(57)【要約】【課題】測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断できる試験装置を提供する。【解決手段】状態情報取得部２２２は、受け入れた状態情報を、測定器状態テーブル２６４に対して出力する。試験項目判断部２２６は、操作部２０６から試験項目情報を受け入れ、試験別使用測定器テーブル２６２から、使用測定器情報を取得する。測定器判断部２２８は、測定器状態テーブル２６４にアクセスして、使用測定器情報に対応する測定器が使用可能か否か判断する。試験項目判断部２２６は、各試験項目で使用する測定器が全て使用可能か否か判断する。１つでも使用不可の測定器がある場合、表示部２０８は、「試験実行不可能」などといった表示を行う。全て使用可能である場合、試験実行制御部２３０は、試験を実行するための制御を行う。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象の装置に対する１つ以上の試験項目を受け入れる試験項目受入手段と、
複数の測定器の状態に関する情報を取得する状態取得手段と、
前記測定器の状態に基づいて、前記測定器それぞれが前記受け入れられた試験項目の試験を実行可能か否かを判断する試験判断手段と、
前記試験判断手段の判断結果を表示する表示手段と、
前記試験対象の装置に対して、前記試験判断手段によって実行可能と判断された試験を、前記試験項目の試験を実行可能な測定器の１つ以上を用いて実行する試験実行手段と
を有する試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
たとえば、特許文献１は、試験項目毎に必要な測定機能及び該当測定機能を有する測定器を記憶保持することによって、試験実施に必要な測定器を把握するための試験管理システムを開示する。
【特許文献１】特開２００３−２８３４４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明は、上述した背景からなされたものであり、測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断できる試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために、本発明に係る試験装置は、試験対象の装置に対する１つ以上の試験項目を受け入れる試験項目受入手段と、複数の測定器の状態に関する情報を取得する状態取得手段と、前記測定器の状態に基づいて、前記測定器それぞれが前記受け入れられた試験項目の試験を実行可能か否かを判断する試験判断手段と、前記試験判断手段の判断結果を表示する表示手段と、前記試験対象の装置に対して、前記試験判断手段によって実行可能と判断された試験を、前記試験項目の試験を実行可能な測定器の１つ以上を用いて実行する試験実行手段を有する。
【発明の効果】
【０００５】
本発明によれば、測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断することが可能な試験装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
［本発明の背景］
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。
従来、たとえば、試験を実行する際、試験に用いる測定器が定期校正などにより存在しない場合、または測定器の電源投入がされていない場合等には、測定器からの測定値が正しく計れていないと判断されてしまう。
そのため、従来では、実施中の試験が正常に行われていないと判断され、その試験項目は不良と判断されてしまい、そのため、操作者が再度当該試験を行う必要が生じ、試験時間が増大してしまう。
このような背景から、測定器の状態に基づいて実行可能な試験を判断できる試験装置が望まれる。
【０００７】
［本発明の実施形態］
以下、本発明の実施形態について、図面を参照にして説明する。
図１は、本発明の実施形態にかかる試験システム１の構成を示す図である。
図１に示すように、試験システム１は、試験装置２、測定器１２０−１〜１２０−ｎ、および、専用試験器１３０−１〜１３０−ｍ（ｎ，ｍは１以上の整数。但し、ｎ，ｍがそれぞれ常に同じ数とは限らない）が、ネットワーク１００を介して接続されて構成されている。
また、試験装置２には、接続部１０２を介して被試験器１１０が接続されている。
【０００８】
なお、以下の各図において、図示の具体化および明確化のために、本発明の説明に必要ない構成部分が、適宜、省略される。
さらに、以下、測定器１２０−１〜１２０−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示す場合には、単に測定器１２０などと略記することがある。
【０００９】
また、図１に示した試験システム１を構成する装置のうち、任意の２つ以上は、適宜、一体に構成されうる。
また、ある１つの装置において実現される複数の機能が、それぞれ別々の装置において実現されるようにしてもよいし、図１に示されていない装置において実現されるようにしてもよい。
また、試験装置２は、図１では１つとしたが、複数あってもよい。
【００１０】
ネットワーク１００は、たとえば、ＬＡＮ（Local Area Network）であり、ＧＰ−ＩＢ（General Purpose Interface Bus）またはＲＳ−２３２Ｃなどの規格準拠のＬＡＮを用いてもよい。
試験装置２は、測定器１２０および専用試験器１３０を用いて、被試験器１１０に対して所定の試験を実行する。
また、試験装置２は、ネットワーク１００を介して測定器１２０および専用試験器１３０と通信を行うように構成されている。
【００１１】
被試験器１１０は、たとえば無線機であって、試験装置２によって実行される試験の対象となる。
測定器１２０は、たとえば、標準信号発生器および位相検波器であって、試験装置２が実行する試験で使用される。
専用試験器１３０は、試験装置２によって実行される所定の試験のためだけに使用される専用の試験器である。
【００１２】
図２は、図１に示した試験装置２の構成を示す図である。
図２に示すように、試験装置２は、通信インターフェース（ＩＦ）２０２、被試験器ＩＦ２０４、操作部２０６、表示部２０８、測定処理部２２およびデータベース２６から構成される。
測定処理部２２は、状態情報取得部２２２、状態検出部２２４、試験項目判断部２２６、測定器判断部２２８、試験実行制御部２３０および試験結果取得部２３２から構成される。
データベース２６は、試験別使用測定器テーブル２６２および測定器状態テーブル２６４を含む。
【００１３】
なお、測定処理部２２およびデータベース２６は、ハードウエアで構成することによって実現可能であるが、試験装置２がコンピュータである場合は、このコンピュータに組み込まれたソフトウエアで構成することによっても実現可能である。
図３は、図１に示した試験装置２がコンピュータである場合のハードウエア構成を例示する図である。
図３示すように、試験装置２は、ＣＰＵ１５２およびメモリ１５４などを含む本体１５０、キーボードおよび表示装置などを含む入出力装置１５６、他の装置との通信を行う通信装置１５８、および、ＣＤ装置およびＨＤＤ装置など、記録媒体１６２に対するデータの記録および再生を行う記録装置１６０から構成される。
つまり、試験装置２は、情報処理および他の装置との通信が可能なコンピュータとしてのハードウエア構成部分を有している。
【００１４】
測定処理部２２およびデータベース２６は、たとえば、記憶媒体１６２を介して試験装置２に供給され、メモリ１５４にロードされ、試験装置２にインストールされたＯＳ上で、試験装置２のハードウエア資源を具体的に利用して実行される。
なお、この場合、操作部２０６および表示部２０８は入出力装置１５６によって実現されるようにしてもよいし、通信ＩＦ２０２および被試験器ＩＦ２０４は通信装置１５８によって実現されるようにしてもよい。
【００１５】
試験装置２（図２）において、通信ＩＦ２０２は、ネットワーク１００を介して測定器１２０および専用試験器１３０との間で通信を行うために必要な処理を行う。
被試験器ＩＦ２０４は、接続部１０２を介して被試験器１１０との間で試験の実行に必要な信号を送受信するために必要な処理を行う。
操作部２０６は、たとえばキーボードなどであって、操作者の操作を受け入れて、測定処理部２２およびデータベース２６に対して出力する。
また、操作部２０６は、操作者の操作によって入力された、各試験で用いられる測定器１２０の情報を受け入れ、試験別使用測定器テーブル２６２に対して出力する。
【００１６】
図４は、試験別使用測定器テーブル２６２に格納される情報を例示する図である。
図４において、試験＃１〜試験＃ｍは、被試験器１１０に対して実行される試験項目を示し、測定器＃１〜測定器＃ｎは、各試験で用いられる測定器を示す。
ここで、図４の例においては、試験＃１では測定器＃１が使用され、試験＃２では測定器＃２が使用され、試験＃３では測定器＃３が使用され、試験＃４では測定器＃２が使用され、試験＃ｍでは測定器＃ｎが使用される。
【００１７】
図５は、図４に示した情報の具体例を例示する図である。
図５に示した具体例において、たとえば、送信出力試験およびＴＯＮＥ送信試験では標準信号発生器が使用され、占有周波数帯幅試験および送信スプリアス試験では位相検波器が使用され、受話出力レベル試験および受話出力ひずみ率試験では電力計が使用される。
この試験別使用測定器テーブル２６２は、被試験器１１０ごとに設けるようにしてもよい。
【００１８】
操作部２０６（図２）は、操作者の操作によって入力された測定器の状態を示す情報（状態情報）を受け入れ、状態情報取得部２２２に対して出力する。
この状態情報は、各測定器１２０が使用可能か否かを示す情報を含むようにしてもよいし、各測定器１２０が使用不可であることを示す情報のみを含むようにしてもよい。
【００１９】
状態検出部２２４は、通信ＩＦ２０２およびネットワーク１００を介して各測定器１２０に対して信号を送信し、その信号の応答を各測定器１２０から受信することによって、各測定器１２０の状態を検出する。
なお、状態検出部２２４は、各測定器１２０に対して通信コマンド信号を送信して、通信の有無を検出するようにしてもよく、各測定器１２０の電源投入状態を検出するようにしてもよい。
さらに、状態検出部２２４は、検出した各測定器１２０の状態に基づいて状態情報を生成し、状態情報取得部２２２に対して出力する。
状態情報取得部２２２は、操作部２０６および状態検出部２２４から受け入れた状態情報を、測定器状態テーブル２６４に対して出力する。
【００２０】
図６は、測定器状態テーブル２６４に格納される情報を例示する図である。
図６の例においては、測定器＃１、測定器＃２、測定器＃ｎは使用可能状態であり、測定器＃３は使用不可状態である。
ここで、使用不可状態とは、たとえば、各測定器１２０の電源がオフになっている状態、または試験装置２と各測定器１２０との接続が断絶している状態など、各測定器１２０が試験に使用され得ない状態である。
【００２１】
図７は、図６に示した情報の具体例を例示する図である。
図７に示した具体例において、標準信号発生器、位相検波器、スペクトル分析器、低周波分析器、誤り率測定器およびデジタル電圧計が使用可能であり、電力計が使用不可状態である。
この測定器状態テーブル２６４によって、各測定器１２０が使用可能か否かを判断することができ、したがって、各試験が実行可能であるか否かを判断することができる。
【００２２】
操作部２０６（図２）は、操作者の操作によって入力された試験項目に関する情報（試験項目情報）を受け入れ、試験項目判断部２２６に対して出力する。
この操作者の操作によって入力された試験項目情報は、試験を実行するように選択された試験項目に関する情報である。
試験項目判断部２２６は、操作部２０６から試験項目情報を受け入れる。
また、試験項目判断部２２６は、試験別使用測定器テーブル２６２から、試験項目情報に示される試験項目それぞれで使用する測定器の情報（使用測定器情報）を取得する。
さらに、試験項目判断部２２６は、取得した使用測定器情報を、試験項目ごとに、測定器判断部２２８に対して出力する。
【００２３】
測定器判断部２２８は、測定器状態テーブル２６４にアクセスして、使用測定器情報に対応する測定器が使用可能か否か判断し、判断結果を試験項目判断部２２６に対して出力する。
試験項目判断部２２６は、各試験項目で使用する測定器が全て使用可能か否か判断し、全て使用可能であれば、その試験項目情報を試験実行制御部２３０に対して出力し、１つでも使用不可の測定器があれば、その試験項目情報を表示部２０８に対して出力する。
【００２４】
試験装置２は、各試験で使用される全ての測定器が使用可能でないと、その試験を正常に実行できない。
したがって、表示部２０８は、試験項目情報を受け入れると、「試験実行不可能」などといった表示を行う。
たとえば、図４および図６の例では、測定器＃３が使用不可なので、測定器＃３を使用する試験＃３が実行不可能である旨の表示がなされる。
この表示部２０８の表示によって、操作者は、実行不可能の試験を把握することができる。
【００２５】
試験実行制御部２３０は、試験項目情報を受け入れると、その情報に対応する試験を実行するための制御を行う。
具体的には、試験実行制御部２３０は、その試験で使用される測定器１２０および専用試験器１３０に対して、試験を実行するための制御信号を送信する。
また、試験実行制御部２３０は、被試験器１１０に対して、試験を実行するための試験信号を送信する。
この制御によって、測定器１２０および専用試験器１３０は、被試験器１１０に対して試験を実行することができる。
【００２６】
さらに、試験実行制御部２３０は、測定器１２０、専用試験器１３０および被試験器１１０から応答信号を受信し、その応答信号に基づいて、試験結果を示す情報（試験結果情報）を生成する。
また、試験実行制御部２３０は、生成した試験結果情報を、試験結果取得部２３２に対して出力する。
なお、試験実行制御部２３０は、試験別使用測定器テーブル２６２を参照して試験実行制御を行うようにしてもよい。
【００２７】
試験結果取得部２３２は、受け入れた試験結果情報を、表示部２０８に対して出力する。
表示部２０８は、試験結果情報に基づいて、各試験結果を表示する。
この表示部２０８の表示によって、操作者は、実行された試験の結果を把握することができる。
【００２８】
図８Ａおよび図８Ｂは、測定処理部２２の処理（Ｓ１０）を示すフローチャートである。
図８Ａおよび図８Ｂに示すように、ステップ１００（Ｓ１００）において、測定処理部２２は、操作部２０６から、使用しない測定器１２０の情報を取得し、測定器状態テーブル２６４において「使用不可」となるように処理する。
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、測定処理部２２は、操作部２０６から、選択された試験項目情報を取得する。
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、測定処理部２２は、試験別使用測定器テーブル２６２から、選択された各試験で使用する測定器１２０の情報を取得する。
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、測定処理部２２は、測定器状態テーブル２６４から、使用する測定器１２０の状態情報を取得する。
【００２９】
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、測定処理部２２は、各試験で使用する全ての測定器１２０が使用可能か否かを判断し、全て使用可能であればＳ１１２に進み、そうでなければＳ１１０に進む。
ステップ１１０（Ｓ１１０）において、測定処理部２２は、表示部２０８に対して「試験実行不可能」と表示するように処理して、Ｓ１１２に進む。
ステップ１１２（Ｓ１１２）において、測定処理部２２は、選択された全ての試験について実行の可否を判断したか否かを判断し、そうであればＳ１１４に進み、そうでなければＳ１０４に戻る。
【００３０】
ステップ１１４（Ｓ１１４）において、測定処理部２２は、実行する試験項目を選択する。
ステップ１１６（Ｓ１１６）において、測定処理部２２は、ネットワーク１００を介して測定器１２０の状態を検出する。
ステップ１１８（Ｓ１１８）において、測定処理部２２は、測定器１２０が使用可能状態か否かを判断し、使用可能状態であればＳ１１２に進み。そうでなければＳ１２０に進む。
ステップ１２０（Ｓ１２０）において、測定処理部２２は、測定器状態テーブル２６４において「使用不可」とするように処理して、Ｓ１２２に進む。
ステップ１２２（Ｓ１２２）において、測定処理部２２は、全ての測定器１２０について検出したか否かを判断し、そうであればＳ１２４に進み、そうでなければＳ１１６に戻る。
【００３１】
ステップ１２４（Ｓ１２４）において、測定処理部２２は、測定器状態テーブル２６４を参照して、試験で使用する全ての測定器１２０が使用可能か否かを判断し、そうであればＳ１２８に進み、そうでなければＳ１２６に進む。
ステップ１２６（Ｓ１２６）において、測定処理部２２は、表示部２０８に対して「試験実行不可能」と表示するように処理して、Ｓ１３０に進む。
ステップ１２８（Ｓ１２８）において、測定処理部２２は、試験を実行する。
ステップ１３０（Ｓ１３０）において、測定処理部２２は、全ての試験が終了したか否かを判断し、そうでなければＳ１３２に進み、そうであれば処理を終了する。
ステップ１３２（Ｓ１３２）において、測定処理部２２は、次の試験の準備を行い、Ｓ１１４に戻る。
【００３２】
なお、図８Ａおよび図８Ｂに示した各処理の順序などは、適宜、変更しても構わない。
たとえば、Ｓ１１６〜Ｓ１２２の処理を、Ｓ１０２とＳ１０４との間などで行ってもよいし、あるいは、Ｓ１２８の最中に行うようにしてもよい。
【００３３】
図９は、本発明の第２の実施形態にかかる第２の試験システム３の構成を示す図である。
図９に示すように、第２の試験システム３は、制御ＰＣ４−１〜４−Ｘ（Ｘは１以上の整数）、測定器１２０−１〜１２０−ｎ、および、専用試験器１３０−１〜１３０−ｍが、ネットワーク１００を介して接続されて構成されている。
さらに、制御ＰＣ４−１〜４−Ｘは、それぞれ、ＬＡＮなどのネットワーク３００を介して接続されている。
また、制御ＰＣ４−１には、接続部１０２を介して被試験器１１０が接続されている。
なお、図９に示す第２の試験システム３の内、図１に示した試験システム１の構成部分と実質的に同一のものには、同一の符号が付してある。
【００３４】
制御ＰＣ４は、図３に示したような、ＣＰＵなどの処理装置、メモリ、およびハードディスクなどを有するコンピュータである。
また、制御ＰＣ４は、上述した試験装置２の機能を、制御ＰＣ４自身に組み込まれたプログラムによって実現する。
なお、制御ＰＣ４−１以外の他の制御ＰＣ４にも被試験器１１０を接続するようにしてもよい。
このように、複数の制御ＰＣ４−１〜４−Ｘを設けることによって、複数の試験を同時に実行できるので、試験の効率をより向上させることができる。
【００３５】
上述したように、本実施形態にかかるシステムは、操作者が選択する試験項目のうち、測定器の状態により実施不可能な試験項目に関しては、あらかじめ試験実施の対象から除外することによって、試験実施時間の短縮が可能となり、作業効率を向上させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００３６】
本発明は、試験システムに利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の実施形態にかかる試験システムの構成を示す図である。
【図２】図１に示した試験装置の構成を示す図である。
【図３】図１に示した試験装置がコンピュータである場合のハードウエア構成を例示する図である。
【図４】試験別使用測定器テーブルに格納される情報を例示する図である。
【図５】図４に示した情報の具体例を例示する図である。
【図６】測定器状態テーブルに格納される情報を例示する図である。
【図７】図６に示した情報の具体例を例示する図である。
【図８Ａ】測定処理部の処理を示すフローチャートである。
【図８Ｂ】測定処理部の処理を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施形態にかかる第２の試験システム３の構成を示す図である。
【符号の説明】
【００３８】
１・・・試験システム，
１００・・・ネットワーク，
１０２・・・接続部，
１１０・・・被試験器，
１２０・・・測定器，
１３０・・・専用試験器，
２・・・試験装置，
２０２・・・通信ＩＦ，
２０４・・・被試験器ＩＦ，
２０６・・・操作部，
２０８・・・表示部，
２２・・・測定処理部，
２２２・・・状態情報取得部，
２２４・・・状態検出部，
２２６・・・試験項目判断部，
２２８・・・測定器判断部，
２３０・・・試験実行制御部，
２３２・・・試験結果取得部，
２６・・・データベース，
２６２・・・試験別使用測定器テーブル，
２６４・・・測定器状態テーブル，
３・・・第２の試験システム，
３００・・・ネットワーク，
４・・・制御ＰＣ，
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2009168714.tif 000009
【図８Ａ】
2009168714.tif 000010
【図８Ｂ】
2009168714.tif 000011
【図９】
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