(57)【要約】【課題】  温度やディスク特性、線速度が変化した場合に、ユーザデータの記録を行いながら、記録パラメータの補正を行うことができ、かつ記録レートが実質的に低下することのない光ディスク装置を提供する。【解決手段】  角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のアシンメトリを測定し、前記アシンメトリの測定結果から記録パワー設定を更新することとした。【選択図】  図３
2009070434.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、
記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、
停止直前の記録領域の再生信号のアシンメトリ量を測定し、
前記アシンメトリ量の測定結果から記録パワー設定を更新する、
ことを特徴とする記録パラメータの補正方法。
【請求項２】
角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、
記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、
停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量を測定し、
前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジ設定を更新する、
ことを特徴とする記録パラメータの補正方法。
【請求項３】
角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、
記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、
停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量とを測定し、
前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲内であれば、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジの設定を更新し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲外であれば、前記アシンメトリ量の測定結果から記録パワーの設定を更新する、
ことを特徴とする記録パラメータの補正方法。
【請求項４】
請求項１に記載の記録パラメータの補正方法において、
前記再生信号のアシンメトリ量の測定終了後に、前記一旦停止した記録を再開し、
記録動作を行いながら、アシンメトリ量の測定結果から記録パワーの補正演算を行い、
該記録パワーの補正演算結果に基づいて、記録パワーの設定を更新し、
更新した記録パワーで記録動作を継続する、
ことを特徴とする記録パラメータの補正方法。
【請求項５】
請求項２に記載の記録パラメータの補正方法において、
前記再生信号のエッジシフト量の測定終了後に、前記一旦停止した記録を再開し、
記録動作を行いながら、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジの補正演算を行い、
記録ストラテジの補正演算結果に基づいて、記録ストラテジ設定を更新し、
更新した記録ストラテジで記録動作を継続する、
ことを特徴とする記録パラメータの補正方法。
【請求項６】
請求項３に記載の記録パラメータの補正方法において、
前記再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量の測定終了後に、前記一旦停止した記録を再開し、
前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲内であれば、記録動作を行いながら、前記エッジシフト量の測定結果に基づき、記録ストラテジの補正演算を行ない、該記録ストラテジの補正演算結果に基づいて、記録ストラテジの設定を更新し、
前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲外であれば、記録動作を行いながら、前記アシンメトリ量の測定結果に基づき、記録パワーの補正演算を行い、該記録パワーの補正演算結果に基づいて、記録パワーの設定を更新し、
更新された記録ストラテジ、及び記録パワーで記録動作を継続する、
ことを特徴とする記録パラメータの補正方法。
【請求項７】
角速度を一定として光ディスクに記録を行う光ディスク装置であって、
記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のアシンメトリ量を測定し、該アシンメトリ量の測定結果から記録パワー設定を更新する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
角速度を一定として光ディスクに記録を行う光ディスク装置であって、
記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量を測定し、該エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジ設定を更新する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
角速度を一定として光ディスクに記録を行う光ディスク装置であって、
記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量とを測定し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲内であれば、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジの設定を更新し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲外であれば、前記アシンメトリ量の測定結果から記録パワーの設定を更新する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項７に記載の光ディスク装置において、
再生信号に含まれるクロックを抽出するＰＬＬ回路と、
前記ＰＬＬ回路で抽出されたクロックで再生信号をサンプリングするＡ／Ｄ変換器と、
前記Ａ／Ｄ変換器でディジタル信号に変換された再生信号から再生信号のアシンメトリ量を出力するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路から出力されたアシンメトリ量を保持する記憶手段と、
前記記憶手段に保持されたアシンメトリ量から、記録パワーを補正し、次回記録時に記録パラメータの更新を行う光ディスクコントローラと、
前記光ディスクコントローラから出力された記録パラメータ情報をもとに記録パルス形状を決定する記録条件設定回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項８に記載の光ディスク装置において、
再生信号に含まれるクロックを抽出するＰＬＬ回路と、
前記ＰＬＬ回路で抽出されたクロックで再生信号をサンプリングするＡ／Ｄ変換器と、
前記Ａ／Ｄ変換器でディジタルにされた再生信号を所定のＰＲ等化出力となるよう適応的にフィルタ特性を更新するディジタルフィルタと、
前記ディジタルフィルタによりＰＲ等化された再生信号から最尤復号をおこなうビタビ回路と、
前記ビタビ回路から出力された２値化データから特定記録マークの始端エッジと終端エッジを検出するパターン検出回路と、
前記ディジタルフィルタから出力された再生信号と、前記パターン検出回路から出力された特定パターン検出情報とから、再生信号の品質情報を出力する信号品質評価回路と、
前記信号品質評価回路からの信号品質情報から、前記特定記録マークの始端エッジと終端エッジごとの平均的なエッジシフト量を求めるエッジシフト検出回路と、
前記エッジシフト検出回路から出力されたエッジシフト量を保持する記憶手段と、
前記記憶手段に保持されたエッジシフト量から、最適化すべきパラメータを見つけだしてこれを補正し、次回記録時に記録パラメータの更新を行う光ディスクコントローラと、
前記光ディスクコントローラから出力された記録パラメータ情報をもとに記録パルス形状を決定する記録条件設定回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体へディジタル情報を記録する記録方法、及び記録再生装置に関し、特に線速度が変化した場合であっても、記録媒体上に理想的なマークが形成されるよう記録条件の制御を行うＣＡＶ記録可能な記録条件の補正方法、及び光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的な光ディスク装置においては、再生信号に含まれる再生クロックをＰＬＬ回路によって抽出し、再生信号から抽出された再生クロックをもとに、原ディジタル情報が“１”であるか“０”であるかをコンパレータによって判別する２値化方法が広く用いられている。
【０００３】
図１に従来の光ディスク装置の構成図を示す。光ディスク１からの反射光は、光学ヘッド２により再生信号に変換される。再生信号は波形等化器３により波形整形され、波形整形された再生信号はコンパレータ４で２値化される。コンパレータ４のしきい値は、通常２値化出力の積分結果が０となるようにフィードバック制御されている。位相比較器５は、２値化出力と、再生クロックとの位相誤差を求める。該位相誤差はＬＰＦ６により平均処理され、ＶＣＯ７の制御電圧となり、位相比較器５から出力される位相誤差が常に０になるようにフィードバック制御がかかる。
【０００４】
上記のような２値化方式の場合、コンパレータ４の出力が再生クロックの検出窓幅（ウィンドウ幅）内にあるか否かにより、同期化されたデータ“１”であるか“０”であるかを判定している。
【０００５】
また、短波長レーザの開発とともに、光ディスクの容量も増大している。波長約６５０ｎｍのＤＶＤでは片面、１層の記録容量は４．７ＧＢであったが、同じ径をもつＢｌｕ−Ｒａｙディスク、ＨＤ−ＤＶＤディスクのいわゆる次世代ＤＶＤでは１５ＧＢ以上の容量を持つ。この大容量化の実現のためには、小さな記録マーク、低Ｓ／Ｎや符号間干渉などの信号品質が劣化した信号から正しくデータを読み出す再生技術と、記録媒体上に小さな記録マークを安定に形成する記録技術が要求される。
【０００６】
大容量光ディスクの実現を支える再生技術の１つがＰＲＭＬ信号処理である。大容量化には線記録密度の向上が不可欠で、記録符号にこれまでより最短マークの短いＲＬＬ符号を用いて検出窓幅を広くとることで、光ディスク装置の安定性を改善している。しかし、このようにすると記録媒体上により小さな記録マークを形成することになり、隣接マーク（またはスペース）からの符号間干渉が増大してしまう。従来の２値化方法ではこのような符号間干渉を波形整形回路により取り除くことが行われてきたが、この符号間干渉を積極的に利用するＰＲＭＬ信号処理が最近の光ディスク装置にも用いられている。
【０００７】
大容量光ディスクを実現する記録技術が、レーザのパワー制御と、適応型マーク補償である。書換え、及び追記可能な光ディスクでは、ディスク上にレーザから照射される光（熱）により記録膜に膜厚の変化を与えることにより記録マークを形成する。
【０００８】
通常記録膜は一定の線速度によって記録されることを前提として、ディスクの膜構造や記録膜組成を最適化している。ＤＶＤ単層ディスクの場合、標準速度は３．４９ ｍ／ｓｅｃであり、１６倍速では５５．８ｍ／ｓｅｃにもなる。市販されるディスクには対応可能な速度が明記されている。しかし所定の記録速度範囲で最適化されたディスクであっても、光ディスク上での熱伝導により、レーザ光の照射時間が長いほど記録膜の温度が上昇し形成されるマークの長さが長くなる。レーザのパワー制御では記録時のレーザダイオードの電流値を制御し、適応型マーク補償では記録パターンによって記録パルスの長さや位置を変えることによって形成されるマークの形状を制御する。
【０００９】
図２は記録パルスの例を示しており、２Ｔ（Ｔは記録クロック幅）長さのマーク、３Ｔ長さのマーク、及び８Ｔ長さのマークを記録する場合のパルス形状を示している。記録パワーを制御するパラメータには記録パワーレベルＰW、スペースパワーレベルＰS、バイアスパワーレベルＰBW、及びクーリングパワーレベルＰCがある。また記録パルス列の位置を制御するパラメータには先頭パルスの幅を示すＴtop、位置を示すｄＴtop、マルチパルス幅を示すＴmp、終端パルス幅を示すＴlp、クーリングパルスの位置を示すｄＴsがある。
【００１０】
これらのパラメータを記録パターンに応じて変えることで照射される熱量をコントロールして安定に微小なマークをディスク上に形成することができる。このような記録パルスの制御方法を適応型マーク補償と呼んでいる。ディスクに用いられる材料には無機材料、有機高分子材料があり、同じ材料でもメーカーによって記録膜の組成や成分、構造が異なっている。また記録速度によって必要な照射される熱量が異なる。そこであらかじめ、推奨する記録パラメータを記録速度ごとにディスクに記録し、光ディスク装置はそれを読み出すことで最適な記録マークを形成することができる。
【００１１】
しかし、ディスクメーカーから推奨されるパラメータを用いても、装置のばらつきやディスク特性のばらつき、光ディスク装置が使用されている環境温度、ディスクの使用状況（書換え型ディスクであれば、未記録ディスクなのか記録済みディスクなのか、何度も上書きされているか等）、ディスク保存状況等によって、メーカーの推奨パラメータが最適である保障はない。そこで記録型、追記型光ディスクでは試し記録を行うことが一般的に行われており、試し記録を行うことのできる領域がディスクの内周あるいは外周に確保されている。
【００１２】
光ディスク装置ではディスクが装填されると、あらかじめディスクに記録されているディスク情報を読み出し初期記録パラメータを設定し、試し記録領域で初期記録パラメータを用いて、試し記録を行い、記録パラメータの最適化を行う。そして得られた最適パラメタータを用いてユーザデータの記録を行なう。
【００１３】
例えば、特許文献１では、マーク長とスペース長を３通り、あるいは４通りに分類し、マークとスペースの組み合わせパターンごとに、マークの始端、終端位置のずれ量を検出し、ずれ量が小さくなるように記録パルスを調整し、記録媒体上に形成されるマークの始端、終端位置を制御し、再生信号のジッタを一定値以下にする方法が示されている。具体的には図１のような光ディスク装置の位相比較器５の位相誤差出力を用いて、位相誤差が最小となるようにマークの始端、終端位置を調整している。
【００１４】
従来の一般的な光ディスク装置に代わり、ＰＲＭＬ処理を用いた光ディスク装置が提供され始めている。図１の光ディスク装置では、コンパレータ４の出力と、ＶＣＯ７のタイムインターバル（ジッタ）を測定することで、再生信号の品質評価を行っていた。しかし、ＰＲＭＬ処理では一般的にビタビアルゴリズムを用いた最尤復号を行っており、ジッタと最尤復号結果との相関が乏しくなるので、新たにＰＲＭＬ処理を用いた光ディスク装置に適した再生信号の評価方法が提供されている。
【００１５】
ビタビアルゴリズムは、メトリック演算結果から、取り得る２つのパスのうち、より確からしい（期待値と再生波形の距離の２乗和が小さい）パスを選択する。たとえば特許文献２では、２つのメトリック演算の差を差分メトリックとし、差分メトリックが０よりもかなり大きい場合や、小さい場合には、確実に２つのパスのうちいずれかを選択したことになり、差分メトリックがほぼ０に近い場合には、どちらを選択してもおかしくない状態で選択したことになる。前者は信号品質が高く、後者は信号品質が劣っているといえる。これを用いてマークとスペースの組み合わせパターンごとに、前述の差分メトリックを積算すると、平均的にいずれのパターンが信号品質をどの程度劣化させているかわかる。言い換えるとマークの始端、終端位置のずれ量を検出することができる。このずれ量が小さくなるように記録パラメータを調整することでＰＲＭＬ処理に適した記録マークを媒体上に形成することを実現している。
【００１６】
また特許文献３では、より符号間干渉を許容したＰＲ等化方式を用いて、ＰＲＳＮＲおよびアシンメトリを指標として、パワーやストラテジの調整が可能であることが示されている。さらに上述の記録パラメータ調整を行うタイミングとして、光ディスク装置の回転数が変化する場合や、温度変化が生じた場合、一定量の記録動作を行った場合、一定時間記録動作を行った場合、あるいはサーボパラメータが許容値を超えた場合等が挙げられている。
【特許文献１】特許第３０７６０３３号公報
【特許文献２】特開２００４−３３５０７９公報
【特許文献３】特開２００５−３３９６９０公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかしながら、最近のＰＲＭＬ処理を用いた光ディスク装置で、上述の方法で最適化された記録パラメータを用いても、記録条件が変化することが起こり得る。たとえば以下の３つの場合で記録条件の変化が考えられる。
【００１８】
まず第１に光ディスク装置の温度、ディスクの温度が変化してしまう場合がある。これは、光ディスク装置自身の放熱や、周囲温度により装置内の温度が変わってしまうために起こる。
【００１９】
第２にディスクの特性が変化する場合であり、たとえば記録膜はナノメートル単位の厚さしかないので内周と外周で記録膜の厚さが変化すると、加える熱量を加減する必要がある。
【００２０】
上記第１の場合には、装置の温度が所定値変化するごとに、いったんユーザデータの記録を中断し、試し記録領域で再び記録パラメータの最適化を行い、再度ユーザデータの記録を行う。
【００２１】
第２の場合には、ディスク半径上所定の長さ記録ごとあるいは所定長領域の記録のたびに、ユーザデータの記録を中断し、試し記録領域で記録パラメータの最適化を行い、再度ユーザデータの記録を行う。書換え型のディスクでは試し記録領域に上書きすることで比較的何度も記録パラメータの最適化を行うことができるが、追記型のディスクの場合には次々と試し記録領域を使用することになるので、頻繁に記録パラメータの最適化を行うことができない。
【００２２】
第３の場合は、近年高転送レート化が進み、ＣＤでは５２倍速以上、ＤＶＤでは１６倍速以上でデータの読み取りが可能な光ディスク装置が実現されている。記録速度についても同様に高速化が進んでいる。書き換え型、追記型光ディスクは、線速度一定（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ  以下ＣＬＶとする）の条件で記録する必要があるため、内周でのディスクの回転数が１００００回転／分以上となり、制御が困難になること、またディスクの内周と外周でディスクの回転数を約２．４倍変化させる必要があり、高速化に伴い内外周での回転数差が大きくなるほど、モータが所望の回転数に達するまでの時間が長くなることから、光ディスク装置の安定性やアクセス性能に課題があった。そこでディスクを角速度一定（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ、以下ＣＡＶとする）で記録する方法が採用されている。ＣＡＶ方式では、ディスクの回転数が一定であるため、内周側と外周側の線速度に２倍以上の差が生じる。線速度によって記録に必要とされる熱量も変化するので、線速度に応じて記録パラメータの最適化を行う必要がある。しかるに、頻繁に記録パラメータの最適化を行うと、記録レートが低下するといった課題があった。
【００２３】
また、特許文献３で開示された方法では、ＰＲＭＬ処理に適したＰＲＳＮＲまたはアシンメトリを測定し、パワーやストラテジを調整しているが、目標とするＰＲＳＮＲと測定結果との隔たりが、ストラテジ要因によるものであった場合には、適応マーク補償を行うためには、いずれのマークとスペースの組み合わせパターンが主原因であるかを判別することができないという課題がある。
【００２４】
また、従来の光ディスク装置では、記録パワーやストラテジの調整を行うためには、記録領域を再生して、アシンメトリ等の測定を行い、測定結果から記録パラメータの補正を行うので、補正処理にかかる時間は、光ディスク装置のＣＰＵに依存し、装置が高倍速で記録を行った場合でも一定時間必要となり、記録レートが低下するといった課題があった。
【００２５】
本発明は、上記従来の課題を解決するためになされたもので、ユーザデータの記録を行いながら、温度やディスク特性、線速度が変化した場合であっても、適応的な記録パラメータの補正を行うことが可能なＰＲＭＬ信号処理を用いた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【００２６】
また、ユーザデータの記録を行いながら、温度やディスク特性、線速度が変化した場合に記録パラメータの補正を行う場合に、実質的な記録レートの低下を生ずることのないＰＲＭＬ信号処理を用いた光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る記録パラメータの補正方法は、角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のアシンメトリ量を測定し、前記アシンメトリ量の測定結果から記録パワー設定を更新することを特徴とする。
【００２８】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００２９】
また、本発明の請求項２に係る記録パラメータの補正方法は、角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量を測定し、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジ設定を更新することを特徴とする。
【００３０】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録ストラテジの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００３１】
また、本発明の請求項３に係る記録パラメータの補正方法は、角速度を一定として光ディスクに記録を行う場合の記録パラメータの補正方法であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量とを測定し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲内であれば、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジの設定を更新し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲外であれば、前記アシンメトリ量の測定結果から記録パワーの設定を更新することを特徴とする。
【００３２】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正、及び記録ストラテジの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００３３】
また、本発明の請求項４に係る記録パラメータの補正方法は、請求項１に記載の記録パラメータの補正方法において、前記再生信号のアシンメトリ量の測定終了後に、前記一旦停止した記録を再開し、記録動作を行いながら、アシンメトリ量の測定結果から記録パワーの補正演算を行い、該記録パワーの補正演算結果に基づいて、記録パワーの設定を更新し、更新した記録パワーで記録動作を継続することを特徴とする。
【００３４】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正を行うことができ、かつ実質的な記録レートの低下を防止することができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００３５】
また、本発明の請求項５に係る記録パラメータの補正方法は、請求項２に記載の記録パラメータの補正方法において、前記再生信号のエッジシフト量の測定終了後に、前記一旦停止した記録を再開し、記録動作を行いながら、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジの補正演算を行い、記録ストラテジの補正演算結果に基づいて、記録ストラテジ設定を更新し、更新した記録ストラテジで記録動作を継続することを特徴とする。
【００３６】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録ストラテジの補正を行うことができ、かつ実質的な記録レートの低下を防止することができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００３７】
また、本発明の請求項６に係る記録パラメータの補正方法は、請求項３に記載の記録パラメータの補正方法において、前記再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量の測定終了後に、前記一旦停止した記録を再開し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲内であれば、記録動作を行いながら、前記エッジシフト量の測定結果に基づき、記録ストラテジの補正演算を行ない、該記録ストラテジの補正演算結果に基づいて、記録ストラテジの設定を更新し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲外であれば、記録動作を行いながら、前記アシンメトリ量の測定結果に基づき、記録パワーの補正演算を行い、該記録パワーの補正演算結果に基づいて、記録パワーの設定を更新し、更新された記録ストラテジ、及び記録パワーで記録動作を継続することを特徴とする。
【００３８】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正、及び記録ストラテジの補正を行うことができ、かつ実質的な記録レートの低下を防止することができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００３９】
また、本発明の請求項７に係る光ディスク装置は、角速度を一定として光ディスクに記録を行う光ディスク装置であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のアシンメトリ量を測定し、該アシンメトリ量の測定結果から記録パワー設定を更新することを特徴とする。
【００４０】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００４１】
また、本発明の請求項８に係る光ディスク装置は、角速度を一定として光ディスクに記録を行う光ディスク装置であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量を測定し、該エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジ設定を更新することを特徴とする。
【００４２】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録ストラテジの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００４３】
また、本発明の請求項９に係る光ディスク装置は、角速度を一定として光ディスクに記録を行う光ディスク装置であって、記録中に線速度が所定量変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量とを測定し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲内であれば、前記エッジシフト量の測定結果から記録ストラテジの設定を更新し、前記検出されたアシンメトリ量が基準値の範囲外であれば、前記アシンメトリ量の測定結果から記録パワーの設定を更新することを特徴とする。
【００４４】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正、及び記録ストラテジの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００４５】
また、本発明の請求項１０に係る光ディスク装置は、請求項７に記載の光ディスク装置において、再生信号に含まれるクロックを抽出するＰＬＬ回路と、前記ＰＬＬ回路で抽出されたクロックで再生信号をサンプリングするＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器でディジタル信号に変換された再生信号から再生信号のアシンメトリ量を出力するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路から出力されたアシンメトリ量を保持する記憶手段と、前記記憶手段に保持されたアシンメトリ量から、記録パワーを補正し、次回記録時に記録パラメータの更新を行う光ディスクコントローラと、前記光ディスクコントローラから出力された記録パラメータ情報をもとに記録パルス形状を決定する記録条件設定回路と、を備えることを特徴とする。
【００４６】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録パワーの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【００４７】
また、本発明の請求項１１に係る光ディスク装置は、請求項８に記載の光ディスク装置において、再生信号に含まれるクロックを抽出するＰＬＬ回路と、前記ＰＬＬ回路で抽出されたクロックで再生信号をサンプリングするＡ／Ｄ変換器と、前記Ａ／Ｄ変換器でディジタルにされた再生信号を所定のＰＲ等化出力となるよう適応的にフィルタ特性を更新するディジタルフィルタと、前記ディジタルフィルタによりＰＲ等化された再生信号から最尤復号をおこなうビタビ回路と、前記ビタビ回路から出力された２値化データから特定記録マークの始端エッジと終端エッジを検出するパターン検出回路と、前記ディジタルフィルタから出力された再生信号と、前記パターン検出回路から出力された特定パターン検出情報とから、再生信号の品質情報を出力する信号品質評価回路と、前記信号品質評価回路からの信号品質情報から、前記特定記録マークの始端エッジと終端エッジごとの平均的なエッジシフト量を求めるエッジシフト検出回路と、前記エッジシフト検出回路から出力されたエッジシフト量を保持する記憶手段と、前記記憶手段に保持されたエッジシフト量から、最適化すべきパラメータを見つけだしてこれを補正し、次回記録時に記録パラメータの更新を行う光ディスクコントローラと、前記光ディスクコントローラから出力された記録パラメータ情報をもとに記録パルス形状を決定する記録条件設定回路と、を備えることを特徴とする。
【００４８】
これにより、データ記録の際に線速度の変化があった場合にも、適応的な記録ストラテジの補正を行うことができ、適正な記録を行なうことが可能となる。
【発明の効果】
【００４９】
本発明によれば、データ記録中に線速度が変化した場合であっても、ユーザデータの記録を行いながら、適応的な記録パラメータの補正を行うことができ、ＰＲＭＬ処理を前提として信頼性の高い記録マークを記録媒体上に形成することができる。また、高倍速記録時に頻繁に記録パラメータの補正を行う場合であっても、実質的な記録レートの低下を生じないという効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５０】
（実施の形態１）
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置を説明する。
【００５１】
図３は、本実施の形態１による光ディスク装置１００の構成を示す図である。
【００５２】
本光ディスク装置１００は、記録動作の際に、記録データを光ディスク８の所定のアドレスに記録を行う。光ディスクコントローラ９は、記録補償回路１０に記録パラメータの初期設定を行うものである。記録補償回路１０は、記録データと、初期設定された記録パラメータとを用いて、記録パルス信号を生成するものである。なお、記録パラメータとしては、光ディスク８に予め記録されていたパラメータを読み取ったものを用いることも可能である。
【００５３】
本実施の形態１で用いられる記録パターンは、ユーザデータに誤り訂正符号を付加し、記録変調を行うと、例えば、４Ｔマーク３Ｔスペース、４Ｔマーク４Ｔスペース、４Ｔマーク５Ｔスペース…（以下適宜、４ｍ３ｓ、４ｍ４ｓ、４ｍ５ｓ…と示す）というように、それぞれ互いに異なる、マーク長とスペース長との複数の組を含んでいる。より具体的には、適応型マーク補償を行うためには、すべてのマーク長とスペース長の組み合わせごとに記録パラメータを設定することもできるが、たとえば５Ｔ以上のマークと、５Ｔ以上のスペースとの組み合わせは、同一の記録パラメータを用いることで、煩雑な記録パラメータの設定を簡素化することができる。上記例では、５Ｔ以上のマークと５Ｔ以上のスペースとの組み合わせ以外に、４ｍ３ｓの組、４ｍ４ｓの組、４ｍ５ｓの組などが含まれている。本実施の形態１では、図４、図５に示したような、マーク長とスペース長との組ごとに設定される記録パラメータ（例えば３２通り）の全てを最適化できるように構成されている。
【００５４】
レーザ駆動回路１１は、記録パルス信号に応じて光ヘッド中のレーザダイオードを駆動し、光ディスク８にレーザ光を照射してデータを記録するものである。いわゆる適応型マーク補償方式を採用しており、光ディスク８には、記録するデータに対応して長さの異なる複数のマークとスペースとが形成される。各記録パラメータを最適化するために、光ディスク８に記録されたデータを再生し、得られた再生信号から記録パラメータの適否を判断する。再生動作の際には、光ヘッドから再生用レーザ光が光ディスク８上に照射される。光ディスク８からの反射光は、光ヘッドにおいて電気信号（再生信号）に変換される。波形整形された再生信号の振幅が一定となるように、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）１２は再生信号振幅の制御を行う。ＡＧＣ１２からの出力信号は、波形等化器１３により波形整形される。波形整形された再生信号は、アナログ−ディジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）１４によって標本化および量子化され、これにより、Ａ／Ｄ変換器１４からは、多値レベルを有するデータがディジタル信号として出力される。なお、Ａ／Ｄ変換器１４におけるサンプリング周波数は、後述するようにフィードバック制御されるＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）１５からの出力（再生クロック信号）に基づいて設定される。具体的にはＰＬＬ回路１５は、再生信号と再生クロック信号との位相誤差が全体として０に近づくようにフィードバック制御を行う。このようにして、再生信号から、再生信号と同期が取られた再生クロック信号が生成される。
【００５５】
Ａ／Ｄ変換器１４の出力信号は、ディジタルフィルタ１６に入力される。ディジタルフィルタ１６は、Ａ／Ｄ変換器１４の出力信号が所定のＰＲ等化となるように、入力信号によって周波数特性を変化させることができる。所定のＰＲ等化された再生信号は、ビタビ回路１７に入力される。ビタビ回路１７は、記録データの変調則と、ＰＲ等化特性から定まる状態遷移則にしたがって、前記所定のＰＲ等化された再生信号に対し最尤復号を行い、２値化データを出力する。
【００５６】
パターン検出回路１８は、ビタビ回路１７から出力された２値化データ中に、たとえば図４、図５のように分類されるマーク長とスペース長の組み合わせパターンが含まれているかどうかを検出する。例えば、自己マーク長が４Ｔで、先行するスペース長が３Ｔのパターンが検出された場合には、３ｓ４ｍを示す検出フラグを、信号品質評価回路１９へ出力する。信号品質評価回路１９は、ディジタルフィルタ１６からのＰＲ等化された信号から、ビタビアルゴリズムで演算された差分メトリックを求め、とりうる２つのパスのうちから１つのパスを選択した際の信頼性を求める。選択した結果が、図４、図５のマーク長とスペース長の組み合わせのうちのいずれであるかをパターン検出回路１８からの入力信号をもとに判定する。図４、図５のうちいずれのパターンであるかの情報と、検出されたパターンの信頼性とを、エッジシフト検出回路２０に出力する。
【００５７】
エッジシフト検出回路２０は、信号品質評価回路１９からの検出パターンの情報をもとに、マーク長とスペース長の組み合わせごとに、所定の領域分の信頼性の情報の平均値と、ばらつき（標準偏差）を求める。平均値は、現在の記録パラメータで形成された記録マークのエッジが理想的なマーク位置から定常的にずれている量を示している。検出された信頼性情報の平均値を、エッジシフト量と呼ぶこととする。得られたエッジシフト量と、標準偏差を、ＤＲＡＭ２２へ出力する。
【００５８】
一方、アシンメトリ検出回路２１は、Ａ／Ｄ変換器の出力から、再生信号の非対称性（アシンメトリ）を求め、検出結果をＤＲＡＭ２２へ出力する。アシンメトリ検出回路の具体的な構成を図６に示す。再生信号の上側の最大値を検出するピーク包絡電圧検出回路２３と、下側の最小値を検出するボトム包絡電圧検出回路２４と、後述の積分回路２６の出力から定まるしきい値を用いて、再生信号を２値化するコンパレータ２５と、コンパレータ２５の出力結果から再生信号の中心電圧を求める積分回路２６と、ピーク包絡電圧検出回路２３と、下側の最小値を検出するボトム包絡電圧検出回路２４と、積分回路２６の出力から、再生信号のアシンメトリ量を求めるアシンメトリ検出回路２７を備えている。
【００５９】
図７は、アシンメトリ波形の例を示しており、検出されたピーク包絡電圧Ｖｐと、ボトム包絡電圧Ｖｂと、再生信号の中心電圧Ｖｃとから、[数１]を用いてアシンメトリを計算することができる。
【００６０】
【数１】
2009070434.tif 000003
【００６１】
アシンメトリ検出回路２１は、得られたアシンメトリ量をＤＲＡＭ２２へ出力する。光ディスクコントローラ９は、ＤＲＡＭ２２に保持されたマーク長とスペース長の組み合わせごとの信頼性情報の平均値を用いて、後述のストラテジに関する記録パラメータの補正を行う。また、ＤＲＡＭ２２に保持されたアシンメトリ量をもとに、後述のパワーに関する記録パラメータの補正を行う。
【００６２】
次に、本実施の形態１による光ディスク装置１００における、一連の記録パラメータの補正動作について説明する。図８は、記録パラメータ補正処理の流れを示す図である。
【００６３】
まず、光ディスク装置１００へ記録動作を行うようコマンドが発行されると、光ディスクコントローラ９は、記録パラメータの学習を行う（ステップＳ１００）。通常は、光ディスクの内周と外周に試し記録領域が確保されており、この記録パラメータの学習は、未記録ディスクが装填された場合には、起動時に行われる場合が多い。
【００６４】
次に、初期記録パラメータの設定を行う（ステップＳ１０１）。これは、記録パラメータの学習（Ｓ１００）で得られた値を設定する。もしくは、あらかじめ光ディスクに記録された値を設定する。あるいは、同じ光ディスクに記録したときの履歴を読み出し記録パラメータ値を設定してもよい。また、記録パワー調整を行うための目標アシンメトリ量を設定しておく。なお、上記処理手順Ｓ１００、Ｓ１０１は、記録コマンドが発行された場合でなく、起動時に行われてもよい。
【００６５】
次に、データ記録を行い（ステップＳ１０２）、そののち記録終了判定（ステップＳ１０３）に進む。
【００６６】
記録終了判定Ｓ１０３では、記録コマンドによって指定された長さの記録が終了したか否かの判定を行う。記録データ量が少ない場合には、光ディスクや装置の状況が変化する可能性は低いので、記録終了判定Ｓ１０３で、終了処理へ分岐するが、記録データ量が多い場合には、次の状況変化が考えられる。すなわち、（１）光ディスク装置内の温度が変化する場合、（２）光ディスクの記録膜の特性がディスク半径によって変化する場合（あるいは、所定長の連続記録を行った場合）、（３）ＣＡＶ記録を行うため線速度が変化する場合、である。これら３つのいずれかの変化が起きた場合は、記録中断を行う（ステップＳ１０４）。そして、その後、記録中断前の記録パラメータを保持する（ステップＳ１０５）。
【００６７】
そして次に、再生動作に移る。この再生動作では、中断前に記録された領域を再生し、再生信号からアシンメトリ量と、エッジシフト量を測定する（ステップＳ１０６）。そして、検出されたアシンメトリ量と、目標アシンメトリ設定値とのずれ量を求め、差が基準値内であれば、記録ストラテジ補正処理へ、基準値外であれば記録パワー補正処理へ分岐する（ステップＳ１０７）。
【００６８】
アシンメトリ量が基準値外であれば、前回の記録パワーと、検出されたアシンメトリ量から記録パワー補正演算を行う（ステップＳ１０８）。なお、この記録パワー補正演算Ｓ１０８の詳細については後述する。その後、更新された記録パワーを設定、もしくは記録中断前の記録パワー値を設定し（ステップＳ１０９）、その後ステップＳ１０２に戻り記録を再開する。
【００６９】
一方、アシンメトリ量が基準値内であれば、検出されたエッジシフト量から、検出シフト量が基準値以上であれば、該当する記録パラメータについて前回の記録ストラテジと、検出されたエッジシフト量に基づき補正演算を行う（ステップＳ１１０）。基準値内であれば、記録ストラテジの補正処理を行わない。なお、この記録ストラテジの補正演算Ｓ１１０の詳細については後述する。その後、更新された記録ストラテジを設定、もしくは記録中断前の記録ストラテジ値を設定し（ステップＳ１１１）、記録を再開する。
【００７０】
記録終了時には、終了前の記録パラメータを取得する（ステップＳ１１２）。取得された記録パラメータは、次回記録コマンドが発行された場合、初期記録パラメータの設定（ステップＳ１０１）で使用される。
【００７１】
次に、記録パワー補正演算（Ｓ１０８）の詳細について、図９、図１０を用いて説明する。
【００７２】
図９は、記録パワーＰｗと、アシンメトリ量の関係の例を示し、横軸に記録パワーＰｗ、縦軸に検出されるアシンメトリ量をプロットしたものである。記録パワーＰｗに対し、検出されるアシンメトリ量はほぼ単調増加する。直線近似すると傾きｇは、アシンメトリ量とパワーの変換係数となる。このような傾きは、記録パラメータ学習（Ｓ１００）で求めた係数を用いることも可能であるし、あらかじめディスクに記録された情報から変換係数を求めてもよい。
【００７３】
図１０は上記変換係数と検出されたアシンメトリ量とから記録パワーの補正処理を行う手順を示す。
【００７４】
まず、アシンメトリ目標値（ａｓｙｍ＿ｔａｒｇｅｔ）と、アシンメトリ測定値（ａｓｙｍｍｅｔｒｙ）との差Δａｓｙｍを求める（ステップＳ１５０）。次に、Δａｓｙｍが所定の範囲内であるかどうかを判定する（ステップＳ１５１）。Δａｓｙｍが所定の範囲内であれば、パワー補正が不要と判断し、記録再開時には記録中断前の記録パワーを使う（Ｓ１５３）。一方、Δａｓｙｍが所定の範囲外であれば、下記数式[数２]に従い記録パワーＰｗの補正計算を行う（ステップＳ１５２）。
【００７５】
【数２】
2009070434.tif 000004
【００７６】
ここで、Ｐw，ｎは補正前の記録パワー、Ｐw，ｎ＋１は補正後の記録パワー、Ｗは補正演算の重みを示す。Ｗは１以下の正数で、過剰なパワー補正を行わないように適切な値を設定する。
【００７７】
次に、補正後の記録パワーが上限値を越えているかどうかを判定する（ステップＳ１５４）。上限値を超えていなければ、記録再開後の記録パワーとしてＰw，ｎ＋１を使用する（ステップＳ１５５）。一方、上限値を超えている場合には、記録再開後の記録パワーとして上限値を使用する（ステップＳ１５６）。
【００７８】
なお、本実施の形態１では、アシンメトリ量と記録パワーとの関係を用いて記録パワーの補正を行う例を示したが、アシンメトリ量の代わりに、変調度やβ値を用いても同様の補正処理を行うことができる。
【００７９】
次に、記録ストラテジ補正演算（ステップＳ１１０）の詳細について、図１１、図１２、図１３、図１４を用いて説明する。
【００８０】
図１１は、２Ｔｓ３Ｔｍの記録パターンを書き込む場合の記録パルス形状を示している。図１１では、始端エッジが時間軸方向に正方向（図１１では右側）へ変化する場合に、記録ストラテジ設定値を正としている。
【００８１】
ｄＴtopを正に変化させた場合には記録マークの始端エッジが右方向に移動し、形成される３Ｔマーク長は短くなる。逆にｄＴtopを負に変化させた場合には記録マークの始端エッジは左方向に移動し、形成される３Ｔマーク長は長くなる。エッジシフト検出回路２０から出力されるエッジシフト量は、ｄＴtopが０の場合は、０となり、理想的な場合には標準偏差σをもつ正規分布となる。ｄＴtopが正の場合は、エッジシフト量は負の値をとる正規分布となる。逆にｄＴtopが負の場合は、エッジシフト量は正の値をとる正規分布となる。なお、記録マークが大きくなる方向を正方向としている。
【００８２】
図１２は、記録パルスのマーク始端位置を決定するｄＴtopを変化させた場合に検出されるエッジシフト量を示している。図１２に示すように、記録ストラテジｄＴtopに対し、検出されるエッジシフト量は単調減少する。検出されるエッジシフト量を０となるように記録ストラテジｄＴtopを補正すれば、記録ストラテジの最適化を図ることができる。
【００８３】
図１３は、３Ｔｍ３Ｔｓの記録パターンを書き込む場合の記録パルス形状を示している。図１３では、終端エッジが時間軸方向に正方向（図１３では右側へ）へ変化する場合に、記録ストラテジ設定値を正としている。
【００８４】
Ｔlpを正に変化させた場合には、記録マークの終端エッジは右方向に移動し、形成される３Ｔマーク長は長くなる。逆にＴlpを負に変化させた場合には、記録マークの終端エッジは左方向に移動し、形成される３Ｔマーク長は短くなる。エッジシフト検出回路２０から出力されるエッジシフト量は、Ｔlpが０の場合には、０となり、理想的な場合には標準偏差σをもつ正規分布となる。Ｔlpが正の場合には、エッジシフト量は正の値をとる正規分布となる。逆にＴlpが負の場合には、エッジシフト量は負の値をとる正規分布となる。
【００８５】
図１４は、記録パルスのマーク始端位置を決定するＴlpを変化させた場合に検出されるエッジシフト量を示している。図１４に示すように、記録ストラテジＴlpに対し、検出されるエッジシフト量は単調増加する。記録ストラテジｄＴtopと同様に検出されるエッジシフト量を０となるように記録ストラテジＴlpを補正すれば、記録ストラテジの最適化を図ることができる。
【００８６】
図１２、図１４で示すように、記録ストラテジとエッジシフト量との間には単調変化の関係があるので、アシンメトリ量と同様に直線近似すると、傾きｇはエッジシフト量と記録ストラテジの変換係数となる。このような傾きは、記録パラメータ学習（ステップＳ１００）で求めた係数を用いることも可能であるし、光ディスク装置にあらかじめ設定された変換係数を用いてもよい。
【００８７】
図１５は、変換係数と、検出されたエッジシフト量とから、マーク始端の記録ストラテジ補正処理を行う手順を示す図である。
【００８８】
まず、すべてのマーク長とスペース長の組み合わせについて、Δｅｄｇｅｓｈｉｆｔが所定の範囲内であるかどうかを判定する（ステップＳ１６１）、Δｅｄｇｅｓｈｉｆｔが所定の範囲内であれば、ストラテジ補正が不要と判断し、記録再開時には記録中断前の記録ストラテジを使う（ステップＳ１６３）。一方、Δｅｄｇｅｓｈｉｆｔが所定の範囲外であれば、下記数式[数３]に従い記録ストラテジｄＴtopの補正計算を行う（ステップＳ１６２）。
【００８９】
【数３】
2009070434.tif 000005
【００９０】
ここで、ｄＴtop，ｎは補正前の記録ストラテジ、ｄＴtop，ｎ＋１は補正後の記録ストラテジ、Ｗは補正演算の重みを示す。Ｗは１以下の正数で、過剰なストラテジ補正を行わないように適切な値を設定する。
【００９１】
つぎに補正後の記録ストラテジが上限値および下限値を越えているかどうかを判定する（ステップＳ１６４）。所定範囲に収まっている場合は、記録再開後の記録ストラテジとしてｄＴtop，ｎ＋１を使用する（ステップＳ１６５）。一方、所定範囲を超えている場合は、記録再開後の記録ストラテジとして上限値または下限値を使用する（ステップＳ１６６）。
【００９２】
図１６は、マーク始端の記録ストラテジ補正処理と同様に、変換係数と、検出されたエッジシフト量とから、マーク終端の記録ストラテジ補正の処理手順を示す図である。マーク終端の記録ストラテジ補正は、図１５によるマーク始端の記録ストラテジ補正処理とほぼ同じであるが、変換係数の符号が始端エッジの場合と逆であるので、数式[数３]中の符号も反転する必要があり、下記数式[数４]を用いる。
【００９３】
【数４】
2009070434.tif 000006
【００９４】
ここで、Ｔlp，ｎは補正前の記録ストラテジ、Ｔlp，ｎ＋１は補正後の記録ストラテジ、Ｗは補正演算の重みを示す。なお、本実施の形態１ではエッジシフト量と、記録ストラテジｄＴtop、及びＴlpとの関係を用いて記録ストラテジの補正を行う例を示したが、ｄＴtop、及びＴlpの代わりに、Ｔtop、Ｔtmp、ｄＴsを用いても同様の補正処理を行うことができる。
【００９５】
図１７、図１８はエッジシフト量の検出結果例を示す図である。
【００９６】
図１７は、マーク始端側のエッジシフト量の分布を示している。図１７では３Ｔｓ４Ｔｍの分布の中心がずれていてエッジシフト量が負の値をとっている。その他のマーク始端位置は正しい結果を示している。本実施の形態１では、数式[数３]により、３Ｔｓ４Ｔｍの記録ストラテジは現在の値よりも小さくなるよう補正される。これにより、マーク長が長くなるよう記録パルス始端位置が制御されることになる。
【００９７】
図１８はマーク終端側のエッジシフト量の分布を示している。図１８では５Ｔｍ３Ｔｓの中心がずれていてエッジシフト量が正の値をとっている。その他のマーク始端位置は正しい結果を示している。本実施の形態１では、数式[数４]により、５Ｔｍ３Ｔｓの記録ストラテジは現在の値よりも小さくなるよう補正される。これにより、マーク長が短くなるよう記録パルス終端位置が制御されることになる。
【００９８】
次に、本実施の形態１の光ディスク装置１００における、上記記録パラメータの補正動作の実施タイミングについて説明する。
【００９９】
図１９は、図８で示す記録パラメータの補正処理手順を行った場合のタイミングチャートを示している。
【０１００】
記録コマンドが発行されると、所定長の単位で記録動作が行われる。その後、（１）光ディスク装置内の温度が変化する場合、（２）光ディスクの記録膜の特性がディスク半径によって変化する場合、（３）ＣＡＶ記録を行うため線速度が変化する場合、のような変化が生じた場合には、記録を中断し、記録パラメータ補正処理が行われる。
【０１０１】
補正処理には、まずアシンメトリ測定と、エッジシフト測定が行われ、つぎに検出されたアシンメトリ量と、エッジシフト量に基づいて、記録パワーと、記録ストラテジの補正処理が行われる。記録パワーと、記録ストラテジの更新を行なった後に、記録を再開する。再び光ディスク装置の環境変化が生じると、記録を中断し、記録パラメータの補正を行う。必要なデータ記録が完了すると、記録を終了し、終了直前の記録パラメータがつぎの記録動作のために保持される。
【０１０２】
ここで、光ディスク装置が標準速度で記録を行う場合には、記録動作にかかる処理時間のうち、記録パラメータ補正の演算処理に必要な時間は支配的ではない。しかし、光ディスク装置が高倍速記録を行う場合には、単位長さを記録する時間あるいは、単位長さを再生（測定）する時間は、記録倍速、再生倍速に依存して短縮される。しかしながら補正処理にかかる時間は光ディスク装置のＣＰＵの処理能力に依存するので、光ディスク装置が高倍速となっても同じ時間が必要となる。したがって頻繁に記録パラメータ補正が行われると実効的な記録レートが低下してしまう。
【０１０３】
そこで、本実施の形態１による光ディスク装置１００では、図２０のように、高倍速記録時には、記録パラメータの補正を行う際に、あらかじめ演算処理にかかる時間だけ、中断処理を早める。すなわち、演算処理にかかる時間だけ早めにいったん記録を中断し、直前の記録領域を再生し、アシンメトリ量とエッジシフト量を測定し、記録を再開する。一方、測定結果から、記録パラメータ補正処理を記録と同時に行う。演算処理が終了すると、記録パラメータの補正を行い、更新された記録パラメータを用いて記録動作を継続する。このように演算処理と記録動作を同時に行うことで、補正処理にかかる時間を短縮することができ、実質的に記録レートの低下を防ぐことができる。
【０１０４】
なお図２０では、記録パラメータの補正を行う際に、あらかじめ演算処理にかかる時間だけ、中断処理を早めたが、中断処理を早めるのではなく、一旦記録動作を完了後に、直前の記録領域を再生し、アシンメトリ量とエッジシフト量を測定し、次の記録を行う。かつ該記録を行うのと同時に、上記測定結果から、記録パラメータ補正処理を行う。演算処理が終了すると、記録を中断して記録パラメータの補正を行い、更新された記録パラメータを用いて記録動作を再開する場合であっても、上記と同様の効果が得られる。
【０１０５】
以上のように、本実施の形態１の光ディスク装置によれば、温度やディスク特性、線速度が変化した場合に、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のアシンメトリ、及びエッジシフト量を測定し、該測定結果に応じて記録パラメータを更新し、該更新した記録パラメータでデータの記録を継続して行なうようにしたので、ユーザデータの記録中に、温度やディスク特性、線速度が変化した場合であっても、適応的な記録パラメータの補正を行うことができ、ＰＲＭＬ処理を前提として信頼性の高い記録マークを記録媒体上に形成することができる。
【０１０６】
また、記録を一旦停止し、停止直前の記録領域の再生信号のエッジシフト量とアシンメトリ量を測定し、測定終了後に記録を再開し、記録動作を行いながら、検出されたエッジシフト量とアシンメトリ量とに基づいて記録ストラテジの補正演算、及び記録パワーの補正演算を行い、演算結果が求まると記録パラメータ設定を更新し、更新された記録パラメータで記録動作を継続するようにしたので、高倍速記録時に頻繁に記録パラメータの補正を行う場合であっても、信頼性の高い記録マークを記録媒体上に形成することができ、かつ実効的な記録レートの低下を防止することができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０７】
本発明にかかる角速度一定で記録を行う光ディスク再生装置、及び記録パラメータの補正方法は、記録パワー、及び記録ストラテジの補正を、記録レートの低下を最小限に抑えながら実行できる点で有用である。また、ＣＡＶ記録を行う書換え型や、追記型光ディスク装置のみならず、ＣＬＶ記録を行う光ディスク装置にも適応でき、さらには同様の構成で再生パラメータの補正処理を行うことも可能である。また磁気ディスク等の磁気記録媒体の記録再生装置にも有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１０８】
【図１】従来の光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】書換型および追記型光ディスク装置の記録パルスの例を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態１による光ディスク装置１００の構成図である。
【図４】前記実施の形態１における、マーク長とスペース長との組ごとに設定される記録ストラテジの第１の分類例を示す図である。
【図５】前記実施の形態１における、マーク長とスペース長との組ごとに設定される記録ストラテジの第２の分類例を示す図である。
【図６】前記実施の形態１のディスク装置におけるアシンメトリ検出回路２１の構成図である。
【図７】アシンメトリ波形の例を示す図である。
【図８】前記実施の形態１における、記録パラメータ補正動作の処理を示すフロー図である。
【図９】記録パワーと、アシンメトリ量の関係を示す図である。
【図１０】前記実施の形態１における、記録パワーの補正処理を示すフロー図である。
【図１１】前記実施の形態１における、２Ｔｓ３Ｔｍの記録パターンを書き込む場合の記録パルス形状図である。
【図１２】前記実施の形態１における、マーク始端の記録パラメータを変化させた場合に検出されるエッジシフト量を示す図である。
【図１３】前記実施の形態１における、３Ｔｍ３Ｔｓの記録パターンを書き込む場合の記録パルス形状図である。
【図１４】前記実施の形態１における、マーク終端の記録パラメータを変化させた場合に検出されるエッジシフト量を示す図である。
【図１５】前記実施の形態１における、マークの始端の記録ストラテジ補正処理を示すフロー図である。
【図１６】前記実施の形態１における、マークの終端の記録ストラテジ補正処理を示すフロー図である。
【図１７】前記実施の形態１における、マークの始端側のエッジシフト量の検出結果を示す図である。
【図１８】前記実施の形態１における、マークの終端側のエッジシフト量の検出結果を示す図である。
【図１９】前記実施の形態１における、記録パラメータ補正処理を行う場合のタイミングチャートである。
【図２０】前記実施の形態１における、高倍速記録時の記録パラメータ補正処理と記録動作を同時に行う場合のタイミングチャートである。
【符号の説明】
【０１０９】
１００  光ディスク装置
１、８  光ディスク
２  光学ヘッド
３、１３  波形等化器
４、２５  コンパレータ
５  位相比較器
６  ＬＰＦ
７  ＶＣＯ
９  光ディスクコントローラ
１０  記録補償回路
１１  レーザ駆動回路
１２  ＡＧＣ
１４  Ａ／Ｄ変換器
１５  ＰＬＬ回路
１６  ディジタルフィルタ
１７  ビタビ回路
１８  パターン検出回路
１９  信号品質評価回路
２０  エッジシフト検出回路
２１  アシンメトリ検出回路
２２  ＤＲＡＭ
２３  ピーク側包絡電圧検出回路
２４  ボトム側包絡電圧検出回路
２６  積分回路
Ｓ１００  記録パラメータ学習
Ｓ１０１  目標アシンメトリ設定、初期記録パラメータ設定
Ｓ１０２  記録
Ｓ１０３  記録終了判定
Ｓ１０４  記録中断判定
Ｓ１０５  記録中断前記録パラメータ取得
Ｓ１０６  アシンメトリ測定、エッジシフト測定
Ｓ１０７  アシンメトリ基準値判定
Ｓ１０８  記録パワー補正計算
Ｓ１０９  記録パワー設定
Ｓ１１０  記録ストラテジ補正計算
Ｓ１１１  記録ストラテジ設定
Ｓ１１２  記録終了前記録パラメータ取得
Ｓ１５０  アシンメトリ目標値と測定値の差分算出
Ｓ１５１  パワー補正処理要否判定
Ｓ１５２  記録パワー補正計算
Ｓ１５３  記録中断前の記録パワー設定
Ｓ１５４  記録パワー補正値異常判定
Ｓ１５５  記録パワー補正値を記録パワーへ設定
Ｓ１５６  記録パワー上限値を記録パワーへ設定
Ｓ１６１、Ｓ１７１  記録ストラテジ補正処理要否判定
Ｓ１６２  記録ストラテジ補正計算（マーク始端側）
Ｓ１６３、Ｓ１７３  記録中断前の記録ストラテジ設定
Ｓ１６４、Ｓ１７４  記録ストラテジ補正値異常判定
Ｓ１６５、Ｓ１７５  記録ストラテジ補正値を記録ストラテジへ設定
Ｓ１６６、Ｓ１７６  記録ストラテジ上下限値を記録ストラテジへ設定
Ｓ１７２  記録ストラテジ補正計算（マーク終端側）
【図１】
2009070434.tif 000007
【図２】
2009070434.tif 000008
【図３】
2009070434.tif 000009
【図４】
2009070434.tif 000010
【図５】
2009070434.tif 000011
【図６】
2009070434.tif 000012
【図７】
2009070434.tif 000013
【図８】
2009070434.tif 000014
【図９】
2009070434.tif 000015
【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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