(57)【要約】【課題】光源の発光効率の改善、回折格子の回折効率の改善などの要因により、光検出器に入射する光の光量が大きく増加した場合でも、正確な吸光度測定を可能とする。【解決手段】電源投入時やバリデーションチェック時に、重水素ランプ１０を点灯させて波長２３５ｎｍの光に対する検出信号のＡ／Ｄ変換出力値を取得する。データ処理部２２では、予め（通常、本装置の製造段階で）決められて記憶部２４に格納されている上限値と上記出力値を比較し、後者が前者以上である場合には、制御部２４はアパーチャ駆動部３１を駆動して可動アパーチャ３０により光量を絞る。これにより、過剰な光量が光検出器１９に入射することがなくなり、試料溶液１８による吸光がない場合における測定を正確に行うことができ、それによって試料容器１８による吸光度も正確に計算可能となる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料に測定光を照射するための光源と、測定光に対して試料から得られる光を検出する光検出器と、前記光源と試料との間の光路上又は試料と前記光検出器との間の光路上に配設された分光手段と、前記光検出器で得られる信号を処理する処理手段と、を具備する分光光度計において、
a)前記処理手段で処理可能な信号レベルの上限に基づいて予め決められた閾値を記憶させておくための記憶手段と、
b)当該装置の起動時及び／又はバリデーションチェック時に、前記光源を点灯した状態で、信号強度が最大となる波長における前記光検出器による検出信号又は前記処理手段に入力される信号値を検出する信号取得手段と、
c)前記信号取得手段により得られた信号値を前記記憶手段に記憶されている前記閾値と比較し、前記信号値が前記閾値を超えている場合に動作異常であると判断する異常検知手段と、
を備えることを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
請求項１に記載の分光光度計であって、前記異常検知手段により動作異常であると判定されたときに異常を報知する異常報知手段を備えることを特徴とする分光光度計。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の分光光度計であって、前記光源から前記検出器までの光路上に挿入された光量を絞るための光量調整手段と、前記異常検知手段により動作異常であると判定されたときに前記信号値が前記閾値以下に収まるように前記光量調整手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする分光光度計。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の分光光度計であって、前記光検出器と前記処理手段との間にあって信号を減衰させるための信号減衰手段と、前記異常検知手段により動作異常であると判定されたときに前記処理手段に入力される信号値が前記閾値以下に収まるように前記信号減衰手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする分光光度計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は分光光度計に関し、さらに詳しくは、試料に測定光を照射し該試料により吸収を受けた光を測定する分光光度計に関する。なお、こうした分光光度計は単独で用いられるほか、液体クロマトグラフの検出器としてもよく用いられる。
【背景技術】
【０００２】
液体クロマトグラフの検出器として、分光光度計を利用した吸光度検出器がよく用いられる。図７は、特許文献１などに記載の従来から知られている吸光度検出器の光学系の概略構成図である。光源である重水素ランプ１０からの出射光は回折格子１４に導入され、回折格子１４で波長分散される。その波長分散光の中で特定の波長を有する光がスリット１６で取り出され、試料溶液１８が収容された試料セル１７に照射される。この照射光に対し試料セル１７を透過した光の光強度（光量）をフォトダイオード等の光検出器１９で検出し、得られた電流信号をＩ／Ｖ変換回路部２０で電圧信号に変換した後にＡ／Ｄ変換器２１によりデジタルデータに変換してデータ処理部２２へ送る。
【０００３】
試料溶液１８が光を吸収すると、吸収がない状態での光量測定値に比べて値が下がり、その減衰の程度は試料溶液１８中の成分濃度に依存する。したがって、試料溶液１８の有無における光量の変化量、つまり吸光度量を高い精度で求めることにより、試料溶液中の成分の定量を行うことができる。また、回折格子１４はモータ等を含む回折格子駆動部１５により所定角度範囲で回転可能となっており、この角度によって、スリット１６を通して取り出される、つまり試料セル１７に照射される測定光の波長が決まる。したがって、例えば回折格子１４を所定の微小角度ずつステップ状に回転させながら、透過光の光強度を測定することにより、データ処理部２２では吸光度スペクトルを得ることができる。
【０００４】
上記のような吸光度に基づく成分の定量は、試料溶液１８による光の吸収がない状態及び光の吸収がある状態での光量をそれぞれ正確に測定できることが前提である。しかしながら、データ処理部２２に与えられる光量データには、次のような様々なばらつきの影響が含まれる可能性がある。
（１）重水素ランプ１０の輝度のばらつき
（２）回折格子１４の回折効率のばらつき
（３）スリット１６の幅のばらつき
（４）試料セル１７の光透過窓の大きさや透過率のばらつき
（５）光検出器１９の光電変換効率のばらつき
（６）Ｉ／Ｖ変換回路部２０での変換ゲイン等の電気的特性のばらつき
（７）Ａ／Ｄ変換器２１でのアナログ信号の読取誤差
従来は、上記（１）〜（７）などの各種の要因を考慮した上で、試料溶液１８による光の吸収がない状態の光量データ（Ａ／Ｄ変換器２１出力）が飽和することがないように、Ｉ／Ｖ変換回路部２０でのゲインが決められている。
【０００５】
上記のような様々な要因のうち、（３）〜（７）のばらつきは通常１％を十分に下回る程度に小さいが、（１）及び（２）のばらつきは数十％程度以上になる場合がある。これは、重水素ランプの発光効率や回折格子の回折効率の改善が目覚ましいためであり、ユーザが保有している吸光度検出器において光源や回折格子を特性が改善された新品に交換すると、試料溶液による吸光がない状態での光量データがその交換前より数十％程度も増加する場合がある。
【０００６】
上記理由により、最悪の場合、試料溶液による吸光がない場合の光量エネルギーが予め想定された上限値を超えてしまうおそれがあるが、そうなると、データ処理部２２では吸光度の計算が正常に行えなくなり、不正確な定量結果を出力することになる。ユーザは上記のように測定が異常であることに気付かないため、そうして出力された定量結果を信頼して解析レポートを作成したり分析依頼者に提供したりするという問題が生じる。
【０００７】
【特許文献１】特開2002-202189号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その第１の目的とするところは、光源や回折格子の交換などに伴い、正常な測定が行えない状態になった場合に、これを確実にユーザに知らせることにより、不正確な測定を行うことを回避することができる分光光度計を提供することにある。
【０００９】
また本発明の第２の目的とするところは、光源や回折格子の交換などに伴って光検出器に到達する光の光量が大きく増加するような場合でも、吸光度の演算を正確に行うことができる分光光度計を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するためになされた本発明は、試料に測定光を照射するための光源と、測定光に対して試料から得られる光を検出する光検出器と、前記光源と試料との間の光路上又は試料と前記光検出器との間の光路上に配設された分光手段と、前記光検出器で得られる信号を処理する処理手段と、を具備する分光光度計において、
a)前記処理手段で処理可能な信号レベルの上限に基づいて予め決められた閾値を記憶させておくための記憶手段と、
b)当該装置の起動時及び／又はバリデーションチェック時に、前記光源を点灯した状態で、信号強度が最大となる波長における前記光検出器による検出信号又は前記処理手段に入力される信号値を検出する信号取得手段と、
c)前記信号取得手段により得られた信号値を前記記憶手段に記憶されている前記閾値と比較し、前記信号値が前記閾値を超えている場合に動作異常であると判断する異常検知手段と、
を備えることを特徴としている。
【００１１】
ここで、処理手段は、例えば光検出器による電流信号を電圧信号に変換する電流／電圧変換回路と、その電圧信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、を含むものとすることができる。この場合、処理手段で処理可能な信号レベルとは、通常、電流／電圧変換回路の演算増幅器の出力上限値又はＡ／Ｄ変換器の入力上限値となる。これらの値のばらつきは、光源の光量のばらつきなどに比べて格段に小さいため、当該装置の製造段階で上記閾値は一意に決めることができる。したがって、製造段階において例えば実験的に決められた閾値を記憶手段に、例えばEEPROMなどの不揮発性メモリに記憶させておけばよい。
【００１２】
本装置が使用される際に電源が投入されると或いはバリデーションチェックが実行されると、信号取得手段は、光源を点灯させ、試料による吸収がない状態で、信号強度が最大となる波長における光検出器による検出信号又は処理手段に入力される信号値を検出する。ここで、「信号強度が最大となる波長」とは、必ずしも最大でなくてもそれに近い値を与える波長であればよい。このときに検出された信号値が上記閾値を超える場合には、光検出器に入射する光量が過大で信号値が飽和しているおそれがあり、試料による吸光度を正確に求めることができない可能性が高い。この場合には、異常検知手段は動作異常であると判断する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係る分光光度計の一実施態様として、上記異常検知手段により動作異常であると判定されたときに異常を報知する異常報知手段を備える構成とするとよい。ここでの報知は表示、音、或いはそれらの併用とすることができる。このような異常報知により、分析担当者は実際に分析を行う前に、装置の状態が正常な吸光度を測定できない状態であることを認識することができるので、無駄な測定を実行することを回避できる。また、光源や分光手段などの不適切な交換などといった動作異常の要因を解明し、正常な測定が行えるように迅速な対応を採ることができる。
【００１４】
また、上述のような動作異常が検知された場合に、そうした動作異常を回避できるような調整手段が設けられているとさらに好ましい。即ち、本発明の別の実施態様として、前記光源から前記検出器までの光路上に挿入された光量を絞るための光量調整手段と、前記異常検知手段により動作異常であると判定されたときに前記信号値が前記閾値以下に収まるように前記光量調整手段を制御する制御手段と、を備える構成とするとよい。ここで光量調整手段としては、光の通過範囲の大きさが可変であるアパーチャ、或いは光の透過効率が相違するフィルタなどを用いた構成とすることができる。
【００１５】
また別の実施態様として、前記光検出器と前記処理手段との間にあって信号を減衰させるための信号減衰手段と、前記異常検知手段により動作異常であると判定されたときに前記処理手段に入力される信号値が前記閾値以下に収まるように前記信号減衰手段を制御する制御手段と、を備える構成としてもよい。ここで信号減衰手段は例えばＡＧＣ（オートゲインコントロール）アンプなどとすることができる。
【００１６】
このように機械的或いは電気的な調整手段を設けることにより、例えば光源を光量の大きなものに交換したり分光手段の回折格子を回折効率の良好なものに交換したりした場合でも、サービス担当者などに依頼することなく、正常な吸光度測定が行える状態に装置状態を修正することができる。したがって、ユーザにとっては総合的なコスト負担が軽減され、測定機会の損失もなくなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る分光光度計の第１の実施例（以下「実施例１」という）である吸光分光光度計について、図１〜図３を参照しつつ説明する。図１は本実施例の吸光分光光度計の要部の構成図、図２は重水素ランプの概略的な発光スペクトル、図３は本実施例の吸光分光光度計における特徴的な動作を説明するためのフローチャートである。図１において既に説明した図７と同じ構成要素については同じ符号を付して説明を略す。
【００１８】
光源には、駆動部１１により点灯駆動される重水素ランプ１０のほかに、波長チェック用として駆動部１３により点灯駆動される低圧水銀ランプ１２が設けられている。この例では、重水素ランプ１０をシースルータイプとして、両ランプ１０、１２を同一光路上に設けているが、低圧水銀ランプ１２をシースルータイプとしたり、或いは同一光路上に配置されていない両ランプ１０、１２からの出射光を切り替えて１つの光路に送ったりするようにしてもよい。
【００１９】
ＣＰＵなどを含む制御部２５は、両ランプ１０、１２の駆動部１１、１３に対し点灯又は消灯の指示信号を送り、所定の波長光がスリット１６を通過するように回折格子駆動部１５に対し駆動信号を送るほか、それ以外の各構成要素の制御も統括的に行う。制御部２５には、ユーザが操作するキーボードなどの入力部２６と、測定結果を表示したり後述する異常報知表示を行うための表示部２７とが接続されている。また、データ処理部２２は、本実施例に特徴的な構成として、上限値データ記憶部２４と信号値判定部２３とを含む。この記憶部２４は、当該装置の電源が切断された場合でも記憶内容を保持し得る、例えばEEPROMなどの不揮発性メモリである。
【００２０】
この装置の製造メーカでは、本装置の製造段階（調整段階を含む）において、以下の手順で上限値データ記憶部２４に閾値としての上限値データを格納する。
即ち、試料セル１７を装着せずに、スリット１６を通過した光が直接（吸収を受けずに）光検出器１９に入射する状態にする。この状態で、作業者が入力部２６で所定の操作を行うと、制御部２５は、光検出器１９に入射する光の波長が２３５ｎｍとなるように回折格子１４の角度を設定するべく回折格子駆動部１５を制御する。そして、駆動部１１により重水素ランプ１０を点灯させ、重水素ランプ１０から放射される光の中で波長２３５ｎｍの単色光を光検出器１９に入射させる。
【００２１】
図２に示すように、重水素ランプ１０は波長２３５ｎｍ付近で光量エネルギーが最大となる。試料セル１７が装着されない状態では光は全く吸収を受けないため、光検出器１９に入射する光の光量エネルギーは過大となり、Ｉ／Ｖ変換回路部２０の出力は飽和する。例えば、このときのＡ／Ｄ変換器２１の出力値が３６００ｍＶに相当するデジタル値であったとすると、これがＩ／Ｖ変換回路部２０に含まれる演算増幅器の出力上限値である。そこでデータ処理部２２では、そのデジタル値から電気部品の特性のばらつきなどを考慮したマージンを見込んだ値を減じた値、或いは所定のマージンを乗じた値を計算し、これを上限値データＵと定めて上限値データ記憶部２４に格納する。例えば、減算を行うためのマージンとして１０％を見込むと、Ａ／Ｄ変換器２１の出力値が３６００ｍＶに相当するデジタル値である場合に上限値データＵは３２４０ｍＶに相当するデジタル値となる。
【００２２】
本装置を入手したユーザの側において、例えば電源投入時やバリデーションチェック時には、次のような動作異常判定処理が自動的に実行される。
【００２３】
例えば使用者の操作により装置の電源が投入されると（ステップＳ１）、通電がなされた制御部２５が作動し、まず重水素ランプ１０の０次光を検出することにより原点位置、つまり回折格子１４の回転動作の基準位置を設定する（ステップＳ２）。詳しく言うと、制御部２５は駆動部１１により重水素ランプ１０のみを点灯させ、回折格子駆動部１５を制御することで回折格子１４を徐々に回動させながら光検出器１９の検出信号に基づいて、０次光が検出される回転位置（例えば駆動用モータのステップ位置）を検出し、その位置を記憶する。次にステップＳ２で０次光の検出が正常に行えたか否かを判定し（ステップＳ３）、正常に行えなかった場合には、表示部２７により原点位置検出エラー表示を行って（ステップＳ１０）ステップＳ１３へ進む。
【００２４】
一方、０次光検出が正常に行えた場合には、次に、重水素ランプ１０の波長６５６ｎｍの輝線スペクトルと低圧水銀ランプ１２の波長２５４ｎｍの輝線スペクトルとを利用して、それぞれ波長ずれをチェックする（ステップＳ４）。詳しく言うと、まず制御部２５は駆動部１１により重水素ランプ１０のみを点灯させ、上記のように設定された原点位置を基準として回折格子駆動部１５の駆動用モータを駆動させ、光検出器１９の検出信号に基づいて、６５６ｎｍの輝線が得られるような駆動用モータのステップ位置を検出する。そして、駆動用モータのステップ数と波長設定値とについて予め決められた関係式により得られる理論上の６５６ｎｍの輝線位置と上記実測された６５６ｎｍの輝線位置との波長ずれを計算する。
【００２５】
また、同様に、制御部２５は駆動部１３により低圧水銀ランプ１２のみを点灯させ、上記のように設定された原点位置を基準として回折格子駆動部１５の駆動用モータを駆動させ、光検出器１９の検出信号に基づいて、２５４ｎｍの輝線が得られるような駆動用モータのステップ位置を検出する。そして、駆動用モータのステップ数と波長設定値とについて予め決められた関係式により得られる理論上の２５４ｎｍの輝線位置と上記実測された２５４ｎｍの輝線位置との波長ずれを計算する。
【００２６】
それから、上記２つの波長ずれが所定許容範囲内、例えば±１ｎｍ以内であるか否かを判定し（ステップＳ５）、波長ずれが所定許容範囲内である場合に波長チェックが合格であると判断する。なお、ここでは、波長チェックが合格すれば、重水素ランプ１０の最大光量エネルギーを与える波長２３５ｎｍを含む全測定波長範囲において波長ずれがないものとみなしている。波長チェックで不合格になる場合には、表示部２７により波長チェックエラー表示を行って（ステップＳ１１）ステップＳ１３へ進む。
【００２７】
上記ステップＳ４、Ｓ５における波長チェックで合格した場合には、続いて、駆動部１１により重水素ランプ１０のみを点灯させ、スリット１６を通過して試料セル１７に当たる光の波長が２３５ｎｍになるように回折格子駆動部１５を制御する。そして、データ処理部２２は、その状態で、光検出器１９で得られる検出信号に基づくデータを、光量エネルギーの最大値Ｅとして取得する（ステップＳ６）。但し、光量エネルギーの最大値Ｅを与える波長が２３５ｎｍから若干ずれる場合もあるから、好ましくは、試料セル１７に当たる光の波長を２３５ｎｍを中心に所定の微小範囲（例えば±１ｎｍの範囲）で走査することにより、最大値を示す波長位置を見い出すようにするとよい。なお、このときには試料セル１７は所定位置に装填されているが、試料セル１７は空の状態であり、試料溶液１８による光の吸収はない。
【００２８】
データ処理部２２において信号値判定部２３は、上限値データ記憶部２４から格納されている上限値データＵを読み出し（ステップＳ７）、上記最大値Ｅが上限値データＵ未満であるか否かを判定する（ステップＳ８）。最大値Ｅが上限値データＵ以上である場合には、光検出器１９に入射する光の光量が過剰であって信号が飽和するおそれがある。そこで、最大値Ｅが上限値データＵ未満でない場合には、表示部２７により光源エネルギーオーバー表示を行って（ステップＳ１２）ステップＳ１３へと進む。一方、最大値Ｅが上限値データＵ未満である場合には、上記のような信号飽和のおそれがないので、装置動作は正常であると判断して（ステップＳ９）、動作異常判定処理を終了して次の処理へと進む。
【００２９】
ステップＳ１０、Ｓ１１、Ｓ１２でそれぞれ原点位置検出エラー表示、波長チェックエラー表示、 光源エネルギーオーバー表示のいずれかを行った場合には、装置動作が異常であると判断されて（ステップＳ１３）動作異常判定処理を終了する。一般的には、重水素ランプ１０や回折格子１４が本装置の購入時のままであれば（つまり交換されていなければ）最大値Ｅが上限値データＵ以上となることはなく、動作異常と判断されることはない。これに対し、本装置の購入後に重水素ランプ１０が交換された場合には発光光量が、回折格子１４が交換された場合には回折効率が、それぞれ大幅にアップしていることがあり、そうした要因により最大値Ｅが上限値データＵ以上となることがある。この場合には、試料溶液１８による吸収がない状態で取得されるデータの信頼性が低く吸光度を正確に計算できないおそれがあるが、光量エネルギーオーバー表示がなされるので、使用者は試料の測定を実行せずに済む。
【００３０】
なお、電源投入時のみならず、装置動作の検証を行うバリデーションチェック時にも同様の動作異常判定処理を実行することができるし、或いは、それ以外にも、例えば入力部２６で所定の操作が実行されたときに同様の動作異常判定処理を実行するようにしてもよい。
【００３１】
次に、本発明に係る分光光度計の第２の実施例（以下「実施例２」という）である吸光分光光度計について、図４〜図６を参照しつつ説明する。図４は本実施例の吸光分光光度計の要部の構成図、図５は光量調整のためのアパーチャの概略斜視図、図６は本実施例の吸光分光光度計における特徴的な動作を説明するためのフローチャートである。図４において既に説明した図１、図７と同じ構成要素については同じ符号を付して説明を略す。
【００３２】
この実施例の構成では、回折格子１４とスリット１６との間の光路上に、光量を絞るための可動アパーチャ３０が設置されている。可動アパーチャ３０は、図５に示すように、回折格子１４による波長分散方向と直交する方向に移動可能な２枚のアパーチャ板３０ａ、３０ｂを含み、このアパーチャ板３０ａ、３０ｂがモータ等を含むアパーチャ駆動部３１により互いに近接するように狭められることで光量の絞りが達成される。また、制御部２５はデータ処理部２２の信号値判定部２３の判定結果を受けてアパーチャ駆動部３１の動作を制御する機能を有する。
【００３３】
もちろん、可動アパーチャ３０の構造はこれに限らず、様々な変形が考えられる。また、可動アパーチャ３０を挿入する位置は、重水素ランプ１０から光検出器１９までの間の光路上であれば、どこに挿入してもよい。また、光の一部を遮蔽する構造ではなく、遮光フィルタを光路中に挿入する等、別の光量調整方法を採ることもできる。
【００３４】
次に、本実施例の分光光度計において、例えば電源投入時やバリデーションチェック時に実行される特徴的な自動調整処理について図６に従って説明する。例えば電源投入時には、実施例１のステップＳ１〜Ｓ５の処理が実行され、ステップＳ５の処理でＹと判定された後に図６中のステップＳ２１の処理が実行される。まず、データ処理部２２はタイムアウトカウント用のカウント値ＣＴを０にリセットする（ステップＳ２１）。その後に、上述したステップＳ６〜Ｓ８と同じステップＳ２２〜Ｓ２４の処理を実行する。
【００３５】
ステップＳ２４で最大値Ｅが上限値Ｕ未満でないと判定された場合、カウント値ＣＴが予め決められたタイムアウト値に達しているか否かを判定する（ステップＳ２５）。そして、カウント値ＣＴがタイムアウト値に達していなければ、制御部２５はアパーチャ駆動部３１を駆動し、可動アパーチャ３０の開口を所定ステップ幅だけ狭める（ステップＳ２６）。これにより、試料セル１７に照射される光の光量は減少し、光検出器１９による検出信号も下がることになる。その後、カウント値ＣＴを１だけ増加させて（ステップＳ２７）ステップＳ２２へと戻る。
【００３６】
したがって、カウント値ＣＴがタイムアウト値に達しない間は、最大値Ｅが上限値Ｕ未満に収まるまで少しずつ可動アパーチャ３０の開口が狭められてゆくことになる。そして、最大値Ｅが上限値Ｕ未満になった時点で、ステップＳ２５からステップＳ２８へと進み、自動調整成功であると判断されて処理を終了する。一方、最大値Ｅが上限値Ｕ未満に収まる前にカウント値ＣＴがタイムアウト値に達してしまった場合には、ステップＳ２５からＳ２９へと進み、表示部２７にタイムアウトエラー表示を行い、自動調整失敗であると判断して（ステップＳ２９）処理を終了する。
【００３７】
このようにこの実施例２の分光光度計では、信号飽和が生じるほど光量が過剰であると判断された場合でもすぐにエラーとはならず、自動的に光量を絞って試料溶液１８による吸収がない状態での測定が正確に行えるように調整される。そのため、重水素ランプ１０や回折格子１４の交換など、通常のメンテナンスの範囲で起こり得る光量の増加についてはサービス担当者を呼ぶ必要がない。一方、タイムアウトエラー表示が行われた場合には、本当の故障である可能性が高く、サービス担当者を呼ぶ等の的確な対処が可能である。
【００３８】
なお、上述のように光検出器１９に入射する光量を減じることで信号飽和を回避する方法のほかに、電気的な信号の減衰を行うようにしてもよい。具体的には、光検出器１９とＩ／Ｖ変換回路部２０との間に減衰量可変のアッティネータを挿入したり、或いはＩ／Ｖ変換回路部２０のゲインを可変としたりすることが考え得る。こうした方法は、光検出器１９への光量が過剰で光検出器１９での光電変換で飽和が生じる場合には効果がないが、後段のＩ／Ｖ変換回路部２０やＡ／Ｄ変換器２１で信号飽和が生じる場合には十分に効果がある。
【００３９】
なお、上記実施例はいずれも本発明の一例にすぎず、本発明の趣旨の範囲で適宜変形、修正、追加などを行っても、本願特許請求の範囲に包含されることは当然である。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施例の吸光分光光度計の要部の構成図。
【図２】重水素ランプの概略的な発光スペクトル。
【図３】本実施例の吸光分光光度計における特徴的な動作を説明するためのフローチャート。
【図４】本発明の別の実施例の吸光分光光度計の要部の構成図。
【図５】光量調整のためのアパーチャの概略斜視図。
【図６】本実施例の吸光分光光度計における特徴的な動作を説明するためのフローチャート。
【図７】従来の吸光度検出器の光学系の概略構成図。
【符号の説明】
【００４１】
１０…重水素ランプ
１１、１３…駆動部
１２…低圧水銀ランプ
１４…回折格子
１５…回折格子駆動部
１６…スリット
１７…試料セル
１８…試料溶液
１９…光検出器
２０…Ｉ／Ｖ変換回路部
２１…Ａ／Ｄ変換器
２２…データ処理部
２３…信号値判定部
２４…上限値データ記憶部
２５…制御部
２６…入力部
２７…表示部
３０…可動アパーチャ
３０ａ、３０ｂ…アパーチャ板
３１…アパーチャ駆動部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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