(57)【要約】【課題】電子機器の同一マルチカードスロットに、複数種類のカードに相当する試験カードを挿入してマルチカードスロットの試験を行う試験装置を提供することを目的とする。本発明は、提供することを目的とする。【解決手段】複数のカードを接続するための接続端子を有するマルチカードスロットと、前記マルチカードスロットに挿入されたカードとの接続試験をするためのコントローラと、を有する電子機器のマルチカードスロットに接続される試験装置であって、  前記マルチカードスロットの全ての接続端子に接続するための接点部を有する試験カードと、前記複数のカードを搭載し、かつ前記試験カードに接続する接続部と、を備えることを特徴とする試験装置。【選択図】図２
2009003587.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のカードを接続するための接続端子を有するマルチカードスロットと、前記マルチカードスロットに挿入されたカードとの接続試験をするためのコントローラと、を有する電子機器のマルチカードスロットに接続される試験装置であって、
前記マルチカードスロットの全ての接続端子に接続するための接点部を有する試験カードと、
前記複数のカードを搭載し、かつ前記試験カードに接続する接続部と、
を備えることを特徴とする試験装置。
【請求項２】
接続部は、
複数のカードを接続するためのコネクタと、
前記コネクタに接続された複数のカードの中から試験カードに接続するカードを選択する切替回路と、
を備えることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
切替回路は、
カードを選択するための制御回路と、
前記選択されたカードを試験カードに接続するためのスイッチ回路と、を有することを特徴とする請求項２記載の試験装置。
【請求項４】
接続部は、
複数のカードを接続するためのコネクタと、
コントローラとカード間のカード切替データを検出する切替指示検出部と、
検出されたカード切替データを基に、前記コネクタに接続された複数のカードの中から試験カードに接続するカードを選択する切替回路と、
を備えることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項５】
接続部は、
複数のカードを接続するための複数のコネクタと、
前記コネクタに接続された各カードの信号を試験カードに直接接続する配線部と、
を備えることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項６】
試験カードは、
接点部を移動するための移動機構を有することを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項７】
試験カードは、
複数のカードの重ね合わせ構造であり、かつ複数のカード間に弾性体を配置した構造であることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項８】
複数のカードを接続するための接続端子を有するマルチカードスロットと、前記マルチカードスロットに挿入されたカードの接続試験をするためのコントローラと、を有する電子機器のマルチカードスロットに接続される試験カードであって、
前記マルチカードスロットの全ての接続端子に接続するための接点部と、
接点部の所定の接点を経由してコントローラから入力された信号を折り返し、前記接点とは別の接点に折返し出力する折返し部と、
を有することを特徴とする試験カード。
【請求項９】
複数のカードを接続するための接続端子を有するマルチカードスロットと、
前記マルチカードスロットに挿入されたカードの接続試験をするためのコントローラと、を有する電子機器と、
前記マルチカードスロットの全ての接続端子に接続するための接点部を有する試験カードと、
前記複数のカードを搭載し、かつ前記試験カードに接続する接続部と、を有する試験装置と、
を備えることを特徴とする試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
複数種類の電子カードを同一のマルチカードスロットに挿入できる電子機器に適用する試験装置、試験カードおよび試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラッシュメモリを用いたメモリカードに代表されるように、複数種類の電子カードを同一のマルチカードスロットに挿入できる電子機器が増えている。また、電子機器が対応するカードの種類も増加している。これらの電子機器の試験では、サポートするカードの導通・機能試験が行われる。その試験では、手作業による複数回のカード挿抜が発生する。
【０００３】
図１に従来例のマルチカードスロットを用いたカードの試験方式の説明図である。
図１（Ａ）に、マルチカードスロットとカードの説明図を示す。
（１）試験者は、電子機器のマルチカードスロット１０１にサポートするカードＡを挿入し、試験を行う。（２）試験を終了すると、カードＡを抜き取る。（３）次に、試験者は、電子機器のマルチカードスロット１０１にサポートするカードＢを挿入し、試験を行う。（４）試験を終了すると、カードＢを抜き取る。（５）次に、試験者は、電子機器のマルチカードスロット１０１にサポートするカードＣを挿入し、試験を行う。（６）試験を終了すると、カードＣを抜き取る。
【０００４】
このように、試験者は、サポートする全カードの挿抜きを1つずつ繰り返し、マルチカードスロット１０１の試験を行っていた。
図１（Ｂ）は、マルチカードスロットの接続端子とカードの説明図である。
電子機器は、マルチカードスロット１０１、カードコントローラ１０２、システムバス１０３、ＣＰＵ１０４等を有する。
マルチカードスロット１０１は、挿入したカードＡまたはカードＢまたはカードＣと接続するための接続端子１１０〜１１２を有する。
カードＡまたはカードＢまたはカードＣは、マルチカードスロット１０１に挿入され、接続端子１１０または接続端子１１１または接続端子１１２に接続される。
そして、ＣＰＵ１０４は、カードコントローラ１０２を介してカードＡまたはカードＢまたはカードＣとの間で通信を行う。
このように、カードＡまたはカードＢまたはカードＣにより使用する信号線と回路機能は、相互に異なる部分があるため、カードＡ〜Ｃと電子機器との接続回路の全体を検査するためには、複数種類のカードＡ〜カードＣを１枚ずつ交換しながら試験をする必要がある（特許文献１）。
【特許文献１】実用新案登録第３１０２３９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
電子機器のマルチカードスロットを試験するためには、1枚のカードの試験毎にカードの挿抜とカードの接続および回路機能の試験が必要となる。このため、人による試験の終了の監視と挿抜作業が必要となり、作業効率が低い。
【０００６】
本発明は、電子機器の同一マルチカードスロットに、複数種類のカードに相当する試験カードを挿入してカード接続試験を行うための試験装置、試験カード、試験システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の試験装置は、複数のカードを接続するための接続端子を有するマルチカードスロットと、マルチカードスロットに挿入されたカードの接続試験をするためのコントローラとを有する電子機器のマルチカードスロットに接続される。
【０００８】
そして、試験装置は、マルチカードスロットの全ての接続端子に接続するための接点部を有する試験カードと、複数のカードを搭載し、かつ試験カードに接続する接続部と、を備える。
この構成により、複数のカードを交換せずに、カードと電子機器との接続試験を実施できる。
【０００９】
また、試験装置の接続部は、複数のカードを接続するためのコネクタと、前記コネクタに接続された複数のカードの中から試験カードに接続するカードを選択する切替回路と、を備える。
【００１０】
この構成により、カードと電子機器間の信号が、複数のカード間で重畳することがあっても、切替回路により、カードを選択することで、前記信号を排他的に使用することができる。
【００１１】
また、試験装置の切替回路は、カードを選択するための制御回路と、前記選択されたカードを試験カードに接続するためのスイッチ回路と、を有する。
この構成により、試験カードの選択が可能となる。
【００１２】
また、試験装置の接続部は、複数のカードを接続するためのコネクタと、コントローラとカード間のカード切替データを検出する切替指示検出部と、検出されたカード切替データを基に、前記コネクタに接続された複数のカードの中から試験カードに接続するカードを選択する切替回路と、を備える。
この構成により、コントローラとカード間のカード切替データを検出してカードの切替を行うことが可能となる。
【００１３】
また、試験装置の接続部は、複数のカードを接続するための複数のコネクタと、前記コネクタに接続された各カードの信号を試験カードに直接接続する配線部と、を備える。
【００１４】
この構成により、カード毎に信号が分離しているマルチカードスロットを使用するときには、マルチカードスロットの接続端子と各カードとの信号を直接接続できるので、試験対象のカードを全て搭載しても、カードを選択する必要がないため、切替回路が不要となる。
【００１５】
また、試験装置の試験カードは、接点部を移動するための移動機構を有することを特徴とする。
この構成により、試験カードの構造を変化させることができるので、異なる形状のマルチカードスロットを有する電子機器にも対応できるため、電子機器毎に試験カードを準備する必要性が減少する。
【００１６】
また、試験装置の試験カードは、複数のカードの重ね合わせ構造であり、かつ複数のカード間に弾性体を配置した構造である。
この構成により、マルチカードスロットの構造と試験カードの構造に差分があっても弾性体により調整することが可能となる。
【００１７】
また、本発明の試験カードは、複数のカードを接続するための接続端子を有するマルチカードスロットと、前記マルチカードスロットに挿入されたカードの接続試験をするためのコントローラと、を有する電子機器のマルチカードスロットに接続される。そして、試験カードは、前記マルチカードスロットの全ての接続端子に接続するための接点部と、接点部の所定の接点を経由してコントローラから入力された信号を折り返し、前記接点とは別の接点に折返し出力する折返し部とを有する。
この構成により、試験カードとマルチカードスロットとの疎通試験が可能となる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明により、一度のカード挿入作業の後は、自動で複数種カードの試験が行える。この結果、作業者があるカードの試験終了を確認して次のカードへ差し替える操作が無くなり、作業効率が向上する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
（実施例１）
図２にマルチカードスロット試験システムの構成図１を示す。
マルチカードスロット試験システム１は、電子機器２と試験装置３を有する。
電子機器２は、ＣＰＵ２１、記憶装置２２、Ｉ／Ｏコントローラ２３、カードコントローラ２４、マルチカードスロット２５を有する。
ここでは、２種のカードＡ３３、カードＢ３４をマルチカードスロット２５に接続する例を挙げるが、同様の構成を用いて必要な種類のカードを接続することは可能である。
ＣＰＵ２１は、記憶装置２２に搭載したプログラムにより、電子機器２の全体の制御を行うコントローラである。また、ＣＰＵ２１は、記憶装置２２に搭載されたテストプログラムにより、試験装置３を用いて、マルチカードスロット２５とカードＡ３３またはカードＢ３４との試験を行う。
記憶装置２２は、各種プログラム、試験結果データ等を格納する。
Ｉ／Ｏコントローラ２３は、試験装置３に対して、カードＡ３３またはカードＢ３４の一方を選択するための切替指示を行う。
カードコントローラ２４は、マルチカードスロット２５に挿入される複数のカードＡ３３、カードＢ３４のインタフェース制御を行う。
マルチカードスロット２５は、試験カード３１またはカードＡ３３またはカードＢ３４を接続するための接続端子４１、接続端子４２（図６参照）を有するマルチカード用コネクタと、マルチカードコネクタを基板に搭載したものであり、電子機器２に搭載されている。試験のときには、試験カード３１が挿入される。また、電子機器２の運用のときには、カードＡ３３またはカードＢ３４がマルチカードスロット２５に挿入される。
【００２０】
試験装置３は、試験カード３１と接続部３２とケーブル５６とを有する。
【００２１】
図３は、試験カードの構成図を示す。
試験カード３１は、カードＡ３３、カードＢ３４をマルチカードスロット２５に接続するための回路を有する。
そのため、試験カード３１は、Ａ接点部５１、Ｂ接点部５２、配線パターンＡ５３、配線パターンＢ５４、コネクタ５５を有する。
Ａ接点部５１は、マルチカードスロット２５の接続端子４１（図６参照）と接続するための接点部である。
Ｂ接点部５２は、マルチカードスロット２５の接続端子４２（図６参照）と接続するための接点部である。
配線パターンＡ５３は、Ａ接点部５１とコネクタ５５とを接続する。
配線パターンＢ５４は、Ｂ接点部５２とコネクタ５５とを接続する。
コネクタ５５は、接続部３２と試験カード３１とを接続するためのコネクタである。
ケーブル５６は、試験カード３１と接続部３２とを接続する。
図２の説明に戻る。
接続部３２は、試験対象のカードＡ３３、カードＢ３４、切替回路３５、カードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７を有する。
カードＡ３３は、カードＢ３４は、形状の異なる各種メモリカードである。
カードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７は、カードＡ３３、カードＢ３４を接続するためのコネクタである。
切替回路３５は、試験カード３１とカードＡ３３との接続、試験カード３１とカードＢ３４との接続を制御する回路である。カードＡ３３またはカードＢ３４の一方のみが選択され、試験カード３１と接続する。切替回路３５は、電子機器２とカードＡ３３、電子機器２とカードＢ３４とのインタフェースの信号が重畳している場合に使用される。
【００２２】
図４に、切替回路の構成図１を示す。
切替回路３５は、制御回路３６とスイッチ素子８１〜８３、スイッチ素子９１〜９３を有する。  
制御回路３６は、ＣＰＵ２１からＩ／Ｏコントローラ２３を経由してカードＡ３３の切替指示を受けると、スイッチ素子８１〜８３を駆動してカードＡ３３と試験カード３１とを接続する。
また、電子機器２のＣＰＵ２１からＩ／Ｏコントローラ２３を経由してカードＢ３４の切替指示を受けると、スイッチ素子９１〜９３を駆動してカードＢ３４と試験カード３１とを接続する。
スイッチ素子８１、スイッチ素子９１は、カードＡ３３の電源信号Ｐ１、カードＢ３４の電源信号Ｐ２を試験カード３１に接続するためのスイッチ素子である。
スイッチ素子８２、スイッチ素子９２は、カードＡ３３のデータおよびコマンド信号Ｄ１、カードＢ３４のデータおよびコマンド信号Ｄ２を試験カード３１に接続するためのスイッチ素子である。
スイッチ素子８３、スイッチ素子９３は、カードＡ３３の挿入検出信号Ｉ１、カードＢ３４の挿入検出信号Ｉ２を試験カード３１に接続するためのスイッチ素子である。
【００２３】
図５は、試験カードの構造の説明図１を示す。
【００２４】
試験カード３１は、マルチカードスロット２５に搭載されている接続端子４１、接続端子４２（図６参照）と十分な接触を得られる形状とする。
このための実現方法の一つとして、図５の平面図（Ａ）およびＸ−Ｘの断面図（Ｂ）に示すように試験カード３１の形状をカードＡ３３、カードＢ３４とがマルチカードスロット２５に挿入された際の状態を重ねた形状とする。すなわち、試験カード３１は、カードＡ３３に相当する擬似カードＡ６１とカードＢ３４に相当する擬似カードＢ６２とを重ねた構造である。従って、試験カード３１のＡ接点部５１、Ｂ接点部５２の位置は、マルチカードスロット２５の接続端子４１、接続端子４２（図６参照）と接触を得られる位置に形成されている。
【００２５】
図６にマルチカードスロットに挿入された状態の試験カードの説明図を示す。
【００２６】
図６（Ａ）は、マルチカードスロット２５の斜視図である。
【００２７】
図６（Ｂ）に電子機器２のマルチカードスロット２５のＹ−Ｙの断面図および、図６（Ｃ）にマルチカードスロット２５の挿入口からみた正面図を示す。
【００２８】
マルチカードスロット２５の接続端子４１、接続端子４２は、試験カード３１の対応するＡ接点部５１、Ｂ接点部５２と接触する。
【００２９】
図７は、試験カードの構造の説明図２を示す。
【００３０】
図７（Ａ）は、試験カード３１の平面図、図７（Ｂ）は、Ｚ−Ｚの断面図である。
【００３１】
試験カード３１のＡ接点部５１、Ｂ接点部５２とコネクタ５５との接続は、試験カード３１上の基板上に配線パターンを形成するのではなく、導線６５を用いることもできる。導線６５をより線とすることで、高速信号の信号品質を向上できるためである。
【００３２】
また、Ｂ接点部５２としては、異方性導電樹脂を用いることもできる。製造が容易のためである。
【００３３】
図８は、試験カードの構造の説明図３を示す。
【００３４】
試験カード３１は、カードＡ３３、カードＢ３４の形状と異なるため、マルチカードスロット２５に試験カード３１を挿入する時に、マルチカードスロット２５および試験カード３１の双方に不要な応力が加わる可能性がある。
【００３５】
そこで、擬似カードＡ６１と擬似カードＢ６２との間に弾性体６３を挟み込むことで、不要な応力を逃がすと共に、試験カード３１のＡ接点部５１、Ｂ接点部５２とマルチカードスロット２５の接続端子４１、接続端子４２との間の接触圧を確保する事が可能になる。
弾性体６３としては、例えばゴム性部材を使用する。
【００３６】
図９は、試験カードの構造の説明図４を示す。
【００３７】
擬似カードＡ６１と擬似カードＢ６２間に特定方向もしくは、全方向の移動機構、あるいは変形素材を挿入することで、１つの試験カード３１の形状を異なる複数種のマルチカードスロット２５に対応させることが可能となる。変形素材としては、ゴム性部材を用いることができる。
【００３８】
また、移動機構について説明する。
例えば、図９（Ａ）に、試験カード３１の擬似カードＢ６２をＸ方向，Ｙ方向に移動する例を示す。
図９（Ｂ）は、Ｘ，Ｙ方向に移動させるための擬似カードＡ６１、擬似カードＢ６２の構造の説明図を示す。擬似カードＡ６１は、Ｙ軸方向に溝９４を複数本形成する。
図９（Ｃ）は、擬似カードＡ６１の側面図である。溝９４は、擬似カードＢ６２の脱落防止の構造を有する。
図９（Ｄ）は、擬似カードＢ６２の底面図である。
擬似カードＢ６２には、擬似カードＡ６１の溝９４に勘合するレール形状の突起９５をB接点部５２の搭載面の裏面に形成する。
図９（Ｅ）は、図９（Ｄ）に対応する擬似カードＢ６２の側面図である。
このように、擬似カードＡ６１の溝９４と擬似カードＢ６２の突起９５の勘合位置を変更することで、擬似カードＢ６２をＸ方向に移動できる。また、擬似カードＡ６１の溝９４上を擬似カードＢ６２を滑らすことで、Ｙ方向に移動できる。
図９（Ｆ）は、試験カード３１の側面図である。Ｘ方向、Ｚ方向への移動例である。
図９（Ｇ）は、図９（Ｅ）の状態の試験カード３１の擬似カードＢ６２をＸ方向、Ｚ方向に所定距離、移動した場合の移動後の形状を示す。
【００３９】
Ｚ方向の移動としては、例えば弾性体を擬似カードＡ６１、擬似カードＢ６２に挿入する等により実現する。
【００４０】
この結果、試験カード３１を全体として異なる形状に変更することができる。このような構造にすることで、１つの試験カード３１を複数の形状の異なるマルチカードスロット２５に対応させる事が可能となる。
【００４１】
図１０にマルチカードスロット試験システムの動作説明図を示す。
【００４２】
カードＡ３３、カードＢ３４の試験方法は、次のようである。
まず、試験の準備をする。
（１）カードＡ３３、カードＢ３４を試験装置３のカードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７に接続する。
（２）次に、試験カード３１を電子機器２のマルチカードスロット２５に挿入する。
次に、試験を開始する。
そのため、試験者は、電子機器２の保守パネル等から試験開始を指示する。
（１）電子機器２は、試験開始の指示を検出すると、カードＡ３３の試験を行うことを試験装置２の制御回路３６に接続指示（図１０のＡ−ＣＯＮ）をする。
（２）次に、電子機器２からの指示を試験装置２の制御回路３６が受取ると、制御回路３６は、スイッチ素子８１〜８３に対してカードＡ３３と試験カード３１間の接続を指示する。
（３）電源線Ｐ１、データおよびコマンドの信号線Ｄ１、挿入検出信号線Ｉ１が順次接続される。
（４）次に、電子機器２は、カードＡ３３からの挿入信号線Ｉ１を、試験カード３１を経由して検出すると、カードＡ３３の試験（図１０のＡ−ＴＥＳＴ）を開始する。
【００４３】
試験内容としては、例えば各カードのインタフェースの規格に従って、データのライトおよびリードを行う。そして、ライトデータとリードデータの比較を行う。
比較した結果、一致すれば、マルチカードスロット２５とカードＡ３３の接続に問題がないと判断する。そして、試験結果を電子機器２の表示部等に出力をする。
（５）電子機器２は、カードＡ３３の試験を終了すると、カードＡ３３の切断指示（図１０のＡ−ＤＣＯＮ）を制御回路３６に指示する。
（６）制御回路３６は、スイッチ素子８１〜８３にカードＡ３３と試験カード３１の接続の切断の指示を行う。
（７）挿入信号線Ｉ１、データおよびコマンドの信号線Ｄ１、電源線Ｐ１が順次切り離される。
（８）次に、電子機器２は、カードＢ３４の試験を行うことを試験装置２に接続指示を行う。
（９）電子機器２からの指示を試験装置２の制御回路３６が受取ると、制御回路３６は、スイッチ素子９１〜９３に対してカードＢ３４と試験カード３１間の接続指示(図１０のＢ−ＣＯＮ)を行う。
（１０）スイッチ素子９１〜９３は、電源線Ｐ２、データおよびコマンドの信号線Ｄ２、挿入検出信号線Ｉ２を順次接続する。
（１１）次に、電子機器２は、カードＢ３４からの挿入信号線Ｉ２を試験カード３１を経由して検出すると、カードＢ３４の試験（図１０のＢ−ＴＥＳＴ）を開始する。
【００４４】
試験内容としては、例えば各カードのインタフェースの規格に従って、データのライトおよびリードを行う。そして、ライトデータとリードデータの比較を行う。
比較した結果、一致すれば、マルチカードスロット２５とカードＢ３４の接続に問題がないと判断する。そして、試験結果を電子機器２の表示部等に出力をする。
（１２）電子機器２は、カードＢ３４の試験を終了すると、カードＢ３４の切断指示を制御回路３６に指示する。
（１３）制御回路３６は、スイッチ素子９１〜９３にカードＢ３４と試験カード３１の接続の切り離しを指示する。
（１４）挿入信号線Ｉ２、データおよびコマンドの信号線Ｄ２、電源線Ｐ２は、順次切り離される。
【００４５】
これにより、すべての試験が終了する。
【００４６】
実装や信号線長等の都合に合わせて、試験装置３を試験カード３１上に実装するなど、試験装置３の構成は任意である。
（実施例２）
図１１は、マルチカードスロット試験システムの構成図２を示す。
図２とは、試験装置３が異なる。電子機器２のＣＰＵ２１、記憶装置２２、Ｉ／Ｏコントローラ２３は省略して図示している。
試験装置３は、試験カード３１と、接続部３２と、ケーブル５６とを有する。
また、接続部３２は、カードＡ３３、カードＢ３４、切替回路３５、切替指示検出回路３７、カードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７と、を有する。
実施例１の図２との差分は、実施例２には、切替指示検出回路３７が追加されていることである。
図１２に切替回路の構成図２を示す。
実施例１の図４との差分は、切替回路３５から制御回路３６が削除されていることである。
切替指示検出回路３７は、カードコントローラ２４との通信の中からカード切替データを取得して、カードＡ３３と試験カード３１との接続をカードＢ３４と試験カード３１との接続に切り替える。
【００４７】
カードＡ３３、カードＢ３４の試験方法は、次のようである。
【００４８】
まず、試験の準備をする。
【００４９】
初期状態では、カードコントローラ２４は、カードＡ３３に接続されている回路構成である。
（１）カードＡ３３、カードＢ３４を試験装置３のカードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７に接続する。
（２）次に、試験カード３１を電子機器２のマルチカードスロット２５に挿入する。
【００５０】
次に、試験を開始する。
そのため、試験者は、電子機器２の保守パネル等から試験開始を指示する。
（１）電子機器２は、カードＡ３３からの挿入信号線Ｉ１を試験カード３１を経由して検出すると、カードＡ３３の試験を開始する。
（２）例えば、試験内容としては、カードＡ３３に、カードのインタフェースの規格に従って、試験データおよびカード切替データのライトを行う。カード切替データは、カードＡ３３の切替識別符号を有する。
（３）次に、データのリードを行う。そして、ライトデータとリードデータとの比較を行う。
（４）電子機器２は、比較した結果、一致すれば、マルチカードスロット２５とカードＡ３３の接続に問題がないと判断して、試験結果を電子機器２の表示部等に出力をする。
（５）一方、切替指示検出回路３７は、カード切替データを検出すると、切替回路３５に指示してカードコントローラ２４とカードＡ３３との接続をカードコントローラ２４とカードＢ３４の接続に切替える。
（６）次に、電子機器２は、一定時間後に、カードＢ３４からの挿入信号線Ｉ２を試験カード３１を経由して検出すると、カードＢ３４の試験を開始する。
（７）例えば、試験内容としては、カードＢ３４に、カードのインタフェースの規格に従って、試験データのライトを行う。
（８）次に、データのリードを行う。そして、ライトデータとリードデータの比較を行う。  
（９）電子機器２は、比較した結果、一致すれば、マルチカードスロット２５とカードＢ３４の接続に問題がないと判断して、試験結果を電子機器２の表示部等に出力をする。
【００５１】
これにより、すべての試験が終了する。
【００５２】
図１３に切替指示検出回路の動作説明図を示す。
【００５３】
カードＡ３３の試験（図１３のＡＴＥＳＴ）中のリードデータの中において、切替指示検出回路３７は、カードＡ３３のリードデータを監視している。
【００５４】
そして、切替指示検出回路３７は、リードデータの中からカードＡ３３のカード切替データを検出すると、一定時間経過後に試験カード３１とカードＡ３３との接続を切断し(図１３のＡ−ＤＣＯＮ)、カードＢ３４と試験カード３１との接続（図１３のＢ−ＣＯＮ）に切り替える。そして、カードＢ３４の試験を行う（図１３のＢＴＥＳＴ）。
（実施例３）
図１４にマルチカードスロット試験システムの構成図３を示す。
電子機器２内のマルチカードスロット２５とカードコントローラ２４間との信号線が、カードＡ３３とカードＢ３４毎に分離している例である。
図２とは、試験装置３が異なる。電子機器２のＣＰＵ２１、記憶装置２２、Ｉ／Ｏコントローラ２３は省略して図示している。
試験装置３は、試験カード３１と、接続部３２と、ケーブル５６を有する。
また、接続部３２は、カードＡ３３、カードＢ３４、カードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７、配線部４３を有する。
実施例１の図２との差分は、実施例３には、切替回路３５がない点である。
配線部４３は、カードＡ３３、カードＢ３４の信号をカードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７から試験カード３１のＡ接点部５１、Ｂ接点部５２に対して切替回路３５を経由せずに、直接接続する。
切替回路３５は、電子機器２内のマルチカードスロット２５とカードコントローラ２４間の信号線をカードＡ３３、カードＢ３４間で共有している場合には必要であるが、信号が独立している場合には切替回路３５は不要である。
カードＡ３３、カードＢ３４の試験方法は、次のようである。
まず、試験の準備をする。
（１）カードＡ３３、カードＢ３４を試験装置３のカードコネクタＡ６６、カードコネクタＢ６７に接続する。
（２）次に、試験カード３１を電子機器２のマルチカードスロット２５に挿入する。
【００５５】
次に、試験を開始する。
そのため、試験者は、電子機器２の保守パネル等から試験開始を指示する。
（１）電子機器２は、カードＡ３３からの挿入信号線Ｉ１、カードＢ３４からの挿入信号線Ｉ２を試験カード３１を経由して検出する。
（２）電子機器２は、カードＡ３３、カードＢ３４の試験を順番に開始する。
試験内容としては、例えば各カードのインタフェースの規格に従って、データのライトおよびリードを行う。そして、ライトデータとリードデータの比較を行う。
比較した結果、一致すれば、マルチカードスロット２５とカードＡ３３、カードＢ３４の接続に問題がないと判断する。そして、試験結果を電子機器２の表示部等に出力をする。
（実施例４）
図１５は、マルチカードスロット試験システムの構成図４を示す。
電子機器２にマルチカードスロット２５のみが組み込まれた状態で、マルチカードスロット２５単体の試験を行う場合の例である。
【００５６】
この例の場合は、マルチカードスロット２５に挿入した試験カード３１について、試験カード３１とマルチカードスロット２５との疎通試験を行う。
試験装置３は、試験カード３１と導通測定器４とを有する。
導通測定器４は、試験カード３１とマルチカードスロット２５との間の導通試験を行う。
このため、試験カード３１に信号検出用の第１の端子５７を設ける。また、マルチカードスロット２５の基板に信号検出用の第２の端子５８を設ける。
そして、導通測定器４は、疎通確認用のプローブ６８、６９を第１の端子５７と第２の端子５８に各々接続する。
そして、導通測定器４で導通を確認する。導通があれば、正常とする。
この結果、信号線の疎通確認を目的とする場合は、試験装置３は、カードＡ３３、カードＢ３４、切替回路３５等、不要な部分は省略できる。
（実施例５）
図１６にマルチカードスロット試験システムの構成図５を示す。
【００５７】
カードコントローラ２４がバウンダリスキャン等の疎通確認機能を持っている場合は、試験カード３１で信号線を折り返し、電子機器２側で疎通確認ができる。
試験装置３は、試験カード３１のみである。試験カード３１は、折返し部５９を付与している。
試験方法を次に示す。
（１）ＣＰＵ２１からの指示によりカードコントローラ２４を疎通試験モードに設定する。
（２）試験を開始する。
（３）カードコントローラ２４から試験カード３１に信号が送信される。
（４）折返し部５９で信号が折り返され、試験カードからカードコントローラ２４に送信される。
（５）カードコントローラ２４で、送信信号と折り返し信号が比較され、一致すれば、正常応答をＣＰＵ２１に送出する。
（６）ＣＰＵ２１は、その結果を表示部等に出力する。
また、折返し部５９は、接続部３２に設けてもよい。
また、以上の実施例の他にも、試験カード３１に接続部３２を搭載する構成も可能である。この構成により、試験カード３１と接続部３２が一体となるため、試験カード３１と接続部３２間のケーブル５６等が削除でき、また、試験の際の操作性もよくなる。
また、カードＡ３３または、カードＢ３４の代わりに、エミュレータを試験カード３１に接続して、電子機器２と試験カード３１の接続を確認することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】従来例のマルチカードスロットを用いたカードの試験方式の説明図
【図２】マルチカードスロット試験システムの構成図１
【図３】試験カードの構成図
【図４】切替回路の構成図１
【図５】試験カードの構造の説明図１
【図６】マルチカードスロットに挿入された状態の試験カードの説明図
【図７】試験カードの構造の説明図２
【図８】試験カードの構造の説明図３
【図９】試験カードの構造の説明図４
【図１０】マルチカードスロット試験システムの動作説明図
【図１１】マルチカードスロット試験システムの構成図２
【図１２】切替回路の構成図２
【図１３】切替指示検出回路の動作説明図
【図１４】マルチカードスロット試験システムの構成図３
【図１５】マルチカードスロット試験システムの構成図４
【図１６】マルチカードスロット試験システムの構成図５
【符号の説明】
【００５９】
１  マルチカードスロット試験システム
２  電子機器
３  試験装置
４  導通測定器
２１  ＣＰＵ
２２  記憶装置
２３  Ｉ／Ｏコントローラ
２４  カードコントローラ
２５  マルチカードスロット
３１  試験カード
３２  接続部
３３  カードＡ
３４  カードＢ
３５  切替回路
３６  制御回路
３７  切替指示検出回路
４１、４２  接続端子
４３  配線部
５１  Ａ接点部
５２  B接点部
５３  配線パターンＡ
５４  配線パターンＢ
５５  コネクタ
５６  ケーブル
５７  第１の端子
５８  第２の端子
５９  折返し部
６１  擬似カードＡ
６２  擬似カードＢ
６３  弾性体
６５  導線
６６  カードコネクタＡ
６７  カードコネクタＢ
６８、６９ プローブ
８１〜８３、９１〜９３  スイッチ素子
９４  溝
９５  突起
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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