(57)【要約】【課題】欠陥部位の位置を示す図形を、欠陥部位の視認性を低下させることなく表示する。【解決手段】目視検査装置は、表示機器の画面が有する欠陥部位９２・９３・９４の位置を示す欠陥位置情報を受信する制御装置と、制御装置が受信した欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位９２・９３・９４の位置または存在範囲を示す欠陥部指示記号９５・９６・９７を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように表示パネルに表示する点灯パターン形成部とを備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信手段と、
上記受信手段が受信した欠陥位置情報に基づいて、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段とを備えることを特徴とする点灯検査装置。
【請求項２】
上記表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、上記欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に位置する部分を表示しないことを特徴とする請求項１に記載の点灯検査装置。
【請求項３】
上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、
上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る上記信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する上記図形を構成する部分を表示しないことを特徴とする請求項２に記載の点灯検査装置。
【請求項４】
上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、
上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に、他の欠陥部位に対応する図形が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する図形の表示位置を変更することを特徴とする請求項１に記載の点灯検査装置。
【請求項５】
上記図形は、矩形、多角形または円形の一部、もしくは、線形状、矢印形状またはＬ字形状からなるものであることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の点灯検査装置。
【請求項６】
上記図形は、文字または数字を含むことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の点灯検査装置。
【請求項７】
上記図形は、線対称または点対称である図形の対を含むことを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載の点灯検査装置。
【請求項８】
上記表示制御手段は、複数種類の上記図形を上記画面に表示するものであり、表示する上記図形の種類を外部から入力される命令に従って変更することを特徴とする請求項１〜７のいずれか１項に記載の点灯検査装置。
【請求項９】
上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、
上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形の種類を互いに異ならせることを特徴とする請求項８に記載の点灯検査装置。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか１項に記載の点灯検査装置を動作させる点灯検査プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための点灯検査プログラム。
【請求項１１】
請求項１０に記載の点灯検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項１２】
受信手段と表示制御手段とを備える点灯検査装置における点灯検査方法であって、
上記受信手段が、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信工程と、
上記受信工程において受信した欠陥位置情報に基づいて、上記表示制御手段が、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御工程とを含むことを特徴とする点灯検査方法。
【請求項１３】
表示機器の画面を撮像手段によって撮像し、その撮像画像を解析することにより、当該画面の欠陥を検出する自動検査装置と、
上記自動検査装置によって検査された画面に目視検査用の点灯パターンを表示する目視検査装置とを備える点灯検査システムであって、
上記自動検査装置は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を上記目視検査装置に送信する送信手段を備え、
上記目視検査装置は、上記送信手段が送信した欠陥位置情報に基づいて、上記自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段を備えることを特徴とする点灯検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶ディスプレイなどの表示機器に対して点灯検査を行うための点灯検査装置、点灯検査システムおよび点灯検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶パネル等のフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）に関して、品質確保のため表示面内の微小な点欠陥、異物欠陥、シミ・ムラなどを、点灯状態にて目視で検査している。しかしながら、ＦＰＤはサイズの大型化が進み、大画面の中に存在する微小な点欠陥または異物欠陥を目視により検出することには多くの時間を要し、さらに目視検査員の疲労によって微小欠陥を見逃すなどの問題が発生している。
【０００３】
そこで、予め自動検査装置により欠陥を抽出し、抽出された欠陥に対して、目視検査員が目視検査を実施するという検査方法が行われている。この検査方法において目視検査員が目視検査を実施する時に、自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置を容易に確認できるように工夫がなされている。
【０００４】
例えば、特許文献１に記載の発明では、自動検査装置によって検出された欠陥部位の座標を、目視検査装置を構成する欠陥座標表示用モニターによって表示している。目視検査員は、この座標を基に欠陥部位を見つければよい。
【０００５】
また、特許文献２に記載の発明では、目視検査時に、自動検査装置により検出された欠陥部位を含む、表示パネルの特定の領域のみを発光させることにより、目視検査員の作業効率を向上させている。
【０００６】
また、特許文献３に記載の発明では、自動検査装置により検出された欠陥部位を、円、矩形などの図形で囲むことにより、当該欠陥部位を目視検査員が認識しやすいようにしている。
【特許文献１】特開２００２−２５７７３４号公報（２００２年９月１１日公開）
【特許文献２】特開２００５−１８８９６８号公報（２００５年７月１４日公開）
【特許文献３】特開平１０−３９８４３号公報（１９９８年２月１３日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところが、上記従来の構成では、以下の問題が生ずる。
【０００８】
すなわち、特許文献１に記載の発明では、複数の欠陥が発生した時に、欠陥座標表示用モニターと被検査パネルとを何度も見比べる必要があるため、十分な作業効率の向上は期待できない。
【０００９】
特許文献２に記載の発明では、自発光でないＦＰＤに適用する場合には、局所的に発光するバックライトが必要であるが、そのようなバックライトは一般的ではない。
【００１０】
特許文献３に記載の発明では、欠陥部位の周囲に、当該欠陥部位の位置を示す図形を表示するときに、信号のクロストーク（信号漏れ）によって、欠陥部位またはその周囲の輝度が高まり、正確な目視検査が実施できないという問題が生じる。
【００１１】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、その目的は、既に検出されている欠陥部位の位置を示す図形を、当該欠陥部位の視認性を低下させることなく表示機器の画面に表示することができる点灯検査装置および点灯検査システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明に係る点灯検査装置は、上記の課題を解決するために、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信手段と、上記受信手段が受信した欠陥位置情報に基づいて、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段とを備えることを特徴としている。
【００１３】
本発明に係る点灯検査方法は、上記の課題を解決するために、受信手段と表示制御手段とを備える点灯検査装置における点灯検査方法であって、上記受信手段が、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信工程と、上記受信工程において受信した欠陥位置情報に基づいて、上記表示制御手段が、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御工程とを含むことを特徴としている。
【００１４】
上記の構成によれば、受信手段は、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する。この欠陥位置情報に基づいて、表示制御手段は、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させない（高めないまたは低下させない）ように表示機器の画面に表示する。換言すれば、表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を維持するように上記図形を表示する。
【００１５】
それゆえ、既に検出されている表示機器の画面の欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、点灯検査装置を操作する検査員に報知することができる。
【００１６】
また、上記表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、上記欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に位置する部分を表示しないことが好ましい。換言すれば、上記表示制御手段は、上記欠陥部位を通る、表示パネルの画像信号線上に位置する部分を有さない上記図形を表示することが好ましい。
【００１７】
表示機器の画面に図形を表示する場合、当該図形を表示する部位（絵素）に信号が送られるが、その信号が図形を表示する部位の周辺に漏れることが多い。その結果、図形の周辺部位の輝度が高まり、シャドーイングという現象が生じる。このシャドーイングは、表示機器の画面の信号線に沿う方向に発生する。シャドーイングが発生すれば、このシャドーイングにより、欠陥部位または欠陥部位の周辺部位もしくはその両方の輝度が高まり、正確な欠陥部位の判定が出来なくなる可能性がある。
【００１８】
上記の構成によれば、表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、欠陥部位を通る、表示機器の画面の信号線上に位置する部分を表示しない。換言すれば、表示制御手段は、上記図形を構成する部分のうち、欠陥部位を通る、表示機器の画面の信号線上に位置する部分を除く部分を表示する。
【００１９】
それゆえ、上記図形を表示することによって生じるシャドーイングにより、欠陥部位または欠陥部位の周辺部位もしくはその両方の輝度が高まり、その結果、正確な欠陥部位の判定が出来なくなるという可能性を低減することができる。
【００２０】
なお、シャドーイングは、表示機器の駆動方式によって画面の縦方向にも横方向にも発生する可能性がある。上記信号線は、縦方向の信号線（画像信号線）であってもよいし、横方向の信号線（走査線）であってもよい。
【００２１】
また、上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る上記信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する上記図形を構成する部分を表示しないことが好ましい。
【００２２】
上記の構成によれば、ひとつの画面に複数の欠陥部位が存在している場合に、表示制御手段は、複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する図形を構成する部分を表示しない。換言すれば、表示制御手段は、ひとつの画面に複数の欠陥部位が存在している場合に、複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形を構成する部分のうち、ある欠陥部位を通る信号線上に位置する、別の欠陥部位に対応する図形を構成する部分を除いた部分を表示する。
【００２３】
それゆえ、ある欠陥部に対応する図形を表示することによって、別の欠陥部位の視認性が低下する可能を低減できる。
【００２４】
上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に、他の欠陥部位に対応する図形が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する図形の表示位置を変更することが好ましい。
【００２５】
上記の構成によれば、表示制御手段は、ひとつの表示機器の画面に複数の欠陥部位が存在する場合に、当該欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、上記画面の信号線上に、他の欠陥部位に対応する図形が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する図形の表示位置を変更する。
【００２６】
それゆえ、ある欠陥部位に対応する図形を表示することにより、他の欠陥部位の視認性が低下する可能性を低減できる。
【００２７】
また、上記図形は、矩形、多角形または円形の一部、もしくは、線形状、矢印形状またはＬ字形状からなるものであることが好ましい。
【００２８】
上記の構成により、上記図形が矩形、多角形または円形の一部からなるもの、またはＬ字形状からなるものである場合には、当該図形によって欠陥部位の存在範囲を示すことができ、上記図形が線形状または矢印形状からなるものである場合には、欠陥部位の位置を示すことができる。
【００２９】
また、上記図形は、文字または数字を含むことが好ましい。
【００３０】
上記の構成によれば、上記図形が文字または数字を含むことにより、より多くの情報を的確に検査員に伝えることができる。
【００３１】
また、上記図形は、線対称または点対称である図形の対を含むことが好ましい。
【００３２】
上記の構成により、欠陥部位を中心として当該線対称または点対称である図形の対を表示させれば、より確実に欠陥部位を検査員に認識させることができる。
【００３３】
また、上記表示制御手段は、複数種類の上記図形を上記画面に表示するものであり、表示する上記図形の種類を外部から入力される命令に従って変更することが好ましい。
【００３４】
上記の構成によれば、表示制御手段は、外部から入力される命令に従って、表示機器の画面に表示される上記図形の種類を変更する。
【００３５】
それゆえ、欠陥部位がどのような性質を有するものであるのかに応じて当該欠陥部位に対応する図形の種類を変更できる。従って、欠陥部位をより視認し易いように上記図形を表示することができる。
【００３６】
また、上記受信手段が、ひとつの上記画面に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、上記表示制御手段は、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の上記図形の種類を互いに異ならせることが好ましい。
【００３７】
上記の構成によれば、表示制御手段は、ひとつの表示機器の画面に複数の欠陥部位が存在する場合に、当該複数の欠陥部位に対応する複数の図形の種類を互いに異ならせる。
【００３８】
それゆえ、ある欠陥部位を示す図形を他の欠陥部位を示す図形よりも目立つようにすることができる。
【００３９】
また、上記点灯検査装置を動作させる点灯検査プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための点灯検査プログラムおよび当該点灯検査プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も本発明の技術範囲に含まれる。
【００４０】
本発明に係る点灯検査システムは、上記の課題を解決するために、表示パネルを撮像手段によって撮像し、その撮像画像を解析することにより、当該表示パネルの欠陥を検出する自動検査装置と、上記自動検査装置によって検査された表示パネルに目視検査用の点灯パターンを表示する目視検査装置とを備える点灯検査システムであって、上記自動検査装置は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を上記目視検査装置に送信する送信手段を備え、上記目視検査装置は、上記送信手段が送信した欠陥位置情報に基づいて、上記自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記表示パネルに表示する表示制御手段を備えることを特徴としている。
【００４１】
上記の構成によれば、被検査体である表示パネルが自動検査装置によって検査された後に、目視検査装置によって当該表示パネルに目視検査用の点灯パターンが表示される。自動検査装置が備える送信手段は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を上記目視検査装置に送信する。そして、目視検査装置が備える表示制御手段は、上記欠陥位置情報に基づいて、自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、自動検査装置によって検査された表示パネルに表示する。このとき、表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記図形を表示する。換言すれば、表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を維持するように上記図形を表示する。
【００４２】
目視検査により表示パネルの欠陥を判定する時には、欠陥部位と当該欠陥部位の周辺部位との輝度を比較することによって判定を行う。表示制御手段は、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記図形を表示するため、上記図形が欠陥部位の判定に影響を及ぼす可能性は低くなる。
【００４３】
それゆえ、自動検査装置によって検出された表示パネルの欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、目視検査装置を操作する検査員に報知することができる。
【発明の効果】
【００４４】
本発明に係る点灯検査装置は、以上のように、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信手段と、上記受信手段が受信した欠陥位置情報に基づいて、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段とを備える構成である。
【００４５】
本発明に係る点灯検査方法は、以上のように、受信手段と表示制御手段とを備える点灯検査装置における点灯検査方法であって、上記受信手段が、表示機器の画面が有する欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を受信する受信工程と、上記受信工程において受信した欠陥位置情報に基づいて、上記表示制御手段が、上記欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御工程とを含む構成である。
【００４６】
それゆえ、既に検出されている表示パネルの欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、点灯検査装置を操作する検査員に報知することができる。
【００４７】
本発明に係る点灯検査システムは、以上のように、自動検査装置は、検出した欠陥部位の位置に関する欠陥位置情報を目視検査装置に送信する送信手段を備え、目視検査装置は、上記送信手段が送信した欠陥位置情報に基づいて、上記自動検査装置によって検出された欠陥部位の位置または存在範囲を示す図形を、上記欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように上記画面に表示する表示制御手段を備える構成である。
【００４８】
それゆえ、自動検査装置によって検出された表示パネルの欠陥部位の位置または存在範囲を、当該欠陥部位の判定を妨げずに、目視検査装置を操作する検査員に報知することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４９】
〔実施の形態１〕
本発明の実施の一形態について図１〜図１１に基づいて説明すれば、以下のとおりである。以下では、液晶ディスプレイの表示パネルを検査する点灯検査システム１を例に挙げて説明する。しかし、本発明の点灯検査システムの検査対象は、液晶ディスプレイ（表示機器）に限定されない。点灯検査システム１は、生産システム１０に含まれている。点灯検査システム１を生産システム１０に組み込む構成（ライン構成）は、特に限定されず、どのような構成であってもよい。
【００５０】
（生産システム１０の構成）
図２は、生産システム１０の構成を示す概略図である。図２に示すように、生産システム１０は、自動検査装置２と目視検査装置（点灯検査装置）３とを含む点灯検査システム１、前工程用装置４、後工程用装置５および搬送コンベア６を備えている。
【００５１】
自動検査装置２は、被検査体である表示パネル９の点灯検査を自動で行う。具体的には、自動検査装置２は、少なくとも１種類の点灯パターンを表示パネル９に表示させ、その表示パネル９を撮像した撮像画像に基づいて当該表示パネル９の欠陥を検出する。
【００５２】
この自動検査装置２は、検査対象となっている表示パネル９に対する一連の検査が終了したときに、検出された表示パネル９の欠陥部位（欠陥絵素）の位置に関する欠陥位置情報を目視検査装置３へ出力する。自動検査装置２の詳細については、後述する。
【００５３】
目視検査装置３は、表示パネル９の目視点灯検査を行うための装置であり、自動検査装置２の下流ラインに位置しており、自動検査装置２によって検査された表示パネル９に目視検査用の点灯パターンを表示する。表示パネル９の目視検査は、目視検査装置３の前に位置する検査員（目視検査員）によって行われる。検査対象となる表示パネル９は、搬送コンベア６によって自動検査装置２から搬出され、目視検査装置３へ搬入される。
【００５４】
この目視検査装置３は、自動検査装置２から欠陥位置情報を受け取ると、当該欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位の視認性を向上させる図形（以下、欠陥部指示記号と称する）を表示パネル９に表示する。この欠陥部指示記号は、自動検査装置２によって検出された、表示パネル９の欠陥部位の位置または存在範囲を当該表示パネル９上において示すものである。検査員は、表示パネル９自体に表示された欠陥部指示記号を利用して、欠陥部位を素早く確認することができる。目視検査装置３の詳細については後述する。
【００５５】
前工程用装置４は、自動検査装置２の上流に位置する装置であり、自動検査装置２における点灯検査の前に行われる工程（前工程）に含まれる処理（作業）を表示パネル９に対して行うための装置である。この前工程用装置４は、どのようなものであってもよい。換言すれば、前工程は、どのようなものであってもよい。
【００５６】
後工程用装置５は、目視検査装置３の下流に位置する装置であり、目視検査装置３における点灯検査の後に行われる工程（後工程）に含まれる処理（作業）を表示パネル９に対して行うための装置である。この後工程用装置５は、どのようなものであってもよい。換言すれば、後工程は、どのようなものであってもよい。
【００５７】
（自動検査装置２の構成）
図３は、自動検査装置２の構成を示す概略図である。図３に示すように、自動検査装置２は、表示パネル９を撮像するカメラ（撮像手段）２１、カメラ２１を固定するカメラ固定冶具２２、信号発生器２３、表示パネル９を背面より照射する検査用照明２４、画像処理装置２５、制御装置（送信手段）２６および外部からの光を遮光する外装カバー２７を備えている。
【００５８】
表示パネル９は、搬送コンベア６上において、保持台車７によって固定されており、搬送コンベア６によって自動検査装置２へ搬入される。
【００５９】
信号発生器２３は、表示パネル９に表示させる点灯パターンを出力する。この信号発生器２３は、複数種類の点灯パターンを表示パネル９に表示させることができ、どの点灯パターンを出力するのかは、制御装置２６からの命令によって決められる。
【００６０】
画像処理装置２５は、カメラ２１によって撮像された表示パネル９の撮像画像を解析することにより、当該表示パネル９の欠陥を検出する。画像処理装置２５における画像解析方法は、特に限定されず、表示パネル９の欠陥を検出できるものであればどのようなものであってもよい。画像処理装置２５は、表示パネル９の解析結果、ずなわち、表示パネル９の欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報を制御装置２６へ出力する。
【００６１】
制御装置２６は、搬送コンベア６、信号発生器２３、検査用照明２４および画像処理装置２５を制御するとともに、カメラ２１の露光時間およびゲイン設定などを制御する。特に、制御装置２６は、画像処理装置２５から送信された欠陥位置情報を通信ネットワーク８を介して目視検査装置３の制御装置３１へ出力する。
【００６２】
すなわち、制御装置２６は、欠陥位置情報を目視検査装置３に送信する送信手段としての機能を有している。
【００６３】
以上のように、自動検査装置２は、搬入された表示パネル９に対して、信号発生器２３により検査画面（点灯パターン）を表示させ、検査用照明２４によって検査照明を照射しながら、当該検査画面をカメラ２１で撮像し、その画像データを画像処理装置２５により処理することによって、表示パネル９が有する欠陥を検出するものである。
【００６４】
（目視検査装置３の構成）
図４は、目視検査装置３の構成を示す概略図である。図５は、目視検査装置３の構成を示す機能ブロック図である。図４および図５に示すように、目視検査装置３は、制御装置（受信手段）３１、表示パネル９に表示される点灯パターンを出力する信号発生器３２、表示パネル９を背面より照射する検査用照明３３、表示パネル９に表示する欠陥部指示記号を切替える、検査員からの表示切替命令を受け付ける表示切替装置３４、および判定結果を検査者が入力するための判定結果入力装置３５を備えている。
【００６５】
表示パネル９は、搬送コンベア６上において、保持台車７によって固定されており、搬送コンベア６によって目視検査装置３へ搬入される。
【００６６】
制御装置３１は、搬送コンベア６、検査用照明３３および信号発生器３２を制御するとともに、自動検査装置２から送信された欠陥位置情報を、通信ネットワーク８を介して取得する。図５に示すように、この制御装置３１は、点灯パターン形成部（表示制御手段）３１ａを備えている。
【００６７】
点灯パターン形成部３１ａは、自動検査装置２からの欠陥位置情報を受信し、当該欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する。このとき、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように、欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する。点灯パターン形成部３１ａは、形成した点灯パターンの情報を信号発生器３２に出力する。
【００６８】
換言すれば、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を、欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を維持するように表示パネル９に表示する。
【００６９】
ここで、輝度を変化させないということは、輝度を高めないということと、輝度を低下させないということとを含んでいる。白点灯検査において黒点欠陥部位を示す場合には、輝度の低い欠陥部指示記号を表示する。このような場合には、輝度の低い欠陥部指示記号を表示することによって欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度が低下しないように、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥部指示記号を表示パネル９に表示する。
【００７０】
なお、表示切替装置３４から欠陥部指示記号の切替命令を受信した場合には、点灯パターン形成部３１ａは、その切替命令に従って点灯パターンに含める欠陥部指示記号の表示の有無を切替える。
【００７１】
また、点灯パターン形成部３１ａは、点灯パターンを表示させる命令と、欠陥部指示記号を表示させる命令とを別々に信号発生器３２へ出力してもよい。
【００７２】
以上のように、目視検査装置３では、搬入された表示パネル９に対して、信号発生器３２により検査画面（点灯パターン）を表示させるとともに、欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を表示させた後に、検査照明を照射する。そして、検査員が、検査画面を目視することにより検査を行い、その検査結果を判定結果入力装置３５に入力する。
【００７３】
（表示パネル９の欠陥）
次に、被検査体である表示パネル９の有する欠陥について説明する。
【００７４】
液晶パネルの点灯検査では、微小な点欠陥および線欠陥、シミ・ムラなどを検査対象としている。微小な点欠陥は、液晶パネルが表示信号に応じて駆動した時に、液晶パネルの表示素子を構成するＴＦＴ（Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｅｒ）の異常により、所望の輝度レベルより輝度の高い、または輝度の低い点が表示されることや、ｉ）液晶層の間、ｉｉ）偏光板群とＴＦＴ基板との間、ｉｉｉ）偏光板群とＣＦ基板（カラーフィルタ基板）との間の微小異物により偏光状態が乱れて、同様に所望の輝度レベルより輝度の高い、または輝度の低い点が表示されることによって生じるものである。
【００７５】
図６に、ＴＦＴの異常により所望の輝度レベルより輝度の高いドットが表示されている例を示す。図６の左側の図は表示パネル９の全面を示しており、この中に微小な点欠陥が含まれている。この点欠陥を拡大したものが図６の右側の図であり、輝度の低いドットに混じって１つだけ輝度の高いドット（ドット９１ａ）が表示されている。
【００７６】
カラー液晶パネルの１つの絵素は、図６の右側の図の白枠に示すように３つのドット９１から構成されている。１つの絵素は、一般的に、赤（Ｒ）ドット、緑（Ｇ）ドット、青（Ｂ）ドットの３色を有している。仮に、左から順にＲ、Ｇ、Ｂと並んでいるとすると、図６の右側の図では、赤色の輝度の高い点欠陥が発生していることとなる。なお、以降の説明に関しては、Ｒ、Ｇ、Ｂドットの図示は省略する。
【００７７】
線欠陥は、前記ＴＦＴを駆動するドライバーの異常または信号線の断線・ショートなどにより、同様に所望の輝度レベルより輝度の高い、または輝度の低い線が表示されるものである。シミ・ムラは、ＴＦＴ基板またはＣＦ基板の製造工程での薄膜の膜厚異常や、ＴＦＴ基板とＣＦ基板との間に位置する液晶層のセルギャップの異常などにより発生する。
【００７８】
一般に、液晶パネルの点灯検査は、検査員が目視により上記欠陥の検査を行っているが、近年のパネルサイズの拡大に伴い、微小な点欠陥を広大なパネル表示面より探し出すのに非常に多くの時間を要するようになっている。また、検査員の疲労状況により見逃しが発生するなどの、大型液晶パネルの微小点欠陥の目視検査は困難になってきている。
【００７９】
具体的には、表示画面サイズ６５インチの液晶パネルを例に挙げると、目視検査は、表示面積約６２０，０００ｍｍ２内で０．００９７ｍｍ２以下の微小な点欠陥を探すことに相当する。一方で、線欠陥やシミ・ムラ欠陥などは微小点欠陥に比べてサイズが大きいために、探し出すのに多くの時間は必要としない。
【００８０】
したがって、検査員が不得手とする微小な点欠陥の座標情報のみを目視検査装置３へ送信し、欠陥部指示記号により当該点欠陥の位置を示してもよい。
【００８１】
（クロストークの問題）
次に、液晶パネルなどで発生するクロストーク（信号漏れ）について説明を行う。図７の（ａ）は、液晶パネルの黒背景の中に白い矩形領域を表示しているものである。図７の（ａ）に示すように、液晶パネルにおいてクロストーク（信号漏れ）が発生しているために白い矩形領域の上下に尾を引いたような表示が現れている。このような現象をシャドーイングという。
【００８２】
図７の（ａ）に示す線分Ｌ上の輝度を表示したものが図７の（ｂ）のグラフである。図７の（ｂ）に示すように、最低レベルの輝度を有している領域と最高レベルの輝度を有している領域との境界との間に中間的な輝度を有する領域が存在している。これは、黒背景と白矩形領域との境界部で、正しく境界が表示されず、白矩形領域と接する黒背景部の輝度が上昇していることを意味している。
【００８３】
理想的には、図７の（ａ）の線分Ｌ上での画像信号に関して、図７の（ｃ）に示すような、２値的な矩形波が生じるべきである。しかし、実際には信号が周辺に漏れて、図７の（ｄ）に示すような、最低レベルと最高レベルとの中間の電圧値を有する信号が発生する。そのために、黒背景と白矩形領域との境界部において、本来は黒背景であるはずの部分の電圧値が上がり、液晶パネルの輝度が上昇してシャドーイングという現象が現れているのである。
【００８４】
このシャドーイングは、信号線（画像信号線または走査線）が延びる方向（図７（ａ）では、線分Ｌが延びる方向）に沿って生じる。シャドーイングは、原理的には隣接画素への信号漏れで発生するため、画像信号線または走査線のいずれに沿った方向へも発生する可能性がある。
【００８５】
図８の（ａ）は、輝度の高い点欠陥部位の周囲を、欠陥部指示記号である矩形状の白線で囲んだ場合の表示画面を示す図である。この表示画面を拡大したものが、図８の（ｂ）に示す図である。図８の（ｂ）に示す線分Ｌ上の液晶パネルの輝度を表示したものが図８の（ｃ）に示すグラフである。
【００８６】
図８の（ｂ）に示す図から、欠陥部位を囲む欠陥部指示記号を表示することにより、当該欠陥部指示記号に由来するクロストークが生じ、欠陥部位の周辺の輝度が上昇していることが確認できる。
【００８７】
検査員が目視検査により表示パネルの良否判定を行う時には、欠陥部と、その欠陥部の周辺の良品部との輝度を比較することにより良否判定を行っている。したがって、図８の（ｃ）に示すように、欠陥部の周辺の輝度が上昇していると、欠陥部と周辺の良品部との輝度の比較による目視判定の際に誤判定をしてしまう恐れがある。そこで、本発明では、以下に説明する対策を講じている。
【００８８】
（目視検査装置３における欠陥部指示記号）
図１（ａ）は、３つの点欠陥（欠陥部位９２〜９４）が存在する、黒背景の液晶パネル（左側の図）と、３つの点欠陥部位を含む領域を拡大した図（右側の図）とを示すものである。
【００８９】
目視検査装置３によって表示される欠陥部指示記号は、欠陥部位を取り囲む矩形の一部であり、欠陥部位を通る信号線と交差する上記矩形の部分は、表示されないものである。
【００９０】
換言すれば、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥部指示記号を構成する部分のうち、少なくとも、欠陥部位を通る、表示パネル９の信号線上に位置する部分を表示パネル９に表示しない。または、点灯パターン形成部３１ａは、表示パネル９の信号線上に位置する部分を含まない欠陥部指示記号を表示パネル９に表示する。
【００９１】
具体的には、図１（ａ）に示すように、欠陥部位９２の周囲には、欠陥部指示記号９５ａおよび９５ｂからなる欠陥部指示記号９５が表示されている。これら欠陥部指示記号９５ａおよび９５ｂは、欠陥部位９２を囲む矩形（図８の（ｂ）に示す矩形）が有する部分のうち、欠陥部位９２を通る信号線（図１（ａ）では線分Ｌによって示されている）と交差する部分およびその周辺部が表示されていないものである。この欠陥部指示記号が表示されない領域（換言すれば、欠陥部位を通る信号線の周辺の領域）を非表示領域と称する。
【００９２】
なお、欠陥部指示記号９５ａおよび９５ｂの長手方向と平行な信号線（図１（ａ）に示す例では、画像信号線）とは直交する方向における非表示領域の幅は、最低１絵素相当であり、好ましくは、３〜５絵素相当である。
【００９３】
図１（ａ）に示す線分Ｌ上の液晶パネルの輝度を表示したものが、図１（ｂ）に示すグラフである。図１（ｂ）に示すように、線分Ｌ上においてクロストークによるシャドーイングが発生していないことが分かる。
【００９４】
上述したように、シャドーイングは、信号線が延びる方向（図１（ａ）では、線分Ｌが延びる方向）に沿って生じるため、欠陥部指示記号９５の、欠陥部位を通る信号線と交差する部分を表示しないことにより、欠陥部指示記号９５を表示することによって生じるシャドーイングの影響を排除することができる。
【００９５】
すなわち、図８の（ｂ）に示す例と比較して、欠陥部位９２の周辺部の輝度が上昇していないため、欠陥部位と周辺の良品部位との輝度比較による欠陥部位９２の目視判定をより正確に行うことができる。
【００９６】
また、図１（ａ）に示すように、欠陥部位９３と欠陥部位９４とに関して、欠陥部位を通る信号線を含む領域（非表示領域）が重複しているため、重複している領域すべてにおいて欠陥部指示記号９６・９７の該当部分を表示しないようにしている。
【００９７】
なお、欠陥部指示記号は、矩形の一部である必要は必ずしもなく、多角形または円形の一部であってもよいし、線形状、矢印形状またはＬ字形状からなるものであってもよい。すなわち、欠陥部指示記号は、欠陥部位の位置を示すもの、または、欠陥部位が存在する範囲を限定的に示すものであり、かつ、欠陥部位を通る信号線と交差する部分を有していないものである。
【００９８】
また、欠陥部指示記号は、線対称または点対称である図形の対を含んでいることが好ましい。例えば、欠陥部指示記号は、点対称に配置された１対のＬ字形状であってもよい。
【００９９】
欠陥部位を中心として線対称または点対称である欠陥部指示記号の対を表示させれば、より確実に欠陥部位を検査員に認識させることができる。
【０１００】
また、図９に示すように、欠陥部指示記号は、文字または数字を含んでいてもよい。図９は、欠陥部指示記号の別の例を示す図である。同図では、欠陥部位４０に対応する欠陥部指示記号として、欠陥部位４０から所定の距離だけ離れた位置において、当該欠陥部位４０を囲むように配置された４つの欠陥部指示記号４１〜４４が示されている。
【０１０１】
欠陥部指示記号４１は、「Ｌ」という文字であり、この文字は、欠陥部位４０がリーク検査において発見されたものであることを示している。また、欠陥部位４０が全面消灯検査で発見されたものであることを示す「Ｂ」という文字を表示してもよいし、欠陥部位４０が全面点灯検査で発見されたものであることを示す「Ｗ」という文字を表示してもよい。
【０１０２】
欠陥部指示記号４２は、三角印であり、この記号は、欠陥部位４０の良品部位に対するコントラストが中間レベルであることを示している。なお、当該コントラストが高レベルである場合には、○印を、低レベルである場合には、×印を表示すればよい。
【０１０３】
欠陥部指示記号４３は、「Ｇ」であり、この文字は、Ｇ（緑）絵素欠陥であることを示している。すなわち、欠陥部指示記号は、欠陥部位の色または欠陥部位の集合に含まれる各欠陥部位の色を示すもの（例えば、Ｒ、Ｇ、Ｂ、ＲＧ、ＲＢ、ＧＡ、Ａ（すべて））であってもよい。
【０１０４】
欠陥部指示記号４４は、追加情報がある場合の予備のスペースである。
【０１０５】
このように、欠陥部指示記号が文字または数字を含むことにより、より多くの情報を的確に検査員に伝えることができる。
【０１０６】
欠陥部位４０の周囲に、どのような欠陥部指示記号を表示させるかを示す表示命令を、目視検査装置３は、通信ネットワーク８を介して、外部の装置（例えば、自動検査装置２）から取得してもよいし、表示切替装置３４を介して検査員から取得してもよい。
【０１０７】
換言すれば、点灯パターン形成部３１ａは、複数種類の欠陥部指示記号を表示パネルに表示するものであり、表示する欠陥部指示記号の種類を外部から入力される命令に従って変更する。
【０１０８】
より好ましくは、欠陥部指示記号は、信号線（画像信号線または走査線）の延びる方向において、欠陥部位とは所定の距離以上離れているものである。
【０１０９】
上記所定の距離とは、欠陥部位の周囲に、当該欠陥部位と比較される良品部位（正常な絵素）を、目視検査に適当な数だけ存在させることができる距離である。上記所定の距離として適当な距離は、欠陥部指示記号の輝度、表示パネルの背景の輝度、および目視検査が行われる部屋の照度等によって変化する。それゆえ、検査環境に応じて、上記所定の距離が設定されればよい。
【０１１０】
なお、欠陥部指示記号の輝度は、当該欠陥部指示記号を検査員が視認できるものであればよく、特に限定されない。
【０１１１】
また、欠陥部指示記号は、黒点灯における検査のみならず、中間階調の点灯検査にも適用できる。背景を白にして行う白点灯検査においても、欠陥部指示記号を表示することは、欠陥部位の視認性を高めるために有効である。なお、白点灯検査の場合には、黒の欠陥部指示記号を表示するが、この場合にも、上述したようにシャドーイングが発生する可能性がある。
【０１１２】
このように、目視検査装置３において、クロストークの影響が出ないような欠陥部指示記号を表示パネル９に表示することにより、検査員が表示パネル内の微小な点欠陥を探索する時間を格段に短縮できるとともに、正確な目視判定の実施が可能となる。
【０１１３】
（点灯検査システム１における処理の流れ）
次に、点灯検査システム１における処理の流れについて図１０を参照しつつ説明する。図１０は、点灯検査システム１における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【０１１４】
搬送コンベア６によって自動検査装置２に表示パネル９が搬入されると（Ｓ１）、自動検査装置２は、搬入された表示パネル９に対して、信号発生器２３により点灯パターンを表示させ、検査用照明２４によって検査照明を照射しながら、当該検査画面をカメラ２１で撮像し、その画像データを画像処理装置２５により処理することによって、表示パネル９が有する欠陥を検出する（Ｓ２）。
【０１１５】
検査が終了すると、画像処理装置２５は、欠陥位置情報を制御装置２６へ送信し、制御装置２６は、当該欠陥位置情報を、通信ネットワーク８を介して目視検査装置３の制御装置３１へ送信する（Ｓ３）（送信工程）。
【０１１６】
そして、自動検査装置２は、表示パネル９を搬出し（Ｓ５）、次の検査対象が搬入されるのを待つ。
【０１１７】
上記欠陥位置情報を受け取ると（受信工程）、制御装置３１の点灯パターン形成部３１ａは、欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する（Ｓ４）。
【０１１８】
表示パネル９が目視検査装置３に搬入されると（Ｓ６）、点灯パターン形成部３１ａは、形成した点灯パターンの情報を信号発生器３２に出力する。信号発生器３２は、受信した点灯パターンの情報に基づいて表示パネル９に欠陥部指示記号を含む点灯パターンを表示する（Ｓ７）（表示制御工程）。また、検査用照明３３は、検査用の照明を照射する。
【０１１９】
検査員が目視検査の結果を判定結果入力装置３５に入力すると（Ｓ８）、目視検査装置３は、表示パネル９を搬出する（Ｓ９）。
【０１２０】
（点灯パターン形成部３１ａにおける処理の流れ）
図１（ａ）に示すように、欠陥部位９３と欠陥部位９４とに関して、非表示領域が重複しているため、重複している領域すべてにおいて欠陥部指示記号９６・９７の該当部分を表示しないようにする場合の、点灯パターン形成部３１ａにおける処理の流れの一例について説明する。図１１は、点灯パターン形成部３１ａにおける処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【０１２１】
欠陥位置情報（欠陥部位９３および９４の座標）を自動検査装置２から受け取ると（Ｓ１１）、目視検査装置３が備える制御装置３１の点灯パターン形成部３１ａは、当該欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位９３（第１欠陥部位）に対応する欠陥部指示記号９６の表示領域および非表示領域を特定する（Ｓ１２）。
【０１２２】
また、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥部位９４（第２欠陥部位）に対応する欠陥部指示記号９７の表示領域および非表示領域を特定する（Ｓ１３）。
【０１２３】
なお、欠陥部指示記号の表示領域および非表示領域は、欠陥部位の座標から一意的に特定できる。すなわち、点灯パターン形成部３１ａは、所定の関数を用いて、欠陥部位の座標から欠陥部指示記号の表示領域および非表示領域を示す座標を算出する。
【０１２４】
次に、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥部位９３に対応する非表示領域と欠陥部位９４に対応する非表示領域とを合わせた統合非表示領域を特定する（Ｓ１４）。
【０１２５】
そして、点灯パターン形成部３１ａは、欠陥部指示記号９６および欠陥部指示記号９７の表示領域から統合非表示領域をそれぞれ差し引いた領域を、最終的な欠陥部指示記号９６および欠陥部指示記号９７の表示領域として信号発生器３２へ出力する（Ｓ１５）。
【０１２６】
以上のように、点灯パターン形成部３１ａは、ひとつの表示パネル９に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、当該複数の欠陥位置情報によって示される複数の欠陥部位に対応する複数の欠陥部指示記号を構成する部分のうち、第１欠陥部位を通る信号線上に位置する、第２欠陥部位に対応する欠陥部指示記号を構成する部分を表示しない。
【０１２７】
それゆえ、ある欠陥部に対応する欠陥部指示記号を表示することによって、別の欠陥部位の視認性が低下する可能を低減できる。
【０１２８】
なお、欠陥部位が３つ以上存在する場合には、Ｓ１４において、３つ以上の欠陥部位の非表示領域をすべて統合すればよい。
【０１２９】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施形態について図１２〜図１５に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態１と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。図１２は、本実施の形態に係る目視検査装置（点灯検査装置）３０の構成を示す概略図である。同図に示すように目視検査装置３０は、点灯パターン形成部（表示制御手段）１２を有する制御装置１１を備えている。
【０１３０】
図１３は、点灯パターン形成部１２の構成を示す概略図である。同図に示すように、点灯パターン形成部１２は、欠陥位置情報取得部（受信手段）１３、領域特定部１４、非表示領域統合部１５、表示領域再設定部１６を備えている。
【０１３１】
欠陥位置情報取得部１３は、自動検査装置２から複数の欠陥部位の座標を示す複数の欠陥位置情報を一群のデータとして取得する。
【０１３２】
領域特定部１４は、欠陥位置情報取得部１３が取得した欠陥位置情報が示す欠陥部位に対応した欠陥部指示記号を表示する表示領域、および当該欠陥部位を通る信号線の周辺の領域であり、欠陥部指示記号が表示されない領域である非表示領域を、欠陥部位ごとに特定する。なお、領域特定部１４は、所定の関数を用いて、欠陥部位の座標から欠陥部指示記号の表示領域および非表示領域を示す座標を算出する。
【０１３３】
非表示領域統合部１５は、領域特定部１４が特定した各欠陥部位の非表示領域をひとつにまとめ、統合非表示領域を特定する。換言すれば、非表示領域統合部１５は、各欠陥部位の非表示領域を示すデータをひとつに統合する。
【０１３４】
表示領域再設定部１６は、非表示領域統合部１５が特定した統合非表示領域に各欠陥部指示記号が重ならないように、各欠陥部指示記号の位置を変更する。
【０１３５】
（表示領域再設定部１６における、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法）
図１４は、表示領域再設定部１６における、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法の一例を説明するための図である。図１４の（ａ）は、欠陥部指示記号の表示位置を変更する前の欠陥部指示記号の位置を示す図であり、図１４の（ｂ）は、欠陥部指示記号の表示位置を変更した状態の一例を示す図であり、図１４の（ｃ）は、欠陥部指示記号の表示位置を変更した状態の別の例を示す図である。
【０１３６】
ここでは、ひとつの表示パネルに欠陥部位が２つある場合を例に挙げて、欠陥部指示記号の表示位置の変更方法を説明する。図１４の（ａ）〜（ｃ）には、２つの欠陥部位５１および５２にそれぞれ対応する欠陥部指示記号５３および５４が示されている。欠陥部指示記号５３は、欠陥部位５１を重心とする正方形の四隅に当たる位置に配置された４つの欠陥部指示記号５３ａ〜５３ｄから構成されている。同様に、欠陥部指示記号５４は、欠陥部位５２を重心とする正方形の四隅に当たる位置に配置された４つのＬ字形状の欠陥部指示記号５４ａ〜５４ｄから構成されている。
【０１３７】
欠陥部位５１に対応する非表示領域は、非表示領域５５として示されており、欠陥部位５２に対応する非表示領域は、非表示領域５６として示されている。
【０１３８】
図１４の（ａ）に示すように、非表示領域５５と欠陥部指示記号５４ａおよび５４ｄとが重なっており、非表示領域５６と欠陥部指示記号５３ｂおよび５３ｃとが重なっている。
【０１３９】
表示領域再設定部１６は、これらの重なりを解消するために、欠陥部指示記号５３ｂおよび５３ｃを欠陥部位５１に近づける方向に平行移動させるとともに、欠陥部指示記号５４ａおよび５４ｄを欠陥部位５２に近づける方向に移動させる。すなわち、表示領域再設定部１６は、図１４の（ａ）において、欠陥部指示記号５３ｂおよび５３ｃのＸ座標を所定量だけ減少させるとともに、欠陥部指示記号５４ａおよび５４ｄのＸ座標を所定量だけ増加させる。
【０１４０】
このような変更を行った結果が図１４の（ｂ）に示されている。同図では、欠陥部位に対して４つの欠陥部指示記号の位置が左右対称になっていないため、見にくいものになっている。そのため、表示領域再設定部１６は、さらに欠陥部指示記号５３ａおよび５３ｄのＸ座標を上記所定量だけ増加させるとともに、欠陥部指示記号５４ｂおよび５４ｃのＸ座標を上記所定量だけ減少させてもよい。このような変更を行った結果が図１４の（ｃ）に示されている。
【０１４１】
（点灯パターン形成部１２における処理の流れ）
点灯パターン形成部１２における処理の流れの一例について図１５を参照しつつ説明する。図１５は、点灯パターン形成部１２における処理の流れの一例を示すフローチャートである。ここでは、図１４の（ａ）に示す状態から図１４の（ｃ）に示す状態へ変更する場合の処理の一例について説明する。
【０１４２】
欠陥位置情報取得部１３は、欠陥位置情報（欠陥部位５１および５２の座標）を自動検査装置２から受け取ると、当該欠陥位置情報を一群のデータとして領域特定部１４へ出力する（Ｓ２１）。
【０１４３】
領域特定部１４は、欠陥位置情報取得部１３から出力された欠陥位置情報に基づいて、欠陥部位５１（第１欠陥部位）に対応する欠陥部指示記号５３ａ〜５３ｄの表示領域および非表示領域を特定する（Ｓ２２）。
【０１４４】
また、領域特定部１４は、欠陥部位５２（第２欠陥部位）に対応する欠陥部指示記号５４ａ〜５４ｄの表示領域および非表示領域を特定する（Ｓ２３）。
【０１４５】
領域特定部１４は、特定した表示領域を示す情報を表示領域再設定部１６へ出力し、特定した非表示領域を示す情報を非表示領域統合部１５へ出力する。
【０１４６】
次に、非表示領域統合部１５は、欠陥部位５１に対応する非表示領域と欠陥部位５２に対応する非表示領域とを合わせた統合非表示領域を特定する（Ｓ２４）。非表示領域統合部１５は、特定した統合非表示領域を示す情報を表示領域再設定部１６へ出力する。
【０１４７】
領域特定部１４から表示領域を示す情報を取得し、非表示領域統合部１５から統合非表示領域を示す情報を取得すると、表示領域再設定部１６は、欠陥部指示記号５３ａ〜５３ｄおよび欠陥部指示記号５４ａ〜５４ｄの表示領域と統合非表示領域との重複領域があるかどうかを判定する（Ｓ２５）。
【０１４８】
上記重複領域が存在する場合（Ｓ２５にてＹＥＳ）、表示領域再設定部１６は、重複領域を解消するための欠陥部指示記号の移動量を算出し、当該移動量に基づいて欠陥部指示記号５３ａ〜５３ｄおよび欠陥部指示記号５４ａ〜５４ｄの移動後の座標を算出する（Ｓ２６）。
【０１４９】
そして、表示領域再設定部１６は、算出した移動後の座標を信号発生器３２へ出力する（Ｓ２７）。
【０１５０】
一方、上記重複領域が存在しない場合（Ｓ２５にてＮＯ）には、表示領域再設定部１６は、領域特定部１４から出力された表示領域を示す情報（すなわち、各欠陥部指示記号の座標）を信号発生器３２へ出力する（Ｓ２７）。
【０１５１】
以上のように、点灯パターン形成部１２は、欠陥位置情報取得部１３が、ひとつの表示パネル９に関して、複数の欠陥位置情報を受信した場合に、当該複数の欠陥位置情報によって示される欠陥部位のうちのある欠陥部位を通る、表示パネル９の信号線上に、他の欠陥部位に対応する欠陥部指示記号が位置しないように、当該他の欠陥部位に対応する欠陥部指示記号の表示位置を変更する。
【０１５２】
それゆえ、ある欠陥部指示記号を表示することにより、他の欠陥部位の視認性が低下する可能性を低減できる。
【０１５３】
〔実施の形態３〕
本発明の他の実施形態について図１６〜図２０に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態１〜２と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
【０１５４】
（生産システム１００の構成）
図１６は、本実施形態の生産システム１００の構成を示す概略図である。同図に示すように、生産システム１００は、点灯検査システム１０１を備えている。この点灯検査システム１０１は、自動検査装置２の下流ラインに位置する第１目視検査装置（点灯検査装置）１０２および第２目視検査装置（点灯検査装置）１０３を備えている。第１目視検査装置１０２および第２目視検査装置１０３は、自動検査装置２によって検査された表示パネル９に目視検査用の点灯パターンを表示する。
【０１５５】
第１目視検査装置１０２は、通常の目視力を有する第１検査員によって操作されるものであり、第２目視検査装置１０３は、欠陥の種類、欠陥のレベル、欠陥の判定等に関する知見および判断能力を有する第２検査員（熟練検査員）によって操作されるものである。
【０１５６】
第１目視検査装置１０２は、自動検査装置２から、当該自動検査装置２が検出した欠陥に関する欠陥位置情報（第１欠陥位置情報）を受け取ると、当該第１欠陥位置情報に基づいて、欠陥部指示記号を表示パネル９に表示する。さらに、第１目視検査装置１０２は、第１検査員から、その第１検査員が視認した欠陥部位の大まかな位置を示す第２欠陥位置情報を受け付け、当該第２欠陥位置情報を第２目視検査装置１０３へ送信する。
【０１５７】
第２目視検査装置１０３は、第１目視検査装置１０２から受信した第２欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を表示パネル９に表示する。そして、第２目視検査装置１０３は、第２検査員から、欠陥の種類、欠陥のレベル等の情報を含む欠陥情報、欠陥の判定結果および、欠陥部位の正確な位置を示す情報（第３欠陥位置情報）を受け付ける。
【０１５８】
（第１目視検査装置１０２の構成）
図１７は、第１目視検査装置１０２の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、第１目視検査装置１０２は、目視検査装置３とは異なり、記憶部３６、欠陥情報管理部（受信手段、送信手段）３７および位置情報入力装置３８ａを備えている。これらのうち、記憶部３６および欠陥情報管理部３７は、制御装置３１に備えられている。
【０１５９】
位置情報入力装置３８ａは、第１検査員が第２欠陥位置情報を入力するための入力装置であり、例えば、マウスまたはレーザーポインタである。
【０１６０】
欠陥情報管理部３７は、自動検査装置２から送信される第１欠陥位置情報、判定結果入力装置３５から入力される欠陥情報および判定結果、および位置情報入力装置３８ａから入力される第２欠陥位置情報を取得し、それらの情報を記憶部３６に格納する。また、欠陥情報管理部３７は、第２欠陥位置情報を第２目視検査装置１０３へ送信する。
【０１６１】
なお、本実施形態では、点灯パターン形成部１２は、自動検査装置２から送信された第１欠陥位置情報を記憶部３６から取得する。
【０１６２】
（第２目視検査装置１０３の構成）
図１８は、第２目視検査装置１０３の構成を示す機能ブロック図である。同図に示すように、第２目視検査装置１０３は、記憶部３６、欠陥情報管理部（受信手段）３９、位置情報入力装置３８ｂを備えている。
【０１６３】
位置情報入力装置３８ｂは、第２検査員が第３欠陥位置情報を入力するための入力装置であり、例えば、マウスである。
【０１６４】
欠陥情報管理部３９は、第１目視検査装置１０２から送信される第２欠陥位置情報、判定結果入力装置３５から入力される欠陥情報および判定結果、および位置情報入力装置３８ｂから入力される第３欠陥位置情報を取得し、それらの情報を記憶部３６に格納する。
【０１６５】
なお、本実施形態では、点灯パターン形成部１２は、第１目視検査装置１０２から送信された第２欠陥位置情報を記憶部３６から取得し、その第２欠陥位置情報に基づいて、表示パネル９に欠陥部指示記号を表示する。すなわち、第２目視検査装置１０３の点灯パターン形成部１２は、欠陥部指示記号を表示パネル９に表示することにより、第１検査員が視認した欠陥部位の位置または存在範囲を、第２検査員が目視する表示パネル９上において示す。
【０１６６】
（点灯検査システム１０１における処理の流れ）
次に、点灯検査システム１０１における処理の流れの一例について、図１９を参照しつつ説明する。図１９は、第１目視検査装置１０２および第２目視検査装置１０３における処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、点灯検査システム１０１の、第１目視検査装置１０２および第２目視検査装置１０３における処理以外の処理の流れは、図１０に示したものと同様である。
【０１６７】
まず、第１目視検査装置１０２の欠陥情報管理部３７は、自動検査装置２から送信された第１欠陥位置情報を受信し、当該第１欠陥位置情報を記憶部３６に格納する。（Ｓ３１）。
【０１６８】
第１欠陥位置情報の格納が完了すると、点灯パターン形成部１２は、記憶部３６に格納された第１欠陥位置情報を取得し、その第１欠陥位置情報が示す位置に存在する欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように、欠陥部指示記号（例えば、４つの白色のＬ字型の図形）を含む点灯パターンを形成する。そして、点灯パターン形成部１２は、形成した点灯パターンを、信号発生器３２を介して表示パネル９に表示する（Ｓ３２）。
【０１６９】
その後、第１検査員は、欠陥部指示記号によってその位置または存在範囲が示された欠陥部位を目視検査し、欠陥部位の大まかな位置（すなわち、第２欠陥位置情報）を位置情報入力装置３８ａを用いて入力する（Ｓ３３）。換言すれば、欠陥情報管理部３７は、位置情報入力装置３８ａを介して、第２欠陥位置情報を取得する。
【０１７０】
この第２欠陥位置情報は、例えば、位置情報入力装置３８ａがマウスである場合には、比較的大きなカーソルをマウスによって欠陥部位の近傍に移動させることによって入力される。
【０１７１】
また、位置情報入力装置３８ａがレーザーポインタである場合には、第１検査員がレーザーポインタによって欠陥部位を指し示し、制御装置３１は、レーザーポインタが指し示す位置を光学的または電磁学的に検出してもよい。例えば、レーザーポインタに姿勢センサおよび位置センサを設け、これらのセンサの検出結果から、レーザーポインタの３次元座標を特定することにより、レーザーポインタが指し示す位置を特定してもよい。
【０１７２】
第２欠陥位置情報を取得すると、欠陥情報管理部３７は、当該第２欠陥位置情報を第２目視検査装置１０３へ送信する（Ｓ３４）。
【０１７３】
第２目視検査装置１０３の欠陥情報管理部３９は、第２欠陥位置情報を受信すると、当該第２欠陥位置情報を記憶部３６に格納する。（Ｓ３５）。
【０１７４】
第２欠陥位置情報の格納が完了すると、点灯パターン形成部１２は、記憶部３６に格納された第２欠陥位置情報を取得し、その第２欠陥位置情報が示す位置に存在する欠陥部位の輝度および当該欠陥部位の周辺部位の輝度を変化させないように、欠陥部指示記号を含む点灯パターンを形成する。そして、点灯パターン形成部１２は、形成した点灯パターンを、信号発生器３２を介して表示パネル９に表示する（Ｓ３６）。
【０１７５】
その後、第２検査員は、欠陥部指示記号によってその位置または存在範囲が示された欠陥部位を目視検査し、欠陥の種類、欠陥のレベル等の情報を含む欠陥情報、および欠陥部指示記号によって示された部位が欠陥であるかどうかを示す判定結果を、判定結果入力装置３５を介して入力する。換言すれば、欠陥情報管理部３９は、判定結果入力装置３５を介して欠陥情報および判定結果を取得する。
【０１７６】
さらに、第２検査員は、欠陥部位の正確な位置（第３欠陥位置情報）を、位置情報入力装置３８ｂを用いて入力する。換言すれば、欠陥情報管理部３９は、位置情報入力装置３８ｂを介して、第３欠陥位置情報を取得する（Ｓ３７）。
【０１７７】
図２０は、第３欠陥位置情報を入力するためのカーソルの一例を示す図である。第３欠陥位置情報は、例えば、図２０に示すように、四隅に配置されたＬ字型の図形によって囲まれた十字（図２０の（ａ））または×印（図２０の（ｂ））のカーソルを、マウス（位置情報入力装置３８ｂ）によって、欠陥部位まで移動させることによって入力される。
【０１７８】
上記カーソルは、図２０の（ａ）に示すように、点滅してもよい。また、図２０の（ｃ）に示すように、×印の交差部分が欠落していてもよい。
【０１７９】
第３欠陥位置情報を取得すると、欠陥情報管理部３９は、当該第３欠陥位置情報を記憶部３６に格納する（Ｓ３８）。
【０１８０】
なお、欠陥情報管理部３９は、第３欠陥位置情報を外部のデータベース（不図示）に送信してもよい。また、第３欠陥位置情報は、精度の高い位置情報が、その後の処理で必要とされなければ、必ずしも入力される必要はない。
【０１８１】
（点灯検査システム１０１の効果）
以上のように、点灯検査システム１０１では、自動検査装置２において検出された欠陥を２台の目視検査装置によって検査する。それゆえ、自動検査装置２において検出されなかった欠陥をより確実に発見することができる。また、第１目視検査装置１０２において大まかな目視検査を行い、第２目視検査装置１０３によって精密な目視検査を行うことができるため、目視検査をより効率的に行うことができる。
【０１８２】
また、第２目視検査装置１０３を扱う第２検査員として、目視検査に関する能力の高い検査員を配置することにより、自動検査装置２の検査結果が妥当であるかどうかを最終的に判定することができる。
【０１８３】
（変更例）
第１目視検査装置１０２から第２欠陥位置情報を第２目視検査装置１０３へ送信する前に、第１検査員によって初めて発見された欠陥部位（欠陥の候補）に関する情報を自動検査装置へ送信し、その自動検査装置が、当該欠陥部位のコントラストおよびサイズを計測してもよい。この自動検査装置は、上述の自動検査装置２と同じものであってもよいし、異なるものであってもよい。
【０１８４】
また、第１目視検査装置１０２を用いた目視検査において、第１検査員は、自身が認識した欠陥の属性（種類、レベル、サイズ、コントラストなど）に応じて、欠陥部指示記号を変更してもよい。換言すれば、欠陥情報管理部３７は、欠陥部指示記号を変更するための指示（変更指示）を、入力装置（例えば、判定結果入力装置３５）を介して検査員から受け付け、当該変更指示を、第２欠陥位置情報とともに第２目視検査装置１０３へ送信し、第２目視検査装置１０３の欠陥情報管理部３９が第２欠陥位置情報および変更指示を受信すると、点灯パターン形成部１２は、当該第２欠陥位置情報および変更指示に基づいて、変更された欠陥部指示記号を表示パネル９に表示してもよい。
【０１８５】
すなわち、第２目視検査装置１０３の点灯パターン形成部１２は、複数種類の欠陥部指示記号を表示パネル９の画面に表示するものであり、表示する欠陥部指示記号の種類を外部から入力される命令に従って変更する。
【０１８６】
さらに、第２検査員は、変更された欠陥部指示記号によって示される欠陥を目視検査し、その欠陥の属性（欠陥の判定結果、リークしているかどうか、輝点欠陥であるかどうか、サイズなど）に応じて、欠陥部指示記号の属性（形、配置、大きさ、色、消去など）の一部を変更する指示を第２目視検査装置１０３に入力してもよい。
【０１８７】
すなわち、第２目視検査装置１０３の欠陥情報管理部３９は、欠陥部指示記号の属性の少なくとも一部を変更する指示を第２検査員から受付け、点灯パターン形成部１２は、当該指示に従って欠陥部指示記号の属性の少なくとも一部を変更してもよい。
【０１８８】
〔実施の形態４〕
本発明の他の実施形態について図２１に基づいて説明すれば、以下のとおりである。なお、実施の形態１〜３と同様の部材に関しては、同じ符号を付し、その説明を省略する。
【０１８９】
（生産システム１１０の構成）
図２１は、本実施形態の生産システム１１０の構成を示す概略図である。同図に示すように、生産システム１１０は、点灯検査システム１１１を備えている。この点灯検査システム１１１は、前工程用装置４の下流ラインに位置するマクロ自動検査装置１１２、ミクロ自動検査装置１１３、目視検査装置３０を備えている。すなわち、点灯検査システム１１１は、マクロ自動検査装置１１２およびミクロ自動検査装置１１３という２台の自動検査装置によって表示パネル９の自動検査を行う。
【０１９０】
目視検査装置３０は、マクロ自動検査装置１１２およびミクロ自動検査装置１１３によって検査された表示パネル９に目視検査用の点灯パターンを表示する。
【０１９１】
マクロ自動検査装置１１２とミクロ自動検査装置１１３とは、検査範囲（画像処理範囲）、表示パネル９を撮像する撮像手段の解像度、画像処理の内容などが異なっている。マクロ自動検査装置１１２は、比較的広い範囲を比較的低い解像度で撮像し、大まかな検査を行い、ミクロ自動検査装置１１３は、マクロ自動検査装置１１２が検出した欠陥が存在する領域を含む比較的狭い範囲を、比較的高い解像度で撮像し、より詳細な検査を行う。
【０１９２】
すなわち、マクロ自動検査装置１１２は、検出した欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報（第１欠陥位置情報）をミクロ自動検査装置１１３へ送信し、ミクロ自動検査装置１１３は、受信した第１欠陥位置情報に基づいて欠陥検査を行う。マクロ自動検査装置１１２における第１欠陥位置情報の送信は、送信手段としての制御装置２６が行う。
【０１９３】
ミクロ自動検査装置１１３は、検出した個々の欠陥の属性（判定レベル、種別、サイズ、コントラストなど）を示す属性情報を、自身が検出した欠陥部位の位置を示す欠陥位置情報（第２欠陥位置情報）とともに、目視検査装置３０へ送信する。すなわち、ミクロ自動検査装置１１３は、属性情報および第２欠陥位置情報を目視検査装置３へ送信するための、送信手段としての制御装置２６を備えている。
【０１９４】
マクロ自動検査装置１１２およびミクロ自動検査装置１１３の主要な構成は、自動検査装置２の構成と同様である。
【０１９５】
目視検査装置３０は、ミクロ自動検査装置１１３から受信した属性情報および第２欠陥位置情報に基づいて欠陥部指示記号を形成し、表示パネル９に表示させる。より詳細には、目視検査装置３０の点灯パターン形成部１２は、ミクロ自動検査装置１１３から入力された属性情報に応じて欠陥部指示記号の種類（形、位置、サイズまたは色など）を変更し、変更した欠陥部指示記号を、第２欠陥位置情報に基づいて配置する。
【０１９６】
なお、欠陥部位が複数存在する場合には、ミクロ自動検査装置１１３は、複数の欠陥部位のうち、特に検査員に注目させるべき欠陥部位（注目欠陥部位）を特定する情報（特定情報）を上記属性情報に含めてもよい。そして、目視検査装置３０の点灯パターン形成部１２は、上記特定情報が示す注目欠陥部位に対応する欠陥部指示記号を点滅させる、当該欠陥部指示記号の輝度を高める、または、当該欠陥部指示記号の色を他の欠陥部指示記号とは異ならせる、または、当該欠陥部指示記号を他の欠陥部指示記号よりも先に表示する（他の欠陥部指示記号を後から表示する）などの方法により、他の欠陥部指示記号よりも強調的に表示してもよい。
【０１９７】
上記注目欠陥部位とは、例えば、ミクロ自動検査装置１１３において判断しにくい欠陥部位（判定基準付近のレベルの欠陥）である。ミクロ自動検査装置１１３は、どの欠陥部位を注目欠陥部位とするのかという判断を所定のプログラムに基づいて行ってもよいし、外部（他の装置）から入力される命令に従って行ってもよい。
【０１９８】
（点灯検査システム１１１の効果）
以上のように、点灯検査システム１１１では、２台の自動検査装置によって表示パネル９の自動検査を行い、目視検査装置３は、自動検査の検査結果に基づいて、欠陥部指示記号を表示パネル９に表示させる。それゆえ、表示パネル９の自動検査を効率的に行うことができる。
【０１９９】
（変更例）
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【０２００】
上述の説明では、目視検査装置３を点灯検査システム１に含まれるものとしたが、欠陥位置情報をデータベース（不図示）等から取得する独立した装置として目視検査装置３を実現してもよい。
【０２０１】
また、ひとつの表示パネル９に複数の欠陥部位が存在する場合に、点灯パターン形成部３１ａまたは点灯パターン形成部１２は、各欠陥部位に対応する欠陥部指示記号の種類を欠陥部位に応じて互いに異ならせてもよい。すなわち、点灯パターン形成部３１ａまたは点灯パターン形成部１２は、ひとつの表示パネル９に異なる種類の欠陥部指示記号を表示してもよい。
【０２０２】
また、上述した目視検査装置３・３０・１０２・１０３の各ブロック、特に点灯パターン形成部１２・３１ａは、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにＣＰＵを用いてソフトウェアによって実現してもよい。
【０２０３】
すなわち、目視検査装置３・３０・１０２・１０３は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するＣＰＵ（central processing unit）、上記プログラムを格納したＲＯＭ（read only memory）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（random access memory）、上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶装置（記録媒体）などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである目視検査装置３・３０・１０２・１０３の制御プログラム（点灯検査プログラム）のプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記目視検査装置３・３０・１０２・１０３に供給し、そのコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。
【０２０４】
上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー（登録商標）ディスク／ハードディスク等の磁気ディスクやＣＤ−ＲＯＭ／ＭＯ／ＭＤ／ＤＶＤ／ＣＤ−Ｒ等の光ディスクを含むディスク系、ＩＣカード（メモリカードを含む）／光カード等のカード系、あるいはマスクＲＯＭ／ＥＰＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭ／フラッシュＲＯＭ等の半導体メモリ系などを用いることができる。
【０２０５】
また、目視検査装置３・３０・１０２・１０３を通信ネットワークと接続可能に構成し、上記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、ＬＡＮ、ＩＳＤＮ、ＶＡＮ、ＣＡＴＶ通信網、仮想専用網（virtual private network）、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、ＩＥＥＥ１３９４、ＵＳＢ、電力線搬送、ケーブルＴＶ回線、電話線、ＡＤＳＬ回線等の有線でも、ＩｒＤＡやリモコンのような赤外線、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、８０２．１１無線、ＨＤＲ、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。
【０２０６】
なお、本発明は、以下のようにも表現できる。
【０２０７】
すなわち、本発明の点灯検査システムは、自動検査装置と目視検査装置から構成される表示機器の点灯検査システムにおいて、自動検査装置により検出された欠陥情報を目視検査装置に送信する手段と、目視検査装置での検査時に前記欠陥情報に基づいて被検査表示機器の欠陥部位の視認性を向上させる記号を被検査機器に表示させる手段とを備え、前記記号は被検査表示機器に含まれる欠陥部位および欠陥部位周辺の表示状態に影響を与えない形状である。
【０２０８】
本発明の点灯検査方法は、自動検査装置と目視検査装置から構成される表示機器の点灯検査システムにおいて、自動検査装置により検出された欠陥情報を目視検査装置に送信する工程と、目視検査装置での検査時に前記欠陥情報に基づいて被検査表示機器の欠陥部位の視認性を向上させる記号を被検査機器に表示させる工程とを含み、前記記号は被検査表示機器に含まれる欠陥部位および欠陥部位周辺の表示状態に影響を与えない形状である。
【産業上の利用可能性】
【０２０９】
欠陥部位の位置を示す図形を、当該欠陥部位の視認性を低下させることなく表示することができるため、液晶ディスプレイ等の点灯検査装置に好適に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０２１０】
【図１】（ａ）は、本発明の一実施形態に係る目視検査装置によって表示される欠陥部位指示記号の一例を示す図であり、（ｂ）は、欠陥部位を通る信号線上に位置する部位の輝度値を示すグラフである。
【図２】本発明の一実施形態に係る点灯検査システムを備える生産システムの構成を示す概略図である。
【図３】上記点灯検査システムに含まれる自動検査装置の構成を示す概略図である。
【図４】上記点灯検査システムに含まれる目視検査装置の構成を示す概略図である。
【図５】上記目視検査装置の構成を示す機能ブロック図である。
【図６】液晶表示パネルが有する、輝点欠陥のドットを示す図である。
【図７】（ａ）は、黒背景の白表示領域においてシャドーイングが発生していることを示す図であり、（ｂ）は、白表示領域を通る信号線にそって測定された、白表示領域の周辺部の輝度値を示すグラフであり、（ｃ）は、白表示領域を通る信号線上における画像信号の電圧の理想的な変化を示すグラフであり、（ｃ）は、白表示領域を通る信号線上における画像信号の電圧の実際の変化を示すグラフである。
【図８】（ａ）は、輝点欠陥部位の周囲を矩形状の欠陥部指示記号で囲んだ場合の表示画面を示す図であり、（ｂ）は、（ａ）に示す輝点欠陥部位の拡大図であり、（ｃ）は、輝点欠陥部位を通る画像信号線上における液晶パネルの輝度値を示すグラフである。
【図９】欠陥部指示記号の別の例を示す図である。
【図１０】上記点灯検査システムにおける処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１１】点灯パターン形成部における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１２】本発明の別の実施形態に係る目視検査装置の構成を示す概略図である。
【図１３】上記目視検査装置が備える点灯パターン形成部の構成を示す概略図である。
【図１４】表示領域再設定部における欠陥部指示記号の表示位置の変更方法の一例を説明するための図である。
【図１５】点灯パターン形成部における処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１６】本発明のさらに別の実施形態に係る点灯検査システムを備える生産システムの構成を示す概略図である。
【図１７】本発明のさらに別の実施形態に係る第１目視検査装置の構成を示す概略図である。
【図１８】本発明のさらに別の実施形態に係る第２目視検査装置の構成を示す概略図である。
【図１９】上記点灯検査システムにおける処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図２０】第３欠陥位置情報を入力するためのカーソルの一例を示す図である。
【図２１】本発明のさらに別の実施形態に係る点灯検査システムを備える生産システムの構成を示す概略図である。
【符号の説明】
【０２１１】
１    点灯検査システム
２    自動検査装置
３    目視検査装置（点灯検査装置）
９    表示パネル
１２    点灯パターン形成部（表示制御手段）
１３    欠陥位置情報取得部（受信手段）
２１    カメラ（撮像手段）
２６    制御装置（送信手段）
３０    目視検査装置（点灯検査装置）
３１    制御装置（受信手段）
３１ａ  点灯パターン形成部（表示制御手段）
３７    欠陥情報管理部（受信手段）
３９    欠陥情報管理部（受信手段）
９２    欠陥部位
９３    欠陥部位
９４    欠陥部位
９５    欠陥部指示記号（図形）
９６    欠陥部指示記号（図形）
９７    欠陥部指示記号（図形）
１０１  点灯検査システム
１０２  第１目視検査装置（点灯検査装置）
１０３  第２目視検査装置（点灯検査装置）
１１１  点灯検査システム
１１２  マクロ自動検査装置
１１３  ミクロ自動検査装置
【図２】
2009086294.tif 000003
【図３】
2009086294.tif 000004
【図４】
2009086294.tif 000005
【図５】
2009086294.tif 000006
【図９】
2009086294.tif 000007
【図１０】
2009086294.tif 000008
【図１１】
2009086294.tif 000009
【図１２】
2009086294.tif 000010
【図１３】
2009086294.tif 000011
【図１４】
2009086294.tif 000012
【図１５】
2009086294.tif 000013
【図１６】
2009086294.tif 000014
【図１７】
2009086294.tif 000015
【図１８】
2009086294.tif 000016
【図１９】
2009086294.tif 000017
【図２０】
2009086294.tif 000018
【図２１】
2009086294.tif 000019
【図１】
2009086294.tif 000020
【図６】
2009086294.tif 000021
【図７】
2009086294.tif 000022
【図８】
2009086294.tif 000023