(57)【要約】【課題】再生信号のアシンメトリ値が非線形になる光ディスクに対する記録パワー制御に優れた情報記録方法を提供すること。【解決手段】本発明の一実施形態に係る情報記録方法は、記録パワーを変化させて情報を記録し、記録した情報を再生し、再生信号のアシンメトリ値を算出し、前記再生信号の評価に基づき得られる記録パワーの許容範囲を２つ以上の範囲に区分けし、各々の範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御する。【選択図】図１２
2009266324.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録パワーを変化させて情報を記録し、
記録した情報を再生し、
再生信号のアシンメトリ値を算出し、
前記再生信号の評価に基づき得られる記録パワーの許容範囲を２つ以上の範囲に区分けし、
各々の範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御する、
ことを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
前記記録パワーの許容範囲を第１の記録パワーの許容範囲と前記第１の記録パワーの許容範囲より低い第２の記録パワーの許容範囲とに区分けして、
前記第１の記録パワーの許容範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値であって前記記録パワーの許容範囲の上限値に対応する再生信号のアシンメトリ値、及び前記第２の記録パワーの許容範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値であって前記記録パワーの許容範囲の下限値に対応する再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の情報記録方法。
【請求項３】
前記記録パワーの許容範囲に係数α（0.8<α<0.9）をかけて算出された算出記録パワーの許容範囲の上限値に対応する再生信号のアシンメトリ値、及び前記算出記録パワーの許容範囲の下限値に対応する再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御することを特徴とする請求項１に記載の情報記録方法。
【請求項４】
記録パワーを変化させて情報を記録する記録手段と、
前記記録した情報を再生する再生手段と、
再生信号のアシンメトリ値を算出し、前記再生信号の評価に基づき得られる記録パワーの許容範囲を２つ以上の範囲に区分けし、各々の範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御する記録制御手段と、
を備えたことを特徴とする情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録パワーを変化させながら、光ディスクに対して情報を記録し、記録した情報を再生し、再生信号のアシンメトリを評価し、記録パワーを最適な状態に制御する情報記録方法及び情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの高密度化が進み、これに伴い記録パワーを最適な状態に制御する技術が各社より提案されている。例えば、記録パワーを変化させながら、光ディスクに対して情報を記録し、記録した情報を再生し、再生信号のアシンメトリを評価し、記録パワーを最適な状態に制御する技術が提案されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００３−３４６３４１
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記した記録パワー制御技術は、再生信号のアシンメトリの変化が、記録パワーの変化に対し線形であることを前提としている。
【０００４】
しかしながら、有機記録材料を用いたHigh to Low型等の光ディスクに対して、記録パワーを変化させながら情報を記録した場合、再生信号のアシンメトリの値は線形ではなく、再生信号のアシンメトリの値が途中で変化することが知られている。上記した記録パワー制御技術では、このような再生信号のアシンメトリ値が非線形になる光ディスクに対して正確な記録パワーを制御することが難しい。
【０００５】
本発明の目的は、再生信号のアシンメトリ値が非線形になる光ディスクに対する記録パワー制御に優れた情報記録方法及び情報記録装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明の一実施形態に係る情報記録方法は、記録パワーを変化させて情報を記録し、記録した情報を再生し、再生信号のアシンメトリ値を算出し、前記再生信号の評価に基づき得られる記録パワーの許容範囲を２つ以上の範囲に区分けし、各々の範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御する。
【０００７】
この発明の一実施形態に係る情報記録装置は、記録パワーを変化させて情報を記録する記録手段と、前記記録した情報を再生する再生手段と、再生信号のアシンメトリ値を算出し、前記再生信号の評価に基づき得られる記録パワーの許容範囲を２つ以上の範囲に区分けし、各々の範囲に対応した再生信号のアシンメトリ値に基づき記録波形を制御する記録制御手段とを備えている。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、再生信号のアシンメトリ値が非線形になる光ディスクに対する記録パワー制御に優れた情報記録方法及び情報記録装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照し、本発明の実施形態について説明する。
【００１０】
＜光ディスク＞
図１は、光ディスクの模式図である。光ディスク１は、中心にチャッキング用のクランプ孔２が設けられており、１つ以上の情報記録層（以下レイヤーと称する）を有している。レイヤーが一つの光ディスクは単層光ディスク、二つの光ディスクは２層光ディスクと呼ぶ。複数のレイヤーがある場合、それぞれのレイヤーで情報領域のレイアウトは若干異なる。単層光ディスクの情報記録層は内周側からリードイン領域３、データ領域４、リードアウト領域５に区分されている。また、リードイン領域３の内側にはＢＣＡ領域６が配置されている場合もある。
【００１１】
リードイン領域３は、光ディスク装置が管理情報やテスト情報を記録したり、光ディスクメーカがあらかじめ必要な管理情報を記録したりするために用いられる。管理情報は、記録マークによって記録される場合もあるが、エンボスピット、ウォブル、ランドプリピット等の手法によって記録される場合もある。データ領域４にはユーザー情報や追加の管理情報が記録される。リードアウト領域５には管理情報やテストデータが記録される。リードイン領域３、データ領域４、リードアウト領域５の一部または全部にはスパイラル状にグルーブが形成されており、グルーブは光ディスク装置により集光されたレーザーを走査するための案内溝の役割を果たす。
【００１２】
また、光ディスクには、記録マークを一箇所に一回だけ可能な追記型と記録マークの上書き、消去が可能な書き換え型の２種類がある。グルーブ部にはウォブル、ランドプリピット等の方法で物理アドレス等の管理情報が保存されている。記録マーク、エンボスピットとして保存される情報は元のデータに対し、ＥＴＭ（Eight to Twelve modulation）や、１-７ＰＰ（Parity Preserve）といった変調を施したものであり、さらに、誤り訂正用の情報が付加されている。ここで、ＥＴＭ（Eight to Twelve modulation）は変調方式の一つで、８ビットの情報ビットごとに、冗長性を持たせた１２ビットのチャネルビットに変換して信号を記録する方式である。このように、元のデータにたいして冗長性を持たせたことにより、直接データを光ディスクに記録する場合に比べ情報の記録再生の信頼度を飛躍的に向上させている。
【００１３】
＜リードイン領域＞
図２は、リードイン領域のレイアウトの一例を示す図である。内周側から、テスト領域３１、管理情報保存領域３２、イニシャル領域３３、バッファー領域３４、コントロールデータ領域３５、バッファー領域３６に区分されている。テスト領域３１は光ディスク装置による記録波形の最適化動作（ＯＰＣ：Optimum power control）に用いられる領域である。管理情報保存領域３２は現在のディスクの状態（未記録、記録中、ＲＯＭ互換状態）、データ領域の使用状況や、ＯＰＣ後の記録波形設定値といった情報を逐次記録するための領域である。イニシャル領域３３、バッファー領域３４、３６はいずれもサーボのオーバーランを許容するためのダミーデータなどが記録される。コントローデータ領域３５には後述の物理フォーマット情報やコピーライトプロテクション情報等がプリピット、ウォブルもしくは記録マークによって形成される。
【００１４】
ＢＣＡ領域６には、基板の溝や、反射膜の剥離、記録媒体の変化によってＢＣＡマークがあらかじめ記録される。ここには、ディスクの識別情報やコピーライトプロテクションの情報が保存されている。ＢＣＡマークは光ディスクの円周方向に変調されており、半径方向には同一の情報が並ぶ櫛型のマークである。ＢＣＡコードは、ＲＺ変調方法により変調されて記録される。パルス幅が狭いパルスは、この変調されたＢＣＡコードのチャネルクロック幅の半分よりも狭い必要が有る。また、ＢＣＡマークは半径方向に同一の形状を持っているため、トラッキングをかける必要がなく、フォーカスをかけただけで情報の再生が可能となる。
【００１５】
＜管理情報＞
図３は、コントロールデータ領域に記録された物理フォーマット情報の一例を示す図である。光ディスクには、物理フォーマット情報として、ディスクの種類、物理的な特徴、ディスクの対応可能な記録速度、シリアル番号、ディスクの製造メーカＩＤ、ディスクに最適化された推奨の記録波形形状、ＯＰＣの目標となるＯＰＣ目標値等があらかじめディスクメーカ等によって保存されている。さらに、記録波形の形状、ＯＰＣの目標値は記録速度、対応光ディスク装置等にあわせて複数個保存されている。記録波形の形状、ＯＰＣの目標値は後述する手順で決定、保存される。さらに、ＯＰＣの目標値は一つの記録速度に対して、複数個保存することができる。例えば低い記録パワー用のＯＰＣ目標値、高い記録パワー用のＯＰＣ目標値のように記録パワー等の記録波形設定値の範囲に応じてＯＰＣの目標値を設定する。光ディスク装置は光ディスクにユーザー情報を記録する前または記録中に、これらの情報を参考に、記録波形の最適化の調整を行う。この結果、各光ディスクに最適な条件で記録を行うことが可能となり、ユーザー情報記録の安定性、装置間の互換性が向上する。
【００１６】
図４は、管理情報保存領域に保存する管理情報の一例を示す図である。光ディスクには、管理情報として、光ディスクが未記録であるか記録済みであるか、フォーマットされているかいないか等の光ディスクの状態を示す情報、記録済みユーザーデータの開始位置や終了位置等のデータ領域の使用状況を示す情報、それらの情報を登録した光ディスク装置のＩＤ、ディスクに最適化された推奨の記録波形形状、ＯＰＣの目標となるＯＰＣ目標値等を保存可能である。これらの管理情報は光ディスク装置が自動的に光ディスクに記録するものである。
【００１７】
＜光ディスク装置＞
図５は、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。光ディスク装置はピックアップヘッド（ＰＵＨ）１１から出射されるレーザー光を光ディスクの情報記録層に集光し、情報の記録再生を行っている。光ディスクから反射した光は、再び、ＰＵＨ１１の光学系を通過し、フォトディテクターで電気信号として検出される。
【００１８】
検出された電気信号は、プリアンプ１２で増幅され、サーボ回路、ＲＦ信号処理回路、アドレス信号処理回路等を含む信号処理回路１３に出力される。
【００１９】
サーボ回路では、フォーカス、トラッキング、チルト等のサーボ信号が生成され、各信号がそれぞれ、ＰＵＨのフォーカス、トラッキング、チルトアクチュエータに出力される。
【００２０】
ＲＦ信号処理回路では、検出された信号のうち、主に和信号を処理することにより、記録されたユーザー情報等の情報を再生する。この際の復調方法としては、スライス方式やＰＲＭＬ方式がある。
【００２１】
アドレス信号処理回路では、検出された信号を処理することにより、光ディスク上の記録位置を示す、物理アドレス情報を読み出し、制御部１４に出力する。制御部１４はこのアドレス情報を元に、所望の位置のユーザー情報等の情報を読み出したり、所望の位置にユーザー情報等の情報を記録したりする。この際、ユーザー情報は、記録波形発生回路１６を構成する記録信号処理回路で光ディスク記録に適したデータに変調される。このとき、データの変調は例えば(１、１０)ＲＬＬ（Run length limited）変調、(１、７)ＲＬＬ変調といった変調方式が用いられる。(１、１０)ＲＬＬ変調では、データの変調に用いられた最も短い符号は２Ｔ、最も長い符号は１１Ｔとなる。さらに、記録波形発生回路１６は、入力された符号を元にレーザー発光波形を制御するための信号を生成し、ＬＤ駆動回路１５はこのレーザ発行波形制御信号に基づきＬＤ（レーザドライバ）を駆動し、これにより光ディスクに情報が記録される。
【００２２】
さらに、光ディスク装置は制御部１４の制御により、パワーを変化させて情報を記録する機能と、記録した情報を再生する機能と、再生した信号のアシンメトリ等の特徴量を算出する機能を有する。さらに再生した信号から再生信号の品位を表す情報である情報の読み取り特性を評価する機能、記録パワーの許容範囲を算出する機能、記録パワーを変化させる範囲を複数に分割してアシンメトリ等の特徴量を評価する機能、アシンメトリの評価結果に従って記録波形の設定または設定方法を変更する機能、評価した特徴量、読み取り特性、最適化した記録波形の形状情報を装置付属のメモリ１７、まはた光ディスクに保存する機能のなどを組み合わせて有する。
【００２３】
記録パワーを変化させる範囲を２分割してアシンメトリを評価する場合には、例えば記録パワーの許容範囲の上限値におけるアシンメトリ値と許容範囲の下限値におけるアシンメトリ値を算出することで実現することができる。また、再生信号の読み取り特性とは例えば、バイト、ビット、シンボルエラーレート等の各種エラーレートやＳｂＥＲ、ＰＲＳＮＲ、ジッタといった特性のことである。
【００２４】
＜再生波形＞
次に、記録信号の再生波形から評価可能な特徴量について説明する。光ディスク装置は、再生波形の特徴量を算出し、その特徴量を評価し、この評価結果に基づき最適な記録波形の形状を決定する。つまり、光ディスク装置は、このような手順に従い、記録波形を最適化する。上記した特徴量には、例えば、アシンメトリ、変調度、２Ｔ３Ｔアシンメトリ、３Ｔ８Ｔアシンメトリ、アシンメトリ変化量、変調度変化量といったものがある。
【００２５】
図６は、記録信号の再生波形（アイパターン）の一例を示す図であり、図６の左側の再生波形はアシンメトリの値が０の状態を示し、図６の右側の再生波形はアシンメトリの値が０ではない状態を示している。
【００２６】
また、図７は、図６の左側の再生波形及び右側の再生信号をＡＣ（Alternating current）でカップリングした信号を示す図である。また、図７中の０レベルは光ディスクを再生していない状態での出力レベルを示している。
【００２７】
例えば、光ディスクには２Ｔから８Ｔのデータが記録されているとする。最も信号の振幅が大きいのは８Ｔであるため、一番レベルが低いところに発生している信号と一番レベルが高いところに発生している信号は、この８Ｔのデータの再生信号である。ここで、８Ｔのデータから得られる最も低い部分の信号をＩ８Ｌ、高い部分の信号をＩ８Ｈとする。同様に、２Ｔのデータから得られる最も低い部分の信号をＩ２Ｌ、高い部分の信号をＩ２Ｈ、３Ｔのデータから得られる最も低い部分の信号をＩ３Ｌ、高い部分の信号をＩ３Ｈとする。また、各２Ｔ、３Ｔ、８Ｔのデータから得られる信号の振幅をＩ２、Ｉ３、Ｉ８と呼ぶ。
【００２８】
ここで、アシンメトリについて説明する。アシンメトリとは各２Ｔ、３Ｔ、８Ｔの信号の中心レベルが同じレベルにあるかどうかを評価する指標である。再生信号のアシンメトリは以下の式で表される。
【００２９】
アシンメトリ＝[(I8H+I8L)-(I2H+I2L)]/[2×(I8H-I8L)]・・・(1)
上記式（１）に基づき、図６の再生波形のアシンメトリを計算することができる。図６の左側の再生波形では、８Ｔのデータから得られた信号のレベルの中心と２Ｔのデータから得られた信号のレベルの中心がほぼ等しい。よって、図６の左側の再生波形のアシンメトリは０に近い値となる。
【００３０】
一方で、図６の右側の再生波形では、８Ｔのデータから得られた信号のレベルに対しては相対的に２Ｔから得られた信号のレベルが高くなっている。よって、図６の左側の再生波形のアシンメトリはマイナスの値となる。
【００３１】
このようにアシンメトリという特徴量を用いて再生信号の形状を評価することが可能となる。このほかのアシンメトリの評価方法として、２Ｔ３Ｔアシンメトリ、３Ｔ８Ｔアシンメトリがある。前者は光ディスクに使用される変調符号のうち、最密符号と最密符号の次に短い符号の中心レベルを比較する方法である。一例を挙げると、２Ｔ信号と３Ｔ信号の中心レベルを比較する方法である。また、後者は最密符号の次に短い符号と最疎符号の中心レベルを比較する方法である。一例を挙げると、３Ｔ信号と８Ｔ信号の中心レベルを比較する方法である。
【００３２】
２Ｔ３Ｔアシンメトリ＝[(I3H+I3L)-(I2H+I2L)]/[2×(I8H-I8L)]・・・(2)
３Ｔ８Ｔアシンメトリ＝[(I8H+I8L)-(I3H+I3L)]/[2×(I8H-I8L)]・・・(3)
さらに、アシンメトリを評価するもう一つの例について説明する。
【００３３】
図７に示す波形は記録データを再生したときの再生信号をＡＣカップリングした出力波形である。ここで、信号の最大値部分のレベルと０レベルの差をＡ、信号の最小値部分のレベルと０レベルの差をＢとすると、この信号から算出されるアシンメトリβは下記の式で表される。
【００３４】
アシンメトリβ＝(A+B)/(A-B)・・・(4)
上記式（４）に基づき、図７の再生波形のアシンメトリを計算することができる。図７の左側の再生波形では信号の上下が対象であるため、ＡＣカップルを実行した場合に、０レベルの上側に位置する波形部分と下側に位置する波形部分の幅が同程度となる。よって、図７の左側の再生波形のアシンメトリは、ほぼ０になる。
【００３５】
一方、図７の右側の再生波形では信号の上下が非対称となっている。このため、ＡＣカップルを実行した場合に、０レベルの上側に位置する波形部分と下側に位置する波形部分の幅が異なる。よって、図７の右側の再生波形のアシンメトリは、マイナスとなる。このようにβを用いても式（１）とほぼ同様にアシンメトリを評価することが出来る。
【００３６】
次に、変調度について説明する。変調度は、信号の振幅を評価する指標である。変調度ｍは以下の式で表される。
【００３７】
変調度ｍ＝I8/I8H・・・(5)
また、アシンメトリ変化量とは記録波形設定の変化に対するアシンメトリの変化量を評価する値である。例えば、記録パワーＮ［ｍＷ］で記録を行った際の、第一の波長のレーザーで再生された信号のアシンメトリをアシンメトリ（Ｎ）とし、記録パワーＭ［ｍＷ］で記録を行った際の、再生された信号のアシンメトリをアシンメトリ（Ｍ）とすると、アシンメトリ変化量は下記の式で表される。
【００３８】
アシンメトリ変化量＝(アシンメトリ(M)-アシンメトリ(N))/(M-N)・・・(6)
変調度の変化量も同様に記録波形設定の変化に対する変調度変化量を評価する値である。ここで、記録パワーＮ［ｍＷ］で記録を行った際の、再生信号の変調度を変調度（Ｎ）とし、記録パワーＭ［ｍＷ］で記録を行った際の、再生信号の変調度を変調度（Ｍ）とすると、測定される変調度変化量は下記の式で表される。
【００３９】
変調度変化量＝(変調度(M)-変調度(N))/(M-N)・・・(7)
さらに、記録パワーの違いに対する変調度変化量の値をなるべく一定にするために、下記の式で表される変調度変化量γを使うことも可能である。
【００４０】
γ＝[(変調度(M)-変調度(N))/(M-N)]×[M/変調度(M)]・・・(8)
このように、光ディスク装置は、記録した信号の再生波形からさまざまな特徴量を抽出する機能を有している。
【００４１】
＜記録波形＞
図８は、光ディスク装置による記録波形の一例を説明するための図である。なお、図８に示す基準クロック信号は、光ディスク装置に用いられている信号である。また、図８に示すＮＲＺＩ波形は、ＮＲＺＩ形式に変換された状態の記録データを示している。図８に示す記録波形は、上記記録データを記録するための記録波形を示している。図８に示すプリグルーブは、上記記録データに対応する記録マークの記録場所である。記録マークの形状は、図８に示す通りである。
【００４２】
図８に示す記録波形は、１つのマークを記録するために複数のパルスを使用するマルチパルスと呼ばれる波形である。複数のパルスのうち先頭のものをファーストパルス、最後のものをラストパルス、その間のものをマルチパルスと呼ぶ。またラストパルスの後にバイアスパワー１を出力する部分も設けられている。記録波形の形状はレベル方向には、記録パワー、消去パワー、バイアスパワー１及びバイアスパワー２の４つのレベルで規定されている。時間方向にはＮＲＺＩ形式のデータの立ち上がり、及びクロック信号を基準に、ファーストパルスの開始時間Ｆ１、ファーストパルスの終了時間Ｆ３、ファーストパルスの間隔Ｆ２といった時間情報で規定される。またファーストパルスの開始時間Ｆ１やラストパルスの終了時間Ｌ３等、特に記録マークの形成に影響を与えやすいパラメータに関してはＮＲＺＩ信号のパターンに応じてそれぞれの間隔を記録中に動的変更する。これらの記録波形設定値は記録波形の形状情報として、光ディスク装置内のメモリ１７で管理されるほか、物理フォーマット情報、管理情報として情報記録媒体に保存される。
【００４３】
図９は、光ディスク装置による記録波形の別例を説明するための図である。図９は、ブロックパルスと呼ばれる波形を説明するための図である。図９に示された記録波形は、マルチパルスを含まず、ファーストパルス、ラストパルス、クーリングパルスを含み、これらパルスにより記録マークを形成する。この場合でも、クロック信号に対するパルスの開始位置や、先頭の突起部の終了位置等の設定情報が定められている。
【００４４】
次に、光ディスク装置を用いて光ディスクの物理フォーマット情報、光ディスク装置の等に保存する最適記録波形の形状情報、及びＯＰＣ目標値の決定手順について説明する。最適記録波形の形状情報及びＯＰＣ目標値の決定は、光ディスクメーカが光ディスクの出荷前に実行し、出荷の判定を行ったり、決定した結果を光ディスクの物理フォーマット情報に保存したりする場合に用いられる。また、光ディスクメーカが実施し、決定した結果を光ディスク装置のメモリに保存する場合にも用いられる。さらに、ユーザー情報の記録前に、光ディスク装置によって事前に実施され、記録可能の可否の判定や決定した結果を管理情報保存領域に保存したりする場合に用いられる。
【００４５】
図１０は、最適な記録波形の形状情報を決定するための第一のフローチャートである。第一のステップ（Ｓｔｅｐ１−１）では光ディスク装置の初期条件を設定する。これは例えば、トラッキングやフォーカスといったサーボの条件や、記録波形設定情報の初期条件である。これらの条件は光ディスクメーカや光ディスク装置メーカの場合、これから最適な記録波形設定情報を決定しようとする光ディスクの物理的特性や過去の経験、メーカからの推奨データ等から決定される。光ディスク装置自体が実施する場合には、物理フォーマット情報の値や、すでにメモリに保持されている過去の情報を利用する。
【００４６】
第二のステップ（Ｓｔｅｐ１−２）ではフォーカス、トラッキング等のサーボを駆動し、テストデータの記録が可能な状態とし、第一のステップで設定した記録波形を用いてテストデータの記録を実施する。第三のステップ（Ｓｔｅｐ１−３）では情報記録媒体に対しでテストデータの記録回数が所定の回数に達したか否かを判定し、所定の回数に達していれば第五のステップ（Ｓｔｅｐ１−５）へ、所定回数に達していなければ第四のステップ（Ｓｔｅｐ１−４）のステップへ処理を進める。第四のステップ（Ｓｔｅｐ１−４）では記録波形の設定値、例えば記録パワーを１段階分変更する。第四のステップが終了したら、再び第二のステップに入りテストデータの記録を行う。第五のステップ（Ｓｔｅｐ１−５）では第二のステップ（Ｓｔｅｐ１−２）で記録された記録データの再生を行う。再生は第四のステップ（Ｓｔｅｐ１−４）で設定変更が実施された段階毎に行われ、それぞれの段階の記録データに対し、信号の品位が算出される。ここで、信号の品位とは、記録したテストデータの読み取り率を示すエラーレートや、エラーレートを推定することが可能なパリティエラー数、ＰＲＳＮＲ、ＳｂＥＲ、ジッタといった情報である。第六のステップ（Ｓｔｅｐ１−６）では、第五のステップで算出した信号品位情報を元に、最適な記録波形の設定値を決定する。ここで、図１１に第五のステップ（Ｓｔｅｐ１−５）で測定した信号品位の測定結果をプロットしたグラフを示す。第六のステップ（Ｓｔｅｐ１−６）で求められる最適な設定は例えば図１１に示すように測定したデータの近似曲線から最も信号品位情報の良いところに位置する記録波形設定値を読み取ることで決定することが出来る。ここで、例えばエラーレートやジッタといった指標は値が小さいほど信号の品位は良いことになるので、これが最小になる記録波形の設定値が最適な設定値（Ｓ＿Ｂｅｓｔ１）となる。また、設定した記録波形のロバスト性を高めたい場合には、信号品位情報の限界の閾値を決定し、その閾値をまたいだ記録波形設定の値の低いもの（Ｓ＿Ｌｏｗ）、高いもの（Ｓ＿Ｈｉｇｈ）を読み取り、下記の式で最適な設定値（Ｓ＿Ｂｅｓｔ２）を決定する。
【００４７】
S_Best2=(S_Low+S_High)/2・・・(9)
光ディスクメーカは記録パワーや、消去パワー、ファーストパルスの開始時間やマルチパルスの間隔等の記録波形設定値に対してこの最適設定値の決定方法を用いて最適値を決定し、情報記録媒体の物理フォーマット情報に最適設定値を保存する。また、光ディスク装置メーカやライティングソフトメーカは上記の決定方法を用いて独自に情報記録媒体の評価を行い、各光ディスク装置に最適な記録波形設定値を決定し、ドライブのメモリやソフトの一部として保存する。この処理は、光ディスク装置の出荷前に実行しても良いし、ＯＰＣ動作として情報記録媒体にユーザーデータの記録を行う前に、光ディスク装置が自動的に実行することも可能である。
【００４８】
図１２は、最適な記録波形の形状情報と補償量の目標値等を決定するための第二のフローチャートである。図１２のフローチャート中の第一のステップ（Ｓｔｅｐ２−１）から第四のステップ（Ｓｔｅｐ２−４）までは、図１０で説明した手順とまったく同様の手順である。図１２のフローの第五のステップ（Ｓｔｅｐ２−５）では第二のステップ（Ｓｔｅｐ２−２）で記録された記録データの再生を行う。再生は第四のステップ（Ｓｔｅｐ２−４）で設定変更が実施された段階毎に行われ、それぞれの段階の記録データに対し、信号の品位情報及び特徴量が算出される。
【００４９】
ここで図１３及図１４に測定した特徴量がアシンメトリβであった場合の測定結果をプロットしたグラフを示す。ここで、図１３はアシンメトリの変化量が測定範囲で一定の場合（つまりアシンメトリの値が線形の場合）、図１４にはアシンメトリの変化量が記録波形の設定量によって部分的に異なる場合（つまりアシンメトリの値が非線形の場合）を示している。上記したように、記録波形設定値のステップに合わせて品位情報と特徴量が同時に得られる。第六のステップ（Ｓｔｅｐ２−６）では、第五（Ｓｔｅｐ２−５）のステップで算出した信号品位情報を元に、最適な記録波形設定値Ｓ＿Ｂｅｓｔ１が決定し、記録波形設定値Ｓ＿Ｂｅｓｔ１の条件におけるアシンメトリβ＿Ｂｅｓｔ１が決定される。また、品位の限界における記録波形設定量Ｓ＿Ｈｉｇｈ及びＳ＿Ｌｏｗ、記録波形設定量Ｓ＿Ｈｉｇｈ及びＳ＿Ｌｏｗにおけるアシンメトリβ＿Ｈｉｇｈ、β＿Ｌｏｗ等が算出される。このほか、式(6)を用いてＳ＿ＬｏｗからＳ＿Ｂｅｓｔ１の範囲における平均のアシンメトリ変化量やＳ＿Ｂｅｓｔ１からＳ＿Ｈｉｇｈの範囲における平均のアシンメトリ変化量等を算出する。
【００５０】
第七のステップ（Ｓｔｅｐ２−７）では測定された信号の品位や特徴量の値によって合否の判定を行う。ここで、光ディスクの互換性を確保するために、Ｓ＿Ｂｅｓｔ１における信号の品位や特徴量（β＿Ｂｅｓｔ）があらかじめ定められた規定の値を満足していない場合、β＿Ｈｉｇｈ及びβ＿Ｌｏｗの絶対値があらかじめ定められた規定の値を満足していない場合、アシンメトリの変化量があらかじめ定められた規定の値を満足していない場合、β＿Ｈｉｇｈとβ＿Ｌｏｗの比または差、Ｓ＿ＬｏｗからＳ＿Ｂｅｓｔ１の範囲における平均のアシンメトリ変化量とＳ＿Ｂｅｓｔ１からＳ＿Ｈｉｇｈの範囲における平均のアシンメトリ変化量の比または差があらかじめ定められた規定の値を満足していない場合などにはその光ディスクは不合格となる。本実施形態では、特徴量としてアシンメトリβを用いたが、特徴量として式(5)や式(7)で示された変調度等を用いても同様の評価が可能である。本実施形態の手順では、特徴量の評価範囲をＳ＿ＬｏｗからＳ＿Ｂｅｓｔ１とＳ＿Ｂｅｓｔ１からＳ＿Ｈｉｇｈの２つの範囲に分割している。この結果、図１４のように特徴量の変化量が記録波形の設定値の範囲によって変化する光ディスクに対応が可能になり、光ディスクの記録品位や互換性の向上が可能となる。
【００５１】
図１５は最適な記録波形の形状情報と補償量の目標値等を決定するための第三のフローチャートである。図１５のフローチャートの第一のステップ（Ｓｔｅｐ３−１）から第四のステップ（Ｓｔｅｐ３−４）までは、図１０で説明した手順と同様の手順である。図１５のフローチャートの第五のステップ（Ｓｔｅｐ３−５）では第二のステップ（Ｓｔｅｐ３−２）で記録されたテストデータの再生を行う。再生は第四のステップ（Ｓｔｅｐ３−４）で設定変更が実施された段階毎に行われ、それぞれの段階の記録データに対し、信号の品位情報及び特徴量が算出される。第六のステップ（Ｓｔｅｐ３-６）では第四のステップ（Ｓｔｅｐ３−４）で設定変更が実施された段階毎に記録データの再生信号の品位を算出する。ここで、信号の品位とは、記録したテストデータの読み取り率を示すエラーレートや、エラーレートを推定することが可能なパリティエラー数、ＰＲＳＮＲ、ＳｂＥＲ、ジッタといった情報である。第七のステップ（Ｓｔｅｐ３−７）では、第六のステップ（Ｓｔｅｐ３−６）で算出した信号品位情報を元に、最適な記録波形の設定値、品位が許容できるパワーの上限値及び下限値の決定等を行う。次に、第八のステップ（Ｓｔｅｐ３−８）では第四のステップ（Ｓｔｅｐ３−４）で設定変更が実施された段階毎に記録データの再生信号の特徴量を算出する。第九のステップ（Ｓｔｅｐ３-９）では、第七のステップ（Ｓｔｅｐ３-７）で決定された記録波形設定値における特徴量の算出を行う。第十のステップ（Ｓｔｅｐ３−１０）では第九のステップで測定された特徴量があらかじめ定められた規定の値を満足しているか否かを判定する。ここで、規定を満たしていれば第十一のステップ（Ｓｔｅｐ３-１１）に移行する。満たしていない場合には、第十二のステップ（Ｓｔｅｐ３-１２）にいこうする。第十二のステップでは、ＯＰＣを終了するか否かを判定する。ここで、終了するとなった場合には、不合格として終了する。ＯＰＣを終了しない場合には、第十三のステップ（Ｓｔｅｐ１−１３）に移行する。第十三のステップ（Ｓｔｅｐ１−１３）では記録波形の設定方法の変更、またはＯＰＣの方法の変更を実施する。具体的な記録波形設定方法の変更には次のようなものがある。第一に、マルチパルス、ブロックパルスといった記録波形の形状を変更すること。第二に初期条件の記録パワーを変更すること、第三に記録パワーの比率、例えば記録パワーと消去パワーの比率、記録パワーとバイアスパワーの比率を変更すること。第三に記録パルスの幅を変更すること等である。次に具体的なＯＰＣの変更には次のようなものがある。第一に第四のステップ（Ｓｔｅｐ３-４）において変化させる記録波形の設定内容を変更すること。例えば記録パワーを変化させていたものを、消去パワーを変化させることにする、記録パワーと消去パワーを同時に変化させることにする、記録パルスの幅を変化させることにするといった変更である。第二に第八のステップ（Ｓｔｅｐ３-８）で測定する特徴量を変更こと。例えばアシンメトリβを用いていたものを、２Ｔ３Ｔアシンメトリに変更する、変調度に変更するといったことである。第十一のステップ（Ｓｔｅｐ１-１１）では、第七のステップ（Ｓｔｅｐ３−７）��び第十のステップ（Ｓｔｅｐ３−１０）で決定された内容を光ディスクの管理情報保存領域または光ディスク装置のメモリに保存する。これでＯＰＣの作業は完了となる。ここで、第十のステップ（Ｓｔｅｐ３−１０）で決定された補償量は光ディスクのＯＰＣの目標値保存場所や光ディスク装置のメモリに保存される。
【００５２】
次に、光ディスク装置によるＯＰＣの具体的な動作と値について説明を行う。
【００５３】
図１６は、第八のステップ（Ｓｔｅｐ３−８）までで測定された再生信号の特徴量の測定結果をプロットしたグラフを示す。ここで、記録波形設定値は記録パワー、品位はジッタ、特徴量はアシンメトリβとしている。また、記録波形はマルチパルスを使用している。第六のステップ（Ｓｔｅｐ３-６）では、記録パワーに対するジッタのカーブが測定される。次に第七のステップ（Ｓｔｅｐ３-７）では、通常光ディスク装置が情報を読み出すのに必要なジッタである１２%のジッタを超える最小の記録パワーＰ＿Ｌｏｗ及び最大の記録パワーＰ＿Ｈｉｇｈを決定する。さらに最適な記録パワーであるＰ＿Ｂｅｓｔ２を下記の式(10)より算出する。
【００５４】
P_Best2=(P_Low+P_High)/2・・・(10)
第八のステップ（Ｓｔｅｐ３-８）では、アシンメトリβの記録パワー依存性が測定される。第九のステップでは、記録パワーＰ＿Ｂｅｓｔ２における、アシンメトリβの値であるβ＿Ｂｅｓｔ２が算出される。さらに、記録パワー許容範囲にマージンαを掛けた範囲の記録パワーＰ＿Ｌｏｗ’及びＰ＿Ｈｉｇｈ’におけるアシンメトリβの値であるβ＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’を算出する。ここで、マージンαは光ディスク装置の品位測定精度、記録パワーの設定精度によって決定される値である。０.８から０．９の範囲に設定した場合に、互換性が高く保てることがわかっている。ここで、０．８より小さい値に設定することも可能であるが、この場合には、β＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’の絶対値が小さくなるため、記録の処理が困難になるという問題が発生する。また、０．９より値に設定することも可能であるが、この場合、ジッタ等の品位の測定に誤差があると、ＯＰＣの際に評価されたβ＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’に対して、光ディスクの真の実力が下回っていることが予想される。この条件で実際に記録を行った場合には、記録を失敗する等の問題が発生する可能性がある。また、第十のステップ（Ｓｔｅｐ３-１０）で用いられる判定の基準はβ＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’いずれも絶対値が０．０５を超えることとする。これは一般にβの測定精度が０．０２程度であること、これに、温度等の環境変化、装置間のばらつき等が加わることが予想されるためである。０．０５を下回ると、βの測定結果がばらつきの範囲に埋もれるため、ＲＯＰＣの制御が不可能になる。
【００５５】
また、もう一つの方法として、β＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’の絶対値の比を計算し、その比が０．８を超えることとしても良い。これはβ＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’の絶対値が異なることは記録パワーの変化に対してアシンメトリβの変化量が記録パワーによって異なることをしめしており、この状態もＲＯＰＣ制御を不安定にする要因となる。次に、第十のステップβ＿Ｌｏｗ’もしくはβ＿Ｈｉｇｈ’の絶対値が０．０５を下回った場合、対象となる光ディスクが追記型の光ディスクであった場合、第十二のステップ（Ｓｔｅｐ３-１２）では記録波形の設定をマルチパルスからブロックパルスに変更する。これは、光ディスクが追記型の場合、マルチパルスよりブロックパルスの方がβ＿Ｌｏｗ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’の絶対値が大きくなることがわかっているからである。また、書き換え可能型の場合には、記録パワーと消去パワーの比率を変更する。これは、書き換え可能型のディスクの場合、アシンメトリβの値は記録パワーと消去パワーの比率に大きく依存していることがわかっているためである。
【００５６】
＜記録波形最適化方法＞
図１７のフローチャートを用いて、特に光ディスク装置が光ディスクにユーザーデータを記録する手順について説明する。光ディスク装置が光ディスクデータの記録を行う場合、記録特性を向上させるために実際のデータの記録の前にテスト領域において、記録波形の最適化作業（ＯＰＣ：Optimum power control）を行う。さらにデータの記録中に逐次、ＲＯＰＣ（Running Optimum power control）の作業を実施している。
【００５７】
第一のステップ（Ｓｔｅｐ４−１）では、まず光ディスク装置が光ディスクに対してすでにＯＰＣを実施しているか否かを判定する。すでにＯＰＣを実施済みの場合には、第四のステップ（Ｓｔｅｐ４−４）に移行する。まだＯＰＣを実施していない場合には、第二のステップ（Ｓｔｅｐ４−２）に移行し、ＯＰＣを実施する。ここで、ＯＰＣの方式については後述する。第三のステップ（Ｓｔｅｐ４-３）ではＯＰＣの結果である最適記録波形及びＲＯＣＰ関連情報を光ディスク装置のメモリ、または光ディスクの管理情報保存領域に記録する。
【００５８】
第四のステップ（Ｓｔｅｐ４−４）ではユーザーデータの記録を開始する。第五のステップ（Ｓｔｅｐ４-５）では、ユーザーデータの記録があらかじめ定めれた時間もしくは、容量に達したかを判定する。達していない場合には、第七のステップ（Ｓｔｅｐ４-７）に移行する。達した場合には、第六のステップ（Ｓｔｅｐ４-６）に移行する。第六のステップ（Ｓｔｅｐ４-６）のステップではＲＯＰＣを実施する。第七のステップ（Ｓｔｅｐ３-７）ではユーザーデータを最後まで記録したか否かを判定する。最後まで記録されていれば、処理は終了となる。また、最後まで達していない場合には第五のステップ（Ｓｔｅｐ４-５）に移行する。
【００５９】
ここで、ＲＯＰＣの手順について説明を行う。ＲＯＰＣはユーザーデータの記録中に実行する記録波形設定値の最適化作業である。ユーザーデータの記録中は周囲の温度変化やセンサーの温度特性により、ＯＰＣで決定した最適パワーから常に実際に出力される記録パワーが変化していくという問題がある。ＲＯＰＣ作業ではユーザーデータの記録中に、一時的に記録したデータの再生をする。次に再生信号の特徴量を算出し、その結果に基づいて記録波形設定値を補正する。ここで、ＲＯＰＣに使用される特徴量は、過去のＯＰＣで測定を実施した特徴量を用いる。例えば上記のようにＯＰＣ作業でβ＿Ｂｅｓｔ２が算出されている場合、ＲＯＰＣではアシンメトリβの算出を行う。ここで、ＲＯＰＣ中に測定されたアシンメトリβがβ＿Ｂｅｓｔ２より小さい場合には記録パワーを増やし、β＿Ｂｅｓｔ２よりも大きいばあには記録パワーを低下させる。これにより、ユーザーデータを記録するパワーを常にＯＰＣで決定した最適パワーＰ＿Ｂｅｓｔ２付近にとどめることが可能となる。特に本発明の光ディスクでは、記録パワーの変化に対して特徴量アシンメトリβが十分大きくなるように記録波形設定方法を決定しているため、安定してＲＯＰＣの作業を実施することが可能となる。
【００６０】
図１８は、光ディスク装置で実施されるＯＰＣのフローチャートである。本フローチャートの動作は基本的に図１５に示すフローチャートの動作に似ているが、評価時間を短縮するため、再生信号の品位を測定するステップが省略されている。
【００６１】
ここで図１８のフローチャートの第一のステップ（Ｓｔｅｐ５−１）から第四のステップ（Ｓｔｅｐ５−４）までの手順は、図１０のフローチャートの手順と同様である。ただし、信号の記録再生は光ディスクのテスト領域で実施される。次に、図１８のフローチャートの第五のステップ（Ｓｔｅｐ５−５）では第二のステップ（Ｓｔｅｐ５−２）で記録されたテストデータの再生を行う。再生は第四のステップ（Ｓｔｅｐ５−４）で設定変更が実施された段階毎に行われる。第六のステップ（Ｓｔｅｐ５-６）ではそれぞれの段階の記録データに対し、特徴量が算出を行う。さらに、特徴量が光ディスクまたは、光ディスク装置のメモリにあらかじめ保存されていたＯＰＣの目標量であるβ＿Ｂｅｓｔ１等の値と比較し、算出された特徴量とＯＰＣの目標量が一致するか最も近い設定を最適記録波形設定として決定する。さらに、最適記録波形設定から一定量の範囲を設定し、その位置における特徴量を算出する。第七のステップ（Ｓｔｅｐ５−７）では第六のステップ（Ｓｔｅｐ５-６）で測定された特徴量があらかじめ定められた規定の値を満足しているか否かを判定する。ここで、規定を満たしていれば第八のステップ（Ｓｔｅｐ５−８）に移行する。満たしていない場合には、第九のステップ（Ｓｔｅｐ５−９）にいこうする。第九のステップでは、ＯＰＣを終了するか否かを判定する。ここで、終了するとなった場合には、不合格として終了する。ＯＰＣを終了しない場合には、第十のステップ（Ｓｔｅｐ５−１０）に移行する。第十のステップ（Ｓｔｅｐ５−１０）では記録波形の設定方法の変更、またはＯＰＣの方法の変更を実施する。第八のステップ（Ｓｔｅｐ５−８）では評価した結果を光ディスク装置のメモリか、図４に示すような光ディスクの管理情報に保存し、処理を終了する。
【００６２】
図１９は、第六のステップ（Ｓｔｅｐ５-６）までで測定された再生信号の特徴量の測定結果をプロットしたグラフである。ここで、記録波形設定値は記録パワー、特徴量はアシンメトリβとしている。また、記録波形はマルチパルスを使用している。第六のステップ（Ｓｔｅｐ５-６）では、図１８に示すように、アシンメトリβの記録パワー依存性が測定される。さらに、ＯＰＣ目標値β＿Ｂｅｓｔ１にあたる記録パワーを最適記録パワーとして決定する。これは、ＯＰＣ処理が終了した場合に、ユーザー情報の記録に用いるパワーである。加えて、最適記録パワーに（１+γ）だけ掛けた値と最適記録パワーに（１-γ）だけ掛けた値に置けるβ＿Ｈｉｇｈ’ ’とβ＿Ｌｏｗ’ ’を決定する。ここで、マージンγ０．２程度が望ましい。また、第七のステップ（Ｓｔｅｐ５−７）で用いられる判定の基準はβ＿Ｌｏｗ’ ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’ ’いずれも絶対値が０．０５を超えることとする。これは一般にβの測定精度が０．０２程度であること、これに、温度等の環境変化、装置間のばらつき等が加わることが予想されるためである。０．０５を下回ると、βの測定結果がばらつきの範囲に埋もれるため、ＲＯＰＣの制御が不可能になる。
【００６３】
また、もう一つの方法として、β＿Ｌｏｗ’ ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’ ’の絶対値の比を計算し、その比が０．８を超えることとしても良い。これはβ＿Ｌｏｗ’ ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’ ’の絶対値が異なることは記録パワーの変化に対してアシンメトリβの変化量が記録パワーによって異なることをしめしており、この状態もＲＯＰＣ制御を不安定にする要因となる。次に、第十のステップβ＿Ｌｏｗ’ ’もしくはβ＿Ｈｉｇｈ’ ’の絶対値が０．０５を下回った場合、対象となる光ディスクが追記型の光ディスクであった場合、第十のステップでは記録波形の設定をマルチパルスからブロックパルスに変更する。これは、光ディスクが追記型の場合、マルチパルスよりブロックパルスの方がβ＿Ｌｏｗ’ ’及びβ＿Ｈｉｇｈ’ ’の絶対値が大きくなることがわかっているからである。また、書き換え可能型の場合には、記録パワーと消去パワーの比率を変更する。これは、書き換え可能型のディスクの場合、アシンメトリβの値は記録パワーと消去パワーの比率に大きく依存していることがわかっているためである。このほか、β＿Ｌｏｗ’ ’の代わりに範囲Ａにおける平均のアシンメトリ変化量、β＿Ｈｉｇｈ’ ’の代わりに範囲Ｂにおける平均のアシンメトリ変化量を用いても第七のステップ（Ｓｔｅｐ５-７）の判定を実施することが可能である。
【００６４】
以上により、例えばアシンメトリの感度が変化するディスクに対して、正確にアシンメトリの感度を評価することが可能になり、安定した記録パワーの制御が可能になる。また、アシンメトリの感度を単位パワーに対して算出するのではなく、パワーマージンに対して算出することで、パワーマージンにあわせて許容されるアシンメトリの感度を決定することができる。
【００６５】
なお、本願発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々に変形することが可能である。また、各実施形態は可能な限り適宜組み合わせて実施してもよく、その場合組み合わせた効果が得られる。更に、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適当な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】光ディスクの模式図である。
【図２】リードイン領域のレイアウトの一例を示す図である。
【図３】コントロールデータ領域に記録された物理フォーマット情報の一例を示す図である。
【図４】管理情報保存領域に保存する管理情報の一例を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のブロック図である。
【図６】記録信号の再生波形（アイパターン）の一例を示す図である。
【図７】図６に示す記録信号の再生波形をＡＣ（Alternating current）でカップリングした信号を示す図である。
【図８】光ディスク装置による記録波形の一例を説明するための図である。
【図９】光ディスク装置による記録波形の別例を説明するための図である。
【図１０】最適な記録波形の形状情報を決定するための第一のフローチャートである。
【図１１】図１０に示す第五のステップ（Ｓｔｅｐ１−５）で測定した信号品位の測定結果をプロットしたグラフである。
【図１２】最適な記録波形の形状情報と補償量の目標値等を決定するための第二のフローチャートである。
【図１３】再生信号のアシンメトリの変化が記録パワーの変化に対して線形である例を示す図である。
【図１４】再生信号のアシンメトリの変化が記録パワーの変化に対して非線形である例を示す図である。
【図１５】最適な記録波形の形状情報と補償量の目標値等を決定するための第三のフローチャートである。
【図１６】第八のステップ（Ｓｔｅｐ３−８）までで測定された再生信号の特徴量の測定結果をプロットしたグラフを示す。
【図１７】光ディスク装置が光ディスクにユーザーデータを記録する手順の一例を示すフローチャートである。
【図１８】光ディスク装置で実施されるＯＰＣの一例を示すフローチャートである。
【図１９】第六のステップ（Ｓｔｅｐ５-６）までで測定された再生信号の特徴量の測定結果をプロットしたグラフである。
【符号の説明】
【００６７】
１…光ディスク、２…クランプ孔、３…リードイン領域、４…データ領域、５…リードアウト領域、６…ＢＣＡ領域、１１…ＰＵＨ、１２…プリアンプ、１３…信号処理回路、１４…制御部、１５…ＬＤ駆動回路、１６…記録波形発生回路、１７…メモリ
【図１】
2009266324.tif 000003
【図２】
2009266324.tif 000004
【図３】
2009266324.tif 000005
【図４】
2009266324.tif 000006
【図５】
2009266324.tif 000007
【図６】
2009266324.tif 000008
【図７】
2009266324.tif 000009
【図８】
2009266324.tif 000010
【図９】
2009266324.tif 000011
【図１０】
2009266324.tif 000012
【図１１】
2009266324.tif 000013
【図１２】
2009266324.tif 000014
【図１３】
2009266324.tif 000015
【図１４】
2009266324.tif 000016
【図１５】
2009266324.tif 000017
【図１６】
2009266324.tif 000018
【図１７】
2009266324.tif 000019
【図１８】
2009266324.tif 000020
【図１９】
2009266324.tif 000021