(57)【要約】【課題】PCIカードやメモリなどの汎用のデバイス、及び、それを搭載する汎用のコネクタには全コンタクトピンの嵌合状態を検査する端子挿入検出片を備えていないため、嵌合状態での外観確認、及び、動作確認で検査するしかなかったが、それらの方法では、半挿入などのコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査することができなかった。本発明では、１つのハウジングに、１つ、もしくは複数のコンタクトピンを有するデバイスを装置に搭載した際のコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査する手段を提供する。【解決手段】このような課題を解決するために本発明では、デバイスの搭載前後で変化する１つ、もしくは複数のコンタクトピンのインピーダンスを測定し、予め登録した規定値と比較することでコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査することを可能とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
汎用のメスコネクタ及びオスコネクタを有し、そのコネクタに汎用のデバイスを挿入した際、それらの半挿入を検出できる機能を有する装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
コネクタの嵌合状態を検査する機能を有する装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、少なくとも何れか一方が複数のコネクタからなるメスコネクタ及びオスコネクタにおいて、コネクタに端子が正しく挿入されていることを検知する半挿入検知の手段としては、コネクタに端子挿入検出片を備え、端子半挿入状態で端子挿入検出片がコネクタ挿入検知用突起と干渉して端子半挿入状態を知らせる手段があった。
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−４８９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、PCIカードやメモリなどの汎用のデバイス、及び、それを搭載する汎用のコネクタには全コンタクトピンの嵌合状態を検査する端子挿入検出片を備えていないため、嵌合状態での外観確認、及び、動作確認で検査するしかなかったが、それらの方法では、半挿入などのコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査することができなかった。
【０００５】
本発明では、１つのハウジングに、１つ、もしくは複数のコンタクトピンを有するデバイスを装置に搭載した際のコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査する手段を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような課題を解決するために本発明では、デバイスの搭載前後で変化する１つ、もしくは複数のコンタクトピンのインピーダンスを測定し、予め登録した規定値と比較することでコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査することを可能とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、１つのハウジングに、１つ、もしくは複数のコンタクトピンを有するデバイスを装置のコネクタに搭載した際にコンタクトピンの嵌合状態を定量的に検査することが可能である。
【０００８】
また、本発明によれば、検査結果の記録より、不良箇所の範囲を限定することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明を実施の形態に基づき詳細に説明する。
【００１０】
図１は、コンタクトピンと接続された信号ラインのインピーダンスを測定してコンタクトピンの嵌合状態を検査する機能を有する装置１５０の構成図である。
【００１１】
この装置１５０は、PCIカード１００を搭載するためのPCIスロット１０５と、インピーダンスを測定する機能を有したインピーダンス測定部１２０と、PCIスロット１０５とI/Oコントローラ１１５とインピーダンス測定部１２０の各信号ラインの接続経路を変更する機能を有するBusスイッチ１１０と、デバイスの搭載前後で変化する各信号ラインに関するインピーダンス情報が予め登録されたデータベース１３０と、インピーダンス測定部１２０で測定した各信号ラインのインピーダンス測定値とデータベース１３０から取得した各信号ラインに関するインピーダンス登録情報に基づいてコンタクトピンの嵌合状態を解析するデータ解析部１２５と、検査結果を表示する機能を有する検査結果表示部１３５と、検査結果を記録する機能を有する検査記録部１４０を有する。
【００１２】
図２は、この装置１５０の処理の流れを示すフローチャートである。
【００１３】
コンタクトピンの嵌合状態を検査しない際は、インピーダンス測定部１２０はBusスイッチ１１０によって、PCIスロット１０５とI/Oコントローラ１１５との各信号ラインから切り離されている。コンタクトピンの嵌合状態を検査する際は、インピーダンス測定部１２０はBusスイッチ１１０によって、PCIスロット１０５とI/Oコントローラ１１５との各信号ラインに接続される（ステップ２００）。次にインピーダンス測定部１２０で各信号ラインのインピーダンスを測定する（ステップ２１０）。次にインピーダンス測定部１２０は、インピーダンス測定値をデータ解析部１２５へ送信する（ステップ２１５）。次にデータ解析部１２５はインピーダンス測定値を受信する（ステップ２２０）。次にデータ解析部１２５はデータベース１３０からインピーダンス登録情報を取得する（ステップ２２５）。次にデータ解析部１２５はステップ２２０で取得したインピーダンス測定値とステップ２２５で取得したインピーダンス登録情報を用いてコンタクトピンの嵌合状態を解析する（ステップ２３５）。次にデータ解析部１２５はステップ２３５の解析に基づきコンタクトピンの嵌合状態を判定し、判定結果を検査結果表示部１３５、及び、検査結果記録部１４０へ送信し（ステップ２７５）、検査結果表示部１３５は検査結果を表示し（ステップ２８０）、検査結果記録部１４０は検査結果を記録する（ステップ２８５）。次にBusスイッチ１１０はインピーダンス測定部１２０をPCIスロット１０５とI/Oコントローラ１１５との各信号ラインから切り離す（ステップ２９０）。
【００１４】
ステップ２４０からステップ２７０までは、データ解析部１２５での解析処理（ステップ２３５）の流れを示すフローチャートである。
【００１５】
データ解析部１２５はステップ２２０で取得したインピーダンス測定値とステップ２２５で取得したPCIカード未搭載時のインピーダンス登録情報を比較し（ステップ２４５）、それらが全て規定範囲内で一致する場合はPCIカード未搭載と判定し（ステップ２５０）、解析処理終了（ステップ２７０）。
【００１６】
データ解析部１２５はステップ２２０で取得したインピーダンス測定値とステップ２２５で取得したPCIカード未搭載時のインピーダンス情報を比較し（ステップ２４５）、それらのうち１つ、もしくは複数が規定範囲内で一致しない場合は、ステップ２２０で取得したインピーダンス測定値とステップ２２５で取得したPCIカード搭載時のインピーダンス登録情報を比較し（ステップ２５５）、それらが全て規定範囲内で一致する場合はPCIカードとコネクタのコンタクトピンの嵌合状態良好と判定し（ステップ２６０）、それらのうち１つ、もしくは複数が規定範囲内で一致しない場合は、PCIカードの半挿入、もしくはPCIカード不良と判定し（ステップ２６５）、解析処理が終了する（ステップ２７０）。
【産業上の利用可能性】
【００１７】
本発明によれば、１つのハウジングに、１つ、もしくは複数のコンタクトピンを有するデバイスを装置のコネクタに搭載した際にコンタクトピンの嵌合状態を短時間で検査可能なため、動作保障されたデバイスを動作保障された装置に搭載した際の検査時間を短縮することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】インピーダンス測定によりコンタクトピンの嵌合状態を検査する機能を有する装置の構成図である（実施例１）。
【図２】図１に示した装置での処理の流れを示すフローチャートである（実施例１）。
【符号の説明】
【００１９】
１００…PCIカード、１０５…PCIスロット、１１０…Busスイッチ、１１５…I/Oコントローラ、１２０…インピーダンス測定部、１２５…データ解析部、１３０…データベース、１３５…検査結果表示部、１４０…検査結果記録部、１５０…装置。
【図１】
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【図２】
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