(57)【要約】【課題】確実な表面疵検査及び補修を可能とする金属製棒材の表面疵検査方法の提供。【解決手段】この表面疵補修方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵１４を検知する検知工程と、この表面疵１４の程度を作業者が目視で確認して表面疵の検査をする工程とを含む。表面疵１４の検査をする工程において、漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵１４の長手方向位置がランプ１０で表示され、この長手方向位置の周方向に複数の表面疵１４があることがこのランプ１０の点灯、点滅及び消灯のいずれかで表示される。本発明にかかる金属製棒材の他の表面疵検査方法では、表面疵１４の検査をする工程において、漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵１４の長手方向位置及び周方向位置がランプで表示される。【選択図】図１
2009281839.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、
この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む金属製棒材の表面疵検査方法において、
この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向に対応して配置されており、
漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置がこの長手方向位置に対応したランプで表示されており、
この長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応したランプが点灯、点滅及び消灯のいずれか一の表示をして、
この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応したランプが点灯、点滅及び消灯のいずれか他の表示をすることを特徴とする表面疵検査方法。
【請求項２】
漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、
この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む金属製棒材の表面疵検査方法において、
この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向に対応して配置されており、
漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置がこの長手方向位置に対応したランプで表示されており、
この長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応して配置されたランプが一の色で点灯若しくは点滅して、
この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応して配置されたランプが他の色で点灯若しくは点滅することを特徴とする表面疵検査方法。  
【請求項３】
漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、
この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む金属製棒材の表面疵検査方法において、
この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向に対応して配置されており、この長手方向位置に対応して２行のランプが配置されており、
漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置がこの長手方向位置に対応したランプで表示されており、
この長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応して配置された一方の行のランプが点灯、点滅若しくは消灯して、
この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応して配置された他方の行のランプが点灯、点滅若しくは消灯することを特徴とする表面疵検査方法。
【請求項４】
漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、
この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む金属製棒材の表面疵検査方法において、
この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向及び周方向に対応して配置されており、
漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置及び周方向位置がこの長手方向及び周方向に対応したランプで表示されることを特徴とする表面疵検査方法。
【請求項５】
複数のランプが行列をなして配置されており、
このランプの行が金属製棒材の長手方向に対応しており、
このランプの列が金属製棒材の周方向に対応しており、
この列の全長が金属製棒材の周方向の全長に対応しており、
この列でのランプの位置と金属製棒材の周方向位置とが対応している請求項４に記載の表面疵検査方法。
【請求項６】
複数のランプが行列をなして配置されており、
このランプの行が金属製棒材の長手方向に対応しており、
このランプの列が金属製棒材の周方向に対応しており、
このランプの行がＮ分割されて（Ｎは２以上の整数）１からＮの区画にされており、
表面疵の表示が１からＮの区画毎に順番にランプが点滅して表示される請求項４又は５に記載の表面疵検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、丸棒鋼等の金属製棒材の表面疵補修方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
圧延等の塑性加工によって得られた棒鋼には、加工前の材料の状態に起因した表面疵や、加工工程で発生した表面疵が存在する場合がある。表面疵の程度によっては、この表面疵が棒鋼の品質を低下させ、使用に支障を来すこともある。棒鋼の製造では、表面疵が検査され棒鋼が補修されたり、表面疵の程度の著しい棒鋼は廃棄されたりしている。一般的な表面疵の検査は、漏洩磁束探傷試験と磁粉探傷試験とが組み合わされて行われる。
【０００３】
漏洩磁束探傷試験によって表面疵が発見された棒鋼に補修が施され、この補修後の棒鋼が磁粉探傷試験によって検査される場合もある。この場合は、補修の成否が磁粉探傷工程で判定される。
【０００４】
表面疵の判定は目視で行われるため、検査者が表面疵を見落とすおそれがある。見落としが生じると、本来存在すべきでない過大な表面疵（長さ、深さ、幅等が大きな疵）が存在する棒鋼が出荷されてしまう可能性がある。
【０００５】
漏洩磁束探傷工程において表面疵が検知されると、その検知箇所に塗料によるマーキングがなされ、このマーキングを目印として検査者が表面疵を確認する方法も考えられる。しかしながら、この方法であっても検査者がマーキング自体を見落とすおそれがある。また、漏洩磁束探傷工程でマーキング不良（マーキングの欠落、マーキング位置の誤り）が生じる可能性もある。これらの理由により、本来存在すべきでない過大な表面疵が存在する棒鋼が出荷されてしまうことを確実に防止することは困難である。
【０００６】
表面疵の見落としが防止される棒材検査方法が特開２００２−２５０７１７号公報に開示されている。一般に棒鋼は、６ｍ程度の長尺である。この判定工程では、検知工程で表面疵が発見された長手方向の位置がランプで表示される。このランプの表示により表面疵の棒鋼の長手方向位置が特定される。これにより、検査員が表面疵を見落とすことが抑制されている。
【特許文献１】特開２００２−２５０７１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このランプ表示による方法では、表面疵の長手方向の位置が特定される。長手方向の同一位置に複数の表面疵が存在する場合がある。この複数の表面疵は、周方向に異なる位置に存在する。この複数の表面疵の内の一つが検査されて、他の表面疵は見逃される可能性がある。長手方向の位置のみのランプ表示では検査員が表面疵を見落とすおそれがある。
【０００８】
本発明の目的は、確実な表面疵検査を可能とする丸棒鋼等の金属製棒材の表面疵検査方法の提供にある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明にかかる金属製棒材の表面疵検査方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む。この表面疵の検査をする工程で、複数のランプは、金属製棒材の長手方向に対応して配置されている。漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置は、この長手方向位置に対応したランプで表示されている。この長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応したランプが点灯、点滅及び消灯のいずれか一の表示をする。この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応したランプが点灯、点滅及び消灯のいずれか他の表示をする。
【００１０】
本発明にかかる他の金属製棒材の表面疵検査方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む。この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向に対応して配置されている。漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置がこの長手方向位置に対応したランプで表示されている。この長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置されたランプが一の色で点灯若しくは点滅する。この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置されたランプが他の色で点灯若しくは点滅する。
【００１１】
本発明にかかる他の金属製棒材の表面疵検査方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む。この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向に対応して配置されている。この長手方向位置に対応して２行のランプが配置されている。漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置は、この長手方向位置に対応したランプで表示されている。この長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置された一方の行のランプが点灯、点滅若しくは消灯する。この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置された他方の行のランプが点灯、点滅若しくは消灯する。
【００１２】
本発明にかかる他の金属製棒材の表面疵検査方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵を検知する検知工程と、この表面疵の程度を作業者が目視で確認して、表面疵の検査をする工程とを含む。この表面疵の検査をする工程で、複数のランプが金属製棒材の長手方向及び周方向に対応して配置されている。漏洩磁束探傷試験によって検知された表面疵の長手方向位置及び周方向位置が、この長手方向及び周方向に対応したランプで表示される。
【００１３】
好ましくは、複数のランプが行列をなして配置されている。このランプの行は、金属製棒材の長手方向に対応している。このランプの列は、金属製棒材の周方向に対応している。この列の全長は、金属製棒材の周方向の全長に対応している。この列でのランプの位置と金属製棒材の周方向位置とが対応している。
【００１４】
好ましくは、複数のランプが行列をなして配置されている。このランプの行は、金属製棒材の長手方向に対応している。このランプの列は、金属製棒材の周方向に対応している。このランプの行は、Ｎ分割されて（Ｎは２以上の整数）１からＮの区画にされている。表面疵の表示は、１からＮの区画毎に順番にランプが点滅して表示される
【発明の効果】
【００１５】
本発明の表面疵補修方法によれば、金属製棒鋼の表面疵の見落としが抑制される。表面疵補修作業及び表面疵の検査作業の作業負担が軽減される。金属製棒鋼の品質が向上する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、適宜図面が参照されつつ、好ましい実施形態に基づいて本発明が詳細に説明される。
【００１７】
図１は、本発明の一実施形態にかかる検査方法に用いられる疵表示設備２の様子が示された模式的斜視図である。この疵表示設備２は、棒材支持台４及びランプ体６を備えている。棒材支持台４の台上には、所定の手段によって棒鋼８が長手方向に位置決めされる。この棒鋼８は、周方向には回転可能にして位置決めされる。
【００１８】
図１に示すように、ランプ体６はワイヤ１２等により、上方から吊り下げられている。ランプ体６は、棒材支持台４の上面よりもある程度上方に位置している。ランプ体６の長手方向は、棒鋼８の長手方向と一致している。ランプ体６は、点灯及び点滅させるランプとしての発光ダイオード１０を多数備えている。発光ダイオード１０は、ランプ体６の長手方向に並設されている。発光ダイオード１０は、ランプ体６の長手方向に１行に列べられている。棒材支持台４に位置決めされる棒鋼８の長さは、通常は３ｍから９ｍ程度である。発光ダイオード１０は、最長の棒鋼８の全長にわたる範囲に並設されている。発光ダイオード１０の並設は、発光ダイオード１０、１０同士が等間隔となるようにされている。
【００１９】
図１の棒鋼８には、その外周面には表面疵１４が存在する。この表面疵１４の位置は、後述する漏洩磁束探傷機により検知され、記憶部に記憶されている。この記憶された表面疵位置の算出データに基づき、ランプ体６はこの表面疵１４の位置に対応する発光ダイオード１０を点灯又は点滅させる。
【００２０】
図１では、表面疵１４に対応する位置に存在する５個の発光ダイオード１０が点灯して、２個の発光ダイオード１０が点滅している。図１において黒く塗りつぶされているのが、点灯している発光ダイオード１０である。黒く塗りつぶされてその周りに放射状に点が描かれているのが、点滅している発光ダイオード１０である。発光ダイオード１０の点灯は、作業者に棒鋼８の長手方向対応位置に表面疵１４があることを知らせる。発光ダイオード１０の点滅は、作業者に棒鋼８の長手方向対応位置の周方向に複数の表面疵１４があることを知らせる。
【００２１】
図２は、本発明の一実施形態にかかる検査方法が示されたフロー図である。この表面疵検査方法では、まず金属製棒材としての棒鋼８が準備される（ＳＴＥＰ１）。この棒鋼８としては、例えばタンデムに配列された粗列圧延機、中間列圧延機及び仕上列圧延機によってビレットが連続的に圧延されて得られるものが挙げられる。他の方法によって製作された棒鋼８であっても、この表面疵補修方法が適用されうる。
【００２２】
次に、漏洩磁束探傷機によって棒鋼８の表面疵１４が検知される（ＳＴＥＰ２）。漏洩磁束探傷機では、棒鋼８が搬送ローラにより長手方向に送られる。棒鋼８が励磁される。この際、表面疵１４が存在すると、この表面疵１４の近傍において磁束が空間に漏洩する。磁束探傷機は、搬送ローラの間に配置されたリング状のプローブを備えている。このプローブはセンサを備えている。棒鋼８がこのプローブを通される。棒鋼８の長手方向の全長の漏洩磁束がセンサで検知される。このプローブが棒鋼８の周方向に回転させられる。この棒鋼８の周方向の全長の漏洩磁束がセンサで検知される。
【００２３】
漏洩磁束探傷機で表面疵１４が検知されなかった場合は、棒鋼８は所定の工程を経た後に出荷される（ＳＴＥＰ７）。表面疵１４が検知された場合は、そのデータは記憶部（メモリ等）に記憶される（ＳＴＥＰ３）。
【００２４】
この磁束探傷機では、棒鋼８の長手方向先端から表面疵１４が検知されるまでの時間Ｔ１が測られている。表面疵１４が検出されてから検出されなくなるまでの時間Ｔ２が測られている。この時間Ｔ１と搬送ローラの搬送速度とから表面疵１４の長手方向の位置が算出される。この時間Ｔ２と搬送ローラの搬送速度とから表面疵１４の長手方向の長さが算出される。
【００２５】
この磁束探傷機では、棒鋼８の周方向の測定基準位置から表面疵１４が検知されるまでの時間Ｔ３が測られている。表面疵１４が検出されてから検出されなくなるまでの時間Ｔ４が測られている。この棒鋼８の外径、時間Ｔ３及びプローブの回転速度から表面疵１４の周方向の位置が算出される。棒鋼８の外径、時間Ｔ４及びプローブの回転速度とから表面疵の周方向の長さが算出される。
【００２６】
これにより、表面疵１４の存在、その位置、長手方向の長さ及び周方向の長さのデータが得られる。具体的には、図示されないコンピュータで、予め設定された大きさ以上の表面疵の数を数えるプログラムにより、表面疵の有無、長手方向の位置及び周方向の位置が算出される。この算出データは、記憶部（メモリ等）に記憶される。この算出データは、表面疵１４の長手方向位置及び周方向の位置の信号に変換される。
【００２７】
ここでは、表面疵１４の周方向の位置の情報を算出したが、これに代えて表面疵１４が検出された長手方向位置の周方向に２箇所以上複数の表面疵１４があるかどうかの情報を記憶部（メモリ等）に記憶してもよい。この場合には、表面疵１４の長手方向位置及びその位置での周方向に２箇所以上複数の表面疵１４があるかどうかの信号に変換される。
【００２８】
漏洩磁束探傷機で表面疵１４が検知された棒鋼８は、磁粉探傷工程に送られる（ＳＴＥＰ４）。磁粉探傷機では棒鋼８が励磁され、この棒鋼８の周りに強磁性粉末が供給される。表面疵１４の近傍では磁束が空間に漏洩して磁極が形成されるので、粉末が磁化されて表面疵１４に凝集し、吸着される。こうして、粉末は表面疵１４の形状が反映された模様（以下、「磁粉模様」とも称される）を形成する。棒鋼８の表面のうち磁粉模様と他の部分とが容易に区別されるとの観点から、棒鋼８の表面色とは明度、彩度又は色相の異なる色に粉末が着色されるのが好ましい。
【００２９】
棒鋼８は磁粉探傷工程を経て表面疵検査工程（ＳＴＥＰ５）に送られる。この表面疵検査では、図１の疵表示設備２が用いられる。棒鋼８は、棒材支持台４へ搬送される。図１に示される様に、金属製棒材８は、棒材支持台４の上に位置決めされる。棒鋼８は、周方向には回転可能にして位置決めされる。
【００３０】
ランプ体６により、表面疵１４の位置が表示される。この表面疵１４の位置は、漏洩磁束探傷から得られた表面疵１４の信号に基づき表示される。表面疵１４がある長手方向位置に対応した発光ダイオードが点灯する。その長手方向位置の周方向に複数の表面疵１４がある場合には、発光ダイオードは点滅する。この表面疵１４が複数あることは、表面疵１４の周方向の位置の信号に基づいている。この表面疵１４が複数あることは、周方向に２箇所以上複数の表面疵１４があるかどうかの信号に基づいてもよい。発光ダイオード１０の点灯は、作業者に棒鋼８の長手方向対応位置に表面疵１４があることを知らせる。発光ダイオード１０の点滅は、作業者に棒鋼８の長手方向対応位置に複数の表面疵１４があることを知らせる。作業者により、ランプ体６に表示された表面疵１４の位置と棒鋼８の粉末模様の位置が照合される。
【００３１】
作業者は、表面疵１４の程度を目視判定する。作業者は、表面疵１４の磁粉模様と発光ダイオード１０を目印にして表面疵１４の位置を特定する。棒材支持台４上で棒鋼８を周方向に回転させながら目視判定する。通常、判定は以下の（１）から（３）の中から選択される。
（１）製品として問題のない表面疵１４である。
（２）補修可能な表面疵１４である。
（３）補修不可能な表面疵１４である。
【００３２】
製品として問題のない表面疵１４であると判定されたときは、この棒鋼８はそのまま次工程に送られ所定の処理の後に出荷される（ＳＴＥＰ７）。補修可能な表面疵１４であると判定されたときは、表面疵補修作業が施される（ＳＴＥＰ６）。表面疵１４は、グラインダーなどで削られて整えられる。この表面疵１４の補修工程を経て、棒鋼８が所定の処理の後に出荷される（ＳＴＥＰ７）。補修不可能な表面疵１４であると判定されたときは、この棒鋼８が作業工程から外されて廃棄される（ＳＴＥＰ８）。
【００３３】
この表面疵検査工程では、発光ダイオード１０の点灯により表面疵１４の長手方向の位置が表示される。発光ダイオード１０の点滅により、周方向に複数の表面疵１４があることを作業者に注意喚起する。これにより、表面疵１４の確認負担が軽減される。表面疵１４の見落としが抑制される。特に、周方向に複数の表面疵１４がある棒鋼８では、表面疵１４の見落としが抑制される。
【００３４】
ランプ体６のランプとしては、特に点灯状態と消灯状態との区別が容易であるとの観点から、白色又はオレンジ色に発光するダイオード１０が好ましい。発光ダイオード１０以外のランプが設けられてもよいが、識別力に優れた発光ダイオード１０が好ましい。ランプ体６の発光ダイオード１０、１０同士のピッチ（図１において両矢印Ｐで示されている）は、通常は１００ｍｍから３００ｍｍ、特には１５０ｍｍから２５０ｍｍとされる。ピッチＰが上記範囲を超えると、表面疵１４の位置表示の精度が不足する場合がある。精度の観点からはピッチＰは小さいほど好ましいが、あまりに小さすぎても効果が頭打ちとなり不経済である（いわゆるオーバースペック）。
【００３５】
この疵表示設備２では、表面疵１４がある位置に対応する発光ダイオード１０が点灯又は点滅させられている。表面疵１４が１個ある位置に対応する発光ダイオード１０が点灯、点滅若しくは消灯のいずれか一の表示をして、表面疵１４がその周方向に複数ある位置に対応する発光ダイオード１０が点灯、点滅若しくは消灯のいずれか他の表示をしてもよい。いずれの場合にも、表面疵１４の長手方向の位置が発光ダイオード１０により表示される。表面疵１４が、その長手方向の位置における周方向に複数あるか否かが発光ダイオード１０により表示される。
【００３６】
この発光ダイオード１０は、複数の色で発光するものでもよい。棒鋼８の長手方向位置の周方向に１個の表面疵１４が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置された発光ダイオード１０が一の色で点灯若しくは点滅する。この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときはこの長手方向位置に対応して配置された発光ダイオード１０が他の色で点灯若しくは点滅する。これにより、表面疵１４が、その長手方向の位置における周方向に複数あるか否かが発光ダイオード１０により表示される。
【００３７】
この発光ダイオード１０は、ランプ体６の長手方向に２行にされてもよい。棒鋼８の長手方向位置の周方向に１個の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置された一方の行の発光ダイオード１０が点灯、点滅若しくは消灯する。この長手方向位置の周方向に複数の表面疵が検知されたときは、この長手方向位置に対応して配置された他方の行の発光ダイオード１０が点灯、点滅若しくは消灯する。これにより、表面疵１４が、その長手方向の位置における周方向に複数あるか否かが発光ダイオード１０により表示される。
【００３８】
図３は、本発明の他の実施形態にかかる検査方法が示されたフロー図である。この方法でも、図２に示した方法と同様に棒鋼８が準備される（ＳＴＥＰ１）。この棒鋼８が漏洩磁束探傷工程を通される（ＳＴＥＰ２）。漏洩磁束探傷工程で表面疵１４が検知されなかった場合は、棒鋼８は所定の工程を経た後に出荷される（ＳＴＥＰ９）。漏洩磁束探傷工程で表面疵１４が検知された棒鋼８では、表面疵１４の位置情報が図２に示した方法と同様に記憶部に記憶される（ＳＴＥＰ３）。
【００３９】
漏洩磁束探傷機により表面疵１４が検知された棒鋼８には、表面疵１４の位置に塗料のスプレーマーキングがされる（ＳＴＥＰ４）。この表面疵１４のマーキングの工程では、漏洩磁束探傷機で検知された位置情報を基にマーキングが自動で行われる。
【００４０】
表面疵１４がマーキングされた棒鋼８は、補修工程に送られる（ＳＴＥＰ５）。この補修工程では、表面疵１４を目視判定する。この工程では、図１の疵表示設備２が使用される。作業者はマーキングと発光ダイオード１０を目印に表面疵１４の位置を特定する。
【００４１】
作業者は、棒材支持台４上で棒鋼８を周方向に回転させながら目視判定する。ここでは、補修の必要な表面疵１４であるか否かが判定される。製品として問題のない表面疵１４であると判定されたときは、棒鋼８はそのまま磁粉探傷工程に送られる。補修の必要な表面疵１４であると判定されたときは、表面疵補修が施される。この表面疵補修作業は、グラインダーなどで表面疵１４が整えられる。表面疵補修作業は、棒材支持台４の上でされてもよい。
【００４２】
図２の方法と同様に、棒鋼８は、磁粉探傷工程（ＳＴＥＰ６）、表面疵検査工程（ＳＴＥＰ７）へ送られる。製品として問題のない表面疵１４の棒鋼８は所定の工程を経て出荷される（ＳＴＥＰ９）。補修可能な表面疵１４は、補修工程で補修される（ＳＴＥＰ８）。補修された棒鋼８が所定の処理の後に出荷される（ＳＴＥＰ９）。補修不可能な表面疵１４であると判定されたときは、この棒鋼８が作業工程から外されて廃棄される（ＳＴＥＰ１０）。
【００４３】
図４は、本発明の他の実施形態にかかる検査方法に用いられる疵表示設備１６の様子が示された模式的斜視図である。ここでは、図１の疵表示設備２と異なる部分について説明がされ、同様の部分についてはその説明が省略される。
【００４４】
疵表示設備１６は、ランプ体１８を備えている。このランプ体１８では、発光ダイオード２０が、棒鋼８の長手方向に並設されている。更に長手方向と垂直な方向にも発光ダイオード２０が並設されている。このランプ体１８では、発光ダイオード２０が行列をなして配列されている。この発光ダイオード１０の行は、棒鋼８の長手方向に対応している。この発光ダイオード１０の列は、棒鋼８の周方向に対応している。この発光ダイオード１０の一列の長さは、棒鋼８の全周の長さに対応している。この発光ダイオード２０の列方向の位置は、棒鋼８の周方向の位置に対応している。
【００４５】
図４のランプ体１８では、周方向の位置に対応する発光ダイオード２０が１６個並設されている。この発光ダイオード２０は、周方向に角度を１６等分して発光ダイオード２０で表面疵位置を表示している。発光ダイオード２０、２０同士が等間隔となるようにされている。この発光ダイオード２０の表示ピッチ（図４において両矢印Ｑで示されている）は、棒鋼８の周方向２２．５°（径方向１６分割）の表示ピッチとされている。
【００４６】
この実施形態では、表面疵１４の位置がデータとして記憶部（メモリ等）に記憶される（ＳＴＥＰ４）。棒鋼８の表面疵１４の有無、長手方向の位置及び周方向の位置の算出データは、記憶部（メモリ等）に記憶される。この算出データは、表面疵１４の長手方向位置及び周方向の位置の信号に変換される。この信号に基づきランプ体１８の発光ダイオード２０が点灯させられる。
【００４７】
周方向の発光ダイオード２０の点灯は、対応する棒鋼８の周方向に表面疵１４があることを表す。周方向に複数の表面疵１４があると、それぞれの表面疵１４の周方向位置に対応する発光ダイオード２０が点灯する。これにより、複数の表面疵１４が周方向にあるときにも、表面疵１４の見落としが抑制されている。発光ダイオード２０の周方向の表示ピッチの一区間に複数の表面疵１４がある場合には、その発光ダイオード２０が点滅させられてもよい。これにより表示ピッチＱを広くしても表面疵１４の見落としが抑制されている。
【００４８】
図４のランプ体１８は、発光ダイオード２０の行を例えば４つの区画に分割してもよい。発光ダイオード２０の行は、１の区画から４の区画に分割される。この１の区画は、棒鋼８の搬送方向前方に対応する。この４の区画は、棒鋼８の搬送方向後方に対応する。ランプ体１８は、最初に１の区画の点灯している発光ダイオード２０を点滅させる。作業者は、この１の区画に対応した棒鋼８の部分の表面疵１４を確認する。ランプ体８は、１の区画の発光ダイオード２０の点滅を終了して、２の区画の点灯している発光ダイオードを点滅させる。このようにして、ランプ体８は、１から４の区画毎に順番に点灯している発光ダイオード２０を点滅させる。作業者は、棒鋼８の表面疵１４をランプ体１８の表示に合わせて確認する。
【００４９】
これにより、作業者の確認作業が容易になる。この方法は、表面疵１４の確認精度に優れる。この観点から、発光ダイオード２０の行を、２区画以上に分割されるのが好ましい。分割する区画数が少なくされることにより、各区画と棒鋼８の位置との関係が容易に判別できる。この観点から、発光ダイオード２０の行は、８区画以下に分割されるのが好ましい。
【００５０】
１つの区画の発光ダイオード２０を点滅させる時間が短いと、短時間で棒鋼８の長手方向の全長の点滅表示を繰り返し表示できる。この観点から、この点滅させる時間は、５秒以下が好ましい。一方で、点滅させる時間が長いと、点滅表示されている区間と棒鋼８の長手方向位置との関係の把握が容易となる。この観点から、この点滅させる時間は、０．１秒以上が好ましい
【００５１】
この疵表示設備１６は、表面疵検査工程及び補修工程で疵表示設備２に代えて適用しうる。表面疵検査工程及び疵補修工程の両方に疵表示設備１６を用いてもよいし、いずれか一方に用いてもよい。
【００５２】
この疵表示設備１６により、棒鋼８の周方向に複数ある表面疵１４の位置関係が把握できる。これにより、表面疵１４の確認負担が軽減される。表面疵１４の見落としが抑制される。特に、周方向に複数の表面疵１４がある棒鋼８では、表面疵１４の見落としが抑制される。
【００５３】
以上説明されたように、本発明の表面疵補修方法では、表面疵の見落としがより確実に防止される。この表面疵補修方法は、作業者の作業負担が軽減される。この表面疵補修方法が実施されることにより、金属製棒材の品質が向上する。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
以上、棒鋼８が一例とされて本発明の表面疵補修方法が詳説されたが、本発明は鋼（炭素鋼及び合金鋼）のみならず種々の材質からなる金属製棒材の検査に適用されうる。また、本発明は完成品としての金属製棒材の検査のみならず、中間品である金属製棒材の検査にも適用されうる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】図１は、本発明の一実施形態にかかる検査方法に用いられる疵表示設備の様子が示された模式的斜視図である。
【図２】図２は、本発明の一実施形態にかかる検査方法が示されたフロー図である。
【図３】図３は、本発明の他の実施形態にかかる検査方法が示されたフロー図である。
【図４】図４は、本発明の他の実施形態にかかる検査方法に用いられる疵表示設備の様子が示された模式的斜視図である。
【符号の説明】
【００５６】
２・・・疵表示設備
４・・・棒材支持台
６・・・ランプ体
８・・・棒鋼
１０・・・発光ダイオード
１２・・・ワイヤ
１４・・・表面疵
１６・・・疵表示設備
１８・・・ランプ体
２０・・・発光ダイオード
【図１】
2009281839.tif 000003
【図２】
2009281839.tif 000004
【図３】
2009281839.tif 000005
【図４】
2009281839.tif 000006