(57)【要約】【課題】光学走査装置の筐体の凹み部に設けられる防塵部材を、該防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成でその表面を清掃することが可能な清掃部材、及びその使用方法を提供する。【解決手段】筐体に凹み部９が形成され、凹み部９にレーザ光の射出口が設けられる光学走査装置の射出口をカバーするカバーガラス５を清掃する清掃部材１５であって、清掃部材１５は、移動可能に構成される棒状部材１２と、カバーガラス５に接触してカバーガラス５を清掃する清掃パッド１１と、を備え、棒状部材１２のカバーガラス５に対応する位置に清掃パッド１１が設けられる。【選択図】図１
2009061653.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体に凹み部が形成され、該凹み部にレーザ光の射出口が設けられる光学走査装置の前記射出口をカバーする防塵部材を清掃する清掃部材であって、
前記清掃部材は、
移動可能に構成される棒状部材と、
前記防塵部材に接触して該防塵部材を清掃する清掃パッドと、
を備え、
前記棒状部材の前記防塵部材に対応する位置に前記清掃パッドが設けられることを特徴とする清掃部材。
【請求項２】
前記棒状部材の前記凹み部に対応する位置には凸部が形成され、
前記清掃パッドが該凸部の先端に設けられることを特徴とする請求項１に記載の清掃部材。
【請求項３】
前記清掃パッドは円筒形状であることを特徴とする請求項１に記載の清掃部材。
【請求項４】
前記棒状部材には、
前記清掃部材を前記光学走査装置に対して位置決めするための位置決め部材が備えられることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の清掃部材。
【請求項５】
前記清掃パッドは、
弾性部材と、
該弾性部材の表面に設けられるシート部材と、
を備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の清掃部材。
【請求項６】
前記シート部材は、
不織布状の材料から形成されることを特徴とする請求項５に記載の清掃部材。
【請求項７】
前記清掃パッドの幅が前記射出口の幅よりも狭いことを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の清掃部材。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか１項に記載の清掃部材の使用方法であって、
前記清掃部材を用いて、光学走査装置の筐体に形成される凹み部に設けられるレーザ光の射出口をカバーする防塵部材を清掃する際は、
前記清掃部材に設けられる清掃パッドが前記凹み部と対向する位置にくるように前記清掃部材を位置決めして前記清掃パッドを前記凹み部に挿入し、
その後、前記棒状部材を移動させて前記防塵部材を清掃することを特徴とする清掃部材の使用方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザープリンタ、複写機、ファックス等の電子写真方式を採用する画像形成装置に備えられる光学走査装置において、レーザ光が射出する部分を清掃する清掃部材及びその使用方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子写真方式を採用する画像形成装置においては、帯電した感光ドラムに光学走査装置が画像情報に基づいたレーザ光を射出して静電潜像を形成（露光工程）し、静電潜像を現像した後にシート材に転写して画像形成を行う構成を備えている。
【０００３】
そしてこのような構成で良質な画像を得るためには、露光工程におけるレーザ光の走査に高い精度が要求され、例えばレーザ光の光路上に塵埃等が付着してしまうと、レーザ光の光量が低下し、得られる画像の品質が低下してしまう。
【０００４】
なお、レーザ光の走査精度を低下させる要因となる塵埃は、画像形成装置の外部から侵入してくるものもあれば、画像形成装置の内部において画像形成プロセス中にエアーフローによって飛散するトナーや紙粉等に起因するものもある。
【０００５】
このような塵埃が光学走査装置内に侵入しないために、一般的に光学走査装置には密閉構造が採用され、さらに光学走査装置の筐体の表面上においてレーザ光が射出する射出口は、光透過性の防塵部材でカバーされる構成が広く採用されている。
【０００６】
しかしながらこのような構成を採用する場合でも、光学走査装置の周囲に浮遊する塵埃が防塵部材の表面に付着することでレーザ光の光量が低下し、画像不良を引き起こす原因となる。
【０００７】
これに対し特許文献１には、円筒形状のブラシを防塵部材の表面で移動させることで防塵部材の表面を清掃する構成が開示されている。また、特許文献２には、防塵部材を光学走査装置に対して着脱自在な構成とし、清掃の際に防塵部材を光学走査装置から取り外す構成が開示されている。
【特許文献１】特開２００１−２５３１１２号公報
【特許文献２】特開２００６−１０６６３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら上記従来例に係る清掃部材及びその使用方法では、以下に示す問題を生じる。
【０００９】
レーザ光が透過する防塵部材の表面に塵埃が付着しないためには、光学走査装置の筐体に凹み部を設け、該凹み部に防塵部材を配置するような構成が望ましい。
【００１０】
そのような構成とすることで、防塵部材が画像形成装置の内部におけるエアーフローの影響を受けにくくなり、画像プロセス中に飛散するトナーや紙粉の塵埃が防塵部材の表面に付着する量を低減させることが可能になる。
【００１１】
一方で特許文献１に開示される清掃部材は、円筒形状のブラシを回転させながら防塵部材の表面を清掃する構成であるので、防塵部材を少なくとも光学走査装置の枠体と同一面
上、もしくは枠体から突出した部分に設ける必要がある。
【００１２】
すなわち、特許文献１に開示される清掃部材では、光学走査装置の筐体上の凹み部の底部に配置される防塵部材の表面を清掃することが困難である。よって画像形成プロセス中にエアーフローの影響を受けやすくなり防塵部材の表面に塵埃が付着しやすい。
【００１３】
また、移動可能に設けられた単一の清掃部材を複数の射出口に沿って移動させることで防塵部材の表面を清掃する構成なので、全ての防塵部材の表面を清掃するまでにはある程度の時間を要する。
【００１４】
さらに清掃部材を移動させるために駆動モータや制御部等を新たに設ける必要があるので、製造コストが増大し、メンテナンスの際には煩雑な作業を必要とする。また、清掃部材が大型化してしまう。
【００１５】
また特許文献２に開示される清掃方法は、清掃の際に防塵部材を光学走査装置から取り外す構成であるので、塵埃が光学走査装置内部に侵入したり、さらには着脱の際に防塵部材が傷ついてしまう恐れもある。
【００１６】
すなわち、上記従来例に係る清掃部材及びその使用方法では、防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成で防塵部材の表面を清掃可能な清掃部材、及びその使用方法については開示されていない。特に防塵部材が光学走査装置の筐体の凹み部にある場合に、その防塵部材の表面を清掃する構成については開示されていない。
【００１７】
本発明は上記現状に鑑みてなされたものであり、光学走査装置の筐体の凹み部に設けられる防塵部材を、該防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成でその表面を清掃することが可能な清掃部材、及びその使用方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記目的を達成するために本発明にあっては、筐体に凹み部が形成され、該凹み部にレーザ光の射出口が設けられる光学走査装置の前記射出口をカバーする防塵部材を清掃する清掃部材であって、前記清掃部材は、移動可能に構成される棒状部材と、前記防塵部材に接触して該防塵部材を清掃する清掃パッドと、を備え、前記棒状部材の前記防塵部材に対応する位置に前記清掃パッドが設けられることを特徴とする。
【００１９】
また、本発明の清掃部材の使用方法は、前記清掃部材に設けられる清掃パッドが前記凹み部と対向する位置にくるように前記清掃部材を位置決めして前記清掃パッドを前記凹み部に挿入し、その後、前記棒状部材を移動させて前記防塵部材を清掃することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、光学走査装置の筐体の凹み部に設けられる防塵部材を、該防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成でその表面を清掃することが可能な清掃部材、及びその使用方法を提供することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下に図面を参照して、この発明を実施するための最良の形態を、実施の形態に基づいて例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
【００２２】
［第１の実施の形態］
図１、図２を参照して本発明の第１の実施の形態に係る清掃部材、及びその使用方法について説明を行う。
【００２３】
（光学走査装置の全体構成）
図２に、本実施の形態に係る清掃部材が清掃する防塵部材を備える光学走査装置の全体構成を示す。
【００２４】
本実施の形態における光学走査装置は、複数の光学部品を収容する筐体１と、筐体１を覆うカバー６を備える。また、筐体１内には４個の半導体レーザ（不図示）、コリメートレンズ（不図示）、シリンドリカルレンズ（不図示）、ポリゴンミラー２、レンズ３、折り返しミラー４、カバーガラス５（防塵部材）、カバー６、及び防塵クッション７、が備えられる。
【００２５】
筐体１は、ポリカーボネイトにガラス繊維を配合した樹脂材料から形成され、光学走査装置に必要な強度と寸法精度を確保している。また、本実施の形態においてカバー６には鉄製の板金を用いたが、カバー６は特に金属製である必要は無く、ＡＢＳ等の樹脂製を用いる構成であっても構わない。
【００２６】
筐体１とカバー６の間には防塵クッション７が挟まれており、筐体１とカバー６の間に隙間が生じて塵埃が光学走査装置内に侵入しないように構成されている。
【００２７】
なお、本実施の形態では筐体１とカバー６の間を密閉するために防塵クッション７を用いる構成としたが、筐体１とカバー６の隙間をテープにて目張りする構成であってもよい。また、カバー６を樹脂製とし、筐体１とカバー６の接触部をラビリンス構造にすることで筐体１とカバー６の間を密閉する構成であっても良い。
【００２８】
また、筐体１に設けられるレーザ光の射出口はカバーガラス５（防塵部材）によりカバーされているので、光学走査装置には外部から塵埃が侵入しない構成となっている。なお、カバーガラス５は光透過性の材質によって形成される。
【００２９】
また、本実施の形態では、筐体１上に４つの凹み部９を形成し、レーザ光の射出口をそれぞれの凹み部９に設ける構成とした。この構成によれば、カバーガラス５が凹み部９の奥に配置されるので、光学走査装置の外部におけるエアーフローによってカバーガラス５の表面に付着する塵埃の量を低減させることが可能になる。
【００３０】
上記の構成で画像形成プロセスが開始されると、まず筐体１に収容される４個の半導体レーザ（不図示）からは、Ｙｅｌｌｏｗ、Ｍａｇｅｎｔａ、Ｃｙａｎ、Ｂｌａｃｋの各色それぞれの画像データに対応してレーザ光が射出される。
【００３１】
射出されたレーザ光は、それぞれに対応したコリメートレンズ（不図示）により略平行光に変換され、シリンドリカルレンズ（不図示）によってポリゴンミラー２上で結像される。
【００３２】
その後、それぞれのレーザ光ＬＹ、ＬＭ、ＬＣ、ＬＢｋはポリゴンミラー２により偏向走査され、レンズ３、折り返しミラー４を経由して、筐体１の射出口からカバーガラス５を透過して光学走査装置外へと射出される。
【００３３】
光学走査装置から射出されたレーザ光は、光学走査装置に対向配置される感光体ドラムＹ、Ｍ、Ｃ、Ｂｋ上に結像し、それぞれの感光体ドラム上を等速走査して静電潜像を形成
する。
【００３４】
なお、本実施の形態の光学走査装置は、１個のポリゴンミラーで４色の感光体ドラムを走査する形式のものを用いているが、１色の感光体ドラムに対して１個のポリゴンミラーを設け、感光体ドラムの数と同一の数の光学走査装置を設ける構成であってもよい。
【００３５】
（清掃部材の構成）
図１に本実施の形態に係る清掃部材の概略構成を示す。図１（ａ）は本実施の形態に係る清掃部材１５の斜視図である。図１（ｂ）は清掃部材１５に設けられる清掃パッド１１の拡大図である。
【００３６】
図１（ａ）に示すように、本実施の形態に係る清掃部材１５は、樹脂製の支持棒（棒状部材）１２上に４個の凸部１４を形成し、各々の凸部１４の先端に清掃パッド１１を設ける構成である。また、支持棒１２の一方の端部には、清掃の際に作業者が持つための握り部１３が形成される。
【００３７】
支持棒１２上に形成される４個の凸部１４は、それぞれ上記で説明した光学走査装置に設けられる４個の凹み部９に対応する位置に形成される。すなわち、４個の凸部１４の間隔は４個の凹み部９の間隔と略同一であって、さらに支持棒１２から清掃パッド１１の上面までの高さ寸法は、清掃パッド１１の上面がカバーガラス５の表面に接触可能な高さに設定される。
【００３８】
なお、本実施の形態では支持棒１２上に凸部１４を４個設ける構成としたが、光学走査装置の筐体１に形成されるレーザ光の射出口の数に合わせて凸部１４の数は変更可能である。
【００３９】
また、図１（ｂ）に示すように、凸部１４の先端に形成される清掃パッド１１は、弾性部材２１と、さらにその表面に設けられる清掃シート（シート部材）２２とから構成される。
【００４０】
本実施の形態に係る清掃部材１５は、弾性部材２１の材質にスポンジを用いているが、比較的柔らかなゴムなどの部材や、バネ等の弾性体を用いる構成であってもよい。
【００４１】
また、清掃シート２２の材質には不織布状の材料が用いられるが、これは清掃シート２２がカバーガラス５と接触して表面を清掃する際に、清掃シート２２自体から塵埃が生じてカバーガラス５の表面に付着しないようにするためである。なお、本実施の形態においては不織布が用いられるが、粘着性のシート材を用いる構成であってもよい。
【００４２】
本実施の形態においては、清掃シート２２を弾性部材２１に対して接着固定する構成であるが、清掃シート２２が弾性部材２１に対して取り外し可能な構成であっても良い。なお、弾性部材２１は凸部１４の上面に接着固定される構成である。
【００４３】
（清掃部材の使用方法）
本実施の形態に係る清掃部材の使用方法について説明を行う。
【００４４】
上記のように構成される清掃部材１５を用いて光学走査装置のカバーガラス５表面を清掃する際は、まず作業者が握り部１３を持ち、支持棒１２上の凸部１４が、対応する凹み部９と対向する位置にくるように清掃部材１５を位置決めする。
【００４５】
そして清掃部材１５を光学走査装置の方向へ移動させて、光学走査装置の筐体１に形成
される凹み部９に、対応する凸部１４を挿入する。
【００４６】
凸部１４をそれぞれに対応する凹み部９に所定量挿入し、凸部１４に設けられる清掃シート２２がカバーガラス５の表面につきあたると、清掃シート２２をカバーガラス５の表面に押し付けてカバーガラス５の表面を清掃する。
【００４７】
上記で説明したように、本実施の形態においては清掃シート２２と凸部１４の間に弾性部材２１を介在させる構成とした。この構成によれば、清掃シート２２をカバーガラス５の表面に押し付けて清掃を行う場合であっても、カバーガラス５に対する衝撃を弾性部材２１が緩和することが可能なのでカバーガラス５を傷つける可能性が低い。
【００４８】
また、清掃パッド１１の図１中Ｙ方向の幅寸法は、光学走査装置のレーザ光の射出口の幅よりも若干小さくなるように設定される。清掃パッド１１の幅をこのように設定することで、清掃パッド１１をカバーガラス５表面に押し付けたときに清掃パッド１１が撓んで変形し、清掃パッド１１の幅がレーザ光の射出口の幅と略同一かそれ以上になる。
【００４９】
この状態では、所定の圧力を以って清掃パッド１１がカバーガラス５表面に当接することになるので、カバーガラス５と清掃パッド１１との間に隙間を生じることなく、カバーガラス５の表面を確実に清掃することが可能になる。
【００５０】
さらに、光学走査装置の凹み部９に対して清掃部材１５を位置決めする場合に、清掃パッド１１と凹み部９との間に隙間が形成されるので、清掃部材１５の位置が多少ずれている場合でも、凹み部９の内部に清掃パッド１１を挿入することができる。すなわち、凹み部９の内部に凸部１４を挿入しやすい。
【００５１】
以上、本実施の形態によれば、画像形成プロセス中にエアーフローの影響によってカバーガラス５表面に付着する塵埃の付着量を低減させるために筐体に凹み部を設ける光学走査装置に対して、カバーガラス５表面を確実に清掃することが可能になる。
【００５２】
よって、本実施の形態によれば、光学走査装置の筐体の凹み部に設けられる防塵部材を、該防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成でその表面を清掃することが可能な清掃部材、及びその使用方法を提供することが可能になる。
【００５３】
さらに本実施の形態に係る清掃部材１５は複雑な構成を有するものではない。よって従来と比較して製造コストの低減を達成することができ、さらにはメンテナンス時の作業を簡易化することも可能である。また、清掃部材１５を駆動するための駆動モータ、制御部等を設ける必要がないので、清掃部材１５を小型化させることも可能である。
【００５４】
また、光学走査装置に複数のレーザ光射出口が設けられる場合であっても、各々の射出口に対応する位置に清掃パッド１１を設ける構成であるので、同時に複数のカバーガラス５表面を清掃することが可能である。
【００５５】
すなわち、従来と比較してカバーガラス５表面を清掃するのに要する時間を短縮することが可能である。
【００５６】
［第２の実施の形態］
図３を参照して本発明の第２の実施の形態に係る清掃部材、及びその使用方法について説明を行う。
【００５７】
（光学走査装置の全体構成）については、第１の実施の形態と異なるものではないので
その説明を省略し、ここでは（清掃部材の構成）、（清掃部材の使用方法）についてのみ説明を行う。
【００５８】
（清掃部材の構成）
図３に本実施の形態に係る清掃部材の概略構成を示す。図３（ａ）は本実施の形態に係る清掃部材１５の斜視図である。図３（ｂ）は清掃部材１５に設けられる清掃パッド１１の拡大図である。
【００５９】
図３（ａ）に示すように、本実施の形態に係る清掃部材１５は、樹脂製の支持棒（棒状部材）１２上に、４個の清掃パッド１１を設ける構成である。また、支持棒１２の一方の端部には清掃の際に作業者が持つための握り部１３が形成される。
【００６０】
本実施の形態においては円筒形状の清掃パッド１１を、光学走査装置に設けられる４個の凹み部９及びカバーガラス５に対応する位置に形成する。すなわち、４個の清掃パッド１１の間隔は４個の凹み部９の間隔と略同一である。さらに清掃パッド１１の径は、清掃パッド１１を凹み部９に挿入した時に清掃パッド１１表面がカバーガラス５表面と接触可能な寸法に設定される。
【００６１】
なお、本実施の形態では支持棒１２上に清掃パッド１１を４個設ける構成としたが、光学走査装置の筐体１に形成されるレーザ光の射出口の数に合わせて清掃パッド１１の数を変更可能であることはいうまでもない。
【００６２】
また図３（ｂ）に示すように、円筒状の清掃パッド１１は、弾性部材２１と、その表面に設けられる清掃シート２２とから構成される。弾性部材２１、清掃シート２２の材質は第１の実施の形態と異なるものではないので、ここでは説明を省略する。
【００６３】
本実施の形態では、清掃シート２２が弾性部材２１に対して接着固定される構成であるが、清掃シート２２が弾性部材２１に取り外し可能に構成されるものであってもよい。また、弾性部材２１は支持棒１２上に接着固定される構成である。
【００６４】
（清掃部材の使用方法）
本実施の形態に係る清掃部材の使用方法について説明を行う。
【００６５】
上記のように構成される清掃部材１５を用いて光学走査装置のカバーガラス５表面を清掃する際は、まず作業者が握り部１３を持ち、支持棒１２上の清掃パッド１１が、対応する凹み部９と対向する位置にくるように清掃部材１５を位置決めする。
【００６６】
そして清掃部材１５を光学走査装置の方向へ移動させて、光学走査装置の筐体１に形成される凹み部９に、対応する清掃パッド１１を挿入する。
【００６７】
清掃パッド１１をそれぞれ対応する凹み部９に所定量挿入した後、清掃シート２２表面をカバーガラス５表面に接触させる。
【００６８】
そして清掃シート２２表面がカバーガラス５表面に接触した状態で、作業者が支持棒１２を回転させる。支持棒１２が回転することで、清掃シート２２表面がカバーガラス５表面と摺擦し、カバーガラス５表面に付着した塵埃を取り除くことができる。
【００６９】
なお、支持棒１２の回転方向は特に特定されるものではないが、支持棒１２の回転速度は、清掃シート２２表面とカバーガラス５表面の摺擦によってカバーガラス５の表面に傷が形成されない程度の速度とする。
【００７０】
以上、本実施の形態によれば、画像形成プロセス中にエアーフローの影響によってカバーガラス５表面に付着する塵埃の付着量を低減させるために筐体に凹み部を設ける光学走査装置に対しても、カバーガラス５表面を確実に清掃することが可能になる。
【００７１】
よって、本実施の形態によれば、光学走査装置の筐体の凹み部に設けられる防塵部材を、該防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成でその表面を清掃することが可能な清掃部材、及びその使用方法を提供することが可能になる。
【００７２】
さらに本実施の形態に係る清掃部材１５は複雑な構成を有するものではない。よって従来と比較して製造コストの低減を達成することができ、さらにはメンテナンス時の作業を簡易化することも可能である。また、清掃部材１５を駆動するための駆動モータ、制御部等を設ける必要がないので、清掃部材１５を小型化させることも可能である。
【００７３】
また、円筒形状の清掃パッド１１表面をカバーガラス５表面に摺擦させる構成であるので、清掃パッド１１をカバーガラス５に押し付ける場合と比較するとより確実に塵埃を除去することが可能になる。
【００７４】
また、光学走査装置に複数のレーザ光射出口が設けられる場合であっても、各々の射出口に対応する位置に清掃パッド１１を設ける構成であるので、同時に複数のカバーガラス５表面を清掃することが可能である。
【００７５】
すなわち、従来と比較してカバーガラス５表面を清掃するのに要する時間を短縮することが可能である。
【００７６】
［第３の実施の形態］
図４を参照して本発明の第３の実施の形態に係る清掃部材、及びその使用方法について説明を行う。
【００７７】
（光学走査装置の全体構成）については、第１の実施の形態と異なるものではないのでその説明を省略する。ここでは（清掃部材の構成）、（清掃部材の使用方法）について説明を行う。
【００７８】
（清掃部材の構成）
図４に本実施の形態に係る清掃部材の概略構成を示す。図４（ａ）は本実施の形態に係る清掃部材１５の斜視図である。図４（ｂ）は清掃部材１５を光学走査装置に対して位置決めした状態を示すものである。
【００７９】
本実施の形態に係る清掃部材１５は、第２の実施の形態に係る清掃部材に位置規定板３１を設けたことが特徴である。そのほかの構成については第２の実施の形態と異なるものではないので、第２の実施の形態と同一の部分に関しては説明を省略する。
【００８０】
位置規定板（位置決め部材）３１は清掃部材１５の支持棒１２における握り部１３近傍に設けられ、本実施の形態に係る清掃部材１５を光学走査装置に対して位置決めする際に、作業者がより簡易に位置決めを行うことを可能にするものである。
【００８１】
すなわち、カバーガラス５が光学走査装置の凹み部９の内部に設けられる場合、作業者からは凹み部９の位置が確認しづらい。特に、カバーガラス５が光学走査装置の下面側に設けられる場合は、作業者からは凹み部９の位置が非常に確認しづらい。そのため、カバーガラス５の清掃を行う際に清掃部材１５を光学走査装置に対して位置決めをする作業に
手間がかかってしまう。
【００８２】
そこで本実施の形態に係る清掃部材１５によれば、支持棒１２に位置規定板３１を設け、位置規定板３１が所定の位置にくるまで清掃部材１５を押し込むだけで、清掃部材１５を光学走査装置に対して適切な位置に位置決めすることが可能になる。
【００８３】
（清掃部材の使用方法）
本実施の形態に係る清掃部材１５の使用方法について説明を行う。
【００８４】
上記のように構成される清掃部材１５を用いて光学走査装置のカバーガラス５表面を清掃する際は、まず作業者が握り部１３を持ち、支持棒１２上の円筒状の清掃パッド１１が、対応する凹み部９と対向する位置にくるように清掃部材１５を位置決めする。
【００８５】
この際、図４（ｂ）に示すように支持棒１２の先端が画像形成装置の枠体に設けられる支持棒載置台３４に載置される構成であってもよい。この構成によると、清掃部材１５の図４（ｂ）Ｚ方向の位置決めを容易に行うことが可能である。
【００８６】
さらに支持棒１２上の清掃パッド１１が、対応する凹み部９と対向する位置にくるように清掃部材１５を押し込み、位置規定板３１を光学走査装置が備えられる画像形成装置の枠体３２に当接させる。
【００８７】
位置規定板３１が画像形成装置の枠体３２と当接することで、清掃部材１５の図４（ｂ）中Ｘ方向の位置決めを行うことができ、各清掃パッド１１は、対応する凹み部９と対向する位置に位置決めされる。
【００８８】
そしてこの状態で、清掃パッド１１を光学走査装置の凹み部９に挿入し、清掃シート２２表面をカバーガラス５表面に接触させ、支持棒１２を回転させ、カバーガラス５の表面を清掃する。
【００８９】
以上の構成によると、清掃部材１５を光学走査装置に対して位置決めする際に作業者が清掃部材１５の位置決めに要する時間を短縮できるとともに、清掃パッド１１がカバーガラス５以外の部分に接触して不必要に汚れるおそれがない。よって、より確実にカバーガラス５表面を清掃することが可能になる。
【００９０】
なお、本実施の形態においては清掃パッド１１の形状を第２の実施の形態と同様に円筒形状としたが、第１の実施の形態のような構成であってもよい。
【００９１】
以上のように、本実施の形態によれば、光学走査装置の筐体の凹み部に設けられる防塵部材を、該防塵部材を光学走査装置から外すことなく、簡易な構成でその表面を清掃することが可能な清掃部材、及びその使用方法を提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００９２】
【図１】第１の実施の形態における光学走査装置の概略構成図
【図２】第１の実施の形態に係る清掃部材の概略構成図
【図３】第２の実施の形態に係る清掃部材の概略構成図
【図４】第３の実施の形態に係る清掃部材の概略構成図
【符号の説明】
【００９３】
１１  清掃パッド
１２  支持棒
１３  握り部
１４  凸部
１５  清掃部材
【図１】
2009061653.tif 000003
【図２】
2009061653.tif 000004
【図３】
2009061653.tif 000005
【図４】
2009061653.tif 000006