(57)【要約】【課題】精度よく線欠陥を検出可能な表示異常検出システムを提供する。【解決手段】表示異常検出システム１は、複数の液晶セルを備えた液晶パネル２３と、この液晶パネル２３を制御して全画素において同一輝度となるテスト画像を表示させるパネル制御装置３と、１パネル画素につき複数の撮像素子を用いてテスト画像を撮像する撮像装置４と、撮像画像の欠陥検出方向をテスト画像の欠陥検出方向に合わせる画像補正手段と、補正画像における撮像素子画素の輝度値に基づいて各パネル画素を特定するパネル画素特定手段と、特定された各パネル画素のそれぞれにおけるパネル輝度値を演算するパネル輝度演算手段と、パネル輝度値に基づいて欠陥検出方向の各ラインにおけるライン平均輝度値を演算するライン輝度演算手段と、各ライン平均輝度値に基づいて線欠陥を検出する欠陥検出手段と、を具備した。【選択図】図１
2009085677.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の表示素子がマトリクス状に配列されるとともに、各表示素子から射出される光により各パネル画素が構成される画像を表示させる表示デバイスを備え、この表示デバイスにより表示される画像において、垂直方向または水平方向のうちいずれか一方の欠陥検出方向に沿う線欠陥を検出する表示異常検出装置であって、
前記表示デバイスに、全画素において同一輝度となるテスト画像を表示させる制御をするデバイス制御手段と、
１パネル画素につき複数の撮像素子を用い、前記表示デバイスにより表示される前記テスト画像を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された撮像画像に対して、撮像画像の前記欠陥検出方向を、前記テスト画像の前記欠陥検出方向に合わせる補正をする画像補正手段と、
この補正された前記撮像画像において、前記撮像素子に対応する撮像素子画素を認識するとともに、これらの撮像素子画素の輝度値に基づいて前記各パネル画素に対応する画素領域を特定するパネル画素特定手段と、
前記パネル画素特定手段により前記画素領域が特定された前記各パネル画素のそれぞれにおけるパネル輝度値を演算するパネル輝度演算手段と、
前記パネル輝度値に基づいて、前記欠陥検出方向に配列するパネル画素の集合である各ラインにおける各パネル画素の前記パネル輝度値を認識し、前記各ライン内における前記パネル輝度値の平均であるライン平均輝度値を演算するライン輝度演算手段と、
前記各ライン平均輝度値に基づいて、線欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を具備したことを特徴とした表示異常検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の表示異常検出装置であって、
前記パネル画素特定手段は、
前記撮像画像における各撮像素子にて撮像された各撮像素子画素の輝度値を認識する撮像素子輝度認識手段と、
前記撮像画像の前記各撮像素子画素の輝度値を所定の二値化閾値に対して二値化処理する二値化手段と、
前記二値化閾値以上の輝度値を有する前記撮像素子画素を認識し、これらの撮像素子画素のうち、連続して配置される撮像素子画素の集合を前記パネル画素に対応する前記画素領域として特定する領域特定手段と、
を備えたことを特徴とした表示異常検出装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の表示異常検出装置であって、
前記パネル輝度演算手段は、前記パネル画素特定手段により特定される前記画素領域内に配置される前記各撮像素子画素の輝度値を認識し、前記画素領域内におけるこれらの輝度値の平均値を演算して前記パネル輝度値とする
ことを特徴とした表示異常検出装置。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の表示異常検出装置において、
前記欠陥検出手段は、欠陥検出対象となる検査ラインのライン平均輝度値とこの検査ラインを中心とした所定範囲内の比較ラインにおけるライン平均輝度値との差分値を演算し、演算された差分値のうち最大値となる欠陥特徴量が所定の検出閾値以上となる前記検査ラインを表示異常欠陥があるラインとして検出する
ことを特徴とした表示異常検出装置。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の表示異常検出装置において、
前記パネル輝度演算手段は、前記撮像画像の前記各撮像素子画素を、前記パネル画素特定手段により特定される各パネル画素の前記パネル輝度値に基づいた輝度値で表示させる輝度値画像を生成する
ことを特徴とした表示異常検出装置。
【請求項６】
請求項５に記載の表示異常検出装置において、
前記パネル画素特定手段は、前記撮像画像において、前記画素領域以外の領域をブラックマトリクスとして認識し、
前記パネル輝度演算手段は、前記ブラックマトリクスを除外した前記輝度値画像を生成する
ことを特徴とした表示異常検出装置。
【請求項７】
複数の表示素子がマトリクス状に配列されるとともに、各表示素子から射出される光により各パネル画素が構成される画像を表示させる表示デバイスにより表示される画像において、垂直方向または水平方向のうちいずれか一方の欠陥検出方向に沿う線欠陥を検出する線欠陥検出方法であって、
前記表示デバイスに、全画素において同一輝度となるテスト画像を表示させる制御をし、
１パネル画素につき複数の撮像素子を用い、前記表示デバイスにより表示される前記テスト画像を撮像し、
前記撮像手段により撮像された撮像画像に対して、撮像画像の前記欠陥検出方向を、前記テスト画像の前記欠陥検出方向に合わせる補正を実施し、
この補正された前記撮像画像において、前記撮像素子に対応する撮像素子画素を認識するとともに、これらの撮像素子画素の輝度値に基づいて前記各パネル画素に対応する画素領域を特定し、
前記パネル画素特定手段により前記画素領域が特定された前記各パネル画素のそれぞれにおけるパネル輝度値を演算し、
前記パネル輝度値に基づいて、前記欠陥検出方向に配列するパネル画素の集合である各ラインにおける各パネル画素の前記パネル輝度値を認識し、前記各ライン内における前記パネル輝度値の平均であるライン平均輝度値を演算し、
前記各ライン平均輝度値に基づいて、線欠陥を検出する
ことを特徴とする表示異常検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示デバイスにより表示される画像の異常を検出する表示異常検出装置、および表示異常検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画素ラインに沿った表示異常を検出する方法として、水平方向および垂直方向に各画素の輝度値を積算して比較処理を実施する方法が知られている（例えば、特許文献１参照）
【０００３】
この特許文献１に記載ものは、プロジェクタからテスト画像を拡大投射させ、このテスト画像をＣＣＤカメラで撮像する。そして、撮像した画像データに対して、水平エッジ検出処理、および垂直エッジ検出処理を実施して水平線検出画像および垂直線検出画像を作成する。そして、水平線検出画像に対しては垂直方向に４分割し、水平方向に沿って各画素の輝度値を積算し、垂直線検出画像に対しては水平方向に４分割して垂直方向に沿って各画素の輝度値を積算する。そして、この積算値から分割領域における平均値（移動平均）、標準偏差、最大値および最小値を算出して統計データ計算処置を実施する。
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１７２５５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上記特許文献１のような画像表示装置では、画素以外のブラックマトリクスの領域も検出対象としているため、このブラックマトリクスの部分が検出ノイズ成分となり、検出精度の低下を招くおそれがあるという問題がある。また、濃淡が微小な欠陥や幅が狭い欠陥の検出などでは検出精度が低下するという問題もあった。
【０００６】
本発明は、上記のような問題に鑑みて、精度よく線欠陥を検出可能な表示異常検出装置、および表示異常検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の表示異常検出装置は、複数の表示素子がマトリクス状に配列されるとともに、各表示素子から射出される光により各パネル画素が構成される画像を表示させる表示デバイスを備え、この表示デバイスにより表示される画像において、垂直方向または水平方向のうちいずれか一方の欠陥検出方向に沿う線欠陥を検出する線欠陥検出装置であって、前記表示デバイスに、全画素において同一輝度となるテスト画像を表示させる制御をするデバイス制御手段と、１パネル画素につき複数の撮像素子を用い、前記表示デバイスにより表示される前記テスト画像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段により撮像された撮像画像に対して、撮像画像の前記欠陥検出方向を、前記テスト画像の前記欠陥検出方向に合わせる補正をする画像補正手段と、この補正された前記撮像画像において、前記撮像素子に対応する撮像素子画素を認識するとともに、これらの撮像素子画素の輝度値に基づいて前記各パネル画素に対応する画素領域を特定するパネル画素特定手段と、前記パネル画素特定手段により前記画素領域が特定された前記各パネル画素のそれぞれにおけるパネル輝度値を演算するパネル輝度演算手段と、前記パネル輝度値に基づいて、前記欠陥検出方向に配列するパネル画素の集合である各ラインにおける各パネル画素の前記パネル輝度値を認識し、前記各ライン内における前記パネル輝度値の平均であるライン平均輝度値を演算するライン輝度演算手段と、前記各ライン平均輝度値に基づいて、線欠陥を検出する欠陥検出手段と、を具備したことを特徴とする。
【０００８】
この発明によれば、撮像手段は、画像投射手段により投射されたテスト画像を、１つのパネル画素につき複数の撮像素子を用いて撮像する。例えば、撮像手段は、１パネル画素につき縦１０×横１０の計１００個の撮像素子を用いてテスト画像を撮像する。これにより、各パネル画素をそれぞれ１つの撮像素子で撮像する場合に比べて、各パネル画素の領域やブラックマトリクスの領域を容易に分割することができる。したがって、このパネル画素に対応する領域の平均輝度を算出し、この平均輝度を１パネル画素の輝度値として、各ラインの平均輝度値であるライン平均輝度値を算出して線欠陥を検出することで、ブラックマトリクスの領域を無視した高精度な線欠陥検出を実施することができる。また、パネル画素よりも小さい撮像素子によりテスト画像を撮像するため、幅が狭い部位の欠陥や微小な濃淡の欠陥も良好に検出することができる。
また、本発明の表示異常検出装置では、表示デバイスにおける各パネルにおける線欠陥の検出の他、予め欠陥が検出されなかった表示デバイスを装着して線欠陥検出を実施することで、テスト画像を出力するデバイス制御手段が正常動作しているか否かを検査することもできる。
【０００９】
そして、本発明の表示異常検出装置では、前記パネル画素特定手段は、前記撮像画像における各撮像素子にて撮像された各撮像素子画素の輝度値を認識する撮像素子輝度認識手段と、前記撮像画像の前記各撮像素子画素の輝度値を所定の二値化閾値に対して二値化処理する二値化手段と、前記二値化閾値以上の輝度値を有する前記撮像素子画素を認識し、これらの撮像素子画素のうち、連続して配置される撮像素子画素の集合を前記パネル画素に対応する前記画素領域として特定する領域特定手段と、を備えることが好ましい。
【００１０】
この発明によれば、パネル画素特定手段は、撮像素子輝度認識手段により、各撮像素子画素の輝度値を認識し、二値化手段によりこの認識した輝度値を二値化し、領域特定手段により、二値化した値のうち輝度値が大きい一方をパネル画素に対応する画素領域として特定している。これにより、撮像素子画素とパネル画素との大きさが異なる場合でも、撮像画像内におけるパネル画素に対応する画素領域を容易に、かつ精度よく特定することができる。したがって、パネル画素を確実に特定することができ、線欠陥の検出された場合に、どのパネル画素に対応する部位が欠陥しているのかを容易に確認することができる。
【００１１】
また、本発明の表示異常検出装置では、前記パネル輝度演算手段は、前記パネル画素特定手段により特定される前記画素領域内に配置される前記各撮像素子画素の輝度値を認識し、前記画素領域内におけるこれらの輝度値の平均値を演算して前記パネル輝度値とすることが好ましい。
【００１２】
この発明によれば、各パネル画素のそれぞれに対応するパネル輝度値を容易に演算処理により求めることができ、線欠陥検出処理における処理負荷を軽減させることができる。また、パネル画素１つにつき複数の撮像素子でテスト画像を撮像するため、各撮像素子により例えば撮像感度が異なるなど、個体差が生じるおそれがあるが、各撮像素子画素の輝度値の平均値をパネル輝度値とすることで、各撮像素子の個体差の影響を軽減させることができ、適切なパネル輝度値を迅速に求めることができる。
【００１３】
そして、本発明の表示異常検出装置では、前記欠陥検出手段は、欠陥検出対象となる検査ラインのライン平均輝度値とこの検査ラインを中心とした所定範囲内の比較ラインにおけるライン平均輝度値との差分値を演算し、演算された差分値のうち最大値となる欠陥特徴量が所定の検出閾値以上となる前記検査ラインを表示異常欠陥があるラインとして検出することが好ましい。
【００１４】
一般に、人の目で表示画面を見た際、隣り合うラインの輝度値が近似し、徐々に輝度値が変化していく場合に比べて、隣り合うラインまたは所定範囲内のラインとの輝度値の差分値が大きいラインがある場合、特に線欠陥部位が目立ち、表示画像の違和感も強く感じられる。したがって、上記のように、検査ラインのライン平均輝度値と、このラインの所定範囲以内の周囲の比較ラインのライン平均輝度値との差分値のうち、最大値となる欠陥特徴量を評価することで、人の目で明らかに線欠陥と認められる部分を容易に検出することができ、欠陥検出における精度を向上させることができる。
【００１５】
また、本発明の表示異常検出装置では、前記パネル輝度演算手段は、前記撮像画像の前記各撮像素子画素を、前記パネル画素特定手段により特定される各パネル画素の前記パネル輝度値に基づいた輝度値で表示させる輝度値画像を生成することが好ましい。
これにより、輝度値画像により、各画素における輝度値を容易に認識することができ、線欠陥がある部分を輝度値画像からも容易に認識することができる。また、このような輝度値画像を、例えばモニタなどにて画面表示させることで、線欠陥があるラインを視覚により容易に確認することができる。
【００１６】
さらに、本発明の表示異常検出装置では、前記パネル画素特定手段は、前記撮像画像において、前記画素領域以外の領域をブラックマトリクスとして認識し、前記パネル輝度演算手段は、前記ブラックマトリクスを除外した前記輝度値画像を生成することが好ましい。
この発明によれば、パネル平均輝度演算手段は、ブラックマトリクスを除外した輝度値画像を生成する。これにより、例えばブラックマトリクスを略同一輝度のライン欠陥がある場合、ブラックマトリクスとライン欠陥との区別がつきにくく、検出誤差が生じるおそれがあるが、上記のように、ブラックマトリクスが除外されているため、このような検出誤差の発生がなく、輝度値画像の線欠陥を視認により検出する場合でも精度よく線欠陥を検出することができる。
【００１７】
そして、本発明の表示異常検出方法では、複数の表示素子がマトリクス状に配列されるとともに、各表示素子から射出される光により各パネル画素が構成される画像を表示させる表示デバイスにより表示される画像において、垂直方向または水平方向のうちいずれか一方の欠陥検出方向に沿う線欠陥を検出する線欠陥検出方法であって、前記表示デバイスに、全画素において同一輝度となるテスト画像を表示させる制御をし、１パネル画素につき複数の撮像素子を用い、前記表示デバイスにより表示される前記テスト画像を撮像し、前記撮像手段により撮像された撮像画像に対して、撮像画像の前記欠陥検出方向を、前記テスト画像の前記欠陥検出方向に合わせる補正を実施し、この補正された前記撮像画像において、前記撮像素子に対応する撮像素子画素を認識するとともに、これらの撮像素子画素の輝度値に基づいて前記各パネル画素に対応する画素領域を特定し、前記パネル画素特定手段により前記画素領域が特定された前記各パネル画素のそれぞれにおけるパネル輝度値を演算し、前記パネル輝度値に基づいて、前記欠陥検出方向に配列するパネル画素の集合である各ラインにおける各パネル画素の前記パネル輝度値を認識し、前記各ライン内における前記パネル輝度値の平均であるライン平均輝度値を演算し、前記各ライン平均輝度値に基づいて、線欠陥を検出することを特徴とする。
【００１８】
この発明によれば、上記表示異常欠陥装置と同様に、１パネル画素につき複数の撮像素子で、画像（全画素）を撮像するので、各パネル画素をそれぞれ１つの撮像素子で撮像する場合に比べて、各パネル画素の領域やブラックマトリクスの領域を容易に認識することができる。したがって、各パネル画素とブラックマトリクスとを容易に分割することができる。よって、これらのパネル画素の輝度値に基づいて、ライン平均輝度値を算出することで、容易にブラックマトリクスの領域を無視した高精度な線欠陥検出を実施することができ、パネル画素よりも小さい撮像素子によりテスト画像を撮像するため、幅が狭い部位の欠陥や微小な濃淡の欠陥も良好に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の一実施の形態に係る表示異常検出装置としての表示異常検出システムを図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の一実施の形態に係る欠陥検出装置の全体構成を示すブロック図である。
図２は、前記実施の形態の撮像装置により撮像された撮像画像の一部を模式的に示す図である。
図３は、前記実施の形態の画像処理装置の概略構成を示すブロック図である。
図４は、画像処理装置におけるＣＰＵで展開されるプログラムの構成を示すブロック図である。
図５は、補正手段による撮像画像の補正状態を示す図であり、（Ａ）は、補正前の撮像画像を示す図、（Ｂ）は、補正後の補正画像を示す図である。
図６は、パネル画素特定手段を構成する撮像素子輝度認識部により生成される輝度表示画像の一部を示す図である。
図７は、パネル画素特定手段を構成する領域特定部により生成される二値化画像の一部を示す図である。
図８は、パネル輝度演算手段を構成するパネル平均輝度値演算部により生成されるフィルタ補正画像の一部を示す図である。
図９は、パネル輝度演算手段を構成する輝度値画像生成部により生成される輝度値画像の一部を示す図である。
図１０は、前記輝度値画像の全体図および一部を示す図である。
図１１は、垂直方向に対して線欠陥検出を実施した場合の、各ラインにおけるライン平均輝度値を示す図である。
図１２は、前記ライン平均輝度値に基づいて演算される各ラインの欠陥特徴量を示す図である。
【００２０】
〔表示異常検出システムの構成〕
図１において、１は、表示異常検出装置としての表示異常検出システムであり、この表示異常検出システム１は、光学装置２と、デバイス制御手段としてのパネル制御装置３と、撮像手段としての撮像装置４と、画像処理装置５とを備えている。なお、本実施の形態では、これら光学装置２、パネル制御装置３、撮像装置４、および画像処理装置５が別体として設けられ、これらを例えばケーブル線などのデータ伝送手段により接続される表示異常検出システム１の構成を示すが、これに限定されない。例えば、光学装置２、パネル制御装置３、撮像装置４、および画像処理装置５が組み込まれた表示異常検出装置として構成されていてもよく、パネル制御装置３、撮像装置４、および画像処理装置５を備えて構成されるデータ処理装置と、光学装置２とを接続する表示異常検出システムとして構成されていてもよい。
そして、この表示異常検出システム１では、光学装置２に表示デバイスとしての液晶パネル２３を組み込み、光学装置２から投射される画像を画像処理装置５により画像処理することで、線欠陥を検出する。この表示異常検出システム１では、未検査の液晶パネル２３を光学装置に装着することで、液晶パネル２３における線欠陥を検出可能であるが、予め正常動作が確認された液晶パネル２３を光学装置２に装着することで、パネル制御装置３の制御検査を実施することも可能となる。
【００２１】
光学装置２は、光源ランプ２１と、集光レンズ２２と、液晶パネル２３と、投射レンズ２４とを備えている。この光学装置２では、光源ランプから射出された光束を集光レンズ２２にて平行光とし、液晶パネル２３にて変調された光が投射レンズ２４からスクリーン６に拡大投射される。
また、液晶パネル２３には、画像データの各画素に対応した複数の図示しない液晶セル（表示素子）がマトリクス状に配列されている。各液晶セルには、図示しない透明電極が配設されており、パネル制御装置３の制御によりこの透明電極に印加される電圧が制御されることで、液晶セルを透過する光束の光量が変化し、光学装置２から投射される画像の輝度が変化する。ここで、隣り合う液晶セル間に入射した光は、投射レンズ２４側に射出されないため、光学装置２から拡大投射される画像には、各液晶セルに対応するパネル画素と、各パネル画素間のブラックマトリクスとが表示される。
【００２２】
パネル制御装置３は、図１に示すように、所定のテスト画像の画像データを生成するパターンジェネレータ３１と、生成した画像データに基づいて、光学装置２の液晶パネル２３に印加する電圧を制御するパネル駆動回路３２とを備えている。
このパターンジェネレータ３１にて生成される画像データとしては、例えば、液晶パネル２３の全液晶セルにおいて光源からの光束を全透過させる全白表示テスト画像の画像データ、液晶パネル２３の全液晶セルにおいて光源からの光束を遮断させる全黒表示テスト画像、液晶パネル２３の全液晶セルにおいて光源からの光束を一部透過させて所定輝度の中間色（例えば、灰色）を表示させる中間色表示テスト画像の画像データが挙げられる。
【００２３】
撮像装置４は、マトリクス状に配列される複数の図示しない撮像素子を備えている。これらの撮像素子は、スクリーン６に拡大投射されるテスト画像における１パネル画素よりも小さく（例えば、パネル画素の１／１０）形成される。すなわち、撮像装置４は、テスト画像における１つのパネル画素につき、例えば垂直方向に１０個、水平方向に１０個の割合でマトリクス状に配列される合計１００個の撮像素子群の割合で、スクリーン６に投射されたテスト画像を撮像する。これにより、撮像装置４では、図２に示すように、各撮像素子にて撮像される画素をそれぞれ撮像素子画素８１として、これら複数（例えば１０×１０の合計１００個）の撮像素子画素８１により、パネル画素８２が構成される撮像画像７０が撮像される。
【００２４】
画像処理装置５は、撮像装置４により撮像された撮像画像７０に基づいて、テスト画像の線欠陥を検出する。この画像処理装置５としては、例えば汎用パーソナルコンピュータなどを用いてもよい。
そして、画像処理装置５は、図３に示すように、Ｉ／Ｏ（入出力インターフェース）５１と、操作部５２と、モニタ５３と、メモリ５４と、ＣＰＵ５５と、などを備えている。
【００２５】
Ｉ／Ｏ５１は、画像処理装置５と他の外部機器とを接続する端子部を備えている。そして、このＩ／Ｏ５１には、前記した撮像装置４が接続され、撮像装置４にて撮像された撮像画像７０が入力される。また、Ｉ／Ｏ５１は、ＣＰＵ５５に接続されており、入力された撮像画像７０をＣＰＵ５５に出力する。
【００２６】
操作部５２は、例えばキーボードやマウスなど、利用者により操作可能な操作手段を備えている。そして、操作部５２は、ＣＰＵ５５に接続されており、操作手段から入力される操作信号をＣＰＵ５５に出力する。この操作信号としては、例えば、撮像画像７０などの画像データをモニタ５３に表示させる旨の表示要求信号、撮像画像７０に基づいて、線欠陥を検出させる旨の欠陥検出要求信号などが挙げられる。
【００２７】
モニタ５３は、ＣＰＵ５５に接続され、ＣＰＵ５５から出力される画像信号に基づいて、画像を表示させる。なお、モニタ５３が画像処理装置５に一体的に設けられる構成を示すが、例えば画像処理装置５と別体に設けられる構成などとしてもよい。
【００２８】
メモリ５４は、画像処理装置５全体を動作制御するＯＳ（Operating System）上に展開される各種プログラムなどを適宜読み出し可能に記憶している。
【００２９】
ＣＰＵ５５は、各種構成が接続され、各構成の動作を制御する。このＣＰＵ５５は、例えば図４に示すように、各種プログラムとして、撮像画像認識手段５５１と、画像補正手段５５２と、パネル画素特定手段５５３と、パネル輝度演算手段５５４と、ライン輝度演算手段５５５と、欠陥検出手段５５６と、表示制御手段５５７と、を備えている。
【００３０】
撮像画像認識手段５５１は、撮像装置４により撮像された図２に示すような撮像画像７０を認識する。
【００３１】
画像補正手段５５２は、撮像画像７０に対して、方向補正を実施する。
すなわち、撮像装置４により撮像された撮像画像７０は、例えばスクリーン６の傾斜状態や、光学装置２の設置状態、撮像装置４の設置状態などにより、光学装置２により投射される元のテスト画像と比べて、図５（Ａ）に示すように、垂直方向および水平方向がずれる場合がある。画像補正手段５５２は、このような撮像画像７０に対して、撮像画像７０の水平方向または垂直方向のうちいずれか一方の欠陥検出方向を、元のテスト画像の欠陥検出方向（水平方向または垂直方向）と一致させる補正を実施し、補正画像７１を生成する。
具体的には、画像補正手段５５２は、撮像画像７０における各座標を、次式（１）により座標変換する。そして、欠陥検出方向が水平方向である場合、撮像画像７０の水平方向を元のテスト画像の水平方向と一致させ、欠陥検出方向が垂直方向である場合、撮像画像７０の垂直方向を元のテスト画像の垂直方向と一致させる補正処理を実施して、補正画像７１を生成する。
【００３２】
【数１】
2009085677.tif 000003
【００３３】
上記式（１）において、（ｘ、ｙ）は、補正前の撮像画像７０における各座標を示し、（ｕ，ｖ）は、補正画像７１の座標を示す。
【００３４】
パネル画素特定手段５５３は、補正画像７１における、液晶パネル２３の各液晶セルにより表示される各パネル画素８２の領域を特定する。このパネル画素特定手段５５３は、撮像素子輝度認識部５５３Ａと、二値化部５５３Ｂと、領域特定部５５３Ｃとを備えている。
【００３５】
撮像素子輝度認識部５５３Ａは、補正画像７１において、各撮像素子に対応する各撮像素子画素８１を認識する。そして、この認識した撮像素子画素のそれぞれにおける輝度値を認識し、図６に示すような輝度表示画像７２を生成する。
【００３６】
二値化部５５３Ｂは、輝度表示画像７２における各輝度値を所定の二値化閾値に対して二値化処理する。例えば、二値化部５５３Ｂは、輝度値が「０」以上である撮像素子画素８１に例えば「１」を設定し、輝度値が「０」未満である撮像素子画素８１に対して例えば「０」を設定する。なお、この二値化閾値として「０」を設定したが、これに限定されず、例えば光学装置２から拡大投射させるテスト画像が全白表示テスト画像である場合は、値がより大きい二値化閾値が設定されていてもよく、全黒表示テスト画像では、値がより小さい二値化閾値が設定されていてもよい。また、例えば操作部５２の操作入力により、任意に二値化閾値を変更する構成としてもよく、二値化閾値を変更することにより後述の領域特定部５５３Ｃにてパネル画素をより良好に特定できるように設定することも可能となる。
【００３７】
領域特定部５５３Ｃは、二値化部５５３Ｂにより二値化された撮像素子画素８１に基づいて、パネル画素８２に対応する画素領域を特定する。具体的には、領域特定部５５３Ｃは、補正画像７１における各撮像素子画素を二値化した値に応じて色別した、図７に示すような二値化画像７３を生成する。ここで、この二値化画像７３は、例えば二値化した値が「１」である撮像素子画素を白色、二値化した値が「０」である撮像素子画素を黒色で表示させる。
そして、領域特定部５５３Ｃは、この二値化画像７３において、白色で表示される白表示領域のうち、連続して配置される撮像素子画素８１の集合を認識し、この集合をパネル画素として認識する。つまり、二値化画像７３における黒表示領域で囲われる白表示領域（図７におけるＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４）をパネル画素８２の画素領域として特定する。
また、領域特定部５５３Ｃは、二値化画像７３における黒表示領域をブラックマトリクス８３として特定する。
【００３８】
パネル輝度演算手段５５４は、前記パネル画素特定手段５５３により特定された各パネル画素８２における平均輝度値を演算する。具体的には、パネル輝度演算手段５５４は、パネル平均輝度値演算部５５４Ａと、輝度値画像生成部５５４Ｂとを備えている。
【００３９】
パネル平均輝度値演算部５５４Ａは、例えば補正画像７１を二値化画像７３でフィルタリングして、図８に示すようなフィルタ補正画像７４を生成する。このフィルタ補正画像７４は、パネル画素特定手段５５３により特定されたパネル画素８２に対応する画素領域内に配置される各撮像素子画素が輝度値で表示され、ブラックマトリクス８３に対応する領域の撮像素子画素は輝度値が表示されず、例えば黒表示とされる画像である。
また、パネル平均輝度値演算部５５４Ａは、各パネル画素８２（例えば図８におけるＢ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４）に対応する画素領域の撮像素子画素の輝度値を積算し、この画素領域に含まれる撮像素子画素数で除算し、各パネル画素８２のそれぞれにおける平均値（パネル輝度値）を演算する。
【００４０】
輝度値画像生成部５５４Ｂは、パネル平均輝度値演算部５５４Ａにて演算されたパネル輝度値に基づいて、図９および図１０に示すような輝度値画像７５を生成する。具体的には、輝度値画像生成部５５４Ｂは、フィルタ補正画像７４におけるブラックマトリクス８３を削除し、隣り合うパネル画素８２を連続して配置させる。そして、各パネル画素８２を、前記パネル平均輝度値演算部５５４Ａにて演算されたパネル輝度値に基づいた輝度で表示させて（図９におけるＣ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４）、輝度値画像７５を生成する。なお、輝度値画像生成部５５４Ｂは、各パネル画素８２にパネル輝度値の値を重畳して表示させた輝度値画像７５を生成してもよい。
【００４１】
ライン輝度演算手段５５５は、輝度値画像７５における欠陥検出方向、例えばテスト画像において水平方向での線欠陥を検出する場合では輝度値画像７５の水平方向、テスト画像において垂直方向での線欠陥を検出する場合では輝度値画像７５の垂直方向に配列する各パネル画素のパネル輝度値を認識する。なお、本実施の形態では、欠陥検出方向が垂直方向である場合を例示して説明する。
そして、ライン輝度演算手段５５５は、各ラインにおけるパネル輝度値の平均値（ライン平均輝度値）を演算する。すなわち、ライン輝度演算手段５５５は、各ラインに含まれるパネル画素８２のパネル輝度値を積算し、ラインに含まれるパネル画素数で除算したライン平均輝度値を演算する。
【００４２】
欠陥検出手段５５６は、検査対象となるライン（例えば図１０における検査ライン８４）のライン平均輝度値と、このラインを中心とした所定範囲内のライン（例えば図１０における比較ライン８５）のライン平均輝度値との差分値を算出する。ここで、比較ラインの範囲としては、検査ラインのＸ軸座標を中心として、任意の値の範囲を設定することができ、例えば操作部５２での操作入力により線欠陥の検査目的に応じて変更することができる。なお、本実施の形態では、図１０に示すように比較ラインは、検査ラインを中心として、±２の範囲のラインとする。
そして、欠陥検出手段５５６は、検査ラインのライン平均輝度値と、比較ラインのライン平均輝度値との差分値のうち、最大となるものを欠陥特徴量として認識し、この欠陥特徴量が所定の検出閾値以上となる検査ラインを線欠陥があるラインとして検出する。
【００４３】
表示制御手段５５７は、利用者による操作部５２の操作入力に応じて、モニタ５３の表示領域に、上記した撮像画像７０、補正画像７１、輝度表示画像７２、二値化画像７３、フィルタ補正画像７４、輝度値画像７５を表示させる制御をする。また、表示制御手段５５７は、図１１に示すような、各ラインにおけるライン平均輝度値を示すグラフや、図１２に示すような各ラインにおける欠陥特徴量を示すグラフをモニタ５３に表示させる制御をする。さらに、表示制御手段５５７は、欠陥検出手段５５６にて検出された線欠陥の位置、例えば線欠陥に対応するラインのＸ座標（欠陥検出方向が水平方向の場合はＹ座標）を表示させる制御をする。
なお、表示制御手段５５７は、上記画像に、欠陥検出手段５５６にて検出された線欠陥部位を示す例えばマーカを重畳させて表示させる制御をしてもよい。
【００４４】
〔表示異常検出システムの動作〕
次に上記した表示異常検出システム１の動作について、図面に基づいて説明する。
図１３は、表示異常検出システムにおける線欠陥検出処理のフローチャートである。
【００４５】
上記表示異常検出システム１では、スクリーン６上に投射されたテスト画像を撮像し、この撮像画像に基づいて線欠陥検出処理を実施するため、光学装置２における液晶パネル２３の線欠陥不良検出だけではなく、パネル制御装置３におけるパターンジェネレータ３１の検査にも使用することができる。すなわち、予め検査が実施され、正常動作が確認されるパネル制御装置３を用い、未検査の液晶パネル２３を光学装置２に装着することで、表示異常検出システム１は、液晶パネル２３における線欠陥の有無を検査することが可能となる。一方、予め検査が実施されて正常動作が確認される液晶パネル２３を光学装置２に装着し、未検査のパネル制御装置３を用いて線欠陥検出処理を実施することで、表示異常検出システム１は、パネル制御装置３におけるパターンジェネレータ３１の検査を実施することが可能となる。
【００４６】
このような液晶パネル２３またはパターンジェネレータ３１における異常を検出するには、先ず、光学装置２から所定のテスト画像を表示させる制御をする(ステップＳ１０１)。
すなわち、パネル制御装置３は、パターンジェネレータ３１によりテスト画像を生成する。ここで、テスト画像として、例えば中間色表示テスト画像の画像データを生成するものとする。そして、パネル駆動回路３２は、このテスト画像の画像データに基づいて、光学装置２の液晶パネル２３に印加する電圧を制御し、光学装置２からテスト画像を拡大投射させる。
【００４７】
ステップＳ１０１によりスクリーン６上にテスト画像が表示されると、撮像装置４によりこのテスト画像が撮像され、撮像画像の画像データが画像処理装置５に出力される。
そして、画像処理装置５のＣＰＵ５５における撮像画像認識手段５５１は、入力された撮像画像データから、図２に示すような撮像画像７０を取得する（ステップＳ１０２）。また、撮像画像認識手段５５１は、この認識した撮像画像７０をメモリ５４に適宜読み出し可能に記憶する。
また、ステップＳ１０１およびステップＳ１０２において、光学装置２、スクリーン６および撮像装置４を暗ボックス内に配置することが好ましく、暗ボックス内に配置されるスクリーン６に表示されたテスト画像を撮像装置４にて撮像することで、外光の影響をなくすことができる。
【００４８】
次に、ＣＰＵ５５の画像補正手段５５２は、ステップＳ１０１で取得された撮像画像７０の欠陥検出方向と、元のテスト画像の水平、垂直方向とを一致させる補正を実施する。なお、本実施の形態では、欠陥検出方向を垂直方向として線欠陥検出を実施するため、撮像画像７０の垂直方向と、元のテスト画像の垂直方向とを一致させ、図５（Ｂ）に示すような補正画像７１を生成する（ステップＳ１０３）。また、画像補正手段５５２は、生成した補正画像７１をメモリ５４に適宜読み出し可能に記憶する。
【００４９】
この後、パネル画素特定手段５５３は、液晶パネル２３の各液晶セルに対応する各パネル画素８２を特定する（ステップＳ１０４）。
これには、先ず、パネル画素特定手段５５３は、撮像素子輝度認識部５５３Ａにより補正画像７１における各撮像素子画素８１の輝度値を認識させ、図６に示すような輝度表示画像７２を生成させる。そして、パネル画素特定手段５５３は、二値化部５５３Ｂによりこの輝度表示画像７２の各撮像素子画素８１の輝度値を二値化処理し、領域特定部５５３Ｃによりパネル画素８２に対応する画素領域を特定させ、二値化画像７３を生成させる。
【００５０】
この後、パネル輝度演算手段５５４のパネル平均輝度値演算部５５４Ａは、補正画像７１を二値化画像７３でフィルタリングしたフィルタ補正画像７４を生成し、各パネル画素８２に対応する画素領域に配置される撮像素子画素８１の輝度値を積算する。そして、この積算した値を画素領域に含まれる撮像素子画素の数で除算してパネル輝度値を算出する（ステップＳ１０５）。
また、パネル輝度演算手段５５４の輝度値画像生成部５５４Ｂは、図９および図１０に示すような輝度値画像７５を生成する。
【００５１】
そして、ライン輝度演算手段５５５は、ステップＳ１０５にて算出されたパネル輝度値に基づいて、ライン平均輝度値を演算する（ステップＳ１０６）。具体的には、欠陥検出方向（本実施の形態では垂直方向）に配列するパネル画素８２にて形成される各ラインにおいて、このラインに含まれるパネル画素８２のパネル輝度値を積算し、積算したパネル画素数で除算したライン平均輝度値を演算する。
【００５２】
また、このステップＳ１０６の後、欠陥検出手段５５６は、検査ライン８４と、この検査ラインから所定範囲以内に配置される比較ライン８５とのライン平均輝度値の差分値を算出し、算出した差分値が最大となる欠陥特徴量を算出する（ステップＳ１０７）。そして、欠陥検出手段５５６は、この欠陥特徴量が所定の検出閾値以上となる検査ライン８４を、線欠陥があるラインとして検出する（ステップＳ１０８）。
【００５３】
また、このステップＳ１０８の後、表示制御手段５５７は、ステップＳ１０２において取得される撮像画像７０、ステップＳ１０３において生成される補正画像７１、ステップＳ１０４において生成される輝度表示画像７２および二値化画像７３、ステップＳ１０５において生成されるフィルタ補正画像７４および輝度値画像７５、図１２や図１３に示されるような各ラインにおけるライン平均輝度値、欠陥特徴量の演算結果をモニタ５３に表示させる制御をする。なお、表示制御手段５５７は、ステップＳ１０２ないしステップＳ１０８において、上記のような画像の生成時、およびライン平均輝度値や欠陥特徴量の演算処理時と同時に、上記画像や演算結果をモニタ５３に表示させる制御をしてもよく、上記画像や演算結果のうち、例えば利用者により選択された画像や演算結果のみを表示させる制御をしてもよい。
【００５４】
〔本実施の形態の表示異常検出システムの作用効果〕
上述したように、上記表示異常検出システム１では、パネル制御装置３により、液晶セルがマトリクス状に配設される液晶パネル２３を制御して、光学装置２からスクリーン６上にテスト画像を拡大投射させる。そして、１パネル画素につき、例えば１００個の撮像素子の割合で、当該撮像素子がマトリクス状に配設される撮像装置４でこのテスト画像を撮像し、画像補正手段により、撮像画像を欠陥検出方向と光学装置２から拡大投射させるテスト画像の欠陥検出方向とを一致させる補正をして補正画像を生成する。この後、パネル輝度演算手段５５４は、この補正画像における各撮像素子画素８１の輝度値に基づいて、パネル画素８２を認識し、各パネル画素におけるパネル輝度値を演算する。また、ライン輝度演算手段５５５は、欠陥検出方向に沿って配列される各パネル輝度値の平均を演算することで、ライン平均輝度値を演算し、このライン平均輝度値に基づいて、欠陥検出手段５５６にて線欠陥を検出する。
【００５５】
このため、撮像装置４により、１つのパネル画素８２につき複数（例えば１００個）の撮像素子の割合でテスト画像が撮像されるので、撮像画像７０において、各パネル画素８２は、当該パネル画素８２よりも小さい撮像素子画素８１にて分割される。したがって、この撮像素子画素８１の輝度値を認識することで、ブラックマトリクス８３の範囲とパネル画素の範囲とを良好に分割することができ、ブラックマトリクス８３の範囲を除外してパネル画素８２に対応する領域のパネル輝度値のみを求めることができる。よって、各ラインに対してライン平均輝度値を演算すると、ブラックマトリクス８３の輝度を除外したライン平均輝度値を得ることができ、欠陥検出手段にて線欠陥を検出する際に、ブラックマトリクス８３の影響による検出ノイズ成分を除外した線欠陥検出を実施することができる。これにより、線欠陥検出における精度を向上させることができる。また、複数の撮像素子により、各パネル画素８２および各パネル画素８２の輝度値を精度よく認識することができるため、微小な濃淡や、幅の狭い部分の線欠陥をも良好に検出することができ、線欠陥検出の精度をより向上させることができる。
【００５６】
また、パネル画素特定手段５５３は、撮像素子輝度認識部５５３Ａにより各撮像素子画素の輝度値を認識し、二値化部５５３Ｂによりこの輝度値を所定の二値化閾値に対して二値化し、領域特定部により、この二値化した値に基づいて、パネル画素８２に対応する領域を特定する。
このため、撮像素子画素の輝度値を二値化するため、どの領域がパネル画素８２に対応する領域なのかが明確となり、領域特定部５５３Ｃは、二値化された値うち輝度値が大きい一方の撮像素子画素を画素領域として特定することで、容易にパネル画素に対応する画素領域を特定することができる。
【００５７】
さらに、パネル輝度演算手段５５４のパネル平均輝度値演算部５５４Ａは、各パネル画素の画素領域に含まれる撮像素子画素の輝度値の平均値をパネル輝度値として演算する。
このため、各パネル画素８２のそれぞれに対応するパネル輝度値を、容易に演算処理により算出することができる。したがって、画像処理装置５における線欠陥検出処理に係る処理負荷を軽減させることができる。
また、パネル画素１つにつき複数の撮像素子でテスト画像を撮像するため、各撮像素子により例えば撮像感度が異なるなど、個体差が生じるおそれがあるが、上記のように、各撮像素子画素８１の輝度値を平均したものをパネル輝度値とすることで、各撮像素子の個体差の影響を軽減させることができる。したがって、各パネル画素８２に対応して正確なパネル輝度値を求めることができる。
【００５８】
そして、欠陥検出手段５５６は、検査ライン８４のライン平均輝度値と、比較ライン８５のライン平均輝度値との差分値を演算して、この差分値の最大を欠陥特徴量とし、この欠陥特徴量が所定の検出閾値以上となる検査ラインを線欠陥があるラインとして検出する。
このため、人の目で明らかに線欠陥と認められるラインおよび線欠陥があるライン近傍を確実に検出することができる。
一般に、検査ライン８４におけるライン平均輝度値が全ラインの平均輝度値よりも高く、かつこの検査ライン８４の欠陥特徴量が小さい場合（ライン平均輝度値が徐々に変化する場合）、人の目では、線欠陥として認識することが困難となる。各検査ラインにおけるライン平均輝度値が所定値以上となるラインを検出することにより、このような人の目で認識することが困難な線欠陥を検出することが可能となる。しかしながら、通常、欠陥検出手段５５６による線欠陥検出の後、液晶パネル２３における線欠陥部位を補正する補正値を演算したり、パターンジェネレータにて生成されるパターン画像を補正する補正値を演算したりする後処置を実施するが、上記のように人の目により認識が困難な線欠陥をも検出すると、線欠陥検出量が増大し、後処理における補正値の演算量も増大するため、後処理が煩雑となり、処理負荷も増大する。これに対して、上記のように、欠陥特徴量が所定の検出閾値以上となる検査ライン８４を検出する方法では、人の目により線欠陥とはっきり認識される部分を検出することができ、この検出された部位に対してのみ、補正値の生成処理などを実施すればよく、後処理の作業効率を向上させることができ、後処理における処理負荷も軽減させることができる。
【００５９】
また、パネル輝度演算手段５５４の輝度値画像生成部５５４Ｂは、補正画像７１のパネル画素８２に対応する画素領域をパネル輝度値で表した輝度値画像７５を生成する。
このため、表示制御手段５５７によりこの輝度値画像７５をモニタ５３に表示させることで、各パネル画素８２におけるパネル輝度値を視覚的に容易に認識することができ、線欠陥があるラインを輝度値画像７５からも視覚的に容易に検出することができる。
【００６０】
さらに、輝度値画像生成部５５４Ｂは、ブラックマトリクス８３を除外した輝度値画像７５を生成する。
例えば線欠陥などにより、パネル画素８２の輝度値がブラックマトリクス８３の輝度値に近似する場合、線欠陥による表示異常であるのかブラックマトリクス８３であるのかの区別がつきにくく、輝度値画像７５から視覚的に線欠陥ラインを検出することが困難となる。これに対して、上記のように、ブラックマトリクス８３を除外した輝度値画像７５を生成することにより、線欠陥となるラインをより良好に検出することができ、輝度値画像７５をモニタ５３に表示させて視覚により線欠陥を検出する場合でも、ブラックマトリクス８３による検出ノイズ成分がないため、検出誤差をなくすことができ、高精度な線欠陥検出を実施することができる。
【００６１】
また、表示制御手段５５７は、ステップＳ１０２において取得される撮像画像７０、ステップＳ１０３において生成される補正画像７１、ステップＳ１０４において生成される輝度表示画像７２および二値化画像７３、ステップＳ１０５において生成されるフィルタ補正画像７４および輝度値画像７５、図１１や図１２に示されるような各ラインにおけるライン平均輝度値、欠陥特徴量の演算結果をモニタ５３に表示させる制御をする。
このため、画像処理装置５による処理内容を確認することができるとともに、各画像を確認することにより、視覚的に線欠陥をより効率的に検出することができる。この時、線欠陥として検出されたラインをマーカなどにて明示することで線欠陥となるラインが明確となり、視覚的により線欠陥の確認が容易に実施できる。
【００６２】
また、表示異常検出システム１は、未検査の液晶パネル２３を光学装置２に装着し、予め正常動作が確認されたパネル制御装置３にて液晶パネル２３を駆動することで、液晶パネル２３の線欠陥異常を精度よく検出することができる。また、予め正常動作が確認された液晶パネル２３を光学装置２に装着し、例えば工場から製造されたばかりの未検査のパターンジェネレータ３１が組み込まれたパネル制御装置３にて液晶パネル２３を駆動することで、パターンジェネレータ３１における線欠陥異常をも検出することができる。したがって、表示異常検出システム１により、液晶パネル２３およびパターンジェネレータ３１の双方の検査を実施することができ、線欠陥検出における検査コストも低減させることができる。
【００６３】
そして、画像補正手段は、撮像画像７０の欠陥検出方向（垂直方向または水平方向）と、テスト画像の欠陥検出方向(垂直方向または水平方向)とを一致させる補正を実施して補正画像７１を生成する。
このため、例えば撮像装置４やスクリーン６の傾斜状態、光学装置２の設置状態により、元のテスト画像に対して、所定角度で傾斜した撮像画像が撮像された場合でも、補正画像７１に補正することにより、欠陥検出方向を一致させることができ、パネル画素特定手段５５３により、精度よくパネル画素８２に対応する画素領域を特定させることができる。したがって、ブラックマトリクス８３に対応する領域を除外した線欠陥検出処理を容易に実施することができ、線欠陥検出における精度をより高めることができる。
【００６４】
〔他の実施の形態〕
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
【００６５】
例えば、表示デバイスとして液晶パネル２３を例示したが、これに限定されない。例えば表示パネルとして、有機ＥＬ（organic electroluminescence）や、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）などの表示パネルを用いてもよい。
【００６６】
また、上記実施の形態では、表示異常検出システム１として構成される例を示したが、上述したように、各構成を一体化した表示異常検出装置として構成してもよい。
【００６７】
さらに、パネル輝度演算手段５５４におけるパネル平均輝度値演算部５５４Ａは、パネル画素８２に対応する画素領域に含まれる撮像素子画素の輝度値の平均値を演算する構成としたが、これに限定されない。例えば、パネル平均輝度値演算部５５４Ａは、画素領域のさらに中心部における所定領域内の撮像素子画素の輝度値を平均してパネル輝度値としてもよく、同一輝度値の撮像素子画素をカウントし、カウント数が最も多い撮像素子画素の輝度値をパネル輝度値としてもよい。
【００６８】
そして、欠陥検出手段５５６は、欠陥特徴量に基づいて、線欠陥を検出する構成を示したが、例えば、検査ラインにおけるライン平均輝度値が所定の検出閾値以上となるラインを線欠陥があるラインとして検出する構成としてもよい。
【００６９】
また、上記実施の形態では、表示制御手段５５７の制御により、撮像画像７０、補正画像７１、輝度表示画像７２、二値化画像７３、フィルタ補正画像７４、輝度値画像７５、各ラインにおけるライン平均輝度値、および欠陥特徴量の演算結果をモニタ５３に表示させる構成としたが、これに限定されない。例えば、上記画像や演算結果のうち、利用者により選択される所定画像および演算結果のみがモニタ５３に表示される構成としてもよく、上記画像や演算結果がモニタ５３に表示されない構成としてもよい。また、モニタ５３に表示させる構成以外に、例えば線欠陥検出部位をマーカで表示させた輝度値画像などを印刷装置などにより印刷させて出力する構成としてもよく、その他いかなる出力方法により線欠陥の検出部位を報知してもよい。
【００７０】
また、撮像画像認識手段５５１、画像補正手段５５２、パネル画素特定手段５５３、パネル輝度演算手段５５４、およびライン輝度演算手段５５５が画像処理装置５のメモリ５４に記憶されるプログラムとして構成される例を示したが、これに限定されない。例えば上記各構成が、ＩＣチップなどの集積回路、すなわちハードウェアとして構成されていてもよい。さらには、上記各プログラムが記録媒体に記録され、ドライブ装置などにより適宜読み出される構成としてもよい。
【００７１】
その他、本発明の実施の際の具体的な構造および手順は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造などに適宜変更できる。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明の一実施の形態に係る欠陥検出装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】前記実施の形態の撮像装置により撮像された撮像画像の一部を模式的に示す図である。
【図３】前記実施の形態の画像処理装置の概略構成を示すブロック図である。
【図４】画像処理装置におけるＣＰＵで展開されるプログラムの構成を示すブロック図である。
【図５】補正手段による撮像画像の補正状態を示す図であり、（Ａ）は、補正前の撮像画像を示す図、（Ｂ）は、補正後の補正画像を示す図である。
【図６】パネル画素特定手段を構成する撮像素子輝度認識部により生成される輝度表示画像の一部を示す図である。
【図７】パネル画素特定手段を構成する領域特定部により生成される二値化画像の一部を示す図である。
【図８】パネル輝度演算手段を構成するパネル平均輝度値演算部により生成されるフィルタ補正画像の一部を示す図である。
【図９】パネル輝度演算手段を構成する輝度値画像生成部により生成される輝度値画像の一部を示す図である。
【図１０】前記輝度値画像の全体図および一部を示す図である。
【図１１】垂直方向に対して線欠陥検出を実施した場合の、各ラインにおけるライン平均輝度値を示す図である。
【図１２】前記ライン平均輝度値に基づいて演算される各ラインの欠陥特徴量を示す図である。
【図１３】表示異常検出システムにおける線欠陥検出処理のフローチャートである。
【符号の説明】
【００７３】
１…表示異常検出装置としての表示異常検出システム、３…デバイス制御手段としてのパネル制御装置、４…撮像手段としての撮像装置、２３…表示デバイスとしての液晶パネル、７０…撮像画像、７５…輝度値画像、８１…撮像素子画素、８２…パネル画素、８３…ブラックマトリクス、８４…検査ライン、８５…比較ライン、５５２…画像補正手段、５５３…パネル画素特定手段、５５３Ａ…撮像素子輝度認識手段としての撮像素子輝度認識部、５５３Ｂ…二値化手段としての二値化部、５５３Ｃ…領域特定手段としての領域特定部、５５４…パネル輝度演算手段、５５５…ライン輝度演算手段、５５６…欠陥検出手段。
【図１】
2009085677.tif 000004
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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