(57)【要約】      （修正有）【課題】記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を提供する。【解決手段】基準フォーカス値を記憶するメモリ１３と、基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び基準フォーカス値に所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成するＣＰＵ１４とを備え、ＣＰＵ１４は、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、テストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする。【選択図】図１
2009093766.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、
フォーカス制御を行うサーボ処理手段と、
前記フォーカス制御の基準となる基準フォーカス値を記憶する記憶手段と、
前記基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び前記基準フォーカス値から前記所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成する制御手段と、を具備し、
前記制御手段は、前記基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、前記基準フォーカス値、前記第１修正フォーカス値及び前記第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いて前記テストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記基準フォーカス値に基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合、前記第１修正フォーカス値及び前記第２修正フォーカス値を用いず前記基準フォーカス値のみを用いて前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との差が所定量未満の場合、前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との比率が等しいと判断することを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記基準フォーカス値に基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合、前記基準フォーカス値の代わりに前記第１修正フォーカス値を用いて前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との差が所定量以上の場合、前記正側の振幅量が前記負側の振幅量より大きいと判断することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記基準フォーカス値に基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合、前記基準フォーカス値の代わりに前記第２修正フォーカス値を用いて前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との差が所定量以上の場合、前記正側の振幅量が前記負側の振幅量より小さいと判断することを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項８】
光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、
フォーカス制御及びチルト制御を行うサーボ処理手段と、
前記フォーカス制御の基準となる第１基準フォーカス値及び第２基準フォーカス値と、チルト制御の基準となる第１基準チルト値及び第２基準チルト値とを記憶する記憶手段と、
前記第１基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び前記第１基準フォーカス値から前記所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成し、前記第２基準フォーカス値に所定値を加算した第３修正フォーカス値及び前記第２基準フォーカス値から前記所定値を減算した第４修正フォーカス値を生成する制御手段と、を具備し、
前記制御手段は、前記第１基準フォーカス値と前記第１基準チルト値との組み合わせに基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、前記第１基準フォーカス値、前記第１修正フォーカス値及び前記第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いて前記テストデータの記録を行うかを判断すると共に、前記第２基準フォーカス値と前記第２基準チルト値との組み合わせに基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、前記第２基準フォーカス値、前記第３修正フォーカス値及び前記第４修正フォーカス値のうちいずれかを用いて前記テストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
フォーカス制御の基準となる基準フォーカス値を記憶し、
前記基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び前記基準フォーカス値から前記所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成するフォーカス制御方法であって、
前記基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、前記基準フォーカス値、前記第１修正フォーカス値及び前記第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いて前記テストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１０】
前記基準フォーカス値に基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合、前記第１修正フォーカス値及び前記第２修正フォーカス値を用いず前記基準フォーカス値のみを用いて前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項９記載の光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１１】
前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との差が所定量未満の場合、前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との比率が等しいと判断することを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１２】
前記基準フォーカス値に基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合、前記基準フォーカス値の代わりに前記第１修正フォーカス値を用いて前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項９記載の光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１３】
前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との差が所定量以上の場合、前記正側の振幅量が前記負側の振幅量より大きいと判断することを特徴とする請求項１２記載の光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１４】
前記基準フォーカス値に基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合、前記基準フォーカス値の代わりに前記第２修正フォーカス値を用いて前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項９記載の光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１５】
前記正側の振幅量と前記負側の振幅量との差が所定量以上の場合、前記正側の振幅量が前記負側の振幅量より小さいと判断することを特徴とする請求項１４記載の光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【請求項１６】
フォーカス制御の基準となる第１基準フォーカス値及び第２基準フォーカス値と、チルト制御の基準となる第１基準チルト値及び第２基準チルト値とを記憶し、
前記第１基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び前記第１基準フォーカス値から前記所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成し、前記第２基準フォーカス値に所定値を加算した第３修正フォーカス値及び前記第２基準フォーカス値から前記所定値を減算した第４修正フォーカス値を生成するフォーカス制御方法であって、
前記第１基準フォーカス値と前記第１基準チルト値との組み合わせに基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、前記第１基準フォーカス値、前記第１修正フォーカス値及び前記第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いて前記テストデータの記録を行うかを判断すると共に、前記第２基準フォーカス値と前記第２基準チルト値との組み合わせに基づいて前記テストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、前記第２基準フォーカス値、前記第３修正フォーカス値及び前記第４修正フォーカス値のうちいずれかを用いて前記テストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報の記録又は再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに情報を記録する場合、または光ディスクに記録された情報を再生する場合、光源から出射された光を光ディスクの記録面上に集光させる必要がある。この集光には、通常、対物レンズと呼ばれる集光レンズが用いられる。光ディスクに記録もしくは再生を行う場合、対物レンズの位置を変化させて光ディスクの記録面と対物レンズとの距離を最適距離に保つフォーカス制御と、対物レンズの傾きを変化させて対物レンズから出射された光を光ディスクの記録面に対して垂直に保つチルト制御とを行うことで、光源から出射された光を光ディスクの記録面上に最適に集光させることができる。
【０００３】
光ディスク装置は、対物レンズを光ディスクに対してフォーカス制御する際の基準となる基準フォーカス値を記憶している。これは、理想的な光ディスクを使用する際に有効な基準値である。
【０００４】
ところが、実際の光ディスクは、その製造上のばらつきによって理想的な光ディスクに対して記録層の位置がずれていたり反りがあったりする場合があるので、それぞれの光ディスクに合わせてフォーカス制御の基準値と、チルト制御の基準値を変更して記録品質の向上を図る必要がある。
【０００５】
光ディスクの記録層の位置や光ディスクの反りは、実使用上では直接計測することができないので、その代用として使用する光ディスクに対し対物レンズの位置と傾きとを変化させながらテストデータを記録し、そのテストデータを再生し、一定のチェック処理を行うことで、テストデータの記録に用いた条件の中から使用する光ディスクの記録品質が最良になる条件を選択し、対物レンズの位置と傾きを決定している。
【０００６】
図１４、図１５、図１６は、フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の組み合わせの範囲を示す図であり、図１４は記録層の位置ずれや反りがない理想的な光ディスクを使用する場合の一例を示し、図１５、図１６は、記録層の位置ずれや反りがある光ディスクを使用する場合の一例を示している。図１４〜図１６において、５０１〜５０３は領域であり、横軸はチルト制御値、縦軸はフォーカス制御値である。また、Ｆｏ（０）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている基準フォーカス値、Ｔｉ（０）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている基準チルト値、Ｆｏ（１）は図１５に示す光ディスクを使用する際に最適なフォーカス制御値、Ｆｏ（２）は図１６に示す光ディスクを使用する際に最適なフォーカス制御値である。
【０００７】
フォーカス制御値とチルト制御値は、その組み合わせによりフォーカスサーボ外れしない組み合わせとフォーカスサーボ外れする組み合わせがある。すなわち、フォーカス制御可能な組み合わせとフォーカス制御困難な組み合わせがある。
【０００８】
図１４〜図１６は、その組み合わせを示したものであり、領域５０１〜領域５０３の範囲内がフォーカス制御可能な組み合わせであり、領域５０１〜領域５０３の範囲外がフォーカス制御困難な組み合わせである。領域５０１〜領域５０３内にある複数の円領域はフォーカスサーボのサーボ可能状況を示す等高線であり、中心部にいくほどその光ディスクに最適なフォーカス制御基準値とチルト制御基準値の組み合わせになる。
【０００９】
理想的な光ディスクを使用する場合、フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の関係は図１４に示すようになるので、基準チルト値Ｔｉ（０）と基準フォーカス値Ｆｏ（０）を基準値としてフォーカス制御を行う。この場合、基準チルト値Ｔｉ（０）と基準フォーカス値Ｆｏ（０）は、光ディスク装置のメモリ１３に予め記憶されているものと同一のものとなる。
【００１０】
ところが、光ディスクの記録層の位置ずれや反りのある光ディスクを使用する場合、その状態に応じてフォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の関係が図１５に示すものになったり、図１６に示すものになったりする。この場合、それぞれのフォーカス制御値Ｆｏ（１）、Ｆｏ（２）は、光ディスク装置のメモリ１３に予め記憶されているフォーカス値Ｆｏ（０）とは異なる。
【００１１】
そのため、使用する光ディスクの状態に合わせてフォーカス制御の基準値を変更しながら複数のテストデータを記録し、そのテストデータを再生し、一定のチェック処理を行うことで、テストデータの記録に用いた条件の中から使用する光ディスクの記録品質が最良になる条件を選択し、光ディスクの記録品質を高めている。
【特許文献１】特開２００６−２１６１１５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合、その位置ずれや反りにより記録したテストデータを再生するためのフォーカス制御ができず、複数記録したテストデータの全てを再生できない場合があった。この場合、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御値が充分な精度を得られない、もしくはテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落することにより最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断し最適フォーカス制御基準値を算出できないという問題があった。
【００１３】
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、フォーカス制御を行うサーボ処理手段と、フォーカス制御の基準となる基準フォーカス値を記憶する記憶手段と、基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び基準フォーカス値に所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成する制御手段と、を具備し、制御手段が、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする光ディスク装置である。
【００１５】
また本発明は、フォーカス制御の基準となる基準フォーカス値を記憶し、基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び基準フォーカス値に所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成するフォーカス制御方法であって、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする光ディスク装置のフォーカス制御方法である。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は上記構成により、制御手段が、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することによって、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録にフォーカス制御ができずテストデータを再生できなくなるテストデータの記録をしないので、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落することにより最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を実現できる。
【００１７】
また、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することによって、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値により記録されたテストデータを再生することにより得られる情報から基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録回数を決定するので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を向上でき、併せて精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を向上し、併せて精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を高めつつ、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる光ディスク装置及びそのフォーカス制御を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
請求項１記載の発明は、光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、フォーカス制御を行うサーボ処理手段と、フォーカス制御の基準となる基準フォーカス値を記憶する記憶手段と、基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び基準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成する制御手段と、を具備し、制御手段が、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする。制御手段が、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録にフォーカス制御ができずテストデータを再生できなくなるテスト記録をしないので、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置を実現できる。また、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することによって、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値により記録したテストデータを再生することにより得られる情報から基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録回数を決定するので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を向上でき、併せて精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出する精度を高めつつ、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる光ディスク装置を実現できる。
【００１９】
請求項２記載の発明は、制御手段が、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値を用いず基準フォーカス値のみを用いてテストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録のみで、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録を中止するので、使用する個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００２０】
請求項３記載の発明は、制御手段が、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量未満の場合、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しいと判断することを特徴とする。これにより、制御手段がフォーカスエラー信号の正側の振幅と負側の振幅との比率を判別する際の判別精度を高めるので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたか否かを精度良く判断できる。
【００２１】
請求項４記載の発明は、制御手段が基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合、基準フォーカス値の代わりに第１修正フォーカス値を用いてテストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第２修正フォーカス値を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置を実現できる。
【００２２】
請求項５記載の発明は、制御手段が、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より大きいと判断することを特徴とする。これにより、制御手段がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より大きいと判別する際の判別精度を高めるので、第２修正フォーカス値を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判断を精度良く行うことができる。
【００２３】
請求項６記載の発明は、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合、基準フォーカス値の代わりに第２修正フォーカス値を用いてテストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第１修正フォーカス値を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置を実現できる。
【００２４】
請求項７記載の発明は、制御手段が、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より小さいと判断することを特徴とする。これにより、制御手段がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より小さいと判別する際の判別精度を高めるので、第１修正フォーカス値を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判別を精度良く行うことができる。
【００２５】
請求項８記載の発明は、光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成手段と、フォーカス制御及びチルト制御を行うサーボ処理手段と、フォーカス制御の基準となる第１基準フォーカス値及び第２基準フォーカス値と、チルト制御の基準となる第１基準チルト値及び第２基準チルト値とを記憶する記憶手段と、第１基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び第１基準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成し、第２基準フォーカス値に所定値を加算した第３修正フォーカス値及び第２基準フォーカス値から所定値を減算した第４修正フォーカス値を生成する制御手段と、を具備し、制御手段が、第１基準フォーカス値と第１基準チルト値との組み合わせに基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、第１基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断すると共に、第２基準フォーカス値と第２基準チルト値との組み合わせに基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、第２基準フォーカス値、第３修正フォーカス値及び第４修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする。制御手段が、第１基準フォーカス値と第１基準チルト値との組み合わせに基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、第１基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断すると共に、第２基準フォーカス値と第２基準チルト値との組み合わせに基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、第２基準フォーカス値、第３修正フォーカス値及び第４修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、第１基準フォーカス値と第１基準チルト値とに基づくテスト記録もしくは第２基準フォーカス値と第２基準チルト値とに基づくテスト以降にフォーカス制御又はチルト制御ができずテストデータを再生できなくなるテスト記録をしないので、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置を実現できる。
【００２６】
請求項９記載の発明は、フォーカス制御の基準となる基準フォーカス値を記憶し、基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び基準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成するフォーカス制御方法であって、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録にフォーカス制御ができずテストデータを再生できなくなるテスト記録をしないので、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置のフォーカス制御方法を実現できる。また、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することによって、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値により記録したテストデータを再生することにより得られる情報から基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録回数を決定するので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を向上でき、併せて精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出する精度を高めつつ、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる光ディスク装置のフォーカス制御方法を実現できる。
【００２７】
請求項１０記載の発明は、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値を用いず基準フォーカス値のみを用いてテストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録のみで、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録を中止するので、使用する個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００２８】
請求項１１記載の発明は、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量未満の場合、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しいと判断することを特徴とする。これにより、制御手段がフォーカスエラー信号の正側の振幅と負側の振幅との比率を判別する際の判別精度を高めるので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたか否かを精度良く判断できる。
【００２９】
請求項１２記載の発明は、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合、基準フォーカス値の代わりに第１修正フォーカス値を用いてテストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録が最適位置から離れた位置にあると判断して更に最適位置から離れると予想される第２修正フォーカス値を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置のフォーカス制御方法を実現できる。
【００３０】
請求項１３記載の発明は、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より大きいと判断することを特徴とする。これにより、制御手段がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より大きいと判別する際の判別精度を高めるので、第２修正フォーカス値を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判断を精度良く行うことができる。
【００３１】
請求項１４記載の発明は、基準フォーカス値に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合、基準フォーカス値の代わりに第２修正フォーカス値を用いてテストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値によるテスト記録が最適条件から離れた条件であったと判断して更に最適条件から離れると予想される第１修正フォーカス値を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができずテストデータを再生する確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置のフォーカス制御方法を実現できる。
【００３２】
請求項１５記載の発明は、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より小さいと判断することを特徴とする。これにより、制御手段がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より小さいと判別する際の判別精度を高めるので、第１修正フォーカス値を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判別を精度良く行うことができる。
【００３３】
請求項１６記載の発明は、フォーカス制御の基準となる第１基準フォーカス値及び第２基準フォーカス値と、チルト制御の基準となる第１基準チルト値及び第２基準チルト値とを記憶し、第１基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び第１基準フォーカス値に所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成し、第２基準フォーカス値に所定値を加算した第３修正フォーカス値及び第２基準フォーカス値に所定値を減算した第４修正フォーカス値を生成するフォーカス制御方法であって、第１基準フォーカス値と第１基準チルト値との組み合わせに基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、第１基準フォーカス値、第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断すると共に、第２基準フォーカス値と第２基準チルト値との組み合わせに基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、第２基準フォーカス値、第３修正フォーカス値及び第４修正フォーカス値のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することを特徴とする。これにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、第１基準フォーカス値と第１基準チルト値とに基づくテスト記録もしくは第２基準フォーカス値と第２基準チルト値とに基づくテスト以降にフォーカス制御又はチルト制御ができずテストデータを再生できなくなるテスト記録をしないので、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置のフォーカス制御方法を実現できる。
【００３４】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１について、図面を参照しながら説明する。
【００３５】
図１は本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図である。図１において、１は光源、２は対物レンズ、３はレンズホルダ、４はアクチュエータ、４ａはフォーカス調整用コイル、５は四分割光検出器、６はスピンドルモータ、７はフィードモータ、８はフォーカスエラー信号生成回路、９はＲＦ信号検出回路、１０はフォーカスサーボ回路、１１は信号計測回路、１２はジッタ検出回路、１３はメモリ、１４はＣＰＵ、１５はレーザ制御部、１６はドライバ、５０は光ディスク、１００は光ヘッド部、２００はピックアップモジュールである。
【００３６】
ピックアップモジュール２００は、光ディスク５０を回転させるスピンドルモータ６と、光ディスク５０に光を照射し光ディスク５０からの反射光を受光する光ヘッド部１００と、光ヘッド部１００を光ディスク５０の半径方向に移動させるフィードモータ７を備えたフィード部と、により構成されている。
【００３７】
光ヘッド部１００は、光ディスク５０に照射する光を出射する光源１と、光源１からの出射光を集光する対物レンズ２と、対物レンズ２を移動可能に保持するレンズホルダ３と、レンズホルダ３を駆動するアクチュエータ４と、光ディスク５０からの反射光を対物レンズ２経由で受光する四分割光検出器５を備えている。
【００３８】
アクチュエータ４は、フォーカス調整用コイル４ａや図示しないチルト調整用コイルやマグネット等が設けられており、コイルに電流を流すことによりレンズホルダ３をフォーカス方向やチルト方向に駆動して対物レンズ２を移動させることで、フォーカス調整やチルト調整を行う。
【００３９】
四分割光検出器５は、光ディスク５０からの反射光を受光し、その受光した光量に応じた電気信号を生成し、その生成した電気信号をフォーカスエラー信号生成回路８とＲＦ信号検出回路９とに出力する。
【００４０】
フォーカスエラー信号生成回路８は、四分割光検出器５から入力された電気信号からフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号をフォーカスサーボ回路１０と信号計測回路１１とに出力する。また、ＲＦ信号検出回路９は、四分割光検出器５から入力された電気信号からＲＦ信号を検出し、そのＲＦ信号を信号計測回路１１とジッタ検出回路１２とに出力する。
【００４１】
フォーカスサーボ回路１０は、フォーカスエラー信号生成回路８から入力されたフォーカスエラー信号を基にアクチュエータ４ａに設けられたフォーカス調整用コイル４ａに流す電流を決定し、ＣＰＵ１４に出力する。信号計測回路１１は、フォーカスエラー信号生成回路８から入力されたフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量を測定し、その測定結果をＣＰＵ１４に出力する。また、信号計測回路１１は、ＲＦ信号検出回路９から入力されたＲＦ信号の振幅を測定し、ＲＦ信号振幅値としてＣＰＵ１４に出力する。ジッタ検出回路１２は、ＲＦ信号検出回路９から入力されたＲＦ信号の時間的な揺らぎであるジッタ成分を検出し、ジッタ値としてＣＰＵ１４に出力する。
【００４２】
メモリ１３は、フォーカス制御の制御基準とする基準フォーカス値と、チルト制御の制御基準とする基準チルト値が格納されており、ＣＰＵ１４からの命令により基準フォーカス値と基準チルト値とをＣＰＵ１４に送出する。この基準フォーカス値と基準チルト値は、理想的な光ディスクを使用する場合のものであり、実際の光ディスクは記録層のずれや反りがあるため、使用する光ディスク５０に合わせてＣＰＵ１４で調整される。
【００４３】
ＣＰＵ１４は、フォーカスエラー信号生成回路８、フォーカスサーボ回路１０、信号計測回路１１、メモリ１３、ドライバ１６の各部から送られる信号が入力され、これらの信号の演算処理等を行い、この演算処理の結果（信号）を各部に送出し、各部にて駆動、処理を実行させ、各部の制御を行うものである。信号計測回路１１から入力されたＲＦ信号振幅値は、その値が大きくなるほど光ディスク５０に記録された情報の記録品質が良いことを意味するので、ＣＰＵ１４はこのＲＦ信号振幅値を用いて光ディスク５０に記録されたテストデータの記録品質の判断をすることができる。また、信号計測回路１１から入力されたジッタ値は、その値が小さくなるほど光ディスク５０に記録された情報の記録品質が良いことを意味するので、ＣＰＵ１４はこのジッタ値を用いて光ディスク５０に記録されたテストデータの記録品質の判断をすることができる。
【００４４】
レーザ制御部１５は、四分割光検出器５で検出した光ディスク５０から反射光の光量に基づき、光ディスク５０に照射する光量が所定量になるように光源１の発光量を調整する。
【００４５】
ドライバ１６は、ＣＰＵ１４からの命令に従い、スピンドルモータ６、レーザ制御部１５、フォーカス調整用コイル４ａを駆動し、光ディスク５０を回転させ、光源１の発光量を調整し、対物レンズ２のフォーカス制御を行う。
【００４６】
なお、本実施の形態１におけるフォーカスエラー信号生成手段はフォーカスエラー信号生成回路８、サーボ処理手段はフォーカスサーボ回路１０、記憶手段はメモリ１３、制御手段はＣＰＵ１４に相当する。
【００４７】
図２は、本発明の実施の形態１におけるフォーカスエラー信号生成回路を示す図である。図２において、５は四分割光検出器、５ａ、５ｂは光検出器、８はフォーカスエラー信号生成回路、８ａはバランス回路、８ｂは差動回路である。
【００４８】
四分割光検出器５は４つの光検出器から構成され、その４つの検出器のうち所定の検出器２つを組み合わせることにより光検出器５ａと光検出器５ｂを形成する。光検出器５ａはフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の波形に対応する信号を送出し、光検出器５ｂはフォーカスエラー信号の基準電圧に対する負側の波形に対応する信号を送出する。ここで、基準電圧とは、光検出器５ａと光検出器５ｂの出力信号がいずれも０である場合のフォーカスエラー信号の出力電圧を基準電圧という。
【００４９】
光検出器５ａと光検出器５ｂとから送出された信号は、バランス回路８ａを介して差動回路８ｂに入力され、ここで、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の波形に対応する信号と、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する負側の波形に対応する信号とを差動演算することによりフォーカスエラー信号が生成される。
【００５０】
図３は、本発明の実施の形態１におけるテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号を示す図である。図３において、横軸は合焦点時を基準としたときの対物レンズの変位量（距離）、縦軸は電圧を示しており、ａ１、ａ２、ａ３はフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の波形の振幅量を示し、ｂ１、ｂ２、ｂ３はフォーカスエラー信号の基準電圧に対する負側の波形の振幅量を示している。図３（ａ）は、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の波形の振幅量と負側の波形の振幅量との比率が等しい場合（ａ１＝ｂ１）を示し、図３（ｂ）は、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合（ａ２＞ｂ２）を示し、図３（ｃ）は、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合（ａ３＜ｂ３）を示している。フォーカスエラー信号は、光ディスクの記録層の位置ずれや反りの状態に応じて、図３（ａ）〜図３（ｃ）のいずれかのパターンで出力される。
【００５１】
光ディスク５０にデータを記録する際に用いるフォーカス制御基準値が、使用している光ディスク５０の最適フォーカス制御値に近づくほど、データを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との差は小さくなる特性を有している。
【００５２】
これを利用した本発明の実施の形態１におけるＣＰＵ１４の動作について説明する。
【００５３】
ＣＰＵ１４は、メモリ１３から入力された基準フォーカス値を用いて、ドライバ１６を介してアクチュエータ４を駆動し光ディスク５０のテスト記録領域にテストデータを記録する。その後、このテストデータを再生してフォーカスエラー信号生成回路８でフォーカスエラー信号を生成し、このフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量を信号計測回路１１で測定する。そして、その測定結果に基づいて、基準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値と、メモリ１３から入力された基準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値を算出する。
【００５４】
なお、本実施の形態１においては、基準フォーカス値を用いたテストデータの記録の後に第１修正フォーカス値と、第２修正フォーカス値の算出を行ったが、第１修正フォーカス値と、第２修正フォーカス値の算出は、基準フォーカス値を用いたテストデータの記録の前に予め行っても良い。
【００５５】
このとき、図３（ａ）に示すように、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合、テストデータを記録する際に用いた基準フォーカス値が、使用する光ディスク５０に対して適正であると判断する。そして、使用する光ディスク５０の個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して基準フォーカス値によるテスト記録以降のテスト記録を中止する。これにより、使用する個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる。ここで、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量未満の場合も正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しいと判断することにより、ＣＰＵ１４がフォーカスエラー信号の正側の振幅と負側の振幅との比率を判別する際の判別精度を高めるので、使用する個体状況に応じたフォーカス制御の制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたか否かを精度良く判断できる。本実施の形態１における所定量は、フォーカスエラー信号振幅量の２０％である。
【００５６】
また、図３（ｂ）に示したように、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合、テストデータの記録に用いた基準フォーカス値が、使用する光ディスク５０に対して適正でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断する。そして、基準フォーカス値によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第２修正フォーカス値を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。ここで、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定値以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より大きいと判断することにより、ＣＰＵ１４がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より大きいと判別する際の判別精度を高めるので、第２修正フォーカス値を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判断を精度良く行うことができる。
【００５７】
また、図３（ｃ）に示したように、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合、図３（ｂ）の場合と同様に、テストデータの記録に用いた基準フォーカス値が、使用する光ディスク５０に対して適正でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断する。そして、基準フォーカス値によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第１修正フォーカス値を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくはテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。ここで、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定値以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より小さいと判断することにより、ＣＰＵ１４がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より小さいと判別する際の判別精度を高めるので、第１修正フォーカス値を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判別を精度良く行うことができる。
【００５８】
図４〜図６は、本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図であり、フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の組み合わせの範囲を示している。いずれも記録層の位置ずれや反りがある光ディスクを使用する場合の一例を示している。図４〜図６において、４０１〜４０３は領域であり、横軸はチルト制御値、縦軸はフォーカス制御値を示す。また、Ｆｏ（Ｇ）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている基準フォーカス値、Ｔｉ（０）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている基準チルト値、Ｆｏ（Ｐ１）は図４に示す光ディスクを使用する際の最適なフォーカス制御基準値、Ｆｏ（Ｐ２）は図５に示す光ディスクを使用する際に最適なフォーカス制御基準値、Ｆｏ（Ｐ３）は図６に示す光ディスクを使用する際に最適なフォーカス制御基準値である。
【００５９】
フォーカス制御値とチルト制御値は、その組み合わせによりフォーカスサーボ外れしない組み合わせとフォーカスサーボ外れする組み合わせがある。すなわち、フォーカス制御可能な組み合わせとフォーカス制御困難な組み合わせがある。
【００６０】
図４〜図６は、その組み合わせを示したものであり、領域４０１〜領域４０３の範囲内がフォーカス制御可能な組み合わせであり、領域４０１〜領域４０３の範囲外がフォーカス制御困難な組み合わせである。領域４０１〜領域４０３内にある複数の楕円領域はフォーカスサーボのサーボ可能状況を示す等高線であり、中心部にいくほどその光ディスクに最適なフォーカス制御基準値とチルト制御基準値の組み合わせになる。
【００６１】
光ディスク装置は、対物レンズ２を光ディスク５０に対してフォーカス制御する際の基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）をメモリ１３に記憶している。この基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）を中心に、光ディスクの状態に合わせてフォーカス制御基準値を変更することにより、記録品質の向上を図っている。光ディスクの記録層の位置や光ディスクの反りは実使用上では直接計測することができないので、使用する光ディスクに対して対物レンズの位置を変化させながら複数のテストデータを記録し、その記録したテストデータを再生し、ＲＦ信号振幅値またはジッタ値をチェックすることで、テストデータの記録に用いた条件の中から使用する光ディスクの記録品質が最良になる条件を選択し、対物レンズの位置を決定している。
【００６２】
本実施の形態１におけるテストデータの記録は、メモリ１３に記憶されている基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）と、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）に所定値を加算した第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）と、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）から所定値を減算した第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を算出し、これら３つのフォーカス値のうちからテストデータの記録を行うフォーカス値を決定する。
【００６３】
３つのフォーカス値のうちからどれを選択するかは、使用する光ディスク５０の状態により異なるので、以下順に説明する。
【００６４】
まず、使用する光ディスクに記録層の位置ずれや反りがほとんど無い場合である。この場合、記録品質が最良になるフォーカス制御値とチルト制御値の関係は、例えば図４に示す点Ｐ１になる。このときのテストデータを記録するフォーカス制御値の決定方法は、以下の流れになる。
【００６５】
メモリ１３に記憶された基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）をＣＰＵ１４がフォーカス制御基準値に設定し、メモリ１３に記憶された基準チルト値Ｔｉ（０）をＣＰＵ１４がチルト制御の基準値に設定して、テストデータを記録する。このとき、図４に示す特性を持つ光ディスクに対しては、点Ｇに示す基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）でテストデータを記録することになる。
【００６６】
この場合、テストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号は図３（ａ）に示すものと略同一になり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなるので、点Ｇに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｇ）が点Ｐ１に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ１）と略同一値になっていると判定する。そして、点Ａに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）によるテストデータの記録と点Ｂに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｇに示す基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）のみを用いて以降の処理を行う。
【００６７】
このように、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）及び第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いず、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）のみを用いてテストデータの記録を行うことにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録のみで、使用する光ディスク５０の個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録以降のテスト記録を中止するので、使用する個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００６８】
また、ＣＰＵ１４が、フォーカスエラー信号の正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量未満の場合、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しいと判断することによって、ＣＰＵ１４がフォーカスエラー信号の正側の振幅と負側の振幅との比率を判別する際の判別精度を高めるので、使用する光ディスク５０の個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたか否かを精度良く判断できる。ここで、本実施の形態における所定値は、フォーカスエラー信号全体の振幅値の２０％を所定値とした。
【００６９】
次に、使用する光ディスクに記録層の位置ずれや反りがある場合である。記録品質が最良になるフォーカス値とチルト値の関係は、例えば図５に示す点Ｐ２や図６に示す点Ｐ３になる。このときのテストデータを記録するフォーカス値の決定方法は、以下の流れになる。
【００７０】
図５の場合、ＣＰＵ１４がメモリ１３に記憶された基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）をフォーカス制御基準値に設定し、メモリ１３に記憶された基準チルト値Ｔｉ（０）をチルト制御基準値に設定して、テストデータを記録する。このとき、図５に示す特性を持つ光ディスクに対しては、点Ｇに示す基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）でテストデータを記録することになる。この場合、テストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号は図３（ｂ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より大きくなるので、点Ｇに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｇ）が点Ｐ２に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ２）と異なっていると判断する。併せて、点Ｂに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）によるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に大きくなると判断する。そして、点Ｂに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）によるテストデータの記録を行わず、点Ａに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いて以降の処理を行う。
【００７１】
このように、第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いず、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）の代わりに第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いてテストデータの記録を行うことにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくはテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。
【００７２】
また、ＣＰＵ１４が、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より大きいと判断することによって、ＣＰＵ１４がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より大きいと判別する際の判別精度を高めるので、第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判断を精度良く行うことができる。ここで、本実施の形態における所定値は、フォーカスエラー信号全体の振幅値の２０％を所定値とした。
【００７３】
次に、図６の場合、ＣＰＵ１４がメモリ１３に記憶された基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）をフォーカス制御基準値に設定し、メモリ１３に記憶された基準チルト値Ｔｉ（０）をチルト制御の基準値に設定して、テストデータを記録する。このとき、図６に示す特性を持つ光ディスクに対しては、点Ｇに示す基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）でテストデータを記録することになる。この場合、テストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号は図３（ｃ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より小さくなるので、点Ｇに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｇ）が点Ｐ３に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ３）と異なっていると判断する。併せて、点Ａに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）によるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に小さくなると判断する。そして、点Ａに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｂに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いて以降の処理を行う。
【００７４】
このように、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いず、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）の代わりに第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いてテストデータの記録を行うことにより、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくはテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。
【００７５】
また、ＣＰＵ１４が、正側の振幅量と負側の振幅量との差が所定量以上の場合、正側の振幅量が負側の振幅量より小さいと判断することによって、ＣＰＵ１４がフォーカスエラー信号の正側の振幅を負側の振幅より大きいと判別する際の判別精度を高めるので、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いたテスト記録を行う必要があるか否かの判断を精度良く行うことができる。ここで、本実施の形態における所定値は、フォーカスエラー信号全体の振幅値の２０％を所定値とした。
【００７６】
図７は、本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御方法を示すフローチャートである。
【００７７】
光ディスク装置に光ディスク５０が装着されると、ＣＰＵ１４はドライバ１５を介してスピンドルモータ６を回転させ、ドライバ１６、レーザ制御部１５を介して光源１を発光させる（Ｓ１）。次に、ＣＰＵ１４は、メモリ１３から基準チルト値Ｔｉ（０）と基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）を読み出し（Ｓ２）、基準チルト値Ｔｉ（０）と基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）に基づきテストデータを記録する（Ｓ３）。その後、ＣＰＵ１４は基準チルト値Ｔｉ（０）と基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）に基づき記録したテストデータを再生し（Ｓ４）、その再生信号を基にフォーカスエラー信号生成回路８でフォーカスエラー信号を生成する（Ｓ５）。生成されたフォーカスエラー信号は、信号計測回路１１に送られ、信号計測回路１１でフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量とを比較する（Ｓ６）。
【００７８】
このとき、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、図３（ａ）に示すように、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合には（Ｓ７）、テストデータの記録に用いた基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）が、装着した光ディスクに対して適性であると判断し、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して、以降のテストデータの記録を行わない（Ｓ８）。これにより、使用する個体状況に応じたフォーカス制御基準値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００７９】
また、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合には（Ｓ９）、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）に所定値を加算した第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を算出する（Ｓ１０）。そして、テストデータの記録に用いた基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）が、使用する光ディスクに対して適正でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断し、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録が最適記録条件から離れた位置にあると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いたテスト記録を行わず、最適記録条件に近づくと予想される基準チルト値Ｔｉ（０）と第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）の組み合わせでテスト記録を行う（Ｓ１１）。これにより、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。
【００８０】
また、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より大きくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合には（Ｓ１２）、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）から所定値を減算した第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）を算出する（Ｓ１３）。そして、テストデータの記録に用いた基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）が、使用する光ディスク５０に対して適正でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断し、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録が最適記録条件から離れた位置にあると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いたテスト記録を行わず、最適記録条件に近づくと予想される基準チルト値Ｔｉ（０）と第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）の組み合わせでテストデータの記録を行う（Ｓ１４）。これにより、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録が最適記録条件から離れた条件であると判断して更に最適記録条件から離れると予想される第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）を用いたテスト記録を行わないので、記録したテストデータを再生する際にフォーカス制御ができず、記録したテストデータを再生できなくなる確率を低く抑え、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。
【００８１】
以上の内容のように、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録以降のテスト記録にフォーカス制御ができずテストデータを再生できなくなるテスト記録をしないので、記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御基準値を算出する処理を正常に行えず、最適フォーカス制御基準値が充分な精度を得られない、もしくは記録したテストデータを再生して得られる情報の一部が欠落することにより最適フォーカス制御基準値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を実現できる。
【００８２】
また、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）に基づいてテストデータを記録し、このテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率に基づいて、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ａ）及び第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｂ）のうちいずれかを用いてテストデータの記録を行うかを判断することによって、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）により記録したテストデータを再生することにより得られる情報から基準フォーカス値Ｆｏ（Ｇ）によるテスト記録以降のテスト記録回数を決定するので、使用する光ディスクの個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を向上でき、併せて精度向上が見込めないテスト記録を排除できる。その結果、使用する光ディスク５０の個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を向上し、併せて精度向上が見込めないテスト記録を排除するので、使用する光ディスク５０の個体状況に応じた最適フォーカス制御基準値を算出する精度を高めつつ、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる光ディスク装置及びそのフォーカス制御を実現できる。
【００８３】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２は、第１基準フォーカス値と第１基準チルト値の組み合わせと、第２基準フォーカス値と第２基準チルト値の組み合わせとを用いる方法について図面を参照しながら説明する。
【００８４】
本実施の形態２における光ディスク装置の全体構成は、図１、図２に示す実施の形態１と同様である。また、本実施の形態２におけるテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号は図３に示す実施の形態１と同様であり、光ディスクの記録層の位置ずれや反りの状態に応じて、図３（ａ）〜図３（ｃ）のいずれかのパターンで出力される。
【００８５】
なお、本実施の形態２におけるフォーカスエラー信号生成手段は図１に示すフォーカスエラー信号生成回路８、サーボ処理手段はフォーカスサーボ回路１０、記憶手段はメモリ１３、制御手段はＣＰＵ１４に相当する。
【００８６】
図８〜図１０は、本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図であり、フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の組み合わせの範囲を示している。いずれも記録層の位置ずれや反りがある光ディスクを使用する場合の一例を示している。図８〜図１０において、４０４〜４０６は領域であり、横軸はチルト制御値であり、縦軸はフォーカス制御値を示す。また、Ｆｏ（Ｈ）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている第１基準フォーカス値、Ｔｉ（１）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている第１基準チルト値、Ｆｏ（Ｉ）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている第２基準フォーカス値、Ｔｉ（２）は光ディスク装置のメモリに予め記憶されている第２基準チルト値、Ｆｏ（Ｐ１）は図８に示す光ディスクを使用する際の最適なフォーカス制御基準値、Ｆｏ（Ｐ２）は図９に示す光ディスクを使用する際に最適なフォーカス制御基準値、Ｆｏ（Ｐ３）は図１０に示す光ディスクを使用する際に最適なフォーカス制御基準値である。
【００８７】
フォーカス制御値とチルト制御値は、その組み合わせによりフォーカスサーボ外れしない組み合わせとフォーカスサーボ外れする組み合わせがある。すなわち、フォーカス制御可能な組み合わせとフォーカス制御困難な組み合わせがある。
【００８８】
図８〜図１０は、その組み合わせを示したものであり、領域４０４〜領域４０６の範囲内がフォーカス制御可能な組み合わせであり、領域４０４〜領域４０６の範囲外がフォーカス制御困難な組み合わせである。領域４０４〜領域４０６内にある複数の楕円領域はフォーカスサーボのサーボ可能状況を示す等高線であり、中心部にいくほどその光ディスクに最適なフォーカス制御基準値とチルト制御基準値の組み合わせになる。
【００８９】
光ディスク装置は、対物レンズ２を光ディスク５０に対してフォーカス制御する際の基準となる基準フォーカス値をメモリ１３に記憶している。この基準フォーカス値を中心に、それぞれの光ディスク５０に合わせてフォーカス制御の基準値を変更することにより、記録品質の向上を図っている。光ディスクの記録層の位置や光ディスクの反りは実使用上では直接計測することができないので、使用する光ディスク５０に対物レンズ２の位置を変化させながら複数のテストデータを記録し、その記録されたテストデータを再生し、一定のチェック処理を行うことで、テストデータの記録に用いた条件の中から使用する光ディスクの記録品質が最良になる条件を選択し、対物レンズ２の位置を決定している。
【００９０】
本実施の形態２におけるテストデータの記録は、メモリ１３に記憶されている第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と、第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）に所定値を加算した第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）と、第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）から所定値を減算した第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）を算出し、これら３つのフォーカス値のうちからテストデータの記録を行うフォーカス値を決定し、決定したフォーカス値と第１基準チルト値Ｔｉ（１）との組み合わせによりテストデータの記録を行う。また、メモリ１３に記憶されている第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と、第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）に所定値を加算した第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）と、第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）から所定値を減算した第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）を算出し、これら３つのフォーカス値のうちからテストデータの記録を行うフォーカス値を決定し、決定したフォーカス値と第２基準チルト値Ｔｉ（２）との組み合わせによりテストデータの記録を行う。
【００９１】
それぞれ３つのフォーカス値のうちからどれを選択するかは、使用する光ディスクの状態により異なるので、以下順に説明する。
【００９２】
まず、使用する光ディスク５０に記録層の位置ずれや反りがほとんど無い場合である。この場合、記録品質が最良になるフォーカス制御値とチルト制御値の関係は、例えば図８に示す点Ｐ１になる。このときのテストデータを記録するフォーカス値の決定方法は、以下の流れになる。
【００９３】
メモリ１３に記憶された第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）をフォーカス制御の基準値に設定し、メモリ１３に記憶された第１基準チルト値Ｔｉ（１）をチルト制御の基準値に設定してテストデータを記録し、更にメモリ１３に記憶された第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）をフォーカス制御の基準値に設定し、メモリ１３に記憶された第２基準チルト値Ｔｉ（２）をチルト制御の基準値に設定し、記録する。このとき、図８に示す特性を持つ光ディスクに対しては、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせと、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせとで、テストデータを記録することになる。
【００９４】
図８の場合、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせで得られるフォーカスエラー信号は図３（ａ）に示すものと略同一になり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなるので、点Ｈに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が点Ｐ１に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ１）と略同一値になっていると判定する。また、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせで得られるフォーカスエラー信号は図３（ａ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなるので、点Ｉに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が点Ｐ１に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ１）と略同一値になっていると判定する。
【００９５】
このような場合、点Ｃに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）によるテストデータの記録と、点Ｄに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）によるテストデータの記録と、点Ｅに示す第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）によるテストデータの記録と、点Ｆに示す第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）のみを用いて最適フォーカス制御値を算出する処理を行う。その後、第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）により記録されたテストデータを再生して得られた結果からフォーカス制御基準値が決定される。
【００９６】
次に、使用する光ディスク５０に記録層の位置ずれや反りがある場合である。記録品質が最良になるフォーカス制御値とチルト制御値の関係は、例えば図９に示す点Ｐ２や図１０に示す点Ｐ３になる。このときのテストデータを記録するフォーカス値の決定方法は、以下の流れになる。
【００９７】
図９の場合、メモリ１３に記憶された第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）をフォーカス制御の基準値に設定し、メモリ１３に記憶された第１基準チルト値Ｔｉ（１）をチルト制御の基準値に設定してテストデータを記録し、更にメモリ１３に記憶された第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）をフォーカス制御の基準値に設定し、メモリ１３に記憶された第２基準チルト値Ｔｉ（２）をチルト制御の基準値に設定し、記録する。このとき、図９に示す特性を持つ光ディスクに対しては、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせと、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせとで、テストデータを記録することになる。
【００９８】
この場合、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせで得られるフォーカスエラー信号は図３（ｂ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より大きくなるので、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が点Ｐ２に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ２）と異なっていると判断する。併せて、点Ｄに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせによるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に大きくなると判断する。また、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせで得られるフォーカスエラー信号は図３（ｂ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より大きくなるので、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が点Ｐ２に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ２）と異なっていると判断する。併せて、点Ｆに示す第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせによるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に大きくなると判定する。
【００９９】
このような場合、点Ｄに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｃに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）を用いて以降の処理を行い、また、点Ｆに示す第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｅに示す第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）を用いて以降の処理を行う。その後、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）と第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）により記録されたテストデータを再生して得られた結果からフォーカス制御基準値が決定される。
【０１００】
図１０の場合、メモリ１３に記憶された第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）をフォーカス制御の基準値に設定し、メモリ１３に記憶された第１基準チルト値Ｔｉ（１）をチルト制御の基準値に設定して、テストデータを記録し、更にメモリ１３に記憶された第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）をフォーカス制御の基準値に設定し、メモリ１３に記憶された第２基準チルト値Ｔｉ（２）をチルト制御の基準値に設定し、記録する。このとき、図１０に示す特性を持つ光ディスクに対しては、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせと、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせとで、テストデータを記録することになる。
【０１０１】
この場合、点Ｈに示す第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせで得られるフォーカスエラー信号は図３（ｃ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より小さくなるので、点Ｈに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が点Ｐ２に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ２）と異なっていると判断する。併せて、点Ｃに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）の組み合わせによるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に小さくなると判定する。また、点Ｉに示す第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）の組み合わせで得られるフォーカスエラー信号は図３（ｃ）に示すものになり、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より小さくなるので、点Ｉに示すフォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が点Ｐ２に示すフォーカス値Ｆｏ（Ｐ２）と異なっていると判定する。
【０１０２】
このような場合、点Ｃに示す第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｄに示す第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）を用いて以降の処理を行い、また、点Ｅに示す第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）によるテストデータの記録を行わず、点Ｆに示す第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）を用いて以降の処理を行う。その後、第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）と第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）により記録されたテストデータを再生して得られた結果からフォーカス制御基準値が決定される。
【０１０３】
図１１は、本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御方法を示すフローチャートであり、第１基準チルト値と第１基準フォーカス値に基づきテストデータを記録する流れを示したものである。
【０１０４】
光ディスク装置に光ディスク５０が装着されると、ＣＰＵ１４はドライバ１５を介してスピンドルモータ６を回転させ、ドライバ１６、レーザ制御部１５を介して光源１を発光させる（Ｓ１０１）。次に、ＣＰＵ１４は、メモリ１３から第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）を読み出し（Ｓ１０２）、第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）に基づきテストデータを記録する（Ｓ１０３）。その後、ＣＰＵ１４は第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）に基づき記録したテストデータを再生し（Ｓ１０４）、その再生信号を基にフォーカスエラー信号生成回路８でフォーカスエラー信号を生成する（Ｓ１０５）。生成されたフォーカスエラー信号は、信号計測回路１１に送られ、信号計測回路１１でフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量とを比較する（Ｓ１０６）。
【０１０５】
このとき、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、図３（ａ）に示すように、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合には（Ｓ１０７）、テストデータの記録に用いた第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が、装着した光ディスクに対して適性であると判断し、使用する光ディスク５０の個体状況に応じたフォーカス制御の制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して、第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）の組み合わせをメモリ１３に記憶する（Ｓ１０８）。
【０１０６】
また、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合には（Ｓ１０９）、第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）に所定値を加算した第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）を算出する（Ｓ１１０）。この場合、テストデータの記録に用いた第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が、使用する光ディスク５０に対して適正でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断する。併せて、第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）によるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に大きくなると判断する。そして、第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）の組み合わせをメモリ１３に記憶する（Ｓ１１１）。
【０１０７】
また、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より大きくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合には（Ｓ１１２）、第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）から所定値を減算した第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）を算出する（Ｓ１１３）。この場合、テストデータの記録に用いた第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が、使用する光ディスク５０に対して適性でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断する。併せて、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）によるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に小さくなると判断する。そして、第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）の組み合わせをメモリ１３に記憶する（Ｓ１１４）。
【０１０８】
図１２は、本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御方法を示すフローチャートであり、第１基準チルト値と第１基準フォーカス値に基づきテストデータを記録した後、第２基準チルト値と第２基準フォーカス値に基づきテストデータを記録する流れを示したものである。
【０１０９】
ＣＰＵ１４はメモリ１３から第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）を読み出し（Ｓ１１５）、第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）に基づきテストデータを記録する（Ｓ１１６）。その後、ＣＰＵ１４は第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）に基づき記録したテストデータを再生し（Ｓ１１７）、その再生信号を基にフォーカスエラー信号生成回路８でフォーカスエラー信号を生成する（Ｓ１１８）。生成されたフォーカスエラー信号は、信号計測回路１１に送られ、信号計測回路１１でフォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量とを比較する（Ｓ１１９）。
【０１１０】
このとき、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、図３（ａ）に示すように、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しい場合には（Ｓ１２０）、テストデータの記録に用いた第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が、装着した光ディスク５０に対して適性であると判断し、使用する光ディスク５０の個体状況に応じたフォーカス制御の制御基準値を算出するのに充分な情報が得られたと判断して、第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）の組み合わせをメモリ１３に記憶する（Ｓ１２１）。
【０１１１】
また、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より大きい場合には（Ｓ１２２）、第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）に所定値を加算した第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）を算出する（Ｓ１２３）。この場合、テストデータの記録に用いた第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が、使用する光ディスク５０に対して適正でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断する。併せて、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）によるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に大きくなると判断する。そして、第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）の組み合わせをメモリ１３に記憶する（Ｓ１２４）。
【０１１２】
また、フォーカスエラー信号の基準電圧に対する正側の振幅量と負側の振幅量との比率が比較され、正側の振幅量と負側の振幅量との比率が等しくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より大きくなく、正側の振幅量が負側の振幅量より小さい場合には（Ｓ１２５）、第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）から所定値を減算した第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）を算出する（Ｓ１２６）。この場合、テストデータの記録に用いた第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が、使用する光ディスク５０に対して適性でなく、フォーカス制御が可能なフォーカス値とチルト値の関係を示す分布の端の方に位置していると判断する。併せて、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）によるテストデータの記録を行うと、フォーカスエラー信号の正側の振幅量が負側の振幅量より更に小さくなると判断する。そして、第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）の組み合わせをメモリ１３に記憶する（Ｓ１２７）。
【０１１３】
図１３は、本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御方法を示すフローチャートであり、第１基準チルト値と第１基準フォーカス値に基づきテストデータを記録し、第２基準チルト値と第２基準フォーカス値に基づきテストデータを記録した後、そのテスト結果に基づき、以降のテストデータの記録を決定する流れを示したものである。
【０１１４】
ＣＰＵ１４は、メモリ１３に記憶した２つの組み合わせ、すなわち第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）、第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）、及び第１基準チルト値Ｔｉ（１）と第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）のいずれかと、第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、及び第２基準チルト値Ｔｉ（２）と第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれかとを読み出す（Ｓ１２８）。
【０１１５】
このとき、読み出された２つの組み合わせのうち、１つの組み合わせの中に第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）が含まれている場合には（Ｓ１２９）、もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれかが含まれているかの確認を順次行う（Ｓ１３０〜Ｓ１３２）。もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が含まれている場合、既にテストデータを記録した第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）を用いた結果を利用して以降のテストデータの記録は行わない（Ｓ１３３）。もう１つの組み合わせの中に第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）が含まれている場合、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１３４）。もう１つの組み合わせの中に第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）が含まれている場合、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１３５）。もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれも含まれていなければ、最適フォーカス制御基準値を算出する処理を中止する（Ｓ１５０）。
【０１１６】
また、読み出された２つの組み合わせのうち、１つの組み合わせの中に第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）が含まれている場合には（Ｓ１３６）、もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれかが含まれているかの確認を順次行う（Ｓ１３７〜Ｓ１３９）。もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が含まれている場合、既にテストデータを記録した第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）を用いた結果を利用して第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）のみを用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１４０）。もう１つの組み合わせの中に第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）が含まれている場合、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）と第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１４１）。もう１つの組み合わせの中に第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）が含まれている場合、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）と第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１４２）。もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれも含まれていなければ、最適フォーカス制御基準値を算出する処理を中止する（Ｓ１５１）。
【０１１７】
また、読み出された２つの組み合わせのうち、１つの組み合わせの中に第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）が含まれている場合には（Ｓ１４３）、もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれかが含まれているかの確認を順次行う（Ｓ１４４〜Ｓ１４６）。もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）が含まれている場合、既にテスト記録した第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）を用いた結果を利用して第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１４７）。もう１つの組み合わせの中に第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）が含まれている場合、第２修正フォーカス値Ｆｏ（Ｄ）と第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１４８）。もう１つの組み合わせの中に第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）が含まれている場合、第１修正フォーカス値Ｆｏ（Ｃ）と第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）を用いてテストデータの記録を行う（Ｓ１４９）。もう１つの組み合わせの中に第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）、第３修正フォーカス値Ｆｏ（Ｅ）、第４修正フォーカス値Ｆｏ（Ｆ）のいずれも含まれていなければ、最適フォーカス制御基準値を算出する処理を中止する（Ｓ１５２）。
【０１１８】
以上の内容のように、複数のテストデータを記録することにより光ディスクの最適フォーカス制御基準値を算出する処理において、第１基準フォーカス値Ｆｏ（Ｈ）と第１基準チルト値Ｔｉ（１）とに基づくテストデータの記録もしくは第２基準フォーカス値Ｆｏ（Ｉ）と第２基準チルト値Ｔｉ（２）とに基づくテスト以降にフォーカス制御又はチルト制御ができずテストデータを再生できなくなるテスト記録をしないので、テスト記録を再生して得られる情報の一部が欠落して最適フォーカス制御値を算出する処理を行ったにもかかわらず算出した最適フォーカス制御値が充分な精度を得られない、もしくはテスト記録を再生するとき予期せぬ情報の欠落が起こり最適フォーカス制御値を算出する処理自体が中断することを回避できる。その結果、記録層の位置ずれや反りが大きい光ディスクを使用する場合であっても、そのずれ分やそり分を考慮して、使用する光ディスクに最適な対物レンズの位置を算出できる光ディスク装置及びそのフォーカス制御を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【０１１９】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１におけるフォーカスエラー信号生成回路を示す図
【図３】本発明の実施の形態１におけるテストデータを再生する際に生成されるフォーカスエラー信号を示す図
【図４】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図
【図５】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図
【図６】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図
【図７】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御方法を示すフローチャート
【図８】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図
【図９】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図
【図１０】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御基準値を選択する方法を示す図
【図１１】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御方法を示すフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御方法を示すフローチャート
【図１３】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御方法を示すフローチャート
【図１４】フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の組み合わせの範囲を示す図
【図１５】フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の組み合わせの範囲を示す図
【図１６】フォーカス制御が可能なフォーカス制御値とチルト制御値の組み合わせの範囲を示す図
【符号の説明】
【０１２０】
１    光源
２    対物レンズ
３    レンズホルダ
４    アクチュエータ
４ａ    フォーカス調整用コイル
５    四分割光検出器
５ａ    光検出器
５ｂ    光検出器
６    スピンドルモータ
７    フィードモータ
８    フォーカスエラー信号生成回路
８ａ    バランス回路
８ｂ    差動回路
９    ＲＦ信号検出回路
１０    フォーカスサーボ回路
１１    信号計測回路
１２    ジッタ検出回路
１３    メモリ
１４    ＣＰＵ
１５    レーザ制御部
１６    ドライバ
５０    光ディスク
１００    光ヘッド部
２００    ピックアップモジュール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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