(57)【要約】【課題】ベリファイ付きデータライトと交替処理を行う記録再生システムにおいて、ディスク状記録媒体に生じた傷などに起因した欠陥区間を予測して無駄なデータライト・ベリファイ処理の省略化を図る。【解決手段】一般的にディスク上の欠陥は径方向に生じる。このため、記録トラックがスパイラル状に形成され且つクラスタ長が固定とされる場合、数トラックの範囲内では、同じ欠陥による影響は数クラスタごとに周期的に現れる。そこで過去の欠陥クラスタの出現パターンから同じ欠陥の影響を受けるクラスタを予測し、そのクラスタに記録されるべきデータを交替させる。これにより、欠陥と予測されるクラスタについての無駄なデータライト・ベリファイ処理を省略することができる。【選択図】図３
2009199636.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク状記録媒体に対するデータの記録再生を行う記録再生装置として、上記記録媒体上の所定領域内におけるデータライト又はデータライト後のベリファイに失敗した場合に、上記記録媒体上にて設定された交替領域に対するデータ交替処理を行う記録再生装置であって、
上記記録媒体に対するデータライトを行う記録手段と、
上記記録媒体に記録されたデータの再生を行う再生手段と、
上記記録媒体に対するライトエラー又はベリファイエラーを検出して欠陥検出を行う欠陥検出手段と、
上記欠陥検出手段の検出結果に基づき登録した過去の欠陥区間の出現パターンに基づき、新たにデータライト又はベリファイの対象とする対象区間についての欠陥予測処理を行うと共に、当該予測処理により上記対象区間が欠陥区間であると予測した場合に、当該予測された欠陥区間に記録すべきであったデータの上記交替領域に対する交替処理が実行されるように上記記録手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
上記制御手段は、
上記対象区間よりもデータライト又はベリファイの順序的に手前側で検出された直近の２つの欠陥区間と上記対象区間のそれぞれ配列関係が、上記記録媒体の径方向に生じた同一の欠陥の影響を受ける配列関係となっているか否かを判別することで、上記対象区間についての欠陥予測処理を行う、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項３】
上記制御手段は、
上記対象区間の直前の欠陥区間とその１つ前の欠陥区間との配列関係と、上記直前の欠陥区間と上記対象区間との配列関係とが共にトラック１周分の長さを基準として定義した所定の配列関係となっているか否かを判別することで、上記対象区間についての欠陥予測を行う、
ことを特徴とする請求項２に記載の記録再生装置。
【請求項４】
上記データライト又はベリファイは固定長のクラスタ単位で行われるものとされて上記対象区間及び上記欠陥区間がそれぞれ１クラスタの区間長を有しており、
上記制御手段は、
上記対象区間としてのクラスタ、又は上記直前の欠陥区間としてのクラスタ、又は上記直前の欠陥区間の１つ前の欠陥区間としてのクラスタの少なくとも何れかのクラスタが存在する位置でのトラック１周分の長さの情報と、上記クラスタの長さの情報とから求まる、トラック１周あたりに含まれるクラスタ数の情報と、
上記対象区間としてのクラスタのクラスタナンバ、及び上記対象区間の直前の欠陥区間としてのクラスタのクラスタナンバ、及び上記直前の欠陥区間の１つ前の欠陥区間としてのクラスタのクラスタナンバの情報とを用いて上記対象区間についての欠陥予測処理を行う、
ことを特徴とする請求項３に記載の記録再生装置。
【請求項５】
上記制御手段は、
上記対象区間としてのクラスタが存在する位置におけるトラック１周あたりに含まれるクラスタ数をＳ、
上記対象区間としてのクラスタのクラスタナンバをＯ、
上記対象区間の直前の欠陥区間としてのクラスタのクラスタナンバをＮ、
上記直前の欠陥区間の１つ前の欠陥区間としてのクラスタのクラスタナンバをＭとしたとき、
Ｉｎｔ(Ｎ−Ｓ)≦Ｍ≦Ｉｎｔ(Ｎ−Ｓ＋１)
及び
Ｉｎｔ(Ｎ＋Ｓ)≦Ｏ≦Ｉｎｔ(Ｎ＋Ｓ＋１)
（但し、「Ｉｎｔ( )」は整数への切り捨て演算子である）
による条件を満たすか否かを判別することで上記対象区間についての欠陥予測処理を行う、
ことを特徴とする請求項４に記載の記録再生装置。
【請求項６】
上記制御手段は、
上記欠陥検出手段により欠陥が検出された欠陥区間と、上記欠陥予測により欠陥と予測された欠陥クラスタに記録すべきであったデータについて上記交替領域への交替処理が実行されるように制御を行うと共に、
当該交替処理を実行させるにあたり、上記欠陥検出手段の検出結果に基づき登録した過去の上記交替領域内での欠陥区間の出現パターンに基づき、新たに交替対象とする交替対象区間についての欠陥予測処理を行うと共に、当該予測処理により上記交替対象区間が欠陥区間であると予測した場合は、次に交替の対象とする交替対象区間に対してデータライトを実行するように上記記録手段を制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項７】
ディスク状記録媒体に対するデータの記録再生を行う記録再生装置として、上記記録媒体上の所定領域内におけるデータライト又はデータライト後のベリファイに失敗した場合に、上記記録媒体上にて設定された交替領域に対するデータ交替処理を行う記録再生装置におけるデータ交替方法であって、
過去の欠陥区間の出現パターンに基づき、新たにデータライト又はベリファイの対象とする対象区間についての欠陥予測処理を行うと共に、当該予測処理により上記対象区間が欠陥区間であると予測した場合に、当該予測された欠陥区間に記録すべきであったデータの上記交替領域に対する交替処理を実行する、
ことを特徴とするデータ交替方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスク状記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置として、特にデータライト又はデータライト後のベリファイに失敗した場合に交替領域に対するデータ交替処理を実行するようにされた記録再生装置と、そのような記録再生装置におけるデータ交替方法とに関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルデータを記録・再生するための技術として、例えばＣＤ（Compact Disc），ＭＤ（Mini-Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などの、光ディスク記録媒体（光磁気ディスク記録媒体を含む）を記録メディアに用いたデータ記録技術がある。光ディスク記録媒体（単に光ディスクとも称する）とは、金属薄板（反射膜）をプラスチックで保護した円盤にレーザ光を照射し、その反射光の変化で信号の読み取りが行われる記録メディアの総称である。
【０００３】
光ディスクには、例えばＣＤ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＢＤ−ＲＯＭなどとして知られているように再生専用タイプのものと、ＭＤ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥなどで知られるようにユーザーデータが記録可能なタイプがある。記録可能タイプのものは、光磁気記録方式、相変化記録方式、色素膜変化記録方式などが用いられることで、データが記録可能とされる。色素膜変化記録方式はライトワンス記録方式とも呼ばれ、一度だけデータ記録が可能で書換不能であるため、データ保存用途などに好適とされる。一方、光磁気記録方式や相変化記録方式は、データの書換が可能な方式である。
【０００４】
ここで、光ディスクとして記録可能タイプのディスクに対応して記録再生を行う記録再生装置では、データライト後に正しくデータがライトされたか否かをチェックするためのベリファイ処理を行うものがある。
また、このように記録可能タイプの光ディスクについて記録再生を行う記録再生装置としては、対象とする区間に対するデータライト、又はデータライト後のベリファイに失敗した場合に、その対象区間にライトすべきデータを光ディスク上に設定した所定の交替領域に対してライトするという、いわゆる交替処理を行うようにされたものもある。
【０００５】
このようにベリファイ付きのデータライトを行う場合における交替処理の具体的な例について、次の図１１を参照して説明する。
先ず前提として、この場合のデータライト、ベリファイ処理は、１クラスタを最小単位として行われるものとする。光ディスク上には、ユーザデータ（例えば映像や音楽などコンテンツとして記録されるべきデータ）が記録されるべきユーザ領域と、該ユーザ領域に対するデータライト、又はデータライト後のベリファイに失敗した場合にデータが記録されるべき交替領域とが設定されている。
【０００６】
この図１１では、ユーザ領域内におけるクラスタNO.がＵ０〜Ｕ１４までの計１５クラスタ分の区間に対するデータライト指令があった場合を例示している。このような指令に応じ、先ずは<１>と示されるように、ユーザ領域におけるクラスタNO.「Ｕ０」から「Ｕ１４」のクラスタに対するデータライトが開始される。ここで、データライト時には、例えばライト時に得られる反射光情報などに基づいてライトエラーの検出処理が並行して行われる。
【０００７】
データライト開始後において、例えば図示するようにしてユーザ領域クラスタNO.「Ｕ２」のクラスタ（以下、クラスタ（Ｕ２）のように表記する）に対するデータライトに失敗したとする。このようにデータライトのエラーが検出された場合は、データライトは一時停止し、該ライトエラーが検出されたクラスタの直前のクラスタまでのベリファイを行った後に、ライトエラーが検出されたクラスタに記録すべきであったデータ（交替対象データと呼ぶ）の交替処理を行うものとなる。
具体的に、この場合はライトエラーが検出されたクラスタ（Ｕ２）の直前のクラスタ（Ｕ１）までのクラスタについてベリファイを行い、その後にライトエラーとなったクラスタ（Ｕ２）のデータについての交替処理を行う。
ここでは、クラスタ（Ｕ１）までのベリファイが成功し（図中<２>）、クラスタ（Ｕ２）のデータの交替処理が行われたものとする。そしてこのとき、交替処理は、交替領域におけるクラスタ（Ｒ０）を対象として行われたとする。この場合、交替処理についてもベリファイ付きライトを行うものとされ、図中の<２><３>と示すように、クラスタ（Ｒ０）に対するライト・ベリファイ共に成功したとする。
【０００８】
ここで、ライトエラーが検出された場合は、直ちにライトエラーとなったクラスタのデータを交替するという手法を採ることも不可能ではないが、上記のようにして、先ずはライトエラーとなったクラスタの直前のクラスタまでのベリファイを行うものとすれば、仮にクラスタ（Ｕ０）やクラスタ（Ｕ１）でベリファイエラーが検出された場合に、これらのクラスタのデータを優先的に交替することができる。つまり、クラスタNO.のより小さなクラスタのデータを優先的に交替させているものであって、このことにより、ライトエラーが検出されたよりクラスタNO.の大きなクラスタのデータの交替によって交替領域が使い切られてしまったときに、クラスタNO.のより小さなベリファイエラークラスタのデータが交替できなくなってしまうといった事態の発生を防止できるものである。
【０００９】
なお、上記のようなライトエラークラスタの直前のクラスタまでのベリファイについて、図中では対象とする全てのクラスタ（図の例ではクラスタ（Ｕ０）とクラスタ（Ｕ１））のベリファイに成功する例を示しているが、このときベリファイエラーとなるクラスタが検出された場合は、そのクラスタのデータの交替処理を行った後に、次のクラスタNO.のクラスタのベリファイを行うことになる。つまり、ベリファイエラーが検出されるごとに逐次、交替処理を実行する。
【００１０】
また、図示は省略したが、交替領域において、データライト、又はデータライト後のベリファイに失敗した場合は、別途、他の交替領域クラスタを確保し（例えば次のクラスタNO.のクラスタ）、そのクラスタを対象とした交替対象データのライト、ベリファイ処理を実行する。以降、データライト及びベリファイに成功するまで、繰り返し次のクラスタへのデータライト、ベリファイが実行される。
ここでは説明の便宜上、交替領域に欠陥箇所が存在せず、全ての交替領域クラスタでデータライト、ベリファイが成功する場合を例示している。
【００１１】
説明を戻し、上記クラスタ（Ｕ２）のデータを交替した後には、図中<５>と示すように、ユーザ領域における次のクラスタ（Ｕ３）からクラスタ（Ｕ１４）にかけて、続きのデータについてのデータライトを再開する。ここでは、これらクラスタ（Ｕ３）〜（Ｕ１４）へのデータライトが全て成功した場合を例示している。
【００１２】
データライト完了後は、最後のライトエラークラスタの次のクラスタからのベリファイを実行する。つまりこの場合は、クラスタ（Ｕ２）の次のクラスタ（Ｕ３）からベリファイを実行する。
【００１３】
ここで、図中<６>と示すように、上記クラスタ（Ｕ３）から開始したベリファイが、クラスタ（Ｕ３）（Ｕ４）で共に成功したとする。そしてその後、次のクラスタ（Ｕ５）についてのベリファイは失敗したとする。
このようにベリファイが失敗した欠陥クラスタについても、データ交替処理が行われる。すなわち、クラスタ（Ｕ５）に記録すべきであったデータを、例えば先の交替処理で使用したクラスタ（Ｒ０）の次のクラスタ（Ｒ１）に対してライトし、そのベリファイ処理を実行する（<７><８>）。
【００１４】
交替処理が完了すると、ユーザ領域にて続きのクラスタからのベリファイ処理が再開される（<９>）。以降も、ベリファイに失敗した欠陥クラスタについては、そこに記録されるべきであったデータの交替処理が実行され、交替が完了した場合はユーザ領域でのベリファイが再開される、という動作が繰り返し行われることになる（図中<１０>〜<１７>）。
【００１５】
なお、関連する他の従来技術については下記の特許文献を挙げることができる。
【特許文献１】特開２００４−２６５４７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
ここで、通常、ライトエラー・ベリファイエラーの要因はディスク上に生じた傷などの影響によるものである場合が多い。そして、このような傷等による欠陥は、例えば図２に示されるようにしてディスクの径方向に生じる場合が殆どである。
【００１７】
このような径方向に生じる欠陥の影響は、トラック１周分の周期で現れるものとなる。このとき、例えば光ディスクとしてＢＤを想定した場合には、クラスタ長はディスク全域で固定長とされ、具体的にその区間長としては、最内周側でトラック１周に２クラスタとなるようにされている。このとき、トラックはスパイラル状に形成されていることから、外周側となるに従ってトラック１周に含まれるクラスタ数は徐々に増加していき、最外周側では１トラックに５クラスタが形成されるようになる。
例えば、先の図１１のユーザ領域は、１トラックにおよそ３クラスタが含まれている、若干内寄りの領域における様子を示したものであり、この場合、欠陥クラスタとしては、図１１に示されているように２クラスタおきに存在することになる。
【００１８】
このような一般的な欠陥が生じている場合において、図１１に示す従来手法としてのベリファイ付きデータライト・交替処理を行ったときには、クラスタ（Ｕ８）（Ｕ１１）（Ｕ１４）に対するライト・ベリファイの処理が無駄となることが分かる。
このようにして従来手法では、一般的な欠陥が生じていた場合に結果的に無駄なライト・ベリファイ処理が必要となることから、交替処理に多くの時間を要してしまうという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
そこで、本発明では以上のような問題点に鑑み、記録再生装置として以下のように構成することとした。
つまり、本発明の記録再生装置は、ディスク状記録媒体に対するデータの記録再生を行う記録再生装置として、上記記録媒体上の所定領域内におけるデータライト又はデータライト後のベリファイに失敗した場合に、上記記録媒体上にて設定された交替領域に対するデータ交替処理を行う記録再生装置であって、上記記録媒体に対するデータライトを行う記録手段を備える。
また、上記記録媒体に記録されたデータの再生を行う再生手段を備える。
また、上記記録媒体に対するライトエラー又はベリファイエラーを検出して欠陥検出を行う欠陥検出手段を備える。
さらに、上記欠陥検出手段の検出結果に基づき登録した過去の欠陥区間の出現パターンに基づき、新たにデータライト又はベリファイの対象とする対象区間についての欠陥予測処理を行うと共に、当該予測処理により上記対象区間が欠陥区間であると予測した場合に、当該予測された欠陥区間に記録すべきであったデータの上記交替領域に対する交替処理が実行されるように上記記録手段を制御する制御手段を備えるものである。
【００２０】
上記構成によれば、径方向に生じた一般的な欠陥が存在する場合に、過去の欠陥区間の出現パターンから同じ欠陥による影響を受ける区間を予測することができる。そして、欠陥と予測される区間については、該欠陥が予測された区間に記録すべきであったデータの交替処理を実行するものとしている。これにより、欠陥と予測される区間については、そのデータライト又はベリファイを省略することができる。
【発明の効果】
【００２１】
このようにして本発明によれば、欠陥と予測される区間についてはそのデータライト又はベリファイを省略することができる。つまりこれにより、ベリファイ付きのデータライトを行う場合における交替処理に要する時間の短縮化を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
[記録再生装置の構成]
図１は、本発明の一実施形態としての記録再生装置の内部構成を示したブロック図である。
この図に示される実施の形態としての記録再生装置は、光ディスク記録媒体として、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）についての記録再生が可能に構成される。なお、光ディスク記録媒体とは、例えばＣＤ（Compact Disc），ＭＤ（Mini-Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などのように、金属薄板をプラスチックで保護した円盤にレーザ光を照射し、その反射光の変化で信号の読み取りが行われる記録メディアを指すものである。
【００２３】
図１において、光ディスク記録媒体（以下、単にディスクと称する）５０としては、記録可能タイプのディスク（ライタブルディスク）となる。この場合、ディスク５０上にはウォブリング（蛇行）されたグルーブが内周から外周にかけてスパイラル状に形成され、このグルーブがトラック（記録トラック）とされる。グルーブのウォブリングによってはいわゆるＡＤＩＰ情報としてアドレス情報などが埋め込まれている。
【００２４】
ディスク５０は、図示しないターンテーブルに積載され、記録／再生動作時においてスピンドルモータ（ＳＰＭ）２によって線速度一定（ＣＬＶ）で回転駆動される。
そして光学ピックアップ（光学ヘッド）１によってディスク５０上のグルーブトラックのウォブリングとして埋め込まれたＡＤＩＰ情報の読み出しが行われる。
また記録時には光学ピックアップ１によってトラックにユーザデータがマークとして記録され、再生時には光学ピックアップ１によってマークにより記録されたデータの読み出しが行われる。
【００２５】
光学ピックアップ１内には、レーザ光源となるレーザダイオードや、反射光を検出するためのフォトディテクタ、レーザ光の出力端となる対物レンズ、レーザ光を対物レンズを介してディスク５０の記録面に照射し、またその反射光をフォトディテクタに導く光学系（後述する）が形成される。
【００２６】
光学ピックアップ１内において、対物レンズは二軸機構によってトラッキング方向及びフォーカス方向に移動可能に保持されている。
また光学ピックアップ１全体はスレッド機構３によりディスク半径方向に移動可能とされている。
また光学ピックアップ１におけるレーザダイオードはレーザドライバ１３からのドライブ信号（ドライブ電流）によってレーザ発光駆動される。
また、光学ピックアップ１内にはレーザ光の球面収差を補正するための球面収差機構が備えられており、後述するサーボ回路１１の制御によって球面収差補正が行われる。
【００２７】
ディスク５０からの反射光情報はフォトディテクタによって検出され、受光光量に応じた電気信号とされてマトリクス回路４に供給される。
マトリクス回路４には、フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データに相当する高周波信号（再生データ信号又はＲＦ信号）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号などを生成する。
さらに、グルーブのウォブリングに係る信号、すなわちウォブリング（ウォブル振幅）を検出する信号としてプッシュプル信号を生成する。
【００２８】
マトリクス回路４から出力される再生データ信号はリーダ／ライタ（ＲＷ）回路５へ、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号はサーボ回路１１へ、プッシュプル信号はウォブル回路８へ、それぞれ供給される。
【００２９】
リーダ／ライタ回路５は、再生データ信号（ＲＦ信号）についての２値化処理、ＰＬＬによる再生クロック生成処理等を行い、ディスク５０に記録された信号についての２値データ列を得る。２値データ列は、変復調回路６に対して供給される。
また、本実施の形態の場合、このリーダ／ライタ回路５には、データライトのエラー検出、ベリファイ処理を行った結果に基づき、ディスク５０上の欠陥を検出する欠陥検出部５ａが設けられる。この欠陥検出部５ａによる欠陥検出結果を表す情報は、システムコントローラ１０に供給される。
なおこの場合、ライトエラーの検出は、記録時におけるディスク５０からの反射光情報などに基づき行うことができる。
【００３０】
変復調回路６は、再生時のデコーダとしての機能と、記録時のエンコーダとしての機能とが与えられたものとなる。
再生時にはデコード処理として、再生クロックに基づいてランレングスリミテッドコードの復調処理を行う。
またＥＣＣエンコーダ／デコーダ７は、記録時にエラー訂正コードを付加するＥＣＣエンコード処理と、再生時にエラー訂正を行うＥＣＣデコード処理を行う。再生時には、変復調回路６で復調されたデータを内部メモリ（図示せず）に取り込んで、エラー検出／訂正処理及びデインターリーブ等の処理を行い、再生データを得る。
ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７で再生データにまでデコードされたデータは、システムコントローラ１０の指示に基づいて読み出され、ＡＶ（Audio-Visual）システム１００に転送される。
【００３１】
グルーブのウォブリングに係る信号としてマトリクス回路４から出力されるプッシュプル信号は、ウォブル回路８において処理される。ＡＤＩＰ情報としてのプッシュプル信号は、ウォブル回路８においてＡＤＩＰアドレスを構成するデータストリームに復調されてアドレスデコーダ９に供給される。
アドレスデコーダ９は、供給されるデータについてのデコードを行ってアドレス値を得て、これをシステムコントローラ１０に供給する。
またアドレスデコーダ９はウォブル回路８から供給されるウォブル信号を用いたＰＬＬ処理でクロックを生成し、例えば記録時のエンコードクロックとして各部に供給する。
【００３２】
記録時には、ＡＶシステム１００から記録データが転送されてくるが、その記録データはＥＣＣエンコーダ／デコーダ７におけるメモリに送られてバッファリングされる。
この場合、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７は、バファリングされた記録データのエンコード処理として、エラー訂正コード付加やインターリーブ、サブコード等の付加を行う。
またＥＣＣエンコードされたデータは、変復調回路６において例えばＲＬＬ（１−７）ＰＰ方式などの所定のランレングスリミテッド符号化処理（変調処理）が施され、リーダ／ライタ回路５に供給される。
記録時においてこれらのエンコード処理のための基準クロックとなるエンコードクロックは上述したようにウォブル信号から生成したクロックを用いる。
【００３３】
エンコード処理により生成された記録データは、リーダ／ライタ回路５で記録補償処理として、記録層の特性、レーザ光のスポット形状、記録線速度等に対する最適記録パワーの微調整やレーザドライブパルス波形の調整などが行われた後、レーザドライブパルスとしてレーザードライバ１３に送られる。
レーザドライバ１３では供給されたレーザドライブパルスを光学ピックアップ１内のレーザダイオードに与え、レーザ発光駆動を行う。これによりディスク５０に記録データに応じたマークが形成されることになる。
【００３４】
なお、レーザドライバ１３は、いわゆるＡＰＣ（Auto Power Control）回路を備え、光学ピックアップ１内に設けられたレーザパワーのモニタ用ディテクタの出力によりレーザ出力パワーをモニターしながらレーザーの出力が温度などによらず一定になるように制御する。
記録時及び再生時のレーザー出力の目標値（記録レーザパワー／再生レーザパワー）はシステムコントローラ１０から与えられ、記録時及び再生時にはそれぞれレーザ出力レベルが、その目標値になるように制御する。
【００３５】
サーボ回路１１は、マトリクス回路４からのフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号から、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。
すなわちフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号に応じてフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号を生成し、光学ピックアップ１内の二軸機構のフォーカスコイル、トラッキングコイルを駆動することになる。これによって光学ピックアップ１、マトリクス回路４、サーボ回路１１、二軸機構によるトラッキングサーボループ及びフォーカスサーボループが形成される。
【００３６】
またサーボ回路１１は、システムコントローラ１０からのトラックジャンプ指令に応じて、トラッキングサーボループをオフとし、ジャンプドライブ信号を出力することで、トラックジャンプ動作を実行させる。
【００３７】
またサーボ回路１１は、トラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号や、システムコントローラ１０からのアクセス実行制御などに基づいてスレッドドライブ信号を生成し、スレッド機構３を駆動する。スレッド機構３には、図示しないが、光学ピックアップ１を保持するメインシャフト、スレッドモータ、伝達ギア等による機構を有し、スレッドドライブ信号に応じてスレッドモータを駆動することで、光学ピックアップ１の所要のスライド移動が行なわれる。
【００３８】
またサーボ回路１１は、システムコントローラ１０からの指示に応じて、フォーカスサーボループにフォーカスバイアスを与える。
またサーボ回路１１は、システムコントローラ１０からの指示に応じて、光学ピックアップ１内における上述した球面収差補正機構に対して球面収差補正のための駆動信号を供給する。
【００３９】
スピンドルサーボ回路１２はスピンドルモータ２をＣＬＶ回転させる制御を行う。スピンドルサーボ回路１２は、ウォブル信号に対するＰＬＬ処理で生成されるクロックを、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得て、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、リーダ／ライタ回路５内のＰＬＬによって生成される再生クロック（デコード処理の基準となるクロック）が、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。そしてスピンドルサーボ回路１２は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１２は、システムコントローラ１０からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００４０】
以上のようなサーボ系及び記録再生系の各種動作はマイクロコンピュータで構成されるシステムコントローラ１０により制御される。
システムコントローラ１０は、ＡＶシステム１００からのコマンドに応じて各種処理を実行する。例えばＡＶシステム１００から書込命令（ライトコマンド）が出されると、システムコントローラ１０は、指示されたアドレスをターゲットアドレスとしてシーク動作制御を行う。すなわちサーボ回路１１に指令を出し、コマンドにより指定されたアドレスをターゲットとする光学ピックアップ１のアクセス動作を実行させる。また、これと共に、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７、変復調回路６により、ＡＶシステム１００から転送されてきたデータ（例えばＭＰＥＧ２などの各種方式のビデオデータや、オーディオデータ等）について上述したようにエンコード処理を実行させる。そして、上記のようにリーダ／ライタ回路５からのレーザドライブパルスがレーザドライバ１３に供給されることで、ディスク５０に対する記録が実行される。
【００４１】
また、例えばＡＶシステム１００からディスク５０に記録された或るデータの転送を求めるリードコマンドが供給された場合は、まず指示されたアドレスをターゲットとしてシーク動作制御を行う。その後、その指示されたデータ区間のデータをＡＶシステム１００に転送するために必要な制御を行う。すなわちディスク５０からのデータ読出を行い、リーダ／ライタ回路５、変復調回路６、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７におけるデコード／バッファリング等を実行させ、要求されたデータを転送する。
【００４２】
なお、これらのデータ記録再生時には、システムコントローラ１０は、ウォブル回路８及びアドレスデコーダ９によって検出されるＡＤＩＰアドレスを用いてアクセスや記録再生動作の制御を行うようにされる。
【００４３】
ここで、この図１の例ではＡＶシステム１００に接続される記録再生装置としたが、本発明の記録再生装置としては例えばパーソナルコンピュータ等と接続されるものとしてもよい。
或いは、他の機器に接続されない形態もあり得る。その場合は、操作部や表示部が設けられたり、データ入出力のインターフェース部位の構成が、図１とは異なるものとなる。つまり、ユーザ操作に応じて記録や再生が行われるとともに、各種データの入出力のための端子部が形成されればよい。
【００４４】
[本例で対象とするディスク状記録媒体]
ここで、本実施の形態の記録再生装置が記録再生の対象とするディスク５０は、先に述べたように記録トラックが内周から外周にかけてスパイラル状に形成されたものとなる。このような本例におけるディスク５０としては、その記録／再生の最小単位は「クラスタ」単位であるとする。クラスタは、物理的に固定長とされる。
【００４５】
本例のディスク５０において、クラスタ長は、次の図２の模式図に示されるようにして最内周部分において１トラックに２クラスタが収まるような長さに設定されている。上記もしているようにクラスタ長は固定であり、記録トラックとしては内周から外周にかけてスパイラル状に形成されている。このことから、本例のディスク５０においては、外周側となるに従って１トラック（トラック１周）に含まれるクラスタ数は徐々に増加していく傾向となる。この場合、最終的に最も外周となる部分では、１トラック内のクラスタ数が５つとなるようにされている。
【００４６】
また、このようなディスク５０に対しては、ユーザデータの記録を行うユーザデータ領域（ユーザ領域とも称する）と、ユーザ領域内の或るクラスタに対するデータライト、又はデータライト後のベリファイに失敗した場合に、そのクラスタに記録すべきであったデータを別途記録するための交替領域とが予め設定されている。
【００４７】
[本例のベリファイ付きデータライト・交替処理]
ここで、先にも述べたように、データライトやベリファイに失敗する原因としては、通常、ディスク上に生じた傷などの影響によるものである場合が多い。そしてこのような傷等による欠陥は、図２で例示されているようにディスクの径方向に生じる場合が殆どである。
図２では図示の都合上、トラックの幅が現実よりも極端に太く示されているので、トラック１本分外周に移動したときの、１トラック内に含まれるクラスタ数（小数点以下も含む）の増加する様子が誇張して示されたものとなっているが、実際には、トラックの幅は極小であるので、連続する数トラックの範囲内では１トラック内にほぼ同数のクラスタが含まれていると見なすことができる。例えば、最内周側において、連続する数トラックの範囲では、１トラック内に含まれるクラスタ数はほぼ「２」で同一と見なすことができる。或いは、さらに外周側に移動した部分での数トラックの範囲では、１トラック内のクラスタ数はほぼ「３」で同一であると見なすことができる。
このため、図２に示されるような一般的な欠陥が生じている場合、当該同じ欠陥の影響を受けるのは、１クラスタおきや２クラスタおきといった一定数のクラスタおきとなると見なすことができる。
本例では、このような一般的な欠陥が生じている場合の影響の現れ方に鑑み、過去の欠陥クラスタの出現パターンから同じ欠陥による影響を受けるクラスタ（欠陥クラスタ）を予測するものとしている。そして、欠陥クラスタであると予測される場合には、該欠陥予測クラスタについてのデータライト又はベリファイは省略し、そこに記録されるべきであったデータの交替処理を実行して、欠陥が予測される部分での無駄なデータライト、ベリファイ処理の省略化を図る。
【００４８】
ここで、図２に示すような一般的な径方向の欠陥が生じる場合、その影響はトラック１周ごと（１トラック長ごと）に現れるものとなる。但しこの場合、データライト・ベリファイの最小単位はクラスタ単位であるので、欠陥予測にあたっては、このように影響の現れる間隔をクラスタ数による間隔として捉える必要がある。
このように同じ欠陥の影響が現れる間隔をクラスタ数による間隔で捉える場合には、データライト・ベリファイの対象とするクラスタのディスク５０上における物理的な位置に応じて、１トラック内に含まれるクラスタ数が異なってくることを考慮に入れる必要がある。すなわち、最内周側では１トラック長は２クラスタ分の長さとなり、最外周側では１トラック長が５クラスタ分の長さになるといったように、ディスク５０上の位置により、１トラックに含まれるクラスタ数が異なるからである。
【００４９】
この点を考慮し、本例では欠陥クラスタの予測処理を以下のようにして行う。
図３は、本例の欠陥クラスタ予測処理について説明するための図として、ディスク５０上における連続した数クラスタの区間（クラスタＮ−３〜クラスタＮ＋３）を模式的に示した図である。
例えばこの図３に示されるように、中央に位置するクラスタＮが欠陥クラスタであると判明していたとする。このとき、欠陥部分は、クラスタＮの開始位置から終了位置までの間の何れかの部分となる。従って、可能性としては、図中の×印により示すように、クラスタＮの開始部分で欠陥となっているケースと、終了部分で欠陥となっているケースとを想定すればよい。
【００５０】
ここで、欠陥部分がクラスタＮの開始部分である場合、その手前側にて同一欠陥の影響を受けるのは、クラスタＮの開始位置から１トラック分手前側に戻った位置（図中Ｎ−Ｓの位置）となる。また、欠陥部分がクラスタＮの終了部分である場合、その手前側にて同一欠陥の影響を受けるのは、クラスタＮの終了位置（つまりクラスタＮ＋１の開始位置）から１トラック分手前側に戻った位置（図中Ｎ＋１−Ｓの位置）となる。
従って、クラスタＮが欠陥クラスタである場合、その手前側で同一欠陥による影響を受ける範囲は、図中の「Ｎ−Ｓ」〜「Ｎ＋１−Ｓ」までの範囲となる。
【００５１】
同様にして、同一欠陥による影響を受ける範囲として、クラスタＮより後側の範囲について考えてみると、欠陥部分がクラスタＮの開始部分である場合には、クラスタＮの開始位置から１トラック分後側に進んだ位置（図中Ｎ＋Ｓの位置）が影響を受ける。また、欠陥部分がクラスタＮの終了部分である場合は、クラスタＮの終了位置（クラスタＮ＋１の開始位置）から１トラック分後側に進んだ位置（図中Ｎ＋１＋Ｓの位置）が影響を受ける。従って、クラスタＮが欠陥クラスタである場合にその後側で同一欠陥による影響を受ける範囲は、「Ｎ＋Ｓ」〜「Ｎ＋１＋Ｓ」までの範囲となる。
【００５２】
このとき、クラスタＮが存在する位置における１トラックの長さ（トラック１周分の長さ）Ｔの値は、予め記録フォーマットにより定まっているので、例えば計算やテーブル情報を用いて求めることができる。そして、クラスタＮが存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数Ｓの値は、クラスタ長（Ｌとする）が固定であることから、Ｔ／Ｌにより求めることができる。
つまり、このようにして、
Ｌ：クラスタ長
Ｔ：クラスタＮが存在する位置における１トラックの長さ
Ｓ：クラスタＮが存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数
と定義したとき、それぞれの値は既知の値とできるものであり、従ってクラスタNO.（ナンバー）が内周側から外周側にかけて順に振られているとすれば、クラスタNO.「Ｎ」のクラスタに欠陥が生じた場合、その手前側で同一欠陥の影響を受ける範囲は上述の「Ｎ−Ｓ」〜「Ｎ＋１−Ｓ」までの範囲として求めることができ、また、後側で同一欠陥の影響を受ける範囲は「Ｎ＋Ｓ」〜「Ｎ＋１＋Ｓ」までの範囲として求めることができる。
【００５３】
ここで、先の図１１の説明によると、データライト・ベリファイ処理は、クラスタNO.の小さい方から順に行われるものとなっている。つまりこの場合、実際のエラー検出による欠陥クラスタが判明するのは、クラスタNO.が小さい方から順となり、従って図３で言えば、エラー検出で実際に欠陥と判明したクラスタＮより後方のクラスタのみを対象として欠陥予測を行っていくことになる。
また、この説明からも理解されるように、実際の欠陥予測は、クラスタ単位で行うものとなるが、図３のように「Ｎ＋Ｓ」、「Ｎ＋１＋Ｓ」そのものを計算した場合は、２つのクラスタに跨る範囲が予測されてしまうことがあり、クラスタ単位による欠陥予測を適正に行うことができない。これは、上記のＳ：クラスタＮが存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数の値が、小数点以下の数値をとり得ることによる。
【００５４】
そこで、実際の欠陥予測としては、以下のようにして行う。
すなわち、
Ｏ：新たなデータライト、又はベリファイの対象とするクラスタ（予測の対象となるクラスタ：対象クラスタ）のクラスタNO.
Ｎ：対象クラスタ（Ｏ）より前側で既に判明している欠陥クラスタのうち対象クラスタ（Ｏ）の直前となる欠陥クラスタのクラスタNO.
Ｍ：上記直前の欠陥クラスタ（Ｎ）の１つ前の欠陥クラスタのクラスタNO.
Ｓ：対象クラスタ（Ｏ）が存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数
としたとき、
Ｉｎｔ(Ｎ−Ｓ)≦Ｍ≦Ｉｎｔ(Ｎ−Ｓ＋１)  ・・・［式１］
Ｉｎｔ(Ｎ＋Ｓ)≦Ｏ≦Ｉｎｔ(Ｎ＋Ｓ＋１)  ・・・［式２］
による双方の条件を満たすか否かを判別することで、上記対象クラスタについての欠陥予測を行うものである。但し、上記［式１］［式２］において、Ｉｎｔ( )は整数への切り捨て演算子であり、該演算子により、クラスタ単位での予測が適正に行われるように図られるものである。
【００５５】
上記［式１］は、対象クラスタ（Ｏ）よりも前側において既に判明している２つの欠陥クラスタ（Ｎ）と欠陥クラスタ（Ｍ）の関係が、図２に示したような径方向の欠陥の影響を受けている関係となっているか否かを判別するための条件式となる。また、［式２］は、対象クラスタ（Ｏ）とその直前の欠陥クラスタ（Ｎ）との関係で、両者が径方向の同じ欠陥の影響を受けている関係となっているか否かを判別するための条件式となる。
従って、上記［式１］［式２］の双方が満足されるとき、生じている欠陥は図２に示したような一般的な欠陥であり、且つ、対象クラスタ（Ｏ）は、その同じ欠陥による影響を受けるクラスタ（欠陥予測クラスタと称する）であるとの予測が成り立つものである。
【００５６】
上記により説明した欠陥クラスタの予測処理を取り入れた、本実施の形態としてのベリファイ付きデータライト・交替処理の具体例について、次の図４を参照して説明する。
この図４では、ディスク５０上におけるユーザ領域内の複数クラスタにわたる区間、及び交替領域内の複数クラスタにわたる区間を模式的に示している。図４では、先の図１１の場合と同様に２クラスタおきに同一欠陥の影響を受ける場合を例示している。
【００５７】
先ず、この場合においても、例えばユーザ領域内におけるクラスタ（Ｕ０）〜クラスタ（Ｕ１４）までの１５クラスタ分の区間に対するデータライト指令があったとする。これに応じては、先ずは<１>と示すようにユーザ領域におけるクラスタ（Ｕ０）からクラスタ（Ｕ１４）にかけてのデータライトが開始される。データライト時には、例えばライト時に得られる反射光情報などに基づき、図１に示した欠陥検出部５ａによりライトエラーの検出処理が行われる。
【００５８】
データライト開始後において、上記ライトエラー検出処理により図示するようにしてクラスタ（Ｕ２）へのライトエラーが検出されたとする。このようにデータライトのエラーが検出された場合、該検出情報に基づき、図１に示したシステムコントローラ１０がデータライトを一時停止させる。そして、該ライトエラーが検出されたクラスタの直前のクラスタまでのベリファイを行った後に、ライトエラーが検出されたクラスタに記録すべきであったデータ（交替対象データと呼ぶ）の交替処理を行うものとなる。
具体的に、この場合としても、ライトエラーが検出されたクラスタ（Ｕ２）の直前のクラスタ（Ｕ１）までのクラスタについてベリファイを行い、その後にライトエラーとなったクラスタ（Ｕ２）のデータについての交替処理を行う。
先の図１の説明時に触れたように、ベリファイ処理は、欠陥検出部５ａにより行われ、そのエラー有無（つまりベリファイＯＫか否か）の情報がシステムコントローラ１０に対して供給される。
【００５９】
この場合も先の図１１と比較するために、クラスタ（Ｕ１）までのベリファイが成功し（図中<２>）、クラスタ（Ｕ２）のデータの交替処理が行われたものとする。
このとき、交替処理は、交替領域におけるクラスタ（Ｒ０）を対象として行われたとする。この場合、交替処理についてもベリファイ付きライトを行うものとされ、図中の<２><３>と示すように、クラスタ（Ｒ０）に対するライト・ベリファイ共に成功したとする。
【００６０】
なお、この説明からも理解されるように、本実施の形態においても、ライトエラーが検出された場合、直ちにライトエラーとなったクラスタのデータを交替するという手法を採るものとはせず、先ずはライトエラーとなったクラスタの直前のクラスタまでのベリファイを行うものとしている。このことで、仮にクラスタ（Ｕ０）やクラスタ（Ｕ１）でベリファイエラーが検出された場合に、これらのクラスタのデータを優先的に交替することができる。つまり、この場合としても、クラスタNO.のより小さなクラスタのデータを優先的に交替させていることで、ライトエラーが検出されたクラスタNO.のより大きなクラスタのデータの交替によって交替領域が使い切られてしまったときに、クラスタNO.のより小さなベリファイエラークラスタのデータが交替できなくなってしまうといった事態の発生を防止できるものである。
【００６１】
なお、この場合も、上記のようなライトエラークラスタの直前のクラスタまでのベリファイについては、対象とする全てのクラスタ（図の例ではクラスタ（Ｕ０）とクラスタ（Ｕ１））のベリファイに成功する例を示しているが、この際にベリファイエラーとなるクラスタが検出された場合は、そのクラスタのデータの交替処理を行った後に、次のクラスタNO.のクラスタのベリファイを行うことになる。つまり、ベリファイエラーが検出されるごとに逐次、交替処理を実行する。
【００６２】
また、この場合も図示は省略するが、交替領域において、データライト、又はデータライト後のベリファイに失敗した場合は、別途、他の交替領域クラスタを確保し（例えば次のクラスタNO.のクラスタ）、そのクラスタを対象とした交替対象データのライト、ベリファイ処理を実行する。以降、データライト及びベリファイに成功するまで、繰り返し次のクラスタへのデータライト、ベリファイが実行される。
【００６３】
説明を戻す。
上記のようにしてライトエラーが検出されたクラスタのデータを交替した後は、該ライトエラーが検出されたクラスタから最終クラスタ（つまりデータライト対象範囲における最後のクラスタ）までにかけて、続きのデータのライトを再開する。具体的にこの場合は、上記クラスタ（Ｕ２）のデータを交替した後は、図中<５>と示すように、ユーザ領域における次のクラスタ（Ｕ３）からクラスタ（Ｕ１４）にかけてデータライトを再開する。ここでも、これらクラスタ（Ｕ３）〜（Ｕ１４）へのデータライトが全て成功した場合を例示している。
【００６４】
データライト完了後は、最後のライトエラークラスタの次のクラスタからのベリファイを実行する。つまりこの場合は、クラスタ（Ｕ２）の次のクラスタ（Ｕ３）からベリファイを実行する。
【００６５】
図中<６>と示すように、上記クラスタ（Ｕ３）から開始したベリファイが、クラスタ（Ｕ３）（Ｕ４）で共に成功したとする。そしてその後、次のクラスタ（Ｕ５）についてのベリファイは失敗したとする。
本例の場合においても、ベリファイエラーが検出されたことに応じて、上記クラスタ（Ｕ５）に記録すべきであったデータを、欠陥対象データとして交替領域内にライトする。この場合、交替クラスタとしては、先のクラスタ（Ｕ２）についての交替処理に用いたクラスタ（Ｒ０）の次のクラスタ（Ｒ１）を確保し、該クラスタ（Ｒ１）に上記交替対象データを交替させる（<７><８>）。
【００６６】
ここで、クラスタ（Ｕ５）におけるベリファイが失敗したことに応じては、先にライトエラーが検出されたクラスタ（Ｕ２）を含めて、既に欠陥と判明した欠陥クラスタの数は「２」となる。すなわち、先の［式１］について言えば、直前の欠陥クラスタ（Ｎ）とその１つ前の欠陥クラスタ（Ｍ）のクラスタNO.の情報が得られた状態となる。換言すれば、このように既に判明している欠陥クラスタ数が「２」となったことに応じ、新たにデータライト又はベリファイの対象とするクラスタから、［式１］［式２］の条件による判別処理を開始することができる状態となる。
【００６７】
このことから、先の<７><８>によりクラスタ（Ｕ５）についての交替処理が完了して次のクラスタ（Ｕ６）のベリファイ処理を実行すべき状態となったことに応じて（つまりクラスタ（Ｕ６）が新たな対象クラスタとなったことに応じて）、<９>と示されるように、予測処理を開始する。つまり、当該クラスタ（Ｕ６）の予測処理としては、「Ｏ」の値を「Ｕ６」、「Ｎ」の値を「Ｕ５」、「Ｍ」の値を「Ｕ２」として、［式１］［式２］による条件が成立するか否かを判別する。
この場合、クラスタ（Ｕ６）としては、クラスタ（Ｕ５）に対し２クラスタの間隔が空けられてないことからも理解されるように、［式２］は成立せず、よってクラスタ（Ｕ６）が欠陥クラスタとして予測はされない。つまり、この場合は［式１］が成立するのみである。
このようにして対象クラスタが欠陥クラスタであると予測されなかった場合は、対象クラスタについて、実際に欠陥検出を行う。つまりこの場合、クラスタ（Ｕ６）についてはベリファイ処理を実行することになる。
【００６８】
上記クラスタ（Ｕ６）についてのベリファイが成功した場合、次のクラスタ（Ｕ７）についても、同様に欠陥予測処理を行う。すなわち、「Ｏ」の値を「Ｕ７」、「Ｎ」の値を「Ｕ５」、「Ｍ」の値を「Ｕ２」として［式１］［式２］による条件が成立するか否かを判別する。図からも明らかなように、このクラスタ（Ｕ７）についての予測処理としても［式２］は成立しないものとなり、よってクラスタ（Ｕ７）についても実際にベリファイ処理を実行することになる。これにより、図中<１０>と示すように、クラスタ（Ｕ６）、クラスタ（Ｕ７）についてはベリファイ処理が実行される。
【００６９】
クラスタ（Ｕ７）についてのベリファイが成功した場合は、次のクラスタ（Ｕ８）についての予測処理が実行されるが、このクラスタ（Ｕ８）については、［式１］と共に［式２］も成立するものとなるので、欠陥クラスタであるとの予測が行われる（<１１>）。このように欠陥クラスタであると予測された場合には、対象クラスタ（クラスタ（Ｕ８））に記録すべきであったデータについての交替処理を実行する（<１２><１３>）。
【００７０】
以降も同様に、対象クラスタについて［式１］［式２］による条件の成立有無について判別し、その結果対象クラスタが欠陥クラスタであると予測されなかった場合には欠陥検出としてのベリファイ処理を実行し、ベリファイがＯＫであった場合には次のクラスタを対象クラスタとして予測処理を行う（図中<１４>と<１８>）。この場合も、ベリファイがエラーとなった場合には、対象クラスタに記録すべきであったデータの交替処理を行うことになる。
また、対象クラスタが欠陥クラスタであると予測した場合には、欠陥検出としてのベリファイ処理を行うことなく、対象クラスタに記録すべきであったデータの交替処理を実行する（図中<１５>〜<１７>、<１９>〜<２１>）。交替処理が成功した場合は次のユーザ領域クラスタを対象とした予測処理を行う。
このような動作を繰り返し実行し、ライトコマンドにより指定された全データについての（つまりこの場合はクラスタ（Ｕ１４）までの）ベリファイ付きデータライトを完了する。
【００７１】
なお、確認のために述べておくと、予測処理における「既に判明している欠陥クラスタ」とは、予測された欠陥クラスタも含むものである。すなわち、図４におけるクラスタ（Ｕ９）、クラスタ（Ｕ１０）、クラスタ（Ｕ１１）についての予測処理において、「直前の欠陥クラスタ（Ｎ）」「その１つ前の欠陥クラスタ（Ｍ）」とは、それぞれクラスタ（Ｕ８）、クラスタ（Ｕ５）を指すものとなる。
同様にして、クラスタ（Ｕ１２）、クラスタ（Ｕ１３）、クラスタ（Ｕ１４）についての予測処理において、「直前の欠陥クラスタ（Ｎ）」「その１つ前の欠陥クラスタ（Ｍ）」はそれぞれクラスタ（Ｕ１１）、クラスタ（Ｕ８）を指すものとなる。
【００７２】
ここで、図４においては、ライトエラーが検出されるクラスタがクラスタ（Ｕ２）のみで、データライト時には欠陥予測処理が行われない場合を例示したが、当然のことながらデータライト時においても、新たにデータライトの対象としたクラスタよりも前に、既に欠陥と判明しているクラスタが２以上あるときには、当該新たに対象としたクラスタについて欠陥予測処理を行うものとなる。
このようなデータライト時の予測処理により欠陥であると予測された場合に対応しては、対象としたクラスタの直前のクラスタまでのベリファイを行った後に、該対象とするクラスタのデータについての交替処理を行う。つまり、このような動作が行われることで、欠陥であると予測されたクラスタについて、無駄なデータライト処理が省略されるものとなる。
一方、データライトの対象としたクラスタが欠陥であると予測されなかった場合は、該対象とするクラスタについて実際にデータライトを行うことになる。
【００７３】
ところで、図４では説明の便宜上、交替領域内に欠陥が生じていない場合を例示したが、当然のことながら交替領域においても欠陥が生じる場合がある。そこで、本実施の形態では、交替領域内におけるベリファイ付きデータライト処理についても同様の欠陥予測処理を取り入れるものとしている。
本例の欠陥予測処理を取り入れた交替領域におけるベリファイ付きデータライト処理を次の図５を参照して説明する。なお、図５においてもディスク５０上におけるユーザ領域と交替領域とを模式的に示している。この図５では交替領域内において１クラスタおきに同一欠陥の影響が生じているものとする。
【００７４】
先ず、図中の<１>と示すようにして、ユーザ領域における或るクラスタ（クラスタ（Ｕｎ））についてデータライトエラー又はベリファイエラーが検出され（欠陥が検出され）、該クラスタ（Ｕｎ）に記録すべきであったデータについての交替処理を実行すべき状態になったとする。この場合、交替処理は、<２><３>と示すように、交替領域内のクラスタ（Ｒ０）を対象として行われたとし、且つ該クラスタ（Ｒ０）へのデータライト・ベリファイが共に成功したとする。
【００７５】
その後、<４>と示すようにユーザ領域における別のクラスタ（Ｕｏ）にて欠陥が検出され、該クラスタ（Ｕｏ）に記録すべきであったデータについて交替すべき状態となったとする。
これに応じては、交替対象クラスタとして、先のクラスタ（Ｒ０）の次のクラスタ（Ｒ１）を確保し、該クラスタ（Ｒ１）に対するデータライトを開始する。
【００７６】
このとき、<５>と示すように上記クラスタ（Ｒ１）に対するデータライトが失敗したとする。交替領域において、このようにデータライトに失敗した場合は、先に述べたようにして新たな交替対象クラスタとして次のクラスタ（クラスタ（Ｕ２））を確保し、該交替対象クラスタに対するデータライト及びデータライト後のベリファイを行う（図中<６><７>）。ここでは、該クラスタ（Ｒ２）へのデータライト・ベリファイが共に成功したとする。これにより、クラスタ（Ｕｏ）に記録されるべきであったデータについての交替処理は終了となる。
【００７７】
続いて、ユーザ領域におけるさらに別のクラスタ（Ｕｐ）にて欠陥が検出され（図中<８>）、交替領域における新たなクラスタ（Ｒ３）を対象とした交替処理が実行されたとする。そしてこのとき、該クラスタ（Ｒ３）に対するデータライトは成功したが、ベリファイに失敗したとする（図中<９><１０>）。
このようにクラスタ（Ｒ３）にて欠陥が検出されたことに応じては、新たな交替対象クラスタ（クラスタ（Ｒ４））を確保し、該交替対象クラスタに対しデータライトを行うべきものとなるが、上記クラスタ（Ｒ３）にて欠陥が検出された時点で、既に欠陥クラスタとして判明しているクラスタ数は「２」となる。すなわち、この図の例では、該クラスタ（Ｒ４）以降で本例の予測処理を開始することになる（図中<１１>）。
【００７８】
具体的に、クラスタ（Ｒ４）以降のクラスタでは、交替対象データのライトを開始する前に、先の［式１］［式２］による条件が成立するか否かについての判別を行い、条件が成立するとした場合は交替対象クラスタについてのデータライト・ベリファイは省略し、さらに次のクラスタを交替対象クラスタとして確保する。一方、条件が成立しないと判別した場合は、通常どおり交替対象クラスタに対するデータライト、その後のベリファイ処理を実行する。
【００７９】
この場合、クラスタ（Ｒ４）は先のクラスタ（Ｒ１）,（Ｒ３）と同じ欠陥による影響を受けないものとなるので、上記の予測処理によって欠陥クラスタであると予測されることはない。このため、クラスタ（Ｒ４）に対するデータライト・ベリファイ処理が実行される。クラスタ（Ｒ４）に対するデータライト、ベリファイは共に成功したとする（図中<１２><１３>）。
【００８０】
次に、<１４>と示すようにユーザ領域のクラスタ（Ｕｑ）にて新たにライトエラー又はベリファイエラーが検出されたとする。これに応じては、先のクラスタ（Ｒ４）の次のクラスタ（Ｒ５）を新たな交替対象クラスタとして確保し、該クラスタ（Ｒ５）についての欠陥予測処理を行う。クラスタ（Ｒ５）はクラスタ（Ｒ１）,（Ｒ３）と同じ欠陥の影響を受けるので、欠陥クラスタと予測される（図中<１５>）。上記もしているように、欠陥クラスタと予測された場合は、対象クラスタに対するデータライト・ベリファイ処理が省略され、次のクラスタ（この場合はクラスタ（Ｒ６））を新たな交替対象クラスタとして確保する。
新たに確保したクラスタ（Ｒ６）は、クラスタ（Ｒ３）,（Ｒ５）と同じ欠陥による影響は受けないので、該クラスタ（Ｒ６）についての欠陥予測処理で欠陥クラスタであると予測はされない。従って該クラスタ（Ｒ６）についてはデータライト・ベリファイ処理を行う。<１６><１７>と示すように、該クラスタ（Ｒ６）へのデータライト、ベリファイは共に成功したとする。
【００８１】
以降も同様に、ユーザ領域における欠陥クラスタについて交替処理を行うとして新たな交替対象クラスタを確保したことに応じては、該確保した交替対象クラスタを「クラスタ（Ｏ）」として先の［式１］「式２」に基づく欠陥予測処理を行い、交替対象クラスタが欠陥クラスタであると予測した場合には次のクラスタを新たな交替対象クラスタとして確保し、また、欠陥クラスタであると予測されない場合は交替対象クラスタに対する交替対象データのライト、その後のベリファイを行う（図中<１８>〜<２１>）。
【００８２】
なお、上記による説明では、ユーザ領域にて実際にライトエラー又はベリファイエラーが検出されて欠陥クラスタとされたクラスタについてのデータ交替処理を実行する場合のみを例示したが、先の図４の説明からも理解されるように、本例の場合には欠陥と予測されたクラスタ（欠陥予測クラスタ）のデータについても交替処理が行われることになる。
【００８３】
以上により説明した本例のベリファイ付きデータライト・交替処理により、従来手法を採る場合に問題となっていた、一般的な欠陥が生じた場合の無駄処理を省略することができる。具体的な比較として、従来手法について示した先の図１１と図４とを対比すると、本例の手法とする場合には、図４中に破線で囲った部分におけるベリファイ処理を省略できていることが分かる。
このように無駄な処理を省略できることで、ベリファイ付きデータライトが行われる場合の交替処理を高速化することができる。
【００８４】
また、本例では、交替領域内においても同様の欠陥クラスタ予測を行い、欠陥と予測されたクラスタについてのデータライト・ベリファイ処理を省略するものとしているが、このことによっても、ベリファイ付きデータライトを行う場合の交替処理の高速化が図られている。
【００８５】
[処理動作]
続いては、上記により説明した本実施の形態としてのベリファイ付きデータライト・交替処理を実現するために行われるべき処理動作について、次の図６〜図１０のフローチャートを参照して説明する。なお、これら図６〜図１０に示される処理動作は、図１に示したシステムコントローラ１０が例えば内部のＲＯＭ等のメモリに格納されたプログラムに基づき実行するものである。
【００８６】
これら図６〜図１０において、図６、図７は、実施の形態としてのベリファイ付きデータライト・交替処理を実現するための処理動作の全体的な流れを示している。そして図８〜図１０の各図は、図６、７の一連の処理において実行される欠陥予測処理の内容（図８）、ライトエラー発生時に対応して実行されるベリファイ処理の内容（図９）、交替処理の内容（図１０）をそれぞれ示す。
【００８７】
先ずは図６、図７を参照して全体的な処理の流れを説明する。
先ず、図６において、例えば図１に示したＡＶシステム１００からのライトコマンドに応じて、ユーザ領域内の所定区間を対象としたベリファイ付きデータライトを開始すべき状態となった場合には、ステップＳ１０１において、ｎ＝ベリファイ付きライト開始クラスタNO.に設定する。この「ｎ」の値は、システムコントローラ１０が、ライト・ベリファイの対象とするユーザ領域クラスタのクラスタNO.を識別するための値として、自らが設定する値となる。
【００８８】
次のステップＳ１０２では、クラスタｎより前に欠陥クラスタが２以上登録されているか否かについて判別処理を行う。つまり本例の場合は、クラスタｎのクラスタNO.よりも小さなクラスタNO.を有する欠陥クラスタが２以上登録されているか否かを判別するものである。
ステップＳ１０２において、クラスタｎより前の欠陥クラスタが２以上登録されてはいないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１０５に進んでクラスタｎのライト指示を行う。すなわち、クラスタｎをターゲットとした光学ピックアップ１のアクセス動作が実行されるようにサーボ回路１１に対する指示を行うと共に、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７、変復調回路６に対する指示によりＡＶシステム１００から転送されるデータについてのディスク５０への記録動作を開始させる。
そして、続くステップＳ１０６では、ライトエラーが発生したか否かについて判別処理を行う。この判別処理は、欠陥検出部５ａよりライトエラーが検出された旨の通知が為されたか否かを判別することで行う。ステップＳ１０６において、ライトエラーが検出されていないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１２に進み、クラスタｎが最終クラスタであるか否かについて判別処理を行う。すなわち、「ｎ」の値が上述したライトコマンドによりライトすべきとして指定された範囲内の最終クラスタのクラスタNO.の値となっているか否かを判別する。
このステップＳ１１２において、クラスタｎが最終クラスタであるとして肯定結果が得られた場合は、図７に示す一連の処理動作を実行するようにされる。一方、ステップＳ１１２においてクラスタｎが最終クラスタではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１３に進み、ｎ＝次にライトすべきクラスタNO.に設定する、すなわち本例の場合はｎの値を１インクリメントした後、先に説明したステップＳ１０２に戻るようにされる。
【００８９】
ここで、上記により説明した一連の処理の流れ（Ｓ１０２→Ｓ１０５→Ｓ１０６→Ｓ１１２→Ｓ１１３→Ｓ１０２）により、ライトに成功し続ける限りは、最終クラスタまで順次、次のクラスタを対象としたデータライトが行われるようになっている。
また、上記説明からも理解されるように、後の図７で説明する処理動作は、上記ステップＳ１１２においてクラスタｎが最終クラスタであるとして肯定結果が得られた場合、すなわち指定範囲へのデータライトが完了した後に実行される処理となる。ここで、先の図４を参照して理解されるように、最終クラスタまでのデータライトが完了した後には、ベリファイ処理が実行されるものとなる。具体的に、例えば図４のようにライトエラーが１箇所でも検出された場合には、ライトエラーが検出されたクラスタの次のクラスタからのベリファイを開始することになる。或いは、上記により説明した一連の流れのように最終クラスタまでライトに成功し続けた場合（つまりライトエラーが１箇所も検出されなかった場合）には、ベリファイ付きライト開始クラスタからのベリファイを開始することになる
このことからも理解されるように、上記ステップＳ１１２にて肯定結果が得られたことに応じて実行される図７の処理動作は、ライトエラーが１箇所でも検出された場合には該ライトエラーが検出されたクラスタの次のクラスタからのベリファイを開始し、また最終クラスタまでライトに成功し続けた場合にはベリファイ付きライト開始クラスタからのベリファイを開始するという動作を実現するような処理動作となるものである。
【００９０】
説明を戻す。
上述したステップＳ１０６において、ライトエラーが検出されたとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１０７に進み、クラスタｎを欠陥クラスタとして登録する処理を実行する。
【００９１】
上記ステップＳ１０７に続くステップＳ１０８・Ｓ１０９・Ｓ１１０の処理は、ライトエラーの検出に応じて、該ライトエラーが検出されたクラスタの直前のクラスタまでのベリファイ処理を行うための処理となる。
ここで、ライトエラーが検出されたクラスタがベリファイ付きライト開始クラスタであった場合には、ベリファイすべきクラスタは無いことになる。同様に、ライトエラーが検出されたクラスタの直前のクラスタが欠陥クラスタである場合にも、ベリファイすべきクラスタが無いことになる。
そこで、ステップＳ１１０によるクラスタｎの直前までのベリファイ処理を実行するに先立ち、クラスタｎ（この場合はライトエラーが検出されたクラスタとなる）がベリファイ付きライト開始クラスタであるか否かについての判別処理（Ｓ１０８）と、クラスタｎの直前が欠陥クラスタであるか否かについての判別処理（Ｓ１０９）とを実行するものとしている。
【００９２】
上記ステップＳ１０８において、ｎ＝ベリファイ付きライト開始クラスタNo.ではないとして否定結果が得られた場合には、ステップＳ１０９においてクラスタｎの直前が欠陥クラスタであるか否かについて判別処理を行う。そしてこのステップＳ１０９において、クラスタｎの直前が欠陥クラスタではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１０に進み、クラスタｎの直前までのベリファイ処理を実行する。
なお、このステップＳ１１０によるクラスタｎの直前までのベリファイ処理の内容については後に改めて説明する（図９）。
【００９３】
上記ステップＳ１１０によるベリファイ処理を実行すると、ステップＳ１１１において、クラスタｎのデータの交替処理を実行する。
なお、このステップＳ１１１による交替処理は、先の図５にて説明した動作と対応するものとなるが、このステップＳ１１１の交替処理の内容についても後に改めて説明する（図１０）。
【００９４】
一方、上記ステップＳ１０８にてｎ＝ベリファイ付きライト開始クラスタNO.であるとして肯定結果が得られた場合、又はステップＳ１０９にてクラスタｎの直前が欠陥クラスタであるとして肯定結果が得られた場合は、上記ステップＳ１１０のベリファイ処理はパスし、そのまま上記ステップＳ１１１の交替処理を実行する。
【００９５】
上記により説明した一連の処理の流れ（Ｓ１０６、Ｓ１０７、Ｓ１０８、Ｓ１０９、Ｓ１１０、Ｓ１１１）により、ライトエラーが検出された場合には、必要に応じてライトエラークラスタの直前のクラスタまでのベリファイ処理が実行された後、該ライトエラークラスタに記録されるべきであったデータについての交替処理が実行されるようになっている。
【００９６】
上記ステップＳ１１１の交替処理を実行すると、先に説明したステップＳ１１２において、クラスタｎが最終クラスタであるか否かについて判別処理を行う。先にも述べたように、クラスタｎが最終クラスタであった場合には図７に示す処理に進み、最終クラスタでなかった場合にはステップＳ１１３にてｎ＝次にライトすべきクラスタNO.とした後に、ステップＳ１０２に戻るようにされる。
【００９７】
ここで、上記ステップＳ１０２において、クラスタｎより前に欠陥クラスタが２以上登録されているとして肯定結果が得られた場合は、欠陥予測処理と該予測処理の結果に応じた処理が実行される。
先ず、ステップＳ１０２において肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１０３において、クラスタｎについて欠陥予測処理を実行する。
【００９８】
当該ステップＳ１０３による欠陥予測処理の内容は、図８に示すものとなる。
図８において、ステップＳ１０３の欠陥予測処理としては、先ずステップＳ２０１において、クラスタｎの直前の欠陥クラスタのNO.（［式１］［式２］中のＮ）と、その１つ前の欠陥クラスタのNO.（Ｍ）を取得する。
そして、続くステップＳ２０２において、クラスタｎのNO.から１トラックの長さＴの値を取得する。先にも述べたように、クラスタNO.の値が定まれば、そのクラスタが存在する位置での１トラックの長さＴの値が計算等により取得可能である。
【００９９】
さらに、次のステップＳ２０４においては、１クラスタの長さＬからＳの値（対象クラスタが存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数）を取得する。つまり、Ｓ＝Ｔ／Ｌによる計算を行って上記Ｓの値を取得する。
そして、続くステップＳ２０５において、［式１］［式２］を計算する。すなわち、クラスタｎのクラスタNO.を「Ｏ」として、Ｏ，Ｎ，Ｍ，Ｓの値を用いて［式１］［式２］を計算する。
【０１００】
図６に戻り、上記ステップＳ１０３による予測処理を実行すると、ステップＳ１０４において、クラスタｎが欠陥と予測されるか否かについて判別処理を行う。つまり、［式１］［式２］の双方の条件が満たされているか否かについて判別処理を行うものである。
ステップＳ１０４において、クラスタｎが欠陥と予測されないとして否定結果が得られた場合は、先に説明したステップＳ１０５に進み、クラスタｎのライト指示を行った後、ステップＳ１０６にてライトエラーの発生有無について判別する。ライトエラーの発生有無に応じて実行される処理動作については既に説明済みであるので改めの説明は省略する。
【０１０１】
一方、上記ステップＳ１０４において、クラスタｎが欠陥と予測されるとして肯定結果が得られた場合は、先に説明したステップＳ１０７に処理を進めて、クラスタｎをライト欠陥クラスタとして登録する。
なお、このステップＳ１０７以降の処理動作としても既に説明済みであるので改めての説明は省略する。このようにステップＳ１０４にて肯定結果が得られたことに応じてステップＳ１０７に進むという点からも理解されるように、新たに対象としたクラスタが欠陥であると予測された場合には、対象としたクラスタに対する無駄なデータライト処理を省略できるものとなる。
【０１０２】
続いて、図７により、図６に示したステップＳ１１２以降に実行されるべき処理動作について説明する。先の説明からも理解されるように、この図７に示される処理動作は、対象範囲内のデータライトが完了した後に、未ベリファイのクラスタについてベリファイを行うための処理となる。
【０１０３】
図７において、ステップＳ１１３では、ベリファイ付きライト開始クラスタ以降に欠陥クラスタがあるか否かについて判別処理を行う。
ベリファイ付きライト開始クラスタ以降に欠陥クラスタが無い場合、ベリファイはベリファイ付きライト開始クラスタから順に行っていく必要がある。従ってステップＳ１１３において否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１４において、ｎ＝ベリファイ付き開始クラスタNO.に設定する処理を実行する。すなわち、先ずはベリファイ付きライト開始クラスタをベリファイの対象に設定するものである。
ステップＳ１１４の処理を実行すると、ステップＳ１１７に処理を進める。
【０１０４】
一方、上記ステップＳ１１３において、ベリファイ付きライト開始クラスタ以降に欠陥クラスタがあるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１１５に進んで最終クラスタが欠陥クラスタであったか否かについて判別処理を行う。
ここで、データライト対象範囲における最終クラスタが欠陥クラスタ（つまりライトエラークラスタ）であった場合には、もはやベリファイすべきクラスタは存在しないことになる。つまり、最終クラスタがライトエラーであれば、先の図６のステップＳ１１０・Ｓ１１１によって、ライトエラークラスタの直前のクラスタまでのベリファイが実行され且つライトエラークラスタのデータの交替処理が完了した状態にあるからである。
従って上記ステップＳ１１５において最終クラスタが欠陥クラスタであるとして肯定結果が得られた場合は、図示するようにして処理動作を終了するようにされる。すなわち、本例としてのベリファイ付きデータライト・交替処理は終了となる。
【０１０５】
一方、上記ステップＳ１１５において、最終クラスタが欠陥クラスタではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１６においてｎ＝最後のライト欠陥クラスタの次のクラスタNO.に設定する。すなわち、ライトエラーが検出されていないクラスタで且つ未ベリファイのクラスタのうちの、先頭のクラスタをベリファイ対象として新たに設定するものである。
ステップＳ１１６の設定処理を実行すると、ステップＳ１１７に処理を進める。
【０１０６】
ステップＳ１１７では、クラスタｎより前に欠陥クラスタが２以上登録されているか否かについて判別処理を行う。当該ステップＳ１１７において、クラスタｎより前に欠陥クラスタが２以上登録されてはいないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１２０に進み、クラスタｎのベリファイ指示を行う。すなわち、クラスタｎをターゲットとしたアクセス動作が実行されるようにサーボ回路１１に対する指示を行うことで、クラスタｎの記録データについての再生動作を開始させ、欠陥検出部５ａによるクラスタｎの記録データについてのベリファイ処理を開始させる。
そして、続くステップＳ１２１において、ベリファイＯＫであるか否かについて判別を行う。すなわち、欠陥検出部５ａよりベリファイエラーが発生した旨の通知が行われなかったか否かについて判別する。
【０１０７】
ステップＳ１２１において、欠陥検出部５ａよりベリファイエラーが発生した旨の通知が無く、ベリファイＯＫであるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１２４に進み、クラスタｎは最終クラスタであるか否かについて判別処理を行う。このステップＳ１２４において、クラスタｎが最終クラスタであるとして肯定結果が得られた場合は、処理動作を終了するようにされる。
【０１０８】
また、上記ステップＳ１２４において、クラスタｎが最終クラスタではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１２５に進んでｎ＝次にベリファイすべきクラスタNO.に設定（この場合もｎを１インクリメント）した後、上述したステップＳ１１７に戻るようにされる。
【０１０９】
上記により説明した一連の処理の流れ（Ｓ１２１→Ｓ１２４→Ｓ１２５→Ｓ１１７）により、ベリファイに成功し続ける限りは最終クラスタまで順次、次のクラスタを対象としたベリファイが繰り返し実行されるようになっている。
【０１１０】
また、上記ステップＳ１２１において、欠陥検出部５ａよりベリファイエラーが発生した旨の通知が行われ、ベリファイＯＫではないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１２２に進んでクラスタｎを欠陥クラスタとして登録した後、ステップＳ１２３において、クラスタｎのデータの交替処理を実行する。そして、交替処理を実行すると、先に説明したステップＳ１２４において、クラスタｎが最終クラスタであるか否かを判別する。
【０１１１】
このようにして、ベリファイエラーが検出されたクラスタについては、そのベリファイエラークラスタを欠陥登録した上で、該ベリファイエラークラスタのデータについての交替処理が実行される。
なお、上記ステップＳ１２３による交替処理としても、先の図６に示したステップＳ１１１の交替処理と同様の処理を実行するものとなる。先に述べたように、本例の交替処理の内容については後述する。
【０１１２】
また、上述したステップＳ１１７において、クラスタｎより前に欠陥クラスタが２以上登録されているとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１１８に処理を進める。
ステップＳ１１８では、クラスタｎについての欠陥予測処理を実行する。このステップＳ１１８による欠陥予測処理の内容は、先に図８で説明したものと同様となる。
なお確認のために述べておくと、上記ステップＳ１１７における「欠陥クラスタ」とは、当然のことながらライト欠陥クラスタも含むものである。このことで、先の図４において説明したようにして、ベリファイ処理時にはベリファイエラー由来の欠陥クラスタとライトエラー由来の欠陥クラスタとの双方を含めた欠陥予測処理を行うことができるようになっている。同様に、図８に示されるステップＳ２０１における「欠陥クラスタ」としても、ライト欠陥クラスタを含むものであることは言うまでもない。なお、このことは、後に説明する図８のステップＳ３０４についても同様である。
【０１１３】
ステップＳ１１８による予測処理を実行すると、続くステップＳ１１９において、クラスタｎが欠陥と予測されるか否かについて判別処理を行う。
このステップＳ１１９において、クラスタｎが欠陥と予測されるとして肯定結果が得られた場合は、先に説明したステップＳ１２２に進み、クラスタｎを欠陥クラスタとして登録する。なお、ステップＳ１２２以降に実行される処理については既に説明済みであるので改めての説明は省略する。
上記のようにして、ステップＳ１１９にてクラスタｎが欠陥と予測された場合にステップＳ１２２に進むようにされていることから理解されるように、ベリファイ時においても、欠陥と予測されたクラスタについては、無駄なベリファイ処理を省略することができる。
【０１１４】
また、上記ステップＳ１１９において、クラスタｎが欠陥と予測されないとして否定結果が得られた場合は、先に説明したステップＳ１２０に進んでクラスタｎのベリファイ指示を行った後、ステップＳ１２１においてベリファイＯＫであるか否かを判別するようにされる。つまり、欠陥と予測されない場合には、実際にベリファイを行って欠陥であるか否かの判別を行うものである。
なお、ベリファイＯＫであるか否かに応じて実行される処理動作については既に説明済みであるので改めの説明は省略する。
【０１１５】
以上で説明した一連の処理により、データライト時、又はベリファイ時には、対象クラスタが欠陥クラスタと予測された場合に、該欠陥クラスタに対するデータライト、又はベリファイ処理を省略することができる。
【０１１６】
続いては、図９により、ステップＳ１１０による、クラスタｎの直前のクラスタまでのベリファイ処理の内容について説明する。
先の説明からも理解されるように、この図９に示す処理動作は、ライトエラーの検出に伴いデータライトが一時停止された後、当該ライトエラークラスタの直前のクラスタまでを対象としたベリファイを行うための処理動作となる。
【０１１７】
ここで、このようなライトエラークラスタの直前クラスタまでを対象としたベリファイ処理としては、当然のことながら、ベリファイ付きライト開始クラスタからライトエラークラスタまでの間に欠陥と検出されていないクラスタが存在するときに実行されるべきものとなる（例えば図４の<２>のケース）。或いは、データライト対象範囲内において既にライトエラーが検出されている場合には、この既出のライトエラークラスタから新たに検出されたライトエラークラスタまでの間に欠陥検出されていないクラスタが存在する場合に実行されるべきものとなる（例えば図４の<５>のデータライト中に、クラスタ（Ｕ５）で新たにライトエラークラスタが検出された場合など）。
このことに応じ、先の図６では、ステップＳ１０８、ステップＳ１０９により、それぞれｎ＝ベリファイ付きライト開始クラスタNO.か否か、クラスタｎの直前が欠陥クラスタか否かの判別を行った結果、双方で否定結果が得られた場合に、ステップＳ１１０によるクラスタｎの直前までのベリファイ処理を実行するようにされている。
【０１１８】
この前提を踏まえた上で、図９のベリファイ処理について説明する。
図９において、ステップＳ１１０のベリファイ処理としては、先ずステップＳ３０１において、ベリファイ付きライト開始クラスタ以降に欠陥クラスタがあるか否かについて判別処理を実行する。すなわち、図６のステップＳ１０７にて新たにライトエラー欠陥登録されたクラスタが、ベリファイ付きライト開始後において初出のライト欠陥クラスタではないか否かを判別するものである。
ステップＳ３０１において、ベリファイ付きライト開始クラスタ以降に欠陥クラスタがあるとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ３０２においてα＝ｎの直前の欠陥クラスタの次のクラスタNO.に設定する処理を実行する。つまり、例えば図４の<５>のデータライト中にクラスタ（Ｕ５）でライトエラーが検出された場合は、その直前の欠陥クラスタ（Ｕ２）の次のクラスタ（Ｕ３）のクラスタNO.を設定するものである。
一方、上記ステップＳ３０１において、ベリファイ付きライト開始クラスタ以降に欠陥クラスタはないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ３０３においてα＝ベリファイ付きライト開始クラスタNO.に設定する処理を実行する。すなわち、図４の<２>のベリファイ処理の開始時がこれに該当するものとなる。
【０１１９】
なお、上記ステップＳ３０２、Ｓ３０３において、「α」の値は、システムコントローラ１０がベリファイ処理の対象とするクラスタを識別するために自らが設定する値となる。
上記ステップＳ３０２、又はステップＳ３０３の処理を実行すると、ステップＳ３０４に処理を進める。
【０１２０】
このようにして、ベリファイ対象とする最初のクラスタのクラスタNO.を設定した以降の処理（Ｓ３０４〜Ｓ３１２）としては、先の図７にて説明したステップＳ１１７〜Ｓ１２５と同様となる。よって改めての説明は省略するものとする。
但し、この場合において、ｎ→αとなることは言うまでもない。また、図６のステップＳ１２４に対応するステップＳ３１１の処理では、α＝クラスタｎの直前のクラスタNO.であるか否かを判別するようにされる。つまりこの場合のベリファイ処理は、図６のステップＳ１０７にて新たにライト欠陥登録されたクラスタの直前クラスタまでを対象として実行されるべきものであるからである。
【０１２１】
この図９の処理動作からも理解されるように、本例では、ライト欠陥クラスタの直前クラスタまでのベリファイ処理についても、欠陥予測処理を取り入れるものとしている。すなわちこの場合においても、欠陥と予測されるクラスタについての無駄なベリファイ処理の省略が図られているものである。
【０１２２】
また、次の図１０により、ステップＳ１１１の交替処理について説明する。
図１０において、ステップＳ１１１の交替処理としては、先ずステップＳ４０１により、ｍ＝交替に使用すべき交替領域クラスタNO.に設定する処理を実行する。「ｍ」の値は、システムコントローラ１０が、データライト・ベリファイの対象とする交替領域クラスタのクラスタNO.を識別するための値として自らが設定する値となる。
【０１２３】
続くステップＳ４０２では、クラスタｍより前に欠陥クラスタが２以上登録されているか否かについて判別処理を行う。
ステップＳ４０２において、クラスタｍより前に欠陥クラスタが２以上登録されてはいないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ４０３に進み、クラスタｎのデータのクラスタｍへのライトを開始させるための処理を実行する。すなわち、クラスタｎに記録すべきであったデータ（交替対象データ）についての、クラスタｍへのライトが開始されるように、サーボ回路１１、ＥＣＣエンコーダ／デコーダ７、変復調回路６に対する指示を行う。
【０１２４】
次のステップＳ４０４では、ライトエラーが発生したか否かについて判別処理を行う。ライトエラーが発生していないとして否定結果が得られた場合はステップＳ４０５に進み、クラスタｍのベリファイ指示を行う。その上でステップＳ４０６では、ベリファイＯＫであるか否かについて判別処理を行う。ベリファイＯＫであるとして肯定結果が得られた場合は、この図に示される交替処理は終了となる。
【０１２５】
上記により説明した一連の処理の流れ（Ｓ４０３〜Ｓ４０６）により、クラスタｎのデータのライト後、そのベリファイがＯＫであった場合に該クラスタｎのデータについての交替処理が終了するようになっている。
【０１２６】
一方、上述したステップＳ４０４においてライトエラーが発生したとして肯定結果が得られた場合、又は上記ステップＳ４０６にてベリファイＯＫではないとして否定結果が得られた場合には、ステップＳ４０９において、クラスタｍを交替領域欠陥クラスタとして登録する処理を実行する。
そして、続くステップＳ４１０において、ｍ＝次に使用すべき交替領域クラスタNO.に設定（ｍを１インクリメント）した後、先のステップＳ４０２に戻るようにされる。
つまり、交替領域において、ライト、ベリファイに失敗した場合には、次の交替領域クラスタを新たな交替対象クラスタとして確保するようにされている。
【０１２７】
ここで、上記ステップＳ４０２において、クラスタｍより前に欠陥クラスタが２以上登録されているとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ４０７に進み、クラスタｍについての欠陥予測処理を実行（この場合も予測処理の内容は図８で説明したものと同様：但しｎ→ｍ、欠陥クラスタ→交替領域欠陥クラスタとする）した後、ステップＳ４０８において、クラスタｍが欠陥と予測されるか否かについて判別する。
このステップＳ４０８において、クラスタｍが欠陥と予測されるとして肯定結果が得られた場合は、先に説明したステップＳ４０９に進んでクラスタｍを交替領域欠陥クラスタとして登録した後、ステップＳ４１０のクラスタNO.更新処理を実行するようにされる。
これにより、交替領域においても、対象クラスタが欠陥クラスタと予測された場合に、該欠陥クラスタについてのデータライト・ベリファイ処理を省略することができる。
【０１２８】
一方、上記ステップＳ４０８において、クラスタｍが欠陥と予測されないとして否定結果が得られた場合は、先に説明したステップＳ４０３に進んでクラスタｍへのライト指示を行う。これにより、対象とした交替領域クラスタが欠陥予測クラスタでない場合には、そのクラスタについて先に説明したデータライト以降の処理が実行されることになる。
【０１２９】
[変形例]
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでに説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば、これまでの説明では、［式１］［式２］で用いる「Ｓ」の値を、対象クラスタ（Ｏ）が存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数としたが、これに代えて、対象クラスタの直前の欠陥クラスタ（Ｎ）が存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数、或いはその１つ前の欠陥クラスタ（Ｍ）が存在する位置における１トラック内に含まれるクラスタ数を用いるものとしてもよい。
先にも述べたように、実際のトラック幅は極小であるため、連続する数トラックの範囲内にて各トラックのトラック長はほぼ同一と見なすことができる。従って「Ｓ」の値として上記のように対象クラスタ（Ｏ）が存在するトラック内に含まれるトラック数、欠陥クラスタ（Ｎ）が存在するトラック内に含まれるトラック数、欠陥クラスタ（Ｍ）が存在するトラック内に含まれるトラック数の何れを用いたとしても、予測結果として、実用上はほぼ同様の結果を得ることができる。
【０１３０】
また、これまでの説明では、ユーザ領域においてライトエラー又はベリファイエラーによる欠陥が検出されるごとに逐次、エラーとなったクラスタのデータについて交替処理を実行するものとしたが、このような逐次の交替処理とはせず、ユーザ領域で欠陥が検出されたクラスタのデータをまとめて保持しておき、ユーザ領域に対するベリファイの完了後に、これら保持しておいた交替対象データをまとめて交替するといった手法を採ることもできる。
【０１３１】
また、これまでの説明では、クラスタNO.の昇順にデータライト・ベリファイを行っていく場合を例示したが、逆に降順でデータライト・ベリファイを行う場合にも本発明は好適に適用できる。その場合の欠陥予測処理では、対象とするクラスタのクラスタNO.よりも大きなクラスタNO.を有するクラスタを順序的に「前」のクラスタであると捉えればよい。
【０１３２】
また、これまでの説明では、連続領域へのデータライト時に本発明の欠陥予測処理を適用する場合を例示したが、本発明としては非連続領域に対するデータライトを行う場合にも好適に適用することができる。
例えばＢＤの場合、どのクラスタが欠陥登録されているかの情報は光ディスク５０上の所定の管理領域（ＤＭＡ：Disc Management Area）に記録されるものとなっている（データライト時において、このＤＭＡの記録情報はシステムコントローラ１０が読み出してメモリに格納している）。従ってこの管理領域の情報を用いれば、非連続の領域に対してベリファイ付きデータライトを行う場合においても、本発明の欠陥予測処理を行うことができる。具体的に言えば、欠陥予測処理を行うクラスタの前後のクラスタへのライト・ベリファイが、欠陥予測処理の直前に行われる必要はなく、任意のクラスタにおいて欠陥予測処理を行うことができるものである。
【０１３３】
また、これまでの説明では、記録／再生の最小単位がクラスタとされ、これに伴い本発明の「欠陥区間」の「区間」がクラスタ単位となる場合を例示したが、本発明における「区間」はクラスタ単位に限定されるものではなく、他の単位とすることもできる。
【０１３４】
また、これまでの説明では、本発明が、ディスク状記録媒体としてＢＤを対象とした記録再生を行うシステムに適用される場合を例示したが、本発明としては、ディスク状記録媒体に対してベリファイ付きデータライトと交替処理を行うようにされたシステムに対して広く好適に適用することができる。
例えば、このようにディスク記録媒体に対してベリファイ付きデータライトと交替処理を行うようにされたシステムとしては、ＤＶＤ−ＲＡＭに対する記録再生システムを挙げることができる。ＤＶＤ−ＲＡＭの場合、クラスタ長Ｌの値は、例示したＢＤの場合とは異なりディスク全域で固定長とはならない。但し、ＤＶＤ−ＲＡＭの場合としても、ディスク上の位置に応じたクラスタ長は予めフォーマットにより定まっているので、対象とするクラスタのクラスタNO.が定まれば、その情報から該対象クラスタのクラスタ長Ｌの値を計算やテーブル情報に基づき求めることができる。このようにして求まるクラスタ長Ｌの値を用いて、同様に［式１］［式２］が満足されるか否かについて判別を行うことで、実施の形態で例示したものと同様の欠陥予測処理を行うことができる。
【０１３５】
また、本発明としては、ＣＤやＭＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどの光ディスク記録媒体のみでなく、例えばＨＤＤ（Hard Disk Drive）など磁気記録再生が行われるディスク状記録媒体について記録再生を行う場合にも好適に適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
【０１３６】
【図１】本発明における実施の形態としての記録再生装置の内部構成について示したブロック図である。
【図２】実施の形態で用いるディスク状記録媒体について、１トラック長とクラスタ長との関係を模式的に示した図である。
【図３】欠陥区間の予測処理について説明するための図として、連続した数クラスタの区間を模式的に示した図である。
【図４】実施の形態としての欠陥予測処理を取り入れたベリファイ付きデータライト・交替処理について説明するための図である。
【図５】実施の形態としての欠陥予測処理を取り入れた交替処理について説明するための図である。
【図６】実施の形態としてのベリファイ付きデータライト・交替処理を実現するために実行されるべき処理動作として、主にデータライト時に対応して実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図７】実施の形態としてのベリファイ付きデータライト・交替処理を実現するために実行されるべき処理動作として、主にデータライト完了後のベリファイ時に対応して実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図８】実施の形態としての欠陥予測処理を実現するために実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図９】ライトエラーが検出された区間の直前区間までのベリファイ時に対応して実行されるべき処理動作について示したフローチャートである。
【図１０】実施の形態としての交替処理を実現するために実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図１１】従来のベリファイ付きデータライト・交替処理について説明するための図である。
【符号の説明】
【０１３７】
１  光学ピックアップ、２  スピンドルモータ、３  スレッド機構、４  マトリクス回路、５  リーダ／ライタ（ＲＷ）回路、５ａ  欠陥検出部、６  変復調回路、７  ＥＣＣエンコーダ／デコーダ、８  ウォブル回路、９  アドレスデコーダ、１０  システムコントローラ、１１  サーボ回路、１２  スピンドルサーボ回路、１３  レーザドライバ、５０  ディスク、１００  ＡＶシステム
【図１】
2009199636.tif 000003
【図２】
2009199636.tif 000004
【図３】
2009199636.tif 000005
【図４】
2009199636.tif 000006
【図５】
2009199636.tif 000007
【図６】
2009199636.tif 000008
【図７】
2009199636.tif 000009
【図８】
2009199636.tif 000010
【図９】
2009199636.tif 000011
【図１０】
2009199636.tif 000012
【図１１】
2009199636.tif 000013