(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ素子が被測定光ファイバに光パルスを出射し、この光パルスの戻り光を受光素子が受光し、この受光素子からの出力によって前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器において、
前記レーザ素子と前記被測定光ファイバとの間に設けられる内蔵光ファイバと、
所望の周期で前記受光素子の増倍度を設定する受光素子設定手段と、
この受光素子設定手段によって設定された増倍度における前記内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを保持する比較値保持手段と、
この比較値保持手段の光パワーと前記受光素子設定手段の増倍度で新たに求めた光パワーとを比較し、前記レーザ素子が出射する光パルスの光パワーを変更させるレーザ素子設定手段と
を設けたことを特徴とする光パルス試験器。
【請求項２】
比較値保持手段は、電源がオンされてから前記被測定光ファイバの測定が開始されるまでの間または被測定光ファイバの測定条件が変更されてから測定が開始されるまでの間に取得された前記内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを保持することを特徴とする請求項１記載の光パルス試験器。
【請求項３】
受光素子設定手段は、前記受光素子の増倍度を１に設定することを特徴とする請求項１または２記載の光パルス試験器。
【請求項４】
前記受光素子の温度を検出する温度検出手段と、
前記受光素子の温度特性を記憶する記憶手段と
を設け、前記レーザ素子設定手段は、前記温度検出手段の温度と前記記憶手段の温度特性とによって前記内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを補正することを特徴とする請求項１または２記載の光パルス試験器。
【請求項５】
レーザ素子が被測定光ファイバに光パルスを出射し、この光パルスの戻り光を受光素子が受光し、この受光素子からの出力によって前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器の光パワー安定化方法において、
受光素子設定手段が、前記受光素子を所定の増倍度に設定するステップと、
この所定の増倍度においてレーザ素子設定手段が、前記レーザ素子と前記被測定光ファイバとの間に設けられる内蔵光ファイバからの戻り光の光パワーをメモリに保持させるステップと、
所望の周期ごとに前記受光素子設定手段が、前記受光素子を再度所定の増倍度に設定するステップと、
この所定の増倍度においてレーザ素子設定手段が、前記内蔵光ファイバからの戻り光の光パワーと前記メモリの光パワーとを比較して、前記レーザ素子が出射する光パルスの光パワーを変更させるステップと
を有することを特徴とする光パルス試験器の光パワー安定化方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ素子が被測定光ファイバに光パルスを出射し、この光パルスの戻り光を受光素子が受光し、この受光素子からの出力によって被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器および光パルス試験器の光パワー安定化方法に関し、詳しくは、使用環境や経時変化によらず、光パルスの出力パワーの安定化を図る光パルス試験器および光パルス試験器の光パワー安定化方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光信号によってデータ通信等を行なう光通信システムでは、光信号を伝送する光ファイバを監視することが重要になっている。そして、光ファイバの敷設、保守等において光パルス試験器（以下、ＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometer）と略す）が用いられる。
【０００３】
ＯＴＤＲは、ＯＴＤＲの入出射ポート（被測定対象の光ファイバが接続される光コネクタ端）から被測定光ファイバに対して繰り返し光パルスを出射し、被測定光ファイバからの反射光および後方散乱光のレベルおよび受光時間を測定することで、被測定光ファイバの断線、損失等の状態を測定する。
【０００４】
図４は、従来のＯＴＤＲの構成を示した図である（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。図４において、被測定光ファイバＦ１は、被測定対象の光ファイバである。ＯＴＤＲ１００は、被測定光ファイバＦ１が接続される入出射ポートの光コネクタＣＮを有し、この光コネクタＣＮから光パルスを被測定光ファイバＦ１に出射し、この光パルスの戻り光（反射光または後方散乱光）が光コネクタＣＮを介して入射される。
【０００５】
また、ＯＴＤＲ１００は、駆動信号生成部１、レーザ素子駆動部２、レーザ素子３、方向性結合器４、受光部５、増幅部６、ＡＤ変換部７、信号処理部８、表示部９を有する。
【０００６】
駆動信号生成部１は、レーザ素子３を駆動させるための駆動信号を生成する。レーザ素子駆動部２は、生成部１からの駆動信号に基づいてレーザ素子３を駆動させる。レーザ素子３は、駆動部２によって駆動され、光パルスを方向性結合器４に出射する。
【０００７】
方向性結合器４は、レーザ素子３からの光パルスを光コネクタＣＮに出射し、被測定光ファイバＦ１からの戻り光を受光部５に出射する。
【０００８】
受光部５は、受光素子（例えば、アバランシェ・フォトダイオード（以下、ＡＰＤと略す）５ａを有し、方向性結合器４からの光をＡＰＤ５ａで受光し、受光した光の光パワーに対応した電気信号を出力する。増幅部６は、受光部５からの電気信号を増幅して出力する。ＡＤ変換部７は、増幅部６からのアナログの電気信号をデジタルに変換して出力する。
【０００９】
信号処理部８は、駆動信号生成部１、駆動部２を介してレーザ素子３の光パルスの出力のタイミングを制御し、ＡＤ変換部７から電気信号が入力される。表示部９は、信号処理部８の処理結果を表示する。
【００１０】
このような装置の動作を説明する。
駆動信号生成部１が、信号処理部８からの指示に従って駆動信号を生成し、所定のタイミングで駆動部２にレーザ素子３を駆動させて光パルスを出射させる。
【００１１】
そして、レーザ素子３から出射された光パルスが、方向性結合器４、光コネクタＣＮを経て、被測定光ファイバＦ１に入射する。被測定光ファイバＦ１内部では、レイリー散乱が発生し、その一部は光パルスの進行方向とは逆方向に進み後方散乱光としてＯＴＤＲ１００に戻ってくる。また、被測定光ファイバＦ１の接続点で発生するフレネル反射光もＯＴＤＲ１００に戻ってくる。
【００１２】
そして、被測定光ファイバＦ１からの戻り光が、光コネクタＣＮ、方向性結合器４を経て受光部５に入射する。さらに、受光部５が、受光した入射光の光パワーに応じた大きさの電気信号に変換し、増幅部６に出力する。
【００１３】
そして、増幅部６が、受光部５からの微弱な電気信号を、後段のＡＤ変換部７の入力電圧範囲にまで増幅し、ＡＤ変換部７に出力する。さらに、ＡＤ変換部７が、所定のサンプリング周波数でアナログの電気信号をデジタルデータに変換して信号処理部８に出力する。
【００１４】
そして、信号処理部８が、光パルスを出射させてから受光部５で受光するまでの時間から被測定光ファイバＦ１の距離測定、戻り光の光パワー測定を行ない、横軸を距離、縦軸を戻り光の光パワーとした測定結果を表示部９に表示する。さらに、信号処理部８が、距離と光パワーとの測定結果から、破断点、損失等の損失特性障害点を算出し、表示部９に表示する。
【００１５】
また、戻り光の光パワーは非常に微弱なため、光パルスを繰り返し被測定光ファイバＦ１に出力し、複数回（例えば、数百〜数千回）の測定値を平均化することでノイズ低減を図っている。ここで、１回分の測定結果を得るには、光パルスを１回出射して受光するのではなく、複数回出射してこれらの測定値を平均化する必要がある。
【００１６】
【特許文献１】特開平８−２７１７５３号公報
【特許文献２】特開平１１−２８４５７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
レーザ素子３が出力する光パルスの光パワーは、安定した大きさで出力する必要がある。すなわち、光パワーが安定しない場合、測定可能範囲（ダイナミックレンジ）が変化ししてしまうという問題があった。
【００１８】
また、１回の測定中に各光パルスの光パワーが安定しない場合、ノイズ低減の効果も得られず、測定結果の波形（距離と光パワーの特性）にノイズが残ってしまうという問題があった。
【００１９】
さらに、同一の被測定光ファイバに対して同一の測定条件で連続測定をした場合、被測定光ファイバＦ１の損失特性に変化がないにもかかわらず、ｎ回目の測定と（ｎ＋１）回目の測定で、表示画面上の波形（距離と光パワーの特性）が上下に変化してしまうという問題があった。
【００２０】
すなわち、光ファイバの敷設、保守等のような短時間の測定においては、レーザ素子３の光パワーの絶対的な精度ももちろん必要だが、１回分の測定中における各光パルス間の光パワーの相対的な安定性、ｎ回目と（ｎ＋１）回目との測定間における光パワーの相対的な安定性も非常に重要である。
【００２１】
一方、ＯＴＤＲ１００は、被測定光ファイバＦ１の測定距離、距離分解能等の測定対象の状態に応じ、レーザ素子３の光パルス幅を数［ｎｓ］〜数十［μｓ］に可変している。そのため、測定中の戻り光の受光パワー、例えば、波高値をフィードバック制御することが困難であり、ＯＴＤＲ１００の製造工場での出荷調整時（または校正時）にあらかじめ光パワーの大きさを設定し、この設定値でオープンループ制御していた。
【００２２】
しかしながら、工場調整時と大きく異なる環境下（例えば、調整時の基準温度と大きく異なる温度下）で使用された場合や、経時変化によって光パルスの光パワーが大きく変化し、測定中の光パワーの安定性が損なわれてしまう。すなわち、光パルス間の光パワーの相対的な安定性が悪くなるという問題があった。
【００２３】
また、ペルチェ素子等を用いてレーザ素子３を温度調整する手段もあるが、温度調整機能を実現する構成は一般的に高価であり、消費電力も非常に大きくなる。そのた、光ファイバの敷設、保守等に用いられる携帯型（バッテリ駆動）の光パルス試験器には不向きであった。
【００２４】
そこで本発明の目的は、使用環境や経時変化によらず、光パルスの出力パワーの安定化を図る光パルス試験器および光パルス試験器の光パワー安定化方法を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２５】
請求項１記載の発明は、
レーザ素子が被測定光ファイバに光パルスを出射し、この光パルスの戻り光を受光素子が受光し、この受光素子からの出力によって前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器において、
前記レーザ素子と前記被測定光ファイバとの間に設けられる内蔵光ファイバと、
所望の周期で前記受光素子の増倍度を設定する受光素子設定手段と、
この受光素子設定手段によって設定された増倍度における前記内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを保持する比較値保持手段と、
この比較値保持手段の光パワーと前記受光素子設定手段の増倍度で新たに求めた光パワーとを比較し、前記レーザ素子が出射する光パルスの光パワーを変更させるレーザ素子設定手段と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
比較値保持手段は、電源がオンされてから前記被測定光ファイバの測定が開始されるまでの間または被測定光ファイバの測定条件が変更されてから測定が開始されるまでの間に取得された前記内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを保持することを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
受光素子設定手段は、前記受光素子の増倍度を１に設定することを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
前記受光素子の温度を検出する温度検出手段と、
前記受光素子の温度特性を記憶する記憶手段と
を設け、前記レーザ素子設定手段は、前記温度検出手段の温度と前記記憶手段の温度特性とによって前記内蔵光ファイバの戻り光の光パワーを補正することを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、
レーザ素子が被測定光ファイバに光パルスを出射し、この光パルスの戻り光を受光素子が受光し、この受光素子からの出力によって前記被測定光ファイバの測定を行なう光パルス試験器の光パワー安定化方法において、
受光素子設定手段が、前記受光素子を所定の増倍度に設定するステップと、
この所定の増倍度においてレーザ素子設定手段が、前記レーザ素子と前記被測定光ファイバとの間に設けられる内蔵光ファイバからの戻り光の光パワーをメモリに保持させるステップと、
所望の周期ごとに前記受光素子設定手段が、前記受光素子を再度所定の増倍度に設定するステップと、
この所定の増倍度においてレーザ素子設定手段が、前記内蔵光ファイバからの戻り光の光パワーと前記メモリの光パワーとを比較して、前記レーザ素子が出射する光パルスの光パワーを変更させるステップと
を有することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、以下の効果がある。
受光素子の増倍度が同一にされた状態でレーザ素子設定手段が、内蔵光ファイバからの光パワーを求め、この光パワーと比較値保持手段の光パワーとに基づいてレーザ素子の光パルスの光パワーを調整する。これにより、出荷調整時や校正時と異なる環境下での使用やレーザ素子に経時変化が生じていたとしても、光パワーの相対的な安定性を図ることができる。従って、使用環境や経時変化によらず、光パルスの出力パワーの安定化が図れ、被測定光ファイバを精度よく測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図４と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図１において、信号処理部８の代わりに信号処理部１０が設けられる。また、方向性結合器４と光コネクタＣＮの間に内蔵光ファイバ２０が設けられる。さらに、比較用の光パワーの値（以下、比較値と呼ぶ）を保持するメモリ３０が新たに設けられる。
【００２８】
信号処理部１０は、ＡＰＤ設定手段１１、レーザ素子設定手段１２を有し、駆動信号生成部１に信号を出力し、ＡＤ変換部７からデジタルデータが入力され、デジタルデータに基づく測定結果、解析結果等を表示部９に表示する。また、信号処理部１０は、受光部５の受光素子５ａの増倍度、増幅部６の増幅度を変更する。さらに、信号処理部１０は、メモリ３０の比較値の読み書きを行なう。
【００２９】
内蔵光ファイバ２０は、いわゆるダミーファイバと呼ばれるものであり、方向性結合器４内の反射とＯＴＤＲ１００の入出射ポートの光コネクタＣＮの反射を分離するために内蔵されることが多い。なお、内蔵光ファイバ２０の伝送損失特性、ファイバ長等は全て既知である。
【００３０】
ＡＰＤ設定手段１１は、特許請求の範囲の受光素子設定手段に相当し、受光部５の受光素子であるＡＰＤ５ａの増倍度、増幅部６の増幅度を設定する。レーザ素子設定手段１２は、ＡＰＤ設定手段１１が設定した増倍度において、ＡＤ変換部７からのデジタルデータでダミーファイバ２０の後方散乱光の光パワーを求めると共に、メモリ３０の比較値を参照して駆動信号生成部１にフィードバック情報を出力する。
【００３１】
メモリ３０は、特許請求の範囲の比較値保持手段に相当し、レーザ素子設定手段１２が求めた比較値を保持する。
【００３２】
このような装置の動作を説明する。
まず、通常の測定状態、すなわち、被測定光ファイバＦ１の測定から説明する。
ユーザからの測定条件に基づいて、信号処理部１０のＡＰＤ設定手段１１が、受光部５のＡＰＤ５ａの増倍度、増幅部６の増幅度を設定し、信号処理部１０が、駆動信号生成部１に光パルスのパルス幅、光パワー等の設定を行なう。
【００３３】
そして、駆動信号生成部１が、信号処理部１０からの指示（タイミング信号）に従って駆動信号（電気のパルス信号）を生成し、駆動信号として駆動部２に出力する。そして、所定のタイミングで駆動部２が、駆動信号に基づいて駆動電流をレーザ素子３に出力して駆動させ、光パルスを出射させる。
【００３４】
そして、レーザ素子３から出射された光パルスが、方向性結合器４、ダミーファイバ２０、光コネクタＣＮを経て、被測定光ファイバＦ１に入射する。被測定光ファイバＦ１内部では、レイリー散乱が発生し、その一部は光パルスの進行方向とは逆方向に進み後方散乱光としてＯＴＤＲ１００に戻ってくる。また、被測定光ファイバＦ１の接続点で発生するフレネル反射光もＯＴＤＲ１００に戻ってくる。
【００３５】
そして、被測定光ファイバＦ１からの戻り光が、光コネクタＣＮ、ダミーファイバ２０、方向性結合器４を経て受光部５に入射する。なお、ダミーファイバ２０からの戻り光も受光部５に入射している。
【００３６】
そして、受光部５が、ＡＰＤ５ａで戻り光を受光し、受光した戻り光の光パワーに応じた大きさの電気信号に変換し、増幅部６に出力する。
【００３７】
さらに、増幅部６が、受光部５からの微弱な電気信号を、後段のＡＤ変換部７の入力電圧範囲にまで増幅し、ＡＤ変換部７に出力する。さらに、ＡＤ変換部７が、所定のサンプリング周波数でアナログの電気信号をデジタルデータに変換して信号処理部１０に出力する。
【００３８】
そして、信号処理部１０の光パワー演算手段（図示せず）が、光パルスを出射させてから受光部５で受光するまでの時間から被測定光ファイバＦ１の距離測定、戻り光の光パワー測定を行なう。さらに、信号処理部１０が、横軸を距離、縦軸を戻り光の光パワーとした測定結果を表示部９に表示する。さらに、信号処理部１０が、距離と光パワーとの測定結果から、破断点、損失等の損失特性障害点を算出し、表示部９に表示する。
【００３９】
また、図１に示す装置では、ダミーファイバ２０が内蔵されているので、信号処理部１０は、ダミーファイバ２０の部分を除去した波形を表示部９に表示するとよい。
【００４０】
また、戻り光の光パワーは非常に微弱なため、光パルスを繰り返し被測定光ファイバＦ１に出力し、複数回（例えば、数百〜数千回）の測定値を平均化することでノイズ低減を図っている。ここで、１回分の測定とは、光パルスを１回出射して受光した測定結果を得ることでなく、複数回の測定値を、同一距離の測定値同士で平均化し、距離と光パワーの測定結果を得るまでの測定をいう。
【００４１】
ここで、図２は、ＯＴＤＲ１００における距離と戻り光の光パワーの波形を示した図である。横軸は距離であり、縦軸は戻り光の光パワーである。図２では、ダミーファイバ２０からの戻り光も図示しているが、上述のように、表示部９に表示する波形としては、ダミーファイバ２０の部分を除去し、入出射ポートの光コネクタＣＮを基準（距離＝０［ｍ］）として表示するとよい。
【００４２】
続いて、光パワーを安定化させる動作を説明する。
大きく分けると二つの動作がある。一つ目は、光パワーの相対比較用に、比較用の基準となる光パワーの測定を行なう動作と、測定中に所定の周期でレーザ素子３の光パワーを調整して安定化させる動作である。
【００４３】
ここで、図３は、ＯＴＤＲ１００の通常測定および安定化用の測定を行なうパターンの一実施例を示している。横軸は時間である。なお、図３中の縦棒は、通常の測定用に光パルスが出射されていることを示している。通常、１回の測定で数百〜数千の光パルスが出射されるが、図中では簡略化している。
【００４４】
比較用の光パワーを測定して比較値を取得するタイミングとしては、ＯＴＤＲ１００の電源がＯＮされて、１回目の測定が実行される前（図３の時刻ｔ０）や、測定条件が変更された場合の測定前等（図３の時刻ｔ６）に行なわれる。一方、レーザ素子３の光パワーの調整は、所定の周期Δｔで行なわれ、ｎ回目の測定中に繰返し出射される光パルスの合間（図３の時刻ｔ１、ｔ２、ｔ４、ｔ５、ｔ７、ｔ８）や、ｎ回目と（ｎ＋１）回目の測定の合間（図３の時刻ｔ３）に行なわれる。。
【００４５】
光パルスの光パワーを相対的に安定化させる動作について、具体的に説明する。
測定開始の直前（時刻ｔ０、ｔ６）や、比較値を取得してから所定の周期Δｔ（例えば、数秒〜数分）ごと（時刻ｔ１〜ｔ５、ｔ７〜ｔ８）に信号処理部１０のＡＰＤ設定手段１１が、受光部５のＡＰＤ５ａの増倍度を１に設定する。また、増幅部６の増幅度をあらかじめ調整用として定めておいた大きさに設定する。そして、ＡＰＤ設定手段１１が、レーザ素子設定手段１２、光パワー演算手段（図示せず）に対し、ＡＰＤ５ａの増倍度を光パワー安定化用の増倍度に設定した旨を通知、すなわち通常の測定状態でなく、光パワー調整用の状態であることを通知する。
【００４６】
ここで、ＡＰＤ５ａの増倍度を１にするのは、ＡＰＤ５ａは増倍度を１にした場合、環境下の影響を受けずに安定した特性、すなわち、温度特性がほとんどない安定した特性（光電変換の変換効率・受光感度、光電変換の直線性等）を示すからである。これは、ＡＰＤ５ａに限らず、その他のフォトダイオードでも同様のことである。
【００４７】
具体的には、ＡＰＤ５ａへのバイアス電圧の大きさを変えることによって、ＡＰＤ５ａの増倍度を調整する。増倍度Ｍは、例えば、Ｍ＝１〜４０（Ｍ＝１が最小の増倍度）の範囲で変更可能であり、通常の測定状態では、増倍度Ｍ＝３０程度に設定されることが多い。
【００４８】
そして、通常の測定と同様に、信号処理部１０がタイミング信号を出力して、駆動信号生成部１が、駆動部２を介してレーザ素子３に光パルスを出射させる。光パルスのパルス幅、光パワーは、測定条件と同一でもよく、調整用にあらかじめ定めた設定値でもよい。
【００４９】
さらに、レーザ素子３から出射された光パルスが、方向性結合器４を経て、ダミーファイバ２０に入射する。そして、ダミーファイバ２０からの戻り光が、方向性結合器４を経て受光部５に入射する。さらに、受光部５のＡＰＤ５ａが戻り光を受光し、受光部５が、戻り光の光パワーに応じた大きさの電気信号に変換し、増幅部６に出力する。
【００５０】
そして、増幅部６が、受光部５からの微弱な電気信号を所定の増幅度で増幅し、ＡＤ変換部７に出力する。さらに、ＡＤ変換部７が、所定のサンプリング周波数でアナログの電気信号をデジタルデータに変換して信号処理部１０に出力する。
【００５１】
そして、信号処理部１０の光パワー演算手段（図示せず）が、光パルスを出射させてから受光部５で受光するまでの時間から、ダミーファイバ２０の部分で生じた戻り光の光パワーを求める。ダミーファイバ２０の部分とは、ダミーファイバ２０の所定の位置（例えば、長さ方向の中間付近であり、図２の”Ｐ１”の位置）のことである。さらに、信号処理部１０の光パワー演算手段（図示せず）が、ダミーファイバ２０の部分で生じた戻り光（後方散乱光等）の光パワーを求める。
【００５２】
そして、時刻ｔ０、ｔ６における測定の場合、レーザ素子設定手段１２が、光パワー演算手段（図示せず）の求めた光パワーを、比較用の光パワー（比較値）としてメモリ３０に格納する。
【００５３】
一方、時刻ｔ１〜ｔ５、ｔ７〜ｔ８の場合、レーザ素子設定手段１２が、メモリ３０から比較値を読み出し、光パワー演算手段（図示せず）の求めた光パワーと比較値と比較し、光パワーの差分を求める。もちろん、時刻ｔ１〜ｔ５で求めた光パワーは、時刻ｔ０で求めた比較値で比較し、時刻ｔ７〜ｔ８で求めた光パワーは、時刻ｔ６で求めた比較値で比較する。
【００５４】
そして、レーザ素子設定手段１２が、駆動信号生成部１に差分をなくすような駆動信号を生成させる。これによって、駆動信号生成部１が、次の光パルス（通常の測定における光パルス）の光パワーを差分情報に基づいて増減させる。
【００５５】
そして、光パワーの安定化の調整終了後（メモリ３０への比較値の格納後、または光パワーと比較値を比較してレーザ素子３の光パルスの光パワーの変更指示後）、ＡＰＤ設定手段１１が、受光部５のＡＰＤ５ａの増倍度、増幅部６の増幅度を、通常の測定状態、すなわち増倍度、増幅度を変更前の測定条件に戻し、通常の測定を再開する。
【００５６】
このように、レーザ素子設定手段１２が、所定の周期でダミーファイバ２０からの後方散乱光の光パワーを求め、同一増倍度の比較値と光パワーとを比較して差分を求める。そして、レーザ素子設定手段１２が、求めた差分でレーザ素子３の光パルスの光パワーを調整するので、出荷調整時や校正時と異なる環境下での使用やレーザ素子３に経時変化が生じていたとしても、光パワーの相対的な安定性を図ることができる。これにより、使用環境や経時変化によらず、光パルスの出力パワーの安定化が図れ、被測定光ファイバを精度よく測定することができる。
【００５７】
また、ＡＰＤ設定手段１１が、所定の周期ΔｔでＡＰＤ５ａの増倍度を１にし、この増倍度１におけるＡＰＤ５ａの出力によって光パワーを調整を行なうので、ＡＰＤ５ａの温度特性をほとんど受けない。
【００５８】
そして、ペルチェ素子等を用いてレーザ素子３を温度調整する必要も無いので、装置の小型化（軽量化）、低消費電力、低コストとすることができ、特に携帯型（バッテリ駆動）の光パルス試験器に有用である。
【００５９】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
（１）受光素子としてＡＰＤ５ａを用いる構成を示したが、どのような受光素子（例えば、Ｇｅ，ＩｎＧａＡｓ等）を用いてもよい。
【００６０】
（２）ＡＰＤ素子設定手段１２が、ＡＰＤ５ａの増倍度を１にし、この増倍度においてレーザ素子設定手段１２が、比較値の取得およびダミーファイバ２０の戻り光の光パワーと比較値との比較を行なう構成を示したが、ＡＰＤ素子設定手段１２が、ＡＰＤ５ａの増倍度を通常の測定状態と同じ増倍度（または所望の増倍度）に設定してもよい。
【００６１】
ただし、増倍度を１よりも大きくする場合、各増倍度におけるＡＰＤ５ａの受光感度等の温度特性をあらかじめ実測（または計算）して求め、記憶手段に格納する。また、受光素子ＡＰＤ５ａの温度を検出する温度検出手段を設ける。そして、光パワーの安定化を図る場合、レーザ素子設定手段１２が、温度検出手段の温度と記憶手段の温度特性とによって、受光素子５ａが受光した光パワーを補正して比較値を取得するとよい。さらに、所定の周期Δｔで取得した光パワーに対しても、温度検出手段の温度と記憶手段の温度特性とで補正し、補正した光パワーと比較値（補正済み）とで比較を行なうとよい。
【００６２】
（３）ＡＰＤ素子設定手段１２が、同じ周期ΔｔでＡＰＤ５ａの増幅度を１にする構成を示したが、増倍度を１にする間隔は等間隔でなくともよい。
【００６３】
（４）メモリ３０に、比較値を保持させる構成を示したが、この比較値を時系列順に保持させ、レーザ素子設定手段１２が、レーザ素子３の劣化の有無を判断してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】距離と戻り光の光パワーとの関係の一例を示した図である。
【図３】通常の測定および光パワー安定化用の測定を行なうパターンの一実施例を示した図である。
【図４】従来の光パルス試験器の構成を示した図である。
【符号の説明】
【００６５】
１  レーザ素子
５ａ  ＡＰＤ（受光素子）
１１  ＡＰＤ設定手段（受光素子設定手段）
１２  レーザ素子設定手段
２０  ダミーファイバ（内蔵光ファイバ）
３０  メモリ（比較値保持手段）
Ｆ１  被測定光ファイバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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