(57)【要約】【課題】記録層の数に制限なく高容量化を図り得る光記録媒体、および、この記録媒体のために用いて好適な光ピックアップ装置および光再生装置を提供する。【解決手段】隣り合う記録層１２の間に偏光回転層１３を配置する。偏光回転層１３は、レーザ光が往復する際に、たとえば、レーザ光の偏光方向を９０度回転させる。こうすると、レーザ光入射面から奇数番目の記録層にて反射されたレーザ光の偏光方向ＰＨと、奇数番目の記録層にて反射されたレーザ光の偏光方向ＰＶが直交することとなる。したがって、奇数番目の記録層を目標記録層とするときには、偏光方向ＰＨの光を抽出して光検出器に導くことにより、迷光による信号品質劣化を抑制できる。【選択図】図１
2009104722.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の記録層と、
前記第１の記録層に対し積層方向に並べて配置された第２の記録層と、
前記第１の記録層と前記第２の記録層の間に配された偏光回転層とを備え、
前記偏光回転層は、前記第１の記録層によって反射された光の偏光方向と、前記第２の記録層によって反射された後前記偏光回転層および前記第１の記録層を透過した前記光の偏光方向とを相違させる、
ことを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】
請求項１において、
前記偏光回転層は、前記第１の記録層によって反射された光の偏光方向に対し、前記第２の記録層によって反射された後前記偏光回転層および前記第１の記録層を透過した前記光の偏光方向を９０度回転させる、
ことを特徴とする光記録媒体。
【請求項３】
レーザ光源と、
前記レーザ光原から出射されたレーザ光を記録媒体上に収束させる対物レンズと、
前記記録媒体によって反射された前記レーザ光から所定の偏光方向の光成分を抽出して受光する受光ユニットと、
を有することを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】
請求項３において、
前記受光ユニットは、
前記記録媒体にて反射された前記レーザ光が入射される偏光ビームスプリッタと、
前記偏光ビームスプリッタを透過した第１の偏光方向の前記レーザ光を受光する第１の光検出器と、
前記偏光ビームスプリッタによって反射された第２の偏光方向の前記レーザ光を受光する第２の光検出器とを備える、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項３において、
前記受光ユニットは、
偏光方向に応じて透過率が変化する光学素子と、
前記光学素子に対する前記レーザ光の偏光方向を制御信号に応じて相対的に回転させる偏光回転手段と、
前記光学素子を透過した前記レーザ光を受光する光検出器とを備える、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項６】
請求項４に記載の光ピックアップ装置と、
前記第１の光検出器から出力される第１の電気信号と前記第２の光検出器から出力される第２の電気信号の何れか一方を選択して復調する復調回路部と、
を有することを特徴とする光再生装置。
【請求項７】
請求項５に記載の光ピックアップ装置と、
前記光検出器から出力される電気信号を復調する復調回路部と、
前記偏光回転素子を駆動制御する制御部とを備える、
ことを特徴とする光再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、積層方向に複数の記録層を有する光記録媒体、および、この光記録媒体のために用いて好適な光ピックアップ装置および光再生装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、記録媒体の高容量化が進められている。記録媒体の高容量化は、記録密度の向上の他、積層方向に複数の記録層を形成することによっても実現できる。しかし、このように記録層を積層すると、再生対象以外の記録層からの反射光（迷光）が光検出器に入射し、信号品質が劣化するとの問題が生じる。
【０００３】
この問題を解消するべく、以下の特許文献１では、第１の記録層と第２の記録層の間に、特定の偏光方向を有する光を選択的に透過させる偏光分離層を配する構成が提案されている。ここでは、第１の記録層に対する記録再生時には偏光分離層を透過しない偏光方向にてレーザ光が記録媒体に照射され、また、第２の記録層に対する記録再生時には偏光分離層を透過する偏光方向にてレーザ光が記録媒体に照射される。この構成によれば、記録再生対象とされない記録層からの迷光を抑制でき、信号品質の向上が図られる。
【特許文献１】特開２００３−３６５６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、かかる従来技術によれば、第１の記録層と第２の記録層に対しそれぞれ偏光方向が固定されるため、一つの記録媒体中に２つの記録層までしか配置することができない。つまり、記録媒体の高容量化は、記録層を２層配置するところまでに制限されることとなる。
【０００５】
本発明は、かかる問題を解消するためになされたものであり、記録層の数に制限なく高容量化を図り得る光記録媒体、および、この記録媒体のために用いて好適な光ピックアップ装置および光再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１の発明に係る光記録媒体は、第１の記録層と、前記第１の記録層に対し積層方向に並べて配置された第２の記録層と、前記第１の記録層と前記第２の記録層の間に配された偏光回転層とを備え、前記偏光回転層は、前記第１の記録層によって反射された光の偏光方向と、前記第２の記録層によって反射された後前記偏光回転層および前記第１の記録層を透過した前記光の偏光方向とを相違させることを特徴とする。
【０００７】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光記録媒体において、前記偏光回転層は、前記第１の記録層によって反射された光の偏光方向に対し、前記第２の記録層によって反射された後前記偏光回転層および前記第１の記録層を透過した前記光の偏光方向を９０度回転させることを特徴とする。
【０００８】
請求項３の発明に係る光ピックアップ装置は、レーザ光源と、前記レーザ光原から出射されたレーザ光を記録媒体上に収束させる対物レンズと、前記記録媒体によって反射された前記レーザ光から所定の偏光方向の光成分を抽出して受光する受光ユニットとを有することを特徴とする。
【０００９】
請求項４の発明は、請求項３に記載の光ピックアップ装置において、前記受光ユニットは、前記記録媒体にて反射された前記レーザ光が入射される偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタを透過した第１の偏光方向の前記レーザ光を受光する第１の光検出器と、前記偏光ビームスプリッタによって反射された第２の偏光方向の前記レーザ光を受光する第２の光検出器とを備えることを特徴とする。
【００１０】
請求項５の発明は、請求項３に記載の光ピックアップ装置において、前記受光ユニットは、偏光方向に応じて透過率が変化する光学素子と、前記光学素子に対する前記レーザ光の偏光方向を制御信号に応じて相対的に回転させる偏光回転手段と、前記光学素子を透過した前記レーザ光を受光する光検出器とを備えることを特徴とする。
【００１１】
請求項６の発明に係る光再生装置は、請求項４に記載の光ピックアップ装置と、前記第１の光検出器から出力される第１の電気信号と前記第２の光検出器から出力される第２の電気信号の何れか一方を選択して復調する復調回路部とを有することを特徴とする。
【００１２】
請求項７の発明に係る光再生装置は、請求項５に記載の光ピックアップ装置と、前記光検出器から出力される電気信号を復調する復調回路部と、前記偏光回転素子を駆動制御する制御部とを備えることを特徴とする。
【００１３】
請求項４に係る光ピックアップ装置の実施形態として図２の構成例が示され、請求項５に係る光ピックアップ装置の実施形態として図６の構成例が示されている。なお、請求項５における光学素子として、たとえば、偏光板を用いることができる。また、請求項５における偏光回転手段は、レーザ光の偏光方向の方を回転させる手段の他、光学素子の方を回転させる手段とすることもできる。請求項６に係る光再生装置の実施形態として図３の構成例が示され、請求項７に係る光再生装置の実施形態として図７の構成例が示されている。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、第１の記録層によって反射されたレーザ光の偏光方向と、第２の記録層によって反射されたレーザ光の偏光方向が互いに相違している。よって、請求項３に記載のように、記録媒体によって反射されたレーザ光うち目標記録層に対応する偏光方向の光成分を抽出して受光することにより、他の記録層にて反射されたレーザ光（迷光）が光検出器に入射するのを抑制することができる。よって、迷光による信号品質の劣化を抑制することができる。
【００１５】
また、本発明では、記録層毎に偏光方向が固定されるものではないため、記録層の層数は２層に制限されず、３層以上の記録層を一つの光記録媒体に含めることができる。よって、記録媒体の高容量化を円滑に進めることができる。
【００１６】
本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態によって何ら制限されるものではない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。なお、本実施の形態では、光記録媒体として記録可能タイプの光ディスクが例示されている。
【００１８】
＜実施例１＞
図１に、実施例１に係るディスク（光記録媒体）１０の構成を示す。なお、同図（ａ）は、一部を扇形状に切り欠いたディスク１０の概観を示す図、同図（ｂ）は、同図（ａ）のＡの部分の断面構造を模式的に示す図である。
【００１９】
同図（ｂ）に示す如く、ディスク１０は、基板１１の上に、記録層１２と、偏光回転層１３と、中間層１４を積層方向に順次配置した構造となっている。基板１１は、ポリカーボネートからなっている。記録層１２は、記録膜と半透過膜を積層して形成されている。記録層１２の膜構造と材料は、既存の多層ディスクと同様のものを用いることができる。偏光回転層１３は、ガーネット単結晶膜から形成されており、透過毎にレーザ光の偏光方向を４５度回転させる。中間層１４は、ＵＶ硬化樹脂等の透光性樹脂からなっている。
【００２０】
レーザ光入射面から最も離れた記録層１５は、記録膜と反射膜（たとえば、アルミニウム膜）を積層して形成されている。この記録層１５の上に、カバー層１６が形成されている。カバー層１６は、たとえば、ＵＶ硬化樹脂からなっている。
【００２１】
各記録層のトラック構造は、既存の多層ディスクと同様に構成され得る。たとえば、ディスク１０の各記録層には、ランドとグルーブが螺旋状に形成され、ディスク内周部には、ピット列が螺旋状に配列されている。
【００２２】
この構成を有するディスク１０に直線偏光のレーザ光が入射すると、レーザ光の偏光方向は、偏光回転層１３を透過する毎に４５度ずつ回転する。よって、レーザ光の入射面から奇数番目の記録層にて反射されディスク１０外に出たレーザ光の偏光方向（以下、この偏光方向を「ＰＨ方向」という）は、ディスク入射時のレーザ光の偏光方向に一致し、レーザ光の入射面から偶数番目の記録層にて反射されディスク１０外に出たレーザ光の偏光方向（以下、この偏光方向を「ＰＶ方向」という）は、ディスク入射時のレーザ光の偏光方向に直交することとなる。
【００２３】
図２に、実施例１に係る光ピックアップ装置の構成を示す。同図（ａ）は、立ち上げミラー１０６よりも後段側の構成を除く光学系の平面図、同図（ｂ）は、立ち上げミラー１０６以降の部分の側面図である。なお、同図（ｂ）では、対物レンズ１０７とレンズホルダー１０８の部分が断面図として示されている。
【００２４】
図示の如く、光ピックアップ装置の光学系は、半導体レーザ１０１と、コリメータレンズ１０２と、ビームスプリッタ１０３と、ビームエキスパンダ（収差補正用）を構成する凹レンズ１０４ａおよび凸レンズ１０４ｂと、凸レンズ１０４ｂを光軸方向に駆動するレンズアクチュエータ１０５と、立ち上げミラー１０６と、対物レンズ１０７と、対物レンズホルダー１０８と、対物レンズアクチュエータ１０９と、偏光ビームスプリッタ１１０と、アナモレンズ１１１、１１３と、光検出器１１２、１１４とを備えている。
【００２５】
半導体レーザ１０１は、所定波長のレーザ光（直線偏光）を出射する。半導体レーザ１０１から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ１０２によって平行光とされた後、その一部がビームスプリッタ１０３を透過する。その後、レーザ光は、凹レンズ１０４ａと凸レンズ１０４ｂを透過する際に、収差補正に応じて平行光から収束または拡散され、立ち上げミラー１０６によって対物レンズ１０７に向かう方向に反射される。しかる後、レーザ光は、対物レンズ１０７によってディスク１０上に収束される。この際、対物レンズ１０７が、対物レンズアクチュエータ１０９によってフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動される。これにより、レーザ光は、目標記録層上のトラックを追従する。
【００２６】
ディスク１０によって反射されたレーザ光は、ディスク１０へ向かう際の光路を逆行し、その一部がビームスプリッタ１０３によって反射され、偏光ビームスプリッタ１１０に入射する。偏光ビームスプリッタ１１０を透過したレーザ光は、アナモレンズ１１０によって非点収差が導入された後、光検出器１１２上に集光される。また、偏光ビームスプリッタ１１０にて反射されたレーザ光は、アナモレンズ１１３によって非点収差が導入された後、光検出器１１４上に集光される。
【００２７】
なお、本実施例では、フォーカスエラー信号の生成手法として非点収差法が採用され、トラッキングエラー信号の生成手法として１ビームプッシュプル法が採用されている。よって、光検出器１１２、１１４上には、非点収差法および１ビームプッシュプル法に応じたセンサーパターン（４分割センサ）が配されている。
【００２８】
偏光ビームスプリッタ１１０は、ディスク１０によって反射されたレーザ光のうちＰＨ方向の偏光方向の光を透過し、ＰＶ方向の偏光方向の光を反射するように配置されている。つまり、偏光ビームスプリッタ１１０に対しＰＨ方向の光がＰ偏光となり、ＰＶ方向の光がＳ偏光となる。よって、レーザ光の入射面から奇数番目の記録層にて反射されたレーザ光は偏光ビームスプリッタ１１０を透過して光検出器１１２へと導かれ、偶数番目の記録層にて反射されたレーザ光は偏光ビームスプリッタ１１０によって反射され光検出器１１４へと導かれる。
【００２９】
図３に、実施例１に係る光ディスク装置の構成を示す。なお、同図には、再生に関連する回路系のみが示されている。
【００３０】
同図において、２０１は、図２の構成を有する光ピックアップ装置である。光ピックアップ装置２０１は、ピックアップ送り機構（図示せず）によって、ディスク１０の径方向に移動可能に支持されている。
【００３１】
レーザ駆動回路２０２は、コントローラ２０７からの指令に応じて、光ピックアップ装置２０１内の半導体レーザ１０１を駆動する。信号演算回路２０３は、光ピックアップ装置２０１内の光検出器１１２、１１４からの信号をそれぞれ個別に演算処理するための２つの演算部２０３ａ、２０３ｂを備えている。演算部２０３ａ、２０３ｂは、光検出器１１２、１１４から出力される信号を演算処理して、各種信号（再生ＲＦ信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、等）を生成し、セレクタ２０４に供給する。
【００３２】
セレクタ２０４は、演算部２０３ａ、２０３ｂのうち何れか一方から入力された信号をデコーダ２０５とサーボ回路２０６に供給する。何れの演算部からの信号を選択するかは、コントローラ２０７からの指令によって決定される。
【００３３】
デコーダ２０５は、セレクタ２０４から入力された再生ＲＦ信号を処理して再生データを生成し後段回路に出力する。また、デコーダ２０５は、再生結果をコントローラ２０７に供給する。
【００３４】
サーボ回路２０６は、セレクタ２０４から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ装置２０１内の対物レンズアクチュエータ１０９に供給する。また、目標記録層に対するフォーカスサーチの際に、コントローラ２０７からの指令に応じて、対物レンズ１０７を光軸方向に変位させる信号を対物レンズアクチュエータ１０９に供給する。
【００３５】
なお、サーボ回路２０６は、フォーカスサーチ時に、後述の如くフォーカスエラー信号上のＳ字カーブをカウントし、目標記録層に対するフォーカス引き込みを行う。この他、サーボ回路２０６は、再生ＲＦ信号が最良となるよう、レンズアクチュエータ１０５に駆動信号を供給する。
【００３６】
コントローラ２０７は、内蔵メモリに格納された制御プログラムに応じて各部を制御する。
【００３７】
図４に、フォーカスサーチ時におけるフォーカスエラー信号の生成状態を示す。同図において、ＦＥ１は、光検出器１１２からの出力信号をもとに生成されるフォーカスエラー信号を示し、ＦＥ２は、光検出器１１４からの出力信号をもとに生成されるフォーカスエラー信号を示している。また、Ｌ１〜Ｌ６は、それぞれ、レーザ光の入射面側から１番目〜６番目の記録層に対するオンフォーカスタイミングを示している。なお、以下では、レーザ光の入射面側から１番目〜６番目の記録層のことを、それぞれ、レイヤー１〜６と称する。
【００３８】
図示の如く、フォーカスサーチ時には、奇数番目のレイヤーに対するオンフォーカスタイミングにおいて、フォーカスエラー信号ＦＥ１上にＳ字カーブＳ１１、Ｓ１２、Ｓ１３、…が生じ、また、偶数番目のレイヤーに対するオンフォーカスタイミングにおいて、フォーカスエラー信号ＦＥ２上にＳ字カーブＳ２１、Ｓ２２、Ｓ２３、…が生じる。よって、奇数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合には、光検出器１１２からの出力信号に基づくフォーカスエラー信号ＦＥ１に基づいてフォーカス引き込みを行えば良く、また、偶数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合には、光検出器１１４からの出力信号に基づくフォーカスエラー信号ＦＥ２に基づいてフォーカス引き込みを行えば良い。
【００３９】
具体的には、奇数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合、フォーカスエラー信号ＦＥ１がサーボ回路２０６に供給されるようセレクタ２０４が設定される。そして、目標レイヤーに対応するＳ字カーブの個数をカウントしたタイミングにてフォーカスサーボがオンされ、目標レイヤーに対するレーザ光の引き込みが行われる。また、偶数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合には、フォーカスエラー信号ＦＥ２がサーボ回路２０６に供給されるようセレクタ２０４が設定される。そして、目標レイヤーに対応するＳ字カーブの個数をカウントしたタイミングにてフォーカスサーボがオンされ、目標レイヤーに対するレーザ光の引き込みが行われる。
【００４０】
図５に、再生動作時の処理フローを示す。
【００４１】
再生動作が開始されると、再生目標レイヤーに対応するフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号と再生ＲＦ信号が、それぞれ、サーボ回路２０６とデコーダ２０５に供給されるようセレクタ２０４が設定され（Ｓ１０１）、フォーカスサーチが開始される（Ｓ１０２）。かかるフォーカスサーチ時に、サーボ回路２０６は、フォーカスエラー信号上のＳ字カーブをカウントし（Ｓ１０３）、そのカウント値が目標レイヤーに対応するカウント値（目標値）となったかを判別する（Ｓ１０４）。ここで、目標値は、フォーカスサーチ開始時に、コントローラ２０７からサーボ回路２０６に供給される。
【００４２】
しかる後、Ｓ字カーブのカウント値が目標値になると（Ｓ１０４：ＹＥＳ）、サーボ回路２０６は、フォーカスサーチを終了し、フォーカスサーボを開始する（Ｓ１０５）。これにより、レーザ光の焦点が目標レイヤーに引き込まれる。その後、レーザ光が当該レイヤーの管理領域（たとえば、ピット形成領域）にアクセスされ、当該管理領域の再生が行われる（Ｓ１０６）。この管理領域には、当該レイヤーの識別情報（たとえば、レイヤー番号）等が保持されている。管理領域の再生情報（管理情報）は、デコーダ２０５からコントローラ２０７に供給される。
【００４３】
コントローラ２０７は、デコーダ２０５から供給された管理情報を参照し、フォーカス引き込みが行われたレイヤーが目標レイヤーであるかを判別する（Ｓ１０７）。ここで、フォーカス引き込みが行われたレイヤーが目標レイヤーでなければ（Ｓ１０７：ＮＯ）、Ｓ１０２に戻り、再び、目標領域に対するフォーカス引き込みが行われる。他方、フォーカス引き込みが行われたレイヤーが目標レイヤーであれば（Ｓ１０７：ＹＥＳ）、当該レイヤーに対する再生処理が行われる(Ｓ１０８)。
【００４４】
以上、本実施例によれば、奇数番目のレイヤーにて反射されたレーザ光は光検出器１１２に導かれ、また、偶数番目のレイヤーにて反射されたレーザ光は光検出器１１４に導かれるため、目標レイヤーに隣接する上下のレイヤーからの不要な反射光（迷光）が目標レイヤーからの反射光（信号光）を受光する光検出器に入射することはない。よって、迷光によるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号および再生ＲＦ信号の品質劣化を抑制することができ、再生動作（および記録動作）の円滑化ないし適正化を図ることができる。
【００４５】
なお、本実施例では、たとえば、レイヤー３の再生時に、レイヤー１およびレイヤー５にて反射された光（迷光）が光検出器１１２に同時に入射することとなる。しかし、レイヤー１とレイヤー５は、目標レイヤーたるレイヤー３から層間方向に大きく離れているため、レイヤー１とレイヤー５にて反射された光（迷光）は、光検出器１１２上において大きく広がり、光検出器１１２からの信号には殆ど影響しないものとなる。よって、このようにレイヤー１とレイヤー５にて反射された光（迷光）が光検出器１１２に同時に入射しても、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号および再生ＲＦ信号の品質は殆ど劣化しない。
【００４６】
＜実施例２＞
上記実施例１では、偏光ビームスプリッタ１１０と２つの光検出器１１２、１１４とを配して奇数番目のレイヤーからの反射光と偶数番目のレイヤーからの反射光を個別に受光するようにした。これに対し、本実施例では、液晶素子と偏光板を用いることにより、一つの光検出器にて、奇数番目のレイヤーからの反射光と偶数番目のレイヤーからの反射光を区別して受光できるよう構成されている。
【００４７】
図６に、本実施例に係る光ピックアップ装置の構成を示す。図２の構成と同一部分には同一符号が付されている。なお、ディスク１０の構成は、上記実施例１と同じである。
【００４８】
本実施例では、ビームスプリッタ１０３とアナモレンズ１１１の間に、液晶素子１２１と偏光板１２２が配されている。液晶素子１２１は、印加電圧に応じてレーザ光の偏光方向を回転させる。液晶素子１２１は、印加電圧ＯＦＦの状態ではレーザ光の偏光方向を回転させず、電圧Ｖ１が印加された状態にてレーザ光の偏光方向を９０度回転させる。偏光板１２２は、透過軸の方位がＰＨ方向に平行となるよう配置されている。
【００４９】
したがって、本実施例では、液晶素子１２１に印加電圧が印加されない状態（ＯＦＦ状態）において、偏光方向がＰＨ方向である奇数番目のレイヤーからの反射光が光検出器１１２に導かれ、液晶素子１２１に電圧Ｖ１が印加された状態（ＯＮ状態）において、偏光方向がＰＶ方向である偶数番目のレイヤーからの反射光が光検出器１１２に導かれる。
【００５０】
図７に、本実施例に係る光ディスク装置の構成を示す。なお、同図には、再生に関連する回路系のみが示されている。また、図３の構成と同一部分には同一符号が付されている。
【００５１】
上記実施例１では、光ピックアップ装置２０１内に２つの光検出器１１２、１１４が配されていたため、信号演算回路２０３内に２つの演算部２０３ａ、２０３ｂが配されていたが、本実施例では、光ピックアップ装置２０１内に配された光検出器は光検出器１１２のみであるため、信号演算回路２１１には一つの演算部のみが配されている。信号演算回路２１１は、光検出器１１２からの出力信号を演算処理してフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号と再生ＲＦ信号を生成し、対応する回路（サーボ回路２１２とデコーダ２０５）に出力する。
【００５２】
サーボ回路２１２は、上記実施例１における処理の他、コントローラ２０７からの指令に応じて、光ピックアップ装置２０１内の液晶素子１２１に駆動信号（電圧信号）を供給する。具体的には、目標レイヤーが奇数番目のレイヤーである場合には液晶素子１２１に電圧を印加せず、目標レイヤーが偶数番目のレイヤーである場合には液晶素子１２１に電圧Ｖ１を印加する。つまり、サーボ回路２１２は、コントローラ２０７からの指令に応じて、液晶素子１２１をＯＮ／ＯＦＦ制御する。
【００５３】
フォーカスサーチ時に液晶素子１２１がＯＦＦ状態に設定されると、信号演算回路２１１にて生成されるフォーカスエラー信号上には、図４のＦＥ１と同じタイミングにてＳ字カーブが現れる。また、フォーカスサーチ時に液晶素子１２１がＯＮ状態に設定されると、信号演算回路２１１にて生成されるフォーカスエラー信号上には、図４のＦＥ２と同じタイミングにてＳ字カーブが現れる。
【００５４】
したがって、奇数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合には、液晶素子１２１がＯＦＦ状態に設定してフォーカス引き込みを行えば良く、また、偶数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合には、液晶素子１２１がＯＮ状態に設定してフォーカス引き込みを行えば良い。
【００５５】
具体的には、奇数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合、液晶素子１２１をＯＦＦ状態に設定してＳ字カーブの個数がカウントされる。そして、目標レイヤーに対応するＳ字カーブの個数をカウントしたタイミングにてフォーカスサーボがオンされ、目標レイヤーに対するレーザ光の引き込みが行われる。また、偶数番目のレイヤーを目標レイヤーとする場合には、液晶素子１２１をＯＮ状態に設定してＳ字カーブの個数がカウントされる。そして、目標レイヤーに対応するＳ字カーブの個数をカウントしたタイミングにてフォーカスサーボがオンされ、目標レイヤーに対するレーザ光の引き込みが行われる。
【００５６】
図８に、再生動作時の処理フローを示す。
【００５７】
再生動作が開始されると、再生目標レイヤーに対応する駆動状態に液晶素子１２１が設定され（Ｓ１１１）、フォーカスサーチが開始される（Ｓ１１２）。かかるフォーカスサーチ時に、サーボ回路２１２は、フォーカスエラー信号上のＳ字カーブをカウントし（Ｓ１１３）、そのカウント値が目標レイヤーに対応するカウント値（目標値）となったかを判別する（Ｓ１１４）。ここで、目標値は、フォーカスサーチ開始時に、コントローラ２０７からサーボ回路２１２に供給される。
【００５８】
しかる後、Ｓ字カーブのカウント値が目標値になると（Ｓ１１４：ＹＥＳ）、サーボ回路２１２は、フォーカスサーチを終了し、フォーカスサーボを開始する（Ｓ１１５）。これにより、レーザ光の焦点が目標レイヤーに引き込まれる。その後、レーザ光が当該レイヤーの管理領域（たとえば、ピット形成領域）にアクセスされ、当該管理領域の再生が行われる（Ｓ１１６）。管理領域の再生情報（管理情報）は、デコーダ２０５からコントローラ２０７に供給される。
【００５９】
コントローラ２０７は、デコーダ２０５から供給された管理情報を参照し、フォーカス引き込みが行われたレイヤーが目標レイヤーであるかを判別する（Ｓ１１７）。ここで、フォーカス引き込みが行われたレイヤーが目標レイヤーでなければ（Ｓ１１７：ＮＯ）、Ｓ１１２に戻り、再び、目標領域に対するフォーカス引き込みが行われる。他方、フォーカス引き込みが行われたレイヤーが目標レイヤーであれば（Ｓ１１７：ＹＥＳ）、当該レイヤーに対する再生処理が行われる(Ｓ１１８)。
【００６０】
以上、本実施例によれば、奇数番目のレイヤーにて反射されたレーザ光と、偶数番目のレイヤーにて反射されたレーザ光の何れかが、液晶素子１２１の駆動状態に応じて光検出器１１２に導かれるため、目標レイヤーに隣接する上下のレイヤーからの不要な反射光（迷光）が光検出器１１２に入射することはない。よって、迷光によるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号および再生ＲＦ信号の品質劣化を抑制することができ、再生動作（および記録動作）の円滑化ないし適正化を図ることができる。
【００６１】
なお、本実施例においても、上記実施例１と同様、たとえば、レイヤー３の再生時に、レイヤー１およびレイヤー５にて反射された光（迷光）が光検出器１１２に同時に入射するが、上記実施例１にて説明した如く、レイヤー１とレイヤー５にて反射された光（迷光）は、光検出器１１２上において大きく広がるため、このようにレイヤー１とレイヤー５にて反射された光（迷光）が光検出器１１２に同時に入射しても、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号および再生ＲＦ信号の品質は殆ど劣化しない。
【００６２】
＜実施例３＞
上記実施例１、２では、一つの偏光回転層１３を往復すると偏光方向が９０度回転するよう構成されたが、図６の光ピックアップ装置および図７の光ディスク装置を用いる場合には、一つの偏光回転層１３を往復する際の偏光方向の回転量を９０度以外の角度に設定することも可能である。
【００６３】
図９は、一つの偏光回転層１３を往復する際の偏光方向の回転量が４５度である場合の液晶素子１２１の制御方法を説明する図である。
【００６４】
同図中、（ａ）の段には、目標レイヤーがレイヤー１である場合の、ビームスプリッタ１０３、液晶素子１２１、偏光板１２２、光検出器１１２への入射時のレーザ光（ディスク１０からの反射光）の偏光方向が両方向矢印にて示されている。同様に、（ｂ）〜（ｅ）の段には、それぞれ、目標レイヤーがレイヤー２〜レイヤー５である場合の、ビームスプリッタ１０３、液晶素子１２１、偏光板１２２、光検出器１１２への入射時のレーザ光（ディスク１０からの反射光）の偏光方向が両方向矢印にて示されている。
【００６５】
なお、実線で示す両方向矢印は、目標レイヤーにて反射されたレーザ光（信号光）の偏光方向であり、破線で示す両方向矢印は、目標レイヤーに隣接するレイヤーにて反射されたレーザ光（迷光）の偏光方向である。
【００６６】
まず、（ａ）の段を参照して、レイヤー１の再生時には、ビームスプリッタ１０３へ入射する際のレーザ光の偏光方向は、レイヤー１にて反射されたレーザ光（信号光）の偏光方向Ｓ１と、レイヤー２にて反射されたレーザ光（迷光）の偏光方向Ｓ２が混在した状態となっている。ここで、偏光方向Ｓ２は偏光方向Ｓ１に対し４５度傾いている。この場合、サーボ回路２１２は、液晶素子１２１をＯＦＦ状態に設定する。このため、信号光と迷光は、それぞれ、偏光方向Ｓ１およびＳ２のまま偏光板１２２に入射される。その結果、信号光は偏光板１２２をそのまま透過して光検出器１１２に入射し、迷光は偏光板１２２によって光量が５０％カットされた後、光検出器１１２に入射する。
【００６７】
次に、（ｂ）の段を参照して、レイヤー２の再生時には、ビームスプリッタ１０３へ入射する際のレーザ光の偏光方向は、レイヤー２にて反射されたレーザ光（信号光）の偏光方向Ｓ２と、レイヤー１、レイヤー３にて反射されたレーザ光（迷光）の偏光方向Ｓ１、Ｓ３が混在した状態となっている。ここで、偏光方向Ｓ１、Ｓ３は偏光方向Ｓ２に対し４５度傾いている。この場合、サーボ回路２１２は、偏光方向を同図の時計方向に４５度回転させるよう液晶素子１２１を駆動する。このため、信号光の偏光方向Ｓ２は偏光板１２２の透過軸の方位に平行な方向に変換され、迷光の偏光方向Ｓ１、Ｓ３は、それぞれ、偏光板１２２の透過軸の方位に対し４５度傾く方向に変換される。その結果、信号光は偏光板１２２をそのまま透過して光検出器１１２に入射し、迷光は偏光板１２２によって光量が５０％カットされた後、光検出器１１２に入射する。
【００６８】
（ｂ）の段と同様に、レイヤー３、４の再生時において、サーボ回路２１２は、偏光方向を同図の時計方向にそれぞれ９０度および１３５度回転させるよう液晶素子１２１を駆動する。このため、レイヤー３の再生時には、（ｃ）の段に示す如く、信号光の偏光方向Ｓ３が偏光板１２２の透過軸の方位に平行な方向に変換され、また、レイヤー４の再生時には、（ｄ）の段に示す如く、信号光の偏光方向Ｓ４が偏光板１２２の透過軸の方位に平行な方向に変換される。その結果、レイヤー３、４の再生時において、信号光は偏光板１２２をそのまま透過して光検出器１１２に入射し、迷光は偏光板１２２によって光量が５０％カットされた後、光検出器１１２に入射する。
【００６９】
さらに、（ｅ）の段を参照して、レイヤー５の再生時には、ビームスプリッタ１０３へ入射する際のレーザ光の偏光方向は、レイヤー５にて反射されたレーザ光（信号光）の偏光方向Ｓ５と、レイヤー４およびレイヤー６にて反射されたレーザ光（迷光）の偏光方向Ｓ４およびＳ６が混在した状態となっている。ここで、偏光方向Ｓ５は、偏光板１２２の透過軸の方位に平行である。この場合、サーボ回路２１２は、液晶素子１２１をＯＦＦ状態に設定する。これにより、信号光と迷光は、それぞれ、偏光方向Ｓ５と偏光方向Ｓ４およびＳ６のまま偏光板１２２に入射される。その結果、信号光は偏光板１２２をそのまま透過して光検出器１１２に入射し、迷光は偏光板１２２によって光量が５０％カットされた後、光検出器１１２に入射する。
【００７０】
レイヤー６以降を再生する際のビームスプリッタ１０３入射時のレーザ光（ディスク１０からの反射光）の偏光方向は、順次、（ｂ）〜（ｅ）の段における偏光方向が繰り返されることとなる。よって、レイヤー６以降を再生する際には、（ｂ）〜（ｅ）の段を参照して説明したと同様に液晶素子１２１が駆動制御される。これにより、信号光は偏光板１２２をそのまま透過して光検出器１１２に入射し、迷光は偏光板１２２によって光量が５０％カットされた後、光検出器１１２に入射するようになる。
【００７１】
本実施例においても、光検出器１１２に対する迷光の入射を抑制することができるため、信号品質を高めることができる。ただし、本実施例では、迷光の５０％が光検出器１１２に入射するため、上記実施例１、２に比べ、信号品質がやや劣化する。なお、偏光板１２２を、ＰＨ方向にほぼ整合する偏光方向の光のみを選択的に透過するような光学素子に置き換えれば、迷光が光検出器１１２に入射するのを抑制できる。よって、この場合には、上記実施例１、２と同様の効果が奏され得る。
【００７２】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に何ら制限されるものではない。また、本発明の実施形態も、上記の他、適宜、種々の変更が可能である。
【００７３】
たとえば、図６の構成では、液晶素子１２１によって偏光板１２２に対するレーザ光の偏光方向を回転させるようにしたが、液晶素子１２１を配さずに、偏光板１２２をレーザ光軸を軸として回転させる機構を配するようにしても良い。この場合、この回転機構は、サーボ回路２１２からの制御信号に応じて、透過軸の方位が信号光の偏光方向に平行となるよう偏光板１２２を回転させる。
【００７４】
また、液晶素子１２１に代えて１／２波長板をレーザ光の光路に対し挿脱させる機構を配するようにしても良い。１／２波長板は、レーザ光の光路に挿入されることにより、レーザ光の偏光方向を９０度回転させるよう構成される。この場合、この挿脱機構は、奇数番目のレイヤーを再生する場合には１／２波長板をレーザ光の光路から離脱させ、偶数番目のレイヤーを再生する場合に１／２波長板をレーザ光の光路に挿入するよう駆動制御される。
【００７５】
なお、上記実施の形態では、光ディスク装置の再生系を示して説明を行ったが、本発明は、記録系においても優れた効果を奏するものである。すなわち、記録動作時にも迷光による各種エラー信号の劣化が抑制されるため、優れたサーボ動作を実現可能である。
【００７６】
本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】実施例１に係る光ディスクの構成を示す図
【図２】実施例１に係る光ピックアップ装置の構成を示す図
【図３】実施例１に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図４】実施例１に係るフォーカスサーチ時のフォーカスエラー信号を示す図
【図５】実施例１に係る光ディスク装置の再生時の処理フローを示す図
【図６】実施例２に係る光ピックアップ装置の構成を示す図
【図７】実施例２に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図８】実施例２に係る光ディスク装置の再生時の処理フローを示す図
【図９】実施例３に係るサーボ動作を説明する図
【符号の説明】
【００７８】
１０  光ディスク
１２  記録層
１３  偏光回転層
１５  記録層
１０１  半導体レーザ
１０７  対物レンズ
１１０  偏光ビームスプリッタ
１１２  光検出器
１１４  光検出器
１２１  液晶素子（偏光回転素子）
１２２  偏光板（光学素子）
２０１  光ピックアップ装置
２０３  信号演算回路
２０４  セレクタ
２０５  デコーダ
２０６  サーボ回路
２０７  コントローラ
２１１  信号演算回路
２１２  サーボ回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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