(57)【要約】【課題】光ディスク装置および光ディスク判断方法を提供すること。【解決手段】レーザ照射部と、レーザ光の焦点位置を調節するフォーカス調節部と、フォーカスエラー信号生成部と、前記フォーカスエラー信号生成部により生成されたフォーカスエラー信号から所定の信号パターンを検出する検出部と、前記光ディスクからの反射光の光量の和信号を生成する和信号生成部と、前記和信号の微分信号を生成する微分信号生成部と、前記微分信号生成部により生成された微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号を生成するマスク信号生成部と、前記フォーカス調節部により前記レーザ光の焦点位置が前記光ディスクの表面層の手前から内部側へと移動させられている間であって、前記マスク信号が生成されていない間に前記検出部により前記所定の信号パターンが検出された回数に応じて前記光ディスクの種別を判断する判断部と、を備える光ディスク装置。【選択図】図９
2009170045.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ照射部と；
前記レーザ光の焦点位置を調節するフォーカス調節部と；
前記光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部と；
前記フォーカスエラー信号生成部により生成されたフォーカスエラー信号から所定の信号パターンを検出する検出部と；
前記光ディスクからの反射光の光量の和信号を生成する和信号生成部と；
前記和信号の微分信号を生成する微分信号生成部と；
前記微分信号生成部により生成された微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号を生成するマスク信号生成部と；
前記フォーカス調節部により前記レーザ光の焦点位置が前記光ディスクの表面層の手前から内部側へと移動させられている間であって、前記マスク信号が生成されていない間に前記検出部により前記所定の信号パターンが検出された回数に応じて前記光ディスクの種別を判断する判断部と；
を備えることを特徴とする、光ディスク装置。
【請求項２】
前記判断部は、前記光ディスクが、記録層を前記光ディスクの表面から第１の距離に有する第１のディスクであるか、記録層を前記光ディスクの表面から前記第１の距離より長い第２の距離に有する第２のディスクであるかを判断し、
前記フォーカス調節部は、前記表面層から前記第１の距離より長く、前記第２の距離より短い位置まで前記レーザ光の焦点位置を移動させることを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記マスク信号生成部は、前記微分信号が上側閾値を超えてから、下側閾値を下回る期間の少なくとも一部の期間に前記マスク信号を生成することを特徴とする、請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記マスク信号生成部は、
前記微分信号が前記上側閾値を第１の時間にわたって上回った場合に前記マスク信号の生成を開始し、
前記微分信号が前記下側閾値を第２の時間にわたって下回った場合に前記マスク信号の生成を終了することを特徴とする、請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ照射部と、前記レーザ光の焦点位置を調節するフォーカス調節部と、前記光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部と、前記光ディスクからの反射光の光量の和信号を生成する和信号生成部と、を備える光ディスク装置において実行される光ディスク判断方法であって、
前記フォーカス調節部に、前記レーザ光の焦点位置を前記光ディスクの表面層の手前から内部側へと移動させるステップと；
前記和信号の微分信号を生成するステップと、
前記フォーカス制御部による制御に基づいて前記レーザ光の焦点位置が移動されている移動期間中の、前記微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号を生成するステップと；
前記フォーカスエラー信号生成部により生成されたフォーカスエラー信号から所定の信号パターンを検出するステップと；
前記移動期間であって前記マスク信号が生成されていない間に検出された前記所定の信号パターンの回数に応じて前記光ディスクの種別を判断するステップと；
を含むことを特徴とする、光ディスク判断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置および光ディスク判断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近日、データをデジタル形式で記憶する光ディスクとして、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、およびＢＤ（Ｂｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標））などが広く普及している。また、これらの光ディスクにデータを記録したり、光ディスクに記録されているデータを再生する光ディスク装置の開発も活発に行なわれている。
【０００３】
上記のように光ディスクには複数の種別が存在し、種別に応じて記録方式が異なるため、光ディスク装置は、光ディスクへのデータ記録などを行なうに際して光ディスクの種別を判断する必要がある。このため、光ディスク装置における光ディスクの種別の判断方法については多くの研究がなされている。
【０００４】
例えば特許文献１には、光ディスクへ照射したレーザ光の反射光量の和信号（ＰＩ信号：Ｐｕｌｌ  Ｉｎ）に基づいて光ディスクがＢＤであるか否かを判断する方法が開示されている。当該方法は、ＢＤの記録層が、ＣＤやＤＶＤに比べて表面層に近い位置にあること、および表面層および記録層においてＰＩ信号の値が大きくなることを利用する方法である。より具体的には、レーザ光の焦点位置を表面層の手前からＣＤやＤＶＤの記録層より浅い位置まで移動させる間に、ＰＩ信号の値が２回以上閾値を上回った場合、光ディスクがＢＤであると判断する方法が記載されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−１３９９１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、光ディスク表面でのレーザ光に対する反射率は規格化されていないため、従来のようにＰＩ信号の値に閾値を設ける方法では、ＰＩ信号に基づく表面層の検出精度が低いという問題があった。その結果、従来の方法では、適確に光ディスクの種別を判断することができない場合があった。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、光ディスクの種別の判断をより高い精度で行なうことが可能な、新規かつ改良された光ディスク装置および光ディスク判断方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ照射部と、前記レーザ光の焦点位置を調節するフォーカス調節部と、前記光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部と、前記フォーカスエラー信号生成部により生成されたフォーカスエラー信号から所定の信号パターンを検出する検出部と、前記光ディスクからの反射光の光量の和信号を生成する和信号生成部と、前記和信号の微分信号を生成する微分信号生成部と、前記微分信号生成部により生成された微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号を生成するマスク信号生成部と、前記フォーカス調節部により前記レーザ光の焦点位置が前記光ディスクの表面層の手前から内部側へと移動させられている間であって、前記マスク信号が生成されていない間に前記検出部により前記所定の信号パターンが検出された回数に応じて前記光ディスクの種別を判断する判断部と、を備える光ディスク装置が提供される。
【０００９】
かかる構成においては、和信号の微分信号を微分信号生成部が生成する。ここで、光ディスクの表面層における和信号の振幅の大きさは光ディスクによって相違し得るが、少なくとも表面層においては和信号の振幅は変化すると考えられる。そこで、レーザ光の焦点位置が表面層に達したと想定される微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号生成部がマスク信号を生成する。そして、判断部は、フォーカス調節部によりレーザ光の焦点位置が光ディスクの表面層の手前から内部側へと移動させられている間であって、マスク信号が生成されていない間にフォーカスエラー信号から所定の信号パターンが検出された回数に応じて光ディスクの種別を判断する。その結果、判断部は、表面層での和信号の大きさに拘らず、例えば表面層を除いた位置での所定の信号パターンの検出回数に応じて光ディスクの種別をより高い精度で判断することができる。
【００１０】
前記判断部は、前記光ディスクが、記録層を前記光ディスクの表面から第１の距離に有する第１のディスクであるか、記録層を前記光ディスクの表面から前記第１の距離より長い第２の距離に有する第２のディスクであるかを判断し、前記フォーカス調節部は、前記表面層から前記第１の距離より長く、前記第２の距離より短い位置まで前記レーザ光の焦点位置を移動させてもよい。この場合、レーザ光の焦点位置が第２のディスクの記録層へは到達せず、第１のディスクの記録層へは到達するため、第１のディスクのフォーカスエラー信号からの方が多くの所定の信号パターンが検出されることが想定される。したがって、判断部は、所定の信号パターンの検出回数に応じて妥当性を持って光ディスクの種別を判断することができる。
【００１１】
前記マスク信号生成部は、前記微分信号が上側閾値を超えてから、下側閾値を下回る期間の少なくとも一部の期間に前記マスク信号を生成してもよい。
【００１２】
前記マスク信号生成部は、前記微分信号が前記上側閾値を第１の時間にわたって上回った場合に前記マスク信号の生成を開始し、前記微分信号が前記下側閾値を第２の時間にわたって下回った場合に前記マスク信号の生成を終了してもよい。かかる構成においては、例えばインパルス状の雑音が和信号に混入した場合に、誤ってマスク信号生成部がマスク信号を生成してしまう場合を抑制できる。
【００１３】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ照射部と、前記レーザ光の焦点位置を調節するフォーカス調節部と、前記光ディスクからの反射光に基づいてフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部と、前記光ディスクからの反射光の光量の和信号を生成する和信号生成部と、を備える光ディスク装置において実行される光ディスク判断方法であって、前記フォーカス調節部に、前記レーザ光の焦点位置を前記光ディスクの表面層の手前から内部側へと移動させるステップと、前記和信号の微分信号を生成するステップと、前記フォーカス制御部による制御に基づいて前記レーザ光の焦点位置が移動されている移動期間中の、前記微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号を生成するステップと、前記フォーカスエラー信号生成部により生成されたフォーカスエラー信号から所定の信号パターンを検出するステップと、前記移動期間であって前記マスク信号が生成されていない間に検出された前記所定の信号パターンの回数に応じて前記光ディスクの種別を判断するステップと、を含む光ディスク判断方法が提供される。
【発明の効果】
【００１４】
以上説明したように本発明にかかる光ディスク装置および光ディスク判断方法によれば、
光ディスクの種別の判断をより高い精度で行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１６】
また、以下に示す項目順序に従って当該「発明を実施するための最良の形態」を説明する。
〔１〕本実施形態にかかる光ディスク装置の概要
〔２〕本実施形態に至る経緯
〔３〕本実施形態にかかる光ディスク装置の機能
〔４〕本実施形態にかかる光ディスク装置の動作
〔５〕まとめ
【００１７】
〔１〕本実施形態にかかる光ディスク装置の概要
まず、図１を参照し、本実施形態にかかる光ディスク装置２０の構成を概略的に説明する。
【００１８】
図１は、本実施形態にかかる光ディスク装置２０の外観を示した説明図である。図１に示したように、光ディスク装置２０は、レンズ部２２と、ビューファインダ２４と、表示部２６と、記録ボタン３４と、再生ボタン３６と、を備える。
【００１９】
レンズ部２２は、被写体から発せられる光を集光し、光ディスク装置２０内の適切な位置に被写体の像を形成させる。ビューファインダ２４には被写体の映像が映し出され、ユーザはかかるビューファインダ２４に映し出される映像を確認しながらレンズ部２２を向ける方向を調整することができる。
【００２０】
表示部２６は映像を表示する表示部としての機能を有する。例えば、表示部２６は、現在レンズ部２２により集光されている被写体の映像や、過去に記録済みの映像を表示することが可能である。
【００２１】
記録ボタン３４は、光ディスク装置２０による映像や音声などのデータの光ディスクへの記録の開始を指示するユーザ操作を検出する。また、ユーザは、データの記録中に記録ボタン３４を押圧することにより、データの記録の一時停止を指示することもできる。また、データの記録の一時停止中に、データ記録の開始指示以外の処理が要求された場合、次のデータ記録のための待機状態が解除される、すなわち、一時停止状態が解除される。
【００２２】
再生ボタン３６は、光ディスク装置２０に内蔵されている光ディスクに記録されている映像や音声などのデータの再生開始を指示するユーザ操作を検出する。また、ユーザは、データの再生中に再生ボタン３６を押圧することにより、データ再生の一時停止を指示することもできる。
【００２３】
なお、図１においては、光ディスク装置２０の一例として携帯型撮像機器を示したに過ぎず、光ディスク装置２０は携帯型撮像機器に限定されない。例えば、光ディスク装置２０は、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）、家庭用映像処理装置（ＤＶＤレコーダ、ビデオデッキなど）、携帯電話、ＰＨＳ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｈａｎｄｙｐｈｏｎｅ  Ｓｙｓｔｅｍ）、携帯用音楽再生装置、携帯用映像処理装置、ＰＤＡ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｔｓ）、家庭用ゲーム機器、携帯用ゲーム機器、家電機器などの情報処理装置であってもよい。
【００２４】
〔２〕本実施形態に至る経緯
続いて、本実施形態に至った経緯を図２〜図６を参照して説明する。
【００２５】
図２は、第１のディスク４０の構成を示した説明図である。本明細書においては、第１のディスク４０が例えばＢＤであるものと想定して説明する。図２に示したように、第１のディスク４０は、表面層４２と、データが記録される記録層４４とを有する。また、表面層４２と記録層４４の間隔は０．１ｍｍである。なお、記録層４４が２層設けられている場合、表面層４２と記録層の各々との間隔は０．０７５ｍｍと０．１ｍｍであってもよい。
【００２６】
このような第１のディスク４０の表面層４２の手前から記録層４４より深い位置までレーザ光の焦点位置を移動させた場合、図３に示したような信号が得られる。
【００２７】
図３は、第１のディスク４０から得られるＰＩ信号およびフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を示した説明図である。図３に示したように、ＰＩ信号は、表面層４２および記録層４４の付近において山型の信号パターン６２および６４を形成する。また、フォーカスエラー信号は、表面層４２および記録層４４の付近においてＳ字状の信号パターン６６および６８を形成する。
【００２８】
これに対し、ＣＤやＤＶＤなどの第２のディスクは、図４に示すように記録層と表面層との距離が第１のディスク４０より長い。
【００２９】
図４は、第２のディスク５０の構成を示した説明図である。図４に示したように第２のディスク５０がＤＶＤである場合、記録層５４と表面層５２との距離は０．６ｍｍであり、ＣＤである場合、記録層５６と表面層５２との距離は１．２ｍｍである。このように、第２のディスク５０の記録層５４および５６は、第１のディスク４０の記録層４４より表面から深い位置に配されている。
【００３０】
ここで、第１のディスク４０にのみ対応している光ディスク装置は、焦点位置を記録層４４まで移動させられれば十分であるため、光ピックアップの移動距離（ＷＤ：ワーキングディスタンス）が小さく設計される傾向にある。したがって、第１のディスク４０にのみ対応している光ディスク装置に第２のディスク５０が挿入された場合、当該光ディスク装置は記録層５４および５６まで焦点位置を移動させることができないため、山型のＰＩ信号およびＳ字状のフォーカスエラー信号は表面層５２においてのみ検出される。
【００３１】
上記事項を利用すれば、概念的には、第１のディスク４０および第２のディスク５０を識別することができる。すなわち、ＰＩ信号から山型の信号パターンが検出される回数、またはフォーカスエラー信号からＳ字状の信号パターンが検出される回数に応じて第１のディスク４０および第２のディスク５０を識別し得る。
【００３２】
しかし、表面層４２または５２におけるＰＩ信号またはフォーカスエラー信号がどのような信号パターンを形成するかについては規格が統一されていない。このため、図５および図６に示すように、ＰＩ信号またはフォーカスエラー信号が信号値の閾値を超えたか否かに基づいて表面層４２または５２を検出することは困難であった。
【００３３】
図５Ａ〜Ｃは、表面層４２または５２においてＳ字状のフォーカスエラー信号が検出されない場合を示した説明図である。より詳細には、第１のディスク４０にのみ対応している光ディスク装置が、フォーカスエラー信号の信号値が上側閾値Ｈｔｈを上回った後、下側閾値Ｌｔｈを下回ったことをＳ字状の信号パターンとして検出する場合を示している。
【００３４】
この場合、図５Ａに示したように、フォーカスエラー信号の表面層４２または５２付近における信号値の変動が下側に偏ると、フォーカスエラー信号の信号値が上側閾値Ｈｔｈを上回らないため、Ｓ字状の信号パターンが検出されない。
【００３５】
同様に、図５Ｂに示したように、フォーカスエラー信号の表面層４２または５２付近における信号値の変動が上側に偏ると、フォーカスエラー信号の信号値が上側閾値Ｈｔｈを上回るものの、下側閾値Ｌｔｈを下回らないため、Ｓ字状の信号パターンが検出されない。
【００３６】
また、図５Ｃに示したように、フォーカスエラー信号の表面層４２または５２付近における信号値の変動が小さいと、フォーカスエラー信号の信号値が上側閾値Ｈｔｈを上回らず、かつ下側閾値Ｌｔｈを下回らないため、Ｓ字状の信号パターンが検出されない。
【００３７】
図６Ａ〜Ｃは、ＰＩ信号に基づいて表面層４２および記録層４４を適確に検出できない場合を示した説明図である。より詳細には、第１のディスク４０にのみ対応している光ディスク装置が、ＰＩ信号の信号値が閾値Ｓｔｈを上回った後、当該閾値Ｓｔｈを下回ったことを山型の信号パターンとして検出する場合を示している。
【００３８】
この場合、図６Ａに示したように、表面層４２および記録層４４が近接していることにより、表面層４２付近における山型の信号パターンと記録層４４付近における山型の信号パターンが結合すると、ＰＩ信号の信号値が記録層４４の後のみで閾値Ｓｔｈを下回るため、２の山型の信号パターンが適切に検出されない。
【００３９】
また、図６Ｂに示したように、ＰＩ信号の表面層４２付近における山型の信号パターンのピーク値が閾値Ｓｔｈを上回らない場合、表面層４２付近において山型の信号パターンが検出されない。
【００４０】
また、図６Ｃに示したように、インパルス状の雑音成分がＰＩ信号に混入すると、当該インパルス状の雑音成分も山型の信号パターンとして検出されてしまう。
【００４１】
以上例示したように、ＰＩ信号から山型の信号パターンを適切にカウントすること、およびフォーカスエラー信号から表面層４２または５２におけるＳ字状の信号パターンを適切に検出することは困難であった。その結果、従来は、光ディスクの種別を誤って判断してしまう場合があった。
【００４２】
そこで、上記のような事情に鑑みて本実施形態にかかる光ディスク装置２０を創作するに至った。本実施形態にかかる光ディスク装置２０によれば、光ディスクの種別の判断をより高い精度で行なうことができる。以下、このような光ディスク装置２０について図７〜図１１を参照して詳細に説明する。
【００４３】
〔３〕本実施形態にかかる光ディスク装置２０の機能
図７は、本実施形態にかかる光ディスク装置２０の構成を示した説明図である。図７に示したように、当該光ディスク装置２０は、スピンドルモータ２０４と、スピンドルサーボ部２０８と、光ピックアップ２１０と、ディスク挿排部２１２と、信号処理部２１４と、制御部２２０と、駆動部２３０と、アドレス復号回路２４０と、コントローラ２５０と、スレッドモータ２５４と、スレッドサーボ部２５８と、イコライザ２６２と、２値化部２６６と、メモリ２７０と、再生信号処理部２７４と、音声出力部２７８と、操作部２８２と、撮像素子２８６と、マイクロホン２９０と、記録信号処理部２９２と、表示部２６と、を備える。
【００４４】
スピンドルモータ２０４は、装着されている光ディスク８０を、スピンドルサーボ部２０８から入力される制御信号に基づいて回転駆動する。なお、光ディスク８０に記録されるデータは、音楽、講演およびラジオ番組などの音楽データや、映画、テレビジョン番組、ビデオプログラム、写真、文書、絵画および図表などの映像データや、ゲームおよびソフトフェアなどの任意のデータであってもよい。また、光ディスク８０は、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）／ＲＷ（ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）／ＲＷ／＋Ｒ／＋ＲＷ／ＲＡＭ（Ｒａｍｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）およびＢＤ（Ｂｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標））―Ｒ／ＢＤ−ＲＥなどであってもよい。
【００４５】
光ピックアップ２１０は、光ディスク８０に対してレーザ光を照射し、光ディスク８０からの反射光を電気信号に変換して出力する。以下、図８を参照して光ピックアップ２１０の詳細な構成を説明する。
【００４６】
図８は、光ピックアップ２１０の構成を示した説明図である。図８に示したように、光ピックアップ２１０は、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）３０２と、ＰＢＳ（Ｐｏｌａｒｉｚｉｎｇ  Ｂｅａｍ  Ｓｐｌｉｔｔｅｒ）３０４と、１／４波長板３０６と、対物レンズ３０８と、２軸アクチュエータ３１０と、ＰＤ（Ｐｈｏｔｏｄｉｏｄｅ）３１２と、を備える。
【００４７】
ＬＤ３０２は、レーザ制御部２９２による制御に基づきレーザ光を発光するレーザ照射部としての機能を有する。ＰＢＳ３０４は、ＬＤ３０２により発光されたレーザ光のうちで一方向に振動する成分を透過し、他方向に振動する成分を反射させる。１／４波長板３０６は、直線偏光を円偏光に、円偏光を直線偏光に変換する。対物レンズ３０８は、ＬＤ３０２から発光され、ＰＢＳ３０４および１／４波長板３０６を透過したレーザ光の集光し、光ディスク８０の記録層８４にビームスポットを形成する。
【００４８】
２軸アクチュエータ３１０は、フォーカス駆動部２３２により生成されるフォーカス駆動信号に基づき、対物レンズ３０８を光ディスク８０との離隔方向に移動させる。すなわち、２軸アクチュエータ３１０は、ビームスポットの位置（焦点位置）を調節するフォーカス調節部としての機能を有する。また、２軸アクチュエータ３１０は、トラッキング駆動部２３４により生成されるトラッキング駆動信号に基づき、対物レンズ３０８を光ディスク８０の半径方向に移動させる。
【００４９】
ＰＤ３１２は、光ディスク８０からの反射光が対物レンズ３０８、１／４波長板３０６、およびＰＢＳ３０４を介して入射され、入射された反射光を電気信号に変換する光電変換部として機能する。
【００５０】
ここで、図７を参照して光ディスク装置２０の構成の説明に戻ると、信号処理部２１４は、光ピックアップ２１０のＰＤ３１２から入力される電気信号から、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＰＩ信号、およびデータ信号などの信号を生成する。当該信号処理部２１４の詳細な構成については図８を参照して後述する。
【００５１】
制御部２２０は、フォーカス制御部２２２およびトラッキング制御部２２４を備え、光ピックアップ２１０によるフォーカスサーボおよびトラッキングサーボを制御する。具体的には、フォーカス制御部２２２は、信号処理部２１４により検出されたフォーカスエラー信号に対して所定のゲイン（フォーカスゲイン、利得）を有するフォーカス駆動信号の生成をフォーカス駆動部２３２に指示する。また、トラッキング制御部２２４は、信号処理部２１４により検出されたトラッキングエラー信号に応じたトラッキング駆動信号の生成をトラッキング駆動部２３４に指示する。
【００５２】
駆動部２３０は、フォーカス駆動部２３２およびトラッキング駆動部２３４を備え、制御部２２０により指示された駆動信号を生成する信号生成部としての機能を有する。具体的には、フォーカス駆動部２３２はフォーカス制御部２２２により指示されたフォーカス駆動信号を生成し、トラッキング駆動部２３４はトラッキング制御部２２４により指示されたトラッキング駆動信号を生成する。光ピックアップ２１０内の２軸アクチュエータ３１０は、駆動部２３０により生成されたフォーカス駆動信号およびトラッキング駆動信号に基づいて対物レンズを移動させ、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボを実現する。
【００５３】
アドレス復号回路２４０は、光ディスク８０に事前にトラックを蛇行させて記録されているアドレス情報をトラッキング信号（ＰＰ信号）として入力され、アドレス情報を復号してコントローラ２５０に供給する。
【００５４】
コントローラ２５０は、アドレス復号回路２４０から供給されるアドレス情報に基づいて、光ピックアップ２１０を所望の位置へ移動させるよう例えばスレッドサーボ部２５８を制御する。また、コントローラ２５０は、図７を参照して後述するように、レーザ制御部２９２、フォーカス制御部２２２、およびトラッキング制御部２２４を制御し、レーザ光の照射、フォーカスサーボ、およびトラッキングサーボのオンオフを順次切替える。なお、図７においては、図面の明瞭性の観点からＣを○で囲った記号をコントローラ２５０として示している。
【００５５】
イコライザ２６２は光ピックアップ２１０から読み出された映像や音声などのデータ信号（ＲＦ信号）の波形整形を行い、２値化部２６６は波形整形されたデータ信号をデジタル形式に変換して映像データや音声データとしてメモリ２７０に供給する。
【００５６】
再生信号処理部２７４は、メモリ２７０に蓄えられている映像データおよび音声データに、例えばＥＦＭプラス復調、誤り訂正、デコード処理などを施し、映像データは表示部２６へ、音声データは音声出力部２７８へ供給する。表示部２６は再生信号処理部２７４から供給される映像データに基づいて映像を表示し、イヤホンやスピーカなどの音声出力部２７８は再生信号処理部２７４から供給される音声データに基づいて音声を出力する。
【００５７】
操作部２８２は、図１に示した記録ボタン３４や再生ボタン３６などのユーザインターフェースに対応し、ユーザからの各種指示を検出する。各種指示としては、映像データおよび音声データの再生／一時停止／早送り／巻き戻し／音量調整等があげられる。
【００５８】
撮像素子２８６は、レンズ部２２により集光された被写体の映像を、電気信号である映像データに変換する。例えば、撮像素子２８６は、ＣＭＯＳ撮像素子であっても、ＬＢＣＡＳＴ撮像素子であっても、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）であってもよい。マイクロホン２９０は、周囲で発せられた音を電気信号である音声データに変換する収音部としての機能を有する。記録信号処理部２９２は、撮像素子２８６で取り込まれた被写体像の映像データおよびマイクロホン２９０で取り込まれた外部音の音声データを、光ディスク８０への記録用のフォーマットに変換する。
【００５９】
ディスク挿排部２１２は、光ディスク８０の光ディスク装置２０への挿入、および光ディスク装置２０からの排出を行なう。例えば、光ディスク８０がトレイに載置される場合、ディスク挿排部２１２は当該トレイを光ディスク装置２０の内側と外側の間で往復運動させる。あるいは、光ディスク装置２０がスロットインタイプである場合、ディスク挿排部２１２は、光ディスク８０の挿入時に光ディスクを引き込み、排出時に光ディスクを押し出す。
【００６０】
続いて、図９を参照し、挿入されている光ディスク８０の種別を判断する上で重要な信号処理部２１４の詳細な構成を説明する。
【００６１】
図９は、信号処理部２１４の詳細な構成を示した説明図である。図９に示したように、信号処理部２１４は、ＰＩ信号生成部３２２およびＦＥ信号生成部３２４を含むアナログ信号処理回路３２０と、微分信号生成部３３２、マスク信号生成部３３４、およびＦＥ信号計数部３３６を含むデジタル信号処理回路３３０とを備える。
【００６２】
ＰＩ信号生成部３２２は、ＰＤ３１２から入力される電気信号に基づいて、光ディスク８０からの反射光量の和信号であるＰＩ信号を生成する和信号生成部としての機能を有する。同様に、ＦＥ信号生成部３２４は、ＰＤ３１２から入力される電気信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成する。
【００６３】
また、微分信号生成部３３２は、ＰＩ信号生成部３２２により生成されたＰＩ信号の微分信号を生成する。マスク信号生成部３３４は、微分信号生成部３３２により生成された微分信号が所定条件を満たす間にわたってマスク信号を生成する。ＦＥ信号計数部３３６は、フォーカス制御部２２２またはコントローラ２５０の制御によりレーザ光の焦点位置が表面層８２の手前から光ディスク８０の内側へ移動されている間であってマスク信号が生成されていない間に、フォーカスエラー信号からＳ字状の信号パターン（所定の信号パターン）が検出される回数をカウントする検出部としての機能を有する。
【００６４】
そして、コントローラ２５０は、ＦＥ信号計数部３３６によりカウントされたＳ字状の信号パターンの検出回数に応じて、光ディスク８０の種別を判断する判断部としての機能を有する。具体的には、コントローラ２５０は、Ｓ字状の信号パターンの検出回数が１回以上であった場合には光ディスク８０が第１のディスク４０であると判断し、Ｓ字状の信号パターンの検出回数が１回未満であった場合には光ディスク８０が第１のディスク４０でないと判断する。
【００６５】
さらに、コントローラ２５０は、光ディスク８０が第１のディスク４０でないと判断した場合、ディスク挿排部２１２に光ディスク８０を排出させてもよい。または、コントローラ２５０は、光ディスク８０が第１のディスク４０でないと判断した場合、表示部２６にその旨を表示させたり、音声出力部２７８に警告音を出力させたり、光ディスク装置２０の電源を遮断してもよい。
【００６６】
以下、このような信号処理部２１４およびコントローラ２５０の機能を、図１０に示す具体例を参照して説明する。
【００６７】
図１０は、信号処理部２１４において生成される各信号の関係を示した説明図である。より詳細には、図１０は、フォーカス制御部２２２による制御により、レーザ光の焦点位置が光ディスク８０の表面層８２の手前から、第１のディスク４０の記録層４４と第２のディスク５０の記録層５４または５６との間まで移動された場合の各信号の関係を示している。
【００６８】
図１０の最上段に示したようなＰＩ信号をＰＩ信号生成部３２２が生成すると、図１０の２段目に示したようにＰＩ信号の微分信号を微分信号生成部３３２が生成する。
【００６９】
また、マスク信号生成部３３４は、ＰＩ信号の微分信号が上側閾値Ｘを所定期間にわたって上回った場合にマスク信号の生成を開始し、ＰＩ信号の微分信号が下側閾値Ｙを所定期間にわたって下回った場合にマスク信号の生成を終了する。したがって、図１０の２段目に示したＰＩ信号の微分信号が微分信号生成部３３２により生成されると、マスク信号生成部３３４は、ＰＩ信号の微分信号が上側閾値Ｘを上回ったｔ１から所定期間が経過したｔ２においてマスク信号の生成を開始する。そして、マスク信号生成部３３４は、図１０の３段目に示したように、ＰＩ信号の微分信号が下側閾値Ｙを下回ったｔ３から所定期間が経過したｔ４においてマスク信号の生成を終了する。なお、本明細書においては、マスク信号の信号レベルをＨにすることを、マスク信号を生成すると表現している。
【００７０】
また、マスク信号生成部３３４は、レーザ光の焦点位置が移動される間、一度だけしかマスク信号を生成しない。したがって、ＰＩ信号の微分信号は記録層付近においてもマスク信号の生成条件を満たすが、マスク信号生成部３３４は既に表面層付近でマスク信号を生成しているため、記録層付近ではマスク信号を生成しない。
【００７１】
一方、ＦＥ信号生成部３２４により、図１０の最下段に示した表面層付近および記録層付近の双方においてＳ字状の信号パターン７０および７２をするフォーカスエラー信号が生成されたとする。この場合、ＦＥ信号計数部３３６は、記録層付近において形成されるＳ字状の信号パターン７２を上側閾値Ｈｔｈおよび下側閾値Ｌｔｈを利用して検出し、カウントする。一方、ＦＥ信号計数部３３６は、表面層付近において形成されるＳ字状の信号パターン７０は、マスク信号が生成されているため検出、およびカウントしない。したがって、図１０に示した例では、ＦＥ信号計数部３３６はＳ字状の信号パターンの検出回数を１回とカウントする。したがって、コントローラ２５０は、この場合光ディスク８０が第１のディスク４０であると判断する。
【００７２】
一方、光ディスク８０が第２のディスク５０であった場合、図１０に示したＰＩ信号、微分信号、およびフォーカスエラー信号の信号値の変動は表面層付近においてのみ生じる。この場合、ＦＥ信号計数部３３６は、マスク信号によりフォーカスエラー信号の表面層付近のＳ字状の信号パターンを検出、カウントしないため、Ｓ字状の信号パターンの検出回数は０回となる。したがって、コントローラ２５０は、この場合光ディスク８０が第１のディスク４０でないと判断する。
【００７３】
〔４〕本実施形態にかかる光ディスク装置の動作
以上、本実施形態にかかる光ディスク装置２０の機能について説明した。続いて、本実施形態にかかる光ディスク装置２０において実行されるディスク判断方法について、図１１を参照して説明する。
【００７４】
図１１は、本実施形態にかかる光ディスク装置２０において実行されるディスク判断方法の流れを示したフローチャートである。図１１に示したように、フォーカス制御部２２２は、２軸アクチュエータ３１０を制御し、焦点位置を表面層８２の手前から光ディスク８０の内部側へと移動させ始める（Ｓ４０４）。
【００７５】
続いて、ＰＩ信号生成部３２２が光ディスク８０からの反射光に基づいてＰＩ信号を生成し、ＦＥ信号生成部３２４がフォーカスエラー信号を生成し、微分信号生成部３３２がＰＩ信号生成部３２２により生成されたＰＩ信号の微分信号を生成し、微分信号が所定の条件を満たす間にわたってマスク信号生成部３３４がマスク信号を生成し、ＦＥ信号計数部３３６が、ＦＥ信号生成部３２４により生成されたフォーカスエラー信号からＳ字状の信号パターンを検出する（Ｓ４１６）。なお、当該Ｓ４１６における信号生成、および検出の各処理は、フォーカス制御部２２２により焦点位置が最高位置（可動範囲のうちで最も光ディスク８０の内側位置）へ移動されるまで並列的に継続して行なわれる。
【００７６】
さらに、ＦＥ信号計数部３３６は、マスク信号によるマスク期間を除くＳ字状の信号パターンの検出回数をカウントする。コントローラ２５０は、ＦＥ信号計数部３３６によりカウントされたＳ字状の信号パターンの検出回数が１回以上であった場合（Ｓ４２８）、光ディスク８０が第１のディスク４０であると判断する（Ｓ４３２）。
【００７７】
一方、コントローラ２５０は、ＦＥ信号計数部３３６によりカウントされたＳ字状の信号パターンの検出回数が１回未満であった場合（Ｓ４２８）、光ディスク８０が第２のディスク５０であると判断する（Ｓ４３６）。そして、コントローラ２５０は、ディスク挿排部２１２に光ディスク８０の排出動作（イジェクト）を行なわせる（Ｓ４４０）。
【００７８】
〔５〕まとめ
以上説明したように、本実施形態によれば、微分信号生成部３３２がＰＩ信号の微分信号を生成する。また、マスク信号生成部３３４は、当該微分信号を用いて間接的にＰＩ信号の増加傾向、および減少傾向を把握することができる。したがって、ＰＩ信号の表面層付近での信号値が小さかったり、記録層付近の山型の信号パターンと近接していても、マスク信号生成部３３４は、焦点位置が表面層を通過する際にマスク信号を生成することが可能である。
【００７９】
その結果、ＦＥ信号計数部３３６は、フォーカスエラー信号の表面層付近のＳ字状の信号パターンを検出、またはカウントしない。したがって、表面層付近のＳ字状の信号パターンに拘らず、記録層付近のＳ字状の信号パターンを検出およびカウントすることで光ディスク８０の種別をより高い精度で判断することができる。
【００８０】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００８１】
例えば、本明細書の光ディスク装置２０の処理における各ステップは、必ずしもフローチャートとして記載された順序に沿って時系列に処理する必要はない。例えば、光ディスク装置２０の処理における各ステップは、並列的あるいは個別に実行される処理（例えば、並列処理あるいはオブジェクトによる処理）を含んでもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】本実施形態にかかる光ディスク装置の外観を示した説明図である。
【図２】第１のディスクの構成を示した説明図である。
【図３】第１のディスクから得られるＰＩ信号およびフォーカスエラー信号を示した説明図である。
【図４】第２のディスクの構成を示した説明図である。
【図５】表面層においてＳ字状のフォーカスエラー信号が検出されない場合を示した説明図である。
【図６】ＰＩ信号に基づいて表面層および記録層を適確に検出できない場合を示した説明図である。
【図７】本実施形態にかかる光ディスク装置の構成を示した説明図である。
【図８】光ピックアップの構成を示した説明図である。
【図９】信号処理部の詳細な構成を示した説明図である。
【図１０】信号処理部において生成される各信号の関係を示した説明図である。
【図１１】本実施形態にかかる光ディスク装置において実行されるディスク判断方法の流れを示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００８３】
２０      光ディスク装置
４０      第１のディスク
５０      第２のディスク
８０      光ディスク
２１０    光ピックアップ
２１２    ディスク挿排部
２１４    信号処理部
２５０    コントローラ
３０２    ＬＤ
３１０    ２軸アクチュエータ
３２２    ＰＩ信号生成部
３２４    ＦＥ信号生成部
３３２    微分信号生成部
３３４    マスク信号生成部
３３６    ＦＥ信号計数部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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