(57)【要約】【課題】高倍速再生下において、イコライザを強めにかけた場合の方が再生能力が高くなる光ディスクと弱めにかけた場合の方が再生能力が高くなる光ディスクとの２種類の光ディスクにおいて、高い再生能力での再生を両立させることが困難であった。【解決手段】所定のサイクルで、光ディスクにおけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新するＲＦイコライザ調整方法において、高倍速再生中には、光ディスクからエラーレート情報を取得し、取得したエラーレート情報が再生能力悪化を示しているときは再生中にイコライザゲインを補正する。これにより、再生中の光ディスクに対して適応的に常に最適なイコライザゲインに更新する。その結果、両方の光ディスクに対して、いずれも高い再生能力のもとで再生することが可能となる。【選択図】図１
2009054243.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定のサイクルで、ディスク状記録媒体におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新するＲＦイコライザ調整方法において、
高倍速再生中には、前記ディスク状記録媒体からエラーレート情報を取得するステップと、取得した前記エラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正するステップとを含むＲＦイコライザ調整方法。
【請求項２】
前記エラーレート情報としてエラー数を用いる請求項１に記載のＲＦイコライザ調整方法。
【請求項３】
前記エラーレート情報として、Ｃ２エラー数が少ないときのＣ１エラー数を用いる請求項１に記載のＲＦイコライザ調整方法。
【請求項４】
所定のサイクルで、ディスク状記録媒体におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新するＲＦイコライザ調整装置であって、
高倍速再生中に前記ディスク状記録媒体からエラーレート情報を取得する手段と、取得した前記エラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正する手段とを備えたＲＦイコライザ調整装置。
【請求項５】
前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてエラー数を取得し、
前記イコライザゲインを補正する手段は、前記エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正する請求項４に記載のＲＦイコライザ調整装置。
【請求項６】
前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてＣ２エラー数を取得し、前記Ｃ２エラー数が所定値に比べて少ないときに限りさらにＣ１エラー数を取得し、
前記イコライザゲインを補正する手段は、前記Ｃ１エラー数が前回に比べて増加したときは前記Ｃ１エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正する請求項４に記載のＲＦイコライザ調整装置。
【請求項７】
請求項４から請求項６までのいずれかに記載のＲＦイコライザ調整装置が搭載されている光ディスク再生装置。
【請求項８】
所定のサイクルで、ディスク状記録媒体におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する半導体装置であって、
高倍速再生中に前記ディスク状記録媒体からエラーレート情報を取得する手段と、取得した前記エラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正する手段とを備えたＲＦイコライザ調整用の半導体装置。
【請求項９】
前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてエラー数を取得し、
前記イコライザゲインを補正する手段は、前記エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正する請求項８に記載のＲＦイコライザ調整用の半導体装置。
【請求項１０】
前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてＣ２エラー数を取得し、前記Ｃ２エラー数が所定値に比べて少ないときに限りさらにＣ１エラー数を取得し、
前記イコライザゲインを補正する手段は、前記Ｃ１エラー数が前回に比べて増加したときは前記Ｃ１エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正する請求項８に記載のＲＦイコライザ調整用の半導体装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ（Compact Disc）プレイヤなどの光ディスク再生装置において、所定のサイクルで、ディスク状記録媒体（光ディスク）におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新するＲＦイコライザ調整方法に関する。詳しくは、高倍速再生下においても通常速再生時と同様の再生能力を保持するための技術に関する。また、ＲＦイコライザ調整装置、光ディスク再生装置、ＲＦイコライザ調整用の半導体装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクから読み取られたＲＦ（Radio Frequency）信号には複数の周波数成分（３Ｔ〜１１Ｔ）が含まれている。これらの周波数成分の組み合わせにより、光ディスクに書き込まれているデータが判別される。一般的に、ピックアップの周波数特性により、ＲＦ信号の周波数が高くなるにつれてＲＦ信号の振幅が小さくなる傾向を持つ。ＲＦ信号の振幅が小さくなると、ＲＦ信号のデータ判別が困難になる。これを改善するために、ＲＦ信号をイコライザ（波形等化回路）に通すことにより、高い周波数成分の振幅を増大させる。しかし、振幅の増幅率を大きくすると、ＲＦ信号を歪ませる結果となり、逆にデータ読み取りを困難にする結果となる場合もある。一般的な解決手法として、様々な光ディスクを用いて、特性の決まった平均的なイコライザゲインを設定している。
【０００３】
ＣＤプレイヤのメカチェンジャは、近年価格が下落しているフラッシュメモリ等のメモリデバイスに置き換えられる動きが広がっている。ＣＤ音楽データをメモリデバイスに取り込むに際して、取り込み時間短縮のために必要な機能として、例えば８倍速等の高倍速再生が要望されている。高倍速再生下においても通常速再生（１倍速／２倍速）と同様の再生能力が発揮されること重要な項目となる。
【０００４】
従来の高倍速再生システムにおいては、スピンドルモータとして安価なＤＣモータを使用してシステムが構築されている。ＣＤは線速度一定のため、ピックアップの位置によって光ディスクの回転速度が異なる。スピンドルモータの回転速度を例えば２０００回転／分程度に設定すると、内周部で４倍速程度、外周部にて８倍速程度の回転速度となる。回転速度変化にかかわらず再生能力を保つためには、回転速度に合った形でイコライザゲインを更新する必要がある。すなわち、所定のサイクルで、光ディスクにおける現在再生中のピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する。
【０００５】
通常速再生時において、ＲＦイコライザを強めにかけた方が読み取りエラーが減少し再生能力が高くなる光ディスクと、弱めにかけた方が読み取りエラーが減少し再生能力が高くなる光ディスクの２種類が存在することが知られている。アシンメトリ系の光ディスクは、イコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなる。ジッタの大きい光ディスクは、イコライザを弱めにかけた方が再生能力が高めになる。光ディスクの回転速度が低速の場合は、一方の光ディスクを高い再生能力で再生できるイコライザゲインと他方の光ディスクを高い再生能力で再生できるイコライザゲインとの中間の値にイコライザゲインを設定することで、再生中にイコライザゲインを更新することなく、両方の光ディスクの再生が可能となっていた。
【０００６】
図４は、従来の光ディスク再生装置を示すブロック図である。図４において、４１は光ディスク、４２はスピンドルモータ、４３はピックアップ、４４はサーボ制御ＬＳＩ、４５はＲＦブロック、４６はＲＦイコライザ、４７はサーボフィルタ、４８はドライバ、４９はコントロールマイコンである。
【０００７】
光ディスク再生装置は、光ディスク４１を回転させるスピンドルモータ４２と、光ディスク４１からの信号を読み取るピックアップ４３と、サーボ制御を実施するサーボ制御ＬＳＩ４４と、サーボ制御ＬＳＩ４４に内蔵されていてピックアップ４３からの信号を増幅するＲＦブロック４５と、ＲＦブロック４５で生成されたＲＦ信号の高周波信号の振幅を増加（ブート）させるＲＦイコライザ４６と、ＲＦブロック４５からのエラー信号によりサーボ制御の演算を実施するサーボフィルタ４７と、サーボフィルタ４７からの信号を増幅し、ピックアップ４３を光ディスク４１の目標ポイントまでドライブするドライバ４８と、これらを制御するコントロールマイコン４９から構成されている。
【０００８】
図５は、ＲＦ信号において、ＲＦイコライザを弱めにかけた場合と強めにかけた場合の違いについて示す図である。５１は光ディスクから読み取ったＲＦ信号に対して、ＲＦイコライザをかける前の高周波信号である３Ｔ信号である。５２は光ディスクから読み取ったＲＦ信号に対して、ＲＦイコライザをかける前の低周波信号である１１Ｔ信号である。５３はＲＦイコライザを弱めにかけた場合の３Ｔ信号、５４はＲＦイコライザを弱めにかけた場合の１１Ｔ信号、５５はＲＦイコライザを強めにかけた場合の３Ｔ信号、５６はＲＦイコライザを強めにかけた場合の１１Ｔ信号である。ちなみに、ＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation；８‐１４変調）において基準反転距離（検出窓幅）を１Ｔとして、３Ｔとはその３倍の最小反転距離のことであり、１１Ｔとはその１１倍の最大反転距離のことである。
【０００９】
光ディスクから読み取ったＲＦ信号において、高周波信号である３Ｔ信号の振幅は、低周波信号である１１Ｔ信号の振幅よりも小さい。そこで、ＲＦイコライザによって高周波部である３Ｔ信号の振幅を増加させる。３Ｔ信号の振幅を増加させることで、ＲＦ信号の識別が容易となる。理想としては、３Ｔ信号の振幅が１１Ｔ信号とほぼ同等になることである。しかし、イコライザを強めにかけると、３Ｔ信号の振幅は増加するものの、波形が歪んでしまい、元のＲＦ信号に対して振幅以外の周波数も変化してしまう。周波数が変化すると正常なデータとして読み取ることができず、却って、再生能力を落とす結果となってしまう。そこで、イコライザを強めにかけているか弱めにかけているかについて、イコライザ通過後におけるＲＦ信号の３Ｔ成分振幅を確認することで判断する。
【００１０】
ここで、従来から実施している、高倍速再生下におけるＲＦイコライザ調整方法について一例を挙げて説明する。図６は従来の技術におけるＲＦイコライザ調整方法の処理の手順を示すフローチャートである。
【００１１】
ステップＳ３１において、高倍速再生下で光ディスク上のアドレス情報を読み取り、指定時間が経過したかを判断する。指定時間が経過すると、ステップＳ３２に進む。
【００１２】
次いでステップＳ３２において、データを読み取っているピックアップの位置情報を取得する。
【００１３】
次いでステップＳ３３において、読み取った位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する。
【００１４】
例えばＤＣモータを用いた２０００回転／分程度の高倍速制御においては、一例を挙げると内周部４倍速、外周部で８倍速を実現している。この場合、光ディスク上に記録されているアドレス情報を読み取り、各アドレス情報ごとに細かく光ディスクの回転速度制御を実施することで、速度制御を実現している。光ディスクの回転速度更新を実施するごとにイコライザゲインも更新することで、各回転速度に合った形でイコライザゲインを設定することが可能である。また、現在の回転速度を読み取ることで、その回転速度に応じたイコライザゲインを設定する方法も考えられる。
【特許文献１】特開２００７−４８５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかし、上記従来の方式では、高倍速再生時においては、ノイズやフィルタ帯域によるＲＦ信号の品質が通常速再生時と比較して劣化する。そのため、通常速再生時のように、イコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクと弱めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとにおいて中間の値にイコライザゲインを設定しても、両方の光ディスクの再生が可能となるポイントを見つけることができなくなる。これによって、通常速再生時に再生可能であった光ディスクでも、高倍速再生時には適正な再生ができなくなってしまう。
【００１６】
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、高倍速再生時でも、イコライザゲインを常に適正な値に保って高い再生能力を維持することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明によるＲＦイコライザ調整方法は、所定のサイクルで、ディスク状記録媒体におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新するＲＦイコライザ調整方法において、
高倍速再生中には、前記ディスク状記録媒体からエラーレート情報を取得するステップと、取得した前記エラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正するステップとを含むものである。すなわち、ピックアップのディスク状記録媒体上における位置情報に基づいたイコライザゲインの更新を実施するごとに、ディスク状記録媒体上のエラーレート情報を取得し、取得したエラーレート情報の状況に応じて次回更新時のイコライザゲインに対して補正を加えることで、再生中のディスク状記録媒体に対して最適なイコライザゲインを設定する。
【００１８】
上記のＲＦイコライザ調整方法において、前記エラーレート情報としてエラー数を用いるという態様がある。今回更新時のエラー数が前回更新時のエラー数より増加しているときは、次回更新時のイコライザゲインを低めに補正するのがよい。
【００１９】
また、上記のＲＦイコライザ調整方法において、前記エラーレート情報として、Ｃ２エラー数が少ないときのＣ１エラー数を用いるという態様がある。
【００２０】
バーストエラーのＣ２エラー数は、ディスク状記録媒体の表面上に傷等がある場合に増加する。Ｃ２エラー数が多すぎる状態でのランダムエラーのＣ１エラー数の増加は、ＲＦイコライザの調整が合っていないことよりは、むしろ、ディスク状記録媒体表面上の傷が影響を与えていることによると考えられる。そこで、Ｃ２エラー数が多い場合には、イコライザゲインの補正は行わないこととする。Ｃ２エラー数が少ない状態でＣ１エラー数が増加した場合に限ってイコライザゲインの補正を行う。これによって、誤差がより少ないＲＦイコライザ調整が行われる。
【００２１】
以上は本発明にかかわるＲＦイコライザ調整方法についての説明であったが、以下では本発明にかかわるＲＦイコライザ調整装置について説明する。
【００２２】
本発明によるＲＦイコライザ調整装置は、
所定のサイクルで、ディスク状記録媒体におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新するＲＦイコライザ調整装置であって、
高倍速再生中に前記ディスク状記録媒体からエラーレート情報を取得する手段と、取得した前記エラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正する手段とを備えたものである。
【００２３】
上記のＲＦイコライザ調整装置において、前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてエラー数を取得し、前記イコライザゲインを補正する手段は、前記エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正するという態様がある。
【００２４】
また、上記のＲＦイコライザ調整装置において、前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてＣ２エラー数を取得し、前記Ｃ２エラー数が所定値に比べて少ないときに限りさらにＣ１エラー数を取得し、
前記イコライザゲインを補正する手段は、前記Ｃ１エラー数が前回に比べて増加したときは前記Ｃ１エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正するという態様がある。
【００２５】
そして、本発明による光ディスク再生装置は、上記いずれかのＲＦイコライザ調整装置が搭載されている光ディスク再生装置である。
【００２６】
以上は本発明にかかわるＲＦイコライザ調整装置や光ディスク再生装置についての説明であったが、以下では本発明にかかわるＲＦイコライザ調整用の半導体装置について説明する。
【００２７】
本発明によるＲＦイコライザ調整用の半導体装置は、所定のサイクルで、ディスク状記録媒体におけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する半導体装置であって、高倍速再生中に前記ディスク状記録媒体からエラーレート情報を取得する手段と、取得した前記エラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正する手段とを備えたものである。
【００２８】
上記のＲＦイコライザ調整用の半導体装置において、前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてエラー数を取得し、前記イコライザゲインを補正する手段は、前記エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正するという態様がある。
【００２９】
また、上記のＲＦイコライザ調整用の半導体装置において、前記エラーレート情報を取得する手段は、前記エラーレート情報としてＣ２エラー数を取得し、前記Ｃ２エラー数が所定値に比べて少ないときに限りさらにＣ１エラー数を取得し、前記イコライザゲインを補正する手段は、前記Ｃ１エラー数が前回に比べて増加したときは前記Ｃ１エラー数に基づいて再生中に前記イコライザゲインを補正するという態様がある。
【発明の効果】
【００３０】
本発明によれば、これまでイコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなるディスク状記録媒体と弱めにかけた方が再生能力が高くなるディスク状記録媒体での両立が困難とされていた高倍速再生においても、双方のディスク状記録媒体に対する高い再生能力での再生を両立させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明にかかわるＲＦイコライザ調整方法の実施の形態を詳細に説明する。ディスク状記録媒体として、光ディスク（ＣＤ）を例に挙げる。
【００３２】
ＣＤのエラーレートには、ＬＳＩに内蔵されている誤り訂正機能が出力する以下の２種類がある。
【００３３】
Ｃ１エラー：ランダムエラー。光ディスク表面上に広く分布するエラー。ＲＦイコライザの調整が合っていないと、Ｃ１エラー数は増加する傾向を持つ。
【００３４】
Ｃ２エラー：バーストエラー。光ディスク表面上に傷があると、Ｃ２エラー数が大きくなる。
【００３５】
ＣＤの誤り訂正符号に、ＣＩＲＣ（Cross Interleave Reed-SolomonCode；サーク）がある。これは、２段のリード・ソロモン符号をインターリーブで結合したものである。２段のリード・ソロモン符号にＣ１とＣ２とがある。光ディスクの欠陥に、ランダムエラーとバーストエラーの２種類がある。ランダムエラーは光ディスクの全面に分布している。ランダムエラーが符号Ｃ１に対応する。バーストエラーは光ディスク上の比較的大きな傷等の欠陥によるものである。バーストエラーが符号Ｃ２に対応する。すなわち、符号Ｃ１によって主としてランダムエラーを訂正し、符号Ｃ２によって主としてバーストエラーを訂正する。これらの訂正を効果的に行うために、符号Ｃ１と符号Ｃ２がインターリーブされている。
【００３６】
本発明の実施の形態のＲＦイコライザ調整方法は、その前提として、所定のサイクルで（例えば１分おきに）、光ディスクにおけるピックアップの位置情報を取得し、取得したピックアップの位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する。そして、高倍速再生中には、光ディスクからエラーレート情報を取得し、取得したエラーレート情報に基づいて再生中にイコライザゲインを補正する。
【００３７】
ピックアップで光ディスクからデータを読み込む際に、どの位置のデータであるかに関しては、光ディスク上に記録されているアドレスデータを読み取ることで判別する。アドレスデータは、光ディスクの先頭からの再生経過時間に対応する。一般的には、アドレスデータと光ディスク回転速度との相関関係を記述した速度テーブルを利用して、読み込んでいるデータの位置情報に基づいて光ディスクの回転速度を制御するようになっている。
【００３８】
高倍速再生下において、光ディスクの回転速度とイコライザゲインの更新を実施した後、一定時間におけるエラー数のカウントを実施する。このエラー数が前回測定時からあまり変わっていない、もしくは減少したのであれば、現在のイコライザゲインの設定は問題ないと判断し、速度テーブルに記述されている値に対して補正を加えずに、次回のイコライザゲインを設定する。エラー数が前回測定時から大きく増加しているのであれば、設定したイコライザゲインに対して、次回では補正を加える必要があると判断し、速度テーブルに記述されている値に補正を加えた値を次回更新時のイコライザゲインとする。こうすることで、高い再生能力を得ることが可能となる。
【００３９】
アシンメトリ系の光ディスクやジッタの大きい光ディスクにおいて、イコライザをかける前の３Ｔ信号振幅とイコライザをかけた後の３Ｔ信号振幅を比較する。光ディスクの回転速度の更新およびイコライザゲインの更新は、例えば光ディスク上のアドレスデータにおいて１分ごとに実施する。
【００４０】
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１のハードウェア構成は、従来技術の場合の図４と同様である。図１は本発明の実施の形態１におけるＲＦイコライザ調整方法の高倍速再生下における処理の手順を示すフローチャートである。
【００４１】
ステップＳ１において、高倍速再生下で光ディスク上のアドレス情報を読み取り、指定時間が経過したかを判断する。指定時間が経過すると、ステップＳ２に進む。
【００４２】
次いでステップＳ２において、データを読み取っているピックアップの位置情報を取得する。
【００４３】
次いでステップＳ３において、読み取った位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する。
【００４４】
次いでステップＳ４において、光ディスクから所要の情報を読み込む。
【００４５】
次いでステップＳ５において、ステップＳ４で読み込んだ所要の情報に基づいて再生能力が良化したか悪化したかを判断する。再生能力が悪化した場合には、ステップＳ６に進み、そうでなければ、ステップＳ１に進む。
【００４６】
ステップＳ５で再生能力が悪化したと判断して進んだステップＳ６において、イコライザゲインに補正を加える。この補正されたイコライザゲインは、次回のステップＳ３での更新時に用いられる。
【００４７】
一例を挙げて説明する。再生中において、１分ごとに、現在の読み出し位置に基づいて光ディスクの回転速度とイコライザゲインを更新する。次の更新タイミングまでの間、光ディスクから所要の信号をモニタする。所要の信号としては、誤り訂正に用いるエラーレートや光の反射率が考えられる。モニタした所要の信号に基づいて再生能力が悪化したと判断した場合、次回更新時のイコライザゲインに対して補正を加える。
【００４８】
本実施の形態によれば、高倍速再生中において光ディスクからエラーレート情報を取得し、取得したエラーレート情報が再生能力悪化を示しているときは次回更新時のイコライザゲインを補正し、再生中の光ディスクに対して適応的に常に最適なイコライザゲインに更新する。その結果、ＲＦイコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとＲＦイコライザを弱めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとの両方の光ディスクに対して、いずれも高い再生能力のもとで再生することが可能となる。
【００４９】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２のハードウェア構成も、従来技術の場合の図４と同様である。図２は本発明の実施の形態２におけるＲＦイコライザ調整方法の高倍速再生下における処理の手順を示すフローチャートである。
【００５０】
ステップＳ１１において、高倍速再生下で光ディスク上のアドレス情報を読み取り、指定時間が経過したかを判断する。指定時間が経過すると、ステップＳ１２に進む。
【００５１】
次いでステップＳ１２において、データを読み取っているピックアップの位置情報を取得する。
【００５２】
次いでステップＳ１３において、読み取った位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する。
【００５３】
次いでステップＳ１４において、再生時のエラー数を読み込む。
【００５４】
次いでステップＳ１５において、読み込んだエラー数が前回更新時のエラー数より増加したかを判断する。エラー数が増加したと判断した場合には、ステップＳ１６に進み、そうでなければ、ステップＳ１１に進む。
【００５５】
ステップＳ１５でエラー数が増加したと判断して進んだステップＳ１６において、イコライザゲインを低めに補正する。この補正されたイコライザゲインは、次回のステップＳ１３での更新時に用いられる。
【００５６】
一例を挙げて説明する。ＬＳＩは誤り訂正回路を持っていて、１／７５秒ごとにおけるランダムエラーのＣ１エラー数、バーストエラーのＣ２エラー数をカウントする機能を搭載していることが多い。本実施の形態では、１分ごとのＣ１エラー数をカウントする。このカウント結果と前回カウントしたデータとを比較し、Ｃ１エラー数が減少もしくは同等であった場合は、現在のイコライザゲインが再生中の光ディスクに対して正しく設定されていると判断し、補正を加えることなく更新を実施する。Ｃ１エラー数が増加している場合は、現在のイコライザゲインが再生中の光ディスクに対して合っていないと判断し補正を加える。
【００５７】
一般的に、Ｃ１エラー数が増加する場合は、ＲＦイコライザを強くかけすぎてＲＦ信号に歪が発生し、ジッタ（jitter；ＣＤのピットのエッジの不確定量）が増加していることが多い。そのため、Ｃ１エラー数が増加した場合は、次回のイコライザゲインの更新時において、ＲＦイコライザが弱めになるように補正する。
【００５８】
また、次のＣ１エラー数読み込み時にさらにＣ１エラー数が増加する場合には、イコライザを弱めにかけたことがＣ１エラー数の増加を招いたと考え、前回の補正とは逆に、強めのイコライザゲインをかけるように補正することも考えられる。
【００５９】
通常のＲＦブロックにおいては、ＲＦイコライザをかける前のＲＦ信号とＲＦイコライザをかけたあとのＲＦ信号をオシロスコープ等の計測器を使うことでモニタすることが可能である。よって、ＲＦ信号を強めにかけているのか弱めにかけているのか、両信号を比較することで判断することができる。
【００６０】
本実施の形態によれば、再生中におけるＣ１エラー数を読み取り、これを基にイコライザゲインを補正し、再生中の光ディスクに対して適応的に常に最適なイコライザゲインに更新するので、ＲＦイコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとＲＦイコライザを弱めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとの両方の光ディスクに対して、いずれも高い再生能力のもとで再生することが可能となる。
【００６１】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３のハードウェア構成も、従来技術の場合の図４と同様である。図３は本発明の実施の形態３におけるＲＦイコライザ調整方法の高倍速再生下における処理の手順を示すフローチャートである。
【００６２】
ステップＳ２１において、Ｃ２エラー数を読み取る。
【００６３】
次いでステップＳ２２において、ステップＳ２１で読み取ったＣ２エラー数が多いか少ないかを判断し、少ない場合はＣ１エラー数の読み込みのステップＳ２３に進み、多い場合はステップＳ２３をジャンプしてＣ１エラー数の読み込みを実施しないでステップＳ２４に進む。
【００６４】
ステップＳ２３においては、Ｃ１エラー数を読み取る。
【００６５】
次いでステップＳ２４において、高倍速再生下で光ディスク上のアドレス情報を読み取り、指定時間が経過したかを判断する。
【００６６】
次いでステップＳ２５において、Ｃ１エラー数が前回のイコライザゲインの更新時よりも増加したか判断する。増加したと判断した場合はステップＳ２６に進み、そうでないときはステップＳ２７へ進む。
【００６７】
ステップＳ２５でＣ１エラー数が増加した場合に進むステップＳ２６においては、次回のイコライザゲインの更新時に低めの設定を実施する。
【００６８】
次いでステップＳ２７において、データを読み取っているピックアップの位置情報を取得する。
【００６９】
次いでステップＳ２８において、読み取った位置情報に基づいてイコライザゲインを更新する。
【００７０】
一例を挙げて説明する。Ｃ２エラーに関しては、光ディスク表面上に傷等がある場合に、エラー数が増加することが知られている。そのため、Ｃ２エラー数が多くカウントされる状態でのＣ１エラー数の増加は、ＲＦイコライザの調整が合っていないことが要因というよりは、光ディスク表面上の傷が影響を与えていることが要因の可能性が考えられる。そこで、本実施の形態においては、Ｃ２エラーが多くカウントされる場合にはＣ１エラーはカウントせずに、次の処理を実施する。これによって、実施の形態２に比べて、誤差がより少ない状態でＲＦイコライザ調整が行われる。
【００７１】
本実施の形態によれば、再生中におけるＣ１エラー数およびＣ２エラー数を読み取り、これを基にイコライザゲインを補正し、再生中の光ディスクに対して適応的に常に最適なイコライザゲインに更新するので、ＲＦイコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとＲＦイコライザを弱めにかけた方が再生能力が高くなる光ディスクとの両方の光ディスクに対して、いずれも高い再生能力のもとで再生することが可能となる。
【００７２】
（その他の実施の形態）
（１）ＲＦイコライザ調整装置…上述の実施の形態１〜３のいずれかの高倍速再生下のＲＦイコライザ調整方法を実施する機能を備えた構成のＲＦイコライザ調整装置である。
【００７３】
（２）光ディスク再生装置…上述の実施の形態１〜３のいずれかの高倍速再生下のＲＦイコライザ調整方法を実施する機能を備えた構成の光ディスク再生装置である。
【００７４】
（３）ＲＦイコライザ調整用の半導体装置…上述の実施の形態１〜３のいずれかの高倍速再生下のＲＦイコライザ調整方法を実施する機能を備えた構成のＲＦイコライザ調整用の半導体装置である。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
本発明の技術は、高倍速再生下においてエラーレート情報を取得し、取得したエラーレート情報に基づいてイコライザゲインを補正することで、ＲＦイコライザを強めにかけた方が再生能力が高くなるディスク状記録媒体とＲＦイコライザを弱めにかけた方が再生能力が高くなるディスク状記録媒体のいずれに対しても、高い再生能力での再生を両立させることができるので、ＣＤプレイヤなどの光ディスク再生装置におけるＲＦイコライザ調整に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の実施の形態１における高倍速再生下でのＲＦイコライザ調整方法の処理の手順を示すフローチャート
【図２】本発明の実施の形態２における高倍速再生下でのＲＦイコライザ調整方法の処理の手順を示すフローチャート
【図３】本発明の実施の形態３における高倍速再生下でのＲＦイコライザ調整方法の処理の手順を示すフローチャート
【図４】従来の技術および本発明の実施の形態の光ディスク再生装置の構成を示すブロック図
【図５】イコライザをかける前とかけた後のＲＦ信号を示す図
【図６】従来の高倍速再生下におけるＲＦイコライザ調整方法の処理の手順を示すフローチャート
【符号の説明】
【００７７】
４１  光ディスク
４２  スピンドルモータ
４３  ピックアップ
４４  サーボ制御ＬＳＩ
４５  ＲＦブロック
４６  ＲＦイコライザ
４７  サーボフィルタ
４８  ドライバ
４９  コントロールマイコン
５１  ＲＦイコライザをかける前の３Ｔ信号
５２  ＲＦイコライザをかける前の１１Ｔ信号
５３  ＲＦイコライザを弱めにかけた場合の３Ｔ信号
５４  ＲＦイコライザを弱めにかけた場合の１１Ｔ信号
５５  ＲＦイコライザを強めにかけた場合の３Ｔ信号
５６  ＲＦイコライザを強めにかけた場合の１１Ｔ信号
Ｓ１  指定時間経過したかの判断のステップ
Ｓ２  ピックアップの位置情報取得のステップ
Ｓ３  イコライザゲイン更新のステップ
Ｓ４  光ディスクからの情報読み込みのステップ
Ｓ５  再生能力の悪化検出したかの判断のステップ
Ｓ６  次回のイコライザゲインの更新時に設定変更のステップ
Ｓ１１  指定時間経過したかの判断のステップ
Ｓ１２  ピックアップの位置情報取得のステップ
Ｓ１３  イコライザゲイン更新のステップ
Ｓ１４  エラー数読み込みのステップ
Ｓ１５  エラー数前回より増加したかの判断のステップ
Ｓ１６  次回のイコライザゲインの更新時に低めの設定実施のステップ
Ｓ２１  Ｃ２エラー数読み込みのステップ
Ｓ２２  Ｃ２エラー数多いかの判断のステップ
Ｓ２３  Ｃ１エラー数読み込みのステップ
Ｓ２４  指定時間経過したかの判断のステップ
Ｓ２５  Ｃ１エラー数が前回より増加したかの判断のステップ
Ｓ２６  次回のイコライザゲインの更新時に低めの設定実施のステップ
Ｓ２７  ピックアップの位置情報取得のステップ
Ｓ２８  イコライザゲイン更新のステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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