(57)【要約】【課題】測定誤差を削減し、かつ導電性基体の表面粗さや電荷輸送剤の種類に関係なく電荷発生層の厚さを測定でき、感光体特性に優れる電子写真感光体を作製できる電子写真感光体の検査方法および製造方法を実現する。【解決手段】導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の検査方法において、前記電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することを特徴とする電子写真感光体の検査方法。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の検査方法において、
前記電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することを特徴とする電子写真感光体の検査方法。
【請求項２】
前記電荷発生層上に電荷輸送層が形成された状態で反射吸光度を測定することを特徴とする請求項１に記載の電子写真感光体の検査方法。
【請求項３】
導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体から、前記電荷発生層が不溶な溶媒で前記電荷輸送層を除去した後、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することを特徴とする電子写真感光体の検査方法。
【請求項４】
前記電荷発生層について、４７０〜４８０ｎｍの波長および６５０〜７００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の電子写真感光体の検査方法。
【請求項５】
導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の製造方法において、
４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定した電荷発生層上に、電荷輸送層を形成する塗布液を塗布することを特徴とする電子写真感光体の製造方法。
【請求項６】
導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の製造方法において、
電荷発生層が形成された電子写真感光体から、前記電荷発生層が不溶な溶媒で前記電荷輸送層を除去して、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定した後、電荷輸送層を形成する塗布液を塗布して電荷輸送層を再形成することを特徴とする電子写真感光体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真感光体の検査方法および製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置に備わる電子写真感光体としては、アルミニウム等で構成された導電性基体上に電荷発生層および電荷輸送層を有する感光層が積層したものが知られている。また、近年、リークを抑える程度に絶縁した感光体として、導電性基体と感光層の間に下引き層を介在させた電子写真感光体が提案されている。
【０００３】
電子写真感光体は、通常、各層を形成する塗布液を、導電性基体上に順次塗布・乾燥させることで得られる。各層の厚さは電子写真感光体の特性に影響を及ぼすため、電子写真感光体を製造するにあたり、その厚さを正確に測定して、電子写真感光体を検査する必要があった。
【０００４】
なお、各層の厚さは、塗布装置によってある程度は一定の厚さに制御できるものの、環境条件などによってはわずかに変動することもある。連続生産する際は、常に一定の厚さの下引き層や感光層が導電性基体上に形成された電子写真感光体を製造することが求められるため、より正確に各層の厚さを測定し、管理する必要がある。特に、感光層は電子写真感光体の表面に位置するため、厚みムラがあると感光による電荷の状態にバラツキが生じやすくなり、結果、電子写真感光体上の所望の位置にトナーを付着させにくくなる。
従って、感光体特性に優れた高品質の電子写真感光体を製造するには、感光層の厚さを測定し管理することが重要である。特に、導電性基体上に形成される電荷発生層の厚さは、得られる電子写真感光体の特性に影響を及ぼしやすいことが知られており、電荷発生層の厚さを測定する際には、正確性が求められる。
【０００５】
電子写真感光体を構成する各層の厚さを測定する方法としては、例えば特許文献１には、基体上に形成された膜の厚さを光干渉法により測定する膜厚測定方法が開示されている。該膜厚測定方法は、基体の表面粗さよりも長波長の光を基体に向けて照射し、基体での反射光を受光することで膜厚を測定している。
また、特許文献２には、導電性基体上に形成された電荷発生層の膜厚を色彩測定によって検査する電子写真感光体の膜厚検査方法が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−１８６９１６号公報
【特許文献２】特開平５−２８０９３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載の方法では、基体の表面粗さを基準にして膜厚を測定するので、測定誤差が生じやすかった。特に、基体の表面粗さの値が大きくなるに連れて測定誤差も生じやすくなるため、表面粗さの値が大きな基体を用いる場合には不向きであった。
また、特許文献２に記載の方法では、導電性基体上に電荷輸送層が形成された状態で電荷発生層の厚さを測定する場合、電荷輸送層に含まれる電荷輸送剤の種類によっては測定が困難になることがあった。
【０００７】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、測定誤差を削減し、かつ導電性基体の表面粗さや電荷輸送剤の種類に関係なく電荷発生層の厚さを測定でき、感光体特性に優れる電子写真感光体を作製できる電子写真感光体の検査方法および製造方法の実現を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の電子写真感光体の検査方法は、導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の検査方法において、前記電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することを特徴とする。
また、本発明の電子写真感光体の検査方法は、前記電荷発生層上に電荷輸送層が形成された状態で反射吸光度を測定することもできる。
【０００９】
さらに、本発明の電子写真感光体の検査方法は、導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体から、前記電荷発生層が不溶な溶媒で前記電荷輸送層を除去した後、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することを特徴とする。
また、前記電荷発生層について、４７０〜４８０ｎｍの波長および６５０〜７００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することが好ましい。
【００１０】
本発明の電子写真感光体の製造方法は、導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の製造方法において、４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定した電荷発生層上に、電荷輸送層を形成する塗布液を塗布することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明の電子写真感光体の製造方法は、導電性基体上に、チタニルフタロシアニンおよびバインダー樹脂を含有する電荷発生層と、電荷輸送剤およびバインダー樹脂を含有する電荷輸送層とを有する感光層が積層した電子写真感光体の製造方法において、電荷発生層が形成された電子写真感光体から、前記電荷発生層が不溶な溶媒で前記電荷輸送層を除去して、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定した後、電荷輸送層を形成する塗布液を塗布して電荷輸送層を再形成することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の電子写真感光体の検査方法によれば、測定誤差を削減し、かつ導電性基体の表面粗さや電荷輸送剤の種類に関係なく電荷発生層の厚さを測定できる。
また、本発明によれば、感光体特性に優れる電子写真感光体を製造できる。
さらに、本発明によれば、導電性基体上に電荷輸送層が形成された状態で電荷発生層の厚さを測定する場合であっても、電荷輸送剤の種類に関係なく電荷発生層の厚さを測定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明を詳細に説明する。
［電子写真感光体］
本発明における、被検査体となる電子写真感光体は、導電性基体上に、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光層が積層している。
【００１４】
＜導電性基体＞
導電性基体の材料としては、例えば、鉄、アルミニウム、銅、スズ、白金、銀、バナジウム、モリブデン、クロム、カドミウム、チタン、ニッケル、パラジウム、インジウム、ステンレス鋼、真鍮等の金属、該金属に陽極酸化処理によって酸化皮膜を形成したもの；該金属が蒸着またはラミネートされたプラスチック材料；ヨウ化アルミニウム、酸化スズ、酸化インジウム等で被覆されたガラス；カーボンブラック等の導電性微粒子を分散させたプラスチック材料等が挙げられる。
導電性基体の形状としては、シート状、ドラム状等が挙げられる。導電性支持体の形状は、画像形成装置の構造に合わせて適宜決定すればよい。
導電性基体は、その表面に粗面化処理を施してもよい。これにより、干渉縞の発生を防止できる。粗面化処理の方法としては、エッチング、陽極酸化、ウエットブラスティング法、サンドブラスティング法、粗切削、センタレス切削等の方法が挙げられる。
【００１５】
＜感光層＞
（電荷発生層）
電荷発生層は、バインダー樹脂と、電荷発生剤としてチタニルフタロシアニンを含有する。
本発明に用いるチタニルフタロシアニンは、チタニルフタロシアニン化合物を結晶化したチタニルフタロシアニン結晶であることが好ましい。また、下記に示す光学特性および熱特性を示すことが好ましい。
【００１６】
光学特性としては、ＣｕＫα特性Ｘ線回折スペクトルにおいて、少なくともブラッグ角２θ±０．２°＝２７．２°に最大ピークを有し、２θ±０．２°＝２６．２°にピークを有さないことが好ましい。このような光学特性を示すことにより、有機溶媒中における貯蔵安定性が良好なものとなる。
また、光学特性として、有機溶媒中に２４時間浸漬した後のＣｕＫα特性Ｘ線回折スペクトルにおいて、少なくともブラッグ角２θ±０．２°＝２７．２°に最大ピークを有し、２θ±０．２°＝２６．２°にピークを有さないことが好ましい。このような光学特性を示すことにより、有機溶媒中に２４時間浸漬した場合であっても、有機溶媒中における結晶転移（α型結晶やβ型結晶への結晶転移）を容易に制御できるようになる。
【００１７】
なお、ＣｕＫα特性Ｘ線回折スペクトルは、例えば理学電気社製のＸ線回折装置「ＲＩＮＴ１１００」などを用いて測定できる。
また、チタニルフタロシアニンの貯蔵安定性を評価する基準となる有機溶媒への浸漬実験評価は、例えば、電荷発生層を形成する塗布液（以下、「電荷発生層用塗布液」という）を実際に保管する条件と同一条件で実施することが好ましい。具体的には、温度２３±１℃、相対湿度５０〜６０％ＲＨの条件下、密閉系中において、チタニルフタロシアニンの貯蔵安定性を評価することが好ましい。貯蔵安定性を評価する際の有機溶媒としては、テトラヒドロフラン、ジクロロメタン、トルエン、１，４−ジオキサン、及び１−メトキシ−２−プロパノールよりなる群から選ばれる少なくとも１種であることが好ましい。
【００１８】
一方、熱特性としては、示差走査熱量分析において、吸着水の気化に伴うピーク以外に２７０〜４００℃の範囲内に、１つのピークを有することが好ましい。このような熱特性を示すことにより、有機溶媒中で長時間放置した場合であっても、有機溶媒中における結晶転移を制御できるようになる。その結果、貯蔵安定性に優れた電荷発生層用塗布液が得られ、電気特性や画像特性に優れた電子写真感光体を安定して製造できる。
なお、吸着水の気化に伴うピーク以外のピークであって、２７０〜４００℃の範囲内に現れる１つのピークは、２９０〜４００℃の範囲内に現れることがより好ましく、３００〜４００℃の範囲内に現れることがさらに好ましい。また、示差走査熱量分析は、例えば理学電気社製の示差走査熱量計「ＴＡＳ−２００型」などを用いて分析できる。
【００１９】
このようなチタニルフタロシアニンとしては、安定性や製造容易性の観点から、例えば下記式（１）で表される構造の化合物であることが好ましい。
【００２０】
【化１】
2009163181.tif 000002
【００２１】
本発明においては、チタニルフタロシアニン以外の他の電荷発生剤を併用してもよい。
他の電荷発生剤としては、公知の電荷発生剤を用いることができる。具体的には、チタニルフタロシアニン以外のフタロシアニン系顔料、ペリレン系顔料、ビスアゾ顔料、ジオケトピロロピロール顔料、無金属ナフタロシアニン顔料、金属ナフタロシアニン顔料、スクアライン顔料、トリスアゾ顔料、インジゴ顔料、アズレニウム顔料、シアニン顔料、ピリリウム顔料、アンサンスロン顔料、トリフェニルメタン系顔料、スレン顔料、トルイジン系顔料、ピラゾリン系顔料、キナクリドン系顔料等の有機光導電体；セレン、セレン−テルル、セレン−ヒ素、硫化カドミウム、アモルファスシリコン等の無機光導電剤等が挙げられる。電荷発生剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を併用してもよい。
【００２２】
バインダー樹脂としては、公知のバインダー樹脂を用いることができる。具体的には、ビスフェノールＺ型、ビスフェノールＺＣ型、ビスフェノールＣ型、ビスフェノールＡ型等のポリカーボネート樹脂、ポリアリレート樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体、スチレン−アクリロニトリル共重合体、スチレン−マレイン酸共重合体、アクリル共重合体、スチレン−アクリル酸共重合体、ポリエチレン樹脂、エチレン−酢酸ビニル共重合体、塩素化ポリエチレン樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリプロピレン樹脂、アイオノマー樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、アルキド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリウレタン樹脂、ポリスルホン樹脂、ジアリルフタレート樹脂、ケトン樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂、ポリエーテル樹脂等の熱可塑性樹脂；シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂等の熱硬化性樹脂；エポキシアクリレート、ウレタン−アクリレート等の光硬化型樹脂等が挙げられる。バインダー樹脂は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を併用してもよい。
【００２３】
電荷発生層には、必要に応じて公知の添加剤を含有していてもよい。
添加剤としては、例えば酸化防止剤、光安定剤、ラジカル捕捉剤、一重項クエンチャー、紫外線吸収剤等の劣化防止剤、軟化剤、可塑剤、表面改質剤、増量剤、増粘剤、分散安定剤、ワックス、アクセプター、ドナーなどが挙げられる。
酸化防止剤としては、ヒンダードフェノール、ヒンダードアミン、パラフェニレンジアミン、アリールアルカン、ハイドロキノン、スピロクロマン、スピロインダノンおよびそれらの誘導体、有機硫黄化合物、有機燐化合物等が挙げられる。
【００２４】
なお、後述する電荷輸送層に正孔輸送剤を含有させた場合、電荷発生層には電子輸送剤を含有させてもよく、電荷輸送層に電子輸送剤を含有させた場合、電荷発生層には正孔輸送剤を含有させてもよい。
【００２５】
電荷発生層中における電荷発生剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して５〜１０００質量部が好ましく、３０〜５００質量部がより好ましい。なお、電荷発生剤の含有量は、電荷発生剤として上述したチタニルフタロシアニンのみを用いる場合は、当該チタニルフタロシアニンの含有量であり、チタニルフタロシアニンと他の電荷発生剤とを併用する場合は、両者の合計の含有量である。
電荷発生層の厚さは、０．０１〜５μｍが好ましく、０．１〜３μｍがより好ましい。
【００２６】
（電荷輸送層）
電荷輸送層は、電荷輸送剤とバインダー樹脂を含む。また、必要に応じて公知の添加剤を含有していてもよい。
電荷輸送剤としては、正孔輸送剤または電子輸送剤が挙げられる。
電子写真感光体は、電荷輸送層に用いる電荷輸送剤の種類によって、正負いずれの帯電型となるかが選択される。例えば、電荷輸送層の電荷輸送剤として正孔輸送剤を用いた場合、電子写真感光体は負帯電型となる。この場合、電荷発生層には電子輸送剤を含有させてもよい。
【００２７】
正孔輸送剤としては、公知の正孔輸送剤を用いることができる。具体的には、ベンジジン系化合物、フェニレンジアミン系化合物、ナフチレンジアミン系化合物、フェナントリレンジアミン系化合物、オキサジアゾール系化合物、スチリル系化合物、カルバゾール系化合物、ピラゾリン系化合物、ヒドラゾン系化合物、トリフェニルアミン系化合物、インドール系化合物、オキサゾール系化合物、イソオキサゾール系化合物、チアゾール系化合物、チアジアゾール系化合物、イミダゾール系化合物、ピラゾール系化合物、トリアゾール系化合物、ブタジエン系化合物、ピレン−ヒドラゾン系化合物、アクロレイン系化合物、カルバゾール−ヒドラゾン系化合物、キノリン−ヒドラゾン系化合物、スチルベン系化合物、スチルベン−ヒドラゾン系化合物、およびジフェニレンジアミン系化合物等が挙げられる。正孔輸送剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を併用してもよい。
【００２８】
電子輸送剤としては、公知の電子輸送剤を用いることができる。具体的には、キノン誘導体、アントラキノン誘導体、マロノニトリル誘導体、チオピラン誘導体、トリニトロチオキサントン誘導体、３，４，５，７−テトラニトロ−９−フルオレノン誘導体、ジニトロアントラセン誘導体、ジニトロアクリジン誘導体、ニトロアントアラキノン誘導体、ジニトロアントラキノン誘導体、テトラシアノエチレン、２，４，８−トリニトロチオキサントン、ジニトロベンゼン、ジニトロアントラセン、ジニトロアクリジン、ニトロアントラキノン、ジニトロアントラキノン、無水コハク酸、無水マレイン酸、ジブロモ無水マレイン酸等が挙げられる。電子輸送剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を組み合わせて用いてもよい。
【００２９】
バインダー樹脂および添加剤としては、電荷発生層の説明において先に例示したバインダー樹脂および添加剤の中から、１種以上を選択して使用することができる。
【００３０】
電荷輸送剤として正孔輸送剤を用いる場合、電荷輸送層中における正孔輸送剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して１０〜５００質量部が好ましく、２５〜２００質量部がより好ましい。
電荷輸送剤として電子輸送剤を用いる場合、電荷輸送層中における電子輸送剤の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して５〜２００質量部が好ましく、１０〜１００質量部がより好ましい。
電荷輸送層の厚さは、２〜１００μｍが好ましく、５〜５０μｍがより好ましい。
【００３１】
＜下引き層＞
本発明においては、前記導電性基体と前記感光層との間に下引き層が形成されていてもよい。
下引き層は、無機粒子を含有する。無機粒子を含有することで、リークの発生を抑え適度に絶縁しつつ、電子写真感光体を露光した際に円滑に電流を流して抵抗の上昇を抑えることができる。
無機粒子としては金属または金属酸化物が挙げられ、具体的にはアルミニウム、鉄、銅、酸化チタン、シリカ、アルミナ、酸化ジルコニウム、酸化スズ、酸化亜鉛、酸化インジウム等が挙げられる。中でも、酸化チタンが好ましい。特に、適度な絶縁性を付与できる観点から、ルチル型の酸化チタンが好ましい。
【００３２】
酸化チタンは、平均一次粒子径が１００ｎｍ以下であることが好ましく、より好ましくは１０〜３０ｎｍである。平均一次粒子径が１００ｎｍを越えると、下引き層が白濁しやすくなる。その結果、光が乱反射しやすくなるので、下引き層の内部まで光が透過しにくくなる。そのため、下引き層の反射吸光度を測定しても、表面近傍のみを測定することとなるので、正確に反射吸光度を測定することが困難となる。
【００３３】
また、酸化チタンとしては、アルミナおよびシリカで表面処理され、さらにシリコーン等で表面処理されたものを用いてもよい。
【００３４】
下引き層は、上述した無機粒子の他に、バインダー樹脂を含有する。
バインダー樹脂としては、電荷発生層の説明において先に例示したバインダー樹脂および添加剤の中から、１種以上を選択して使用することができる。
【００３５】
下引き層中における無機粒子の含有量は、バインダー樹脂１００質量部に対して１０〜１０００質量部が好ましく、３０〜４００質量部がより好ましい。
下引き層の厚さは、０．１〜１０μｍが好ましく、０．５〜５μｍがより好ましい。
【００３６】
［検査方法］
本発明の電子写真感光体の検査方法は、前記電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定する。４７０〜９００ｎｍの波長には、電荷発生層に含まれるチタニルフタロシアニンに由来する吸収が現れる。チタニルフタロシアニンの種類によって最大吸収波長や最小吸収波長は若干異なるものの、前記波長領域であれば電荷発生剤として用いられるチタニルフタロシアニンの吸収を概ね確認できる。従って、前記波長領域での反射吸光度を測定することで、電荷発生層中におけるチタニルフタロシアニンの量が求まり、間接的に電荷発生層の厚さを測定することができる。
なお、反射吸光度の値は、電荷発生層の実際の厚さを表すものではないが、予め電荷発生層の厚さと反射吸光度の値とで検量線を作製しておくことで、反射吸光度の測定結果から電荷発生層の厚さを求めることができる。
【００３７】
また、反射吸光度を測定する際は、４７０〜９００ｎｍの波長の全領域について測定してもよく、電荷発生層中に含有させるチタニルフタロシアニンの最大吸収波長を予め確認しておけば、その波長での反射吸光度を測定してもよい。
【００３８】
上述したように、４７０〜９００ｎｍの波長には、チタニルフタロシアニンに由来する吸収が現れる。特に、６５０〜７００ｎｍの波長には、電荷発生層に含まれるチタニルフタロシアニンに由来する吸収が最も大きく現れる。一方、４７０〜４８０ｎｍの波長では、チタニルフタロシアニンに由来する吸収が最も小さい。従って、６５０〜７００ｎｍの波長での反射吸光度の値から４７０〜４８０ｎｍの波長での反射吸光度の値を引き、差スペクトルを求めることで、電荷発生層中におけるチタニルフタロシアニンの量をより正確に求めることができ、結果として電荷発生層の厚さをより正確に測定することができる。差スペクトルの値が小さいほど電荷発生層の厚さが薄くなる傾向にあり、大きくなるほど電荷発生層の厚さが厚くなる傾向にある。
【００３９】
よって、本発明においては、反射吸光度を測定する際の波長領域は、４７０〜４８０ｎｍの波長および６５０〜７００ｎｍの波長が好ましい。この際、４７０〜４８０ｎｍの波長の全領域および６５０〜７００ｎｍの波長の全領域について測定してもよく、電荷発生層中に含有させるチタニルフタロシアニンの最大吸収波長および最小吸収波長を予め確認しておけば、その波長での反射吸光度を各々測定してもよい。
【００４０】
本発明では、測定サンプルの調整が容易な観点から、分光測色計を用いて、電荷発生層について反射吸光度を測定するのが好ましい。分光測色計としては、例えばコニカミノルタ社製の「ＣＭ−２５００ｄ」などを使用できる。
【００４１】
反射吸光度の測定における測定誤差の度合いは、複数回測定を行い、測定ごとに差スペクトルを求め、その平均値および標準偏差を求めることで判定できる。すなわち、標準偏差の値が小さいほど誤差が少ないことを意味する。また、標準偏差を平均値で割った値は、測定結果のバラツキ度合いの指標となる。この値も小さくなるほどバラツキが小さいことを意味する。なお、測定回数は１０回程度行えば十分である。
【００４２】
反射吸光度の測定は、電荷発生層の厚さを実測する方法、例えば表面粗さ計を用いて層の厚さを測定する場合に比べて標準偏差の値が小さい。よって、反射吸光度の測定により電子写真感光体を検査する方法は、測定誤差を削減できる。
ところで、表面粗さ計を用いて層の厚さを測定する場合、導電性基体の表面粗さを基準にして測定を行うので、測定誤差が生じやすい。また、通常、導電性基体の表面粗さが大きくなるに連れて測定誤差が生じやすくなる。しかし、本発明によれば、実際の厚さを測定するのではなく、電荷発生層について反射吸光度を測定するので、導電性基体の表面粗さに関係なく正確に測定できる。
【００４３】
本発明においては、電荷発生層について反射吸光度を測定するに際して、電荷輸送層が導電性基体上に形成されていてもよく、形成されていなくてもよい。また、電荷輸送層が形成されている場合、感光層中における電荷輸送層と電荷発生層の積層の順番については制限されず、電荷発生層上に電荷輸送層が形成された状態でもよく、電荷輸送層上に電荷発生層が形成された状態でもよい。
さらに、本発明においては、導電性基体と感光層との間に下引き層が形成されていてもよい。
【００４４】
このように、本発明によれば、電荷輸送層が形成されていない状態で検査できるので、電子写真感光体の製造過程（すなわち、導電性基体上に電荷発生層を形成させた時点）で電荷発生層の厚さを検査することが可能である。電荷発生層の厚さは、得られる電子写真感光体の特性に影響を及ぼしやすいので、導電性基体上に電荷発生層を形成させた時点で層の厚さを正確に測定すれば、厚みムラなどにより規格外と判定される検査体が発生した場合に事前に排除できるので、不良品の発生を抑制し、生産損失を軽減できる。また、排除された検査体はフィードバックさせる（すなわち、電荷発生層を一旦除去して再形成する）こともできるので、無駄なく電子写真感光体を製造できる。
【００４５】
また、本発明によれば、電荷輸送層が形成された状態で検査できるので、電子写真感光体を製造した後でも検査することが可能である。これにより、最終段階で電子写真感光体を検査でき、規格外の電子写真感光体が発見された場合に事前に排除できるので、不良品の発生を抑制し、生産損失を軽減できる。
ところで、電荷輸送層が形成された状態で電荷発生層の厚さを測定する場合、電荷輸送層に含まれる電荷輸送剤の種類によっては測定が困難になることがあった。しかし、本発明であれば、反射吸光度を測定して間接的に電荷発生層の厚さを検査する。反射吸光度は電荷輸送剤の影響を受けにくいので、電荷輸送剤の種類に関係なく反射吸光度を正確に測定できるので、結果、電荷発生層の厚さを正確に検査できる。
【００４６】
また、本発明においては、電荷発生層上に電荷輸送層が形成した感光層（電子写真感光体）から、電荷輸送層を除去した後に、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することもできる。
通常、電子写真感光体は使用するに連れてトナーによって損傷してくる。損傷は表面に近いほど起こりやすいので、電荷発生層上に電荷輸送層が形成した電子写真感光体の場合、電荷輸送層を再形成することで、電子写真感光体を再生できる。また、電荷発生層上の電荷輸送層に厚みムラや傷等の損傷がある場合も、電荷輸送層を再形成することで、電子写真感光体を再生できる。なお、電荷輸送層を削除する電子写真感光体は、上述したように反射吸光度を測定した電荷発生層上に電荷輸送層が形成された電子写真感光体であってもよく、反射吸光度を測定していない電荷発生層上に電荷輸送層が形成された電子写真感光体であってもよい。
【００４７】
上述したように、電荷輸送層を除去した後に、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長で反射吸光度を測定すれば、電荷発生層の厚さが最適なものは電荷輸送層を再形成させる工程へ、最適でないものはフィードバックさせる工程（すなわち、最適な厚さになるように電荷発生層を再形成する工程）へと容易に判定できるので、電子写真感光体を再生する場合でも高品質な電子写真感光体を得ることができる。
【００４８】
電荷輸送層を除去する場合は、電荷発生層が不溶な溶媒を用いるのが好ましい。このような溶媒としては、トルエン、テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）、ｏ−キシレン、ｍ−キシレン、１，３−ジオキソラン、１，４−ジオキソランなどが挙げられる。
電荷輸送層は、例えば以下に示す方法により除去することができる。すなわち、トルエンが染込んだ洗浄部材を電荷輸送層に接触させて擦り洗いした後に、これをＴＨＦに浸漬して電荷輸送層を除去する。
【００４９】
このように、本発明によれば、測定誤差を削減し、かつ導電性基体の表面粗さや電荷輸送剤の種類に関係なく電荷発生層の厚さを測定できるので、特に電子写真感光体を連続生産する際に、電荷発生層の厚さをより正確に測定し、管理できる。
また、検査の結果、電荷発生層の厚さが規格内と判定された検査体のうち、より最適な厚さのものだけを次の工程（例えば、電荷発生層上に電荷発生層を形成する工程）に搬送させ、残りのものをフィードバックさせることもできるので、より高品質な電子写真感光体を得ることができる。
【００５０】
［製造方法］
電荷発生層上に電荷輸送層が積層する構成の電子写真感光体は、上述した検査方法によって４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定した電荷発生層上に、電荷輸送層を形成する塗布液を塗布し、電荷発生層上に電荷輸送層を形成することにより製造される。なお、本発明においては、導電性基体と感光層との間に下引き層を形成させてもよい。
ここで、導電性基体上に、下引き層、電荷発生層、電荷輸送層が順次積層した構成の電子写真感光体の製造方法の一例について、具体的に説明する。
【００５１】
まず、下引き層に含まれる各成分を溶媒に溶解または分散させた塗布液（下引き層用塗布液）を、導電性基体上に塗布し、乾燥させて下引き層を形成する。
溶媒としては、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ブタノール等のアルコール類；ｎ−ヘキサン、オクタン、シクロヘキサン等の脂肪族系炭化水素；ベンゼン、トルエン、キシレン等の芳香族系炭化水素；ジクロロメタン、ジクロロエタン、クロロホルム、四塩化炭素、クロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素；ジメチルエーテル、ジエチルエーテル、テトラヒドロフラン、プロピレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル類；アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類；酢酸エチル、酢酸メチル等のエステル類；ジメチルホルムアルデヒド、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド等が挙げられる。溶剤は、１種を単独で用いてもよく、２種以上を混合して用いてもよい。
【００５２】
塗布方法は、ディップコート法、スプレーコート法、スピンコート法、バーコート法等の公知の方法が挙げられる。
乾燥装置としては、高温乾燥機、減圧乾燥機等が挙げられる。乾燥温度は、６０〜１５０℃が好ましい。
【００５３】
ついで、電荷発生層に含まれる各成分を溶媒に溶解または分散させた塗布液（電荷発生層用塗布液）を、下引き層上に塗布し、乾燥させて電荷発生層を形成する。電荷発生層用塗布液には、各成分の分散性、感光層表面の平滑性をよくするために、界面活性剤、レベリング剤等を添加してもよい。
溶媒としては、下引き層用塗布液の説明において先に例示した溶媒の中から、１種以上を選択して使用することができる。また、塗布方法、乾燥装置および乾燥温度は、下引き層を形成する場合と同様である。
【００５４】
ついで、上述した方法により電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定し、検査する。
ついで、電荷輸送層に含まれる各成分を溶媒に溶解または分散させた塗布液（電荷輸送層塗布液）を電荷発生層上に塗布し、乾燥させて電荷輸送層を形成し、電子写真感光体を得る。電荷輸送層塗布液には、各成分の分散性、感光層表面の平滑性をよくするために、界面活性剤、レベリング剤等を添加してもよい。
溶媒としては、下引き層用塗布液の説明において先に例示した溶媒の中から、１種以上を選択して使用することができる。また、塗布方法、乾燥装置および乾燥温度は、下引き層を形成する場合と同様である。
【００５５】
なお、検査した結果、電荷輸送層を形成するには不向きである（不合格）と判定された場合は、フィードバックし、電荷発生層を再形成するなどして、再度反射吸光度を測定し、検査する。この作業は、電荷輸送層を形成するのに適している（合格）と判定されるまで行い、合格したものについては、電荷発生層上に電荷輸送層を形成させる。
【００５６】
また、電荷発生層上の電荷輸送層に厚みムラや傷等の損傷が生じた場合や、長期に渡る使用等により電子写真感光体の寿命が低下した場合などは、上述したように、電荷発生層および電荷輸送層が形成された電子写真感光体から、電荷発生層が不溶な溶媒で前記電荷輸送層を除去した後、電荷発生層について４７０〜９００ｎｍの波長で反射吸光度を測定すれば、電荷発生層の厚さが最適なものは電荷輸送層を再形成させる工程へ、最適でないものはフィードバック工程へと容易に判定できるので、電子写真感光体を再び製造する場合でも高品質な電子写真感光体を得ることができる。
【００５７】
このようにして得られる電子写真感光体は、電荷発生層の厚さを正確に測定し、感光体として最適な厚さと判定されたものを用いて製造するので、高品質である。
【００５８】
以上説明したように、本発明によれば、４７０〜９００ｎｍの波長での反射吸光度を測定することで、電荷発生層の厚さを正確に測定し、管理できる。よって、高品質の電子写真感光体を製造することができる。
【００５９】
本発明により得られる電子写真感光体を備えた画像形成装置は、感光体特性が良好であり、品質に優れた画像を形成できる。このような画像形成装置としては、例えば複写機、ファクシミリ、レーザービームプリンタ等が挙げられる。
【実施例】
【００６０】
以下、本発明について実施例を挙げて具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
［試験１：電荷輸送層が形成していない場合］
＜実施例１−１＞
アルミナおよびシリカで表面処理した後、湿式分散しながらメチルハイドロジェンポリシロキサンで表面処理した酸化チタン（テイカ社製、「ＳＭＴ−０２」、数平均一次粒子径１０ｎｍ）２．５質量部と、共重合ポリアミド樹脂（ダイセル・デグサ社製、「Ｘ１０１０」）１質量部とを、エタノール２０質量部およびブタノール５質量部に、ビーズミルを用いて５時間分散させ、下引き層用塗布液を調製した。
得られた下引き層用塗布液を５μｍのフィルタにてろ過した後、導電性基体として直径３０ｍｍ、全長２３８．５ｍｍのアルミニウム製の切削管（最大表面粗さＲｙ＝０．７５）上に、厚さが１．５μｍになるようにディップコート法にて塗布し、１３０℃にて３０分熱処理して、下引き層が導電性基体上に形成した。下引き層の厚さは、渦電流膜厚計（フィッシャー・インストルメンツ社製、「フィッシャースコープＭＭＳ」）を用いて測定した。
【００６１】
ついで、電荷発生剤として上記式（１）に示すチタニルフタロシアニン２質量部と、バインダー樹脂としてポリビニルブチラール樹脂（電気化学工業社製、「デンカブチラール♯６０００ＥＰ」）１質量部を、溶媒としてプロピレングリコールモノメチルエーテル４０質量部およびテトラヒドロフラン（ＴＨＦ）４０質量部に、ビーズミルを用いて２時間処理して分散させ、電荷発生層用塗布液を調製した。
得られた電荷発生層用塗布液を、３μｍのフィルタにてろ過した後、下引き層上にディップコート法にて塗布し、８０℃にて５分乾燥させて、厚さ０．２μｍの電荷発生層を形成し、被検査体とした。
【００６２】
得られた被検査体の電荷発生層について、分光測色計（コニカミノルタ社製、「ＣＭ−２５００ｄ」、測定径φ：８、正反射除去なし）を用いて、６５０ｎｍの波長、および４７０ｎｍの波長での反射吸光度を測定し、６５０ｎｍの波長での反射吸光度の値から４７０ｎｍの波長での反射吸光度の値を引いて、差スペクトルを求めた。測定を１０回行い、差スペクトルの平均値および標準偏差（σ）を算出した。なお、下引き層の反射吸光度を「０」とした。
反射吸光度の差の平均値、最大値、最小値、標準偏差（σ）、σ／平均値を表１に示す。
【００６３】
＜実施例１−２〜１−４＞
電荷発生層の厚さが表１に示す値になるように電荷発生層を形成させた以外は、実施例１−１と同様にして導電性基体上に下引き層と電荷発生層を形成して被検査体を作製し、分光測色計を用いて電荷発生層について反射吸光度を測定した。結果を表１に示す。
【００６４】
＜実施例１−５〜１−６＞
表１に示す最大表面粗さＲｙの導電性基体を用いた以外は、実施例１−１と同様にして導電性基体上に下引き層と電荷発生層を形成して被検査体を作製し、分光測色計を用いて電荷発生層について反射吸光度を測定した。結果を表１に示す。
【００６５】
＜実施例１−７＞
実施例１−１と同様にして、導電性基体上に下引き層および電荷発生層を順次形成した。
ついで、電荷輸送剤（正孔輸送剤）として下記式（２）に示すトリフェニルアミン化合物７０質量部と、バインダー樹脂としてポリカーボネート樹脂（帝人化成社製、「ＴＳ２０２０」）１００質量部を、溶媒としてテトラヒドロフラン６１０質量部に加え、溶解させて電荷輸送層用塗布液を調製した。
得られた電荷輸送層用塗布液を、電荷発生層用塗布液と同様にして電荷発生層上に塗布し、１２０℃にて３０分乾燥し、厚さ２０μｍの電荷輸送層を形成し、積層型の電子写真感光体を作製した。
【００６６】
【化２】
2009163181.tif 000003
【００６７】
得られた電子写真感光体について、トルエンが染込んだベンコットンクリーンを電荷輸送層に接触させて擦り洗いした後に、これをテトラヒドロフラン（ＴＨＦ）に２分間浸漬して、電荷輸送層を除去し、被検査体とした。
被検査体の電荷発生層について、実施例１−１と同様にして反射吸光度を測定した。結果を表１に示す。
【００６８】
＜比較例１−１〜１−７＞
被検査体として、実施例１−１〜１−７で得られた被検査体を各々用い、分光測色計の代わりに、表面粗さ計（東京精密社製、「サーフコム  ５９０Ａ−１２」）を用いて電荷発生層の厚さを測定した。測定を１０回行い、平均値および標準偏差（σ）を求めた。
平均値、最大値、最小値、標準偏差（σ）、σ／平均値を表２に示す。
【００６９】
【表１】
2009163181.tif 000004
【００７０】
【表２】
2009163181.tif 000005
【００７１】
表１、２から明らかなように、分光測色計を用いて電荷発生層について反射吸光度を測定した実施例は、標準偏差およびσ／平均値が小さかった。実施例では、測定結果のバラツキが小さく、測定誤差を削減できた。通常、導電性基体の表面粗さが大きくなるに連れて測定誤差は生じやすくなるが、実施例１−１、１−６の結果より、導電性基体の表面粗さが大きくなっても、十分に測定誤差を削減できた。従って、本発明であれば、導電性基体の表面粗さに関係なく電荷発生層の厚さを正確に測定できる。
また、一旦作製した電子写真感光体から電荷輸送層を除去した場合でも、測定誤差を削減できた。
【００７２】
一方、表面粗さ計を用いて電荷発生層の厚さを測定した比較例は、標準偏差およびσ／平均値が実施例に比べて大きかった。比較例では、実施例の結果に比べて測定結果のバラツキが大きく、測定に誤差があった。特に、最大表面粗さＲｙ＝３の導電性基体を用いた比較例１−６は、測定誤差が大きかった。
【００７３】
［試験２：電荷輸送層が形成した場合］
＜実施例２−１＞
実施例１−７と同様にして、積層型の電子写真感光体を作製した。
得られた電子写真感光体の電荷発生層について、分光測色計（コニカミノルタ社製、「ＣＭ−２５００ｄ」、測定径φ：８、正反射除去なし）を用いて、６８０ｎｍの波長、および４７０ｎｍの波長での反射吸光度を測定し、６８０ｎｍの波長での反射吸光度の値から４７０ｎｍの波長での反射吸光度の値を引いて、差スペクトルを求めた。測定を１０回行い、差スペクトルの平均値および標準偏差（σ）を算出した。なお、導電性基体の反射吸光度を「０」とした。
反射吸光度の差の平均値、最大値、最小値、標準偏差（σ）、σ／平均値を表３に示す。
【００７４】
＜実施例２−２〜２−４＞
電荷発生層の厚さが表３に示す値になるように電荷発生層を形成させた以外は、実施例１−１と同様にして導電性基体上に下引き層と電荷発生層を形成した。
ついで、実施例１−７と同様にして電荷発生層上に電荷輸送層を形成し、積層型の電子写真感光体を作製した。
得られた電子写真感光体の電荷発生層について、実施例２−１と同様にして反射吸光度を測定した。結果を表３に示す。
【００７５】
＜実施例２−５＞
電荷輸送剤として下記式（３）に示すジフェニルアミン化合物を用いた以外は、実施例１−７と同様にして積層型の電子写真感光体を作製した。
得られた電子写真感光体の電荷発生層について、実施例２−１と同様にして反射吸光度を測定した。結果を表３に示す。
【００７６】
【化３】
2009163181.tif 000006
【００７７】
＜実施例２−６＞
電荷輸送剤として下記式（４）に示すトリフェニルアミン化合物を用いた以外は、実施例１−７と同様にして積層型の電子写真感光体を作製した。
得られた電子写真感光体の電荷発生層について、実施例２−１と同様にして反射吸光度を測定した。結果を表３に示す。
【００７８】
【化４】
2009163181.tif 000007
【００７９】
＜実施例２−７＞
電荷輸送剤として下記式（５）に示すトリフェニルアミン化合物を用いた以外は、実施例１−７と同様にして積層型の電子写真感光体を作製した。
得られた電子写真感光体の電荷発生層について、実施例２−１と同様にして反射吸光度を測定した。結果を表３に示す。
【００８０】
【化５】
2009163181.tif 000008
【００８１】
＜比較例２−１＞
電荷発生剤として上記式（１）に示すチタニルフタロシアニン２質量部と、バインダー樹脂としてポリビニルブチラール樹脂（電気化学工業社製、「デンカブチラール♯６０００ＥＰ」）１質量部を、溶媒としてプロピレングリコールモノメチルエーテル４０質量部およびテトラヒドロフラン（ＴＨＦ）４０質量部に、ビーズミルを用いて２時間処理して分散させ、電荷発生層用塗布液を調製した。
得られた電荷発生層用塗布液を、３μｍのフィルタにてろ過した後、導電性基体として直径３０ｍｍ、全長２３８．５ｍｍのアルミニウム製の切削管（最大表面粗さＲｙ＝０．７５）上に、ディップコート法にて塗布し、８０℃にて５分乾燥させて、厚さ０．２μｍの電荷発生層を形成し、被検査体とした。
【００８２】
得られた被検査体について、表面粗さ計（東京精密社製、「サーフコム  ５９０Ａ−１２」）を用いて電荷発生層の厚さを測定した。測定を１０回行い、平均値および標準偏差（σ）を求めた。
平均値、最大値、最小値、標準偏差（σ）、σ／平均値を表４に示す。
【００８３】
＜比較例２−２〜２−４＞
電荷発生層の厚さが表４に示す値になるように電荷発生層を形成させた以外は、比較例２−１と同様にして被検査体を作製し、電荷発生層の厚さを測定した。結果を表４に示す。
【００８４】
＜比較例２−５〜２−７＞
実施例２−５〜２−７と同様にして、導電性基体上に下引き層、電荷発生層、電荷輸送層が順次積層した積層型の電子写真感光体を作製した。ついで、トルエンが染込んだベンコットンクリーンを電荷輸送層に接触させて擦り洗いした後、これをＴＨＦに２分間浸漬して、電荷輸送層を除去し、これを被検査体とした。
得られた被検査体について、比較例２−１と同様にして電荷発生層の厚さを測定した。結果を表４に示す。
【００８５】
【表３】
2009163181.tif 000009
【００８６】
【表４】
2009163181.tif 000010
【００８７】
表３、４から明らかなように、分光測色計を用いて電荷発生層について反射吸光度を測定した実施例は、電荷輸送層が電荷発生層上に形成された状態で測定しても、標準偏差およびσ／平均値が小さかった。実施例では、測定結果のバラツキが小さく、測定誤差を削減できた。
従来、電荷輸送層に含まれる電荷輸送剤の種類によっては、電荷発生層の厚さを測定することが困難となる場合があったが、本発明によれば電荷輸送剤の種類に関係なく電荷発生層の厚さを正確に測定できた。
【００８８】
一方、表面粗さ計を用いて電荷発生層の厚さを測定する場合、電荷輸送層が電荷発生層上に形成された状態では電荷発生層の厚さを測定することができない。従って、比較例２−１〜２−４では電荷輸送層を形成しない状態で電荷発生層の厚さを測定したが、標準偏差およびσ／平均値が実施例に比べて大きかった。比較例では、実施例の結果に比べて測定結果のバラツキが大きく、測定に誤差があった。
また、比較例２−５〜２−７においては、電荷発生層上に電荷輸送層を形成させたが、表面粗さ計ではこの状態で電荷発生層の厚さを測定することが困難であり、電荷輸送層を除去する必要があった。このように電荷輸送層を除去した後に、電荷発生層の厚さを測定する場合でも、表面粗さ計を用いて測定する場合は、実施例の結果に比べて測定結果のバラツキが大きく、測定に誤差があった。