(57)【要約】【課題】  アナログ回路と２値化回路を含む複合回路の複数種類を検査する検査システムを提供する。【解決方法】  本発明の検査システム１２１では、アナログ回路１００と２値化回路１０２を含む複合回路１０４を検査するときに用いられる第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２が、検査する複合回路１０４に関連つけて検査用電圧波形記憶装置１２０に記憶されている。この検査用電圧波形Ｈ１、Ｈ２は、正常であることが確認されている当該種類の複合回路１０４のアナログ回路１００に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されている。そのため、検査用電圧波形Ｈ１、Ｈ２を決定する際に、その工程を簡略化することができ、検査の準備にかかる時間を短縮することができる。【選択図】  図１
2009281984.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧を入力してアナログ処理した電圧を出力するアナログ回路と、そのアナログ回路の出力電圧を入力して２値化する２値化回路を含む複合回路の複数種類が存在している場合に、その複数種類の複合回路の検査に共用できるシステムであり、
複合回路の種類に対応付けて第１検査用電圧波形と第２検査用電圧波形を記憶している検査用電圧波形記憶装置と、
検査する複合回路のアナログ回路に、その複合回路の種類に対応付けて検査用電圧波形記憶装置に記憶されている第１検査用電圧波形を印加したときの２値化回路の２値化結果を取得する第１取得手段と、
検査する複合回路のアナログ回路に、その複合回路の種類に対応付けて検査用電圧波形記憶装置に記憶されている第２検査用電圧波形を印加したときの２値化回路の２値化結果を取得する第２取得手段と、  第１取得手段の取得結果と第２取得手段の取得結果の組合せから検査した複合回路の正常・異常を判定する判定手段と、
を備えており、
検査用電圧波形記憶装置に複合回路の種類に対応付けて記憶されている第１検査用電圧波形と第２検査用電圧波形が、正常であることが確認されている当該種類の複合回路のアナログ回路に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路の２値化回路が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されており、
第１検査用電圧波形は、検査する複合回路が正常である場合にその複合回路の２値化回路が反転する持続時間に決定されており、
第２検査用電圧波形は、検査する複合回路が正常である場合にその複合回路の２値化回路が反転しない持続時間に決定されていることを特徴とする検査システム。
【請求項２】
電圧を入力してアナログ処理した電圧を出力するアナログ回路と、そのアナログ回路の出力電圧を入力して２値化する２値化回路を含む複合回路の複数種類が存在している場合に、その複数種類の複合回路の検査に共用できるシステムであり、
複合回路の種類に対応付けて第１検査時間と第２検査時間を記憶している検査時間記憶装置と、
検査する複合回路のアナログ回路に所定の検査用電圧波形を入力した時点から、その複合回路の種類に対応付けて検査時間記憶装置に記憶されている第１検査時間が経過した時点での２値化回路の２値化結果を取得する第１取得手段と、
検査する複合回路のアナログ回路に所定の検査用電圧波形を入力した時点から、その複合回路の種類に対応付けて検査時間記憶装置に記憶されている第２検査時間が経過した時点での２値化回路の２値化結果を取得する第２取得手段と、
第１取得手段の取得結果と第２取得手段の取得結果の組合せから検査した複合回路の正常・異常を判定する判定手段と、
を備えており、
検査時間記憶装置に複合回路の種類に対応付けて記憶されている第１検査時間と第２検査時間が、正常であることが確認されている当該種類の複合回路のアナログ回路に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路の２値化回路が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されており、
第１検査時間は、検査する複合回路が正常である場合にその複合回路の２値化回路が反転するまでの経過時間以上に決定されており、
第２検査時間は、検査する複合回路が正常である場合にその複合回路の２値化回路が反転するまでの経過時間未満に決定されていることを特徴とする検査システム。
【請求項３】
電圧を入力してアナログ処理した電圧を出力するアナログ回路と、そのアナログ回路の出力電圧を入力して２値化する２値化回路を含む複合回路の複数種類が存在している場合に、その複数種類の複合回路の検査に共用できるシステムであり、
複合回路の種類に対応付けて第１閾値と第２閾値を記憶している閾値記憶装置と、
検査する複合回路のアナログ回路に所定の検査用電圧波形を入力した時点から所定時間が経過した時点で、その複合回路の種類に対応付けて閾値記憶装置に記憶されている第１閾値を用いて２値化回路の２値化結果を取得する第１取得手段と、
検査する複合回路のアナログ回路に所定の検査用電圧波形を入力した時点から所定時間が経過した時点で、その複合回路の種類に対応付けて閾値記憶装置に記憶されている第２閾値を用いて２値化回路の２値化結果を取得する第２取得手段と、
第１取得手段の取得結果と第２取得手段の取得結果の組合せから検査した複合回路の正常・異常を判定する判定手段と、
を備えており、
閾値記憶装置に複合回路の種類に対応付けて記憶されている第１閾値と第２閾値が、正常であることが確認されている当該種類の複合回路のアナログ回路に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路の２値化回路が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されており、
第１閾値は、検査する複合回路が正常である場合にその複合回路の２値化回路が反転する値に決定されており、
第２閾値は、検査する複合回路が正常である場合にその複合回路の２値化回路が反転しない値に決定されていることを特徴とする検査システム。
【請求項４】
前記アナログ回路と前記２値化回路がコンピュータを備えているＥＣＵに組み込まれており、
前記コンピュータが、前記の第１取得手段と第２取得手段と判定手段として動作することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アナログ回路と２値化回路を含む複合回路の検査システムに関する。本発明は、アナログ回路と２値化回路を含むＥＣＵの検査に適している。
【背景技術】
【０００２】
例えば自動車の制御の一部は、電子制御装置（Electronic Control Unit：ＥＣＵ）を利用して実行される。ＥＣＵは中央演算処理装置（Central Processing Unit：ＣＰＵ）を備えており、エンジンやブレーキなどの各種機器を制御する。これらの各種機器の多くはセンサを備えており、そのためにＥＣＵの多くは、センサから出力されるアナログ電圧を２値化する複合回路を備えている。この複合回路は、アナログ回路と２値化回路を含んで構成されている。アナログ回路は、センサ等から出力されるアナログ電圧を入力し、アナログ処理し、アナログ処理した電圧を出力する。２値化回路は、アナログ回路の出力電圧を入力して２値化する。この２値化結果がＥＣＵのＣＰＵに入力され、ＣＰＵで処理することによって、各種機器が制御される。
【０００３】
アナログ回路と２値化回路を含む複合回路、あるいはアナログ回路と２値化回路を含む複合回路を備えているＥＣＵを検査する技術が必要とされている。
特許文献１に、アナログ回路（アナログフィルタ）を測定する技術が開示されている。この技術では、アナログ回路に入力する電圧を所定のタイミングで反転させ（例えばロー電圧からハイ電圧に切り替える、あるいはハイ電圧からロー電圧に切り替える）、アナログ回路でアナログ処理された電圧をＡ／Ｄ変換器を含んだ取得手段で取得する。取得した電圧からアナログ回路の周波数特性を算定する。算定された周波数特性が一定の範囲に含まれている場合には正常であると判定される。一定の範囲に含まれていない場合には異常であると判定される。特許文献１の技術を用いることでアナログ回路の検査を行うことができる。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−６９３５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１の技術を用いれば、アナログ回路の検査を行うことができる。
しかしながら、アナログ回路の全部がＡ／Ｄ変換器に接続されているものでない。前記したように、アナログ回路が２値化回路に接続されている場合は、特許文献１の技術を用いてアナログ回路の検査を行うことが難しい。
【０００６】
本出願人らが先に出願した特願２００７−１３５９２２号に添付されている明細書と図面に、アナログ回路と２値化回路を含む複合回路、あるいはアナログ回路と２値化回路を含む複合回路を備えているＥＣＵを検査する検査システムが開示されている。ただしこの出願は、本出願の出願時点ではまだ未公開である。
上記の検査システムでは、２値化回路に電気的に接続されている２値化結果の取得手段と判定手段を用いて、アナログ回路と２値化回路を含む複合回路を検査する。この検査システムでは、検査のためのＡ／Ｄ変換器を複合回路の内部に用意する必要がない。また、検査システムの側にＡ／Ｄ変換器を用意する必要もない。２値化前のアナログ電圧を検査システムに入力する必要がないために、複合回路に検査用パッドを用意する必要もない。これによって、アナログ回路と２値化回路を含む複合回路を小型化することができる。
【０００７】
【特許文献２】特願２００７−１３５９２２号の願書に添付した明細書と図面
【０００８】
アナログ回路と２値化回路を含む複合回路にとって、特許文献２の技術は非常に有用である。
特許文献２の技術を用いて検査する場合、検査に先んじて、検査用電圧波形や検査時間などの検査条件を決定しておく必要がある。通常、検査する複合回路の種類によって検査条件は異なっているため、複数種類の複合回路に共用できる検査システムを構築するためには、複合回路の種類毎に検査条件を決定しておく必要がある。検査する複合回路によっては、検査条件を推測することが困難な場合があり、このような場合には検査条件を決定する過程で多くの検査条件を試す必要がある。そのため、検査条件を決定するのに必要な時間が増大し、検査の準備に必要な時間が増大する。
【０００９】
本発明は上記の課題を解決する。すなわち本発明は、アナログ回路と２値化回路を含む複合回路の検査システムにおいて、検査の準備に必要な時間を短縮することが可能な検査システムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本出願の発明は、図１に例示するように、複合回路１０４の検査システム１２１に関する。特に複合回路１０４が複数種類存在している場合に、その複数種類の複合回路１０４の検査に共用できる検査システムに関する。
複合回路１０４は、アナログ回路１００と２値化回路１０２を含んでいる。アナログ回路１００は、アナログ電圧ｖ２０を入力し、入力した電圧ｖ２０をアナログ処理し、アナログ処理した電圧ｖ２２を出力する。２値化回路１０２は、アナログ回路１００が出力した電圧ｖ２２を入力し、閾値と比較して２値化し、２値化した結果を示す電圧ｖ２４を出力する。
【００１１】
本出願の一つの発明を具現化した検査システム１２１は、検査用電圧波形記憶装置１２０と、第１取得手段１２６と、第２取得手段１２８と、判定手段１３０を備えている。なお、図１は、後記する実施例を説明するための図面であり、発明に不可欠でない部材等があわせて図示されている。
検査用電圧波形記憶装置１２０は、複合回路１０４の種類に対応付けて、検査に用いる第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を記憶している。
第１取得手段１２６は、検査する複合回路１０４のアナログ回路１００に、その複合回路１０４の種類に対応付けて検査用電圧波形記憶装置１２０に記憶されている第１検査用電圧波形Ｈ１を印加したときの２値化回路１０２の２値化結果を取得する。
第２取得手段１２８は、検査する複合回路１０４のアナログ回路１００に、その複合回路１０４の種類に対応付けて検査用電圧波形記憶装置１２０に記憶されている第２検査用電圧波形Ｈ２を印加したときの２値化回路１０２の２値化結果を取得する。
判定手段１３０は、第１取得手段１２６の取得結果と第２取得手段１２８の取得結果の組合せから、検査した複合回路１０４の正常・異常を判定する。
【００１２】
この検査システム１２１では、検査用電圧波形記憶装置１２０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２が、正常であることが確認されている当該種類の複合回路１０４のアナログ回路１００に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されている。
第１検査用電圧波形Ｈ１は、検査する複合回路１０４が正常である場合に、その複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する持続時間に決定されている。前記の経過時間を用いると、２値化回路１０２が反転する持続時間を持つ第１検査用電圧波形Ｈ１を簡単に決定することができる。
第２検査用電圧波形Ｈ２は、検査する複合回路１０４が正常である場合に、その複合回路１０４の２値化回路１０２が反転しない持続時間に決定されている。前記の経過時間を用いると、２値化回路１０２が反転しない持続時間を持つ第２検査用電圧波形Ｈ２を簡単に決定することができる。
第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する際に、多くの検査用電圧波形を試す必要がない。検査用電圧波形を決定する工程を簡略化することができる。
【００１３】
第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２が上記のように決定されていると、検査する複合回路１０４が正常であれば、第１取得手段１２６で取得される２値化結果は反転し、第２取得手段１２８で取得される２値化結果は反転しないはずである。第１取得手段１２６の２値化結果が反転し、第２取得手段１２８の２値化結果が反転しなければ、検査する複合回路１０４が正常であることがわかる。断線や短絡などの原因で、両方の取得手段で取得される２値化結果が反転しない場合や、両方の取得手段で取得される２値化結果が反転する場合に、検査する複合回路１０４が異常であることを検査することができる。
【００１４】
前記では、異なる検査用電圧波形を利用して複合回路１０４の検査を行った。第１取得手段１２６と第２取得手段１２８で２値化結果を取得する時点を別々にすることが可能な場合は、異なる検査時間を使用して複数種類の複合回路１０４を検査することができる。  本出願の第２発明の検査システム１４１は、図４に示すように、検査時間記憶装置１４０と、第１取得手段１２６と、第２取得手段１２８と、判定手段１３０を備えている。図４もまた実施例を説明するためのものであり、発明の必須要件以外のものがあわせて図示されている。
検査時間記憶装置１４０は、複合回路１０４の種類に対応付けて、検査に用いる第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２を記憶している。
第１取得手段１２６は、検査する複合回路１０４のアナログ回路１００に、所定の検査用電圧波形を入力した時点から、その複合回路１０４の種類に対応付けて検査時間記憶装置１４０に記憶されている第１検査時間Ｔ１が経過した時点での２値化回路１０２の２値化結果を取得する。
第２取得手段１２８は、検査する複合回路１０４のアナログ回路１００に、所定の検査用電圧波形を入力した時点から、その複合回路１０４の種類に対応付けて検査時間記憶装置１４０に記憶されている第２検査時間Ｔ２が経過した時点での２値化回路１０２の２値化結果を取得する。
判定手段１３０は、第１取得手段１２６の取得結果と第２取得手段１２８の取得結果の組合せから検査した複合回路１０４の正常・異常を判定する。
【００１５】
この検査システム１４１では、検査時間記憶装置１４０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２が、正常であることが確認されている当該種類の複合回路１０４のアナログ回路１００に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されている。
第１検査時間Ｔ１は、検査する複合回路１０４が正常である場合にその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転するまでの経過時間以上に決定されている。前記の経過時間を用いると、２値化回路１０２が反転するまでの経過時間以上となっている第１検査時間Ｔ１を簡単に決定することができる。
第２検査時間Ｔ２は、検査する複合回路１０４が正常である場合にその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転するまでの経過時間未満に決定されている。前記の経過時間を用いると、２値化回路１０２が反転するまでの経過時間未満となっている第２検査時間Ｔ２を簡単に決定することができる。
第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２を決定する際に、多くの検査時間を試す必要がない。検査時間を決定する工程を簡略化することができる。
【００１６】
第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２が上記のように決定されていると、検査する複合回路１０４が正常であれば、第１取得手段１２６で取得される２値化結果は反転し、第２取得手段１２８で取得される２値化結果は反転しないはずである。第１取得手段１２６の２値化結果が反転し、第２取得手段１２８の２値化結果が反転しなければ、検査する複合回路１０４が正常であることがわかる。断線や短絡などの原因で、両方の取得手段で取得される２値化結果が反転しない場合や、両方の取得手段で取得される２値化結果が反転する場合に、検査する複合回路１０４が異常であることを検出することができる。
【００１７】
２値化回路の中には、入力する電圧ｖ２２との比較に用いる閾値を外部から切り替えることが可能なものが存在する。検査される複合回路がこの種の２値化回路を利用している場合には、検査システムの２値化回路の閾値を切り替えることによって複数種類の複合回路１０４を検査することもできる。
本出願の第３発明の検査システム１６１は、図６に示すように、閾値記憶装置１６０と、第１取得手段１２６と、第２取得手段１２８と、判定手段１３０を備えている。図６もまた実施例を説明するためのものであり、必須でない部材等があわせて図示されている。
閾値記憶装置１６０は、複合回路１０４の種類に対応付けて、検査に用いる第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２を記憶している。
第１取得手段１２６は、検査する複合回路１０４のアナログ回路１００に所定の検査用電圧波形を入力した時点から所定時間が経過した時点で、その複合回路１０４の種類に対応付けて閾値記憶装置１６０に記憶されている第１閾値Ｖ１を用いて２値化回路１０２の２値化結果を取得する。
第２取得手段１２８は、検査する複合回路１０４のアナログ回路１００に所定の検査用電圧波形を入力した時点から所定時間が経過した時点で、その複合回路１０４の種類に対応付けて閾値記憶装置１６０に記憶されている第２閾値Ｖ２を用いて２値化回路１０２の２値化結果を取得する。
判定手段１３０は、第１取得手段１２６の取得結果と第２取得手段１２８の取得結果の組合せから検査した複合回路１０４の正常・異常を判定する。
【００１８】
この検査システム１６１では、閾値記憶装置１６０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２が、正常であることが確認されている当該種類の複合回路１０４のアナログ回路１００に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する時点までの経過時間に基づいて決定されている。
第１閾値Ｖ１は、検査する複合回路１０４が正常である場合にその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する値に決定されている。前記の経過時間を用いると、２値化回路１０２が反転する値となっている第１閾値Ｖ１を簡単に決定することができる。
第２閾値Ｖ２は、検査する複合回路１０４が正常である場合にその複合回路１０４の２値化回路１０２が反転しない値に決定されている。前記の経過時間を用いると、２値化回路１０２が反転しない値となっている第２閾値Ｖ２を簡単に決定することができる。
第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２を決定する際に、多くの閾値を試す必用がない。閾値を決定する工程を簡略化することができる。
【００１９】
第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２が上記のように決定されていると、検査する複合回路１０４が正常であれば、第１取得手段１２６で取得される２値化結果は反転し、第２取得手段１２８で取得される２値化結果は反転しないはずである。第１取得手段１２６の２値化結果が反転し、第２取得手段１２８の２値化結果が反転しなければ、検査する複合回路１０４が正常であることがわかる。断線や短絡などの原因で、両方の取得手段で取得される２値化結果が反転しない場合や、両方の取得手段で取得される２値化結果が反転する場合に、検査する複合回路１０４が異常であることを検出することができる。
【００２０】
本発明のシステムは、図８に示すように、アナログ回路１００と２値化回路１０２が、ＣＰＵ２５０を備えているＥＣＵ１１０に組み込まれている場合に特に有用である。
この場合、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は、２値化回路１０２の２値化結果を取得する第１取得手段と第２取得手段として動作するとともに、取得した２値化結果を判定する判定手段としても動作する。ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は、２値化結果を判定することによって、アナログ回路１００と２値化回路１０２の正常・異常を判定する。この判定結果が検査装置２１０に転送され、ＥＣＵ１１０に組み込まれているアナログ回路１００と２値化回路１０２の検査が完了する。
【発明の効果】
【００２１】
本発明の検査システムでは、アナログ回路と２値化回路を含んだ複合回路の検査条件を、正常であることが確認されている当該種類の複合回路のアナログ回路に基準電圧波形を入力した時点からその複合回路の２値化回路が反転する時点までの経過時間に基づいて決定する。検査条件を決定する工程を簡略化することができ、検査の準備に必要な時間を短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下に説明する実施例の主要な特徴を最初に整理する。
（特徴１）第１検査用電圧波形と第２検査用電圧波形を決定する際には、非線形関数に用いられる近似法を用いてシミュレーションを行う。取得した経過時間と２値化回路の閾値を用いてシミュレーションを行い、検査用電圧波形記憶装置に予め格納されている波形群の中から第１検査用電圧波形と第２検査用電圧波形を選択する。
（特徴２）第１検査時間と第２検査時間を決定する際には、非線形関数に用いられる近似法を用いてシミュレーションを行う。取得した経過時間と２値化回路の閾値と検査用電圧波形を用いてシミュレーションを行い、第１検査時間と第２検査時間を決定する。
（特徴３）第１閾値と第２閾値を決定する際には、非線形関数に用いられる近似法を用いてシミュレーションを行う。取得した経過時間と検査用電圧波形を用いてシミュレーションを行い、第１閾値と第２閾値を決定する。
（特徴４）基準電圧波形は、正弦波または三角波である。
【実施例】
【００２３】
（第一実施例）
図１に本発明の第１実施例である検査システム１２１のブロック図を示す。図１に示す検査システム１２１は、アナログ回路１００と２値化回路１０２を含んでいる複合回路１０４を検査するシステムであり、検査用電圧波形記憶装置１２０と取得手段１２２と検査用電圧波形印加装置１２４と出力ポート１０６と入力ポート１０８と第１取得手段１２６と第２取得手段１２８と判定手段１３０とＣＰＵ１３２を備えている。複合回路１０４内でアナログ回路１００と２値化回路１０２は接続されている。検査用電圧波形記憶装置１２０と取得手段１２２と検査用電圧波形印加装置１２４はこの順に接続されており、検査用電圧波形印加装置１２４は出力ポート１０６を通して複合回路１０４のアナログ回路１００に接続されている。第１取得手段１２６は、入力ポート１０８を通して複合回路１０４の２値化回路１０２に接続されており、判定手段１３０にも接続されている。第２取得手段１２８は、入力ポート１０８を通して複合回路１０４の２値化回路１０２に接続されており、判定手段１３０にも接続されている。即ち、第１取得手段１２６と第２取得手段１２８は、入力ポート１０８と判定手段１３０の間に並列に接続されている。検査システム１２１はＣＰＵ１３２を備えており、ＣＰＵ１３２は判定手段１３０と検査用電圧波形記憶装置１２０の間に接続されている。
【００２４】
第１実施例の検査システム１２１では、検査用電圧波形記憶装置１２０に検査用電圧波形が記憶されていない種類の複合回路１０４を検査する場合、検査に先立って、検査に用いる第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する処理（以下、検査用波形決定処理と呼ぶ）を実施する。検査用波形決定処理には、正常であることが確認されている当該種類の複合回路１０４が用いられる。
検査用波形決定処理では、正常であることが確認されている当該種類の複合回路１０４を検査システム１２１に接続して処理を実行する。検査波形決定処理を開始すると、図２（Ａ）に示すように、検査用電圧波形印加装置１２４は所定の検査開始タイミングｔ１０で基準電圧波形Ｈ０を印加する。印加された基準電圧波形Ｈ０はアナログ回路１００によってアナログ処理され、図２（Ｂ）に示すように、アナログ処理された電圧波形Ｈ５がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は所定の閾値Ｖ０を基に電圧波形Ｈ５を２値化し、少なくとも一方の取得手段１２６（１２８）は、その２値化結果を検査開始タイミングｔ１０からの経過時間に対応付けて取得する。判定手段１３０は取得手段１２６（１２８）の取得結果を取得し、図２（Ｃ）に示すように、検査開始タイミングｔ１０と２値化結果が反転したタイミングｔ１１から、反転にかかった経過時間Ｔ０を測定する。
【００２５】
検査システム１２１のＣＰＵ１３２では、測定された経過時間Ｔ０と２値化回路１０２の閾値Ｖ１０を用いてシミュレーションを実施する。例えば、ニュートン法などの非線形波形に適用される近似法を用いたシミュレーションを実施する。ＣＰＵ１３２は、シミュレーションの結果に基づいて、検査用電圧波形記憶装置１２０に予め格納されている波形群の中から、第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を選択する。本実施例では、検査する複合回路１０４が正常である場合に、印加することによって２値化回路１０２が反転する持続時間を持つ第１検査用電圧波形Ｈ１を決定する。また、印加することよって２値化回路１０２が反転しない持続時間を持つ第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する。
本実施例では、経過時間Ｔ０を用いて第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する。検査用電圧波形を決定する際に、波形群に含まれる検査用電圧波形を試す回数を減らすことができ、検査波形決定処理を簡略化することができる。これによって、検査波形決定処理に必要とされる時間を短縮することができ、検査の準備に必要とされる時間を短縮することができる。
さらに、取得される経過時間Ｔ０の範囲が予想される場合には、範囲内の経過時間に対して前もってシミュレーションを実施しておくことができる。この結果を、経過時間Ｔ０に対応付けて第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２が記憶されている波形テーブルに収集しておくことができる。波形テーブルを備えていると、第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する処理を更に簡略化することができ、検査の準備に必要とされる時間をさらに短縮することができる。
【００２６】
次に、図３を用いて複合回路１０４を実際に検査する処理を説明する。複合回路１０４を実際に検査する際には、検査する複合回路１０４を検査システム１２１に接続する。
検査処理を開始すると、取得手段１２２は検査用電圧波形記憶装置１２０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第１検査用電圧波形Ｈ１を取得し、検査用電圧波形印加装置１２４に伝達する。検査用電圧波形印加装置１２４は、図３（Ａ）に示すように、所定の検査開始タイミングｔ１２で第１検査用電圧波形Ｈ１を複合回路１０４のアナログ回路１００に印加する。図示の電圧波形Ｈ１は、複合回路１０４の種類のための第１検査用電圧波形を例示している。印加された第１検査用電圧波形Ｈ１はアナログ回路１００でアナログ処理され、アナログ処理された電圧波形Ｈ６がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は、閾値Ｖ１０を基に電圧波形Ｈ６を２値化し、図３（Ｃ）に示すように、電圧波形Ｈ６の電圧が閾値Ｖ１０を超えた場合に２値化結果を反転させる。第１取得手段１２６は、図３（Ｄ）に示すように、検査開始タイミングｔ１２から所定の検査終了タイミングｔ１３までの２値化結果を検査開始タイミングｔ１２からの経過時間に対応付けて取得する取得処理１３４を実行する。尚、図３において、Ｈはハイ信号を示し、Ｌはロー信号を示す。参照番号Ｚ１は第１取得手段１２６の取得状況を示し、２値化回路１０２の２値化結果を取得している状況をハイ状態で示し、それ以外の状況をロー状態として示している。
【００２７】
検査終了タイミングｔ１３後、取得手段１２２は検査用電圧波形記憶装置１２０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第２検査用電圧波形Ｈ２を取得し、検査用電圧波形印加装置１２４に伝達する。検査用電圧波形印加装置１２４は、図３（Ａ）に示すように、所定の検査開始タイミングｔ１４で第２検査用電圧波形Ｈ２を複合回路１０４のアナログ回路１００に印加する。図示の電圧波形Ｈ２は、複合回路１０４の種類のための第２検査用電圧波形を例示している。印加された第２検査用電圧波形Ｈ２はアナログ回路１００でアナログ処理され、アナログ処理された電圧波形Ｈ７がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は、閾値Ｖ１０を基に電圧波形Ｈ７を２値化し、電圧波形Ｈ７の電圧が閾値Ｖ１０を超えた場合に２値化結果を反転させる。第２取得手段１２８は、図３（Ｅ）に示すように、検査開始タイミングｔ１４から所定の検査終了タイミングｔ１５までの２値化結果を検査開始タイミングｔ１４からの経過時間に対応付けて取得する取得処理１３６を実行する。尚、参照番号Ｚ２は第２取得手段１２８の取得状況を示し、２値化回路１０２の２値化結果を取得している状況をハイ状態で示し、それ以外の状況をロー状態として示している。
検査終了タイミングｔ１５後、判定手段１３０は第１取得手段１２６の取得結果と第２取得手段１２８の取得結果を取得する。判定手段１３０は各々の取得結果を判定し、取得した２値化結果が取得した期間内に変化した場合に、反転したと判定する。また、取得した２値化結果が取得した期間内に変化しない場合に、反転していないと判定する。
【００２８】
判定手段１３０は、予め格納されている基準表に基づいて複合回路１０４を判定する。基準表には、第１取得手段１２６の取得結果が反転し、第２取得手段１２８の取得結果が反転していない組合せが記録されている。基準表に一致する結果が得られれば、複合回路１０４は正常であるとする。基準表に一致しなければ、複合回路１０４は異常であるとする。例えば、第１取得手段１２６の２値化結果が反転し、第２取得手段１２８の２値化結果も反転していれば、検査する複合回路１０４が異常であると判定する。第１取得手段１２６の２値化結果が反転せず、第２取得手段１２８の２値化結果も反転していなければ、検査する複合回路１０４が異常であると判定する。これにより複合回路１０４の正常・異常を判定することができる。
尚、検査用電圧波形が記憶されている種類の複合回路１０４を検査処理する場合、ＣＰＵ１３２は必ずしも必要ではない。この場合には、検査波形決定処理は実行されず、複合回路１０４の検査処理のみが実行される。
【００２９】
第１実施例では、第１検査用電圧波形Ｈ１を少なくとも１回入力した時の２値化結果と、第２検査用電圧波形Ｈ２を少なくとも１回入力した時の２値化結果を取得すればよい。念のために、各々の検査用電圧波形を複数回入力し、その時々の２値化結果を取得するようにしてもよい。
例えば第１検査用電圧波形Ｈ１をＮ回入力し、第１取得手段１２６は第１検査用電圧波形Ｈ１がＮ回入力される時の２値化結果を取得する。判定手段１３０は第１取得手段１２６が取得した２値化結果から、２値化結果が反転した回数を測定する。判定手段１３０には、入力される第１検査用電圧波形Ｈ１の数に対応した基準回数ｎ（０≦ｎ≦Ｎ）が予め格納されている。判定手段１３０は、２値化結果が反転した回数がｎ回以上であれば、２値化回路１０２が反転したと判定する。逆に、２値化結果が反転した回数がｎ回未満であれば、２値化回路１０２が反転しないと判定する。第２検査用電圧波形Ｈ２を用いた検査でも場合も同様であり、重複した説明を省略する。
検査用電圧波形を複数回入力することで、取得される反転回数も複数となる。これによって、標準偏差等の統計的な手段を用いて２値化結果を判定することができ、複合回路１０４の判定精度を向上させることができる。
【００３０】
（第２実施例）
図４に第２実施例の検査システム１４１のブロック図を示す。検査システム１４１は、検査用電圧波形記憶装置１２０に代えて検査時間記憶装置１４０を備えている点で、第１実施例の検査システム１２１と異なっている。その他の点については検査システム１２１と同一の構成をしており、重複した説明を省略する。
第２実施例の検査システム１４１では、検査時間記憶装置１４０に検査時間が記憶されていない種類の複合回路１０４を検査処理する場合、第１実施例の検査システム１２１と同様に経過時間Ｔ０を測定する。
検査システム１４１のＣＰＵ１３２では、測定された経過時間Ｔ０と２値化回路１０２の閾値Ｖ１０と所定の検査用電圧波形Ｈ１３を用いてシミュレーションを実行し、その結果に基づいて、第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２を決定する。本実施例では、検査する複合回路１０４が正常である場合に、所定の検査用電圧波形Ｈ１３を印加してから２値化回路１０２が反転するまでの経過時間以上となっている第１検査時間Ｔ１を決定する。また、所定の検査用電圧波形Ｈ１３を印加してから２値化回路１０２が反転するまでの時間未満となっている第２検査時間Ｔ２を決定する。
本実施例では、経過時間Ｔ０を用いて第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２を決定する。検査時間を決定する工程を簡略化することができる。これによって、検査時間を決定するのに必要とされる時間を短縮することができ、検査の準備に必要とされる時間を短縮することができる。
さらに、取得される経過時間Ｔ０の範囲が予想される場合には、範囲内の経過時間に対して前もってシミュレーションを実施しておくことができる。この結果を、経過時間Ｔ０に対応付けて第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２が記憶されている検査時間テーブルに収集しておくことができる。検査時間テーブルを備えていると、第１検査時間Ｔ１と第２検査時間Ｔ２を決定する処理を更に簡略化することができ、検査の準備に必要とされる時間をさらに短縮することができる。
【００３１】
次に、図５を用いて複合回路１０４を実際に検査する処理を説明する。複合回路１０４を実際に検査する際には、検査する複合回路１０４を検査システム１４１に接続する。
検査処理を開始すると、取得手段１２２は検査時間記憶装置１４０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第１検査時間Ｔ１を取得し、第１取得手段１２６に伝達する。検査用電圧波形印加装置１２４は、図５（Ａ）に示すように、所定の検査開始タイミングｔ２２で所定の検査用電圧波形Ｈ１３を印加する。印加された検査用電圧波形Ｈ１３はアナログ回路１００でアナログ処理され、アナログ処理された電圧波形Ｈ１４がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は、閾値Ｖ１０を基に電圧波形Ｈ１４を２値化し、図５（Ｃ）に示すように、電圧波形Ｈ１４が閾値Ｖ１０を超えた場合に２値化結果を反転させる。第１取得手段１２６は、図５（Ｄ）に示すように、検査開始タイミングｔ２２から第１検査時間Ｔ１が経過した際の２値化結果を取得する取得処理１４２を実行する。検査開始タイミングｔ２２から第１検査時間Ｔ１よりも長い時間が経過した検査終了タイミングｔ２３に、第１検査時間Ｔ１を用いた検査を終了し、第２検査時間Ｔ２を用いた検査へと切換わる。
【００３２】
検査終了タイミングｔ２３後、取得手段１２２は検査時間記憶装置１４０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第２検査時間Ｔ２を取得し、第２取得手段１２８に伝達する。検査用電圧波形印加装置１２４は、図５（Ａ）に示すように、所定の検査開始タイミングｔ２４で検査用電圧波形Ｈ１３を複合回路１０４のアナログ回路１００に印加する。印加された検査用電圧波形Ｈ１３は上記と同様に２値化される。第２取得手段１２８は、図５（Ｅ）に示すように、検査開始タイミングｔ２４から第２検査時間Ｔ２が経過した際の２値化結果を取得する取得処理１４４を実行する。検査開始タイミングｔ２４から第２検査時間Ｔ２よりも長い時間が経過した所定の検査終了タイミングｔ２５に、第２検査時間Ｔ２を用いた検査を終了する。
検査終了タイミングｔ２５後、判定手段１３０は第１取得手段１２６の取得結果と第２取得手段１２８の取得結果を取得する。判定手段１３０は各々の取得結果を判定し、取得した２値化結果が初期状態（ここではＬ）から変化している場合に、反転したと判定する。また、取得した２値化結果が初期状態と等しい場合に、反転していないと判定する。
【００３３】
判定手段１３０は、予め格納されている基準表に基づいて複合回路１０４を判定する。基準表には、第１取得手段１２６の取得結果が反転し、第２取得手段１２８の取得結果が反転していない組合せが記載されている。基準表に一致する結果が得られれば、複合回路１０４は正常であるとする。基準表に一致しなければ、複合回路１０４は異常であるとする。例えば、第１取得手段１２６の２値化結果が反転し、第２取得手段１２８の２値化結果も反転していれば、検査する複合回路１０４が異常であると判定する。第１取得手段１２６の２値化結果が反転せず、第２取得手段１２８の２値化結果も反転していなければ、検査する複合回路１０４が異常であると判定する。これにより複合回路１０４の正常・異常を判定することができる。
尚、検査時間が記憶されている種類の複合回路１０４を検査処理する場合、ＣＰＵ１３２は必ずしも必要ではない。この場合には、検査時間を決定する処理は実行されず、複合回路１０４の検査処理のみが実行される。
【００３４】
第２実施例では、少なくとも検査開始タイミングｔ２２から第１検査時間Ｔ１が経過した時の２値化結果と、検査開始タイミングｔ２４から第２検査時間Ｔ２が経過した時の２値化結果を取得すればよく、その他の検査時間での２値化結果を取得することを妨げない。
例えば複合回路１０４が正常である場合に、２値化回路１０２に入力される電圧波形Ｈ１４が閾値Ｖ１０に達する経過時間以下又は以上の複数の検査時間を用いて２値化結果の取得を行っても構わない。
複数回の測定を行うことで、複合回路１０４の正常・異常を判定するだけでなく、異常である場合にどの種の異常であるかについても同時に検査することができる。
【００３５】
（第３実施例）
図６に第３実施例の検査システム１６１のブロック図を示す。検査システム１６１は、検査用電圧波形記憶装置１２０に代えて閾値記憶装置１６０を備えている点で、第１実施例の検査システム１２１と異なっている。その他の点については検査システム１２１と同一の構成をしており、重複した説明を省略する。
第３実施例の検査システム１６１では、閾値記憶装置１６０に閾値が記憶されていない種類の複合回路１０４を検査処理する場合、第１実施例の検査システム１２１と同様に経過時間Ｔ０を測定する。
検査システム１６１のＣＰＵ１３２では、測定された経過時間Ｔ０と所定の検査用電圧波形Ｈ１３を用いてシミュレーションを実行し、その結果に基づいて、第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２を決定する。本実施例では、検査する複合回路１０４が正常である場合に、所定の電圧波形を印加してから所定時間が経過した時点で、複合回路１０４の２値化回路１０２が反転する値に第１閾値Ｖ１を決定する。また、所定の電圧波形を印加してから所定時間が経過した時点で、複合回路１０４の２値化回路１０２が反転しない値に第２閾値Ｖ２を決定する。
本実施例では、経過時間Ｔ０を用いて第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２を決定する。閾値を決定する工程を簡略化することができる。これによって、閾値を決定するのに必要とされる時間を短縮することができ、検査の準備に必要とされる時間を短縮することができる。
さらに、取得される経過時間Ｔ０の範囲が予想される場合には、範囲内の経過時間に対して前もってシミュレーションを実行しておくことができる。この結果を、経過時間Ｔ０に対応付けて第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２記憶されている閾値テーブルに収集しておくことができる。閾値テーブルを備えていると、第１閾値Ｖ１と第２閾値Ｖ２を決定する処理を更に簡略化することができ、検査の準備に必要とされる時間をさらに短縮することができる。
【００３６】
次に、図７を用いて複合回路１０４を実際に検査する処理を説明する。複合回路１０４を実際に検査する際には、検査する複合回路１０４を検査システム１６１に接続する。
検査処理を開始すると、取得手段１２２は閾値記憶装置１６０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第１閾値Ｖ１を取得し、２値化回路１０２に伝達する。これにより、２値化回路１０２の閾値が第１閾値Ｖ１に設定される。図示の電圧値Ｖ１は、複合回路１０４の種類のための第１閾値を例示している。検査用電圧波形印加装置１２４は、図７（Ａ）に示すように、所定の検査開始タイミングｔ３２で所定の検査用電圧波形Ｈ１３を印加する。印加された検査用電圧波形Ｈ１３はアナログ回路１００でアナログ処理され、アナログ処理された電圧波形Ｈ１４がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は、第１閾値Ｖ１を基に電圧波形Ｈ１４を２値化し、図７（Ｃ）に示すように、電圧波形Ｈ１４が第１閾値Ｖ１を超えた場合に２値化結果を反転させる。第１取得手段１２６は、図７（Ｄ）に示すように、検査開始タイミングｔ３２から所定の所定時間Ｔ３が経過した際の２値化結果を取得する取得処理１６２を実行する。検査開始タイミングｔ３２から所定時間Ｔ３よりも長い時間が経過した検査終了タイミングｔ３３に、第１閾値Ｖ１を用いた検査を終了し、第２閾値Ｖ２を用いた検査へと切換わる。
【００３７】
検査終了タイミングｔ３３後、取得手段１２２は閾値記憶装置１６０に複合回路１０４の種類に対応付けて記憶されている第２閾値Ｖ２を取得し、２値化回路１０２に伝達する。これにより、２値化回路１０２の閾値が第２閾値Ｖ２に設定される。図示の電圧値Ｖ２は、複合回路１０４の種類のための第２閾値を例示している。検査用電圧波形印加装置１２４は、図７（Ａ）に示すように、所定の検査開始タイミングｔ３４に再び検査用電圧波形Ｈ１３を複合回路１０４のアナログ回路１００に印加する。印加された検査用電圧波形Ｈ１３はアナログ回路１００でアナログ処理され、アナログ処理された電圧波形Ｈ１４がアナログ回路１００から出力される。２値化回路１０２は、第２閾値Ｖ２を基に電圧波形Ｈ１４を２値化し、電圧波形Ｈ１４が第２閾値Ｖ２を超えた場合に２値化結果を反転させる。第２取得手段１２８は、図７（Ｅ）に示すように、検査開始タイミングｔ３４から所定時間Ｔ３が経過した際の２値化結果を取得する取得処理１６４を実行する。検査開始タイミングｔ３４から所定時間Ｔ３よりも長い時間が経過した検査終了タイミングｔ３５に、第２閾値Ｖ２を用いた検査を終了する。
検査終了タイミングｔ３５後、判定手段１３０は第１取得手段１２６の取得結果と第２取得手段１２８の取得結果を取得する。判定手段１３０は各々の取得結果を判定し、取得した２値化結果が初期状態（ここではＬ）から変化している場合に、反転したと判定する。また、取得した２値化結果が初期状態と等しい場合に、反転していないと判定する。
【００３８】
判定手段１３０は、予め格納されている基準表に基づいて複合回路１０４を判定する。第１取得手段１２６の取得結果が反転し、第２取得手段１２８の取得結果が反転していない組合せが記録されている。基準表に一致する結果が得られれば、複合回路１０４は正常であるとする。基準表に一致しなければ、複合回路１０４は異常であるとする。例えば、第１取得手段１２６の２値化結果が反転し、第２取得手段１２８の２値化結果も反転していれば、検査する複合回路１０４が異常であると判定する。第１取得手段１２６の２値化結果が反転せず、第２取得手段１２８の２値化結果も反転していなければ、検査する複合回路１０４が異常であると判定する。これにより複合回路１０４の正常・異常を判定することができる。
尚、閾値が記憶されている種類の複合回路１０４を検査処理する場合、ＣＰＵ１３２は必ずしも必要ではない。この場合には、閾値を決定する処理は実行されず、複合回路１０４の検査処理のみが実行される。
【００３９】
第３実施例では、少なくとも検査開始タイミングｔ３２から所定時間Ｔ３が経過した時の第１閾値Ｖ１を用いた２値化結果と、第２閾値Ｖ２を用いた２値化結果を取得すればよく、その他の閾値での２値化結果を取得することを妨げない。
例えば複合回路１０４が正常である場合に、検査開始タイミングｔ３２から所定時間Ｔ３が経過した時に２値化回路１０２に入力される電圧波形Ｈ１４が達する電圧以下又は以上の複数の閾値を用いて２値化結果の取得を行っても構わない。
複数回の測定を行うことで、複合回路１０４の正常・異常を判定するだけでなく、異常である場合にどの種の異常であるかについても同時に検査することができる。
【００４０】
本発明の検査システムでは、アナログ回路１００と２値化回路１０２が、コンピュータを備えているＥＣＵ１１０に組み込まれている場合、ＥＣＵの検査システムとして具現化することができる。
（第４実施例）
図８は本発明の第４実施例であり、アナログ回路１００と２値化回路１０２を含んで構築される複合回路１０４を内蔵したＥＣＵ１１０の検査システムのブロック図を示す。第４実施例の検査システムは、検査装置２１０をＥＣＵ１１０に接続することでＥＣＵ１１０内部の複合回路１０４を検査する検査システムを構築する。
まず検査対象となるＥＣＵ１１０の構成について説明する。ＥＣＵ１１０は、入力ポート２５４と、アナログ回路１００と、２値化回路１０２と、ＣＰＵ２５０と、ＲＯＭ２４６と、ＲＡＭ２４８と、通信入力ポート２５６と、通信出力ポート２５８を備えている。ＣＰＵ２５０は、通信手段２５２を有している。ＣＰＵ２５０の通信手段２５２は、通信ポート２５６及び２５８に接続されており、ＣＰＵ２５０は複合回路１０４を介して入力ポート２５４に接続されている。ＣＰＵ１５０のさらに別の端子はＲＯＭ２４６及びＲＡＭ２４８に接続されている。
ＲＯＭ２４６の所定領域には、ＥＣＵ１１０の検査条件を決定するプログラムとＥＣＵ１１０の検査プログラムの双方が予め格納されている。後述する検査条件決定開始信号３０２が検査装置２１０のＣＰＵ２１８からＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に入力されると、ＣＰＵ２５０はＲＯＭ２４６から検査条件を決定するプログラムを呼び出し、検査条件の決定を行う。また、検査開始信号４０２が検査装置２１０のＣＰＵ２１８からＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に入力されると、ＣＰＵ２５０はＲＯＭ２４６から検査プログラムを読み出し、検査を行う。
【００４１】
次に検査装置２１０の構成を説明する。検査装置２１０はＣＰＵ２１８と、ＲＯＭ２１４と、ＲＡＭ２１６と、検査用電圧波形印加装置２２２と、出力ポート２２４と、通信出力ポート２２６と、通信入力ポート２２８を備えている。ＣＰＵ２１８は通信手段２２０を有しており、通信ポート２２６及び２２８に接続されている。またＣＰＵ２１８は検査用電圧波形印加装置２２２を介して出力ポート２２４に接続されており、ＣＰＵ２１８のさらに別の端子はＲＯＭ２１２及びＲＡＭ２１４と接続している。
本発明の検査システムでは、検査装置２１０とＥＣＵ１１０をケーブル２３０で接続することで、検査装置２１０の出力ポート２２４がＥＣＵ１１０の入力ポート２５４に接続され、検査装置２１０の通信出力ポート２２６がＥＣＵ１１０の通信入力ポート２５６に接続され、検査装置２１０の通信入力ポート２２８がＥＣＵ１１０の通信出力ポート２５８に接続される。
ＲＯＭ２１４の所定領域には、ＥＣＵ１１０の検査条件を決定するタイムチャートに相当するプログラムと、ＥＣＵ１１０を検査するタイムチャートに相当するプログラムの双方が予め格納されている。検査条件決定開始時に、ＣＰＵ２１８はＲＯＭ２１４からＥＣＵ１１０の検査条件を決定するタイムチャートに相当するプログラムを読み出し、そのタイムチャートに従って検査条件の決定を行う。検査開始時に、ＣＰＵ２１８はＲＯＭ２１４からＥＣＵ１１０を検査するタイムチャートに相当するプログラムを読み出し、そのタイムチャートに従って検査を行う。ＲＯＭ２１４の所定領域にはまた、基準電圧波形及び検査用電圧波形に用いられる複数種類の波形群が格納されている。
【００４２】
図９にＥＣＵ１１０の検査条件を決定するタイミングチャートを示す。検査条件を決定する際には、正常であることが確認されている複合回路１０４を含むＥＣＵ１１０を検査装置２１０に接続して検査条件の決定を行う。
図９で、Ｈはハイ信号を示し、Ｌはロー信号を示す。参照番号Ｘ１は通信入力ポート２５６からＥＣＵ１１０に入力される信号を示し、参照番号Ｘ２は通信出力ポート２５８から検査装置２１０に出力される信号を示し、参照番号ＹはＥＣＵ１１０のアナログ回路１００に出力される所定信号を示す。参照番号ＺはＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０の検査条件決定状況を示し、２値化回路１０２の２値化結果を取得している状況と２値化結果から検査条件を決定している状況をハイ状態で示し、それ以外の状況をロー状態として示す。Ｔ４１〜Ｔ４７は検査条件決定の時間経過を示し、Ｔ４１は検査条件決定開始指示時間を示し、Ｔ４２は準備時間を示し、Ｔ４３は検査条件決定時間を示し、Ｔ４４は検査条件決定終了指示時間を示し、Ｔ４５は処理時間を示し、Ｔ４６は転送指示時間を示し、Ｔ４７は検査条件転送時間を示す。
【００４３】
図８と図９を使って検査条件決定手順を説明する。
検査条件決定開始指示時間Ｔ４１に検査装置２１０では、ＣＰＵ２１８がＲＯＭ２１４から図９のタイミングチャートに相当するプログラムを呼び出し、通信手段２２０を通して検査条件決定開始信号３０２をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力する。検査条件決定開始信号３０２を受け取ったＣＰＵ２５０は、ＲＯＭ２４６に予め格納されているＥＣＵ１１０の検査条件を決定するプログラムを読み出して検査条件の決定を開始するとともに、検査条件決定開始信号３０２の入力を終了する時点からの経過時間を測定する。
準備時間Ｔ４２に検査装置２１０では、ＣＰＵ２１８がＲＯＭ２１４に格納されている基準電圧波形を呼び出す。
準備時間Ｔ４２終了後、検査条件決定時間Ｔ４３に入ると、ＣＰＵ２５０は２値化回路１０２からの２値化結果の取得処理３０４を開始する。また検査条件決定時間Ｔ４３の開始から一定ディレイ時間Ｔ４０経過後、検査装置２１０のＣＰＵ２１８は検査用電圧波形印加装置２２２を通してアナログ回路１００に基準電圧波形Ｈ０を印加する。２値化回路１０２からの２値化結果が、検査条件決定開始信号３０２の入力を終了する時点からの経過時間に対応付けて取得され、その結果がＲＡＭ２４８に格納される。
検査条件決定終了指示時間Ｔ４４に検査装置２１０のＣＰＵ２１８は通信手段２２０を通して検査条件決定終了信号３０８をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力し、信号を受け取ったＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は、２値化回路１０２からの２値化結果の取得処理３０４を終了する。その後、処理時間Ｔ４５になると、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は処理３１０を実行する。
【００４４】
処理３１０では、ＣＰＵ２５０はＲＡＭ２４８に格納された２値化結果を読み出し、この２値化結果とディレイ時間Ｔ４０から、基準電圧波形Ｈ０の印加開始から２値化回路１０２の２値化結果が反転するまでの経過時間Ｔ０を測定する。さらに処理３１０では、ＣＰＵ２５０は測定された経過時間を基に、当該種類の複合回路１０４の検査に用いられる第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する。第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する処理は、第１実施例における第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を決定する処理と同じであり、重複した説明を省略する。
転送準備時間Ｔ４６に、検査装置２１０のＣＰＵ２１８は通信手段２２０を通して検査条件転送要求信号３１２をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力する。
検査条件転送時間Ｔ４７に、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は検査結果転送信号３１４を出力し、通信手段２５２を通して検査装置２１０のＣＰＵ２１８に第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を転送する。ＣＰＵ２１８は、第１検査用電圧波形Ｈ１と第２検査用電圧波形Ｈ２を当該種類の複合回路１０４に対応付けてＲＯＭ２１４に格納する。これにより、検査条件の決定を完了する。
【００４５】
次に、検査手順を説明する。図１０にＥＣＵ１１０を検査するタイミングチャートを示す。
図１０で、Ｈ、Ｌ、参照番号Ｘ１、Ｘ２、Ｙは図９と同一の信号を示す。参照番号ＺはＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０の検査状況を示し、２値化回路１０２の２値化結果を取得している状況と２値化結果を判定している状況をハイ状態で示し、それ以外の状況をロー状態として示す。Ｔ５１〜Ｔ５９は検査の時間経過を示し、Ｔ５１は第１指示時間を示し、Ｔ５２は第１準備時間を示し、Ｔ５３は第１検査時間を示し、Ｔ５４は第２指示時間を示し、Ｔ５５は第２準備時間を示し、Ｔ５６は第２検査時間を示し、Ｔ５７は第３指示時間を示し、Ｔ５８は処理時間を示し、Ｔ５９は転送準備時間を示し、Ｔ６０は検査結果転送時間を示す。
【００４６】
図１０を使って検査手順を説明する。
第１指示時間Ｔ５１に検査装置２１０では、ＣＰＵ２１８がＲＯＭ２１４から図１０のタイミングチャートに相当するプログラムを呼び出し、通信手段２２０を通して検査開始信号４０２をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力する。検査開始信号４０２を受け取ったＣＰＵ２５０は、ＲＯＭ２４６に予め格納されているＥＣＵ１１０を検査するプログラムを読み出して検査を開始するとともに、検査開始信号４０２の入力を終了する時点からの経過時間を測定する。
第１準備時間Ｔ５２に検査装置２１０では、ＣＰＵ２１８はＲＯＭ２１４に検査される複合回路１０４の種類に対応付けて格納されている第１検査用電圧波形Ｈ１を呼び出す。
第１準備時間Ｔ５２終了後、第１検査時間Ｔ５３に入ると、ＣＰＵ２５０は２値化回路１０２からの２値化結果の取得処理４０４を開始する。また第１検査時間Ｔ５３の開始から一定ディレイ時間Ｔ６１経過後、検査装置２１０のＣＰＵ２１８は検査用電圧波形印加装置２２２を通してアナログ回路１００に第１検査用電圧波形Ｈ１を印加する。これに応じた２値化結果がＣＰＵ２５０で取得され、取得結果がＲＡＭ２４８に格納される。
第２指示時間Ｔ５４に検査装置２１０のＣＰＵ２１８は通信手段２２０を通して検査切換信号４０８をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力し、信号を受け取ったＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は、取得処理４０４を終了する。
第２指示時間Ｔ５４終了後、第２準備時間Ｔ５５に検査装置２１０では、ＣＰＵ２１８はＲＯＭ２１４に検査される複合回路１０４の種類に対応付けて格納されている第２検査用電圧波形Ｈ２を呼び出す。
第２準備時間Ｔ５５終了後、第２検査時間Ｔ５６に入ると、ＣＰＵ２５０は２値化回路１０２からの２値化結果の取得処理４１０を開始する。また第２検査時間Ｔ５６の開始から一定ディレイ時間Ｔ６２経過後、検査装置２１０のＣＰＵ２１８は検査用電圧波形印加装置２２２を通してアナログ回路１００に第２検査用電圧波形Ｈ２を印加する。これに応じた２値化結果がＣＰＵ２５０で取得され、取得結果がＲＡＭ２４８に格納される。
第３指示時間Ｔ５７に検査装置２１０のＣＰＵ２１８は通信手段２２０を通して検査終了信号４１４をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力し、信号を受け取ったＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は、取得処理４１０を終了する。その後、処理時間Ｔ５８になると、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は処理４１６を実行する。
【００４７】
処理４１６では、ＣＰＵ２５０はＲＡＭ２４８に格納された２値化結果と、ＲＯＭ２４６に予め格納されていた基準表を読み出し、ＥＣＵ１１０に含まれる複合回路１０４の正常・異常を判定する。複合回路１０４の正常・異常を判定する処理は、第１実施例における複合回路１０４の正常・異常を判定する処理と同じであり、重複した説明を省略する。
転送準備時間Ｔ５９に検査装置２１０のＣＰＵ２１８は通信手段２２０を通して検査結果転送要求信号４１８をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に出力する。
検査結果転送時間Ｔ６０に、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は検査結果転送信号４２０を出力し、通信手段２５２を通して検査装置２１０のＣＰＵ２１８に検査結果を転送する。これにより、検査を完了する。
【００４８】
第４実施例では、図９に示すＥＣＵの検査システムで第１実施例を実行する例を示した。前記の実施例では、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０で検出された２値化結果をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０にて基準表と比較し、その結果をＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０は通信手段２５２を用いて検査装置２１０に転送したが、この比較処理は検査装置２１０のＣＰＵ２１８で行われても構わない。その場合、参照番号４１６はＲＡＭ２４６から２値化結果を読み出す処理を示し、参照番号４１８はＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０で取得された２値化結果を検査装置２１０のＣＰＵ２１８に転送する処理を示す。検査装置２１０のＣＰＵ２１８に転送された２値化出力は検査装置２１０のＲＯＭ２１４に予め格納された基準表を用いて比較を行い、判定結果が得られる。
第４実施例では検査装置２１０のＲＯＭ２１４に格納されている検査のタイミングチャート及びＥＣＵ１１０のＲＯＭ２４６に格納されている検査プログラムにより様々な検査をすることができ、第１実施例のみではなく、前記の第２〜３実施例を実行することも可能である。
【００４９】
検査用電圧波形印加装置１２４からアナログ回路１００に入力される検査用電圧波形は反転信号やパルス信号など、その信号は特に制限されないが、正弦波または三角波であることが好ましい。正弦波は、その傾きがゼロから無限大の間で変化する。そのため、入力される検査用電圧波形の傾きを広い範囲で変えたい場合には、正弦波を用いることが有用である。三角波は、その傾きが限られる。そのため、入力される検査用電圧波形の傾きを一定に保ちたい場合には、三角波を用いることが有用である。
【００５０】
図９に示す検査システムのブロック図はその構成を制限するものではない。２値化回路１０２はＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０の外部に形成されているが、ＥＣＵ１１０のＣＰＵ２５０に内蔵されていても構わない。ＥＣＵ１１０のＲＯＭ２４６に検査プログラムが予め格納されているが、検査プログラムはＲＡＭ２４８に格納されていても構わない。この場合、ＲＯＭ２４６は必ずしも必要ではない。またＣＰＵ２５０自体に記憶領域が存在する場合、ＣＰＵ２５０に検査プログラムが格納されていても構わない。
【００５１】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は、複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】第１実施例の検査システム１２１のブロック図を示す。
【図２】検査システム１２１の検査用波形決定処理を説明する図である。
【図３】検査システム１２１の検査処理を説明する図である。
【図４】第２実施例の検査システム１４１のブロック図を示す。
【図５】検査システム１４１の検査処理を説明する図である。
【図６】第３実施例の検査システム１６１のブロック図を示す。
【図７】検査システム１６１の検査処理を説明する図である。
【図８】第４実施例の検査装置２１０のブロック図を示す。
【図９】ＥＣＵ１１０の検査条件を決定するタイミングチャートを示す。
【図１０】ＥＣＵ１１０を検査するタイミングチャートを示す。
【符号の説明】
【００５３】
１００ アナログ回路
１０２ ２値化回路
１０４ 複合回路
１０６ 出力ポート
１０８ 入力ポート
１１０ ＥＣＵ
１２０ 検査用電圧波形記憶装置
１２１ 検査システム
１２２ 取得手段
１２４ 検査用電圧波形印加装置
１２６ 第１取得手段
１２８ 第２取得手段
１３０ 判定手段
１３２ 検査システムのＣＰＵ
１４０ 検査時間記憶装置
１４１ 検査システム
１６０ 閾値記憶装置
１６１ 検査システム
２１０ 検査装置
２１８ 検査装置のＣＰＵ
２２２ 検査用電圧波形印加装置
２５０ ＥＣＵのＣＰＵ
Ｈ０   基準電圧波形
Ｈ１   第１検査用電圧波形
Ｈ２   第２検査用電圧波形
Ｈ１３ 検査用電圧波形
Ｔ０   経過時間
Ｔ１   第１検査時間
Ｔ２   第２検査時間
Ｔ３   所定時間
Ｖ０   閾値
Ｖ１   第１閾値
Ｖ２   第２閾値
Ｖ１０ 閾値
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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