(57)【要約】【課題】  デバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことが可能な技術を提供する。【解決手段】  本発明はデバイスの動特性を検査する方法として具現化される。その検査方法は、デバイスに入力信号を与える工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えている。その検査方法では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。【選択図】  図１
2009002724.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
デバイスの動特性を検査する方法であって、
デバイスに入力信号を与える工程と、
デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、
デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えており、
デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定されることを特徴とする、検査方法。
【請求項２】
デバイスの動特性を検査する装置であって、
デバイスに入力信号を与える手段と、
デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する手段と、
デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する手段を備えており、
デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定されることを特徴とする、検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はデバイスの動特性を検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動車の電子制御装置（Electronic Control Unit：ＥＣＵ）に備えられるフィルタ回路等のデバイスについての検査装置が知られている。これらのデバイスの検査として、静的な特性についてのみ検査を行うと、デバイスの動作時に発現する不具合を発見することが難しい。従ってこれらのデバイスについては、動的な特性についても適切に検査を行うことが重要である。
【０００３】
特許文献１には、抵抗とコンデンサを備えるローパスフィルタ回路の動特性を検査する技術が開示されている。特許文献１の検査装置によれば、フィルタ回路の動特性が予め定められた正常範囲にあるか否かを判別することによって、フィルタ回路が正常であるか異常であるかを判定し、フィルタ回路の動特性を検査することができる。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−６９３５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
デバイスの動特性の検査を行うにあたっては、検査の基準となる正常範囲を適切に設定しておく必要がある。デバイスの動特性は、デバイスの回路構成や、デバイスを構成する個々の素子の特性に応じて変化するから、その正常範囲は、デバイスの回路構成や個々の素子の特性に応じて個別的に設定しなければならない。
【０００６】
デバイスの動特性の正常範囲は、デバイスを構成する素子それぞれの特性のばらつきを包含するように設定する必要がある。理想的には、公差の範囲内で特性がばらついた素子を多数用意し、それらの素子を用いてデバイスを複数作成しておいて、デバイスの動特性についてのばらつきを取得することで、そのデバイスの動特性の正常範囲を設定することができる。しかしながら、一般に入手可能な素子は、ほとんどが代表値に近い特性を有しており、特性が大きくばらついた素子、すなわち公差の範囲内で最大値や最小値に近い特性を有する素子を選んで入手することは難しい。従って、素子ごとの特性のばらつきを考慮して、適切にデバイスの動特性の正常範囲を設定することは困難であった。より簡素な手法で、デバイスの動特性の正常範囲を適切に設定して、デバイスの動特性の検査を適切に行うことが可能な技術が待望されている。
【０００７】
本発明は上記課題を解決する。本発明はデバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことが可能な技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明はデバイスの動特性を検査する方法として具現化される。その検査方法は、デバイスに入力信号を与える工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する工程と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する工程を備えている。その検査方法では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。
【０００９】
上記の検査方法では、デバイスの動特性の検査において基準となる正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。従って、同型の他のデバイスについての公差倍率が取得されていれば、そのデバイスの代表的な動特性のみを取得することで、その後の検査の基準とする正常範囲を適切に設定することができる。簡素な手法でデバイスの動特性の正常範囲を適切に設定して、デバイスの動特性の検査を適切に行うことができる。
【００１０】
本発明は装置としても具現化される。本発明の装置は、デバイスの動特性を検査する装置である。その検査装置は、デバイスに入力信号を与える手段と、デバイスの出力信号の過渡的な変化を取得する手段と、デバイスの出力信号の過渡的な変化がデバイスの正常範囲に属するか否かを判断して、デバイスの動特性が正常であるか否かを判定する手段を備えている。その検査装置では、デバイスの正常範囲が、そのデバイスの代表的な出力信号の過渡的な変化と、同型のデバイスについての公差倍率に基いて設定される。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の方法および装置によれば、デバイスの動特性の検査を行う際に、正常範囲を適切に設定して、適切な検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の特徴を列記する。
（第１形態）  デバイスはＥＣＵに組み込まれるフィルタ回路である。
【実施例】
【００１３】
（第１実施例）
図１を参照しながら、第１実施例の検査装置１００について説明する。本実施例の検査装置１００は、電子制御装置（Electronic Control Unit：ＥＣＵ）１５０に備えられたフィルタ回路１５２を検査対象とする。
【００１４】
まず、ＥＣＵ１５０の構成を説明する。ＥＣＵ１５０は、自動車等に搭載されるものである。ＥＣＵ１５０は、ＥＣＵ側マイコン１５４と、フィルタ回路１５２と、第１入力端子１５６ａと、第２入力端子１５６ｂと、出力端子１５６ｃ等を備えている。
【００１５】
ＥＣＵ側マイコン１５４は、入出力部１６６と、ＲＯＭ１６０と、ＲＡＭ１６２と、ＣＰＵ１６４を備えている。これらはバスを介して互いに接続されている。入出力部１６６は、入力ポート１６６ａ、割込み入力ポート１６６ｂ、出力ポート１６６ｃを備えている。ＲＯＭ１６０の所定領域には、例えばエンジンへの燃料噴射量を電子制御するための制御プログラムが予め格納されている。また、ＲＯＭ１６０の別の領域には、ＥＣＵ１５０内の異常の有無を検査するためのＥＣＵ検査プログラムが予め格納されている。ＲＡＭ１６２は、ＥＣＵ側マイコン１５４での処理に用いるデータや、処理の結果得られたデータを一時的に格納する等の役割を果たす。ＣＰＵ１６４は、ＲＯＭ１６０に格納された上記制御プログラムやＥＣＵ検査プログラムを実行する役割等を果たす。
【００１６】
フィルタ回路１５２は、ローパスフィルタ回路によって構成されている。具体的には、フィルタ回路１５２は、ＥＣＵ側マイコン１５４の入出力部１６６の出力ポート１６６ｃとＥＣＵ１５０の出力端子１５６ｃの間に設けられた抵抗Ｒと、その抵抗Ｒと出力端子１５６ｃの間に一端が接続され、他端が接地されたコンデンサＣによって構成されている。このフィルタ回路１５２は、ＥＣＵ側マイコン１５４から出力される信号のノイズ成分（高周波成分）をカットする役割を果たす。
【００１７】
ＥＣＵ側マイコン１５４の入出力部１６６の入力ポート１６６ａは、ＥＣＵ１５０の第１入力端子１５６ａに接続されている。割込み入力ポート１６６ｂは、ＥＣＵ１５０の第２入力端子１５６ｂに接続されている。出力ポート１６６ｃは、フィルタ回路１５２を介してＥＣＵ１５０の出力端子１５６ｃに接続されている。
【００１８】
次に、検査装置１００の構成を説明する。検査装置１００は、検査装置側マイコン１０２と、ＡＤ変換ボード１０４と、ディスプレイ１０６と、操作部１０８と、第１出力端子１１０ａと、第２出力端子１１０ｂと、入力端子１１０ｃ等を備えている。
【００１９】
検査装置側マイコン１０２は、入出力部１１８と、ＲＯＭ１１２と、ＲＡＭ１１４と、ＣＰＵ１１６を備えている。これらはバスを介して互いに接続されている。ＲＯＭ１１２の所定領域には、ＥＣＵ１５０内の異常の有無を検査するためのＥＣＵ検査プログラムが予め格納されている。ＲＡＭ１１４は、検査装置側マイコン１０２での処理に用いるデータや、処理の結果得られたデータを格納する等の目的で用いられる。ＣＰＵ１１６は、ＲＯＭ１１２に格納されたＥＣＵ検査プログラムを実行する役割等を果たす。
【００２０】
ＡＤ変換ボード１０４は、その入力端子１０４ａが検査装置１００の入力端子１１０ｃに接続されており、その出力端子１０４ｂが検査装置側マイコン１０２の入出力部１１８の第１入力ポート１１８ｃに接続されている。ＡＤ変換ボード１０４は、ＥＣＵ１５０のフィルタ回路１５２から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換して、フィルタ回路１５２の出力信号から得られるデータを検査装置側マイコン１０２で処理可能にする役割を果たす。ディスプレイ１０６は、検査装置側マイコン１０２の入出力部１１８の第３出力ポート１１８ｅに接続されている。ディスプレイ１０６は、検査装置側マイコン１０２に格納されたデータや、検査装置側マイコン１０２で処理されたデータ等を、検査装置１００の使用者に表示する役割を果たす。操作部１０８は、検査装置側マイコン１０２の入出力部１１８の第２入力ポート１１８ｄに接続されている。操作部１０８は、検査装置１００の使用者が手動で各種設定を行う際に用いられる。
【００２１】
検査装置側マイコン１０２の入出力部１１８の第１出力ポート１１８ａは、検査装置１００の第１出力端子１１０ａに接続されている。第２出力ポート１１８ｂは、検査装置１００の第２出力端子１１０ｂに接続されている。先に述べたＥＣＵ１５０の第１入力端子１５６ａ、第２入力端子１５６ｂおよび出力端子１５６ｃは、ケーブルを介して、検査装置１００の第１出力端子１１０ａ、第２出力端子１１０ｂおよび入力端子１１０ｃにそれぞれ接続されている。
【００２２】
検査装置１００の使用者がＥＣＵ１５０に検査装置１００を接続した後、操作部１０８を操作して検査処理の開始の設定を行うと、検査装置１００はフィルタ回路１５２の検査を開始する。本実施例の検査処理では、フィルタ回路１５２にステップ信号が入力されたことに起因してフィルタ回路１５２から出力される信号の過渡的な変化、すなわちフィルタ回路１５２の動特性を検査する。
【００２３】
検査が開始されると、検査装置側ＣＰＵ１１６はまず、ＥＣＵ側マイコン１５４が出力ポート１６６ｃにステップ信号を出力するように指令する指令信号を、検査装置側マイコン１０２の第１出力ポート１１８ａから出力させる。この指令信号は、ＥＣＵ側マイコン１５４の入力ポート１６６ａに入力される。
【００２４】
次に、検査装置側マイコン１０２のＣＰＵ１１６は、ＥＣＵ側マイコン１５４が割込み処理を行うように指令する指令信号を、検査装置側マイコン１０２の第２出力ポート１１８ｂから出力させる。割込み指令信号は、ＥＣＵ側マイコン１５４の割込み入力ポート１６６ｂに入力される。
【００２５】
ＥＣＵ側マイコン１５４では、割込み入力ポート１６６ｂに割込み指令信号が入力されたときに入力ポート１６６ａにも指令信号が入力されている場合は、割込み処理を行って、出力ポート１６６ｃからステップ信号を直ちに出力させる。このステップ信号がフィルタ回路１５２を通過することで、過渡的に変化するフィルタ出力信号が、ＡＤ変換ボード１０４で逐次サンプリングされてアナログ信号からデジタル信号に変換される。そして、サンプリングの各タイミングｔ１〜ｔｎにおいて、フィルタ出力信号の振幅電圧値データＶ１〜Ｖｎが、検査装置側マイコン１０２の第１入力ポート１１８ｃに入力される。
【００２６】
検査装置側マイコン１０２のＣＰＵ１１６では、各タイミングｔ１〜ｔｎ毎に、第１入力ポート１１８ｃに入力されたフィルタ出力信号の振幅電圧値データＶ１〜Ｖｎを時間に関して積分して、振幅電圧の積分値データＳ１〜Ｓｎを生成している。そして、各タイミングｔ１〜ｔｎ毎の、振幅電圧値データＶ１〜Ｖｎと、振幅電圧の積分値データＳ１〜Ｓｎを、互いに関連付けてＲＡＭ１１４に格納する。
【００２７】
本実施例の検査装置１００では、振幅電圧の積分値Ｓ１〜Ｓｎをパラメータとして、振幅電圧値Ｖ１〜Ｖｎが正常範囲にあるか否かを判定する。フィルタ回路１５２からステップ応答信号が出力されていない状態では、検査装置側マイコン１０２で演算される振幅電圧の積分値はある長さの時間範囲でみれば基本的にはゼロである。雑音が生じるといっても、白色雑音は振幅値ゼロを中心とするガウス分布を示すので、積分するとゼロとなる。一方、フィルタ回路１５２にステップ信号が入力されたことに起因して、フィルタ回路１５２からステップ応答信号が出力された場合、その振幅値は常に正の値となる。従って、検査装置側マイコン１０２では、振幅電圧の積分値が正の値となることで、ステップ応答信号が入力されていることがわかるのみならず、その積分値から、どのような状態のステップ応答信号が入力されているかということもわかる。振幅値が常に正の値であれば、ステップ応答信号の振幅電圧値と、その振幅電圧の積分値は一対一に対応するからである。
【００２８】
すなわち、本実施例の検査装置１００のように、振幅電圧の積分値Ｓ１〜Ｓｎをパラメータとして、振幅電圧値Ｖ１〜Ｖｎが正常範囲にあるか否かを判定する構成とすると、動特性の検査において問題となるタイミングのずれの影響を回避することができる。図５に示すように、時刻ｔ１〜ｔｎをパラメータとして、振幅電圧値Ｖ１〜Ｖｎが正常範囲にあるか否かを判定する構成とすると、検査装置１００の検査装置側マイコン１０２が認識しているタイミングと、ＥＣＵ１５０のＥＣＵ側マイコン１５４からフィルタ回路１５２にステップ信号が出力されるタイミングとの間でずれΔＴが生じたときに、本来的には正常範囲にあるフィルタ回路１５２についても、異常と判定されてしまう場合がある。しかしながら、図２に示すように、振幅電圧の積分値Ｓ１〜Ｓｎをパラメータとして、振幅電圧値Ｖ１〜Ｖｎが正常範囲にあるか否かを判定する構成とすると、上記のタイミングのずれの有無に関わらず、フィルタ回路１５２の動特性を適切に検査することが可能となる。
【００２９】
検査装置側マイコン１０２のＲＡＭ１１４には、振幅電圧の積分値と、その積分値の時点における振幅電圧の正常範囲（すなわち上限値Ｖ１Ｕ〜ＶｎＵと下限値Ｖ１Ｄ〜ＶｎＤ）を対応付けたデータテーブルが、予め格納されている。図３に振幅電圧の積分値と振幅電圧の正常範囲の対応を示すデータテーブルを例示する。
【００３０】
検査装置側マイコン１０２のＣＰＵ１１６は、ＲＡＭ１１４に格納された振幅電圧値データＶ１と振幅電圧の積分値データＳ１を抽出して、振幅電圧の積分値Ｓ１に対応して定められている上限値Ｖ１Ｕと下限値Ｖ１Ｄの間にあるか否かを判定する。図２に示すように、振幅電圧値Ｖ１が上限値Ｖ１Ｕと下限値Ｖ１Ｄの間にある場合には、振幅電圧の積分値Ｓ１における振幅電圧値Ｖ１は正常範囲内にあると判定される。この判定結果データ（正常範囲内にある又は正常範囲内にないことを示すデータ）は、振幅電圧の積分値Ｓ１に対応付けてＲＡＭ１１４に格納される。
【００３１】
上記の判定処理を、振幅電圧の積分値データＳ２〜Ｓｎについても繰返し行う。この結果、ＲＡＭ１１４には、振幅電圧の積分値データがＳ１〜Ｓｎの場合の各々の振幅電圧値Ｖ１〜Ｖｎが、正常範囲内にあるか否かの判定結果データが格納される。
【００３２】
その後、検査装置側マイコン１０２のＣＰＵ１１６は、これらの判定結果データ群に基づいて、フィルタ回路１５２の正常・異常を判定する。判定の結果は、ディスプレイ１０６上で使用者に表示される。
【００３３】
以下では検査装置１００における、フィルタ回路１５２の振幅電圧の正常範囲Ｖ１Ｕ〜ＶｎＵおよびＶ１Ｄ〜ＶｎＤの設定手法について説明する。本実施例では、検査処理を行う前の段階で、正常範囲の設定用に、特性のばらつきがほとんどない理想的な抵抗ＲとコンデンサＣを備える理想的なフィルタ回路１５２を用意して、検査装置１００によってその動特性を取得しておく。そして、取得された動特性をフィルタ回路１５２の代表的な動特性として、代表的な動特性に公差倍率として上限倍率と下限倍率を乗ずることで、上限値と下限値を設定する。理想的なフィルタ回路１５２は、理想的な抵抗値に近い抵抗値を有する抵抗Ｒと、理想的な容量値に近い容量値を有するコンデンサＣを備えている。本実施例の検査装置１００は、この理想的なフィルタ回路１５２について、振幅電圧値データと振幅電圧の積分値データの対応関係を事前に取得し、フィルタ回路１５２の代表的な動特性としてＲＡＭ１１４に格納しておく。そして、ＲＡＭ１１４に格納された上限倍率データと下限倍率データを用いて、振幅電圧の積分値ごとに、振幅電圧値に上限倍率を乗じて振幅電圧の上限値を生成し、電圧振幅値に下限倍率を乗じて振幅電圧の下限値を生成する。図４に電圧振幅値の上限値と下限値を計算する様子を示している。振幅電圧の上限値と下限値は、振幅電圧の積分値と関連付けられて、正常範囲データとしてＲＡＭ１１４に格納される。正常範囲データがＲＡＭ１１４に格納されると、理想的なフィルタ回路１５２と同じ仕様で製造されるフィルタ回路１５２について、上述した検査処理によって、動特性の検査を行うことができる。
【００３４】
上限倍率データと下限倍率データは、同型のフィルタ回路１５２に関して、共通して用いられる。ここでいう同型のフィルタ回路とは、回路構成が共通しているものの、それぞれの素子の特性が相違するフィルタ回路のことをいう。例えば、フィルタ回路１５２は抵抗ＲとコンデンサＣからなるローパルフィルタ回路であるから、フィルタ回路１５２と同型のフィルタ回路という場合には、抵抗ＲとコンデンサＣからなるローパスフィルタ回路であって、抵抗Ｒの抵抗値とコンデンサＣの容量値がフィルタ回路１５２とは異なるもの、すなわち過渡応答の時定数が異なるものをいう。
【００３５】
以下では検査装置１００における、上限倍率データと下限倍率データの生成手法について説明する。上限倍率データと下限倍率データは、抵抗値の規格値が所定値である抵抗Ｒと、容量値の規格値が所定値であるコンデンサＣを備えるフィルタ回路１５２に関して、事前に取得される。本実施例では、公差の範囲内で抵抗値がばらついた抵抗Ｒと、公差の範囲内で容量値がばらついたコンデンサＣをそれぞれ複数用意して、これらの抵抗ＲとコンデンサＣからなるフィルタ回路１５２を複数製造しておく。そして、検査装置１００を用いて振幅電圧値と振幅電圧の積分値との対応関係を各フィルタ回路１５２について取得し、フィルタ回路１５２の動特性のばらつきを取得する。そして、フィルタ回路１５２の動特性のばらつきを包含するように、振幅電圧の最大値と、振幅電圧の最小値を、振幅電圧の積分値ごとに設定する。また、各フィルタ回路１５２の動特性の取得結果から、振幅電圧の代表値についても、振幅電圧の積分値ごとに取得する。その後、振幅電圧の積分値ごとに、振幅電圧の上限値を振幅電圧の代表値で除することで、振幅電圧の積分値ごとの上限倍率が生成される。また、振幅電圧の積分値ごとに、振幅電圧の下限値を振幅電圧の代表値で除することで、振幅電圧の積分値ごとの下限倍率が生成される。上記のように生成された上限倍率と下限倍率は、上限倍率データと下限倍率データとして、ＲＡＭ１１４に格納される。上限倍率データと下限倍率データがＲＡＭ１１４に格納されると、その後は同型のフィルタ回路に関しての正常範囲の設定と動特性の検査が可能となる。
【００３６】
一般に、デバイスの動特性を検査する際の基準となる正常範囲は、そのデバイスを構成する素子それぞれの特性のばらつきを包含するように設定する必要がある。理想的には、公差の範囲内で特性がばらついた素子を多数用意し、それらの素子を用いてデバイスを複数作成しておいて、デバイスの動特性についてのばらつきを取得することで、そのデバイスの動特性の正常範囲を設定することができる。しかしながら、一般に入手可能な素子は、ほとんどが代表値に近い特性を有しており、特性が大きくばらついた素子、すなわち公差の範囲内で最大値や最小値に近い特性を有する素子を選んで入手することは難しい。従って、素子ごとの特性のばらつきを考慮して、適切にデバイスの動特性の正常範囲を設定することは困難であった。
【００３７】
本実施例の検査装置１００では、抵抗値の規格値が所定値である抵抗Ｒと容量値の規格値が所定値であるコンデンサＣを備えるフィルタ回路１５２に関して、上限倍率データと下限倍率データを取得している。従って、同型のフィルタ回路については、代表的な動特性のみを取得すれば、フィルタ回路の動特性の正常範囲を適切に設定することができ、フィルタ回路の動特性を適切に検査することができる。少ない労力で短期間に適切な検査基準を設定して、フィルタ回路の動特性の検査を効率よく行うことができる。
【００３８】
なお本実施例では抵抗ＲとコンデンサＣを備えるフィルタ回路１５２を検査する場合について説明したが、ＥＣＵが備える他のデバイスについても同様の手法によって検査することが可能である。例えば、電源電流監視回路や、電源電圧安定化回路、昇降圧回路、スイッチ入力回路等の動特性を検査する際に、本実施例と同様の手法によって動特性の正常範囲を設定して、これらのデバイスの動特性の検査を行うことができる。
【００３９】
本明細書において「手段」とは、ハードウェアに限られず、各手段の機能がソフトウェアによって実現される場合も含む。さらに、１つの手段の機能が２つ以上のハードウェア又はソフトウェアによって実現されていても、あるいは、２つ以上の手段の機能が１つのハードウェア又はソフトウェアによって実現されていてもよい。
【００４０】
以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示に過ぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。
また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は複数目的を同時に達成し得るものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】図１は検査装置１００の回路構成を示す図である。
【図２】図２は振幅電圧値と振幅電圧の積分値との関係を示す図である。
【図３】図３は振幅電圧の積分値と振幅電圧の正常範囲を関連付けたデータテーブルを例示する図である。
【図４】図４は振幅電圧の積分値ごとに、代表的な振幅電圧値と公差倍率に基いて、振幅電圧の上限値と下限値が計算される様子を示す図である。
【図５】図５は振幅電圧値と時刻との関係を示す図である。
【符号の説明】
【００４２】
１００：検査装置
１０２：検査装置側マイコン
１０４：ＡＤ変換ボード
１０４ａ：入力端子
１０４ｂ：出力端子
１０６：ディスプレイ
１０８：操作部
１１０ａ、１１０ｂ：出力端子
１１０ｃ：入力端子
１１２：ＲＯＭ
１１４：ＲＡＭ
１１６：ＣＰＵ
１１８：入出力部
１１８ｃ、１１８ｄ：入力ポート
１１８ａ、１１８ｂ、１１８ｅ：出力ポート
１５０：ＥＣＵ
１５２：フィルタ回路
１５４：ＥＣＵ側マイコン
１５６ａ、１５６ｂ：入力端子
１５６ｃ：出力端子
１６０：ＲＯＭ
１６２：ＲＡＭ
１６４：ＣＰＵ
１６６：入出力部
１６６ａ：入力ポート
１６６ｂ：割込み入力ポート
１６６ｃ：出力ポート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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