(57)【要約】【課題】インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できるインタフェース検査技術を提供すること。【解決手段】本発明に係るインタフェース検査装置１０では、インタフェース２０a〜２０nと信号受け渡し行う接点Ｐa〜Ｐn設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点Ｐa〜Ｐnに一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点Ｐa〜Ｐnに至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチＳＷを有する信号回路161と、検査開始信号の入力を受けて、信号回路161へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するようにスイッチＳＷを切り替える制御部162と、を備えるようにした。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定するインタフェース検査装置において、
インタフェースと信号受け渡し行う接点が複数設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点に一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点に至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチを有する信号回路と、
検査開始信号の入力を受けて前記信号回路へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するように前記スイッチを切り替える制御部と、
を備えることを特徴とするインタフェース検査装置。
【請求項２】
前記信号回路の伝達路は、前記スイッチの切り替えにより形成され、各接点が並列に設けられる並列回路と、各接点が直列に設けられる直列回路と、を有し、
前記制御部は、前記伝達路を並列回路とするか直列回路とするかの伝達路切り替え信号の入力を受けて、前記伝達路として並列回路または直列回路が形成されるようにスイッチを切り替えることを特徴とする請求項１に記載のインタフェース検査装置。
【請求項３】
前記信号回路の伝達路は、前記スイッチの切り替えにより形成され、各接点が並列に設けられる並列回路と、各接点が直列に設けられる直列回路と、を有し、
前記制御部は、前記対象インタフェースの型式が、入力を受けた電圧値を前記プロセス制御装置に出力する電圧型であるか、入力を受けた電流値を前記プロセス制御装置に出力する電流型であるかを示す型式情報の入力を受けて、この型式情報が電圧型を示すときは伝達路として並列回路が形成されるようにスイッチを切り替え、その型式情報が電流型を示すときは伝達路として直列回路が形成されるようにスイッチを切り替えることを特徴とする請求項１に記載のインタフェース検査装置。
【請求項４】
前記信号回路の伝達路は、前記スイッチの切り替えにより形成され、対象インタフェースから出力される応答信号を計測器へ伝達する計測用伝達路を有し、
前記制御部は、前記応答精度の判定対象とされる対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、この対象インタフェースに接続された接点から前記計測器に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点から計測器に至る伝達路を解放するようにスイッチを切り替えることを特徴とする請求項１に記載のインタフェース検査装置。
【請求項５】
１つのインタフェースが特定されるインタフェース固有の識別情報をＩＦデータと定義したとき、
前記制御部は、
前記対象インタフェースの選択信号の入力を受けたとき、インタフェースの検査者に対して対象インタフェースの識別情報の読み上げを要求するステップと、
前記検査者の読み上げ音声をＩＦデータに変換するステップと、
前記読み上げ音声から変換されたＩＦデータが示すインタフェースと検査者により選択された対象インタフェースのＩＦデータが示すインタフェースとが双方一致するか否かの判定を行うステップと、
前記読み上げ音声から変換されたＩＦデータと前記対象インタフェースのＩＦデータが、双方一致するときは模擬信号の入力要求信号を受けたことを条件に前記信号回路の伝達路へ模擬信号を供給可能とし、双方一致しないときは前記検査者に対し対象インタフェースの識別情報の読み上げを再度要求するステップと、
を行うことを特徴とする請求項１に記載のインタフェース検査装置。
【請求項６】
プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を検査するインタフェース検査方法において、
複数基のインタフェースと信号受け渡しを行う信号伝送路を形成する準備プロセスと、
前記信号伝送路を介して模擬信号を各インタフェースに入力する模擬信号の入力プロセスと、
模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、模擬信号が入力可能なインタフェースをその対象インタフェースに限定する模擬信号の入力制御をコンピュータに実行させるプロセスと、
を有することを特徴とするインタフェース検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェース検査技術に係り、特に、インタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定するインタフェース検査装置およびインタフェース検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、インタフェース検査技術としては、プリンタのプロセス制御装置と印字用アクチュエータとの間に介設されるインタフェースを検査するもので、そのコントローラのＣＰＵ上でインタフェースの検査を行える高効率且つ簡易なインタフェース検査技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平０６−００１０５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
発電プラントや化学プラントなどの大規模プラントにあっては、流量、圧力などのプロセス量をアナログ電気信号としてプロセス制御装置に入力する数多くのインタフェースが設けられる。
【０００４】
特に、原子力発電プラントにあっては、インタフェースの検査は定期検査時の限られた期間内で遂行しなければならず、検査作業の迅速化が求められている。また、検査作業の迅速化の要求とも相まって人的要因に基づく検査ミスの頻度低減が求められている。特許文献１にて説明されるインタフェース検査技術にあっては、インタフェースの基数増加に伴うインタフェースの検査迅速化および検査ミスの頻度低減の要求に応えることはできない。
【０００５】
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できるインタフェース検査装置およびインタフェース検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した目的を達成するため、本発明に係るインタフェース検査装置では、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定するインタフェース検査装置において、インタフェースと信号受け渡し行う接点が複数設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点に一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点に至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチを有する信号回路と、検査開始信号の入力を受けて、前記信号回路へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するように前記スイッチを切り替える制御部と、を備えることを特徴とする。
【０００７】
また、本発明に係るインタフェース検査方法では、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置に出力するインタフェースに対して模擬信号を入力し、そのインタフェースから出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を検査するインタフェース検査方法において、複数基のインタフェースと信号受け渡しを行う信号伝送路を形成する準備プロセスと、前記信号伝送路を介して模擬信号を各インタフェースに入力する模擬信号の入力プロセスと、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、模擬信号が入力可能なインタフェースをその対象インタフェースに限定する模擬信号の入力制御をコンピュータに実行させるプロセスと、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明に係るインタフェース検査装置およびインタフェース検査方法の実施形態を、添付図面を参照して説明する。
【００１０】
図１はインタフェース検査装置の実施形態を示すシステム構成図である。
【００１１】
本実施形態のインタフェース検査装置１０は、プラントのプロセス量に応じて生成されるプロセス信号の入力を受け、このプロセス信号をプロセス制御装置（不図示）に出力するインタフェース２０の検査装置である。インタフェース検査装置１０は、インタフェース２０に対してプロセス信号を模擬した模擬信号を入力し、このインタフェース２０から出力される応答信号を計測器に入力してインタフェースの応答精度を判定する。
【００１２】
インタフェース検査装置１０は、図１に示すように、音声信号ケーブル１１と、検査信号ケーブル１２と、装置本体１３と、を備える。
【００１３】
インタフェース検査装置１０の音声信号ケーブル１１は、インタフェース２０の検査者の音声を装置本体１３に入力する。検査信号ケーブル１２は、装置本体１３から出力される模擬信号をインタフェース２０に入力し、また、インタフェース２０から出力される応答信号を装置本体１３に入力する。
【００１４】
インタフェース検査装置１０の装置本体１３は、計測器１４と、模擬信号生成器１５と、信号制御系１６と、を有する。
【００１５】
装置本体１３の計測器１４は、模擬信号が入力されたインタフェース２０から出力される応答信号を計測する。この計測器１４は、公知の電圧計により構成される。
【００１６】
装置本体１３の模擬信号生成器１５は、インタフェース２０に入力する模擬信号を生成する。模擬信号は、インタフェース２０が実働時に入力を受けるプロセス信号を模擬した信号であり、電圧値或いは電流値である。なお、模擬信号の出力レベルは、模擬信号が入力される対象インタフェースの許容入力を考慮して調整される。
【００１７】
図２はインタフェース検査装置１０の信号制御系１６の機能ブロック図である。
【００１８】
信号制御系１６は、信号回路161と、制御部162と、を有する。
【００１９】
信号制御系１６の信号回路161は、複数基のインタフェース２０a〜２０nと信号受け渡し行う複数の接点Ｐa〜Ｐnが設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点Ｐa〜Ｐnに一括伝達する伝達路を形成する。また、各接点Ｐa〜Ｐnに至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチＳＷを有する。この伝達路は、各接点Ｐa〜Ｐnが並列に設けられる並列回路と、各接点Ｐa〜Ｐnが直列に設けられる直列回路と、計測用伝達路とを有する。これらの各回路は、複数のスイッチＳＷの切り替えにより形成される。なお、図２において、黒丸で示すクロス点は伝達路の結合点であり、黒丸で示さないクロス点は伝達路の非結合点を示す。
【００２０】
信号制御系１６の制御部162は、検査者の要求を受けて、インタフェース２０ａ〜２０ｎの検査を高効率且つ安全に実施するための必要な処理を行う。この制御部162の処理を、[インタフェース選択確認処理]、[インタフェース設定処理]、[伝達路切り替え処理]に分けて説明する。
【００２１】
[インタフェース選択確認処理]
図３は信号制御系１６の制御部162にて実行される処理の流れを示すフローチャートである。以下、この処理における各ステップについて説明する。
【００２２】
ステップＳ１は、模擬信号の入力対象となる対象インタフェースの選択信号を受信するステップである。
【００２３】
ステップＳ２は、ステップＳ１で対象インタフェースの選択信号を受信したとき、検査者に対し、その対象インタフェースの識別情報の読み上げを要求するステップである。この識別情報は、インタフェース番号である。なお、識別情報は、１つのインタフェースを特定できる固有情報であればよい。
【００２４】
ここで、１つのインタフェースが特定される各インタフェース固有の識別情報をＩＦデータと定義する。
【００２５】
ステップＳ３は、ステップＳ２に続き、検査者の読み上げ音声をＩＦデータに変換するステップである。また、ステップＳ３は、読み上げ音声から変換されたＩＦデータと、検査者により選択された対象インタフェースのＩＦデータが示すインタフェースとが双方一致するか否か（Ｙｅｓ／Ｎｏ）の判定を行うステップである。
【００２６】
ステップＳ３で＜Ｎｏ＞と判定した場合はステップＳ２に移行し、再度、検査者により選択された対象インタフェースの読み上げを要求する。なお、対象インタフェースのＩＦデータは、インタフェース検査装置１０の内部記録部（不図示）に記録されている各インタフェースのＩＦデータの中からステップＳ１で受信した選択信号に基づき特定される。また、この内部記録部には、読み上げ音声から変換されたＩＦデータが読み取り可能に保存される。
【００２７】
ステップＳ４は、ステップＳ３で＜Ｙｅｓ＞と判定した場合に行うステップであり、検査者に対し、検査信号ケーブル１２（図２参照）を対象インタフェースに接続するよう要求するステップである。
【００２８】
ステップＳ５は、ステップＳ４に続き、模擬信号の入力要求信号を受けたことを条件に、模擬信号生成器１５（図２参照）に模擬信号の生成を指示し、信号回路161に模擬信号を供給するステップである。
【００２９】
ステップＳ６は、ステップＳ５に続き、模擬信号の入力を受けた対象インタフェースから出力される応答信号を計測器１４に入力してインタフェース応答精度を判定するステップである。すなわち、模擬信号と応答信号の差異が所定範囲にあるか否か（Ｙｅｓ／Ｎｏ）を判定するステップである。この模擬信号および応答信号は、電圧値または電流値のアナログ電気信号である。このステップＳ６で、＜Ｙｅｓ＞と判定したときは、対象インタフェースの正常を判定してステップＳ１に移行する。以降、ステップＳ１〜ステップ６の処理が繰り返され、検査者は対象インタフェースを順次切り替え、各インタフェースの応答精度を検査できる。
【００３０】
ステップＳ７は、ステップＳ６で＜Ｎｏ＞と判定した場合に行うステップであり、対象インタフェースの異常を報知するステップである。
【００３１】
[インタフェース設定処理]
信号制御系１６の制御部162は、インタフェース選択確認処理のステップＳ２で選択信号の入力を受けたとき、信号回路161の各接点Ｐa〜Ｐnのうち対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡する。また、残りの接点に至る伝達路を解放するようにスイッチＳＷを切り替える。すなわち、対象インタフェースに接続された接点に対し選択的に模擬信号が伝達されるよう、信号回路161の伝達路を形成する。
【００３２】
[伝達路切り替え処理]
信号制御系１６の制御部162は、インタフェース選択確認処理のステップＳ２で選択された対象インタフェースの型式を判断する。この型式は、入力を受けた電圧値をプロセス制御装置に出力する電圧型であるか、入力を受けた電流値をプロセス制御装置に出力する電流型であるかを示す型式情報に基づき判断する。この型式情報は、対象インタフェース選択確認処理のステップ４で検査信号ケーブル１２が接続された際、対象インタフェースからこの検査信号ケーブル１２を介して取得される。
【００３３】
制御部162は、型式情報を取得したとき、この型式情報が電圧型を示すときは伝達路として並列回路が形成されるようにスイッチＳＷを切り替え、その型式情報が電流型を示すときは伝達路として直列回路が形成されるようにスイッチＳＷを切り替える。
【００３４】
また、制御部162は、対象インタフェースのうち応答精度の判定対象とされる対象インタフェースの選択信号の入力を受ける。この選択信号の入力を受けたとき、スイッチＳＷを切り替えて、選択された対象インタフェースに接続されている接点から計測器１４に至る伝達路を短絡する。また、残りの接点から計測器１４に至る伝達路を解放する。
【００３５】
次に、インタフェース検査装置１０の作用を説明する。図４〜図７はインタフェース検査装置１０の作用説明図である。
【００３６】
模擬信号が入力される対象インタフェースが選択され、読み上げ音声から変換されたＩＦデータと対象インタフェースのＩＦデータが双方一致した場合、図３において、ステップＳ１→ステップＳ２→ステップＳ３→ステップＳ４→ステップＳ５→ステップＳ６→ステップＳ１という流れが繰り返される。一方、模擬信号が入力される対象インタフェースが選択されたが、読み上げ音声から変換されたＩＦデータと対象インタフェースのＩＦデータが双方一致しない場合は、ステップＳ１→ステップＳ２→ステップＳ３→ステップＳ１という流れで処理が繰り返される。すなわち、検査者は、模擬信号が入力される対象インタフェースを選択したが、この選択したインタフェースが検査者の意図しているインタフェースと異なると、ステップＳ４以降の処理は実行されない。たとえば、特定のインタフェースに対し設定した出力レベルの模擬信号が、この出力レベルでは故障のおそれがある他のインタフェースに入力されるといった、操作ミスが低減される。
【００３７】
ステップＳ３に続きステップＳ４に移行したとき、ステップＳ１で選択された対象インタフェースの型式が判断される。たとえば、ステップＳ１で、すべてのインタフェース２０a〜２０nが対象インタフェースとして選択され且つ各対象インタフェース２０a〜２０nの型式が電圧型であると判定された場合、インタフェース検査装置１０の信号回路は図４のようになる。図４は信号回路161が並列回路に切り替えられた場合の信号制御系１６を示したものである。すなわち、各接点Ｐa〜Ｐnが並列に設けられる並列回路が形成されるようにスイッチＳＷが短絡する。そして、各接点Ｐa〜Ｐnに対し、同一の模擬信号すなわち電圧値が伝達される。このため、検査者は、複数のインタフェース２０a〜２０nに対し、一括して同一の模擬信号の入力が可能となる。
【００３８】
また、対象インタフェース２０a〜２０nの型式が電流型であると判定された場合、イン信号制御系１６の信号回路は図５のようになる。図５は信号回路161が直列回路に切り替えられた場合の信号制御系１６を示したものである。すなわち、各接点Ｐa〜Ｐnが直列に設けられる直列回路が形成されるようにスイッチＳＷが短絡する。そして、各接点Ｐa〜Ｐnに対し、一括して同一の模擬信号すなわち電流値が伝達される。このため、検査者は、複数のインタフェースに対して一括して同一の模擬信号を入力できる。このように、対象インタフェースが電圧型であるか電流型であるかの確認を要することなく、各型式に応じた伝達路が形成される。この結果、インタフェースの型式によらず、各接点Ｐa〜Ｐnに対し一括して同一の模擬信号の入力が可能となる。
【００３９】
ステップＳ４に続き、ステップＳ５→ステップＳ６と移行したとき、模擬信号の入力を受けた対象インタフェースから出力される応答信号が、検査信号ケーブル１２を介して信号回路161に入力される。このとき、応答精度の判定対象とされる特定の対象インタフェースが選択されたとき、その特定の対象インタフェースに接続された接点から計測器１４に至る伝達路が短絡するようスイッチＳＷが切り替えられる。図６はインタフェースが電圧型である場合の信号回路における計測用伝達路を示したものである。たとえば、対象インタフェース２０ａが応答精度の判定対象として選択されれば、信号制御系１６の信号回路161は図６のようになる。すなわち、各対象インタフェースから出力される応答信号が、１つずつ計測器１４に入力される。なお、インタフェースが電圧型である場合の信号回路における計測用伝達路は図７のようになる。
【００４０】
次に、インタフェース検査装置１０の効果を説明する。
【００４１】
インタフェース検査装置１０にあっては、
(1) インタフェース２０a〜２０nと信号受け渡し行う複数の接点Ｐa〜Ｐnが設けられ、供給を受けた模擬信号を各接点Ｐa〜Ｐnに一括伝達する伝達路を形成すると共に各接点Ｐa〜Ｐnに至る伝達路の短絡と解放を切り替えるスイッチＳＷを有する信号回路161と、検査開始信号の入力を受けて、信号回路161へ模擬信号を供給し、模擬信号が入力される対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、その対象インタフェースに接続された接点に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点に至る伝達路を解放するようにスイッチＳＷを切り替える制御部162と、を備える。このため、インタフェースの基数に左右されることなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。
【００４２】
(2) 信号回路161の伝達路は、スイッチＳＷの切り替えにより形成され、各接点Ｐa〜Ｐnが並列に設けられる並列回路と、各接点Ｐa〜Ｐnが直列に設けられる直列回路と、を有し、制御部162は、対象インタフェースの型式が、入力を受けた電圧値をプロセス制御装置に出力する電圧型であるか、入力を受けた電流値をプロセス制御装置に出力する電流型であるかを示す型式情報の入力を受けて、この型式情報が電圧型を示すときは伝達路として並列回路が形成されるようにスイッチＳＷを切り替え、その型式情報が電流型を示すときは伝達路として直列回路が形成されるようにスイッチＳＷを切り替える。このため、インタフェース２０の型式を自動判別させることができ、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。
【００４３】
(3) 信号回路161の伝達路は、スイッチＳＷの切り替えにより形成され、対象インタフェースから出力される応答信号を計測器１４へ伝達する計測用伝達路を有し、制御部162は、応答精度の判定対象とされる対象インタフェースの選択信号の入力を受けて、この対象インタフェースに接続された接点から計測器１４に至る伝達路を短絡すると共に残りの接点から計測器１４に至る伝達路を解放するようにスイッチＳＷを切り替える。このため、対象インタフェースから出力される応答信号が、１つずつ計測器に入力される。この結果、計測器として一度に複数の応答信号を受信できないものを用いても、インタフェース応答精度の判定毎に検査を中断する必要がなく、検査作業を迅速化でき且つ検査ミスを低減できる。
【００４４】
(4) 制御部162は、対象インタフェースの選択信号の入力を受けたとき、インタフェース２０a〜２０nの検査者に対し対象インタフェースの識別情報の読み上げを要求するステップと、検査者の読み上げ音声をＩＦデータに変換するステップと、読み上げ音声から変換されたＩＦデータが示すインタフェースと、検査者により選択された対象インタフェースのＩＦデータが示すインタフェースとが双方一致するか否かの判定を行うステップと、読み上げ音声から変換されたＩＦデータと対象インタフェースのＩＦデータが、双方一致するときは模擬信号の入力要求信号を受けたことを条件に信号回路161の伝達路へ模擬信号を供給可能とし、双方一致しないときは検査者に対し対象インタフェースの識別情報の読み上げを再度要求するステップと、を行う。このため、検査者が意図しているインタフェースと異なるインタフェースに対し模擬信号が入力される危険を排除でき、検査ミスを低減できる。
【００４５】
(5) 読み上げ音声から変換されたＩＦデータを、読み取り可能に保存する記録部を備える。このため、検査者は、読み上げたインタフェースを確認することにより未検査のインタフェースと検査済みのインタフェースとを再確認できる。たとえば、重複する検査作業を回避でき、検査作業を迅速化できる。
【００４６】
以上、本発明に係るインタフェース検査装置を１つの実施形態に基づき説明してきたが、具体的な構成については本実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない限り設計の変更や追加等は許容される。
【００４７】
本実施形態では、信号制御系１６の信号回路161に関し、スイッチ切り替えにより並列回路と直列回路とを形成する例を示したが、信号回路161の構成は変更できる。たとえば、あらかじめ、並列回路と直列回路とが独立した信号回路を備えて、スイッチ切り替えにより並列回路と直列回路が選択可能な信号回路としても良い。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】インタフェース検査装置の実施形態を示すシステム構成図。
【図２】本実施形態におけるインタフェース検査装置の信号制御系の機能ブロック図。
【図３】本実施形態における信号制御系の制御部にて実行される制御処理の流れを示すフローチャート。
【図４】本実施形態において信号回路が並列回路に切り替えられた場合の信号制御系を示す図。
【図５】本実施形態において信号回路が直列回路に切り替えられた場合の信号制御系を示す図。
【図６】本実施形態においてインタフェースが電圧型である場合の信号回路における計測用伝達路を示す図。
【図７】本実施形態においてインタフェースが電流型である場合の信号回路における計測用伝達路を示す図。
【符号の説明】
【００４９】
１０…インタフェース検査装置，１１…音声信号ケーブル，１２…検査信号ケーブル，１３…本体，１４…計測器，１５…模擬信号生成器，１６…信号制御系，16１…信号回路，162…制御部，Ｐa〜Ｐn…接点，ＳＷ…スイッチ，２０（２０ａ〜２０n）…インタフェース。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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