(57)【要約】【課題】例えば、液晶プロジェクタ等の表示装置を検査する検査装置において、適切な検査を行う。【解決手段】検査装置（１００）は、表示装置（２００）が画像を表示する際における、表示装置の内部動作に影響を与える複数のパラメータのうち、少なくとも一つの検査対象パラメータを変更させつつ、画像を投影するように表示装置を制御する制御手段（１１０）と、検査対象パラメータが変更される毎に、投影された画像を撮像する撮像手段（１２０）と、撮像された画像上で、所定種類の画像特性ついての異常を検出する検出手段（１３０）と、検出された異常に基づいて、表示装置における検査対象パラメータについての評価を行う評価手段（１４０）とを備える。【選択図】図２
2009124216.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を投影して表示する表示装置を検査する表示装置の検査装置であって、
前記表示装置が前記画像を表示する際における、前記表示装置の内部動作に影響を与える複数のパラメータのうち、少なくとも一つの検査対象パラメータを変更させつつ、前記画像を投影するように前記表示装置を制御する制御手段と、
前記検査対象パラメータが変更される毎に、前記投影された画像を撮像する撮像手段と、
前記撮像された画像上で、所定種類の画像特性ついての異常を検出する検出手段と、
該検出された異常に基づいて、前記表示装置における前記検査対象パラメータについての評価を行う評価手段と
を備えることを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項２】
前記表示装置は、前記画像を投影して表示する表示部と、該表示部を駆動する駆動部とを含み、
前記複数のパラメータは、前記内部動作として前記駆動部の動作又はこれに代えて若しくは加えて前記表示部の動作に前記影響を与える、前記駆動部又は表示部の内部で用いられる制御信号を規定するパラメータであり、
前記評価手段は、前記検出された異常に基づいて、前記表示部及び前記駆動部の少なくとも一方についての前記評価を行う
ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置の検査装置。
【請求項３】
前記検出手段は、
前記撮像された画像における前記画像特性と、予め正常時の画像特性として設定された基準画像特性との差を算出し、
該算出された差に基づいて、前記異常を検出する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置の検査装置。
【請求項４】
前記検出手段は、前記差が所定閾値を超えているか否かによって前記画像の異常を検出することを特徴とする請求項３に記載の表示装置の検査装置。
【請求項５】
前記評価手段は、前記検出された異常に基づいて、前記表示装置における前記検査対象パラメータについての定格範囲を設定する定格設定手段を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置の検査装置。
【請求項６】
前記評価手段は、前記検出された異常に基づいて、前記表示装置が、前記検査対象パラメータについての既定の定格範囲に適合しているか否かを確認する確認手段を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の表示装置の検査装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記検査対象パラメータを所定間隔で変更することを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の表示装置の検査装置。
【請求項８】
前記制御手段は、検査用に設定された基準画像を表示するように前記表示装置を制御し、
前記検出手段は、前記基準画像に対応する正常時の画像特性である基準画像特性との比較において、前記異常を検出する
ことを特徴とする請求項１から７のいずれか一項に記載の表示装置の検査装置。
【請求項９】
画像を投影して表示する表示装置を検査する表示装置の検査方法であって、
前記表示装置が前記画像を表示する際における、前記表示装置の内部動作に影響を与える複数のパラメータのうち、少なくとも一つの検査対象パラメータを変更させつつ、前記画像を投影するように前記表示装置を制御する制御工程と、
前記検査対象パラメータが変更される毎に、前記投影された画像を撮像する撮像工程と、
前記撮像された画像上で、所定種類の画像特性ついての異常を検出する検出工程と、
該検出された異常に基づいて、前記表示装置における前記検査対象パラメータについての評価を行う評価工程と
を備えることを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の検査方法を用いて表示装置を検査する工程を備えることを特徴とする表示装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば液晶プロジェクタ等の表示装置を検査する検査装置及び方法、並びに該検査方法を備える表示装置の製造方法の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の検査装置として、例えば液晶プロジェクタのように、画像をスクリーンに投影して表示する表示装置を検査するものがある。このような表示装置の検査を行う場合は、液晶パネル自体は極めて小さいため、画像の異常を液晶パネルの検査によって検出することは難しい。よって、実際にスクリーンに画像を投影して、投影された画像から異常を検出するという方法が用いられている。
【０００３】
例えば特許文献１では、投影手段によって投影された画像を取り込み、取り込んだ画像から投影装置の異常を検出するという技術が開示されている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１７３２３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した技術は、投影された画像を監視して、装置の不具合を検出するというものであって、例えば表示装置の内部動作を変更させつつ、異常の検出を行うということは想定されていない。よって、例えば表示装置に不具合が発生するような状況を意図的に発生させることで、表示装置の動作を検査するということはできない。即ち、上述した技術では、表示装置の不具合が検出できるのみであって、例えば製造工程における表示装置の性能評価等は行えないという技術的問題点がある。
【０００６】
本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、表示装置の適切な検査を行うことが可能な検査装置及び方法、並びに製造方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の検査装置は上記課題を解決するために、画像を投影して表示する表示装置を検査する表示装置の検査装置であって、前記表示装置が前記画像を表示する際における、前記表示装置の内部動作に影響を与える複数のパラメータのうち、少なくとも一つの検査対象パラメータを変更させつつ、前記画像を投影するように前記表示装置を制御する制御手段と、前記検査対象パラメータが変更される毎に、前記投影された画像を撮像する撮像手段と、前記撮像された画像上で、所定種類の画像特性ついての異常を検出する検出手段と、該検出された異常に基づいて、前記表示装置における前記検査対象パラメータについての評価を行う評価手段とを備える。
【０００８】
本発明に係る検査装置によれば、その動作時に、先ず制御手段によって表示装置が制御され、画像が投影される。この際、制御手段は更に、表示装置の内部動作に影響を与える複数のパラメータのうち、少なくとも一つの検査対象パラメータを変更するように表示装置を制御している。即ち、表示装置は、検査対象パラメータを変更しつつ、画像を投影するように制御される。尚、ここでの「検査対象パラメータ」とは、変更させることで、投影される画像が変化するようなパラメータであり、例えば表示装置を制御するための制御信号の幅やタイミング等である。
【０００９】
表示装置によって画像が投影されると、撮像手段によって、投影された画像が撮像される。この撮像は、上述した検査対象パラメータが変更される毎に行われる。ここで撮像手段は、典型的には、検査対象パラメータが変更される毎に１枚の静止画像を撮像するが、例えば複数枚の静止画像を撮像してもよいし、動画像を撮像してもよい。即ち、撮像手段によって撮像される画像は、検査対象パラメータを変更した際の、投影された画像の変化を検出できるような画像であればよい。また、動画像を撮像することで、ちらつき或いはフリッカー、動物体の残像或いは尾引き現象などの動的な異常等についても検出可能となる。尚、ここでの撮像手段の解像度が高い程、後述する検出及び評価の精度は高くなる。しかしながら、撮像手段の画素数等に制限があるわけではなく、例えば表示装置より低い画素数でも後述する本発明の効果は十分に発揮される。
【００１０】
投影された画像が撮像されると、検出手段によって、撮像された画像における所定種類の画像特性ついての異常が検出される。ここでの「画像特性」とは、画像が正常に表示されているか否かを判定するための画像特性であり、検査対象パラメータの変更に対応して変化し得る画像特性が設定される。典型的には画像の輝度、輝度分布、輝度ムラ、上下の輝度ムラ、左右の輝度ムラ、ゴーストの有無や程度等が設定される。また「異常」とは、このような画像特性が、正常とされる範囲から外れる状態を意味する。異常の検出は、典型的には、撮像された画像の輝度、彩度、階調等の各種パラメータに基づいて行われるが、例えばパターン認識によってファジー的に検出してもよい。即ち、ここで検出される異常は、数値的に表されるようなものでなくともよい。
【００１１】
異常を検出した後は、評価手段によって、検出された異常に基づく、表示装置における検査対象パラメータについての評価が行われる。即ち、検査対象パラメータが、どのような値であれば画像が正常に表示されるか、或いは異常が発生してしまうかが評価される。これにより、例えば表示装置の製造工程において、表示装置がどの程度の性能を有しているか、或いは目標とする性能に達しているかなどのような、性能評価を行うことが可能である。
【００１２】
ここで本実施形態では特に、上述したように、評価の際に用いられる画像の異常が、撮像手段によって撮像された画像から検出されている。このため、例えば目視によって異常を検出する場合と比べると、安定したレベルで異常を検出できる。また、目視では検出できないような細かな異常を検出することも可能である。即ち、より好適に画像の異常を検出することができる。更に、目視を利用しないが故に、半自動的或いは全自動的に検出を実行することも可能となる。従って、評価手段では、より適切な評価結果を得ることが可能となる。
【００１３】
以上説明したように、本発明に係る検査装置によれば、撮像手段によって撮像された画像を用いて異常を検出するため、表示装置の性能評価をより好適に行うことが可能である。
【００１４】
本発明の検査装置の一態様では、前記表示装置は、前記画像を投影して表示する表示部と、該表示部を駆動する駆動部とを含み、前記複数のパラメータは、前記内部動作として前記駆動部の動作又はこれに代えて若しくは加えて前記表示部の動作に前記影響を与える、前記駆動部又は表示部の内部で用いられる制御信号を規定するパラメータであり、前記評価手段は、前記検出された異常に基づいて、前記表示部及び前記駆動部の少なくとも一方についての前記評価を行う。
【００１５】
この態様によれば、表示装置には、画像を投影して表示する表示部と、表示部を駆動する駆動部とが含まれている。そして、検査対象パラメータは、表示装置の内部動作として駆動部の動作又はこれに代えて若しくは加えて表示部の動作に影響を与える、駆動部又は表示部の内部で用いられる制御信号を規定するパラメータの中から選択される。制御信号とは、例えばサンプリングパルスやイネーブルパルス等であり、これらの幅やタイミングといったパラメータが検査対象パラメータとされる。
【００１６】
評価手段では、表示部及び駆動部の少なくとも一方についての評価が行われる。即ち、表示部及び駆動部をどのように動作させれば、画像が正常に表示されるかを評価することができる。ここで本態様では特に、上述したようなパラメータを検査対象パラメータとしているため、表示部及び駆動部の動作の影響による画像の異常を確実に検出することができる。従って、より好適に表示部及び駆動部の評価を行うことができる。
【００１７】
本発明の検査装置の他の態様では、前記検出手段は、前記撮像された画像における前記画像特性と、予め正常時の画像特性として設定された基準画像特性との差を算出し、該算出された差に基づいて、前記異常を検出する
この態様によれば、正常時の画像特性として、基準画像特性が予め設定されている。この基準画像特性を設定する際には、例えば予め検査対象パラメータを変更させつつ、表示装置による投影を行い、目視等によって、正常に画像が表示されているか否かを判定する。そして、正常に画像が表示されていると判定された際の画像特性を、基準画像特性として設定する。また、検査対象パラメータが所定の範囲内であるときに、正常に画像が表示される場合には、典型的には、該所定の範囲の中央値或いは中央付近の値において示される画像に係る画像特性が基準画像特性として設定される。
【００１８】
異常の検出を行う際には、検出手段によって、先ず撮像された画像における画像特性と基準画像特性との差を算出される。そして、算出された差に基づいて異常が検出される。即ち、撮像された画像における画像特性が、正常に画像が表示されている際の画像特性と比べて、どれだけ異なるかによって、異常を検出する。このような処理を行うことで、より容易に画像の異常を検出することができる。従って、表示装置の性能評価をより好適に行うことが可能である。
【００１９】
上述した撮像された画像の画像特性と基準画像特性との差に基づいて、異常を検出する態様では、前記検出手段は、前記差が所定閾値を超えているか否かによって前記画像の異常を検出するように構成してもよい。
【００２０】
このように構成すれば、予め異常を検出する際に用いられる所定閾値が設定されているため、算出された差が所定閾値を超えているか否かによって、画像の異常を検出することが可能である。尚、「所定閾値」とは画像の異常を検出するための値であり、例えば予め検査対象パラメータを変更させつつ、表示装置による投影を行い、目視等による異常の検出を行うことで設定される。即ち、表示されている画像が、正常な状態から異常な状態へと変化した際の画像特性を用いて差が算出され、算出された差が所定閾値として設定される。
【００２１】
検出手段は、上述したように、算出された差と所定閾値とを比較すれば異常を検出できる。即ち、比較的単純な処理によって異常の検出を行える。このため、より容易に画像の異常を検出することができる。従って、表示装置の性能評価をより好適に行うことが可能である。
【００２２】
本発明の検査装置の他の態様では、前記評価手段は、前記検出された異常に基づいて、前記表示装置における前記検査対象パラメータについての定格範囲を設定する定格設定手段を有する。
【００２３】
この態様によれば、評価手段には、定格設定手段が有されている。定格設定手段では、検出された異常に基づいて、表示装置における検査対象パラメータについての定格範囲が設定される。ここでの「定格範囲」とは、画像が正常に表示される検査対象パラメータの範囲であり、多少のマージンを含んでもよいものとする。
【００２４】
画像の異常を検出することで、画像が正常に表示されるためには、検査対象パラメータがどのような値であればよいかが分かる。これから、異常が検出される直前の検査対象パラメータが、画像が正常に表示されるための、検査対象パラメータの上限或いは下限であることが分かる。即ち、画像が正常に表示される検査対象パラメータの範囲が分かる。このように、上述した定格範囲は設定される。
【００２５】
設定された定格範囲は、例えば表示装置の製品としての仕様を決定する際等に用いられる。即ち、本態様に係る検査装置によれば、表示装置の製品としての性能評価を、より好適に行うことが可能である。
【００２６】
本発明の検査装置の他の態様では、前記評価手段は、前記検出された異常に基づいて、前記表示装置が、前記検査対象パラメータについての既定の定格範囲に適合しているか否かを確認する確認手段を有する。
【００２７】
この態様によれば、評価手段には確認手段が有されている。確認手段では、検出された異常に基づいて、表示装置が検査対象パラメータについての規定の定格範囲に適合しているか否かが確認される。即ち、予め設定された検査対象パラメータの範囲において、表示装置が正常に画像を表示できるか否かが確認される。
【００２８】
規定の定格範囲は、例えば表示装置の製品としての基準値又は目標値等が設定されている。よって、上述したような確認を行うことで、例えば表示装置が製品としての仕様を満足しているか否かを確認することができる。即ち、本態様に係る検査装置によれば、表示装置の製品としての性能評価を、より好適に行うことが可能である。
【００２９】
本発明の検査装置の他の態様では、前記制御手段は、前記検査対象パラメータを所定間隔で変更する。
【００３０】
この態様によれば、検査対象パラメータが、制御手段によって所定間隔で変更される。ここでの「所定間隔」とは、検査対象パラメータが変更される刻み幅を意味しており、例えば表示装置における異常の発生し易さ等に基づいて設定される。具体的には、異常が発生し易い場合は、より小さい間隔で、即ち微小な値刻みで、検査対象パラメータを変更することで、より高い精度で異常を検出できる。よって、上述したような定格範囲を決定する際には、より適切な範囲を決定することが可能である。逆に、異常が発生し難い場合は、より大きい間隔で、即ち大きな値刻みで、検査対象パラメータを変更することで、検査時間や装置の負荷等を減らすことが可能となる。
【００３１】
上述したように、本態様に係る検査装置によれば、表示装置における異常の発生し易さ等の条件に基づいて、より好適に異常を検出することができる。従って、表示装置の性能評価をより好適に行うことが可能である。
【００３２】
本発明の検査装置の他の態様では、前記制御手段は、検査用に設定された基準画像を表示するように前記表示装置を制御し、前記検出手段は、前記基準画像に対応する正常時の画像特性である基準画像特性との比較において、前記異常を検出する。
【００３３】
この態様によれば、表示装置は、検査用に設定された基準画像を表示するように制御される。「基準画像」とは、例えば画像の異常を検出する際に異常を検出し易いような画像であり、具体的には、輝度の変化やゴーストの発生を検出し易い画像である。典型的には、単色モノクロの画像や所定のパターンを含む画像が設定される。尚、基準画像は一枚設定されていれば足りるが、複数枚の基準画像が設定しておき、検出したい或いは発生し易い異常の種類等に応じて適宜選択して投影されるようにしてもよい。
【００３４】
検出手段では、基準画像に対応する正常時の画像特性である基準画像特性と、撮像された基準画像における画像特性を比較することで、画像の異常が検出される。ここで、基準画像は上述したように、画像の異常を検出する際に異常を検出し易いような画像であるため、より容易に画像の異常を検出できる。従って、表示装置の性能評価をより好適に行うことが可能である。
【００３５】
本発明の検査方法は上記課題を解決するために、画像を投影して表示する表示装置を検査する表示装置の検査方法であって、前記表示装置が前記画像を表示する際における、前記表示装置の内部動作に影響を与える複数のパラメータのうち、少なくとも一つの検査対象パラメータを変更させつつ、前記画像を投影するように前記表示装置を制御する制御工程と、前記検査対象パラメータが変更される毎に、前記投影された画像を撮像する撮像工程と、前記撮像された画像上で、所定種類の画像特性ついての異常を検出する検出工程と、該検出された異常に基づいて、前記表示装置における前記検査対象パラメータについての評価を行う評価工程とを備える。
【００３６】
本発明に係る検査方法によれば、上述した本発明の検査装置の場合と同様に、撮像された画像から異常を検出するため、より好適に画像の異常を検出できる。従って、表示装置の性能評価をより好適に行うことが可能である。
【００３７】
尚、本発明の検査方法においても、上述した本発明の検査装置における各種態様と同様の各種態様を採ることが可能である。
【００３８】
本発明の製造方法は上記課題を解決するために、上述した本発明の検査方法（但し、その各種態様も含む）を用いて表示装置を検査する工程を備える。
【００３９】
本発明の製造方法によれば、上述した本発明の検査方法を用いて表示装置を検査する工程を備えるので、好適に性能評価を行いつつ、表示装置を製造することができる。よって、例えば目標として設定した性能を持つ表示装置を製造することが可能である。
【００４０】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４１】
以下では、本発明の実施形態について図を参照しつつ説明する。
【００４２】
＜表示装置＞
先ず、本発明の検査装置によって検査される表示装置について、図１を参照して説明する。ここに図１は、表示装置の一例であるプロジェクタの構成例を示す平面図である。以下では、駆動回路内蔵型のＴＦＴ（Thin Film Transistor）アクティブマトリクス駆動方式の液晶装置をライトバルブとして用いたプロジェクタについて説明する。
【００４３】
図１に示されるように、プロジェクタ１１００内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット１１０２が設けられている。このランプユニット１１０２から射出された投射光は、ライトガイド１１０４内に配置された４枚のミラー１１０６及び２枚のダイクロイックミラー１１０８によってＲＧＢの３原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇに入射される。
【００４４】
液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇの構成は、上述した液晶装置と同等であり、画像信号処理回路から供給されるＲ、Ｇ、Ｂの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム１１１２に３方向から入射される。このダイクロイックプリズム１１１２においては、Ｒ及びＢの光が９０度に屈折する一方、Ｇの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ１１１４を介して、スクリーン等にカラー画像が投影されることとなる。
【００４５】
＜検査装置＞
続いて、本実施形態に係る検査装置について説明する。
【００４６】
＜第１実施形態＞
第１実施形態に係る検査装置について、図２から図１０を参照して説明する。
【００４７】
先ず、第１実施形態に係る検査装置の構成について、図２及び図３を参照して説明する。ここに図２は、第１実施形態に係る検査装置の構成を示すブロック図であり、図３は、検査装置と表示装置の具体的な設置例を示す斜視図である。
【００４８】
図２において、本実施形態に係る検査装置は、本発明の「制御手段」の一例である制御部１１０と、本発明の「撮像手段」の一例である撮像部１２０と、本発明の「検出手段」の一例である検出部１３０と、本発明の「評価手段」の一例である評価部１４０とを備えて構成されている。
【００４９】
制御部１１０は、表示装置２００に電気的に接続されており、表示部２１０を駆動する駆動部２２０に制御信号を送ることで、表示装置２００における検査対象パラメータを変更させる。また、撮像部１２０とも電気的に接続されており、検査対象パラメータを変更させる毎に、投影された画像を撮像するように制御する。
【００５０】
撮像部１２０は、表示装置２００によってスクリーン３００に投影された画像を撮像し、検出部に出力する。撮像のタイミングは、上述したように、制御部１１０によって制御されている。
【００５１】
検出部１３０は、例えば演算回路やメモリ等を備えており、撮像部１２０において撮像された画像と、予め設定された基準画像との画像特性を比較することで、画像の異常を検出する。基準画像は、正常に画像が表示されている際の画像特性を示す画像として、予め検出部１３０に記憶されている。
【００５２】
評価部１４０は、本発明の「定格設定手段」の一例である定格設定部１４１を備えており、検出部１３０において検出された画像の異常に基づいて、表示装置２００の定格範囲を設定する。
【００５３】
図３において、本実施形態に係る検査装置１００は、具体的には、例えば図に示すように設置される。即ち、図２において説明した制御部１１０、検出部１３０及び評価部１４０を備える計算機４００と、撮像部１２０と、プロジェクタ１１００とが互いに電気的に接続されるように設置される。
【００５４】
撮像部１２０は、プロジェクタ１１００からスクリーン３００に投影された画像を撮像するために、スクリーン３００の正面（即ち、スクリーン３００を見るユーザの視点に合わせた位置）に設置される。計算機４００は、例えば図示しないモニタ等に接続されており、評価結果を表示させることができるように構成される。
【００５５】
次に、第１実施形態に係る検査装置の動作について、図２に加えて、図４から図１０を参照して説明する。ここに図４は、第１実施形態に係る検査装置の動作を示すフローチャートである。また図５は、画像が正常に表示される際のイネーブルパルスを示すタイミングチャートであり、図６は画像に異常が発生する際のイネーブルパルスを示すタイミングチャートである。図７は、投影された基準画像を示す平面図であり、図８は、ゴーストが発生した際の画像を示す平面図である。図９は、イネーブルパルスの波形を示す波形図であり、図１０は、評価部における評価方法を示す概念図である。
【００５６】
図４において、第１実施形態に係る検査装置の動作が開始されると、先ず制御部１１０が表示装置２００に対して、検査対象パラメータを変更するように、制御信号を出力する（ステップＳ１１）。これにより、表示装置２００は変更された検査対象パラメータで駆動され、スクリーン３００に画像が投影される。
【００５７】
画像が投影されると、撮像部１２０は、投影された画像を撮像する（ステップＳ１２）。撮像された画像は、例えばデジタル信号として検出部１３０に出力される。
【００５８】
検出部１３０は、基準画像の画像特性である基準画像特性と、撮像された画像の画像特性とを比較する（ステップＳ１３）。具体的には、基準画像における輝度と、撮像された画像の輝度との差を算出する。尚、このような差は、典型的には、スクリーン３００における位置毎に算出される。即ち、一度の比較によって複数の差が算出される。
【００５９】
続いて、検出部１３０は、算出された差が所定閾値を超えているか否かを判定する（ステップＳ１４）。尚、所定閾値は、例えば検査対象パラメータを変更させつつ、表示装置２００による投影を行い、目視等による異常の検出を行うことで設定された値であり、検出部１３０に備えられたメモリ装置等に記憶されている。差が所定閾値を超えている場合（ステップＳ１４：ＹＥＳ）、検出部１３０は、投影された画像に異常があると判定する（ステップＳ１５）。差が所定閾値を超えていない場合（ステップＳ１４：ＮＯ）、検出部１３０は、画像は正常に表示されていると判定する（ステップＳ１６）。
【００６０】
ここで、検査対象パラメータとして、表示装置２００におけるイネーブルパルスのタイミングを変更させる場合を例にとり、画像の異常について、図５から図９を参照して説明する。尚、以下では、ビデオ信号ｎ（但し、ｎは自然数）は、ＶＩＤＥＯ１からＶＩＤＥＯ６に振り分けられて供給されるものとする。
【００６１】
図５において、ＶＩＤＥＯ１におけるビデオ信号７を取り込むタイミングを示すイネーブルパルスに着目すると、画像が正常に表示されている際のイネーブルパルスは、図に示すようにビデオ信号７が供給されるタイミングと重なる。ここで、上述した制御部１１０により、イネーブルパルスのタイミングが早くなるように制御され、図６に示すようなタイミングにされたとすると、イネーブルパルスはビデオ信号１の供給されるタイミングとも重なることになる。このような場合、ビデオ信号７に加えて、ビデオ信号１も取り込まれることとなり、画像にはゴーストが発生してしまう。
【００６２】
具体的には、図５のようなタイミングで駆動されていた際に、図７に示すパターンＰ１を含む画像が表示されていたとすると、図６に示すようなタイミングでは、図８に示すようにパターンＰ１のゴーストＧ１が発生する。図８に示す画像が投影された際には、ゴーストＧ１の位置において、基準画像特性との差が比較的大きな値となる。検出部１３０は、このような画像特性の差によって、画像の異常を検出する。
【００６３】
また、上述したゴーストは、イネーブルパルスのタイミングに加えて、イネーブルパルスの波形にも依存している。イネーブルパルスは、典型的には、図５及び図６に示したように垂直な立ち上がり方はせず、図９（ａ）に示すように、多少なまりのある波形となる。また、そのなまり方も、図９（ｂ）及び図９（ｃ）に示すように、各種条件によって異なる。ここで、例えば図６に示すようなタイミングでイネーブルパルスが供給されるとすると、図９（ｂ）に示す波形と、図９（ｃ）で示す波形とでは、ゴーストの濃さが異なる。即ち、図９（ｂ）に示す波形は、図９（ｃ）に示す波形と比べて、ビデオ信号１と重なる部分が大きくなるため、ゴーストがより濃く発生してしまうと考えられる。
【００６４】
上述したように、画像の異常は、表示装置２００の駆動される条件によって異なる発生の仕方をする。これに対し、本実施形態に係る検査装置は、撮像された画像によって異常を検出するため、より容易且つ適切に画像の異常を検出することが可能である。
【００６５】
尚、ここでは、イネーブルパルスのタイミングを変更する場合について説明したが、例えばイネーブルパルスの幅を変更してもよい。その他にも、サンプリングパルス及びプリチャージパルスの幅やタイミング、画像信号のレベル等のパラメータを使用できる。即ち、変更することで投影される画像に異常が発生するようなパラメータであれば、検査対象パラメータとして使用することが可能である。また、複数種類の検査対象パラメータを同時に変更させるようにしてもよい。
【００６６】
異なる検査対象パラメータを使用すると、投影される画像に発生する画像の異常も変化する。例えば、上述したゴースト以外にも、スクリーン３００に縦方向や横方向のラインが発生したり、画面位置による輝度ムラ等が発生したりする。これらの画像の異常は、典型的には、上述したように輝度の差を算出することで検出できるが、彩度や階調等の他のパラメータの差を算出してもよいし、それら複数のパラメータを使用して、総合的に異常であるか否かを検出するようにしてもよい。また、特定のパラメータを使用しなくとも、パターン認識等を用いてファジー的に検出してもよい。
【００６７】
図４に戻り、画像に異常が発生しているか否かが判定されると、検査対象パラメータが所定値となっているか否かを判定する（ステップＳ１７）。尚、所定値とは、異常検出を終了する際の検査対象パラメータの値であり、例えば異常の発生する検査対象パラメータを予測することで設定される。即ち、検査対象パラメータは動作開始時の値から予め設定された所定値の範囲で変更される。
【００６８】
検査対象パラメータが所定値となっていない場合（ステップＳ１７：ＮＯ）、制御部１１０から出力される制御信号における検査対象パラメータを変更する（ステップＳ１８）。ここで、検査対象パラメータは、所定間隔で変更される。即ち、検査対象パラメータは所定の値刻みで、上述した所定値に近付くように増加或いは減少させられる。この所定間隔は、例えば表示装置における異常の発生率等に基づいて予め設定される。具体的には、異常が発生し易い場合は、より小さい間隔で、即ち微小な値刻みで、検査対象パラメータを変更することで、より高い精度で異常を検出できる。逆に、異常が発生し難い場合は、より大きい間隔で、即ち大きな値刻みで、検査対象パラメータを変更することで、検査時間や装置の負荷等を減らすことが可能となる。
【００６９】
検査対象パラメータが変更されると、再びステップＳ１１の工程に戻り、変更された検査対象パラメータで制御部１１０から制御信号が出力される。このように、検査対象パラメータが所定値に到達するまで、上述したステップＳ１１からステップＳ１８までの工程が繰り返される。即ち、投影された画像の撮像及び撮像された画像の異常検出が繰り返し行われる。
【００７０】
検査対象パラメータが所定値となっている場合（ステップＳ１７：ＹＥＳ）、評価部１４０が、検出された画像の異常に基づいて、表示装置２００の評価を行う。
【００７１】
図１０において、例えばＮ番目（但し、Ｎは自然数）からＮ＋５番目に撮像された画像が図に示すような画像であり、その中でＮ＋２番目からＮ＋４番目までが正常に表示されていると判定され、その他の画像には異常が検出されたとする。この際、定格設定部１４１は、Ｎ＋２番目からＮ＋４番目の画像が撮像された際の検査対象パラメータを、定格範囲として設定する（ステップＳ１９）。尚、設定される定格範囲は、多少のマージンを持たせたような範囲であってもよい。評価部１４０は、設定された定格範囲を、例えばモニタ等に出力する（ステップＳ２０）。
【００７２】
以上説明したように、本実施形態に係る検査装置によれば、表示装置２００の定格範囲（即ち、正常に画像を表示できる範囲）を適切に設定することができる。具体的には、例えば目視で同様の検査を行う場合と比較すると、より安定したレベルで評価を行うことが可能である。また、目視では視認できないような、細かな異常も検出できるため、より精度の高い評価を行うことが可能である。
【００７３】
＜第２実施形態＞
次に、第２実施形態に係る検査装置について、図１１及び図１２を参照して説明する。ここに図１１は、第２実施形態に係る検査装置の構成を示すブロック図であり、図１２は、第２実施形態に係る検査装置の動作を示すフローチャートである。第２実施形態は、上述の第１実施形態と比べて、評価部１４０の構成が異なり、その他の構成については概ね同様である。このため以下では、評価部１４０の構成及び動作について詳細に説明し、その他の第１実施形態と重複する構成及び動作については、適宜説明を省略するものとする。尚、図１１及び図１２では、図２及び図４に示した第１実施形態に係る構成要素と同様の構成要素に同一の参照符合を付している。
【００７４】
図１１において、第２実施形態に係る検査装置は、評価部１４０が、第１実施形態における定格設定部１４１に代えて、本発明の「確認手段」の一例である確認部１４２を有している。確認部１４２には、例えば表示装置２００の製品としての仕様に基づいて設定された、定格範囲が記憶されている。即ち、第２実施形態における定格範囲は、第１実施形態のように画像の異常に基づいて設定されるものではなく、予め設定されたものである。
【００７５】
図１２において、第２実施形態に係る検査装置の動作が開始されると、先ず第１実施形態と同様にステップＳ１１からステップＳ１８の工程が繰り返し行われ、投影された画像の異常が検出される。
【００７６】
続いて、確認部１４２が、撮像された画像の異常に基づいて、表示装置２００が定格範囲に適合しているか否かを判定する（ステップＳ２１）。即ち、確認部１４２は、図１０において示した、画像が正常に表示されている検査対象パラメータの範囲が、予め設定されていた定格範囲の範囲内であるか否かを判定する。ここで、定格範囲に適合していると判定された場合には（ステップＳ２１：ＹＥＳ）、評価部１４０は、表示装置２００が定格範囲に適合しているという評価結果を出力する（ステップＳ２２）。定格範囲に適合していないと判定された場合には（ステップ２１：ＮＯ）、評価部１４０は、表示装置２００が定格範囲に不適合であるという評価結果を出力する（ステップＳ２３）。
【００７７】
以上説明したように、第２実施形態に係る検査装置によれば、検査する表示装置２００が、予め設定された定格範囲に適合しているか否かを判定することができる。即ち、表示装置２００が、所定の性能を有しているか否かを判定することができる。
【００７８】
＜製造方法＞
次に、本実施形態に係る検査装置による検査工程を含んだ表示装置２００の製造方法について、図１３を参照して説明する。ここに図１３は、表示装置の製造方法における各工程を示すフローチャートである。尚、以下では、説明の便宜上、製造工程における主な工程のみを説明するものとし、その他の細かな工程は適宜省略して説明する。
【００７９】
図１３において、表示装置２００を製造する際には、先ず画像を表示するための液晶パネルを製造する（ステップＳ３１）。即ち、上述したプロジェクタ１１００（図１参照）における、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇを製造する。続いて、各種部材を組立て、製造した液晶パネルを実装する（ステップＳ３２）。尚、この工程では、表示装置２００は製品として完成されなくともよく、画像を投影して表示できるような状態となればよい。
【００８０】
次に、上述した検査装置によって表示装置２００を評価する（ステップＳ３３）。そして、検査装置による評価結果から、表示装置２００の動作が正常であるか否かを判定する（ステップＳ３４）。ここで、表示装置２００の動作が正常であれば（ステップＳ３４：ＹＥＳ）、表示装置２００は検査に合格したと判定する（ステップＳ３５）。表示装置の動作が異常であれば（ステップＳ３４：ＮＯ）、表示装置２００は、検査に不合格であると判定する（ステップＳ３６）。
【００８１】
以上説明したように、製造工程において検査装置による検査工程を行えば、適切な性能評価を行うことが可能である。従って、より好適に表示装置２００を製造することが可能である。
【００８２】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う検査装置及び方法、並びに製造方法もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】表示装置の一例たるプロジェクタの構成を示す平面図である。
【図２】第１実施形態に係る検査装置の構成を示すブロック図である。
【図３】検査装置と表示装置の具体的な設置例を示す斜視図である。
【図４】第１実施形態に係る検査装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】画像が正常に表示される際のイネーブルパルスを示すタイミングチャートである。
【図６】画像に異常が発生する際のイネーブルパルスを示すタイミングチャートである。
【図７】投影された基準画像を示す平面図である。
【図８】ゴーストが発生した際の画像を示す平面図である。
【図９】イネーブルパルスの波形を示す波形図である。
【図１０】評価部における評価方法を示す概念図である。
【図１１】第２実施形態に係る検査装置の構成を示すブロック図である。
【図１２】第２実施形態に係る検査装置の動作を示すフローチャートである。
【図１３】表示装置の製造方法における各工程を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８４】
１００…検査装置、１１０…制御部、１２０…撮像部、１３０…検出部、１４０…評価部、１４１…定格設定部、１４２…確認部、２００…表示装置、２１０…表示部、２２０…駆動部、３００…スクリーン、４００…計算機、１１００…プロジェクタ
【図１】
2009124216.tif 000003
【図２】
2009124216.tif 000004
【図３】
2009124216.tif 000005
【図４】
2009124216.tif 000006
【図５】
2009124216.tif 000007
【図６】
2009124216.tif 000008
【図７】
2009124216.tif 000009
【図８】
2009124216.tif 000010
【図９】
2009124216.tif 000011
【図１０】
2009124216.tif 000012
【図１１】
2009124216.tif 000013
【図１２】
2009124216.tif 000014
【図１３】
2009124216.tif 000015