(57)【要約】【課題】保護継電器の点検を行う際に、遮断回路ロックスイッチの開放を失念することがないようにして、変電所に停電が発生することを確実に防止すること。【解決手段】電流試験端子装置は、保護継電器の点検を行う際に用いられ、保護継電器を電流回路から開放するために用いられる。電流試験端子装置は、保護継電器に接続されるテストターミナル３１と、テストターミナルに挿入され保護継電器を電流回路から開放する電流試験端子と、地絡過電流継電器の誤動作を防止するため遮断回路をロックするロックスイッチ３５とを有している。テストターミナルの一面には前記電流試験端子が挿入されるプラグ挿入口１９が形成され、テストターミナルにはプラグ挿入口を開閉する扉部３２が備えられ、扉部を開いてプラグ挿入口を露出させた際ロックスイッチが開放される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
保護継電器の点検を行う際に用いられ、前記保護継電器を電流回路から開放するために用いられる電流試験端子装置であって、
前記保護継電器に接続されるテストターミナルと、
前記テストターミナルに挿入され前記保護継電器を前記電流回路から開放する電流試験端子と、
地絡過電流継電器の誤動作を防止するため遮断回路をロックするロックスイッチとを有し、
前記テストターミナルの一面には前記電流試験端子が挿入されるプラグ挿入口が形成されており、
前記テストターミナルには前記プラグ挿入口を開閉する扉部が備えられ、
前記扉部を開いて前記プラグ挿入口を露出させた際前記ロックスイッチが開放されるようにしたことを特徴とする電流試験端子装置。
【請求項２】
前記扉部には前記ロックスイッチを構成する第１のロック端子が設けられ、
前記テストターミナルには前記ロックスイッチを構成する第２のロック端子が設けられており、
前記扉部が開かれた際前記第１のロック端子が前記第２のロック端子から離れて前記ロックスイッチが開放されるようにしたことを特徴とする請求項１記載の電流試験端子装置。
【請求項３】
前記扉部は前記テストターミナルに対して所定の軸回りに回動可能に取り付けられており、
前記扉部には該扉部を前記テストターミナルに保持する保持部が形成され、
前記扉部を開く際には前記保持部を解除状態とすることを特徴とする請求項１又は２記載の電流試験端子装置。
【請求項４】
前記扉部にはシャッター部が設けられ、前記シャッター部の操作によって前記扉部を閉じた状態で前記プラグ挿入口を露出させるようにしたことを特徴とする請求項１〜３いずれか１項記載の電流試験端子装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、保護継電器を点検する際に用いられる電流試験端子装置に関し、特に、保護継電器を電流回路から開放する際に用いられる電流試験端子装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、変電所などでは、電力系統の異常現象を検出すると、遮断器等の主器（開閉器）によって、故障区間を遮断して正常な系統や機器に異常現象が波及することを防ぐ保護継電器が設置されている。そして、保護継電器は送電停止を行なわずに点検を行う必要があるため、継電器の点検や工事などで遮断器が不用意に動作して停電しないようする必要がある。
【０００３】
従来、保護継電器を点検する際には、例えば、四極の電流試験端子を用いて保護継電器を電流回路から開放しており、さらに、電流回路を開放する際には、電流試験端子の接触のバラツキに起因して、零相回路に設けられた地絡過電流継電器が誤動作することを防止するため、電流試験端子の挿入前に遮断回路ロックスイッチを開放する必要がある。
【０００４】
ところで、保護継電器には、テストターミナルが接続されており、保護継電器の試験を行う際には、テストターミナルに電流試験端子（テストプラグ）を挿入する。図８は受電盤２１を正面から示す図であり、図示の例では、受電盤２１は受電盤筐体２２を有し、受電盤筐体２２には、電力系統別にそれぞれ保護継電器２３及び２４が備えられ、さらに、故障表示ユニット２５及び２６が備えられている。
【０００５】
また、受電盤筐体２２には電力系統に対応して複数の遮断回路ロックスイッチ２７が設けられるとともに、テストプラグが接続されるプラグ挿入口１９が設けられている。つまり、前述のテストターミナルにはプラグ挿入口１９が設けられ、通常の場合、このプラグ挿入口１９には、着脱可能にターミナル蓋部１２（図１０参照）が嵌め込まれている。
【０００６】
図９は保護継電器２３と遮断回路ロックスイッチ２７との接続関係を示す図であり、図示のように、保護継電器２３には遮断回路ロックスイッチ２７が接続され、さらにテストターミナル１１が接続されている。そして、保護継電器２３の点検を行う際には、後述するように、テストターミナル１１にテストプラグ１５（図１２参照）が挿入される。
【０００７】
図１０（ａ）はテストターミナル１１を正面からみた図、図１０（ｂ）はテストターミナル１１の一部を省略して側面から見た図である。図１０（ａ）及び（ｂ）に示すように、テストターミナル１１はターミナル筐体部１３を有し、その前面にはプラグ挿入口１９（図１２参照）が形成され、後面には複数の端子１４が設けられている。そして、テストターミナル１１のプラグ挿入口には、ターミナル蓋部１２が着脱可能に嵌め込まれている。
【０００８】
保護継電器２３を点検する際には、まず、受電盤に設けられた遮断回路ロックスイッチ２７を開放する。その後、ターミナル蓋部１２を取り外して、プラグ挿入口１９を露出させる。
【０００９】
図１１（ａ）はテストプラグ１５を上面側から見た図であり、図１１（ｂ）はテストプラグ１５を側面側から見た図である。図１１（ａ）及び（ｂ）に示すように、テストプラグ１５はテストプラグ筐体１６を有し、その前面には複数の端子部（図示の例では４つの端子部）１７が備えられ、これら端子部１７のそれぞれは前部端子１７ａ及び後部端子１７ｂで構成されている。また、テストプラグ筐体１６の後面には４本の挿入端子（プラグ部）１８が設けられている。
【００１０】
上述のようにして、プラグ挿入口１９を露出させた後、挿入端子１８をプラグ挿入口１９に挿入し、図１２に示すように、テストターミナル１１にテストプラグ１５を装着する。
【００１１】
一方、遮断器の開放動作をチェックするため、トリップブロック端子を、継電器側と遮断機側との間に設けるようにしたものがあり、このトリップブロック端子は本体とプラグとを有している。
【００１２】
ここでは、本体に保護継電器側に接続される第１の本体端子と遮断器側に接続される第２の本体端子とを設け、プラグに、第１及び第２のプラグ端子と、第１のプラグ端子と第２のプラグ端子との間に電気的に接続された発光素子と、第１の本体端子と第２の本体端子とに接触可能な短絡導電部とを設けている。そして、第１の装着状態において、第１及び第２の本体端子の一方と第１のプラグ端子、他方と第２のプラグ端子とをそれぞれ接触させ、第２の装着状態において、第１及び第２の本体端子を短絡導電部に接触させるようにしている（特許文献１）。
【００１３】
【特許文献１】特開２００６−３３３６５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
上述したように、保護継電器を点検する際には、テストプラグをテストターミナルに挿入することになるが、その前に、遮断回路ロックスイッチを開放しておく必要がある。ところが、受電盤などに設けられた遮断回路ロックスイッチの開放を失念してしまうと、テストプラグをテストターミナルに挿入する際に不可避的に生じる挿入端子の接触ばらつきに起因して、地絡過電流継電器が動作してしまうことがある。
【００１５】
そして、地絡過電流継電器が動作すると、遮断回路が形成されて、変電所に停電が発生してしまうという重大な問題が発生してしまう。
【００１６】
本発明は、保護継電器の点検を行う際に、遮断回路ロックスイッチの開放を失念することがなく、従って変電所に停電が発生することを確実に防止することのできる電流試験端子装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
（１）  本発明は、保護継電器の点検を行う際に用いられ、前記保護継電器を電流回路から開放するために用いられる電流試験端子装置であって、前記保護継電器に接続されるテストターミナルと、前記テストターミナルに挿入され前記保護継電器を前記電流回路から開放する電流試験端子と、地絡過電流継電器の誤動作を防止するため遮断回路をロックするロックスイッチとを有し、前記テストターミナルの一面には前記電流試験端子が挿入されるプラグ挿入口が形成されており、前記テストターミナルには前記プラグ挿入口を開閉する扉部が備えられ、前記扉部を開いて前記プラグ挿入口を露出させた際前記ロックスイッチが開放されるようにしたことを特徴とするものである。
【００１８】
（１）に記載の電流試験端子装置では、テストターミナルにプラグ挿入口を開閉する扉部を設けて、この扉部を開いてプラグ挿入口を露出させた際、ロックスイッチが開放されるようにしたので、保護継電器の点検を行う際に、電流試験端子をプラグ挿入口に挿入する場合には、必ず扉部が開かれてロックスイッチが開放されることになるから、遮断回路のロックスイッチの開放を失念することがなく、よって、変電所に停電が発生することを確実に防止することができる。
【００１９】
（２）  本発明は、（１）に記載の電流試験端子装置において、前記扉部には前記ロックスイッチを構成する第１のロック端子が設けられ、前記テストターミナルには前記ロックスイッチを構成する第２のロック端子が設けられており、前記扉部が開かれた際前記第１のロック端子が前記第２のロック端子から離れて前記ロックスイッチが開放されるようにしたことを特徴とするものである。
【００２０】
（２）に記載の電流試験端子装置では、第１及び第２のロック端子の離間によってロックスイッチを開放するようにしたので、扉部の開閉に応じて簡単な構成でロックスイッチの開放を行うことができる。なお、この遮断回路には遮断電流が流れるため、ロックスイッチの接点が接触不良を起こさないよう、ロックスイッチに、所定の接触圧を持たせることが好ましい。
【００２１】
（３）  本発明は、（１）又は（２）に記載の電流試験端子装置において、前記扉部は前記テストターミナルに対して所定の軸回りに回動可能に取り付けられており、前記扉部には該扉部を前記テストターミナルに保持する保持部が形成され、前記扉部を開く際には前記保持部を解除状態とすることを特徴とするものである。
【００２２】
（３）に記載の電流試験端子装置では、保持部を解除状態とした場合にのみ扉部を開くことできるので、不用意に扉部が開かれてしまうことがない。
【００２３】
（４）  本発明は、（１）〜（３）のいずれかに記載の電流試験端子装置において、前記扉部にはシャッター部が設けられ、前記シャッター部の操作によって前記扉部を閉じた状態で前記プラグ挿入口を露出させるようにしたことを特徴とするものである。
【００２４】
（４）に記載の電流試験端子装置では、シャッター部の操作によって扉部を閉じた状態でプラグ挿入口を露出させるようにしたので、必要に応じてロックスイッチを開放した状態としないで、保護継電器の点検を行うことができる。
【発明の効果】
【００２５】
以上のように、本発明によれば、テストターミナルにプラグ挿入口を開閉する扉部を設けて、この扉部を開いてプラグ挿入口を露出させた際、ロックスイッチが開放されるようにしたので、電流試験端子をプラグ挿入口に挿入する時、必ず扉部が開かれてロックスイッチが開放されることになり、ロックスイッチの開放を失念することがなく、変電所に停電が発生することを確実に防止することができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明の実施形態による電流試験端子装置（テストプラグ装置）の一例について図面を参照して説明する。なお、ここでは、変電所に備えられた保護継電器の点検を行う際に用いられるテストプラグ装置について説明する。
【００２７】
図１（ａ）を参照すると、本発明の実施の形態によるテストプラグ装置３０はテストプラグ（図示せず）と、テストターミナル３１とを有しており、図８に示す受電盤において、テストターミナル１１と遮断回路ロックスイッチ２７とが別に設けられていたが、図１（ａ）には示すテストターミナル３１には遮断回路ロックスイッチ（以下単にロックスイッチと呼ぶ）３５が設けられている。
【００２８】
図１に示すように、テストターミナル３１は、ターミナル筐体部１３を有し、その前面にはプラグ挿入口（図示せず）が形成され、後面には複数の端子（図示せず）が設けられている。ターミナル筐体部１３の前面には扉部３２が配設され、この扉部３２は蝶兆３３回りに回動可能にターミナル筐体部１３に取り付けられている。つまり、扉部３２はターミナル筐体部１３に開閉可能に取り付けられている。
【００２９】
通常の状態では、扉部３２は取り付けねじ（保持部）３４によってターミナル筐体部１３に固定されており、取り付けねじ３４を緩めると、取り付けねじ３４がターミナル筐体部１３から外れて、扉部３２が開閉可能となる。そして、扉部３２を開いた状態とすると、ターミナル筐体部１３に形成されたプラグ挿入口が露出する。
【００３０】
図１（ｂ）は扉部３２を分解して示す斜視図であり、図１（ｂ）において、扉部３２は第１の板部３２ａ及び第２の板部３２ｂを有しており、第２の板部３２ｂには、ロックスイッチ３５を構成する第１のロック端子３５ａが取り付けられ、ターミナル筐体部１３にはロックスイッチ３５を構成する凹状の第２のロック端子３５ｂが取り付けられている。
【００３１】
また、第１及び第２の板部３２ａ及び３２ｂには、取り付けねじ３４を挿通するねじ穴３４ａが形成されており、ターミナル筐体部１３には取り付けねじ３４を受けるねじ受け部３４ｂが取り付けられている。なお、第１の板部３２ａ及び第２の板部３２ｂは接合されている。
【００３２】
扉部３２を閉じた状態では、図１（ａ）に示すように、第１のロック端子３５ａが第２のロック端子３５ｂに挿入された状態となり、ロックスイッチ３５は閉成された状態となる。
【００３３】
一方、保護継電器２３を点検する際には、取り付けねじ３４を緩めて、扉部３２を開き、プラグ挿入口１９を露出させる。扉部３２を開いた際には、図２に示すように、第１のロック端子３５ａが第２のロック端子３５ｂから外れて、ロックスイッチ３５が開放されることになる。つまり、保護継電器２３を点検する際には、必ず扉部３２を開くことになるから、必ずロックスイッチ３５が開放されることになって、結果的にロックスイッチ３５の開放を失念することがない。
【００３４】
そして、上述のようにして、扉部３２を開いた後、テストプラグをプラグ挿入口１９に挿入する。
【００３５】
なお、テストプラグ挿入後、保護継電器を使用する場合は図３に示すテストプラグ５０を使用する。
【００３６】
図３（ａ）及び（ｂ）に示すように、テストプラグ筐体１６の上面には、ロックスイッチ５１が配設されている。ロックスイッチ５１は、テストプラグ５０がテストターミナル３１のプラグ挿入口１９に挿入されると、遮断回路側ロックスイッチすなわち第２のロック端子３５ｂに接続される。テストプラグ５０がプラグ挿入口１９に挿入される際には、ロックスイッチ５１はロック状態とされ、プラグ挿入口１９に挿入される。そして、電圧チェックの後、ロックスイッチ５１を操作してロック状態を解除する。
【００３７】
図４を参照して、本発明の実施の形態によるテストプラグ装置３０の他の例について説明する。図４において、図１に示すテストプラグ装置３０と同一の構成要素については同一の参照番号を付し説明を省略する。
【００３８】
図４（ａ）及び図４（ｂ）に示すように、扉部３２において、第１及び第２の板部３２ａ及び３２ｂには、プラグ挿入口１９に対応する開口部４０ａ及び４０ｂがそれぞれ形成されている。さらに、第１の板部３２ａと第２の板部３２ｂとの間にはシャッター板４１が配置されている。
【００３９】
シャッター板４１には、つまみ部４１ａが形成され、このつまみ部４１ａは開口部４０ａの外方に突出している。また、シャッター板４１には、径方向に延びる切り込み部４１ｂが形成されており、この切り込み部４１ｂを取り付けねじ３４が通過する。
【００４０】
図４（ａ）において、シャッター板４１は、実線矢印方向に移動可能に第１及び第２の板部３２ａ及び３２ｂ間に配設されており、つまみ部４１ａを上方に持ち上げると、シャッター板４１は上方に移動する。そして、つまみ部４１ａを離すと、シャッター板４１は自重によって降下して、元の位置（通常位置）に戻る。
【００４１】
シャッター板４１が通常位置にある際には、開口部４０ｂはシャッター板４１に覆われた（塞がれた）状態にあり、シャッター板４１を上昇させると、開口部４０ｂが露出する。つまり、開口部４０ａ及び４０ｂを通してプラグ挿入口１９が見える状態となる。なお、取り付けねじ３４は切り込み部４１ｂを通過しているので、シャッター板４１の昇降に取り付けねじ３４が邪魔になることはない。
【００４２】
扉部３２を閉じた状態では、図４（ａ）に示すように、第１のロック端子３５ａが第２のロック端子３５ｂに挿入された状態となり、ロックスイッチ３５は閉成された状態となる。
【００４３】
一方、保護継電器２３を点検する際には、取り付けねじ３４を緩めて、扉部３２を開き、プラグ挿入口１９を露出させる。扉部３２を開いた際には、図５に示すように、第１のロック端子３５ａが第２のロック端子３５ｂから外れて、ロックスイッチ３５が開放されることになる。つまり、保護継電器２３を点検する際に、扉部３２を開けば、必ずロックスイッチ３５が開放されることになる。
【００４４】
なお、ロックスイッチ３５をロックしないで（つまり、開放しないで）、保護継電器２３の点検を行う場合には、図６に示すように、つまみ部４１ａによってシャッター板４１を持ち上げれば、開口部４０ｂを介してプラグ挿入口１９が露出することになり、開口部４０ａ及び４０ｂを介してテストプラグをプラグ挿入口１９に挿入する。
【００４５】
ところで、図４で説明したテストターミナル３１を用いる際には、図７（ａ）及び（ｂ）に示すテストプラグ５０を用いることが望ましい。図７（ａ）及び（ｂ）において、図１１（ａ）及び（ｂ）で説明したテストプラグと同一の構成要素については同一の参照番号を付し説明を省略する。
【００４６】
図７（ａ）及び（ｂ）に示すように、テストプラグ筐体１６の上面には、ロックスイッチ５１が配設されており、テストプラグ５０をテストターミナル３１のプラグ挿入口１９に挿入した際には、ロックスイッチ５１は遮断回路側ロックスイッチ５２に接続される。この際、つまり、テストプラグ５０をプラグ挿入口１９に挿入する際には、ロックスイッチ５１をロック状態として、プラグ挿入口１９に挿入する。そして、電圧チェックの後、ロックスイッチ５１を操作してロック状態を解除する。
【００４７】
なお、ロック状態を解除する際の電圧チェックは、ロックスイッチ５１で行うようにすればよい。このように、シャッター板４１を設けた場合において、シャッター板４１を持ち上げてテストプラグ５０をプラグ挿入口１９に挿入する際においても、テストプラグ５０に設けられたロックスイッチ５１によってロック状態とされるから、ロックスイッチの開放を失念する恐れはない。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施の形態によるテストプラグ装置（電流試験端子装置）のテストターミナルの一例を示す図であり、（ａ）はテストターミナルを一部破断して概略的に示す側面図、（ｂ）は（ａ）に示す扉部を分解して概略的に示す斜視図である。
【図２】図１に示すテストターミナルにおいて扉部を開いた状態で一部破断して概略的に示す側面図である。
【図３】本発明の実施の形態による電流試験端子装置のテストプラグの一例を示す図であり、（ａ）はテストプラグを上面側から見た図、（ｂ）はテストプラグを側面側から見た図である。
【図４】本発明の実施の形態によるテストプラグ装置（電流試験端子装置）のテストターミナルの他の例を示す図であり、（ａ）はテストターミナルを一部破断して概略的に示す側面図、（ｂ）は（ａ）に示す扉部を分解して概略的に示す斜視図である。
【図５】図４に示すテストターミナルにおいて扉部を開いた状態で一部破断して概略的に示す側面図である。
【図６】図４に示すテストターミナルにおいて扉部を閉じた状態でシャッター板を上昇させた場合について一部破断して概略的に示す側面図である。
【図７】本発明の実施の形態による電流試験端子装置のテストプラグの他の例を示す図であり、（ａ）はテストプラグを上面側から見た図、（ｂ）はテストプラグを側面側から見た図である。
【図８】受電盤の一例を正面から示す図である。
【図９】保護継電器と遮断回路ロックスイッチとの接続関係を示す図である。
【図１０】従来のテストターミナルの一例を示す図であり、（ａ）はテストターミナルを正面からみた図、（ｂ）はテストターミナルを一部破断して側面から見た図である。
【図１１】従来のテストプラグの一例を示す図であり、（ａ）はテストプラグを上面側から見た図、（ｂ）はテストプラグを側面側から見た図である。
【図１２】テストプラグのテストターミナルへの挿入を完了した状態を示す図である。
【符号の説明】
【００４９】
１９  プラグ挿入口
２３  保護継電器
３０  テストプラグ装置
３１  テストターミナル
３２  扉部
３３  蝶兆
３４  取り付けねじ
３５  ロックスイッチ
３５ａ，３５ｂ  ロック端子
４１  シャッター板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2009296827.tif 000009
【図８】
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【図９】
2009296827.tif 000011
【図１０】
2009296827.tif 000012
【図１１】
2009296827.tif 000013
【図１２】
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