(57)【要約】【課題】  光ディスク装置を情報処理装置に実装したままユーザが半導体レーザの劣化状況を把握することが可能な情報処理装置を提供することを目的とする。【解決手段】  テスト書き込みを実施し、最適なレーザパワーが確定されると（ステップ１−３）、レーザパワーコントロールIC１８３が、レーザダイオードを駆動する駆動回路１８２の電流値を読み取る（ステップ１−４）。レーザパワーコントロールIC１８３は読み取った電流値を特定のコマンドとしてアプリケーションプログラムに通知する（ステップ１−５）。アプリケーションプログラムはレーザパワーコントロールIC１８３から通知された電流値をLCD５に表示されているアプリケーション画面に表示する。【選択図】  図３
2009245560.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベース筐体と、
前記ベース筐体に回動可能に設けられ、表示装置を有するディスプレイ筐体と、
前記ベース筐体に設けられ、レーザダイオードを内蔵する光ディスクドライブと、
光ディスクの書き込み動作を実施する際に、前記レーザダイオードの出力を制御する電
流値を読み取る手段と、
前記読み取られた電流値を前記表示装置に表示する手段と、
を備えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記レーザダイオードの劣化状況を確認するための劣化検出ディスクに書き込みテスト
を行った際に前記レーザダイオードの出力を制御する電流値を読み取り、前記劣化検出デ
ィスクについて予め定められた電流値とを比較し、前記レーザダイオードの劣化状況を判
断する手段を備えることを特徴とする請求項１記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記読み取られた電流値に応じたメッセージを前記表示装置に表示することを特徴とす
る請求項２記載の情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクドライブを搭載した情報処理装置に関し、特に光ディスクドライブ
のレーザ劣化状態を検出する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ノート型パーソナルコンピュータ（ＰＣ）等の携帯可能な情報処理装置には、光ディス
クドライブ（ODD）が搭載されるものがある。ユーザは光ディスクに記録された情報を読
み出したり、情報処理装置のハードディスクドライブ（HDD）に記録された情報を光ディ
スクに情報を書き込んだりすることができる。
【０００３】
光ディスクドライブは、光ディスクに情報を書き込むための半導体レーザを備える。こ
の半導体レーザが不適切な使用や経年により劣化すると、光ディスクの情報の読み書きを
正常に行うことができない。
【０００４】
特許文献１には、半導体レーザの劣化の進行状態を監視し、この監視結果に基づいて半
導体レーザの劣化状態を判定して判定結果に応じて点灯表示する劣化表示手段を具備する
光ディスク装置が開示されている。監視部は、例えば半導体レーザから出射されたレーザ
光の波形を監視するもので、半導体レーザが劣化した時に発光パワーが高くなると発生す
るドループ（Ｄｒｏｏｐ）特性を監視するような劣化判定回路を利用する。
【特許文献１】特開平１１−２１３４２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし上記の方式は、開発者が開発時や問題が発生した場合に技術者によって半導体レ
ーザの劣化状況を把握するための手段であった。そのため、半導体レーザを使用している
装置の分解や、高価な測定装置を必要とせずに、ユーザが容易に半導体レーザの劣化を判
別することができる技術の提供が望まれる。
【０００６】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、光ディスク装置を情報処理装置
に実装したままユーザが半導体レーザの劣化状況を把握することが可能な情報処理装置を
提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために本発明に係る情報処理装置は、ベース筐体と、前記ベース筐
体に回動可能に設けられ、表示装置を有するディスプレイ筐体と、前記ベース筐体に設け
られ、レーザダイオードを内蔵する光ディスクドライブと、光ディスクの書き込み動作を
実施する際に、前記レーザダイオードの出力を制御する電流値を読み取る手段と、前記読
み取られた電流値を前記表示装置に表示する手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光ディスク装置を情報処理装置に実装したままユーザが半導体レーザ
の劣化状況を把握することが可能な情報処理装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下本発明に係る実施の形態を、図面を参照して説明する。本実施形態では情報処理装
置としてノート型のコンピュータを例に説明する。図１は本発明の実施形態に係るコンピ
ュータを示す外観斜視図である。コンピュータ１は筐体２を備え、筐体２にはディスプレ
イユニット３がヒンジ部４を介して回動可能に取り付けられている。ディスプレイユニッ
ト３は筐体２の上面２ａが開放される開き位置と、筐体２の上面２ａが覆われる閉じ位置
とで回動可能である。ディスプレイユニット３内にはＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔ
ａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）５から構成される表示装置が組み込まれる。
【００１０】
筐体２内には複数の電子部品を搭載した回路基板が収容されている。筐体２の上面２ａ
には、ユーザによる入力操作を行うためのタッチパッド６およびキーボード７が取り付け
られる。図示はしないが、筐体２内には複数の電子部品を搭載した回路基板が収容されて
いる。筐体２の上面２ａにはコンピュータ１の電源をオン／オフするための電源スイッチ
８も設けられる。
【００１１】
また、筐体２の側面２ｂには、光ディスクを後述するＯＤＤにセットするためのトレイ
９が設けられる。例えば、トレイ９に設けられたボタン９ａを押すことで、トレイ９が筐
体２の側面２ｂから飛び出し、ユーザが光ディスクをＯＤＤにセットできる構成を採用す
ることができる。
【００１２】
図２は本発明の実施形態に係るコンピュータの構成を示すブロック図である。コンピュ
ータ１には、ＣＰＵ１０、ノースブリッジ１１、主メモリ（ＲＡＭ）１２、グラフィック
スコントローラ１３、ＶＲＡＭ１４、サウスブリッジ１５、ハードディスクドライブ（Ｈ
ＤＤ）１６、ＢＩＯＳ−ＲＯＭ１７、ODD１８、エンベデッドコントローラ／キーボード
コントローラＩＣ（ＥＣ／ＫＢＣ）２０、およびＬＣＤ５、タッチパッド6、キーボード
７、電源スイッチ８等が設けられている。
【００１３】
ＣＰＵ１０は、コンピュータ１の各コンポーネントの動作を制御するプロセッサである
。このＣＰＵ１０は、ＨＤＤ１６から主メモリ（ＲＡＭ）１２にロードされるオペレーテ
ィングシステムおよび各種アプリケーションプログラム／ユーティリティプログラムを実
行する。主メモリ（ＲＡＭ）１２は、各種データバッファの格納にも用いられる。  また
、ＣＰＵ１０は、ＢＩＯＳ−ＲＯＭ１７に格納されたＢＩＯＳ（Basic Input Output Sys
tem）も実行する。ＢＩＯＳはハードウェア制御のためのプログラムである。
【００１４】
ノースブリッジ１１は、ＣＰＵ１０のローカルバスとサウスブリッジ１５との間を接続
するブリッジデバイスである。また、ノースブリッジ１１は、ＰＣＩ  Ｅｘｐｒｅｓｓバ
スなどを介してグラフィックスコントローラ１３との通信を実行する機能も有している。
さらに、ノースブリッジ１１には、主メモリ（ＲＡＭ）１２を制御するメモリコントロー
ラも内蔵されている。
【００１５】
グラフィクスコントローラ１３は本コンピュータ１０のディスプレイモニタとして使用
されるＬＣＤ５を制御する表示コントローラである。このグラフィクスコントローラ１３
は、ＯＳまたはアプリケーションプログラムによってビデオメモリ（ＶＲＡＭ）１４に書
き込まれた表示データに対応する映像信号をＬＣＤ５に送出する。
【００１６】
サウスブリッジ１５は、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）バスおよびＬ
ＰＣ（Low Pin Count）バスにそれぞれ接続されている。ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｃ  
Ｄｒｉｖｅ）１６は、ＯＳや各種のアプリケーションプログラム／ユーティリティプログ
ラムおよびデータファイルを格納する。
【００１７】
サウスブリッジ１５にはODD１８が接続されている。ODD１８の内部には光ディスクの読
み書きを行うためのレーザダイオード１８１、レーザダイオード１８１を駆動する駆動回
路１８２、駆動回路１８２が出力する電流値を制御するレーザパワーコントローIC１８３
が設けられる。
【００１８】
後に詳述するように、ＯＤＤ１８には劣化検出ディスク１８５が装着され、アプリケー
ションプログラムを実行することにより、レーザダイオード１８１の劣化状況を検出する
ことができる。
【００１９】
エンベデッドコントローラ／キーボードコントローラ（ＥＣ／ＫＢＣ）２０は、電源管
理のためのエンベデッドコントローラと、タッチパッド６およびキーボード７などを制御
するキーボードコントローラとが集積された１チップマイクロコンピュータである。ＥＣ
／ＫＢＣ２０は、電源コントローラ２１と共同して、ユーザによる電源スイッチ８の操作
に応答してコンピュータ１をパワーオン／パワーオフする処理を実行する。電源コントロ
ーラ２１は、コンピュータ１に内蔵されたバッテリ２２からの電力、またはＡＣアダプタ
２３を介して外部から供給される電力を用いて、コンピュータ１内の各コンポーネントに
電力を供給する。  
【００２０】
図３は本発明の実施形態に係る動作を示すフローチャートである。図４は本発明の実施
形態に係る劣化検出ディスクを模式的に示す図である。
【００２１】
ODD１８のレーザダイオードの劣化状況を調べるために、ODD１８に劣化検出ディスクを
装着させる（ステップ１−１）。ユーザは、光ディスクへの記録、再生を行なうレーザダ
イオード１８１の劣化状況を確認するためのアプリケーションプログラムを起動し、劣化
検出ディスク１８５のテスト書き込みを実施させる（ステップ１−２）。
劣化検出ディスク１８５のOPC（Optimum Power Control）エリア１８７と呼ばれるエリア
に書き込みをすることで、レーザパワーの最適値を調整するキャリブレーション処理が実
行される。レーザパワーコントロールIC１８３によってレーザダイオード駆動回路１８２
が出力する電流値を制御することによってレーザパワーが制御される。
【００２２】
図４に示すように、光ディスクの内周の管理領域１８６内にあるパワー調整エリア１８
７OPC（Optimum Power Control）エリアがキャリブレーション処理を実行する際に書き込
まれる領域である。
【００２３】
テスト書き込みを実施し、最適なレーザパワーが確定されると（ステップ１−３）、レ
ーザパワーコントロールIC１８３が、レーザダイオードを駆動する駆動回路１８２の電流
値を読み取る（ステップ１−４）。レーザパワーコントロールIC１８３は読み取った電流
値を特定のコマンドとしてアプリケーションプログラムに通知する（ステップ１−５）。
アプリケーションプログラムはレーザパワーコントロールIC１８３から通知された電流値
をLCD５に表示されているアプリケーション画面に表示する。
【００２４】
読み取られた電流値が０．１ｍA以下である場合は（ステップ１−６のYes）、レーザダ
イオード１８１に問題はないと判断する。このとき、ユーザに例えば「レーザダイオード
に問題はありません」、というメッセージを表示しても良い（ステップ１−７）。
【００２５】
読み取られた電流値が０．１ｍA以上かつ０．２０ｍA以下である場合は（ステップ１−
８のYes）、レーザダイオード１８１が若干劣化している状態であると判断する。正常な
場合と比較して、テスト書き込みに必要な電流値が高くなっているためである。このとき
、ユーザに「レーザダイオードが劣化しています。注意してください」、というメッセー
ジを表示しても良い（ステップ１−９）。
【００２６】
読み取られた電流値が０．２０ｍA以上である場合は（ステップ１−１０のＹｅｓ）、
レーザダイオード１８１の劣化が進み、破壊の可能性もある状態であると判断する。この
とき、ユーザに「レーザダイオードが破壊される危険性があります。使用を中止してくだ
さい」、というメッセージを表示しても良い（ステップ１−１１）。
【００２７】
なお、上記の電流値は一例であり、読み取られた電流値のもつ意味は、使用する劣化検
出ディスクの種類や、レーザダイオードの仕様などによって異なる。
【００２８】
本実施形態では、劣化検出ディスク１８５を用いて、テスト書き込みの際の電流値と、
予め設定された基準の電流値を比較することにより、レーザダイオードの劣化状況を検出
することができる。ユーザは装置の分解や特別な測定装置を必要とせずに、コンピュータ
１の記憶装置に保存されているアプリケーションプログラムを使用して、レーザダイオー
ドの劣化状況を判別することができる。
【００２９】
以上の説明のように、本実施形態では、光ディスク装置を情報処理装置に実装したまま
ユーザが半導体レーザの劣化状況を把握することが可能な情報処理装置を提供することが
できる。
【００３０】
本発明ではその主旨を逸脱しない範囲であれば、上記の実施形態に限定されるものでは
なく種々の変形が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】図１は本発明の実施形態に係るコンピュータを示す外観斜視図。
【図２】本発明の実施形態に係るコンピュータの構成を示すブロック図。
【図３】本発明の実施形態に係る動作を示すフローチャート。
【図４】本発明の実施形態に係る劣化検出ディスクを模式的に示す図。
【符号の説明】
【００３２】
１…コンピュータ、３…ディスプレイユニット、５…タッチパッド、６…キーボード、７
…操作ボタン、８…電源スイッチ、１０…ＣＰＵ、１１…ノースブリッジ、１２…主メモ
リ、１３…グラフィクスコントローラ、１５…サウスブリッジ、１６…ＨＤＤ、１７…Ｂ
ＩＯＳ−ＲＯＭ、１８…ＯＤＤ、２０…ＥＣ／ＫＢＣ、２０ａ…カウンタ、２１…電源コ
ントローラ、２２…バッテリ、２３…ＡＣアダプタ、１８１…レーザダイオード、１８２
…駆動回路、１８３…レーザパワーコントロールＩＣ、１８５…劣化検出ディスク
【図１】
2009245560.tif 000003
【図２】
2009245560.tif 000004
【図３】
2009245560.tif 000005
【図４】
2009245560.tif 000006