(57)【要約】【課題】放射線画像の残像補正を行う場合に、残像の有無を判定し、残像のある画像についてのみ残像補正を行うことができる放射線画像撮影装置を提供する。【解決部】放射線画像撮影装置は、次の撮影前の放射線の非照射時に、前の放射線画像の残像データを取得し、次の撮影後、次の放射線画像のデータを取得する画像取得部と、前の放射線画像の残像データおよび次の放射線画像のデータをオフセット補正するオフセット補正部と、オフセット補正後の残像データの指定領域内における残像の有無を判定する残像判定部と、残像判定部において残像有りと判定された場合に、オフセット補正後の次の放射線画像のデータから、残像データを減算して残像補正を行う残像補正部と、撮影装置の動作を制御する制御部とを備えている。【選択図】図１
2009201587.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線源から放射線を被写体に照射し、前記被写体を透過した放射線をフラットパネル型の放射線検出器で検出して、前記被写体が撮影された放射線画像を生成する放射線画像撮影装置であって、
次の撮影が行われる前の放射線の非照射時に、前記放射線検出器から読み出された前の放射線画像の残像データを取得し、前記次の撮影が行われた後、前記放射線検出器から読み出された次の放射線画像のデータを取得する画像取得部と、
前記次の撮影における前記被写体の撮影部位を設定する撮影メニュー設定部と、
前記残像データの、前記撮影メニュー設定部により設定された撮影部位に応じて設定された領域において、前記次の放射線画像の撮影時における、前記前の放射線画像に起因する残像の有無を判定する残像判定部と、
前記残像判定部において残像有りと判定された場合に、前記次の放射線画像のデータに残像補正を行う残像補正部とを備えることを特徴とする放射線画像撮影装置。
【請求項２】
前記残像判定部は、前記残像データの、前記前の放射線画像の各画素に対応する画素データのうち、判定閾値以上の画素値を有する画素データが所定数以上存在する場合に、前記残像有りと判定するものであることを特徴とする請求項１に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項３】
前記残像判定部は、前記残像データの、前記前の放射線画像の各画素に対応する画素データのうち、判定閾値以上の画素値を有する画素データが、前記全画素数の１％以上存在する場合に、前記残像有りと判定するものであることを特徴とする請求項１または２に記載の放射線画像撮影装置。
【請求項４】
さらに、前記残像データが読み出されてから前記次の撮影が行われるまでの間の、前記残像データの残像量の減少分を補正する残像量補正部を備え、
前記残像判定部は、前記残像量補正部において補正された残像データに対して、残像判定を行うことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
【請求項５】
さらに、前記前の放射線画像の残像データおよび前記次の放射線画像のデータをオフセット補正するオフセット補正部を備え、
前記残像補正部は、前記オフセット補正された次の放射線画像のデータから前記オフセット補正された残像データを減算することにより前記次の放射線画像の残像補正を行うものであることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
【請求項６】
さらに、前記残像判定部における残像判定の要不要を設定する判定設定部を有し、
前記残像判定部により残像判定は不要と設定された場合には、前記残像判定部による残像判定が行われることなく、前記残像補正部による残像補正が行われることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の放射線画像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線を被写体に照射し、被写体を透過した放射線を検出して電気信号に変換し、変換した電気信号に基づいて放射線画像を生成する放射線画像撮影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
放射線画像撮影装置は、例えば、医療用の診断画像や工業用の非破壊検査などを含む各種の分野で利用されている。放射線画像撮影装置において、被写体を透過した放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、電子線、紫外線等）を検出する放射線検出器として、現在では、放射線を電気信号に変換するフラットパネル型検出器（ＦＰＤ（Flat Panel Detector））を用いるものがある。ＦＰＤを用いた放射線画像撮影装置では、被写体が撮影された放射線画像の画質低下の一因として、前に撮影した放射線画像の残像が問題となる。
【０００３】
ＦＰＤを用いた放射線画像撮影装置では、放射線源から放射線を被写体に照射し、被写体を透過した放射線をＦＰＤで電気信号に変換し、ＦＰＤから被写体の画像データに相当する電気信号を読み出して放射線画像を生成する。しかし、ＦＰＤから画像データに相当する電気信号を読み出した後にもＦＰＤの内部には画像データに相当する電荷の一部が残留する。この状態で次の被写体を撮影すると、ＦＰＤ内の残留電荷が残像として次の放射線画像に重畳され、放射線画像が残像の影響を受けた画像となる。
【０００４】
そのため、放射線画像撮影装置では、次の被写体を撮影する前に、その前（次の撮影以前）に撮影された被写体の放射線画像の残像による影響を取り除く残像補正処理が行われている。残像補正処理は、通常、以下に示すステップ１〜４の手順で実施される。
【０００５】
以下の説明において、Offset(x, y)は、画像データをオフセット（基準電圧レベルからのずれ）補正するためのオフセット補正用データ、Xdata(x, y)は、放射線を照射して撮影された次の被写体の放射線画像のデータ（被補正画像データ）、Lagdata(x, y)は、次の撮影を行う直前に、放射線を照射せずにＦＰＤから読み出された前の放射線画像の残像データ、αは、残像データが読み出されてから次の撮影が行われるまでの間の残像量（残像の電荷量）の減少分を補正するための残像量の補正係数である。
【０００６】
（ステップ１）
下記式（１）に示すように、残像データLagdata(x, y)からオフセット補正用データOffset(x, y)を減算することにより、残像データLagdata(x, y)をオフセット補正してオフセット補正後の残像データData1(x, y)を得る。
Data1(x, y) = Lagdata(x, y) - Offset(x, y)  …  （１）
【０００７】
（ステップ２）
下記式（２）に示すように、オフセット補正後の残像データData1(x, y)に残像量の補正係数αを乗算することにより、オフセット補正後の残像データData1(x, y)を残像量補正して残像量補正後の残像データ（補正用画像データ）Data2(x, y)を得る。
Data2(x, y) = α×Data1(x, y)  …  （２）
【０００８】
（ステップ３）
下記式（３）に示すように、被補正画像データXdata(x, y)からオフセット補正用データOffset(x, y)を減算することにより、被補正画像データXdata(x, y)をオフセット補正してオフセット補正後の被補正画像データData3(x, y)を得る。
Data3(x, y) = Xdata(x, y) - Offset(x, y)  …  （３）
【０００９】
（ステップ４）
下記式（４）に示すように、オフセット補正後の被補正画像データData3(x, y)から補正用画像データData2(x, y)を減算し、被補正画像データData3(x, y)を残像補正して残像補正後の画像データData4(x, y)を得る。
Data4(x, y) = Data3(x, y) - Data2(x, y)  …  （４）
【００１０】
なお、残像データはノイズ成分が多いため、残像補正で減算を行うことにより、残像補正後の画像データData4(x, y)のノイズ成分が部分的に増大する場合がある。そのため、下記式（５）に示すように、メディアン処理された補正用画像データmedian(Data2(x, y))を減算して残像補正後の画像データData4'(x, y)を算出する場合もある。
Data4'(x, y) = Data3(x, y) - median(Data2(x, y))  …  （５）
【００１１】
ここで、本発明に関連性のある先行技術文献として、例えば、特許文献１および２を例示することができる。
【００１２】
残像補正の方法としては、例えば、特許文献１に、算術平均値により残像を算出して、これをもとに残像補正を行う方法が開示されている。特許文献１では、明画像（被写体画像）の撮影前に、少なくとも２つの暗画像を取得し、これらの平均値を求め、この平均値を明画像から差し引くことで、補正信号を算出する。
【００１３】
また、特許文献２には、ＦＰＮ画像を複数の矩形に分割し、各矩形ごとに求めた各画素値の平均値を用いて残像の有無を判定することが開示されている。特許文献２では、このような方法により残像判定を行い、残像があると判断された場合に残像補正を行うと記載されている。
【００１４】
【特許文献１】特開平１０−８５２０７号公報
【特許文献２】特開２００５−９５５７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかし、特許文献１および２のような従来の技術では、画素値の平均値を算出することにより、残像を算出している。このため、実際の残像量よりも少なく抑えられてしまう。
また、特許文献１では、残像の有無を判定せず、画像内の全ての領域において残像補正を行うため、処理に時間を要する。また、特許文献２においては、残像判定の結果に基づき、残像補正を行うかどうかを決定しているが、画像中の一部のみに残像がある場合であっても、画像の全領域に補正を行うため、不必要な部分にも補正を行うことになり、処理に時間を要するだけでなく、ノイズの悪化にもつながる。
【００１６】
本発明の目的は、前記従来技術の問題点を解決することにあり、放射線固体検出器（ＦＰＤ）を用いる放射線画像撮影において、画像内の、補正の必要な領域のみに対して残像補正を行うことで、迅速に補正処理を行うことができ、さらに、正確な残像補正を行うことのできる放射線画像撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記目的を達成するために、本発明は、放射線源から放射線を被写体に照射し、前記被写体を透過した放射線をフラットパネル型の放射線検出器で検出して、前記被写体が撮影された放射線画像を生成する放射線画像撮影装置であって、次の撮影が行われる前の放射線の非照射時に、前記放射線検出器から読み出された前の放射線画像の残像データを取得し、前記次の撮影が行われた後、前記放射線検出器から読み出された次の放射線画像のデータを取得する画像取得部と、前記次の撮影における前記被写体の撮影部位を設定する撮影メニュー設定部と、前記残像データの、前記撮影メニュー設定部により設定された撮影部位に応じて設定された領域において、前記次の放射線画像の撮影時における、前記前の放射線画像に起因する残像の有無を判定する残像判定部と、前記残像判定部において残像有りと判定された場合に、前記次の放射線画像のデータに残像補正を行う残像補正部とを備えることを特徴とする放射線画像撮影装置を提供するものである。
【００１８】
ここで、前記残像判定部は、前記残像データの、前記前の放射線画像の各画素に対応する画素データのうち、判定閾値以上の画素値を有する画素データが所定数以上存在する場合に、前記残像有りと判定するものであることが好ましい。
また、前記残像判定部は、前記残像データの、前記前の放射線画像の各画素に対応する画素データのうち、判定閾値以上の画素値を有する画素データが、前記全画素数の１％以上存在する場合に、前記残像有りと判定するものであることが好ましい。
【００１９】
さらに、前記残像データが読み出されてから前記次の撮影が行われるまでの間の、前記残像データの残像量の減少分を補正する残像量補正部を備え、
前記残像判定部は、前記残像量補正部において補正された残像データに対して、残像判定を行うことが好ましい。
【００２０】
さらに、前記前の放射線画像の残像データおよび前記次の放射線画像のデータをオフセット補正するオフセット補正部を備え、
前記残像補正部は、前記オフセット補正された次の放射線画像のデータから前記オフセット補正された残像データを減算することにより前記次の放射線画像の残像補正を行うものであることことが好ましい。
【００２１】
さらに、前記残像判定部における残像判定の要不要を設定する判定設定部を有し、
前記残像判定部により残像判定は不要と設定された場合には、前記残像判定部による残像判定が行われることなく、前記残像補正部による残像補正が行われることが好ましい。
【発明の効果】
【００２２】
上記構成を有する本発明によれば、残像補正を行う前に、残像の有無の判定を行うことで、残像補正の必要な画像にのみ残像補正を行うことができる。このため、補正の必要ない画像に対して残像補正を行うことによるノイズの悪化を防ぐことができ、さらに、迅速に補正処理を行うことができる。
また、残像のある画素数を算出することにより残像判定を行うため、平均値を算出し、それを基に残像判定を行う従来の方法に比して、正確な残像量を算出することができ、より高精度な残像判定を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下に、添付の図面に示す好適実施形態に基づいて、本発明の放射線画像撮影装置を詳細に説明する。
【００２４】
図１は、本発明の放射線画像撮影装置の構成を表す一実施形態のブロック図である。同図に示す放射線画像撮影装置（以下、撮影装置ともいう）１０は、放射線を被写体（被検者）Ｈに照射し、被写体Ｈを透過した放射線を検出して画像データに相当する電気信号に変換し、この変換した電気信号に基づいて、被写体Ｈが撮影された放射線画像を生成する。撮影装置１０は、撮影部１２と、撮影データ処理部１４と、画像処理部１６と、出力部１８と、撮影指示部２０と、制御部２２とによって構成されている。
【００２５】
撮影部１２は、放射線を被写体Ｈに照射し、被写体Ｈを透過した放射線を検出することで被写体Ｈの撮影を行う部位である。撮影部１２からは、被写体Ｈが撮影された放射線画像のデータ（アナログデータ）が出力される。撮影部１２の詳細は後述する。
【００２６】
撮影データ処理部１４は、撮影部１２から供給された放射線画像データに対して、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換等のデータ処理を行う部位である。撮影データ処理部１４からは、データ処理後の放射線画像のデータ（デジタルデータ）が出力される。
【００２７】
画像処理部１６は、撮影データ処理部１４から供給されたデータ処理後の放射線画像データに対して、オフセット補正、残像量補正、残像判定、および、残像補正等の画像処理を行う部位である。画像処理部１６は、コンピュータ上で動作するプログラム（ソフトウェア）、専用のハードウェア、ないしは、両者を組み合わせて構成される。画像処理部１６からは、画像処理後の放射線画像データが出力される。画像処理部１６の詳細は後述する。
【００２８】
出力部１８は、画像処理部１６から供給された画像処理後の放射線画像データを出力する部位である。出力部１８は、例えば、放射線画像を画面上に表示するモニタ、放射線画像をプリント出力するプリンタ、放射線画像データを記憶する記憶装置等である。
【００２９】
撮影指示部２０は、撮影メニュー、撮影条件、および撮影モードなどを設定し、被写体Ｈの撮影を指示する部位である。撮影指示部２０として、撮影メニュー、撮影条件、および撮影モードを設定するための入力キー、撮影の指示には、２段押し型の撮影ボタンが用いられている。撮影ボタンは、１段目まで押されると（半押しされると）撮影の準備状態となり、２段目まで押されると（全押しされると）撮影が開始される。撮影指示部２０からは、撮影ボタンが押されていない状態、１段目ないし２段目まで押された状態のいずれかを表す撮影指示信号が出力される。
【００３０】
ここで、本発明の撮影装置１０では、撮影を行う前に、撮影メニューが入力される。撮影メニューとは、撮影を行う対象（撮影部位）ごとに入力されるものであり、例えば、胸部撮影、腰椎撮影、膝関節撮影などといったメニューがある。撮影メニューは、撮影装置１０で次の撮影を行う前に、各撮影ごとに入力される。入力された撮影メニューは、後述する残像判定部４２における残像判定の際に利用される。
【００３１】
また、撮影装置１０には、撮影モードとして、放射線の強度および照射時間（照射量）等の撮影条件を手動で設定する手動撮影モードの他に、あらかじめ放射線の強度、照射時間などの撮影条件が設定されている、静止画などを撮影する第１の撮影モードと、長尺画像などを撮影する第２の撮影モードが設けられている。第１の撮影モードでは、第２の撮影モードと比べて撮影時の蓄積時間が長く設定されている。
【００３２】
蓄積時間は、放射線検出器において、放射線が電荷に変換され、その電荷を蓄積している時間である。撮影装置１０では、例えば、被写体Ｈの撮影時には、所定の蓄積時間の後に画像データ（放射線画像データ）が放射線検出器から読み出される。また、放射線画像データが読み出されてから、前の放射線画像の残像データが取得されるまでの間は、残像量を減らす目的で画像データ（残像データ）の空読みが所定の蓄積時間の間隔で行われる。また、次の撮影が行われる前の最後の空読みから所定の蓄積時間の後に残像データの読み出しが行われる。
【００３３】
制御部２２は、撮影指示部２０から供給された撮影指示信号に応じて、撮影装置１０の動作を制御する部位である。制御部２２は、例えば、所定の撮影メニュー、撮影条件ないし撮影モードで撮影が行われるように撮影部１２を制御する。また、所定の蓄積時間経過後に、放射線検出器から前の放射線画像の残像データが読み出されるように制御する。また、制御部２２は、画像処理部１６において、撮影された放射線画像データが取得され、画像処理が行われるように制御する。
【００３４】
続いて、撮影部１２について説明する。
【００３５】
撮影部１２は、照射制御部２４と、放射線源２６と、撮影台２８と、放射線検出部３０とによって構成されている。
【００３６】
照射制御部２４は、放射線源２６を駆動して、撮影モードに応じて設定された強度の放射線が設定された時間だけ照射されるように照射量を制御する。放射線源２６から照射された放射線は、撮影台２８上の被写体Ｈを透過して放射線検出部３０に入射される。
【００３７】
放射線検出部３０は、被写体Ｈを透過した放射線をＦＰＤ３２で検出して電気信号（放射線画像データ）に変換する。放射線検出部３０からは、被写体Ｈが撮影された放射線画像のデータ（アナログデータ）が出力される。ＦＰＤ３２は、放射線を電荷に直接変換する直接方式のＦＰＤ、もしくは、放射線を一旦光に変換し、変換された光をさらに電気信号に変換する間接方式のＦＰＤのどちらでも利用可能である。
【００３８】
直接方式のＦＰＤは、アモルファスセレン等の光導電膜、キャパシタ、スイッチ素子としてのＴＦＴ（Thin Film Transistor）等によって構成される。例えば、Ｘ線等の放射線が入射されると、光導電膜から電子−正孔対（ｅ−ｈペア）が発せられる。その電子−正孔対はキャパシタに蓄積され、キャパシタに蓄積された電荷が、ＴＦＴを介して電気信号として読み出される。
【００３９】
一方、間接方式のＦＰＤは、蛍光体で形成されたシンチレータ層、フォトダイオード、キャパシタ、ＴＦＴ等によって構成される。例えば、「ＣｓＩ：Ｔｌ」等の放射線が入射されると、シンチレータ層が発光（蛍光）する。シンチレータ層による発光はフォトダイオードで光電変換されてキャパシタに蓄積され、キャパシタに蓄積された電荷が、ＴＦＴを介して電気信号として読み出される。
【００４０】
図示を省略しているが、放射線源２６と放射線検出部３０は、例えば、長尺撮影などの場合のために、撮影台２８の長手方向（図１中、左右方向）に沿って往復移動が可能なように構成されている。これに対し、撮影台２８を移動可能に構成してもよい。
【００４１】
続いて、画像処理部１６について説明する。
【００４２】
画像処理部１６は、図２に示すように、画像取得部３４と、オフセット補正部３６と、残像量補正部４０と、残像判定部４２と、残像補正部４４とによって構成されている。
【００４３】
画像取得部３４は、次の撮影が行われる前の、放射線が照射されていない非照射時に、ＦＰＤ３２から読み出された前の放射線画像の残像データを取得する。また、画像取得部３４は、次の撮影が行われた後、ＦＰＤ３２から読み出された次の放射線画像のデータを取得する。画像取得部３４からは、前の放射線画像の残像データ、もしくは、次の放射線画像のデータが出力される。
【００４４】
ここで、制御部２２は、撮影ボタンが１段目まで押されたタイミングで、ＦＰＤ３２から前の放射線画像の残像データが読み出されるように制御するようにしてもよい。これにより、残像データを取得するタイミングと、実際に次の撮影を行うタイミングとの時間差を短くできる。そのため、撮影装置１０のユーザ（オペレータ）にショット制限による時間待ちの違和感を与えることなく、精度の高い残像補正をすることができる。
【００４５】
オフセット補正部３６は、所定のオフセットデータを用いて、画像取得部３４から供給された前の放射線画像の残像データ、または、次の放射線画像のデータをオフセット補正する。オフセット補正部３６からは、オフセット補正後の残像データ、または、オフセット補正後の次の放射線画像のデータが出力される。
【００４６】
オフセットデータは、残像データおよび次の撮影時の放射線画像データの蓄積時間に基づいて、あらかじめ算出しておく。オフセットデータの算出方法は各種の方法が公知であり、そのいずれの方法を利用して算出してもよい。
【００４７】
残像量補正部４０は、残像データの読み出しから次の撮影までの間の残像量の減少分（経時による残像量の減衰量分）を補正する。残像データの読み出しから次の撮影までには、非常に短時間ではあるが時間差がある。残像量は経時とともに減少するので、残像量補正部４０は、残像量が次の撮影時点で読み出された場合の残像量に相当する値となるように、オフセット補正部３６から供給されたオフセット補正後の残像データを補正する。残像量補正部４０からは、残像量補正後の残像データが出力される。
【００４８】
残像量補正部４０は、ＦＰＤ３２から読み出された残像データに対して、残像量の補正係数Rf（１以下の定数、例えば、０．９）を乗算することで残像量補正を行う。補正係数Rfは、個々のＦＰＤ３２毎に決定される数値であり、あらかじめ算出される。残像補正の精度を向上させるためには、残像データの読み出しのタイミングを、次の撮影のタイミングに近づけるほど残像量の変化が少なくなるので望ましい。
【００４９】
補正係数Rfの算出方法は、例えば、以下の通りである。すなわち、所定照射量の放射線を照射し、ＦＰＤ３２から一定の時間毎に放射線画像を読み出して残像量を取得し、図３に示すような残像量の経時変化の関係を表すグラフを求める。このグラフの曲線は、例えば、関数（eｘｐ（−ｔ／τ））で表すことができる。ここで、ｔは時間、τは時定数である。従って、この関数から、残像データの読み出しタイミングと次の撮影タイミングに基づいて補正係数Rfを算出する。Rfは、実際の使用前、例えば、出荷検査やキャリブレーション等で、予め算出しておく。
【００５０】
図３は、前の撮影からの経過時間と、残像量との関係を表すグラフである。グラフの縦軸は、前の放射線画像の残像量、横軸は、前の撮影からの経過時間を表す。このグラフに示すように、前の放射線画像の残像量は、経時とともに減少することが分かる。
【００５１】
残像量補正を行うことにより、前の放射線画像の残像データを読み出してから、次の被写体を撮影するまでの間に残像量が減少することによって、残像補正の精度が低下することを防止することができる。
【００５２】
残像判定部４２は、残像量補正部４０から供給された残像量補正後の残像データに対して、撮影メニューに基づいて、残像補正を行うかどうかの残像判定を行うものである。
【００５３】
残像判定部４２における残像判定の方法について、以下に詳述する。
まず、残像判定部４２は、撮影指示部２０により入力された、次の撮影を行う際の撮影メニューに応じて、残像量補正部４０から供給された残像量補正後の残像データ上において、残像判定を行う領域を指定領域（判定ＲＯＩ（Region Of Interest））として設定する。
本発明の撮影装置１０では、予め、撮影メニューに応じて、残像判定を行う判定ＲＯＩが設定されている。
【００５４】
例えば、被写体に対して膝関節撮影を行い、その撮影画像を基に診断を行う際には、関節周辺の領域は正確に表示したいが、それ以外の診断に関連しない領域や、被写体の写っていない領域については、残像があっても診断に影響を及ぼすことはない。したがって、残像判定部４２では、そのような診断に影響を与えない領域にのみ残像がある場合は、残像補正を行う必要がないと判断する。
判定ＲＯＩは、具体的には、例えば、次の撮影の撮影メニューが膝関節撮影である場合は撮影領域の両端部を除く部分、胸部撮影である場合は全撮影領域、というように、画像診断の際に重要な領域を含み、重要でない部分は除外するように設定すればよい。
本発明では、このようにして設定された判定ＲＯＩにおいてのみ残像判定を行うことで、残像補正の必要のない画像に対して補正を行うことでノイズが悪化するのを防ぐことができる。さらに、不必要な残像補正を省くことにより、処理速度も高くなる。
【００５５】
次に、残像データにおいて、全画素数と、所定の閾値以上の画素値を有する画素の個数とを算出する。
画素値の閾値は、視認されるレベルの残像量の値であるかどうかを基準として、撮影メニューや撮影条件、撮影モードなどに応じて適宜設定される。
【００５６】
所定の閾値以上の画素値を有する画素の個数が、全画素数のうちの所定の割合以上を占めている場合は、残像判定部４２は、次の画像を撮影する際に残像補正が必要であると判断する。本実施例では、所定の閾値以上の画素値を有する画素の個数が全画素数のうちの１％以上である場合に、残像補正を行うものとする。
残像判定部４２からは、残像判定の結果、および、残像量補正後の残像データが出力される。
【００５７】
残像補正部４４は、残像判定部４２から供給された残像判定結果に応じて、残像有りと判定された場合のみ、オフセット補正部３６から供給されたオフセット補正後の次の放射線画像のデータから、残像量補正後の残像データを減算して次の放射線画像に対して残像補正を行い、出力部１８に出力する。また、残像無しと判定された場合は、残像補正を行わず、オフセット補正後の次の放射線画像のデータをそのまま出力部１８に出力する。
【００５８】
次に、撮影装置１０の動作を説明する。ここでは、図３のグラフを参照しながら、前の撮影が行われた後、次の撮影が行われるまでの動作について説明する。
【００５９】
図３のグラフに示すように、前の撮影が行われて、その放射線画像データがＦＰＤ３２から読み出されてから、前の放射線画像の残像データが取得されるまでの間は、残像量を減らす目的で画像データの空読みが所定の蓄積時間の間隔で行われる。
【００６０】
撮影指示部２０において、ユーザにより撮影条件ないし撮影モードが設定され、撮影ボタンが１段目まで押されると、撮影装置１０は、制御部２２の制御の下で撮影の準備状態となる。図３のグラフに示すように、最後の空読みが行われた後に、ＦＰＤ３２から前の放射線画像の残像データが読み出される。
【００６１】
ＦＰＤ３２から読み出された残像データは、撮影データ処理部１４によってＡ／Ｄ変換等の処理が行われ、画像処理部１６に供給される。画像処理部１６では、撮影データ処理部１４から供給された残像データが画像取得部３４によって取得され、続いて、オフセット補正部３６によってオフセット補正され、残像量補正部４０によって残像量補正された後、残像判定部４２によって、判定ＲＯＩにおける残像の有無を判定される。
【００６２】
続いて、撮影ボタンが２段目まで押されると、図３のグラフに示すように、次の撮影が開始される。撮影が開始されると、撮影部１２において、放射線源２６から、撮影条件ないし撮影モードに応じて設定された強度の放射線が設定された時間だけ照射される。照射された放射線は、撮影台２８上の被写体Ｈを透過して放射線検出部３０のＦＰＤ３２に入射され、被写体Ｈを透過した放射線が電気信号（放射線画像データ）に変換される。
【００６３】
同様にして、ＦＰＤ３２から、撮影された放射線画像のデータが読み出され、撮影データ処理部１４によってＡ／Ｄ変換等の処理が行われ、画像処理部１６に供給される。画像処理部１６では、撮影データ処理部１４から供給された放射線画像データが画像取得部３４によって取得され、オフセット補正部３６によってオフセット補正され、残像判定部４２において残像有りと判定された場合は、残像補正部４４により、残像量補正された残像データを用いて自動的に残像補正される。なお、残像判定部４２において残像無しと判定された場合は、残像補正部４４において残像補正は行わない。
【００６４】
必要に応じて残像補正が行われた後の放射線画像データは出力部１８に供給される。出力部１８では、例えば、残像補正部４４から供給された放射線画像をモニタ上に表示したり、プリンタからプリント出力したり、放射線画像データを記憶装置に保存したりして利用される。
【００６５】
なお、上述の実施例では、撮影装置１０において、残像量補正の後に、自動的に残像判定を行っているが、本発明はこれに限定されず、残像判定の実施の可否を設定する判定設定部（図示せず）を設け、残像判定を行うかどうかをユーザが決定することもできる。残像判定を行わない設定にした場合は、残像の有無に関わらず、ユーザが任意に、残像補正を行うかどうかを決定する。
【００６６】
撮影装置１０における残像補正は、以下に示すステップ１〜５の手順で実施される。
【００６７】
以下の説明において、Offset(x, y)は、前の放射線画像の残像データをオフセット補正するためのオフセットデータである。Lagdata1(x, y)は、前の放射線画像の残像データ、Lagdata2(x, y)は、残像判定および残像補正を行うための残像データである。また、被補正画像データ、残像量の補正係数Rfは前述の通りである。
【００６８】
（ステップ１）
まず、下記式（６）によって、残像判定を行うための残像データを算出する。つまり、式（６）に示すように、残像データLagdata1(x, y)からオフセットデータOffset(x, y)を減算することにより、残像データLagdata1(x, y)をオフセット補正してオフセット補正後の残像データを得る。さらに、オフセット補正後の残像データに残像量の補正係数Rfを乗算することにより、オフセット補正後の残像データを残像量補正して残像補量補正後の残像データLagdata2(x, y)を得る。
Lagdata2(x, y) = Rf×(Lagdata1(x, y) - Offset(x, y))  …  （６）
【００６９】
（ステップ２）
次に、残像データLagdata2(x, y)において、全画素数ＮＡと、判定ＲＯＩ内において所定の閾値iTh_Lag以上の画素値を有する画素数Ｎｃとを算出する。iTh_Lagには、視認されるレベルの残像量の値であるかどうかの閾値が設定される。本実施例では、一例として、iTh_Lagを１８とする。
【００７０】
（ステップ３）
さらに、ステップ２において算出されたＮＡおよびＮｃに基づいて、ＮｃがＮＡの１％以上の値であれば、残像が有り、残像補正が必要であると判定される。
あるいは、ＮＡが固定値である場合には、ＮＡの１％の数値を基準数として算出し、Ｎｃが基準数以上であれは、残像補正が必要であると判定するようにしてもよい。
【００７１】
（ステップ４）
ステップ３において残像有りと判定された場合は、次の撮影の放射線画像のデータに対して、残像補正を行う。
下記式（７）に示すように、被補正画像データXdata(x, y)からオフセット補正用データOffset(x, y)を減算することにより、被補正画像データXdata(x, y)をオフセット補正してオフセット補正後の被補正画像データData1(x, y)を得る。
Data1(x, y) = Xdata(x, y) - Offset(x, y)  …  （７）
【００７２】
（ステップ５）
下記式（８）に示すように、オフセット補正後の被補正画像データData1(x, y)から、ステップ１で算出した残像補量補正後の画像データLagdata2(x, y)を減算することにより、被補正画像データData1(x, y)を残像補正して残像補正後の画像データData2(x, y)を得る。
Data2(x, y) = Data1(x, y) - Lagdata2(x, y)  …  （８）
【００７３】
なお、残像データはノイズ成分が多いため、残像補正で減算を行うことにより、残像補正後の画像データData2(x, y)のノイズ成分が部分的に増大する場合がある。そのため、下記式（９）に示すように、メディアン処理された残像データmedian(Lagdata2(x, y))を減算して残像補正後の画像データData2'(x, y)を算出することが望ましい。
Data2'(x, y) = Data1(x, y) - median(Lagdata2(x, y))  …  （９）
【００７４】
本発明では、上述のように、撮影メニューに応じて残像判定を行う対象となる判定ＲＯＩを設定し、判定ＲＯＩ内に残像があると判定された場合のみ、残像補正を行う。これによって、次の撮影時の画像において影響を受けない領域にのみ残像がある場合に残像補正を行うことがなく、つまり、不要な残像補正を行う必要がない。このため、不要な残像補正によるノイズ悪化を防ぐことができる。また、不要な残像補正を行わないことで、処理を迅速に行うことができる。
【００７５】
なお、本発明において、残像量補正は必須ではないが、残像量補正を行う方が、残像量（補正用画像データ）の精度を向上させることができるので、残像補正の精度を向上させるためにも望ましい。また、あらかじめ撮影条件が設定されている撮影モードは、実施形態のように２つの撮影モードに限定されず、１つ以上であれば、いくつの撮影モードが設けられていてもよい。
【００７６】
本発明は、基本的に以上のようなものである。
以上、本発明の放射線画像撮影装置について詳細に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明の放射線画像撮影装置の構成を表す一実施形態のブロック図である。
【図２】図１に示す画像処理部の構成を表すブロック図である。
【図３】前の撮影からの経過時間と、残像量との関係を表すグラフである。
【符号の説明】
【００７８】
１０  放射線画像撮影装置
１２  撮影部
１４  撮影データ処理部
１６  画像処理部
１８  出力部
２０  撮影指示部
２２  制御部
２４  照射制御部
２６  放射線源
２８  撮影台
３０  放射線検出部
３２  ＦＰＤ
３４  画像取得部
３６  オフセット補正部
４０  残像量補正部
４２  残像判定部
４４  残像補正部
【図１】
2009201587.tif 000003
【図２】
2009201587.tif 000004
【図３】
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