(57)【要約】【課題】  一個でＣＴ用及びＰＴ用に共用し得、さらに共用した場合でも間違った短絡片の取り付けを未然に防止し得るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグを提供する。【解決手段】  ＰＴ用のテストターミナル５の凸部７ａと干渉してＰＴ用のテストターミナル５への挿入を阻止し得るよう相間絶縁部材３３の表面から突出可能に形成したＣＴ用凸部５１と、ＣＴ用のテストターミナル５の凸部７ｂと干渉してＣＴ用のテストターミナル５への挿入を阻止し得るよう相間絶縁部材３３の表面から突出可能に形成したＰＴ用凸部５２と、絶縁支持体３１の前面に臨む操作ロッド５３の一つの操作によりＣＴ用凸部５１のみを相間絶縁部材３３の表面から突出させるとともに、他の操作により逆にＰＴ用凸部５２のみを相間絶縁部材３３の表面から突出させる移動機構とを有する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁部材で形成した絶縁支持体と、この絶縁支持体の背面から突出させるとともに各相に対応させて配設した絶縁板と、電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の一つの面に配設された活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの複数の負荷側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の他の面に配設された非活線側導体と、前記各相の絶縁板間に配設されて前記各活線側導体及び各非活線側導体の隣接する相間の絶縁を行う相間絶縁部材と、前記各活線側導体及び各非活線側導体にそれぞれ接続されるとともに前記絶縁支持体の前面から突出させて配設されている端子とを有するテストプラグであって、
ＰＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＰＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＣＴ用凸部と、
ＣＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＣＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＰＴ用凸部と、
前記絶縁支持体の前面に臨む操作ロッドの一つの操作により前記ＣＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させるとともに、他の操作により逆に前記ＰＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させる移動機構とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。
【請求項２】
請求項１に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記移動機構は、前記操作ロッドの操作により回動する駆動歯車の一方向への回動により前記ＣＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の反対方向への回動により前記ＣＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う一方の従動歯車を備えたＣＴ用凸部の移動部と、
前記駆動歯車の前記反対方向への回動により前記ＰＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の前記一方向への回動により前記ＰＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う他方の従動歯車を備えたＰＴ用凸部の移動部とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドと連動する干渉ロッドを有するとともに、ＰＴ用凸部を突出させる際には、前記活線側導体の端子間を短絡する短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されるよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出され、ＣＴ用凸部を突出させる際には、前記短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されることのないよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から退避されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。
【請求項４】
請求項３に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドは、その基端を軸回りに一方向に回動させることにより軸方向における一方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されることがないように前記絶縁支持体の前面から退避される一方、反対方向に回動させることにより前記軸方向における反対方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されるように前記絶縁支持体の前面から突出されるように構成した前記干渉ロッドの機能も有するものであることを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。
【請求項５】
請求項４に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出されたとき同様に突出されるよう前記操作ロッドと連動して移動される他の干渉ロッドを設けるとともに、前記他の干渉ロッドが突出されている状態では前記短絡片とは別の短絡片の取り付けが阻害されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はＣＴ／ＰＴ共用テストプラグに関し、特に電力系統の保護システムに適用して有用なものである。
【背景技術】
【０００２】
電力系統の保護システムにおける各種のテスト乃至測定（以下、テスト等という）を行うための機器としてテストプラグが知られている。このテストプラグは、配電盤に多数配設されたテストターミナルに挿入した状態で所定のテスト等を行うものである。ここで、テストターミナルは、電源側の機器である変流器（ＣＴ）及び計器用変圧器（ＰＴ）と負荷側の機器である各種の継電器等との間を接続しており、通常時には前記変流器（ＣＴ）乃至計器用変圧器（ＰＴ）と前記継電器等との間を接続している。
【０００３】
図５は従来技術に係るテストターミナルを示す縦断面図である。同図に示すように、当該テストターミナル５は、開口部であるプラグ挿入口７を形成した箱体６を有しており、この箱体６内には、接点装置１０がＲ，Ｗ，Ｂ相およびＮ相の各相に対応して並設されている。各接点装置１０は、各相に対応する上下一対の可動接触板である電源側導体１１及び負荷側導体２１で構成されている。
【０００４】
一方、テスト等を行う際においてテストターミナル５に挿入されるテストプラグ３０は、図６に示すように、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞれ接続されている。これらの各端子３７，４７を介してテスト等の際における所定の試験装置乃至測定器を接続する。ここで、隣接する相の絶縁板３２間は相間絶縁部材３３で絶縁されている。
【０００５】
テストターミナル５は、電源側導体１１に変流器（ＣＴ）が接続される場合と、計器用変圧器（ＰＴ）が接続される場合がある。ここで、電源側導体１１に変流器（ＣＴ）が接続される、いわゆるＣＴ用のテストターミナル５に挿入するテストプラグ３０は変流器の２次側が開放されるのを避けるため、複数の短絡片（図示せず）により４個の端子３７間を連結接続して各活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ間を短絡した状態で使用する必要がある。一方、電源側導体１１に計器用変圧器（ＰＴ）が接続される、いわゆるＰＴ用のテストターミナル５に挿入するテストプラグ３０では、前述の如く短絡片で４個の端子３７間を連結接続した状態で使用した場合には計器用変圧器の短絡事故を生起してしまう。そこで、テストプラグ３０はＣＴ用とＰＴ用との２種類が用意されており、ＣＴ用のテストプラグ３０はＣＴ用のテストターミナル５のみに、ＰＴ用のテストプラグ３０はＰＴ用のテストターミナル５のみに挿入し得るような構成となっている。
【０００６】
このための具体的な構成を、図７及び図８に基づき説明する。図７はＣＴ用の組み合わせを示すもので、（ａ）はＣＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルの正面図である。また、図８はＰＴ用の組み合わせを示すもので、（ａ）はＰＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＰＴ用のテストターミナルの正面図である。なお、両図中、図５及び図６と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【０００７】
図７に示すように、ＣＴ用のテストプラグ３０は、その３個の相間絶縁部材３３のうち両端の２個の表面から突出する凸部３３ａ，３３ｃを有している。一方、ＣＴ用のテストターミナル５には、ＣＴ用のテストプラグ３０の挿入の際に凸部３３ａ，３３ｃと干渉しない位置にプラグ挿入口７に突出する凸部７ｂが形成してある。また、図８に示すように、ＰＴ用のテストプラグ３０は、その３個の相間絶縁部材３３のうち中央の１個の表面から突出する凸部３３ｂを有している。一方、ＰＴ用のテストターミナル５には、ＰＴ用のテストプラグ３０の挿入の際に凸部３３ｂと干渉しない位置にプラグ挿入口７に突出する凸部７ａ，７ｃが形成してある。
【０００８】
かくして、ＣＴ用のテストプラグ３０をＰＴ用のテストターミナル５に挿入しようとしても凸部３３ａ，３３ｃと凸部７ａ，７ｃとが干渉することでこの挿入を阻止するとともに、ＰＴ用のテストプラグ３０をＣＴ用のテストターミナル５に挿入しようとしても凸部３３ｂと凸部７ｂとが干渉することでこの挿入を阻止するようになっている。
【０００９】
この結果、ＣＴ用のテストターミナル５にはＣＴ用のテストプラグ３０のみを、ＰＴ用のテストターミナル５にはＰＴ用のテストプラグ３０のみをそれぞれ挿入し得る構造とすることで間違った挿入を未然に防止している。
【００１０】
なお、この種のテストプラグを開示する公知刊行物として次の特許文献１が存在する。
【００１１】
【特許文献１】特開２００７−１４７３７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、上記従来技術に係るテストプラグ３０は、ＣＴ用とＰＴ用の２種類のものを用意しなければならず、多くの配電盤を設置している変電所等の電気設備等では保管すべきテストプラグ３０の数が多くなるので保管場所に困るという問題を生起している。
【００１３】
本発明は、上記従来技術に鑑み、一個でＣＴ用及びＰＴ用に共用し得、さらに共用した場合でも間違った短絡片の取り付けを未然に防止し得るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
絶縁部材で形成した絶縁支持体と、この絶縁支持体の背面から突出させるとともに各相に対応させて配設した絶縁板と、電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の一つの面に配設された活線側導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの複数の負荷側導体にそれぞれ接触し得るよう前記絶縁板の他の面に配設された非活線側導体と、前記各相の絶縁板間に配設されて前記各活線側導体及び各非活線側導体の隣接する相間の絶縁を行う相間絶縁部材と、前記各活線側導体及び各非活線側導体にそれぞれ接続されるとともに前記絶縁支持体の前面から突出させて配設されている端子とを有するテストプラグであって、
ＰＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＰＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＣＴ用凸部と、
ＣＴ用のテストターミナルの凸部と干渉してＣＴ用のテストターミナルへの前記テストプラグの挿入を阻止し得るよう前記相間絶縁部材の表面から突出可能に形成したＰＴ用凸部と、
前記絶縁支持体の前面に臨む操作ロッドの一つの操作により前記ＣＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させるとともに、他の操作により逆に前記ＰＴ用凸部のみを前記相間絶縁部材の表面から突出させる移動機構とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。
【００１５】
本発明の第２の態様は、
第１の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記移動機構は、前記操作ロッドの操作により回動する駆動歯車の一方向への回動により前記ＣＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の反対方向への回動により前記ＣＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う一方の従動歯車を備えたＣＴ用凸部の移動部と、
前記駆動歯車の前記反対方向への回動により前記ＰＴ用凸部を突出させるとともに、前記駆動歯車の前記一方向への回動により前記ＰＴ用凸部を退避させるように前記駆動歯車と噛み合う他方の従動歯車を備えたＰＴ用凸部の移動部とを有することを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。
【００１６】
本発明の第３の態様は、
第１の態様又は第２の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドと連動する干渉ロッドを有するとともに、ＰＴ用凸部を突出させる際には、前記活線側導体の端子間を短絡する短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されるよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出され、ＣＴ用凸部を突出させる際には、前記短絡片の前記端子間に対する取り付けが阻害されることのないよう前記干渉ロッドが前記絶縁支持体の前面から退避されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。
【００１７】
本発明の第４の態様は、
第３の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドは、その基端を軸回りに一方向に回動させることにより軸方向における一方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されることがないように前記絶縁支持体の前面から退避される一方、反対方向に回動させることにより前記軸方向における反対方向に移動されて前記端子に対する前記短絡片の取り付けが阻害されるように前記絶縁支持体の前面から突出されるように構成した前記干渉ロッドの機能も有するものであることを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。
【００１８】
本発明の第５の態様は、
第４の態様に記載するＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにおいて、
前記操作ロッドが前記絶縁支持体の前面から突出されたとき同様に突出されるよう前記操作ロッドと連動して移動される他の干渉ロッドを設けるとともに、前記他の干渉ロッドが突出されている状態では前記短絡片とは別の短絡片の取り付けが阻害されるように構成したことを特徴とするＣＴ／ＰＴ共用テストプラグにある。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、ＰＴ用のテストターミナルの凸部と干渉するＣＴ用凸部と、ＣＴ用のテストターミナルの凸部と干渉するＰＴ用凸部とを交互に相間絶縁部材の表面から突出させることができるので、一つのテストプラグでＣＴ用及びＰＴ用に共用することができる。したがって、電気設備に用意しておくテストプラグの数を半分に減らすことができ、その分保管スペースの低減に寄与することができる。また、ＰＴ用のテストプラグとして用いる場合には、短絡片の取り付けを阻止する構造となっているので、間違って短絡片を装着したままＰＴ用のテストターミナルに挿入するという事故を未然に防止し得る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。なお、従来技術と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【００２１】
図１は本発明の実施の形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグをテストターミナルとともに示しており、（ａ）は一部切り欠いて示す側面図、（ｂ）はその平面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルを示す正面図、（ｄ）はＰＴ用のテストターミナルを示す正面図である。
【００２２】
同図に示すように、本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０は、従来と同様に、絶縁支持体３１、絶縁板３２、相間絶縁部材３３、活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎ、非活線側導体４５Ｒ乃至４５Ｎ及び端子３７，４７を有するとともに、さらにＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２を具備している。ここで、ＣＴ用凸部５１は、ＰＴ用のテストターミナル５（図１（ｄ）参照）の凸部７ａと干渉してＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０の挿入を阻止し得るように一つの相間絶縁部材３３の表面から突出可能に形成してある。また、ＰＴ用凸部５２は、ＣＴ用のテストターミナル５（図１（ｃ）参照）の凸部７ｂと干渉してＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０の挿入を阻止し得るように中央の相間絶縁部材３３の表面から突出可能に形成してある。かかるＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２は、絶縁支持体３１の前面側からの操作ロッド５３の操作により交互に突出される。この場合の操作機構としては種々考えられるが、例えば操作ロッド５３の先端部に固着されて、この操作ロッド５３の操作により回動する駆動歯車（図１には図示せず）と、これにそれぞれ噛合する従動歯車（図１には図示せず）とでＣＴ用凸部５１の移動部５４及びＰＴ用凸部５２の移動部５５とを形成し、操作ロッド５３の一方向への回動によりＣＴ用凸部５１を突出させるとともに反対方向への回動によりＣＴ用凸部５１を退避させる一方、操作ロッド５３の反対方向への回動によりＰＴ用凸部５２を突出させるとともに前記一方向への回動によりＰＴ用凸部５２を退避させるように構成すれば良い。ここで、操作ロッド５３はその基端部を絶縁支持体３１の前面に臨ませてあり、絶縁支持体３１を貫通するとともにＷ相の絶縁板３２の内部をその軸方向に挿通されている。
【００２３】
かかる操作機構の詳細を図２に基づき説明する。図２はＣＴ用凸部の移動部及びＰＴ用凸部の移動部の一例を模式的に示した説明図で、（ａ）がＣＴ用凸部を突出させた状態、（ｂ）がＰＴ用凸部を突出させた状態である。両図に示すように、駆動歯車５６は操作ロッド５３（図１参照）の先端部に固着してあり、操作ロッド５３の回動に伴い時計方向乃至反時計方向に回動する。駆動歯車５６にはその両側で従動歯車５７，５８が噛合している。さらに、従動歯車５７，５８には、ＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２にそれぞれ一体的に設けられたラック５９，６０が噛合するように構成してある。すなわち、従動歯車５７，５８とラック５９，６０とで２組のラック・ピニオン機構が形成されており、従動歯車５７の時計方向への回動によりラック５９を介してＣＴ用凸部５１を相間絶縁部材３３の表面から突出させるとともに、従動歯車５８の時計方向への回動によりラック６０を介してＰＴ用凸部５２を相間絶縁部材３３を退避させるように構成してある。この結果、ＣＴ用凸部５１とＰＴ用凸部５２とは一方を突出させる場合には他方を退避させる関係となる。ちなみに、駆動歯車５６を反時計方向に回動させることによりＣＴ用凸部５１を突出させ、時計方向に回動させることによりＰＴ用凸部５２を突出させる。
【００２４】
図３（ａ）は本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグの絶縁支持体の端子の部分を正面から見た図である。前述の如くＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＣＴ用として用いる場合には変流器（ＣＴ）の２次側が開放されるのを防止するため、活線側導体３５Ｒ乃至３５Ｎに接続されている４個の端子３７間を短絡しておく必要がある。したがって、この場合には図３（ｂ）乃至図３（ｅ）に示すように、短絡片６１ａ，６１ｂ，６１ｃで４個の端子３７間を接続するようになっている。一方、ＰＴ用として用いる場合には４個の端子３７間は開放しておく必要がある。そこで、本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０においては、ＰＴ用として用いる場合には短絡片６１ａ乃至６１ｃの取り付けが阻害されるような構成となっている。すなわち、図３（ｂ）乃至図３（ｅ）は、可能性がある短絡片６１ａ乃至６１ｃの全ての取り付け態様を示しているが、ＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＰＴ用として用いる場合には、図３（ｂ）乃至図３（ｅ）に示す何れの場合にも、短絡片６１ａ乃至６１ｃの少なくとも１個の取り付けが阻害されるように構成してある。さらに詳言すると、本形態では干渉ロッドを兼用する操作ロッド５３及び干渉ロッド６２を絶縁支持体３１の前面から突出させてこれらと短絡片６１ａ乃至６１ｃが干渉するように構成している。ここで、操作ロッド５３及び干渉ロッド６２は一体的な動作で絶縁支持体３１の前面から突出され、また退避される。
【００２５】
図４は操作ロッド及び干渉ロッドの部分の構成を概念的に示す説明図である。同図に示すように、本形態に係る操作ロッド５３は、その途中に形成した雄ねじ部６３を介してＷ相の絶縁板３２の内部に形成した雌ねじ部６４に螺合させてある。かくして、操作ロッド５３は、その反時計方向への回動により駆動歯車５６とともに軸方向に沿い前進するとともに、時計方向への回動により同方向に沿い後退する。
【００２６】
干渉ロッド６２は連結部材６７及び係止部材６８を介して操作ロッド５３に係止することにより、操作ロッド５３と一体的に前後方向に移動し得るように構成してある。
【００２７】
かかる本形態において、ＣＴ用凸部を突出させる場合には、操作ロッド５３を反時計方向に回動させれば良い。かかる回動により、操作ロッド５３が駆動歯車５６とともにその軸方向に沿い前進しつつ軸６５，６６に支承された従動歯車５７，５８を時計方向に回動させてＣＴ用凸部５１を突出させるからである。なお、このときＰＴ用凸部５２は退避される。同時に、操作ロッド５３及び干渉ロッド６２も絶縁支持体３１の表面から退避される。
【００２８】
この結果、端子３７には、図３（ｂ）乃至図３（ｄ）に示す何れかの態様で、短絡片６１ａ乃至６１ｃを、操作ロッド５３乃至干渉ロッド６２に干渉されることなく端子３７に取り付けて各端子３７間を短絡することができる。同時に、この場合にはＣＴ用凸部５１が突出され、ＰＴ用凸部５２は退避されているので、短絡片６１ａ乃至６１ｃで各端子３７間を短絡した状態のＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＣＴ用のテストターミナル５（図１（ｃ）参照）のみに挿入することができる。
【００２９】
逆に、操作ロッド５３を時計方向に回動させれば操作ロッド５３が駆動歯車５６とともにその軸方向に沿い後退しつつ従動歯車５７，５８を反時計方向に回動させてＰＴ用凸部５２を突出させ、ＣＴ用凸部５１を退避させる。同時に、操作ロッド５３及び干渉ロッド６２は絶縁支持体３１の表面から突出される。
【００３０】
この結果、端子３７には、短絡片６１ａ乃至６１ｃを取り付けることはできない。操作ロッド５３乃至干渉ロッド６２の少なくとも一方が短絡片６１ａ乃至６１ｃと干渉するからである。一方、この場合にはＰＴ用凸部５２が突出され、ＣＴ用凸部５１は退避されているので、各端子３７間の短絡状態を阻止された状態のＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ５０をＰＴ用のテストターミナル５（図１（ｄ）参照）のみに挿入することができる。
【００３１】
なお、上記実施の形態においては操作ロッド５３で駆動歯車５６を回動することでＣＴ用凸部５１及びＰＴ用凸部５２を突出乃至退避させるようにしたが、勿論かかる構成に限定するものではない。要は、ＣＴ用凸部５１，ＰＴ用凸部５２を交互に突出させるような構成となっていれば特別な制限はない。例えば、カム機構を用いても操作機構を形成することができる。
【００３２】
また、干渉ロッドは１個だけでも構わない。１個だけでも、ＰＴ用として利用する多くの場合、短絡片６１ａ乃至６１ｃの取り付けが阻害されることでＣＴ用として利用しようとしているか、またはＰＴ用として利用しようとしているかの注意を喚起することができるからである。
【００３３】
さらに、操作ロッドと干渉ロッドとを兼用することも必須ではない。干渉ロッドは、場合によって短絡片の取り付けに対する障害になり得るものであれば良いからである。ただ、兼用すればその分構造の簡素化を図ることができる。
【産業上の利用可能性】
【００３４】
本発明は電力機器を製造・販売する産業分野で利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の実施の形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグをテストターミナルとともに示しており、（ａ）は一部切り欠いて示す側面図、（ｂ）はその平面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルを示す正面図、（ｄ）はＰＴ用のテストターミナルを示す正面図である。
【図２】ＣＴ用凸部及びＰＴ用凸部の移動部の一例を模式的に示す説明図である。
【図３】本形態に係るＣＴ／ＰＴ共用テストプラグの端子部分を抽出して示す図で、（ａ）は正面図、（ｂ）乃至（ｅ）は短絡片による端子間の短絡態様を示す説明図である。
【図４】操作ロッド及び干渉ロッドの部分の構成を概念的に示す説明図である。
【図５】従来技術に係るテストターミナルを示す縦断面図である。
【図６】従来技術に係るテストプラグを示す斜視図である。
【図７】従来技術に係るＣＴ用のテストプラグとテストターミナルとの組み合わせを示す図で、（ａ）はＣＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルの正面図である。
【図８】従来技術に係るＰＴ用のテストプラグとテストターミナルとの組み合わせを示す図で、（ａ）はＰＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はその背面図、（ｃ）はＰＴ用のテストターミナルの正面図である。
【符号の説明】
【００３６】
５        テストターミナル
７ａ，７ｂ，７ｃ  凸部
１１        電源側導体
２１        負荷側導体
３０        テストプラグ
３１        絶縁支持体
３２        絶縁板
３３        相間絶縁部材
３３ａ，３３ｂ，３３ｃ  凸部
３７，４７  端子
３５Ｒ乃至３５Ｎ  活線側導体
４５Ｒ乃至４５Ｎ  非活線側導体
５０        ＣＴ／ＰＴ共用テストプラグ
５１        ＣＴ用凸部
５２        ＰＴ用凸部
５３        操作ロッド
５４、５５  移動部
５６        駆動歯車
５７，５８  従動歯車
５９，６０  ラック
６１ａ，６１ｂ，６１ｃ  短絡片
６２        干渉ロッド
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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