(57)【要約】【課題】露光期間での手ぶれの量の予測の精度が高くなかった。【解決手段】撮像のための露光を行うシャッターと、前記シャッターの全押し後の第１の期間内における、前記撮像に伴う手ぶれの量を表す手ぶれ量信号を代表する代表値を算出する手ぶれ量算出回路と、前記第１の期間における前記手ぶれ量信号の波形形状と、前記露光が行われると予想される第２の期間における、前記手ぶれ量信号の予想される波形形状とを比較する波形形状比較回路と、前記シャッターの速度を決定すべく、前記算出された手ぶれ量信号の代表値、及び、前記二つの波形形状の比較の結果から、前記第２の期間における前記手ぶれ量信号の値を予測する手ぶれ量予測回路とを含む。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像のための露光を行うシャッターと、
前記シャッターの全押し後の第１の期間内における、前記撮像に伴う手ぶれの量を表す手ぶれ量信号を代表する代表値を算出する手ぶれ量算出回路と、
前記第１の期間における前記手ぶれ量信号の波形形状と、前記露光が行われると予想される第２の期間における、前記手ぶれ量信号の予想される波形形状とを比較する波形形状比較回路と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記算出された手ぶれ量信号の代表値、及び、前記二つの波形形状の比較の結果から、前記第２の期間における手ぶれ量を予測する手ぶれ量予測回路とを含むことを特徴とする手ぶれ防止装置。
【請求項２】
請求項１記載の手ぶれ防止装置と、
当該手ぶれ防止装置により予測された前記手ぶれの量により規定される前記シャッターの速度により前記撮像を行う撮像装置と、を有することを特徴とする撮像機器。
【請求項３】
シャッターの全押し後の第１の期間内における、撮像に伴う手ぶれの量を表す手ぶれ量信号を代表する代表値を算出する手ぶれ量算出工程と、
前記第１の期間における前記手ぶれ量信号の波形形状と、露光が行われると予想される第２の期間における、前記手ぶれ量信号の予想される波形形状とを比較する波形形状比較工程と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記算出された手ぶれ量信号の代表値、及び、前記二つの波形形状の比較の結果から、前記第２の期間における手ぶれ量を予測する手ぶれ量予測工程とを含むことを特徴とする手ぶれ防止方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラ及びカメラ付き携帯電話のような撮像機器を用いて撮像するときに生じる手ぶれによる悪影響を抑制する機能を備える手ぶれ防止装置、当該手ぶれ防止装置に用いられる手ぶれ防止方法、及び前記手ぶれ防止装置を含む撮像機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の手ぶれ防止装置では、下記の特許文献１及び特許文献２に記載された、当該特許文献１、２の発明が解決しようとする課題「手ぶれの防止」と同様な課題を解決すべく、まず、図６に示されるように、レリーズ（図示せず。）の操作、即ち、半押しＨに引き続いてシャッター（図示せず。）の操作、即ち、全押しＡを行った後におけるサンプリングを行うためのサンプリング期間Ｔ１内に、手ぶれの量（詳しくは、手ぶれ量の周波数及び角速度）を表す手ぶれ量信号Ｓｔｂ１００をサンプリングすることにより、当該手ぶれ量信号Ｓｔｂ１００から手ぶれ量ｔｂ１０１、ｔｂ１０２、．．．を抽出する。
【０００３】
次に、前記サンプリング期間Ｔ１に引き続き、かつ、露光のための露光期間Ｔ３に先立つ期間Ｔ２で、前記露光期間Ｔ３の長さを決定すべく、換言すれば、前記シャッターの速度を決定すべく、前記露光期間Ｔ３における前記手ぶれ量信号Ｓｔｂ１００の手ぶれ量の代表値ｔｂ（ｔｙｐ）（例えば、平均値）を予測する。
【０００４】
【特許文献１】特開平８−３２０５１１号公報
【特許文献２】特開平５−１０７６２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記した従来の手ぶれ防止装置では、前記手ぶれ量信号Ｓｔｂ１００の波形が少なからず時々刻々と変化するにも拘わらず、前記露光期間Ｔ３における手ぶれ量の代表値ｔｂ（ｔｙｐ）の予測を、前記全押しＡ後のサンプリング期間Ｔ１における前記測定された手ぶれ量ｔｂ１０１、ｔｂ１０２、．．．のみに基づき行うことから、前記露光期間Ｔ３における手ぶれ量の代表値ｔｂ（ｔｙｐ）の予測の精度が必ずしも高くなく、結果的に、前記シャッターの速度を高精度に決定することができないという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る手ぶれ防止装置、手ぶれ防止方法、及び撮像機器は、以下の適用例として実現することが可能である。
【０００７】
［適用例１］
適用例１の手ぶれ防止装置は、
撮像のための露光を行うシャッターと、
前記シャッターの全押し後の第１の期間内における、前記撮像に伴う手ぶれの量を表す手ぶれ量信号を代表する代表値を算出する手ぶれ量算出回路と、
前記第１の期間における前記手ぶれ量信号の波形形状と、前記露光が行われると予想される第２の期間における、前記手ぶれ量信号の予想される波形形状とを比較する波形形状比較回路と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記算出された手ぶれ量信号の代表値、及び、前記二つの波形形状の比較の結果から、前記第２の期間における手ぶれ量を予測する手ぶれ量予測回路とを含む。
【０００８】
上記の手ぶれ防止装置によれば、前記手ぶれ量予測回路が、前記手ぶれ量算出回路により算出された前記第１の期間での代表値、及び、前記波形形状回路による、前記第１の期間及び前記第２の期間での前記二つの波形形状の比較の結果に基づき、前記第２の期間における前記手ぶれ量信号の値を予測する。これにより、前記第２の期間における手ぶれ量の予測について、前記第２の期間における前記手ぶれ量信号の予想される波形形状を考慮する。その結果、当該第２の期間に先立つサンプリング期間Ｔ１（図６に図示。）における手ぶれ量ｔｂ１０１、ｔｂ１０２、．．．のみに基づき行う従来に比して、前記予測の精度を向上させることができ、その結果、前記シャッターの速度を従来に比して高精度に決定することが可能となる。
【０００９】
［適用例２］
適用例２の撮像機器は、
上記記載の手ぶれ防止装置と、
当該手ぶれ防止装置により予測された前記手ぶれの量により規定される前記シャッターの速度により前記撮像を行う撮像装置と、を有する。
【００１０】
［適用例３］
適用例３の手ぶれ防止方法は、
シャッターの全押し後の第１の期間内における、前記撮像に伴う手ぶれの量を表す手ぶれ量信号を代表する代表値を算出する手ぶれ量算出工程と、
前記第１の期間における、手ぶれ量信号の波形形状と、前記露光が行われると予想される第２の期間における、手ぶれ量信号の予想される波形形状とを比較する波形形状比較工程と、
前記シャッターの速度を決定すべく、前記算出された手ぶれ量信号の代表値、及び、前記二つの波形形状の比較の結果から、前記第２の期間における手ぶれ量を予測する手ぶれ量予測工程とを含む。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
《実施例》
手ぶれ防止装置の実施例について図面を参照して説明する。
【００１２】
〈構成〉
図１は、手ぶれ防止装置を含む撮像機器の実施例の外部構成を示し、また、図２は、実施例の撮像機器の内部構成を示す。
【００１３】
実施例の撮像機器ＤＣは、図１に示されるように、デジタルカメラであり、外部構成として、カメラ本体Ｂと、ファインダーＦと、レンズＬと、レリーズＲと、シャッターＳとを含む。これらのカメラ本体Ｂ、ファインダーＦ、レンズＬ、レリーズＲ、及びシャッターＳは、それぞれ、従来知られたと同様な構造及び機能を有し、例えば、レリーズＲは、いわゆる「半押し」の機能を備え、また、シャッターＳは、いわゆる「全押し」の機能を備える。
【００１４】
実施例の撮像機器ＤＣは、また、撮影のときに生じる手ぶれ量、例えば、露光期間Ｔ３での手ぶれ量信号Ｓｔｂを代表する手ぶれ量の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）（図５に図示。）が当該撮影した画像に悪影響を及ぼすことを低減すべく、図２に示されるように、内部構成として、手ぶれ防止装置１と、前記撮影を行う撮像装置２とを含み、さらに、手ぶれ防止装置１は、制御回路１０と、記憶回路２０と、手ぶれ検出回路３０と、サンプリング回路４０と、手ぶれ量算出回路５０と、波形形状予測回路６０と、波形形状比較回路７０と、手ぶれ量予測回路８０とを含む。
【００１５】
ここで、「撮像」とは、露光すること、即ち、シャッターＳを開閉することにより被写体を撮影するという狭義の意味だけを有するのではなく、被写体をファインダーＦでモニターしながらレリーズＲを操作（「半押し」）することにより当該被写体のピント合わせを行うことから始まり、シャッターＳを操作（「全押し」）することを経て、前記被写体を撮像することに至るまでの広義の意味を有する。  
【００１６】
手ぶれ防止装置１では、制御回路１０は、例えば、ＣＰＵからなり、ＲＯＭ及びＲＡＭ等からなる記憶回路２０に記憶されたプログラム（図示せず。）に従って、撮像機器ＤＣの全体的な動作を制御し、また、その全体的な動作を監視する。制御回路１０は、更に、後述されるような、手ぶれ量予測回路８０により予測される、露光期間Ｔ３での手ぶれ量の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）（図５に図示。）に基づき、記憶回路２０に記憶されているテーブルＴ（図４に図示。）を参照することにより、シャッターＳの速度を決定する。
【００１７】
記憶回路２０は、上記したような、制御回路１０が実行するプログラムを記憶しており、加えて、上記したテーブルＴを記憶している。テーブルＴは、図４に示されるように、手ぶれ量ｔｂとシャッターＳの速度との対応関係を規定しており、例えば、手ぶれ量ｔｂ、即ち、露光期間Ｔ３での手ぶれ量ｔｂ３（ｔｙｐ）が「１０Ｈｚ」であるとき、シャッターＳの速度を「ＳＶ１」にすべきであり、また、手ぶれ量の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）が「１５Ｈｚ」であるとき、シャッターＳの速度を「ＳＶ２」にすべきである旨を規定している。
【００１８】
手ぶれ検出回路３０は、例えば、２軸ジャイロセンサ又は３軸ジャイロセンサであり、撮像機器ＤＣのユーザが、当該撮像機器ＤＣを手に持って撮像するときに生じる手ぶれ量、例えば、手ぶれ量ｔｂ１（１）、ｔｂ２（２）、．．．（図５に図示。）を検出する。
【００１９】
サンプリング回路４０は、図５（Ａ）に示されるように、全押しＡ後のサンプリング期間Ｔ１で、手ぶれ量信号Ｓｔｂをサンプリングすることにより、当該手ぶれ量信号Ｓｔｂから前記手ぶれ量ｔｂ１（１）、ｔｂ１（２）、．．．を抽出する。
【００２０】
手ぶれ量算出回路５０は、前記サンプリング期間Ｔ１における前記手ぶれ量ｔｂ１（１）、ｔｂ１（２）、．．．を使って、サンプリング期間Ｔ１における手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）として、平均値、最大値、最小値、最頻値、中央値等を算出する。
【００２１】
波形形状予測回路６０は、サンプリング期間Ｔ１での手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ１の波形形状、及び、当該サンプリング期間Ｔ１及び露光期間Ｔ３との位置関係とから、当該露光期間Ｔ３での手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ３の形状が、図５（Ａ）〜（Ｈ）に示されるような波形Ｗ３（Ａ）〜Ｗ３（Ｈ）のいずれになるかを予測する。ここで、波形Ｗ３（Ａ）〜Ｗ３（Ｈ）は、手ぶれ量信号Ｓｔｂが露光期間Ｔ３において取り得る典型的な形状を有する。詳しくは、波形Ｗ３（Ａ）は、正領域で上昇する形状（以下「上昇形状（正領域）という。」）であり、波形Ｗ３（Ｂ）は、正領域で下降する形状（以下「下降形状（正領域）という。」）であり、波形Ｗ３（Ｃ）は、負領域で下降する形状（以下「下降形状（負領域）という。」）であり、波形Ｗ３（Ｄ）は、負領域で上昇する形状（以下「上昇形状（負領域）という。」）であり、波形Ｗ３（Ｅ）は、正領域方向に凸な形状（以下「山形状」という。）であり、波形Ｗ３（Ｆ）は、負領域方向に凸な、換言すれば、正領域方向に凹な形状（以下「谷形状」という。）であり、波形Ｗ３（Ｇ）は、逆Ｓ字形状であり、波形Ｗ３（Ｈ）は、Ｓ字形状である。
【００２２】
波形形状比較回路７０は、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の形状と、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３の形状、即ち、波形Ｗ３（Ａ）〜Ｗ３（Ｈ）のいずれかの形状とを比較する。
【００２３】
手ぶれ量予測回路８０は、（１）サンプリング期間Ｔ１における波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）、及び、（２）サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１と露光期間Ｔ３での波形Ｗ３とを比較した結果から、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３を代表する代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を予測する。
【００２４】
撮像装置２は、撮像の機能を有し、具体的には、手ぶれ防止装置１内の制御回路１０が決定したシャッターＳの速度（例えば、「ＳＶ１」、「ＳＶ２」（図４に図示。））に従って、被写体を撮影する。
【００２５】
〈動作〉
実施例の撮像機器ＤＣの動作について図３を参照して説明する。以下では、説明及び理解を容易にすべく、サンプリング期間Ｔ１での手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ１が「上昇形状（正領域）」の波形Ｗ３（Ａ）であり、かつ、露光期間Ｔ３での手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ３が、図５（Ａ）に示されるような、「上昇形状（正領域）」の波形Ｗ３（Ａ）であることを想定する。
【００２６】
ステップＳ１：ユーザが、被写体を撮影すべく、図５（Ａ）に示されるように、レリーズＲの操作（半押しＨ）の操作に引き続き、シャッターＳの操作（全押しＡ）を行う。
【００２７】
ステップＳ２：手ぶれ検出回路３０は、前記全押しＡの後のサンプリング期間Ｔ１で、手ぶれ量信号Ｓｔｂを検出し、即ち、サンプリング期間Ｔ１での手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ１を検出し、さらに、サンプリング回路４０は、前記手ぶれ量信号Ｓｔｂをサンプリングすることにより、手ぶれ量ｔｂ１（１）、ｔｂ１（２）、．．．を抽出する。
【００２８】
ステップＳ３：手ぶれ量算出回路５０は、当該サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）として、前記手ぶれ量ｔｂ１（１）、ｔｂ１（２）、．．．の平均値、最大値、最小値、最頻値、中央値等を算出し、これにより、代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）として、例えば、「１５Ｈｚ」を得る。
【００２９】
ステップＳ４：波形形状予測回路６０は、前記サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の形状と、サンプリング期間Ｔ１と露光期間Ｔ３との間の位置関係（サンプリング期間Ｔ１と露光期間Ｔ３とが時間的にどれくらい隔たっているかという相対的な位置関係）とから、露光期間Ｔ３での手ぶれ量信号Ｓｔｂの波形Ｗ３が、波形Ｗ３（Ａ）になるであろうと予測する。
【００３０】
ステップＳ５：波形形状比較回路７０は、前記検出されたサンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１と、前記予測された露光期間Ｔ３での波形Ｗ３とを比較し、その結果として、波形Ｗ１と波形Ｗ３とが概ね「同一」であると認識する。
【００３１】
ステップＳ６：手ぶれ量予測回路８０は、前記波形Ｗ１、Ｗ３の比較の結果「同一」に基づき、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）が波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）と「同一」であると予測し、即ち、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）が「１５Ｈｚ」であると予測する。
【００３２】
ステップＳ７：制御回路１０は、「１５Ｈｚ」であると決定された波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）に基づき、記憶回路２０に記憶されているテーブルＴ（図４に図示。）を参照することにより、期間Ｔ２で、シャッターＳの速度を「ＳＶ２」に決定する。
【００３３】
ステップＳ８：撮像装置２は、露光期間Ｔ３に、シャッターＳの速度「ＳＶ２」で撮像、即ち露光を行い、これにより、前記被写体の撮影が完了する。
【００３４】
〈効果〉
上述したように、実施例の撮像機器ＤＣでは、手ぶれ量予測回路８０は、手ぶれ量算出回路５０により算出された、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）と、波形形状比較回路７０により行われた、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１及び露光期間Ｔ３での波形Ｗ３間の比較の結果とに基づき、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を予測することから、サンプリング期間Ｔ１（図６に図示。）における手ぶれ量ｔｂ１０１、ｔｂ１０２、．．．のみに基づき、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３の代表値を予測していた従来に比して、予測の精度を高めることができ、これにより、前記シャッターＳの速度を従来に比較して高い精度で決定することが可能となる。
【００３５】
《変形例１》
変形例１の撮像機器ＤＣでは、ステップＳ４で、波形形状予測回路６０が、図５（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）、（Ｄ）に示されるように、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３が、「上昇形状（正領域）」の波形Ｗ３（Ａ）に代えて、「下降形状（正領域）」の波形Ｗ３（Ｂ）、「下降形状（負領域）」の波形Ｗ３（Ｃ）、「上昇形状（負領域）」の波形Ｗ３（Ｄ）のいずれかであると予測する。この場合、例えば、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の振幅（絶対値）の積分値（面積）と、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３（Ｂ）〜Ｗ３（Ｄ）の各々の振幅（絶対値）の積分値（面積）とが「同一」である。そこで、ステップＳ５で、波形形状比較回路７０は、波形Ｗ１と、波形Ｗ３（Ｂ）〜Ｗ３（Ｄ）の各々とは、「実質的に同一」であると認識する。その結果、ステップＳ６で、手ぶれ量予測回路８０は、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）が、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）と「実質的に同一」であると決定する。これにより、上記したと同様な効果を得ることが可能となる。
【００３６】
《変形例２》
変形例２の撮像機器ＤＣでは、ステップＳ４で、波形形状予測回路６０が、図５（Ａ）、（Ｅ）に示されるように、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３が、「上昇形状（正領域）」の波形Ｗ３（Ａ）に代えて、「山形状」の波形Ｗ３（Ｅ）であると予測する。この場合、例えば、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３（Ｅ）の振幅（絶対値）の積分値（面積）は、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の振幅（絶対値）の積分値（面積）より「大きい」。そこで、ステップＳ５で、波形形状比較回路７０は、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）より「大きく」する必要があると認識する。その結果、ステップＳ６で、手ぶれ量予測回路８０は、例えば、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）が手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「平均値」であったときには、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を、手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「最大値」であると決定する。これにより、上記したと同様な効果を得ることが可能となる。
【００３７】
上記したと異なり、ステップＳ４で、波形形状予測回路６０が、図５（Ｆ）に示されるように、露光期間Ｔ３での波形が、「山形状」の波形Ｗ３（Ｅ）とは対照的な「谷形状」の波形Ｗ３（Ｆ）であると予測した場合であっても、上記したと同様な理由から、ステップＳ５で、波形形状比較回路７０は、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）より「大きく」する必要があると認識する。その結果、ステップＳ６で、手ぶれ量予測回路８０は、例えば、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）が手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「平均値」であったときには、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「最大値」であると決定する。これにより、上記したと同様な効果を得ることができる。
【００３８】
《変形例３》
変形例３の撮像機器ＤＣでは、ステップＳ４で、波形形状予測回路６０が、図５（Ａ）、（Ｇ）に示されるように、露光期間Ｔ３での波形が、「上昇形状（正領域）」の波形Ｗ３（Ａ）に代えて、「逆Ｓ字形状」の波形Ｗ３（Ｇ）であると予測する。この場合、露光期間Ｔ３での波形Ｗ３の振幅（絶対値）の積分値（面積）は、サンプリング期間Ｔ１での波形Ｗ１の振幅（絶対値）の積分値（面積）より「小さい」。そこで、ステップＳ５で、波形形状比較回路７０は、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）より「小さく」する必要があると認識する。その結果、ステップＳ６で、手ぶれ量予測回路８０は、例えば、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）が手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「平均値」であったときには、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）が手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「最小値」であると決定する。これにより、上記したと同様な効果を得ることが可能となる。
【００３９】
上記したと異なり、ステップＳ４で、波形形状予測回路６０が、図５（Ｈ）に示されるように、露光期間Ｔ３での波形が、「逆Ｓ字形状」の波形Ｗ３（Ｇ）とは対照的な「Ｓ字形状」の波形Ｗ３（Ｈ）であると予測した場合であっても、上記したと同様な理由から、ステップＳ５で、波形形状比較回路７０は、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）を、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）より「小さく」する必要があると認識する。その結果、ステップＳ６で、手ぶれ量予測回路８０は、例えば、波形Ｗ１の代表値ｔｂ１（ｔｙｐ）が手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「平均値」であったときには、波形Ｗ３の代表値ｔｂ３（ｔｙｐ）が手ぶれ量ｔｂ１（１）〜ｔｂ１（５）の「最小値」であると決定する。これにより、上記したと同様な効果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】実施例の撮像機器の外部構成を示す図。
【図２】実施例の撮像機器の内部構成を示す図。
【図３】実施例の撮像機器の動作を示すフローチャート。
【図４】実施例のテーブルを示す図。
【図５】実施例の撮像機器の動作を示すタイムチャート。
【図６】従来の撮像機器の動作を示すタイムチャート。
【符号の説明】
【００４１】
ＤＣ…撮像機器、１…手ぶれ防止装置、２…撮像装置、１０…制御回路、２０…記憶回路、３０…手ぶれ検出回路、４０…サンプリング回路、５０…手ぶれ量算出回路、６０…波形形状予測回路、７０…波形形状比較回路、８０…手ぶれ量予測回路、Ｔ…テーブル。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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