(57)【要約】【課題】半導体装置が組み込まれる制御基板に、調整用の特別の回路を設けることなく、送受信データの位相調整、及び、受信データの受信開始タイミングの調整を容易に行なうことができる半導体モニタ装置を提供する。【解決手段】コマンドデータを送信しコマンドデータに応答して返信される応答データを受信する通信インタフェース部５１と、通信インタフェース部５１を介して動作中の半導体装置２から受信した応答データに基づいて半導体装置２のリソース状態をモニタする半導体モニタ装置５であって、半導体装置２に備えた記憶部から通信インタフェース部５１を介して検証データを読み出すデータ読出し処理部５２と、データ読出し処理部５２により読み出された検証データに基づいて通信インタフェース部５１の通信条件を設定する通信条件設定部５３を備えている。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
シリアルクロック信号に同期してコマンドデータを送信し、前記コマンドデータに応答して前記シリアルクロック信号に同期して返信される応答データを受信する通信インタフェース部を備え、前記通信インタフェース部を介して動作中の半導体装置から受信した応答データに基づいて前記半導体装置のリソース状態をモニタする半導体モニタ装置であって、
前記半導体装置に備えた記憶部から前記通信インタフェース部を介して検証データを読み出すデータ読出し処理部と、前記データ読出し処理部により読み出された検証データに基づいて前記通信インタフェース部の通信条件を設定する通信条件設定部を備えている半導体モニタ装置。
【請求項２】
前記通信条件設定部は前記検証データが真となるまで繰り返し前記通信インタフェース部の通信条件を自動変更設定する請求項１記載の半導体モニタ装置。
【請求項３】
前記通信条件設定部は外部リクエストまたは前記半導体装置との接続を検出して前記検証データが真となるまで前記通信インタフェース部の通信条件を自動変更設定する請求項１または２記載の半導体モニタ装置。
【請求項４】
前記通信インタフェース部を介して評価データを前記記憶部に書き込むデータ書込み処理部を備え、前記データ読出し処理部は前記評価データを前記検証データとして読み出す請求項１から３の何れかに記載の半導体モニタ装置。
【請求項５】
前記検証データが前記半導体装置により所定サイクルでカウント処理されるカウントデータで構成され、前記通信条件設定部は前記検証データが前記所定サイクルでカウント処理されているか否かに基づいて真偽を判定する請求項１から４の何れかに記載の半導体モニタ装置。
【請求項６】
前記通信条件が前記シリアルクロック信号に同期した前記コマンドデータの出力位相若しくは前記応答データの入力位相、または、前記応答データの入力処理開始タイミングである請求項１から５の何れかに記載の半導体モニタ装置。
【請求項７】
前記通信条件設定部は前記通信条件の自動変更設定が所定時間または所定回数継続したときに設定不能データを出力する請求項１から６の何れかに記載の半導体モニタ装置。
【請求項８】
シリアルクロック信号に同期してコマンドデータを送信し、前記コマンドデータに応答して前記シリアルクロック信号に同期して返信される応答データを受信する通信インタフェース部と、前記通信インタフェース部を介して動作中の半導体装置から受信した応答データに基づいて前記半導体装置のリソース状態をモニタする半導体モニタ装置の通信条件設定方法であって、
前記半導体装置に備えた記憶部から前記通信インタフェース部を介して検証データを読み出すデータ読出し処理ステップと、前記データ読出し処理ステップにより読み出された検証データに基づいて前記通信インタフェース部の通信条件を設定する通信条件設定ステップを備えている半導体モニタ装置の通信条件設定方法。
【請求項９】
前記半導体装置が組み込まれた電子制御装置が当該電子制御装置の制御負荷を模擬するシミュレータに接続可能に構成されるとともに、当該シミュレータに請求項１から７の何れかに記載の半導体モニタ装置が組み込まれ、前記半導体モニタ装置が前記シミュレータからのリクエストに基づいて前記半導体装置のリソース状態をモニタするシミュレーションシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マイクロコンピュータ等の半導体装置に組み込まれているメモリや割込み処理回路等の周辺リソースの状態を外部からモニタする半導体モニタ装置、半導体モニタ装置の通信条件設定方法、及び、半導体モニタ装置が組み込まれたシミュレーションシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
様々な機器に組み込まれるマイクロコンピュータで実行される制御プログラムを開発する際に、プログラムのデバッグ作業が不可欠となる。このようなデバッグ作業を補助するために、動作中のマイクロコンピュータにアクセスして、プログラムの実行を停止させることなくメモリや割込み処理回路等のＣＰＵ周辺リソースの状態を読み出すＮＢＤ（Non Break Debug）やＡＵＤ（Advanced User Debugger）等の半導体モニタ装置が提案されている。
【０００３】
このような半導体モニタ装置は、デバッグ用のシリアルクロック信号に同期してコマンドデータを送信し、前記コマンドデータに応答して前記シリアルクロック信号に同期して返信される応答データを受信する通信インタフェース部を備え、前記通信インタフェース部を介して動作中の半導体装置から受信した応答データに基づいて前記半導体装置のリソース状態をモニタするように構成されている。そして、半導体装置側にも半導体モニタ装置から送信されたコマンドに対応して所定の動作を行なうデータ処理部が設けられている。
【０００４】
このような概念で構築された半導体装置として、特許文献１には、半導体装置の動作基準クロックを生成する基準クロック生成部と、生成された基準クロックを基準に動作する複数の機能ブロックと、機能ブロック間を接続する信号線と、機能ブロックの動作状況や信号線の動作状況など半導体装置が動作することによって生じる様々なデバッグ情報を外部へ送出する内部情報出力部を備えた半導体装置と、デバッグ情報を取得する情報収集部としての半導体モニタ装置にデバッグ情報を取得する際のストローブ信号を基準クロックを元に生成するストローブ信号生成部を備えている半導体内部信号観測装置が提案されている。
【０００５】
例えば、ＮＢＤ方式では、ＣＰＵ周辺リソースの状態を検証するための半導体モニタ装置と検証対象の半導体装置とがシリアル通信ラインを介して接続され、半導体モニタ装置の要求コマンドに応答して半導体装置から送信されてきたＣＰＵ周辺リソース、例えばＲＡＭの所定アドレスのデータ等が半導体モニタ装置で検証可能に構成されている。
【０００６】
シリアル通信ラインは、シリアルクロック信号ＣＬＫを伝送するためのライン、データの送受信を制御する同期信号ＳＹＮＣを伝送するためのライン、データ伝送用のライン等で構成されている。
【０００７】
通信シーケンスの一例を図４に基づいて説明する。半導体モニタ装置は、シリアルクロック信号ＣＬＫに同期して、ＣＰＵ周辺リソースの一部であるＲＡＭに記憶されているデータの読出しコマンドを送信する。
【０００８】
読出しコマンドを受信した半導体装置は、対応するデータの送信準備が完了すると、シリアルクロック信号ＣＬＫに同期してＲｅａｄｙ信号を半導体モニタ装置に送信する。
【０００９】
Ｒｅａｄｙ信号を受信した半導体モニタ装置は、応答データの送信を半導体装置に要求すべく、同期信号ＳＹＮＣをローレベルからハイレベルに変化させる。半導体装置は、同期信号ＳＹＮＣの立上りを検出すると所定の設定時間が経過後に半導体モニタ装置に応答データを出力する。
【特許文献１】特開２００６−３３７１２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、半導体モニタ装置と半導体装置間に接続されるシリアル通信ラインの配線容量や、半導体装置の内部回路や周辺回路の構成に依存して発生する信号遅延等により、半導体モニタ装置と半導体装置間での適正なデータの送受信が妨げられる場合があり、また、同期信号ＳＹＮＣの立上りからデータの取り込みまでの待ち時間が半導体装置により異なる場合があるため、事前にクロックラインやデータラインの遅延状態や、同期信号ＳＹＮＣの立上りからデータが出力されるまでの待ち時間をモニタ装置で波形観測し、その結果に基づいて、半導体モニタ装置側で、送信データを送り出し或は受信データを取り込むクロックの位相や、待ち時間を個々に合わせ込むようにインタフェース回路やインタフェースプログラムを設計していた。
【００１１】
特許文献１に記載された半導体内部信号観測装置でも、情報収集部が基準クロックに基づいてデバッグ情報を適正に取得できるストローブ信号を生成できるとは限らず、様々なシステムＬＳＩ毎にストローブ信号の周波数を個別に調整する必要があった。
【００１２】
このような調整作業は非常に手間が掛かり極めて煩雑であるという問題があり、そのように調整された半導体モニタ装置で他の半導体装置をモニタする場合に対応できないという問題もあった。
【００１３】
一方、半導体装置が組み込まれる制御基板側で、特定の半導体モニタ装置と通信が適正に行なわれるようにインタフェース回路を設計する場合には、型式や製造元が異なる半導体モニタ装置と接続すると最早適正に通信できないという問題もあった。
【００１４】
何れの場合でも、個々にインタフェース回路を設計し、或はモニタ装置で波形観測して合わせ込むようにインタフェースプログラムを調整する等の煩雑な作業が要求されるものであった。特に、半導体装置が組み込まれる制御基板側で対処する場合には、製品化された後には不要となる回路ブロックであるインタフェース回路が組み込まれるため、基板の小型化が阻まれることによる設計の自由度の制限や、コストの増大をもたらすという問題もあった。
【００１５】
本発明の目的は、上述の問題に鑑み、半導体装置が組み込まれる制御基板に、調整用の特別の回路を設けることなく、送受信データの位相調整、及び、受信データの受信開始タイミングの調整を容易に行なうことができる半導体モニタ装置、半導体モニタ装置の通信条件設定方法、及び半導体モニタ装置が組み込まれたシミュレーションシステムを提供する点にある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上述の目的を達成するため、本発明による半導体モニタ装置の特徴構成は、シリアルクロック信号に同期してコマンドデータを送信し、前記コマンドデータに応答して前記シリアルクロック信号に同期して返信される応答データを受信する通信インタフェース部を備え、前記通信インタフェース部を介して動作中の半導体装置から受信した応答データに基づいて前記半導体装置のリソース状態をモニタする半導体モニタ装置であって、前記半導体装置に備えた記憶部から前記通信インタフェース部を介して検証データを読み出すデータ読出し処理部と、前記データ読出し処理部により読み出された検証データに基づいて前記通信インタフェース部の通信条件を設定する通信条件設定部を備えている点にある。
【００１７】
上述の構成によれば、接続された半導体装置の回路構成や、半導体モニタ装置と半導体装置との配線長が異なる場合であっても、データ読出し処理部が接続された半導体装置の記憶部から検証データを読出し、データ読出し処理部が読み出された検証データの真偽に基づいて半導体装置との通信条件を自動的に設定するので、接続された半導体装置毎に手動で通信条件の設定をする必要がなく、通信条件設定の手間を低減することができる。この場合、半導体装置側に、通信条件を設定するための回路を設ける必要が無い。
【発明の効果】
【００１８】
以上説明した通り、本発明によれば、半導体装置が組み込まれる制御基板に、調整用の特別の回路を設けることなく、送受信データの位相調整、及び、受信データの受信開始タイミングの調整を容易に行なうことができる半導体モニタ装置を提供することができるようになった。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下に、本発明による半導体モニタ装置、半導体モニタ装置の通信条件設定方法、及び半導体モニタ装置が組み込まれたシミュレーションシステムについて説明する。
【００２０】
図１に示すように、シミュレーションシステム１は、半導体装置２が組み込まれた電子制御装置３が当該電子制御装置３の制御負荷を模擬するシミュレータ４に接続可能に構成されるとともに、当該シミュレータ４に半導体モニタ装置５が組み込まれ、半導体モニタ装置５がシミュレータ４からのリクエストに基づいて半導体装置２のリソース状態をモニタするように構成されている。
【００２１】
電子制御装置３は、マイクロコンピュータとしての半導体装置２と、他の電子制御装置３とＣＡＮバス等のネットワークを介して接続する場合に、当該他の電子制御装置３との間のデータの送受信を制御する通信インタフェース回路３１等とを備えており、車両等のエンジンやブレーキといった制御対象としての制御負荷、または、前記制御負荷を模擬するシミュレータ４を制御するように構成されている。
【００２２】
半導体装置２は、ＣＰＵ２１と、制御プログラムが格納されたＲＯＭ２２１とワーキングエリアとして使用されるＲＡＭ２２２等よりなる記憶部２２と、半導体モニタ装置５との間で制御信号を入出力するモニタインタフェース回路２４等を備えており、電子制御装置３が制御負荷やシミュレータ４を制御する機能は、ＣＰＵ２１が制御プログラムを実行することによって実現されている。
【００２３】
シミュレータ４は、自身を統括制御するオペレーティングシステムを実行するＣＰＵボード４１と、半導体モニタ装置５等とを備え、夫々がＰＣＩバス４４によりＣＰＵボード４１と接続されている。
【００２４】
シミュレーションシステム１は、また、シミュレータ４とイーサネット（ゼロックス社の登録商標）等のネットワークにより接続された管理装置６を備えている。
【００２５】
管理装置６は、所定のオペレーティングシステムの下で動作するアプリケーションプログラムがインストールされ、表示部や、マウス及びキーボード等の入出力機器等を備えたパーソナルコンピュータで構成されている。
【００２６】
管理装置６は、オペレーティングシステムに組み込まれたＧＵＩ（Graphical User Interface）を介してオペレータが操作入力可能に構成され、オペレータによる操作に基づいて半導体モニタ装置５から送信された検証データを表示部に表示する。そして、オペレータが、アプリケーションプログラムに基づいて表示部に表示された操作画面に対して、マウスやキーボードを操作することにより、半導体モニタ装置５の起動、演算条件の設定、停止等の操作が可能に構成されている。
【００２７】
以下、半導体モニタ装置５について説明する。図２に示すように、半導体モニタ装置５は、シリアルクロック信号に同期してコマンドデータを送信し、前記コマンドデータに応答して前記シリアルクロック信号に同期して返信される応答データを受信する通信インタフェース部５１を備え、通信インタフェース部５１を介して動作中の半導体装置２から受信した応答データに基づいて半導体装置２のリソース状態をモニタするように構成されている。
【００２８】
また、半導体モニタ装置５は、半導体装置２に備えた記憶部２２から通信インタフェース部５１を介して検証データを読み出すデータ読出し処理部５２と、データ読出し処理部５２により読み出された検証データの真偽に基づいて通信インタフェース部５１の通信条件を自動設定する通信条件設定部５３を備えている。
【００２９】
尚、本実施形態では、半導体モニタ装置５は、制御プログラムが記憶されたＲＯＭ及びワーキングエリアとして使用されるＲＡＭ（場合によっては、ＥＥＰＲＯＭ等の不揮発性メモリ及び大容量のデータ等を記憶するための磁気ディスクも含む。）等で構成された記憶部と、制御プログラムを演算実行するＣＰＵ等を備えており、ＣＰＵが制御プログラムを実行することで各機能ブロックの機能を実現するように構成されている。
【００３０】
ここで、半導体装置２のリソース状態とは、例えば、半導体装置２のＲＡＭ２２２の各アドレスに記憶されているデータ内容のことであり、これらのデータ内容は、半導体装置２のＣＰＵ２１による制御プログラムの実行に伴って変化する。本実施形態において、半導体モニタ装置５は、ＣＰＵ２１の実行中であっても半導体装置２のリソース状態をモニタできるように構成されている。
【００３１】
そして、リソース状態をＣＰＵ２１の実行中にモニタする機能は、ＮＢＤ（Ｎｏｎ  Ｂｒｅａｋ  Ｄｅｂｕｇ）の機能が搭載された半導体装置２に、半導体モニタ装置５からＮＢＤの機能に基づいてアクセスすることで実現されている。当該アクセスは、半導体装置２に搭載されたＮＢＤの機能を制御するためのコントロールソフトウェアを、半導体モニタ装置５にインストールして実行させることによって実現される。
【００３２】
通信インタフェース部５１は、図３に示すように、通信条件設定部５３によって設定された通信条件に従って各信号を入出力するＩ／Ｏボードとしての通信ボード５１１と、シリアルクロック信号ＣＬＫ、同期信号ＳＹＮＣ、及びデータ転送方向信号ＤＩＲをモニタインタフェース部２４へ送信するための単方向バッファ５１２と、４ビットのデータ信号ＡＤ０〜ＡＤ３をモニタインタフェース部２４との間で送受信するための双方向バッファ５１３とを備えている。
【００３３】
同様に、半導体装置２のモニタインタフェース部２４も、前記通信条件に従って各信号を入出力するＩ／Ｏボードとしてのモニタボード２４１と、シリアルクロック信号ＣＬＫ、同期信号ＳＹＮＣ、及びデータ転送方向信号ＤＩＲを通信インタフェース部５１から受信するための単方向バッファ２４２と、４ビットのデータ信号ＡＤ０〜ＡＤ３を通信インタフェース部５１との間で送受信するための双方向バッファ２４３とを備えている。
【００３４】
そして、通信インタフェース部５１とモニタインタフェース部２４は、シリアルクロック信号ラインＬＣＬＫ、同期信号ラインＬＳＹＮＣ、データ信号ラインＬＡＤ０〜ＬＡＤ３、及び転送方向信号ラインＬＤＩＲの７本の信号ラインで接続されている。
【００３５】
ここで、シリアルクロック信号ＣＬＫは、通信インタフェース部５１及びモニタインタフェース部２４において、他の信号（同期信号ＳＹＮＣ、データ転送方向信号ＤＩＲ、及びデータ信号ＡＤ０〜ＡＤ３）の送信及び受信のタイミングの基準となる信号である。
【００３６】
同期信号ＳＹＮＣは、ＮＢＤの機能に基づくデータ送受信処理の開始と終了を、半導体装置２のＣＰＵ２１に通知するための信号である。
【００３７】
データ転送方向信号ＤＩＲは、データ信号ＡＤ０〜ＡＤ３のデータ転送方向を制御するために双方向バッファへ入力される信号であり、例えば、ハイレベルのデータ転送方向信号ＤＩＲが双方向バッファへ入力されると、双方向バッファは通信インタフェース部５１からモニタインタフェース部２４へデータを送信するように制御され、ローレベルのデータ転送方向信号ＤＩＲが双方向バッファへ入力されると、双方向バッファはモニタインタフェース部２４から通信インタフェース部５１へデータを送信するように制御される。
【００３８】
データ読出し処理部５２は、ＮＢＤの機能の一つである読出しコマンドを、通信インタフェース部５１及びモニタインタフェース部２４を介して、半導体装置２のＣＰＵ２１に出力することによって、検証データを読み出す。
【００３９】
以下、図４に示すタイムチャートに基づいて、データ読出し処理部５２による検証データの読出し処理について説明する。
【００４０】
尚、図４では、ＣＰＵ２１はシリアルクロック信号ＣＬＫの立上りでデータを送受信するものとして説明するが、データ送受信のタイミングはシリアルクロック信号ＣＬＫの立上りに限るものではない。
【００４１】
また、シリアルクロック信号ＣＬＫ等の信号や読み出された検証データは、通信インタフェース部５１を介して半導体モニタ装置５に入出力されるが、図４において通信インタフェース部５１は、以下で詳述する通信条件で、データを送受信するものとして説明する。
【００４２】
つまり、通信条件は、シリアルクロック信号ＣＬＫに同期したコマンドデータの出力位相若しくは応答データの入力位相、または、応答データの入力処理開始タイミングとして表される。
【００４３】
具体的には、図４の説明での通信条件は、同期信号ＳＹＮＣのローレベルからハイレベルへの変更時（応答待ち基準点）から検証データの受信までの待ち時間を、時間またはシリアルクロック信号ＣＬＫのサイクル数として設定するウェイト設定（つまり、応答データの入力処理開始タイミングである。）と、ＣＰＵ２１からのデータの受信を、シリアルクロック信号ＣＬＫの立上りと立下りの何れで行なうかの設定であるエッジ設定（つまり、応答データの入力位相である。）との２個の設定で構成されており、ウェイト設定はシリアルクロック信号ＣＬＫの所定のサイクル数、エッジ設定はシリアルクロック信号ＣＬＫの立下りとして設定されている。
【００４４】
データ読出処理部５２は、シリアルクロック信号ＣＬＫに同期して同期信号ＳＹＮＣをハイレベルからローレベルに変化させて、ＮＢＤの機能に基づくデータ読出しを開始することをＣＰＵ２１に通知する（ＴＡ１）。
【００４５】
続いて、データ読出処理部５２は、読出しコマンドをＣＰＵ２１に通知する（ＴＡ１〜ＴＡ２）。ここで、読出しコマンドは、コマンド名と、当該読出しコマンドのサイズ情報（図４では４ビット×２）と、読み出す検証データが格納されている半導体装置２のＲＡＭ２２２のアドレス情報等で構成されている。
【００４６】
ＣＰＵ２１は、読出しコマンドを受信すると、検証データをデータ読出し処理部５２へ出力可能な状態となるまでは、ＮｏｔＲｅａｄｙ信号をデータ読出し処理部５２へ出力し（ＴＡ２〜ＴＡ３）、検証データをデータ読出し処理部５２へ出力可能な状態となると、Ｒｅａｄｙ信号をデータ読出し処理部５２へ出力する（ＴＡ３〜ＴＡ４）。
【００４７】
データ読出し処理部５２は、Ｒｅａｄｙ信号を受信すると同期信号ＳＹＮＣをローレベルからハイレベルに変化させて、検証データの送信開始をＣＰＵ２１に要求する（ＴＡ５）。尚、図４では、データ読出し処理部５２は、Ｒｅａｄｙ信号を受信してから２回目のシリアルクロック信号ＣＬＫの立下りのタイミングで、同期信号ＳＹＮＣをハイレベルに変化させている。
【００４８】
同期信号ＳＹＮＣの立上りから予め設定された所定のウェイト設定の時間を経過すると、ＣＰＵ２１は、検証データをデータ読出し処理部５２に送信し（ＴＡ４〜ＴＡ７）、データ読出し処理部５２は、エッジ設定にて設定されたタイミング、つまりシリアルクロック信号ＣＬＫの立下りのタイミングで検証データ（図４では４ビット×３のサイズ）を受信する（ＴＡ６）。
【００４９】
尚、通信条件は、図４で説明した構成に限らない。例えば、通信条件が、同期信号ＳＹＮＣのローレベルからハイレベルへの変更時（応答待ち基準点）から検証データの受信開始までの待ち時間を、シリアルクロック信号ＣＬＫの逓倍の周波数であるシステムクロック信号のサイクル数として設定するウェイト設定と、ＣＰＵ２１からのデータ（Ｒｅａｄｙ信号及び応答データ）の受信までの時間を、シリアルクロック信号の立下りからのシステムクロック信号のサイクル数として複数設定される受信位相設定とで構成されていてもよく、この場合のタイムチャートは、図５（ａ）に示すようなものとなる。
【００５０】
図５（ａ）では、データ読出し処理部５２は、受信位相設定のサイクル数に基づいてＣＰＵ２１からＲｅａｄｙ信号を受信し（ＴＢ１）、ウェイト設定で設定されたシステムクロック信号のサイクル数の経過時点から受信位相設定のサイクル数に基づいてＣＰＵ２１から検証データを４ビットずつ受信する（ＴＢ２、ＴＢ３、ＴＢ４）。
【００５１】
また、通信条件が、同期信号ＳＹＮＣのローレベルからハイレベルへの変更時（応答待ち基準点）から検証データの受信までの待ち時間を、時間またはシステムクロック信号のサイクル数として設定するウェイト設定で構成されており、図５（ｂ）のタイムチャートに示すように、データ読出し処理部５２は、Ｒｅａｄｙ信号及び検証データの受信時に、システムクロックに基づくサンプリングをｎ回実行し、多数決で受信値を決定する構成であってもよい。
【００５２】
通信条件設定部５３は、データ読出し処理部５２によって読み出された検証データの真偽を判断する。詳述すると、所定アドレスに記憶されているデータが「１」の場合、通信条件設定部５３は、データ読出し処理部５２が所定アドレスに記憶されている「１」を適正に読み出すことができるような通信インタフェース部５１の通信条件を設定する。
【００５３】
例えば、通信インタフェース部５１の通信条件が、上述したようにウェイト設定とエッジ設定で構成されているとする。このとき、ウェイト設定がある値「Ａ」のときには、「１」が記憶されている所定アドレスを読み出しても別のアドレスに記憶されている「２」が読み出されてしまい、ウェイト設定が別の値「Ｂ」のときには、所定アドレスに記憶されている「１」を適正に読み出すことができるとすると、通信条件設定部５３は、「Ｂ」の場合を検証データが真であるとしてウェイト設定を「Ｂ」に設定する。
【００５４】
また、通信条件設定部５３は、検証データが真となるまで繰り返し通信インタフェース部５１の通信条件を自動変更設定する。
【００５５】
詳述すると、通信条件設定部５３は、データ読出し処理部５２によってウェイト設定「Ｃ」で読み出された値「ａ」が真でない場合、「Ｃ」に所定値を加算または減算した「Ｃ」とは異なる「Ｄ」を新たなウェイト設定とする。そして、通信条件設定部５３は、データ読出し処理部５２にウェイト設定「Ｄ」で再び「ａ」を読み出させ、データ読出し処理部５２によって読み出された値「ａ」の真偽を判断する。以上の処理を、「ａ」が真となるまで、通信条件を所定値ずつ加算または減算しながら繰り返すのである。
【００５６】
尚、上述の例では、ウェイト設定を加算または減算する構成について記しているが、ウェイト設定を加算または減算する構成に限らず、例えば、ウェイト設定を乗算や除算する構成や、エッジ設定を切り替える構成であってもよい。
【００５７】
上述の構成によれば、当初設定されている通信インタフェース部５１の通信条件の内容にかかわらず、通信条件設定部５３が通信条件を自動的に変更しながら設定を実行するので、オペレータが新たな通信条件を逐一入力する必要がなく、通信条件の設定をより簡易に行なうことができる。
【００５８】
通信条件設定部５３において真偽の判定に用いられる検証データは、半導体モニタ装置５によって半導体装置２の記憶部２２に書き込まれたデータであってもよい。つまり、半導体モニタ装置５は、図２において破線で示すように、通信インタフェース部５１を介して評価データを記憶部２２に書き込むデータ書込み処理部５４を備え、データ読出し処理部５２は前記評価データを前記検証データとして読み出す構成であってもよい。
【００５９】
データ書込み処理部５４は、ＮＢＤの機能に基づいた書込みコマンドを、通信インタフェース部５１及びモニタインタフェース部２４を介して、半導体装置２のＣＰＵ２１に出力することによって評価データを記憶部２２の所定アドレスに書き込む。
【００６０】
評価データの書込み手順は、以下の点を除いて、図４及び図５に示したタイムチャートと同一である。
【００６１】
第一の異なる点は以下のとおりである。つまり、図４のＴＡ１〜ＴＡ２において、データ書込み処理部５４によってＣＰＵ２１に通知されるコマンドは、読出しコマンドではなく書込みコマンドである。また、書込みコマンドには、読み出す検証データが格納されている半導体装置２のＲＡＭ２２２のアドレス情報ではなく、書き込む評価データを格納する半導体装置２のＲＡＭ２２２のアドレス情報と書き込む評価データとが含まれる。
【００６２】
第二の異なる点は以下のとおりである。つまり、図４のＴＡ２〜ＴＡ３において、ＣＰＵ２１はＲＡＭ２２２の所定アドレスへ評価データを書き込む処理を実行する。
【００６３】
第三の異なる点は以下のとおりである。つまり、図４のＴＡ５において、Ｒｅａｄｙ信号を受信したデータ書込み処理部５４は、同期信号ＳＹＮＣをローレベルからハイレベルに変化させて、検証データの送信開始ではなく書込み処理の完了をＣＰＵ２１に通知する。
【００６４】
第四の異なる点は以下のとおりである。つまり、図４のＴＡ４〜ＴＡ７において、ＣＰＵ２１が検証データをデータ読出し処理部５２に送信することはない。
【００６５】
以上のようなデータ書込み処理部５３が半導体モニタ装置５に備えられている場合、通信条件設定部５３は、データ書込み処理部５４に所定アドレスに所定データを書き込ませた後に、データ読出し処理部５２に当該所定アドレスに書き込まれた当該所定データを読み出させる。
【００６６】
その結果、データ書込み処理部５４に書き込ませたデータ（評価データ）の値と、データ読出し処理部５２に読み出させたデータ（検証データ）の値とが同一である場合に、検証データが真であるとして、そのときの通信条件を通信インタフェース部５１の通信条件として設定する。
【００６７】
尚、通信条件設定部５３が、検証データが真となるまで、繰り返し通信インタフェース部５１の通信条件を自動変更設定する点は、データ書込み処理部５３の有無にかかわらず同一である。
【００６８】
また、データ読出し処理部５２が読み出す検証データや、データ書込み処理部５４が書き込む評価データは、一個とは限らない。
【００６９】
例えば、通信条件設定部５３は、データ書込み処理部５４に複数アドレスに同一または異なる評価データを書き込ませ、その後、データ読出し処理部５２に当該複数アドレスに書き込まれた評価データを夫々読み出させる。そして、通信条件設定部５３は、各アドレスについて読み出されたデータ（検証データ）と、各アドレスについて書き込まれた評価データとが、全てのアドレスについて等しい場合に、検証データが真であるとして、そのときの通信条件を通信インタフェース部５１の通信条件として設定する構成であってもよい。
【００７０】
上述の構成によれば、通信条件設定部５３は、データ書込み処理部５４によって直前に書き込まれた評価データを、データ読出し処理部５２によって適正に読み出すことができるか否かで、検証データの真偽を判断する、つまり実際のデバッグ処理に近い環境で検証データの真偽を判断するので、データ書込み処理部５４が備えられていない構成と比較して、より正確な調整を行なうことができる。
【００７１】
通常、通信条件設定部５３は、シミュレータ４の電源投入により起動するが、通信条件設定部５３は、外部リクエストまたは半導体装置２との接続を検出して前記検証データが真となるまで通信インタフェース部５１の通信条件を自動変更設定する構成であってもよい。
【００７２】
外部リクエストとしては、例えば、管理装置６におけるオペレータの操作入力による自動変更設定の実行指令がある。つまり、通信条件設定部５３は、シミュレータ４の電源投入時ではなく、シミュレータ４の電源投入後に当該実行指令を受けることによって、通信インタフェース部５１の通信条件の自動変更設定を行なうのである。これによって、オペレータが自動変更設定を実行したい場合にのみ、自動変更設定を実行することができる。
【００７３】
また、半導体装置２との接続の検出としては、例えば、以下のような構成がある。まず、シミュレータ４は、以下の制御信号またはデータを検出する。検出する制御信号またはデータとは、電源投入されたシミュレータ４と電源投入された半導体装置２とが接続されることで、シミュレータ４から半導体装置２へ、または、半導体装置２からシミュレータ４へ転送される制御信号またはデータのことである。
【００７４】
そして、当該制御信号またはデータが検出された場合には、その事実が半導体モニタ装置５に伝えられて、通信条件設定部５３が通信インタフェース部５１の通信条件の自動変更設定を行なうのである。これによって、オペレータが管理装置６を操作して自動変更設定の実行指令を与えるという手間をなくすことができる。
【００７５】
尚、通信条件設定部５３による自動変更設定の開始時には、通信インタフェース部５１の通信条件は予め設定された初期値となり、通信条件設定部５３は、当該初期値を加算等させていくことによって、通信条件の自動変更設定を行なっていく。
【００７６】
半導体モニタ装置５は、以上説明した機能ブロックに加えて、図２において破線で示すように、通信条件設定部５３により検証データが真と判定されたときの通信条件を記憶する通信条件記憶部５５を備えていてもよい。
【００７７】
通信条件記憶部５５は、半導体モニタ装置５に備えられた記憶部のうち、電源停止後もデータが消去されず且つ内容書換えの可能なメモリ、つまり不揮発性メモリや磁気ディスクで構成されており、通信条件は、これらのメモリの所定領域に記憶される。
【００７８】
通信条件記憶部５５への通信条件の記憶は、以下のようにして行なわれる。例えば、通信条件設定部５３により自動変更設定が行なわれて新たな通信条件が設定される度に、通信条件記憶部５５に記憶されている通信条件は書き換えられる。別の例としては、ある型式の半導体装置２についての自動変更設定が行なわれると、当該自動変更設定で設定された通信条件が当該半導体装置２の型式と共に記憶される。
【００７９】
上述の構成によれば、通信条件記憶部５５に最新の通信条件を記憶しておくことができる。また、通信条件記憶部５５に通信条件を半導体装置２の型式と共に記憶しておくことで、同一型式の半導体装置２について再び自動変更設定する必要がなくなる。
【００８０】
通信条件設定部５３は通信条件の初期値を通信条件記憶部５５に記憶された過去の通信条件の何れかに設定する構成であってもよい。
【００８１】
詳述すると、通信条件設定部５３は、自動変更設定によって新たな通信条件が設定される度に、当該通信条件を通信条件記憶部５５に追加記憶しておく。また、上述したように、追加記憶する際、当該通信条件が電子制御装置３や半導体装置２の型式と対応づけられて記憶される構成であってもよい。
【００８２】
そして、以後、半導体モニタ装置５が起動されたとき、管理装置６の表示部に通信条件記憶部５５に記憶された複数の通信条件のリストが表示され、オペレータが当該リストから任意の通信条件を選択すると、通信条件設定部５３は選択された通信条件を初期値として設定する。
【００８３】
また、通信条件設定部５３が、半導体モニタ装置５が起動されたときに、通信条件記憶部５５に記憶された複数の通信条件の中から最適な通信条件を初期値として自動的に選択する構成であってもよい。
【００８４】
尚、通信条件が半導体装置２等の型式と対応づけられて記憶されている場合は、複数の通信条件と型式が対応づけられたリストが表示され、オペレータは型式を参照しながら最適な通信条件を選択することができ、通信条件設定部５３は接続された半導体装置２等の型式と同一の型式と対応づけられた通信条件を自動選択することができる。
【００８５】
上述の説明では、通信条件と対応づけられる情報として電子制御装置３や半導体装置２の型式を挙げているが、これに限らない。例えば、半導体モニタ装置５と半導体装置２との配線の長さを通信条件と対応づけて記憶する構成であってもよい。
【００８６】
上述の構成によれば、実際に構築されたシミュレーションシステム１と同一環境または近い環境の通信条件を選択して、初期値に設定することができる。
【００８７】
通信条件設定部５３は、通信条件の自動変更設定が所定時間または所定回数継続したときに設定不能データを出力する構成であってもよい。
【００８８】
詳述すると、通信条件設定部５３は、自動変更設定において、データ書込み処理部５４による最初の書込み処理の開始、または、データ読出し処理部５２による最初の読出し処理の開始からの時間（または回数）をカウントするカウンタを備えており、データ書込み処理部５４による毎回の書込み処理の開始時、または、データ読出し処理部５２による毎回の読出し処理の開始時に、前記カウンタのカウント値が前記所定時間（または前記所定回数）より大きい場合に、自動変更設定処理を中止して管理装置６等へ設定不能データを出力する。
【００８９】
上述の構成によれば、適正な通信条件を設定することが不可能な状態であるにもかかわらず、通信条件設定部５３が長時間の自動変更設定を繰り返すことを防止することができる。
【００９０】
半導体モニタ装置５は、図２に破線で示すように、通信条件設定部５３に通信条件を外部入力された通信条件に設定する手動設定部５３１を備え、通信条件の自動変更設定が所定時間または所定回数継続したときに手動設定部５３１により通信条件が設定可能に構成されていてもよい。
【００９１】
以下に詳述する。通信条件設定部５３から設定不能データを受け取った管理装置６は、自動変更設定ができなかった旨を表示部に表示して、オペレータに次の処理、例えば、通信設定をキーボード等から入力することによる手動設定、または、通信設定の初期値への設定等を促す。
【００９２】
そして、オペレータが、管理装置６に備えられたキーボードやマウスを使用して通信条件を入力した場合（任意の通信条件の入力、及び、初期値に設定する旨の選択の双方を含む。）、手動設定部５３１は、管理装置６において入力された通信条件を前記外部入力として受け取り、通信インタフェース部５１の通信条件として設定するのである。
【００９３】
上述の構成によれば、自動変更設定ができなかった場合でも、手動設定部５３１によって通信条件が設定可能であるので、何れの通信条件も設定されずに半導体装置２のリソース状態のモニタが不可能になる事態を回避することができる。
【００９４】
尚、以上の説明では、最初は通信条件を自動設定したが所定時間または所定回数以内に設定に成功しなかった場合、つまり通信条件設定部５３が設定不能データを出力した場合のみ、手動設定部５３１により通信条件が手動で設定可能である構成について説明したが、最初から手動設定部５３１により通信条件の手動での設定が可能な構成であってもよい。この場合は、オペレータが、自動設定と手動設定の何れで通信条件を設定するのかを、管理装置６等を操作することによって予め決定しておく。
【００９５】
以下、半導体モニタ装置５による通信条件の設定について、図６に示すフローチャートに基づいて説明する。
【００９６】
通信条件設定部５３は、外部（管理装置６）から自動変更設定開始を要求する制御信号を受信すると（Ｓ１）、通信条件記憶部５５に記憶された過去の通信条件の何れかを初期値として設定する（Ｓ２）。
【００９７】
通信条件設定部５３は、データ書込み処理部５４を制御して、半導体装置２の記憶部２２のアドレス「ｍ」に評価データ「ｎ」を書き込ませる（Ｓ３）。尚、評価データの書込みは、データ書込み処理部５４によってＮＢＤの機能に基づいた書込みコマンドが半導体装置２のＣＰＵ２１へ出力されることによって実行される。
【００９８】
通信条件設定部５３は、図４に示すように半導体装置２のＣＰＵ２１からＲｅａｄｙ信号が応答されることによって、評価データ「ｎ」の書込み処理が成功すると（Ｓ４）、データ読込み処理部５２を制御して、データ書込み処理部５４によってアドレス「ｍ」に書き込まれた評価データ「ｎ」を検証データ「ｎ´」として読み出させる（Ｓ５）。
【００９９】
通信条件設定部５３は、図４に示すように半導体装置２のＣＰＵ２１から検証データが応答されることによって、検証データ「ｎ´」の読出し処理が成功すると（Ｓ６）、データ書込み処理部５４によって書き込まれた評価データ「ｎ」と、データ読出し処理部５２によって読み出された検証データ「ｎ´」とを比較する（Ｓ７）。
【０１００】
そして、通信条件設定部５３は、評価データ「ｎ」と検証データ「ｎ´」が等しければ（Ｓ８）、ステップＳ２で設定した通信条件を、半導体装置２のリソース状態のモニタ処理（つまりデバッグ処理）に使用する通信条件として設定し、この結果を通信条件記憶部５５に保存する（Ｓ９）。
【０１０１】
通信条件設定部５３は、ステップＳ４で評価データ「ｎ」の書込みに失敗した場合、または、ステップＳ６で検証データ「ｎ´」の読出しに失敗した場合、所定回数（Ｍ回またはＮ回）連続して書込みまたは読出しに失敗するまで（Ｓ１０、Ｓ１１）、ステップＳ３またはステップＳ５を繰り返す。
【０１０２】
また、ステップＳ８で評価データ「ｎ」と検証データ「ｎ´」が等しくなかった場合、全ての通信条件の組合せで両データが等しくないことが確認されるまで（Ｓ１３）、通信条件の更新処理を行なう（Ｓ１２）。ここで、全ての通信条件の組合せとは、例えば、予め設定された所定範囲内において所定差分毎に設定された通信条件の各設定値の全ての組合せのことである。
【０１０３】
一方、ステップＳ１０、Ｓ１１で所定回数連続して評価データ「ｎ」の書込みまたは検証データ「ｎ´」の読出しに失敗した場合、または、ステップＳ１３で全ての通信条件の組合せで等しくないことが確認された場合、通信条件設定部５３は、設定不能データを管理装置６に出力する（Ｓ１４）。その場合、オペレータは、管理装置６を操作することで、任意の通信条件の入力または通信条件の初期値への設定を行なう。
【０１０４】
以上説明したとおり、本発明による半導体モニタ装置５の通信条件設定方法は、シリアルクロック信号に同期してコマンドデータを送信し、前記コマンドデータに応答して前記シリアルクロック信号に同期して返信される応答データを受信する通信インタフェース部５１と、通信インタフェース部５１を介して動作中の半導体装置２から受信した応答データに基づいて半導体装置２のリソース状態をモニタする半導体モニタ装置５の通信条件設定方法であって、半導体装置２に備えた記憶部２２から通信インタフェース部５１を介して検証データを読み出すデータ読出し処理ステップ（図６におけるステップＳ５、Ｓ６）と、前記データ読出し処理ステップにより読み出された検証データの真偽に基づいて通信インタフェース部５１の通信条件を自動設定する通信条件設定ステップ（図６におけるステップＳ１、Ｓ２、Ｓ７〜Ｓ１４）を備えている。
【０１０５】
また、本発明による半導体モニタ装置５の通信条件設定方法において、前記通信条件設定ステップは前記検証データが真となるまで繰り返し通信インタフェース部５１の通信条件を自動変更設定する。
【０１０６】
また、本発明による半導体モニタ装置５の通信条件設定方法は、通信インタフェース部５１を介して評価データを記憶部２２に書き込むデータ書込み処理ステップ（図６におけるステップＳ３、Ｓ４）を備え、前記データ読出し処理ステップは前記評価データを前記検証データとして読み出す。
【０１０７】
以下、別実施形態について説明する。上述の実施形態では、記憶部２２に記憶された検証データが固定値である構成について説明したが、前記検証データが半導体装置２により所定サイクルでカウント処理されるカウントデータで構成され、通信条件設定部５３は前記検証データが前記所定サイクルでカウント処理されているか否かに基づいて真偽を判定する構成であってもよい。
【０１０８】
以下に詳述する。本構成の場合、データ書込み処理部５４が評価データ「ｐ」を半導体装置２の記憶部２２の所定アドレス「ｑ」に書き込むと、所定アドレス「ｑ」に書き込まれた評価データ「ｐ」は、カウントデータとして扱われる。つまり、評価データ「ｐ」は所定サイクルでカウント処理（例えばカウントアップ）される。
【０１０９】
通信条件設定部５３は、データ書込み処理部５４が評価データ「ｐ」を所定アドレス「ｑ」に書き込んでから、データ読出し処理部５２が所定アドレス「ｑ」から検証データ「ｐ´」を読み出すまでの時間と、所定サイクルとに基づいて、当該時間での評価データのカウントアップ数を算出する。ここでは、算出されたカウントアップ数を「Ｐ」とする。
【０１１０】
そして、通信条件設定部５３は、データ読出し処理部５２が所定アドレス「ｑ」から読み出した検証データが、評価データ「ｐ」にカウントアップ数「Ｐ」を加えた「ｐ＋Ｐ」であれば、検証データが真であると判断する。
【０１１１】
上述の構成によれば、ノイズ等の影響によって、検証データを読み出すアドレスが、評価データを書き込んだアドレスと異なるアドレスになってしまい、しかも、両アドレスに記憶されていたデータがたまたま同一であるような場合であっても、通信条件設定部５３は、検証データの真偽を適正に判断することができる。
【０１１２】
上述の実施形態では、半導体モニタ装置５は、ＣＰＵ２１の実行中に半導体装置２のリソース状態をモニタするために、ＮＢＤの機能が搭載された半導体装置２に半導体モニタ装置５からＮＢＤのインタフェースに基づいてアクセスする構成について説明したが、ＣＰＵ２１の実行中に半導体装置２のリソース状態をモニタするための方法は、ＮＢＤの機能を用いる方法に限らない。
【０１１３】
例えば、半導体モニタ装置５は、ＡＵＤ（Ａｄｖａｎｃｅｄ  Ｕｓｅｒ  Ｄｅｂｕｇｇｅｒ）の機能が搭載された半導体装置２に半導体モニタ装置５からＡＵＤのインタフェースに基づいてアクセスする構成であってもよい。
【０１１４】
また、ＮＢＤやＡＵＤの機能が搭載されていない半導体装置２を用いる場合であっても、本発明による半導体モニタ装置５を使用することができる。
【０１１５】
この場合の、データ読出し処理部５２による検証データの読出し処理の一例を示したタイムチャートを、図７（ａ）に示す。尚、図７（ａ）は、ＮＢＤの機能を用いた場合の図４のタイムチャートに対応するタイムチャートであり、図４と同様、通信条件はウェイト設定とエッジ設定で構成されている。図７（ａ）では、データ読出し処理部５２による読出しコマンドの送信に対して、ウェイト設定の時間経過後のシリアルクロック信号ＣＬＫの立上りに、半導体装置２のＣＰＵ２１より検証データが応答される。
【０１１６】
また、データ読出し処理部５２による検証データの読出し処理の他の例として、図７（ｂ）のタイムチャートに示すように、通信条件が、読出しコマンドの出力終了時（応答待ち基準点）から検証データの受信までの待ち時間を、時間またはシステムクロック信号のサイクル数として設定されるウェイト設定と、ＣＰＵ２１からの検証データの受信までの時間を、ウェイト設定の時間経過直後からのシステムクロック信号のサイクル数として複数設定される受信位相設定とで構成されていてもよい。
【０１１７】
更に、データ読出し処理部５２による検証データの読出し処理の他の例として、図７（ｃ）のタイムチャートに示すように、通信条件が、読出しコマンドの出力終了時（応答待ち基準点）から検証データの受信までの待ち時間を、時間またはシステムクロック信号のサイクル数として設定されるウェイト設定で構成されており、データ読出し処理部５２は、検証データの受信時に、システムクロックに基づくサンプリングを複数回実行し、多数決で受信値を決定する構成であってもよい。
【０１１８】
尚、図７ではデータ読出し処理部５２について説明したが、データ書込み処理部５４についても同様であることは言うまでもない。
【０１１９】
上述の実施形態では、図３に示すように、データ信号ラインに双方向バッファ５１３、２４３を備えることによって、データ信号ラインの一本毎に、通信インタフェース部５１からモニタインタフェース部２４へのデータ転送、及び、モニタインタフェース部２４から通信インタフェース部５１へのデータ転送が可能な構成について説明したが、図８に示すように、通信インタフェース部５１からモニタインタフェース部２４へのデータ転送に使用する４本のデータ信号ラインＬＡＡＤ０〜ＬＡＡＤ３と、モニタインタフェース部２４から通信インタフェース部５１へのデータ転送に使用する４本のデータ信号ラインＬＢＡＤ０〜ＬＢＡＤ３とを備える構成であってもよい。
【０１２０】
図８のような構成とすることによって、各データ信号ラインＬＡＡＤ０〜ＬＡＡＤ３、ＬＢＡＤ０〜ＬＢＡＤ３には、双方向バッファ５１３、２４３ではなく単方向バッファ５１２、２４２が設けられ、それに伴なって転送方向信号ラインＬＤＩＲは不要となる。
【０１２１】
上述の実施形態では、データ書込み処理部５４は半導体装置２の記憶部２２（ＲＡＭ２２２）に評価データを書き込み、データ読出し処理部５２は半導体装置２の記憶部２２（ＲＡＭ２２２）から検証データを読み出す構成について説明したが、評価データや検証データの記憶場所は記憶部２２（ＲＡＭ２２２）に限らない。
【０１２２】
例えば、評価データや検証データは、半導体装置２に内蔵されたメモリである記憶部２２ではなく、電子制御装置３に備えられた（且つ半導体装置２に備えられていない）ＲＡＭ等のメモリやハードディスク等の記憶媒体、または、電子制御装置３の外部に備えられ電子制御装置３と接続されたＲＡＭ等のメモリやハードディスク等の記憶媒体に記憶される構成であってもよい。
【０１２３】
上述の実施形態では、通信条件記憶部５５は、半導体モニタ装置５に備えられた不揮発性メモリや磁気ディスクである構成について説明したが、通信条件記憶部５５が半導体モニタ装置５に備えられていない構成であってもよい。
【０１２４】
例えば、通信条件記憶部５５は、シミュレータ４のＣＰＵボード４１に備えられたＲＡＭ等のメモリやハードディスク等の記憶媒体、、管理装置６に備えられたＲＡＭ等のメモリやハードディスク等の記憶媒体、またはシミュレータ４の外部に備えられシミュレータ４と接続されたＲＡＭ等のメモリやハードディスク等の記憶媒体である構成であってもよい。
【０１２５】
上述の実施形態では、シミュレーションシステム１は、イーサネット等のネットワークにより相互に接続されたシミュレータ４及び管理装置６を備えた構成について説明したが、シミュレータ４及び管理装置６は一体に構成されていてもよい。
【０１２６】
以下に詳述する。一体に構成されたシミュレータ４及び管理装置６は、例えば、ＯＳの下で動作するアプリケーションプログラムを実行するＣＰＵやメモリが搭載された管理装置６としてのメインボードと、当該メインボードとＰＣＩバス等で接続されるシミュレータ４としての増設ボード等で構成され、それらがケーシングに収容されている。
【０１２７】
ケーシングには、管理装置６の表示部や、管理装置６のキーボード等の代わりとしてのボタンスイッチ等で構成される入力部等が備え付けられており、表示部や入力部はメインボードと接続されている。
【０１２８】
上述した実施形態は、本発明を実現する一実施例を説明するものであり、各部の具体的な構成は、本発明の作用効果を奏する限りにおいて、構築するシステムに応じて適宜変更設計することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１２９】
【図１】本発明によるシミュレーションシステムの機能ブロック構成図
【図２】本発明による半導体モニタ装置の機能ブロック構成図
【図３】双方向の通信線を使用した場合の通信インタフェース部の回路図
【図４】検証データの読出し処理について説明するためのタイムチャート
【図５】（ａ）は、ウェイト設定と受信位相設定からなる通信条件での検証データの読出し処理について説明し、（ｂ）は、サンプリング値の多数決で受信値を決定する方法での検証データの読出し処理について説明するためのタイムチャート
【図６】半導体モニタ装置５による通信条件の設定について説明するためのフローチャート
【図７】（ａ）は、ＮＢＤ機能不使用の場合における検証データの読出し処理の第一の例を説明し、（ｂ）は、ＮＢＤ機能不使用の場合における検証データの読出し処理の第二の例を説明し、（ｃ）は、ＮＢＤ機能不使用の場合における検証データの読出し処理の第三の例を説明するためのタイムチャート
【図８】単方向の通信線を使用した場合の通信インタフェース部の回路図
【符号の説明】
【０１３０】
１：シミュレーションシステム
２：半導体装置
２２：記憶部
３：電子制御装置
４：シミュレータ
５：半導体モニタ装置
５１：通信インタフェース部
５２：データ読出し処理部
５３：通信条件設定部
５３１：手動設定部
５４：データ書込み処理部
５５：通信条件記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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