(57)【要約】  【課題】  光ディスク装置において、未記録ディスクに対しても、対物レンズの光軸の傾き角を制御してチルト調整を高精度に行えるようにする。  【解決手段】  再生信号から生成されるウォブル信号をサンプルホールド回路でサンプリング処理してサンプリング信号を生成し、サンプリング信号処理回路で該サンプリング信号からＡＴＩＰエラーレート信号やＡＤＩＰエラーレート信号などを形成し、制御回路で、該形成したエラーレート信号に基づきサーボ制御信号を生成し、該サーボ制御信号に基づき、チルトコイルを駆動する駆動電流を制御する構成とする。ウォブル信号のサンプリング処理に当たっては、制御回路から出力されるサンプリング制御信号により、サンプルホールド回路におけるサンプリング動作を制御し、ジッタ値が増大したサンプリング信号を生成する。【選択図】  図１
2009015925.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップを用いて光ディスクにレーザ光を照射し情報を記録または再生する光ディスク装置であって、
光ピックアップの光学系を形成する対物レンズと、
駆動電流により励磁され、光ディスク面に対する上記対物レンズの光軸の傾き角を変化させるチルトコイルと、
上記チルトコイルに供給する駆動電流を生成するサーボ回路と、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号からウォブル信号を生成するウォブル信号生成回路と、
上記ウォブル信号をサンプリングしてサンプリング信号を形成するサンプルホールド回路と、
上記サンプリング信号を信号処理し、ＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号を形成、または、ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号を形成するサンプリング信号処理回路と、
上記サンプルホールド回路における上記ウォブル信号のサンプリングを制御するサンプリング制御信号を生成するとともに、上記ＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号または上記ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号により上記対物レンズの光軸の傾き角を学習し、該学習結果に基づき、上記サーボ回路を制御するサーボ制御信号を生成する制御回路と、
を備え、上記サンプリング信号に基づき上記サーボ回路から出力される上記駆動電流を制御して上記チルトコイルを制御して上記対物レンズの光軸の傾き角を変え、チルトを調整する構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記制御回路は、記録または再生動作に先立って、上記ＡＴＩＰエラーレートもしくはＡＤＩＰエラーレートを最小範囲にする対物レンズの光軸の傾き角を学習、または、上記ＡＴＩＰシンク検出率もしくはＡＤＩＰシンク検出率を最良範囲にする対物レンズの光軸の傾き角を学習し、記録または再生時に、該学習結果に基づいて上記サーボ制御信号を生成する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記制御回路は、上記サンプリング制御信号として、Ｈｉｇｈ期間とＬｏｗ期間を有する信号を生成する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記サンプルホールド回路は、スイッチとコンデンサを備えて成り、該スイッチが上記サンプリング制御信号によってオン、オフされ、オン状態のタイミングでは上記ウォブル信号を上記サンプリング信号の一部として出力し、オフ状態のタイミングでは上記コンデンサの電位を該サンプリング信号の他の一部として出力する構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記サンプリング信号処理回路は、
上記サンプリング信号を２値化する２値化回路と、
上記２値化されたサンプリング信号を復調する復調回路と、
上記復調された信号を復号化し、上記エラーレート信号を形成するデコーダと、
を備えて成る構成である請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
チルトコイルを用い光ピックアップの対物レンズの光軸の傾き角を制御する光ディスク装置の対物レンズ制御方法であって、
光ディスクからの反射レーザ光に基づく再生信号からウォブル信号を生成する第１のステップと、
サンプルホールド回路を制御するサンプリング制御信号を生成する第２のステップと、
上記サンプルホールド回路によって上記ウォブル信号をサンプリングしサンプリング信号を生成する第３のステップと、
上記サンプリング信号を処理し、ＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号を形成、または、ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号を形成する第４のステップと、
上記形成したＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号または上記ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号に基づき対物レンズの光軸の傾き角を学習する第５のステップと、
上記学習結果に基づきサーボ制御信号を生成する第６のステップと、
上記サーボ制御信号により、上記チルトコイルを駆動する駆動電流の生成を制御する第７のステップと、
上記駆動電流により上記チルトコイルを駆動する第８のステップと、
を経て、上記再生信号に基づき上記対物レンズの光軸の傾き角を制御し、チルトを調整することを特徴とする光ディスク装置の対物レンズ制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に係り、特に、光ピックアップの対物レンズの光軸の傾き角を制御してチルト調整を行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明に関連した従来技術として、例えば特開２００６−１９０４０９号公報（特許文献１）に記載されたものがある。特開２００６−１９０４０９号公報には、光ディスク装置用チルト調整回路において、光ピックアップ出射される光軸を直交させ、光ディスクのデータの読み取り性能を向上させるために、光ピックアップの光検出器により検出された信号の揺らぎを測定可能な変調波復調器を備え、光ディスクの信号面に対し、光ピックアップの対物レンズに角度ずれが生じようとしたときに、該変調波復調器に入力された信号に基づきＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ  Ｔｉｍｅ  Ｉｎ  Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ：ウォブル（Ｗｏｂｂｌｅ）（蛇行溝）に埋め込まれた光ディスク上の時間コード情報）信号またはＡＤＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｉｎ  Ｐｒｅ−ｇｒｏｏｖｅ：ウォブル（Ｗｏｂｂｌｅ）に埋め込まれた光ディスク上のアドレス情報）信号のエラー発生数（誤り率）を算出し、該算出結果に基づいて対物レンズの角度ずれを調整するとした構成が記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−１９０４０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記公報記載の技術では、例えば未記録ディスクの場合には、チルト（ｔｉｌｔ：ディスク面と対物レンズ光軸との角度ずれ）を変化させてもＡＴＩＰの誤り率の変化量やＡＤＩＰの誤り率の変化量が小さくて、これらの十分な検出が困難である。このため、対物レンズの光軸方向の調整において、精度の良い制御は難しいと考えられる。
【０００５】
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、未記録ディスクに対しても、十分に大きなＡＴＩＰの誤り率（以下、ＡＴＩＰエラーレートという）の変化量やＡＤＩＰの誤り率（以下、ＡＤＩＰエラーレートという）の変化量、または、十分に大きなＡＴＩＰシンクの検出率の変化量やＡＤＩＰシンクの検出率の変化量が得られるようにして、対物レンズの光軸の傾き角の制御を高精度に行えるようにすることである。上記ＡＴＩＰシンクは、ＡＴＩＰの時間情報の最小単位の先頭に配されたデータであって、復調時に検出される。該ＡＴＩＰシンクの検出率（以下、ＡＴＩＰシンク検出率という）は、実際に検出されたＡＴＩＰシンク数の、理論的に検出されるべきＡＴＩＰシンク数に対する比の百分率である。また、上記ＡＤＩＰシンクは、ＡＤＩＰのアドレス情報の最小単位の先頭に配されたデータであって、復調時に検出される。該ＡＤＩＰシンクの検出率（以下、ＡＤＩＰシンク検出率という）は、実際に検出されたＡＤＩＰシンク数の、理論的に検出されるべきＡＤＩＰシンク数に対する比の百分率である。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、記録または再生動作に先立ち、チルトを確実に最適範囲に設定して高性能の記録または再生が可能な光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置として、記録または再生動作に先立ってウォブル信号を再生信号から生成し、該生成されたウォブル信号をサンプルホールド回路でサンプリング処理してサンプリング信号を生成し、サンプリング信号処理回路で該サンプリング信号から、ＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号、または、ＡＴＩＰシンク検出率の信号（以下、ＡＴＩＰシンク検出率信号という）もしくはＡＤＩＰシンク検出率の信号（以下、ＡＤＩＰシンク検出率信号という）を形成し、制御回路で、該形成したＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号、または、ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号に基づいて、ＡＴＩＰエラーレートもしくはＡＤＩＰエラーレートを最小範囲（最小値を含む実質的な最小値領域をいう）にする対物レンズの光軸の傾き角を学習、または、ＡＴＩＰシンク検出率もしくはＡＤＩＰシンク検出率を最良範囲（最適値を含む実質的な最適値領域をいう）にする対物レンズの光軸の傾き角を学習しておき、記録または再生時に、該制御回路で、該学習結果に基づいてサーボ制御信号を生成し、該サーボ制御信号に基づき、チルトコイルを駆動する駆動電流を制御する構成とする。ウォブル信号のサンプリング処理に当たっては、制御回路から出力されるサンプリング制御信号により、サンプルホールド回路におけるサンプリング動作を制御し、ジッタ値が増大したサンプリング信号を生成する。
【０００７】
なお、
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光ディスク装置において、記録または再生動作に先立ち、対物レンズのチルトを確実に最適範囲に設定することができ、装置の高性能化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施例につき、図面を用いて説明する。
図１は、本発明の実施例としての光ディスク装置の構成例を示す図、図２は、図１の光ディスク装置におけるサンプルホールド回路の構成例を示す図、図３は、図１の光ディスク装置におけるサンプリング制御信号とサンプリング信号の波形例を示す図、図４は、図１の光ディスク装置の動作フローを示す図、図５は、図１の光ディスク装置におけるチルト調整結果の一例を示す図である。
【００１０】
図１において、１は光ディスク装置、２は、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなどの光ディスク、またはＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するスピンドルモータ、４は光ピックアップ、４０１は、光ピックアップ４の光学系を形成する対物レンズ、４０２は、駆動電流により励磁され、光ディスク２の面（以下、ディスク面という）に対する上記対物レンズ４０１の光軸の傾き角を変化させてチルト調整を行うチルトコイル、４０３は、反射レーザ光から再生信号を生成する再生信号生成部、１１は、光ディスク２からの反射レーザ光に基づく再生信号Ｓｒｐからウォブル信号Ｓｗｏｂを生成するウォブル信号生成回路、１２は、ウォブル信号Ｓｗｏｂをサンプリングしサンプリング信号Ｓｓｐｌを形成するサンプルホールド回路、１３は、サンプリング信号Ｓｓｐｌを信号処理し、エラーレート信号ＳｅｒｒとしてのＡＴＩＰエラーレート信号（光ディスク２がＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなどの場合）またはＡＤＩＰエラーレート信号（光ディスク２がＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの場合）を形成するサンプリング信号処理回路、１３１は、サンプリング信号Ｓｓｐｌから所定の周波数帯域の信号成分を抽出するバンドパスフィルタ、１３２は、該抽出した周波数帯域のサンプリング信号Ｓｓｐｌを２値化（デジタル化）する２値化回路、１３３は、該２値化されたサンプリング信号Ｓｓｐｌを、周波数変調された信号に復調するＦＭ復調回路、１３４は、該ＦＭ復調された信号を復号化し、エラーレート信号ＳｅｒｒとしてのＡＴＩＰエラーレート信号またはＡＤＩＰエラーレート信号を形成するデコーダ、１５は、上記チルトコイル４０２に供給する駆動電流を生成するサーボ回路、１４は、上記形成されたエラーレート信号Ｓｅｒｒに基づき、上記サーボ回路１５を制御するサーボ制御信Ｓｓｒｖと、上記サンプルホールド回路１２を制御するサンプリング制御信号Ｓｃｔｒとを生成し出力する制御回路としてのマイコンである。
【００１１】
上記構成において、例えば記録または再生動作に先立って光ピックアップ４から出力された再生信号Ｓｒｐは、ウォブル信号生成回路１１に入力され、該ウォブル信号生成回路１１において該再生信号Ｓｒｐからウォブル信号Ｓｗｏｂ（プッシュプル信号）が生成される。該ウォブル信号Ｓｗｏｂには、ＡＴＩＰまたはＡＤＩＰのディスク位置情報が含まれている。生成されたウォブル信号Ｓｗｏｂは、サンプルホールド回路１２に入力され、該サンプルホールド回路１２において、マイコン１４からのサンプリング制御信号Ｓｃｔｒに基づいてサンプリング処理される。該サンプリング処理により、ウォブル信号Ｓｗｏｂは、ジッタ値が増大したウォブル信号すなわちサンプリング信号Ｓｓｐｌに変えられる。該サンプリング信号Ｓｓｐｌは、サンプリング信号処理回路１３に入力される。該サンプリング信号処理回路１３内では、サンプリング信号Ｓｓｐｌは、バンドパスフィルタ１３１により所定の周波数帯域の信号成分を抽出され、２値化回路１３２で２値化（デジタル化）され、さらにＦＭ復調回路１３３で復調された後、デコーダ１３４で、ＡＴＩＰエラーレート信号またはＡＤＩＰエラーレート信号のエラーレート信号Ｓｅｒｒとして形成され出力される。該エラーレート信号Ｓｅｒｒはその後、マイコン１４に入力され、該マイコン１４では、該エラーレート信号Ｓｅｒｒに基づき、ＡＴＩＰエラーレートもしくはＡＤＩＰエラーレートを最小範囲にする対物レンズの光軸の傾き角を学習する。マイコン１４ではその後、記録または再生動作時に、該学習結果に基づいてサーボ制御信号Ｓｓｒｖが生成される。生成された該サーボ制御信号Ｓｓｒｖはサーボ回路１５に入力され、チルトコイル４０２を駆動するための駆動電流を生成する。チルトコイル４０２は該駆動電流で励磁されて変位し、対物レンズの光軸のディスク面に対する傾き角を変化させる。一方、上記生成されたサンプリング制御信号Ｓｃｔｒは、Ｈｉｇｈ期間とＬｏｗ期間を有し、上記サンプルホールド回路１２に入力されて、該Ｈｉｇｈ期間、該Ｌｏｗ期間により、該サンプルホールド回路１２におけるウォブル信号Ｓｗｏｂのサンプリング処理動作を制御する。
【００１２】
上記のようにして、ウォブル信号Ｓｗｏｂは、サンプルホールド回路１２におけるサンプリング処理によってジッタが増大したウォブル信号（＝サンプリング信号Ｓｓｐｌ）に変換される。このため、このウォブル信号（＝サンプリング信号Ｓｓｐｌ）を周波数変調しさらに復号化して得られるエラーレート信号Ｓｅｒｒは、その誤り率（エラーレート）が、サンプリング処理を施されないウォブル信号のそれに比べて高い値となり、対物レンズ４０１の光軸の傾き角の変化に対する感度が上昇する。
【００１３】
上記サンプリング信号処理回路１３において、ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号を形成し、その後、マイコン１４において、該形成されたＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号に基づいて、ＡＴＩＰシンク検出率もしくはＡＤＩＰシンク検出率を最良範囲にする対物レンズの光軸の傾き角を学習し、記録または再生時に、該学習結果に基づいてサーボ制御信号を生成するようにしてもよい。この場合、サンプリング信号処理回路１３では、ＡＴＩＰシンクもしくはＡＤＩＰシンクを復調時に検出し、該検出したＡＴＩＰシンクもしくはＡＤＩＰシンクに基づき、ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号を形成する。該ＡＴＩＰシンクもしくはＡＤＩＰシンクは、エラー訂正などを行うことなく取得することができる。
以下、説明中で用いる図１の構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いる。
【００１４】
図２は、図１の光ディスク装置１におけるサンプルホールド回路１２の構成例を示す図である。
図２において、１２１は電子的なスイッチ、１２２はコンデンサである。スイッチ１２１は、マイコン１４からのサンプリング制御信号Ｓｃｔｒによって、オン、オフのタイミングを制御され、サンプリング信号Ｓｓｐｌを形成して出力する。すなわち、Ｈｉｇｈ期間とＬｏｗ期間を有するサンプリング制御信号Ｓｃｔｒがサンプルホールド回路１２に入力されると、スイッチ１２１は、該Ｈｉｇｈ期間のタイミングではオン状態となってウォブル信号Ｓｗｏｂを通過させ、Ｌｏｗ期間のタイミングでは、オフ状態となって、ウォブル信号Ｓｗｏｂが通過するのを遮断するとともに、コンデンサ１２２の電位による信号すなわちスイッチ１２１がオフされた瞬間のウォブル信号Ｓｗｏｂが出力されるようにする。サンプリング制御信号ＳｃｔｒのＨｉｇｈ期間の長さや間隔は、対物レンズの光軸の傾き角を調整するために取得されたデータの状況に応じて予め設定される。例えば、ウォブル信号Ｓｗｏｂの１周期あたり該Ｈｉｇｈ期間を３０回形成し、該Ｈｉｇｈ期間の長さは、ウォブル信号Ｓｗｏｂの１周期の１／１００程度とする。
【００１５】
図３は、図２のサンプルホールド回路１２に入力されるサンプリング制御信号Ｓｃｔｒと、該サンプルホールド回路１２から出力されるサンプリング信号Ｓｓｐｌの波形例を示す図である。本例では、サンプリング制御信号Ｓｃｔｒを矩形状パルス波形としている。サンプリング制御信号ＳｃｔｒのＨｉｇｈ期間では、サンプルホールド回路１２のスイッチ１２１が期間△ｔ１オン状態とされてウォブル信号Ｓｗｏｂを通し、サンプリング制御信号ＳｃｔｒのＬｏｗ期間では、サンプルホールド回路１２のスイッチ１２１が期間△ｔ２オフ状態とされてウォブル信号Ｓｗｏｂを遮断し、コンデンサ１２２の電位が出力されるようにする。サンプリング信号Ｓｓｐｌは、このように、ウォブル信号Ｓｗｏｂを、サンプリング制御信号Ｓｃｔｒによって波形変形させたものであり、ウォブル信号Ｓｗｏｂに比べ、大幅にジッタが増大した波形となっている。このサンプリング信号Ｓｓｐｌを、サンプリング信号処理回路１３で信号処理することで、誤り率（エラーレート）の高いエラーレート信号Ｓｅｒｒが得られる。該サンプリング信号処理回路１３では、ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号が形成されるようにしてもよい。
【００１６】
図４は、図１の光ディスク装置１の動作フローを示す図である。
図１の光ディスク装置１においては、基本的に、記録または再生動作に先立ち、再生信号から生成されるウォブル信号を、サンプリング制御信号によりスイッチ１２１のオン、オフを制御されたサンプルホールド回路１２でサンプリング処理することで、ジッタ値が増大したサンプリング信号を生成し、サンプリング信号処理回路１３で該サンプリング信号からＡＴＩＰエラーレート信号（光ディスク２がＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなどの場合）やＡＤＩＰエラーレート信号（光ディスク２がＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの場合）を形成、または、ＡＴＩＰシンク検出率信号やＡＤＩＰシンク検出率信号を形成し、マイコン１４では、該形成したＡＴＩＰエラーレート信号もしくはＡＤＩＰエラーレート信号、または、上記ＡＴＩＰシンク検出率信号もしくはＡＤＩＰシンク検出率信号により対物レンズ４０１の光軸の傾き角を学習する。該マイコン１４ではその後、記録または再生時に、該学習結果に基づいてサーボ制御信号Ｓｓｒｖを生成し、該サーボ制御信号Ｓｓｒｖに基づき、チルトコイル４０２を駆動する駆動電流を制御する動作を行う。これら一連の動作は、マイコン１４による制御によって実施される。
【００１７】
図４において、
（１）制御回路としてのマイコン１４は、光ディスク装置１に対物レンズ４０１の光軸の傾き角の調整を開始させる（ステップＳ４０１）。
（２）マイコン１４は、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボをオン状態にし、ウォブル信号Ｓｗｏｂ（プッシュプル信号）を取得可能な状態にする（ステップＳ４０２）。
（３）マイコン１４は、予め設定されたＨｉｇｈ期間とＬｏｗ期間を有するサンプリング制御信号Ｓｃｔｒを出力し、サンプルホールド回路１２に入力させる（ステップＳ４０３）。
（４）マイコン１４は、サーボ制御信号Ｓｓｒｖによりサーボ回路１５を制御し、該サーボ回路１５から出力される駆動電流によりチルトコイル４０２を駆動して、該チルトコイル４０２を所定の角度位置に設定する（ステップＳ４０４）。
（５）サンプリング信号処理回路１３は、サンプルホールド回路１２から出力されるサンプリング信号Ｓｓｐｌを、２値化回路１３２で２値化し、ＦＭ復調回路で復調し、デコーダ１３４で復号化して、ＡＴＩＰエラーレートもしくはＡＤＩＰエラーレートの情報、またはＡＴＩＰシンク検出率もしくはＡＤＩＰシンク検出率の情報を取得し、ＡＴＩＰエラーレート信号またはＡＤＩＰエラーレート信号を形成する（ステップＳ４０５、ステップＳ４０６）。
（６）マイコン１４は、上記ステップＳ４０４において設定したチルトコイル４０２の角度位置、ＡＴＩＰエラーレートもしくはＡＤＩＰエラーレートの情報、またはＡＴＩＰシンク検出率もしくはＡＤＩＰシンク検出率の情報を保存する（ステップＳ４０７）。
（７）マイコン１４は、最適なチルトコイル角度を求めるのに必要なデータを取得できたか否かを判別する（ステップＳ４０８）。
（８）ステップＳ４０８における判別の結果、最適なチルトコイル角度を求めるのに必要なデータを取得できた場合は、マイコンは、チルトコイル角度に対するＡＴＩＰエラーレートまたはＡＤＩＰエラーレートの特性から、エラーレートが最小となるチルトコイル角度、または、ＡＴＩＰシンク検出率もしくはＡＤＩＰシンク検出率の特性から、シンク検出率が最良となるチルトコイル角度を最適チルトコイル角度として設定する（ステップＳ４０９）。
（９）マイコン１４は、対物レンズ４０１の光軸の傾き角の調整を終了させる（ステップＳ４１０）。
【００１８】
図５は、図１の光ディスク装置１におけるチルト調整の実測結果例を示す図である。本図５では、チルトコイル角度に対するＡＴＩＰエラーレートの特性（サンプリングありの場合及びサンプリングなしの場合）を示す。サンプリングありの場合の特性は、上記図４の動作フロー中のステップＳ４０９において求められ、本特性から、ＡＴＩＰエラーレートが最小となる０．２°が最適チルトコイル角度として求められる。
【００１９】
上記実施例によれば、光ディスク装置１において、未記録ディスクに対しても、記録動作に先立ち、対物レンズ４０１の光軸の傾き角の制御を高精度に行うことができるため、チルトを最適範囲に設定することができ、この結果、記録品質の向上など装置の高性能化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施例としての光ディスク装置の構成例を示す図である。
【図２】図１の光ディスク装置におけるサンプルホールド回路の構成例を示す図である。
【図３】図１の光ディスク装置におけるサンプリング制御信号とサンプリング信号の波形例を示す図である。
【図４】図１の光ディスク装置の動作フローを示す図である。
【図５】図１の光ディスク装置におけるチルト調整結果例を示す図である。
【符号の説明】
【００２１】
１…光ディスク装置、
２…光ディスク、
３…スピンドルモータ、
４…光ピックアップ、
４０１…対物レンズ、
４０２…チルトコイル、
４０３…再生信号生成部、
１１…ウォブル信号生成回路、
１２…サンプルホールド回路、
１２１…スイッチ、
１２２…コンデンサ、
１３…サンプリング信号処理回路、
１３１…バンドパスフィルタ、
１３２…２値化回路、
１３３…ＦＭ復調回路、
１３４…デコーダ、
１４…マイコン、
１５…サーボ回路。
【図１】
2009015925.tif 000003
【図２】
2009015925.tif 000004
【図３】
2009015925.tif 000005
【図４】
2009015925.tif 000006
【図５】
2009015925.tif 000007