(57)【要約】【課題】  複数に分割したブロック穀粒毎に水分値を測定しながら乾燥する穀粒乾燥機において、水分バラツキ及び水分ムラを解消しながら乾燥する。【解決手段】  貯溜室（１０）から乾燥室（１１）を経て再度貯溜室（１０）に張込穀粒を循環させる循環手段と、穀粒を乾燥する乾燥手段（４）と、前記乾燥室（１１）に乾燥風を送る吸引排気ファン（７）と、張込穀粒から穀粒を採取して水分値を測定する水分測定手段（９）と、前記循環手段、乾燥手段（４）、水分測定手段（９）を制御する制御部（４１）を設け、乾燥手段（４）で乾燥作業を行っている時に水分測定手段（９）が設定数の穀粒を測定し、制御部（４１）は当該測定した穀粒の水分値のバラツキが予め設定したバラツキよりも大きいと判定した場合に、乾燥手段（４）及び吸気排気ファン（７）を停止した状態で前記循環手段を駆動する構成とした。【選択図】図１１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
貯溜室（１０）から乾燥室（１１）を経て再度貯溜室（１０）に張込穀粒を循環させる循環手段と、穀粒を乾燥する乾燥手段（４）と、前記乾燥室（１１）に乾燥風を送る吸引排気ファン（７）と、張込穀粒から穀粒を採取して水分値を測定する水分測定手段（９）と、前記循環手段、乾燥手段（４）、水分測定手段（９）を制御する制御部（４１）を設け、
乾燥手段（４）で乾燥作業を行っている時に水分測定手段（９）が設定数の穀粒を測定し、制御部（４１）は当該測定した穀粒の水分値のバラツキが予め設定したバラツキよりも大きいと判定した場合に、乾燥手段（４）及び吸気排気ファン（７）を停止した状態で前記循環手段を駆動する構成としたことを特徴とする穀粒乾燥機。
【請求項２】
貯溜室（１０）から乾燥室（１１）を経て再度貯溜室（１０）に張込穀粒を循環させる循環手段と、穀粒を乾燥する乾燥手段（４）と、前記乾燥室（１１）に乾燥風を送る吸引排気ファン（７）と、張込穀粒から穀粒を採取して水分値を測定する水分測定手段（９）と、前記循環手段、乾燥手段（４）、水分測定手段（９）を制御する制御部（４１）を設け、
水分測定手段（９）は一回の測定で設定粒数を測定し、制御部（４１）がその設定粒数の平均水分値（ｍ）を演算し、該平均水分値（ｍ）を当該測定した張込穀粒位置の水分値とし、該平均水分値（ｍ）を張込穀粒の全体にわたって設定間隔毎に複数個所測定・演算する構成とし、該複数個所の平均水分値（ｍ）から水分ムラ状態を検出し、該水分ムラが予め設定した水分ムラよりも大きいと判定した場合には、乾燥手段（４）で設定水分値まで乾燥した後に、乾燥手段（４）及び吸気排気ファン（７）を停止した状態で前記循環手段を駆動する構成としたことを特徴とする穀粒乾燥機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、穀粒乾燥機に関する。
【背景技術】
【０００２】
穀粒乾燥機において、乾燥開始後に穀粒水分が所定水分値より高水分、あるいは穀粒間の水分値に所定水分値以上のバラツキがある場合には、外気風による通風乾燥で穀粒を循環させる技術や休止させる技術が記載されている（特許文献１）。
【特許文献１】特開平６−２７３０３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
乾燥開始後に穀粒のバラツキを小さくするために通風して循環すると穀温が低下して穀粒間の水分移行がなされ難くバラツキ解消までに時間を要してしまう。また、休止乾燥の場合には水分のバラツキが解消し難い。また、大型の乾燥機になると異なる圃場からの収穫穀粒が順次投入されるため、異なる水分値の穀粒層、いわゆる水分ムラができ易い。
【０００４】
本発明は穀粒の水分バラツキを迅速に小さくすることを課題とする。また、穀粒層毎の水分ムラを小さくすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１の発明は、貯溜室（１０）から乾燥室（１１）を経て再度貯溜室（１０）に張込穀粒を循環させる循環手段と、穀粒を乾燥する乾燥手段（４）と、前記乾燥室（１１）に乾燥風を送る吸引排気ファン（７）と、張込穀粒から穀粒を採取して水分値を測定する水分測定手段（９）と、前記循環手段、乾燥手段（４）、水分測定手段（９）を制御する制御部（４１）を設け、乾燥手段（４）で乾燥作業を行っている時に水分測定手段（９）が設定数の穀粒を測定し、制御部（４１）は当該測定した穀粒の水分値のバラツキが予め設定したバラツキよりも大きいと判定した場合に、乾燥手段（４）及び吸気排気ファン（７）を停止した状態で前記循環手段を駆動する構成としたことを特徴とする穀粒乾燥機とする。  
【０００６】
請求項２の発明は、貯溜室（１０）から乾燥室（１１）を経て再度貯溜室（１０）に張込穀粒を循環させる循環手段と、穀粒を乾燥する乾燥手段（４）と、前記乾燥室（１１）に乾燥風を送る吸引排気ファン（７）と、張込穀粒から穀粒を採取して水分値を測定する水分測定手段（９）と、前記循環手段、乾燥手段（４）、水分測定手段（９）を制御する制御部（４１）を設け、
水分測定手段（９）は一回の測定で設定粒数を測定し、制御部（４１）がその設定粒数の平均水分値（ｍ）を演算し、該平均水分値（ｍ）を当該測定した張込穀粒位置の水分値とし、該平均水分値（ｍ）を張込穀粒の全体にわたって設定間隔毎に複数個所測定・演算する構成とし、該複数個所の平均水分値（ｍ）から水分ムラ状態を検出し、該水分ムラが予め設定した水分ムラよりも大きいと判定した場合には、乾燥手段（４）で設定水分値まで乾燥した後に、乾燥手段（４）及び吸気排気ファン（７）を停止した状態で前記循環手段を駆動する構成としたことを特徴とする穀粒乾燥機とする。
【発明の効果】
【０００７】
請求項１の発明は、乾燥穀粒の水分バラツキが設定以上あると判定した場合には、乾燥手段４及び吸引排気ファン７の駆動を停止し、かつ循環手段を駆動する構成としたことで、穀温が上昇して維持した状態で穀粒を循環するため、穀粒間の水分移行を促進させて水分バラツキを小さくすることができる。
【０００８】
請求項２の発明は、水分ムラ状態が予め設定した水分ムラよりも大きいと判定した場合には、乾燥手段（４）で設定水分値まで乾燥した後に、乾燥手段（４）及び吸気排気ファン（７）を停止した状態で前記循環手段を駆動する構成としたことで、穀温が上昇して維持した状態で穀粒を循環するため、異なる穀粒層の混合を促進させて穀粒層毎の水分ムラを小さくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明の穀粒乾燥機の実施形態について説明する。図１には穀粒乾燥機の正面図、図２には穀粒乾燥機の側面図が図示されている。
穀粒乾燥機Ｓは、穀粒を収納する多段の箱体１を備え、箱体１の前側には穀粒揚穀用の昇降機２と、熱風発生用の燃焼バーナ４を内装している燃焼バーナ収容室５と、乾燥作業操作用の各種スイッチを備えた操作盤６を備え、箱体１の天井部には昇降機２で揚穀した穀粒を箱体１内に搬送する搬送装置３を備えている。
【００１０】
また、箱体１の後側には、箱体１内の熱風を吸引排出する吸引排気ファン７を備え、箱体１の左右一側には穀粒投入口１９と開閉扉１９ａを備えている。そして、前記昇降機２には穀粒の水分を検出する水分計９と、箱体１内の穀粒を機外に排出する穀粒排出口１８を設け、搬送装置３の搬送中途部には集塵装置５０を設け、搬送穀粒に混じる藁屑類を除去するように構成している。また、操作盤６内には乾燥作業制御用の制御部４１を備えている。
【００１１】
箱体１の上部には貯溜室１０を、下部には乾燥室１１を備えている。前記搬送装置３の終端側には拡散羽根１２を設け、搬送装置３の上部ラセン３ａで搬送された穀粒を貯溜室１０に拡散するように構成している。
【００１２】
また、箱体１内の貯溜室１０には、張込穀粒量検出用の張込穀粒量検出センサ２０を設けている。この張込穀粒量検出センサ２０は、錘２０ａを紐２０ｂで吊り下げ支持する構成で、巻取装置２０ｃの巻戻し回転により錘２０ａを下降させて張込穀粒の上面に接触させ、次いで、巻取装置２０ｃの巻取り回転により錘２０ａを上昇させて、張込穀粒の張込高さを検出し、穀粒張込量を検出するものである。
【００１３】
乾燥室１１は、燃焼バーナ４により発生した熱風が流れる熱風室１３と、貯溜室１０の穀粒が流下する流下通路１４，１４と、吸引排気ファン７に連通している排風室１５により構成されている。なお、燃焼バーナ４の燃焼面を熱風室１３に対向配置している。流下通路１４，１４の下端部にはロータリバルブ１６を設け、流下通路１４，１４の穀粒を所定量ずつ繰り出し、繰り出した穀粒を下部ラセン１７で昇降機２に搬送している。
【００１４】
次に、図３に基づき操作盤６について説明する。張込スイッチＳＷ０、通風乾燥スイッチＳＷ１、乾燥スイッチＳＷ２、排出スイッチＳＷ３、停止スイッチＳＷ４、乾燥速度の設定や穀粒種類等を設定する液晶の表示画面ｈ等を備えている。
【００１５】
乾燥速度の設定は、遅い（乾減率０．６％／時間）、やや遅い（乾減率０．７％／時間）、標準（乾減率０．８％／時間）、速い（乾減率０．９％／時間）を手動で設定する構成である。
【００１６】
次に、図６に基づき制御ブロック構成ついて説明する。制御部４１の入力側には、前記スイッチＳＷ０〜ＳＷ４等の各種スイッチ、外気温度センサＳＥ１、熱風温度センサＳＥ２、排風温度センサＳＥ３、水分計センサＳＥ５、張込穀粒量検出センサ２０、穀温センサＳＥ８等の各種センサ情報が入力される。また、制御部４１の出力側から燃焼バーナ４、水分計９、吸引排気ファン７、循環手段であるロータリバルブ１６、下部ラセン１７、昇降機２、上部ラセン３ａ、拡散羽根１２等の駆動手段に制御信号が出力される。
【００１７】
次に、穀粒乾燥機における穀粒の張込工程から乾燥工程の制御内容について説明する。
張込スイッチＳＷ０を押すと、下部ラセン１７、昇降機２、上部ラセン３ａ、拡散羽根１２が駆動を開始し、オペレータは開閉扉１９ａを開けて収穫穀粒の投入を開始する。すると、穀粒は下部ラセン１７、昇降機２、上部ラセン３ａにより順次搬送され、拡散羽根１２で貯溜室１０内に拡散供給される。
【００１８】
乾燥スイッチＳＷ２を押すと、乾燥工程が開始され、燃焼バーナ４が燃焼を開始し、吸引排気ファン７や集塵装置５０が駆動を開始すると共に、ロータリバルブ１６、下部ラセン１７、昇降機２、上部ラセン３ａ、拡散羽根１２が駆動を開始し、穀粒の循環が開始される。循環する穀粒は、乾燥室１１の穀粒流下通路１４，１４を流下するときに、熱風室１３から排風室１５に流れる熱風を浴びて乾燥され、水分計９により所定時間毎に水分が測定されながら乾燥され、測定水分値が設定水分になると、乾燥工程は終了する。
【００１９】
次に、図４及び図５に基づき、張込工程から乾燥工程終了までの具体的な乾燥作業内容及び表示画面ｈの表示内容について説明する。
張込工程が開始されると、昇降機駆動モータの負荷電流値を負荷電流センサＳＥ７により検出し、検出負荷電流値と過負荷基準値が時系列に表示画面ｈに表示される（図４の画面イ）。しかして、昇降機２の穀粒の詰まり具合を検出することができる。
【００２０】
また、オペレータが停止スイッチＳＷ４を押すと、張込工程が停止され、張込穀粒量検出センサ２０により穀粒の張込量検出を開始する。その間には表示画面ｈに待機画面（図４−ロ）が表示される。張込量の検出が終了すると、表示画面ｈには張込量「３０００ｋｇ］、張込レベル、残りの張込可能量の「３０００ｋｇ」がそれぞれ表示される（図４−ハ）。
【００２１】
そして、穀粒種類や張込量、仕上げ水分値の設定、乾燥速度等の乾燥条件の内容が表示画面ｈの設定画面（図４−ニ）に表示され、オペレータは設定画面を操作し適宜設定をする。
【００２２】
なお、オペレータが再度張込スイッチＳＷ０を押すと、張込工程が再開され、張込画面（図４−イ）に切り替わり、前述と同様の画面表示を繰り返す。
張込穀粒量検出センサ２０あるいは手動の張込量設定スイッチ（図示省略）により、張込穀粒量が検出あるいは設定され制御部４１に入力される。すると、図８に示すように、張込穀粒量に応じた水分測定回数ｋが、張込穀粒量の乾燥開始から１回循環するまでの循環時間ｔ内において、設定時間毎に行なわれる。
【００２３】
なお、全張込穀粒が１回循環するのに要する時間ｔは張込穀粒量から制御部４１で演算される。張込レベルがＬＶ１０で張込穀粒量が６０００ｋｇの場合には、１回循環するのに４８分要し、測定回数は１２回、即ち４分間隔毎に水分を測定することになる。
【００２４】
乾燥スイッチＳＷ２を押すと、燃焼バーナ４が燃焼を開始し、循環装置が駆動され穀粒が箱体１内の循環を開始する。そのとき、表示画面ｈには「運転中である」旨を表示し（図５−ホ）、水分計９は乾燥開始から１回循環するまでの間に設定時間毎に設定された回数の水分測定を行なう。このとき表示画面ｈには「乾燥初期の水分測定中である」旨を表示する（図６−ヘ）。
【００２５】
なお、１回の水分測定では図７に示すように３２粒の水分値をそれぞれ測定し、その都度平均水分値ｍを算出している。また、１回の水分測定で測定された３２粒の水分バラツキ具合を、測定回数毎に画面に表示する（図５−ト）。また、乾燥開始から１回目の穀粒循環が終了すると、ＬＶ１〜ＬＶ１０の穀粒層毎に測定した平均水分値ｍを表示し（図５−チ、図９）、穀粒層毎の水分の分布状態、すなわち水分ムラの状態を表示する。また、乾燥作業が進行するに従い、表示画面ｈの表示内容は図５−リか図５−トが表示される。
【００２６】
前記構成によると、乾燥工程の開始直後に張込穀粒量に応じた水分測定回数を設定することにより、全張込穀粒の層別の水分の状態を正確に把握することができる。
次に水分ムラ及び水分バラツキを小さくするための乾燥制御について説明する。
【００２７】
張込作業終了後、乾燥スイッチＳＷ２を押すと、張込穀粒量検出センサ２０が測定を開始し、その測定に基づき制御部４１で張込穀粒量を算出する。そして、前述の通り、燃焼バーナ４が燃焼を開始し、吸引排気ファン７や集塵装置５０が駆動を開始すると共に、ロータリバルブ１６、下部ラセン１７、昇降機２、上部ラセン３ａ、拡散羽根１２が駆動を開始し、穀粒の循環が開始される。循環する穀粒は、乾燥室１１の穀粒流下通路１４，１４を流下するときに、熱風室１３から排風室１５に流れる熱風を浴びて乾燥される。
【００２８】
乾燥開始直後に、測定された張込穀粒量に応じて設定間隔毎に３２粒ずつの穀粒の水分値を測定することで穀粒層（ＬＶ１〜ＬＶ１０）の水分ムラ状態をし、各穀粒層の測定水分値を平均して穀粒層毎に平均水分値ｍを算出し、また、全穀粒層（ＬＶ１〜ＬＶ１０）の平均水分値ｍを平均して全体平均水分値ｎを算出し、全張込穀粒量の穀粒層毎の水分ムラ状態を表示画面ｈに表示する（図５−チ、図９）。この水分ムラ測定は乾燥開始直後に行なわれ、その後は設定時間毎（例えば１５分毎）に３２粒毎の水分を測定して水分のバラツキ状態を表示する（図５−ト）。
【００２９】
そして、前記平均水分値ｍに対して例えば±３％以上の穀粒が１０粒以上あった場合には水分バラツキが大と判定する。そして、水分バラツキ大の場合には、水分値が設定水分値（例えば１８％程度）まで乾燥が進むと、前記吸引排気ファン７の駆動を所定時間にわたり停止し、無通風の乾燥室１１に乾燥穀粒を循環する水分ムラ・バラツキ解消制御工程を行なう（水分バラツキが大きいほど長時間の制御、小のときには短時間の制御に設定しても良い）。その後再度吸引排気ファン７を再度駆動を開始して熱風乾燥をし、設定仕上水分値になるまで乾燥作業を継続する（図１１参照）。
【００３０】
前記構成によると、測定水分値が例えば１８％程度まで乾燥が進み穀温の上昇している状態で、吸引排気ファン７の駆動を所定時間停止することで、吸引排気ファン７の通風による穀温の低下を防止し、穀温が高い状態を維持できることで、穀粒間の水分移行が促進され、水分のバラツキを小さくすることができる。
【００３１】
水分バラツキを判定する水分測定時は平均水分値ｍが設定水分値（例えば２０％や１８％）でも良いし、水分ムラ測定終了後に設定時間毎に測定する任意の時点の平均水分値ｍでも良い。
【００３２】
また、前述の水分ムラ測定で測定した前記平均水分値ｍと全体平均水分値ｎから水分ムラの大小を判定する。例えば、前記平均水分値ｍと全体平均水分値ｎから水分ムラの大小を判定する。例えば、全体平均水分値ｎと３％以上の水分差がある平均水分値ｍある場合に水分ムラが大きい穀粒層があると判定する。
【００３３】
このときも、水分値が設定水分値（例えば１８％程度）まで乾燥が進むと、前記吸引排気ファン７の駆動を所定時間にわたり停止し、無通風の乾燥室１１に乾燥穀粒を循環する水分ムラ・バラツキ解消制御工程を行なう（水分ムラが大きいほど長時間の制御、小のときには短時間の制御に設定しても良い）。その後再度吸引排気ファン７を再度駆動を開始して熱風乾燥をし、設定仕上水分値になるまで乾燥作業を継続する（図１３参照）。
【００３４】
このため、吸引排気ファンの停止中は穀粒を循環させることで、水分移行を促進させると共に穀粒層毎の穀粒の混合が促進され、穀粒層毎の水分ムラを小さくすることができる。
【００３５】
なお、水分ムラ・バラツキ解消制御工程は水分バラツキか水分ムラの何れかが設定よりも大きいときに行なっても良いし、両方とも満たす場合に行なっても良い。
次に、乾燥作業終了付近の乾燥制御について説明する。
【００３６】
図１２は複数の穀粒乾燥機Ｓを並列して設置し、それぞれの穀粒乾燥機で乾燥済み穀粒を放冷タンクＶに排出して貯留し、後工程の籾摺機Ｘ、米選機Ｙで調整処理するように構成していることを示す図である。そして、前述の通り、乾燥作業中には箱体１内の乾燥穀粒を一粒式水分計９により、前述の通り乾燥開始直後の水分ムラ測定後には所定時間毎に所定粒数（３２粒）の水分測定をし平均水分値ｍを算出する。そして、平均水分値ｍが設定水分値（例えば１４％）になると、乾燥作業を終了するように構成する。
【００３７】
設定仕上水分値に対して例えば２％以下（本例だと１６％）まで乾燥が進行した時に測定した水分バラツキが、例えば平均水分値ｍより３％以上離れた穀粒数が６粒以上検出した場合には、平均水分値ｍが設定仕上げ水分値になり乾燥作業を終了し、次いで、穀粒を放冷タンクに排出する際に、吸引排気ファン７の駆動を停止し、乾燥済み穀粒を無風状態の流下通路１４，１４を流下しながら排出し、放冷タンクＶに移送する。
【００３８】
前記構成によると、穀粒を放冷タンクＶに排出する際に、吸引排気ファン７の駆動を停止することで、通風による穀温の低下を少なくし、穀温の高いままで放冷タンクに排出貯溜することができ、放冷タンクでの穀粒間の水分移行を促進し、比較的短い時間で水分バラツキの均等化を図ることができる。
【００３９】
次に、乾燥開始直後における一実施の形態について説明する。
穀粒乾燥機で穀粒の乾燥作業を開始すると、前記張込穀粒量検出センサ２０により張込穀粒量を検出し（あるいは、図示省略の張込量設定スイッチにより乾燥作業開始前に張込穀粒量を設定する。）、ロータリバルブ１６の繰出循環能力から全張込穀粒量の１循環に要する循環時間を算出する。
【００４０】
そして、乾燥開始後の１回目の循環時間中は、前記吸引排気ファン７のみを駆動し、穀粒を通風循環しながら前記穀温センサＳＥ８により所定時間毎に穀温を検出し、検出穀温のバラツキの大小を判定する穀温判定手段を設ける。
【００４１】
前記穀温判定手段が例えば５度以上の穀温差があり穀温差大と判定すると、２回目の穀粒循環時にも穀粒を通風状態で循環しながら乾燥し、穀温の収束安定を図りながら通風乾燥を継続する。そして、例えば、３度以内まで穀温が収束安定すると、燃焼バーナ４を着火した熱風乾燥に移行する。
【００４２】
前記構成によると、夏場での高温穀粒のむれを抑制しながら、胴割れ等の品質低下を防止し、水分むらを防止しながら乾燥することができる。
次に、乾燥作業中における穀粒層の表示の一実施の形態について説明する。
【００４３】
穀粒乾燥機の箱体１には張込穀粒量確認用の張込量確認用窓５１，…を上下方向に所定間隔毎に設け（図２に示す）、また、表示画面ｈの横軸には張込量確認用窓５１，…に対応する窓番号「１〜７」を表示している。また、水分計９により乾燥開始から循環乾燥穀粒に所定時間毎に所定回数の水分測定を行ない穀粒層毎の平均水分値ｍ、及び、全穀粒層の平均水分値ｎを測定する。
【００４４】
そして、測定水分値を図１０に示すように表示する。即ち、１回目の水分測定では図７に示すように、３２粒の水分測定をし、水分値測定の都度算出した平均水分値ｍを実線で縦軸に表示し、また、１回目の水分測定で測定された３２粒間のバラツキの上限値及び下限値を点線で縦軸に表示し、張込穀粒量確認用窓５１，…の窓番号「１〜７」に対応するように表示する。
【００４５】
前記構成によると、穀粒乾燥機の箱体１内に張り込んだ穀粒層毎に平均水分値及び穀粒間のバラツキ具合を一目で確認することができ、全体の乾燥進行状態を容易に把握することができる。
【００４６】
また、前記平均水分値ｍ及び穀粒間の水分バラツキの上限値及び下限値を表示するにあたり、乾燥穀粒の循環に応じて張込穀粒量確認用窓５１，…の窓番号「１〜７」に、スライドして表示するようにしてもよい。また、表示切換スイッチ（図示省略）の切換操作により、穀粒の循環状態に応じた表示としたり、あるいは、張込時の状態に応じた水分値表示に切り換えるようにしてもよい。
【００４７】
前記構成によると、全体の乾燥穀粒に対して極端に異なる水分値の穀粒ブロックを一旦機外に取り出し別に乾燥することができ、乾燥時間を短縮することができる。
次に、乾燥制御の他の実施形態について説明する。
【００４８】
穀粒乾燥機で穀粒の乾燥作業を開始すると、前記張込穀粒量検出センサ２０により張込穀粒量を検出し、ロータリバルブ１６の繰出循環能力から全張込穀粒量の１回の循環に要する循環時間を算出する。また、乾燥開始後の１回目の循環時間中は、穀粒を通風循環しながら前記排風温度センサＳＥ３により所定時間毎に排風温度を検出し、検出排風温度のバラツキの大小を判定する排風温度判定手段を設ける。
【００４９】
前記排風温度判定手段で例えば５度以上の温度差を検出し穀温のバラツキ大と判定すると、２回目の穀粒循環でも穀粒を通風状態で循環しながら乾燥し、排風温度が収束安定するまで通風乾燥を継続する。そして、排風温度が例えば３度以下の温度差に収束安定すると、燃焼バーナ４を着火した熱風乾燥に移行する。
【００５０】
前記構成によると、夏場での水分値の高い穀粒のむれを抑制しながら、胴割れ等の品質低下を防止し、水分むらを防止しながら乾燥することができる。
次に、本実施の形態における水分ムラの解消の制御について説明する。
【００５１】
前述の通り、箱体１内の張込穀粒を張り込み量に応じて複数の穀粒層を設定し、乾燥開始直後、各穀粒層毎の検出粒数の測定水分値を平均して平均水分値ｍを算出し、各穀粒層の平均水分値ｍを平均して全体平均水分値ｎを算出し、穀粒全体の水分ムラを表示画面ｈに表示する（図５−チ）。また、一粒式水分計９で測定した一回または複数回の一粒の水分測定値のバラツキを算出し表示する（図５−ト）。
【００５２】
そして、前記平均水分値ｍと全体平均水分値ｎから水分ムラの大小を判定する。例えば、全体平均水分値ｎと３％以上の水分差がある平均水分値ｍある場合に水分ムラが大きい穀粒層があると判定する。しかして、水分ムラ大の場合には、ロータリバルブ１６の循環量を通常循環量よりも多くしながら乾燥作業をする。
【００５３】
前記構成によると、穀粒の循環速度を速くすることにより、各穀粒層の混合作用が促進し、水分ムラを少なくしながら乾燥することができる。
次に、乾燥制御の他の実施形態について説明する。
【００５４】
前述の通り、各穀粒層毎の検出粒数の測定水分値を平均して平均水分値ｍを算出し、各穀粒層の平均水分値ｍを平均して全体平均水分値ｎを算出し、穀粒全体の水分ムラを表示画面ｈに表示する（図５−チ）。
【００５５】
次いで、２回目の循環でも同様に平均水分値ｍ及び全体平均水分値ｎを算出し、１回目の水分値と２回目の水分値の差を循環時間で割って、穀粒の乾燥速度を算出する。次いで、算出乾燥速度と設定乾燥速度とを比較し、例えば、算出乾燥速度が大のときには、設定乾燥速度を遅く補正する。
【００５６】
前記構成によると、張込穀粒を複数の穀粒層として看做し、各穀粒層毎の前後の平均水分値ｍを比較して実際の乾燥速度を算出するので、水分ムラがある場合にも、全体として安定した乾燥速度に補正することができ、乾燥速度制御の精度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】穀粒乾燥機の切断背面図
【図２】穀粒乾燥機の切断側面図
【図３】操作盤の正面図
【図４】表示画面の表示内容を示す図
【図５】表示画面の表示内容を示す図
【図６】制御ブロック図
【図７】乾燥開始直後の水分測定結果を示す図
【図８】張込穀粒量と１回の循環時間と水分測定回数の関係を示す図
【図９】穀粒ブロック毎の水分値の分布を示す図
【図１０】張込穀粒量確認用窓毎の穀粒ブロックの水分値分布を示す図
【図１１】フローチャート
【図１２】乾燥調製設備を示す図
【図１３】フローチャート
【符号の説明】
【００５８】
４        乾燥手段
７        吸引排気ファン
９        水分測定手段
１０        貯溜室
１１        乾燥室
２０        張込穀粒量設定手段
４１        制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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