(57)【要約】【課題】  ディスク媒体のチルトを検出するためのセンサを別途設けることなく、かつ記録パワーによる装置内の環境温度の大きな変化による影響を低減し、記録中に発生するチルトの補正を適切なタイミングで実施できる光記録再生装置を提供する。【解決手段】  レーザー光源からの光束をディスク状媒体に集光させる対物レンズ（１０２）と、対物レンズの位置制御を行なうアクチュエータ（１３０）と、  少なくともレーザー光源と対物レンズとアクチュエータとを含む光ピックアップ（１２０）によって情報の記録または再生を行う光学的記録再生装置（１００）であって、ディスク媒体に対する対物レンズの傾きを調整するチルト調整手段と、ディスク媒体に情報を記録するためのレーザーパワーの変化量を検出する検出手段（１０７）とを備え、記録時には、前記検出結果に基づいてチルト調整手段により対物レンズの傾きを調整する。【選択図】  図２
2009289318.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光源と、
前記レーザー光源からの光束をディスク媒体に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズの位置制御を行なうアクチュエータと、
少なくとも前記レーザー光源と前記対物レンズと前記アクチュエータとを含む光ピックアップによって情報の記録または再生を行う光学的記録再生装置であって、
前記ディスク媒体に対する前記対物レンズの傾きを調整するチルト調整手段と、
前記ディスク媒体に情報を記録するためのレーザーパワーの変化量を検出する検出手段とを備え、
記録時には、前記検出結果に基づいて前記チルト調整手段により前記対物レンズの傾きが調整されることを特徴とする光学的記録再生装置。
【請求項２】
前記レーザーパワーの変化量が所定値より大きい場合に、前記チルト調整手段により前記対物レンズの傾きが調整されることを特徴とする請求項１に記載の光学的記録再生装置。
【請求項３】
前記レーザー光源またはその近傍の温度を計測する温度検知手段を備えており、前記レーザーパワーの変化量と前記温度検知手段による計測結果に基づいて、前記チルト調整手段により前記対物レンズの傾きが調整されることを特徴とする請求項１記載の光学的記録再生装置。
【請求項４】
前記ディスク媒体に対するフォーカス駆動信号の取得手段を備え、前記フォーカス駆動信号に基づいて前記ディスク媒体のチルトの方向を検出し、該検出結果に基づいて前記チルト調整手段により前記対物レンズの傾きが調整されることを特徴とする請求項１に記載の光学的記録再生装置。
【請求項５】
前記チルト調整手段によるチルト調整量に応じて、レーザーパワーの補正が行われることを特徴とする請求項１記載の光学的記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザー光を用いてディスク媒体に情報の記録または再生を行う光学的記録再生装置に関するものである。特に、チルトを補正する機構を備え、当該チルト補正機構を用いて、良好な情報の記録または再生を行うものである。
【背景技術】
【０００２】
昨今、ディスク媒体が安価で大量に供給される環境に至り、光学的記録再生装置は、ディスク媒体の組成や固体ばらつきを十分カバーする必要が生じた。媒体の組成としては、トラック幅やピッチ、溝形状、記録膜の材料、半径方向の膜均一性など、主にメーカー毎の仕様に依存する。また、媒体の固体ばらつきは同一メーカーであっても、製造ロットの違いなどによって特性差が現れる。特に、媒体の使用環境、保存環境、経時変化によってディスク媒体に反り（以降「チルト」と称する）が発生するが、これは記録時の信号品位に大きな影響を及ぼす。具体的にチルトの影響は、光ビームスポットの波面収差の増加をもたらす。図５を用いて、チルトと波面収差の関係を説明する。
【０００３】
図５は、横軸にディスク半径方向のチルト量〔ｄｅｇ〕、縦軸に光ビームスポットの反射光強度を示している。この図例は、対物レンズＮＡ≒０．６、発光レーザー波長６６０ｎｍにおける光ピックアップの特性である。ディスクにチルトが無い場合の反射光強度を１とすると、チルトが０．４〔ｄｅｇ〕の時、反射光強度は０．８、つまり２０％も低下してしまうことを示す。このようにチルトによって、波面収差が増え、光ビームスポット品位が損なわれてしまう。すなわち、記録時の信号品位そのものが損なわれてしまうことを意味する。こうした波面収差の影響を、記録パワー強度で補う解決策として特開平０６−２９５４５８号公報（特許文献１）や特開２００１−２３１７４号公報（特許文献２）が知られている。
【０００４】
特開平０６−２９５４５８号公報には、光ピックアップ上にチルトセンサを設けてディスク媒体のチルト量を検出し、検出されたチルト量に応じて、記録時のレーザーパワー強度を制御する技術が記載されている。
【０００５】
また、特開２００１−２３１７４号公報には、同じく光ピックアップ上にチルトセンサを設けてディスク媒体のチルト量を検出し、検出されたチルト量に応じて、記録時の情報パターンの発光パルス（所謂ライトストラテジ）を制御する技術が知られている。
【０００６】
これらの技術によって、記録処理をする際には、ディスクにチルトが発生する度に、適切なタイミングでチルト補正を行うことが可能となる。
【特許文献１】特開平０６−２９５４５８号公報
【特許文献２】特開２００１−２３１７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記従来技術では、記録処理の際に適切なタイミングでチルト補正を行うために、特開平０６−２９５４５８号公報記載技術では、チルトセンサを光ピックアップに装備している。これは、光ピックアップの大型化とコストアップに繋がってしまう。
【０００８】
さらに、上記従来技術では、検出されたチルトの量に応じて記録パワーを変化させているため、たとえば記録パワーを上昇する方向に補正をかけ過ぎてしまうと、大きな発熱をもたらしてしまう。この発熱は、高充填された筐体において、システムの熱暴走をもたらすおそれがある。一方、特開２００１−２３１７４号公報においても同様に、チルト検出のために、チルトセンサを別途設けている。更に、チルト量に応じて記録パルスの発光タイミングを制御するもので、チルトのある領域で、マーク形成箇所の温度を上げる発光パルスの設定（所謂ライトストラテジ）を行っている。これは、発光パルスのデューティを上げることと等価であり、記録パワーの実効的な上昇をきたすため、やはり装置内の発熱の問題が避けられない。
【０００９】
そこで本発明では、別途センサを設けることなく、かつ記録パワーによる装置内の発熱の影響を低減しつつ、記録中に発生するチルトの補正を適切に実施できる光学的記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による光学的記録再生装置は、レーザー光源と、
前記レーザー光源からの光束をディスク状媒体に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズの位置制御を行なうアクチュエータと、
少なくとも前記レーザー光源と前記対物レンズと前記アクチュエータとを含む光ピックアップによって情報の記録または再生を行う光学的記録再生装置であって、
前記ディスク媒体に対する前記対物レンズの傾きを調整するチルト調整手段と、
前記ディスク媒体に情報を記録するためのレーザーパワーの変化量を検出する検出手段とを備え、
記録時には、前記検出結果に基づいて前記チルト調整手段により前記対物レンズの傾きが調整されることを特徴とする光学的記録再生装置。
【発明の効果】
【００１１】
以上説明したように本発明によって、別途センサを設けることなく、かつ記録パワーによる装置内の発熱の影響を低減しつつ、記録中に発生するチルトの補正を適切に実施できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の好ましい実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１３】
本発明によるチルト調整は、図１に示すような光学的記録再生装置１００に適用される。
【００１４】
＜光学的記録再生装置１００の構成要素及び一連の動作＞
光学的記録再生装置１００は、光ディスク（以下「ディスク」と記す）１０１、光ピックアップ（以下「ＯＰＵ」と記す）１２０、スピンドルモータ（以下「ＳＰＭ」と記す）１１０を備えている。更に、スピンドルモータ制御（以下「ＳＰＭ制御」と記す）１０９、パワー制御１１１、アクチュエータドライバ１１３、送り機構１１２、サーボ記録再生プロセッサ１１４、ディスクコントローラ（ＣＰＵ）１１５を備えている。
【００１５】
図１の全体構成ならびに基本動作を説明する。
【００１６】
ディスクコントローラ１１５は、ＣＰＵ（中央演算処理ユニット）を備える。外部インタフェース１１６を介して、不図示の操作系からユーザー指示コマンド、あるいは所定のプログラムを実行することで、光学的記録再生装置１００全体の動作を制御する。ディスクへの記録あるいは再生動作は、メモリ１１７を介して、周知のショックプルーフ（間欠駆動）制御がなされる。
【００１７】
ディスク１０１は、たとえば相変化タイプのディスクであって、記録層にＧｅ−Ｓｂ−Ｔｅ等の相変化材料で構成されている。ディスクを回転させながら光ビーム強度を変調して照射すると、アモルファス状態と結晶状態が可逆的に変化する。記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させるには、光ビーム（光束）をパルス上に照射し、一旦溶融した後、急冷する。逆に、アモルファス状態から結晶状態変化させるには、比較的弱い光ビーム強度のレーザー光を照射して結晶化温度以上でアニールする。このような相変化特性を利用して、情報の１または０を状態変化で蓄積可能な特性を有している。
【００１８】
なお、ディスク１０１は、有機色素を記録層に備えたライトワンス（追記型）タイプのディスクであってもよい。ライトワンスタイプでは、記録時に照射された強い光ビームが色素膜で吸収され、熱変質することで、媒体の反射率が変化する。このタイプのディスクは、記録は１回しかできないが、プレーヤーの再生互換が高く比較的安価なため、需要が急拡大している。
【００１９】
次に、ディスクコントローラ１１５ならびにサーボ記録再生プロセッサ１１４によるサーボ・記録再生処理を説明する。サーボ記録再生プロセッサ１１４は、ＳＰＭ制御１０９によって、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１１０の回転駆動制御を行なう。ここで、スピンドルモータの回転制御は、所謂ＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ；線速度一定）である。ディスク１０１には、トラック溝にそってウォブルと呼ばれる蛇行側壁が形成されている。ディスク回転速度は、当該ウォブルの周波数が目標値になるように制御される。
【００２０】
ＯＰＵ１２０は、対物レンズ１０２、アクチュエータ１０３、光学系１０４、ＬＤ／ドライバ１０５、再生信号センサ１０６、ＬＤパワーモニタセンサ１０７、温度センサ１０８によって構成されている。ＯＰＵ１２０はフレキシブルケーブル等によって、サーボ記録再生プロセッサ１１４、あるいはモータ、アクチュエータドライバ系に接続されている。
【００２１】
対物レンズ１０２は、アクチュエータ１０３を構成するコイル及びワイヤーに電流を供給することによりチルト調整が行われる。これは、後に詳述する。
【００２２】
ＬＤ／ドライバ１０５は、半導体レーザー素子（以下「ＬＤ」と記す）ならびにレーザードライバである。ＬＤより出射されたレーザー光は、光学系１０４、対物レンズ１０２を介して、ディスク１０１に集光される。また、ＬＤパワーモニタセンサ１０７は、半導体受光センサと光電変換アンプによって構成される。ＬＤより出射されたレーザー光の一部は、ＬＤパワーモニタセンサ１０７を経由、サーボ記録再生プロセッサ１１４、パワー制御１１１によってＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）ループを構成する。すなわち、ＬＤパワーモニタセンサ出力とディスクコントローラ１１５で設定された目標パワーが一致するようＬＤ出射パワーがフィードバック制御される。
【００２３】
再生信号センサ１０６は、半導体受光センサと光電変換アンプによって構成される。図９にディスク上の光スポットの配置、再生信号センサの構成、そしてサーボ記録再生プロセッサにおける演算処理部を示す。
【００２４】
同図において、メインビームＭａｉｎは、トラック中心に位置制御される。サブビームＳＵＢ１、ＳＵＢ２は、Ｍａｉｎに対して１／２トラックだけ半径方向にずらして位置制御される（差動プッシュプル法；Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｕｓｈ  Ｐｕｌｌ）。
【００２５】
再生信号センサ部は、３ビームにそれぞれに対応して、メインビームＭａｉｎの反射光は４分割センサ（Ａ〜Ｄ）、サブビームＳＵＢ１、ＳＵＢ２の反射光は２分割センサ（Ｅ〜Ｆ、Ｇ〜Ｈ）に照射される。再生信号センサ出力は、フレキシブルケーブル等を介してＯＰＵ１２０からサーボ記録再生プロセッサ１１４の演算処理部に伝送される。演算処理部では、所定ゲイン制御（Ａｕｔｏ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）、フィルタ処理（Ｐｒｅ  Ｆｉｌｔｅｒ）、ディジタル化（Ａｎａｌｏｇ／Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）されて、Ａ〜Ｈ各チャンネル信号が演算処理される。ここで、メインビームの反射光の総和であるＳＵＭ信号は、
ＳＵＭ＝Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ
として演算出力される。また、４分割センサの対角和の差信号は、メインビームのフォーカスエラー／ＦＥ信号として演算出力される（非点収差法）。
ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）
また、メインビームのプッシュプル信号は、（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）として得られるが、ディスク半径方向の対物レンズシフトに起因するオフセットが含まれている。そこで、サブビームのプッシュプル成分（Ｅ−Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ）を所定係数ｋ倍した後、差分演算し、当該オフセット成分をキャンセルしたトラックエラー／ＴＥ信号を生成する。
ＴＥ＝（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）−ｋ｛（Ｅ−Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ）｝
なお、所定係数ｋは、メインビームとサブビームの分割光量比に応じて決定される定数である。
【００２６】
以上より、フォーカスエラー／ＦＥ信号に基づいて、光ビームスポットの焦点位置制御（フォーカス制御）がなされる。また、トラッキングエラー／ＴＥ信号に基づいて、情報トラックに対して光ビームスポットを溝方向に追従制御させるトラッキング制御がなされる。
【００２７】
なお、トラッキング制御は、アクチュエータ１０３における微調整と、送り機構１１２による粗調整で制御される。即ち、対物レンズ位置がアクチュエータの可動範囲端に位置されたことが検知されると、送り機構が稼動して、ＯＰＵ１２０全体をディスク半径方向に移送する。このように、アクチュエータによる微調制御と、送り機構によるＯＰＵの移送を組み合わせて、光ビームスポットはディスクの所定トラックに追従制御される。また、送り機構１１２は、ＯＰＵ１２０をディスク半径方向に移送して（トラバース制御）、所定アドレスへのシーク動作を担う。
【００２８】
次に、ディジタル化された再生信号は、不図示のＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）によって再生信号のエッジに同期したクロックが生成され、データ処理される。さらに、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ−Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ−Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）によるデータ検出、ＥＣＣ（誤り訂正；Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）等、所定の復号処理がなされる。
【００２９】
一方、ディスクへの記録はサーボ記録再生プロセッサ１１４において、ディスクフォーマットに準拠した変調処理で記録パターンが生成される。ＬＤ／ドライバ１０５は、記録パターンに応じてレーザー発光パルスの波形整形・タイミング制御がなされ、所謂ライトストラテジ動作を担う。
【００３０】
ディスクコントローラ１１５は、ショックプルーフ動作で記録を行なう。具体的には、装置に入出力されるデータのレート（低速）とディスクに記録するレート（高速）の差を利用して、ディスクアクセスを間欠的に動作させる。即ち、外部インタフェースからの信号がメモリ１１７に蓄積される間、ディスクアクセスを休止状態にしておく。休止状態とは、電力消費の多いＬＤを消灯して、関連する電気回路ブロックの動作を止めることである。メモリ１１７に所定量のデータが蓄積されたらディスクアクセスを開始して、メモリ１１７からディスク１０１に記録を行なう。ディスクへの記録が終了したら、ディスクアクセスを再び休止状態にする。このようにディスクアクセスを間欠的に行なうことで、休止時にＬＤ消灯できるので、平均的な電力消費が削減できる。また、装置外部から振動や衝撃が加わっても、メモリ１１７がバッファとなり、サーボ復帰処理（リトライ処理）できるので、耐震信頼性向上の効果が得られる。
【００３１】
また、ＯＰＵ１２０内部には温度センサ１０８が設けられており、ディスクコントローラ１１５によって、ＬＤ近傍の温度を検知する機能を有する。
【００３２】
（第１の実施形態）
＜光学的記録再生装置１００のチルト調整フロー＞
図２は、本発明による第１のチルト調整を示すフローチャートである。図２を用いて具体的な調整フローを説明する。
【００３３】
［ステップＳ２０１：最適記録パワーの初期値（Ｐｏ）取得］
このステップは、ディスクへの最適記録パワー初期値（Ｐｏ）を求める処理である。
【００３４】
上位コマンドからの指示等により、ディスクコントローラ１１５は、記録レーザーパワーを決定するＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を実施する。具体的には、ＯＰＵ１２０をディスクの所定領域ＰＣＡ（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）に移動し、試行記録と再生動作を実施する。試行記録時、記録レーザーパワーを複数段階変更しながら記録を行う。再生時は、試行記録したデータを再生し、記録レーザーパワー毎に再生データを取得して、信号品質を判断する。信号品質の判断には、たとえば、再生信号の振幅の対象性を示すアシンメトリ（β値）、エッジのゆらぎを示すジッタ値、あるいは再生データの信頼性を示すエラー率などを指標とする。そして、最も記録品位が良好となるレーザーパワーの値、すなわち最適記録パワーを求める。
【００３５】
求められた最適記録パワー（Ｐｏ）は、所定レジスタに格納する。同時に、Ｐｏを求めた時刻、温度などの条件も属性情報として保持しておく。
【００３６】
なお、ステップＳ２０１に示すＯＰＣ実施は、必ずしも所定のＰＣＡ領域に移動して、試行記録動作を実施する必要はない。すなわち、ユーザーデータ領域で試行記録を行なっても良い。あるいはまた、既記録済みのデータを再生して、最適記録パワーを決定しても良い。
【００３７】
［ステップＳ２０２：ユーザーデータ記録］
ディスクコントローラ１１５は、所定レジスタに格納された最適記録パワーを設定して、ディスクへの記録動作を行なう。ディスクコントローラ１１５は、上位コマンドの指示によって、間欠記録あるいは連続記録を行なう。
【００３８】
［ステップＳ２０３：記録継続？］
このステップは、記録継続の判断を行なう。上位コマンドからの記録動作が継続指示されれば、ステップＳ２０５に移行する。記録停止の指示があれば、エンドに移行して処理を終了する。
【００３９】
［ステップＳ２０４：記録パワー探索？］
ディスクコントローラ１１５は、記録パワー再探索の要否を判断する。たとえば、ステップＳ２０１で最適記録パワー初期値（Ｐｏ）を求めた後、所定以上の時間経過があれば、記録パワーの探索を要とする。あるいは、最適記録パワー初期値（Ｐｏ）を求めてから所定以上の温度変化があったら、記録パワーの探索を要とする。あるいはまた、記録データを再生して、再生信号品位が所定以上、悪化したら記録パワーの探索を要とする。このように、Ｓ２０４は、記録パワーの再探索が必要な場合に、ステップＳ２０５に移行する。記録パワーの再探索が必要でない場合は、ステップＳ２０２に戻って、記録動作を継続する。
【００４０】
［ステップＳ２０５：最適記録パワーの再取得（ＰＮ）］
このステップは、ディスクのユーザデータ領域における最適記録パワーを求め直す処理であり、Ｓ２０１同様の動作を行なう。ただし、ディスクコントローラ１１５は、求めた最適記録パワーＰＮを、Ｓ２０１で求めた最適記録パワー初期値Ｐｏとは異なるレジスタに格納する。すなわち、ステップ２０５で求めた最適記録パワーＰＮは、ステップＳ２０４で探索要と判断される毎に、ＰＮとしてレジスタに格納され、更新される。レジスタ値ＰＮは、最適記録パワーの最新値が格納され、ステップＳ２０３の記録動作で設定される。
【００４１】
［ステップＳ２０６：最適記録パワー変化判定］
ここでは、最適記録パワーの変化量が所定値を超えるか否かを検出し、次のステップ２０７において、チルト調整を実施するかの判断をしている。
【００４２】
例えば、ディスクコントローラ１１５は、ＰｏレジスタとＰＮレジスタに格納された値の比  ＰＮ／Ｐｏを求め、所定の閾値（Ｔｈ値）と比較する。
ＰＮ／Ｐｏ  ＞  Ｔｈ値
ここで、最適記録パワーの変化  ＰＮ／Ｐｏが、所定値であるＴｈ値より大きいと判断された場合、ステップＳ２０７に移行する。そうでない場合は、ステップＳ２０２に戻って、記録動作を継続する。
【００４３】
本実施形でのＴｈ値は、たとえば１．１に設定されている。これは、最適記録パワー初期値Ｐｏ値に対して、最新の記録パワー設定値ＰＮが＋１０％を越えたら、ステップＳ２０７に移行する設定である。
【００４４】
ここで、最適記録パワーの変化を監視する指標は、ＰＮ、Ｐｏの比だけでなく、ＰＮとＰｏの差の絶対値を見てもよい。あるいはまた、ＰＮの更新変化量を監視しても良い。すなわち、最適記録パワーの変化量を検出し、この検出結果に基づいて、次に述べるチルト調整を実施するのである。
【００４５】
［ステップＳ２０７：チルト調整実施］
チルト調整について図面を用いて詳述する。図１２はアクチュエータ１３０の構成を示し、図１２（ａ）は斜視図、図１２（ｂ）は側面図である。アクチュエータ１３０は、固定部２６と可動部２５から成り、固定部２６は永久磁石２１ａ，２１ｂ、２１ｃ、ヨーク２４、及び支持基台１７で構成されている。可動部２５は対物レンズ１０２、フォーカスコイル１９ａ、１９ｂ、トラッキングコイル１８及びこれらを保持するレンズ保持部材１５で構成されている。
【００４６】
ワイヤ１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆは線状で弾性及び高導電性を有する。それの一端は支持基台１７に固定され、他端は可動部２５が光ディスクに対してフォーカス方向、トラッキング方向、ラジアルチルト方向への変位が自在であるようにレンズ保持部材１５の側面に固定されている。
【００４７】
ここで、フォーカスコイル１９ａ、１９ｂ、トラッキングコイル１８の各コイルの巻線端末２８は、レンズ保持部材１５の側面に設けられた端子２７によって、ワイヤ１６ａ，１６ｂ，１６ｃ，１６ｄ，１６ｅ，１６ｆに接続される。
【００４８】
図１のアクチュエータドライバ１１３は、フォーカスエラー信号あるいはトラッキングエラー信号に基づて、フォーカス駆動信号をフォーカスコイル１９ａ、１９ｂに、トラッキング駆動信号をトラッキングコイル１８に供給する。アクチュエータ１３０はこれら駆動信号と永久磁石２１ａ，２１ｂ、２１ｃが発生する磁束との間で発生する電磁的な力によって可動部２５を光ディスクに対して３方向に駆動する。３方向とは、光ディスクと対物レンズのフォーカス方向、トラック溝に直行するトラッキング方向、そして２つのフォーカスコイル１９ａ、１９ｂに互いに異なる方向に推力を与えることによって対物レンズを半径方向に傾ける、ラジアルチルト方向である。なお、フォーカス駆動信号とは、フォーカスエラー信号を所定レベルに制定するために、フォーカスコイル１９ａ、１９ｂに供給する電流信号である。
【００４９】
チルト調整Ｓ２０７は、ディスクの反りを補正するステップであり、ディスクコントローラ１１５によって実行される。図４は、チルト調整の動作シーケンスを説明する図である。同図において、横軸は対物レンズのチルト設定値、縦軸は再生信号の振幅値を示している。具体的には、対物レンズ１０２をアクチュエータ１０３によってディスク半径方向に複数段階、たとえばＴ０からＴ６のように、ディスク接線方向を中心に左右に傾ける。対物レンズに与えたチルトＴ０、Ｔ６・・・毎に、再生信号の振幅値Ｍ０、Ｍ１・・・を各々取得する。そして、再生信号振幅値が最大になるチルトを設定する。対物レンズ中心（光軸）とディスク面のチルトが増えると、光ビームスポットにコマ収差が発生し、再生信号振幅が低下する。図４の例では、再生信号振幅が最大値Ｍ３となるチルトＴ３を設定する。チルト調整のふり幅は、再生信号の最大を探索するのに必要な振幅変化が得られる程度まで傾ける必要がある。振幅最大値の探索には、たとえば図４において、振幅がほぼ等しいＭ０とＭ６のチルトであるＴ０、Ｔ６を求め、Ｔ０とＴ６のチルト角のセンター値に設定することも有効である。
【００５０】
チルト調整Ｓ２０７を実施後、ステップＳ２０１に戻り、最適記録パワーの初期値（Ｐｏ）を更新する。これは、チルト調整Ｓ２０７によって、光ビームスポットの実効的な強度が変わるため、記録パワーの最適値がズレてしまうからである。
【００５１】
ここで、図１１を用いて、本実施形に基づくチルト調整の全体像を補足説明する。図１１は、ディスクの断面視によるチルト（反り）と最適記録パワーの半径位置依存性を示す図である。同図において、半径Ｒｏで最適記録パワーＰｏを求める（ステップＳ２０１）。ディスクコントローラは、所定の間隔、たとえばディスク半径位置（アドレス）毎に、最適記録パワーを再探索し、Ｐ１、Ｐ２のように更新する（ステップＳ２０５）。ディスクにチルト（反り）がなければ、最適記録パワーは、略一定値を保つ。ディスク外周方向になると、チルトの影響によって、最適記録パワーが上昇する。外周ＲＮにおいて最適記録パワーがＰＮになったとき、ＰＮ／ＰｏがＴｈ値（１．１）を超え（ステップＳ２０６）、チルト調整が実施された（ステップＳ２０７）。引き続き、最適記録パワーの初期値Ｐｏが求められ（ステップＳ２０１）る。以降、このように最適記録パワーの変化を監視しながら、記録動作を続ける。
【００５２】
以上、本発明による第１の実施フローについて詳述した。ステップＳ２０６において、最適記録パワーの変化を監視することで、記録時において適切なタイミングでチルト調整を実施できる。
【００５３】
通常、チルト（反り）の発生は、装置内の急激な温湿度変化、あるいはディスク自体の保管状態、あるいはディスク組成の特質に基づくため、システムとして予測不能である。特に、リアルタイムに伝送される高品位映像データを記録する際は符号量も多く、ベリファイ等を行なう記録のリカバリーは難しい。
【００５４】
本実施形では、記録時のチルト調整を、必要な時に、必要なタイミングで実施できる。すなわち、チルトの発生を確実に捕捉してチルト調整ができるので、記録再生システムの信頼性向上に大きく寄与する。また、チルト調整を行うことにより、ディスクの傾きによるコマ収差そのものを低減させているので、従来技術（特開２００１−２３１７４公報等）に記載されているようなレーザーパワーの増減により記録品位を高める手法とは全く異なる。すなわち、本願発明は、従来技術に比べて装置内の温度変化を低減させることもできるのである。
【００５５】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明をする。
【００５６】
第１の実施形態とは、特に、フォーカス駆動信号とレーザー温度変化量に基づいてチルト調整を行っている点において相違する。
【００５７】
まず、フォーカス駆動信号を用いることにより、対物レンズがＯＰＵ１２０からディスク面に近づいたか、反対に遠ざかったか、変化の方向を知ることができるため、第１の実施形態に比べて少ない所要時間でチルト調整を実施できる。
【００５８】
また、レーザー温度変化量に対応した最適記録パワーの変化量の関係を、ディスク種別毎に予めテーブル化して記録再生装置に備えておくことで、主としてディスクの傾きに起因するコマ収差の影響分だけを抽出することができる。そのため、チルトに影響するコマ収差を補正するためのチルト調整を行うことができるのである。以下に詳細な説明をする。
【００５９】
＜光学的記録再生装置１００のチルト調整フロー＞
図３は、本発明による第２のチルト調整を示すフローチャートである。本実施形では、最適記録パワーの変化量を監視して、チルト調整量を決定し、チルトならびに最適記録パワーを補正することができる。図３を用いて具体的な調整フローを説明する。
【００６０】
［ステップＳ３０１：ディスク種類  判別］
このステップは、ディスクの種別を判別する。たとえば相変化のＲＷタイプ、あるいはライトワンスのＲタイプなどを識別する。同時に、ディスク・インフォメーションからメーカーＩＤを読み取って、ディスクメーカーも認識する。検出されたディスクメーカー情報は、後述のディスク記録膜の特性識別に用いる。
【００６１】
［ステップＳ３０２：最適記録パワーの初期値（Ｐｏ）取得、フォーカス駆動信号の初期値（Ｆｏ）取得、レーザー温度の初期値（Ｔｏ）取得］
このステップは、ディスクへの最適記録パワー初期値（Ｐｏ）、フォーカス駆動信号の初期値（Ｆｏ）、レーザー温度の初期値（Ｔｏ）を各々取得し、ディスクコントローラ１１５に備えられた所定レジスタに格納する処理である。  最適記録パワーを求める処理は、実施例１で前述したとおりである。ここでは、フォーカス駆動信号の初期値（Ｆｏ）を求める処理について図面を用いて説明する。図８は、ディスク上の異なる半径位置Ａ、Ｂにおける対物レンズの位置と、アクチュエータ１０３のフォーカス駆動信号の時間推移を示している。
【００６２】
フォーカス駆動信号は、ディスクの面ブレに追従しているため、ディスク回転周期に同期して上下に変動している。そして、ＯＰＵ１２０と対物レンズ１０２の相対レンズ位置変化に応じて、フォーカス駆動信号の平均的なレベルが変化する。図８は、Ｂにおいてディスクが反っている様子を示しており、半径位置Ａより半径位置Ｂの方が、ＯＰＵと対物レンズ１０２の相対位置が、△ＬＰ分、遠くに位置している。その分、フォーカス駆動信号の平均レベルも上がって、Ｂ＞Ａとなっている。
【００６３】
このステップでは、最適記録パワー初期値（Ｐｏ）を求める際、同時に、フォーカス駆動信号の平均レベル（Ｆｏ）を取得する。取得されたフォーカス駆動信号の初期値（Ｆｏ）は、所定のレジスタに格納される。この後、フォーカス駆動信号の平均レベルの変化を監視することで、対物レンズがＯＰＵ１２０からディスク面に近づいたか、反対に遠ざかったか、変化の方向を知ることができる。
【００６４】
そして、ディスクコントローラは、温度センサ１０８より、ＬＤ近傍の温度情報（Ｔｏ）を取得し、メモリに格納しておく。
【００６５】
［ステップＳ３０３：ユーザーデータ記録］
ディスクコントローラ１１５は、所定レジスタに格納された最適記録パワーを設定して、ディスクへの記録動作を行なう。ディスクコントローラ１１５は、上位コマンドの指示によって、間欠記録あるいは連続記録を行なう。
【００６６】
［ステップＳ３０４：記録継続？］
このステップは、記録継続の判断を行なう。上位コマンドからの記録動作が継続指示されれば、ステップＳ３０５に移行する。記録停止の指示があれば、エンドに移行して処理を終了する。
【００６７】
［ステップＳ３０５：記録パワー探索？］
ディスクコントローラ１１５は、記録パワー再探索の要否を判断する。たとえば、ステップＳ３０１２最適記録パワー初期値（Ｐｏ）を求めた後、所定以上の時間経過があれば、記録パワーの探索を要とする。あるいは、最適記録パワー初期値（Ｐｏ）を求めてから所定以上の温度変化があったら、記録パワーの探索を要とする。あるいはまた、記録データを再生して、再生信号品位が所定以上、悪化したら記録パワーの探索を要とする。このように、Ｓ３０５は、記録パワーの再探索が必要な場合に、ステップＳ３０６に移行する。記録パワーの再探索が必要でない場合は、ステップＳ３０３に戻って、記録動作を継続する。
【００６８】
［ステップＳ３０６：最適記録パワーの再取得（ＰＮ）、フォーカス駆動の再取得（ＦＮ）、レーザー温度の再取得（ＴＮ）］
このステップは、ディスクへの最適記録パワーとフォーカス駆動信号の平均値、そしてレーザー温度を求め直す処理であり、Ｓ３０２同様の動作を行なう。ただし、ディスクコントローラ１１５は、求めた最適記録パワーＰＮならびにフォーカス駆動信号ＦＮを、Ｓ３０２で求めた最適記録パワー初期値Ｐｏ、フォーカス駆動信号初期値Ｆｏ、レーザー温度初期値Ｔｏとは異なるレジスタに格納する。すなわち、ステップＳ３０５で探索要と判断される毎に、ＰＮ、ＦＮ、ＴＮとしてレジスタに格納され、更新される。レジスタ値ＰＮは最適記録パワーの最新値が格納され、ステップＳ３０３の記録動作で設定される。
【００６９】
［ステップＳ３０７：最適記録パワー変化判定］
ディスクコントローラ１１５は、ＰｏレジスタとＰＮレジスタに格納された値の比  ＰＮ／Ｐｏを求め、所定閾値（Ｔｈ値）と比較する。
ＰＮ／Ｐｏ  ＞  Ｔｈ値
ここで、最適記録パワーの変化  ＰＮ／Ｐｏが、所定値であるＴｈ値より大きいと判断された場合、ステップＳ３０８に移行する。そうでない場合は、ステップＳ３０３に戻って、記録動作を継続する。
【００７０】
本実施形におけるＴｈ値は、たとえば１．０５に設定されている。これは、最適記録パワー初期値Ｐｏ値に対して、最新の記録パワー設定値ＰＮが＋５％を越えたら、ステップＳ３０８に移行する設定である。本実施形では、最適記録パワーの変化量に基づいて、チルト調整値を算出、変更する。
【００７１】
［ステップＳ３０８：記録パワー変化量△Ｐ取得］
ディスクコントローラ１１５は、最適記録パワーの変化量△Ｐを取得する。
△Ｐ＝ＰＮ／Ｐｏ
［ステップＳ３０９：チルト方向判別△Ｆ取得］
ディスクコントローラ１１５は、フォーカス駆動信号の平均レベルＦＮとＦｏのレジスタ値を比較して、チルトの方向を取得する。すなわち、△Ｆ＝ＦＮ−Ｆｏ＞０ならば、ディスク面とレーザー光源が遠ざかる方向
△Ｆ＝ＦＮ−Ｆｏ＜０ならば、ディスク面とレーザー光源が近づく方向
［ステップＳ３１０：レーザー温度変化△Ｔ取得］
ディスクコントローラ１１５は、温度検知を行う。ここでは、温度センサ１０８から、ＬＤ温度変化量△Ｔを計測する。
△Ｔ＝ＴＮ−Ｔｏ
なお、ディスクコントローラ１１５は複数レジスタを内蔵しており、当該レジスタへのデータアクセスならびに演算によって、△Ｐ、△Ｆ、△Ｔを算出する。
【００７２】
［ステップＳ３１１：チルト補正実施］
ディスクコントローラ１１５は、ステップＳ３０１、Ｓ３０８、Ｓ３０９、Ｓ３１０の取得値、或いは計測結果に基づいて、チルト補正を実施する。一例として、
△Ｐ＝１．２、△Ｆ＞０、△Ｔ＝１０℃のとき、チルト補正量を試算する。
【００７３】
先ず、ディスク種別とレーザー温度変化△Ｔより、最適記録パワー変化量△Ｐの補正値を求める。ここでは一例として、有機色素タイプのライトワンスディスクのレーザー波長と吸光度（Ａｂｓ）の関係を図６に例示する。図６の横軸は、レーザー波長（ｎｍ）であり、波長変化＋１ｎｍあたり、吸光度（記録感度相当）が５％低下する特性を示している。また、半導体レーザー光源はこの波長域で一般に、約＋０．２ｎｍ／℃の温度依存性を有している。つまり、レーザー波長変化６ｎｍは、約３０℃のレーザー温度変化に相当する。これはレーザーの温度変化によって、光源の波長が変動し、ディスクの記録感度が変化することを示している。ここで図７は、図６の吸光度特性のディスクにおいて、横軸に温度、縦軸に最適記録パワーの変化量を示したものである。図７において、３０℃のレーザー温度上昇があると、最適記録パワーを約３０％多く照射する必要があることを示している。ライトワンスタイプの吸光度特性は、有機色素材料に依存するため、ディスクメーカー毎に特性が異なる。以上から、本ステップでは、レーザー温度変化△Ｔとディスク種別をもとに、最適記録パワーの変化量を補正する。
【００７４】
次に、本実施形の記録再生装置における最適記録パワーの変化量△Ｐと、チルト補正値の関係を図１０に示す。図１０において、横軸はチルト補正量〔ｄｅｇ〕、縦軸は最適記録パワー変化量△Ｐである。最適記録パワーは、レーザー温度にも依存性を有している。よって、最適記録パワーの変化量△Ｐには、チルトだけでなく、温度変動成分も含まれている。そこで、レーザー温度変化量△Ｔと最適記録パワーの変化量△Ｐの関係を、ディスク種別毎に予めテーブル化して記録再生装置に備えておき、チルトの影響分だけを抽出する。
【００７５】
また図７にて、最適記録パワーの変化量△Ｐの温度係数は、＋１％／℃である。
【００７６】
いま、ステップＳ３１０において△Ｔ＝１０℃であることから、温度変化による最適記録パワーの増加分は１０％である。よって、ステップＳ３０８で取得された最適記録パワーの変化量△Ｐ＝１．２から、実質的なチルトの影響は、△Ｐ−１０％＝１．１〔相対値〕の記録パワー増加をもたらしている。図１０から、最適記録パワーの変化量△Ｐ＝１．１のとき、横軸のチルト量は、０．２５〔ｄｅｇ〕である。よって、ステップＳ３１１では、△Ｆ＞０より、ディスクに近づく方向にチルトを０．２５〔ｄｅｇ〕変化させる。
【００７７】
［ステップＳ３１２：記録パワー補正実施］
本ステップは、チルト調整Ｓ３１１によってチルトの補正が行われた分だけ、過剰に照射していた最適記録パワーの増加分を低下させるものである。
【００７８】
ステップ３０３で取得された、最適記録パワーの変化量△Ｐ＝１．２のうち、チルトの補正分１０％をキャンセルさせる。よって、最適記録パワーを１０％低下させる。
【００７９】
［ステップＳ３１３：最適記録パワーの初期値更新（Ｐｏ）、フォーカス駆動信号の初期値更新（Ｆｏ）、レーザー温度の初期値更新（Ｔｏ）］
チルト調整を実施したので、最適記録パワーＰｏ、フォーカス駆動信号Ｆｏ、レーザー温度のレジスタ初期値を更新する。
【００８０】
本実施系では、最適記録パワーの変化量に基づいて、チルト可変量を一意に決定し、チルト補正を行うことができる。通常、アクチュエータを駆動させてチルトの状態を最良の位置にするための探索をすると、数１００ｍＳの時間を要してしまう。本実施系は、こうしたチルト調整工程を省き、予め可変すべきチルト量を求めて１回で補正を行うメリットが得られる。以上より、チルトの発生を確実に捕捉してチルト補正ができるので、記録再生システムの信頼性向上に大きく寄与する。
【００８１】
また、チルト調整を行うことにより、ディスクの傾きによるコマ収差そのものを低減させているので、従来技術（特開２００１−２３１７４公報等）に記載されているようなレーザーパワーの増減により記録品位を高める手法とは全く異なる。すなわち、本願発明は、従来技術に比べて装置内の温度変化を低減させることもできるのである。
【００８２】
本実施形のチルト調整は、ディスク半径方向のチルト（所謂ラジアルチルト）の調整機構に関するものであったが、これに限定されることなく、タンジェンシャル方向のチルト調整であっても良い。なお、本発明の好ましい実施の形態について、ハードウエアを踏まえた構成について説明したが、本発明の主旨はこれに制約されることなく、ソフトウエアのみのプログラム処理によっても実現可能なことはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】光学的記録再生装置の機能ブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に関わる動作を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第２の実施形態に関わる動作を示すフローチャートである。
【図４】チルト調整の説明図である。
【図５】チルトによる収差の影響を説明する図である。
【図６】有機色素ディスクにおけるレーザー波長と吸光度（記録感度）の関係を説明する図である。
【図７】有機色素ディスクにおけるレーザー温度と最適記録パワーの関係を説明する図である。
【図８】フォーカス駆動信号の平均レベルを説明する図である。
【図９】アクチュエータ制御信号を説明する図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態に関わるチルト補正テーブルである。
【図１１】本発明の第１の実施形態に関わる動作全体を説明する図である。
【図１２】アクチュエータの構成を説明する図である。
【符号の説明】
【００８４】
１０１  光ディスク
１０２  対物レンズ
１０３  アクチュエータ
１０４  光学系
１０５  ＬＤ／ドライバ
１０６  再生信号センサ
１０７  ＬＤパワーモニタセンサ
１０８  温度センサ
１０９  ＳＰＭ制御
１１０  ＳＰＭ
１１１  パワー制御
１１２  送り機構
１１３  アクチュエータドライバ
１１４  サーボ記録再生プロセッサ
１１５  ディスクコントローラ
１１６  外部インタフェース
１１７  メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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