(57)【要約】【課題】自動感度校正の停止・復帰切替機能と停止状況を表示する電子天びんを提供する。【解決手段】前回感度校正時からの温度変化量または経過時間が規定値をオーバーした場合に、分銅加除機構１１を制御部３により制御し、内蔵分銅１０を天びん機構部１に加除して感度係数を校正する自動感度校正機能を備え、操作部６からのキー入力により自動感度校正機能をオンまたはオフ状態にする設定信号をＲＡＭ３３に記憶させる。この設定信号を制御部３の演算制御プログラムにより監視し、オフ状態の場合にこれを特定する表示を表示部７に行なう。【選択図】                  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
天びん機構部の環境があらかじめ設定されている状態以上に変化するか、あるいは前回の感度校正時からの経過時間があらかじめ設定された時間以上に達するかの少なくとも一方の条件が満たされた状態で、内蔵分銅を用いて自動的に感度校正を行なう自動感度校正機能を有する電子天びんにおいて、自動感度校正機能をオン（作動）またはオフ（停止）状態に設定することができる自動感度校正機能オンオフ設定手段と、自動感度校正機能がオフ状態に設定されていることを表示する表示手段とを備えていることを特徴とする電子天びん。
【請求項２】
自動感度校正機能がオン状態に設定されていることを表示する表示手段を備えていることを特徴とする請求項１に記載の電子天びん。
【請求項３】
自動感度校正機能がオン状態に設定されている時、自動感度校正後の感度係数を用いて算出された質量値または自動感度校正前の感度係数を用いて算出された質量値のいずれかを選択して表示できる質量値選択手段を備えていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子天びん。
【請求項４】
自動感度校正機能がオフ状態に設定されている時、天びん機構部の環境があらかじめ設定されている状態以上に変化するか、あるいは前回の感度校正時からの経過時間があらかじめ設定されている時間以上に達するかの少なくとも一方の条件が満たされた時、質量値を表示することなく感度校正の必要性を表示する感度校正表示手段および感度校正を実行するか否かを選択することができる感度校正選択手段を備えていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子天びん。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子天びん、特に感度校正機能を備えた電子天びんに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子天びんでは、一般に、荷重検出部から検出・変換されたディジタルデータに校正された感度係数を乗じて質量値に換算し、表示すべき計量値を決定している。このような電子天びんにおいては、一般に、あらかじめ設定された前回感度校正時からの経過時間や、天びん機構部の温度等の環境条件が規定値以上に変化し感度校正を必要とする場合に、自動的に天びんの内蔵分銅を荷重検出部に加除し、その状態での荷重データと基準質量値とを用いて、感度係数を校正して更新する機能、いわゆる自動感度校正（ＰＳＣ）機能が備えられている。
【０００３】
このような自動感度校正機能を持つ電子天びんにおいては、測定中に突然感度校正が起動し測定が中断されるということがあり、この不具合を解消するため、キー入力により自動感度校正機能がオン（作動）またはオフ（停止）状態に切替えられるようにしている。そして、キー入力により自動感度校正機能がオン状態に設定され、かつ感度校正を必要とする場合に、表示部において感度校正の必要性を例えば内蔵分銅形のアイコンを点滅させて報知しながら感度校正を実行している。
【特許文献１】特開平０４−２５０３２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の電子天びんは上記のように構成されているが、いったん自動感度校正機能をオフ状態に切り替えると自動感度校正機能の設定状態が表示部において報知されることはない。このため使用者自身が感度校正の必要性を充分に認識していない限り、再度キー入力により自動感度校正機能をオン状態に設定し直すことは少なく、長時間自動感度校正が行なわれずに精度の保たれない状態での測定が続いてしまうことがあった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、自動感度校正機能のオンオフ状態や必要性が常時認識可能な電子天びんを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の目的を達成するため、請求項１に記載の電子天びんは、天びん機構部の環境があらかじめ設定されている状態以上に変化するか、あるいは前回の感度校正時からの経過時間があらかじめ設定された時間以上に達するかの少なくとも一方の条件が満たされた状態で、内蔵分銅を用いて自動的に感度校正を行なう自動感度校正機能を有する電子天びんにおいて、自動感度校正機能をオン（作動）またはオフ（停止）状態に設定することができる自動感度校正機能オンオフ設定手段と、自動感度校正機能がオフ状態に設定されていることを表示する表示手段とを備えているものである。
【０００６】
また、請求項２に記載の電子天びんは、さらに自動感度校正機能がオン状態に設定されていることを表示する表示手段を備えているものである。
また、請求項３に記載の電子天びんは、請求項１または請求項２記載の電子天びんにおいて、自動感度校正機能がオン状態に設定されている時、自動感度校正後の感度係数を用いて算出された質量値または自動感度校正前の感度係数を用いて算出された質量値のいずれかを選択して表示できる質量値選択手段を備えているものである。
【０００７】
さらに、請求項４に記載の電子天びんは、請求項１または請求項２記載の電子天びんにおいて、自動感度校正機能がオフ状態に設定されている時、天びん機構部の環境があらかじめ設定されている状態以上に変化するか、あるいは前回の感度校正からの経過時間があらかじめ設定されている時間以上に達するかの少なくとも一方の条件が満たされた時、質量値を表示することなく感度校正の必要性を表示する感度校正表示手段および感度校正を実行するか否かを選択することができる感度校正選択手段を備えているものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明による電子天びんは、使用者に自動感度校正オフ状態を常に明示することで、長期間自動感度校正が行なわれずに精度の保たれない状態での測定が行なわれることを防止することができる。
また、自動感度校正オン状態において、自動感度校正前の感度係数を用いて質量値を算出し表示することもできるので、連続して測定が行なわれる場合の精度のバラツキを無くすことができる。
さらに、自動感度校正オフ状態において、前回感度校正時からの温度変化または経過時間が規定値を越えた場合に質量値を表示せずに感度校正の必要性を表示するので、使用者が必要性に応じて適時感度校正を実施することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明の電子天びんの第1実施例を図面を参照しながら説明する。図１は本発明実施例の全体構成を示すブロック図である。天びん機構部１は、電磁力平衡機構等の公知の天びん機構を用い、皿１ａ上に載置される試料の荷重に対応するアナログ量の荷重検出信号を出力する荷重検出部１ｂと、その内部温度に対応するアナログ量の温度検出信号を出力する温度センサ１ｃで構成されている。
【００１０】
前記荷重検出信号は、Ａ−Ｄ変換器２により、また温度検出信号は、Ａ−Ｄ変換器５によりそれぞれディジタル信号化され制御部３に採り込まれる。制御部３はマイクロコンピュータを主体として構成され、ＣＰＵ３１、ＲＯＭ３２、ＲＡＭ３３、不揮発性メモリ３４および入出力用のインターフェース３５等を備えるとともに、このインターフェース３５には前記２つのＡ−Ｄ変換器の他に、試料の質量値および測定状態を示すアイコンを表示する表示部７やアイコンに対応するキー入力を行なうための複数個の操作キー（図示省略）を備えた操作部６が接続されている。
【００１１】
また、天びん機構部１には、公知の感度校正用の機構、すなわち質量既知の内蔵分銅１０およびその分銅加除機構１１が近接して配置されており、制御部３において自動感度校正ルーチンが選択された場合には、その内蔵分銅１０が天びん機構部１に負荷され、その状態での荷重検出信号に対応する質量値と内蔵分銅１０の既知の質量値とから、公知の手法によって感度（スパン）係数が更新される。
【００１２】
この自動感度校正ルーチンは、前回の感度校正実行時からの経過時間が規定時間に達した場合と、温度センサ１ｃからの温度測定値が前回感度校正時の温度測定値より規定温度変化した場合に感度校正が自動的に実行されるが、後述するように前記操作部６から制御部３へのキー入力操作により自動感度校正機能を適時オンまたはオフ状態に設定することができる。図２は表示部７に表示される画面を示すもので、自動感度校正機能がオフ状態に設定されている時は、図２（Ａ）のアイコン７ａまたは同図（Ｂ）のアイコン７ｂが表示される。
【００１３】
前記制御部３のＲＯＭ３２には、Ａ−Ｄ変換器２を介して採り込んだ荷重検出信号から皿１ａ上の試料質量を算出し、計量値として表示部７に表示する通常の質量測定ルーチンと、前記自動感度校正ルーチンの他、自動感度校正機能を適時停止または復帰させ、その状態を表示部７に表示させるための演算制御プログラムが記憶されている。また、ＲＡＭ３３は、入出力データ、演算パラメータ、演算処理データ等を記憶するために、不揮発性メモリ３４は感度係数を記憶するために用いられている。
【００１４】
本電子天びんに電源を投入すると、初期設定プログラムにより、感度校正が行なわれ、測定可能状態となり、測定値が表示される。この時ＲＡＭ３３のメモリＰＳＣには１が記憶されていて、操作部６のキー入力により自動感度校正機能をオフ状態に設定すると、メモリＰＳＣには０が記憶され、自動感度校正機能はオフ状態となり、表示部７にアイコン７ａまたはアイコン７ｂが表示される。再度、自動感度校正機能をオン状態に設定すると、表示部７のアイコン７ａまたはアイコン７ｂは消去され自動感度校正機能が復帰する。
【００１５】
図３は本電子天びんの第１実施例による測定中における演算制御プログラムの概要を示すフローチャートである。以下、図１、２、３を参照しつつ動作手順を説明する。
まず、ＲＡＭ３３のメモリＰＳＣの設定状態をチェックし（ＳＴ１）、メモリＰＳＣが１ならば実線で示すように直接に、また、メモリＰＳＣが０ならば表示部７にアイコン７ａ又はアイコン７ｂを表示した状態で（ＳＴ３）、順次荷重検出信号に対応する荷重データの取得（ＳＴ４）、荷重検出部１ｂ内の温度データＴの取得（ＳＴ５）、前回感度校正時からの温度変化量ΔＴの算出（ＳＴ６）、前回感度校正時からの経過時間τの算出が実行される（ＳＴ７）。
【００１６】
続いて、温度変化量ΔＴ、あるいは前回感度校正時からの経過時間τが規定値をオーバーしているかが判定され（ＳＴ８）、少なくともいずれかがオーバーしている状態で、メモリＰＳＣの設定状態をチェックし（ＳＴ９）、１の場合は、図２（Ｃ）に示すようなアイコン７ｃを点滅して感度校正が実行されることを報知しながら（ＳＴ１０）、内部分銅１０を加除してその質量を測定し（ＳＴ１１）、感度校正を行って不揮発性メモリ３４に記憶されている感度係数を補正する（ＳＴ１２）。この補正された感度係数を用いて試料の質量値を算出し（ＳＴ１３）、表示部７にその質量値を表示する（ＳＴ１４）。
【００１７】
また、ステップＳＴ８での温度変化量ΔＴ又は経過時間τが規定値をオーバーしていない状態では、感度校正を行なわず、内蔵分銅加除前の感度係数を用いて質量値を算出し（ＳＴ１３）、表示部７にその質量値を表示する（ＳＴ１４）。一方ステップＳＴ９でのメモリＰＳＣの判定が０の場合は同じく内蔵分銅加除前の感度係数を用いて質量値を算出し（ＳＴ１３）、表示部７にその質量値を表示する（ＳＴ１４）。以後これらの動作手順はステップ１から一定周期で繰り返される（ＳＴ１）。
【００１８】
図４は、第２実施例による電子天びんの自動感度校正機能がオン状態に設定されている時の表示部７の画面を示すものである。この電子天びんは、図３の点線で表示されたステップＳＴ２を経由するフローチャートで示す手順によって動作する。電源を投入し自動的に初期設定が行なわれ測定がスタートすると、表示部７には、図４に示すように自動感度校正機能がオン状態であることを示すアイコン７ｄが表示される。この時ＲＡＭ３３のメモリＰＳＣには１が記憶される。前記操作部６のキー入力により自動感度校正機能をオフ状態に設定すると、メモリＰＳＣには０が記憶され、自動感度校正機能はオフ状態となり、表示部７には図２（Ａ）に示すアイコン７ａまたは同図（Ｂ）に示すアイコン７ｂが表示される。再度、オン状態に設定すると、表示部７にアイコン７ｄが表示され、自動感度校正機能が復帰する。以下の動作は実施例１と同様にステップＳＴ４〜ＳＴ１４を繰り返す。
【００１９】
図５は、第３実施例による電子天びんの自動感度校正機能がオン状態に設定されている場合の表示部７の画面を示すもので、同図（Ａ）は感度校正後の感度係数を使用して質量表示する場合、同図（Ｂ）は感度校正前の感度係数を使用して質量表示することを示す場合で、これを区別するためのアイコン７ｅが表示されている。
【００２０】
図６は、この電子天びんの演算制御プログラムの概要を示すフローチャートである。以下、図５、６を参照しながら本電子天びんの動作手順を説明する。
まず、メモリＰＳＣの設定状態をチェックし（ＳＴ１）、メモリＰＳＣが１ならば表示部７にアイコン７ｄを表示し（ＳＴ２）、メモリＰＳＣが０ならば表示部７にアイコン７ａまたは７ｂを表示する（ＳＴ３）。続いて、第１実施例と同様にステップＳＴ４〜ＳＴ８までを実行し、前回感度校正時からの温度変化量ΔＴまたは経過時間τが規定値をオーバーしている場合は、メモリＰＳＣが１ならばアイコン７ｃ（図２（Ｃ））を点滅表示して（ＳＴ１０）、内部分銅１０を加除してその質量を測定する（ＳＴ１１）。
【００２１】
続いて、メモリＢＥＦの設定状態をチェックし（ＳＴ１２）、メモリＢＥＦが０ならば不揮発性メモリ３４内の感度係数を補正し（ＳＴ１３）、この感度係数を用いて質量値を算出し（ＳＴ１４）、その質量値を表示部７に表示する（ＳＴ１７）。また、ＢＥＦが１ならばアイコン７ｅを表示し（ＳＴ１５）、補正前の感度係数を用いて質量値を算出し（ＳＴ１６）、その質量値を表示する（ＳＴ１７）。また、温度変化量ΔＴまたは経過時間τが規定値内であるか（ＳＴ８）、メモリＰＳＣが０ならば（ＳＴ９）、補正前の感度係数を用いて質量値を算出して（ＳＴ１６）、その質量値を表示部７に表示する（ＳＴ１７）。
【００２２】
図７は、第４実施例による電子天びんの表示部７の画面を示すもので同図（Ａ）は自動感度校正機能がオフ状態であることを示しアイコン７ａが表示され、この状態で前回感度校正時からの温度変化量ΔＴまたは経過時間τが規定値をオーバーしている場合は、同図（Ｂ）に示すように質量値は表示せず、アイコン７ａと感度校正の必要性あり？を示すアイコン７ｆを表示する。使用者の判断で操作部６のキー入力により図５（Ａ）に示すようにアイコン７ｄを表示する自動感度校正機能がオン状態に設定し、感度校正を実行することができる。
【００２３】
図８は、この電子天びんに用いられる演算制御プログラムの概要を示すフローチャートである。以下、図７、８を参照しながら本電子天びんの動作手順を説明する。
まず、メモリＰＳＣの設定状態をチェックし（ＳＴ１）、メモリＰＳＣが１ならば表示部７にアイコン７ｄを表示し（ＳＴ２）、続いてステップＳＴ４〜ＳＴ８を実行して温度変化量ΔＴ又は経過時間τが規定値をオーバーしている場合は、メモリＰＳＣが１なら感度校正を行い（ＳＴ１０〜１２）、補正された感度係数を用いて質量値を算出し（ＳＴ１５）、その質量値を表示する（ＳＴ１６）。
【００２４】
また、メモリＰＳＣが０の場合は（ＳＴ９）、補正の必要性を示すアイコン７ｆを表示し（ＳＴ１３）、メモリＨＯＳＥＩが１ならば（ＳＴ１４）、感度係数を補正し（ＳＴ１１、ＳＴ１２）、補正された感度係数を用いて質量値を算出し（ＳＴ１５）、質量値を表示し（ＳＴ１６）、０ならば補正前の感度係数を用いて算出した質量値を表示する（ＳＴ１５、ＳＴ１６）。そして、温度変化量ΔＴ又は経過時間τがオーバーしていない場合は（ＳＴ８）、感度校正前の感度係数を用いて質量値を算出して（ＳＴ１５）、その質量値を表示する（ＳＴ１６）。この手順を繰り返す（ＳＴ１）。
【００２５】
本発明は、実施例に示した構成やアイコン表示に限定されるものではなく、アイコン表示には、その他の文字や図形あるいはこれらを組み合わせたものや、質量表示画面と別に設けたり、ランプ表示などを利用することもできる。
【産業上の利用可能性】
【００２６】
本発明は、感度校正機能を備えた電子天びんに利用される。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の電子天びんの全体構成を示すブロックである。
【図２】第１実施例による電子天びんの表示画面で、（Ａ）、（Ｂ）は自動感度校正機能がオフ状態、（Ｃ）は感度係数補正の必要性を示す。
【図３】第１実施例による電子天びんに用いられる演算制御プログラムの概要を示すフローチャートである。
【図４】第２実施例による電子天びんの表示画面で、自動感度校正機能がオン状態を示す。
【図５】第３実施例による電子天びんの表示画面で、（Ａ）は感度校正後の感度係数、（Ｂ）は感度校正前の感度係数を使用して質量値を表示していることを示す。
【図６】第３実施例による電子天びんに用いられる演算制御プログラムの概要を示すフローチャートである。
【図７】第４実施例による電子天びんの表示画面で、（Ａ）は自動感度校正機能がオフ状態（Ｂ）はオフ状態で環境条件または経過時間が規定値オーバーであることを示す。
【図８】第４実施例による電子天びんに用いられる演算制御プログラムの概要を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００２８】
１  天びん機構部
１ａ  皿
１ｂ  荷重検出部
１ｃ  温度センサ
２  Ａ−Ｄ変換器
３  制御部
３１  ＣＰＵ
３２  ＲＯＭ
３３  ＲＡＭ
３４  不揮発性メモリ
３５  インターフェース
５  Ａ−Ｄ変換器
６  操作部
７  表示部
７ａ  アイコン
７ｂ  アイコン
７ｃ  アイコン
７ｄ  アイコン
７ｅ  アイコン
７ｆ  アイコン
１０  内蔵分銅
１１  分銅加除機構
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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