(57)【要約】【課題】欠陥ビットがあるメモリに対応して動作するデジタルカメラおよびその画像記憶方法を提供。【解決手段】デジタルカメラにおけるシステムLSI 10は、メモリテスト部30が画像メモリ28における欠陥ビットをテストして欠陥ビット情報を検出し、画像メモリ28に対してデータの書き込みまたは呼び出しのアクセスがあるとき、そのアクセスが画像メモリ28の欠陥ビットに対するものである場合に、データ置換回路32が欠陥ビットの代わりに置換バッファ34に対してアクセスさせるように制御することにより、欠陥ビットが発生した画像メモリ28を用いてもデジタルカメラが動作可能となる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラにおいて、該カメラは、
該カメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御手段を含み、
該システム制御手段は、該カメラによるさまざまな処理段階における画像データを一時的に格納する画像メモリと、
該画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスを制御するメモリコントローラと、
前記画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト手段と、
前記画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリテスト手段のテスト結果に基づいて、該所定のアクセスが前記欠陥ビットへのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットへのアクセスである場合に、前記所定のアクセスを他の代替メモリへのアクセスに置換して制御するデータ置換手段とを含むことを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項２】
請求項１に記載のデジタルカメラにおいて、該カメラは、前記画像メモリの欠陥ビットの代替メモリとして用いられる置換バッファを含み、
前記データ置換手段は、前記他の代替メモリとして前記置換バッファを使用することを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項３】
請求項１に記載のデジタルカメラにおいて、前記データ置換手段は、前記他の代替メモリとして、前記画像メモリにおけるRAWデータの無効画素領域を使用することを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項４】
被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラにおいて、該カメラは、
前記撮像素子において欠陥のある画素を補正対象画素として、前記画像データであるRAWデータのうち、補正対象画素に対応する画素データを画素補正する画素補正手段と、
該カメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御手段とを含み、
該システム制御手段は、該カメラによるさまざまな処理段階における画像データを一時的に格納する画像メモリと、
該画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスを制御するメモリコントローラと、
前記画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト手段と、
該メモリテスト手段のテスト結果に基づいて、前記画像メモリにおいて前記欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換手段と、
前記画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリマップ変換手段によるメモリマップ変換情報に基づいて、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、前記所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換手段と、
前記画像メモリに格納されたRAWデータを前記画素補正手段で画素補正する場合に、前記メモリテスト手段のテスト結果に基づいて、前記欠陥ビットに対応する画素を前記補正対象画素として設定し、前記画素補正手段を制御する画素補正制御手段とを含むことを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項５】
被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラにおいて、該カメラは、
該カメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御手段を含み、
該システム制御手段は、該カメラによるさまざまな処理段階における画像データを一時的に格納する画像メモリと、
該画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスを制御するメモリコントローラと、
前記画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト手段と、
該メモリテスト手段のテスト結果に基づいて、前記画像メモリにおいて前記欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換手段と、
前記画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリマップ変換手段によるメモリマップ変換情報に基づいて、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、前記所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換手段と、
前記画像メモリの前記RAWデータを格納するメモリ領域に対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリテスト手段のテスト結果に基づいて、前記所定のアクセスが、前記画像メモリの入出力に用いる複数のデータバスのうち、前記欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスである場合に、前記所定のアクセスについて、前記欠陥ビットに対応するデータバスを他の代替データバスと置換して制御するデータバス変換手段とを含むことを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項６】
請求項５に記載のデジタルカメラにおいて、前記データバス変換手段は、前記複数のデータバスのうち、使用しないデータバスを他の代替データバスとして使用することを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項７】
請求項５に記載のデジタルカメラにおいて、前記データバス変換手段は、前記複数のデータバスのうち、最も重みの少ないデータバスを他の代替データバスとして使用することを特徴とするデジタルカメラ。
【請求項８】
被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラが、該カメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御部によって、該カメラによるさまざまな処理段階における画像データを画像メモリに一時的に格納する画像記憶方法において、該方法は、
前記画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスをメモリコントローラで制御する第１の制御工程と、
前記画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト工程と、
前記画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリテスト工程のテスト結果に基づいて、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットへのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットへのアクセスである場合に、前記所定のアクセスを他の代替メモリへのアクセスに置換して制御するデータ置換工程とを含むことを特徴とする画像記憶方法。
【請求項９】
請求項８に記載の画像記憶方法において、前記データ置換工程は、前記他の代替メモリとして、前記画像メモリと異なる置換バッファを使用することを特徴とする画像記憶方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の画像記憶方法において、前記データ置換工程は、前記他の代替メモリとして、前記画像メモリにおけるRAWデータの無効画素領域を使用することを特徴とする画像記憶方法。
【請求項１１】
被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラが、該カメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御部によって、該カメラによるさまざまな処理段階における画像データを画像メモリに一時的に格納する画像記憶方法において、該方法は、
前記画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスをメモリコントローラで制御する第１の制御工程と、
前記画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト工程と、
該メモリテスト工程のテスト結果に基づいて、前記画像メモリにおいて前記欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換工程と、
前記画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリマップ変換工程によるメモリマップ変換情報に基づいて、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、前記所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換工程と、
前記撮像素子において欠陥のある画素を補正対象画素として、前記画像メモリに格納されたRAWデータのうち、補正対象画素に対応する画素データの画素補正を実行する場合に、前記メモリテスト工程のテスト結果に基づいて、前記欠陥ビットに対応する画素をさらに前記補正対象画素として設定し、前記画素補正を制御する画素補正制御工程とを含むことを特徴とする画像記憶方法。
【請求項１２】
被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラが、該カメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御部によって、該カメラによるさまざまな処理段階における画像データを画像メモリに一時的に格納する画像記憶方法において、該方法は、
前記画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスをメモリコントローラで制御する第１の制御工程と、
前記画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト工程と、
該メモリテスト工程のテスト結果に基づいて、前記画像メモリにおいて前記欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換工程と、
前記画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、前記メモリマップ変換工程によるメモリマップ変換情報に基づいて、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、前記所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換工程と、
前記画像メモリの前記RAWデータを格納するメモリ領域に対して前記所定のアクセスがあった場合に、前記メモリテスト工程のテスト結果に基づいて、前記所定のアクセスが、前記画像メモリの入出力に用いる複数のデータバスのうち、前記欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、前記所定のアクセスが前記欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスである場合に、前記所定のアクセスについて、前記欠陥ビットに対応するデータバスを他の代替データバスと置換して制御するデータバス変換工程とを含むことを特徴とする画像記憶方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の画像記憶方法において、前記データバス変換工程は、前記複数のデータバスのうち、使用しないデータバスを他の代替データバスとして使用することを特徴とする画像記憶方法。
【請求項１４】
請求項１２に記載の画像記憶方法において、前記データバス変換工程は、前記複数のデータバスのうち、最も重みの少ないデータバスを他の代替データバスとして使用することを特徴とする画像記憶方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥ビットがあるメモリに対応して動作するデジタルカメラおよびその画像記憶方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、デジタルカメラは、撮影した画像データに対して、アナログ信号処理、デジタル信号処理、および圧縮・伸張処理、記録処理および表示処理などのさまざまな処理を施すもので、各処理段階において、画像データを画像メモリに一時的に格納することができる。
【０００３】
この画像メモリは、複数のメモリセルからなるDRAMなどの揮発性メモリが用いられるが、いずれかのメモリセルに欠陥が生じ、すなわち欠陥ビットが発生することがある。
【０００４】
したがって、デジタルカメラでは、画像メモリに故障が発生した場合に、その故障を操作者に通知し、たとえば警告メッセージをLCD表示するものがある。
【０００５】
また、デジタルカメラは、あらかじめ故障を想定して製造されて、大きな冗長メモリを配置した画像メモリを適用することにより、画像メモリの故障時でも問題なく動作可能とするものがある。
【０００６】
さらに、デジタルカメラは、故障が発生したメモリ領域を使用するハードウエア部分についてはソフトウエア処理に切り替えることによって、動作可能とするものもある。
【０００７】
たとえば、特許文献１に記載の固体記憶装置では、ECC選択システムが、記憶装置の誤り率に基づいて誤り訂正符号のセットを自動的に選択し、選択された誤り訂正符号のセットを固体記憶装置にインストールするように構成される。
【０００８】
また、特許文献２に記載の画像処理装置では、イメージプロセッサによる画像処理が正常でないと診断された場合に、画像処理と同じ処理をソフトウエアによって切り替えることにより、新たなイメージプロセッサに交換するまで画像処理実行不能になることがなく、画像処理を継続することができる。
【０００９】
さらに、特許文献３に記載の画像記録再生装置では、デジタルスチルカメラが長時間使用されて、カメラ本体の温度が上昇し、選択されている記録媒体が作動不能状態になった場合に、自動的に記録媒体の変更を行い、撮影を続行することが可能なため、シャッタチャンスや撮影した画像の損失を排除することができる。
【特許文献１】特開2005-216301号公報
【特許文献２】特開平11-39460号公報
【特許文献３】特開2004-289307号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、デジタルカメラでは、特許文献１の固体記憶装置のように誤り訂正非業のような冗長なデータを格納するスペースはなく、大きな冗長メモリを配した画像メモリを使用すると、コストが高くなり、特許文献３の画像記録再生装置のように、さらなる記録装置を設ける場合でも、コストは高くなる。また、デジタルカメラにおいて、ハードウエア処理をソフトウエア処理に切り替えると、動作速度が大幅に低下することになる。
【００１１】
本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、欠陥ビットを有する画像メモリを使用する場合に、コストを高めたり、動作速度を低下したりすることなく、動作することができるデジタルカメラおよびその画像記憶方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明によれば、被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラは、このカメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御手段を含み、このシステム制御手段は、このカメラによるさまざまな処理段階における画像データを一時的に格納する画像メモリと、この画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスを制御するメモリコントローラと、この画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト手段と、この画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリテスト手段のテスト結果に基づいて、この所定のアクセスがこの欠陥ビットへのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットへのアクセスである場合に、この所定のアクセスを他の代替メモリへのアクセスに置換して制御するデータ置換手段とを含むことを特徴とする。
【００１３】
また、被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラは、この撮像素子において欠陥のある画素を補正対象画素として、この画像データであるRAWデータのうち、補正対象画素に対応する画素データを画素補正する画素補正手段と、このカメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御手段とを含み、このシステム制御手段は、このカメラによるさまざまな処理段階における画像データを一時的に格納する画像メモリと、この画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスを制御するメモリコントローラと、この画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト手段と、このメモリテスト手段のテスト結果に基づいて、この画像メモリにおいてこの欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換手段と、この画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリマップ変換手段によるメモリマップ変換情報に基づいて、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、この所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換手段と、この画像メモリに格納されたRAWデータをこの画素補正手段で画素補正する場合に、このメモリテスト手段のテスト結果に基づいて、この欠陥ビットに対応する画素をこの補正対象画素として設定し、この画素補正手段を制御する画素補正制御手段とを含むことを特徴とする。
【００１４】
さらに、被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラは、このカメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御手段を含み、このシステム制御手段は、このカメラによるさまざまな処理段階における画像データを一時的に格納する画像メモリと、この画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスを制御するメモリコントローラと、この画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト手段と、このメモリテスト手段のテスト結果に基づいて、この画像メモリにおいてこの欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換手段と、この画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリマップ変換手段によるメモリマップ変換情報に基づいて、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、この所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換手段と、この画像メモリのこのRAWデータを格納するメモリ領域に対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリテスト手段のテスト結果に基づいて、この所定のアクセスが、この画像メモリの入出力に用いる複数のデータバスのうち、この欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスである場合に、この所定のアクセスについて、この欠陥ビットに対応するデータバスを他の代替データバスと置換して制御するデータバス変換手段とを含むことを特徴とする。
【００１５】
また、本発明によれば、被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラが、このカメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御部によって、このカメラによるさまざまな処理段階における画像データを画像メモリに一時的に格納する画像記憶方法は、この画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスをメモリコントローラで制御する第１の制御工程と、この画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト工程と、この画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリテスト工程のテスト結果に基づいて、この所定のアクセスがこの欠陥ビットへのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットへのアクセスである場合に、この所定のアクセスを他の代替メモリへのアクセスに置換して制御するデータ置換工程とを含むことを特徴とする。
【００１６】
さらに、被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラが、このカメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御部によって、このカメラによるさまざまな処理段階における画像データを画像メモリに一時的に格納する画像記憶方法は、この画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスをメモリコントローラで制御する第１の制御工程と、この画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト工程と、このメモリテスト工程のテスト結果に基づいて、この画像メモリにおいてこの欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換工程と、この画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリマップ変換工程によるメモリマップ変換情報に基づいて、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、この所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換工程と、この撮像素子において欠陥のある画素を補正対象画素として、この画像メモリに格納されたRAWデータのうち、補正対象画素に対応する画素データの画素補正を実行する場合に、このメモリテスト工程のテスト結果に基づいて、この欠陥ビットに対応する画素をさらにこの補正対象画素として設定し、この画素補正を制御する画素補正制御工程とを含むことを特徴とする。
【００１７】
また、被写体を撮像素子で撮像してその被写体の画像を示す画像データを生成し、また画像データに対して画像処理、記録および表示を行うデジタルカメラが、このカメラ全体の動作を統括して制御するシステム制御部によって、このカメラによるさまざまな処理段階における画像データを画像メモリに一時的に格納する画像記憶方法は、この画像メモリに対して、データの書き込みおよび読み出しなどのアクセスをメモリコントローラで制御する第１の制御工程と、この画像メモリにおける欠陥ビットについてテストするメモリテスト工程と、このメモリテスト工程のテスト結果に基づいて、この画像メモリにおいてこの欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域と置き換えてメモリマップを変換するメモリマップ変換工程と、この画像メモリに対して所定のアクセスがあった場合に、このメモリマップ変換工程によるメモリマップ変換情報に基づいて、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットのあるメモリ領域へのアクセスである場合に、この所定のアクセスをメモリマップ変換後のメモリ領域であるRAWデータ格納領域へのアクセスに変換して制御するアドレス変換工程と、この画像メモリのこのRAWデータを格納するメモリ領域に対してこの所定のアクセスがあった場合に、このメモリテスト工程のテスト結果に基づいて、この所定のアクセスが、この画像メモリの入出力に用いる複数のデータバスのうち、この欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスであるか否かを判定し、その判定の結果、この所定のアクセスがこの欠陥ビットに対応するデータバスを含むアクセスである場合に、この所定のアクセスについて、この欠陥ビットに対応するデータバスを他の代替データバスと置換して制御するデータバス変換工程とを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
このように本発明のデジタルカメラによれば、画像メモリに対してデータ書き込みまたは呼び出しのアクセスがあるとき、そのアクセスが画像メモリの欠陥ビットに対するものである場合に、データ置換回路が欠陥ビットの代わりに置換バッファに対してアクセスさせるように制御することにより、欠陥ビットが発生した画像メモリを用いてもデジタルカメラが動作可能となる。
【００１９】
また、このデジタルカメラは、画像メモリに対するアクセスが画像メモリの欠陥ビットに対するものである場合に、データ置換回路が欠陥ビットの代わりに画像メモリのRAWデータ無効画素領域に対してアクセスさせるように制御することにより、欠陥ビットが発生した画像メモリを用いてもデジタルカメラが動作可能となる。
【００２０】
さらに、本発明のデジタルカメラは、メモリマップ・アドレス変換回路が、画像メモリの欠陥ビットのあるメモリ領域をRAWデータ格納領域と置き換えて画像メモリへのアクセスを制御し、画素補正制御回路が、画像メモリの欠陥ビットに対応する画素についても画素補正するように画素補正部を制御することにより、欠陥ビットが発生した画像メモリを用いてもデジタルカメラが動作可能となる。
【００２１】
また、本発明のデジタルカメラは、画像メモリに対するアクセスが画像メモリの欠陥ビットに対するものである場合に、データバス変換回路が欠陥ビットに対応するデータバスを使用しないデータバスと置き換えて画像メモリへのアクセスを制御することにより、欠陥ビットが発生した画像メモリを用いてもデジタルカメラが動作可能となる。
【００２２】
さらに、このデジタルカメラは、画像メモリに対するアクセスが画像メモリの欠陥ビットに対するものである場合に、データバス変換回路が欠陥ビットに対応するデータバスを重みの少ないデータバスと置き換えて画像メモリへのアクセスを制御することにより、欠陥ビットが発生した画像メモリを用いてもデジタルカメラが動作可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
次に添付図面を参照して本発明によるデジタルカメラの実施例を詳細に説明する。本実施例におけるデジタルカメラは、システム制御部10によって制御されて、図示しないが、撮像素子で得られる画像データを信号処理して、記録部に記録し、また表示部に表示させるものである。
【００２４】
本実施例のシステム制御部10は、本カメラ全体の動作を統括して制御する制御機能部で、たとえばシステムLSI（Large Scale Integration）であり、図１に示すように、主制御部12、RAWデータIF制御部14、画素補正制御部16、画像処理制御部18、圧縮・伸張制御部20、記録制御部22および表示制御部24によって制御されて、メモリコントローラ26を介して画像メモリ28に対してデータの書き込みまたは読み出しを行うもので、とくに、メモリテスト部30がメモリコントローラ26を介して画像メモリ28のテストを実行して、このメモリ28における欠陥ビットを検出してデータ置換回路32に知らせ、データ置換回路32は、各制御部からこの欠陥ビットに対してデータの書き込みまたは読み出しの指示があったときに、その欠陥ビットの代わりに置換バッファ34を用いてデータの書き込みまたは読み出しを行うことができる。なお、本発明の理解に直接関係のない部分は、図示を省略し、冗長な説明を避ける。
【００２５】
本実施例のデジタルカメラは、図示しないが、操作部の操作に応じてシステムLSI 10で各部を制御して、撮像素子で被写界像を撮像して画像データを生成し、その画像データをアナログ信号処理部でアナログ信号処理してRAWデータを生成し、システムLSI 10における画像メモリ28に格納する。
【００２６】
この操作部は、操作者の指示を入力してシステムLSI 10に供給する手操作装置でよく、また、撮像素子は、被写界からの入射光に応じた被写界像を撮像面に結像し、その被写界像を画素ごとに光電変換して画像データを生成する電荷結合素子（Charge Coupled Device：CCD）や金属酸化膜型半導体（Metal Oxide Semiconductor：MOS）などのイメージセンサでよい。
【００２７】
また、アナログ信号処理部は、撮像素子からの画像データに対して、たとえば、相関二重サンプリング回路およびゲインコントロールアンプなどの回路によってアナログ信号処理を実行し、また、アナログ・デジタル変換器によってアナログ・デジタル変換処理を施してRAWデータを生成するものでよい。
【００２８】
また、本実施例のデジタルカメラでは、図示しないが、画素補正部およびデジタル信号処理部が、システムLSI 10における画像メモリ28に格納されたRAWデータを読み出して画素補正およびデジタル信号処理を施し、デジタル画像データを生成する。
【００２９】
この画素補正部は、撮像素子における欠陥画素に係る情報をあらかじめ保持し、たとえば欠陥画素を示すマップなどの欠陥画素情報を制御用メモリ36などに記憶しておき、画像メモリ28から読み出したRAWデータのうち、欠陥画素に対応するデータを、この欠陥画素情報に基づいて補正するものでよい。
【００３０】
また、デジタル信号処理部は、画像メモリ28から読み出したRAWデータに対して、たとえば、入力したデジタル画像信号114に対して、オフセット補正処理、ホワイトバランス補正処理、同時化処理、補間処理、リニアマトリクス処理、ガンマ補正処理およびYC変換などのデジタル信号処理をするものでよい。
【００３１】
さらに、デジタルカメラでは、圧縮・伸張処理部が、画像メモリ28に格納されたデジタル画像データを読み出して、圧縮処理して記録部に記録し、また記録部に記録された画像データを伸張処理して画像メモリ28に格納する。
【００３２】
この圧縮伸張部は、たとえば、JPEG圧縮処理およびJPEG伸張処理を行なうものでよい。また、記録部は、たとえば、半導体メモリが搭載されたメモリカードや光磁気ディスク等の回転記録体を収容したパッケージなどを用いた情報記録媒体を含んでもよく、この情報記録媒体を着脱可能にしてもよい。
【００３３】
また、デジタルカメラでは、表示部が、画像メモリ28に格納されたデジタル画像データを読み出して、たとえば、液晶表示（Liquid Crystal Display: LCD）パネルなどの表示器に表示させる。
【００３４】
本実施例のシステムLSI 10は、画像データを一時的に記憶するメモリとしてDRAMやSDRAMなどの画像メモリ28を使用し、また、本カメラの設定条件などのその他の要素128を記憶するメモリとしてROMなどの制御用メモリ36を使用する。画像メモリ28は、たとえば64MBの容量を有する揮発性メモリでよい。
【００３５】
システムLSI 10は、RAWデータやデジタル信号処理後のデータなど、用途に応じてさまざまな処理段階の画像データを取り扱うので、画像メモリ28は、これらの画像データをそれぞれ格納する。
【００３６】
主制御部12は、システムLSI 10および本カメラ全体の動作を統括して制御する制御機能部で、たとえば、中央演算処理装置（Central Processing Unit：CPU）を有するものでよい。
【００３７】
この主制御部12は、図示しない本カメラの操作部の操作に応じて制御信号102を生成して各部に供給して制御し、また、図示しないが、本カメラを動作させる基本クロックを発生するタイミング発生器などの発振器を有して、この基本クロックを各部に供給する。
【００３８】
本実施例において、主制御部12は、制御信号102によってデータ置換回路32と接続して、画像メモリ28または置換バッファ34における画像データにアクセスすることができる。なお、以下の説明において、各信号はその現れる接続線の参照番号で特定する。
【００３９】
RAWデータIF制御部14は、本カメラの撮像素子によって撮影された画像を示すRAWデータをシステムLSI 10に取り込むように制御するインタフェースであり、本実施例では、アナログ信号処理部からRAWデータを入力する。また、本実施例のRAWデータIF制御部14は、データ置換回路32に対してこのRAWデータ104の書き込みを指示して、RAWデータ104をデータ置換回路32に供給し、画像メモリ28または置換バッファ34に格納する。
【００４０】
画素補正制御部16は、本カメラの画素補正部の動作を制御するもので、データ置換回路32に対して画素補正するRAWデータ106の読み出しを指示して、画像メモリ28または置換バッファ34から置換回路32を介してこのRAWデータ106を得て、画素補正部に供給する。また、画素補正制御部16は、画素補正部で補正されたRAWデータ108を画像処理制御部18に供給する。
【００４１】
画像処理制御部18は、本カメラのデジタル信号処理部の動作を制御するもので、画素補正制御部16から補正後のRAWデータ108を得て、またはデータ置換回路32に対してデジタル信号処理の対象とするRAWデータ110の読み出しを指示して、画像メモリ28もしくは置換バッファ34から置換回路32を介してRAWデータ110を得て、デジタル信号処理部に供給する。
【００４２】
また、画像処理制御部18は、デジタル信号処理したデジタル画像データをデジタル信号処理部から入力し、データ置換回路32に供給してこのデジタル画像データ110を画像メモリ28もしくは置換バッファ34に格納する。
【００４３】
圧縮・伸張制御部20は、本カメラの圧縮・伸張処理部の動作を制御するもので、データ置換回路32に対して伸張処理の対象とするデジタル画像データ112の読み出しを指示して、画像メモリ28または置換バッファ34から置換回路32を介してこのデジタル画像データ112を得て圧縮・伸張処理部に供給し、また、データ置換回路32に対して圧縮処理したデジタル画像データ112の書き込みを指示して、このデジタル画像データ112をデータ置換回路32に供給し、画像メモリ28または置換バッファ34に格納する。
【００４４】
記録制御部22は、本カメラの記録部の動作を制御するもので、データ置換回路32に対して記録の対象とするデジタル画像データ114の読み出しを指示して、画像メモリ28または置換バッファ34から置換回路32を介してこのデジタル画像データ114を得て、記録部に供給する。
【００４５】
また、記録制御部22は、記録部からデジタル画像データ114を読み出して、置換回路32を介してこのデジタル画像データ114を画像メモリ28または置換バッファ34に書き込むこともできる。
【００４６】
表示制御部24は、本カメラの表示部の動作を制御するもので、データ置換回路32に対して表示の対象とするデジタル画像データ116の読み出しを指示して、画像メモリ28または置換バッファ34から置換回路32を介してこのデジタル画像データ116を得て、表示部に供給する。
【００４７】
メモリコントローラ26は、画像メモリ28に対するデータの書き込みおよび読み出しなどのアクセス118を制御するもので、本実施例では、メモリテスト部30およびデータ置換回路32から画像メモリ28へのアクセスの指示120および122に応じてこのアクセスを制御する。本実施例のメモリコントローラ26は、画像メモリ28におけるデータの格納先のメモリアドレスを指定して、データ書き込みおよび読み出しを制御するので、メモリテスト部30またはデータ置換回路32から、書き込みまたは読み出しの指示120および122とともに、対象データおよび格納先のメモリアドレスを受ける。
【００４８】
メモリテスト部30は、画像メモリ28が欠陥ビットを含んでいるか否かを判定してメモリ28のテストをするもので、そのテスト結果124として、画像メモリ28における欠陥ビットの有無および欠陥ビットのアドレスをデータ置換回路32に供給する。
【００４９】
本実施例のメモリテスト部30は、テストパターン122を生成してメモリコントローラ26によって画像メモリ28に書き込み、さらにメモリコントローラ26によって画像メモリ28からそのテストパターン122を読み出して、書き込む前のテストパターンと一致するか否かを画像メモリ28のビットごとに判定し、その判定の結果、両者が一致しない場合、そのメモリビットが欠陥ビットであると判断する。メモリテスト部30は、たとえばテストパターン生成回路を有し、小さな回路規模で実現されるBIST（Built-In Self-Test）回路でよい。
【００５０】
データ置換回路32は、画像メモリ28における欠陥ビットに対するデータの書き込みまたは読み出しなどのアクセスを制限するものである。
【００５１】
本実施例のデータ置換回路32は、各制御部から画像メモリ28に対する書き込みまたは読み出しなどのアクセスがあったとき、そのアクセスが画像メモリ28における欠陥ビットへのアクセスであるか否かを判定し、その判定結果に応じて、欠陥ビットへのアクセスである場合に、画像メモリ28の欠陥ビットの代わりに置換バッファ34を用いてそのアクセスに応じたデータ126の書き込みまたは読み出しをする。データ置換回路32は、たとえば、このアクセスがデータ書き込みであった場合、欠陥ビットへの書き込みを予定していたデータ126を、欠陥ビットのメモリアドレスとともにその置換バッファ34の代替メモリに格納する。
【００５２】
データ置換回路32は、メモリテスト部30からのテスト結果124によって画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレスを受けてこれを保持し、画像メモリ28に対するアクセスが欠陥ビットのメモリアドレスに対するアクセスであるか否かを判定することにより、欠陥ビットへのアクセスを判定することができる。
【００５３】
このように、データ置換回路32は、欠陥ビットへのアクセス先を置換バッファ34の代替メモリに置換するので、各部が欠陥ビットのアドレスを認識する必要はない。また、データ置換回路32は、画像メモリ28が複数の欠陥ビットを含む場合でも、複数の代替メモリをそれぞれ用いて、データ書き込み及び読み出しを行うように構成されてよい。
【００５４】
置換バッファ34は、画像メモリ28の欠陥ビットの代替メモリとして使用される記憶部であり、本実施例では、欠陥ビットのメモリアドレスと、欠陥ビットへの書き込みを予定していたデータ126とを保持するように構成される。置換バッファ34は、複数の欠陥ビットに対応できるように複数の代替メモリを有して構成されてよい。
【００５５】
また、置換バッファ34は、SRAMで構成されてもよく、フリップフロップで構成されてもよいが、コストに影響を与えないものが適用されるとよい。置換バッファ34は、画像メモリ28の1％以下のものでよく、たとえば32bitの容量を有するものでよい。
【００５６】
次に、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、メモリテスト部30における画像メモリ28のテスト、ならびに画像メモリ28に対するデータ書き込みおよび読み出しに関する動作を、図２のフローチャートを参照しながら説明する。
【００５７】
このデジタルカメラでは、あらかじめ、たとえば出荷時または起動時において、メモリテスト部30で画像メモリ28のテストが行われ、そのテスト結果124として、画像メモリ28における欠陥ビットの有無および欠陥ビットのメモリアドレスがデータ置換回路32に供給されて保持される（S202）。
【００５８】
本実施例では、データ置換回路32において、システムLSI 10のいずれかの制御部から、画像メモリ28に対するデータ書き込みまたは読み出しを示す所定のアクセスがあると、テスト結果124に基づいて、そのアクセス先のメモリアドレスが、画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレスであるか否かが判定される（S204）。
【００５９】
たとえば、操作者が所望の被写界を撮影して、その撮影画像を示すRAWデータが撮像素子からシステムLSI 10に供給されると、RAWデータIF制御部１4において、このRAWデータの画像メモリ28への書き込みを示すアクセス104がデータ置換回路32に供給される。
【００６０】
また、本カメラの表示部が、画像メモリ28に格納されたデジタル画像データを表示処理するとき、表示制御部24において、このデジタル画像データの画像メモリ28からの読み出しを示すアクセス116がデータ置換回路32に供給される。
【００６１】
ステップS204の判定の結果、欠陥ビットへのアクセスでない場合には、そのアクセス122はデータ置換回路32からメモリコントローラ26に供給されて、通常のデータ書き込みおよび読み出しが行われる。また、欠陥ビットへのアクセスである場合には、そのアクセスが書き込みか読み出しかが判定される（S206）。
【００６２】
ステップS206の判定の結果、そのアクセスが欠陥ビットへの書き込みである場合、ステップS208に進み、データ置換回路32において、欠陥ビットへの書き込みを予定していたデータ126が、欠陥ビットのメモリアドレスとともに、置換バッファ34の代替メモリに格納される。
【００６３】
他方、ステップS206の判定の結果、そのアクセスが欠陥ビットからの読み出しである場合、ステップS210に進み、データ置換回路32において、その欠陥ビットのメモリアドレスに対応する置換バッファ34の代替メモリからデータ126が読み出されて、そのアクセスを指示した制御部に対して供給される。
【００６４】
この実施例のLSI 10では、所定のアクセスのアクセス先である画像メモリ28の複数のメモリアドレスについて、それぞれ欠陥ビットのメモリアドレスであるか否かを判定するように動作することができる。
【００６５】
また、システムLSI 10は、置換バッファ34を含まずに構成されて、欠陥ビットへ格納しようとするデータを、画像メモリ28におけるRAWデータ無効画素領域に相当する位置に格納するように、データ置換回路32がアクセス先のメモリアドレスを置換することもできる。
【００６６】
本カメラにおいて、撮像素子からRAWデータIF制御部14を介してシステムLSI 10に入力されるRAWデータは、無効画素領域を含み、この無効画素領域は、画素補正処理およびデジタル信号処理に影響を与えない画素データからなるので、データ置換回路32は、画像メモリ28において欠陥ビットの代わりに無効画素領域を用いてデータを格納する。
【００６７】
このデータ置換回路32は、画像メモリ28に対する書き込みまたは読み出しなどのアクセスがあったとき、そのアクセスが画像メモリ28における欠陥ビットへのアクセスであるか否かを判定し、その判定結果に応じて、欠陥ビットへのアクセスである場合に、画像メモリ28の欠陥ビットの代わりに、画像メモリ28のRAWデータ無効画素領域を代替メモリとして使用してデータ書き込みまたは読み出しをする。データ置換回路32は、RAWデータの無効画素領域のメモリアドレスをあらかじめ認識しておき、代替メモリのメモリアドレスとして使用するとよい。
【００６８】
すなわち、データ置換回路32は、各制御部からのアクセスによって、画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレスがアクセス先である場合に、画像メモリ28のRAWデータ無効画素領域の代替メモリのメモリアドレスを代替アクセス先として置換する。
【００６９】
次に、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、欠陥ビットをアクセス先とするデータに関して、無効画素領域に対して書き込みおよび読み出しを行う動作を、図３のフローチャートを参照しながら説明する。
【００７０】
図３に示す動作例において、ステップS222〜S226における動作は、図１のステップS202〜S206と同様であるので、その説明を省略する。
【００７１】
ステップS226の判定の結果、所定のアクセスが欠陥ビットへの書き込みである場合、ステップS228に進み、データ置換回路32において、欠陥ビットへの書き込みを予定していたデータ126が、画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレスとともに、画像メモリ28のRAWデータ無効画素領域の代替メモリに格納される。
【００７２】
このとき、画像メモリ28における代替メモリには、RAWデータは上書きされない。
【００７３】
他方、ステップS226の判定の結果、そのアクセスが欠陥ビットからの読み出しである場合、ステップS230に進み、データ置換回路32において、画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレスに対応する、画像メモリ28のRAWデータ無効画素領域の代替メモリからデータ126が読み出されて、そのアクセスを指示した制御部に対して供給される。
【００７４】
また、本実施例のシステムLSI 10は、図４に示すように、データ置換回路32の代わりにメモリマップ・アドレス変換回路40を備えて構成され、テスト回路30のテスト結果124を画素補正制御部16にも供給して、欠陥ビットに対応する画素データについて画素補正を行うように制御することができる。
【００７５】
システムLSI 10は、RAWデータやデジタル信号処理後のデータなど、用途に応じてさまざまな処理段階の画像データを取り扱い、これらの画像データをそれぞれ画像メモリ28に格納するので、各データの位置、すなわちメモリアドレスをあらかじめ決定して、異なる種類のデータが上書きされないようにメモリマップを決定しておく。
【００７６】
メモリマップ・アドレス変換回路40は、画像メモリ28において欠陥ビットがあるメモリ領域を、RAWデータを格納するメモリ領域とするようにメモリマップを変更するメモリマップ変換機能と、メモリマップの変更に応じて、アクセス先のメモリアドレスを変更するアドレス変換機能とを有する。
【００７７】
本実施例において、メモリマップ変換機能を実行するメモリマップ変換回路40は、メモリテスト部30から供給されるテスト結果124、すなわち画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレス情報124を得て、このメモリアドレス情報124に基づいて、画像メモリ28の欠陥ビットが、あらかじめ決定したメモリマップのどのメモリ領域にあるかを判定する。このメモリマップ変換回路40は、その判定の結果、欠陥ビットがRAWデータ格納領域以外にある場合には、各制御部からのアクセスに対して、欠陥ビットのあるメモリ領域とRAWデータ格納領域とを交換して画像メモリ28にアクセスするように制御する。
【００７８】
また、本実施例において、メモリマップ変換回路40は、メモリマップ変換の有無と、そのメモリマップ変換の状況を示す変換情報とを、アドレス変換機能を実行するアドレス変換回路40に供給する。アドレス変換回路40は、このメモリマップ変換情報に基づいて、画像メモリ28へのアクセスに対して、使用するメモリ領域のメモリアドレスを判断する。
【００７９】
アドレス変換回路は、たとえば、システムLSI 10の各制御部から画像メモリ28に対するアクセスを監視し、そのアクセスが、メモリマップ変換がされたメモリ領域に対するものか否かを判定し、メモリマップ変換されたメモリ領域へのアクセスである場合には、そのアクセスに係るメモリアドレスを、メモリマップ変換後のメモリアドレスに変換する。
【００８０】
また、本カメラの画素補正回路は、画素補正制御部16に制御されて、通常、画像メモリ28に格納されたRAWデータに対して、撮像素子における欠陥画素に対応する画素データを補正するが、本実施例では、メモリテスト部30からのテスト結果124に応じて、画像メモリ28の欠陥ビットに対応する画素データをも補正する。この画素補正回路は、たとえば、撮像素子のCCDキズ補正などの画素補正を実行するものでよく、補正対象画素をその周辺画素データを用いて補正するものでよい。
【００８１】
次に、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、メモリテスト部30のテスト結果124に応じてメモリマップを変換する動作を、図５のフローチャートを参照しながら説明する。
【００８２】
図５に示す動作例において、ステップS242における動作は、図１のステップS202と同様であるので、その説明を省略する。
【００８３】
次に、メモリマップ・アドレス変換回路40において、メモリテスト部30からテスト結果124が入力し、画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレス情報124が供給される。
【００８４】
ここでは、まず、メモリマップ変換回路40が実行され、テスト結果124に基づいて、画像メモリ28に欠陥ビットがあるか否かが判定され（S244）、欠陥ビットがある場合にはステップS246に進む。
【００８５】
ステップS246では、メモリアドレス情報124が示す欠陥ビットが、LSI 10であらかじめ決定したメモリマップのどのメモリ領域にあるかが判定され、その判定の結果、欠陥ビットがRAWデータ格納領域以外にある場合には、ステップS248に進む。
【００８６】
ここで、メモリマップ変換回路では、画像メモリ28における欠陥ビットのあるメモリ領域が、RAWデータ格納領域として使用されるように設定され、すなわち、LSI 10の各制御部から画像メモリ28へのアクセスに対して、欠陥ビットのあるメモリ領域とRAWデータ格納領域とが交換されてデータ書き込みおよび読み出しが行われるように制御される。
【００８７】
また、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、画像メモリ28へのアクセスに対して、メモリマップ変換に応じてアクセス先のメモリアドレスを変換する動作を、図６のフローチャートを参照しながら説明する。
【００８８】
まず、メモリマップ・アドレス変換回路40では、メモリマップ変換回路40で得られたメモリマップ変換情報がアドレス変換回路40に供給される（S262）。
【００８９】
また、アドレス変換回路40では、LSI 10の各制御部から画像メモリ28に対するアクセスが監視され（S264）、所定のアクセスがあった場合にはステップS266に進む。
【００９０】
ステップS266において、アドレス変換回路40では、メモリマップ変換回路40からのメモリマップ変換情報に基づいて、この所定のアクセス先である画像メモリ28のメモリアドレスが、メモリマップ変換されたメモリ領域であるか否かが判定される。この判定の結果、この所定のアクセス先が、変換されたメモリ領域である場合には、ステップS268に進み、それ以外の場合には、この所定のアクセスが示すメモリアドレスを画像メモリ28へのアクセスアドレスとして、ステップS270に進む。
【００９１】
ステップS268では、所定の制御部からのアクセスが示す画像メモリ28のメモリアドレスが、メモリマップ変換情報に基づいて、変換されたメモリ領域のメモリアドレスに変換されて、変換後のメモリアドレスを画像メモリ28へのアクセスアドレスとしてステップS270に進む。
【００９２】
また、ステップS270では、ステップS266またはS268で決定した画像メモリ28へのアクセスアドレスが、所定のアクセスの指示122とともにアドレス変換回路40からメモリコントローラ26に供給されて、画像メモリ28に対して所定のアクセスが行われる。
【００９３】
また、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、画像メモリ28の欠陥ビットに対応する画素データを画素補正する動作を、図７のフローチャートを参照しながら説明する。
【００９４】
まず、画素補正制御部16では、メモリテスト部30からテスト結果124が入力し、画像メモリ28の欠陥ビットのメモリアドレス情報124が供給される（S282）。
【００９５】
この画素補正制御部16では、このテスト結果124に応じて、欠陥ビットに対応する画素を補正対象画素として画素補正部に設定する（S284）。
【００９６】
次に、画素補正制御部16では、画像メモリ28に格納されたRAWデータを画素補正するために、メモリマップ・アドレス変換回路40およびメモリコントローラ26を介して画像メモリ28からRAWデータ106を読み出す。読み出したRAWデータ106は、画素補正部に供給されて、設定された補正対象画素に基づいて画素補正され（S286）、たとえば周辺画素を用いた画素補間が行われる。
【００９７】
このように補正されたRAWデータ108は、デジタル信号処理するために、画素補正制御部16を介して画像処理制御部18に供給される（S288）。
【００９８】
また、本実施例のシステムLSI 10は、図８に示すように、RAWデータIF制御部14および画素補正制御部16とメモリマップ・アドレス変換回路40との間にデータバス変換回路42を備えて構成され、画像メモリ28の入出力に用いる複数のデータバスのうち、欠陥ビットに対応するデータバスを他の代替データバスと入れ替えることができる。
【００９９】
画像メモリ28の複数のデータバスは、RAWデータの複数のビットとそれぞれ対応するもので、データバス変換回路42は、画像メモリ28の欠陥ビットに対応するデータバスと使用しないデータバスとを入れ替えて、RAWデータの書き込みおよび読み出しを制御する。
【０１００】
本実施例のデータバス変換回路42は、RAWデータIF制御部14から画像メモリ28に書き込まれるRAWデータ104についてデータバスの置換を実行し、データバス変更後のRAWデータ132の書き込みをメモリマップ・アドレス変換回路40に指示し、また、画像メモリ28から画素補正制御部16へと読み出されるRAWデータについてデータバスの置換を実行し、メモリマップ・アドレス変換回路40を介して読み出したRAWデータ106のデータバス変更後のRAWデータ134を画素補正制御部16に供給することができる。
【０１０１】
このデータバス変換回路42は、メモリテスト部30から供給されるテスト結果124、すなわち画像メモリ28の欠陥ビットのデータバス情報124を得て、このデータバス情報124に基づいて、画像メモリ28の欠陥ビットに対応するデータバスを判定する。
【０１０２】
また、データバス変換回路42は、画像メモリ28のデータバスのビット数と、RAWデータIF制御部14および画素補正制御部16で使用するRAWデータのビット幅とに基づいて、画像メモリ28で使用しないデータバスを判定することができる。
【０１０３】
次に、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、メモリテスト部30のテスト結果124に応じてデータバスを変換する動作を、図９のフローチャートを参照しながら説明する。
【０１０４】
この実施例において、画像メモリ28は、たとえば図10に示すように、16ビットのデータバスでデータを入出力するように構成され、データバスごとに複数のメモリセルを有し、図10ではその内のメモリセルAD(N-2)、AD(N-1)、AD(N)、AD(N+1)およびAD(N+2)が図示されている。ここで、画像メモリ28が16ビットのデータバスDQ(0)〜DQ(15)を有している場合に、データバスDQ(13)におけるメモリセルAD(N)に欠陥ビット140があるものとする。
【０１０５】
このとき、RAWデータIF制御部14および画素補正制御部16で使用するRAWデータのビット幅が14ビットであるとき、データバスDQ(14)およびDQ(15)は使用しないデータバス142である。
【０１０６】
まず、メモリテスト部30において、画像メモリ28のテストが実行されると、データバスDQ(13)におけるメモリセルAD(N)を欠陥ビット140とするテスト結果124が得られ、画像メモリ28のデータバスDQ(13)に欠陥ビット140があるとするデータバス情報124が得られる。このようなデータバス情報を有するテスト結果124は、メモリテスト部30からデータバス変換回路42に供給される（S302）。
【０１０７】
データバス変換回路42では、このテスト結果124に基づいて、図11に示すように、欠陥ビット140があるデータバスDQ(13)と、使用しないデータバスDQ(14)とを入れ替えてこのデータバス変換回路42を介するデータの入出力を制御する。たとえば、RAWデータIF制御部14から書き込まれるRAWデータ104は、ここでデータバス置換され、置換後のRAWデータ132がメモリマップ・アドレス変換回路40を介して画像メモリ28に送信される。また、画像メモリ28からメモリマップ・アドレス変換回路40を介して読み出されたRAWデータ106は、このデータバス置換されて、置換後のRAWデータ134が画素補正制御部16に送信される。
【０１０８】
また、データバス変換回路42は、画像メモリ28の欠陥ビットに対応するデータバスと、最も重みの少ないデータバスとを入れ替えて、RAWデータの入出力を制御することもできる。
【０１０９】
RAWデータは、最上位のビットから最下位のビットに向かって重みが少なくなり、すなわち、画像メモリ28において、その最上ビットに対応する最上位データバスからその最下位ビットに対応する最下位データバスに向かって重みが少なくなる。このように、下位のデータバスは、上位のデータバスに比べて重みが少なく、使用頻度が少ない。データバス変換回路42は、欠陥があるデータバスの重みが高い場合に、重みの低いデータバスと入れ替える。
【０１１０】
次に、この実施例のデジタルカメラのシステムLSI 10において、欠陥ビットに対応するデータバスと、最も重みの少ないデータバスとを入れ替える動作を、図12のフローチャートを参照しながら説明する。
【０１１１】
この実施例において、画像メモリ28は、たとえば図13に示すように、16ビットのデータバスDQ(0)〜DQ(15)を有し、データバスDQ(13)におけるメモリセルに欠陥があるものとする。また、RAWデータIF制御部14および画素補正制御部16で使用するRAWデータのビット幅が16ビットであるものとする。
【０１１２】
まず、メモリテスト部30において、画像メモリ28のテストが実行されると、データバスDQ(13)におけるメモリセルを欠陥ビットとするテスト結果124が得られ、データバスDQ(13)に欠陥ビットがあるとするデータバス情報124が得られる。このようなデータバス情報を有するテスト結果124は、メモリテスト部30からデータバス変換回路42に供給される（S312）。
【０１１３】
データバス変換回路42では、このテスト結果124に基づいて、欠陥ビットがあるデータバスDQ(13)が、たとえば最下位データバスDQ(0)よりも重みが高いことを判定するので、図13に示すように、欠陥ビットがあるデータバスDQ(13)と、最下位データバスDQ(0)とを入れ替えてこのデータバス変換回路42を介するデータの入出力が制御されることとなる。
【図面の簡単な説明】
【０１１４】
【図１】本発明に係るデジタルカメラに搭載されるシステムLSIの一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１に示す実施例のシステムLSIによる置換バッファを用いたデータ置換に係る動作例を示すフローチャートである。
【図３】図１に示す実施例のシステムLSIによる無効画素領域を用いたデータ置換に係る動作例を示すフローチャートである。
【図４】本発明に係るデジタルカメラに搭載されるシステムLSIの他の実施例を示すブロック図である。
【図５】図４に示す実施例のシステムLSIによるメモリマップ変換に係る動作例を示すフローチャートである。
【図６】図４に示す実施例のシステムLSIによるメモリアドレス変換に係る動作例を示すフローチャートである。
【図７】図４に示す実施例のシステムLSIによる欠陥ビットの画素補正に係る動作例を示すフローチャートである。
【図８】本発明に係るデジタルカメラに搭載されるシステムLSIの他の実施例を示すブロック図である。
【図９】図４に示す実施例のシステムLSIによるデータバス変換に係る動作例を示すフローチャートである。
【図１０】図４に示す実施例のシステムLSIにおいて、欠陥ビットを含む画像メモリを概要的に示す例図である。
【図１１】図４に示す実施例のシステムLSIにおいて、データバス変換を概要的に示す例図である。
【図１２】図４に示す実施例のシステムLSIによるデータバス変換に係るさらなる動作例を示すフローチャートである。
【図１３】図４に示す実施例のシステムLSIにおいて、データバス変換を概要的に示す例図である。
【符号の説明】
【０１１５】
10  システムLSI
12  主制御部
14  RAWデータIF制御部
16  画素補正制御部
18  画像処理制御部
20  圧縮・伸張処理部
22  記録制御部
24  表示制御部
26  メモリコントローラ
28  画像メモリ
30  メモリテスト部
32  データ置換回路
34  置換バッファ
36  制御用メモリ
【図１】
2009147624.tif 000003
【図２】
2009147624.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2009147624.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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