(57)【要約】      （修正有）【課題】記録再生用のメインレーザ光とは異なる波長のサブレーザ光を照射しこの反射光に基づき記録再生位置制御を行うホログラム装置において、２つのレーザ光の光軸ずれの調整方法の提供。【解決手段】メインレーザ光とサブレーザ光との合成光を分岐出力する手段から分岐出力された一方の合成光を入力すると共に、当該合成光内のメインレーザ光とサブレーザ光のそれぞれについて、光路長差が与えられた複数位置でその光軸位置を検出し、その検出結果に基づき、上記複数位置ごとに上記２つのレーザ光の光軸位置の位置ずれ量を求め、それら光軸位置ずれ量に基づいて、上記合成分岐出力手段に対して入力されるメインレーザ光とサブレーザ光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整する。これにより、２つのレーザ光の光軸を一致させるように調整を行うことができ、記録再生性能の悪化防止を図ることができる。【選択図】図６
2009015932.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の光を出力する第１の光源と、
第２の光を出力する第２の光源と、
上記第１の光と上記第２の光とを入力し、上記第１の光と上記第２の光の合成光を分岐出力する合成分岐出力手段と、
上記合成分岐出力手段に対して入力される上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整する調整手段と、
上記合成分岐出力手段により分岐出力された合成光のうちの一方の合成光を入力すると共に、当該入力した合成光内の上記第１の光と上記第２の光のそれぞれの光軸位置を、光路長差が与えられた複数位置で検出する光軸位置検出手段と、
上記光軸位置検出手段による検出結果に基づき、上記複数位置ごとに、上記第１の光の光軸位置と上記第２の光の光軸位置との位置ずれ量を求めると共に、上記複数位置ごとの上記第１の光と上記第２の光の光軸位置ずれ量に基づいて上記調整手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光軸調整装置。
【請求項２】
上記第１の光源と上記第２の光源は、上記第１の光と上記第２の光としてそれぞれ波長の異なる光を出力するように構成され、
上記合成分岐出力手段は、ダイクロイックプリズムで構成されることを特徴とする請求項１に記載の光軸調整装置。
【請求項３】
上記第１の光源から上記合成分岐出力手段までの間の光路中に対して挿入され上記第１の光を透過／遮断する第１の透過／遮断手段と、上記第２の光源から上記合成分岐出力手段までの間の光路中に対して挿入され上記第２の光を透過／遮断する第２の透過／遮断手段とを備え、
上記光軸位置検出手段は、
上記第１の光と上記第２の光の双方に感度を有する４等分以上に分割されたフォトディテクタで成る分割ディテクタを２つ備えていると共に、上記合成分岐出力手段から分岐出力される上記一方の合成光を、上記光路長差を与えるようにしてそれぞれの上記分割ディテクタに対して導くように構成され、
上記制御手段は、
上記第１の光、上記第２の光の何れか一方が単独に双方の上記分割ディテクタに対して順次照射されるように上記第１の透過／遮断手段と上記第２の透過／遮断手段を制御し、それぞれの上記分割ディテクタで得られる上記第１の光と上記第２の光とについての光軸位置の検出結果に基づいて、上記複数位置ごとの光軸位置ずれ量を求め、当該複数位置ごとの光軸位置ずれ量に基づいて上記調整手段を制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光軸調整装置。
【請求項４】
上記光軸位置検出手段におけるそれぞれの上記分割ディテクタの位置を動かすディテクタ駆動手段を備えると共に、
上記制御手段は、
上記第１の透過／遮断手段と上記第２の透過／遮断手段を制御して上記第１の光を双方の上記分割ディテクタに照射させることで、各分割ディテクタにより上記第１の光の光軸位置を検出させると共に、上記検出の結果に基づき、双方の分割ディテクタにおける上記第１の光の光軸位置がそれぞれの分割ディテクタの中心位置と一致するように上記ディテクタ駆動手段を制御し、上記第１の透過／遮断手段と上記第２の透過／遮断手段を制御して上記第２の光を双方の上記分割ディテクタに照射させたときに各分割ディテクタにより検出された上記第２の光の光軸位置を、上記複数位置ごとの光軸位置ずれ量として取得する、
ことを特徴とする請求項３に記載の光軸調整装置。
【請求項５】
上記光軸位置検出手段は、
上記合成分岐出力手段から入力した上記合成光を２方向に分岐させて第１合成光と第２合成光とを出力するハーフミラーを備え、上記分割ディテクタは、一方が上記ハーフミラーにより分岐される上記第１合成光を入射し、他方が上記ハーフミラーにより分岐される上記第２合成光を入射するようにして設けられている、
ことを特徴とする請求項３に記載の光軸調整装置。
【請求項６】
上記光軸位置検出手段は、
２つの上記分割ディテクタのうちの一方が、入射光の一部を反射するように構成された反射型分割ディテクタであり、当該反射型分割ディテクタが上記合成分岐出力手段からの上記合成光が照射される位置に設けられ、且つ上記反射型分割ディテクタによる反射光が他方の分割ディテクタに対して導かれるように構成されている、
ことを特徴とする請求項３に記載の光軸調整装置。
【請求項７】
上記第１の光源と上記第２の光源は、上記第１の光と上記第２の光としてそれぞれ波長の異なる光を出力するように構成され、
上記光軸位置検出手段は、
上記第１の光に感度を有する４等分以上に分割されたフォトディテクタと上記第２の光に感度を有する４等分以上に分割されたフォトディテクタとの組み合わせで成る波長別分割ディテクタを２つ備えていると共に、上記合成分岐出力手段から分岐出力される一方の上記合成光を、上記光路長差を与えるようにしてそれぞれの上記波長別分割ディテクタに対して導くように構成され、
上記制御手段は、
上記光軸位置検出手段における２つの上記波長別分割ディテクタによってそれぞれ得られる上記第１の光と上記第２の光とについての光軸位置の検出結果から、上記複数位置ごとの光軸位置ずれ量を計算により求め、計算した上記複数位置ごとの光軸位置ずれ量に基づいて上記調整手段を制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光軸調整装置。
【請求項８】
上記光軸位置検出手段におけるそれぞれの上記波長別分割ディテクタの位置を動かすディテクタ駆動手段を備えると共に、
上記制御手段は、
それぞれの上記波長別分割ディテクタにより検出される上記第１の光の光軸位置の検出結果に基づき、双方の波長別分割ディテクタにおける上記第１の光の光軸位置がそれぞれディテクタ中心位置と一致するように上記ディテクタ駆動手段を制御する、
ことを特徴とする請求項７に記載の光軸調整装置。
【請求項９】
上記光軸位置検出手段は、
上記合成分岐出力手段から入力した上記合成光を２方向に分岐して第１合成光と第２合成光を出力するハーフミラーを備え、上記波長別分割ディテクタは、一方が上記ハーフミラーにより分岐される上記第１合成光を入射し、他方が上記ハーフミラーにより分岐される上記第２合成光を入射するようにして設けられている、
ことを特徴とする請求項７に記載の光軸調整装置。
【請求項１０】
上記光軸位置検出手段は、
２つの上記波長別分割ディテクタのうちの一方が入射光の一部を反射するように構成された反射型分割ディテクタであり、当該反射型分割ディテクタが上記合成分岐出力手段からの上記合成光が照射される位置に設けられ、且つ上記反射型分割ディテクタによる反射光が他方の波長別分割ディテクタに対して導かれるように構成されている、
ことを特徴とする請求項７に記載の光軸調整装置。
【請求項１１】
上記第１の光源と上記第２の光源は、上記第１の光と上記第２の光としてそれぞれ波長の異なる光を出力するように構成され、
上記光軸位置検出手段は、
上記第１の光と上記第２の光の双方に感度を有する４分等分以上に分割されたフォトディテクタで成る分割ディテクタを４つと、上記合成分岐出力手段から分岐出力される上記一方の上記合成光を上記第１の光と上記第２の光とに分離して出力する分離素子とを備えると共に、上記分離素子により分離された上記第１の光を、上記４つの分割ディテクタのうちの２つに対して上記光路長差を与えるようにしてそれぞれ導くように構成され、且つ上記分離素子により分離された上記第２の光についても同じ上記光路長差を与えるようにして残りの２つの上記分割ディテクタに対して導くように構成されており、
上記制御手段は、
上記第１の光が導かれる２つの上記分割ディテクタによってそれぞれ得られる上記第１の光についての光軸位置の検出結果と、上記第２の光が導かれる２つの上記分割ディテクタによってそれぞれ得られる上記第２の光についての光軸位置の検出結果とから、上記複数位置ごとの光軸位置ずれ量を計算により求めると共に、計算した上記複数位置ごとの光軸位置ずれ量に基づき上記調整手段を制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光軸調整装置。
【請求項１２】
上記光軸位置検出手段における上記分離素子がダイクロイックプリズムで構成されることを特徴とする請求項１１に記載の光軸調整装置。
【請求項１３】
上記光軸位置検出手段における上記分離素子が分散プリズムで構成されることを特徴とする請求項１１に記載の光軸調整装置。
【請求項１４】
上記光軸位置検出手段における上記分離素子がホログラム素子で構成されることを特徴とする請求項１１に記載の光軸調整装置。
【請求項１５】
上記調整手段は、
上記第１の光源及び／又は上記第２の光源から上記合成分岐出力手段までの間の光路中に挿入された２枚のミラーと上記ミラーを駆動するアクチュエータとを備えて構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の光軸調整装置。
【請求項１６】
上記調整手段は、
上記第１の光源及び／又は上記第２の光源を動かすアクチュエータで構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の光軸調整装置。
【請求項１７】
第１の光源から出力された第１の光と第２の光源から出力された第２の光とを入力し、上記第１の光と上記第２の光の合成光を分岐出力する合成分岐出力手段を少なくとも備えた光軸調整装置における光軸調整方法であって、
上記合成分岐出力手段により分岐出力された合成光のうちの一方の合成光を入力すると共に、当該入力した合成光内の上記第１の光と上記第２の光のそれぞれの光軸位置を、光路長差が与えられた複数位置で検出する光軸位置検出手順と、
上記光軸位置検出手順による検出結果に基づき、上記複数位置ごとに、上記第１の光の光軸位置と上記第２の光の光軸位置との位置ずれ量を求めると共に、上記複数位置ごとの上記第１の光と上記第２の光の光軸位置ずれ量に基づいて、上記合成分岐出力手段に対して入力される上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整する調整手順と、
を備えることを特徴とする光軸調整方法。
【請求項１８】
参照光と信号光との干渉縞によってデータが記録されるデータ記録層と、記録又は再生位置制御のための案内溝が形成された位置制御情報記録層とが設けられたホログラム記録媒体について記録又は再生を行うホログラム装置であって、
上記参照光及び／又は上記信号光を生成するための第１の光を出力する第１の光源と、
上記記録又は再生位置制御を行うための第２の光を出力する第２の光源と、
上記第１の光と上記第２の光とを入力し、上記第１の光と上記第２の光の合成光を上記ホログラム記録媒体側に導かれる方向となる第１の方向と、上記第１の方向とは異なる第２の方向とに分岐出力する合成分岐出力手段と、
上記合成分岐出力手段に対して入力される上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整する調整手段と、
上記合成分岐出力手段により上記第２の方向に出力された上記合成光を入力すると共に、当該入力した合成光内の上記第１の光と上記第２の光のそれぞれの光軸位置を、光路長差が与えられた複数位置で検出する光軸位置検出手段と、
上記光軸位置検出手段による検出結果に基づき、上記複数位置ごとに、上記第１の光の光軸位置と上記第２の光の光軸位置との位置ずれ量を求めると共に、上記複数位置ごとの上記第１の光と上記第２の光の光軸位置ずれ量に基づいて上記調整手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とするホログラム装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、それぞれ異なる光源から出力された複数の光の光軸のずれを調整するための光軸調整装置とその方法、及び参照光と信号光との干渉縞によってデータが記録されるホログラム記録媒体に対する記録又は再生を行うホログラム装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
【特許文献１】特開２００７−７９４３８号公報
【０００３】
上記特許文献１にあるように、信号光と参照光との干渉縞によりデータ記録を行うホログラム記録再生方式が知られている。このホログラム記録再生方式において、記録時には、記録データに応じた空間光変調（例えば光強度変調）を与えた信号光と、この信号光とは別の参照光とをホログラム記録媒体に対して照射し、それらの干渉縞をホログラム記録媒体に形成することでデータ記録を行う。
また再生時には、ホログラム記録媒体に対して参照光を照射する。このように参照光が照射されることで、上記のようにしてホログラム記録媒体に形成された干渉縞に応じた回折光が得られる。すなわち、これによって記録データに応じた再生像（再生信号光）が得られる。このようにして得られた再生像を例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）センサやＣＭＯＳ（Complementary Oxide Semiconductor）センサなどのイメージセンサで検出することで、記録データを再生するようにされる。
【０００４】
ここで、ホログラム記録媒体としては、例えばＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの所謂光ディスクのような円盤状の記録媒体とすることが考えられている。そして、このように円盤状の記録媒体とすることに応じて、光ディスクの場合と同様にトラッキングサーボなどの記録／再生位置制御を行うことが想定されている。
【０００５】
光ディスクについて記録又は再生を行うディスクドライブ装置では、記録／再生用のレーザ光を利用してトラッキングサーボをかけるようにされている。すなわち、１種のレーザ光の照射により、記録／再生と各種サーボ制御を同時的に行うようにされている。
光ディスクについて、このように１種のレーザ光の照射のみで記録／再生とサーボ制御を行うことが可能とされるのは、その記録層に記録パワーについての明確な閾値が存在するからである。
【０００６】
しかしながら、ホログラム記録媒体の場合は、従来の光ディスクとは事情が異なる。すなわち、ホログラム記録媒体の記録材料としては、現状ではフォトポリマーが有力視されているが、このフォトポリマーには記録パワーについての明確な閾値は存在しないものとなってる。従って、従来の光ディスクのように低パワーによるレーザ光照射を行ったとしても、モノマーがポリマーに変化してしまいその部分の記録特性を悪化させてしまうといった問題が生じる。
このため、ホログラム記録再生方式において従来の光ディスクのようなトラッキングサーボなどの位置制御を行うにあたっては、ポリマーの反応を防止すべく、記録／再生用のレーザ光とは波長の異なる別途のレーザ光を用いるようにされている。
【０００７】
図１６は、このように記録／再生用のレーザ光とは波長の異なるレーザ光の照射によって記録／再生位置制御を行う場合における、ホログラム記録媒体（ホログラム記録媒体ＨＭとする）の構造例を示している。なお、この図１６ではホログラム記録媒体ＨＭの断面を示している。また、この図では一例として、上述した再生時の回折光（再生像）が媒体からの反射光として得られる、反射型のホログラム記録媒体ＨＭとされる場合の構造を示している。
【０００８】
図示するようにしてこの場合のホログラム記録媒体ＨＭには、上層から順にカバーガラス１０１、記録層１０２、反射膜１０３が形成されている。上記記録層１０２は、その材料として例えば上述したフォトポリマーが選定され、この場合は例えば波長＝４０５nmの青紫色レーザ光による記録／再生が行われるものとなる。また、上記反射膜１０３は、再生時において上記青紫色レーザ光による参照光が照射された際に上記記録層１０２に記録されたデータに応じた再生像が得られた際に、これを反射光として装置側に導くために設けられる。なお、上記カバーガラス１０１は上記記録層１０２の保護のために設けられる。
【０００９】
そして、このホログラム記録媒体ＨＭに対しては、記録／再生位置制御を可能とするために、基板１０６と反射膜１０５とが備えられる。基板１０６には、例えばホログラム記録媒体ＨＭの内周側から外周側にかけてスパイラル状に案内溝が形成されている。この案内溝により、上記記録層１０２におけるデータの記録／再生位置を規定することができる。なお、この案内溝を蛇行させて形成することで、例えばＣＤやＤＶＤにおける記録可能メディアの場合と同様にその蛇行の周期によってアドレス情報や回転制御のための情報などを記録するといったこともできる。或いはこのような案内溝に代えて、ピット列を形成し、このピット列によりアドレス情報などの各種の情報を記録することもできる。
そして、基板１０６における上記案内溝（又はピット列）が形成された面（表面）に対しては、反射膜１０５が、例えばスパッタリングや蒸着などによって成膜され、このように反射膜１０５が成膜された基板１０６が、図示する中間層１０４としての例えばレジンなどの接着材料によって上述した反射膜１０３の下層側に対して接着されることで、この図に示すホログラム記録媒体ＨＭが形成される。
【００１０】
また、このホログラム記録媒体ＨＭにおいて、上記反射膜１０３としては、波長選択性を有するようにされる。ここで、反射型のホログラム記録媒体とされる場合、上述のようにして記録／再生用の青紫色レーザ光は当該反射膜１０３にて反射されるべきものとなるが、位置制御用に別途に照射されるレーザ光は、上記案内溝（又はピット列）に応じた凹凸断面形状が与えられた反射膜１０５まで到達してここで反射されるべきものとなる。このため、反射膜１０３としては、記録／再生用のレーザ光は反射し、位置制御用に照射されるレーザ光は透過するという波長選択性を有するように構成される。
【００１１】
この場合、位置制御用のレーザ光としては、例えばＤＶＤなどと同様の波長＝６３３nmの赤色レーザ光が用いられる。上記のように反射膜１０３が波長選択性を有するように構成されていることで、この場合の位置制御用のレーザ光は当該反射膜１０３を透過し、基板１０６上の反射膜１０５に到達し、ここで反射される。この反射光が位置制御のための反射光として装置側へと導かれることになる。
【００１２】
このような構造によるホログラム記録媒体ＨＭとされることで、装置側では、記録／再生用のレーザ光と波長の異なる別途のレーザ光を照射し、その反射光を利用してトラッキングサーボなどの記録／再生位置制御を行うことが可能とされる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
ここで、上記のような手法による記録／再生位置制御を正しく実現させるためには、当然のことながら位置制御用のレーザ光と記録／再生のためのレーザ光との光軸が一致した状態となるようにしておく必要がある。具体的に、上記特許文献１に記載のホログラム記録再生装置の構成では、予め工場出荷時などに２つのレーザ光の光軸が一致するようにして光学系を調整しておくことで、２つの光軸が一致した状態となるように図ることができる。
【００１４】
しかしながら、２つのレーザ光の光軸は、記録／再生中に熱などの影響でずれが生じてしまう可能性がある。また、経時変化によって２つのレーザ光の光軸が徐々にずれていってしまうといった可能性もある。
上記特許文献１に記載の従来の構成では、このような装置の実際の使用に伴い生じた光軸のずれを補正する手段を特に有しておらず、従ってこのような従来構成において、上述した手法による位置制御を行った場合には、記録層１０２の適正な位置を対象としてデータ記録／再生を行うことができなくなってしまう可能性がある。つまりこの結果、記録／再生性能が悪化してしまう虞がある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
そこで、本発明では光軸調整装置として以下のように構成することとした。
つまり、第１の光を出力する第１の光源と、第２の光を出力する第２の光源と、上記第１の光と上記第２の光とを入力し、上記第１の光と上記第２の光の合成光を分岐出力する合成分岐出力手段とを備える。
また、上記合成分岐出力手段に対して入力される上記第１の光と上記第２の光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整する調整手段を備える。
また、上記合成分岐出力手段により分岐出力された合成光のうちの一方の合成光を入力すると共に、当該入力した合成光内の上記第１の光と上記第２の光のそれぞれの光軸位置を、光路長差が与えられた複数位置で検出する光軸位置検出手段を備える。
さらに、上記光軸位置検出手段による検出結果に基づき、上記複数位置ごとに、上記第１の光の光軸位置と上記第２の光の光軸位置との位置ずれ量を求めると共に、上記複数位置ごとの上記第１の光と上記第２の光の光軸位置ずれ量に基づいて上記調整手段を制御する制御手段を備えるようにした。
【００１６】
上記のようにして本発明では、第１の光と第２の光とを入力し、それらの合成光を分岐出力する合成分岐出力手段を備えている。これにより、上記合成光の一方は所要の対象物に対して導き、他方の合成光をこれとは別途の方向に導くことができる。
そして本発明では、このように対象物側とは別途の方向に導いた合成光について、光路長差が与えられた複数位置ごとにそれぞれの光の光軸の位置ずれ量を求めるものとし、それら複数位置ごとの光軸位置ずれ量に基づき、上記合成分岐出力手段に対して入力されるそれぞれの光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整するものとしている。
ここで、上記のように光路長差が与えられた複数位置ごとに各光軸の位置ずれ量を求めた場合、それらの位置ずれ量の情報は、単にそれら複数位置での各光軸の位置ずれ量のみを表すものでなく、各光軸の角度差も反映した情報となる。従って、上記本発明のようにこれら複数位置での光軸位置ずれ量に基づいて上記合成分岐出力手段に対して入力されるそれぞれの光の光軸の相対的な位置関係と光軸角度差を調整するものとすれば、上記合成分岐出力手段から各光軸が一致した合成光が出力されるようにすることができる。すなわち、これによって上記対象物に対して光軸が一致した合成光を照射することができる。
【発明の効果】
【００１７】
上記のようにして本発明によれば、第１の光と第２の光の合成光を所要の対象物に照射する場合において、各光の光軸を一致させるようにして調整を行うことができる。これにより、例えば装置の実際の使用に伴い各光の光軸にずれが生じた場合にも、適正にそれらの光軸が一致するよう調整を行うことができる。
このような本発明によれば、ホログラム記録再生方式において記録／再生用のレーザ光とは別途のレーザ光を用いて記録／再生位置制御を行う場合において、記録／再生性能の悪化を防止してより安定した記録／再生動作が行われるようにことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
＜第１の実施の形態＞
[ホログラム装置の構成]
図１は、本発明に基づき構成することのできるホログラム装置の内部構成について示したブロック図である。なお、図１では主にホログラム装置の光学系の構成のみを抽出して示しており、他の部分については省略している。
【００１９】
先ず、本実施の形態では、ホログラム記録再生方式として、いわゆるコアキシャル方式が採用される。すなわち、信号光と参照光とを同一軸上に配置し、それらを共に所定位置にセットされたホログラム記録媒体ＨＭに照射して干渉縞によるデータ記録を行い、また再生時には参照光をホログラム記録媒体ＨＭに対して照射することで干渉縞により記録されたデータの再生を行うものである。
なお、図中のホログラム記録媒体ＨＭとしては、ディスク状（円盤状）とされ、その断面構造は既に先の図１６において説明したものと同様となるのでここでの改めての説明は省略する。
【００２０】
図１において、ホログラム記録媒体ＨＭは、図示しないスピンドルモータなど駆動手段で回転され、図示するメインレーザ１を光源とするレーザ光の照射によって記録／再生が行われる。
このメインレーザ１としては、例えば外部共振器付きレーザダイオードが採用され、レーザ光の波長は例えば４０５nmである。
【００２１】
上記メインレーザ１からの出射光はアナモプリズム２→ビームエキスパンダ３を介した後、第１シャッター４に入射する。この第１シャッター４は、後述する制御部３６からの制御に基づき入射光を遮断／透過する。
上記第１シャッター４を介した光は空間フィルタ５に入射する。この空間フィルタ５内においては、光源側から順に集光レンズ５ａ、アパーチャー５ｂ、コリメータレンズ５ｃが備えられ、これらの構成によってレーザ光の中心部分（例えば光強度がピーク値（１００％）〜８０％程度となる２０％程度の範囲）の光を抽出して出力する。
空間フィルタ５からの出射光はミラー６で反射された後、１／２波長板７→１／４波長板８を介してミラー９で反射された後、図示するようにしてＳＬＭ（空間光変調器）１０に入射する。
【００２２】
ＳＬＭ１０は、入射光に対する空間光変調として、例えば空間光強度変調を施す。この場合、ＳＬＭ１０としては反射型とされ、具体的には例えば反射型液晶パネル、ＤＭＤ（Digital Micromirror Device：登録商標）などで構成される。
このＳＬＭ１０は、入射光に対する空間光強度変調を行うことで、記録時には、信号光と参照光、再生時には参照光のみを生成するようにされる。具体的に、記録時には、例えば入射光の中心部分を含む所定範囲内に記録データに応じた空間光強度変調を施す（すなわち「０」「１」のデータパターンに応じた光のON/OFFパターンを与える）ことで、上記信号光を生成すると共に、この信号光の外側に所要の強度変調パターンを与えて上記参照光を生成する。また、再生時には、上記参照光のみを生成する。
【００２３】
上記ＳＬＭ１０にて空間光変調が施された光は、図示するようにしてリレーレンズ部１１に入射する。このリレーレンズ部１１には、図示するようにして上記ＳＬＭ１０からの入射光を集光するリレーレンズ１１ａと、このリレーレンズ１１ａからの光の径を制限するアパーチャー１１ｂと、アパーチャー１１ｂからの出射光を平行光に変換するためのリレーレンズ１１ｃとを備えている。
【００２４】
そして、上記リレーレンズ部１１を介した光は、偏光ビームスプリッタ１２を透過した後、リレーレンズ部１３に入射する。このリレーレンズ部１３においても、先のリレーレンズ部１１と同様に、入射光を集光するリレーレンズ１３ａと、このリレーレンズ１３ａからの光の径を制限するアパーチャー１３ｂと、アパーチャー１３ｂからの出射光を平行光に変換するためのリレーレンズ１３ｃとが備えられている。リレーレンズ部１３を介した光はダイクロイックプリズム１４に入射する。
【００２５】
上記リレーレンズ部１３を介してダイクロイックプリズム１４に入射した光は、後述もするように当該ダイクロイックプリズム１４でその一部が透過し、図示する１／２波長板１５を介して４５°ミラーで反射された後、対物レンズ１７を介してホログラム記録媒体ＨＭに照射される。
【００２６】
ここで、上述したＳＬＭ１０による記録時の空間光変調によっては、メインレーザ１を光源とするレーザ光に基づき信号光と参照光とが生成される。すなわち、記録時において、上記の光路によってレーザ光の照射が行われることで、ホログラム記録媒体ＨＭに対しては信号光と参照光とが照射される。このように信号光と参照光とがホログラム記録媒体ＨＭに対して照射されることで、記録層１０２にこれらの光の干渉縞によってデータを記録することができる。
【００２７】
また、再生時には、ＳＬＭ１０によって参照光のみが生成され、これが上記の光路によってホログラム記録媒体ＨＭに対して照射されることになる。このようにホログラム記録媒体ＨＭに対して参照光が照射されることに応じては、上記干渉縞に応じた回折光（再生光）が得られる。このようにして得られた再生光は、ホログラム記録媒体ＨＭの反射膜１０３からの反射光として装置側に戻るようにされる。
上記再生光は、対物レンズ１７を介して平行光となるようにされた後、４５°ミラーで反射され、さらに１／２波長板１５→ダイクロイックプリズム１４→リレーレンズ部１３を透過し、偏光ビームスプリッタ１２に入射する。
偏光ビームスプリッタ１２では、入射された上記再生光を反射するようにされる。偏光ビームスプリッタ１２による反射光は、図示するようにして集光レンズ１８を介してミラー１９で反射された後、コリメータレンズ２０を介してイメージセンサ２１に入射する。
【００２８】
イメージセンサ２１は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）センサやＣＭＯＳ（Complementary Oxide Semiconductor）センサなどとされ、上記のようにして導かれるホログラム記録媒体ＨＭからの再生光を受光し、これを電気信号に変換して画像信号を得る。このようにして得られた画像信号は、記録時に信号光に対して与えた「０」「１」データパターン（つまり光のON/OFFパターン）を反映したものとなる。すなわち、このようにしてイメージセンサ２１で検出される画像信号が、ホログラム記録媒体ＨＭに対して記録されたデータの読み出し信号に相当する。
なお、最終的に「０」「１」による記録データを再生するにあたっては、このようなイメージセンサ２１による読み出し信号について、ＳＬＭ３のデータピクセル単位で「０」「１」のデータ識別を行うための再生信号処理部が設けられる（図示は省略）。このようにイメージセンサ２１の出力から「０」「１」の記録データを再生するための再生信号処理の手法としては各種が存在し、ここで特に限定されるべきものではない。
【００２９】
また、この図１に示すホログラム装置においては、上述のようにしてメインレーザ１を光源とするレーザ光を用いて行われる記録／再生動作について、その記録／再生位置の制御を行うための別途のレーザ光を照射するための光学系が設けられる。具体的には、図示するサブレーザ２２、フォトディテクタ２３、コリメータレンズ２４、集光レンズ２５、ビームスプリッタ２６、ミラー２８が備えられる。
【００３０】
上記サブレーザ２２としては、先に説明した記録／再生用のメインレーザ１とは異なる波長によるレーザ光を照射するように構成される。具体的に、この場合はホログラム記録媒体ＨＭの記録層１０２に対する感度がほぼ無いに等しいとされる、例えば６３３nmの波長によるレーザ光を出力するようにされる。
【００３１】
上記サブレーザ２２から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ２４を介してビームスプリッタ２６を透過した後、後述する光軸調整部２７を介してミラー２８で反射される。ミラー２８で反射されたレーザ光は第２シャッター２９に入射する。第２シャッター２９は、後述する制御部３６の制御に基づき入射光を遮断／透過するように構成される。
【００３２】
第２シャッター２９を介したレーザ光は、後述もするようにダイクロイックプリズム１４にてその一部が反射され、上述した１／２波長板１５側に導かれることになる。
このようにしてダイクロイックプリズム１４から１／２波長板１５側に導かれたサブレーザ２２を光源とするレーザ光は、先のメインレーザ１を光源とするレーザ光の場合と同様に１／２波長板１５→４５°ミラー１６→対物レンズ１７を介してホログラム記録媒体ＨＭに対して照射される。先の図１６において説明したように、ホログラム記録媒体ＨＭでは、このように照射された波長６３３nmによるレーザ光が反射膜１０３を透過し、その下層の反射膜１０５で反射される。つまり、これによって基板１０６上に形成された案内溝（又はピット列）に応じた反射光が得られる。
上記反射膜１０５からの反射光についても、先のメインレーザ１を光源とする光の場合と同様に、対物レンズ１７→４５°ミラー１６→１／２波長板１５を介してダイクロイックプリズム１４に入射する。
【００３３】
ダイクロイックプリズム１４では、このようなサブレーザ２２を光源とするレーザ光についてのホログラム記録媒体ＨＭからの反射光を反射し、図示するようにして第２シャッター２９側に導くようにされる。このように第２シャッター２９側に導かれたレーザ光は、第２シャッター２９→ミラー２８→光軸調整部２７を介した後、ビームスプリッタ２６で反射され、この反射光が集光レンズ２５を介してフォトディテクタ２３に導かれる。
【００３４】
フォトディテクタ２３は、上記のようにして得られるサブレーザ２２を光源とする光についてのホログラム記録媒体ＨＭからの反射光に基づき、メインレーザ１を光源とするレーザ光についての記録／再生位置を制御するための検出信号を得る。このフォトディテクタ２３による検出信号に基づいては、例えばトラッキングサーボ制御を行うためのトラッキングエラー信号や、フォーカスサーボ制御を行うためのフォーカスエラー信号などが生成される。
なお、図１では、上記フォトディテクタ２３の検出信号に基づき行われる記録／再生位置制御のための構成については図示を省略しているが、サブレーザ２２を光源とするレーザ光の照射に基づき行われるトラッキングサーボ制御などの記録／再生位置制御（及びフォーカスサーボなどの他のサーボ制御）を行うための構成は、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）など現状の光ディスクの分野で採用されるものと同様の構成が採用されればよい。このような記録／再生位置制御のための構成については、本発明における光軸補正と直接的に関係するものではなく、ここで特に限定されるべきものではない。
【００３５】
ここで、これまでの説明から理解されるように、この図に示すホログラム装置では、ダイクロイックプリズム１４によって、リレーレンズ部１３から入射するメインレーザ１を光源とするレーザ光の一部を透過し、第２シャッター２９側から入射するサブレーザ２２を光源とするレーザ光はその一部を反射することで、２つの異なるレーザ光を合成してホログラム記録媒体ＨＭ側に導くようにされている。
このようにダイクロイックプリズム１４で２つの光を合成してホログラム記録媒体ＨＭ側に導く点は、従来と同様であるが、本実施の形態では、上記ダイクロイックプリズム１４にてそれぞれのレーザ光の一部のみを透過、反射させる点が従来とは異なる。
具体的に、この場合のダイクロイックプリズム１４は、メインレーザ１を光源とするレーザ光についてはその一部を透過し一部を反射すると共に、サブレーザ２２を光源とするレーザ光についてはその一部を反射し一部を透過するように構成される。このようなダイクロイックプリズム１４としては、例えば上記のような反射・透過特性が得られるような薄膜処理をその表面に対して施すことで実現できる。このダイクロイックプリズム１４の構成により、２つのレーザ光の合成光をホログラム記録媒体ＨＭ側に導かれる方向に出力すると共に、これとは異なる方向に分岐して出力することができる。
なお、ダイクロイックプリズム１４の反射率は、記録／再生、及びサーボ制御に必要な光量の条件が満たされるようにして決定すればよい。
【００３６】
本実施の形態のホログラム装置では、このようにダイクロイックプリズム１４によってホログラム記録媒体ＨＭ側に導かれる方向とは異なる方向に分岐出力させた合成光を入力して、２つのレーザ光の光軸ずれを検出するための構成として、図示する集光レンズ３０、ハーフミラー３１、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３、駆動部３４、駆動部３５を備えている。
【００３７】
上記ダイクロイックプリズム１４により、ホログラム記録媒体ＨＭ側に導かれる方向とは異なる方向に分岐出力された上記合成光は、集光レンズ３０を介してハーフミラー３１に入力される。
ハーフミラー３１は、入力された合成光の一部を透過し、一部を反射する。図示するようにしてハーフミラー３１によって反射された合成光は第１ディテクタ３２に照射され、透過された合成光は第２ディテクタ３３に対して照射される。
【００３８】
本実施の形態の場合、上記第１ディテクタ３２及び上記第２ディテクタ３３としては、例えば４分割フォトディテクタを用いるものとし、またメインレーザ１を光源とするレーザ光とサブレーザ２２を光源とするレーザ光の双方に感度を有するようにされている。
【００３９】
ここで、次の図２に、これら第１ディテクタ３２と第２ディテクタ３３の構造を示す。
この図２に示されるように、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３は、それぞれ４分割ディテクタであり、フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの組み合わせで成る。
この場合、図示するようにしてディテクタ３２，３３におけるレーザ光の照射面内方向における横軸方向をｘ軸方向、縦軸方向をｙ軸方向とすると、フォトディテクタ[Ａ，Ｂ]の組、フォトディテクタ[Ｃ，Ｄ]の組が、それぞれｘ軸方向において隣接するものとなっている。また、フォトディテクタ[Ａ，Ｃ]の組、フォトディテクタ[Ｂ，Ｄ]の組が、それぞれｙ軸方向において隣接するようにされている。
この場合、フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの検出信号については、それぞれａ，ｂ，ｃ，ｄと表記する。
【００４０】
図１に戻り、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３の各フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄは、それぞれ制御部３６に対して入力されるようになっている。
【００４１】
また、図１において、本実施の形態のホログラム装置に対しては、上記第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３の位置を動かすための、駆動部３４、駆動部３５が設けられる。
詳細な図示は省略したが、駆動部３４はその表面において上記第１ディテクタ３２が固着され、一方でその背面がホログラム装置の本体側に対して固着されることで、上記第１ディテクタ３２をホログラム装置の本体側から支持するようにして設けられている。
同様に駆動部３５は、その表面において上記第２ディテクタ３３が固着され、背面がホログラム装置の本体側に対して固着されることで、上記第２ディテクタ３３をホログラム装置の本体側から支持するようにして設けられている。
【００４２】
ここで注意すべきは、このようにして駆動部３４、駆動部３５を介して本体側に支持される第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３のそれぞれは、図示するようにして入射光について光路長差を与えるようにして配置されるという点である。つまりこの場合、各光源を基準としたときに、第１ディテクタ３２までの光路長と、第２ディテクタ３３までの光路長とが異なるようにされている。
【００４３】
図３は、上記駆動部３４、３５の構造例を示している。
これら駆動部３４、３５は、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３を先に述べたｘ軸方向とｙ軸方向とに駆動するように構成される。具体的に、この場合の駆動部３４、３５は、それぞれ所定の１方向に変形が可能な第１駆動素子３４ａ、３５ａ、及び第２駆動素子３４ｂ、３４ｂの２つの駆動素子の組み合わせで成る。
図示するようにして、この場合は第１駆動素子３４ａ、３５ａの変形方向がｘ軸方向と一致するようにし、且つ第２駆動素子３４ｂ、３５ｂの変形方向がｙ軸方向と一致するようにして各駆動素子が組み合わされることで、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３をｘ軸方向とｙ軸方向とに駆動することが可能となるようにされている。
なお、上記のようにして所定軸方向に変形が可能な各駆動素子（３４ａ,３５ａ,３４ｂ,３５ｂ）としては、例えばピエゾ素子などで実現することができる。
【００４４】
図１において、これら駆動部３４、３５に対しては、制御部３６からの制御信号供給ラインが接続されている。つまりこれにより、制御部３６によるこれら駆動部３４、３５への駆動制御が可能とされている。
【００４５】
また、本実施の形態のホログラム装置には、２つのレーザ光の光軸ずれを補正（調整）するための構成として、光軸調整部２７が設けられる。先の説明からも理解されるように、この光軸調整部２７としては、サブレーザ２２を光源とするレーザ光の光学系中において、ビームスプリッタ２６とミラー２８との間の光路中に対して挿入されるようにして設けられる。
【００４６】
図４は、光軸調整部２７の内部構成を模式的に示した図である。なおこの図では、光軸調整部２７に備えられる光学素子のみを抽出して示しており、他の部分については省略している。また、この図においては光軸調整部２７に入出力されるレーザ光の様子も合わせて示している。
この図４に示されるように、この場合の光軸調整部２７においては、入射されたレーザ光がミラー２７ａ→ミラー２７ｂの順に反射した後に外部に出力されるようになっている。この光軸調整部２７では、これら２つのミラー２７ａ、２７ｂの角度をそれぞれ調整することで、入射されたレーザ光の光軸を調整するようにされる。
図示の都合から省略したが、光軸調整部２７には、上記ミラー２７ａ、２７ｂをホログラム装置本体側から支持してこれらの角度を調整するためのアクチュエータが備えられる。
この場合、上記アクチュエータとしては、それぞれのミラー２７の角度を独立して調整することが可能となるように、ミラー２７ａ用のアクチュエータ（第１アクチュエータとする）とミラー２７ｂ用のアクチュエータ（第２アクチュエータとする）の２つが備えられる。第１アクチュエータは、ミラー２７ａにおける横方向軸（図中ｘ軸）と縦方向軸（図中ｙ軸）の２軸を基準としてミラー２７ａを２方向に回動させるようにして駆動するように構成される。同様に、第２アクチュエータは、ミラー２７ｂにおける横方向軸（図中ｘ軸）と縦方向軸（図中ｙ軸）の２軸を基準としてミラー２７ｂを２方向に回動させるようにして駆動するように構成される。
【００４７】
上記のようにして光軸調整部２７では、ｘ軸を基準とした回動方向とｙ軸を基準とした回動方向にその角度を変化させることが可能とされたミラー２７ａと、同じくｘ軸、ｙ軸を基準とした回動方向にその角度を変化させることが可能とされたミラー２７ｂとが組み合わされている。そして、上記ミラー２７ａによって入射光を反射して上記ミラー２７ｂに導き、ミラー２７ｂでこれを反射して外部に出力するようにされている。
このような光軸調整部２７の構成により、入射されたレーザ光について、その照射面内方向（つまり図２に示したｘ−ｙ平面方向に相当）における光軸位置と、さらに光軸角度を調整することができる。
【００４８】
なお、本実施の形態では、光軸調整部２７をサブレーザ２２の光学系のみに対して挿入し、これによってサブレーザ２２を光源とするレーザ光のみの光軸位置・光軸角度を調整するものとしているが、メインレーザ１を光源とするレーザ光との相対的な光軸位置関係・光軸角度差を調整するにあたっては、逆にメインレーザ１の光学系に対して光軸調整部２７を挿入することも可能である。或いは、双方の光学系に光学調整部２７を挿入してもよい。
【００４９】
図１に戻り、上記光軸調整部２７における上記２つのアクチュエータ（第１アクチュエータ、第２アクチュエータ）を用いた光軸調整動作は、制御部３６の制御に基づき行われる。具体的に、制御部３６は、上記第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値、上記第２アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値を光軸調整部２７に対して指示する。光軸調整部２７では、これら指示された調整値に基づき第１アクチュエータ、第２アクチュエータが駆動され、これによってミラー２７ａ、ミラー２７ｂを上記調整値に応じた角度に調整（制御）することが可能とされる。
【００５０】
制御部３６は、例えばＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Randam Access Memory）、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などを備えたマイクロコンピュータで構成され、以下で説明する本実施の形態としての光軸補正（調整）動作を実現するための制御処理を行う。
【００５１】
[光軸補正動作]
上記構成による第１の実施の形態としてのホログラム装置によって行われる、第１の実施の形態としての光軸補正（調整）動作について説明する。
第１の実施の形態の光軸補正動作は、以下の３つのステップに大別することができる。
＜１＞メインレーザ光を基準とした第１、第２ディテクタの位置合わせ
＜２＞各ディテクタを用いたメインレーザ光とサブレーザ光の光軸位置ずれ量検出
＜３＞光軸位置ずれ量に基づくサブレーザ光の光軸調整
【００５２】
＜１＞メインレーザ光を基準とした第１、第２ディテクタの位置合わせ
先ず、各ディテクタの位置合わせを行うにあたっては、メインレーザ１を光源とするレーザ光（メインレーザ光とする）のみが第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３のそれぞれに入射されるように、制御部３６が第１シャッター４と第２シャッター２９を制御する。具体的には、第１シャッター４が入射光を透過し、第２シャッター２９が入射光を遮断するように制御を行う。
【００５３】
そして制御部３６は、このようにしてメインレーザ光のみが照射されたときの、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄをそれぞれ入力する。その上で、第１ディテクタ３２からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ、第２ディテクタ３３からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄのそれぞれについて、
（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）＝ｘ、（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝ｙ
を計算する。
ここで、上記ｘの値は、図２に示したｘ軸方向のずれ量を表す値となることがわかる。また、ｙの値はｙ軸方向のずれを表す値となる。
【００５４】
このようにして各ディテクタごとにｘ、ｙの値を計算すると、続いてはｘ＝ｙ＝０となるように各ディテクタの位置を調整する。すなわち、駆動部３４、３５をそれぞれ制御することで、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３のそれぞれをｘ＝ｙ＝０となる位置に移動させる。
先の図３の説明によると、駆動部３４、３５においては、ｘ軸方向の調整は第１駆動素子３４ａ,３５ａ、ｙ軸方向の調整は第２駆動素子３４ｂ,３５ｂが行うようにされている。従って制御部３６は、ｘ＝０となるように各駆動部における第１駆動素子３４ａ,３５ａを制御し、またｙ＝０となるように各駆動部における第２駆動素子３４ｂ,３５ｂを制御する。
【００５５】
ここで、上記のようにしてｘ＝ｙ＝０となるようにして各ディテクタの位置を調整するための具体的な手法としては、種々考えられる。例えば、ｘ、ｙの値をモニタしてその値が０となるように第１駆動素子３４ａ,３５ａ、第２駆動素子３４ｂ,３５ｂを駆動制御し、最終的にｘ、ｙの値が０となったことに応じて調整を終了する手法が挙げられる。
或いは、予め第１駆動素子３４ａ,３５ａ、第２駆動素子３４ｂ,３５ｂの駆動量とｘ、ｙの値の変化量との関係を表す関数を割り出しておき、その関数に基づき、計算したｘ、ｙの値を０とするための各駆動素子の駆動量を計算し、その駆動量だけ第１駆動素子３４ａ,３５ａ、第２駆動素子３４ｂ,３５ｂを駆動するといったこともできる。
ここでは一例として、前者のｘ、ｙの値をモニタする手法が採用されているとする。
【００５６】
＜２＞各ディテクタを用いたメインレーザ光とサブレーザ光の光軸位置ずれ量検出
上記による位置調整動作が行われることで、各ディテクタは、メインレーザ光の光軸位置が各ディテクタの中心位置と一致する状態となるように調整される。
このような状態に各ディテクタ位置を調整した上で、続いては、これら各ディテクタにサブレーザ２２を光源とするレーザ光（サブレーザ光とする）のみを照射し、各ディテクタでサブレーザ光の光軸位置を検出する。
具体的に制御部３６は、第２シャッター２９の入射光の遮断状態を解除させ（つまり入射させ）、第１シャッター４が入射光を遮断するように制御を行うことで、サブレーザ光のみが第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３に照射されるようにする。そして、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３のそれぞれから得られる検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄについて、上記により示した演算を行ってｘ、ｙの値を計算する。
【００５７】
ここで、上記もしているように各ディテクタの位置は、メインレーザ光の照射に応じて計算されたｘ、ｙの値が共に０となる位置に調整されている。従って、このような位置に調整された各ディテクタについて、上記のようなサブレーザ光の照射に応じて計算されるｘ、ｙの値は、メインレーザ光に対するサブレーザ光の光軸位置ずれ量を表す値となる。具体的に、この場合の第１ディテクタ３２の検出信号から計算されたｘ、ｙの値は、当該第１ディテクタ３２の位置におけるメインレーザ光とサブレーザ光との光軸位置ずれ量を表し、第２ディテクタ３３の検出信号から計算されたｘ、ｙの値は当該第２ディテクタ３３の位置におけるメインレーザ光とサブレーザ光との光軸位置ずれ量を表すものとなる。
つまりこの結果、複数位置におけるメインレーザ光とサブレーザ光との光軸位置ずれ量が求められたことになる。
【００５８】
このとき、注意すべきは、先の図１で説明したように第１ディテクタ３２までの光路長と第２ディテクタ３３までの光路長とに差が与えられているという点である。
本実施の形態において、このように光路長差を与えた２箇所において２つのレーザ光の光軸位置ずれ量を検出しているのは、２つのレーザ光軸のずれとしては、照射面内方向における位置ずれ（すなわちｘ、ｙ軸方向のずれ）と共に、角度ずれも生じるということを考慮してのことである。すなわち、仮にディテクタを１つのみとした場合、当該ディテクタにおいて２つのレーザ光の光軸位置が一致していたとしても、それは照射角度の異なる２つのレーザ光が偶然にその位置で一致したに過ぎない場合も考えられる。このことを考慮して本実施の形態では、光路長の異なる２箇所において各レーザ光の光軸位置ずれ量を検出するものとしている。
【００５９】
＜３＞光軸位置ずれ量に基づくサブレーザ光の光軸調整
上記説明によれば、サブレーザ光の照射に応じて各ディテクタごとに計算されるｘ、ｙの値は、単にそれぞれの位置における２つのレーザ光の照射面内方向での光軸位置ずれ量を表す以外にも、２つのレーザ光の光軸角度のずれ量も表すことになる。
従って、このようにして各ディテクタごとに求められたｘ、ｙの値に基づいて２つのレーザ光の光軸の相対位置関係、及び光軸角度差を調整すれば、２つのレーザ光の光軸を一致させるようにすることができる。
【００６０】
ここで、この場合の光軸調整は、サブレーザ光についての光学系中に挿入された光軸調整部２７によって行われる。先の説明によると、当該光軸調整部２７における光軸調整は、ミラー２７ａを駆動する第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値、及びミラー２７ｂを駆動する第２アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値が与えられることで実行される。
この場合、制御部３６は、次の図５に示すような調整値テーブルを用いて、各ディテクタごとに計算したｘ、ｙの値に応じた調整値を取得するようにされる。
【００６１】
図５に示されるように、この調整値テーブルとしては、第１ディテクタ３２の検出信号から計算されるｘ、ｙの値と、第２ディテクタ３３の検出信号から計算されるｘ、ｙの値との組み合わせと、それらの値を０とする（つまり２つのレーザ光軸を一致させる）ために設定されるべき第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値と、第２アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値との組み合わせとが対応づけられた情報とされる。
なお、このような調整値テーブルにおける各値の対応関係は、例えば製造時などに予め実験を行った結果などから割り出しておくものとすればよい。
また、図１における図示は省略したが、このような調整値テーブルは、制御部３６内の例えばＲＯＭにおいて格納されているとする。
【００６２】
制御部３６は、上述のようにしてサブレーザ光の照射に応じて各ディテクタごとにｘ、ｙの値を計算した上で、上記調整値テーブルにおいてこれら計算したｘ、ｙの値の組み合わせと対応づけられている第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸、及び第２アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の各調整値を取得する。その上で、取得したこれらの調整値を光軸調整部２７に対して指示することで、ミラー２７ａ、ミラー２７ｂの角度調整を実行させる。
これにより、メインレーザ光とサブレーザ光の光軸が一致するように調整を行うことができる。
【００６３】
上記のようにして第１の実施の形態では、先ずはメインレーザ光の光軸がその中心位置と一致するように第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３の位置を動かした上で、その状態において各ディテクタでサブレーザ光の照射位置を検出するものとしている。つまりこのことで、メインレーザ光とサブレーザ光との光軸位置ずれ量が各ディテクタごとに検出される。そして、このように各ディテクタごとに計算された光軸位置ずれ量に基づき、光軸調整部２７において２つのレーザ光の相対的な光軸位置関係と光軸角度差とを調整するものとしている。
これにより、２つのレーザ光の光軸が一致するようにして調整を行うことができる。
【００６４】
このようにして２つのレーザ光の光軸ずれを実際に検出して、その結果に基づき各光軸が一致するように補正ができれば、装置の使用に伴って２つのレーザ光の光軸にずれが生じた場合にも、これを補正することができる。すなわちこれにより、メインレーザ光としての記録／再生用のレーザ光と、サブレーザ光としての記録／再生位置制御用のレーザ光との光軸を一致させるようにして補正を行うことができ、この結果、従来技術で問題とされていた記録／再生性能の悪化を効果的に防止することができる。
【００６５】
また、これまでの説明から理解されるように、本実施の形態では、２つのレーザ光軸の相対的な位置関係及び光軸角度差の補正を行うにあたり、メインレーザ光についての調整は行わずにサブレーザ光についてのみ調整を行うものとしている。ここで、メインレーザ光は、記録／再生を行うためのレーザ光であるので、その光軸を調整してしまうと記録／再生性能の悪化を招く虞がある。この点から、サブレーザ光側の光軸のみを調整する本実施の形態によれば、記録／再生性能の悪化の防止を図ることができる。
【００６６】
[処理動作]
図６は、上記により説明した第１の実施の形態としての光軸補正（調整）動作を実現するために実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
なお、この図６に示す処理動作は、制御部３６が例えば内蔵するＲＯＭ内に格納されるプログラムに基づいて実行するものである。
【００６７】
図６において、先ずステップＳ１０１では、サブレーザ光のみを遮断するための処理を実行する。すなわち、第１シャッター４に対して入射光を透過するように制御し、また第２シャッター２９に対しては入射光を遮断するように制御を行う。
【００６８】
続くステップＳ１０２では、各ディテクタについて（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）＝ｘ、（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝ｙを計算する。上記ステップＳ１０１の処理が実行されることに応じては、第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３に対してメインレーザ光のみが照射される。ステップＳ１０２では、このようにしてメインレーザ光が照射されることに応じて各ディテクタ３２，３３より得られる検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄに基づき、上記ｘ、ｙの値をそれぞれ計算する。
【００６９】
次のステップＳ１０３では、双方でｘ＝ｙ＝０となるように各ディテクタの位置を調整するための処理を実行する。すなわち、先に説明したようにして各ｘ、ｙの値をモニタしてその値が０となるように第１駆動素子３４ａ,３５ａ、第２駆動素子３４ｂ,３５ｂを駆動制御し、最終的にｘ、ｙの値が０となったことに応じて調整を終了する。
【００７０】
続くステップＳ１０４では、サブレーザ光の遮断を解除するための処理を実行する。つまり、第２シャッター２９に対して入射光を透過するように制御する。また次のステップＳ１０５ではメインレーザ光を遮断するための処理として、第１シャッター４に対して入射光を遮断するように制御を行う。
【００７１】
続くステップＳ１０６では、各ディテクタについてｘ、ｙの値を計算する。先にも説明したように、このようにサブレーザ光の照射に応じて各ディテクタごとに計算されるｘ、ｙの値は、単にそれぞれの位置における２つのレーザ光の照射面内方向での光軸位置ずれ量を表すだけでなく、２つのレーザ光の光軸角度のずれ量も表すものとなる。
【００７２】
続くステップＳ１０７では、各ディテクタのｘ、ｙの値に基づき、調整値テーブルから調整値を取得する。すなわち、先に説明したようにして例えば内蔵するＲＯＭ内に格納されている調整値テーブルより、上記ステップＳ１０６にて計算したｘ、ｙの値の組み合わせと対応づけられている第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値と第２アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値とを取得する。
【００７３】
さらに、次のステップＳ１０８では、取得した調整値に基づき光軸調整部２７を制御する。つまり、上記ステップＳ１０７にて取得した各調整値を光軸調整部２７に対して指示することで、ミラー２７ａ、ミラー２７ｂの角度調整を実行させる。
このステップＳ１０８の処理を実行すると、この図に示される光軸補正処理を終了する。
【００７４】
＜第１の実施の形態の変形例＞
ここで、図１に示したホログラム装置においては、第１ディテクタ３２と第２ディテクタ３３とにレーザ光を導くにあたり、ハーフミラー３１を設けるものとしたが、これに代えて、例えば次の図７に示されるようなミラー３７を設けた構成とすることもできる。
図７は、第１の実施の形態の変形例としてのホログラム装置の構成を示している。なおこの図において、既に図１にて説明した部分については同一符号を付して説明を省略する。
この図７に示される変形例の構成では、図１の場合に備えられていたハーフミラー３１が省略され、ダイクロイックプリズム１４→集光レンズ３０介して得られるレーザ光が、直接的に第１ディテクタ３２refに対して照射されるようになっている。
【００７５】
この場合、上記第１ディテクタ３２refとしては、図１に示した第１ディテクタ３２と同様にメインレーザ光とサブレーザ光との双方に感度を有するフォトディテクタのみで構成された４分割ディテクタとされる点は共通であるが、入射光の一部を反射するようにされた反射型のフォトディテクタとされる点が異なる。
この反射型による第１ディテクタ３２refで反射されたレーザ光は、図示するようにして当該第１ディテクタ３２refに対して対向するようにして設けられたミラー３７によって反射され、第２ディテクタ３３に対して照射されるようになっている。
【００７６】
このような構成によっても、ダイクロイックプリズム１４→集光レンズ３０を介したレーザ光を２つのディテクタに対して導くことができる。また同時に、第１ディテクタ３２refまでの光路長と第２ディテクタ３３までの光路長とに差を与えることもできる。
【００７７】
＜第２の実施の形態＞
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、リアルタイムに光軸補正動作を行うことができるようにするものである。
図８は、第２の実施の形態としてのホログラム装置の構成例を示している。なお、この図においても既に図１にて説明した部分については同一符号を付して説明を省略する。
この図８に示されるホログラム装置では、図１のホログラム装置が備えていた、メイン・サブの双方のレーザ光に感度を有するフォトディテクタで構成された第１ディテクタ３２、第２ディテクタ３３に代えて、メインレーザ光のみに感度を有するフォトディテクタとサブレーザ光のみに感度を有するフォトディテクタとの組み合わせで成る第１ディテクタ４１、及び第２ディテクタ４２が備えられる。
さらに、制御部３６に代えて、これら第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２からの検出信号に基づいてリアルタイムに光軸補正制御を行う制御部４０が設けられる。この制御部４０としても、例えばＲＯＭ、ＲＡＭ、ＣＰＵを備えたマイクロコンピュータで構成されている。
【００７８】
図９は、図８に示される第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２の構造を模式的に示している。
図示するようにしてこの場合の第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２としては、その中心を基準として放射状に分割されたフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈの、計８つのフォトディテクタの組み合わせで成る。
この場合、フォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、メインレーザ光のみに感度を有するように構成される。また、色付きにより示したフォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈは、サブレーザ光のみに感度を有するように構成される。なお、このように波長選択性を有するフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ、Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈとしては、その検出面に対して波長フィルタを貼ることで実現することができる。
【００７９】
第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２では、図示するようにしてメインレーザ光のみに感度を有するフォトディテクタとサブレーザ光のみに感度を有するフォトディテクタとが交互に配置されている。具体的にこの場合は、フォトディテクタＡ→Ｆ→Ｂ→Ｈ→Ｄ→Ｇ→Ｃ→Ｅの順で各フォトディテクタが配置されている。
ここで、図示するようにフォトディテクタＡ・Ｆの組と、フォトディテクタＧ・Ｄの組とが隣接する方向をｘ軸方向とする。またフォトディテクタＢ・Ｈの組とフォトディテクタＥ・Ｃの組とが隣接する方向をｙ軸方向とする。
【００８０】
また、この場合、メインレーザ光に感度を有するフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの組と、サブレーザ光に感度を有するフォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈの組のそれぞれでは、各フォトディテクタの内向角度が等しくなるようにされている。すなわち、図示するようにしてフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの内向角度をLＡ，LＢ，LＣ，LＤ、フォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈの内向角度をLＥ，LＦ，LＧ，LＨとした場合、
LＡ＝LＢ＝LＣ＝LＤ、LＥ＝LＦ＝LＧ＝LＨ
となるようにされている。
【００８１】
また、図９において、図示するようにフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄによる検出信号はそれぞれａ，ｂ，ｃ，ｄとする。同様に、フォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈによる検出信号はｅ，ｆ，ｇ，ｈとする。
図８に示した制御部４０に対しては、第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２より、これら検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈが供給される。
【００８２】
ここで、第２の実施の形態のホログラム装置では、上記のようにメインレーザ光のみに感度を有するフォトディテクタとサブレーザ光のみに感度を有するフォトディテクタとの組み合わせで成る第１ディテクタ４１、及び第２ディテクタ４２を用いていることで、第１の実施の形態の場合のようにメインレーザ光、サブレーザ光を遮断せずに、これらが同時照射される場合にもそれぞれのレーザ光の光軸位置を検出することができる。すなわち、記録／再生中においても各レーザ光を遮断することなく、光軸補正動作を行うことが可能となる。第２の実施の形態ではこの点を利用して、光軸補正動作をサーボ制御のようにリアルタイムに行うものである。
以下、第２の実施の形態としての光軸補正動作について説明する。
【００８３】
先ず、この場合の光軸補正動作としても、第１の実施の形態の場合と同様に、先ずはメインレーザ光を基準として各ディテクタの位置を調整する。具体的に制御部４０は、第１ディテクタ４１，第２ディテクタ４２からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ（つまりメインレーザ光に感度を有するフォトディテクタからの検出信号）のみを入力し、
（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）＝ｘ１
（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝ｙ１
を計算する。つまりこれにより、第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２の各位置における、ディテクタ中心位置を基準としたメインレーザ光の光軸位置ずれ量を算出する。先の図９より、上記ｘ１の値はｘ軸方向のずれ量を表し、上記ｙ１の値はｙ軸方向の位置ずれ量を表すものとなる。
その上で、双方のディテクタ（４１，４２）でｘ１＝ｙ１＝０となるように各ディテクタの位置を調整する。この場合も各ディテクタの位置調整は、先の第１の実施の形態の場合と同様にして行えばよい。
【００８４】
第２の実施の形態においては、各ディテクタの基準位置出しを行う目的で、このようなメインレーザ光を基準とした各ディテクタ位置の調整を行っている。すなわちこのような調整が行われることで、一方のディテクタにてレーザ光の光軸が中心位置にあるときは、他方のディテクタにおいてもレーザ光の光軸が中心位置にあることが保証されるようになる。
【００８５】
上記のような各ディテクタの基準位置出しを行った上で、以降は各ディテクタにおけるメインレーザ光とサブレーザ光との相対的な光軸位置ずれ量を逐次計算し、その結果に基づき光軸調整部２７を制御する、という動作を繰り返し行う。これによってリアルタイムな光軸補正動作が実現される。
具体的に、制御部４０は、上記各ディテクタの基準位置出しを行った後、例えばホログラム媒体ＨＭに対する記録／再生動作の開始などに応じて、以下のような動作を行う。
先ずは、各ディテクタ４１，４２からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈを入力し、各ディテクタごとに
（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）＝ｘ１
（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝ｙ１
（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋ｈ）＝ｘ２
（ｅ＋ｆ）−（ｇ＋ｈ）＝ｙ２
を計算する。
その上で、これらｘ１，ｘ２，ｙ１，ｙ２の値を用いて、各ディテクタごとにメインレーザ光とサブレーザ光の相対位置ずれ量を計算する。具体的には、
ｘ１−ｘ２＝ｘ
ｙ１−ｙ２＝ｙ
を計算する。
【００８６】
ここで、先の第１の実施の形態において計算されるｘの値は、メインレーザ光とサブレーザ光とについての、ｘ軸方向における光軸位置ずれ量を表す値であった。同様にｙの値は、メインレーザ光とサブレーザ光のｙ軸方向における相対的な光軸位置ずれ量を表す値であった。
この点を踏まえた上で、上記のようにして（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）により計算されるｘ１の値は、各ディテクタ（４１，４２）におけるメインレーザ光のｘ軸方向における光軸位置を表す値となる。また上記（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋ｈ）により計算されるｘ２の値は、各ディテクタにおけるサブレーザ光のｘ軸方向における光軸位置を表す値となる。従って上記ｘ１−ｘ２により計算されるｘの値としても、先の第１の実施の形態で計算されるｘの値と同様に、メインレーザ光とサブレーザ光のｘ軸方向における光軸位置ずれ量を表す値となる。
同様に、上記（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）により計算されるｙ１の値は、各ディテクタにおけるメインレーザ光のｙ軸方向における光軸位置を表す値であり、また上記（ｅ＋ｆ）−（ｇ＋ｈ）により計算されるｙ２の値は、各ディテクタにおけるサブレーザ光のｙ軸方向における光軸位置を表す値となる。従って上記ｙ１−ｙ２により計算されるｙの値としても、先の第１の実施の形態にて計算されるｙの値と同様に、メインレーザ光とサブレーザ光のｙ軸方向における光軸位置ずれ量を表す値となる。
このようにして第２の実施の形態において計算される上記ｘ、ｙの値としては、第１の実施の形態にて計算されるｘ、ｙの値とそれぞれ同等のものとして扱うことができる。
【００８７】
上記のようにして第１の実施の形態の場合と同等のｘ、ｙの値が求まれば、第１の実施の形態の場合と同様の調整値テーブルを用いて２つのレーザ光の光軸が一致するように光軸調整を行うことができる。
制御部４０に対しては、この場合も例えば内蔵するＲＯＭに対して先の図５において説明したものと同様の調整値テーブルが格納されている。制御部４０は、上述のようにして各ディテクタごとにｘ、ｙの値を計算した上で、この調整値テーブルにおいて、それらディテクタごとのｘ、ｙの値の組み合わせと対応づけられている第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値と第２アクチュエータのｘ軸，ｙ軸の調整値とを取得し、それらの調整値を光軸調整部２７に指示してミラー２７ａ、ミラー２７ｂの角度調整を実行させる。
これによって、メインレーザ光とサブレーザ光の光軸が一致するように調整を行うことができる。
【００８８】
この場合、制御部４０は、上記により説明したｘ１，ｘ２，ｙ１，ｙ２の計算から光軸調整部２７に対する調整値の指示までの動作を、例えば記録／再生動作が停止されるまで繰り返し行うようにされている。これによって、記録／再生中においてリアルタイムに光軸補正が行われるようにすることができる。
【００８９】
なお、これまでの説明から理解されるように、このような第２の実施の形態のホログラム装置によれば、光軸補正にあたって第１の実施の形態の場合のようにメインレーザ光、サブレーザ光を遮断する必要はない。従って、光軸補正の観点のみから見れば、図８に示される第１シャッター４、第２シャッター２９は省略することが可能である。第１シャッター４、第２シャッター２９が省略できれば、その分装置構成の簡略化・小型化、及び装置製造コストの削減を図ることができる。
【００９０】
[処理動作]
図１０、図１１は、上記により説明した第２の実施の形態としての光軸補正動作を実現するために実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。なお、これら図１０、図１１に示される処理動作は、制御部４０が例えば内蔵するＲＯＭ等に格納されるプログラムに基づき実行するものである。
【００９１】
先ず、図１０は、先に説明した各ディテクタの基準位置出しのために実行されるべき処理動作を示している。
図１０において、ステップＳ２０１では、各ディテクタについて（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）＝ｘ１、（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝ｙ１を計算する。つまり、第１ディテクタ４１，第２ディテクタ４２からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄのみを入力して上記ｘ１、ｙ１を計算する。
そして、続くステップＳ２０２において、双方のディテクタでｘ１＝ｙ１＝０となるように各ディテクタの位置を調整する。
【００９２】
なお、各ディテクタの基準位置出しは、例えばホログラム装置が初回に使用されるタイミングなどに少なくとも１回だけ行われればよいものである。従ってこの図１０に示した処理動作としても、例えばホログラム装置が初回に使用されるタイミングなどにおける少なくとも１回が行われればよいものである。
【００９３】
図１１は、上記各ディテクタの基準位置出し後に行われることになる、実際の光軸補正のために行われるべき処理動作を示している。
図１１において、ステップＳ３０１では、調整開始を待機する。例えば、上述した記録／再生動作の開始など、光軸調整動作を開始すべきとされる所定条件の成立を待機する。
【００９４】
そして、調整を開始すべき条件が成立した場合は、ステップＳ３０２において、各ディテクタについて、（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）＝ｘ１，（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝ｙ１，（ｅ＋ｇ）−（ｆ＋ｈ）＝ｘ２，（ｅ＋ｆ）−（ｇ＋ｈ）＝ｙ２を計算する。すなわち、各ディテクタ４１，４２からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ，ｆ，ｇ，ｈを入力し、各ディテクタごとに上記ｘ１，ｙ１，ｘ２，ｙ２を計算する。
【００９５】
続くステップＳ３０３では、各ディテクタについてｘ１−ｘ２＝ｘ、ｙ１−ｙ２＝ｙを計算する。さらに、次のステップＳ３０４では、各ディテクタのｘ、ｙの値に基づき調整値テーブルから調整値を取得する。つまり、先に説明したようにして例えば内蔵するＲＯＭに格納される調整値テーブルから、上記ステップＳ３０３にて計算した各ディテクタごとのｘ、ｙの値の組み合わせと対応づけられている第１アクチュエータのｘ軸、ｙ軸の調整値と第２アクチュエータのｘ軸，ｙ軸の調整値とを取得する。
【００９６】
続くステップＳ３０５では、調整値に基づき光軸調整部２７を制御する。すなわち、上記ステップＳ３０４にて取得した各調整値を光軸調整部２７に指示することで、ミラー２７ａ、ミラー２７ｂの角度調整を実行させる。これによって、メインレーザ光とサブレーザ光の光軸が一致するように調整が行われる。
【００９７】
そして、次のステップＳ３０６では、停止トリガの発生を待機する。つまり、例えば記録／再生動作の停止など、調整動作を停止すべき所定条件の成立を待機する。調整動作を停止すべき条件が成立していないとして否定結果が得られた場合は、図示するようにして先のステップＳ３０２に戻るようにされ、これによって停止条件の成立まで調整動作が繰り返し行われることになる。つまりこの結果、サーボ制御のようなリアルタイムの調整制御が実現される。
また、停止条件が成立したとして肯定結果が得られた場合は図示するようにＲＥＴＵＲＮとなる。
【００９８】
なお、ここでは、記録／再生中に常時光軸調整動作が実行されるようにする場合を説明をしたが、これに代えて、例えば所定時間おきに１度実行したり、或いは各ディテクタごとの相対位置ずれ量をモニタしておき位置ずれ量が所定以上となっとされた場合にのみ実行するなどといったことも可能である。すなわち、第２の実施の形態としての光軸補正動作は記録／再生中に常時行われることに限定されるべきものではなく、少なくとも適切とされるタイミングで実行されればよいものである。
何れにしても第２の実施の形態では、レーザ光を遮断せずに各レーザ光の光軸位置ずれ量の検出が可能であるので、記録／再生の妨げにならないように光軸調整動作を行うことができることに変わりはない。換言すれば、記録／再生中であっても光軸調整動作を行うことができることに変わりはない。
【００９９】
また、先の図８では、第１ディテクタ４１、第２ディテクタ４２に対し、図１の場合と同様にハーフミラー３１を用いて各レーザ光が導かれるように構成する場合を例示したが、これに代えて、図７に示した変形例のようにハーフミラー３１を省略した構成とすることもできる。具体的には、例えば第１ディテクタ４１を反射型の第１ディテクタ４１refとし、集光レンズ３０からの入射光を当該第１ディテクタ４１ref→ミラー３７を介して第２ディテクタ４２に導くようにするものである。
このような構成とした場合にも、制御部４０が実行すべき処理動作は先の図１０、図１１に示したものと同様でよい。つまり、これによって図８に示した構成とする場合と同様の効果を得ることができる。
【０１００】
＜第２の実施の形態の変形例＞
続いて、第２の実施の形態の各変形例（変形例１〜変形例３）について説明する。
第２の実施の形態の変形例は、先の図８に示した構成と同様にメインレーザ光、サブレーザ光の光軸位置を同時に検出することができるようにするにあたり、図９のように１つのディテクタ内にメインレーザ光に感度を有するフォトディテクタ、サブレーザ光に感度を有するフォトディテクタを一体的に組み合わせるのではなく、メインレーザ光に感度を有するフォトディテクタのみが組み合わされたメイン用ディテクタと、サブレーザ光に感度を有するフォトディテクタのみが組み合わされたサブ用ディテクタとをそれぞれ別々に設けるようにしたものである。
【０１０１】
図１２は、第２の実施の形態の変形例１としてのホログラム装置の構成を示している。
なお、この図において、既にこれまでで説明した部分と同様となる部分については同一符号を付して説明を省略する。
図示するようにして、この場合のホログラム装置では、サブ用ディテクタ５２、サブ用ディテクタ５４と、メイン用ディテクタ５５、メイン用ディテクタ５７とがそれぞれ別々に設けられる。この場合、サブ用ディテクタ５２，５４は、サブレーザ光のみに感度を有する例えば４分割ディテクタとされる。またメイン用ディテクタ５５，５７は、メインレーザ光のみに感度を有する例えば４分割ディテクタとされる。
つまり、対応関係で言えば、上記サブ用ディテクタ５２内の４つのフォトディテクタ、サブ用ディテクタ５４内の４つのフォトディテクタは、それぞれ先の図８における第１ディテクタ４１内のフォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈ、第２ディテクタ４２内のフォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈに相当するものとなる。同様に、上記メイン用ディテクタ５５内の４つのフォトディテクタ、メイン用ディテクタ５７内の４つのフォトディテクタは、それぞれ第１ディテクタ４１内のフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ、第２ディテクタ４２内のフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄに相当する。
また、このことから、サブ用ディテクタ５２、５４内の各ディテクタから得られる検出信号は、それぞれ検出信号ｅ，ｆ，ｇ，ｈに相当する。またメイン用ディテクタ５５、５７内の各ディテクタからの検出信号は、それぞれ検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄに相当するものである。
【０１０２】
図１２において、この場合のホログラム装置においては、図８に示したハーフミラー３１に代えて、ダイクロイックプリズム５１が設けられている。このダイクロイックプリズム５１は、サブレーザ光を反射し、メインレーザ光を透過するように構成されている。
このダイクロイックプリズム５１で反射されたサブレーザ光は、反射型とされた上記サブ用ディテクタ５２にて反射された後、このサブ用ディテクタ５２と対向する側に設けられたミラー５３で再度反射されてサブ用ディテクタ５４に照射される。
また、ダイクロイックプリズム５１を透過したメインレーザ光は、同様に反射型とされた上記メイン用ディテクタ５５で反射された後、当該メイン用ディテクタ５５と対向する側に設けられたミラー５６で再度反射されてメイン用ディテクタ５７に照射される。
【０１０３】
なお、先の第２の実施の形態の説明によれば、図８に示した構成においては、メインレーザ光に感度を有するフォトディテクタとサブレーザ光に感度を有するフォトディテクタとが１つの分割ディテクタとして一体的に形成されていたので、これらメインレーザ光に感度を有するフォトディテクタと、サブレーザ光に感度を有するフォトディテクタとは、それぞれ光路長が等しいものとされていた。
そこで、このことに対応させるために、図１２に示すホログラム装置においても、サブ用ディテクタ５２までの光路長とメイン用ディテクタ５５までの光路長が等しくなるようにし、且つサブ用ディテクタ５４までの光路長とメイン用ディテクタ５７までの光路長が等しくなるようにしている。
【０１０４】
上記により説明した構成のように、ダイクロイックプリズム５１で合成光をメインレーザ光とサブレーザ光とに分離し、分離したサブレーザ光をサブ用ディテクタ５２,５４に、またメインレーザ光をメイン用ディテクタ５５,５７に導くようにすることで、メインレーザ光、サブレーザ光を遮断せずに各レーザ光の光軸位置を検出することが可能となる。
【０１０５】
但し、ここで注意すべきは、このようにメインレーザ光に対する感度を有する各ディテクタ（５５，５７）と、サブレーザ光に感度を有する各ディテクタ（５２，５４）とを別々の位置に設けた場合には、先の図８に示した構成のように装置側で自動的に各ディテクタの基準位置出しを行うことができないという点である。
すなわち、この場合は、製造時などに予め各ディテクタの基準位置出しを手動で行っておくことが前提となるものである。具体的には、例えばメインレーザ光とサブレーザ光の光軸が一致するように光学系を調整した上で、その状態において、各ディテクタ（５２，５４，５５，５７）におけるレーザ光の光軸位置がそれぞれの中心位置と一致するように、各ディテクタの位置を調整しておくということが前提となる。
【０１０６】
このように各ディテクタの基準位置出しが製造時などに予め行われることを前提としていることから、この場合のホログラム装置では、図１２にも示されているように各ディテクタに対する駆動部が設けられないものとなっている。
【０１０７】
そして、この点から、この場合の制御部５０としては、先の図１０に示したような基準位置出しのための処理動作は実行せず、例えば図１１に示したような実際の調整動作のための処理動作のみを行うようにされる。
ここで、先の説明からも理解されるように、この場合、サブ用ディテクタ５２内の各ディテクタの検出信号は、例えば第１ディテクタ４１内のフォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈからの検出信号ｅ，ｆ，ｇ，ｈとして扱うことができる。同様に、サブ用ディテクタ５２内の各ディテクタの検出信号は第２ディテクタ４２内のフォトディテクタＥ，Ｆ，Ｇ，Ｈからの検出信号ｅ，ｆ，ｇ，ｈとして扱うことができる。また、メイン用ディテクタ５５内の各ディテクタの検出信号は例えば第１ディテクタ４１内のフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄとして扱うことができ、さらにメイン用ディテクタ５７内の各ディテクタの検出信号は第２ディテクタ４２内のフォトディテクタＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄとして扱うことができる。
従って、この場合も、これらサブ用ディテクタ５２,５４からの検出信号ｅ，ｆ，ｇ，ｈ、メインレーザ用ディテクタ５５,５７からの検出信号ａ，ｂ，ｃ，ｄに基づき、制御部５０が先の図１１に示したものと同様の処理動作を実行することで、図８に示した構成とする場合と同様の効果を得ることができる。
【０１０８】
続いて、次の図１３により、第２の実施の形態の変形例２及び変形例３の構成について説明する。なお、この図１３では、変形例２及び変形例３としてのホログラム装置の構成のうち、ダイクロイックプリズム１４から各ディテクタ（５２，５４，５５，５７）までの光学系の構成のみを抽出して示している。この図において同一符号を付した部分、及びこの図に示されない他の部分については先の図１２と同様となるので説明は省略する。
図１３（ａ）は変形例２、図１３（ｂ）は変形例３の構成をそれぞれ示している。
【０１０９】
これら変形例２、変形例３は、先の変形例１で用いていたダイクロイックプリズム５１とは異なる素子を用いて、メインレーザ光とサブレーザ光とを分離出力するように構成したものである。
具体的に、図１３（ａ）の変形例２においては、ダイクロイックプリズム５１に代えて分散プリズム６０を用いることでメインレーザ光とサブレーザ光とを分離出力している。また図１３（ｂ）の変形例３では、ＨＯＥ（Hologram Optical Element：ホログラム素子）によってメインレーザ光とサブレーザ光とを分離出力している。
【０１１０】
なお、確認のために述べておくと、これら変形例２、変形例３としても、予め製造時などに各ディテクタ（５２，５４，５５，５７）の基準位置出しが手動で行われていることが前提となる。またこの場合も制御部５０が上記各ディテクタから入力される検出信号に基づき先の図１１に示したものと同様の処理動作を実行することで、図８に示した構成とする場合と同様の効果を得ることができる。
【０１１１】
＜共通の変形例＞
図１４は、各実施の形態に共通の変形例について説明するための図として、当該変形例が、先の図１に示すホログラム装置に適用された場合の構成例を示している。なお、この図においてもこれまでに既に説明した部分については同一符号を付して説明を省略する。
この図１４に示されるように、当該共通の変形例としては、光軸調整を行う手段をこれまでとは異なる構成とするものである。
具体的には、サブレーザ光の光路中に挿入されて光軸調整を行うようにされていた光軸調整部２７に代えて、サブレーザ２２の位置及び角度を直接的に調整することで光軸調整を行う光軸調整部７０を備えるものである。
【０１１２】
図示するようにして、光軸調整部７０は、その一方の面においてサブレーザ２２の裏面（レーザ出射面とは逆側の面）が固着され、これとは逆側の面が装置本体側に固着されてサブレーザ２２を本体側から支持するようにされている。
【０１１３】
図１５（ａ）は、図１４に示される光軸調整部７０の構造例を示している。なおこの図ではサブレーザ２２も併せて示している。
図示するようにしてこの場合の光軸調整部７０は、サブレーザ２２側から順に駆動素子７０ａ、駆動素子７０ｂ、駆動素子７０ｃ、駆動素子７０ｄが積層されて形成されている。先ず、上記駆動素子７０ｃ、駆動素子７０ｄは、先の図３に示した駆動部３４，３５における第１駆動素子３４ａ，３５ａ、第２駆動素子３４ｂ，３５ｂと同様に、所定の１方向に変形可能な例えばピエゾ素子で構成される。この場合も、これらの素子がサブレーザ光の照射面内方向におけるそれぞれ直交する方向に変形するように組み合わされている。この図では、駆動素子７０ｃがｘ軸方向、駆動素子７０ｄがｙ軸方向に変形するように組み合わされている。これら駆動素子７０ｃ、駆動素子７０ｄにより、サブレーザ光の光軸位置の調整が可能とされる。
また、駆動素子７０ａ，駆動素子７０ｂは、サブレーザ光の光軸角度を調整するために設けられる。図示するようにして駆動素子７０ａは、図中θ１方向としての、サブレーザ光の光軸角度をｘ軸方向に変化させることのできる方向に回動可能な可動部を有して構成される。また、駆動素子７０ｂは、図中θ２方向としての、サブレーザ光の光軸角度をｙ軸方向に変化させることのできる方向に回動可能な可動部を有して構成される。このような駆動素子７０ａ、駆動素子７０ｂの組み合わせにより、サブレーザ光の光軸をｘ軸方向及びｙ軸方向に調整可能とされる。
【０１１４】
図１４に示されるように、光軸調整部７０に対しては、制御部７１からの調整値の供給ラインが接続される。この場合、制御部７１は、光軸調整部７０における各駆動素子（７０ａ，７０ｂ，７０ｃ，７０ｄ）ごとの調整値を光軸調整部７０に対して供給するようにされている。図１５では図示を省略したが、光軸調整部７０内には、各駆動素子を上記調整値に応じて駆動するための駆動回路が設けられ、当該駆動回路が各調整値に応じて各駆動素子を駆動制御する。
このような構成により、制御部７１は、サブレーザ光について、ｘ軸方向の光軸位置の制御、ｙ軸方向の光軸位置の制御と、さらにｘ軸方向の光軸角度の制御、ｙ軸方向の光軸角度の制御を行うことができるようにされている。
【０１１５】
なお、この場合の上記調整値としては、先に説明した光軸調整部２７に対する調整値とは異なる値となる。従って当該変形例の場合、調整値テーブルとしては、各ディテクタごとに計算されるｘ、ｙの値の組み合わせに対し、それらｘ、ｙの値を０とするための各駆動素子（７０ａ，７０ｂ，７０ｃ，７０ｄ）の調整値の組み合わせを対応づけたものとすればよい。
制御部７１がこのような調整値テーブルを用いて先の第１の実施の形態の場合と同様の調整制御を行うことで、この場合も各レーザ光の光軸を一致させるように調整を行うことができる。なお、当該変形例を第２の実施の形態に適用した場合としても、同様の調整値テーブルを用いることで各レーザ光の光軸を一致させるように調整を行うことができる。
【０１１６】
また、図１５（ｂ）には、光軸調整部７０の他の構造例を示している。
この図１５（ｂ）に示す光軸調整部７０の構造例は、サブレーザ２２のレーザ出射面の裏面ではなく、レーザ出射面と直交する面を固着する場合に対応する構造例である。
図１５（ｂ）に示される光軸調整部７０では、サブレーザ２２側から順に駆動素子７０ｅ、駆動素子７０ｆ、駆動素子７０ｇ、駆動素子７０ｈが積層されて形成される。図示すするようにして、駆動素子７０ｅに対しては、上記駆動素子７０ｆと固着される面とは逆側の面において、サブレーザ２２におけるレーザ出射面と直交する面が固着される。
この場合の光軸調整部７０において、駆動素子７０ｇ、駆動素子７０ｈは、先に説明した駆動素子７０ｃ、駆動素子７０ｄと同様に所定の１方向に変形可能な例えばピエゾ素子とされ、この場合も、これらの素子がサブレーザ光の照射面内方向におけるそれぞれ直交する方向に変形するように組み合わされている。図のように、例えば駆動素子７０ｇがｘ軸方向、駆動素子７０ｈがｙ軸方向に変形するように組み合わされている。
また、上記駆動素子７０ｆは、先に説明した駆動素子７０ａ、駆動素子７０ｂと同様の可動部を有しており、当該可動部が、サブレーザ光の光軸をｙ軸方向に変化させることができる方向（図中θ２方向）に回動するように光軸調整部７０に対して組み込まれている。さらに、上記駆動素子７０ｅは、図中θ１方向としての、サブレーザ光の光軸角度をｘ軸方向に変化させる方向に変形可能に構成されている。
このような光軸調整部７０の構造によっても、サブレーザ光のｘ軸方向・ｙ軸方向の光軸位置及びｘ軸方向・ｙ軸方向の光軸角度を調整することができる。
【０１１７】
[その他の変形例]
以上、本発明の各実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでに説明した例に限定されるべきものではない。
例えば、第１の実施の形態において例示したｘ、ｙの計算式はあくまで一例に過ぎず、図２に示したｘ軸方向、ｙ軸方向のずれ量を算出できる式であれば他の式を採用することもできる。
同様に、第２の実施の形態で例示したｘ１，ｘ２の計算式、ｙ１，ｙ２の計算式としても一例に過ぎず、図９にて示したｘ軸方向、ｙ軸方向のずれ量を算出可能なものであれば他の式を採用することができる。
【０１１８】
また、光路長差が与えられた各位置で各レーザ光の光軸位置を検出するにあたっては、４分割されたフォトディテクタを用いるものとしたが、このような光軸位置検出のためのディテクタとしては、４分割以上のディテクタを用いることもできる。
【０１１９】
また、これまでの説明では、各レーザ光を合成しその合成光を分岐出力する手段として、ダイクロイックプリズム１４を用いる場合を例示したが、このように合成光を分岐出力するための手段としては他の構成で実現することもできる。
例えば、ダイクロイックプリズム１４に代えて、メインレーザ光を透過しサブレーザ光は反射するダイクロイックプリズム（つまり図１２に示したダイクロイックプリズム５１と同じ）を設けて、合成光を１／２波長板１５側の１方向のみに導くようにした上で、４５°ミラー１６をハーフミラーとする。すなわち、このハーフミラーにて合成光を分岐出力するように構成する。
この場合は、上記ダイクロイックプリズム（５１）と上記ハーフミラーとしての４５°ミラーとが、本発明で言う合成分岐出力手段を形成することになる。
【０１２０】
また、これまでの説明では、本発明が記録・再生の双方が可能な記録再生装置に適用される場合を例示したが、本発明としては記録のみが可能な記録専用装置、または再生のみが可能な再生専用装置に対しても好適に適用することができる。
【０１２１】
また、これまでの説明では、本発明がホログラム装置に適用される場合を例示したが、本発明は、２つの光の合成光を対象物に対して照射する場合において好適に適用することができ、その場合もそれら２つの光の光軸を一致させるように調整を行うことができる。
【０１２２】
また、本発明としては、２つの光のみの光軸を調整する場合だけでなく、３以上の光の光軸を調整する場合にも好適に適用することができる。つまりその場合は、例えば３以上の光のうち２つについて本発明による光軸調整を行ってそれらを一致させた上で、残りの光については、そのうちの１つと、既に調整済みの光のうち何れか一つとを本発明の手法によって一致させていく、ということを繰り返し行えばよい。これにより、最終的に全ての光の光軸を一致させるように調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１２３】
【図１】本発明の第１の実施の形態としてのホログラム装置の内部構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施の形態で用いるディテクタの構造を模式的に示した図である。
【図３】ディテクタを動かすための駆動部の構造例を示した図である。
【図４】光軸調整部の内部構造を模式的に示した図である。
【図５】実施の形態の光軸補正動作で用いる調整値テーブルのデータ構造を示した図である。
【図６】第１の実施の形態としての光軸補正動作を実現するために行われるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図７】第１の実施の形態の変形例としてのホログラム装置の内部構成を示すブロック図である。
【図８】第２の実施の形態としてのホログラム装置の内部構成を示すブロック図である。
【図９】第２の実施の形態で用いるディテクタの構造を模式的に示した図である。
【図１０】第２の実施の形態としての光軸補正動作を実現するために行われるべき処理動作として、各ディテクタの基準位置出しを行うための処理動作を示したフローチャートである。
【図１１】第２の実施の形態としての光軸補正動作を実現するために行われるべき処理動作として、実際の調整動作時に対応して行われるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図１２】第２の実施の形態の変形例１としてのホログラム装置の内部構成を示すブロック図である。
【図１３】第２の実施の形態の変形例２、変形例３について説明するための図である。
【図１４】実施の形態の共通の変形例について説明するための図である。
【図１５】変形例としての光軸調整部の構造例を示した図である。
【図１６】ホログラム記録媒体の断面構造図である。
【符号の説明】
【０１２４】
１  メインレーザ、４  第１シャッター、１４,５１  ダイクロイックプリズム、１６  ４５°ミラー、１７  対物レンズ、２２  サブレーザ、２７,７０  光軸調整部、２７ａ,２７ｂ  ミラー、２９  第２シャッター、３０  集光レンズ、３１  ハーフミラー、３２,４１  第１ディテクタ、３２ref  (反射型)第１ディテクタ、３３,４２  第２ディテクタ、３４,３５  駆動部、３４ａ,３５a  第１駆動素子、３４ｂ,３５ｂ  第２駆動素子、３６,４０,５０,７１  制御部、３７,５３,５６  ミラー、５２,５４  サブ用ディテクタ、５５,５７  メイン用ディテクタ、６０  分散プリズム、６１  ＨＯＥ（ホログラム素子）、７０ａ〜７０ｈ  駆動素子、ＨＭ  ホログラム記録媒体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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