(57)【要約】【課題】画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供する。【解決手段】画像記録媒体にテストパターン画像として出力されたテストパターン画像データを被検査画像データとして取得し、前記テストパターン画像データにおける所定領域に属する画素群と前記被検査画像データにおける前記所定領域に対応する領域に属する画素群との相関値を算出し、前記相関値が所定の閾値以下である際に前記所定の領域に属する画素を欠陥画素として判定し、前記被検査画像データを表示装置に表示する画素を正常画素と識別可能に表示する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストパターン画像データを画像記録媒体にテストパターン画像として出力する画像形成ステップと、
前記テストパターン画像を被検査画像データとして取得する画像取得ステップと、
前記テストパターン画像データにおける所定領域に属する画素群と前記被検査画像データにおける前記所定領域に対応する領域に属する画素群との相関値を算出する相関値算出ステップと、
前記相関値が所定の閾値以下である画素を欠陥画素として判定する相関値判定ステップと、
前記被検査画像データを表示装置に表示する際に、欠陥画素と判定された画素を正常画素と識別可能に表示する表示ステップと、を備えたことを特徴とする画像欠陥検査方法。
【請求項２】
前記テストパターン画像データは、所定の色で構成されており、
画素の座標値と前記所定の色とに基づき当該画素が有すべき画素値の範囲を特定画素値範囲として特定し、当該画素の画素値が当該特定画素値範囲外の画素値であるか否かを判定するノイズ判定ステップを備え、
前記相関値算出ステップは、前記ノイズ判定ステップにより前記特定画素値範囲外と判定された画素を相関値算出から除外することを特徴とする請求項１記載の画像欠陥検査方法。
【請求項３】
前記テストパターン画像データと前記被検査画像データにおいて同一座標を持つ画素同士を比較することにより当該被検査画像データにおける正常画素を判定する正常画素判定ステップを備え、
前記相関値算出ステップは、正常画素と判定された画素を相関値算出から除外することを特徴とする請求項１又は２に記載の画像欠陥検査方法。
【請求項４】
前記相関値判定ステップにより欠陥画素として判定された際に、前記テストパターン画像データにおける相関値算出の位置を前記所定領域に対応する領域の周辺に位置する領域に変更して相関値の算出を行うことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の画像欠陥検査方法。
【請求項５】
テストパターン画像データを画像記録媒体にテストパターン画像として出力する画像形成部と、
前記テストパターン画像を被検査画像データとして取得する画像取得部と、
前記テストパターン画像データにおける所定領域に属する画素群と前記被検査画像データにおける前記所定領域に対応する領域に属する画素群との相関値を算出する相関値算出部と、
前記相関値が所定の閾値以下である画素を欠陥画素として判定する相関値判定部と、
前記被検査画像データを表示装置に表示する際に、欠陥画素と判定された画素を正常画素と識別可能に表示する表示部と、を備えたことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置により形成された画像の欠陥検査技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
プリンタや複写機等の画像形成装置により形成された画像には、種々の原因による欠陥があることが知られている。例えば、インクジェット方式の画像形成装置ではヘッドのインク詰まり、レーザ露光方式の画像形成装置ではレーザ機構の跳び等が原因として考えられる。これらの画像の欠陥に対しては、原因に応じた調整作業等が必要であり、そのためには、形成される画像の欠陥を的確に把握することが必要である。
【０００３】
そのため、従来、プリンタや複写機等の画像形成装置により形成される画像の欠陥を検査するために様々な検討が行われている。例えば、被検査画像と被検査画像に対する基準画像とを比較することにより被検査画像に含まれる欠陥を検出する画像欠陥検出装置であり、被検査画像の一部をテンプレート画像として抽出し、基準画像からテンプレート画像の位置に対応し、テンプレート画像を含む大きさの領域を持つ比較画像を抽出し、テンプレート画像を用いて比較画像に対するテンプレートマッチングを行うと共に相関値を算出し、相関値と所定の閾値とを比較することにより欠陥の有無を判定する技術が知られている（特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−２０８８４７号公報（段落番号００１１、００１７）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のように、特許文献１の技術では、被検査画像から抽出されたテンプレート画像を用いて、基準画像から抽出された比較画像をテンプレートマッチングすることにより相関値を算出し、算出された相関値に基づき欠陥画素を判定している。しかしながら、特許文献１の技術では、欠陥画素の判定を開示しているのみであり、検査者はその判定結果を用いても、画素の欠陥を的確に把握することは困難である。
【０００６】
このような問題点に鑑み、本発明の課題は、画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の画像欠陥検査方法は、テストパターン画像データを画像記録媒体にテストパターン画像として出力する画像形成ステップと、前記テストパターン画像を被検査画像データとして取得する画像取得ステップと、前記テストパターン画像データにおける所定領域に属する画素群と前記被検査画像データにおける前記所定領域に対応する領域に属する画素群との相関値を算出する相関値算出ステップと、前記相関値が所定の閾値以下である画素を欠陥画素として判定する相関値判定ステップと、前記被検査画像データを表示装置に表示する際に、欠陥画素と判定された画素を正常画素と識別可能に表示する表示ステップと、を備えている。
【０００８】
このような構成により、画像記録媒体に形成されたテストパターン画像から被検査画像データが取得され、被検査画像データとテストパターン画像データとから各々の領域間の相関値が算出され、算出された相関値に基づき欠陥画素が判定されるため、的確に欠陥画素を検出することができる。さらに、テストパターン画像が表示される際には、欠陥画素として判定された画素が、正常画素と識別可能に表示される。そのため、検査者はテストパターンのいかなる箇所に欠陥が生じているかを的確に把握することができ、欠陥の発生場所に応じて的確に画像形成装置を調整することができる。
【０００９】
通常、画像記録媒体に形成された画像をフラットベッドスキャナ等によりデジタル化することにより取得された画像データには、様々なノイズが含まれている。しかしながら、これらのノイズは、画像データを取得する工程で生じたノイズであり、画像形成時のノイズではないため、欠陥画素として検出されないことが望ましい。
【００１０】
そのため、本発明の画像欠陥検査方法の好適な実施形態の一つでは、前記テストパターン画像データは、所定の色で構成されており、画素の座標値と前記所定の色とに基づき当該画素が有すべき画素値の範囲を特定画素値範囲として特定し、当該画素の画素値が当該特定画素値範囲外の画素値であるか否かを判定するノイズ判定ステップを備え、前記相関値算出ステップは、前記ノイズ判定ステップにより前記特定画素値範囲外と判定された画素を相関値算出から除外する。
【００１１】
この構成では、テストパターン画像データは所定の色で構成されており、被検査画像データの各画素は、その座標値に応じて、有すべき画素値範囲が特定され、検査対象の画素値が特定された画素値範囲外の画素値を有している場合には、画像データ取得時のノイズであると判定され、以降の相関値の算出からは除外される。そのため、画像形成時以外の欠陥を除外することができ、高精度に画像形成時の欠陥を検出することができる。
【００１２】
また、被検査画像データには、画素の滲み等が発生している場合がある。当然ながら、このような滲みは画像の欠陥ではないため、欠陥画素として検出されないことが望ましい。
【００１３】
そのため、本発明の画像欠陥検査方法の好適な実施形態の一つでは、前記テストパターン画像データと前記被検査画像データにおいて同一座標を持つ画素同士を比較することにより当該被検査画像データにおける正常画素を判定する正常画素判定ステップを備え、前記相関値算出ステップは、正常画素と判定された画素を相関値算出から除外する。
【００１４】
この構成では、相関値算出ステップによる相関値の算出に先立ち、テストパターン画像データと被検査画像データの画素同士が比較され、その比較結果に基づき正常画素が判定される。また、正常画素として判定された画素は、以降の相関値算出から除外される。これにより、滲み等に起因する微小な差異が欠陥画素として検出されることを回避することができる。
【００１５】
さらに、被検査画像データの読み取り時の載置の状態や画像記録媒体への画像形成時における画像記録媒体の送りむらや画像記録媒体のたわみ等に起因して、被検査画像において局所的に微小な位置ずれや回転等の形状変形が生じている可能性がある。
【００１６】
そのため、本発明の画像欠陥検査方法の好適な実施形態の一つでは、前記相関値判定ステップにより欠陥画素として判定された際に、前記テストパターン画像データにおける相関値算出の位置を前記所定領域に対応する領域の周辺に位置する領域に変更して相関値の算出を行う。
【００１７】
この構成では、相関値判定ステップにより欠陥画素として判定された場合に、テストパターン画像データにおける相関値の算出位置を前記所定領域に対応する領域の周辺に位置する領域に変更し、再度相関値の算出を行っている。これにより、対応する画素がずれている場合にも、正確な相関値を算出することができ、欠陥画素の検出精度を高めることができる。
【００１８】
また、本発明の画像形成装置は、テストパターン画像データを画像記録媒体にテストパターン画像として出力する画像形成部と、前記テストパターン画像を被検査画像データとして取得する画像取得部と、前記テストパターン画像データにおける所定領域に属する画素群と前記被検査画像データにおける前記所定領域に対応する領域に属する画素群との相関値を算出する相関値算出部と、前記相関値が所定の閾値以下である画素を欠陥画素として判定する相関値判定部と、前記被検査画像データを表示装置に表示する際に、欠陥画素と判定された画素を正常画素と識別可能に表示する表示部と、を備えている。当然ながら、このような画像形成装置も、上述した画像欠陥検査方法と同様の作用効果を得ることができ、上述した付加的構成を備えることもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下に、本発明の画像欠陥検査方法および画像形成装置の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２０】
図１に示す写真プリント装置（画像形成装置の一例）は、暗箱構造の筐体１０を有し、この筐体１０の内部には画像記録媒体Ｐに画像を形成する画像形成部Ｅｘと、画像が形成された画像記録媒体Ｐを筐体１０の端部の排出部１１から排出し、搬送ベルト１２で受け止めて水平方向に搬送し、複数のトレイ１３Ａの何れかにオーダ単位で回収可能なソータ１３を備えている。
【００２１】
また、筐体１０の外部には、オペレータが画像データの取得と、プリント処理に必要な操作とを行う操作端末として機能するオペレート部Ａが設置されている。オペレート部Ａには、操作テーブル２０に設置された汎用コンピュータで成る画像処理装置２１と、画像処理装置２１の上面に設置されたディスプレイ２２と、現像処理後の写真フィルムＦのコマ画像から画像データを取得するフィルムスキャナ２３と、２つのキーボード２４と１つのマウス２５と、画像記録媒体Ｐから画像データを取得するためのフラットベッドスキャナ２７と、を備えている。画像処理装置２１の前面には各種の半導体型の記憶媒体（不図示）、あるいは、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等の磁気式や光学式の記憶媒体（不図示）等から画像データを取得する複数のメディアドライブ２６を備えている。
【００２２】
なお、画像形成部Ｅｘとして、インクジェット方式、レーザ露光方式等、様々な方式を用いることができる。
【００２３】
図２は、本実施形態で用いるテストパターン画像の例である。本実施形態のテストパターン画像は、６つの領域Ｒ１からＲ６により構成され、各々の領域に含まれるサブテストパターンＴ１からＴ６からなるテストパターンＴを含んでいる。なお、各々のサブテストパターンＴ１からＴ６は、異なる色により形成されている。
【００２４】
図３に示すように、画像処理装置２１には、本発明の画像欠陥検査方法に係る機能部として、フラットベッドスキャナ２７を介して被検査画像データを取得する画像取得部３１、画像取得部３１により取得された被検査画像データから特徴点を抽出する特徴点取得部３２、特徴点取得部３２により抽出された特徴点に基づき、被検査画像データの位置や形状等を補正する形状補正部３３、被検査画像データの画素値に基づきノイズ等を判定するノイズ判定部３４、被検査画像データから正常な画素を判定する正常画素判定部３５、テストパターン画像データと被検査画像データの相関値を算出する相関値算出部３６、相関値算出部３６により算出された相関値が所定の閾値以下である画素を欠陥画素であると判定する相関値判定部３７、相関値判定部３７により欠陥画素であると判定された画素に対して、相関値を算出する位置を変更する位置調整部３８、被検査画像データをディスプレイ２２に表示する際に、欠陥画素であると判定された画素を正常画素と識別可能に表示する表示部３９が備えられている。
【００２５】
画像取得部３１は、画像記録媒体Ｐに形成されたテストパターン画像をフラットベッドスキャナ２７によりデジタル化し、被検査画像データとして取得する。取得した被検査画像データはメモリ４０に記憶させる。
【００２６】
特徴点取得部３２は、メモリ４０から被検査画像データを取得し、被検査画像データの特徴点を抽出する。本実施形態では、特徴点として、サブテストパターンを構成する線分の交点等を用い、抽出方法としては、テンプレートマッチングを用いるが、特徴点および特徴点の抽出方法はこれらに限定されるものではなく、他の特徴や手法を用いても構わない。
【００２７】
一般的に、画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置する際の位置ずれ等のために、画像取得部３１により取得された被検査画像データにおけるテストパターンＴの位置は、テストパターン画像データにおける位置とは異なっている。そのため、形状補正部３３は、以下の処理の精度を高めるために、テストパターンＴの位置ずれ、回転、拡縮等の形状補正を行う。形状補正された被検査画像データは、再度メモリ４０に記憶される。以下の処理では、画像取得部３１により取得された被検査画像データに代えて、形状補正された被検査画像データが用いられる。
【００２８】
また、被検査画像データには、画像記録媒体Ｐへの画像形成時のノイズやフラットベッドスキャナ２７によるスキャン時のノイズが含まれている場合がある。これらのノイズは画像の欠陥でないため、以下の処理では欠陥画素として検出されないことが望ましい。そのため、ノイズ判定部３４は、被検査画像データの画素値に基づき、画素がノイズであるか否かを判定し、ノイズであると判定した画素を正常画素として記録する。具体的には、本実施形態のテストパターンは上述のように６つの領域Ｒ１からＲ６により構成されており、各々の領域に含まれるサブテストパターンＴ１からＴ６は異なる色により形成されている。例えば、サブテストパターンＴ１が赤で形成されている場合に、被検査画像データにおいて領域Ｒ１内に青色の画素が検出された場合には、その画素はノイズであると判定される。
【００２９】
正常画素判定部３５は、テストパターン画像データおよび被検査画像データを所定サイズのブロック単位で比較し、比較結果に基づき、そのブロックの画素が正常画素であるか否かを判定する。
【００３０】
相関値算出部３６は、テストパターン画像データと被検査画像データとの相関値を算出する。相関値判定部３７は、相関値算出部３６により算出された相関値に基づき、欠陥画素を判定する。欠陥画素と判定された際には、後述する位置調整部３８が機能する。
【００３１】
上述の形状補正部３３により、被検査画像データの形状補正を施しているが、画像記録媒体Ｐの送りむら等により、テストパターンＴ全体が均一に歪んでいない場合がある。そのため、局所的に、テストパターン画像データにおけるテストパターンＴと被検査画像データにおけるテストパターンＴの位置が一致している領域と、一致していない領域とが混在している場合がある。そのため、位置調整部３８では、上述の処理により欠陥画素として判定された画素に対して、相関値算出部３６で用いた領域の周辺に位置する領域を用いて相関値を算出し、算出された相関値が所定の閾値以上であれば正常画素として登録する。
【００３２】
表示部３９は、上述の処理により欠陥画素であると判定された画素を正常画素であると判定された画素と識別可能に表示する。これにより、ユーザは画像の欠陥を容易に把握することができる。特に、欠陥画素が隣接している場合には、それらを一まとめにして、正常画素と識別可能とすると、視認性が向上するため、好適である。
【００３３】
次に、図４のフローチャートを用いて、本発明の画像欠陥検査方法の処理の流れを説明する。なお、後述の処理に先立ち、メモリ４０に記録されているテストパターン画像データが、画像形成部Ｅｘにより画像記録媒体Ｐにテストパターン画像として形成されているものとする。また、テストパターン画像上の特徴点Ｐ１からＰ６の座標値も併せてメモリ４０上に記憶されている。
【００３４】
まず、ユーザは上述のテストパターン画像が形成された画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置した後、画像処理装置２１を操作し、画像欠陥検査処理の実行を指示する。
【００３５】
画像欠陥検査処理の実行指示を受けた画像処理装置２１は、画像取得部３１が、フラットベッドスキャナ２７によりデジタル化されたテストパターン画像を被検査画像データとして取得し、メモリ４０に記憶させる（＃０１）。このとき、メモリ４０上に、画素の判定結果を保持する２次元配列Ｌ[  ][  ]が確保され、内容が「正常画素」で初期化される（＃０２）。被検査画像データの大きさが幅Ｗ、高さＨであるとすると、２次元配列Ｌ[  ][  ]の大きさは、幅Ｗ、高さＨとなる。
【００３６】
次に、特徴点取得部３２は、メモリ４０から被検査画像データを取得し、被検査画像データ上の特徴点を取得する（＃０３）。本実施形態における特徴点は、図２に示すように点Ｐ１からＰ６までの６点を用い、特徴点の検出は図５に示すテンプレート画像（ａ）から（ｆ）を用いたテンプレートマッチングにより実現する。テンプレート画像（ａ）から（ｆ）は各々特徴点Ｐ１からＰ６を検出するためのテンプレート画像である。まず、テンプレート画像（ａ）を被検査画像データの左上から走査しつつ、マッチする位置を求め、その位置に基づき特徴点座標Ｐ１’を取得する。次に、テンプレート画像（ｂ）を同様に被検査画像データ上において走査し、特徴点座標Ｐ２’を取得する。このとき、特徴点Ｐ２は特徴点Ｐ１の右側であることが既知であるので、この位置関係を用いてテンプレート画像（ｂ）の走査範囲を限定すると、演算量を低減させることができ、好適である。同様に、他のテンプレート画像（ｃ）から（ｆ）を用いて特徴点Ｐ３’からＰ６’を取得することができる。なお、本実施形態では、テンプレート画像（ｂ）および（ｅ）の形状にマッチする点は複数存在するが、図２のテストパターン同様、各テンプレート画像も色彩を有しているため、一意に特徴点を取得することができる。取得された各々の特徴点の座標値Ｐ１’からＰ６’はメモリ４０に記憶される。
【００３７】
形状補正部３３は、メモリ４０に記憶されているテストパターン画像における特徴点Ｐ１からＰ６の座標値および被検査画像における特徴点Ｐ１’からＰ６’の座標値に基づき、変形パラメータを算出し、被検査画像の形状補正を行う（＃０４）。通常、テストパターン画像データと被検査画像データとの位置ずれ等の形状変形は、画像記録媒体Ｐをフラットベッドスキャナ２７に載置した際の並進および回転が主であり、若干の拡大縮小が含まれることもある。したがって、テストパターン画像データと被検査画像データとは、アフィン変換により変形可能である。２次元のアフィン変換は、斉次座標系を用いると３×３の行列により表現することができ、未知のパラメータは６つである。したがって、６つの特徴点間の対応が既知であれば、未知のパラメータを算出することが可能である。具体的な算出方法は、公知の方法を用いることができるため、詳細な説明は省略する。
【００３８】
形状補正部３３は、上述の処理により算出したアフィン変換パラメータに基づき、被検査画像データの各々の画素の座標値を算出し、形状補正を行うが、補正後の被検査画像データにおいて、画素値が不定となる画素が存在する場合がある。このときには、画素値が不定となっている画素の周囲の画素の画素値を用いて、補間法により画素値を決定する。このようにして、形状補正された被検査画像データは、メモリ４０に記憶される。以下の処理では、画像取得部３１により取得された被検査画像データに代わり、この形状補正された被検査画像データが用いられる。
【００３９】
以下の処理では、所定のブロック毎に判定が行われる。そのため、まず判定対象となる判定領域が設定される（＃０５）。本実施形態では、各々の判定領域が重複するように設定される。そのため、一の画素に対して複数回の判定が行われ、欠陥画素の検出精度を向上させることができる。なお、判定精度の向上および演算量の増大を考慮すると、判定領域の半分程度が重複するように判定領域を設定すると好適である。例えば、判定領域の大きさが５×５の場合には、各々の判定領域は２画素が重複するように設定される。
【００４０】
設定された判定領域に対して、ノイズ判定部３４によりノイズ判定が行われる（＃０６）。ノイズ判定部３４は、判定領域の座標と判定領域に含まれている画素値とに基づき判定領域にノイズが存在するか否かの判定を行う。たとえば、判定領域が領域Ｒ１内であり、サブテストパターンＴ１は、赤で形成されているとすると、判定領域の画素値は白および赤のみでなければならない。そのため、白および赤を表す画素値から所定の許容範囲を持つ範囲が特定画素値範囲として特定され、この特定画素値範囲外の画素値を持つ画素が存在した場合には、判定領域全体をノイズであると判定する（＃０７のYes分岐）。このとき、この判定領域に対する以降の処理はスキップされる。
【００４１】
一方、ノイズ判定部３４によりノイズでないと判定された場合（＃０７のNo分岐）には、正常画素判定部３５により正常画素判定が行われる（＃０９）。正常画素判定部３５は、テストパターン画像データにおいて判定領域と同じ大きさで同じ位置の領域を比較領域として設定し、判定領域と比較領域と比較を行う。本実施形態では、比較として、対応する位置の画素の差分値の絶対値の総和を算出する。正常画素判定部３５は、算出した値が所定の閾値以下の場合には、判定領域に含まれる画素は正常であると判定する。このようにして正常画素を判定しておくことにより、画素の滲み等の影響により欠陥画素の検出精度が低下することを回避することができると共に、以降の不要な演算の実行を抑制することができる。
【００４２】
正常画素判定部３５により正常画素であると判定された場合（＃１０のYes分岐）には、以降の判定処理は行われない。
【００４３】
次に、相関値算出部３６は、判定領域と比較領域との相関値を算出する（＃１１）。相関値の算出方法は、公知の種々の手法を用いることが可能であり、詳細な説明は省略する。算出された相関値は、相関値判定部３７により所定の閾値ＴＨと比較され、相関値が閾値ＴＨよりも大きければ（＃１２のYes分岐）、判定領域に含まれる画素は正常画素であると判定される（＃０８）。
【００４４】
一方、相関値が閾値ＴＨ以下の場合（＃１２のNo分岐）には、位置調整部３８により比較領域の変更が行われ（＃１４）、相関値算出部３６により、判定領域と位置が変更された比較領域との相関値が算出される（＃１１）。このループが、相関値が閾値より大きくなる（＃１２のYes分岐）もしくは、所定の変更位置の全ての変更が行われる（＃１３のYes分岐）まで繰り返される。所定の変更位置の全ての変更が行われ、かつ、いずれの位置においても算出された相関値が閾値ＴＨ以下の場合には、判定領域に含まれる画素値は欠陥画素であると判定され（＃１５）、対応する２次元配列Ｌ[  ][  ]の値が「欠陥画素」に設定される。なお、本実施形態における、比較領域の変更位置は、ｘ軸およびｙ軸方向にそれぞれ−３から＋３画素としている。
【００４５】
上述の処理が、全画素の判定が終了するまで繰り返される（＃１６）。判定処理が完了すると、表示部３９は、メモリ４０上の２次元配列Ｌ[  ][  ]の内容に基づき、被検査画像データをディスプレイ２２に表示する。このとき、表示部３９は、２次元配列Ｌ[  ][  ]が「欠陥画素」となっている画素値を、「正常画素」となっている画素値と識別可能に表示する。このときの表示例を図６に示す。この表示例では、被検査画像データには欠陥Ｄ１からＤ３が含まれており、各々の欠陥部分が円Ｃ１からＣ３により正常画素と識別可能に表示されている。なお、表示形態はこれに限定されるものではなく、本発明の目的を達する限りにおいて適宜変更可能である。
【００４６】
また、上述の実施形態では、相関値算出に先立ち、ノイズ判定、正常画素判定を実行したが、これらの処理は必須ではなく、一方のみを実行しても構わないし、両方を実行しない構成としても構わない。
【００４７】
また、上述の実施形態では、ノイズ判定、正常画素判定、相関値算出は、いずれも同じブロックサイズで実行したが、各々の処理で異なるブロックサイズを用いても構わない。この場合には、被検査画像データ全体に対してノイズ判定が行われた後、被検査画像データ全体に対して正常値判定が行われ、相関値算出が行われるという処理の流れとなる。
【００４８】
上述のように、本発明によれば、欠陥画素を検出し、テストパターンのいずれの領域に欠陥が生じているかを的確に把握することができるため、得られた情報に基づき画像形成装置を最適な動作状態に調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の実施形態における写真プリント装置の概観図
【図２】本発明の実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図
【図３】本発明の実施形態におけるテストパターン画像の例
【図４】本発明の画像欠陥検査方法の処理の流れを示すフローチャート
【図５】本発明の画像欠陥検査方法の実施例における特徴点取得に用いるテンプレート画像の例
【図６】本発明の画像欠陥検査方法の実施例における被検査画像データの表示例
【符号の説明】
【００５０】
２１：画像処理装置
２２：ディスプレイ
２７：フラットベッドスキャナ
３１：画像取得部
３２：特徴点取得部
３３：形状補正部
３４：ノイズ判定部
３５：正常画素判定部
３６：相関値算出部
３７：相関値判定部
３８：位置調整部
３９：表示部
４０：メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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