(57)【要約】【課題】光ディスク上の欠陥と、光ディスク装置に加えられた外乱とを区別し欠陥のみを検出し、光スポットが欠陥通過時に安定な光スポットの位置制御が可能となる技術を提供する。【解決手段】周区間分割信号生成手段１１０により光ディスク１０１の１周を複数の周区間に分割し、欠陥有無補正手段１１１は周区間単位で欠陥有無を決定し、欠陥有がある周区間において制御手段１５０は光スポットの位置制御をホールドする。【選択図】図１
2009283050.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに光スポットを照射して情報を記録または再生する光ピックアップと、
前記光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、
前記反射光検出手段の出力に基づいて前記光ディスクに対して前記光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御手段と、
前記反射光検出手段の出力から前記光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出手段と、
前記光ディスクを回転させる回転手段と、
前記回転手段の出力から回転数を検出し前記光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成手段と、
前記周区間分割信号生成手段の出力によって分割された周区間と、前記周区間分割信号生成手段の出力に基づいて各々の前記周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正手段とを備え、
前記欠陥有無補正手段の出力から前記制御手段をホールドすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクに光スポットを照射して情報を記録または再生する光ピックアップと、
前記光ディスクを回転させる回転手段と、
前記光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、
前記反射光検出手段の出力に基づいて前記光ディスクに対して前記光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御手段と、
前記反射光検出手段の出力から前記光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出手段と、
前記回転手段の出力から前記回転手段の回転数を表すパルスを検出する回転パルス検出手段と、
前記回転パルス検出手段の出力に基づいて前記光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成手段と、
前記周区間分割信号生成手段の出力によって分割された周区間と、前記周区間分割信号生成手段の出力に基づいて各々の前記周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正手段とを備え、
前記欠陥有無補正手段の出力から前記制御手段のゲインを下げることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記欠陥有無補正手段は１周前あるいは複数周前の同一の前記周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の前記周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された前記周区間に加えて所定周区間前から欠陥有とすることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記欠陥有無補正手段は１周前あるいは複数周前の同一の前記周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の前記周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された前記周区間に加えて所定時間前から欠陥有とすることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御手段を非動作とし、前記光ピックアップを前記光ディスクに対して所定距離以上垂直方向または半径方向に移動し、前記制御手段を動作させる場合は、前記制御手段の動作後の１周以上は前記欠陥有無補正手段に基づいて欠陥有無の決定をしないことを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ディスクはウォブリングするトラックを有し、
前記反射光検出手段の出力から前記ウォブリングするトラックのウォブリング成分を検出するウォブル検出手段と、
前記ウォブル検出手段の出力からウォブル欠落を検出するウォブル欠落検出手段を備え、
前記欠陥有無検出手段は前記ウォブル欠落検出手段に基づいて欠陥有無検出を行うことを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記反射光検出手段の出力から反射光量を検出する光量検出手段を備え、
前記光量検出手段の出力が所定値以下である場合には前記欠陥有無検出手段は欠陥無とすることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記欠陥有無補正手段は各々の前記周区間における欠陥有無検出手段の出力に基づいて欠陥有の周方向の長さを測定する欠陥周長さ測定手段と、
前記欠陥周長さ測定手段の出力と欠陥周長さ判別値とを比較する欠陥周長さ判別手段とを備え、
前記欠陥周長さ判別手段において前記欠陥周長さ測定手段の出力が欠陥周長さ判別値以上の場合に各々の前記周区間を欠陥有と決定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記制御手段を動作させる場合に、前記欠陥周長さ判別手段は所定周だけ前記周長さ判別値を小さくすることを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記欠陥有無補正手段は、前記光ディスクの複数周で各々の前記周区間における前記欠陥有無検出手段の出力を積算し径方向の欠陥長さを測定する欠陥径長さ測定手段と、
前記欠陥径長さ測定手段の出力と欠陥径長さ判別値とを比較する欠陥径長さ判別手段とを備え、
前記欠陥径長さ判別手段において前記欠陥径長さ測定手段の出力が欠陥径長さ判別値以上の場合に各々の前記周区間を欠陥有と決定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記制御手段を動作させる場合に、前記欠陥径長さ判別手段は所定周だけ前記径長さ判別値を小さくすることを特徴とする請求項１０記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記制御手段を非動作とし、前記光ピックアップを前記光ディスクに対して所定距離以上だけ垂直方向および／または半径方向に移動し、前記制御手段を動作させる場合は、前記欠陥径長さ測定手段は欠陥長さを再度測定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記欠陥有無補正手段は、１周前で欠陥有と決定された前記周区間において現在の周の同じ前記周区間において欠陥無と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ前記周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記欠陥有無補正手段は、１周前で欠陥無と決定された前記周区間において現在の周の同じ前記周区間において欠陥有と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ前記周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記制御手段を非動作とし、前記光ピックアップを前記光ディスクに対して垂直方向および／または半径方向に移動し、前記制御手段を動作させる場合は、目標周から所定周だけ前から前記制御手段を動作させることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記光ディスクを半径方向に複数の径区間に分割し、前記欠陥有無補正手段は各々の前記径区間において各々の前記周区間の欠陥有無を格納する欠陥格納メモリを備え、
前記欠陥格納メモリは走査した前記径区間における各々の前記周区間における欠陥有無を格納することを特徴とする請求項１または請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記欠陥有無補正手段は、前記制御手段を動作させる場合は前記欠陥格納メモリを参照することを特徴とする請求項１６記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
光ディスクに対し情報を記録または再生する光ディスク装置における光ディスク上の欠陥通過方法であって、
前記光ディスクに照射した光スポットの反射光を検出する反射光検出ステップと、
前記反射光検出ステップの出力に基づいて前記光ディスクに対して前記光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御ステップと、
前記反射光検出ステップの出力から前記光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出ステップと、
前記光ディスクを回転させる回転ステップと、
前記回転ステップの出力から回転数を検出し前記光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成ステップと、
前記周区間分割信号生成ステップの出力によって分割された周区間と、前記周区間分割信号生成ステップの出力に基づいて各々の前記周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正ステップとを含み、
前記欠陥有無補正ステップの出力から前記制御ステップをホールドすることを特徴とする光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項１９】
光ディスクに対し情報を記録または再生する光ディスク装置における光ディスク上の欠陥通過方法であって、
前記光ディスクに照射した光スポットの反射光を検出する反射光検出ステップと、
前記反射光検出ステップの出力に基づいて前記光ディスクに対して前記光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御ステップと、
前記反射光検出ステップの出力から前記光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出ステップと、
前記光ディスクを回転させる回転ステップと、
前記回転ステップの出力から回転数を検出し前記光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成ステップと、
前記周区間分割信号生成ステップの出力によって分割された周区間と、前記周区間分割信号生成ステップの出力に基づいて各々の前記周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正ステップとを含み、
前記欠陥有無補正ステップの出力から前記制御ステップのゲインを下げることを特徴とする光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２０】
前記欠陥有無補正ステップは１周前あるいは複数周前の同一の前記周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の前記周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された前記周区間に加えて所定周区間前から欠陥有とすることを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２１】
前記欠陥有無補正ステップは１周前あるいは複数周前の同一の前記周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の前記周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された前記周区間に加えて所定時間前から欠陥有とすることを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２２】
前記制御ステップを非動作とし、前記光スポットを前記光ディスクに対して所定距離以上垂直方向または半径方向に移動し、前記制御ステップを動作させる場合は、前記制御ステップの動作後の１周以上は前記欠陥有無補正ステップに基づいて欠陥有無の決定をしないことを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２３】
前記光ディスクはウォブリングするトラックを有し、
前記反射光検出ステップの出力から前記ウォブリングするトラックのウォブリング成分を検出するウォブル検出ステップと、
前記ウォブル検出ステップの出力からウォブル欠落を検出するウォブル欠落検出ステップを含み、
前記欠陥有無検出ステップは前記ウォブル欠落検出ステップに基づいて欠陥有無検出を行うことを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２４】
前記反射光検出ステップの出力から反射光量を検出する光量検出ステップを含み、
前記光量検出ステップの出力が所定値以下である場合には前記欠陥有無検出ステップは欠陥無とすることを特徴とする請求項２３記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２５】
前記欠陥有無補正ステップは各々の前記周区間における欠陥有無検出ステップの出力に基づいて欠陥有の周方向の長さを測定する欠陥周長さ測定ステップと、
前記欠陥周長さ測定ステップの出力と欠陥周長さ判別値とを比較する欠陥周長さ判別ステップとを含み、
前記欠陥周長さ判別ステップにおいて前記欠陥周長さ測定ステップの出力が欠陥周長さ判別値以上の場合に各々の前記周区間を欠陥有と決定することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２６】
前記制御ステップを動作させる場合に、前記欠陥周長さ判別ステップは所定周だけ前記周長さ判別値を小さくすることを特徴とする請求項２４記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２７】
前記欠陥有無補正ステップは、前記光ディスクの複数周で各々の前記周区間における前記欠陥有無検出ステップの出力を積算し径方向の欠陥長さを測定する欠陥径長さ測定ステップと、
前記欠陥径長さ測定ステップの出力と欠陥径長さ判別値とを比較する欠陥径長さ判別ステップとを含み、
前記欠陥径長さ判別ステップにおいて前記欠陥径長さ測定ステップの出力が欠陥径長さ判別値以上の場合に各々の前記周区間を欠陥有と決定することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２８】
前記制御ステップを動作させる場合に、前記欠陥径長さ判別ステップは所定周だけ前記径長さ判別値を小さくすることを特徴とする請求項２７記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項２９】
前記制御ステップを非動作とし、前記光スポットを前記光ディスクに対して所定距離以上だけ垂直方向および／または半径方向に移動し、前記制御手段を動作させる場合は、前記欠陥径長さ測定ステップは欠陥長さを再度測定することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項３０】
前記欠陥有無補正ステップは、１周前で欠陥有と決定された前記周区間において現在の周の同じ前記周区間において欠陥無と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ前記周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項３１】
前記欠陥有無補正ステップは、１周前で欠陥無と決定された前記周区間において現在の周の同じ前記周区間において欠陥有と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ前記周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項３２】
前記制御ステップを非動作とし、前記光スポットを前記光ディスクに対して垂直方向および／または半径方向に移動し、前記制御手段を動作させる場合は、目標周から所定周だけ前から前記制御ステップを動作させることを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項３３】
前記光ディスクを半径方向に複数の径区間に分割し、
前記欠陥有無補正ステップは各々の前記径区間において各々の前記周区間の欠陥有無を格納する欠陥格納メモリステップを含み、
前記欠陥格納メモリステップは走査した前記径区間における各々の前記周区間における欠陥有無を格納することを特徴とする請求項１８または請求項１９記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【請求項３４】
前記欠陥有無補正ステップは、前記制御ステップを動作させる場合は前記欠陥格納メモリステップを参照することを特徴とする請求項３３記載の光ディスク上の欠陥通過方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク上の欠陥を検出し、欠陥上を光スポットが安定に通過する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、高精細な画像などを記録する高密度な媒体としてブルーレイ・ディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）が市場に出始めた。高密度を実現するために、開口度をＤＶＤ−Ｒでは約０．６であったものを、ブルーレイ・ディスクでは約０．８５としている。開口度とは光ビームの絞り度を表す指標であり、これが高いほど光ビームが絞られ高密度を実現できる。しかし、開口度を大きくすると、光ディスクの信号面に対して垂直な方向に光ディスクが傾いた時の収差は開口度の３乗に比例するため、ブルーレイ・ディスクではこの収差が大きくなる。ただし、この収差は光ディスクの信号面とカバー層の厚さ（以下、基材厚と称す）に反比例する特性があるので、ＤＶＤ−Ｒでは基材厚が約０．６ミリであったものを、ブルーレイ・ディスクでは０．１ミリとしている。また同様に、高密度化を実現するために、トラックピッチをＤＶＤ−Ｒの場合は約０．７４ミクロンであったものを、ブルーレイ・ディスクでは０．３２ミクロンとしている。
【０００３】
今後、ブルーレイ・ディスクの普及を迎えるにあたり、光ディスク装置とともに光ディスクにもコストダウンが必須である。
【０００４】
光ディスクのコストダウンの一つに、カバー層をスピンコート法により製膜する手法がある。スピンコート法は、まず回転するディスクの最内周部に紫外線硬化剤を含む液体を滴下する。次に、遠心力により滴下した液体を内周から外周に伸ばす。最後に、伸ばした液体に紫外線を照射し硬化させ所望の膜厚を持つカバー層を製膜する。この手法は、ＤＶＤ−Ｒなどにも用いられている手法であり安価な製膜ができる。反面、液体中に気泡やゴミなどが混入しているとカバー層が歪み、いわゆる欠陥を形成する。
【０００５】
光ディスク装置は、光ディスクに照射した光ビームの反射光から制御信号を生成し、制御信号を用いて光ディスクの信号面に光スポットの集光を制御している。欠陥がブラック・ドット・オブジェクトのように全く光を通過させない場合は、反射光が帰らずに光スポットの制御ができない。また、欠陥が皺のようにカバー層が歪んでいる場合は、カバー層で光ビームが屈曲する。光ビームが屈曲すると、誤った位置に光スポットが集光され誤った位置信号を生成する。光ディスク装置はその誤った位置信号に追従し、最悪の場合は制御外れが発生する。制御外れが発生すると、再生中に画像が途切れたり、記録中に記録エラーが失敗したり、といった悪影響がある。
【０００６】
前述のようにブルーレイ・ディスクは基材厚がＤＶＤ−Ｒに比べて狭いため、カバー層での光スポットの大きさが小さい。つまり、同じ大きさの欠陥では、カバー層での光スポットの大きさに占める欠陥の大きさの割合がブルーレイ・ディスクの方がＤＶＤに比べて大きい。ゆえに、入射光および反射光への影響がブルーレイ・ディスクの方がＤＶＤに比べて大きい。このため、欠陥を検出し、通過もしくは回避する必要がある。
【０００７】
本発明に関連した従来技術として、国際公開第０１／０５２２４９号パンフレット（特許文献１）、および特開２００６−１０７６８３号公報（特許文献２）がある。
【０００８】
特許文献１に記載の技術では、光ディスク上のトラックに形成されたウォブリング成分を抽出したウォブル信号を検出する。ウォブル信号のピークエンベロープまたはボトムエンベロープの低下から欠陥を検出する。
【０００９】
また、特許文献２に記載の技術では、光ディスクを回転駆動させるスピンドルモータの回転に対応した回転制御パルスに基づいて、光ディスクの周方向を複数の分割ゾーンに分割し欠陥が存在する回転位置と回転制御パルスの周期から光ディスクの半径位置を特定し、特定した回転位置と半径位置において光スポットを欠陥から回避して移動させる。
【００１０】
また、欠陥上を光スポットが通過しやすくするために、光スポットの位置制御ゲインを下げる方法がある。
【特許文献１】国際公開第０１／０５２２４９号パンフレット
【特許文献２】特開２００６−１０７６８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかし、上述の従来技術では、欠陥検出が欠陥などディスクに起因して為されたか、振動などの外乱に起因して為されたかの区別が困難である。光スポットを欠陥から回避させると、回避した光ディスク位置で記録を行わないため、実際に記録データを記録する容量が減少する。もし欠陥検出が外乱に起因して為された場合に光スポットを欠陥から回避させて移動させると、本来は記録が可能な領域で記録を行わないことになる。
【００１２】
また、欠陥上を光スポットが通過しやすくするためには、光スポットの位置制御ゲインを下げる方が望ましい。外乱に対して光スポットが通過しやすくするためには、光スポットの位置制御ゲインを上げる方が望ましい。もし欠陥検出が外乱に起因して為された場合に光スポットの位置制御ゲインを下げると、外乱に対して制御ゲインが不足し制御外れが起こり得る。
【００１３】
本発明は上記に鑑みてなされたもので、光ディスク上の欠陥と振動などの外乱を区別して欠陥のみを欠陥検出し、もし欠陥がある場合でも制御外れが発生することなく光ディスクへの記録／再生が行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題点を解決するために、本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光スポットを照射して情報を記録または再生する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、反射光検出手段の出力に基づいて光ディスクに対して光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御手段と、反射光検出手段の出力から光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出手段と、光ディスクを回転させる回転手段と、回転手段の出力から回転数を検出し光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成手段と、周区間分割信号生成手段の出力によって分割された周区間と、周区間分割信号生成手段の出力に基づいて各々の周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正手段とを備え、欠陥有無補正手段の出力から制御手段をホールドすることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光スポットを照射して情報を記録または再生する光ピックアップと、光ディスクを回転させる回転手段と、光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、反射光検出手段の出力に基づいて光ディスクに対して光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御手段と、反射光検出手段の出力から光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出手段と、回転手段の出力から回転手段の回転数を表すパルスを検出する回転パルス検出手段と、回転パルス検出手段の出力に基づいて光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成手段と、周区間分割信号生成手段の出力によって分割された周区間と、周区間分割信号生成手段の出力に基づいて各々の周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正手段とを備え、欠陥有無補正手段の出力から制御手段のゲインを下げることを特徴とする。
【００１６】
また、さらに、欠陥有無補正手段は１周前あるいは複数周前の同一の周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された周区間に加えて所定周区間前から欠陥有とすることを特徴とする。
【００１７】
また、さらに、欠陥有無補正手段は１周前あるいは複数周前の同一の周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された周区間に加えて所定時間前から欠陥有とすることを特徴とする。
【００１８】
また、さらに、制御手段を非動作とし、光ピックアップを光ディスクに対して所定距離以上垂直方向または半径方向に移動し、制御手段を動作させる場合は、制御手段の動作後の１周以上は欠陥有無補正手段に基づいて欠陥有無の決定をしないことを特徴とする。
【００１９】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、光ディスクはウォブリングするトラックを有し、反射光検出手段の出力からウォブリングするトラックのウォブリング成分を検出するウォブル検出手段と、ウォブル検出手段の出力からウォブル欠落を検出するウォブル欠落検出手段を備え、欠陥有無検出手段はウォブル欠落検出手段に基づいて欠陥有無検出を行うことを特徴とする。
【００２０】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、反射光検出手段の出力から反射光量を検出する光量検出手段を備え、光量検出手段の出力が所定値以下である場合には欠陥有無検出手段は欠陥無とすることを特徴とする。
【００２１】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は各々の周区間における欠陥有無検出手段の出力に基づいて欠陥有の周方向の長さを測定する欠陥周長さ測定手段と、欠陥周長さ測定手段の出力と欠陥周長さ判別値とを比較する欠陥周長さ判別手段とを備え、欠陥周長さ判別手段において欠陥周長さ測定手段の出力が欠陥周長さ判別値以上の場合に各々の周区間を欠陥有と決定することを特徴とする。
【００２２】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を動作させる場合に、欠陥周長さ判別手段は所定周だけ周長さ判別値を小さくすることを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、光ディスクの複数周で各々の周区間における欠陥有無検出手段の出力を積算し径方向の欠陥長さを測定する欠陥径長さ測定手段と、欠陥径長さ測定手段の出力と欠陥径長さ判別値とを比較する欠陥径長さ判別手段とを備え、欠陥径長さ判別手段において欠陥径長さ測定手段の出力が欠陥径長さ判別値以上の場合に各々の周区間を欠陥有と決定する。
【００２４】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を動作させる場合に、欠陥径長さ判別手段は所定周だけ径長さ判別値を小さくすることを特徴とする。
【００２５】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を非動作とし、光ピックアップを光ディスクに対して所定距離以上だけ垂直方向および／または半径方向に移動し、制御手段を動作させる場合は、欠陥径長さ測定手段は欠陥長さを再度測定することを特徴とする。
【００２６】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、１周前で欠陥有と決定された周区間において現在の周の同じ周区間において欠陥無と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、１周前で欠陥無と決定された周区間において現在の周の同じ周区間において欠陥有と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする。
【００２８】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を非動作とし、光ピックアップを光ディスクに対して垂直方向および／または半径方向に移動し、制御手段を動作させる場合は、目標周から所定周だけ前から制御手段を動作させることを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、光ディスクを半径方向に複数の径区間に分割し、欠陥有無補正手段は各々の径区間において各々の周区間の欠陥有無を格納する欠陥格納メモリを備え、欠陥格納メモリは走査した径区間における各々の周区間における欠陥有無を格納することを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、制御手段を動作させる場合は欠陥格納メモリを参照することを特徴とする。
【発明の効果】
【００３１】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光スポットを照射して情報を記録または再生する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、反射光検出手段の出力に基づいて光ディスクに対して光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御手段と、反射光検出手段の出力から光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出手段と、光ディスクを回転させる回転手段と、回転手段の出力から回転数を検出し光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成手段と、周区間分割信号生成手段の出力によって分割された周区間と、周区間分割信号生成手段の出力に基づいて各々の周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正手段とを備え、欠陥有無補正手段の出力から制御手段をホールドすることを特徴とする。これにより、周区間単位に欠陥有無を決定するため光ディスク上の欠陥位置が特定できる。さらに、周区間単位に決定した補正後欠陥有無信号で補正後欠陥有とされた周区間に対して制御手段をホールドすることで欠陥の通過が容易となる。
【００３２】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに光スポットを照射して情報を記録または再生する光ピックアップと、光ディスクを回転させる回転手段と、光ディスクからの反射光を検出する反射光検出手段と、反射光検出手段の出力に基づいて光ディスクに対して光スポットを垂直方向および水平方向に制御する制御手段と、反射光検出手段の出力から光ディスク上の欠陥有無を検出する欠陥有無検出手段と、回転手段の出力から回転手段の回転数を表すパルスを検出する回転パルス検出手段と、回転パルス検出手段の出力に基づいて光ディスクの１周を複数の周区間に分割する信号を生成する周区間分割信号生成手段と、周区間分割信号生成手段の出力によって分割された周区間と、周区間分割信号生成手段の出力に基づいて各々の周区間の欠陥有無を決定する欠陥有無補正手段とを備え、欠陥有無補正手段の出力から制御手段のゲインを下げることを特徴とする。これにより、周区間単位に欠陥有無を決定するため光ディスク上の欠陥位置が特定できる。さらに、周区間単位に決定した補正後欠陥有無信号で補正後欠陥有とされた周区間に対して制御手段のゲインを下げることで欠陥の通過が容易となる。
【００３３】
また、さらに、欠陥有無補正手段は１周前あるいは複数周前の同一の周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された周区間に加えて所定周区間前から欠陥有とすることを特徴とする。これにより、欠陥有無検出手段に検出遅れがある場合でも、検出遅れで制御手段をホールドできない周区間で制御手段をホールドできる。同様に、検出遅れで制御手段の制御ゲインを下げることができない周区間で制御ゲインを下げられる。
【００３４】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は１周前あるいは複数周前の同一の周区間の欠陥有無に基づいて現在の周の各々の周区間の欠陥有無を決定し、欠陥有と決定された周区間に加えて所定時間前から欠陥有とすることを特徴とする。これにより、欠陥有無検出手段に検出遅れがある場合でも、検出遅れで制御手段をホールドできない周区間より所定時間先立って制御手段をホールドできる。同様に、検出遅れで制御手段の制御ゲインを下げることができない周区間より所定時間先立って制御ゲインを下げられる。
【００３５】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を非動作とし、光ピックアップを光ディスクに対して所定距離以上垂直方向または半径方向に移動し、制御手段を動作させる場合は、制御手段の動作後の１周以上は欠陥有無補正手段に基づいて欠陥有無の決定をしないことを特徴とする。これにより、欠陥有無補正手段が前周までの欠陥有無検出手段の出力に基づいて各周区間での欠陥有無を決定する場合に、欠陥有無の誤検出や未検出を防止できる。
【００３６】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、光ディスクはウォブリングするトラックを有し、反射光検出手段の出力からウォブリングするトラックのウォブリング成分を検出するウォブル検出手段と、ウォブル検出手段の出力からウォブル欠落を検出するウォブル欠落検出手段を備え、欠陥有無検出手段はウォブル欠落検出手段に基づいて欠陥有無検出を行うことを特徴とする。これにより、光ディスクからの反射光量変化が少ない欠陥に対しても欠陥有無検出が可能となる。
【００３７】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、反射光検出手段の出力から反射光量を検出する光量検出手段を備え、光量検出手段の出力が所定値以下である場合には欠陥有無検出手段は欠陥無とすることを特徴とする。これにより、光量変化が大きい欠陥と光量変化が小さい欠陥とを区別できる。
【００３８】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は各々の周区間における欠陥有無検出手段の出力に基づいて欠陥有の周方向の長さを測定する欠陥周長さ測定手段と、欠陥周長さ測定手段の出力と欠陥周長さ判別値とを比較する欠陥周長さ判別手段とを備え、欠陥周長さ判別手段において欠陥周長さ測定手段の出力が欠陥周長さ判別値以上の場合に各々の周区間を欠陥有と決定することを特徴とする。これにより、欠陥の周方向の長さから欠陥検出が可能となり、欠陥有無補正手段での欠陥検出の精度が上がる。
【００３９】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を動作させる場合に、欠陥周長さ判別手段は所定周だけ周長さ判別値を小さくすることを特徴とする。これにより、制御手段を動作後、所定周だけ欠陥有無補正手段での欠陥検出が容易となる。
【００４０】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、光ディスクの複数周で各々の周区間における欠陥有無検出手段の出力を積算し径方向の欠陥長さを測定する欠陥径長さ測定手段と、欠陥径長さ測定手段の出力と欠陥径長さ判別値とを比較する欠陥径長さ判別手段とを備え、欠陥径長さ判別手段において欠陥径長さ測定手段の出力が欠陥径長さ判別値以上の場合に各々の周区間を欠陥有と決定する。これにより、複数周の同じ周区間の欠陥有無を判別することで、欠陥か外乱かの区別が可能となる。
【００４１】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を動作させる場合に、欠陥径長さ判別手段は所定周だけ径長さ判別値を小さくすることを特徴とする。これにより、制御手段を動作後、所定周だけは欠陥有無補正手段での欠陥検出が容易となる。
【００４２】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を非動作とし、光ピックアップを光ディスクに対して所定距離以上だけ垂直方向および／または半径方向に移動し、制御手段を動作させる場合は、欠陥径長さ測定手段は欠陥長さを再度測定することを特徴とする。これにより、欠陥有無補正手段が前周までの欠陥有無検出手段の出力に基づいて各周区間での欠陥有無を決定する場合に、欠陥有無の誤検出や未検出を防止できる。
【００４３】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、１周前で欠陥有と決定された周区間において現在の周の同じ周区間において欠陥無と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする。これにより、光ディスクの半径方向に対して、欠陥有無が頻繁に欠陥有、欠陥無、欠陥有となるようなで欠陥あっても、１つの欠陥とみなすことができる。
【００４４】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、１周前で欠陥無と決定された周区間において現在の周の同じ周区間において欠陥有と決定された場合は、現在の周から所定周だけ同じ周区間においては欠陥有と決定することを特徴とする。これにより、光ディスクの半径方向に対して、欠陥有無が頻繁に欠陥無、欠陥有、欠陥無となるようなで欠陥あっても、１つの欠陥とみなすことができる。
【００４５】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、制御手段を非動作とし、光ピックアップを光ディスクに対して垂直方向および／または半径方向に移動し、制御手段を動作させる場合は、目標周から所定周だけ前から制御手段を動作させることを特徴とする。これにより、目標位置の欠陥有無が不明な場合に対応が可能となる。
【００４６】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、光ディスクを半径方向に複数の径区間に分割し、欠陥有無補正手段は各々の径区間において各々の周区間の欠陥有無を格納する欠陥格納メモリを備え、欠陥格納メモリは走査した径区間における各々の周区間における欠陥有無を格納することを特徴とする。これにより、光ディスク上の欠陥位置が特定できる。
【００４７】
また、本発明の光ディスク装置は、さらに、欠陥有無補正手段は、制御手段を動作させる場合は欠陥格納メモリを参照することを特徴とする。これにより、制御手段を動作させる前に、逐次欠陥有無を判別する動作が不要となり、余計な時間が削減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４８】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を用いて説明する。
【００４９】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成を示したブロック図である。
【００５０】
光ディスク１０１は光スポットにより情報を再生または記録する媒体である。光ピックアップ１０２はレーザ光源（図示しない）から出射した光を対物レンズ（図示しない）などの光学部品により集光し、光ディスク１０１上に光スポットを形成する。さらに、光ピックアップ１０２は光ディスク１０１からの反射光を反射光検出手段（図示しない）によって受光する。反射光検出手段（図示しない）の出力は、制御手段１５０、および欠陥有無検出手段１０６に入力される。欠陥有無検出手段１０６の出力は欠陥有無補正手段１１１に入力される。回転手段１０３は光ディスク１０１を回転させる。回転手段１０３の出力は周区間分割信号生成手段１１０に入力される。周区間分割信号生成手段１１０の出力は欠陥有無補正手段１１１に入力される。欠陥有無補正手段１１１の出力は制御手段１５０に入力される。
【００５１】
制御手段１５０は、反射光検出手段（図示しない）の出力から光スポットを光ディスク１０１の信号面に対して垂直なフォーカス方向、および光ディスク１０１上のトラックに対して垂直なトラッキング方向に制御する。
【００５２】
より詳細には、反射光検出手段（図示しない）の出力から、光スポットと光ディスク１０１の信号面に対して垂直な方向の位置ずれ信号（以下、フォーカスエラー信号と称す）をフォーカスエラー検出手段１０４により検出する。フォーカスエラー検出手段１０４の出力は垂直方向制御手段１０７に入力される。垂直方向制御手段１０７は、入力信号に位相補償などを行い、制御信号を出力する。垂直方向制御手段１０７の出力は、駆動回路（図示しない）を経て、光ピックアップ１０２に載せられたフォーカスアクチュエータ（図示しない）に入力され、対物レンズ（図示しない）を光ディスク１０１の信号面に対して垂直な方向に動かす。
【００５３】
トラッキング方向も同様に、反射光検出手段（図示しない）の出力から、光スポットと光ディスク１０１上のトラックに対して垂直な方向の位置ずれ信号（以下、トラッキングエラー信号と称す）をトラッキングエラー検出手段１０５により検出する。トラッキングエラー検出手段１０５の出力は水平方向制御手段１０８に入力される。水平方向制御手段１０８は、入力信号に位相補償などを行い、制御信号を出力する。水平方向制御手段１０８の出力は、駆動回路（図示しない）を経て、光ピックアップ１０２に載せられたトラッキングアクチュエータ（図示しない）に入力され、対物レンズ（図示しない）を光ディスク１０１上のトラックに対して垂直な方向に動かす。
【００５４】
欠陥有無検出手段１０６は、光ディスク１０１上の欠陥有または欠陥無を検出し、欠陥有の場合にＨを、欠陥無の場合にＬを出力する。
【００５５】
図２は、光ディスク１０１上のトラックに形成されたウォブリング成分を検出して欠陥有または欠陥無を検出する欠陥有無検出手段１０６のブロック図を示す。
【００５６】
図２において、反射光検出手段（図示しない）の出力は、ウォブル検出手段２０１と光量検出手段２０５に入力される。ウォブル検出手段２０１の出力は、ウォブル欠落検出手段２０２に入力される。ウォブル欠落検出手段２０２の出力は、光量変化欠陥検出スイッチ２０７に入力される。検出無設定手段２０８の出力は、光量変化欠陥検出スイッチ２０７に入力される。光量検出手段２０５の出力は、光量変化欠陥検出手段２０６に入力される。光量変化欠陥検出手段２０６の出力は、光量変化欠陥検出スイッチ２０７に入力される。光量変化欠陥検出スイッチ２０７の出力は、欠陥有無検出手段１０６の出力とされる。
【００５７】
ウォブル検出手段２０１は、反射光検出手段（図示しない）の出力から光ディスク１０１上のトラックに形成されたウォブリング成分を検出する。
【００５８】
ウォブル欠落検出手段２０２は、ウォブル検出手段２０１の出力からディスク上の欠陥有または欠陥無を判別し、欠陥有の場合にＨを、欠陥無の場合にＬを出力する。
【００５９】
ウォブル欠落検出手段２０２は、ウォブル検出手段２０１の出力をピーク検波し、第１のウォブルスライスレベル２０３と、ピーク検波の出力とを比較する。ウォブル欠落検出手段２０２は、比較した結果、第１のウォブルスライスレベル２０３の方が大きい場合に欠陥有とする。ウォブル欠落検出手段２０２は、比較した結果、ピーク検波の出力が第１のウォブルスライスレベル２０３以上の場合に欠陥無とする。
【００６０】
ウォブル欠落検出手段２０２は、ウォブル検出手段２０１の出力をボトム検波し、第２のウォブルスライスレベル２０４と、ボトム検波の出力とを比較する。ウォブル欠落検出手段２０２は、比較した結果、第２のウォブルスライスレベル２０４の方が大きい場合に欠陥無とする。ウォブル欠落検出手段２０２は、比較した結果、ボトム検波の出力が第２のウォブルスライスレベル２０４以上の場合に欠陥有とする。
【００６１】
光量検出手段２０５は、反射光量から光量を検出する。
【００６２】
光量変化欠陥検出手段２０６は、光量判別値２０９を持ち、光量変化を伴う光量変化欠陥の有無を検出し、光量変化欠陥有の場合にＨを、光量変化欠陥無の場合にＬを出力する。
【００６３】
光量変化欠陥検出手段２０６は、光量検出手段２０５の出力と光量判別値２０９とを比較する。光量変化欠陥検出手段２０６は、比較した結果、光量判別値２０９が光量検出手段２０５の出力以上の場合に光量変化欠陥有とする。光量変化欠陥検出手段２０６は、比較した結果、光量検出手段２０５の出力の方が大きい場合に光量変化欠陥無とする。
【００６４】
光量変化欠陥検出スイッチ２０７は、光量変化欠陥検出手段２０６の出力が光量変化欠陥有の場合に、光量変化欠陥検出スイッチ２０７の出力を検出無設定手段２０８の出力に切替える。また、光量変化欠陥検出手段２０６の出力が光量変化欠陥無の場合に、光量変化欠陥検出スイッチ２０７の出力をウォブル欠落検出手段２０２の出力に切替える。
【００６５】
検出無設定手段２０８は、欠陥有無検出手段１０６の出力を欠陥無に設定する。
【００６６】
図３は図２の動作を表した図である。
【００６７】
図３の波形は、上からトラッキングエラー検出手段１０５の出力（トラッキングエラー信号）、ウォブル検出手段２０１の出力（Ｓ２０）、光量検出手段２０５の出力（Ｓ２２）、ウォブル欠落検出手段２０２の出力（Ｓ２１）、光量変化欠陥検出手段２０６の出力（Ｓ２３）、欠陥有無検出手段１０６の出力（Ｓ２４）である。Ｓ２１が欠陥有となった場合でも、Ｓ２３が光量変化欠陥有となったら、Ｓ２４は欠陥無とされる。
【００６８】
このようにすると、カバー層のしわや気泡などの光量変化がない、或いは光量変化が少ない欠陥に対してのみ欠陥有無検出手段１０６で欠陥検出ができる。
【００６９】
回転手段１０３は光ディスク１０１を回転させるモータである。回転手段１０３は、その回転数を測定するための手段としてホール素子（図示しない）を備える。回転手段１０３はホール素子を用いて、１周を２４分割したパルス信号を出力する。
【００７０】
周区間分割信号生成手段１１０は、回転手段１０３から出力されるパルス信号を用いて光ディスク１０１の１周を複数の周区間に分割するための信号を生成する。図４は、１周２４個の周区間（周区間Ｐ−１から周区間Ｐ−２４）に分割した光ディスク１０１を示す。分割数は、これに限ったものではなく、好ましくはより多くが望まれる。
【００７１】
欠陥有無補正手段１１１は、欠陥有無検出手段１０６の出力と周区間分割信号生成手段１１０の出力から欠陥有又は欠陥無を周区間単位で補正した補正後欠陥有無信号を生成する。欠陥有無補正手段１１１は、各周区間で欠陥有無検出手段１０６の出力が一度欠陥有とされたら、欠陥有とされてから周区間の終端までを欠陥有として補正後欠陥有無信号を生成する。補正後欠陥有無信号は補正後欠陥有の場合をＨ、補正後欠陥無の場合をＬとする。さらに、欠陥有無補正手段１１１は、欠陥格納メモリ５０１を備え、各周区間の終端で補正後欠陥有または補正後欠陥無の情報を格納する。また、さらに光ディスク装置１００は光ディスク１０１の径方向を所定周毎に複数の径区間に分割する。欠陥有無補正手段１１１は各径区間における各周区間の補正後欠陥有無信号を生成し結果を欠陥格納メモリ５０１に格納する。
【００７２】
図５は、図４に示した光ディスク１０１を１周２４個の周区間（周区間Ｐ−１から周区間Ｐ−２４）に分割したものに加え６個の径区間（径区間Ｔ−１から径区間Ｔ−６）に分割した光ディスク１０１（図５（ａ））と、欠陥格納メモリ５０１（図５（ｂ））を示す。欠陥有無補正手段１１１は、各径区間および各周区間に光スポットが移動した場合に、欠陥格納メモリ５０１に格納された補正後欠陥有または補正後欠陥無を出力する。分割数は、これに限ったものではなく、好ましくはより多くが望まれる。
【００７３】
制御手段１５０は、欠陥有無補正手段１１１の出力が補正後欠陥有の場合には光スポットのフォーカス方向の制御およびトラッキング方向の制御をホールドする。ホールドとは、例えば光スポットのフォーカス方向の制御をホールドする場合、垂直方向制御手段１０７への入力をフォーカスエラー検出手段１０４の出力から定数値へ切り換えることで行う。ホールドを行うのは、光スポットのフォーカス方向の制御だけであっても良いし、光スポットのトラッキング方向の制御だけであっても良い。
【００７４】
以上の構成において実施の形態１に係る光ディスク装置１００の動作について図６を参照して説明する。図６は、実施の形態１に係る欠陥有無補正手段１１１に基づいて光ディスク１０１上の各径区間における各周区間の補正後欠陥有または補正後欠陥無を決定するフローチャートである。
【００７５】
この欠陥有無補正方法において、光ディスク装置１００は、まず、欠陥格納メモリ５０１への格納開始が命令され（Ｓ６００）、欠陥格納メモリ５０１に補正後欠陥有または補正後欠陥無の情報が格納されているかを確認する（Ｓ６０１）。格納されていない場合は、径区間Ｔ−ｉ（ｉ＝１〜６）に移動し（Ｓ６０２）、次に周区間Ｐ−ｊ（ｊ＝１〜２４）に移動する（Ｓ６０３）。各周区間において欠陥有無検出手段１０６で欠陥有または欠陥無を検出する（Ｓ６０４）。Ｓ６０４で検出された欠陥有または欠陥無は、欠陥有無補正手段１１１で周区間単位に補正され、補正後欠陥有または補正後欠陥無の情報を欠陥格納メモリ５０１に格納する（Ｓ６０５）。これを、欠陥格納メモリ５０１に格納が終了するまで実行する（Ｓ６０６）。以降、補正後欠陥有と決定された周区間において、制御手段１５０をホールドする。
【００７６】
図６は、一度光ディスク１０１の全面にわたり欠陥格納メモリ５０１を生成する流れを説明したが、欠陥格納メモリ５０１を生成する方法はこれに限ったのもではない。例えば、光ディスクに書かれた情報を再生している間に、光ディスク装置に搭載された外部メモリなどに蓄えられた情報量から再生を中断しても映像にコマ落ちなどの悪影響がないと判断した場合に、再生を中断してこれ以降に再生する位置の欠陥格納メモリ５０１を作成しても良い。また、光スポットが記録再生のために移動する径区間において、欠陥格納メモリ５０１に補正後欠陥有または補正後欠陥無が格納されていない場合に、下記欠陥検出動作を行う。該当径区間において各周区間で欠陥有無検出手段１０６によって欠陥有または欠陥無を検出する。欠陥有無補正手段１１１は周区間単位で欠陥有または欠陥無を補正する。補正結果を欠陥格納メモリ５０１に格納する。
【００７７】
以上のように、実施の形態１の光ディスク装置１００によれば、周区間単位に欠陥有無を決定するため光ディスク上の欠陥位置が特定できる。さらに、周区間単位に決定した補正後欠陥有無信号で補正後欠陥有とされた周区間に対して制御手段１５０は光スポットのフォーカス方向の制御およびトラッキング方向の制御をホールドする。これにより、光スポットが欠陥により乱されたフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号に追従することがなくなるので、欠陥による制御外れが抑制でき欠陥の通過が容易となる。
【００７８】
なお、欠陥有無補正手段１１１の出力が補正後欠陥有の場合の制御手段１５０の動作としては、ホールドに代わって制御手段１５０の制御ゲインを下げても良い。制御ゲインは垂直方向制御手段１０７および水平方向制御手段１０８のコントローラがＰＩＤコントローラで組まれている場合は、比例項にかかる比例ゲイン、積分項にかかる積分ゲイン、微分項にかかる微分ゲインの内、比例ゲイン、積分ゲイン、および微分ゲインの全てを下げても良いし、微分ゲインのみを下げても良い。
【００７９】
なお、欠陥有無検出手段１０６は、ウォブル検出手段２０１の出力を２値化する。ウォブル欠落検出手段２０２は２値化した信号が所定時間欠落したことで欠陥有無を検出しても良い。
【００８０】
なお、光量変化欠陥検出手段２０６によって光量変化欠陥有となった場合は、欠陥有無補正手段１１１によらず制御手段１５０をホールド、もしくは制御手段１５０の制御ゲインを下げても良い。これによって、ブラック・ドット・オブジェクトのような光量変化を伴う欠陥においても制御はずれが発生しにくくなる。
【００８１】
なお、径区間を複数周で分割した場合、欠陥有無補正手段１１１は径区間始端から径区間終端までの少なくとも１周で欠陥格納メモリ５０１を生成する。２周以上で欠陥格納メモリ５０１を生成する場合は、周毎の欠陥有無検出手段１０６の出力が所定割合以上で欠陥有としたら、欠陥格納メモリ５０１は補正後欠陥有を格納する。
【００８２】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置は図１における光ディスク装置１００と同じ構成なので詳細な説明は省略する。また、前述した実施の形態１と同じ構成については、図１から図６までと同じ符号を付し説明を省略する。
【００８３】
実施の形態２における欠陥有無検出手段１０６を図７に示す。
【００８４】
図７において、反射光量検出手段（図示しない）の出力は、ウォブル検出手段２０１に入力される。ウォブル検出手段２０１の出力は、ウォブル欠落検出手段２０２に入力される。ウォブル欠落検出手段２０２の出力は、欠陥有無検出手段１０６の出力とされる。欠陥有無検出手段１０６は、光ディスク１０１上の欠陥有または欠陥無を検出し、欠陥有の場合にＨを、欠陥無の場合にＬを出力する。ウォブル検出手段２０１、およびウォブル欠落検出手段２０２は実施の形態１と同じであり、説明は省略する。
【００８５】
図８は図７の動作を表した図である。
【００８６】
図７の波形は、上からトラッキングエラー検出手段１０５の出力（トラッキングエラー信号）、ウォブル検出手段２０１の出力（Ｓ２０）、ウォブル欠落検出手段２０２の出力（Ｓ２１）である。Ｓ２０を第１のウォブルレベル２０３および第２のウォブルレベル２０４と比較して、欠陥有または欠陥無を判別してＳ２１を生成している。
【００８７】
実施の形態２における欠陥有無補正手段１１１は、図９に示す。
【００８８】
図９は欠陥有無補正手段１１１のブロック図を示す。
【００８９】
図９において、欠陥有無検出手段１０６の出力は欠陥周長さ測定手段９０１に入力される。欠陥周長さ測定手段９０１の出力は欠陥周長さ判別手段９０２に入力される。欠陥周長さ判別手段の出力は欠陥格納メモリ９０３に入力される。
【００９０】
欠陥周長さ測定手段９０１は、各周区間で欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥有とされた時間を測定する。欠陥周長さ測定手段９０１は、欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥有の場合に内部のカウンタがカウントアップする。欠陥周長さ測定手段９０１は、欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥無の場合に内部のカウンタは前値をホールドする。
【００９１】
欠陥周長さ判別手段９０２は、欠陥周長さ判別値９０４を持ち、欠陥周長さ測定手段９０１の出力と欠陥周長さ判別値９０４とを比較する。欠陥周長さ判別手段９０２は、比較した結果、欠陥周長さ判別手段９０２が欠陥周長さ判別値９０４以上の場合に周長さ欠陥有とする。欠陥周長さ判別手段９０２は、比較した結果、欠陥周長さ判別値９０４の方が大きい場合に周長さ欠陥無とする。欠陥周長さ判別手段９０２は、周長さ欠陥有の場合にＨを、周長さ欠陥無の場合にＬを出力する。
【００９２】
欠陥格納メモリ９０３は、欠陥周長さ判別手段９０２の周区間の終端での出力を補正後欠陥有無信号とし、各周区間での補正後欠陥有または補正後欠陥無を格納する。補正後欠陥有と決定された周区間は、補正後欠陥有と決定された周の次の周において、同周区間を補正後欠陥有の周区間とする。補正後欠陥有無信号は補正後欠陥有の場合をＨ、補正後欠陥無の場合をＬとする。
【００９３】
図１０は図９の動作を表した図である。
【００９４】
図１０の波形は、上からトラッキングエラー検出手段１０５の出力（トラッキングエラー信号）、ウォブル検出手段２０１の出力（Ｓ２０）、ウォブル欠落検出手段２０２の出力（Ｓ２１）、クロック信号（ＣＬＫ）、周区間分割信号生成手段１１０の出力（Ｓ９０）、欠陥周長さ測定手段９０１の出力（Ｓ９１）、欠陥周長さ判別手段９０２の出力（Ｓ９２）である。ＣＬＫ毎にＳ２１が欠陥有の場合を欠陥周長さ測定手段９０１の内部のカウンタをカウントアップし、ＣＬＫ毎にＳ２１が欠陥無の場合を欠陥周長さ測定手段９０１の内部のカウンタを前値ホールドし、Ｓ９１を生成する。欠陥周長さ判別手段９０２はＳ９１と欠陥周長さ判別値９０４を比較して、Ｓ９２を生成する。欠陥格納メモリ９０３は、周区間の終端でのＳ９２を補正後欠陥有無信号とし、補正後欠陥有無信号を格納する。Ｓ９１およびＳ９２は各周区間の始端でクリアされる。
【００９５】
欠陥有無補正手段１１１は、欠陥格納メモリ９０３に格納した補正後欠陥有をさらに補正し、補正後欠陥有の周区間を所定周区間だけ前に延長し、補正後欠陥有の周区間とする。
【００９６】
欠陥有無補正手段１１１の出力が補正後欠陥有の場合に、制御手段１５０は光スポットのフォーカス方向の制御およびトラッキング方向の制御をホールドする。ただし、制御手段１５０が光スポットのフォーカス方向の制御およびトラッキング方向の制御を非動作とし光スポットを所定距離だけ移動させる場合は、制御手段１５０が光スポットのフォーカス方向の制御およびトラッキング方向の制御を動作させる前に、欠陥格納メモリ９０３に格納された補正後欠陥有または補正後欠陥無の情報をクリアする。
【００９７】
以上の構成において実施の形態２に係る光ディスク装置の動作について図１１を参照して説明する。図１１は、実施の形態２に係る欠陥有無補正手段１１１に基づいて光ディスク１０１上の各周区間の欠陥有または欠陥無を決定するフローチャートである。図１１は周区間Ｐ−３についてのみ記載しているが、その他の周区間においても同様の動作を行う。
【００９８】
光スポットが光ディスク１０１の周区間Ｐ−３始端に到達する（Ｓ１１００）。欠陥有無補正手段１１１は欠陥格納メモリ９０３の周区間Ｐ−３に格納されている内容を出力し、制御手段１５０はそれを判断する（Ｓ１１０１）。周区間Ｐ−３が補正後欠陥有ならば制御手段１５０をホールドする（Ｓ１１０２）。欠陥周長さ測定手段９０１は、欠陥周長さ測定手段９０１の内部のカウンタをクリアする（Ｓ１１０３）。欠陥有無検出手段１０６は周区間Ｐ−３で欠陥有または欠陥無の検出を行う（Ｓ１１０４）。欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥有か欠陥無かを判断し（Ｓ１１０５）、欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥有の場合に欠陥周長さ測定手段９０１はその内部カウンタをカウントアップし欠陥周長さを測定する（Ｓ１１０６）。欠陥周長さ判別手段９０２は、欠陥周長さ測定手段９０１の出力と欠陥周長さ判別値９０４とを比較し、周長さ欠陥有無を判別する（Ｓ１１０７）。光ディスク１０１の周区間Ｐ−３終端に到達したかを判別する（Ｓ１１０８）。光ディスク１０１の周区間Ｐ−３終端に到達していない場合はＳ１１０４に戻り、到達するまでＳ１１０４からＳ１１０８を繰り返す。光ディスク１０１の周区間Ｐ−３終端に到達した場合は制御手段１５０のホールドを解除する（Ｓ１１０９）。欠陥格納メモリ９０３は、欠陥周長さ判別手段９０２の出力を周区間Ｐ−３における補正後欠陥有無信号とし、補正後欠陥有無信号を格納する（Ｓ１１１０）。
【００９９】
以上のように、実施の形態２の光ディスク装置によれば、各周区間で欠陥周長さによって補正後欠陥有または補正後欠陥無を決定するため欠陥の大小を判別し光ディスク上の欠陥位置が特定でき、補正後欠陥有の周区間に対して制御手段１５０をホールドすることで、欠陥区間の通過が容易となる。さらに、欠陥有無補正手段１１１は補正後欠陥有の周区間を所定周区間だけ前に延長することで、欠陥有無検出手段１０６に検出遅れがある場合に検出遅れでホールドできない周区間をホールドできる。さらに、光ディスク装置は制御手段１５０を非動作とし光スポットを所定距離だけ移動させる場合は、制御手段１５０を動作させる前に、欠陥格納メモリ９０３に格納された補正後欠陥有または補正後欠陥無の情報をクリアすることで、現在の周から離れたディスク位置で生成された欠陥格納メモリ５０１の補正後欠陥有無によってホールドしないので、誤ったホールドを防ぐことができる。
【０１００】
なお、光ディスク装置はホールドに代わって制御手段１５０の制御ゲインを下げても良い。制御ゲインはコントローラがＰＩＤコントローラで組まれている場合は、比例項にかかる比例ゲイン、積分項にかかる積分ゲイン、微分項にかかる微分ゲインの内、比例ゲイン、積分ゲイン、および微分ゲインの全てを下げても良いし、微分ゲインのみを下げても良い。
【０１０１】
なお、補正後欠陥有の周区間を前に延長する場合、欠陥有無補正手段１１１は所定時間前に延長しても良い。
【０１０２】
なお、制御手段１５０を動作させた後に、欠陥有無補正手段１１１は所定周だけ欠陥周長さ判別値９０４を小さくしても良い。
【０１０３】
なお、欠陥有無補正手段１１１は、欠陥有無検出手段１０６の連続した欠陥有を測定して欠陥周長さを測定しても良い。この場合、欠陥周長さ測定手段９０１は、欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥有の場合は内部のカウンタをカウントアップし欠陥無の場合に内部のカウンタをクリアして欠陥の周長さを測定する。測定した周長さを欠陥周長さ判別手段９０２によって欠陥周長さ判別値９０４と比較する。欠陥周長さ判別手段９０２は比較した結果、一度周長さ欠陥有と判別されたら、同じ周区間の間は周長さ欠陥有を出力し続ける。欠陥格納メモリ９０３は、周区間の終端において欠陥周長さ判別手段９０２の出力から周区間の欠陥有無を決定する。
【０１０４】
なお、欠陥周長さ測定手段９０１は、欠陥有無検出手段１０６の出力が欠陥有の場合は内部のカウンタをカウントアップし欠陥無の場合に内部のカウンタをカウントダウンして欠陥の周長さを測定しても良い。測定した周長さを欠陥周長さ判別手段９０２によって欠陥周長さ判別値９０４と比較する。欠陥周長さ判別手段９０２は、比較した結果、一度周長さ欠陥有と判別されたら、同じ周区間の間は周長さ欠陥有を出力し続ける。欠陥格納メモリ９０３は、周区間の終端において欠陥周長さ判別手段９０２の出力から周区間の欠陥有無を決定する。
【０１０５】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置は図１における光ディスク装置１００と同じ構成なので詳細な説明は省略する。また、前述した実施の形態１および実施の形態２と同じ構成については、図１から図１１までと同じ符号を付し説明を省略する。
【０１０６】
実施の形態３における欠陥有無検出手段１０６は、実施の形態２における欠陥有無検出手段１０６の図７と同じなので説明を省略する。
【０１０７】
実施の形態３における欠陥有無補正手段１１１を図１２示す。
【０１０８】
図１２において、欠陥有無検出手段１０６の出力は、周区間欠陥確定手段１２０５に入力される。周区間欠陥確定手段１２０５の出力は、欠陥径長さ測定手段１２０１に入力される。欠陥径長さ測定手段１２０１の出力は、欠陥径長さ判別手段１２０２に入力される。欠陥径長さ判別手段１２０２の出力は、欠陥格納メモリ１２０３に入力される。欠陥格納メモリ１２０３の出力は、欠陥有無補正手段１１１の出力として制御手段１５０に入力される。
【０１０９】
周区間欠陥確定手段１２０５は、各周区間で欠陥有無検出手段１０６の出力が一度欠陥有とされたら、欠陥有とされてから周区間の終端までを欠陥有を出力し続ける。周区間欠陥確定手段１２０５は、欠陥有の場合にＨを、欠陥無の場合にＬを出力する。
【０１１０】
欠陥径長さ測定手段１２０１は、周区間欠陥確定手段１２０５の出力を各周区間の終端において欠陥の径方向の長さ（以下、欠陥径長さという）を測定する。欠陥径長さ測定手段１２０１は、周区間欠陥確定手段１２０５の出力が欠陥有の場合に内部のカウンタをカウントアップする。欠陥径長さ測定手段１２０１は、周区間欠陥確定手段１２０５の出力が欠陥無の場合に内部のカウンタをクリアする。ただし、制御手段１５０を非動作とし光スポットを所定距離だけ移動させる場合は、制御手段１５０を動作させる前に、欠陥径長さ測定手段１２０１は内部のカウンタをクリアする。また、光ディスク装置が制御手段１５０を非動作とし光スポットを所望の半径位置に移動させる場合は、制御手段１５０は光スポットを所望の半径位置よりも所定周だけ前に位置させるように動作させる。
【０１１１】
欠陥径長さ判別手段１２０２は、欠陥径長さ判別値１２０４を持ち、欠陥径長さ測定手段１２０１の出力と欠陥径長さ判別値１２０４とを周区間の終端において比較する。欠陥径長さ判別手段１２０２は、比較した結果、欠陥径長さ測定手段１２０１の出力が欠陥径長さ判別値１２０４以上の場合に径長さ欠陥有とする。欠陥径長さ判別手段１２０２は、比較した結果、欠陥径長さ判別値１２０４の方が大きい場合に径長さ欠陥無とする。欠陥径長さ判別手段１２０２は、径長さ欠陥有の場合にＨを、径長さ欠陥無の場合にＬを出力する。
【０１１２】
欠陥格納メモリ１２０３は、欠陥径長さ判別手段１２０２の出力を補正後欠陥有無信号とする。欠陥格納メモリ１２０３は、各周区間での補正後欠陥有または補正後欠陥無を格納する。補正後欠陥有無信号は補正後欠陥有の場合をＨ、補正後欠陥無の場合をＬとする。欠陥格納メモリ１２０３は、さらに欠陥履歴格納メモリを備える。欠陥履歴格納メモリは、周区間の終端において欠陥径長さ判別手段１２０２の出力を格納する。欠陥履歴格納メモリに格納される内容は、径長さ欠陥有もしくは径長さ欠陥無である。欠陥格納メモリ１２０３は、周区間の終端において欠陥履歴格納メモリに格納された内容と、欠陥径長さ判別手段１２０２の出力を比較する。比較した結果、欠陥履歴格納メモリに格納された内容が径長さ欠陥有で、欠陥径長さ判別手段１２０２の出力が径長さ欠陥無の場合に、次の動作を行う。欠陥格納メモリ１２０３は、欠陥格納メモリ１２０３の同周区間の内容を所定周だけ補正後欠陥有とする。
【０１１３】
図１３および図１４は、図１２の動作を示したものである。
【０１１４】
図１３の波形は、上からトラッキングエラー検出手段１０５の出力（トラッキングエラー信号）、ウォブル検出手段２０１の出力（Ｓ２０）、ウォブル欠落検出手段２０２の出力（Ｓ２１）である。光ディスク１０１を周区間分割信号生成手段１１０によって２４分割した場合において、１周の欠陥有無検出手段１０６の動作を示している。図１３では、周区間Ｐ−１１において欠陥が検出されている。
【０１１５】
図１４の波形は、上から周区間欠陥確定手段１２０５の出力（Ｓ１２２）、欠陥径長さ測定手段１２０１の出力（Ｓ１２０）、欠陥径長さ判別手段１２０２の出力（Ｓ１２１）、欠陥格納メモリ１２０３の出力（Ｓ１２３）である。図１４では、周区間の終端でＳ１２２が欠陥有の場合に欠陥径長さ測定手段１２０１の内部カウンタをカウントアップし、周区間の終端でＳ１２２が欠陥無の場合に欠陥径長さ測定手段１２０１の内部カウンタをクリア、Ｓ１２０を生成する。欠陥径長さ判別手段１２０２は、Ｓ１２０と欠陥径長さ判別値１２０４を比較して、Ｓ１２１を生成する。欠陥格納メモリ１２０３はＳ１２１を周区間Ｐ−１１の補正後欠陥有無信号をとし、欠陥格納メモリ１２０３に補正後欠陥有または補正後欠陥無を格納する。また、欠陥格納メモリ１２０３は、欠陥履歴格納メモリの出力と欠陥径長さ判別手段１２０２の出力とを比較する。比較した結果、欠陥履歴格納メモリに格納された内容が径長さ欠陥有で、欠陥径長さ判別手段１２０２の出力が径長さ欠陥無の場合に、次の動作を行う。欠陥格納メモリ１２０３は、欠陥格納メモリ１２０３の同周区間の内容を所定周だけ補正後欠陥有とする。
【０１１６】
欠陥有無補正手段１１１の出力が補正後欠陥有である場合に、制御手段１５０は光スポットのフォーカス方向の制御およびトラッキング方向の制御をホールドする。
【０１１７】
以上の構成において実施の形態３に係る光ディスク装置の動作について図１５を参照して説明する。図１５は、実施の形態３に係る欠陥有無補正手段１１１から光ディスク１０１上の各周区間において径方向の欠陥の長さを測定して欠陥有無を決定するフローチャートである。図１５は周区間Ｐ−１１についてのみ記載しているが、その他の周区間においても同様の動作を行う。
【０１１８】
光スポットが周区間Ｐ−１１始端に到達する（Ｓ１５００）。欠陥有無補正手段１１１は欠陥格納メモリ１２０３の周区間Ｐ−１１に格納されている内容を出力し、制御手段１５０はそれを判断する（Ｓ１５０１）。周区間Ｐ−１１が補正後欠陥有ならば制御手段１５０をホールドする（Ｓ１５０２）。欠陥有無検出手段１０６は周区間Ｐ−１１で欠陥有または欠陥無の検出を行う（Ｓ１５０３）。周区間欠陥確定手段１２０５は、周区間Ｐ−１１での欠陥有または欠陥無を確定する（Ｓ１５０４）。周区間Ｐ−１１終端に到達したかを判別する（Ｓ１５０５）。周区間Ｐ−１１終端に到達していない場合はＳ１５０３に戻り、到達するまでＳ１５０３からＳ１５０５を繰り返す。光ディスク１０１の周区間Ｐ−３終端に到達した場合は制御手段１５０のホールドを解除する（Ｓ１５０６）。周区間欠陥確定手段１２０５の出力が、欠陥有または欠陥無かを判別する（Ｓ１５０７）。Ｓ１５０７の判別結果が欠陥有の場合には、欠陥径長さ測定手段１２０１の内部のカウンタをカウントアップする（Ｓ１５０８）。Ｓ１５０７の判別結果が欠陥無の場合には、欠陥径長さ測定手段１２０１の内部のカウンタをクリアする（Ｓ１５０９）。欠陥径長さ判別手段１２０２は、欠陥径長さ測定手段１２０１の出力と欠陥径長さ判別値１２０４を比較し、周区間Ｐ−１１の径長さ欠陥有無を決定する（Ｓ１５１０）。欠陥格納メモリ１２０３は、欠陥履歴格納メモリに格納された内容と欠陥径長さ判別手段１２０２の出力とを比較する。比較した結果、径長さ欠陥有から径長さ欠陥無に遷移したかを検出か、もしくは検出してから所定周だけ経過したかを判別する（Ｓ１５１１）。Ｓ１５１１で欠陥径長さ判別手段１２０２の出力が径長さ欠陥有から径長さ欠陥無に遷移を検出しない、もしくは検出してから所定周だけ経過した場合は、欠陥格納メモリ１２０３に欠陥径長さ判別手段１２０２の出力を格納する（Ｓ１５１２）。Ｓ１５１１で欠陥径長さ判別手段１２０２の出力が径長さ欠陥有から径長さ欠陥無に遷移を検出した、もしくは検出してから所定周だけ経過していない場合は、欠陥格納メモリ１２０３に補正後欠陥有を格納する（Ｓ１５１３）。Ｓ１５１２またはＳ１５１３の後、Ｓ１５００に戻る。
【０１１９】
以上のように、実施の形態３の光ディスク装置によれば、周区間毎に欠陥径長さによって欠陥有無を決定するため欠陥の大小を判別し、光ディスク上の欠陥位置が特定でき、欠陥有の周区間に対して制御手段をホールドすることで、欠陥区間の通過が容易となる。また、複数周の同一周区間において欠陥有無を判別するため、欠陥による欠陥有無検出か、振動など外乱による欠陥有無検出かを区別でき、欠陥の場合のみに制御手段１５０をホールドできる。
【０１２０】
なお、光ディスク装置はホールドに代わって制御手段１５０の制御ゲインを下げても良い。制御ゲインはコントローラがＰＩＤコントローラで組まれている場合は、比例項にかかる比例ゲイン、積分項にかかる積分ゲイン、微分項にかかる微分ゲインの内、比例ゲイン、積分ゲイン、および微分ゲインの全てを下げても良いし、微分ゲインのみを下げても良い。
【０１２１】
なお、制御手段１５０を動作させた後に、欠陥径長さ判別手段１２０２は所定周だけ欠陥径長さ判別値１２０４を小さくしても良い。
【０１２２】
なお、欠陥格納メモリ１２０３は、欠陥履歴格納メモリに格納された内容と欠陥径長さ判別手段１２０２の出力とを比較し、比較した結果、径長さ欠陥無から径長さ欠陥有に遷移した場合は、欠陥格納メモリ１２０３に所定周だけ補正後欠陥有を格納しても良い。
【０１２３】
なお、欠陥径長さ測定手段１２０１は、周区間欠陥確定手段１２０５の出力が欠陥有の場合は内部のカウンタをカウントアップし、欠陥無の場合は内部のカウンタをカウントダウンしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１２４】
本発明は、ブルーレイ・ディスクレコーダのような大容量光ディスクに対してデジタルＡＶ情報の記録再生処理を行う機能を持った光ディスク応用家電機器、もしくは、光ディスクを利用したコンピュータ用ストレージデバイス等に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１２５】
【図１】本発明の実施の形態１から実施の形態３における光ディスク装置を示す図
【図２】本発明の実施の形態１における欠陥有無検出手段１０６を示す図
【図３】トラッキングエラー信号と本発明の実施の形態１における欠陥有無検出手段１０６の各構成要素の出力の一例を示す図
【図４】本発明の実施の形態２から実施の形態３における周区間分割信号生成手段１１０によって複数の周区間に分割した光ディスク１０１の一例を示す図
【図５】本発明の実施の形態１における周区間分割信号生成手段１１０によって複数の周区間と、複数の径区間に分割した光ディスク１０１の一例と欠陥格納メモリ５０１を示す図
【図６】本発明の実施の形態１における動作を示したフローチャート
【図７】本発明の実施の形態２から実施の形態３における欠陥有無検出手段１０６を示す図
【図８】トラッキングエラー信号と本発明の実施の形態２から実施の形態３における欠陥有無検出手段１０６の各構成要素の出力の一例を示す図
【図９】本発明の実施の形態２における欠陥有無検出手段１０６と欠陥有無補正手段１１１を示す図
【図１０】トラッキングエラー信号と本発明の実施の形態２における欠陥有無検出手段１０６と欠陥有無補正手段１１１の各構成要素の出力の一例を示す図
【図１１】本発明の実施の形態２における動作を示したフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態３における欠陥有無検出手段１０６と欠陥有無補正手段１１１を示す図
【図１３】トラッキングエラー信号と本発明の実施の形態３における欠陥有無検出手段１０６の各構成要素の出力の一例を示す図
【図１４】本発明の実施の形態３における欠陥有無補正手段１１１の各構成要素の出力の一例を示す図
【図１５】本発明の実施の形態３における動作を示したフローチャート
【符号の説明】
【０１２６】
１００    光ディスク装置
１０１    光ディスク
１０２    光ピックアップ
１０３    回転手段
１０６    欠陥有無検出手段
１１０    周区間分割信号生成手段
１１１    欠陥有無補正手段
１５０    制御手段
２０１    ウォブル検出手段
２０２    ウォブル欠落検出手段
５０１    欠陥格納メモリ
９０１    欠陥周長さ測定手段
９０２    欠陥周長さ判別手段
１２０１    欠陥径長さ測定手段
１２０２    欠陥径長さ判別手段
【図１】
2009283050.tif 000003
【図２】
2009283050.tif 000004
【図３】
2009283050.tif 000005
【図４】
2009283050.tif 000006
【図５】
2009283050.tif 000007
【図６】
2009283050.tif 000008
【図７】
2009283050.tif 000009
【図８】
2009283050.tif 000010
【図９】
2009283050.tif 000011
【図１０】
2009283050.tif 000012
【図１１】
2009283050.tif 000013
【図１２】
2009283050.tif 000014
【図１３】
2009283050.tif 000015
【図１４】
2009283050.tif 000016
【図１５】
2009283050.tif 000017