(57)【要約】【課題】記憶装置の製品検査の際に、アンロード機構の異常の有無の判定を定量的に行う。【解決手段】アンロード正常状態では、基準電圧を閾値として、磁気ディスク装置のアクチュエータとストッパとが衝突して発生する騒音信号を変換した電気信号が閾値を超過する電位となることがないため、判定信号の出力が“Ｈ”（信号オン）となることはない。一方、異常状態では、基準電圧を閾値として、電気信号が閾値を超過する電位となることがある（例えば、アクチュエータが、ストッパにロックされていないため、アクチュエータが、ストッパ付近で微少に揺動することによって騒音信号が発生する等）ため、判定信号の出力が得られる。したがって、判定信号の有無を確認することで、アンロード時の異常状態を正しく判定することが可能になる。【選択図】        図５−２
2009295227.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を集音する集音部によって集音された前記音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力が一定の閾値を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする記憶装置の試験装置。
【請求項２】
記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を集音する集音部によって集音された前記音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出する信号検出期間を規定する判定期間信号を出力する判定期間信号出力部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力の閾値を規定する閾値信号を出力する閾値信号出力部と、
前記判定期間信号出力部によって規定される信号検出期間において、前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出し、該出力が、前記閾値信号出力部によって出力される閾値信号の出力を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする記憶装置の試験装置。
【請求項３】
前記判定期間信号出力部は、前記音響の電気信号の出力に対して、複数の信号検出期間を規定可能であり、
前記閾値信号出力部は、前記判定期間信号出力部によって規定される前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号を出力可能である
ことを特徴とする請求項２記載の記憶装置の試験装置。
【請求項４】
前記複数の信号検出期間及び前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号は、任意に設定可能であることを特徴とする請求項３記載の記憶装置の試験装置。
【請求項５】
前記判定期間信号出力部は、前記ストッパと、前記接触部位との接触直後の一定時間にわたって、前記判定期間信号の出力を停止することを特徴とする請求項２記載の記憶装置の試験装置。
【請求項６】
記憶装置の試験を行う試験装置の制御回路であって、
前記記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力が一定の閾値を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする試験装置の制御回路。
【請求項７】
記憶装置の試験を行う試験装置の制御回路であって、
前記記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出する信号検出期間を規定する判定期間信号を出力する判定期間信号出力部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力の閾値を規定する閾値信号を出力する閾値信号出力部と、
前記判定期間信号出力部によって規定される信号検出期間において、前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出し、該出力が、前記閾値信号出力部によって出力される閾値信号の出力を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする試験装置の制御回路。
【請求項８】
前記判定期間信号出力部は、前記音響の電気信号の出力に対して、複数の信号検出期間を規定可能であり、
前記閾値信号出力部は、前記判定期間信号出力部によって規定される前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号を出力可能である
ことを特徴とする請求項７記載の試験装置の制御回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記憶装置のアクチュエータのアンロード異常の有無を検査する記憶装置の試験装置及び試験装置の制御回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンピュータの普及とともに、コンピュータのデータ記憶手段として、内部に記憶媒体を内蔵する記憶装置（例えば、磁気ディスクを内蔵する磁気ディスク装置等）の性能向上の重要性が高まってきている。
【０００３】
記憶装置では、記憶媒体の表面上層を移動する記録再生ヘッド（以下、ヘッドと呼ぶ）によって、記憶媒体との間で情報の読み書きが行われる。ヘッドは、記録媒体との間に、必ず一定の距離を保ち、記憶媒体に接触することはない。逆に、ヘッドが記憶媒体に接触すると、ディスク・クラッシュと呼ばれる、ヘッドが記憶媒体に損傷を与える不都合が発生する。
【０００４】
すなわち、ディスク・クラッシュは、記憶媒体を保護するために、必ず回避しなければならない現象である。そこで、従来技術として、ディスク・クラッシュの発生を検出して、ユーザに報知するディスク・クラッシュ検出装置が提案されていた。
【０００５】
また、従来技術として、ディスク・クラッシュの発生を検出すると、ヘッドを即座に記憶媒体表面上から退避（以下、アンロードと呼ぶ）させて、記憶媒体の損傷を最低限にとどめるディスク・クラッシュの防止装置が提案されていた。
【０００６】
さらに、従来技術として、記憶媒体音の回転音を周波数分析し、周波数分析結果に基づいて、ディスク・クラッシュが発生しているか否かを判定する記憶装置が提案されていた。
【０００７】
【特許文献１】特開昭５５−０３８６４４号公報
【特許文献２】実開昭５５−０３２５４８号公報
【特許文献３】特開平０４−０５３０６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
近年、例えば、可搬型コンピュータ（いわゆる、モバイル（若しくは、ノート型）・パーソナル・コンピュータ）の需要が高まってきている。可搬型コンピュータは、落下などによって衝撃を被る可能性が高い。落下によっても、ディスク・クラッシュが発生する可能性がある。よって、記憶装置において、ヘッドの退避機能の性能向上が、より重要となってきている。
【０００９】
しかしながら、上記従来技術では、ディスク・クラッシュを検出し、ヘッドをアンロードすることは可能である。しかし、記憶装置のヘッドを退避させるアンロード機構の性能が不良であると、ディスク・クラッシュを検出したとしても、ディスク・クラッシュの回避が不十分となり、結果的に、記憶媒体に損傷を与えてしまうという不都合が生じていた。
【００１０】
なお、従来は、製品検査の際に、人の聴覚によって、記憶装置が異音を発生する異常があるか否かを判別することが行われていたが、判別者のスキルや聴覚能力に依存するため、判別結果にバラツキが生じ、精密な製品検査を行い得なかった。
【００１１】
本発明は、上記問題点（課題）を解消するためになされたものであって、記憶装置の製品検査の際に、アンロード機構が正常に機能するか否かを試験してアンロード機構の異常の有無を定量的に判定する記憶装置の試験装置及び試験装置の制御回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上述した問題を解決し、目的を達成するため、記憶装置の試験装置及び試験装置の制御回路の一観点において、記憶装置において、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、ストッパと、接触部位との接触によって発生する音響を集音し、集音された前記音響を電気信号に変換し、変換された音響の電気信号の出力が一定の閾値を超えるか否かを判定することを要件とする。
【発明の効果】
【００１３】
開示の記憶装置の試験装置及び試験装置の制御回路によれば、アクチュエータのアンロード時に、ストッパと、アクチュエータのストッパと接触する接触部位との接触によって発生する音響を電気信号に変換し、一定の閾値を超えるか否かを判定することによって、アンロードの異常を判定するので、アンロードの異常の判定基準が定量的に設定可能になることから、正確で安定したアンロード異常判定の検査が行えるようになるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照し、本発明の記憶装置の試験装置及び試験装置の制御回路に係る実施形態の一例を詳細に説明する。なお、以下の実施形態の一例では、記憶装置は、磁気ディスク装置であり、記憶媒体は、磁気ディスクであるとする。しかし、これに限定されるものではなく、他の記憶装置、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact  Disc  Read  Only  Memory）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital  Versatile  Disk  Read  Only  Memory）などの光ディスク装置、ＭＯ（Magneto-Optical  disk）やＭＤ（Mini  Disc）などの光磁気ディスク装置であってもよい。
【００１５】
実施形態の一例の説明に先立ち、前提となる磁気ディスク装置のヘッドを磁気ディスク表面上から退避させる、アクチュエータのアンロード機構について説明する。図１は、磁気ディスク装置の上面図である。図２は、磁気ディスク装置のアンロード機構の配設位置近傍を拡大して示す図である。
【００１６】
図１及び図２では、磁気ディスク装置１０の上蓋、ＶＣＭ（Vice  Coil  Motor）３０の上蓋、上方ヨーク材及び上方マグネットが取り外され、磁気ディスク装置１０のベース筐体１１の内部構造及びアクチュエータ２０に取り付けられたＶＣＭコイル２７が可視となっている状態を示している。
【００１７】
図１に示すように、磁気ディスク装置１０内において、磁気ディスク１２の中心は、ディスク固定機構１３にて、図示しないスピンドルモータの回転軸に固定されている。磁気ディスク１２は、スピンドルモータの回転によって回転する。
【００１８】
また、磁気ディスク装置１０内において、磁気ヘッドが搭載されたヘッドスライダ２４を支持するアクチュエータ２０は、回転軸２１を中心として揺動可能に軸支されている。アクチュエータ２０の回転軸２１の磁気ディスク１２側には、支持アーム２２及び支持バネ２３を介してヘッドスライダ２４が設けられている。
【００１９】
また、図１及び図２に示すように、磁気ディスク装置１０内において、アクチュエータ２０の回転軸２１の磁気ディスク１２の反対側には、ＶＣＭコイル２７及びＶＣＭコイル２７を支持するコイルアーム２５ａと、コイルアーム２５ｂとが設けられている。なお、コイルアーム２５ａ及びコイルアーム２５ｂは、加工容易性や軽量化の面からアルミで形成される。
【００２０】
また、コイルアーム２５ａの先端には、アクチュエータ２０のアンロード機構の一部を構成する金属片２６が、接着剤による接着又は金属片２６自体のかしめによって取り付けられている。
【００２１】
ＶＣＭコイル２７は、ＶＣＭ３０において、ＶＣＭ３０の上方マグネット及び下方マグネットの間の空間に、上方マグネット及び下方マグネットそれぞれと一定の距離を保つように挿入される。ＶＣＭコイル２７は、上方マグネット及び下方マグネットによる磁界中で、通電されることにより、回転軸２１を中心として揺動する。
【００２２】
また、磁気ディスク装置１０内において、磁気ディスク１２が回転していないときに、ヘッドスライダ２４を磁気ディスク１２の外周外へと退避させるとともに、ヘッドスライダ２４が磁気ディスク１２の外周外へ過剰に退避することを防止するための樹脂製のストッパ４０が設けられている。ストッパ４０は、図示しない磁石を内蔵している。
【００２３】
アクチュエータ２０のコイルアーム２５ａの先端に取り付けられている金属片２６が、図２の矢印Ａで示す方向で、ストッパ４０に内蔵される磁石の磁力によって吸引され、固定（ロック）されることによって、ヘッドスライダ２４を磁気ディスク１２の外周外へ退避させるアクチュエータ２０のアンロード機構が機能するようになっている。
【００２４】
なお、金属片２６が、ストッパ４０に接触する時（すなわち、アクチュエータ２０のアンロード時）に、特定周波数及び特定音量の音響が発生する。以下に開示する第一実施形態の一例及び第二実施形態の一例では、この特定周波数及び特定音量の音響を検査することによって、アクチュエータ２０のアンロードの異常の有無を判定する。
【００２５】
［第一実施形態の一例］
図３〜図５−２を参照して、第一実施形態の一例について説明する。先ず、第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置の構成について説明する。図３は、第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置の構成を示すブロック図である。
【００２６】
図３に示す様に、第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ａは、タイミングコントロール回路１０１と、第一基準電圧発生器１０１ａと、第二基準電圧発生器１０１ｂと、音響デバイス１０２と、フィルタ１０３と、アンプ１０４と、コンパレータ１０５と、パルス発生器１０６と、ＡＮＤ回路１０７とを有する。また、試験装置１００ａには、マイク２００が接続されている。
【００２７】
音響デバイス１０２は、マイク２００によって集音された、アクチュエータ２０のアンロード時に発生する騒音を電気信号に変換する。フィルタ１０３は、音響デバイス１０２によって変換された電気信号のＤＣ（Direct  Current、直流）成分及び高周波ノイズを除去する。アンプ１０４は、フィルタ１０３によって、ＤＣ成分及び高周波ノイズが除去された電気信号を増幅する。増幅された電気信号は、コンパレータ１０５に入力される。
【００２８】
コンパレータ１０５には、タイミングコントロール回路１０１から出力される基準電圧がさらに入力される。コンパレータ１０５は、アンプ１０４から入力された電気信号と、基準電圧との出力レベルの比較を行う。
【００２９】
前述の基準電圧は、タイミングコントロール回路１０１に接続される第一基準電圧発生器１０１ａから出力される第一基準電圧又は第二基準電圧発生器１０１ｂから出力される第二基準電圧である。なお、第一基準電圧は、第二基準電圧よりも高い電位である。また、タイミングコントロール回路１０１には、磁気ディスク装置１０へ電源を供給する磁気ディスク装置電源Ｖが接続され、磁気ディスク装置電源Ｖの電源断を検知することが可能になっている。
【００３０】
先ず、第一基準電圧が、タイミングコントロール回路１０１へ、第一の任意の指定時間（図４では、時刻ｔ１〜時刻ｔ２の期間に相当）にわたって入力され、第一の任意の指定時間の終了後に続く第二の任意の指定時間にわたって、第二基準電圧が入力される。
【００３１】
また、タイミングコントロール回路１０１からは、ＡＮＤ回路１０７に対して、磁気ディスク装置１０の電源が遮断された直後から指定の時間経過後までの間隔を示すロジック信号（以下、判定期間信号と呼ぶ）が出力される。判定期間信号及び基準電圧のタイミングチャートは、図４に示す通りである。図４では、判定期間は、時刻ｔ１〜時刻ｔ３に相当する。
【００３２】
そして、コンパレータ１０５から出力される電気信号は、パルス発生器１０６に入力される。パルス発生器１０６は、入力された電気信号を、ワンショットパルス信号に変換して出力する。判定期間信号及びワンショットパルス信号は、ＡＮＤ回路１０７に入力される。ＡＮＤ回路１０７は、判定期間信号及びワンショットパルス信号の論理積を判定出力として出力する。
【００３３】
以上の構成によって、アクチュエータ２０のアンロード動作期間に発生する騒音を変換した電気信号に対して、二つの異なった基準電圧（第一基準電圧及び第二基準電圧）でのレベル比較が可能となる。
【００３４】
すなわち、アクチュエータ２０のアンロード開始直後の、アクチュエータの金属片２６と、ストッパ４０との衝突によって大きな騒音が発生する期間では、第一基準電圧を用いた高い基準電圧と、騒音を変換した電気信号との比較を行う。一方、金属片２６と、ストッパ４０との衝突以降の、振幅変化の小さい騒音が発生する期間では、第二基準電圧を用いた低い基準電圧と、騒音を変換した電気信号との比較を行う。
【００３５】
図５−１及び図５−２を参照して、第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ａにおいて、アクチュエータ２０のアンロード時の騒音を変換した電気信号の波形を説明する。ここで、図５−１は、アンロードが正常な場合の例を示し、図５−２は、アンロードが異常な場合の例を示す。
【００３６】
図５−１のアンロード正常状態では、基準電圧を閾値として、電気信号が閾値を超過する電位となることがないため、判定信号の出力（図５−１及び図５−２中の“Ｈ”、すなわち、信号オンを表わす。一方、図５−１及び図５−２中の“Ｌ”は、信号オフを表わす）はない。一方、図５−２の異常状態では、基準電圧を閾値として、電気信号が閾値を超過する電位となることがある。
【００３７】
電気信号が閾値を超過する電位となる場合は、例えば、アクチュエータ２０が、ストッパ４０にロックされていないため、アクチュエータ２０が、ストッパ４０付近で微少に揺動することによって騒音信号が発生した時などである。この場合に、判定信号の出力が得られる。したがって、判定信号の有無を確認することで、アンロード時の異常状態を正しく判定することが可能になる。
【００３８】
第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ａによれば、騒音を変換した電気信号のレベル変化に容易に追従可能になり、衝突時の誤検出防止、衝突以降の検出不良改善の両立が可能となる。
【００３９】
［第二実施形態の一例］
図６〜図６−２を参照して、第二実施形態の一例について説明する。なお、第二実施形態の一例の説明は、第一実施形態の一例の差異部分のみについて行う。先ず、第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置の構成について説明する。図６は、第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置の構成を示すブロック図である。
【００４０】
図６に示す様に、第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ｂは、タイミングコントロール回路１０８と、基準電圧発生器１０８ａと、音響デバイス１０２と、フィルタ１０３と、アンプ１０４と、コンパレータ１０５と、パルス発生器１０６と、ＡＮＤ回路１０７とを有する。また、試験装置１００ｂには、マイク２００が接続されている。第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ａと同一の機能構成には、同一の符号を付与し、説明を省略する。
【００４１】
磁気ディスク装置の試験装置１００ｂは、磁気ディスク装置の試験装置１００ａと違い、基準電圧発生器は、基準電圧発生器１０８ａの一つであり、基準電圧発生器１０８ａで設定された基準電圧が、アンロード時の騒音信号を変換した電気信号のレベル比較に用いられる。
【００４２】
また、磁気ディスク装置の試験装置１００ｂは、磁気ディスク装置の試験装置１００ａと比べ、タイミングコントロール回路１０８から出力される判定期間信号の出力タイミングが異なり、磁気ディスク装置１０の電源が遮断された直後から、指定時間だけ遅れて判定信号が有効となる判定期間信号が出力される。判定期間信号を含む各信号のタイミングチャートは、図７に示す通りである。図７では、判定期間は、時刻ｔ４〜時刻ｔ６に相当する。
【００４３】
すなわち、試験装置１００ｂでは、基準電圧は、基準電圧発生器１０８ａからコンパレータ１０５へ直接入力される。そして、アンロード時の騒音を変換した電気信号を、基準電圧発生器１０８ａが発生する一つの基準電圧と比較する。これにより、回路構成の簡略化が可能になる。しかし、一つの基準電圧との比較では、衝突時の誤検出防止、衝突以降の検出不良改善の両立ができない。
【００４４】
そこで、磁気ディスク装置の試験装置１００ｂは、タイミングコントロール回路１０８は、判定期間信号の出力開始タイミングを、磁気ディスク装置電源Ｖの電源断（図７では、時刻ｔ４に相当）から一定期間後（図７では、時刻ｔ５に相当）となるように遅延させる。これによって、金属片２６と、ストッパ４０との衝突時に発生するコンパレータ出力は、ＡＮＤ回路１０７において判定期間信号と論理積を取ることによってマスクされ、判定信号に影響を与えることはない。
【００４５】
図８−１及び図８−２を参照して、第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ｂにおいて、アクチュエータ２０のアンロード時の騒音を変換した電気信号の波形を説明する。ここで、図８−１は、アンロードが正常な場合の例を示し、図８−２は、アンロードが異常な場合の例を示す。
【００４６】
図８−１のアンロード正常状態では、一つの基準電圧を閾値として、電気信号が閾値を超過する電位となることがあるものの、このときは、判定期間信号が“Ｌ（信号オフ）”となっているため、判定信号が出力されることはない。
【００４７】
一方、図５−２の異常状態では、一つの基準電圧を閾値として、判定期間信号が“Ｈ（信号オン）”である期間に電気信号が閾値を超過する電位となることがあるため、判定信号の出力が得られる。したがって、判定信号の有無を確認することで、アンロード時の異常状態を正しく判定することが可能になる。
【００４８】
第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置１００ｂによれば、基準電圧発生器を一つだけ設ければよく、衝突時の誤検出防止、衝突以降の検出不良改善の両立を可能としつつ、装置構成の簡略化を図ることが可能になる。
【００４９】
以上、本発明の実施形態の一例を説明したが、本発明は、これに限られるものではなく、特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内で、更に種々の異なる実施形態で実施されてもよいものである。また、実施形態の一例に記載した効果は、これに限定されるものではない。
【００５０】
また、上記実施形態の一例において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部又は一部を手動的におこなうこともでき、あるいは、手動的におこなわれるものとして説明した処理の全部又は一部を公知の方法で自動的におこなうこともできる。この他、上記実施形態の一例で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【００５１】
また、図示した各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示のように構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、各種の負荷や使用状況などに応じて、その全部又は一部を任意の単位で機能的又は物理的に分散又は統合して構成することができる。
【００５２】
さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部又は任意の一部が、ＣＰＵ（Central  Processing Unit）（または、ＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）、ＭＣＵ（Micro  Controller  Unit）などのマイクロ・コンピュータ）及び当該ＣＰＵ（または、ＭＰＵ、ＭＣＵなどのマイクロ・コンピュータ）にて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現されてもよい。
【００５３】
以上の第一実施形態の一例及び第二実施形態の一例を含む実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００５４】
（付記１）記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を集音する集音部によって集音された前記音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力が一定の閾値を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする記憶装置の試験装置。
【００５５】
（付記２）記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を集音する集音部によって集音された前記音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出する信号検出期間を規定する判定期間信号を出力する判定期間信号出力部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力の閾値を規定する閾値信号を出力する閾値信号出力部と、
前記判定期間信号出力部によって規定される信号検出期間において、前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出し、該出力が、前記閾値信号出力部によって出力される閾値信号の出力を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする記憶装置の試験装置。
【００５６】
（付記３）前記判定期間信号出力部は、前記音響の電気信号の出力に対して、複数の信号検出期間を規定可能であり、
前記閾値信号出力部は、前記判定期間信号出力部によって規定される前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号を出力可能である
ことを特徴とする付記２記載の記憶装置の試験装置。
【００５７】
（付記４）前記複数の信号検出期間及び前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号は、任意に設定可能であることを特徴とする付記３記載の記憶装置の試験装置。
【００５８】
（付記５）前記判定期間信号出力部は、前記ストッパと、前記接触部位との接触直後の一定時間にわたって、前記判定期間信号の出力を停止することを特徴とする付記２記載の記憶装置の試験装置。
【００５９】
（付記６）記憶装置の試験を行う試験装置の制御回路であって、
前記記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力が一定の閾値を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする試験装置の制御回路。
【００６０】
（付記７）記憶装置の試験を行う試験装置の制御回路であって、
前記記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を電気信号に変換する電気信号変換部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出する信号検出期間を規定する判定期間信号を出力する判定期間信号出力部と、
前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力の閾値を規定する閾値信号を出力する閾値信号出力部と、
前記判定期間信号出力部によって規定される信号検出期間において、前記電気信号変換部によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出し、該出力が、前記閾値信号出力部によって出力される閾値信号の出力を超えるか否かを判定する出力判定部と
を有することを特徴とする試験装置の制御回路。
【００６１】
（付記８）前記判定期間信号出力部は、前記音響の電気信号の出力に対して、複数の信号検出期間を規定可能であり、
前記閾値信号出力部は、前記判定期間信号出力部によって規定される前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号を出力可能である
ことを特徴とする付記７記載の試験装置の制御回路。
【００６２】
（付記９）前記複数の信号検出期間及び前記複数の信号検出期間毎に異なる前記閾値信号は、任意に設定可能であることを特徴とする付記８記載の試験装置の制御回路。
【００６３】
（付記１０）前記判定期間信号出力部は、前記ストッパと、前記接触部位との接触直後の一定時間にわたって、前記判定期間信号の出力を停止することを特徴とする付記７記載の試験装置の制御回路。
【００６４】
（付記１１）記憶装置の試験装置が行う記憶装置試験方法であって、
前記記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を集音する集音ステップと、
前記集音ステップによって集音された前記音響を電気信号に変換する電気信号変換ステップと、
前記電気信号変換ステップによって変換された前記音響の電気信号の出力を検出する信号検出期間を規定する判定期間信号を出力する判定期間信号出力ステップと、
前記電気信号変換ステップによって変換された前記音響の電気信号の出力の閾値を規定する閾値信号を出力する閾値信号出力ステップと、
前記判定期間信号出力ステップによって規定される信号検出期間において、前記電気信号変換ステップによって変換された前記音響の電気信号の出力を検出し、該出力が、前記閾値信号出力ステップによって出力される閾値信号の出力を超えるか否かを判定する出力判定ステップと
を含むことを特徴とする記憶装置試験方法。
【００６５】
（付記１２）記憶装置における、回転軸を中心に揺動自在に軸支され、一端に、記憶媒体との間で情報を読み書きし、アンロード時にランプに収納されるヘッドが取り付けられ、他端に、ストッパと接触する接触部位が取り付けられたアクチュエータのアンロード時に、前記ストッパと、前記接触部位との接触によって発生する音響を集音する集音手順と、
前記集音手順によって集音された前記音響を電気信号に変換する電気信号変換手順と、
前記電気信号変換手順によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出する信号検出期間を規定する判定期間信号を出力する判定期間信号出力手順と、
前記電気信号変換手順によって変換された前記音響の電気信号の出力の閾値を規定する閾値信号を出力する閾値信号出力手順と、
前記判定期間信号出力手順によって規定される信号検出期間において、前記電気信号変換手順によって変換された前記音響の電気信号の出力を検出し、該出力が、前記閾値信号出力手順によって出力される閾値信号の出力を超えるか否かを判定する出力判定手順と
をコンピュータに実行させることを特徴とする記憶装置の試験プログラム。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】磁気ディスク装置の上面図である。
【図２】磁気ディスク装置のアクチュエータ・アンロード機構の配設位置近傍を拡大して示す図である。
【図３】第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置の構成を示すブロック図である。
【図４】第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置における各信号の状態を示すタイミングチャートである。
【図５−１】第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置において、正常動作時のアクチュエータ・アンロード騒音信号の波形例を示す図である。
【図５−２】第一実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置において、異常動作時のアクチュエータ・アンロード騒音信号の波形例を示す図である。
【図６】第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置の構成を示すブロック図である。
【図７】第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置における各信号の状態を示すタイミングチャートである。
【図８−１】第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置において、正常動作時のアクチュエータ・アンロード騒音信号の波形例を示す図である。
【図８−２】第二実施形態の一例に係る磁気ディスク装置の試験装置において、異常動作時のアクチュエータ・アンロード騒音信号の波形例を示す図である。
【符号の説明】
【００６７】
１０    磁気ディスク装置
１１    ベース筐体
１２    磁気ディスク
１３    ディスク固定機構
２０    アクチュエータ
２１    回転軸
２２    支持アーム
２３    支持バネ
２４    ヘッドスライダ
２５ａ、２５ｂ    コイルアーム
２６    金属片
２７    ＶＣＭコイル
４０    ストッパ
１００ａ、１００ｂ    試験装置
１０１    タイミングコントロール回路
１０１ａ    第一基準電圧発生器
１０１ｂ    第二基準電圧発生器
１０２    音響デバイス
１０３    フィルタ
１０４    アンプ
１０５    コンパレータ
１０６    パルス発生器
１０７    ＡＮＤ回路
１０８    タイミングコントロール回路
１０８ａ    基準電圧発生器
２００    マイク
Ｖ    磁気ディスク装置電源
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５−１】
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【図５−２】
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【図６】
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【図７】
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【図８−１】
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【図８−２】
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