(57)【要約】【課題】部分画像から全体画像を構築する場合に、スワイプのスピードにバラつきがあった場合でも、構築される画像の劣化を抑制する。【解決手段】ラインセンサから読取スライス画像データを入力したか否かを判定し（ステップ１０４）、肯定された場合は、入力した読取スライス画像データと比較画像データ保存エリアに保存されている比較画像データとの同じ位置の画素の画素値の差分を全画素について求め、差分が０以外の画素の総数を求める（ステップ１０６）。総数の値が閾値以下か否かを判定し（ステップ１０８）、否定された場合は、読取スライス画像データを、スティッチ処理の対象として、スライス画像データ保存エリアに保存する（ステップ１１０）と共に、比較画像データ保存エリアに保存されている比較画像データを削除し、読取スライス画像データを、新たな比較画像データとして保存する（ステップ１１２）。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の時間間隔毎に読取対象の一部分を読み取り、部分画像データを生成する読取手段と、
前記部分画像データを記憶するための記憶手段と、
前記読取手段によって生成された前記記憶手段への登録前の部分画像データと、前記記憶手段に記憶されている部分画像データのうちの最新の部分画像データとが一致する度合を判定する判定手段と、
前記一致する度合が所定の度合よりも低い場合に、前記登録前の部分画像データを前記最新の部分画像データとして記憶手段に登録する登録手段と、
を含む画像処理装置。
【請求項２】
前記記憶手段に記憶されている前記部分画像から前記読取対象の全体画像を構築する構築手段を更に含む請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記判定手段は、前記登録前の部分画像データの全体と前記最新の部分画像データの全体とが一致する度合を判定する請求項１又は請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記判定手段は、前記登録前の部分画像データの少なくとも一部分の画素領域のデータと前記最新の部分画像データの前記画素領域のデータとが一致する度合を判定する請求項１又は請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記登録前の部分画像データの少なくとも一部分の画素領域のデータと前記最新の部分画像データの前記画素領域を含む当該画素領域の近傍領域のデータとが一致する度合を判定する請求項１又は請求項２に記載の画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
指紋認証を行うシステムでは、指紋画像を取得するために、エリア(面)センサ及びラインセンサの何れかを用いる。
【０００３】
エリアセンサを用いる場合は、指紋の全体画像を１度の読み込みで得ることができる。
【０００４】
一方、ラインセンサは、センサ上で指を滑らせる（スワイプする）ことで指紋が短冊状に分割された複数の部分画像（以下、スライス画像という）を連続的に取り込むものである。このため、ラインセンサを用いる場合は、複数のスライス画像から指紋の全体画像を構築する処理（以下、スティッチ処理という）を行なう。
【０００５】
スライス画像のスワイプ方向の画素数が１つの場合は、連続的に得られたスライス画像同士を繋ぎ合わせることで指紋の全体画像の構築を行なう。
【０００６】
特許文献１には、スワイプ方向の画素数が１画素のスライス画像同士を繋ぎ合わせて指紋の全体画像を構築する場合に、前回の読み取りで取得したスライス画像と今回の読み取りで取得したスライス画像との間の類似度が予め定められた閾値を超えていたときに、今回の読み取りで取得したスライス画像を保持し、類似度が閾値を超えていないときは、今回の読み取りで取得したスライス画像を破棄することにより、指紋の全体画像に冗長部分が発生することを抑える技術が開示されている。
【０００７】
一方、スライス画像のスワイプ方向の画素数が複数の場合は、連続的に得られたスライス画像から重なり部分を検出して重ね合わせることで指紋の全体画像の構築を行なう。
【特許文献１】特開２００３−２５６８１６公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、重ね合わせを行う場合は、スライス画像同士の相対位置にずれが生じる場合がある。このような相対位置のずれは、重ね合わせの処理は画素単位で行なうことから、スライス画像同士の重ね合わせの位置ずれは最大で半画素分発生する。
【０００９】
また、重ね合わせにより構築された画像に更にスライス画像を重ね合わせることにより指紋の全体画像を構築するため、発生した相対位置のずれは、後続の重ね合わせの処理にも影響する。
【００１０】
相対位置のずれは、画像のつぶれ、及び間延び等の指紋の全体画像の画質劣化の原因となる。
【００１１】
さらに、高速のスキャンが可能なラインセンサを用いる場合、ラインセンサのスキャンのスピードに対するスワイプのスピードが相対的に遅いときに、必然的に重なり部分の多いスライス画像が連続し、重ね合わせるスライス画像の数が増加する。このような場合、蓄積される相対位置のずれは大きくなる。このような相対位置のずれの蓄積の影響は、高速スキャンが可能なラインセンサにおいて、スワイプのスピードの適応範囲を大きくしようとした場合に特に問題である。
【００１２】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、高速のスキャンが可能なラインセンサを用いて読み取った部分画像から全体画像を構築する場合に、スワイプのスピードにバラつきがあった場合でも、構築される画像の劣化を抑制する画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本発明の画像処理装置は、所定の時間間隔毎に読取対象の一部分を読み取り、部分画像データを生成する読取手段と、前記部分画像データを記憶するための記憶手段と、前記読取手段によって生成された前記記憶手段への登録前の部分画像データと、前記記憶手段に記憶されている部分画像データのうちの最新の部分画像データとが一致する度合を判定する判定手段と、前記一致する度合が所定の度合よりも低い場合に、前記登録前の部分画像データを前記最新の部分画像データとして記憶手段に登録する登録手段と、を含んで構成されている。
【００１４】
本発明によれば、読取手段は、所定の時間間隔毎に読取対象の一部分を読み取り、部分画像データを生成する。
【００１５】
判定手段が、読取手段によって生成された前記記憶手段への登録前の部分画像データと、記憶手段に記憶されている部分画像データのうちの最新の部分画像データとが一致する度合を判定する。
【００１６】
登録手段は、一致する度合が所定の度合よりも低い場合に、登録前の部分画像データを最新の部分画像データとして、部分画像データを記憶するための記憶手段に登録する。
【００１７】
本発明の画像処理装置は、記憶手段に記憶されている部分画像から読取対象の全体画像を構築する構築手段を更に含んで構成するとよい。
【００１８】
判定手段は、登録前の部分画像データの全体と最新の部分画像データの全体とが一致する度合を判定するとよい。
【００１９】
また、判定手段は、登録前の部分画像データの少なくとも一部分の画素領域のデータと最新の部分画像データの前記画素領域のデータとが一致する度合を判定してもよい。
【００２０】
さらに、判定手段は、登録前の部分画像データの少なくとも一部分の画素領域のデータと最新の部分画像データの前記画素領域を含む当該画素領域の近傍領域のデータとが一致する度合を判定してもよい。
【００２１】
本発明によれば、登録前の部分画像データと、登録されている最新の部分画像データとが一致する度合が所定の度合よりも低い場合にのみ、部分画像データを登録するため、部分画像の各々から読取対象の全体画像を構築するときに用いる部分画像データの数を減らすことができる。これにより、全体画像において蓄積される相対位置のずれを抑制することが可能になる。
【発明の効果】
【００２２】
以上に説明したように、本発明は、部分画像の各々から読取対象の全体画像を構築するときに用いる部分画像データの数を減らすことができ、全体画像において蓄積される相対位置のずれを抑制することができ、構築される全体画像の劣化を抑制することができる、という優れた効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
（第１の実施の形態）
図１に示されるように、本実施の形態に係る指紋読取装置１０は、バー形状のラインセンサ１２を備えている。図１（Ｂ）は、図１（Ａ）のＡ−Ａ断面図である。指紋読取装置１０は、指がラインセンサ１２上で図１（Ｂ）の矢印で示されるスワイプ方向に滑らせて（スワイプさせて）、相対移動されることによって、指の指紋領域の全体を読み取る。
【００２４】
ラインセンサ１２は、センサ面上でスワイプされる認証対象の指から指紋を表す一連の部分画像を読み取る。図１（Ｂ）は、図１（Ａ）のＡ−Ａ断面図である。ラインセンサ１２は、図１（Ｂ）の矢印で示されるスワイプ方向の長さが指の指紋全体の長さよりも短かく、スワイプ方向と直交する方向の幅が指とほぼ同じ大きさのセンサ面を持つ。ラインセンサ１２は、このセンサ面上でスワイプ方向にスワイプされ、センサ面に対して相対移動する指から、指紋領域の部分領域の画像（スワイプ画像）を連続的に読み取る。
【００２５】
なお、指紋読取装置１０は、例えば、指紋認証処理を行なう機構の一部として構成され、パーソナルコンピュータ等に搭載されて用いられるものである。
【００２６】
次に、指紋読取装置１０の構成を、図２に示すブロック図で説明する。
【００２７】
指紋読取装置１０は、ラインセンサ１２の他に、フラッシュメモリ１４と、ＣＰＵ１６、ＲＯＭ１８、及びＲＡＭ２０等がバス２２によって接続された画像処理機構２４と、指紋読取装置１０と接続される機構とデータの送受信を行なうためのインターフェース２６を含んで構成されている。
【００２８】
フラッシュメモリ１４は、指紋認証処理に用いられるテンプレートを含む各種データを格納している。
【００２９】
画像処理機構２４は、ラインセンサ１２の読み取りにより得られた一連のスライス画像データから指紋の全体画像データを構築する構築処理を行う。
【００３０】
この構築処理の概要を図３を参照して説明する。
【００３１】
画像処理機構２４は、ラインセンサ１２によって読み取られた読取スライス画像データを入力すると、間引き処理ＴＴを行なう。この間引き処理ＴＴは、ＲＡＭ２０に設けられた比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データと、読取スライス画像データとを比較して、スティッチ処理ＴＳの対象とするか否かを判定し、スティッチ処理ＴＳの対象としない読取スライス画像データを間引く処理である。
【００３２】
間引き処理ＴＴにより、スティッチ対象とされた読取スライス画像データは、次の間引き処理ＴＴで用いられる比較画像データとされると共に、スティッチ処理ＴＳの対象のスライス画像データが保存するためにＲＡＭ２０に設けられた、スライス画像データ保存エリアＭＳに保存される。
【００３３】
比較画像データ保存エリアＭＣは、１枚分のスライス画像データの全画素が保存できるサイズである。例えば、１枚分のスライス画像データが、横方向がｘ画素で縦方向がｙ画素の、１画素がｓ［ｂｉｔｓ］で表す画像のデータである場合、比較画像データ保存エリアＭＣのサイズはｘ×ｙ×ｓ［ｂｉｔｓ］である。なお、ｙは２以上の整数である。
【００３４】
画像処理機構２４は、スライス画像データ保存エリアＭＳに保存されているスライス画像データを用いて、後述するスティッチ処理ＴＳを行なう。スティッチ処理ＴＳによって構築された指紋の全体画像データは、指紋認証処理に用いられるようにインターフェース２６を介して指紋読取装置１０と接続される指紋認証処理を行なう機構に出力される。
【００３５】
次に、図４のフローチャートを参照して、画像処理機構２４によって実行される指紋の全体画像の構築の処理ルーチンを説明する。この処理ルーチンのプログラムは、画像処理機構２４のＲＯＭ１８に記憶されている。
【００３６】
ステップ１００では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データを削除する。
【００３７】
ステップ１０２では、ラインセンサ１２による読み取りが終了したか否か、すなわち、指のスワイプ動作が終了したか否かを判定する。肯定された場合はステップ１１４へ移行し、否定された場合はステップ１０４へ移行する。
【００３８】
ステップ１０４では、ラインセンサ１２から読取スライス画像データを入力したか否かを判定する。肯定された場合はステップ１０６へ移行して、否定された場合はステップ１０２へ戻る。
【００３９】
ステップ１０６では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データと、ステップ１０４で入力した読取スライス画像データとの比較処理を行う。
【００４０】
比較処理では、入力した読取スライス画像データと比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データとの同じ位置の画素の画素値の差分を全画素について求め、差分が０以外の画素の総数ＤｉｆｆＮｕｍを求める。
【００４１】
ステップ１０８では、ステップ１０６で求めた総数ＤｉｆｆＮｕｍの値が、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍ以下か否かを判定する。肯定された場合はステップ１０２へ移行して、否定された場合はステップ１１０へ移行する。
【００４２】
なお、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍの値は、実験結果に基づいて適切な値を決定すればよい。
【００４３】
すなわち、総数ＤｉｆｆＮｕｍの値が、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍ以下の場合は、読取スライス画像データに表される画像の領域が、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とが略同じであり、間引きの対象のスライス画像データであると判定され、読取スライス画像データをスティッチ処理ＴＳの対象として保存しない。
【００４４】
一方、総数ＤｉｆｆＮｕｍが閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍを超えている場合は、読取スライス画像データに表される画像の領域は、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とは異なる領域であり、スティッチ処理ＴＳの対象であると判定する。
【００４５】
すなわち、ステップ１１０では、読取スライス画像データを、スティッチ処理ＴＳの対象として、スライス画像データ保存エリアＭＳに保存する。
【００４６】
ステップ１１２では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データを削除し、読取スライス画像データを、新たな比較画像データとして保存する。
【００４７】
ステップ１１４では、スティッチ処理ＴＳを行なう。
【００４８】
スティッチ処理ＴＳの概要を、図５を参照して説明する。
【００４９】
まず、重ね合わせによって既に構築されている画像と、スライス画像との重なり位置を求める。図５（Ａ）に図示されるように、重ね合わせによって既に構築されている画像ＰＡに対して、スライス画像ＰＳを画素単位で相対移動させて、移動毎に各画像の重なり領域の相関度を算出し、相関度が最大となる位置を求める。
【００５０】
次に、重ね合わせによって既に構築されている画像と、スライス画像とを重ね合わせる。図５（Ｂ）に示されるように、重ね合わせによって既に構築されている画像と、スライス画像とが重ならない領域Ａ１及び領域Ａ２の画素については、重ね合わせによって既に構築されている画像の画素値、又はスライス画像の画素値を採用する。一方、重ね合わせによって既に構築されている画像と、スライス画像とが重なる領域Ａ３の画素については、重ね合わせによって既に構築されている画像の画素値とスライス画像の画素値との平均値を画素値とする。
【００５１】
上述の処理を、スライス画像データ保存エリアＭＳに保存されているスライス画像の枚数分繰り返すことで、１枚の指紋の全体画像を構築する。
【００５２】
このように、本実施の形態では、読取スライス画像データに表される画像の領域が、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とが略同じ場合は、読取スライス画像データをスティッチ処理ＴＳの対象としないことで、不要な重ね合わせの処理の実施を抑制することが可能である。
【００５３】
また、スティッチ処理ＴＳの対象とするスライス画像データの数を減らすことで、蓄積される相対位置のずれを抑制することができ、低コントラストな鈍りの発生等の指紋の全体画像の画質低下を抑制することが可能である。
【００５４】
さらに、単純に間引くのではなく、重なりの度合の大きいスライス画像データを選別して間引くので、指の移動のスピードに合致した適正な間引きを行うことが可能である。
（第２の実施の形態）
続いて、本発明の第２の実施の形態に係る構築処理について説明する。
【００５５】
第１の実施の形態では、スライス画像データの全体を比較することにより間引き処理ＴＴを行ない、スティッチ処理ＴＳの対象とするスライス画像データを選択する場合について説明したが、第２の実施の形態では、スライス画像データの一部分の画像データを比較する場合について説明する。以下では、第１の実施の形態と対応する部分についての説明を省略し、第１の実施の形態との差異を主として説明する。
【００５６】
第２の実施の形態では、ＲＡＭ２０に設けられる比較画像データ保存エリアＭＣのサイズは、スライス画像データ中の１ライン分のスライス画像データの画素が保存できるサイズとする。
【００５７】
例えば、スライス画像データが、横方向がｘ画素で縦方向がｙ画素の、１画素がｓ［ｂｉｔｓ］で表す画像のデータである場合、比較画像データ保存エリアＭＣのサイズはｘ×ｓ［ｂｉｔｓ］である。なお、ｙは２以上の整数である。
【００５８】
次に、図６のフローチャートを参照して、第２の実施の形態に係る画像処理機構２４によって実行される指紋の全体画像の構築の処理ルーチンを説明する。
【００５９】
ステップ１５０では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データを削除する。
【００６０】
ステップ１５２では、ラインセンサ１２による読み取りが終了したか否かを判定する。肯定された場合はステップ１６４へ移行し、否定された場合はステップ１５４へ移行する。
【００６１】
ステップ１５４では、ラインセンサ１２から読取スライス画像データを入力したか否かを判定する。肯定された場合はステップ１５６へ移行して、否定された場合はステップ１５２へ戻る。
【００６２】
ステップ１５６では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データと、ステップ１５４で入力した読取スライス画像データのＮ番目のラインの画素行のデータとの比較処理を行う。
【００６３】
なお、Ｎの決定は任意の方法で行えばよい。
【００６４】
比較処理では、入力した読取スライス画像データとのＮ番目のラインの画素行のデータ比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データとの同じ位置の画素の画素値の差分を１ライン分の画素について求め、差分が０以外の画素の総数ＤｉｆｆＮｕｍ［Ｎ］を求める。
【００６５】
ステップ１５８では、ステップ１５６で求めた総数ＤｉｆｆＮｕｍ［Ｎ］の値が、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍ以下か否かを判定する。肯定された場合はステップ１５２へ移行して、否定された場合はステップ１６０へ移行する。
【００６６】
なお、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍの値は、実験結果に基づいて適切な値を決定すればよい。
【００６７】
すなわち、総数ＤｉｆｆＮｕｍ［Ｎ］の値が、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍ以下の場合は、読取スライス画像データに表される画像の領域が、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とが略同じであり、間引きの対象のスライス画像データであると判定され、読取スライス画像データをスティッチ処理ＴＳの対象として保存しない。
【００６８】
一方、総数ＤｉｆｆＮｕｍ［Ｎ］が閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍを超えている場合は、読取スライス画像データに表される画像の領域は、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とは異なる領域であり、スティッチ処理ＴＳの対象であると判定する。
【００６９】
すなわち、ステップ１６０では、読取スライス画像データを、スティッチ処理ＴＳの対象として、スライス画像データ保存エリアＭＳに保存する。
【００７０】
ステップ１６２では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データを削除し、読取スライス画像データのＮ番目のラインの画素行のデータを、新たな比較画像データとして保存する。
【００７１】
ステップ１６４では、上記で図５を参照して説明したスティッチ処理ＴＳを行なう。
【００７２】
このように、本実施の形態では、スライス画像データのＮ番目のラインの画素行のデータを保存し、差分を求めることにより、間引き処理ＴＴにおいて比較画像データ保存エリアＭＣとして使用するメモリ量を抑えることができると共に、差分を求める計算処理の量を抑えることができる。
（第３の実施の形態）
続いて、本発明の第３の実施の形態に係る構築処理について説明する。
【００７３】
第２の実施の形態では、スライス画像データのＮ番目の１ライン分の画素行のデータの比較を行う場合について説明したが、第３の実施の形態では、スライス画像データのＬライン分の画像データを比較する場合について説明する。以下では、第２の実施の形態と対応する部分についての説明を省略し、第２の実施の形態との差異を主として説明する。
【００７４】
図７のフローチャートを参照して、第３の実施の形態に係る画像処理機構２４によって実行される指紋の全体画像の構築の処理ルーチンを説明する。
【００７５】
ステップ２００では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データを削除する。
【００７６】
ステップ２０２では、ラインセンサ１２による読み取りが終了したか否かを判定する。肯定された場合はステップ２２０へ移行して、否定された場合はステップ２０４へ移行する。
【００７７】
ステップ２０４では、ラインセンサ１２から読取スライス画像データを入力したか否かを判定する。肯定された場合はステップ２０６へ移行して、否定された場合はステップ２０２へ戻る。
【００７８】
ステップ２０６では、ラインカウンタ「ｉ」に定数「Ｎ」を代入する。
【００７９】
ステップ２０８では、ラインカウンタ「ｉ」が定数「Ｎ＋Ｌ−１」以下か否かを判定する。肯定された場合はステップ２１０へ移行して、否定された場合はステップ２０２へ戻る。
【００８０】
なお、Ｎ，及びＬの決定は任意の方法で行えばよい。
【００８１】
ステップ２１０では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データと、ステップ２０４で入力した読取スライス画像データのｉ番目のラインの画素行のデータとの比較を行う。
【００８２】
比較処理では、入力した読取スライス画像データとのｉ番目のラインの画素行のデータ比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データとの同じ位置の画素の画素値の差分を１ライン分の画素について求め、差分が０以外の画素の総数ＤｉｆｆＮｕｍ［ｉ］を求める。
【００８３】
ステップ２１２では、ステップ２１０で求めた総数ＤｉｆｆＮｕｍ［ｉ］の値が、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍ以下か否かを判定する。肯定された場合はステップ２１４へ移行して、否定された場合はステップ２１６へ移行する。
【００８４】
なお、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍの値は、実験結果に基づいて適切な値を決定すればよい。
【００８５】
ステップ２１４では、ラインカウンタ「ｉ」を「１」インクリメントする。
【００８６】
ステップ２１６では、読取スライス画像データを、スティッチ処理ＴＳの対象として、スライス画像データ保存エリアＭＳに保存する。
【００８７】
すなわち、総数ＤｉｆｆＮｕｍ［ｉ（Ｎ≦ｉ≦Ｎ＋Ｌ−１）］の何れかの値が閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍを超えている場合は、読取スライス画像データに表される画像の領域は、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とは異なる領域であり、スティッチ処理ＴＳの対象であると判定している。
【００８８】
また、総数ＤｉｆｆＮｕｍ［ｉ（Ｎ≦ｉ≦Ｎ＋Ｌ−１）］の全ての値が、閾値ＴＨＤｉｆｆＮｕｍ以下の場合は、読取スライス画像データに表される画像の領域が、既にスティッチ処理ＴＳの対象とされているスライス画像データに表される画像の領域とが略同じであり、間引きの対象のスライス画像データであると判定され、読取スライス画像データをスティッチ処理ＴＳの対象として保存しない。
【００８９】
ステップ２１８では、比較画像データ保存エリアＭＣに保存されている比較画像データを削除し、読取スライス画像データのＮ番目のラインの画素行のデータを、新たな比較画像データとして保存する。
【００９０】
ステップ２２０では、上記で図５を参照して説明したスティッチ処理ＴＳを行なう。
【００９１】
このように、本実施の形態では、読取スライス画像データのＮ番目のラインの画素行のデータを保存し、最大Ｌライン分の差分を求めることにより、間引き処理ＴＴにおいて比較画像データ保存エリアＭＣとして使用するメモリ量を抑えることができると共に、Ｌラインを超える異なる領域が読み取られて生成されたスライス画像データのみスティッチ処理ＴＳの対象とするため、指紋の全体画像の構成時に行なわれる平均化処理に起因する画質低下を抑制することが可能である。
【００９２】
上述した各実施の形態では、指紋の全体画像の構成を例に挙げて説明したが、本発明は、指紋以外の対象についても、複数の部分画像から１枚の全体画像を構成する様々な場合に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】（Ａ）は本発明の実施の形態に係る指紋読取装置の概略図であり、（Ｂ）は（Ａ）のＡ−Ａ断面図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る指紋読取装置のブロック図ある。
【図３】構築処理の概要を示す図である。
【図４】第１の実施の形態に係る指紋の全体画像の構築の処理ルーチンのフローチャートである。
【図５】（Ａ）は重ね合わせ位置を求める処理の概念図であり、（Ｂ）は重ね合わせ処理の概念図である。
【図６】第２の実施の形態に係る指紋の全体画像の構築の処理ルーチンのフローチャートである。
【図７】第３の実施の形態に係る指紋の全体画像の構築の処理ルーチンのフローチャートである。
【符号の説明】
【００９４】
１０   指紋読取装置
１２   ラインセンサ
１４   フラッシュメモリ
２４   画像処理機構
【図１】
2009134562.tif 000003
【図２】
2009134562.tif 000004
【図３】
2009134562.tif 000005
【図４】
2009134562.tif 000006
【図５】
2009134562.tif 000007
【図６】
2009134562.tif 000008
【図７】
2009134562.tif 000009