(57)【要約】【課題】入出力信号の周波数が異なる被試験器の周波数を測定することができ、トラッキングジェネレータおよびその周辺回路の構成を簡略化することができ、被試験器の入出力信号の特性を同時に測定することができる周波数特性測定装置を提供すること。【解決手段】スペクトラムアナライザ１０は、２つの入力信号のそれぞれに対して、第１あるいは第２の周波数範囲に対応する周波数掃引を行って周波数特性を測定する第１および第２の測定手段としてのミキサ１１０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部１２０、２２０と、第１の測定手段での周波数掃引動作に連動して動作するトラッキングジェネレータ部としてのミキサ１３０、発振器１３２と、測定開始タイミングを指定するトリガ信号を発生するトリガ発生部３１０とを備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の入力信号に対して、第１の周波数範囲に対応する周波数掃引を行って周波数特性を測定する第１の測定手段と、
第２の入力信号に対して、第２の周波数範囲に対応する周波数掃引を行って周波数特性を測定する第２の測定手段と、
前記第１の測定手段での周波数掃引動作に連動して動作し、周波数特性の測定対象となる前記第１の入力信号と同じ周波数を有する出力信号をトラッキングジェネレータ部と、
前記第１および第２の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定するトリガ信号を発生するトリガ発生手段と、
を備えることを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記トラッキングジェネレータ部の出力信号を前記第１の入力信号として前記第１の測定手段に入力することを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項３】
請求項１または２において、
前記第２の周波数範囲は、前記第１の周波数範囲に対して所定値だけずらして設定されており、
前記トリガ発生手段が発生する前記トリガ信号に応じて、前記第２の測定手段における周波数掃引と、前記第１の測定手段における周波数掃引に連動する前記トラッキングジェネレータ部による出力信号の周波数掃引を同時に開始することを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかにおいて、
前記第１および第２の測定手段のそれぞれは、周波数掃引を行う局部発振器と、前記局部発振器から出力される局部発振信号を用いて前記入力信号に対して周波数変換を行う第１のミキサと、前記第１のミキサから出力される中間周波信号から所定周波数の信号成分を抽出する中間周波フィルタとを備え、
前記トラッキングジェネレータ部は、前記第１の測定手段に含まれる前記局部発振器から出力される局部発振信号を用いて周波数変換を行う第２のミキサを備えることを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかにおいて、
前記第１および第２の測定手段のそれぞれは、前記中間周波フィルタを用いて抽出された信号成分の特性値を測定する特性値測定手段をさらに含んでいることを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項６】
請求項１〜４のいずれかにおいて、
前記第１および第２の測定手段のそれぞれに含まれる前記中間周波フィルタを用いて抽出された信号成分の特性値を測定する特性値測定手段をさらに備えることを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項７】
請求項５または６において、
前記第１および第２の測定手段のそれぞれに対応して得られた前記特性値を表示部に同時に表示する表示処理手段をさらに備えることを特徴とする周波数特性測定装置。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれかにおいて、
前記トラッキングジェネレータ部の出力信号の周波数掃引方向と前記第２の測定手段の周波数掃引方向は、互いに同じあるいは反対のいずれにも設定可能であることを特徴とする周波数特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、トラッキングジェネレータの機能を備えるスペクトラムアナライザ等において入力信号の周波数特性等を測定する周波数特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来からトラッキングジェネレータを内蔵し、トラッキングジェネレータの出力信号の周波数掃引範囲と、周波数特性を測定する際の周波数掃引範囲とを別々に設定することができるスペクトラムアナライザが知られている（例えば、特許文献１参照。）。このスペクトラムアナライザを用いることにより、出力周波数が入力周波数に対して異なる周波数コンバータ等の被試験器の周波数特性を測定することが可能になる。
【特許文献１】特開平７−２６０８５２号公報（第６−８頁、図１−６）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、トラッキングジェネレータを備える一般のスペクトラムアナライザでは、出力周波数と入力周波数が同じである被試験器の周波数特性を測定（通常測定）するために用いられる場合が多いため、特許文献１に開示されたスペクトラムアナライザでは、この通常測定と周波数コンバータ等に対応する測定の両方を選択的に行うために、トラッキングジェネレータあるいはその周辺回路が複雑になるという問題があった。
【０００４】
また、特許文献１を含む従来のスペクトラムアナライザは、被試験器の出力信号の周波数特性を測定することはできるが、被試験器に入力される信号の周波数特性を同時に測定することができず、入出力信号の特性を比較することができないという問題があった。
【０００５】
本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、入出力信号の周波数が異なる被試験器の周波数を測定することができ、トラッキングジェネレータおよびその周辺回路の構成を簡略化することができ、被試験器の入出力信号の特性を同時に測定することができる周波数特性測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決するために、本発明の周波数特性測定装置は、第１の入力信号に対して、第１の周波数範囲に対応する周波数掃引を行って周波数特性を測定する第１の測定手段と、
第２の入力信号に対して、第２の周波数範囲に対応する周波数掃引を行って周波数特性を測定する第２の測定手段と、第１の測定手段での周波数掃引動作に連動して動作し、周波数特性の測定対象となる第１の入力信号と同じ周波数を有する出力信号をトラッキングジェネレータ部と、第１および第２の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定するトリガ信号を発生するトリガ発生手段とを備えている。周波数範囲を別々に設定可能な第１および第２の測定手段を備えることにより、第１の測定手段に連動するトラッキングジェネレータ部に接続された周波数コンバータ等の被試験器の出力信号を第２の測定手段に入力してその周波数特性を測定することが可能になる。また、トラッキングジェネレータ部自体は一般の構成をそのまま用いることができるため、構成を簡略化することができる。
【０００７】
また、上述したトラッキングジェネレータ部の出力信号を第１の入力信号として第１の測定手段に入力することが望ましい。これにより、トラッキングジェネレータ部に接続された被試験器の入力信号と出力信号のそれぞれの周波数特性を同時に測定することが可能になる。
【０００８】
また、上述した第２の周波数範囲は、第１の周波数範囲に対して所定値だけずらして設定されており、トリガ発生手段が発生するトリガ信号に応じて、第２の測定手段における周波数掃引と、第１の測定手段における周波数掃引に連動するトラッキングジェネレータ部による出力信号の周波数掃引を同時に開始することが望ましい。これにより、トラッキングジェネレータ部による出力信号の周波数掃引動作と、被試験器の出力信号が入力される第２の測定手段における周波数掃引動作とを連動させることが可能になる。
【０００９】
また、具体的には、上述した第１および第２の測定手段のそれぞれは、周波数掃引を行う局部発振器と、局部発振器から出力される局部発振信号を用いて入力信号に対して周波数変換を行う第１のミキサと、第１のミキサから出力される中間周波信号から所定周波数の信号成分を抽出する中間周波フィルタとを備え、トラッキングジェネレータ部は、第１の測定手段に含まれる局部発振器から出力される局部発振信号を用いて周波数変換を行う第２のミキサを備えている。
【００１０】
また、上述した第１および第２の測定手段のそれぞれは、中間周波フィルタを用いて抽出された信号成分の特性値を測定する特性値測定手段をさらに含んでいることが望ましい。
【００１１】
また、上述した第１および第２の測定手段のそれぞれに含まれる中間周波フィルタを用いて抽出された信号成分の特性値を測定する特性値測定手段をさらに備えることが望ましい。第１および第２の測定手段に対応した共通の特性値測定手段を用いることにより、部品点数削減にともなうコストの低減が可能となる。
【００１２】
また、上述した第１および第２の測定手段のそれぞれに対応して得られた特性値を表示部に同時に表示する表示処理手段をさらに備えることが望ましい。これにより、第１および第２の測定手段を用いて測定した被試験器の入出力信号の比較が容易となる。
【００１３】
また、上述したトラッキングジェネレータ部の出力信号の周波数掃引方向と第２の測定手段の周波数掃引方向は、互いに同じあるいは反対のいずれにも設定可能であることが望ましい。これにより、タイプ（極性）の異なる多種類の周波数コンバータ等の被試験器に対する測定が可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明を適用した一実施形態の周波数特性測定装置としてのスペクトラムアナライザについて、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０は、ミキサ１１０、１３０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部（中間周波処理部）１２０、２２０、発振器１３２、掃引制御部３００、トリガ発生部３１０、ＣＰＵ４００、表示部４１０、操作部４２０を含んで構成されている。
【００１５】
本実施形態のスペクトラムアナライザ１０は、被測定信号が入力される２つの入力端子ＩＮ１、ＩＮ２とトラッキングジェネレータ出力端子ＴＧ  ＯＵＴとを備え、２つの入力端子ＩＮ１、ＩＮ２に入力される２つの被測定信号ｆin１、ｆin２の周波数特性を同時に測定し、測定結果としてのスペクトラムを表示する。
【００１６】
一方の入力端子ＩＮ１から入力される被測定信号ｆin１の周波数特性を測定するために、ミキサ１１０、局部発振器１１２、ＩＦ部（中間周波処理部）１２０が備わっている。ミキサ１１０は、一方の入力端子ＩＮ１から入力された被測定信号ｆin１と、局部発振器１１２から出力される局部発振信号ｆOSC1とが入力されており、これらの被測定信号ｆin１と局部発振信号ｆOSC1とを混合した信号を出力する。局部発振器１１２は、発振周波数が所定範囲で掃引可能な局部発振信号ｆOSC1を出力する。
【００１７】
ＩＦ部１２０は、ミキサ１１０の出力信号に対してアナログおよびデジタルの信号処理を行って周波数特性を行うものであり、中間周波フィルタ１２２、ＡＤＣ（アナログ−デジタル変換器）１２４、ＤＳＰ（デジタル信号プロセッサ）１２６を含んでいる。中間周波フィルタ１２２は、ミキサ１１０の出力信号から所定の中間周波数成分（中間周波信号）のみを通過させる帯域通過フィルタである。ＡＤＣ１２４は、中間周波フィルタ１２２から出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。ＤＳＰ１２６は、デジタルデータに変換された中間周波信号に対して各種の信号処理を行うことにより、この中間周波信号の特性値（例えば信号レベルやビットエラー率など）を測定する。具体的には、ＤＳＰ１２６によって、中間周波信号に対する検波処理やイメージ除去処理などが行われる。
【００１８】
同様に、他方の入力端子ＩＮ２から入力される被測定信号ｆin２の周波数特性を測定するために、ミキサ２１０、局部発振器２１２、ＩＦ部２２０が備わっている。ミキサ２１０は、他方の入力端子ＩＮ２から入力された被測定信号ｆin２と、局部発振器２１２から出力される局部発振信号ｆOSC2とが入力されており、これらの被測定信号ｆin２と局部発振信号ｆOSC2とを混合した信号を出力する。局部発振器２１２は、発振周波数が所定範囲で掃引可能な局部発振信号ｆOSC2を出力する。
【００１９】
ＩＦ部２２０は、ミキサ２１０の出力信号に対してアナログおよびデジタルの信号処理を行って周波数特性を行うものであり、中間周波フィルタ２２２、ＡＤＣ２２４、ＤＳＰ２２６を含んでいる。中間周波フィルタ２２２は、ミキサ２１０の出力信号から所定の中間周波数成分（中間周波信号）のみを通過させる帯域通過フィルタである。ＡＤＣ２２４は、中間周波フィルタ２２２から出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。ＤＳＰ２２６は、デジタルデータに変換された中間周波信号に対して各種の信号処理を行うことにより、この中間周波信号の特性値を測定する。具体的には、ＤＳＰ２２６によって、中間周波信号に対する検波処理やイメージ除去処理などが行われる。
【００２０】
なお、上述した説明では周波数特性の測定に必要な概略的な構成のみが示されている。実際には、入力端子ＩＮ１とミキサ１１０の間や入力端子ＩＮ２とミキサ２１０の間には減衰器が備わっており、信号レベルの調整が行われる。また、周波数測定に必要な構成は、適宜要求仕様に合わせて変更することができるが、本発明を適用するために重要なことは同じ構成を２組備えることである。
【００２１】
また、出力端子ＴＧ  ＯＵＴから出力する信号（以後、この出力信号を「ＴＧ信号」と称する）を発生するために、ミキサ１３０と発振器１３２が備わっている。ミキサ１３０は、局部発振器１１２から出力された局部発振信号ｆOSC1と、発振器１３２の出力信号とが入力されており、これらの信号を混合した信号を出力する。発振器１３２は、固定の発振周波数を有している。例えば、ＩＦ部１２０内の中間周波フィルタ１２２から出力される中間周波信号の周波数と同じ発振周波数を有している。これにより、局部発振器１１２から所定の周波数の局部発振信号ｆOSC1が出力されたときに、出力端子ＴＧ  ＯＵＴから出力されるＴＧ信号の周波数と、中間周波フィルタ１２２から出力される中間周波信号に対応して入力端子ＩＮ１に入力される被測定信号ｆin１の周波数とが一致する。
【００２２】
掃引制御部３００は、トリガ信号が入力されたときに、２つの局部発振器１１２、２１２に同時に指示を送って、これら２つの局部発振器１１２、２１２によって同じあるいは異なる周波数の局部発振信号が同じタイミングで出力されるように掃引制御を行う。具体的には、一方の局部発振器１１２と可変分周器とが含まれる第１のＰＬＬ回路（図示せず）と、他方の局部発振器２１２と可変分周器とが含まれる第２のＰＬＬ回路（図示せず）とが含まれており、掃引制御部３００によってこれら２つの可変分周器の分周比を同時に同じ値を維持しながら、あるいは、所定の差を維持しながら変更することで、２つの局部発振器１１２、２１２の局部発振信号の周波数掃引が行われる。トリガ発生部３１０は、利用者によって測定の開始が指示されたときにトリガ信号を発生する。このトリガ信号は掃引制御部３００に入力される。
【００２３】
ＣＰＵ４００は、スペクトラムアナライザ１０の全体を制御するとともに、ＩＦ部１２０、２２０から出力される２つの測定結果（特性値）を表示部４１０に同時に表示したり、操作部４２０を用いた利用者の指示に応じて測定条件を設定する処理を行う。操作部４２０は、利用者によって操作される複数のスイッチや操作ボリューム等を備えている。これらを操作することにより、測定条件の設定や測定開始、終了等の指示が利用者によって行われる。
【００２４】
上述したミキサ１１０、局部発振器１１２、ＩＦ部１２０が第１の測定手段に、ミキサ２１０、局部発振器２１２、ＩＦ部２２０が第２の測定手段に、ミキサ１３０、発振器１３２がトラッキングジェネレータ部に、トリガ発生部３１０がトリガ発生手段に、ＤＳＰ１２６、２２６が特性値測定手段に、ＣＰＵ４００が表示処理手段にそれぞれ対応する。
【００２５】
本実施形態のスペクトラムアナライザ１０はこのような構成を有しており、次に、外部に被試験器（ＤＵＴ）として周波数コンバータを接続してその周波数特性を測定する場合の接続および動作について説明する。
【００２６】
図２は、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０とＤＵＴ５００との接続形態とＤＵＴ５００の内部構成を示す図である。ＤＵＴ５００は、周波数コンバータ（例えばダウンコンバータ）であり、ミキサ５１０と、発振周波数がΔＦの発振器５２０とを含んで構成されている。ＤＵＴ５００の周波数特定を測定する場合には、ＤＵＴ５００の入力端子がスペクトラムアナライザ１０の出力端子ＴＧ  ＯＵＴに接続され、ＤＵＴ５００の出力端子がスペクトラムアナライザ１０の入力端子ＩＮ２に接続される。ＤＵＴ５００の内部では、ミキサ５１０は、スペクトラムアナライザ１０の出力端子ＴＧ  ＯＵＴから出力されるＴＧ信号（周波数Ｆin）と、発振器５２０から出力される信号（周波数ΔＦ）とが入力され、周波数がＦin−ΔＦの信号を出力する。この出力信号はスペクトラムアナライザ１０の入力端子ＩＮ２に入力される。なお、本実施形態では、ＤＵＴ５００に入力される信号の周波数特性も同時に測定するために、スペクトラムアナライザ１０の出力端子ＴＧ  ＯＵＴが、もう一方の入力端子ＩＮ１に接続されている。
【００２７】
図３は、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０の動作手順を示す流れ図である。利用者の指示内容に応じた測定条件の設定が行われた後（ステップ１００）、ＣＰＵ４００は、測定開始が指示されたか否かを判定する（ステップ１０１）。本実施形態ではＤＵＴ５００（ダウンコンバータ）の周波数特性を測定するために、利用者は、ステップ１００において、一方の入力端子ＩＮ１に対応する周波数掃引範囲に対し、掃引幅が同じであって全体の周波数がΔＦだけ低周波側にシフトした周波数掃引範囲を、他方の入力端子ＩＮ２に対応する周波数掃引範囲として設定する必要がある。測定開始が指示されない場合にはステップ１０１の判定において否定判断が行われ、この判定が繰り返される。
【００２８】
また、測定開始が指示されるとステップ１０１の判定において肯定判断が行われる。次に、トリガ発生部３１０は、トリガ信号を発生する（ステップ１０２）。例えば、パルス状の信号を出力したり、信号のレベルをローレベルからハイレベルに変化（あるいはハイレベルからローレベルに変化）させることでトリガ信号を発生する場合が考えられる。
【００２９】
このトリガ信号が入力されると、掃引制御部３００は、２つの局部発振器１１２、２１２に同時に掃引指示を送り、同じ開始タイミングで２つの局部発振器１１２、２１２による周波数掃引動作を行うとともに、出力端子ＴＧ  ＯＵＴからＴＧ信号の出力を行う（ステップ１０３、１０４）。この周波数掃引動作と並行して、ＩＦ部１２０、２２０のそれぞれによって中間周波信号の特性値が測定される（ステップ１０５）。
【００３０】
また、掃引制御部３００は、掃引終了か否かを判定しており（ステップ１０６）、掃引周波数が測定範囲の上限値（あるいは下限値）に達するまでは否定判断を行い、ステップ１０４に戻って周波数掃引を継続する。また、掃引周波数が測定範囲の上限値（あるいは下限値）に達するとステップ１０６の判定において肯定判断が行われる。次に、ＣＰＵ４００は、２つのＩＦ部１２０、２２０にそれぞれの測定結果を表示部４１０に表示し（ステップ１０７）、ＤＵＴ５００に対する一連の周波数特性の測定が終了する。
【００３１】
図４は、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０の表示例を示す図であり、２つの測定結果を表示画面内に並べて表示した場合が示されている。図４に示すように、表示部４１０の表示画面には、２つの表示領域Ａ、Ｂが含まれている。一方の表示領域Ａは、一方のＩＦ部１２０を用いた測定結果（ＤＵＴ５００に入力されるＴＧ信号の周波数特性）を表示するためのものであり、周波数範囲ｆ11〜ｆ12の周波数スペクトラムが表示されている。また、他方の表示領域Ｂは、他方のＩＦ部２２０を用いた測定結果（ＤＵＴ５００の出力信号の周波数特性）を表示するためのものであり、表示領域Ａの周波数範囲ｆ11〜ｆ12に対して全体的にΔＦだけ低周波側にシフトした周波数範囲ｆ21〜ｆ22（ｆ11−ΔＦ＝ｆ21、ｆ12−ΔＦ＝ｆ22）の周波数スペクトラムが表示されている。
【００３２】
このように、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０では、周波数範囲を別々に設定可能な２つの測定手段を備えることにより、一方の測定手段に連動するトラッキングジェネレータ部に接続された周波数コンバータ等のＤＵＴ５００の出力信号を他方の測定手段に入力してその周波数特性を測定することが可能になる。また、トラッキングジェネレータ部自体は一般の構成をそのまま用いることができるため、構成を簡略化することができる。入力信号ＩＮ１と出力端子ＴＧ  ＯＵＴを直結するだけで、ＤＵＴ５００の入力信号と出力信号のそれぞれの周波数特性を同時に測定することが可能になる。また、ＤＵＴ５００の入力信号と出力信号の各周波数特性を同時に測定してその結果を並べて表示することにより、各周波数特性の比較が容易となる。
【００３３】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変形実施が可能である。例えば、上述した実施形態ではＤＵＴ５００がダウンコンバータの場合について説明したが、ＤＵＴ５００がアップコンバータの場合であっても本発明を適用することができる。この場合には、ＤＵＴ５００の内部では、ミキサ５１０は、スペクトラムアナライザ１０の出力端子ＴＧ  ＯＵＴから出力されるＴＧ信号（周波数Ｆin）と、発振器５２０から出力される信号（周波数ΔＦ）とが入力され、周波数がＦin＋ΔＦの信号を出力する。
【００３４】
また、上述した実施形態では、出力端子ＴＧ  ＯＵＴから出力されるＴＧ信号の周波数が低周波側から高周波側に周波数掃引されたときに、ＤＵＴ５００の出力周波数も低周波側から高周波側に変化する場合について説明したが、周波数コンバータによっては、出力端子ＴＧ  ＯＵＴから出力されるＴＧ信号の周波数が低周波側から高周波側に周波数掃引されたときに、ＤＵＴ５００の出力周波数が高周波側から低周波側に変化するものもある。このようなＤＵＴ５００に対しても本発明を適用することができる。例えば、図３のステップ１００の測定条件の設定において、入力端子ＩＮ１に対応する周波数掃引方向と入力端子ＩＮ２に対応する周波数掃引方向が互いに反対になるようにすればよい。この設定内容に基づく周波数掃引が掃引制御部３００によって行われる。また、これらの周波数掃引方向の組み合わせ（同じにするか反対にするか）は、操作部４２０を用いて利用者が任意に設定することができる。これにより、タイプ（極性）の異なる多種類の周波数コンバータに対する測定が可能になる。
【００３５】
また、上述した実施形態では、ＤＵＴ５００として周波数コンバータを考えたが、入力信号の周波数に対して出力信号の周波数がΔＦだけずれるものであれば、周波数コンバータ以外のＤＵＴ５００についても周波数特性を測定することができる。
【００３６】
また、図４に示した表示例では、２つの測定結果を並べて表示したが、互いに識別可能な状態（例えば色を異ならせる）で重ねて表示するようにしてもよい。
【００３７】
また、上述した実施形態では、２つの入力信号の周波数特性を同時に測定するために同じ２組の構成を備えるようにしたが、３つ以上の入力信号の周波数特性を同時に測定するために同じ構成を３組以上備えるようにしてもよい。この場合には、いずれかの組にトラッキングジェネレータ部が対応するようにすればよい。
【００３８】
また、上述した実施形態では、２つのＤＳＰ１２６、２２６を備えるようにしたが、処理能力に余裕がある場合には、他方のＤＳＰ２２６を省略して一方のＤＳＰ１２６でＤＳＰ２２６の処理も行うようにしてもよい。これにより、部品点数削減にともなうコストの低減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。
【図２】本実施形態のスペクトラムアナライザとＤＵＴとの接続形態とＤＵＴの内部構成を示す図である。
【図３】本実施形態のスペクトラムアナライザの動作手順を示す流れ図である。
【図４】本実施形態のスペクトラムアナライザの表示例を示す図である。
【符号の説明】
【００４０】
１０  スペクトラムアナライザ
１１０、１３０、２１０、５１０  ミキサ
１１２、２１２  局部発振器
１２０、２２０  ＩＦ部（中間周波処理部）
１２２、２２２  中間周波フィルタ
１２４、２２４  ＡＤＣ（アナログ−デジタル変換器）
１２６、２２６  ＤＳＰ（デジタル信号プロセッサ）
１３２、５２０  発振器
３００  掃引制御部
３１０  トリガ発生部
４００  ＣＰＵ
４１０  表示部
４２０  操作部
５００  ＤＵＴ（被試験器）
【図１】
2009186323.tif 000003
【図２】
2009186323.tif 000004
【図３】
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【図４】
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