(57)【要約】【課題】パターンドメディア方式の磁気ディスク装置に関し，短時間で正確にライト磁界の位相調整を行う技術を提供する。【解決手段】磁気ディスク装置１において，コントローラ４０は，記録系の構成２０を制御し，ライト磁界波形（ａ）でディスク１０のトラックへの記録を行い，再生系の構成３０を制御し，上記トラックから得られる再生波形（ａ）の平均振幅を測定する。また，同様に，ライト磁界波形（ａ）とは位相が異なるライト磁界波形（ｂ）で上記トラックへの記録行い，上記トラックから得られる再生波形（ｂ）の平均振幅を測定する。ライト磁界位相調整部４３は，位相調整テーブル４４を参照し，再生波形（ａ）の平均振幅と再生波形（ｂ）の平均振幅との関係に対応する補正量を取得し，取得された補正量によってライト磁界の位相を調整する。【選択図】図１
2009129528.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
規則的に配置された磁性ドットを有するパターンドメディア方式のディスクと，前記ディスクに対してライト磁界による記録を行う記録ヘッドと，前記ディスクに記録された磁化を再生する再生ヘッドとを備えた磁気ディスク装置であって，
前記ディスクの少なくとも１つのトラックに対して，前記記録ヘッドによるライト磁界での記録と前記再生ヘッドによる再生とを，前記ライト磁界の位相を変えて複数回実行し，複数の再生波形を取得する手段と，
前記取得された複数の再生波形に関する特徴量を求める手段と，
前記求められた複数の再生波形に関する特徴量の関係に対応するライト磁界の位相の補正量を，あらかじめ設定された設定情報または計算により取得し，得られたライト磁界の位相の補正量によって，ライト磁界の位相調整を行う手段とを備える
ことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
規則的に配置された磁性ドットを有するパターンドメディア方式のディスクと，前記ディスクに対してライト磁界による記録を行う記録ヘッドと，前記ディスクに記録された磁化を再生する再生ヘッドとを備えた磁気ディスク装置であって，
前記ディスクでは，隣接するトラックの前記磁性ドットが，前記ディスクの回転方向に対して交互にずれた位置に配置されており，
前記ディスクの隣接するトラックに対して，前記記録ヘッドによるライト磁界での記録と前記再生ヘッドによる再生とを，前記ライト磁界の位相を変えずに実行し，複数の再生波形を取得する手段と，
前記取得された複数の再生波形に関する特徴量を求める手段と，
前記求められた複数の再生波形に関する特徴量の関係に対応するライト磁界の位相の補正量を，あらかじめ設定された設定情報または計算により取得し，得られたライト磁界の位相の補正量によって，ライト磁界の位相調整を行う手段とを備える
ことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記複数の再生波形を取得する手段では，隣接する２つのトラックの中間に前記記録ヘッドを位置決めし，前記隣接する２つのトラックに対して同時に前記ライト磁界での記録を行う
ことを特徴とする請求項２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記再生波形に関する特徴量が，再生波形の振幅に関する特徴量または再生波形のエラーレートである
ことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
規則的に配置された磁性ドットを有するパターンドメディア方式のディスクと，前記ディスクに対してライト磁界による記録を行う記録ヘッドと，前記ディスクに記録された磁化を再生する再生ヘッドとを備えた磁気ディスク装置におけるライト磁界位相調整方法であって，
前記ディスクの少なくとも１つのトラックに対して，前記記録ヘッドによるライト磁界での記録と前記再生ヘッドによる再生とを，前記ライト磁界の位相を変えて複数回実行し，複数の再生波形を取得する過程と，
前記取得された複数の再生波形に関する特徴量を求める過程と，
前記求められた複数の再生波形に関する特徴量の関係に対応するライト磁界の位相の補正量を，あらかじめ設定された設定情報または計算により取得し，得られたライト磁界の位相の補正量によって，ライト磁界の位相調整を行う過程とを有する
ことを特徴とするライト磁界位相調整方法。
【請求項６】
規則的に配置された磁性ドットを有するパターンドメディア方式のディスクと，前記ディスクに対してライト磁界による記録を行う記録ヘッドと，前記ディスクに記録された磁化を再生する再生ヘッドとを備えた磁気ディスク装置におけるライト磁界位相調整方法であって，
前記ディスクでは，隣接するトラックの前記磁性ドットが，前記ディスクの回転方向に対して交互にずれた位置に配置されており，
前記ディスクの隣接するトラックに対して，前記記録ヘッドによるライト磁界での記録と前記再生ヘッドによる再生とを，前記ライト磁界の位相を変えずに実行し，複数の再生波形を取得する過程と，
前記取得された複数の再生波形に関する特徴量を求める過程と，
前記求められた複数の再生波形に関する特徴量の関係に対応するライト磁界の位相の補正量を，あらかじめ設定された設定情報または計算により取得し，得られたライト磁界の位相の補正量によって，ライト磁界の位相調整を行う過程とを有する
ことを特徴とするライト磁界位相調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，磁気ディスク装置のパターンドメディアのフォーマット方式に関するものであり，特に，短時間で正確にライト磁界の位相調整を行うことが可能な磁気ディスク装置およびライト磁界位相調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では，小型かつ大容量の装置が求められ続けており，高記録密度化が要求されている。そのため，記録密度を向上させるための技術として，パターンドメディア方式の開発が進められている。
【０００３】
図１７は，パターンドメディアの例を説明する図である。パターンドメディアでは，磁気ディスク装置のディスク５００上に，記録トラック５１０が円周状のパターンとしてあらかじめ形成されている。記録トラック５１０は，記録ヘッド，再生ヘッドを位置決めするためのサーボ領域５１１と，データを記録するためのデータ領域５１２とから成っており，少なくともデータ領域５１２は，孤立した磁性体による磁性ドット５１３の列で構成されている（図１７（Ａ）参照）。
【０００４】
各磁性ドット５１３は垂直磁化を有し，その垂直磁化の上向き／下向きでデータの記録が行われる。磁性ドット５１３の位置はディスク５００上であらかじめ決まっているので，データを記録するときには，記録データに応じたライト磁界を，磁性ドット５１３の列に合わせて，正しい記録タイミングで印加する必要がある（図１７（Ｂ）参照）。
【０００５】
記録タイミングを磁性ドット列に合わせる技術が記載された先行技術文献としては，例えば特許文献１などがある。特許文献１には，パターンドメディアへの記録タイミングの位相を少しずつ変化させながらデータの記録を試行し，各試行においてデータを再生してビットエラーレートを計測し，ビットエラーレートが最小となったときの位相を最適な記録タイミングの位相とする技術が記載されている。
【特許文献１】特開２００６−１６４３４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
前述の特許文献１に記載された技術では，最適な記録タイミングの位相を得るために，記録タイミングの位相を変化させながら，何度も記録／再生を試行する必要がある。しかし，記録タイミングの調整としては，少ない試行回数で最適な記録タイミングが求まることが望ましいが，試行回数が少なくなるとその正確性に問題が発生する。このように，記録／再生の試行回数を多くすると記録タイミングの調整に長い時間が必要となり，記録／再生の試行回数を少なくすると調整する記録タイミングの正確性が低くなってしまうという問題がある。
【０００７】
本発明は，上記の問題点の解決を図り，パターンドメディア方式の磁気ディスク装置において，短時間で正確にライト磁界の位相調整を行うことが可能となる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
パターンドメディア方式の磁気ディスク装置において，少なくとも２回の位相の異なるライト磁界による記録とその再生結果から，最適なライト磁界の位相を求める。
【０００９】
磁気ディスク装置は，規則的に配置された磁性ドットを有するパターンドメディア方式のディスクと，ディスクに対してライト磁界による記録を行う記録ヘッドと，ディスクに記録された磁化を再生する再生ヘッドとを備える。
【００１０】
ライト磁界の位相調整を行う場合には，ディスク上の少なくとも１つのトラックに対して，記録ヘッドによるライト磁界での記録と再生ヘッドによる再生とを，ライト磁界の位相を変えて複数回実行し，複数の再生波形を取得する。これにより，異なる位相のライト磁界に対応する複数の再生波形を取得することができる。
【００１１】
取得された複数の再生波形の特徴量を求める。再生波形の特徴量としては，例えば，再生波形の振幅の平均などの再生波形の振幅に関する特徴量や，再生波形のエラーレートなどがある。
【００１２】
求められた複数の再生波形に関する特徴量の関係に対応するライト磁界の位相の補正量を取得する。ライト磁界の位相の補正量を取得する方法としては，例えば，求められた複数の再生波形に関する特徴量から，計算によってライト磁界の位相の補正量を求める方法がある。
【００１３】
また，例えば，複数の再生波形に関する特徴量の関係とライト磁界の位相の補正量との対応を，算術的にまたは実験的に求めておき，それらの対応情報をあらかじめ設定情報として設定しておく方法もある。例えば，磁気ディスク装置に複数の再生波形に関する特徴量の関係とライト磁界の位相の補正量との対応情報を位相調整情報として保持する手段を設けておき，ライト磁界の位相の補正量を取得するときには，あらかじめ保持された位相調整情報を参照することにより，求められた複数の再生波形に関する特徴量の関係に対応するライト磁界の位相の補正量を取得する。
【００１４】
複数の再生波形に関する特徴量の関係とライト磁界の位相の補正量との対応情報を，磁気ディスク装置にあらかじめ設定情報として保持しておけば，ライト磁界の位相調整を行うたびに計算を行う必要がなくなる。また，例えば大量生産される同じ型の磁気ディスク装置にあらかじめ用意された位相調整情報を登録するようにすれば，磁気ディスク装置ごとに計算を行う必要がなくなる。
【００１５】
このようにして得られたライト磁界の位相の補正量によって，ライト磁界の位相調整を行うことができる。
【００１６】
このように，少なくとも２回の位相の異なるライト磁界による記録とその再生結果から最適なライト磁界の位相を求めることができるので，従来のように，最適な記録タイミングの位相を得るために，記録タイミングの位相を変化させながら何度も記録／再生を繰り返す必要がなくなる。
【００１７】
また，パターンドメディア方式のディスクにおいて，隣接するトラックの磁性ドットがディスクの回転方向対して交互にずれた位置になるように配置（例えば，千鳥配置など）されている場合には，隣接するトラックに同じライト磁界での記録を行うようにすることもできる。すなわち，複数の再生波形を取得するときに，ディスクの隣接するトラックに対して，記録ヘッドによるライト磁界での記録と再生ヘッドによる再生とを，ライト磁界の位相を変えずに実行する。この場合には，ライト磁界の位相を変更しなくても，実質的に，異なる位相のライト磁界に対応する複数の再生波形を取得することができる。
【００１８】
このとき，隣接する２つのトラックの中間に前記記録ヘッドを位置決めし，隣接する２つのトラックに対して同時にライト磁界での記録を行うようにすれば，１回のライト磁界による記録で，２つの再生波形を取得することができる。
【発明の効果】
【００１９】
パターンドメディア方式の磁気ディスク装置において，複数の位相の異なるライト磁界によって記録を行い，その記録から得られた複数の再生波形の特徴量の関係からライト磁界の位相のズレ量を検出することにより，最低２回の少ない試行回数で最適なライト磁界の位相を求めることができる。これにより，短時間で正確にライト磁界の位相調整を行うことができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下，本実施の形態について，図を用いて説明する。
【００２１】
図１は，本実施の形態による磁気ディスク装置の構成例を示す図である。磁気ディスク装置１は，ディスク１０，データフォーマッタ２１，ドライバ２２，記録ヘッド２３，再生ヘッド３１，アンプ３２，バンドパスフィルタ３３，再生波形振幅測定部３４，コントローラ４０を備える。なお，図１に示す磁気ディスク装置１では，本実施の形態によるパターンドメディアのライト磁界の位相調整に関連する部分のみが記載されている。
【００２２】
ディスク１０は，パターンドメディア方式の磁気ディスクである。
【００２３】
データフォーマッタ２１，ドライバ２２，記録ヘッド２３は，記録系の構成２０である。データフォーマッタ２１は，所定のライト磁界を発生させるためのデータパターンを生成する。ドライバ２２は，データパターンに従って記録ヘッド２３を駆動する。記録ヘッド２３は，ライト磁界を発生してディスク１０への記録を行う。
【００２４】
再生ヘッド３１，アンプ３２，バンドパスフィルタ３３，再生波形振幅測定部３４は，再生系の構成３０である。再生ヘッド３１は，ディスク１０に記録された磁化を再生する。アンプ３２は，再生波形を増幅する。バンドパスフィルタ３３は，再生波形から測定パターンの周波数成分を通過するフィルタである。再生波形振幅測定部３４は，再生波形の測定パターンの周波数成分の平均振幅を測定する。
【００２５】
コントローラ４０は，ライト磁界の位相の調整を制御する。コントローラ４０は，記録制御部４１，再生制御部４２，ライト磁界位相調整部４３，位相調整テーブル４４を備える。記録制御部４１は，上記の記録系の構成２０を制御する。再生制御部４２は，上記の再生系の構成３０を制御する。ライト磁界位相調整部４３は，位相が異なる２つのライト磁界により記録され，それを再生することにより得られた２つの再生波形の平均振幅の関係をもとに，位相調整テーブル４４を参照し，ライト磁界の位相を調整する。位相調整テーブル４４は，２つの再生波形の平均振幅の関係と，ライト磁界の位相を調整するための補正量との対応が記録された情報である。
【００２６】
〔実施の形態１〕
以下，本実施の形態１によるライト磁界の位相調整について，具体的な例を用いて説明する。
【００２７】
図２は，本実施の形態１でライト磁界の位相調整のために用いるトラックの例を示す図である。ここでは，ディスク１０上のあるトラック１００を用いて，ライト磁界の位相調整を行うものとする。トラック１００は，ヘッドの位置決め信号と記録／再生の基準タイミングを得るための領域であるサーボ領域１１０と，データを記録するためのデータ領域１２０とからなる。
【００２８】
本実施の形態１ではさらに，データ領域１２０を，テストパターン領域１２１と測定パターン領域１２２とに分けて考える。テストパターン領域１２１は，基準となる再生波形振幅（以下，基準再生波形振幅という）の大きさを検出するための領域である。測定パターン領域１２２は，ライト磁界の位相のズレを検出するための領域である。なお，テストパターン領域１２１と測定パターン領域１２２とに分けるとはいっても，物理的に領域が分かれるわけではないので，磁性ドット列としては同じ磁性ドット１３０が並んでいるだけである。
【００２９】
図３は，本実施の形態１によるライト磁界位相調整処理フローチャートである。図３に示すライト磁界位相調整処理フローチャートは，ライト磁界波形（ａ）と，そのライト磁界波形（ａ）と位相が異なるライト磁界波形（ｂ）とで，ディスク１０上のトラック１００に記録を行い，それぞれのライト磁界波形に対する再生波形の平均振幅を測定し，ライト磁界の位相調整を行う処理の例である。
【００３０】
磁気ディスク装置１において，コントローラ４０は，記録制御部４１によって記録系の構成２０を制御し，記録ヘッド２３により，ライト磁界波形（ａ）でディスク１０のトラック１００に記録する（ステップＳ１０）。コントローラ４０は，再生制御部４２によって再生系の構成３０を制御し，再生ヘッド３１により，ディスク１０のトラック１００から再生波形（ａ）を取得する（ステップＳ１１）。取得された再生波形（ａ）の平均振幅を測定する（ステップＳ１２）。
【００３１】
次に，コントローラ４０は，記録制御部４１によって再び記録系の構成２０を制御し，記録ヘッド２３により，ライト磁界波形（ａ）と位相が異なるライト磁界波形（ｂ）でディスク１０のトラック１００に記録する（ステップＳ１３）。コントローラ４０は，再生制御部４２によって再生系の構成３０を制御し，再生ヘッド３１により，ディスク１０のトラック１００から再生波形（ｂ）を取得する（ステップＳ１４）。取得された再生波形（ｂ）の平均振幅を測定する（ステップＳ１５）。
【００３２】
コントローラ４０において，ライト磁界位相調整部４３は，再生波形（ａ）の平均振幅と再生波形（ｂ）の平均振幅との関係で位相調整テーブル４４を参照し，対応する補正量を取得する（ステップＳ１６）。取得された補正量により，ライト磁界の位相を調整する（ステップＳ１７）。
【００３３】
図４は，本実施の形態１によるライト磁界波形での記録を説明する図である。本実施の形態１では，図３のフローチャートでも説明したように，位相が異なる２つのライト磁界波形（ライト磁界波形（ａ），ライト磁界波形（ｂ））でトラック１００に記録し，それぞれのライト磁界波形におけるトラック１００の再生波形（再生波形（ａ），再生波形（ｂ））を取得する。ライト磁界波形（ａ）でトラック１００に記録された場合には，再生波形（ａ）が取得され，ライト磁界波形（ｂ）でトラック１００に記録された場合には，再生波形（ｂ）が取得される。
【００３４】
データの記録としては，磁性ドット１３０の磁化を，上向き／下向き交互に記録したときが最短周期となる。そこで，ライト磁界波形は，測定パターン領域１２２では，位相のズレに敏感になるように最短周期の波形とし，テストパターン領域１２１では，位相のズレがあっても基準再生波形振幅が得られるように長い周期の波形とする。ここでは，図４に示すように，最短周期を２πとする。また，ライト磁界波形（ａ）とライト磁界波形（ｂ）とには，π／２の位相差を持たせるようにする。
【００３５】
図５〜図７は，本実施の形態１によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。図５〜図７を用いて，それぞれ位相の異なるライト磁界波形により得られる再生波形と，測定される平均振幅の例について説明する。
【００３６】
図５に示す例は，ライト磁界波形（ａ）とライト磁界波形（ｂ）の位相が，それぞれ図４に示す位相である場合の例である。まず，図５（Ａ）に示すように，ライト磁界波形（ａ）でトラック１００に記録を行い，再生波形（ａ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。次に，図５（Ｂ）に示すように，ライト磁界波形（ｂ）でトラック１００に記録を行い，再生波形（ｂ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。
【００３７】
図５（Ａ），図５（Ｂ）に示すように，ライト磁界波形（ａ）とライト磁界波形（ｂ）のどちらも磁性ドット１３０上で磁界反転していないので，どの磁性ドット１３０もライト磁界の向きに磁化が確定する。この場合，テストパターン領域１２１で得られる基準再生波形振幅の大きさを１とすると，測定パターン領域１２２での平均振幅は，再生波形（ａ），再生波形（ｂ）のどちらも１となる。
【００３８】
ここで，平均振幅について説明する。以下では，トラック１００上のどの磁性ドット１３０も均質で一定周期に並んでおり，ライト磁界波形も周期が合っているものとする。さらに，記録後の磁性ドット１３０の磁化の確率平均的な向きと大きさは，磁性ドット１３０が受けたライト磁界の積分結果の向きと，その積分結果の大きさに比例した大きさになるものとする。
【００３９】
再生波形の平均振幅Ｓ（θ）を求めるため，磁性ドット１３０が受けるライト磁界を積分するための，磁性ドット１３０を表す関数表現として，Ｄ（ｋｘ）を定義する。正しい磁界の記録が上向き／下向き（＋／−）の交互であるとすると，２つ分の磁性ドット１３０で１周期となるため，Ｄ（ｋｘ）は次のように定義できる。
【００４０】
０≦ｋｘ＜π／２        →    Ｄ（ｋｘ）＝１
π／２≦ｋｘ＜π        →    Ｄ（ｋｘ）＝０
π≦ｋｘ＜３π／２      →    Ｄ（ｋｘ）＝−１
３π／２≦ｋｘ＜２π    →    Ｄ（ｋｘ）＝０
再生波形の平均振幅Ｓ（θ）は，
Ｓ（θ）＝∫Ｄ（ｋｘ）＊ｓｉｎ（ｋｘ−θ）ｄｘ        式（１）
となる。ここで，θは，磁性ドット１３０の列とライト磁界との位相差である。
【００４１】
図６に示す例は，ライト磁界波形（ａ）とライト磁界波形（ｂ）の位相が，それぞれどちらも図４に示すものからπ／４遅れた場合の例である。まず，図６（Ａ）に示すように，ライト磁界波形（ａ）でトラック１００に記録を行い，再生波形（ａ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。次に，図６（Ｂ）に示すように，ライト磁界波形（ｂ）でトラック１００に記録を行い，再生波形（ｂ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。
【００４２】
図６（Ａ）に示すように，ライト磁界波形（ａ）は，磁性ドット１３０のちょうど中央の部分で磁界が反転してしまっている。このとき，磁性ドット１３０は半分ずつ異なる向きの磁界を受けるので，結果として磁性ドット１３０の磁化がどちらを向くかは確率１／２となる。
【００４３】
図８は，磁性ドットの部分でライト磁界が反転する場合の例について説明する図である。図８に示すように，磁性ドット１３０の中央の部分でライト磁界が上から下に反転している場合には，確率１／２で磁性ドット１３０の磁化が上向きとなり，確率１／２で磁性ドット１３０の磁化が下向きとなる。
【００４４】
図６（Ａ）に示す再生波形（ａ）では，磁化の向きが確率１／２で決まる磁性ドット１３０を考慮し，波形の可能性が破線で示されている。図６（Ａ）に示す再生波形（ａ）において，テストパターン領域１２１では磁化の向きが確定する磁性ドット１３０が存在するので，基準となる基準再生波形振幅は測定できる。しかし，測定パターン領域１２２では，平均すればその振幅は０となる。なお，図６（Ｂ）に示すように，ライト磁界波形（ｂ）は磁性ドット１３０の部分で磁界が反転していないので，再生波形（ｂ）の平均振幅は１となる。このように，図６に示す例では，２つのライト磁界の位相の違いが，２つの再生波形の平均振幅に表れている。
【００４５】
図７に示す例は，図６に示す例とは逆に，ライト磁界波形（ａ）とライト磁界波形（ｂ）の位相が，それぞれどちらも図４に示すものからπ／４進んだ場合の例である。まず，図７（Ａ）に示すように，ライト磁界波形（ａ）でトラック１００に記録を行い，再生波形（ａ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。次に，図７（Ｂ）に示すように，ライト磁界波形（ｂ）でトラック１００に記録を行い，再生波形（ｂ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。
【００４６】
図７（Ａ）に示すように，今度は，ライト磁界波形（ａ）は，磁性ドット１３０の部分では磁界が反転していない。しかし，図７（Ｂ）に示すように，ライト磁界波形（ｂ）は，磁性ドット１３０のちょうど中央の部分で磁界が反転してしまっている。すなわち，図７に示す例では，図７（Ａ）に示す再生波形（ａ）の平均振幅が１となるが，図７（ｂ）に示す再生波形（ｂ）の平均振幅は０となる。
【００４７】
このように，図５〜図７に示す例から，
・図４に示すライト磁界波形の場合（図５参照）
再生波形（ａ）の平均振幅＝１，再生波形（ｂ）の平均振幅＝１
・図４に示すライト磁界波形の位相より遅れた場合（図６参照）
再生波形（ａ）の平均振幅＜１，再生波形（ｂ）の平均振幅＝１
・図４に示すライト磁界波形の位相より進んだ場合（図７参照）
再生波形（ａ）の平均振幅＝１，再生波形（ｂ）の平均振幅＜１
となるので，再生波形（ａ）の平均振幅と再生波形（ｂ）の平均振幅とから，逆にライト磁界の位相を知ることができる。
【００４８】
このことを，原理的に説明すると次のようになる。ライト磁界波形（ａ）とライト磁界波形（ｂ）とは位相差がπ／２であるので，再生波形（ａ）の平均振幅Ｓａ（θ），再生波形（ａ）の平均振幅Ｓｂ（θ）は，上記の式（１）において，ｓｉｎ（ｋｘ），ｃｏｓ（ｋｘ）を使って表記すると，
Ｓａ（θ）＝∫Ｄ（ｋｘ）＊ｓｉｎ（ｋｘ−θ）ｄｘ        式（２）
Ｓｂ（θ）＝∫Ｄ（ｋｘ）＊ｃｏｓ（ｋｘ−θ）ｄｘ        式（３）
となる。ここで，θは，磁性ドット１３０の列とライト磁界との位相差であり，問題は，「Ｓａ（θ），Ｓｂ（θ）からθを求める」ことに帰着する。
【００４９】
ｋｘ−θを改めてｋｘと置き直すと，上記の式（２），式（３）は，それぞれ，
Ｓａ（θ）＝∫Ｄ（ｋｘ＋θ）＊ｓｉｎ（ｋｘ）ｄｘ        式（４）
Ｓｂ（θ）＝∫Ｄ（ｋｘ＋θ）＊ｃｏｓ（ｋｘ）ｄｘ        式（５）
となる。これは直交検波の形であるので，θは，
θ＝ａｒｃｔａｎ｛Ｓａ（θ）／Ｓｂ（θ）｝        式（６）
であり，これで知りたい位相差θが求まることになる。つまり，位相差π／２の２つのライト磁界を用いて磁性ドット１３０の列を直交検波し，磁性ドット１３０の列とライト磁界との位相差θを求めたわけである。
【００５０】
この原理からすると，例えば図５に示す例の場合には，２つの再生波形の平均振幅Ｓａ（θ），Ｓｂ（θ）はどちらも１であるから，上記の式（６）によれば，
θ＝ａｒｃｔａｎ｛Ｓａ（θ）／Ｓｂ（θ）｝＝π／４
となる。すなわち，ライト磁界波形（ａ）の位相をπ／４進ませるか，ライト磁界波形（ｂ）の位相をπ／４遅らせれば，ちょうど磁性ドット１３０と磁性ドット１３０との中間地点で磁界反転することになり，位相マージンが最大に補正できることがわかる。
【００５１】
図９は，２つの再生波形の平均振幅の比Ｓａ（θ）／Ｓｂ（θ）と補正すべき位相差θとの関係を示すグラフである。図９のグラフからも分かるように，２つの再生波形の平均振幅の関係（Ｓａ（θ）／Ｓｂ（θ））から，ライト磁界の位相の補正量（補正すべき位相差θ）を得ることができる。
【００５２】
以上のような理論により，ライト磁界の位相調整のたびにライト磁界の位相の補正量を理論的に求めるようにしてもよいが，上述のような２つの再生波形の平均振幅の関係とライト磁界の位相の補正量との対応を，あらかじめ位相調整テーブル４４として用意しておけば，ライト磁界の位相調整の計算のための負荷がなくなる。大量生産される磁気ディスク装置１であれば，すべての磁気ディスク装置１のコントローラ４０に，あらかじめ用意された共通の位相調整テーブル４４を保持させるだけでよい。
【００５３】
図１０は，本実施の形態による位相調整テーブルの例を示す図である。位相調整テーブル４４は，２つの再生波形の平均振幅の関係（Ｓａ（θ）／Ｓｂ（θ））と，ライト磁界の位相の補正量との対応テーブルである。図１０に示す位相調整テーブル４４では，再生波形（ａ）の平均振幅と再生波形（ｂ）の平均振幅との比から，ライト磁界波形（ａ）の位相の補正量が得られる。
【００５４】
このような位相調整テーブル４４を，上述したような理論に基づいて算術的にその対応を求めて作成してもよいし，基準となるディスク１０と記録ヘッド２３，再生ヘッド３１とによって測定を行い，実験的にその対応を求めて作成してもよい。
【００５５】
なお，図１０の位相調整テーブル４４では２つの再生波形の平均振幅の関係を２つの再生波形の平均振幅比で表しているが，必ずしも２つの再生波形の平均振幅の関係を２つの再生波形の平均振幅比である必要はない。例えば，位相調整テーブル４４が，再生波形（ａ）の平均振幅Ｓａ（θ）と再生波形（ｂ）の平均振幅Ｓｂ（θ）との対応に，さらにライト磁界の位相の補正量を対応付けたものであってもよい。
【００５６】
〔実施の形態２〕
前述の実施の形態１では，ディスク１０上のあるトラック１００について，位相の異なるライト磁界波形による２回の記録／再生により，ライト磁界の位相ズレを検出する例について説明した。
【００５７】
本実施の形態２では，ディスク１０上の磁性ドット１３０の配置によって，同じライト磁界波形によって隣接する２つのトラックに記録を行い，それぞれのトラックで測定された再生波形の平均振幅から，ライト磁界の位相ズレを検出する例を具体的に説明する。
【００５８】
図１１は，本実施の形態２でライト磁界の位相調整のために用いるトラックの例を示す図である。本実施の形態２では，ディスク上１０で，磁性ドット１３０が千鳥配置に並べられている。図１１に示すように，ディスク１０上のあるトラック（ａ）１０１の磁性ドット１３０の配列に対し，トラック（ａ）１０１に隣接するトラック（ｂ）１０２，トラック（ｃ）１０３の磁性ドット１３０は，ディスク１０の回転方向でトラック（ａ）１０１の磁性ドット１３０と交互の位置になるように配置されている。
【００５９】
このように磁性ドット１３０が千鳥配置に並べられている場合には，隣接する２つのトラックに対して同じ位相のライト磁界波形で記録しても，それぞれのトラックにとっては互いに位相が異なるライト磁界波形で記録された状態となる。本実施の形態２では，隣接するトラックのそれぞれの再生波形の平均振幅を測定し，得られた２つの再生波形の平均振幅の関係から，ライト磁界の位相ズレを検出する。
【００６０】
図１２は，本実施の形態２によるライト磁界位相調整処理フローチャートである。図１２に示すライト磁界位相調整処理フローチャートは，磁性ドット１３０が千鳥配置されたディスク１０上のトラック（ａ）１０１と隣接するトラック（ｂ）１０２とに同じライト磁界波形（ａ）で記録を行い，それぞれのトラックで再生波形の平均振幅を測定し，ライト磁界の位相調整を行う処理の例である。
【００６１】
磁気ディスク装置１において，コントローラ４０は，記録制御部４１によって記録系の構成２０を制御し，記録ヘッド２３により，ライト磁界波形（ａ）でディスク１０のトラック（ａ）１０１に記録する（ステップＳ２０）。また，ディスク１０のトラック（ａ）１０１に隣接するトラック（ｂ）１０２に，同じライト磁界波形（ａ）で記録する（ステップＳ２１）。
【００６２】
コントローラ４０は，再生制御部４２によって再生系の構成３０を制御し，再生ヘッド３１により，ディスク１０のトラック（ａ）１０１から再生波形（ａ）を取得する（ステップＳ２２）。取得された再生波形（ａ）の平均振幅を測定する（ステップＳ２３）。また，同様に，ディスク１０のトラック（ｂ）１０２から再生波形（ｂ）を取得し（ステップＳ２４），取得された再生波形（ｂ）の平均振幅を測定する（ステップＳ２５）。
【００６３】
コントローラ４０において，ライト磁界位相調整部４３は，再生波形（ａ）の平均振幅と再生波形（ｂ）の平均振幅との関係で位相調整テーブル４４を参照し，対応する補正量を取得する（ステップＳ２６）。取得された補正量により，ライト磁界の位相を調整する（ステップＳ２７）。
【００６４】
なお，記録ヘッド２３をトラック（ａ）１０１とトラック（ｂ）１０２との中間に位置決めすることにより，１回のライト処理で両トラックに記録を行うことも可能である。この場合には，ステップＳ２０とステップＳ２１の処理とが同時に行われる。
【００６５】
図１３は，本実施の形態２によるライト磁界波形での記録を説明する図である。本実施の形態２では，図１１のフローチャートでも説明したように，磁性ドット１３０が千鳥配置されたディスク１０において，同じライト磁界波形（ａ）で互いに隣接するトラック（ａ）１０１とトラック（ｂ）１０２とに記録を行い，それぞれのトラックの再生波形（再生波形（ａ），再生波形（ｂ））を取得する。トラック（ａ）１０１からは再生波形（ａ）が取得され，トラック（ｂ）１０２からは再生波形（ｂ）が取得される。
【００６６】
ライト磁界波形（ａ）は，前述の実施の形態１の場合と同様に，測定パターン領域１２２では，位相のズレに敏感になるように最短周期の波形とし，テストパターン領域１２１では，位相のズレがあっても基準再生波形振幅が得られるように長い周期の波形とする。ここでは，図１３に示すように，最短周期を２πとする。
【００６７】
図１４〜図１６は，本実施の形態２によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。図１４〜図１６を用いて，磁性ドット１３０が千鳥配置されたディスク１０において，同じライト磁界波形により，互いに隣接するトラックから得られる再生波形と，測定される平均振幅の例ついて説明する。
【００６８】
図１４に示す例は，ライト磁界波形（ａ）の位相が，図１３に示す位相である場合の例である。図１４に示すように，ライト磁界波形（ａ）で，トラック（ａ）１０１と，トラック（ａ）１０１に隣接するトラック（ｂ）１０２に記録を行う。トラック（ａ）１０１から再生波形（ａ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。また，トラック（ｂ）１０２から再生波形（ｂ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。
【００６９】
図１４に示すように，トラック（ａ）１０１，トラック（ｂ）１０２のどちらでも，ライト磁界波形（ａ）は磁性ドット１３０上で磁界反転していないので，どの磁性ドット１３０もライト磁界の向きに磁化が確定する。この場合，テストパターン領域１２１で得られる基準再生波形振幅の大きさを１とすると，測定パターン領域１２２での平均振幅は，再生波形（ａ），再生波形（ｂ）のどちらも１となる。
【００７０】
図１５に示す例は，ライト磁界波形（ａ）の位相が，図１３に示すものからπ／４遅れた場合の例である。図１５に示すように，ライト磁界波形（ａ）で，トラック（ａ）１０１と，トラック（ａ）１０１に隣接するトラック（ｂ）１０２に記録を行う。トラック（ａ）１０１から再生波形（ａ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。また，トラック（ｂ）１０２から再生波形（ｂ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。
【００７１】
図１５に示すように，トラック（ａ）１０１において，ライト磁界波形（ａ）は，磁性ドット１３０のちょうど中央の部分で磁界が反転してしまっている。このとき，磁性ドット１３０は半分ずつ異なる向きの磁界を受けるので，結果として磁性ドット１３０の磁化がどちらを向くかは確率１／２となる。図１５に示す再生波形（ａ）では，磁化の向きが確率１／２で決まる磁性ドット１３０を考慮し，波形の可能性が破線で示されている。
【００７２】
図１５に示す再生波形（ａ）において，テストパターン領域１２１では磁化の向きが確定する磁性ドット１３０が存在するので，基準となる基準再生波形振幅は測定できる。しかし，測定パターン領域１２２では，平均すればその振幅は０となる。なお，図１５に示すように，トラック（ｂ）１０２において，ライト磁界波形（ａ）は磁性ドット１３０の部分で磁界が反転していないので，再生波形（ｂ）の平均振幅は１となる。
【００７３】
図１６に示す例は，図１５に示す例とは逆に，ライト磁界波形（ａ）の位相が，図１３に示すものからπ／４進んだ場合の例である。図１６に示すように，ライト磁界波形（ａ）で，トラック（ａ）１０１と，トラック（ａ）１０１に隣接するトラック（ｂ）１０２に記録を行う。トラック（ａ）１０１から再生波形（ａ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。また，トラック（ｂ）１０２から再生波形（ｂ）を取得し，その測定パターン領域１２２の平均振幅を測定する。
【００７４】
図１６に示すように，今度は，トラック（ａ）１０１において，ライト磁界波形（ａ）は，磁性ドット１３０の部分では磁界が反転していない。しかし，図１６に示すように，トラック（ｂ）１０２において，ライト磁界波形（ａ）は，磁性ドット１３０のちょうど中央の部分で磁界が反転してしまっている。すなわち，図１６に示す例では，再生波形（ａ）の平均振幅が１となるが，再生波形（ｂ）の平均振幅は０となる。
【００７５】
このように，図１４〜図１６に示す例によって，磁性ドット１３０が千鳥配置されたディスク１０では，同じライト磁界波形を用いて記録しても，互いに隣接する２つのトラックから，前述の実施の形態１と同様の結果が得られることが分かる。よって，前述の実施の形態１と同様の原理によって，本実施の形態２でも，ライト磁界の位相のズレを求め，ライト磁界の位相を調整することができる。
【００７６】
以上，本実施の形態について説明したが，本発明は，これらの実施の形態に限られるものではない。
【００７７】
例えば，本実施の形態では，説明を簡単にするために２つのライト磁界の位相差がπ／２である場合の例を挙げているが，２つのライト磁界の位相差がπ／２である必要はない。２つのライト磁界の位相差がπ／２でない場合でも，あらかじめ算術的にまたは実験的に，位相の異なる２つのライト磁界により得られる２つの再生波形の平均振幅の関係と，ライト磁界の位相の補正量との対応を求め，その位相調整テーブル４４を用意すれば，問題なく実施可能である。
【００７８】
また，例えば，本実施の形態では，位相の異なる２つのライト磁界により得られる２つの再生波形に関する特徴量の関係からライト磁界の位相の補正量を求めているが，必ずしもこれに限る必要はない。位相の異なる複数のライト磁界により得られる複数の再生波形に関する特徴量の関係とライト磁界の位相の補正量との対応付けができれば，ライト磁界，再生波形の数が２つである必要はない。
【００７９】
また，例えば，本実施の形態では，再生波形に関する特徴量として再生波形の平均振幅の例を用いて説明しているが，再生波形に関する特徴量が必ずしも平均振幅である必要はない。例えば，再生波形に関する特徴量として，エラーレートを利用してライト磁界の位相調整を行うこともできる。
【００８０】
エラーレートは，各磁性ドット１３０に記録された磁化信号の誤り率を示す。これは，ライト磁界により記録された全磁性ドット１３０の数に対する，本来そのライト磁界によって記録されるべき磁化と反対の磁化が記録されてしまった磁性ドット１３０の数と考えることもできる。すなわち，ライト磁界の位相のズレが小さければ確率平均的にエラーレートが小さくなり，ライト磁界の位相のズレが大きければ確率平均的にエラーレートが大きくなる。
【００８１】
よって，例えば，あらかじめライト磁界の位相のズレと再生波形のエラーレートの値との関係を算術的にまたは実験的に求めておき，位相の異なる２つのライト磁界により得られる２つの再生波形のエラーレートの関係とライト磁界の位相の補正量とを対応づけておけば，位相の異なる２つのライト磁界により得られる２つの再生波形のエラーレートの関係からライト磁界の位相の補正量が取得され，その補正量によってライト磁界の位相調整を行うことができる。
【００８２】
このように，再生波形に関する特徴量として，再生波形の平均振幅ではなく，再生波形のエラーレートを用いることも可能である。同様に，ライト磁界の位相のズレに対応して変化する再生波形に関する特徴量であれば，平均振幅やエラーレート以外でも，再生波形に関する特徴量として用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】本実施の形態による磁気ディスク装置の構成例を示す図である。
【図２】本実施の形態１でライト磁界の位相調整のために用いるトラックの例を示す図である。
【図３】本実施の形態１によるライト磁界位相調整処理フローチャートである。
【図４】本実施の形態１によるライト磁界波形での記録を説明する図である。
【図５】本実施の形態１によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。
【図６】本実施の形態１によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。
【図７】本実施の形態１によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。
【図８】磁性ドットの部分でライト磁界が反転する場合の例について説明する図である。
【図９】２つの再生波形の平均振幅の比Ｓａ（θ）／Ｓｂ（θ）と補正すべき位相差θとの関係を示すグラフである。
【図１０】本実施の形態による位相調整テーブルの例を示す図である。
【図１１】本実施の形態２でライト磁界の位相調整のために用いるトラックの例を示す図である。
【図１２】本実施の形態２によるライト磁界位相調整処理フローチャートである。
【図１３】本実施の形態２によるライト磁界波形での記録を説明する図である。
【図１４】本実施の形態２によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。
【図１５】本実施の形態２によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。
【図１６】本実施の形態２によるライト磁界波形と再生波形を説明する図である。
【図１７】パターンドメディアの例を説明する図である。
【符号の説明】
【００８４】
１  磁気ディスク装置
１０  ディスク
２０  記録系の構成
２１  データフォーマッタ
２２  ドライバ
２３  記録ヘッド
３０  再生系の構成
３１  再生ヘッド
３２  アンプ
３３  バンドパスフィルタ
３４  再生波形振幅測定部
４０  コントローラ
４１  記録制御部
４２  再生制御部
４３  ライト磁界位相調整部
４４  位相調整テーブル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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