(57)【要約】【課題】複雑な回路構成とすることなく、周波数特性の検出を容易に行う。【解決手段】フィルタ周波数特性検出装置は、第１及び第２の信号が入力されるフィルタ１１と、このフィルタを通過した第１及び第２の信号を比較するコンパレータ１３と、このコンパレータに入力される第１及び第２の信号にオフセットを与えるオフセット調整回路１２と、コンパレータの出力結果に基づき第１及び第２の信号の振幅の変化をデューティ比として検出するデューティ比検出回路１４と、このデューティ比検出回路の検出結果に基づきフィルタの周波数特性を調整する周波数特性調整回路１５とを具備する。【選択図】      図１
2009065554.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１及び第２の信号が入力されるフィルタと、
前記フィルタを通過した前記第１及び第２の信号を比較するコンパレータと、
前記コンパレータに入力される前記第１及び第２の信号にオフセットを与えるオフセット調整回路と、
前記コンパレータの出力結果に基づき前記第１及び第２の信号の振幅の変化をデューティ比として検出するデューティ比検出回路と、
前記デューティ比検出回路の検出結果に基づき前記フィルタの周波数特性を調整する周波数特性調整回路と
を具備することを特徴とするフィルタ周波数特性検出装置。
【請求項２】
前記オフセット調整回路は、前記フィルタに入力される前の前記第１及び第２の信号に前記オフセットを与える、又は、前記フィルタから出力された後の前記第１及び第２の信号に前記オフセットを与えることを特徴とする請求項１に記載のフィルタ周波数特性検出装置。
【請求項３】
第１及び第２の信号が入力されるフィルタと、
前記フィルタに入力される前の前記第１及び第２の信号にオフセットを与えるＤＡ変換器と、
前記フィルタを通過した前記第１及び第２の信号を比較するコンパレータと、
前記コンパレータの出力結果に基づき前記第１及び第２の信号の振幅の変化をデューティ比として検出するデューティ比検出回路と、
前記デューティ比検出回路の検出結果に基づき前記フィルタの周波数特性を調整する周波数特性調整回路と
を具備することを特徴とするフィルタ周波数特性検出装置。
【請求項４】
前記第１及び第２の信号は差動信号であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のフィルタ周波数特性検出装置。
【請求項５】
外部のフィルタを通過した第１及び第２の信号を比較するコンパレータと、
前記コンパレータに入力される前記第１及び第２の信号にオフセットを与えるオフセット調整回路と、
前記コンパレータの出力結果に基づき前記第１及び第２の信号の振幅の変化をデューティ比として検出するデューティ比検出回路と
を具備することを特徴とするフィルタ周波数特性テスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンパレータにオフセットを持った信号を入力するフィルタ周波数特性検出装置及びフィルタ周波数特性テスト装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣフィルタ回路では、素子の製造ばらつき等によりフィルタの周波数特性がばらつくため、フィルタの周波数特性の精度を上げる調整が必要となる。
【０００３】
例えば、特許文献１のフィルタ自動調整装置では、振幅検出器を用いてフィルタ出力信号の振幅レベルが所定値になるようにフィルタの粗調整を行い、フィルタの特性周波数ｆ０が目標周波数にほぼ合っている状態で位相を比較することによって微調整が行われる。このような特許文献１では、フィルタの入出力信号の振幅を検出する回路と位相を比較する位相比較器とが必要となり、フィルタ自動調整装置の回路サイズが大きく、さらに複雑になる。
【０００４】
また、特許文献２の自動調整ＩＣフィルタ回路では、自己のチャンネル信号とは異なるチャンネルに使用される基準キャリアがフィルタに入力されている期間に、フィルタの周波数特性を調整するための制御信号を次第に変化させて周波数特性を周波数軸方向へ移動させ、この制御信号を供給している期間に、フィルタから出力されている基準キャリアの減衰量を監視し、この減衰量が所定値になった時点の制御信号の値を保持する。このような特許文献２では、ＩＣフィルタ回路の自動調整が複雑で、さらに回路サイズも大きくなる。
【特許文献１】特開２００５−１９７９７５号公報
【特許文献２】特開平４−１８０４０６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、複雑な回路構成とすることなく、周波数特性の検出を容易に行うことが可能なフィルタ周波数特性検出装置及びフィルタ周波数特性テスト装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の視点によるフィルタ周波数特性検出装置は、第１及び第２の信号が入力されるフィルタと、前記フィルタを通過した前記第１及び第２の信号を比較するコンパレータと、前記コンパレータに入力される前記第１及び第２の信号にオフセットを与えるオフセット調整回路と、前記コンパレータの出力結果に基づき前記第１及び第２の信号の振幅の変化をデューティ比として検出するデューティ比検出回路と、前記デューティ比検出回路の検出結果に基づき前記フィルタの周波数特性を調整する周波数特性調整回路とを具備する。
【０００７】
本発明の第２の視点によるフィルタ周波数特性テスト装置は、外部のフィルタを通過した第１及び第２の信号を比較するコンパレータと、前記コンパレータに入力される前記第１及び第２の信号にオフセットを与えるオフセット調整回路と、前記コンパレータの出力結果に基づき前記第１及び第２の信号の振幅の変化をデューティ比として検出するデューティ比検出回路とを具備する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、複雑な回路構成とすることなく、周波数特性の検出を容易に行うことが可能なフィルタ周波数特性検出装置及びフィルタ周波数特性テスト装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明の実施の形態を以下に図面を参照して説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する参照符号を付す。
【００１０】
［１］第１の実施形態
第１の実施形態は、例えばアナログＩＣフィルタ等の周波数特性を検出するにあたり、フィルタの入力部における信号の差動間にオフセットを持たせ、このオフセットを持った差動信号をコンパレータで比較し、信号振幅の変化をデューティ（Duty）比として検出する。
【００１１】
［１−１］フィルタ周波数特性検出装置の構成
図１は、本発明の第１の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の構成図を示す。以下に、第１の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成について説明する。
【００１２】
図１に示すように、フィルタ周波数特性検出装置１０は、フィルタ１１、オフセット調整回路１２、コンパレータ１３、デューティ比検出回路１４、周波数特性調整回路１５を備えている。
【００１３】
フィルタ１１は、例えば、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ：band-pass filter）、ハイパスフィルタ（ＨＰＦ：high-pass filter）、ローパスフィルタ（ＬＰＦ：low-pass filter）等として機能する。このフィルタ１１には、差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮが入力される。差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮは、互いの振動数及び振幅が同じで、互いの位相差が１８０度（１／２周期）ずれている関係の反転信号である。
【００１４】
オフセット調整回路１２は、可変電圧等により、フィルタ１１に入力される前の差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮにオフセットを与える。具体的には、差動信号ＶｉｎＰは−Ｈだけオフセットを与え、差動信号ＶｉｎＮは＋Ｈだけオフセットを与える。すなわち、差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮは、波形図が互いに逆方向にずれるようにオフセットが与えられる。
【００１５】
コンパレータ１３には、オフセットを与えられ、かつ、フィルタ１１を通過した信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮが入力される。コンパレータ１３は、信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮを比較し、この比較結果の信号ＣＭＰを出力する。
【００１６】
デューティ比検出回路１４は、コンパレータ１３の出力信号ＣＭＰによるデューティ比を検出する。このデューティ比は、信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの振幅の変化をデジタル化したものであり、１周期Ｔのうちで信号がオンになっている時間Ｗの比率（Ｗ／Ｔ）で表される。
【００１７】
周波数特性調整回路１５は、デューティ比検出回路１４の結果に基づいてフィルタ１１に所定の制御信号を与え、フィルタ１１の周波数特性を調整する。
【００１８】
尚、本実施形態では、オフセット調整回路１２はフィルタ１１と別に設けることに限定されず、フィルタ１１自体にオフセットを与える機能を備えてもよい。
【００１９】
［１−２］フィルタ周波数特性の検出及び調整方法
図１を参照し、本実施形態のフィルタ周波数特性検出装置１０を用いたフィルタ周波数特性の検出及び調整の概要について説明する。
【００２０】
まず、フィルタ１１には、互いに反転信号の差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮが入力される。ここで、オフセット調整回路１２により、フィルタ１１に入力される差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮにオフセットを与える。このオフセットを有する差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮは、フィルタ１１を通過してコンパレータ１３に入力される。コンパレータ１３は、オフセットを持った入力信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの比較を行い、この比較結果を出力する。コンパレータ１３の出力信号ＣＭＰは、デューティ比検出回路１４に入力される。このデューティ比検出回路１４では、信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの振幅の変化がデューティ比の変化として表されたデジタル信号を検出する。このデューティ比から信号振幅の変化を算出する。このようなデューティ比検出回路１４の検出結果に基づき、周波数特性調整回路１５は、振幅レベルが所定値になるようにフィルタ１１の周波数特性の精度を上げる調整を行う。
【００２１】
［１−３］デューティ比
図２（ａ）及び（ｂ）は、本発明の第１の実施形態に係るフィルタ周波数特性の検出にあたり、オフセットを与える前後のコンパレータの出力信号のデューティ比を示す。以下に、オフセットが与えられることによるデューティ比の変化について説明する。尚、ここでは、デューティ比を、１周期Ｔのうち信号がオンになっている時間Ｗの比率で表している。
【００２２】
図２（ａ）に示すように、オフセットが与えられていない差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮがコンパレータ１３に入力された場合、コンパレータ１３の出力信号のデューティ比Ｗ０／Ｔは５０％となる。
【００２３】
一方、図２（ｂ）に示すように、オフセットが与えられた差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮがコンパレータ１３に入力された場合、コンパレータ１３の入力信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮは互いに逆方向にずれるようなオフセットを有する。このため、コンパレータ１３の出力信号のデューティ比Ｗ／Ｔは３０％となる。つまり、オフセットが与えられることで信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの波形がずれ、この信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの波形の重なりが変化することによってデューティ比が変化することが分かる。
【００２４】
［１−４］デューティ比と周波数の関係
図３は、本発明の第１の実施形態に係るコンパレータの入力信号における周波数及び振幅の関係図を示す。図４は、本発明の第１の実施形態に係るコンパレータの出力信号におけるデューティ比の周波数依存性を示す。以下に、デューティ比と周波数の関係について説明する。尚、ここでは、デューティ比を、１周期Ｔのうち信号がオンになっている時間Ｗの比率で表している。
【００２５】
図３に示すように、コンパレータの入力信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮにおいて、周波数がｆ、２ｆ、４ｆと変化すると、振幅は０、−３、−９と変化する。一方、図４に示すように、デューティ比Ｗ／Ｔは、周波数ｆ、２ｆ、４ｆの変化に依存せず、あくまでも信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの重なりの変化によって変化する。具体的には、周波数ｆ、２ｆ、４ｆの全ての場合に同じオフセットを与えた場合、周波数ｆ、２ｆ、４ｆのときのデューティ比Ｗ／Ｔはそれぞれ４６％、３８％、２５％となる。
【００２６】
［１−５］デューティ比と振幅の関係
図５、図６（ａ）乃至（ｃ）は、本発明の第１の実施形態に係るデューティ比と振幅の関係を説明するための図を示す。以下に、オフセットを与えた差動信号のデューティ比と振幅の関係について説明する。
【００２７】
図６に示すように、差動信号をＶＰ、ＶＮ、振幅をＡ０、オフセットをＨ、デューティ比をＷ／Ｔとする。この場合、デューティ比Ｗ／Ｔが分かると、信号振幅Ａは以下のように算出することができる。
【００２８】
まず、ＶＰ、ＶＮは、以下の式（１）、（２）で表される。
【００２９】
ＶＰ＝Ａ０ｓｉｎ（ωｔ）…（１）
ＶＮ＝−Ａ０ｓｉｎ（ωｔ）…（２）
このようなＶＰ、ＶＮに対して、Ｈだけオフセットを与えると、以下の式（３）、（４）のようになる。
【００３０】
ＶＰ＝Ａ０ｓｉｎ（ωｔ）−Ｈ…（３）
ＶＮ＝−（Ａ０ｓｉｎ（ωｔ）−Ｈ）…（４）
次に、ＶＰ、ＶＮの交点を求め、ＶＰ、ＶＮの大小が入れ代わるのを“０”、“１”の２値で表し、“０”、“１”のデューティ比を求める。
【００３１】
ＶＰ、ＶＮの交点は、必ず中点（ここではＡ＝０）になるため、ωｔ１の点に関しては、以下のようになる。
【００３２】
０＝Ａ０ｓｉｎ（ωｔ１）−Ｈ
∴ｓｉｎ（ωｔ１）＝Ｈ／Ａ
また、ωｔ２、ωｔ３の点に関しては、以下のように表される。
【００３３】
０＝Ａ０ｓｉｎ（ωｔ２）−Ｈ＝Ａ０ｓｉｎ（π−ωｔ１）−Ｈ
０＝Ａ０ｓｉｎ（ωｔ３）−Ｈ＝Ａ０ｓｉｎ（２π＋ωｔ１）−Ｈ
よって、以下の式（５）から（７）が導かれる。
【００３４】
ωｔ１＝ａｒｃｓｉｎ（Ｈ／Ａ０）…（５）
ωｔ２＝π−ａｒｃｓｉｎ（Ｈ／Ａ０）…（６）
ωｔ３＝２π＋ａｒｃｓｉｎ（Ｈ／Ａ０）…（７）
そこで、式（５）、（６）を用いてデューティ比を求めると、式（８）のようになる。
【００３５】
デューティ比＝（ωｔ２−ωｔ１）／２π
デューティ比＝｛π−２ａｒｃｓｉｎ（Ｈ／Ａ０）｝／２π…（８）
式（８）の結果から分かるように、デューティ比とオフセットＨが分かれば、振幅Ａ０を導くことできる。さらに、デューティ比が周波数ωに依存しないことも分かる。
【００３６】
そこで、デューティ比と振幅との関係を図示したのが、図５（ａ）である。この図５（ａ）では、横軸を振幅、縦軸をデューティ比とし、オフセットを０、０．１、０．２、０．３、０．４と変化させた場合を示している。
【００３７】
上述したように、フィルタ周波数特性を検出するには、まず、差動信号の重なりをコンパレータ１３で検出し、このコンパレータ１３の出力信号ＣＭＰを基にデューティ比を検出する。そして、このデューティ比と差動信号に与えたオフセットに基づき、図５に示す関係図から信号振幅を求めることができる。
【００３８】
例えば、図５（ｂ）に示すように、デューティ比が４６％であり、差動信号に与えたオフセットが０．２である場合、図５（ａ）の関係図から振幅は０．５５であることが分かる。また、図５（ｃ）に示すように、デューティ比が３８％であり、差動信号に与えたオフセットが０．２である場合、図５（ａ）の関係図から振幅は０．２２であることが分かる。
【００３９】
このように、本実施形態では、図５（ａ）に示すように、振幅とデューティ比の関係が分かっているため、コンパレータ１３の出力信号ＣＭＰからデューティ比を求めると、信号振幅を計算することができる。
【００４０】
［１−６］効果
上記第１の実施形態によれば、オフセット調整回路１２によりフィルタ１１に入力される差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮの差動間にオフセットを持たせ、その信号をコンパレータ１３に入力する。そして、信号の振幅変化を、コンパレータ１３の出力結果（１／０のデジタル値）のデューティ比の変化として計測する。これに基づき、フィルタ１１の周波数特性（減衰量）を算出し、所望値となるようにフィルタ調整を行う。このため、本実施形態では、信号振幅の変化量をアナログ信号ではなく１／０のデジタル値として計測できるので、フィルタの周波数特性の検出を容易に行うことができる。さらに、オフセット調整手段と単純なコンパレータのみで構成されるため、複雑な回路構成にする必要もない。
【００４１】
［２］第２の実施形態
オフセット調整回路１２は、例えばフィルタの性能やシステムの構成等により、フィルタ１１の前後に配置することが可能である。そこで、第１の実施形態では、オフセット調整回路１２をフィルタ１１の入力部に配置したのに対し、第２の実施形態では、オフセット調整回路１２をフィルタ１１の出力部に配置する。尚、ここでは、第１の実施形態と同様の点については説明を省略する。
【００４２】
［２−１］フィルタ周波数特性検出装置の構成
図７は、本発明の第２の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の構成図を示す。以下に、第２の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成について説明する。
【００４３】
図７に示すように、第２の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置において、第１の実施形態と異なる点は、オフセット調整回路１２がフィルタ１１の出力部に接続されている点である。従って、本実施形態では、フィルタ１１から出力された差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮに対してオフセットを与える。
【００４４】
尚、本実施形態において、オフセット調整回路１２はフィルタ１１と別に設けることに限定されず、フィルタ１１自体にオフセットを与える機能を備えてもよいし、コンパレータ１３自体にオフセットを与える機能を備えてもよい。
【００４５】
［２−２］効果
上記第２の実施形態によれば、第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、第２の実施形態では、フィルタ１１を通過した後の差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮにオフセットを与えるため、フィルタ１１を通過する前の差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮにオフセットを与える場合と比べて、バンドパスフィルタやハイパスフィルタなどＤＣ電圧を通過させないフィルタでも適用できるという利点がある。
【００４６】
［３］第３の実施形態
第３の実施形態は、フィルタの前段のＤＡ変換器（ＤＡＣ：digital-to-analog converter）で差動信号にオフセットを与える。尚、ここでは、第１の実施形態と同様の点については説明を省略する。
【００４７】
［３−１］フィルタ周波数特性検出装置の構成
図８は、本発明の第３の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の構成図を示す。以下に、第３の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成について説明する。
【００４８】
図８に示すように、第３の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置において、第１の実施形態と異なる点は、ＤＡ変換器１６をフィルタ１１の前段にさらに備え、このＤＡ変換器１６をオフセット調整回路としても使用する点である。
【００４９】
ＤＡ変換器１６は、デジタル入力信号を、それにほぼ比例するアナログ信号に変換する。このＤＡ変換器１６には、出力信号ＤＡＣＰ、ＤＡＣＮの差動間にオフセットを持った差動信号を出力させるデジタルコードが入力される。
【００５０】
尚、本実施形態では、ＤＡ変換器１自体がオフセット調整機能を有するため、オフセット調整回路１２を省略することも可能である。
【００５１】
［３−２］効果
上記第３の実施形態によれば、第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、第３の実施形態では、ＤＡ変換器１６の出力信号にオフセットを与えるため、入出力信号がすべて１／０のデジタル値として計測できることになる。このため、アナログ信号の取り扱いが必要なくなり、フィルタの周波数特性の検出及び調整がさらに容易化できる。
【００５２】
［４］第４の実施形態
第４の実施形態は、第３の実施形態におけるオフセット調整回路１２、デューティ比検出回路１４及び周波数特性調整回路１５を一つのコントローラにしたものである。尚、ここでは、第３の実施形態と同様の点については説明を省略する。
【００５３】
［４−１］フィルタ周波数特性検出装置の構成
図９は、本発明の第４の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の構成図を示す。以下に、第４の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成について説明する。
【００５４】
図９に示すように、第４の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置において、第３の実施形態と異なる点は、第３の実施形態のオフセット調整回路１２、デューティ比検出回路１４及び周波数特性調整回路１５の機能を有するコントローラ１７を設けている点である。
【００５５】
コントローラ１７は、コンパレータ１３の出力信号ＣＭＰによるデューティ比を検出する。コントローラ１７は、デューティ比検出回路１４の結果に基づいてフィルタ１１に所定の制御信号を与え、フィルタ１１の周波数特性を調整する。コントローラ１７は、ＤＡコンバータ１６の差動信号ＤＡＣＰ、ＤＡＣＮにオフセットを与えるために、ＤＡコンバータ１６から差動間にオフセットを持った差動信号を出力させるようなコードを生成する。
【００５６】
尚、コントローラ１７にはオフセット調整回路１２及び周波数特性調整回路１５のみの機能を持たせ、コントローラ１７とは別にデューティ比検出回路１４をコンパレータ１３の出力部に設けてもよい。
【００５７】
［４−２］効果
上記第４の実施形態によれば、第３の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、第４の実施形態では、第３の実施形態のオフセット調整回路１２、デューティ比検出回路１４及び周波数特性調整回路１５を一つのコントローラ１７にまとめることで、フィルタ周波数特性検出装置１０のサイズを小型化でき、さらに設計も容易にすることができ、回路構成を容易化できる。
【００５８】
［５］第５の実施形態
第５の実施形態は、フィルタの周波数特性をテストする装置の例であり、上述する第１乃至第４の実施形態と同様、差動信号にオフセットを与えデューティ比を検出するものである。
【００５９】
［５−１］フィルタ周波数特性テスト装置の構成
図１０及び図１１は、本発明の第５の実施形態に係るフィルタ周波数特性テスト装置の概略図を示す。以下に、第５の実施形態に係るフィルタ周波数特性テスト装置の概略的な構成について説明する。
【００６０】
図１０及び図１１に示すように、フィルタ周波数特性テスト装置２０は、フィルタ１１を備えたチップ３０とは別に、チップ３０の外部に設けられる。
【００６１】
図１０に示すフィルタ周波数特性テスト装置２０は、オフセット調整回路１２、コンパレータ１３、デューティ比検出回路１４、周波数特性調整回路１５、コンデンサＣ１、Ｃ２を備えている。図１１に示すフィルタ周波数特性テスト装置２０は、オフセット調整回路１２、コンパレータ１３、デューティ比検出回路１４、コンデンサＣ１、Ｃ２を備えている。つまり、図１０では、周波数特性調整回路１５をフィルタ周波数特性テスト装置２０内に備えるのに対し、図１０では、周波数特性調整回路１５をフィルタ周波数特性テスト装置２０外のチップ３０内に備えている。
【００６２】
図１０及び図１１に示すように、フィルタ周波数特性テスト装置２０の周囲には、端子２１、２２、２３、２４、２５が設けられ、チップ３０の周囲には、端子３１、３２、３３が設けられている。ここで、端子２１、２２は端子３１、３２と接続され、フィルタ１１の差動信号ＶｏｕｔＰ、ＶｏｕｔＮがコンパレータ１３に入力できるようになっている。端子２３は端子３３に接続され、デューティ比検出回路１４の検出結果を基に周波数特性調整回路１５がフィルタ１１の周波数特性を調整できるようになっている。端子２４、２５は、オフセット調整回路１２のオフセット電圧を制御する制御信号を入力するのに使用される。
【００６３】
［５−２］フィルタ周波数特性のテスト方法
図１０及び図１１を参照し、本実施形態のフィルタ周波数特性テスト装置２０を用いたフィルタ周波数特性のテスト方法について説明する。
【００６４】
まず、チップ３０内のフィルタ１１には差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮ、ＶｏｕｔＰ、ＶｏｕｔＮが入出力されている。このようなフィルタ１１の周波数特性をテストするために、フィルタ周波数特性テスト装置２０を用いる。すなわち、チップ３０の端子３１、３２にフィルタ周波数特性テスト装置２０の端子２１、２２をつなぎ、フィルタ１１の出力信号ＶｏｕｔＰ、ＶｏｕｔＮをコンデンサＣ１、Ｃ２を介してコンパレータ１３に入力する。ここで、コンパレータ１３の入力信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮには、オフセット調整回路１２によりオフセットを与える。そして、コンパレータ１３は、オフセットを持った入力信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの比較を行い、この比較結果を出力する。コンパレータ１３の出力信号ＣＭＰは、デューティ比検出回路１４に入力される。このデューティ比検出回路１４では、信号ＣｉｎＰ、ＣｉｎＮの振幅の変化がデューティ比の変化として表されたデジタル信号を検出する。このデューティ比から信号振幅の変化を算出する。このようにして、フィルタ１１の周波数特性をテストする。
【００６５】
尚、フィルタ１１のテスト結果に基づいて周波数特性を調整する場合には、チップ３０の端子３３にフィルタ周波数特性テスト装置２０の端子２３をつなぐ。そして、デューティ比検出回路１４の検出結果に基づき、周波数特性調整回路１５は、振幅レベルが所定値になるようにフィルタ１１の周波数特性の精度を上げる調整を行う。
【００６６】
［５−３］効果
上記第５の実施形態によれば、第１の実施形態と同様、オフセット調整回路１２によりフィルタ１１に入力される差動信号ＶｉｎＰ、ＶｉｎＮの差動間にオフセットを持たせ、その信号をコンパレータ１３に入力する。そして、信号の振幅変化を、コンパレータ１３の出力結果（１／０のデジタル値）のデューティ比の変化として計測する。このため、本実施形態では、信号振幅の変化量をアナログ信号ではなく１／０のデジタル値として計測できるので、フィルタの周波数特性の検出テストを容易に行うことができる。さらに、オフセット調整手段と単純なコンパレータのみで構成されるため、複雑な回路構成にする必要もない。
【００６７】
また、フィルタ周波数特性テスト装置２０を用いることで、既存のフィルタ１１の周波数特性のテストを容易化できる。また、フィルタ周波数特性テスト装置２０側の電源電圧を、フィルタ１１を備えたチップ３０より高く取ることで、調整範囲が広がり、測定がより容易になり得る。
【００６８】
その他、本発明は、上記各実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で、種々に変形することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果の欄で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成図。
【図２】本発明の第１の実施形態に係るフィルタ周波数特性の検出にあたり、オフセットを与える前後のコンパレータの出力信号のデューティ比を示す図。
【図３】発明の第１の実施形態に係るコンパレータの入力信号における周波数及び振幅の関係図。
【図４】本発明の第１の実施形態に係るコンパレータの出力信号におけるデューティ比の周波数依存性を示す図。
【図５】本発明の第１の実施形態に係るデューティ比と振幅の関係を説明するための図。
【図６】本発明の第１の実施形態に係るデューティ比と振幅の関係を説明するための図。
【図７】本発明の第２の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成図。
【図８】本発明の第３の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成図。
【図９】本発明の第４の実施形態に係るフィルタ周波数特性検出装置の概略的な構成図。
【図１０】本発明の第５の実施形態に係るフィルタ周波数特性テスト装置の概略的な構成図。
【図１１】本発明の第５の実施形態に係るフィルタ周波数特性テスト装置の概略的な構成図。
【符号の説明】
【００７０】
１０…フィルタ周波数特性検出装置、１１…フィルタ、１２…オフセット調整回路、１３…コンパレータ、１４…デューティ比検出回路、１５…周波数特性調整回路、１６…ＤＡ変換器、１７…コントローラ、２０…フィルタ周波数特性テスト装置、２１、２２、２３、２４、２５、３１、３２、３３…端子、３０…チップ、Ｃ１、Ｃ２…コンデンサ。
【図１】
2009065554.tif 000003
【図２】
2009065554.tif 000004
【図３】
2009065554.tif 000005
【図４】
2009065554.tif 000006
【図５】
2009065554.tif 000007
【図６】
2009065554.tif 000008
【図７】
2009065554.tif 000009
【図８】
2009065554.tif 000010
【図９】
2009065554.tif 000011
【図１０】
2009065554.tif 000012
【図１１】
2009065554.tif 000013