(57)【要約】【課題】記録品質を向上させ得るレーザ発生装置及びその制御方法並びに光ディスク装置を提案する。【解決手段】レーザを発光する半導体レーザダイオードと、半導体レーザダイオードに駆動パルスを供給し、当該駆動パルスに基づいて半導体レーザを点滅駆動する半導体レーザダイオード駆動部とを有するレーザ発生装置において、半導体レーザダイオード及び半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態に制御するようにした。【選択図】図６
2009048699.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザを発光する半導体レーザダイオードと、
前記半導体レーザダイオードに駆動パルスを供給し、当該駆動パルスに基づいて前記半導体レーザを点滅駆動する半導体レーザダイオード駆動部と、
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態に制御するインピーダンス制御部と
を備えることを特徴とするレーザ発生装置。
【請求項２】
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部に直列に接続され、前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部に駆動電圧を供給する電圧源を備え、
前記インピーダンス制御部は、
前記電圧源の設定電圧値を制御するようにして、前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態に制御する
ことを特徴とする請求項１に記載のレーザ発生装置。
【請求項３】
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部の接続中点の電圧を測定する電圧測定部を備え、
前記インピーダンス制御部は、
前記電圧測定部の測定結果に基づいて、前記電圧源の設定電圧値を制御する
ことを特徴とする請求項２に記載のレーザ発生装置。
【請求項４】
前記半導体レーザダイオードの温度又は当該半導体レーザダイオードの周囲の温度を測定する温度測定部を備え、
前記インピーダンス制御部は、
前記温度測定部の測定結果に基づいて、前記電圧源の設定電圧値を制御する
ことを特徴とする請求項２に記載のレーザ発生装置。
【請求項５】
前記インピーダンス制御部は、
前記半導体レーザダイオードが発光するレーザのパワーに基づいて前記電圧源の設定電圧値を制御する
ことを特徴とする請求項２に記載のレーザ発生装置。
【請求項６】
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部の接続中点の電圧を測定する電圧測定部と、
前記半導体レーザダイオードの温度又は当該半導体レーザダイオードの周囲の温度を測定する温度測定部と
を備え、
前記インピーダンス制御部は、
前記電圧測定部の測定結果、前記温度測定部の測定結果及び前記半導体レーザダイオードが発光するレーザのパワーの少なくも１つに基づいて前記電圧源の設定電圧値を制御する
ことを特徴とする請求項２に記載のレーザ発生装置。
【請求項７】
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部の接続中点の電圧と、前記半導体レーザダイオードの温度又は当該半導体レーザダイオードの周囲の温度と、前記半導体レーザダイオードが発光するレーザのパワーとの少なくも１つに対応付けて電圧源に設定すべき電圧値が格納されたテーブルを備え、
前記インピーダンス制御部は、
前記テーブルと、対応する前記電圧測定部の測定結果、前記温度測定部の測定結果及び又は前記半導体レーザダイオードが発光するレーザのパワーに基づいて前記電圧源の設定電圧値を制御する
ことを特徴とする請求項６に記載のレーザ発生装置。
【請求項８】
前記インピーダンス制御部は、
前記テーブルの内容を前記半導体レーザダイオードの前記使用環境に応じて更新する
ことを特徴とする請求項７に記載のレーザ発生装置。
【請求項９】
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態とするように、前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間を接続する線路のインピーダンスが調整された
ことを特徴とする請求項１に記載のレーザ発生装置。
【請求項１０】
半導体レーザダイオードと、前記半導体レーザダイオードに駆動パルスを供給し、当該駆動パルスに基づいて前記半導体レーザを点滅駆動する半導体レーザダイオード駆動部とを有するレーザ発光装置の制御方法において、
前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態に制御する
ことを特徴とするレーザ発生装置の制御方法。
【請求項１１】
光ディスクにレーザを照射するようにしてデータを記録及び又は再生する光ディスク装置において、
請求項１のレーザ発光装置を備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
前記光ディスクをローディングするタイミングを含めて、少なくとも１回以上前記テーブルの内容を更新する
ことを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ発生装置及びその制御方法並びに光ディスク装置に関し、例えばＣＤ（Compact Disk）ドライブ、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）ドライブ及び又はＢＤ（Blu-ray Disc）ドライブなどの光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタルデータを保存するためのストレージメディアとして、光ディスクが広く普及している。光ディスクにデジタルデータを記録する場合、一般的に半導体レーザ光（以下、これをレーザと呼ぶ）を光ディスクの記録面に照射し熱を加えることにより、記録マークと呼ばれるマークを光ディスクの記録面に形成する。
【０００３】
この際、記録マークが良好に形成されないと、記録したデータを正しく再生することができなくなる可能性がある。そこで、従来では、レーザをパルス状に発光させ、光ディスク記録膜に照射した時の熱蓄積を制御することによって記録マークを良好に形成する方法が広く用いられている。一般的には、レーザを発光する半導体レーザダイオード（以下、これをＬＤ（Laser Diode）と呼ぶ）にパルス状の電流を供給することで、ＬＤにパルス状にレーザを発光させることができる。
【０００４】
ＬＤにパルス状に電流を供給する装置をレーザダイオード駆動装置（以下、これをＬＤＤ（Laser Diode Drive）と呼ぶ）と称す。ＬＤＤがＬＤにパルス状に電流を供給することによって、ＬＤが供給された電流のパルスタイミングに基づいた発光パターンで発光するため、パルス状のレーザをＬＤに発光させることができ、その結果良好な記録マークを形成することができる。以下、ＬＤＤがＬＤに供給するパルス状の電流のことを記録パルスと称す。
【０００５】
近年、光ディスクへの記録速度は年々高速化する傾向にある。もともと、ＬＤ及びＬＤＤ間の電気回路的な負荷の影響は少なからず存在し、かかる電気回路的な負荷がＬＤＤからＬＤに記録パルスを供給する過程において当該記録パルスに影響を与えていた。
【０００６】
しかし、記録速度の高速化が進み記録パルスのパルス幅が細くなるにつれて、ＬＤ及びＬＤＤ間の電気回路的な負荷が相対的に記録パルスに与える影響が大きくなり、所望の記録パルスをＬＤに供給することが困難となった。所望の記録パルスがＬＤに供給されないと、ＬＤにおけるレーザの発光パターンも所望の発光パターンではなくなるため、その影響はディスク記録面に生成される記録マークに顕著に現れるようになり、記録品質の劣化に繋がる。
【０００７】
かかる問題に対し、下記特許文献１には、温度に応じてＬＤ及びＬＤＤ間の電気回路的な負荷が変動することに着目し、使用時の温度又は温度に応じて変化するＬＤの負荷に関わる情報を取得し、温度に応じて適切に加工した記録パルスをＬＤＤで生成する方法が開示されている。温度に応じて加工した記録パルスをＬＤに供給することで、使用時の温度環境が変動した場合でも良好なレーザ発光ができるよう対応している。
【特許文献１】特開２００６−４８８８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述の特許文献１では、温度に応じて適切に加工した記録パルスをＬＤＤで生成する方法として、ＬＤＤに通常備わっている記録パルス発生器とは別に温度対応用の補助パルス発生器をＬＤＤに設け、記録パルス発生器で生成した記録パルスと、そのときの温度に応じて補助パルス発生器で生成した補助パルスとを合成することによって、ＬＤに供給する記録パルスを生成する方法を採用している。つまり、特許文献１に開示された方法は、ＬＤＤに補助パルス発生器が備わっていることが前提である方法である。
【０００９】
ところが通常の半導体レーザ発生装置では、このような補助パルス発生器がＬＤＤに設けられておらず、上述のように温度に応じて変動するＬＤの負荷の変化に対応して、ＬＤの発光パルスを制御することはできない。なお、以下においては、ＬＤの負荷をＬＤの微分抵抗と呼ぶものとする。
【００１０】
また、特許文献１では、温度による影響でＬＤの微分抵抗が変化することについて書かれているものの、経時的な変化や記録速度等に応じて変化されるＬＤの発光パワーによってもＬＤの微分抵抗が変動することが発明者の調査によりわかっている。
【００１１】
さらに上述したようなＬＤとＬＤＤとを備えた半導体レーザ発生装置を搭載した製品（例えば光ディスク装置）の量産時においては、量産したＬＤの微分抵抗がある程度の範囲でばらつくことも予想できる。前述した事象においては、温度を監視することによってＬＤの微分抵抗変動に追従することはできず、ＬＤの発光パルスを制御することはできない。
【００１２】
さらには、一般的な光ディスク装置の構成では、光ディスク装置の使用中にＬＤの微分抵抗を測定する手段がない場合が多く、直接的にＬＤの微分抵抗を測定することはできない。
【００１３】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構成で記録品質を向上させ得るレーザ発生装置及びその制御方法並びに光ディスク装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
かかる課題を解決するため本発明においては、レーザを発光する半導体レーザダイオードと、前記半導体レーザダイオードに駆動パルスを供給し、当該駆動パルスに基づいて前記半導体レーザを点滅駆動する半導体レーザダイオード駆動部と、前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態に制御するインピーダンス制御部とを備えることを特徴とする。
【００１５】
また本発明においては、半導体レーザダイオードと、前記半導体レーザダイオードに駆動パルスを供給し、当該駆動パルスに基づいて前記半導体レーザを点滅駆動する半導体レーザダイオード駆動部とを有するレーザ発光装置の制御方法において、前記半導体レーザダイオード及び前記半導体レーザダイオード駆動部間のインピーダンスを適正な状態に制御することを特徴とする。
【００１６】
さらに本発明においては、光ディスクにレーザを照射するようにしてデータを記録及び又は再生する光ディスク装置において、かかるレーザ発光装置を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、簡易な構成で記録マージン及び温度マージンの拡大が見込め、記録品質を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。
【００１９】
（１）第１の実施の形態
（１−１）本実施の形態による光ディスク装置の構成
図１は本実施の形態による光ディスク装置１を示す。この光ディスク装置１は、ＢＤ、ＤＶＤ及びＣＤ等の光ディスク２に対応しており、ホストコンピュータ３からの要求に応じて、これら光ディスク２にデータを記録し又はこれら光ディスク２に記録されたデータを再生し得るようになされている。
【００２０】
実際上、この光ディスク装置１においては、ディジタル・シグナル・プロセッサ１４の制御のもとに、モータ駆動部１０がスピンドルモータ１１を駆動することにより、所定状態に装填された光ディスク２を当該光ディスク２の記録方式（例えばＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式又はＣＬＶ（Constant Linear Velocity）方式）に応じた回転状態で回転させる。
【００２１】
また光ディスク装置１においては、ホストコンピュータ部３から送信される各種コマンドがインタフェース部１２を介してマイクロコンピュータ部１３に与えられる。
【００２２】
マイクロコンピュータ部１３は、制御プログラムが格納されたメモリ１３Ａを備えて構成され、ホストコンピュータ３から与えられるコマンドや、ディジタル・シグナル・プロセッサ１４から与えられる各種情報に応じて必要な制御処理や演算処理を実行する。
【００２３】
例えば、マイクロコンピュータ部１３は、ホストコンピュータ３から記録コマンドが与えられた場合には、インタフェース部１２を制御して、この後ホストコンピュータ３から送信される記録対象のデータをディジタル・シグナル・プロセッサ１４に送出させる。
【００２４】
ディジタル・シグナル・プロセッサ１４は、インタフェース部１３を介して与えられる記録対象のデータに対して変調処理を含む所定の信号処理を施し、かくして得られた記録信号を光ピックアップ１５のレーザ発生部１６に送出する。
【００２５】
レーザ発生部１６は、ＬＤＤ及びＬＤを備えて構成される。そしてレーザ発生部１６のＬＤＤは、ディジタル・シグナル・プロセッサから与えられる記録信号に基づいてＬＤを点滅駆動する。この結果、かかる記録信号に基づき空間変調されたレーザＬ１がＬＤから発射され、このレーザ光ＬＩが光ピックアップ１５内の図示しないフォーカスレンズを介して光ディスク２の記録面２Ａに集光される。これにより記録対象のデータが光ディスク２に記録される。
【００２６】
また、かかるレーザＬ１の光ディスク２における反射光Ｌ２は、光ピックアップ１５内の図示しないフォトディテクタにより光電変換される。そして、この光電変換により得られたＲＦ（Radio Frequency）信号がアナログ／ディジタル変換部１７においてディジタル変換されて、ディジタルＲＦ信号としてディジタル・シグナル・プロセッサ１４に与えられる。
【００２７】
ディジタル・シグナル・プロセッサ１４は、供給されるディジタルＲＦ信号に基づいて、フォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号及び回転制御信号などの各種制御信号を生成する。かくして、これらフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいて光ピックアップ１６内の図示しない２軸アクチュエータが制御され、これによりフォーカス制御やトラッキング制御が行なわれる。また回転制御信号はモータ駆動部１０に与えられ、この回転制御信号に基づいて、モータ駆動部１０によりスピンドルモータ１１の回転制御が行なわれる。
【００２８】
さらに光ピックアップ１５内のＬＤから発射されたレーザＬ１の一部は、フォーカスレンズに入射する前に分光されて、光ピックアップ１６内の図示しないＡＰＣ（Auto Power Control）制御用のフォトディテクタにより光電変換される。また、この光電変換により得られたＲＦ信号がアナログ／ディジタル変換部１７においてディジタル変換された後にディジタルＲＦ信号としてディジタル・シグナル・プロセッサ１４に与えられる。
【００２９】
かくしてディジタル・シグナル・プロセッサ１４は、このディジタルＲＦ信号に基づいて、レーザパワーがＡＰＣ制御用に予め設定された目標とするパワーとなるように、レーザ駆動部１５に送出する駆動信号の信号レベルを制御する。
【００３０】
一方、マイクロコンピュータ部１３は、インタフェース部１２を介してホストコンピュータ３からの再生コマンドを受信すると、ディジタル・シグナル・プロセッサ１４を制御することにより、所定の制御信号を光ピックアップ内のレーザ発生部１６に送出させる。
【００３１】
レーザ発生部１６は、供給される制御信号に基づいて、光ピックアップ１５内のＬＤを所定電圧で点灯駆動する。この結果、このＬＤから所定パワーのレーザＬ１が発射され、このレーザＬ１が上述のフォーカスレンズを介して光ディスク２の記録面２Ａに集光される。
【００３２】
このレーザＬ１の光ディスク２における反射光Ｌ２は、光ピックアップ１５内のかかるフォトディテクタにより光電変換され、かくして得られたＲＦ信号がアナログ／ディジタル変換部１７においてディジタル変換されてディジタルＲＦ信号としてディジタル・シグナル・プロセッサ１４に与えられる。
【００３３】
ディジタル・シグナル・プロセッサ１４は、供給されるディジタルＲＦ信号に対して復調処理等の処理の再生信号処理を施し、かくして得られた再生されたデータをインタフェース部１２を介してホストコンピュータ３に送出する。
【００３４】
またディジタル・シグナル・プロセッサ１４は、データ記録時と同様にして、かかるディジタルＲＦ信号に基づいてフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号及び回転制御信号などの各種制御信号を生成する。かくして、これらフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号及び回転制御信号に基づいて、データ記録時と同様にして、フォーカス制御、トラッキング制御及びスピンドルモータ１１の回転制御が行なわれる。
【００３５】
（１−２）本実施の形態によるＬＤ発光パルスの制御方法
次に、かかる光ディスク装置１におけるＬＤ発光パルスの制御方法について説明する。
【００３６】
（１−２−１）原理
図２に、一般的なレーザ発生装置２０の構成を示す。通常、レーザ発生装置２０は、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２が直列接続されて構成されており、電圧源制御部２３により設定電圧値Ｖが制御された電圧源２４の出力電圧がＬＤ２１に印加される。そしてレーザ発生装置２０では、ＬＤＤ２２内で生成した記録パルスをＬＤＤ２２内の図示しない電流駆動アンプを介してＬＤ２１に供給する。かくしてＬＤ２１は、電圧源２４から供給される駆動電圧に基づいて、ＬＤＤ２２からの記録パルスに基づき空間変調されたレーザＬ１を発光する。
【００３７】
図３は、ＬＤＤ２２の出力インピーダンスを変化させて、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を変えた場合における、ＬＤＤ２２から出力される記録パルスのパルス波形（図３（Ａ））と、ＬＤ２２の発光パルスのパルス波形（図３（Ｂ）〜（Ｄ））との関係を示している。図３（Ｂ）は、ＬＤ２１とＬＤＤ２２間のインピーダンスを適正な状態に合わせた場合の発光パルスのパルス波形を示す。この場合、ＬＤＤ２２から出力される記録パルスの形状がほとんど崩れていないことが分かる。
【００３８】
また図３（Ｃ）は、図３（Ｂ）と比べてＬＤＤ２２の出力インピーダンスが低い場合の発光パルスのパルス波形を示している。ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの関係が適正でない場合、発光パルスの形状は崩れてしまう。ＬＤＤ２２の出力インピーダンスが低いこの場合は、ＬＤＤ２２から出力される記録パルスのパルス波形の立ち上がり、立下りの時間に遅延が生じる。さらに図３（Ｄ）は、図３（Ｂ）と比べてＬＤＤ２２の出力インピーダンスが高い場合の発光パルスのパルス波形を示している。この場合は、発光パルスの立ち上がり時にオーバーシュートが生じ、発光パルスが所望の形状にならない。
【００３９】
このように、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスを適正な状態にすることは、記録パルスの形状を崩さないようにＬＤ２１に発光させるために重要な要素であることがわかる。
【００４０】
そこで、本実施の形態の光ディスク装置１では、ＬＤ２１の微分抵抗に応じて、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスを適正な状態に合わせることによって、ＬＤＤ２２から出力される記録パルスがＬＤ２１に到達するまでの間に劣化するのを防止している。
【００４１】
そのための手法として、光ディスク装置１では、ＬＤＤ２２の加電圧ＶＢを制御する方法（以下、これを第１のＬＤ発光パルス制御方法と呼ぶ）と、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間を接続する線路を所定状態に作り込む方法（以下、これを第２のＬＤ発光パルス制御方法と呼ぶ）とを用いる。なお、これら第１及び第２のＬＤ発光パルス制御方法は、それぞれ単独で適用しても効果が得られるが、これらを同時に適用することによって、単独で適用する場合と比べより大きな効果を得ることができる。
【００４２】
（１−２−２）第１のＬＤ発光パルス制御方法
（１−２−２−１）第１のＬＤ発光パルス制御方法の内容
まず、第１のＬＤ発光パルス制御方法について説明する。図２において、ＬＤ２１に印加される電圧（以下、これをＬＤ２１への加電圧と呼ぶ）をＶＡ、ＬＤＤ２２に印加される電圧（接続中点２５の電圧であり、以下、これをＬＤＤ２２への加電圧と呼ぶ）をＶＢとすると、電圧源２４の設定電圧値Ｖは次式
【数１】
2009048699.tif 000003
のように近似することができる。従って、電圧源制御部２３により電圧源２４の設定電圧値Ｖを変動させることで、接続中点２５の電圧を変化させることができる。
【００４３】
この場合、接続中点２５の電圧は、ＬＤＤ２２への加電圧ＶＢであり、当該加電圧ＶＢが変動するとＬＤＤ２２の出力インピーダンスが変動する。図４にＬＤＤ２２への加電圧ＶＢと、ＬＤＤ２２の出力インピーダンスとの関係を示す。従って、（１）式と、図４に示すＬＤＤ２２の加電圧ＶＢ及びＬＤＤ２２の出力インピーダンスとの関係より、ＬＤ２１への加電圧ＶＡが変動しない場合においては、電圧源２４の設定電圧値Ｖを変動させることでＬＤＤ２２の出力インピーダンスを変動させることができることが分かる。
【００４４】
ここでＬＤＤ２２の出力インピーダンスを変動させることは、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの関係を変動させることにもなる。従って、電圧源２４の設定電圧値Ｖを制御することによって、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの関係を制御することが可能となる。このように電圧源２４の設定電圧値Ｖを変動させて、ＬＤＤ２２の出力インピーダンスをＬＤ２１の微分抵抗に応じた適正な値にすれば、記録パルスの形状を崩さないようにＬＤ２１にレーザを発光させることができる。
【００４５】
またＬＤＤ２２がＭＯＳ（Metal Oxide Semiconductor）系のトランジスタから構成されている場合、ＬＤＤ２２への加電圧ＶＢ（接続中点２５の電圧）に対する出力インピーダンスの動きがバイポーラトランジスタと比べ変動が大きいため、上述のように電圧源２４の設定電圧値Ｖを変動させてＬＤＤ２２の出力インピーダンスを変化させる方法は特に有効である。
【００４６】
ただし、ＬＤ２１の微分抵抗は、上述のように使用温度やレーザパワー、経時変化及びＬＤ２１の個体差によって変動する。図１０、図１２及び図１４に、それぞれの要因とＬＤ２１の微分抵抗との関係を示す。ＬＤ２１の微分抵抗が変化すると、図５に示すように、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を適正に保つためのＬＤＤ２２の加電圧ＶＢ（つまり適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢ）も変化する。よって、ＬＤ２１の使用時の環境変化に対応するためには、ＬＤ２１の微分抵抗に関する情報を取得し、この情報に基づいて電圧源２４の設定電圧値Ｖを適正な値となるように制御する必要がある。
【００４７】
そこで、光ディスク装置１の場合、図２との対応部分に同一符号を付した図６に示すように、光ピックアップ１５（図１）のレーザ発生部１６に接続中点２５の電圧（ＬＤＤ２２の加電圧ＶＢ）を測定するための電圧測定部２６が設けられており、この電圧測定部２６により測定された接続中点２５の電圧値に基づいて電圧源２４の設定電圧値Ｖを制御する。
【００４８】
図５に示すＬＤ２１の微分抵抗の値及び適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢの関係と、図１０、図１２及び図１４に示す、ＬＤ２１の使用環境の変化及び微分抵抗の関係とから、ＬＤ２１の使用環境に対応した接続中点２５の適正な電圧ＶＴＲＧ（つまり適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢであり、以下、これを適正電圧ＶＴＲＧと呼ぶ）が分かる。よって、本実施の形態では、この接続中点２５の電圧が適正電圧ＶＴＡＧとなるように電圧源２４の設定電圧値Ｖを制御する。
【００４９】
なお図６では、電圧測定部２６をＬＤＤ２２の外側に配置してあるが、接続中点２５と同等の電位を測定できるものであれば、ＬＤＤ２２に内装した構成であっても構わない。また接続中点２５は、ＬＤ２１とＬＤＤ２２とを接続する線路上であれば構わない。
【００５０】
ここで、上述したようなＬＤ２１の使用環境と適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係は、ＬＤ２１の微分抵抗とＬＤＤ２２への適正な加電圧ＶＢとの関係を調査することによって、予め作成しておくことができる。このようなＬＤ２１の微分抵抗と適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係の調査方法について以下に述べる。
【００５１】
図７に、ＬＤ２１の発光パルスの立ち上がり時間とＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係、ＬＤ２１の発光パルスのオーバーシュート特性とＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係を、ＬＤ２１の微分抵抗を３種類の値に変動させて取得したものを示す。図７において、実線は発光パルスの立ち上がり時間特性を表しており、曲線Ｋ１が最もＬＤ２１の微分抵抗が低い場合、曲線Ｋ２が次にＬＤ２１の微分抵抗が低い場合、曲線Ｋ３がＬＤ２１の微分抵抗が一番高い場合を示している。破線はオーバーシュート特性を表しており、曲線Ｋ４が最もＬＤ２１の微分抵抗が低い場合、曲線Ｋ５が次にＬＤ２１の微分抵抗が低い場合、曲線Ｋ６がＬＤ２１の微分抵抗が一番高い場合を示している。
【００５２】
接続中点２５の電圧が適正電圧ＶＴＡＧとなるように電圧源２４の設定電圧値Ｖを制御する目的は、ＬＤ２１の発光パルスのパルス波形が崩れないようにすることであるため、図６に示す構成においてＬＤ２１の発光パルスの立ち上がり時間が一定水準より速く、オーバーシュートが一定水準よりも小さくなるようなＬＤＤ２２への加電圧ＶＢを探すことが必要となる。この場合、Ｌ１は発光パルスの立ち上がり時間の許容限界を示したラインであり、このラインＬ１より立ち上がり時間が速ければＬＤ２１の発光パルスを意図したパルス波形に保つことができる。同様に、Ｌ２はオーバーシュートの大きさの許容限界を示したラインであり、このラインＬ２よりもオーバーシュートが低ければＬＤ２１の発光パルスを意図したパルス波形に保つことができる。つまり、両方の条件を満たす加電圧ＶＢが適正電圧ＶＴＡＧであると言える。
【００５３】
例えば、ＬＤ２１の微分抵抗が低い場合ではバー４０が示す範囲、ＬＤ２１の微分抵抗が高い場合ではバー４２が示す範囲が適正電圧ＶＴＡＧの範囲となり、電圧測定部２６で測定した接続中点２５の電圧がその双方の範囲が重なる範囲４３内の値であれば、電圧源２４の設定電圧値Ｖは適正であるということができる。このように、ＬＤ２１の微分抵抗の値を変更しながらＬＤ２１の発光パルスの形状を調査することで、ＬＤ２１の微分抵抗と適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係が分かる。これに図１０、図１２及び図１４のＬＤ２１の使用環境と微分抵抗との関係を合わせることで、ＬＤ２１の使用環境とその環境下における適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係を予め作成しておくことが可能である。そして、この関係に基づいて電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整することによって、理想的なパルス波形の発光パルスを得ることができる。
【００５４】
そこで、本実施の形態の光ディスク装置１では、ＬＤ２１の使用環境とその環境下における適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係を、そのときのＬＤ２１の使用環境とそれに対する接続中点２５の適正電圧ＶＴＡＧとを対応付けた、例えば図８に示すような電圧源制御テーブル５０としてマイクロコンピュータ部１３のメモリ１３Ａ（図１）に保持している。そしてマイクロコンピュータ部１３は、レーザ発光部１６の電圧測定部２６から与えられる接続中点２５の電圧の測定結果と、この電圧源制御テーブル５０とを利用することで、電圧源２４の設定電圧値Ｖを光ディスク装置１の使用環境に応じた適切な電圧に調整する。これにより、ＬＤＤ２２の出力インピーダンスを調整し、レーザＬ１の発光パルスのパルス波形が崩れないよう制御することができる。
【００５５】
図８では、一例として温度環境だけを考慮した例を示しているが、これにレーザパワー、経時変化をも考慮したテーブルを作成することで、ＬＤ２１の微分抵抗が変化する主要因に対応した電圧源制御テーブル５０を作成することができる。また電圧源制御テーブル５０は、光ディスク装置１の使用環境と電圧源２４の電圧設定値Ｖとを結び付ける関係のテーブルであればどのような形態のテーブルであっても構わない。テーブルの持ち方は、ＬＤ２１の使用環境とその環境に対して適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢとの関係式として持っても良い。ただし、図７のように適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢ（適正電圧ＶＴＡＧ）の範囲がある程度広く、詳細な設定が必要ない場合においては、本実施の形態のようにテーブルとして持たせることによって、計算処理を省略することや、後述する電圧調整の回数を減らすことに繋がるためマイクロコンピュータ部１３の負荷を低減させることができる。またかかるテーブルを図８のようにそのときのＬＤ２１の使用環境に対して接続中点２５の電圧を適正電圧ＶＴＡＧに設定するための電圧源２４の設定電圧値Ｖを対応付けた形態とすることによって、電圧源２４の電圧設定値Ｖの制御を容易化させることができる。
【００５６】
以下、本実施の光ディスク装置１において、電圧測定部２６の測定結果と、電圧源制御テーブル５０とを利用してＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を適正にする手順の一例について説明する。
【００５７】
図９は、上述のような電圧源２４の電圧設定値Ｖの制御に関するマイクロコンピュータ部１３の具体的な処理内容を示す。マイクロコンピュータ部１３は、メモリ１３Ａに格納された対応する制御プログラムに従って、図９に示す電源電圧設定制御処理を実行する。
【００５８】
すなわちマイクロコンピュータ部１３は、ＬＤ２１を駆動するごとにこの電圧源設定電圧値制御処理を開始し、まず、電圧測定部２６が測定した現在の接続中点２５の電圧を取得する（ＳＰ１）。
【００５９】
続いてマイクロコンピュータ部１３は、現在のＬＤ２１の使用環境における接続中点２５の適正電圧ＶＴＡＧ（現在の適正なＬＤＤ２２への加電圧ＶＢ）を電圧源制御テーブル５０より取得する（ＳＰ２）。
【００６０】
次いでマイクロコンピュータ部１３は、この適正電圧ＶＴＡＧと、ステップＳＰ１において取得した現在の接続中点２５の電圧との差分を算出し、この差分が「０」、若しくは「０」に近づく値となるように、電圧源制御部２３を制御することにより、電圧源２４の設定電圧値Ｖを更新させる（ＳＰ３）。
【００６１】
この後マイクロコンピュータ部１３は、レーザＬ１をオフにするか否か（記録データの書込みが終了したか否か）を判断する（ＳＰ４）。そしてマイクロコンピュータ部１３は、この判断において否定結果を得るとステップＳＰ１に戻り、この後ステップＳＰ４において肯定結果を得るまで、ステップＳＰ１〜ステップＳＰ４のループを繰り返す。この結果、接続中点２５の電圧が適正電圧ＶＴＲＧに収束（ＬＤＤ２２への加電圧ＶＢが適正な加電圧に収束）する。
【００６２】
そしてマイクロコンピュータ部１３は、やがてステップＳＰ４において肯定結果を得ると、この電圧源設定電圧値制御処理を終了する。
【００６３】
（１−２−２−２）光ディスク装置におけるパフォーマンス向上のための機能
（１−２−２−２−１）光ディスク装置に搭載された各種機能
上述のようにＬＤ２１の使用時にレーザＬ１を発光するごとに電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整していれば、ＬＤ２１の使用環境に応じて常にＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を適正に保つことができる。
【００６４】
ただし、光ディスク装置１の使用目的によっては、光ディスク装置１の時間的なパフォーマンスを重視する場合がある。ＬＤ２１の使用時に、毎回使用環境を把握し、毎回電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整・設定をすることは、光ディスク装置１の時間的パフォーマンスを低下させる要因となる。このような問題は、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整・設定の回数を減らすことで、対応することができる。
【００６５】
例えば、ＬＤ２１の発光パルスが適正なパルス発光をするための電圧源２４の設定電圧値Ｖの範囲は、ある程度のマージンがあると考えられる。つまり、ＬＤ２１の使用温度やレーザパワーなどの使用環境がＬＤ２１の使用中に多少変動をしていたとしても、電圧源２４の設定電圧値Ｖがマージン内に設定されていれば、適正な発光パルスでレーザ発光することが可能である。例えば図７を例に出すと、バー４０とバー４１とで重なる範囲があるように、ＬＤ２１の微分抵抗が異なる値であるにも関わらず、双方の微分抵抗において適正な電圧設定値Ｖが存在することが分かる。
【００６６】
よって、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整・設定の回数を減らすには、かかる調整・設定を使用環境が変化した場合にのみ行えば良い。さらには、その環境変化の度合いが、そのとき設定されている電圧源２４の設定電圧値Ｖでは対応できないほどの変化であった場合にのみ行うようにすれば良い。
【００６７】
上述のように使用環境に応じてＬＤ２１の微分抵抗が変化するが、微分抵抗が変化する主な使用環境の変化要因は、ＬＤ２１の経時変化、レーザパワー及び使用温度であることが分かっている。
【００６８】
つまり、かかる要因の値が変動した場合でかつその変動分が大きく、現在設定している電圧源２４の電圧設定値Ｖを変化させる必要がある場合にのみ電圧源２４の設定電圧値の調整・再設定を行えば良い。
【００６９】
そのためには、使用時における各種要因の情報を取得する必要がある。以下各要因の情報取得方法と、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整及び設定のタイミングについて述べる。
【００７０】
（１−２−２−２−２）経時変化に対する対策
ここでいうＬＤ２１の経時変化とは、長期間使用した場合に、もしくは長期間放置した場合に、使用前と使用後とでＬＤ２１の微分抵抗が変化することを言っており、長期間とは少なくとも1日以上の時間を指す。よって、通常光ディスク装置１を使用して、光ディスク２（図１）の全面記録を行う間の時間では変動しない値であるとする。
【００７１】
図１０に示すように、経時的変化が起きた場合に、ＬＤ２１の微分抵抗が増す傾向にあるため、その分がＬＤ２１への加電圧ＶＢとなって現れる。よって、光ディスク装置１の使用時のレーザＬ１の発光時に、少なくとも一回、接続中点２５の電圧を確認すれば、電圧源２４の設定電圧値Ｖと（１）式とから、経時変化情報を取得することが可能である。よって、光ディスク装置１の使用時にその経時変化情報を取得してから少なくとも一回電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整すれば、経時変化には対応できる。
【００７２】
図１１は、このような経時変化によるＬＤ２１の微分抵抗の変動に対する対応策に関するマイクロコンピュータ部１３の具体的な処理内容を示すフローチャートである。マイクロコンピュータ部１３は、メモリ１３Ａに格納された対応する制御プログラムに従って、図１１に示す経時変化対策処理を実行する。
【００７３】
すなわち、マイクロコンピュータ部１３は、光ディスク装置１の電源が投入されると、この経時変化対策処理を開始し、現在の接続中点２５の電圧を電圧測定部２６から取得し、取得した電圧に基づき必要に応じて電圧源２４の設定電圧値Ｖを更新する（ＳＰ１０）。具体的に、マイクロコンピュータ部１３は、図９について上述した電圧源設定電圧値制御処理のステップＳＰ１〜ステップＳＰ４を実行し、電圧源２４の設定電圧値Ｖを現在のＬＤ２１の使用環境に適正な電圧値に更新する。そしてマイクロコンピュータ部１３は、この後、この経時変化対策処理を終了する。
【００７４】
（１−２−２−２−３）レーザパワーの変化に対する対策
レーザＬ１のパワーは、ＬＤＤ２２がＬＤ２１に供給する記録パルスの電流量に依存する。またＬＤＤ２２が生成する記録パルスは、ＬＤＤ２２に与えられる記録データに基づいて生成される。ＬＤＤ２２に入力する記録データは、ディジタル・シグナル・プロセッサ１４が生成し、レーザ１２０５の発光パターンを変えたいタイミングでディジタル・シグナル・プロセッサ１４がＬＤＤ２２に与える。
【００７５】
よって、光ディスク装置１の使用時においてレーザパワーが変化するタイミングはディジタル・シグナル・プロセッサ１４を制御するマイクロコンピュータ１３が把握している。よって、レーザＬ１のパワーを変えるタイミングに合わせてマイクロコンピュータ部１３がディジタル・シグナル・プロセッサ１４を制御し、電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整及び設定をすれば良い。
【００７６】
さらには、レーザパワーとＬＤ２１の微分抵抗の間に図１２に示すような関係があることが分かっているので、レーザパワーの変更時において、変更前のレーザパワーと変更後のレーザパワーの変化が小さい場合などで、ＬＤ２１の微分抵抗の変動が小さく電圧源２４の設定電圧値Ｖを変更しなくても設定電圧値Ｖが適正な電圧範囲内であれば、当該設定電圧値Ｖの調整及び設定はしないようにし、光ディスク装置１の時間的パフォーマンスを向上させることも可能である。
【００７７】
ここで、図１３は、このようなレーザパワーの変化に伴うＬＤ２１の微分抵抗の変動に対する対応策に関するマイクロコンピュータ部１３の具体的な処理内容を示すフローチャートである。マイクロコンピュータ部１３は、メモリ１３Ａに格納された対応する制御プログラムに従って、この図１３に示すレーザパワー変化対策処理を実行する。
【００７８】
すなわち本実施の形態による光ディスク装置１では、レーザパワーを変化させる場合、そのタイミングでマイクロコンピュータ部１３は、次回設定するレーザパワーの設定値を確認する（ＳＰ２０）。
【００７９】
続いてマイクロコンピュータ部１３は、変化後のレーザパワーの設定値と元のレーザパワーの設定値との差分が予め設定された閾値よりも大きい否かを判断し（ＳＰ２１）、否定結果を得るとステップＳＰ２３に進む。これに対してマイクロコンピュータ部１３は、かかる判断において肯定結果を得ると、図について上述した電圧源設定電圧値制御処理のステップＳＰ１〜ステップＳＰ３を実行し、電圧源２４の設定電圧値Ｖを現在のレーザパワーに適正な電圧値に更新する（ＳＰ２２）。
【００８０】
次いでマイクロコンピュータ部１３は、レーザがオフされたか否か（データ記録が終了したか否か）を判断し（ＳＰ２３）、否定結果を得るとステップＳＰ２０に戻り、この後ステップＳＰ２３において肯定結果を得るまでステップＳＰ２０〜ステップＳＰ２３の処理を繰り返す。そしてマイクロコンピュータ部１３は、やがてステップＳＰ２３において肯定結果を得ると、このレーザパワー変化対策処理を終了する。
【００８１】
（１−２−２−２−４）使用温度の変化に対する対策
ＬＤ２１の使用温度については、図６に示すように、ＬＤ２１の温度又はＬＤ２１の近傍の温度を測定するＬＤ温度測定部２７をレーザ発生部１６に設けることにより測定することができる。
【００８２】
そして最初に電圧源２４の設定電圧値Ｖを設定したときのＬＤ２１の温度をＬＤ温度測定部２７で測定しておき、測定した温度を光ディスク装置１が保持しておく。その後、定期的にＬＤ温度測定部２７からＬＤ２１の温度を取得し、保持していた温度との差が一定値を超えた場合に、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整を実行すれば良い。
【００８３】
図１４の特性から、電圧源２４の設定電圧値Ｖの設定時の温度と現在の温度とが分かれば、ＬＤ２１の微分抵抗の変化が分かるため、例えばかかる微分抵抗の差分値の上限を決め、電圧源２４の設定電圧値Ｖの設定時の温度におけるＬＤ２１の微分抵抗の値と、現在の温度におけるＬＤ２１の微分抵抗の値との差分が、予め設定された微分抵抗差分値を超える温度差を、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整を実行するための温度差とすれば良い。
【００８４】
図１５は、このような使用温度の変化に伴うＬＤ２１の微分抵抗の変動に対する対応策に関するマイクロコンピュータ部１３の具体的な処理内容を示すフローチャートである。マイクロコンピュータ部１３は、メモリ１３Ａに格納された対応する制御プログラムに従って、この図１５に示す使用温度変化対策処理を実行する。
【００８５】
すなわちマイクロコンピュータ部１３は、レーザＬ１がオンされるとこの温度変化対策処理を開始し、まず、ＬＤ温度測定部２７から現在のＬＤ２１の温度の測定結果を取得する（ＳＰ３０）。
【００８６】
続いてマイクロコンピュータ部１３は、電圧源２４の設定電圧値Ｖの設定時の温度と、そのとき取得したＬＤ２１の温度との温度差が予め設定された閾値を超えるか否かを判断し（ＳＰ３１）、否定結果を得るとステップＳＰ３３に進む。これに対してマイクロコンピュータ部１３は、この判断において肯定結果を得ると、図９について上述した電圧源設定電圧値制御処理のステップＳＰ１〜ステップＳＰ３を実行することにより、電圧源２４の設定電圧値Ｖを現在のＬＤ２１の温度に適正な電圧値に更新する。
【００８７】
次いでマイクロコンピュータ部１３は、このレーザＬ１がオフされたか否か（データ記録が終了したか否か）を判断し（ＳＰ３３）、否定結果を得るとステップＳＰ３０に戻り、この後ステップＳＰ３０〜ステップＳＰ３３の処理を繰り返す。そしてマイクロコンピュータ部１３は、やがてステップＳＰ３３において肯定結果を得ると、この温度変化対策処理を終了する。
【００８８】
（１−２−３）第２のＬＤ発光パルス制御方法
次に、第２のＬＤ発光パルス制御方法について説明する。上述した第１のＬＤ発光パルス制御方法では、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスを適正な状態にするため、ＬＤ２１の使用環境に応じた微分抵抗の変化に応じて電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整している。
【００８９】
しかしながら、電圧源２４の設定電圧値Ｖの設定範囲が限られており、電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整しても、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスを適正な状態にする適正な電圧を設定することができない場合などが考えられる。
【００９０】
これに対応するため、電圧源２４の設定電圧値Ｖの設定可能範囲を考慮し、電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整しさえすれば、必ずＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスが適正な状態になるように、予め調整準備をしておく必要がある。
【００９１】
そこで光ディスク装置１では、第２のＬＤ発光パルス制御方法として、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２を電気的に接続する線路（以下、これをＬＤ−ＬＤＤ間線路と呼ぶ）のインピーダンスを、ＬＤＤ２２の出力インピーダンスと、ＬＤ２１のインピーダンスの関係に応じて適正にするように設計段階で調整する。これにより、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を前もって適正な状態に近づけることができる。
【００９２】
図１６に例を示す。図１６では、縦軸がインピーダンスの大きさを示しており、横軸に項目としてＬＤＤ２２、ＬＤ−ＬＤＤ間線路及びＬＤ２１が挙げられている。ＬＤ２１のインピーダンスは、ＬＤ２１の微分抵抗に応じて変動する値である。インピーダンスをＺ、微分抵抗をＲｄ、リアクタンスをＬ、コンダクタンスＣとすると、ＬＤ２１のインピーダンスは、次式
【数２】
2009048699.tif 000004
のように表すことができる。
【００９３】
図１６では、ＬＤ２１のインピーダンスと、ＬＤＤ２２のインピーダンスとの関係を３つ示している（直線Ｌ１０、直線Ｌ１１、直線Ｌ１２）。また図１６では、それぞれの関係について、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２の各インピーダンスの平均値近くの値をＬＤ−ＬＤＤ間線路のインピーダンスとして、その位置に「◆」、「▲」又は「●」のマーク３０４，３０５，３０６をそれぞれプロットしている。このように、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２の各インピーダンスの中間値をＬＤ−ＬＤＤ間線路のインピーダンスに設定することで、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を適正な状態に近づけることができる。
【００９４】
ここで、ＬＤ−ＬＤＤ間線路のインピーダンスを変動させる一例としては、かかるＬＤ−ＬＤＤ間線路の線路幅を変える方法がある。これによりＬＤ−ＬＤＤ間線路のインピーダンスを変更することができる。ＬＤ−ＬＤＤ間線路の線路幅を変える方法でインピーダンスを変えた場合、たとえば、図１７に示すように、ＬＤ２１の微分抵抗に応じて、適正な線路幅が変わるため、予めＬＤ２１の微分抵抗が分かっていれば、その微分抵抗に対して適正な線路幅のＬＤ−ＬＤＤ間線路でＬＤ２１とＬＤＤ２２を接続すればよい。これにより、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を適正にすることができる。
【００９５】
本実施の形態による光ディスク装置１においても、レーザ発光部１６において、適正なインピーダンスの状態のマージンがある場合には、ＬＤ−ＬＤＤ間線路の線路幅を厳密に調整する必要はないので、たとえばＬＤ２１の微分抵抗が高いものと、微分抵抗が低いもので大きく２つに分け、前者には線路幅が狭いＬＤ−ＬＤＤ間線路を適用し、後者には線路幅が太いＬＤ−ＬＤＤ間線路を適用している。
【００９６】
なお、本実施の形態においては、例として線路幅を変更することで、ＬＤ−ＬＤＤ間線路のインピーダンスを変更する方法を示したが、ＬＤ−ＬＤＤ間線路のインピーダンスを変える方法であれば、他の方法を広く適用することができる。
【００９７】
以上、第１及び第２のＬＤ発光パルス制御方法について述べたが、光ピックアップ１５のレーザ発生部１６としてこのような第１及び第２のＬＤ発光パルス制御方法を採用した図６に示す構成を適用することによって、第１及び第２のＬＤ発光パルス制御方法の双方の効果で、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンスの状態を適正に保ちやすくなるため、効果的である。
【００９８】
（２）第２の実施の形態
（２−１）第１の実施の形態による電圧源の設定電圧値の調整方法について
前述のように、ＬＤ２１の微分抵抗の変化要因が特定できれば効率よく、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整及び設定ができる。
【００９９】
ただし、第１の実施の形態による方法は、ＬＤ２１使用時において規定以上の温度変化があった場合や、レーザパワーを大きく変更したい場合において、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整をする方法であり、この場合、例えば光ディスク２（図１）にデータを記録中であった場合は、データ記録を一旦停止して電圧源２４の電圧調整を実行することとなる。
【０１００】
また電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整をする場合においては、レーザＬ１を発光しながら電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整するため、調整時に光ディスク２のレーザＬ１を照射しても構わない領域に光ピックアップ１５（図１）を移動させたり、レーザＬ１が光ディスク２の記録面に合焦しないように一旦光ピックアップ１５を移動させ合焦状態から非合焦状態にする必要がある。
【０１０１】
そのため、かかる第１の実施の形態による電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整方法を実行する場合、実際の調整時間と、調整するための準備期間及び調整前の状態への復帰時間が生じ、光ディスク装置の時間的パフォーマンスを下げることになりかねない。
【０１０２】
そこで、第２の実施の形態においては、このような、光ディスク装置の時間的パフォーマンスの低下を防止しながら、電圧源２４の設定電圧値Ｖを制御する方法について説明する。以下に述べる方法は、第１の実施の形態による電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整及び設定方法と、かかる調整及び設定の実行タイミングとを工夫し、さらに光ディスク装置の時間的パフォーマンスを配慮したシステムを可能とする一例である。
【０１０３】
（２−２）本実施の形態による電圧源の設定電圧値の調整方法
例えば、図６について上述したレーザ発生部１６のＬＤ温度測定部２７により測定したＬＤ２１の温度や、設定すべきレーザパワーに応じて、設定すべき電圧源２４の電圧（設定電圧値Ｖ）が予め分かっていれば、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整をする必要はなく、電圧源２４の設定電圧値Ｖを所望の電圧に変更する処理だけで済む。
【０１０４】
本実施の形態においては、電圧源制御テーブル５０（図８）を工夫し、ＬＤ２１の微分抵抗の主要変動要因である、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の２つの情報から、電圧源２４の設定電圧値Ｖを選択できるようなテーブルを作成する。そして、ＬＤ２１の微分抵抗の経時変化に対応するため、使用時に一回だけ調整を行う。
【０１０５】
図１０及び図１２の関係を実験的に取得しておけばレーザパワー及びＬＤ２１使用温度と、ＬＤ２１の微分抵抗との関係から、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の２つの情報を入力とした、電圧源２４の設定電圧値Ｖを取得できるテーブルを作成することができる。
【０１０６】
本実施の形態においては、レーザパワーとＬＤ２１の使用温度とを入力とし、電圧源２４の設定電圧値Ｖを出力とする電圧源制御テーブルを予め作成することとする。図１８に本実施の形態による第１の電圧源制御テーブル６０を示す。
【０１０７】
かかる第１の電圧源制御テーブル６０では、レーザパワーを「低パワー」、「中パワー」及び「高パワー」の３段階に分けると共に、ＬＤ２１の使用温度も「低温」、「中温」及び「高温」の３段階に分け、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンにそれぞれ対応させて電圧源２４に設定すべき設定電圧値Ｖ（Ｖ１〜Ｖ９）が規定されている。
【０１０８】
このような第１の電圧源制御テーブ６０を用いることによって、光ディスク装置の使用中に、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度を取得し、そのときのレーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンが前回の組合せパターンと異なる場合に、電圧源２４の設定電圧値Ｖを今回の組合せパターンに対応した設定電圧値Ｖに変更すればよい。このような第１の電圧源制御テーブル６０のおかげで、使用環境の変化に応じた電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整を省略することができる。
【０１０９】
上述のように、ある使用環境における適正な電圧源２４の設定電圧値Ｖは、ある程度のマージンがあるため、本実施の形態のように、使用環境をおおまかな範囲に分け、厳密に電圧源２４の設定電圧値Ｖを規定しなくても良い。もちろん電圧源２４の適正な電圧のマージンによって、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の適正な組合せパターン数が変わってくるため、かかる組合せパターン数をいくつに設定してもよい。レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンを細かく設定することによって、電圧源２４の設定電圧値Ｖを詳細に制御できるため、電圧源２４の電圧の適正範囲が狭い場合には有効である。
【０１１０】
また電圧源２４の設定電圧値Ｖの適正範囲が広い場合には、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターン数を多く設定せずに、電圧源２４の設定電圧値Ｖの制御をおおまかにすれば良い。これにより電圧源２４の電圧設定回数を減らすことができ、光ディスク装置の時間的なパフォーマンスにより配慮したシステムとなる。
【０１１１】
さらに、レーザパワーに関して言えば、データ記録時のレーザパワーとデータ再生時のレーザパワーとでレーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンを分けるとさらなる効果がある。前提として、データ記録時とデータ再生時では、再生時のレーザパワーの方が小さいことから、かかる組合せパターンを区別することができる。
【０１１２】
再生時のレーザ発光は、データを記録する必要がないため、データを記録するためのパルス発光をしない。そのため、データ再生時では、データ記録時のような記録パルスをＬＤＤ２２からＬＤ２１に供給していない。よって、ＬＤ２１とＬＤＤ２２のインピーダンスの状態をあまり意識する必要がない。そのため、電圧源２４の設定電圧値Ｖは、比較的自由に設定しても良い。この場合、できるだけ電圧源２４の設定電圧値Ｖを低い値に設定しておけば、光ディスク装置の消費電力低下に繋がる。
【０１１３】
またデータ再生時のレーザには、レーザノイズ対策として高周波成分を付加して発光する場合がある。この場合は、付加する高周波成分の形状が変形しないような、ＬＤ２１及びＬＤＤ２２間のインピーダンス状態が最適であり、データ記録時とは異なる電圧源２４の電圧設定が必要となる場合もある。この場合にも再生時と記録時でゾーンを区切り、電圧源２４の電圧設定値Ｖを変えることは効果がある。
【０１１４】
なお第１の電圧源制御テーブル６０は、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンごとに電圧源２４の設定電圧値Ｖの固定値が入った表のような形式になっているが、ＬＤ２１の使用温度とレーザパワーに対する電圧源２４の適正電圧の関係を計算式の形で持つ形式でも良い。
【０１１５】
図１９は、第２の実施の形態の光ディスク装置７０（図１）における上述の第１の電源制御テーブル６０を利用した電圧源２４の電圧設定値Ｖの制御処理に関するマイクロコンピュータ部７１（図１）の処理内容を示すフローチャートである。マイクロコンピュータ部７１は、メモリ７１Ａ（図１）に格納された対応する制御プログラムに従って、この図１９に示す第２の実施の形態による電源電圧設定制御処理を実行する。
【０１１６】
すなわちマイクロコンピュータ部７１は、光ディスク２にデータを記録又は再生する際にこの温度変化対策処理を開始し、まず、ＬＤ温度測定部２７から現在のＬＤ２１の温度の測定結果を取得する（ＳＰ４０）。
【０１１７】
続いてマイクロコンピュータ部７１は、ステップＳＰ３０において取得した現在のＬＤ１２の温度と、そのときの記録速度等に応じて設定されているレーザパワーとに基づいて、第１の電圧源制御テーブル６０から対応する設定電圧値を読み出す（ＳＰ４１）。
【０１１８】
そしてマイクロコンピュータ部７１は、電圧源制御部２３を制御することにより、電圧源２４の設定電圧値Ｖを第１の電圧源制御テーブル６０から読み出した設定電圧値に設定し（ＳＰ４２）、この後、この電源電圧設定制御処理を終了する。
【０１１９】
（２−３）経時変化に対する対応策
図１８について上述した前述した第１の電圧源制御テーブル６０は、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の関係から作成した表である。よって、ＬＤ２１の経時変化に対応するには、光ディスク装置７０の使用時において少なくとも一回、ＬＤ２１の微分抵抗に関する情報を取得すれば良く、その情報を元に電圧源制御テーブル６０を更新すれば、使用時における経時変化にも対応する第１の電圧源制御テーブル６０を作成することができる。以下、経時変化に対応する第１の電圧源制御テーブル６０を作成する方法として一例を述べる。
【０１２０】
第１の電圧源制御テーブル６０は、レーザパワー及びＬＤ２１使用温度から適正な電圧源２４の設定電圧値Ｖを取得するためのテーブルであるが、本実施の形態では、このような第１の電圧源制御テーブル６０とは別に、当該第１の電圧源制御テーブル６０と同じ構成で、レーザパワー及びＬＤ２１の使用温度から、図６におけるＬＤ２１及びＬＤＤ２２の接続中点２５の適正な電圧を取得できる図２０に示すような第２の電圧源制御テーブル６１を用意する。
【０１２１】
そして、第２の実施の形態による光ディスク装置７０の使用時に、少なくとも一回、電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整する。調整方法は、図１８より、調整時のレーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンに対応して取得した接続中点２５の電圧を目標値として、電圧測定部２６で測定した電圧が目標値になるよう電圧源２４の設定電圧値Ｖを変動させる。調整後取得した電圧源２４の設定電圧値Ｖを第１の電圧源制御テーブル６０におけるレーザパワー及びＬＤ２１の使用温度の組合せパターンに対応した電圧源２４の設定電圧値Ｖとして登録する。また第１の電圧源制御テーブル６０の調整時の組合せパターンでない電圧源２４の設定電圧値Ｖは、第１の電圧源制御テーブル６０における各組合せパターンでの電圧値の傾向がわかっているため、実際に調整を実行しない組合せパターンの電圧源２４の設定電圧値Ｖも算出することができる。
【０１２２】
例えば、電圧源２４の設定電圧値Ｖの調整を高温の低パワーで実行したとする。この場合は、図１９の第２の電圧源制御テーブル６１におけるＶＴＲＧ３に接続中点２５の電圧がなるように電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整する。ここで、調整後の電圧源２４の設定電圧値ＶがＶＡＮＳであったとする。この場合、第１の電圧源制御テーブル６０のＶ３には、ＶＡＮＳを登録すれば良い。
【０１２３】
そして、調整を実際にしていない組合せパターン、例えば高温の中パワーは、第１の電圧源制御テーブル６０からＶ３及びＶ６の関係がわかっているため、例として、Ｖ３とＶ６の差分の関係を基に、Ｖ３及びＶ６の差分値をＶＡＮＳに加えた値として算出することができる。このようにして、調整を実際に実行していない組合せパターンの電圧源２４の電圧設定値Ｖも第１の電圧源制御テーブル６０に登録することができる。このようにすれば、経時変化に対応した第１の電圧源制御テーブル６０を作成することができる。
【０１２４】
図２１は、上述のような経時変化に対応する第１の電圧源制御テーブル６０を作成する処理に関するマイクロコンピュータ部７１の具体的な処理内容を示すフローチャートである。マイクロコンピュータ部７１は、メモリ７１Ａ（図１）に格納された対応する制御プログラムに従って、この図２１に示す第１の電圧源制御テーブル更新処理を実行する。
【０１２５】
すなわちマイクロコンピュータ部７１は、この第１の電圧源制御テーブル更新処理を開始すると、まず、ＬＤ温度測定部２７（図６）よりＬＤ２１の現在の温度を取得すると共に（ＳＰ５０）、現在のレーザパワーの設定値を確認する（ＳＰ５１）。
【０１２６】
続いてマイクロコンピュータ部７１は、ステップＳＰ５０において取得したＬＤ２１の温度と、ステップＳＰ５１において確認したレーザパワーの設定値とに基づいて、第２の電圧源制御テーブル６１より接続中点２５の電圧目標値を取得する（ＳＰ５２）。
【０１２７】
この後マイクロコンピュータ部７１は、電圧測定部２６により測定される接続中点２５の電圧がステップＳＰ５２において取得した電圧目標値となるように、電圧源制御部２３を介して電圧源２４の設定電圧値Ｖを調整する（ＳＰ５３）。
【０１２８】
さらにマイクロコンピュータ部７１は、第１の電圧源制御テーブル６０におけるステップＳＰ５０において取得したＬＤ２１の温度と、ステップＳＰ５１において確認したレーザパワーの設定値とに対応した設定電圧値Ｖ（Ｖ１〜Ｖ９）を、ステップＳＰ５３の調整後の設定電圧値Ｖに更新する（ＳＰ５４）。
【０１２９】
そしてマイクロコンピュータ部７１は、この後、第１の電圧源制御テーブル６０における他の設定電圧値Ｖ（Ｖ１〜Ｖ９）を、ステップＳＰ５４において調整した設定電圧値Ｖとの関係に基づいて更新し（ＳＰ５５）、この後、この第１の電圧源制御テーブル更新処理を終了する。
【０１３０】
（２−４）調整実行契機
上述のような調整はいつ実行しても構わないが、例えば、光ディスク装置６０の使用時における、光ディスク２（図１）のローディング処理の契機に実行すると、光ディスク装置の時間的パフォーマンスを配慮した場合に良い。光ディスク２のローディング処理とは、光ディスク２を光ディスク装置６０に装着後に、光ディスク２へのデータ再生又は、データ記録を可能とするための処理を示しており、データ再生又は記録を可能とするための各種調整処理をいう。
【０１３１】
この際、光ピックアップ１５から発射されるレーザＬ１が光ディスク２に合焦していない状態が存在する。この合焦していない状態を利用すれば、データ記録用のレーザパワーで発光しても、光ディスク２にデータを記録したり、記録済みのデータに上書きをしてしまうことはないため、安全に電圧源２４の電圧調整が可能である。
【０１３２】
逆に、かかる調整処理をローディング処理後に実行する場合は、光ピックアップ１５から発射されるレーザＬ１は、光ディスク２の溝を走査する動きになるため、合焦状態になっていることが多く、調整をやるためには光ピックアップ１５を制御し、光ディスク２の合焦状態を解除し調整を実行するか、又は合焦状態を解除したくない場合は、光ディスク２の調整中のレーザＬ１によって、記録をしてしまっても良い領域に光ピックアップ１５を移動し、調整を実行すれば良い。
【０１３３】
またデータ記録時とデータ再生時をレーザパワーで区別した例を示したが、データの記録及びデータ再生は、マイクロコンピュータ部１３が制御しているため、他の方法で記録又は再生を判断しても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１３４】
【図１】本実施の形態による光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】一般的なレーザ発生装置の構成を示すブロック図である。
【図３】（Ａ）は記録パルス波形、（Ｂ）−（Ｄ）はＬＤ及びＬＤＤ間のインピーダンスの状態を変えた場合における発光パルス波形を示す波形図である。
【図４】ＬＤＤへの加電圧とＬＤＤの出力インピーダンスとの関係を示すグラフである。
【図５】ＬＤ微分抵抗と適正なＬＤＤへの加電圧との関係を示すグラフである。
【図６】本実施の形態による光ディスク装置のレーザ発生部の構成を示すブロック図である。
【図７】電圧源設定電圧値と発光パルスの立ち上がり時間及びオーバーシュートの大きさとの関係を示す特性曲線図である。
【図８】第１の実施の形態による電圧源制御テーブルの構成を示す概念図である。
【図９】第１の実施の形態による電源電圧設定制御処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１０】ＬＤの微分抵抗の経時変化のようすを示すグラフである。
【図１１】第１の実施の形態による経時変化対策処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１２】レーザパワーとＬＤの微分抵抗との関係を示すグラフである。
【図１３】レーザパワー変化対策処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１４】温度とＬＤの微分抵抗との関係を示すグラフである。
【図１５】温度変化対策処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１６】ＬＤＤ及びＬＤ間を接続するＬＤ−ＬＤＤ接続線路のインピーダンスの説明に供するグラフである。
【図１７】ＬＤの微分抵抗とＬＤ−ＬＤＤ接続線路の線路幅との関係を示すグラフである。
【図１８】第２の実施の形態による第１の電圧源制御テーブルを示す概念図である。
【図１９】第２の実施の形態による電源電圧設定制御処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図２０】第２の実施の形態による第２の電圧源制御テーブルを示す概念図である。
【図２１】第１の電圧源制御テーブル更新処理の処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１３５】
１，７０……光ディスク装置、２……光ディスク、３……ホストコンピュータ、１３，７１……マイクロコンピュータ部、１３Ａ，７１Ａ……メモリ、１４……ディジタル・シグナル・プロセッサ、１５……光ピックアップ、１６……レーザ発生部、２１……ＬＤ、２２……ＬＤＤ、２３……電圧源制御部、２４……電圧源、２５……接続中点、２６……電圧測定部、２７……ＬＤ温度測定部、５０……電圧源制御テーブル、６０……第１の電圧源制御テーブル、６１……第２の電圧源制御テーブル、Ｌ１……レーザ、Ｖ……設定電圧値、ＶＡ，ＶＢ……加電圧。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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