(57)【要約】【課題】例えば、作業者の目視によって容易に、且つ確実に、液晶装置の表示不良を検出可能にする。【解決手段】検査画像（ＰＢ）は、画素列（ｇ１−２）、（ｇ２−３）及び（ｇ３−４）の夫々に同時に表示される検査パターン（Ｐｂ１）、（Ｐｂ２）及び（Ｐｂ３）から構成されている。画素列（ｇ１−２）、（ｇ２−３）及び（ｇ３−４）の夫々に対応するデータ線の夫々は、相互に異なる画像信号線に電気的に接続されている。したがって、検査パターン（Ｐｂ１）、（Ｐｂ２）及び（Ｐｂ３）は、画像信号がシリアル−パラレル変換されてなる複数の画像信号のうち相互に異なる画像信号を供給する画像信号線に各々電気的に接続されている。即ち、同時に表示される検査パターンのピッチは、液晶装置の駆動時に同一の画像信号が供給されるデータ線のピッチと異なる。【選択図】図１２
2009237025.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上の表示領域で相互に交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記表示領域において前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して設けられた複数の画素部とを備えており、前記複数のデータ線のうちＮ本のデータ線を１群として構成される複数のデータ線群毎に供給され、且つＮ（但し、Ｎは２以上の自然数）系統にシリアル−パラレル変換された画像信号がＮ本の画像信号線を介して前記Ｎ本のデータ線に供給されることによって画像を表示可能な電気光学装置を検査するための電気光学装置の検査方法であって、
前記複数のデータ線群の第１データ線群に含まれるＮ本の第１データ線の一の第１データ線と、前記複数のデータ線群の第２データ線群に含まれるＮ本の第２データ線のうち前記一の第１データ線に対応する一の第２データ線と異なる他の第２データ線との夫々に供給される検査信号を含むパターン信号を前記電気光学装置に供給する第１ステップと、
前記パターン信号に基づいて前記表示領域に表示された検査画像を検査する第２ステップと
を備えたことを特徴とする電気光学装置の検査方法。
【請求項２】
前記第１ステップにおいて、前記パターン信号が予め記憶されたパターン信号供給手段から前記電気光学装置に前記パターン信号を供給すること
を特徴とする請求項１に記載の電気光学装置の検査方法。
【請求項３】
前記第２ステップにおいて、前記検査画像が表示された際に、前記複数の画素部のうち前記一の第２データ線に電気的に接続された画素部の輝度と、前記複数の画素部のうち前記他の第２データ線に電気的に接続された画素部の輝度との差に基づいて、前記検査画像を検査すること
を特徴とする請求項１又は２に記載の電気光学装置の検査方法。
【請求項４】
請求項１から３の何れか一項に記載の電気光学装置の検査方法を備えたこと
を特徴とする電気光学装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、液晶プロジェクタのライトバルブ等の電気光学装置を検査するための電気光学装置の検査方法、及びそのような検査方法を含んで構成される電気光学装置の製造方法の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の電気光学装置の一例である液晶パネルは、ライトバルブとして液晶プロジェクタに搭載されることがある。このような液晶プロジェクタの検査を行う場合、液晶パネル自体は極めて小さいため、画像の異常を液晶パネルの検査によって検出することは難しい。よって、実際にスクリーンに画像を投影して、投影された画像から異常を検出するという方法が通常用いられている。例えば、特許文献１では、投影手段によって投影された画像を取り込み、取り込んだ画像から投影装置の異常を検出する監視方法が開示されている。
【０００３】
また、このような液晶パネルでは、シリアル−パラレル変換された画像信号に基づいて駆動される相展開駆動方式がその駆動方式として採用されている場合がある。相展開駆動方式で駆動される液晶パネルでは、例えば、基板上の画像表示領域に配線された複数のデータ線は所定の本数毎にブロック化されており、シリアル−パラレル変換された画像信号が、ブロック単位で、該ブロックに含まれるデータ線にサンプリングスイッチを介して供給される。これにより、所定の本数のデータ線が同時に、且つ複数のデータ線は所定の本数毎に順次駆動される。各ブロック単位に対する画像信号の供給は、例えば、イネーブル信号によってタイミング或いは波形が規定される信号によって制御されるサンプリングスイッチの動作に応じて制御される。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１７３２３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、相展開駆動方式を採用する液晶パネル等の電気光学装置では、その検査時において、一のブロックの任意のデータ線に対応する画素部に表示された検査パターンと同じ形状のパターンが、他のブロックのデータ線のうち当該任意のデータ線に対応するデータ線にゴーストとして表示される場合がある。より具体的には、一のブロックの任意のデータ線に対応する画素部に表示された検査パターンの影が、他のブロックのデータ線のうち当該任意のデータ線に対応するデータ線、即ち、相展開数分離れたデータ線に電気的に接続された画素部にゴーストとして表示される。このようなゴーストは、例えば、データ線の各ブロックに対する画像信号の供給を制御する信号の波形或いは供給タイミングを規定するイネーブル信号の波形のずれ、或いはなまりに起因して発生する。
【０００６】
ここで、一のブロックにおける任意のデータ線と、他のブロックにおいて当該任意のデータ線に対応するデータ線との夫々に電気的に接続された画素部を同時に動作させる検査パターンで液晶パネルを検査した場合、画素部が表示する検査パターンとゴーストとが重なって表示されてしまい、ゴーストの発生を検出することが困難となる。特に、液晶パネル等の電気光学装置の検査工程では、作業者は画像表示領域に表示された検査パターンを目視で検査するため、ゴーストの検出はより一層困難になり、液晶パネルの不良を確実に検出することが困難となる問題点があった。
【０００７】
よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、相展開駆動される液晶パネル等の電気光学装置に発生するゴースト等の表示不良を確実に検出可能な電気光学装置の検査方法、及びそのような検査方法を含む電気光学装置の製造方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る電気光学装置の検査方法は上記課題を解決するために、基板上の表示領域で相互に交差する複数の走査線及び複数のデータ線と、前記表示領域において前記複数の走査線及び前記複数のデータ線の交差に対応して設けられた複数の画素部とを備えており、前記複数のデータ線のうちＮ本のデータ線を１群として構成される複数のデータ線群毎に供給され、且つＮ（但し、Ｎは２以上の自然数）系統にシリアル−パラレル変換された画像信号がＮ本の画像信号線を介して前記Ｎ本のデータ線に供給されることによって画像を表示可能な電気光学装置を検査するための電気光学装置の検査方法であって、前記複数のデータ線群の第１データ線群に含まれるＮ本の第１データ線の一の第１データ線と、前記複数のデータ線群の第２データ線群に含まれるＮ本の第２データ線のうち前記一の第１データ線に対応する一の第２データ線と異なる他の第２データ線との夫々に供給される検査信号を含むパターン信号を前記電気光学装置に供給する第１ステップと、前記パターン信号に基づいて前記表示領域に表示された検査画像を検査する第２ステップと備える。
【０００９】
本発明に係る電気光学装置の検査方法によって検査される電気光学装置では、その駆動時において、シリアル−パラレル変換されたＮ個の画像信号が、Ｎ本の画像信号線に供給される。Ｎ個の画像信号は、例えば駆動周波数の上昇を抑えつつ高精細な画像表示を実現すべく、外部回路によって、シリアルな画像信号が、３相、６相、１２相、２４相、・・・など、複数のパラレルな画像信号に変換されることによって生成される。このような画像信号の供給と並行して、例えばデータ線駆動回路によって、データ線群に対応するサンプリングスイッチ毎に、サンプリング信号が順次供給される。すると、サンプリング回路によって、複数のデータ線には、サンプリング信号に応じてデータ線群毎にＮ個の画像信号が順次供給される。よって、同一データ線群に属するデータ線は同時に駆動されることとなる。
【００１０】
前記複数のデータ線群の第１データ線群に含まれるＮ本の第１データ線の一の第１データ線と、前記複数のデータ線群の第２データ線群に含まれるＮ本の第２データ線のうち前記一の第１データ線に対応する一の第２データ線と異なる他の第２データ線との夫々は、Ｎ本の画像信号線のうち相互に異なる画像信号線の夫々に電気的に接続されている。
【００１１】
したがって、当該電気光学装置の検査時には、第１ステップにおいて、一の第１データ線及び他の第２データ線の夫々に電気的に接続された画素部を駆動する検査信号を含むパターン信号、即ち表示領域の検査パターンを表示させる信号が前記電気光学装置に供給される。
【００１２】
第２ステップでは、前記パターン信号に基づいて前記表示領域に表示された検査画像を検査する。ここで、第１ステップにおいて、一の第１データ線及び他の第２データ線の夫々に電気的に接続された画素部に検査信号が供給されているため、イネーブル信号の波形のずれ、或いはなまりに起因して、一の第１データ線に対応する一の第２データ線にゴーストが表示された場合に、検査画像において、他の第２データ線に電気的に接続された画素部が表示する検査パターンと、一の第２データ線に電気的に接続された画素部が表示するゴーストとが相互に重なって表示されることがない。
【００１３】
したがって、本発明に係る電気電気光学装置の検査方法によれば、当該電気光学装置の検査工程において、作業者は検査画像に含まれるゴーストを目視で容易に検出できる。より具体的には、例えば、データ線の各ブロックに対する画像信号の供給を制御する信号の波形或いは供給タイミングを規定するイネーブル信号の波形のずれ、或いはなまりに起因して発生し、且つデータ線が延びる方向に沿ってライン状に発生するゴーストを作業者の目視によって確実に検出することが可能になる。よって、本発明に係る電気電気光学装置の検査方法によれば、検査作業に関して熟練度が低い作業者が電気光学装置を検査した場合でも、相展開駆動される電気光学装置の不良を確実に検出できる。
【００１４】
本発明に係る電気光学装置の検査方法の一の態様では、前記第１ステップにおいて、前記パターン信号が予め記憶されたパターン信号供給手段から前記電気光学装置に前記パターン信号を供給してもよい。
【００１５】
この態様によれば、各相展開数の夫々に応じた適切な検査パターンを予め作成し、電気光学装置の検査時に、その検査パターンを記憶した外部の信号供給回路等のパターン信号供給手段からパターン信号を前記電気光学装置に供給できる。したがって、この態様によれば、相互に相展開数の異なる複数の電気光学装置に対して臨機応変に検査を実施することが可能である。
【００１６】
本発明に係る電気光学装置の検査方法の他の態様では、前記第２ステップにおいて、前記検査画像が表示された際に、前記複数の画素部のうち前記一の第２データ線に電気的に接続された画素部の輝度と、前記複数の画素部のうち前記他の第２データ線に電気的に接続された画素部の輝度との差に基づいて、前記検査画像を検査してもよい。
【００１７】
この態様によれば、一の第２データ線に電気的に接続された画素部に表示されたゴーストと、他の第２データ線に電気的に接続された画素部が表示する検査パターンとの夫々の輝度に差が生じるため、ゴースト及び検査パターンの夫々の輝度の差を定量化して電気光学装置の良否を判定することも可能である。
【００１８】
本発明に係る電気光学装置の製造方法は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置の検査方法を備えている。
【００１９】
本発明に係る電気光学装置の製造方法によれば、本発明の電気光学装置の検査方法を備えているので、例えば、不具合を有する電気光学装置の流出を低減できる。加えて、製造プロセスの途中に検査工程を組み込むことによって、電気光学装置の歩留まりを向上させることも可能である。
【００２０】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、図面を参照しながら、本発明に係る電気光学装置の検査方法及び製造方法の各実施形態を説明する。
【００２２】
＜１：液晶装置＞
＜１−１：液晶装置の全体構成＞
先ず、図１及び図２を参照しながら、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によって検査可能な液晶装置１の具体的な構成を説明する。図１は、素子基板１０をその上に形成された各構成要素と共に対向基板２０の側から見た液晶装置１の概略的な平面図であり、図２は、図１のＩＩ−ＩＩ´断面図である。
【００２３】
図１及び図２において、液晶装置１は、本発明の「基板」の一例である素子基板１０と、素子基板１０に対向配置された対向基板２０とを備えている。素子基板１０及び対向基板２０間には液晶層５０が封入されており、素子基板１０及び対向基板２０は、本発明の「表示領域」の典型例である画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材５２を介して相互に接着されている。
【００２４】
シール材５２は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいて素子基板１０上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材５２中には、素子基板１０と対向基板２０との間隔（基板間ギャップ）を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。
【００２５】
シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。但し、このような額縁遮光膜５３の一部又は全部は、素子基板１０側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。
【００２６】
画像表示領域１０ａの周辺に位置する周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２が素子基板１０の一辺に沿って設けられている。走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺のいずれかに沿い、且つ、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。尚、走査線駆動回路１０４を、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２が設けられた素子基板１０の一辺に隣接する２辺に沿って設けるようにしてもよい。この場合、素子基板１０の残る一辺に沿って設けられた複数の配線によって、二つの走査線駆動回路１０４は互いに電気的に接続される。
【００２７】
対向基板２０の４つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能する上下導通材１０６が配置されている。他方、素子基板１０にはこれらのコーナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これら上下導通端子及び上下導通材１０６により、素子基板１０及び対向基板２０間で電気的な導通をとることができる。
【００２８】
図２において、素子基板１０上には、画素スイッチング用のＴＦＴや走査線、データ線等の配線が形成された後の画素電極９ａ上に、配向膜が形成されている。他方、対向基板２０上には、対向電極２１の他、格子状又はストライプ状の遮光膜２３、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層５０は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、液晶装置１の駆動時に、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。これにより、液晶装置１の駆動時において、画像表示領域１０ａに画像を表示可能になる。
【００２９】
＜１−２：液晶装置の電気的な構成＞
次に、図３を参照しながら、液晶装置１の電気的な構成を説明する。図３は、液晶装置１の電気的な構成を示すブロック図である。
【００３０】
図３において、液晶装置１は、画像表示領域１０ａで相互に交差する複数の走査線１１及びデータ線６、走査線１１及びデータ線６の交差に応じてマトリクス状に配列された画素部７０、素子基板１０の周辺領域に設けられた走査線駆動回路１０４及びデータ線駆動回路１０１、複数の画像信号線１７１、並びに、容量配線４００を備えている。尚、本実施形態では、画像信号ＶＩＤが１２相（Ｎ＝１２）にシリアルーパラレル変換された場合を例に挙げるが、画像信号ＶＩＤは２相以上にシリアル−パラレル変換されていればよい。
【００３１】
走査線駆動回路１０４は、ＹスタートパルスＤＹが入力されると、Ｙクロック信号ＣＬＹ及び反転Ｙクロック信号ＣＬＹｉｎｖに基づくタイミングで、走査信号Ｙ１、・・・、Ｙｍを順次生成して走査線１１に出力する。
【００３２】
データ線駆動回路１０１は、画像信号制御回路１０３、及びサンプリング回路２００を備えている。
【００３３】
画像信号制御回路１０３は、液晶装置１の駆動時に、ＸスタートパルスＤＸが入力されると、Ｘクロック信号ＣＬＸ及び反転Ｘクロック信号ＸＣＬＸｉｎｖに基づくタイミングで、サンプリング信号Ｓ１、Ｓ２、・・・Ｓｎ（ｎ：２以上の自然数）を順次生成し、サンプリング回路２００に供給する。
【００３４】
サンプリング回路２００は、データ線６毎に設けられた複数のサンプリングスイッチ２０２を備えている。サンプリングスイッチ２０２は、例えば、電気的に直列に接続された２つのＴＦＴから構成されており、これらＴＦＴの夫々は、Ｐチャネル型又はＮチャネル型の片チャネル型ＴＦＴである。画像信号ＶＩＤ１〜１２の夫々は、サンプリングスイッチ２０２がサンプリング信号Ｓ１、・・・、Ｓｎの供給に応じてオンオフ動作が制御されることによって、１２本の画像信号線１１７の夫々からデータ線６に供給される。
【００３５】
画素部７０は、液晶素子１１８、画素電極９ａ（図２参照）、及び画素電極９ａをスイッチング制御するためのＴＦＴ１１６、並びに保持容量１１９を備えている。
【００３６】
容量配線４００は、不図示の定電位源に電気的に接続されている。容量配線４００に供給される電源の電位は、画素電極９ａに対向配置された対向電極に供給される対向電極電位ＬＣＣである。容量配線４００は、保持容量１１９を構成する一方の電極に電気的に接続されている。この一方の電極の電位は、液晶装置１の駆動時に対向電極電位ＬＣＣに維持される。保持容量１１９は、液晶素子１１８と並列に付加されている。画素電極９ａの電圧は、ソース電圧が印加された時間よりも、例えば３桁も長い時間だけ保持容量１１９により保持されるので、保持特性が改善される結果、高コントラスト比が実現される。
【００３７】
画像信号線１７１は、１２相の画像信号ＶＩＤ１〜１２に対応して１２本設けられている。画像信号線１７１の夫々は、サンプリング回路２００を介して各々対応するデータ線６に電気的に接続されている。外部回路から供給された１系統の入力画像データＶＩＤをシリアル−パラレル変換して得られる１２系統の画像信号ＶＩＤ１〜１２は、サンプリング信号Ｓｉ（１、・・・、ｎ）に応じてオンオフが切り換えられるサンプリングスイッチ２０２を介して画像信号線１７１の夫々からデータ線６に供給される。１２系統の画像信号ＶＩＤ１〜１２は、例えば、不図示の画像信号供給回路等の信号変換手段を用いて一系統の画像信号ＶＩＤを変換することによって生成される。
【００３８】
検査回路７０１は、液晶装置１の検査時に、データ線６に電気的に接続され、検査信号を含むパターン信号を各画素部７０に供給する。複数のデータ線６は、サンプリング信号Ｓｉに対応して、１２本のデータ線を一群とする複数のデータ線群に区分けされている。
【００３９】
次に、図４を参照しながら、画像信号制御回路１０３の構成を詳細に説明する。図４は、画像信号制御回路の電気的な構成を示したブロック図である。
【００４０】
図４において、画像信号制御回路１０３は、シフトレジスタ５１、プリチャージ回路５、及びイネーブル回路５５を備えている。
【００４１】
シフトレジスタ５１は、データ線駆動回路１０１内に入力される所定周期のＸ側クロック信号ＣＬＸ（及びその反転信号ＣＬＸ´）、シフトレジスタスタート信号ＤＸに基づいて、各段から転送信号Ｐｉ（ｉ＝１、・・・、ｎ）を順次出力するように構成されている。
【００４２】
プリチャージ回路５は、シフトレジスタ５１から出力される転送信号Ｐｉ（ｉ＝１、・・・、ｎ）の夫々に対応して設けられた、ｎ個のプリチャージスイッチ５２からなる。プリチャージスイッチ５２は、画像信号制御回路１０３内にプリチャージタイミング信号ＮＲＧ（Noise Reduction Gate）を導入するためのスイッチであり、典型的には、転送信号Ｐｉ（ｉ＝１、・・・、ｎ）とプリチャージタイミング信号ＮＲＧとが入力され、イネーブル回路５５に出力するＯＲ回路として構成される。
【００４３】
ここで、転送信号Ｐｉ（ｉ＝１、・・・、ｎ）は画像信号ＶＩＤ１〜１２の夫々のデータ書き込み期間を規定するためのタイミング信号であり、プリチャージタイミング信号ＮＲＧは、上記データ書き込み期間に先立つプリチャージ期間を規定するためのタイミング信号である。そこで、以降の説明において、その一方又は両方の区別をなく指す場合には、単に「タイミング信号」と呼ぶ。
【００４４】
イネーブル回路５５は、例えばＡＮＤ回路として構成され、タイミング信号と共に１２個のイネーブル信号ＥＮＢ１〜１２が供給される。イネーブル回路５５は、タイミング信号のパルス波形を１２系列のイネーブル信号ＥＮＢ１〜１２に基づいて整形し、サンプリング信号Ｓｉ（ｉ＝１、・・・、ｎ）を出力する。イネーブル信号のパルス幅は、少なくとも転送信号Ｐｉのパルス幅よりは狭い所定幅である。
【００４５】
＜１−３：液晶装置の動作原理＞
次に、図３及び図４を参照しながら、液晶装置１が画像を表示する際の動作原理を説明する。液晶装置１は、ライン反転方式の一例である１Ｈ反転駆動方式で駆動される。
【００４６】
図３及び図４において、１２相にシリアル−パラレル展開された画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ１２は、１２本（Ｎ＝１２）の画像信号線１７１を介して各画素部７０に供給される。データ線６は、以下に説明するように、画像信号線１７１の本数に対応する１２本のデータ線６を１群とするデータ線群毎に順次駆動される。
【００４７】
画像信号制御回路１０３から、データ線群に対応するサンプリングスイッチ２０２毎にサンプリング信号Ｓｉ（ｉ＝１、２、・・・、ｎ）が順次供給され、サンプリング信号Ｓｉに応じて各サンプリングスイッチ２０２はオン状態となる。画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ１２は、オン状態に切り換えられたサンプリングスイッチ２０２を介して１２本の画像信号線１７１の夫々からデータ線群に属するデータ線６に同時に、且つデータ線群毎に順次供給され、一のデータ線群に属するデータ線６は互いに同時に駆動されることとなる。したがって、本実施形態の液晶装置１によれば、データ線６をデータ線群毎に駆動するため、駆動周波数を抑制できる。
【００４８】
液晶素子１１８には、画素電極９ａ及び対向電極２１の各々の電位によって規定される印加電圧が印加される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として液晶装置１から画像信号ＶＩＤ１〜ＶＩＤ１２に応じたコントラストをもつ光が出射され、画像が表示される。
【００４９】
＜２：液晶装置の検査方法及び製造方法＞
次に、図３及び図４、並びに、図５乃至図１３を参照しながら、液晶装置１を検査するために用いられる、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法と、当該検査方法を含む液晶装置１の製造方法を説明する。図５は、液晶装置１によって画像が正常に表示される際の画像信号ＶＩＤ１及び７と、イネーブル信号ＥＮＢとの関係を図示的に示したタイミングチャートである。図６及び図７の夫々は、液晶装置１によって表示された画像に異常が発生した際の画像信号ＶＩＤ１及び７と、イネーブル信号ＥＮＢとの関係を図示的に示したタイミングチャートである。図８は、液晶装置１の画像表示領域１０ａにおける複数のデータ線６及び複数の画素部７０の区分けを図式的に示した平面図である。図９は、液晶装置１の検査時にゴーストが発生した表示パターンを図式的に示した平面図である。図１０は、ゴーストを検出できない従来の検査パターンの一例を図式的に示した平面図である。図１１は、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法を含む液晶装置の製造方法の主要な工程を順に示したフローチャートである。図１２は、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法で用いられる検査パターンを図示的に示した平面図である。図１３は、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法で用いられる検査パターンと共にゴーストを示した図示的な平面図である。尚、図５乃至図７では、画像信号ＶＩＤを１２相にシリアル−パラレル変換してなるＶＩＤ１乃至１２のうち時間的に連続してデータ線に供給される画像信号ＶＩＤ１及びＶＩＤ７をＶＩＤＥＯ１として示している。
【００５０】
図５において、ＶＩＤＥＯ１における画像信号ＶＩＤを取り込むタイミングを規定するサンプリング信号Ｓｉ、言い換えればサンプリング信号Ｓｉの幅及びタイミングを規定するイネーブル信号ＥＮＢに着目すると、画像が正常に表示されている際のイネーブル信号ＥＮＢは、画像信号ＶＩＤ７が供給されるタイミングと重なり、画像信号ＶＩＤ７が供給されるべきデータ線６に画像信号ＶＩＤ７が供給される。
【００５１】
ここで、画像信号制御回路１０３の不具合によりイネーブル信号ＥＮＢのタイミングが早くなるように制御され、図６に示すようなタイミングにされたとすると、イネーブル信号ＥＮＢは画像信号ＶＩＤ１が供給されるタイミングとも重なることになる。このような場合、画像信号ＶＩＤ７に加えて、画像信号ＶＩＤ１もデータ線６に供給されることになり、画像にはゴーストが発生してしまう。
【００５２】
また、上述したゴーストは、イネーブル信号ＥＮＢのタイミングだけでなく、イネーブル信号ＥＮＢの波形にも依存している。イネーブルＥＮＢは、典型的には、図５及び図６に示したように垂直な立ち上がり方はせず、図７に示すように、多少なまりのある波形となる。このように波形になまりを有するイネーブル信号ＥＮＢを用いてサンプリング信号Ｓｉが生成されると、イネーブル信号ＥＮＢ及び画像信号ＶＩＤ１が相互に重なる部分が生じるため、ゴーストが発生してしまう。
【００５３】
次に、図８乃至図１０を参照しながら、ゴーストが発生する画素部の位置を詳細に説明する。尚、図９及び図１０では、点線で囲まれた各四角形の部分の夫々を画素部として図式的に表示している。
【００５４】
先ず、図８を参照しながら、画像表示領域１０ａの構成を詳細に説明する。複数のデータ線６は、図中左側から順に１２本のデータ線６を一群とする複数のデータ線群Ｄｉ（ｉ＝１、・・・ｎ：ｎは２以上の自然数）に区分けされている。すでに説明したように、液晶装置１の駆動時には、データ線群Ｄｉ毎にデータ線６が駆動され、画像表示領域１０ａに画像が表示される。複数の画素部７０は、各データ線群Ｄｉの夫々に対応して画素群Ｇｉ（ｉ＝１、・・・ｎ：ｎは２以上の自然数）に便宜上区分けすることにする。画素群Ｇｉの夫々は、データ線群Ｄｉを構成する１２本のデータ線に対応して１２列の画素列から構成されている。より具体的には、例えば、画素群Ｇ１は、データ線６ｄ１−１、６ｄ１−２、・・・、６ｄ１−１２の夫々に電気的に接続された画素列ｇ１−１、ｇ１−２、・・・、ｇ１−１２から構成されている。
【００５５】
以下では、説明の便宜上、データ線群Ｇ１を、本発明の「第１データ線群」の一例として、データ線群Ｇ２及びＧ３の夫々を本発明の「第２データ線群」の一例とする。データ線６ｄ１−２を、本発明の「一の第１データ線」の一例とし、データ線６ｄ２−２及び６ｄ３−２の夫々を、本発明の「一の第２データ線」とする。また、データ線６ｄ２−３及び６ｄ３−４の夫々を本発明の「他の第２データ線」の一例とする。
【００５６】
次に、図８乃至図１０を参照しながら、ゴーストが発生する画素部の位置を詳細に説明する。
【００５７】
図８及び図９において、データ線６ｄ１−２及び６ｄ２−２の夫々は、画像信号ＶＩＤ２をデータ線６ｄ１−２及び６ｄ２−２の夫々に供給するための画像信号線１７１に電気的に接続されている。言い換えれば、データ線６ｄ１−２及び６ｄ２−２は、１２本設けられた画像信号線１７１のうち同じ画像信号線１７１に電気的に接続されている。
【００５８】
液晶装置１の検査時において、データ線６ｄ１−２に検査回路７０１から検査信号を供給した場合、画素列ｇ１−２に検査パターンＰａ１が表示される。ここで、イネーブル信号ＥＮＢの波形のずれ或いはなまりに一因として、より具体的には、このような波形のずれ或いはなまりを生じさせるように液晶装置１の各回路に不具合が発生していた場合、データ線群Ｄ２にもサンプリング信号Ｓ２が供給され、相互に共通の画像信号線１７１に電気的に接続されているデータ線６ｄ２−２にも検査信号が供給されることになる。このような場合、データ線６ｄ２−２に電気的に接続された画素列ｇ２−２にゴーストＣ２−２が表示される。また、画素群Ｇ３では、データ線６ｄ１−２及び６ｄ２−２と共通の画像信号線１７１に電気的に接続されたデータ線６ｄ３−２にも検査信号が供給され、画素列ｇ３−２にゴーストＣ３−２が表示される。液晶装置１の検査時には、理想的を言えば、画素列ｇ１−２に検査パターンＰａ１を表示させた状態で、ゴーストＣ２−２及びＣ３−２が検出できれば、液晶装置１に不具合が発生していることが判定可能になる。
【００５９】
しかしながら、図１０に示すように、相互に共通の画像信号線１７１に電気的に接続されるデータ線６ｄ１−２、６ｄ２−２及び６ｄ３−２の夫々に同時に検査信号が供給され、画素列ｇ１−２、ｇ２−２及びｇ３−２に同時に検査パターンＰａ１、Ｐａ２及びＰａ３からなる検査画像ＰＡを表示させた場合、ゴーストＣ２−２及びＣ３−２と、検査パターンＰａ２及びＰａ３が重なって表示されしまうため、検査パターンＰａ２及びＰａ３と、ゴーストＣ２−２及びＣ３−２とを相互に区別して判別することが困難になる。
【００６０】
つまり、液晶装置１の駆動時に、相互に共通の画像信号ＶＩＤが供給されるデータ線に対応した画素列のピッチに一致する間隔で表示される検査パターンからなる検査画像によれば、作業者の目視によってゴーストの発生を検出することが極めて困難である問題点が生じる。
【００６１】
次に、図１１乃至図１３を参照しながら、上述の問題点を解決可能な、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法を含む液晶装置の製造方法を説明する。以下では、ステップＳ１０及びＳ２０が、本発明の「電気光学装置の製造方法」の一例を構成する。
【００６２】
図１１において、素子基板１０及び対向基板２０間に液晶層５０を封止することによって液晶装置１を形成する（ステップＳ１）。
【００６３】
次に、検査回路７０１を液晶装置１に電気的に接続して液晶装置１に検査信号を供給する（ステップＳ１０）。次に、検査信号に応じて画像表示領域１０ａに表示された検査画像を作業者が目視で確認し、液晶装置１に不具合が発生しているが否かを検査する。これにより、検査済の液晶装置１が製造可能になる。ステップＳ１０及びステップＳ２０は、液晶装置１の製造プロセスの最終段階で実施されるだけでなく、製造プロセスの途中で液晶装置１における不具合の発生状況を検査するために用いられてもよい。
【００６４】
次に、図１２及び図１３を参照しながら、ステップＳ１０において液晶装置１に供給される検査信号をパターン信号、並びに、当該パターン信号に基づいて画像表示領域１０ａに表示される検査画像を詳細に説明する。
【００６５】
図１２に示すように、本発明の「検査画像」の一例である検査画像ＰＢは、画素列ｇ１−２、ｇ２−３及びｇ３−４の夫々に同時に表示される検査パターンＰｂ１、Ｐｂ２及びＰｂ３から構成されている。検査回路７０１は、液晶装置１の検査時に、検査パターンＰｂ１、Ｐｂ２及びＰｂ３の夫々に対応する検査信号を含むパターン信号を液晶装置１に供給する。ここで、画素列ｇ１−２、ｇ２−３及びｇ３−４の夫々に対応するデータ線６ｄ１−２、６ｄ２−３及び６ｄ３−４の夫々は、相互に異なる画像信号線１７１に電気的に接続されている。より具体的には、データ線６ｄ１−２は、液晶装置１の駆動時に、画像信号ＶＩＤ２を供給する画像信号線１７１に電気的に接続されている。同様に、データ線６ｄ２−３及び６ｄ３−４の夫々は、画像信号ＶＩＤ３及びＶＩＤ４の夫々を供給する画像信号線１７１に電気的に接続されている。したがって、検査パターンＰｂ１、Ｐｂ２及びＰｂ３は、画像信号ＶＩＤがシリアル−パラレル変換されてなる複数の画像信号ＶＩＤ１〜１２のうち相互に異なる画像信号を供給する画像信号線１７１に各々電気的に接続されている。即ち、本実施形態では、同時に表示される検査パターンのピッチは、液晶装置１の駆動時に同一の画像信号が供給されるデータ線のピッチと異なる。
【００６６】
したがって、図１３に示すように、イネーブル信号ＥＮＢの波形のずれ或いはなまりを一因として、検査パターンＰｂ１のゴーストＣ２−２及びＣ３−２の夫々が画素列ｇ２−２及び画素列ｇ３−３に表示された場合でも、これらゴーストＣ２−２及びＣ３−２が検査パターンＰｂ２及びＰｂ３の夫々と重なって表示されることがないため、液晶装置１に不具合が発生していることを作業者の目視で容易に、且つ確実に検出することが可能になる。加えて、検査パターンＰｂ２に対応するゴーストＣ３−３も検査パターンＰｂ３と重なって表示されないため、液晶装置１に不具合が発生していることを作業者の目視で容易に、且つ確実に検出することが可能になる。
【００６７】
したがって、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によれば、検査作業に関して熟練度が低い作業者が液晶装置を検査した場合でも、データ線が延びる方向に沿った画素列にライン状に発生するゴーストを容易に検出できる。したがって、相展開駆動される液晶装置１の不良品が流出することを低減できる。加えて、液晶装置１の製造プロセスの途中で検査を実施することにより、早期に液晶装置１の不具合を検出できることから、製造プロセスの早い段階で不具合箇所を特定でき、当該不具合箇所をリペアすることによって、液晶装置１の歩留まりを向上させることも可能である。
【００６８】
尚、本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によれば、画素群Ｇ１、Ｇ２及びＧ３に限定されるものではなく、他の画素群についても、画素群Ｇ１、Ｇ２及びＧ３と同様に、シリアル−パラレル変換された画像信号ＶＩＤ１〜１２のうち同じ画像信号が供給されるデータ線６のピッチと異なるピッチで検査パターンを画素列に表示させることによって、画像表示領域１０ａに表示されるゴーストの全てを確実に検出することが可能である。
【００６９】
また、検査パターンに対応する検査信号を含むパターン信号、即ち検査画像Ｐｂを含む検査画像に対応したパターン信号は、検査回路７０１或いは，検査回路７０１とは別に設けられたパターン信号供給手段に予め当該パターン信号を記憶させておき、記憶させたパターン信号を検査回路７０１から液晶装置１に供給してもよい。
【００７０】
これにより、相展開数に応じた適切な検査パターンを予め作成し、液晶装置１の検査時に、記憶されていたパターン信号を液晶装置１に供給できる。したがって、相互に相展開数の異なる複数の液晶装置１に対して臨機応変に検査を実施することが可能である。
【００７１】
本実施形に係る電気光学装置の検査方法によれば、画像を検査する工程において、例えば、複数の画素部７０のうちデータ線６ｄ２−２に電気的に接続された画素列ｇ２−２の輝度と、データ線６ｄ２−３に電気的に接続された画素列ｇ２−３の輝度との差に基づいて、検査画像ＰＢを検査してもよい。このようにして検査をすることにより、ゴースト及び検査パターンの夫々の輝度の差を定量化しておいて、液晶装置１の良否を判定することも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によって検査される液晶装置の平面図である。
【図２】図１のＩＩ−ＩＩ´断面図である。
【図３】本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によって検査される液晶装置の電気的な構成を示すブロック図である。
【図４】本実施形態に係る電気光学装置の検査方法によって検査される液晶装置における、画像信号制御回路の電気的な構成を示したブロック図である。
【図５】液晶装置によって画像が正常に表示される際の画像信号及びイネーブル信号の関係を図示的に示したタイミングチャートである。
【図６】液晶装置によって表示された画像に異常が発生した際の画像信号及びイネーブル信号の関係を図示的に示したタイミングチャート（その１）である。
【図７】液晶装置によって表示された画像に異常が発生した際の画像信号及びイネーブル信号の関係を図示的に示したタイミングチャート（その２）である。
【図８】液晶装置の画像表示領域における複数のデータ線及び複数の画素部の区分けを図式的に示した平面図である。
【図９】液晶装置の検査時にゴーストが発生した表示パターンを図式的に示した平面図である。
【図１０】ゴーストを検出できない従来の検査パターンの一例を図式的に示した平面図である。
【図１１】本実施形態に係る電気光学  装置の製造方法の主要な工程を示したフローチャートである。
【図１２】本実施形態に係る電気光学装置の検査方法で用いられる検査パターンを図示的に示した平面図である。
【図１３】本実施形態に係る電気光学装置の検査方法で用いられる検査パターンと共にゴーストを示した図示的な平面図である。
【符号の説明】
【００７３】
１・・・液晶装置、１０１・・・データ線駆動回路、１０３・・・画像信号制御回路、１０４・・・走査線駆動回路、ＰＡ，ＰＢ・・・検査画像、Ｐａ１，Ｐａ２，Ｐａ３、Ｐｂ１，Ｐｂ２，Ｐｂ３・・・検査パターン、Ｃ２−２，Ｃ３−２，Ｃ３−３・・・ゴースト
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図１１】
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【図９】
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【図１０】
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【図１２】
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【図１３】
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