(57)【要約】【課題】光ディスクの個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じない光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を提供することを目的とする。【解決手段】ＣＰＵ１４は、標準フォーカス値に基づく第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標による第１評価値とし、第１評価値が所定の閾値以上の場合には、第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標による第２評価値とし、標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値に基づく第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標による第３評価値とし、標準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値に基づく第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標による第４評価値とし、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較して第１修正フォーカス値又は第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テスト記録を行うことを特徴とする。【選択図】図１
2009259342.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズのフォーカス制御を行うサーボ処理手段と、
前記フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値を記憶する記憶手段と、
前記標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値と前記標準フォーカス値から前記所定値を減算した第２修正フォーカス値とを生成する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、前記標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し前記第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、前記第１評価値が所定の閾値以上の場合には、前記第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、前記第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し前記第２テストデータの記録品質を前記第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、前記第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し前記第３テストデータの記録品質を前記第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、
前記第２評価値と前記第３評価値と前記第４評価値とを比較することにより前記第１修正フォーカス値又は前記第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記第１記録品質評価指標はブロックエラーレートであり、前記第２記録品質評価指標はアシンメトリ又は位相誤差の何れかであることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記第２評価値と前記第３評価値と前記第４評価値のうち、前記第３評価値が最も大きい場合、前記第１修正フォーカス値を用いて再度前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記第２評価値と前記第３評価値と前記第４評価値のうち、前記第４評価値が最も大きい場合、前記第２修正フォーカス値を用いて再度前記テストデータの記録を行うことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記第２評価値と前記第３評価値と前記第４評価値のうち、前記第２評価値が最も大きい場合、前記所定値から第２所定値を生成し、前記所定値の代わりに前記第２所定値を用いて前記第１修正フォーカス値および前記第２修正フォーカス値を再度生成し、その第１修正フォーカス値および第２修正フォーカス値を用いてそれぞれ前記第３評価値と前記第４評価値を生成し直すことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値を記憶し、
前記標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値及び前記標準フォーカス値から前記所定値を減算した第２修正フォーカス値を生成するフォーカス制御方法であって、
前記標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し前記第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、前記第１評価値が所定の閾値以上の場合には前記第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、前記第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し前記第２テストデータの記録品質を前記第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、前記第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し前記第３テストデータの記録品質を前記第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、
前記第２評価値と前記第３評価値と前記第４評価値とを比較することにより前記第１修正フォーカス値又は前記第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする光ディスク装置のフォーカス制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報を記録する光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに記録を行う場合、光ディスクの記録面と対物レンズとの距離を最適距離に保つフォーカス制御を行うことで、光源から出射された光を光ディスクの記録面上に最適に集光させると共に、理想的なマークを光ディスクの記録面上に形成することができる。
【０００３】
光ディスク装置はフォーカス制御をする際の標準値となる標準フォーカス値を記憶しており、この標準フォーカス値を用いてテスト記録を実施した後に本記録を行う。ここで、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス値を用いてテスト記録すると更にテスト記録の精度を上げることができる。
【特許文献１】特開２００５−１４１８５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
使用する光ディスクの個体状況に応じた条件でテスト記録する場合、使用する光ディスクの個体状況を検出する必要がある。すなわち、テスト記録に先立って、対物レンズの位置を少しずつ変化させながら光ディスクの記録面と対物レンズとの最適距離を算出する必要がある。そのため、使用する光ディスクの個体状況に応じたフォーカス値を用いてテスト記録する場合には、光ディスクの記録面と対物レンズとの最適距離の算出結果にかかわらず多くの時間を要する。
【０００５】
このとき、検出した結果に基づいて得られたフォーカス値でテスト記録を行った結果が標準フォーカス値でテスト記録を行った結果と同一になる場合、使用する光ディスクの状態を検出する際にかかった時間が結果的に無駄になるという問題があった。
【０００６】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、使用する光ディスクの個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じない光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、対物レンズのフォーカス制御を行うサーボ処理手段と、フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値を記憶する記憶手段と、標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値と標準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値とを生成する制御手段と、を備え、制御手段が、標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、第１評価値が所定の閾値以上の場合には、第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較することにより第１修正フォーカス値又は第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする光ディスク装置である。
【０００８】
また本発明は、フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値を記憶し、標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値と標準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値とを生成するフォーカス制御方法であって、標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、第１評価値が所定の閾値以上の場合には第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較することにより第１修正フォーカス値又は第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする光ディスク装置のフォーカス制御方法である。
【発明の効果】
【０００９】
本発明は上記構成により、標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、第１評価値が所定の閾値以上の場合には、第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較することにより第１修正フォーカス値又は第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことによって、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に、検出した結果に基づき得られたフォーカス値でテスト記録を行った結果が、標準フォーカス値でテスト記録を行った結果と異なると判断される場合のみ、使用する光ディスクの個体状況を検出するので、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に無駄な時間を生じない。その結果、使用する光ディスクの個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じない光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
請求項１記載の発明は、対物レンズのフォーカス制御を行うサーボ処理手段と、フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値を記憶する記憶手段と、標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値と標準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値とを生成する制御手段と、を備え、制御手段が、標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、第１評価値が所定の閾値以上の場合には、第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較することにより第１修正フォーカス値又は第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とするものである。これにより、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に、検出した結果に基づき得られたフォーカス値でテスト記録を行った結果が、標準フォーカス値でテスト記録を行った結果と異なると判断される場合のみ、使用する光ディスクの個体状況を検出するので、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に無駄な時間を生じない。その結果、使用する光ディスクの個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じない光ディスク装置を実現できる。
【００１１】
請求項２記載の発明は、第１記録品質評価指標はブロックエラーレートであり、第２記録品質評価指標はアシンメトリ又は位相誤差であることを特徴とする。これにより、第１記録品質評価指標と第２記録品質評価指標とを異ならせるので、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に、最適な評価指標を用いることができる。
【００１２】
請求項３記載の発明は、制御手段が、第２評価値と第３評価値と第４評価値のうち、第３評価値が最も大きい場合、第１修正フォーカス値を用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、精度向上が見込めるテスト記録のみを行うので、テスト記録にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００１３】
請求項４記載の発明は、制御手段が、第２評価値と第３評価値と第４評価値のうち、第４評価値が最も大きい場合、第２修正フォーカス値を用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、精度向上が見込めるテスト記録のみを行うので、テスト記録にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００１４】
請求項５記載の発明は、制御手段が、第２評価値と第３評価値と第４評価値のうち、第２評価値が最も大きい場合、所定値から第２所定値を生成し、所定値の代わりに第２所定値を用いて第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値を再度生成し、その第１修正フォーカス値及び第２修正フォーカス値を用いてそれぞれ第３評価値と第４評価値を生成し直すことを特徴とする。これにより、使用する光ディスクの個体状況の検出を更に継続することでテスト記録の精度向上が見込めると判断できる場合には、第１修正フォーカス値と第２修正フォーカス値を変更して第３評価値と第４評価値を数値化し直すので、光ディスクの個体状況の検出をより精度良く行うことができる。
【００１５】
請求項６記載の発明は、フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値を記憶し、標準フォーカス値に所定値を加算した第１修正フォーカス値と標準フォーカス値から所定値を減算した第２修正フォーカス値とを生成するフォーカス制御方法であって、標準フォーカス値に基づいて第１テストデータを記録し第１テストデータの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、第１評価値が所定の閾値以上の場合には第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づいて数値化して第２評価値とし、第１修正フォーカス値に基づいて第２テストデータを記録し第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、第２修正フォーカス値に基づいて第３テストデータを記録し第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とし、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較することにより第１修正フォーカス値又は第２修正フォーカス値の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うことを特徴とする。これにより、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に、検出した結果に基づき得られたフォーカス値でテスト記録を行った結果が、標準フォーカス値でテスト記録を行った結果と異なると判断される場合のみ、使用する光ディスクの個体状況を検出するので、使用する光ディスクの個体状況を検出する際に無駄な時間を生じない。その結果、使用する光ディスクの個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じない光ディスク装置のフォーカス制御方法を実現できる。
【００１６】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１について、図面を参照しながら説明する。
【００１７】
図１は本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図である。図１において、１は光源、２は対物レンズ、３はレンズホルダ、４はアクチュエータ、４ａはフォーカス調整用コイル、５は光検出器、６はスピンドルモータ、７はフィードモータ、８はフォーカスエラー信号生成回路、９はＲＦ信号検出回路、１０はフォーカスサーボ回路、１１は信号計測回路、１３はメモリ、１４はＣＰＵ、１５はレーザ制御部、１６はドライバ、５０は光ディスク、１００は光ヘッド部、２００はピックアップモジュールである。なお、本実施の形態１におけるサーボ処理手段はフォーカスサーボ回路１０、記憶手段はメモリ１３、制御手段はＣＰＵ１４に相当する。
【００１８】
ピックアップモジュール２００は、光ディスク５０を回転させるスピンドルモータ６と、光ディスク５０に光を照射し光ディスク５０からの反射光を受光する光ヘッド部１００と、光ヘッド部１００を光ディスク５０の半径方向に移動させるフィードモータ７を備えたフィード部と、により構成されている。
【００１９】
光ヘッド部１００は、光ディスク５０に照射する光を出射する光源１と、光源１からの出射光を集光する対物レンズ２と、対物レンズ２を移動可能に保持するレンズホルダ３と、レンズホルダ３を駆動するアクチュエータ４と、光ディスク５０からの反射光を対物レンズ２経由で受光する光検出器５を備えている。
【００２０】
アクチュエータ４は、フォーカス調整用コイル４ａや図示しないチルト調整用コイルやマグネット等が設けられており、コイルに電流を流すことによりレンズホルダ３をフォーカス方向やチルト方向に駆動して対物レンズ２を移動させることで、フォーカス調整やチルト調整を行う。
【００２１】
光検出器５は、光ディスク５０からの反射光を受光し、その受光した光量に応じた電気信号を生成し、その生成した電気信号をフォーカスエラー信号生成回路８とＲＦ信号検出回路９とに出力する。
【００２２】
フォーカスエラー信号生成回路８は、光検出器５から入力された電気信号からフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号をフォーカスサーボ回路１０と信号計測回路１１とに出力する。また、ＲＦ信号検出回路９は、光検出器５から入力された電気信号からＲＦ信号を検出し、そのＲＦ信号を信号計測回路１１に出力する。
【００２３】
フォーカスサーボ回路１０は、フォーカスエラー信号生成回路８から入力されたフォーカスエラー信号を基にアクチュエータ４ａに設けられたフォーカス調整用コイル４ａに流す電流を決定し、ＣＰＵ１４に出力する。
【００２４】
信号計測回路１１は、ＲＦ信号検出回路９から入力されたＲＦ信号を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とし、その第１評価値を現在のフォーカス値での記録品質としてＣＰＵ１４に出力する。なお、本実施の形態１における第１記録品質評価指標はブロックエラーレートである。
【００２５】
メモリ１３は、初期フォーカス引き込み時のフォーカス値標準値となる標準フォーカス値Ｆｏと、標準フォーカス値Ｆｏとの演算に用いる所定値ｋ１を格納している。
【００２６】
ＣＰＵ１４は、メモリ１３から標準フォーカス値Ｆｏを読み込み、この標準フォーカス値Ｆｏをフォーカス引き込み時の標準値としてフォーカスサーボ回路１０に設定し、本記録に先立ち第１テストデータを記録する。その後、この第１テストデータを再生してブロックエラーレートに基づく数値化を行い、この値を第１評価値とする。ＣＰＵ１４は、この第１評価値を用いて第１テストデータを記録したときのフォーカス値が適正であったかを判別することができる。このとき、第１評価値が所定の閾値以上となる場合には、ＣＰＵ１４は標準フォーカス値Ｆｏが光ディスク５０の個体状況にあっていなかったと判断して、第１テストデータを第２記録品質評価指標に基づき数値化し、この値を第２評価値とする。なお、本実施の形態１における第２記録品質評価指標はアシンメトリ又は位相誤差である。これにより、第１記録品質評価指標と第２記録品質評価指標とを異ならせるので、使用する光ディスク５０の個体状況を検出する際に、最適な評価指標を用いることができる。
【００２７】
また、ＣＰＵ１４は、標準フォーカス値Ｆｏに所定値ｋ１を加算して第１修正フォーカス値Ｆ１、標準フォーカス値Ｆｏから所定値ｋ１を減算して第２修正フォーカス値Ｆ２をそれぞれ生成する。そして、第１修正フォーカス値Ｆ１に基づいて第２テストデータを記録し、その第２テストデータを再生してブロックエラーレートに基づく数値化を行い、この値を第３評価値とする。また、第２修正フォーカス値Ｆ２に基づいて第３テストデータを記録し、その第３テストデータを再生してブロックエラーレートに基づく数値化を行い、この値を第４評価値とする。その後、第２評価値、第３評価値、第４評価値を比較して再度光ディスク５０の個体状況を検出する。
【００２８】
更に、ＣＰＵ１４は、フォーカスサーボ回路１０、信号計測回路１１、メモリ１３、ドライバ１６の各部から送られる信号が入力され、これらの信号の演算処理等を行い、この演算処理の結果（信号）を各部に送出し、各部にて駆動、処理を実行させ、各部の制御を行うものである。
【００２９】
レーザ制御部１５は、光検出器５で検出した光ディスク５０から反射光の光量に基づき、光ディスク２０に照射する光量が所定量になるように光源１の発光量を調整する。
【００３０】
ドライバ１６は、ＣＰＵ１４からの命令に従い、スピンドルモータ６、レーザ制御部１５、フォーカス調整用コイル４ａを駆動し、光ディスク５０を回転させ、光源１の発光量を調整し、対物レンズ２のフォーカス制御を行う。
【００３１】
図２は、本発明の実施の形態１における対物レンズと光ディスクとの位置関係を示す図である。図２（ａ）は標準フォーカス値Ｆｏを用いた場合、図２（ｂ）は第１修正フォーカス値Ｆ１を用いた場合、図２（ｃ）は第２修正フォーカス値Ｆ２を用いた場合を示している。図２において、２は対物レンズ、５０は光ディスク、５０ａは記録層を示している。
【００３２】
ＣＰＵ１４は、標準フォーカス値Ｆｏに所定値ｋ１を加算して第１修正フォーカス値Ｆ１、標準フォーカス値Ｆｏから所定値ｋ１を減算して第２修正フォーカス値Ｆ２をそれぞれ生成し、テストデータを記録する際のフォーカス値として、標準フォーカス値Ｆｏ、第１修正フォーカス値Ｆ１と、第２修正フォーカス値Ｆ２とを使い分け、光ディスク５０の個体状況を検知できる。
【００３３】
図２（ａ）はメモリ１３に格納された標準フォーカス値Ｆｏをそのまま用いて第１テストデータとして記録する場合を示し、光ディスク５０の盤面から対物レンズ２までの距離がａ１、光ディスク５０の記録層５０ａから対物レンズ２までの距離がａ２となる状態を示したものである。また、図２（ｂ）は標準フォーカス値Ｆｏから生成された第１修正フォーカス値Ｆ１を用いて第２テストデータとして記録する場合を示し、光ディスク５０の盤面から対物レンズ２までの距離がｂ１、光ディスク５０の記録層５０ａから対物レンズ２までの距離がｂ２となる状態を示したものである。また、図２（ｃ）は標準フォーカス値Ｆｏから生成された第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて第３テストデータとして記録する場合を示し、光ディスク５０の盤面から対物レンズ２までの距離がｃ１、光ディスク５０の記録層５０ａから対物レンズ２までの距離がｃ２となる状態を示したものである。ここで、ａ１、ｂ１、ｃ１の関係は、ｃ１＞ａ１＞ｂ１となる。
【００３４】
このとき、図２（ｂ）に示すように記録層５０ａが光ディスク５０の盤面から遠ざかる方向に位置している場合には、対物レンズ２を標準位置より光ディスク５０の盤面側に近づけて記録するのが好ましい。したがって、図２（ａ）の状態よりも図２（ｂ）の状態でテスト記録を行うのが好ましい。また、図２（ａ）に示すように記録層５０ａが光ディスク５０の対物レンズ２側盤面に近づく方向に位置している場合には、対物レンズ２を標準位置より光ディスク５０の盤面から遠ざけて記録するのが好ましい。したがって、図２（ａ）の状態よりも図２（ｃ）の状態でテスト記録を行うほうが好ましい。これにより、ａ２、ｂ２、ｃ２の関係を、ａ２≒ｂ２≒ｃ２のように調整できる。
【００３５】
このように、光ディスク５０の個体状況が図２（ａ）、図２（ｂ）、図２（ｃ）に示す何れの状態であっても、テスト記録の際に、標準フォーカス値Ｆｏ、第１修正フォーカス値Ｆ１と、第２修正フォーカス値Ｆ２とを光ディスク５０の個体状況に応じて使い分けることで、テスト記録の精度向上を図ることができる。
【００３６】
図３は、本発明の実施の形態１におけるフォーカス値と記録パワーと記録品質との関係を示す図である。図３において、横軸は記録パワー、縦軸はそれぞれのフォーカス値における第１記録品質評価指標に基づき数値化された記録品質を示したものである。なお、本実施の形態１における第１記録品質評価指標はブロックエラーレートであり、このブロックエラーレートに基づき数値化された値が第１評価値である。ここで、ブロックエラーレートは光ディスク５０の記録領域における単位長さ当たりのエラー率を示し、この数値が一定値以上になるとエラー訂正が追いつかず記録品質を低下させる。
【００３７】
テスト記録を行う際に、メモリ１３に格納された標準フォーカス値Ｆｏと光ディスク５０に適したフォーカス値とが一致した場合、記録パワーと記録品質との関係は曲線Ｄとなり、第１評価値は所定の閾値未満になる。すなわち、標準フォーカス値Ｆｏは適正領域に位置していると判断できる。この場合、標準フォーカス値Ｆｏでテスト記録に十分な精度を得ることができるので、標準フォーカス値Ｆｏと異なるフォーカス値によるテスト記録は行わない。
【００３８】
ところが、メモリ１３に格納された標準フォーカス値Ｆｏと光ディスク５０に適したフォーカス値とが一致していない場合、記録パワーと記録品質との関係は曲線Ｅもしくは曲線Ｆとなり、第１評価値は所定の閾値以上になる。この場合、テスト記録に十分な精度を得ることができないので、第１修正フォーカス値Ｆ１又は第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて、使用する光ディスク５０の個体状況を検知する必要がある。
【００３９】
本実施の形態１では、フォーカス制御の標準値となる標準フォーカス値Ｆｏを記憶し、標準フォーカス値Ｆｏに所定値ｋ１を加算した第１修正フォーカス値Ｆ１と標準フォーカス値Ｆｏから所定値ｋ１を減算した第２修正フォーカス値Ｆ２を生成する。そして、標準フォーカス値Ｆｏに基づいて第１テストデータを記録し第１記録品質評価指標に基づき数値化した値を第１評価値とし、その第１評価値が所定の閾値以上の場合には、第２記録品質評価指標に基づいて再度数値化を行い第２評価値とし、更に第１修正フォーカス値Ｆ１に基づいて第２テストデータを記録し第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第３評価値とし、第２修正フォーカス値Ｆ２に基づいて第３テストデータを記録し第３テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第４評価値とする。その後、第２評価値と第３評価値と第４評価値とを比較することにより第１修正フォーカス値Ｆ１又は第２修正フォーカス値Ｆ２の何れかを用いて再度テストデータの記録を行うかを判断する。これにより、使用する光ディスク５０の個体状況を検出する際に、検出した結果に基づき得られたフォーカス値でテスト記録を行った結果が標準フォーカス値Ｆｏでテスト記録を行った結果と異なると判断される場合のみ、使用する光ディスク５０の個体状況を検出するので、使用する光ディスク５０の個体状況を検出する際に無駄な時間を生じない。
【００４０】
図４は、本発明の実施の形態１における第２評価値と第３評価値と第４評価値の関係を示す図であり、図４（ａ）は第１修正フォーカス値Ｆ１を用いて再度テストデータの記録を行う場合を示し、図４（ｂ）は第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて再度テストデータの記録を行う場合を示し、図４（ｃ）は第３評価値と第４評価値を生成し直す場合を示している。図４において、横軸はフォーカス量、縦軸はアシンメトリ量を表し、第２記録品質評価指標としてアシンメトリを用いた場合を示している。また、図４において、アシンメトリを用いた場合の第２評価値、第３評価値、第４評価値を、それぞれβ2、β3、β4と表記し、破線はβ2、β3、β4から予想されるフォーカス量とアシンメトリとの関係を示したものである。ここで、アシンメトリとは最小周波数で記録されている信号を再生したときに得られる信号振幅の平均値と、最大周波数で記録している信号を再生したときに得られる信号振幅の平均値の差であり、記録時のフォーカスが正しい場合にはアシンメトリが最大になり、記録時のフォーカスが正しくない場合にはアシンメトリが小さくなる。
【００４１】
第２評価値（β2）と第３評価値（β3）と第４評価値（β4）との関係は、それらの値の大小関係により図４（ａ）、図４（ｂ）、図４（ｃ）の何れかのパターンに分類される。すなわち、図４（ａ）は第３評価値（β3）が最も大きい場合、図４（ｂ）は第４評価値（β4）が最も大きい場合、図４（ｃ）は第２評価値（β2）が最も大きい場合に分類される。
【００４２】
ここで、図４（ａ）の場合は、第３評価値（β3）が最も大きいので、この第３評価値（β3）に対応する第１修正フォーカス値Ｆ１が、標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２のうちで最もテスト記録の条件として適合している。この場合、第１修正フォーカス値Ｆ１を用いて再度テスト記録を行う。これにより、精度向上が見込めるテスト記録のみを行うので、テスト記録にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００４３】
また、図４（ｂ）の場合は、第４評価値（β4）が最も大きいので、この第４評価値（β4）に対応する第２修正フォーカス値Ｆ２が、標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２のうちで最もテスト記録の条件として適合している。この場合、第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて再度テスト記録を行う。これにより、精度向上が見込めるテスト記録のみを行うので、テスト記録にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００４４】
図４（ｃ）の場合は、第２評価値（β2）が最も大きく標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２のうちでは最もテスト記録の条件として適合していると言えるが、第２評価値（β2）は先の第１記録品質評価指標に基づき数値化した第１評価値で所定の閾値を越えていないので、まだ十分ではない。
【００４５】
そこで、図４（ｃ）に示す第２評価値（β2）が標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２の中で最も大きくなる場合は、再テスト記録の精度を上げるために十分なフォーカス値を得られていないと判断して、第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２を生成する際に用いた所定値ｋ１から第２所定値ｋ２を生成し、所定値ｋ１の代わりに第２所定値ｋ２を用いて第１修正フォーカス値Ｆ１及び第２修正フォーカス値Ｆ２を再度生成する。その後、第１修正フォーカス値Ｆ１及び第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて第３評価値（β3）と第４評価値（β4）を生成し直し、その第３評価値（β3）と第４評価値（β4）と、第２評価値（β2）を対象に再評価を行う。そして、その再評価の結果が、図４（ａ）、図４（ｃ）の何れかのパターンになるまで、すなわち第２評価値（β2）と第３評価値（β3）と第４評価値（β4）のうち第３評価値（β3）と第４評価値（β4）の何れかが大きくなるまで、これらの処理を繰り返す。これにより、使用する光ディスク５０の個体状況の検出を更に継続することでテスト記録の精度向上が見込めると判断できる場合には、第１修正フォーカス値と第２修正フォーカス値を変更して第３評価値と第４評価値を数値化し直すので、光ディスクの個体状況の検出をより精度良く行うことができる。
【００４６】
図５は、本発明の実施の形態１における第２評価値と第３評価値と第４評価値の関係を示す図であり、図５（ａ）は第１修正フォーカス値Ｆ１を用いて再度テストデータの記録を行う場合を示し、図５（ｂ）は第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて再度テストデータの記録を行う場合を示し、図５（ｃ）は第３評価値と第４評価値を生成し直す場合を示している。図５において、横軸はフォーカス量、縦軸は位相誤差量を表し、第２記録品質評価指標として位相誤差を用いた場合を示している。また、図５において、位相誤差を用いた場合の第２評価値、第３評価値、第４評価値を、それぞれδ2、δ3、δ4と表記し、破線はδ2、δ3、δ4から予想されるフォーカス量と位相誤差量との関係を示したものである。ここで、位相誤差とは特定周波数の信号時間と信号計測回路内の基準時間との差の分布平均であり、記録時のフォーカスが正しい場合には位相誤差が最大になり、記録時のフォーカスが正しくない場合には位相誤差が小さくなる。
【００４７】
第２評価値（δ2）と第３評価値（δ3）と第４評価値（δ4）との関係は、それらの値の大小関係により図５（ａ）、図５（ｂ）、図５（ｃ）の何れかのパターンに分類される。すなわち、図５（ａ）は第３評価値（δ3）が最も大きい場合、図５（ｂ）は第４評価値（δ4）が最も大きい場合、図５（ｃ）は第２評価値（δ2）が最も大きい場合に分類される。
【００４８】
ここで、図５（ａ）の場合は、第３評価値（δ3）が最も大きいので、この第３評価値（δ3）に対応する第１修正フォーカス値Ｆ１が、標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２のうちで最もテスト記録の条件として適合している。この場合、第１修正フォーカス値Ｆ１を用いて再度テスト記録を行う。これにより、精度向上が見込めるテスト記録のみを行うので、テスト記録にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００４９】
また、図５（ｂ）の場合は、第４評価値（δ4）が最も大きいので、この第４評価値（δ4）に対応する第２修正フォーカス値Ｆ２が、標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２のうちで最もテスト記録の条件として適合している。この場合、第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて再度テスト記録を行う。これにより、精度向上が見込めるテスト記録のみを行うので、テスト記録にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００５０】
図５（ｃ）の場合は、第２評価値（δ2）が最も大きく標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２のうちでは最もテスト記録の条件として適合していると言えるが、第２評価値（δ2）は先の第１記録品質評価指標に基づき数値化した第１評価値で所定の閾値を越えていないので、まだ十分ではない。
【００５１】
そこで、図５（ｃ）に示す第２評価値（δ2）が標準フォーカス値Ｆｏと第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２の中で最も大きくなる場合は、再テスト記録の精度を上げるために十分なフォーカス値を得られていないと判断して、第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２を生成する際に用いた所定値ｋ１から第２所定値ｋ２を生成し、所定値ｋ１の代わりに第２所定値ｋ２を用いて第１修正フォーカス値Ｆ１及び第２修正フォーカス値Ｆ２を再度生成する。その後、第１修正フォーカス値Ｆ１及び第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて第３評価値（δ3）と第４評価値（δ4）を生成し直し、その第３評価値（δ3）と第４評価値（δ4）と、第２評価値（δ2）を対象に再評価を行う。そして、その再評価の結果が、図５（ａ）、図５（ｃ）の何れかのパターンになるまで、すなわち第２評価値（δ2）と第３評価値（δ3）と第４評価値（δ4）のうち第３評価値（δ3）と第４評価値（δ4）の何れかが大きくなるまで、これらの処理を繰り返す。これにより、使用する光ディスク５０の個体状況の検出を更に継続することでテスト記録の精度向上が見込めると判断できる場合には、第１修正フォーカス値と第２修正フォーカス値を変更して第３評価値と第４評価値を数値化し直すので、光ディスクの個体状況の検出をより精度良く行うことができる。
【００５２】
図６は、本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御方法を示すフローチャートである。図６における第１記録品質評価指標はブロックエラーレートであり、第２記録品質評価指標はアシンメトリ、位相誤差である。なお、第２記録品質評価指標がアシンメトリの場合は、第２評価値が図４に示すβ2、第３評価値が図４に示すβ3、第４評価値が図４に示すβ4となる。また、第２記録品質評価指標が位相誤差の場合は、第２評価値が図５に示すδ2、第３評価値が図５に示すδ3、第４評価値が図５に示すδ4となる。
【００５３】
光ディスク装置に光ディスク５０が装着されると、ＣＰＵ１４はドライバ１６を介してスピンドルモータ６を回転させ、ドライバ１６、レーザ制御部１５を介して光源１を発光させる（Ｓ１）。次に、ＣＰＵ１４はメモリ１３から標準フォーカス値Ｆｏを読み出し（Ｓ２）、フォーカスサーボ回路１０に標準フォーカス値Ｆｏを設定し、ドライバ１６を介してスピンドルモータ６、レーザ制御部１５、フォーカス調整用コイル４ａを駆動し、標準フォーカス値Ｆｏに基づく第１テストデータを記録する（Ｓ３）。このとき、第１テストデータの記録は、フォーカス値を標準フォーカス値Ｆｏに固定して記録パワーを段階的に変化させる。そして、ＣＰＵ１４は、記録した第１テストデータを再生して第１テストデータにおける所定の記録パワーの記録品質を第１記録品質評価指標に基づき数値化して第１評価値とする（Ｓ４）。なお、本実施の形態１における第１記録品質評価指標はブロックエラーレートである。
【００５４】
次に、ＣＰＵ１４は第１評価値を所定の閾値と比較して（Ｓ５）、第１評価値が所定の閾値未満の場合にはテスト記録を終了し標準フォーカス値Ｆｏを本記録のフォーカス制御の基準としてフォーカスサーボ回路１０に設定する。（Ｓ６）。これにより、使用する個体状況に応じたフォーカス制御値を算出する際に、精度向上が見込めないテスト記録を行わないので、フォーカス制御基準値算出にかかる時間を最小限に抑えることができる。
【００５５】
また、第１評価値が所定の閾値以上の場合には第１テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化して第２評価値とし、メモリ１３に保持する（Ｓ７）。なお、本実施の形態１における第２記録品質評価指標はβもしくは位相誤差である。
【００５６】
次に、ＣＰＵ１４は、標準フォーカス値Ｆｏにメモリ１３から読み出した所定値ｋ１を加算して第１修正フォーカス値Ｆ１を生成し、標準フォーカス値Ｆｏから所定値を減算して第２修正フォーカス値Ｆ２を生成する（Ｓ８）。そして、第１修正フォーカス値Ｆ１をフォーカスサーボ回路１０に設定して第１修正フォーカス値Ｆ１に基づき第２テストデータを記録し、その後第２修正フォーカス値Ｆ２をフォーカスサーボ回路１０に設定して第２修正フォーカス値Ｆ２に基づき第３テストデータを記録する（Ｓ９）。このとき、第２テストデータの記録は、フォーカス値を第１修正フォーカス値Ｆ１に固定して記録パワーを変化させずに行い、第３テストデータの記録はフォーカス値を第２修正フォーカス値Ｆ２に固定して記録パワーを変化させずに行う。
【００５７】
その後、ＣＰＵ１４は、記録した第２テストデータを再生して第２テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化し第３評価値としてメモリ１３に保持し、記録した第３テストデータを再生して第４テストデータの記録品質を第２記録品質評価指標に基づき数値化し第４評価値としてメモリ１３に保持する（Ｓ１０）。
【００５８】
その後、ＣＰＵ１４はメモリ１３に保持した第２評価値、第３評価値、第４評価値を読み出し、第２評価値、第３評価値、第４評価値の中から最も大きい値を探索する。
【００５９】
第３評価値＞第２、第４評価値となる場合、すなわち第３評価値が最も大きくなる場合には（Ｓ１１）、ＣＰＵ１４は第１修正フォーカス値Ｆ１を用いてテスト記録を開始する（Ｓ１２）。
【００６０】
第３評価値＞第２、第４評価値とならない場合、すなわち第３評価値が最も大きくならない場合には、ＣＰＵ１４は第４評価値＞第２、第３評価値であるかを確認する（Ｓ１３）。このとき、第４評価値＞第２、第３評価値となる場合、すなわち第４評価値が最も大きくなる場合には（Ｓ１３）、ＣＰＵ１４は第２修正フォーカス値Ｆ２を用いてテスト記録を開始する（Ｓ１４）。また、第４評価値＞第２、第３評価値とならない場合、すなわち第４評価値が最も大きくならない場合には、ＣＰＵ１４は、（Ｓ１１）の結果と併せて、第２評価値≧第３、第４評価値と判断して、第１修正フォーカス値Ｆ１と第２修正フォーカス値Ｆ２を生成し直す（Ｓ１５）。
【００６１】
その後、第１修正フォーカス値Ｆ１及び第２修正フォーカス値Ｆ２を用いて第３評価値と第４評価値を生成し直し、その第３評価値と第４評価値と、第２評価値を対象に第２記録品質評価指標を用いて再評価を行う。そして、その再評価の結果が、図４（ａ）、図４（ｃ）の何れかになるまで、すなわち第２評価値と第３評価値と第４評価値の中で第３評価値と第４評価値の何れかが大きくなるまで、Ｓ９からＳ１５の処理を繰り返す。
【００６２】
以上の内容により、使用する光ディスク５０の個体状況を検出する際に、検出した結果に基づき得られたフォーカス値でテスト記録を行った結果が、標準フォーカス値Ｆｏでテスト記録を行った結果と異なると判断される場合のみ、使用する光ディスク５０の個体状況を検出するので、使用する光ディスク５０の個体状況を検出する際に無駄な時間を生じない。その結果、使用する光ディスク５０の個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じない光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法を実現できる。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は、使用する光ディスクの個体状況を検出してフォーカス制御の基準値を決定する際に無駄な時間を生じさせず、光ディスクに情報を記録する光ディスク装置及びそのフォーカス制御方法などに適応可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１における対物レンズと光ディスクとの位置関係を示す図
【図３】本発明の実施の形態１におけるフォーカス値と記録パワーと記録品質との関係を示す図
【図４】本発明の実施の形態１における第２評価値と第３評価値と第４評価値の関係を示す図
【図５】本発明の実施の形態１における第２評価値と第３評価値と第４評価値の関係を示す図
【図６】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御方法を示すフローチャート
【符号の説明】
【００６５】
１    光源
２    対物レンズ
３    レンズホルダ
４    アクチュエータ
４ａ    フォーカス調整用コイル
５    光検出器
６    スピンドルモータ
７    フィードモータ
８    フォーカスエラー信号生成回路
９    ＲＦ信号検出回路
１０    フォーカスサーボ回路
１１    信号計測回路
１３    メモリ
１４    ＣＰＵ
１５    レーザ制御部
１６    ドライバ
５０    光ディスク
５０ａ    記録層
１００    光ヘッド部
２００    ピックアップモジュール
【図１】
2009259342.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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