(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク再生装置であって、
正規に製造されたか否かを判定するために用いられる物理的特徴を光ディスクから検出する特徴検出部と、
前記物理的特徴が所定の精度以上で形成されている場合、正規に製造されたと判定する判定条件を光ディスクから読み取る条件読み取り部と、
前記特徴検出部により検出される物理的特徴が、前記条件読み取り部により読み取られる判定条件を満たすか否かにより、光ディスクが正規に製造されたか否かを判定する判定部と、
前記判定部により光ディスクが正規に製造されたと判定された場合のみ、光ディスクに記録されているコンテンツデータを再生する再生部とを備え、
前記判定部は、前記判定条件が満たされたとき、前記特徴検出部が判定に必要なすべての前記物理的特徴を検出する前であっても、光ディスクが正規に製造されたと判定し、
前記再生部は、前記判定部により光ディスクが正規に製造されたと判定された場合、前記特徴検出部が判定に必要なすべての前記物理的特徴を検出する前であっても、前記コンテンツデータの再生を開始することを特徴とする、光ディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクに関し、より特定的には、不正にコピーされた光ディスクであるか否かを判定することのできる光ディスクに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来において、光ディスクの不正コピーを防止する方法としては、光ディスクに予め特定の処理を施す方法が一般的である。すなわち、この方法は、特定の処理により光ディスクに形成された物理的特徴を用いて、正規の光ディスクであるか否かを判定することにより行われる。光ディスクが不正にコピーされる場合、光ディスクに記録される通常のデータのみがコピーされ、上記の特定の処理は行われない。従って、不正にコピーされた光ディスクは、特定の処理により形成される物理的特徴を有しない。光ディスクにアクセスする際、光ディスクドライブは、物理的特徴を調べ、特定の処理が正しく施されているか否かを判定することにより、正規に製造された光ディスクであるか、不正にコピーされた光ディスクであるかを判定する。以上の方法により、不正にコピーされた光ディスクの使用を防止することができる。
【０００３】
例えば、特開平７−２８２４７２号公報に記載の発明では、特定のトラック間に、信号ピット列を設け、そのピット列の内外周のトラックをピットの存在しない無ピット領域としている。このような特徴を有する光ディスクにおいては、光ディスク中にランダムに読み取られる部分が存在するか否かにより、正規に製造された光ディスクであるか否かを判定することができる。
【０００４】
また、特開平９−８１９３８号公報に記載の発明では、特定の位置に変位ピットを形成している。このような特徴を有する光ディスクにおいては、変位ピットの有無により、正規に製造された光ディスクであるか否かを判定することができる。
【０００５】
上記の２つの公報に記載される他、正規ディスクの判定方法は、例えば、光ディスクに特定の処理を施した物理的特徴の数、位置または大きさを用いる方法や、物理的特徴にレーザ光を当てたときの反射率を用いる方法等、様々なものが考えられる。ここで、正規に製造された光ディスクであるか否かの判定は、物理的特徴が一定の判定条件を満たすか否かにより行われる。例えば、変位ピットの数を用いて判定を行う場合、一定の個数以上の変位ピットが存在することが、正規の光ディスクであると判定される条件となる。また、反射率を用いて判定を行う場合、反射率が一定の範囲に該当することが、正規の光ディスクであると判定される条件となる。
【０００６】
ここで、正規の光ディスクであるか否かの判定条件は、物理的特徴が所定の精度以上で形成された光ディスクを、正規の光ディスクと判定するように決定される。これは、物理的特徴が全く形成されていない光ディスクを、不正にコピーされた光ディスクと判定することに加え、形成される物理的特徴の精度が低い光ディスクについても、不正にコピーされた光ディスクであると判定するためである。なぜなら、形成される物理的特徴の精度が低い光ディスクは、製造が容易であることから、物理的特徴を模倣して不正に製造することも容易だからである。
【０００７】
また、判定条件において、形成される物理的特徴の精度をどの程度まで許容するかにより、セキュリティのレベルが決定されることになる。具体的には、判定条件を緩く設定する、すなわち、形成される物理的特徴の精度が低い光ディスクを許容することにより、セキュリティレベルは低くなる。一方、判定条件を厳しく設定する、すなわち、形成される物理的特徴の精度が高い光ディスクのみを許容することにより、セキュリティレベルは高くなる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
従来において、正規に製造された光ディスクであるか否かの判定条件は、光ディスクの再生装置において予め設定されている。すなわち、判定条件を変更する場合、光ディスクの再生装置の設定を変更しなければない。しかし、すべてのユーザが有する光ディスクの再生装置の設定を変更することは、実際には不可能である。従って、従来において、正規に製造された光ディスクであるか否かの判定条件は、固定的なものであり、変更することができない。
【０００９】
ここで、実際の光ディスクの製造においては、セキュリティレベルの変更が必要となる場合が考えられる。例えば、セキュリティレベルを低くする場合を考える。セキュリティレベルを低くすると、形成される物理的特徴の精度が低い光ディスクであっても正規に製造された光ディスクとして許容されることになる。セキュリティレベルを低く設定することにより、歩留まりが上がり、生産性を向上することができる。従って、例えば、生産コストを下げることや、短期間に大量に製造することを目的とする場合のように、生産性を重視する場合は、セキュリティレベルを低く設定する場合がある。また、コンテンツの価値によっては、できるだけ不正コピーを防止するため、セキュリティレベルを高く設定する場合がある。さらに、現在設定しているセキュリティレベルでは、不正コピーを防止することができなくなった場合、不正コピーに対応するため、セキュリティレベルを上げることが必要となる。以上のように、目的に応じたセキュリティレベルに設定することができるように、セキュリティレベルが変更できることが望ましい。
【００１０】
しかし、従来においては、判定条件を変更することができないことから、セキュリティレベルを変更することができなかった。従って、一度セキュリティレベルを設定すれば、後から変更することができず、目的に応じたセキュリティレベルを設定することができなかった。
【００１１】
それ故に、本発明の目的は、不正コピーに対するセキュリティレベルを容易に変更することのできる光ディスクを提供することである。
【００１２】
【課題を解決するための手段および発明の効果】
第１の発明は、光ディスク再生装置において、正規に製造された光ディスクか否かについての判定が行われる光ディスクの発明である。特徴形成領域（実施例との対応関係を示せば、参照番号１１）には、光ディスク再生装置において正規に製造されたか否かを判定するために用いられる物理的特徴が形成されている。条件記録領域（実施例との対応関係を示せば、参照番号１２）には、物理的特徴が所定の精度で形成されている場合、正規の光ディスクであると判定する判定条件が記録されている。
【００１３】
上記第１の発明によれば、光ディスクには、正規に製造されたか否かを判定するための判定条件が記録される。判定条件の変更は、光ディスクに記録する情報を変更すればよく、光ディスク再生装置の設定を変更する必要がないので、容易に行うことができる。従って、判定条件を変更することにより、不正コピーに対するセキュリティレベルを容易に変更することができる。これにより、例えば、光ディスクの生産性を重視する場合には、セキュリティレベルを下げることにより光ディスクの生産性を向上することができる。また、例えば、不正コピーを防止することを重視する場合にはセキュリティレベルを上げることができる。以上のように、目的に応じてセキュリティレベルを容易に変更することができる。
【００１４】
第２の発明は、第１の発明に従属する発明である。条件記録領域は、データを追記することが可能な領域に含まれている。また、条件記録領域に記録されている判定条件は、特徴形成領域に形成されている物理的特徴に基づいて決定される。
【００１５】
上記第２の発明によれば、判定条件は、判定条件が記録される光ディスク自身に形成されている物理的特徴に基づいて決定される。従って、判定条件を製造される光ディスク１枚ごとに決定することが可能である。これにより、個々の光ディスクに適切な判定条件を記録することができる。
【００１６】
第３の発明は、第１の発明に従属する発明である。特徴形成領域には、複数種類の物理的特徴が形成されている。条件記録領域には、複数種類の物理的特徴それぞれについて、判定条件が記録されている。
【００１７】
上記第３の発明によれば、複数の判定方法で判定を行うことができるので、判定条件に加え、判定方法を変更することができる。従って、複数の判定方法の内、いくつかの方法についてセキュリティが破られた場合、それ以外の方法に変更することができる。例えば、ＡおよびＢの判定方法が用いられている場合を考える。Ａの判定方法が不正コピーによりセキュリティが破られた場合でも、判定方法をＢの判定方法に変更することにより、不正コピーを防止することができる。このように、上記第３の発明によれば、セキュリティが破られた場合、判定方法を別の方法に変更することができるので、判定条件を変更する場合に比べ、セキュリティをより安全なものとすることができる。
【００１８】
第４の発明は、光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク再生装置の発明である。特徴検出部（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０３）は、正規に製造されたか否かを判定するために用いられる物理的特徴を光ディスクから検出する。条件読み取り部（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０１）は、前記物理的特徴が所定の精度以上で形成されている場合、正規に製造されたと判定する判定条件を光ディスクから読み取る。判定部（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０７）は、特徴検出部により検出される物理的特徴が、条件読み取り部により読み取られる判定条件を満たすか否かにより、光ディスクが正規に製造されたか否かを判定する。
【００１９】
上記第４の発明によれば、判定条件は、判定される光ディスク自身において記録されており、光ディスク再生装置において設定されていない。光ディスクごとに判定条件が設定されるので、光ディスク再生装置は、判定条件を、光ディスクごとに変更することができる。従って、光ディスク再生装置は、判定条件を変更することにより、不正コピーに対するセキュリティレベルを容易に変更することができる。これにより、例えば、光ディスクの生産性を重視する目的で製造された光ディスクに対してはセキュリティレベルを下げ、不正コピーを防止することを重視する目的で製造された光ディスクに対してはセキュリティレベルを上げるというように、光ディスクに応じてセキュリティのレベルを容易に変更することができる。
【００２０】
第５の発明は、第４の発明に従属する発明である。再生部（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０９）は、判定部により光ディスクが正規に製造されたと判定された場合のみ、光ディスクに記録されているコンテンツデータを再生する。
【００２１】
上記第５の発明によれば、正規に製造された光ディスクであることが確認された場合のみ、コンテンツデータを再生する。これにより、不正コピーにより製造された光ディスクの使用を禁止することができる。
【００２２】
第６の発明は、第５の発明に従属する発明である。判定部は、判定条件が満たされたとき、特徴検出部が判定に必要なすべての物理的特徴を検出する前であっても、光ディスクが正規に製造されたと判定する。再生部は、判定部により光ディスクが正規に製造されたと判定された場合、特徴検出部が判定に必要なすべての物理的特徴を検出する前であっても、コンテンツデータの再生を開始する。
【００２３】
上記第６の発明によれば、正規に製造された光ディスクであると判定された、すなわち、判定条件が満たされた時点で、判定が終了し、コンテンツデータの再生が開始される。例えば、物理的特徴の形成された領域を１０回検出する必要がある判定方法において、７回検出した時点で判定条件が満たされた場合、この時点でコンテンツデータの再生が開始される。このように、判定に要するコンテンツの実行までの待ち時間を短縮することができるので、ユーザに与える不快感を減少することができる。
【００２４】
第７の発明は、光ディスクにデータを記録する光ディスク記録装置である。特徴形成部（実施例との対応関係を示せば、参照番号５３）は、正規に製造されたか否かを判定するために用いられる物理的特徴を光ディスクに形成する。判定条件格納部（実施例との対応関係を示せば、参照番号５１）は、物理的特徴が所定の精度以上で形成されている場合、正規に製造されたと判定する判定条件を予め格納しておく。条件記録部（実施例との対応関係を示せば、参照番号５２）は、判定条件格納部に格納されている情報を光ディスクに記録する。
【００２５】
上記第７の発明によれば、正規に製造された光ディスクか否かについての判定条件が記録された光ディスクを製造することができる。このように製造された光ディスクは、判定条件が記録されていることにより、光ディスクごとに判定条件を容易に変更することができる。従って、判定条件を変更することにより、不正コピーに対するセキュリティレベルを容易に変更することが可能な光ディスクを製造することができる。これにより、例えば、光ディスクの生産性を重視する場合にはセキュリティレベルを下げ、不正コピーを防止することを重視する場合にはセキュリティレベルを上げるというように、目的に応じてセキュリティのレベルを容易に変更することが可能な光ディスクを製造することができる。
【００２６】
第８の発明は、第７の発明に従属する発明である。判定条件格納部に格納されている判定条件は、特徴形成部により形成された光ディスクの物理的特徴に基づいて決定される。条件記録部は、光ディスクの追記可能な領域に、判定条件格納部に格納されている判定条件を記録する。
【００２７】
上記第８の発明によれば、光ディスクに記録される判定条件は、判定条件を記録する光ディスク自身に形成されている物理的特徴に基づいて決定される。従って、光ディスク記録装置は、光ディスクごとに判定条件を設定する。これにより、光ディスク記録装置は、個々の光ディスクに適切な判定条件を記録することができる。
【００２８】
第９の発明は、第７の発明に従属する発明である。判定条件格納部に格納されている判定条件は、予め製造された検査用光ディスクに形成されている物理的特徴に基づいて決定される。
【００２９】
上記第９の発明によれば、予め製造された検査用の光ディスクを用いることにより判定条件が決定される。従って、物理的特徴が実際に形成される精度に基づいて、判定条件が決定されることになる。物理的特徴が実際に形成される精度とは無関係に判定条件を設定すると、判定条件を高く設定しすぎることにより、判定条件を満たす光ディスクが製造される割合が著しく低下する場合が考えられる。これに対して、上記第９の発明によれば、製造装置の能力に応じて判定条件を決定することができるので、判定条件が高すぎることにより、光ディスクの生産性が著しく低下することを防止できる。
【００３０】
第１０の発明は、再生すべき光ディスクが正規に製造されたものか否かを判定する正規ディスク判定方法である。光ディスクには、正規に製造された光ディスクか否かを判定するために用いられる物理的特徴と、物理的特徴が所定の精度以上で形成されている場合、正規に製造されたと判定する判定条件とが記録されている。特徴検出ステップ（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０３）においては、物理的特徴を光ディスクから検出する。条件読み取りステップ（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０１）においては、判定条件を光ディスクから読み取る。判定ステップ（実施例との対応関係を示せば、参照番号Ｓ４０７）においては、特徴検出ステップにより検出される物理的特徴が、前記条件読み取りステップにより読み取られる判定条件を満たすか否かにより、光ディスクが正規に製造されたか否かを判定する。
【００３１】
上記第１０の発明によれば、判定条件は、判定される光ディスク自身において記録されており、光ディスク再生装置において設定されていない。光ディスクごとに判定条件が設定されるので、正規ディスクの判定において、光ディスクごとに判定条件を変更することができる。従って、判定条件を変更することにより、不正コピーに対するセキュリティレベルを容易に変更することができる。これにより、例えば、光ディスクの生産性を重視する目的で製造された光ディスクに対してはセキュリティレベルを下げ、不正コピーを防止することを重視する目的で製造された光ディスクに対してはセキュリティレベルを上げるというように、光ディスクに応じてセキュリティのレベルを容易に変更することができる。
【００３２】
第１１の発明は、光ディスク再生装置において再生すべき光ディスクが正規に製造されたものか否かについての判定を行うことが可能な光ディスクを製造する光ディスク製造方法である。特徴形成ステップ（実施例との対応関係を示せば、参照番号５３）においては、正規に製造されたか否かを判定するために用いられる物理的特徴を光ディスクに形成する。条件決定ステップ（実施例との対応関係を示せば、参照番号５１）においては、物理的特徴が所定の精度以上で形成されている場合、正規に製造されたと判定する判定条件を、物理的特徴に基づいて決定する。条件記録ステップ（実施例との対応関係を示せば、参照番号５２）においては、条件決定ステップにより決定された判定条件を光ディスクに記録する。
【００３３】
上記第１１の発明によれば、正規に製造された光ディスクか否かについての判定条件が記録された光ディスクを製造することができる。このように製造された光ディスクは、判定条件が記録されていることにより、光ディスクごとに判定条件を容易に変更することができる。従って、判定条件を変更することにより、不正コピーに対するセキュリティレベルを容易に変更することが可能な光ディスクを製造することができる。これにより、例えば、光ディスクの生産性を重視する場合にはセキュリティレベルを下げ、不正コピーを防止することを重視する場合にはセキュリティレベルを上げるというように、目的に応じてセキュリティのレベルを容易に変更することが可能な光ディスクを製造することができる。
【００３４】
第１２の発明は、第１１の発明に従属する発明である。条件決定ステップは、特徴形成ステップにより形成された物理的特徴に基づいて判定条件を決定する。条件記録ステップは、条件決定ステップにより決定された判定条件を、光ディスクの追記可能な領域に記録する。
【００３５】
上記第１２の発明によれば、光ディスクに記録される判定条件は、判定条件を記録する光ディスク自身に形成されている物理的特徴に基づいて決定される。従って、光ディスクごとに判定条件が設定されるので、個々の光ディスクに適切な判定条件を記録することができる。
【００３６】
第１３の発明は、第１１の発明に従属する発明である。条件決定ステップは、検査用光ディスクに形成されている物理的特徴に基づいて、判定条件を決定する。
【００３７】
上記第１３の発明によれば、予め製造された検査用の光ディスクを用いることにより判定条件が決定される。従って、物理的特徴が実際に形成される精度に基づいて、判定条件が決定されることになる。物理的特徴が実際に形成される精度とは無関係に判定条件を設定すると、判定条件を高く設定しすぎることにより、判定条件を満たす光ディスクが製造される割合が著しく低下する場合が考えられる。これに対して、上記第９の発明によれば、製造装置の能力に応じて判定条件を決定することができるので、判定条件が高すぎることにより、光ディスクの生産性が著しく低下することを防止できる。
【００３８】
【発明の実施の形態】
最初に、本実施形態に係る光ディスクについて説明する。図１は、本実施形態に係る光ディスクの記録領域を説明する図である。図１において、本実施形態に係る光ディスクは、特徴形成領域１１と、条件記録領域１２と、データ記録領域１３とを有している。特徴形成領域１１および条件記録領域１２は、再生動作時に必ず読みとられるので、データ記録領域１３よりも、読み取りが開始される内周側に設けられることが望ましい。データ記録領域１３は、典型的には、光ディスクの管理のためのデータおよびコンテンツデータが記録される。以下、特徴形成領域１１および条件記録領域１２の詳細について説明する。
【００３９】
特徴形成領域１１は、光ディスクの物理的特徴が形成されている領域である。光ディスクの物理的特徴とは、正規に製造された光ディスクか、不正にコピーされた光ディスクかを判定するために用いられる、正規の光ディスクのみが有する特徴である。本実施形態において、物理的特徴は、記録トラック間に形成されたピット列およびその内外周の無ピット領域である。従って、本実施形態においては、記録トラック間に形成されたピット列およびその内外周の無ピット領域を用いて不正コピーの判定を行う。なお、他の実施形態においては、他の物理的特徴を用いて不正コピーの判定を行うものであってもよい。
【００４０】
図２は、図１に示す特徴形成領域１１の一例を示す図である。図２のように、特徴形成領域１１には、トラック間ピット列２１と、内周側ピット列２２と、外周側ピット列２３とが形成される。トラック間ピット列２１は、記録トラックの間に形成される。内周側ピット列２２および外周側ピット列２３は、記録トラック上に形成される。また、トラック間ピット列２１の内外周には、ピット列が形成されない。なお、図２に示す構成は、２つの列の記録トラックの間にトラック間ピット列２１が形成される構成である。ここで、特徴形成領域１１の構成は、３列以上の記録トラックのそれぞれの間にピット列が形成される構成であってもよい。
【００４１】
上記のように形成された特徴形成領域１１において、トラック間ピット列２１が読み取られる場合、光スポット２４の中心は、図２に示すように、トラック間ピット列２１上にくる。すなわち、光スポット２４の中心は、内周側ピット列２２と外周側ピット列２３との中心にくる。従って、トラック間ピット列２１が読み取られた後、光スポット２４は、内周側ピット列２２または外周側ピット列２３のどちらか一方の記録トラック上に移動する。光スポット２４の移動は、光スポットの位置の制御状態によりランダムに行われる。従って、内周側ピット列２２または外周側ピット列２３のどちらか一方のデータが、ランダムに読み取られることとなる。ここで、内周側ピット列２２および外周側ピット列２３は、互いに異なるデータが記録されている。以上より、特徴形成領域１１を複数回読み取った場合、ランダムにデータが読み取られることとなる。
【００４２】
ここで、光ディスクがトラック間ピット列２１を有しない場合、複数回読み取りを行っても、毎回同一のデータが読み取られたり、異なるデータが読み取られる確率が低くなる。また、トラック間ピット列２１が形成されている場合であっても、高い精度で形成されていない場合、毎回同一のデータが読み取られる。例えば、記録トラック間の中心に形成されていない場合である。具体的には、トラック間ピット列２１が内周側の記録トラックに近い方向にずれて形成されている場合、複数回読み取りを行っても、外周側ピット列２３はほとんど読み取られることはなく、内周側ピット列２２のみが読み取られることとなる。また、例えば、内周側ピット列２２と外周側ピット列２３との始端部がそろっていない場合、毎回同一のデータが読み取られる。具体的には、内周側ピット列２２が外周側ピット列２３よりも先に読み取られる場合、複数回読み取りを行っても、外周側ピット列２３はほとんど読み取られることはなく、内周側ピット列２２のみが読み取られることとなる。
【００４３】
また、特徴形成領域１１には、トラック間ピット列２１と、内周側ピット列２２と、外周側ピット列２３との組が、複数組設けられる。これにより、特徴形成領域１１全体を複数回読み取った場合に、読み取られるデータが毎回異なるものになる確率が高くなる。また、特徴形成領域１１に設けられた上記の組の内いくつかについて、形成される精度が低いために毎回同一のデータが読み取られる場合でも、特徴形成領域１１全体を読み取ったデータは、毎回同一のものとならない。ただし、特徴形成領域１１に設けられた上記の組の内、形成される精度が低い組が多い場合、特徴形成領域１１を読み取った場合にデータが毎回異なる確率は低くなる。
【００４４】
上記のように形成された特徴形成領域１１は、光ディスク再生装置において複数回読み取られる。特徴形成領域１１が複数回読み取られた場合、上記の物理的特徴が形成されていれば、毎回異なるデータが読み取られる。一方、上記の物理的特徴が形成されていない場合、毎回同一のデータが読み取られる。また、上記の物理的特徴が形成されていても精度が低い場合、毎回異なるデータが読み取られる確率が低くなる。以上より、正規に製造された光ディスクであるか否かは、特徴形成領域１１を複数回読み取り、毎回異なるデータが読み取られる確率を算出することにより判定を行うことができる。具体的には、特徴形成領域１１を複数回読み取り、前回読み取ったデータと今回読み取ったデータとが異なるものとなる確率が所定の確率以上であれば、正規に製造されたと判定する。ここで、所定の確率は、判定条件変数として条件記録領域１２に記録されている。以下、条件記録領域１２の詳細について説明する。
【００４５】
図１に示す条件記録領域１２は、判定条件が記録されている領域である。判定条件は、光ディスク再生装置において正規に製造されたか否かを判定するために用いられる。本実施形態において、光ディスクには、判定条件として、判定条件変数が記録される。判定条件変数とは、物理的特徴に基づいて光ディスクが正規に製造されたか否かを判定するための条件となる数値である。また、判定条件は、物理的特徴が所定の精度以上で形成されている場合、正規に製造されたと判定されるように設定される。ここで、光ディスクが正規に製造されたか否かの判定条件は、特徴形成領域１１を複数回読み取り、前回読み取ったデータと今回読み取ったデータとが異なる確率が８０％以上であることとする。従って、条件記録領域１２に記録される判定条件変数は、８０％である。
【００４６】
なお、他の実施形態においては、不正コピーの判定方法は、上記に限らず、正規の光ディスクのみが有する物理的特徴を用いて判定を行うものであればよい。例えば、物理的特徴として、変位ピットの個数、位置または大きさを用いる方法であってもよいし、物理的特徴にレーザ光を当てたときの反射率を用いる方法であってもよい。
【００４７】
また、判定条件は、それによってセキュリティのレベルが変化するような条件であればよい。すなわち、判定条件は、物理的特徴が形成される精度に基づいて、光ディスクが正規に製造されたか否かを判定するものであればよい。判定条件には、例えば、変位ピットの個数を用いる場合、正しく形成されるべき個数やその割合が用いられる。この場合、例えば、正規に製造されたと判定されるために必要な変位ピットの個数の下限値を、判定条件変数とする。また、変位ピットの位置や大きさ（長さ・厚さ・面積・体積を含む）を用いる場合、その位置や大きさについての許容誤差や割合を、判定条件に用いることができる。この場合、例えば、正規に製造されたと判定されるために必要な変位ピットの長さの上限値および下限値を、判定条件変数とする。さらに、物理的特徴にレーザー光を当てたときの反射率を用いる場合、物理的特徴の反射率についての許容誤差や割合を、判定条件に用いることができる。この場合、例えば、正規に製造されたと判定されるために必要な反射率の範囲の上限値および下限値を、判定条件変数とする。
【００４８】
なお、本実施形態においては、光ディスクには判定条件として判定条件変数が記録された。ここで、光ディスクに記録される内容は、判定条件変数に限らず、判定方法自体が記録されてもよい。例えば、上記の判定方法を用いる場合、特徴形成領域１１を所定の回数読み取る必要があるが、所定の回数を光ディスクに記録しておいてもよい。これにより、光ディスクごとに読み取り回数を変更することができるので、判定に要する時間を変更することができる。
【００４９】
さらに、本実施形態においては、１種類の判定方法を用いて、不正コピーの判定を行ったが、他の実施形態においては、不正コピーの判定方法を複数種類用いる形態であってもよい。この場合、光ディスクの条件記録領域１２には、複数の判定方法それぞれについて判定条件変数が記録される。なお、複数の判定方法は、同時に用いる形態であってもよいし、いずれかの方法が不正コピーにより回避されるようになった場合に、それ以外の方法を用いるように変更する形態であってもよい。
【００５０】
次に、本実施形態に係る光ディスクの再生装置について説明する。再生装置は、光ディスクが使用されるごとに、再生装置にセットされた光ディスクが正規に製造されたか否かを判定する。図３は、本実施形態に係る光ディスクの再生装置の構成を示すブロック図である。図３において、光ディスク再生装置は、スピンドルモータ３０１と、光ピックアップ３０２と、アナログ波形整形部３０３と、デジタル復調部３０４と、判定処理部３０５と、記憶部３０６と、制御部３０７と、フォーカスサーボ部３０８と、トラッキングサーボ部３０９と、回転サーボ部３１０とを備えている。以下に、本実施形態に係る光ディスク再生装置の動作を説明する。
【００５１】
データが再生される光ディスク３００は、スピンドルモータ３０１により回転駆動される。光ピックアップ３０２は、光ディスク３００の信号面に半導体レーザーを集光する。集光された光の信号面からの反射光を、例えばフォトダイオードを用いて電気信号に変換することにより、ＲＦ信号が生成される。生成されたＲＦ信号は、アナログ波形整形部３０３により波形整形される。波形整形されたＲＦ信号は、デジタル復調部３０４によりデジタル信号に復調される。判定処理部３０５は、復調されたデジタル信号を入力し、光ディスクが正規に製造されたか否かの判定処理を行う。判定処理の詳細な説明は、図４に示されている。なお、判定処理部３０５は、光ディスクの特徴形成領域１１を読み取る場合、読み取ったデータを記憶部３０６に記憶させるほか、判定を行う際に必要となるデータを記憶部３０６に記憶させる。また、判定処理部３０５は、判定処理の結果、光ディスク３００が正規に製造されたものと判定された場合、図示しない再生部に、光ディスク３００に記録されているデータの再生を行わせる。また、制御部３０７は、判定処理部３０５の指示により、トラッキングサーボ部３０９を用いて開始信号が記録された部分へ光ピックアップ３０２を移動させる。以上の動作により、判定処理部３０５は、特徴形成領域１１に形成されている物理的特徴を検出し、条件記録領域１２に記録されている判定条件変数を読み取ることができる。
【００５２】
図４は、図３に示す判定処理部３０５における判定処理の流れを示すフローチャートである。図４に示す判定処理は、本実施形態に係る再生装置に光ディスク３００がセットされることにより開始される。図３に示す光ディスク３００は、図１に示す特徴形成領域１１、条件記録領域１２およびデータ記録領域１３を有する。まず、判定処理部３０５は、光ディスク３００の条件記録領域１２に記録される判定条件変数を読み出す（ステップＳ４０１）。次に、判定処理部３０５は、読み出した判定条件変数から、下限値を算出する（ステップＳ４０２）。下限値は、判定条件変数として記録されている確率に、読み取り回数を乗じた値である。すなわち、下限値は、特徴形成領域１１から前回読み出したデータと、特徴形成領域１１から次に読み出したデータとが異なる回数について、光ディスク３００が正規と判定されるための下限を示す。
【００５３】
ステップＳ４０２の後、判定処理部３０５は、特徴形成領域１１のデータを読み出す（ステップＳ４０３）。次に、判定処理部３０５は、ステップＳ４０３の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとを比較する（ステップＳ４０４）。ここで、最初にデータを読み出した場合、すなわち、前回に読み出したデータが記憶部３０６に記憶されていない場合、判定処理部３０５は、比較を行わない。
【００５４】
ステップＳ４０４の後、判定処理部３０５は、ステップＳ４０３の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとが異なっているか否かについて判定する（ステップＳ４０５）。判定の結果、ステップＳ４０３の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとが異なる場合、判定処理部３０５は、データが異なっていた回数をカウントする（ステップＳ４０６）。ステップＳ４０６の処理においてカウントされた数は、記憶部３０６に記憶される。一方、ステップＳ４０３の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとが同一である場合、判定処理部３０５は、ステップＳ４０６の処理を行わず、ステップＳ４０７の処理に進む。
【００５５】
次に、判定処理部３０５は、ステップＳ４０６の処理においてカウントされた数が下限値に達したか否かについて判定を行う（ステップＳ４０７）。ステップＳ４０７の判定の結果、ステップＳ４０６の処理においてカウントされた数が下限値に達した場合、判定処理部３０５は、光ディスク３００が正規に製造されたと判定する（ステップＳ４０８）。さらに、判定処理部３０５は、データ記録領域１３に記録されているコンテンツデータの再生を行い（ステップＳ４０９）、処理を終了する。
【００５６】
一方、ステップＳ４０６の処理においてカウントされた数が下限値に達していない場合、判定処理部３０５は、特徴形成領域１１の読み出し処理が所定回数行われたか否かについて判定を行う（ステップＳ４１０）。所定回数は、再生装置において予め決められている。ステップＳ４１０の判定の結果、特徴形成領域１１の読み出し処理が所定の回数行われていない場合、判定処理部３０５は、ステップＳ４０３〜ステップＳ４０７の処理を繰り返す。一方、判定の結果、特徴形成領域１１の読み出し処理が所定の回数行われた場合、判定処理部３０５は、光ディスク３００が不正にコピーされたものと判定し（ステップＳ４１１）、再生を中止して処理を終了する。以上の処理により、本実施形態に係る再生装置は、光ディスク３００が正規に製造されたか否かを判定することができる。
【００５７】
次に、本実施形態に係る光ディスクの製造方法について説明する。本実施形態に係る光ディスク記録装置は、螺旋状の記録トラックに、判定条件変数を示すデータ、光ディスクの管理データおよびコンテンツのデータを表すピット列を形成する。また、光ディスク記録装置は、特徴形成領域１１の記録トラック間に、不正コピーの判定に用いる物理的特徴であるトラック間ピット列２１を形成する。図５は、本実施形態に係る光ディスク記録装置の構成を示す図である。光ディスク記録装置は、光ディスクの製造ラインにおいて用いられる。図５において、光ディスク記録装置は、記憶部５１と、データ記録部５２と、特徴形成部５３と、ミラー５４と、レンズ５５と、スピンドルモータ５６とを備えている。以下、本実施形態に係る光ディスク記録装置の動作を説明する。
【００５８】
記憶部５１は、光ディスクに記録される判定条件変数を予め記憶しておく。判定条件変数は、予め決定されている。判定条件変数の決定方法は、図６および図７に示されている。また、記憶部５１は、光ディスクに記録される光ディスクの管理データおよびコンテンツデータを記憶する。
【００５９】
データ記録部５２は、記憶部５１に記憶されているデータを光ディスク原盤５０に記録する。データ記録部５２は、信号源５２１と、記録イコライザ５２２と、記録用レーザー光源５２３と、ビーム変調器５２４とを備えている。信号源５２１は、記憶部５１に記録されているデータに従って信号を発生する。信号源５２１から発生された信号は、記録イコライザ５２２によってパルス幅を変化させて、ビーム変調器５２４に入力される。記録イコライザ５２２から入力された信号により、ビーム変調器５２４は、記録用レーザー光源５２３から出射されたレーザービームを強度変調する。強度変調されたレーザービームは、ミラー５４により偏向される。ミラー５４により偏向されたレーザービームは、レンズ５５を通って光ディスク原盤５０に絞り込まれ、光ディスク原盤５０上のフォトレジストに露光する。フォトレジストが塗布された光ディスク原盤５０は、スピンドルモータ５６で回転駆動されるので、レーザービームの絞り込まれた点が一軸移動される。以上の動作により、本実施形態に係る光ディスク記録装置は、光ディスク原盤５０に螺旋状のピット列を記録することができる。すなわち、以上の動作により、本実施形態に係る光ディスク記録装置は、光ディスク原盤５０記録トラックに判定条件変数を表すデータおよびコンテンツデータを記録することができる。
【００６０】
特徴形成部５３は、光ディスク原盤５０に、不正コピーの判定に用いる物理的特徴を形成する。すなわち、特徴形成部５３は、トラック間ピット列２１を形成するために構成される。ここで、特徴形成領域１１における記録トラック上のピット列は、データ記録部５２により記録される。本実施形態において、特徴形成部５３は、制御部５３１と、ビーム偏向器５３２とを備えている。制御部５３１は、ビーム偏向器５３２にレーザービームの向きを変える信号を送る。ビーム偏向器５３２は、制御部５３１からの信号に従い、ビーム変調器５２４により変調されたレーザービームを偏向する。以上の動作により、本実施形態に係る光ディスク記録装置は、不正コピーの判定に用いる物理的特徴、すなわち、記録トラック間に変位ピット列を形成することができる。
【００６１】
次に、判定条件変数の決定方法について説明する。判定条件変数の決定は、特徴形成領域１１が形成されたチェック用の光ディスクを用いて行う。すなわち、判定条件変数は、チェック用の光ディスクに形成された物理的特徴に基づいて決定される。チェック用の光ディスクに形成された物理的特徴は、光ディスクの製造ラインにおいて用いられる判定条件変数決定用の光ディスク読み取り装置により検出される。図６は、本実施形態に係る判定条件変数決定用の光ディスク読み取り装置の構成を示す図である。判定条件変数決定用の光ディスク読み取り装置は、光ディスクの生産ラインにおいて用いられる。図６において、判定条件変数決定用の光ディスク読み取り装置は、スピンドルモータ３０１と、光ピックアップ３０２と、アナログ波形整形部３０３と、デジタル復調部３０４と、変数決定部６０５と、記憶部３０６と、制御部３０７と、フォーカスサーボ部３０８と、トラッキングサーボ部３０９と、回転サーボ部３１０とを備えている。また、光ディスク読み取り装置には、検査用光ディスク６００がセットされている。なお、図６に示す検査用光ディスク６００は、図１に示す特徴形成領域１１を有する。図６のように、本実施形態に係る光ディスク読み取り装置は、変数決定部６０５を除き、図３に示す再生装置と同じ構成により実現できる。従って、図６において、図３と同じ構成要素には同一の参照符号を付し、説明を省略する。変数決定部６０５は、デジタル復調部３０４により復調されたデジタル信号を入力し、判定条件変数の決定処理を行う。
【００６２】
次に、図６に示す変数決定部６０５において行われる判定条件変数の決定処理について説明する。図７は、図６に示す変数決定部６０５における判定条件変数の決定処理の流れを示すフローチャートである。まず、変数決定部６０５は、読み取り装置に検査用光ディスク６００が新たにセットされたことを検知する（ステップＳ７０１）。これにより、新たにセットされた検査用光ディスク６００について、物理的特徴の読み出しが開始される。次に、変数決定部６０５は、セットされた検査用光ディスク６００の特徴形成領域１１のデータを読み出す（ステップＳ７０２）。さらに、変数決定部６０５は、ステップＳ７０２の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとを比較する（ステップＳ７０３）。ステップＳ７０３において、最初にデータを読み出した場合、すなわち、前回に読み出したデータが記憶部３０６に記憶されていない場合、変数決定部６０５は、比較を行わない。
【００６３】
ステップＳ７０３の後、変数決定部６０５は、ステップＳ７０２の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとが異なっているか否かについて判定する（ステップＳ７０４）。ステップＳ７０４の判定の結果、ステップＳ７０２の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとが異なる場合、変数決定部６０５は、データが異なっていた回数をカウントする（ステップＳ７０５）。ステップＳ７０５の処理においてカウントされた数は、記憶部３０６に記憶される。一方、ステップＳ７０２の処理において読み出したデータと、記憶部３０６に記憶されている前回に読み出したデータとが同一である場合、変数決定部６０５は、ステップＳ７０５の処理を行わず、ステップＳ７０６の処理に進む。
【００６４】
次に、変数決定部６０５は、特徴形成領域１１の読み出し処理が所定回数行われたか否かについて判定を行う（ステップＳ７０６）。所定回数は、予め決められており、図３に示す光ディスク再生装置において行われる読み出しの回数と同じ回数であることが望ましい。ステップＳ７０６における判定の結果、特徴形成領域１１の読み出し処理が所定回数行われていない場合、変数決定部６０５は、ステップＳ７０２〜ステップＳ７０５の処理を繰り返す。一方、特徴形成領域１１の読み出し処理が所定回数行われた場合、変数決定部６０５は、前回と異なるデータが読み出される確率を算出する（ステップＳ７０７）。前回と異なるデータが読み出される確率は、特徴形成領域１１を所定回数読み出した場合に、ステップＳ７０２により読み込んだデータと、記憶部３０６に記憶されているデータとが同一となる確率である。
【００６５】
ステップＳ７０７の後、変数決定部６０５は、所定枚数の検査用の光ディスクについて、上記の確率を算出したか否かについて判定を行う（ステップＳ７０８）。所定枚数は、予め製造ラインにおいて設定されており、検査用の光ディスクの枚数と同じである。ステップＳ７０８の判定の結果、所定枚数の検査用の光ディスクについて確率を算出していない場合、変数決定部６０５は、ステップＳ７０７において算出した確率を記憶部３０６に記憶させ（ステップＳ７０９）、ステップＳ７０１の処理を行う。一方、所定枚数の検査用の光ディスクについて確率を算出した場合、変数決定部６０５は、ステップＳ７０７により算出された確率に基づいて、判定条件変数を決定し（ステップＳ７１０）、処理を終了する。ステップＳ７１０において決定された判定条件変数は、記憶部３０６に記憶される。ここで、本実施形態において、判定条件変数は、以下のように決定される。
【００６６】
変数決定部６０５は、記憶部３０６に記憶されている検査用の各光ディスクについての確率から、確率の平均値を算出する。次に、変数決定部６０５は、算出した平均値に基づいて、判定条件変数を決定する。ここで、本実施例においては、判定条件変数は、平均値よりもやや小さい値に決定する。例えば、確率の平均値が８５％であった場合、判定条件変数は、８０％とする。なお、判定条件の決定の仕方は、上記に限るものではない。例えば、歩留まりを上げ、生産性を向上させたい場合は、判定条件変数を７０％とし、判定条件を低く設定してもよい。また、例えば、コンテンツが人気ゲームである場合のように、不正コピーを確実に防止したい場合、判定条件変数を９５％とし、判定条件を高く設定してもよい。また、例えば、不正コピーによる光ディスクにおいて物理的特徴が形成されている精度に基づいて決定する方法であってもよい。具体的には、８０％程度の条件を満たす光ディスクが不正コピーにより製造されるようになった場合、判定条件は９０％に決定する、という方法が考えられる。
【００６７】
なお、判定条件変数は、製造ラインが異なる光ディスクごとに異なるものとしてもよいし、コンテンツが異なる光ディスクごとに異なるものとしてもよい。製造ラインごとに異なるものとする場合、検査用の光ディスクは、同一の製造ラインにより製造された光ディスクを用いる。
【００６８】
さらに、判定条件変数は、光ディスク１枚ごとに異なるものであってもよい。この場合、光ディスクには、まず、特徴形成領域１１およびデータ記録領域１３のデータが記録され、判定条件変数が記録されないで製造される。次に、特徴形成領域１１に形成された物理的特徴が検出され、検出された物理的特徴に基づいて判定条件変数が決定される。このように決定された判定条件変数は、光ディスク生産後に個別に情報を追加して記憶できる領域に記録される。
【００６９】
なお、本実施形態に係る光ディスクにおいて、判定条件変数は、暗号化されて記録されていてもよい。すなわち、判定条件変数は、光ディスク記録装置により記録される際に暗号化して記録され、再生装置により解読されるようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態に係る光ディスクの記録領域を説明する図である。
【図２】図１に示す特徴形成領域１１の一例を示す図である。
【図３】本実施形態に係る光ディスクの再生装置の構成を示すブロック図である。
【図４】図３に示す判定処理部３０５における判定処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】本実施形態に係る光ディスクの製造ラインにおいて用いられる光ディスク記録装置の構成を示す図である。
【図６】本実施形態に係る光ディスクの製造ラインにおいて用いられる判定条件決定用の光ディスク読み取り装置の構成を示す図である。
【図７】図６に示す変数決定部５０５における判定条件変数の決定処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１１…特徴形成領域
１２…条件記録領域
１３…データ記録領域
２１…トラック間ピット列
２２…内周側ピット列
２３…外周側ピット列
２４…光スポット
３００…光ディスク
３０１，５６…スピンドルモータ
５０…光ディスク原盤
５１…記憶部
５２…データ記録部
５３…特徴形成部
５４…ミラー
５５…レンズ
３０２…光ピックアップ
３０３…アナログ波形整形部
３０４…デジタル復調部
３０５…判定処理部
３０６…記憶部
３０７…制御部
３０８…フォーカスサーボ部
３０９…トラッキングサーボ部
３１０…回転サーボ部
５２１…信号源
５２２…記録イコライザ
５２３…記録用レーザー光源
５２４…ビーム変調器
５３１…制御部
５３２…ビーム偏向器
６００…検査用光ディスク
６０５…変数決定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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