(57)【要約】【課題】振動が発生しやすい状況下においても画像の読み取りを可能にし、しかも、読み取った画像の高品位化を図ることができ、稼働率の向上、待ち時間の短縮を有効に図る。【解決手段】筐体に衝撃が加わった期間の衝撃パターンを読み取って衝撃パターンデータとする衝撃パターン読取部１２０と、複数の参照衝撃パターンデータのうち、衝撃パターン読取部１２０にて読み取られた衝撃パターンデータと合致又は近似する参照衝撃パターンデータを特定する衝撃パターン特定部１２２と、複数の画像補正アルゴリズムのうち、特定された参照衝撃パターンデータに対応する画像補正アルゴリズムを特定するアルゴリズム特定部１２４と、読み取られた放射線画像情報９２を、特定された画像補正アルゴリズムに基づいて補正する画像補正部１２６とを有する。【選択図】図５
2009204954.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体と、
前記筐体内に設置され、放射線画像情報が記録された放射線変換パネルを搬送する搬送機構と、
前記筐体内に設置され、前記放射線変換パネルに記録された前記放射線画像情報を、前記放射線変換パネルの搬送速度に同期して読み取る画像読取部と、
前記筐体内に設置され、少なくとも前記搬送機構と前記画像読取部を制御する制御部とを有する放射線画像読取装置において、
前記制御部は、
前記筐体に与えられるであろう複数の衝撃パターンにそれぞれ対応した参照衝撃パターンデータが登録された衝撃パターンテーブルと、
前記衝撃パターンテーブルに登録された各前記参照衝撃パターンデータに対応した画像補正アルゴリズムが登録された補正テーブルと、
前記放射線画像情報の読取期間のうち、前記筐体に衝撃が加わった期間の衝撃パターンを読み取って衝撃パターンデータとする衝撃パターン読取手段と、
前記衝撃パターンテーブルに登録された複数の前記参照衝撃パターンデータのうち、前記衝撃パターン読取手段にて読み取られた前記衝撃パターンデータと合致又は近似する参照衝撃パターンデータを特定する衝撃パターン特定手段と、
前記補正テーブルに登録された複数の前記画像補正アルゴリズムのうち、特定された前記参照衝撃パターンデータに対応する画像補正アルゴリズムを特定するアルゴリズム特定手段と、
読み取られた前記放射線画像情報を、特定された前記画像補正アルゴリズムに基づいて補正する画像補正手段とを有することを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項２】
請求項１記載の放射線画像読取装置において、
前記筐体に振動センサが設置され、
前記参照衝撃パターンデータ及び前記衝撃パターンデータは、前記筐体に加えられた前記衝撃パターンが、前記振動センサにて電気信号に変換して生成されることを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項３】
請求項２記載の放射線画像読取装置において、
前記衝撃パターン読取手段は、
前記放射線画像情報の読取期間中、前記振動センサからの出力を読み取り、前記振動センサからの出力がしきい値以上の期間を前記筐体に衝撃が加わった期間として、前記衝撃パターンを読み取ることを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項４】
請求項２又は３記載の放射線画像読取装置において、
前記衝撃パターン特定手段は、
前記参照衝撃パターンデータを構成する単位時間当たりの出力データの配列（参照配列）と、前記衝撃パターンデータを構成する単位時間当たりの出力データの配列との比較において、前記衝撃パターンデータの単位時間当たりの出力データが前記参照衝撃パターンデータの単位当たりの出力データの±１０％の範囲に入っている配列が前記参照配列の９０％以上である場合に、近似と判別することを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の放射線画像読取装置において、
前記制御部は、
前記画像補正手段での画像補正処理前の画像と、前記画像補正手段での画像補正処理後の画像を表示するように制御する画像表示手段を有することを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項に記載の放射線画像読取装置において、
前記制御部は、
前記画像補正手段での画像補正処理後の画像に、補正処理を行った箇所を指し示すためのマーキング表示を行うように制御するマーキング表示手段を有することを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項に記載の放射線画像読取装置において、
前記搬送機構は、前記放射線変換パネルの搬送方向に沿って順番に一対の第１ニップローラと一対の第２ニップローラとが設置され、
前記衝撃パターンテーブルと前記補正テーブルは、
少なくとも前記放射線変換パネルの搬送方向前端が前記一対の第１ニップローラと前記一対の第２ニップローラとの間に位置しているときの複数の参照衝撃パターンデータと、それに対応する画像補正アルゴリズムと、前記放射線変換パネルの搬送方向後端が前記一対の第１ニップローラと前記一対の第２ニップローラとの間に位置しているときの複数の参照衝撃パターンデータと、それに対応する画像補正アルゴリズムとが登録されていることを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項８】
請求項１〜６のいずれか１項に記載の放射線画像読取装置において、
前記搬送機構は、前記放射線変換パネルの搬送方向に沿って順番に一対の第１ニップローラと一対の第２ニップローラとが設置され、
前記衝撃パターンテーブルと前記補正テーブルは、
少なくとも前記放射線変換パネルを前記一対の第１ニップローラと前記一対の第２ニップローラと搬送しているときの複数の参照衝撃パターンデータと、それに対応する画像補正アルゴリズムが登録されていることを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１項に記載の放射線画像読取装置において、
前記衝撃パターンテーブルと前記補正テーブルは、
前記放射線変換パネルのサイズ毎の複数の参照衝撃パターンデータと、それに対応する画像補正アルゴリズムが登録されていることを特徴とする放射線画像読取装置。
【請求項１０】
請求項１〜８のいずれか１項に記載の放射線画像読取装置において、
前記衝撃パターンテーブルと前記補正テーブルは、
前記搬送機構による前記放射線変換パネルの搬送速度毎の複数の参照衝撃パターンデータと、それに対応する画像補正アルゴリズムが登録されていることを特徴とする放射線画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像情報が記録された放射線変換パネルから画像を読み取る放射線画像読取装置に関し、例えばニップローラを用いて放射線変換パネルを搬送する方式に用いて好適な放射線画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、ある種の蛍光体に放射線（Ｘ線、α線、β線、γ線、紫外線、電子線等）を照射すると、この放射線のエネルギの一部が蛍光体に蓄積され、その後、その蛍光体に可視光等の励起光を照射すると、蓄積されたエネルギに応じた輝尽発光光が出力される。
【０００３】
このような蛍光体からなる蓄積性蛍光体パネルを利用し、撮影装置を用いて人体等の被写体の放射線画像情報を蓄積性蛍光体パネルに蓄積記録した後、放射線画像読取装置を用いて、放射線画像情報が記録された蓄積性蛍光体パネルを励起光で走査し、得られる輝尽発光光を光電的に読み取って画像信号に変換し、この画像信号を処理して診断適性に優れた画像を得る放射線画像情報処理システムが開発されている。
【０００４】
さらに、従来では、放射線画像形成システムを台車に載置した状態で病室等に搬送可能に構成された移動式放射線撮影装置が開発されている。
【０００５】
このような移動式放射線撮影装置は、移動中において画像読取りを行うと、移動中の衝撃で搬送中の蓄積性蛍光体パネルが揺動し、その影響で一部の画像が読み取れず（画像ひずみの発生）、画像読み取り精度が劣化するという問題がある。
【０００６】
そこで、従来では、上述のような画像ひずみの発生を防ぐために、特許文献１記載の方法が提案されている。
【０００７】
特許文献１記載の方法は、患者が握り部に掴まっている際、あるいは撮影台に乗っている際は、振動ムラ防止のために、画像読取りをしない、というものであり、握り部や撮影台からの振動による画像読取への影響を排除でき、良好な読取画像を得ることができる。
【０００８】
【特許文献１】特開２００２−２７２７１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１記載の技術は、患者が握り部に掴まっている間や患者が撮影台に乗っている間、すなわち、振動が発生しやすい状況下において、画像読取りを停止することから、回診車の稼働率が極端に低下し、待ち時間が増加するという問題がある。
【００１０】
本発明はこのような課題を考慮してなされたものであり、振動が発生しやすい状況下においても画像の読み取りを可能にし、しかも、読み取った画像の高品位化を図ることができ、稼働率の向上、待ち時間の短縮を有効に図ることができる放射線画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る放射線画像読取装置は、筐体と、
前記筐体内に設置され、放射線画像情報が記録された放射線変換パネルを搬送する搬送機構と、
前記筐体内に設置され、前記放射線変換パネルに記録された前記放射線画像情報を、前記放射線変換パネルの搬送速度に同期して読み取る画像読取部と、
前記筐体内に設置され、少なくとも前記搬送機構と前記画像読取部を制御する制御部とを有する放射線画像読取装置において、
前記制御部は、
前記筐体に与えられるであろう複数の衝撃パターンにそれぞれ対応した参照衝撃パターンデータが登録された衝撃パターンテーブルと、
前記衝撃パターンテーブルに登録された各前記参照衝撃パターンデータに対応した画像補正アルゴリズムが登録された補正テーブルと、
前記放射線画像情報の読取期間のうち、前記筐体に衝撃が加わった期間の衝撃パターンを読み取って衝撃パターンデータとする衝撃パターン読取手段と、
前記衝撃パターンテーブルに登録された複数の前記参照衝撃パターンデータのうち、前記衝撃パターン読取手段にて読み取られた前記衝撃パターンデータと合致又は近似する参照衝撃パターンデータを特定する衝撃パターン特定手段と、
前記補正テーブルに登録された複数の前記画像補正アルゴリズムのうち、特定された前記参照衝撃パターンデータに対応する画像補正アルゴリズムを特定するアルゴリズム特定手段と、
読み取られた前記放射線画像情報を、特定された前記画像補正アルゴリズムに基づいて補正する画像補正手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
以上説明したように、本発明に係る放射線画像読取装置によれば、振動が発生しやすい状況下においても画像の読み取りを可能にし、しかも、読み取った画像の高品位化を図ることができ、稼働率の向上、待ち時間の短縮を有効に図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明に係る放射線画像読取装置を例えば搬送可能な放射線画像形成システムに適用した実施の形態例を図１〜図１４を参照しながら説明する。
【００１４】
この放射線画像形成システム１０は、図１に示すように、台車１２に載置された状態で病室等に搬送可能に構成される。
【００１５】
台車１２には、放射線画像情報を撮影するための撮影情報等を入力し、あるいは、外部から取得するためのディスプレイ１４を備えたコンソール１５と、コンソール１５から供給された撮影情報に従ってＸ線源１６を制御し、被写体１８にＸ線２０を照射するＸ線源制御装置２２と、被写体１８を透過したＸ線２０が照射されることで放射線画像情報が記録される蓄積性蛍光体パネルＰ（放射線変換パネル）を収納したカセッテ２４が装填され、前記蓄積性蛍光体パネルＰから放射線画像情報を読み取る本実施の形態に係る読取装置２６と、蓄積性蛍光体パネルＰから読み取られた放射線画像情報を外部に送信する一方、外部から必要な情報を取得する送受信機２８と、コンソール１５、Ｘ線源１６、Ｘ線源制御装置２２、読取装置２６及び送受信機２８に対して電力を供給するバッテリ２７とが載置される。Ｘ線源１６は、アーム部材２９を介してＸ線源制御装置２２に連結される。また、バッテリ２７には、充電器３１が接続されており、必要に応じてバッテリ２７の充電を行うことができる。なお、Ｘ線源１６、Ｘ線源制御装置２２及び後述するＸ線照射スイッチ７６は、撮影装置を構成する。
【００１６】
図２は、本実施の形態に係る読取装置２６の内部構成を示す。ここで、読取装置２６に装填されるカセッテ２４は、開閉自在な蓋部材３０を有すると共に、当該カセッテ２４を識別するためのＩＤ情報が記録された図示しないバーコードが装着されている。
【００１７】
読取装置２６は、筐体３６の上部にカセッテ装填部３８を備え、このカセッテ装填部３８には、矢印方向にスライド自在な蓋部材４０が配設される。放射線画像情報が記録された蓄積性蛍光体パネルＰを収納したカセッテ２４は、蓋部材３０を下にした状態でカセッテ装填部３８に装填される。なお、筐体３６は、外部からのＸ線２０の侵入を阻止すべく、鉛等の重金属を含む材料で形成される。
【００１８】
カセッテ装填部３８には、カセッテ２４に装着されているバーコードを読み取るバーコードリーダ４２と、カセッテ２４の蓋部材３０のロックを解除するロック解除機構４６と、カセッテ２４から蓄積性蛍光体パネルＰを吸着して取り出す吸着盤４８と、吸着盤４８によって取り出された蓄積性蛍光体パネルＰを挟持搬送するニップローラ５０とが配設される。
【００１９】
ニップローラ５０に連設して、複数の搬送用のニップローラ５２ａ〜５２ｆ、搬送ローラ５２ｇ及び複数のガイド板５４ａ〜５４ｆが配設され、これらにより湾曲搬送路５６（搬送機構）が構成される。ニップローラ５２ｃ、５２ｄ間の湾曲搬送路５６は、蓄積性蛍光体パネルＰを搬送方向と直交する方向に幅寄せする幅寄せ部を構成する。湾曲搬送路５６は、カセッテ装填部３８から下方向に延在した後、最下部において略水平状態となり、次いで、略鉛直上方向に延在する。略鉛直上方向に延在する部位は、後搬送路を構成する。このように湾曲搬送路５６を湾曲して構成することにより、読取装置２６の小型化が達成される。
【００２０】
なお、湾曲搬送路５６の各位置は、Ｘ線源１６を用いた撮影時において蓄積性蛍光体パネルＰを待避させる待避部として機能する。また、湾曲搬送路５６の所定部位には、搬送される蓄積性蛍光体パネルＰを検出するセンサ５５ａ〜５５ｄが配設される。
【００２１】
ニップローラ５０とニップローラ５２ａとの間には、読取処理が終了した蓄積性蛍光体パネルＰに残存する放射線画像情報を消去するための消去ユニット６０（消去部）が配設される。消去ユニット６０は、消去光を出力する冷陰極管からなる複数の消去光源６２を有する。
【００２２】
一方、湾曲搬送路５６の最下部に配設されるニップローラ５２ｄ及び５２ｅ間には、プラテンローラ６４が配設される。そして、プラテンローラ６４の上部には、蓄積性蛍光体パネルＰに蓄積記録された放射線画像情報を読み取る走査ユニット６６（画像読取部）が配設される。以下の説明では、この走査ユニットに配設されたニップローラ５２ｄ及び５２ｅを第１ニップローラ５２ｄ及び第２ニップローラ５２ｅと記す。
【００２３】
走査ユニット６６は、励起光であるレーザビームＬＢを導出して蓄積性蛍光体パネルＰを搬送方向と直交する方向に走査する励起部６８と、レーザビームＬＢによって励起されることで放出される放射線画像情報に係る輝尽発光光を集光する集光ガイド７０と、集光ガイド７０によって集光された輝尽発光光を電気信号に変換するフォトマルチプライヤ７２とを備える。なお、集光ガイド７０の一端部には、輝尽発光光の集光効率を高めるための集光ミラー７４が近接して配設される。
【００２４】
図３は、放射線画像形成システム１０の制御ブロックを示す。Ｘ線源制御装置２２には、作業者の操作によってＸ線源１６を駆動し、Ｘ線２０を被写体１８に照射するＸ線照射スイッチ７６が接続される。
【００２５】
読取装置２６は、読取装置制御部８０（撮影許可信号出力手段、判定手段等）を有する。読取装置制御部８０には、読取装置２６の電源スイッチ８２、カセッテ２４を読取装置２６から排出させるためのカセッテ排出ボタン８８、カセッテ２４のバーコードを読み取るバーコードリーダ４２、走査ユニット６６を制御する走査ユニット制御部８４、消去ユニット６０を制御する消去ユニット制御部８６、及び、湾曲搬送路５６を制御して蓄積性蛍光体パネルＰを搬送するパネル搬送制御部９０が接続される。読取装置制御部８０は、蓄積性蛍光体パネルＰを所定の待避部に移動させた後、Ｘ線源１６による撮影を許可する撮影許可信号をＸ線源制御装置２２に出力する。
【００２６】
Ｘ線源制御装置２２は、撮影許可信号が入力された後、例えば作業者によるＸ線照射スイッチ７６からショット信号が入力されると、Ｘ線源１６を駆動して放射線画像情報の撮影を行う。Ｘ線源１６から出力されたＸ線２０は、被写体１８を透過し、カセッテ２４に収納された蓄積性蛍光体パネルＰに照射されて放射線画像情報が蓄積記録される。撮影が終了すると、Ｘ線源制御装置２２は、撮影終了信号を読取装置制御部８０に出力する。
【００２７】
読取装置制御部８０は、Ｘ線源制御装置２２から撮影終了信号が入力された後、作業者がカセッテ排出ボタン８８を操作することでカセッテ２４の排出指示がなされると、パネル搬送制御部９０により湾曲搬送路５６を制御し、筐体３６内に待機している蓄積性蛍光体パネルＰを搬送してカセッテ２４に収納した後、蓋部材３０を閉蓋してカセッテ装填部３８に対するカセッテ２４のロック状態を解除する。従って、作業者は、蓄積性蛍光体パネルＰを収納したカセッテ２４をカセッテ装填部３８から抜き取ることができる。
【００２８】
ここで、放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体パネルＰを収納したカセッテ２４を読取装置２６に装填し、読取処理を行う場合について説明する。
【００２９】
カセッテ２４がカセッテ装填部３８に装填されると、バーコードリーダ４２がカセッテ２４に装着されているバーコードを読み取ってカセッテ２４のＩＤ情報を取得した後、ロック解除機構４６により蓋部材３０のロックが解除されて開蓋される。次いで、吸着盤４８によってカセッテ２４内の蓄積性蛍光体パネルＰが吸着されて取り出され、ニップローラ５０により湾曲搬送路５６に供給される。湾曲搬送路５６を構成するニップローラ５２ａ〜５２ｃ、第１ニップローラ５２ｄ、第２ニップローラ５２ｅ、ニップローラ５２ｆ、搬送ローラ５２ｇは、蓄積性蛍光体パネルＰを搬送する。
【００３０】
蓄積性蛍光体パネルＰが第１ニップローラ５２ｄ及び第２ニップローラ５２ｅ間を副走査搬送されると共に、励起部６８からのレーザビームＬＢが蓄積性蛍光体パネルＰを主走査することにより、放射線画像情報の読み取りが行われる。すなわち、励起部６８から出力されたレーザビームＬＢが蓄積性蛍光体パネルＰに照射されると、蓄積性蛍光体パネルＰから放射線画像情報に対応した輝尽発光光が出力される。この輝尽発光光は、集光ガイド７０を介してフォトマルチプライヤ７２に導かれ、電気信号としての放射線画像情報９２（図３参照）に変換される。読み取られた放射線画像情報９２は、カセッテ２４のＩＤ情報と共に画像メモリ９４（図３参照）に記憶される。
【００３１】
つまり、図４に示すように、蓄積性蛍光体パネルＰに対して走査ユニット６６から出射されたレーザビームＬＢが１回走査して形成される１つの走査線Ｌａを１つの行としたとき、画像読み取り期間において、蓄積性蛍光体パネルＰは、第１ニップローラ５２ｄ及び第２ニップローラ５２ｅによって一方向に搬送されることから、読み取られた放射線画像情報９２は、多数の行が時系列に配列されたデータ構造を有することとなる。また、輝尽発光光を電気信号に変換するフォトマルチプライヤ７２の分解能（サンプリング周波数）に応じた画素数が１つの行に割り当てられることになる。すなわち、１つの行にサンプリング周波数に応じた画素数が配列されることになり、各画素にはそれぞれ輝尽発光光の光量に応じたビット数の画素データが保持されることになる。画像メモリ９４に記憶された放射線画像情報９２は、カセッテ２４のＩＤ情報と共に、例えばコンソール１５を介して送受信機２８から外部に送信される。
【００３２】
放射線画像情報９２の読み取られた蓄積性蛍光体パネルＰは、一旦ガイド板５４ｆ側まで搬送された後、再び走査ユニット６６の下部を介してカセッテ装填部３８側に戻される。カセッテ装填部３８側に戻された蓄積性蛍光体パネルＰは、ニップローラ５０及びニップローラ５２ａ間に配設されている消去ユニット６０を構成する消去光源６２から出力される消去光により、蓄積性蛍光体パネルＰに残存する放射線画像情報が除去される。
【００３３】
残存する放射線画像情報の消去処理が終了した蓄積性蛍光体パネルＰは、ニップローラ５０及び吸着盤４８を用いてカセッテ２４に収納されて蓋部材３０が閉蓋された後、カセッテ排出ボタン８８が操作されることでカセッテ装填部３８から抜き取られ、次の撮影に使用される。
【００３４】
そして、本実施の形態に係る読取装置２６は、図５に示すように、筐体３６内に設置された振動センサ１００と、データメモリ１０２とを有し、該データメモリ１０２には、例えば３つの衝撃パターンテーブル（第１衝撃パターンテーブル１０４Ａ〜第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃ）と、それに対応した３つの補正テーブル（第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃ）と、それに対応した３つの欠陥情報テーブル（第１欠陥情報テーブル１０８Ａ〜第３欠陥情報テーブル１０８Ｃ）が記録されている。
【００３５】
第１衝撃パターンテーブル１０４Ａ〜第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃは、それぞれ複数の衝撃パターンファイル１１０を有し、各衝撃パターンファイル１１０は、図６Ａに示すように、複数のレコードが配列されて構成されている。同様に、第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃも、それぞれ複数の補正ファイル１１２を有し、各補正ファイル１１２は、図６Ｂに示すように、複数のレコードが配列されて構成されている。同様に、第１欠陥情報テーブル１０８Ａ〜第３欠陥情報テーブル１０８Ｃも、それぞれ複数の欠陥情報ファイル１１４を有し、各欠陥情報ファイル１１４は、図６Ｃに示すように、複数のレコードが配列されて構成されている。
【００３６】
振動センサ１００は、少なくとも二軸方向の振動を検知することができるセンサが好ましく、例えば市販されている配線基板実装タイプのショックセンサを２つ以上実装することで実現できる。例えば一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅにて搬送されている蓄積性蛍光体パネルＰの板面の法線方向の振動を検知する第１ショックセンサ１００ａと、搬送方向と直交する方向であって、且つ、蓄積性蛍光体パネルＰの板面に平行な方向の振動を検知する第２ショックセンサ１００ｂとで振動センサ１００を構成することができる。もちろん、第１ショックセンサ１００ａと第２ショックセンサ１００ｂに加えて、例えば蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向の振動を検知する第３ショックセンサ１００ｃと共に振動センサ１００を構成するようにしてもよい。この例では、説明を簡単にするために、第１ショックセンサ１００ａと第２ショックセンサ１００ｂにて振動センサ１００を構成した場合を主体に説明する。
【００３７】
第１衝撃パターンテーブル１０４Ａの各衝撃パターンファイル１１０には、図７Ａに示すように、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前端１１６が一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅの間に位置しているときに、読取装置２６の筐体３６に与えられるであろう複数の衝撃パターンにそれぞれ対応した参照衝撃パターンデータが登録されている。
【００３８】
第２衝撃パターンテーブル１０４Ｂの各衝撃パターンファイル１１０には、図７Ｂに示すように、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後端１１８が一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅの間に位置しているときに、読取装置２６の筐体３６に与えられるであろう複数の衝撃パターンにそれぞれ対応した参照衝撃パターンデータが登録されている。
【００３９】
第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃの各衝撃パターンファイル１１０には、図７Ｃに示すように、蓄積性蛍光体パネルＰが一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅとで挟持搬送されているときに、読取装置２６の筐体３６に与えられるであろう複数の衝撃パターンにそれぞれ対応した参照衝撃パターンデータが登録されている。
【００４０】
第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃの各補正ファイル１１２には、第１衝撃パターンテーブル１０４Ａ〜第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃの各衝撃パターンファイル１１０に登録された参照衝撃パターンデータに対応した画像補正アルゴリズムが登録されている。
【００４１】
ここで、各衝撃パターンファイル１１０に登録される参照衝撃パターンデータの例と、各補正ファイル１１２に登録される画像補正アルゴリズムの例について図８〜図１４を参照しながら説明する。
【００４２】
先ず、テスト用の放射線画像情報として、濃度が隣接する行間で重なることのないグレーパターンが配列されたテストパターン（正規のテストパターン）が記録されたテスト用の蓄積性蛍光体パネル（以下、テストパネルと記す）を用意する。
【００４３】
このテストパネルを読取装置２６に投入して、テストパネルからテストパターンを読み取るように制御する。テストパターンを読み取っている期間に、筐体３６に対して想定される衝撃を加える。このとき、振動センサ１００には、時間の経過に伴って衝撃が刻々変化するパターン（衝撃パターンと記す）が加わることから、振動センサ１００からは、加わった衝撃パターンの単位時間当たりの振動値がデジタルデータ（参照衝撃パターンデータ）として出力される。振動センサ１００から出力される参照衝撃パターンデータは、アドレス順次に１つの衝撃パターンファイル１１０に記録される。アドレス順次とは、振動センサ１００から単位時間毎に出力される振動値を対応する衝撃パターンファイル１１０の先頭のレコードから順番に記録していくことを示す（図６Ａ参照）。
【００４４】
想定される衝撃としては、台車１２を移動している状態から急ブレーキがかかったときに読取装置２６に加わる衝撃、台車１２を移動している状態で台車１２の例えばコーナー部分が障害物にぶつかったときに読取装置に加わる衝撃、放射線撮影を行うために、アーム部材２９を動かしたときに読取装置２６に加わる衝撃等がある。
【００４５】
これら想定される１つ１つの衝撃について、上述と同様の操作を行って、それぞれ想定される衝撃に対応した衝撃パターンファイル１１０を作成する。
【００４６】
そして、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前端１１６が一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅの間に位置しているときに、想定される衝撃を加えたときの参照衝撃パターンデータが第１衝撃パターンテーブル１０４Ａのうちの想定される衝撃に対応した衝撃パターンファイル１１０に登録され、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後端１１８が一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅの間に位置しているときに、想定される衝撃を加えたときの参照衝撃パターンデータが第２衝撃パターンテーブル１０４Ｂのうちの想定される衝撃に対応した衝撃パターンファイル１１０に登録され、蓄積性蛍光体パネルＰが一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅとで挟持搬送されているときに、想定される衝撃を加えたときの参照衝撃パターンデータが第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃのうちの想定される衝撃に対応した衝撃パターンファイル１１０に登録される。
【００４７】
次に、第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃの作成について説明する。
【００４８】
上述のようにして、第１衝撃パターンテーブル１０４Ａ〜第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃの作成と共に画像メモリ９４に記録された複数の放射線画像情報を読み出し、各放射線画像情報の衝撃による欠陥（欠陥画素）を検出する。
【００４９】
例えば第１衝撃パターンテーブル１０４Ａにおける１つの衝撃パターンファイル１１０の作成と共に画像メモリ９４に記録された１つの放射線画像情報（テストパターン９２Ｔ）を読み出し、そのテストパターンと正規のテストパターンと比較し、極端に輝度が異なる画素を欠陥画素として検出する。もちろん、放射線画像情報を行単位に各画素の輝度を確認し、極端に輝度が異なっている画素を欠陥画素として検出するようにしてもよい。このようにして検出された欠陥画素のアドレス（行アドレスのみあるいは行アドレス及び列アドレス）を欠陥情報ファイルに登録する。
【００５０】
同様にして、画像メモリ９４に記録された全ての放射線画像情報（テストパターン）について欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素のアドレスをそれぞれ対応する欠陥情報ファイル１１４に登録する。
【００５１】
その後、第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃの作成に入る。例えば第１欠陥情報テーブル１０８Ａの１つの欠陥情報ファイル１１４に登録された欠陥画素のアドレスを読み出し、１つの行についての欠陥画素の数が該１つの行に存在する画素数の５０％以上であれば、その行全てを欠陥行とみなす。同様に、連続する複数行にわたって各行の欠陥画素の数が対応する行の画素数の５０％以上であれば、上記連続する複数行全てを欠陥行とみなす。
【００５２】
そして、補正ファイル１１２に登録される画像補正アルゴリズムは、少なくとも７種類（第１アルゴリズム〜第７アルゴリズム）を想定することができる。
【００５３】
第１アルゴリズムは、１つの欠陥行に対する画像補正アルゴリズムであり、図８に示すように、欠陥行に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）を注目したとき、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に隣接する２つの画素Ｇ１及びＧ２（補正対象画素Ｇａを基準として前の行の画素Ｇ１及び後ろの行の画素Ｇ２）の画素データＤ１及びＤ２を抽出し、これら２つの画素Ｇ１及びＧ２の画素データＤ１及びＤ２の例えば平均値を補正対象画素Ｇａの画素データＤａとする。平均値のほか、２つの画素Ｇ１及びＧ２の画素データＤ１及びＤ２のブレンドに重み付けをつけてもよい。例えば２つの画素Ｇ１及びＧ２の画素データＤ１及びＤ２に乗算される２つの係数Ｋａ及びＫｂを予め決めておき、以下の係数演算を行うことで補正対象画素Ｇａの画素データＤａを算出するようにしてもよい。
【００５４】
Ｄａ＝Ｋａ×Ｄ１＋Ｋｂ×Ｄ２
上述の演算を欠陥行に含まれる全ての画素について行う。
【００５５】
第２アルゴリズムは、偶数行にわたって連続した欠陥行（偶数欠陥行）に対する画像補正アルゴリズムであり、図９Ａに示すように、偶数欠陥行の一方の境界（例えば連続欠陥行の第１行）に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前方に隣接する画像情報を参照して、一方の境界に対応する画像を補正し、さらに、偶数欠陥行の他方の境界（例えば偶数欠陥行の第４行）に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後方に隣接する画像情報を参照して、他方の境界に対応する画像を補正する。
【００５６】
例えば図９Ａに示すように、一方の境界に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前方に隣接する１つの画素Ｇ１（補正対象画素Ｇａを基準として前の行の画素Ｇ１）の画素データｄ１と、該画素Ｇ１に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交する方向に隣接する２つの画素Ｇ２及びＧ３の画像データｄ２及びｄ３を抽出し、これら３つの画素Ｇ１〜Ｇ３の画素データｄ１〜ｄ３の例えば平均値を補正対象画素Ｇａの画素データＤａとする。平均値のほか、３つの画素Ｇ１〜Ｇ３の画素データｄ１〜ｄ３のブレンドに重み付けをつけてもよい。例えば３つの画素Ｇ１〜Ｇ３の画素データｄ１〜ｄ３に乗算される３つの係数ｋａ〜ｋｃを予め決めておき、以下の係数演算を行うことで補正対象画素Ｇａの画素データＤａを算出するようにしてもよい。
【００５７】
Ｄａ＝ｋａ×ｄ１＋ｋｂ×ｄ２＋ｋｃ×ｄ３
なお、補正対象画素Ｇａが当該行の行頭又は行末にある場合は、ｄ１＝ｄ３として、上述の平均や係数演算を行うようにしてもよい。
【００５８】
上述の演算を偶数欠陥行の第１行に含まれる全ての画素について行うことで、偶数欠陥行の第１行の画像を補正する。
【００５９】
上述の第２アルゴリズムは、偶数欠陥行の他方の境界（例えば偶数欠陥行の第４行）に含まれる各画素についても同様であり、他方の境界に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇｂ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇｂに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後方に隣接する１つの画素Ｇ１（補正対象画素Ｇｂを基準として後の行の画素Ｇ１）の画素データｄ１と、該画素Ｇ１に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交する方向に隣接する２つの画素Ｇ２及びＧ３の画像データｄ２及びｄ３を抽出して、上述と同様に、平均値演算や係数演算を行って、補正対象画素Ｇｂの画素データＤｂを求める。
【００６０】
一方の境界に対応する画像の補正が終了した後、今度は、図９Ｂに示すように、偶数欠陥行のうち、一方の境界よりも内方の行（例えば偶数欠陥行の第２行）に対応する画像を、一方の境界に対応する補正後の画像を参照して補正し、さらに、偶数欠陥行のうち、他方の境界よりも内方の行（例えば偶数欠陥行の第３行）に対応する画像を、他方の境界に対応する補正後の画像を参照して補正する。
【００６１】
具体的には、図９Ｂに示すように、一方の境界よりも内方の行（第２行）に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前方に隣接する１つの画素Ｇ１（補正後の一方の境界の行の画素Ｇ１）の画素データｄ１と、該画素Ｇ１に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交するに隣接する２つの画素Ｇ２及びＧ３の画像データｄ２及びｄ３を抽出して、上述と同様に、平均値演算や係数演算を行って、補正対象画素Ｇａの画素データＤａを求める。上述の演算を一方の境界よりも内方の行（第２行）に含まれる全ての画素について行う。
【００６２】
同様に、偶数欠陥行のうち、他方の境界よりも内方の行（例えば偶数欠陥行の第３行）に対応する画像を、他方の境界に対応する補正後の画像を参照して補正する。
【００６３】
具体的には、図９Ｂに示すように、他方の境界よりも内方の行（第３行）に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇｂ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇｂに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後方に隣接する１つの画素Ｇ１（補正後の他方の境界の行の画素Ｇ１）の画素データｄ１と、該画素Ｇ１に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交する方向に隣接する２つの画素Ｇ２及びＧ３の画像データｄ２及びｄ３を抽出して、上述と同様に、平均値演算や係数演算を行う。上述の演算を他方の境界よりも内方の行（第３行）に含まれる全ての画素について行う。
【００６４】
上述の補正処理を行うことで、偶数欠陥行（この例では４行分）の画像が補正されることになる。
【００６５】
第３アルゴリズムは、奇数行にわたって連続した欠陥行（奇数欠陥行）に対する画像補正アルゴリズムであり、図１０Ａに示すように、奇数欠陥行の一方の境界（例えば奇数欠陥行の第１行）に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前方に隣接する画像情報を参照して、一方の境界に対応する画像を補正し、さらに、奇数欠陥行の他方の境界（例えば奇数欠陥行の第３行）に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後方に隣接する画像情報を参照して、他方の境界に対応する画像を補正する。
【００６６】
例えば図１０Ａに示すように、一方の境界に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前方に隣接する１つの画素Ｇ１（補正対象画素Ｇａを基準として前の行の画素Ｇ１）の画素データｄ１と、該画素Ｇ１に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交する方向に隣接する２つの画素Ｇ２及びＧ３の画像データｄ２及びｄ３を抽出して、上述と同様に、平均値演算や係数演算を行って、補正対象画素Ｇａの画素データＤａを求める。上述の演算を一方の境界（第１行）に含まれる全ての画素について行う。
【００６７】
また、奇数欠陥行の他方の境界（例えば奇数欠陥行の第３行）に含まれる各画素についても同様であり、他方の境界に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇｂ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇｂに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向後方に隣接する１つの画素Ｇ１（補正対象画素Ｇｂを基準として後の行の画素Ｇ１）の画素データｄ１と、該画素Ｇ１に対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交する方向に隣接する２つの画素Ｇ２及びＧ３の画像データｄ２及びｄ３を抽出して、上述と同様に、平均値演算や係数演算を行って、補正対象画素Ｇｂの画素データＤｂを求める。上述の演算を他方の境界（第３行）に含まれる全ての画素について行う。
【００６８】
一方の境界及び他方の境界に対応する画像の補正が終了した後、今度は、奇数欠陥行のうち、一方の境界及び他方の境界よりも内方の行（例えば奇数欠陥行の第２行）に対応する画像を、一方の境界に対応する補正後の画像と他方の境界に対応する補正後の画像を参照して補正する。
【００６９】
具体的には、一方の境界及び他方の境界よりも内方の行に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に隣接する２つの画素Ｇ１及びＧ２（補正後の一方の境界の行の画素Ｇ１及び補正後の他方の境界の行の画素Ｇ２）の画素データＤ１及びＤ２を抽出し、これら２つの画素Ｇ１及びＧ２の画素データＤ１及びＤ２の例えば平均値演算や以下の係数演算を行うようにしてもよい。
Ｄａ＝Ｋａ×Ｄ１＋Ｋｂ×Ｄ２
【００７０】
そして、上述の演算を一方の境界及び他方の境界よりも内方の行（この例では、第２行）に含まれる全ての画素について行うことで、奇数欠陥行（この例では３行分）の画像が補正されることになる。
【００７１】
第４アルゴリズムは、図１１に示すように、独立した１つの欠陥画素（補正対象画素Ｇａ）に対する画像補正アルゴリズムであり、補正対象画素Ｇａの四方に存在する４つの画素Ｇ１〜Ｇ４の各画素データｄ１〜ｄ４の例えば平均値を欠陥画素の画素データＤａとする。
【００７２】
第５アルゴリズムは、図１２に示すように、１つの行において２つの欠陥画素が連続して並んでいる場合に対応した画像補正アルゴリズムであり、連続した欠陥画素に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に隣接する２つの画素Ｇ１及びＧ２（補正対象画素Ｇａを基準として前の行の画素Ｇａ１及び後ろの行の画素Ｇａ２）の画素データｄ１及びｄ２と、当該行において補正対象画素Ｇａに隣接する画素Ｇ３の画素データｄ３を抽出し、これら３つの画素Ｇ１〜Ｇ３の画素データｄ１〜ｄ３の例えば平均値を補正対象画素Ｇａの画素データＤａとする。もう一方の欠陥画素についても同様である。
【００７３】
第６アルゴリズムは、図１３に示すように、２つの欠陥画素が蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に連続して並んでいる場合に対応した画像補正アルゴリズムであり、連続した欠陥画素に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａが含まれる行において、該補正対象画素に隣接する２つの画素Ｇ１及びＧ２の画素データｄ１及びｄ２と、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に隣接する１つの画素Ｇ３の画素データｄ３を抽出し、これら３つの画素Ｇ１〜Ｇ３の画素データｄ１〜ｄ３の例えば平均値を補正対象画素Ｇａの画素データＤａとする。もう一方の欠陥画素についても同様である。
【００７４】
第７アルゴリズムは、図１４に示すように、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に２つの欠陥画素が連続して並び、且つ、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向と直交する方向に２つの欠陥画素が連続して並んでいる場合に対応した画像補正アルゴリズムであり、４つの欠陥画素に含まれる１つの画素（補正対象画素Ｇａ）に注目したとき、該補正対象画素Ｇａが含まれる行において、該補正対象画素Ｇａに隣接する１つの画素Ｇ１の画素データｄ１と、該補正対象画素Ｇａに対して蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向に隣接する１つの画素Ｇ２の画素データｄ２を抽出し、これら２つの画素Ｇ１及びＧ２の画素データｄ１及びｄ２の例えば平均値を補正対象画素Ｇａの画素データＤａとする。その他の３つの欠陥画素についても同様である。
【００７５】
そして、１つの行について欠陥画素が３つ以上並んでいる場合は、第１アルゴリズム（この場合、１つの欠陥行という単位ではなく、欠陥画素を特定したアルゴリズムにする）と第５アルゴリズムとを組み合わせる。
【００７６】
欠陥画素が３つ以上並んだ行が、複数（偶数）にわたって連続している場合は、第２アルゴリズム（この場合、連続した偶数欠陥行という単位ではなく、欠陥画素を特定したアルゴリズムにする）と第７アルゴリズムとを組み合わせる。
【００７７】
欠陥画素が３つ以上並んだ行が、複数（奇数）にわたって連続している場合は、第３アルゴリズム（この場合、連続した奇数欠陥行という単位ではなく、欠陥画素を特定したアルゴリズムにする）と第７アルゴリズムとを組み合わせる。
【００７８】
その他、第１アルゴリズムと第６アルゴリズムとを組み合わせる場合や、第５アルゴリズムと第６アルゴリズムとを組み合わせる場合等がある。
【００７９】
そして、例えば第１欠陥情報テーブル１０８Ａの１つの欠陥情報ファイル１１４に登録された欠陥画素のアドレスを参照しながら、上述のようにして最適な画像補正アルゴリズムを作成して、第１補正テーブル１０６Ａの対応する補正ファイル１１２に登録していく。この操作を、第１欠陥情報テーブル１０８Ａ〜第３欠陥情報テーブル１０８Ｃの全ての欠陥情報ファイル１１４について行って、第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃの全ての補正ファイル１１２を作成する。
【００８０】
図５の説明に戻り、本実施の形態に係る読取装置２６は、上述した振動センサ１００及びデータメモリ１０２のほか、上述した読取装置制御部８０に、衝撃パターン読取部１２０と、衝撃パターン特定部１２２と、アルゴリズム特定部１２４と、画像補正部１２６と、画像表示制御部１２８と、マーキング表示制御部１３０とを有する。
【００８１】
衝撃パターン読取部１２０は、蓄積性蛍光体パネルＰに対する放射線画像情報の読取期間中、振動センサ１００からの出力を読み取り、振動センサ１００からの出力がしきい値以上の期間を、筐体３６に衝撃が加わった期間（衝撃付与期間）とし、該衝撃付与期間に振動センサ１００から単位時間毎に出力された振動値を、データメモリ１０２におけるワーク領域（例えばデータファイル１３２）の先頭のレコードから順番に記録していく。つまり、データファイル１３２には、衝撃付与期間における衝撃パターンデータが記録されることになる。
【００８２】
衝撃パターン特定部１２２は、データファイル１３２の衝撃パターンデータと、第１衝撃パターンテーブル１０４Ａ〜第３衝撃パターンテーブル１０４Ｃの各衝撃パターンファイル１１０に登録された参照衝撃パターンデータとを比較して、今回の衝撃パターンデータと合致又は近似する参照衝撃パターンデータを特定する。なお、衝撃が加わった時点で、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前端１１６及び搬送方向後端１１８がどの位置にあるかを図示しない位置センサで検出することにより、衝撃パターン特定部１２２での比較処理にかかる時間を低減することが可能となる。すなわち、衝撃が加わった時点において、例えば蓄積性蛍光体パネルＰの搬送方向前端１１６が一対の第１ニップローラ５２ｄと一対の第２ニップローラ５２ｅの間に位置していれば、衝撃パターンデータと比較すべき参照衝撃パターンデータは、第１衝撃パターンテーブル１０４Ａにおける各衝撃パターンファイル１１０に登録された参照衝撃パターンデータとなり、比較すべき参照衝撃パターンデータを大幅に減らすことができる。
【００８３】
また、衝撃パターン特定部１２２は、参照衝撃パターンデータを構成する単位時間当たりの出力データの配列（参照配列）と、衝撃パターンデータを構成する単位時間当たりの出力データの配列との比較において、衝撃パターンデータの単位時間当たりの出力データが参照衝撃パターンデータの単位当たりの出力データの±１０％の範囲に入っている配列が参照配列の９０％以上である場合に、近似と判別する。
【００８４】
アルゴリズム特定部１２４は、上述した衝撃パターン特定部１２２にて特定された参照衝撃パターンデータに対応する画像補正アルゴリズムを特定する。具体的には、第１補正テーブル１０６Ａ〜第３補正テーブル１０６Ｃの各補正ファイル１１２のうち、衝撃パターン特定部１２２にて特定された参照衝撃パターンデータが登録された衝撃パターンファイル１１０に対応する補正ファイル１１２を特定する。例えば第１衝撃パターンテーブル１０４Ａの第１の衝撃パターンファイル１１０に登録された参照衝撃パターンデータが特定されれば、第１補正テーブル１０６Ａの第１の補正ファイル１１２に登録されている画像補正アルゴリズムが特定される。
【００８５】
画像補正部は、画像メモリに記憶された蓄積性蛍光体パネルの放射線画像情報を、上述のアルゴリズム特定部１２４にて特定された画像補正アルゴリズムに基づいて補正し、補正後の放射線画像情報９２ａを、画像メモリ９４のうち、補正前の放射線画像情報９２とは別の記憶領域に記憶する。例えば特定された画像補正アルゴリズムが、第１アルゴリズムであれば、画像メモリ９４に記録された蓄積性蛍光体パネルＰの放射線画像情報９２を第１アルゴリズムに従って画像補正を行う。
【００８６】
画像表示制御部１２８は、例えば技師がコンソール１５を操作して、補正前の放射線画像情報９２の表示指示を入力したことに基づいて、画像メモリ９４から補正前の放射線画像情報９２を読み出して、コンソール１５のディスプレイ１４に表示する。同様に、技師による補正後の放射線画像情報９２ａの表示指示を入力したことに基づいて、画像メモリ９４から補正後の放射線画像情報９２ａを読み出して、コンソール１５のディスプレイ１４に表示する。補正前の放射線画像情報９２と補正後の放射線画像情報９２ａとをマルチ表示するようにしてもよい。これにより、技師は、再撮影の要否を迅速に判断することが可能となる。なお、放射線画像情報９２及び９２ａは、データ圧縮して表示するようにしてもよい。
【００８７】
マーキング表示制御部１３０は、表示された補正後の放射線画像情報９２ａに、補正処理を行った箇所を指し示すマーキングを表示する。例えば第１欠陥情報テーブル１０８Ａ〜第３欠陥情報テーブル１０８Ｃの各欠陥情報ファイル１１４のうち、衝撃パターン特定部１２２にて特定された参照衝撃パターンデータが登録された衝撃パターンファイル１１０に対応する欠陥情報ファイル１１４を特定する。例えば第１衝撃パターンテーブル１０４Ａの第１の衝撃パターンファイル１１０に登録された参照衝撃パターンデータが特定されれば、第１欠陥情報テーブル１０８Ａの第１の欠陥情報ファイル１１４に登録されている欠陥画素のアドレス（行アドレスのみあるいは行アドレス及び列アドレス）を読み出す。そして、表示されている補正後の放射線画像情報９２ａのうち、読み出した欠陥画素の行アドレスのみあるいは行アドレス及び列アドレスに対応した部分にマーキング（×印等）を表示する。
【００８８】
これにより、技師は、マーキングされた部分が画像補正された部分であることを認識することができ、この場合も、再撮影の要否を迅速に判断することが可能となる。例えば注目部位が画像補正されていれば、再撮影を行い、注目部位でない部分が画像補正されていれば、再撮影を行わない等の判断を行うことができる。
【００８９】
このように、本実施の形態に係る読取装置２６においては、振動が発生しやすい状況下においても画像の読み取りを可能にし、しかも、読み取った画像の高品位化を図ることができ、稼働率の向上、待ち時間の短縮を有効に図ることができる。
【００９０】
上述の例では、衝撃パターンテーブル、補正テーブル及び欠陥情報テーブルを、衝撃が加わった時点の蓄積性蛍光体パネルの位置に応じてそれぞれ３種類用意したが、これに加えて、使用する蓄積性蛍光体パネルＰのサイズ毎や、蓄積性蛍光体パネルＰの搬送速度毎に各種テーブルを揃えるようにしてもいい。これにより、衝撃付与期間に読み込まれた衝撃パターンデータと合致するあるいは近似する参照衝撃パターンデータを特定できる確率を向上させることができる。
【００９１】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で自由に変更できることは勿論である。
【００９２】
例えば、放射線画像形成システム１０を構成する読取装置２６には、撮影装置を構成するＸ線源１６が連結されているが、撮影装置とは独立に構成されて撮影室内に配置されている読取装置に対しても本発明を適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】本実施の形態に係る読取装置が適用される放射線画像形成システムを示す構成図である。
【図２】本実施の形態に係る読取装置を示す内部構成図である。
【図３】放射線画像形成システムの制御動作を示すブロック図である。
【図４】走査ユニットによる蓄積性蛍光体パネルに対するレーザビームの走査を示す説明図である。
【図５】本実施の形態に係る読取装置の処理動作を示すブロック図である。
【図６】図６Ａは衝撃パターンファイルの内訳を示す説明図であり、図６Ｂは補正ファイルの内訳を示す説明図であり、図６Ｃは欠陥情報ファイルの内訳を示す説明図である。
【図７】図７Ａは蓄積性蛍光体パネルの搬送方向前端が一対の第１ニップローラと一対の第２ニップローラの間に位置する状態を示す説明図であり、図７Ｂは蓄積性蛍光体パネルの搬送方向後端が一対の第１ニップローラと一対の第２ニップローラの間に位置する状態を示す説明図であり、図７Ｃは蓄積性蛍光体パネルが一対の第１ニップローラと一対の第２ニップローラとで挟持搬送されている状態を示す説明図である。
【図８】第１アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【図９】図９Ａ及び図９Ｂは第２アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【図１０】図１０Ａ及び図１０Ｂは第３アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【図１１】第４アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【図１２】第５アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【図１３】第６アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【図１４】第７アルゴリズムの一例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００９４】
１０…放射線画像形成システム
５２ｄ…第１ニップローラ
５２ｅ…第２ニップローラ
６６…走査ユニット
８０…読取装置制御部
９２、９２ａ…放射線画像情報
９４…画像メモリ
１００…振動センサ
１０２…データメモリ
１０４Ａ〜１０４Ｃ…第１衝撃パターンテーブル〜第３衝撃パターンテーブル
１０６Ａ〜１０６Ｃ…第１補正テーブル〜第３補正テーブル
１０８Ａ〜１０８Ｃ…第１欠陥情報テーブル〜第３欠陥情報テーブル
１１０…衝撃パターンファイル
１１２…補正ファイル
１１４…欠陥情報ファイル
１１６…搬送方向前端
１１８…搬送方向後端
１２０…衝撃パターン読取部
１２２…衝撃パターン特定部
１２４…アルゴリズム特定部
１２６…画像補正部
１２８…画像表示制御部
１３０…マーキング表示制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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