(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、
前記光ディスク媒体に記録された情報に応じた出力信号を出力する光学ピックアップと、
前記光学ピックアップの出力信号に応じて、前記光ディスク媒体の表面に対する前記光学ピックアップの相対位置を制御して、前記光ディスク媒体から情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御を実行するサーボ実行部と、
前記サーボ制御実行時における、前記光学ピックアップによる情報の読み取り精度に関する評価値を取得する評価値取得手段と、
前記サーボ制御に関して設定される所定のパラメタの設定値を変化させながら、当該パラメタの３つ以上の設定値のそれぞれに対して前記評価値取得手段が取得する評価値に基づいて、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出するパラメタ調整手段と、
を含み、
前記パラメタ調整手段は、これまでのパラメタ調整処理中に評価値の取得を行った二以上の設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれに対して取得される二つの評価値の間の大小に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定すべき設定値を、前記最大値より大きくするか又は前記最小値より小さくするかを決定し、新たに決定した設定値について前記評価値取得手段により新たな評価値を取得するという処理を、所定の測定終了条件を満たすまで繰り返し実行することにより、前記３つ以上の設定値のそれぞれについて前記評価値を取得して、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出し、
前記所定の測定終了条件は、これまでのパラメタ調整処理中に取得された最も良い評価値と、パラメタ調整処理中に評価値の取得を行った設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれについて取得された評価値と、の間の差が所定のマージン値より大きいという条件を含む
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記光学ピックアップは、前記光ディスク媒体の信号面に光を集光する対物レンズと、その位置が変化することによって前記対物レンズの球面収差を補正するコリメータレンズと、を備え、
前記所定のパラメタは、前記コリメータレンズの位置に関するパラメタである
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記光学ピックアップは、前記光ディスク媒体の信号面に光を集光する対物レンズを備え、
前記所定のパラメタは、前記対物レンズと前記光ディスク媒体の表面との間の距離に対するオフセット値に関するパラメタである
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスク媒体に記録された情報に応じた出力信号を出力する光学ピックアップと、前記光学ピックアップの出力信号に応じて、前記光ディスク媒体の表面に対する前記光学ピックアップの相対位置を制御して、前記光ディスク媒体から情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御を実行するサーボ実行部と、を備える光ディスク装置の制御方法であって、
前記サーボ制御実行時における、前記光学ピックアップによる情報の読み取り精度に関する評価値を取得する評価値取得ステップと、
前記サーボ制御に関して設定される所定のパラメタの設定値を変化させながら、当該パラメタの３つ以上の設定値のそれぞれに対して前記評価値取得ステップで取得される評価値に基づいて、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出するパラメタ調整ステップと、
を含み、
前記パラメタ調整ステップでは、これまでのパラメタ調整処理中に評価値の取得を行った二以上の設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれに対して取得される二つの評価値の間の大小に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定すべき設定値を、前記最大値より大きくするか又は前記最小値より小さくするかを決定し、新たに決定した設定値について前記評価値取得手段により新たな評価値を取得するという処理を、所定の測定終了条件を満たすまで繰り返し実行することにより、前記３つ以上の設定値のそれぞれについて前記評価値を取得して、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出し、
前記所定の測定終了条件は、これまでのパラメタ調整処理中に取得された最も良い評価値と、パラメタ調整処理中に評価値の取得を行った設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれについて取得された評価値と、の間の差が所定のマージン値より大きいという条件を含む
ことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項５】
光ディスク媒体に記録された情報に応じた出力信号を出力する光学ピックアップと、前記光学ピックアップの出力信号に応じて、前記光ディスク媒体の表面に対する前記光学ピックアップの相対位置を制御して、前記光ディスク媒体から情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御を実行するサーボ実行部と、を備える光ディスク装置を制御するプログラムであって、
前記サーボ制御実行時における、前記光学ピックアップによる情報の読み取り精度に関する評価値を取得する評価値取得手段、及び、
前記サーボ制御に関して設定される所定のパラメタの設定値を変化させながら、当該パラメタの３つ以上の設定値のそれぞれに対して前記評価値取得手段が取得する評価値に基づいて、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出するパラメタ調整手段、
としてコンピュータを機能させ、
前記パラメタ調整手段は、これまでのパラメタ調整処理中に評価値の取得を行った二以上の設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれに対して取得される二つの評価値の間の大小に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定すべき設定値を、前記最大値より大きくするか又は前記最小値より小さくするかを決定し、新たに決定した設定値について前記評価値取得手段により新たな評価値を取得するという処理を、所定の測定終了条件を満たすまで繰り返し実行することにより、前記３つ以上の設定値のそれぞれについて前記評価値を取得して、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出し、
前記所定の測定終了条件は、これまでのパラメタ調整処理中に取得された最も良い評価値と、パラメタ調整処理中に評価値の取得を行った設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれについて取得された評価値と、の間の差が所定のマージン値より大きいという条件を含む
ことを特徴とするプログラム。
【請求項６】
請求項５記載のプログラムが記憶されたコンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤや、ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標）などの光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置、その制御方法、プログラム及び情報記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、各種の光ディスク媒体が情報記録媒体として利用されている。このような光ディスク媒体に記録された情報の読み取りを行うために、光ディスク装置が用いられる。光ディスク装置は、光ディスク媒体に対して光を照射し、その光ディスク媒体での反射光を検出する光学ピックアップを備えている。そして、この光学ピックアップを光ディスク媒体の表面に対して相対移動させる駆動系を制御して、光学ピックアップを情報の読み取りが可能な位置に移動させることによって、光ディスク媒体から情報の読み取りを行う。
【０００３】
ところが、光ディスク媒体は、情報読み取りの際に回転することにより生じる面ぶれなどによって、微少な上下動をしたりすることがある。また、光ディスク媒体内において情報が記録されたトラックの媒体中心からの距離は、情報の読み取りが継続されている間、徐々に変化する。そこで、情報の読み取りを行う際に、光学ピックアップが出力する出力信号に応じて駆動系にフィードバックをかけることによって、光ディスク媒体に記録された情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御が行われる。具体例として、光ディスク装置は、光学ピックアップから照射される光の焦点が光ディスク媒体の信号面に一致する状態を維持するように光学ピックアップと媒体表面との間の距離を調整するフォーカスサーボ制御や、光の焦点がトラック位置に追従するように光学ピックアップを媒体の径方向に沿って移動させるトラッキングサーボ制御などを実行する。
【０００４】
光ディスク装置がサーボ制御を行う場合、その制御に関して各種の制御パラメタが設定される。例えばフォーカスサーボ制御においては、このようなパラメタとして、光学ピックアップが備える対物レンズと光ディスク媒体の表面との間の距離に対するオフセット値に関するパラメタ（フォーカスバイアス）や、対物レンズの球面収差補正に関するパラメタなどが挙げられる。これらの制御パラメタを適切に調整することで、光学ピックアップによる情報の読み取り精度を向上させることができる。
【０００５】
この制御パラメタとして設定すべき設定値は、読み取り対象となる光ディスク媒体の種類や個体差、光学ピックアップの使用環境など、各種の要因により変動する。そこで、光ディスク装置は、光ディスク媒体からの情報の読み取りを開始する前に、予めパラメタ調整動作を行う必要がある。具体的に、このパラメタ調整動作は、制御パラメタの設定値を設定可能な範囲で変化させて、いくつかの設定値が設定された状態で媒体からの情報の読み取りを試行し、そのときの情報の読み取り精度を評価することによって、情報の読み取り精度を向上できるような設定値（調整値）を算出し、制御パラメタとして設定する制御である（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特許第４００１０２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したようなパラメタ調整動作においては、読み取り精度を評価するために、例えばジッター値などの評価値が用いられる。この場合のジッター値は、光学ピックアップの出力から得られる再生信号の、基準クロックに対する時間的なずれを示す値である。このような評価値と制御パラメタの設定値との間には、一般に、二次曲線で近似可能な関係が成立する。図１４は、このような制御パラメタの設定値と評価値との間の関係の一例を示すグラフである。この図においては、横軸（Ｘ軸）が制御パラメタの設定値を、縦軸（Ｙ軸）が評価値を、それぞれ示している。また、ここでは評価値としてジッター値を用いているので、その値が小さいほど読み取り精度が高いことを示している。この図の例においては、制御パラメタの設定値と評価値との関係が、下に凸の放物線によって表されており、放物線の頂点近傍の位置に対応するＸ軸の値を制御パラメタの設定値として設定することによって、評価値を小さくする（すなわち、情報の読み取り精度を向上させる）ことができる。
【０００７】
このような制御パラメタの設定値と評価値との関係を利用して光ディスク装置がパラメタ調整動作を行う際には、制御パラメタを少なくとも互いに異なる３個以上の設定値のそれぞれに設定した状態で、当該設定値に対する評価値を取得して、制御パラメタの設定値と評価値との間の関係を近似する二次曲線を求める必要がある。ここで、３個以上のサンプルデータが必要となるのは、二次曲線上において、図１４で例示されるような、接線の傾きが負になる点Ｐａ、接線の傾きが０に近くなる点Ｐｂ、及び接線の傾きが正になる点Ｐｃの少なくとも３点が特定されないと、精度よく近似を行うことができないからである。
【０００８】
パラメタ調整動作を実行する場合、例えば光ディスク装置は、まず制御パラメタとして所定の初期値を設定し、その後、設定値を所定の刻み幅で増加させながら（あるいは減少させながら）、それぞれの設定値に対応する評価値の取得を試みる。ここで、制御パラメタの設定可能な値の範囲は、調整目標とする最適な設定値が光ディスク媒体の種別や個体差によってばらつくことなどを考慮して、ある程度広い範囲になっている。また、光ディスク媒体の種別などによっては、この制御パラメタの設定可能な範囲のうち、最適な設定値の近傍のごく限られた範囲でしか、情報の読み出しを行うことができず、評価値の取得もできない場合がある。このような場合、制御パラメタの設定可能範囲内において、固定の初期値から順に設定値を増加又は減少させながら評価値の取得を試みる方法では、何度も評価値の取得を試行しないと評価値の取得に成功せず、最適な設定値を算出するために必要な複数のサンプルデータを取得するまでに、時間がかかってしまうことがある。
【０００９】
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであって、その目的の一つは、サーボ制御に関するパラメタの調整を行う場合に、当該パラメタの複数の設定値に対応する評価値の取得を、短時間で行うことのできる光ディスク装置、その制御方法、プログラム及び情報記憶媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するための本発明に係る光ディスク装置は、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る光ディスク装置であって、前記光ディスク媒体に記録された情報に応じた出力信号を出力する光学ピックアップと、前記光学ピックアップの出力信号に応じて、前記光ディスク媒体の表面に対する前記光学ピックアップの相対位置を制御して、前記光ディスク媒体から情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御を実行するサーボ実行部と、前記サーボ制御実行時における、前記光学ピックアップによる情報の読み取り精度に関する評価値を取得する評価値取得手段と、前記サーボ制御に関して設定される所定のパラメタの設定値を変化させながら、当該パラメタの３つ以上の設定値のそれぞれに対して前記評価値取得手段が取得する評価値に基づいて、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出するパラメタ調整手段と、を含み、前記パラメタ調整手段は、前記パラメタの少なくとも二つの設定値に対して取得される評価値に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定すべき設定値を決定することを特徴とする。
【００１１】
上記光ディスク装置において、前記パラメタ調整手段は、前記パラメタの少なくとも二つの設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれに対して取得される二つの評価値の間の大小に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定する設定値を、前記最大値より大きくするか又は前記最小値より小さくするかを決定することとしてもよい。
【００１２】
また、上記光ディスク装置において、前記光学ピックアップは、前記光ディスク媒体の信号面に光を集光する対物レンズと、その位置が変化することによって前記対物レンズの球面収差を補正するコリメータレンズと、を備え、前記所定のパラメタは、前記コリメータレンズの位置に関するパラメタであることとしてもよい。
【００１３】
また、上記光ディスク装置において、前記光学ピックアップは、前記光ディスク媒体の信号面に光を集光する対物レンズを備え、前記所定のパラメタは、前記対物レンズと前記光ディスク媒体の表面との間の距離に対するオフセット値に関するパラメタであることとしてもよい。
【００１４】
また、本発明に係る光ディスク装置の制御方法は、光ディスク媒体に記録された情報に応じた出力信号を出力する光学ピックアップと、前記光学ピックアップの出力信号に応じて、前記光ディスク媒体の表面に対する前記光学ピックアップの相対位置を制御して、前記光ディスク媒体から情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御を実行するサーボ実行部と、を備える光ディスク装置の制御方法であって、前記サーボ制御実行時における、前記光学ピックアップによる情報の読み取り精度に関する評価値を取得する評価値取得ステップと、前記サーボ制御に関して設定される所定のパラメタの設定値を変化させながら、当該パラメタの３つ以上の設定値のそれぞれに対して前記評価値取得ステップで取得される評価値に基づいて、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出するパラメタ調整ステップと、を含み、前記パラメタ調整ステップでは、前記パラメタの少なくとも二つの設定値に対して取得される評価値に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定すべき設定値を決定することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明に係るプログラムは、光ディスク媒体に記録された情報に応じた出力信号を出力する光学ピックアップと、前記光学ピックアップの出力信号に応じて、前記光ディスク媒体の表面に対する前記光学ピックアップの相対位置を制御して、前記光ディスク媒体から情報を読み取り可能な状態を維持するサーボ制御を実行するサーボ実行部と、を備える光ディスク装置を制御するプログラムであって、前記サーボ制御実行時における、前記光学ピックアップによる情報の読み取り精度に関する評価値を取得する評価値取得手段、及び、前記サーボ制御に関して設定される所定のパラメタの設定値を変化させながら、当該パラメタの３つ以上の設定値のそれぞれに対して前記評価値取得手段が取得する評価値に基づいて、前記サーボ制御実行時に設定すべき前記パラメタの設定値を算出するパラメタ調整手段、としてコンピュータを機能させ、前記パラメタ調整手段は、前記パラメタの少なくとも二つの設定値に対して取得される評価値に応じて、さらに前記評価値を取得するために設定すべき設定値を決定することを特徴とする。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な情報記憶媒体に記憶されてよい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の一実施形態について図面に基づき詳細に説明する。
【００１７】
本発明の実施の形態に係る光ディスク装置１は、光ディスク媒体に記録された情報を読み取る装置であって、図１に示すように、媒体支持部１１と、スピンドルモータ１２と、光学ピックアップ１３と、三軸アクチュエータ１４と、送りモータ１５と、駆動回路１６と、ＲＦアンプ１７と、サーボ信号処理部１８と、記録信号処理部１９と、制御部２０と、を備えている。
【００１８】
なお、光ディスク装置１による情報読み出しの対象となる光ディスク媒体Ｍは、情報が記録されるデータ記録層と、その両側からデータ記録層を保護する保護層と、が積層されて構成される。以下では、データ記録層の表面を信号面という。また、光ディスク装置１は、光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み取るだけでなく、光ディスク媒体Ｍに対して情報を書き込み可能に構成されてもよい。さらに、光ディスク装置１は、ＣＤや、ＤＶＤ、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標）など、複数種類の光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み取り可能に構成されてもよい。
【００１９】
媒体支持部１１は、光ディスク媒体Ｍを回転可能に支持する。また、この媒体支持部１１は、スピンドルモータ１２から伝達される動力によって光ディスク媒体Ｍを回転させる。
【００２０】
光学ピックアップ１３は、光ディスク媒体Ｍに対して光を照射し、照射した光の光ディスク媒体Ｍでの反射光を検出して、検出した反射光に応じた出力信号を出力する。この光学ピックアップ１３は、三軸アクチュエータ１４によって光ディスク媒体Ｍの径方向、及び光ディスク媒体Ｍの表面に垂直な方向（すなわち、光ディスク媒体Ｍの回転軸に沿った方向）の２つの方向に移動可能になっており、さらに、光学ピックアップ１３の光ディスク媒体Ｍに対する相対的な傾きを変更可能になっている。三軸アクチュエータ１４が光学ピックアップ１３を媒体表面に垂直な方向に沿って移動させることにより、光学ピックアップ１３に備えられた対物レンズから光ディスク媒体Ｍの表面までの距離が変化する。
【００２１】
図２は、光学ピックアップ１３の内部構成の一例を示す図である。この図の例においては、光学ピックアップ１３は、発光素子３１と、偏光ビームスプリッタ３２と、コリメータレンズ３３と、コリメータレンズ駆動部３４と、立ち上げミラー３５と、対物レンズ３６と、フォトディテクタ３７と、を備えている。
【００２２】
発光素子３１は、所定波長のレーザー光を出力する半導体レーザー素子である。発光素子３１から出射された出射光は、偏光ビームスプリッタ３２及びコリメータレンズ３３を通過した後、立ち上げミラー３５で反射される。さらに、立ち上げミラー３５で反射された出射光は、対物レンズ３６によって、対物レンズ３６から焦点距離Ｆだけ離れた焦点位置（フォーカス位置）に集光され、光ディスク媒体Ｍによって反射される。
【００２３】
光ディスク媒体Ｍにより反射された反射光は、対物レンズ３６を通過した後、立ち上げミラー３５で反射され、偏光ビームスプリッタ３２によってフォトディテクタ３７側に導かれる。フォトディテクタ３７は、例えばＮ×Ｎのマトリクス状に配置された複数の受光素子を備えており、偏光ビームスプリッタ３２によって導かれた反射光がこれらの受光素子に到達すると、フォトディテクタ３７は、複数の受光素子のそれぞれが受光した光の強度に応じた信号を出力信号として出力する。
【００２４】
また、コリメータレンズ駆動部３４は、アクチュエータ等により構成され、コリメータレンズ３３を、レーザー光の光軸方向に沿って前後に駆動する。コリメータレンズ駆動部３４がコリメータレンズ３３を光軸方向に沿って移動させることにより、対物レンズ３６の球面収差補正が可能となる。
【００２５】
送りモータ１５は、光学ピックアップ１３及び三軸アクチュエータ１４の全体を、光ディスク媒体Ｍの径方向に沿って移動させる。この送りモータ１５の駆動によって、光学ピックアップ１３は、光ディスク媒体Ｍの中心近傍の位置から外周近傍の位置まで移動可能になっている。
【００２６】
駆動回路１６は、サーボ信号処理部１８から入力される制御信号に従って、コリメータレンズ駆動部３４、三軸アクチュエータ１４、スピンドルモータ１２、及び送りモータ１５を駆動する駆動信号を出力する。この駆動回路１６からの駆動信号に応じて、スピンドルモータ１２の回転速度が変化することによって、光ディスク媒体Ｍの回転速度が制御される。また、この駆動回路１６からの駆動信号に応じて三軸アクチュエータ１４及び送りモータ１５が駆動することによって、対物レンズ３６の媒体回転軸からの径方向に沿った距離、及び対物レンズ３６の媒体表面までの距離が制御される。
【００２７】
ＲＦアンプ１７、サーボ信号処理部１８、記録信号処理部１９、及び制御部２０は、例えば、光学ピックアップ１３からの出力信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器、及び当該変換により得られたディジタル信号を処理するＤＳＰ（Digital Signal Processer）やマイクロコンピュータなどによって実現される。
【００２８】
ＲＦアンプ１７は、光学ピックアップ１３が出力する、複数の受光素子それぞれの出力信号に基づいて、各種の信号を出力する。具体的に、ＲＦアンプ１７は、各受光素子からの出力信号を所与のゲインで増幅してデータ再生用のＲＦ信号として出力するとともに、この増幅された全ての受光素子の出力信号を全加算したプルイン信号（ＰＩ信号）を出力する。このＰＩ信号のレベルが、光学ピックアップ１３が出力する出力信号全体のレベルを表している。
【００２９】
また、ＲＦアンプ１７は、光ディスク媒体Ｍの信号面に対する、対物レンズ３６のフォーカス位置のずれを示すフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を算出し、出力する。一例として、ＦＥ信号は、複数の受光素子のうち、所定の対角線方向に沿って配列している受光素子の出力信号の和から、当該対角線と交差する対角線方向に沿って配列している受光素子の出力信号の和を減じることによって算出される。さらに、ＲＦアンプ１７は、データ記録層内において情報が記録されるトラックの位置と、対物レンズ３６のフォーカス位置と、の間の光ディスク媒体Ｍの径方向のずれを示すトラッキングエラー信号（ＴＥ信号）を算出して、出力する。
【００３０】
サーボ信号処理部１８は、ＲＦアンプ１７が出力するＰＩ信号、ＦＥ信号、ＴＥ信号などに基づいて、サーボ制御用の各種の信号を生成し、制御部２０に出力する。また、サーボ信号処理部１８は、制御部２０から入力される指示に従って、駆動回路１６に対して三軸アクチュエータ１４やコリメータレンズ駆動部３４、送りモータ１５、スピンドルモータ１２を駆動させるための制御信号を出力する。
【００３１】
また、本実施形態において、サーボ信号処理部１８は、制御部２０からの指示に応じてサーボ制御を実行するサーボ実行部として機能する。具体的に、サーボ信号処理部１８は、制御部２０からサーボ制御開始の指示が入力されると、ＲＦアンプ１７から入力されるＦＥ信号に応じて三軸アクチュエータ１４を制御する制御信号を出力することにより、光学ピックアップ１３の媒体表面に垂直な方向の位置調整を行うフォーカスサーボ制御を行う。これにより、対物レンズ３６のフォーカスが光ディスク媒体Ｍの信号面に一致する状態が維持される。また、ＲＦアンプ１７から入力されるＴＥ信号に応じて三軸アクチュエータ１４を制御する制御信号を出力することにより、光学ピックアップ１３の径方向の位置を変化させるトラッキングサーボ制御を行う。これにより、対物レンズ３６のフォーカスがデータ記録層内のトラックに追従するように、光学ピックアップ１３が媒体表面に対して相対移動する。このように、サーボ信号処理部１８が実行するサーボ制御によって、光ディスク媒体Ｍの表面に対する光学ピックアップ１３の相対位置が制御されることにより、光学ピックアップ１３が光ディスク媒体Ｍから情報を読み取り可能な状態が維持され、その間に情報の読み出しが行われる。なお、サーボ信号処理部１８は、外乱の影響などによってサーボエラーが生じる（すなわち、サーボ制御が続行できない状態になる）と、サーボエラー発生を通知する信号を制御部２０に対して出力する。
【００３２】
記録信号処理部１９は、ＲＦアンプ１７が出力するＲＦ信号に基づいて、光ディスク媒体Ｍに記録された情報を示すディジタル信号を復調して、制御部２０に出力する。また、記録信号処理部１９は、光学ピックアップ１３による光ディスク媒体Ｍに記録された情報の読み取り精度に関する評価値（ＲＦ振幅やジッター値など）を算出し、制御部２０に対して出力する。以下では具体例として、記録信号処理部１９は、基準クロックに対するＲＦ信号波形の立ち上がりタイミングの時間的なずれを示すジッター値を測定し、制御部２０に対して出力することとする。
【００３３】
制御部２０は、例えばマイクロコンピュータによって構成され、実行モジュールと記憶素子とを含む。この制御部２０の記憶素子には、実行するべきプログラムや各種パラメタが格納され、実行モジュールは、当該記憶素子に格納されたプログラムに従って処理を行う。具体的に、制御部２０は、サーボ信号処理部１８から入力される信号（ＰＩ信号のピーク検出の結果に関する信号や、ＦＥ信号に対して所定の判定を行った結果を示す信号）等の入力を受けて、これらの信号に基づき、対物レンズ３６のフォーカスが信号面に合う位置を検出し、当該位置に光学ピックアップ１３と光ディスク媒体Ｍとの距離を設定する処理（フォーカス検出処理）を実行する。この処理によってフォーカス検出がなされると、その状態を維持するため、制御部２０は、サーボ信号処理部１８に対してフォーカスサーボ制御開始を指示する命令を出力する。
【００３４】
また、制御部２０は、ホストとなるパーソナルコンピュータや、家庭用ゲーム機本体、ビデオデコーダなどに接続され、ホストからの要求に応じて、送りモータ１５や三軸アクチュエータ１４を駆動させる命令をサーボ信号処理部１８に出力し、対物レンズ３６のフォーカス位置（すなわち、光ディスク媒体Ｍ上における情報の読み取り位置）を光ディスク媒体Ｍ上の所望の位置へ移動させる。また、併せてスピンドルモータ１２の回転速度を変更する命令をサーボ信号処理部１８に出力し、光ディスク媒体Ｍの回転速度を調整する。そして、その状態において記録信号処理部１９が出力する、光ディスク媒体Ｍから読み取られた信号から復調された信号を、ホスト側へ出力する。
【００３５】
本実施形態において、光ディスク装置１は、サーボ信号処理部１８が実行するサーボ制御に関して設定される所定の制御パラメタについて、サーボ制御実行時に設定すべき当該制御パラメタの設定値（以下、調整値という）を算出するパラメタ調整動作を行う。具体的に、光ディスク装置１は、精度よく光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み出すことのできる制御パラメタの設定値を、調整値として算出する。制御パラメタの値をこのパラメタ調整動作によって算出された調整値に設定することによって、光ディスク装置１は、望ましい条件でサーボ制御を実行して、精度よく光ディスク媒体Ｍからの情報の読み出しを行うことができる。
【００３６】
なお、このパラメタ調整動作は、例えば光ディスク装置１に新たに光ディスク媒体Ｍがセットされた場合や、光ディスク装置１の電源が投入された場合などに実行される。光ディスク媒体Ｍの種別や個体差などによって、精度よく情報の読み出しが可能な制御パラメタの値が変化するからである。このパラメタ調整動作が一旦実行されると、制御パラメタの値が算出された調整値に設定され、その後は、同じ光ディスク媒体Ｍに対しては、この調整値が設定された状態でサーボ制御が行われる。
【００３７】
以下では、この制御パラメタの一例として、コリメータレンズ３３の位置に関するパラメタ（以下、ＳＡパラメタという）の調整を行う場合の例について、説明する。この調整されたＳＡパラメタに応じてコリメータレンズ駆動部３４がコリメータレンズ３３の位置を変化させることによって、光学ピックアップ１３は、対物レンズ３６の球面収差を補正して、精度よく情報の読み出しを行うことができる。
【００３８】
以下、パラメタ調整動作が行われる際に本実施形態に係る光ディスク装置１の制御部２０が実行する処理について説明する。制御部２０は、機能的に、図３に示すように、評価値取得部４１と、パラメタ調整部４２と、を含んで構成される。さらに、パラメタ調整部４２は、機能的に、設定値変更部４２ａと、調整値算出部４２ｂと、を含んで構成される。これらの機能は、制御部２０が内蔵された記憶素子に格納しているプログラムを実行することによってソフトウエア的に実現される。
【００３９】
評価値取得部４１は、後述する設定値変更部４２ａによって設定値の変更がなされるごとに、ＲＦ信号に基づいて記録信号処理部１９によって測定される評価値（ジッター値）を、記録信号処理部１９から取得する。
【００４０】
パラメタ調整部４２の設定値変更部４２ａは、ＳＡパラメタの設定値を所定のルールに従って変化させ、この変化させた設定値をサーボ信号処理部１８に対して出力することにより、コリメータレンズ３３の位置を変化させる。なお、設定値変更のルールについては、後に詳しく説明する。そして、設定値変更部４２ａがＳＡパラメタの設定値を変更するごとに、評価値取得部４１によってその設定値が設定されたときのジッター値が取得される。その結果、複数のＳＡパラメタの設定値のそれぞれに対して、その設定値に対応するジッター値が得られる。なお、設定値変更部４２ａは、所定の条件を満たす複数組の設定値とジッター値との組み合わせが取得されるまで、設定値の変更を繰り返す。以下では、この設定値変更部４２ａの設定値変更によって取得される設定値とジッター値との組を、サンプルデータという。
【００４１】
調整値算出部４２ｂは、このサンプルデータに基づいて、調整値を算出する。具体例として、調整値算出部４２ｂは、最小二乗法を用いて、得られたサンプルデータを近似する二次曲線を求める。そして、この二次曲線の頂点位置に対応するＳＡパラメタの設定値を、調整値として算出する。その後、この算出した調整値をサーボ信号処理部１８に対して出力することによって、コリメータレンズ３３の位置を、調整値に応じた位置に移動させる。これにより、望ましい条件で球面収差の補正が行われ、記録信号処理部１９は精度よく光ディスク媒体Ｍに記録された情報を読み出せるようになる。
【００４２】
以下、設定値変更部４２ａが、複数のサンプルデータを取得する際に設定値を順に変更する際のルールについて、説明する。
【００４３】
まず設定値変更部４２ａは、最初のサンプルデータ取得のための設定値として、所定の初期値Ｘ０を設定する。この初期値Ｘ０は、例えば、事前に各種の光ディスク媒体に対して設定値とジッター値との関係を調査した結果得られる、統計上ジッター値の取得に成功する可能性が高いと想定される値とする。このように決定された初期値Ｘ０を設定することによって、光ディスク媒体Ｍの個体差及びこれに応じた目標となる調整値のばらつきに関わらず、初回の測定において、光ディスク媒体Ｍの読み出しに成功し、ジッター値を得られる可能性が高くなる。
【００４４】
初期値Ｘ０に対してジッター値の取得に成功すると、次に設定値変更部４２ａは、２回目の測定を行うためのＳＡパラメタの設定値を、この初期値Ｘ０から所定の刻み幅ｄだけ変化させた値に設定する。ここで、刻み幅ｄについても、初期値Ｘ０と同様に、事前に各種の光ディスク媒体に対して調査を行った結果の、ジッター値の測定が可能なＳＡパラメタの範囲の広がりに応じて決定されてよい。なお、調整値算出部４２ｂは、初期値Ｘ０に対してＳＡパラメタを刻み幅ｄだけ増加させる（すなわち、ｄを加算する）こととしてもよいし、刻み幅ｄだけ減少させる（すなわち、ｄを減算する）こととしてもよい。以下では具体例として、設定値変更部４２ａは、２回目の測定に際してＳＡパラメタを（Ｘ０−ｄ）に設定することとする。
【００４５】
こうして、設定値Ｘ０、及び（Ｘ０−ｄ）のそれぞれに対してジッター値が測定されると、設定値変更部４２ａは、これら二つの設定値に対して取得されるジッター値に応じて、さらに評価値取得のために設定すべき設定値を決定する。具体例として、設定値変更部４２ａは、これら二つの設定値それぞれに対応する二つのジッター値の間の大小に応じて、次の測定の対象となるＳＡパラメタの設定値を決定する。すなわち、設定値Ｘが設定された状態で評価値取得部４１が取得した評価値をＹ（Ｘ）と表記することとすると、設定値変更部４２ａは、Ｙ（Ｘ０）とＹ（Ｘ０−ｄ）との大小に応じて、次に変更すべきＳＡパラメタの設定値を決定する。
【００４６】
具体的に、設定値変更部４２ａは、Ｙ（Ｘ０）とＹ（Ｘ０−ｄ）との大小を比較して、Ｙ（Ｘ０）の方が小さい場合、ＳＡパラメタをＸ０より大きな設定値（ここでは（Ｘ０＋ｄ））に変更する。また、Ｙ（Ｘ０−ｄ）の方が小さい場合、ＳＡパラメタを（Ｘ０−ｄ）より小さな設定値（ここでは（Ｘ０−２ｄ））に変更する。
【００４７】
さらに、４回目以降の測定の対象となるＳＡパラメタの設定値も、同様の手法で決定していく。すなわち、設定値変更部４２ａは、既にジッター値を取得済みの設定値のうちの最大値ＸＨ及び最小値ＸＬのそれぞれに対して取得される二つの評価値Ｙ（ＸＨ）及びＹ（ＸＬ）の大小に応じて、さらに変更すべき設定値を、最大値ＸＨより大きくするか、又は最小値ＸＬより小さくするか、を決定する。具体例として、Ｙ（ＸＨ）＜Ｙ（ＸＬ）の場合、設定値変更部４２ａは、設定値を（ＸＨ＋ｄ）に変更する。逆にＹ（ＸＨ）＞Ｙ（ＸＬ）の場合、設定値を（ＸＬ−ｄ）に変更する。
【００４８】
なお、評価値取得部４１及び設定値変更部４２ａは、調整値算出部４２ｂによって精度よく調整値の算出が可能な複数のサンプルデータを取得し終えるまで、以上説明したような設定値の変更、及び変更された設定値により測定されたジッター値の取得を繰り返す。ここで、精度よくサンプルデータの近似を行って調整値を算出するためには、所定の条件を満たす３個以上のサンプルデータが取得されることが望ましい。このようなサンプルデータが取得されたか判定して、サンプルデータの取得を終了するか否かを判断する条件（測定終了条件）については、後に説明する。
【００４９】
図４、図５、及び図６は、それぞれ、このようにして決定される設定値とジッター値との関係の一例を示すグラフである。これらの図において、いずれも横軸はＳＡパラメタの設定値、縦軸はジッター値を示している。なお、横軸の正方向は、コリメータレンズ３３を立ち上げミラー３５側に移動させる向きを示しており、負方向は、発光素子３１側に移動させる向きを示している。また、各グラフにおける点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４及びＰ５は、それぞれ１回目、２回目、３回目、４回目、及び５回目の測定によって得られるサンプルデータを示している。
【００５０】
図４では、点Ｐ１におけるジッター値より点Ｐ２におけるジッター値の方が小さくなっているので、３回目の測定における設定値は、点Ｐ２の設定値より小さな値になる。その結果、３回の測定を終えた時点では、点Ｐ３の設定値が新たな最小値ＸＬとなり、そのジッター値は点Ｐ１のジッター値より大きくなっているので、今度は点Ｐ１の設定値より大きな設定値で、４回目の測定が行われる。
【００５１】
図５の例では、点Ｐ１から点Ｐ５それぞれのジッター値のうち、点Ｐ１のジッター値が最も大きくなっている。そのため、５回目の測定まで、一貫して設定値はＸ軸の負方向に向けて変更されている。
【００５２】
また、図６は、初回の測定によって得られたジッター値が二次曲線の頂点近傍に位置する場合の例を示している。この例では、初回の測定から、Ｘ軸負方向とＸ軸正方向に交互に設定値が変更されながら、測定が繰り返されている。
【００５３】
これらの図に示されるように、既にジッター値を測定済みの設定値のうちの最大値及び最小値のそれぞれに対応するジッター値の大小に応じて、次の測定のために設定すべき設定値をこの最大値より大きくするか、あるいは最小値より小さくするか、を決定することによって、設定値変更部４２ａは、設定値を以下のように変更していくことができる。すなわち、設定値とジッター値との関係が二次曲線で近似される場合において、既に測定済みの設定値のうちの最大値と最小値との間に二次曲線の頂点が含まれない間は、図５に例示されるように、設定値はこの二次曲線の頂点に向かって変更されていくこととなる。そして、既に測定済みの最大値と最小値との間に二次曲線の頂点が含まれている場合は、図６に例示されるように、頂点を中心としてＸ軸正方向と負方向の双方に測定範囲を広げるように、設定値の変更が行われることとなる。そのため、本実施形態に係る光ディスク装置１は、調整値算出部４２ｂが調整値を算出するために必要な、二次曲線に対する接線の傾きが負になる点、接線の傾きが０に近い点、及び接線の傾きが正になる点の３点を含んだサンプルデータを、少ない測定回数で取得することができ、パラメタ調整動作を短時間で実行することができる。
【００５４】
以下、本実施形態において制御部２０が実行する処理の流れの具体例について、図７から図９のフロー図に基づいて説明する。なお、以下では、ｎ個目のサンプルデータ取得に際して設定値変更部４２ａが設定するＳＡパラメタの設定値をＸｎと表記する。また、この設定値Ｘｎが設定された状態で測定されたジッター値をＹｎと表記する。
【００５５】
まず、設定値変更部４２ａは、所定の初期化処理として、各変数をリセットする（Ｓ１）。具体的には、Ｄｉｒｃ変数、ＣｎｔＰｌｕｓ変数及びＣｎｔＭｉｎｕｓ変数それぞれに０が設定される。ここで、Ｄｉｒｃ変数は設定値変更部４２ａが設定値を変化させる方向を示しており、−１は負方向への変更を、＋１は正方向への変更を、０は方向の設定がなされていない状態を、それぞれ示している。また、ＣｎｔＰｌｕｓ変数及びＣｎｔＭｉｎｕｓ変数は、所定の初期値Ｘ０を基準としてそれぞれＸ軸正方向及び負方向に測定すべき設定値を変化させる回数を示している。
【００５６】
続いて設定値変更部４２ａは、１回目の測定を行うための設定値Ｘ１として、所定の初期値Ｘ０を設定する（Ｓ２）。これに応じて、コリメータレンズ駆動部３４は、コリメータレンズ３３を所定の初期位置に移動させる。
【００５７】
次に、設定値変更部４２ａは、Ｄｉｒｃ変数が０か０以外かを判定する（Ｓ３）。前述の通り初期化処理でＤｉｒｃ変数には０が設定されるので、初回のＳ３の処理では、Ｄｉｒｃ変数は０であるとしてＳ９の処理に進む。一方、２回目以降にＳ３の処理が実行される際には、Ｄｉｒｃ変数は０以外に設定されている。そこで、設定値変更部４２ａは、このＤｉｒｃ変数の値に応じて設定値の変更を行う。具体的に、まず、Ｄｉｒｃ変数の値が１か−１かを判定し（Ｓ４）、Ｄｉｒｃ＝１の場合にはＣｎｔＰｌｕｓ変数に１を加算し（Ｓ５）、新たな設定値Ｘ１として、計算式
Ｘ１＝Ｄｉｒｃ・ｄ・ＣｎｔＰｌｕｓ＋Ｘ０
で算出される値を設定する（Ｓ６）。また、Ｄｉｒｃ＝−１の場合にはＣｎｔＭｉｎｕｓ変数に１を加算し（Ｓ７）、新たな設定値Ｘ１として、計算式
Ｘ１＝Ｄｉｒｃ・ｄ・ＣｎｔＭｉｎｕｓ＋Ｘ０
で算出される値を設定する（Ｓ８）。
【００５８】
そして、この状態においてジッター値の測定が行われ、その結果得られるジッター値Ｙ１を評価値取得部４１が取得する（Ｓ９）。ここで設定値変更部４２ａは、ジッター値の測定に成功したか否かを判定する（Ｓ１０）。ジッター値の測定ができなかった場合には、規定回数以上の測定が行われたか否かが判定される（Ｓ１１）。以下に説明するように設定値を変更しながら規定回数だけジッター値の測定を行っても、一度もジッター値の測定に成功しなかった場合、設定値変更部４２ａはエラー発生と判定してパラメタ調整動作を終了する（異常終了）。
【００５９】
一方、Ｓ１１においてまだ規定回数の測定が行われていないと判定された場合、設定値変更部４２ａは、Ｄｉｒｃ変数が０か０以外を判定する（Ｓ１２）。そして、Ｄｉｒｃ＝０の場合には、新たにＤｉｒｃ変数の値として−１を設定する（Ｓ１３）。これにより、初回の測定に失敗した場合には、まずＳＡパラメタの設定値Ｘ１を負方向に変化させて、再試行を行うこととなる。一方、Ｄｉｒｃ変数が０以外の場合、設定値変更部４２ａは、Ｄｉｒｃ変数を反転させる（Ｓ１４）。すなわち、Ｄｉｒｃ＝１だった場合にはＤｉｒｃ＝−１に、Ｄｉｒｃ＝−１だった場合にはＤｉｒｃ＝１に、それぞれ変数の値を変更する。そして、Ｓ３に戻って反転されたＤｉｒｃ変数に応じて新たな設定値Ｘ１への変更が行われる。
【００６０】
このフローによれば、初期値Ｘ０が設定された状態でジッター値の測定に失敗した場合、図１０に示されるように、初期値Ｘ０を中心として設定値をＸ軸負方向及び正方向に交互に変化させながら、ジッター値の測定が試みられる。図１０の例では、×印は測定に失敗したことを示しており、５回目の測定で初めてジッター値の測定に成功したことを示している。ここで、前述の通り、初期値Ｘ０は、ＳＡパラメタの設定可能範囲の両端近傍の値ではなく、ジッター値の測定に成功する確率が高いと推定される値に設定されている。そのため、このように設定値の減少及び増加を交互に繰り返しながらジッター値測定を繰り返すことにより、初期値Ｘ０に対して常に設定値を増加させながら、又は減少させながらジッター値測定を繰り返す場合と比較して、より早くジッター値測定に成功することが期待できる。
【００６１】
なお、パラメタ調整動作が異常終了する原因の一つとして、ジッター値を測定可能な範囲が刻み幅ｄと比較して狭すぎるために、ジッター値の測定に成功しなかった場合が考えられる。そこで、Ｓ１１の判定の結果パラメタ調整動作が異常終了した場合、光ディスク装置１は、刻み幅ｄをより小さな値に変更して、再度パラメタ調整動作を実行してもよい。この場合、Ｓ１１でエラー発生と判定する基準となる回数を増やしてパラメタ調整動作を再実行してもよい。
【００６２】
Ｓ１０で設定値Ｘ１に対するジッター値Ｙ１の測定に成功したと判定した場合、設定値変更部４２ａは、Ｄｉｒｃ変数が０か０以外かの判定を行う（Ｓ１５）。Ｄｉｒｃ＝０の場合、最初の試行でジッター値Ｙ１の測定に成功したことになる。この場合、Ｄｉｒｃ変数に−１を設定する（Ｓ１６）。前述の通り、本実施形態では、２回目の測定においては、まず設定値は負方向に変化されることとしているので、ここではＤｉｒｃ変数を−１に設定している。また、Ｓ１５においてＤｉｒｃ変数が０以外だった場合、最初の試行には失敗して何度かジッター値Ｙ１の測定が試みられたことになる。この場合には、Ｄｉｒｃ変数を変化させず、最後に設定値を変化させた方向を維持した状態で設定値を次の値に変更して、２回目以降の測定を行う。
【００６３】
すなわち、まず設定値変更部４２ａは、Ｄｉｒｃ変数の値が１か−１を判定し（Ｓ１７）、Ｄｉｒｃ＝１の場合にはＣｎｔＰｌｕｓ変数に１を加算し（Ｓ１８）、設定値Ｘｎとして計算式
Ｘｎ＝Ｄｉｒｃ・ｄ・ＣｎｔＰｌｕｓ＋Ｘ０
で算出される値を設定する（Ｓ１９）。逆にＤｉｒｃ＝−１の場合には、ＣｎｔＭｉｎｕｓ変数に１を加算し（Ｓ２０）、設定値Ｘｎとして計算式
Ｘｎ＝Ｄｉｒｃ・ｄ・ＣｎｔＭｉｎｕｓ＋Ｘ０
で算出される値を設定する（Ｓ２１）。
【００６４】
その後、評価値取得部４１が、Ｓ１９又はＳ２１で設定されたＳＡパラメタに対して測定されるジッター値Ｙｎを取得する（Ｓ２２）。そして、設定値変更部４２ａは、Ｓ２２でジッター値Ｙｎの取得に成功したか否かを判定する（Ｓ２３）。
【００６５】
Ｓ２３でジッター値Ｙｎの取得に失敗したと判定された場合、設定値変更部４２ａは、測定が行われた設定値の範囲の両サイドでジッター値の測定に失敗したか否かを判定する（Ｓ２４）。すなわち、測定に成功している設定値のうちの最大値より大きな設定値、及び測定に成功している設定値のうちの最小値より小さな設定値、の双方でジッター値の取得に失敗したか否かを判定する。この条件に合致する場合には、これ以上設定値を変化させてもジッター値の測定に成功しないと推定されるので、Ｓ２７の処理に進んで、これまで測定に成功したジッター値を用いて調整値の算出を行う。
【００６６】
一方、Ｓ２３でジッター値Ｙｎの取得に成功したと判定した場合には、さらにこれまでにＳ９及びＳ２２の処理によって３個以上のジッター値を取得したか否かを判定する（Ｓ２５）。３個以上のジッター値が取得された場合、設定値変更部４２ａは、これらのサンプルデータについて、所定の測定終了条件を満たすか否か判定する終了判定処理を行う（Ｓ２６）。この終了判定処理の内容については、後述する。
【００６７】
Ｓ２６の処理によって終了判定条件が満たされたと判定された場合（すなわち測定終了と判定された場合）、及びＳ２４において設定値の両サイドでジッター値測定に失敗したと判定された場合、調整値算出部４２ｂが、これまでＳ９及びＳ２２で得られたサンプルデータを用いて、調整値の算出を行う。具体的に、まず調整値算出部４２ｂは、これらのサンプルデータの中から、異常点を削除する処理を行う（Ｓ２７）。具体的には、ジッター値を取得できた設定値のうち、最大値ＸＨと最小値ＸＬを除いた設定値のそれぞれを注目設定値Ｘｉとして、当該注目設定値Ｘｉに対して得られたジッター値Ｙｉが、誤差によって生じた異常データか否かを以下の判定方法により判定する。すなわち、注目設定値Ｘｉに対して得られたジッター値Ｙｉが、注目設定値Ｘｉの両隣の設定値（Ｘｉ−ｄ）及び（Ｘｉ＋ｄ）のそれぞれに対して得られたジッター値Ｙ（Ｘｉ−ｄ）及びＹ（Ｘｉ＋ｄ）の平均値より大きいか否かを判定する。この判定は、図１１に示すように、設定値とジッター値との関係を示すグラフ上において、注目設定値Ｘｉの両隣の２つのサンプル点を結ぶ直線ｌに対して、注目設定値Ｘｉに対応するサンプル点が上側に位置するか下側に位置するかを判定していることになる。このグラフは下に凸の放物線となることが想定されているので、図１１の例のように注目設定値Ｘｉに対応するサンプル点が直線ｌの上側に位置している場合、このジッター値Ｙｉは測定誤差によって生じた異常値であると推定される。そこで、調整値算出部４２ｂは、このような条件に合致する異常な注目設定値Ｘｉと対応するジッター値Ｙｉとの組を、続く調整値算出処理に使用するデータから除外することとする。
【００６８】
次に調整値算出部４２ｂは、Ｓ２７で異常点が除外されて残ったサンプルデータを用いて、調整値の算出を行う（Ｓ２８）。具体的には、最小二乗法によりこれらのサンプルデータを近似する二次曲線を算出し、その頂点位置に対応する設定値を調整値として算出する。そして、算出された調整値をＳＡパラメタの設定値として設定して（Ｓ２９）パラメタ調整処理を終了する。これにより、コリメータレンズ駆動部１４によってコリメータレンズ１３の位置が調整値に応じた位置に移動し、以降は、ジッター値が小さくなるような条件の下でフォーカスサーボ制御が実行されることとなる。
【００６９】
Ｓ２４において両サイドでジッター値測定に失敗してはいないと判定された場合、Ｓ２５でまだ３個以上のジッター値の取得がされていないと判定された場合、及びＳ２６で測定終了条件がまだ満たされていないと判定された場合（すなわち測定を続行すると判定された場合）には、設定値変更部４２ａは、これまで取得されたジッター値に応じて、次に設定値を変化させる方向を決定する。具体的に、まず設定値変更部４２ａは、これまで測定に成功した設定値の最大値ＸＨに対応するジッター値Ｙ（ＸＨ）と、これまで測定に成功した設定値の最小値ＸＬに対応するジッター値Ｙ（ＸＬ）と、の大小を比較し（Ｓ３０）、Ｙ（ＸＬ）≦Ｙ（ＸＨ）の場合にはＤｉｒｃ変数に−１を設定する（Ｓ３１）。また、Ｙ（ＸＬ）＞Ｙ（ＸＨ）の場合にはＤｉｒｃ変数に１を設定する（Ｓ３２）。そして、Ｓ３１又はＳ３２で決定した方向に既に測定に失敗した設定値があるか否かを判定する（Ｓ３３）。すなわち、Ｄｉｒｃ＝−１の場合、最小値ＸＬより小さな設定値でジッター値の測定に失敗しているか否かを判定する。また、Ｄｉｒｃ＝１の場合には、最大値ＸＨより大きな設定値でジッター値の測定に失敗しているか否かを判定する。
【００７０】
Ｓ３３で測定に失敗した設定値がないと判定された場合には、設定値変更部４２ａは、Ｓ１７に戻って次の設定値への変更を行う。一方、Ｓ３３で測定に失敗した設定値があると判定された場合には、設定値変更部４２ａは、Ｓ３１又はＳ３２で設定されたＤｉｒｃ変数の値を反転する（Ｓ３４）。そして、Ｓ１７に戻って次の設定値への変更を行う。以上説明した処理によって、ＳＡパラメタの調整が行われる。
【００７１】
次に、上述したＳ２６で実行される終了判定処理の一例について、図１２及び図１３のフロー図に基づいて説明する。なお、以下では、ジッター値の測定が行われた設定値のうち、最大値ＸＨ及び最小値ＸＬ以外で、ジッター値Ｙｎが最小となるような設定値Ｘｎを、設定値ＸＭと表記する。
【００７２】
まず設定値変更部４２ａは、最大値ＸＨに対するジッター値Ｙ（ＸＨ）及び最小値ＸＬに対するジッター値Ｙ（ＸＬ）のうち、いずれか小さい方と、Ｙ（ＸＭ）と、の大小を比較する（Ｓ４１）。すなわち、値ａ及び値ｂのうち小さい方をｍｉｎ（ａ，ｂ）と表記することとすると、条件式
Ｙ（ＸＭ）＜ｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））
が成り立つか否かを判定する。この条件式が成り立つ場合、設定値ＸＬ，ＸＭ及びＸＨに対応する３個のサンプルデータの間には、下に凸になる関係があることになる。
【００７３】
Ｓ４１の条件式が満たされると判定された場合、さらに設定値変更部４２ａは、ｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））とＹ（ＸＭ）との差が、所定のマージン値Ｍｇｎより大きいか否かを判定する（Ｓ４２）。すなわち、条件式
ｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））−Ｙ（ＸＭ）＞Ｍｇｎ
が成り立つか否かを判定する。この条件式が満たされる場合、測定されたジッター値の最小値Ｙ（ＸＭ）に対して、測定された設定値の範囲のうちの両サイドにおけるジッター値が、所定のマージン値Ｍｇｎ以上に大きいことになる。この場合、少なくともＸＬ，ＸＭ，及びＸＨの３個の設定値及び対応するジッター値の組が、最小二乗法による近似が可能なサンプルデータとしての条件を満たすと判定されるので、測定を終了すると判断して終了判定処理を終了する。
【００７４】
一方、Ｓ４２の条件式が満たされないと判定された場合、設定値変更部４２ａは、以下に説明する手順で、さらに測定を続行するべきか否かを判断する。すなわち、まず設定値変更部４２ａは、現時点でジッター値が取得されている設定値の最小値ＸＬより小さな設定値で、既にジッター値の測定に失敗しているか否かを判定する（Ｓ４３）。ジッター値測定に失敗している場合には、さらに現時点でジッター値が取得されている設定値の最大値ＸＨより大きな設定値で、既にジッター値の測定に失敗しているか否かを判定する（Ｓ４４）。こちらの判定でも既にジッター値の測定に失敗していると判定された場合、既に測定がなされた設定値の範囲の両サイドで測定に失敗していることになるので、さらに測定を行うことはせずに、測定終了条件を満たすと判断して終了判定処理を終了する。
【００７５】
Ｓ４４で最大値ＸＨ側ではジッター値測定に失敗していないと判定された場合、設定値変更部４２ａは、Ｙ（ＸＨ）とＹ（ＸＭ）との間の差がマージン値Ｍｇｎを超えているか否か判定する（Ｓ４５）。すなわち、条件式
Ｙ（ＸＨ）−Ｙ（ＸＭ）＞Ｍｇｎ
を満たすか否かが判定される。この条件式を満たす場合、これ以上最大値ＸＨより大きな設定値でジッター値の測定を行う必要はないと考えられる。一方でＳ４３の判定により最小値ＸＬより小さな設定値ではジッター値の測定に失敗したことが分かっているので、これ以上測定を行わないこととし、測定終了条件を満たすと判断して終了判定処理を終了する。逆に、Ｓ４５の条件式を満たさないと判定される場合、最大値ＸＨより大きな設定値でさらにジッター値の測定を行うことが望ましいので、測定終了条件を満たさない（すなわち、測定続行）と判断して終了判定処理を終了する。
【００７６】
また、Ｓ４３でジッター値の測定に失敗していないと判定された場合には、設定値変更部４２ａは、さらにＳ４４と同様に最大値ＸＨより大きな設定値でジッター値の測定に失敗したか否かを判定する（Ｓ４６）。失敗していないと判定される場合には、測定を終えた設定値の範囲の両サイドどちらも測定に失敗していないので、測定を続行するべきである。そこで、測定終了条件を満たさないと判断して終了判定処理を終了する。
【００７７】
一方、Ｓ４６で最大値ＸＨ側でのジッター値測定には失敗したと判定される場合、設定値変更部４２ａは、Ｙ（ＸＬ）とＹ（ＸＭ）との間の差がマージン値Ｍｇｎを超えているか否か判定する（Ｓ４７）。すなわち、条件式
Ｙ（ＸＬ）−Ｙ（ＸＭ）＞Ｍｇｎ
を満たすか否かが判定される。この条件式を満たす場合、Ｓ４５の場合と同様に、これ以上最小値ＸＬより小さな設定値でジッター値の測定を行う必要はないと考えられるので、これ以上測定を行わないこととし、測定終了条件を満たすと判断して終了判定処理を終了する。逆に、Ｓ４７の条件式を満たさないと判定される場合、最小値ＸＬより小さな設定値でさらにジッター値の測定を行うべきなので、測定終了条件を満たさないと判断して終了判定処理を終了する。
【００７８】
また、Ｓ４１の条件式が満たされないと判定された場合には、設定値変更部４２ａは、今度はＹ（ＸＨ）及びＹ（ＸＬ）のうちいずれか大きい方と、Ｙ（ＸＭ）と、の大小を比較する（Ｓ４８）。すなわち、値ａ及び値ｂのうち小さい方をｍａｘ（ａ，ｂ）と表記することとすると、条件式
Ｙ（ＸＭ）＞ｍａｘ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））
が成り立つか否かを判定する。この条件式が成り立つ場合、設定値ＸＬ，ＸＭ及びＸＨに対応する３個のサンプルデータの間には、上に凸になる関係があることになる。
【００７９】
Ｓ４８の条件式が満たされると判定された場合、測定誤差などによってＹ（ＸＭ）が異常な値になってしまっていると考えられる。そこで、さらに測定を続ける必要がある。ただし、その前にマージン値Ｍｇｎを変更する必要があるか否かの判定が行われる。すなわち、設定値変更部４２ａは、Ｙ（ＸＭ）とｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））との差が、所定のマージン値Ｍｇｎより小さいか否かを判定する（Ｓ４９）。すなわち、条件式
Ｙ（ＸＭ）−ｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））＞Ｍｇｎ
が成り立つか否かを判定する。この条件式が満たされる場合、測定が続行されて、新たに設定された設定値の最大値ＸＨ及び最小値ＸＬに対して現時点におけるｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））の値よりマージン値Ｍｇｎ以上大きなジッター値が測定されたとしても、このジッター値が異常値であるＹ（ＸＭ）より小さな値である場合があり得る。そこで、精度よく最小二乗法による近似を行うために、マージン値Ｍｇｎを広げることとする。具体的に、設定変更部４２ａは、新たなマージン値を、
Ｍｇｎ＝Ｙ（ＸＭ）−ｍｉｎ（Ｙ（ＸＬ），Ｙ（ＸＨ））
に設定する（Ｓ５０）。Ｓ４８の条件式が満たされると判定された場合には、その後のＳ４９の判定に関わらず、測定の継続が必要となるので、測定終了条件を満たさないと判断して終了判定処理を終了する。
【００８０】
一方、Ｓ４８の条件式が満たされないと判定される場合、設定値ＸＬ，ＸＭ，及びＸＨに対応する３個のサンプルデータの間には、単調増加又は単調減少の関係があることになる。この場合、設定変更部４２ａは、Ｓ４２の条件式が満たされないと判定された場合と同様に、Ｓ４３の処理に進んで、測定不能点の有無に応じて測定を継続するか否かを判定する。
【００８１】
なお、以上説明した処理に用いられる初期値Ｘ０、刻み幅ｄ、マージン値Ｍｇｎなどの定数は、光ディスク装置１の電源を切断してもデータが保持されるＥＥＰＲＯＭなどのメモリ領域に記録することとしてもよい。こうすれば、後にこれらの値を見直す必要が生じた場合には、新たな値に書き換えることが可能となる。
【００８２】
以上説明した本実施の形態によれば、３個以上のサンプルデータを取得して調整値の算出を行う場合に、２個以上の測定によって既に得られた評価値に応じて、次に設定すべき設定値を決定することによって、近似計算に必要なサンプルデータを効率よく取得することができ、パラメタ調整を短時間で行うことができる。
【００８３】
なお、本発明の実施の形態は、以上説明したものに限られない。例えば以上の説明においては、評価値としてジッター値を用いることとしたが、例えばＲＦ信号の振幅値など、他の評価値を用いることとしてもよい。なお、ＲＦ信号の振幅値など、大きければ大きいほど光ディスク媒体からの情報の読み取り精度がよいことを示す評価値を用いる場合、設定値と評価値との関係は例えば上に凸の放物線によって表されることになる。この場合にも、評価値の大小に対する判定基準が逆転するほかは、以上説明した処理と同様の処理によって、調整値の算出が可能である。また、調整の対象となる制御パラメタも、コリメータレンズ３３の位置に関するパラメタだけでなく、対物レンズ３６の媒体表面に対する距離調整の際のオフセット値に関するパラメタであるフォーカスバイアスなど、各種のパラメタであってよい。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の構成例を表すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の光学ピックアップの内部構成例を表す概要図である。
【図３】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の機能例を表す機能ブロック図である。
【図４】取得される評価値と設定値の変更順序との関係の一例を示すグラフである。
【図５】取得される評価値と設定値の変更順序との関係の別の例を示すグラフである。
【図６】取得される評価値と設定値の変更順序との関係の別の例を示すグラフである。
【図７】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置が実行する処理の一例を示すフロー図である。
【図８】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置が実行する処理の一例を示すフロー図である。
【図９】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置が実行する処理の一例を示すフロー図である。
【図１０】初期値が設定された状態で評価値の取得に失敗した場合の設定値の変更順序の一例を示す説明図である。
【図１１】異常値の判定方法について説明する図である。
【図１２】終了判定処理の一例を示すフロー図である。
【図１３】終了判定処理の一例を示すフロー図である。
【図１４】パラメタの設定値と評価値との関係の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
【００８５】
１  光ディスク装置、１１  媒体支持部、１２  スピンドルモータ、１３  光学ピックアップ、１４  三軸アクチュエータ、１５  送りモータ、１６  駆動回路、１７  ＲＦアンプ、１８  サーボ信号処理部、１９  記録信号処理部、２０  制御部、３１  発光素子、３２  偏光ビームスプリッタ、３３  コリメータレンズ、３４  コリメータレンズ駆動部、３５  立ち上げミラー、３６  対物レンズ、３７  フォトディテクタ、４１  評価値取得部、４２  パラメタ調整部、４２ａ  設定値変更部、４２ｂ  調整値算出部。
【図１】
0005103276.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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