(57)【要約】【課題】製造コストの高騰を招くことなく、入力信号についての信号波形を十分に近似させて描画可能に波形描画用データを記録し得る波形記録装置を提供する。【解決手段】入力信号についての測定値を示すサンプリングデータ（測定データ）を所定時間間隔で生成する測定部と、入力信号の信号波形を描画するための波形描画用データとして各サンプリングデータを記録装置に記録させる制御部とを備えた波形記録装置であって、制御部は、測定部によって直前に生成されたサンプリングデータに対して測定値が規定値（第１の変化量）以上変化したサンプリングデータが測定部によって生成されたときに（ステップ１６）、生成されたサンプリングデータを波形描画用データとして記録装置に記録させる（ステップ１３）。【選択図】図２
2009115675.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号についての測定値を示す測定データを所定時間間隔で生成する測定部と、前記入力信号の信号波形を描画するための波形描画用データとして前記各測定データを記録装置に記録させる制御部とを備えた波形記録装置であって、
前記制御部は、前記測定部によって直前に生成された前記測定データに対して前記測定値が第１の変化量以上変化した前記測定データが当該測定部によって生成されたときに、当該生成された測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる波形記録装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記波形描画用データとして記録させた測定データの直前に前記測定装置によって生成された前記測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる請求項１記載の波形記録装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記波形描画用データとして前記記録装置に直前に記録させた前記測定データに対して前記測定値が第２の変化量以上変化した前記測定データが当該測定部によって生成されたときに、当該生成された測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる請求項１または２記載の波形記録装置。
【請求項４】
入力信号についての測定値を所定時間間隔で生成すると共に、前記入力信号の信号波形を描画するための波形描画用データとして当該各測定データを記録装置に記録させるデータ記録方法であって、
直前に生成した前記測定データに対して前記測定値が第１の変化量以上変化したときに当該変化した測定値を示す前記測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させるデータ記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号についての測定値を示す測定データを所定時間間隔で生成して波形描画用データとして記録装置に記録させる波形記録装置およびデータ記録方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のデータ記録方法に従って信号波形描画用のデータを記録可能に構成された波形記録装置が特開２００２−２５０７４５号公報に開示されている。この波形記録装置では、入力データ（入力信号）がバッファアンプによって正規化されると共に、Ａ／Ｄ変換器によって所定時間間隔で（所定のサンプリング速度で）ディジタルデータ（測定データ）に変換される。また、トリガ検出器によってディジタルデータからトリガが検出されたとき（トリガ条件を満たすディジタルデータが生成されたとき）には、メモリコントローラがトリガ検出器からの信号に従ってディジタルデータをメモリに書き込む。この後、表示コントローラがＣＰＵの制御に従ってメモリ内のディジタルデータに基づく信号波形を表示器に表示させる。
【特許文献１】特開２００２−２５０７４５号公報（第３頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、従来の波形記録装置には、以下の問題点が存在する。すなわち、従来の波形記録装置では、トリガ検出器によってトリガが検出されたときに、その後に生成されるディジタルデータのすべてをメモリに記録する構成が採用されている。この場合、この種の波形記録装置では、データの記録処理を開始してから停止させるまで、予め設定したサンプリング速度（時間間隔）でディジタルデータが生成される。このため、入力信号についての信号波形を十分に近似させて（詳細に）描画すべく、サンプリングを高速にしたときには、単位時間当りに生成されるディジタルデータのデータ数が大量となることに起因して、比較的短時間でメモリ内がディジタルデータで満たされることとなる。
【０００４】
したがって、サンプリングを高速に設定した状態において、ある程度長い時間に亘ってディジタルデータを記録するときや、複数回に亘ってディジタルデータを記録するときには、大量のディジタルデータを記憶可能な大容量の高価なメモリが必要となるため、従来の波形記録装置には、高価なメモリを搭載する分だけ、その製造コストが高騰しているという問題点がある。この場合、メモリの記憶容量をある程度小さな容量に抑えようとした場合には、サンプリングを十分に高速に設定することができないため、従来の波形記録装置では、製造コストの高騰を回避すべく安価なメモリを搭載しようとしたときに、入力信号についての信号波形を十分に近似させて描画するのが困難になるという問題が生じる。
【０００５】
本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、製造コストの高騰を招くことなく、入力信号についての信号波形を十分に近似させて描画可能に波形描画用データを記録し得る波形記録装置およびデータ記録方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成すべく請求項１記載の波形記録装置は、入力信号についての測定値を示す測定データを所定時間間隔で生成する測定部と、前記入力信号の信号波形を描画するための波形描画用データとして前記各測定データを記録装置に記録させる制御部とを備えた波形記録装置であって、前記制御部は、前記測定部によって直前に生成された前記測定データに対して前記測定値が第１の変化量以上変化した前記測定データが当該測定部によって生成されたときに、当該生成された測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる。
【０００７】
また、請求項２記載の波形記録装置は、請求項１記載の波形記録装置において、前記制御部が、前記波形描画用データとして記録させた測定データの直前に前記測定装置によって生成された前記測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる。
【０００８】
さらに、請求項３記載の波形記録装置は、請求項１または２記載の波形記録装置において、前記制御部が、前記波形描画用データとして前記記録装置に直前に記録させた前記測定データに対して前記測定値が第２の変化量以上変化した前記測定データが当該測定部によって生成されたときに、当該生成された測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる。
【０００９】
また、請求項４記載のデータ記録方法は、入力信号についての測定値を所定時間間隔で生成すると共に、前記入力信号の信号波形を描画するための波形描画用データとして当該各測定データを記録装置に記録させるデータ記録方法であって、直前に生成した前記測定データに対して前記測定値が第１の変化量以上変化したときに当該変化した測定値を示す前記測定データを前記波形描画用データとして前記記録装置に記録させる。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載の波形記録装置および請求項４記載のデータ記録方法では、直前に生成された測定データに対して測定値が第１の変化量以上変化したときに、その変化した測定値を示す測定データを波形描画用データとして記録装置に記録させることにより、直前に生成された測定データに対する測定値の変化量（所定時間後における測定値の変化量）が第１の変化量を下回っているときに、その測定データが波形描画用データとして記録されることなく破棄されるため、測定値の変化が小さいときであってもディジタルデータ（測定データ）が記録される従来の波形記録装置とは異なり、測定データのサンプリング速度を遅くすることなく（サンプリングを高速に維持しつつ）、記録装置に記録される波形描画用データのデータ量を低減することができるため、高価な大容量メモリを搭載することなく、入力信号の信号波形に十分に近似する信号波形を描画可能に波形記録装置を構成することができ、これにより、波形記録装置の製造コストを十分に低減することができる。
【００１１】
また、請求項２記載の波形記録装置によれば、波形描画用データとして記録させた測定データの直前に生成された測定データを波形描画用データとして記録装置に記録させることにより、入力信号の測定値が大きく変化することなくある程度長い時間が経過した後に、測定値が大きく変化したときにも、記録装置に記録される波形描画用データのデータ量をそれほど増加させることなく、記録装置に記録された波形描画用データに基づいて、その大きな変化を忠実に再現した信号波形を描画することができる。
【００１２】
さらに、請求項３記載の波形記録装置によれば、波形描画用データとして記録装置に直前に記録させた測定データに対して測定値が第２の変化量以上変化した測定データが生成されたときに、生成された測定データを波形描画用データとして記録装置に記録させることにより、入力信号の測定値が極く僅かながら徐々に変化したとしても、記録装置に記録される波形描画用データのデータ量をそれほど増加させることなく、記録装置に記録された波形描画用データに基づいて、その僅かながらの変化をさらに忠実に再現した信号波形を描画することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明に係る波形記録装置およびデータ記録方法の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１４】
最初に、波形記録装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１５】
図１に示す波形記録装置１は、本発明に係る波形記録装置の一例であって、本発明に係るデータ記録方法に従い、入力信号Ｓｉについての測定値を示すサンプリングデータＤ１（本発明における測定データ）を波形描画用データＤ２として記録する処理を実行すると共に、その波形描画用データＤ２に基づいて入力信号Ｓｉの信号波形を表示する処理（描画する処理）を実行する。具体的には、波形記録装置１は、Ａ／Ｄ変換部２、トリガ信号出力部３、制御部４、メモリ５ａ，５ｂ、データ記録部６、操作部７、表示部８および主制御部９を備えて構成されている。
【００１６】
Ａ／Ｄ変換部２は、本発明における測定部に相当し、入力信号Ｓｉをアナログ−ディジタル変換して（入力信号Ｓｉを所定のサンプリング速度（サンプリング周期：本発明における「所定時間間隔」）でサンプリングして）入力信号Ｓｉの電気的パラメータ（例えば、電圧値、電流値、周波数および位相など：本発明における測定値）を示すサンプリングデータＤ１を生成する。トリガ信号出力部３は、例えばＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Alley ）内に構築された論理処理回路を有するトリガ検出器（図示せず）を備えている。このトリガ信号出力部３は、Ａ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤ１の電気的パラメータ（一例として、電圧値）と、予め設定された設定値との比較結果に基づいて、例えばサンプリングデータＤ１の電圧値がその設定値を超えたときにトリガ信号Ｓｔを出力する。なお、このトリガ信号出力部３は、波形記録装置１に対して設定される動作条件（記録条件）に応じて上記のＡＮＤ回路およびＯＲ回路の接続形態が随時変更されるが、本発明についての理解を容易とするために、この接続形態の変更（ＦＰＧＡに対する設定の変更）についての説明を省略する。
【００１７】
制御部４は、主制御部９と相俟って本発明における制御部を構成し、メモリ５ａに記憶されている記録条件データＤｒに従い、Ａ／Ｄ変換部２を制御して予め設定されたサンプリング速度でサンプリングデータＤ１を生成させると共に、生成されたサンプリングデータＤ１を例えば先入れ先出し法でメモリ５ｂに順次記憶させる。また、制御部４は、トリガ信号出力部３からトリガ信号Ｓｔが出力されたとき（記録条件が満たされたとき）に、後述するようにして、図２に示すデータ記録処理１０Ａ（または、図４に示すデータ記録処理１０Ｂ、または、図６に示すデータ記録処理１０Ｃ）を実行し、記録条件データＤｒによって規定されている条件を満たすサンプリングデータＤ１をメモリ５ｂから読み出して波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる。
【００１８】
メモリ５ａは、上記の記録条件データＤｒや制御部４の動作プログラムなどを記憶する。この場合、記録条件データＤｒは、データ記録部６に波形描画用データＤ２を記録するための各種の条件（データ記録条件）を特定可能な情報で構成されている。具体的には、本発明における「所定時間間隔（一例として、図３，５，７に示す時間Ｔｓの間隔）」、「第１の変化量（一例として、図３に示す変化量Ｚａ）」および「第２の変化量（一例として、図７に示す変化量Ｚｂ）」などを特定可能な情報で構成されている。この場合、第１および第２の変化量は、変化前後の２つのサンプリングデータＤ１，Ｄ１の各電圧値の差分量の絶対値を意味する。メモリ５ｂは、一例として、ＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）で構成されて、上記のサンプリングデータＤ１を一時的に記憶する。データ記録部６は、本発明における記録装置に相当し、一例として、リムーバブルメモリ（メモリカード等）やＨＤＤ（Hard Disc Drive ）で構成されて、制御部４の制御に従って波形描画用データＤ２を記録する。
【００１９】
操作部７は、記録条件設定用のスイッチや、記録処理の開始／停止を指示するスタート／ストップスイッチなどの各種操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号Ｓ１を主制御部９に出力する。表示部８は、例えばＬＣＤ（Liquid Crystal Display）で構成されて、主制御部９によって生成された表示用データＤ３に基づき、信号波形ＷＡ〜ＷＣ等（図３，５，７参照）を表示する信号波形表示画面（図示せず）を表示する。なお、図３，５，７に破線で示す信号波形Ｗは、入力信号Ｓｉの実際の信号波形を表している。主制御部９は、波形記録装置１を統括的に制御する。具体的には、主制御部９は、操作部７から出力された操作信号Ｓ１や予め設定された動作条件に従い、トリガ信号出力部３および制御部４を制御する。また、主制御部９は、後述するようにして、制御部４を介してデータ記録部６から読み出した波形描画用データＤ２に基づいて、上記の信号波形表示画面を表示させるための表示用データＤ３を生成する。
【００２０】
次に、波形記録装置１の使用方法について、図面を参照して説明する。なお、本発明における「所定時間間隔（Ａ／Ｄ変換部２によるサンプリング速度）」や、本発明における「第１の変化量」等については、記録条件データＤｒとして既にメモリ５ａに記憶されているものとする。
【００２１】
この波形記録装置１によって、波形描画用データＤ２の記録処理、および波形描画用データＤ２に基づく信号波形の表示処理（描画処理）を実行する際には、まず、Ａ／Ｄ変換部２を対象機器に接続した状態において波形記録装置１に電源を投入する。この際に、Ａ／Ｄ変換部２は、制御部４の制御に従い、設定されたサンプリング速度（本発明における所定時間間隔：一例として、図３に示す時間Ｔｓの間隔）で入力信号Ｓｉをアナログ−ディジタル変換して入力信号Ｓｉの例えば電圧値を示すサンプリングデータＤ１を生成して順次出力する。また、制御部４は、Ａ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤ１（Ａ／Ｄ変換部２によって生成されたサンプリングデータＤ１）をメモリ５ｂに順次記憶させる。次いで、操作部７のスタート／ストップスイッチを操作する。この際に、主制御部９は、操作部７から出力された操作信号Ｓ１に従い、トリガ信号出力部３を制御して、記録条件（レベルトリガ条件）を満たすサンプリングデータＤ１（例えば、その電圧値が設定値以上のサンプリングデータＤ１）がＡ／Ｄ変換部２から出力されるか否かを監視させる。
【００２２】
一方、トリガ信号出力部３は、設定された記録条件を満たすサンプリングデータＤ１がＡ／Ｄ変換部２から出力されたときに、トリガ信号Ｓｔを制御部４に出力する。これに応じて、制御部４は、図２に示すデータ記録処理１０Ａを開始する。このデータ記録処理１０Ａでは、制御部４は、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機すると共に、サンプリングデータＤ１が出力されたときに（ステップ１１）、サンプリングデータＤ１をメモリ５ｂに記録させる。なお、メモリ５ｂに記録させる処理は、サンプリングデータＤ１が出力される都度行われるため、以下、この処理の説明を省略する。次いで、制御部４は、Ａ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤ１が、トリガ信号Ｓｔの出力後における最初のサンプリングデータＤ１であるか否かを判別する（ステップ１２）。この際には、最初のサンプリングデータＤ１であると判別し、制御部４は、そのサンプリングデータＤ１をメモリ５ｂから読み出して波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる（ステップ１３）。これにより、一例として、図３に示す時点ｔ０において生成されたサンプリングデータＤ１（以下、各時点ｔにおいて生成されたサンプリングデータＤ１を「時点ｔのサンプリングデータＤ１」ともいう）が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録される。
【００２３】
次いで、制御部４は、記録停止条件が満たされたか否か（例えば、スタート／ストップスイッチの操作によって記録停止を指示されたか否か）を判別すると共に（ステップ１４）、記録停止条件が満たされていないと判別したときには、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。この際に、上記の例における時点ｔ０から時間Ｔｓが経過して次のサンプリングデータＤ１がＡ／Ｄ変換部２から出力されたときには（ステップ１１）、制御部４は、そのサンプリングデータＤ１が最初のサンプリングデータＤ１ではないと判別し（ステップ１２）、さらに、そのサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として記録すべき最後のサンプリングデータＤ１（この例では、スタート／ストップスイッチの操作によって記録停止を指示され後に最初に出力されるサンプリングデータＤ１）でもないと判別する（ステップ１５）。
【００２４】
次いで、制御部４は、そのサンプリングデータＤ１（この例では、図３における時点ｔ１のサンプリングデータＤ１）の電圧値と、直前に出力されたサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ０のサンプリングデータＤ１）の電圧値とを比較することにより、直前のサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量（電圧値の差分値の絶対値）が、本発明における第１の変化量（一例として、図３に示す変化量Ｚａ）以上となっているか否かを判別する（ステップ１６）。この際には、図３に示すように、時点ｔ０のサンプリングデータＤ１における電圧値に対する時点ｔ１のサンプリングデータＤ１における電圧値の変化量Ｚ１が、第１の変化量に相当する変化量Ｚａ以上のため、制御部４は、時点ｔ１のサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる（ステップ１３）。また、制御部４は、記録停止条件が満たされていないと判別し（ステップ１４）、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。
【００２５】
この後、制御部４によって上記の一連の処理が繰り返して実行されることにより、時間Ｔｓを挟んだ前後における電圧値の変化量（以下、「時間Ｔｓ後における電圧値の変化量」ともいう）が上記の変化量Ｚａ以上のとき（電圧値の変化が大きいとき）には、そのサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録される。また、例えば時点ｔ３のサンプリングデータＤ１がＡ／Ｄ変換部２から出力されたときには、制御部４は、時点ｔ２のサンプリングデータＤ１における電圧値に対する時点ｔ３のサンプリングデータＤ１における電圧値の変化量Ｚ２が、第１の変化量に相当する変化量Ｚａを下回っていると判別し（ステップ１６）、時点ｔ３のサンプリングデータＤ１を破棄する（ステップ１７）。この後、制御部４によって上記の一連の処理が繰り返して実行されることにより、時間Ｔｓ後における電圧値の変化量が上記の変化量Ｚａを下回っているとき（電圧値の変化が小さいとき、または、変化がないとき）には、そのサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されることなく破棄される。
【００２６】
この後、主制御部９は、操作部７のスタート／ストップスイッチの操作によって記録処理の停止が指示されたときに、制御部４に対して記録処理の停止を指示する。これに応じて、制御部４は、記録停止条件が満たされたと判別すると共に（ステップ１４）、最後のサンプリングデータＤ１（主制御部９によって記録処理の停止を指示された後に最初に出力されるサンプリングデータＤ１）の記録が完了していないと判別し（ステップ１８）、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。また、制御部４は、サンプリングデータＤ１が出力されたときに、そのサンプリングデータＤ１（この例では、図３に示す時点ｔｎのサンプリングデータＤ１）が最後のサンプリングデータＤ１であると判別して（ステップ１５）、波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる（ステップ１３）。この後、制御部４は、記録停止条件が満たされているため（ステップ１４）、最後のサンプリングデータＤ１（波形描画用データＤ２）の記録が完了したときに（ステップ１８）、主制御部９にその旨を報知して、このデータ記録処理１０Ａを完了する。
【００２７】
これに応じて、主制御部９は、データ記録部６に記録されている波形描画用データＤ２に基づいて、入力信号Ｓｉの信号波形を表示するための表示用データＤ３を生成する。また、主制御部９は、生成した表示用データＤ３を表示部８に出力することにより、信号波形表示画面（図示せず）を表示させる。この際に、信号波形表示画面には、図３に示す信号波形ＷＡが表示される。この場合、このデータ記録方法では、時間Ｔｓ後における入力信号Ｓｉの電圧値の変化量が変化量Ｚａ以上のときだけサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録するため、一例として、同図に示すように、Ａ／Ｄ変換部２によって生成された１４０個のサンプリングデータＤ１のうちの５１個のサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されると共に、１４０個のサンプリングデータＤ１のうちの８９個のサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されることなく破棄される。
【００２８】
したがって、生成されたディジタルデータ（測定データ）のすべてを記録する従来の波形記録装置と比較して、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２の数（データ量）が十分に少なくなっているにも拘わらず、例えばデータ量を減らすためにサンプリング速度を遅くするとの方法を採用する構成とは異なり、この波形描画用データＤ２に基づいて描画された信号波形ＷＡは、同図に破線で示す入力信号Ｓｉの実際の信号波形Ｗと比較して明らかなように、入力信号Ｓｉの電圧値（測定値）の変化の状態を認識するために十分に近似する波形となっている。以上により、入力信号Ｓｉについての波形描画用データＤ２の記録処理、および波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＡの表示処理（描画処理）が完了する。
【００２９】
このように、この波形記録装置１、および波形記録装置１によるデータ記録方法によれば、直前に生成されたサンプリングデータＤ１に対して測定値が第１の変化量以上変化したときに、その変化した測定値を示すサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させることにより、直前に生成されたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量（時間Ｔｓ後における電圧値の変化量）が変化量Ｚａを下回っているときに、そのサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として記録されることなく破棄されるため、電圧値の変化が小さいときであってもディジタルデータ（測定データ）が記録される従来の波形記録装置とは異なり、サンプリング速度を遅くすることなく（サンプリングを高速に維持しつつ）、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２のデータ量を低減することができるため、高価な大容量メモリを搭載することなく、入力信号Ｓｉの信号波形Ｗに十分に近似する信号波形ＷＡを描画可能に波形記録装置１を構成することができ、これにより、波形記録装置１の製造コストを十分に低減することができる。
【００３０】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、時間Ｔｓ後における入力信号Ｓｉの電圧値の変化量が変化量Ｚａ以上のときにだけサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録するデータ記録処理１０Ａを実行する例について説明したが、このような条件に当て嵌まるサンプリングデータＤ１だけでなく、変化量が変化量Ｚａ以上のサンプリングデータＤ１と、そのサンプリングデータＤ１の直前に生成されたサンプリングデータＤ１とを波形描画用データＤ２としてそれぞれ記録させる構成（データ記録方法）を採用することができる。具体的には、前述したデータ記録処理１０Ａに代えて、図４に示すデータ記録処理１０Ｂを制御部４によって実行するように波形記録装置１を構成することができる。なお、このデータ記録処理１０Ｂにおいて前述したデータ記録処理１０Ａと同様の処理を実行するステップについては、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
【００３１】
このデータ記録処理１０Ｂでは、制御部４が、Ａ／Ｄ変換部２によって直前に生成された（出力された）サンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が第１の変化量以上であると判別したときに（ステップ１６）、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる（ステップ１３）。具体的には、図５に示すように、一例として、同図に示す時点ｔ７や時点ｔ９においては、直前のサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ６ａ，ｔ８ａ）に対する電圧値の変化量Ｚ３，Ｚ４が第１の変化量（この例では、図３に示す変化量Ｚａ）以上であると判別して、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる。次いで、制御部４は、データ記録部６に波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１の直前にＡ／Ｄ変換部２から出力されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させたか否かを判別する（ステップ２１）。
【００３２】
この際に、例えば、時点ｔ７，ｔ９の直前に出力されたサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ６ａ，ｔ８ａのサンプリングデータＤ１）は、そのサンプリングデータＤ１の直前に出力されたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が第１の変化量（変化量Ｚａ）を下回っているため、波形描画用データＤ２として記録されることなく破棄されている。したがって、制御部４は、時点ｔ７，ｔ９の直前に出力されたサンプリングデータＤ１を記録していないと判別し（ステップ２１）、そのサンプリングデータＤ１（時点ｔ６ａ，ｔ８ａのサンプリングデータＤ１）を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させる（ステップ２２）。この後、制御部４は、記録停止条件が満たされていないと判別し（ステップ１４）、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。
【００３３】
一方、このデータ記録処理１０Ｂでは、データ記録部６に波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１の直前のサンプリングデータＤ１だけでなく、波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１の直後に生成されるサンプリングデータＤ１も波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録される。具体的には、制御部４が、直前に出力されたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が第１の変化量を下回っていると判別したときに（ステップ１６）、そのサンプリングデータＤ１（例えば、時点ｔ７ａ，ｔ９ｂのサンプリングデータＤ１）の直前に出力されたサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ７，ｔ９のサンプリングデータＤ１）を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させたか否か（直前に出力されたサンプリングデータＤ１の電圧値が時間Ｔｓ後に変化量Ｚａ以上の変化量であったか否か）を判別する（ステップ２３）。この際に、直前のサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録させていないときには、電圧値の変化量が第１の変化量を下回っているそのサンプリングデータＤ１を破棄して（ステップ１７）、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。
【００３４】
また、直前のサンプリングデータＤ１（時点ｔ７，ｔ９のサンプリングデータＤ１）を波形描画用データＤ２として記録させたときには（ステップ２３）、そのサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ７ａ，ｔ９ａ）を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させると共に（ステップ１３）、直前のサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録させたと判別し（ステップ２１）、さらに、例えば、記録停止条件が満たされていないと判別して（ステップ１４）、サンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。このように、データ記録処理１０Ｂでは、データ記録部６に対して波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１の直前および直後の各１つのサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として記録される。この場合、このデータ記録処理１０Ｂでは、図５に示すように、Ａ／Ｄ変換部２によって生成された１４０個のサンプリングデータＤ１のうちの７２個のサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されると共に、１４０個のサンプリングデータＤ１のうちの６８個のサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されることなく破棄される。
【００３５】
したがって、生成されたディジタルデータ（測定データ）のすべてを記録する構成の従来の波形記録装置と比較して、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２の数が十分に少なくなっているにも拘わらず、データ量を減らすために例えばサンプリング速度を遅くするとの方法を採用する構成とは異なり、このデータ記録処理１０Ｂによってデータ記録部６に記録された波形描画用データＤ２に基づいて描画された信号波形ＷＢは、同図に破線で示す入力信号Ｓｉの実際の信号波形Ｗと比較して明らかなように、入力信号Ｓｉの電圧値（測定値）の変化の状態を認識するのに一層十分に近似する波形となっている。また、このデータ記録処理１０Ｂでは、波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させたサンプリングデータＤ１の前後の両サンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録することにより、前述したデータ記録処理１０Ａによって記録された波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＡと比較して、波形描画用データＤ２に基づいて本来的な信号波形Ｗと非常に近い信号波形ＷＢを表示（描画）することが可能となっていいる。
【００３６】
具体的には、図３に示すように、前述したデータ記録処理１０Ａによって記録した波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＡでは、例えば矢印Ａ１，Ａ２で示す部位のように、時間Ｔｓ後における電圧値の変化量が小さいときに、生成されるサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として記録されずに、その後に電圧値が変化量Ｚａを超えて大きく変化したときに生成されるサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として初めて記録される。この際に、同図に示すように、その変化量が大きいときには、本来は、同図に破線で示す信号波形Ｗのように電圧値が大きく変化した部位に角部が生じるように折れ線で波形が描画されるべきところ、直前に記録された波形描画用データＤ２（この例では、時点ｔ６，ｔ８において生成されたサンプリングデータＤ１）に対応する部位から、電圧値が大きく変化した時点において記録された波形描画用データＤ２（この例では、時点ｔ７，ｔ９において生成されたサンプリングデータＤ１）に対応する部位まで、波形が斜め線で描画されることとなる。
【００３７】
一方、上記のデータ記録処理１０Ｂによって記録した波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＢでは、矢印Ｂ１，Ｂ２で示す部位のように、例えば時点ｔ７，ｔ９においてサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させたときに、その直前の時点ｔ６ａ，ｔ８ａにおいて生成されたサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として記録される。したがって、同図に破線で示す信号波形Ｗと同様にして、電圧値が大きく変化した部位に角部が生じるように折れ線で信号波形ＷＢが描画される。このため、データ記録処理１０Ａによって波形描画用データＤ２を記録したときと同様にして、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２のデータ量が十分に低減されつつ、信号波形Ｗに一層十分に近似する信号波形ＷＢが描画される。
【００３８】
この場合、本発明は上記のデータ記録処理１０Ｂのように波形描画用データＤ２として記録したサンプリングデータＤ１の直前および直後に生成されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録する方法に限定されず、直前に生成されたサンプリングデータＤ１に対する測定値（電圧値）の変化量が変化量Ｚａ以上のとき、および波形描画用データＤ２として記録したサンプリングデータＤ１の直前に生成されたサンプリングデータＤ１だけを波形描画用データＤ２として記録する方法を採用することもできる。
【００３９】
このように、この波形記録装置１、および波形記録装置１によるデータ記録方法（データ記録処理１０Ｂ）によれば、波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１の直前に生成されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させることにより、入力信号Ｓｉの電圧値が大きく変化することなくある程度長い時間が経過した後に、電圧値が大きく変化したときにも、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２のデータ量をそれほど増加させることなく、データ記録部６に記録された波形描画用データＤ２に基づいて、その大きな変化を忠実に再現した信号波形ＷＢを描画することができる。
【００４０】
一方、上記のデータ記録処理１０Ｂでは、時間Ｔｓ後における電圧値の変化量が変化量Ｚａ以上のときに、そのサンプリングデータＤ１と、そのサンプリングデータＤ１の直前および直後の各１つのサンプリングデータＤ１とを波形描画用データＤ２としてそれぞれ記録しているが、本発明はこれに限定されず、時間Ｔｓ後における電圧値の変化量が変化量Ｚａ以上のときにそのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録させると共に、直前に波形描画用データＤ２として記録させた波形描画用データＤ２に対する測定値（電圧値等）の変化量が本発明における第２の変化量以上のときに、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録させる構成（データ記録方法）を採用することができる。具体的には、前述したデータ記録処理１０Ａ，１０Ｂに代えて、図６に示すデータ記録処理１０Ｃを制御部４によって実行するように波形記録装置１を構成することができる。なお、このデータ記録処理１０Ｃにおいて前述したデータ記録処理１０Ａ，１０Ｂと同様の処理を実行するステップについては、同一の符号を付して重複する説明を省略する。
【００４１】
このデータ記録処理１０Ｃでは、制御部４が、直前に出力されたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が第１の変化量を下回っていると判別したときに（ステップ１６）、そのサンプリングデータＤ１の直前に出力されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させたか否かを判別する（ステップ２３）。この際に、直前のサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録させていないときには、波形描画用データＤ２として直前に記録させたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が第２の変化量（規定値）以上であるか否かを判別する（ステップ２４）。この際に、直前に記録したサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が第２の変化量（一例として、図７に示す変化量Ｚｂ）を下回っているとき（すなわち、直前に波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１に対して電圧値が大きく変化していないとき）には、そのサンプリングデータＤ１を破棄して（ステップ１７）、Ａ／Ｄ変換部２からサンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。
【００４２】
また、直前に波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が変化量Ｚｂ以上のときには（ステップ２４）、制御部４は、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させると共に（ステップ１３）、直前のサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録させたか否かを判別し（ステップ２１）、以下、上記のデータ記録処理１０Ｂと同様の手順を実行した後に、サンプリングデータＤ１が出力されるまで待機する（ステップ１１）。このように、データ記録処理１０Ｃでは、データ記録部６に対して波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１の直前に波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が変化量Ｚｂ以上のとき（各時間Ｔｓ後の各電圧値の変化量が変化量Ｚａを下回るときの、その各電圧値の変化量の合計値が変化量Ｚｂ以上のとき）に、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録する。この場合、このデータ記録処理１０Ｃでは、図７に示すように、Ａ／Ｄ変換部２によって生成された１４０個のサンプリングデータＤ１のうちの７６個のサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されると共に、１４０個のサンプリングデータＤ１のうちの６４個のサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録されることなく破棄される。
【００４３】
したがって、生成されたディジタルデータ（測定データ）のすべてを記録する構成の従来の波形記録装置と比較して、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２の数が十分に少なくなっているにも拘わらず、データ量を減らすために例えばサンプリング速度を遅くするとの方法を採用する構成とは異なり、このデータ記録処理１０Ｃによってデータ記録部６に記録された波形描画用データＤ２に基づいて描画された信号波形ＷＣは、同図に破線で示す入力信号Ｓｉの実際の信号波形Ｗと比較して明らかなように、入力信号Ｓｉの電圧値（測定値）の変化の状態を認識するのにさらに十分に近似する波形となっている。また、このデータ記録処理１０Ｃでは、直前に波形描画用データＤ２として記録させたサンプリングデータＤ１に対する電圧値の変化量が変化量Ｚｂ以上のときに、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録することにより、前述したデータ記録処理１０Ａ，１０Ｂによって記録された波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＡと比較して、波形描画用データＤ２に基づいて本来的な信号波形Ｗと非常に近い信号波形ＷＢを表示（描画）することが可能となっていいる。
【００４４】
具体的には、例えば、図３に示すように、前述したデータ記録処理１０Ａによって記録した波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＡでは、矢印Ａ３で示す部位のように、時間Ｔｓ後における電圧値の変化量が小さいときに、生成されるサンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２として記録されず、その後に電圧値が変化量Ｚａを超えて大きく変化したときに生成されるサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ５において生成されるサンプリングデータＤ１）が波形描画用データＤ２として記録されることとなる。この際に、同図に示すように、時間Ｔｓ後における電圧値の変化量が変化量Ｚａを下回る範囲内で各時点毎に僅かながら変化したとき（例えば、時点ｔ４以降）には、本来は、同図に破線で示す信号波形Ｗのように、その僅かながらの変化量に応じた緩やかな傾きで波形が描画されるべきところ、この僅かながらの変化が生じているときにサンプリングデータＤ１が記録されないことに起因して、直前に記録された波形描画用データＤ２（この例では、時点ｔ４において生成されたサンプリングデータＤ１）に対応する部位から、電圧値が大きく変化した時点において記録された波形描画用データＤ２（この例では、時点ｔ５において生成されたサンプリングデータＤ１）に対応する部位まで、波形が大きく傾く一本の斜線で描画されることとなる。
【００４５】
一方、上記のデータ記録処理１０Ｃによって記録した波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＣでは、矢印Ｃ３で示す部位のように、時間Ｔｓ後における各電圧値の変化量が変化量Ｚａを下回る範囲内で僅かずつ変化したときに、その僅かながらの変化量の合計値が、直前に波形描画用データＤ２として記録したサンプリングデータＤ１に対する変化量Ｚ５が変化量Ｚｂ以上となった時点ｔ４ａにおいて、サンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録される。また、その時点ｔ４ａにおいて波形描画用データＤ２として直前に記録されたサンプリングデータＤ１に対する変化量Ｚ６が変化量Ｚｂ以上の時点ｔ４ｂにおいても、僅かながらの変化量の合計値が変化量Ｚｂ以上となって、サンプリングデータＤ１が波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録される。したがって、同図に破線で示す信号波形Ｗと同様にして、電圧値の僅かながらの変化に応じた緩やかな傾斜で信号波形ＷＣが描画される。このため、データ記録処理１０Ａ，１０Ｂによって波形描画用データＤ２を記録したときと同様にして、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２のデータ量が十分に低減されつつ、信号波形Ｗにさらに十分に近似する信号波形ＷＣが描画される。
【００４６】
なお、データ記録処理１０Ｃでは、前述したデータ記録処理１０Ｂと同様にして、波形描画用データＤ２として記録したサンプリングデータＤ１の直前に生成されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録しているため、時点ｔ５において電圧値の変化量が変化量Ｚａ以上となってそのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録したときに、その直前に生成されたサンプリングデータＤ１（この例では、時点ｔ４ｃにおいて生成されたサンプリングデータＤ１）が波形描画用データＤ２として記録されている。したがって、前述したデータ記録処理１０Ｂと同様にして、電圧値が大きく変化した部位に角部が生じるように折れ線で信号波形ＷＣが描画される。このため、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２のデータ量が十分に低減されつつ、信号波形Ｗにさらに十分に近似する信号波形ＷＣが描画される。
【００４７】
この場合、本発明は上記のデータ記録処理１０Ｃのように波形描画用データＤ２として記録したサンプリングデータＤ１の直前および直後に生成されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２として記録する方法に限定されず、直前に生成されたサンプリングデータＤ１に対する測定値（電圧値）の変化量が変化量Ｚａ以上のとき、および直前に波形描画用データＤ２として記録したサンプリングデータＤ１に対する測定値（電圧値）の変化量が変化量Ｚｂ以上のときに、そのサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録する方法を採用することもできる。
【００４８】
このように、この波形記録装置１、および波形記録装置１によるデータ記録方法によれば、波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に直前に記録させたサンプリングデータＤ１に対して測定値が第２の変化量以上変化したサンプリングデータＤ１が生成されたときに、生成されたサンプリングデータＤ１を波形描画用データＤ２としてデータ記録部６に記録させることにより、入力信号Ｓｉの電圧値が極く僅かながら徐々に変化したとしても、データ記録部６に記録される波形描画用データＤ２のデータ量をそれほど増加させることなく、データ記録部６に記録された波形描画用データＤ２に基づいて、その僅かながらの変化をさらに忠実に再現した信号波形ＷＣを描画することができる。
【００４９】
また、本発明における入力信号についての測定値（入力信号Ｓｉの電気的パラメータ）として電圧を例に挙げて説明したが、これに限らず、電流、周波数および位相などの各種電気的パラメータを測定した測定データがこれに含まれる。また、温度、湿度および風力などのパラメータを電圧などに変換したものも本発明における測定データに含まれる。さらに、表示部８を有する波形記録装置１を例に挙げて説明したが、外部装置としての表示装置に対して信号波形ＷＡ〜ＷＣ等を表示させる構成を採用することもできる。また、データ記録部６を有する（一体的に構成した）波形記録装置１を例に挙げて説明したが、外部装置としての各種記録装置に波形描画用データＤ２を記録させる構成を採用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】波形記録装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】データ記録処理１０Ａのフローチャートである。
【図３】入力信号Ｓｉと各波形描画用データＤ２との関係、および入力信号Ｓｉの信号波形Ｗと各波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＡとの関係について説明するための説明図である。
【図４】データ記録処理１０Ｂのフローチャートである。
【図５】入力信号Ｓｉと各波形描画用データＤ２との関係、および入力信号Ｓｉの信号波形Ｗと各波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＢとの関係について説明するための説明図である。
【図６】データ記録処理１０Ｃのフローチャートである。
【図７】入力信号Ｓｉと各波形描画用データＤ２との関係、および入力信号Ｓｉの信号波形Ｗと各波形描画用データＤ２に基づく信号波形ＷＣとの関係について説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００５１】
１  波形記録装置
２  Ａ／Ｄ変換部
４  制御部
５ａ，５ｂ  メモリ
６  データ記録部
９  主制御部
１０Ａ〜１０Ｃ  データ記録処理
Ｄ１  サンプリングデータ
Ｄ２  波形描画用データ
Ｄ３  表示用データ
Ｄｒ  記録条件データ
Ｓｉ  入力信号
ｔ１〜ｔｎ  時点
Ｔｓ  時間
Ｗ，ＷＡ，ＷＢ，ＷＣ  信号波形
Ｚ１〜Ｚ６，Ｚａ，Ｚｂ  変化量
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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