(57)【要約】【課題】  従来は、モジュールを修理又は交換した場合には、動作の確認のために全ての試験項目について試験を行わなければならず、時間がかかるという問題点があり、モジュールの修理又は交換後に行う再試験を短時間で行うことができる測定試験装置を提供する。【解決手段】  モジュールを修理又は交換した際に再試験が必要な試験項目を、予め被試験器及びモジュールに対応して被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに記憶しておき、制御部１１が、再試験時に被試験器及び交換したモジュールが選択されると、対応する被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａを特定し、当該被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに登録されている試験項目を抽出して、自動試験実施項目に登録して、当該自動試験実施項目に基づいて試験を実行する測定試験装置としている。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の試験器を制御して、接続された被試験器について試験を実施する測定試験装置であって、
被試験器毎に、当該被試験器内のモジュールと、前記モジュールを修理又は交換した場合に再試験で実施すべき試験項目とを対応付けて記憶する再試験テーブルを記憶する記憶部と、
再試験の指示が入力され、被試験器及び修理又は交換されたモジュールが指定されると、前記被試験器に対応する再試験テーブルから前記モジュールに対応する試験項目を読み取り、自動試験実施項目に登録し、前記自動試験実施項目に登録された試験項目の試験を実施する制御部とを備え、
前記制御部が、同一の被試験器で複数のモジュールが指定された場合、前記被試験器に対応する再試験テーブルから読み取った試験項目が、自動試験実施項目に登録されていなければ、前記試験項目を前記自動試験実施項目に登録し、前記読み取った試験項目が前記自動試験実施項目に登録されていれば、前記試験項目を登録しない制御部であることを特徴とする測定試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、無線機等の特性試験を自動で行う測定試験装置に係り、特にモジュール交換後の試験時間を短縮することができる測定試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
［先行技術の説明］
測定試験装置は、複数の測定器や試験器を備え、接続された被試験器に対して種々の試験項目の試験を実施して、試験結果を表示するものである。
従来の測定試験装置では、実施可能な複数の試験項目を予め記憶しておき、被試験器に応じて、全ての試験を実施するか、又は選択された項目の試験を実施するようになっていた。
【０００３】
具体的には、試験実施時の試験項目を選択する際に、オペレータは、「全試験項目選択」又は「個別試験選択」のいずれかを選択し、「個別試験選択」の場合には更に実施希望の項目を指定する。そして、測定試験装置は、全試験項目又は選択された試験項目に応じて測定器又は試験器を制御して、測定を実施するようになっている。
【０００４】
そして、試験結果が不良となった試験項目があると、オペレータは当該試験項目に対応するモジュールを推定してモジュールの修理又はモジュール交換を行う。
更に、オペレータは、モジュールの修理又は交換後、不良となった試験項目について再度試験を実施して良好になったかどうかを確認するが、このとき、修理や交換の影響が出ていないかどうかを確認するために全ての試験項目について試験を行うことがある。
【０００５】
［先行技術文献］
尚、試験装置に関する先行技術としては、特開平９−３０４１２９号公報（特許文献１）がある。
特許文献１には、統合システムの試験を行う試験装置であって、制御部が、故障データを読み取って対応テーブルから接続情報を特定し、接続情報で指定された計測器に試験データを出力し、試験結果の測定データを計測器から受け取って故障部位を特定する統合システム試験装置及びその試験方法が記載されている。
【０００６】
【特許文献１】特開平９−３０４１２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の測定試験装置では、モジュールを修理又は交換した場合には、動作の確認のために全ての試験項目について試験を行わなければならず、時間がかかるという問題点があった。
【０００８】
本発明は上記実状に鑑みて為されたもので、モジュールの修理又は交換後に行う再試験を短時間で行うことができる測定試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、複数の試験器を制御して、接続された被試験器について試験を実施する測定試験装置であって、被試験器毎に、当該被試験器内のモジュールと、モジュールを修理又は交換した場合に再試験で実施すべき試験項目とを対応付けて記憶する再試験テーブルを記憶する記憶部と、再試験の指示が入力され、被試験器及び修理又は交換されたモジュールが指定されると、被試験器に対応する再試験テーブルから当該モジュールに対応する試験項目を読み取り、自動試験実施項目に登録し、自動試験実施項目に登録された試験項目の試験を実施する制御部とを備え、制御部が、同一の被試験器で複数のモジュールが指定された場合、当該被試験器に対応する再試験テーブルから読み取った試験項目が、自動試験実施項目に登録されていなければ、試験項目を自動試験実施項目に登録し、読み取った試験項目が自動試験実施項目に登録されていれば、試験項目を登録しない制御部であることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、被試験器毎に、当該被試験器内のモジュールと、モジュールを修理又は交換した場合に再試験で実施すべき試験項目とを対応付けて記憶する再試験テーブルを記憶する記憶部と、再試験の指示が入力され、被試験器及び修理又は交換されたモジュールが指定されると、被試験器に対応する再試験テーブルから当該モジュールに対応する試験項目を読み取り、自動試験実施項目に登録し、自動試験実施項目に登録された試験項目の試験を実施する制御部とを備え、制御部が、同一の被試験器で複数のモジュールが指定された場合、前記被試験器に対応する再試験テーブルから読み取った試験項目が、自動試験実施項目に登録されていなければ、当該試験項目を自動試験実施項目に登録し、読み取った試験項目が自動試験実施項目に登録されていれば、試験項目を登録しない測定試験装置としているので、修理又は交換されたモジュールに関する試験項目のみを確実にもれなく行うことができ、更に、同一の被試験器で複数のモジュールが修理又は交換された場合でも、自動試験実施項目への登録を重複しないように行うことにより、同じ試験を繰り返して行うのを防ぐことができ、再試験に要する時間を短縮することができる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
［発明の概要］
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
本発明の実施の形態に係る測定試験装置は、モジュールを修理又は交換した場合に、再試験が必要な試験項目を、被試験器及びモジュールに対応させてテーブルとして記憶しておき、モジュール修理／交換時の再試験の際に、被試験器及びモジュールが選択されることによって、制御部が、テーブルを参照して必要な試験項目を選択して試験を実施するものであり、モジュール修理／交換に伴って再試験が必要な試験項目のみを確実に行うことができ、不要な試験項目の試験は行わず、再試験に要する時間を短縮することができる効果がある。
【００１２】
［実施の形態の構成：図１］
図１は、本発明の実施の形態に係る測定試験装置のシステム構成ブロック図である。
図１に示すように、本発明の実施の形態に係る測定試験装置（本装置）は、複数の制御ＰＣ（Personal Computer）１-1〜１-nと、汎用測定器群２と、専用の試験器群３と、被試験器を接続するためのボックス４とから構成されている。試験実施時には、被試験器を接続するためのボックス４には被試験器５が接続される。
【００１３】
汎用測定器群２は、特性をチェックするために被試験器５に与える標準信号を生成する標準信号発生器２１や位相検波器２２等の種々の被試験器に共通に用いられる複数の汎用測定器を備えている。
【００１４】
専用の試験器群３は、被試験器毎、又はモジュール毎に異なる専用の試験を行う装置群であり、専用試験器Ａ３１、専用試験器Ｂ３２等を備えている。
汎用測定器群２及び専用の試験器群３の各装置と、制御ＰＣ１とはＧＰ−ＩＢ、ＲＳ２３２Ｃ、ＬＡＮ（Local Area Network）等のネットワークで接続されている。
【００１５】
制御ＰＣ１-1〜１-nは、ＬＡＮ（Local Area Network）によって他の制御ＰＣ１や被試験器を接続するためのボックス４に接続され、更にネットワークを介して汎用測定器群２及び専用の試験器群３の各装置に接続されている。
制御ＰＣ１は、記憶部や入力部や表示部を備えており、入力部からの指示に従って試験項目を選択し、試験項目に応じて各測定器や試験器を制御して被試験器５の試験を実施し、各測定器や試験器からのデータに基づいて各試験項目の性能が良か不良かを判定し、結果を表示部に表示するものである。
【００１６】
複数の制御ＰＣ１は、それぞれ異なる汎用測定器や専用試験器を制御するものとしてもよいし、被試験器を接続するためのボックス４に複数の被試験器が接続可能な場合には、それぞれ異なる被試験器５の試験を制御することにより、同時に複数の被試験器５の試験を行う構成としてもよい。
【００１７】
［制御ＰＣの構成］
次に、制御ＰＣ１の構成について図２を用いて説明する。図２は、制御ＰＣ１の構成ブロック図である。
図２に示すように、制御ＰＣ１は、制御部１１と、記憶部１２と、操作部１３と、表示部１４と、通信インタフェース部（図では「通信Ｉ／Ｆ」）１５とから構成されている。
制御部１１は、ＣＰＵ（Central Processor Unit）等で構成され、試験に伴う処理を行う処理手段を備えている。処理手段としては、試験項目判定手段、詳細試験判定手段、測定器判定手段、測定器処理手段、結果取得処理手段がある。各処理手段は、制御部１１が、記憶部１２に記憶されている処理プログラムを読み込んで起動することにより実現されるものである。
【００１８】
そして、本装置の制御ＰＣ１の制御部１１は、記憶部１２又は制御部１１内のワークエリアに自動試験を行う項目を保持する「自動試験実施項目」を記憶しており、自動試験は、当該自動試験実施項目に登録された項目について実施する。
また、本装置の特徴として、試験実施の際に、従来の「全試験項目選択」「個別試験選択」に加えて、モジュールの修理や交換を行った後の再試験である「モジュール交換時の試験選択」（以降「交換時再試験」と記載する）を選択可能としている。そして、「交換時再試験」が選択された場合には、制御部１１は、記憶部１２に記憶されているデータを参照して必要な試験項目のみを抽出して「自動試験実施項目」に書き込み、書き込みが終了すると、自動試験実施項目に基づいて試験を実施するようにしている。
【００１９】
各処理手段について説明する。
試験項目判定手段は、操作部１３から選択された被試験器やモジュールを判別し、それに基づいて後述する被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａを特定する。
詳細試験判定手段は、後述する試験項目データテーブル１２ｂに記載されている試験項目の中から、特定された被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに「関連あり」として登録されている項目を抽出する。
【００２０】
測定器判定手段は、測定器データテーブル１２ｃの中から、抽出された試験項目を実施するために必要な測定器を選択し、確保する。
測定器処理手段は、汎用測定器または専用の試験器を制御して試験を実施する。
結果取得処理手段は、試験を行った測定器又試験器からの測定結果を受信して、表示部に試験結果を表示する。
尚、制御部１１の動作については後で詳細に説明する。
【００２１】
記憶部１２は、ハードディスクやメモリで構成され、制御部１１の処理プログラムの他、データベースとして、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａ、試験項目データテーブル１２ｂ、測定器データテーブル１２ｃを記憶している。
被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａは、本装置の特徴部分であり、被試験器毎に、モジュール名と、当該モジュールを修理又は交換した場合に再試験が必要な試験項目が記憶されている。被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａには、モジュールの機能そのものをチェックする試験の他に、当該モジュールの修理又は交換によって影響を受ける可能性がある試験項目も登録されている。しかし、当該モジュールの機能に関係なく、更に当該モジュールの修理又は交換による影響がほとんどないと考えられる試験項目は登録されていないものである。
【００２２】
これにより、モジュールの修理又は交換によって特性を必ずチェックしなければならない試験項目のみを抽出して自動試験実施項目に書き込むことが可能となり、不要な試験項目の試験を実施しなくて済むものである。
【００２３】
試験項目データテーブル１２ｂは、本測定試験装置で実施可能な全ての試験項目を記憶しているテーブルである。試験項目データテーブル１２ｂは、例えば、被試験器の種類毎に記憶しておいてもよい。
測定器データテーブル１２ｃは、試験項目とそれに用いる測定器又は試験器を対応付けて記憶するテーブルである。
【００２４】
操作部１３は、オペレータが、試験実行の指示や、本装置の特徴として、モジュールの修理又は交換の後の再試験の際に、被試験器や修理／交換を行ったモジュール名を入力する。
表示部１４は、制御部１１の指示に基づいて試験結果を表示する。
通信インタフェース部１５は、ネットワークを介して汎用測定器群２及び専用の試験器群３との送受信を行う。
【００２５】
［被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａの例：図３］
ここで、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａの具体的な例について図３を用いて説明する。図３は、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａの一例を示す模式説明図である。
図３に示すように、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａは、被試験器毎に、モジュールと、それに関連する試験項目を対応付けて記憶するものである。
図３の例では、被試験器は「ＨＦ無線機」であり、モジュールとして、「１Ａ１  ＰＷＲ」「１Ａ１  ＣＰＵ」「１Ａ１  ＳＹＮ」等を備えている。そして、各モジュールに対応して、当該モジュールを修理又は交換した場合に、再検査において試験する必要がある試験項目を「関連あり」としてフラグ「１」を登録しておく。例えば、モジュール「１Ａ１  ＰＷＲ」に対しては、「送信出力」と「ＴＯＮＥ送信」の試験項目が関連ありとして登録されている。「関連なし」の場合にはフラグ「０」を登録しておく。
【００２６】
本装置では、このような被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａを被試験器別に備えており、再試験時に被試験器とモジュールが選択されると対応する試験項目を抽出するようになっている。
【００２７】
更に、本装置では、同一被試験器について複数のモジュールを修理又は交換した場合、複数のモジュールに対応する試験項目を自動試験実施項目に登録する際に、既に当該試験項目が自動試験実施項目に登録されていれば、重複して登録しないようにしているので、複数のモジュールが選択された場合に、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａで重複する試験項目があっても、再試験で実施する試験項目の重複を防ぐことができるものである。
【００２８】
［本装置の動作：図４］
次に、本装置における動作について図４を用いて説明する。図４は、本装置におけるモジュール修理／交換後の再試験時の処理を示すフローチャート図である。
図４に示すように、まず、本装置では、操作部１３から試験実行の指示が入力され、被試験器が選択されると（１００）、制御部１１は、「全試験項目」又は「個別試験」又は「交換後再試験」のいずれかを選択するよう表示等により促し（１０２）、操作部１３から「全試験項目」又は「個別試験」が選択された場合には、従来と同様にそれぞれ対応する処理を実行する（１３０）。
【００２９】
また、処理１０２で「交換後再試験」が選択された場合には、制御部１１は、修理又は交換したモジュールを選択するよう促し、操作部１３から修理／交換されたモジュールが選択されると（１０４）、制御部１１は、選択された被試験器及びモジュールに対応する被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａを特定する（１０６）。
【００３０】
そして、制御部１１は、試験項目データテーブル１２ｂから試験項目を１つ読み取り、読み取った試験項目が、処理１０６で特定された被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに「関連あり」として登録されているか否かを判断し（１１０）、「関連あり」として登録されていなければ、試験項目データテーブル１２ｂの全ての試験項目を読み取ったか否かを判断し（１１２）、読み取っていなければ処理１０８に移行して次の試験項目を読み取ってチェックする。
【００３１】
また、処理１１０において、読み取った試験項目が被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに「関連あり」として登録されていれば、制御部１１は、当該試験項目が内部に記憶されている「自動試験実施項目」に既に登録済みか否かを判断し（１２０）、まだ登録されていなければ、自動試験実施項目に当該試験項目を追加する（１２２）。また、既に登録済みであれば処理１１２に移行する。
【００３２】
処理１１２において、全ての試験項目を読み取った場合には、制御部１１は、他のモジュールの選択を促し（１１４）、他のモジュールの選択があれば、処理１０４に移行してモジュール選択を待つ（１０４）。
また、処理１１４で他のモジュールの選択がなければ、制御部１１は、「自動試験実施項目」に基づいて自動試験を実施する（１２６）。このようにして、本装置における処理が行われるものである。
【００３３】
このように、本装置では、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａから直接試験項目を読み取って試験を実施するのではなく、「自動試験実施項目」に重複しないように登録して、自動試験実施項目に基づいて試験を行うことにより、同一の被試験器で複数のモジュールを交換した場合でも、必要な試験を確実に実施できると共に、同じ項目を重複して試験するのを防ぐことができ、更に修理または交換されたモジュールとは無関係の項目の試験は省略でき、再試験に要する時間を大幅に短縮することができるものである。
【００３４】
尚、上述した例では、全ての試験項目について、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａから読み取った試験項目と比較して、再試験時の試験項目に該当するか否かを判断するようにしているが、処理を簡単にするために、処理１０６で被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａが特定されたら、当該テーブルで指定されたモジュールに対して「関連あり」として登録されている試験項目を順次読み取り、読み取った試験項目について処理１２０、１２２と同様に自動試験実施項目に重複しないように登録するようにしてもよい。
【００３５】
［実施の形態の効果］
本発明の実施の形態に係る測定試験装置によれば、モジュールを修理又は交換した際に再試験が必要な試験項目を、予め被試験器及びモジュールに対応して被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに記憶しておき、制御部１１が、再試験時に被試験器及び交換したモジュールが選択されると、対応する被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａを特定し、当該被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに登録されている試験項目を自動試験実施項目に登録して、当該自動試験実施項目に基づいて試験を実行するようにしているので、モジュールが修理又は交換された場合に必要な試験項目を確実に実施することができると共に、不要な試験項目は実施しないようにして、再試験に要する時間を大幅に短縮することができる効果がある。
【００３６】
また、本装置によれば、同一の被試験器で複数のモジュールが選択され、被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａに登録されている試験項目が重複していても、自動試験実施項目には１回しか登録しないようにしているので、同じ試験を何度も繰り返して行うのを防ぐことができ、再試験を短時間で実施することができる効果がある。
【００３７】
また、上述した例では、モジュールの修理又は交換後の試験について説明したが、修理又は交換後に限らず通常の試験時であっても、目的等に応じて「交換後再試験」を実施することは可能であり、例えば重要なモジュールの試験のみを選択的に実施して、短時間で効果的に試験を実施できる効果がある。
【産業上の利用可能性】
【００３８】
本発明は、モジュール交換後の試験時間を短縮することができる測定試験装置に適している。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の実施の形態に係る測定試験装置のシステム構成ブロック図である。
【図２】制御ＰＣ１の構成ブロック図である。
【図３】被試験器モジュール別再試験テーブル１２ａの一例を示す模式説明図である。
【図４】本装置におけるモジュール修理／交換後の再試験時の処理を示すフローチャート図である。
【符号の説明】
【００４０】
１…制御ＰＣ、  ２…汎用測定器群、  ３…専用の試験器群、  ４…被試験器を接続するためのボックス、  ５…被試験器、  ２１…標準信号発生器、  ２２…位相検波機、  ３１，３２…専用試験器、  １１…制御部、  １２…記憶部、  １３…操作部、  １４…表示部、  １５…通信インタフェース部
【図１】
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【図２】
2009025067.tif 000004
【図３】
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【図４】
2009025067.tif 000006