(57)【要約】【課題】  固定障害が発生した場合でも、その障害を回避できる電気的条件を自動的に見つけ出して、処理の継続を可能とする。【解決手段】  一又は二以上のプロセッサ１１，１２と、障害の発生箇所を解析する診断プロセッサ（ＤＧＰ３０）と、この解析の結果にもとづいて、その障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断するサービスプロセッサ（ＳＶＰ４０）とを備え、このサービスプロセッサ４０が、固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行し、障害が発生しない電気量があると、この電気量により、固定障害が発生したプロセッサ１１，１２に障害発生前の処理を続行させる。【選択図】    図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一又は二以上のプロセッサと、障害の発生箇所を解析する診断プロセッサと、前記解析の結果にもとづいて前記障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断するサービスプロセッサとを備えたプロセッサシステムであって、
前記サービスプロセッサが、
前記固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行し、前記障害が発生しない電気量があると、この電気量により、前記固定障害が発生したプロセッサに障害発生前の処理を続行させる
ことを特徴とするプロセッサシステム。
【請求項２】
障害の発生箇所に応じて作成されたテストプログラムを複数記憶した記憶手段を備え、
前記診断プロセッサが、前記プロセッサからの障害データにもとづいて前記障害の発生箇所を解析し、
前記サービスプロセッサが、前記解析により得られた障害の発生箇所に適応したテストプログラムを前記記憶手段から取り出して実行する
ことを特徴とする請求項１記載のプロセッサシステム。
【請求項３】
前記テストプログラムを実行した結果、その実行中に障害が発生し、この障害が、前回発生した障害と発生箇所が同一であるときは、前記固定障害であると判断する
ことを特徴とする請求項１又は２記載のプロセッサシステム。
【請求項４】
所定の電気量を変化させながら前記テストプログラムを実行させた場合において、所定の範囲内ですべての電気量について前記障害が発生したときは、前記電気量とは異なる他の種類の電気量を変化させながら前記テストプログラムを実行して障害が発生しない電気量を得る
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のプロセッサシステム。
【請求項５】
所定の電気量を変化させながら前記テストプログラムを実行させた場合において、所定の範囲内ですべての電気量について前記障害が発生したときは、救済できないものとして、前記固定障害が発生したプロセッサを切り離す
ことを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のプロセッサシステム。
【請求項６】
前記電気量の種類が、電圧，冷却ファンの回転数，クロックの周波数のうちの一又は二以上を含む
ことを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載のプロセッサシステム。
【請求項７】
障害の発生箇所を解析し、この解析の結果にもとづいて前記障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断する障害処理方法であって、
前記固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行し、前記障害が発生しない電気量があると、この電気量により、前記固定障害が発生したプロセッサに障害発生前の処理を続行させる
ことを特徴とする障害処理方法。
【請求項８】
障害の発生箇所に応じて作成されたテストプログラムを複数記憶しておき、
前記プロセッサからの障害データにもとづいて前記障害の発生箇所を解析し、
この解析により得られた障害の発生箇所に適応したテストプログラムを取り出して実行する
ことを特徴とする請求項７記載の障害処理方法。
【請求項９】
障害の発生箇所を解析する処理と、この解析の結果にもとづいて前記障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断する処理とをプロセッサシステムに実行させるための障害処理プログラムであって、
前記固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行する処理と、
このテストプログラムの実行中に前記障害が発生しない電気量があると、この電気量により、前記固定障害が発生したプロセッサに障害発生前の処理を続行させる処理とを前記プロセッサシステムに実行させる
ことを特徴とする障害処理プログラム。
【請求項１０】
障害の発生箇所に応じて作成されたテストプログラムを複数記憶する処理と、
前記プロセッサからの障害データにもとづいて前記障害の発生箇所を解析する処理と、
前記解析により得られた障害の発生箇所に適応したテストプログラムを取り出して実行する処理とを前記プロセッサシステムに実行させる
ことを特徴とする請求項９記載の障害処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一又は二以上のプロセッサを備えたプロセッサシステム、このシステムにおける障害に関する処理の手順を示す障害処理方法、及び、この障害処理方法を実行するための障害処理プログラムに関し、特に、プロセッサからの障害データにもとづいて間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断するプロセッサシステム、障害処理方法及び障害処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
プロセッサを一又は二以上備えたプロセッサシステムにおいては、このシステム内で障害が発生することがある。
この障害には、固定的なもの（固定障害、固定故障）と間欠的なもの（間欠障害、間欠故障）がある。
これらのうち、固定障害は、後述する各状態を原因として常に障害が発生するものであり、その部品を交換するなど特定の処理を必要とする。
一方、間欠障害は、一時的に障害が発生するものであり、再度同じ動作を行えば正常に遂行される可能性を有している。
【０００３】
固定障害の原因としては、例えば、半導体素子などのショートやオープン、許容動作範囲を超えた素子の特性劣化、プリントパターンのショートやオープン、各種接続線やケーブルなどの断線、電源装置の故障などがある。
一方、間欠障害の原因としては、例えば、コネクタやハンダ付けなどの接触不良、テープケーブル内の線間絶縁不良、許容動作範囲を超えない素子の特性劣化、各種接続線間の誘導雑音や外来雑音、温度や湿度など環境条件の不備などがある。
【０００４】
ところで、発生した障害が固定障害又は間欠障害のいずれであるかを判断し、それぞれの場合で適切な処理を実行する方法が提案されている。
例えば、ＣＰＵが自己診断を実行した結果、固定障害と判断したときは、当該ＣＰＵを停止させて、他のＣＰＵに当該ＣＰＵの停止を通知し、一方、間欠障害と判断したときは、当該ＣＰＵに所定の処理を継続させるものがある（例えば、特許文献１参照。）。
このような構成によれば、間欠障害の場合には、そのＣＰＵを停止することなく処理を継続させることができる。
【０００５】
また、障害が発生するか否かを予め診断する技術が提案されている。
例えば、システム起動時に初期診断プログラムの制御によって初期診断を行うものであって、データ処理装置の動作条件を順次変更して初期診断を行うものがある（例えば、特許文献２参照。）。
このように、動作条件を変更し厳しい動作環境下でデータ処理装置を動作させることで、部品の劣化故障などをいち早く検出することができ、稼動時における障害の発生を未然に防ぐことができる。
【特許文献１】特開昭６１−１０１８４４号公報
【特許文献２】特開平０１−２３０１３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述の特許文献１に記載の技術において、固定障害と判断された場合には、当該ＣＰＵを停止させて、他のＣＰＵに処理を継続させていた。ところが、固定障害と判断した場合でも、例えば、電圧等の動作条件を変えることで障害を回避し、当該ＣＰＵにより処理を継続させることができる場合もある。
【０００７】
また、障害が発生したときに実行されていたプログラムが性能測定を目的とする場合には、ＣＰＵや記憶装置をデグレードして測定しても意味がない場合もあった。
【０００８】
さらに、マルチプロセッサ構成でないシステムのＣＰＵで障害が発生し、保守部品の入手に時間がかかる場合等では、システムを停止しておくわけにもいかない。この場合、条件が多少悪くなっても、運用を継続することが望ましかった。
しかも、障害は、いつ発生するかわからない。仮にそれがオペレータのいない夜間等に発生した場合でも、当該ＣＰＵが継続して処理する条件を自動的に見つけ出して運用を続けられる技術の提供が望まれていた。
【０００９】
本発明は、上記の事情にかんがみなされたものであり、固定障害が発生した場合でも、その障害を回避できる電気的条件を自動的に見つけ出して、処理の継続を可能とするプロセッサシステム、障害処理方法及び障害処理プログラムの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
この目的を達成するため、本発明のプロセッサシステムは、一又は二以上のプロセッサと、障害の発生箇所を解析する診断プロセッサと、解析の結果にもとづいて障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断するサービスプロセッサとを備えたプロセッサシステムであって、サービスプロセッサが、固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行し、障害が発生しない電気量があると、この電気量により、固定障害が発生したプロセッサに障害発生前の処理を続行させる構成としてある。
【００１１】
また、本発明の障害処理方法は、障害の発生箇所を解析し、この解析の結果にもとづいて障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断する障害処理方法であって、固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行し、障害が発生しない電気量があると、この電気量により、固定障害が発生したプロセッサに障害発生前の処理を続行させる方法としてある。
【００１２】
また、本発明の障害処理プログラムは、障害の発生箇所を解析する処理と、この解析の結果にもとづいて障害が間欠障害又は固定障害のいずれであるかを判断する処理とをプロセッサシステムに実行させるための障害処理プログラムであって、固定障害と判断したときに、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行する処理と、このテストプログラムの実行中に障害が発生しない電気量があると、この電気量により、固定障害が発生したプロセッサに障害発生前の処理を続行させる処理とをプロセッサシステムに実行させる構成としてある。
【発明の効果】
【００１３】
以上のように、本発明によれば、発生した障害が固定障害であると判断された場合に、所定の電気量を変化させながらテストプログラムを実行し、障害が発生しない電気量を見つけ出し、この電気量によりプロセッサを動作させることとしたため、固定障害が発生した場合でも、この固定障害が発生したプロセッサにより、障害発生前の処理を継続できる。
また、障害の発生しない電気量を自動的に見つけることができ、さらに、システムの停止を回避できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明に係るプロセッサシステム、障害処理方法及び障害処理プログラムの好ましい実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１５】
［プロセッサシステム］
まず、本発明のプロセッサシステムの実施形態について、図１を参照して説明する。
同図は、本実施形態のプロセッサシステムの構成を示すブロック図である。なお、同図中の点線は、診断パスを表す。
【００１６】
同図に示すように、プロセッサシステム１は、ＣＰＵ１１と、ＣＰＵ１２と、ＭＭＵ２１と、ＭＭＵ２２と、ＤＧＰ３０と、ＳＶＰ４０と、ＤＩＳＫ４１とを備えている。
ＣＰＵ１１，ＣＰＵ１２は、それぞれプロセッサである。
ＭＭＵ２１，ＭＭＵ２２は、それぞれ記憶装置である。
これらＭＭＵ２１，ＭＭＵ２２には、テストプログラムを実行するための領域が予め用意されている。
ＤＧＰ３０は、診断プロセッサであって、ＣＰＵ１１，１２から障害データを採取すると、この採取した障害データにもとづき、装置のどの部分で障害が発生したかを解析するプログラムを有している。
【００１７】
ＳＶＰ４０は、サービスプロセッサであって、ＤＧＰ３０から解析結果を受信すると、動作可能条件検出プログラムの起動，演算器回路検証用テストプログラムのＭＭＵへのライト，ＣＰＵの初期化，テストプログラムの実行指示，ＯＳへのＣＰＵの組込指示などを行う。
また、ＳＶＰ４０は、オペレータがＣＰＵ１１，ＣＰＵ１２あるいはＭＭＵ２１，ＭＭＵ２２に対して、ＤＧＰ３０を介して診断を行うことや、ＣＰＵ１１，ＣＰＵ１２，ＭＭＵ２１，ＭＭＵ２２に対して個別に電圧の上昇や下降、あるいは冷却用のファンの回転数等を制御する機能を有している。
さらに、ＳＶＰ４０は、ＤＧＰ３０を介してＭＭＵ２１やＭＭＵ２２に対して、データのリードやライトを行うことや、この機能を用いることによりＤＩＳＫ４１内のテストプログラムをＭＭＵ２１，ＭＭＵ２２にライトすることも可能である。
【００１８】
ＤＩＳＫ（記憶手段）４１は、ＳＶＰ４０に接続されており、テストプログラムや、動作可能条件を探し出すための動作可能条件検出プログラムなどが格納されている。
テストプログラムは、障害に適したテストプログラムである。障害に適したテストプログラムとは、例えば、障害箇所が演算器であれば、演算器に負荷のかかるテストプログラム，障害箇所がＬＳＩ間のインタフェース部だった場合には、ＬＳＩのインタフェースに負荷がかかるプログラムのことである。
このテストプログラムや、ＤＧＰ３０が障害内容を解析するプログラム、動作可能条件を自動で探るプログラムは、予め開発しておく必要がある。本発明の障害処理は、これらのプログラムを用いて、以下の障害処理方法を自動的に行うものである。
【００１９】
なお、本実施形態のテストプログラムは、特許文献２に記載の初期診断プログラムとは目的や機能が異なる。
後者の初期診断プログラムは、システム起動時に、障害の発生の有無を診断するものである。
一方、前者のテストプログラムは、システムの動作中に、障害が発生した場合に、その障害に応じたテストプログラムを実行して、所定の電気量を変化させながら、再度障害が発生するか否か判断するものである。
【００２０】
［障害処理方法］
次に、本実施形態のプロセッサシステムの動作、特に、運用中にＣＰＵ１２に障害が発生した場合の障害処理方法について、図２〜図６を参照して説明する。
図２は、本実施形態の障害処理方法の動作を示すフローチャート、図３〜図６は、同方法の動作手順を示す動作手順図である。
なお、図２に示すフローチャートの中で、二重枠で示した処理は、特に、本実施形態において、発明の特徴となり得る処理である。
【００２１】
ＣＰＵ１２で１回目の障害が発生すると（ステップ１０）、ＤＧＰ３０にて、ＣＰＵ１２がシステムから切り離され（ステップ１１）、ＣＰＵ１２の障害発生時のデータ（障害データ。以降「ログ」と呼ぶ。）が採取される（ステップ１２）。
この採取したログにもとづき、障害が発生した箇所が解析される（ステップ１３）。ここで、障害が発生する箇所としては、例えば、ＣＰＵ１２の内部回路，ＭＭＵ２１又はＭＭＵ２２とのインタフェース部などが挙げられる。
障害の発生箇所が例えばＣＰＵ１２の演算器回路の故障であった場合、この情報（解析結果）が、診断パスを経由して、ＳＶＰ４０に通知される（ステップ１４）。
【００２２】
ＳＶＰ４０にて、解析結果が受信されると（ステップ１５）、予めＤＩＳＫ４１にインストールされていた動作可能条件検出プログラムが起動する（ステップ１６）。そして、ＤＩＳＫ４１に記憶されているテストプログラムのうち、演算器回路を検証するためのテストプログラムが選択され（障害の発生箇所に適応したテストプログラムの選択）、ＭＭＵ２１及びＭＭＵ２２内に前もって確保されているテストプログラム専用領域へライトされる（ステップ１７）。
【００２３】
さらに、ＤＧＰ３０を介してＣＰＵ１２が初期化され（ステップ１８）、ＣＰＵ１２にテストプログラムを実行させるための指示が出される（ステップ１９）。
ＳＶＰ４０からの指示にもとづき、ＣＰＵ１２にて、テストプログラムが実行される（ステップ２０）。このテストプログラムが正常に終了した場合は（ステップ２１）、この正常に終了した旨が、ＣＰＵ１２からＤＧＰ３０を経由してＳＶＰ４０に通知される（正常終了通知、ステップ２２）。
ＳＶＰ４０にて正常終了通知が受信されると（ステップ２３）、この正常終了通知にもとづき、ＣＰＵ１２の１回目の障害は、間欠障害であると判断される（ステップ２４）。そして、ＣＰＵ１２が再度初期化され（ステップ２５）、ＣＰＵ１１で動作しているＯＳに対して、ＣＰＵ１２の組み込む指示が出される（ステップ２６）。これにより、ＯＳは、ＣＰＵ１２をシステムに再組み込みする（ステップ２７）。
【００２４】
テストプログラムの実行中に（ステップ２０）、ＣＰＵ１２にて２回目の障害が発生した場合（図４のステップ３０）、ＣＰＵ１２からＤＧＰ３０へログが採取され（ステップ３１）、このログにもとづき障害内容が解析され（ステップ３２）、この解析結果が、ＤＧＰ３０からＳＶＰ４０へ通知される（ステップ３３）。
解析結果を受信したＳＶＰ４０にて（ステップ３４）、この解析結果の示す２回目の障害内容と１回目の障害内容が照合される（ステップ３５）。照合の結果、１回目の障害内容と２回目の障害内容が一致した場合には、１回目の障害が再現したと判断し、ＣＰＵ１２の演算器回路故障は固定障害であるとみなされる（ステップ３６）。
【００２５】
固定障害であると判断した場合、動作可能条件検出プログラムは、運用条件を変えることでＣＰＵ１２が動作可能かどうか確認するため、ＤＧＰ３０を介してＣＰＵ１２の電圧を１％上昇させる（ステップ３７）。そして、ＣＰＵ１２が初期化され（ステップ３８）、ＣＰＵ１２に対してテストプログラム実行の指示が出される（ステップ３９）。この指示にもとづき、ＣＰＵ１２にて、テストプログラムが実行され（ステップ４０）、障害が発生するかどうかが試験される。
【００２６】
テストプログラムの実行中に障害が再現された場合は（ステップ４１（ａ））、その旨がＣＰＵ１２からＳＶＰ４０に通知される（障害再現通知、ステップ４２）。
障害再現通知を受けたＳＶＰ４０にて（ステップ４３）、ＣＰＵ１２の電圧が２％上げられ（ステップ３７）、ＣＰＵ１２が初期化され（ステップ３８）、再度テストプログラムの実行が指示されて（ステップ３９）、障害が発生するかどうかが試験される。
【００２７】
このように、電圧を変えながら、これらステップ３７〜ステップ４３の作業を繰り返す。
この間に、障害が再現しない条件、つまり、ＣＰＵ１２の動作可能な条件が見つかった場合は（ステップ４１（ｂ）（図５のステップ５０））、ＳＶＰ４０は、このときの条件で、そのままＣＰＵ１２をシステムに組み込むようにＯＳに通知する（ステップ５１）。ＯＳは、その電圧の条件で、ＣＰＵ１２をシステムに再度組み込む（ステップ５２）。
【００２８】
一方、再現しない条件が所定範囲内で見つからないときは、今度は、電圧を下げていき、動作可能な条件が見つからないかを試験する作業を繰り返す。
例えば、この装置の電圧を変化させる幅が±１０％で限界とすると、この範囲で動作可能条件が見つからなければ（所定範囲内で障害再現あり。図４のステップ４１（ｃ）、図６のステップ６０）、障害再現通知を受信したＳＶＰ４０にて、電圧の変化による救済は不可能と判断される（ステップ６１〜ステップ６３）。
【００２９】
電圧による救済が不可能と判断された場合、次は、ＣＰＵ１２を冷却するファンの回転数を変化させていき、電圧のときと同様に、動作可能な条件が見つからないかを試験する（ステップ６４）。
このように、冷却ファンの回転数を上げることでＣＰＵ１２のＬＳＩ内部温度を下げ、回路特性を変化させることで故障が再現しなくなる可能性がある。
【００３０】
そして、冷却ファンの回転数による試験において、所定の範囲内ですべての電気量について障害が発生したときは、電圧の変化だけでなく冷却ファンの回転数を変化させた場合でも救済できないものとして、固定障害が発生したＣＰＵ１２を切り離す。これにより、その後の障害の発生を回避できる。
【００３１】
［障害処理プログラム］
次に、障害処理プログラムについて説明する。
上記の実施形態におけるコンピュータ（ＣＰＵ、ＭＭＵ、ＤＧＰ、ＳＶＰ、ＤＩＳＫ、プロセッサシステム）の障害処理機能（障害処理方法を実行するための機能）は、記憶手段（ＭＭＵ、ＤＧＰ、ＤＩＳＫ、ＲＯＭ、ハードディスクなど）に記憶された障害処理プログラム（テストプログラム，ＤＧＰ３０が障害内容を解析するプログラム，動作可能条件検出プログラムを含む）により実現される。
【００３２】
障害処理プログラムは、コンピュータの制御手段（ＣＰＵなど）に読み込まれることにより、コンピュータの構成各部に指令を送り、所定の処理、たとえば、ＤＧＰのログ採取処理、障害発生箇所解析処理、解析結果通知処理、ＳＶＰのＣＰＵ初期化、間欠障害・固定障害判断処理、解析結果照合処理、電気量変化処理、ＣＰＵのテストプログラム実行、終了通知送信処理、障害再現通知送信処理などを行わせる。
これによって、障害処理機能は、ソフトウエアである障害処理プログラムとハードウエア資源であるコンピュータ（ＣＰＵ、ＭＭＵ、ＤＧＰ、ＳＶＰ、ＤＩＳＫ、プロセッサシステム）の各構成手段とが協働することにより実現される。
【００３３】
なお、障害処理機能を実現するための障害処理プログラムは、コンピュータのＲＯＭやハードディスクなどに記憶される他、コンピュータ読み取り可能な記録媒体、たとえば、外部記憶装置及び可搬記録媒体等に格納することができる。
外部記憶装置とは、ＣＤ−ＲＯＭ等の記憶媒体を内蔵し、障害処理装置に外部接続されるメモリ増設装置をいう。一方、可搬記録媒体とは、記録媒体駆動装置（ドライブ装置）に装着でき、かつ、持ち運び可能な記録媒体であって、たとえば、フレキシブルディスク，メモリカード，光磁気ディスク等をいう。
【００３４】
そして、記録媒体に記録されたプログラムは、コンピュータのＲＡＭ等にロードされて、ＣＰＵ（制御手段）により実行される。この実行により、上述した実施形態の障害処理装置の機能が実現される。
さらに、コンピュータで障害処理プログラムをロードする場合、他のコンピュータで保有された障害処理プログラムを、通信回線を利用して自己の有するＲＡＭや外部記憶装置にダウンロードすることもできる。このダウンロードされた障害処理プログラムも、ＣＰＵにより実行され、上記実施形態の障害処理装置の障害処理機能を実現する。
【００３５】
以上説明したように、本実施形態のプロセッサシステム、障害処理方法及び障害処理プログラムによれば、故障箇所に適したテストプログラムを用いて再現試験を行ない、再現時（固定障害）には、障害装置を直ぐに切り離すのではなく、障害装置の電圧や冷却条件等の環境を変化させることにより、動作可能条件を探り、動作可能な条件が見つかれば、その動作条件にて障害装置の再組み込みを行うことができる。
つまり、発生した障害が固定障害であると判断された場合でも、電圧や冷却ファンの回転数などの所定の電気量を変化させながら、テストプログラムを実行して、障害が再現しない電気量を見つけ出すことで、そのＣＰＵを救済できる。
【００３６】
これにより、例えば、マルチプロセッサ構成でないシステムのＣＰＵで障害が発生し、保守部品の入手に時間がかかる場合であっても、システムを停止することなく、運用を継続することができる。
また、オペレータのいない夜間等に障害が発生した場合でも、当該ＣＰＵが継続して処理する条件を自動的に見つけ出して運用を続けることができる。
【００３７】
さらに、テストプログラムは、障害の発生箇所に適応したものが用意されていることから、障害の発生箇所に適応したテストプログラムを用いて試験を行なうことで、所定の電気量の変化による救済が可能か否かを確実に判断できる。
【００３８】
以上、本発明のプロセッサシステム、障害処理方法及び障害処理プログラムの好ましい実施形態について説明したが、本発明に係るプロセッサシステム、障害処理方法及び障害処理プログラムは上述した実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の範囲で種々の変更実施が可能であることは言うまでもない。
例えば、上述した実施形態では、ＣＰＵとＭＭＵをそれぞれ二つずつ備えた構成としたが、二つずつに限るものではなく、三つ以上備えることもできる。
【００３９】
また、上述した実施形態では、所定の電気量の種類として、電圧と、冷却ファンの回転数とを挙げたが、これらに限るものではなく、例えば、クロックの周波数などを所定の電気量として変化させることもできる。
さらに、所定の電気量として、電圧，冷却ファンの回転数，クロックの周波数が挙げられる場合、これらすべてについて試験を行なう必要はなく、例えば、電圧の変化による試験のみであってもよい。
【００４０】
また、試験の順番は、特に限定されるものではなく、例えば、電圧→冷却ファンの回転数→クロックの周波数の順番とすることもでき、冷却ファンの回転数→クロックの周波数→電圧の順番とすることもできる。
このように、所定の電気量の種類を複数にすることで、救済の可能性を高めることができ、しかも、プロセッサシステムの回路構成に最も適した電気量を選んで効率的に試験を行なうことができる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明は、ＣＰＵ等で発生した障害の内容を解析して、処理の続行・非続行を判断する発明であるため、ＣＰＵが搭載されたシステムに利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の実施形態におけるプロセッサシステムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態における障害処理方法の手順を示すフローチャートである。
【図３】本発明の実施形態における障害処理方法の手順を示す動作手順図であって、テストプログラムの実行により間欠障害であると判断された場合の動作手順を示す。
【図４】本発明の実施形態における障害処理方法の手順を示す動作手順図であって、テストプログラムの実行により固定障害であると判断された場合の動作手順を示す。
【図５】固定障害と判断された場合であって、ある電圧条件で障害再現がなかったときの動作手順を示す動作手順図である。
【図６】固定障害と判断された場合であって、所定の範囲内でどの電圧条件でも障害再現があったときの動作手順を示す動作手順図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  プロセッサシステム
１１，１２  ＣＰＵ
２１，２２  ＭＭＵ
３０  ＤＧＰ
４０  ＳＶＰ
４１  ＤＩＳＫ
【図１】
2009048586.tif 000003
【図２】
2009048586.tif 000004
【図３】
2009048586.tif 000005
【図４】
2009048586.tif 000006
【図５】
2009048586.tif 000007
【図６】
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