(57)【要約】【課題】外部抵抗を備える半導体集積回路において、外部抵抗の抵抗値を容易に変更可能にする技術を提供する。【解決手段】外部抵抗を備える半導体集積回路であって、半導体集積回路の入出力インピーダンスは、外部抵抗の抵抗値に基づいて調整され、外部抵抗は、その抵抗値として、複数の抵抗値の中から所望の抵抗値を選択できるように形成されていることを特徴とする半導体集積回路。【選択図】図１
2009135570.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部抵抗を備える半導体集積回路であって、
前記半導体集積回路の入出力インピーダンスは、前記外部抵抗の抵抗値に基づいて調整され、
前記外部抵抗は、
その抵抗値として、複数の抵抗値の中から所望の抵抗値を選択できるように形成されていることを特徴とする半導体集積回路。
【請求項２】
請求項１に記載の半導体集積回路において、
前記外部抵抗は、
複数の抵抗と、
前記複数の抵抗を選択的に接続させるトランジスタと、
を備えると共に、
前記トランジスタのゲートに制御信号が印加されることにより、前記外部抵抗の前記所望の抵抗値が選択されることを特徴とする半導体集積回路。
【請求項３】
請求項１または２に記載の半導体集積回路であって、
ＵＳＢ規格に準拠することを特徴とする半導体集積回路。
【請求項４】
請求項２または３に記載の半導体集積回路を備える装置であって、
前記トランジスタのゲートに、前記制御信号を印加する制御信号送出部を、さらに備えることを特徴とする装置。
【請求項５】
請求項４に記載の装置であって、
前記制御信号送出部は、
前記装置の外部から入力される指示にしたがって、前記制御信号を送出することを特徴とする装置。
【請求項６】
請求項４または５に記載の装置は、外部メモリに格納されている画像データを取り込んで、取り込まれた画像データに基づいて画像を表示させるプロジェクタであって、
前記半導体集積回路は、
前記外部メモリに格納されている画像データを、前記プロジェクタが備える外部メモリスロットを介して読み込む機能を有することを特徴とするプロジェクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、通信波形を調整可能な外部抵抗を備える半導体集積回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）デバイスとなるＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ：半導体集積回路）チップには、ＵＳＢホストとの間の通信波形および読み込みタイミングを適正にするように、ＩＣの入出力インピーダンスを調整するために、外部抵抗が設けられているものがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
その外部抵抗については、ＩＣチップの製造メーカによって推奨値が定められている。しかしながら、ＩＣチップの固体差があるため、製造メーカの推奨値に従って外部抵抗の抵抗値を定めても、適正に使用できない場合がある。また、基板が異なると配置等が違ってくるため、その基板に適する外部抵抗の抵抗値が異なり、基板が変わるたびに、外部抵抗の抵抗値を変更する必要があった。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２９８３９５号公報
【特許文献２】特開２００４−６７８９号公報
【特許文献３】特開２００６−１００３８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このように、ＩＣの通信波形等を適正にするように、ＩＣの入出力インピーダンスを調整するために、外部抵抗の抵抗値を調整する場合には、所定の抵抗値の抵抗を付けて、ＵＳＢホストとＵＳＢデバイスとの間の通信波形を測定し、通信波形が適正でない場合には、別の抵抗値の抵抗を付けて、再び、通信波形を測定するというように、抵抗をいくつか取り替えて、適正な抵抗値を見つけていた。そのため、抵抗を取り替えるのに、手間がかかるという問題があった。
【０００６】
なお、このような問題は、ＵＳＢ規格に準拠する半導体集積回路に限らず、外部抵抗によって、入出力インピーダンスを調整する半導体集積回路に共通する問題であった。
【０００７】
そこで、本発明は、外部抵抗を備える半導体集積回路において、外部抵抗の抵抗値を容易に変更可能にする技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
【０００９】
［適用例１］  外部抵抗を備える半導体集積回路であって、
前記半導体集積回路の入出力インピーダンスは、前記外部抵抗の抵抗値に基づいて調整され、
前記外部抵抗は、
その抵抗値として、複数の抵抗値の中から所望の抵抗値を選択できるように形成されていることを特徴とする半導体集積回路。
【００１０】
このようにすると、外部抵抗が、複数の抵抗値の中から所望の抵抗値を選択できるように形成されているため、外部抵抗の抵抗値を変更する際に、抵抗ごと交換する場合と比べて、外部抵抗の抵抗値を、容易に変更することができるようになる。
【００１１】
［適用例２］  適用例１に記載の半導体集積回路において、
前記外部抵抗は、
複数の抵抗と、
前記複数の抵抗を選択的に接続させるトランジスタと、
を備えると共に、
前記トランジスタのゲートに制御信号が印加されることにより、前記外部抵抗の前記所望の抵抗値が選択されることを特徴とする半導体集積回路。
【００１２】
[適用例３]   適用例１または２に記載の半導体集積回路であって、
ＵＳＢ規格に準拠することを特徴とする半導体集積回路。
【００１３】
[適用例４]   適用例２または３に記載の半導体集積回路を備える装置であって、
前記トランジスタのゲートに、前記制御信号を印加する制御信号送出部を、さらに備えることを特徴とする装置。
【００１４】
[適用例５]   適用例４に記載の装置であって、
前記制御信号送出部は、
前記装置の外部から入力される指示にしたがって、前記制御信号を送出することを特徴とする装置。
【００１５】
このようにすると、例えば、装置に、ＰＣを接続してＰＣから制御信号を送出させる指示を入力させれば、容易に、外部抵抗の抵抗値を変更することができる。
【００１６】
なお、本発明は、上記した半導体集積回路の態様に限ることなく、その半導体集積回路が搭載されたプロジェクタ、プリンタ、ＰＣとしての態様など、種々の態様で実現することも可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明を実施するための最良の形態を、実施例に基づいて、以下の順序で説明する。
Ａ．第１の実施例：
Ａ−１．実施例の構成：
Ａ−２．外部抵抗の抵抗値の決定：
Ａ−３．実施例の効果
Ｂ．第２の実施例
Ｂ−１．実施例の構成：
Ｂ−２．実施例の動作：
Ｂ−３．実施例の効果
Ｃ．変形例：
【００１８】
Ａ．第１の実施例：
Ａ−１．実施例の構成
本実施例において、本発明の半導体集積回路（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ：以下、「ＩＣ」と省略する。）は、ＵＳＢデバイス４０として用いられる。図１は、本発明の第１の実施例としてのＵＳＢデバイス４０が装着されている基板１００を示すブロック図である。基板１００は、プロジェクタに搭載されるものである。基板１００には、ＣＰＵ１０と、メモリ２０と、ＵＳＢホスト３０と、ＵＳＢデバイス４０と、ＰＣ接続用コネクタ５０と、メモリソケット６０と、が主に装着されている。これらの構成要素は、バスで接続されている。特に、ＵＳＢホスト３０とＵＳＢデバイス４０とは、２本のディファレンシャル信号線で繋がっている。
【００１９】
ＣＰＵ１０は、メモリ２０に格納されたコンピュータプログラムに従って種々の処理や制御を行う。また、ＣＰＵ１０は、後述するように、外部に接続されたＰＣからの指示に従って、ＵＳＢデバイス４０としてのＩＣの通信波形を調整する外部抵抗４２に対して制御信号を送出する制御信号送出部としても機能する。メモリ２０は、ＥＥＰＲＯＭやＮＡＮＤ  Ｆｌａｓｈ  ＲＯＭ等の書き換え可能な不揮発性メモリで構成されている。メモリ２０には、プロジェクタ用のコンピュータプログラムや、後述する外部抵抗に関する情報等が格納される。
【００２０】
ＵＳＢデバイス４０は、ＳＤカード、メモリスティック、コンパクトフラッシュ（登録商標）等の外部メモリ３００に格納されている画像データ（静止画像、動画像を含む）を読み込む機能を有する。ＵＳＢデバイス４０は、外部抵抗４２を備え、外部抵抗４２の抵抗値に基づいて、入出力インピーダンスが調整されるように、構成されている。
【００２１】
図２は、外部抵抗４２の概略構成を示す回路図である。外部抵抗４２は、抵抗値１ｋΩの抵抗Ａ、２ｋΩの抵抗Ｂ、４ｋΩの抵抗Ｃ、８ｋΩの抵抗Ｄ、１６ｋΩの抵抗Ｅとが並列に、トランジスタＴ１〜Ｔ５を介して接続され、各トランジスタＴ１〜Ｔ５に制御信号が印加されることにより、各抵抗Ａ〜Ｅが、選択的に接続される。
【００２２】
外部抵抗４２の抵抗値を変更する場合には、図１に示すように、ＰＣ接続用コネクタ５０を介して、ＰＣ２００を接続する。外部抵抗４２の抵抗値を調整する者が、ＰＣ２００を用いて、ＣＰＵ１０に対して、トランジスタＴ１〜Ｔ５に対して所定の制御信号を送出するように指示を出すと、ＣＰＵ１０は、その指示に従って、トランジスタＴ１〜Ｔ５に対して、ＯＮ／ＯＦＦ信号を印加する。例えば、トランジスタＴ１に対してＯＮ信号、トランジスタＴ２〜Ｔ５に対して、ＯＦＦ信号が印加された場合には、抵抗Ａのみが接続され、外部抵抗の抵抗値は、１０００Ωになる。また、トランジスタＴ１、Ｔ２にＯＮ信号が印加され、他のトランジスタＴ３〜Ｔ５にＯＦＦ信号が印加された場合には、抵抗Ａと抵抗Ｂが並列に接続され、外部抵抗の抵抗値は、６６６．６６７Ωになる。このように、外部抵抗４２の抵抗値は、ＰＣ２００を用いて、容易に変更することができる。
【００２３】
図３は、並列に接続される各抵抗Ａ〜Ｆの組み合わせと、その組み合わせによる外部抵抗４２の抵抗値を示す表である。図３では、各組み合わせに対して、抵抗値の小さい順から、昇順で番号を振り、その番号を、パラメータとしている。図４は、外部抵抗４２の備える抵抗Ａ〜Ｆの組み合わせによる抵抗値の変化を示すグラフである。図４では、図３におけるパラメータを横軸に、縦軸に抵抗値を示している。図５は、図４のＸ部（パラメータ１〜２４）を、拡大して示すグラフである。図３〜５に示すように、抵抗Ａ〜Ｆの組み合わせを変えることにより、外部抵抗４２の抵抗値を変更することができる。特に、図５に示すように、パラメータ１〜２４の組み合わせでは、外部抵抗４２の抵抗値を、細かく変えることができる。すなわち、ＰＣ２００を用いて、外部抵抗４２の抵抗値を、図３〜５に示す３１通りの中から、容易に選択することができる。
【００２４】
Ａ−２．外部抵抗の抵抗値の決定：
上記したように、外部抵抗４２は、複数の抵抗値から任意の抵抗値を選択できるように構成されている。本実施例では、プロジェクタの試作の段階で、開発者が、ＵＳＢデバイス４０の通信波形を見ながら、外部抵抗４２の抵抗値を決定する。具体的には、Ｄ＋／Ｄ−信号線に、差動プローブを介してオシロスコープを接続し、ＵＳＢデバイス４０からの信号の波形をオシロスコープ(図示しない)で取り込む。オシロスコープ(図示しない)で取り込んだ信号の波形からアイパターンを生成し、ＵＳＢコンプライアンステストに定められているアイパターンのリミット線（マスクパターンともいう）にかからないように、波形を調整する。ここで、アイパターンとは、デジタル伝送信号を、横軸を時間、縦軸を電圧として１ＵＩ（ユニットインターバル）ごとに、重ねて表示したものである。なお、１ＵＩとは、デジタル信号の信号周期であり、０、１を切替える最小時間幅のことをいう。アイパターンのリミット線は、六角形状またはひし形状をしている。
【００２５】
図６は、アイパターンを用いた通信波形の評価方法を説明するための説明図である。図６（ａ）は、一般的な差動伝送信号（１→０→１→０→１→０→）の波形を示し、（ｂ）は、（ａ）の差動信号のアイパターンＩと、リミット線Ｌ、（ｃ）は本実施例におけるアイパターンの一例を示す。
【００２６】
例えば、開発者は、最初に、ＰＣ２００から指示を出して、外部抵抗４２の抵抗を、抵抗値１０００Ω（パラメータ１６）にする。そして、ＵＳＢデバイス４０からの信号をオシロスコープで取り込んで、アイパターンを確認する。図６（ｃ）に示すように、このときのＵＳＢデバイス４０の通信波形のアイパターンＩ１０は、振幅のリミット線を越えている。そこで、次に、開発者は、外部抵抗４２の抵抗値を１０６６．６６７Ω（パラメータ１７）に変更して、再び、ＵＳＢデバイス４０からの信号をオシロスコープで取り込んで、アイパターンを確認する。図６（ｃ）に示すように、このときのＵＳＢデバイス４０の通信波形のアイパターンＩ２０は、振幅のリミット線内に収まっており、かつ、六角形のアイパターンにも、かかっていない。そこで、開発者は、外部抵抗４２の抵抗値を、そのままにして、実際に、外部メモリ３００から動画像データを読み込んで、プロジェクタで投写し、その映像を確認する。
【００２７】
通信波形が適正でない場合には、間欠的な画像データとなり、動画の動きがガタダタになったり、動画像データが送られず、動画を投写できなくなったりする。仮に、そのようになった場合には、再度、外部抵抗４２の抵抗値を変更して（例えば、９４１．１７６５Ω（パラメータ１５））、波形を調整し、アイパターンを確認する。一方、正常に、動画が表示された場合には、外部抵抗４２の抵抗値を、１０６６．６６７Ω（パラメータ１７）に決定する。
【００２８】
販売される製品では、試作において決定された抵抗値に関する情報（パラメータ、組み合わせ、抵抗値）が、メモリ２０に記憶されている。そして、ユーザが、プロジェクタを起動すると、ＣＰＵ１０が、メモリ２０に記憶されている抵抗値に関する情報に基づいて、外部抵抗４２のトランジスタＴ１〜Ｔ５に制御信号を印加して、外部抵抗４２の抵抗値を、メモリ２０に記憶されている抵抗値にする。そうすると、ＵＳＢデバイス４０の通信波形が適正になるような入出力インピーダンスに調整されるため、外部メモリ３００から画像データを読み込んで、その画像を投写させることができる。
【００２９】
Ａ−３．実施例の効果：
本実施例の効果について、比較例（従来のＵＳＢデバイス）と比較して説明する。図７は、比較例のＵＳＢデバイス４０Ｐが装着されている基板を示すブロック図である。従来は、ＵＳＢデバイス４０Ｐは、所定の抵抗値（固定値）の外部抵抗４２Ｐを備えていた。ＵＳＢデバイス４０Ｐの通信波形を適正にするように、入出力インピーダンスを調整するためには、上記したように、アイパターンを確認しながら、外部抵抗の抵抗値を変更して、適正な抵抗値を見つけ出す必要がある。従来のＵＳＢデバイス４０Ｐにおいて、適正な抵抗値を見つける場合には、所定の抵抗値の抵抗を接続してアイパターンを確認し、通信波形が適正でない場合には、抵抗を別の抵抗値の抵抗に交換し、再度、アイパターンを確認するという工程を繰り返していたため、手間がかかっていた。
【００３０】
それに対して、本実施例のＵＳＢデバイス４０では、外部抵抗４２が、複数の抵抗と、トランジスタを備えている。そして、外部抵抗４２は、ＣＰＵ１０からトランジスタに印加される制御信号にしたがって、それらの抵抗の接続の可否が変更されて、その抵抗の組み合わせにより外部抵抗４２の抵抗値が変更されるように構成されている。本実施例における外部抵抗４２の構成は簡単で安価であり、比較例に比べて、容易に外部抵抗４２の抵抗値を変更することができる。
【００３１】
Ｂ．第２の実施例：
Ｂ−１．実施例の構成：
続いて、第２の実施例について説明する。図８は、本発明の第２の実施例としてのプロジェクタＰＪの構成を示すブロック図である。プロジェクタＰＪは、照明光学系７０と、液晶パネル８０と、投写光学系９０と、ＣＰＵ１０Ａと、画像処理部１２と、メモリ２０Ａと、ＵＳＢホスト３０と、ＵＳＢデバイス４０と、外部接続用コネクタ５０Ａと、メモリソケット６０と、を主に備える。なお、プロジェクタＰＪには、さらに、図示しない操作部が設けられている。操作部は、プロジェクタＰＪ本体に設けられるボタンや、リモコンなどを含んでいる。ユーザは、操作部を操作することによって、プロジェクタＰＪに関する種々の設定を行うことができる。
【００３２】
液晶パネル８０は、画像処理部１２から与えられる画像データを用いて、照明光学系７０から射出された光を変調し、画像を表す光を射出する。
【００３３】
投写光学系９０は、液晶パネル８０から射出された光をスクリーン上に投写し、この結果、スクリーン上に画像が表示される。
【００３４】
ＣＰＵ１０Ａと、画像処理部１２と、メモリ２０Ａと、ＵＳＢホスト３０と、ＵＳＢデバイス４０と、外部接続用コネクタ５０Ａと、メモリソケット６０とは、バスで接続されている。特に、ＵＳＢホスト３０とＵＳＢデバイス４０とは、２本のディファレンシャル信号線で繋がっている。各構成要素のうち、第１の実施例と同様の機能を有するものには、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００３５】
ＣＰＵ１０Ａは、メモリ２０Ａに格納されたコンピュータプログラムに従って種々の処理や制御を行う。メモリ２０Ａには、インピーダンス調整部として機能するコンピュータプログラム等が格納されている。インピーダンス調整部としての機能は、ＣＰＵ１０Ａがコンピュータプログラムを実行することによって実現される。
【００３６】
画像処理部１２は、例えば、外部接続用コネクタ５０Ａに接続されたＰＣ２１０、ＤＶＤプレイヤー２２０、外部メモリ３００等、外部から与えられた画像データに対して画像処理を施して、処理済み画像データを、液晶パネル８０に供給する。
【００３７】
インピーダンス調整部は、後に詳述するように、外部抵抗４２に、制御信号を印加して、外部抵抗４２の抵抗値を変更しながら、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが適正になる外部抵抗４２の抵抗値を設定する。具体的には、メモリ２０Ａには、インピーダンス調整部として機能するコンピュータプログラムと共に、定数テーブルおよび後述するテストパケット用のテストコンテンツが格納されている。外部抵抗４２は、第１の実施例と同一の、抵抗値を変更可能な抵抗である。定数テーブルは、外部抵抗４２の備える抵抗Ａ〜Ｅの接続の組み合わせと、その組み合わせによる外部抵抗４２の抵抗値を示すテーブルである。すなわち、図３に示すテーブルが、本実施例における定数テーブルである。本実施例では、抵抗Ａ〜Ｅの接続の組み合わせに対して付された番号をパラメータ、その組み合わせによる外部抵抗４２の抵抗値を定数と称する。インピーダンス調整部は、パラメータ１の定数から順に、定数を変更し、その都度、ＵＳＢホスト３０、ＵＳＢデバイス４０間の通信状況に基づいて、入出力インピーダンスが適正か否か判定し、適正な定数（抵抗値）を決定する。
【００３８】
Ｂ−２．実施例の動作：
図９は、本実施例のプロジェクタＰＪにおいて実行される、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが適性になる外部抵抗４２の抵抗値を設定する処理の流れを示すフローチャートである。本ルーチンは、ユーザ（後述する点検者を含む）が操作部(図示しない)を操作して、プロジェクタＰＪを起動する際に、実行される。以下に、プロジェクタＰＪが組み上げられ、完成した後、出荷される前の点検時に、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが自動的に調整される場合を例に挙げて、本実施例の動作を説明する。
【００３９】
本実施例では、第１の実施例とは異なり、プロジェクタＰＪが製品として、完成しているため、点検者は、Ｄ＋／Ｄ−信号線に、差動プローブを介してオシロスコープを接続して、アイパターンを確認しながら、通信波形が適性になるように、入出力インピーダンスを調整することができない。そのため、ＣＰＵ１０Ａは、外部抵抗４２の抵抗値を変更しては、ＵＳＢデバイス４０からテストパケットを所定時間送信させて、ＵＳＢホスト３０におけるそのテストパケットの受信状況に基づいて、入出力インピーダンスが適正か否か判定する。
【００４０】
ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが適正でない場合には、ＵＳＢホスト３０がそのテストパケットを受信できない場合があり、その場合には、ＵＳＢデバイス４０に対して再送要求を送信する。その再送要求が送信された回数が、所定の閾値以上である場合には、ＣＰＵ１０Ａは、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが適正でない、と判定する。そして、外部抵抗４２の抵抗値を変更して、再度、同じように入出力インピーダンスが適正か否か判定する。入出力インピーダンスが適正と判定された場合（再送要求の送信回数が閾値以下の場合）には、その抵抗値に対応するパラメータが、メモリ２０Ａに保存される。一旦、メモリ２０Ａに、パラメータが記憶されると、その後プロジェクタＰＪを起動した場合には、メモリ２０Ａに記憶されているパラメータに従って、外部抵抗４２の抵抗値が設定される。以下に、外部抵抗４２の抵抗値を決定する流れを、図９に基づいて説明する。
【００４１】
点検者が、プロジェクタＰＪの電源を入れると、ＣＰＵ１０Ａは、まず、メモリ２０Ａにパラメータが保存されているか否か判定する（ステップＳ１０２）。本実施例では、メモリ２０Ａにパラメータが保存されていないため（ステップＳ１０２においてＮＯ）、ＣＰＵ１０Ａは、初期定数になるように、外部抵抗４２に対して制御信号を送信する（ステップＳ１０４）。本実施例では、初期定数は、パラメータ１に対応する５１６．１２９Ω（図３）である。従って、ＣＰＵ１０Ａは、トランジスタＴ１〜Ｔ５全てに対して、ＯＮ信号を送信する。
【００４２】
続いて、ＣＰＵ１０Ａは、ＵＳＢホスト３０を介して、ＵＳＢデバイス４０にテストパケットを送信させる（ステップＳ１０６）。そうすると、所定時間の間に、所定回数のテストパケットが、ＵＳＢデバイス４０からＵＳＢホスト３０に対して送出される。上記したように、ＵＳＢホスト３０は、テストパケットを受信できない場合には、ＵＳＢデバイス４０に対して、再送要求を送信する。所定時間経過後、ＣＰＵ１０Ａは、ＵＳＢホスト３０が再送要求を送信した回数が所定の閾値以上か否か判定する（ステップＳ１０８）。
【００４３】
送信要求の回数が、閾値以上の場合には（ステップＳ１０８）、ＣＰＵ１０Ａは、次のパラメータ（仮パラメータ＝２）を選択した後(ステップＳ１１０)、仮パラメータが、定数テーブル内のパラメータか否か判定する(ステップＳ１１２)。仮パラメータ（＝２）は、定数テーブル内のパラメータであるため（ステップＳ１１２においてＹＥＳ）、ＣＰＵ１０Ａは、定数テーブル(図３)に従って、仮パラメータに対応する定数（＝５３３．３３３３Ω）になるように、外部抵抗４２に対して制御信号を送信する（ステップＳ１１４）。すなわち、ＣＰＵ１０Ａは、トランジスタＴ１〜Ｔ４それぞれに対してＯＮ信号を、トランジスタＴ５に対してＯＦＦ信号を送信する。
【００４４】
そして、再び、ＣＰＵ１０Ａは、ＵＳＢデバイス４０にテストパケットを送信させ（ステップＳ１０６）、上記と同様に、ＵＳＢホスト３０が再送要求を送信した回数が所定の閾値以上か否か判定する（ステップＳ１０８）。再送要求の回数が閾値よりも少ない場合には（ステップＳ１０８においてＮＯ）、ＣＰＵ１０Ａは、定数を５３３．３３３３Ωに決定し、パラメータ２をメモリ２０Ａに保存する（ステップＳ１１６）。そして、ＣＰＵ１０Ａは、メモリ２０Ａに保存されたパラメータに従って、外部抵抗４２に対して制御信号を送信し(ステップＳ１１８)、外部抵抗４２の抵抗値を設定し、本ルーチンを終了する。
【００４５】
以上のように、一旦、定数が決定され、パラメータがメモリ２０Ａに保存されると、その後プロジェクタＰＪを起動した場合には、ＣＰＵ１０Ａは、メモリ２０Ａにパラメータが保存されていると判定し（ステップＳ１０２においてＹＥＳ）、メモリ２０Ａに保存されているパラメータに従って、外部抵抗４２に対して制御信号を送信し(ステップＳ１１８)、外部抵抗４２の抵抗値を設定し、本ルーチンを終了する。
【００４６】
なお、ステップＳ１１０では、１→２→３→・・・のように、パラメータが順次大きくなるように選択される。例えば、パラメータ３１まで、ステップＳ１０６〜Ｓ１１４を繰り返し、その間に、再送要求の回数が閾値よりも少なくなることがなかったら、ステップＳ１１０において、仮パラメータとして、３２が選択される。そうすると、仮パラメータは、定数テーブル内に存在しないため（ステップＳ１１２においてＮＯ）、ＣＰＵ１０Ａは、エラー処理を実施して（ステップＳ１２０）、本ルーチンを終了する。
【００４７】
上記したように、定数テーブル(図３)に記載されている全ての定数について、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが適正でないとすると、ＵＳＢデバイス４０に異常があることが考えられる。そこで、例えば、エラー処理としては、エラーメッセージをスクリーンに表示させたり、プロジェクタＰＪの備える操作部の警告ランプを点灯させるなど、点検者に対して、異常を知らせる処理であればよい。
【００４８】
Ｂ−３．実施例の効果：
上記したように、本実施例のプロジェクタＰＪによれば、プロジェクタＰＪが起動される際に、ＣＰＵ１０Ａによって、自動的に、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスが適性になるように、外部抵抗４２の抵抗値が設定される。したがって、第１の実施例に比べて、さらに、ＵＳＢデバイス４０の入出力インピーダンスを調整する際の手間を軽減することができる。
【００４９】
Ｃ．変形例
なお、本発明は上記した実施例に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様にて実施することが可能である。
【００５０】
（１）上記した実施例において、外部抵抗４２は、１ｋΩ、２ｋΩ、４ｋΩ、８ｋΩ、１６ｋΩの抵抗を備え、それらを並列に接続する組み合わせを変更することにより、外部抵抗４２の抵抗値を変更しているが、外部抵抗４２が備える抵抗の抵抗値、およびその接続方法は、上記した実施例に限定されない。ＵＳＢデバイス４０として使用されるＩＣに応じて、適宜選択すればよい。そのようにしても、上記した実施例と同様の効果を得ることができる。
【００５１】
（２）上記した実施例において、外部抵抗４２を備えるＩＣとして、外部メモリ３００に格納されている画像データを読み込む機能を有するものを示したが、ＩＣの機能は、上記した実施例に限定されない。外部抵抗４２を備えるＩＣであって、その外部抵抗４２の抵抗値によって、入出力インピーダンスが調整されるように構成されているＩＣであればよい。そのようなＩＣであっても、外部抵抗を上記した実施例と同様の構成にすることにより、同様の効果を得ることができる。
【００５２】
（３）上記した実施例において、外部抵抗４２を備えるＩＣが、プロジェクタに搭載される場合を例に挙げて説明したが、プロジェクタに搭載されるＩＣに限定されず、プリンタ、ＰＣ等、種々の装置に搭載されるＩＣであってもよい。そのようなＩＣであっても、外部抵抗を上記した実施例と同様の構成にすることにより、同様の効果を得ることができる。
【００５３】
（４）上記した実施例において、外部抵抗４２を備えるＩＣとして、ＵＳＢ規格に準拠するものを示したが、ＵＳＢ規格に準拠するものに限定されず、ＩＥＥＥ１３９４規格に準拠するものであってもよい。
【００５４】
（５）上記した実施例において、外部抵抗４２の備える抵抗Ａ〜ＥをトランジスタＴ１〜Ｔ５を介して接続し、トランジスタＴ１〜Ｔ５に制御信号を印加することにより、抵抗Ａ〜Ｅの接続可否を変更するものを示したが、例えば、トランジスタＴ１〜Ｔ４に代えてＯＮ抵抗の低いゲート素子を内包したロジック、または手動で接続の可否を切替えるスイッチを設けたり、リレーを設けるようにしてもよい。
【００５５】
（６）上記した第２の実施例において、ＵＳＢデバイス４０が送出するテストパケット用のテストコンテンツは、メモリ２０Ａに格納され、ＣＰＵ１０ＡがＵＳＢデバイス４０を制御することにより、テストパケットを送出させているが、例えば、ＵＳＢデバイス４０が、ＣＰＵとメモリを備え、その備えるメモリ内に、テストパケットを送出させるプログラムおよびテストコンテンツが格納されるように構成してもよい。このようにしても、第２の実施例と同様の効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の第１の実施例としてのＵＳＢデバイス４０が装着されている基板１００を示すブロック図である。
【図２】外部抵抗４２の概略構成を示す回路図である。
【図３】並列に接続される各抵抗Ａ〜Ｆの組み合わせとその組み合わせによる外部抵抗４２の抵抗値を示す表である。
【図４】外部抵抗４２の備える抵抗Ａ〜Ｆの組み合わせによる抵抗値の変化を示すグラフである。
【図５】図４のＸ部を拡大して示すグラフである。
【図６】アイパターンを用いた通信波形の評価方法を説明するための説明図である。
【図７】比較例のＵＳＢデバイス４０Ｐが装着されている基板を示すブロック図である。
【図８】本発明の第２の実施例としてのプロジェクタＰＪの構成を示すブロック図である。
【図９】本実施例のプロジェクタＰＪにおいて実行される外部抵抗４２の抵抗値を設定する処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５７】
１０、１０Ａ…ＣＰＵ
１２…画像処理部
２０、２０Ａ…メモリ
３０…ＵＳＢホスト
４０、４０Ｐ…ＵＳＢデバイス
４２、４２Ｐ…外部抵抗
５０Ａ…外部接続用コネクタ
５０…ＰＣ接続用コネクタ
６０…メモリソケット
７０…照明光学系
８０…液晶パネル
９０…投写光学系
１００…基板
２００、２１０…ＰＣ
３００…外部メモリ
Ｉ…アイパターン
Ｌ…リミット線
ＰＪ…プロジェクタ
Ｔ１〜Ｔ５…トランジスタ
ＰＪ…プロジェクタ
Ｉ１０、Ｉ２０…アイパターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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