(57)【要約】【課題】アイピースシャッタや補助測光センサを使用せずに安価に、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うこと。【解決手段】撮像レンズ１０を含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光センサ１８によって、上記撮像レンズ１０から入射する光量の第１の絞り値のときに算出した第１の測光値（初回測光値Ａ）と、上記撮像レンズ１０から入射する光量の第２の絞り値のときに算出した第２の測光値（再測光値Ｂ）と、に基づいて、補正部３４は、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズ１０からのみ入射した入射光に相当する測光値（測光真値Ａ’）を演算することで、正確な測光値を得る。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像レンズを含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段と、
上記撮像レンズから入射する光量の第１の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第１の測光値と、上記撮像レンズから入射する光量の第２の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第２の測光値と、に基づいて、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を演算する演算手段と、
を具備することを特徴とする測光装置。
【請求項２】
上記受光素子に入射する入射光は、ファインダ光学系を通して入射する逆入射光を含むことを特徴とする請求項１に記載の測光装置。
【請求項３】
上記演算手段は、
上記第１及び第２の絞り値と上記第１及び第２の測光値とに基づいて、上記逆入射光による測光値を算出する算出手段と、
上記第１の測光値と上記逆入射光の測光値との差分を、上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値として求める減算手段と、
を含むことを特徴とする請求項２に記載の測光装置。
【請求項４】
上記第１及び第２の絞り値の一方は、開放時の絞り値又は前回の撮像時の絞り値であることを特徴とする請求項１に記載の測光装置。
【請求項５】
撮像レンズを含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段と、
上記撮像レンズから入射する光量の絞りを行う光絞り手段と、
上記光絞り手段の上記光量の絞りが第１の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第１の測光値と、上記光量の絞りが第２の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第２の測光値と、に基づいて、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を演算する演算手段と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
上記撮像光学系は、ファインダ光学系を含み、
上記光絞り手段は、上記第２の絞り値を、上記第１の絞り値とｎ段異なる絞り値に設定し、
上記演算手段は、上記ｎから２のｎ乗を演算し、当該演算の結果と上記第１及び第２の測光値とに基づいて上記ファインダ光学系を通して入射する逆入射光による測光値を計算し、当該計算した測光値に基づいて上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を求めることを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測光装置及びそれを用いた撮像装置に関し、特に、ファインダ光学系側からの逆入射光による測光誤差をなくした測光装置及び撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ファインダ光学系中に測光装置を配備した構成を有する撮像装置、特に自動露光式一眼レフカメラにおいては、通常の撮影時にはファインダの接眼部に眼を接近させて使用するため、接眼部からの逆入射光は測光装置に殆んど影響を与える事はない。しかし、タイマ撮影などの接眼部から眼を離した状態で撮影する場合には、接眼部からの逆入射光を測光装置が感知して露光量の測定に狂いが生じ、適正露光値が得られなくなるという問題を生じる。
【０００３】
そこで、この種の撮像装置においては、ファインダの接眼部を閉じるアイピースシャッタを設け、接眼部から眼を離す撮影時にはアイピースシャッタを閉じてファインダ内への逆入射光を無くすことにより、ファインダ内への逆入射光の影響が及ばないようにしている。
【０００４】
また、特許文献１には、撮像レンズからの入射光量を測定する主測光センサとは別に、ファインダ側からの逆入射光量を測定するための補助測光センサを設け、主測光センサからの入射光量に対して逆入射光量を補正することで、ファインダ内への逆入射光の影響をキャンセルする手法も提案されている。
【特許文献１】特開平１−３０４４３３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記アイピースシャッタを用いた撮像装置では、被写体を確認したり構図を決定するため接眼レンズを覗く都度、アイピースシャッタを開閉する必要があり、撮影操作が煩わしくなると同時に、アイピースシャッタの閉め忘れによる誤測光も生じ、さらに接眼レンズを覗いている時でも逆入射光の影響があるので、このときの逆入射光をも遮光しようとすれば、アイピースシャッタを常に閉じておかねばならずファインダ像を見る事ができなくなる、アイピースシャッタを用いる事によるコストアップという欠点がある。
【０００６】
また、上記特許文献２に開示されているような補助測光センサを用いた撮像装置では、補助測光センサによる電力の消費、また補助測光センサ及びその動作回路を必要とする関係上、コストアップという欠点がある。
【０００７】
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、アイピースシャッタや補助測光センサを使用せずに安価に、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うことが可能な測光装置及びそれを用いた撮像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の測光装置の一態様は、
撮像レンズを含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段と、
上記撮像レンズから入射する光量の第１の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第１の測光値と、上記撮像レンズから入射する光量の第２の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第２の測光値と、に基づいて、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を演算する演算手段と、
を具備することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の撮像装置の一態様は、
撮像レンズを含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段と、
上記撮像レンズから入射する光量の絞りを行う光絞り手段と、
上記光絞り手段の上記光量の絞りが第１の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第１の測光値と、上記光量の絞りが第２の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第２の測光値と、に基づいて、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を演算する演算手段と、
を具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、アイピースシャッタや補助測光センサを使用せずに安価に、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うことが可能な測光装置及びそれを用いた撮像装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明を実施するための最良の形態を図面を参照して説明する。
【００１２】
［第１実施形態］
図１は、本発明の撮像装置の第１実施形態に係るＴＴＬ測光方式のカメラの断面図である。なお、ここでは、本発明に関連する構成のみを示しており、本発明に関連しない構成については省略してある。
【００１３】
同図に示すように、このカメラは、撮像レンズ１０、絞り１２、ミラー１４、ビームスプリッタ１６、測光センサ１８、焦点板２０、ペンタプリズム２２、接眼レンズ２４、撮像素子２６、シャッタ２８、絞り制御回路３０、カメラ制御回路３２及び補正部３４を有する。
【００１４】
即ち、撮像レンズ１０を透過して光絞り手段としての絞り１２で絞られた被写体光は、光軸に沿った実線の矢印で示すように、ミラー１４で反射されてビームスプリッタ１６に向かい、その一部の光は該ビームスプリッタ１６で反射されて測光センサ１８に入射する。残りの一部の光は、ビームスプリッタ１６を透過し、さらに焦点板２０を経てペンタプリズム２２で反射され観察光として接眼レンズ２４に向かう。
【００１５】
また、接眼レンズ２４からの逆入射光は、ペンタプリズム２２→焦点板２０→ビームスプリッタ１６へと、上記観察光とは逆の経路で、破線の矢印で示すように光軸に沿って進み、さらにビームスプリッタ１６で反射する光と該ビームスプリッタ１６を透過する光とに別れる。ビームスプリッタ１６で反射した光は測光センサ１８に入射し、ビームスプリッタ１６を透過した光はミラー１４で反射して撮像レンズ１０に向かい、そのレンズ面で反射して再び戻って測光センサ１８に入射する。
【００１６】
このように、撮像レンズ１０を透過した被写体光以外にも、接眼レンズ２４からの逆入射光が測光センサ１８に入射されることになる。
【００１７】
測光センサ１８は、特に図示はしていないが受光素子を有しており、上記撮像レンズ１０と、上記ミラー１４と、上記ビームスプリッタ１６と、上記焦点板２０，上記ペンタプリズム２２及び上記接眼レンズ２４でなるファインダ光学系と、を含む撮像光学系を通して該受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段として機能する。
【００１８】
なお、上記ミラー１４は、図示しないミラー制御回路に割り制御されて、上記撮像レンズ１０から入射した被写体像を撮像面に導く第１の位置と、上記ファインダ光学系に導く第２の位置とに移動可能な可動ミラーである。そして、上記撮像面にＣＣＤ等の撮像素子２６が配され、その撮像素子２６の前面に、図示しないシャッタ制御回路によって制御されるシャッタ２８が設けられている。また、上記絞り１２は、絞り制御回路３０によって制御される。
【００１９】
これらミラー制御回路、シャッタ制御回路及び絞り制御回路３０は、該カメラ全体の制御手段であるカメラ制御回路３２によって制御される。即ち、カメラ制御回路３２は、２段押しのボタンとなっているレリーズボタンの１段階目の操作、所謂１ｓｔレリーズ操作に応じて測光センサ１８による測光動作を行う。このとき、測光センサ１８には、撮像レンズ１０側からの入射光に加えて、上述したように接眼レンズ２４側からの逆入射光も入射する。そこで、上記測光センサ１８で算出した測光値をそのまま使うのではなく、演算手段としての補正部３４によって、その測光値から上記撮像光学系の内の上記撮像レンズ１０側からのみ入射した入射光に相当する補正された測光値を演算し、カメラ制御回路３２は、その補正された測光値に基づいて上記絞り制御回路３０により絞り１２の絞り込みを行う。
【００２０】
また、カメラ制御回路３２は、該カメラがＡＦ機能を備えていれば、上記１ｓｔレリーズ操作に応じて、ＡＦ動作を行う。
【００２１】
そして、レリーズ釦の２段階目の操作、所謂２ｎｄレリーズ操作に応じて実際の撮像動作を行う。即ち、上記第２の位置にある上記ミラー１４を上記第１の位置に移動させて上記撮像レンズ１０を透過して絞り１２で絞られた光束をシャッタ２８を介して撮像素子２６に入射させる。そして、撮像素子２６の露光を行って被写体像をアナログ映像信号に変換し、図示しない画像処理回路で該アナログ映像信号のデジタル画像信号への変換やＪＰＥＧ等の所定の圧縮方式での圧縮を含む所定の画像処理を施して、得られた画像データを内蔵若しくは着脱自在なメモリ等の図示しない記録媒体に記録する。
【００２２】
図２は、上記補正部３４の構成を示す図であり、該補正部３４は、蓄積部３６、算出部３８及び測光減算部４０を含む。
【００２３】
測光センサ１８で測定した測光値は、カメラ制御回路３２、算出部３８及び蓄積部３６に送られる。ここで、本実施形態では、測光センサ１８によって２回測光が行われるものであり、上記絞り１２が第１の絞り値のときに測光センサ１８で算出した第１の測光値である初回測光値Ａは、カメラ制御回路３２に送られると共に、蓄積部３６に送られて蓄積される。また、上記絞り１２が第２の絞り値のときに測光センサ１８で算出した第２の測光値である再測光値Ｂは、算出部３８に送られる。なお、カメラ制御回路３２は、入力された初回測光値Ａに基づいて上記第２の絞り値を決定し、その第２の絞り値とするための設定値（光量比）ｎを絞り制御回路３０に与えて、絞り１２の絞り込みを行う。また、その設定値（光量比）ｎは、算出部３８にも送られる。
【００２４】
ここで、１回目の測光で得られた初回測光値Ａに対し、逆入射光の影響が無い場合の真の測光値（以下、測光真値と称する）を測光真値Ａ’とし、２回目の測光で得られた再測光値Ｂに対する測光真値を測光真値Ｂ’とする。また、上記逆入射光による測光値を逆入射光値Ｃとする。これら初回測光値Ａ、測光真値Ａ’、再測光値Ｂ、測光真値Ｂ’及び逆入射光値（誤差成分）Ｃ、並びに上記光量比ｎの間には、以下の関係が成り立つ。
【００２５】
Ａ＝Ａ’＋Ｃ                                              …（１）
Ｂ＝Ｂ’＋Ｃ                                              …（２）
（１／２ｎ）・Ｂ’＝Ａ’                                    …（３）
なお、上記（３）式は、絞り１２を１段絞り込むと光量は１／２になるので、ｎ段絞り込むと光量が（１／２ｎ）となることを示している。
【００２６】
よって、上記（１）式、（２）式及び（３）式より、上記逆入射光値（誤差成分）Ｃは、
Ｃ＝｛（１／２）ｎ・Ｂ−Ａ｝／｛（１／２）ｎ−１｝        …（４）
として求めることができる。従って、算出部３８は、上記カメラ制御回路３２からの設定値（光量比）ｎと上記蓄積部３６に蓄積された初回測光値Ａ及び上記測光センサ１８からの再測光値Ｂとに基づいて、上記（４）式により逆入射光値Ｃを算出する。
【００２７】
また、上記（１）式より、上記測光真値Ａ’は、
Ａ’＝Ａ−Ｃ                                              …（５）
として求めることができる。従って、測光減算部４０は、上記蓄積部３６に蓄積された初回測光値Ａと上記算出部３８で算出された逆入射光値Ｃとの差分を演算することで、上記撮像レンズ１０からのみ入射した入射光に相当する補正された測光値である測光真値Ａ’を求める。
【００２８】
図３は、本実施形態に係るカメラの測光動作のフローチャートを示す図であり、図４（Ａ）は、その測光動作も含めたカメラの単写動作の動作シーケンスを示す図である。
【００２９】
なお、該カメラの電源投入時に、絞り１２は開放とされているものとする。そして、１ｓｔレリーズがｏｎとなると、シーケンス（１）で、カメラ制御回路３２は、測光センサ１８によって開放絞りでの測光を行わせ（ステップＳ１）、測光センサ１８より得られた測光値を初回測光値Ａとして蓄積部３６に保存させる（ステップＳ２）。
【００３０】
そして、２ｎｄレリーズがｏｎとなると、次のシーケンス（２）に移行して、カメラ制御回路３２は、上記ステップＳ１で取得した初回測光値Ａに従って設定値（光量比）ｎを決定し、絞り制御回路３０によりその設定値に従った絞り１２の絞り込み（仮絞り込み）を行う（ステップＳ３）。また、初回測光値Ａに従って設定値（光量比）ｎを決定する代わりに、前回の撮像時の絞り値を用いても構わない。そして、この絞り込みを行った状態で再度測光センサ１８により測光を行って、再測光値Ｂを得る（ステップＳ４）。
【００３１】
その後、シーケンス（３）で、ミラー１４を上記第２の位置から上記第１の位置へ移動するミラーアップを行い、そのミラーアップによるバウンド安定待ち中に、測光値に基づく絞り１２の絞り込みを行う。即ち、算出部３８は、上記蓄積部３６に保存されている上記ステップＳ１で得られた初回測光値Ａと、上記ステップＳ４で得られた再測光値Ｂと、カメラ制御回路３２で決定した上記設定値（光量比）ｎとから、上記（４）式により、逆入射光値（誤差成分）Ｃを算出する（ステップＳ５）。そして、測光減算部４０は、上記算出部３８より得られた逆入射光値（誤差成分）Ｃと、上記ステップＳ１で得られた初回測光値Ａとから、上記（５）式により、補正された測光値（初回真値）Ａ’を算出する（ステップＳ６）。カメラ制御回路３２は、こうして算出された補正された測光値（初回真値）Ａ’に従って、撮像素子２６の露光時の絞り１２の絞り値を決定し、絞り制御回路３０により絞り１２をその絞り値に絞り込ませる。
【００３２】
こうして、ミラー１４がアップされ、絞り１２が絞り込まれたならば、シーケンス（４）で、シャッタ２８の先幕動作後、撮像素子２６の露光を行う。そして、シャッタ２８の後幕動作後にシャッタ２８の安定待ちを行う。なお、この露光時間つまりシャッタスピード時間は、カメラ制御回路３２が上記補正された測光値（初回真値）Ａ’に従って算出することは言うまでもない。
【００３３】
最後に、シーケンス（５）では、上記第１の位置から元の第２の位置にミラー１４を移動するミラーダウンを行い、そのミラーダウン安定待ち中に、絞り１２を開放に戻す。これにより、次回の単写動作におけるシーケンス（１）において直ちに開放絞りでの測光が行える。
【００３４】
以上のように、本第１実施形態によれば、２ｎｄレリーズ前に予め絞り１２が開放状態で測光をして初回測光値Ａを記憶しておき、２ｎｄレリーズ時に絞り１２が絞り込まれた後に再度測光を行って再測光値Ｂを取得し、前に記憶していた初回測光値Ａとの対数的な差を演算することにより逆入射光値Ｃを求め、この逆入射光値Ｃを初回測光値Ａから引くことで、正しい測光値（測光真値Ａ’）を得るようにしているので、アイピースシャッタや補助測光センサ等の特別な部品を使用することなく、安価に、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うことが可能となる。
【００３５】
また、ファインダ光学系を通して入射する逆入射光による測光値（逆入射光値Ｃ）の算出は、設定値（光量比）ｎから２のｎ乗を演算し、当該演算の結果と上記初回測光値Ａ及び再測光値Ｂとに基づいて計算し、当該計算した逆入射光値Ｃに基づいて撮像レンズ１０からのみ入射した入射光に相当する測光真値Ａ’を求めるようにしているので、２のｎ乗の演算（シフト演算）と加減乗除だけで良く、複雑な関数演算を行わないため、高速な処理が可能である。
【００３６】
［第２実施形態］
上記第１実施形態では、上記シーケンス（１）での１回目の測光を開放絞りで行うものとしたが、図４（Ｂ）に示すように、上記シーケンス（５）で絞り１２を開放に戻さずに、１回目の測光を前回の露光時の絞り値で行うようにしても良い。
【００３７】
この場合には、シーケンス（２）での仮絞り込みとして絞り１２を開放状態とする動作を行う。そして、前回の絞り値から開放絞りとするために絞り１２を何段開いたかを設定値（光量比）ｎとしてカメラ制御回路３２から補正部３４の算出部３８に与える。
【００３８】
このようにしても、上記第１実施形態と同様の効果を奏することができる。
【００３９】
なお、本第２実施形態では、より明るい状態で測光した方が良いので、算出する測光真値はＡ’ではなくてＢ’とすることが好ましい。
【００４０】
以上実施形態に基づいて本発明を説明したが、上記実施形態の説明は、本発明を説明するためのものであって、特許請求の範囲に記載の発明を限定し、或は範囲を減縮する様なことではない。又、本発明の各部構成は上記実施形態に限らず、特許請求の範囲に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能であることは勿論である。
【００４１】
例えば、ビームスプリッタ１６をミラー１４と焦点板２０の間に配置したカメラだけではなく、ビームスプリッタ１６をペンタプリズム２２と接眼レンズ２４との間に配置して測光センサ１８へ撮像レンズ１０からの入射光を分岐する構成のカメラにおいても、本発明は同様に適用可能である。
【００４２】
（付記）
前記の具体的実施形態から、以下のような構成の発明を抽出することができる。
【００４３】
（１）  撮像レンズを含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段と、
上記撮像レンズから入射する光量の第１の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第１の測光値と、上記撮像レンズから入射する光量の第２の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第２の測光値と、に基づいて、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を演算する演算手段と、
を具備することを特徴とする測光装置。
【００４４】
（対応する実施形態）
この（１）に記載の測光装置に関する実施形態は、第１及び第２実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、撮像レンズ１０が上記撮像レンズに、撮像レンズ１０，ミラー１４，ビームスプリッタ１６，焦点板２０，ペンタプリズム２２，接眼レンズ２４が上記撮像光学系に、測光センサ１８が上記測光手段に、初回測光値Ａが上記第１の測光値に、再測光値Ｂが上記第２の測光値に、補正された測光値（測光真値Ａ’又はＢ’）が上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値に、補正部３４が上記演算手段に、それぞれ対応する。
【００４５】
（作用効果）
この（１）に記載の測光装置によれば、アイピースシャッタや補助測光センサ等の特別な部品を使用することなく、安価に、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うことが可能となる。
【００４６】
（２）  上記受光素子に入射する入射光は、ファインダ光学系を通して入射する逆入射光を含むことを特徴とする（１）に記載の測光装置。
【００４７】
（対応する実施形態）
この（２）に記載の測光装置に関する実施形態は、第１及び第２実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、焦点板２０，ペンタプリズム２２，接眼レンズ２４が上記ファインダ光学系に対応する。
【００４８】
（作用効果）
この（２）に記載の測光装置によれば、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うことが可能となる。
【００４９】
（３）  上記演算手段は、
上記第１及び第２の絞り値と上記第１及び第２の測光値とに基づいて、上記逆入射光による測光値を算出する算出手段と、
上記第１の測光値と上記逆入射光の測光値との差分を、上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値として求める減算手段と、
を含むことを特徴とする（２）に記載の測光装置。
【００５０】
（対応する実施形態）
この（３）に記載の測光装置に関する実施形態は、第１及び第２実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、逆入射光値Ｃが上記逆入射光による測光値に、算出部３８が上記算出手段に、測光減算部４０が上記減算手段に、それぞれ対応する。
【００５１】
（作用効果）
この（３）に記載の測光装置によれば、複雑な関数演算を行わずに撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を求めることができるので、高速な処理が可能である。
【００５２】
（４）  上記第１及び第２の絞り値の一方は、開放時の絞り値又は前回の撮像時の絞り値であることを特徴とする（１）に記載の測光装置。
【００５３】
（対応する実施形態）
この（４）に記載の測光装置に関する実施形態は、第１及び第２実施形態が対応する。
【００５４】
（作用効果）
この（４）に記載の測光装置によれば、開放時の絞り値を用いれば明るい状態で測光が行えるので測光の正確性が増し、また、前回の撮像時の絞り値を用いれば絞り込みの回数又は絞り込みの演算を減らすことが可能となる。
【００５５】
（５）  撮像レンズを含む撮像光学系を通して受光素子に入射する入射光から測光値を算出する測光手段と、
上記撮像レンズから入射する光量の絞りを行う光絞り手段と、
上記光絞り手段の上記光量の絞りが第１の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第１の測光値と、上記光量の絞りが第２の絞り値のときに上記受光素子に入射した入射光から算出した第２の測光値と、に基づいて、上記撮像光学系の内の上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を演算する演算手段と、
を具備することを特徴とする撮像装置。
【００５６】
（対応する実施形態）
この（５）に記載の撮像装置に関する実施形態は、第１及び第２実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、撮像レンズ１０が上記撮像レンズに、撮像レンズ１０，ミラー１４，ビームスプリッタ１６，焦点板２０，ペンタプリズム２２，接眼レンズ２４が上記撮像光学系に、測光センサ１８が上記測光手段に、絞り１２が上記光絞り手段に、初回測光値Ａが上記第１の測光値に、再測光値Ｂが上記第２の測光値に、補正された測光値（測光真値Ａ’又はＢ’）が上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値に、補正部３４が上記演算手段に、それぞれ対応する。
【００５７】
（作用効果）
この（５）に記載の撮像装置によれば、アイピースシャッタや補助測光センサ等の特別な部品を使用することなく、安価に、逆入射光による影響の無い正確な測光を行うことが可能となる。
【００５８】
（６）  上記撮像光学系は、ファインダ光学系を含み、
上記光絞り手段は、上記第２の絞り値を、上記第１の絞り値とｎ段異なる絞り値に設定し、
上記演算手段は、上記ｎから２のｎ乗を演算し、当該演算の結果と上記第１及び第２の測光値とに基づいて上記ファインダ光学系を通して入射する逆入射光による測光値を計算し、当該計算した測光値に基づいて上記撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を求めることを特徴とする（５）に記載の撮像装置。
【００５９】
（対応する実施形態）
この（６）に記載の撮像装置に関する実施形態は、第１及び第２実施形態が対応する。それらの実施形態において、例えば、焦点板２０，ペンタプリズム２２，接眼レンズ２４が上記ファインダ光学系に、逆入射光値Ｃが上記逆入射光による測光値に、それぞれ対応する。
【００６０】
（作用効果）
この（６）に記載の撮像装置によれば、複雑な関数演算を行わずに撮像レンズからのみ入射した入射光に相当する測光値を求めることができるので、高速な処理が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】図１は、本発明の撮像装置の第１実施形態に係るＴＴＬ測光方式のカメラの断面図である。
【図２】図２は、第１実施形態に係るカメラの補正部の構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、第１実施形態に係るカメラの測光動作のフローチャートを示す図である。
【図４】図４（Ａ）は、第１実施形態に係るカメラの単写動作の動作シーケンスを示す図であり、図４（Ｂ）は、本発明の撮像装置の第２実施形態に係るＴＴＬ測光方式のカメラの単写動作の動作シーケンスを示す図である。
【符号の説明】
【００６２】
１０…撮像レンズ、  １２…絞り、  １４…ミラー、  １６…ビームスプリッタ、  １８…測光センサ、  ２０…焦点板、  ２２…ペンタプリズム、  ２４…接眼レンズ、  ２６…撮像素子、  ２８…シャッタ、  ３０…絞り制御回路、  ３２…カメラ制御回路、  ３４…補正部、  ３６…蓄積部、  ３８…算出部、  ４０…測光減算部、  Ａ…初回測光値、  Ｂ…再測光値、  Ａ’，Ｂ’…測光真値、  Ｃ…逆入射光値、  ｎ…設定値（光量比）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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