(57)【要約】【課題】検出流路に塵埃が付着した生体サンプル分析プレートを使用しても生体サンプルを正確に検出できる生体サンプル分析装置を提供する。【解決手段】生体サンプルを分析するための生体サンプル分析プレートと、前記生体サンプル分析プレートを回転させる回転手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定面を照射するための塵埃検出用光源と、前記測定面よりの反射光を検出するための光検出器と、前記光検出器からの検出信号が所定の閾値よりも大であれば塵埃検出信号を出力する塵埃検出器と、前記生体サンプル分析プレートの測定面の塵埃を除去する塵埃除去手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定前に前記塵埃検出器信号が入力されたときに塵埃除去手段に塵埃除去指示を行なう塵埃制御部と、を備えた生体サンプル分析装置。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
生体サンプルを分析するための生体サンプル分析プレートと、
前記生体サンプル分析プレートを回転させる回転手段と、
前記生体サンプル分析プレートの測定面を照射するための塵埃検出用光源と、
前記測定面よりの反射光を検出するための光検出器と、
前記光検出器からの検出信号が所定の閾値よりも大であれば塵埃検出信号を出力する塵埃検出器と、
前記生体サンプル分析プレートの測定面の塵埃を除去する塵埃除去手段と、
前記生体サンプル分析プレートの測定前に前記塵埃検出器信号が入力されたときに塵埃除去手段に塵埃除去指示を行なう塵埃制御部と、
を備えた生体サンプル分析装置。
【請求項２】
前記生体サンプルは、蛍光標識されている請求項１に記載の生体サンプル分析装置。
【請求項３】
前記塵埃検出用光源の波長は、前記蛍光標識の蛍光波長を含む請求項２に記載の生体サンプル分析装置。
【請求項４】
前記塵埃検出用光源は、平行光である請求項１に記載の生体サンプル分析装置。
【請求項５】
前記光検出器で生体サンプルに標識させた蛍光標識を検出する請求項１に記載の生体サンプル分析装置。
【請求項６】
前記塵埃検出用光源は、前記反射光が前記光学ユニットに入射しない位置に配置されている請求項４に記載の生体サンプル分析装置。
【請求項７】
前記閾値は、清浄な前記生体サンプル分析プレートを１０回転させたときの前記塵埃検出器に入力された信号の平均値にその略２０％を加算する値とする請求項１に記載の生体サンプル分析装置。
【請求項８】
前記生体サンプル分析装置は、さらに前記生体サンプル分析プレートが一回転する毎に一個の回転位置パルスを出力するための回転検出器を備え、
前記塵埃制御部は、前記塵埃除去指示を行なった後の前記回転位置パルスから次の回転位置パルスの間に前記塵埃検出信号が無いときに前記塵埃除去手段に塵埃除去を解除する請求項１に記載の生体サンプル分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光標識を利用してＤＮＡやタンパクその他の生体サンプルを検出して分析する生体サンプル分析装置に関し、特に、検出流路に付着した塵埃の有無を判別、除去することで、正確に生体サンプル検出を行う装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＤＮＡやタンパク質などの生体サンプルを検出する手法として、蛍光標識を利用する蛍光検出法が採用されている。励起光源や光学フィルタや受光素子等からなる光学ユニットにより、ラジオアイソトープを使わず、安全、安価に生体サンプルの測定が可能であることから、蛍光検出法は酵素免疫測定、電気泳動、共焦点走査型蛍光顕微鏡法など、様々な生体サンプルの検出に応用されている。
【０００３】
蛍光検出法は、励起光を照射することで生体サンプルに標識した蛍光標識からの蛍光信号を検出することで生体サンプルの有無や量を測定する方法である。例えばＣｙ５は波長６３５ｎｍの励起光に対して、波長６７０ｎｍの蛍光を発する蛍光標識である。Ｃｙ５を標識した生体サンプルを検出するためには、生体サンプルへ６３５ｎｍの励起光を照射し、生体サンプルからの光を６７０ｎｍ付近の光のみ透過する光学フィルタを介して受光素子で検出する。蛍光標識には様々なものがあり、それぞれ蛍光標識の励起波長と蛍光波長に対応した励起光源と光学フィルタを選定することで、様々な蛍光標識を標識した生体サンプルを検出できる。
【０００４】
蛍光検出を行う場合、生体サンプルを支持する基板やセルが必要であるが、生体サンプルが微量な場合でも測定できるように微細な流路を形成した生体サンプル分析プレートと、前記生体サンプル分析プレートを用いて検出を行う生体サンプル分析装置が出てきている。
【０００５】
この生体サンプル分析装置によれば、緩衝液と生体サンプルを注入した生体サンプル分析プレートを装置に装着すると、高速モータにより生体サンプル分析プレートを回転させて生体サンプル分析プレート内の密閉流路の一部へ緩衝液を充填し、前記緩衝液に対して生体サンプルを定量添加する。その後、緩衝液に所定の電位勾配をかけて生体サンプルを電気泳動させ、泳道中の生体サンプルに励起光を照射して蛍光の強度分布を検出することにより、生体サンプルの泳道状態を観察することができる（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開２００７−１８７５８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の生体サンプル分析装置では生体サンプル分析プレートの検出流路に塵埃が付着すると、生体サンプルに照射した励起光が塵埃により阻害されるため、生体サンプルの検出感度が低下する。そのため生体サンプルを正確に分析することができないという課題を有していた。
【０００７】
本発明は、前述した問題を解決するためになされたものであり、検出流路に塵埃が付着した生体サンプル分析プレートを使用しても生体サンプルの正確な検出が得られる生体サンプル分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記従来の課題を解決するために、本発明の生体サンプル分析装置は、生体サンプルを分析するための生体サンプル分析プレートと、前記生体サンプル分析プレートを回転させる回転手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定面を照射するための塵埃検出用光源と、前記測定面よりの反射光を検出するための光検出器と、前記光検出器からの検出信号が所定の閾値よりも大であれば塵埃検出信号を出力する塵埃検出器と、前記生体サンプル分析プレートの測定面の塵埃を除去する塵埃除去手段と、前記生体サンプル分析プレートの測定前に前記塵埃検出器信号が入力されたときに塵埃除去手段に塵埃除去指示を行なう塵埃制御部と、を備えたことを特徴としたものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の生体サンプル分析装置によれば、検出流路に塵埃が付着した生体サンプル分析プレートを使用しても生体サンプルの検出感度が低下することなく正確に生体サンプルの検出を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下に、本発明の生体サンプル分析装置の実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
【００１１】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１で使用する生体サンプル分析プレートの構成図である。生体サンプル分析プレート１００は基板１０１とフィルム１０２から構成されており、微細な溝を形成させた基板１０１にフィルム１０２を貼り付けることで８つの独立した検出流路１０３ａ〜１０３ｈを形成している。本実施例では生体サンプルを検出流路１０３ａ〜１０３ｈで電気泳動させ、その移動度を測定して生体サンプルの分析を行う。検出流路１０３ａ〜１０３ｈは中心孔１０４を中心に同心円状に配置されているので、生体サンプル分析プレート１００を回転させると１つの蛍光検出器で検出流路１０３ａ〜１０３ｈをスキャンすることができる。ここで基板１０１は光が透過しないよう黒色など不透明なものが良く、フィルム１０２は密閉流路中の蛍光を検出するためにできるだけ薄く、光の透過性の良いものが好ましい。また、生体サンプル分析プレート１００のフィルム面は光を当てた時に散乱しないようにできるだけ滑らかな平面であるのが好ましい。
【００１２】
図２は、本発明の実施の形態１における生体サンプル分析装置の主要な部分を示した構成図である。生体サンプル分析プレート１００はフィルム面を蛍光検出器２００へ向けて生体サンプル分析装置へ装着させている。本発明の生体サンプル分析装置は、生体サンプル分析プレートを回転させる機能と、生体サンプルに修飾させた蛍光を検出する機能と、検出流路に付着した塵埃を検出、除去する機能とを有する。
【００１３】
まず、回転機能を有する部分から説明する。生体サンプル分析プレート１００を回転軸１とクランパ２とで保持し、モータ３で回転軸１を回転させ、保持している生体サンプル分析プレート１００を回転させる。モータ３の回転数は、コントローラ４よりモータ制御回路５に対して設定し、モータ３の回転数の制御を行う。また、生体サンプル分析プレート１００が1回転したかどうかの確認にはインデックスセンサ６からの信号を用いる。インデックスセンサ６からの信号は回転軸１が１回転すると１個のパルスを発生し、インデックス検出回路７で２値化されコントローラ４へ信号が送られる。後に蛍光検出機能の部分については説明を行うが、蛍光検出を行う際にインデックスセンサ６の検出位置からスキャン動作を行うことで生体サンプル分析プレート１００の検出流路１０３ａ〜１０３ｈのうち、どの検出流路をスキャンしているかの特定を行うこともできる。
【００１４】
次に、蛍光を検出する機能を有する部分について説明を行う。本発明の実施の形態１においては、生体サンプルに標識させた蛍光標識がＣｙ５であるとする。図２において蛍光検出ユニット２００は複数の光学部品より構成され、生体サンプル分析装置１００へ励起光を照射し、蛍光標識させた生体サンプルからの蛍光を検出する。この蛍光検出ユニット２００の構成について励起光照射側、蛍光検出側の順に説明する。
【００１５】
励起光発光素子２０１として生体サンプルに標識した蛍光標識Ｃｙ５の励起波長領域である発振波長６３５ｎｍの半導体レーザを採用した。励起光発光素子２０１からの光を励起光集光用レンズ２０２で略平行光にし、励起フィルタ２０３を透過させる。励起フィルタ２０３では励起光発光素子２０１に含まれる波長成分のうち生体サンプルに標識させた蛍光標識の蛍光波長に相当する波長成分をカットし、励起波長成分のみを透過させる。そしてリレーレンズ２０４で略平行光の励起光を集光状態とし、４５度の傾きで配置したダイクロイックミラー２０５で反射させ９０度方向を変える。なお、ダイクロイックミラー２０５では、励起波長成分を反射し、蛍光波長成分を透過させる波長特性を持つ。対物レンズ２０６で、集光状態となった励起光を略平行光にして生体サンプル分析プレート１００の検出流路へ励起光を照射する。このとき、リレーレンズ６８による集光点を対物レンズ２０６の焦点位置とすることにより対物レンズ出射光は平行光となる。なお、励起光パワーの設定は、発光量制御回路８に対してコントローラ４より行う。発光量制御回路８はコントローラ４で設定した電流値で励起光発光素子２０１を駆動する。
【００１６】
次に、蛍光検出の動作について説明する。励起光を照射した状態で生体サンプル分析プレート１００を回転させると検出流路１０３ａ〜１０３ｈに励起光を順に当てることができる。このとき、検出流路中の生体サンプルに励起光が当たると生体サンプルに標識させた蛍光が蛍光を発する。発生した蛍光は、対物レンズ２０６によって平行光にされ、ダイクロイックミラー２０５を透過した後、蛍光フィルタ２０７で蛍光波長成分のみが透過する。この蛍光を蛍光集光用レンズ２０８で集光させ、スリット２０９で検出したい目的の領域以外の迷光成分を遮光する。受光素子２１０で受光した光は電気信号に変換されるため、光量検出回路９で変換された蛍光の微弱な電気信号を増幅する。このように、生体サンプルより発生した蛍光は電気信号として検出する。コントローラ４は光量検出回路９の蛍光の電気信号の信号処理を行い、図示していないホストコンピュータへ測定データを転送し、検出流路ごとに波形表示する。
【００１７】
次に塵埃検出、除去機能を有する部分について説明する。図３は、検出流路中を電気泳動する生体サンプルを、３０秒ごとに蛍光検出器２００でスキャンし、結果を重ね合わせた図である。縦軸は検出強度であり、光量検出回路９の出力をＡＤ変換した値を示す。横軸は検出流路の位置を測定ポイントで表示している。ここで、０は検出流路の始点を示し、２００は終点を示す。検出流路の表面（フィルム面）に塵埃が付着していないときは、図３（ａ）のようにそれぞれの測定ポイントで同様な検出強度のピークが検出されるが、検出流路の表面に塵埃が付着しているときは図３（ｂ）のピーク５０１のように検出強度が本来より低下する。
【００１８】
これは、図３（ｂ）の測定ポイント１００〜１２０の間に塵埃が付着して、生体サンプルへ照射するための励起光を阻害しているためである。また、生体サンプルから発せられる蛍光を検出する動作においても、塵埃が集光を阻害するため検出感度が低下し、正確に生体サンプルの分析を行うことができない。別の場合では、塵埃が蛍光を発することもある。蛍光検出器では生体サンプルと同じように塵埃の蛍光を検出し混同してしまうため、正確に生体サンプルの分析を行うことができない。
【００１９】
このように、検出流路に付着する塵埃が蛍光検出に与える影響は大きい。そのため、本発明では生体サンプル分析プレートの検出流路を測定する前に、塵埃による汚染の有無を検出し、汚染があれば、除去することで正確な蛍光検出を可能にしている。以下、本発明の生体サンプル分析装置の塵埃検出、除去動作について説明する。
【００２０】
まず、塵埃検出の動作から説明する。塵埃検出動作では、生体サンプルの測定前に生体サンプル分析プレート１００を低速で回転させながら、塵埃検出用光源３００から発した照射光を生体サンプル分析プレート１００の検出流路に当て、その反射光を蛍光検出ユニット２００で検出する。これにより生体サンプル分析プレート１００の検出流路１０３ａ〜１０３ｈの表面全てにわたって塵埃の有無を検出できる。
【００２１】
ここで、塵埃検出用光源３００の照射光は塵埃検出用発光素子３０１からの光をスリット３０２で制限し、塵埃検出用照射光集光レンズ３０３で略平行光としている。また、検出流路へ照射する光量の調整は発光量制御回路１０に対してコントローラ４で設定し、発光量制御回路１０がコントローラ４で設定した電流値で塵埃検出用発光素子３０１を駆動する。塵埃検出用発光素子３０１には生体サンプルに標識した蛍光標識の蛍光波長を含む波長特性の発光素子を選択し、塵埃検出用光源３００の照射光の反射光を蛍光検出器で検出できるようにしている。
【００２２】
塵埃検出用光源３００の照射光を生体サンプル分析プレートの検出流路に当てる角度は、生体サンプル分析プレート１００の水平面を反射面として塵埃検出用光源３００を生体サンプルプレート１００の検出流路に照射させたとき、反射光が対物レンズ２０６で集光されない角度である。前述した条件を満たせばどのような照射角度でも良いので、生体サンプルプレート１００の検出流路が滑らかで鏡面状態であると考えれば入射角と反射角の関係から容易に照射角度の設定を行える。
【００２３】
この構成において、塵埃の無い場合は検出流路の表面状態が滑らかであるため反射光が対物レンズ２０６に集光されることなく、スキャンを行っても検出波形のレベルは同じ出力レベルを保ったままである。しかし、図２のように検出流路の表面に塵埃５００が付着している場合は検出流路の表面状態が凹凸となり照射光が様々な方向へ反射（散乱）するため、反射光の一部が対物レンズ２０６で集光される。そのため塵埃の付着しているところで検出波形のレベル変化が起きる。この検出波形を比較器１１で予め決めておいた閾値と比較し、２値化してコントローラ４へ導入する。本実施例では検出流路に塵埃が付着していない生体サンプル分析プレートを１０回転させた時の光量検出回路出力信号１３の平均値を求め、前記平均値と、前記平均値に２０％を乗じた値とを加算した値を閾値とした。
ここで、前述では塵埃検出用光源３００を平行光の照射できる構成としていたが、実際には平行光を照射できる構成にしないで、ＬＥＤのみ、または半導体レーザのみに置き換えることも可能である。ここで気をつけなければいけないことは、平行光でない光を照射するため生体サンプル分析プレート１００の検出流路の表面状態が滑らかな状態（塵埃が付着していない状態）であっても、照射光の反射光が対物レンズ２０６で集光されるということである。そのため、検出流路の表面状態が滑らかな状態での検出波形がオーバーレンジとならないよう塵埃検出用光源３００の駆動電流、配置を考慮する必要がある。
【００２４】
本発明の実施の形態１では、塵埃検出用光源３００として７００ｎｍ付近にピーク波長を持つＬＮ２１６ＲＰＨ（松下電器産業株式会社半導体社製）を用い、対物レンズ２０６のプレート１００側の焦点位置から、下方（対物レンズ２０６側へ）１０ｍｍ、そこから側方（回転軸１側へ）２０ｍｍをＬＮ２１６ＲＰＨの発光の中心位置とし、塵埃検出動作を行った。ＬＮ２１６ＲＰＨの駆動電流を８ｍＡとし、生体サンプル分析プレート１００を６ｒｐｍで回転させながら塵埃検出動作を行ったときの実際の塵埃検出波形を図４に示す。生体サンプル分析プレートの検出流路の表面に塵埃が付着していた場合、図４のピーク５０２〜５０５のように塵埃の付着した測定ポイントで検出強度のレベルが高くなる。本図から塵埃有りと判断した波形は、５０２、５０３、５０４及び５０５である。
【００２５】
次にコントローラ４で塵埃有と判断された場合に起こる塵埃除去動作について説明する。塵埃検出動作で塵埃有とコントローラ４が判断した場合、コントローラ４がクリーナ４００を操作して塵埃除去動作を行う。クリーナ４００はステッピングモータ４０１、ステッピングモータ４０１の回転軸４０２、回転軸４０２に接合されたアーム４０３、アーム４０３の先端に備えられたクリーニングブラシ４０４とから構成される。
【００２６】
コントローラ４が塵埃除去を必要と判断したとき、クリーニングブラシ４０４が生体サンプル分析プレート１００の検出流路の表面に接触していない場合、コントローラ４はクリーニングブラシ４０４が生体サンプル分析プレート１００の検出流路の表面に接触する角度分のパルスをステッピングモータ制御回路１２に与え、ステッピングモータ４０１を駆動させる。図２はクリーニングブラシ４０４が生体サンプル分析プレート１００の検出流路の表面に接触しているときの状態を示している。この状態で、生体サンプル分析プレート１００を回転させれば、生体サンプル分析プレート１００の検出流路の表面に付着した塵埃をクリーニングブラシ４０４で物理的に除去することができる。
【００２７】
また、生体サンプル分析プレート１００は、クリーニングブラシ４０４が生体サンプル分析プレート１００の検出流路の表面と接触してから少なくとも１周回転させるようにする。塵埃除去動作を行っている間も、塵埃検出動作を行うため、検出流路の表面に塵埃が付着している間は塵埃除去動作が継続して行われ、塵埃検出にて塵埃が検出されなくなれば、クリーニングブラシ４０４が検出流路の表面から離脱し、塵埃検出、除去動作が終了する。ここで、クリーニングブラシ４０４はアーム４０３から取り外せ、交換できる構成とするのが好ましい。また、クリーナ４００は、前述した構成にしないでも、クリーニングブラシ４０４を任意に接触、非接触させることのできる構成であれば、置き換えることができる。また、クリーニングブラシ４０４は、ブラシのような形状にしないでもパッド形状など、検出流路の表面に接触させ生体サンプル分析プレート１００を回転させることで物理的に塵埃除去できる形状であればよく、その素材も検出流路の表面を傷つけない素材であれば置き換えることも可能である。
【００２８】
次に、塵埃検出、除去動作時のコントローラ４の処理について説明しておく。図５は、コントローラ４へ入力される電気信号のタイミング図である。図５において、１３は光量検出回路９出力信号、１４は比較器１１出力信号、１５はインデックス検出回路７出力信号を示す。また、図６に塵埃検出、除去動作時のコントローラ４のフローチャートを示す。
【００２９】
コントローラ４はインデックス検出回路出力信号１５のパルスをカウントする機能を有し、このカウント値と任意の整数ｎ０を比較し、ｎ≧ｎ０になった時塵埃検出、除去動作を終了する。そのため、塵埃検出、除去動作でコントローラ４は初めにインデックス検出回路出力信号７でインデックス位置を確認し、インデックス検出回路出力信号１５のパルスをカウントした値をクリア、任意の整数ｎ０には１を代入しておく。その後、比較器出力信号１４のパルスで発生する割り込みを有効にし、前述したように塵埃検出用光源３００を点灯させ、蛍光検出器２００で塵埃検出を行う。
【００３０】
そして、１回目のインデックス検出回路出力信号１５のパルスまでに比較器出力信号１４のパルスが入らなければｎ≧ｎ０となり塵埃検出、除去動作を終了する。
【００３１】
１回目のインデックス検出回路出力信号１５のパルスまでに比較器出力信号１４のパルスが入ってきた場合は、割り込みが発生して、インデックス検出回路出力信号１５のパルスのカウント値をクリアし、任意の整数ｎ０に２を代入する。そして、クリーニングブラシ４０４を生体サンプル分析プレート１００へ接触させる。これによりクリーニングブラシ４０４が生体サンプル分析プレート１００に接触してから少なくとも１周は生体サンプル分析プレート１００が回転し、塵埃除去を行う。
【００３２】
その後、インデックス検出回路出力信号１５のパルスを２回カウントする間に比較器出力信号１４のパルスが発生しなければｎ≧ｎ０となり、コントローラ４はクリーニングブラシ４０４を生体サンプル分析プレート１００から離脱させ塵埃検出、除去動作を終了する。比較器出力信号１４のパルスが発生した場合は前記パルスが発生してからさらにインデックス検出回路出力信号１５のパルスを２回カウントするまで塵埃除去動作が継続する。ただし、検出流路の表面についたキズなどは塵埃除去動作を継続して行っても除くことができないため、ある程度塵埃検出動作が継続するとき（例えば、トータルのインデックス検出回路出力信号１５のパルスカウントが４以上であるとき）はタイムアウトエラーを表示させ塵埃検出、塵埃除去動作を停止することが好ましい。
【００３３】
本発明の効果を図７（ａ）、図７（ｂ）を用いて説明する。図７（ａ）が塵埃除去動作前の塵埃検出波形、図７（ｂ）が塵埃除去動作後の塵埃検出波形を示した図である。塵埃除去動作後の検出波形図７（ｂ）では塵埃が完全に除去されたために、図７（ａ）において確認される５０１〜５０４のピーク（塵埃のピーク）が無くなっている。
【００３４】
以上のように、本発明の生体サンプル分析装置においては、生体サンプル分析プレートの検出流路に付着した塵埃を検出、除去する機能を持ち、生体サンプル検出の前に塵埃検出、除去動作を行うことで正確に生体サンプルの検出を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明にかかる生体サンプル分析装置は、生体サンプル分析プレートの検出流路に付着した塵埃を検出し、除去する機能を有し、蛍光標識を利用して生体サンプルを検出し、分析を行う装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の実施の形態１で使用する生体サンプル分析プレートの構成図
【図２】本発明の実施の形態１における生体サンプル分析装置の主要な部分を示した構成図
【図３】（ａ）検出流路の表面に塵埃が付着していないときの生体サンプル検出波形を示す図（ｂ）検出流路の表面に塵埃が付着しているときの生体サンプル検出波形を示す図
【図４】検出流路の表面に塵埃が付着しているときの塵埃検出波形を示す図
【図５】コントローラ４へ入力される電気信号のタイミング図
【図６】塵埃検出、除去動作時のコントローラ４のフローチャート
【図７】（ａ）塵埃除去動作前の塵埃検出波形を示す図（ｂ）塵埃除去動作後の塵埃検出波形を示す図
【符号の説明】
【００３７】
１  モータ
２  クランパ
３  モータ
４  コントローラ
５  モータ制御回路
６  インデックスセンサ
７  インデックス検出回路
８  発光量制御回路
９  光量検出回路
１０  発光量制御回路
１１  比較器
１２  モータ制御回路
１３  光量検出回路出力信号
１４  比較器出力信号
１５  インデックス検出回路出力信号
１００  生体サンプル分析プレート
１０１  基板
１０２  フィルム
１０３ａ〜１０３ｈ  検出流路
１０４  中心孔
２００  蛍光検出ユニット
２０１  励起光発光素子
２０２  励起光集光用レンズ
２０３  励起フィルタ
２０４  リレーレンズ
２０５  ダイクロイックミラー
２０６  対物レンズ
２０７  蛍光フィルタ
２０８  蛍光集光用レンズ
２０９  スリット
２１０  受光素子
３００  塵埃検出用光源
３０１  塵埃検出用発光素子
３０２  スリット
３０３  塵埃検出用照射光集光レンズ
４００  クリーナ
４０１  ステッピングモータ
４０２  回転軸
４０３  アーム
４０４  クリーニングブラシ
５００  塵埃
５０１  塵埃が付着した測定ポイントでの生体サンプル検出波形
５０２〜５０５  塵埃検出波形のピーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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