(57)【要約】【課題】レンズシフトによりトラッキング誤差信号に生ずるオフセットをキャンセルすること。【解決手段】光検出器であって、その受光面が、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト方向線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト基準線を含む領域内に設けられた、上記対物レンズのレンズシフトがない場合のスポット中心を通る第１の直線、又は、上記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第２の直線のいずれかである第１の分割線Ｔ２により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする。【選択図】図１５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
多層化された光ディスクの記録面で反射し、対物レンズにより平行光とされ、さらにコリメータレンズにより集光された光ビームを受光する受光面を有する光検出器であって、
前記受光面は、
アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト方向線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト基準線を含む領域内に設けられた、前記対物レンズのレンズシフトがない場合のスポット中心を通る第１の直線、又は、
前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第２の直線
のいずれかである第１の分割線により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする光検出器。
【請求項２】
前記第１の分割線は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であり、かつ前記各レンズシフト方向線との角度差が所定角度以内である第１のピーク線であることを特徴とする請求項１に記載の光検出器。
【請求項３】
前記第１のピーク線は、前記各レンズシフト方向線のうち、アクセス対象層からみて層数が少ない側の隣接層のレンズシフト方向線との角度差が所定角度以内であることを特徴とする請求項２に記載の光検出器。
【請求項４】
前記受光面は、アクセス対象層が第１の層である場合の前記第１の分割線と、アクセス対象層が第２の層である場合の前記第１の分割線とにより複数の受光領域に分割されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項５】
前記第１の分割線として、アクセス対象層が第１の層である場合と第２の層である場合とで同一の直線を用いることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項６】
前記受光面は、
アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト基準線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト方向線を含む領域内に設けられた、前記スポット中心を通る第３の直線、又は、
前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第４の直線
のいずれかである第２の分割線により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項７】
前記第２の分割線は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であり、かつ前記各レンズシフト基準線との角度差が所定角度以内である第２のピーク線であることを特徴とする請求項６に記載の光検出器。
【請求項８】
前記第２のピーク線は、前記各レンズシフト基準線のうち、アクセス対象層からみて層数が多い側の隣接層のレンズシフト基準線との角度差が所定角度以内であることを特徴とする請求項７に記載の光検出器。
【請求項９】
前記受光面は、アクセス対象層が第１の層である場合の前記第２の分割線と、アクセス対象層が第２の層である場合の前記第２の分割線とにより複数の受光領域に分割されていることを特徴とする請求項６乃至８のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項１０】
前記第２の分割線として、アクセス対象層が第１の層である場合と第２の層である場合とで同一の直線を用いることを特徴とする請求項６乃至８のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項１１】
前記受光面は、アクセス対象層が第１の最外層である場合の前記第２の分割線及びアクセス対象層が第２の最外層である場合の前記第２の分割線により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする請求項６乃至８のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項１２】
前記各受光領域は、信号光のレンズシフト方向線に対して線対称に設けられることを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか一項に記載の光検出器。
【請求項１３】
前記各受光領域は信号光受光領域と重畳して設けられることを特徴とする請求項１２に記載の光検出器。
【請求項１４】
多層化された光ディスクの記録面で反射し、対物レンズにより平行光とされ、さらにコリメータレンズにより集光された光ビームを受光する受光面を有する光検出器であって、
前記受光面は、
アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト基準線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト方向線を含む領域内に設けられた、前記スポット中心を通る直線、又は、
前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である直線
のいずれかである分割線により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする光検出器。
【請求項１５】
請求項１乃至１４のいずれか一項に記載の光検出器を備え、
前記各受光領域の受光量に基づき、前記光ビームに含まれる迷光が前記光検出器上に形成するスポットのレンズシフトによる変化量を測定する測定手段と、
前記測定手段の測定結果を用いてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段と、
を備えることを特徴とする光学ドライブ装置。
【請求項１６】
請求項４又は６乃至１１のいずれか一項に記載の光検出器を備え、
前記複数の受光領域のうちの一部の受光量に基づき、前記光ビームに含まれる迷光が前記光検出器上に形成するスポットのレンズシフトによる変化量を測定する測定手段と、
前記測定手段の測定結果を用いてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段と、
を備えることを特徴とする光学ドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光検出器及び光学ドライブ装置に関し、特に、記録層が多層化された光ディスクに好適な光検出器及び光学ドライブ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ(Compact Disc)、ＤＶＤ、ＢＤ(Blu-ray Disc(登録商標))等の光ディスクの再生や記録を行うための光学ドライブ装置は光ピックアップを備えている。光ピックアップは、光ビームを生成し、対物レンズによって光ディスクの記録面上に収束させる往路光学系と、光ディスクの記録面で反射した光ビームを受光する光検出器を含む復路光学系とを有している。
【０００３】
光ビームの焦点位置は光ディスクの記録面上に形成されているトラックの中心に合っている必要があるため、光学ドライブ装置は光ディスク半径方向の焦点位置のずれを調整するためのトラッキングサーボと呼ばれる制御（例えば特許文献１に記載される差動プッシュプル法や特許文献２に記載される１プッシュプル法による制御）を行う。以下、このトラッキングサーボについて簡単に説明する。
【０００４】
図２３（ａ）には、複数のランドＬとグルーブＧから構成される光ディスク１１記録面の断面の端面と、対物レンズ１００と、光ビーム（入射光，反射光（０次回折光、±１次回折光））とを示している。同図に示すように、０次回折光と±１次回折光とは、干渉領域Ｅ１及びＥ２で干渉している。
【０００５】
次に、図２４は、光ディスク１１記録面で反射した光ビームを受光する光検出器１０１の受光面を示す図である。同図に示すように、光ディスク１１記録面で反射した０次回折光は光検出器１０１の中心にスポットを形成する。このスポットは、光路中に配置される各種レンズにより四角形や円形など様々な形となるが、ここでは四角形のスポットを描いている。
【０００６】
図２４に示すように、光検出器１０１の受光面は正方形であり、上下に分割されている。このような分割の結果、上側の受光領域１０１Ａは干渉領域Ｅ１を受光し、下側の受光領域１０１Ｂは干渉領域Ｅ２を受光することになる。
【０００７】
光ビームを受光した光検出器１０１は、受光領域ごとに、光ビームの強度を受光面で面積分して得られる値（受光量）の振幅を有する信号を出力する。以下では、各受光領域１０１Ａ，１０１Ｂに対応する出力信号を、それぞれＩ１０１Ａ，Ｉ１０１Ｂとする。
【０００８】
干渉領域Ｅ１及びＥ２の光強度は０次回折光と±１次回折光との位相差に応じた値となるが、この位相差は記録面上の凹凸によって変化する。したがって、入射光の焦点位置が光ディスク半径方向、すなわちトラックを横切る方向（図２３（ａ）の横方向）に移動する場合（以下、この移動をトラックジャンプという。）、移動に伴って０次回折光と±１次回折光との位相差が変化し、干渉領域Ｅ１及びＥ２の光強度が変化する。その結果、上記各出力信号も変化する。
【０００９】
図２３（ｂ）は、そのような各出力信号の変化を示している。同図に示すように、出力信号Ｉ１０１Ａ，Ｉ１０１Ｂは所定値ａを中心として互いに逆位相の変化を示し、その加算信号Ｉ１０１Ａ＋Ｉ１０１Ｂは常に一定値２ａとなる。
【００１０】
一方、出力信号の減算信号Ｉ１０１Ａ−Ｉ１０１Ｂ（以下、トラッキング誤差信号ＴＥという。）は、入射光の焦点位置がランドＬ又はグルーブＧの中心にある場合に０となり、その他の場合には０以外の値となる。トラッキングサーボはこのようなトラッキング誤差信号ＴＥの性質を用いるもので、光学ドライブ装置は、トラッキング誤差信号ＴＥの値が０となるように上記対物レンズの位置を制御することによって、光ディスク半径方向の焦点位置のずれを調整する。
【特許文献１】特開平４−１６８６３１号公報
【特許文献２】特開２００７−３３５０４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ところで、トラッキングサーボにより対物レンズの位置が移動する（以下、この移動をレンズシフトという。）と、それに伴って光検出器１０１上に形成されるスポットの範囲と強度中心が図２４に示したＹ方向にシフトする。そのため、トラッキング誤差信号ＴＥにオフセットが生じてしまい、トラッキングサーボの精度が悪化するという問題がある。
【００１２】
ここで、レンズシフトによるスポット範囲と強度中心のシフトについて説明しておく。
【００１３】
初めに、図２５は、光ディスク１１の再生及び記録を行うための光学ドライブ装置の模式図である。同図に示すように、光学ドライブ装置は、対物レンズ１００及び光検出器１０１の他、レーザ光源１０２、ビームスプリッタ１０４、コリメータレンズ１０５、１／４波長板１０６、センサレンズ１０７を備えて構成される。
【００１４】
レーザ光源１０２から出射された光ビームは、ビームスプリッタ１０４により反射されて光ディスク１１方向に進み、コリメータレンズ１０５により平行光となった後１／４波長板１０６を通過して、対物レンズ１００により光ディスク１１記録面で集光する。
【００１５】
光ディスク１１記録面で反射した光ビームは、対物レンズ１００により平行光となり、１／４波長板１０６を逆行してコリメータレンズ１０４に入射する。コリメータレンズ１０４は、入射してきた光ビームを光検出器１０１の受光面上に集光させる。センサレンズ１０７は、光検出器１０１の受光面上に集光する光ビームに非点収差を付与する。
【００１６】
図２６（ａ）は、光検出器１０１の受光面がセンサレンズ１０７の合焦点に位置している場合に、該受光面上に形成されるスポットの光強度を等高線（強度中心の光強度Ｉ０の所定数倍）で示した図である。Ｘ軸とＹ軸の交点（原点）は受光面の中心であり、コリメータレンズ１０５はこの原点が焦点となるよう配置されている。また、スポットの範囲は対物レンズ１００の直径によって決まり、対物レンズ１００の直径は通常、光強度Ｉ０の７７％までがスポットの範囲内となるよう設計されている。なお、光強度の等高線は、実際にはＹ軸方向がＸ軸方向に比べて長くなるが、図２６並びに後に説明する図２８では説明を簡単にするため真円形で描いている。
【００１７】
また、図２６（ｂ）には図２６（ａ）のＹ軸上に対応する光強度を示している。同図に示すように、スポットの光強度は強度中心を中心とする正規分布で近似できる。
【００１８】
図２６（ａ）の例はレンズシフトがない場合の例であるが、この場合同図に示すように、コリメータレンズ１０５の焦点とスポットの中心（スポット範囲の形状的な中心）と強度中心とはいずれも同じ位置にある。
【００１９】
レンズシフトがあると、対物レンズ１００の光軸とコリメータレンズ１０５の光軸がずれることになる。図２７はそのような状態での光ビームの様子を示したものである。レンズシフトがあると対物レンズ１００の焦点の位置が移動するため、対物レンズ１００を通過した光ビームが光ディスク１１記録面上に形成するスポットは対物レンズ１００の移動方向に移動する（トラッキングサーボはこの移動を利用するものである）。また、光ディスク１１記録面で反射した光ビームがコリメータレンズ１０４を介して光検出器１０１の受光面に形成するスポットも対物レンズ１００の移動方向に移動する。
【００２０】
図２８（ａ）は、図２７に示す例において、光検出器１０１の受光面上に形成されたスポットの光強度を、図２６（ａ）と同様の等高線で示した図である。同図に示すように、レンズシフトがあると強度中心がとスポットの範囲がともにＹ軸方向に移動する。ただし、これらの移動量は一致せず、強度中心の移動量はスポット範囲の移動量に比べて大きくなる。その結果、強度中心とスポット中心が一致しなくなる。
【００２１】
また、図２８（ｂ）には図２８（ａ）のＹ軸上に対応する光強度を示している。
【００２２】
以上のように、レンズシフトがあると、スポット範囲と強度中心がシフトする。このシフトはトラッキング誤差信号ＴＥの値にオフセットを生じさせる。
【００２３】
図２９は、対物レンズ１００のシフト量とトラッキング誤差信号ＴＥのオフセット量との関係を示す図である。同図に示すように、トラッキング誤差信号ＴＥのオフセット量はシフト量にほぼ比例して変化する。なお、シフト量が０のときにはオフセット量＝０となっている。
【００２４】
したがって、本発明の課題の一つは、レンズシフトによりトラッキング誤差信号に生ずるオフセットをキャンセルできる光検出器及び光学ドライブ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２５】
上記課題を解決するための本発明による光検出器は、多層化された光ディスクの記録面で反射し、対物レンズにより平行光とされ、さらにコリメータレンズにより集光された光ビームを受光する受光面を有する光検出器であって、前記受光面は、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト方向線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト基準線を含む領域内に設けられた、前記対物レンズのレンズシフトがない場合のスポット中心を通る第１の直線、又は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第２の直線のいずれかである第１の分割線により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする。
【００２６】
本発明によれば、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量を測定できるので、その結果を用いてトラッキング誤差信号に生ずるオフセットをキャンセルすることができるようになる。
【００２７】
また、上記光検出器において、前記第１の分割線は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であり、かつ前記各レンズシフト方向線との角度差が所定角度以内である第１のピーク線であることとしてもよいし、前記第１のピーク線は、前記各レンズシフト方向線のうち、アクセス対象層からみて層数が少ない側の隣接層のレンズシフト方向線との角度差が所定角度以内であることとしてもよい。これによれば、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量を精度よく測定できる。
【００２８】
また、上記光検出器において、前記受光面は、アクセス対象層が第１の層である場合の前記第１の分割線と、アクセス対象層が第２の層である場合の前記第１の分割線とにより複数の受光領域に分割されていることとしてもよい。これによれば、各層について好適に、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量を測定できる。
【００２９】
また、上記光検出器において、前記第１の分割線として、アクセス対象層が第１の層である場合と第２の層である場合とで同一の直線を用いることとしてもよい。これによれば、分割線を減らすことができる。
【００３０】
また、上記光検出器において、前記受光面は、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト基準線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト方向線を含む領域内に設けられた、前記スポット中心を通る第３の直線、又は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第４の直線のいずれかである第２の分割線により複数の受光領域に分割されていることとしてもよい。これによれば、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量を精度よく測定できる。
【００３１】
また、上記光検出器において、前記第２の分割線は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であり、かつ前記各レンズシフト基準線との角度差が所定角度以内である第２のピーク線であることとしてもよいし、前記第２のピーク線は、前記各レンズシフト基準線のうち、アクセス対象層からみて層数が多い側の隣接層のレンズシフト基準線との角度差が所定角度以内であることとしてもよい。これによれば、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量をより精度よく測定できる。
【００３２】
また、上記光検出器において、前記受光面は、アクセス対象層が第１の層である場合の前記第２の分割線と、アクセス対象層が第２の層である場合の前記第２の分割線とにより複数の受光領域に分割されていることとしてもよい。これによれば、各層について好適に、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量を測定できる。
【００３３】
また、上記光検出器において、前記第２の分割線として、アクセス対象層が第１の層である場合と第２の層である場合とで同一の直線を用いることとしてもよい。これによれば、分割線を減らすことができる。
【００３４】
また、上記光検出器において、前記受光面は、アクセス対象層が第１の最外層である場合の前記第２の分割線及びアクセス対象層が第２の最外層である場合の前記第２の分割線により複数の受光領域に分割されていることとしてもよい。このようにしても、分割線を減らすことができる。
【００３５】
また、上記光検出器において、前記各受光領域は、信号光のレンズシフト方向線に対して線対称に設けられることとしてもよい。そして、前記各受光領域は信号光受光領域と重畳して設けられることとしてもよい。これによれば、測定される変化量の値を大きくすることができる。
【００３６】
また、本発明の他の一側面による光検出器は、多層化された光ディスクの記録面で反射し、対物レンズにより平行光とされ、さらにコリメータレンズにより集光された光ビームを受光する受光面を有する光検出器であって、前記受光面は、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームそれぞれのレンズシフト基準線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト方向線を含む領域内に設けられた、前記スポット中心を通る直線、又は、前記スポット中心を通る直線であるとともに、アクセス対象層以外の各層で反射した各光ビームの該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である直線のいずれかである分割線により複数の受光領域に分割されていることを特徴とする。
【００３７】
本発明によっても、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量を測定できるので、その結果を用いてトラッキング誤差信号に生ずるオフセットをキャンセルすることができるようになる。
【００３８】
また、本発明による光学ドライブ装置は、上記各光検出器を備え、前記各受光領域の受光量に基づき、前記光ビームに含まれる迷光が前記光検出器上に形成するスポットのレンズシフトによる変化量を測定する測定手段と、前記測定手段の測定結果を用いてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段とを備えることを特徴とする。
【００３９】
本発明によれば、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量の測定結果を用いてトラッキング誤差信号に生ずるオフセットをキャンセルすることができるようになる。
【００４０】
また、本発明の他の一側面によるによる光学ドライブ装置は、上記各光検出器を備え、前記複数の受光領域のうちの一部の受光量に基づき、前記光ビームに含まれる迷光が前記光検出器上に形成するスポットのレンズシフトによる変化量を測定する測定手段と、前記測定手段の測定結果を用いてトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段とを備えることを特徴とする。
【００４１】
本発明によれば、迷光受光領域の面積を小さくすることができる。また、迷光受光領域の面積を小さくすることで、光ディスク以外で反射してきた迷光の影響を小さくすることができる。
【発明の効果】
【００４２】
本発明によれば、レンズシフトによって迷光スポットに生ずる変化量の測定結果を用いて、トラッキング誤差信号ＴＥに生ずるオフセットをキャンセルすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４３】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。
【００４４】
図１は、本実施の形態による光学ドライブ装置１の模式図の一例である。
【００４５】
光学ドライブ装置１は光ディスク１１の再生及び記録を行う。光ディスク１１としてはＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ等の各種光記録媒体を用いることができるが、本実施の形態では特に、多層膜によって２層以上に多層化された記録面を有する円盤状の光ディスクを用いる。
【００４６】
図１に示すように、光学ドライブ装置１は、レーザ光源２、光学系３、対物レンズ４、光検出器５、及び処理部６を備えて構成される。これらのうち、レーザ光源２、光学系３、対物レンズ４、及び光検出器５は光ピックアップを構成する。
【００４７】
光学系３は、ビームスプリッタ２２、コリメータレンズ２３、１／４波長板２４、センサレンズ（シリンドリカルレンズ）２５を有している。
【００４８】
光学系３は、レーザ光源２が発した光ビームを光ディスク１１に導く往路光学系として機能するとともに、光ディスク１１からの戻りビームを光検出器５に導く復路光学系としても機能する。
【００４９】
光学系３の往路光学系では、レーザ光源２が発した光ビームはＰ偏光としてビームスプリッタ２２に入射する。ビームスプリッタ２２は、入射されたＰ偏光を反射して、その進路を光ディスク１１方向に折り曲げる。コリメータレンズ２３は両凸レンズであり、ビームスプリッタ２２から入射される光ビームを平行光とする。１／４波長板２４は、コリメータレンズ２３を通過した光ビームを円偏光とする。１／４波長板２４を通過した光ビームは対物レンズ４に入射する。
【００５０】
対物レンズ４は、光学系３から入射される光ビーム（平行光状態の光ビーム）を光ディスク１１上に集光させるとともに、光ディスク１１の記録面で反射してきた戻り光ビームを平行光に戻す。
【００５１】
光学系３の復路光学系では、対物レンズ４を通過し、１／４波長板２４を往復することによりＳ偏光となった光ビームがコリメータレンズ２３に入射する。コリメータレンズ２３を通過した光ビームは、集光しつつビームスプリッタ２２に入射する。ビームスプリッタ２２は、入射してきた光ビームを１００％透過してセンサレンズ２５に入射させる。センサレンズ２５は、ビームスプリッタ２２から入射された光ビームに非点収差を付与する。非点収差を付与された光ビームは光検出器５に入射する。
【００５２】
図２はセンサレンズ２５によって付与される非点収差の説明図である。同図に示すように、センサレンズ２５は一方方向（同図ＭＹ軸方向＝子線方向。）にのみレンズ効果を有している。そのため、コリメータレンズ２３（図１）とセンサレンズ２５によって構成される光学系の焦点の位置は、ＭＹ軸方向と、ＭＹ軸方向に垂直な方向であるＭＸ軸方向（母線方向）とで異なっている（図２に示すＭＹ軸焦点とＭＸ軸焦点）。なお、ＭＹ軸方向とＭＸ軸方向の光ビームの長さが等しい点を合焦点と称する。
【００５３】
光学ドライブ装置１では、焦点を合わせようとする層（アクセス対象層）で反射した光ビーム（信号光）の合掌点がちょうど光検出器５上に位置するよう、対物レンズ４の位置制御が行われる（後述するフォーカスサーボ）。逆に言えば、アクセス対象層以外の層で反射した光ビーム（迷光）の合掌点は光検出器５上に位置しないこととなり、迷光が光検出器５上に形成するスポット（迷光スポット）は、信号光が光検出器５上に形成するスポット（信号光スポット）に比べ、ＭＹ軸方向とＭＸ軸方向の少なくとも一方に広がった形状を有することとなる。
【００５４】
図１に戻る。光検出器５は、信号光を受光するための信号光受光領域と、迷光を受光するための迷光受光領域とを備える。
【００５５】
図３（ａ）は光検出器５の信号光受光領域８を示している。同図に示すように、信号光受光領域８は、所定サイズの正方形の受光面を有する４つの受光領域８Ａ，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄを図面左上から反時計回りに配置してなる４分割受光領域である。以下では、信号光受光領域８の縦方向分割線をＹ軸、横方向分割線をＸ軸と称する。信号光受光領域８は、上述したＭＸ軸方向及びＭＹ軸方向が信号光受光領域８の対角線と一致するよう配置される。
【００５６】
図３（ａ）には、レンズシフトがない場合の信号光スポットの例を記載している。同図に示すように、この場合の信号光スポットの中心は原点（Ｘ軸とＹ軸の交点）となる。
【００５７】
図３（ｂ）には、レンズシフトによって最大限移動した信号光スポットの例を記載している。同図に示すように、信号光受光領域８のサイズは、信号光スポットがレンズシフトによって移動した場合においても信号光スポットの全体が受光できるよう決定されている。なお、以下では、レンズシフトによるスポットの移動方向をレンズシフト方向線ＬＤＳと称し、レンズシフトによるスポットの移動の基準となる線をレンズシフト基準線ＬＢＳと称する。信号光スポットのレンズシフト方向線ＬＤＳ，レンズシフト基準線ＬＢＳはそれぞれＹ軸，Ｘ軸と一致する。また、以下では、対物レンズ４のレンズシフトによる移動方向にプラス方向とマイナス方向を設けることとし、図３の例でいえば、受光領域８Ｂ，８Ｃ側へ信号光スポットを移動させる対物レンズ４の移動方向をプラス方向、その反対側へ信号光スポットを移動させる対物レンズ４の移動方向をマイナス方向と称することとする。
【００５８】
光ビームを受光した光検出器５は、受光領域ごとに、光ビームの強度を受光面で面積分して得られる値（受光量）の振幅を有する信号を出力する。以下では、受光領域Ｘ（Ｘは受光領域の符号）に対応する出力信号をＩＸと記載する。
【００５９】
光検出器５の迷光受光領域については後述する。
【００６０】
図１に戻る。処理部６は、一例として多チャンネル分のアナログ信号をデジタルデータに変換するＡ／Ｄ変換機能を備えたＤＳＰ(Digital Signal Processor)で構成されており、光検出器５の出力信号の入力を受け付けて、上述したトラッキング誤差信号ＴＥ及びフォーカス誤差信号ＦＥを生成する。本実施形態では、トラッキング誤差信号ＴＥ及びフォーカス誤差信号ＦＥは、それぞれ式（１）及び式（２）で表される。なお、式（１）のＰＰはプッシュプル信号であり、式（３）で表される。また、ＴＥａは迷光スポットのレンズシフトによる変化量であり、後に詳述する。
ＴＥ＝ＰＰ−ＴＥａ  ・・・（１）
ＦＥ＝（Ｉ８Ａ＋Ｉ８Ｃ）−（Ｉ８Ｂ＋Ｉ８Ｄ）  ・・・（２）
ＰＰ＝（Ｉ８Ａ＋Ｉ８Ｄ）−（Ｉ８Ｂ＋Ｉ８Ｃ）  ・・・（３）
【００６１】
処理部６は、対物レンズ４を光ディスク１１の記録面に対して垂直方向に移動させることにより、光ビームが記録面上に形成するスポットの位置を記録面に対して接離動させる機能も有しており、生成したフォーカス誤差信号ＦＥが０となるように対物レンズ４を移動させる（フォーカスサーボ）。なお、処理部６は対物レンズ４の垂直位置を層ごとに記憶しており、まず初めにアクセス対象層について記憶している垂直位置まで対物レンズ４を移動させる。そしてその後、フォーカス誤差信号ＦＥが０となるように対物レンズ４を移動させる処理を実行する。これにより処理部６は、光ビームの焦点を記録面上に合わせる。
【００６２】
また、処理部６は、対物レンズ４を光ディスク１１の径方向に移動させる（レンズシフト）ことにより、光ビームが記録面上に形成するスポットの位置を光ディスク１１の径方向に移動させる機能を有しており、生成したトラッキング誤差信号ＴＥが０となるように対物レンズ４をレンズシフトさせる（トラッキングサーボ）。これにより処理部６は、光ビームの焦点をトラック上に合わせる。
【００６３】
さて、上述したように、光検出器５上に形成される信号光スポットにはレンズシフトによるシフトが生じ、そのためにトラッキング誤差信号ＴＥにオフセットが生ずる。レンズシフトによるトラッキングサーボの精度の悪化を防止するためには、レンズシフトによってトラッキング誤差信号ＴＥに生ずるオフセットをキャンセルできるようにすることが好ましい。そこで本実施の形態では、そのためのひとつの方法として迷光スポットを利用する。すなわち、迷光スポットにも信号光スポット同様にレンズシフトによる変化が生ずるが、処理部６は、この変化の量を測定し、その測定結果を用いてトラッキング誤差信号ＴＥに生ずるオフセットをキャンセルする。
【００６４】
図４は、このような機能を実現するための処理部６の機能ブロックを示す図である。同図に示すように、処理部６はプッシュプル信号生成部６１、変化量測定部６２、トラッキング誤差信号生成部６３、対物レンズ制御部６４を含んで構成される。
【００６５】
プッシュプル信号生成部６１は、光検出器５の信号光受光領域８の出力信号を受け付け、式（３）によりプッシュプル信号ＰＰを生成する。変化量測定部６２（測定手段）は、光検出器５の迷光受光領域の出力信号を受け付ける。そして、受け付けた出力信号により迷光スポットのレンズシフトによる変化量を測定する。
【００６６】
トラッキング誤差信号生成部６３（トラッキング誤差信号生成手段）は、プッシュプル信号生成部６１が生成したプッシュプル信号ＰＰと、変化量測定部６２が測定した変化量とを式（１）に代入することにより、トラッキング誤差信号ＴＥを算出する。対物レンズ制御部６４は、トラッキング誤差信号生成部６３が算出したトラッキング誤差信号ＴＥの値に基づいて、対物レンズ４の制御信号を生成し、対物レンズ４の位置制御のためのアクチュエータ（不図示）に出力する。
【００６７】
以下、光検出器５の迷光受光領域と変化量測定部６２が行う変化量の測定について説明するが、その前に迷光とレンズシフトの関係について詳しく説明しておく。
【００６８】
まず、図５は、光ディスク１１の層構成の一例を示す図である。同図に示すように、この例による光ディスク１１は、対物レンズ４に遠い側から順に層Ｌ０〜Ｌ４を有する５層構成であり、層間隔は層Ｌ０と層Ｌ１の間から順に１６μｍ，１０μｍ，１０μｍ，１６μｍとなっている。
【００６９】
なお、以下の説明では、アクセス対象層がＬｘ（ここではｘ＝０〜４）である場合に、層Ｌｙ（ここではｙ＝０〜４，ｙ≠ｘ）で反射した迷光を迷光ｘ−ｙと表すことにする。また、迷光ｘ−ｙのスポットのレンズシフト方向線及びレンズシフト基準線をそれぞれＬＤｘ−ｙ及びＬＢｘ−ｙと表すことにする。
【００７０】
ここでは、アクセス対象層が層Ｌ２である場合のみを取り上げて説明する。
【００７１】
図６は、レンズシフトがない場合（対物レンズ４のシフト量＝０）において光検出器５上に形成されるスポットを、信号光及び迷光ごとに示したものである。各図の中心には信号光受光領域８を示している。
【００７２】
図６の各図に示すように、各迷光が形成するスポットは信号光受光領域８のサイズよりも大きく、信号光受光領域８を大きくはみ出している。
【００７３】
各迷光のうち迷光２−３，迷光２−４のスポットは、ＭＸ軸方向への広がりがＭＹ軸方向への広がりに比べて大きくなっている。迷光２−３，迷光２−４はＭＹ軸焦点（図２）よりもセンサレンズ２５に近い位置で光検出器５上にスポットを形成しているためである。また、迷光２−３のスポットは迷光２−４に比べて小さくなっている。層Ｌ３が層Ｌ４に比べてアクセス対象層Ｌ２に近いためである。
【００７４】
一方、迷光２−１，迷光２−０のスポットは、ＭＹ軸方向への広がりがＭＸ軸方向への広がりに比べて大きくなっている。迷光２−１，迷光２−０はＭＸ軸焦点（図２）よりもセンサレンズ２５から遠い位置で光検出器５上にスポットを形成しているためである。また、迷光２−１のスポットは迷光２−０に比べて小さくなっている。層Ｌ１が層Ｌ０に比べてアクセス対象層Ｌ２に近いためである。
【００７５】
図６には、各スポットのレンズシフト方向線とレンズシフト基準線も示している。
【００７６】
同図に示すように、各迷光スポットのレンズシフト方向線及びレンズシフト基準線は、センサレンズ２５の影響により、信号光スポットのレンズシフト方向線ＬＤＳ及びレンズシフト基準線ＬＢＳに比べて斜めに傾いている。
【００７７】
具体的には、レンズシフト方向線及びレンズシフト基準線のいずれも、スポット形成位置が図２の合焦点よりセンサレンズ２５に近づくとともにＭＸ軸に近づき、ＭＹ軸側焦点でＭＸ軸に一致する。そこからさらにセンサレンズ２５に近づくと、ＭＸ軸を越えてさらに傾いていく（図６（ａ）（ｂ））。一方、レンズシフト方向線及びレンズシフト基準線のいずれも、スポット形成位置が図２の合焦点よりセンサレンズ２５から遠ざかるとともにＭＹ軸に近づき、ＭＸ軸側焦点でＭＹ軸に一致する。そこからさらにセンサレンズ２５に近づくと、ＭＹ軸を越えてさらに傾いていく（図６（ｄ）（ｅ））。
【００７８】
なお、レンズシフト方向線とレンズシフト基準線とはセンサレンズ２５の母線又は子線に対して線対称となっている。
【００７９】
図７は、レンズシフトによってプラス方向に移動した各スポットを、図６の各図に対応させて描いたものである。同図に示すように、迷光スポットも信号光スポットと同様、レンズシフトによって移動し、迷光スポットの強度中心（図中の黒点）はレンズシフト方向線上に位置する。
【００８０】
図８（ａ）は、図６の各図に示した信号光スポット、迷光スポット、及びそれぞれのレンズシフト方向線とレンズシフト基準線を一図に描いたものである。同様に、図８（ｂ）は、図７の各図に示した信号光スポット、迷光スポット、及びそれぞれのレンズシフト方向線とレンズシフト基準線を一図に描いたものである。図８（ａ）（ｂ）では等高線は省略している。各スポットは、図８（ａ）（ｂ）に示すように光検出器５上に重なって照射される。
【００８１】
次に、図９は、光ディスク１１の層構成の他の一例を示す図である。同図に示すように、この例による光ディスク１１は、対物レンズ４に遠い側から順に層Ｌ０〜Ｌ３を有する４層構成であり、層間隔は層Ｌ０と層Ｌ１の間から順に１３μｍ，１６μｍ，１０μｍとなっている。なお、各層からの反射光の光強度はほぼ同一である。
【００８２】
図１０及び図１１は、アクセス対象層が層Ｌ０〜Ｌ３の各層である場合ごとに、光ビームによって光検出器５上に形成されるスポットを示したものである。図１０（ａ）ではアクセス対象層が層Ｌ０であり、信号光は層Ｌ０での反射光となっている。また、迷光０−１，０−２，０−３が光検出器５上にスポットを形成する。同様に、図１０（ｂ）ではアクセス対象層が層Ｌ１であり、信号光は層Ｌ１での反射光となっている。また、迷光１−０，１−２，１−３が光検出器５上にスポットを形成する。また、図１１（ａ）ではアクセス対象層が層Ｌ２であり、信号光は層Ｌ２での反射光となっている。また、迷光２−０，２−１，２−３が光検出器５上にスポットを形成する。図１１（ｂ）ではアクセス対象層が層Ｌ３であり、信号光は層Ｌ３での反射光となっている。また、迷光３−０，３−１，３−２が光検出器５上にスポットを形成する。
【００８３】
図１０及び図１１には、各スポットのレンズシフト方向線及びレンズシフト基準線も示している。なお、図１０及び図１１に示した各スポットは、対物レンズ４がレンズシフトによってプラス方向へ移動している場合のものである。
【００８４】
ここで、図９の例による光ディスク１１を用いて受光量のシミュレーションを行った結果を示す。
【００８５】
まず、図１２はシミュレーションの説明図である。同図に示すように、このシミュレーションでは、原点を中心とする正方形の迷光受光領域９（信号光受光領域８部分も含む。）を設けた。なお、迷光受光領域９の大きさは全ての迷光が受光可能となる大きさとした（図１２及び以下の各図では、見易さを優先したため必ずしもそのようにはなっていない。）。
【００８６】
ここでは、正方形の迷光受光領域としたが、レーザー光の中心の強度が支配的で、特にディスクのタンジェンシャル方向の強度分布の方が急峻であるため、迷光受光領域をＸ軸方向に長い長方形としてもよい。また、隣接層の迷光を全て含んでいない大きさや形になっていても効果があればよい。
【００８７】
そしてさらに、原点を通り、Ｘ軸とθの角度をなす直線Ｌを設け、この直線Ｌによって迷光受光領域９を領域Ａ，Ｂに分け、θを−１８０°から１８０°まで変化させながら、迷光ごとに領域Ａ，Ｂそれぞれの受光量をシミュレーションした。なお、対物レンズ４のレンズシフト量は０．３ｍｍであるとし、アクセス対象層が層Ｌ１と層Ｌ２である場合についてシミュレーションを実施した。
【００８８】
図１３，図１４はそれぞれアクセス対象層が層Ｌ１，層Ｌ２である場合のシミュレーション結果を示している。なお、図１３，図１４の縦軸の「差分」は、直線Ｌの両側領域での受光量の差分、すなわち領域Ａの受光量と領域Ｂの受光量の差分（領域Ａの受光量ＩＡ−領域Ｂの受光量ＩＢ）を示している。また、迷光１−３，２−０については、迷光受光領域９が迷光１−３，２−０全てを含むほど大きくないとして、受光量の差分の２５％の値としている。
【００８９】
また、表１〜表８は図１３，図１４に示したシミュレーション結果の数値データである。表１〜表４が図１３に、表５〜表８が図１４に対応している。なお、これらの表には−９０°〜９０°の数値データのみを載せているが、θが１８０°異なる２つの直線Ｌの「差分」は符号のみが異なるので、−１８０°〜−９０°と及び９０°〜１８０°のデータは、−９０°〜９０°の数値データの符号を変えることにより容易に求められる。また、表中のＰ又はＳで始まる符号は図１３，図１４内の同一符号に対応している。ただし、下線を付した符号に限っては、図１３，図１４内の同一符号と１８０度異なるθに対応する欄に記載したものである。
【００９０】
【表１】
2009230840.tif 000003
【００９１】
【表２】
2009230840.tif 000004
【００９２】
【表３】
2009230840.tif 000005
【００９３】
【表４】
2009230840.tif 000006
【００９４】
【表５】
2009230840.tif 000007
【００９５】
【表６】
2009230840.tif 000008
【００９６】
【表７】
2009230840.tif 000009
【００９７】
【表８】
2009230840.tif 000010
【００９８】
図１３に示す例では、迷光は迷光１−０，１−２，１−３の３つとなる（図１０（ｂ）参照）。実際に光ディスク１１で反射してきた光ビームを光検出器５が受光する際には、これらの各迷光が同時に受光される。したがって、図１３中に示した「迷光１−０，１−２，１−３の差分の和」が、実際における領域Ａの受光量と領域Ｂの受光量の差分となる（ただし、ここでは信号光を考慮していない。）。そして、この「迷光１−０，１−２，１−３の差分の和」は、図１３に示すように、θ＝−９０°からθ＝９０°の間に絶対値が極大値となる極点Ｐ１，Ｐ２を有する。これら極点Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ対応する直線Ｌを、以下ではピーク線ということにする。なお、−１８０°〜−９０°と及び９０°〜１８０°にも極点があるが、対応する直線Ｌが−９０°〜９０°にある極点のものと同一になるので、ここでは取り上げない。
【００９９】
また、図１３に示すように、各迷光はそれぞれ極点Ｐ１０，Ｐ１２，Ｐ１３を有している。これらの各極点にそれぞれ対応する直線Ｌは概ね各迷光のレンズシフト基準線に等しくなる（シミュレーションは５°単位で行っているため、厳密に等しいわけではない。）。また、図１３に示すように、各迷光とθ軸とは交点Ｓ１０，Ｓ１２，Ｓ１３で交わっている。これらの各交点にそれぞれ対応する直線Ｌは各迷光のレンズシフト方向線に等しくなる。
【０１００】
図１３に示すように、極点Ｐ１に対応するθの値は、極点Ｐ１０，Ｐ１２，Ｐ１３に対応するθの値に近い。一方、極点Ｐ２に対応するθの値は、交点Ｓ１０，Ｓ１２，Ｓ１３に対応するθの値に近い。したがって、極点Ｐ１，Ｐ２は、それぞれ各迷光のレンズシフト基準線，レンズシフト方向線の付近に位置していると言え、また、極点Ｐ１は極点Ｐ１０，Ｐ１２，Ｐ１３の位置（θ）により決定され、同様に極点Ｐ２も交点Ｓ１０，Ｓ１２，Ｓ１３の位置（θ）により決定されている。
【０１０１】
より正確に言えば、極点Ｐ２は、各迷光のレンズシフト方向線に挟まれたθ範囲内（信号光のレンズシフト基準線（θ＝０°）を含むθ範囲内）に位置している。一方、極点Ｐ１は、各迷光のレンズシフト基準線に挟まれたθ範囲内（信号光のレンズシフト方向線（θ＝−９０°）を含むθ範囲内）から外れたところに位置している。これは、レンズシフト基準線の近辺は差分の変化がなだらかであるためである。すなわち、迷光１−２，１−３の極点Ｐ１２，Ｐ１３の近辺はなだらかに変化しているのに対して、迷光１−０は極点Ｐ１０を過ぎていくと変化が急になってくるため、極点Ｐ１２，Ｐ１３から少し外れたところに極点Ｐ１が生じる。
【０１０２】
図１４に示す例では、迷光は迷光２−０，２−１，２−３の３つとなる（図１１（ａ）参照）。そして、「迷光２−０，２−１，２−３の差分の和」は、図１４に示すように、θ＝−９０°からθ＝９０°の間に２つの絶対値が極大値となる極点Ｐ５，Ｐ６を有する。これら極点Ｐ５，Ｐ６にそれぞれ対応する直線Ｌもピーク線である。なお、−１８０°〜−９０°と及び９０°〜１８０°にも極値があるが、図１３と同様、ここでは取り上げない。
【０１０３】
また、図１４に示すように、各迷光はそれぞれ極点Ｐ２０，Ｐ２１，Ｐ２３を有している。これらの各極点にそれぞれ対応する直線Ｌは概ね各迷光のレンズシフト基準線に等しくなる（シミュレーションは５°単位で行っているため、厳密に等しいわけではない。）。また、図１４に示すように、各迷光とθ軸とは交点Ｓ２０，Ｓ２１，Ｓ２３で交わっている。これらの各交点にそれぞれ対応する直線Ｌは各迷光のレンズシフト方向線に等しくなる。
【０１０４】
図１４に示すように、極点Ｐ５に対応するθの値は、交点Ｓ２０，Ｓ２１，Ｓ２３に対応するθの値に近い。一方、極点Ｐ６に対応するθの値は、極点Ｐ２０，Ｐ２１，Ｐ２３に対応するθの値に近い。したがって、極点Ｐ５，Ｐ６は、それぞれ各迷光のレンズシフト方向線，レンズシフト基準線の付近に位置していると言え、また、極点Ｐ６は極点Ｐ２０，Ｐ２１，Ｐ２３の位置（θ）により決定され、同様に極点Ｐ５も交点Ｓ２０，Ｓ２１，Ｓ２３の位置（θ）により決定されている。
【０１０５】
より正確に言えば、極点Ｐ５は、各迷光のレンズシフト方向線に挟まれたθ範囲内（信号光のレンズシフト基準線（θ＝０°）を含むθ範囲内）に位置している。一方、極点Ｐ６は、各迷光のレンズシフト基準線に挟まれたθ範囲内（信号光のレンズシフト方向線（θ＝９０°）を含むθ範囲内）から外れたところに位置している。これは、レンズシフト基準線の近辺は差分の変化がなだらかであるためである。すなわち、迷光２−１，２−０の極点Ｐ２１，Ｐ２０の近辺はなだらかに変化しているのに対して、迷光２−３は極点Ｐ２３を過ぎていくと変化が急になってくるため、極点Ｐ２１，Ｐ２０から少し外れたところに極点Ｐ６が生じる。
【０１０６】
図１３，図１４に示した例は対物レンズ４のレンズシフト量が０．３ｍｍである例であるが、レンズシフト量が変化すると、それに伴って各迷光の差分の和も変化する。したがって、各迷光の差分の和はレンズシフトの変化量を反映した量であるということができるので、次の式（４）により上記変化量ＴＥａを求められることになる。
ＴＥａ＝（各迷光の差分の和）×ｋ  ・・・（４）
【０１０７】
なお、式（４）中のｋは定数であり、その最適値は予め測定によって求められるが、この定数ｋは要するに各迷光の差分の和の増幅率に他ならない。したがって各迷光の差分の和自体の値が大きいほど精度よく変化量ＴＥａを求めることができる。図１３の例（アクセス対象層が層Ｌ１である場合）で言えば、極値Ｐ２で各迷光の差分の和が最大となっており、したがって、アクセス対象層が層Ｌ１である場合には、極値Ｐ２に対応するピーク線で迷光受光領域９を分割することにより、最も精度よく変化量ＴＥａを求めることができることになる。同様に、アクセス対象層が層Ｌ２である場合には、極値Ｐ５に対応するピーク線で迷光受光領域９を分割することにより、最も精度よく変化量ＴＥａを求めることができることになる。
【０１０８】
以下、光検出器５の迷光受光領域と変化量測定部６２が行う変化量の測定について、３つの実施の形態を挙げて詳しく説明していく。以下の説明では図９の例による光ディスク１１を前提とし、逐次図１３，図１４を参照しながら説明を進める。
【０１０９】
［第１の実施の形態］
本実施の形態では、極値Ｐ２，Ｐ５に対応するピーク線（レンズシフト方向線付近のピーク線）を用いて分割した迷光受光領域を用いる。なお、本実施の形態ではアクセス対象層が層Ｌ１又は層Ｌ２である場合のみに着目して説明する。
【０１１０】
図１５は、本実施の形態による光検出器５の迷光受光領域１０を示す図である。なお、迷光受光領域１０は信号光受光領域８を含まない。また、迷光受光領域１０は、極点Ｐ２，Ｐ５にそれぞれ対応するピーク線Ｔ２及びピーク線Ｔ５によって４つの受光領域１０Ａ〜１０Ｄに分割されている。なお、同図中のθ（ｘ）は、極点ｘに対応するθの値を示している。
【０１１１】
変化量測定部６２は受光領域１０Ａ〜１０Ｄの受光量に基づいて変化量ＴＥａを測定する。具体的には、アクセス対象層が層Ｌ１であるときには、変化量測定部６２は次の式（５）により変化量ＴＥａを求める。なお、式（５）の右辺括弧内はピーク線Ｔ２の両側領域での受光量の差分となっている。また、ｋ１は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｃ＋Ｉ１０Ｄ）−（Ｉ１０Ａ＋Ｉ１０Ｂ））×ｋ１  ・・・（５）
【０１１２】
一方、アクセス対象層が層Ｌ２であるときには、変化量測定部６２は次の式（６）により変化量ＴＥａを求める。なお、式（６）の右辺括弧内はピーク線Ｔ５の両側領域での受光量の差分となっている。また、ｋ２は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ａ＋Ｉ１０Ｄ）−（Ｉ１０Ｂ＋Ｉ１０Ｃ））×ｋ２  ・・・（６）
【０１１３】
このようにすることにより、アクセス対象層が層Ｌ１又は層Ｌ２である場合に、変化量測定部６２は精度よく変化量ＴＥａを求めることができる。
【０１１４】
なお、受光領域１０Ａ〜１０Ｄの全てではなく、一部のみの受光量に基づいて変化量ＴＥａを求めることも好適である。一例として、受光領域１０Ａ，１０Ｃのみの受光量に基づいて変化量ＴＥａを求める例について説明する。
【０１１５】
この場合、変化量測定部６２は、アクセス対象層が層Ｌ１，Ｌ２であるとき、それぞれ次の式（７），式（８）によって変化量ＴＥａを求める。ただし、なお、ｋ４は定数であり、その最適値はアクセス対象層ごとに予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（Ｉ１０Ｃ−Ｉ１０Ａ）×ｋ３  ・・・（７）
ＴＥａ＝（Ｉ１０Ａ−Ｉ１０Ｃ）×ｋ４  ・・・（８）
【０１１６】
上記各式について詳しく説明する。式（７）の右辺は、式（９）のように変形できる。
（Ｉ１０Ｃ−Ｉ１０Ａ）×ｋ３＝｛（（Ｉ１０Ｃ＋Ｉ１０Ｄ）−（Ｉ１０Ａ＋Ｉ１０Ｂ））−（（Ｉ１０Ａ＋Ｉ１０Ｄ）−（Ｉ１０Ｂ＋Ｉ１０Ｃ））｝×ｋ３／２  ・・・（９）
【０１１７】
式（９）内の（Ｉ１０Ｃ＋Ｉ１０Ｄ）−（Ｉ１０Ａ＋Ｉ１０Ｂ）はピーク線Ｔ２の両側領域での受光量の差分であり、（Ｉ１０Ａ＋Ｉ１０Ｄ）−（Ｉ１０Ｂ＋Ｉ１０Ｃ）はピーク線Ｔ５の両側領域での受光量の差分である。そして、ピーク線Ｔ２，Ｔ５はそれぞれ極点Ｐ２，Ｐ５に対応しており、表３，表６より極点Ｐ２，Ｐ５はθ＝１０，−１０に対応しているので、例えばアクセス対象層が層Ｌ１である場合には、表２，表３より式（９）の右辺は、（０．６５０６２−０．４５６８６）×ｋ３／２＝０．０９９５８×ｋ３と計算できる。同様に、表２，表３より式（Ｘ７）の右辺は（０．７１２８１−０．５５２８５）×ｋ４／２＝０．０７９９８×ｋ４と計算できる。
【０１１８】
このように式（７），式（８）の変化量ＴＥａは０でない値を有し、そのため式（７），式（８）により変化量ＴＥａを求められることになる。そして、こうすることで迷光受光領域の面積を小さくすることができる。また、迷光受光領域の面積を小さくすることで、光ディスク１１以外で反射してきた迷光の影響を小さくすることができる。
【０１１９】
ここで、受光領域１０Ａ，１０Ｃは信号光のレンズシフト方向線（＝Ｙ軸）に対して線対称に設けられている。このように信号光のレンズシフト方向線に対して線対称に設けられている受光領域の差分のみに基づいて変化量ＴＥａを求める場合、各受光領域を信号光受光領域８に重畳して設けることが好適である。図１６には、受光領域１０Ａ，１０Ｃを信号光受光領域８に重畳して設けた例を示している。この重畳が可能になるのは、各受光領域が信号光のレンズシフト方向線に対して線対称であるため、信号光のレンズシフトによる変化量がキャンセルされるためである。こうすることで、変化量ＴＥａの値をより大きくすることができる。
【０１２０】
また、迷光受光領域１０は様々な理由で分割されることになるため、ピーク線Ｔ２，Ｔ５が常に利用可能であるとは限らない。このような場合、ピーク線Ｔ２，Ｔ５付近の直線により迷光受光領域１０を分割すればよい。
【０１２１】
具体的には、各迷光のレンズシフト方向線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト基準線を含む領域内に設けられた、原点を通る第１の直線、又は、原点を通る直線であるとともに、各迷光の該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第２の直線のいずれかである第１の分割線により複数の受光領域に分割すればよい。
【０１２２】
例えばアクセス対象層が層Ｌ１である場合について説明すると、第１の直線は図１７の斜線を施した領域（第１の直線の設置領域）内に設けられた、原点を通る直線である。この第１の直線の設置領域は、迷光１−０，１−２，１−３のレンズシフト方向線ＬＤ１−０，ＬＤ１−２，ＬＤ１−３に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト基準線（＝Ｘ軸）を含む領域となっている。
【０１２３】
一方、第２の直線は、原点を通る直線であるとともに、各迷光の該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内であることを満たす直線である。例えば所定量を１割とすると、概ね図１８に示した斜線領域内の直線が該当する。なお、上記所定量は、１つのピーク線が図１８に示した第２の直線の設置領域内に含まれることとなるよう決定されることが好適である。
【０１２４】
以上より、第１の分割線は、図１７又は図１８の斜線領域内の、原点を通る直線となる。
【０１２５】
なお、上記第１の分割線は、アクセス対象層からみて層数が少ない側の隣接層のレンズシフト方向線（アクセス対象層が層Ｌ１である場合にはレンズシフト方向線ＬＤ１−０。）との角度差が所定角度以内であることとしてもよい。ピーク線Ｔ５付近に分割線を設ける場合（アクセス対象層が層Ｌ２である場合）も上記と同様にする。
【０１２６】
また、図１５では迷光受光領域１０を分割するためにピーク線Ｔ２，Ｔ５を用い、４つの受光領域１０Ａ〜１０Ｄに分割したが、アクセス対象層が層Ｌ１である場合と層Ｌ２である場合とで同一の分割線を用いてもよい。この場合、分割領域は２つとなるが、アクセス対象層が層Ｌ１，層Ｌ２のいずれである場合にも、分割領域の受光量の差分から求める変化量ＴＥａは０でない値を有することになる。そして、この場合には分割線を減らすことができる。
【０１２７】
アクセス対象層がＬ０層の時はＬ１層の時と同じ演算を、アクセス対象層がＬ３層の時はＬ２層の時と同じ演算を行えばよい。
【０１２８】
［第２の実施の形態］
本実施の形態では、極値Ｐ２，Ｐ５に次いで両側領域での受光量の差分が大きくなる極値Ｐ１，Ｐ６に対応するピーク線（レンズシフト基準線付近のピーク線）を用いて分割した迷光受光領域を用いる。なお、本実施の形態でもアクセス対象層が層Ｌ１又は層Ｌ２である場合のみに着目して説明する。
【０１２９】
図１９は、本実施の形態による光検出器５の迷光受光領域１０を示す図である。同図に示すように、迷光受光領域１０は、極点Ｐ１，Ｐ６にそれぞれ対応するピーク線Ｔ１及びピーク線Ｔ６によって４つの受光領域１０Ｅ〜１０Ｈに分割されている。
【０１３０】
変化量測定部６２は受光領域１０Ｅ〜１０Ｈの受光量に基づいて変化量ＴＥａを測定する。具体的には、アクセス対象層が層Ｌ１であるときには、変化量測定部６２は次の式（１０）により変化量ＴＥａを求める。なお、式（１０）の右辺括弧内はピーク線Ｔ１の両側領域での受光量の差分となっている。また、ｋ５は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｅ＋Ｉ１０Ｆ）−（Ｉ１０Ｇ＋Ｉ１０Ｈ））×ｋ５  ・・・（１０）
【０１３１】
一方、アクセス対象層が層Ｌ２であるときには、変化量測定部６２は次の式（１１）により変化量ＴＥａを求める。なお、式（１１）の右辺括弧内はピーク線Ｔ６の両側領域での受光量の差分となっている。また、ｋ６は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｅ＋Ｉ１０Ｈ）−（Ｉ１０Ｆ＋Ｉ１０Ｇ））×ｋ６  ・・・（１１）
【０１３２】
このようにすることにより、アクセス対象層が層Ｌ１又は層Ｌ２である場合に、変化量測定部６２は精度よく変化量ＴＥａを求めることができる。
【０１３３】
なお、受光領域１０Ｅ〜１０Ｈの全てではなく、一部のみの受光量に基づいて変化量ＴＥａを求めることも好適である。一例として、受光領域１０Ｅ，１０Ｇのみの受光量に基づく場合、変化量測定部６２は、アクセス対象層が層Ｌ１又は層Ｌ２のいずれであっても次の式（１２）によって変化量ＴＥａを求める。ただし、なお、ｋ７は定数であり、その最適値はアクセス対象層ごとに予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（Ｉ１０Ｅ−Ｉ１０Ｇ）×ｋ７  ・・・（１２）
【０１３４】
式（１２）から求められる変化量ＴＥａは、第１の実施の形態で説明した式（７）及び式（８）の場合と同様、０でない値を有する。したがって、式（１２）により変化量ＴＥａを求められることになる。そして、こうすることで迷光受光領域の面積を小さくすることができる。また、迷光受光領域の面積を小さくすることで、光ディスク１１以外で反射してきた迷光の影響を小さくすることができる。
【０１３５】
ここで、受光領域１０Ｅ，１０Ｇは信号光のレンズシフト方向線（＝Ｙ軸）に対して線対称に設けられている。したがって、上述した受光領域１０Ａ，１０Ｃと同様に、受光領域１０Ｅ，１０Ｇを信号光受光領域８に重畳して設けることが可能である。こうすることで、変化量ＴＥａの値をより大きくすることができる。
【０１３６】
また、迷光受光領域１０は様々な理由で分割されることになるため、ピーク線Ｔ１，Ｔ６が常に利用可能であるとは限らない。このような場合、ピーク線Ｔ１，Ｔ６付近の直線により迷光受光領域１０を分割すればよい。
【０１３７】
具体的には、各迷光のレンズシフト基準線に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト方向線を含む領域内に設けられた、原点を通る第３の直線、又は、原点を通る直線であるとともに、各迷光の該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内である第４の直線のいずれかである第２の分割線により複数の受光領域に分割すればよい。
【０１３８】
例えばアクセス対象層が層Ｌ１である場合について説明すると、第３の直線は図２０の斜線を施した領域（第３の直線の設置領域）内に設けられた、原点を通る直線である。この第３の直線の設置領域は、迷光１−０，１−２，１−３のレンズシフト基準線ＬＢ１−０，ＬＢ１−２，ＬＢ１−３に挟まれ、かつ信号光のレンズシフト方向線（＝Ｙ軸）を含む領域となっている。
【０１３９】
一方、第４の直線は、原点を通る直線であるとともに、各迷光の該直線の両側での受光量の差分の和の絶対値が極大値であるか又は該極大値との相違が所定量以内であることを満たす直線である。例えば所定量を１割とすると、概ね図１８に示した斜線領域内の直線が該当する。これは第１の実施の形態と同様である。なお、上記所定量は、１つのピーク線が図１８に示した第４の直線の設置領域内に含まれることとなるよう決定されることが好適である。
【０１４０】
以上より、第２の分割線は、図２０又は図１８の斜線領域内の、原点を通る直線となる。
【０１４１】
なお、上記第２の分割線は、アクセス対象層からみて層数が多い側の隣接層のレンズシフト基準線（アクセス対象層が層Ｌ１である場合にはレンズシフト基準線ＬＢ１−２。）との角度差が所定角度以内であることとしてもよい。ピーク線Ｔ６付近に分割線を設ける場合（アクセス対象層が層Ｌ２である場合）も上記と同様にする。
【０１４２】
また、図１９では迷光受光領域１０を分割するためにピーク線Ｔ１，Ｔ６を用い、４つの受光領域１０Ａ〜１０Ｄに分割したが、アクセス対象層が層Ｌ１である場合と層Ｌ２である場合とで同一の分割線を用いてもよい。この場合、分割領域は２つとなるが、アクセス対象層が層Ｌ１，層Ｌ２のいずれである場合にも、分割領域の受光量の差分から求める変化量ＴＥａは０でない値を有することになる。そして、この場合には分割線を減らすことができる。
【０１４３】
アクセス対象層がＬ０層の時はＬ１層の時と同じ演算を、アクセス対象層がＬ３層の時はＬ２層の時と同じ演算を行えばよい。
【０１４４】
［第３の実施の形態］
本実施の形態では、１つのアクセス対象層につき２つの極値に対応する２本のピーク線を用いて分割した迷光受光領域を用いる。なお、本実施の形態ではアクセス対象層が層Ｌ１である場合のみに着目して説明する。
【０１４５】
図２１は、本実施の形態による光検出器５の迷光受光領域１０を示す図である。迷光受光領域１０は、例えば、極点Ｐ１，Ｐ２にそれぞれ対応するピーク線Ｔ１及びピーク線Ｔ２によって４つの受光領域１０Ｉ〜１０Ｌに分割されている。
【０１４６】
変化量測定部６２による変化量ＴＥａの測定について、本実施の形態では、２つの例を挙げる。
【０１４７】
１つ目の例では、変化量測定部６２は次の式（１３）により変化量ＴＥａを求める。なお、ｋ８は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝｛−（（Ｉ１０Ｊ＋Ｉ１０Ｋ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｌ））＋（（Ｉ１０Ｋ＋Ｉ１０Ｌ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｊ））｝×ｋ８  ・・・（１３）
【０１４８】
式（１３）右辺括弧内の（Ｉ１０Ｊ＋Ｉ１０Ｋ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｌ）はピーク線Ｔ１の両側領域での受光量の差分となっている。また、同じく（Ｉ１０Ｋ＋Ｉ１０Ｌ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｊ）はピーク線Ｔ２の両側領域での受光量の差分となっている。したがって、レンズシフト量が０．３ｍｍである場合を例にとると、式（１３）右辺は、表１，表３より（−０．５３５３４＋０．６５０６２）×ｋ８＝０．１１５２８×ｋ８と計算できる。
【０１４９】
このように、式（１３）から求められる変化量ＴＥａは０でない値を有する。したがって、式（１３）により変化量ＴＥａを求められることになる。
【０１５０】
ここで、式（１３）は式（１４）のように書き換えられる。
ＴＥａ＝（Ｉ１０Ｌ−Ｉ１０Ｊ）×２×ｋ８  ・・・（１４）
【０１５１】
式（１４）から明らかなように、この例で必要になる受光領域は実は受光領域１０Ｌ，１０Ｊのみであり、受光領域１０Ｋ，１０Ｉは不要である。したがって、これらを設けないことにより、迷光受光領域の面積を小さくすることができる。また、迷光受光領域の面積を小さくすることで、光ディスク１１以外で反射してきた迷光の影響を小さくすることができる。
【０１５２】
２つ目の例では、変化量測定部６２は次の式（１５）により変化量ＴＥａを求める。なお、ｋ９は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝｛（（Ｉ１０Ｊ＋Ｉ１０Ｋ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｌ））＋（（Ｉ１０Ｋ＋Ｉ１０Ｌ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｊ））｝×ｋ９  ・・・（１５）
【０１５３】
式（１５）と式（１３）の違いは、右辺括弧内の（Ｉ１０Ｊ＋Ｉ１０Ｋ）−（Ｉ１０Ｉ＋Ｉ１０Ｌ）の符号のみである。この場合、レンズシフト量が０．３ｍｍである場合を例にとると、式（１５）右辺は、表１，表３より（０．５３５３４＋０．６５０６２）×ｋ９＝１．１８５９６×ｋ９と計算できる。
【０１５４】
このように、式（１５）から求められる変化量ＴＥａも０でない値を有する。したがって、式（１５）により変化量ＴＥａを求められることになる。
【０１５５】
そしてさらに、式（１５）は式（１６）のように書き換えられる。
ＴＥａ＝（Ｉ１０Ｋ−Ｉ１０Ｉ）×２×ｋ９  ・・・（１６）
【０１５６】
式（１６）から明らかなように、この例で必要になる受光領域は受光領域１０Ｋ，１０Ｉのみであり、受光領域１０Ｊ，１０Ｌは不要である。したがって、これらを設けないことにより、迷光受光領域の面積を小さくすることができる。また、迷光受光領域の面積を小さくすることで、光ディスク１１以外で反射してきた迷光の影響を小さくすることができる。
【０１５７】
上記に２つの例をあげたが、式（１６）のように、受光領域１０Ｋ，１０Ｉのみを使った方が支配的であることが分かる。
【０１５８】
アクセス対象層が層Ｌ２である場合も、例えば、極点Ｐ５，Ｐ６にそれぞれ対応するピーク線Ｔ５及びピーク線Ｔ６によって４つの受光領域に分割されているとすると、アクセス対象層が層Ｌ１である場合と同様に考えられる。即ち、迷光受光領域は、ピーク線Ｔ１，Ｔ２，Ｔ５，Ｔ６によって８分割されることになる。層Ｌ０、層Ｌ３にアクセスしている時は、それぞれピーク線Ｔ１，Ｔ６を分割線とした演算をすればよい。また、上述したように、ピーク線Ｔ２，Ｔ５に対応する分割線を１つにして６分割としたり、ピーク線Ｔ１，Ｔ６に対応する分割線を１つにして６分割としてもよいし、ピーク線Ｔ２，Ｔ５に対応する分割線、ピーク線Ｔ１，Ｔ６に対応する分割線をそれぞれ同時に１つとして４分割にしてもよい。
【０１５９】
［第４の実施の形態］
本実施の形態では、アクセス対象層が層Ｌ１，層Ｌ２である場合に加え、層Ｌ０，層Ｌ３である場合についても言及する。
【０１６０】
まず、アクセス対象層が層Ｌ０，層Ｌ３である場合に関しては、第２の実施の形態と同様に、レンズシフト基準線付近のピーク線又はその付近の直線（上述した第２の分割線）を用いて迷光受光領域を分割する。層Ｌ０，層Ｌ３はともに最外層であるので、図１０（ａ）及び図１１（ｂ）に示すように、レンズシフト基準線はＹ軸の一方側に集まっている。概ねこれらのレンズシフト基準線付近に分割線を設ければよい。図２２には、このようにして設定した分割線Ｔ７，Ｔ８の例を示している。
【０１６１】
次に、アクセス対象層が層Ｌ１，層Ｌ２である場合に関しては、第３の実施の形態で説明したように、それぞれ２つの極値に対応する２本のピーク線（層Ｌ１に関してはピーク線Ｔ１，Ｔ２。層Ｌ２に関してはピーク線Ｔ５，Ｔ６。）を用いて分割するのであるが、ピーク線Ｔ１，Ｔ６はそれぞれ分割線Ｔ７，Ｔ８に近いので、これらで代用することができる。
【０１６２】
結局、本実施の形態では、図２２に示すように、ピーク線Ｔ２，Ｔ５及び分割線Ｔ７，Ｔ８を用いて８つの受光領域１０Ｍ〜１０Ｔに分割した迷光受光領域１０を用いる。
【０１６３】
変化量測定部６２は受光領域１０Ｍ〜１０Ｔの受光量に基づいて変化量ＴＥａを測定する。具体的な計算式は、アクセス対象層が層Ｌ０〜層Ｌ３のそれぞれである場合について、式（１７）〜式（２０）となる。なお、式（１７）及び式（２０）の右辺括弧内はそれぞれ分割線Ｔ７，Ｔ８の両側領域での受光量の差分となっている。また、式（１８）及び式（１９）は、第３の実施の形態で示した式（１６）を適用したものである。また、ｋ１０〜ｋ１３は定数であり、その最適値は予め測定によって求めておく。
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｎ＋Ｉ１０Ｏ＋Ｉ１０Ｐ＋Ｉ１０Ｑ）−（Ｉ１０Ｍ＋Ｉ１０Ｒ＋Ｉ１０Ｓ＋Ｉ１０Ｔ））×ｋ１０  ・・・（１７）
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｐ＋Ｉ１０Ｑ）−（Ｉ１０Ｍ＋Ｉ１０Ｔ））×ｋ１１  ・・・（１８）
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｓ＋Ｉ１０Ｔ）−（Ｉ１０Ｏ＋Ｉ１０Ｐ））×ｋ１２  ・・・（１９）
ＴＥａ＝（（Ｉ１０Ｍ＋Ｉ１０Ｎ＋Ｉ１０Ｓ＋Ｉ１０Ｔ）−（Ｉ１０Ｏ＋Ｉ１０Ｐ＋Ｉ１０Ｑ＋Ｉ１０Ｒ））×ｋ１３  ・・・（２０）
【０１６４】
このようにすることにより、アクセス対象層が層Ｌ０〜層Ｌ３のいずれであっても、変化量測定部６２は変化量ＴＥａを求めることができる。また、ピーク線Ｔ１，Ｔ６を分割線Ｔ７，Ｔ８で代用したことにより、分割線を減らすことに成功している。
【０１６５】
なお、上記例では、アクセス対象層が層Ｌ１，層Ｌ２である場合の変化量ＴＥａの算出式に第３の実施の形態で示した式（１６）を適用したが、例えば式（１４）を適用してもよいことは勿論である。また、ピーク線Ｔ２，Ｔ５を上述した第１の分割線をもって充ててもよいのは勿論である。
【０１６６】
以上、本発明の好ましい実施の形態について説明したが、本発明はこうした実施の形態に何等限定されるものではなく、本発明が、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施され得ることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【０１６７】
【図１】本発明の実施の形態による光学ドライブ装置の模式図の一例である。
【図２】本発明の実施の形態によるセンサレンズによって付与される非点収差の説明図である。
【図３】（ａ）（ｂ）ともに本発明の実施の形態による光検出器の信号光受光領域を示している。（ａ）はレンズシフトがない場合の信号光スポットの例を、（ｂ）はレンズシフトによって最大限移動した信号光スポットの例を、それぞれ示している。
【図４】本発明の実施の形態による処理部の機能ブロックを示す図である。
【図５】本発明による光ディスクの層構成の一例を示す図である。
【図６】図６の例による光ディスクを用い、レンズシフトがない場合において光検出器上に形成されるスポットを、信号光及び迷光ごとに示す図である。
【図７】図６の例による光ディスクを用いた場合に、レンズシフトによってプラス方向に移動した各スポットを、図６の各図に対応させて描いた図である。
【図８】（ａ）は図６の各図に示した信号光スポット、迷光スポット、及びそれぞれのレンズシフト方向線とレンズシフト基準線を一図に描いた図である。（ｂ）は図７の各図に示した信号光スポット、迷光スポット、及びそれぞれのレンズシフト方向線とレンズシフト基準線を一図に描いた図である。
【図９】本発明による光ディスクの層構成の他の一例を示す図である。
【図１０】図９の例による光ディスクを用いた場合に光検出器上に形成されるスポットを、アクセス対象層ごとに示した図である。
【図１１】図９の例による光ディスクを用いた場合に光検出器上に形成されるスポットを、アクセス対象層ごとに示した図である。
【図１２】図９の例による光ディスクを用いて行った受光量のシミュレーションの説明図である。
【図１３】アクセス対象層が層Ｌ１である場合の上記シミュレーションの結果を示す図である。
【図１４】アクセス対象層が層Ｌ２である場合の上記シミュレーションの結果を示す図である。
【図１５】本発明の第１の実施の形態による光検出器の迷光受光領域を示す図である。
【図１６】本発明の第１の実施の形態において、分割された受光領域を信号光受光領域に重畳して設けた例を示している。
【図１７】本発明の第１の実施の形態による第１の直線の設置領域を示す図である。
【図１８】本発明の第１，第２の実施の形態に関して、両側領域での差分の和の絶対値とその極大値との差が所定量以内である直線を含む領域を示す図である。
【図１９】本発明の第２の実施の形態による光検出器の迷光受光領域を示す図である。
【図２０】本発明の第２の実施の形態による第３の直線の設置領域を示す図である。
【図２１】本発明の第３の実施の形態による光検出器の迷光受光領域を示す図である。
【図２２】本発明の第４の実施の形態による光検出器の迷光受光領域を示す図である。
【図２３】（ａ）は本発明の背景技術による光ディスク記録面の断面の端面と、対物レンズと、光ビーム（入射光，反射光（０次回折光、±１次回折光））とを示す図である。（ｂ）は各出力信号の変化を示す図である。
【図２４】本発明の背景技術による光検出器の受光面を示す図である。
【図２５】本発明の背景技術による光ディスクの再生及び記録を行うための光学ドライブ装置の模式図である。
【図２６】（ａ）は光検出器の受光面がセンサレンズの合焦点に位置している場合に、該受光面上に形成されるスポットの光強度を等高線（強度中心の光強度Ｉ０の所定数倍）で示した図である。（ｂ）は（ａ）のＹ軸上に対応する光強度を示す図である。
【図２７】本発明の背景技術による光ディスクの再生及び記録を行うための光学ドライブ装置の模式図であり、特にレンズシフトがある場合の光ビームの様子を示す図である。
【図２８】（ａ）は、図２７に示す例において、光検出器の受光面上に形成されたスポットの光強度を等高線で示した図である。（ｂ）は（ａ）のＹ軸上に対応する光強度を示す図である。
【図２９】本発明の背景技術による対物レンズのシフト量とトラッキング誤差信号のオフセット量との関係を示す図である。
【符号の説明】
【０１６８】
Ｌ０，Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３  層
１      光学ドライブ装置
２      レーザ光源
３      光学系
４      対物レンズ
５      光検出器
６      処理部
８，８Ａ，８Ｂ，８Ｃ，８Ｄ  信号光受光領域
９，１０，１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃ，１０Ｄ，１０Ｅ，１０Ｆ，１０Ｇ，１０Ｈ，１０Ｉ，１０Ｊ，１０Ｋ，１０Ｌ，１０Ｍ，１０Ｎ，１０Ｏ，１０Ｐ，１０Ｑ，１０Ｒ，１０Ｓ，１０Ｔ  迷光受光領域
１１    光ディスク
２２    ビームスプリッタ
２３    コリメータレンズ
２４    １／４波長板
２５    センサレンズ
６１    プッシュプル信号生成部
６２    変化量測定部
６３    トラッキング誤差信号生成部
６４    対物レンズ制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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