(57)【要約】【課題】高速かつ高精度に欠陥画素を判定すること。【解決手段】欠陥画素処理装置５は、撮像素子３から出力される各画素Ａｎの画素データＤｎと閾値Ｔｈ１、Ｔｈ２とを比較して、各画素Ａｎが欠陥候補画素Ａｍであるか否かを判定する第１判定手段５ａと、第１判定手段５ａにより判定された欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、を比較して、欠陥候補画素Ａｍが欠陥画素Ａｋであるか否かを判定する第２判定手段５ｂと、を備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子から出力される各画素の画素データと閾値とを比較して、前記各画素が欠陥候補画素であるか否かを判定する第１判定手段と、
前記第１判定手段により判定された前記欠陥候補画素の画素データと、該欠陥候補画素周辺の画素の画素データと、を比較して、前記欠陥候補画素が欠陥画素であるか否かを判定する第２判定手段と、を備える、ことを特徴とする欠陥画素処理装置。
【請求項２】
請求項１記載の欠陥画素処理装置であって、
前記第１判定手段は、
前記各画素データが第１閾値以上となった場合に、前記欠陥候補画素が白キズになり得ると判定し、
前記画素データが第２閾値以下となった場合に、前記欠陥候補画素が黒キズになり得ると判定する、ことを特徴とする欠陥画素処理装置。
【請求項３】
請求項２記載の欠陥画素処理装置であって、
前記第２判定手段は、
前記欠陥候補画素周辺の画素の画素データの平均値と、前記欠陥候補画素の画素データとの差分が第３閾値以上となった場合に、前記欠陥画素が白キズであると判定し、
前記欠陥候補画素周辺の画素の画素データの平均値と、前記欠陥候補画素の画素データとの差分が第４閾値以下となった場合に、前記欠陥画素が黒キズであると判定する、ことを特徴とする欠陥画素処理装置。
【請求項４】
請求項３記載の欠陥画素処理装置であって、
前記第２判定手段は、前記欠陥候補画素の上下に位置し、かつ、前記欠陥候補画素と略同一色となる一対の画素を抽出し、抽出した前記画素の画素データの平均値を算出する、ことを特徴とする欠陥画素処理装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のうちいずれか１項記載の欠陥画素処理装置であって、
前記第２判定手段により判定された前記欠陥画素の画素データを補正する欠陥画素補正手段を更に備える、ことを特徴とする欠陥画素処理装置。
【請求項６】
請求項５記載の欠陥画素処理装置であって、
前記欠陥画素補正手段は、前記欠陥画素の画素データを、該欠陥画素周辺の画素の画素データの平均値に置換する、ことを特徴とする欠陥画素処理装置。
【請求項７】
撮像素子から出力される各画素の画素データと閾値とを比較して、前記各画素が欠陥候補画素であるか否かを判定する第１判定工程と、
前記第１判定工程で判定された前記欠陥候補画素の画素データと、該欠陥候補画素周辺の画素の画素データと、を比較して、前記欠陥候補画素が欠陥画素であるか否かを判定する第２判定工程と、を含む、ことを特徴とする欠陥画素処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素処理装置および欠陥画素処理方法に関するものであり、より詳細には、撮像素子から出力される各画素の画素データに基づいて、各画素が欠陥候補画素であるか否かを判定し、さらに判定された欠陥候補画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素処理装置および欠陥画素処理方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、所定画素の周辺に位置する複数の周辺画素から出力された画素データを抽出して、これらの画素データの最大値、平均値、及び最小値を算出し、その後、各画素データがこれらのどの値に最も近いか比較を行い、所定画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素検出方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００６−２２９６２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記従来の欠陥画素検出方法において、全ての所定画素に対して、上記周辺画素の比較処理を行って、欠陥画素の判定を行うため、多くの処理時間を要すこととなる。一方で、全ての所定画素と閾値とを単に比較するのみでは、閾値を厳しく設定すると、正常な画素を欠陥画素として誤検出する可能性があり、また、閾値を緩く設定すると、欠陥画素の検出漏れが生じる可能性があり、したがって、検出精度が低下する問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の一態様は、撮像素子から出力される各画素の画素データと閾値とを比較して、前記各画素が欠陥候補画素であるか否かを判定する第１判定手段と、前記第１判定手段により判定された前記欠陥候補画素の画素データと、該欠陥候補画素周辺の画素の画素データと、を比較して、前記欠陥候補画素が欠陥画素であるか否かを判定する第２判定手段と、を備える、ことを特徴とする欠陥画素処理装置である。この一態様によれば、高速に判定処理が可能な第１判定手段により、欠陥候補画素を判定し、その後、高精度に判定処理が可能な第２判定手段により、絞りこまれた欠陥候補画素の中から欠陥画素を判定する。これにより、高速かつ高精度に欠陥画素を判定することができる。
【０００５】
他方、本発明の一態様は、撮像素子から出力される各画素の画素データと閾値とを比較して、前記各画素が欠陥候補画素であるか否かを判定する第１判定工程と、前記第１判定工程で判定された前記欠陥候補画素の画素データと、該欠陥候補画素周辺の画素の画素データと、を比較して、前記欠陥候補画素が欠陥画素であるか否かを判定する第２判定工程と、を含む、ことを特徴とする欠陥画素処理方法であってもよい。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、高速かつ高精度に欠陥画素を判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、添付図面を参照しながら一実施形態を挙げて説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る欠陥画素処理装置が内蔵されたカメラ装置のシステム構成の概略を示すブロック図である。
【０００８】
本実施形態に係るカメラ装置１は、撮影光学系２と、撮像素子３と、Ａ／Ｄ変換部４と、欠陥画素処理装置５と、メモリ部６と、出力部７と、を備え、人、物体等の被写体を撮影することが可能である。
【０００９】
撮影光学系２は、主として、複数のレンズにより構成されたレンズ光学系２ａと、このレンズ光学系２ａの前方に配置され、被写体からの光を遮光する絞り、シャッター等の遮光機構２ｂと、を有している。
【００１０】
撮像素子３には、例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）素子やＣＭＯＳ(Complementary Metal Oxide Semiconductor)素子が用いられている。また、撮像素子３は、複数の画素Ａ１・・・・Ａｎから構成されている。撮影光学系２の遮光機構２ｂ及びレンズ光学系２ａを通過した被写体からの入射光は、撮像素子３の複数の画素Ａｎ上で結像する。そして、撮像素子３の各画素Ａｎは、入射光に対して光電変換を行い、画素データ（例えば、輝度値）ＤｎをＡ／Ｄ変換部４に対して出力する。
【００１１】
Ａ／Ｄ変換部４は、撮像素子３の各画素Ａｎから出力されたアナログの画素データＤｎを、デジタルの画素データＤｎに変換し、欠陥画素処理装置５に対して出力する。
【００１２】
欠陥画素処理装置５は、第１判定部５ａと、第２判定部５ｂと、欠陥画素補正部５ｃと、を備えている。
【００１３】
第１判定部５ａは、Ａ／Ｄ変換部４から出力された撮像素子３の全画素Ａｎの画素データＤｎと、閾値Ｔｈとを夫々比較して、各画素Ａｎが欠陥候補画素Ａｍであるか否かを判定する（第１判定工程Ｐ１）。
【００１４】
例えば、第１判定部５ａは、Ａ／Ｄ変換部４から出力された撮像素子３の各画素Ａｎの画素データＤｎが第１閾値Ｔｈ１以上（Ｄｎ≧Ｔｈ１）となった場合に、その欠陥候補画素Ａｍが白キズになり得ると判定する。また、第１判定部５ａは、Ａ／Ｄ変換部４から出力された撮像素子３の各画素Ａｎの画素データＤｎが第２閾値Ｔｈ２以下（Ｄｎ≦Ｔｈ２）となった場合に、その欠陥候補画素Ａｍが黒キズになり得ると判定する。なお、第１判定部５ａによる判定方法は、上記一例に限られず、周知の判定方法が適用可能である。
【００１５】
また、第１閾値Ｔｈ１は、白キズとなり得る画素データの値が予め実験的に求められ、メモリ部６に記憶されている。同様に、第２閾値Ｔｈ２は、黒キズとなり得る画素データの値が予め実験的に求められ、メモリ部６に記憶されている。
【００１６】
ここで、白キズとは、例えば、入射光量に応じた撮像出力に、常時一定のバイアス電圧が加算されることで、高輝度の白点として現れる欠陥画素を指す。また、黒キズとは、例えば、光電感度が低いために、低輝度の黒点として現れる欠陥画素を指す。第1判定部５ａは、判定した欠陥候補画素Ａｍを第２判定部５ｂに対して出力する。
【００１７】
第２判定部５ｂは、第１判定部５ａから出力された複数の欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、を夫々比較して、欠陥候補画素Ａｍが欠陥画素Ａｋであるか否かを判定する（第２判定工程Ｐ２）。
【００１８】
例えば、第２判定部５ｂは、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎの平均値と、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍとの差分δが第３閾値Ｔｈ３以上となった場合に、欠陥画素Ａｋが白キズであると判定する。また、第２判定部５ｂは、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎの平均値と、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍとの差分δが第４閾値Ｔｈ４以下となった場合に、欠陥画素Ａｋが黒キズであると判定する。
【００１９】
より具体的には、第２判定部５ｂは、まず、欠陥候補画素Ａｍの上下に位置し、かつ、欠陥候補画素Ａｍと略同一色となる一対の画素Ａｍ１、Ａｍ２を抽出し、抽出した画素Ａｍ１、Ａｍ２の画素データＤｍ１、Ｄｍ２の平均値（（Ｄｍ１＋Ｄｍ２）／２）を算出する。そして、第２判定部５ｂは、算出した平均値と、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍとの差分δが第３閾値Ｔｈ３以上（（Ｄｍ１＋Ｄｍ２）／２−Ｄｍ≧Ｔｈ３）となった場合に、欠陥画素Ａｋが白キズであると判定する（図２）。
【００２０】
同様に、第２判定部５ｂは、まず、欠陥候補画素Ａｍの上下に位置し、かつ、欠陥候補画素Ａｍと略同一色となる一対の画素Ａｍ１、Ａｍ２を抽出し、抽出した画素Ａｍ１、Ａｍ２の画素データＤｍ１、Ｄｍ２の平均値を算出する。そして、第２判定部５ｂは、算出した平均値と、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍとの差分δが第４閾値Ｔｈ４以下（（Ｄｍ１＋Ｄｍ２）／２−Ｄｍ≦Ｔｈ４）となった場合に、欠陥画素Ａｋが黒キズであると判定する。第２判定部５ｂは、判定した欠陥画素Ａｋを欠陥画素補正部５ｃに対して出力する。なお、第２判定部５ｂによる判定方法は、上記一例に限られず、高精度な判定が可能であれば、周知の判定方法が適用可能である。
【００２１】
例えば、第２判定部５ｂは、欠陥候補画素Ａｍの上下に位置し、かつ、欠陥候補画素Ａｍと略同一色となる一対の画素Ａｍ１、Ａｍ２を抽出し、抽出した画素Ａｍ１、Ａｍ２の画素データＤｍ１、Ｄｍ２の平均値を算出しているが、これに限らず、欠陥候補画素Ａｍの左右、或いは斜め上下の画素Ａｎの画素データＤｎの平均値を算出してもよい。さらに、第２判定部５ｂは、まず、画像の背景パターンに基づいて正常な画素を推測し、その推測された正常な画素のうち、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素の画素データの平均値を算出してもよい。
【００２２】
欠陥画素補正部５ｃは、第２判定部５ｂにより判定された欠陥画素Ａｋの画素データＤｋの補正を行う（欠陥画素補正工程Ｐ３）。例えば、欠陥画素補正部５ｃは、欠陥画素Ａｋの画素データＤｋを、第２判定部５ｂから出力された欠陥画素Ａｋの上下に位置し、かつ、欠陥画素Ａｋと略同一色となる一対の画素Ａｋ１、Ａｋ２の画素データＤｋ１、Ｄｋ２の平均値（（Ｄｋ１＋Ｄｋ２）／２）に置換する。
【００２３】
なお、欠陥画素補正部５ｃによる欠陥画素の補正方法は、上記一例に限られず、処理速度及び処理精度が良好となる周知の補正方法が適用可能である。欠陥画素補正部５ｃは、上述の如く、全ての欠陥画素Ａｋの画素データＤｋを補正し、メモリ部６及び出力部７に対して出力する。
【００２４】
また、欠陥画素処理装置５は、主要なハードウェア構成として、演算処理等を行うＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＣＰＵによって実行される演算プログラム等を格納するＲＯＭ（Read Only Memory）と、処理データを一時的に格納等するＲＡＭ（Random Access Memory）と、を有している。また、第１判定部５ａ、第２判定部５ｂ、および欠陥画素補正部５ｃは、例えば、上記ＲＯＭに記憶され、ＣＰＵによって実行されるプログラムによって実現されている。
【００２５】
さらに、欠陥画素処理装置５は、上記機能以外の周知の画像処理機能を有している。例えば、欠陥画素処理装置５は、撮像素子３の全画素ＡｎからＡ／Ｄ変換部４を介して出力された画素データＤｎに対して、色分離、ホワイトバランス、ガンマ補正等の映像信号規格に準拠した画像処理およびＤ／Ａ変換処理を行い、適当なフォーマットのビデオ信号に変換し、出力部７に対して出力する。
【００２６】
メモリ部６は、欠陥画素補正部５ｃにより補正された欠陥画素Ａｋの画素データＤｋを含む、全画素Ａｎの画素データＤｎを逐次記憶する。また、メモリ部６は、例えば、不揮発性メモリ、即ち、ＥＥＰＲＯＭやバックアップ付きＲＡＭ等により構成されている。
【００２７】
出力部７は、欠陥画素補正部５ｃにより補正された欠陥画素Ａｋの画素データＤｋを含む、全画素Ａｎの画素データＤｎを、撮影画像として出力する。出力部７は、例えば、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置等の任意の表示装置により構成されている。
【００２８】
図３は、上述した撮像素子３の１画素に対する処理内容の概略を示す図である。図３に示す如く、１画素Ａｎに対する処理は、第１判定工程Ｐ１、第２判定工程Ｐ２、及び／又は、欠陥画素補正工程Ｐ３を含む。
【００２９】
また、第１判定工程Ｐ１は、上述の如く、各画素Ａｎの画素データＤｎと、第１及び第２閾値Ｔｈ１、Ｔｈ２との比較であるため、第２判定工程Ｐ２と比較して、高速な判定処理が可能となっている。一方、第２判定工程Ｐ２は、上述の如く、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、の比較であるため、第１判定処理Ｐ１と比較して、高精度な判定処理が可能となっている。このように、最初に、高速な第１判定工程Ｐ１によって、欠陥候補画素Ａｍの絞り込みを高速で行い、その後、高精度な第２判定工程Ｐ２によって、絞り込まれた欠陥候補画素Ａｍの中から最終的な欠陥画素Ａｋを高精度に判定する。
【００３０】
ところで、従来の欠陥画素処理装置において、例えば、撮像素子の全ての画素から出力される画素データと、その画素周辺の画素の画素データと、を夫々比較を行っているため、その処理時間が増加する可能性がある。一方で、撮像素子の各画素の画素データと、閾値とを単純に比較する処理のみを行った場合に、高速処理が可能となる。しかしながら、その場合、閾値を厳しく設定すると正常な画素を欠陥画素として誤検出する可能性があり、また、閾値を緩く設定すると欠陥画素の検出漏れが生じる可能性があり、したがって、検出精度が低下する問題がある。
【００３１】
そこで、本実施形態に係る欠陥画素処理装置５において、撮像素子３から出力される各画素Ａｎの画素データＤｎと第１及び第２閾値Ｔｈ１、Ｔｈ２とを比較して、各画素Ａｎが欠陥候補画素Ａｍであるか否かを判定する第１判定部５ａと、第１判定部５ａにより判定された欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、を比較して、欠陥候補画素Ａｍが欠陥画素Ａｋであるか否かを判定する第２判定部５ｂと、を備えている。
【００３２】
これにより、各画素Ａｎの画素データＤｎと第１及び第２閾値Ｔｈ１、Ｔｈ２とを比較するのみで、高速に判定処理が可能な第１判定部５ａにより、全画素Ａｎの中から欠陥候補画素Ａｍを高速に絞り込む。この第１判定工程Ｐ１により、例えば、図４に示すように、全画素Ａｎのうち大部分の画素が、正常な画素として、処理時間を要するその後の第２判定工程Ｐ２及び欠陥画素補正工程Ｐ３の対象から除外される。したがって、全体の処理時間を大幅に短縮し、処理の高速化を図ることができる。さらに、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、の比較を行う、高精度な判定処理が可能な第２判定部５ｂにより、絞り込まれた欠陥候補画素Ａｍの中で、最終的な欠陥画素Ａｋを高精度に判定する。
【００３３】
このように、高速に判定処理が可能な第１判定部５ａにより、全画素Ａｎの中から欠陥候補画素Ａｍを効果的に絞り込み、さらに、高精度な判定処理が可能な第２判定部５ｂにより、絞り込まれた欠陥候補画素Ａｍの中で最終的な欠陥画素Ａｋを高精度に判定する。したがって、欠陥候補画素Ａｍの高速な判定処理を行いつつも、欠陥画素Ａｋの高精度な判定処理が可能となる。すなわち、高速かつ高精度に欠陥画素Ａｋを判定することができる。
【００３４】
次に、上述した本実施形態に係る欠陥画素処理装置５の処理フローについて、詳細に説明する。図５及び図６は、本発明の一実施形態に係る欠陥画素処理装置５の処理フローの一例を示すフローチャートである。
【００３５】
図５に示す如く、欠陥画素処理装置５は、撮像素子３の各画素Ａｎから出力される画素データＤｎに対して、第１判定工程Ｐ１、第２判定工程Ｐ２、及び／又は欠陥画素補正工程Ｐ３からなる１画素処理を行う（ステップＳ１００）。そして、欠陥画素処理装置５は、全画素Ａｎの画素データＤｎに対して、この１画素処理が終了したと判断すると（ステップＳ１１０のＹＥＳ）、本欠陥画素処理を終了させる。
【００３６】
次に、欠陥画素処理装置５による上述の１画素処理について、詳細に説明する。図６に示す如く、撮像素子３は、各画素Ａｎの画素データＤｎをＡ／Ｄ変換部４を介して、第１判定部５ａに対して出力する（ステップＳ１０１）。
【００３７】
第１判定工程Ｐ１において、第１判定部５ａは、Ａ／Ｄ変換部４から出力された撮像素子３の各画素Ａｎの画素データＤｎが、第１閾値Ｔｈ１より小さく、かつ第２閾値Ｔｈ２より大きい許容値範囲内（Ｔｈ２＜Ｄｎ＜Ｔｈ１）であるか否かを判定する（ステップＳ１０２）。
【００３８】
第１判定部５ａは、撮像素子３の各画素Ａｎの画素データＤｎが許容値範囲外（Ｄｎ≦Ｔｈ２またはＤｎ≧Ｔｈ１）にあると判定したときは（ステップＳ１０２のＮＯ）、この画素Ａｎが欠陥候補画素Ａｍであると判定し、次の第２判定工程Ｐ２に移行する。これにより、全画素Ａｎの中から欠陥候補画素Ａｍを高速に絞り込むことができる。
【００３９】
一方、第１判定部５ａは、撮像素子３の各画素Ａｎの画素データＤｎが許容値範囲内であると判定したときは（ステップＳ１０２のＹＥＳ）、本１画素処理を終了する。これにより、許容値範囲内にある正常な画素は、処理時間を要するその後の第２判定工程Ｐ２及び欠陥画素補正工程Ｐ３の対象から除外される。したがって、全体の処理時間を大幅に短縮し、処理の高速化を図ることができる。
【００４０】
第２判定工程Ｐ２において、第２判定部５ｂは、欠陥候補画素Ａｍの上下に位置し、かつ、欠陥候補画素Ａｍと略同一色となる一対の画素Ａｍ１、Ａｍ２を抽出し、抽出した画素Ａｍ１、Ａｍ２の画素データＤｍ１、Ｄｍ２の平均値（（Ｄｍ１＋Ｄｍ２）／２）を算出する（ステップＳ１０３）。また、第２判定部５ｂは、算出した平均値と、欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍとの差分δ（δ＝（Ｄｍ１＋Ｄｍ２）／２−Ｄｍ）を算出する（ステップＳ１０４）。
【００４１】
そして、第２判定部５ｂは、算出された差分δが、第３閾値Ｔｈ３より小さくかつ第４閾値Ｔｈ４より大きい許容値範囲内（Ｔｈ４＜δ＜Ｔｈ３）にあるか否かを判断する（ステップＳ１０５）。
【００４２】
第２判定部５ｂは、算出された差分δが許容値範囲外（Ｄｎ≦Ｔｈ４またはＤｎ≧Ｔｈ３）にあると判定したときは（ステップＳ１０５のＮＯ）、この欠陥候補画素Ａｍが欠陥画素Ａｋである判定し、次の欠陥画素補正工程Ｐ３に移行する。これにより、第１判定部５ａにより絞り込まれた欠陥候補画素Ａｍの中で、最終的な欠陥画素Ａｋを高精度に判定することができる。
【００４３】
一方、第２判定部５ｂは、算出された差分δが許容値範囲内にあると判定したときは（ステップＳ１０５のＹＥＳ）、本１画素処理を終了する。
【００４４】
欠陥画素補正工程Ｐ３において、欠陥画素補正部５ｃは、欠陥画素Ａｋの画素データＤｋを、第２判定部５ｂから出力された欠陥画素Ａｋの上下に位置し、かつ、欠陥画素Ａｋと略同一色となる一対の画素Ａｋ１、Ａｋ２の画素データＤｋ１、Ｄｋ２の平均値（（Ｄｋ１＋Ｄｋ２）／２）に置換し（ステップＳ１０６）、本１画素処理を終了する。
【００４５】
以上、本実施形態に係る欠陥画素処理装置５において、撮像素子３から出力される各画素Ａｎの画素データＤｎと第１及び第２閾値Ｔｈ１、Ｔｈ２とを比較して、各画素Ａｎが欠陥候補画素Ａｍであるか否かを判定する第１判定部５ａと、第１判定部５ａにより判定された欠陥候補画素Ａｍの画素データＤｍと、欠陥候補画素Ａｍ周辺の画素Ａｍｎの画素データＤｍｎと、を比較して、欠陥候補画素Ａｍが欠陥画素Ａｋであるか否かを判定する第２判定部５ｂと、を備えている。これにより、高速かつ高精度に欠陥画素Ａｋを判定することができる。
【００４６】
また、本実施形態に係る欠陥画素処理装置５によれば、カメラ装置１の工場出荷時における撮像素子３の白キズおよび黒キズの補正だけでなく、カメラ装置１による撮影中又は撮影後に生じた撮像素子３の白キズおよび黒キズを、リアルタイムで補正することができる。したがって、ユーザにとって利便性が高い。さらに、簡易な構成で、上述のように、高速かつ高精度な欠陥画素Ａｋの判定が可能となるため、コストの低減にも繋がる。
【００４７】
なお、本発明を実施するための最良の形態について一実施形態を用いて説明したが、本発明はこうした一実施形態に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において、上述した一実施形態に種々の変形及び置換を加えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の一実施形態に係る欠陥画素処理装置が内蔵されたカメラ装置のシステム構成の概略を示すブロック図である。
【図２】同一色となる、欠陥候補画素の上下の画素の位置を示す図である。
【図３】撮像素子の１画素に対する処理内容の概略を示す図である。
【図４】撮像素子の全画素に対する処理内容の一例を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る欠陥画素処理装置の処理フローの一例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態に係る欠陥画素処理装置の処理フローの一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４９】
１      カメラ装置
２      撮影光学系
２ａ    レンズ光学系
２ｂ    遮光機構
３      撮像素子
４      Ａ／Ｄ変換部
５      欠陥画素処理装置
５ａ    第１判定部
５ｂ    第２判定部
５ｃ    欠陥画素補正部
６      メモリ部
７      出力部
Ａ      画素
Ｄ      画素データ
Ｔｈ１  第１閾値
Ｔｈ２  第２閾値
Ｔｈ３  第３閾値
Ｔｈ４  第４閾値
【図１】
2009302722.tif 000003
【図２】
2009302722.tif 000004
【図３】
2009302722.tif 000005
【図４】
2009302722.tif 000006
【図５】
2009302722.tif 000007
【図６】
2009302722.tif 000008