(57)【要約】【課題】  専用テスト装置を用いずに周辺基板のテストを実現する。【解決手段】操作入力画面Ｗ２の機種選択部３２でテスト対象の周辺基板の機種を選択し、フォーマット選択部３４で制御信号の信号分類の組み合わせを選択する。信号分類３８の組み合わせは設定表示部３６に詳細表示される。更に、信号分類３８の制御信号種類選択部４０で実際に送信する制御信号の種類を選択する。また、オプション設定部５２で送信時の自動変更の対象となるパラメータとその変更方法との組み合わせを選択し、自動リピート回数設定部５０でリピート回数を設定する。送信操作部５４で「再生」を操作すると先に設定されたフォーマットに従って、オプション設定がされている場合には変更対象のパラメータの設定内容を自動変更されながら自動リピート回数だけ制御信号が繰り返し周辺基板に向けて送信される。【選択図】図２
2009131449.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータに、主基板から受信した制御信号に従って図柄の表示制御を実行する遊技機用の周辺基板に対して、前記制御信号を模擬した制御信号を送信制御するように機能させるためのプログラムであって、
制御信号の種類を表す信号分類が当該制御信号の送信順に組み合わされることで前記図柄の全体的な表示制御が定義された複数のフォーマットの中から、操作入力に応じて何れかのフォーマットを選択するフォーマット選択部、
前記フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該信号分類に属する制御信号として定められた複数の制御信号の中から、当該フォーマットの当該信号分類に対応付ける制御信号を操作入力に応じて選択する信号選択部、
前記信号選択部によって選択された制御信号を、前記フォーマット選択部で選択されたフォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信する制御を行う送信制御部、
として前記コンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項２】
請求項１に記載のプログラムであって、
前記フォーマット毎に、当該フォーマットに定義されている各信号分類それぞれに対応する制御信号を、前記信号選択部で選択された制御信号として記憶する記憶部、として前記コンピュータを機能させるとともに、
前記送信制御部が、前記複数のフォーマットの中からフォーマットを順次又はランダムに選択し、選択したフォーマットに定義されている各信号分類それぞれに対応する制御信号を前記記憶部の記憶内容に基づいて判別して、当該フォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信制御する
ように前記コンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のプログラムであって、
前記送信制御部が、前記フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該分類に属する制御信号を順次又はランダムに選択し、当該フォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信制御する
ように前記コンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項４】
請求項２又は３に記載のプログラムであって、
前記送信制御部による送信制御履歴を記録する履歴記録部、
前記記録された送信制御履歴に基づいて、送信制御された制御信号を統計処理して表示制御する履歴表示制御部、
として前記コンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項５】
請求項１〜４の何れか一項に記載のプログラムであって、
前記周辺基板の種類それぞれに適合する前記フォーマットが予め定められており、
前記周辺基板の種類を判定する基板種類判定部として前記コンピュータを機能させるとともに、
前記フォーマット選択部が、前記基板種類判定部によって判定された種類に適合する前記フォーマットの中から、操作入力に応じてフォーマットを選択する
ように前記コンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項６】
請求項１〜５の何れか一項に記載のプログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体。
【請求項７】
主基板から受信した制御信号に従って図柄の表示制御を実行する遊技機用の周辺基板に対して、前記制御信号を模擬した制御信号を送信するテスト装置であって、
制御信号の種類を表す信号分類が当該制御信号の送信順に組み合わされることで前記図柄の全体的な表示制御が定義された複数のフォーマットの中から、操作入力に応じて何れかのフォーマットを選択するフォーマット選択部と、
前記フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該信号分類に属する制御信号として定められた複数の制御信号の中から、当該フォーマットの当該信号分類に対応付ける制御信号を操作入力に応じて選択する信号選択部と、
前記信号選択部によって選択された制御信号を、前記フォーマット選択部で選択されたフォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信する制御を行う送信制御部と、
を備えるテスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プログラム、情報記憶媒体及びテスト装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年のパチンコやスロットマシーンなどの遊技機は、遊技の進行に応じて様々な演出表示をするための画像表示装置（例えば、液晶ディスプレイ）を備えたものが多い。演出表示としては、例えば、抽選始動とともに表示されるキャラクタをあしらったスロットが通常とは異なる回転動作をすることで抽選の当たり役を告知する表示や、当選確率が一時的に高まっている所謂「確率変動」など内部状態が変化していることを告知する表示などが知られるところである。この手の演出表示は近年遊技を楽しむ重要な要素の一部となっており、各社工夫を凝らすところである。
【０００３】
一方、遊技機に関しては、法律やメーカ仕様等から、厳格且つ確実な動作制御が要求されている。そのような中、演出表示に係る制御は、通常、抽選処理などの主たる制御を担う主基板とは別体で、主基板から所定の制御信号を受けて表示制御を実行する周辺基板によって成される。周辺基板の多くは、表示制御を得意とする外部メーカに対して遊技機メーカから発注され、最終製品で主基板と組み合わされるため、その開発過程は勿論、出荷前のテストにおいて周辺基板が正しく機能するかのテストが行われるケースが多い。例えば周辺基板に搭載されている情報記憶媒体（例えばＲＯＭなど）に正しいデータが記憶されているかをテストする技術も知られるところである（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００４−１８８１２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
周辺基板を製作する外部メーカでは、開発過程において、主基板からの制御信号に正しく反応して所望する表示制御ができるかどうかの機能テストをしたり、長時間に亘って繰り返し使用された場合にも正しく機能を維持できるかどうかの耐久テストをするのが通例である。
従来、開発に係る周辺基板のテストのために、主基板からの制御信号を模擬出力するテスト装置が遊技機メーカから貸与されるケースが多い。しかし、従来のテスト装置は何れも特定の主基板に特化されており、他機種向けの周辺基板のテストには使えない場合が多かった。その為、幾種類もの周辺基板を製造する外部メーカでは数多くの専用テスト装置を維持・管理する必要があり煩雑であった。
【０００５】
本発明は、こうした周辺基板製造者の実情を鑑みてなされたものであり、その目的とするところは専用テスト装置を用いずに周辺基板のテストを実現することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決する第１の発明は、コンピュータに、主基板から受信した制御信号に従って図柄の表示制御を実行する遊技機用の周辺基板（例えば、図１のテスト対象基板７００）に対して、前記制御信号を模擬した制御信号を送信制御するように機能させるためのプログラムであって、
制御信号の種類を表す信号分類（例えば、図２の信号分類３８、図５の信号分類５３６）が当該制御信号の送信順に組み合わされることで前記図柄の全体的な表示制御が定義された複数のフォーマットの中から、操作入力に応じて何れかのフォーマットを選択するフォーマット選択部（例えば、図２のフォーマット選択部３４、図３の処理部２００、基板テスト制御部２１０、図８ステップＳ８〜Ｓ１６）、
前記フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該信号分類に属する制御信号として定められた複数の制御信号の中から、当該フォーマットの当該信号分類に対応付ける制御信号を操作入力に応じて選択する信号選択部（例えば、図２の信号種類選択部４０、図３の処理部２００、基板テスト制御部２１０、図８のステップＳ１８〜２２）、
前記信号選択部によって選択された制御信号を、前記フォーマット選択部で選択されたフォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信する制御を行う送信制御部（例えば、図３の処理部２００、基板テスト制御部２１０、通信制御部２７０、通信部３７０、図９のステップＳ４４、Ｓ４６）、
として前記コンピュータを機能させるためのプログラムである。
【０００７】
第１の発明のプログラムを例えば汎用のコンピュータなどで実行させれば、専用のテスト装置を用いずとも、ユーザは信号分類が送信順に組み合わされたフォーマットを選択し、該フォーマットの信号分類に定められている選択肢のなかからテストで実際に送信する制御信号を自在に設定し、これをテスト対象基板とされる周辺基板に送信させることができる。
【０００８】
第２の発明は、第１の発明のプログラムであって、前記フォーマット毎に、当該フォーマットに定義されている各信号分類それぞれに対応する制御信号を、前記信号選択部で選択された制御信号として記憶する記憶部（例えば、図３の基板テスト制御部２１０、記憶部５００、テスト設定データ５７０、図８のステップＳ２２）、として前記コンピュータを機能させるとともに、
前記送信制御部が、前記複数のフォーマットの中からフォーマットを順次又はランダムに選択し、選択したフォーマットに定義されている各信号分類それぞれに対応する制御信号を前記記憶部の記憶内容に基づいて判別して、当該フォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信制御するように前記コンピュータを機能させるためのプログラムである。
【０００９】
第２の発明によれば、第１の発明と同様の効果を奏するとともに、複数のフォーマットの中からフォーマットを順次又はランダムに選択し、選択したフォーマットに定義されている各信号分類それぞれに対応する制御信号を記憶部に記憶されている内容に基づいて判別して、当該フォーマットに定められている送信順に従って送信制御することができる。従って、送信の都度フォーマットの設定内容を変更せずに様々なフォーマットを送信してテストすることができるので利便性が高くなる。
【００１０】
第３の発明は、第１又は第２の発明のプログラムであって、前記送信制御部が、前記フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該分類に属する制御信号を順次又はランダムに選択し、当該フォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信制御するように前記コンピュータを機能させるためのプログラムである。
【００１１】
第３の発明によれば、第１又は第２の発明と同様の効果を奏するとともに、フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該分類に属する制御信号を順次又はランダムに選択し、当該フォーマットに定められている送信順に従って周辺基板に送信制御することができる。従って、制御信号の種類を一々変更しなくとも同一フォーマットで様々な種類の制御信号を送信できるので利便性が向上する。
【００１２】
第４の発明は、第２又は第３の発明のプログラムであって、前記送信制御部による送信制御履歴を記録する履歴記録部（例えば、図３の処理部２００、基板テスト制御部２１０、記憶部５００、図７の送信制御履歴データ５９０、図９のステップＳ５０）、前記記録された送信制御履歴に基づいて、送信制御された制御信号を統計処理して表示制御する履歴表示制御部（例えば、図３の処理部２００、基板テスト制御部２１０、画像生成部２６０、図７の送信制御履歴データ５９０、図９のステップＳ５６）、として前記コンピュータを機能させるためのプログラムである。
【００１３】
第４の発明によれば、送信された制御信号の履歴が記録され、統計処理して表示制御される。このため、どの制御信号をどの程度使用してテストを行ったのかをテスト後に確認することができる。例えば複数の制御信号の中から送信する制御信号をランダムに選択して送信するテストを繰り返し行った場合に、選択した制御信号に偏りがあったか否か等をテスト後に確認することができる。
【００１４】
第５の発明は、第１〜第４の何れかの発明のプログラムであって、前記周辺基板の種類それぞれに適合する前記フォーマットが予め定められており、前記周辺基板の種類を判定する基板種類判定部として前記コンピュータを機能させるとともに、前記フォーマット選択部が、前記基板種類判定部によって判定された種類に適合する前記フォーマットの中から、操作入力に応じてフォーマットを選択するように前記コンピュータを機能させるためのプログラムである。
【００１５】
第５の発明によれば、第１〜第４の発明の何れかと同様の効果を奏するとともに、テスト対象となる周辺基板の種類の選択を自動化できるのでより一層利便性を向上できる。
【００１６】
第６の発明は、第１〜第５の何れかの発明のプログラムを記憶したコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体である。
ここで言う「情報記憶媒体」とは、例えば磁気ディスクや光学ディスク、ＩＣメモリなどを含む。第６の発明によれば、第１〜第５の発明の何れかのプログラムをコンピュータに読み取らせて実行させることによって、コンピュータに第１〜第５の発明の何れかと同様の効果を発揮させることができる。
【００１７】
また第７の発明は、主基板から受信した制御信号に従って図柄の表示制御を実行する遊技機用の周辺基板に対して、前記制御信号を模擬した制御信号を送信するテスト装置（例えば、図１のパソコン１０）であって、
制御信号の種類を表す信号分類が当該制御信号の送信順に組み合わされることで前記図柄の全体的な表示制御が定義された複数のフォーマットの中から、操作入力に応じて何れかのフォーマットを選択するフォーマット選択部（例えば、図１のマザーボード１４、モニタ２、キーボード４、マウス６）と、
前記フォーマット選択部によって選択されたフォーマットに定義されている各信号分類それぞれについて、当該信号分類に属する制御信号として定められた複数の制御信号の中から、当該フォーマットの当該信号分類に対応付ける制御信号を操作入力に応じて選択する信号選択部（例えば、図１のマザーボード１４）と、
前記信号選択部によって選択された制御信号を、前記フォーマット選択部で選択されたフォーマットに定められている送信順に従って前記周辺基板に送信する制御を行う送信制御部（例えば、図１のマザーボード１４、ＵＳＢ端子１６）と、を備えるテスト装置である。
【００１８】
第７の発明によれば、ユーザはテスト対象となる周辺基板の機種に応じて適当なフォーマットを選択し、該フォーマットで送信する制御信号を自在に選択して送信させることができる。従って、一つのテスト装置で複数種類の周辺基板のテストに対応することが可能になる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、ユーザはテスト対象となる周辺基板の機種に応じて適当なフォーマットを選択し、該フォーマットで送信する制御信号を自在に選択して送信させることができる。従って、一つのテスト装置で複数種類の周辺基板のテストに対応することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
次に、本発明を適用した実施形態として、汎用のパソコン（パーソナルコンピュータ）をテスト装置として機能させて、パチンコ遊技機に搭載される周辺基板をテストする例を挙げて説明する。尚、周辺基板の用途はパチンコ遊技機に限らずスロットマシーンやメダルゲーム装置などその他の抽選機能付遊技装置に用いるとしても良いのは勿論である。
【００２１】
［システムの説明］
図１は、本実施形態における周辺基板のテストのためのシステム構成図である。本実施形態のテストシステムでは、モニタ２やキーボード４、マウス６を備えたパソコン１０と、テスト対象基板となる周辺基板７００と、周辺基板７００からの画像信号に従って画像表示するＬＣＤ（液晶ディスプレイ）８００とを備える。
パソコン１０は、情報記憶媒体の一つであるＣＤ−ＲＯＭ１２に記憶された基板テストプログラムを読み出し装置１３で読み出し、マザーボード１４（システムボード、ロジックボードと同意）に搭載されているＣＰＵでこれを実行することによって周辺基板７００のテスト装置として機能する。ユーザは、モニタ２に表示される入力画面にキーボード４やマウス６で各種テスト条件を入力して操作する。
【００２２】
パソコン１０には、外部装置とのデータ通信を実現するためのＵＳＢ端子１６が備えられており、ケーブル２０によって周辺基板７００と接続される。ケーブル２０のパソコン側に接続される一端側はＵＳＢ端子であり、他端側は周辺基板７００の通信端子７１２に適合する端子となっている。
【００２３】
周辺基板７００はＣＰＵ７０２、ＲＯＭ７０４、ＲＡＭ７０６、ＬＣＤ８００のドライバ回路７０８、ＦＦＣ（フレキシブル・フラット・ケーブル）端子７１０、通信端子７１２、電源端子７１４を備える。
ＦＦＣ端子７１０には、ＦＦＣケーブル７５０を介してＬＣＤ８００が接続されている。通信端子７１２は基板間通信に適用される端子であり、端子の種類は最終製品で組み合わされるターゲットの主基板との間で整合されている。
電源端子７１４には図示しないＡＣアダプタからの電源ケーブル７１６が接続され周辺基板７００に電力が供給される。尚、周辺基板７００に、ＧＰＵなどの画像生成用専用のＬＳＩやバッファメモリなどを適宜搭載する構成としても良いのは勿論である。
【００２４】
ＲＯＭ７０４には、ＬＣＤ８００に各種演出画像を表示制御するための画像表示制御プログラムと、演出画像表示のための各種データが予め記憶されている。ＣＰＵ７０２は、ＲＯＭ７０４から画像表示制御プログラムをロードし、ＲＡＭ７０６を記憶領域として利用しながら通信端子７１２で受信した制御信号に従って所定の演出画像とその画像信号を生成しＦＦＣ端子７１０へ画像信号を出力する。
尚、本実施形態における周辺基板７００は、公知の周辺基板と同様に、ＬＣＤ８００の画面中央付近に主基板で実行される抽選処理の抽選結果を演出表示する為の右・中央・左の３つの仮想リールを表示する。これら仮想リールには、それぞれキャラクタをあしらった図柄が設定されている。また、周辺基板７００は、仮想リールの周辺領域にもキャラクタをあしらった演出画面を表示することができる。
【００２５】
〔操作画面の説明〕
図２は、本実施形態におけるテストプログラム実行時に表示される操作画面例を示す図である。操作画面Ｗ２では、テスト内容の設定に関する表示として、テスト対象となる周辺基板の機種を選択する機種選択部３２と、出力されるテスト用制御信号のフォーマット種類を選択するフォーマット選択部３４と、フォーマット選択部３４で現在選択されているフォーマットの設定詳細を表示する設定表示部３６とが表示される。
設定表示部３６では更に、制御信号の出力順に、当該フォーマットで組み合わされている信号分類３８と、当該信号分類に登録されている制御信号種類を選択する制御信号種類選択部４０とが対応づけて表示される。
これら各選択部には公知のプルダウン式の選択肢表示（メニュー表示）が設定されている。同図の機種選択部３２では、図中下向き三角マークの部分をマウス６でポイントしてクリックすると予め登録されているテスト可能な機種の一覧がプルダウン形式で選択可能に表示される。また、設定表示部３６の例では、各制御信号種類選択部４０に付属表示された図中下向き三角マークの部分をマウス６でポイントしてクリックすると、対応する信号分類３８に登録されている制御信号種類の一覧がプルダウン形式で選択可能に表示される。
つまり、ユーザは操作画面Ｗ２において、機種選択部３２でテスト対象に周辺基板７００の機種を選択し、選択した機種に対して実行可能な出力フォーマットをフォーマット選択部３４で選択し、更に選択したフォーマットで具体的に送信する制御信号の種類を設定表示部３６の各制御信号種類選択部４０で選択・設定することができる。
【００２６】
例えば、同図の例ではテストする周辺基板は「ＮＭ」の識別が与えられた基板であり、テストで送信する制御信号のフォーマットは「変動当たり」に設定されている。この「変動当たり」は、キャラクタをあしらった特図のリール表示が変動しながら当たりで停止する演出表示を実現するための制御信号の組み合わせを意味している。同図の例では、「変動パターン」「右リール特図」「中央リール特図」「左リール特図」「停止」の順番で制御信号が出力されることとなる。制御信号の信号分類３８の組み合わさ及び順番が定められて１つのフォーマットが構成される。
「変動パターン」の信号分類３８には、リールの特別図柄（特図）の回転やリール周辺の画像の変化のパターンを指定する制御信号が登録されており、同図の例では「変動パターンＰ１」が設定されている。
「右リール特図」「中央リール特図」「左リール特図」の信号分類３８には、それぞれ画面向かって右・中央・左の各リールで最終的に停止する特図の種類を指定する制御信号が登録されている。同図の例では、何れも数字の「２」に相当する特別図柄が最終的に停止表示されるように設定されている。「停止」の信号分類３８には、フォーマットの終了を意味する制御信号のみが登録されている。尚、テスト対象となる周辺基板７００は、従来と同様に停止の制御信号を受信すると次の再生対象の演出表示を行ったり、次の再生対象がなければ所定の待機画面を表示するように設定されている。
【００２７】
また、操作画面Ｗ２では、制御信号の送信実行時の設定に関する表示として、フォーマットを一単位とする送信繰り返し回数を設定する自動リピート回数設定部５０と、制御信号送信時に各種パラメータに係る自動変更の設定をするオプション設定部５２と、送信の実行や停止を操作する送信操作部５４と、送信履歴表示部５６とが表示される。
【００２８】
自動リピート回数設定部５０には、公知のプルダウン式の選択肢表示が設定されており、図中下向き三角マークの部分をマウス６でポイントしてクリックすると、回数の選択一覧がプルダウン表示され、送信開始以降連続して何回繰り返してフォーマットに従った送信を実行するかを設定することができる。所望するフォーマットを受信した場合の周辺基板の動作確認をしたければ「１」、何度も繰り返して耐久性を確認したい場合には「２」以上の適当な回数を設定すれば良い。
【００２９】
オプション設定部５２では、繰り返し送信を実行する場合に適用される自動変更処理の内容を設定することができる。本実施形態では、変更対象のパラメータとして、「フォーマット」と、「変動（変動パターンの意）」と、「特図（リール特図の意）」と、フォーマットで組み合わされているそれ以外のパラメータを示す「その他」とが有る。また、変更対象とされたパラメータの設定変更の仕方として「ＩＮＣ（インクリメント）」「ランダム」の２種類が設定されており、画面内には合計８種類が選択可能に表示されている。各々にはラジオボタンが設定されており、ユーザはマウス６で何れか一つのラジオボタンをクリックしてチェックを入れて選択することができる。尚、変更の仕方「ＩＮＣ」は、フォーマットに従った送信を一回完了する毎に、当該パラメータに登録されている選択肢を登録順に順次ローテーションするように自動変更処理されることを意味する。
【００３０】
履歴表示部５６には、制御信号の送信履歴がテキストや履歴の統計処理結果が表示される。例えば同図の例では、送信開始からの経過時間とそのとき送信された制御信号（コマンド）の種類とが１行ずつ表示されている。そして、１フォーマット分の送信が終了すると送信回数（図の例では送信は１回限りだったので図中〔１〕）が表示されている。また、これらの送信結果の統計処理として、各制御信号の送信間隔の統計値や、コマンド別の送信回数（ヒストグラム表示でも良い）が表示されている。
【００３１】
〔機能ブロックの説明〕
図３は、本実施形態における機能構成例を示す機能ブロック図である。同図に示すように、本実施形態では操作入力部１００と、処理部２００と、画像表示部３６０と、通信部３７０と、記憶部５００とを備える。そして、通信部３７０を介してテスト対象の周辺基板７００と少なくとも周辺基板７００に信号送信可能に接続されている。
【００３２】
操作入力部１００は、例えば、十字キーや、ボタンスイッチ、ジョイスティック、マウス、キーボード、タッチパネル、加速度センサ、傾斜センサなどによって実現され、ユーザによる各種操作を受けて操作入力信号を処理部２００に出力する。本実施形態では、図１のキーボード４及びマウス６がこれに該当する。
【００３３】
処理部２００は、マイクロプロセッサやＩＣメモリ、各種ドライバ回路などによって実現され、パソコン１０の動作を制御する。本実施形態では図１のマザーボード１４がこれに該当する。本実施形態では基板テスト制御部２１０と、画像生成部２６０と、通信制御部２７０と、を備える。
【００３４】
基板テスト制御部２１０は、周辺基板のテストに係る処理を実行する。例えば、操作画面Ｗ２におけるメニュー表示に係る制御や、操作画面Ｗ２における送信内容の設定結果を記憶部５００に記憶させる処理、送信内容の設定結果に基づいて通信制御部２７０に制御信号を送信させる処理、送信内容を自動変更する処理、送信履歴を記憶部５００に記憶させる処理、記憶した送信履歴の統計処理などを行う。
【００３５】
画像生成部２６０は、例えば、グラフィック・プロセッシング・ユニット（ＧＰＵ）などのプロセッサ、その制御プログラム、フレームバッファ等の描画フレーム用ＩＣメモリ等によって実現される。画像生成部２６０は、基板テスト制御部２１０による処理結果に基づいて１フレームレート（例えば６０ｆｐｓ）で、操作画面の画像を生成し、生成した画像の画像信号を画像表示部３６０に出力して画像表示させる。
画像表示部３６０は、画像生成部２６０から入力される画像信号に基づいて各種ゲーム画像を表示する。例えば、ＬＣＤなどのフラットパネル画像表示装置、ブラウン管（ＣＲＴ）、プロジェクター、ヘッドマウント画像表示装置といった画像表示装置によって実現できる。図１ではＬＣＤ８００がこれに該当する。
【００３６】
通信制御部２７０は、データ通信に係るデータ処理を実行し、通信部３７０を介して外部装置とのデータのやりとりを実現する。
通信部３７０は、ＵＳＢ制御チップ、モデム、ターミナルアダプタ、光回路終端装置、無線通信機、及び接続端子などによって実現され、有線或いは無線によって外部装置とデータ通信する。本実施形態では、図１のＵＳＢ端子１６がこれに該当する。
【００３７】
記憶部５００は、ＩＣメモリや磁気ディスクドライブ、光ディスクドライブなどコンピュータ読み出し可能な情報記憶媒体、その読み出し／書き込み装置などによって実現される。本実施形態では、図１のマザーボード１４に搭載されているＲＯＭ等のＩＣメモリ、ＣＤ−ＲＯＭ１２及びその読み出し装置１３がこれに該当する。そして、記憶部５００はシステムプログラム５０１と、基板テストプログラム５０２を記憶している。処理部２００が基板テストプログラム５０２を読み出して実行することによって、基板テスト制御部２１０の機能を実現することができる。
【００３８】
また、記憶部５００は、フォーマット初期設定データ５２０を予め記憶している。
図４は、本実施形態におけるフォーマット初期設定データ５２０のデータ構成例を示す図である。同図に示すように、フォーマット初期設定データ５２０はテスト対象の機種ごとにデータセット５２２が定められている。
そして、一つのデータセット５２２には、対応する基板の機種識別を示す機種５２４と、選択可能なフォーマット種類を示すフォーマット選択肢データ５２６と、フォーマット選択肢データ５２６で選択可能な各フォーマットに組み合わされている制御信号の信号分類を示す分類組み合わせデータ５３０と、各信号分類に登録されている制御信号（コマンドと同意）を格納する制御信号登録データ５４０とが格納されている。
【００３９】
分類組み合わせデータ５３０は、例えば図５に示すように、対応するフォーマットの識別を示すフォーマット識別５３２毎に、送信タイミング５３４毎の信号分類５３６を格納している。同図の例では、「変動当たり」のフォーマットに対応付けて格納されている信号分類が示されている。テスト開始０ｍｓのタイミングで、信号分類「変動パターン」の制御信号を送信し、以下４ｍｓのタイミングで信号分類「右リール特図」、８ｍｓのタイミングで信号分類「中央リール特図」・・・と言った具合に送信制御されるように定義されている。
そして、ここで組み合わされている信号分類で選択可能な制御信号は、制御信号登録データ５４０に定義されている。
制御信号登録データ５４０は、例えば図６に示すように、信号分類毎にデータセットが構成されており、一つのデータセットには信号分類５４２と、制御信号種類５４４毎の制御信号５４６の定義とが格納されている。同図の例では、信号分類「変動パターン」には、登録順に「変動パターンＰ１」「変動パターンＰ２」・・・「変動パターンＰ７」の制御信号種類が登録されており、更に各々に対応する制御信号「Ａ０（上位バイト）、０１（下位バイト）」「Ａ０、０２」・・・「Ａ０、０７」が登録されていることが示されている。
【００４０】
また、記憶部５００はユーザが設定した設定内容を格納するテスト設定データ５７０を一時的に記憶する。
図７は、本実施形態におけるテスト設定データ５７０のデータ構成例を示す図である。同図に示すように、テスト設定データ５７０は操作画面Ｗ２の機種選択部３２で選択された機種の識別を格納する選択機種５7１を含む。
【００４１】
また、オプション設定部５２の設定に応じて変更される変更パラメータ５７２に対応する選択フラグ５７４と、変更方法フラグ５７６とを含んでいる。本実施形態では変更パラメータ５７２には、「フォーマット」「変動（変動パターンの意）」「リール特図」「その他」が設定されている。選択フラグ５７４は、フラグが立っている（フラグが「１」）と操作画面Ｗ２においてチェックが入った選択状態にあって、変更パラメータが自動変更の対象として選択されていることを示す。操作画面Ｗ２においてチェックが入った状態変更方法フラグ５７６は「１」が変更対象のパラメータの設定を登録順に順次自動変更する「ＩＮＣ」、「０」がランダムに自動変更する「ランダム」に設定されていることを示す。
【００４２】
例えば、操作画面Ｗ２のオプション設定部５２において「フォーマットＩＮＣ」が選択されチェックが入ると、変更パラメータ５７２「フォーマット」の選択フラグ５７４に「１」が格納されフラグが立てられ、変更方法フラグ５７６に「１」が格納され当該フラグが立てられる。変更対象のパラメータが同じ「フォーマット」であっても、オプション設定部５２において「フォーマットランダム」が選択された場合には、変更パラメータ５７２「フォーマット」の選択フラグ５７４に「１」が格納されるが、変更方法フラグ５７６に「０」が格納される。以下、その他のオプション設定５２が選択された場合も同様にフラグが変更処理される。
【００４３】
また、テスト設定データ５７０は、自動リピート回数５８０と、送信回数カウンタ５８２と、ユーザ設定データ５８４と、選択状態フォーマット５８９と、送信制御履歴データ５９０とを含んでいる。
【００４４】
自動リピート回数５８０は、操作画面Ｗ２の自動リピート回数設定部５０での設定値を格納する。送信回数カウンタ５８２は、１フォーマット分の制御信号を送信するとカウントアップされるカウンタである。初期値は「０」である。
【００４５】
ユーザ設定データ５８４は、操作画面Ｗ２のフォーマット選択部３４で選択され設定表示部３６で設定されたフォーマットの詳細設定に関する情報を格納する。例えば同図に示すように、フォーマット種類５８６と対応づけて当該フォーマットにユーザが設定した制御信号５８８を格納する。
【００４６】
選択状態フォーマット５８９は、操作画面Ｗ２のフォーマット選択部３４で現在選択状態にあるフォーマットの識別情報を格納する。
送信制御履歴データ５９０は、制御信号の送信開始以降の履歴情報を格納する。履歴情報としては、例えば、送信開始以降の経過時間と送信した制御信号（コマンド）の種類とを対応付けて格納するとともに、一フォーマット分の送信が終了したタイミングで、その時の送信回数カウンタ５８２の値を格納して、何回目の送信であったか判別可能にする。
【００４７】
［処理の流れの説明］
次に、本実施形態における処理の流れについて説明する。尚、操作画面Ｗ２に係る処理、特にプルダウン形式の選択肢表示の方法については公知技術を適宜用いることができるので、ここでの説明は省略する。
【００４８】
図８及び図９は、本実施形態における処理の流れを説明するためのフローチャートである。処理部２００は先ず、テスト設定データ５７０を初期化する（ステップＳ４）。具体的には、選択機種５７１を初期選択（本実施形態では「ＮＭ」）に設定し、変更パラメータ５７２の選択フラグ５７４及び変更方法フラグ５７６を全て「０」にする。また、自動リピート回数５８０を「１」、送信回数カウンタ５８２を「０」に設定する。更に、ユーザ設定データ５８４については、フォーマット種類５８６に選択機種５７１で初期設定された機種に対応するフォーマット設定データ５２０のフォーマット選択肢データ５２６に登録されている各フォーマットを設定する。そして、制御信号５８８には、制御信号登録データ５４０において対応するフォーマットに組み合わされている信号分類で第１に登録されている制御信号５４６を読み出して格納する。
【００４９】
次に処理部２００は、操作画面Ｗ２の表示をする（ステップＳ６）。この段階で画面内に表示される設定内容は初期化されたテスト設定データ５７０に従う。
次いで処理部２００は、操作画面Ｗ２における操作入力に応じて設定内容を変更する（ステップＳ８〜Ｓ３０）。
具体的には、機種選択部３２でテスト対象機種の変更操作がされた場合には（ステップＳ８のＹＥＳ）、テスト設定データ５７０の選択機種５７１を、変更され新たに選択された機種の識別に変更するとともに、テスト設定データ５７０のユーザ設定データ５８４を初期化作業と同様にしてフォーマット種類５８６に変更後の機種で選択可能なフォーマットを設定し、制御信号５８８に制御信号登録データ５４０において対応するフォーマットに組み合わされている信号分類で第１に登録されている制御信号５４６を読み出して格納する（ステップＳ１０）。
更にフォーマット初期設定データ５２０を参照して該機種に対応するフォーマット初期設定データ５２０のフォーマット選択肢データ５２６で設定されている選択肢を、フォーマット選択部３４で選択可能に表示する（ステップＳ１２）。
【００５０】
フォーマット選択部３４でフォーマットの変更操作がされた場合には（ステップＳ１４のＹＥＳ）、処理部２００はテスト設定データ５７０の選択状態フォーマット５８９を変更後のフォーマットに変える（ステップＳ１６）。そして、分類組み合わせ設定データ５３０を参照して、設定表示部３６の信号分類３８の表示を変更後のフォーマットの種類の組み合わせに変更し、テスト設定データ５７０のユーザ設定データ５８４において変更後のフォーマットに設定されている制御信号５８８の種類を選択表示可能に制御信号種類選択部４０を変更する（ステップＳ１８）。
【００５１】
また、設定表示部３６の制御信号種類選択部４０において変更操作がなされた場合には（ステップＳ２０のＹＥＳ）、制御信号登録データ５４０とユーザ設定データ５８４とを参照して、現在選択されているフォーマット種類に対応する制御信号５８８を変更操作に応じて変更する（ステップＳ２２）。
【００５２】
また、自動リピート回数設定部５０において変更操作がされた場合には（ステップＳ２４のＹＥＳ）、処理部２００は変更結果に応じてテスト設定データ５７０の自動リピート回数５８０を変更する（ステップＳ２６）。
【００５３】
また、操作画面Ｗ２のオプション設定部５２においてラジオボタンのチェック位置の変更が為されてオプション設定が変更された場合（ステップＳ２８のＹＥＳ）、処理部２００は、変更結果に応じてテスト設定データ５７０のユーザ設定データ５８４に含まれている変更パラメータ５７２の選択フラグ５７４及び変更方法フラグ５７６の各フラグの設定を変更する（ステップＳ３０）。
【００５４】
そして、処理部２００は、送信操作部５４において「再生」が選択されると言った送信開始の操作入力がなければ（ステップＳ３２のＮＯ）、ステップＳ８〜Ｓ３０の操作画面Ｗ２における操作入力に応じた設定変更処理を繰り返す。
【００５５】
送信開始操作が有った場合には（ステップＳ３２のＹＥＳ）、処理部２００は次にテスト設定データ５７０のユーザ設定データ５８４を参照し、変更パラメータ５７２の全ての選択フラグ５７４が「０」で有るか否かを判定する（ステップＳ４０）。
全てのフラグが「０」の場合には（ステップＳ４０のＹＥＳ）、現在操作画面Ｗ２で表示されているフォーマットの設定、つまりユーザ設定データ５８４において選択状態フォーマット５８９に設定されている制御信号５８８を登録順に送信する（ステップＳ４６）。そして、送信回数カウンタ５８２の値を「１」ＵＰして（ステップＳ４８）、送信制御履歴データ５９０に送信履歴情報を格納するとともに操作画面Ｗ２の履歴表示部５６に送信時刻と制御信号の種類と送信回数カウンタ５８２の値とをテキスト表示する（ステップＳ５０）。
【００５６】
一方、何れかの変更パラメータ５７２の選択フラグ５７４が「１」である場合（ステップＳ４０のＮＯ）、処理部２００は、選択フラグ５７４が立っている変更パラメータを対象に変更方法フラグ５７６が立っている変更方法で変更パラメータを選択する（ステップＳ４２）。そして、送信回数カウンタ５８２の値を「１」加算して（ステップＳ４８）、送信履歴を記憶部５００に記憶するとともに操作画面Ｗ２の履歴表示部５６に送信時刻と制御信号の種類と送信回数カウンタ５８２の値とをテキスト表示する（ステップＳ５０）。
【００５７】
次に処理部２００は、送信回数カウンタ５８２の値が自動リピート回数５８０に達したか否かを判定する。達していれば（ステップＳ５２のＹＥＳ）、設定された回数だけテスト用の制御信号の送信を終えたことになるので、処理部２００は送信回数カウンタ５８２の値を「０」に変更して初期化し（ステップＳ５４）、送信制御履歴データ５９０を参照して、送信履歴の統計処理を実行してその結果を表示する（ステップＳ５６）。例えば、送信時間間隔の平均値や最大値、最小値、所要時間を算出してグラフ表示したり、フォーマット種類別や制御信号種類別の送信回数などをヒストグラム表示すると好適である。そして、処理部２００はステップＳ８の処理に移行して次のユーザ操作に備える。
【００５８】
一方、ステップＳ５２において、送信回数カウンタ５８２の値が自動リピート回数５８０に達していなければ（ステップＳ５２のＮＯ）、処理部２００は更に送信操作部５４において「停止」が選択され停止操作されたか否かを判定する（ステップＳ５８）。停止操作が有れば（ステップＳ５８のＹＥＳ）、送信回数カウンタ５８２を初期化してステップＳ８に移行する。
停止操作が無ければ（ステップＳ５８のＮＯ）、更に一時停止操作が有ったか否かを判定する（ステップＳ６０）。一時停止操作が有った場合には（ステップＳ６０のＹＥＳ）、再開操作が有るまで動作を停止する（ステップＳ６２のＮＯ）。
停止操作も一時停止操作もない場合（ステップＳＳ６０のＮＯ）、及び一時停止されていたが再開操作された場合には（ステップＳ６２のＹＥＳ）、ステップＳ４０に戻る。
【００５９】
以上、本実施形態によれば、専用テスト装置を用いずに異なる種類の周辺基板のテストを実現することができる。また、テスト用に制御信号を送信する場合には、適切に送信時の自動変更機能を設定することによって、例えば送信フォーマットの種類を登録順に変更したり、ランダムに変更するといった従来に無い使い勝手の良さを実現できる。また、履歴表示部５６には、送信履歴として送信された制御信号（コマンド）とその送信時刻、及び送信回数カウンタの値が表示されるので、設定通りの制御信号が送出されたか、送信信号の送出遅延などが発生しなかったかなどと言ったことを確認しやすくなっており、テスト装置の送信不良などを発見し易い点においても使い勝手が良くなっている。
【００６０】
〔変形例〕
以上、本発明を適用した実施形態の一例について説明したが、本発明の適用形態がこれに限定されるものではない。
例えば、汎用的なパソコン１０の代わりに、プログラム実行可能なコンピュータを内蔵した遊技機の周辺基板用のハードウェアを用意するとしても良い。また、上記実施形態では周辺基板から主基板側への送信ができない構造を前提としているがこれを可能としても良い。その場合、例えば通信端子７１２もＵＳＢ端子として、テスト対象基板７００のＣＰＵ７０２に公知のＵＳＢ機器と同様にケーブル２０の接続時に例えばＵＳＢのベンダＩＤやプロダクトＩＤを返信させるようにプログラムする。そして、フォーマット初期設定データ５２０の機種５２４として対応するベンダＩＤやプロダクトＩＤを設定しておくことで、パソコン１０の基板テスト制御部２１０が、受信したベンダＩＤやプロダクトＩＤに基づいてテスト対象機種を自動判別し、判別された機種識別をテスト設定データ５７０の選択機種５７１に格納するととともに、操作画面Ｗ２の機種選択部３２の表示を適切に表示する構成とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】周辺基板のテストのためのシステム構成図。
【図２】テストプログラム実行時に表示される操作画面例を示す図。
【図３】機能構成例を示す機能ブロック図。
【図４】フォーマット初期設定データのデータ構成例を示す図。
【図５】分類組み合わせデータのデータ構成例を示す図。
【図６】制御信号登録データのデータ構成例を示す図。
【図７】テスト設定データのデータ構成例を示す図。
【図８】処理の流れを説明するためのフローチャート。
【図９】処理の流れを説明するためのフローチャート。
【符号の説明】
【００６２】
１０  パソコン
１４  マザーボード
１６  ＵＳＢ端子
２００  処理部
２１０  基板テスト制御部
２７０  通信制御部
５００  記憶部
５０２  基板テストプログラム
５２０  フォーマット初期設定データ
５７０  テスト設定データ
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１】
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【図２】
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