(57)【要約】【課題】ＯＣＴ装置等の計測機器等によって計測して得られる計測データを、にパラメータを変えながら実時間で対話的にデータを直感的把握することができるように可視的に表示する方法を実現する。【解決手段】偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置の光検出器により得られた中心を持つ２次元画像データについて、その円周方向（座標）の値（パラメータ）を、２次元平面内に中心からの距離を値（パラメータ）とした２次元画像に、円周又はドーナッツ状に分布する値が重ねられて、中心からの距離をパラメータとする線で表示する。【選択図】図１
2009031230.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測機器により検出された中心を持つ２次元画像に、円周又はドーナッツ状に分布する値を重ねて、中心からの距離をパラメータとする線で表示可能とすることを特徴とする計測データの表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測機器（例．光コヒーレンストモグラフィー装置等）に利用される計測データの表示方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、各種被計測物体の非破壊断層計測技術の１つとして、光断層画像装置「光コヒーレンストモグラフィー」（ＯＣＴ）がある（特許文献１参照）。ＯＣＴは、光を計測プローブとして用いるため、被計測物体の屈折率分布、分光情報、偏光情報（複屈折率分布）等が計測できるという利点がある。
【０００３】
基本的なＯＣＴ４３は、マイケルソン干渉計を基本としており、その原理を図２で説明する。光源４４から射出された光は、コリメートレンズ４５で平行化された後に、ビームスプリッター４６により参照光と物体光に分割される。物体光は、物体アーム内の対物レンズ４７によって被計測物体４８に集光され、そこで散乱・反射された後に再び対物レンズ４７、ビームスプリッター４６に戻る。
【０００４】
一方、参照光は参照アーム内の対物レンズ４９を通過した後に参照鏡５０によって反射され、再び対物レンズ４９を通してビームスプリッター４６に戻る。このようにビームスプリッター４６に戻った物体光と参照光は、物体光とともに集光レンズ５１に入射し光検出器５２（フォトダイオード等）に集光される。
【０００５】
ＯＣＴの光源４４は、時間的に低コヒーレンスな光（異なった時刻に光源から出た光同士は極めて干渉しにくい光）の光源を利用する。時間的低コヒーレンス光を光源としたマイケルソン型の干渉計では、参照アームと物体アームの距離がほぼ等しいときにのみ干渉信号が現れる。この結果、参照アームと物体アームの光路長差（τ）を変化させながら、光検出器５２で干渉信号の強度を計測すると、光路長差に対する干渉信号（インターフェログラム）が得られる。
【０００６】
そのインターフェログラムの形状が、被計測物体４８の奥行き方向の反射率分布を示しており、１次元の軸方向走査により被計測物体４８の奥行き方向の構造を得ることができる。このように、ＯＣＴ４３では、光路長走査により、被計測物体４８の奥行き方向の構造を計測できる。
【０００７】
このような軸方向の走査のほかに、横方向の機械的走査を加え、２次元の走査を行うことで被計測物体の２次元断面画像が得られる。この横方向の走査を行う走査装置としては、被計測物体を直接移動させる構成、物体は固定したままで対物レンズをシフトさせる構成、被計測物体も対物レンズも固定したままで、対物レンズの瞳面付近においたガルバノミラーの角度を回転させる構成等が用いられている。
【０００８】
以上の基本的なＯＣＴが発展したものとして、分光器を用いてスペクトル信号を得るスペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）と、光源の波長を走査してスペクトル干渉信号を得る波長走査型ＯＣＴ（Swept Source OCT、略して「ＳＳ−ＯＣＴ」という。）がある。ＳＤ−ＯＣＴには、フーリエドメインＯＣＴ（Fourier Domain OCT、略して「ＦＤ−ＯＣＴ」という。特許文献２参照）、及び偏光感受型ＯＣＴ（Polarization-Sensitive OCT、略して「ＰＳ−ＯＣＴ」という。特許文献３参照）がある。
【０００９】
フーリエドメインＯＣＴは、被計測物体からの反射光の波長スペクトルを、スペクトロメーター（スペクトル分光器）で取得し、このスペクトル強度分布に対してフーリエ変換することで、実空間（ＯＣＴ信号空間）上での信号を取り出すことを特徴とするものであり、このフーリエドメインＯＣＴは、奥行き方向の走査を行う必要がなく、ｘ軸方向の走査を行うことで被計測物体の断面構造を計測可能である。
【００１０】
波長走査型ＯＣＴは、高速波長スキャニングレーザーにより光源の波長を変え、スペクトル信号と同期取得された光源走査信号を用いて干渉信号を最配列し、信号処理を加えることで３次元光断層画像を得るものである。なお、光源の波長を変える手段として、モノクロメーターを利用したものでも、波長走査型ＯＣＴとして利用可能である。
【００１１】
【特許文献１】特開２００２−３１０８９７号公報
【特許文献２】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献３】特開２００４−０２８９７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
従来、ＯＣＴ装置は、複屈折性を有する試料の構造を測定し、しかも試料の奥行方向に高精度な分解能が要求される各種の技術分野、例えば、半導体製品の製造等の工業分野、動物の生体観察や植物の構造観察のような動植物の研究・観察分野、各種文化財の解析・鑑定技術の分野、ロボット技術分野（植物、昆虫、動物等の各部器官を観察し、その構造・機能をロボット技術に応用するための技術）に有用である。
【００１３】
ところで、得られたデータを直感的に表示することができれば、被対象物の構造をより分かり易く直感的に解析し、理解できるので有用であるが、従来はそのような技術はなかった。本発明は、上記のようにＯＣＴ装置等の計測機器によって計測して得られる計測データを、にパラメータを変えながら実時間で対話的にデータを直感的把握することができるように可視的に表示する方法を実現するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は上記課題を解決するために、計測機器により検出された中心を持つ２次元画像に、円周又はドーナッツ状に分布する値を重ねて、中心からの距離をパラメータとする線で表示可能とすることを特徴とする計測データの表示方法を提供する。
【発明の効果】
【００１５】
以上のような構成から成る本発明に係る計測データの表示方法によれば、中心（軸）を持つ２次元のデータについて、その円周方向（座標）の値（パラメータ）を、２次元平面内に中心からの距離を値（パラメータ）とした線で重ねて表示することにより、より直感的に、理解することが可能である。この表示方法は、ＯＣＴ計測信号の表示に限るものではなく、他の一般的なデータ表示方法としても有用である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明に係る計測データの表示方法を実施するための最良の形態を実施例に基づいて図面を参照して、以下に説明する。
【実施例１】
【００１７】
この実施例１では、本発明に係る計測データの表示方法を偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置に適用した例で説明する。
【００１８】
「背景技術」の項で説明したとおり、光コヒーレンストモグラフィー装置（ＯＣＴ）では、光源からのビームを参照アームと試料アームに分離して送り、試料アームでは試料（被検体）の深さ方向（Ａ方向）に垂直な方向に走査（Ｂスキャン）して試料を照射し、この反射光と参照アームから反射される参照光との干渉スペクトルからＡ−Ｂ画像を得る（ＯＣＴ計測を行う）ものであり、本発明は、ＦＤ−ＯＣＴ（フーリエドメインＯＣＴ）等に適用される。
【００１９】
なお補足すると、試料の深さ（光軸）方向の走査（この走査を「Ａ−スキャン」と言い、この方向を「Ａ−方向」、「Ａスキャン方向」とも言う。）は、一回の光照射により深さ方向の後方散乱データを取得することで可能であり、ガルバノ鏡によって横方向（Ａ方向に垂直な方向）の走査（この走査を「Ｂ−スキャン」と言い、この方向を「Ｂ−方向」、「Ｂスキャン方向」とも言う。）を行うことで、２次元断層画像（偏光感受型のＯＣＴ画像）を得ることができる。
【００２０】
本発明に係る計測データの表示方法を適用する偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置は、Ｂスキャンと同時に（同期して）光源からの偏光ビーム（偏光子により直線的に偏光されたビーム）をＥＯ変調器（偏光変調器、電気光学変調器）によって連続的に変調し、この連続的に偏光を変調した偏光ビームを分けて、一方を入射ビームとして走査して試料に照射し、その反射光（物体光）を得ると共に、他方を参照光として、両者のスペクトル干渉によりＯＣＴ計測を行うものである。
【００２１】
そして、このスペクトル干渉成分のうち、垂直偏光成分（Ｈ）と水平偏光成分（Ｖ）を同時に２つの光検出器で測定することにより、試料の偏光特性を表すジョーンズベクトルを得る（Ｈ画像とＶ画像）構成を特徴とするものである。
【００２２】
図１は、本発明に係る計測データの表示方法を適用する偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置の光学系の全体構成を示す図である。図１に示す偏光感受光画像計測装置１は、光源２、偏光子３、ＥＯ変調器４、ファイバーカプラー（光カプラー）５、参照アーム６、試料アーム７、分光器８等の光学要素を備えている。この偏光感受光画像計測装置１の光学系は、光学要素が互いにファイバー９で結合されているが、ファイバーで結合されていないタイプの構造（フリースペース型）であってもよい。
【００２３】
光源２は、広帯域スペクトルを有するスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ：Super Luminescent Diode）を使用する。なお、光源２は、パルスレーザでもよい。光源２には、コリメートレンズ１１、光源２からの光を直線偏光にする偏光子３、進相軸を４５°の方向にセットされたＥＯ変調器４、集光レンズ１３（場合によってはさらにレンズ１３’が使用される。）及びファイバーカプラー５が、順次、接続されている。
【００２４】
ＥＯ変調器４は、進相軸を４５°の方向に固定して、該ＥＯ変調器４にかける電圧を正弦的に変調することで、進相軸とそれに直交する遅相軸との間の位相差（リタデーション）を連続的に変えるもので、これにより、光源２から出て偏光子３で（縦）直線偏光となった光がＥＯ変調器４に入射すると、上記変調の周期で、直線偏光→楕円偏光→直線偏光………などのように変調される。ＥＯ変調器４は、市販されているＥＯ変調器を使用すればよい。
【００２５】
ファイバーカプラー５には分岐するファイバー９を介して、参照アーム６と試料アーム７が接続されている。参照アーム６には、偏波コントローラ（polarization controller）１０、コリメートレンズ１１、偏光子１２、集光レンズ１３及び参照鏡（固定鏡）１４が、順次、設けられている。参照アーム６の偏光子１２は、上記のとおり偏光状態を変調しても参照アーム６から戻ってくる光の強度が変化しないような方向を選択するために用いている。この偏光子１２の方向（直線偏光の偏光方向）の調整は偏波コントローラ１０とセットで行う。
【００２６】
試料アーム７では、偏波コントローラ１５、コリメートレンズ１１、固定鏡２４、ガルバノ鏡１６、集光レンズ１３が、順次、設けられ、ファイバーカプラー５からの入射ビームが２軸のガルバノ鏡１６により走査されて試料１７に照射される。試料１７からの反射光（後方散乱光）は物体光として再びファイバーカプラー５に戻り、参照光と重畳されて干渉ビームとして分光器８に送られる。
【００２７】
分光器８は、順次接続される偏波コントローラ１８、コリメートレンズ１１、（偏光感受型体積位相ホログラフィック）回折格子１９、フーリエ変換レンズ２０、偏光ビームスプリッター２１及び２つの光検出器２２、２３を備えている。この実施例では、光検出器２２、２３として、ラインＣＣＤカメラ（１次元ＣＣＤカメラ）を利用する。ファイバーカプラー５から送られてくる干渉ビームは、コリメートレンズ１１でコリメートされ、回折格子１９によって干渉スペクトルに分光される。
【００２８】
回折格子１９で分光された干渉スペクトルビームは、フーリエ変換レンズ２０でフーリエ変換され偏光ビームスプリッター２１で水平及び垂直成分に分けられ、それぞれ２つラインＣＣＤカメラ（光検出器）２２、２３で検出される。この２つラインＣＣＤカメラ２２、２３は、水平および垂直偏光信号両方の位相情報を検知するために使われるので、２つのラインＣＣＤカメラ２２、２３は同一の分光器の形成に寄与するものでなくてはならない。
【００２９】
なお、光源２、参照アーム６、試料アーム７及び分光器８には、それぞれ偏波コントローラ１０、１５、１８が設けられているが、これらは、光源２から参照アーム６、試料アーム７、分光器８に送られるそれぞれのビームの初期偏光状態を調整して、ＥＯ変調器４で連続的に変調された偏光状態が、参照光と物体光においても互いに一定の振幅と一定の相対偏光状態の関係が維持され、さらにファイバーカプラー５に接続された分光器８において一定の振幅と一定の相対偏光状態を保たれるようにコントロールする。
【００３０】
また、２つラインＣＣＤカメラ２２、２３を含む分光器８を校正するときはＥＯ変調器４を止める。参照光をブロックし、スライドガラスと反射鏡を試料アーム７におく。この配置は水平および垂直偏光成分のピークの位置が同じであることを保証する。そして、スライドガラスの後ろの面と反射鏡からのＯＣＴ信号は２つの分光器８で検知される。ＯＣＴ信号のピークの位相差はモニターされる。
【００３１】
この位相差はすべての光軸方向の深さでゼロであるべきである。次に、信号は２つラインＣＣＤカメラ２２、２３を含む分光器８で複素スペクトルを得るために、ウィンドウされ逆フーリエ変換される。この位相差はすべての周波数でゼロであるべきなので、これらの値をモニターすることによって２つラインＣＣＤカメラ２２、２３の物理的な位置は位相差が最小になるようにアライメントされる。
【００３２】
上記偏光感受光画像計測装置の動作は次のとおりである。光源２からの光を直線偏光し、この直線偏光されたビームをＥＯ変調器４により連続的に偏光状態の変調を行う。即ち、ＥＯ変調器４は、進相軸を４５°の方向に固定して、ＥＯ変調器４にかける電圧を正弦的に変調することで、進相軸とそれに直交する遅相軸との間の位相差（偏光角：リタデーション）を連続的に変えるもので、これにより、光源２から出て直線偏光子で（縦）直線偏光となった光がＥＯ変調器４に入射すると、上記変調の周期で、直線偏光→楕円偏光→直線偏光………などのように変調される。
【００３３】
そして、直線偏光された偏光ビームをＥＯ変調器４により連続的に偏光状態の変調を行うと同時に、Ｂスキャンを同期して行う。即ち、１回のＢスキャンの間に、ＥＯ変調器４による偏光の連続的な変調を複数周期行う。ここで、１周期とは、偏光角（リターデーション）φが０〜２πと変化する期間である。要するに、この１周期の間に、偏光子からの光の偏光が、直線偏光（垂直偏光）→楕円偏光→直線偏光（水平偏光）………などのように連続的に変調する。
【００３４】
このように偏光ビームの偏光を連続的に変調しながら、試料アーム７では、入射ビームをガルバノ鏡１６により試料１７に走査してＢスキャンを行い、分光器８において、その反射光である物体光と参照光の干渉スペクトルについて、その水平偏光成分および垂直偏光成分を２つのラインＣＣＤカメラ２２、２３で検出する。これにより、１回のＢスキャンによって、それぞれ水平偏光成分及び垂直偏光成分に対応する２枚のＡ−Ｂスキャン画像が得られる。
【００３５】
上記のとおり、１回のＢスキャンの間に、偏光ビームの偏光の連続的な変調を複数周期行うが、各周期（１周期）の連続的な変調の間に２つのラインＣＣＤカメラ２２、２３で検出した水平偏光成分および垂直偏光成分それぞれの偏光情報が１画素分の偏光情報となる。１周期の連続的な変調の間に２つのラインＣＣＤカメラ２２、２３で偏光情報を検出タイミング信号に同期して行い、１周期に検出回数（取込回数）を、４回、８回等、適宜決めればよい。
【００３６】
このようにして１回のＢスキャンの間に得た２枚のＡ−Ｂスキャン画像のデータを、Ｂスキャン方向に１次元フーリエ変換を行う。すると、０次、１次、−１次のピークが出る。ここで、０次のピークをそれぞれ抽出し、そのデータのみを用いて逆フーリエ変換すると、Ｈ０、Ｖ０画像が得られる。同様に、１次のピークをそれぞれ抽出し、そのデータのみを用いて逆フーリエ変換すると、Ｈ１、Ｖ１画像が得られる。
【００３７】
Ｈ０、Ｈ１画像から、試料１７の偏光特性である式（後記する式（１８）参照）のジョーンズマトリックスの成分のうち、Ｊ（１，１）およびＪ（１，２）を求める事ができる。そして、Ｖ０、Ｖ１画像から、試料１７の偏光特性である式（１）のジョーンズマトリックスの成分のうち、Ｊ（２，１）およびＪ（２，２）を求める事ができる。
【００３８】
このようにして、１回のＢスキャンにおついて４つの偏光特性を含む情報が得られる。そして、この４つの情報をそれぞれ、通常のＦＤ−ＯＣＴと同様にＡスキャン方向にフーリエ変換すると、１次のピークが試料１７の深さ方向の情報を有し、しかもそれぞれ偏光特性に応じた４枚のＡ−Ｂ画像が得られる。
【００３９】
ところで、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置では、入射光の偏光状態は 横方向のＢスキャン中に偏光情報を埋め込むために直線偏光（垂直偏光）→楕円偏光→直線偏光（水平偏光）などのように連続的に、あるいは、３ステップ変調される。
【００４０】
２つのＣＣＤカメラ２２、２３によって検出されたそれぞれの光強度信号をフーリエ変換することにより、位相情報を含んだＯＣＴ信号を得る。このＯＣＴ信号の０次と１次の周波数成分を取り出し、それぞれそれを逆のフーリエ変換する。これらの値を使って、試料の偏光特性を表すジョーンズ行列のすべての要素が得られる。最終的に、試料の物理的な偏光依存性を表す値であるところの、位相遅延量（複屈折量）、複屈折の相対的な方位分布（方向）と二色性が計算される。
【００４１】
（表示手段）
ところで、ＯＣＴ画の３次元像において、光軸に垂直な面（Ａスキャン方向に垂直な面、ＢスキャンとＣスキャン方向を含む面）をエンフェース（en face）と言う。したがってen face位相遅延マップとは、光軸方向から観測される位相遅延の２次元画像である。
【００４２】
本発明に係る計測データの表示方法は、上記のような偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から、位相遅延量を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、位相遅延量を示す表示データを形成し、これを２次元画像データとして分かりやすく表示する方法が特徴である。
【００４３】
以下、本発明に係る計測データの表示方法を具体的に説明するが、説明の都合上、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた眼の画像信号を利用するが、ここで例示する画像信号は、あくまでも「計測データの一般的なモデル」として挙げるのであって、この計測データ及びその表示方法を、人の治療に利用するような意図は全くない。
【００４４】
まず、本発明に係る計測データの表示方法の一般的な説明をすると、位相遅延量は、図３に示すように、en face位相遅延マップとして２次元画像で表示される。図３の２つの円の中央の位相遅延量を表したものが図４であるが、この横軸は円周（ドーナッツ）上の座標（角度）である。それぞれの横軸の値に対応した縦軸の値を図３の中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット位相遅延量）。極座標プロットを位相遅延マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００４５】
図５は、en face 位相遅延マップに極座標プロット位相遅延量を重ねて表示したものを示し、直感的に累積的な位相遅延分布を表示することができる。この極座標プロットはen face 位相遅延分布を示していて、輪状エリアの位相遅延の代表的なカーブを表している。
【００４６】
以下、さらに、本発明に係る計測データの表示方法の各表示例を説明するが、ここでは、対象物を眼とするが、あくまでも説明の都合上、本発明に係る計測データの表示方法によれば、視覚的、直感的に有用なデータが表示できることを説明するために、対象物の一般モデルとして眼を挙げているのである。本発明に係る計測データの表示方法は、人の治療方法の一環をなす技術思想ではなく、あくまでも、人の治療方法ではなく、計測データの表示データの表示方法である。
【００４７】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、眼底の層厚マップとして２次元画像で表示される。円周上の眼底の層厚を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット眼底の層厚）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを眼底の層厚マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００４８】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から網膜厚を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００４９】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、網膜厚マップとして２次元画像で表示される。円周上の網膜厚を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット網膜厚）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを網膜厚マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００５０】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から眼底のＩＳ／ＯＳ厚を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００５１】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、網膜の光受容器を構成する内側の膜(IS)と外側の膜(OS)の厚さ（ＩＳ／ＯＳ厚）マップとして２次元画像で表示される。円周上の眼底のＩＳ／ＯＳ厚を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット眼底のＩＳ／ＯＳ厚）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを眼底のIS/OS厚マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００５２】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から脈絡膜厚脈絡膜厚を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００５３】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、脈絡膜厚マップとして２次元画像で表示される。円周上の脈絡膜厚を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット脈絡膜厚）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを脈絡膜厚マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００５４】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から眼底視神経繊維厚を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００５５】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、眼底視神経繊維厚マップとして２次元画像で表示される。円周上の眼底視神経繊維厚を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット眼底視神経繊維厚）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを眼底視神経繊維厚マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００５６】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から眼底複屈折の方位を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００５７】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、眼底複屈折の方位マップとして２次元画像で表示される。円周上の眼底複屈折の方位を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット眼底複屈折の方位）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを眼底複屈折の方位マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００５８】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から隅角角度を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００５９】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、隅角角度マップとして２次元画像で表示される。円周上の隅角角度を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット隅角角度）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを隅角角度マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００６０】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号からAOD (Angle Opening Distance、角膜後面の強膜岬から５００μｍまたは７５０μｍの点から垂直に下ろした、虹彩までの距離）等一般的な隅角パラメータを取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００６１】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、ＡＯＤ等一般的な隅角パラメータマップとして２次元画像で表示される。円周上のＡＯＤ等一般的な隅角パラメータを中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロットＡＯＤ等一般的な隅角パラメータ）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットをＡＯＤ等一般的な隅角パラメータマップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００６２】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から隅角癒着量を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００６３】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、隅角癒着量マップとして２次元画像で表示される。円周上の隅角癒着量を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット隅角癒着量）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを隅角癒着量マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００６４】
本発明は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置で得られた画像信号から角膜厚を取得する信号処理装置（具体的には、コンピュータ）において、次に説明するような表示データを形成し、有用なデータを表示することができる方法である。
【００６５】
位相遅延量は、前記一般的な説明の場合と同様に、図３に示すように、角膜厚マップとして２次元画像で表示される。円周上の角膜厚を中心からの距離にとり、１周分線で結ぶ（極座標プロット角膜厚）。前記と同様に、図５に示すように、極座標プロットを角膜厚マップに重ねて表示することにより、より直感的にデータを把握することができる。
【００６６】
なお、上記表示手段、方法は、ＯＣＴ信号の表示に限るものではなく、一般に中心（軸）を持つ２次元のデータについて、その円周方向（座標）の値（パラメータ）を、２次元平面内に中心からの距離を値（パラメータ）とした線で重ねて表示することにより、より直感的に、パラメータを変えながら実時間で対話的に理解することが可能であるということのため、他の一般的なデータ表示手段、方法として適用されるものである。
【００６７】
以上、本発明を実施するための最良の形態を実施例に基づいて説明したが、本発明はこのような実施例に限定されることなく、特許請求の範囲記載の技術的事項の範囲内で、いろいろな実施例があることは言うまでもない。なお、本発明に係る計測データの表示方法は、偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置に適用できるだけでなく、偏光感受スペクトルドメイン型ＯＣＴ装置（ＰＳ−ＳＤ−ＯＣＴ）、或いは偏光感受波長走査型ＯＣＴ装置（ＰＳ−ＳＳ−ＯＣＴ）にも適用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
本発明に係る計測データの表示方法は、以上のような構成であるから、複屈折性を有する試料の構造を測定し、しかも試料の奥行方向に高精度な分解能が要求される各種の技術分野、例えば、半導体製品の製造等の工業分野、動物の生体観察や植物の構造観察のような動植物の研究・観察分野、各種文化財の解析・鑑定技術の分野、ロボット技術分野（植物、昆虫、動物等の各部器官を観察し、その構造・機能をロボット技術に応用するための技術）、医療用検査装置等光断層画像取得用ＯＣＴに有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６９】
【図１】本発明に係る計測データの表示方法を適用する偏光感受型光コヒーレンストモグラフィー装置の全体構成を説明する図である。
【図２】従来例（ＯＣＴの原理）を説明する図である。
【図３】位相遅延量をen face位相遅延マップとして２次元画像で表示した図である。
【図４】図３の２つの円の中央の位相遅延量を表した図である。
【図５】en face 位相遅延マップに極座標プロット位相遅延量を重ねて表示した図である。
【符号の説明】
【００７０】
１  偏光感受光画像計測装置                  
２  光源                                   
３、１２  偏光子                                 
４  ＥＯ変調器（偏光変調器、電気光学変調器）                             
５  ファイバーカプラー（光カプラー）                       
６  参照アーム                             
７  試料アーム                             
８  分光器                                 
９  ファイバー                             
１０、１５、１８  偏波コントローラ    
１１  コリメートレンズ                     
１３  集光レンズ           
１４  参照鏡（固定鏡）                            
１６  ガルバノ鏡                               
１７  試料                         
１９  回折格子                              
２０  フーリエ変換レンズ                            
２１  偏光ビームスプリッター                                  
２２、２３  光検出器（ラインＣＣＤカメラ） 
２４  固定鏡                               
【図１】
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【図２】
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【図４】
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【図３】
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【図５】
2009031230.tif 000007