で割った値を画像の品質の指標Qとすることができる。Qの値は、再現画像をグレイスケールで表現したときの段階数を意味し、Qが大きくなれば、より詳細な画像が再現できることになる。
【００６５】
標準的なディスプレイでは、ＲＧＢのそれぞれに８ビットが割り当てられるため、Qの最大値は８となる。Qの最小値は０であり、このときには、再現された画像は完全にランダムノイズになる。
【００６６】
さて、雑音のレベルNの誤差マージンΔNは、Cの精度に影響を与えるから、Cから計算されたQの誤差マージンΔQは、ΔNとf[2]-f[1]の積を、ディスプレイ解像度とフレームレートの積で割った値として定義することができる。
【００６７】
上記の例では、解像度は1024×768[pixel]、フレームレートは60[Hz]、f[2]-f[1]は20×1060[Hz]であったから、ΔQの精度として0.01[bit]が必要である場合には、ΔNは0.024[dB]程度とする必要がある。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
以上説明したように、本発明によれば、電子機器から放出される電磁波を介して漏洩する情報量の指標となるチャネル容量を計測するのに好適な測定装置、測定方法、ならびに、これらをコンピュータにより実現するためのプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明の一つの実施形態に係る測定装置の概要構成を示す模式図である。
【図２】当該測定装置にて実行される測定処理の制御の流れを示すフローチャートである。
【図３】ある電子機器について測定部が測定した結果を示すグラフである。
【図４】折線近似の様子を示す模式図である。
【図５】折線近似の処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】測定対象が表示している画像を示す説明図である。
【図７】漏洩した電磁波から再現された画像を示す説明図である。
【符号の説明】
【００７０】
１０１  測定装置
１０２  測定部
１０３  分割部
１０４  雑音推定部
１０５  容量計算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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