(57)【要約】【課題】多層光ディスクの再生や記録を行う場合に、適切なフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得られる光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置が備える光検出器には、主ビーム用受光部３１と副ビーム用受光部３２、３３とが形成される。主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３の近傍には迷光用受光部３４が形成される。主ビーム用受光部３１は矩形状に形成され、主ビーム用受光部３１の近傍に配置される迷光用受光部３４は、主ビーム用受光部３１の角部近傍を避けて配置される。【選択図】図３
2009026412.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射された光を主ビームと２つの副ビームとから成る３つの光に分離して光ディスクの再生或いは記録の対象となる対象記録層に導くとともに、前記光ディスクで反射された反射光を光検出器へと導く光学系と、
前記光検出器によって検出された信号を処理してフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を生成する信号処理手段と、を備え、
前記光学系には、前記光検出器へと導かれる光に非点収差を与える非点収差付与手段が配置され、
前記光検出器には、前記対象記録層で反射された反射光のうち、前記主ビームの反射光を受光する第１の受光部と、前記副ビームの反射光を受光する第２の受光部と、が形成される光ディスク装置において、
前記第１の受光部及び前記第２の受光部の近傍には、それぞれ、前記対象記録層とは異なる記録層で反射された光である迷光を受光するための迷光用受光部が少なくとも１つ形成され、
前記第１の受光部の近傍に配置される前記迷光用受光部は、前記光源から出射された光の焦点位置が前記対象記録層からずれる量が所定の範囲内である場合には、前記対象記録層で反射される前記主ビームの反射光が前記第１の受光部から漏れた場合でも、漏れた光を受光しない位置に設けられることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記第１の受光部は矩形状に形成され、
前記第１の受光部の近傍に配置される前記迷光用受光部は、前記第１の受光部の角部近傍を避けて配置されることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第１の受光部が有する４つの辺のそれぞれには、その中央付近に前記迷光用受光部が隣接配置されることを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第１の受光部は４つに分割された受光領域から成り、
前記第２の受光部は２つに分割された受光領域から成ることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記第１の受光部及び前記第２の受光部は、いずれも４つに分割された受光領域から成り、
前記第２の受光部の近傍に配置される前記迷光用受光部は、前記光源から出射された光の焦点位置が前記対象記録層からずれる量が所定の範囲内である場合には、前記対象記録層で反射される前記副ビームの反射光が前記第２の受光部から漏れた場合でも、漏れた光を受光しない位置に設けられることを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録された情報の再生を行ったり、光ディスクに情報を記録したりするために使用される光ディスク装置に関し、特に複数の記録層を有する光ディスクの再生や記録を行う場合に発生する迷光の影響を除去する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンパクトディスク（以下、ＣＤという。）やデジタル多用途ディスク（以下、ＤＶＤという。）といった光ディスクが普及している。また、最近では、ＣＤやＤＶＤに比べて記録密度を高めたブルーレイディスク（以下、ＢＤという。）等の高密度記録可能な光ディスクも実用化されている。そして、これらの光ディスクにおいて、更に記録容量を拡大するために、厚み方向に記録層を複数有する多層光ディスクも開発されている。
【０００３】
ところで、光ディスク装置を用いて多層光ディスクの再生や記録を行う場合においては、再生や記録を行う予定の記録層とは異なる記録層からの反射光が迷光として光検出器に漏れ込む現象が知られている。そして、この場合、光検出器で検出される信号は、本来得られるべき光情報以外の光情報を含むことになるため、サーボ制御が適切に行えなくなる場合があることが知られている（例えば、特許文献１や２参照）。
【０００４】
特許文献１や特許文献２においては、光源から出射される光ビームを０次光（主ビーム）、＋１次回折光（副ビーム）、−１次回折光（副ビーム）の３つの光ビームに分けてサーボ制御を行う場合に迷光の影響を特に受け易いトラッキング制御について、迷光の影響を適切に除去する技術が紹介されている。
【０００５】
なお、トラッキング制御が特に迷光の影響を受け易い理由は、主ビームに比べて光強度が弱い副ビームも用いて、トラッキング制御を行うために必要となるトラッキング誤差信号を生成する（例えば差動プッシュプル法を用いて生成する）ことによる。光強度が弱い副ビームは上述の迷光による影響を受け易く、トラッキング誤差信号の値は本来の値から大きくずれ易い。
【特許文献１】特開２００５−３５３２５２号公報
【特許文献２】特開２００５−３４６８８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、フォーカス制御を行うために必要となるフォーカス誤差信号を得る場合においても、トラッキング誤差信号の場合ほどではないとしても、迷光の影響を受ける。例えば、フォーカス誤差信号を生成する場合に、光ディスクの反射率や照射パワーの変動による影響を受けないように、誤差信号を最終的にフォーカス誤差信号を生成するために用いられるディテクタで得られる信号の総和信号を用いて規格化し、規格化した信号をフォーカス誤差信号として用い、フォーカス制御を行う場合がある。この場合、迷光が存在すると規格化された信号は不正確となり、フォーカス制御が正しく行われない場合が生じる。
【０００７】
このようなことから、トラッキング誤差信号を生成する場合だけでなく、フォーカス誤差信号を生成する場合にも、再生や記録を行う予定の記録層とは異なる記録層からの反射光として生じる迷光の影響を除去すべきである。
【０００８】
このため、フォーカス誤差信号を得るために必要となるディテクタの周りにも、迷光用ディテクタを配置することが考えられる。図９は、フォーカス誤差信号を得るために必要となるディテクタ（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）及びトラッキング誤差信号を得るために必要となるディテクタ（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ）の周りに、迷光用ディテクタを配置した構成を示す図である。なお、図９は、非点収差法によってフォーカス誤差信号を生成し、差動プッシュプル法によってトラッキング誤差信号を生成する場合の受光部の構成例を示している。
【０００９】
しかしながら、図９に示す構成の場合、以下の問題を生じることがわかった。なお、この問題の説明にあたっては、図１０を参照しながら説明する。図１０は、各ディテクタと光スポットとの関係を示す図で、図１０（ａ）は、第１のデフォーカス状態、図１０（ｂ）はジャストフォーカス状態、図１０（ｃ）は、第２のデフォーカス状態を示す。なお、第１のデフォーカス状態と第２のデフォーカス状態とは、ジャストフォーカス状態から対物レンズが同一量ずれている点では一致するが、反対方向にずれている点で異なる。
【００１０】
図１０に示されるように、デフォーカス状態にある場合、光スポットＳＰは右方向又は左方向に傾いた楕円形となる。そして、この場合には迷光用ディテクタＩ、Ｊ、Ｋに迷光以外の光が受光される場合が生じる。このような状態で、迷光用ディテクタＩ、Ｊ、Ｋで検出された信号を用いて迷光の影響を除去したフォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号を得る場合、それらの信号は不正確なものとなる。これに対する影響は、トラッキング制御は通常ジャストフォーカス状態で行われるために、トラッキング制御においては特に問題とならないが、フォーカス制御に対する影響は無視できず、サーボ性能が低下することがわかった。
【００１１】
なお、フォーカス誤差信号を得るために必要となるディテクタ（Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ）が、十分大きければ、図１０（ａ）、（ｃ）のような状態を避けてフォーカス制御を行うことも可能であるが、ディテクタのサイズを十分に大きくできない場合があり、そのような場合に、上述したようなフォーカス制御に対する悪影響が問題となる。
【００１２】
以上の問題点を鑑みて、本発明の目的は、多層光ディスクの再生や記録を行う場合に、適切なフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得られる光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために本発明は、光源から出射された光を主ビームと２つの副ビームとから成る３つの光に分離して光ディスクの再生或いは記録の対象となる対象記録層に導くとともに、前記光ディスクで反射された反射光を光検出器へと導く光学系と、前記光検出器によって検出された信号を処理してフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を生成する信号処理手段と、を備え、前記光学系には、前記光検出器へと導かれる光に非点収差を与える非点収差付与手段が配置され、前記光検出器には、前記対象記録層で反射された反射光のうち、前記主ビームの反射光を受光する第１の受光部と、前記副ビームの反射光を受光する第２の受光部と、が形成される光ディスク装置において、前記第１の受光部及び前記第２の受光部の近傍には、それぞれ、前記対象記録層とは異なる記録層で反射された光である迷光を受光するための迷光用受光部が少なくとも１つ形成され、前記第１の受光部の近傍に配置される前記迷光用受光部は、前記光源から出射された光の焦点位置が前記対象記録層からずれる量が所定の範囲内である場合には、前記対象記録層で反射される前記主ビームの反射光が前記第１の受光部から漏れた場合でも、漏れた光を受光しない位置に設けられることを特徴としている。
【００１４】
この構成によれば、第１の受光部及び第１の受光部の近傍に配置される迷光用受光部からの信号を用いてフォーカス誤差信号を生成する場合において、光源から出射された光の焦点位置が対象記録層からずれる量が所定の範囲内である場合には、生成されるフォーカス誤差信号の値を正確な値とできる。
【００１５】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記第１の受光部は矩形状に形成され、前記第１の受光部の近傍に配置される前記迷光用受光部は、前記第１の受光部の角部近傍を避けて配置されるようにしても良い。この構成によれば、受光部が矩形状に形成される場合において、光源から出射された光の焦点位置が対象記録層からずれる量が所定の範囲内である場合には、対象記録層で反射された光が第１の受光部から漏れた場合でも、迷光用受光部で漏れた光を受光しない構成を簡易な構成で実現できる。
【００１６】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記第１の受光部が有する４つの辺のそれぞれには、その中央付近に前記迷光用受光部が隣接配置されるようにすることも可能である。
【００１７】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記第１の受光部は４つに分割された受光領域から成り、前記第２の受光部は２つに分割された受光領域から成ることとしても良い。この構成によれば、フォーカス誤差信号を非点収差方式で得て、トラッキング誤差信号を差動プッシュプル方式で得る構成であって、多層光ディスクの再生や記録を行う場合に、適切なフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得られる光ディスク装置の提供が可能である。
【００１８】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記第１の受光部及び前記第２の受光部は、いずれも４つに分割された受光領域から成り、前記第２の受光部の近傍に配置される前記迷光用受光部は、前記光源から出射された光の焦点位置が前記対象記録層からずれる量が所定の範囲内である場合には、前記対象記録層で反射される前記副ビームの反射光が前記第２の受光部から漏れた場合でも、漏れた光を受光しない位置に設けられることとしても良い。この構成によれば、フォーカス誤差信号を差動非点収差方式で得て、トラッキング誤差信号を差動プッシュプル方式で得る構成であって、多層光ディスクの再生や記録を行う場合に、適切なフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得られる光ディスク装置の提供が可能である。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、多層光ディスクの再生や記録を行う場合に、適切なフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得られる光ディスク装置を提供可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の光ディスク装置の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２１】
まず、本実施形態の光ディスク装置１の全体構成の概略を説明する。図１は、本実施形態の光ディスク装置１の構成を示すブロック図である。この光ディスク装置１は、ＢＤ（光ディスク２０）に記録される情報の再生、及びＢＤへの情報の記録を可能に設けられている。なお、光ディスク装置１は、記録層を複数有するＢＤに対しても記録再生可能である。
【００２２】
２は、スピンドルモータであり、光ディスク２０はスピンドルモータ２の上部に設けられるチャック部（図示せず）に着脱可能に保持される。スピンドルモータ２は、光ディスク２０の情報の記録再生を行う際に光ディスク２０を連続回転する。スピンドルモータ２の回転制御は、スピンドルモータ駆動回路３によって行われる。
【００２３】
４は、光ピックアップであり、光源から出射されたレーザ光を光ディスク２０に照射し、光ディスク２０への情報の書き込みと、光ディスク２０に記録されている情報の読み取りを可能とする。図２は、光ピックアップ４の光学系を示す概略図である。図２に示すように、光ピックアップ４は、半導体レーザ２１と、回折格子２２と、偏光ビームスプリッタ２３と、コリメートレンズ２４と、立ち上げミラー２５と、１／４波長板２６と、対物レンズ２７と、シリンドリカルレンズ２８と、光検出器２９と、を備える。
【００２４】
なお、光ピックアップ４を構成する光学系の構成はこれに限らず、もちろん種々の変更が可能である。例えば、球面収差やコマ収差等の波面収差を補正する収差補正素子（例えば液晶素子によって構成される）等が光学系中に配置される構成等としても構わない。
【００２５】
半導体レーザ２１は、波長４０５ｎｍのレーザ光を出射する光源である。半導体レーザ２１から出射されるレーザ光を４０５ｎｍ帯のレーザ光としているのは、ＢＤに対応するためである。
【００２６】
回折格子２２は、半導体レーザ２１から出射されるレーザ光を回折して、主ビーム（０次光）と２つの副ビーム（＋１次光と−１次光）とから成る３つのビームに分離する。このように、半導体レーザ２１から出射されたレーザ光を３つのビームに分離するのは、後述するサーボ制御を行えるようにするためである。
【００２７】
偏光ビームスプリッタ２３は、回折格子２２からのレーザ光を反射する。一方で、光ディスク２０からの反射光を透過するように構成されている。なお、この偏光ビームスプリッタ２３は後述の１／４波長板２６と協働して光アイソレータとして機能を発揮している。
【００２８】
コリメートレンズ２４は、偏光ビームスプリッタ２３からのレーザ光を平行光に変換する機能を有する。立ち上げミラー２５は、コリメートレンズ２４からのレーザ光を反射して光ディスク２０に向かわせる。
【００２９】
１／４波長板２６は、半導体レーザ２１から出射され、立ち上げミラー２５で反射した直線偏光のレーザ光を円偏光とする。また、１／４波長板２６は、光ディスク２０で反射された反射光（円偏光）を、半導体レーザ２１から出射されたレーザ光に対して偏光方向が９０度回転された直線偏光とする。これにより、光ディスク２０からの反射光は、偏光ビームスプリッタ２３を透過するようになる。
【００３０】
対物レンズ２７は、１／４波長板２６からのレーザ光を光ディスク２０の記録層に集光する。対物レンズ２７は、アクチュエータ３０によって少なくとも、光軸と平行な方向であるフォーカス方向と、光ディスク２０の半径方向と平行な方向であるトラッキング方向と、に移動可能となっている。アクチュエータ３０の構成は、コイルに流れる電流と永久磁石によって作られる磁界との電磁気的な作用を用いて対物レンズ２７を移動させる周知の構成であるために、ここではその説明を省略する。
【００３１】
なお、図２においては、記録層Ｌ０とＬ１とを有する２層光ディスク２０が示されているが、このような２層光ディスクに対応する場合には、アクチュエータ３０によって対物レンズ２７の光軸方向の位置を移動し、その焦点位置が調整される。これによって、記録層Ｌ０と記録層Ｌ１とのいずれか一方を対象記録層として、情報の再生や情報の記録を行える。
【００３２】
シリンドリカルレンズ２８は、光ディスク２０で反射され、対物レンズ２７、１／４波長板２６を透過し、立ち上げミラー２５で反射された後、コリメートレンズ２４、偏光ビームスプリッタ２３を透過したレーザ光に対して非点収差を与える。このように非点収差を与えるシリンドリカルレンズ２８を配置するのは、後述するサーボ制御を行えるようにするためである。
【００３３】
なお、本実施形態では、シリンドリカルレンズ２８によって非点収差を与える構成としているが、これに限定されず、例えば、液晶素子を用いて非点収差を与える構成等としても構わない。
【００３４】
光検出器２９は、シリンドリカルレンズ２８を通過したレーザ光を受光し、光情報を電気信号へと変換する機能を有する。光検出器２９の受光面２９ａには、再生や記録の対象となる対象記録層（図２に示すような２層光ディスクの場合、記録層Ｌ０又は記録層Ｌ１のいずれか）から反射される光を受光するための受光部と、対象記録層以外の記録層（図２に示すような２層光ディスクの場合、例えば対象記録層がＬ０であれば記録層Ｌ１が対象記録層以外の記録層に該当）から反射される光である迷光を受光するための受光部と、が形成される。このような光検出器２９の構成の詳細については後述する。
【００３５】
図１に戻って、レーザ駆動回路５は、図示しないフロントモニタ用の受光素子からの情報に基づいて半導体レーザ２１から出射されるレーザパワーを制御する。レーザパワーの制御値は、システム制御部１１から与えられる。
【００３６】
信号処理部６は、光検出器２９（図２参照）から電気信号を供給されて、供給された電気信号の処理を行い、ＲＦ信号、フォーカス誤差信号（ＦＥ信号）、及びトラッキング誤差信号（ＴＥ信号）等を生成する。フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号の生成の詳細については後述する。
【００３７】
情報検出回路７は、信号処理部６から供給されるＲＦ信号について波形等化等の処理を行い、光ディスク２０に記録されている情報の読み出しを行う。情報検出回路７で読み出された情報はデコーダ８によって復調され、復調された再生信号はインターフェース１２を介してパソコン等の外部機器に出力される。
【００３８】
サーボ回路９は、信号処理部６において生成されたＦＥ信号やＴＥ信号に基づいて、フォーカス駆動信号やトラッキング駆動信号の生成等を行う。
【００３９】
アクチュエータ駆動回路１０は、サーボ回路９から供給されるフォーカス駆動信号やトラッキング駆動信号等の信号に基づいて、対物レンズ２７を搭載するアクチュエータ３０（いずれも図２参照）の駆動を制御する。アクチュエータ３０は対物レンズ２７をフォーカス方向及びトラッキング方向に移動してフォーカス制御及びトラッキング制御（サーボ制御）を行う。また、対物レンズ２７の焦点位置をある記録層から他の記録層へとジャンプするレーヤージャンプを行う場合も、アクチュエータ駆動回路１０からアクチュエータ３０に指令が出されることによって、対物レンズ２７の位置が移動される。
【００４０】
システム制御部１１は、マイクロコンピュータを備えて光ディスク装置１を構成する各部が実行すべき所要の動作に応じて適宜制御処理を実行する。なお、システム制御部１１には、ＲＯＭ（Read Only Memory）１３及びＲＡＭ（Random Access Memory）１４が備えられている。ＲＯＭ１３には、システム制御部１１が各種処理を行う上で必要となる各種のパラメータや動作プログラムが記憶される。ＲＡＭ１４は、システム制御部１１によるワーク領域として用いられ、また、各種必要な情報の格納領域とされる。
【００４１】
光ディスク装置１の全体構成の概略は以上のようであるが、本実施形態の光ディスク装置１は、多層光ディスク（本実施形態においては、一例として２層光ディスクとしている）の再生や記録を行う際に、記録や再生の対象となる対象記録層と異なる記録層からの反射光である迷光の存在が原因となって、サーボ性能が低下する事態を防止できるようになっている。この点について、以下説明する。
【００４２】
図３は、本実施形態の光ディスク装置１が備える光検出器２９の受光面２９ａに形成される受光部の構成を示す概略平面図である。３１は、再生や記録の対象となる対象記録層から反射される光のうち、主ビームの反射光を受光する主ビーム用受光部である。一方、３２、３３は、それぞれ、対象記録層から反射される光のうち、副ビームの反射光を受光する副ビーム用受光部である。なお、上述のように副ビームは２つ存在するために、副ビーム用受光部は２つ設けられている。
【００４３】
主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３は、いずれも矩形状に設けられている。そして、主ビーム用受光部３１を副ビーム用受光部３２、３３が挟むように配置され、３つの受光部３１〜３３は略一列に並んだ状態となっている。主ビーム用受光部３１は、いずれも同一の面積を有する受光領域Ａ〜Ｄに分割されている。副ビーム用受光部３２は、互いに同じ面積を有する２つの受光領域Ｅ、Ｆに、副ビーム用受光部３３は、互いに同じ面積を有する２つの受光領域Ｇ、Ｈに分割されている。
【００４４】
また、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３の周囲には、対象記録層以外の記録層から反射される光である迷光を受光するための迷光用受光部３４が、それぞれ４つずつ隣接配置されている。各受光部３１〜３３に隣接配置される迷光用受光部３４は、いずれも矩形状に設けられ、その面積は全て同一とされている。
【００４５】
また、迷光用受光部３４は、その長手方向の中点位置と、矩形状に設けられる主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３の各辺の中点位置と、がほぼ同一位置となるように隣接配置されている。そして、迷光用受光部３４は、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３の角部近傍を避けて、各辺の中央付近に配置されている。
【００４６】
迷光用受光部３４が主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３の角部近傍を避けて配置される理由について、図４を参照しながら説明する。図４は、対物レンズ２７によって集光される光の焦点位置が対象記録層に合っている場合（ジャストフォーカス状態の場合）と合っていない場合（デフォーカス状態の場合）とについて、光検出器２９に形成される光スポットの様子を示したものである。図４（ａ）及び図４（ｃ）はいずれもデフォーカス状態の場合を示し、図４（ｂ）はジャストフォーカス状態の場合を示す。図４（ａ）と図４（ｃ）は、対物レンズ２７が焦点位置からずれる量は同じであるが、ずれる方向が反対の場合を示している。
【００４７】
なお、図４（ａ）〜（ｃ）の状態は、図５において説明される。図５は、迷光の影響がない状態において、主ビーム用受光部３１で検出される信号によって生成されるフォーカス誤差信号を、対物レンズ２７の焦点位置が対象記録層からずれる量であるずれ量との関係で示した図である。図５におけるずれ量が−ΔＸの場合が図４（ａ）に、ずれ量がゼロの場合が図４（ｂ）に、ずれ量が＋ΔＸの場合が図４（ｃ）の状態に該当する。ずれ量−ΔＸと＋ΔＸは、それぞれ、フォーカス誤差信号のＳ字カーブがプラス方向とマイナス方向でピークを示す場合のずれ量である。
【００４８】
図４に示すように、ジャストフォーカス状態の場合、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３には、略円形状の光スポットが形成される。一方、デフォーカス状態の場合、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３には、左右いずれかの方向に傾いた楕円形状の光スポットが形成される。そして、対物レンズ２７の焦点位置が対象記録層からずれる量が大きくなるにつれ、光スポットはその一部が受光部３１〜３３から漏れるようになる。
【００４９】
光スポットが受光部３１〜３３から漏れ、漏れた光が迷光用受光部３４で検出されると、上述のようにサーボ信号（特にフォーカス誤差信号）を生成する場合に誤差が生じて不都合である。このために、受光部３１から漏れた光を迷光受光部３４で受光しないように配置するのが好ましい。
【００５０】
このために、本実施形態においては、図４（ａ）及び図４（ｃ）に示すように、デフォーカス状態となった場合においても、対物レンズ２７の焦点位置が対象記録層からずれる量が所定の範囲内にある場合には、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３から漏れた光を受光しないように、迷光用受光部３４は、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３の角部近傍を避けて各辺の中央付近に配置されている。これにより、フォーカス誤差信号が不正確となり、フォーカス制御性能が低下するのを防止できる。
【００５１】
なお、本実施形態のように構成しても、対物レンズ２７の焦点位置のずれ量の絶対値が、図５に示すΔＸ値より更に大きくなった場合に、迷光用受光部３４で主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３で受光される場合が生じる。ただし、このように大きく対物レンズ２７の焦点位置が対象記録層からずれてしまった場合には、迷光用受光部３４による信号の補正が必要なほど微細な調整が必要とされるレベルではないので、上述のフォーカス誤差信号の不正確さは特に問題とならない。従って、フォーカス誤差信号の不正確さが問題となるずれ量の範囲で、迷光用受光部３４が主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３から漏れた光を受光しないように、迷光用受光部３４の配置及び大きさを決定すれば良い。
【００５２】
また、通常、トラッキング調整は、対物レンズ２７の焦点位置が対象記録層に合っている状態で行われる。このために、トラッキング誤差信号を得るためにのみ用いられる副ビーム用受光部３２、３３に配置される迷光用受光部３４については、副ビーム用受光部３２、３３の角部近傍に配置しても構わない。
【００５３】
次に、本実施形態の光検出器２９で検出される信号を用いて、フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を生成する構成について説明する。なお、本実施形態においては、フォーカス誤差信号は、いわゆる非点収差方式によって、トラッキング誤差信号は差動プッシュプル方式によって得られるように構成されている。
【００５４】
図６は、フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号の生成回路系のブロック図である。図６を用いて説明するにあたって、各受光領域から出力される信号について、各受光領域の符号を用いて示す。
【００５５】
まず、フォーカス誤差信号を生成する構成について図６を参照しながら説明する。フォーカス誤差信号を生成するにあたって、主ビーム用受光部３１及び主ビーム用受光部３１の周囲に４つ配置される迷光用受光部３４から出力される信号が使用される。主ビーム用受光部３１の各受光領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、それぞれヘッドアンプ３５ａ、３５ｂ、３５ｃ、３５ｄに電気的に接続されている。また、主ビーム用受光部３１の周囲に配置される迷光用受光部３４の４つの領域Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４は電気的に接続されており、これらは１つのヘッドアンプ３５ａに電気的に接続される。
【００５６】
ヘッドアンプ３５ａ〜３５ｅは、各受光領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ及びＸ１〜Ｘ４からの信号について電流／電圧変換を行い、信号レベルを後段で処理するために必要となるレベルに増幅する。
【００５７】
迷光用受光部３４の各受光領域Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、Ｘ４で受光され、ヘッドアンプ３５ａから出力される信号（Ｘ１＋Ｘ２＋Ｘ３＋Ｘ４）は、ゲインコントロールアンプ（ＧＣＡ；Gain Control Amplifier）３６ａによって、係数αが乗算（α・（Ｘ１＋Ｘ２＋Ｘ３＋Ｘ４））される。この係数αは、設計によって適切な任意の値が設定される。
【００５８】
主ビーム用受光部３１の受光領域Ａ、Ｂで検出され、ヘッドアンプ３５ｂ、３５ｃから出力される信号は、加算器３７ａで加算（Ａ＋Ｂ）され、減算器３８ａで減算（Ａ−Ｂ）される。また、主ビーム用受光部３１の受光領域Ｃ、Ｄで検出され、ヘッドアンプ３５ｄ、３５ｅから出力される信号は、加算器３７ｂで加算（Ｃ＋Ｄ）され、減算器３８ｂで減算（Ｃ−Ｄ）される。
【００５９】
加算器３７ａ、３７ｂで得られた信号は更に加算器３７ｃによって加算（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）される。加算器３７ｃで得られた信号は、減算器３８ｃによって、ＧＣＡ３６ａによって得られた信号で減算され、以下に示す規格化のための信号Ｎ１（主ビーム用受光部３１で得られる信号を規格化するための信号）を生成する。規格化のための信号Ｎ１は、第１の規格化回路３９及び第２の規格化回路４０に供給される。なお、第２の規格化回路４０はトラッキング誤差信号を生成される際に使用される回路である。
Ｎ１＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）− α・（Ｘ１＋Ｘ２＋Ｘ３＋Ｘ４）
【００６０】
一方、減算器３８ａ、３８ｂで得られた信号は加算器３７ｄで加算（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ））される。加算器３７ｄで得られた信号は、第１の規格化回路３９に供給される。
【００６１】
第１の規格化回路３９では、加算器３７ｄで得られた信号が、規格化のための信号Ｎ１で除算されて、以下に示す非点収差方式によるフォーカス誤差信号（ＦＥ信号）が得られる。
ＦＥ信号＝（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ））／Ｎ１
【００６２】
次に、トラッキング誤差信号を生成する構成について図６を参照しながら説明する。トラッキング誤差信号を生成するにあたっては、主ビーム用受光部３１、副ビーム用受光部３２、３３及び迷光用受光部３４から出力される信号が全て使用される。副ビーム受光部３２の各受光領域Ｅ、Ｆはそれぞれ、ヘッドアンプ３５ｇ、３５ｈに電気的に接続されている。また、副ビーム受光部３３の各受光領域Ｇ、Ｈはそれぞれ、ヘッドアンプ３５ｊ、３５ｋに電気的に接続されている。
【００６３】
副主ビーム用受光部３２の周囲に配置される迷光用受光部３４の４つの領域Ｘ５、Ｘ６、Ｘ７、Ｘ８は電気的に接続されており、これらは１つのヘッドアンプ３５ｆに電気的に接続される。副主ビーム用受光部３３の周囲に配置される迷光用受光部３４の４つの領域Ｘ９、Ｘ１０、Ｘ１１、Ｘ１２は電気的に接続されており、これらは１つのヘッドアンプ３５ｉに電気的に接続される。
【００６４】
ヘッドアンプ３５ｆ〜３５ｋは、ヘッドアンプ３５ａ〜３５ｅと同様に、各受光領域Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈ、Ｘ５〜Ｘ８及びＸ９〜Ｘ１２からの信号について電流／電圧変換を行い、信号レベルを後段で処理するために必要となるレベルに増幅する。
【００６５】
減算器３８ｄによって、上述の減算器３８ａで得られた信号（Ａ−Ｂ）から減算器３８ｂで得られた信号（Ｃ−Ｄ）が減算（（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ））される。減算器３８ｄで得られた信号（ＭＰＰ信号：メインプッシュプル信号）は、第２の規格化回路４０に供給される。第２の規格化回路４０では、ＭＰＰ信号が規格化のための信号Ｎ１で除算され、これにより、規格化されたＭＰＰ信号であるＭＰＰ´信号（以下に示す）が得られる。
ＭＰＰ´＝ＭＰＰ／Ｎ１＝（（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ））／Ｎ１
【００６６】
副ビーム用受光部３２の受光領域Ｅ、Ｆで検出され、ヘッドアンプ３５ｇ、３５ｆから出力される信号は、加算器３７ｆで加算（Ｅ＋Ｆ）され、減算器３８ｅで減算（Ｅ−Ｆ）される。また、副ビーム用受光部３３の受光領域Ｇ、Ｈで検出され、ヘッドアンプ３５ｊ、３５ｋから出力される信号は、加算器３７ｇで加算（Ｇ＋Ｈ）され、減算器３８ｆで減算（Ｇ−Ｈ）される。また、加算器３７ｆと加算器３７ｇで得られた信号は更に加算器３７ｈで加算（Ｅ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ）される。更に、減算器３８ｅと減算器３８ｆで得られた信号は、加算器３７ｉで加算（（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ））される。加算器３７ｉで得られた信号（ＳＰＰ：サブプッシュプル信号）は、第３の規格化回路４１に供給される。
【００６７】
一方、ヘッドアンプ３５ｆから出力される信号（Ｘ５＋Ｘ６＋Ｘ７＋Ｘ８）と、ヘッドアンプ３５ｉから出力される信号（Ｘ９＋Ｘ１０＋Ｘ１１＋Ｘ１２）と、は加算器３７ｅで加算（Ｘ５＋Ｘ６＋Ｘ７＋Ｘ８＋Ｘ９＋Ｘ１０＋Ｘ１１＋Ｘ１２）される。加算器３７ｅで得られた信号は、ＧＣＡ３６ｂによって、係数βが乗算（β・（Ｘ５＋Ｘ６＋Ｘ７＋Ｘ８＋Ｘ９＋Ｘ１０＋Ｘ１１＋Ｘ１２））される。この係数βは、設計によって適切な任意の値が設定される。
【００６８】
加算器３７ｈで得られた信号は、減算器３８ｇによって、ＧＣＡ３６ｂによって得られた信号で減算され、以下に示す規格化のための信号Ｎ２（副ビーム用受光部３２及び副ビーム用受光部３３で得られる信号を規格化するための信号）を生成する。規格化のための信号Ｎ２は、第３の規格化回路４１に供給される。
Ｎ２＝（Ｅ＋Ｆ＋Ｇ＋Ｈ）− β・（Ｘ５＋Ｘ６＋Ｘ７＋Ｘ８＋Ｘ９＋Ｘ１０＋Ｘ１１＋Ｘ１２）
【００６９】
第３の規格化回路４１では、ＳＰＰ信号が規格化のための信号Ｎ２で除算され、これにより、規格化されたＳＰＰ信号であるＳＰＰ´（以下に示す）が得られる。
ＳＰＰ´＝ＳＰＰ／Ｎ２＝（（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ））／Ｎ２
【００７０】
規格化されたＳＰＰ´信号は、ＧＣＡ３６ｃによって係数ｋが乗算される。この係数ｋは、設計によって適切な任意の値が設定される。そして、減算器３８ｈによって、規格化されたＭＰＰ´信号からＧＣＡ３６ｃで得られた信号を減算することによって、以下に示す差動プッシュプル方式のトラッキング誤差信号（ＴＥ信号）が得られる。
ＴＥ信号＝ＭＰＰ´− ｋ・ＳＰＰ´
【００７１】
以上のようにしてフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得る場合、規格化のための信号Ｎ１、Ｎ２について迷光成分を除去する構成となっている。このために、規格化されて得られるフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号は、迷光によるオフセットを取り除いた信号とできる。
【００７２】
また、対物レンズ２７の焦点位置が再生や記録の対象となる対象記録層からずれた場合でも、そのずれ量が所定の範囲内である場合には、対象記録層から反射された反射光を受光しない位置に迷光用受光部３４が配置されているために、サーボ信号（フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号）が不正確とならない。
【００７３】
なお、以上に示したフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号の生成方法は、図７に示すように、主ビーム用受光部３１、副ビーム用受光部３２及び迷光用受光部３４が、対象記録層以外の記録層で反射された迷光（主ビーム、第１副ビーム、第２副ビームのそれぞれに由来するもの）を略均一に受光できるように配置されている場合を前提にしている。なお、図７は、本実施形態の主ビーム用受光部３１、副ビーム用受光部３２、３３及び迷光用受光部３４の配置を説明するために図である。
【００７４】
上記の前提の通り光検出器２９の受光面２９ａに形成される受光部が構成されていない場合には、例えば、各受光領域から得られる信号のそれぞれについて、所定の係数（予め実験等によって得たもの）を乗算する等して処理する必要があり、サーボ信号を得る演算方法を変更する必要がある。
【００７５】
以上に示した実施形態は一例であり、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００７６】
例えば、主ビーム用受光部３１、副ビーム用受光部３２、３２及び迷光用受光部３４をいずれも矩形状としているが、この形状に限定される趣旨ではない。
【００７７】
また、迷光用受光部３４を、主ビーム用受光部３１及び副ビーム用受光部３２、３３のそれぞれについて、周囲に４つ配置する構成としているが、これに限定される趣旨ではない。例えば、それぞれの受光部３１〜３３について１つずつ迷光用受光部を配置する構成等、本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００７８】
また、本実施形態では、複数設けられる迷光用受光部３４の面積を全て同一としているが、これに限定される趣旨ではなく、本発明の目的を逸脱しない範囲で変更可能である。
【００７９】
また、迷光用受光部３４は、対物レンズ２７の焦点位置が対象記憶層からずれる量が所定の範囲内にある場合に、対象記録層から反射される光を受光しないように配置されていれば良く、矩形状の受光部３１〜３３の各辺の中央部に配置しなくても良い。
【００８０】
また、以上においては、光ディスク装置１は、非点収差方式によってフォーカス誤差信号を得る構成とした。しかし、これに限定されず、例えば、差動非点収差方式によってフォーカス誤差信号を得る構成としても構わない。この場合には、光検出器２９の受光面２９ａに形成される受光部の構成は、例えば図８に示すように構成される。図８は、本発明の別実施形態を説明するための説明図である。
【００８１】
図８に示す構成と本実施形態の構成が異なる点は、副ビーム用受光部３２、３３についても、それぞれ受光領域が４つとなっている点である。このような光検出器２９でフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得る演算式を以下に示しておく。各記号（Ｎ１、Ｎ２、ＭＰＰ、ＭＰＰ´、ＳＰＰ、ＳＰＰ´）の意味は、上述の場合と同様である。α、β、ｋ１、ｋ２は係数であり、設計によって適切な任意の値が設定される。
【００８２】
Ｎ１＝（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）−α・（Ｘ１＋Ｘ２＋Ｘ３＋Ｘ４）
Ｎ２＝（Ｅ１＋Ｅ２＋Ｆ１＋Ｆ２＋Ｇ１＋Ｇ２＋Ｈ１＋Ｈ２）− β・（Ｘ５＋Ｘ６＋Ｘ７＋Ｘ８＋Ｘ９＋Ｘ１０＋Ｘ１１＋Ｘ１２）
ＭＰＰ＝（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）
ＭＰＰ´＝ＭＰＰ／Ｎ１
ＳＰＰ＝（Ｅ１＋Ｇ１＋Ｅ２＋Ｇ２）−（Ｆ１＋Ｈ１＋Ｆ２＋Ｈ２）
ＳＰＰ´＝ＳＰＰ／Ｎ２
ＦＥ信号＝（（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ））／Ｎ１−ｋ１・（（Ｅ１＋Ｇ１＋Ｆ２＋Ｈ２）−（Ｆ１＋Ｈ１＋Ｅ２＋Ｇ２））／Ｎ２
ＴＥ信号＝ＭＰＰ´− ｋ２・ＳＰＰ´
【００８３】
その他、本実施形態では、光ディスクとしてＢＤの場合を示したが、本発明の適用範囲がこれに限定されないのは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００８４】
本発明の光ディスク装置によれば、多層光ディスクの再生や記録を行う場合に、適切なフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得られる。従って、本発明の光ディスク装置は有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】は、本実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】は、本実施形態の光ディスク装置が備える光ピックアップの光学系の構成を示す概略図である。
【図３】は、本実施形態の光ディスク装置が備える光検出器の受光面に形成される受光部の構成を示す概略平面図である。
【図４】は、対物レンズによって集光される光の焦点位置が対象記録層に合っている場合と合っていない場合とについて、光検出器に形成される光スポットの様子を示したものである。
【図５】は、迷光の影響がない状態において、主ビーム用受光部で検出される信号によって生成されるフォーカス誤差信号を、対物レンズの焦点位置が対象記録層からずれる量であるずれ量との関係で示した図である。
【図６】は、本実施形態のフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号の生成回路系のブロック図である。
【図７】は、本実施形態の主ビーム用受光部、副ビーム用受光部及び迷光用受光部の配置を説明するために図である。
【図８】は、本発明の別実施形態を説明するための説明図である。
【図９】は、非点収差法によってフォーカス誤差信号を生成し、差動プッシュプル法によってトラッキング誤差信号を生成する場合の構成例を示している。
【図１０】は、図９の構成における問題点を説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００８６】
１                光ディスク装置
６                信号処理手部
２０              光ディスク
２１              半導体レーザ
２８              シリンドリカルレンズ（非点収差付与手段）
２９              光検出器
３１              主ビーム用受光部（第１の受光部）
３２、３３        副ビーム用受光部（第２の受光部）
３４              迷光用受光部
Ｌ０、Ｌ１        記録層
【図１】
2009026412.tif 000003
【図２】
2009026412.tif 000004
【図３】
2009026412.tif 000005
【図４】
2009026412.tif 000006
【図５】
2009026412.tif 000007
【図６】
2009026412.tif 000008
【図７】
2009026412.tif 000009
【図８】
2009026412.tif 000010
【図９】
2009026412.tif 000011
【図１０】
2009026412.tif 000012