(57)【要約】【課題】発光ピークパワーを最小限に抑えることが可能で、リードステイビリティを改善することが可能な光再生装置およびその方法を提供する。【解決手段】光媒体に照射される光を検出するフォトディテクタ１１２と、レーザダイオードを高周波重畳方式により駆動する高周波重畳部３００と、を有し、高周波重畳部は、高周波重畳レベルの設定を、上記フォトディテクタの検出における雑音に自動ゲインコントロール（ＡＧＣ）を掛け正規化して、当該正規化された信号が雑音対強度（ＲＩＮ）目標値となるよう、自動レベルコントロール（ＡＬＣ）を行う。【選択図】図５
2009283048.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光媒体と、
高周波重畳方式により駆動され、上記光媒体にレーザ光を照射するレーザダイオードと、
上記光媒体に照射される光を検出するフォトディテクタと、
上記レーザダイオードを高周波重畳方式により駆動する高周波重畳部と、を有し、
上記高周波重畳部は、
高周波重畳レベルの設定を、上記フォトディテクタの検出における雑音に自動ゲインコントロール（ＡＧＣ）を掛け正規化して、当該正規化された信号が相対雑音強度（ＲＩＮ）目標値となるよう、自動レベルコントロール（ＡＬＣ）を行う
光再生装置。
【請求項２】
上記ＡＬＣを掛けられるように、ＲＩＮを低下させておくアッテネータを有する
請求項１記載の光再生装置。
【請求項３】
上記高周波重畳部は、
上記フォトディテクタの検出信号にＡＧＣを掛けるＡＧＣ部と、
上記ＡＧＣ部の出力から雑音レベルを検出する雑音検出部と、
上記ＡＧＣおよび雑音検出に対するＲＩＮ設定目標値と上記雑音検出部の検出結果とを比較し、比較エラー信号を出力する比較部と、を含み、
上記比較エラー信号に応じたレベルコントロールデータに基づいて高周波重畳レベルを可変する
請求項１または２記載の光再生装置。
【請求項４】
上記高周波重畳部は、
上記比較エラーなくなる最大値でレベルコントロールデータを保持してメモリに格納する
請求項３記載の光再生装置。
【請求項５】
上記高周波重畳部は、
リードモードにおいて、上記比較部で比較を行い、上記最大値に書き換える
請求項４記載の光再生装置。
【請求項６】
上記高周波重畳部は、
上記比較エラーなくなるような追従処理を行う
請求項３記載の光再生装置。
【請求項７】
光媒体をセットしてリードモードする第１ステップと、
レーザダイオードを高周波重畳駆動してレーザ光を光媒体に照射する第２ステップと、
上記光媒体に照射される光をフォトディテクタで検出する第３ステップと、
上記フォトディテクタの検出における雑音に自動ゲインコントロール（ＡＧＣ）を掛け正規化する第４ステップと、
上記正規化された信号が相対雑音強度（ＲＩＮ）目標値となるよう、自動レベルコントロール（ＡＬＣ）を行って高周波重畳レベルの設定を行う第５ステップと
を有する光再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置等に適用可能な光再生装置に係り、特に光媒体の情報記録面に照射するレーザ光源を高周波重畳方式によって駆動する光再生装置およびその方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
記録再生が可能な光ディスク装置は、レーザダイオード（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ：ＬＤ）から出射されるレーザ光をディスクに照射してデータの記録、再生を行う。
光ディスク装置の光ヘッドは、レーザダイオードの放射したレーザ光の光ディスクのよる反射光を検出するフォトディテクタ等を内蔵している。
フォトディテクタ（ＰＤ）の出力は、受光光量に応じた電気信号としてＲＦアンプ等に供給される。
再生系は、光ヘッドのフォトディテクタによる検出出力を再生増幅する再生増幅回路やデコーダ等を有する。デコーダは、光ディスクの記録トラックからの反射光の検出出力について、記録系のエンコード処理に対応するデコード処理によりデータを再生する。
【０００３】
このような光ディスク装置において、ＬＤの駆動電流に高周波電流を重畳することにより、光ディスクからの反射光に生じるノイズの低減を図り、ＲＩＮ（相対雑音強度）を改善するようにしたレーザ駆動装置が提案されている（たとえば特許文献１，２参照）
【０００４】
そして、近年、波長４００ｎｍのＬＤを用いた位相変化（phase change：ＰＣ）ディスクの再生装置においても、戻り光の影響で低下するＲＩＮ（相対雑音強度）を抑圧するため、高周波重畳を掛けている。
【０００５】
図１は、一般的な高周波重畳回路の構成例を示す図である。
【０００６】
この高周波重畳部１０は、シリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部１１、高周波発振器（ＨＦ ＯＳＣ）１２、カレントスイッチ部１３、出力電流ドライバ１４、レーザパワーメモリ１５、デジタルアナログ変換器（Ｄ／Ａ）１６、およびレーザパワーコントローラ１７を有する。
【０００７】
ここでは、重畳レベルの設定で説明する。
リードモードとし、高周波発振器１２をオン、オフして電流ΔIopを測定し、電流ΔIopが０．４ｍＡとなるレベルコントロール用のコントロールデータをシリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部３０１のステータスレジスタに格納している。
電流ΔIopの設定値が０．４ｍＡと小さいため、図１に示すように外部に電流電圧変換抵抗Ｒ１と１２bitアナログデジタル（Ａ／Ｄ）変換器１８を持ち、製造ラインで調整を行っている。
【特許文献１】特開平７‐９３７９４号公報
【特許文献２】特開２０００‐１４９３０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところが、上述した高調波重畳部は、外部に電流電圧変換抵抗Ｒ１とＡ／Ｄ変換器１８を持ち、製造ラインでΔIopを調整していることから、以下の不利益がある。
【０００９】
すなわち、ＬＤの劣化によるηの低下に対して、ΔIopの再設定をすることはできない。最悪時、重畳は掛からなくなるおそれがある。
レベル設定がΔIopを利用しているため、ＬＤの低パワーリニアリティ（low power linearity）やηのバラツキによってピークパワーが大きく変化する。
発光ピークパワーの温度変化に対しては、オープンで補正を行う必要がある。
【００１０】
近年、高転送４倍速再生や記録容量拡大でデュアルレイヤーディスク（dual layer disc）の再生が必要となって来ているが、以下の問題が含む。
【００１１】
４倍速再生では、広帯域のため、ＯＥＩＣ（光ＩＣ）のアンプノイズが問題となっている。
デュアルレイヤーディスクでは反射率の低下から、信号が低下してＯＥＩＣのアンプノイズが問題となっている。
【００１２】
双方の問題を解決するには、リードパワーを上げる必要があるが、リードステイビリティ（read stability）が低下する。
記録密度を上げるには、再生ビームを絞る必要があるが、ディスクへのパワー密度がアップするので、リードステイビリティ（read stability）の低下が懸念される。
【００１３】
本発明は、発光ピークパワーを最小限に抑えることが可能で、リードステイビリティを改善することが可能な光再生装置およびその方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の第１の観点の再生装置は、光媒体と、高周波重畳方式により駆動され、上記光媒体にレーザ光を照射するレーザダイオードと、上記光媒体に照射される光を検出するフォトディテクタと、上記レーザダイオードを高周波重畳方式により駆動する高周波重畳部と、を有し、上記高周波重畳部は、高周波重畳レベルの設定を、上記フォトディテクタの検出における雑音に自動ゲインコントロール（ＡＧＣ）を掛け正規化して、当該正規化した信号が相対雑音強度（ＲＩＮ）目標値となるよう、自動レベルコントロール（ＡＬＣ）を行う。
【００１５】
好適には、上記ＡＬＣを掛けられるように、ＲＩＮを低下させておくアッテネータを有する。
【００１６】
好適には、上記高周波重畳部は、上記フォトティテクの検出信号にＡＧＣを掛けるＡＧＣ部と、上記ＡＧＣ部の出力から雑音レベルを検出する雑音検出部と、上記ＡＧＣおよび雑音検出に対するＲＩＮ設定目標値と上記雑音検出部の検出結果とを比較し、比較エラー信号を出力する比較部と、を含み、上記比較エラー信号に応じたレベルコントロールデータに基づいて高周波重畳レベルを可変する。
【００１７】
好適には、上記高周波重畳部は、上記比較エラーなくなる最大値でレベルコントロールデータを保持してメモリに格納する。
【００１８】
好適には、上記高周波重畳部は、リードモードにおいて、上記比較部で比較を行い、上記最大値に書き換える。
【００１９】
好適には、上記高周波重畳部は、上記比較エラーなくなるような追従処理を行う。
【００２０】
本発明の第２の観点の光再生方法は、光媒体をセットしてリードモードする第１ステップと、レーザダイオードを高周波重畳駆動してレーザ光を光媒体に照射する第２ステップと、上記光媒体に照射される光をフォトディテクタで検出する第３ステップと、上記フォトディテクタの検出における雑音に自動ゲインコントロール（ＡＧＣ）を掛け正規化する第４ステップと、上記正規化された信号が相対雑音強度（ＲＩＮ）目標値となるよう、自動レベルコントロール（ＡＬＣ）を行って高周波重畳レベルの設定を行う第５ステップとを有する。
【００２１】
本発明によれば、レーザダイオードが高周波重畳駆動されてレーザ光が光媒体に照射される。
そのとき、光媒体に照射される光がフォトディテクタで検出される。
そして、高周波重畳部において、フォトディテクタの検出における雑音に自動ゲインコントロール（ＡＧＣ）が掛けられて正規化される。
この正規された雑音がＲＩＮ目標値となるよう、自動レベルコントロール（ＡＬＣ）が行われて高周波重畳レベルの設定が行われる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、発光ピークパワーを最小限に抑えることが可能で、リードステイビリティを改善することができる利点がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施の形態を図面に関連付けて説明する。
【００２４】
図２は、本発明の実施形態に係る光記録再生装置の簡略構成を示す図である。
【００２５】
この光記録再生装置１００は、記録媒体（たとえば光ディスク）１０１、光ピックアップ（光ヘッド）１１０、記録系１２０、再生系１３０、制御系１４０、およびシステムコントローラ１５０を有する。
【００２６】
光記録再生装置１００は、光ディスク１０１をモータ駆動回路１０２により駆動されるスピンドルモータ１０３にて回転駆動し、光ディスク１０１の記録トラックを光ヘッド１１０によりレーザ光で走査する。
これにより、光記録再生装置１００は、所定のデータフォーマット、たとえば、ブルーレイディスクに適合したフォーマット、ＣＤの規格に適合したフォーマットで、デジタルデータを光学的に記録し、再生する。
【００２７】
光ヘッド１１０は、レーザ駆動回路により駆動されデジタルデータの記録再生用のレーザダイオード１１１を有する。
光ヘッド１１０は、さらに、レーザダイオード（ＬＤ）１１１が放射したレーザ光を検出するフォトディテクタ（ＦＰＤ：Ｆｒｏｎｔ ＰＤ）１１２やレーザダイオード１１１の放射したレーザ光の光ディスク１０１のよる反射光を検出するフォトディテクタ（ＰＤ）１１３等を内蔵している。
【００２８】
このＬＤ１１１は、レーザ駆動回路により駆動される。本実施形態の光記録再生装置１００において、ＬＤ１１１の駆動方式とし高周波重畳方式が採用されている。
そして、光記録再生装置１００においては、光ディスク１０１の情報記録面で反射された光をフォトディテクタ（ＰＤ）１１２で検出し、検出信号に基づいて光ディスク１０１に記録された情報の再生を行う。
【００２９】
記録系１２０は、入力端子１２１から入出力インタフェース１２２を介して供給される記録すべきデジタルデータＤＴを上記した所定のデータフォーマットの記録データ列に変換するエンコーダ１２３を有する。
記録系１２０は、さらに、記録データ列に応じたライトパルスを発生するパルス発生回路１２４、ライトパルスに応じてライト信号電流を生成して光ヘッド１１０のレーザダイオード１１１を駆動するレーザ駆動回路１２５等を有する。
【００３０】
再生系１３０は、光ヘッド１１０のフォトディテクタ１１３による検出出力を再生し増幅する再生増幅回路１３１やデコーダ１３２等を有する。
デコーダ１３２は、光ディスク１０１の記録トラックからの反射光の検出出力について、上述の記録系１２０のエンコーダ１２３に対応するデコード処理によりデータを再生し、再生データを出力端子１３３から出力する。
【００３１】
制御系１４０は、光ヘッド１１０のフォトディテクタ１１３による検出出力を再生し増幅する再生増幅回路１４１、再生増幅回路１４１を受けてサーボ制御を行うスピンドルサーボ回路１４２やヘッドサーボ回路１４３等を有する。
【００３２】
システムコントローラ１５０は、アナログデジタル変換機能（Ａ／Ｄ）を有しており、その入力ポートに光ヘッド１１０のフォトディテクタ１１３による検出出力が再生増幅回路１４１により供給される。
また、システムコントローラ１５０は、光ヘッド１１０のレーザダイオード１１１が放射したレーザ光を検出するフォトディテクタ１１２による検出出力がプリアンプ１５１を介して供給される。
システムコントローラ１５０は、供給されデジタル信号に変換された検出信号に応じて記録系１２０のパルス発生回路１２４およびレーザ駆動回路１２５の処理を制御する。
【００３３】
なお、この光記録再生装置は、一例であって、本発明が適用される光記録装置は、図２の構成に限るものではないことはいうまでもない。
【００３４】
本実施形態に係る光記録再生装置１００においては、上述したようにＬＤ１１１の駆動方式とし高周波重畳方式が採用されている。
そして、たとえば波長４００ｎｍのＬＤ１１１を用いた光ディスク記録再生装置において、光ディスク１０１の再生時のリードステイビリティ（read stability）を改善するために、以下のような構成を有する。
戻り光の抑制を行うための高周波重畳レベルの設定を、ノイズにＡＧＣ（Automatic Gain Control）を掛け正規化して、ＲＩＮ目標値となるよう、ＡＬＣ（automatic level control)を行う。
そして、その最大値とするレベル設定方法で、ＡＬＣを掛けられるように、アッテネータ（ＡＴＴ）を挿入してＲＩＮを十分低下させておく。
【００３５】
すなわち、本実施形態においては、高周波重畳レベルの設定をＲＩＮ設定としている。
【００３６】
図３は、本実施形態に係る再生光学系の構成を示す図である。
【００３７】
再生光学系２００は、図３に示すように、コリメータレンズ（collimator lens）２０１、１／２波長板（ＨＷＰ）２０２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）２０３、１／４波長板（ＱＷＰ）２０４、対物レンズ（object lens）２０５、集光レンズ２０６、およびアッテネータ（ＡＴＴ）２０７を有している。
【００３８】
ＬＤ１１１は、高周波でスイッチング駆動され、平均値で定パワーの光を出力する。
再生光学系２００において、ＬＤ１１１の出力レーザ光はコリメータレンズ２０１で平行光に整形され、ＨＷＰ、ＰＢＳ２０３を通過し、対物レンズで光ディスク１０１上に焦点を合わせる。
光ディスク１０１の反射光はＱＷＰ２０４を通すことによって、ＰＢＳ２０３で殆どＲＦ ＰＤ１１３側に出力される。
また、ＬＤ１１１から出力されたレーザ光は、ＨＰＷ２０２とＰＢＳ２０３でＦＰＤ１１２側に０.数％出力される。これにより、オートパワーコントロール（ＡＰＣ）が掛けられる。
【００３９】
アッテネータ２０７は、たとえば９ｄＢのアッテネート（減衰）機能を有する。
【００４０】
図４は、本実施形態に係る高周波重畳部の構成例を示すブロック図である。
【００４１】
この高周波重畳部３００は、シリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部３０１、高周波発振器（ＨＦ ＯＳＣ）３０２、カレントスイッチ３０３、出力電流ドライバ３０４、レーザパワーメモリ３０５、デジタルアナログ変換器（Ｄ／Ａ）３０６、レーザパワーコントローラ３０７、およびノイズ検出部３０８を有する。
【００４２】
外部の制御系からシリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部３０１のステータスレジスタにレベルコントロールのコントロールデータが設定される。
この設定データに基づいて高周波発振器３０２の周波数コントロールおよびレベルコントロールが行われる。このコントロールに伴いカレントスイッチ３０３、出力電流ドライバ３０４を通して、ＬＤ１１１が発光波高値を抑えたオフコントロールにより駆動される。
また、シリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部３０１のよるリードパワーコントロールによって、レーザパワーメモリからリードパワーメモリ３０５６からデータが読み出される。この読み出されたデータはアナログ信号に変換され、レーザパワーコントローラ３０７に与えられる。
レーザパワーコントローラ３０７には、ＦＰＤ１１２によるレーザ出力に伴う信号を受けて、レーザパワーをコントロールするように、カレントスイッチ３０３がコントロールされる。
【００４３】
そして、本実施形態においては、高周波重畳レベルの設定を、ＲＩＮ設定とする機能を実現するために、高周波レベルコントロール部としてのノイズ検出部３０８が設けられている。
【００４４】
図５は、本実施形態に係るノイズ検出部を含む高周波レベルコントロール回路の構成を示す機能ブロック図である。
【００４５】
この高周波レベルコントロール回路３１０は、図５に示すように、ＦＰＤ(Front Photo-Detector）アンプ３１１、ＦＰＤＡＧＣアンプ３１２、ノイズディテクタ３１３、レベル比較回路３１４、高周波レベルコントロール部３１５、および重畳回路（高周波ＬＤドライバ）３１６を有する。
これらの構成要素のうち、ＦＰＤＡＧＣアンプ３１２、ノイズディテクタ３１３、レベル比較回路３１４が図４のノイズ検出部３０８に含まれる。
【００４６】
ＦＰＤアンプ３１１は、ＦＰＤ１１２の検出を受けて増幅し、ＦＰＤアンプ４１２に出力する。
ＦＰＤアンプ３１１は、再生光学系２００のＰＢＳ２０３からの分光比が0.1〜0.2なので光量が多く帯域を広くしてもアンプのＳ／Ｎは問題とはならない。
また、ＦＰＤアンプ３１１は、図示しないＡＰＣ部に信号を出力する。
【００４７】
ＡＧＣアンプ３１２は、ノイズを対パワーとするＡＧＣアンプとして構成される。
ＬＤの出力パワーは、光路のカップリングがバラツクので、ＦＰＤ１１２の入力光量もバラツク。したがって、ＲＩＮを測定するには、相対的ノイズレベルを測定する必要があり、ＤＣパワーで正規化する機能を有する。
ＡＧＣアンプ３１２は、たとえば差動入力、２象限マルチプライヤ、シングルエンド電圧出力で構成される直流結合の可変利得増幅器（variable gain amplifier）であって、出力ＤＣを目標値になるよう帰還を掛ける構成を含む。
【００４８】
ノイズディテクタ３１３は、ＡＧＣアンプ３１２の出力から、たとえばノイズのピーク検波を行う。
ノイズディテクタ３１３は、たとえばバイポーラトランジスタの差動アンプを含み、トランジスタのベース・エミッタ間電圧Ｖｂｅを利用した検波で、入出力特性が図６のようになる。したがって、ノイズアンプで十分に増幅可能である。
ノイズディテクタ３１３は、たとえば同一特性のペアトランジスタを用い、オフセットをキャンセルするように構成することも可能である。
【００４９】
レベル比較回路３１４は、たとえば正規化されたノイズレベルと基準となるＲＩＮ設定目標値ＲＩＮ ＲＥＦとを比較し、比較エラー信号を出力する。
ＲＩＮ設定目標値ＲＩＮ ＲＥＦは、ＡＧＣのＲＥＦ、ノイズアンプゲイン、ノイズ帯域、検波利得によって与えられるＤＣ的な基準レベルである。
【００５０】
高周波レベルコントロール部３１５は、ＣＰＵ３２０からのデータで高周波レベルを可変するとする機能を有する。
高周波レベルコントール部３１５は、たとえばコントロール端子で約２０ｄＢの可変が得られる。
【００５１】
図７は、本実施形態に係る高周波レベルコントール部におけるレベルコントロール時の周波数特性例を示す図である。
図７に示すように、高周波レベルコントール部において、５００ＭＨｚまでの重畳信号は十分にコントロールできる。
【００５２】
次に、上記構成による動作を説明する。
【００５３】
光ディスク１０１をセットしリードモードとする。この場合、共焦点となるので、戻り光が発生する。
ＡＰＣを掛けているＦＰＤアンプ３１１の出力にＡＧＣアンプ３１２でＡＧＣを掛ける。なお、ＲＩＮは、ノイズパワー（noise power）対ＤＣパワーの比である。
次に、ＡＧＣアンプ３１２の出力をノイズディテクタ３１３でピーク検波し、ノイズレベルの検出を行う。
レベル比較回路３１４に、ＡＧＣ、ノイズ検出のゲインに対するＲＩＮ設定目標値ＲＩＮ ＲＥＦを与えて、レベル比較回路３１４で、ノイズディテクタ３１３の出力と比較する。
レベル比較回路３１４の比較エラー信号をＣＰＵ３２０に送り、Ａ／Ｄ変換して、レベルコントロールデータ（level control data）とする。
そして、ＣＰＵ３２０からのデータで高周波レベルコントロール部３１５おいて高周波レベルを可変する。
エラーが無くなる最大値でデータホールドを行い、たとえばシリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部３０１のステータスレジスタやメモリに格納する。
リードモードでは常時比較を行い、最大値に書き換える。
もしくは、エラーが無くなる追従を行わせる。
【００５４】
このようにすることにより、温度変化、ディスクの取替え、ＬＤの経時変化に対して、目標ＲＩＮ以下となると同時に、戻り光抑圧の最低限の重畳となってピークパワーは低下し、最低レベルでは重畳オフとなる。
【００５５】
以下、上記動作の実証を行う。
【００５６】
図８は、ＬＤノイズの周波数特性を示す図である。
図８の周波数特性は、ＬＤ出力パワーが３，４，５，６ｍＷ時のものである。
【００５７】
図８に示すように、ノイズの測定周波数は、どこの周波数でも良く低周波が使用できる。
【００５８】
図９は、ＡＧＣアンプ出力で見たＬＤノイズの周波数特性を示す図である。
図９の周波数特性は、ＬＤ出力パワーが３，４，５，６ｍＷ時のものである。
【００５９】
図９に示すように、ＬＤノイズは、周波数特性は持っているが、対パワーの変化レベルは変わらない。
低域は、ＡＧＣループ（loop）によるHPF、６ＭＨｚの凹みは、speanaの影響である。高域の落ちは、アンプの影響である。
【００６０】
図１０は、ＬＤ出力が４ｍＷ時の戻り光に対するＬＤノイズの周波数特性を示す図である。
【００６１】
図１０に示すように、戻り光が大きいと、低域のノイズが２〜３ｄＢ大きくなり、小さくすると戻り光の無いノイズスペクトル（noise spectrum）に近づいて行く。
これにより、ノイズレベルの測定は、ＡＧＣ,ＡＰＣの帯域外の低周波が使用できる。
【００６２】
図１１は、１５０ｍＷ出力ＬＤのＲＩＮ特性とリード時の元パワーとの関係を示す図である。
図１２は、ジッター（jitter）対ＯＰ ＲＩＮの特性例を示す図である。
【００６３】
利用パワーでのＲＩＮは、重畳の設定レベルが、図１２の再生ジッターから−１２３ｄＢ／Ｈｚであり、−１２６ｄＢ／Ｈｚにして良い（許容をたとえば９％として）。
図１２に示しように、ジッター許容を９％以下とすれば、−１２３ｄＢ／Ｈｚ以下であれば問題ない。
【００６４】
図１３は、戻り光が無い時のＲＩＮ対重畳レベルとの関係を示す図である。
図１３において、Ａで示す曲線が５０ｍＶ時の特性を、Ｂで示す曲線が１００ｍＶ時の特性を、Ｃで示す曲線が２００ｍＶ時の特性を、Ｄで示す曲線が３００ｍＶ時の特性を、Ｅで示す曲線が４００ｍＶ時の特性を、Ｆで示す曲線が５００ｍＶ時の特性を、Ｇで示す曲線が６００ｍＶ時の特性を、それぞれ示している。
【００６５】
図１３に示すように、４ｍＷ以上では、重畳レベル依存性はない。ただし、周波数は３５０ＭＨｚ、レベルはＳＧ出力である。
したがって、重畳による緩和振動が２山以上の領域で使用することとなる。
【００６６】
図１４は、戻り光有りでの重畳レベル対ノイズ検出レベルとΔIop特性を示す図である。
【００６７】
ノイズの半波整流およびＬＰＦを通すことより、ピーク検波およびＬＰＦを通すことがノイズの検出感度が高い。
したがって、本実施形態においては、帰還を安定に掛けられるので後者のピーク検波およびＬＰＦを通すこととしている。
【００６８】
図１５は、戻り光有りでの重畳レベル対ＲＩＮとノイズ検出レベル特性を示す図である。
図１５は、図１４のノイズ検出レベルを対数表示して比較したものである。
【００６９】
図１５の特性は、戻り光レベルを、ＲＩＮ＋１５ｄＢにセットして測定したもので、ＬＤパワーが４．０ｍＷ時のものである。
図１５に示すように、ピーク検波およびLPFの出力は、ＲＩＮ特性に略等しくなっている。
【００７０】
図１６は、戻り光有無での重畳レベル対ＲＩＮ特性を示す図である。
図１６の特性は、ＬＤパワーが５ｍＷ時のものである。
【００７１】
戻り光が無ければ、重畳レベルは小さい方が良い。
戻り光が有った時は、最適な重畳レベルが存在する。
戻り光対策としてＲＩＮを−１２９ｄＢとすると、ＡＬＣレベルは０〜１５０ｍＶとなる。
【００７２】
図１７は、戻り光有での重畳レベルがオフでＡＬＣがオンのときのＲＩＮを示す図である。
図１７は、−１２９ｄＢの目標値の場合である。
【００７３】
図１７に示すように、ＡＬＣオンでは、最大（max）測定、平均（AVE）測定とも約４ｄＢの改善となっている。
【００７４】
図１８は、戻り光有無でのＡＬＣ高周波重畳の効果を測定したサンプルＬＤのＩＬ特性を示す図である。
【００７５】
図１８において、Ａで示す曲線が劣化無しのＬＤの特性を、Ｂで示す曲線はＡで示す場合と同等な初期特性から劣化してIthが大きくηは小さくなったＬＤの特性を、それぞれ示している。
【００７６】
図１９は、図１８のＡで示す特性を有する劣化無しのＬＤの戻り光有無でのＡＬＣ／固定Iop設定の高周波重畳発光波形を示す図である。
図１９の特性の測定は、ＬＤの元パワーが５．０ｍＷ、戻り光量が１０μＷとオフ時である。
【００７７】
一般的なΔIop=０．４ｍＡでの発光ピーク波高値は、４．５倍である。
ＡＬＣループ時は、戻り光１０μＷ時で３．４倍である。
戻り光オフ時においては、ＲＩＮが悪いため、１．８倍の変調領域となっている。
【００７８】
図２０は、図１８のＢで示す特性を有するＬＤの戻り光有無でのＡＬＣ／固定Iop設定の高周波重畳発光波形を示す図である。
【００７９】
図２０に示すように、ηが低下すると、発光ピークが低下してしまう。再調整すれば元に戻る。
ＡＬＣループ時は、戻り光１０μＷ時ではＲＩＮの低下しない重畳レベルとなる。
戻り光オフ時はＲＩＮが十分小さいため、重畳は掛かっていない。
【００８０】
図２１は、図１９および図２０の測定時のＬＤのＲＩＮとＡＬＣ動作時のΔiopとの関係を示す図である。
【００８１】
図２１に示すように、ＡＬＣ時は、ΔIop=０．４ｍＡの固定時よりもＲＩＮは約０．５〜１ｄＢ劣化するが、戻り光が小さくなれば、重畳レベルも低下し、変調領域に入る。
重畳レベルの低下は、リードステイビリティ（read stabirity）の改善となる。
図１８のＢで示す特性を有するＬＤの初期設定では、重畳が掛からず戻り光の影響を抑圧できていない。
【００８２】
このように、重畳レベルをＲＩＮ設定型とすれば、戻り光の影響が最悪でのＲＩＮが確保できる。
戻り光の影響が小さくＲＩＮ目標値より小さい場合は、高周波レベルはコントロールの最小となる。ＲＩＮはＬＤ自身の値となる。
したがって、重畳レベルは最小に保たれ、リードステイビリティ（read stabirity）が向上する。
ディスク規格では、ＤＣ点灯で４００μＷ、重畳時（４００ＭＨｚ、８倍ピーク）時で３００μＷと十分大きい。
【００８３】
以上説明したように、本実施形態によれば、以下の効果を得ることができる。
リードステイビリティ（read stability）を大きく左右する発光ピークパワーを最小限に抑えることができる。
これは、ＬＤのリニアリティ（linearity）に影響されない設定となる。
また、ＬＤの温度変化や経時変化でのピークパワーの変化を吸収することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】一般的な高周波重畳回路の構成例を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光記録再生装置の簡略構成を示す図である。
【図３】本実施形態に係る再生光学系の構成を示す図である。
【図４】本実施形態に係る高周波重畳部の構成例を示すブロック図である。
【図５】本実施形態に係るノイズ検出部を含む高周波レベルコントロール回路の構成を示す機能ブロック図である。
【図６】ノイズディテクタの入出力特性を示す図である。
【図７】本実施形態に係る高周波レベルコントール部におけるレベルコントロール時の周波数特性例を示す図である。
【図８】ＬＤノイズの周波数特性を示す図である。
【図９】ＡＧＣアンプ出力で見たＬＤノイズの周波数特性を示す図である。
【図１０】ＬＤ出力が４ｍＷ時の戻り光に対するＬＤノイズの周波数特性を示す図である。
【図１１】１５０ｍＷ出力ＬＤのＲＩＮ特性とリード時の元パワーとの関係を示す図である。
【図１２】ジッター（jitter）対ＯＰ ＲＩＮの特性例を示す図である。
【図１３】戻り光が無い時のＲＩＮ対重畳レベルとの関係を示す図である。
【図１４】戻り光有りでの重畳レベル対ノイズ検出レベルとΔIop特性を示すである。
【図１５】戻り光有りでの重畳レベル対ＲＩＮとノイズ検出レベル特性を示す図である。
【図１６】戻り光有無での重畳レベル対ＲＩＮ特性を示す図である。
【図１７】戻り光有での重畳レベルがオフでＡＬＣがオンのときのＲＩＮを示す図である。
【図１８】戻り光有無でのＡＬＣ高周波重畳の効果を測定したサンプルＬＤのＩＬ特性を示す図である。
【図１９】図１８のＡで示す特性を有する劣化無しのＬＤの戻り光有無でのＡＬＣ／固定Iop設定の高周波重畳発光波形を示す図である。
【図２０】図１８のＢで示す特性を有するＬＤの戻り光有無でのＡＬＣ／固定Iop設定の高周波重畳発光波形を示す図である。
【図２１】図１９および図２０の測定時のＬＤのＲＩＮとＡＬＣ動作時のΔiopとの関係を示す図である。
【符号の説明】
【００８５】
１００・・・光記録再生装置、１０１・・・記録媒体（たとえば光ディスク）、１１０・・・光ピックアップ（光ヘッド）、１１１・・・レーザダイオード、１２０・・・記録系、１１２，１１３・・・フォトディテクタ（ＰＤ）、１２５・・・レーザ駆動回路、１３０・・・再生系、１４０・・・制御系、１５０・・・システムコントローラ、３００・・・高周波重畳部、３０１・・・シリアルインタフェースおよびステータスレジスタ部、３０２・・・高周波発振器（ＨＦ ＯＳＣ）、３０３・・・カレントスイッチ、３０４・・・出力電流ドライバ、３０５・・・レーザパワーメモリ、３０６・・・デジタルアナログ変換器（Ｄ／Ａ）、３０７・・・レーザパワーコントローラ、３０８・・・ノイズ検出部、３１０・・・高周波レベルコントロール回路、３１１・・・ＦＰＤ(Front Photo-Detector）アンプ、３１２・・・ＦＰＤＡＧＣアンプ、３１３・・・ノイズディテクタ、３１４・・・レベル比較回路、３１５・・・高周波レベルコントロール部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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