(57)【要約】【課題】被測定物を効率的に測定する。【解決手段】本発明に係る方法は、外部から入力された被測定物およびこれを測定する第１の装置の形状を示す形状データから、被測定物および第１の装置を三次元で表現する三次元データを作成し、三次元データおよび第１の装置の動作条件を示す動作条件データを用いて、第１の装置を第２の装置上で仮想的に動作させることによって、検出機を用いて被測定物上の点の座標を示す座標データを取得し、座標データに基づいて測定プログラムを作成する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部から入力された被測定物および前記被測定物を測定する第１の装置の形状を示す形状データから、前記被測定物および前記第１の装置を三次元で表現する三次元データを作成し、
前記作成された三次元データおよび前記第１の装置の動作条件を示す動作条件データを用いて、前記第１の装置を第２の装置上で仮想的に動作させることによって、検出機を用いて前記被測定物上の点の座標を示す座標データを取得し、
前記取得された座標データに基づいて測定プログラムを作成する
測定プログラム作成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物体の形状を測定する測定プログラム作成方法に関する。
【０００２】
従来、ある物体を測定する場合、二次元で表現されたデータに基づいて測定していたため、自由曲面を含む物体など、物体の形状によっては、測定が困難であった。
例えば、特許文献１は、二次元の格子パターンを用いて物体を測定する測定方法を開示する。
【特許文献１】特開平１０−２４６６１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明は、上述した背景からなされたものであって、簡単に寸法で定義できない自由曲面などを有する物体を効率的に測定することができるよう改良された測定プログラム作成方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために、本発明に係る方法は、外部から入力された被測定物および前記被測定物を測定する第１の装置の形状を示す形状データから、前記被測定物および前記第１の装置を三次元で表現する三次元データを作成し、前記作成された三次元データおよび前記第１の装置の動作条件を示す動作条件データを用いて、前記第１の装置を第２の装置上で仮想的に動作させることによって、検出機を用いて前記被測定物上の点の座標を示す座標データを取得し、前記座標データに基づいて測定プログラムを作成する。
【発明の効果】
【０００５】
本発明に係る測定プログラムを作成する方法によれば、三次元の形状を有する物体の形状を効率的に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
[測定プログラム作成方法の背景]
本願に係る測定プログラム作成方法がなされるに至った背景を説明する。
センサを有する三次元測定装置で測定される物体は、自由曲面を有することが多く、二次元で表現された図面データに基づく測定が困難であった。
また、ユーザが、コンピュータ上で、実際の測定手順の一つである測定位置の教示を行うだけでは、作業工数の削減に限界があった。
以下に説明する測定プログラム作成方法は、このような観点から改良されている。
【０００７】
[測定システム１]
以下、本発明の実施形態を説明する。
図１は、本願に係る方法が実施される測定システム１の構成を示す図である。
図１に示すように、測定システム１は、三次元測定装置（ＣＭＭ；Coordinate Measuring Machine）２、装置制御用ＰＣ（Personal Computer）３、シミュレーション用ＰＣ４が、情報を通信可能に接続されて構成される。
図１の測定システム１を構成する装置のうち、任意の２つ以上は、適宜、一体に構成されうる。
また、以下の各図において、実質的に同じ構成部分および処理には同じ番号が付される。
なお、三次元測定装置（ＣＭＭ）２、装置制御用ＰＣ３およびシミュレーション用ＰＣ４は、ＣＰＵ，メモリ２０４などの情報処理および他の装置との通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
このように、図１に示された構成部分により、測定システム１は、測定プログラムを作成し、測定プログラムを実行することによって、物体の形状を測定する。
なお、以下、「三次元測定装置（ＣＭＭ）」とは、三次元測定装置（ＣＭＭ）のうち、特に、非接触式の三次元測定装置を意味するものとする。
【０００８】
図２は、図１の測定システム１をさらに詳細に示す図である。
以下、図１の三次元測定装置（ＣＭＭ）２、装置制御用ＰＣ３およびシミュレーション用ＰＣ４の構成をさらに説明する。
[三次元測定装置（ＣＭＭ）２]
図２に示すように、図１の三次元測定装置（ＣＭＭ）２は、センサヘッド２００（図１）、測定台２０２（図１）および装置移動機構２０６を有する。
三次元測定装置（ＣＭＭ）２は、これらの構成部分を適切に動作させることによって、測定台２０２上の物体に関する座標データを取得する。
【０００９】
センサヘッド２００は、装置移動機構２０６から入力される制御信号に基づいて動作し、測定制御部３２から入力される制御信号に基づいて物体を測定する。
具体的には、センサヘッド２００は、フリンジプロジェクタおよびＣＣＤカメラ（図示せず）等を有し、フリンジプロジェクタを用いて、格子パターンを物体に投影させ、ＣＣＤカメラを用いて、物体の形状に沿って曲がった縞模様（モアレ）を撮影して、撮影された映像を信号化する。
さらに、センサヘッド２００は、制御信号に基づく動作によって得られた映像信号を、測定制御部３２に送信する。
装置移動機構２０６は、ＮＣ（Numerical Control）制御部３４から入力される制御信号に基づいて動作し、センサヘッド２００および測定台２０２の動作を制御する。
【００１０】
[装置制御用ＰＣ３]
図２に示すように、図１の装置制御用ＰＣ３は、測定プログラム記憶部３０、測定制御部３２およびＮＣ制御部３４を有する。
装置制御用ＰＣ３は、三次元測定装置（ＣＭＭ）２から受信した映像信号に演算処理を行い、物体の座標値を算出する。
測定プログラム記憶部３０は、オフラインティーチング部５から測定プログラムを受信し、測定プログラムを実行する。
装置制御用ＰＣ３は、測定プログラムを実行することによって、ＮＣ制御部３４に装置移動機構２０６の動作を制御させ、測定制御部３２にセンサヘッド２００による測定を制御させる。
【００１１】
[シミュレーション用ＰＣ４]
図２に示すように、図１のシミュレーション用ＰＣ４は、入出力インターフェース（ＩＦ）４０、ＣＭＭ三次元形状データベース（ＤＢ）４２、被測定物三次元形状ＤＢ４４およびオフラインティーチング部５をさらに有する。
入出力ＩＦ４０は、シミュレーション用ＰＣ４を使用するユーザに対し、その操作を補助するためのインターフェースを提供する。
たとえば、入出力ＩＦ４０は、ディスプレイ、キーボードおよびマウスなどに接続され、ユーザがこれらの機器に対して行った操作を受け付ける。
ユーザがシミュレーション用ＰＣ４を起動させると、シミュレーション用ＰＣ４は、ＣＭＭ三次元形状ＤＢ４２からデータを読み込み、入出力ＩＦ４０を介し、三次元で表現された三次元測定装置（ＣＭＭ）２（以下、仮想ＣＭＭ）をディスプレイ等に表示させる。
【００１２】
オフラインティーチング部５は、入出力ＩＦ４０を介し、ユーザからの操作を受け取る。
さらに、オフラインティーチング部５は、受け取ったユーザからの操作内容、ＣＭＭ三次元形状ＤＢ４２および被測定物三次元形状ＤＢ４４から読み込んだデータを用いて、仮想ＣＭＭ上で、三次元で表現された被測定物（以下、仮想被測定物）を測定する。
オフラインティーチング部５は、測定によって取得したデータに基づき測定プログラムを作成し、測定プログラム記憶部３０に送信する。
なお、仮想ＣＭＭは、三次元測定装置（ＣＭＭ）２による測定をシミュレートすることができ、三次元測定装置（ＣＭＭ）２と同様、各部位を動作させて物体を測定する測定動作をシミュレートして、物体の測定プログラムを作成することができる（詳細は、図６Ｂ等を参照して後述）。
【００１３】
ＣＭＭ三次元形状ＤＢ４２は、三次元測定装置（ＣＭＭ）２を三次元で表現したデータを格納する。
三次元測定装置（ＣＭＭ）２を三次元で表現したデータ（以下、ＣＭＭ三次元形状データ）は、あらかじめ作成される。
たとえば、ユーザは、一般的な三次元ＣＡＤ（Computer Aided Design）装置を用いて三次元測定装置（ＣＭＭ）２の三次元形状データを作成し、シミュレーション用ＰＣ４に保存する。
【００１４】
被測定物三次元形状ＤＢ４４は、被測定物を三次元で表現したデータを格納する。
被測定物を三次元で表現したデータ（以下、被測定物三次元形状データ）は、一般的な三次元ＣＡＤ装置を用いて作成することができる。
たとえば、ユーザは、被測定物のモックアップに基づいて、被測定物の形状データを作成し、三次元ＣＡＤ装置に入力する。
【００１５】
[オフラインティーチング部５の処理]
図３は、図２に示したオフラインティーチング部５の処理を示すフローチャートである。
以下、図３を参照して、オフラインティーチング部５の処理をさらに説明する。
図３に示すように、ステップ５００（Ｓ５００）において、オフラインティーチング部５は、被測定物三次元形状ＤＢ４４（図２）から被測定物三次元形状データを読み込む。
ステップ５０２（Ｓ５０２）において、オフラインティーチング部５は、三次元測定装置（ＣＭＭ）三次元形状ＤＢ４２（図２）および被測定物三次元形状ＤＢ４４から読み込んだデータを用いて、仮想ＣＭＭ上の測定可能な位置に、仮想被測定物を配置する（アセンブリする）。
【００１６】
ステップ５０４（Ｓ５０４）において、オフラインティーチング部５は、入出力ＩＦ４０を介して、ユーザから三次元測定装置（ＣＭＭ）２の動作条件を示すデータ（動作条件データ）を受け取る。
さらに、オフラインティーチング部５は、この三次元測定装置（ＣＭＭ）２の動作条件データを、仮想ＣＭＭの動作として設定する。
ステップ５０６（Ｓ５０６）において、ユーザは、入出力ＩＦ４０を介して、オフラインティーチング部５に対して、仮想被測定物上にデータム点（仮想被測定物を測定する基準となる点）を教示する。
【００１７】
ステップ５０８（Ｓ５０８）において、オフラインティーチング部５は、ステップ５０６（Ｓ５０６）で教示された点に基づいて被測定物を測定する測定動作をシミュレートして、位置情報を抽出し、測定プログラムを作成する（詳細は、図５を参照して後述）。
ステップ５１０（Ｓ５１０）において、オフラインティーチング部５（図２）は、ステップ５０８（Ｓ５０８）で抽出した位置情報を判定する（詳細は、図７を参照して後述）。
ステップ５１２（Ｓ５１２）において、オフラインティーチング部５は、ステップ５１０（Ｓ５１０）の判定結果にエラーが含まれているとき、ステップ５０６〜５１２（Ｓ５０６〜５１２）の処理を繰り返す。
一方、これ以外のとき、オフラインティーチング部５は、ステップ５１４（Ｓ５１４）の処理を行う。
【００１８】
ステップ５１４（Ｓ５１４）において、オフラインティーチング部５は、ステップ５１２（Ｓ５１２）でエラーが含まれていないことが判断された位置情報をメモリ（図示せず）に書き込む。
さらに、オフラインティーチング部５は、被測定物上の測定された点と、このときのセンサヘッドの位置から測定可能な範囲とを視覚化する。
【００１９】
図４は、オフラインティーチング部５（図２）によって作成され、視覚化された情報を表す画像を示す図である。
図４に示すように、たとえば、オフラインティーチング部５は、入出力ＩＦ４０を介して、仮想三次元測定装置６において、仮想被測定物７上の測定を行いたい点と、測定時の仮想被測定物７上に付された軸（図６Ｂ等を参照して後述）と、測定時のセンサヘッドの位置から測定可能な仮想被測定物上の範囲を表現した平面とを、ディスプレイ等に表示することができる。
なお、分かりやすさを考慮して、図４においては、測定時のセンサヘッドの位置から測定可能な仮想被測定物上の範囲を表現した平面が、仮想被測定物から離れて図示されている。
実際には、この平面は、仮想被測定物上に表示される。
図４における破線部は、まったく表示されなくてもかまわないし、実線部を強調する程度に表示されてもかまわない。
【００２０】
ステップ５１６（Ｓ５１６）において、ユーザは、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、オフラインティーチング部５に対して、測定位置の教示を続けるか否かを指示する。
ユーザから測定位置の教示を続ける指示を受け取ったとき、オフラインティーチング部５は、ステップ５０６〜５１６（Ｓ５０６〜５１６）の処理を繰り返す。
一方、これ以外のとき、オフラインティーチング部５は、メモリに１または複数記憶した位置情報から測定プログラムを作成し、処理を終了する。
【００２１】
[位置情報を抽出する処理]
図５は、図３に示した位置情報抽出処理（Ｓ５０８）を示すフローチャートである。
以下、図５を参照して、位置情報を抽出する処理をさらに説明する。
図５に示すように、ステップ５１８（Ｓ５１８）において、オフラインティーチング部５（図２）は、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、ユーザにより教示された仮想被測定物上の点の座標データ（教示点，データム点）を受け取る。
【００２２】
図６Ａは、オフラインティーチング部５（図２）によって作成され、データム点が設定された仮想被測定物７を表す画像を示す図である。
オフラインティーチング部５は、ステップ５１８（Ｓ５１８，図５）で教示された点を、データム点として設定する。
さらに、オフラインティーチング部５は、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、図６Ａに示される仮想被測定物７が仮想三次元測定装置（ＣＭＭ）６上にアセンブリされた状態を示す画像をディスプレイ等に表示させる。
【００２３】
図６Ｂは、仮想三次元測定装置（ＣＭＭ）６および仮想被測定物７を表す画像を例示する第１の図であって、オフラインティーチング部５（図２）によって作成され、仮想ＣＭＭ６および法線が付された仮想被測定物７を表す画像を示す。
ステップ５２０（Ｓ５２０，図５）において、オフラインティーチング部５は、仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を示すデータと、ステップ５１８（Ｓ５１８，図５）で教示されたデータム点（教示点）の座標データとを用いて、仮想被測定物７において、データム点が存在する面に対して垂直な線（法線）を作成する。
さらに、オフラインティーチング部５は、図６Ｂに示されるように、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、仮想ＣＭＭ６および法線が付された仮想被測定物７の画像をディスプレイ等に表示させる。
【００２４】
図６Ｃは、仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を表す画像を例示する第２の図であって、オフラインティーチング部５（図２）によって作成され、仮想ＣＭＭ６および回転等がなされた仮想被測定物７を表す画像を示す。
ステップ５２２（Ｓ５２２，図５）において、オフラインティーチング部５は、ステップ５２０（Ｓ５２０，図５）で生成された仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を示すデータを用いて、仮想ＣＭＭ６において、測定台６００をθ軸方向に回転させ、仮想被測定物７に付された法線の向きおよび同軸センサ６０２の中心軸の向きを合わせる。
さらに、オフラインティーチング部５は、測定台６００をＸ軸方向およびＹ軸方向に移動させ、仮想被測定物７に付された法線および同軸センサ６０２の中心軸がＺＹ平面上で平行に位置するよう位置合わせする。
さらに、オフラインティーチング部５は、図６Ｃに示されるように、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、仮想ＣＭＭ６および回転・移動後の仮想被測定物７の画像をディスプレイ等に表示させる。
【００２５】
図６Ｄは、仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を表す画像を例示する第３の図であって、オフラインティーチング部５（図２）によって作成され、仮想ＣＭＭ６および回転等がなされた仮想被測定物７を表す画像を示す。
ステップ５２４（Ｓ５２４，図５）において、オフラインティーチング部５は、ステップ５２２（Ｓ５２２，図５）で生成された仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を示すデータを用いて、仮想ＣＭＭ６において、センサヘッド６０４をＡ軸方向に回転させ、測定台６００をＸ軸方向およびＹ軸方向に移動させ、仮想被測定物７に付された法線および同軸センサ６０２の中心軸がＺＹ平面上に位置するよう位置合わせする。
また、オフラインティーチング部５は、図６Ｄに示されるように、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、仮想ＣＭＭ６および回転後の仮想被測定物７の画像をディスプレイ等に表示させる。
【００２６】
図６Ｅは、仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を表す画像を例示する第４の図であって、オフラインティーチング部５（図２）によって作成され、移動された仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を表す画像を示す。
ステップ５２６（Ｓ５２６，図５）において、オフラインティーチング部５は、ステップ５２４（Ｓ５２４，図５）で生成された仮想ＣＭＭ６および仮想被測定物７を示すデータを用いて、仮想ＣＭＭ６において、センサヘッド６０４をＺ軸方向に移動させ、センサヘッド６０４および仮想被測定物７の間の距離を調整する。
なお、オフラインティーチング部５は、あらかじめ与えられた値に基づいて距離を調整してもよい。
さらに、オフラインティーチング部５は、距離調整後の仮想被測定物７上のデータム点の座標データと、距離調整後のセンサヘッド６０４の中心軸の開始点の座標データとを、位置情報として取得する。
なお、オフラインティーチング部５は、上記以外の情報（たとえば、測定台６００の回転角度、センサヘッド６００の回転角度および移動距離など）を位置情報に含め、位置情報を取得してもかまわない。
さらに、オフラインティーチング部５は、図６Ｅに示されるように、入出力ＩＦ４０（図２）を介して、仮想ＣＭＭ６および移動後の仮想被測定物７の画像をディスプレイ等に表示させる。
【００２７】
図７は、図３に示した位置情報判定処理（Ｓ５１０）を示すフローチャートである。
以下、図７を参照して、位置情報を判定する処理をさらに説明する。
図７に示すように、ステップ５２８（Ｓ５２８）において、オフラインティーチング部５（図２）は、干渉が発生しているか否かを判定する。
干渉が発生しているか否かは、仮想ＣＭＭ６（図４等）において、センサヘッド６０４（図６Ｂ等）が、これ以外の仮想ＣＭＭ６を構成する部品（たとえば、測定台６００）および仮想被測定物７（図４等）に接触しているか否かで判定される（以下、他のステップにおいても同様）。
オフラインティーチング部５は、干渉が発生していることを判定するとき、ステップ５３０（Ｓ５３０）の処理に進む。
一方、干渉が発生していないことを判定するときには、オフラインティーチング部５は、ステップ５３２（Ｓ５３２）の処理に進み、位置情報を抽出した後、終了する（以下、他のステップにおいて、干渉が発生していないと判定するときにおいて同様）。
【００２８】
ステップ５３０（Ｓ５３０）において、オフラインティーチング部５は、仮想ＣＭＭ６において、センサヘッド６０４と、仮想被測定物７（図４等）上のデータム点から付された法線との角度を、θ軸方向に回転させる。
ステップ５３４（Ｓ５３４）において、オフラインティーチング部５は、θ軸回転後の角度が測定可能な範囲内にあるか否かを判定する。
測定可能な範囲内にあるか否かは、ステップ５０４（Ｓ５０４，図３）で設定された測定条件のうち、センサヘッド６０４が測定可能な距離および角度によって判定される（以下、他のステップにおいても同様）。
オフラインティーチング部５は、測定可能な範囲内にあることを判定するとき、ステップ５３６（Ｓ５３６）の処理に進み、干渉が発生しているか否かを判定する。
一方、これ以外のときには、オフラインティーチング部５は、ステップ５３８（Ｓ５３８）の処理に進み、θ軸回転後の角度をθ軸回転前の状態に戻す。
【００２９】
ステップ５４０（Ｓ５４０）において、オフラインティーチング部５は、仮想ＣＭＭ６において、センサヘッド６０４と、仮想被測定物７上のデータム点から付された法線との角度を、Ａ軸方向に回転させる。
ステップ５４２（Ｓ５４２）において、オフラインティーチング部５は、Ａ軸回転後の傾きが測定可能な範囲内にあるか否かを判定する。
オフラインティーチング部５は、測定可能な範囲内にあることを判定するとき、ステップ５４４（Ｓ５４４）の処理に進み、干渉が発生しているか否かを判定する。
一方、これ以外のときには、オフラインティーチング部５は、ステップ５４６（Ｓ５４６）の処理に進み、Ａ軸回転後の角度をＡ軸回転前の状態に戻す。
【００３０】
ステップ５４８（Ｓ５４８）において、オフラインティーチング部５は、センサヘッド６０４と、仮想被測定物７上のデータム点との距離を変更する。
ステップ５５０（Ｓ５５０）において、オフラインティーチング部５は、変更後の距離が測定可能な範囲内にあるか否かを判定する。
オフラインティーチング部５は、測定可能な範囲内にあることを判定するとき、ステップ５５２（Ｓ５５２）の処理に進み、干渉が発生しているか否かを判定する。
一方、これ以外のときには、オフラインティーチング部５は、ステップ５５４（Ｓ５５４）の処理に進む。
ステップ５５４（Ｓ５５４）において、オフラインティーチング部５は、エラー処理を行った後、終了する。
たとえば、オフラインティーチング部５は、位置情報が測定範囲にないことをディスプレイ等に表示させるなどして、ユーザに注意を促す。
【００３１】
[全体動作]
以下、図１，２に示した測定システム１の全体的な動作を説明する。
測定システム１において、測定情報に基づいて測定プログラムが作成され、測定プログラムが実行されることによって、被測定物の測定値が取得される。
測定システム１において、三次元ＣＡＤ装置（図示せず）は、外部から入力された設計データから被測定物の三次元形状データを作成し、シミュレーション用ＰＣ４（図１，２）に対して送信する。
【００３２】
シミュレーション用ＰＣ４は、あらかじめ作成された三次元測定装置（ＣＭＭ）２（図１，２）の三次元形状データおよび三次元ＣＡＤ装置から受信した被測定物の三次元形状データを用いてオフラインティーチングを行い、位置情報を抽出する。
さらに、シミュレーション用ＰＣ４は、抽出した位置情報が妥当であるか否か（測定可能な範囲内にあるか否か、および、干渉を起こさないか否か）を判定して、妥当であることを判定するとき、抽出した位置情報を用いて、三次元測定装置（ＣＭＭ）２の動作を制御する測定プログラムを作成し、装置制御用ＰＣ３（図１，２）に対して送信する。
【００３３】
装置制御用ＰＣ３は、シミュレーション用ＰＣ４から受信した測定プログラムを実行して、三次元測定装置（ＣＭＭ）２の動作を制御する。
三次元測定装置（ＣＭＭ）２は、装置制御用ＰＣ３からの制御命令を受け、妥当であることが判定された位置情報に基づいて、実際に被測定物を測定する。
なお、このとき、あらかじめ、三次元測定装置（ＣＭＭ）２上に被測定物が適切にアセンブリされるようにする。
たとえば、ユーザは、治具を用いて、三次元測定装置（ＣＭＭ）２上の被測定物の位置を調整することができる。
【００３４】
具体的には、三次元測定装置（ＣＭＭ）２は、フリンジプロジェクタ（図示せず）を用いて被測定物に格子パターンを投影し、妥当な位置情報に示された座標点に焦点を合わせ、ＣＣＤカメラ（図示せず）を用いて被測定物の形状に沿ったモアレを撮影する。
さらに、三次元測定装置（ＣＭＭ）２は、撮影された映像を信号化して、装置制御用ＰＣ３に送信する。
装置制御用ＰＣ３は、三次元測定装置（ＣＭＭ）２から受信した映像信号に演算処理を行い、被測定物の座標値を算出する。
【００３５】
以上説明したように、本発明に係る測定システム１においては、オフラインティーチングによってあらかじめ取得された測定情報に基づいて、測定プログラムが作成され、測定プログラムが実行されることによって、実際に三次元測定装置（ＣＭＭ）上で被測定物が測定される。
オフラインティーチングでは、位置情報を抽出するときの移動・回転がソフトウエアによって行われるため、手動で移動・回転を行う場合に比べ、測定プログラム作成工数が削減される。
また、三次元測定装置（ＣＭＭ）の測定台およびセンサヘッドの移動・回転方向に基づいて位置情報が抽出され、位置情報が測定範囲および干渉の観点から判定されることによって、オフラインティーチングでの作業および実際のオフラインティーチングでの作業が同じ場合に比べ、測定プログラム作成工数が削減される。
さらに、実際の三次元測定装置（ＣＭＭ）上での測定に用いる被測定物を作成するまでに、日数を要することがある。このときであっても、被測定物を作成する作業と、測定プログラムを作成する作業とを並行して行うことができるため、全体の作業工数が削減される。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明に係る測定システムの構成を示す図である。
【図２】図１に示した測定システムの詳細な構成を示す図である。
【図３】図２に示したオフラインティーチング部の処理を示すフローチャートである。
【図４】オフラインティーチング部５によって作成され、視覚化された情報を表す画像を示す図である。
【図５】図３に示した位置情報抽出処理（Ｓ５０８）を示すフローチャートである。
【図６Ａ】オフラインティーチング部によって作成され、データム点が設定された仮想被測定物を表す画像を示す図である。
【図６Ｂ】仮想ＣＭＭおよび仮想被測定物を表す画像を例示する第１の図であって、オフラインティーチング部によって作成され、仮想ＣＭＭおよび法線が付された仮想被測定物を表す画像を示す。
【図６Ｃ】仮想ＣＭＭおよび仮想被測定物を表す画像を例示する第２の図であって、オフラインティーチング部によって作成され、仮想ＣＭＭおよび回転等がなされた仮想被測定物を表す画像を示す。
【図６Ｄ】仮想ＣＭＭおよび仮想被測定物を表す画像を例示する第３の図であって、オフラインティーチング部によって作成され、仮想ＣＭＭおよび回転等がなされた仮想被測定物を表す画像を示す。
【図６Ｅ】仮想ＣＭＭおよび仮想被測定物を表す画像を例示する第４の図であって、オフラインティーチング部によって作成され、移動された仮想ＣＭＭおよび仮想被測定物を表す画像を示す。
【図７】図３に示した位置情報判定処理（Ｓ５１０）を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３７】
１・・・測定システム
２・・・ＣＭＭ
２００・・・センサヘッド
２０２・・・測定台
２０４・・・ＣＰＵ，メモリ
２０６・・・装置移動機構
３・・・装置制御用ＰＣ
３０・・・測定プログラム記憶部
３２・・・測定制御部
３４・・・ＮＣ制御部
４・・・シミュレーション用ＰＣ
４０・・・入出力ＩＦ
５・・・オフラインティーチング部
４２・・・ＣＭＭ三次元形状ＤＢ
４４・・・被測定物三次元形状ＤＢ
６・・・仮想ＣＭＭ
７・・・仮想被測定物
【図１】
2009229330.tif 000003
【図２】
2009229330.tif 000004
【図３】
2009229330.tif 000005
【図４】
2009229330.tif 000006
【図５】
2009229330.tif 000007
【図６Ａ】
2009229330.tif 000008
【図６Ｂ】
2009229330.tif 000009
【図６Ｃ】
2009229330.tif 000010
【図６Ｄ】
2009229330.tif 000011
【図６Ｅ】
2009229330.tif 000012
【図７】
2009229330.tif 000013