(57)【要約】【課題】手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供することを目的とする。【解決手段】レンズ情報を取得するレンズ情報取得部１０５と、レンズ情報取得部から取得したズーム値の変化を検出したときに、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する欠陥画素検出部１０６と、アドレスを記憶するアドレス記憶部１０７と、アドレス記憶部の出力するアドレスと、新たに欠陥画素検出部で検出したアドレスとを比較し、アドレスが一致する画素を欠陥画素と確定するアドレス比較部１０８と、を有する構成とした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子の欠陥画素を検出する画像処理装置であって、
レンズ情報を取得するレンズ情報取得部と、
前記レンズ情報取得部から取得したズーム値の変化を検出したときに、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する欠陥画素検出部と、
前記アドレスを記憶するアドレス記憶部と、
前記アドレス記憶部の出力するアドレスと、新たに前記欠陥画素検出部で検出したアドレスとを比較し、アドレスが一致する画素を欠陥画素と確定するアドレス比較回路と、
を有する画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ビデオカメラ等の撮像装置において、撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥検出装置および欠陥検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般にＣＣＤやＣＭＯＳ等の固体撮像素子は、半導体の局所的な欠陥等により欠陥画素が生じることがある。こうした欠陥画素は、製造時だけではなく放射線等により後発的に発生するものもあり、画質劣化の要因となるため、欠陥画素を検出し補正することが求められる。
【０００３】
従来の欠陥画素検出方法として、例えば特許文献１に記載されたものが知られている。特許文献１は、撮像動作中に注目画素と周辺画素の信号レベルを比較し、相関関係が低い場合に欠陥画素と判断するものである。
【０００４】
しかしこうした従来方法では、高周波成分を持った被写体を撮像した際に欠陥画素として誤って検出してしまうという課題があった。具体例として、夜空の星を撮像した場合、誤って星を欠陥画素と判断してしまう例などが挙げられる。
【０００５】
こうした課題を解決する従来技術として、特許文献２に記載されたものが知られている。特許文献２は、欠陥画素の候補となる画素の検出を、手振れの発生を条件として複数フレームに亘って行い、フレームの相互間でアドレスが一致する画素を欠陥画素と確定するものである。すなわち、手振れによって撮像面上において被写体が動いても、画素欠陥は画素そのものの欠陥なのでアドレスが変わらないことに着目し、欠陥画素と高周波成分を持った被写体の区別を行うものである。
【特許文献１】特開平６−３１９０８２号公報
【特許文献２】特開２００６−２１１０６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし上記従来手法では、手振れの発生を欠陥画素の検出条件としているため、手振れ検出器を有していない装置には適用できないほか、手振れがない撮影状態（三脚を利用している場合など）では欠陥画素の検出が行えないという課題を有していた。
【０００７】
本発明は、こうした上記従来の問題点を解決するもので、手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出可能な欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記問題点を解決するために本発明の画像処理装置は、撮像素子の欠陥画素を検出する画像処理装置であって、レンズからズーム値情報を取得するレンズ情報取得回路と、前記レンズ情報取得回路から取得したズーム値の変化を条件として、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを検出する欠陥画素検出回路と、前記アドレスを記憶する記憶回路と、前記記憶回路の出力するアドレスと新たに前記欠陥画素検出回路で検出したアドレスを比較し、アドレスが一致する画素を欠陥画素と確定するアドレス比較回路、とを有する。
【発明の効果】
【０００９】
以上のように本発明は、レンズのズーム値の変化によって、被写体の位置は変化するが、欠陥画素は画素そのものの欠陥なので位置が変わらないことに着目し、レンズのズーム値の変化を欠陥画素の検出条件としているため、手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても、また高周波成分を持った被写体に対しても、高精度に欠陥画素を検出する、という効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１１】
図１は、本発明の画像処理装置の構成を示すブロック図である。図１において、レンズ１０１を通して得られた像は、撮像部１０２でデジタル映像信号となり、欠陥画素補正部１０３で欠陥画素を補正されたのち、映像信号処理部１０４でシェーディング補正処理、ホワイトバランス処理、ガンマ処理、ディテール処理などの処理が行われ、映像信号として出力される。
【００１２】
欠陥画素の検出は、レンズ情報取得部１０５、欠陥画素検出部１０６、アドレス記憶部１０７およびアドレス比較部１０８で行う。まず、レンズ情報取得部１０５においてレンズのズームの状態をズーム値として取得し、欠陥画素検出部１０６に出力する。次に、欠陥画素検出部において、欠陥画素の候補となる画素を検出する。この検出動作は、ズーム値の変化を検知したときに行うものとする。次に、アドレス記憶部１０７において、前記欠陥画素検出部で検出した、欠陥画素の候補となる画素のアドレスを記憶する。最後に、アドレス比較部１０８において、前記アドレス記憶部に記憶したアドレスと、新たに前記欠陥画素検出部で検出したアドレスとを比較し、アドレスが一致した場合にその画素を欠陥画素と確定する。
【００１３】
以上のように構成した画像処理装置について、図２〜図４を用いて動作を説明する。
【００１４】
図２は、本発明が開示する、レンズのズーム値の変化を利用した欠陥画素検出方法の原理を説明するための図である。ある時間における映像信号を図２（ａ）とし、ズーム値が変化した時の映像信号を図２（ｂ）とする。同図中Ａは欠陥画素、Ｂは高周波成分である点被写体である。同図（ａ）、（ｂ）が示すように、欠陥画素であるＡはズーム値が変化してもその位置は変わらないが、点被写体であるＢはズーム値が変化したことによって位置・大きさが変化している。すなわち、ズーム値が変化しても位置が変わらない画素を欠陥画素と確定することで、欠陥画素と高周波成分の被写体の判別を可能とする。
【００１５】
図３は、前記欠陥画素検出部１０６における検出動作の一例を示すための図である。図３のように注目画素のレベルをＸ、周辺画素のレベルをＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、ＧおよびＨとするとき、注目画素と周辺画素との相関を以下の式で計算する。
【００１６】
Ｐ＝Ｘ−ＭＡＸ（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）
Ｑ＝ＭＩＮ（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）−Ｘ
ＰまたはＱの値がある閾値を超える場合、注目画素のレベルが周辺画素と差が大きく、相関が低いものとし、欠陥画素の候補としてそのアドレスを出力する。こうして検出したアドレスは、アドレス記憶部１０７に記憶する。
【００１７】
図４は、アドレス記憶部およびアドレス比較部の動作の説明図である。図４において、ある時間にアドレス記憶部に記憶したアドレスを候補１、新たに欠陥画素検出部で検出したアドレスを候補２とする。アドレス比較部１０８において、候補１、候補２のアドレス群を比較し、アドレスが一致するものを欠陥画素と確定する。例として図４では、（ｘ、ｙ）＝（１０、１０）のアドレスが一致しているため、これを欠陥画素として確定する。アドレスの比較が終了した時点で、新たに検出した候補２を候補１に上書きし、次の検出動作に備えるものとする。
【００１８】
以上のように本実施の形態によれば、レンズのズーム値の変化によって被写体の位置は変化するが、欠陥画素は画素そのものの欠陥なので位置が変わらないことに着目し、ズーム値が変化しても位置が変わらない画素を欠陥画素と確定することで、欠陥画素と高周波成分の被写体の判別が可能となり、高精度に欠陥画素を検出することができる。
【００１９】
なお、上記実施の形態では、ズーム値の変化を検知したときに欠陥画素検出部で検出動作を行う例を説明したが、欠陥画素検出部では常時検出動作を行い、アドレス記憶部における記憶動作およびアドレス比較部における比較動作をズーム値の変化を検知したときだけ行うものとしてもよい。
【００２０】
なお、上記実施の形態では、アドレス比較部において２つのフレーム間のアドレスを比較する例を説明したが、アドレス記憶部に２フレーム以上の記憶領域を確保し、アドレス比較部で３フレーム以上のフレーム間のアドレスを比較するものとしてもよい。
【００２１】
なお、欠陥画素検出部１０６における注目画素と周辺画素の相関を利用した欠陥画素検出方法は、上記の限りではない。
【産業上の利用可能性】
【００２２】
本発明にかかる画像処理装置は、欠陥画素検出において、欠陥画素の候補となる画素の検出条件を、レンズのズーム値の変化としているため、手振れ検出器を必要とせず、手振れがない撮影状態においても高精度に欠陥画素を検出できる、という効果を有し、ビデオカメラなどの撮像装置において、撮像素子の欠陥画素を検出する画像処理装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施の形態１におけるブロック図
【図２】レンズのズーム値変化を用いた欠陥画素検出方法の説明図
【図３】欠陥画素検出部の動作の説明図
【図４】アドレス記憶部およびアドレス比較部の動作の説明図
【符号の説明】
【００２４】
１０１  レンズ
１０２  撮像部
１０３  欠陥画素補正部
１０４  映像信号処理部
１０５  レンズ情報取得部
１０６  欠陥画素検出部
１０７  アドレス記憶部
１０８  アドレス比較部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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