(57)【要約】【課題】ユーザ・データの通常のリード処理あるいはライト処理において、より適切なクリアランスを実現する。【解決手段】本発明の一実施形態において、本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヘッド・スライダ１２上にヒータにより、クリアランスを調整する。ＥＲＰテーブル２４１における所定ＥＲＰステップの実行結果が、クリアランスを変更することでエラーから回復することを所定複数回にわたって示す場合に、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ユーザ・データの通常のリード／ライト処理におけるクリアランス調整のデフォルト設定を変更する。これにより、より信頼性の高いクリアランス調整を実現することができる。デフォルト設定変更の条件となるＥＲＰステップの一つは、クリアランスを変更するステップである。他の一つは、サーマルアスペリティの測定である。【選択図】図３
2009134836.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクにアクセスするヘッドと、
前記ヘッドを支持し、前記ディスク上において前記ヘッドを移動する移動機構と、
前記ディスクと前記ヘッドとの間のクリアランスを調整する調整機構と、
コントローラと、を有し
前記コントローラは、
デフォルト設定に応じたクリアランス調整を行い、
前記調整されたクリアランスにおいて、ユーザ・データの通常アクセスを行い、
前記通常アクセスおけるエラーに対応したエラー回復処理において、テーブルに登録されているエラー回復ステップを順次実行し、
２以上の所定回数の前記エラー回復処理において、予め定められたエラー回復ステップの実行結果がクリアランスを変更することでエラーから回復することを示す場合に、前記実行結果に応じて前記デフォルト設定を変更する、
ディスク・ドライブ装置。
【請求項２】
前記エラー回復ステップの実行結果は、クリアランスを変更するエラー回復ステップＡにおいてエラー回復が達成されたことである、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項３】
前記コントローラは、連続した前記所定回数のエラー回復処理において、前記エラー回復ステップＡにおけるエラー回復が達成された場合に、前記エラー回復ステップＡに応じて前記デフォルト設定を変更する、
請求項２に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項４】
クリアランスを変更する複数のエラー回復ステップが前記テーブルに登録されており、
前記コントローラは、前記クリアランスを変更する複数のエラー回復ステップのいずれかにおいて連続してエラー回復が達成され、かつ、前記連続して達成された中で前記エラー回復ステップＡにおけるエラー回復が前記所定回数に達成した場合に、前記エラー回復ステップＡに応じて前記デフォルト設定を変更する、
請求項２に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項５】
前記コントローラは、ライト処理のエラー回復処理において、クリアランスを変更するエラー回復ステップを、ライト・ベリファイを行うことなく終了し、
前記ライト処理のエラー回復ステップ間のクリアランス変更量の相違の平均値は、リード処理のエラー回復ステップ間のクリアランス変更量の相違の平均値よりも小さい、
請求項２に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項６】
前記エラー回復ステップの実行結果は、サーマルアスペリティの検出である、
請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記コントローラは、検出した前記サーマルアスペリティを避けるように、前記サーマルアスペリティを含む記録面の一部領域において、前記デフォルト設定を変更する、
請求項６に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項８】
クリアランスを増加するエラー回復ステップとクリアランスを減少するエラー回復ステップの２種類のエラー回復ステップが、前記テーブルにおいて交互の実行順序で登録されており、
前記コントローラは、クリアランスを変更するエラー回復ステップでエラー回復に成功した場合、次のエラー回復処理において、前記成功したエラー回復ステップと同一種類のエラー回復ステップを先に行う、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項９】
前記コントローラは、前記デフォルト設定を変更する場合、リード処理とライト処理に双方のデフォルト設定を変更する
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項１０】
前記コントローラは、前記デフォルト設定を変更する場合、リード処理とライト処理のうち、前記エラー回復処理が対応する処理においてのみデフォルト設定を変更する、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項１１】
クリアランス調整機能を有するディスク・ドライブ装置において、ユーザ・データのアクセスにおけるクリアランス調整のデフォルト設定を変更する方法であって、
デフォルト設定に応じたクリアランス調整を行い、
前記調整されたクリアランスにおいて、ユーザ・データの通常アクセスを行い、
前記通常アクセスおけるエラーに対応したエラー回復処理において、テーブルに登録されているエラー回復ステップを順次実行し、
２以上の所定回数の前記エラー回復処理において、予め定められたエラー回復ステップの実行結果がクリアランスを変更することでエラーから回復することを示すことを条件として、前記実行結果に応じて前記デフォルト設定を変更する、
方法。
【請求項１２】
前記エラー回復ステップの実行結果は、クリアランスを変更するエラー回復ステップＡにおいてエラー回復が達成されたことである、
請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
連続した前記所定回数のエラー回復処理において、前記エラー回復ステップＡにおけるエラー回復が達成された場合に、前記エラー回復ステップＡに応じて前記デフォルト設定を変更する、
請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
クリアランスを変更する複数のエラー回復ステップが前記テーブルに登録されており、
前記クリアランスを変更する複数のエラー回復ステップのいずれかにおいて連続してエラー回復が達成され、
前記連続して達成された中で前記エラー回復ステップＡにおけるエラー回復が前記所定回数に達成した場合に、前記エラー回復ステップＡに応じて前記デフォルト設定を変更する、
請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
ライト処理のエラー回復処理において、クリアランスを変更するエラー回復ステップを、ライト・ベリファイを行うことなく終了し、
前記ライト処理のエラー回復ステップ間のクリアランス変更量の相違の平均値は、リード処理のエラー回復ステップ間のクリアランス変更量の相違の平均値よりも小さい
請求項１１に記載の方法。
【請求項１６】
前記エラー回復ステップの実行結果は、サーマルアスペリティの検出である、
請求項１１に記載の方法。
【請求項１７】
検出した前記サーマルアスペリティを避けるように、前記サーマルアスペリティを含む記録面の一部領域において、前記デフォルト設定を変更する、
請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
クリアランスを増加するエラー回復ステップとクリアランスを減少するエラー回復ステップの２種類のエラー回復ステップが、前記テーブルにおいて交互の実行順序で登録されており、
クリアランスを変更するエラー回復ステップでエラー回復に成功した場合、次のエラー回復処理において、前記成功したエラー回復ステップと同一種類のエラー回復ステップを先に行う、
請求項１１に記載の方法。
【請求項１９】
前記デフォルト設定を変更する場合、リード処理とライト処理に双方のデフォルト設定を変更する
請求項１１に記載の方法。
【請求項２０】
前記デフォルト設定を変更する場合、リード処理とライト処理のうち、前記エラー回復処理が対応する処理においてのみデフォルト設定を変更する、
請求項１１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はディスク・ドライブ装置及びそのクリアランス調整のデフォルト設定を変更する方法に関し、特に、クリアランス調整機能を有するディスク・ドライブ装置におけるエラー回復処理に関する。
【背景技術】
【０００２】
ディスク・ドライブ装置として、光ディスク、光磁気ディスク、あるいはフレキシブル磁気ディスクなどの様々な態様のディスクを使用する装置が知られているが、その中で、ハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）は、コンピュータの記憶装置として広く普及し、現在のコンピュータ・システムにおいて欠かすことができない記憶装置の一つとなっている。さらに、コンピュータにとどまらず、動画像記録再生装置、カーナビゲーション・システムあるいは携帯電話など、ＨＤＤの用途はその優れた特性により益々拡大している。
【０００３】
ＨＤＤで使用される磁気ディスクは、同心円状に形成された複数のデータ・トラックとサーボ・トラックとを有している。各サーボ・トラックはアドレス情報を有する複数のサーボ・データから構成される。また、各データ・トラックには、ユーザ・データを含む複数のデータ・セクタが記録されている。円周方向に離間するサーボ・データの間に、データ・セクタが記録されている。揺動するアクチュエータに支持されたヘッド・スライダのヘッド素子部が、サーボ・データのアドレス情報に従って所望のデータ・セクタにアクセスすることによって、データ・セクタへのデータ書き込み及びデータ・セクタからのデータ読み出しを行うことができる。
【０００４】
磁気ディスクの記録密度を向上には、磁気ディスク上を浮上するヘッド素子部と磁気ディスクとの間のクリアランス（浮上高）及びその変化を小さくすることが重要である。このため、クリアランスを調整するいくつかの機構が提案されている。そのうちの一つは、ヘッド・スライダにヒータを備え、そのヒータでヘッド素子部を加熱することよってクリアランスを調整する。本明細書において、これをＴＦＣ（Thermal Flyheight Control）と呼ぶ。ＴＦＣは、ヒータに電流を供給して発熱させ、熱膨張によってヘッド素子部を突出させる。これによって、磁気ディスクとヘッド素子部との間のクリアランスを小さくする。この他、ピエゾ素子を使用してヘッド素子部と磁気ディスクとの間のクリアランスを調整する機構などが知られている。
【０００５】
ＨＤＤにおいてエラーが発生した場合、ＨＤＤはそのエラーに対応したエラー回復処理（Error Recovery Procedure：ＥＲＰ）を行う。ＥＲＰは、ＥＲＰテーブルに登録されている複数のＥＲＰステップを順次実行することで、エラー回復を図る。磁気ディスクからユーザ・データを読み出すリード処理のＥＲＰ及び、磁気ディスクにユーザ・データを書き込むライト処理のＥＲＰ、磁気ディスクからマイクロ・コードを読み出す処理のＥＲＰなど、典型的なＨＤＤは、複数種類のＥＲＰを有している。
【０００６】
クリアランスの調整により、リード・エラーあるいはライト・エラーから回復することがある。このため、例えば、特許文献１は、ＥＲＰテーブルに、クリアランスを変化させるステップを登録することを提案している。この文献はさらに、クリアランスを高くするＥＲＰステップにおいてエラーから回復した場合、その後の通常処理におけるクリアランスの規定値を、ＥＲＰステップでの上昇分だけ高くすることを提案している。これにより、ＨＤＤの製造で特定されたクリアランス規定値からのシフト量を修正し、通常動作における適切なクリアランスを達成することができる。
【特許文献１】特開２００７−２００４６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
記録密度を高くするためには、クリアランスを小さくしてエラー・レートを小さくすることが有効である。このため、ＨＤＤにおける設定クリアランスは減少を続けており、現在のクリアランス設計値（リード／ライトにおいて予定されている平均クリアランス）は、３ｎｍ程度まで減少している。クリアランスが小さくなるほど正常な動作を保証するクリアランス・マージンも小さくなる。このため、わずかなクリアランスの違いにより、正確なリードあるいはライトを行うことができなくなる。従って、ユーザ・データの通常のリード処理あるいはライト処理（通常リード／ライト処理）において、クリアランスを正確に設計値に維持することが重要である。
【０００８】
ＥＲＰにおいてクリアランスを変更することによりエラーから回復した場合、変更後のクリアランスが最適なクリアランスであることが確実であれば、上記特許文献１の技術のように、その後の通常のリード／ライト処理におけるクリアランス調整量を、デフォルト設定から変更することが好ましい。しかし、ＥＲＰにおいては、変更前のクリアランスが適切であるにもかかわらず、クリアランスを変更するＥＲＰステップにおいてエラーから回復することがある。
【０００９】
このような場合、ＥＲＰ後の通常リード／ライト処理において、クリアランス調整量をデフォルト設定から変更すると、本来適切であったクリアランスが適切な範囲から外れ、リード・エラーあるいはライト・エラーが起きる。特に、クリアランスが小さいＨＤＤにおいて、この問題は顕著なものとなる。従って、通常リード／ライト処理において適切なクリアランスを実現するために、クリアランス調整のデフォルト設定を変更するための、より信頼性の高い手法が必要である。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一態様に係るディスク・ドライブ装置は、ディスクにアクセスするヘッドと、前記ヘッドを支持し前記ヘッドを移動する移動機構と、前記ディスクと前記ヘッドとの間のクリアランスを調整する調整機構と、コントローラとを有する。前記コントローラは、デフォルト設定に応じたクリアランス調整を行う。前記調整されたクリアランスにおいて、ユーザ・データの通常アクセスを行う。前記コントローラは、前記通常アクセスおけるエラーに対応したエラー回復処理において、テーブルに登録されているエラー回復ステップを順次実行する。前記コントローラは、２以上の所定回数の前記エラー回復処理において、予め定められたエラー回復ステップの実行結果がクリアランスを変更することでエラーから回復することを示す場合に、前記実行結果に応じて前記デフォルト設定を変更する。これにより、デフォルト設定の変更の信頼性を高めることができる。
【００１１】
好ましい例において、前記エラー回復ステップの実行結果は、クリアランスを変更するエラー回復ステップＡにおいてエラー回復が達成されたことである。これにより、クリアランスの変化に応じてデフォルト設定を変更することができる。さらに、前記コントローラは、連続した前記所定回数のエラー回復処理において、前記エラー回復ステップＡにおけるエラー回復が達成された場合に、前記エラー回復ステップＡに応じて前記デフォルト設定を変更することが好ましい。あるいは、クリアランスを変更する複数のエラー回復ステップが前記テーブルに登録されており、前記コントローラは、前記クリアランスを変更する複数のエラー回復ステップのいずれかにおいて連続してエラー回復が達成され、かつ、前記連続して達成された中で前記エラー回復ステップＡにおけるエラー回復が前記所定回数に達成した場合に、前記エラー回復ステップＡに応じて前記デフォルト設定を変更することが好ましい。これらにより、デフォルト設定の変更の信頼性をより高めることができる。
【００１２】
前記コントローラは、ライト処理のエラー回復処理において、クリアランスを変更するエラー回復ステップを、ライト・ベリファイを行うことなく終了し、前記ライト処理のエラー回復ステップ間のクリアランス変更量の相違の平均値は、リード処理のエラー回復ステップ間のクリアランス変更量の相違の平均値よりも小さいことが好ましい。ライト・ベリファイを行わないことでパフォーマンスの低下を防ぐとともに、クリアランス変更によるプアライトの可能性を小さくすることができる。
【００１３】
好ましい例において、前記エラー回復ステップの実行結果は、サーマルアスペリティの検出である。好ましい例において、前記コントローラは、検出した前記サーマルアスペリティを避けるように、前記サーマルアスペリティを含む記録面の一部領域において、前記デフォルト設定を変更する。これらにより、サーマルアスペリティに応じて適切なデフォルト設定の変更を行うことができる。
【００１４】
好ましい例において、クリアランスを増加するエラー回復ステップとクリアランスを減少するエラー回復ステップの２種類のエラー回復ステップが、前記テーブルにおいて交互の実行順序で登録されており、前記コントローラは、クリアランスを変更するエラー回復ステップでエラー回復に成功した場合、次のエラー回復処理において、前記成功したエラー回復ステップと同一種類のエラー回復ステップを先に行う。これにより、より早いタイミングでのエラー回復を図ることができる。
【００１５】
前記コントローラは、前記デフォルト設定を変更する場合、リード処理とライト処理に双方のデフォルト設定を変更する。あるいは、前記コントローラは、前記デフォルト設定を変更する場合、リード処理とライト処理のうち、前記エラー回復処理が対応する処理においてのみデフォルト設定を変更する。これらの内、設計により適切なものを選択することで、より信頼性とパフォーマンスを高めるデフォルト設定の変更を行うことができる。
【００１６】
本発明の他の態様は、クリアランス調整機能を有するディスク・ドライブ装置において、ユーザ・データのアクセスにおけるクリアランス調整のデフォルト設定を変更する方法である。この方法は、デフォルト設定に応じたクリアランス調整を行う。前記調整されたクリアランスにおいて、ユーザ・データの通常アクセスを行う。前記通常アクセスおけるエラーに対応したエラー回復処理において、テーブルに登録されているエラー回復ステップを順次実行する。２以上の所定回数の前記エラー回復処理において、予め定められたエラー回復ステップの実行結果がクリアランスを変更することでエラーから回復することを示すことを条件として、前記実行結果に応じて前記デフォルト設定を変更する。れにより、デフォルト設定の変更の信頼性を高めることができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、ユーザ・データの通常のリード処理あるいはライト処理において、より適切なクリアランスを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下に、本発明を適用した実施の形態を説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。以下においては、ディスク・ドライブ装置の一例であるハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）を例として、本発明の実施形態を説明する。
【００１９】
本形態のＨＤＤは、クリアランス調整機構の一例であるＴＦＣ（Thermal Fly height Control）により、ヘッドの一例であるヘッド素子部とディスクの一例である磁気ディスクとの間のクリアランスを調整する。ＴＦＣは、スライダ上のヒータからの熱によるヘッド素子部の熱膨張によってクリアランスを調整する。リード処理あるいはライト処理においてエラーが発生すると、ＨＤＤはエラー回復処理（Error Recovery Procedure：ＥＲＰ）を開始する。ＨＤＤにはＥＲＰテーブルが保存されており、そのＥＲＰテーブルには、複数のＥＲＰステップが登録されている。ＨＤＤはＥＲＰテーブルの各ＥＲＰステップを順次実行する。
【００２０】
本形態のＨＤＤは、予め設定されている所定ＥＲＰステップの実行結果が、クリアランスを変更することでエラーから回復することを、所定複数回にわたって示す場合に、ユーザ・データの通常のリード処理あるいはライト処理（リード／ライト処理）におけるＴＦＣのデフォルト設定を変更する。２〜３ｎｍという非常に低いクリアランスにおいては、わずかクリアランスのずれにより、リード／ライト処理においてエラーが発生する。
【００２１】
従って、ＥＲＰにおいてクリアランスを変更することでエラーから回復した場合であっても、それが１回のみの事象である場合、その結果が、実際のクリアランスを反映していない場合が考えられる。そのため、本形態においては、ＨＤＤは、リード／ライト処理のための適切な範囲からクリアランスが外れていることを、ＥＲＰにおいて複数回確認した後に、通常リード／ライト処理におけるＴＦＣ（ヒータ・パワー）のデフォルト設定を変更する。これにより、ＥＲＰの結果に対して誤った判断を行う可能性を低減し、より信頼性の高いＴＦＣを実現することができる。
【００２２】
本形態において、クリアランスを変更することでエラーから回復することを示すＥＲＰステップとして、二つの好ましい例を示す。一つとは、ＴＦＣのヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップである。実際にヒータ・パワーを変更してクリアランスを変更し、データの読み出しあるいは書き込みを正常に行うことができた場合、その結果は通常リード／ライト処理におけるＴＦＣのデフォルト設定を変更する条件となる。他の一つは、サーマルアスペリティ（ＴＡ）の測定である。ＴＡが存在する場合、クリアランスを大きくすることで、ヘッド・スライダがＴＡを避けることができる。従って、ＥＲＰステップにおいてＴＡが検出された場合には、記録面上の全体において、あるいは、ＴＡが存在する位置においてクリアランス調整のデフォルト設定を変更する条件となる。
【００２３】
本形態におけるＴＦＣのデフォルト設定の変更の詳細を説明する前に、ＨＤＤの全体構成を説明する。図１はＨＤＤ１の全体構成を模式的に示すブロック図である。ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０内に、データを記憶するディスクである磁気ディスク１１を有している。スピンドル・モータ（ＳＰＭ）１４は、磁気ディスク１１を所定の角速度で回転する。磁気ディスク１１の各記録面に対応して、磁気ディスク１１にアクセス（リードあるいはライト）するヘッド・スライダ１２が設けられている。アクセスは、リード及びライトの上位概念である。各ヘッド・スライダ１２は、磁気ディスク上を浮上するスライダと、スライダに固定され磁気信号と電気信号との間の変換を行うヘッド素子部とを備えている。
【００２４】
本形態のヘッド・スライダ１２は、熱によってヘッド素子部を膨張・突出させ、磁気ディスク１１との間のクリアランス（浮上高）を調整するＴＦＣのためのヒータを備えている。ヘッド・スライダ１２の構造については、後に図２を参照して詳述する。各ヘッド・スライダ１２はアクチュエータ１６の先端部に固定されている。アクチュエータ１６はボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）１５に連結され、回動軸を中心に回動することによって、ヘッド・スライダ１２を回転する磁気ディスク１１上においてその半径方向に移動する。アクチュエータ１６とＶＣＭ１５とは、ヘッド・スライダ１２の移動機構である。
【００２５】
エンクロージャ１０の外側に固定された回路基板２０上には、回路素子が実装されている。モータ・ドライバ・ユニット２２は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従って、ＳＰＭ１４及びＶＣＭ１５を駆動する。ＲＡＭ２４は、リード・データ及びライト・データを一時的に格納するバッファとして機能する。エンクロージャ１０内のアーム電子回路（ＡＥ：Arm Electronics）１３は、複数のヘッド・スライダ１２の中から磁気ディスク１１へのアクセスを行うヘッド・スライダ１２を選択し、その再生信号を増幅してリード・ライト・チャネル（ＲＷチャネル）２１に送る。また、ＲＷチャネル２１からの記録信号を選択したヘッド・スライダ１２に送る。ＡＥ１３は、さらに、選択したヘッド・スライダ１２のヒータへ電力を供給し、その電力量を調節する調節回路として機能する。
【００２６】
ＲＷチャネル２１は、リード処理において、ＡＥ１３から供給されたリード信号を一定の振幅となるように増幅し、取得したリード信号からデータを抽出し、デコード処理を行う。読み出されるデータは、ユーザ・データとサーボ・データとを含む。デコード処理されたリード・ユーザ・データ及びサーボ・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３に供給される。また、ＲＷチャネル２１は、ライト処理において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３から供給されたライト・データをコード変調し、更にコード変調されたライト・データをライト信号に変換してＡＥ１３に供給する。
【００２７】
コントローラの一例であるＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リード／ライト処理制御、コマンド実行順序の管理、サーボ信号を使用したヘッド・スライダ１２のポジショニング制御（サーボ制御）、ホスト５１との間のインターフェース制御、ディフェクト管理、エラーが発生した場合のエラー対応処理など、データ処理に関する必要な処理及びＨＤＤ１の全体制御を実行する。特に、本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、温度及び気圧に応じてＴＦＣを行う。また、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＴＦＣのデフォルト設定を、ＥＲＰの結果に応じて変更する。これらについては、後に詳述する。
【００２８】
図２は、ヘッド・スライダ１２の空気流出端面（トレーリング側端面）１２１近傍の構成を示す断面図である。スライダ１２３はヘッド素子部１２２を支持する。ヘッド素子部１２２は、リード素子３２とライト素子３１とを有している。ライト素子３１は、ライト・コイル３１１を流れる電流で磁極３１２間に磁界を生成し、磁気データを磁気ディスク１１に書き込む。リード素子３２は磁気異方性を有する磁気抵抗素子３２ａを備え、磁気ディスク１１からの磁界によって変化する抵抗値によって磁気データを読み出す。
【００２９】
ヘッド素子部１２２は、スライダ１２３を構成するアルチック（ＡｌＴｉＣ）基板に薄膜形成プロセスにより形成される。磁気抵抗素子３２ａは磁気シールド３３ａ、３３ｂによって挟まれており、ライト・コイル３１１は絶縁膜３１３で囲まれている。ライト素子３１とリード素子３２の周囲にアルミナなどの保護膜３４が形成されている。ライト素子３１及びリード素子３２の近傍にはヒータ１２４が存在する。パーマロイなどを使用した薄膜抵抗体を蛇行させ、間隙をアルミナで埋めてヒータ１２４を形成することができる。
【００３０】
ＡＥ１３がヒータ１２４に電流を流すと、スライダ１２３とヘッド素子部１２２の熱膨張率の違いにより、ヒータ１２４の熱によってヘッド素子部１２２の近傍が突出変形する。例えば、非加熱時においてヘッド・スライダ１２のＡＢＳ面３５はＳ１で示される形状であり、ヘッド素子部１２２と磁気ディスクとの間の距離であるクリアランスはＣ１で示されている。ヒータ１２４加熱時における突出形状Ｓ２を、破線で示す。ヘッド素子部１２２が磁気ディスク１１に近づき、このときのクリアランスＣ２はクリアランスＣ１よりも小さい。なお、図２は概念図であり、寸法関係は正確ではない。ヘッド素子部１２２の突出量やクリアランスは、ヒータ１２４に供給するヒータ・パワー値に従って変化する。
【００３１】
本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、温度及び気圧に応じたＴＦＣを行う。ヒータ１２４に加えられるヒータ・パワーＰは、温度に依存するヒータ・パワーＰ（ｔ）と、気圧に依存するヒータ・パワーＰ（ｐ）の和（Ｐ（ｔ）＋Ｐ（ｐ））で表される。なお、定数項はいずれかの数式内に組み込まれ、また、各数式の係数は、温度や気圧などの環境条件、ヘッド・スライダ１２あるいはその半径位置に応じて変化しうる。具体的には、ヒータ・パワーＰは、以下の数式で表される。
Ｐ＝（ＴＤＰ×ｅｆｆ[ＢＡＳＥ]−Ｔａｒｇｅｔ
−ｄｔ×ｔ＿ｃｏｍｐ−ｄｐ×ｐ＿ｃｏｍｐ）／ｅｆｆ
【００３２】
ｅｆｆはヒータ・パワー効率であり、気圧及び半径位置に応じて変化する。ｅｆｆ[ＢＡＳＥ]は基準状態におけるヒータ・パワー効率である。ＴＤＰは基準状態においてヘッド・スライダ１２と磁気ディスク１１とが接触するヒータ・パワー、Ｔａｒｇｅｔはターゲット・クリアランス、ｄｔは基準状態からの温度変化量、ｔ＿ｃｏｍｐは温度に対するクリアランス変化率、ｄｐは基準状態からの気圧変化、ｐ＿ｃｏｍｐは気圧に対するクリアランス変化率である。ｔ＿ｃｏｍｐとｐ＿ｃｏｍｐの符号は逆である。ＴＤＰ、ｔ＿ｃｏｍｐと及びｐ＿ｃｏｍｐは、典型的には、半径位置により変化する。基準状態は、典型的には、３０℃（室温）、１気圧（高度０ｍ）の環境条件である。
【００３３】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、温度センサ１７の検出温度に応じてヒータ・パワーＰを制御する。具体的には、ＨＤＤ１には検出温度とヒータ・パワーとの間の関係を示すデータが設定されており、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、そのデータと検出温度に従って温度に依存するヒータ・パワーを決定する。温度とヒータ・パワーとの関係は、ヘッド・スライダ１２、磁気ディスク１１の半径位置（あるいはゾーン）、気圧に依存する。
【００３４】
ＨＤＤ１は、気圧センサを使用して気圧を測定してもよいが、好ましくは、ＨＤＤ１は、リード信号の変化により気圧変化を測定する。具体的には、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リード信号のレゾリューション（周波数成分の分解能）からクリアランス変化を特定し、そのクリアランス変化から気圧変化を特定する。クリアランスは温度に応じて変化するため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、レゾリューションの温度補正を行うことで、気圧変動分を算出することができる。なお、クリアランスは湿度に応じても変化するが、気圧及び温度に比較して小さいため、本明細書では、湿度の影響をないものと仮定する。
【００３５】
レゾリューションは、リード信号における高周波成分と低周波成分の振幅比で表すことができる。クリアランスが小さくなると、レゾリューションが高くなる。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リード信号の振幅からレゾリューションを算出することができるが、より好ましくは、ＲＷチャネル２１の機能を利用する。フィルタ係数を設定するためにレゾリューションに相当する値を算出する機能を有するＲＷチャネル２１が知られている（例えば、特開平５−８１８０７、米国特許５１６８４１３）。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＲＷチャネル２１からレゾリューションの値を取得して温度変化に対する補正を行うことで、気圧を特定することができる。
【００３６】
なお、ＨＤＤ１には、基準状態（例えば、１気圧、３０℃）における、クリアランス、レゾリューションが登録されている。また、クリアランス、レゾリューション及び気圧の関係に加え、温度変化及び気圧変化のそれぞれに対するヒータ・パワー効率が登録されている。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、基準状態における各値と、動作中に測定した各値との差及び上記ヒータ・パワー効率から、ＴＦＣのためのヒータ・パワーを決定する。
【００３７】
以下において、本形態のＥＲＰの詳細を説明する。ＨＤＤ１は、リード処理のＥＲＰ、ライト処理のＥＲＰ、磁気ディスク１１からマイクロ・コードを読み出す処理のＥＲＰなど、複数種類のＥＲＰを実行する。その中で、本形態は、リードＥＲＰ及びライトＥＲＰにおける処理に特徴を有している。図３のブロック図を参照して、ＥＲＰの処理の流れを説明する。全体的な処理は、リードＥＲＰとライトＥＲＰとで同様である。
【００３８】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ホスト５１からのコマンド（リード・コマンドあるいはライト・コマンド）が指定するターゲット・トラックに、ヘッド・スライダ１２を移動する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、モータ・ドライバ・ユニット２２を介してＶＣＭ１５を制御することで、ヘッド・スライダ１２をターゲット・トラックに移動することができる。ターゲット・トラックにおいて、正常にデータ・リードあるいはデータ・ライトすることができない場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰを開始する。典型的なエラーとしては、リード処理あるいはライト処理において、ヘッド・スライダ１２をターゲット・トラック上に維持することができない、あるいは、リード処理において正確にデータを読み出すことができない場合などがある。
【００３９】
リード処理あるいはライト処理においてエラーが発生すると、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰテーブル２４１を参照し、ＥＲＰテーブルに登録されているＥＲＰステップを順次実行する。ＥＲＰテーブル２４１は磁気ディスク１１やＲＯＭに保存されており、ＨＤＤ１の動作中は、ＲＡＭ２４に展開されている。いずれかのＥＲＰステップにおいてエラーから回復すると、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は通常動作に戻る。
【００４０】
リードＥＲＰにおけるエラー回復において、ヘッド・スライダ１２が読み出したリード信号からＲＷチャネル２１がリード・データを抽出する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、取得したリード・データをバッファ２４２に一旦格納した後、ホスト５１へ転送する。ライトＥＲＰにおけるエラー回復において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ホスト５１から取得したライト・データをバッファ２４２に一旦格納した後、ＲＷチャネル２１に転送する。ＲＷチャネル２１がライト・データをライト信号に変え、ＡＥ１３を介してライト信号を受け取ったヘッド・スライダ１２が、ターゲット・アドレスにデータを書き込む。
【００４１】
本形態のＨＤＤ１は複数のＥＲＰテーブルを有しており、リード処理においてエラーが発生した場合はリードＥＲＰテーブルを参照し、ライト処理においてエラーが発生した場合はライトＥＲＰテーブルを参照する。図４は、リードＥＲＰテーブルの好ましい例を示している。リードＥＲＰテーブルは複数のＥＲＰステップを有しており、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、最上位にあるＥＲＰステップ１から下位の方向へ、エラー回復するまで各ＥＲＰステップを順次実行していく。
【００４２】
典型的なＥＲＰステップの一つは、ＥＲＰステップ１のように、ＥＲＰを開始する前の通常リード処理と同一の条件において、データ・リードをリトライする。他の典型的なＥＲＰステップは、例えば、ＲＷチャネル２１のチャネル・パラメータを変更して、データ・リードを試みる。本形態のリードＥＲＰテーブルは、ＴＦＣによりクリアランスを変化させるステップを有している。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰ前の通常のリード処理において、測定温度及び気圧に応じてデフォルト設定に従って決定したヒータ・パワーをヒータ１２４に与える。いくつかのＥＲＰステップにおいて、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、このデフォルト設定のヒータ・パワーよりも大きいヒータ・パワー、あるいは小さいヒータ・パワーをヒータ１２４に与える。
【００４３】
図４の例において、ＥＲＰステップｘ、ＥＲＰステップｘ＋１は、ヒータ・パワーをデフォルト設定値よりも小さくする。一方、ＥＲＰステップｙ、ＥＲＰステップｙ＋１は、ヒータ・パワーをデフォルト設定値よりも小さくする。ｘ及びｙはそれぞれ自然数であり、ｘがｙよりも小さい。つまり、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰステップｘ、ＥＲＰステップｘ＋１を、ＥＲＰステップｙ、ＥＲＰステップｙ＋１より先に実行する。通常のリード／ライト処理におけるクリアランスが小さい場合、さらにクリアランスを小さくすることは、ヘッド・スライダ１２と磁気ディスク１１の接触の危険性が非常に高くなる。そのため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、クリアランスを高くするＥＲＰステップを、低くするステップよりも先に実行することが好ましい。
【００４４】
ＥＲＰステップｘは、高度１．５ｋｍに相当するヒータ・パワー量を、ＥＲＰを開始する前のデフォルト設定値から減じて、データのリードを試みる。ＥＲＰステップｘ+１は、高度３．０ｋｍに相当するヒータ・パワー量をデフォルト設定値から減じて、データのリードを試みる。ＥＲＰステップｙは、高度１．５ｋｍに相当するヒータ・パワー量をデフォルト設定値に足して、データのリードを試みる。ＥＲＰステップｘ+１は、高度３．０ｋｍに相当するヒータ・パワー量をデフォルト設定値に加えて、データのリードを試みる。
【００４５】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーをデフォルト設定から変更するＥＲＰステップにおいてエラーから回復すると、その回数をカウントする。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップｘ、ｘ＋１、ｙ、ｙ＋１のそれぞれに対応したカウンタを有しており、いずれかのＥＲＰステップにおいてエラー回復した場合に、そのＥＲＰステップのカウンタをインクリメント（あるいはディクリメント）する。そして、いずれかのＥＲＰステップのカウンタが予め設定されている所定数に達すると、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーのデフォルト設定を変更する。つまり、その後の通常リード／ライト処理におけるヒータ・パワーのＴＦＣ設定を変更する。
【００４６】
ＴＦＣデフォルト設定を変更する基準となる上記カウント数は、２以上の数である。つまり、いずれかのＥＲＰステップにおいて所定複数回のエラー回復があった場合に、初めてＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＴＦＣのデフォルト設定を変更する。例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するいずれかのＥＲＰステップにおいて、３回のエラー回復がなされた場合に、デフォルト設定を変更する。これにより、誤ってフォルト設定を変更する可能性を低減し、通常リード／ライト処理においてより適切なクリアランスを実現することができる。
【００４７】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、デフォルト設定の起因となったＥＲＰステップに応じて、デフォルト設定の変更方法を変える。具体的には、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを減少するＥＲＰステップｘ、ｘ＋１に応じてデフォルト設定を変更する場合、デフォルト設定のヒータ・パワーを小さくする。反対に、ヒータ・パワーを増加するＥＲＰステップｙ、ｙ＋１に応じてデフォルト設定を変更する場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、デフォルト設定のヒータ・パワーを大きくする。また、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、各ＥＲＰステップにおけるヒータ・パワー変更量に応じて、デフォルト設定のヒータ・パワーの変更量を決定することが好ましい。これにより、より適切なクリアランスにおいて通常リード／ライト処理を行うことができる。具体的には、ヒータ・パワー変更量の小さいＥＲＰステップに対応してデフォルト設定を変更する場合、デフォルト設定の変更量も小さくする。
【００４８】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、通常リード／ライト処理におけるヒータ・パワーを決定する数式（Ｐ（ｔ）＋Ｐ（ｐ））内のいずれの要素を変更してもよいが、典型的には、ヒータ・パワーのオフセットを変更する。つまり、いずれの温度及び気圧においても、一定量のクリアランスが変更される。例えば、ＥＲＰステップｘに対応してデフォルト設定を変更する場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、変更前のデフォルト設定に従って決定されるヒータ・パワーから高度１．５ｋｍに相当するヒータ・パワーを減ずる。あるいは、ＥＲＰステップｘ＋1に対応してデフォルト設定を変更する場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、変更前のデフォルト設定に従って決定されるヒータ・パワーから高度３．０ｋｍに相当するヒータ・パワーを減ずる。
【００４９】
同様に、ＥＲＰステップｙに対応してデフォルト設定を変更する場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、変更前のデフォルト設定に従って決定されるヒータ・パワーから高度１．５ｋｍに相当するヒータ・パワーを増加する。あるいは、ＥＲＰステップｙ＋1に対応してデフォルト設定を変更する場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、変更前のデフォルト設定に従って決定されるヒータ・パワーから高度３．０ｋｍに相当するヒータ・パワーを増加する。
【００５０】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、デフォルト設定において、ＥＲＰステップにおけるヒータ・パワーの増減量と異なる量の変更を行ってもよい。また、ヒータ・パワーを増加する場合と、減少する場合との間に、増減量の差異があってもよい。あるいは、ヒータ・パワーを増加する場合には、いずれのＥＲＰステップを起因としてデフォルト設定を変更する場合にも同一量のヒータ・パワーを増加させ、ヒータ・パワーを減少させる場合にも、いずれのＥＲＰステップを起因としてデフォルト設定を変更する場合にも同一量のヒータ・パワーを減少させるようにしてもよい。
【００５１】
リードＥＲＰにおいてＴＦＣデフォルト設定の変更を行う場合、通常のリード処理のみの設定を変更する、あるいは、ライト処理の設定も合わせて変更することができる。これは、ライトＥＲＰにおいてデフォルト設定の変更を行う場合も同様である。ライト処理においては、ライト電流によるクリアランスの低下があり、リード処理とライト処理におけるヘッド・スライダ１２の状態が異なる。このため、ライト処理とリード処理とでは、デフォルト設定の変更を個別に行うことが好ましいＨＤＤ１においては、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リードＥＲＰにおいてＴＦＣのデフォルト設定を変更しても、ライト処理におけるデフォルト設定を変更することはない。
【００５２】
あるいは、後のライト処理におけるエラーの発生を未然に防止することが好ましい設計においては、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リードＥＲＰにおいてＴＦＣのデフォルト設定を変更すると、ライト処理における設定も変更する。例えば、リード処理において増減したヒータ・パワー値と同様のヒータ・パワー値をライト処理においても増減する。図４の例において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３がリード処理のデフォルト設定を、高度１．５ｋｍ分減少させた場合、ライト処理のデフォルト設定においても高度１．５ｋｍ分減少させる。
【００５３】
上述のように、本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップにおいて、所定の複数回に渡りエラー回復が達成された場合に、ＴＦＣのデフォルト設定を変更する。エラー回復のカウント方法は、いくつかの好ましい方法が存在する。図４の好ましい例において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップ以外のＥＲＰステップにおいてエラーから回復した場合、全てのカウンタをクリアする。つまり、デフォルト設定変更の条件は、連続する複数回のリードＥＲＰにおいてヒータ・パワーの変更によりエラーから回復し、さらに、その連続する複数回において、いずれかのＥＲＰステップによるエラー回復が所定数（例えば３回）に達することである。
【００５４】
ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップ以外のＥＲＰステップでエラーから回復した場合、エラーの原因はクリアランス以外にあり、クリアランスは適切な範囲にあると予想される。そのため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップと異なるＥＲＰステップにおいてエラーから回復した場合に、全てのカウンタをクリアする。その後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、最初から、各ＥＲＰステップにおけるエラー回復の回数をカウントする。
【００５５】
他の好ましい方法は、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップと異なるＥＲＰステップにおけるエラー回復が２以上の所定数に達した場合に、カウンタをクリアする。具体例を説明する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するいずれかのＥＲＰステップにおいて、Ｎ回（Ｎ＞１）のエラー回復が達成された場合に、デフォルト設定を変更する。また、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップ以外のＥＲＰステップにおいて、Ｍ回（Ｍ＞１）のエラー回復が達成された場合に、全てのカウンタをクリアする。クリアランスが適切な範囲にないことをより確実に特定するため、好ましくは、Ｍ＜Ｎである。
【００５６】
これにより、クリアランスが適切な範囲にない場合に、適切であると誤って判定する可能性を低減することができる。クリアランスが適正でないにも係らず、ヒータ・パワーを変更することなくエラーから回復可能性が存在する。そのような場合にカウンタをクリアすることは、適切なクリアランスが実現されるタイミングを遅延させ、エラー発生の原因となる。従って、ヒータ・パワーを変更することなくエラーから回復した場合であっても、その回数が少ない場合は、カウンタの値を維持することが好ましい。
【００５７】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するいずれかのＥＲＰステップにおいて、連続して所定回数に渡りエラー回復が達成された場合に、デフォルト設定を変更することもできる。例えば、最初のＥＲＰにおいてＥＲＰステップｘがエラー回復を達成し、次のＥＲＰにおいて異なるＥＲＰステップ、例えば、ＥＲＰステップｘ＋1がエラー回復を達成した場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３はカウンタをクリアする。この手法においても、上述のように、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、他のＥＲＰステップにおいて所定の複数回のエラー回復が達成された場合に、カウンタをクリアするようにしてもよい。
【００５８】
ヒータ・パワーの増減の種類を考慮して、カウンタをクリアする条件を決定してもよい。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップのカウンタを、そのＥＲＰステップと同一極性（増加もしくは減少）のヒータ・パワー変更でエラー回復が達成された場合はクリアしないが、他のＥＲＰステップにおいてエラー回復が達成された場合に、カウンタをクリアする。
【００５９】
例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰステップｘ＋１においてエラー回復があると、ＥＲＰステップｙ、ｙ＋１のカウンタをクリアするが、ＥＲＰステップｘのカウンタをクリアしない。同様に、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰステップｙ＋１においてエラー回復があると、ＥＲＰステップｘ、ｘ＋１のカウンタをクリアするが、ＥＲＰステップｙのカウンタをクリアしない。ヒータ・パワーを変更しないＥＲＰステップでエラー回復が達成された場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、全てのカウンタをクリアする。この例においても、カウンタをクリアする条件に相当するＥＲＰステップにおいて、複数回のエラー回復が達成された場合に、カウンタをクリアするようにすることができる。
【００６０】
次に、図５を参照して、ライトＥＲＰテーブルの好ましい例を説明する。図５のライトＥＲＰテーブルと、上記リードＥＲＰテーブルとの間の最も大きな違いは、ライトＥＲＰにおけるヒータ・パワーの変更量が、リードＥＲＰよりも細かいことである。図５に示すように、ライトＥＲＰテーブルは、ヒータ・パワーを減少する３つのＥＲＰステップｘ〜ｘ＋２、そして、ヒータ・パワーを増加する３つのＥＲＰステップｙ〜ｙ＋２を有している。各ＥＲＰステップのヒータ・パワーの増減量は、高度０．６ｋｍ、高度１．２ｋｍそして高度１．８ｋｍのそれぞれに相当する量である。なお、ライトＥＲＰテーブルにおけるｘ、ｙは、リードＥＲＰテーブルにおけるｘ、ｙと同一もしくは異なる値である。
【００６１】
本例におけるライトＥＲＰにおいて、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、書き込んだデータのベリファイを行わない。ベリファイは、書き込んだデータを読み出し、正確にデータが書き込まれていることを検証する処理である。ベリファイ処理を省略することで、パフォーマンスを向上することができる。しかし、ベリファイ処理を行わない場合、データが正確に磁気ディスク１１に書き込まれている保証は存在しない。
【００６２】
そのため、クリアランスが高すぎると、プアライトが起きる可能性がある。プアライトの場合、書き込み強度が小さく、その後のリード処理において正確にデータを読み出すことができない可能性が高い。そのため、本例においては、ライトＥＲＰにおいてヒータ・パワーを段階的に減少するときの減少量の平均値（本例において高度０．６ｋｍ相当分）を、リードＥＲＰ（図４の例において高度１．５ｋｍ相当分）よりも小さくしている。また、ライトＥＲＰにおいて最も小さいヒータ・パワー（本例において高度１．８ｋｍ相当分の減少）が、リードＥＲＰにおいて最も小さいヒータ・パワー（図４の例において高度３．０ｋｍ相当分の減少）よりも大きい。これによって、プアライトをより確実に防ぐ。なお、減少量は一定でなくてもよい。
【００６３】
設計を容易にするため、図５に示すように、ヒータ・パワーを増加するＥＲＰステップのヒータ・パワー変更量は、ヒータ・パワーを減少するＥＲＰステップと同様とすることができる。あるいは、これらを異なる値としてもよい。ライトＥＲＰの信頼性を高めるため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、クリアランスを変更するＥＲＰステップにおいてデータを書き込むことができた場合、そのデータのベリファイを行ってもよい。ベリファイを行う場合、ヒータ・パワーの増減量は、リードＥＲＰと同様に設定することが好ましい。ライトＥＲＰにおけるカウンタ制御及びデフォルト設定の変更方法は、上記リードＥＲＰにおけるそれらと同様に行うことができる。
【００６４】
次に、ＴＡ検出によるＴＦＣデフォルト設定の変更について説明する。本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰにおいてＴＡの検出処理を行い、その検出結果に応じてＴＦＣデフォルト設定の変更を行う。典型的には、ＲＷチャネル２１がＴＡ検出機能を有しており、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＲＷチャネル２１のレジスタにアクセスすることで、ＴＡ検出の有無を知ることができる。リードＥＲＰテーブル及びライトＥＲＰテーブルは、ＴＡ検出処理を行うＥＲＰステップを有しており、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、そのＥＲＰステップにおいてＴＡの有無を確認する。ＴＡが検出された場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３はカウンタをインクリメント（あるいはディクリメント）する。
【００６５】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、複数回のＥＲＰにおいて、同一エリアにおいてＴＡを検出した場合、検出したＴＡに対応してＴＦＣのデフォルト設定を変更する。例えば、通常リード／ライト処理におけるヒータ・パワーを減少させる、あるいは、ＴＡを登録するマップを更新し、ＴＡを含む一部の領域においてのみヒータ・パワーを小さくして、検出したＴＡが存在する位置においてＴＡを避ける。デフォルト設定を変更する条件となるＴＡ検出の回数は、上記ヒータ・パワーを変更するＥＲＰステップに対応したデフォルト設定の変更と同様である。例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、連続する所定回数のＴＡ検出、あるいは、過去Ｍ回のＥＲＰにおいてＮ回のＴＡが検出された場合にＴＦＣのデフォルト設定を変更する。
【００６６】
次に、ヒータ・パワーを増減するＥＲＰステップの実行順序について、他の好ましい例を説明する。図６（ａ）、（ｂ）は、ヒータ・パワーを増減する２種類のＥＲＰステップの順序と、各ＥＲＰステップにおけるヒータ・パワーの極性及び量を示している。ＥＲＰにおいて、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ヒータ・パワーの増減を交互に繰り返す。また、ヒータ・パワー量を徐々に増加させる。
【００６７】
具体的には、図６（ａ）において、ＥＲＰステップａはヒータ・パワーを増加させ、その次のＥＲＰステップａ＋１はヒータ・パワーを減少させる。これらのヒータ・パワー量（絶対値）は同じである。ＥＲＰステップａ＋２はヒータ・パワーを増加させ、ＥＲＰステップａ＋３はヒータ・パワーを減少させる。これらのヒータ・パワー量は同じであり、その前の２つのＥＲＰステップよりも大きい。同様に、ＥＲＰステップａ＋４はヒータ・パワーを増加させ、ＥＲＰステップａ＋５はヒータ・パワーを減少させる。
【００６８】
ヒータ・パワーを増減するＥＲＰステップにおいてエラーから回復した場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、次のＥＲＰにおいて、前のＥＲＰでエラー回復に成功したＥＲＰステップと同一種類のＥＲＰステップを、先に実行する。図６（ｂ）は、図６（ａ）のＥＲＰにおいて、ヒータ・パワーを減少するＥＲＰステップ（例えば、ＥＲＰステップａ＋５）においてエラーから回復した場合に相当する。図６（ｂ）のＥＲＰはヒータ・パワーを増減するＥＲＰステップを交互に実行するが、ヒータ・パワーを減少するＥＲＰステップが増加するＥＲＰステップより先に実行される。
【００６９】
前のＥＲＰにおいて、ＨＤＤ１がヒータ・パワーを増加もしくは減少するＥＲＰステップによりエラー回復した場合、ＨＤＤ１は、次のＥＲＰにおいても同様のヒータ・パワー調整によりエラーから回復する可能性が高い。そのため、前のＥＲＰの結果に応じてヒータ・パワーを増減するＥＲＰステップの実行順序を決定することで、より効率的な処理を行うことができる。
【００７０】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰステップの実行順序を変更するために、ＥＲＰテーブルを変更する、あるいは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は極性変更フラグを有しており、その極性フラグとＥＲＰステップの指示するヒータ・パワーの極性（増減）とから、各ＥＲＰステップにおけるヒータ・パワーの増減を決定する。つまり、フラグが反転を示す場合、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＲＰステップが示す増減と逆の処理を行う。ＥＲＰの結果に応じてこのフラグを設定することで、次のＥＲＰにおけるヒータ・パワーの増減順序を設定することができる。なお、ヘッド・ディスク接触を避けるため、デフォルト設定のヒータ・パワー増減順序において、ヒータ・パワーを減少するＥＲＰステップが先であることが好ましい。また、ヒータ・パワーを増減するＥＲＰステップの間に、他のＥＲＰステップが存在してもよい。
【００７１】
以上、本発明を好ましい実施形態を例として説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、上記の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。デフォルト設定の変更の条件となるＥＲＰステップは、上記の例以外のものでもよい。本発明は、ピエゾ素子などのＴＦＣ以外のクリアランス調整機構を有するディスク・ドライブ装置に適用することができる。本発明は、リード素子のみを備えるヘッド・スライダを実装するＨＤＤに、あるいは、ＨＤＤ以外のディスク・ドライブ装置に適用してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本実施形態において、ＨＤＤの全体構成を模式的に示すブロック図である。
【図２】本実施形態において、ＴＦＣのためのヒータを備えたヘッド・スライダの構成を模式的示す断面図である。
【図３】本実施形態のＥＲＰに関連する機能構成要素を模式的に示すブロック図である。
【図４】本実施形態のリードＥＲＰテーブルの好ましい例を示す図である。
【図５】本実施形態のライトＥＲＰテーブルの好ましい例を示す図である。
【図６】本実施形態において、ヒータ・パワーを増減するＥＲＰステップの実行順序について、他の好ましい例を模式的に示す図である。
【符号の説明】
【００７３】
１  ハードディスク・ドライブ、１０  エンクロージャ、１１  磁気ディスク
１２  ヘッド・スライダ、１４  スピンドル・モータ、１５  ボイス・コイル・モータ
１６  アクチュエータ、２０  回路基板、２１  リード・ライト・チャネル
２２  モータ・ドライバ・ユニット、２３  ハードディスク・コントローラ／ＭＰＵ
２４  ＲＡＭ、３１  ライト素子、３２  リード素子、３２ａ  磁気抵抗素子
３３ａ、ｂ  シールド、３４  保護膜、５１  ホスト、１２１  トレーリング側端面
１２２  ヘッド素子部、１２３  スライダ、１２４  ヒータ、２４１  ＥＲＰテーブル
２４２  バッファ、３１１  ライト・コイル、３１２  磁極、３１３  絶縁膜
【図１】
2009134836.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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