(57)【要約】      （修正有）【課題】Ｔ−Ｆクロストークの特性を判断することにより、フォーカスサーボ制御の信頼性を向上させた光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置は、エラー信号生成部を備える。エラー信号生成部は、エラー信号生成回路と補正処理部を備える。エラー信号生成回路は、ＰＵヘッドの受光素子の出力を演算して、フォーカスエラーＦＥ、トラッキングエラーＴＥを出力する。補正処理部の利得可変増幅器５２は、ＴＥに対して（ＦＥの振幅Ｌ１）/（ＴＥの振幅Ｌ１）の利得を乗じる。位相反転回路５５は、利得可変増幅器５２の出力を反転させる。セレクタ５６は、利得可変増幅器５２の出力と、位相反転回路５５の出力を選択する。差動増幅器５７は、ＦＥからセレクタ５６の出力を減算する。第３Ｐ−Ｐ検出回路５８は、差動増幅器５７の出力１３１の振幅を測定する。この振幅に基づいて、セレクタ５６の出力を決める。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
トラック方向軸とトラック方向軸に直交する軸との２つの軸によって検出領域が４つの領域に分割され、光ディスクからの反射光を受光する受光素子と、
前記４つの検出領域のうちの一方の対角に位置する一対の検出領域の出力の加算結果と他方の対角に位置する一対の検出領域の加算結果との差異を演算し、演算結果をフォーカスエラー信号として出力するエラー信号生成回路と、を備えた光ディスク装置において、
前記フォーカスエラー信号の振幅を前記トラッキングエラー信号の振幅で除算した比率Ｋを検出する検出部と、
前記トラッキングエラー信号を入力して増幅または減衰する調整を行う利得可変増幅器であって、その増幅率が前記比率Ｋに基づいて設定されている利得可変増幅器と、
前記利得可変増幅器の信号を反転する反転回路と、
前記利得可変増幅器の出力と前記反転回路の出力のいずれかを選択するセレクタと、
前記フォーカスエラー信号と前記セレクタの出力信号との差分を計算することにより、クロストーク成分をキャンセルする減算器と、
前記セレクタが出力する信号を前記受光素子の出力に基づいて予め決定する決定手段と、を備える光ディスク装置。
【請求項２】
前記決定手段は、装置に光ディスクの代わりに鏡面がセットされた場合に、前記鏡面に当てた反射光に基づいて、前記受光素子の４つの検出領域の反射光のバランスを計測し、その結果に基づいて、前記セレクタが出力する信号を決定する請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記決定手段は、前記減算器の出力の振幅を測定する振幅測定部を備え、セレクタを切り換えて各々測定した前記減算器の出力の振幅の比較に基づいて、前記セレクタが出力する信号を決定する請求項１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出領域が４分割された受光素子を有する光ディスク装置に係り、より詳細には、フォーカスエラー信号に現れるトラッキングエラー信号のクロストーク成分を低減する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤやＣＤ等の光ディスクを読み出す光ディスク装置は、一般に、四角形を４つに区分して配置された検出領域を有する受光素子を備えている。この受光素子の演算からディスクに垂直な方向のエラー信号であるフォーカスエラー信号、ディスクの半径方向の誤差信号であるトラッキングエラー信号の値に基づいて、アクチュエータを動かして、所定のトラックに追従させるサーボ制御を行う。
【０００３】
ここで、受光素子の取り付け位置は、製造工程上困難となる場合が多く、必ずしも誤差を０にすることはできない。この誤差があると、ピックアップヘッドのディスク上の照射位置がトラックを横切るトラックジャンプ時に、フォーカスエラー信号にトラッキングエラー信号類似の成分が乗ってくる現象が知られている。この現象をＴ−Ｆクロストークという。
【０００４】
Ｔ−Ｆクロストークが生じると、以下のような現象が知られている。即ち、トラッキング方向の制御をせず、フォーカスを光ディスク表面に合わせた段階では、トラックへの追従制御をしていないから、上述のとおり照射位置がトラックを横切ることがある。このとき、フォーカスを合わせるアクチュエータは、フォーカスエラーを０にするように制御する。ところが、このようなＴ−Ｆクロストークにより、フォーカスエラー信号にトラッキングエラー信号類似の成分が乗ってくる。そうすると、トラックを横切る間に、このフォーカスエラーにより制御しようとする目標位置は、この成分により、本来の位置から外れ、揺り動かされることになる。これにより、フォーカスエラーを０にするようアクチュエータを追従させたとしても、フォーカスは、本来の位置から外れた位置になってしまう。したがって、Ｔ−Ｆクロストークが生じた場合には、フォーカス外れが生じたり、フォーカスがオンしにくくなったりする。
【０００５】
そこで、このようなＴ−Ｆクロストークを許容するため、フォーカスエラー信号を補正することが提案されている（例えば、特許文献１〜３参照）。特に特許文献１の段落３４には、トラッキングエラー信号の振幅と、フォーカスエラー信号の振幅の比率を用いてフォーカスエラー信号に補正する旨の記載がある。
【特許文献１】特開２００４−２２７６９４公報
【特許文献２】特開平０５−８１６８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１においては、どの方向に加減算するのか記載されていない。フォーカスエラー信号の中のＴ−Ｆクロストーク成分が、取り付け誤差の傾向により、トラッキングエラー信号と逆位相になったり正位相になったりするおそれがあった。その結果、一律にＴ−Ｆクロストークを減算すると、かえってＴ−Ｆクロストークが増える可能性があった。
【０００７】
本発明は上記課題を解決するため創案されたものであって、Ｔ−Ｆクロストークを補正する際のＴ−Ｆクロストークの特性を判断することにより、フォーカスサーボ制御の信頼性を向上させた光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、以下のように構成することができる。
【０００９】
（１）  トラック方向軸とトラック方向軸に直交する軸との２つの軸によって検出領域が４つの領域に分割され、光ディスクからの反射光を受光する受光素子と、
前記４つの検出領域のうちの一方の対角に位置する一対の検出領域の出力の加算結果と他方の対角に位置する一対の検出領域の加算結果との差異を演算し、演算結果をフォーカスエラー信号として出力するエラー信号生成回路と、を備えた光ディスク装置において、
前記フォーカスエラー信号の振幅を前記トラッキングエラー信号の振幅で除算した振幅比率Ｋを検出する検出部と、
前記トラッキングエラー信号を入力して増幅または減衰する調整を行う利得可変増幅器であって、その増幅率が前記比率Ｋに基づいて設定されている利得可変増幅器と、
前記利得可変増幅器の信号を反転する反転回路と、
前記利得可変増幅器の出力と、前記反転回路の出力のいずれかを選択するセレクタと、
前記フォーカスエラー信号と、前記セレクタの出力信号との差分を計算することにより、クロストーク成分をキャンセルする減算器と、
前記セレクタが出力する信号を前記受光素子の出力に基づいて予め決定する決定手段と、を備える。
【００１０】
この構成では、決定手段がＴ−Ｆクロストークの正負の傾向を予め決定しているので、より確実にＴ−Ｆクロストークの成分を削減でき、フォーカスサーボ制御の信頼性を向上させることができる。
【００１１】
なお、利得可変増幅器の増幅率は振幅比率Ｋにするのが望ましいが、例えば、Ｋ×（１±１０％）等、Ｋに基づいて増幅率を決定する場合でも、この構成の効果が生じうる。
【００１２】
（２）  前記決定手段は、装置に光ディスクの代わりに鏡面がセットされた場合に、前記鏡面に当てた反射光に基づいて、前記受光素子の４つの検出領域の反射光のバランスを計測し、その結果に基づいて、前記セレクタが出力する信号を決定する。
【００１３】
この構成では、決定手段が、前記受光素子の４つの検出領域の反射光のバランスを計測しているから、Ｔ−Ｆクロストークの振幅の正負を決定することができる。
【００１４】
（３）  前記決定手段は、前記減算器の出力の振幅を測定する振幅測定部を備え、セレクタを切り換えて各々測定した前記減算器の出力の振幅が小さい方を、前記セレクタが出力する信号として決定する。
【００１５】
この構成では、セレクタの出力の振幅の小さい方を選択することにより、Ｔ−Ｆクロストークの正負を予め決定しているので、決定手段が自動的にこの正負を決定することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、決定手段により、Ｔ−Ｆクロストークの正負を予め決定しているので、より確実にＴ−Ｆクロストークの成分を削減でき、フォーカスサーボ制御の信頼性を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下に本発明の実施例の形態を、図面を参照しつつ説明する。
【００１８】
図１を用いて、本実施形態の光ディスク装置について説明する。図１は、本実施形態の光ディスク装置の概略構成図であり、ピックアップのフォーカス制御、トラッキングサーボ制御の動作に関係する構成を表している。図示しない部分の構成については、公知の技術を用いることができる。なお、制御部３９の制御信号を点線で示している。
【００１９】
光ディスク装置１は、光ディスク１００（以下単に「ディスク」という。）に対し記録されているデータの読取を行うピックアップヘッド６（以下、ＰＵヘッド６という。）と、記録再生回路３と、サーボ回路３２と、ドライバ３３と、スレッドモータ３５と、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ３４と、装置本体１を制御する制御部１１を備えている。
【００２０】
ＰＵヘッド６は、半導体レーザダイオード（図２の６５に対応する。）、受光素子（図２の１１に対応する）、光学系を備え、受光素子がディスク１００の反射光を検出する。また、ＰＵヘッド６は、光ディスク１００の半径方向に沿って設けられた軸に移動自在に取り付けられている。スレッドモータ３５は、この軸を回転させて、ＰＵヘッド６を光ディスク１００の半径方向に移動させる。
【００２１】
記録再生回路３１は、ＰＵヘッド６の複数の受光素子の出力を全加算してＲＦ信号を生成してこれを増幅し、該ＲＦ信号を処理してＡＶ（Ａudio  Ｖisual）データを取り出す。また、エンコードしたデータからＰＵヘッド６内の半導体レーザダイオードに与える電圧を制御する制御回路と、ドライバ回路を備える。これにより、データのディスク１００への記録時には、半導体レーザダイオードに印加する信号を生成する。
【００２２】
サーボ回路３２は、エラー信号生成部１０から与えられるトラッキングエラー信号（以下、「ＴＥ」という。）、およびフォーカスエラー信号（以下、「ＦＥ」という。）に基づいて、それぞれトラッキング調整を行うためのトラッキングサーボ信号およびフォーカス調整を行うためのフォーカスサーボ信号を生成する。
【００２３】
また、サーボ回路３２は、制御部１１から入力されるシーク制御信号に基づいて、スレッドモータ３５を駆動する信号を生成し、ドライバ３３に出力する。
ドライバ３３は、サーボ回路３２で生成した信号に基づいて、ＰＵヘッド６内の２軸のアクチュエータ（図２の６８、６９に対応する。）、スレッモータ３５を駆動する。
【００２４】
なお、トラッキングサーボ信号、フォーカスサーボ信号に基づいて、この２軸のアクチュエータを制御してサーボをかけることを「トラッキングサーボ制御」という。
【００２５】
スレッドモータ７は、ＰＵヘッド６を貫通する軸を回転させて、光ディスク１００の半径方向に移動（粗シークまたはトラバースシークともいう。）させ、レーザ光が光ディスク１００に照射する位置を変化させる。スピンドルモータ８は、光ディスク１００を回転させる。
【００２６】
制御部３９は、マイコンまたはマイコンを含むシステムＩＣで構成し、ＣＰＵ、ＲＡＭ、制御データ格納用のＲＯＭを備える。制御部９は、操作部８で受け付けた入力に基づいて、ＰＵヘッド６、エラー信号生成部１０、記録再生回路３１、サーボ回路３２の各部の動作を制御する。また、制御部９のＲＯＭは、各種の処理を実行するためのサブルーチンを記憶している。
【００２７】
図２は、本発明に係る光ディスク装置１のＰＵヘッド６を示す。図２に示すように、ＰＵヘッド６は、対物レンズ６２、偏光ビームスプリッタ６３、コリメータレンズ６４、半導体レーザダイオード６５、検出レンズ６６、シリンドリカルレンズ６７を備える。半導体レーザダイオード６５は、レーザビームを放射する。コリメータレンズ６４は、放射されたレーザビームを平行レーザビームに変換する。偏光ビームスプリッタ６３は、レーザビームの一部を通し、一部を反射する。対物レンズ６２は、偏光ビームスプリッタ６３を透過したレーザビームを、ディスク１００に向けて集光する。これにより、ディスク１００の表面のピット列上に光スポットが形成される。
【００２８】
また、対物レンズ６２は、ディスク１００からの反射光を平行光に変換する。偏光ビームスプリッタ６３は、対物レンズ６２から戻ってきた光の一部を検出レンズ６６へ反射させる。検出レンズ６６で集光されたレーザビームは、非点収差発生素子であるシリンドリカルレンズ６７（円柱レンズ）を透過して、受光素子１１の中心の近傍位置にスポットを形成する。従って、受光素子１１上に形成されるスポットは、対物レンズ６２が適正位置にあるとき、すなわち、焦点がディスク１００の表面にあるときには真円となり、外れるときには楕円となる。また、焦点が近いときと遠いときでは、楕円の長軸の方向が９０度ずれるので、光ディスク装置１は、この性質を利用して、後述するフォーカスエラー信号を検出する。
【００２９】
図３は、実施形態のエラー信号生成部１０の電気的構成を示すブロック線図である。エラー信号生成部１０は、エラー信号生成回路１２、補正処理部１３を備える。また、エラー信号生成回路１２は、４つの加算器２１，２２，２４，２５と２つの減算器２３，２６を備える。
【００３０】
受光素子１１は、例えばフォトダイオードで構成される。受光素子１１は、その検出領域が、トラック方向軸１１１およびトラック方向軸１１１に直交する軸１１２の２つの軸によって、４つの検出領域Ａ〜Ｄに分割されている。加算器２１は、４つの検出領域Ａ〜Ｄのうちの一方の対角に位置する一対の検出領域Ａ，Ｃの出力を加算する。また、加算器２２は、４つの検出領域Ａ〜Ｄのうちの他方の対角に位置する一対の検出領域Ｂ，Ｄの出力を加算する。そして、減算器２３は、加算器２１の出力から加算器２２の出力を減算し、減算結果をフォーカスエラー信号ＦＥとして出力する。即ち、フォーカスエラー信号ＦＥは、対角同士を足した受光量の差であり、Ａ＋Ｃ−（Ｂ＋Ｄ）で計算できる。
【００３１】
加算器２４は、４つの検出領域Ａ〜Ｄのうち、トラック方向軸１１１に対して一方の側に位置する２つの検出領域Ａ，Ｄの出力を加算する。また、加算器２５は、４つの検出領域Ａ〜Ｄのうち、トラック方向軸１１１に対して他方の側に位置する２つの検出領域Ｂ，Ｃの出力を加算する。そして、減算器２６は、加算器２４の出力から加算器２５の出力を減算し、減算結果を、プッシュプル方式のトラッキングエラー信号ＴＥとして出力する。
【００３２】
すなわちトラッキングエラー信号は、半径方向の受光量の差により検出でき、Ａ＋Ｄ−（Ｂ＋Ｃ）により計算した結果を検出結果とすることができる。ここで、数式でＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄを表わすときは、受光量電圧を表わすものとする。以下も同様である。
【００３３】
補正処理部１３は、４つの検出領域Ａ〜Ｄの信号を用いて、Ｔ−Ｆクロストークを低減するように補正する。詳細は後述する。
【００３４】
次に、図４、図５の図を用いて、受光素子１１に取り付け誤差がある場合のフォーカスエラー信号ＦＥに与える影響について説明する。図４（Ａ）、図５（Ａ）のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、図３のＡ、Ｂ，Ｃ、Ｄに対応しており、Ｄ→ＡまたはＣ→Ｂの方向がトラック方向であるものとする。
【００３５】
ここで、以下の説明の準備のため、ＦＥ，ＴＥについて、前述した数式を用いて解析する。前述のとおり、ＴＥは、半径方向の受光量電圧の差であり、
ＴＥ＝（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）とすることができる。これを変形して、
ＴＥ＝Ａ−Ｂ＋Ｄ−Ｃ
とすることができる。一方、フォーカスエラーＦＥは、対角方向の受光素子の受光電圧の和を差し引いたものであり、
ＦＥ＝Ａ＋Ｃ−（Ｂ＋Ｄ）
となる。これを変形して、
ＦＥ＝Ａ−Ｂ−（Ｄ−Ｃ）
とすることができる。したがって、フォーカスエラーＦＥ、トラッキングエラーＴＥの差は、（Ｄ−Ｃ）が正か負であるかの違いであることが分かる。
【００３６】
図４の例では、図４（Ａ）に示すように、取付誤差により、ビームスポットの中心がＡ，Ｂ側に寄って取り付けられていたものとする。
【００３７】
また、図４、図５の例ともに、光ビームが、他の検出領域に比べて比較的強く当たった位置の中心（以下、「明部」と称する。）の軌跡が、以下の軌跡（１）（２）を通った場合に検出されるＴＥの様子、ＦＥの様子を表わしている。ここで、軌跡（１）、（２）は、トラック方向の中心軸（ＡとＢとの間、または、ＤとＣとの間）をトラック方向軸１１１に関して、明部がＴＲから外周（ＡまたはＣ）の方向に移動した後、ＴＲに戻り、内周（ＢまたはＣ）の方向に移動して、その後、軸１１１に戻る軌跡である。
【００３８】
図４（Ｂ）は、図４（Ａ）の取り付け誤差がある場合のＴＥの時間変化を表わしている。このとき、（１）の場合には、明部が外周に移動するからＴＥは正、（２）の場合には、ＴＥは負になる。
【００３９】
ここで、図４（Ａ）の取付状態では、Ｃ、Ｄの受光量電圧に対し、Ａ、Ｂの受光量電圧が小さくなる。半径方向に誤差はないとすれば、ＴＥには、取り付け誤差の影響は表れない。ＴＥは、半径方向の誤差成分を検出しているからである。
【００４０】
また、上記数式上からすれば、図４（Ａ）の取付状態で明部が１１５にあれば、取り付け誤差の成分Δがあっても、（Ａ＋Δ）−（Ｂ＋Δ）、（Ｄ＋Δ）−（Ｃ＋Δ）は相殺され、ＦＥには表れないようにも見える。しかし、実際には、ビームスポットがトラックを横断するときに、明部がトラック方向軸１１１からずれ、光がアンバランスとなる。例えば、（１）の軌跡に沿えば、取り付け誤差により、Ａの受光量が比較的大きくなる。このとき、０であるべきＦＥに、ＦＥ＞０の誤差が表れる。さらに、ビームスポットがトラックを横断するごとに、軸１１１に関して、左側が明部、右側が暗部、右側が暗部、左側が明部という状態を交互に繰り返す。これにより、ＦＥに周期的な誤差が生じてくる。上記（１）、（２）の軌跡は、このような光の明暗のアンバランスを模擬的に表わすものということができる。
【００４１】
以下では、図４（Ｃ）を用いて、（１）、（２）の軌跡に沿って、ビームスポットの明部の中心が移動したときのＦＥへの影響について考察する。このとき、簡単のため、光ディスク１００と、レンズとの距離は一定であるものとする。軌跡（１）のときには、Ａ−Ｂ、Ｄ−Ｃはそれぞれ正の値である。このとき、明部がＡに移動するから、Ｄ−Ｃよりも、Ａ−Ｂが大きくなる。したがって、ＦＥ≧０となる。軌跡（２）のときには、Ａ−Ｂ、Ｄ−Ｃはそれぞれ正の値である。このとき、ビームスポットの中心がＢに移動するから、Ｄ−Ｃよりも、Ａ−Ｂが小さくなる。したがって、ＦＥ≦０となる。以上のとおり、軌跡（１）、（２）に沿って前記明部が移動したときＦＥは、図４（Ｄ）のようになる。
【００４２】
図４（Ｄ）に示すように、ＦＥには、ＴＥ類似の信号が表れる。図４の例では、ＦＥとＴＥは同位相となる。
【００４３】
次に、図５の例について説明する。図５の例では、図５（Ａ）に示すように、取付誤差によりＣ，Ｄ側に偏って取り付けられている。この場合も、図４（Ａ）の（１）、（２）と同じ軌跡でビームスポットの中心を移動させるものとする。このとき、ＴＥの時間変化は、図４（Ｂ）と同じく、図５（Ｂ）のようになる。図５（Ｂ）に示すように、この場合でも、ＴＥには、取り付け誤差の影響は表れてこない。ＴＥは、半径方向の誤差成分を検出しているからである。
【００４４】
以下では、図５（Ｃ）を用いて、（１）、（２）の軌跡に沿って、ビームスポットの明部の中心が移動したときのＦＥへの影響について考察する。ここでも、光ディスク１００と、レンズとの距離は一定であるものとする。軌跡（１）のときには、Ａ−Ｂ、Ｄ−Ｃはそれぞれ負の値である。このとき、明部がＣに移動するから、Ａ−Ｂよりも、Ｄ−Ｃが小さくなる。したがって、ＦＥ≦０となる。軌跡（２）のときには、Ａ−Ｂ、Ｄ−Ｃはそれぞれ負の値である。このとき、ビームスポットの明部の中心がＣに移動するから、Ａ−ＢがＤ−Ｃよりも小さくなる。したがって、ＦＥ≧０となる。以上のとおりの考察から、軌跡（１）、（２）に沿って前記明部が移動したときＦＥは、図５（Ｄ）のようになる。
【００４５】
図５（Ｄ）に示すように、ＦＥには、ＴＥ類似の信号が表れる。図５の例では、これらＦＥ、ＴＥは逆位相となる。
【００４６】
以上、図４、図５で説明したとおり、レンズとディスク１００とのフォーカス距離が一定であっても、ＦＥには、ＴＥ類似の成分が乗ってくる。そして、この成分の乗り方は、トラック方向軸に直交する軸１１２に関していずれ側へ取り付け誤差があるかで、正負が逆になる。
【００４７】
以下、図６、図７を用いて、補正処理部１３について説明する。補正処理部１３は、このようなＴＥ成分をＦＥから差し引いて、キャンセルする補正をする。
【００４８】
図６は、補正処理部１３の一部を示している。補正処理部１３は、Ｐ−Ｐ（peak topeak）検出回路４１、第２Ｐ−Ｐ検出回路４２、比率検出部４３を備えている。第１Ｐ−Ｐ検出回路４１、４２は、それぞれＦＥ、ＴＥの波形のピーク（以下の説明では、これらをＬ１，Ｌ２とする。）を検出して振幅を測定し、検出結果を比率検出部４３に出力する。比率検出部４３は、（Ｋ＝Ｌ２／Ｌ１）として定まる比率Ｋを求め、比率Ｋをクロストーク補正部１３に出力する。
【００４９】
補正処理部１３がこの比率を計算する理由は以下のとおりである。即ち、補正処理部１３では、後に、ＦＥからＴＥ成分を取り除く計算をする。しかし、ＴＥと、ＦＥに表れるＴＥ成分とは互いに振幅が異なっている。そこで、比率検出部４３は、この振幅を合わせるために、この比率を計算する。
【００５０】
図７は、補正処理部１３の構成のうち、図６で示した比率Ｋの後処理を行うための構成を表わすブロック図である。なお、補正制御部５４の制御信号を点線で示している。
【００５１】
利得可変増幅器５２は、補正制御部５４の指示に従い、トラッキングエラー信号ＴＥを増幅する。補正制御部５４は、マイコンまたはこれを含むシステムＩＣで構成され、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭを備える。補正制御部５４は、ＲＯＭに記憶したサブルーチンにより、利得可変増幅器５２の利得の制御と、セレクタ５６における信号選択とを行う。補正制御部５４は、比率１５１（図６で示す比率検出部４３の出力）を、利得可変増幅器５２の利得に設定する。
【００５２】
反転回路５５は、オペアンプ等を用いた、利得１の増幅回路で構成できる。反転回路５５は、利得可変増幅器５２の出力の位相を１８０度反転させる。セレクタ５６は、例えばマルチプレクサで構成でき、利得可変増幅器５２の出力信号そのままと、反転回路５５の出力信号のいずれかを選択する。その選択は、前述のとおり、補正制御部５４の指示に基づいて行われる。
【００５３】
差動増幅器５７は、フォーカスエラー信号ＦＥから、信号（スイッチ５３より出力される信号）を減算し、差動増幅器５７の出力１３１をサーボ回路３２に出力する。これにより、ＦＥから、ＴＥ成分を除去する補正を行うことができる。また、第３Ｐ−Ｐ検出回路５８は、出力１３１の振幅を測定する。セレクタ５３を切り換えて振幅を測定し、振幅が小さい方がそのＰＵヘッド６の個体に適合した補正であるといえる。
【００５４】
次に、図８を用いて、セレクタ５３を自動設定するフローについて説明する。この処理は、補正制御部５４が、ＲＯＭに記録したサブプログラムを起動して実行する。
ＳＴ１１で、補正制御部５４は、セレクタの出力を利得可変増幅器５２から直接出力する側（図面では、「増幅器ダイレクト側」という。）に設定する。
ＳＴ１２で、ドライバ３３は、アクチュエータ６９を駆動して、フォーカス制御を行う。
ＳＴ１３で、ドライバ３３は、トラッキング用のアクチュエータ６８を駆動して、照射位置がトラックを横断するように、意図的に移動させる。
ＳＴ１４で、第３Ｐ−Ｐ検出回路５８は、差動増幅器５７の出力１３１の振幅を測定する。この振幅をＬ３とする。
【００５５】
ＳＴ２１で、補正制御部５４は、セレクタの出力を、位相反転回路５５の出力側に設定する。
ＳＴ２２〜ＳＴ２４では、ＳＴ１２〜ＳＴ２４とまったく同じ動作を行う。ただし、ＳＴ２４で測定する振幅をＬ４とする。
【００５６】
ＳＴ３１で、Ｌ３がＬ４を超えているかどうか判断する。Ｌ３＞Ｌ４の場合には（ＳＴ３１のＹＥＳ）、セレクタ５６を位相反転回路５５の出力側に設定する。Ｌ３≦Ｌ４の場合には（ＳＴ３１のＮＯ）、セレクタを利得可変増幅器５２ダイレクト側に設定する。ＳＴ３２、ＳＴ３３の後、フローは終了する。
【００５７】
なお、ＳＴ３１では、Ｌ３がＬ４以上かどうか判断してもよい。Ｌ３と、Ｌ４の比較に基づいて判断できればよい。また、ＳＴ１１〜ＳＴ１４と、ＳＴ２１〜ＳＴ２４の測定の順序は、いずれが先でもよい。
【００５８】
以上の実施形態について補足する。
【００５９】
以上の図１の説明では、機能ごとに分離したブロックで説明したが、実装上は、これらの機能のうち、いずれかが複数の機能が一体となったシステムＩＣで構成してもよいし、一つのブロックを複数に分離して構成してもよい。
【００６０】
図７では、補正制御部５４、セレクタ５６を設けた。しかし、利得可変増幅器５２の増幅率に比率１５１が入力されるようにアナログ回路を構成すれば、補正制御部５４は、利得可変増幅器５２を制御する必要はない。さらに、図４、図５のいずれのパターンの取り付け誤差かどうかを予め確認して、反転回路を通すかどうかを予め決定していれば、補正制御部５４、セレクタ５６、第３Ｐ−Ｐ検出回路５８は必ずしも必要でなくなる。
また、セレクタ５６をディップスイッチ等により手動で切り換えるように構成し、装置１の製造後にセレクタ５６を調整してもよい。また、取り付け誤差が図４、図５のいずれのパターンであるかを確認する方法としては、ディスク１００の代わりに全反射する鏡を置いて、受光量電圧の比率を測定するようにすることができる。さらに、エラー信号生成部１０を補正制御部５４を制御部３９で構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の実施形態のフロントエンドを表わす図である。
【図２】本実施形態の電気的構成を示すブロック線図である。
【図３】本実施形態のエラー信号生成部の詳細な構成を示すブロック線図である。
【図４】Ｔ／Ｆクロストークを説明する図である。
【図５】Ｔ／Ｆクロストークを説明する図である。
【図６】補正処理部１３の構成の一部を表わす図である。
【図７】補正処理部１３の構成の一部を表わす図である。
【図８】補正処理部１３の構成の一部を表わす図である。
【符号の説明】
【００６２】
１−光ディスク装置、  １０−エラー信号生成部、  １１−受光素子、
１２−エラー信号生成回路、  １３−補正処理部、  １５−変化幅比検出部、
３１−記録再生回路、  ３２−サーボ回路、  ３３−ドライバ、
３４−スピンドルモータ、  ３５−スレッドモータ、  ３９−制御部、
４１−第１Ｐ−Ｐ検出回路、  ４２−第２Ｐ−Ｐ検出回路、４３−比率検出部、
１５１−出力、  ５２−利得可変増幅器、  ５４−補正制御部、
５５−位相反転回路、  ５６−セレクタ、  ５７−差動増幅器、
５８−第３Ｐ−Ｐ検出回路、  ６−ＰＵヘッド、  ６１−光ディスク、
６２−対物レンズ、  ６３−偏光ビームスプリッタ、  ６４−コリメータレンズ、
６５−半導体レーザダイオード、  ６６−検出レンズ、  ６７−シリンドリカルレンズ、
６８−アクチュエータ、  ６９−アクチュエータ、  １００−光ディスク、
１１１−トラック方向軸、  １１２−トラック方向軸に直交する軸、  Ａ〜Ｄ−検出領域、
ＦＥ−フォーカスエラー信号、  ＴＥ−トラッキングエラー信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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