(57)【要約】【課題】感光材料上に画像を露光形成する露光ユニット補正係数を算出するためのテストプリントを効率的に作成する技術を提供する。【解決手段】第１テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第１テストパターン生成ステップと、前記露光ユニットが露光形成するために前記第１テストパターンに比べて付加的な処理が必要な第２テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第２テストパターン生成ステップと、前記第１テストパターン生成ステップにより前記第１テストパターンを露光形成している間に、前記付加的な処理を行う付加処理ステップと、第１テストパターン生成ステップと第２テストパターン生成ステップとを交互に実行する制御ステップと、を備えた。【選択図】図８
2009229767.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットにより当該感光材料上にテストプリントを露光形成するテストプリント作成方法において、
第１テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第１テストパターン生成ステップと、
前記露光ユニットが露光形成するために前記第１テストパターンに比べて付加的な処理が必要な第２テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第２テストパターン生成ステップと、
前記第１テストパターン生成ステップにより前記第１テストパターンを露光形成している間に、前記付加的な処理を行う付加処理ステップと、
第１テストパターン生成ステップと第２テストパターン生成ステップとを交互に実行する制御ステップと、
を備えたことを特徴とするテストプリント作成方法。
【請求項２】
前記付加的な処理がレジスタへの補正係数の設定であり、
前記第２テストパターンは、所定の出力条件に対してオフセットさせる前記補正係数により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成されることを特徴とする請求項１記載のテストプリント作成方法。
【請求項３】
前記第１テストパターンは、前記露光ユニットの主走査方向に沿う縞状のパターンであり、
前記第２テストパターンは、前記露光ユニットの副走査方向に沿う縞状のパターンであることを特徴とする請求項１または２記載のテストプリント作成方法。
【請求項４】
感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットを備えた画像形成装置において、
第１テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第１テストパターン生成部と、
前記露光ユニットが露光形成するために前記第１テストパターンに比べて付加的な処理が必要な第２テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第２テストパターン生成部と、
前記第１テストパターン生成部により前記第１テストパターンを露光形成している間に、第２テストパターンが必要とする前記付加的な処理を行う付加処理部と、
第１テストパターン生成部と第２テストパターン生成部とが交互に動作するように制御する制御部と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、感光材料上に画像を露光形成する露光ユニットの出力を補正するためのテストプリントの作成技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、写真プリント業界では、写真フィルムに形成された撮影画像をフィルムスキャナによりデジタル化して得られる撮影画像データや、デジタルカメラなどのデジタル撮影機器によって直接撮影画像をデジタル化して得られる撮影画像データに濃度補正や色補正などの画像処理を施した後、これをプリントデータに変換し、このプリントデータに基づいてプリント露光ユニットを駆動し、撮影画像を感光材料（印画紙）に焼き付けるデジタル写真処理技術が主流である。
【０００３】
このようなデジタル写真技術を用いた写真プリント装置では、プリント露光ユニットとして、感光材料に対してレーザ光を走査することにより画像を露光形成する露光系が主に用いられている。このような露光系では、主走査方向に直交する副走査方向に感光材料を搬送しつつ、ポリゴンミラーに対してレーザ光を照射し、ポリゴンミラーを回転させ、レーザ光を偏光することにより主走査方向の走査を実現し、感光材料上に画像を形成している。すなわち、主走査方向における濃度値の変化は、レーザ光量を連続的に制御することにより実現されている。このため、主走査方向においては、エッジ部分の立ち上がりや立ち下がり部においてレーザ光量を大きく変更する制御が必要となるが、レーザ光量は瞬時に変更できるものではないため、レーザ光量変化の遅れが生じ、この遅れが滲みとして画質低下を招いている。特に、高解像度な写真プリント装置では、１ドット当たりのレーザ照射時間が短く、主走査方向のドット間の移動においてレーザ光量を制御するための十分な時間が確保できないこと等に起因するレーザ光量の遅延により、この特徴は顕著に見られる。一方、副走査方向における濃度値の変化は、異なる走査ラインによる離散的なレーザ光量の制御により実現されている。そのため、副走査方向における濃度値の差に対しては、レーザ光量の遅れは生じず、主走査方向に生じているような滲みはほとんど生じない。
【０００４】
また、上述した原因の他にも、様々な画質低下の原因が知られており、その画質低下を防ぐための一つの方法として、補正値を用いて露光ユニットの光量を補正する方法が検討されている。通常、補正量を決定するためには、所定のテストプリントをプリントし、テストプリントの測定値から最適な補正量を算出する方法が用いられている。
【０００５】
しかしながら、通常、テストプリントをプリントする際には、様々な条件に基づいたテストパターンを生成し、プリントが行われている。このため、テストパターン数が増大し、テストパターンの作成時間やテストプリント数が増大するという問題があった。
【０００６】
このような問題を解決するために、例えば特許文献１の技術では、発色濃度の異なる複数のパッチ（テストパターン）を所定方向に配列したチャートを所定の方向と直交する方向に複数配列している。このようにテストプリントを構成することにより、テストプリントの作成時間を削減し、テストプリントのコストを低減している。また、特許文献２の技術では、発色濃度の異なる複数のパッチを円周方向にそって配列している。これにより、テストプリントのサイズを小さくし、コストを低減している。
【０００７】
【特許文献１】特開２００６−０４７２０３号公報（段落番号０００６、００１５、図２）
【特許文献２】特開２００７−３３３６３３号公報（段落番号０００７−０００８、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述のテストプリントは、各々のパッチの発色濃度は異なっているものの、パッチが形成される際の処理は全て同じである。そのため、各々のテストパターンを形成する際の処理が異なっている場合のことは考慮されていない。
【０００９】
このような問題点に鑑み、本発明の課題は、感光材料上に画像を露光形成する露光ユニット補正係数を算出するためのテストプリントを効率的に作成する技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明のテストプリント作成方法は、感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットにより当該感光材料上にテストプリントを露光形成するテストプリント作成方法において、第１テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第１テストパターン生成ステップと、前記露光ユニットが露光形成するために前記第１テストパターンに比べて付加的な処理が必要な第２テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第２テストパターン生成ステップと、前記第１テストパターン生成ステップにより前記第１テストパターンを露光形成している間に、前記付加的な処理を行う付加処理ステップと、第１テストパターン生成ステップと第２テストパターン生成ステップとを交互に実行する制御ステップと、を備えている。
【００１１】
この構成によれば、露光ユニットにより露光形成される際に、付加的な処理が不要な第１テストパターンと必要な第２テストパターンとが交互に露光形成され、第１テストパターンが露光形成されている間に、バックグランドで第２テストパターンのための付加的な処理が実行される。そのため、第２テストパターンのための付加的な処理の待ち時間がなく、効率的にテストプリントを作成することが可能となっている。
【００１２】
また、本発明のテストプリント作成方法の好適な実施形態では、前記付加的な処理がレジスタへの補正係数の設定であり、前記第２テストパターンは、所定の出力条件に対してオフセットさせる前記補正係数により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成される。この構成では、第１テストパターンが露光形成されている間に、第２テストパターンを露光形成する際に用いる補正係数をレジスタに設定することができる。さらに、レジスタに設定する補正係数の計算処理をも付加的な処理に含めることも可能である。これにより、効率的にテストプリントを作成することが可能となっている。
【００１３】
上述したように、主走査方向と副走査方向とでは、滲みの特性が異なっている。そのため、この特性の差異を補正するためのテストチャートは、この特性が顕著に現れていることが望ましい。そこで、本発明のテストプリント作成方法の好適な実施形態では、前記第１テストパターンは、前記露光ユニットの主走査方向に沿う縞状のパターンであり、前記第２テストパターンは、前記露光ユニットの副走査方向に沿う縞状のパターンである。これにより、第１テストパターンは、副走査方向の滲み特性を有し、第２テストパターンは、主走査方向の滲み特性を有したものとすることができ、これらのテストパターンから取得される計測値に基づき、主走査方向と副走査方向の滲みの特性を補正する補正値を算出することを可能としている。
【００１４】
さらに、本発明は上述のテストプリント作成方法を用いた画像形成装置をも権利範囲とするものであり、本発明の画像形成装置は、感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットを備えた画像形成装置において、第１テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第１テストパターン生成部と、前記露光ユニットが露光形成するために前記第１テストパターンに比べて付加的な処理が必要な第２テストパターンを前記露光ユニットに露光形成させる第２テストパターン生成部と、前記第１テストパターン生成部により前記第１テストパターンを露光形成している間に、第２テストパターンが必要とする前記付加的な処理を行う付加処理部と、第１テストパターン生成部と第２テストパターン生成部とが交互に動作するように制御する制御部と、を備えている。当然ながら、このような画像形成装置は、上述のテストプリント作成方法と同様の作用効果を奏し、さらには上述した付加的技術を組み込むことも可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下に、図を用いて、本発明のテストプリント成方法およびその方法を用いた画像形成装置の実施形態を説明する。
【００１６】
〔全体構成〕
図１及び図２に示す写真プリント装置は、暗箱構造の筐体１０を有し、この筐体１０の内部には印画紙Ｐに露光を行う露光処理部Ｅｘと、露光済みの印画紙Ｐの現像処理を行う現像処理部Ｄｅと、この現像処理部Ｄｅからの印画紙Ｐを乾燥する乾燥処理部Ｄｒとを備え、この乾燥処理部Ｄｒで乾燥された印画紙Ｐを筐体１０の端部の排出部１１から排出し、搬送ベルト１２で受け止めて水平方向に搬送し、複数のトレイ１３Ａの何れかにオーダ単位で回収可能なソータ１３を備えている。
【００１７】
露光処理部Ｅｘと現像処理部Ｄｅとの間には、露光処理部Ｅｘから送り出された印画紙Ｐを反転することで表裏を入れ換えた状態で現像処理部Ｄｅに手渡す縦搬送部ＣＶが設けられている。また、筐体１０の外部には、オペレータが画像データの取得と、プリント処理に必要な操作とを行う操作端末として機能するオペレート部Ａが設置されている。
【００１８】
〔オペレート部Ａ〕
オペレート部Ａには、操作テーブル２０に設置された汎用コンピュータで成る画像処理装置２１と、画像処理装置２１の上面に設置されたディスプレイ２２と、現像処理後の写真フィルムＦのコマ画像から画像データを取得するフィルムスキャナ２３と、２つのキーボード２４と１つのマウス２５とを備えている。画像処理装置２１の前面には各種の半導体型の記憶媒体（不図示）、あるいは、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等の磁気式や光学式の記憶媒体（不図示）等から画像データを取得する複数のメディアドライブ２６を備えている。
【００１９】
〔縦搬送部ＣＶ〕
縦搬送部ＣＶは、露光処理部Ｅｘで露光された印画紙Ｐを圧着型のローラ対１５で受け取り、この圧着型のローラ対１５の姿勢変換によって表裏を入れ換え、ガイドレール１６に沿って上方に搬送し、現像処理部Ｄｅに送り出す動作を行う。
【００２０】
〔現像処理部Ｄｅ・乾燥処理部Ｄｒ〕
現像処理部Ｄｅは、発色現像槽と漂白定着槽と安定槽とで成る複数の処理槽を合成樹脂によって一体形成した現像処理槽３０を備え、露光処理部Ｅｘから供給された印画紙Ｐを夫々の現像処理槽３０に搬送するように複数の圧着型の複数のローラ対を有した搬送機構３１を備えている。また、乾燥処理部Ｄｒは、現像処理部Ｄｅから送り出された印画紙Ｐを搬送する複数の圧着ローラ対３２と、この圧着ローラ対３２で搬送される印画紙Ｐに対して加熱された乾燥空気を供給するブロワＢとを備えている。
【００２１】
〔露光処理部Ｅｘ〕
露光処理部Ｅｘは、ロール状に巻き取られた印画紙Ｐを収容した印画紙マガジンＭから印画紙Ｐを引き出して、水平方向に送り出す圧着型の供給搬送ローラ４１と、供給搬送ローラ４１から印画紙Ｐを受け取り、印画紙Ｐの先端付近を挟持したまま水平に移動する挟持搬送手段としてのチャッカーＣと、チャッカーＣの水平方向への移動によって、印画紙Ｐを受け取って露光操作を行う露光ユニットＧとを備えている。供給搬送ローラ４１とチャッカーＣとの間には、供給搬送ローラ４１から供給された印画紙ＰをチャッカーＣに向けて送り込む排出ローラ対４３、及び、印画紙Ｐを露光ユニットＧにて形成する画像サイズに対応した長さに切断するカッターユニット４２が設けられている。
【００２２】
露光ユニットＧでは、露光搬送ユニットＧｃによって印画紙Ｐを水平方向（副走査方向）に搬送しながら、露光ポイントＧｐにて主走査方向に沿った走査露光を行うように構成されている。
【００２３】
露光処理部Ｅｘにおいて、供給搬送ローラ４１から露光ユニットＧに印画紙Ｐを搬送する部位には第１補助筐体３３を配置しており、供給搬送ローラ４１、カッターユニット４２、チャッカーＣの作動系等はこの第１補助筐体３３に支持されている。この露光処理部Ｅｘには、この露光処理部Ｅｘでの印画紙Ｐの搬送、及び、露光ユニットＧによる露光を制御するためにマイクロプロセッサーを有した露光制御手段としての制御ユニット３６を備えている。
【００２４】
印画紙マガジンＭは、ケース５の内部にロール状の印画紙Ｐを支持する巻芯６を備えると共に、印画紙Ｐに搬送力を作用させる圧着型のフィードローラ対７を備えている。図面には示していないが、ケース５の内部には巻芯６とフィードローラ対７とを連動して回転駆動するように複数のギヤを有した伝動系を備えており、印画紙マガジンＭの外部にはフィードローラ対７の駆動軸に動力を伝えて印画紙Ｐの送り出しと、巻き戻しとを行うマガジンモータ（不図示）を備えている。
【００２５】
〔チャッカー〕
チャッカーＣは、印画紙Ｐの搬送方向に沿って移動自在に支持されたスライダ（不図示）と、このスライダに対して縦向き姿勢の揺動軸周りで揺動自在に支持された支持アームとを有する。支持アームは、印画紙Ｐの上面（感光面）に位置する上部アーム５７と、支持アームの両端部に連結し、印画紙Ｐの下面に位置する下部アーム５８とを設け、これらの上部アーム５７と下部アーム５８との間に印画紙Ｐを導入するスリット状の印画紙導入空間を形成している。
【００２６】
下部アーム５８は、一対の接当ピンを備えており、上部アーム５７には、バネの付勢力で印画紙Ｐを前記接当ピンに押し付けて挟み込む一対のチャックピンと、チャックピンを挟持解除方向に操作する挟持解除モータとが備えられている。
【００２７】
チャッカーＣは、排出ローラ対４３から印画紙Ｐを受け取るための待機位置（図２の実線で示す）と、露光搬送ユニットＧｃに印画紙Ｐを受け渡すための排出位置（図２の破線で示す）との間で往復移動自在に構成されている。
【００２８】
〔露光ユニット〕
露光ユニットＧは、図２に示すように、印画紙Ｐの感光面に対してレーザビームを主走査方向にスキャンするビーム出射ユニットＧｈと、このビーム出射ユニットＧｈの下方の露光ポイントＧｐにおいて印画紙Ｐを副走査方向に搬送する露光搬送ユニットＧｃとで構成されている。ビーム出射ユニットＧｈを収めた第２補助筐体３４と露光搬送ユニットＧｃを収めた第３補助筐体３５とは互いに複数のネジで連結されることで単一の剛体を構成している。そして、第３補助筐体３５を懸架した第２補助筐体３４は、４個の防振ゴム３７を介して下の第１補助筐体３３の上面に支持されている。
【００２９】
ビーム出射ユニットＧｈは、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３原色に対応した３種のレーザビームを生成するレーザビーム生成装置５０と、縦軸芯周りで高速回転してレーザビームを走査するポリゴンミラー５１と、このポリゴンミラー５１からのレーザビームの走査速度を変換するｆθレンズ５２と、横向きのレーザビームを下向きに変更するための偏向ミラー５３とを備える。
【００３０】
レーザビーム生成装置５０は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３原色に対応して、半導体レーザで成るレーザ光源５０ｒおよびレーザ光源５０ｂと、固体レーザで成るレーザ光源５０ｇとを備えると共に、Ｇ（緑）に対応したレーザ光源５０ｇからのレーザビームの強度（光量）を調節（変調）する音響光学変換素子（ＡＯＭ）で成る光量調節機構５４ｇと、３種のレーザビームを反射する３つのビームミラーＭｒ、Ｍｇ、Ｍｂとを備えている。
【００３１】
また、前記ポリゴンミラー５１はアクチュエータとして電動型のポリゴンモータ５５の駆動力で回転駆動される。
【００３２】
露光搬送ユニットＧｃは、第１補助筐体３３のチャッカーＣから印画紙Ｐを受け取る受入れローラ対７１と、この受入れローラ対７１から印画紙Ｐが受け渡される２組の第２露光ローラ対７２、７３とを備えている。この２組の第２露光ローラ対７２、７３は、ビーム出射ユニットＧｈの主走査方向に延びた露光ポイントＧｐを挟んで上流側と下流側に配置されている。
【００３３】
受入れローラ対７１は、電動型のモータＭ１によって回転駆動される下方の駆動ローラ７１ａと、印画紙Ｐを駆動ローラ７１ａに押し付けた挟着姿勢と、駆動ローラ７１ａから上方に離間した解除姿勢との間で、電動型のモータＭ２によって回転駆動されるカムディスクによって上下方向に切り換え可能に構成された遊転型の圧着ローラ７１ｂとからなる。
【００３４】
同様に、下流側の２対の露光ローラ対７２、７３もまた、電動型のモータＭ３によって回転駆動される下方の駆動ローラ７２ａ、７３ａと、印画紙Ｐを各駆動ローラ７２ａ、７３ａに押し付けた挟着姿勢と、駆動ローラ７２ａ、７３ａから上方に離間した解除姿勢との間で、電動型のモータ（不図示）によって回転駆動されるカムディスク（不図示）によって上下方向に切り換え可能に構成された遊転型の圧着ローラ７２ｂ、７３ｂとからなる。
【００３５】
〔テストプリント〕
図４（ａ）は、露光ヘッドの主走査方向における理想的な光量（実線）と実際に露光ヘッドから照射される光量（点線）とを表した図である。一方、図４（ｂ）は、副走査方向における理想的な光量（実線）と実際の光量（点線）とを示している。上述したように、主走査方向におけるドットの形成は、連続したレーザ光により形成されるものであり、濃度値の変化はレーザ光量を連続的に制御する必要がある。一方、副走査方向におけるドットの形成は、異なる走査ラインにより形成されるものであり、濃度値を変化させるためにレーザ光量を連続的に制御する必要がない。そのため、主走査方向においては、濃度値の変化に実際の光量変化が追随しきれずに遅れを生じている。しかしながら、副走査方向においては、そのような遅れは生じ得ない。その様子が、図４（ａ）および（ｂ）に示されており、主走査方向では理想的な光量と実際の光量とのずれが生じているのに対し、副走査方向ではずれは生じていない。この差により、主走査方向と副走査方向で、露光されるドットの濃度に差が生じ、画質の低下を招いている。
【００３６】
図５は、上述のような主走査方向と副走査方向のドットの濃度ずれを補正するための補正係数の算出に用いるテストプリントの例である。図５のテストプリントは、入力階調０に対応する出力階調（濃度値）に対する補正係数を算出するためのものであり、基準測定値を取得するための基準パターン６１および６３、比較値を取得するための比較パターン６２ａ、６２ｂ、６４ａおよび６４ｂが含まれている。基準パターン６１および６３は、主走査方向に沿う縞状のパターンを有する横テストパターンであり、基準パターン６１は副走査方向に１ドットの幅を持ち、入力階調０に対応する露光ヘッドの光量で露光された露光ライン（以下、階調０露光ラインと称する）と最大入力階調に対応する露光ヘッドの光量で露光された露光ライン（以下、最大階調露光ラインと称する）が副走査方向において交互に配置されている。
【００３７】
基準パターン６３は、副走査方向に２ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および副走査方向に２ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第１ブロックと、副走査方向に３ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および副走査方向に３ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第２ブロックとが副走査方向において交互に配置されることにより構成されている。
【００３８】
比較パターン６２ａ、６２ｂ、６４ａおよび６４ｂは、基準パターン６１および６３から取得された濃度値と比較する比較値を取得するためのテストパターンである。比較パターン６２ａおよび６２ｂは、副走査方向に沿う縞状のパターンを有する縦テストパターンであり、主走査方向に１ドットの幅を持つ階調０露光ラインと最大階調露光ラインとが走査方向において交互に配置されている。ただし、比較パターンの階調０露光ラインとは、入力階調０に対応する出力階調値の露光ヘッドの光量に対して、補正した光量が用いられており、比較パターン６２ａ、６２ｂは、それぞれ＋α％、−α％補正された光量により露光形成されている。
【００３９】
また、比較パターン６４ａおよび６４ｂは、主走査方向に２ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および主走査方向に２ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第１ブロックと、主走査方向に３ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および主走査方向に３ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第２ブロックとが主走査方向に交互に配置されることにより構成されている。なお、比較パターン６４ａおよび６４ｂの階調０露光ラインもそれぞれ＋α％、−α％補正された光量により露光形成されている。
【００４０】
以下、基準パターン６１、比較パターン６２ａおよび６２ｂと同様の構成のテストパターンを１ｏｎ１ｏｆｆパターン、基準パターン６３、比較パターン６４ａおよび６４ｂと同様の構成のテストパターンを２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンと称する。１ｏｎ１ｏｆｆパターンに基づき算出される補正係数は、後述する立ち上がり補正に用いられ、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンに基づき算出される補正係数は、後述する立ち下がり補正に用いられる。
【００４１】
実際の補正係数を求めるには、上述した基準パターンと２つの比較パターンの組を複数用いることとなる。すなわち、補正係数を算出する階調を複数設定し、各々の階調に対応するテストパターンの組が必要となる。図６および図７は、実際の補正係数算出に用いられるテストプリントである。図中で、立ち上がり補正基準パターンは、立ち上がり補正係数の算出に用いる１ｏｎ１ｏｆｆパターンの基準パターンであり、立ち上がり補正比較パターンは、１ｏｎ１ｏｆｆパターンの比較パターンである。同様に、立ち下がり補正基準パターンは、立ち下がり補正係数の算出に用いる２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆの基準パターンであり、立ち下がり補正比較パターンは、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆの比較パターンである。図から分かるように、この例では、階調０、２５、５０、１００、１５０に対応するテストパターンが用いられている。また、階調０、２５および５０ではα＝５であり、階調１００および１５０ではα＝１０としている。また、図６のテストプリントを用いて、後述する方法により立ち上がり補正係数を求めた後、その立ち上がり補正係数を用いて図７のテストプリントがプリントされ、図６および図７のテストプリントを用いて立ち下がり補正係数等が求められる。
【００４２】
〔テストプリント生成方法〕
本発明のテストプリント作成方法に関する機能として、画像処理装置２１にテストプリント生成部９７が備えられている。図８に、テストプリント生成部９７の機能ブロックを示している。
【００４３】
テストプリント生成部９７は、第１テストパターンを生成し、露光ユニットＧに露光形成させる第１テストパターン生成部９７ａ、第２テストパターンを生成し、露光ユニットＧに露光形成させる第２テストパターン生成部９７ｂ、第１テストパターンの露光形成中に第２テストパターンのための付加処理を行う付加処理部９７ｃおよび、第１テストパターン生成部９７ａと第２テストパターン生成部９７ｃとを交互に実行させる制御部９７ｄを備えている。
【００４４】
図９から図１１は、本発明のテストパターン生成方法の処理の流れを表すフローチャートである。本実施形態においては、図１２に示すようなテストパターンを生成するための設定値が規定されている。図１２（ａ）は、基準パターン（第１テストパターンの例）のための設定値であり、図１２（ｂ）は、比較パターン（第２テストパターンの例）のための設定値である。本実施形態では、基準パターンでは、補正係数は利用されないため、規定されていない。
【００４５】
まず、制御部９７ｄは、基準パターンを生成するために、第１テストパターン生成部９７ａを動作させ、第１テストパターン生成部９７ａは、図１２（ａ）のテーブルから設定値を取得する（＃０１）。この例では、まず、階調値が０、第１幅が１、第２幅が１として取得される。なお、本実施例では、第２階調値は最大階調値を固定的に用いる。このとき、生成しているテストパターンの種別が判定され（＃０２）、基準パターンを生成している場合には（＃０２のYes分岐）、付加処理部９７ｃにより、図１２（ｂ）から補正係数が取得される（＃０３）。今の場合には、最先の−５が取得される。
【００４６】
補正係数を取得した付加処理部９７ｃは、後述するテストパターン生成処理により基準パターンが形成される時間を利用して、補正係数を補正係数レジスタ９０ｂに設定する（＃０４）。
【００４７】
基準パターンの生成が完了すると、全テストパターンの生成が完了したか否かが判定され（＃０６）、未完成の場合には（＃０６のNo分岐）、処理が＃０１に戻る。
【００４８】
このとき、制御部９７ｄは、前回動作させていないテストパターン生成部を動作させる。すなわち、前回第１テストパターン生成部９７ａを動作させたのであれば、今回は第２テストパターン生成部９７ｂを動作させ、前回第２テストパターン生成部９７ｂを動作させたのであれば、今回は第１テストパターン生成部９７ａを動作させることとなる。今の場合には、第２テストパターン生成部９７ｂを動作させることとなる。
【００４９】
第２テストパターン生成部９７ｂは、図１２(ｂ)から設定値を取得する。今の場合には、階調値が１、第１幅が１、第２幅が１として取得される。なお、補正係数は、すでに補正係数レジスタ９０ｂに設定されているため、ここで取得する必要はない。
【００５０】
今は、比較パターンの生成処理であるため（＃０２のNo分岐）、補正係数の取得および設定は行われず、後述するテストパターン生成処理により、比較パターンが生成される。
【００５１】
上述の処理が、図１２に設定されている全てのテストパターンの生成が完了するまで（＃０６のYes分岐）
【００５２】
以下に、個々のテストパターンの生成処理の流れを説明する。まず、＃０１で取得された第１および第２の階調値を配列ｐ[  ]に、第１および第２幅を配列Ｌ[  ]に代入する（＃１０１）。
【００５３】
次に、形成するテストパターンが基準パターンであるか否かが判定される（＃１０２）。制御部９７ｄは、基準パターンもしくは比較パターンのいずれを形成するかを予め設定しているため、この設定に基づき判定することができる。
【００５４】
基準パターンを形成する場合（＃１０２のYes分岐）には、まず制御変数ｉおよびｊが０で初期化される（＃１０３）。次に、Ｌ[ｊ]ラスタ分のドットが階調値ｐ[ｉ]に設定され（＃１０４）、ｉがインクリメントされる（＃１０５）。ここで、ｉが２未満（＃１０６のNo分岐）であれば＃１０４に戻り再度Ｌ[ｊ]ラスタ分のドットが階調値ｐ[ｉ]に設定される。ここまでの処理により、第１ブロックが形成される。
【００５５】
ここで、ｉがインクリメントされるとｉ＝２となり、＃１０６の条件を満たすため、処理が＃１０７に流れ、ｉが０リセットされ（＃１０７）、ｊがインクリメントされる（＃１０８）。ここでは、ｊ＝１となり＃１０９を満たさないため、処理が＃１０３に戻り、上述の処理により第２ブロックが形成される。
【００５６】
＃１０９の条件が満たされると、所定の領域すなわち一つのテストパターンの領域のドットが設定されたか否かが判定される（＃１１０）。所定領域が完成していない場合には、＃１０３に戻り、所定領域が完成するまで上述の処理が繰り返される。このようにして、主走査方向に縞状のパターンを有する基準パターンが形成される。
【００５７】
一方、形成するテストパターンが比較パターンの場合（＃１０２のNo分岐）には、まず制御変数ｉおよびｊが０リセットされる（＃１１１）。
【００５８】
その後、Ｌ[ｊ]ドットの階調値がｐ[ｉ]に設定され（＃１１２）、ｉがインクリメントされる（＃１１３）。ｉが２未満の場合（＃１１４のNo分岐）には、＃１１２に戻り、Ｌ[ｊ]ドットの階調値がｐ[ｉ]に設定される。
【００５９】
一方、ｉが２以上の場合（＃１１４のYes分岐）には、処理が＃１１５に流れ、ｉが０リセットされ（＃１１５）、ｊがインクリメントされる（＃１１６）。このとき、ｊが２未満であれば（＃１１７のNo分岐）、処理が＃１１２に戻り、上述の処理が行われる。一方、ｊが２以上の場合（＃１１７のYes分岐）には、１ラスタ分のドットが設定されたか否かが判定される（＃１８）。
【００６０】
１ラスタが完成していない場合（＃１１８のNo分岐）には、処理が＃１１１に戻り、上述の処理が繰り返され、１ラスタが完成した場合（＃１１８のYes分岐）には、所定領域すなわち一つのテストパターンが完成したか否かが判定される（＃１１９）。テストパターンが未完成の場合（＃１１９のNo分岐）には、処理が＃１１１に戻り、上述の処理が繰り返される。このようにして、比較パターンが形成される。
【００６１】
上述の処理により形成されたテストパターンは、画像保存部９１に一時記憶される。このとき、形成したテストパターンが比較パターンであれば、上述したように先行する基準パターンの生成の間に、補正係数が補正係数レジスタ９０ｂに設定されている。Ｄ／Ａ変換部９５および電力制御部９６は、補正係数レジスタ９０ｂに設定された補正係数に応じて光量を補正し、露光ユニットＧによって、画像保存部９１に記憶されたテストパターンが感光材料上に露光形成される（＃１２０）。この処理により、図６および図７のテストプリントが生成される。なお、出力階調値補正部９４では、立ち上がり補正部９４ｂのみが機能する。
【００６２】
なお、上述の実施形態では、形成されたテストパターンは画像保存部９１に一時記憶された後に、感光材料上に露光形成される構成としたが、これに限定されるものではなく、一つのドット値が決定する都度、そのドットを感光材料上に露光形成する形態としても構わない。
【００６３】
〔マスター補正値〕
立ち上がり補正や立ち下がり補正における補正係数を求める際には、予め求められているマスター補正値と呼ばれる初期補正値が用いられている。マスター補正値は、感光材料毎に異なる値を持っており、入力階調値に対する３次式として表される。例えば、図１３の実線は、ある感光材料に対するＲレーザのマスター補正値を表している。このとき、補正係数αにより、α％補正するとは、縦軸の正方向に各々のマスター補正値をα％シフトさせ、点線の曲線で表される補正値を用いることをいい、−α％補正するとは、縦軸の負方向に各々のマスター補正値をα％シフトさせ、一点鎖線の曲線で表される補正値を用いることをいう。すなわち、入力階調ｘに対するマスター補正値をｙとすると、補正係数αによりα％補正されたマスター補正値ｙ’は、ｙ’＝（１＋α）ｙとなる。なお、図では、マスター補正値は入力階調値の関数として表されているが、後述する入出力特定関数（セットアップＬＵＴ）を介して、出力階調値の関数として用いることができる。
【００６４】
上述のテストプリント時には、１ｏｎ１ｏｆｆの基準パターンを形成する際には、マスター補正値による立ち上がり補正が行われ、１ｏｎ１ｏｆｆの比較パターンを形成する際には、マスター補正値をシフトさせた補正値による立ち上がり補正が行われている。また、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆの基準パターンの形成時には、マスター補正値による立ち上がり補正が行われ、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆの比較パターンの形成時には、既に算出されている立ち上がり補正値による立ち上がり補正およびマスター補正値をシフトさせた補正値による立ち下がり補正が行われる。このようにマスター補正値を用いることにより、立ち上がりおよび立ち下がり補正を微小な補正に止めることができ、補正の信頼性を高めることができる。
【００６５】
〔補正係数算出部〕
また、本発明の補正値算出方法に関する機能として、補正値算出部８０が画像処理装置２１に備えられている。図８に、補正値算出部８０の機能ブロックを示している。
【００６６】
補正値算出部８０は、テストプリントに含まれる各テストパターンの濃度値を取得する濃度値取得手段８１、濃度値取得手段８１により取得された比較パターンの濃度値と基本パターンの濃度値との差分を算出する差分手段８２、差分手段８２により算出された差分値を後述する平面上に定めると共に、定められた点に基づき近似直線を求める直線近似手段８３、直線近似手段８３により近似された直線に基づき補正係数を算出する補正値算出手段８４、補正値算出手段８４により算出された複数の近似値から近似曲線を算出する補正曲線算出手段８５、および補正曲線算出手段により算出された補正曲線に基づき各階調における補正係数を補正係数テーブル９０ａに設定する補正値設定手段８６が備えられている。
〔補正値算出方法〕
図１４は、本発明の補正値算出方法の処理の流れを表すフローチャートである。この処理では、図６のテストプリントを用いる。特に、１ｏｎ１ｏｆｆパターンである立ち上がり補正基準パターンおよび立ち上がり補正比較パターンを用いた立ち上がり補正係数の算出に関する説明を行うものとする。
【００６７】
まず、濃度値取得手段８１により、一つの階調に対する基準値が取得される（＃３１）。例えば、入力階調０に対する基準パターン６３の濃度値が測色計等により計測され、入力される。次に、濃度値取得手段８１により、入力階調０に対する比較パターン６４ａおよび６４ｂの濃度値が２つの比較値（以下、第１比較値、第２比較値と称する）として取得される（＃３２）。
【００６８】
差分手段８２は、濃度値取得手段８１により取得された第１比較値と基準値との差分値（以下、第１差分値ｄ1と称する）および、第２比較値と基準値との差分値（以下、第２差分値ｄ2と称する）が算出される（＃３３）。
【００６９】
直線近似手段８３は、第１差分値ｄ1および第２差分値ｄ2に基づき近似直線を算出する（＃３４）。この動作を、図１５を用いて具体的に説明する。まず、横軸を比較値と基準値との差とし、縦軸を補正係数とする平面を考え、この平面上に第１差分値および第２差分値に基づく点（以下、点Ｐ1、Ｐ2と称する）をプロットする。ここで、第１差分値ｄ1の算出の基礎となった比較パターン６４ａは、＋α％の補正係数により補正された露光されたものであるため、点Ｐ1の座標は（ｄ1，α）となる。同様に、点Ｐ2の座標は（ｄ2，−α）となる。そして、公知の方法により、点Ｐ1と点Ｐ2を結ぶ線分を求めることにより、近似直線Ｌが得られる。なお、本実施形態では、２つの比較値に基づき２点を定め、近似直線を求めているが、これに限定されるものではなく、３以上の比較値に基づき、近似直線を求めても構わない。この場合には、最小二乗法等の公知の方法により近似直線を求めることができる。
【００７０】
補正値算出手段８４は、直線近似手段８３により算出された近似直線に基づき、補正係数を算出する（＃３５）。具体的には、算出された近似直線の縦軸切片を補正係数として算出する。図１５の例では、直線Ｌと縦軸の交点は、点Ｐd（０，Ｖ）であり、算出される補正係数はＶである。
【００７１】
以上の処理により、入力階調０に対する補正係数が求められ、この処理をテストプリントされた全ての入力階調に対して繰り返す（＃３６のNo分岐）。
【００７２】
上述の処理により、入力階調０、２５、５０、１００、１５０に対する補正係数Ｖ0、Ｖ25、Ｖ50、Ｖ100、Ｖ150が得られる。補正曲線算出手段８５は、これらの補正係数から補正曲線を算出する（＃３７）。図１６は、この様子を表した模式図である。図１６の上段は、入力階調に対する出力階調の関係を規定する入出力特性曲線である。また、下段は横軸を出力階調、縦軸を補正係数とする平面であり、上述の処理により算出された補正係数Ｖ0、Ｖ25、Ｖ50、Ｖ100、Ｖ150に対応する点Ｐ0、Ｐ25、Ｐ50、Ｐ100、Ｐ150がプロットされている。例えば、Ｐ0の横軸要素は、入出力特性曲線に基づき決定される。すなわち、入力階調０に対する出力階調が、Ｐ0の横軸要素となる。また、Ｐ0の縦軸要素は、入力階調０に対する補正係数Ｖ0である。このようにして、点Ｐ0の座標が決定される。他の点Ｐ25、Ｐ50、Ｐ100、Ｐ150も同様にして、決定される。
【００７３】
このようにして決定された点に基づき、公知の方法により補正曲線が求められる。本実施形態では、３次曲線による近似が行われており、図１６下段の実線が補正曲線として得られることとなる。
【００７４】
補正曲線の近似に用いた範囲外の出力階調に対する補正係数として、近似補正曲線の値を使用した場合には、信頼性が低いため、画質が低下する恐れがある。そのため、入力階調１５０に対応する出力階調Ｂ以下に対する補正係数は、出力階調Ｂに対応する補正係数Ｖ150を用いる。すなわち、出力階調区間［０，Ｂ］に対する補正係数はＶ150となる。一方、入力階調０に対応する出力階調Ａ以上に対する補正係数は、出力階調１．１Ａまでは、補正曲線の値を補正係数として用いるが、出力階調１．１Ａ以上に対する補正係数は、出力階調１．１Ａに対応する補正係数Ｖ0’を用いる。すなわち、出力階調区間［１．１Ａ，最大階調］に対する補正係数は、Ｖ0’となる。
【００７５】
このようにして、全出力階調に対する補正係数が求められ、補正値設定手段８６により、補正係数テーブル９０ａに補正係数が設定される（＃３８）。ただし、通常、出力階調数に比べて補正係数テーブル９０ａおよび補正係数レジスタ９０ｂの数が少ないため、個々の出力階調に対する補正係数を設定することはできない。その場合には、出力階調を補正係数テーブル９０ａおよび補正係数レジスタ９０ｂの数と同数の区間に分割し、個々の区間の代表値を補正係数として補正係数テーブル９０ａに設定する。この区間の代表値としては、区間に属する各々の出力階調に対応する補正係数の最大値、最小値、平均値等様々な値を用いることができる。また、出力階調の区間は、均等に分割しても良いし、不均等に分割しても構わない。不均等に分割する場合には、曲線の勾配が急な領域は、区間を短くしサンプリング数を増やし、勾配が緩やかな領域は区間を長くすることによりサンプリング数を減らす等すると、補正係数曲線の特性を反映した補正係数が得られるために好適である。
【００７６】
上述の処理により２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンを用いて立ち上がり補正係数が得られ、補正係数テーブル９０ａに設定されたが、１ｏｎ１ｏｆｆパターンを用いた立ち上がり補正係数の算出方法も同様の処理により実現することができる。なお、立ち上がり補正係数と立ち下がり補正係数とは、個別の補正係数テーブル９０ａに設定される。
【００７７】
なお、上述の説明では、測定値に基づき２つの点を定め、それらの点を結ぶ線分の縦軸切片を補正係数として算出していた。しかしながら、一般的に、このような２点の間に必ず縦軸切片が存在するとは限らない。
【００７８】
例えば、図１７では、テストパターンを計測することにより得られた基準値および２つの比較値から２点Ｐ1およびＰ2が定められている。しかしながら、線分Ｐ1Ｐ2は縦軸と交差しておらず、縦軸切片が存在していない。この場合には、線分Ｐ1Ｐ2を延長することにより縦軸切片を求めることも可能であるが、得られた補正値の信頼性の観点からは問題がある。この場合には、以下の方法により補正係数を算出する。
【００７９】
まず、縦軸切片がＰ1側とＰ2側のいずれに存在するかを判定する。図１７の例では、Ｐ1側に存在することが分かる。このとき、Ｐ1の基礎となった補正係数を変更した補正係数を決定する。Ｐ1は上述のように＋α％の補正により露光形成されたテストパターンを基礎としているため、新たな補正係数はβ＞αとする。例えば、β＝２α等とすることができる。
【００８０】
このようにして、変更された補正係数βを用いて露光形成されたテストパターンから再度濃度値を取得すると、点Ｐ3を定めることができる。このとき、線分Ｐ2Ｐ3は縦軸と交差するため、縦軸切片を補正係数として求めることができる。
【００８１】
〔画像露光処理〕
以下に、本発明の補正値算出方法により算出された補正係数を用いて画像を露光形成する写真プリント装置における、画像露光処理を説明する。この写真プリント装置では、本発明に係る立ち上がり補正および立ち下がり補正だけでなく、アンダーシュート補正と呼ばれる補正が行われる。ここでは、全体の処理の流れを説明する前に、各々の補正方法に関する説明を行う。
【００８２】
本実施形態におけるアンダーシュート補正とは、主走査方向において出力階調値が減少（露光ヘッドの光量が減少）する位置のドットに対する光量を補正することを言い、立ち上がり補正とは、主走査方向において出力階調値が増加（露光ヘッドの光量が増加）する位置のドットに対する光量を補正することを言い、立ち下がり補正とは、主走査方向において出力階調値が減少する位置の直前のドットに対する光量を補正することを言う。なお、アンダーシュート補正に用いるアンダーシュート補正値は所定の方法に基づき得られており、立ち上がり補正に用いる補正係数は、１ｏｎ１ｏｆｆパターンに基づき、上述の処理により算出され、立ち下がり補正に用いる補正係数は、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンに基づき、上述の処理により算出されているものとする。
【００８３】
〔アンダーシュート補正〕
図１８は、アンダーシュート補正の概念を表す図である。アンダーシュート補正とは、直接変調するＲおよびＢレーザの主走査方向における立ち下がりの制御遅延に起因する滲みを低減するために行われる補正である。なお、図１８中のＬＤバイアス設定値Ｏ2とは、印画紙が発色する光量の限界点である。すなわち、ＬＤバイアス設定値以下のＤ／Ａ変換値に対応する制御電流による光量では、印画紙は発色しない。通常、白ドットを形成する場合には、その後の電流の立ち上がりを考慮して、Ｄ／Ａ変換値は０とはせず、ＬＤバイアス設定値に設定されている。
【００８４】
しかしながら、このような制御では、白ドットの直前の黒ドットからの滲みが発生し、画質の低下を招いている。この滲みを低減するための補正がアンダーシュート補正である。具体的には、主走査方向における立ち下がり直後の出力階調値に以下の方法により算出された補正値を加算する処理である。
【００８５】
アンダーシュート補正における補正値Ｂは、立ち下がり量Ａと立ち下がり量Ａに対応して予め設定されているアンダーシュート補正係数−１≦Ｘ[ｉ]≦０との積により求められる。すなわち、アンダーシュートにおける補正値はＢ＝Ａ×Ｘ[ｆ(Ａ)]となる。ここで、ｉはレジスタ番号、ｆ(  )は立ち下がり量をレジスタ番号に変換する関数である。なお、アンダーシュート補正係数は所定の方法により求められ、補正係数テーブル９０ａに設定されており、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル９０ａから補正値レジスタ９０ｂに転送され、設定されている。
【００８６】
図１８における実線は、主走査方向におけるＤ／Ａ変換値（出力階調値）の変化であり、この例では２つの立ち下がり部が含まれている。各々の立ち下がり部において、上述の式により補正値ＢおよびＢ’が算出され、その補正値によりアンダーシュート補正がなされている（図１８の点線部分）。
【００８７】
〔立ち上がり補正〕
図１９は、立ち上がり補正の概念を示す図であり、実線が主走査方向におけるＤ／Ａ変換値（出力階調値）の変化を示している。図１９の例では、２箇所の立ち上がりを有している。一方は、Ｏ1からＯ2に立ち上がっており、他方はＯ3からＯ4に立ち上がっている。このとき、Ａ＝Ｏ2−Ｏ1、Ａ’＝Ｏ4−Ｏ3である。
【００８８】
このとき、立ち上がり補正量ＣおよびＣ’は、立ち上がり量ＡおよびＡ’と、上述の処理により算出され補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち上がり補正係数とに基づき決定される。すなわち、補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち上がり補正係数を−１≦Ｙ[ｉ] ≦１とすると、立ち上がり補正量Ｃは、Ｃ＝Ａ×Ｙ[ｆ(Ａ)]により求めることができる。ここで、ｉはレジスタ番号、ｆ( )は出力階調をレジスタ番号に変換する関数である。同様にＣ’＝Ａ’×Ｙ[ｆ(Ａ’)]となる。なお、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル９０ａの立ち上がり補正係数が補正値レジスタ９０ｂに転送され、設定されている。
【００８９】
このようにして、求められた立ち上がり補正量は、立ち上がり直後の出力階調値に加算され、新たな出力階調値が得られる（図１９の点線部分）。なお、この例では、立ち上がり補正量は正値となっているが、実際には負値の場合もあり得る。また、補正後の出力階調値が最大出力階調を超える場合や、最低出力階調を下回る場合があるが、その場合には、最大出力階調もしくは最低出力階調に丸める処理を行う。
【００９０】
〔立ち下がり補正〕
一方、図２０は立ち下がり補正の概念を示しており、実線が主走査方向におけるＤ／Ａ変換値（出力階調値）の変化を示している。この例では、２箇所の立ち下がりを有しており、一方は、Ｏ1からＯ2に立ち下がっており、他方は、Ｏ3からＯ4に立ち下がっている。このときの立ち下がり量は、それぞれＡ＝Ｏ1−Ｏ2、Ａ’＝Ｏ3−Ｏ4である。
【００９１】
このときの立ち下がり補正量ＤおよびＤ’は、立ち上がり補正量と同様に、立ち下がり量ＡおよびＡ’と補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち下がり補正係数とに基づき算出される。すなわち、補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち下がり補正係数を−１≦Ｚ[ｉ]≦１とすると、立ち下がり補正量は、Ｄ＝Ａ×Ｚ[ｆ(Ａ)]、Ｄ’＝Ａ’×Ｚ[ｆ(Ａ’)]となる。なお、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル９０ｂの立ち下がり補正係数が補正値レジスタ９０ｂに転送され、設定されている。
【００９２】
ただし、立ち下がり補正は、立ち下がり後にその状態が２ドット以上継続する場合にのみ行われる。すなわち、立ち下がり直後に立ち上がった場合には、立ち下がり補正は行われない。
【００９３】
このようにして、求められた立ち下がり補正量は、立ち下がり直前の出力階調値に加算され、新たな出力階調値が得られる（図２０の点線部分）。なお、この例では、立ち下がり補正量は負値となっているが、実際には正値の場合もあり得る。また、補正後の出力階調値が最大出力階調を超える場合や、最低出力階調を下回る場合があるが、その場合には、最大出力階調もしくは最低出力階調に丸める処理を行う。
【００９４】
〔画像形成処理〕
次に、図８および図２１を用いて、上述した立ち上がり補正および立ち下がり補正を用いた画像の露光処理の説明を行う。画像露光処理に関連する機能部として、画像処理装置２１には、感光材料に露光形成すべき画像データを保持する画像保存部９１、画像保存部９１に保持されている画像データから１画素単位で画素値（入力階調値）を取得する入力階調値取得部９２、入力階調値取得部９２により取得された入力階調値を出力階調値に変換する出力階調値変換部９３、出力階調値変換部９３により変換された出力階調に基づき、立ち上がり補正、立ち下がり補正等の補正を行う出力階調値補正部９４を備えている。
【００９５】
さらに、出力階調値補正部９４は、アンダーシュート補正を行うアンダーシュート補正部９４ａ、立ち上がり補正を行う立ち上がり補正部９４ｂおよび、立ち下がり補正を行う立ち下がり補正部９４ｃを備えている。
【００９６】
まず、入力階調値取得部９２により、画像保存部９１に保存されている画像の画素値が入力階調値として取得される（＃１１）。取得された入力階調値は、出力階調値変換部９３により、出力階調値に変換される（＃１２）。この変換は、図１５の上段に示したような特性曲線を表すＬＵＴ（Look Up Table）に基づき変換される。
【００９７】
出力階調値変換部９３から出力階調値を取得したアンダーシュート補正部９４ａは、まず直前に取得した出力階調値と現在取得した出力階調値とから、立ち下がり部であるか否かを判定し（＃１３）、立ち下がり部であると判定した場合（＃１３のYes分岐）には、取得した出力階調値に対して上述の方法によりアンダーシュート補正を行い（＃１４）、補正後の出力階調値を新たな出力階調値とする。一方、立ち上がり部でないと判定した場合（＃１３のNo分岐）には、取得した出力階調値をスルー出力する。この際、取得した出力階調値を直前の出力階調値として一時記憶しておく。
【００９８】
立ち上がり補正部９４ｂは、アンダーシュート補正部９４ａからの出力階調値を取得し、直前の出力階調値と現在取得した出力階調値とから、立ち上がり部であるか否かを判定する（＃１５）。立ち上がり部である場合（＃１５のYes分岐）には、取得した出力階調値に対して、上述の方法により立ち上がり補正を行い（＃１６）、補正後の出力階調値を新たな出力階調値として出力する。一方、立ち上がり部でない場合（＃１５のNo分岐）には、取得した出力階調値をスルー出力する。この際、取得した出力階調値を直前の出力階調値として一時記憶しておく。
【００９９】
次に、立ち下がり補正部９４ｃは、立ち上がり補正部９４ｂから取得した出力階調値（以下、判定対象値と称する）に対して、立ち下がり部であるか否かを判定する（＃１７）。上述のように、立ち下がり補正における立ち下がり部は、立ち下がり直前の１ドット、立ち下がり後の２ドットに基づき判定されるため、立ち下がり部の判定には少なくとも３ドット分の出力階調値が必要である。そのため、本説明においては、直前の２ドット分の出力階調値（以下、第１対象値および第２対象値と称する）が一時記憶されているものとする。
【０１００】
立ち下がり補正部９４ｃは、第１対象値と第２対象値の間で立ち下がっており、第２対象値と判定対象値との間で立ち下がった状態が継続している場合（出力階調値の変化が所定値以下の場合等）に、立ち下がり部であると判定する。この際には（＃１７のYes分岐）、第１対象値が上述の方法により立ち下がり補正され（＃１８）、新たな出力階調値として出力される。一方、立ち下がり部でないと判定された際には（＃１７のNo分岐）、第１対象値がスルー出力される。この際、第２対象値が第１対象値として、判定対象値が第２対象値として一時記憶される。立ち下がり補正部９４ｃにより出力された出力階調値は、はＤ／Ａ変換部９５に渡される。
【０１０１】
出力階調値を取得したＤ／Ａ変換部９５は、出力階調値をＤ／Ａ変換し（＃１９）、電力制御部９６に渡す。Ｄ／Ａ変換値を取得した電力制御部９６は、Ｄ／Ａ変換値に基づき、ＲおよびＢのレーザ光源５０ｒおよび５０ｂの電力、およびＧレーザ光源５０ｇの光量調節機構５４ｇの電力を制御する（＃２０）。
【０１０２】
各レーザ光源は、電力制御部９６により制御された電力に基づき、光量が決定され、その光量によりドットの露光形成を行う（＃２１）。
【０１０３】
上述の処理を画像保存部９１に保存されている画像データの全画素値に対して行う（＃２２）ことにより、この画像データを感光材料上に露光形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０４】
【図１】本発明の実施形態における写真プリント装置の概観図
【図２】本発明の実施形態における写真プリント装置のプリントステーションの構成を示す模式図
【図３】本発明の実施形態における写真プリント装置の露光ユニットの模式図
【図４】露光制御の遅れを表す模式図
【図５】本発明のテストプリント作成方法により作成されたテストプリントの例
【図６】本発明のテストプリント作成方法により作成されたテストプリントの例
【図７】本発明のテストプリント作成方法により作成されたテストプリントの例
【図８】本発明の実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図９】本発明のテストプリント作成方法の処理の流れを表すフローチャート
【図１０】本発明のテストプリント作成方法の処理の流れを表すフローチャート
【図１１】本発明のテストプリント作成方法の処理の流れを表すフローチャート
【図１２】本発明のテストプリント作成方法の実施形態における各テストパターンの設定値の例
【図１３】マスター補正値と補正値の関係を表す模式図
【図１４】本発明のテストプリント作成方法により作成されたテストプリントを用いて補正値を算出する処理の流れを表すフローチャート
【図１５】補正値の算出方法を表す模式図
【図１６】補正値の近似曲線を求める方法を表す模式図
【図１７】補正値の算出方法を表す模式図
【図１８】アンダーシュート補正を表す模式図
【図１９】立ち上がり補正を表す模式図
【図２０】立ち下がり補正を表す模式図
【図２１】本発明の実施形態における写真プリント装置の画像形成処理の流れを表すフローチャート
【符号の説明】
【０１０５】
８０：補正係数算出部
８１：濃度値取得手段
８２：差分手段
８３：直線近似手段
８４：補正係数算出手段
８５：補正曲線算出手段
８６：補正係数設定手段
８７：テストプリント生成部
９０：補正係数格納部
９０ａ：補正係数テーブル
９０ｂ：補正係数レジスタ
９１：画像保存部
９２：入力階調値取得部
９３：出力階調値変換部
９４：出力階調値補正部
９４ａ：アンダーシュート補正部
９４ｂ：立ち上がり補正部
９４ｃ：立ち下がり補正部
９５：Ｄ／Ａ変換部
９６：電力制御部
９７：テストパターン生成部
９７ａ：第１テストパターン生成部
９７ｂ：第２テストパターン生成部
９７ｃ：付加処理部
９７ｄ：制御部
【図１】
2009229767.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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