(57)【要約】【課題】チャック不良を検出可能として正確な検査を行う。【解決手段】陽極出力端子１３ｄと陰極出力端子１３ｅとの間に抵抗１３ｂおよび直流電源１３ｃが直列接続されて構成された電源部１３から電解コンデンサ１の陽極端子３と陰極端子４との間に直流電源１３ｃからの直流電圧Ｖを印加すると共に、電解コンデンサ１のケース５と陽極出力端子１３ｄとの間の波形Ａを直流電圧Ｖの印加開始から測定し、判定エリアＢと波形Ａとを比較して、波形Ａの全体が判定エリアＢに含まれるときには、陽極端子３とケース５との間が非短絡状態にあると判別し、波形Ａの一部が判定エリアＢに含まれないときには、陽極端子３とケース５との間が短絡する短絡状態および陰極出力端子１３ｅと陰極端子４とが非接続となる非接続状態のうちのいずれか、または陽極出力端子１３ｄと陽極端子３とが非接続状態であると判別する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサの検査方法であって、
陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成された電源部から前記陽極端子と前記電解コンデンサの陰極端子との間に当該直流電源からの直流電圧を印加すると共に、前記ケースと前記電源部の前記陽極出力端子との間の電圧波形を前記直流電圧の印加開始から測定し、
予め規定された判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較して、当該電圧波形の全体が当該判定エリアに含まれるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が短絡する短絡状態および前記電源部の前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続となる非接続状態のうちのいずれか、または前記電源部の前記陽極出力端子と前記陽極端子とが非接続となる非接続状態であると判別する電解コンデンサの検査方法。
【請求項２】
前記電圧波形の測定の際に、前記陽極端子および前記陰極端子が立設されて前記ケース内に封入されたコンデンサ素子と当該ケースとの間に圧力または振動を印加する請求項１記載の電解コンデンサの検査方法。
【請求項３】
電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサ検査装置であって、
前記陽極端子および前記電解コンデンサの陰極端子をチャックする一対のチャック部と、
陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成され、当該陽極出力端子が前記一対のチャック部の一方に接続されると共に前記陰極出力端子が前記一対のチャック部の他方に接続された電源部と、
前記一対のチャック部にチャックされた前記電解コンデンサへの前記電源部の前記直流電源からの直流電圧の印加開始からの前記ケースと当該電源部の当該陽極出力端子との間の電圧波形を１つのチャンネルで測定する測定処理と、予め記憶されている判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較し、当該測定された電圧波形の全体が当該判定エリア内にあるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該測定された電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、当該陽極端子と当該ケースとの間が短絡状態および前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続状態のうちのいずれか、または当該陽極出力端子と当該陽極端子とが非接続状態であると判別する判別処理とを実行する測定器とを備えている電解コンデンサ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、陽極端子および陰極端子が立設されたコンデンサ素子を金属製のケース内に封入してなる電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサの検査方法、および電解コンデンサ検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の電解コンデンサの検査方法として、下記特許文献１に開示された電解コンデンサの検査方法が知られている。この電解コンデンサの検査方法では、金属製（例えばアルミニウム製）のケースとリード線との間に電圧を印加することにより、ケースとリード線との間のショートを検査する。この特許文献１には具体的な検査回路の構成について記載されてはいないが、例えば、図１０に示す検査回路１０１のように、直流電源１０２と、直流電源１０２の陽極１０２ａを電解コンデンサ１の陽極端子３に接触させるチャック部１１ａと、直流電源１０２の陰極１０２ｂを電解コンデンサ１の陰極端子４に接触させるチャック部１１ｂと、チャック部１１ａと直流電源１０２の陽極１０２ａとの間を接断（オン・オフ）するためのスイッチ１０４と、一対のチャック部１１ａ，１１ｂ間の電圧を測定する直流電圧計１０５とを備えているものが一般的に使用されている。
【０００３】
この検査回路１０１を用いた検査方法では、まず、電解コンデンサ１の陽極端子３および陰極端子４を各チャック部１１ａ，１１ｂでチャックし、次いで、スイッチ１０４をオン状態に移行させて直流電源１０２で電解コンデンサ１を満充電状態に移行させる。続いて、スイッチ１０４をオフ状態に移行させて、充電の完了のときから所定時間経過後における電解コンデンサ１の保持電圧を直流電圧計１０５で測定する。この場合、電解コンデンサ１の陽極端子３とケース５との間に短絡が発生していなければ、保持電圧は閾値以上に維持され、陽極端子３とケース５との間に短絡が発生しているときには、保持電圧は閾値未満となる。したがって、保持電圧と閾値とを比較することにより、電解コンデンサ１の陽極端子３とケース５との間の短絡の有無が検査される。また、他の検査方法として、図１１に示すように、電解コンデンサ１の陽極端子３をチャック部１１ａでチャックして、陽極端子３とケース５とに直流抵抗計１１１の各プローブを接触させ、陽極端子３とケース５との間の抵抗値を直流抵抗計１１１を用いて測定することにより、短絡状態を検査する方法も一般的に実施されている。
【０００４】
【特許文献１】特許第２５４２９６１号公報（第１−２頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、上記の電解コンデンサの検査方法には、以下の問題点が存在している。すなわち、この電解コンデンサの検査方法は、検査ラインにおいて、自動検査装置によって実施される場合がある。この場合、電解コンデンサ１は、通常、表面に複数の凹部が形成された搬送用トレイ（図示せず）の各凹部にケース５側が収容されて、倒立状態で、つまり、陽極端子３および陰極端子４がケース５から上方に突出した状態で、検査位置に搬送される。搬送用トレイは導電性材料で形成されているため、ケース５は搬送用トレイと電気的に接続された状態にある。このため、例えば、図１０の検査回路１０１を備えた自動検査装置では、ケース５に対する直流電源１０２の陰極１０２ｂや直流電圧計１０５の接触は搬送用トレイを介して行われる。一方、陽極端子３および陰極端子４に対しては、自動検査装置は、まず、検査対象とする電解コンデンサ１が収容された凹部上方にチャック部１１ａ，１１ｂを移動させ、次いで、陽極端子３および陰極端子４までチャック部１１ａ，１１ｂを下降させる。続いて、各チャック部１１ａ，１１ｂをチャック状態に移行させて陽極端子３および陰極端子４をチャックさせる。
【０００６】
しかしながら、陽極端子３や陰極端子４が大きく曲がっている電解コンデンサ１に対しては、各チャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３や陰極端子４のチャックが正常に行われない状態が発生し、この場合には、電解コンデンサ１に対する検査が正常に行われない。上記の電解コンデンサの検査方法では、充電完了のときから所定時間経過後における電解コンデンサ１の保持電圧や、陽極端子３とケース５との間の抵抗値といったスタティックな物理量に基づいて検査が行われるため、電解コンデンサ１が不良であるという検査結果が得られた場合に、電解コンデンサ１が実際に不良なのか、チャック不良によって電解コンデンサ１が不良であるという検査結果が得られたのかの区別が困難である。したがって、上記の電解コンデンサの検査方法には、チャック不良を検出できないため、正確な検査が行えないという課題が存在している。
【０００７】
本発明は、かかる課題を解決すべくなされたものであり、チャック不良を検出可能として正確な検査を行い得る電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成すべく請求項１記載の電解コンデンサの検査方法は、電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサの検査方法であって、陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成された電源部から前記陽極端子と前記電解コンデンサの陰極端子との間に当該直流電源からの直流電圧を印加すると共に、前記ケースと前記電源部の前記陽極出力端子との間の電圧波形を前記直流電圧の印加開始から測定し、予め規定された判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較して、当該電圧波形の全体が当該判定エリアに含まれるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が短絡する短絡状態および前記電源部の前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続となる非接続状態のうちのいずれか、または前記電源部の前記陽極出力端子と前記陽極端子とが非接続となる非接続状態であると判別する。
【０００９】
また、請求項２記載の電解コンデンサの検査方法は、請求項１記載の電解コンデンサの検査方法において、前記電圧波形の測定の際に、前記陽極端子および前記陰極端子が立設されて前記ケース内に封入されたコンデンサ素子と当該ケースとの間に圧力または振動を印加する。
【００１０】
また、請求項３記載の電解コンデンサ検査装置は、電解コンデンサの陽極端子とケースとの間の短絡の有無を検査する電解コンデンサ検査装置であって、前記陽極端子および前記電解コンデンサの陰極端子をチャックする一対のチャック部と、陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成され、当該陽極出力端子が前記一対のチャック部の一方に接続されると共に前記陰極出力端子が前記一対のチャック部の他方に接続された電源部と、前記一対のチャック部にチャックされた前記電解コンデンサへの前記電源部の前記直流電源からの直流電圧の印加開始からの前記ケースと当該電源部の当該陽極出力端子との間の電圧波形を１つのチャンネルで測定する測定処理と、予め記憶されている判定エリアと前記測定された電圧波形とを比較し、当該測定された電圧波形の全体が当該判定エリア内にあるときには、前記陽極端子と前記ケースとの間が非短絡状態にあると判別し、当該測定された電圧波形の少なくとも一部が当該判定エリアに含まれないときには、当該陽極端子と当該ケースとの間が短絡状態および前記陰極出力端子と前記陰極端子とが非接続状態のうちのいずれか、または当該陽極出力端子と当該陽極端子とが非接続状態であると判別する判別処理とを実行する測定器とを備えている。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１記載の電解コンデンサの検査方法および請求項３記載の電解コンデンサ検査装置では、陽極出力端子と陰極出力端子との間に抵抗および直流電源が直列接続されて構成された電源部から電解コンデンサの陽極端子と陰極端子との間に直流電圧を印加すると共に、ケースと電源部の陽極出力端子との間の電圧波形を直流電圧の印加開始から測定し、測定された電圧波形を判定エリアと比較して、電圧波形の全体が判定エリア内にあるときには、陽極端子とケースとの間が非短絡状態にあると判別し、電圧波形の少なくとも一部が判定エリアに含まれていないときには、陽極端子とケースとの間が短絡する短絡状態および電源部の陰極出力端子と陰極端子とが非接続となる非接続状態のいずれかの状態であるか、または電源部の陽極出力端子と電解コンデンサの陽極端子とが非接続となる非接続状態であると判別する。
【００１２】
したがって、この電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置によれば、電解コンデンサの良否（陽極端子とケースとの間が短絡状態にあるか否か）の検出と共に、陽極出力端子と陽極端子との間、および陰極出力端子と陰極端子との間が接続状態にあるか非接続状態にあるかを検出することができるため、電解コンデンサに対する正確な検査を実行することができる。また、測定器の１つのチャンネルを使用するだけで、電解コンデンサの検査をチャック状態を含めて検査することができるため、装置構成や検査方法を単純化することができる。
【００１３】
請求項２記載の電解コンデンサの検査方法によれば、コンデンサ素子をケースに押し付けて検査することができるため、陽極箔および陰極箔が電解紙に対してずれて巻回されて製造された結果、電解紙の端部と各箔との端部との間の距離が極めて少ない電解コンデンサ（不良と判別すべき電解コンデンサ）における各箔（陽極箔および陰極箔）のいずれかがケースと接触する確率を高めることができ、これにより、不良と判別すべき電解コンデンサをより確実に不良と判別することができる。また、ケースの内面には、アルミニウムの酸化被膜が存在しているため、電解コンデンサによっては、製造不良に起因して、各箔、陽極端子および陰極端子の少なくとも１つがケースと接触している状態であっても、この酸化被膜によって一時的に絶縁状態（高抵抗状態）となっていることがある。このような電解コンデンサ（不良と判別すべき電解コンデンサ）は、圧力や振動を加えない状態では良品として判別されるが、圧力や振動を加えることで、酸化被膜を物理的に破壊することができ、これにより、不良と判別することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る電解コンデンサの検査方法および電解コンデンサ検査装置の最良の形態について説明する。
【００１５】
まず、検査対象となる電解コンデンサ１の概要構成について、図１を参照して説明する。電解コンデンサ１は、所定の寸法に切断された陽極箔および陰極箔（いずれも図示せず）に陽極端子３および陰極端子４をそれぞれ接続し、陽極箔および陰極箔を電解紙（図示せず）を介在させた状態で巻回して作製したコンデンサ素子２と、コンデンサ素子２が収容される金属製のケース５と、ケース５に収容されたコンデンサ素子２を封止するための封止材（一例としてゴム）６と、ケース５の周壁を電気的に絶縁する樹脂フィルム７とで構成されている。また、電解コンデンサ１は、等価的には、図２に示すように、静電容量Ｃ、この静電容量Ｃと直列に接続された状態で陽極端子３と陰極端子４との間に接続された等価直列抵抗Ｒｓ（以下、単に「抵抗Ｒｓ」ともいう。抵抗値は０．１Ω以下と極めて小さい）と、陽極端子３とケース５との間に存在する漏れ抵抗Ｒ１と、陰極端子４とケース５との間に存在する漏れ抵抗Ｒ２とを有している。この場合、漏れ抵抗Ｒ１の抵抗値は、漏れ抵抗Ｒ２の抵抗値と比べて非常に大きな値であり、良品では、数１０ＭΩ程度である。
【００１６】
次いで、電解コンデンサ検査装置１０の構成について、図面を参照して説明する。
【００１７】
電解コンデンサ検査装置１０は、図１に示すように、一対のチャック部１１ａ，１１ｂ、移動機構１２、電源部１３、測定器１４および制御部１５を備えている。各チャック部１１ａ，１１ｂはその間隔が陽極端子３と陰極端子４の間隔（立設された陽極端子３と陰極端子４との立設間隔）に対応させられて、チャック部１１ａが陽極端子３を、チャック部１１ｂが陰極端子４をそれぞれチャック可能に構成されている。また、チャック部１１ａ，１１ｂは、制御部１５からの制御信号Ｓ１に基づいて作動して、チャック状態および非チャック状態のいずれかの状態に移行する。移動機構１２は、制御部１５からの制御信号Ｓ２に基づいて作動して、電解コンデンサ１に対する検査位置の上方においてチャック部１１ａ，１１ｂを３次元的に移動させる。一例として、電解コンデンサ１は、従来と同様にして、導電性材料で形成された搬送用トレイの表面に形成された複数の凹部にケース５が収容されて、倒立状態で検査位置に複数個同時に搬送される。移動機構１２は、制御部１５からの制御信号Ｓ２に基づいて、制御部１５によって凹部に収容されている検査対象の電解コンデンサ１にチャック部１１ａ，１１ｂを移動させる。
【００１８】
電源部１３は、互いに直列に接続されたスイッチ１３ａ、抵抗１３ｂおよび直流電源１３ｃを備え、これらの直列回路が陽極出力端子１３ｄと陰極出力端子１３ｅとの間に接続されて構成されている。この場合、スイッチ１３ａは、その接断状態（オン・オフ状態）が制御部１５からの制御信号Ｓ３によって制御される。また、陽極出力端子１３ｄはチャック部１１ａに接続され、陰極出力端子１３ｅはチャック部１１ｂに接続されている。また、抵抗１３ｂは、その抵抗値が検査対象となる電解コンデンサ１の静電容量Ｃに対応した適切な数値（例えば、Ｃが２２００μＦのときには５０Ω、５００μＦのときには２００Ω）に規定されて、直流電源１３ｃによる電解コンデンサ１の充電が緩やかに行われるようになっている。
【００１９】
測定器１４は、１つのチャンネルの正入力端子に接続された電圧検出プローブ１４ａと、この１つのチャンネルの負入力端子に接続された電圧検出プローブ１４ｂとを備え、測定処理および判別処理を実行可能に構成されている。また、測定器１４は、測定処理で測定した波形（電圧波形）Ａや予め記憶されている判定エリア（斜線で示した領域）Ｂを表示するための表示部１４ｃ、および判別処理での判別結果を表示するインジケータ１４ｄを備えている。また、測定器１４は、制御部１５からの制御信号Ｓ４の入力をトリガとして、上記の測定処理等を実行する。この場合、判定エリアＢは、良品（陽極端子３とケース５との短絡が発生していない状態）の電解コンデンサ１の陽極端子３および陰極端子４を各チャック部１１ａ，１１ｂに正常にチャックさせた状態において、電源部１３のスイッチ１３ａをオン状態にしたときに、各電圧検出プローブ１４ａ，１４ｂを介して測定器１４の１つのチャンネルで測定される波形Ａ（漏れ抵抗Ｒ１に発生する電圧の波形）に基づいて作成されたものであり、良品の電解コンデンサ１のばらつきなどを考慮して、良品の電解コンデンサ１についての波形Ａがすべて含まれるようにエリアの形状が規定されている。また、測定器１４は、１つの電解コンデンサ１に対する検査が完了した時点で、制御部１５に対して完了信号Ｓ５を出力する。
【００２０】
制御部１５は、ＣＰＵなどで構成されて、搬送用トレイの検査位置への移動完了や、１つの電解コンデンサ１に対する検査完了を検出して、チャック部１１ａ，１１ｂ、移動機構１２および電源部１３に対する制御を実行する。また、制御部１５は、測定器１４に対して制御信号Ｓ４を出力して、測定処理等を開始させる。
【００２１】
次いで、電解コンデンサ検査装置１０の動作と併せて、電解コンデンサの検査方法について説明する。
【００２２】
電解コンデンサ検査装置１０では、作動状態において、制御部１５が、新たな搬送用トレイの検査位置への移動の完了を検出したときには、電解コンデンサ１に対する検査処理５０を開始する（図９参照）。この検査処理では、制御部１５は、まず、制御信号Ｓ２を移動機構１２に出力して、最初に検査対象となる電解コンデンサ１の位置にチャック部１１ａ，１１ｂを移動させ（ステップ５１）、移動が完了した時点で、制御信号Ｓ１をチャック部１１ａ，１１ｂに出力してチャック状態に移行させる（ステップ５２）。この場合、電解コンデンサ１が正規な状態で搬送用トレイに収容されており、かつ電解コンデンサ１の陽極端子３や陰極端子４に曲がりが生じていないとき（曲がりが許容範囲内のものであるときも含む）には、電解コンデンサ１の陽極端子３および陰極端子４は、チャック部１１ａ，１１ｂによってチャックされる。一方、陽極端子３や陰極端子４に生じている曲がりが許容範囲を超えているときには、チャック部１１ａ，１１ｂがチャック状態に移行したとしても、陽極端子３や陰極端子４はチャック部１１ａ，１１ｂによってチャックされない状態となる。なお、チャック部１１ａが陽極端子３を正常にチャックしたときには、電源部１３の陽極出力端子１３ｄが陽極端子３と接続され、これにより、測定器１４の１つのチャンネルにおける電圧検出プローブ１４ａも陽極出力端子１３ｄおよびチャック部１１ａを介して陽極端子３と接続される。また、チャック部１１ｂが陰極端子４を正常にチャックしたときには、電源部１３の陰極出力端子１３ｅが陰極端子４と接続される。
【００２３】
次いで、制御部１５は、制御信号Ｓ４を測定器１４に出力する。これにより、測定器１４は、測定処理および判別処理をこの順に実行する（ステップ５３）。また、制御部１５は、制御信号Ｓ４の出力に同期して、制御信号Ｓ３を電源部１３に所定時間だけ出力する。これにより、電源部１３では、スイッチ１３ａがオフ状態からオン状態に所定時間だけ移行（制御）されて、直流電源１３ｃの直流電圧Ｖが抵抗１３ｂおよびスイッチ１３ａを介して電解コンデンサ１の陽極端子３および陰極端子４間に所定時間だけ印加される。
【００２４】
測定器１４は、測定処理では、電解コンデンサ１のケース５と、チャック部１１ａ（本例では電解コンデンサ１の陽極端子３）との間に発生する電圧を所定時間だけ測定して、その波形Ａを記憶する。これにより、測定処理が完了する。次いで、測定器１４は、記憶した波形Ａと予め記憶されている判定エリアＢとを図１に示すように同時に（重ねて）表示部１４ｃに表示させる。次いで、測定器１４は、判別処理を実行する。この判別処理では、測定器１４は、波形Ａ全体が判定エリアＢに含まれているか否かを判別し、波形Ａ全体が含まれているときには、電解コンデンサ１が良品であると判別する。また、波形Ａの少なくとも一部が判定エリアＢに含まれていないときには、電解コンデンサ１が不良品であるかまたはチャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャックの少なくとも一方にチャックミス（チャック不良）が発生していると判別して、その旨をインジケータ１４ｄに表示する。これにより、測定器１４による判別処理が完了する。
【００２５】
この判別処理について具体的に説明すると、電解コンデンサ１が良品（つまり、陽極端子３とケース５との間が短絡（ショート）していないもの）であって、チャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャックが正常に行われているときには、電源部１３の直流電源１３ｃから図３中の右図に示す経路で電流Ｉが電解コンデンサ１に供給される。このため、電解コンデンサ１は、電流Ｉによって自らの静電容量Ｃが充電される。このときに電圧検出プローブ１４ａ，１４ｂを介して測定器１４の１つのチャンネルで測定される波形Ａ（つまり、陽極端子３および陰極端子４間に発生する電圧が各漏れ抵抗Ｒ１，Ｒ２で分圧されて、漏れ抵抗Ｒ１の両端間に発生する電圧の波形）は、電源部１３による電圧の印加開始（時刻ｔ１）直後から、静電容量Ｃ、電源部１３の抵抗１３ｂ、および抵抗Ｒｓで規定される時定数（上記したように抵抗Ｒｓが極めて小さいため、実質的には静電容量Ｃおよび抵抗１３ｂで規定される時定数）で上昇する波形となり、同図中の左図に示されるように、判定エリアＢに含まれることとなる。したがって、測定器１４は、判別処理を実行することにより、電解コンデンサ１が良品であると判別する。また、測定器１４は、検査対象となっている電解コンデンサ１が良品である旨をインジケータ１４ｄに表示する。
【００２６】
また、電解コンデンサ１の陰極端子４とケース５とが短絡しているときには、図４中の右図に示すように漏れ抵抗Ｒ２の抵抗値がほぼゼロとなる。このため、チャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャックが正常に行われている状態において、測定器１４で測定される波形Ａは、陽極端子３および陰極端子４間に発生する電圧が漏れ抵抗Ｒ１全体に印加されるため、図４中の左図に示すように、陰極端子４とケース５とが短絡していない電解コンデンサ１の波形Ａ（図３中の左図）よりも、高い電圧まで上昇する。しかしながら、漏れ抵抗Ｒ２の抵抗値は元々小さいため、図４中の左図に示すように、多くの電解コンデンサ１で判定エリアＢ内に含まれることとなる。このような電解コンデンサ１はコンデンサとしての機能には問題ないため、測定器１４は、このような電解コンデンサ１を良品と判別し、その旨をインジケータ１４ｄに表示する。
【００２７】
一方、電解コンデンサ１の陽極端子３とケース５とが短絡しているときには、図５中の右図に示すように漏れ抵抗Ｒ１の抵抗値がほぼゼロとなる。このため、チャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャックが正常に行われている状態においても、同図中の左図に示すように、測定器１４で測定される波形Ａはゼロボルトのままで、変化しない。このため、波形Ａは電源部１３による電圧の印加開始（時刻ｔ１）直後から判定エリアＢに含まれないこととなる（具体的には、判定エリアＢの下限電圧値よりも低い電圧となる）。また、電解コンデンサ１が良品であっても、図６に示すように、チャック部１１ｂにおいてチャック不良（陰極端子４がチャックされていない状態）が発生しているときには、電源部１３による電解コンデンサ１の充電が行われない。このため、この場合にも、測定器１４で測定される波形Ａは、図５中の左図に示すように、ゼロボルトから変化せずに、判定エリアＢの下限電圧値よりも低い電圧となる。したがって、測定器１４は、波形Ａが図５の左図に示す態様で判定エリアＢに含まれない状態となっているときには、陽極端子３とケース５とが短絡状態にあるか、またはチャック部１１ｂにおいて陰極端子４に対するチャック不良が発生している状態にあるかのいずれかであると判別して、その旨をインジケータ１４ｄに表示する。
【００２８】
また、電解コンデンサ１が良品であっても、図７に示すように、チャック部１１ａにおいてチャック不良（陽極端子３がチャックされていない状態）が発生しているときには、電源部１３の直流電源１３ｃからは電解コンデンサ１に対して正規の経路（図３に示す経路）での電流Ｉの供給は行われず、図７中の右図に示す経路（測定器１４の内部抵抗Ｒｉ（図２，７参照）を含む経路）で電流Ｉが供給される。この経路においては、静電容量Ｃは、抵抗値の極めて大きい漏れ抵抗Ｒ１と直列に接続されると共にその直列回路と抵抗値の小さい漏れ抵抗Ｒ２とが並列に接続された状態で含まれる。このため、測定器１４で測定される波形Ａは、静電容量Ｃの存在には殆ど影響を受けることなく、図７中の左図に示すように、電源部１３の直流電源１３ｃによる電圧の印加開始（時刻ｔ１）直後に、急激に上昇して判定エリアＢの上限電圧値よりも高い電圧となり、その後に徐々に低下する波形となる。したがって、測定器１４は、波形Ａが図７の左図に示す態様で判定エリアＢに含まれない状態となっているときには、チャック部１１ａにチャック不良が発生していると判別して、その旨をインジケータ１４ｄに表示する。なお、図７中の左図に示すような波形Ａは、電解コンデンサ１が搬送用トレイの凹部へ正常の収容状態から１８０°回転して収容されている誤装着状態、つまりチャック部１１ａで陰極端子４をチャックするようになる状態において、チャック部１１ａでチャック不良が発生しているときにも発生する。
【００２９】
また、電解コンデンサ１が良品であって、かつチャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャックが正常に行われている状態であっても、例えば、電解コンデンサ１が搬送用トレイの凹部へ上記の誤装着状態で収容されていることに起因して、図８中の右図に示すように、チャック部１１ａで陰極端子４がチャックされ、チャック部１１ｂで陽極端子３がチャックされている状態（逆装着状態）のときには、測定器１４は、漏れ抵抗Ｒ１と比較して抵抗値が大幅に小さい漏れ抵抗Ｒ１の両端間にその電圧検出プローブ１４ａ，１４ｂが接続されることになる。このため、測定器１４で測定される波形Ａは、図８中の左図に示すように、電源部１３による電圧印加開始（時刻ｔ１）直後から徐々に上昇するものの極めて低い電圧までしか上昇せず、判定エリアＢの下限電圧値を下回るものとなる。したがって、測定器１４は、波形Ａが図８中の左図に示す態様で判定エリアＢに含まれない状態となっているときには、電解コンデンサ１の陽極端子３および陰極端子４が、チャック部１１ａ，１１ｂに逆装着状態（逆極性）でチャックされていると判別して、その旨をインジケータ１４ｄに表示する。
【００３０】
測定器１４は、検査対象となっている１つの電解コンデンサ１に対する上記の測定処理および判別処理が完了したときには、完了信号Ｓ５を制御部１５に出力する。制御部１５は、完了信号Ｓ５を入力したときには、制御信号Ｓ１を各チャック部１１ａ，１１ｂに出力して非チャック状態に移行させる（ステップ５４）。次いで、制御部１５は、未検査の電解コンデンサ１が存在するか否かを判別し（ステップ５５）、存在する場合には、ステップ５１に移行して、次に検査対象となる電解コンデンサ１の位置にチャック部１１ａ，１１ｂを移動させる。制御部１５は、上記のステップ５１〜５５を繰り返し実行して、搬送用トレイに収容されている電解コンデンサ１に対する検査を続行する。一方、ステップ５５において、未検査の電解コンデンサ１が存在しないと判別したときには、制御部１５は、各チャック部１１ａ，１１ｂを待避位置に移動させる（ステップ５６）。これにより、検査処理が完了する。したがって、作業者は、測定器１４のインジケータ１４ｄの表示や、表示部１４ｃに表示される波形Ａを観測することにより、電解コンデンサ１についての良否の判断や、チャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャック状態の良否を判断可能となっている。
【００３１】
このように、この電解コンデンサ検査装置１０、およびこの電解コンデンサ検査装置１０が実行する電解コンデンサの検査方法では、陽極出力端子１３ｄと陰極出力端子１３ｅとの間に抵抗１３ｂおよび直流電源１３ｃが直列接続されて構成された電源部１３から電解コンデンサ１の陽極端子３と陰極端子４との間に直流電圧Ｖを印加すると共に、ケース５と電源部１３の陽極出力端子１３ｄとの間の波形Ａを直流電圧Ｖの印加開始（時刻ｔ１）から測定し、測定された波形Ａを判定エリアＢと比較して、波形Ａの全体が判定エリアＢ内にあるときには、陽極端子３とケース５との間が非短絡状態にあると判別し、波形Ａの少なくとも一部が判定エリアＢに含まれていないとき（判定エリアＢ外にあるとき）には、波形Ａの形状に基づいて、陽極端子３とケース５との間が短絡する短絡状態および電源部１３の陰極出力端子１３ｅと陰極端子４とが非接続となる非接続状態（チャック部１１ｂでチャック不良が生じている状態）のいずれかの状態であるか、または電源部１３の陽極出力端子１３ｄと陽極端子３とが非接続となる非接続状態（チャック部１１ａでチャック不良が生じている状態）であると判別する。
【００３２】
したがって、この電解コンデンサ検査装置１０および電解コンデンサの検査方法によれば、電解コンデンサ１の良否の検出と共に、チャック部１１ａ，１１ｂによる陽極端子３および陰極端子４のチャック不良を検出することができるため、電解コンデンサ１に対する正確な検査を実行することができる。また、この電解コンデンサ検査装置１０、および電解コンデンサの検査方法によれば、測定器１４の１つのチャンネルを使用するだけで、電解コンデンサ１の検査をチャック状態を含めて検査することができるため、装置構成や検査方法を単純化することができる。
【００３３】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、電源部１３から直流電圧Ｖを電解コンデンサ１に印加して、測定器１４による波形Ａの測定中において、制御部１５が制御信号Ｓ２を移動機構１２に出力することにより、移動機構１２に対してチャック部１１ａ，１１ｂを電解コンデンサ１側にさらに移動させる制御を行わせるようにすることもできる。これにより、チャック部１１ａ，１１ｂから陽極端子３や陰極端子４を介してコンデンサ素子２が圧力を受けて、ケース５に押し付けられる。このため、陽極箔および陰極箔が電解紙に対してずれて巻回されて製造された結果、電解紙の端部と各箔との端部との間の距離が極めて少ない電解コンデンサ１（不良と判別すべき電解コンデンサ１）に対して、そのコンデンサ素子２をケース５に押し付けて検査することができるため、各箔のいずれかがケース５と接触する確率を高めることができ、これにより、不良と判別すべき電解コンデンサ１をより確実に不良と判別することができる。また、ケース５の内面には、アルミニウムの酸化被膜が存在しているため、電解コンデンサ１によっては、製造不良に起因して、箔、陽極端子３および陰極端子４の少なくとも１つがケース５と接触している状態であっても、この酸化被膜によって一時的に絶縁状態（高抵抗状態）となっていることがある。このような電解コンデンサ１（不良と判別すべき電解コンデンサ１）は、圧力や振動を加えない状態では良品として判別されるが、圧力や振動を加えることで、酸化被膜を物理的に破壊することができ、これにより、不良と判別することができる。
【００３４】
このため、制御部１５が制御信号Ｓ２を移動機構１２に出力することにより、移動機構１２に対してチャック部１１ａ，１１ｂを電解コンデンサ１に対して進退動させる制御を行わせるようにすることもできる。この構成によれば、電解コンデンサ１のコンデンサ素子２に対して振動を加えることができ、この振動により、上記のような不良と判別すべき電解コンデンサ１を、一層確実に不良と判別することもできる。なお、上記の例では、移動機構１２に対する制御により、電解コンデンサ１のコンデンサ素子２に対して圧力や振動を加えるようにしているが、圧力や振動を加えるための専用の機構（振動印加部）を設けることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】電解コンデンサ１の構成および電解コンデンサ検査装置１０の構成を示す構成図である。
【図２】電解コンデンサ１の等価回路を説明するための説明図である。
【図３】良品の電解コンデンサ１を正常にチャックした状態の電解コンデンサ検査装置１０の部分構成図、およびこの状態において表示部１４ｃに表示される波形Ａおよび判定エリアＢを説明するための説明図である。
【図４】陰極端子４がケース５と短絡している電解コンデンサ１を正常にチャックした状態の電解コンデンサ検査装置１０の部分構成図、およびこの状態において表示部１４ｃに表示される波形Ａおよび判定エリアＢを説明するための説明図である。
【図５】陽極端子３がケース５と短絡している電解コンデンサ１を正常にチャックした状態の電解コンデンサ検査装置１０の部分構成図、およびこの状態において表示部１４ｃに表示される波形Ａおよび判定エリアＢを説明するための説明図である。
【図６】チャック部１１ｂにおいてチャック不良が生じている状態の電解コンデンサ検査装置１０の部分構成図である。
【図７】チャック部１１ａにおいてチャック不良が生じている状態の電解コンデンサ検査装置１０の部分構成図、およびこの状態において表示部１４ｃに表示される波形Ａおよび判定エリアＢを説明するための説明図である。
【図８】電解コンデンサ１がチャック部１１ａ，１１ｂに逆装着状態（逆極性）でチャックされている状態の電解コンデンサ検査装置１０の部分構成図、およびこの状態において表示部１４ｃに表示される波形Ａおよび判定エリアＢを説明するための説明図である。
【図９】電解コンデンサ検査装置１０の検査処理５０を示すフローチャートである。
【図１０】電解コンデンサ１に対する従来の検査回路１０１の構成図である。
【図１１】電解コンデンサ１に対して直流抵抗計１１１を用いて検査する場合の構成図である。
【符号の説明】
【００３６】
１  電解コンデンサ
２  コンデンサ素子
３  陽極端子
４  陰極端子
５  ケース
１１ａ，１１ｂ  チャック部
１３  電源部
１３ｂ  抵抗
１３ｃ  直流電源
１３ｄ  陽極出力端子
１３ｅ  陰極出力端子
１４  測定器
１４ａ，１４ｂ  電圧検出プローブ
１５  制御部
Ａ  波形（電圧波形）
Ｂ  判定エリア
Ｖ  直流電圧
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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