(57)【要約】【課題】  発光素子の劣化を端子間電圧の上昇として検出し、その結果によって駆動電流を補正すると、輝度が増加して正確な補償ができない。【解決手段】  発光素子と、前記発光素子に駆動電流を供給する駆動部と、前記発光素子の端子間の電圧上昇を検出する電圧検出部と、前記検出された電圧上昇から前記発光素子の劣化量を決定し、前記劣化量を前記駆動電流の補正データとして保持する補正部と、前記駆動部が前記補正データに応じて補正された駆動電流を前記発光素子に供給するように前記駆動部を制御する制御部と、を有する表示装置において、  前記補正部は、前記検出された電圧上昇と、前記駆動電流の停止によって回復するオフセット電圧と、前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量に対応する電圧上昇とにより前記発光素子の劣化量を決定することを特徴とする。【選択図】  図１
2009276673.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光素子と、
前記発光素子に駆動電流を供給する駆動部と、
前記発光素子の端子間の電圧上昇を検出する電圧検出部と、
前記検出された電圧上昇から前記発光素子の劣化量を決定し、前記劣化量を前記駆動電流の補正データとして保持する補正部と、
前記駆動部が前記補正データに応じて補正された駆動電流を前記発光素子に供給するように前記駆動部を制御する制御部と、
を有する表示装置において、
前記補正部は、前記検出された電圧上昇と、前記駆動電流の停止によって回復するオフセット電圧と、前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量とにより前記発光素子の劣化量を決定することを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記補正部は、
前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量に対応する電圧上昇と前記検出された電圧上昇とを比較した結果により、異なる方法で前記発光素子の劣化量を決定することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記補正部は、前記検出された電圧上昇が、前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量に対応する電圧上昇より小さいかまたは等しいときに、前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量を前記劣化量として決定し、前記検出された電圧上昇が、前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量に対応した電圧上昇より大きいときに、前記検出された電圧上昇から前記オフセット電圧を差し引いた電圧または対応する輝度低下を前記劣化量として決定することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量、および前記補正部により決定される劣化量は、あらかじめ決定された関係を通じて互いに対応する電圧上昇と輝度低下のいずれかであることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項５】
前記劣化量である電圧上昇と輝度低下の関係は、前記補正部に参照表または関数として記憶されている請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記発光素子が３色の発光素子を含む複数の発光素子であって、色ごとに補正部を備える請求項１に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置、詳しくは通電することで発光する有機ＥＬ素子等の発光素子を含む表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、フラットパネル対応の自発光型デバイスが注目されている。自発光型デバイスとしては、プラズマ発光表示素子、フィールドエミッション素子、エレクトロルミネセンス（ＥＬ）素子等がある。
【０００３】
この中で、特に、有機ＥＬ素子に関しては、研究開発が精力的に進められており、緑単色や、青、赤等の色を加えたエリアカラータイプのアレイが製品化され、現在はフルカラー化への開発が活発化している。
【０００４】
ところで、有機ＥＬ素子においては、一定電流で発光を継続することで輝度が低下し、電圧が上昇する変化が起こることが知られている。
【０００５】
このような有機ＥＬ素子の変化を補償する技術として、特許文献１は、有機ＥＬ素子の駆動電圧を検出し、その電圧に応じて対応する画素データを補正し、これをもって各発光素子の輝度の低下を画素単位で補う表示装置を開示する。
【特許文献１】特開２００６−０９１７０９
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の方法によって、駆動電圧を検出しその電圧変化に応じて画素データを補正すると、輝度の低下を補償するために、輝度低下が無くとも輝度が低下したと判断し、より発光をするように動作するために、その部分だけより多く発光する場合があり、発光素子の電圧を検出しただけでは、輝度低下を正確に補償することができないという問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は上記事情を鑑みてなされたものであり、
発光素子と、
前記発光素子に駆動電流を供給する駆動部と、
前記発光素子の端子間の電圧上昇を検出する電圧検出部と、
前記検出された電圧上昇から前記発光素子の劣化量を決定し、前記劣化量を前記駆動電流の補正データとして保持する補正部と、
前記駆動部が前記補正データに応じて補正された駆動電流を前記発光素子に供給するように前記駆動部を制御する制御部と、
を有する表示装置において、
前記補正部は、前記検出された電圧上昇と、前記駆動電流の停止によって回復するオフセット電圧と、前記発光素子の駆動が開始された時点の劣化量に対応する電圧上昇とにより前記発光素子の劣化量を決定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、輝度の変化を抑制した表示装置を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図１乃至図６を用いて、本発明を詳細に説明する。
【００１０】
図１は本発明の一実施形態である表示装置の構成を説明するための概念図である。
【００１１】
図１の表示装置は、発光素子である有機ＥＬ素子１と、該有機ＥＬ素子に電力を供給する駆動部２と、入力信号に応じて前記駆動部を制御する制御部３と、前記有機ＥＬ素子の劣化量を検出する劣化検出手段４と、前記有機ＥＬ素子１の劣化に伴って前記有機ＥＬ素子１に対する出力を補正する補正部５とを備えている。後述するように、前記補正部５においては、前記有機ＥＬ素子の劣化量と、前記有機ＥＬ素子において表示しようとする輝度から決定される補正係数を用いて、前記制御部と駆動部を通じて、前記有機ＥＬ素子への出力を補正する。
【００１２】
有機ＥＬ素子の劣化による輝度と補正係数の関係を図２に示す。
【００１３】
図２（ａ）、（ｂ）は、それぞれ、有機ＥＬ素子を一定電流で連続して駆動し発光させた場合の、有機ＥＬ素子の輝度および端子間電圧の時間変化を示す。輝度は初期値を１として規格化した。電圧は初期（時刻０）の端子間電圧からの変化である。このように、輝度の低下は電圧上昇に１対１に対応している。
【００１４】
図２（ｃ）は、図２（ａ）、（ｂ）から導かれる、輝度低下（横軸）と電圧上昇（縦軸）の関係、すなわち劣化の特性を示す。
【００１５】
図２（ｃ）の関係がわかっていると、端子間電圧の上昇値から輝度の低下量を推定し、駆動電流を補正することにより、輝度を一定に保つこと、すなわち劣化補償を行うことができる。０．０５Ｖの電圧上昇を検出した場合は、輝度が初期の９５％だけ劣化したとみなして、輝度を５％増加させるべく駆動電流を補正をすればよい。このように、連続的な発光継続に対しては、輝度低下と電圧上昇量が一定の関係にあるため、輝度低下を正確に補償することができる。
【００１６】
しかしながら、テレビや携帯電話等の実際の電子機器においては、発光が連続的に行われることはなく、電源のオン・オフが頻繁に行われる。
【００１７】
有機ＥＬ素子に対して駆動と休止を繰り返した場合の輝度低下と電圧上昇の時間変化を図３（ａ）、（ｂ）に示す。横軸は駆動している時間の累積を表している。時刻０から延びている分枝は１回目の駆動での電圧変化である。３３時間連続して駆動した後いったん駆動を停止し、その後再開したときの電圧上昇が第２の分枝に示されている。その後の第３の分枝は、６５時間後に休止してさらに再開したときの電圧上昇である。
【００１８】
図３（ａ）に示すように、輝度は駆動休止の前後で変化せず、駆動が再開されると、休止直前の輝度で再び発光する。輝度の低下量は累積駆動時間によって決まる。
【００１９】
これに対し、図３（ｂ）に示すように、駆動中に上昇した電圧は駆動休止によって少し下降し、駆動中の電圧上昇の一部が回復する。再開後は電圧が急速に上昇し、休止前の電圧に近くなると上昇が緩やかになり、休止前の電圧上昇速度に戻る。
【００２０】
図３（ｃ）は、図３（ａ）、（ｂ）に対応する輝度低下と電圧上昇の関係を示す図である。各分枝は、図３（ｂ）の分枝にそれぞれ対応している。破線Ａは、駆動再開直後の電圧と輝度をプロットした点を結んで得られる曲線である。破線Ｂは、駆動再開後、十分に長い時間駆動を行なった後の電圧と輝度の関係から包絡線を作ったものである。いずれもほぼ直線になるが、これは本発明にとって本質的ではない。
【００２１】
破線ＡとＢの間隔の電圧ΔＶｏｓは休止による電圧の回復分である。この分の電圧変化は可逆であり、駆動休止中に回復して０になる。また、駆動再開直後に急速に休止前の値に戻る。
【００２２】
一般に有機ＥＬ素子の輝度の低下は、発光素子の内部の不可逆な変化すなわち劣化であると考えられている。しかし、図３（ｂ）（ｃ）の示すところによれば、駆動開始直後の一定期間、ほとんど輝度の低下を伴わない急速な電圧上昇があり、しかもこの電圧変化は、発光を停止すると元に戻る可逆な変化であることがわかった。
【００２３】
可逆な電圧変化は、発光素子の両端子間の寄生容量を充放電する現象であると考えることができる。この寄生容量は、駆動期間中に充電され、休止期間中に放電される。駆動または休止の時間が十分長いと、寄生容量電圧は飽和するが、駆動期間が短いまたは休止期間が短い場合は充放電が飽和せず、中間的な電圧が現れる。
【００２４】
破線Ａで示される不可逆な電圧の上昇と輝度の低下は、不可逆という性質からみて素子の劣化を表す指標と考えられる。以下破線Ａの関係を劣化特性Ａと呼ぶ。劣化特性Ａで示される輝度と電圧とはともに劣化の指標であり、以下これらを劣化量という。
【００２５】
これに対して破線Ｂの輝度−電圧の関係は、可逆な電圧変化を含んだ特性である。以下破線Ｂの関係を劣化特性Ｂと呼ぶ。劣化特性Ｂとして検出される有機ＥＬ素子の端子間電圧の時間変化は、不可逆変化分と可逆変化分ΔＶｏｓが合わさったものである。
【００２６】
図４（ａ）−（ｃ）は、Ｔ１，Ｔ２の休止時間が図３（ａ）−（ｃ）で示した場合より短く、休止期間中に電圧が部分的にしか回復しない場合を表している。休止を経て再開した直後の電圧は、休止時間が十分長い場合は劣化特性Ａの電圧にまで回復するが、短時間の休止では途中の値までしか回復せず、再開直後の電圧は休止期間の長さに依存する。
【００２７】
駆動再開後十分長い時間たった後の電圧は、１つの線（破線Ｂ）上に収束する。劣化特性Ｂをあらかじめ計測しておけば、駆動再開後十分長い時間たった後は、検出した電圧から輝度の変化を知ることができる。
【００２８】
または、あらかじめ劣化特性Ａと破線Ａと破線Ｂの差分に相当する電圧ΔＶｏｓとを計測しておき、検出された電圧値からを差し引き、劣化特性Ａの電圧−輝度関係によって輝度の低下量を知ることができる。以下破線Ａと破線Ｂの差分に相当する電圧ΔＶｏｓをオフセット電圧と呼ぶこととする。
【００２９】
電圧が駆動再開直後から破線Ｂ上に収束するまでのあいだは、電圧値が休止時間の長さに依存するから、電圧値だけで輝度低下を一意的に決めることはできない。しかし、この間の変化は比較的短時間で起きるので、可逆変化のみが生じているとみなしてもよい。つまり、駆動再開後の電圧が劣化特性Ｂに達するまでは劣化は進行せず、この間は輝度の低下はないものとして、休止直前の劣化量（これは記憶されているものとする）によって輝度の補正を行う。
【００３０】
休止直前の劣化量は駆動再開時点の劣化量と等しい。上で説明したように、駆動再開直後の検出電圧は、休止の長さに依存するから、それによっては劣化量を知ることはできない。休止前の、駆動が停止した時点での劣化量を記憶しておくことよって休止の長さを計測する必要はなくなる。
【００３１】
駆動再開後の電圧変化が可逆変化の範囲か、あるいは不可逆変化を含むか、つまり、電圧が劣化特性Ｂに達しているか否かは、検出される電圧から知ることができる。すなわち、駆動再開後の検出電圧と、休止直前の検出電圧から可逆変化分を差し引いた電圧（すなわち劣化特性Ａの電圧ＶＡ）とを比較し、両者の差の絶対値がオフセット電圧ΔＶｏｓより小さい時は可逆変化の進行中とみなし、オフセット電圧ΔＶｏｓを超えると不可逆変化が生じている（電圧変化が劣化特性Ｂの上に達している）とみなす。
【００３２】
劣化特性Ａは、駆動の休止や再開によって変化しない電圧上昇と輝度低下の関係であり、劣化の指標としては、劣化特性Ａを通じて対応している電圧上昇と輝度低下のいずれをとってもよい。本発明でいう劣化量あるいは劣化指標とは、劣化特性Ａであらわされる関係にある電圧上昇または輝度低下である。
【００３３】
具体的な劣化量の決定手順を以下に説明する。
【００３４】
１）あらかじめ、標本の表示装置を連続駆動して劣化特性Ｂ（破線Ｂ）を測定する。さらに、標本表示装置を間欠駆動して、駆動再開直後の電圧と輝度の関係を複数測定しそれらのプロットを結んで劣化特性Ａ（破線Ａ）を求める。間欠駆動のときの駆動休止期間は十分長く取り、電圧上昇が劣化特性Ａの電圧に回復するようにする。
【００３５】
２）補正対象の表示装置に上の劣化特性Ａまたは劣化特性Ｂの輝度−電圧関係と差電圧（オフセット電圧ΔＶｏｓ）とを記憶する。
【００３６】
３）表示装置の電源をオンし駆動が開始された後のしばらくの期間は、有機ＥＬ素子の端子間電圧は検出するが、補正にその値は用いず、劣化特性Ａ（破線Ａ）によって補正を行なう。すなわち、その期間の輝度低下はそれまでの輝度低下（駆動開始時点での輝度低下。これは記憶されているものとする）がそのまま変化せずに継続しているとみなして、その輝度低下に応じた補正を行う。
【００３７】
検出した端子間電圧は、そのときの輝度低下に対応する劣化特性Ａの電圧と比較され、差の絶対値が、記憶されているオフセット電圧ΔＶｏｓを超えるまではこの補正を続ける。
【００３８】
４）上記の電圧差の絶対値がΔＶｏｓを超えたときは、検出した電圧が劣化特性Ｂ上の電圧であるとみなして、これからΔＶｏｓを差し引いた電圧を求め、対応する劣化特性Ａ上の輝度から輝度低下を決定する。これに基いて補正を行う。
【００３９】
５）各電圧検出時点で決定された劣化量すなわち劣化特性Ａ上の輝度または電圧は、その都度記憶される。３）の場合は輝度は変わらないので、劣化特性Ａ上の点の位置も変わらず劣化量は更新されない。４）の場合は新しい劣化が起きているので、劣化特性Ａ上の点は移動し、その点の輝度または電圧がそれまでの値と入れ替わり劣化量として記憶される。電源が切られて駆動が停止する場合も、その直前の劣化量を記憶する。
【００４０】
以下、駆動が再開されると３）と５）の動作、または４）と５）の動作を繰り返す。
【００４１】
このように、電圧検出後、その電圧が劣化特性Ａの上の電圧値と比較され、差がΔＶＯＳより小さい場合は可逆変化とみなされ、上記３）の方法によってそれまでの劣化量により駆動電流の補正が行われる。差がΔＶＯＳより大きいときは、不可逆な変化が生じているとみなして、上記４）の方法により、新たな劣化量（輝度または電圧）が決定されて、それにより駆動電流の補正が行われる。
【００４２】
３）または４）の後に行う補正は駆動電流の補正である。求められた輝度低下がｘ％であったとすると、電流をｘ％だけ増やすように補正する。これにより輝度は一定に保たれる。
【００４３】
各時点で決定される輝度低下は記憶され、保存される。次の電圧検出時点で検出された電圧により新しく輝度低下が決定されると、その値に更新される。輝度低下の代わりに、劣化特性Ａで決まる電圧上昇値を記憶してもよい。その場合は、電圧から輝度低下を再度算出して電流の補正を行う。
【００４４】
先に述べたように、オフ期間が十分に長い場合は、電圧は劣化特性Ａ上の点に戻るが、オフ期間が短い場合はオフ期間の長さによって戻り量が異なる。本発明の補正によれば、駆動再開後、検出される端子間電圧は記憶された電圧と比較され、差が一定値以下のときは、端子間電圧は検出された電圧ではなく電源オフ直前の輝度から決まる記憶された電圧に等しいとみなされて、その値から輝度が補正されるので、休止期間の長短によらず補正ができる。
【００４５】
また、電圧変化が可逆変化範囲にある期間は、輝度低下はないとみなすので記憶されている輝度の値は更新されず、前回の電源オフ時に記憶された値がそのまま残っている。そこで電源が切られたとするとその値が再び記憶される。この結果、電源のオンオフの間隔が短く、可逆変化の期間内に電源が切られたとしても、その時点の輝度もしくはそれに対応した破線Ａの電圧が正しく記憶され、再開後に正しい補正が行うことができる。
【００４６】
本発明においては、有機ＥＬ素子の端子間電圧の増加量を検出し、それをそのまま補正に用いるのでなく、駆動開始時点での輝度低下に対応する劣化特性Ａの電圧と比較し、検出した電圧がその値より小さいときは、電圧変化が可逆であるとみなし、検出した電圧がその値より大きいときは、不可逆な電圧変化すなわち劣化が生じているとみなして、各時点での劣化量を決定する。電圧の不可逆変化分を劣化量（劣化の指標となる量）とするので輝度の低下との１対１の対応が取れ、輝度の直接測定を行わないで、電圧の検出から輝度の低下を知ることができる。また、各電圧検出時点での劣化量を記憶しておくことにより、その後の電圧変化が可逆か不可逆かを決定することが出来る。その結果、駆動の休止時間の長さに依存しない補正ができる。
【００４７】
オフセット電圧ΔＶｏｓが一定でなく、累積駆動時間によって変動する場合でも、輝度とオフセット電圧の関係をあらかじめ計測し、表示装置に記憶させておくことにより、輝度値からその都度オフセット電圧を求めて劣化量が決定できる。
【００４８】
実際の表示装置における発光素子の輝度は補正により一定に保たれるので、劣化の指標とはならない。本発明で劣化の指標とするのは、一定電流の駆動を続けたときの輝度の低下である。実際の発光素子は、補正によって電流が常時変化しているので、一定電流を連続して流したときの劣化とは異なる。しかし、発光素子の端子間電圧を検出するときの検出電流は一定にしておくので、検出電圧から上で説明した手順で求められる輝度低下または不可逆な電圧上昇量は、輝度の指標となり得る。
【００４９】
なお、実験によると、ΔＶｏｓは素子の駆動方式によっても変化し、１フレーム期間に一定期間消灯するいわゆるデューティ駆動を行なう場合は、全期間点灯の駆動と比べ、ΔＶｏｓの値は小さくなる。特にデューティ比を小さく場合はΔＶｏｓが小さくなるために、表示状態でパルス幅を変えることのできる表示装置では、デューティ比によってΔＶｏｓの値を変えると良い。
【００５０】
以下、素子電圧の検出方法について説明する。
【００５１】
本発明の一実施形態として、所定の電流値を流した際に、素子にかかる電圧を読み取るための構成の一例を図６に示す。
【００５２】
図６は複数の画素からなるマトリクス表示装置のうちの１画素を図示したものである。画素１００は第１、第２のＮ  型トランジスター（ＮＭＯＳ）１０１、１０２、第１、第２のＰ型トランジスター（ＰＭＯＳ）１０３、１０４、保持容量１０５、データ線１０６、電源供給線１０７、第１、第２、第３の選択線１０８、１０９、１１０と有機ＥＬ素子１、とを少なくとも含む。データ線１０６は、画素外のスイッチ１１５によって、データ信号出力源１１１と電流源１１２および電圧検出部１１３との間で切り替えられるようになっている。
【００５３】
データ信号出力源１１１は、不図示の選択線駆動回路とともに図１の駆動部２を構成する。電流源１１２および電圧検出部１１３は、図１の電圧検出手段４を構成する。
【００５４】
図７は、図６の回路の動作タイミングチャートである。
【００５５】
画素への書き込み時には、第１の選択線をＨｉｇｈにし、第２、第３の選択線をＬｏｗにする。これにより、第１のＮＭＯＳ１０１はＯＮ，第２のＮＭＯＳ１０２はＯＦＦ，第２のＰＭＯＳ１０４はＯＮになる。同時に、データ線１０６はスイッチ１１５によってデータ信号出力源１１１側に接続され、図７のデータ線電位に示すように輝度に応じたデータ信号が印加される。このデータ信号は保持容量１０５を充電し、第１のＰＭＯＳ１０３が電源供給線１０７から有機ＥＬ素子１にデータ信号に応じた電流を流す。充電が進むにつれて、有機ＥＬ素子１の発光が開始される。発光の様子が図７の発光のレベルで示されている。
【００５６】
当該画素１００への書き込み期間が終了すると、第１、第２、第３の選択線はすべてＬｏｗになり、第１のＮＭＯＳ１０１と第２のＮＭＯＳ１０２はＯＦＦ，第２のＰＭＯＳ１０４はＯＮになる。保持容量１０５に保持された電圧に応じた電流が有機ＥＬ素子１に流れ、有機ＥＬ素子の発光が継続する。
【００５７】
有機ＥＬ素子１の端子間電圧を検出するときは、当該画素１００の電圧検出期間に第１の選択線をＬｏｗにし、第２、第３の選択線をＨｉｇｈにする。第１のＮＭＯＳ１０１と第２のＰＭＯＳ１０４はＯＦＦ，第２のＮＭＯＳ１０２はＯＮになる。データ線はスイッチ１１５によって電流源１１２側に接続され、電流源１１２から有機ＥＬ素子１に検出電流が流れる。このときデータ線電位は有機ＥＬ素子にかかる電圧と等しくなるので、この電位を電圧検出部１１３で検出する。
【００５８】
この際、劣化量を検出した画素以外の画素については、第１，第２の選択線をＬｏｗにし、第３の選択線をＨｉｇｈにする。こうすることで、電流源からの電流が、劣化量を検出したい画素だけに流れるようにすることができる。
【００５９】
電圧検出部１１３で検出された電圧は、劣化量決定部１１４に送られる。
【００６０】
劣化量決定部１１４には、劣化特性Ａの電圧−輝度関係、オフセット電圧ΔＶＯＳおよび画素ごとの輝度低下が記憶されている。劣化特性とオフセット電圧ΔＶＯＳは不図示の参照表（ルックアップテーブル）として記憶され、輝度低下は、同じく不図示のメモリに画素ごとに記憶されている。
【００６１】
先に説明したように、あらかじめ駆動時の輝度と電圧の計測を行なって劣化特性Ａとオフセット電圧ΔＶＯＳを定めておく。劣化特性ａは、十分に長い期間の定電流駆動と十分に長い放置を繰り返し行い、駆動再開直後のデータをプロットすることにより得られる。駆動開始から十分に長い時間の後の輝度と電圧の関係から劣化特性Ｂが決まる。劣化特性Ａと劣化特性Ｂの差分よりオフセット電圧が得られる。
【００６２】
劣化量決定部１１４は、上で説明した手順３）または４）を実行し、当該画素の輝度低下を決定する。３）の手順が実行されたときは輝度低下は変わらないのでそのままに保存される。４）の手順が実行されたときは、新しく決定された輝度低下に置き換えられて記憶される。
【００６３】
次の画素１００の入力信号が入ると、補正部５（図１）の別の回路がメモリに記憶された当該画素１００の輝度低下データを読み出し、その値に基いて入力信号を補正し、制御部３に送る。制御部３は補正された信号を駆動部２のデータ信号出力源１１１に送り、データ信号出力源１１１で駆動信号が生成され表示が行われる。
【００６４】
補正動作は、各表示画素毎に行なうことが好ましいが、例えば任意のエリア単位で行なうことも可能である。このようにすると、劣化補正する精度は落ちるが、検出に要する時間を短縮できる。補正曲線、及びオフセット値については、事前に素子の劣化特性を測定することで、決めることができる。
【００６５】
デューティ駆動を行なう場合は、前述の方法でオフセット電圧のデューティ比依存を予め取得し、決めることが出来る。
【００６６】
以上説明したように、劣化特性ＡまたはＢとΔＶｏｓとを表示装置中に保持し、有機ＥＬ素子の電圧上昇量を基に素子劣化を推測し、電流補正量を求め、これに応じて入力信号を変調し、制御部を介して出力することで補正動作が可能となる。検出された電圧より、輝度が９８％劣化していると判断された場合、２％分だけ素子駆動電流を増加させる動作を行なう。上の説明では、入力信号の補正を補正部４で行ったが、入力信号を駆動部３に入力し、補正部４のメモリから輝度低下のデータを送って、駆動部３で補正しても良い。
【００６７】
劣化特性Ａは、実質的な動作開始初期電圧との差分で示しているが、差分ではなく電圧の絶対値で補正を行なっても良い。
【００６８】
劣化特性Ａはルックアップテーブルで保持しても良いが、劣化特性Ａを近似した関数を準備しておいても良い。
【００６９】
本発明は、一つの有機ＥＬ素子からなる表示装置（例えば照明等）に適用することも可能であるし、複数の有機ＥＬ素子からなる表示装置に適用することもできる。一つの有機ＥＬ素子からなる表示装置においては、駆動による輝度の変化を抑制することができる。複数の有機ＥＬ素子からなる表示装置に適用する場合も、輝度の変化を補償することができる。また、複数の有機ＥＬ素子のそれぞれで劣化量の判断と輝度の補正を行なうことで、素子ごとに異なる劣化量が焼きつきとして視認されることを抑制することができる。
【００７０】
また、複数の異なる色の有機ＥＬ素子を含む表示装置においては、色ごとに補正データとオフセット電圧を有してもよい。一般に有機ＥＬ素子は色ごとに劣化特性が異なるので、劣化量と表示しようとする輝度によって決まる補正量が、それぞれの色毎に異なっている必要がある。
【００７１】
図５はＲＧＢ３色の有機ＥＬ表示装置における本発明の実施形態を示す。
【００７２】
第一の色（Ｒ）の有機ＥＬ素子１１の劣化量は、第一の劣化検出手段４１によって検出され、第一の補正手段５１によって、劣化量と表示輝度から補正係数を決定する。同様に、第二（Ｇ）、第三（Ｂ）の色の有機ＥＬ素子１２、１３の劣化量と表示輝度は、それぞれ第二、第三の検出手段４２，４３と第二、第三の補正手段５２、５３によって決める。有機ＥＬ素子の劣化特性に合わせて補正することができるので、輝度の変化をより小さくすることができる。また、図５の例では劣化検出手段を異なる色毎に設けたが、一つの劣化検出手段で３色の有機ＥＬ素子の電圧を検出してもよい。
【００７３】
劣化量を判断する手段は、必ずしも補正をかける画素そのものから検出する必要はない。該画素と同等の駆動を行なった別の画素での劣化量をもって、該画素の劣化量を推定してもよい。
【００７４】
電圧を検出する頻度は、各書き込み毎に行なっても良いし、一定回数書き込むごとに行なっても良い。
【００７５】
本発明の表示装置は、照明、ディスプレイ、電子写真方式の画像形成装置の露光光源等に利用できる。照明として使用する場合は、発光素子は１つまたは数点用いられる。
【００７６】
ディスプレイや電子写真方式の画像形成装置の露光光源として有機ＥＬ素子を使用する場合は、多数の有機ＥＬ素子をマトリクスに配置した表示パネルを使用する。ここでいうディスプレイとは、テレビやパソコンの表示部や電子機器に搭載される表示部、またはそれらを備えた画像表示装置を含む。本発明の表示装置を備えた電子機器としては、デジタルカメラ、複写機、レーザービームプリンタ他がある。
【００７７】
（実施例１）
有機ＥＬ素子に３０ｍＡ／ｃｍ２の電流密度で電流を流すと、初期の輝度は１１４０ｃｄ／ｍ２、電圧は４．０３Ｖであった。オンオフを繰り返し実施したところ、図８の電圧上昇―輝度特性が得られた。これより劣化特性Ａとなる曲線Ｃとオフセット電圧＝２０ｍＶが得られた。
【００７８】
同じ構成の別の素子に、同じように３０ｍＡ／ｃｍ２の電流を流しながら電圧を測定し、０．４２Ｖ上昇するまで劣化させた後に、電源をオフし、しばらくしてから再び電源をオンした。その後、曲線Ｃとオフセット電圧２０ｍＶを用いて電流補正を行ない、１０００ｃｄ／ｍ２の輝度で発光させたところ、時間的に低下することなく、電源のオン・オフを繰り返しても一定の輝度で発光が継続した。
【００７９】
（比較例）
オフセット電圧を考慮しない（０Ｖとする）以外は実施例と同様に補正駆動を行なった。１０００ｃｄ／ｍ２を表示しようとしたところ、電源オフした後再びオンすると、１０００ｃｄ／ｍ２よりも明るい表示をしていた。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本発明の一実施形態を説明するための概念図
【図２】有機ＥＬ素子における輝度の経時変化の一例を表す図
【図３】有機ＥＬ素子における輝度、電圧の経時変化とその関係を表す図
【図４】有機ＥＬ素子における別の条件での輝度、電圧の経時変化とその関係を表す図
【図５】本発明の別の実施形態を説明するための概念図
【図６】本発明の実施形態の画素と補正部を示す図
【図７】図６の回路の動作を示すタイミングチャート
【図８】本発明の実施例における輝度と電圧の関係を表す図
【符号の説明】
【００８１】
１  有機ＥＬ素子
２  駆動部
３  制御部
４  劣化検出手段
５  劣化に応じて出力を補正するための手段
１１、１２，１３  ＲＧＢ各色の有機ＥＬ素子
４１、４２，４３  ＲＧＢ各色の有機ＥＬ素子の端子間電圧検出手段
５１、５２，５３  ＲＧＢ各色の有機ＥＬ素子の補正部
１００  画素
１０１  第１のＮ型トランジスタ
１０２  第２のＮ型トランジスタ
１０３  第１のＰ型トランジスタ
１０４  第２のＰ型トランジスタ
１０５  保持容量
１０６  データ線
１０７  電源供給線
１０８  第１の選択線
１０９  第２の選択線
１１０  第３の選択線
１１１  データ信号出力源
１１２  電流源
１１３  電圧検出部
１１４  劣化量決定部
１１５  スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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