(57)【要約】【課題】マークエッジ位置のシフトだけでは調整ができない部分の記録マーク位置を調整することができ、特に青色レーザ対応の光記録媒体における高線速記録が可能な記録方法を提供する。【解決手段】記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて記録パルスの記録パワーを変えて記録する。図１（ｂ）に示すように、（Ｂ）に比べて記録パワーを大きくした（Ｃ）では、立ち上がりが急峻となるため、記録パワーを変えずに１／１６Ｔシフトエッジする（Ｂ）に比べて、記録マーク位置を（Ａ）に近づけることができる。これにより微細なマークエッジの位置調整が可能となる。【選択図】図１
2009224008.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録・再生可能な光記録媒体に対し、レーザ光を照射して記録マークを形成する記録方法において、
記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする記録方法。
【請求項２】
請求項１記載の記録方法において、
記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせ応じて記録パルスのエッジ位置をシフトして記録することを特徴とする記録方法。
【請求項３】
請求項１又は２記載の記録方法において、
記録パルスは単パルスであることを特徴とする記録方法。
【請求項４】
請求項１又は２記載の記録方法において、
記録パルスは複数のパルスの組み合わせからなる記録パルスであることを特徴とする記録方法。
【請求項５】
請求項１又は２記載の記録方法において、
記録パルスは単パルスと複数のパルスとの組み合わせからなる記録パルスであることを特徴とする記録方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１つに記載の記録方法において、
記録マークの前のスペースの長さに応じて、記録パルスの先頭部または先頭の記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする記録方法。
【請求項７】
請求項１〜５のいずれか１つに記載の記録方法において、
記録マークの後ろのスペースの長さに応じて、記録パルスの終端部または終端の記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする記録方法。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか１つに記載の記録方法において、
最短記録マーク長が２０４ｎｍ以下であることを特徴とする記録方法。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１つに記載の記録方法において、
記録線速が２５．０ｍ／ｓｅｃ以上であることを特徴とする記録方法。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか１つに記載の記録方法において、
記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて変える記録パルスの記録パワー（Ｐｗａ）は、デビエーション及びジッタを元に決定することを特徴とする記録方法。
【請求項１１】
請求項１〜１０のいずれか１つに記載の記録方法において、
記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて変える記録パルスの記録パワー（Ｐｗａ）は、元の記録パワー（Ｐｗｂ）に対して一定の比であることを特徴とする記録方法。
【請求項１２】
請求項１１記載の記録方法において、
記録パワーの比（Ｐｗａ／Ｐｗｂ）の情報を予めリードイン領域またはＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ  Ｃｕｔｔｉｎｇ  Ａｒｅａ）領域に記録されていることを特徴とする記録媒体。
【請求項１３】
請求項１〜１１のいずれか１つに記載の記録方法により記録媒体に情報を記録する情報記録装置。
【請求項１４】
請求項１〜１１のいずれか１つに記載の記録方法により記録媒体に記録された情報を再生する情報再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光によりデータを記録し、レーザ光の反射光によって記録データを再生する光情報記録媒体の記録方法に関し、特に、青色レーザにより記録・再生が可能な光情報記録媒体（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ、ＨＤ−ＤＶＤなど）の記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光記録媒体の記録容量向上、高密度化に伴って、青色レーザの波長以下で記録・再生が可能な超高密度型の追記型光記録媒体に関して研究が進められている。
従来、追記型光記録媒体においては、有機材料からなる記録層にレーザ光を照射し、主に有機材料を分解・変質させて記録層の光学的性質（屈折率変化など）を変えることにより記録ピットを形成している。
青色レーザ対応の追記型光記録媒体についても同様に有機記録層材料の開発が進められている。
しかしながら有機色素を記録層とする光記録媒体では、再生光に対する記録マークの安定性や高速記録における記録マークの精度等において十分な特性を得ることができていないのが現状である。
【０００３】
一方で、無機記録材料を記録層とする青色レーザ対応の追記型光記録媒体の開発も進められている。
ここで、本発明者らは先願（特許文献１〜３）において、金属又は半金属の酸化物、とりわけ酸化ビスマスを主成分とする記録層の有用性を提案している。
有機記録層に比べ無機記録層では再生光に対する安定性も高く、高速記録時の記録特性についても精度の良い良好な記録を行うことが可能である。
また、マークを形成するときには、記録ストラテジと呼ばれる発光パワーのパルス形状等に関する規則（方式）に基づいて、発光パワーのパルス形状等を設定している。記録ストラテジは、記録品質に大きな影響を与えるため、記録ストラテジの最適化が重要である。
この要請に応えるべく、前後のマークやスペースの種類による熱分布の変化を低減させるために、前後のマークやスペース長によって記録マークのエッジ位置をシフトさせて記録を行う方法（特許文献４）等が提案されている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１６１８３１号公報
【特許文献２】特開２００５−２５８６００号公報
【特許文献３】特開２００３−４８３７５号公報
【特許文献４】特許第２６７９５９６号公報
【特許文献５】特開２００７−２６５５９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献４等に開示される記録方法においては、記録装置の信号発生器の帯域には限界があり、一定以上細かいステップでマークエッジ位置をシフトさせることはできず、より高線速での記録になるほどマークエッジ位置の細かい調整が困難であるという問題があった。
【０００６】
本発明は、上記従来の問題に鑑みてなされたものであり、マークエッジ位置のシフトだけでは調整ができない部分の記録マーク位置を調整することができ、特に青色レーザ対応の光記録媒体における高線速記録が可能な記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、請求項１記載の発明では、記録・再生可能な光記録媒体に対し、レーザ光を照射して記録マークを形成する記録方法において、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする。
ここで、「記録パルスの記録パワーを変えて」とは、組み合わせの大きさにおいて記録パワーを変える必要がない場合には変えないことを含む意味である。
【０００８】
請求項２記載の発明では、請求項１記載の記録方法において、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて記録パルスのエッジ位置をシフトして記録することを特徴とする。
請求項３記載の発明では、請求項１又は２記載の記録方法において、記録パルスは単パルスであることを特徴とする。
【０００９】
請求項４記載の発明では、請求項１又は２記載の記録方法において、記録パルスは複数のパルスの組み合わせからなる記録パルスであることを特徴とする。
請求項５記載の発明では、請求項１又は２記載の記録方法において、記録パルスは単パルスと複数のパルスとの組み合わせからなる記録パルスであることを特徴とする。
請求項６記載の発明では、請求項１〜５のいずれか１つに記載の記録方法において、記録マークの前のスペースの長さに応じて、記録パルスの先頭部または先頭の記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする。
【００１０】
請求項７記載の発明では、請求項１〜５のいずれか１つに記載の記録方法において、記録マークの後ろのスペースの長さに応じて、記録パルスの終端部または終端の記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする。
請求項８記載の発明では、請求項１〜７のいずれか１つに記載の記録方法において、最短記録マーク長が２０４ｎｍ以下であることを特徴とする。
請求項９記載の発明では、請求項１〜８のいずれか１つに記載の記録方法において、記録線速が２５．０ｍ／ｓｅｃ以上であることを特徴とする。
【００１１】
請求項１０記載の発明では、請求項１〜９のいずれか１つに記載の記録方法において、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて変える記録パルスの記録パワー（Ｐｗａ）は、デビエーション及びジッタを元に決定することを特徴とする。
請求項１１記載の発明では、請求項１〜１０のいずれか１つに記載の記録方法において、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて変える記録パルスの記録パワー（Ｐｗａ）は、元の記録パワー（Ｐｗｂ）に対して一定の比であることを特徴とする。
【００１２】
請求項１２記載の発明は、請求項１１記載の記録方法において、記録パワーの比（Ｐｗａ／Ｐｗｂ）の情報を予めリードイン領域またはＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ  Ｃｕｔｔｉｎｇ  Ａｒｅａ）領域に記録されていることを特徴とする記録媒体である。
請求項１３記載の発明では、情報記録装置において、請求項１〜１１のいずれか１つに記載の記録方法により記録媒体に情報を記録することを特徴とする。
請求項１４記載の発明では、情報再生装置において、請求項１〜１１のいずれか１つに記載の記録方法により記録媒体に記録された情報を再生することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、マークエッジ位置のシフトだけでは調整ができない部分の記録マーク位置を調整することができるため、特にマーク間の熱干渉の大きい微細な記録マークを記録する青色レーザ対応の光記録媒体における高線速記録において正確なマークを記録でき、良好な記録特性を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施形態を図を参照して説明する。
まず、本発明の実施形態を説明する前に、記録パルスの種類や従来のエッジシフトに係る問題点について図１０〜図１７を参照して具体的に説明する。
図１０〜図１４は記録時のレーザ発光パターン（記録ストラテジ）の説明図である。
図１０はいわゆるブロックタイプ（矩形波）のレーザ発光パターンの一例であり、記録パルスを大きい記録パワー（Ｐｗ）で記録を行うことにより感度の良い記録が可能となる。長い記録マークについてはマークの終端が広がってしまう可能性があるが、記録品質を見る上でより重要となる２Ｔや３Ｔ等の短いマークについては、高線速記録の時は矩形波で記録を行うことが多い。図１０において、符号Ｐｗは記録パワーを、Ｐｓは予熱パワーを、Ｐｃは冷却パワーを示す。
【００１５】
図１１はいわゆるマルチパルスタイプのレーザ発光パターンの一例であり、レーザ出力の上げ下げを繰り返すことにより記録マークの終端側が太らない（涙状のマークにならない）ようにしている。
しかし、一般的な記録再生装置に使用されているレーザでは、レーザの立ち上がり時間及び立ち下がり時間がおおよそ１〜２ｎｓｅｃ程度かかってしまう。
一方、マルチパルスで記録線速度を上げていくと加熱パルスの間隔が狭くなり、レーザの立ち上がり時間及び立ち下がり時間よりも小さくなってしまうと、マルチパルスでの記録が正しく行えないことになる。
【００１６】
図１２はいわゆるキャッスルタイプのレーザ発光パターンの一例であり、記録パルスの先頭と後方（終端）を大きい記録パワー（Ｐｗ：第１のパワー）として記録を行い、パルスの中間部分はパルスの上げ下げを行わずに少しパワーを落として（Ｐｍ：第２のパワー）記録を行うことで、マークが拡がらず、高速になっても感度良く記録が可能となる。
図１３はいわゆるＬ字タイプのレーザ発光パターンの一例であり、記録パルスの先頭部を大きい記録パワー（Ｐｗ）で記録し、その後は少しパワーを落として（Ｐｍ）記録を行う。
図１４は逆Ｌ字タイプのレーザ発光パターンの一例であり、記録パルスの終端部を大きい記録パワー（Ｐｗ）で記録し、その前は少しパワーを落として（Ｐｍ）記録を行う。
これらの場合もキャッスルタイプと同様に、中間部分でパルスの上げ下げを行わずに記録が出来るので、高速での感度の良い記録が可能となる。
記録マークの大きさによってキャッスルタイプ、Ｌ字タイプ、逆Ｌ字タイプ、及びブロックタイプの記録パルスを組み合わせて記録する場合もある。
【００１７】
図１５、図１６は記録ストラテジの記録前のスペース長の影響とマークエッジ位置の補正の様子を簡易的に示した説明図である。
図１５は２Ｔマークの記録パルスにおいて記録マークの前のスペース長さによる記録開始位置の補正をかけていない例である。前のスペースの長さが十分長いと熱が十分逃げているためマーク開始位置に影響は無いが、前のスペースが２Ｔスペースの様に短い場合は記録時の熱が逃げ切らずに溜まっていて、記録開始時に余計に熱がかかる分だけマークの開始部分のエッジが前のスペース側へ拡がってしまい、狙いの位置よりずれてしまう。
【００１８】
図１６は２Ｔマークの記録パルスにおいて記録マークの前のスペース長さによる記録開始位置の補正をかけている例である。前のスペースが短い場合には、マークエッジの広がる分だけ記録開始位置を遅らせて記録を行うことで、マークエッジの位置を狙いの位置になるようにしている。
図１５、図１６ではマーク開始位置の例を示したが、同様に、記録マークの後のスペースの長さによって記録パルスの終端位置を補正して終端のエッジを調整することもできる。
図１７は記録パルスとエッジ補正のパラメータの一例を示している。この場合２Ｔスペース後の２Ｔマークの開始位置を３Ｔ及び４Ｔ〜８Ｔスペース後の２Ｔマークの開始位置に対して１／１６Ｔ分だけ遅らせている。
この場合の補正パラメータの１／１６Ｔという単位は１／１６Ｔ（Ｂｌｕ-ｒａｙ  Ｒｅａｃｏｒｄａｂｌｅ）、１／３２Ｔ（ＨＤ  ＤＶＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）等それぞれの規格によって決まっていて、決まった単位に沿った値しか用いることはできず、またクロック信号発生器のダイナミックレンジも決まっているため、それ以上細かい調整をすることは難しい。
【００１９】
超微細な記録マークを青色レーザにより記録する場合でも、低記録線速においては上記のような記録パルス位置の補正（エッジシフト）を行うことで十分な記録マークの品質を得ることができていたが、高線速になるほど記録パルス位置の補正だけでは十分な記録品質を得ることができなくなっている。
【００２０】
以下、本発明の実施形態を図１乃至図９に基づいて説明する。
本実施形態では、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせ（の大きさ）に応じて記録パルスの記録パワーを変えて記録することを特徴とする。
図１は記録マーク開始部分の記録パルスと発光波形の様子を簡易的に示している。（Ａ）と（Ｂ）の通常の記録パルス位置の補正に比べて（Ｂ）と（Ｃ）、（Ｄ）のように記録パワーを変えることで、より細かい記録マーク位置の調整が可能である。
すなわち、図１（ｂ）に示すように、（Ｂ）に比べて記録パワーを大きくした（Ｃ）では、マークエッジの立ち上がりが急峻となるため、記録パワーを変えずに１／１６Ｔシフトエッジする（Ｂ）に比べて、記録マーク位置を（Ａ）に近づけることができる。
記録パワーが（Ｃ）よりも大きい（Ｄ）ではさらにマークエッジの立ち上がりが急峻となり、より（Ａ）に近くなる。
スペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせは予めデータテーブルに格納され、レーザがテーブル制御により駆動される。
【００２１】
記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて、記録パルスのエッジ位置をシフトする補正を同時に行ってもよい。
このようにすれば、図１の（Ａ）と（Ｂ）のような記録パルス位置の補正も行うことで、大きな記録マーク位置の調整と、（Ｂ）と（Ｃ）、（Ｄ）のように記録パワーを変える細かい記録マーク位置の調整を組み合わせることで、より複雑なマーク位置の調整が可能である。
本実施形態における記録パルスは単パルスであるが、特に２Ｔマークや３Ｔマーク等の短いマークほど単パルスで記録することが多く、２Ｔマークや３Ｔマークは頻度が非常に多く、記録品質の観点ではこれらのマークを正確に記録することは非常に重要である。
【００２２】
記録パルスは、複数のパルスの組み合わせからなる記録パルスとしてもよい。これらは具体的には図１１〜図１４に示すマルチパルスやキャッスルタイプ、Ｌ字型や逆Ｌ字型等の記録パルスのことである。
長いマークの記録においてはこれらの記録パルスを用いることで、マーク熱の横の広がりによる隣接トラックへのクロストークの影響も抑えることができる。
また、記録パルスは、単パルスと複数のパルスとの組み合わせからなる記録パルスとしてもよい。
記録マークの前のスペースの長さに応じて先頭の記録パルスの記録パワーを変えて記録してもよく、又は記録マークの後ろのスペースの長さに応じて終端の記録パルスの記録パワーを変えて記録してもよい。
この場合、記録パワーを変える対象は、図１１で示したマルチパルスの場合には先頭又は終端の記録パルス、図１２で示したキャッスルタイプのパルスの場合には記録パルスの先頭部又は終端部である。
先頭のパルス又は最後（終端）のパルスのみスペース長さによる記録パルスの位置やパワーの補正を行うことができ、中間のパルスの記録パワーを変えずに記録することでマーク中間部分に熱が溜まることが無く横の広がりによる隣接トラックへのクロストークの影響も抑えることができる。
【００２３】
本実施形態においては最短記録マーク長を２０４ｎｍ以下としている。これは例えば最短記録マーク長が２０４ｎｍのＨＤ  ＤＶＤや１４９ｎｍのＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ等のように、ＣＤの最短マーク長の０．８３μｍ、ＤＶＤの最短マーク長の０．４０μｍ等と比べて非常に小さい記録マークの位置を制御する必要がある記録媒体にて特に有効である。
本発明は、記録線速が２５．０ｍ／ｓｅｃ以上である場合にも対応できる。高線速での記録になるほど記録マークの間隔が短くなり、前後のマーク及びスペース長さの熱の影響が大きくなるため、記録マーク位置をより細かく調整することが有効であり、高線速においても良い品質で記録することが可能である。
【００２４】
本実施形態では、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さの組み合わせに応じて変える記録パルスの記録パワー（Ｐｗａ）はデビエーション（Ｄｅｖｉａｔｉｏｎ）及びジッタ（Ｊｉｔｔｅｒ）を元に決定する。
ここでＤｅｖｉａｔｉｏｎとはＡｖｅｒａｇｅ−Ｘｃｅｎｔｅｒで表され、目標とするマークエッジ位置をＸｃｅｎｔｅｒとした場合に実際の記録マークのエッジ位置の分布を取り、その平均値との差を表しており、ゼロに近いほどエッジ位置が目標に近いことになる。
例えば図２の（Ａ）、（Ｂ）のように、記録パルスの位置を調整した際にＤｅｖｉａｔｉｏｎの値がゼロから大きく離れてしまう場合には、（Ｃ）のように記録パワーを調整することで記録パルスの位置を調整しＤｅｖｉａｔｉｏｎをゼロに近づけることができる。
当然マークエッジのバラツキを表すジッタも小さくなるように調整されるのが良い。
【００２５】
本実施形態では、記録マークの前、または記録マークの後ろのスペースの長さと記録マークの長さとの組み合わせに応じて変える記録パルスの記録パワー（Ｐｗａ）は元の記録パワー（Ｐｗｂ）に対して一定の比であるとしている。
記録ドライブ等でＯＰＣ（最適記録パワー調整）を行って記録パワーを決める際にＰｗａとＰｗｂの両方の最適化を行うと非常に手間がかかるため、例えばＯＰＣでＰｗｂの最適記録パワーを求めた後に、予め設定しておいたＰｗａとＰｗｂの比を用いてＰｗａを求めることで記録パワーの最適化も従来と同様の手順で行うことができる。
【００２６】
記録媒体において、記録パワーの比（Ｐｗａ／Ｐｗｂ）の情報を予めリードイン領域またはＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ  Ｃｕｔｔｉｎｇ  Ａｒｅａ）領域に記録することもできる。
記録パワーの比のパラメータを予め未記録のディスクに入れておくことで、一方の記録パワーの最適化後にもう一方の記録パワーも自動的に求めることができる。
本発明の記録方法に適した追記型光記録媒体は、下記のような構成のものが好ましいが、これに限定される訳ではない。
（ａ）基板／主成分が酸化ビスマスからなる記録層／上引層／反射層
（ｂ）基板／下引層／主成分が酸化ビスマスからなる記録層／上引層／反射層
（ｃ）カバー層／主成分が酸化ビスマスからなる記録層／上引層／反射層／基板
（ｄ）カバー層／下引層／主成分が酸化ビスマスからなる記録層／上引層／反射層／基板
更に、上記構成を基本として、多層化した構造でも構わない。
例えば、上記（ａ）の構成を基本として多層化した場合、次のような構成とすることができる。
基板／主成分が酸化ビスマスからなる記録層／上引層／反射層（半透明層）／接着層／主成分が酸化ビスマスからなる記録層／上引層／反射層／基板
なお、光記録媒体の両面に基板と保護基板を設けた構造とすることもできる。
【００２７】
図３は、本発明の追記型光記録媒体に適用し得る層構成の一例を示す概略断面図である。基板６上に、反射層５、上引層４、記録層３、下引層２、カバー層１が順次設けられている。記録層３は酸化ビスマスを主成分として含有するものである。
次に、各構成層について説明する。
〔基板〕
基板の素材としては、熱的、機械的に優れた特性を有し、基板側から（基板を通して）記録・再生が行われる場合には光透過特性にも優れたものであれば特別な制限はない。
具体例としては、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル、非晶質ポリオレフィン、セルロースアセテート、ポリエチレンテレフタレートなどが挙げられるが、ポリカーボネートや非晶質ポリオレフィンが好ましい。なお、基板の厚さは用途により異なり、特に制限はない。基板の表面に、トラッキング用の案内溝や案内ピット、更にアドレス信号等のプレフォーマットが形成されていてもよい。
【００２８】
〔保護基板〕
保護基板は、この保護基板側からレーザ光を照射する場合には使用レーザ光に対し透明でなくてはならない。一方、単なる保護板として用いる場合には透明性は問わない。使用可能な保護基板材料は、前記の基板材料と全く同じである。
〔記録層〕
前述したように、本発明の追記型光記録媒体の記録層は、無機記録材料、特に酸化ビスマスを主成分として含むことが好ましい。
酸化ビスマスを主成分として含有する記録層としては、例えば、スパッタ法により、Ｂｉ２Ｏｘをターゲット組成として形成されるＢｉＯ系薄膜、Ｂｉ３Ｆｅ５Ｏｘをターゲット組成として形成されるＢｉＦｅＯ、Ｂｉ２ＢＯｘをターゲット組成として形成されるＢｉＢＯ、Ｂｉ３ＡｌＯｘをターゲット組成として形成されるＢｉＡｌＯ系薄膜、Ｂｉ３Ｆｅ１Ａｌ４Ｏｘをターゲット組成として形成されるＢｉＦｅＡｌＯ、Ｂｉ２ＢＧｅＯｘをターゲット組成として形成されるＢｉＢＧｅＯなどが挙げられるが、これらに限定されるわけではない。
【００２９】
酸化ビスマスを主成分として含有する記録層の具体例としては、本出願人が先に提案した特開２００５−１０８３９６号公報、特開２００５−１６１８３１号公報に記載の下記ＲＯ膜（但し、ＲはＢｉ元素）が挙げられる。
（１）酸化ビスマスからなるＲＯ膜
（２）ビスマスと酸化ビスマスを含有するＲＯ膜
（３）上記ＲがＢｉであると共に４Ｂ族の中から選ばれる一種以上の元素を含有し、その組成をＢｉａ４ＢｂＯｄ（４Ｂは４Ｂ族の元素、ａ、ｂ、ｄは組成比）としたとき、次の条件を満足する酸化ビスマスを含有するＲＯ膜
１０≦ａ≦４０、３≦ｂ≦２０、５０≦ｄ≦７０、
（４）：Ａｌ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｉｎ、Ｃｏ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｚｎ及びＴｉの中から選ばれる一種以上の元素Ｍを含有し、その組成をＢｉａ４ＢｂＭｃＯｄ（４Ｂは４Ｂ族の元素、ａ、ｂ、ｃ、ｄは組成比）としたとき、次の条件を満足する酸化ビスマスを含有するＲＯ膜
１０≦ａ≦４０、３≦ｂ≦２０、３≦ｃ≦２０、５０≦ｄ≦７０、
上記（３）、（４）の４Ｂ族の元素としては、例えば、Ｃ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｐｂなどが挙げられるが、ＳｉとＧｅが特に好ましい。
上記ビスマス酸化物は、青色レーザ対応の記録層材料として非常に有効であり、熱伝導率が低く、耐久性が良好であり、高反射率化や高透過率化が実現しやすい（複素屈折率に起因する）という特徴がある。特に、Ｂｉａ４ＢｂＯｄあるいはＢｉａ４ＢｂＭｃＯｄを記録層に用いることにより、記録再生特性や保存安定特性を向上させることができる。
記録層の好ましい膜厚は、５〜３０ｎｍである。
【００３０】
〔下引層及び上引層〕
下引層及び上引層には、Ｎｂ２Ｏ５、Ｓｍ２Ｏ３、Ｃｅ２Ｏ３、Ａｌ２Ｏ３、ＭｇＯ、ＢｅＯ、ＺｒＯ２、ＵＯ２、ＴｈＯ２などの単純酸化物系の酸化物；ＳｉＯ２、２ＭｇＯ・ＳｉＯ２、ＭｇＯ・ＳｉＯ２、ＣａＯ・ＳｉＯ２、ＺｒＯ２・ＳｉＯ２、３Ａｌ２Ｏ３・２ＳｉＯ２、２ＭｇＯ・２Ａｌ２Ｏ３・５ＳｉＯ２、Ｌｉ２Ｏ・Ａｌ２Ｏ３・４ＳｉＯ２などのケイ酸塩系の酸化物；Ａｌ２ＴｉＯ５、ＭｇＡｌ２Ｏ４、Ｃａ１０（ＰＯ４）６（ＯＨ）２、ＢａＴｉＯ３、ＬｉＮｂＯ３、ＰＺＴ〔Ｐｂ（Ｚｒ，Ｔｉ）Ｏ３〕、ＰＬＺＴ〔（Ｐｂ，Ｌａ）（Ｚｒ，Ｔｉ）Ｏ３〕、フェライトなどの複酸化物系の酸化物；Ｓｉ３Ｎ４、ＡｌＮ、ＢＮ、ＴｉＮなどの窒化物系の非酸化物；ＳｉＣ、Ｂ４Ｃ、ＴｉＣ、ＷＣなどの炭化物系の非酸化物；ＬａＢ６、ＴｉＢ２、ＺｒＢ２などのホウ化物系の非酸化物；ＺｎＳ、ＣｄＳ、ＭｏＳ２などの硫化物系の非酸化物；ＭｏＳｉ２などのケイ化物系の非酸化物；アモルファス炭素、黒鉛、ダイアモンド等の炭素系の非酸化物等を用いることが可能である。あるいは、ＺｎＳ・ＳｉＯ２などの非酸化物と酸化物との混合系を用いることが可能である。
【００３１】
また、色素や樹脂などの有機材料を使用することも可能である。
色素としては、ポリメチン系、ナフタロシアニン系、フタロシアニン系、スクアリリウム系、クロコニウム系、ピリリウム系、ナフトキノン系、アントラキノン（インダンスレン）系、キサンテン系、トリフェニルメタン系、アズレン系、テトラヒドロコリン系、フェナンスレン系、トリフェノチアジン系、アゾ系、ホルマザン系各色素、及びこれらの金属錯体化合物などが挙げられる。
樹脂としては、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドン、ニトロセルロース、酢酸セルロース、ケトン樹脂、アクリル樹脂、ポリスチレン樹脂、ウレタン樹脂、ポリビニルブチラール、ポリカーボネート、ポリオレフィン等を単独で又は２種以上混合して用いることができる。
有機材料層の形成は、蒸着、スパッタリング、ＣＶＤ、溶剤塗布などの通常の手段によって行うことができる。
塗布法を用いる場合には、上記有機材料などを有機溶剤に溶解し、スプレー、ローラーコーティング、ディッピング、スピンコーティングなどの慣用のコーティング法で行うことができる。用いられる有機溶剤としては、一般にメタノール、エタノール、イソプロパノールなどのアルコール類；アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン類；Ｎ，Ｎ−ジメチルアセトアミド、Ｎ，Ｎ−ジメチルホルムアミドなどのアミド類；ジメチルスルホキシドなどのスルホキシド類；テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジエチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテルなどのエーテル類；酢酸メチル、酢酸エチルなどのエステル類；クロロホルム、塩化メチレン、ジクロルエタン、四塩化炭素、トリクロルエタンなどの脂肪族ハロゲン化炭素類；ベンゼン、キシレン、モノクロルベンゼン、ジクロルベンゼンなどの芳香族類；メトキシエタノール、エトキシエタノールなどのセロソルブ類；ヘキサン、ペンタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサンなどの炭化水素類などが挙げられる。
下引層の好ましい膜厚は５〜１５０ｎｍ、上引層の好ましい膜厚は５〜５０ｎｍである。
【００３２】
〔反射層〕
反射層には、レーザ光に対する反射率が高い光反射性物質が使用される。
このような光反射性物質としては、例えば、Ａｌ、Ａｌ−Ｔｉ、Ａｌ−Ｉｎ、Ａｌ−Ｎｂ、Ａｕ、Ａｇ、Ｃｕ等の金属、半金属、及び合金を挙げることができる。これらの物質は単独で用いても二種以上を組合せて用いてもよい。
合金により反射層を形成する場合には、合金をターゲット材料としたスパッタ法で作製することができるが、これ以外に、チップオンターゲット方式（例えば、Ａｇターゲット上にＣｕチップを乗せて成膜）、共スパッタ法（例えば、ＡｇターゲットとＣｕターゲットを使用）によっても作製することができる。
また、金属以外の材料を用いて低屈折率層と高屈折率層を交互に積み重ねて多層膜を形成し、反射層として用いることも可能である。
反射層を形成する方法としては、例えば、スパッタ法、イオンプレーティング法、化学蒸着法、真空蒸着法等が挙げられる。
反射層の好ましい膜厚は、５〜１５０ｎｍである。
【００３３】
〔保護層、カバー層、オーバーコート層〕
反射層や光透過層等の上に形成する保護層、カバー層、オーバーコート層の材料としては、反射層や光透過層等を外力から保護するものであれば特に限定されず、種々の有機材料や無機材料が用いられる。
有機材料としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、電子線硬化性樹脂、ＵＶ硬化性樹脂等が挙げられる。
また、無機材料としては、ＳｉＯ２、Ｓｉ３Ｎ４、ＭｇＦ２、ＳｎＯ２等が挙げられる。
熱可塑性樹脂又は熱硬化性樹脂を用いて保護層、カバー層、オーバーコート層を形成する場合には、これらの樹脂を適当な溶剤に溶解し塗布液として塗布した後、乾燥することによって形成することができる。
紫外線硬化性樹脂は、樹脂原料をそのままか、あるいは適当な溶剤に溶解した塗布液を塗布した後、紫外線を照射して硬化させることによって形成することができる。
紫外線硬化性樹脂としては、例えば、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレートなどのアクリレート系樹脂を用いることができる。
これらの材料は単独で用いても混合して用いてもよいし、１層だけでなく多層膜にして用いてもよい。
保護層の形成方法としては、記録層と同様にスピンコート法やキャスト法等の塗布法、スパッタ法、化学蒸着法等が用いられるが、中でもスピンコート法が好ましい。
保護層の膜厚は、一般に０．１〜１００μｍの範囲であるが、本発明においては、３〜３０μｍが好ましい。
また、反射層あるいは光透過層面に更に基板を貼り合わせてもよく、反射層や光透過層面相互を内面として対向させ、光学記録媒体２枚を貼り合わせた構成としてもよい。
基板鏡面側に、表面保護やゴミ等の付着防止のために紫外線硬化樹脂層や無機系層等を成膜してもよい。
【００３４】
〔接着層〕
接着層は、光記録媒体の構成層、例えば、オーバーコート層とダミー基板、反射層と記録層などの接着の役割を担うものであり、光記録媒体として要求される特性に障害を与えない材料であれば特に制約はないが、生産性を考えると紫外線硬化型接着剤から構成されるものが好ましい。
【実施例】
【００３５】
以下、実施例を挙げて本発明を更に具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により限定されるものではない。
（実施例１〜５）
図３に示した層構成の追記型光記録媒体を次のようにして作製した。
厚さ１．１ｍｍのポリカーボネート製基板６上に、スパッタ法で、ＡｇＢｉ（Ｂｉ：１重量％）からなる膜厚５５ｎｍの反射層５、ＺｎＳ・ＳｉＯ２（８０：２０モル％）からなる膜厚１５ｎｍの上引層４、Ｂｉ２ＢＧＯｘからなる膜厚１６ｎｍの記録層３、ＺｎＳ・ＳｉＯ２（８０：２０モル％）からなる膜厚１０ｎｍの下引層２を順に成膜した。
更に下引層２上に、スピンコート法でＵＶ硬化性樹脂（日本化薬社製、Ｒ２７）を塗布し、厚さ０．１ｍｍのカバー層１を形成して、厚さ約１．２ｍｍの追記型光記録媒体を得た。
上記Ｂｉ２ＢＧＯｘのｘは酸化度を示し、該化合物では酸素欠損が生じていてもよい。上記記録層には、化学量論組成となる酸化物だけでなく、還元体（酸化される元素そのもの）が存在する。
上記追記型光記録媒体について、パルステック工業社製の光ディスク評価装置ＯＤＵ−１０００（波長：４０５ｎｍ、ＮＡ：０．８５）を用いて記録再生信号の評価を行い、横河電機社製のタイムインターバルアナライザＴＡ７２０を用いて解析を行った。
【００３６】
記録は、図４に示したレーザ発光パターンにより行った。（ａ）は波形図、（ｂ）は各パラメータである。記録線速度は６ｘ（２９．５２ｍ／ｓ）とした。
表１に記録パワーを変えたときのマーク前のスペース長さと記録マーク長さによるリーディングエッジのＤｅｖｉａｔｉｏｎ値をプロットした結果を示し、図５（Ａ）〜（Ｄ）にマーク長毎にプロットした結果を示す。ここで記録特性は今回のデータの中で最も低い記録パワーＰｗｂ＝９．２ｍＷの時にボトムジッタ６．５％が得られている。
【００３７】
【表１】
2009224008.tif 000003
【００３８】
図５（Ａ）の２Ｔマーク（２Ｔｍ）においては、２Ｔ、３Ｔスペース（２Ｔｓ、３Ｔｓ）後では記録パワーの高い方がＤｅｖｉａｔｉｏｎ（ふらつき）がゼロに近づくが、４Ｔ以上の長いスペースの後では記録パワーを上げても変化がないか若干Ｄｅｖｉａｔｉｏｎが大きくなる。
（Ｂ）の３Ｔマークにおいては２Ｔスペース後では記録パワーの高い方がＤｅｖｉａｔｉｏｎがゼロに近づくが、３Ｔ以上のスペースの後では記録パワーを上げない方がＤｅｖｉａｔｉｏｎがゼロに近づく。
（Ｃ）及び（Ｄ）の４Ｔマーク及び８Ｔマークでは（５Ｔ〜７Ｔマークも同様の挙動のためグラフにはしていない。）スペースの長さによらず、記録パワーが低い方がＤｅｖｉａｔｉｏｎがゼロに近い。
【００３９】
これらをまとめると、図６に示すような記録パワーのパラメータが最適となり、Ｐｗｂ＝９．２ｍＷ、Ｐｗａ＝１０．０ｍＷ、Ｐｗａ／Ｐｗｂ＝１．０９となる。
なお、具体的なジッタ値については装置が対応していないため、測定できていない。
このように最適化したパラメータを用いて記録することで、微細な記録マークの高線速での記録においても正確な記録マークエッジで記録することができる。
マーク後のスペースについても同様に最適なパラメータを求めることができる。
【００４０】
図７、図８に基づいて、エッジシフト補正よりも記録パワーを変化させた方が高速・超高密度記録に効果があることを説明する。
図７（ｂ）はエッジシフトさせた時の、図７（ａ）は記録パワーを変化させた時の、２ＴマークのリーディングエッジのＤｅｖｉａｔｉｏｎをそれぞれ示している。
図８（ｂ）じゃエッジシフトさせた時の、図８（ａ）は記録パワーを変化させた時のパワーマージンをそれぞれ示している。
図７（ｂ）で２Ｔスペース後の２Ｔマーク（以下「２Ｔｓ−２Ｔｍ」という）位置を補正しようとエッジシフトさせた場合、２Ｔｓ−２Ｔｍの位置は所望の位置に補正されるが、その他（３Ｔｓ−２Ｔｍ等）のエッジ位置は相対的に逆側に動いてしまい、全体的な記録品質としては悪くなってしまい、図８（ｂ）に示すように記録パワーマージンが狭くなってしまう。
【００４１】
図７（ａ）に示すように２Ｔｓ−２Ｔｍの記録パワーを変えた場合では、２Ｔｓ−２Ｔｍの位置が所望の位置に補正され、その他のエッジ位置はほとんど変化しない。
そのため、２ｔｓ−２Ｔｍの記録品質が上がるが、その他の記録品質には影響せず、全体的な記録品質が良くなり、図８（ａ）に示すように記録パワーマージンが広くなる。したがって、エッジシフトより記録パワーを変化させた方が記録品質改善に効果的であることが判る。
【００４２】
２Ｔｓ、３Ｔｓのようにマーク前のスペースが短い場合は、前の記録で生じた熱がスペースで十分冷め切らず、マークの記録開始の温度が通常より高い状態となる。
一般的に考えると記録マーク形成温度に近い状態の方が所望の温度になりやすいため、記録品質が良くなると考えられ、記録パワーを上げる必要はないように思われる。
しかしながら、前スペースが短い場合には記録パワーを上げた方が上述のように効果が大きい結果が得られる。
これは、記録パワーを上げることによりレーザの立ち上がり時間が短くなり、マークエッジが急峻になる方が記録品質への影響が大きくなることを意味する。
このマークエッジの急峻性を利用することにより、青色レーザ対応の光記録媒体における高線速記録も可能となる。
【００４３】
図９に上記した記録方法を実施するための情報記録装置／情報再生装置の構成の概要を示す。
情報再生装置は、情報記録媒体１０、ディスクドライブ２０、装置全体の制御を行うコントローラ３０を有している。コントローラ３０は、特にディスクドライブ２０の信号処理部２２、サーボ制御部２１、光ピックアップ２３、ディスク駆動部２４などの制御を行う。
信号処理部２２は、情報記録媒体１０に記録するのに適した信号を作成する。光ピックアップ２３は、この信号に対応した光を照射する。また、光を照射し再生信号を検出し信号処理部で情報に変換し再生を行う。
ここでは情報記録媒体１０からの反射光を検出し再生を行う例を示したが、透過光を検出し再生を行うような装置としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の実施形態に係る、記録パワーを変えて記録マークの位置の微細調整原理を示す発光波形図である。
【図２】マークエッジの位置とデビエーションの分布の説明図である。
【図３】記録媒体の要部断面図である。
【図４】記録パルスとパラメータ設定値との関係を示す図である。
【図５】記録マーク長毎のリーディングエッジのデビエーションを示す図である。
【図６】記録パワーの最適なパラメータを示す図である。
【図７】２Ｔマークのリーディングエッジのデビエーションを示す特性図で、（ａ）は記録パワーを変化させた場合、（ｂ）はエッジシフトをした場合の図である。
【図８】パワーマージンを示す特性図で、（ａ）は記録パワーを変化させた場合、（ｂ）はエッジシフトをした場合の図である。
【図９】情報再生装置の概要構成図である。
【図１０】単パルスによるマーク記録の模式図である。
【図１１】マルチパルスによるマーク記録の模式図である。
【図１２】キャッスル型パルスによるマーク記録の模式図である。
【図１３】Ｌ字型パルスによるマーク記録の模式図である。
【図１４】逆Ｌ字型パルスによるマーク記録の模式図である。
【図１５】マークエッジがずれた状態を示す模式図である。
【図１６】マークエッジをエッジシフトにより補正した状態を示す模式図である。
【図１７】マークエッジ補正のパラメータの一例を示す図である。
【符号の説明】
【００４５】
２Ｔｍ、３Ｔｍ  記録マーク
２Ｔｓ、３Ｔｓ  スペース
１０  記録媒体
Ｐｗ  記録パワー
【図１】
2009224008.tif 000004
【図２】
2009224008.tif 000005
【図３】
2009224008.tif 000006
【図４】
2009224008.tif 000007
【図５】
2009224008.tif 000008
【図６】
2009224008.tif 000009
【図７】
2009224008.tif 000010
【図８】
2009224008.tif 000011
【図９】
2009224008.tif 000012
【図１０】
2009224008.tif 000013
【図１１】
2009224008.tif 000014
【図１２】
2009224008.tif 000015
【図１３】
2009224008.tif 000016
【図１４】
2009224008.tif 000017
【図１５】
2009224008.tif 000018
【図１６】
2009224008.tif 000019
【図１７】
2009224008.tif 000020