(57)【要約】【課題】レンズ形状の硝材の屈折率を高い精度で測定することができる屈折率測定方法を提供する。【解決手段】レンズ移動手段３０によって被検レンズ１０の位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、被検レンズ１０の前面に干渉計２０からの測定光が集光する位置と、前記測定光が被検レンズ１０の前面を透過し、且つ後面で反射して元の光路を戻る位置とを特定し、これら２つの位置の間の距離に基づいて被検レンズ１０の材質の屈折率を導出する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を参照光と測定光に分離すると共に該測定光を収束させて被検レンズに照射し、該被検レンズで反射した測定光と前記参照光との干渉によって生じる干渉縞を検出する干渉計と、前記被検レンズを前記測定光の光軸に沿って移動させるレンズ移動手段とを用いてレンズ材質の屈折率を測定する方法であって、
a) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、被検レンズの前面に前記測定光が集光する位置を特定する第１のステップと、
b) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、前記測定光が被検レンズの前面を透過し、且つ後面で反射して元の光路を戻る位置を特定する第２のステップと、
c) 前記第１のステップで特定した位置と第２のステップで特定した位置の間の距離を求める第３のステップと、
d) 前記第３のステップで求められた２つの位置間の距離に基づいて被検レンズの材質の屈折率を導出する第４のステップと、
を有することを特徴とする屈折率測定方法。
【請求項２】
上記第４のステップにおいて、次式より被検レンズの材質の屈折率ｎを導出することを特徴とする請求項１に記載の屈折率測定方法。
ｎ＝（ｒ１／Δｄ−１）／｛ｒ１／（ｒ２＋ｄ１）−１｝
但し、Δｄは上記２つの位置間の距離、ｒ１は被検レンズの前面の曲率半径、ｒ２は被検レンズの後面の曲率半径、ｄ１は被検レンズの中心厚さ
【請求項３】
a) 光源からの光を参照光と測定光に分離すると共に該測定光を収束させて被検レンズに照射し、該被検レンズで反射した測定光と前記参照光との干渉によって生じる干渉縞を検出する干渉計と、
b) 前記被検レンズを前記測定光の光軸に沿って移動させるレンズ移動手段と、
c) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、被検レンズの前面に前記測定光が集光する位置を特定する第１の位置特定手段と、
d) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、前記測定光が被検レンズの前面を透過し、且つ後面で反射して元の光路を戻る位置を特定する第２の位置特定手段と、
e) 前記第１の位置特定手段によって特定された位置と第２の位置特定手段によって特定された位置の間の距離を求める距離測定手段と、
f) 前記距離測定手段で求められた２つの位置間の距離に基づいて被検レンズの材質の屈折率を導出する屈折率導出手段と、
を有することを特徴とする屈折率測定装置。
【請求項４】
上記屈折率導出手段が、次式より被検レンズの材質の屈折率ｎを導出することを特徴とする請求項３に記載の屈折率測定装置。
ｎ＝（ｒ１／Δｄ−１）／｛ｒ１／（ｒ２＋ｄ１）−１｝
但し、Δｄは上記２つの位置間の距離、ｒ１は被検レンズ前面の曲率半径、ｒ２は被検レンズ後面の曲率半径、ｄ１は被検レンズの中心厚さ
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レンズ材質の屈折率を測定する方法及びそのための装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レンズ等の光学素子の材質を特定する際には、所定波長における屈折率の情報が重要な手がかりとなる。従来の屈折率の測定方法としては、最小偏角法、オートコリメーション法、臨界角法等が知られている（例えば、非特許文献１を参照）。
【０００３】
最小偏角法では、図４に示すように、屈折率を測定したい硝材から成る頂角αの三角プリズム１００に光源からの光を入射させる。このとき、光源からプリズム１００への入射光の角度を変化させながら、該入射光とプリズム１００からの出射光の成す角度（すなわち偏角）が最小となる位置を探し、その際の偏角（すなわち最小偏角δ）を測定する。これにより、目的の屈折率ｎは次式、
ｎ＝ｓｉｎ｛（δ＋α）／２｝／ｓｉｎ（α／２）
によって求めることができる。
【０００４】
オートコリメーション法では、図５に示すように、屈折率を測定したい硝材から成る頂角がα／２の三角プリズム２００に光源からの光を入射させ、プリズム２００の裏面で反射して出射してきた光をオートコリメーションする。２方向から入射させたときの角度差ｉを測定すると、目的の屈折率ｎは、角度差ｉとプリズム２００の頂角α／２から、
ｎ＝ｓｉｎｉ／ｓｉｎ（α／２）で求められる。
【０００５】
臨界角法では、図６に示すように、屈折率ｎを測定したい硝材から成る平板３００と屈折率ｎｒ及び頂角αが既知のプリズム４００とを光学的に接合させ、その接合面に光源からの光を入射させて該接合面で全反射を起こすぎりぎりの臨界状態に置いたときの前記プリズム４００からの出射角γを測定する。これにより、目的の屈折率ｎは次式、
ｎ＝ｓｉｎα√（ｎ２−ｓｉｎ２γ）±ｃｏｓαｓｉｎγ
によって求めることができる。
【０００６】
また、レンズ形状をした硝材の屈折率は、該レンズの焦点距離を測定することによって求めることができる（図７）。例えば、中心厚がｄ、両面の曲率半径がそれぞれｒ１及びｒ２である両凸レンズ５００の焦点距離ｆは、次式、
１／ｆ＝（ｎ−１）（１／ｒ１−１／ｒ２）＋ｄ（ｎ−１）２／（ｎｒ１ｒ２）
で表されることから、該レンズ５００の焦点距離ｆを測定すれば、目的の屈折率ｎは、次式、
ｎ＝［Ｂ±√｛Ｂ２−４ｄＡ／（ｒ１ｒ２）｝］／（２Ａ）
（但し、Ａ＝１／ｒ１−１／ｒ２＋ｄ／ｒ１ｒ２、Ｂ＝１／ｆ＋１／ｒ１−１／ｒ２＋２ｄ／ｒ１ｒ２）
によって求めることができる。
【０００７】
【非特許文献１】桑原五郎編, 「光学技術」, 共立出版, 昭和59年9月10日, p.7，p.311
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記従来の最小偏角法、オートコリメーション法、臨界角法を用いた屈折率測定では、測定精度は高いものの、屈折率を測定したい硝材を三角プリズムや平板の形に加工する必要があるため、レンズ形状をした硝材の屈折率をそのままの形で測定することはできなかった。
【０００９】
一方、上記の焦点距離測定によって屈折率を求める方法（以下、「焦点距離測定法」と呼ぶ）の場合、レンズ形状をした硝材の屈折率をそのままの形で測定できるという特徴がある。被検レンズの焦点距離は像側主点Ｈと像側焦点Ｆの間の距離で定義され、このうち像側焦点Ｆの位置は集光点を調べればよいため正確に特定することができる。しかし、像側主点Ｈは通常はレンズ内にあるため正確に特定することができず、結果的に上記方法によって求められる屈折率も不正確となる。また、図８に示すように、上記焦点距離測定法を凹レンズ６００の屈折率測定に適用しようとした場合、該レンズ６００に入射させた平行光は発散光となる。従って、このとき測定すべき焦点Ｆは虚像の位置になり、実際の集光は観測されないため、焦点位置を特定することはできない。このため、上記焦点距離測定法では凹レンズの屈折率を測定することはできなかった。
【００１０】
本発明はこうした点に鑑みて成されたものであり、その目的とする所は、レンズ形状の光学材料の屈折率を高い精度で測定することができ、且つ凹レンズ形状の光学材料の屈折率の測定にも適用可能な屈折率測定方法及び屈折率測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために成された本発明に係る屈折率測定方法は、光源からの光を参照光と測定光に分離すると共に該測定光を収束させて被検レンズに照射し、該被検レンズで反射した測定光と前記参照光との干渉によって生じる干渉縞を検出する干渉計と、前記被検レンズを前記測定光の光軸に沿って移動させるレンズ移動手段とを用いてレンズ材質の屈折率を測定する方法であって、a) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、被検レンズの前面に前記測定光が集光する位置を特定する第１のステップと、b) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、前記測定光が被検レンズの前面を透過し、且つ後面で反射して元の光路を戻る位置を特定する第２のステップと、c) 前記第１のステップで特定した位置と第２のステップで特定した位置の間の距離を求める第３のステップと、d) 前記第３のステップで求められた２つの位置間の距離に基づいて被検レンズの材質の屈折率を導出する第４のステップとを有することを特徴としている。
【００１２】
なお、上記本発明に係る屈折率測定方法は、上記第４のステップにおいて、次式より被検レンズの材質の屈折率ｎを導出するものとすることが望ましい。
ｎ＝（ｒ１／Δｄ−１）／｛ｒ１／（ｒ２＋ｄ１）−１｝
但し、Δｄは上記２つの位置間の距離、ｒ１は被検レンズの前面の曲率半径、ｒ２は被検レンズの後面の曲率半径、ｄ１は被検レンズの中心厚さ
【００１３】
また、上記課題を解決するために成された本発明に係る屈折率測定装置は、a) 光源からの光を参照光と測定光に分離すると共に該測定光を収束させて被検レンズに照射し、該被検レンズで反射した測定光と前記参照光との干渉によって生じる干渉縞を検出する干渉計と、b) 前記被検レンズを前記測定光の光軸に沿って移動させるレンズ移動手段と、c) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、被検レンズの前面に前記測定光が集光する位置を特定する第１の位置特定手段と、d) 前記レンズ移動手段によって被検レンズの位置を移動させ、その際に検出される干渉縞に基づいて、前記測定光が被検レンズの前面を透過し、且つ後面で反射して元の光路を戻る位置を特定する第２の位置特定手段と、e) 前記第１の位置特定手段によって特定された位置と第２の位置特定手段によって特定された位置の間の距離を求める距離測定手段と、f) 前記距離測定手段で求められた２つの位置間の距離に基づいて被検レンズの材質の屈折率を導出する屈折率導出手段とを有することを特徴としている。
【００１４】
なお、上記本発明に係る屈折率測定装置は、上記屈折率導出手段が次式より被検レンズの材質の屈折率ｎを導出するものとすることが望ましい。
ｎ＝（ｒ１／Δｄ−１）／｛ｒ１／（ｒ２＋ｄ１）−１｝
但し、Δｄは上記２つの位置間の距離、ｒ１は被検レンズ前面の曲率半径、ｒ２は被検レンズ後面の曲率半径、ｄ１は被検レンズの中心厚さ
【発明の効果】
【００１５】
上記構成を有する本発明の屈折率測定方法及び屈折率測定装置によれば、レンズ形状の光学材料をそのままの形で測定することができ、なお且つ実際に特定できる点を測定するため高精度に屈折率を測定することができる。また、本発明は凹レンズを含む種々の形状のレンズの屈折率測定に適用可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照しながら説明する。図１は本発明に係る屈折率測定装置の一実施形態を示す平面図である。本実施形態に係る屈折率測定装置は、大別して、干渉計２０、レンズ移動機構３０、及び制御／解析部４０で構成される。
【００１７】
本実施形態に係る屈折率測定装置では、干渉計２０としてフィゾー型の干渉計を使用する。干渉計２０は、レーザ光源２１、ビームスプリッタ２３、参照ミラー２５、撮像部２８等から構成される。レーザ光源２１から射出されたレーザ光は発散レンズ２２によって所定のビーム径に拡大され、ビームスプリッタ２３及びコリメータレンズ２４を通過し、平行光となって参照ミラー２５に入射する。参照ミラー２５に到達した光の一部は参照ミラー２５で反射し、残りの光は参照ミラー２５を透過して集光光学系２６によって集光されて被検レンズ１０に照射される。被検レンズ１０で反射した光（測定光）と参照ミラー２５で反射した光（参照光）はいずれもビームスプリッタ２３へ戻って重ね合わされ、集光レンズ２７を介して撮像部２８へ導かれる。以上により、測定光及び参照光の干渉によって生じる干渉縞が撮像部２８によって撮像される。
【００１８】
レンズ移動機構３０は、干渉計２０から射出される光束の光軸と平行に延在するリニアガイド３１、該リニアガイド３１に沿って摺動するスライダ３２、リニアガイド３１上におけるスライダ３２の位置を読み取るためのリニアスケール３３、及びスライダ３２の動作を制御すると共にスライダ３２の位置情報を取得するためのスライダ制御部３４で構成される。スライダ３２の上部には被検レンズ１０を支持するためのレンズ支持具３２ａが設けられており、被検レンズ１０をその光軸が測定光の光軸と一致するようにしてレンズ支持具３２ａに支持させ、スライダ３２をリニアガイド３１に沿って摺動させることにより、被検レンズ１０を干渉計２０から射出される測定光の光軸上で前後に移動させることができる。リニアガイド３１にはリニアスケール３３のゲージ部３３ａが、スライダ３２にはリニアスケール３３の読み取り部３３ｂが取り付けられており、ゲージ部３３ａの目盛りが読み取り部３３ｂによって磁気的（又は光学的）に読み取られ、該読み取り部３３ｂの出力信号に基づいてスライダ制御部３４でスライダ３２の位置情報（すなわち被検レンズ１０の位置情報）が取得される。
【００１９】
制御／解析部４０は、撮像部２８から出力される干渉縞の画像データを解析すると共に、該解析結果に基づいてスライダ制御部３４に所定の制御信号を送出する。また、スライダ制御部３４から出力される被検レンズ１０の位置情報に基づいて屈折率の算出を行う（詳細は後述する）。制御／解析部４０の実体は、所定のソフトウェアを搭載したパーソナルコンピュータであり、該パーソナルコンピュータには撮像部２８から出力される干渉縞の画像や屈折率の算出結果等を表示するための表示部５０が接続される。
【００２０】
以下、上記本実施形態に係る屈折率測定装置を用いたレンズの屈折率測定方法について説明する。被検レンズ１０としては両凹レンズを使用し、被検レンズ１０の前面１０ａ（すなわち干渉計側の面）の曲率半径ｒ１と後面１０ｂ（前面１０ａと対向する面）の曲率半径ｒ２、及び中心厚さｄ１は既知とする。
【００２１】
まず、被検レンズ１０をレンズ移動機構３０のレンズ支持具３２ａに取り付け、干渉計２０からの収束光（測定光）を該レンズ１０に照射する。次に、スライダ３２を干渉計２０から遠い位置より干渉計２０に向かって移動させ、図２のように、被検レンズ１０の前面１０ａに干渉計２０からの測定光が収束するように調整する。このとき、前面１０ａからの反射光は干渉計２０側に戻り、参照ミラー２５からの反射光（参照光）と共に干渉縞を形成する。レンズ位置の調整が適正に行われれば、撮像部２８で撮像される干渉縞はワンカラー（すなわち全体が均一な明るさとなった状態）となるため、調整位置は容易に確認することができる。具体的には、スライダ制御部３４によるスライダ３２の動作制御によって被検レンズ１０を移動させながら、撮像部２８から出力される干渉縞画像を制御／解析部４０によって解析し、該干渉縞画像よりレンズ位置が正しく調整されたことが確認されたら、リニアスケール３３の読み取り部３３ｂからの出力信号に基づいてスライダ制御部３４で光軸上における被検レンズ１０の位置情報を取得する。以上により取得された位置情報は、第１の位置情報として制御／解析部４０に送出される。
【００２２】
次に、被検レンズ１０を更に干渉計２０側に移動させ、図３のように干渉計２０からの測定光が被検レンズ１０の前面１０ａで屈折して後面１０ｂに垂直に入射するように被検レンズ１０の位置を調整する。この配置では、後面１０ｂに入射した光は後面１０ｂで反射し、入射時と同じ経路を逆に辿って干渉計２０まで戻る。この場合も、上記第１の位置に合わせた際と同様に、レンズ位置の調整が適正に行われれば干渉縞はワンカラーになる。制御／解析部４０での干渉縞画像の解析によってレンズ位置が正しく調整されたことが確認されたら、このときの光軸上における被検レンズ１０の位置情報がリニアスケール３３の読み取りによって取得され、第２の位置情報として制御／解析部４０に送出される。
【００２３】
なお、ここでは干渉縞がワンカラーとなる２つの位置のうち、干渉計２０から遠い方の位置（上記第１の位置）を先に特定し、その後、干渉計２０から近い方の位置（上記第２の位置）を特定したが、これら２点の特定は逆の順序で行ってもよいことはいうまでもない。
【００２４】
上記２つの位置の特定が完了したら、制御／解析部４０によって、第１の位置から第２の位置までの距離Δｄが求められ、次式（７）に基づいて被検レンズ１０の屈折率ｎが算出される。
ｎ＝（ｒ１／Δｄ−１）／｛ｒ１／（ｒ２＋ｄ１）−１｝  …（７）
【００２５】
なお、本実施形態では、上記のレンズ移動機構３０が本発明におけるレンズ移動手段に相当し、撮像部２８及び制御／解析部４０が本発明における第１の位置特定手段及び第２の位置特定手段に相当する。また、上記の制御／解析部４０が本発明における屈折率導出手段に相当する。なお、一般にリニアスケールには、原点に対する各点の絶対位置を測定するものと、任意の点から別の点へ移動した際の移動量を測定するものがある。上記実施形態に係る屈折率測定装置では前者を用いており、この場合、リニアスケール３３、スライダ制御部３４、及び制御／解析部４０が本発明における距離測定手段に相当する。一方、後者を用いる場合は、リニアスケール３３及びスライダ制御部３４が本発明における距離計測手段に相当し、リニアスケール３３及びスライダ制御部３４によって上記第１の位置から第２の位置までの移動距離が取得され、この値が上記Δｄとなる。
【００２６】
以下、上記本発明の屈折率測定方法による屈折率測定の原理について図２、３を用いて説明する。
【００２７】
上記第１の位置（図２）において、干渉計２０からの収束光は高さｙ０の位置から光軸との角度ｕ０’で被検レンズ１０の前面１０ａの中心に向かうものとする。光線が被検レンズ１０の前面１０ａに入射する角度をｕ１とすると、ｕ０’＝ｕ１が成り立つ。また、干渉計２０の集光光学系２６の後側主点から被検レンズ１０の前面１０ａまでの距離をｄ０とする。
この光学系に近軸追跡を適用すれば、
ｙ０＝ｄ０ｕ０’＝ｄ０ｕ１  …（１）
が成り立つ。
【００２８】
一方、上記第２の位置（図３）においては、被検レンズ１０に照射された収束光は、被検レンズ１０の前面１０ａで屈折して後面１０ｂに垂直に入射して反射し、同じ経路を逆向きにたどって干渉計２０へと戻る。このとき、光線が前面１０ａから出射する角度をｕ１’、後面１０ｂに入射する角度をｕ２とすると、ｕ１’＝ｕ２が成り立つ。更に、光線が後面１０ｂから出射する角度をｕ２’とすると、光線が後面１０ｂに垂直に入射するとき、ｕ２＝ｕ２’が成り立つ。
【００２９】
ここで、集光光学系２６の後側主点から被検レンズ１０の前面１０ａまでの距離をｅ０とし、前面１０ａ上の入射高さをｙ１，後面１０ｂ上の入射高さをｙ２とする。このとき、集光光学系２６の後側主点から被検レンズ１０の前面１０ａへの移行式は、
y１＝y０−ｅ０ｕ０’  …（２）
となる。
【００３０】
また、被検レンズ１０の屈折率をｎ、その前後の空間の屈折率を１とすると、前面１０ａの前後の屈折から次式が成り立つ。
ｕ１’＝ｕ２＝u１／ｎ＋（１−１／ｎ）ｙ１／ｒ１  …（３）
【００３１】
被検レンズ１０の前面１０ａから後面１０ｂへの移行式は、
ｙ２＝ｙ１−ｄ１ｕ１’  …（４）
となり、更に、後面１０ｂで光線が垂直に反射するとき、
ｙ２＝ｒ２ｕ２’  …（５）
が成り立つ。
【００３２】
また、第１の位置から第２の位置へのレンズの移動距離Δｄは、
Δｄ＝ｄ０−ｅ０  …（６）
で与えられる。
【００３３】
以上の式（１）〜（６）を用いてｎを既知数で表すと、
ｎ＝（ｒ１／Δｄ−１）／｛ｒ１／（ｒ２＋ｄ１）−１｝  …（７）
となる。
【００３４】
従って、上記屈折率測定方法において特定された第１の位置から第２の位置までの距離Δｄを用いて上記の式（７）により、被検レンズ１０の素材の屈折率ｎを求めることができる。
【００３５】
以上のように、本発明に係る屈折率測定方法及び屈折率測定装置によれば、凹レンズ形状の硝材についても特別な加工を施すことなしに屈折率測定を行うことが可能となる。また、本発明において特定すべき点（上記第１の位置及び第２の位置）は、干渉縞がワンカラーになる点であることから、従来法の焦点距離測定法における主点位置と異なり、容易且つ正確に特定することができる。このため、本発明に係る屈折率測定方法及び装置によれば、レンズ形状の光学材料の屈折率を高精度に測定することができ、その結果、レンズ硝材の特定も高精度に行うことができる。
【００３６】
なお、本発明に係る屈折率測定方法及び屈折率測定装置は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨の範囲で適宜変更が許容されるものである。例えば、本発明に係る屈折率測定方法及び装置は、上記実施形態のような両凹レンズの屈折率測定に限らず、種々の形状からなる単レンズ（例えば、両凸、平凸、両凹、平凹など）の素材の屈折率測定に適用することができる。
【００３７】
また、本発明の屈折率測定方法及び装置における干渉計としては、上記フィゾー型に限定されるものではなく、他の方式の干渉計を使用してもよい。更に、測定光の光軸上における被検レンズの位置を測定する手段は上記リニアスケールに限定されるものではなく、例えば、レーザ干渉式変位センサ、レーザ三角側距式変位センサ、接触式変位センサ等の種々のものを用いることができる。
【００３８】
また更に、上記実施形態では、レンズの移動や縞の読み取りを装置が自動的に行うものとしたが、これらをユーザが行うようにしてもよい。この場合、表示部に表示される干渉縞画像を観察しながらユーザが手動でスライダを移動させ、干渉縞がワンカラーとなるようにスライダの位置の調整を行う。
【実施例】
【００３９】
以下、本発明の屈折率測定方法を用いた実施例について説明する。測定対象としてＳＫ１０から成る両凹レンズを使用した。その外形寸法を測定すると、ｒ１＝−２．８１３７、ｒ２＝２．８２０６、ｄ１＝０．９９１ｍｍであった。このレンズを本発明に係る屈折率測定方法を用いて、波長６３２．８ｎｍで測定したところ、上記第１の位置と第２の位置の間の距離Δｄは１．５５であった。これらの値より、式（７）に基づいて屈折率を計算するとｎ＝１．６２となった。これは、ＳＫ１０の波長６３２．８ｎｍにおける屈折率の設計値ｎ＝１．６２０５１とよく一致しており、本発明によって屈折率を高精度に測定できることが確認された。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施形態に係る屈折率測定装置の全体構成を示す平面図。
【図２】同実施形態に係る屈折率測定装置を用いた屈折率の測定方法を説明する図であり、レンズ位置を第１の位置に調整した状態を示す側面図である。
【図３】同実施形態に係る屈折率測定装置を用いた屈折率の測定方法を説明する図であり、レンズ位置を第２の位置に調整した状態を示す側面図である。
【図４】従来の最小偏角法による屈折率測定方法を説明する図。
【図５】従来のオートコリメーション法による屈折率測定方法を説明する図。
【図６】従来の臨界角法による屈折率測定方法を説明する図。
【図７】従来の焦点距離測定を利用した屈折率測定方法を説明する図。
【図８】図７の屈折率測定方法を両凹レンズに適用した例を説明する図。
【符号の説明】
【００４１】
１０…被検レンズ
１０ａ…前面
１０ｂ…後面
２０…干渉計
２１…レーザ光源
２３…ビームスプリッタ
２４…コリメータレンズ
２５…参照ミラー
２６…集光光学系
２８…撮像部
３０…レンズ移動機構
３１…リニアガイド
３２…スライダ
３２ａ…レンズ支持具
３３ａ…ゲージ部
３３ｂ…読み取り部
３４…スライダ制御部
４０…制御／解析部
５０…表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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