(57)【要約】【課題】不要輻射ノイズが電子機器の動作に与える影響は予測し難いため、不要輻射ノイズ対策によって開発リードタイムが大幅に長期化する場合もある。【解決手段】この設計支援装置１００は、電子部品３１０の複数の動作環境のうち、アンテナ３０１の通信に影響が有る動作環境を抽出する動作環境抽出部１２０と、電子部品３１０の電磁界の強度分布と、アンテナ３０１の電磁界の強度分布とに基づいて、電子部品３１０が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する相関値算出部１６０とを備えている。そして、動作環境抽出部１２０によって抽出された動作環境について、相関値算出部１６０によって電子部品３１０が電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する。これによって、相関値算出部１６０での処理を短縮することができ、設計支援装置１００の処理を簡素化できる。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品が配置されたプリント回路基板とアンテナとを有する電子機器について、前記プリント回路基板の設計を支援する設計支援装置であって、
前記電子機器の複数の動作環境のうち、前記アンテナの通信に影響が有る動作環境を抽出する動作環境抽出部と、
前記電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶した第１記憶部と、
前記アンテナが発生させる電磁界の強度分布を記憶した第２記憶部と、
前記第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布と、前記第２記憶部に記憶されたアンテナの電磁界の強度分布とに基づいて、前記電子部品が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する相関値算出部と
を備え、
前記動作環境抽出部によって抽出された動作環境について、前記相関値算出部によって前記電子部品が電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する、設計支援装置。
【請求項２】
前記電子機器の通信に用いられる通信周波数に対して回避されるべき動作周波数の範囲を記憶した第３記憶部を備え、
前記動作環境抽出部は、前記第３記憶部に記憶された回避されるべき動作周波数の範囲に、前記電子機器の動作周波数の整数倍が入っている場合に、当該動作周波数を抽出する、請求項１に記載の設計支援装置。
【請求項３】
前記相関値算出部は、前記動作環境抽出部で抽出された動作周波数で電子機器が動作した場合に、前記電子部品が発生させる電磁界が、電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する、請求項２に記載の設計支援装置。
【請求項４】
前記第１記憶部は、平面座標に電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶している、請求項１から３の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項５】
前記第２記憶部は、平面座標にアンテナが発生させる電磁界の強度分布を記憶している、請求項１から４の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項６】
前記第１記憶部は、電子部品の周囲の空間を表す座標に電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶している、請求項１から３の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項７】
前記第２記憶部は、プリント回路基板の周囲の空間を表す座標にアンテナが発生させる電磁界の強度を記憶している、請求項１〜３、６の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項８】
前記第１記憶部に基づいて電子部品が発生させる電磁界の強度が分布している領域が読み込まれる、請求項１から７の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項９】
前記第２記憶部に基づいてアンテナが発生させる電磁界の強度が分布している領域が読み込まれる、請求項１から８の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項１０】
前記プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを設定するレイアウト設定部を備えた、請求項１から９の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項１１】
前記相関値算出部は、前記レイアウト設定部で設定された電子部品の位置と向きに基づいて前記相関値を算出する、請求項１０に記載の設計支援装置。
【請求項１２】
前記レイアウト設定部で設定された、前記プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを記憶する、レイアウト記憶部を備えた、請求項１０または１１に記載の設計支援装置。
【請求項１３】
前記レイアウト設定部に設定された電子部品の位置と向きと、前記第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布に基づいて、プリント回路基板に配置された電子部品が発生させる電磁界の強度分布を表示する表示部を備えた、請求項１０から１２の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項１４】
前記プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを変更するレイアウト自動変更部と、
前記相関値算出部で算出される前記相関値を予め定められた閾値と比較する相関値比較部とを備え、
レイアウト自動変更部で変更された電子部品の位置と向きに基づいて、それぞれ相関値を算出し、算出された相関値を相関値比較部によって比較して、当該電子部品が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響が小さく抑えられる当該電子部品の位置と向きを抽出する、請求項１から９の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項１５】
前記第１記憶部は、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品に取り付けられていない状態、および、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品に取り付けられた状態のそれぞれについて、当該電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶しており、
前記電子部品に、電磁シールドまたは電波吸収体が取り付けられているか否かを記憶する条件記憶部を備えており、
前記相関値算出部では、前記条件記憶部に記憶された条件に基づいて、前記第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布が選択される、請求項１から１４の何れかに記載の設計支援装置。
【請求項１６】
前記第１記憶部に記憶された電子部品が発生させる電磁界の強度分布を、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品に取り付けられているか否かの条件に基づいて、変換する変換処理部を備え、
前記電子部品に、電磁シールドまたは電波吸収体が取り付けられているか否かを記憶する条件記憶部を備えており、
前記条件記憶部に記憶された条件に応じて前記第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布を変換する、請求項１から１５の何れかに記載の設計支援装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品が配置されたプリント回路基板とアンテナとを有する電子機器について、プリント回路基板の設計を支援する設計支援装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、携帯電話機などの携帯情報通信端末は、プリント回路基板に複数の電子部品（例えば、ＩＣ（半導体集積回路））が配置されている。プリント回路基板は、ＩＣの動作に伴って電磁波（不要輻射ノイズ）を放射する場合がある。かかる電磁波の一部は、アンテナを経由して受信回路に回りこみ、アンテナの受信感度を劣化させるなどの問題を生じさせることがある。
【０００３】
かかる不要輻射ノイズ対策を適切に行なうには、不要輻射ノイズが、アンテナの送受信に及ぼす影響を適確に評価することが必要になる。かかる評価を行なう方法および装置は、例えば、特許文献１〜３の各公報に開示されている。これらの公報には、アンテナの電磁界分布を測定したデータと、プリント回路基板に配置された電子部品等が当該基板近傍で生じさせる電磁界分布とを測定したデータとに基づいて、アンテナの電磁界と基板近傍の電磁界との相関性を評価する方法および装置が開示されている。かかる方法および装置によれば、携帯情報通信端末の不要輻射ノイズによる送受信障害の発生の有無や、送受信障害を発生させる電子部品の特定が容易に行なえるようになる。
【特許文献１】特開２００６−３０９７０４号公報
【特許文献２】特開２００７−６６２４３号公報
【特許文献３】特開２００７−１９２７４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
携帯電話機などの携帯情報通信端末では、例えば、端末内部にアンテナが内蔵された内蔵型アンテナが採用されるなど、アンテナと回路基板との位置が極めて近くなってきている。また、携帯情報通信端末は、小型化、高機能化が進み、電子機器を構成する回路基板の実装密度は高くなっているとともに、ＩＣの動作周波数は高速になってきている。ＩＣの動作周波数が高速になると、プリント回路基板から電磁波（いわゆる不要輻射ノイズ）が放射され易い。このように、プリント回路基板が不要輻射ノイズを発生させることが増え、また、不要輻射ノイズがアンテナに回り込んで電子機器の動作に影響を与える事象も増えてきている。
【０００５】
また、近年、携帯情報通信端末は、非接触ＩＣカード技術が組み込まれたり、国内だけでなく海外での通信に用いられたりするため、複数の通信周波数で通信が行なわれる。このため、複数の通信周波数に対して携帯情報通信端末に内蔵された電子部品が発生させる不要輻射ノイズの影響が生じないようにする必要がある。さらに、携帯情報通信端末は、カメラ、ＳＤカード、音楽再生機能などの複数の機能が組み込まれており、複数の動作周波数（クロック周波数）で制御されることがある。電子部品は、動作周波数によって生じさせる不要輻射ノイズ（電磁界強度）が異なることがある。このように不要輻射ノイズが生じる状況は複雑になりつつあり、不要輻射ノイズが電子機器の動作に与える影響は予測し難い状況も生じている。このため、不要輻射ノイズ対策によって開発リードタイムが大幅に長期化する場合もある。
【０００６】
かかる不要輻射ノイズの対策は、電磁波を遮断するシールドを施したり、電磁波を吸収する電磁波吸収シート（フィルム）を当該電子部品に被せたりする。このような対策は、試作機などで事後的に対応しており、開発者の経験に基づくものが多く、実際にはトライアンドエラーを繰り返しながら解決しているのが実情である。このため、開発リードタイムを短縮化させるという点では、根本的な解決になっていない。また、携帯情報通信端末の小型化（薄型化）、軽量化、低コスト化を図るため、シールドや電磁波吸収シート（フィルム）は出来る限り少なくしたい。
【０００７】
そこで、本発明者は、プリント回路基板の設計初期の段階で、不要輻射ノイズに起因する影響を的確に予測し、不要輻射ノイズによる影響を少なくすることを考えている。上述した特許文献１〜３の各公報に開示された方法は、プリント回路基板で不要輻射ノイズを発生させる部位を特定することができ、プリント回路基板の設計初期の段階で利用して、不要輻射ノイズを発生させる部位を予測するのに使うことができる。本発明は、設計初期の段階で、さらに効率よく不要輻射ノイズの影響を予測することができるプリント回路基板の設計支援装置を提案する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る設計支援装置は、電子部品が配置されたプリント回路基板とアンテナとを有する電子機器について、プリント回路基板の設計を支援する。かかる設計支援装置は、電子機器の複数の動作環境のうち、アンテナの通信に影響が有る動作環境を抽出する動作環境抽出部を備えている。また、この設計支援装置は、電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶した第１記憶部と、アンテナが発生させる電磁界の強度分布を記憶した第２記憶部とを備えている。また、この設計支援装置は、第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布と、第２記憶部に記憶されたアンテナの電磁界の強度分布とに基づいて、電子部品が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する相関値算出部とを備えている。そして、この設計支援装置は、動作環境抽出部によって抽出された動作環境について、相関値算出部によって電子部品が電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する。
【０００９】
設計支援装置は、電子機器の通信に用いられる通信周波数に対して回避されるべき動作周波数の範囲を記憶した第３記憶部を備えていてもよい。この場合、動作環境抽出部は、第３記憶部に記憶された回避されるべき動作周波数の範囲に、電子機器の動作周波数の整数倍が入っている場合に、当該動作周波数を抽出するとよい。
【００１０】
また、相関値算出部は、動作環境抽出部で抽出された動作周波数で電子機器が動作した場合に、電子部品が発生させる電磁界が、電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出してもよい。
【００１１】
また、第１記憶部は、平面座標に電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶するように構成してもよい。また、第２記憶部は、平面座標にアンテナが発生させる電磁界の強度分布を記憶するように構成してもよい。
【００１２】
また、第１記憶部は、電子部品の周囲の空間を表す座標に電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶するように構成してもよい。第２記憶部は、プリント回路基板の周囲の空間を表す座標にアンテナが発生させる電磁界の強度を記憶するように構成してもよい。
【００１３】
また、設計支援装置は、プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを設定するレイアウト設定部を備えていてもよい。この場合、相関値算出部は、レイアウト設定部で設定された電子部品の位置と向きに基づいて相関値を算出するとよい。
【００１４】
また、設計支援装置は、レイアウト設定部で設定された、プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを記憶するレイアウト記憶部を備えていてもよい。
【００１５】
また、設計支援装置は、レイアウト設定部に設定された電子部品の位置と向きと、第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布に基づいて、プリント回路基板に配置された電子部品が発生させる電磁界の強度分布を表示する表示部を備えていてもよい。
【００１６】
また、設計支援装置は、プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを変更するレイアウト自動変更部と、相関値算出部で算出される相関値を予め定められた閾値と比較する相関値比較部とを備えていてもよい。この場合、レイアウト自動変更部で変更された電子部品の位置と向きに基づいて、それぞれ相関値を算出し、算出された相関値を相関値比較部によって比較して、当該電子部品が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響が小さく抑えられる当該電子部品の位置と向きを抽出するとよい。
【００１７】
また、第１記憶部は、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品に取り付けられていない状態、および、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品に取り付けられた状態のそれぞれについて、当該電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶していてもよい。この場合、設計支援装置は、電子部品に、電磁シールドまたは電波吸収体が取り付けられているか否かを記憶する条件記憶部を備え、相関値算出部では、条件記憶部に記憶された条件に基づいて、第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布が選択されるように構成するとよい。
【００１８】
また、設計支援装置は、第１記憶部に記憶された電子部品が発生させる電磁界の強度分布を、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品に取り付けられているか否かの条件に基づいて、変換する変換処理部を備えているとよい。この場合、電子部品に、電磁シールドまたは電波吸収体が取り付けられているか否かを記憶する条件記憶部を備えており、条件記憶部に記憶された条件に応じて前記第１記憶部に記憶された電子部品の電磁界の強度分布を変換するとよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の一形態によれば、設計支援装置は、動作環境抽出部によって抽出された動作環境（動作周波数）ついて、相関値算出部によって電子部品が携帯電話機に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する。これによって設計支援装置の処理を簡素化できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の一実施形態に係る設計支援装置を図面に基づいて説明する。
【００２１】
設計支援装置１００は、図１に示すように、アンテナ３０１を有する電子機器（この実施形態では、携帯電話機１０００）について、電子部品３０３〜３０７が配置されるプリント回路基板３００の設計を支援する。
【００２２】
携帯電話機１０００は、図１に示すように、電子部品３０３〜３０７が配置されたプリント回路基板３００を内蔵している。また、この携帯電話機１０００は、カメラ３２０が組み込まれている。電子部品には、例えば、ＲＦ回路ブロック３０３、メモリ３０４、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）３０５、電源３０６、３０７がある。電子部品は配線３０８によって接続されている。メモリ３０４、ＣＰＵ３０５および電源３０６、３０７は、例えば、ＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）で構成される。携帯電話機１０００の通信は、アンテナ３０１を介して行なわれている。なお、以下の説明について、かかる電子部品を区別することなく説明する場合には、適宜、符号３１０を付して説明する。
【００２３】
この実施形態では、電子機器におけるアンテナ３０１は、部品として実装されたアンテナのみでなく、電子機器において、実質的にアンテナとして機能している部材、すなわち電磁波の送信または受信に用いられる部材を含むものとする。例えば、携帯電話機１０００に部品として実装されたアンテナ３０１のみならず、筐体の一部または筐体の全体がアンテナとして機能する場合がある。
【００２４】
この携帯電話機１０００は、非接触ＩＣカード技術が組み込まれ、国内だけでなく海外での通信に用いることができるように、Ｗ−ＣＤＭＡ方式、ＧＳＭ方式、ＤＣＳ方式、ＰＣＳ方式、ＧＰＳシステムなど、予め定められた複数の周波数帯で通信が行なわれる。
【００２５】
この設計支援装置１００は、図２に示すように、動作環境抽出部１２０と、第１記憶部１４１と、第２記憶部１４２と、相関値算出部１６０とを備えている。設計支援装置１００は、ＣＰＵなどからなる演算部と、不揮発性メモリなどからなる記憶部とを備えており、予め設定されたプログラムに沿って種々の電子的な演算処理を行なう。動作環境抽出部１２０と、第１記憶部１４１と、第２記憶部１４２と、相関値算出部１６０などの設計支援装置１００の各処理部は、設計支援装置１００に予め設定されたプログラムに基づいて、それぞれの処理が具現化するように構成されている。
【００２６】
動作環境抽出部１２０は、携帯電話機１０００の複数の動作環境のうち、アンテナ３０１の通信に影響が有る動作環境を抽出する。この実施形態では、携帯電話機１０００は、上述したように予め定められた種々の周波数帯での通信が行なわれる。また、携帯電話機１０００は、デジタルカメラ機能や、ＳＤカードによるメモリ機能、ＧＰＳ機能、非接触ＩＣカード機能などの複数の機能を備えている。携帯電話機１０００は、これらの機能毎に動作周波数が決まっており、複数の異なる動作周波数で動作する。例えば、携帯電話機１０００は、通話をしているとき、デジタルカメラ機能が起動しているとき、ＳＤカードが起動しているときなどで、動作周波数が異なる場合がある。
【００２７】
この実施形態では、動作環境抽出部１２０は、アンテナを用いて通信を行なう複数の周波数帯と、電子機器の動作周波数毎に、電子部品が発生させる不要輻射ノイズが、電子機器に及ぼす影響の有無を判定する。
【００２８】
この実施形態では、動作環境抽出部１２０は、携帯電話機１０００に内蔵された電子部品の動作周波数の整数倍が、携帯電話機１０００の通信に用いられる通信周波数に対して予め定められた回避されるべき動作周波数の範囲に入っている場合に、当該動作周波数を抽出する。かかる処理を具現化するべく、設計支援装置１００は、図２に示すように、通信周波数記憶部１２１と、動作周波数記憶部１２２を備えている。
【００２９】
通信周波数記憶部１２１（第３記憶部）は、通信に用いられる複数の通信周波数を記憶している。この実施形態では、Ｗ−ＣＤＭＡ方式、ＧＳＭ方式、ＤＣＳ方式、ＰＣＳ方式、ＧＰＳシステムなど、携帯電話機１０００の各種通信に用いられる通信周波数Ａ１と、かかる通信周波数Ａ１に対して回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２とが記憶されている。例えば、Ｗ−ＣＤＭＡ方式の受信帯およびＷ−ＣＤＭＡ方式の送受間隔周波数については、複数のチャンネルが設定されている。通信周波数記憶部１２１は、各チャンネルの通信周波数Ａ１、および、当該通信周波数Ａ１に対して回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２が記憶されている。ＧＳＭ方式受信帯、ＤＣＳ方式受信帯、ＰＣＳ方式受信帯、ＧＰＳシステムなどについても同様に、通信に用いられる通信周波数Ａ１と、および、回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２が記憶されている。
【００３０】
また、動作周波数記憶部１２２は、携帯電話機１０００の各機能の動作周波数を記憶している。この実施形態では、例えば、携帯電話機１０００が、カメラ機能やＳＤカード機能などにおいて、それぞれ異なる動作周波数で動作する場合について、各動作周波数を動作周波数記憶部１２２に記憶させるとよい。この実施形態では、動作周波数Ａ３、Ａ４として、１００ＭＨｚ、２７ＭＨｚがそれぞれ記憶されている。
【００３１】
この実施形態では、動作環境抽出部１２０は、携帯電話機１０００の通信に用いられる通信周波数Ａ１に対して予め定められた回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に、携帯電話機１０００の動作周波数Ａ３，Ａ４の整数倍が入っている場合に、当該動作周波数を抽出する。
【００３２】
この動作環境抽出部１２０の抽出処理を図３に示す。図３では、通信周波数記憶部１２１に記憶された、通信に用いられる複数の通信周波数Ａ１と、回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２が列挙されている。そして、動作周波数記憶部１２２に記憶された動作周波数Ａ３、Ａ４に対して、それぞれ各動作周波数Ａ３、Ａ４の整数倍が、回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入るか否かが判定されている。図３では、各動作周波数Ａ３、Ａ４の整数倍が、回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っていない場合には、判定欄Ａ３１、Ａ４１に「○」が付けられている。そして、各動作周波数Ａ３、Ａ４の整数倍が、回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っている場合には、判定欄Ａ３１、Ａ４１に「×」が付けられている。動作環境抽出部１２０は、判定欄Ａ３１、Ａ４１に「×」が付けられた動作周波数を抽出する。
【００３３】
図３に示す例では、動作周波数Ａ３（１００ＭＨｚ）では、その整数倍が、いずれの通信周波数Ａ１についても回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っていない。このため動作周波数が１００ＭＨｚでは、電子部品が発生させる不要輻射ノイズがアンテナから回り込んで、携帯電話機の動作に及ぼす影響は少ないと考えられる。
【００３４】
これに対して、動作周波数Ａ４（２７ＭＨｚ）では、その整数倍が、通信周波数Ａ１のうちいくつかの通信周波数で、回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っている。動作周波数Ａ４（２７ＭＨｚ）では、図３に示すように、例えば、８９１．４ＭＨｚ（図３中、Ｗ−ＣＤＭＡ方式  ２ｃｈ）、１８６２．４ＭＨｚ（Ｗ−ＣＤＭＡ方式  ３ｃｈ）などで回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っている。動作周波数（２７ＭＨｚ）の整数倍が回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っている場合、当該通信周波数Ａ１では、電子部品が発生させる不要輻射ノイズがアンテナから回り込んで、携帯電話機の動作に及ぼす影響が大きいと考えられる。図３では、当該通信周波数Ａ１について判定欄Ａ４１に「×」が付けられている。
【００３５】
この場合、動作環境抽出部１２０は、動作周波数記憶部１２２に記憶された動作周波数Ａ３，Ａ４のうち、動作周波数Ａ３，Ａ４の整数倍が回避されるべき動作周波数の範囲Ａ２に入っている動作周波数Ａ４（２７ＭＨｚ）を抽出する。
【００３６】
次に、図２に示す第１記憶部１４１と、第２記憶部１４２を説明する。
【００３７】
第１記憶部１４１は、電子部品が発生させる電磁界の強度分布を記憶している。この実施形態では、携帯電話機１０００に内蔵される電子部品のうち、メモリ３０４、ＣＰＵ３０５、電源３０６、３０７などが、不要輻射ノイズを発生させる。第１記憶部１４１は、これらの電子部品が発生させる電磁界の強度分布の情報を記憶している。
【００３８】
電子部品が発生させる電磁界の強度分布の情報は、測定またはシミュレーションを行なうことによって得ることができる。
【００３９】
測定による場合は、例えば、図４に示すように、電磁界分布測定装置２００によって測定するとよい。この電磁界分布測定装置２００は、単体の電子部品３１０が実装される評価基板２０１と、検査部２０２と、検査部２０２を走査する走査機構２０３と、測定結果を解析し、その情報を記憶する測定部２０４とを備えている。
【００４０】
評価基板２０１は、携帯電話機１０００と同様の状態で電子部品３１０を実装することができる。電子部品３１０の各端子は、評価基板２０１の各端子に接続されている。評価基板２０１は、測定部２０４によって制御される。測定部２０４は、携帯電話機１０００に実装された場合と同様の状態で、電子部品３１０を動作させることができる。検査部２０２は、先端部に検査用アンテナ２０２ａを備えており、評価基板２０１および電子部品３１０から発生する電磁界の磁界成分を検出する。
【００４１】
走査機構２０３は、検査部２０２を走査する機構であり、評価基板２０１および電子部品３１０に検査部２０２を近接させた状態で走査する。当該検査用アンテナ２０２ａは、評価基板２０１および電子部品３１０の周辺部に配置されると、評価基板２０１および電子部品３１０から発生する磁界との電磁結合によって電流が流れる。この電磁界分布測定装置２００は、検査用アンテナ２０２ａに生じた電流を測定部２０４で測定することによって、電子部品３１０から放射される電磁波の磁界成分を測定している。
【００４２】
この実施形態では、測定部２０４は、評価基板２０１を制御し、電子部品３１０の動作状態を、携帯電話機１０００に実装された状態と同様の状態にする。そして、評価基板２０１に対する検査部２０２の位置を特定しつつ、走査機構２０３によって検査部２０２を移動させ、評価基板２０１上の各位置で電磁界強度を測定している。この測定部２０４によれば、図５に示すように、電子部品３１０上の各位置と、当該位置の電磁界強度のデータからなる電子部品が発生させる電磁界の強度分布の情報を得ることができる。
【００４３】
電子部品が発生させる電磁界の強度分布の情報は、シミュレーションをすることによって得ることもできる。例えば、電子部品の構造等に基づいてシミュレーションをすることによって電子部品が発生させる電磁界の強度分布の情報を得るとよい。また、ある動作周波数で得られた電磁界の強度分布の情報に基づいてシミュレーションをして、他の動作周波数で発生する電磁界の強度分布の情報を得てもよい。
【００４４】
このように、メモリ３０４、ＣＰＵ３０５、電源３０６、３０７など、不要輻射ノイズを発生させる電子部品について、動作環境抽出部１２０で抽出された動作周波数で発生する電磁界の強度分布の情報を得ると良い。第１記憶部１４１には、これらの電磁界の強度分布の情報が記憶されている。
【００４５】
この実施形態では、電磁界の強度分布の情報は、検査部２０２の走査方向に合わせて、例えば、図１１に示すように、ＸＹ座標が設定されており、ＸＹ方向に所定のピッチで設定された格子点に電磁界の強度の情報Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３が記憶されている。図１１中、Ｃは、電子部品が発生させる電磁界の強度分布の中心位置であり、この実施形態では、当該中心位置に、電磁界の強度分布の基準位置が設定されている。また、同じ電磁界の強度の位置を結ぶと、図５に示すように、電磁界強度を等高線で表示することができる。また、この実施形態では、第１記憶部１４１には、評価基板２０１に配置された電子部品３１０の向きの情報を記憶している。電子部品３１０の向きは、例えば、電子部品３１０の中心に対する１番ピンの位置で規定することができる。また、この実施形態では、電子部品３１０の向きは、基準となる向きから左回りに９０°刻みで規定されており、０°、９０°、１８０°、２７０°で表現している。
【００４６】
第１記憶部１４１は、平面座標に電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶するとよい。かかる平面座標は、電子部品上の位置を表しているとよい。なお、平面座標は、上述したＸＹ方向の２次元直交座標系に限定されない。例えば、電子部品上の位置を表す平面座標は、極座標系で表現することができる。
【００４７】
また、測定またはシミュレーションによって、電子部品が発生させる電磁界の強度分布についての情報が、３次元の位置で得られる場合には、第１記憶部１４１は、電子部品の周囲の空間を表す座標に電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶してもよい。この場合、電子部品の周囲の空間を表す座標は、ＸＹＺ方向の３次元直交座標系を用いても良いし、極座標系を用いても良い。なお、どのような座標系を用いるかについては、測定装置の構造等を考慮して適当な座標系を適宜選択するとよい。この実施形態では、説明を簡単に行なうため、第１記憶部１４１は、図１１に示すように、２次元直交座標系で電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶しているものとする。
【００４８】
図２に示す第２記憶部１４２は、アンテナ３０１が発生させる電磁界強度分布を記憶している。アンテナ３０１が発生させる電磁界の強度分布は、図６に示すように、携帯電話機１０００が実際に送受信を行っている状態で行うとよい。また、簡易な手法として、アンテナ３０１の給電点に発振器を取り付け、所定の通信周波数でアンテナ３０１が励振されている状態でアンテナ３０１の磁界分布を測定するとよい。この場合、上述した電磁界分布測定装置２００と同様の構成によって、検査部２０２を携帯電話機１０００上に走査して、アンテナ３０１の電磁界の強度分布を測定するとよい。また、シミュレーションによって、アンテナ３０１の電磁界の強度分布の情報を得ても良い。このように得られたアンテナ３０１の電磁界の強度分布の情報は、検査部２０２の走査方向に合わせて、ＸＹ座標を設定するとともに、各位置での電磁界の強度の情報を記憶しており、同じ電磁界の強度の位置を結んだ等高線を描くと、図７に示すように表示することができる。
【００４９】
この実施形態では、第２記憶部１４２は、平面座標にアンテナが発生させる電磁界の強度を記憶している。平面座標は、プリント回路基板上の位置を表しているとよい。平面座標としては、この実施形態では、図７に示すように、ＸＹ方向の２次元直交座標系が用いられている。なお、平面座標としては、図示は省略するが、極座標系を用いても良い。また、測定またはシミュレーションによって、アンテナ３０１が発生させる電磁界の強度分布についての情報が、３次元の位置で得られる場合には、第２記憶部１４２は、アンテナ３０１の周囲の空間を表す座標に電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶してもよい。この場合、電子部品の周囲の空間を表す座標は、ＸＹＺ方向の３次元直交座標系を用いても良いし、極座標系を用いても良い。なお、この実施形態では、第２記憶部１４２は、図７に示すように、２次元直交座標系で電子部品が発生させる電磁界の強度を記憶しているものとする。
【００５０】
また、図２に示すように、第１記憶部１４１に記憶させる電子部品が発生させる電磁界の強度分布については、予め複数の電子部品について予め測定またはシミュレーションを行ない、データベース１５１を作成してもよい。そして、使用する電子部品を選択することによって、当該電子部品の電磁界の強度分布が、データベース１５１から第１記憶部１４１に書き込まれるようにしてもよい。
【００５１】
また、第２記憶部１４２に記憶させるアンテナ３０１が発生させる電磁界の強度分布についても、複数のアンテナ構造について予め測定またはシミュレーションを行ない、データベース１５２を作成しておくとよい。これによって、使用するアンテナ構造を選択することによって、当該アンテナの電磁界の強度分布が、当該データベース１５２から第２記憶部１４２に書き込まれるようにするとよい。
【００５２】
次に、相関値算出部１６０を説明する。
【００５３】
相関値算出部１６０は、電子部品が発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する。かかる相関値は、第１記憶部１４１に記憶された電子部品の電磁界の強度分布と、第２記憶部１４２に記憶されたアンテナ３０１の電磁界の強度分布とに基づいて算出される。
【００５４】
ここで「相関値」は、電子部品が発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響度合いを示す値であり、アンテナ３０１の磁界成分と電子部品が発生させる電磁界との相関性を含む計算式によって、測定位置ごとに求められる。
【００５５】
相関値は、例えば、図８に示すように、プリント回路基板に配置される電子部品の位置を定め、当該位置に基づいて求められる。この設計支援装置１００は、図２に示すように、プリント回路基板に配置する電子部品３０３〜３０７の位置と向きを設定するレイアウト設定部１７０を備えている。この実施形態では、相関値算出部１６０は、レイアウト設定部１７０で設定された電子部品３０３〜３０７の位置と向きに基づいて相関値Ａを算出する。
【００５６】
電子部品が発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響度合いを示す相関値は、概ねアンテナ３０１の電磁界の強度と、電子部品が発生させる電磁界の強度を掛け合わせることによって得られる。以下、相関値を求める計算の例を説明する。なお、以下の計算例は、相関値を求める計算方法の一例を示すものであって、相関値の計算方法に以下の例に限定されない。なお、以下の計算方法では、電子部品が発生させる電磁界の強度分布およびアンテナ３０１が発生させる電磁界の強度分布が、それぞれＸＹＺ方向の３次元の直交座標系で表されている場合を示している。この実施形態のように、電子部品が発生させる電磁界の強度分布およびアンテナ３０１が発生させる電磁界の強度分布が、それぞれＸＹ方向の２次元の直交座標系で表されている場合には、Ｚ方向の成分は、無視するとよい。
【００５７】
（相関値を求める計算の例１）
例えば、座標（ｘ1、ｙ1、ｚ1）の位置における相関値Ａ（ｘ1、ｙ1、ｚ1）は、下記（式１）により求められる。
【００５８】
（式１）
Ａ（ｘ1、ｙ1、ｚ1）＝ｋａ2＋ｍａ・ｂ＋ｎｂ2
ｋ、ｍ、ｎは定数
ａ：（ｘ1、ｙ1、ｚ1）におけるアンテナの磁界成分の強度
ｂ：（ｘ1、ｙ1、ｚ1）における電子部品が発生させる電磁界の強度
また、計算を簡単にして、下記（式２）により相関値Ａを求めてもよい。
【００５９】
（式２）
Ａ（ｘ1、ｙ1、ｚ1）＝ｍａ・ｂ
ｍは定数
ａ：（ｘ1、ｙ1、ｚ1）におけるアンテナ３０１の磁界成分の強度
ｂ：（ｘ1、ｙ1、ｚ1）における電子部品が発生させる電磁界の強度
ｋ、ｍ、ｎ等の定数は、後述する閾値との関係を考慮して、状況に応じて適切な値を設定するとよい。
【００６０】
（相関値を求める計算の例２）
また、上記（式１）および（式２）では、アンテナ３０１の磁界成分の強度ａおよび電子部品が発生させる電磁界の強度ｂを用いて相関値Ａ（ｘ1、ｙ1、ｚ1）が求められている。ここで、上記ａ、ｂのようなスカラー値ではなく、ベクトル値でアンテナ３０１の磁界成分および電子部品が発生させる電磁界を表して相関値を求めることもできる。
【００６１】
この場合、相関値算出部１６０は、例えば、（ｘ1、ｙ1、ｚ1）におけるアンテナ３０１の磁界成分ベクトルａ＝（ａx、ａy、ａz）と、（ｘ1、ｙ1、ｚ1）における電子部品が発生させる電磁界ベクトルｂ＝（ｂx、ｂy、ｂz）とを用いて、下記（式３）により相関値Ａを求めることができる。
【００６２】
（式３）
Ａ＝｛（ａx・ｂx）2＋（ａy・ｂy）2＋（ａz・ｂz）2｝1/2
上記（式３）は、ベクトルａのｘｙｚ成分（ａx、ａy、ａz）とベクトルｂのｘｙｚ成分（ｂx、ｂy、ｂz）のそれぞれの積で表されるベクトル（ａx・ｂx、ａy・ｂy、ａz・ｂz）の大きさを相関値Ａとしている。また、相関値算出部１６０は、ｘｙｚ成分のうち少なくとも１つの成分における積で相関値Ａを求めてもよい。例えば、ｘ成分における積ａx・ｂxおよびｙ成分における積ａy・ｂyを用いて、下記（式４）により相関値Ａを求めることもできる。
【００６３】
（式４）
Ａ＝｛（ａx・ｂx）2＋（ａy・ｂy）2｝1/2
相関値算出部１６０は、上記（式４）のようにｚ成分の積を省略してｚｙ成分についての積を用いて相関値を求めることで、ｘｙｚ成分の積を用いる場合に比べて計算量を少なくすることができる。
【００６４】
（相関値を求める計算の例３）
上記式１〜４に示す例では、１つの点（ｘ1、ｙ1、ｚ1）におけるアンテナ３０１の磁界成分と、その点（ｘ1、ｙ1、ｚ1）における電子部品が発生させる電磁界とに基づいて相関値Ａを求めている。さらに、例えば、１つの点（ｘ1、ｙ1、ｚ1）におけるアンテナ３０１の磁界成分と、その点（ｘ1、ｙ1、ｚ1）およびその点の周辺に位置する複数の点における電子部品が発生させる電磁界の強度とに基づいて相関値を求めることもできる。例えば、（ｘ1、ｙ1、ｚ1）の周辺の３点（ｘ2、ｙ2、ｚ2）、（ｘ3、ｙ3、ｚ3）、（ｘ4、ｙ4、ｚ4）における電子部品３１０が発生させる電磁界の強度をそれぞれ、ｃ、ｄ、ｅとすると、例えば、下記（式５）により相関値を求めることができる。下記（式５）において、Ｍは定数である。
【００６５】
（式５）
Ａ＝Ｍ（ａ・ｂ＋ａ・ｃ＋ａ・ｄ＋ａ・ｅ）
相関値算出部１６０は、上記（式５）のように、複数の点における電子部品が発生させる電磁界の強度と、１つの点におけるアンテナ３０１の磁界成分の強度とを用いて相関値Ａを求めることによって、複数の点における電子部品が発生させる電磁界とアンテナ３０１の磁界成分との相互作用を考慮して相関値を求めることができる。また、相関値算出部１６０は、例えば、複数の点におけるアンテナ３０１の磁界成分の強度と、１つの点における電子部品が発生させる電磁界の強度とを用いて相関値を求めてもよいし、アンテナ３０１の磁界成分および電子部品が発生させる電磁界をベクトルで表したデータを用いて相関値を求めてもよい。
【００６６】
以上に示した計算により、相関値算出部１６０は、アンテナ３０１の電磁界の強度分布と、電子部品が発生させる電磁界の強度分布とが重なる領域の各位置で相関値を求めることができる。その結果、図９に示すように、相関値の分布が得られる。
【００６７】
そして、相関値に対して、適当な閾値を設けることによって、電子機器に影響を与える不要輻射ノイズの発生させる部位および電子部品を特定することができる。
【００６８】
この設計支援装置１００は、動作環境抽出部１２０によって抽出された動作環境（動作周波数）ついて、相関値算出部１６０によって電子部品が携帯電話機１０００に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する。すなわち、この設計支援装置１００は、携帯電話機１０００の各種動作における動作環境の全てについて、上述した相関値の算出を行なうのではなく、動作環境抽出部１２０で抽出された動作環境について、相関値の算出を行なう。これによって、相関値算出部１６０での処理を短縮することができ、設計支援装置１００の処理を簡素化できる。
【００６９】
この実施形態では、設計支援装置１００は、図２に示すように、電子機器の通信に用いられる通信周波数に対して回避されるべき動作周波数の範囲を記憶した通信周波数記憶部１２１（第３記憶部）を備えている。動作環境抽出部１２０は、通信周波数記憶部１２１に記憶された回避されるべき動作周波数の範囲に、携帯電話機１０００の動作周波数の整数倍が入っている場合に、当該動作周波数を抽出する。これによって、電子部品が携帯電話機１０００に影響を及ぼす動作周波数を的確に抽出することができる。
【００７０】
また、この実施形態では、相関値算出部１６０は、動作環境抽出部１２０で抽出された動作周波数で携帯電話機１０００が動作した場合に、電子部品が発生させる電磁界が、電子機器に及ぼす影響度合いを示す相関値を算出する。このように、この実施形態では、動作周波数に着目して携帯電話機１０００の動作環境を整理している。携帯電話機１０００の機能が複雑化した場合でも、動作周波数の数はそれほど複雑にならない。このため、動作周波数に着目して携帯電話機１０００の動作環境を整理することによって携帯電話機１０００の各機能に応じて不要輻射ノイズの影響を検討する作業が容易になる。
【００７１】
この設計支援装置１００は、図２に示すように、プリント回路基板に配置する電子部品の位置と向きを設定するレイアウト設定部１７０を備えている。この実施形態では、相関値算出部１６０は、レイアウト設定部１７０で設定された電子部品３１０の位置と向きに基づいて相関値Ａを算出する。
【００７２】
この実施形態では、図１０に示すように、携帯電話機１０００は、ヒンジ付きの折り畳み式の携帯電話機であり、上下の筐体１１、１２と、上下のプリント回路基板２１、２２を備えている。レイアウトの設定は、この実施形態では、図１２に示すように、入力部Ｓ１において、筐体１１、１２の大きさＤ１および位置Ｄ２、プリント回路基板２１、２２の大きさＥ１および位置Ｅ２がそれぞれ設定される。この実施形態では、各筐体１１、１２および各プリント回路基板２１、２２の左下の角部に、各部材の基準点が設定されている。各部材のレイアウトは、ＸＹＺ方向の３次元の直交座標の原点を基準として、当該ＸＹＺ方向の３次元の直交座標系で、携帯電話機１０００の筐体１１、１２の位置、および、プリント回路基板２１、２２の位置を設定できる。
【００７３】
次に、この実施形態では、レイアウトの設定においてアンテナの位置が設定される。なお、第２記憶部１４２に基づいてアンテナが発生させる電磁界の強度が分布している領域（寸法）が読み込まれるように構成されている。この実施形態では、図１２に示す選択項目Ｓ２には、第２記憶部１４２に電磁界の強度分布が記憶された複数のアンテナの情報が、既に入力されている。入力者は、既に表示された項目を見て選択する。これにより携帯電話機１０００に採用されるアンテナ３０１の選択が行える。
【００７４】
この実施形態では、選択項目Ｓ２のうち、Ｓ１１の欄は、Ｘ，Ｙ，Ｚの各欄のうち、Ｘ，Ｙの欄は「○」でＺの欄は「×」になっている。これは、アンテナ３０１の電磁界の強度分布が、ＸＹ方向の２次元の直交座標系で、第２記憶部１４２に記憶されていることを示している。アンテナ３０１の電磁界の強度分布は、左下に基準位置が設定されており、この実施形態では、アンテナ３０１の構造上、筐体の左下の基準位置と同じ位置に、アンテナ３０１の基準位置が設定されている。アンテナが発生させる電磁界の強度が分布している領域は、第２記憶部１４２に記憶された情報から読み込まれ、Ｓ１２の欄に読み出されている。
【００７５】
次に、レイアウトの設定では、電子部品の位置が設定される。図１２に示す例では、２つの電子部品３１０Ａ、３１０Ｂのレイアウトが設定されている。なお、この実施形態では、第１記憶部１４１に基づいて電子部品３１０Ａ、３１０Ｂが発生させる電磁界の強度が分布している領域が読み込まれるように構成されている。また、この実施形態では、図１２に示す選択項目Ｓ３には、第１記憶部１４１に電磁界の強度分布が記憶された複数の電子部品３１０Ａ、３１０Ｂ、３１０Ｃの情報が既に入力されている。入力者は、既に表示された項目を見ながら、携帯電話機１０００に採用される電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの選択が行える。
【００７６】
この実施形態では、選択項目Ｓ３のうち、Ｓ２１の欄は、Ｘ，Ｙ，Ｚの各欄のうち、Ｘ，Ｙの欄は「○」でＺの欄は「×」になっている。これは、電子部品の電磁界の強度分布が、ＸＹ方向の２次元の直交座標系で、第１記憶部１４１に記憶されていることを示している。この実施形態では、電子部品の電磁界の強度分布は、長方形の形状であり、その中心に基準位置が設定されている。電子部品３１０Ａ、３１０Ｂが発生させる電磁界の強度が分布している領域は、第１記憶部１４１に記憶された情報から読み取られ、Ｓ２２の欄に読み出されている。
【００７７】
電子部品３１０Ａ，３１０Ｂについては、さらに、プリント回路基板２１、２２に配置する位置に加えて、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの向き（回転）を設定する。この実施形態では、図１２中のＳ２３の欄に、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが、プリント回路基板２１、２２に配置される位置が設定されている。また、図１２中のＳ２４の欄に電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの向きが設定されている。さらに、この実施形態では、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる不要輻射ノイズの対策として、電磁シールドや電波吸収体が施されるが、Ｓ２５の欄に電磁シールドの有無を設定し、Ｓ２６の欄に電波吸収体の有無を設定することができる。
【００７８】
この実施形態では、相関値算出部１６０は、レイアウト設定部１７０で設定された電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きに基づいて相関値Ａを算出する。
【００７９】
設計者は、当該相関値Ａに基づいて、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる不要輻射ノイズの影響を把握することが容易になる。そして、設計者は、レイアウト設定部１７０で設定したプリント回路基板に配置する電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きをさらに色々と変更することによって、相関値算出部１６０によって当該変更されたレイアウトの相関値Ａを算出させることができる。そして、各レイアウトで算出された相関値Ａを比較することによって、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置や向きを変えた場合について電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる不要輻射ノイズの影響を把握することが容易になる。
【００８０】
この実施形態では、設計支援装置１００は、図２に示すように、レイアウト記憶部１７２を備えている。このレイアウト記憶部１７２は、レイアウト設定部１７０で設定された、レイアウト（電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向き）を記憶する。すなわち、設計支援装置１００は、プリント回路基板２１、２２に配置する電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを、設計者がどのように変化させたかを記憶する機能である。かかる機能によって、設計者が既に相関値Ａの算出を試みた電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを記憶させておけば、例えば、プリント回路基板２１、２２に配置する電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きについて、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる不要輻射ノイズの影響の傾向を把握することが容易になる。また、例えば、相関値Ａの算出結果が良かったレイアウトを、レイアウト記憶部１７２に記憶された情報に基づいてレイアウト設定部１７０に読み出すことができ、これを少し変えてレイアウトの変更を行なうことも容易になる。このように、レイアウト記憶部１７２を備えていれば、設計者にとって電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きについて最適な位置を見出す作業がより効率よく行えるようになる。
【００８１】
設計支援装置１００は、図２に示すように、レイアウト設定部１７０に設定された電子部品３１０の位置と向きと、第１記憶部１４１に記憶された電子部品３１０の電磁界の強度分布に基づいて、プリント回路基板に配置された電子部品３１０が発生させる電磁界の強度分布を表示する表示部４００を備えている。この実施形態では、設計支援装置１００は、ＰＣのディスプレイなどの表示部４００に接続されており、プリント回路基板や筐体の位置に対してレイアウト設定部１７０で設定された電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置が分かり易いように表示することができる。この実施形態では、例えば、図１０に示すように、レイアウト設定部１７０で設定された情報に基づいて、プリント回路基板２１、２２に配置された電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる電磁界の強度分布を表示部４００に表示することができる。
【００８２】
このようにレイアウト設定部１７０で設定された電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置を表示させることにより、レイアウト設定部１７０で設定された電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置が視覚的に分かり易くなる。また、設計者は、例えば、ＰＣ上でマウスなどの入力手段を用いたいわゆる「ドラッグアンドドロップ」の操作によって、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを変更できるように構成することもできる。この場合、変更後の電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きがすぐに表示されるように構成してもよい。これによって、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを変更する作業が容易に行なえるようになる。なお、レイアウト設定部１７０は、初期的にプリント回路基板２１、２２に電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを設定する場合も、ＰＣの画面上で、「ドラッグアンドドロップ」の操作などによって、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きが設定できるように構成することもできる。
【００８３】
この相関値算出部１６０は、さらに、図２に示すように、レイアウト自動変更部１８０と、相関値比較部１９０とを備えている。
【００８４】
レイアウト自動変更部１８０は、プリント回路基板２１、２２に配置する電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを変更する処理を行なう。この実施形態では、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きプログラムによって予め定められた位置に順次変更される。相関値比較部１９０は、相関値算出部１６０で算出される相関値Ａを予め定められた閾値と比較する。この設計支援装置１００は、レイアウト自動変更部１８０によって、変更された電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きに基づいて、それぞれ相関値を算出し、当該相関値比較部１９０によって各レイアウトの相関値を閾値と比較し、当該電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が小さく抑えられる当該電電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きを抽出する。
【００８５】
これによって、プリント回路基板に配置される電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置と向きについて最適なレイアウトを見出すことが容易に行なえる。
【００８６】
設計支援装置１００は、レイアウト自動変更部１８０によって、プリント回路基板に配置する電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの位置を予め定めたピッチで電子部品の位置を変化させる。そして、各位置で上述した相関値を算出し、当該相関値に基づいて、相関値比較部１９０によって電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が小さく抑えることができる位置を抽出するとよい。また、当該位置において、さらに、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの向きを適宜変更して、各向きで上述した相関値を算出し、当該相関値に基づいて、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂの適切な向きを検出するとよい。
【００８７】
なお、この場合、プリント回路基板に配置される電子部品の数や、動作環境抽出部１２０で抽出された動作周波数の数によっては、電子部品３１０Ａ，３１０Ｂが発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が小さく抑えることができる位置を見出す処理の作業工数が多くなる。
【００８８】
かかる処理は、例えば、以下の方法で簡素化できる。
【００８９】
まず、図１３に示すように、電子部品３１０の位置を、プリント回路基板に設定されたＸＹ座標のうち、Ｘ方向のみに変更し、各位置で上述した相関値を比較して、当該電子部品３１０の電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が、小さく抑えられる位置を見出す。図１３中のＡｘの線は、Ｘ方向に電子部品３１０の位置を変更したときの相関値Ａの変化を示しており、そのＸ座標は電子部品３１０の位置を示し、Ｙ座標は当該位置での、相関値Ａの値を示している。また、Ａｘ１は、電子部品３１０の位置をＸ方向のみに変更したときに、電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が最も小さく抑えられる位置を示している。
【００９０】
次に、電子部品３１０の位置をＹ方向のみに変更し、各位置で上述した相関値を比較して、当該電子部品３１０が発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響を小さく抑えることができる位置を見出す。図１３中のＡｙの線は、Ｘ方向に電子部品３１０の位置を変更したときの相関値Ａの変化を示しており、そのＹ座標は電子部品３１０の位置を示し、Ｘ座標は当該位置での、相関値Ａの値を示している。また、Ａｙ１は、電子部品３１０の位置をＹ方向のみに変更したときに、電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が最も小さく抑えられる位置を示している。
【００９１】
これによって、プリント回路基板上で、当該電子部品３１０が発生させる電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が小さく抑えることができる位置（Ａｘ１、Ａｙ１）を特定することができる。さらに、当該位置で、電子部品３１０の向きを変更して、各向きについて上述した相関値を比較して、電磁界が携帯電話機１０００に及ぼす影響が小さく抑えることができる電子部品３１０の向きを見出すとよい。
【００９２】
次に、相関値比較部１９０に設定される閾値について説明する。例えば、Ｗ−ＣＤＭＡ方式を用いた携帯電話は、市場に出荷されるために必要な仕様が３ＧＰＰ（3rd Generation Partnership Project）において規格化されている。その規格のなかで、送受信障害を起こさないために必要な仕様として受信感度があり、その値は−１１７ｄＢｍ／３．８４ＭＨｚと規定されている。つまり、入力電力が−１１７ｄＢｍ／３．８４ＭＨｚよりも大きい場合には必ず、受信が出来なければならないことを意味している。従って、相関値比較部１９０に設定される閾値については、上述した規格において、所要の受信感度が確保されるように閾値を設定するとよい。
【００９３】
また、上述した相関値は、プリント回路基板（あるいは、アンテナ３０１が発生させる電磁界の強度分布）に設定されるＸＹ座標の各位置にそれぞれ計算される。かかる相関値に基づいて当該電子部品が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響を評価する場合には、図９に示す相関値分布について、電子部品毎に相関値を積算して評価してもよい。また、電子部品毎に相関値を積算し、その積算値を相関値分布の面積で割った値で評価してもよい。
【００９４】
この場合、当該電子部品が発生させる電磁界が電子機器に及ぼす影響を評価する閾値については、上述した積算値や、積算値を面積で割った値に対して、閾値を設定するとよい。このようにして当該電子部品が発生させる不要輻射ノイズが電子機器に及ぼす影響を評価することによって、局所的に高い相関値が算出された場合でも、電子部品が発生させる不要輻射ノイズが電子機器に及ぼす影響について的確に判定することができる。
【００９５】
上述したように、この設計支援装置１００によれば、プリント回路基板で不要輻射ノイズを発生させる位置および電子部品の特定が容易に行なえるとともに、レイアウト自動変更部１８０や相関値比較部１９０を備えている場合には、適当なレイアウトを見出す作業が容易に行なえる。
【００９６】
なお、何れのレイアウトでも所要の受信感度が確保されない場合には、アンテナ構造の変更や、アンテナの受信感度に影響を与える電子部品を他の電子部品に変更するなどの対応をとるとよい。また、電磁シールドや電波吸収体（電磁波吸収シート（フィルム））を施すことを検討してもよい。
【００９７】
この場合、例えば、第１記憶部１４１は、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品３１０に取り付けられていない状態、および、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品３１０に取り付けられた状態のそれぞれについて、当該電子部品３１０が発生させる電磁界の強度分布を記憶しているとよい。この設計支援装置１００は、電子部品３１０に、電磁シールドまたは電波吸収体が取り付けられているか否かを記憶する条件記憶部１７３を備えている。そして、相関値算出部１６０では、条件記憶部１７３に記憶された条件に基づいて、第１記憶部１４１に記憶された電子部品３１０の電磁界の強度分布が選択される。
【００９８】
これによって、電波吸収体（電磁波吸収シート（フィルム））や電磁シールドを施した場合の相関値の算出が容易になる。そして、設計者にとっては、電磁シールドや電波吸収体（電磁波吸収シート（フィルム））を施した際の効果が分かり易くなる。
【００９９】
なお、電磁シールドや電波吸収体は、種類や施工方法によってその効果が異なる。この場合、電磁シールドや電波吸収体の種類や施工方法を特定して、第１記憶部１４１に電磁界の強度分布を記憶させるとよい。
【０１００】
また、設計支援装置１００は、図２に示すように、第１記憶部１４１に記憶された電子部品３１０が発生させる電磁界の強度分布を、電磁シールドまたは電波吸収体が電子部品３１０に取り付けられているか否かの条件に基づいて、変換する変換処理部１７４を備えていてもよい。この場合、電子部品３１０に、電磁シールドまたは電波吸収体が取り付けられているか否かを記憶する条件記憶部１７３に記憶された条件に応じて第１記憶部１４１に記憶された電子部品３１０の電磁界の強度分布を変換するようにしてもよい。
【０１０１】
この場合、電磁シールドおよび電波吸収体が電子部品３１０に取り付けられていない状態、および、電磁シールドが電子部品３１０に取り付けられた状態、電波吸収体が電子部品３１０に取り付けられた状態の何れかが、第１記憶部１４１（またはデータベース１５１）に記憶されており、変換処理部１７４に、相互に変換する処理が記憶されていればよい。これらの状態を相互に変換する処理については、電磁シールドが電子部品３１０に取り付けられた場合の電子部品が発生させる電磁界の強度の変化や、電波吸収体が電子部品３１０に取り付けられた場合の電子部品が発生させる電磁界の強度の変化について、それぞれ経験的に得られる傾向から変換処理を規定するとよい。
【０１０２】
なお、電磁シールドや電波吸収体は、種類や施工方法によってその効果が異なる。この場合、電磁シールドや電波吸収体の種類や施工方法を特定して、変換処理部１７４の変換処理が異なるように構成するとよい。
【０１０３】
この実施形態では、図１２に示すＳ２４、Ｓ２５の欄において、電磁シールドや電波吸収体の有無を入力できるようになっている。そして、図示は省略するが、電磁シールドや電波吸収体が施されている場合には、その種類や施工方法を入力する入力部を備えている。
【０１０４】
この場合、種類や施工方法に基づいて電磁シールドや電波吸収体が施されている場合に、電子部品が発生させる電磁界の強度分布が、第１記憶部１４１に記憶されていればその情報を用いるとよい。そして、第１記憶部１４１に記憶されていない場合でも、変換処理部１７４の変換処理が可能な場合には、電磁シールドや電波吸収体が施されていない場合の電磁界の強度分布を変換すると良い。なお、変換処理部１７４での変換処理ができない場合には、設計者によって、当該状態での電子部品が発生させる電磁界の強度分布の測定が行なわれるように、適当な表示が行なわれるように構成するとよい。
【０１０５】
このように、この設計支援装置１００は、電磁波吸収シート（フィルム）や電磁シールドを施すことによって、不要輻射ノイズの対策が可能かどうかについても容易に判定できるように構成することができる。
【０１０６】
以上、本発明の一実施形態に係る設計支援装置を説明したが、本発明に係る設計支援装置は、上述した実施形態に限定されない。
【０１０７】
上記の説明では、電子部品が配置されたプリント回路基板とアンテナとを有する電子機器として、携帯電話機を例示したが、かかる電子機器は、携帯電話機に限定されず、例えば、ＰＤＡ（personal digital assistant）、ノートＰＣなど、種々の携帯情報通信端末に適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０８】
本発明の設計支援装置は電子部品が配置されたプリント回路基板とアンテナとを有する電子機器について、プリント回路基板の設計を支援する等の用途に有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１０９】
【図１】携帯電話機の構造を示す図
【図２】本発明の一実施形態に係る設計支援装置のシステム構成を示す図
【図３】動作環境抽出部によって処理される情報を示す図
【図４】電子部品の電磁界の強度分布を測定する測定装置を示す図
【図５】電子部品の電磁界の強度分布の測定結果を示す図
【図６】アンテナの電磁界の強度分布を測定する測定装置を示す図
【図７】アンテナの電磁界の強度分布の測定結果を示す図
【図８】電子部品の電磁界の強度分布がレイアウトされた状態を示す図
【図９】相関値の分布状態を示す図
【図１０】レイアウト設定部で設定された電子部品のレイアウトを表示した状態を示す図
【図１１】電子部品の電磁界の強度分布が記憶された状態を示す図
【図１２】レイアウト設定部の設定情報の一例を示す図
【図１３】レイアウトの変更処理の一例を示す図
【符号の説明】
【０１１０】
１００    設計支援装置
１２０    動作環境抽出部
１２１    通信周波数記憶部（第３記憶部）
１２２    動作周波数記憶部
１４１    第１記憶部（電子部品が発生させる電磁界の強度）
１４２    第２記憶部（電子部品が発生させる電磁界の強度）
１５１    データベース（電子部品用）
１５２    データベース（アンテナ用）
１６０    相関値算出部
１７０    レイアウト設定部
１７１    入力処理部
１７２    レイアウト記憶部
１７３    条件記憶部
１７４    変換処理部
１８０    レイアウト自動変更部
１９０    相関値比較部
２００    電磁界分布測定装置
２０１    評価基板
２０２    検査部
２０２ａ    検査用アンテナ
２０３    走査機構
２０４    測定部
３００    プリント回路基板
３０１    アンテナ
３０３    ＲＦ回路ブロック（電子部品）
３０４    メモリ（電子部品）
３０５    ＣＰＵ（電子部品）
３０６，３０７    電源（電子部品）
３０８    配線
３１０    電子部品
４００    表示部
１０００    携帯電話機
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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