(57)【要約】【課題】測定誤差を軽減し、かつ安価に下引き層の厚さを測定できる電子写真感光体の検査方法および製造方法を実現する。【解決手段】無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の検査方法において、４００ｎｍ以下の波長での、前記下引き層の反射吸光度を測定することを特徴とする電子写真感光体の検査方法。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の検査方法において、
前記感光層を形成する前に、前記下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定することを特徴とする電子写真感光体の検査方法。
【請求項２】
導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体から、前記下引き層が不溶な溶媒で前記感光層を除去した後、下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定することを特徴とする電子写真感光体の検査方法。
【請求項３】
前記無機粒子が、酸化チタンであることを特徴とする請求項１または２に記載の電子写真感光体の検査方法。
【請求項４】
前記酸化チタンが、ルチル型であることを特徴とする請求項３に記載の電子写真感光体の検査方法。
【請求項５】
前記酸化チタンの平均一次粒子径が、１００ｎｍ以下であることを特徴とする請求項３に記載の電子写真感光体の検査方法。
【請求項６】
導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の製造方法において、
前記感光層を形成する前に、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定した下引き層上に、感光層を形成する塗布液を塗布することを特徴とする電子写真感光体の製造方法。
【請求項７】
導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の製造方法において、
感光層が形成された電子写真感光体から、前記下引き層が不溶な溶媒で前記感光層を除去して、下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定した後、感光層を形成する塗布液を塗布して感光層を再形成することを特徴とする電子写真感光体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真感光体の検査方法および製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置に備わる電子写真感光体としては、アルミニウム等で構成された導電性基体上に感光層が積層したものが知られている。このような電子写真感光体ではリークを抑える程度に絶縁する必要があった。
そこで、近年、導電性基体と感光層の間に下引き層を介在させた電子写真感光体が提案されている。
【０００３】
電子写真感光体は、通常、下引き層および感光層を形成する各塗布液を、導電性基体上に順次塗布・乾燥させることで得られる。各層の厚さは電子写真感光体の特性に影響を及ぼすため、電子写真感光体を製造するにあたり、その厚さを正確に測定して、電子写真感光体を検査する必要があった。
【０００４】
なお、各層の厚さは、塗布装置によってある程度は一定の厚さに制御できるものの、環境条件などによってはわずかに変動することもある。連続生産する際は、常に一定の厚さの下引き層および感光層が導電性基体上に形成された電子写真感光体を製造することが求められるため、より正確に各層の厚さを測定し、管理する必要がある。特に、導電性基体と接する下引き層は、塗布工程において最初に塗布して形成されるため、下引き層の厚さを測定し管理することは重要である。
【０００５】
下引き層の厚さを測定する方法としては、従来、渦電流膜厚計を用いた方法が知られている。
しかし、渦電流膜厚計を用いた方法では、測定誤差が生じやすかった。
そこで、より正確に下引き層を測定する方法としては、例えば特許文献１には、光干渉法により下引き層の膜厚を測定する工程を有する電子写真感光体の製造方法が開示されている。
【特許文献１】特開平４−３３６５４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載のように、光干渉法により下引き層を測定する方法では、測定誤差は軽減されるものの、測定に高価な装置を必要とするため、コストがかかりやすかった。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、測定誤差を軽減し、かつ安価に下引き層の厚さを測定できる電子写真感光体の検査方法および製造方法の実現を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の電子写真感光体の検査方法は、導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の検査方法において、前記感光層を形成する前に、前記下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明の電子写真感光体の検査方法は、導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体から、前記下引き層が不溶な溶媒で前記感光層を除去した後、下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定することを特徴とする。
【００１０】
ここで、前記無機粒子が、酸化チタンであることが好ましい。
また、前記酸化チタンが、ルチル型であることが好ましい。
さらに、前記酸化チタンの平均一次粒子径が、１００ｎｍ以下であることが好ましい。
【００１１】
本発明の電子写真感光体の製造方法は、導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の製造方法において、前記感光層を形成する前に、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定した下引き層上に、感光層を形成する塗布液を塗布することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明の電子写真感光体の製造方法は、導電性基体上に、無機粒子を含有する下引き層と、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する感光層とが順次積層した電子写真感光体の製造方法において、感光層が形成された電子写真感光体から、前記下引き層が不溶な溶媒で前記感光層を除去して、下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定した後、感光層を形成する塗布液を塗布して感光層を再形成することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の電子写真感光体の検査方法によれば、測定誤差を軽減し、かつ安価に下引き層の厚さを測定できる。
また、本発明によれば、高品質の電子写真感光体を製造できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明を詳細に説明する。
［電子写真感光体］
本発明における、被検査体となる電子写真感光体は、導電性基体上に、下引き層と感光層とが順次積層している。
【００１５】
＜導電性基体＞
導電性基体の材料としては、例えば、鉄、アルミニウム、銅、スズ、白金、銀、バナジウム、モリブデン、クロム、カドミウム、チタン、ニッケル、パラジウム、インジウム、ステンレス鋼、真鍮等の金属、該金属に陽極酸化処理によって酸化皮膜を形成したもの；該金属が蒸着またはラミネートされたプラスチック材料；ヨウ化アルミニウム、酸化スズ、酸化インジウム等で被覆されたガラス；カーボンブラック等の導電性微粒子を分散させたプラスチック材料等が挙げられる。
導電性基体の形状としては、シート状、ドラム状等が挙げられる。導電性支持体の形状は、画像形成装置の構造に合わせて適宜決定すればよい。
導電性基体は、その表面に粗面化処理を施してもよい。これにより、干渉縞の発生を防止できる。粗面化処理の方法としては、エッチング、陽極酸化、ウエットブラスティング法、サンドブラスティング法、粗切削、センタレス切削等の方法が挙げられる。
【００１６】
＜下引き層＞
下引き層は、無機粒子を含有する。無機粒子を含有することで、リークの発生を抑制しつつ、電子写真感光体を露光した際に円滑に電流を流して抵抗の上昇を抑えることができる。
無機粒子としては金属または金属酸化物が挙げられ、具体的にはアルミニウム、鉄、銅、酸化チタン、シリカ、アルミナ、酸化ジルコニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化インジウム等が挙げられる。中でも、酸化チタンが好ましい。特に、適度な絶縁性を付与できる観点から、ルチル型の酸化チタンが好ましい。
【００１７】
酸化チタンは、平均一次粒子径が１００ｎｍ以下であることが好ましく、より好ましくは１０〜５０ｎｍである。平均一次粒子径が１００ｎｍを越えると、下引き層が白濁しやすくなる。その結果、光が乱反射しやすくなるので、下引き層の内部まで光が透過しにくくなる。そのため、下引き層の反射吸光度を測定しても、表面近傍のみを測定することとなるので、正確に反射吸光度を測定することが困難となる。
【００１８】
また、酸化チタンとしては、アルミナおよびシリカで表面処理され、さらにシリコーン等で表面処理されたものを用いてもよい。
【００１９】
下引き層は、上述した無機粒子の他に、バインダー樹脂を含有する。
バインダー樹脂としては、公知のバインダー樹脂を用いることができる。具体的には、ビスフェノールＺ型、ビスフェノールＺＣ型、ビスフェノールＣ型、ビスフェノールＡ型等のポリカーボネート樹脂、ポリアリレート樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−アクリロニトリル共重合体、スチレン−マレイン酸共重合体、アクリル共重合体、スチレン−アクリル酸共重合体、ポリエチレン樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合体、塩素化ポリエチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリプロピレン樹脂、アイオノマー樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、アルキド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリスルホン樹脂、ジアリルフタレート樹脂、ケトン樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリエーテル樹脂等の熱可塑性樹脂；シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂等の熱硬化性樹脂；エポキシアクリレート、ウレタン−アクリレート等の光硬化型樹脂等が挙げられる。バインダー樹脂は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を併用してもよい。
【００２０】
下引き層の厚さは、０．１〜１０μｍが好ましく、０．５〜５μｍがより好ましい。
下引き層中における、無機粒子の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して１０〜１０００質量部が好ましく、３０〜４００質量部がより好ましい。
【００２１】
＜感光層＞
感光層は、電荷発生剤、電荷輸送剤、およびバインダー樹脂を含有する。
電荷発生剤としては、公知の電荷発生剤を用いることができる。具体的には、フタロシアニン系顔料、ペリレン系顔料、ビスアゾ顔料、ジオケトピロロピロール顔料、無金属ナフタロシアニン顔料、金属ナフタロシアニン顔料、スクアライン顔料、トリスアゾ顔料、インジゴ顔料、アズレニウム顔料、シアニン顔料、ピリリウム顔料、アンサンスロン顔料、トリフェニルメタン系顔料、スレン顔料、トルイジン系顔料、ピラゾリン系顔料、キナクリドン系顔料等の有機光導電体；セレン、セレン−テルル、セレン−ヒ素、硫化カドミウム、アモルファスシリコン等の無機光導電剤等が挙げられる。電荷発生剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を併用してもよい。
【００２２】
電子写真感光体を、半導体レーザー等の光源を使用したレーザービームプリンタやファクシミリ等のデジタル光学系の画像形成装置に備える場合は、７００ｎｍ以上の波長領域に感度を有する感光体が必要となるため、フタロシアニン系顔料が好適に用いられる。フタロシアニン系顔料としては、無金属フタロシアニン（τ型またはＸ型）、チタニルフタロシアニン（α型またはＹ型）、ヒドロキシガリウムフタロシアニン（Ｖ型）、クロロガリウムフタロシアニン（II型）等が挙げられる。
また、電子写真感光体を、ハロゲンランプ等の白色の光源を使用した静電式複写機等のアナログ光学系の画像形成装置に備える場合は、可視領域に感度を有する感光体が必要となるため、ペリレン顔料やビスアゾ顔料等が好適に用いられる。
【００２３】
電荷輸送剤としては、正孔輸送剤または電子輸送剤が挙げられる。
電子写真感光体は、電荷輸送層に用いる電荷輸送剤の種類によって、正負いずれの帯電型となるかが選択される。例えば、電荷輸送層の電荷輸送剤として正孔輸送剤を用いた場合、電子写真感光体は負帯電型となる。この場合、電荷発生層には電子輸送剤を含有させてもよい。
【００２４】
正孔輸送剤としては、公知の正孔輸送剤を用いることができる。具体的には、ベンジジン系化合物、フェニレンジアミン系化合物、ナフチレンジアミン系化合物、フェナントリレンジアミン系化合物、オキサジアゾール系化合物、スチリル系化合物、カルバゾール系化合物、ピラゾリン系化合物、ヒドラゾン系化合物、トリフェニルアミン系化合物、インドール系化合物、オキサゾール系化合物、イソオキサゾール系化合物、チアゾール系化合物、チアジアゾール系化合物、イミダゾール系化合物、ピラゾール系化合物、トリアゾール系化合物、ブタジエン系化合物、ピレン−ヒドラゾン系化合物、アクロレイン系化合物、カルバゾール−ヒドラゾン系化合物、キノリン−ヒドラゾン系化合物、スチルベン系化合物、スチルベン−ヒドラゾン系化合物、およびジフェニレンジアミン系化合物等が挙げられる。正孔輸送剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を併用してもよい。
【００２５】
電子輸送剤としては、公知の電子輸送剤を用いることができる。具体的には、キノン誘導体、アントラキノン誘導体、マロノニトリル誘導体、チオピラン誘導体、トリニトロチオキサントン誘導体、３，４，５，７−テトラニトロ−９−フルオレノン誘導体、ジニトロアントラセン誘導体、ジニトロアクリジン誘導体、ニトロアントアラキノン誘導体、ジニトロアントラキノン誘導体、テトラシアノエチレン、２，４，８−トリニトロチオキサントン、ジニトロベンゼン、ジニトロアントラセン、ジニトロアクリジン、ニトロアントラキノン、ジニトロアントラキノン、無水コハク酸、無水マレイン酸、ジブロモ無水マレイン酸等が挙げられる。電子輸送剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を組み合わせて用いてもよい。
【００２６】
バインダー樹脂としては、下引き層の説明において先に例示したバインダー樹脂の中から、１種以上を選択して使用することができる。
【００２７】
感光層には、電子写真特性に影響を与えない範囲で、公知の添加剤を含有していてもよい。添加剤としては、例えば酸化防止剤、光安定剤、ラジカル捕捉剤、一重項クエンチャー、紫外線吸収剤等の劣化防止剤、軟化剤、可塑剤、表面改質剤、増量剤、増粘剤、分散安定剤、ワックス、アクセプター、ドナーなどが挙げられる。
酸化防止剤としては、ヒンダードフェノール、ヒンダードアミン、パラフェニレンジアミン、アリールアルカン、ハイドロキノン、スピロクロマン、スピロインダノンおよびそれらの誘導体、有機硫黄化合物、有機燐化合物等が挙げられる。
【００２８】
感光層は、単層構造であってもよく、電荷発生剤を含む電荷発生層と、電荷輸送剤を含む電荷輸送層とを有する多層構造であってもよい。
ここで、多層構造の感光層について具体的に説明する。
【００２９】
（電荷発生層）
電荷発生層は、電荷発生剤およびバインダー樹脂を含む。また、電子写真特性に悪影響を与えない範囲で、公知の添加剤を含有していてもよい。
電荷発生剤、バインダー樹脂、および添加剤としては、先に例示した電荷発生剤、バインダー樹脂、および添加剤の中から、１種以上を選択して使用することができる。
【００３０】
なお、後述する電荷輸送層に正孔輸送剤を含有させた場合、電荷発生層には電子輸送剤を含有させてもよく、電荷輸送層に電子輸送剤を含有させた場合、電荷発生層には正孔輸送剤を含有させてもよい。
【００３１】
電荷発生層中における、電荷発生剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して５〜１０００質量部が好ましく、３０〜５００質量部がより好ましい。
電荷発生層の厚さは、０．０１〜５μｍが好ましく、０．１〜３μｍがより好ましい。
【００３２】
（電荷輸送層）
電荷輸送層は、電荷輸送剤とバインダー樹脂を含む。また、電子写真特性に悪影響を与えない範囲で、公知の添加剤を含有していてもよい。
電荷輸送剤、バインダー樹脂、および添加剤としては、先に例示した電荷輸送剤、バインダー樹脂、および添加剤の中から、１種以上を選択して使用することができる。
【００３３】
電荷輸送剤として正孔輸送剤を含有させた場合、負帯電性の電子写真感光体となる。一方、電荷輸送剤として電子輸送剤を含有させた場合、正帯電性の電子写真感光体となる。
電荷輸送層に正孔輸送剤を含有させる場合、正孔輸送剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して１０〜５００質量部が好ましく、２５〜２００質量部がより好ましい。
電荷輸送層に電子輸送剤を含有させる場合、電子輸送剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して５〜２００質量部が好ましく、１０〜１００質量部がより好ましい。
電荷輸送層の厚さは、２〜１００μｍが好ましく、５〜５０μｍがより好ましい。
【００３４】
なお、感光層が単層構造の場合、電荷発生剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して０．１〜５０質量部が好ましく、０．５〜３０質量部がより好ましい。
正孔輸送剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して２０〜５００質量部が好ましく、３０〜２００質量部がより好ましい。
電子輸送剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して５〜１００質量部が好ましく、１０〜８０質量部がより好ましい。
感光層の厚さは、５〜１００μｍが好ましく、１０〜５０μｍがより好ましい。
【００３５】
［検査方法］
本発明の電子写真感光体の検査方法は、前記感光層を形成する前に、該下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定する。
４００ｎｍ以下の波長領域には、酸化チタンなどの無機粒子の吸収がある。従って、下引き層中に無機粒子を含有させることで、下引き層について４００ｎｍ以下での反射吸光度を測定することができる。
【００３６】
本発明では、導電性基体上に形成された状態で下引き層の反射吸光度を測定できる観点から、分光測色計を用いて下引き層の反射吸光度を測定するのが好ましい。分光測色計としては、例えばコニカミノルタ社製の「ＣＭ−２５００ｄ」などを使用できる。
【００３７】
反射吸光度の測定における測定誤差の度合いは、複数回測定を行い、その結果から平均値および標準偏差を求めることで判定できる。すなわち、標準偏差の値が小さいほど誤差が少ないことを意味する。また、標準偏差を平均値で割った値は、測定結果のバラツキ度合いの指標となる。この値も小さくなるほどバラツキが小さいことを意味する。なお、測定回数は２０回程度行えば十分である。
【００３８】
反射吸光度の測定は、渦電流膜厚計を用いた測定に比べて標準偏差の値が小さい。よって、反射吸光度の測定により電子写真感光体を検査する方法は、測定誤差を軽減できる。また、反射吸光度は簡便かつ安価に測定できる。
ところで、通常、膜厚が薄くなるに連れて測定誤差は生じやすくなる。特に、渦電流膜厚計などを用いて、実際の膜厚を測定して管理する場合は顕著である。しかし、本発明によれば、実際の膜厚を測定するのではなく、下引き層の反射吸光度を測定することで管理するので、下引き層の膜厚に関係なく、正確に測定できる。
なお、反射吸光度の値は、下引き層の実際の厚さを表すものではないが、予め下引き層の厚さと反射吸光度の値とで検量線を作製しておくことで、反射吸光度の測定結果から下引き層の厚さを求めることができる。
【００３９】
従って、本発明によれば、測定誤差を軽減し、かつ安価に下引き層の厚さを測定できるので、特に電子写真感光体を連続生産する際に、下引き層の厚さをより正確に測定し、管理できる。
また、検査の結果、下引き層の厚さが合格の範囲内となったもののうち、より最適な厚さのものだけを次の工程（すなわち、下引き層上に感光層を形成する工程）に搬送させ、残りのものをフィードバックさせることもできるので、より高品質な電子写真感光体を得ることができる。
【００４０】
また、本発明においては、下引き層上に感光層が形成した電子写真感光体から、感光層を除去した後に、下引き層について４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定することもできる。
通常、電子写真感光体は使用するに連れてトナーによって損傷してくる。損傷は表面に近いほど起こりやすいので、感光層を再形成することで、電子写真感光体を再生することができる。上述したように、感光層を除去した後に、下引き層について４００ｎｍ以下の波長で反射吸光度を測定すれば、下引き層の厚さが最適なものは感光層を形成させる工程へ、最適でないものはフィードバックさせる工程（すなわち、最適な厚さになるように下引き層を再形成する工程）へと容易に判定できるので、電子写真感光体を再生する場合でも高品質な電子写真感光体を得ることができる。
【００４１】
感光層を除去する場合は、下引き層が不溶な溶媒を用いるのが好ましい。このような溶媒としては、トルエン、テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）、ｏ−キシレン、ｍ−キシレン、１，３−ジオキソラン、１，４−ジオキソランなどが挙げられる。
感光層は、例えば以下に示す方法により除去することができる。すなわち、トルエンを染込ませた布などで電子写真感光体の表面を擦り感光層を脱膜した後、これをＴＨＦに浸漬し、ついでＴＨＦにてシャワー洗浄して感光層を除去する。
【００４２】
［製造方法］
電子写真感光体は、上述した検査方法によって、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定した下引き層上に、感光層を形成する塗布液を塗布し、下引き層上に感光層を形成することにより製造される。
ここで、本発明の電子写真感光体の製造方法について、具体的に説明する。
【００４３】
まず、下引き層に含まれる各成分を溶媒に溶解または分散させた塗布液（下引き層用塗布液）を、導電性基体上に塗布し、乾燥させて、下引き層を形成する。
溶媒としては、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール等のアルコール類；ｎ−ヘキサン、オクタン、シクロヘキサン等の脂肪族系炭化水素；ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族系炭化水素；ジクロロメタン、ジクロロエタン、クロロホルム、四塩化炭素、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素；ジメチルエーテル、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、プロピレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル類；アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類；酢酸エチル、酢酸メチル等のエステル類；ジメチルホルムアルデヒド、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド等が挙げられる。溶剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を混合して用いてもよい。
【００４４】
塗布方法は、ディップコート法、スプレーコート法、スピンコート法、バーコート法等の公知の方法が挙げられる。
乾燥装置としては、高温乾燥機、減圧乾燥機等が挙げられる。乾燥温度は、６０〜１５０℃が好ましい。
【００４５】
ついで、上述した方法により下引き層について反射吸光度を測定する。
合格と判定された場合は、感光層に含まれる各成分を溶媒に溶解または分散させた塗布液（感光層用塗布液）を、下引き層上に塗布し、乾燥させて、感光層を形成する。塗布液（感光層用塗布液）には、各成分の分散性、感光層表面の平滑性をよくするために、界面活性剤、レベリング剤等を添加してもよい。
溶媒としては、下引き層用塗布液の説明において先に例示した溶媒の中から、１種以上を選択して使用することができる。また、塗布方法、乾燥装置および乾燥温度は、下引き層を形成する場合と同様である。
なお、感光層が多層構造である場合は、各層に含まれる成分を溶媒に溶解または分散させた各塗布液（電荷発生層用塗布液および電荷輸送層用塗布液）を、一つ下の層上に塗布し、乾燥させて、各層を形成し、感光層とする。溶媒、塗布方法、乾燥装置、乾燥温度は、下引き層を形成する場合と同様である。また、電荷発生層および電荷輸送層の積層の順番は特に限定されない。
【００４６】
一方、下引き層について反射吸光度を測定した結果、不合格と判定された場合は、フィードバックし、下引き層を再形成するなどして、再度反射吸光度を測定する。この作業は合格するまで行い、合格したものについては、下引き層上に感光層を形成させる。
【００４７】
また、下引き層上の感光層に厚みムラや傷等の損傷が生じた場合や、長期に渡る使用等により電子写真感光体の寿命が低下した場合などは、上述したように、感光層が形成された電子写真感光体から、下引き層が不溶な溶媒で前記感光層を除去した後、下引き層について４００ｎｍ以下の波長で反射吸光度を測定すれば、下引き層の厚さが最適なものは感光層を再形成させる工程へ、最適でないものはフィードバック工程へと容易に判定できるので、電子写真感光体を再び製造する場合でも高品質な電子写真感光体を得ることができる。
【００４８】
このようにして得られる電子写真感光体は、下引き層の厚さを正確に測定し、感光体として最適な厚さと判定されたものを用いて製造するので、高品質である。
【００４９】
以上説明したように、本発明によれば、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定することで、下引き層の厚さを正確に測定し、管理できる。よって、高品質の電子写真感光体を製造することができる。
【００５０】
本発明により得られる電子写真感光体を備えた画像形成装置は、感光体特性が良好であり、品質に優れた画像を形成できる。このような画像形成装置としては、例えば複写機、ファクシミリ、レーザービームプリンタ等が挙げられる。
【実施例】
【００５１】
以下、本発明について実施例を挙げて具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
［実施例１］
アルミナおよびシリカで表面処理した後、湿式分散しながらメチルハイドロジェンポリシロキサンで表面処理した酸化チタン（テイカ社製、「ＳＭＴ−０２」、数平均一次粒子径１０ｎｍ）２．５質量部と、共重合ポリアミド樹脂（ダイセル・デグサ社製、「Ｘ１０１０」）１質量部とを、エタノール２０質量部およびブタノール５質量部に、ビーズミルを用いて５時間分散させ、下引き層用塗布液を調製した。
得られた下引き層用塗布液を５μｍのフィルタにてろ過した後、導電性基体として直径３０ｍｍ、全長２３８．５ｍｍのアルミニウム製の切削管（最大表面粗さＲｙ＝０．７５）上に、膜厚が１．５μｍになるようにディップコート法にて塗布し、１３０℃にて３０分熱処理して、下引き層が導電性基体上に形成したサンプルを得た。
【００５２】
得られたサンプルの下引き層を、分光測色計（コニカミノルタ社製、「ＣＭ−２５００ｄ」、測定径φ：８、正反射除去なし）を用いて、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を測定し、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を下記式より算出した。
（４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度）＝Ａ−Ｂ
ここで、Ａ＝｛（３６０ｎｍの波長での反射吸光度）＋（３７０ｎｍの波長での反射吸光度）＋（３８０ｎｍの波長での反射吸光度）＋（３９０ｎｍの波長での反射吸光度）｝／４であり、Ｂ＝｛（４２０ｎｍの波長での反射吸光度）＋（４３０ｎｍの波長での反射吸光度）＋（４４０ｎｍの波長での反射吸光度）＋（４５０ｎｍの波長での反射吸光度）｝／４である。
なお、４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度は、前記Ａのみからでも求められるが、より正確な値を算出することを目的として、上記式においては、導電性基体の影響を除くために、ＡからＢを差し引いている。
反射吸光度の測定を２０回行い、上記式に基づき４００ｎｍ以下の波長での反射吸光度を算出し、その平均値および標準偏差（σ）を求めた。平均値、最小値、最大値、標準偏差（σ）、σ／平均値を表１に示す。
【００５３】
［実施例２〜７］
下引き層の膜厚が表１に示す値になるように下引き層を形成させた以外は、実施例１と同様にして下引き層が導電性基体上に形成したサンプルを作成し、分光測色計を用いて下引き層の反射吸光度を測定した。結果を表１に示す。
【００５４】
［実施例８］
実施例１と同様にして、導電性基体上に膜厚１．５μｍの下引き層を形成させた。
ついで、電荷発生剤としてチタニルフタロシアニン２質量部と、バインダー樹脂としてポリビニルブチラール樹脂（電気化学工業社製、「デンカブチラール♯６０００ＥＰ」）１質量部を、溶媒としてプロピレングリコールモノメチルエーテル４０質量部およびテトラヒドロフラン（ＴＨＦ）４０質量部に、ビーズミルを用いて２時間処理して分散させ、電荷発生層用塗布液を調製した。
得られた電荷発生層用塗布液を、３μｍのフィルタにてろ過した後、下引き層上にディップコート法にて塗布し、８０℃にて５分乾燥させて、膜厚０．２μｍの電荷発生層を形成した。
ついで、正孔輸送剤として下記式（１）に示すトリフェニルアミン化合物７０質量部と、酸化防止剤として下記式（２）に示すヒンダードフェノール化合物（ジブチルヒドロキシトルエン）１０質量部、バインダー樹脂として下記式（３）に示すポリカーボネート樹脂（粘度平均分子量：５００００）１００質量部を、溶媒としてテトラヒドロフラン６１０質量部に加え、溶解させて電荷輸送層用塗布液を調製した。
得られた電荷輸送層用塗布液を、電荷発生層用塗布液と同様にして電荷発生層上に塗布し、１２０℃にて３０分乾燥し、膜厚２０μｍの電荷輸送層を形成し、積層型の電子写真感光体を作製した。
【００５５】
【化１】
2009163053.tif 000002
【００５６】
得られた電子写真感光体の表面を、トルエンを染込ませたベンコットンクリーンで擦り、感光層（電荷発生層および電荷輸送層）を脱膜した。これをＴＨＦに２分間浸漬し、ついでＴＨＦにてシャワー洗浄して感光層を除去した。
残った下引き層の反射吸光度を、実施例１と同様にして測定した。結果を表１に示す。
【００５７】
［比較例１〜８］
被検査体として、実施例１〜８で得られたサンプルを各々用い、分光測色計の代わりに、渦電流膜厚計（フィッシャー社製、「フィッシャースコープＭＭＳ」）を用いて下引き層の膜厚を測定した。測定を２０回行い、平均値および標準偏差（σ）を求めた。
平均値、最小値、最大値、標準偏差（σ）、σ／平均値を表２に示す。
【００５８】
【表１】
2009163053.tif 000003
【００５９】
【表２】
2009163053.tif 000004
【００６０】
表１、２から明らかなように、分光測色計を用いて下引き層の反射吸光度を測定した実施例は、標準偏差およびσ／平均値が小さかった。実施例では、測定結果のバラツキが小さく、測定誤差を軽減できた。通常、膜厚が薄くなるに連れて測定誤差は生じやすくなるが、実施例であれば、下引き層の膜厚が１．０μｍ以下であっても、十分に測定誤差を軽減できた。
一方、渦電流膜厚計を用いて下引き層の反射吸光度を測定した比較例は、標準偏差およびσ／平均値が実施例に比べて大きかった。比較例では、実施例の結果に比べて測定結果のバラツキが大きく、測定に誤差があった。特に、下引き層の膜厚が１．０μｍ以下の比較例２〜４は、測定誤差が大きかった。