(57)【要約】【課題】光ディスクにおいて反射された光ビームを精度良く検出できるようにする。【解決手段】レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１の中央部分をそのまま通過させてメイン光ビームＬ１Ａとし、また当該光ビームＬ１の外周側部分における一部分を部品２２Ｂの反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２と部品２２Ａの面２２ＡＳとにおいてそれぞれ反射させ部品２２Ｂの孔部２２ＢＨからサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとすることにより、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に光路長差を設けることができ、各光ビームの光強度を殆ど低下させることなく、フォトディテクタ８上における迷光干渉を格段に低減することができる。【選択図】図６
2009163833.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに照射すべき光ビームを出射する光源と、
上記光ビームから、当該光ビームの照射平面における中央部分でなるメイン光ビーム及びその外周部分の一部分でなるサブ光ビームを分割すると共に、上記メイン光ビームの上記光源から上記光ディスクまでの光路長であるメイン光路長と上記サブ光ビームの上記光源から上記光ディスクまでの光路長であるサブ光路長とを互いに相違させる光分割部と、
上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームをそれぞれ上記光ディスクの記録層へ集光する対物レンズと、
上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームが上記光ディスクの上記記録層によりそれぞれ反射されてなるメイン反射光ビーム及びサブ反射光ビームをそれぞれ受光する受光部と
を具えることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項２】
上記光分割部は、
所定屈折率でなる媒質中で上記サブ光ビームを１回以上反射させることにより上記サブ光路長を上記メイン光路長よりも延長させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項３】
上記光分割部は、
屈折率がほぼ１でなる媒質中で上記サブビーム光を上記反射させることにより上記サブ光路長を上記メイン光路長よりも延長させる
ことを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ。
【請求項４】
上記光分割部は、
１よりも大きい屈折率を有する媒質中で上記サブビーム光を上記反射させることにより上記サブ光路長を上記メイン光路長よりも延長させる
ことを特徴とする請求項２に記載の光ピックアップ。
【請求項５】
上記光分割部は、
上記光ビームの波長をλ［ｍ］、上記光ビームのスペクトル幅をΔλ［ｍ］、円周率をπ、自然対数（ｌｏｇｅ）をｌｎとし、所定の定数ｋを用いたときに上記メイン光路長と上記サブ光路長との光路長差を、次に示す可干渉距離ＤＣ
【数１】
2009163833.tif 000014
よりも大きい値とする
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項６】
上記定数ｋは、
（０．５≦ｋ≦６．０）である
ことを特徴とする請求項５に記載の光ピックアップ。
【請求項７】
上記光分割部は、
互いに屈折率が相違する２種類の媒質中に上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームをそれぞれ通過させることにより上記サブ光路長と上記メイン光路長とを相違させ、上記サブ光ビームを出射する際に進行方向を変更させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項８】
上記光分割部は、
上記サブ光ビームを出射する際に回折格子により上記進行方向を変更させる
ことを特徴とする請求項７に記載の光ピックアップ。
【請求項９】
上記光分割部は、
上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームが上記対物レンズによりそれぞれ集光された際に上記光ディスクの上記記録層に形成されるメインスポット及びサブスポットを互いに所定間隔だけ離隔させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項１０】
上記光分割部は、
上記メイン光ビームに上記サブ光ビームをほぼ重畳させると共に互いの光軸を僅かに離隔させた状態で出射することにより、上記光ディスクの上記記録層において上記メインスポット及びサブスポットを互いに所定間隔だけ離隔させる
ことを特徴とする請求項９に記載の光ピックアップ。
【請求項１１】
上記光分割部は、
上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームを互いに離隔させると共に、上記サブ光ビームの出射方向を上記メイン光ビームの出射方向と相違させることにより、上記光ディスクの上記記録層において上記メインスポット及びサブスポットを互いに所定間隔だけ離隔させる
ことを特徴とする請求項９に記載の光ピックアップ。
【請求項１２】
光ディスクに照射すべき光ビームを出射する光源と、
上記光ビームから、当該光ビームの照射平面における中央部分でなるメイン光ビーム及びその外周部分の一部分でなるサブ光ビームを分割すると共に、上記メイン光ビームの上記光源から上記光ディスクまでの光路長であるメイン光路長と上記サブ光ビームの上記光源から上記光ディスクまでの光路長であるサブ光路長とを互いに相違させる光分割部と、
上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームをそれぞれ上記光ディスクの記録層へ集光する対物レンズと、
上記メイン光ビーム及び上記サブ光ビームが上記光ディスクの上記記録層によりそれぞれ反射されてなるメイン反射光ビーム及びサブ反射光ビームをそれぞれ受光する受光部と
上記受光部による受光結果を基に上記対物レンズを駆動制御する駆動制御部と
を具えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ピックアップ及び光ディスク装置に関し、例えば複数の情報記録層を有する多層光ディスクに対して情報の記録又は再生を行う光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等の光ディスクに対して音楽コンテンツや映像コンテンツ、或いは各種データ等の情報を記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生するようになされたものが広く普及している。
【０００３】
例えば光ディスク装置は、光ディスクから所望の情報を再生する場合、当該光ディスクの当該情報が記録されている所望のトラックに対して光ビームを照射し、その反射光を検出し所定の復調処理等を行うようになされている。
【０００４】
このとき光ディスク装置は、対物レンズにより光ディスクの記録層における所望のトラックに光ビームを集光し、当該光ビームが光ディスクにより反射されてなる反射光ビームをフォトディテクタにより受光する。
【０００５】
光ディスク装置は、光ビームの受光結果を基に、光ディスクの信号記録層と光ビームの焦点とのずれ量に応じたフォーカスエラー信号を生成し、当該フォーカスエラー信号を基に当該光ビームを光ディスクの信号記録層に合焦させるようフォーカス制御を行う。
【０００６】
また光ディスク装置は、光ビームの受光結果を基に、所定の信号処理を施すことにより、光ビームの焦点と所望のトラックとのずれ量に応じたトラッキングエラー信号を生成し、当該トラッキングエラー信号を基に当該光ビームを所望のトラックに合焦させるようトラッキング制御を行う。
【０００７】
このフォーカス制御やトラッキング制御では、例えばＤＰＰ（Differential Push Pull）法や３スポット法等のように、複数の光ビームを用いる手法が広く用いられている。
【０００８】
例えば光ディスク装置１は、図示しないレーザダイオードから光ビームを出射し、回折格子によりこれを回折させる等してメイン光ビームＬ１Ａ並びに２本のサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを形成する。
【０００９】
このとき光ディスク装置１は、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光強度をメイン光ビームＬ１Ａの光強度よりも大幅に抑えるようになされている。
【００１０】
光ディスク装置１は、図１に示すように、対物レンズ６を介してメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを光ディスク１００の記録層Ｙにそれぞれ照射する。
【００１１】
このとき光ディスク装置１では、メイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃがそれぞれ光ディスク１００の記録層Ｙにおいて反射されることにより、それぞれメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃとなる。
【００１２】
光ディスク装置１は、フォトディテクタ４に設けられている３つの検出部４Ａ、４Ｂ及び４Ｃにメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃをそれぞれ照射させるようになされている。
【００１３】
このときフォトディテクタ８の検出部８Ａ、８Ｂ及び８Ｃには、図２に示すように、メイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃによるメイン反射スポットＱＡ並びにサブ反射スポットＱＢ及びＱＣがそれぞれ形成される。
【００１４】
フォトディテクタ８は、検出部８Ａ、８Ｂ及び８Ｃにおいてそれぞれメイン反射スポットＱＡ並びにサブ反射スポットＱＢ及びＱＣの光強度を検出し、当該光強度に応じた検出信号を生成する。光ディスク装置１は、この検出信号に基づき所定の演算処理を行うことにより、上述したフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等を算出する。
【００１５】
ところで光ディスク１００のなかには、例えば２層の記録層Ｙ０及びＹ１を有する、いわゆる多層光ディスクがある。光ディスク装置１は、複数の記録層Ｙのうち光ビームを合焦させるべき対象記録層ＹＧを選択した上で、光ビームを当該対象記録層ＹＧに合焦させる。
【００１６】
このとき光ディスク１００では、メイン光ビームＬ１Ａ並びに２本のサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの一部が、対象記録層ＹＧ以外の記録層Ｙ（以下、これを他記録層ＹＨと呼ぶ）において、合焦しない（すなわちデフォーカスした）状態で反射される。以下、このとき反射された光ビームを層間迷光と呼ぶ。
【００１７】
特にメイン光ビームＬ１Ａは、図１に示したように他記録層ＹＨにおいてデフォーカスした状態で反射され、層間迷光ビームＬ３Ａとなる。この層間迷光ビームＬ３Ａは、図２に示したように、フォトディテクタ８上においても合焦せず、比較的大きな径でなる迷光スポットＱＫを形成する。
【００１８】
ここで、レーザダイオードからフォトディテクタ８までにおける、迷光反射スポットＱＫとサブ反射スポットＱＢ及びＱＣとの光路長差は、記録層Ｙ０及びＹ１（図１）間の層間隔ｄのほぼ２倍となり、比較的小さな値となる。またフォトディテクタ４上において、迷光反射スポットＱＫは、サブ反射スポットＱＢ及びＱＣと比較的近い光強度になることが多い。
【００１９】
このため検出部４Ｂ及び４Ｃに形成されるサブ反射スポットＱＢ及びＱＣは、当該迷光反射スポットＱＫと干渉することにより干渉縞を形成する可能性がある。このような干渉縞が形成された場合、光ディスク装置１は、サブ反射スポットＱＢ及びＱＣにおける光強度の検出精度が悪化するため、トラッキング制御等を適切に行い得ないおそれがあった。
【００２０】
そこで光ディスク装置のなかには、光ディスク（ディスク記録媒体）からフォトディテクタ（受光素子）までの光路中に、光ビームの一部を遮光する遮光部材や回折する回折部材を設け、層間迷光をフォトディテクタの検出部に照射しないようにしたものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００５−６３５９５公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
しかしながら、かかる構成の光ディスク装置では、光ビームの一部を遮光又は回折させるため、光ビームの利用効率を低減させてしまう。このため光ディスク装置は、例えばレーザダイオードの出射光量を増加させる必要が生じ、これに伴う装置構成の大型化や消費電力の増大等といった、他の新たな問題を生じてしまうおそれがあった。
【００２２】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクにおいて反射された光ビームを精度良く検出し得る光ピックアップ及び光ディスク装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
かかる課題を解決するため本発明の光ピックアップにおいては、光ディスクに照射すべき光ビームを出射する光源と、光ビームから、当該光ビームの照射平面における中央部分でなるメイン光ビーム及びその外周部分の一部分でなるサブ光ビームを分割すると共に、メイン光ビームの光源から光ディスクまでの光路長であるメイン光路長とサブ光ビームの光源から光ディスクまでの光路長であるサブ光路長とを互いに相違させる光分割部と、メイン光ビーム及びサブ光ビームをそれぞれ光ディスクの記録層へ集光する対物レンズと、メイン光ビーム及びサブ光ビームが光ディスクの記録層によりそれぞれ反射されてなるメイン反射光ビーム及びサブ反射光ビームをそれぞれ受光する受光部とを設けるようにした。
【００２４】
これにより、サブ光ビームが光ディスクにおける所望の記録層により反射されたサブ反射光ビームと、メイン光ビームが光ディスクの他の記録層により反射された層間迷光ビームとにおける、光源からの光路長を互いに相違させることができ、受光部における両者の干渉を抑制することができる。
【００２５】
また本発明の光ディスク装置においては、光ディスクに照射すべき光ビームを出射する光源と、光ビームから、当該光ビームの照射平面における中央部分でなるメイン光ビーム及びその外周部分の一部分でなるサブ光ビームを分割すると共に、メイン光ビームの光源から光ディスクまでの光路長であるメイン光路長とサブ光ビームの光源から光ディスクまでの光路長であるサブ光路長とを互いに相違させる光分割部と、メイン光ビーム及びサブ光ビームをそれぞれ光ディスクの記録層へ集光する対物レンズと、メイン光ビーム及びサブ光ビームが光ディスクの記録層によりそれぞれ反射されてなるメイン反射光ビーム及びサブ反射光ビームをそれぞれ受光する受光部と受光部による受光結果を基に対物レンズを駆動制御する駆動制御部とを設けるようにした。
【００２６】
これにより、サブ光ビームが光ディスクにおける所望の記録層により反射されたサブ反射光ビームと、メイン光ビームが光ディスクの他の記録層により反射された層間迷光ビームとの、光源からの光路長を互いに相違させることができ、受光部における両者の干渉を抑制し、受光品質を高めて駆動制御の精度を向上させることができる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、サブ光ビームが光ディスクにおける所望の記録層により反射されたサブ反射光ビームと、メイン光ビームが光ディスクの他の記録層により反射された層間迷光ビームとにおける、光源からの光路長を互いに相違させることができるので、受光部における両者の干渉を抑制することができ、かくして光ディスクにおいて反射された光ビームを精度良く検出し得る光ピックアップを実現できる。
【００２８】
また本発明によれば、サブ光ビームが光ディスクにおける所望の記録層により反射されたサブ反射光ビームと、メイン光ビームが光ディスクの他の記録層により反射された層間迷光ビームとの、光源からの光路長を互いに相違させることができるので、受光部における両者の干渉を抑制し、受光品質を高めて駆動制御の精度を向上させることができ、かくして光ディスクにおいて反射された光ビームを精度良く検出し得る光ディスク装置を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００３０】
（１）第１の実施の形態
（１−１）光ディスク装置及び光ピックアップの構成
図３において、光ディスク装置１０は、制御部１１を中心に構成されており、例えばＢＤ方式の光ディスク１００に対して情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生し得るようになされている。
【００３１】
制御部１１は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されており、光ディスク装置１０を統括制御するようになされている。
【００３２】
また制御部１１は、光ディスク１００が多層光ディスクである場合、情報を記録又は再生すべき記録層Ｙを対象記録層ＹＧとして選択するようになされている。
【００３３】
制御部１１は、光ディスク１００が装填されると、駆動部１２を介してスピンドルモータ１５を回転駆動させ、ターンテーブル（図示せず）に載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。また制御部１１は、駆動部１２を介してスレッドモータ１６を駆動させることにより、移動軸Ｇ１及びＧ２に沿って光ピックアップ１７を光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向であるトラッキング方向に大きく移動させる。
【００３４】
光ピックアップ１７は、制御部１１の制御に基づき、光ディスク１００へ光ビームを照射し、またその反射光ビームを検出するようになされている。
【００３５】
例えば制御部１１は、光ディスク１００に記録されている情報を再生する再生命令を外部機器（図示せず）から受け付けた場合、駆動部１２を介して、所定の再生制御信号を光ピックアップ１７へ供給する。
【００３６】
光ピックアップ１７は、対物レンズ８により光ビームを集光し光ディスク１００の対象記録層ＹＧに照射すると共に、その反射光を検出して検出信号を生成し、これを信号処理部１３へ供給するようになされている（詳しくは後述する）。
【００３７】
信号処理部１３は、検出信号を基に、光ディスク１００の記録層と光ビームの焦点とのフォーカス方向に関するずれ量を表すフォーカスエラー信号と、当該光ディスク１００の対象記録層ＹＧにおける所望トラックと当該光ビームの焦点とのトラッキング方向に関するずれ量を表すトラッキングエラー信号を生成とを生成し、これらを制御部１１及び駆動部１２へ供給する。
【００３８】
駆動部１２は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を基に駆動信号を生成し、これを２軸アクチュエータ１９へ供給する。２軸アクチュエータ１９は、駆動信号に従い、対物レンズ１８をフォーカス方向及びトラッキング方向へ駆動する。
【００３９】
かくして駆動部１２は、光ピックアップ１７のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、光ビームの焦点を所望トラックに合わせ、また追従させるようになされている。
【００４０】
また信号処理部１３は、供給される検出信号に対し復調処理や復号化処理等の信号処理を施すことにより情報を再生し、これを制御部１１へ供給する。制御部１１は、再生命令を供給した外部機器に対してこの情報を送出するようになされている。
【００４１】
一方、制御部１１は、光ディスク１００に対し情報を記録する記録命令を外部機器（図示せず）から受け付けた場合、記録すべき情報を信号処理部１３へ供給する。信号処理部１３は、記録すべき情報を変調することにより記録信号を生成し、これを光ピックアップ１７へ供給する。
【００４２】
光ピックアップ１７は、後述するレーザダイオードへ記録信号を供給することにより、記録用の高い光強度でなる光ビームを出射させ、光ディスク１００の所望トラックに情報を記録する。
【００４３】
このように光ディスク装置１０は、光ディスク１００に対し光ビームを照射することにより、当該光ディスク１００に情報を記録し、また当該光ディス１００から情報を再生し得るようになされている。
【００４４】
（１−２）光ピックアップの構成
図４に示すように、光ピックアップ１７は、レーザダイオード２１から光ビームを出射させて光ディスク１００に照射するようになされている。
【００４５】
レーザダイオード２１は、例えば波長約４０５［ｎｍ］のレーザ光でなる光ビームＬ１を出射し、光分割部２２へ入射させる。このとき光ビームＬ１は、レーザダイオード２１から所定の発散角でなる発散光として出射される。
【００４６】
光分割部２２は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの３本に分割し（詳しくは後述する）、それぞれの光軸ＸＡ、ＸＢ及びＸＣが互いに僅かに相違した状態で偏光ビームスプリッタ２３へ入射させる。
【００４７】
因みに図２では、説明の都合上、メイン光ビームＬ１Ａの光束及び光軸ＸＡと、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光軸ＸＢ及びＸＣを表している。
【００４８】
偏光ビームスプリッタ２３は、光ビームの偏光方向に応じて透過率及び反射率が異なる反射透過膜２３Ｓを有しており、例えば当該反射透過膜２３ＳにおいてＰ偏光でなる光ビームをほぼ１００％の割合で透過する一方、Ｓ偏光でなる光ビームをほぼ１００％の割合で反射するようになされている。
【００４９】
実際上偏光ビームスプリッタ２３は、例えばＰ偏光でなる光ビームＬ１Ａ、Ｌ１Ｂ及びＬ１Ｃを反射透過膜２３Ｓにおいて透過し、コリメータレンズ２４へ入射させる。
【００５０】
コリメータレンズ２４は、光ビームＬ１Ａ、Ｌ１Ｂ及びＬ１Ｃを発散光から平行光に変換し、１／４波長板２５へ入射させる。１／４波長板２５は、光ビームＬ１Ａ、Ｌ１Ｂ及びＬ１Ｃを直線偏光（例えばＰ偏光）から円偏光（例えば左円偏光）に変換し、スリット２６へ照射する。
【００５１】
スリット２６は、中心部分に通過孔２６Ｈを有しており、光ビームＬ１Ａ、Ｌ１Ｂ及びＬ１Ｃのうち、当該通過孔２６Ｈよりも外側部分を遮断すると共に当該通過孔２６Ｈを通過した部分のみを対物レンズ１８へ入射させる。
【００５２】
対物レンズ１８は、メイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃをそれぞれ集光することにより、図５に示すように、光ディスク１００の対象記録層ＹＧにメインスポットＰＡ並びにサブスポットＰＢ及びＰＣを形成する。
【００５３】
このときメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃは、光ディスク１００の対象記録層ＹＧにおいてそれぞれ反射されることにより、それぞれメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃとなる。因みにメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃは、円偏光における回転方向が反射時に反転するため、例えば左円偏光から右円偏光となる。
【００５４】
メイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃは、対物レンズ１８により発散光から平行光に変換され、１／４波長板２５により円偏光（右円偏光）から直線偏光（例えばＳ偏光）に変換され、さらにコリメータレンズ２４により平行光から収束光に変換されて、偏光ビームスプリッタ２３へ入射される。
【００５５】
偏光ビームスプリッタ２３は、Ｓ偏光でなるメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃを反射透過膜２３Ｓによって反射し、集光レンズ２８へ入射させる。
【００５６】
集光レンズ２８は、メイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃをそれぞれ集光し、フォトディテクタ８へ照射する。
【００５７】
因みに光ピックアップ１７では、対物レンズ１８によりメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃが集光され光ディスク１００の対象記録層ＹＧに照射されるときの合焦状態が、コリメータレンズ２４及び集光レンズ２８によりメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃが集光されフォトディテクタ２９に照射されるときの合焦状態に反映されるよう、各種光学部品の光学的位置が調整されている。
【００５８】
フォトディテクタ８は、図２に示したように複数の検出部８Ａ、８Ｂ及び８Ｃを有しており、メイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃにより形成されるビームスポットＱＡ、ＱＢ及びＱＣを当該検出部８Ａ、８Ｂ及び８Ｃ内に位置させるようになされている。
【００５９】
フォトディテクタ８は、検出部８Ａ、８Ｂ及び８Ｃにおいてそれぞれ光強度を検出し、その検出結果に応じた検出信号を生成して信号処理部１３（図４）へ供給する。これに応じて信号処理部１３は、当該検出信号に基づきフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等を生成するようになされている。
【００６０】
ところで光ディスク１００は、例えば２層の記録層Ｙを有する場合、光ビームが照射される面１００Ｓに近い記録層Ｙ０において、当該光ビームを約５０％の反射率で反射すると共に、約５０％の割合で透過するようになされている。
【００６１】
このため光ディスク１００は、図１に示したようにメイン光ビームＬ１Ａの一部を他記録層ＹＨにおいて反射することにより、層間迷光ビームＬ３Ａを生成する。
【００６２】
層間迷光ビームＬ３Ａは、メイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃとほぼ同様の光路を経て、図２に示したように、フォトディテクタ８に迷光スポットＱＫを形成する。
【００６３】
このように光ピックアップ１７は、光分割部２２により光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割し、これらを光ディスク１００へ照射するようになされている。
【００６４】
（１−３）光分割部の構成
（１−３−１）光ビームの分割
ところで光分割部２２は、図６（Ａ）に模式的な断面図を示すように、互いに離隔した２つの部品２２Ａ及び２２Ｂにより構成されている。以下では、レーザダイオード２１から光ビームＬ１が入射される入射側と、メイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを出射する出射側とを定義した上で説明する。
【００６５】
部品２２Ａは、全体が略リング状に構成され、中心部分に光ビームＬ１を通過させるための孔部２２ＡＨを有している。また部品２２Ａにおける出射側の面２２ＡＳは、凸状の曲面として形成され、さらに光ビームを反射するようになされている。
【００６６】
部品２２Ｂは、全体が略リング状に構成され、中心部分に孔部２２ＢＨを有している。この部品２２Ｂは、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１のうち孔部２２ＢＨを通過した部分をメイン光ビームＬ１Ａとしてそのまま進行させる。
【００６７】
また部品２２Ｂにおける入射側の面２２ＢＳは、凹状の曲面として形成され、さらに図６（Ｂ）に示すように、その一部に光ビームを反射する反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２が形成されている。
【００６８】
実際上、反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２は、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１の外周側部分における一部分をそれぞれ反射することによりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとする。
【００６９】
サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃは、図６（Ｃ）にそれぞれの光軸ＸＢ及びＸＣを示すように、部品２２Ａの面２２ＡＳにおいて再度反射され、部品２２Ｂの孔部２２ＢＨを通過し出射される。
【００７０】
すなわちサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃは、メイン光ビームＬ１Ａと比較して、部品２２Ａ及び２２Ｂの間を余分に１往復した後、部品２２Ｂの孔部２２ＢＨから出射される。
【００７１】
ここで部品２２Ａの面２２ＡＳと部品２２Ｂの面２２ＢＳとは、所定の距離ｔ１だけ離隔されている。また部品２２Ａ及び２２Ｂの間における光ビームＬ１の屈折率はほぼ「１」となる。
【００７２】
このため光分割部２２は、部品２２Ｂの孔部２２ＢＨからメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを出射する段階で、レーザダイオード２１からのメイン光ビームＬ１Ａの光路長（以下これをメイン光路長と呼ぶ）とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長（以下これをサブ光路長と呼ぶ）との間に、次の（１）式に示す光路長差ＤＭ１を設けることができる。
【００７３】
【数１】
2009163833.tif 000003
【００７４】
因みに光分割部２２における光路長差ＤＭ１は、厳密には光軸ＸＢ及びＸＣと光軸ＸＡとのなす角度に応じて（１）式の値よりも延長されることになる。しかしながら、厳密な値とこの角度を「０」と見なした場合の値との誤差が僅かであるため、計算の都合上、第１の実施の形態では（１）式により光路長差ＤＭ１を算出している。
【００７５】
この第１の実施の形態における光分割部２２は、サブ光路長をメイン光路長よりも延長させることになる。
【００７６】
このように光分割部２２は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、メイン光路長とサブ光路長とを相違させるようになされている。
【００７７】
（１−３−２）光路長差の設定
一般に、一旦分離されてから合流する２本の光ビームが所定の干渉度合となる干渉を生じる光路長差（以下、これを可干渉距離と呼ぶ）ＤＣは、光ビームＬ１の波長をλ［ｍ］、光ビームＬ１のスペクトル幅をΔλ［ｍ］、円周率をπ、自然対数（ｌｏｇｅ）をｌｎとし、所定の定数ｋを用いることにより、次に示す（２）式に従って算出することができる。
【００７８】
【数２】
2009163833.tif 000004
【００７９】
因みにスペクトル幅Δλは、図７に示すように、光強度が最大となる波長λの光強度を１００％としたときに、５０％の光強度を有する波長幅（すなわちＦＷＨＭ：半値全幅）を表しており、主に光ビームの光源（例えばレーザダイオード）の特性により定まる値である。またスペクトル幅Δλは、光ビームが変調されることなく出射された場合の値を表している。
【００８０】
また（２）式は、定数ｋにより干渉度合（ビジビリティ）が定められる。例えば定数ｋ＝２の場合、（２）式は干渉度合を５０％とするための光路長差を表し、定数ｋ＝６の場合、（２）式は干渉度合を１％以下とするための光路長差を表すことになる。以下では、定数ｋにより表される干渉度合を設定干渉度合と呼ぶ。
【００８１】
光ディスク装置１０のレーザダイオード２１等、一般に光ディスク装置において用いられるレーザダイオードは、高周波重畳を行った状態での発振スペクトル幅（波長スペクトル幅）が０．２〜０．３［ｎｍ］である。また可干渉距離ＤＣについては、定数ｋ＝０．５のときに１２０〜１８０［μｍ］、定数ｋ＝２のときに２４０〜３６０［μｍ］、定数ｋ＝６のときに７６０〜１０６０［μｍ］となる。
【００８２】
一方、図８（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、光ディスク１００において、対物レンズ６から出射されたメイン光ビームＬ１Ａ並びに２本のサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃが対象記録層ＹＧにおいて反射されメイン反射光ビームＬ２Ａ並びにサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃとなって対物レンズ６へ入射されるまでの光路長と、当該メイン光ビームＬ１Ａが他反射層ＹＨにおいて反射され層間迷光ビームＬ３Ａとなって対物レンズ６へ入射されるまでの光路長との差分（以下、これをディスク光路長差ＤＳと呼ぶ）は、記録層Ｙ０及びＹ１の間を構成する透過層の屈折率をｎｓとすると、次に示す（３）式のように表すことができる。
【００８３】
【数３】
2009163833.tif 000005
【００８４】
例えば波長λが４０５［ｎｍ］でなる光源を使用するＢＤでは、屈折率ｎを１．６とした場合、間隔ｄが２５［μｍ］であることから、（３）式より光路長差ＤＳが３１．３［μｍ］と算出される。
【００８５】
すなわち光ディスク装置１０では、フォトディテクタ８上において、サブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとが可干渉性を有する状態となる。
【００８６】
ここで光分割部２２は、メイン光ビームＬ１Ａとサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとの間に形成される光路長差ＤＭ１及び光ディスク１００において生じる光路長差ＤＳの和を可干渉距離ＤＣよりも大きくすることができれば、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの間の干渉（以下、これを迷光干渉と呼ぶ）を抑えること、すなわち当該迷光干渉における干渉度合を設定干渉度合以下にすることができる。
【００８７】
そこで、上述した（１）〜（３）式を基に距離ｔ１について整理すると、次に示す（４）式のように表すことができる。
【００８８】
【数４】
2009163833.tif 000006
【００８９】
（４）式において、光路長差ＤＳは、距離ｔ１と比較して極めて小さい値となる。このため、（４）式から光路長差ＤＳに関する項を省略すると、迷光干渉における干渉度合を設定干渉度合以下にするための条件は「光路長差ＤＭ１＞可干渉距離ＤＣ」となり、距離ｔ１に関する条件は（５）式のように表すことができる。
【００９０】
【数５】
2009163833.tif 000007
【００９１】
実際上、光分割部２２は、部品２２Ａ及び２２Ｂの間の距離ｔ１がこの（５）式を満たすよう設計されている。
【００９２】
例えば光分割部２２は、（５）式において定数ｋの値が０．５若しくはそれ以上に設定されることにより、フォトディテクタ８上における迷光干渉をある程度抑制することができる。このとき光分割部２２は、検出部８Ｂ及び８Ｃによって生成する検出信号に含まれる干渉ノイズ成分を実用上問題の無いレベルまで低下させることができる。
【００９３】
また光分割部２２は、（５）式において定数ｋの値が２．０に設定されると、同一波長及び同一光強度の光源における干渉度合の最大値（以下、これを最大干渉度合と呼ぶ）と比して設定干渉度合を約５０％にまで抑制することができる。このとき光分割部２２は、検出部８Ｂ及び８Ｃによって生成する検出信号に含まれる干渉ノイズ成分のレベルを大幅に低減させることができる。
【００９４】
さらに光分割部２２は、（５）式において定数ｋの値が６．０に設定されると、最大干渉度合と比して設定干渉度合を約１％にまで抑制することができる。このとき光分割部２２は、検出部８Ｂ及び８Ｃによって生成する検出信号に干渉ノイズ成分が殆ど含まれないようにすることができる。
【００９５】
因みに光ディスク装置１０では、（５）式における定数ｋが大きければ大きいほど干渉度合を抑制して干渉ノイズのレベルを低減できるものの、スペクトル幅Δλが増大して色収差が大きくなるため、実際上、定数ｋの値を０．５以上かつ６．０以下に設定することが好ましい。
【００９６】
このように光分割部２２は、（５）式を満たすよう設計されることにより、当該（５）式における定数ｋの値に応じた設定干渉度合とするよう、フォトディテクタ８上における迷光干渉を抑制し得るようになされている。
【００９７】
（１−４）動作及び効果
以上の構成において、第１の実施の形態による光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部２２へ入射させる。
【００９８】
光分割部２２は、部品２２Ｂの孔部２２ＢＨにおいて光ビームＬ１の中央部分をそのまま通過させることによりメイン光ビームＬ１Ａとして出射する。これと共に光分割部２２は、光ビームＬ１の外周側部分における一部分を部品２２Ｂの反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２と、部品２２Ａの面２２ＡＳとによりそれぞれ反射させた上で、部品２２Ｂの孔部２２ＢＨからサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとして出射する。
【００９９】
従って光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７の光分割部２２により、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長と、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長とを、部品２２Ａの面２２ＡＳと部品２２Ｂの面２２ＢＳとの間の往復距離に相当する光路長差だけ相違させることができる。
【０１００】
これにより光ディスク装置１０は、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの干渉である迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１０１】
特に光分割部２２は、メイン光ビームＬ１Ａとサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとの間で光路長差を設けることにより迷光干渉を防止することができるため、例えばメイン光ビームＬ１Ａの一部を遮断し、或いは回折させることにより迷光干渉を防止する場合と比較して、各光ビームの光強度を殆ど低下させずに済む。
【０１０２】
さらに光分割部２２は、部品２２Ａの面２２ＡＳと部品２２Ｂの面２２ＢＳとの間の距離ｔ１を、定数ｋを定めた上で（５）式の条件に合致させるよう設計されることにより、当該定数ｋに応じた干渉度合にまで抑制することができる。
【０１０３】
特に（５）式では、定数ｋを変更可能としているため、迷光干渉を抑えたい程度に応じて当該定数ｋを変更することができる。これにより光分割部２２は、設計の自由度を高めることができる。
【０１０４】
例えば光ディスク装置１０は、定数ｋの値が０．５以上に設定された（５）式を満たすよう光分割部２２が設計されることにより、迷光干渉をある程度抑制することができ、検出部８Ｂ及び８Ｃによって生成する検出信号に含まれる干渉ノイズ成分のレベルをある程度低減させることができる。
【０１０５】
また光ディスク装置１０は、定数ｋの値が２．０以上に設定された（５）式を満たすよう光分割部２２が設計されることにより、設定干渉度合を最大干渉度合の半分以下に抑制でき、検出部８Ｂ及び８Ｃによって生成する検出信号に含まれる干渉ノイズ成分のレベルを大幅に低減させることができる。
【０１０６】
さらに光ディスク装置１０は、定数ｋの値を６．０以上に設定された（５）式を満たすよう光分割部２２が設計されることにより、設定干渉度合を最大干渉度合の１％以下に抑制することができ、検出部８Ｂ及び８Ｃによって生成する検出信号に干渉ノイズ成分が殆ど含まれないようにすることができる。
【０１０７】
そのうえ光分割部２２は、（５）式に代えて、光ディスク１００における光路長差ＤＳまで考慮した（４）式を用いることにより、迷光干渉をより高精度に抑制することができる。
【０１０８】
以上の構成によれば、第１の実施の形態による光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部２２へ入射させ、当該光分割部２２によって光ビームＬ１の中央部分をそのまま通過させてメイン光ビームＬ１Ａとし、また当該光ビームＬ１の外周側部分における一部分を部品２２Ｂの反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２と部品２２Ａの面２２ＡＳとにおいてそれぞれ反射させ部品２２Ｂの孔部２２ＢＨからサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとして、それぞれ出射させる。これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に光路長差を設けることができ、各光ビームの光強度を殆ど低下させることなく、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１０９】
（２）第２の実施の形態
第２の実施の形態における光ディスク装置１０及び光ピックアップ１７は、第１の実施の形態と比較して、光分割部２２（図６）に代えて光分割部３２が設けられている点が異なっているものの、他の部分については第１の実施の形態と同様に構成されている。
【０１１０】
（２−１）光分割部の構成
光分割部３２は、図６と対応する図９に断面図を示すように、略円柱状の部品３２Ｍにより構成されている。この部品３２Ｍは、所定の樹脂材料又はガラス材料等のように光透過性が高い材料でなり、波長約４０５［ｎｍ］でなる光ビームＬ１に対して所定の屈折率ｎ２（例えば１．６程度）を有している。
【０１１１】
また光分割部３２は、入射側面３２Ａの中央部及び出射側面３２Ｂの中央部にそれぞれ光ビームを高い透過率で透過する透過部３２Ａ１及び３２Ｂ１が設けられている。
【０１１２】
実際上、分割部３２は、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を入射側面３２Ａの透過部３２Ａ１により透過させ、出射側面３２Ｂの透過部３２Ｂ１を透過した部分をメイン光ビームＬ１Ａとしてそのまま進行させる。
【０１１３】
また出射側面３２Ｂにおける透過部３２Ｂ１の外周部分は、所定形状の曲面として形成され、さらに図９（Ｂ）に示すように、その一部に光ビームを反射する反射部３２Ｂ２及び３２Ｂ３が形成されている。
【０１１４】
反射部３２Ｂ２及び３２Ｂ３は、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１のうち外周側の部分（以下、これを外側光ビームＬ１Ｅと呼ぶ）をそれぞれ反射することによりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとする。
【０１１５】
サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃは、図９（Ｃ）にそれぞれの光軸ＸＢ及びＸＣを示すように、入射側面３２Ａにおける透過部３２Ａ１の外周部分に設けられた反射部３２Ａ２及び３２Ａ３において再度反射され、出射側面３２Ｂの透過部３２Ｂ１を介して出射される。
【０１１６】
ところで光分割部３２は、反射部３２Ｂ２及び３２Ｂ３と反射部３２Ａ２及び３２Ａ３とが所定の距離ｔ２だけ離隔されており、また部品３２Ｍにおける光ビームＬ１の屈折率がｎ２となっている。
【０１１７】
このため光分割部３２は、出射側面３２Ｂの透過部３２Ｂ１からメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを出射する段階で、レーザダイオード２１からのメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に、次の（６）式に示す光路長差ＤＭ２を設けることができる。
【０１１８】
【数６】
2009163833.tif 000008
【０１１９】
このように光分割部３２は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、メイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとの光路長を相違させるようになされている。
【０１２０】
さらに光分割部３２は、光分割部２２と同様、フォトディテクタ８上における迷光干渉の干渉度合いを設定干渉度合以下にするべく、この光路長差ＤＭ２を可干渉距離ＤＣよりも大きくするように、すなわち次に示す（７）式を満たすように設計されている。
【０１２１】
【数７】
2009163833.tif 000009
【０１２２】
このように光分割部３２は、（７）式を満たすよう設計されることにより、当該（７）式における定数ｋの値に応じた設定干渉度合とするよう、フォトディテクタ８上における迷光干渉を抑制し得るようになされている。
【０１２３】
（２−２）動作及び効果
以上の構成において、第２の実施の形態による光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部３２へ入射させる。
【０１２４】
光分割部３２は、透過部３２Ａ１から入射された光ビームＬ１のうち中央部分を出射側面３２Ｂの透過部３２Ｂ１からメイン光ビームＬ１Ａとして出射する。また光分割部３２は、光ビームＬ１の外周側部分である外側光ビームＬ１Ｅの一部を反射部３２Ｂ２及び３２Ｂ３により反射してサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとし、これらを反射部３２Ａ２及び３２Ａ３において再度反射させ、透過部３２Ｂ１から出射する。
【０１２５】
従って光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７の光分割部３２により、第１の実施の形態と同様、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長と、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長とを、反射面３２Ｂ２及び３２Ｂ３と反射面３２Ａ２及び３２Ａ３との間の往復距離に相当する光路長差だけ相違させることができる。
【０１２６】
これにより光ディスク装置１０は、第１の実施の形態と同様、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの干渉である迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１２７】
さらに光分割部３２は、反射面３２Ｂ２及び３２Ｂ３と反射面３２Ａ２及び３２Ａ３との間の距離ｔ２を、定数ｋを定めた上で（７）式の条件に合致させるよう設計されることにより、当該定数ｋに応じた干渉度合にまで抑制することができる。
【０１２８】
また第２の実施の形態では、その他の点についても、第１の実施の形態とほぼ同様の作用効果を奏し得る。
【０１２９】
以上の構成によれば、第２の実施の形態による光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部３２へ入射させ、出射側面３２Ｂの透過部３２Ｂ１により光ビームＬ１のうち中央部分をメイン光ビームＬ１Ａとし、また当該光ビームＬ１の外周側部分である外側光ビームＬ１Ｅの一部を反射部３２Ｂ２及び３２Ｂ３により反射してサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとし、これらを反射部３２Ａ２及び３２Ａ３において再度反射させた後、透過部３２Ｂ１から出射させる。これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に光路長差を設けることができ、各光ビームの光強度を殆ど低下させることなく、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１３０】
（３）第３の実施の形態
第３の実施の形態における光ディスク装置１０及び光ピックアップ１７は、第１の実施の形態と比較して、光分割部２２（図６）に代えて光分割部４２が設けられている点が異なっているものの、他の部分については第１の実施の形態と同様に構成されている。
【０１３１】
（３−１）光分割部の構成
光分割部４２は、図６及び図９と対応する図１０に断面図を示すように、略円筒状の部品４２Ｍにより構成されている。この部品４２Ｍは、所定の樹脂材料又はガラス材料等のように光透過性が高い材料でなり、波長約４０５［ｎｍ］でなる光ビームＬ１に対して所定の屈折率ｎ３（例えば１．６程度）を有している。
【０１３２】
また光分割部４２は、入射側面４２Ａの中央部及び出射側面４２Ｂの中央部にそれぞれ孔部４２Ａ１及び４２Ｂ１が設けられ、内孔部４２Ｈにより当該孔部４２Ａ１及び４２Ｂ１を結んでいる。また内孔部４２Ｈは、その内径が入射側面４２Ａから出射側面４２Ｂへ向けて徐々に拡大していくようになされている。
【０１３３】
実際上、光分割部４２は、入射側面４２Ａにおいて、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１のうち孔部４２Ａ１を通過した部分をメイン光ビームＬ１Ａとし、これを出射側面４２Ｂの孔部４２Ｂ１から出射してそのまま進行させる。
【０１３４】
入射側面４２Ａにおける孔部４２Ａ１の外周部分である透過部４２Ａは、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１の一部を透過させ、部品４２Ｍ内を進行させる（以下、これを外側光ビームＬ１Ｅと呼ぶ）。因みに外側光ビームＬ１Ｅは、透過部４２Ａ２の通過時に僅かに屈折される。
【０１３５】
出射側面４２Ｂにおける孔部４２Ｂ１の外周部分には、図１０（Ｂ）に示すように、局所的に回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３が形成されている。回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３は、部品４２Ｍ内を進行してきた外側光ビームＬ１Ｅの一部を透過すると共に回折させることにより、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを形成する。
【０１３６】
因みに回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３は、いわゆるブレーズド型でなり、不要な方向への回折を抑えてサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとなる光の回折効率を高めるようになされている。また出射側面４２Ｂにおける回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３以外の部分は、光ビームを殆ど透過しないようになされている。
【０１３７】
サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃは、図１０（Ｃ）にそれぞれの光軸ＸＢ及びＸＣを示すように、光ビームＬ１Ａ（光軸ＸＡとして示す）に近接しながら進行していく。
【０１３８】
ところで光分割部４２は、入射側面４２Ａと出射側面４２Ｂとが所定の距離ｔ３だけ離隔されており、また部品４２Ｍにおける光ビームＬ１の屈折率がｎ３となっている。
【０１３９】
このため光分割部４２は、出射側面４２Ｂの透過部４２Ｂ１からメイン光ビームＬ１Ａを出射すると共に回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３からサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを出射する段階で、レーザダイオード２１からのメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に、次の（８）式に示す光路長差ＤＭ３を設けることができる。
【０１４０】
【数８】
2009163833.tif 000010
【０１４１】
因みにこの第３の実施の形態における光分割部４２は、一般に屈折率ｎ３が１よりも大きくなることから、上述した第１及び第２の実施の形態とは反対に、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長をメイン光ビームＬ１Ａの光路長よりも短縮させることになる。
【０１４２】
このように光分割部４２は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、メイン光ビームＬ１Ａとサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとの間に光路長差を設けるようになされている。
【０１４３】
さらに光分割部４２は、光分割部２２と同様、フォトディテクタ８上における迷光干渉の干渉度合いを設定干渉度合以下にするべく、この光路長差ＤＭ３を可干渉距離ＤＣよりも大きくするように、すなわち次に示す（９）式を満たすように設計されている。
【０１４４】
【数９】
2009163833.tif 000011
【０１４５】
光分割部４２は、この（９）式を満たすよう設計されることにより、フォトディテクタ８上における迷光干渉の干渉度合いを低減し得るようになされている。
【０１４６】
（３−２）動作及び効果
以上の構成において、第３の実施の形態による光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部４２へ入射させる。
【０１４７】
光分割部４２は、光ビームＬ１のうち孔部４２Ａ１を通過した部分をメイン光ビームＬ１Ａとして出射側面４２Ｂの孔部４２Ｂ１から出射する。また光分割部４２は、光ビームＬ１の外周側部分である外側光ビームＬ１Ｅを部品４２Ｍ内経由で出射側面４２Ｂまで到達させ、当該外側光ビームＬ１Ｅの一部を回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３により回折してサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとする。
【０１４８】
従って光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７の光分割部４２により、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長と、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に、空気と部品４２Ｍとの屈折率差に応じた光路長差を設けることができる。
【０１４９】
これにより光ディスク装置１０は、第１の実施の形態と同様、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの干渉である迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１５０】
さらに光分割部４２は、入射側面４２Ａと出射側面４２Ｂとの間の距離ｔ３を、定数ｋを定めた上で（９）式の条件に合致させるよう設計されることにより、当該定数ｋに応じた干渉度合にまで抑制することができる。
【０１５１】
また第３の実施の形態では、その他の点についても、第１の実施の形態とほぼ同様の作用効果を奏し得る。
【０１５２】
以上の構成によれば、第３の実施の形態による光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部４２へ入射させ、光ビームＬ１のうち孔部４２Ａ１を通過した部分をメイン光ビームＬ１Ａとして透過部４１Ｂ１から出射させ、また外側光ビームＬ１Ｅの一部を出射側面４２Ｂの回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３により回折してサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとする。これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に光路長差を設けることができ、各光ビームの光強度を殆ど低下させることなく、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１５３】
（４）第４の実施の形態
第４の実施の形態における光ディスク装置１０及び光ピックアップ１７は、第１の実施の形態と比較して、光分割部２２（図６）に代えて光分割部５２が設けられている点が異なっているものの、他の部分については第１の実施の形態と同様に構成されている。
【０１５４】
（４−１）光分割部の構成
光分割部５２は、図６、図９及び図１０と対応する図１１に断面図を示すように、略円錐台状の柱状部５２Ｍ１に略円板上の円板部５２Ｍ２が接合されたような形状の部品５２Ｍにより構成されている。この部品５２Ｍは、所定の樹脂材料又はガラス材料等のように光透過性が高い材料でなり、波長約４０５［ｎｍ］でなる光ビームＬ１に対して所定の屈折率ｎ４（例えば１．６程度）を有している。
【０１５５】
光分割部５２は、入射側面５２Ａのほぼ全域でなる透過部５２Ａ１により光ビームを透過するようになされている。また反射側面５２Ｃの中央部分には、同様に光ビームを透過する透過部５２Ｃ１が設けられている。
【０１５６】
実際上、光分割部５２は、入射側面５２Ａにおいて、レーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１のうち透過部５２Ａ１から部品５２Ｍ内へ入射した部分をメイン光ビームＬ１Ａとし、これを出射側面５２Ｃの透過部５２Ｃ１から出射してそのまま進行させる。
【０１５７】
因みに部品５２Ｍの柱状部５２Ｍ１は、メイン光ビームＬ１Ａの光束に合わせた形状に形成されている。
【０１５８】
光ビームＬ１のうち透過部５２Ａ１を透過しなかった部分、すなわちメイン光ビームＬ１Ａよりも外周側の部分（以下、これを外側光ビームＬ１Ｅと呼ぶ）は、円板部５２Ｍ２における入射面側の入射面５２Ｂから部品５２Ｍ内へ入射する。因みに外側光ビームＬ１Ｅは、面５２Ｂの通過時に僅かに屈折される。
【０１５９】
出射側面５２Ｃにおける透過部５２Ｃ１の外周部分には、図１１（Ｂ）に示すように、局所的に回折格子５２Ｃ２及び５２Ｃ３が形成されている。回折格子５２Ｃ２及び５２Ｃ３は、部品５２Ｍ内を進行してきた外側光ビームＬ１Ｅの一部を回折させることにより、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを形成する。
【０１６０】
因みに回折格子５２Ｃ２及び５２Ｃ３は、いわゆるブレーズド型でなり、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとなる光の回折効率を高めるようになされている。
【０１６１】
サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃは、図１１（Ｃ）にそれぞれの光軸ＸＢ及びＸＣを示すように、光ビームＬ１Ａ（光軸ＸＡとして示す）に近接しながら進行していく。
【０１６２】
ところで光分割部５２は、入射側面５２Ａと入射面５２Ｂとが所定の距離ｔ４だけ離隔されており、また部品５２Ｍにおける光ビームＬ１の屈折率がｎ４となっている。
【０１６３】
このため光分割部５２は、出射側面５２Ｃの透過部５２Ｃ１からメイン光ビームＬ１Ａを出射すると共に回折格子５２Ｃ２及び５２Ｃ３からサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを出射する段階で、レーザダイオード２１からのメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に、次の（１０）式に示す光路長差ＤＭ４を設けることができる。
【０１６４】
【数１０】
2009163833.tif 000012
【０１６５】
因みにこの第４の実施の形態における光分割部５２は、上述した第３の実施の形態とは反対に、メイン光ビームＬ１Ａの光路長をサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長よりも短縮させることになる。
【０１６６】
このように光分割部４２は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、メイン光ビームＬ１Ａとサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとの間に光路長差を設けるようになされている。
【０１６７】
さらに光分割部５２は、光分割部２２と同様、フォトディテクタ８上における迷光干渉の干渉度合いを設定干渉度合以下にするべく、この光路長差ＤＭ４を可干渉距離ＤＣよりも大きくするように、すなわち次に示す（１１）式を満たすように設計されている。
【０１６８】
【数１１】
2009163833.tif 000013
【０１６９】
光分割部５２は、この（１１）式を満たすよう設計されることにより、フォトディテクタ８上における迷光干渉の干渉度合いを低減し得るようになされている。
【０１７０】
（４−２）動作及び効果
以上の構成において、第４の実施の形態による光ディスク装置１０の光ピックアップ１７は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部５２へ入射させる。
【０１７１】
光分割部５２は、光ビームＬ１のうち透過部５２Ａ１から部品５２Ｍ内へ入射した部分をメイン光ビームＬ１Ａとし、出射側面５２Ｃの透過部５２Ｃ１から出射する。また光分割部５２は、外側光ビームＬ１Ｅを円板部５２Ｍ２の入射面５２Ｂから部品５２Ｍ内へ入射させ、当該外側光ビームＬ１Ｅの一部を出射側面５２Ｃの回折格子５２Ｃ２及び５２Ｃ３により回折してサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとする。
【０１７２】
従って光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７の光分割部５２により、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長と、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に、空気と部品５２Ｍとの屈折率差に応じた光路長差を設けることができる。
【０１７３】
これにより光ディスク装置１０は、第１の実施の形態と同様、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの干渉である迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１７４】
さらに光分割部５２は、入射側面５２Ａと入射面５２Ｂとの間の距離ｔ４を、定数ｋを定めた上で（１１）式の条件に合致させるよう設計されることにより、当該定数ｋに応じた干渉度合にまで抑制することができる。
【０１７５】
また第４の実施の形態では、その他の点についても、第１の実施の形態とほぼ同様の作用効果を奏し得る。
【０１７６】
以上の構成によれば、第４の実施の形態による光ディスク装置１０は、光ピックアップ１７のレーザダイオード２１から出射された光ビームＬ１を光分割部５２へ入射させ、透過部５２Ａ１を透過した部分をメイン光ビームＬ１Ａとして出射側面５２Ｃの透過部５２Ｃ１から出射し、また外側光ビームＬ１Ｅの一部を出射側面５２Ｃの回折格子５２Ｃ２及び５２Ｃ３により回折してサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとする。これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬ１をメイン光ビームＬ１Ａ並びにサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃに分割すると共に、レーザダイオード２１を始点としたメイン光ビームＬ１Ａの光路長とサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路長との間に光路長差を設けることができ、各光ビームの光強度を殆ど低下させることなく、フォトディテクタ８上におけるサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃと層間迷光ビームＬ３Ａとの迷光干渉を格段に低減することができる。
【０１７７】
（５）他の実施の形態
なお上述した第１の実施の形態においては、光分割部２２内においてサブ光ビームＬ２Ｂ及びＬ３Ｂを２回反射させた後に出射することによりメイン光ビームＬ１Ａよりも光路長を延長するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、４回や６回、或いは１回のみ等、任意の回数だけ反射させた後出射するようにしても良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０１７８】
この場合、サブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの光路を基にサブ光路長を算出し、メイン光路長との差分から光路長差ＤＭ１を算出して、迷光干渉における干渉度合を設定干渉度合以下にするための条件である「光路長差ＤＭ１＞可干渉距離ＤＣ」の関係を用いて、（５）式に相当する条件を算出すれば良い。
【０１７９】
また上述した第１の実施の形態においては、光分割部２２内の媒質を一様に空気として屈折率をほぼ１とするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば第３及び第４の実施の形態のようにメイン光ビームＬ１Ａの光路とサブ反射光ビームＬ２及びＬ３の光路とで媒質を相違させ、屈折率を相違させるようにしても良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０１８０】
さらに上述した第１の実施の形態においては、部品２２Ｂの面２２ＢＳにおいて反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２のみ部分的に反射率を高めることによりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば面２２ＢＳの反射率を一様に高めておき、面２２ＡＳにおいて反射部２２ＢＳ１及び２２ＢＳ２のように一部分のみ反射率を高めることによりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを生成する等しても良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０１８１】
さらに上述した第３の実施の形態においては、出射側面４２Ｂに設けられた回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３を透過した部分のみをサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば入射側面４２Ａの一部分に光ビームを透過する透過部を設け、当該透過部を透過した光ビームのみをサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃとして回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３により回折させるようにしても良い。第４の実施の形態においても、例えば入射側面５２Ａや入射面５２Ｂにスリットを設けるなどして同様にサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを生成しても良い。
【０１８２】
さらに上述した第３の実施の形態においては、回折格子４２Ｂ２及び４２Ｂ３によりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを回折させることによりその進行方向を変更するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば出射側面４２Ｂの角度を変化させ、屈折によりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの進行方向を変更する等、他の種々の手法によりサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃの進行方向を変更するようにしても良い。第４の実施の形態についても同様である。
【０１８３】
さらに上述した第１の実施の形態においては、メイン光路長とサブ光路長との光路長差ＤＭ１を（２）式により表される可干渉距離ＤＣよりも小さくするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、当該光路長差ＤＭ１を他の条件により規定される可干渉距離よりも小さくするようにしても良い。
【０１８４】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光ビームＬ１を分割して２本のサブ光ビームＬ１Ｂ及びＬ１Ｃを生成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、トラッキングエラー信号又はフォーカスエラー信号の生成手法に応じて、サブ光ビームを１本又は３本以上生成するようにしても良い。この場合、サブ光ビームを生成する本数に応じて面２２ＢＳに反射部を設ければ良い。第２〜第４の実施の形態についても同様である。
【０１８５】
さらに上述した実施の形態においては、レーザダイオード２１が波長約４０５［ｎｍ］のレーザ光でなる光ビームＬ１を出射するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスク１００の方式等に応じて他の種々の波長でなる光ビームをレーザダイオードから出射するようにしても良い。特に第２〜第４の実施の形態においては、当該光ビームの波長における屈折率が考慮されていれば良い。
【０１８６】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク１００が２層の記録層Ｙを有するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、当該記録層１００が３層以上の記録層Ｙを有していても良い。この場合、フォトディテクタ８上においてサブ反射光ビームＬ２Ｂ及びＬ２Ｃとの間で有為な干渉を生じ得る層間迷光ビームについて、迷光干渉を抑制し得るようにすれば良い。また光ディスク１００の方式としてはＢＤに限らず、ＤＶＤやＨＤ  ＤＶＤ（登録商標）等の種々の方式であっても良い。
【０１８７】
さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード２１と、光分割部としての光分割部２２と、対物レンズとしての対物レンズ６と、受光部としてのフォトディテクタ８とによって光ピックアップとしての光ピックアップ１７を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなる光源と、光分割部と、対物レンズと、受光部とによって光ピックアップを構成するようにしても良い。
【０１８８】
さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード２１と、光分割部としての光分割部２２と、対物レンズとしての対物レンズ６と、受光部としてのフォトディテクタ８と、駆動制御部としての駆動部１２及び信号処理部１３とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１０を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の回路構成でなる光源と、光分割部と、対物レンズと、受光部と、駆動制御部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１８９】
本発明は、映像や音声、或いはコンピュータ用のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１９０】
【図１】多層光ディスクに対する光ビームの照射及びその反射の様子を示す略線図である。
【図２】フォトディテクタ上における光ビームの干渉の説明に供する略線図である。
【図３】光ディスク装置の全体構成を示す略線的ブロック図である。
【図４】光ピックアップの構成を示す略線図である。
【図５】光ディスクの記録層に形成されるスポットの様子を示す略線図である。
【図６】光分割部の構成（１）を示す略線図である。
【図７】光源のスペクトル幅を示す略線図である。
【図８】反射光ビームと層間迷光ビームとの光路長差の説明に供する略線図である。
【図９】光分割部の構成（２）を示す略線図である。
【図１０】光分割部の構成（３）を示す略線図である。
【図１１】光分割部の構成（４）を示す略線図である。
【符号の説明】
【０１９１】
１、１０……光ディスク装置、６……対物レンズ、８……フォトディテクタ、１１……制御部、１２……駆動部、１３……信号処理部、１７……光ピックアップ、２２、３２、４２、５２……光分割部、２２Ａ、２２Ｂ、３２Ｍ、４２Ｍ、５２Ｍ……部品、２２ＡＨ、２２ＢＨ、４２Ａ１、４２Ｂ１……孔部、２２ＡＳ、２２ＢＳ……面、２２ＢＳ１、２２ＢＳ２、３２Ａ２、３２Ａ３、３２Ｂ２、３２Ｂ３……反射部、３２Ａ１、３２Ｂ１、４２Ａ２、５２Ａ１……透過部、４２Ｂ２、４２Ｂ３、５２Ｃ２、５２Ｃ３……回折格子、Ｌ１……光ビーム、Ｌ１Ａ……メイン光ビーム、Ｌ１Ｂ、Ｌ１Ｃ……サブ光ビーム、Ｌ１Ｅ……外側光ビーム、Ｌ２Ｂ、Ｌ２Ｃ……サブ反射光ビーム、Ｌ３Ａ……層間迷光ビーム、ＸＡ、ＸＢ、ＸＣ……光軸、ＢＭ１、ＢＭ２、ＢＭ３、ＢＭ４……光路長差、ＤＣ……可干渉距離。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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