(57)【要約】【課題】欠陥画素のアドレスを記憶するメモリを設けないで、確実かつ簡単に欠陥画素を検出して補正できるようにする。【解決手段】撮像素子で得た撮像信号の内の、同じ色の連続した少なくとも３点の画素信号の値を判断する（Ｓ２５）。その判定された少なくとも３点の画素信号の内で、中央の位置を除く画素信号の分散を判定し、その判断した分散と第１の定数との乗算を行い、その乗算値に第２の定数を加算して閾値を算出する（Ｓ２７）。そして中央の位置の画素信号の値と、中央の位置を除く画素信号の値とが、閾値以上差がある場合に欠陥画素であると欠陥判定部で判定し（Ｓ２８）、該当する画素信号を補正する（Ｓ２９）。また、該当する画素信号の補正を、有効画素に対しては、ゲイン調整やクランプ処理の後に行い、ＯＢ画素に対しては、ゲイン調整やクランプ処理の前に行う。【選択図】図５
2009105872.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
前記固体撮像素子で得た撮像信号の内の、同じ色の連続した少なくとも３点の画素信号の値を判断する画素判定部と、
前記画素判定部で判定された少なくとも３点の画素信号の内で、中央の位置を除く画素信号の分散を判定し、その判断した分散と第１の定数との乗算を行い、その乗算値に第２の定数を加算して閾値を算出する閾値算出部と、
前記画素判定部で判定された中央の位置の画素信号の値と、前記中央の位置を除く画素信号の値とが、前記閾値算出部で算出された閾値以上差がある場合に、欠陥画素による白点又は黒点であると判定する欠陥判定部と、
前記欠陥判定部で欠陥画素と判定された場合に、該当する画素信号を前記画素判定部で判定された中央の位置を除く画素信号で補正する補正部とを備えた
欠陥画素補正回路。
【請求項２】
前記閾値算出部は、前記画素判定部で判定された少なくとも３点の画素信号の内で、中央の位置を除く画素信号の平均を判定し、その判定した平均に第３の定数を乗算した値を、前記分散と第１の常数とを乗算した値に加算して、前記閾値を算出する
請求項１記載の欠陥画素補正回路。
【請求項３】
前記閾値算出部は、前記第１、第２又は第３の定数の少なくともいずれか１つを、撮像信号を増幅するゲインの設定により補正する
請求項２記載の欠陥画素補正回路。
【請求項４】
前記閾値算出部は、前記第１、第２又は第３の定数の少なくともいずれか１つを、さらに撮像する明るさにより補正する
請求項３記載の欠陥画素補正回路。
【請求項５】
前記閾値算出部は、前記第１、第２又は第３の定数の少なくともいずれか１つを、さらに周囲温度により補正する
請求項３記載の欠陥画素補正回路。
【請求項６】
前記画素判定部は、水平方向に連続した同じ色の５点の画素信号の値を判定し、その５点の画素信号から前記閾値算出部での分散の判定及び前記欠陥判定部での欠陥判定を行う
請求項２記載の欠陥画素補正回路。
【請求項７】
前記補正部での補正は、前記固体撮像素子で得た有効画素領域の撮像信号と、前記固体撮像素子で得たオプティカルブラック領域の撮像信号とで、異なる処理順序で補正を行う
請求項１記載の欠陥画素補正回路。
【請求項８】
前記補正部での異なる処理順序は、前記固体撮像素子で得た有効画素領域の撮像信号の場合に、撮像信号に対してゲイン調整を行った後に、前記補正処理を行い、
前記固体撮像素子で得たオプティカルブラック領域の撮像信号の場合に、前記撮像信号に対して前記補正処理の後に、ゲイン調整を行う
請求項７記載の欠陥画素補正回路。
【請求項９】
さらに、前記固体撮像素子で得た有効画素領域の撮像信号の場合に、撮像信号に対してクランプ処理を行った後に、前記補正処理を行い、
前記固体撮像素子で得たオプティカルブラック領域の撮像信号の場合に、前記撮像信号に対して前記補正処理の後に、クランプ処理を行う
請求項８記載の欠陥画素補正回路。
【請求項１０】
固体撮像素子を備えて撮像を行う固体撮像装置において、
前記固体撮像素子で得た撮像信号の内の、同じ色の連続した少なくとも３点の画素信号の値を判断する画素判定部と、
前記画素判定部で判定された少なくとも３点の画素信号の内で、中央の位置を除く画素信号の分散を判定し、その判断した分散と第１の定数との乗算を行い、その乗算値に第２の定数を加算して閾値を算出する閾値算出部と、
前記画素判定部で判定された中央の位置の画素信号の値と、前記中央の位置を除く画素信号の値とが、前記閾値算出部で算出された閾値以上差がある場合に欠陥画素であると判定する欠陥判定部と、
前記欠陥判定部で欠陥画素と判定された場合に、該当する画素信号を前記画素判定部で判定された中央の位置を除く画素信号で補正する補正部とを
備えたことを特徴とする
固体撮像装置。
【請求項１１】
前記補正部での補正は、前記固体撮像素子で得た有効画素領域の撮像信号と、前記固体撮像素子で得たオプティカルブラック領域の撮像信号とで、異なる処理順序で補正を行う
請求項１０記載の固体撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体撮像素子の欠陥画素の信号を補正する欠陥画素補正回路、及びその欠陥画素補正回路を備えた固体撮像装置に関し、特に、欠陥画素のアドレスを記憶するメモリを有しないで欠陥画素を検出し補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体基板上に形成されたＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）イメージセンサ及びＣＣＤ(Charge Coupled Device)イメージセンサ等の固体撮像素子において、半導体基板上の局所的な結晶欠陥等により欠陥画素が発生することがある。このような欠陥画素は、その欠陥画素から出力される信号レベルの大きさが、入射される光の量に依存しない特異な信号出力レベルを示すために、欠陥画素から出力される信号により、撮像して得られた画像の画質が劣化するという問題がある。
【０００３】
従来のビデオカメラ及びデジタルカメラの撮像装置では、固体撮像素子内に存在する欠陥画素を検出し、その欠陥画素に関するアドレスデータ等を不揮発性メモリ等の記憶素子に記憶させ、撮影時に、この不揮発性メモリに記憶されている欠陥画素のアドレスデータ等に基づいて、欠陥画素から出力される信号を補正している。
【０００４】
例えば、ＣＭＯＳイメージセンサを搭載した撮像装置の場合、製造段階において撮像装置のレンズを遮光し、ＣＭＯＳイメージセンサに光が入射されない状態で、ＣＭＯＳイメージセンサの各画素から出力される信号と被検査画素の周辺画素から出力される信号とを比較し、それらの信号出力レベルの値の差が所定の閾値を超えると、この特異な信号出力レベルを出力した画素を欠陥画素として検出する。
【０００５】
そして、この欠陥画素のアドレスデータが不揮発性メモリに記憶される。欠陥画素の検出が終了すると、ＣＭＯＳイメージセンサと欠陥画素のアドレスデータが記憶された不揮発性メモリとが一対となり撮像装置に内蔵されて出荷される。そして、ユーザがこの撮像装置を用いて撮像する場合には、不揮発性メモリに記憶されているＣＭＯＳイメージセンサの欠陥画素のアドレスデータに基づいて、ＣＭＯＳイメージセンサから出力される映像信号における欠陥画素に対応する信号が欠陥画素の近傍の画素の信号によって補正される。
【０００６】
しかし、前述のように、固定撮像素子の欠陥画素の補正では、製造段階において撮像装置のレンズを遮光して、ＣＭＯＳイメージセンサ等に光が入射しない状態で欠陥画素の検出を行い、欠陥画素のアドレスデータ等をメモリに記憶しなければならない。このため、製造段階での工数が増加するという問題がある。また、工場からＣＭＯＳイメージセンサを搭載した撮像装置の製品の出荷後に、経年変化によって生じるＣＭＯＳイメージセンサの欠陥画素については補正が出来ないという問題もある。
【０００７】
このような問題に対して、例えば、撮像装置の電源投入時に、撮像装置に搭載されているレンズの絞りを閉じて遮光状態とし、固体撮像素子の撮像出力信号によって欠陥画素の検出を行い、この欠陥画素からの検出信号に基づいて欠陥データを記録し保持して、撮影時にこの最新の欠陥データを用いて欠陥画素の補正を行う欠陥補正装置が開示されている（特許文献１参照）。
【０００８】
しかしながら、この欠陥補正装置では、欠陥画素のアドレスデータ等をメモリに記憶するため、撮像装置に欠陥画素のアドレスデータを記憶するためのメモリ等の記憶装置を搭載する必要がある。また、補正できる欠陥画素の数は、欠陥画素のアドレスデータの記憶を行う不揮発性メモリ等の記憶装置の記憶容量に依存するという問題もある。
【０００９】
このような問題に対して、例えば、メモリ等の記憶装置を搭載することなく、出荷後に生じた欠陥画素についても、その欠陥画素を検出し、補正を行う固体撮像素子の自動欠陥検出補正回路を、本出願人は先に提案した（特許文献２参照）。
【００１０】
図１２は、特許文献２において先に提案した、メモリを使用しない固体撮像素子の欠陥検出補正回路での処理の概要を示したフローチャートである。
以下、図１２を説明する。図１２は、１フレーム期間での処理を示したもので、まず、固体撮像素子であるイメージャのダミー画素ノイズレベル（Ｄ１）が算出される（ステップＳ１）。次に、前フレームより撮像信号を増幅するゲインが変更されたかどうかを確認する（ステップＳ２）。このステップＳ２での確認で、ゲインに変更が無ければ、前フレームに算出したダミー画素ノイズレベル（Ｄ１）を加算し、平均することでダミー画素ノイズレベル（Ｄ１）の精度を上げていく演算処理を行う（ステップＳ３）。一方、ステップＳ２で、ゲインの変更があった場合には、そのままダミー画素の演算処理を終了する。
【００１１】
次に、有効画素領域である欠陥検出補正領域での処理に移る。
欠陥検出補正領域では、周辺レベル閾値（Ｃ１）及び欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）が算出される（ステップＳ４）。
周辺レベル閾値（Ｃ１）は、ステップＳ１で算出されたダミー画素ノイズレベル（Ｄ１）と欠陥検出係数（Ｘ１）によって算出される。欠陥検出係数（Ｘ１）は、予め設定しておいた値、もしくは、センサゲイン及びセンサ蓄積時間に依存した値が設定することが可能である。
【００１２】
そして、欠陥検出を行うために、各パラメータを以下のように定義する。
Ｐ（ｔ）は、データ参照領域の中央画素の出力値である。
Ａ：欠陥画素レベル
Ａ＝Ｐ（ｔ）−ｍａｘ｛Ｐ（ｔ−４），Ｐ（ｔ−２），Ｐ（ｔ＋２），Ｐ（ｔ＋４）｝
；欠陥画素が周辺画素に対し高いレベルを示している場合
Ａ＝｜Ｐ（ｔ）−ｍｉｎ｛Ｐ（ｔ−４），Ｐ（ｔ−２），Ｐ（ｔ＋２），Ｐ（ｔ＋４）｝｜
；欠陥画素が周辺画素に対し低いレベルを示している場合
【００１３】
Ｂ＿ｓａｍｅ：同色フィルタ周辺レベル
Ｂ＿ｓａｍｅ＝ｍａｘ｛Ｐ（ｔ−４），Ｐ（ｔ−２），Ｐ（ｔ＋２），Ｐ（ｔ＋４）｝
−ｍｉｎ｛Ｐ（ｔ−４），Ｐ（ｔ−２），Ｐ（ｔ＋２），Ｐ（ｔ＋４）｝
Ｂ＿ｄｉｆｆ：異色フィルタ周辺レベル
Ｂ＿ｄｉｆｆ＝ｍａｘ｛Ｐ（ｔ−３），Ｐ（ｔ−１），Ｐ（ｔ＋１），Ｐ（ｔ＋３）｝
−ｍｉｎ｛Ｐ（ｔ−３），Ｐ（ｔ−１），Ｐ（ｔ＋１），Ｐ（ｔ＋３）｝、
【００１４】
Ｃ１：周辺レベル閾値
Ｃ１＝Ｘ１×Ｄ１
Ｄ１：ダミー画素ノイズレベル
Ｄ１＝ｍａｘ｛ダミー画素参照領域｝−ｍｉｎ｛ダミー画素参照領域｝
【００１５】
Ｅ１：欠陥画素レベル閾値
Ｆ１：欠陥画素補正レベル
Ｆ１＝Ａ−Ｅ１
Ｐ１‘（ｔ）：欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値
Ｘ１：欠陥画素係数
【００１６】
これらのパラメータを定義して、データ参照領域内の中央画素を注目画素とし、その出力値をＰ（ｔ）とし、その両側２画素離れた画素の出力値をＰ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）とし、さらにその２画素離れた画素の出力値をＰ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−４）とする。そして、Ｐ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ）、Ｐ（ｔ＋２）、Ｐ（ｔ＋４）の水平５画素をモニタする。
また、注目画素の両側隣接画素の出力値をＰ（ｔ−１）、Ｐ（ｔ＋１）とし、さらにその２画素離れた画素の出力値をＰ（ｔ−３）、Ｐ（ｔ＋３）とした場合、その水平４画素は全て注目画素と異なる同色透過フィルタの画素出力である。（ステップＳ５）。
【００１７】
欠陥画素レベル（Ａ）は、Ｐ（ｔ）が、Ｐ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）に対して、レベルが高い場合には、Ｐ（ｔ）とＰ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）の内の最大値との差分値により算出され、Ｐ（ｔ）が、Ｐ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）に対して、レベルが低い場合には、Ｐ（ｔ）とＰ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）の内の最小値との差分値の絶対値により算出される。
【００１８】
同色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｓａｍｅ）は、Ｐ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）の最大値と最小値の差分値として算出され、異色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｄｉｆｆ）は、Ｐ（ｔ−３）、Ｐ（ｔ−１）、Ｐ（ｔ＋１）及びＰ（ｔ＋３）の最大値と最小値の差分値として算出される（ステップＳ６）。
【００１９】
次に、欠陥検出判定処理を行うが、設定によって、第１の欠陥検出判定処理と第２の欠陥検出判定処理の２種類を選択する。
第１の欠陥検出判定処理は、欠陥画素レベル（Ａ）、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｓａｍｅ）、周辺レベル閾値（Ｃ１）、予め設定していた欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）を用いて行われる。第２の欠陥検出判定条件は、欠陥画素レベル（Ａ）が、欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）より大きい場合、かつ、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｓａｍｅ）のみが、周辺レベル閾値（Ｃ１）より小さい場合、注目画素が欠陥であると判断され、下記に示す欠陥補正処理が行われる（ステップＳ７）。
【００２０】
次に、ステップＳ７で、第１の欠陥検出判定条件が満たされない場合は、現在のデータ参照領域での欠陥検出処理を終了し、欠陥検出補正領域が終了したかどうかの確認処理が行われる（ステップＳ１１）。
【００２１】
一方、ステップＳ７で、第１の欠陥検出判定条件が満たされた場合は、第２の欠陥検出判定処理に進む。第２の欠陥検出判定処理は、欠陥画素レベル（Ａ）、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｓａｍｅ）、異色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｄｉｆｆ）、周辺レベル閾値（Ｃ１）、予め設定していた欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）を用いて行われる。第１の欠陥検出判定条件は、欠陥画素レベル（Ａ）が、欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）より大きい場合、かつ、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｓａｍｅ）と異色フィルタ周辺レベル（Ｂ＿ｄｉｆｆ）が、周辺レベル閾値（Ｃ１）より小さい場合、注目画素（データ参照領域の中央画素）が欠陥であると判断される（ステップＳ８）。
【００２２】
次に、ステップＳ７およびステップＳ８で、第１および第２の欠陥検出判断条件が満たされた場合、欠陥補正レベル（Ｆ１）が算出される。欠陥補正レベル（Ｆ１）は、欠陥画素レベル（Ａ）と欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）の差分値として算出される。この演算処理にて、欠陥画素レベル（Ａ）が、欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）とほぼ同じ値を示す欠陥画素の場合の欠陥画素の補正／未補正の交互の処理による、出力画像での欠陥画素点滅を抑制する効果があり、欠陥画素レベル（Ａ）が、欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）に対して大きければ大きいほど、欠陥補正力が大きいことになり、欠陥画素レベル（Ａ）が、ＯＢ欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）とほぼ同じ時にはほとんど補正されないことになる（ステップＳ９）。
【００２３】
次に、欠陥画素と判断された注目画素の出力値Ｐ（ｔ）を、欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値Ｐ１’（ｔ）に置き換える。欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値Ｐ１’（ｔ）は、注目画素の出力値Ｐ（ｔ）が、Ｐ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）より大きい場合は、Ｐ（ｔ）から欠陥補正レベル（Ｆ１）の差分値として算出される。但し、この場合、欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値Ｐ１’（ｔ）は、最大でもＰ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）の最大値もしくは平均値までしか補正されない。
【００２４】
また、注目画素の出力値Ｐ（ｔ）が、Ｐ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）より小さい場合は、Ｐ（ｔ）と前記欠陥補正レベル（Ｆ１）の加算値として算出される。但し、この場合では、最大でもＰ（ｔ−４）、Ｐ（ｔ−２）、Ｐ（ｔ＋２）及びＰ（ｔ＋４）の最小値もしくは平均値までしか補正されない。ゆえに、周辺画素に対して、極端にレベルが高い欠陥画素とレベルの低い欠陥画素を、前記の加算／減算の処理を切り替えることで、両方とも補正することが可能である。（ステップＳ１０）
【００２５】
次に、欠陥検出補正領域が終了したかどうかを確認するが（ステップＳ１１）、終了していない場合には、次の出力に対して、前記の欠陥検出補正処理を行う。欠陥検出補正領域が終了次第、次のフレームについて、前記と同様の欠陥検出補正処理を繰り返すことになる。
【００２６】
この図１２のフローチャートに示す処理を毎フレームの撮像信号に対して行うことで、欠陥画素レベル閾値（Ｅ１）を使用した判断で、撮像信号の全ての有効画素が、欠陥画素であるか否か判断され、欠陥画素である場合には、周辺の画素レベルに基づいて補正される。
【特許文献１】特開平６−６６８５号公報
【特許文献２】特開２００６−１３９８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２７】
図１２に示す処理で、メモリを使用せずに欠陥画素の検出が可能であり、経年変化による欠陥画素が生じた場合でも、適正に補正することができる。
ところが、上述した図１２のフローチャートとその説明からも判るように、従来の処理ではアルゴリズムが複雑であり、回路規模が大きくなる問題があった。
【００２８】
また、欠陥画素レベルを判定する閾値は一義的に定まる値であり、例えば閾値を大きく超えたレベルの欠陥画素である場合には、確実に欠陥画素であると判定できるが、閾値に近いレベルの欠陥画素である場合には、閾値を超えて欠陥補正が行われる状態と、閾値以下となって欠陥画素が行われない状態とが、フレームごとに繰り返される可能性があり、欠陥画素の点滅（具体的には輝度の高い白点の点滅）といった画質の劣化を引き起こす可能性があるという問題もある。
【００２９】
また、欠陥画素補正を、有効画素領域とオプティカルブラック領域とで、同じように行うと、信号処理状態が良好でない場合があった。
【００３０】
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、欠陥画素のアドレスを記憶するメモリを設けないで、確実かつ簡単に欠陥画素を検出して補正できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００３１】
本発明は、固体撮像素子の画素欠陥による白点又は黒点を補正する欠陥画素補正回路、又はその欠陥画素補正回路を組み込んだ個体撮像装置に適用する。
その構成としては、固体撮像素子で得た撮像信号の内の、同じ色の連続した少なくとも３点の画素信号の値を画素判定部で判断する。その画素判定部で判定された少なくとも３点の画素信号を使用して、閾値算出部で閾値を算出する。算出処理としては、画素判定部で判定された少なくとも３点の画素信号の内で、中央の位置を除く画素信号の分散を判定し、その判断した分散と第１の定数との乗算を行い、その乗算値に第２の定数を加算して閾値を算出する。
そして、画素判定部で判定された中央の位置の画素信号の値と、中央の位置を除く画素信号の値とが、前記閾値算出部で算出された閾値以上差がある場合に欠陥画素であると欠陥判定部で判定する。その欠陥判定部で欠陥画素であると判定された場合に、補正部で、該当する画素信号を、画素判定部で判定された中央の位置を除く画素信号で補正する。
【００３２】
このように構成したことで、同じ色の連続した少なくとも３点の画素信号そのものを使用して、閾値が算出され、画素信号のレベルに応じて閾値が可変設定されることになる。例えば、周辺画素の分散が大きい場合には、閾値を比較的大きく設定して、周辺画素と値が大きく違う際に、欠陥画素と判定し、周辺画素の分散が小さい場合には、閾値を比較的小さく設定して、欠陥画素を確実に判定するような処理が可能となる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によると、欠陥画素位置を記憶するメモリを使用することなく、確実かつ簡単な回路構成で、欠陥画素を検出して補正することが可能となる。特に本発明においては、欠陥画素の判定を行う閾値を、簡単な演算で可変設定させて、常時適正な閾値が設定される構成としたので、欠陥補正が行われる状態と欠陥画素が行われない状態とがフレームごとに繰り返されるような、欠陥画素点の点滅を防止することができ、良好な欠陥画素補正ができる効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、本発明の第１の実施の形態を、図１〜図８を参照して説明する。
本実施の形態においては、ＣＯＭＳイメージセンサをイメージセンサ（固体撮像素子）として使用した固体撮像装置に適用したものである。固体撮像装置は、例えばビデオカメラ、デジタルスチルカメラなどの各種撮像装置に適用可能である。
【００３５】
図１は、イメージセンサの機能ブロック図である。
本実施の形態の例においては、信号受光部である画素１１１がマトリクス状に配置されたセンサ部１１０を備え、そのセンサ部１１０に受光した信号を読み取るために、制御部１０１の制御で、駆動部１０２からセンサ部１１０に駆動信号を供給する。このセンサ部１１０に蓄積した信号（撮像信号）を、１水平ラインの画素信号ごとに順にセンサ部１１０から読み出して、アナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ）１０３に供給する。
【００３６】
アナログ／デジタル変換器１０３では、供給される撮像信号をデジタル信号に変換し、変換された画素信号を、信号処理部１２０に供給する。信号処理部１２０では、ゲイン調整などの各種撮像信号処理を行い、処理が施された撮像信号を、出力部１３０から外部に出力させる。ビデオカメラなどの撮像装置として構成される場合には、この出力部１３０から出力される撮像信号を、記録や表示を行うための映像信号とする。出力部１３０以降の回路構成については省略する。
【００３７】
図２は、センサ部１１０の画素１１１の配置例を示した図である。
図２に示すように、センサ部１１０は、ＲＧＢの何れかの色のカラーフィルタを有する複数の有効画素を有する有効画素領域２１と、ブランキング領域２２および２３とを備える。ブランキング領域２２および２３は、複数のＯＢ(Optical Black)画素３２を有するＯＢ画素領域２４と複数のダミー画素３３を有するダミー画素領域２５とを備える。
【００３８】
有効画素領域２１の有効画素は、Ｒ（赤色）透過フィルタの画素１０、Ｂ（青色）透過フィルタの画素１１、Ｇ（緑色）透過のフィルタの画素１２として示す。Ｒ透過フィルタの画素１０とＧ透過フィルタの画素１２とを水平方向（Ｘ方向）に交互に繰り返す第１フィルタ行１３と、Ｇ透過フィルタの画素１２とＢ透過フィルタの画素１１とを水平方向に交互に繰り返す第２フィルタ行１４とが垂直方向（Ｙ方向）にも交互に繰り返し配置されている。第１フィルタ行１３のＧ透過フィルタの画素１２と第２フィルタ配列１４のＧ透過フィルタの画素１２とは、垂直方向に重ならないように配置されている。このフィルタ配列は一般的にベイヤー配列として用いられている。
【００３９】
また、ＯＢ画素３２を遮光状態にしているＯＢ行１５には、ＲＧＢのフィルタを有する有効画素３１と同様に欠陥画素が存在する可能性がある。ダミー画素行１６には欠陥が存在しない。これらの画素出力は、ダミー画素行１６が複数行、ＯＢ行１５が複数行、第１フィルタ行１３と第２フィルタ行１４が交互の順番で出力される。欠陥検出補正処理はＯＢ行１５の複数行及び有効画素領域２１の複数行で行われる。
【００４０】
図３は、本実施の形態によるイメージセンサ１００内での撮像信号の信号処理の流れを示したブロック図である。
図３に従って説明すると、レンズ９９を介してセンサ部１１０に結像した像光が、撮像信号に変換される。変換された撮像信号は、センサ部１１０から各水平ライン単位で読み出されて、アナログ／デジタル変換器１０３でデジタル信号に変換される。変換されるデジタル信号は、画素単位の信号である。変換されたデジタル撮像信号は、ゲイン設定部１２１に送られて、デジタル処理で信号ゲインを指定されたゲインに設定する。ゲイン設定部１２１で設定されるゲインは、制御部１０１からの指示に基づく。
【００４１】
ゲイン設定部１２１でゲイン調整された撮像信号は、欠陥画素補正部１４０に供給し、欠陥画素の信号を補正する処理が行われる。補正処理の詳細については後述する。そして、欠陥画素補正部１４０で欠陥画素の信号が補正された撮像信号を、後処理部１２２に供給し、出力させるために必要な各種後処理を行い、処理された撮像信号を、図１に示した出力部１３０から出力させる。
【００４２】
図４は、欠陥画素補正部１４０の構成例を示した図である。
欠陥画素補正部１４０は、同一水平ライン上の撮像信号から、同じ色の連続した５画素を順に取り出す画素信号取出部１４１を備える。ここでは、画素信号取出部１４１で取り出す５つの画素を、画素Ｐ０，Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４としてあり、画素Ｐ２（注目画素）がその５つの連続した画素の内の中央の画素である。但し、ここでの連続した５つの画素は、同一色の連続した画素であり、実際には図２で説明したように、各画素信号の間に、別の色の画素信号が存在し、その別の色の画素信号を除去して、同一色の画素信号だけとなるようにしてある。なお、以下の説明で画素信号と述べた場合には、撮像信号に含まれる各画素単位の信号であり、画素の輝度レベルを示す信号である。以下の説明で画素信号のレベル（値）と述べた場合には、その画素の輝度レベルを示す。
【００４３】
画素信号取出部１４１で取り出した５つの画素Ｐ０，Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の内の、中央の画素Ｐ２を除く４つの画素Ｐ０，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ４の画素信号は、最大最小値算出部１４２に供給する。最大最小値算出部１４２では、その４つの画素信号の内の最大値と最小値を検出する。なお、この最大値と最小値を検出する際には、デジタルデータで構成される画素信号の例えば上位所定ビットだけを使用して最大値と最小値を検出するようにして、処理演算量を削減してもよい。そして、最大最小値算出部１４２で検出された最大値Ｂｍａｘ及び最小値Ｂｍｉｎを、パラメータ算出部１４３に供給する。
【００４４】
パラメータ算出部１４３では、４点の最大値Ｂｍａｘと最小値Ｂｍｉｎとから、注目画素の周辺画素の分散Ｂｌｖｌを検出する。分散Ｂｌｖｌは、最大値Ｂｍａｘと最小値Ｂｍｉｎの差から求まる。
また、制御部１０１側からパラメータ算出部１４３に、閾値の算出に必要なパラメータＫ１，Ｋ２などを供給して設定させる。Ｋ１，Ｋ２は、閾値の算出に必要な定数である。このＫ１，Ｋ２は、例えばフレーム単位で、そのときの画像の状態などに応じて制御部が設定する。或いは、撮影開始前などの初期設定で設定したモードなどに応じて、固定した定数を設定するようにしてもよい。定数の設定例については後述する。
【００４５】
これらのパラメータ算出部１４３で算出された各値を、補正演算部１４４に供給する。補正演算部１４４では、供給される値を使用した演算式で、中央の画素である注目画素Ｐ２の画素値が、欠陥画素であるか否か判断する閾値を算出する。そして、その算出した閾値を超えているか否か判断し、判断結果に基いて補正の可否を判断する。この閾値の算出は、それぞれの注目画素ごとに行われる。
【００４６】
補正演算部１４４で、そのときの注目画素Ｐ２のために演算された閾値を超えた値であると判断した場合には、４つの画素Ｐ０，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ４の画素信号の画素値を使用した補正値を算出し、その補正値で注目画素Ｐ２の値を補正し、補正済みの注目画素Ｐ２′を出力する。補正をしない場合には、出力画素Ｐ２′の画素値は、入力した注目画素Ｐ２の画素値と同じである。
【００４７】
ここで、注目画素が欠陥画素か否か判断するための閾値Ｃを算出する演算式（１）を、次式に示す。
Ｃ＝Ｋ１＋Ｋ２＊Ｂｌｖｌ・・・（１）
但し、Ｋ１，Ｋ２は定数であり、Ｋ２は１，２，３，４，６，８から選択される値である。
この演算式（１）に示すように、周辺画素の分散Ｂｌｖｌに係数Ｋ２を乗算した値に、分散Ｂｌｖｌの大小に連動して調整された定数Ｋ１を加算した値で、閾値Ｃが定まり、その閾値Ｃと注目画素Ｐ２の画素値との比較で、欠陥画素か否か判定される。
【００４８】
ここで、式（１）のより詳細な設定条件を以下に示す。
輝度が高くなる白点の場合には、注目画素Ｐ２と周辺画素とのレベル差をＡとすると、レベル差Ａ＝Ｐ２―Ｂｍａｘ
となる。Ｂｍａｘは、周辺画素の最大値である。
黒点の場合には、
レベル差Ａ＝Ｂｍｉｎ―Ｐ２
となる。
【００４９】
周辺画素の分散Ｂｌｖｌは、
Ｂｌｖｌ＝Ｂｍａｘ―Ｂｍｉｎ
として求める。但し、Ｂｌｖｌは最小値Ｋ４を定義しておく。その最小値Ｋ４は、制御部１０１側から設定できる。式（１）で閾値の演算を行う場合、周辺画素の分散Ｂｌｖｌが小さい場合でも、補正値が小さくなってしまうため、最小値Ｋ４で適正な最小の補正値を設定しておく。また、定数Ｋ１の値でも閾値の最小値を制限することができる。但し、Ｂｌｖｌの最小値を決めておくことと、定数Ｋ１で閾値の最小値を決めることは、意味が異なる。
また、閾値Ｃの最大値Ｋ５を定義しておく。
【００５０】
そして、注目画素Ｐ２と周辺画素とのレベル差Ａと、閾値Ｃとを比較して、閾値Ｃを超えている場合に、欠陥画素と判断する。
即ち、レベル差Ａ−閾値Ｃ＝Ｄを算出し、算出値Ｄが０を超えている場合に、白点の欠陥画素であると判断する。黒点の欠陥画素の場合には、白点とは逆の方向に判断する。
【００５１】
図５は、図４の欠陥画素補正回路での処理状態を示したフローチャートである。
図５に基づいて処理を説明すると、各フレームの撮像信号の入力が開始されると、ダミー画素のノイズレベルを算出し（ステップＳ２１）、センサゲインに変更があるか否か判断し（ステップＳ２２）、変更がある場合にセンサゲインを算出して、対応した処理状態を設定する（ステップＳ２３）。ここまでのダミー画素を使用した処理は、従来例として図９に示した処理と同じである。
【００５２】
そして有効画素領域の画素信号が欠陥画素補正回路に入力されるようになると（ステップＳ２４）、同じ色の連続した水平ライン上の５画素を取り出す（ステップＳ２５）。その取り出した５画素の中央を注目画素Ｐ２とし、残りの画素Ｐ０，Ｐ１，Ｐ３，Ｐ４を周辺画素とすると、周辺画素の分散Ｂｌｖｌを算出する（ステップＳ２６）。本例の場合には、４つの周辺画素の最大値と最小値の差を、分散Ｂｌｖｌとする。
【００５３】
周辺画素の分散Ｂｌｖｌが算出されると、その分散Ｂｌｖｌと定数Ｋ１，ｋ２を使用して、上述した式（１）で、閾値Ｃを算出する（ステップＳ２７）。閾値Ｃが求まると、注目画素Ｐ２の画素値と閾値Ｃを比較して、閾値Ｃを超えている否か判断し（ステップＳ２８）、超えている場合に、欠陥画素補正を行う（ステップＳ２９）。
ステップＳ２９での補正処理としては、白点の欠陥画素であると判断した場合には、現在の注目画素Ｐ２の値から、補正値Ｑを減算して、補正された画素値Ｐ２′を求める。黒点の欠陥画素であると判断した場合には、現在の注目画素Ｐ２の値から、補正値Ｑを加算して、補正された画素値Ｐ２′を求める。欠陥画素でない場合には、出力される画素値Ｐ２′は、入力した画素値Ｐ２のままである。
【００５４】
ここまでの処理を行って、有効画素領域が終了したか否か判断し（ステップＳ３０）、終了していない場合には、ステップＳ２５に戻り、注目画素の位置を１画素ずらした位置に設定し、その設定した注目画素に対して、ステップＳ２５からステップＳ２９までの同じ処理を行う。
そして、ここまでの処理の繰り返しで、ステップＳ３０で有効画素領域内の全ての画素に対して処理を終了したと判断した場合には、そのフレームでの補正処理を終了する。
このようにして、１フレームの撮像信号が入力されるごとに、図５のフローチャートの処理が実行される。
【００５５】
図６は、図４の欠陥画素補正回路で処理される画素信号の例を示した図である。
図６において横軸は、画素の配置位置を示したものであり、５つの連続した画素Ｐ０，Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４が連続した位置に並んでいる。縦軸は各画素の画素値（欠陥画素補正回路への入力値）を示し、輝度レベルである。
中央の画素Ｐ２が、注目画素であり、他の４つの画素が周辺画素である。ここで、周辺画素の分散Ｂｌｖｌは、４つの周辺画素の最大値Ｐ１と最小値Ｐ３の差分から決まる。
【００５６】
そして、白点の場合のレベル差Ａは、注目画素値Ｐ２から、最大値Ｐ１（Ｂｍａｘ）を減算した値となり、このレベル差Ａが、そのとき算出された閾値Ｃと比較される。
なお、図６に示すように、４つの周辺画素の平均Ｂａｖｅを求めるようにして、その平均Ｂａｖｅを、閾値Ｃの算出に使用するようにしてもよい。周辺画素の平均Ｂａｖｅを使用した場合の閾値の算出処理例については後述する。
【００５７】
図７は、算出値Ｄと補正値との関係を示した図である。この図７において、実線で示した特性は、式（１）の定数Ｋ２を１とした場合の特性であり、ある値ａ１までは、一定の傾きの直線で示される補正特性となり、値ａ１以上では一定の特性で補正される。式（１）の定数Ｋ２を、２，４，６，８と変化させることで、図７に破線で示すように補正特性の傾きが変化する。
【００５８】
なお、閾値の算出に必要な各パラメータを変更する処理として、例えば制御部１０１で図８のフローチャートに示した判断を行って変更させる例が考えられる。
即ち、制御部１０１で、イメージセンサ１００の近傍の温度を測定して、その温度に変化があるか否か判断し（ステップＳ３１）、温度に変化がある場合に、現在の温度測定値に応じてパラメータを補正する（ステップＳ３２）。特に、高温である場合に、欠陥画素の出方が変わる可能性があり、パラメータを変更することが有効である。
【００５９】
次に、撮像信号で示される画像の明るさに所定レベル以上の変化があるか否か判断する（ステップＳ３３）。画像の明るさとは、例えば１フレームの平均の輝度値などから算出する。そして、明るさに所定レベル以上の変化がある場合に、そのときの明るさに応じてパラメータ値を補正する（ステップＳ３４）。この明るさによるパラメータ値の補正を行う際には、図３に示したゲイン設定部１２１での信号レベルに応じたゲイン設定状態についても考慮して、パラメータ値を適正に設定するのが好ましい。
なお、図８のフローチャートでは、温度によるパラメータ値の補正と、画像の明るさによるパラメータ値の補正との双方を行うようにしたが、いずれか一方だけの補正を行うようにしてもよい。また、それぞれの補正を行う周期は、１フレーム周期のような短い周期ではなく、より長い周期ごとにそれぞれの変化を判定して、パラメータ値を再設定するようにしてもよい。
【００６０】
以上説明したように、本実施の形態によると、イメージセンサの撮像信号そのものからの判断で、欠陥画素であることが判定されて、その判定された欠陥画素が補正されるので、予めメモリに欠陥画素の位置を記憶させることなく、良好に欠陥画素補正が行える。しかも、欠陥画素であることを判定する閾値として、図４の構成及び図５のフローチャートで説明したように、比較的簡単な回路構成や処理で実現でき、従来例として図９のフローチャートに示した処理に比べて大幅に処理量や回路を削減できる。
さらに、欠陥画素であることを判定する閾値が、そのときの周辺画素の値に応じて、上述した式（１）に基づいて可変設定されるので、適正な閾値の設定が可能で、従来の固定的に決めていた閾値による比較の場合に比べて、閾値を超える場合と超えない場合とが交互に現れるような画質劣化につながる不具合を解消できる。
【００６１】
なお、上述した実施の形態で説明した閾値を決める式（１）では、周辺画素の分散と定数Ｋ１，Ｋ２を使用したが、その他の要因を閾値を決める式に加えるようにしてもよい。
例えば、図６に示した４つの周辺画素の平均Ｂａｖｅを求めて、その平均に定数を乗算したものを、閾値としてもよい。
即ち、周辺画素が４画素である場合、平均Ｂａｖｅとして、
平均Ｂａｖｅ＝（Ｐ０＋Ｐ１＋Ｐ３＋Ｐ４）／４
と求める。
そして、閾値の算出式として、次の式（２）に示すようにする。
Ｃ＝Ｋ１＋Ｋ２＊Ｂｌｖｌ＋Ｋ３＊Ｂａｖｅ・・・（２）
但し、Ｋ１，Ｋ２，Ｋ３は定数であり、Ｋ２は１，２，３，４，６，８から選択される値である。定数Ｋ１は、分散Ｂｌｖｌの大小に連動して調整された値である。
この演算式（２）に示すように、周辺画素の分散と周辺画素の平均に基づいて、閾値を算出することで、式（１）の場合よりも良好な閾値の設定が可能になる。但し、周辺画素
の分散だけを使用した式（１）の演算でも、実用上は十分な補正精度を確保することができる。
【００６２】
また、上述した実施の形態では、注目画素を中心とした同じ色の５つの画素を取り出して、４つの周辺画素から周辺画素の分散や平均を判断するようにしたが、より多い画素数の周辺画素を取り出して、周辺画素の分散や平均を判断するようにしてもよい。例えば、注目画素を中心とした同じ色の７つの画素を取り出して、６つの周辺画素から周辺画素の分散や平均を判断するようにしてもよい。このように取り出す画素数が増えれば、それだけ判定精度が高くなる。但し、取り出す画素数が増えると、それだけ演算処理量が増えるので、構成の簡易化の点からは好ましくない。
【００６３】
逆に、注目画素を中心とした同じ色の３つの画素を取り出して、２つの周辺画素から周辺画素の分散や平均を判断するようにしてもよい。この３つの画素を取り出して、２つの周辺画素の分散や平均を判断する場合には、周辺画素の画素数が少ないので、補正状態に多少誤差が増える可能性があるが、演算処理量は削減することができ、構成の簡易化の点からは好ましい。
【００６４】
次に、本発明の第２の実施の形態を、図９〜図１１を参照して説明する。
本実施の形態においては、基本的な欠陥画素の補正処理そのものは、第１の実施の形態で、図４を参照して説明した処理と同じである。撮像装置の構成についても、第１の実施の形態で図１〜図３を参照して説明した構成が適用可能である。但し、図３に示したゲイン設定部１２１が、本実施の形態で説明するＰＧＡ回路５６に相当する場合には、そのゲイン設定部１２１は省略可能である。
【００６５】
そして本実施の形態においては、固体撮像素子から読み出した画素信号に対する処理として、有効画素領域の画素信号に対する処理と、オプティカルブラック（Optical Black：ＯＢ)画素領域の画素信号とで、補正をかける順序を変えたものである。ＯＢ画素領域は、イメージャ上の受光素子を遮光して、常に黒レベルの画素信号を出力する領域である。
【００６６】
図９は、本実施の形態による補正処理例を示したものである。
この図９に示した構成は、例えば第１の実施の形態の図１に示した信号処理部１２０内の構成の一部である。
アナログ／デジタル変換器（ＡＤＣ：図１）１０３で入力端子５１に得られる画素信号は、切換スイッチ５２，５３を介して選択的に欠陥補正部５４に供給する。欠陥補正部５４は、第１の実施の形態の図４に示した欠陥画素補正回路に相当し、白点の欠陥画素及び黒点の欠陥画素の補正処理を行う。欠陥画素の補正処理そのものは、既に第１の実施の形態で説明した処理構成が適用可能である。
【００６７】
そして、欠陥補正部５４で欠陥補正された信号を、切換スイッチ５５を介して、ＰＧＡ(Programmable Gain Amplifier)回路５６に供給する。切換スイッチ５２の切り換え状態によっては、入力端子５１に得られる信号が直接、ＰＧＡ回路５６に供給される。
ＰＧＡ回路５６は、画素信号のゲイン調整を行う回路であり、画素信号（撮像信号）のレベルを調整する。
そして、ＰＧＡ回路５６でゲイン調整された画素信号を、クランプ回路５７に供給し、白のピークレベルと黒のピークレベルを一定レベルにクランプする処理を行う。
クランプ回路５７の出力は、切換スイッチ５８を介して直接、出力端子５９に供給すると共に、切換スイッチ５３を介して欠陥補正部５４の入力側に戻す構成とする。
また、切換スイッチ５５の選択により、欠陥補正部５４の出力を、直接、出力端子５９に供給することができる。
各切換スイッチ５２，５３，５５，５８の切り換えは、入力端子５１に得られる撮像信号が、有効画素領域の画素信号か、或いはＯＢ画素領域の画素信号かにより行う。従って、例えばイメージャを駆動するクロック信号に同期して、各切換スイッチ５２，５３，５５，５８の切り換えを行う。
【００６８】
図１０（ａ），（ｂ）は、ＯＢ画素領域の画素信号入力時の切り換え状態（ａ）と、有効画素領域の画素信号入力時の切り換え状態（ｂ）とを示したものである。
まず図１０（ａ）に示したＯＢ画素領域の画素信号入力時の切り換え状態について説明する。
ＯＢ画素領域の画素信号入力時には、入力端子５１に得られる画素信号を、切換スイッチ５２，５３を介して、欠陥補正部５４に供給して、白点補正及び黒点補正を行う。そして、補正された信号を、切換スイッチ５５を介してＰＧＡ回路５６に供給し、ゲイン調整を行い、その出力をさらにクランプ回路５７に供給してクランプ処理を行う。
そして、クランプ回路５７の出力を切換スイッチ５８を介して出力端子５９に供給し、後段の信号処理系に供給する。
【００６９】
次に、図１０（ｂ）に示した有効画素領域の画素信号入力時の切り換え状態について説明する。
有効画素領域の画素信号入力時には、入力端子５１に得られる画素信号を、切換スイッチ５２を介して、ＰＧＡ回路５６に供給し、ゲイン調整を行い、その出力をさらにクランプ回路５７に供給してクランプ処理を行う。
そして、クランプ回路５７の出力を、切換スイッチ５８，５３を介して欠陥補正部５４に供給して、白点補正及び黒点補正を行う。そして、補正された信号を、切換スイッチ５５を介して出力端子５９に供給し、後段の信号処理系に供給する。
【００７０】
図１１のフローチャートは、ＯＢ画素領域の画素信号入力時の処理と、有効画素領域の画素信号入力時の処理の違いを示したフローチャートである。
図１１のフローチャートに従って説明すると、まず、入力した画素信号が、ＯＢ画素領域の画素信号か、有効画素領域の画素信号かを判定する（ステップＳ４１）。その判断で、ＯＢ画素領域の画素信号であると判断した場合には、欠陥画素補正（ステップＳ４２）、ゲイン調整（ステップＳ４３）、クランプ処理（ステップＳ４４）を順に行う。そして、ステップＳ４１の次の画素信号の入力判断に戻る。
また、ステップＳ４１の判断で、有効画素領域の画素信号あると判断した場合には、ゲイン調整（ステップＳ４５）、クランプ処理（ステップＳ４６）、欠陥画素補正（ステップＳ４７）を順に行う。そして、ステップＳ４１の次の画素信号の入力判断に戻る。
【００７１】
この図１１のフローチャートに示す順序で欠陥画素補正を行うことで、有効画素領域での補正誤差を少なくすることができ、ＯＢ画素領域での出力ずれが黒レベルを変動させることもなく、良好な欠陥補正処理が行える効果を有する。もし、有効画素領域の画素信号に対して、初期段階で欠陥補正処理を行うと、有効画素領域での補正誤差が大きくなる問題があった。また、ＯＢ画素領域の画素信号に対して、最終段階で欠陥補正処理を行うと、ＯＢ画素領域での出力ずれが黒レベルを変動させる問題があった。本実施の形態の場合には、それらの問題を解決した良好な欠陥補正処理が行える。
なお、図１０の例では、ゲイン調整とクランプ処理の順序を変えるようにしたが、欠陥補正処理の近傍で行われるその他の画素信号処理について、同様にＯＢ画素領域の画素信号処理時と有効画素信号処理時とで順序を変えるようにしてもよい。
【００７２】
なお、ここまでの各実施の形態で説明した欠陥画素補正処理は、欠陥画素位置を記憶するメモリを設けないで、欠陥画素を検出して補正する処理であるが、例えば、欠陥画素位置を記憶するメモリを設けて、そのメモリに記憶された位置の画素の信号を補正する、従来から行われている欠陥画素補正処理と、上述した実施の形態で説明した欠陥画素位置を記憶するメモリを使用しないで、リアルタイムに欠陥画素の位置を探して補正する欠陥画素補正処理との双方を行うようにしてもよい。
【００７３】
また、上述した各実施の形態では、イメージセンサとして、ＣＭＯＳイメージセンサを使用した例としたが、ＣＣＤ型イメージサンサなどの他の型式の固体撮像装置として構成された各種イメージセンサに適用してもよいことは勿論である。
【００７４】
また、上述した各実施の形態では、イメージセンサを構成する固体撮像装置内の信号処理回路で、欠陥画素補正を行うようにしたが、イメージセンサが出力する撮像信号を、そのイメージセンサの出力を処理する後段の回路側（ビデオカメラなどの回路側）で、同様の欠陥画素補正処理を行うようにしてもよい。この場合、欠陥画素の補正回路として、図４に示した構成の補正回路そのものを構成させてもよいが、例えば各フレームの撮像信号を記憶するフレームメモリを用意して、そのフレームメモリに記憶された撮像信号の各有効画素の信号について、図５のフローチャートに示した判断処理をソフトウェア処理で行って、欠陥画素の検出及び補正を行うようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】本発明の第１の実施の形態によるイメージセンサの例を示す機能ブロック図である。
【図２】図１例のイメージセンサの画素配列例を示す説明図である。
【図３】図１例のイメージセンサの信号処理構成例を示すブロック図である。
【図４】図１例のイメージセンサの欠陥画素補正回路の構成例を示すブロック図である。
【図５】本発明の一実施の形態による欠陥画素補正処理例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第１の実施の形態による画素信号の例を示す説明図である。
【図７】本発明の第１の実施の形態による閾値の変化例を示す特性図である。
【図８】本発明の第１の実施の形態の変形例による処理例を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施の形態による欠陥画素補正処理構成例を示すブロック図である。
【図１０】図９例の処理構成での、ＯＢ画素時の処理状態（ａ）と、有効画素時の処理状態（ｂ）とを示す説明図である。
【図１１】本発明の第２の実施の形態による欠陥画素補正処理状態の例を示すフローチャートである。
【図１２】従来の欠陥画素補正の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７６】
２１…有効画素領域、２２，２３…ブランキング領域、２４…ダミー画素領域、２５…ＯＢ画素領域、４１…有効画素データ参照領域、４２…ＯＢデータ参照領域、５１…画素信号入力端子、５２，５３…切換スイッチ、５４…欠陥補正部、５５…切換スイッチ、５６…ＰＧＡ回路、５７…クランプ回路、５８…切換スイッチ、５９…出力端子、９９…レンズ、１００…イメージセンサ、１０１…制御部、１０２…駆動部、１０３…アナログ／デジタル変換器、１１０…センサ部、１１１…画素、１２０…信号処理部、１２１…ゲイン設定部、１２２…後処理部、１３０…出力部、１４０…欠陥画素補正部、１４１…画素取出部、１４２…最大最小値算出部、１４３…各パラメータ算出部、１４４…補正演算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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