(57)【要約】【課題】簡単な操作により短時間且つ高精度でコンデンサの絶縁性を検査する方法を提供すること。【解決手段】検査対象のコンデンサに、このコンデンサの絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ0よりも高い電圧値Ｖ1の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで時間ｔ1が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより、前記コンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、その電流について測定される電流値ｉ0を、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の上限値と比較する操作を含むコンデンサの絶縁性の検査方法。【選択図】図４
2009258099.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象のコンデンサに、当該コンデンサの絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ0よりも高い電圧値Ｖ1の直流電圧を付与して該コンデンサに電流を発生させ、次いで時間ｔ1が経過した時点で、該直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより、該コンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、その電流について測定される電流値ｉ0を、当該コンデンサについて予め決められた漏れ電流の上限値と比較する操作、ただし、直流電圧の電圧値の降下後に、電流値が継続的に変動しない電流が二回以上現れる場合には、第一回目の電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉSを、当該コンデンサについて予め決められた漏れ電流の関連値の上限値と比較する操作、を含むコンデンサの絶縁性の検査方法。
【請求項２】
電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉ0を、当該コンデンサについて予め決められた漏れ電流の下限値と比較する操作、ただし、直流電圧の電圧値の降下後に、電流値が継続的に変動しない電流が二回以上現れる場合には、第一回目の電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉSを、当該コンデンサについて予め決められた漏れ電流の関連値の下限値と比較する操作を更に含む請求項１に記載のコンデンサの絶縁性の検査方法。
【請求項３】
電圧値Ｖ1と時間ｔ1とが、下記の工程を含む方法によって決められた電圧値と時間である請求項１もしくは２に記載のコンデンサの絶縁性の検査方法：
リファレンスとなるコンデンサに電圧値Ｖ0よりも高い任意の電圧値Ｖ2の直流電圧を付与して該コンデンサに電流を発生させ、次いで任意の時間ｔ2が経過した時点で、該直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより該コンデンサに流れる電流の電流値の変化のパターンを検出する工程；そして
上記の工程を、電圧値Ｖ2および／または時間ｔ2を変えて繰り返し実施して、上記電流値の変化のパターンが、電流値が継続的に変動しないパターンとなる電圧値Ｖ2と時間ｔ2との組合せを見出し、この組合せの電圧値と時間とをＶ1とｔ1とする工程。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンデンサの絶縁性の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、回路基板に電子部品を高密度で実装するため、電子部品は極めて小型化されている。電子部品の中でも、特にコンデンサ（キャパシタ）は、小型化するにつれて絶縁性が不十分となる傾向にある。このため、製造された多数のコンデンサは、通常、その全数について絶縁性の検査が行なわれている。
【０００３】
図１は、従来の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形を模式的に示す図である。そして図２は、図１に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【０００４】
従来より、検査対象のコンデンサの絶縁性は、例えば、下記の方法（Ａ）あるいは方法（Ｂ）によって検査が行なわれている。
【０００５】
（Ａ）検査対象のコンデンサに、その絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ0の直流電圧を付与し、この直流電圧の付与によりコンデンサを流れる電流が安定した電流値を示す時間ｔ0が経過した時点で、このコンデンサを流れる電流の電流値ｉ0を測定し、この電流値ｉ0を予め決められた漏れ電流の上限値ｉ0Hと比較してコンデンサの絶縁性を検査する方法。
【０００６】
この方法では、測定した漏れ電流の電流値ｉ0が、前記の上限値ｉ0Hを超える値を示すコンデンサは、不良品として扱われる。
【０００７】
しかしながら、コンデンサを流れる電流が安定した電流値を示す時間ｔ0は、通常、１〜５分程度の範囲内にある。
【０００８】
従って、この検査方法は、検査対象のコンデンサの絶縁性を高い精度で検査することができる利点を有しているものの、多数のコンデンサを検査するために非常に長い時間を必要とする問題点をも有している。
【０００９】
この方法では、検査対象のコンデンサの規格にも依るが、前記の電圧値Ｖ0は、検査対象のコンデンサと同一の規格のコンデンサの定格電圧の０．１〜５倍（好ましくは０．１〜１倍）の範囲内の値に、そして時間ｔ0は、１〜５分の範囲内の値に予め決定する。
【００１０】
また、漏れ電流の上限値ｉ0Hは、検査対象のコンデンサと同一規格のコンデンサについて、上記電圧値Ｖ0の直流電圧を印加してから時間ｔ0が経過した時点でコンデンサを流れる電流の電流値を測定し、通常は、測定された電流値の１．１〜２．０倍の範囲内、好ましくは１．１〜１．５倍の範囲内の値に予め決定する。なお、上記電流値の測定を、検査対象のコンデンサと同一規格の複数個（例、５〜１００個）のコンデンサについて行ない、例えば、この測定で得られた電流値の平均値を基準として上記の上限値ｉ0Hを決定する場合もある。
【００１１】
また、コンデンサの漏れ電流の電流値は小さいほうが好ましいが、実用的には、この電流の電流値の測定に用いる電流計が正常に動作しているか否かを確認するため、あるいは極端に小さな漏れ電流値を示すコンデンサを除去するため、測定される電流（漏れ電流）の電流値ｉ0を、予め決められた漏れ電流の下限値ｉ0Lと比較する場合もある。
【００１２】
この漏れ電流の下限値ｉ0Lは、検査対象のコンデンサと同一規格のコンデンサについて、上記電圧値Ｖ0の直流電圧を印加してから時間ｔ0が経過した時点でコンデンサを流れる電流の電流値を測定し、通常は、測定された電流値の０．１〜０．９倍の範囲内、好ましくは０．５〜０．９倍の範囲内の値に予め決定する。なお、上記電流値の測定を、検査対象のコンデンサと同一規格の複数個（例、５〜１００個）のコンデンサについて行ない、例えば、この測定で得られた電流値の平均値を基準として上記の下限値ｉ0Lを決定する場合もある。
【００１３】
（Ｂ）検査対象のコンデンサに、その絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ0の直流電圧を付与し、この直流電圧の付与によりコンデンサを流れる電流が安定した電流値を示す時間ｔ0よりも前に、すなわち前記時間ｔ0よりも短い時間ｔSが経過した時点で、このコンデンサを流れる電流の電流値ｉSを測定し、この電流値ｉSを予め決められた上限値ｉSHと比較してコンデンサの絶縁性を検査する方法。
【００１４】
この方法では、測定した電流（漏れ電流に関連する電流）の電流値（以下「漏れ電流の関連値」と記載する場合がある）ｉSが、前記の上限値ｉSHを超える値を示すコンデンサは、時間ｔ0を経過した時点で電流値ｉ0が上限値ｉ0Hを超える値を示すと推定して、不良品として扱われる。
【００１５】
従って、この検査方法は、前記方法（Ａ）と比較して、検査対象のコンデンサの絶縁性を短時間で検査することができる利点を有している。しかしながら、検査に用いる電流値ｉSを、コンデンサを流れる電流が安定した電流値を示す時間ｔ0よりも前に測定する、すなわちコンデンサを流れる電流値が時間的に変動（減少）する電流の電流値を測定するため、上記の電流値ｉSを測定する時間を正確に設定しないと、得られる電流値ｉSに誤差を生じて、検査の精度が低下し易い。また、検査の時間を短縮するため、前記の電流値ｉSを測定する時間ｔSを小さな値に設定するほど、コンデンサを流れる電流の電流値が時間的に大きく変動するため、得られる電流値ｉSに含まれる誤差が大きくなる、すなわち検査の精度が低下する傾向にある。従って、検査の精度を低下させることなく、検査に要する時間を短縮することは難しい。
【００１６】
この方法では、検査対象のコンデンサの規格にも依るが、通常、前記の時間ｔSは、前記時間ｔ0の０．０１〜９０％程度の値に予め決定する。なお、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の電圧値Ｖ0は、前記方法（Ａ）の場合と同様にして予め定められる。
【００１７】
また、前記の上限値（すなわち、前記の漏れ電流の関連値の上限値）ｉSHは、検査対象のコンデンサと同一規格のコンデンサについて、上記電圧値Ｖ0の直流電圧を印加してから時間ｔSが経過した時点でコンデンサを流れる電流の電流値を測定し、通常は、測定された電流値の１．１〜２．０倍の範囲内、好ましくは１．１〜１．５倍の範囲内の値に予め決定する。なお、上記電流値の測定を、検査対象のコンデンサと同一規格の複数個（例、５〜１００個）のコンデンサについて行ない、例えば、この測定で得られた電流値の平均値を基準として上記の上限値ｉSHを決定する場合もある。
【００１８】
また、前記方法（Ａ）の場合と同様に、電流値ｉSを予め決められた下限値ｉSLと比較する場合、この下限値（すなわち、前記の漏れ電流の関連値の下限値）ｉSLは、検査対象のコンデンサと同一規格のコンデンサについて、上記電圧値Ｖ0の直流電圧を印加してから時間ｔSが経過した時点でコンデンサを流れる電流を測定し、通常は、測定された電流値の０．１〜０．９倍の範囲内、好ましくは０．５〜０．９倍の範囲内の値に予め決定する。なお、上記電流値の測定を、検査対象のコンデンサと同一規格の複数個（例、５〜１００個）のコンデンサについて行ない、例えば、この測定で得られた電流値の平均値を基準として上記の下限値ｉSLを決定する場合もある。
【００１９】
特許文献１には、コンデンサを流れる電流が安定した電流値を示す時間ｔ0よりも前に、コンデンサを流れる電流の波形（充電電流特性）の傾きに基づいてコンデンサの絶縁性を検査する方法（コンデンサ製品の良否判別方法）が開示されている。
【００２０】
この検査方法において、コンデンサの絶縁性は、例えば、コンデンサを流れる電流の波形の二つの時点における傾きを求め、そして両者の傾きの差の値が予め決められた上限値と下限値との間にあるか否かにより検査される。
【００２１】
そして同文献には、この検査方法により、コンデンサの絶縁性を短時間且つ高精度で検査（良否判定）できると記載されている。
【００２２】
しかしながら、この検査方法もまた、検査に用いる電流の波形の傾きを、コンデンサを流れる電流が安定した電流値を示す時間ｔ0よりも前に検出するため、上記の電流の波形の傾きを検出する時間を正確に設定しないと、得られる電流の波形の傾きに誤差を生じて、検査の精度が低下し易い。また、検査の時間を短縮するため、前記の電流の波形の傾きを測定する時間を小さな値に設定するほど、コンデンサを流れる電流の電流値が時間的に大きく変動するため、得られる電流の波形の傾きに含まれる誤差が大きくなる、すなわち検査の精度が低下する傾向にある。
【００２３】
また、この検査方法は、電流の波形の傾きを求める微分処理、あるいは得られた傾きの減算処理などの複雑な操作を必要とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２４】
【特許文献１】特開平１１−２１１７７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
本発明の課題は、簡単な操作により、短時間且つ高精度でコンデンサの絶縁性を検査する方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
本発明者は、直流電圧の付与によりコンデンサを流れる電流値が時間的に変動する電流（充電電流）に、この直流電圧を降下させた際に前記コンデンサに発生する放電電流を付加することにより、このコンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変えることができ、この電流値が継続的に変動しない電流の電流値に基づいて、前記コンデンサの絶縁性の短時間且つ高精度での検査が可能であることを見出した。
【００２７】
従って、本発明は、検査対象のコンデンサに、このコンデンサの絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ0よりも高い電圧値Ｖ1の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで時間ｔ1が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより前記コンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、その電流について測定される電流値ｉ0を、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の上限値と比較する操作、ただし、直流電圧の電圧値の降下後に、電流値が継続的に変動しない電流が二回以上現れる場合には、第一回目の電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉSを、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の関連値の上限値と比較する操作、を含むコンデンサの絶縁性の検査方法にある。
【００２８】
本発明の検査方法の好ましい態様は、次の通りである。
（１）電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉ0を、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の下限値と比較する操作、ただし、直流電圧の電圧値の降下後に、電流値が継続的に変動しない電流が二回以上現れる場合には、第一回目の電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉSを、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の関連値の下限値と比較する操作を更に含む。
（２）電圧値Ｖ1と時間ｔ1とが、下記の工程を含む方法によって決められた電圧値と時間である：
リファレンスとなるコンデンサに電圧値Ｖ0よりも高い任意の電圧値Ｖ2の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで任意の時間ｔ2が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより前記コンデンサに流れる電流の電流値の変化のパターンを検出する工程；そして
上記の工程を、電圧値Ｖ2および／または時間ｔ2を変えて繰り返し実施して、上記電流値の変化のパターンが、電流値が継続的に変動しないパターンとなる電圧値Ｖ2と時間ｔ2との組合せを見出し、この組合せの電圧値と時間とをＶ1とｔ1とする工程。
【００２９】
なお、本明細書において、測定される電流値ｉ0（もしくは電流値ｉS）を予め決められた上限値ｉ0H（もしくは上限値ｉSH）と比較する操作には、両者を各々に対応する別の数値に換算して比較する操作、例えば、コンデンサに付与する直流電圧の電圧値を用いて、前記の電流値ｉ0（もしくは電流値ｉS）を抵抗値に換算し、そして上限値ｉ0H（もしくは上限値ｉSH）を抵抗値の下限値に換算し、この抵抗値と抵抗値の下限値とを比較する操作が含まれる。
【００３０】
同様に、測定される電流値ｉ0（もしくは電流値ｉS）を予め決められた下限値ｉ0L（もしくは下限値ｉSL）と比較する操作には、両者を各々に対応する別の数値に換算して比較する操作、例えば、コンデンサに付与する直流電圧の電圧値を用いて、前記の電流値ｉ0（もしくは電流値ｉS）を抵抗値に換算し、そして下限値ｉ0L（もしくは下限値ｉSL）を抵抗値の上限値に換算し、この抵抗値と抵抗値の上限値とを比較する操作が含まれる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明の検査方法により、検査対象のコンデンサに直流電圧を付与して、次いで前記直流電圧を降下させることにより前記コンデンサを流れる電流（電流値が継続的に変動しない電流）の電流値を測定するという簡単な操作によって、このコンデンサの絶縁性を短時間で検査することができる。また、本発明の検査方法では、前記のように電流値が継続的に変動しない電流の電流値を測定するため、仮に前記の電流値を検出する時間が僅かに変動した場合であっても、得られる電流値は安定した値を示す。このため、検査対象のコンデンサの絶縁性を、高い精度で検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】従来の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形を模式的に示す図である。
【図２】図１に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【図３】本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の一例を模式的に示す図である。
【図４】図３に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【図５】本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の別の一例を模式的に示す図である。
【図６】図５に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【図７】本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の更に別の一例を模式的に示す図である。
【図８】図７に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【図９】本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の更に別の一例を模式的に示す図である。
【図１０】図９に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【図１１】比較例で検査対象のコンデンサに付与した直流電圧の波形を示す図である。
【図１２】図１１に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を示す図である。
【図１３】実施例で検査対象のコンデンサに付与した直流電圧の波形を示す図である。
【図１４】図１３に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
本発明の検査方法を、添付の図面を用いて説明する。
【００３４】
図３は、本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の一例を模式的に示す図である。そして図４は、図３に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【００３５】
図３及び図４に示すように、本発明の方法では、検査対象のコンデンサに、このコンデンサの絶縁性の検査のために予め決められた電圧値Ｖ0よりも高い電圧値Ｖ1の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで時間ｔ1が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより前記コンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、その電流について測定される電流値ｉ0を、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の上限値ｉ0Hと比較することにより、検査対象のコンデンサの検査が行われる。この比較により、測定された電流の電流値ｉ0が、漏れ電流の上限値ｉ0Hを超える値を示すコンデンサは、不良品として扱われる。
【００３６】
このように、本発明の検査方法では、直流電圧Ｖ1の付与により検査対象のコンデンサを流れる充電電流（電流値が時間的に変動する電流）に、この直流電圧をＶ1からＶ0に降下させた際にコンデンサに発生する放電電流を付加することにより、このコンデンサに流れる電流を電流値が継続的に変動しない電流に変え、この電流値が継続的に変動しない電流の電流値ｉ0に基づいて前記コンデンサの絶縁性の検査が行なわれる。
【００３７】
すなわち、本発明の検査方法は、検査対象のコンデンサに電圧値Ｖ1の直流電圧を付与し、次いで時間ｔ1が経過した時点で直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより前記コンデンサを流れる電流（電流値が継続的に変動しない電流）の電流値ｉ0を測定するという極めて簡単な操作によって、このコンデンサの絶縁性を短時間（時間ｔ0よりも短い時間）で検査することができる。
【００３８】
そして、本発明の検査方法では、前記のように電流値が継続的に変動しない電流の電流値を測定するため、仮に前記の電流値を検出する時間が僅かに変動した場合であっても、得られる電流値ｉ0は安定した値を示す。このため、検査対象のコンデンサの絶縁性を、高い精度で検査することができる。
【００３９】
なお、検査対象のコンデンサを流れる電流が、電流値が継続的に変動しない電流に変化した後、この電流値が継続的に変動しない電流の電流値を複数回測定し、得られた電流値の平均値を上記電流値ｉ0として用いることにより、検査の精度を更に高くすることができる。
【００４０】
本発明の検査方法においては、前記の電流値が継続的に変動しない電流の電流値ｉ0を、このコンデンサについて予め決められた漏れ電流の下限値ｉ0Lと比較する操作を更に含むことが好ましい。コンデンサの漏れ電流の電流値、すなわち測定される電流値ｉ0は小さいほうが好ましいが、実用的には、前記の電流値ｉ0の測定に用いる電流計が正常に動作しているか否かを確認するため、あるいは極端に小さな漏れ電流値を示すコンデンサを除去する（均一な品質のコンデンサを得る）ため、前記の電流値ｉ0を、予め決められた漏れ電流の下限値ｉ0Lと比較することが好ましい。
【００４１】
本発明の検査方法において、コンデンサに付与する直流電圧の電圧値Ｖ0としては、例えば、前記方法（Ａ）を実施する際に予め決められた電圧値Ｖ0と同じ値を用いることができる。そして、本発明の検査方法において、電流値が継続的に変動しない電流の電流値と比較される漏れ電流の上限値ｉ0H及び下限値ｉ0Lとしては、前記方法（Ａ）を実施する際に予め決められた上限値ｉ0H及び下限値ｉ0Lと同じ値を用いることができる。
【００４２】
すなわち、これまで前記方法（Ａ）によりコンデンサの絶縁性の検査を行なっていた場合には、コンデンサの絶縁性の良否を判定するための基準として用いてきた直流電圧の電圧値Ｖ0、上限値ｉ0H及び下限値ｉ0Lを変更することなく、これらの基準をそのまま利用して本発明の検査方法を実施することができる。なお、これまで前記方法（Ａ）によりコンデンサの絶縁性の検査を行なっていなかった場合には、例えば、前記方法（Ａ）の場合と同様にして、前記の電圧値Ｖ0、上限値ｉ0H及び下限値ｉ0Lを予め決めることもできる。
【００４３】
そして、前記の電圧値Ｖ1は、通常、前記電圧値Ｖ0の１．００１〜２倍、好ましくは１．００１〜１．５倍の範囲内の値に設定される。
【００４４】
また、時間ｔ1は、前記の時間ｔ0から４ｍ秒を減じた値よりも小さな値に設定される。この時間ｔ1は、通常、３ｍ秒〜１０秒の範囲内、好ましくは３ｍ秒〜１秒の範囲内、更に好ましくは３ｍ秒〜５００ｍ秒の範囲内の値に設定される。例えば、この時間ｔ1を、（前記時間ｔ0−４ｍ秒）未満の値に設定することにより、前記方法（Ａ）の場合よりも短時間でのコンデンサの絶縁性の検査が可能になる。
【００４５】
なお、本発明の検査方法では、前記のようにコンデンサに付与する直流電圧の電圧値をＶ1からＶ0に降下させる。この操作は、電圧値を実質的にＶ0に降下させることを意味し、電圧値をＶ0±０．３×（Ｖ1−Ｖ0）の範囲内の値に降下させる操作を含む。電圧値は、Ｖ0±０．２×（Ｖ1−Ｖ0）の範囲内の値に降下させることが好ましい。
【００４６】
図５は、本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の別の一例を模式的に示す図である。そして図６は、図５に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【００４７】
図５に示す直流電圧の電圧値Ｖ1、従って、電圧値の降下量（Ｖ1−Ｖ0）は、図３に示す直流電圧の場合よりも小さな値に設定されている。このため、図５に示す直流電圧を付与後に電圧値をＶ1からＶ0に降下させた際には、図３に示す直流電圧を付与する場合と比較して、検査対象のコンデンサに発生する放電電流の大きさ（電流値）が小さくなる。その結果、図６に示すように、検査対象のコンデンサに流れる電流が、電流値が継続的に変動しない電流に変化し始める時間が遅くなる。具体的には、概ね図６に示す時間ｔ3を経過した時点において、コンデンサを流れる電流が、電流値が継続的に変動しない電流に変化する。
【００４８】
従って、この時間ｔ3と時間ｔ0との間にて、前記の電流値が時間的に変動しない電流の電流値ｉ0を測定することにより、検査対象のコンデンサの絶縁性を短時間（時間ｔ0よりも短い時間）で検査することができる。
【００４９】
図７は、本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の更に別の一例を模式的に示す図である。そして図８は、図７に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【００５０】
図７に示す直流電圧の電圧値Ｖ1、従って、電圧値の降下量（Ｖ1−Ｖ0）は、図３に示す直流電圧の場合よりも大さな値に設定されている。このため、図７に示す直流電圧を付与後に電圧値をＶ1からＶ0に降下させた際には、図３に示す直流電圧を付与する場合と比較して、検査対象のコンデンサに発生する放電電流の大きさ（電流値）が大きくなる。その結果、図８に示すように、検査対象のコンデンサに流れる電流が、電流値が継続的に変動しない電流に変化し始める時間が遅くなる。具体的には、概ね図８に示す時間ｔ3を経過した時点において、コンデンサを流れる電流が、電流値が継続的に変動しない電流に変化する。
【００５１】
従って、この時間ｔ3と時間ｔ0との間にて、前記の電流値が時間的に変動しない電流の電流値ｉ0を測定することにより、検査対象のコンデンサの絶縁性を短時間（時間ｔ0よりも短い時間）で検査することができる。
【００５２】
図９は、本発明の検査方法において、検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形の更に別の一例を模式的に示す図である。そして図１０は、図９に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を模式的に示す図である。
【００５３】
図９および図１０に示すように、本発明の検査方法においては、前記の電圧値Ｖ1および／または時間ｔ1を適切な値に調節することにより、時間ｔ1と、時間ｔ0よりも前の任意の時間ｔSとの間において電流値が継続的に変動しない電流を発生させることもできる。
【００５４】
図１０に示すように、検査対象のコンデンサに流れる電流の波形には、電流値が継続的に変動しない電流が、時間ｔ1と時間ｔSとの間、そして時間ｔ0以降に合計で二回現れることもある。
【００５５】
このように、直流電圧の電圧値をＶ1からＶ0に降下した後に、前記の電流値が継続的に変動しない電流が二回あるいはそれ以上現れる場合には、第一回目の電流値が継続的に変動しない電流、すなわち検査対象のコンデンサを時間ｔ1と時間ｔSとの間に流れる電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉSを、前記コンデンサについて予め決められた漏れ電流の関連値の上限値ｉSHと比較することにより、このコンデンサの絶縁性を検査することができる。
【００５６】
この検査方法では、前記方法（Ｂ）の場合と同様に、測定された電流値（漏れ電流の関連値）ｉSが、前記の漏れ電流の関連値の上限値ｉSHを超える値を示すコンデンサは、時間ｔ0を経過した時点で電流値ｉ0が上限値ｉ0Hを超える値を示すと推定して、不良品として扱われる。
【００５７】
この検査方法でもまた、前記の第一回目の電流値が継続的に変動しない電流について測定される電流値ｉSを、予め決められた漏れ電流の関連値の下限値ｉSLと比較することが好ましい。
【００５８】
この検査方法において、例えば、コンデンサに付与する直流電圧の電圧値Ｖ0を、前記方法（Ｂ）で用いる電圧値Ｖ0と同じ値に設定し、そして時間ｔ1を、前記方法（Ｂ）で電流値を測定する時間ｔSから４ｍ秒を減じた値よりも小さな値に設定することにより、方法（Ｂ）の場合よりも短時間且つ高精度でのコンデンサの絶縁性の検査が可能になる。
【００５９】
この検査方法では、電流値が継続的に変動しない電流の電流値ｉSと比較される上限値ｉSH及び下限値ｉSLとして、前記方法（Ｂ）を実施する際に予め決められた上限値ｉSH及び下限値ｉSLと同じ値を用いることができる。
【００６０】
すなわち、これまで前記方法（Ｂ）によりコンデンサの絶縁性の検査を行なっていた場合には、コンデンサの絶縁性の良否を判定するための基準として用いてきた直流電圧の電圧値Ｖ0、上限値ｉSH及び下限値ｉSLを変更することなく、これらの基準をそのまま利用して本発明の検査方法を実施することができる。なお、これまで前記方法（Ｂ）によりコンデンサの絶縁性の検査を行なっていなかった場合には、例えば、前記方法（Ｂ）の場合と同様にして、前記の電圧値Ｖ0、上限値ｉSH及び下限値ｉSLを予め決めることもできる。
【００６１】
以上説明した本発明の検査方法において、電圧値Ｖ1と時間ｔ1とは、下記の１）及び２）の工程を含む方法によって決められた電圧値と時間であることが好ましい。
【００６２】
１）リファレンスとなるコンデンサに電圧値Ｖ0よりも高い任意の電圧値Ｖ2の直流電圧を付与してコンデンサに電流を発生させ、次いで任意の時間ｔ2が経過した時点で、直流電圧の電圧値をＶ0に降下させることにより前記コンデンサに流れる電流の電流値の変化のパターンを検出する工程。
【００６３】
このリファレンスとなるコンデンサとしては、検査対象のコンデンサと同一規格の任意のコンデンサ製品が用いられる。但し、リファレンスとなるコンデンサには、絶縁性が不良であるコンデンサを含めない。
【００６４】
この電圧値Ｖ2は、通常、前記電圧値Ｖ0の１．００１〜２倍、好ましくは１．００１〜１．５倍の範囲内の値に設定される。
【００６５】
また、時間ｔ2は、前記の時間ｔ0から４ｍ秒を減じた値よりも小さな値に設定される。この時間ｔ2は、通常、３ｍ秒〜１０秒の範囲内、好ましくは３ｍ秒〜１秒の範囲内、更に好ましくは３ｍ秒〜５００ｍ秒の範囲内の値に設定される。
【００６６】
２）上記の１）の工程を、電圧値Ｖ2および／または時間ｔ2を変えて繰り返し実施して、上記電流値の変化のパターンが、電流値が継続的に変動しないパターンとなる電圧値Ｖ2と時間ｔ2との組合せを見出し、この組合せの電圧値と時間とをＶ1とｔ1とする工程。
【００６７】
上記工程２）において、「変動しない」とは、前記のパターンが開始する時間における電流値が、終了する時間（但し、時間ｔ0を超えない時間）における電流値の±２５％（好ましくは±２０％、特に±１０％）の範囲内にあることを意味する。そして「継続的に」とは、前記のパターンが開始する時間と終了する時間との差が、４ｍ秒以上であることを意味する。
【００６８】
そして、このような電圧値Ｖ2と時間ｔ2との組合せを見出す際には、時間ｔ2の値を変えずに、電圧値Ｖ2の値を変えて前記１）の工程を繰り返し実施してもよいし、電圧値Ｖ2の値を変えずに、時間ｔ2の値を変えて前記１）の工程を繰り返し実施してもよいし、あるいは電圧値Ｖ2及び時間ｔ2の各々の値を変えて前記１）の工程を繰り返し実施してもよい。
【００６９】
例えば、時間ｔ2を変えずに、電圧値Ｖ2を、電圧値Ｖ0に微小電圧値（例えば、０．０１〜０．５Ｖ）を加えた値に設定して、電圧値をＶ2からＶ0に降下させた際にコンデンサを流れる電流の電流値の変化のパターンを検出する。検出したパターンが、電流値が継続的に変動しない電流値のパターンでなければ、この電圧値Ｖ2に更に上記微小電圧値を加えて、同様にして電流値の変化のパターンを検出する操作を、電流値が継続的に変動しないパターンが得られるまで繰り返す。そして、電流値が継続的に変動しないパターンが得られた際の電圧値Ｖ2と前記時間ｔ2との組み合わせを、検査の際に用いる電圧値Ｖ1と時間ｔ1との組み合わせとする。
【００７０】
なお、本発明の検査方法では、例えば、上記の手順によって電圧値Ｖ1と時間ｔ1との組み合わせを予め定めれば、このリファレンスとなるコンデンサと同一規格のコンデンサ（測定対象のコンデンサ）の絶縁性を検査する際に、改めて上記電圧値Ｖ1と時間ｔ1との組み合わせを定める必要はない。
【実施例】
【００７１】
［比較例］
下記のようにして、検査対象である市販のセラミックコンデンサの絶縁性を、公知の検査方法（前記の方法（Ｂ））により検査した。検査の条件は、予め次のように決められている。
【００７２】
コンデンサに付与する直流電圧の電圧値（Ｖ0）：３０Ｖ、前記の直流電圧を付与後にコンデンサを流れる電流の電流値（ｉS）を測定する時間（ｔS）：５０ｍ秒、漏れ電流の上限値（ｉSH）：２５μＡ、および漏れ電流の下限値（ｉSL）：１５μＡ。
【００７３】
先ず、検査対象のコンデンサに、電圧値が３０Ｖの直流電圧を付与し、そして５０ｍ秒の時間が経過した時点でコンデンサに流れる電流の電流値を測定した。測定された電流値（ｉS）は１９μＡであり、前記の漏れ電流の上限値（ｉSH）と下限値（ｉSL）との間の値を示した。このことから、検査対象のコンデンサの絶縁性に問題がないことが確認できた。コンデンサの絶縁性の検査に必要とされる時間は、５０ｍ秒であった。
【００７４】
図１１は、比較例で検査対象のコンデンサに付与した直流電圧の波形を示す図である。そして図１２は、図１１に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を示す図である。
【００７５】
［実施例］
先ず、リファレンスとなるコンデンサとして、比較例のコンデンサと同一の製造ロットにて生産されたコンデンサを用意した。
【００７６】
次に、リファレンスとなるコンデンサに付与する直流電圧の電圧値（Ｖ2）を３０．１Ｖに、そして直流電圧の電圧値を（Ｖ0）に降下させる時間（ｔ2）を２０ｍ秒に設定した。
【００７７】
そして、前記の時間（ｔ2）の値は変動させずに、電圧値（Ｖ2）の値を０．１Ｖずつ増加させながら、各々の電圧値（Ｖ2）と時間（ｔ2）との組合せ毎に、コンデンサに電圧値（Ｖ2）の直流電圧を付与し、次いで時間（ｔ2）が経過した時点で直流電圧の電圧値を（Ｖ0）に降下させることによりコンデンサを流れる電流の電流値の変化のパターンを検出した。
【００７８】
その結果、前記の電圧値（Ｖ2）が３０．５Ｖ、そして時間（ｔ2）が２０ｍ秒の条件において、このコンデンサを流れる電流の電流値の変化のパターンが、継続的に変動しない電流値のパターンとなることを確認した。よって、この電圧値（Ｖ2）と時間（ｔ2）との組み合わせを、検査の際に用いる電圧値（Ｖ1）と時間（ｔ1）との組み合わせとした。
【００７９】
図１３は、実施例で検査対象のコンデンサに付与する直流電圧の波形を示す図である。そして図１４は、図１３に示す直流電圧の付与により検査対象のコンデンサを流れる電流の波形を示す図である。
【００８０】
図１４に示すように、検出された電流の電流値の変化のパターンは、３０ｍ秒（時間ｔ3）から５０ｍ秒までの間にて、電流値が約１９μＡで継続的に変動しない電流値のパターンとなっていることが確認できる。
【００８１】
検査対象のコンデンサの絶縁性の検査は、以下の手順に従って実施した。先ず、検査対象のコンデンサとして、前記と同じ製造ロットの１００個のコンデンサを用いた。これらの検査対象のコンデンサの各々に、３０．５Ｖ（電圧値：Ｖ1）の直流電圧を付与して、次いで２０ｍ秒の時間（時間ｔ1）が経過した時点で直流電圧の電圧値を３０Ｖ（電圧値：Ｖ0）に降下させ、そして３０ｍ秒の時間（時間ｔ3）を経過した時点でコンデンサを流れる電流（電流値が継続的に変動しない電流）の電流値を測定した。測定された１００個のコンデンサの電流値は、１６〜２２μＡの範囲内にあり、前記漏れ電流の上限値（ｉSH）と下限値（ｉSL）との間の値を示した。このことから、検査対象の１００個のコンデンサの絶縁性に問題がないことが確認できた。このようにして、検査対象の１００個のコンデンサの絶縁性を検査した。
【００８２】
このように、実施例で各々のコンデンサの絶縁性の検査に必要とされる時間は３０ｍ秒であり、比較例の場合と比較して検査に必要な時間を６０％に短縮することができた。
【符号の説明】
【００８３】
ｔ0、ｔ1、ｔ3、ｔS  時間
Ｖ0、Ｖ1  電圧
ｉ0、ｉS  電流
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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