(57)【要約】【課題】度重なる着脱によって引き起こされるコネクタの磨耗にも耐え、端子が折曲することのない中継コネクタを提供すること。【解決手段】第１コネクタ１００Ａに設けた保持部２７を第２コネクタ１００Ｂに設けた凹部１７に嵌合させることにより、第１コネクタ１００Ａの保持部２７に保持された接続用プローブ１６の先端部１６ｄａの先端面１６ｃが第２コネクタ１００Ｂの凹部１７の底面１７ａに保持された端子３０の端面３０ａに当接して、第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂが電気的に接続する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品ユニットの特性を測定する特性測定治具のコネクタに接続される第１コネクタと、前記製品ユニットのコネクタに接続される第２コネクタとを備え、第１，２コネクタを相互に接続して前記製品ユニットと特性測定治具との電気的な接続を中継する中継コネクタであって、
第１コネクタは、前記特性測定治具のコネクタが接続される第１コネクタ部を有する第１コネクタ本体と、この第１コネクタ本体内に設けられると共に一端が前記第１コネクタ本体内部から外側へ突出し、前記特性測定治具の信号を製品ユニットへ伝達するための接続用プローブと、該接続用プローブの突出部を覆うとともにその先端を露出させた保持部とを有し、
第２コネクタは、前記保持部が嵌合する凹部と前記製品ユニットのコネクタが接続される第２コネクタ部とを有する第２コネクタ本体と、この第２コネクタ本体内に設けられると共に一端が前記凹部の底面に露出した端子とを有し、
前記特性測定治具のコネクタは、前記第１コネクタ部に接続されると前記接続用プローブと電気的に接続され、
前記製品ユニットのコネクタは、前記第２コネクタ部に接続されると前記端子と電気的に接続され、
前記第１コネクタの保持部を前記第2コネクタの凹部に嵌合させて第１，第２コネクタを接続することに拠り、前記接続用プローブの先端が前記第２コネクタの凹部の端子に当接して、第１，２コネクタが電気的に接続されることを特徴とする中継コネクタ。
【請求項２】
第１コネクタ本体または第２コネクタ本体の何れか一方に係止手段を設け、
他方にこの係止手段が係合する係合部を設け、
前記係止手段を前記係合部に係合させることに拠り、第１，２コネクタが電気的に接続されることを特徴とする請求項１に記載の中継コネクタ。
【請求項３】
前記係止手段は、第１コネクタ本体または第２コネクタ本体の何れか一方の外壁から突出したマグネットであり、
前記係合部は、前記マグネットを受け入れる磁性体で形成された凹部であることを特徴とする請求項２に記載の中継コネクタ。
【請求項４】
前記係止手段は、第１コネクタ本体または第２コネクタ本体の何れか一方の外壁から突出し且つ先鋭なガイド部材であり、
前記係合部は、前記ガイド部材が押入される孔であることを特徴とする請求項２に記載の中継コネクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機、プリンタ、ＦＡＸなどの光学ユニットと、この光学ユニットの各種特性の測定、調整、検査を行う特性測定治具との電気的な接続を中継する中継コネクタに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、車両用ワイヤーハーネスの電気的導通の良否を調べるために、図１２に示すように、車両用ワイヤーハーネス端部の接続用コネクタ（被検査コネクタ）１のハウジング１ｂに端子金具１ａが実装されているか否か確認する導通検査が行われてきた。この導通検査は、導通検査器２の基板ＢＣに直付けされた検査コネクタ２ａに上記被検査コネクタ１を接続し、通電するかどうかを調べることにより行う。
【０００３】
この導通検査は、車両用ワイヤーハーネスの製造段階に行われ、検査器２（不図示）の検査コネクタ２ａは、製造ラインにおいて被検査コネクタ１との着脱が幾度となく繰り返されるため、被検査コネクタ１の端子金具１ａに摺接接続される接続端子２ｂが磨耗や折曲する問題があった。
【０００４】
さらに、この接続端子２ｂは、導通検査器２のプリント回路基板ＢＣ（不図示）に半田付けされているため、交換が非常に面倒であった。そのため、図１３に示すように、被検査コネクタ１を中継コネクタ３を介して導通検査器２の検査コネクタ２ａに着脱可能に設け、検査コネクタ２ａの端子７を中継コネクタ３の端子５の一端に当接させて、中継コネクタ３を交換可能にするようにしたものが採用された（例えば、特許文献１参照）。
現在では、この中継コネクタ３が、複写機等の製品ユニットとその特性の検査や調整を行う特性測定治具との接続の中継にも使用されている。
【特許文献１】特許第３２５７３４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、大量の製品ユニットが流れる製造ラインにおける製品ユニットの検査において、上記した従来の中継コネクタ３にあっては、特性測定治具の検査コネクタ２ａに取り付けられた中継コネクタ３が上記のように交換可能であっても、製品ユニットの被検査コネクタが検査のために何度もこの中継コネクタ３を介して特性測定治具に接続されては取り外されるため、接続を中継する中継コネクタ３の接続端子５が、短期間で磨耗や折曲し、早期の交換を余儀なくされるという問題があった。
【０００６】
すなわち、コネクタ同士を幾度となく着脱しても中継コネクタの端子の磨耗や折曲が生じない中継コネクタが望まれていた。
【０００７】
本発明は、上記問題に着目してなされたもので、中継コネクタ同士を幾度となく着脱しても中継コネクタの端子が磨耗や折曲しない中継コネクタを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明では、製品ユニットの特性を測定する特性測定治具のコネクタに接続される第１コネクタと、前記製品ユニットのコネクタに接続される第２コネクタとを備え、第１，２コネクタを相互に接続して前記製品ユニットと特性測定治具との電気的な接続を中継する中継コネクタであって、
第１コネクタは、前記特性測定治具のコネクタが接続される第１コネクタ部を有する第１コネクタ本体と、この第１コネクタ本体内に設けられると共に一端が前記第１コネクタ本体内部から外側へ突出し、前記特性測定治具の信号を製品ユニットへ伝達するための接続用プローブと、該接続用プローブの突出部を覆うとともにその先端を露出させた保持部とを有し、
第２コネクタは、前記保持部が嵌合する凹部と前記製品ユニットのコネクタが接続される第２コネクタ部とを有する第２コネクタ本体と、この第２コネクタ本体内に設けられると共に一端が前記凹部の底面に露出した端子とを有し、
前記特性測定治具のコネクタは、前記第１コネクタ部に接続されると前記接続用プローブと電気的に接続され、
前記製品ユニットのコネクタは、前記第２コネクタ部に接続されると前記端子と電気的に接続され、
前記第１コネクタの保持部を前記第2コネクタの凹部に嵌合させて第１，第２コネクタを接続することに拠り、前記接続用プローブの先端が前記第２コネクタの凹部の端子に当接して、第１，２コネクタが電気的に接続される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の中継コネクタにあっては、コネクタの端子曲げ、磨耗などの損耗が少なく、中継コネクタの交換頻度が少なくなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の中継コネクタを実現する最良の形態を、図面に示す実施例１乃至実施例３に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１１】
まず、本発明の中継コネクタ１００の構成を説明する。
図１は、実施例１の中継コネクタ１００が適用された製造ラインＭの概念図である。図２は実施例１の中継コネクタ１００の斜視図である。図３は、実施例１の中継コネクタ１００を示す平断面図である。
【００１２】
実施例１の中継コネクタ１００は、図１に示すように、複写機、プリンタ、ＦＡＸなどの光学ユニット（製品ユニット）１２１の特性の測定や調整を行う際に、光学ユニット１２１の検査等に用いる検査器（特性測定治具）１２２ｃ〜１２２ｇと光学ユニット１２１との接続の中継に使用される。
【００１３】
実施例１の中継コネクタ１００は、検査器１２２ｃ〜１２２ｇの各コネクタ１２２ａに電気的に接続される第1コネクタ１００Ａと、光学ユニット１２１のハーネス１２１ｂのコネクタ１２１ａに電気的に接続される第２コネクタ１００Ｂとを有している。
【００１４】
第１コネクタ１００Ａは、図２および図３に示すように、検査器１２２ｃ〜１２２ｇのコネクタ１２２ａ（図１参照）に接続される第１ケーシング１１と、検査器１２２ｃ〜１２２ｇの信号を光学ユニット１２１へ伝達するための複数の接続用プローブ１６と、複数の接続用プローブ１６の針部１６ｄの先端部１６ｄａを覆った円筒状で絶縁樹脂製の複数の保持部２７とを有している。
【００１５】
この第１ケーシング１１は、絶縁性の樹脂からなり中空直方体状に形成されている。そして、この第１ケーシング１１の後部（図３において右側）には、検査器１２２ｃ〜１２２ｇのコネクタ１２２ａが接続される凹状の第１コネクタ部１３が設けられている。この第１コネクタ部１３には複数の端子１３ａが設けられている。この第１ケーシング１１と第１コネクタ部１３とにより第１コネクタ本体が構成される。
【００１６】
接続用プローブ１６は、第１ケーシング１１の内部に設けられると共にその針部１６ｄの先端部１６ｄａが第１ケーシング１１の前壁１１ｂから突出し、接続用プローブ１６の基部１６Ａの後部１６Ａｂは、第１ケーシング１１の内部においてリード線１５Ａを介して第１コネクタ部１３の端子１３ａにそれぞれ接続されている。
【００１７】
この接続に関しては、リード線１５Ａを介さず、各接続用プローブ１６と第１コネクタ部１３の複数の端子１３ａとが直接接続されていてもよい。基部１６Ａの径は、針部１６ｄの径より大きく設定されている。
【００１８】
そして、第１コネクタ１００Ａの保持部２７は、第１ケーシング１１の前壁１１ｂの孔１１ｂａに嵌合固定され、接続用プローブ１６の先端部１６ａの先端面１６ｃを露出させた状態で先端部１６ｄａを保持している。
【００１９】
保持部２７および接続用プローブ１６の先端部１６ｄａは、第１ケーシング１１の前壁１１ｂから所定の長さＰだけ突出している。
【００２０】
そして、第１ケーシング１１の両側壁１１ｃ，１１ｄには、前方方向（図３において左側）に延びた可撓性を有する板状の係止片（係止手段）１９，１９が一体に設けられている。
【００２１】
また、係止片１９，１９の先端部１９ａ，１９ａには、内側に突出した係止部１９ｃ，１９ｃが形成されている。
【００２２】
第２コネクタ１００Ｂは、光学ユニット１２１のコネクタ１２１ａ（図１参照）に接続される第２ケーシング１２と、この第２ケーシング１２内に設けられたリード線１５Ｂとを有している。
【００２３】
この第２ケーシング１２は、上述の第１ケーシング１１と同様に絶縁性の樹脂からなり、第１ケーシング１１より小さな中空の直方体状に形成されている。この第２ケーシング１２の後壁１２ａには、光学ユニット１２１から引き出されたハーネス１２１ｂの端部のコネクタ１２１ａ（図１参照）が接続される凹状の第２コネクタ部１４が設けられている。  
【００２４】
この第２コネクタ部１４には複数の端子１４ａが設けられている。第２ケーシング１２の前壁１２ｂには、第１コネクタ１００Ａの保持部２７が嵌合する複数の凹部１７が形成されている。凹部１７の深さは、上述した接続用プローブ１６の先端部１６ｄａの突出長さＰとほぼ同一に設定されている（図５ｄ参照）。そして、この第２ケーシング１２と第２コネクタ部１４とにより、第２コネクタ本体が構成される。
【００２５】
また、各凹部１７の底面１７ａには孔１８が設けられ、この孔１８には端子３０が設けられている（図５（ｄ）参照）。この端子３０の面３０ａは、凹部１７の底面１７ａと面一となっている。そして、第２ケーシング１２の内部において、リード線１５Ｂの一端１５Ｂａが上記の端子３０に接続され、その他端１５Ｂｂが第２コネクタ部１４の端子１４ａにそれぞれ接続されている。そして、第２ケーシング１２の側壁１２ｃ，１２ｄには、第１ケーシング１１の係止部１９ｃが係止する係合凹部（係合部）２０がそれぞれ設けられている。
【００２６】
この第２ケーシング１２の前壁１２ｂの厚さＬは、上記突出長さＰより大きく設定されている（図３および図５（ｄ）参照）。また、第２ケーシング１２の高さ寸法ｈ２と幅寸法ｗ２は、第１ケーシング１１の高さ寸法ｈ１と幅寸法ｗ１（図２参照）と略同一に設定されている。
【００２７】
そして、第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂを相互接続するときに、表裏の別がつくように、第１ケーシング１１の側壁１１ｃの係止片１９の位置と側壁１１ｄの係止片１９の位置とが、第１ケーシング１１の前後方向に延びる中心線Ｓに対して点対称とならないようになっている。
【００２８】
上記した接続用プローブ１６、保持部２７、リード線１５Ａ，１５Ｂ、凹部１７、端子３０の数については、説明の便宜上、３つとしたがこの数に限定されるものではない。
＜第１実施例の中継コネクタ１００の作用説明＞
以下、実施例１の中継コネクタ１００における作用を説明する。
【００２９】
図１および図５(a)に示すように、第１コネクタ１００Ａを、検査器１２２ｃ〜１２２ｇのハーネス１２２ｂの端部のコネクタ１２２ａにそれぞれ取り付ける。
【００３０】
同様に、第２コネクタ１００Ｂを光学ユニット１２１のハーネス１２１ｂの端部のコネクタ１２１ａに取り付ける。
【００３１】
光学ユニット１２１は、製造ラインＭの検査工程で中継コネクタ１００を介して、例えば、検査器１２２ｃに接続する。そして、検査器１２２ｃにより光学ユニット１２１の特性の検査、調整等が行われ、作業が終了したら検査器１２２ｃの第１コネクタ１００Ａから光学ユニット１２１の第２コネクタ１００Ｂを取り外し、同様にして検査器１２２ｅ〜１２２ｇの第１コネクタ１００Ａに順次接続していき、それぞれの検査や調整などを行っていく。
【００３２】
上記検査において、検査器１２２ｃと光学ユニット１２１との接続について詳述すると、第１コネクタ１００Ａの保持部２７を，例えば、図５(a)の矢印Ａが示す方向に、第２コネクタ１００Ｂの凹部１７に挿入して嵌合させる。
【００３３】
この嵌合により、図４および図５(ｃ)に示すように、第１コネクタ１００Ａの接続用プローブ１６の先端面１６ｃが、第２コネクタ１００Ｂの凹部１７の端子３０の端面３０ａに当接して第１コネクタ１００Ａと第２コネクタ１００Ｂとが電気的に接続される。
【００３４】
つまり、接続用プローブ１６の先端部１６ｄａの先端面１６ｃが第２コネクタ１００Ｂの端子３０の端面３０ａに当接するだけで第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂが相互に電気接続されるため、第１コネクタ１００Ａの接続用プローブ１６の先端部１６ｄａや第２コネクタ１００Ｂの端子３０が擦れて磨耗することがない。
【００３５】
また、第１ケーシング１１の接続用プローブ１６の先端部１６ｄａが前壁１１ｂに嵌合固定された保持部２７に保持されているので、第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂの接続時に先端部１６ｄａに接続の押圧力が加わっても、その先端部１６ｄａが折れ曲がることがない。
【００３６】
また、検査器１２２ｃの第１コネクタ１００Ａから光学ユニット１２１の第２コネクタ１００Ｂを取り外す際にも、同様に第１コネクタ１００Ａの接続用プローブ１６の先端部１６ｄａおよび第２コネクタ１００Ｂの端子３０が磨耗したり、接続用プローブ１６の先端部１６ｄａが折れ曲がったりしてしまうことがない。
【００３７】
同様にして、他の検査器１２２ｄ〜１２２ｇで検査を行う場合も検査器１２２ｄ〜１２２ｇの第１コネクタ１００Ａに光学ユニット１２１の第２コネクタ１００Ｂを着脱していくものであるから、第１コネクタ１００Ａの接続用プローブ１６の先端部１６ｄａ及び第２コネクタ１００Ｂの端子３０の磨耗や接続用プローブ１６の先端部１６ｄａの折れ曲がりがない。
【００３８】
このように、検査器１２２ｃ〜１２２ｇで光学ユニット１２１を検査していく際に、光学ユニット１２１の第２コネクタ１００Ｂを検査器１２２ｃ〜１２２ｇの第１コネクタ１００Ａに着脱していくが、その着脱の際に、第１コネクタ１００Ａの接続用プローブ１６の先端部１６ｄａ及び第２コネクタ１００Ｂの端子３０の磨耗や接続用プローブ１６の先端部１６ｄａの折れ曲がりがないので、その磨耗や折れ曲がりによる第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂの交換、すなわち、中間コネクタ１００の交換頻度を極力抑えることができる。
【００３９】
また、中継コネクタ１００の第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂとの着脱のみを行うため、光学ユニット１２１のコネクタ１２１ａと第２コネクタ１００Ｂとの着脱や、検査器１２２ｃ〜１２２ｇの各コネクタ１２２ａと第１コネクタ１００Ａとの着脱を行う必要がない。このため、第１コネクタ部１３の端子１３ａや第２コネクタ部１４の端子１４ａが磨耗や折曲することがない。
【００４０】
さらに、上記した第１ケーシング１１の保持部２７は、従来の中継コネクタの端子５（図１３参照）より大径であるため、先端部１６ｄａを凹部１７に容易に挿入および嵌合させることができる。そのため、コネクタ同士の接続が迅速且つ容易となる。
【実施例２】
【００４１】
実施例２は、第１，第２コネクタ２００Ａ，２００Ｂの接続を補助する接続部材としてニードル２３（係止手段，ガイド部材）を用いた例である。
【００４２】
まず、実施例２の構成を説明する。
【００４３】
実施例２の中継コネクタ２００は、図６および図７に示すように、第１コネクタ２００Ａの接続用プローブ１６，１６，１６の先端部１６ｄａ，１６ｄａ，１６ｄａを挟み込む第１ケーシング１１の前壁１１ｂの位置に、この前壁１１ｂから突出したニードル２３，２３を設け、第２コネクタ２００Ｂの第２ケーシング１２の前壁１２ｂの凹部１７，１７，１７を挟み込む位置に、ニードル２３，２３が入り込むニードル受孔（係合部，孔）２４，２４を形成したものである。
【００４４】
また、上記とは逆に、ニードル２３，２３を第２ケーシング１２に設け、ニードル受孔２４，２４を第１ケーシング１１に形成してもよい。
【００４５】
図６〜８に示すように、ニードル２３，２３の先端部２３ａ，２３ａは尖っており、この先端部２３ａ，２３ａを第２ケーシング１２のニードル受孔２４，２４に入れて、第１ケーシング１１を押していけば、そのニードル２３，２３は先端部２３ａ，２３ａの傾斜面２３ｂ，２３ｂにより案内されてニードル受孔２４，２４に挿入されていき、このニードル２３，２３がニードル受孔に挿入されると、第１コネクタ２００Ａの保持部２７が第２コネクタ２００Ｂの凹部１７に嵌合して、第１コネクタ２００Ａと第２コネクタ２００Ｂとが接続されるようになっている。この接続は、ニードル２３，２３がニードル受け孔２４，２４に案内されて挿入されていくことにより、容易に且つ短時間で行うことができることとなる。
【００４６】
なお、他の作用は、実施例１と同様であるので、説明を省略する。
【実施例３】
【００４７】
実施例３は、第１，第２コネクタ３００Ａ，３００Ｂの相互接続を補助する接続部材としてマグネット（係止手段）２５を用いた例である。
【００４８】
まず、実施例３の構成を説明する。
【００４９】
実施例３の中継コネクタ３００は、図９および図１０に示すように、第１コネクタ３００Ａにおいて、接続用プローブ１６，１６，１６の先端部１６ｄａ，１６ｄａ，１６ｄａを挟み込む第１ケーシング１１の前壁１１ｂの位置に、前壁１１ｂから突出したマグネット２５，２５を設け、第２コネクタ３００Ｂにおいて、第２ケーシング１２の前壁１２ｂの凹部１７，１７，１７を挟み込む位置に、マグネット２５，２５が入り込む磁性体のマグネット受部（係合部）２６，２６を設けたものである。
【００５０】
なお、他の構成は、実施例１と同様であるので、対応する構成に同一符号を付して説明を省略する。
【００５１】
マグネット２５，２５は、マグネット受部２６，２６に磁力により引きよせられるため、第１コネクタ１００のマグネット２５，２５の先端部２５ａ，２５ａを第２ケーシング１２のマグネット受部２６，２６の付近までもっていくと、マグネット２５，２５が磁力によりマグネット受部２６，２６へ引き寄せてマグネット受部２６，２６に吸着する。このため、マグネット２５，２５をマグネット受部２６，２６に嵌合し易くなる。この嵌合に拠り、図１１に示すように、第１コネクタ３００Ａの保持部２７が第２コネクタ３００Ｂの凹部に嵌合して、第１コネクタ３００Ａと第２コネクタ３００Ｂとが接続される。
【００５２】
この接続は、マグネット２５，２５がマグネット受部２６，２６を磁性力により引き寄せられるので、容易に且つ短時間で行うことができることとなる。
【００５３】
また、この逆に、マグネット２５，２５を第２ケーシング１２に設け、マグネット受部２６，２６を第１ケーシング１１に設けてもよい。
【００５４】
なお、他の作用は、実施例１と同様であるので、説明を省略する。
【００５５】
以上、本発明の中継コネクタ１００，２００，３００を実施例１〜実施例３に基づき説明してきたが、具体的な構成については、これらの実施例に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。
【００５６】
実施例１では、製造ラインＭにおいて光学ユニット１２１と検査器１２２ｃ〜１２２ｇとの電気的な接続を中継コネクタ１００，２００，３００で中継する例を示したが、光学ユニット１２１と検査器１２２ｃ〜１２２ｇとの中継に限らず他の電機等との接続を中継する例としても良い。
【００５７】
要するに、幾度となく接続が繰り返される条件下のコネクタであってそのコネクタに内蔵されている端子や接続プローブなどが擦れて磨耗するもので電気的な接続に用られるものであれば、実施例１には限られることはない。
【００５８】
実施例２，３では、実施例１の中継コネクタ１００に接続を補助するニードル２３、マグネット２５を適用する例を示したが、中継コネクタ１００の第１，第２コネクタ１００Ａ，１００Ｂの接続を補助する部材であれば何れの部材であっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
実施例１〜実施例３では、光学ユニット１２１とその検査器１２２ｃ〜１２２ｇに対し中継コネクタ１００，２００，３００を適用する例を示したが、パーソナルコンピュータなどのユニットから構成される製品と、製品の特性測定、調整、及び検査を行う治具との接続を中継する中継コネクタに対しても適用することができる。要するに、電気的接続を中継する中継コネクタで磨耗や折曲しやすい端子等を有していれば、適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】実施例１の中継コネクタ１００が適用された製造ラインＭの概念図である。
【図２】本発明に係る実施例１の中継コネクタ中継コネクタの斜視図である。
【図３】図２に示される実施例１の中継コネクタ１００の平断面図である。
【図４】図３に示される実施例１の中継コネクタ１００の作用説明図である。
【図５】図３に示される実施例１の中継コネクタをＡ―Ａ線で断面して得られた図で実施例１の中継コネクタ１００の作用説明図である。
【図６】本発明に係る実施例２の中継コネクタ２００の斜視図である。
【図７】図６に示される実施例２の中継コネクタ２００の平断面図である。
【図８】図６に示される実施例２の中継コネクタ２００の作用説明図である。
【図９】本発明に係る実施例３の中継コネクタ３００の斜視図である。
【図１０】図９に示される実施例３の中継コネクタ３００の平断面図である。
【図１１】図９に示される実施例３の中継コネクタ３００の作用説明図である。
【図１２】導通検査を行う際に用いられる従来の被検査コネクタ１、および、検査器２の端子２ｂの断面図である。
【図１３】従来の中継コネクタ３が、ハーネスのコネクタ１とその検査器２の検査コネクタ２ａとの接続を中継する要部の断面図を示す。
【符号の説明】
【００６１】
１１        第１ケーシング
１２        第２ケーシング
１３        第１コネクタ部
１４        第２コネクタ部
１６        接続用プローブ
１７        凹部
１７ａ            底面
1５Ａ，１５Ｂ     リード線
３０        端子
１２１            光学ユニット（製品ユニット）
１２２ｃ〜１２２ｇ        検査器（特性測定治具）
１００，２００，３００  中継コネクタ       
【図１】
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【図２】
2009134892.tif 000004
【図３】
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【図４】
2009134892.tif 000006
【図５】
2009134892.tif 000007
【図６】
2009134892.tif 000008
【図７】
2009134892.tif 000009
【図８】
2009134892.tif 000010
【図９】
2009134892.tif 000011
【図１０】
2009134892.tif 000012
【図１１】
2009134892.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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