(57)【要約】【課題】リーダライタ装置が発信する電波信号のノイズが、隣に配置されるリーダライタ装置等の他のリーダライタ装置との間で電波信号を用いて情報の送受信をしている非接触ＩＣカードに影響することがなく、また安価な構造とすることができる非接触ＩＣカード検査システムを提供する。【解決手段】複数のリーダライタ装置それぞれに非接触ＩＣカードとの通信による検査処理の指示、またはアプリケーション記録の指示を行う中央制御装置が、一列に並べられた複数のリーダライタ装置のうち、奇数位置のリーダライタ装置、または偶数位置のリーダライタ装置を交互に制御して、奇数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードの処理を行う時間と、偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードの処理を行う時間とが交互に行われるよう制御する。【選択図】図１
2009134415.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
非接触ＩＣカード検査システムであって、
一列に並べられた複数のリーダライタ装置と、
前記リーダライタ装置と同数の複数枚の平置きされた非接触ＩＣカードのそれぞれを、前記リーダライタ装置のそれぞれと通信可能に配置する非接触ＩＣカード配置手段と、
前記複数のリーダライタ装置それぞれに前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行う処理制御手段と、を備え、
前記処理制御手段は、前記一列に並べられた複数のリーダライタ装置のうち、奇数位置のリーダライタ装置、または偶数位置のリーダライタ装置を交互に制御して、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間とが交互に行われるよう制御する
ことを特徴とする非接触ＩＣカード検査システム。
【請求項２】
前記リーダライタ装置の高さ制御手段を備え、
前記処理制御手段は、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、の各時間において、奇数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードと通信する際に発信される信号のノイズ、および偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードと通信する際に発信される信号のノイズが、互いに影響し合わない高さとなるよう、前記奇数位置のリーダライタ装置の高さと、前記偶数位置のリーダライタ装置の高さとの制御の指示を行う
ことを特徴とする請求項１に記載のＩＣカード検査システム。
【請求項３】
前記処理制御手段は、
前記奇数位置のリーダライタ装置または前記偶数位置のリーダライタ装置の何れか一方のリーダライタ装置から先に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、次に、他方のリーダライタ装置に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、前記一方のリーダライタ装置への処理の指示と、前記他方のリーダライタ装置への処理の指示との順番のサイクルを繰り返す
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のＩＣカード検査システム。
【請求項４】
前記処理制御手段は、
前記奇数位置のリーダライタ装置または前記偶数位置のリーダライタ装置の何れか一方のリーダライタ装置から先に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、次に、他方のリーダライタ装置に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、前記一方のリーダライタ装置への処理の指示と、前記他方のリーダライタ装置への処理の指示との順番のサイクルを、そのサイクルの処理が終了する度に逆にする
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のＩＣカード検査システム。
【請求項５】
前記処理制御手段は、
前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間との間に、待機時間を挿入する
ことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載のＩＣカード検査システム。
【請求項６】
一列に並べられた複数のリーダライタ装置を備えた非接触ＩＣカード検査システムにおける非接触ＩＣカード検査方法であって、
非接触ＩＣカード配置手段が、前記リーダライタ装置と同数の複数枚の平置きされた非接触ＩＣカードのそれぞれを、前記リーダライタ装置のそれぞれと通信可能に配置し、
処理制御手段が、前記一列に並べられた複数のリーダライタ装置のうち、奇数位置のリーダライタ装置、または偶数位置のリーダライタ装置を交互に制御して、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間とが交互に行われるよう制御する
ことを特徴とする非接触ＩＣカード検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、非接触ＩＣカードの発行時の性能等の検査を行う非接触ＩＣカード検査システムおよび非接触ＩＣカード検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、非接触ＩＣカードの発行時には、非接触ＩＣカードに搭載されているＩＣチップが正常に動作するかどうか、また必要な場合には検査段階でアプリケーションプログラムの記録等を行っている。そしてこのような検査やアプリケーションプログラムの記録を行うためには、非接触ＩＣカードと情報を送受信するリーダライタが必要となる。ここでリーダライタは、通常、電波信号により非接触ＩＣカードと無線通信を行い、非接触ＩＣカードの検査やアプリケーションプログラムの記録を行うこととなる。
【０００３】
ここで、非接触ＩＣカードの検査やアプリケーションプログラムの記録を行う非接触ＩＣカード検査システムは、大量のＩＣカードを発行および出荷する必要があるため、その処理能力を向上させることが必要となる。ここで、処理の向上のために、非接触ＩＣカードと情報の送受信を行うリーダライタ装置を複数並べて、その複数のリーダライタ装置を同時に平行制御し、大量の非接触ＩＣカードの検査やアプリケーションプログラムの記録の処理を考えた場合、当該複数のリーダライタ装置を用いた非接触ＩＣカード検査システムは、そのハードウェア規模が大きくなるため、リーダライタ装置の間隔を狭めることが求められる。
【０００４】
しかしながら、リーダライタ装置の間隔を狭めると、リーダライタ装置が発信する電波信号のノイズが、隣に配置された他のリーダライタ装置が電波信号を用いて情報の送受信をしている非接触ＩＣカードに影響してしまうため、リーダライタ装置と非接触ＩＣカードとの間の通信特性の劣化が発生する。なお、隣り合うリーダライタ装置の間隔は、そのリーダライタ装置から発信される電波信号の特性によって定まっており、それの間隔以上に隣り合うリーダライタ装置の間隔を狭めることは、通信性能を維持する必要から、行うことができない。そして、このような非接触ＩＣカードの検査に利用される非接触ＩＣカード検査発行装置が特許文献１に開示されている。
【特許文献１】特開２００４−０７０７７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述の特許文献１の技術では、リーダライタ装置が発信する電波信号のノイズが、他のリーダライタ装置との間で電波信号を用いて情報の送受信をしている非接触ＩＣカードに影響しないように、リーダライタ装置の間に高透磁率材料からなる板材を配設しているものである。しかしながら上述の特許文献１の技術では、上下にリーダライタ装置を重ねていく構成となっており、このようなリーダライタ装置の構成の非接触ＩＣカード検査システムは構造上、高価なものとなってしまう。また上述の特許文献１において、リーダライタ装置の上下の階層の構成を横に寝かせた状態にしたとしても、厚さの薄い非接触ＩＣカードを横に立てて、リーダライタ装置と通信ができるように配置する必要があるので、そのための装置が別に必要となり、そのような場合も構造上高価なものとなってしまう。
【０００６】
そこでこの発明は、リーダライタ装置が発信する電波信号のノイズが、隣に配置されるリーダライタ装置等の他のリーダライタ装置との間で電波信号を用いて情報の送受信をしている非接触ＩＣカードに影響することがなく、また安価な構造とすることができる非接触ＩＣカード検査システムおよび非接触ＩＣカード検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、非接触ＩＣカード検査システムであって、一列に並べられた複数のリーダライタ装置と、前記リーダライタ装置と同数の複数枚の平置きされた非接触ＩＣカードのそれぞれを、前記リーダライタ装置のそれぞれと通信可能に配置する非接触ＩＣカード配置手段と、前記複数のリーダライタ装置それぞれに前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行う処理制御手段と、を備え、前記処理制御手段は、前記一列に並べられた複数のリーダライタ装置のうち、奇数位置のリーダライタ装置、または偶数位置のリーダライタ装置を交互に制御して、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間とが交互に行われるよう制御することを特徴とする非接触ＩＣカード検査システムである。
【０００８】
また本発明は、上述の非接触ＩＣカード検査システムが、前記リーダライタ装置の高さ制御手段を備え、前記処理制御手段は、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、の各時間において、奇数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードと通信する際に発信される信号のノイズ、および偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードと通信する際に発信される信号のノイズが、互いに影響し合わない高さとなるよう、前記奇数位置のリーダライタ装置の高さと、前記偶数位置のリーダライタ装置の高さとの制御の指示を行うことを特徴とする。
【０００９】
また本発明は、上述の非接触ＩＣカード検査システムにおいて、前記処理制御手段は、前記奇数位置のリーダライタ装置または前記偶数位置のリーダライタ装置の何れか一方のリーダライタ装置から先に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、次に、他方のリーダライタ装置に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、前記一方のリーダライタ装置への処理の指示と、前記他方のリーダライタ装置への処理の指示との順番のサイクルを繰り返すことを特徴とする。
【００１０】
また本発明は、上述の非接触ＩＣカード検査システムにおいて、前記処理制御手段は、前記奇数位置のリーダライタ装置または前記偶数位置のリーダライタ装置の何れか一方のリーダライタ装置から先に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、次に、他方のリーダライタ装置に前記非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示を行い、前記一方のリーダライタ装置への処理の指示と、前記他方のリーダライタ装置への処理の指示との順番のサイクルを、そのサイクルの処理が終了する度に逆にすることを特徴とする。
【００１１】
また本発明は、上述の非接触ＩＣカード検査システムにおいて、前記処理制御手段は、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間との間に、待機時間を挿入することを特徴とする。
【００１２】
また本発明は、一列に並べられた複数のリーダライタ装置を備えた非接触ＩＣカード検査システムにおける非接触ＩＣカード検査方法であって、非接触ＩＣカード配置手段が、前記リーダライタ装置と同数の複数枚の平置きされた非接触ＩＣカードのそれぞれを、前記リーダライタ装置のそれぞれと通信可能に配置し、処理制御手段が、前記一列に並べられた複数のリーダライタ装置のうち、奇数位置のリーダライタ装置、または偶数位置のリーダライタ装置を交互に制御して、前記奇数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、前記偶数位置のリーダライタ装置が前記非接触ＩＣカードへの処理を行う時間とが交互に行われるよう制御することを特徴とする非接触ＩＣカード検査方法である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、本実施形態による非接触ＩＣカード検査システムにおける、基本機能検査装置とアプリケーション記録装置の構成は、複数の非接触ＩＣカードを直列に並べて、一度に通信して各処理を行える構成としたので、従来に比べて簡易的な構成となり、システムの製造コストを削減することができる。また、隣り合うリーダライタ装置が、互いの信号のノイズが影響しないよう離れて設置されているので、リーダライタ装置が自装置に配置された非接触ＩＣカードと通信する際の通信性能の低減を避けることができる。
【００１４】
また、本発明によれば、隣り合うリーダライタ装置の処理タイミングにより、待機時間Ｔ秒離れた間隔で、奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置が自装置に配置された非接触ＩＣカードとの通信を交互に行うので、隣り合うリーダライタ装置からの通信の干渉を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の一実施形態による非接触ＩＣカード検査システムを図面を参照して説明する。図１は同実施形態による非接触ＩＣカード検査システムの構成を示すブロック図である。この図より、非接触ＩＣカード検査システムは、ローダー１、物理特性検査装置２、機能特性検査装置３、第１不良回収装置４、基本機能検査装置５、アプリケーション記録装置６、書込データ検証装置７、レーザ印字装置８、第２不良回収装置９、良品収納装置１０、中央制御装置２０により構成されている。非接触ＩＣカード検査システムのこれらの各装置には搬送機構が接続されており、この搬送機構により非接触ＩＣカードが順次、各装置を移動する。そして、この非接触ＩＣカード検査システムにおいて、基本機能検査装置５とアプリケーション記録装置６の構成に特徴があり、残りの他の装置は、従来と同様である。
【００１６】
ここで、ローダー１は、非接触ＩＣカード検査システムにおいて、非接触ＩＣカードを、安定的、迅速に供給する処理を行う。例えば、ローダー１は非接触ＩＣカードを搬送機構に搬出し、搬送機構が非接触ＩＣカードを次の工程の物理特性検査装置２へ搬送する。また物理特性検査装置２は、非接触ＩＣカードの物理特性検査を行う。ここで物理特性検査は、搬送機構によって搬送された非接触ＩＣカードの厚みを光学的または機械的に測定し、同時にカードの反りを測定する。また、機能特性検査装置３は、リーダライタ装置と同様の機能を備え、非接触ＩＣカードに電波信号を送出することにより、その返信の信号を受信して、通信周波数の測定や、伝送ロスを測定し、一定距離（例えば１００ｍｍ以上）で通信できるかどうかを判定処理する。また第１不良回収装置４は、物理特性検査装置２、機能特性検査装置３が、検査結果不良と判定した非接触ＩＣカードの番号を中央制御装置２０から受信し、その非接触ＩＣカードを回収箱などに回収する処理を行う。
【００１７】
また基本機能検査装置５は、非接触ＩＣカードに内蔵されるＩＣチップの輸送時の鍵情報の正当性確認の認証や、プロセッサの機能検査や、メモリ素子の評価判定のための書込み・読み出し検査を行う。またアプリケーション記録装置６は、非接触ＩＣカードにアプリケーションプログラムのデータを書き込み、輸送鍵情報の設定処理等を行う。また書込データ検証装置７は、非接触ＩＣカードに書き込んだデータを読み出し、データの信頼性を確認する。またレーザ印字装置８は、非接触ＩＣカードの表面に、ユニークなトレーサビリティ（Traceability）データ（例えば、製造番号など）を印字する。また第２不良回収装置９は、基本機能検査装置５、アプリケーション記録装置６、書込データ検証装置７、レーザ印字装置８のいずれかが、検査結果不良と判定した非接触ＩＣカードの番号を中央制御装置２０から受信し、その非接触ＩＣカードを回収箱などに回収する処理を行う。また良品収納装置１０は、上記各検査項目に合格した非接触ＩＣカードを、回収箱などに回収し、さらに収納したカード枚数をカウントする処理を行う。なお、上記各装置が行う処理の時間は、物理特性検査装置２が３．０秒、機能特性検査装置３が３．０秒、基本機能検査装置５が２５．０秒、アプリケーション記録装置６が２８．０秒、書込データ検証装置７が１．５秒、レーザ印字装置８が２．５秒をそれぞれ要する。従って、処理時間のかかる基本機能検査装置５と、アプリケーション記録装置６において、一度に多くの非接触ＩＣカードに対する処理を行うことが必要となっている。
【００１８】
そして上記したように、本願の、非接触ＩＣカード検査システムにおいては、基本機能検査装置５とアプリケーション記録装置６の構成に特徴があり、基本機能検査装置５やアプリケーション記録装置６においては、一列に並べられた複数のリーダライタ装置を備え、リーダライタ装置と同数の複数枚の平置きされた非接触ＩＣカードのそれぞれを、リーダライタ装置のそれぞれと通信可能に配置する。そして、複数のリーダライタ装置それぞれに非接触ＩＣカードとの通信による処理の指示、またはアプリケーション記録の指示を行う処理制御手段が備えられ、処理制御手段は、一列に並べられた複数のリーダライタ装置のうち、奇数位置のリーダライタ装置、または偶数位置のリーダライタ装置を交互に制御して、奇数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードの処理を行う時間と、偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードの処理を行う時間とが交互に行われるよう制御する。
【００１９】
図２は非接触ＩＣカードの搬送の様子を示す図である。
図２に示すように、非接触ＩＣカード検査システムにおいては、搬送機構の処理により、ローダー１から順に、物理特性検査装置２、機能特性検査装置３、第１不良回収装置４へと、一つずつの非接触ＩＣカードが一列に搬送される。また、第１不良回収装置４から一列に非接触ＩＣカードが２０枚搬出されると、その２０枚の非接触ＩＣカードが一度に平行移動して、基本機能検査装置５へ搬出される。そして基本機能検査装置５において、一度に２０枚の非接触ＩＣカードに対して基本機能検査を行う。また基本機能検査装置５が基本機能検査処理をしている間にも、第１不良回収装置４から一列に非接触ＩＣカードが２０枚搬出され、２０枚の非接触ＩＣカードが基本機能検査装置５の横に配置される。その間、基本機能検査装置５の処理が終了している。そして、次のタイミングにおいて、基本機能検査装置５において処理が完了した２０枚の非接触ＩＣカードが平行移動して、アプリケーション記録装置６に配置されるとともに、同時に、第１不良回収装置４から一列に搬出された２０枚の非接触ＩＣカードが平行移動して、基本機能検査装置５に配置される。
【００２０】
また、次に、基本機能検査装置５およびアプリケーション記録装置６がそれぞれ非接触ＩＣカードに対して各処理を行っている間に、第１不良回収装置４から一列に非接触ＩＣカードが搬出され、２０枚の非接触ＩＣカードの搬出が完了し、基本機能検査装置５およびアプリケーション記録装置６のそれぞれの処理も完了する。次に、第１不良回収装置４から一列に搬出された２０枚の非接触ＩＣカードと、基本機能検査装置５において処理が完了した２０枚の非接触ＩＣカードと、アプリケーション記録装置６において処理が完了した２０枚の非接触ＩＣカードが、同時に平行移動して、第１不良回収装置４から一列に搬出された２０枚の非接触ＩＣカードは基本機能検査装置５に配置され、基本機能検査装置５において処理が完了した２０枚の非接触ＩＣカードはアプリケーション記録装置６に配置され、アプリケーション記録装置６において処理が完了した２０枚の非接触ＩＣカードは書込データ検証装置７へと搬出される搬送機構に配置される。そして、この処理が繰り返され、またアプリケーション記録装置６から搬出された非接触ＩＣカードは、一枚ずつ、書込データ検証装置、レーザ印字装置８、第２不良回収装置９、良品収納装置１０へと順に搬送される。
【００２１】
図３は基本機能検査装置の処理フローを示す図である。
この図で示すように、基本機能検査装置５は、まず、中央制御装置２０からの制御開始指示を受信すると、リーダライタの処理をリセットし（ステップＳ５０１）、非接触ＩＣカードに対して鍵情報の認証要求を行い、その結果、非接触ＩＣカードから受信する認証結果が、ＯＫを示す情報であるかどうかを確認し、これにより認証検査を行う（ステップＳ５０２）。またプロセッサの機能検査として、規定の情報を非接触ＩＣカードに対して送信した結果、非接触ＩＣカードからその規定の情報に対応する規定の回答が返信されるかどうかを判定して機能検査を行う（ステップＳ５０３）。そして良否判定を行う（ステップＳ５０４）。この良否判定において、認証検査と機能検査が共に良と判定できれば、非接触ＩＣカードのメモリ素子への書込み検査を開始する（ステップＳ５０５）。この書込み検査においては、規定の情報の書込み要求を非接触ＩＣカードへ送信し、その後、メモリ素子に記録されている情報の読取要求を行う。そして、良否判定を行う（ステップＳ５０６）。この良否判定において、書込み要求によって書き込んだ情報と、読取要求によって読み取った情報を比較して、一致すれば、良と判定し、基本機能検査を終了する（ステップＳ５０７）。基本機能検査装置は、本実施形態においては２０台のリーダライタ装置を備えており、上述の処理により、一度に、２０枚の非接触ＩＣカードの基本機能検査の処理を行う。また基本機能検査装置５は、ステップＳ５０４とステップＳ５０６の良否判定の処理において、不良と判定した非接触ＩＣカードについては途中で処理を終了する。また不良と判定したＩＣカードの搬送管理番号などを、中央制御装置２０へ通知する（ステップＳ５０８）。なお中央制御装置２０は、他の装置からも不良と判定された非接触ＩＣカードの搬送管理番号を受信しており、その不良と判定された非接触ＩＣカードの配送管理番号を第１不良回収装置４や、第２不良回収装置９へ通知する。これにより、第１不良回収装置４や、第２不良回収装置９は、通知を受けた配送管理番号の非接触ＩＣカードを回収制御する。
【００２２】
図４はアプリケーション記録装置の処理フローを示す図である。
この図で示すように、アプリケーション記録装置６は、まず、中央制御装置２０からの制御開始指示を受信すると、リーダライタの処理をリセットし（ステップＳ６０１）、非接触ＩＣカードに対して鍵情報の認証要求を行い、その結果、非接触ＩＣカードから受信する認証結果が、ＯＫを示す情報であるかどうかを確認し、これにより認証検査を行う（ステップＳ６０２）。次にメモリ素子フォーマットの要求信号を非接触ＩＣカードへ出力すると（ステップＳ６０３）、非接触ＩＣカード内の処理によりメモリ素子のフォーマット処理が開始される。また、アプリケーション記録装置６は、非接触ＩＣカードに対して製造モードへの移行設定を要求し（ステップＳ６０４）、この結果、非接触ＩＣカード内において製造モードへの移行設定処理が行われる。そして製造モードへの移行設定が完了すると、アプリケーション記録装置６は、予め定められている各種アプリケーションプログラムを、非接触ＩＣカードへ送信し、アプリケーションプログラムの記録要求を行う（ステップＳ６０５）。すると、非接触ＩＣカード内の処理において、受信したアプリケーションプログラムをメモリに書込む。またアプリケーションプログラムの記録が完了すると、アプリケーション記録装置６は、カード輸送鍵を非接触ＩＣカードへ送信して鍵登録要求を行う（ステップＳ６０６）。するとそのカード輸送鍵が非接触ＩＣカードのメモリに格納される。そしてカード輸送鍵の設定が完了すると、アプリケーション記録装置６は、アプリケーション記録処理を終了する。
【００２３】
次に、図５、図６を用いて、基本機能検査装置５とアプリケーション記録装置６におけるリーダライタ装置と非接触ＩＣカードの配置関係について説明する。
図５はリーダライタ装置と非接触ＩＣカードの配置関係を示す側面図である。
図６はリーダライタ装置と非接触ＩＣカードの配置関係を示す上面図である。
まず、図５で示すように、基本機能検査装置５とアプリケーション記録装置６におけるリーダライタ装置（ＲＷ）は、それぞれ距離Ｄ離されて直列に複数（本実施形態においては２０台）設置されている。この距離Ｄは、直列に並べられたリーダライタ装置のうち、当該列の端からの位置が、奇数位置のリーダライタ装置が自装置に配置された非接触ＩＣカードと通信する際に発信される信号のノイズ、および偶数位置のリーダライタ装置が自装置に配置された非接触ＩＣカードと通信する際に発信される信号のノイズが、隣同士、互いに影響し合わない距離である。本実施形態においてはＤの距離は７５ｍｍである。また非接触ＩＣカードのピッチ距離ｄは５０ｍｍとする。非接触ＩＣカード（IC Card）の短辺の長さｗは５４ｍｍ、リーダライタ装置（ＲＷ）のアンテナ面と非接触ＩＣカードの面の距離ｈは約５ｍｍとする。また図６で示すようにＩＣカードの長辺の長さＬは８５ｍｍである。非接触ＩＣカードは、リーダライタ装置のアンテナ面と平行になるように配置される。
【００２４】
また、図５の（ａ）で示すように、奇数位置のリーダライタ装置および非接触ＩＣカードの組合せと、偶数位置のリーダライタ装置および非接触ＩＣカードの組合せの高さが、同一であるように配置される構成、および、図５の（ｂ）で示すように、奇数位置のリーダライタ装置および非接触ＩＣカードの組合せと、偶数位置のリーダライタ装置および非接触ＩＣカードの組合せの高さが、異なるように配置される構成、のどちらの構成としてもよい。（ｂ）で示す構成となる場合には、奇数位置（または偶数位置）の非接触ＩＣカードの下面から、偶数位置（または奇数位置）の非接触ＩＣカードの上面までの距離Ｈが、隣のリーダライタ装置の発信する信号のノイズが影響しないような距離であればよい。そして、（ｂ）の構成とする場合には、（ａ）の構成から（ｂ）の構成へと、高さを制御する制御処理部を、基本機能検査装置５やアプリケーション記録装置６が備える。また、（ｂ）の構成とする場合、距離Ｈについてノイズが影響しないような距離と設定すれば、リーダライタ装置間の距離Ｄを短くすることができ、これにより、基本機能検査装置５とアプリケーション記録装置６の幅を縮小することができる。また、本実施形態による非接触ＩＣカード検査システムにおける、基本機能検査装置５とアプリケーション記録装置６の構成は、複数の非接触ＩＣカードを直列に並べて、対応する各リーダライタ装置が同時に通信して各処理を行える構成としたので、従来に比べて簡易的な構成となり、システムの製造コストを削減することができる。また、隣り合うリーダライタ装置が、互いの信号のノイズが影響しないよう離れて設置されているので、リーダライタ装置が自装置に配置された非接触ＩＣカードと通信する際の通信性能の低減を避けることができる。
【００２５】
図７は奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングを示す第１図である。
図８は奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングを示す第２図である。
次に、図７および図８を用いて奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングについて説明する。
図７で示す奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングは、奇数位置のリーダライタ装置のリーダライタ装置から先に非接触ＩＣカードとの通信による処理（基本機能検査処理、またはアプリケーション記録処理）を行い、次に、偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードとの通信による処理（基本機能検査処理、またはアプリケーション記録処理）を行う。なお奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理の順番が逆であってもよい。そして、奇数位置のリーダライタ装置の処理と、偶数位置のリーダライタ装置の処理との順番のサイクルが繰り返される。この処理の開始の指示は、例えば、中央制御装置２０が、基本機能検査装置５やアプリケーション記録装置６に対して行う。なお中央制御装置２０は、奇数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードへの処理を行う時間との間に、待機時間Ｔを挿入する。
【００２６】
また、図８で示す奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングは、奇数位置のリーダライタ装置のリーダライタ装置から先に非接触ＩＣカードとの通信による処理（基本機能検査処理、またはアプリケーション記録処理）を行い、次に、偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードとの通信による処理（基本機能検査処理、またはアプリケーション記録処理）を行う。なお奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理の順番が逆であってもよい。そして、奇数位置のリーダライタ装置の処理と、偶数位置のリーダライタ装置の処理との順番のサイクルを、そのサイクルの処理が終了する度に逆にして、次のサイクルの処理を行う。この処理の開始の指示は、図７の処理同様、中央制御装置２０が、基本機能検査装置５やアプリケーション記録装置６に対して行う。また、中央制御装置２０は、奇数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードへの処理を行う時間と、偶数位置のリーダライタ装置が非接触ＩＣカードへの処理を行う時間との間に、待機時間Ｔを挿入する。
【００２７】
図７および図８で示したリーダライタ装置の処理タイミングにより、待機時間Ｔ秒離れた間隔で、奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置が自装置に配置された非接触ＩＣカードとの通信を交互に行うので、隣り合うリーダライタ装置からの通信の干渉を防止することができる。また図８で示した、処理タイミングは、図７で示した処理タイミングに比べ、奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理の切替が１／２となるため、制御の簡略化を行うことができる。
【００２８】
なお、上述の各装置は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】非接触ＩＣカード検査システムの構成を示すブロック図。
【図２】非接触ＩＣカードの搬送の様子を示す図。
【図３】基本機能検査装置の処理フローを示す図。
【図４】アプリケーション記録装置の処理フローを示す図。
【図５】リーダライタ装置と非接触ＩＣカードの配置関係を示す側面図。
【図６】リーダライタ装置と非接触ＩＣカードの配置関係を示す上面図。
【図７】奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングを示す第１図。
【図８】奇数位置と偶数位置のリーダライタ装置の処理タイミングを示す第２図。
【符号の説明】
【００３０】
１・・・ローダー
２・・・物理特性検査装置
３・・・機能特性検査装置
４・・・第１不良回収装置
５・・・基本機能検査装置
６・・・アプリケーション記録装置
７・・・書込データ検証装置
８・・・レーザ印字装置
９・・・第２不良回収装置
１０・・・良品収納装置
２０・・・中央制御装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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