(57)【要約】【課題】好適な計算結果が得られる機構解析プログラムを提供する。【解決手段】個別に駆動可能な複数の部品（２０，３０）を用いて構成される構成物（６０）の機構を解析するために、コンピュータ（１）を機能させるための解析プログラムであって、前記複数の部品に関して、部品単体での機構解析演算を行うことができる第１の演算手段（３）、前記第１の演算手段での演算結果（５２）を記憶することができる記憶手段（８）、前記記憶手段から前記演算結果を読み出すことができる読出手段、前記読出手段によって読み出された前記演算結果を用いて、前記構成物の機構解析演算を行うことができる第２の演算手段（３）としてコンピュータを機能させる機構解析プログラム。【選択図】図１２
2009048280.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
個別に駆動可能な複数の部品を用いて構成される構成物の機構を解析するための解析プログラムであって、
前記複数の部品に関して、部品単体での機構解析演算を行うことができる第１の演算手段と、
前記第１の演算手段での演算結果を記憶することができる記憶手段と、
前記記憶手段から前記演算結果を読み出すことができる読出手段と、
前記読出手段によって読み出された前記演算結果を用いて、前記構成物の機構解析演算を行うことができる第２の演算手段と、
を含むことを特徴とする機構解析プログラム。
【請求項２】
前記第１の演算手段での演算結果には、前記部品単体に関する形状情報から導かれる前記部品単体に関する物理量と、前記部品単体に関する入力に対する出力の関係を規定する伝達関数と、が含まれる請求項１に記載の機構解析プログラム。
【請求項３】
前記記憶手段は、前記部品単体に関する前記演算結果を、当該部品単体に関する前記形状情報に関連して記憶することができる請求項１または２に記載の機構解析プログラム。
【請求項４】
前記記憶手段に記憶された前記部品単体に関する前記物理量、前記伝達関数、前記形状情報の少なくとも１つを選択できる選択手段をさらに有し、
前記読出手段は、前記選択手段によって選択された前記部品単体に関する前記物理量、前記伝達関数、前記形状情報の少なくとも１つを読み出すことができ、
前記第２の演算手段は、前記読出手段によって読み出された前記部品単体に関する前記物理量、前記伝達関数、前記形状情報の少なくとも１つを用いて、前記構成物の機構解析演算を行うことができる請求項２又は３に記載の機構解析プログラム。
【請求項５】
前記第２の演算手段は、前記複数の部品のうち、少なくとも１つの部品に関する前記形状情報と、少なくとも１つの他の部品に関する前記物理量または前記伝達関数のいずれかと、を用いて前記構成物の機構解析演算を行うことができる請求項２〜４のいずれかに記載の機構解析プログラム。
【請求項６】
前記第２の演算手段は、前記複数の部品を前記構成物に組合せる際に定義される位置情報をさらに用いて、前記構成物の機構解析演算を行うことができる請求項１〜５のいずれかに記載の機構解析プログラム。
【請求項７】
前記第２の演算手段は、前記複数の部品を前記構成物に組合せる際に定義される接触情報をさらに用いて、前記構成物の機構解析演算を行う請求項１〜６のいずれかに記載の機構解析プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学機器、電気機器等に係る構成物の機構を解析する機構解析プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、２次元または３次元のＣＡＤシステムを用いて、様々な構成物の設計が行われている。このような構成物は、多数の部品の複合体である場合がほとんどであり、これら構成物の設計に際しては、それを構成する部品ごとに設計を進めていくのが一般的である。
【０００３】
また、構成物や部品の設計に際しては、その形状の設計と並行して、または形状の設計後において、構成物および部品の動的性能の予測、検証や、設計案の評価、検証などのために機構解析が行われる。機構解析では、例えば部品の所定部位に作用する力の大きさ、方向、トルク、位置、速度、加速度等を計算する。
【０００４】
部品の形状情報等を基に、各部品を組み合わせた構成物の構造を解析する従来技術としては、例えば特許文献１に記載されているものがある。このような従来技術では、まず、各部品ごとに機構解析モデルを作製する。その後、当該モデルを合体させて所望の構成物に係る機構解析モデル（機構解析アセンブリモデル）を作製し、当該アセンブリモデルにより機構解析演算を行う。
【０００５】
しかしながら各部品に係る機構解析モデルを合体させて機構解析アセンブリモデルを作製する従来技術においては、解析対象である構成物の部品数が増加すると、解析モデル規模も大きくなり、自由度も増加する。したがって、多数の機構解析モデルを合体させた機構解析アセンブリモデルを用いて機構解析を行う場合には、計算量が膨大となり、計算時間が長くなるという問題が発生していた。
【０００６】
また各部品に係る機構解析モデルを合体させる際に、僅かな軸ずれが発生する場合がある。このような場合、機構解析アセンブリモデルの計算量が膨大であるために、僅かなずれ量がコンピュータでの演算処理において累積され、大きな誤差となる場合がある。このような誤差が発生する場合には、機構解析アセンブリモデルに関する機構解析計算が不安定になるため、安定した計算結果が得られないという問題が発生していた。
【特許文献１】特開平６−１０３３４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、好適な計算結果が得られる機構解析プログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明に係る機構解析プログラムは、
個別に駆動可能な複数の部品（２０，３０）を用いて構成される構成物（６０）の機構を解析するために、コンピュータ（１）を機能させるための解析プログラムであって、
前記複数の部品（２０，３０）に関して、部品単体での機構解析演算を行うことができる第１の演算手段（３）、
前記第１の演算手段（３）での演算結果（５０〜５８）を記憶することができる記憶手段（８）、
前記記憶手段（８）から前記演算結果（５０〜５８）を読み出すことができる読出手段、
前記読出手段によって読み出された前記演算結果（５０〜５８）を用いて、前記構成物（６０）の機構解析演算を行うことができる第２の演算手段（３）、
としてコンピュータ（１）を機能させる。
【０００９】
また、例えば前記第１の演算手段（３）での演算結果（５０〜５８）には、前記部品単体に関する形状情報（２０’，３０’）から導かれる前記部品単体に関する物理量（５０，５６）と、前記部品単体に関する入力に対する出力の関係を規定する伝達関数（５２，５４，５８）と、が含まれても良い。
【００１０】
また、例えば前記記憶手段（８）は、前記部品単体に関する前記演算結果（５０〜５８）を、当該部品単体に関する前記形状情報（２０’，３０’）に関連して記憶しても良い。
【００１１】
また、本発明に係る機構解析プログラムは、前記記憶手段（８）に記憶された前記部品単体に関する前記物理量（５０，５６）、前記伝達関数（５２，５４，５８）、前記形状情報（２０’，３０’）の少なくとも１つを選択できる選択手段をさらに有し、
前記読出手段は、前記選択手段によって選択された前記部品単体に関する前記物理量（５０，５６）、前記伝達関数（５２，５４，５８）、前記形状情報（２０’，３０’）の少なくとも１つを読み出すことができ、
前記第２の演算手段（３）は、前記読出手段によって読み出された前記部品単体に関する前記物理量（５０，５６）、前記伝達関数（５２，５４，５８）、前記形状情報（２０’，３０’）の少なくとも１つを用いて、前記構成物（６０）の機構解析演算を行うことができても良い。
【００１２】
また、例えば前記第２の演算手段（３）は、前記複数の部品（２０，３０）のうち、少なくとも１つの部品（２０）に関する前記形状情報（２０’）と、少なくとも１つの他の部品（３０）に関する前記物理量（５０）または前記伝達関数（５２，５４）のいずれかと、を用いて前記構成物（６０）の機構解析演算を行うことができても良い。
【００１３】
また、例えば前記第２の演算手段（３）は、前記複数の部品（２０、３０）を前記構成物（６０）に組合せる際に定義される位置情報をさらに用いて、前記構成物（６０）の機構解析演算を行うことができてもよい。
【００１４】
また、例えば前記第２の演算手段（３）は、前記複数の部品（２０、３０）を前記構成物（６０）に組合せる際に定義される接触情報をさらに用いて、前記構成物（６０）の機構解析演算を行っても良い。
【００１５】
なお上述の説明では、本発明をわかりやすく説明するために実施形態を示す図面の符号に対応づけて説明したが、本発明は、これに限定されるものでない。後述の実施形態の構成を適宜改良してもよく、また、少なくとも一部を他の構成物に代替させてもよい。さらに、その配置について特に限定のない構成要件は、実施形態で開示した配置に限らず、その機能を達成できる位置に配置することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本願発明を、図面に示す実施形態に基づき説明する。
図１は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムを実行するコンピュータシステムの概略ブロック図、
図２は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムによって機構解析が行われる部品の一例を表した斜視図、
図３は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムによって機構解析が行われる部品の他の一例を表した斜視図、
図４は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムによって機構解析が行われる構成物の一例を表した平面図、
図５は、図４に示す構成物における接触部分を拡大した斜視図、
図６は、本願発明の一実施形態に係る機構解析モデルをデータベースへ登録する際の一連の処理を表したフローチャート、
図７は、図６に示す処理によって登録される機構解析モデルの一例を表した斜視図、
図８は、本願発明の一実施形態に係るデータベースに含まれるファイルの内容を表した模式図、
図９は、本願発明の一実施形態に係る機構解析モデルによる演算結果の一例を表すグラフ、
図１０は、本願発明の一実施形態に係るデータベースに含まれる他のファイルの内容を表した模式図、
図１１は、本願発明の一実施形態に係る構成物の機構解析演算を含む一連の処理を表したフローチャート、
図１２は、本願発明の一実施形態に係る機構解析演算に用いる機構解析アセンブリユニットを表した模式図、
図１３は、機構解析アセンブリユニットの他の例を表した模式図である。
【００１７】
図１に示すように、本発明の一実施形態に係る機構解析プログラムを実行するコンピュータシステム１は、制御部２と、演算部３と、ＲＯＭ４と、ＲＡＭ５と、インターフェース６とを有する。コンピュータシステム１の各構成部分は、インターフェース６を介して互いに接続されている。
【００１８】
制御部２は、コンピュータシステム１全体の制御を行うことができる。制御部２は、例えばＲＯＭ４にシステム全体を動作させるプログラムをストアさせたり、演算部３で行われた演算結果等を一時的にＲＡＭ５にストアさせるように、コンピュータシステム１の各構成部分を動作させることができる。演算部３は、制御部２からの指令に基づいて、部品単体および構成物の機構解析演算等を行うことができる。
【００１９】
また、本実施形態に係るコンピュータシステム１は、演算部３の演算結果等を表示できるディスプレイ７や、記憶媒体１０から記録情報を読み出すためのドライブ９をさらに有している。例えば、本実施形態に係る機構解析プログラムを記録した記録媒体１０をドライブ９にセットすることによって、当該機構解析プログラムのコピーを、インターフェース６を介してＲＡＭ５にストアできる。
【００２０】
本実施形態に係るコンピュータシステム１は、さらに、機構解析の対象となる構成物の各部品に関する部品情報をストアできるデータベース部８を有する。データベース部８は、各部品に対応する複数のファイルＡ，Ｂ，Ｃ・・・を有しており、各部品に関する部品情報は、対応するファイル内にストアされる。
【００２１】
なお、本願における部品には、一体的に形成された単一の構成要素からなる部品と、稼働的もしくは非稼働的に組み合わされた複数の部品からなるアセンブリの両方が含まれる。
【００２２】
データベース部８にストアされる部品情報としては、部品の３次元形状情報、機構解析の計算条件、構成要素間の拘束条件、部品の材料データ、機構解析モデル、機構解析演算の演算結果等が含まれる。
【００２３】
計算条件には、例えば、部品の位置関係を求める計算条件、速度・加速度を求める計算条件、部品に作用する力・トルクを求める計算条件などが含まれる。拘束条件には、部品どうしが直接接触して互いに拘束する接触条件、部品の配置関係により互いに拘束する位置決め条件、バネなどを介して間接的に互いに拘束する条件、空気、液体などの流体や電磁力を介して互いに拘束する条件などが含まれる。材料データには、部品を構成する材料の比重、熱膨張係数などの物理的性質や、引っ張り強度、伸び率、硬度などの機械的性質が含まれる。
【００２４】
図２は、図１のファイルＡにストアされている第１部品２０の斜視図である。第１部品２０は、矩形平板状の基板２４上に、稼動レバー２１と回転カム２３とを組み合わせて構成される。稼動レバー２１の基端部２１ａは、基板２４の上方角部にピン２４ａを介して回転可能に取り付けられている。稼働レバー２１の自由端部２１ｂには、稼動ピン２２が取り付けられている。稼動ピン２２は、構成物を組み立てた際に、後述の第２部品３０における稼働レバー３１と接触する。
【００２５】
稼働レバー２１の基端部２１ａと自由端部２１ｂとの中間部分には、下方に向かって隆起２１ｃが形成されており、隆起２１ｃの先端が回転カム２３に接触している。回転カム２３は、稼働レバー２１の基端部２１ａが取り付けられている角部とは対角上の下方角部に、ピン２４ｂを介して回転可能に取り付けられている。
【００２６】
稼動レバー２１は、その基端部２１ａとピン２４ａとの間に取り付けられたバネ（不図示）によって、ピン２４ａを中心として、矢印で示すように時計回りに回転させられる力を受けている。それによって稼働レバー２１の隆起２１ｃは、回転カム２３の周面２３ｃに押し付けられている。したがって回転カム２３が回転すると、それに伴って、稼動レバー２１の自由端２１ｂが揺動動作する。
【００２７】
図３は、図１のファイルＢにストアされている第２部品３０の斜視図である。第２部品３０は、矩形平板状の基板３４上に、稼働レバー３１を組み合わせて構成される。稼働レバー３１の中央付近には幅広部３１ａが形成されており、幅広部３１ａはピン３４ａを介して基板３４に回転可能に取り付けられている。
【００２８】
基板３４には稼動レバー３１の回転範囲を所定の回転角度範囲に制限するピン３４ｂ、３４ｃが取り付けられている。これらピン３４ｂ、３４ｃ間に、稼動レバー３１の幅狭部分３１ｂが位置しており、稼動レバー３１は、ピン３４ｂ、３４ｃに挟まれた範囲内で回転運動することができる。また、稼動レバー３１は、幅広部３１とピン３４ａとの間に取り付けられたバネ（不図示）によって、ピン３４ａを中心として時計回りに回転させられる力を受けている。それによって稼働レバー３１の幅狭部３１ｂは、ピン３４ｂに接触するように押し付けられている。
【００２９】
図４は、本実施形態による機構解析演算を行う構成物６０を表す平面図である。構成物６０は、第１部品２０と第２部品３０を結合したものである。構成物６０では、第１部品２０の基板２４と第２部品３０の基板３４とが、略同一平面上に配置されている。
【００３０】
図５の拡大図に示すように、第１部品２０の稼働ピン２２は、第２部品３０の接触部分３１ｄと接触しており、稼働レバー２１と稼働レバー３１とは、互いに力を及ぼし合っている。
【００３１】
本実施形態では、構成物６０において、図４に示す第１部品２０の回転カム２３が、反時計回りに回転した際における機構解析演算を例に挙げて説明する。
【００３２】
部品情報の登録
本実施形態に係る機構解析プログラムでは、まず、図１に表すコンピュータシステム１を機能させることによって、データベース部８に部品情報を登録する。図６は、データベース部８に部品情報を登録する際に、コンピュータシステム１を用いて実行させる一連の処理を表したものである。ここでは、まず、第２部品３０に関する部品情報を、データベース８のファイルＢに登録する。
【００３３】
図６のステップ１２０１〜ステップ１２０８に示される一連の処理によって、図８に示すように、第２部品３０の第２機構解析モデル３０’と、その演算結果である第２データ５０および第２関数５２などの部品情報が、ファイルＢに登録される。なお、第２機構解析モデル３０’は、第２部品３０単体の機構解析を行うことができる機構解析モデルであり、第２部品３０の３次元形状情報、構成要素間の拘束条件、部品の材料データ等を統合して構成されたものである。
【００３４】
図６のステップ１２０１では、まず、第２部品３０の第２機構解析モデル３０’に入力条件を定義する。ここでの入力条件とは、第２部品３０単体の機構解析演算における演算条件である。本実施形態では、図７に示すように、外力Ｎによって接触部位３１ｄを引き下げる場合を想定し、接触部位３１ｄのＹ２軸負方向の変位Ｄを入力条件とする。
【００３５】
次にステップ１２０２において、出力条件を定義する。ここでの出力条件とは、第２部品３０単体の機構解析演算によって算出する物理量等である。本実施形態では、図７の矢印で示すように、稼働レバー３１における接触部位３１ｄにおいてＹ軸正方向に向かう反力６０を出力条件とする。
【００３６】
ステップ１２０３では、第２機構解析モデル３０’の計算保存条件を定義する。ここでは、機構演算によって算出される反力６０を、データベース８に保存する際の保存形式を定義する。本実施形態では、図８に示すように、算出された点群（データ）を保存する形式＜第２データ５０＞と、算出されたデータの近似式（伝達関数）を保存する形式＜第２関数５２＞とを、保存条件として定義している。
【００３７】
ステップ１２０４では、第２機構解析モデル３０’の計算タイミングを定義する。ここでは、ステップ１２０１〜１２０３において設定された条件に従い、第２機構解析モデル３０’を用いた機構解析演算を行うタイミングを設定することができる。計算タイミングは、第２機構解析モデル３０’をデータベース８に登録した直後でもよく、また、演算部３の処理能力等を考慮した所定の時間でもよい。
【００３８】
ステップ１２０５では、図８に示すように、ステップ１２０１からステップ１２０３において諸条件が定義された第２機構解析モデル３０’を、データベース８のファイルＢにストアする。ただし、この時点では、第２データ５０および第２関数５２の内容についてはブランクとなっている。
【００３９】
なお、ステップ１２０１からステップ１２０４において定義した諸条件は、例えば、第２機構解析モデル３０’に関連してデータベース８内にストアしてもよく、また、図１に示すＲＡＭ５内にストアしてもよい。
【００４０】
次にステップ１２０４で定義した計算タイミングと、ステップ１２０１およびステップ１２０２で定義した入出力条件にしたがって、第２機構解析モデル３０’の機構解析演算を実行する（ステップ１２０６）。機構解析演算の実行時には、図１に示す制御部２からの指令によって、データベース部８のファイルＢから第２機構解析モデル３０’が読み出され、演算部３に送られる。演算部３では、第２機構解析モデル３０’を利用して機構解析演算を実行する。図９に、第２機構解析モデル３０’の機構解析演算結果の一例を示す。
【００４１】
図９では、図７における稼働レバー３１の接触部３１ｄの変位Ｄが横軸に、接触部３１ｄにおける反力６０が縦軸に設定されている。図９では、直接機構解析演算を行った点群である第２データ５０および、これらの点群から算出された近似式である第２関数５２および直線補完関数５４を表示している。このように、ステップ１２０６に係る機構解析演算によって、第２部品３０の稼働レバー３１について、接触部３１ｄの所定の変位量Ｄに対する反力６０が算出される。
【００４２】
次に、ステップ１２０７では、算出された演算結果を、ステップ１２０４の計算保存条件にしたがって保存する。本実施形態では、図８に示すように、ステップ１２０５ですでに第２機構解析モデル３０’がストアされているファイルＢに、第２データ５０および第２関数５２をストアする。また、ファイルＢに直線補完関数５４をストアしてもよい。このようにステップ１２０７の計算結果保存処理によって、第２データ５０および第２関数５２は、第２機構解析モデル３０’と関連してファイルＢにストアされる。最後に、ステップ１２０８によって登録処理を終了する。
【００４３】
以上のステップ１２０１〜１２０８によって、図８に示すように、第２データ５０および第２関数５２が、第２部品３０の第２機構解析モデル３０’と関連して、ファイルＢに登録される。
【００４４】
同様に、第１部品２０についても図６のステップ１２０１〜１２０８に示す一連の処理を行うことによって、図１０に示すように、第１部品２０に係る部品情報（第１機構解析モデル２０’、第１データ５６、第１関数５８）を、ファイルＡにストアすることができる。なお、第１データ５６、第１関数５８は、第１機構解析モデル２０’と関連してファイルＡに登録することが好ましい。
【００４５】
機構解析アセンブリユニットの計算
本実施形態に係る機構解析演算では、上述のように構成物６０を構成する第１部品２０および第２部品３０に関する部品情報を登録した後に、構成物６０の機構解析演算を行う。本実施形態では、図１２に示す機構解析アセンブリユニット７０を用いて、構成物６０の機構解析演算を行う。ここで、機構解析アセンブリユニットとは、構成物の機構解析演算を行うためのユニットであり、少なくとも１つの機構解析モデルを含む複数の部品情報を、相互に関連させて構成されている。
【００４６】
図１１は機構解析アセンブリユニットを用いて構成物の機構解析演算を行う際における一連の処理を表したフローチャートである。
【００４７】
機構解析アセンブリユニットによる計算を行う際には、計算に用いる部品情報を決定し（ステップ１３０１〜１３０４）、次に計算を行う際に使用する他の条件を設定した後（ステップ１３０５〜１３０６）、実際に計算を実行する（ステップ１３０７）。以下に詳細に説明する。
【００４８】
まず、ステップ１３０１では、構成物６０を構成する第１部品２０に関する部品情報がストアされているファイルＡを選択する。本実施形態に係るデータベース８は、図１に示すように、各部品に対応するフォルダを有している。したがって、ステップ１３０１では、計算対象である構成物を構成する各部品のフォルダを選択すればよい。
【００４９】
次に、ステップ１３０２では、ファイルＡにストアされている部品情報の使用条件を決定する。図１０に示すように、ファイルＡには複数の部品情報がストアされているため、計算に用いる部品情報を選択することができる。本実施形態では、第１機構解析モデル２０’を使用することを決定する。
【００５０】
図１１のステップ１３０３では、構成物６０を構成する第２部品３０に関する部品情報がストアされているファイルＢを選択する。構成物６０は、図４に示すように、第１部品２０と第２部品３０とからなる２部品で構成されているため、機構解析演算においては、各部品に対応する２つのファイルを選択する必要がある。機構解析演算を行う構成物が３以上である場合は、ステップ１３０３〜ステップ１３０４を繰り返せばよい。
【００５１】
ステップ１３０４では、ファイルＢにストアされている部品情報の使用条件を決定する。本実施形態では、図８に示す部品３０に関する部品情報のうち、第２関数５２を使用することを決定する。
【００５２】
ステップ１３０５では、選択した各部品情報の位置決めを行うことができる。例えば、図１２に示すように、構成物アセンブリユニット７０のグローバル座標系７４に対して、第１機構解析モデル２０’のローカル座標系２５および第２関数５２のローカル座標系３５を位置決めすることによって、各部品情報の位置決めを行うことができる。また各部品情報の位置決めに際しては、図４に示すように第１部品２０と第２部品３０とを組み合わせる際に定義される位置情報を用いることができる。
【００５３】
ステップ１３０６では、選択した各部品情報間の接触条件を決定することができる。接触条件を決定する際には、図５のように第１部品２０と第２部品３０とを組み合わせる際に定義される接触条件を用いることができる。例えば、稼働ピン２２の表面状態や、構成物６０を駆動させる空間の温湿度条件等に基づいて、接触条件を設定することができる。
【００５４】
ステップ１３０７では、ステップ１３０１〜１３０６において設定した条件に基づいて、機構解析アセンブリユニット７０の計算を実行する。計算実行の際には、図１に示すデータベース８から部品情報が読み出され演算部３に送られる。本実施形態では、フォルダＡの機構解析アセンブリ２０’およびフォルダＢの第２関数５２が読み出され、上述のステップで設定したその他の条件に基づいて、図１２示す機構解析アセンブリユニット７０が形成される。この機構解析アセンブリユニット７０を用い、図１の演算部３において構成物６０の機構解析を行うことができる。たとえば、第１部品２０の回転カム２３を所定速度で回転させた場合における稼働ピン２２の位置、速度、加速度や、作用する力、トルク、さらに他の要素との距離、速度差等を求めることができる。
【００５５】
ステップ１３０８では、ステップ１３０７での計算結果をディスプレイ７に表示したり、ＲＡＭ５またはデータベース部８に計算結果を保存する等のポスト処理行う。ポスト処理では、常に一定の処理を行っても良いし、機構解析アセンブリユニット７０を設定する際に設定された処理を行っても良い。ポスト処理を行った後、ステップ１３０９で機構解析アセンブリユニット７０の計算を終了する。
【００５６】
上述の説明では、構成物６０の機構解析を、機構解析アセンブリユニット７０によって説明したが、機構解析アセンブリユニットはこれに限られず、任意の複数の部品情報を用いて構成することができる。たとえば、図１３に示す機構解析アセンブリユニット７２のように、第１部品２０の第２関数５８と、第２部品３０の第２機構解析モデル３０’を用いて構成してもよい。
【００５７】
以上のように、本願発明に係る機構解析プログラムは、部品単体での解析演算結果を用いて、部品を組みあわせた構成物の機構解析演算を行うことができるため、演算の対象となる機構解析アセンブリユニットのモデル規模が小さくすることができる。したがって、本願発明に係る機構解析プログラムによれば、安定した機構解析演算が可能となり、また、計算時間も短くすることができる。
【００５８】
また本願発明に係る機構解析プログラムによれば、部品単体に関する形状情報を含む機構解析アセンブリから導かれるデータ等の物理量や、同じく機構解析アセンブリから導かれる関数等の伝達関数を、機構解析アセンブリに関連させてデータベースに保存することができる。したがって、機構計算に使用する演算結果を選択することによって、所定の部品に関する位置、速度、加速度や、作用する力、トルク、他の部品との距離、速度差等を算出することができる。
【００５９】
また本願発明に係る機構解析プログラムによれば、機構解析モデルと演算結果を含む機構解析アセンブリユニットを用いて機構解析演算を行うことができる。したがって、機構解析モデル同士を組み合わせて機構解析演算を行う場合に問題となる位置決め誤差の累積を防止することができる。さらに、機構解析演算に使用する拘束条件等の条件の数を減少させることができるため、容易に演算条件を設定することができる。このように、本願発明に係る機構解析プログラムによれば、容易で安定した機構解析を行うことができる。
【００６０】
また本願発明に係る機構解析プログラムによれば、機構解析演算を行うタイミングを任意に設定できるため、演算部の処理能力を最大限に活用して機構解析演算を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】図１は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムを実行するコンピュータシステムの概略ブロック図である。
【図２】図２は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムによって機構解析が行われる部品の一例を表した斜視図である。
【図３】図３は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムによって機構解析が行われる部品の他の一例を表した斜視図である。
【図４】図４は、本願発明の一実施形態に係る機構解析プログラムによって機構解析が行われる構成物の一例を表した平面図である。
【図５】図５は、図４に示す構成物における接触部分を拡大した斜視図である。
【図６】図６は、本願発明の一実施形態に係る機構解析モデルをデータベースへ登録する際の一連の処理を表したフローチャートである。
【図７】図７は、図６に示す処理によって登録される機構解析モデルの一例を表した斜視図である。
【図８】図８は、本願発明の一実施形態に係るデータベースに含まれるファイルの内容を表した模式図である。
【図９】図９は、本願発明の一実施形態に係る機構解析モデルによる演算結果の一例を表すグラフである。
【図１０】図１０は、本願発明の一実施形態に係るデータベースに含まれる他のファイルの内容を表した模式図である。
【図１１】図１１は、本願発明の一実施形態に係る構造物の機構解析演算を含む一連の処理を表したフローチャートである。
【図１２】図１２は、本願発明の一実施形態に係る機構解析演算に用いる機構解析アセンブリユニットを表した模式図である。
【図１３】機構解析アセンブリユニットの他の例を表した模式図である。
【符号の説明】
【００６２】
８…  データベース部
２０’…  第１機構解析モデル
３０’…  第２機構解析モデル
５０…  第２データ
５２…  第２関数
５６…  第１データ
５８…  第１関数
７０…  機構解析アセンブリユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2009048280.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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