(57)【要約】【課題】ＯＰＣ動作に要する時間を短時間に維持しつつも、良好なオーバライト特性を実現可能な最適記録パワーと最適消去パワーとを決定する光ディスク装置を提供する。【解決手段】本発明に係る光ディスク装置は、設定された記録パワー及び消去パワーによって光ディスクにマーク及びスペースを夫々形成してデータを記録すると共に、記録したデータを再生する光ピックアップと、記録パワー及び消去パワーを変化させながら光ディスクにテストデータを試し書きし、試し書きしたテストデータを再生、評価して最適な記録パワーと最適な消去パワーを決定する制御部と、予め取得してある補正係数を保存する不揮発性メモリと、を備え、制御部は、推奨記録パワーと推奨消去パワーとのパワー比を保存された補正係数によって補正し、記録パワーと、この記録パワー及び補正されたパワー比から求められる消去パワーとを変化させながら試し書きする、ことを特徴とする。【選択図】  図１
2009087435.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え可能な光ディスクに対して記録及び再生を行う光ディスク装置において、
設定された記録パワー及び消去パワーによって前記光ディスクにマーク及びスペースを夫々形成してデータを記録すると共に、記録したデータを再生する光ピックアップと、
前記記録パワー及び前記消去パワーを変化させながら前記光ディスクにテストデータを試し書きし、試し書きした前記テストデータを再生、評価して最適な記録パワーと最適な消去パワーを決定する制御部と、
予め取得してある補正係数を保存する不揮発性メモリと、
を備え、
前記制御部は、
前記光ディスク毎に推奨値として与えられる推奨記録パワーと推奨消去パワーとのパワー比を保存された前記補正係数によって補正し、記録パワーと、この記録パワー及び前記補正されたパワー比から求められる消去パワーとを変化させながら試し書きする、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
本光ディスク装置の温度を検出する温度センサをさらに備え、
前記補正係数は、温度によって値の異なる複数の補正係数であり、
前記制御部は、
前記温度センサで検出された温度に対応する前記補正係数によって前記パワー比を補正する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記補正係数は、
本光ディスク装置毎に、記録パワーと消去パワーとを夫々独立に変化させて試し書きを行い、これらの試し書きの結果から得られた最適な記録パワーと最適な消去パワーとによって求められる補正係数であり、
求められた前記補正係数は、本光ディスク装置の製造時に前記不揮発性メモリに保存される、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク記録方法において、
予め補正係数を取得し、保存するステップと、
設定された記録パワー及び消去パワーによって前記光ディスクにマーク及びスペースを夫々形成してデータを記録すると共に、記録したデータを再生するステップと、
前記記録パワー及び前記消去パワーを変化させながら前記光ディスクにテストデータを試し書きし、試し書きした前記テストデータを再生、評価して最適な記録パワーと最適な消去パワーを決定するステップと、
を備え、
前記決定するステップでは、
前記光ディスク毎に推奨値として与えられる推奨記録パワーと推奨消去パワーとのパワー比を保存された前記補正係数によって補正し、記録パワーと、この記録パワー及び前記補正されたパワー比から求められる消去パワーとを変化させながら試し書きする、
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項５】
光ディスク装置の温度を検出するステップをさらに備え、
前記補正係数は、温度によって値の異なる複数の補正係数であり、
前記決定するステップでは、
検出された前記温度に対応する前記補正係数によって前記パワー比を補正する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録方法。
【請求項６】
前記補正係数は、
光ディスク装置毎に、記録パワーと消去パワーとを夫々独立に変化させて試し書きを行い、これらの試し書きの結果から得られた最適な記録パワーと最適な消去パワーとによって求められる補正係数であり、
求められた前記補正係数は、前記光ディスク装置の製造時に不揮発性メモリに保存される、
ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び光ディスク記録方法に係り、特に、書き換え可能型光ディスクに対して記録、再生を行う光ディスク装置、及び書き換え可能型光ディスク記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ及びＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え型光ディスクでは、既にデータが記録されている記録面の上から記録用のレーザ光を照射して新たなデータを上書き（オーバライト）することができる。記録用のレーザ光のパワーはマーク形成時とスペース形成時とで異なり、マーク形成時には記録パワーＰｗが用いられ、スペース形成時には記録パワーＰｗよりも小さな消去パワーＰｅが用いられる。
【０００３】
一般に書き換え型光ディスクでは、光ディスク毎、或いは光ディスクの製造メーカ毎に最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅが異なっており、個々の光ディスクには製造メーカの識別情報と共に、製造メーカが推奨する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅに関する情報が記録されている。
【０００４】
一方、光ディスク装置のレーザ光のパワーは温度等の環境によって変動する。従って、製造メーカの推奨する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを設定しようとしても必ずしもそのとおりには設定できない。
【０００５】
このため、光ディスク装置では、装置に挿入された光ディスクに記録を行おうとする場合、記録の直前にＯＰＣ（Optimum  Power  Control）と呼ばれるレーザパワーの最適化処理を通常行っている。
【０００６】
一般的に行われているＯＰＣは例えば次のような手順である。まず、製造メーカが推奨する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比ε（ε＝消去パワーＰｅ／記録パワーＰｗ）を一定に保持しつつ記録パワーＰｗを例えばステップ状に変化させながら光ディスクの所定の領域にテストデータを記録する。次に、記録したテストデータを再生し、再生信号から変調度等の評価指標を求める。この評価指標はテストデータ記録時に変化させた記録パワーＰｗ毎に求める。記録パワーＰｗ毎の評価指標は別途定められている評価指標基準と比較され、評価指標基準を満足する評価指標に対応する記録パワーＰｗが最適記録パワーＰｗoptとして求められる。また、この最適記録パワーＰｗoptと上記のεとから最適消去パワーＰｅoptが求められる。
【０００７】
この一般的なＯＰＣは、本来独立なパラメータである記録パワーＰｗと消去パワーＰｅのうち、一方の記録パワーＰｗのみを変化させて最適値を求め、消去パワーＰｅについては光ディスクのメーカ推奨値から定まるεをそのまま利用している。しかしながら、実際には、εは光ディスク装置側の特性の影響も受ける。
【０００８】
例えば、記録時には５nsから１０ns程度の複数のレーザ短パルスを用いるが、これらの短パルスはオーバシュートをもつ。オーバシュートの大きさは伝送系の等価回路定数によって異なるため、光ディスク装置の固体間でレーザパワーは微妙に異なってくる。オーバシュートの影響は記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとで異なり、光ディスクのメーカ推奨値から定まるεから消去パワーＰｅの最適値を求める方法は完全ではない。また、光学系の特性も光ディスク装置の個体間で微妙に異なるため、レーザスポットの大きさ等も光ディスク装置の個体間で異なってくる。
【０００９】
このように、従来から行われている一般的なＯＰＣは、処理に要する時間は比較的少なくなるものの、厳密な意味では必ずしも最適値とはいえない。つまり、従来から行われている一般的なＯＰＣによって得られる記録パワーＰｗと消去パワーＰｅは、いわば準最適値というべきものであり、真の最適記録パワーＰｗoptと真の最適消去パワーＰｅoptに厳密には一致しない。
【００１０】
一般に、真の最適記録パワーＰｗoptと真の最適消去パワーＰｅoptでオーバライトを行ったときに最大の許容オーバライト回数が得られることが知られている。真の最適記録パワーＰｗoptと真の最適消去パワーＰｅoptからのずれが大きくなるほどその光ディスクに対する許容オーバライト回数は減少する。即ち、その光ディスクの寿命が短くなる。
【００１１】
そこで、より厳密なＯＰＣを行って、真の最適記録パワーＰｗoptと真の最適消去パワーＰｅoptに近づけようとする技術が従来から提案されており、例えば特許文献１等に開示されている。
【特許文献１】特開２００６−３４４２５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、特許文献１等に提案されているＯＰＣは処理時間が長くなる。例えば、特許文献１が開示する技術は次のような手順でＯＰＣを行っている。まず、第１段階として、光ディスク製造メーカが推奨する消去パワーＰｅとの記録パワーＰｗ比ε（ε＝消去パワーＰｅ／記録パワーＰｗ）を固定した状態で前述した通常の一般的ＯＰＣを行う。この段階で最適記録パワーＰｗoptを決定すると共にεから暫定的な消去パワーＰｅを求める。次に第２段階として、決定した最適記録パワーＰｗoptと暫定的な消去パワーＰｅを用いてテスト記録を行う。最後に第３段階として、第２段階で記録した領域にオーバライトを行う。この第３段階では、最適記録パワーＰｗoptを固定しつつ、εを変化させながら、即ち消去パワーＰｅを変化させながらオーバライトを行う。そして第３段階でオーバライトしたデータを再生、評価して最適消去パワーＰｅoptを決定している。
【００１３】
特許文献１が開示するＯＰＣは記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとを独立に変化させて最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを決定する方法であるため、真の最適記録パワーＰｗoptと真の最適消去パワーＰｅoptにより近いパワーが得られる。しかしながら、特許文献１が開示するＯＰＣは、従来の一般的ＯＰＣ動作が第１段階のみであるのに対して、第２段階での記録動作とさらに第３段階での記録動作及び再生動作を必要とする。このため、最適な記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとを決定するために相当の時間を要することになる。
【００１４】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、ＯＰＣ動作に要する時間を従来と同程度の短時間に維持しつつも、従来以上に良好なオーバライト特性を実現可能な最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを得ることができる光ディスク装置及び光ディスク記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク装置は、請求項１に記載したように、書き換え可能な光ディスクに対して記録及び再生を行う光ディスク装置において、設定された記録パワー及び消去パワーによって前記光ディスクにマーク及びスペースを夫々形成してデータを記録すると共に、記録したデータを再生する光ピックアップと、前記記録パワー及び前記消去パワーを変化させながら前記光ディスクにテストデータを試し書きし、試し書きした前記テストデータを再生、評価して最適な記録パワーと最適な消去パワーを決定する制御部と、予め取得してある補正係数を保存する不揮発性メモリと、を備え、前記制御部は、前記光ディスク毎に推奨値として与えられる推奨記録パワーと推奨消去パワーとのパワー比を保存された前記補正係数によって補正し、記録パワーと、この記録パワー及び前記補正されたパワー比から求められる消去パワーとを変化させながら試し書きする、ことを特徴とする。
【００１６】
また、上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク記録方法は、請求項４に記載したように、書き換え可能な光ディスクに対して記録を行う光ディスク記録方法において、予め補正係数を取得し、保存するステップと、設定された記録パワー及び消去パワーによって前記光ディスクにマーク及びスペースを夫々形成してデータを記録すると共に、記録したデータを再生するステップと、前記記録パワー及び前記消去パワーを変化させながら前記光ディスクにテストデータを試し書きし、試し書きした前記テストデータを再生、評価して最適な記録パワーと最適な消去パワーを決定するステップと、を備え、前記決定するステップでは、前記光ディスク毎に推奨値として与えられる推奨記録パワーと推奨消去パワーとのパワー比を保存された前記補正係数によって補正し、記録パワーと、この記録パワー及び前記補正されたパワー比から求められる消去パワーとを変化させながら試し書きする、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に係る光ディスク装置及び光ディスク記録方法によれば、ＯＰＣ動作に要する時間を従来と同程度の短時間に維持しつつも、従来以上に良好なオーバライト特性を実現可能な最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明に係る光ディスク装置及び光ディスク記録方法の実施形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
（１）光ディスク装置の構成と全般動作
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置１の構成例を示す図である。
【００２０】
光ディスク装置１は、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＷ、ＨＤ  ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え可能型光ディスク１００に対して情報の記録及び再生を行うものである。光ディスク１００には、螺旋状に溝が刻まれており、溝の凹部をグルーブ、凸部をランドと呼び、グループ又はランドの一周をトラックと呼ぶ。このトラック（グルーブのみ又はグルーブ及びランド）に沿って、強度変調されたレーザ光を照射し、マークとスペースをトラック上に形成することによってユーザデータを記録する。ユーザデータの記録は既に記録されたデータの上から上書き（オーバライト)することが可能であり、新たにマークを形成するときには記録パワーＰｗを用い、スペースを形成するときには記録パワーＰｗよりも小さな消去パワーＰｅを用いてオーバライトする。
【００２１】
データの再生は、記録時のレーザパワーよりも小さなリードパワーのレーザ光をトラックに沿って照射して、トラック上にあるマーク及びスペースからの反射光の強度の変化を検出することにより行われる。
【００２２】
光ディスク１００はスピンドルモータ２によって回転駆動される。スピンドルモータ２に設けられたロータリエンコーダ２ａからは回転角信号が提供される。回転角信号は、例えばスピンドルモータ２の回転毎に発生する複数のパルス信号である。この回転角信号からスピンドルモータ２の回転角度及び回転数を判断でき、スピンドルモータ駆動回路６を介してスピンドルモータ制御回路６ａに入力される。スピンドルモータ制御回路６ａでは、これらの情報に基づいてスピンドルモータ２の回転駆動制御を行っており、駆動制御信号はスピンドルモータ駆動回路６によってスピンドルモータ駆動電流に変換され、スピンドルモータ２に入力される。
【００２３】
光ディスク１００に対する情報の記録、再生は、光ピックアップ３によって行われる。光ピックアップ３は、送りモータ４とギア４ｂ及びスクリューシャフト４ａを介して連結されており、この送りモータ４は送りモータ駆動回路５を介して送りモータ制御回路５ａにより制御される。送りモータ４が送りモータ駆動回路５からの送りモータ駆動電流により回転することにより、光ピックアップ３が光ディスク１００の半径方向に移動する。
【００２４】
光ピックアップ３には、図示しないワイヤ或いは板バネによって支持された対物レンズ３０が設けられている。対物レンズ３０は駆動コイル３１の駆動によりフォーカシング方向（レンズの光軸方向）への移動が可能である。また、駆動コイル３２の駆動によりトラッキング方向（レンズの光軸と直交する方向）への移動が可能である。
【００２５】
レーザ駆動回路４２は、制御部１０から出力されるレーザ制御信号に基づいて記録用のレーザダイオード駆動電流をレーザ発光素子（レーザダイオード）３３に供給する。制御部１０には、パーソナルコンピュータ等のホスト装置２００からＩ／Ｆ回路１８を介して記録用のユーザデータが入力される。制御部１０では、記録用のデータに対してＥＴＭ（Eight  to  Twelve  Modulation）方式等の変調方式で変調し、マーク及びスペースを形成するためのレーザ制御信号を生成する。また、制御部１０では、マークを形成する記録パワーＰｗやスペースを形成する消去パワーＰｅの最適化処理をユーザデータの記録前に行っている。これらの最適化処理の具体的内容については後述する。ユーザデータの記録は最適化された記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅを用いて行われる。
【００２６】
一方、レーザ駆動回路４２は、情報読取り時には、書き込み用の駆動電流よりも小さな読み取り用の駆動電流をレーザ発光素子３３に供給する。
【００２７】
フォトダイオード等により構成されるパワー検出部３４はレーザ発光素子３３が発生するレーザ光の一部をハーフミラー３５により一定比率だけ分岐し、光量、即ち発光パワーに比例した信号を受光信号として検出する。検出した受光信号はレーザ駆動回路４２に供給される。レーザ駆動回路４２はパワー検出部３４からの受光信号に基づいて、制御部１０等で設定された記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、再生用パワー等で発光するように、レーザ発光素子３３を制御する。
【００２８】
記録時にレーザ発光素子３３から発せられるレーザ光は、コリメータレンズ３６、ハーフプリズム３７、対物レンズ３０を介して光ディスク１００上に照射され、光ディスク１００のトラック上にマーク及びスペースを形成する。
【００２９】
一方、再生時には、光ディスク１００からの反射光は、対物レンズ３０、ハーフプリズム３７、集光レンズ３８、およびシリンドリカルレンズ３９を介して、光検出器４０に導かれる。光検出器４０は、例えば４分割の光検出セルから成り、これら光検出セルの検知信号は光検出器４０と一体的に構成されるＯ／Ｅ変換器４１にてアナログ電気信号となり、ＲＦアンプ６４に出力される。
【００３０】
ＲＦアンプ６４は光検出セルからの信号を処理し、ジャストフォーカスからの誤差を示すフォーカスエラー信号ＦＥ、レーザ光のビームスポット中心とトラック中心との誤差を示すトラッキングエラー信号ＴＥ、光検知セル信号の全加算信号であるＲＦ信号、及びトラックの蛇行（ウォブル）波形を再生するウォブル信号を生成する。
【００３１】
フォーカスエラー信号ＦＥは制御部１０のＤＳＰ１７でデジタル演算処理が行われた後、フォーカス制御回路８ａに供給される。フォーカス制御回路８ａはフォーカスエラー信号ＦＥに応じてフォーカス制御信号を生成する。フォーカス制御信号はフォーカス駆動回路８によってフォーカス駆動電流に変換され、フォーカシング方向の駆動コイル３１に供給される。これにより、レーザ光が光ディスク１００の記録膜上に常時ジャストフォーカスとなるフォーカスサーボ制御が行われる。
【００３２】
一方、トラッキングエラー信号ＴＥは制御部１０のＤＳＰ１７でデジタル演算処理が行われた後、トラック制御回路９ａに供給される。トラッキング制御回路９ａはトラッキングエラー信号ＴＥに応じてトラッキング制御信号を生成する。トラッキング制御信号はトラッキング制御回路９によってトラッキング駆動電流に変換され、トラッキング方向の駆動コイル３２に供給される。これによりレーザ光が光ディスク１００上に形成されたトラック上を常にトレースするトラッキングサーボ制御が行われる。
【００３３】
上記のフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御が行われることで、レーザ光の焦点は、光ディスク記録面のトラック上を精度良く追従することができる。この結果、光ディスク１００の再生信号であるＲＦ信号には、記録情報に対応して光ディスク１００のトラック上に形成されたマークやスペースからの反射光の変化が正確に反映され、品質の良い再生信号を得ることができる。
【００３４】
この再生信号は、ＡＤ変換器１１に入力されデジタル再生信号となり、データ再生回路１２にされる。ＰＬＬ回路１３では、水晶発信器２０から出力されるクロック信号とデータ再生回路１２から出力される再生データに基づいて再生データのチャネルビットに同期した再生クロックが生成される。この再生クロックによってＡＤ変換器１１によるサンプリングが行われる。
【００３５】
デジタル再生信号はデータ再生回路１２にて二値化され、記録時の変調方式に対応した復調方式によって復調され再生データとなる。再生データはさらにエラー訂正回路１４に入力され、ここでエラー訂正処理が行われた後Ｉ／Ｆ回路１８を介してホスト装置２００に出力される。
【００３６】
一方、評価指標測定回路１５には、データ再生回路１２から出力される二値化データや再生信号の振幅値が入力される。評価指標測定回路１５では、最適記録パワーＰｗoptや最適消去パワーＰｅoptを決定するための評価指標が測定、算出される。本実施形態では、レーザパワーの最適化方式として、所謂パラメータγ（特許文献１等参照）を用いるγ方式を利用しており、評価指標測定回路１５にてこのパラメータγが測定、算出される。γ方式は、テスト記録時にレーザパワーを変化させながらテストデータを記録し、記録したテストデータの再生信号の振幅値からパラメータγを求め、パラメータγが所定の値となる記録パワーＰｗや消去パワーＰｅを最適値として決定する方式である。
【００３７】
制御部１０のＣＰＵ１６やＤＳＰ（Digital  Signal  Processor）１７は、光ディスク装置１全体の制御や各種演算処理を行うプロセッサである。ＲＯＭ２２にはこれらのプロセッサのプログラムが格納されており、ＲＡＭ２１はこれらプロセッサのワーキングエリア等として機能する。
【００３８】
不揮発性メモリ２３には、本実施形態に係るレーザパワーの最適化処理で利用する補正係数等が保存されている。補正係数の内容や意義については後述する。
【００３９】
（２）記録時のレーザパワーの最適化処理
次に、記録時のレーザパワーの最適化処理について説明する。図２は、レーザ発光素子３３から出力される記録時のレーザ波形（図２（ａ））と、これによって光ディスク１００のトラック上に形成されるマークとスペース（図２（ｂ））、及びマークとスペースの再生信号（図２（ｃ））を模式的に示した図である。
【００４０】
通常マークを形成する（或いはオーバライトする）ときには、図２（ａ）に例示したようなマルチパルスが用いられる。マルチパルスは、そのピーク値が記録パワーＰｗで表される複数のパルス列によって構成されている。一方、スペースを形成する（或いはオーバライトする）ときには、記録パワーＰｗよりも小さな消去パワーＰｅが用いられる。
【００４１】
一般に最適な記録パワーＰｗや消去パワーＰｅは光ディスクの種類、光ディスクの製造メーカ毎に異なっている。このため光ディスクの所定の領域には、ディスク製造メーカが推奨する記録パワーＰｗや消去パワーＰｅが製造メーカの識別情報と共に予め記録されている。
【００４２】
しかしながら、光ピックアップ３から出力されるレーザパワーは、レーザ発光素子３３の固体特性や、周囲の温度等の環境条件によって変動する。このため、前述したように、従来からＯＰＣによってレーザパワーの最適化処理を行っている。
【００４３】
図３は、本実施形態との比較のため、従来から行われている一般的なＯＰＣの概念を説明する図である。
【００４４】
従来のＯＰＣでは、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅのパワー比ε０（ε０＝Ｐｅ／Ｐｗ）を一定に保ちながら、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅをステップ状に変化させてテストデータを光ディスク１００のテスト領域に記録している。ここで、パワー比ε０は、ディスクメーカが推奨する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとから求まる推奨パワー比ε０である。
【００４５】
記録したテストデータを再生し、再生信号から所定の評価指標、例えばパラメータγを記録パワーＰｗ（及び消去パワーＰｅ）毎に求める。そして所定の評価基準を満足するパラメータγに対応する記録パワーＰｗ（及び消去パワーＰｅ）を最適記録パワーＰｗopt（及び最適消去パワーＰｅopt）として決定する。
【００４６】
しかしながら、従来のＯＰＣは厳密には最適な記録パワーＰｗ（及び消去パワーＰｅ）を決定するものではない。図４はこの理由を説明する図である。
【００４７】
従来のＯＰＣでは、記録パワーＰｗを所定範囲でステップ状に変化させているものの、消去パワーＰｅについてはディスクメーカの推奨パワー比ε０に基づいて決定している。しかしながら、実際には最適な記録パワーＰｗと最適な消去パワーＰｅのパワー比（以下、最適パワー比という）は一定とはならず、光ディスク装置１毎の固有特性のばらつきや温度によって異なった値となる。例えば、図４に示したようにεｔ１〜εｔ２の範囲で異なる。
【００４８】
最適パワー比がディスクメーカの推奨パワー比ε０と異なる理由は、主に光ディスク装置１側の要因であり、前述したようにマルチパルス波形のオーバシュートの影響や光学系の特性等が光ディスク装置１毎に異なることに起因する。また、オーバシュートの影響や光学系の特性は温度によっても変化する。これらの変動要因はディスクメーカでは知り得ない情報であり、ディスクメーカの推奨パワー比ε０に含めることはできない。
【００４９】
しかしながら、このことは逆の観点から見ると、光ディスク装置１毎に異なる特性を装置毎に取得し、取得したデータに基づく装置毎の補正係数によって推奨パワー比ε０を補正すれば、上記の変動要因をも加味したレーザパワーの最適化処理が可能であることを示唆している。本実施形態に係る光ディスク装置１では、この示唆を具現化した手法を採用している。
【００５０】
図５は、本実施形態に係る光ディスク装置１におけるレーザパワーの最適化処理の一例を示すフローチャートである。
【００５１】
光ディスク１００が光ディスク装置１に挿入され、ホスト装置２００からユーザデータの記録指示が出力されると、ユーザデータの記録に先立ち図５の最適化処理を行い、最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを決定してゆく。
【００５２】
まず、ディスクメーカ推奨の記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとを挿入された光ディスク１００の所定領域から読み出し、推奨パワー比ε０を求める（ステップＳＴ１）。なお、ディスクメーカと光ディスク１００の種類がわかれば推奨パワー比ε０はほぼ一意に定まる。そこで、ディスクメーカ及び光ディスク１００の種類に関連付けられた推奨パワー比ε０を予め不揮発性メモリ２３に保存しておき、挿入された光ディスク１００からディスクメーカと種類を読み取り、その後不揮発性メモリ２３からこれらと対応する推奨パワー比ε０を読み出してもよい。
【００５３】
次に、不揮発性メモリ２３に予め保存されているパワー比の補正係数Ｋ０を読み出す（ステップＳＴ２）。補正係数Ｋ０は、光ディスク装置１の製造工程において装置毎に取得されるものであり、装置毎に異なる値となり得る。
【００５４】
ステップＳＴ３では、推奨パワー比ε０と補正係数Ｋ０とから、補正後のパワー比εを求める（ε＝ε０・Ｋ０）。
【００５５】
ステップＳＴ４及びステップＳＴ５は、従来のＯＰＣと基本的には同じ処理である。即ち、補正後のパワー比εを一定として、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを変化させながらテストデータを記録する（ステップＳＴ４）。
【００５６】
次に、テストデータを再生し、γ方式によって、最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを決定する。
【００５７】
以上でレーザパワーの最適化処理は終了し、以降は決定された最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptを用いてユーザデータの記録を行っていく。
【００５８】
図６は、上述したレーザパワーの最適化処理を３台の異なる光ディスク装置１（光ディスク装置Ａ、Ｂ、およびＣ）に適用した例を示す図である。光ディスク装置Ａ、Ｂ、およびＣの不揮発性メモリ２３には、予め取得したパワー比の補正係数ＫＡ、ＫＢ、及びＫＣが夫々保存されている。図６は、補正係数ＫＡ、ＫＢ、及びＫＣが夫々異なる値となる例を示している。補正係数ＫＡ、ＫＢ、及びＫＣが異なるとパワー比が異なり、記録パワーＰｗの変化の傾きが同じであっても、それに対する消去パワーＰｅの変化の傾きは異なってくる。このため、例えば、光ディスク装置Ａと光ディスク装置Ｂとで最適記録パワーＰｗoptが同じであったとしても、最適消去パワーＰｅoptは異なった値となる。このことは、光ディスク装置Ａと光ディスク装置Ｂとで、装置間の固体特性が異なったとしても、夫々の装置毎に最適化された消去パワーＰｅoptが得られることを意味している。
【００５９】
補正係数Ｋ０は、光ディスク装置１の製造段階で装置毎に予め取得しておくが、以下、その取得方法について説明する。
【００６０】
図７は、補正係数Ｋ０の取得方法の一例を示すフローチャートであり、図８はその説明図である。
【００６１】
まず、光ディスク１００を光ディスク装置１に挿入し、ディスクメーカ推奨値に基づく記録パワーＰｗ、及び消去パワーＰｅを光ディスク１００の所定領域から読み出す。ディスクメーカやディスクの種類によって予め記録パワーＰｗ、及び消去パワーＰｅ（或いはその比である推奨パワー比ε０）が既知の場合にそれらの値を用いてもよい（ステップＳＴ１０）。
【００６２】
次に、消去パワーＰｅと記録パワーＰｗの比（推奨パワー比ε０）を一定に保持しながら、記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅをステップ状に変化させてテストデータを記録する（ステップＳＴ１１）。その後、記録したテストデータを再生して、γ方式により、最適消去パワーＰｅoptとこれに対応する消去パワーＰｅ（準最適消去パワーＰｅ）を決定する（ステップＳＴ１２）。
【００６３】
ステップＳＴ１０、ステップＳＴ１１及びステップＳＴ１２の処理は、従来から行われている通常のＯＰＣと基本的には同じ処理であり、この様子を図８（ａ）に示している。
【００６４】
次に、ステップＳＴ１２で決定した最適記録パワーＰｗoptと準最適消去パワーＰｅとを用いて、もう一度テストデータを記録する（ステップＳＴ１３、及び図８（ｂ））。
【００６５】
さらに、記録したテストデータの上から、最適記録パワーＰｗoptを一定に保持しつつ、消去パワーＰｅを、例えばステップ状に変化させながらテストデータをオーバライトする（ステップＳＴ１４）。図８（ｃ）はこの様子を示す図である。
【００６６】
次に、オーバライトしたテストデータを再生し、ステップ状に変化させた各消去パワーＰｅの記録領域における再生エラーレートの比較により、最適消去パワーＰｅoptを決定する（ステップＳＴ１５）。
【００６７】
最後に、決定された最適消去パワーＰｅoptと最適記録パワーＰｗopt、及び推奨パワー比ε０と補正係数Ｋ０の関係式（Ｐｅopt／Ｐｗopt＝ε０・Ｋ０）から補正係数Ｋ０をもとめ、不揮発性メモリ２３に保存する（ステップＳＴ１６、及び図８（ｄ））。
【００６８】
このようにして求められた補正係数Ｋ０には、光ディスク装置１毎に固有の特性が反映されたものとなっている。
【００６９】
ところで、前述したように、装置に固有な特性、例えば記録パルス波形のオーバシュート特性や光学系の特性は温度によって変化する。そこで、補正係数Ｋ０に対してもこれらの温度による変化が反映された方がより好ましい補正係数となる。
【００７０】
図９は、温度変化を加味した補正係数Ｋ（ｔ）を例示する図である。この実施形態では、前述した補正係数Ｋ０に加えて温度補正係数ρ（ｔ）（図９（ａ）参照）を予め取得しておき、温度変化を加味した補正係数Ｋ（ｔ）を、Ｋ（ｔ）＝Ｋ０・ρ（ｔ）、によって求めるものとしている（図９（ｃ）参照）。補正係数Ｋ０と温度補正係数ρ（ｔ）とを夫々不揮発性メモリ２３に保存してもよいし、両者の積のＫ（ｔ）を不揮発性メモリ２３に保存してもよい。ここで、温度補正係数ρ（ｔ）は、補正係数Ｋ０の取得時の温度ｔ０を基準（“１”）とする温度係数であり、予め取得した温度変化特性に基づいて適宜の近似直線（或いは近似曲線）で表したものである。温度補正係数ρ（ｔ）は、適宜の温度ステップでテーブル化されたものであってもよい。
【００７１】
図１０は、補正係数Ｋ（ｔ）を用いた最適化処理の一例を示すフローチャートである。前述した最適化処理（図５参照）との相違点は、ステップＳＴ２１及びステップＳＴ２２である。ステップＳＴ２１では、光ピックアップ３等に配設されている温度センサ４３によって、温度ｔｄを検出する。次に、ステップＳＴ２２では、検出温度ｔｄに対応するパワー比の補正係数Ｋ（ｔｄ）を不揮発性メモリ２３から読み出す（図９（ｃ）参照）。以降の処理は前述した実施形態と同様であり、ステップＳＴ２３にて、補正後のパワー比を、ε＝ε０・Ｋ（ｔｄ）、によって求め、この補正後のパワー比εを一定として記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとを変化させながらテストデータを記録する（ステップＳＴ２４）。その後、テストデータを再生し、γ方式により、最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを決定する。
【００７２】
以上説明してきたように、本実施形態に係る光ディスク装置１、及び光ディスク記録方法によれば、光ディスク装置１毎に固有な特性が反映された補正係数Ｋ０を用いて記録時のレーザパワーの最適化を行っているため、ディスクメーカの推奨パワー比ε０に基づく従来のＯＰＣに比べると、高い精度の最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptとを決定することができる。また、温度補正された補正係数Ｋ（ｔｄ）を利用することで、その精度をさらに高めることが可能となる。この結果、書き換え可能型光ディスクの許容オーバライト回数を増加させるこが可能となり、光ディスクの寿命を従来のＯＰＣを持ち場合よりも延ばすことができる。
【００７３】
また、補正係数Ｋ０やＫ（ｔｄ）は予め製造段階で取得して不揮発性メモリ２３に保存されているため、特許文献１等に開示されている技術のようにテストデータの記録、再生の処理を複数回繰り返す必要がなく、従来のＯＰＣと同程度の短時間で最適記録パワーＰｗoptと最適消去パワーＰｅoptを得ることができる。
【００７４】
なお、本発明は上記の実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせても良い。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成例を示すブロック図。
【図２】書き換え可能型光ディスクにおけるレーザパワー（記録パワーＰｗ及び消去パワーＰｅ）とマーク及びスペースの関係を模式的に示す図。
【図３】従来から行われている一般的なＯＰＣの概念を説明する図。
【図４】従来から行われている一般的なＯＰＣの問題点を説明する図。
【図５】本実施形態に係るレーザパワーの最適化処理の一例を示すフローチャート。
【図６】本実施形態に係るレーザパワーの最適化処理の動作概念を示す図。
【図７】本実施形態に係る補正係数Ｋ０の取得処理の一例を示すフローチャート。
【図８】本実施形態に係る補正係数Ｋ０の取得方法概念を示す図。
【図９】温度変化を加味した補正係数Ｋ（ｔｄ）の説明図。
【図１０】補正係数Ｋ（ｔｄ）を用いたレーザパワーの最適化処理の一例を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００７６】
１  光ディスク装置
３  光ピックアップ
７  ＲＦアンプ
１０  制御部
１１  Ａ／Ｄ変換器
１２  データ再生回路
１５  評価指標測定回路
１６  ＣＰＵ
２３  不揮発性メモリ
３３  レーザ発光素子（レーザダイオード）
４２  レーザ駆動回路
４３  温度センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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