(57)【要約】【課題】撮像素子を有する撮像装置に備えられる欠陥画素検出装置において、撮像時に、欠陥画素を、逐次、詳細に検出する。【解決手段】撮像装置１００が備える欠陥画素検出部２０において、画素データ取得部２０ａは、欠陥画素の検出対象となる注目画素、および、注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素データを順次取得する。第１演算部２０ｂは、所定の複数の周辺画素間の画素データの差の絶対値（第１の絶対値）をそれぞれ算出する。欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、複数の第１の絶対値と所定の閾値とのそれぞれの差に基づいて、欠陥画素判定用閾値を切り換える。第２演算部２０ｄは、注目画素の画素データと所定の複数の周辺画素の画素データとの差の絶対値（第２の絶対値）をそれぞれ算出する。欠陥画素判定部２０ｅは、複数の第２の絶対値、および、欠陥画素判定用閾値に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する。【選択図】図１
2009017475.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像装置に備えられ、該撮像装置によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素の検出対象となる注目画素の画素値を表す画素データと、前記注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素値を表す画素データとを順次取得する画素データ取得部と、
前記複数の周辺画素のうちの、所定の複数の周辺画素間の画素値の差の絶対値を、それぞれ第１の絶対値として算出する第１の演算部と、
複数の前記第１の絶対値と所定の閾値とのそれぞれの差に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かの判定に用いられる欠陥画素判定用閾値を設定する欠陥画素判定用閾値設定部と、
前記注目画素の画素値と前記所定の複数の周辺画素の画素値との差の絶対値を、それぞれ第２の絶対値として算出する第２の演算部と、
複数の前記第２の絶対値、および、前記設定された欠陥画素判定用閾値に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定部と、
を備える欠陥画素検出装置。
【請求項２】
請求項１記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定用閾値設定部は、
前記複数の第１の絶対値が、それぞれ、前記所定の閾値以上であるときには、前記欠陥画素判定用閾値を第１の欠陥画素判定用閾値に設定し、
前記複数の第１の絶対値が、それぞれ、前記所定の閾値未満であるときには、前記欠陥画素判定用閾値を前記第１の欠陥画素判定用閾値よりも値が小さい第２の欠陥画素判定用閾値に設定する、
欠陥画素検出装置。
【請求項３】
請求項２記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定用閾値設定部は、さらに、前記所定の複数の周辺画素の画素値に基づいて、前記第１の欠陥画素判定用閾値、および、前記第２の欠陥画素判定用閾値の少なくとも一方を設定する、
欠陥画素検出装置。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれかに記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定部は、前記複数の第２の絶対値が、それぞれ、前記欠陥画素判定用閾値よりも大きいときに、前記注目画素が欠陥画素であると判定する、
欠陥画素検出装置。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれかに記載の欠陥画素検出装置であって、
前記撮像装置は、前記複数の画素にそれぞれ対応し、該対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子からなる撮像素子を備えており、
前記複数の受光素子には、それぞれ、互いに異なる色光を透過する複数種類のカラーフィルタが、所定の配列で備えられており、
前記所定の複数の周辺画素は、それぞれ、前記注目画素に対応する受光素子に備えられたカラーフィルタと同一種類のカラーフィルタが備えられた受光素子に対応する画素である、
欠陥画素検出装置。
【請求項６】
請求項５記載の欠陥画素検出装置であって、
前記所定の閾値は、前記カラーフィルタの種類ごとに設定されている、
欠陥画素検出装置。
【請求項７】
請求項５または６記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定用閾値は、前記カラーフィルタの種類ごとに設定されている、
欠陥画素検出装置。
【請求項８】
撮像装置であって、
撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応し、該対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子からなる撮像素子を有する撮像部と、
前記複数の受光素子からそれぞれ出力された複数の前記画素データに基づいて、前記複数の画素の中から、欠陥画素を検出する欠陥画素検出部と、
前記検出された欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する画素データ補正部と、を備え、
前記欠陥画素検出部として、請求項１ないし７のいずれかに記載の欠陥画素検出装置を備える撮像装置。
【請求項９】
請求項８記載の撮像装置であって、
前記画素データ補正部は、前記欠陥画素の画素データを、前記所定の複数の周辺画素の画素値の平均値に置換する、
撮像装置。
【請求項１０】
撮像装置によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素を検出する欠陥画素検出方法であって、
前記欠陥画素の検出対象となる注目画素の画素値を表す画素データと、前記注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素値を表す画素データとを順次取得する画素データ取得工程と、
前記複数の周辺画素のうちの所定の複数の周辺画素間の画素値の差の絶対値を、それぞれ第１の絶対値として算出する第１の演算工程と、
複数の前記第１の絶対値と所定の閾値とのそれぞれの差に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かの判定に用いられる欠陥画素判定用閾値を設定する欠陥画素判定用閾値設定工程と、
前記注目画素の画素値と前記所定の複数の周辺画素の画素値との差の絶対値を、それぞれ第２の絶対値として算出する第２の演算工程と、
複数の前記第２の絶対値、および、前記設定された欠陥画素判定用閾値に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定工程と、
を備える欠陥画素検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に備えられる欠陥画素検出装置に関し、詳しくは、撮像装置によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、撮像装置が備える撮像素子の動作不良等に起因する欠陥画素を検出する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ディジタルスチルカメラや、ディジタルビデオカメラ等の撮像装置が普及している。そして、この撮像装置には、レンズ等を介して受光した光を電気信号に変換する撮像素子が備えられている。この撮像素子としては、一般に、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）や、ＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）センサ等が用いられる。これらの撮像素子は、撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応する複数の受光素子（フォトダイオード）を備え、各画素の画素値をそれぞれ表す画素データをそれぞれ出力する。そして、撮像装置によって撮像された画像を表示装置に表示する場合、撮像時に、例えば、いずれかの受光素子において、動作不良等が生じていると、本来出力されるべき値よりも高い値の画素データが出力されて、その受光素子に対応する画素が、いわゆる白キズとして認識されたり、本来出力されるべき値よりも低い値の画素データが出力されて、その受光素子に対応する画素が、いわゆる黒キズとして認識されたりする場合がある。
【０００３】
そこで、従来、撮像装置において、撮像された画像を構成する複数の画素の中から、撮像素子の動作不良等による欠陥画素を検出し、欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する種々の技術が提案されている。例えば、下記特許文献１には、単板式カラービデオカメラにおける画素欠陥である例えば白キズを検出する場合に、検査を行う画素が持つ色とは別の色フィルタを持つ周辺の画素における周波数特性から検査対象画素が高周波成分を持たないことをチェックした後、その検査対象画素が高周波成分を持つことが検出されたときに、その画素がキズであると検出する技術が記載されている。また、下記特許文献２には、撮像時に、注目画素を中心とする３×３の９画素からなる画素ブロックを順次バッファに蓄積し、注目画素と各周辺画素との値を比較して、注目画素よりも値の大きい周辺画素の数Ｈｎと、注目画素よりも値の小さい周辺画素の数Ｌｎとをカウントし、注目画素よりも値の大きい周辺画素の数Ｈｎが５つ以上あれば黒キズとみなし、注目画素の値を、値が大きかった周辺画素の平均値に置換して出力し、注目画素よりも値の小さい周辺画素の数Ｌｎが５つ以上あれば白キズとみなし、注目画素の値を、値が小さかった周辺画素の平均値に置換して出力する技術が記載されている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−８６５１７号公報
【特許文献２】特開２００２−３４４８１４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１，２に記載された技術では、欠陥画素の検出方法に関して、未だ改善の余地があった。本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、撮像素子を有する撮像装置に備えられる欠陥画素検出装置において、撮像時に、欠陥画素を、逐次、詳細に検出する新たな技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するために以下の形態又は適用例として実現することが可能である。
【０００７】
［適用例１］撮像装置に備えられ、該撮像装置によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素の検出対象となる注目画素の画素値を表す画素データと、前記注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素値を表す画素データとを順次取得する画素データ取得部と、
前記複数の周辺画素のうちの、所定の複数の周辺画素間の画素値の差の絶対値を、それぞれ第１の絶対値として算出する第１の演算部と、
複数の前記第１の絶対値と所定の閾値とのそれぞれの差に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かの判定に用いられる欠陥画素判定用閾値を設定する欠陥画素判定用閾値設定部と、
前記注目画素の画素値と前記所定の複数の周辺画素の画素値との差の絶対値を、それぞれ第２の絶対値として算出する第２の演算部と、
複数の前記第２の絶対値、および、前記設定された欠陥画素判定用閾値に基づいて、前記注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定部と、
を備えることを要旨とする。
【０００８】
本願発明者は、欠陥画素の検出対象となる注目画素の周辺に配置された周辺画素の画素データによって、注目画素が、欠陥画素として視認されやすい場合と、視認されにくい場合とがあることに着目した。すなわち、周辺画素の各画素値が比較的近い値である場合には、注目画素の画素値と周辺画素の画素値との差が比較的小さくても、注目画素が欠陥画素として視認されやすく、周辺画素の各画素値が比較的離散した値である場合には、注目画素の画素値と周辺画素の画素値との差が比較的大きくても注目画素が欠陥画素として視認されにくいことに着目した。これは、欠陥画素が、いわゆる白キズであっても、黒キズであっても同じである。
【０００９】
本適用例では、まず、欠陥画素の検出対象となる注目画素の画素値を表す画素データと、注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素値を表す画素データとを順次取得する。このとき、取得する画素データの数は、任意に設定可能であり、撮像装置に備えられた撮像素子において、例えば、受光素子がマトリクス状に配列されている場合には、例えば、注目画素を中心とする５×５の画素からなる画素ブロックの画素データをそれぞれ取得する。次に、複数の周辺画素のうちの所定の複数の周辺画素間の画素値の差の絶対値を、それぞれ第１の絶対値として算出し、複数の第１の絶対値と所定の閾値とのそれぞれの差に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かの判定に用いられる欠陥画素判定用閾値を設定する。ここで、所定の複数の周辺画素、および、所定の閾値は、例えば、撮像素子における受光素子の配列や、受光素子にカラーフィルタが備えられているか否か等に応じて、任意に設定可能である。こうすることによって、注目画素が、欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かに応じて、欠陥画素判定用閾値を適切に設定することができる。そして、注目画素の画素値と所定の複数の周辺画素の画素値との差の絶対値を、それぞれ第２の絶対値として算出し、複数の第２の絶対値、および、欠陥画素判定用閾値設定部によって設定された欠陥画素判定用閾値に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する。このようにすることによって、撮像素子を有する撮像装置に備えられる欠陥画素検出装置において、撮像時に、個々の注目画素が、比較的欠陥画素として視認されやすい画素であるのか、比較的欠陥画素として視認されにくい画素であるのかを判定し、この判定結果を用いて、個々の注目画素が、欠陥画素であるか否かを、逐次、詳細に検出することができる。
【００１０】
なお、本適用例において、撮像素子としては、ＣＣＤや、ＣＭＯＳセンサ等が挙げられる。また、撮像素子において、受光素子は、例えば、マトリクス状に配列されているものとしてもよいし、ハニカム状に配列されているものとしてもよい。
【００１１】
［適用例２］適用例１記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定用閾値設定部は、
前記複数の第１の絶対値が、それぞれ、前記所定の閾値以上であるときには、前記欠陥画素判定用閾値を第１の欠陥画素判定用閾値に設定し、
前記複数の第１の絶対値が、それぞれ、前記所定の閾値未満であるときには、前記欠陥画素判定用閾値を前記第１の欠陥画素判定用閾値よりも値が小さい第２の欠陥画素判定用閾値に設定する、
欠陥画素検出装置。
【００１２】
本適用例では、欠陥画素判定用閾値設定部は、複数の第１の絶対値が、それぞれ、所定の閾値以上であるとき、すなわち、上記所定の複数の周辺画素の画素値が比較的離散した値である場合には、注目画素が、欠陥画素として比較的視認されにくい画素であるものと判断し、欠陥画素判定用閾値を第１の欠陥画素判定用閾値に設定する。また、欠陥画素判定用閾値切換部は、複数の第１の絶対値が、それぞれ、所定の閾値未満であるとき、すなわち、上記所定の複数の周辺画素の画素値が比較的近い値である場合には、注目画素が、欠陥画素として比較的視認されやすい画素であるものと判断し、欠陥画素判定用閾値を第１の欠陥画素判定用閾値よりも値が小さいた第２の欠陥画素判定用閾値に設定する。つまり、本適用例では、欠陥画素判定用閾値設定部は、注目画素が欠陥画素として比較的視認されやすい画素である場合には、注目画素が欠陥画素として比較的視認されにくい場合よりも、注目画素が欠陥画素であるか否かの判定基準を厳しくしている。こうすることによって、欠陥画素判定部は、注目画素が欠陥画素として比較的視認されやすい画素である場合に、この注目画素が欠陥画素であるか否かを、より厳密に判定することができる。
【００１３】
なお、本適用例において、欠陥画素判定用閾値設定部は、複数の第１の絶対値のうちの少なくとも１つが、所定の閾値以上であるときに、欠陥画素判定用閾値を第１の欠陥画素判定用閾値に設定し、複数の第１の絶対値の全てが、所定の閾値未満であるときに、欠陥画素判定用閾値を第２の欠陥画素判定用閾値に設定するようにしてもよい。また、欠陥画素判定用閾値設定部は、複数の第１の絶対値の全てが、所定の閾値以上であるときに、欠陥画素判定用閾値を第１の欠陥画素判定用閾値に設定し、複数の第１の絶対値のうちの少なくとも１つが、所定の閾値未満であるときに、欠陥画素判定用閾値を第２の欠陥画素判定用閾値に設定するようにしてもよい。
【００１４】
［適用例３］適用例２記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定用閾値設定部は、さらに、前記所定の複数の周辺画素の画素値に基づいて、前記第１の欠陥画素判定用閾値、および、前記第２の欠陥画素判定用閾値の少なくとも一方を設定する、
欠陥画素検出装置。
【００１５】
上記所定の複数の周辺画素の画素値大きいほど、すなわち、輝度が高いほど、注目画素は、いわゆる黒キズとして視認されやすくなり、上記所定の複数の用周辺画素の画素値が小さいほど、すなわち、輝度が低いほど、注目画素は、いわゆる白キズとして視認されやすくなる。逆に、上記所定の複数の周辺画素の画素値が大きいほど、すなわち、輝度が高いほど、注目画素は、いわゆる白キズとして視認されにくくなり、上記所定の複数の周辺画素の画素値が小さいほど、すなわち、輝度が低いほど、注目画素は、いわゆる黒キズとして視認されにくくなる。
【００１６】
本適用例では、欠陥画素判定用閾値設定部は、さらに、上記所定の複数の周辺画素の画素値に基づいて、第１の欠陥画素判定用閾値、および、第２の欠陥画素判定用閾値の少なくとも一方を設定するので、欠陥画素判定部は、注目画素が欠陥画素であるか否かを、より厳密に判定することができる。
【００１７】
なお、所定の複数の周辺画素の画素値に基づいて、第１の欠陥画素判定用閾値、および、第２の欠陥画素判定用閾値の少なくとも一方を設定する態様としては、例えば、所定の複数の周辺画素の画素値の平均値や、加重平均値に基づいて、第１の欠陥画素判定用閾値、および、第２の欠陥画素判定用閾値の少なくとも一方を設定する態様が挙げられる。この場合、所定の複数の周辺画素の画素値の平均値や、加重平均値と、欠陥画素判定用閾値との関係は、線形としてもよいし、非線形としてもよい。
【００１８】
［適用例４］適用例１ないし３のいずれかに記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定部は、前記複数の第２の絶対値が、それぞれ、前記欠陥画素判定用閾値よりも大きいときに、前記注目画素が欠陥画素であると判定する、
欠陥画素検出装置。
【００１９】
本適用例によって、欠陥画素判定部は、注目画素が欠陥画素であるか否かを容易に判定することができる。なお、本適用例において、欠陥画素判定部は、複数の第２の絶対値のうちの少なくとも１つが、欠陥画素判定用閾値よりも大きいときに、注目画素が欠陥画素であると判定するようにしてもよい。また、欠陥画素判定部は、複数の第２の絶対値の全てが、欠陥画素判定用閾値よりも大きいときに、注目画素が欠陥画素であると判定するようにしてもよい。
【００２０】
［適用例５］適用例１ないし４のいずれかに記載の欠陥画素検出装置であって、
前記撮像装置は、前記複数の画素にそれぞれ対応し、該対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子からなる撮像素子を備えており、
前記複数の受光素子に、それぞれ、互いに異なる色光を透過する複数種類のカラーフィルタが、所定の配列で備えられており、
前記所定の複数の周辺画素は、それぞれ、前記注目画素に対応する受光素子に備えられたカラーフィルタと同一種類のカラーフィルタが備えられた受光素子に対応する画素である、
欠陥画素検出装置。
【００２１】
本適用例によって、複数の受光素子に、それぞれ、互いに異なる色光を透過する複数種類のカラーフィルタが、所定の配列で備えられている場合に、欠陥画素判定部は、注目画素が欠陥画素であるか否かを、より詳細に判定することができる。
【００２２】
［適用例６］適用例５記載の欠陥画素検出装置であって、
前記所定の閾値は、前記カラーフィルタの種類ごとに設定されている、
欠陥画素検出装置。
【００２３】
本適用例によって、複数の受光素子に、それぞれ、互いに異なる色光を透過する複数種類のカラーフィルタが、所定の配列で備えられている場合に、欠陥画素判定部は、注目画素が欠陥画素であるか否かを、カラーフィルタの種類に応じて、詳細に判定することができる。
【００２４】
［適用例７］適用例５または６記載の欠陥画素検出装置であって、
前記欠陥画素判定用閾値は、前記カラーフィルタの種類ごとに設定されている、
欠陥画素検出装置。
【００２５】
本適用例によって、複数の受光素子に、それぞれ、互いに異なる色光を透過する複数種類のカラーフィルタが、所定の配列で備えられている場合に、欠陥画素判定部は、注目画素が欠陥画素であるか否かを、カラーフィルタの種類に応じて、さらに詳細に判定することができる。
【００２６】
［適用例８］撮像装置であって、
撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応し、該対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子からなる撮像素子を有する撮像部と、
前記複数の受光素子からそれぞれ出力された複数の前記画素データに基づいて、前記複数の画素の中から、欠陥画素を検出する欠陥画素検出部と、
前記検出された欠陥画素の画素値を表す画素データを補正する画素データ補正部と、を備え、
前記欠陥画素検出部として、適用例１ないし７のいずれかに記載の欠陥画素検出装置を備える撮像装置。
【００２７】
本適用例によって、撮像装置に撮像された画像に欠陥画素が含まれる場合に、撮像時に、欠陥画素を、逐次、詳細に検出し、欠陥画素の画像データを補正することができる。
【００２８】
［適用例９］適用例８記載の撮像装置であって、
前記画素データ補正部は、前記欠陥画素の画素データを、前記所定の複数の周辺画素の画素値の平均値に置換する、
撮像装置。
【００２９】
本適用例によって、画素データ補正部は、欠陥画素の画素データを容易に補正することができる。なお、欠陥画素の画素データの補正は、上記所定の複数の周辺画素の画素値の平均値の代わりに、例えば、加重平均値を適用するものとしてもよい。
【００３０】
本発明は、上述の欠陥画素検出装置、撮像装置としての構成の他、欠陥画素の検出方法の発明として構成することもできる。また、これらを実現するコンピュータプログラム、およびそのプログラムを記録した記録媒体、そのプログラムを含み搬送波内に具現化されたデータ信号など種々の態様で実現することが可能である。なお、それぞれの態様において、先に示した種々の付加的要素を適用することが可能である。
【００３１】
本発明をコンピュータプログラムまたはそのプログラムを記録した記録媒体等として構成する場合には、欠陥画素検出装置、撮像装置の動作を制御するプログラム全体として構成するものとしてもよいし、本発明の機能を果たす部分のみを構成するものとしてもよい。また、記録媒体としては、フレキシブルディスクやＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、ＩＣカード、ＲＯＭカートリッジ、パンチカード、バーコードなどの符号が印刷された印刷物、コンピュータの内部記憶装置（ＲＡＭやＲＯＭなどのメモリ）および外部記憶装置などコンピュータが読み取り可能な種々の媒体を利用できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき以下の順序で説明する。
Ａ．第１実施例：
Ａ１．撮像装置の構成：
Ａ２．欠陥画素検出処理、および、画像データ補正処理：
Ａ２．１．注目画素の色が赤（Ｒ）である場合：
Ａ２．２．注目画素の色が緑（Ｇ）である場合：
Ａ２．３．注目画素の色が青（Ｂ）である場合：
Ｂ．第２実施例：
Ｂ１．撮像装置の構成：
Ｂ２．欠陥画素検出処理、および、画像データ補正処理：
Ｃ．変形例：
【００３３】
Ａ．第１実施例：
Ａ．撮像装置の構成：
図１は、本発明の第１実施例としての撮像装置１００の概略構成を示す説明図である。この撮像装置１００は、撮像部１０と、欠陥画素検出部２０と、画素データ補正部３０と、出力部４０とを備えており、後述するように、撮像部１０によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素（いわゆる白キズや黒キズ）を、逐次、検出し、補正して出力することができる。本実施例では、欠陥画素検出部２０や、画素データ補正部３０や、出力部４０は、ハードウェアによって構成されているものとした。これらの一部をソフトウェアによって構成するものとしてもよい。なお、図示は省略しているが、撮像装置１００は、撮像した画像を表示する液晶パネル等の表示部や、撮像した画像をフラッシュメモリ等の記録媒体に保存するための記録部等も備えている。また、撮像装置１００は、ＣＰＵ，ＲＡＭ，ＲＯＭ等を有し、撮像装置１００の各部を制御する制御ユニット５０を備えている。
【００３４】
撮像部１０は、図示しないズームレンズや、フォーカスレンズや、絞りや、これらを介して受光した光を電気信号に変換する撮像素子１２を備えている。そして、この撮像素子１２は、撮像された画像を構成する複数の画素にそれぞれ対応し、対応する画素の画素値を表す画素データをそれぞれ出力する複数の受光素子（フォトダイオード）を備えている。
【００３５】
図２は、撮像素子１２における受光素子１２ｄの配列を示す説明図である。本実施例の撮像装置１００は、１つの撮像素子１２を備える、いわゆる単板式の撮像装置である。そして、本実施例では、撮像素子１２には、複数の受光素子１２ｄがマトリクス状に配列されている。撮像素子１２において、複数の受光素子１２ｄをハニカム状に配列するようにしてもよい。また、各受光素子１２ｄには、それぞれ、カラーフィルタが備えられている。本実施例では、各受光素子１２ｄは、原色系のカラーフィルタ、すなわち、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）のカラーフィルタを、図示した配列で備えるものとした。各受光素子１２ｄは、補色系のカラーフィルタ、すなわち、シアン、マゼンタ、イエロのカラーフィルタを所定の配列で備えるようにしてもよい。なお、撮像素子１２において、受光素子１２ｄの数は、要求される光学解像度に応じて、任意に設定可能である。
【００３６】
図１に示した撮像装置１００において、欠陥画素検出部２０は、画素データ取得部２０ａと、第１演算部２０ｂと、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃと、第２演算部２０ｄと、欠陥画素判定部２０ｅとを備えており、撮像部１０によって撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素を検出する。画素データ取得部２０ａには、バッファ２０ａｂが備えられている。欠陥画素検出部２０は、本発明における欠陥画素検出装置に相当する。以下、欠陥画素検出部２０における各部の機能、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正部３０による画素データ補正処理の流れについて説明する。
【００３７】
Ａ２．欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理：
まず、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの概略を説明し、後に、これらの処理の詳細を説明する。
【００３８】
図３は、第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの概略を模式的に示す説明図である。本実施例では、（１）撮像された画像を構成する複数の画素の中から、図中に破線で囲った５×５の画素からなる画素ブロックＰＢ（ｉ，ｊ）の画素データをそれぞれ取得し（画素ブロックＰＢ（ｉ，ｊ）における“ｉ”および“ｊ”は、画像の左上から右に向かってｉ番目、左上から下に向かってｊ番目の画素ブロックであることを表している）、（２）画素ブロックＰＢ（ｉ，ｊ）の中央に配置され、図中にハッチングが付された注目画素（欠陥画素の検出対象となる画素）が、欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かを、注目画素の周辺に配置された周辺画素の画素値に基づいて判定し、（３）この判定結果に基づいて、注目画素が欠陥画素であるか否かの判定基準を設定し、（４）この判定基準を用いて、注目画素が欠陥画素であるか否かを判定する。（５）そして、注目画素が欠陥画素であると判定された場合に、注目画素の画素値を補正する。なお、これらの処理は、図３に示したように、画素ブロックＰＢ（１，１）→画素ブロックＰＢ（２，１）→画素ブロックＰＢ（３，１）→・・・→画素ブロックＰＢ（１，２）→・・・の順に、最後の画素ブロックまで、つまり、最後の注目画素まで行われる。
【００３９】
図４〜７は、第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの詳細を示す説明図である。また、図８は、先に説明した５×５の画素からなる画素ブロックにおける各画素の配置を模式的に示す説明図である。図８（ａ），（ｂ），（ｃ）に、注目画素が赤（Ｒ）である場合、緑（Ｇ）である場合、青（Ｂ）である場合の各画素ブロックにおける各画素の配置を、それぞれ示した。図８に示した各画素ブロックにおいて、中央に配置され、太線で囲われた各画素は、それぞれ、欠陥画素の検出対象となる注目画素であり、これらの注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素のうち、ハッチングが付された各画素は、それぞれ、後述する欠陥画素判定用周辺画素である。
【００４０】
図４に示したように、まず、画素データ取得部２０ａは、撮像素子１２の各受光素子１２ｄから出力されるアナログの画素データのうち、図８に示した５×５の画素からなる画素ブロックの画素データを、それぞれＡ／Ｄ変換して、各画素の画素値として、バッファ２０ａｂに格納し、画素ブロックのうちの中央に配置された画素を注目画素として設定する（ステップＳ１００）。そして、画素データ取得部２０ａは、注目画素の色、すなわち、注目画素に対応する受光素子１２ｄに備えられたカラーフィルタの色が、赤（Ｒ）であるか、緑（Ｇ）であるか、青（Ｂ）であるかを判定する（ステップＳ１１０）。撮像素子１２において、複数の受光素子１２ｄに備えられたカラーフィルタの色の配列は、予め規定されているので、注目画素の色は、処理対象の画素ブロックが、処理開始から何番目の画素ブロックであるかをカウントすることによって判定することができる。
【００４１】
そして、画素データ取得部２０ａは、注目画素の周辺に配置された周辺画素のうち、注目画素に対応する受光素子１２ｄと同一種類（同一色）のカラーフィルタが備えられた受光素子１２ｄに対応する画素を、注目画素が欠陥画素であるか否かの判定に用いられる欠陥画素判定用周辺画素として設定する。すなわち、画素データ取得部２０ａは、ステップＳ１１０において、注目画素の色が赤（Ｒ）である場合には、図８（ａ）に示した周辺画素Ｒ１〜Ｒ８を、欠陥画素判定用周辺画素をして設定し（ステップＳ１２０）、注目画素の色が緑（Ｇ）である場合には、図８（ｂ）に示した周辺画素Ｇ１〜Ｇ１２を、欠陥画素判定用周辺画素をして設定し（ステップＳ１３０）、注目画素の色が青（Ｒ）である場合には、図８（ｃ）に示した周辺画素Ｂ１〜Ｂ８を、欠陥画素判定用周辺画素をして設定する（ステップＳ１４０）。なお、本実施例では、図８において、ハッチングが付された全ての周辺画素を欠陥画素判定用周辺画素としたが、欠陥画素判定用周辺画素は、撮像素子１２における受光素子１２ｄの配列や、受光素子１２ｄに備えられたカラーフィルタの配列等に応じて、任意に設定可能である。
【００４２】
Ａ２．１．注目画素の色が赤（Ｒ）である場合：
図４のステップＳ１１０において、注目画素の色が赤（Ｒ）である場合、図４のステップＳ１２０の後（図５参照）、第１演算部２０ｂは、図８（ａ）に示した赤（Ｒ）の注目画素Ｒｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素間の画素値の差の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）を、それぞれ算出する（ステップＳ２００）。これらの絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）は、それぞれ、注目画素Ｒｔが欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かの判定に用いられる値であり、後述するように、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃが、赤（Ｒ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を設定するために用いられる。この絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）は、本発明における第１の絶対値に相当する。
【００４３】
本実施例では、第１演算部２０ｂは、Ｖａｂｓ１（Ｒ）として、図８（ａ）に示した欠陥画素判定用周辺画素Ｒ１の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ２の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ３の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ３の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ５の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ５の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ８の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ８の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ７の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ７の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ６の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ６の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ４の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ４の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ５の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｒ２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｒ７の画素値との差の絶対値とを、それぞれ算出するものとした。
【００４４】
次に、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）のうちの少なくとも１つが、赤（Ｒ）の注目画素用の閾値Ｖｔｈ（Ｒ）以上であるか否かを判定する（ステップＳ２１０）。この処理によって、注目画素Ｒｔが欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かが判定される。すなわち、本実施例では、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｔｈ（Ｒ）以上である場合には、注目画素Ｒｔは、欠陥画素として視認されにくい画素であると判定される。また、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｔｈ（Ｒ）未満である場合には、注目画素Ｒｔは、欠陥画素として視認されやすい画素であると判定される。これは、欠陥画素検出用周辺画素の各画素値が比較的離散した値である場合には、注目画素が欠陥画素として視認されにくく、欠陥画素判定用周辺画素の各画素値が比較的近い値である場合には、注目画素が欠陥画素として視認されやすいという知見による。閾値Ｖｔｈ（Ｒ）は、本発明における所定の閾値に相当する。
【００４５】
そして、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）のうちの少なくとも１つが閾値Ｖｔｈ（Ｒ）以上である場合には（ステップＳ２１０：ＹＥＳ）、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、欠陥画素判定部２０ｅで用いられる、赤（Ｒ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を、Ｖｊｔｈ（Ｒ）＝Ｖｊｔｈ１（Ｒ）に設定する（ステップＳ２１１）。閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）は、本発明における第１の欠陥画素判定用閾値に相当する。
【００４６】
そして、第２演算部２０ｄは、注目画素Ｒｔの画素値と、この注目画素に対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｒ１〜Ｒ８の画素値との差の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）を、それぞれ算出する（ステップＳ２１２）。これらの絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）は、後述するように、欠陥画素判定部２０ｅが、注目画素Ｒｔが欠陥画素であるか否かの判定に用いられる値である。この絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）は、本発明における第２の絶対値に相当する。
【００４７】
次に、欠陥画素判定部２０ｅは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ２１３）。複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）よりも大きい場合には（ステップＳ２１３：ＹＥＳ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｒｔが欠陥画素であるものと判定する（ステップＳ２２０）。
【００４８】
そして、画素データ補正部３０は、注目画素Ｒｔの画素データを補正する（ステップＳ２３０）。本実施例では、画素データ補正部３０は、バッファ２０ａｂから、注目画素Ｒｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｒ１〜Ｒ８の画素値を取得し、これらの平均値を算出して、その値を注目画素Ｒｔの画素値と置換することによって、注目画素Ｒｔの画素データの補正を行うものとした。そして、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ２４０）。
【００４９】
一方、ステップＳ２１３において、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）以下である場合には（ステップＳ２１３：ＮＯ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｒｔが欠陥画素ではないものと判定し、画素データ補正部３０による注目画素Ｒｔの画素データの補正を行うことなく、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ２４０）。
【００５０】
そして、全画素について、画素データの出力が終了した場合には（ステップＳ２５０：ＹＥＳ）、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を終了する。一方、全画素について、画素データの出力が終了していない場合には（ステップＳ２５０：ＮＯ）、次の画素ブロックの注目画素について、欠陥画素の検出を行うべく、図４のステップＳ１００に戻る。
【００５１】
また、ステップＳ２１０において、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）の全てが閾値Ｖｔｈ（Ｒ）未満である場合には（ステップＳ２１０：ＮＯ）、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、欠陥画素判定部２０ｅで用いられる、赤（Ｒ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を、Ｖｊｔｈ（Ｒ）＝Ｖｊｔｈ２（Ｒ）に設定する（ステップＳ２１４）。なお、Ｖｊｔｈ２（Ｒ）には、Ｖｊｔｈ１（Ｒ）よりも小さい値が設定されている。これは、ステップＳ２１０において、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｔｈ（Ｒ）未満であり、注目画素Ｒｔが欠陥画素として視認されやすい画素であると判定されたため、注目画素Ｒｔが欠陥画素であるか否かの判定基準を厳しくするためである。閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）は、本発明における第２の欠陥画素判定用閾値に相当する。
【００５２】
そして、第２演算部２０ｄは、先に説明したステップ２１２における処理と同様に、注目画素Ｒｔの画素値と、この注目画素Ｒｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｒ１〜Ｒ８の画素値との差の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）を、それぞれ算出する（ステップＳ２１５）。
【００５３】
次に、欠陥画素判定部２０ｅは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ２１６）。複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）よりも大きい場合には（ステップＳ２１６：ＹＥＳ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｒｔが欠陥画素であるものと判定する（ステップＳ２２０）。
【００５４】
そして、画素データ補正部３０は、注目画素Ｒｔの画素データを補正する（ステップＳ２３０）。そして、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ２４０）。
【００５５】
一方、ステップＳ２１６において、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）以下である場合には（ステップＳ２１６：ＮＯ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｒｔが欠陥画素ではないものと判定し、画素データ補正部３０による注目画素Ｒｔの画素データの補正を行うことなく、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ２４０）。
【００５６】
そして、全画素について、画素データの出力が終了した場合には（ステップＳ２５０：ＹＥＳ）、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を終了する。一方、全画素について、画素データの出力が終了していない場合には（ステップＳ２５０：ＮＯ）、次の画素ブロックの注目画素について、欠陥画素の検出を行うべく、図４のステップＳ１００に戻る。
【００５７】
図５を用いて説明した、注目画素の色が赤（Ｒ）である場合の欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理は、注目画素の色が緑（Ｇ）である場合や、注目画素の色が青（Ｂ）である場合にも、同様の流れで実行される。
【００５８】
Ａ２．２．注目画素の色が緑（Ｇ）である場合：
図４のステップＳ１１０において、注目画素の色が緑（Ｇ）である場合、図４のステップＳ１３０の後（図６参照）、第１演算部２０ｂは、図８（ｂ）に示した緑（Ｇ）の注目画素Ｇｔに対応する欠陥画素判定用画素間の画素値の差の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）を、それぞれ算出する（ステップＳ３００）。これらの絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）は、それぞれ、注目画素Ｇｔが欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かの判定に用いられる値であり、後述するように、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃが、緑（Ｇ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｇ）を設定するために用いられる。この絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）は、本発明における第１の絶対値に相当する。
【００５９】
本実施例では、第１演算部２０ｂは、Ｖａｂｓ１（Ｇ）として、図８（ｂ）に示した欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ２の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ３の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ３の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ７の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ７の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１２の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１１の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１１の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１０の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１０の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ６の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ６の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ７の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１１の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ４の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ５の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ５の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ９の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ９の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ８の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ８の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ４の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ４の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ９の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｇ５の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｇ８の画素値との差の絶対値とを、それぞれ算出するものとした。
【００６０】
次に、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）のうちの少なくとも１つが、緑（Ｇ）の注目画素用の閾値Ｖｔｈ（Ｇ）以上であるか否かを判定する（ステップＳ３１０）。この処理によって、注目画素Ｇｔが欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かが判定される。すなわち、本実施例では、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｔｈ（Ｇ）以上である場合には、注目画素Ｇｔは、欠陥画素として視認されにくい画素であると判定される。また、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）の全てが、閾値Ｖｔｈ（Ｇ）未満である場合には、注目画素Ｇｔは、欠陥画素として視認されやすい画素であると判定される。これは、先述した通り、欠陥画素検出用周辺画素の各画素値が比較的離散した値である場合には、注目画素が欠陥画素として視認されにくく、欠陥画素判定用周辺画素の各画素値が比較的近い値である場合には、注目画素が欠陥画素として視認されやすいという知見による。閾値Ｖｔｈ（Ｇ）は、本発明における所定の閾値に相当する。
【００６１】
そして、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）のうちの少なくとも１つが閾値Ｖｔｈ（Ｇ）以上である場合には（ステップＳ３１０：ＹＥＳ）、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、欠陥画素判定部２０ｅで用いられる、緑（Ｇ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｇ）を、Ｖｊｔｈ（Ｇ）＝Ｖｊｔｈ１（Ｇ）に設定する（ステップＳ３１１）。閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）は、本発明における第１の欠陥画素判定用閾値に相当する。
【００６２】
そして、第２演算部２０ｄは、注目画素Ｇｔの画素値と、この注目画素に対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１〜Ｇ１２のうちの、注目画素Ｇｔからの距離が比較的近く、右下がりのハッチングが付された８つの欠陥画素判定用周辺画素Ｇ２，Ｇ４，Ｇ５，Ｇ６，Ｇ７，Ｇ８，Ｇ９，Ｇ１１の画素値との差の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）を、それぞれ算出する（ステップＳ３１２）。これらの絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）は、後述するように、欠陥画素判定部２０ｅが、注目画素Ｇｔが欠陥画素であるか否かの判定に用いられる値である。この絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）は、本発明における第２の絶対値に相当する。
【００６３】
次に、欠陥画素判定部２０ｅは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ３１３）。複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）よりも大きい場合には（ステップＳ３１３：ＹＥＳ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｇｔが欠陥画素であるものと判定する（ステップＳ３２０）。
【００６４】
そして、画素データ補正部３０は、注目画素Ｇｔの画素データを補正する（ステップＳ３３０）。本実施例では、画素データ補正部３０は、バッファ２０ａｂから、注目画素Ｇｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１〜Ｇ１２のうちの、注目画素Ｇｔからの距離が比較的近く、右下がりのハッチングが付された８つの欠陥画素判定用周辺画素Ｇ２，Ｇ４，Ｇ５，Ｇ６，Ｇ７，Ｇ８，Ｇ９，Ｇ１１の画素値を取得し、これらの平均値を算出し、その値を注目画素Ｇｔの画素値と置換することによって、注目画素Ｇｔの画素データの補正を行うものとした。そして、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ３４０）。
【００６５】
一方、ステップＳ３１３において、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）以下である場合には（ステップＳ３１３：ＮＯ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｇｔが欠陥画素ではないものと判定し、画素データ補正部３０による注目画素Ｇｔの画素データの補正を行うことなく、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ３４０）。
【００６６】
そして、全画素について、画素データの出力が終了した場合には（ステップＳ３５０：ＹＥＳ）、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を終了する。一方、全画素について、画素データの出力が終了していない場合には（ステップＳ３５０：ＮＯ）、次の画素ブロックの注目画素について、欠陥画素の検出を行うべく、図４のステップＳ１００に戻る。
【００６７】
また、ステップＳ３１０において、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）の全てが閾値Ｖｔｈ（Ｇ）未満である場合には（ステップＳ３１０：ＮＯ）、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、欠陥画素判定部２０ｅで用いられる、緑（Ｇ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｇ）を、Ｖｊｔｈ（Ｇ）＝Ｖｊｔｈ２（Ｇ）に設定する（ステップＳ３１４）。なお、Ｖｊｔｈ２（Ｇ）には、Ｖｊｔｈ１（Ｇ）よりも小さい値が設定されている。これは、ステップＳ３１０において、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｇ）の全てが、閾値Ｖｔｈ（Ｇ）未満であり、注目画素Ｇｔが欠陥画素として視認されやすい画素であると判定されたため、注目画素Ｇｔが欠陥画素であるか否かの判定基準を厳しくするためである。閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）は、本発明における第２の欠陥画素判定用閾値に相当する。
【００６８】
そして、第２演算部２０ｄは、先に説明したステップ３１２における処理と同様に、注目画素Ｇｔの画素値と、この注目画素Ｇｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｇ１〜Ｇ１２のうちの、注目画素Ｇｔからの距離が比較的近く、右下がりのハッチングが付された８つの欠陥画素判定用周辺画素Ｇ２，Ｇ４，Ｇ５，Ｇ６，Ｇ７，Ｇ８，Ｇ９，Ｇ１１の画素値との差の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）を、それぞれ算出する（ステップＳ３１５）。
【００６９】
次に、欠陥画素判定部２０ｅは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ３１６）。複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）よりも大きい場合には（ステップＳ３１６：ＹＥＳ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｇｔが欠陥画素であるものと判定する（ステップＳ３２０）。
【００７０】
そして、画素データ補正部３０は、注目画素Ｇｔの画素データを補正する（ステップＳ３３０）。そして、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ３４０）。
【００７１】
一方、ステップＳ３１６において、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｇ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）以下である場合には（ステップＳ３１６：ＮＯ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｇｔが欠陥画素ではないものと判定し、画素データ補正部３０による注目画素Ｇｔの画素データの補正を行うことなく、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ３４０）。
【００７２】
そして、全画素について、画素データの出力が終了した場合には（ステップＳ３５０：ＹＥＳ）、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を終了する。一方、全画素について、画素データの出力が終了していない場合には（ステップＳ３５０：ＮＯ）、次の画素ブロックの注目画素について、欠陥画素の検出を行うべく、図４のステップＳ１００に戻る。
【００７３】
Ａ２．３．注目画素の色が青（Ｂ）である場合：
図４のステップＳ１１０において、注目画素の色が青（Ｂ）である場合、図４のステップＳ１４０の後（図７参照）、第１演算部２０ｂは、図８（ｃ）に示した青（Ｂ）の注目画素Ｂｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素間の画素値の差の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）を、それぞれ算出する（ステップＳ４００）。これらの絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）は、それぞれ、注目画素Ｂｔが欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かの判定に用いられる値であり、後述するように、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃが、青（Ｂ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｂ）を設定するために用いられる。この絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）は、本発明における第１の絶対値に相当する。
【００７４】
本実施例では、第１演算部２０ｂは、Ｖａｂｓ１（Ｂ）として、図８（ｃ）に示した欠陥画素判定用周辺画素Ｂ１の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ２の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ３の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ３の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ５の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ５の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ８の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ８の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ７の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ７の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ６の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ６の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ４の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ４の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ５の画素値との差の絶対値と、欠陥画素判定用周辺画素Ｂ２の画素値と欠陥画素判定用周辺画素Ｂ７の画素値との差の絶対値とを、それぞれ算出するものとした。
【００７５】
次に、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）のうちの少なくとも１つが、青（Ｂ）の注目画素用の閾値Ｖｔｈ（Ｂ）以上であるか否かを判定する（ステップＳ４１０）。この処理によって、注目画素Ｂｔが欠陥画素として視認されやすい画素であるか否かが判定される。すなわち、本実施例では、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｔｈ（Ｂ）以上である場合には、注目画素Ｂｔは、欠陥画素として視認されにくい画素であると判定される。また、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）の全てが、閾値Ｖｔｈ（Ｂ）未満である場合には、注目画素Ｂｔは、欠陥画素として視認されやすい画素であると判定される。これは、先述した通り、欠陥画素検出用周辺画素の各画素値が比較的離散した値である場合には、注目画素が欠陥画素として視認されにくく、欠陥画素判定用周辺画素の各画素値が比較的近い値である場合には、注目画素が欠陥画素として視認されやすいという知見による。閾値Ｖｔｈ（Ｂ）は、本発明における所定の閾値に相当する。
【００７６】
そして、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）のうちの少なくとも１つが閾値Ｖｔｈ（Ｂ）以上である場合には（ステップＳ４１０：ＹＥＳ）、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、欠陥画素判定部２０ｅで用いられる、青（Ｂ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｂ）を、Ｖｊｔｈ（Ｂ）＝Ｖｊｔｈ１（Ｂ）に設定する（ステップＳ４１１）。閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）は、本発明における第１の欠陥画素判定用閾値に相当する。
【００７７】
そして、第２演算部２０ｄは、注目画素Ｂｔの画素値と、この注目画素に対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｂ１〜Ｂ８の画素値との差の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）を、それぞれ算出する（ステップＳ４１２）。これらの絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）は、後述するように、欠陥画素判定部２０ｅが、注目画素Ｂｔが欠陥画素であるか否かの判定に用いられる値である。この絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）は、本発明における第２の絶対値に相当する。
【００７８】
次に、欠陥画素判定部２０ｅは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ４１３）。複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）よりも大きい場合には（ステップＳ４１３：ＹＥＳ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｂｔが欠陥画素であるものと判定する（ステップＳ４２０）。
【００７９】
そして、画素データ補正部３０は、注目画素Ｂｔの画素データを補正する（ステップＳ４３０）。本実施例では、画素データ補正部３０は、バッファ２０ａｂから、注目画素Ｂｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｂ１〜Ｂ８の画素値を取得し、これらの平均値を算出して、その値を注目画素Ｂｔの画素値と置換することによって、注目画素Ｂｔの画素データの補正を行うものとした。そして、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ４４０）。
【００８０】
一方、ステップＳ４１３において、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）以下である場合には（ステップＳ４１３：ＮＯ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｂｔが欠陥画素ではないものと判定し、画素データ補正部３０による注目画素Ｂｔの画素データの補正を行うことなく、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ４４０）。
【００８１】
そして、全画素について、画素データの出力が終了した場合には（ステップＳ４５０：ＹＥＳ）、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を終了する。一方、全画素について、画素データの出力が終了していない場合には（ステップＳ４５０：ＮＯ）、次の画素ブロックの注目画素について、欠陥画素の検出を行うべく、図４のステップＳ１００に戻る。
【００８２】
また、ステップＳ４１０において、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）の全てが閾値Ｖｔｈ（Ｂ）未満である場合には（ステップＳ４１０：ＮＯ）、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、欠陥画素判定部２０ｅで用いられる、青（Ｂ）の注目画素用の欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｂ）を、Ｖｊｔｈ（Ｂ）＝Ｖｊｔｈ２（Ｂ）に設定する（ステップＳ４１４）。なお、Ｖｊｔｈ２（Ｂ）には、Ｖｊｔｈ１（Ｂ）よりも小さい値が設定されている。これは、ステップＳ４１０において、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｂ）の全てが、閾値Ｖｔｈ（Ｂ）未満であり、注目画素Ｂｔが欠陥画素として視認されやすい画素であると判定されたため、注目画素Ｂｔが欠陥画素であるか否かの判定基準を厳しくするためである。閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）は、本発明における第２の欠陥画素判定用閾値に相当する。
【００８３】
そして、第２演算部２０ｄは、先に説明したステップ４１２における処理と同様に、注目画素Ｂｔの画素値と、この注目画素Ｂｔに対応する欠陥画素判定用周辺画素Ｂ１〜Ｂ８の画素値との差の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）を、それぞれ算出する（ステップＳ４１５）。
【００８４】
次に、欠陥画素判定部２０ｅは、上述した複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ４１６）。複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）よりも大きい場合には（ステップＳ４１６：ＹＥＳ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｂｔが欠陥画素であるものと判定する（ステップＳ４２０）。
【００８５】
そして、画素データ補正部３０は、注目画素Ｂｔの画素データを補正する（ステップＳ４３０）。そして、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ４４０）。
【００８６】
一方、ステップＳ４１６において、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｂ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）以下である場合には（ステップＳ４１６：ＮＯ）、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素Ｂｔが欠陥画素ではないものと判定し、画素データ補正部３０による注目画素Ｂｔの画素データの補正を行うことなく、出力部４０は、画素データを出力する（ステップＳ２４０）。
【００８７】
そして、全画素について、画素データの出力が終了した場合には（ステップＳ４５０：ＹＥＳ）、欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を終了する。一方、全画素について、画素データの出力が終了していない場合には（ステップＳ４５０：ＮＯ）、次の画素ブロックの注目画素について、欠陥画素の検出を行うべく、図４のステップＳ１００に戻る。
【００８８】
なお、赤色光と、緑色光と、青色光とでは、視感度が異なるので、本実施例では、閾値Ｖｔｈ（Ｒ）と、閾値Ｖｔｈ（Ｇ）と、閾値Ｖｔｈ（Ｂ）とに、互いに異なる値が設定されているものとした。また、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）と、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）と、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）とに、互いに異なる値が設定されているものとした。また、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）と、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）と、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）とに、互いに異なる値が設定されているものとした。こうすることによって、欠陥画素判定部２０ｅは、注目画素が欠陥画素であるか否かを、カラーフィルタの種類（色）に応じて、詳細に判定することができる。
【００８９】
また、本明細書では、図示、および、詳細な説明は省略するが、上述したステップ２４０、ステップＳ３４０、ステップＳ４４０において、出力部４０から出力された画素データは、図示しない画像処理回路や、ソフトウェアによって構成された画像処理部等によって、ホワイトバランス、ガンマ変換、色調補正、階調補正、コントラスト、シャープネス等の画像処理が施された後、液晶パネル等の表示装置に表示されたり、所定のフォーマットに従った圧縮処理が施されてフラッシュメモリ等の記録媒体に記録されたりする。
【００９０】
以上説明した第１実施例の撮像装置１００によれば、欠陥画素検出部２０を備えているので、撮像時に、個々の注目画素Ｒｔ，Ｇｔ，Ｂｔが、比較的欠陥画素として視認されやすい画素であるのか、比較的欠陥画素として視認されにくい画素であるのかを判定し、この判定結果を用いて、個々の注目画素Ｒｔ，Ｇｔ，Ｂｔが、欠陥画素であるか否かを、白キズ、黒キズの種別を問わず、逐次、詳細に検出することができる。そして、撮像装置１００は、欠陥画素検出部２０によって、注目画素Ｒｔ，Ｇｔ，Ｂｔが欠陥画素であると判定された場合に、画素データ補正部３０によって注目画素Ｒｔ，Ｇｔ，Ｂｔの画素データを補正し、出力部４０によって出力することができる。
【００９１】
Ｂ．第２実施例：
Ｂ１．撮像装置の構成：
図９は、本発明の第２実施例としての撮像装置１００Ａの概略構成を示す説明図である。この撮像装置１００Ａは、撮像部１０Ａが、３つの撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂを備える、いわゆる３板式の撮像装置である。したがって、撮像部１０Ａは、先述したズームレンズや、フォーカスレンズや、絞り等の他に、これらを介して入射した入射光を赤（Ｒ），緑（Ｇ），青（Ｂ）の３色の光に分離する、プリズム等からなる色光分離光学系を備えている。撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂは、それぞれ、赤（Ｒ）の画素データ、緑（Ｇ）の画素データ、青（Ｂ）の画素データを生成するための撮像素子である。そして、各撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂには、第１実施例の撮像素子１２と同様に、複数の受光素子がマトリクス状に配列されている（図示省略）。なお、撮像装置１００Ａは、撮像部１０Ａが上述した色光分離光学系を備えているため、各撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂの各受光素子には、カラーフィルタは備えられていない。
【００９２】
また、撮像装置１００Ａは、各撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂにそれぞれ対応した欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ、画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂ、および、出力部４０Ａを備えており、第１実施例の撮像装置１００と同様に、撮像された画像を構成する複数の画素の中から、欠陥画素（いわゆる白キズや黒キズ）を、逐次、検出し、補正して出力することができる。本実施例では、各欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ、画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂ、および、出力部４０Ａは、ハードウェアによって構成されているものとした。これらの一部をソフトウェアによって構成するものとしてもよい。なお、図示は省略しているが、撮像装置１００Ａは、撮像した画像を表示する液晶パネル等の表示部や、撮像した画像をフラッシュメモリ等の記録媒体に保存するための記録部等も備えている。また、撮像装置１００Ａは、ＣＰＵ，ＲＡＭ，ＲＯＭ等を有し、撮像装置１００Ａの各部を制御する制御ユニット５０Ａを備えている。
【００９３】
欠陥画素検出部２０Ｒは、画素データ取得部２０Ｒａと、第１演算部２０Ｒｂと、欠陥画素判定用閾値設定部２０Ｒｃと、第２演算部２０Ｒｄと、欠陥画素判定部２０Ｒｅとを備えている。また、欠陥画素検出部２０Ｇは、画素データ取得部２０Ｇａと、第１演算部２０Ｇｂと、欠陥画素判定用閾値設定部２０Ｇｃと、第２演算部２０Ｇｄと、欠陥画素判定部２０Ｇｅとを備えている。また、欠陥画素検出部２０Ｂは、画素データ取得部２０Ｂａと、第１演算部２０Ｂｂと、欠陥画素判定用閾値設定部２０Ｂｃと、第２演算部２０Ｂｄと、欠陥画素判定部２０Ｂｅとを備えている。各画素データ取得部２０Ｒａ，２０Ｇａ，２０Ｂａには、それぞれ、バッファ２０Ｒａｂ，２０Ｇａｂ，２０Ｂａｂが備えられている。
【００９４】
なお、欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ、画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂ、および、出力部４０Ａの機能は、それぞれ、第１実施例における欠陥画素検出部２０、画素データ補正部３０、および、出力部４０の機能とほぼ同じである。欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂは、本発明における欠陥画素検出装置に相当する。
【００９５】
Ｂ２．欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理：
第２実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れは、第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れとほぼ同じである。ただし、撮像装置１００Ａは、各撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂにそれぞれ対応した欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ、および、画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂを備えているので、第１実施例とは異なり、注目画素の色ごとにそれぞれ異なる処理を行うことはなく、各欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ、および、各画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂは、それぞれ、同一の処理を並行して行う。
【００９６】
図１０は、第２実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れを示す説明図である。また、図１１は、後述する３×３の画素からなる画素ブロックにおける各画素の配置を模式的に示す説明図である。本実施例では、この画素ブロックにおいて、中央に配置され、太線で囲われた画素は、欠陥画素の検出対象となる注目画素Ｐｔであり、この注目画素Ｐｔの周辺に配置された周辺画素Ｐ１〜Ｐ８の全てが欠陥画素判定用周辺画素となる。なお、上述したように、欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂの機能は、それぞれ同じであり、また、画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂの機能も、それぞれ同じであるので、ここでは、赤（Ｒ）の画素についての欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理についてのみ説明し、緑（Ｇ），青（Ｂ）の画素についての欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理については、説明を省略する。また、第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理と同様の処理についても、説明を省略する。
【００９７】
図１０に示したように、まず、画素データ取得部２０Ｒａは、撮像素子１２Ｒの各受光素子から出力されるアナログの画素データのうち、図１１に示した３×３の画素からなる画素ブロックのデータを、それぞれＡ／Ｄ変換して、各画素の画素データとして、バッファ２０Ｒａｂに格納し、画素ブロックのうちの中央に配置された画素を注目画素Ｐｔとして設定する（ステップＳ５００）。
【００９８】
そして、これ以降（ステップＳ５１０〜ステップＳ５６０）は、図５に示した処理（ステップＳ２００〜ステップＳ２５０）と同様の処理が実行される。
【００９９】
なお、本実施例では、図１０のステップＳ５１０において、本発明における第１の絶対値としての絶対値Ｖａｂｓ１は、図１１に示した周辺画素Ｐ１の画素値と周辺画素Ｐ２の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｒ２の画素値と周辺画素Ｐ３の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ３の画素値と周辺画素Ｐ５の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ５の画素値と周辺画素Ｐ８の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ８の画素値と周辺画素Ｐ７の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ７の画素値と周辺画素Ｐ６の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ６の画素値と周辺画素Ｐ４の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ４の画素値と周辺画素Ｐ５の画素値との差の絶対値と、周辺画素Ｐ２の画素値と周辺画素Ｐ７の画素値との差の絶対値とを、それぞれ算出するものとした。
【０１００】
また、本実施例では、図１０のステップＳ５２０において、本発明における所定の閾値に相当する閾値Ｖｔｈは、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）について、同一の値が設定されているものとした。第１実施例と同様に、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）ごとに、互いに異なる値を設定するようにしてもよい。
【０１０１】
また、本実施例では、ステップＳ５２１において、本発明の第１の欠陥画素判定用閾値に相当する欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ１は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）について、一の値が設定されているものとした。第１実施例と同様に、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）ごとに、互いに異なる値を設定するようにしてもよい。
【０１０２】
また、本実施例では、ステップＳ５２４において、本発明の第２の欠陥画素判定用閾値に相当する欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ２は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）について、同一の値が設定されているものとした。第１実施例と同様に、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）ごとに、互いに異なる値を設定するようにしてもよい。
【０１０３】
以上説明した第２実施例の撮像装置１００Ａによれば、撮像部１０Ａが３つの撮像素子１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂを備えており、これらにそれぞれ対応した欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂを備えているので、撮像時に、個々の注目画素Ｐｔが、比較的欠陥画素として視認されやすい画素であるのか、比較的欠陥画素として視認されにくい画素であるのかを判定し、この判定結果を用いて、個々の注目画素Ｐｔが、欠陥画素であるか否かを、白キズ、黒キズの種別を問わず、逐次、詳細に検出することができる。そして、撮像装置１００Ａは、欠陥画素検出部２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂによって、注目画素Ｐｔが欠陥画素であると判定された場合に、画素データ補正部３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂによって注目画素Ｐｔの画素データを補正し、出力部４０Ａによって出力することができる。
【０１０４】
Ｃ．変形例：
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこのような実施の形態になんら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲内において種々なる態様での実施が可能である。例えば、以下のような変形が可能である。
【０１０５】
Ｃ１．変形例１：
上記第１実施例では、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、例えば、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）のうちの少なくとも１つが閾値Ｖｔｈ（Ｒ）以上である場合に、欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を、Ｖｊｔｈ（Ｒ）＝Ｖｊｔｈ１（Ｒ）に設定し、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）の全てが閾値Ｖｔｈ（Ｒ）未満である場合に、欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を、Ｖｊｔｈ（Ｒ）＝Ｖｊｔｈ２（Ｒ）に設定するものとしたが、本発明は、これに限られない。例えば、欠陥画素判定用閾値設定部２０ｃは、例えば、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）の全てが閾値Ｖｔｈ（Ｒ）以上である場合に、欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を、Ｖｊｔｈ（Ｒ）＝Ｖｊｔｈ１（Ｒ）に設定し、複数の絶対値Ｖａｂｓ１（Ｒ）のうちの少なくとも１つが閾値Ｖｔｈ（Ｒ）未満である場合に、欠陥画素判定用閾値Ｖｊｔｈ（Ｒ）を、Ｖｊｔｈ（Ｒ）＝Ｖｊｔｈ２（Ｒ）に設定するものとしてもよい。これは、注目画素Ｇｔ，Ｂｔについても同様である。
【０１０６】
Ｃ２．変形例２：
上記第１実施例では、欠陥画素判定部２０ｅは、例えば、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）よりも大きい場合に、注目画素Ｒｔが欠陥画素であるものと判定し、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）以下である場合に、注目画素Ｒｔが欠陥画素ではないものと判定するものとしたが、本発明は、これに限られない。例えば、欠陥画素判定部２０ｅは、例えば、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）のうちの少なくとも１つが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）よりも大きい場合に、注目画素Ｒｔが欠陥画素であるものと判定し、複数の絶対値Ｖａｂｓ２（Ｒ）の全てが、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）以下である場合に、注目画素Ｒｔが欠陥画素ではないものと判定するものとしてもよい。これは、注目画素Ｇｔ，Ｂｔについても同様である。
【０１０７】
Ｃ３．変形例３：
上記第１実施例では、画素データ補正部３０は、注目画素に対応する欠陥画素判定用周辺画素の画素データの平均値を、注目画素の画素データと置換することによって、注目画素の画素データの補正を行うものとしたが、本発明は、これに限られない。例えば、画素データ補正部３０は、欠陥画素判定用周辺画素の画素データの平均値の代わりに、例えば、加重平均値を適用するものとしてもよい。これは、上記第２実施例においても同様である。
【０１０８】
Ｃ４．変形例４：
上記第１実施例では、画素データ取得部２０ａは、５×５の画素からなる画素ブロックの画素データを取得するものとし、上記第２実施例では、画素データ取得部２０Ｒａ，２０Ｇａ，２０Ｂａは、それぞれ、３×３の画素からなる画素ブロックの画素データを取得するものとしたが、本発明は、これに限られない。注目画素の画素データと、この注目画素の周辺に配置された周辺画素の画素データとを取得すればよい。ただし、先に説明した欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理を高速に実行する観点から、取得する画素データの数は、できるだけ少なくすることが好ましい。
【０１０９】
Ｃ５．変形例５：
上記第１実施例では、閾値Ｖｔｈ（Ｒ）と、閾値Ｖｔｈ（Ｇ）と、閾値Ｖｔｈ（Ｂ）とに、互いに異なる値が設定されているものとしたが、本発明は、これに限られない。閾値Ｖｔｈ（Ｒ）と、閾値Ｖｔｈ（Ｇ）と、閾値Ｖｔｈ（Ｂ）とに、同一の値を設定するものとしてもよい。
【０１１０】
また、上記第１実施例では、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）と、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）と、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）とに、互いに異なる値が設定されているものとしたが、本発明は、これに限られない。閾値Ｖｊｔｈ１（Ｒ）と、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｇ）と、閾値Ｖｊｔｈ１（Ｂ）とに、同一の値を設定するものとしてもよい。
【０１１１】
また、上記第１実施例では、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）と、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）と、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）とに、互いに異なる値が設定されているものとしたが、本発明は、これに限られない。閾値Ｖｊｔｈ２（Ｒ）と、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｇ）と、閾値Ｖｊｔｈ２（Ｂ）とに、同一の値を設定するものとしてもよい。
【０１１２】
Ｃ６．変形例６：
上記実施例では、閾値Ｖｔｈ，Ｖｔｈ（Ｒ），Ｖｔｈ（Ｇ），Ｖｔｈ（Ｂ）や、閾値Ｖｊｔｈ１，Ｖｊｔｈ１（Ｒ），Ｖｊｔｈ１（Ｇ），Ｖｊｔｈ１（Ｂ）や、閾値Ｖｊｔｈ２，Ｖｊｔｈ２（Ｒ），Ｖｊｔｈ２（Ｇ），Ｖｊｔｈ２（Ｂ）は、固定値であるものとしたが、本発明は、これに限られない。これらを、例えば、欠陥画素判定用周辺画素の画素値の大きさに基づいて、変化させるようにしてもよい。欠陥画素判定用周辺画素の画素値が大きいほど、すなわち、輝度が高いほど、注目画素が、いわゆる黒キズとして視認されやすくなり、欠陥画素判定用周辺画素の画素値が小さいほど、すなわち、輝度が低いほど、注目画素が、いわゆる白キズとして視認されやすくなり、逆に、欠陥画素判定用周辺画素の画素値が大きいほど、すなわち、輝度が高いほど、注目画素が、いわゆる白キズとして視認されにくくなり、欠陥画素判定用周辺画素の画素値が小さいほど、すなわち、輝度が低いほど、注目画素が、いわゆる黒キズとして視認されにくくなるからである。
【０１１３】
上記各閾値を、対応する欠陥画素判定用周辺画素の画素値の大きさに基づいて、変化させる態様としては、例えば、欠陥画素判定用周辺画素の画素値の平均値や、加重平均値に基づいて、設定する態様が挙げられる。この場合、欠陥画素判定用周辺画素の画素値の平均値や、加重平均値と、上記各閾値との関係は、線形としてもよいし、非線形としてもよい。そして、上記各閾値は、例えば、所定の演算によって算出して設定するようにしてもよいし、欠陥画素判定用周辺画素の画素値の平均値や、加重平均値と、上記各閾値との関係とを記録したテーブルを予め用意しておき、このテーブルに基づいて設定するようにしてもよい。
【０１１４】
Ｃ７．変形例７：
上記第１実施例では、撮像素子１２として、ＣＭＯＳセンサを用いるものとしたが、本発明は、これに限られない。撮像素子１２として、ＣＣＤを用いるようにしてもよい。なお、撮像素子１２としてＣＣＤを用いる場合には、いわゆる１ショットタイプ（単板ＣＣＤ方式）、マルチショットタイプ、スキャナタイプ、３ＣＣＤタイプ等、種々のタイプを適用可能である。これは、上記第２実施例においても同様である。
【図面の簡単な説明】
【０１１５】
【図１】本発明の第１実施例としての撮像装置１００の概略構成を示す説明図である。
【図２】撮像素子１２における受光素子１２ｄの配列を示す説明図である。
【図３】第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの概略を模式的に示す説明図である。
【図４】第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの詳細を示す説明図である。
【図５】第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの詳細を示す説明図である。
【図６】第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの詳細を示す説明図である。
【図７】第１実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れの詳細を示す説明図である。
【図８】５×５の画素からなる画素ブロックにおける各画素の配置を模式的に示す説明図である。
【図９】本発明の第２実施例としての撮像装置１００Ａの概略構成を示す説明図である。
【図１０】第２実施例における欠陥画素検出処理、および、画素データ補正処理の流れを示す説明図である。
【図１１】３×３の画素からなる画素ブロックにおける各画素の配置を模式的に示す説明図である。
【符号の説明】
【０１１６】
１００，１００Ａ…撮像装置
１０，１０Ａ…撮像部
１２，１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂ…撮像素子
１２ｄ…受光素子
２０，２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ…欠陥画素検出部
２０ａ，２０Ｒａ，２０Ｇａ，２０Ｂａ…画素データ取得部
２０ａｂ，２０Ｒａｂ，２０Ｇａｂ，２０Ｂａｂ…バッファ
２０ｂ，２０Ｒｂ，２０Ｇｂ，２０Ｂｂ…第１演算部
２０ｃ，２０Ｒｃ，２０Ｇｃ，２０Ｂｃ…欠陥画素判定用閾値設定部
２０ｄ，２０Ｒｄ，２０Ｇｄ，２０Ｂｄ…第２演算部
２０ｅ，２０Ｒｅ，２０Ｇｅ，２０Ｂｅ…欠陥画素判定部
３０，３０Ｒ，３０Ｇ，３０Ｂ…画素データ補正部
４０，４０Ａ…出力部
５０，５０Ａ…制御ユニット
Ｒｔ…注目画素
Ｒ１〜Ｒ８…欠陥画素判定用周辺画素
Ｇｔ…注目画素
Ｇ１〜Ｇ１２…欠陥画素判定用周辺画素
Ｂｔ…注目画素
Ｂ１〜Ｂ８…欠陥画素判定用周辺画素
Ｐｔ…注目画素
Ｐ１〜Ｐ８…欠陥画素判定用周辺画素
Ｖｔｈ，Ｖｔｈ（Ｒ），Ｖｔｈ（Ｇ），Ｖｔｈ（Ｂ）…閾値
Ｖａｂｓ１，Ｖａｂｓ１（Ｒ），Ｖａｂｓ１（Ｇ），Ｖａｂｓ１（Ｂ）…絶対値（第１の絶対値）
Ｖａｂｓ２，Ｖａｂｓ２（Ｒ），Ｖａｂｓ２（Ｇ），Ｖａｂｓ２（Ｂ）…絶対値（第２の絶対値）
Ｖｊｔｈ，Ｖｔｈ（Ｒ），Ｖｔｈ（Ｇ），Ｖｔｈ（Ｂ）…欠陥画素判定用閾値
Ｖｊｔｈ１，Ｖｊｔｈ１（Ｒ），Ｖｊｔｈ１（Ｇ），Ｖｊｔｈ１（Ｂ）…閾値（第１の欠陥画素判定用閾値）
Ｖｊｔｈ２，Ｖｊｔｈ２（Ｒ），Ｖｊｔｈ２（Ｇ），Ｖｊｔｈ２（Ｂ）…閾値（第２の欠陥画素判定用閾値）
【図１】
2009017475.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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