(57)【要約】【課題】透過原稿の画像読み取り機能を有する画像読取装置において、画像読み取りのスループットを低下させずに、高度な画像処理手段と大容量の画像ワークメモリとを搭載する必要がない画像読取装置を提供することを目的とする。【解決手段】透過原稿を照明する可視光源と、上記透過原稿を照明する赤外光源と、上記透過原稿の画像を読み取るラインイメージセンサと、上記可視光源または赤外光源で照明された上記透過原稿の画像を上記ラインイメージセンサに結像する結像光学系と、上記可視光源と上記赤外光源とを交互に点灯し、上記ラインイメージセンサで可視ライン画像と赤外ライン画像とを読み取る読取手段と、上記赤外ライン画像の画素データから得られた欠陥の有無のデータを、上記可視ライン画像の画素データに付加する付加手段とを有する画像読取装置である。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
透過原稿を走査して読み取る画像読取装置であって、
上記透過原稿を照明する可視光源と；
上記透過原稿を照明する赤外光源と；
上記透過原稿の画像を読み取るラインイメージセンサと；
上記可視光源または赤外光源で照明された上記透過原稿の画像を上記ラインイメージセンサに結像する結像光学系と；
上記可視光源と上記赤外光源とを交互に点灯し、上記ラインイメージセンサで可視ライン画像と赤外ライン画像とを読み取る読取手段と；
上記赤外ライン画像の画素データから得られた欠陥の有無のデータを、上記可視ライン画像の画素データに付加する付加手段と；
を有することを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
請求項１において、
上記可視光源は、高速に点灯制御が可能な白色ＬＥＤであることを特徴とする画像読取装置。
【請求項３】
請求項１において、
非可視光源は、高速に点灯制御が可能な赤外光ＬＥＤであることを特徴とする画像読取装置。
【請求項４】
請求項１において、
上記結像光学系は、オフアキシャル反射面で構成されていることを特徴とする画像読取装置。
【請求項５】
請求項１において、
上記結像光学系は、等倍のロッドレンズであることを特徴とする画像読取装置。
【請求項６】
請求項１において、
上記透過原稿の画像と上記ラインイメージセンサとを上記ラインイメージセンサに垂直な方向に相対的に移動する走査手段と；
上記付加手段の出力の１ライン分を記憶するラインメモリと；
上記欠陥が有のデータが付加されている注目画素のデータを、上記ラインメモリに記憶された１ライン隣の欠陥が無い画素のデータの変化量を用いて補正する補正手段と；
を有することを特徴とする画像読取装置。
【請求項７】
請求項６において、
上記補正手段は、上記補正手段で補正された画素のデータを欠陥が無い画素のデータとみなして、次のラインの欠陥が有る画素の補正に用いることを特徴とする画像読取装置。
【請求項８】
透過原稿画像を、可視成分（Ｒ／Ｇ／Ｂ）と非可視成分（ＩＲ）とに分解し、記憶装置に記憶する工程と；
上記非可視成分のレベルを検出し、記憶装置に記憶する工程と；
読み取った透過原稿画像の欠陥位置を特定し、記憶装置に記憶する工程と；
欠陥の無い周囲の可視成分データに基づいて、上記欠陥位置の可視成分データを順次、補正し、記憶装置に記憶する工程と；
を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項９】
請求項８において、
上記欠陥の無い周囲の可視成分データは、最初に特定された欠陥のあるラインに対しては、それまで欠陥の無い１ライン前の同位置の可視成分データであり、続けて特定された２ライン以降の欠陥位置に対しては、既に補正されたラインの可視成分データであることを特徴とする画像処理方法。
【請求項１０】
請求項８において、
上記欠陥の無い周囲の可視成分データは、最初に特定された欠陥のある画素に対しては、それまで欠陥の無い１画素前の可視成分データであり、続けて特定された２画素以降の欠陥位置に対しては、既に補正された１画素前の可視成分データであることを特徴とする画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読み取り機能を有する画像読取装置に係り、特に、透過原稿画像の画像読み取り機能を有し、読み取る透過原稿上のゴミやキズによる欠陥に起因する画像への影響を軽減する画像読取装置及び画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、透過原稿画像を読み取る画像読取装置において、読み取る透過原稿上のゴミやキズによる欠陥に起因する画像への影響を軽減するために、次のようにしている。つまり、可視光用のラインＣＣＤセンサとして、３原色ＲＧＢの光に色分解する色分解フィルタを設けたＲＧＢ用センサを１ラインずつ配置し、ＩＲ光を遮光するＩＲカットフィルタを設ける。非可視光用として、赤外線（ＩＲ光）用のラインＣＣＤセンサを、上記可視光用イメージセンサと平行して配置する。
【０００３】
そして、可視光源と非可視光源とを同時に点灯させ、可視光による読み取りと非可視光による読み取りとを同時に行ない、また、読み取り速度を下げずに、欠陥画素を詳細に検出する（たとえば、特許文献１参照）。
【０００４】
または、可視光と非可視光とを分光する手段として、ダイクロイックミラー等を有し、非可視光である赤外（ＩＲ）光を分光し、個別のセンサによって画像を読み取る。
【０００５】
また、画像処理する場合、透過原稿の画像の赤外成分のレベルが、第１赤外レベル（閾値）以下である画素が、透過原稿の欠陥画素であると判断する。つまり、欠陥赤外成分レベルを検出し、第１赤外成分レベルと欠陥赤外成分レベルとに基づいて、（第１赤外成分レベル）／（欠陥赤外成分レベル）を算出する。これによって補正係数を求め、透過原稿の画像の可視成分の可視成分レベルを検出し、透過原稿の欠陥位置における欠陥可視成分レベルに補正係数を乗算し、補正可視成分レベルを算出することが知られている（たとえば、特許文献２参照）。
【０００６】
また、色収差の生じないオフアキシャル光学系を用いた画像読取装置が知られている（たとえば、特許文献３参照）
【特許文献１】特開２００３−１１０８０１号公報
【特許文献２】特開平１１−９８３７０号公報
【特許文献３】特開２００２−３３５３７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記従来例では、まず可視光源を点灯し、上記透過原稿の可視光画像データを読み取った後に、光源を切り替え、非可視光源を点灯させ、上記透過原稿の非可視光画像データを読み取る。または、逆の手順をとる。または可視光源と非可視光源との両方を点灯させ、可視画像データと非可視画像データとをそれぞれ、専用のセンサによって同時に読み取る。いずれにせよ、上記非可視光源による画像読み取り動作から得られた非可視画像データによって、ゴミやキズによる透過原稿上の欠陥位置を検出し、可視光源による画像読み取り動作から得られた可視画像データに、該当する欠陥位置に画像補正をしている。
【０００８】
しかし、上記２度の画像読み取り動作による可視光画像データと非可視光画像データとを、それぞれ保存するので、読み取る原稿画像の約２倍もの大容量のメモリが必要である。大容量の画像メモリを搭載するか、又は上記画像読取装置に接続されているホストＰＣによって上記処理を行うことが常である。
【０００９】
さらに、上記可視光用とは別の非可視光用の専用センサやダイクロイックミラー等、特殊な部品を必要とするという問題がある。
【００１０】
本発明は、ＩＲカットフィルタを搭載したセンサやダイクロイックミラー等の特殊な部品や、大容量の画像メモリを使用せずに、透過原稿のゴミ・キズによる欠陥画素の検出と画像補正を行うことができる画像読取装置を提供することを目的とする。
【００１１】
本発明は、透過原稿の画像読み取り機能を有する画像読取装置において、画像読み取りのスループットを低下させずに、高度な画像処理手段と大容量の画像ワークメモリとを搭載する必要がない画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、透過原稿画像の読取手段を具備する画像読取装置において、上記透過原稿画像を照明する可視光源と、上記透過原稿画像を照明する非可視光源と、読み取った透過原稿画像を、電気的な画像信号に変換するイメージセンサと、上記可視光源、上記非可視光源が上記透過原稿画像を照明したことによる光信号を、上記イメージセンサに結像させる光学系と、上記透過原稿の画像読み取り中に、上記可視光源と上記非可視光源とを交互に点灯することによって、可視画像データと非可視画像データとを取得するデータ取得制御手段とを有する画像読取装置である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、欠陥のない前ラインの画像データを参照し、欠陥画素の補正を行うので、ＩＲカットフィルタを搭載したセンサやダイクロイックミラー等の特殊な部品を使用する必要がないという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
発明を実施するための最良の形態は、次の実施例である。
【実施例１】
【００１５】
図１は、本発明の実施例１である画像読取装置１００を示す図である。
【００１６】
画像読取装置１００は、本体１１と、原稿押さえ部１２とを有する。
【００１７】
画像読取装置１００の本体１１に、移動光学ユニット３と、画像読取装置制御回路５と、原稿台ガラス７とが設けられている。
【００１８】
原稿押さえ部１２には、透過原稿用光源ユニット２と、透過原稿用光源ユニット駆動回路４とが設けられている。読取原稿６は、透過原稿用光源ユニット２によって照明されている。
【００１９】
図２は、移動光学ユニット３の詳細を示す図である。
【００２０】
移動光学ユニット３は、反射原稿用光源ユニット３１と、複数の平面反射ミラーＭ１、Ｍ２、Ｍ３と、オフアキシャル反射面Ｍ１１〜Ｍ１２と、撮像手段でありラインセンサであるラインイメージセンサ３２とによって構成されている。上記オフアキシャル反射面は、像中心と瞳中心を通る光線に沿った基準軸を考えた場合、構成面の基準軸との交点における面法線が基準軸上にない曲面を用いた反射面である。
【００２１】
透過原稿用光源ユニット２が発生する光信号は、原稿台ガラス７を透過し、移動光学ユニット３内に配置されているラインイメージセンサ３２に達する。
【００２２】
また、スキャナ本体１１内には、移動光学ユニット３を摺動するために、不図示のパルスモータ、無端ベルト、プーリ、ギア列、ガイドレール等の駆動手段が設けられている。
【００２３】
移動光学ユニット３は、載置手段によって、上記ガイドレールに摺動可能に載置され、この載置手段は、無端ベルトに固着されている。画像読取装置制御回路５と上記パルスモータとは、不図示のケーブルによって、電気的に接続されている。画像読取装置制御回路５は、上記パルスモータを駆動し、上記ギア列、プーリを介して、上記無端ベルトを通じて、移動光学ユニット３を移動可能である。
【００２４】
なお、可視光源と赤外光源とを交互に点灯し、上記ラインイメージセンサで可視ライン画像と赤外ライン画像とを読み取る読取手段（図示せず）が設けられている。
【００２５】
また、上記赤外ライン画像の画素データから得られた欠陥の有無のデータを、上記可視ライン画像の画素データに付加する付加手段（図示せず）が設けられている。
【００２６】
さらに、付加手段の出力の１ライン分を記憶するラインメモリ（図示せず）が設けられている。
【００２７】
そして、上記欠陥が有のデータが付加されている注目画素のデータを、上記ラインメモリに記憶された１ライン隣の欠陥が無い画素のデータの変化量を用いて補正する補正手段（図示せず）が設けられている。この補正手段は、上記補正手段で補正された画素のデータを、欠陥が無い画素のデータとみなし、次のラインの欠陥が有る画素の補正に用いる。また、この補正手段は、欠陥の無い周囲の可視成分データに基づいて、上記欠陥位置の可視成分データを順次、補正し、記憶装置に記憶する工程を実行する手段である。
【００２８】
この場合、上記欠陥の無い周囲の可視成分データは、最初に特定された欠陥のあるラインに対しては、それまで欠陥の無い１ライン前の同位置の可視成分データである。そして、続けて特定された２ライン以降の欠陥位置に対しては、既に補正されたラインの可視成分データである。なお、上記「続けて特定された２ライン以降の欠陥位置」は、補正されたラインの次のラインであって欠陥のあるラインである。
【００２９】
また、上記欠陥の無い周囲の可視成分データは、最初に特定された欠陥のある画素に対しては、それまで欠陥の無い１画素前の可視成分データであり、続けて特定された２画素以降の欠陥位置に対しては、既に補正された１画素前の可視成分データである。
【００３０】
なお、固定した光学ユニットに対して、ラインイメージセンサのラインに垂直な方向に原稿を相対的に移動させて読み取る構成の装置に、上記実施例を適用するようにしてもよい。
【００３１】
次に、画像読取装置１００の透過原稿画像読み取り動作について簡単に説明する。
【００３２】
画像読取装置１００における読み取り動作の開始は、ホスト装置又は画像読取装置１００内のシステムからの読み取り命令コマンドによる。画像読取装置制御回路５は、原稿押さえ部１２内に配置されている透過原稿用光源ユニット２を制御的に点灯させ、その透過光を、複数のミラーＭ１、Ｍ２、Ｍ３によって、反射させる。そして、オフアキシャル反射面Ｍ１１、Ｍ１２を介して、ラインイメージセンサ３２に結像することによって、主走査方向１ライン分の画像を読み取る縮小光学系型の移動光学ユニット３である。また、移動光学ユニット３は、ＣＩＳ（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ）のように、光源群、ロッドレンズと、ラインイメージセンサとが一体化した密着等倍型のユニットであってもよい。
【００３３】
また、上記パルスモータの動力を、上記ギア列によって上記プーリを回転させることによって、上記無端ベルトを駆動する。これによって、上記無端ベルトに対して、上記載置手段で固着されている移動光学ユニット３は、矢印Ｙの副走査方向に、ガイドレール上を移動する。
【００３４】
画像読取装置１００は、移動光学ユニット３を副走査方向に移動しつつ、上記主走査方向のライン画像の読み取りを繰り返す。
【００３５】
画像読取装置１００は、ホスト装置又は内蔵したシステムからの読み取りコマンドの内容に応じて、移動光学ユニット３を、読み取り画像の終端位置まで、読み取り動作をしながら移動させる。これによって、原稿台ガラス７上に置かれている、読取原稿６の全面をスキャンすることができる。ホスト又は内蔵したシステムが指定する読み取り画像範囲に対して、主走査方向には、センサ出力のうちで採用する画素範囲を規定し、また、副走査方向には、光学ユニットの移動範囲を、電気基板上の後述の制御手段で規定する。
【００３６】
図３は、透過原稿用光源ユニット２を示す斜視図である。
【００３７】
透過原稿用光源ユニット２は、原稿押さえ部１２内に配置され、導光体２１と、可視光源ユニット２２と、赤外光源である非可視光源ユニット２３と、透過原稿ガイドユニット２４とを有する。これらは、不図示のケーブルを介して、透過原稿用光源ユニット駆動回路４と、電気的に接続されている。
【００３８】
図４は、実施例１において、画像読取装置制御回路５が、透過原稿用光源ユニット駆動回路４を介して、透過原稿用光源ユニット２を制御的に点灯させるタイミングを示す図である。
【００３９】
同期信号ＳＨは、上記主走査方向のライン画像を読み取るための同期信号である。１つの同期信号ＳＨから次の同期信号ＳＨまでの間が、１ライン読取時間である。この１ライン読取時間中に、可視光の点灯信号（ＬＥＤ＿ＯＮ）と非可視光の点灯信号（ＩＲ＿ＯＮ）とを、順次、点灯（交互に点灯）することによって、同一の読取ラインにおける可視成分の光の可視画像データと非可視成分の光の非可視画像データとを得る。
【００４０】
また、オフアキシャル反射面Ｍ１１〜Ｍ１２による結像光学系によって、可視画像と非可視画像との間に色収差を発生せずに、イメージセンサ上に結像させることができる。つまり、屈折レンズの屈折面での屈折角は色によって異なるので、色収差が生じるが、反射光の反射角は、色が変っても入射角と同じであるので、反射曲面によって結像させた画像に色収差は生じない。
【００４１】
また、これによって、駆動系による読み出し位置の２度の走査の誤差を生じさせないで読み取ることができ、しかも、欠陥位置を高速で検出することができる。
【００４２】
従来、可視光源に単色（Ｒ／Ｇ／Ｂ）ＬＥＤ、非可視光源にＩＲ−ＬＥＤを使い、等倍光学系で構成し色収差の影響を極力少なくした、透過原稿画像読取装置も存在している。この従来例において、読み取りライン毎に点灯−消灯を制御することができ、等倍光学系による収差を小さくし、検出した欠陥位置精度を改善することができる。
【００４３】
しかし、この場合、可視光源をＲ−Ｇ−Ｂ、その後の非可視光源ＩＲの順で、４光源を点灯制御し、キャリッジ又は原稿を搬送しながら、可視画像と非可視画像との線順次で読み取りする。これによって、１２００ｄｐｉスキャン時で、副走査送りは、２５．４ｍｍ÷１２００ｄｐｉ  ＝＞  ０．０２ｍｍ／ｐｉｘｅｌである。これは、可視画像と非可視画像との読み取り位置は、最大０．０１ｍｍずれる。一般的なゴミ、髪の毛は、０．０５ｍｍ（欧米人女性平均）〜０．０８ｍｍ（日本人女性平均）であり、綿ほこりは、０．０３ｍｍであり、羽毛、花粉は、０．０５ｍｍである。これらのゴミを検知するためには無視できない誤差であり、この誤差は、高精度な欠陥位置の検出の妨げである。
【００４４】
実施例１は、図４に示すように、可視画像読み取りラインと非可視画像読み取りラインとを、同一ラインで制御するので、上記のような読み出し位置のずれが発生しない。これによって、従来のような光源点灯制御とそれによる線順次読み出し方式とに起因する読み出し位置の誤差を、実施例１では除去することができ、高速で高精度な欠陥位置を検出することができる。
【００４５】
なお、カラー読取を行うために、一般的なＲＧＢの３ラインセンサを用いている。３ラインの副走査方向の位置ズレは、公知のラインバッファを用いた構成で合わせている。赤外の読取は、ここでは、Ｒのラインセンサで行っている。以下では説明を簡単にするために、可視画像のデータについて、Ｒの信号のみを記載している。
【００４６】
図５は、実施例１において、欠陥位置を特定する一連の動作を示すフローチャートである。
【００４７】
画像読取装置１００において、画像読み取り動作は、接続されたホスト、又は画像読取装置１００に内蔵されているシステムからの透過原稿画像読み取りコマンドによって開始される（Ｓ０）。このときのコマンドは、透過原稿画像読み取りである。このコマンドを受け取ると、画像読取装置１００は、可視光源ユニット２２と非可視光源ユニット２３とを、図４に示すタイミングによって制御的に順次、点灯させ、１ライン分走査中に、可視画像データと非可視画像データとをスキャンする（Ｓ１）。
【００４８】
この点灯の順番にもよるが、後から得られた同ラインの非可視画像データと重ねるために、先に得られた可視画像データ（１６ｂｉｔ）を１ライン分記憶させて、バッファリングする（Ｓ２）。後から得られた赤外画像データである非可視画像データ（１６ｂｉｔ）に基づいて、読み取った透過原稿画像に、ゴミ・キズに起因する欠陥画素が存在するか否かを判定する（Ｓ３）。欠陥画素があれば、Ｓ２でバッファリングされている可視画像データの同じ位置のデータに、欠陥画像を示すエラーフラグ“真”（１ｂｉｔ）をＯＮする（Ｓ４）。欠陥画素が無ければ、上記エラーフラグをＯＦＦにする。
【００４９】
この結果、エラーフラグがＯＮ／ＯＦＦに関わらず（すなわち欠陥画素の有無に関わらず）、１７ｂｉｔデータ／画素になった可視画像データを、画像読取装置１００内の画像メモリへ書き出す（Ｓ５）。その後、後述の欠陥画素補正を実行することによって、欠陥画素を補正する（Ｓ６）。スキャンコマンドによって指定されたライン分、可視画像のラインを読み取ったかどうかを判定する（Ｓ７）。指定されたライン分の読み取りが終了していなければ、次のラインをスキャンし、一連の動作を繰り返す。指定された最終ラインをスキャンし終われば、画像読み取り動作を終了する（Ｓ８）。
【００５０】
上記非可視画像データのレベルを検出し、この検出された非可視画像データのレベルを、予め設定されたパラメータと比較することによって、可視画像の欠陥の有無を検出する。
【００５１】
上記処理によって、欠陥画素位置情報が付加された可視画像データ（１７ｂｉｔ）を得ることができ、欠陥画素位置を検出する。
【００５２】
図６は、欠陥画素補正の一例を示す図である。
【００５３】
上記得られた欠陥画素位置情報が付加されている可視画像データ（１７ｂｉｔ）のエラーフラグを確認することによって、該当画素が欠陥であるかどうかを判定する。欠陥画素であると判定されると、この判定された欠陥画素Ｘ（ｉ，ｊ）を、次の式で表すことができる。ここで、ｉとｊとは、画像上の座標である。
【００５４】
Ｘ（ｉ，ｊ）＝Ｘ（ｉ−１，ｊ）＋｜Ｘ（ｉ＋１，ｊ−１）−Ｘ（ｉ，ｊ−１）｜
なお、Ｘ（ｉ，ｊ）は、欠陥画素（注目画素）であり、Ｘ（ｉ−１，ｊ）は、欠陥画素が含まれているラインであって、欠陥画素の１画素前のデータである。｜Ｘ（ｉ＋１，ｊ−１）−Ｘ（ｉ，ｊ−１）｜は、１ライン前の同位置変化量であり、つまり、欠陥画素が含まれているラインの１ライン前の隣のラインにおいて、欠陥画素と横方向が同じ画素のデータと、その１つ右の画素のデータとの変化量である。
【００５５】
欠陥画素Ｘ（ｉ，ｊ）を補正する場合、欠陥画素であると判定されていない副走査Ｙ方向の１ライン前ｊ−１のデータを参照する。そして、主走査Ｘ方向の同位置ｉの画素のデータと、その１画素後ｉ＋１の画素のデータとの差分（変化量）を、上記該当画素のＸ方向１画素前ｉ−１のデータに足した画素が、欠陥画素Ｘ（ｉ，Ｊ）の補正画素であるとする。このように欠陥画素を補正することによって、欠陥画素の１ライン前の画像と同等の画像を得ることができる。
【００５６】
この補正された画素データを、欠陥画素のない画像データとみなし、上記と同様の補正を繰り返すことによって、原稿上に存在している欠陥部全体を補正することができる。
【００５７】
ここでは、Ｇ、Ｂのラインイメージセンサが赤外画像を読取っていないので、付加データをつけない。３ラインイメージセンサの位置ズレを、ラインメモリを用いて公知の方法で合わせることによって、Ｒの画像データの欠陥位置に対応するＧ、Ｂの画像データも色毎に同様に補正する。
【００５８】
上記のように、少なくとも１ライン分の画像メモリを有し、欠陥画素のない１ライン前の画像データに基づいて、欠陥補正用の画素データを作り、補正を行うことによって、ライン毎に補正することができる。この補正によって、画像読み取りのスループットを低下させずに、読み取り画像の２倍以上もの大容量の画像メモリを搭載せずに、読み取った透過原稿画像のゴミ・キズ等の欠陥に起因する画像への影響を補正することができる。
【００５９】
従来の透過原稿画像読取装置では、可視光源に冷陰極管ランプ（ＣＣＦＬ）、非可視光源に赤外光（ＩＲ）ＬＥＤを使う場合が多く、ＣＣＦＬの立ち上り特性が遅く、読み取りライン毎の点灯−消灯の制御は不可能である。また、ＣＣＦＬ光と赤外光とを、同じレンズでラインイメージセンサに結像するので、その発光波長の違いが収差となり、検出した欠陥位置がずれる原因である。したがって、可視画像・非可視画像について、それぞれ読み取り画像の終端位置まで読み取り動作を終えた後に、画像データ全体に変倍処理を施してから、画像データから欠陥画素の特定を行うのが常である。このようにすると、画像読み出しを２度実行する必要があるので、駆動系による読み出し位置に誤差が生じ、高精度な欠陥位置の検出を妨げる。
【００６０】
実施例１では、可視光源として、高速に点灯制御が可能な白色ＬＥＤを使用し、非可視光源として、高速に点灯制御が可能なＩＲ−ＬＥＤ（赤外光ＬＥＤ）を使用し、読取ライン毎に、それぞれ、点灯−消灯を制御する。したがって、実施例１では、読取ライン毎に、可視画像・非可視画像を同時に取得することができる。
【００６１】
上記実施例によれば、欠陥のない前ラインの画像データを参照し、欠陥画素の補正を行うので、ＩＲカットフィルタを搭載したセンサやダイクロイックミラー等の特殊な部品を使用する必要がない。
【００６２】
上記実施例によれば、赤外成分レベルでの欠陥画素の位置特定を行った後に、欠陥画素の可視画像データにエラーフラグを付加するので、非可視画像データを保存する必要がなく、大容量の画像メモリを使用する必要がない。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施例１である画像読取装置１００を示す図である。
【図２】移動光学ユニット３の詳細を示す図である。
【図３】透過原稿用光源ユニット２を示す斜視図である。
【図４】実施例１において、画像読取装置制御回路５が、透過原稿用光源ユニット駆動回路４を介して、透過原稿用光源ユニット２を制御的に点灯させるタイミングを示す図である。
【図５】実施例１において、欠陥位置を特定する一連の動作を示すフローチャートである。
【図６】欠陥画素補正の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００６４】
１００…画像読取装置、
１１…画像読取装置１００の本体、
１２…画像読取装置１００の原稿押さえ部、
２…透過原稿用光源ユニット、
２１…導光体、
２２…可視光源ユニット、
２３…非可視光源ユニット、
２４…透過原稿ガイドユニット、
３…移動光学ユニット、
３１…反射原稿用光源ユニット、
Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３…反射ミラー、
Ｍ１１、Ｍ１２…オフアキシャル反射面、
３２…イメージセンサ、
４…透過原稿用光源ユニット駆動回路、
５…画像読取装置制御回路、
６…読取原稿、
７…原稿台ガラス。
【図１】
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【図２】
2009182379.tif 000004
【図３】
2009182379.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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