(57)【要約】【課題】プログラムの開発・修正を効率よく行えるプログラム開発装置を実現すること。【解決手段】コンピュータシステムで用いられるプログラムを開発・修正するプログラム開発装置において、プログラムの処理項目毎の処理実行時間ファイルをテーブル形式で一覧表示する表示手段と、この表示画面上でプログラムの処理項目毎に処理実行時間を短縮するためのプログラム修正の可否を表す記号および関連したコメントを書き込む手段と、これらプログラム修正の可否を表す記号および関連したコメントを格納する手段、が設けられたことを特徴とするもの。【選択図】                    図１
2009187102.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータシステムで用いられるプログラムを開発・修正するプログラム開発装置において、
プログラムの処理項目毎の処理実行時間ファイルをテーブル形式で一覧表示する表示手段と、
この表示画面上でプログラムの処理項目毎に処理実行時間を短縮するためのプログラム修正の可否を表す記号および関連したコメントを書き込む手段と、
これらプログラム修正の可否を表す記号および関連したコメントを格納する手段、
が設けられたことを特徴とするプログラム開発装置。
【請求項２】
前記表示手段でプログラムの処理項目毎の処理実行時間ファイルをテーブル形式で一覧表示するのにあたり、
前記プログラムの処理項目毎の処理実行時間順にソートして表示することを特徴とする請求項１記載のプログラム開発装置。
【請求項３】
前記プログラムは、ＬＳＩテスタで用いるテストプログラムであることを特徴とする請求項１または請求項２記載のプログラム開発装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プログラム開発装置に関し、詳しくは、プログラム開発・修正の効率改善に関するものである。
【０００２】
コンピュータシステムで用いられるプログラムの開発、たとえばＬＳＩテスタで用いられるテストプログラムの開発にあたっては、テスト項目(テストセル)毎の実行時間を測定して測定結果を表示画面にテーブル形式で一覧表示するテスト実行時間表示ツールが用いられている。図４はこのようなテスト実行時間表示ツールの表示画面例であり、（Ａ）はテスト項目実行順に表示する例を示し、（Ｂ）はテスト実行時間順にソートして表示する例を示している。ここで、これら表示画面例のＡ欄はテストプログラム名を示し、Ｂ欄はテスト番号を示し、Ｃ欄はテスト項目名を示し、Ｄ欄はテスト実行時間を示し、Ｅ欄はテスト実行時間の累積値を示している。
【０００３】
ところで、ＬＳＩテスタで用いられるテストプログラムの開発にあたり、測定対象ＬＳＩに対する全体のテスト実行時間を効率よく短縮するためには、テスト実行時間が最も長いテスト項目のテストプログラムからテスト実行時間を短くするプログラム修正作業を行うことが望ましい。
【０００４】
そこで、図４に示すテスト実行時間表示ツールの表示画面を使い、（Ｂ）に示すようにテスト項目毎のテスト実行時間順にソートして表示し、テスト実行時間がかかっているテスト項目を見つけ出してテストプログラムを修正することが行われている。
【０００５】
特許文献１には、半導体試験装置におけるテストプログラムの実行時間を短縮するために、テスト項目毎のテスト実行時間を測定してテストプログラムを修正するテストプログラム修正装置の構成例が記載されている。
【特許文献１】特開平０２−２７６９７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、テスト項目の中には、テスト実行時間がかかっていても、テスト実行時間を短縮するための修正ができないテスト項目もある。
【０００７】
また、とび抜けてテスト実行時間がかかっているテスト項目は見当たらず、同じようなテスト実行時間ばかりの場合は、テスト実行時間を短縮するためにどのテスト項目のテストプログラムを修正すれば良いかが判断できないことになる。
【０００８】
さらに、従来のプログラム開発装置では、テスト実行時間の測定結果をファイル化して表示画面に表示し、表示画面上でそのファイルにテスト実行時間を短縮するための解析コメントを書き込んでも、再度テスト実行時間を測定して測定結果をファイル化することにより先の解析コメントは削除されてしまって表示画面に付加表示されず、作業者は前回のファイルの解析コメントを参照することができないという問題がある。
【０００９】
本発明は、これらの課題を解決するものであり、その目的は、プログラムの開発・修正を効率よく行えるプログラム開発装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、コンピュータシステムで用いられるプログラムを開発・修正するプログラム開発装置において、プログラムの処理項目毎の処理実行時間ファイルをテーブル形式で一覧表示する表示手段と、この表示画面上でプログラムの処理項目毎に処理実行時間を短縮するためのプログラム修正の可否を表す記号および関連したコメントを書き込む手段と、これらプログラム修正の可否を表す記号および関連したコメントを格納する手段、が設けられたことを特徴とする。
【００１１】
請求項２記載の発明は、請求項１記載のプログラム開発装置において、前記表示手段でプログラムの処理項目毎の処理実行時間ファイルをテーブル形式で一覧表示するのにあたり、前記プログラムの処理項目毎の処理実行時間順にソートして表示することを特徴とする。
【００１２】
請求項３記載の発明は、請求項１または請求項２記載のプログラム開発装置において、前記プログラムは、ＬＳＩテスタで用いるテストプログラムであることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、コンピュータシステムで用いられるプログラムを開発・修正を効率よく行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明について、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図である。図１において、本発明に係るプログラム開発装置１００は、必要に応じてＬＳＩテスタ２００と接続され、開発・修正したテストプログラムを実行させる。
【００１５】
プログラム開発装置１００は、表示部１０１、入力操作部１０２、テスト実行時間測定部１０３、テスト実行時間表示処理部１０４、テストプログラム編集部１０５、テストプログラム編集表示処理部１０６、テスタ用インタフェース１０７、テストプログラム格納部１０８、測定結果格納部１０９、測定結果コメント格納部１１０などがバスを介して接続されている。
【００１６】
図２は、表示部１０１におけるテスト実行時間の表示画面例図である。このテスト実行時間の表示画面には、テスト実行時間測定ボタン１０１ａとテスト実行時間表示テーブル１０１ｂが表示されている。
【００１７】
図１の動作について説明する。
作業者がテスト実行時間表示画面のテスト実行時間測定ボタン１０１ａを押すと、テスト実行時間表示処理部１０４は、テスト実行時間測定部１０３にテストプログラム実行時間の測定を依頼する。
【００１８】
テスト実行時間測定部１０３は、テストプログラム格納部１０８に格納されている開発・修正対象になっている所定のテストプログラムを、テスタ用インタフェース１０７を介してＬＳＩテスタ２００にロードし、テスト項目毎のテスト実行時間を測定する。これらテスト項目毎のテスト実行時間の測定結果は、測定結果格納部１０９に格納される。
【００１９】
テスト実行時間測定部１０３は、測定結果格納部１０９に格納された測定結果ファイルを読み込み、図２に示す表示部１０１におけるテスト実行時間の表示画面のテスト実行時間表示テーブル１０１ｂにテスト時間測定結果をテスト実行順に表示する。
【００２０】
作業者は、表示部１０１におけるテスト実行時間の表示画面のテスト実行時間表示テーブル１０１ｂを実行時間順でソートして並べ替え、実行時間がかかっているテスト項目を見つけ出してそのテスト項目を選択指定する。
【００２１】
選択指定されたテスト項目情報はテスト実行時間表示処理部１０４からテストプログラム編集部１０５へ伝えられ、テストプログラム格納部１０８に格納されているテストプログラムの中から該当するテストプログラムが読み込まれて、選択されたテスト項目の行が表示部１０１の図示しないテストプログラム編集画面に表示される。
【００２２】
作業者は、このテストプログラム編集画面に表示されるテストプログラムを見て、テスト実行時間を短くするための修正ができないと判断した場合は、入力操作部１０２を介して図３（Ａ）に示すように表示部１０１におけるテスト実行時間の表示画面のテスト実行時間表示テーブル１０１ｂに「修正ができない」ことを表す記号（たとえば×）を記入するとともに、必要に応じて関連するコメントも記入する。
【００２３】
一方、テスト実行時間を短縮するための修正を行った場合は、表示部１０１におけるテスト実行時間の表示画面のテスト実行時間表示テーブル１０１ｂに「修正を行った」ことを表す記号（たとえば○）を記入するとともに、必要に応じて関連するコメントも記入する。なお、これら修正の可否を表す情報および修正の可否に関連したコメントは、テストプログラム名、テスト番号、テスト(セル)の処理名とともに、測定結果コメント格納部１１０に格納される。
【００２４】
その後、再び作業者がテスト実行時間表示画面のテスト実行時間測定ボタン１０１ａを押すと、各部は上記と同様の処理を実行する。すなわち、テスト実行時間表示処理部１０４は測定結果格納部１０９と測定結果コメント格納部１１０の両方を読み込み、表示部１０１におけるテスト実行時間の表示画面のテスト実行時間表示テーブル１０１ｂにテスト実行時間と記号とコメントを表示する。
【００２５】
テスト実行時間表示テーブル１０１ｂの表示は、記号毎に、行の表示/非表示操作ができる。たとえば「修正ができない」ことを表す記号（たとえば×）が入った行だけを非表示にしたり、図３（Ｂ）に示すように「修正ができない」ことを表す記号（たとえば×）が入った行と「修正を行った」ことを表す記号（たとえば○）が入った行の両方を非表示にすることもできる。また「修正を行った」ことを表す記号（たとえば○）が入った行だけを選択的に表示することもできる。図３（Ｂ）は、記号が入力されている行を非表示にしてテスト実行時間の長い順にソートして表示した例を示している。
【００２６】
なお、図３の表示画面例において、Ａ欄はテストプログラム名を示し、Ｂ欄はテスト番号を示し、Ｃ欄はテスト項目名を示し、Ｄ欄はテスト実行時間を示し、Ｅ欄はテスト実行時間の累積値を示し、Ｆ欄は記号を示し、Ｇ欄はコメントを示している。
【００２７】
本発明に基づき、図３（Ｂ）の表示画面例のように、「修正ができない」ことを表す記号のある行と「修正を行った」ことを表す記号がある行の両方を非表示にすることで、次にテスト実行時間を短くするためのプログラム修正作業を行うテスト項目を見つけやすくなる。
【００２８】
また「修正を行った」ことを表す記号がある行だけを表示すれば、プログラム修正によりテスト実行時間が短縮されたか否かを確認することができる。
【００２９】
作業者が記入したテストプログラム修正の可否を示す記号とコメントは、測定結果ファイルとは別のファイルとして、テストプログラム名、テスト番号、テスト(セル)の処理名とともに測定結果コメント格納部１１０に格納される。この結果、テストプログラム名、テスト番号を変更するようなテストプログラムの修正を行わない限り、次の実行時間測定時にはテスト実行時間とともに、記号、コメントが表示されることになる。
【００３０】
上記実施例では、ＬＳＩテスタで用いられるテストプログラムの開発・修正の例について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、コンピュータシステムで用いられる各種プログラムの開発にも適用できるものである。
【００３１】
以上説明したように、本発明によれば、コンピュータシステムで用いられるプログラムを開発・修正を効率よく行えるプログラム開発装置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１で用いるテストデータ例の説明図である。
【図３】従来のメモリテストシステムの構成例図である。
【図４】図３における各測定ユニット間のデータ伝送系統接続説明図である。
【符号の説明】
【００３３】
１００  プログラム開発装置
１０１  表示部
１０２  入力操作部
１０３  テスト実行時間測定部
１０４  テスト実行時間表示処理部
１０５  テストプログラム編集部
１０６  テストプログラム編集表示処理部
１０７  テスタ用インタフェース
１０８  テストプログラム格納部
１０９  測定結果格納部
１１０  測定結果コメント格納部
２００  ＬＳＩテスタ
【図１】
2009187102.tif 000003
【図２】
2009187102.tif 000004
【図３】
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【図４】
2009187102.tif 000006