(57)【要約】      （修正有）【課題】トランシーバモジュールにおけるジッタ測定を行うための方法および装置を提供する。【解決手段】装置は、トランシーバモジュールを備える。トランシーバモジュールは、レーザによって生成された光信号を受信し、光信号を電気信号に変換するように構成されるフォトダイオードを有する。トランシーバモジュールのジッタ測定回路は、電気信号を受信して、受信した電気信号に基づいてプロセッサにおいてジッタ性能を処理し、ジッタ測定値を生成する。ジッタ測定値は、光信号におけるジッタの量を示す。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザによって生成される光信号を受信して電気信号に変換するように構成されるフォトダイオードと、
前記電気信号を受信し、該受信した電気信号に基づいてジッタ測定値を生成するように構成されるジッタ測定回路とを備え、前記ジッタ測定値は、前記光信号におけるジッタの量の表示を提供する、トランシーバモジュール。
【請求項２】
前記レーザは、データを送信するために用いられる当該トランシーバモジュールのレーザであり、前記レーザによって生成される前記光信号は、光データ信号に対応し、前記フォトダイオードは、当該トランシーバモジュールに含まれるモニタフォトダイオードであり、光フィードバックを監視する前記モニタフォトダイオードは、前記レーザによって生成される前記光信号の少なくとも一部に対応し、受信された前記光信号の一部を電気フィードバック信号に変換し、電気フィードバック信号は、前記ジッタ測定回路によって受信される前記電気信号に対応する、請求項１に記載のトランシーバモジュール。
【請求項３】
前記レーザは、当該トランシーバモジュールの外部にあるレーザであり、前記フォトダイオードによって受信される前記光信号は、当該トランシーバモジュールの外部にある前記レーザによって生成される光信号であり、前記フォトダイオードは、当該トランシーバモジュールの受信器部分の受信用フォトダイオードであり、前記ジッタ測定回路によって受信された前記電気信号は、前記受信用フォトダイオードが前記光信号を受信して前記電気信号に変換することを受けて、該受信用フォトダイオードによって生成される電気信号に対応する、請求項１に記載のトランシーバモジュール。
【請求項４】
前記モニタフォトダイオードは、前記レーザによって生成される前記光信号に含まれるデータを検出して復元することができる高速フォトダイオードである、請求項２に記載のトランシーバモジュール。
【請求項５】
前記ジッタ測定回路は、前記ジッタ測定値を生成する周波数検出器を備える、請求項１に記載のトランシーバモジュール。
【請求項６】
前記周波数検出器は、位相ロックループ（ＰＬＬ）であり、該ＰＬＬは、位相比較器、ループフィルタおよび電圧制御発振器（ＶＣＯ）を備え、前記位相比較器は、ジッタ測定回路によって受信された電気信号とＶＣＯのクロック信号との間の位相差を獲得し、前記ループフィルタは、位相差を受信し、ＶＣＯによって用いられる制御電圧信号を生成して、ＶＣＯクロック信号の周波数を調整し、前記制御電圧信号は、ジッタ測定値に対応する、請求項５に記載のトランシーバモジュール。
【請求項７】
プロセッサをさらに備え、該プロセッサは、前記ジッタ測定値を受信し、該ジッタ測定値を処理して、該ジッタ測定値を前記光信号に含まれるジッタの量に相関させる、請求項５に記載のトランシーバモジュール。
【請求項８】
前記プロセッサは、前記光信号に含まれるジッタの実際の量に基づき、前記レーザが機能しなくなる確率を決定するアルゴリズムを実行する、請求項７に記載のトランシーバモジュール。
【請求項９】
前記ジッタ測定値は、当該トランシーバモジュールと通信中であるホストコンピュータに送信される、請求項５に記載のトランシーバモジュール。
【請求項１０】
前記ＰＬＬは、当該トランシーバモジュールのクロックおよびデータ復元（ＣＤＲ）回路の一部である、請求項６に記載のトランシーバモジュール。
【請求項１１】
トランシーバモジュールにおいてジッタ測定を行うための方法であって、
トランシーバモジュールのフォトダイオードによって、入力光信号を電気信号に変換することと、
前記トランシーバモジュールのジッタ測定回路において、電気信号を受信し、該電気信号に基づいてジッタ測定値を生成することと、
前記トランシーバモジュールのプロセッサにおいて、前記ジッタ測定値を受信し、該ジッタ測定値を前記光信号におけるジッタの量に相関させることとを備える、方法。
【請求項１２】
前記入力光信号は、当該トランシーバモジュールの前記レーザによって生成され、該レーザによって生成される前記光信号は、光データ信号に対応し、前記フォトダイオードは、前記レーザによって生成される前記光信号の少なくとも一部に対応する光フィードバックを監視し、監視された光信号の一部を電気フィードバック信号に変換するモニタフォトダイオードであり、前記電気フィードバック信号は、ジッタ測定回路によって受信される電気信号に対応する、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記入力光信号は、当該トランシーバモジュールの外部の前記レーザによって生成され、前記フォトダイオードによって受信される光信号は、当該トランシーバモジュールの外部の前記レーザによって生成される光信号であり、前記フォトダイオードは、当該トランシーバモジュールの受信器部分の受信用フォトダイオードであり、前記ジッタ測定回路によって受信される前記電気信号は、受信用フォトダイオードが前記光信号を受信して前記電気信号に変換することを受けて、該受信用フォトダイオードによって生成される電気信号に対応する、請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
前記モニタフォトダイオードは、前記レーザによって生成される前記光信号におけるデータを検出して復元することができる高速フォトダイオードである、請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記ジッタ測定回路は、前記ジッタ測定値を生成する周波数検出器を備える、請求項１１に記載の方法。
【請求項１６】
前記周波数検出器は、位相ロックループ（ＰＬＬ）であり、該ＰＬＬは、位相比較器、ループフィルタおよび電圧制御発振器（ＶＣＯ）を備え、前記位相比較器は、前記ジッタ測定回路によって受信された前記電気信号と前記ＶＣＯのクロック信号との間の位相差を獲得し、前記ループフィルタは、位相差を受信し、前記ＶＣＯによって用いられる制御電圧信号を生成して、ＶＣＯクロック信号の周波数を調整し、該制御電圧信号は、前記ジッタ測定値に対応する、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
当該トランシーバモジュールのプロセッサにおいて、前記光信号におけるジッタの量に基づき、前記レーザが機能しなくなる確率を決定するアルゴリズムを実行することをさらに含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１８】
前記ジッタ測定値を当該トランシーバモジュールと通信中であるホストコンピュータに送信することをさらに含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１９】
前記ＰＬＬは、当該トランシーバモジュールのクロックおよびデータ復元（ＣＤＲ）回路の一部である、請求項１６に記載の方法。
【請求項２０】
前記レーザによって生成される前記光信号におけるジッタの量の測定値を取得するためのコンピュータプログラムであって、該プログラムは、コンピュータ読み出し可能媒体に格納される命令を含み、コンピュータ読み出し可能媒体は、トランシーバモジュールにあり、該媒体は、
ジッタ測定値を受信するための命令を備え、該ジッタ測定値は、前記トランシーバモジュールのジッタ測定回路によって受信される電気信号に基づいて該ジッタ測定回路によって生成され、前記電気信号は、前記トランシーバモジュールのフォトダイオードによって受信されて前記電気信号に変換されレーザによって生成された光信号に対応し、
前記ジッタ測定値を前記光信号におけるジッタの量に相関させるための命令を含む、コンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データが光導波路で送信および受信される光信号の形で通信される光ネットワークに関する。さらに詳細には、本発明は、ネットワークにわたる通信を中断することなく、測定機器の挿入および除去を行わなくても済むトランシーバモジュールにおけるジッタ性能を測定するための方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光通信ネットワークにおいて、トランシーバが光ファイバで光信号を送信および受信するために用いられる。トランシーバのレーザは、データを表す振幅変調された光信号を生成し、次に、そのデータがトランシーバに連結された光ファイバで送信される。図１は、光通信において一般に用いられる既知のトランシーバのブロック図を示し、レーザの平均出力パワーレベルを制御するために光フィードバックを用いる。トランシーバモジュール２は、送信器部分３および受信器部分４を含む。送信器部分３および受信器部分４は、トランシーバコントローラ６によって制御される。送信器部分３は、レーザドライバ１１およびレーザダイオード１２を含む。レーザドライバ１１は、電気信号をレーザダイオード１２に出力し、レーザダイオード１２を変調して、それを論理１および論理０に対応するパワーレベルを有する光信号を出力させる。トランシーバモジュール２の光学系（図示せず）は、レーザダイオード１２によって生成された可干渉光ビームを送信用光ファイバの端部（図示せず）に集束する。
【０００３】
低速のモニタフォトダイオード１４は、レーザダイオード１２の出力パワーレベルを監視し、アナログ／ディジタル変換器（ＡＤＣ）１５に供給されるそれぞれの電気アナログフィードバック信号を生成する。アナログ／ディジタル変換器（ＡＤＣ）１５は、電気アナログ信号を電気ディジタル信号に変換する。ディジタル信号は、トランシーバコントローラ６に入力される。トランシーバコントローラ６は、それらのディジタル信号を処理してレーザダイオード１２の平均出力パワーレベルを獲得する。コントローラ６は、制御信号をレーザドライバ１１に出力し、レーザドライバ１１にレーザダイオード１２へのバイアス電流信号出力を調整させ、レーザダイオード１２の平均出力パワーレベルが、相対的に一定のレベルで維持されるようにする。
【０００４】
受信器部分４は、受信用光ファイバの端部（図示せず）から入ってくる光信号出力を受信する受信用フォトダイオード２１を含む。受信器部分４の光学系（図示せず）は、受信用光ファイバの端部からの光出力を受信用フォトダイオード２１の中に集束する。受信用フォトダイオード２１は、入ってくる光信号出力を電気アナログ信号に変換する。ＡＤＣ２２は、電気アナログ信号をトランシーバコントローラ６によって処理するのに適した電気ディジタル信号に変換する。トランシーバコントローラ６は、ディジタル信号を処理して、該信号によって表されるデータを復元する。
【０００５】
レーザの平均出力パワーレベルに加えて、レーザによって生成される光信号に関連する測定を行うことが望ましいことが時々ある。例えば、ジッタ性能を測定するために、ネットワークにおいて試験が広く行われている。レーザによって生成される光信号に対してジッタ性能は、光信号が論理１パワーレベルから論理０パワーレベルへ（下降エッジ）のレーザの遷移または論理０パワーレベルから論理１パワーレベルへ（上昇エッジ）のレーザの遷移におけるタイミングの変動に関連している。ジッタは本質的に、対応する理想の波形の位相から光信号の位相におけるわずかな変動である。トランシーバのレーザによって生成される信号におけるジッタが多すぎる場合には、光信号を受信する受信器は、論理０パワーレベルを検出するべきである場合に、論理１パワーレベルを検出する可能性があり、その逆も起こり得る。
【０００６】
ジッタ性能は、ネットワークに挿入される試験機器を用いることによって通常は測定される。ネットワークにおける試験機器の挿入は、ネットワークを停止させる必要があり、時間がかかって厄介である。同様に、測定後に試験機器の除去が行われ、ネットワークを元に戻すことも、時間がかかって厄介である。さらに、処理全体を通じて、ネットワークが停止された時間から元に戻すまで、通信が遮断されるため、当然のことながら望ましくない。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ネットワークへの機器の挿入およびネットワークから機器の除去を必要としないジッタ性能を測定するための方法を提供することが望ましい。また、ネットワーク上の通信を遮断することなく、実時間でこれらの測定を行うための方法を提供することも望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、トランシーバモジュールにおけるジッタ性能を測定するための方法および装置を提供する。実施形態によれば、装置は、トランシーバモジュールを備える。トランシーバモジュールは、レーザによって生成された光信号を受信し、光信号を電気信号に変換するように構成されるフォトダイオードを有する。トランシーバモジュールのジッタ測定回路は、電気信号を受信して、受信した電気信号に基づいてジッタ測定値を生成する。ジッタ測定値は、光信号におけるジッタの量を示す。
【０００９】
実施形態によれば、本方法は、フォトダイオードによって入力光信号を電気信号に変換することと、トランシーバモジュールのジッタ測定回路において電気信号を受信することと、電気信号に基づいてジッタ測定回路におけるジッタ測定値を生成することと、トランシーバモジュールのプロセッサにおけるジッタ測定値を受信することと、光信号におけるジッタの量を相関するために、プロセッサにおいてジッタ性能を処理することとを備える。
【００１０】
本発明のこれらの特徴および他の特徴および利点は、以下の説明、図面および特許請求の範囲から明白となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明によれば、本方法および装置は、トランシーバモジュールの中で実時間におけるジッタ性能の測定を提供する。従って、これらの測定を行うために、ネットワークに挿入し、ネットワークから除去しなければならない高価な試験機器を用いる必要性がない。さらに、測定は、ネットワークにわたる通信において遮断されることなく、常に行われることができるため、ジッタ性能は、より近くで、より頻繁に監視されることができ、ネットワークにおける故障を生じ得る問題のよりよくかつより簡単な診断を促進することができる。
【００１２】
図２は、トランシーバモジュールのレーザによって生成される光信号におけるジッタを測定するための回路を有する例示の実施形態によるトランシーバモジュールのブロック図を示している。本実施形態によれば、ジッタを測定するためのトランシーバモジュールにおける回路は、トランシーバモジュールの送信器部分にある。トランシーバモジュール３０は、トランシーバモジュールコントローラ４０、レーザドライバ４１、レーザ４２、高速モニタフォトダイオード５０、トランスインピーダンス増幅器（ＴＩＡ）６１、平均振幅測定回路６２、帯域通過フィルタ７２、線形ポスト増幅器（ＬＰＡ）７３、ジッタ測定回路８０、高速受信用フォトダイオード８２、受信用ＴＩＡ８３、メモリデバイス９０およびディジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ）１００を含む。
【００１３】
図１に示された既知のトランシーバモジュールを参照して上述したように、レーザ出力パワーを監視するために用いられるモニタフォトダイオードは通常、低速のフォトダイオードである。トランシーバモジュール３０において、高速のモニタフォトダイオード５０は、通常、１〜１０ギガヘルツ（ＧＨｚ）範囲で動作する高速レーザダイオードであるレーザ４２の出力パワーレベルを監視するために用いられる。低速モニタフォトダイオードは、レーザの平均出力パワーレベルのみが測定されているシステムにおいて用いるためには適しているが、ジッタにおいて生じる位相の変動は、低速モニタフォトダイオードによって測定するにはあまりにも急速に生じるため、低速モニタフォトダイオードは、ジッタ性能を測定する際に用いるためには適していない。本実施形態によって用いられる高速モニタフォトダイオード５０は、レーザ４２の光出力パワーを監視し、レーザ出力パワーレベルにおける変動と共に変化する振幅を有する信号を生成することができる任意のタイプの高帯域幅フォトダイオードであってもよい。種々のＰＩＮフォトダイオードが、この目的のために適し、例えば、インジウムガリウムヒ素（ＩｎＧａＡｓ）ＰＩＮフォトダイオードなどである。
【００１４】
レーザ４２は、レーザドライバ４１へのデータストリーム入力に基づき、レーザドライバ４１によって変調されるため、平均振幅測定回路６２は、ＴＩＡ６１から増幅された高速信号出力を受信する。平均振幅測定回路６２は、レーザの平均出力パワーレベルを測定するために、図１に示される上述の既知の光フィードバック回路において広く用いられているタイプの低帯域幅アナログ回路である。平均振幅測定回路６２は通常、低帯域フィルタデバイス（図示せず）を含むか、または低帯域フィルタデバイス（図示せず）によって前置される。低帯域フィルタデバイスは、高速ＴＩＡ６１から出力された信号を低帯域通過させ、レーザ４２の平均出力パワーレベルに対応する平均振幅測定値を生成する。この平均振幅測定値は、アナログ／ディジタル変換器（ＡＤＣ）８１によってディジタル平均振幅測定値に変換されるアナログ値である。ディジタル平均振幅測定値は次に、バイアス電流調整アルゴリズムに基づいて、コントローラ４０によって処理される。バイアス電流調整アルゴリズムは、最適なレベルまたは所望のレベル（通常は一定）でレーザ４２の平均出力パワーレベルを維持するために、その値に基づいて、レーザバイアス電流ＩＢＩＡＳの振幅を調整するかどうかおよびどれだけ調整するかを決定する。信号線５７は、コントローラ４０によってレーザドライバ４１に出力された制御信号を表し、レーザドライバ４１にＩＢＩＡＳの振幅を特定の値に設定させる。バイアス電流調整アルゴリズムは、その測定された平均出力パワーレベルに基づき、レーザの出力パワーレベルを調整するために用いられる既知のアルゴリズムであるため、本明細書においては簡潔にするために記載されていない。
【００１５】
ＴＩＡ６１から出力された増幅高速信号はまた、帯域通過フィルタ７２によっても受信される。帯域通過フィルタ７２は、レーザ４２によって送信されたデータの基本周波数に等しい中心周波数を有する。フィルタ７２は、ＴＩＡ６１から出力された信号に含まれる高い周波数の高調波をフィルタによって除去するかなり狭い帯域通過フィルタである。フィルタによって除去された信号は次に、ＬＰＡ７３によって増幅される。ＬＰＡ７３から出力された増幅信号は、ジッタ測定回路８０に入力される。ジッタ測定回路８０は、信号におけるジッタを測定し、図３を参照してさらに詳細に以下に述べるように、ディジタル化されたジッタ測定値を生成する。ジッタ測定値は次に、トランシーバモジュール３０の内部および／または外部の１つまたは複数のデバイスまたは回路に送信され、種々の目的のために用いられる。例えば、トランシーバモジュールコントローラ４０は、ジッタ測定値を受信して、測定されたジッタの量に基づいてレーザ４２の調子を診断する１つまたは複数のアルゴリズムによって、受信したジッタ測定値を処理してもよい。トランシーバモジュールコントローラ４０は、次の処理、例えば、時間において早期に得られたジッタ測定値を時間において後期に得られたジッタ測定値を比較し、レーザ４２の故障が近い将来に起こる確率が高くなるほど、ジッタが増大し続けるかどうかを決定するアルゴリズムを実行するために、メモリデバイス９０にジッタ測定値を格納してもよい。
【００１６】
トランシーバモジュールコントローラ４０は、ジッタ測定値をＤＳＰ１００に送信してもよい。ＤＳＰ１００は次に、いくつかの有用な決定を行うために１つまたは複数のアルゴリズムに基づいて処理する。例えば、レーザ４２の故障が目前に迫っているか、または測定されたジッタのレベルがトランシーバモジュール３０またはトランシーバモジュール３０の上流または下流のネットワーク構成要素に関する何か別の問題の表示であるかどうかなどを決定する。トランシーバモジュールコントローラ４０は、ジッタ測定値をホストコンピュータ（図示せず）に送信してもよく、ホストコンピュータは、１つまたは複数のこれらのタイプまたは他のタイプのアルゴリズムを実行してもよい。
【００１７】
図３は、例示の実施形態による図２に示されるジッタ測定回路８０のブロック図を示している。本実施形態によるジッタ測定回路８０は、位相ロックループ（ＰＬＬ）である。ＰＬＬは、位相比較器１１５、ループフィルタ１１６および電圧制御発振器（ＶＣＯ）１１９である。図２に示されたＬＰＡ７３から出力された信号は、ＰＬＬの位相比較器１１５に入力される。ＶＣＯ１１９は、レーザ４２によって生成されたデータ信号の基本周波数を中心とするように設定される。ＰＬＬは、ＶＣＯ１１９から出力された信号と、位相比較器１１５に入力された信号との間の既知の位相および周波数の関係を維持する負フィードバック制御システムである。位相比較器１１５は、ＶＣＯ１１９から出力された信号の位相を位相比較器１１５に入力された信号の位相と比較し、ＶＣＯ１１９から出力された信号の位相と位相比較器１１５に入力された信号の位相との間の差に対応する位相誤差信号を生成する。この位相誤差は、ＴＩＡ６１から出力された信号における位相変動に対応し、レーザ４２から出力された光信号におけるジッタの尺度である。ループフィルタ１１６は、位相比較器１１５から出力された位相誤差信号を処理し、ＶＣＯ１１９の周波数同調範囲にＶＣＯ１１９を操作するために用いられる制御電圧信号を生成し、位相比較器１１５への入力信号によって位相ロックを維持するようにする。
【００１８】
ループフィルタ１１６から出力された制御電圧信号は、制御電圧信号をジッタに相関させる処理のために、ジッタ測定回路８０からトランシーバモジュールコントローラ４０および／またはＤＳＰ１００に送信されるジッタ測定値に対応する。ＤＳＰ１００が、通常、この処理を行うが、本処理は、トランシーバモジュールにおける何か別の構成要素によって、またはトランシーバモジュールの外部の何かの構成要素によって行われることも可能である。ディジタルジッタ測定値は、ディジタルジッタ測定値を実際のジッタに相関させるためにさらに処理される。一旦、この相関処理が行われると、上述したように、例えば、トランシーバモジュール３０またはネットワークにおけるレーザ４２および／または他の構成要素の調子に関する情報を得るために、他のアルゴリズムを実行してもよい。
【００１９】
ＰＬＬは、ＴＩＡ６１から出力された信号における位相の変動を測定するために複数の適切な回路のうちの１つのみであることを留意すべきである。当業者は、本目的のために他の適切な回路が設計され得る様式を理解される。例えば、ＡＴＢ検出器は、本目的に適した別の既知の回路である。ＡＴＢ検出器のアップ信号／ダウン信号は、ＤＳＰまたは他の計算デバイスで処理されることができ、入ってくる信号のジッタ特性を測定することができる。
【００２０】
図４は、別の例示の実施形態によるトランシーバモジュール１３０のブロック図を示している。本実施形態によれば、ジッタを測定するためのトランシーバモジュール１３０における回路は、トランシーバモジュール１３０の受信器部分にある。測定中のジッタは、トランシーバモジュール１３０の外部のレーザ（図示せず）によって生成される光信号におけるジッタである。図４に示されるトランシーバモジュール１３０は、図２に示されるトランシーバモジュール３０と類似である。従って、図２および図４において用いられる同様の符号は、同一の要素を表すが、要素が必ずしも同一である必要はない。１つの違いは、図４に示されるトランシーバモジュール１３０の受信器部分が、クロックおよびデータ復元（ＣＤＲ）回路１５０およびジッタ測定出力回路１６０を含むことであり、図２には示されていない。図２に示されるトランシーバモジュール３０は、ＣＤＲ回路を有することが可能であるが、トランシーバモジュール１３０の場合にはＣＤＲ回路を必ずしも含むわけではない。
【００２１】
図２に示されるトランシーバモジュール３０と図４に示されるトランシーバモジュール１３０との間の別の違いは、図４に示されるトランシーバモジュール１３０のレーザ監視フィードバックループが、例えば、図１に示されているような低速監視フィードバックループであってもよいことである。従って、以下に記載するように、ジッタ測定は、モニタフォトダイオード１５２の出力に基づいて行われるのではなく、受信用フォトダイオード８２の出力に基づいて行われるため、図４に示されるトランシーバモジュール１３０において用いられるモニタフォトダイオード１５２は、低速フォトダイオードであってもよい。
【００２２】
今日広く製作されている多くの光トランシーバモジュールは、ＣＤＲ回路であり、図３を参照して上述したタイプのＰＬＬを通常含む。図４に示される例示の実施形態によれば、トランシーバモジュール１３０は、図３に示されるＰＬＬを含むＣＤＲ回路１５０を含む。受信用光ファイバ（図示せず）に入ってくる信号は、高速フォトダイオード８２によって受信され、電気信号に変換される。この電気信号は、ＴＩＡ８３によって増幅される。ＴＩＡ８３の出力は次に、位相比較器１１５（図３）に入力される。位相比較器１１５によって出力された位相誤差信号は、ループフィルタ１１６（図３）によって除去され、ＶＣＯ制御電圧信号を生成する。ループフィルタ１１６から出力されたＶＣＯ制御電圧信号は、ＶＣＯ１１９（図３）を操作するために用いられる。このＶＣＯ制御電圧信号はまた、ジッタ測定出力回路１６０（図４）によって接続され、ジッタ測定値として用いられる。このジッタ測定値は次に、トランシーバモジュールコントローラ４０、ＤＳＰ１００または何か他のデバイスに送信され、この値をトランシーバモジュール１３０の受信器部分によって受信された光信号に含まれるジッタに相関させるために、上述したようなさらなる処理を行う。
【００２３】
図４に示されるトランシーバモジュール１３０のコントローラ４０および／またはＤＳＰ１００はまた、受信した光信号を生成したレーザ（図示せず）および／またはネットワークにおける他の構成要素の調子を決定するアルゴリズムを実行してもよい。本発明は、ジッタの測定がどのように使用されるか、または得られた後に処理されるかに関して、限定していない。
【００２４】
図５は、トランシーバモジュールにおけるジッタを測定するために、例示の実施形態に基づく方法を示すフローチャートを示している。上述したように、ブロック１７１によって示されるように、光信号は、高速フォトダイオードによって電気信号に変換される。この電気信号は次に、フィルタリングおよび増幅によって調整され、トランシーバモジュールの中のジッタ測定回路に入力される。１７３で示されるように、ジッタ測定回路は、電気信号を処理して、ジッタ測定値を生成する。ブロック１７５によって示されるように、ジッタ測定値は次に、ジッタ測定値を入力信号に含まれる実際のジッタと相関される。
【００２５】
ＤＳＰ１００および／またはコントローラ４０において行われるアルゴリズムは、ハードウェア、ソフトウェアあるいはハードウェア、ソフトウェアおよび／またはファームウェアの組み合わせにおいて実行されてもよい。アルゴリズムが少なくとも部分的にソフトウェアにおいて実行される場合には、対応するコンピュータ命令が、例えば、メモリデバイス９０などのいくつかのタイプのコンピュータ読出し可能な媒体に格納される。この目的のために用いられるコンピュータ読出し可能な媒体は、任意のタイプのコンピュータ読出し可能な媒体、例えば、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）デバイス、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）デバイスなどであってもよい。コンピュータ読出し可能な媒体は、固体デバイスまたは何か別のタイプのメモリデバイスであってもよい。同様に、コントローラ４０およびＤＳＰ１００は、任意のタイプの計算デバイスであってもよく、例えば、マイクロプロセッサ、マイクロコントローラ、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、プログラム可能な論理回路（ＰＬＡ）、プログラム可能なゲートアレイ（ＰＧＡ）などが挙げられるが限定されるわけではない。
【００２６】
本発明は、本発明の原理および概念を記載するために、特定の例示の実施形態を参照して記載していた。しかし、本明細書において提供された説明に鑑みて、本発明はこれらの実施形態に限定されるわけではなく、本発明の範囲を逸脱することなく、これらの実施形態に改変を加えてもよいことは、当業者は理解される。例えば、ＰＬＬおよびＡＴＢ検出器は、ジッタに対応する信号における位相の変動を検出するために適した回路であるが、この目的のために等しく適切である他の回路が設計および構築されることができることを、当業者は理解される。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】レーザの平均出力パワーレベルを制御するために、光フィードバックを用いる光通信において広く用いられる既知のトランシーバのブロック図を示す。
【図２】トランシーバモジュールのレーザによって生成される光信号におけるジッタを測定するための回路を有する例示の実施形態に基づくトランシーバモジュールのブロック図を示す。
【図３】例示の実施形態による図２に示されるジッタ測定回路のブロック図を示す。
【図４】別の例示の実施形態による図２に示されるジッタ測定回路のブロック図を示す。
【図５】トランシーバモジュールにおけるジッタを測定するための例示の実施形態による方法を表すフローチャートを示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【外国語明細書】
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