(57)【要約】【課題】検査に関する必要な情報を適切に得ることが可能な点灯検査方法を提供すること。【解決手段】ＰＤＰ１の点灯検査工程を実施する点灯検査システム１００に、パネルＩＤ情報と、検査情報と、組立状態情報と、を有するパネル情報が格納された生産ラインデータベース１１０を設けた。そして、ＰＤＰ１のパネルＩＤが記録されたパネル情報の組立状態情報に基づいて、検査情報に基づく予め設定されている検査、または、予め設定されている検査と異なる条件の検査を実行する。このため、前工程までの組立状態に基づいて検査の条件を自動的に変更するので、前工程で検査した項目と同じ項目について前工程とは違う条件での検査結果を得ることがでる。したがって、従来のように点灯検査工程の前工程において検査済みの項目を省略する構成と比べて、検査に関する必要な情報を適切に得ることができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象のディスプレイパネルに所定の表示パターンを表示させ、前記ディスプレイパネルの表示欠陥を検出するディスプレイパネルの点灯検査方法であって、
前記ディスプレイパネルを識別するための識別情報、前記ディスプレイパネルに対して予め設定されている検査に関する検査情報、および、前記ディスプレイパネルの前工程までの組立状態に関する組立状態情報を有するパネル情報が格納されたデータベースと、
前記ディスプレイパネルに設けられた前記識別情報と、を用い、
前記検査対象のディスプレイパネルの識別情報を認識する識別情報認識工程と、
この認識した識別情報を有する前記パネル情報を特定するパネル情報特定工程と、
この特定したパネル情報の前記検査情報および前記生産状態情報に基づいて、前記検査情報の前記予め設定されている検査、または、この予め設定されている検査と異なる条件の検査を実行する検査工程と、
を実施することを特徴とするディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載のディスプレイパネルの点灯検査方法において、
前記検査情報の前記予め設定されている検査は、詳細な検査を実行する詳細検査モード、または、前記詳細な検査よりも簡略な検査を実行する短縮検査モードであり、
前記検査工程では、前記特定したパネル情報の検査情報が詳細検査モードの場合、前記詳細な検査を実行し、前記検査情報が短縮検査モードの場合、前記生産状態情報に基づいて、前記詳細な検査または前記簡略な検査を実行する
ことを特徴とするディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項３】
請求項２に記載のディスプレイパネルの点灯検査方法において、
前記組立状態情報は、不良分析が必要なディスプレイパネルであるか否かに関する不良分析情報を有し、
前記検査工程では、前記検査情報が短縮検査モードの場合において、前記組立状態情報の前記不良分析情報に基づいて不良分析が必要であると判断した場合、前記詳細な検査を実行し、不良分析が不要であると判断した場合、前記簡略な検査を実行する
ことを特徴とするディスプレイパネルの点灯検査方法。
【請求項４】
ディスプレイパネルを組み立てるパネル組立工程と、
このパネル組立工程で組み立てられた前記ディスプレイパネルの表示欠陥を検出する請求項１から請求項３のいずれかに記載のディスプレイパネルの点灯検査方法を用いた点灯検査工程と、
を実施することを特徴とするディスプレイパネルの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスプレイパネルの点灯検査方法、および、製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、液晶パネルやプラズマディスプレイパネルなどの点灯検査において、各工程に関するデータベースを用いる構成が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
この特許文献１に記載のものは、前工程のＴＦＴ基板欠陥検査工程で検出済みの欠陥種に関する欠陥情報をＴＦＴ基板欠陥情報データベースから取得して、この欠陥種を検出する検査を省略する構成が採られている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−２４４０９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載のような構成では、前工程で検査済みの項目を省略することで検査時間の短縮を図ることができるが、生産ラインでは種々の製造状態のディスプレイパネルが流れる場合があり、単に検査を省略するだけでは、検査に関する必要な情報を得られないおそれがあるという問題点が一例として挙げられる。
【０００６】
本発明は、上記のような問題に鑑みて、検査に関する必要な情報を適切に得ることが可能なディスプレイパネルの点灯検査方法、および、製造方法を提供することを１つの目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の発明は、検査対象のディスプレイパネルに所定の表示パターンを表示させ、前記ディスプレイパネルの表示欠陥を検出するディスプレイパネルの点灯検査方法であって、前記ディスプレイパネルを識別するための識別情報、前記ディスプレイパネルに対して予め設定されている検査に関する検査情報、および、前記ディスプレイパネルの前工程までの組立状態に関する組立状態情報を有するパネル情報が格納されたデータベースと、前記ディスプレイパネルに設けられた前記識別情報と、を用い、前記検査対象のディスプレイパネルの識別情報を認識する識別情報認識工程と、この認識した識別情報を有する前記パネル情報を特定するパネル情報特定工程と、この特定したパネル情報の前記検査情報および前記生産状態情報に基づいて、前記検査情報の前記予め設定されている検査、または、この予め設定されている検査と異なる条件の検査を実行する検査工程と、を実施することを特徴とするディスプレイパネルの点灯検査方法である。
【０００８】
請求項４に記載の発明は、ディスプレイパネルを組み立てるパネル組立工程と、このパネル組立工程で組み立てられた前記ディスプレイパネルの表示欠陥を検出する請求項１から請求項３のいずれかに記載のディスプレイパネルの点灯検査方法を用いた点灯検査工程と、を実施することを特徴とするディスプレイパネルの製造方法である。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明に係る一実施形態を図面に基づいて説明する。
なお、本実施形態ではディスプレイパネルとしてのプラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）の組立工程および点灯検査工程を含む製造方法を例示するが、これに限らず、本発明は液晶表示パネルや、有機ＥＬパネル、ＦＥＤ、電気泳動ディスプレイパネルなどのディスプレイパネルに対しても適用可能である。
【００１０】
［ＰＤＰの構成］
まず、本実施形態において製造するＰＤＰ１の概略構成について以下に説明する。
一般に、ＰＤＰ１においては、放電空間を介して前面基板と背面基板とが対向配置されている。
前面基板の内面側には、例えば、複数の透明電極、複数のバス電極、複数のブラックストライプ、誘電体層および保護膜がそれぞれ設けられている。
例えば、背面基板の内面側には、この背面基板上に複数のアドレス電極がそれぞれ平行に設けられ、これらアドレス電極を覆うように背面基板の内面側に絶縁体層であるアドレス電極保護層が設けられ、さらにこのアドレス電極保護層上に例えばストライプ形状の隔壁が設けられ、これら隔壁により、複数個の放電セルが区画形成される。なお、隔壁としては、ストライプ形状に限らず、井桁形状などでもよい。
複数個の放電セルの内部には、例えば、それぞれ赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の３原色の蛍光体層が順に形成されている。放電空間の内部、すなわちそれぞれの放電セルの内部は、ネオンガスなどの放電ガスが充填され、外気との間で密閉されている。
また、ＰＤＰ１には、例えばレーザーマーキングされたＩＤ（パネルＩＤ）が設けられている。
そして、ＰＤＰ１は、例えば、複数個の放電セル内で選択的に放電発光させることにより画像を表示する。
【００１１】
［ＰＤＰの点灯検査システムの構成］
次に、上記ＰＤＰ１の点灯検査を実施する点灯検査システムの概略構成について以下に説明する。
図１は、点灯検査システムの概略構成を示す模式図である。図２は、生産ラインデータベースの概略構成を示す模式図である。
【００１２】
図１に示すように、点灯検査システム１００は、ＰＤＰ１に所定の表示パターンを表示させて表示欠陥を検出する。この点灯検査システム１００は、生産ラインデータベース１１０と、生産パネル登録端末１２０と、実験パネル登録端末１３０と、伝達情報発行端末１４０と、蛍光体レビュー機１５０と、リペア装置１６０と、パネル点灯検査装置１７０と、を備えている。
【００１３】
生産ラインデータベース１１０は、ＬＡＮ（Local Area Network）１０１を介して、実験パネル登録端末１３０、伝達情報発行端末１４０、蛍光体レビュー機１５０、リペア装置１６０、および、パネル点灯検査装置１７０に接続されている。
この生産ラインデータベース１１０には、図２に示すように、少なくとも１個のパネル情報２００が格納されている。
パネル情報２００には、１枚のＰＤＰ１に関する情報が記録されている。このパネル情報２００は、識別情報としてのパネルＩＤ情報２１０と、検査情報２２０と、組立状態情報２３０と、検査結果情報２４０と、を備えている。
【００１４】
パネルＩＤ情報２１０には、ＰＤＰ１に設けられたパネルＩＤが記録されている。
【００１５】
検査情報２２０には、パネルＩＤ情報２１０で特定されるＰＤＰ１に対して予め設定されている検査の内容が記録されている。この検査情報２２０は、検査項目情報２２１と、検査モード情報２２２と、を備えている。
検査項目情報２２１には、点灯検査の項目が記録されている。具体的には、消去電圧、書込電圧、サスティンパルス電圧Ｖｓｕｓの上限値、下限値、設定値などが検査項目である旨が記録されている。
検査モード情報２２２には、詳細な検査（詳細検査）を実行する詳細検査モード、または、詳細検査モードよりも簡略な検査（短縮検査）を実行する短縮検査モードである旨が記録されている。具体的には、詳細検査モードの場合、各測定信号に対して検査項目情報２２１の各電圧の上限の限界値および下限の限界値が検査されるとともに、各電圧の設定値が調整される。また、短縮検査モードの場合、検査項目情報２２１の各電圧の上限が閾値よりも大きいか否か、下限が閾値よりも小さいか否かが検査されるともに、各電圧の設定値が調整される。
【００１６】
組立状態情報２３０には、点灯検査よりも前の工程における組立状態が記録されている。この組立状態情報２３０は、不良分析情報としてのパネル種別情報２３１と、伝達事項情報２３２と、欠陥座標情報２３３と、を備えている。
【００１７】
パネル種別情報２３１には、ＰＤＰ１の種別が実験パネル、リペアパネル、グレーパネル、生産パネルである旨が記録されている。ここで、実験パネルとは、実験に用いられるＰＤＰ１である。リペアパネルとは、リペア装置１６０でリペアされたＰＤＰ１である。グレーパネルとは、バス電極、ブラックストライプ、誘電体層、保護膜、アドレス電極、アドレス電極保護層、隔壁、蛍光体、前面基板および背面基板の重ね合わせ精度などの各寸法値（以下、構造値と称す）が規格の上限値または下限値に極めて近いが規格を満たしているＰＤＰ１、あるいは、基板を重ね合わせる前の状態では規格を外れていても合わせた後の検査で規格を満たしうる構造値が外れているＰＤＰ１である。
【００１８】
伝達事項情報２３２には、例えば単板工程、重ね合わせ工程におけるトラブルやライン変動で構造値が変化したり、異物の混入が発見されたことなどにより、規格を満たしているがパネル化してみないと良品か否かを判断できない場合、その旨の内容が記録される。例えば、「誘電体層の寸法が疑わしいので、○○に注意して検査してください」などの情報が記録される。
【００１９】
欠陥座標情報２３３には、蛍光体レビュー機１５０で検出された欠陥を有する放電セルの座標が記録されている。
【００２０】
検査結果情報２４０には、検査情報２２０に基づき検査された結果が記録される。例えば、詳細検査モードが実行された場合、各電圧の上限および加減の限界値、設定値が記録される。また、短縮検査モードが実行された場合、各電圧の上限が閾値よりも小さいあるいは下限が閾値よりも大きい場合に規格を満たしている（ＯＫである）旨が記録され、上限が閾値よりも大きいあるいは下限が閾値よりも小さい場合に規格を満たしていない（ＮＧである）旨が記録され、さらに、設定値が記録される。
【００２１】
生産パネル登録端末１２０、実験パネル登録端末１３０は、通常生産のＰＤＰ１である生産パネル、実験パネルにそれぞれ関するパネルＩＤ情報２１０と、検査情報２２０と、パネル種別情報２３１と、を生産ラインデータベース１１０に登録する際に利用される。
【００２２】
伝達情報発行端末１４０は、グレーパネルに関するパネルＩＤ情報２１０と、検査情報２２０と、パネル種別情報２３１と、伝達事項情報２３２と、を生産ラインデータベース１１０に登録するために利用される。例えば、伝達情報発行端末１４０は、生産パネルや実験パネルとして生産ラインデータベース１１０に登録されたＰＤＰ１が検査によりグレーパネルである旨が判明したときに、このＰＤＰ１に関する検査情報２２０、パネル種別情報２３１、伝達事項情報２３２をグレーパネルの内容に更新する際に利用される。
【００２３】
蛍光体レビュー機１５０は、生産パネル、実験パネル、グレーパネルの放電セルの欠陥を検出し、この欠陥の座標に関する欠陥座標情報２３３を登録する際に利用される。
リペア装置１６０は、生産パネル、実験パネル、グレーパネルの隔壁の欠けなどをリペアして、このパネルに関するパネル種別情報２３１をリペアパネルである旨の内容に更新する。
【００２４】
パネル点灯検査装置１７０は、パネル取付ベース１７１と、電圧駆動部１７２と、信号発生部１７３と、ＣＣＤカメラ１７４と、画像処理部１７５と、ＩＤリーダ１７６と、表示部１７７と、コントロール部１７８と、を備えている。
パネル取付ベース１７１には、検査対象のＰＤＰ１が取り付けられる。電圧駆動部１７２は、パネル取付ベース１７１に取り付けられたＰＤＰ１に電圧を印加して点灯させる。信号発生部１７３は、電圧駆動部１７２を制御して各種検査パターンをＰＤＰ１で表示させる。
ＣＣＤカメラ１７４は、例えばパネル取付ベース１７１の略中央の上方に設けられている。そして、ＣＣＤカメラ１７４は、ＰＤＰ１の点灯状態を撮影して、その撮影データを画像処理部１７５へ出力する。画像処理部１７５は、ＣＣＤカメラ１７４からの撮影データを処理してコントロール部１７８へ出力する。
ＩＤリーダ１７６は、例えばパネル取付ベース１７１の隅部の上方に設けられている。そして、ＩＤリーダ１７６は、ＰＤＰ１のパネルＩＤを読み取り、その結果をコントロール部１７８へ出力する。表示部１７７は、コントロール部１７８により制御され、生産ラインデータベース１１０に格納された各種情報、例えば検査の項目やモード、パネル種別、伝達事項、欠陥座標、検査結果などを表示する。
【００２５】
コントロール部１７８は、画像処理部１７５からの検査パターンの撮像データと、ＩＤリーダ１７６からのパネルＩＤと、生産ラインデータベース１１０とに基づいて、ＰＤＰ１を適宜異なる条件で検査する。そして、その検査結果を生産ラインデータベース１１０に登録したり、表示部１７７で適宜表示させる。なお、コントロール部１７８の詳細な動作については後述する。
【００２６】
［ＰＤＰの製造方法］
次に、ＰＤＰ１の製造方法について説明する。
ＰＤＰ１の製造では、ＰＤＰ１を組み立てる組立工程と、この組立工程で組み立てられたＰＤＰ１の表示欠陥を検出する点灯検査工程と、を実施する。
図３は、パネル点灯検査装置の動作を示すフローチャートである。
【００２７】
（組立工程）
組立工程では、ＰＤＰ１の前面基板および背面基板に各種電極や放電セルなどの各種構造物を設ける構造物形成工程と、各種構造物が設けられた各基板を重ね合わせたり封着したりする重ね合わせ工程と、を実施する。
【００２８】
（点灯検査工程）
点灯検査工程において、パネル点灯検査装置１７０は、図３に示すように、ＩＤリーダ１７６で検査対象のＰＤＰ１のパネルＩＤを読み取る（ステップＳ１）。そして、コントロール部１７８は、この読み取ったパネルＩＤのＰＤＰ１に対応する検査条件をロードする（ステップＳ２）。具体的には、パネルＩＤが記録されたパネル情報２００を生産ラインデータベース１１０から検索（特定）し、この検索したパネル情報２００の検査情報２２０を取得する。
【００２９】
この後、コントロール部１７８は、検査モード情報２２２に基づいて、検査モードが短縮検査モードか否かを判断する（ステップＳ３）。このステップＳ３において、短縮検査モードではなく詳細検査モードであると判断した場合、電圧駆動部１７２、信号発生部１７３、ＣＣＤカメラ１７４および画像処理部１７５を制御して、検査項目情報２２１に基づく詳細検査を実施する（ステップＳ４）。そして、その結果を生産ラインデータベース１１０に登録する（ステップＳ５）。
例えば図２に示すように、検査対象のＰＤＰ１のパネルＩＤが「ＡＢＣＤ１」や「ＡＢＣＤ２」の場合、詳細検査を実施して、各電圧の上限および下限の限界値と、各電圧の設定値とを生産ラインデータベース１１０の検査結果情報２４０に登録する。さらには、詳細検査を実施する場合、欠陥座標情報２３３に記録された欠陥座標付近についても、詳細検査を実行する。
【００３０】
一方、コントロール部１７８は、ステップＳ３において短縮検査モードであると判断した場合、生産ラインデータベース１１０を検索して（ステップＳ６）、ＰＤＰ１が生産パネル以外のパネルか否かを判断する（ステップＳ７）。具体的には、パネル種別情報２３１に実験パネル、グレーパネル、リペアパネルである旨が記録されたパネル情報２００を検索する。そして、このパネル情報２００のパネルＩＤ情報２１０にステップＳ１で読み取ったパネルＩＤが記録されている場合、生産パネル以外のパネルであると判断し、読み取ったパネルＩＤと異なるパネルＩＤが記録されている場合、生産パネルであると判断する。なお、パネル種別情報２３１に生産パネルである旨が記録されたパネル情報２００を検索してもよい。
【００３１】
そして、ステップＳ７において、生産パネル以外のパネルであると判断した場合、検査モードの設定にかかわらずステップＳ４の処理である詳細検査を実施し、生産パネルであると判断した場合、短縮検査を実施して（ステップＳ８）、ステップＳ５の処理を実施する。
例えば図２に示すように、検査対象のＰＤＰ１のパネルＩＤが「ＡＢＣＤ３」の場合、短縮検査モードに設定されている生産パネル以外のグレーパネルであるため、予め設定されている短縮検査ではなく詳細検査を実施して、検査結果を登録する。また、パネルＩＤが「ＡＢＣＤ４」の場合、予め設定されている短縮検査を実施して、各電圧の上限と閾値との関係と、各電圧の設定値とを登録する。
【００３２】
［ＰＤＰの製造方法の作用効果］
以上のＰＤＰ１の製造方法によれば、以下の作用効果が期待できる。
【００３３】
（１）ＰＤＰ１の点灯検査工程を実施する点灯検査システム１００に、パネルＩＤ情報２１０と、検査情報２２０と、組立状態情報２３０と、を有するパネル情報２００が格納された生産ラインデータベース１１０を設けている。そして、検査対象のＰＤＰ１のパネルＩＤが記録されたパネルＩＤ情報２１０を有するパネル情報２００を特定して、このパネル情報２００の組立状態情報２３０に基づいて、検査情報２２０に基づく予め設定されている検査、または、この予め設定されている検査と異なる条件の検査を実行している。例えば、詳細検査モードに設定されている場合には詳細検査を実行し、生産パネルで短縮検査モードに設定されている場合には短縮検査を実行し、生産パネル以外のグレーパネルで短縮検査モードに設定されている場合には詳細検査を実行する。
このため、前工程までの組立状態に基づいて検査の条件を自動的に変更するので、前工程で検査した項目と同じ項目について前工程とは違う条件での検査結果を得ることがでる。したがって、従来のように点灯検査工程の前工程において検査済みの項目を省略する構成と比べて、検査に関する必要な情報を適切に得ることができる。また、この点灯検査工程で得られた情報を前工程にフィードバックすることで、ＰＤＰ１の生産性向上を容易に図ることができる。
【００３４】
（２）前工程までの組立状態に基づいて、検査モードを詳細検査モードまたは短縮検査モードに自動的に変更している。
このため、ＰＤＰ１００の組立状態に応じて、不良解析に有効な情報を得たり検査時間の短縮を図ったりすることができ、生産性の向上を容易に図ることができる。
【００３５】
（３）例えば構造値が規格に極めて近く不良解析が必要なグレーパネルに対して詳細検査を実行し、不良解析が不要な生産パネルに対して短縮検査を実行している。
このため、不良解析が必要なパネルの検査結果を不良解析などに有効に活用することができるとともに、不良解析が不要な生産パネルの検査時間を短縮することができる。
【００３６】
（４）生産ラインデータベース１１０に、検査項目情報２２１と、検査モード情報２２２とを格納しているので、検査条件を一元管理できる。
【００３７】
（５）欠陥座標情報２３３に基づいて欠陥座標付近についての詳細検査を実施しているので、検査精度を向上させることができる。
【００３８】
［他の実施形態］
なお、本発明は前述の一実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
【００３９】
すなわち、実験パネル、リペアパネル、グレーパネルのうち１個または２個の種別のみＰＤＰ１を検査対象とする構成としてもよい。
また、伝達事項情報２３２や欠陥座標情報２３３をパネル情報２００に設けなくてもよい。
さらに、ＩＤリーダ１７６を設けずに、作業者がパネルＩＤを読み取って、テンキーなどの操作手段の入力操作によりパネルＩＤをコントロール部１７８に出力する構成としてもよい。また、ＣＣＤカメラ１７４を設けずに、目視で検査して検査結果を入力してもよい。そして、点灯検査システム１００に、複数のパネル点灯検査装置１７０を設けてもよい。
【００４０】
その他、本発明の実施の際の具体的な構造および手順は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造などに適宜変更できる。
【００４１】
［実施形態の作用効果］
上記したように、ＰＤＰ１の点灯検査工程を実施する点灯検査システム１００に、パネルＩＤ情報２１０と、検査情報２２０と、組立状態情報２３０と、を有するパネル情報２００が格納された生産ラインデータベース１１０を設けている。そして、検査対象のＰＤＰ１のパネルＩＤが記録されたパネルＩＤ情報２１０を有するパネル情報２００を特定して、このパネル情報２００の組立状態情報２３０に基づいて、検査情報２２０に基づく予め設定されている検査、または、この予め設定されている検査と異なる条件の検査を実行している。
このため、前工程までの組立状態に基づいて検査の条件を自動的に変更するので、前工程で検査した項目と同じ項目について前工程とは違う条件での検査結果を得ることがでる。したがって、従来のように点灯検査工程の前工程において検査済みの項目を省略する構成と比べて、検査に関する必要な情報を適切に得ることができる。
また、この点灯検査工程で得られた情報を前工程にフィードバックすることで、ＰＤＰ１の生産性向上を容易に図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の一実施形態に係る点灯検査システムの概略構成を示す模式図である。
【図２】前記一実施形態における生産ラインデータベースの概略構成を示す模式図である。
【図３】前記一実施形態におけるパネル点灯検査装置の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４３】
１…ディスプレイパネルとしてのＰＤＰ
１１０…生産ラインデータベース
２００…パネル情報
２１０…識別情報としてのパネルＩＤ情報
２２０…検査情報
２３０…組立状態情報
２３１…不良分析情報としてのパネル種別情報
【図１】
2009186309.tif 000003
【図２】
2009186309.tif 000004
【図３】
2009186309.tif 000005