(57)【要約】【課題】サーボ制御系についてステップ応答性のテストを行うことが可能な防振制御回路を提供する。【解決手段】撮像装置の振動を検出する振動検出素子１０６の出力信号に基づいて光学部品の駆動量を決定するための振動信号を生成する振動制御用イコライザ２００ｂと、光学部品の位置を検出する位置検出素子１０２の出力信号に基づいて光学部品の駆動量を決定するための位置信号を算出する位置制御用イコライザ２００ａと、を備え、位置制御用イコライザ２００ａは、ステップ応答テストモードに設定されると、位置検出素子１０２の出力信号に所定のオフセット値を加算した値に基づいて光学部品の駆動量を決定するための位置信号を算出するものとする。【選択図】図１
2009145636.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
振動に応じて撮像装置の光学部品を駆動して、振動による撮像への影響を低減させる防振制御回路であって、
撮像装置の振動を検出する振動検出素子の出力信号に基づいて前記光学部品の駆動量を決定するための振動信号を生成する振動制御用イコライザと、
前記光学部品の位置を検出する位置検出素子の出力信号に基づいて前記光学部品の駆動量を決定するための位置信号を算出する位置制御用イコライザと、
前記振動制御用イコライザと前記位置制御用イコライザとを制御する内蔵ＣＰＵと、
を備え、
前記位置制御用イコライザは、ステップ応答テストモードに設定されると、前記位置検出素子の出力信号に所定のオフセット値を加算した値に基づいて前記光学部品の駆動量を決定するための位置信号を算出し、
前記内蔵ＣＰＵは、前記ステップ応答テストモードの場合に前記位置検出素子の出力信号をモニタリングすることを特徴とする防振制御回路。
【請求項２】
請求項１に記載の防振制御回路であって、
前記オフセット値を格納するオフセット用メモリを備え、
前記位置制御用イコライザは、ステップ応答テストモードに設定されると、前記オフセット用メモリから前記オフセット値を読み出して用いることを特徴とする防振制御回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に組み込まれる防振制御回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等の撮像装置は、それに備わる撮像素子の画素数を増加させることによって高画質化を実現している。その一方で、撮像装置の高画質化を実現する他の方法として、撮像装置を持つ手のぶれによって生じる被写体のぶれを防止するために、撮像装置は手振れ補正機能を備えることが望まれている。
【０００３】
具体的には、撮像装置はジャイロセンサなどの検出素子を備え、撮像装置の振動によって生じる角速度成分に応じてレンズや撮像素子などの光学部品を駆動して被写体のぶれを防止する。これによって、撮像装置が振動しても、取得される映像信号に振動の成分が反映されることはなく、像ぶれのない高画質な映像信号を取得することができる。
【０００４】
図４に、手振れ補正機能を実現するために用いられる、従来の防振制御回路１００のブロック図を示す。防振制御回路１００は撮像装置に備えられ、撮像装置に備えられる主制御回路（図示せず）の制御に応じて動作する。防振制御回路１００は位置検出素子１０２、レンズ駆動素子１０４及び振動検出素子１０６に接続される。
【０００５】
位置検出素子１０２は、撮像装置に用いられるレンズの位置を検出する。位置検出素子１０２はホール素子とすることができ、レンズの絶対位置に応じた誘導電流を生じ、電圧信号を出力する。レンズ駆動素子１０４はボイスコイルモータとすることができる。防振制御回路１００は、レンズ駆動素子１０４に加える電圧値を調整することによってボイスコイルモータの可動コイルの位置、つまりレンズの位置を制御する。レンズ駆動素子１０４は、撮像装置の光軸に対して垂直な面内でレンズを駆動する。振動検出素子１０６は、撮像装置の振動を検出してその結果を防振制御回路１００に出力する。振動検出素子１０６はジャイロセンサとすることができる。撮像装置に加えられた振動に応じた角速度信号を生成して、防振制御回路１００に出力する。
【０００６】
位置検出素子１０２、レンズ駆動素子１０４及び振動検出素子１０６はそれぞれ少なくとも２つの素子から構成されることが好適である。例えば、撮像装置の光軸に垂直な面において水平成分と垂直成分に対応した複数の素子を設けて、レンズの位置検出、レンズの移動及び撮像装置の振動検出を行う。
【０００７】
次に、防振制御回路１００について詳細に説明する。防振制御回路１００は、サーボ回路１０、レンズドライバ１２、アナログ−デジタル変換回路（ＡＤＣ）１４、ＣＰＵ１６及びデジタル−アナログ変換回路（ＤＡＣ）１８を含んで構成される。
【０００８】
サーボ回路１０は、位置検出素子１０２の出力する電圧信号に応じて、レンズ駆動素子１０４を制御するための信号を生成する。サーボ回路１０は、外付けの抵抗素子やコンデンサ等を含んだアナログのフィルタ回路を含んで構成され、レンズの光軸と撮像装置に備えられる撮像素子の中心とが一致するように、レンズ駆動素子１０４を制御するための信号を生成する。レンズドライバ１２は、サーボ回路１０から出力された信号に基づいて、レンズ駆動素子１０４を駆動するためのレンズ駆動信号を生成する。
【０００９】
ＡＤＣ１４は、振動検出素子１０６が出力するアナログの角速度信号をデジタル信号に変換する。ＣＰＵ１６は、デジタルの角速度信号に基づいて、撮像装置の移動量を示す角度信号を生成する。ＣＰＵ１６は、メモリ（図示しない）に接続され、メモリに格納されたソフトウェアに基づいて角度信号の生成処理を行う。ＤＡＣ１８はＣＰＵ１６で生成されたデジタルの角度信号をアナログ信号に変換する。
【００１０】
ここで、サーボ回路１０は、ＤＡＣ１８が出力するアナログの角度信号と位置検出素子１０２の出力する電圧信号とを加算した信号に応じて、レンズ駆動素子１０４を駆動するためのレンズ駆動信号を生成する。つまり、手振れによる被写体ぶれを防止するために、撮像装置の移動量を示す角度信号に基づいてレンズの位置を変更して、撮像素子上の被写体像のぶれを抑制する。これによって、手振れによる被写体像のぶれを抑制して高画質な映像信号を得ることができる。
【００１１】
【特許文献１】特開平１０−２１３８３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ところで、防振制御回路の処理速度を向上させるためにサーボ回路、レンズドライバ、振動検出信号の処理回路をデジタル処理することができるロジック回路に置き換えることが望まれている。さらに、防振制御回路はデジタルカメラ等の撮像素子や撮像素子のレンズモジュールに組み込まれるので、ロジック回路化した場合においてもできるだけ小型化することが必要である。
【００１３】
また、防振制御回路を撮像装置等に組み込んだ場合、手ぶれ防止等のための光学系の駆動は高い精度で行えるものとする必要がある。そこで、位置検出素子１０２からレンズ駆動素子１０４までのサーボ制御系についてステップ応答性のテストを行うことができることが望ましい。
【００１４】
本発明は、上記課題を解決した防振制御回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の１つの態様は、振動に応じて撮像装置の光学部品を駆動して、振動による撮像への影響を低減させる防振制御回路であって、撮像装置の振動を検出する振動検出素子の出力信号に基づいて前記光学部品の駆動量を決定するための振動信号を生成する振動制御用イコライザと、前記光学部品の位置を検出する位置検出素子の出力信号に基づいて前記光学部品の駆動量を決定するための位置信号を算出する位置制御用イコライザと、前記振動制御用イコライザと前記位置制御用イコライザとを制御する内蔵ＣＰＵと、を備え、前記位置制御用イコライザは、ステップ応答テストモードに設定されると、前記位置検出素子の出力信号に所定のオフセット値を加算した値に基づいて前記光学部品の駆動量を決定するための位置信号を算出し、前記内蔵ＣＰＵは、前記ステップ応答テストモードの場合に前記位置検出素子の出力信号をモニタリングすることを特徴とする。
【００１６】
また、前記オフセット値を格納するオフセット用メモリを備え、前記位置制御用イコライザは、ステップ応答テストモードに設定されると、前記オフセット用メモリから前記オフセット値を読み出して用いることが好適である。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、防振制御回路に備えられた内蔵ＣＰＵを用いて、サーボ制御系についてステップ応答性のテストを行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
＜回路構成＞
本発明の実施形態における防振制御回路２００は、図１の機能ブロック図に示すように、アナログ／デジタル変換回路（ＡＤＣ）２０、加算回路２２、サーボ回路２４、ハイパスフィルタ（ＨＰＦ）２６、パン・チルト判定回路２８、ゲイン調整回路３０、積分回路３２、センタリング処理回路３４、デジタル／アナログ変換回路（ＤＡＣ）３６、内蔵ＣＰＵ３８及びオフセット用メモリ（ＳＲＡＭ）４０を含んで構成される。
【００１９】
加算回路２２、サーボ回路２４及びオフセット用メモリ４０は位置制御用イコライザ２００ａを構成する。また、ＨＰＦ２６、パン・チルト判定回路２８、ゲイン調整回路３０、積分回路３２及びセンタリング処理回路３４は振動制御用イコライザ２００ｂを構成する。
【００２０】
防振制御回路２００は、位置検出素子１０２、レンズ駆動素子１０４、振動検出素子１０６に接続される。これらの素子は従来技術に記載のものと同様である。すなわち、位置検出素子１０２は、レンズ駆動素子１０４で駆動されるレンズの位置を少なくとも直交変換可能なように測定できるように少なくとも２軸以上に対して設けられる。また、振動検出素子１０６も、ヨー方向及びピッチ方向の２軸に沿って振動の成分を直交変換可能なように少なくとも２軸以上に対して設けられる。
【００２１】
本実施の形態では、撮像装置のヨー方向（Ｘ軸方向）及びピッチ方向（Ｙ軸方向）についてレンズ位置及び振動を検出できるように位置検出素子１０２及び振動検出素子１０６を設置するものとして説明を行う。以下の説明では、位置検出素子１０２及び振動検出素子１０６の出力信号はＸ軸成分同士、Ｙ軸成分同士で加算処理などされ、それぞれに基づいてヨー方向（Ｘ軸方向）及びピッチ方向（Ｙ軸方向）にレンズ位置が制御される。
【００２２】
なお、被写体の移動などに応じて撮像装置を水平方向（ヨー方向）に動かすことをパン動作といい、鉛直方向（ピッチ方向）に移動させることをチルト動作という。
【００２３】
ＡＤＣ２０は、位置検出素子１０２、例えばホール素子から出力されたアナログの電圧信号をデジタル信号に変換する。ホール素子は、レンズに固定された磁石による磁力に応じた誘導電流を生成する。つまり、ホール素子は、レンズとの距離に応じてレンズの位置を示す電圧信号を出力し、ＡＤＣ２０はその電圧信号をデジタル信号に変換して位置信号として出力する。ＡＤＣ２０は、レンズの光軸と撮像装置に備えられる撮像素子の中心とが一致する場合に、基準を示す信号、例えば、“０”を示すデジタル値を出力する構成とする。
【００２４】
また、ＡＤＣ２０は、振動検出素子１０６、例えばジャイロセンサから出力されたアナログの角速度信号をデジタル信号に変換する。すなわち、ＡＤＣ２０は、位置検出素子１０２及び振動検出素子１０６からの出力信号を時分割でデジタル化して出力する。
【００２５】
具体的には、図２に示すように、振動検出素子１０６で検出される振動のＸ軸成分の信号（Ｇｙｒｏ−Ｘ）、位置検出素子１０２で検出されるレンズの位置のＸ軸成分の信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ）、振動検出素子１０６で検出される振動のＹ軸成分の信号（Ｇｙｒｏ−Ｙ）、位置検出素子１０２で検出されるレンズの位置のＹ軸成分の信号（Ｈｏｌｅ−Ｙ）の順に信号をデジタル化して出力する。ＡＤＣ２０は、信号（Ｇｙｒｏ−Ｘ，Ｇｙｒｏ−Ｙ）はＨＰＦ２６へ出力し、信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）は加算回路２２へ出力する。
【００２６】
ＨＰＦ２６は、振動検出素子１０６から出力される角速度信号に含まれる直流成分を除去し、撮像装置の振動が反映された角速度信号の高周波成分を抽出する。
【００２７】
パン・チルト判定回路２８は、ＨＰＦ２６の出力する角速度信号に基づいて、撮像装置のパン動作、チルト動作を検出する。被写体の移動などに応じて撮像装置を移動させる場合、振動検出素子１０６はその移動に応じた角速度信号を出力する。しかし、パン動作またはチルト動作による角速度信号の変動は、手振れによるものではないため、レンズなどの光学系を補正する必要がない場合がある。パン・チルト判定回路２８は上記のような制御を実現するために設けられる。具体的には、パン・チルト判定回路２８は、一定期間角速度信号が所定値以上となることを検出したときに、パン動作またはチルト動作中であると判定する。
【００２８】
ゲイン調整回路３０は、パン・チルト判定回路２８の判定結果に応じて、ＨＰＦ２６から出力される角速度信号の増幅率を変更する。例えば、パン動作またはチルト動作中でない場合には、ゲイン調整回路３０はＨＰＦ２６が出力する角速度信号の強度を維持するようなゲイン調整を行う。また、パン動作またはチルト動作中の場合には、ゲイン調整回路３０はＨＰＦ２６が出力する角速度信号の強度を減衰して出力が０となるようなゲイン調整を行う。
【００２９】
積分回路３２は、ゲイン調整回路３０が出力する角速度信号を積分して、撮像装置の移動量を示す角度信号を生成する。積分回路３２は、図示しないデジタルフィルタを含んで構成することが好適であり、図示しないレジスタに設定されたフィルタ係数に応じたフィルタ処理を行うことによって角度信号、つまり撮像装置の移動量を求める。
【００３０】
センタリング処理回路３４は、積分回路３２から出力される角度信号に対して、所定の値を減算して、撮像装置の移動量を示す振動成分信号（ＳＶ−Ｘ，ＳＶ−Ｙ）を生成する。撮像装置において手振れ補正処理を行う場合、補正処理を継続して実行するうちにレンズの位置が基準位置から徐々に離れていき、レンズの可動範囲の限界点付近に達する場合がある。このとき、手振れ補正処理を継続すると、レンズはある一方の方向には移動できるが、他方には移動できなくなる。センタリング処理回路３４はこれを防止するために設けられるものであり、角度信号から所定の値を減算することによって、レンズの可動範囲の限界点に近づきにくいように制御する。
【００３１】
センタリング処理回路３４は、図示しないデジタルフィルタを含んで構成することが好適であり、図示しないレジスタに設定されたフィルタ係数に応じたフィルタ処理を行うことによって、角度信号から所定の値を減算する処理を行う。
【００３２】
なお、ＨＰＦ２６、パン・チルト判定回路２８、ゲイン調整回路３０、積分回路３２及びセンタリング処理回路３４を含む振動制御用イコライザ２００ｂは防振制御回路２００がステップ応答テストモードに設定された場合には非活性状態に設定され、上記の処理を行わない。
【００３３】
加算回路２２は、内蔵ＣＰＵ３８からステップ応答テストを行うための制御信号を受けている場合、ＡＤＣ２０から出力される位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）と、オフセット用メモリ４０に格納されているオフセット値と、を加算してサーボ回路２４へ出力する。一方、加算回路２２は、内蔵ＣＰＵ３８からステップ応答テストを行うための制御信号を受けていない場合、ＡＤＣ２０の出力する位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ）とセンタリング処理回路３４で生成されたＸ軸成分の振動成分信号（ＳＶ−Ｘ）を加算し、また、ＡＤＣ２０の出力する位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｙ）とセンタリング処理回路３４で生成されたＹ軸成分の振動成分信号（ＳＶ−Ｙ）を加算してサーボ回路２４へ出力する。
【００３４】
サーボ回路２４は、加算回路２２からの出力信号に応じて、レンズ駆動素子１０４の駆動を制御する補正信号ＳＲを生成する。サーボ回路２４は、レジスタとデジタルフィルタ回路を含んで構成され、レジスタに格納されるフィルタ係数を用いたフィルタ処理を行う。
【００３５】
ＤＡＣ３６はデジタルの補正信号ＳＲをアナログ信号に変換する。ＤＡＣ３６によってアナログ化された補正信号ＳＲに基づいて、レンズ駆動素子１０４によりＸ軸方向及びＹ軸方向についてそれぞれ撮像装置のレンズが駆動される。
【００３６】
また、内蔵ＣＰＵ３８は、防振制御回路２００に含まれる各種フィルタの係数やサーボ回路２４の制御パラメータを設定し、位置制御用イコライザ２００ａ及び振動制御用イコライザ２００ｂを制御する。また、入出力インターフェース３８ａを用いた外部からの設定等に基づいて、防振制御回路２００をステップ応答テストモードに設定する。具体的には、振動制御用イコライザ２００ｂを非活性状態とし、加算回路２２にステップ応答テストを行うための制御信号を出力する等の処理を行って、防振制御回路２００をステップ応答テストモードに設定する。さらに、ステップ応答テストモードとなった場合には、ＡＤＣ２０から出力される位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）をモニタリングする。
【００３７】
また、内蔵ＣＰＵ３８によって、防振制御回路２００で必要とされる他の付加的な処理を行うものとしてもよい。
【００３８】
＜通常の防振制御処理＞
図１に記載の防振制御回路２００を用いた、手振れによる被写体のぶれを補正するためのレンズの移動制御について説明する。以下においては、防振制御回路２００がステップ応答テストモードに設定されていない場合について説明する。すなわち、振動制御用イコライザ２００ｂは活性状態とされ、加算回路２２にはステップ応答テストを行うための制御信号は入力されていないものとする。
【００３９】
まず、手振れによる被写体のぶれのない場合について説明する。レンズ駆動素子１０４によって駆動されるレンズは、その光軸と撮像装置に備えられる撮像素子の中心が一致する軸（基準光軸）に位置するため、ＡＤＣ２０は“０”を示すデジタルの位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）を出力する。サーボ回路２４は、位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）の値が“０”のとき、現在のレンズの位置を維持するようにレンズ駆動素子１０４を制御する補正信号ＳＲを出力する。
【００４０】
また、レンズの位置と撮像素子の中心が一致しない場合、ＡＤＣ２０は“０”と異なる値を示すデジタルの位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）を出力する。サーボ回路２４は、ＡＤＣ２０の出力する値に応じて、位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）の値が“０”となるようにレンズ駆動素子１０４を制御する補正信号ＳＲを出力する。上記の動作を繰り返すことによって、レンズの位置と撮像素子の中心が一致するように、レンズの位置を制御する。
【００４１】
次に、手振れによって被写体のぶれが生じた場合について説明する。レンズ駆動素子１０４によって駆動されるレンズの位置は、その光軸と撮像装置に備えられる撮像素子の中心が一致するため、ＡＤＣ２０は“０”を示すデジタルの位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）を出力する。一方、手振れによって撮像装置が移動するため、積分回路３２及びセンタリング処理回路３４は撮像装置の移動量を示す振動成分信号（ＳＶ−Ｘ，ＳＶ−Ｙ）を出力する。
【００４２】
サーボ回路２４は、ＡＤＣ２０が出力する“０”を示す位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ）とセンタリング処理回路３４が出力する振動成分信号（ＳＶ−Ｘ）とを加算した信号に応じて補正信号ＳＲを生成する。このとき、位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ）は“０”であるにも関わらず、“０”でない振動成分信号（ＳＶ−Ｘ）が加算されているため、サーボ回路２４はレンズを移動させる補正信号ＳＲを生成する。この補正信号ＳＲに応じてＸ軸のレンズ駆動素子１０４を制御する。同様に、ＡＤＣ２０が出力する“０”を示す位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｙ）とセンタリング処理回路３４が出力する振動成分信号（ＳＶ−Ｙ）とを加算した信号に応じて、補正信号ＳＲを生成する。このとき、位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｙ）は“０”であるにも関わらず、“０”でない振動成分信号（ＳＶ−Ｙ）が加算されているため、サーボ回路２４はレンズを移動させる補正信号ＳＲを生成する。この補正信号ＳＲに応じてＹ軸のレンズ駆動素子１０４を制御する。サーボ回路２４が出力する補正信号ＳＲに基づいて、レンズ駆動素子１０４はレンズを移動させるため、撮像装置に備えられた撮像素子は手振れによる被写体のぶれを抑制した信号を得ることができる。このような制御を繰り返すことによって、防振制御回路２００は手振れ補正制御を実現している。
【００４３】
＜ステップ応答テスト処理＞
次に、図１に記載の防振制御回路２００のサーボ制御系のステップ応答テスト処理を行う場合について説明する。以下においては、防振制御回路２００がステップ応答テストモードに設定されており、振動制御用イコライザ２００ｂは活性状態とされ、加算回路２２にはステップ応答テストを行うための制御信号が入力されているものとする。
【００４４】
加算回路２２には内蔵ＣＰＵ３８からステップ応答テストを行うための制御信号が入力されており、この制御信号受けた加算回路２２はオフセット用メモリ４０に格納されているオフセット値を読み出して、ＡＤＣ２０から出力される位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）に加算してサーボ回路２４へ出力する。
【００４５】
テスト開始時には、レンズは、その光軸と撮像装置に備えられる撮像素子の中心が一致する基準光軸上にあるため、ＡＤＣ２０は“０”を示すデジタルの位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）を出力する。従って、加算回路２２はオフセット用メモリ４０から読み出されたオフセット値を出力する。サーボ回路２４は、オフセット値で示される位置にレンズを移動させるような補正信号ＳＲを生成して出力する。
【００４６】
このような処理によって、レンズは、その光軸と撮像素子の中心が一致する位置からオフセット値で示される位置まで急激に移動させられる。位置検出素子１０２は移動させられたレンズの位置を検出し、ＡＤＣ２０はその検出値をデジタルの位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）に変換して加算回路２２及び内蔵ＣＰＵ３８へ出力する。
【００４７】
オフセット値は、図３（ａ）に示すように、レンズを基準光軸からステップ状に急激に移動させるような値に設定されている。実際のレンズの位置は、図３（ｂ）に示すように、オフセット値で指定される位置（Ａ）に対してオーバーシュートやアンダーシュートを示し、その後、徐々に位置（Ｂ）に収束する。内蔵ＣＰＵ３８は、このレンズの実際の動きをＡＤＣ２０から位置信号（Ｈｏｌｅ−Ｘ，Ｈｏｌｅ−Ｙ）としてサンプリングし、位置信号の波形、オーバーシュートやアンダーシュートの時間（ｔ）、オフセット値で指定される位置（Ａ）と実際の収束位置（Ｂ）とのずれ量（Ｘ）等をモニタリングする。
【００４８】
これらの測定値は内蔵ＣＰＵ３８の入出力インターフェース３８ａから防振制御回路２００の外部へと出力可能である。例えば、防振制御回路２００の出荷前にステップ応答テストの結果に基づいて内蔵ＣＰＵ３８にサーボ制御系のフィルタ値等の設定を行うことで、内蔵ＣＰＵ３８からレンズ位置がより迅速に目標位置に駆動できるようにサーボ制御系を制御することができる。
【００４９】
以上のように、本発明の実施形態では、防振制御回路２００はＨＰＦ２６、積分回路３２及びセンタリング処理回路３４を設ける構成としたことによって、内蔵ＣＰＵ３８によって上記処理を行う構成に比べて回路面積を縮小することが可能となる。これによって、防振制御回路２００が搭載される半導体チップのコストを低減することが可能となる。
【００５０】
さらに、オフセット用メモリ４０にオフセット値を格納し、ステップ応答テスト処理時にこの値を読み出してレンズ位置の制御に用いることによって、防振制御回路２００のサーボ制御系のステップ応答特性を検証することができる。これにより、防振制御回路２００の防振制御の応答性をより適切なものとすることができる。
【００５１】
本発明の実施の形態は、撮像装置として製品を出荷する前の検査工程で適用することが好適である。本発明の実施の形態では、内蔵ＣＰＵ３８を用いてサーボ制御系のステップ応答特性を検証している。このとき、内蔵ＣＰＵ３８はステップ応答テスト処理のためのプログラム（ファームウェア）に基づいて、サーボ制御系のステップ応答特性を検証している。このため、ステップ応答特性の検証のために必要なツールは、主にステップ応答テスト処理用のプログラムであるため、特別な検証装置を導入する必要がなく、ツールの導入費用が低減できる。また、プログラムを複数の機種にて実行することにより、複数の撮像装置のステップ応答特性を同時に検証することが可能となる。
【００５２】
なお、本発明の実施形態では、位置検出素子１０２、レンズ駆動素子１０４、振動検出素子１０６はそれぞれ、ホール素子、ボイスコイルモータ、ジャイロセンサとしたが、本願はそれに限られるものではない。例えば、レンズ駆動素子１０４はピエゾ素子を用いることができる。また、振動検出素子１０６は、直線方向の加速度を検出するセンサを用いて、加速度信号に基づいて撮像装置の振動を検出する構成とすることができる。
【００５３】
また、本発明の実施形態では、レンズを駆動させて手振れ補正処理を行うレンズシフト方式としたが、本発明はこれに限られるものではない。たとえば、本発明は、撮像装置のぶれに応じてＣＣＤ素子などの撮像素子をシフトさせるＣＣＤシフト方式にも適用することができる。このとき、位置検出素子１０２は撮像素子の位置を検出し、レンズ駆動素子１０４は撮像素子を駆動する素子とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の実施の形態における防振制御回路の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態における振動検出素子及び位置検出素子の相対的な配置を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態におけるサーボ制御系のステップ応答テスト処理を説明する図である。
【図４】従来の防振制御回路の構成を示す図である。
【符号の説明】
【００５５】
１０  サーボ回路、１２  レンズドライバ、２０  アナログ／デジタル変換回路、２２  加算回路、２４  サーボ回路、２６  ハイパスフィルタ、２８  パン・チルト判定回路、３０  ゲイン調整回路、３２  積分回路、３４  センタリング処理回路、３６  デジタル／アナログ変換回路、３８  内蔵ＣＰＵ、４０  オフセット用メモリ、１００，２００  防振制御回路、１０２  位置検出素子、１０４  レンズ駆動素子、１０６  振動検出素子，２００ａ  位置制御用イコライザ、２００ｂ  振動制御用イコライザ。
【図１】
2009145636.tif 000003
【図２】
2009145636.tif 000004
【図３】
2009145636.tif 000005
【図４】
2009145636.tif 000006