(57)【要約】【課題】作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供する。【解決手段】テストプローブ１８は、測定部に接触させる第１のプローブ１４Ａと第１のプローブ１４Ａが取り付けられる第１のプローブ本体１６Ａとを有する第１のテストプローブ１８Ａと、測定部に接触させる第２のプローブ１４Ｂと、第２のプローブ１４Ｂが取り付けられる第２のプローブ本体１６Ｂとを有する第２のテストプローブ１８Ｂとで構成される。第２のテストプローブ１８Ｂの挿通孔に第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４を挿入することで、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが相対的に回動自在に連結され、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物の電気的特性を測定するためのテストプローブを有する測定器であって、
前記テストプローブは、
前記測定対象物に接触させる第１のプローブと、前記第１のプローブが取り付けられる第１のプローブ本体とを有する第１のテストプローブと、
前記測定対象物に接触させる第２のプローブと、前記第２のプローブが取り付けられる第２のプローブ本体とを有する第２のテストプローブと、
前記第１のテストプローブと前記第２のテストプローブとを相対的に回動自在に連結するための連結手段と
を有することを特徴とする測定器。
【請求項２】
前記第１および第２のプローブは、導電部材で構成され、
前記第１および第２のプローブ本体は、絶縁部材で構成された
ことを特徴とする請求項１に記載の測定器。
【請求項３】
前記導電部材には滑り止め部が形成された
ことを特徴とする請求項２に記載の測定器。
【請求項４】
前記第１および第２のプローブを、所定角度に開閉したとき、
前記第１および第２のプローブがほぼ平行するように、前記第１および第２のプローブには折曲部を有する
ことを特徴とする請求項１に記載の測定器。
【請求項５】
前記第１および第２のプローブの先端を屈曲させた
ことを特徴とする請求項１に記載の測定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストプローブを有する測定器に関する。詳細には、一対のテストプローブを回動自在に連結することで、片手で一対のテストプローブを同時に操作できるようにしたテストプローブを有する測定器に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば配電盤などの電気機器の電気的特性（電流・電圧・抵抗など）を測定する治具としてテスターが広く利用されている。テスターは、テスター本体とこのテスター本体にリード線を介して接続された一対のテストプローブとで構成される。電気機器（測定対象機器等）の電気的特性などを測定する際には、テストプローブの先端部に設けられたそれぞれのプローブをそれぞれの測定対象物（端子ピンなど）に接触させた状態で、測定対象機器の電気的特性を測定することになる。
【０００３】
プローブは端子ピンに固定されている訳ではないので、このようなテスターを使用する場合には、両手でそれぞれのテストプローブを把持し、端子ピンに接触させた状態を保ちながら測定作業を遂行しなければならない。そのため、測定作業中は両手が塞がってしまうことになる。従って、このような環境下では、テストプローブを操作する人と、テスター本体自体を保持する人との二人の人員が必要になるケースがある。例えば、測定しようとする電気機器が高い位置に取り付けられているようなときや、狭い作業場所に取り付けられているようなときには、測定端子ピンから離れた位置にテスター本体を置かざるを得ず、しかもこのような測定環境ではテスター本体自体を載置する場所が見当たらなかったり、載置するのに不適切なこともある。もちろん、場合によっては二人分の測定スペースを確保できなかったり、二人で測定を行うために無理な姿勢で測定を実施しなくてはならない場合もある。
【０００４】
そこで、特許文献１には、分離・独立した一対のテストプローブを一体化することで、一人でテスター本体とテストプローブとを保持して測定できるような提案がされている。テストに使用されるテストプローブは、一対のテストプローブが本体（支持部材）と一体に構成されており、本体に設けられたウォームねじを回転させて、一対のプローブ間の間隔を調節することで、測定に使用する端子ピン間の間隔に合わせ込むようにしている。
【０００５】
【特許文献１】特開平８−３１３５５５
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特許文献１に開示されるテストプローブでは、一対のテストプローブ間の距離を測定対象となる端子ピン間の距離に合わせるために、ウォームねじを回転させて調節しなければならない。そのため、従来のような一対のプローブを独立にそれぞれ使用する場合と比較して、調整時間がかかってしまうという問題がある。
【０００７】
そこで、本発明は、上記課題を解決するものであり、その目的は、作業者単独でのテスターによる測定を可能とすると共に、一対のテストプローブ間の間隔を簡単に調節できるテストプローブを有する測定器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するために、測定対象物の電気的特性を測定するためのテストプローブを有する測定器であって、前記テストプローブは、前記測定対象物に接触させる第１のプローブと、前記第１のプローブが取り付けられる第１のプローブ本体とを有する第１のテストプローブと、前記測定対象物に接触させる第２のプローブと、前記第２のプローブが取り付けられる第２のプローブ本体とを有する第２のテストプローブと、前記第１のテストプローブと前記第２のテストプローブとを相対的に回動自在に連結するための連結手段とを有することを特徴とするものである。
【０００９】
本発明のテストプローブでは、第１と第２のテストプローブとが連結手段を介して回動自在に連結されており、第１のプローブおよび第２のテストプローブが一体化された、いわゆるはさみ構造をなしている。そのため、第１および第２のプローブの対向間隔を簡単に調節できる。これにより、例えば、測定端子間の間隔が相違していても、常に測定端子にプローブを同時に接触させることができる。また少しの力を第１および第２のプローブに加えただけで、測定端子を強く狭持できるので、安定した接触状態を保持でき、迅速な測定が可能となる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、第１のテストプローブと第２のテストプローブとが一体化されているため、片手で２本のテストプローブを２つの測定端子に同時に接触させることができることができ、その状態で測定を継続できる。従って、測定者の一方の手にテストプローブを持ち、他方の手でテスター本体を持つことができ、一人の測定者によって測定対象物の測定を行うことができる。
【００１１】
また、本発明によれば、テストプローブがはさみ構造であるため、連結手段を支点として回動させることで、第１のテストプローブと第２のテストプローブとの間隔を容易かつ迅速に調節することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
［第１の実施の形態］
以下、本発明の実施形態につき、図面を参照して説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係るテスター１０の構成を示す斜視図である。図２は、図１に示すテストプローブ１８の領域Ａの拡大図であり、第１のプローブ１４Ａおよび第２のプローブ１４Ｂの構成を示す図である。図３は、図１に示すテスターの分解斜視図である。
【００１３】
テスター（測定器）１０は、図１に示すように、テストプローブ１８と、このテストプローブ１８によって検出された電圧、電流などの電気的特性に基づく測定値を取得するテスター本体１２とを有する。テストプローブ１８とテスター本体１２とはリード線２６を介して接続され、リード線２６Ａのプラグ２８Ａがテスター本体１２の図示しない端子部（例えばプラス端子部）に装着され、リード線２６Ｂのプラグ２８Ｂがテスター本体１２の図示しない端子部（例えばマイナス端子部）に装着される。
【００１４】
テスター本体１２の視認側の面には、測定した電気的特性の値を表示する表示部３２と、レンジ切り替えつまみ３０とが設けられている。表示部３２はデジタル表示であっても良いし、アナログ表示であっても良い。
【００１５】
テストプローブ１８は、一対の第１のテストプローブ１８Ａおよび第２のテストプローブ１８Ｂと、これら第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとを連結するための連結手段とを有する。
【００１６】
第１のテストプローブ１８Ａは、測定対象物に接触させて電気的特性を検出するための第１のプローブ１４Ａと、この第１のプローブ１４Ａが取り付け、固定される第１のプローブ本体１６Ａとを有する。
【００１７】
第１のプローブ本体１６Ａは、その中央に屈曲部を有する細長の平板形状をなし、例えば樹脂等の絶縁部材で構成される。第１のプローブ本体１６Ａの後端部には、環状をなす把持部２０Ａが設けられ、作業者が把持部２０Ａに指を挿入することで第１のプローブ本体１６Ａが保持される。
【００１８】
第１のプローブ１４Ａは、棒状をなし、例えばステンレス鋼や鉄などの導電部材で構成され、第１のプローブ本体１６Ａの先端部に取り付けられる。また、第１のプローブ１４Ａの表面には、図２に示すように、第１のプローブ１４Ａを測定端子に接触させたときに、第１のプローブ１４Ａが測定端子面を滑らないように、滑りにくくするための滑り止め部３６が設けられる。滑り止め部３６としては、例えば、第１のプローブ１４Ａ表面にメッシュ状の切り欠き加工を施したり、あるいは第１のプローブ１４Ａ表面にメッシュ状の金属編を貼り付けたりすることでなどで構成することができる。本例では、滑り止め部３６は、第１のプローブ１４Ａ全面に亘って形成されているが、測定端子に接触する部分（領域）だけ滑り止め部３６を形成することもできる。
【００１９】
第２のテストプローブ１８Ｂは、測定対象物に接触させて電気的特性を検出するための第２のプローブ１４Ｂと、この第２のプローブ１４Ｂが取り付け、固定される第２のプローブ本体１６Ｂとを有する。第２のテストプローブ１８Ｂは、第１のテストプローブ１８Ａとその構成はほぼ同じであるので、第１のテストプローブ１８Ａと同一の構成部分については説明を省略するも、第２のプローブ本体１６Ｂの後端部には、環状をなす把持部２０Ｂが設けられる。
【００２０】
第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとを連結するための連結手段は、図３に示すように、第１のテストプローブ１８Ａに設けられた回動軸３４と、第２のテストプローブ１８Ｂに設けられた軸受け部として機能する挿通孔２４とで構成される。第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４はその屈曲部の平面部に対して立設され、第２のテストプローブ１８Ｂの挿通孔２４は第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４と対向する位置に第２のテストプローブ１８Ｂの厚み方向に貫通するようにして穿設される。
【００２１】
従って、第２のテストプローブ１８Ｂの挿通孔２４に第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４を装着することで、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが回動自在に連結される。この連結手段（回動軸３４，挿通孔２４）を用いることで、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが一体化される。はさみの構造と軌を一にする把持部２０Ａ，２０Ｂ側を開閉することで、第１のプローブ１４Ａと第２のプローブ１４Ｂとの対向間隔を調節できる。なお、第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４から第２のテストプローブ１８Ｂを取り外せば、従来のように第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとをそれぞれ独立に使用することもできる。本例では、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとをそれぞれ独立して使用する場合のために、第１および第２のテストプローブ１８Ａ，１８Ｂのそれぞれの先端部が尖った針形状で構成される。
【００２２】
次に、テストプローブ１８の断面構造について説明する。図４（Ａ）は第１のテストプローブ１８Ａの構成を示す断面図であり、図４（Ｂ）は第２のテストプローブ１８Ｂの構成を示す断面図であり、図４（Ｃ）は、図４（Ａ）に示す領域Ｂの要部拡大図である。第２のテストプローブ１８Ｂについては第１のテストプローブ１８Ａと連結手段を除いては同一構成であるため、説明を省略する。
【００２３】
リード線２６Ａのテスター本体１２と反対の端部側（図１参照）は、図４（Ａ）および図４（Ｃ）に示すように、第１のプローブ本体１６Ａの内部まで埋設されており、第１のプローブ本体１６Ａの絶縁部材によって被覆されている。リード線２６Ａは、芯線２６０が絶縁材料からなるシールド部によって被覆された絶縁線（シールド線）が使用される。このリード線２６Ａの先端部は芯線２６０が僅かに露出し、この露出部２６２は第１のプローブ１４Ａとの電気的な接続部として利用される。また、第１のプローブ本体１６Ａの先端部には、絶縁材料によって囲まれた第１のプローブ１４Ａが挿入されるための凹部が設けられ、この凹部内周面にはメスねじ加工が施されたメスねじ部（ナット）３８ｂが設けられる。これに対する第１のプローブ１４Ａの基端部は、オスねじ加工が施されたオスねじ部３８ａとなされる。メスねじ部３８ｂの基端部はリード線２６Ａの露出部２６２と電気的に接続される。
【００２４】
これにより、第１のプローブ１４Ａのオスねじ部３８ａを第１のプローブ本体１６Ａのメスねじ部３８ｂに羅合させることで、第１のプローブ１４Ａが第１のプローブ本体１６Ａに機械的に連結されると共に、メスねじ部３８ｂを介して第１のプローブ１４Ａとリード線２６Ａとの導通が図られる。なお、露出部２６２と対向するオスねじ部３８ａの面内に露出部２６２が入り込む凹部を形成しても良い。このように、第１のプローブ１４Ａを第１のプローブ本体１６Ａに対して着脱自在な構成とすることで、測定端子の形状や測定場所、測定方法などの測定条件に応じて、これらの測定条件に応じた形状や材質を有するプローブに交換することができる。
【００２５】
次に、本発明のテスター１０の使用例について説明する。図５は、測定者が本発明のテスター１０を保持しているときの様子を示す図である。図６は、本発明のテスター１０を用いて測定対象物の一例である配電盤に設けられた測定端子５４ａ，５４ｂ間の測定を行うときの使用例を示す図である。測定端子５４ａ〜５４ｄのサイズ等は、その機器本体と共に、説明の都合上、誇張して図示してある。
【００２６】
図５に示すように、本例では、一人の作業者が、右手ではさみ構造のテストプローブ１８を保持し、左手でテスター本体１２を保持している。そして、図６に示すように、右手で保持するテストプローブ１８を配電盤に取り付けられたテストプラグ５２の測定端子５４ａ，５４ｂの右側から接触させる。この状態で、左手で保持したテスター本体１２の表示部３２の目盛りを読み取りながら、測定端子５４ａ，５４ｂ間の電気的特性の測定を行うことができる。従って、測定対象物の設置場所に依存することなく単独で測定できる。つまり、測定端子が高い位置にある場合や狭いスペースにある場合でも、一人分のスペースがあれば無理のない姿勢により測定を行うことができる。
【００２７】
以上説明したように、本実施の形態では、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂが一体化された、いわゆるはさみ構造をなしている。そのため、第１のプローブ１４Ａと第２のプローブ１４Ｂとの間隔を簡単に調節できるので、測定端子間隔が相違する測定対象物でも、一対のテストプローブ１８Ａ，１８Ｂを簡単に測定端子間に接触させることができる。測定端子が多数あっても簡単に連続した測定が可能となる。
【００２８】
［第２の実施の形態］
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
本実施の形態では、第１の実施の形態と同様に、測定対象物の左右側から測定を行う場合について説明する。なお、上述した第１実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
【００２９】
図７は、本発明の一実施形態に係るテスター１０の構成を示す斜視図である。図８（Ａ）および図８（Ｂ）は、本実施形態に係るテストプローブ１８の使用例を示す図である。
図７および図８（Ａ），（Ｂ）に示すように、第１のプローブ１４Ａは、直線部１４ｇと、直線部１４ｇの先端から下方側に折曲部１４ｋを介して折り曲げられた当接部１４ｈとを有し、略Ｌ字形状で構成される。同様に、第２のプローブ１４Ｂは、直線部１４ｉと、直線部１４ｉの先端から下方側に折曲部１４ｌを介して折り曲げられた当接部１４ｊとを有し、略Ｌ字形状で構成される。本例では、折曲部を９０°に設定したが、これに限定されることはない。また、第１のプローブ１４Ａおよび第２のプローブ１４Ｂに設けた折曲部１４ｋ，１４ｌに代えて、湾曲部としても良い。
【００３０】
測定時には、図８（Ａ），（Ｂ）に示すように、テストプラグ５２の平面方向に対して略垂直方向である手前側から測定端子５４ａ，５４ｂのそれぞれを当接部１４ｈ，１４ｊにより挟み込むようにし、第１のプローブ１４Ａを測定端子５４ｂに接触させると共に第２のプローブ１４Ｂを測定端子５４ａに接触させて、測定端子５４ａ，５４ｂ間の電気的特性の測定を行う。
【００３１】
本実施の形態によれば、上述した第１の実施の形態と同様の作用効果を奏することができる。さらに、テストプラグ５２の左右方向または上下方向に測定スペースを確保できない場合でも、テストプラグ５２の略垂直方向である手前側から測定を行うことができ、測定対象物の設置場所等に対応した測定が行える。
【００３２】
［第３の実施の形態］
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。
図１１に示すように、例えば一対の測定端子５４ａ，５４ｂ間の電気的特性を測定する場合には、測定端子５４ａ，５４ｃの手前側から測定する場合と、測定端子５４ａ，５４ｂまたは測定端子５４ｃ，５４ｄの左右側から測定する場合とが考えられるが、測定対象機器の設定場所によっては左右側からでは測定できないことがある。例えば、測定機器の左右側の測定スペースがない場合、測定機器が高い場所に設置されており測定機器の左右側から測定することができない場合などが考えられる。そのようなときにはどうしても手前側から測定することになる。このような向きでも測定できるようにしたのが第３の実施の形態に示すテストプローブである。なお、上述した第１実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
【００３３】
図９は、本発明の一実施形態に係るテスター１０の構成を示す斜視図である。図１０（Ａ）は第１のテストプローブ１８Ａの構成を示す断面図であり、図１０（Ｂ）は第２のテストプローブ１８Ｂの構成を示す断面図である。図１１は、本実施形態に係るテストプローブ１８の使用例を示す図である。第１のテストプローブ１８Ａを奥側の測定端子５４ｂ用とし、第２のテストプローブ１８Ｂを手前側の測定端子５４ａ用として以後説明する。
【００３４】
図９〜図１１に示すように、棒状をなす第１のプローブ１４Ａの長手方向の長さは、少なくとも奥側の測定端子５４ｂに接触できるような長さに選定される。そして、第１のプローブ１４Ａの長手方向のうち中間部から手前側のプローブの基端部までは例えば樹脂などの絶縁材料で被覆された非測定部１４ｄとなされる。第１のプローブ１４Ａの長手方向のうち後端部（先端部）はステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部１４ｃとなされる。
【００３５】
第２のプローブ１４Ｂの長手方向の長さは、少なくとも手前側の測定端子５４ａに接触できるような長さに選定される。本例では第１のプローブ１４Ａの略半分の長さに選定される。この第２のプローブ１４Ｂは、ステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部１４ｅとなされる。
【００３６】
本実施の形態によれば、上述したように測定対象物の左右側から測定することができない場合でも、測定対象物の手前側から測定端子５４ａ，５４ｂ間の電気的特性を測定できる。また、第２のプローブ１４Ｂは、測定端子５４ａに接触する程度の長さに選定されるため、テストプローブ１８を所定角度に開いて使用した場合でも隣接する測定端子５４ｃ，５４ｄに接触することを防止できる。さらに、測定端子５４ａ，５４ｂに接触する部分以外の領域にも余裕を持たせて測定部１４ｃおよび非測定部１４ｄを設けることで、例えば測定端子の外径や測定端子間の間隔が測定毎に相違したとしても、確実に測定を実行できる。
【００３７】
［第４の実施の形態］
次に、本実施の形態について図面を参照して説明する。  
本実施の形態では、上述した第３の実施の形態と同様に、測定対象物の手前側から測定を行う場合について説明する。なお、上述した第１実施の形態と共通する構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
【００３８】
図１２は、本発明の一実施形態に係るテスター１０の構成を示す斜視図である。図１３は、本実施形態に係るテストプローブ１８の使用例を示す図である。
【００３９】
第１のプローブ１４Ａは、図１２に示すように、直線部１４ｍの基端が折曲部Ｃ１，Ｃ２により屈曲されたクランク形状で構成される。第２のプローブ１４Ｂも同様に直線部１４ｎの基端が折曲部Ｃ３，Ｃ４により屈曲されたクランク形状で構成される。
【００４０】
第１のプローブ１４Ａの直線部１４ｍのうち中間部から手前側のプローブの基端部までは例えば樹脂などの絶縁材料で被覆された非測定部１４ｄとなされる。第１のプローブ１４Ａの直線部１４ｍのうち後端部（先端部）はステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部１４ｃとなされる。
【００４１】
第２のプローブ１４Ｂの直線部１４ｎのうち中間部から手前側のプローブの基端部まではステンレス鋼や鉄などの硬い導電材料で構成された測定部１４ｅとなされる。第２のプローブ１４Ｂの直線部１４ｎのうち後端部（先端部）は例えば樹脂などの絶縁材料で被覆された非測定部１４ｆとなされる。
【００４２】
第１のプローブ１４Ａの直線部１４ｍと第２のプローブ１４Ｂの直線部１４ｎとは、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂを所定角度θに開閉したとき、互いに平行するように第１のプローブ本体１６Ａと第２のプローブ本体１６Ｂとのそれぞれに取り付けられる。本例では、図１３に示すように、第１のプローブ本体１６Ａと第２プローブ本体とのなす角度θが０°となったとき、第１のプローブ１４Ａの直線部１４ｍおよび第２のプローブ１４Ｂの直線部１４ｎとが平行になる。このとき、第１のプローブ１４Ａの直線部１４ｍと第２のプローブ１４Ｂの直線部１４ｎとの間の最短距離Ｗ２は、測定端子５４ａ〜５４ｄの直径Ｗ１と略同一に設定される。これにより、第１のプローブ１４Ａの測定部１４ｃが測定端子５４ｂに、第２のプローブ１４Ｂの測定部１４ｅが測定端子５４ａに同時に接触される。
【００４３】
本実施の形態によれば、第３の実施の形態と同様に、測定対象物の左右側の測定スペースがない場合や、測定対象物が高い場所に設置されており測定対象物の左右側から測定することができない等の場合でも、下方または上方から測定端子５４ａ，５４ｂ間の電気的特性を測定できる。また、第１のプローブ１４Ａと第２のプローブ１４Ｂは、略平行に取り付けられるため、隣接する測定端子への接触を防止することができ、正確な測定を行うことが可能となる。
【００４４】
なお、本発明の技術範囲は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、上述した実施形態に種々の変更を加えたものを含む。
【００４５】
例えば、連結手段は、上述した実施の形態に限定されることはなく、他の種々の方法を適用できる。また、第１および第２のプローブ１４Ａ，１４Ｂとリード線２６Ａ，２６Ｂとの導通方法についても上述した実施の形態に限定されることはない。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
本発明は、電気機器に設けられた測定端子間の電気的特性を測定する場合に好適に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の一実施形態に係るテスターの構成を示す斜視図である。
【図２】第１のプローブおよび第２のプローブの拡大図である。
【図３】テスターの構成を示す分解斜視図である。
【図４】テスターの構成を示す断面図である。
【図５】テスターの使用例を示す図である（その１）。
【図６】テスターの使用例を示す図である（その２）。
【図７】本発明の他の実施形態に係るテスターの構成を示す斜視図である。
【図８】テスターの使用例を示す図である。
【図９】本発明の他の実施形態に係るテスターの構成を示す斜視図である。
【図１０】テスターの構成を示す断面図である。
【図１１】テスターの使用例を示す図である。
【図１２】本発明の他の実施形態に係るテスターの構成を示す斜視図である。
【図１３】テスターの使用例を示す図である。
【符号の説明】
【００４８】
１０…テスター、  １２…テスター本体、  １４Ａ…第１のプローブ、  １４Ｂ…第２のプローブ、  １４ｃ，１４ｅ…測定部、  １４ｄ，１４ｆ…非測定部、  １４ｇ，１４ｉ…直線部、  １４ｈ，１４ｊ…垂直部、  １６Ａ…第１のプローブ本体、  １６Ｂ…第２のプローブ本体、  １８…テストプローブ、  １８Ａ…第１のテストプローブ、  １８Ｂ…第２のテストプローブ、  ２０Ａ，２０Ｂ…把持部、  ２４…挿通孔、  ２６Ａ，２６Ｂ…リード線、  ２６０…芯線、  ３４…回動軸、  ３６…滑り止め部、  ５２…テストプラグ、  ５４ａ，５４ｂ，５４ｃ，５４ｄ…端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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