(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスタ(T)を使用して、機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分(1)を含む集積回路(CI)を試験する方法であって、
−上記集積回路(CI)における、
発生器によって乱数(RNG-C)を生成する段階、
上記集積回路(CI)内に記憶された鍵(k)を使用して暗号化アルゴリズムにより該乱数(RNG-C)を暗号化して、パスワードレジスタに載置された第１パスワード(GK(RNG)-C)を獲得する段階、および、
該乱数(RNG-C)を上記テスタ(T)に送信する段階と、
−上記テスタ(T)における、
上記と並行して、上記集積回路において使用されたのと同一の鍵(k)を使用し且つ上記集積回路(CI)において実施されたのと同一の暗号化アルゴリズムにより、受信された上記乱数(RNG-C)を暗号化して第２パスワード(GK(RNG)-T)を生成する段階、および、
該テスタ(T)から上記第２パスワード(GK(RNG)-T)を上記集積回路(CI)へと送信する段階と、
−次に、上記集積回路(CI)における、
比較手段によって上記第１(GK(RNG)-C)および第２(GK(RNG)-T)パスワードを比較する段階、
上記比較が上記第１および第２パスワード(GK(RNG)-C；GK(RNG)-T)の間の一致を確立したときにのみ、該集積回路内の防壁を開くことによって上記テスタから上記機密特性部分(1)へと通ずる経路(3a)を解放する段階、および、
上記機密特性要素(1)の試験を行う段階と、
を備えて成ることを特徴とする、試験方法。
【請求項２】
−前記集積回路(CI)における、
該集積回路(CI)内に記憶された前記鍵(k)を使用して前記暗号化アルゴリズムにより前記乱数(RNG-C)を暗号化して第３パスワード(FK(RNG)-C)を獲得する段階、
上記第３パスワード(FK(RNG)-C)を前記テスタ(T)へと送信する段階と、
−上記テスタ(T)における、
該テスタに記憶された前記鍵(k)を使用して前記暗号化アルゴリズムにより、受信された上記乱数(RNG-C)を暗号化して第４パスワード(FK(RNG)-T)を生成する段階、
上記第３および第４パスワード(FK(RNG)-C；FK(RNG)-T)を比較する段階、および、
上記第３および第４パスワード(FK(RNG)-C；FK(RNG)-T)が一致したときにのみ、該テスタ(T)による上記第２パスワード(GK(RNG)-T)の前記暗号化を許可する段階と、
を更に備えて成ることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
−前記集積回路(CI)における、
該集積回路(CI)に記憶された前記鍵(k)を使用して前記暗号化アルゴリズムにより前記乱数(RNG-C)を暗号化して第３パスワード(FK(RNG)-C)を獲得する段階、および、
上記第３パスワード(FK(RNG)-C)を前記テスタ(T)に送信する段階と、
−上記テスタ(T)における、
該テスタ(T)に記憶された前記鍵(k)を使用して前記暗号化アルゴリズムにより上記第３パスワード(FK(RNG)-C)を逆暗号化し、計算された乱数(RNG-T)を見出す段階、
上記集積回路(CI)から受信された上記乱数(RNG-T)を上記計算された乱数(RNG-T)と比較する段階、および、
上記受信された乱数および計算された乱数(RNG-T；RNG-T)が一致するときにのみ、上記テスタ(T)による前記第２パスワード(GK(RNG)-T)の暗号化を許可する段階と、
を更に備えて成ることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記第３および／または第４パスワード(FK(RNG)-C；FK(RNG)-T)の暗号化は、前記第１および第２パスワード(GK(RNG)-C；GK(RNG)-T)を暗号化すべく使用されたクロック・ストローク数とは異なるクロック・ストローク数に基づき為されることを特徴とする、請求項２または請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記一致に関する限り、前記各パスワード(GK(RNG)-C；GK(RNG)-T−FK(RNG)-C；FK(RNG)-T)を夫々チェックする上で、受信された乱数および計算された乱数(RNG-C；RNG-T)は等しいことを特徴とする、請求項１から請求項４までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
前記集積回路(CI)の製造時における、
前記暗号鍵の所定値を記憶する段階と、
前記テスタ(T)を使用して前記試験手順を実行する間における、
上記集積回路(CI)に対して暗号鍵値(k)を送信する段階、
送信された上記暗号鍵(k)が上記集積回路(CI)内に記憶された上記所定値を有するか否かをチェックする段階、および、
上記チェック段階の間において不等性が認められた場合には、上記集積回路(CI)内に上記送信された鍵が記憶されるべきことを命令する段階、および、
斯かる場合に、上記集積回路(CI)内に他の一切の暗号鍵が記憶されることを阻止する段階と、
を備えることを特徴とする、請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分(1)と、上記ハードウェアおよび／またはソフトウェア部分に対して条件付きで試験データをルーティングする手段(2、3、16)と、を含む集積回路(CI)であって、
該集積回路(CI)は、
−乱数発生器(6)と、
−暗号鍵(k)を記憶する手段(7)と、
−上記鍵と、生成された乱数(RNG-C)とから、暗号化アルゴリズムを使用して第１パスワード(GK(RNG)-C)を計算する処理手段(12)と、
−乱数(RNG-C)を外部へとルーティングする手段(10)と、
−計算されてパスワードレジスタに載置された上記第１パスワード(GK(RNG)-C)を、上記発生器により生成された上記乱数に従い計算されると共に外部から受信された第２パスワード(GK(RNG)-T)と比較する手段(4)であって、前記ルーティング手段(2,3,16)に接続され、上記第１および第２パスワード(GK(RNG)-C；GK(RNG)-T)の間に一致があるときにのみ、該集積回路内の防壁を開くことによって該機密特性部分へと通ずる経路を解放する手段(4)と、
を含むことを特徴とする、集積回路(CI)。
【請求項８】
前記パスワードレジスタは、前記比較手段の前に載置され、前記第２パスワード(GK(RNG)-T)との比較時に前記第１パスワードを前記比較手段に提供することを特徴とする、請求項７に記載の集積回路。
【請求項９】
前記暗号鍵を記憶する前記手段は、冗長検査ユニットも含むEEPROMメモリであることを特徴とする、請求項７に記載の集積回路。
【請求項１０】
前記処理手段は、前記暗号鍵を使用し、生成された前記乱数(RNG-C)と前記回路暗号化アルゴリズムとから第３パスワード(FK(RNG)-C)を計算すべく配備され、上記第３パスワードは特定テスタに対して上記乱数と共に外部への送信が意図されることを特徴とする、請求項７に記載の集積回路。
【請求項１１】
機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分を含む集積回路に対するテスタであって、上記ハードウェアおよび／またはソフトウェア部分の正常動作試験を行うことにより対応データを上記回路(CI)へとルーティングする手段(15)を含むテスタにおいて、
該テスタは、
−試験されるべき集積回路により生成された乱数(RNG-C)を受信する手段(11)と、
−暗号鍵(k)を記憶する手段(13)と、
−暗号化アルゴリズムを使用して、上記暗号鍵(k)と上記受信された乱数(RNG-C)とから第２パスワード(GK(RNG)-T)を計算する処理手段(12)と、
を含み、且つ、
−上記処理手段(12)は、上記計算された第２パスワード(GK(RNG)-T)を上記集積回路(CI)へと送信すべく上記ルーティング手段(14)に接続される、
ことを特徴とするテスタ。
【請求項１２】
前記処理手段(12)は、暗号化アルゴリズムを使用し、前記暗号鍵(k)および前記受信された乱数(RNG-C)から第４パスワード(FK(RNG)-T)を計算する様にも設定され、
上記乱数を受信する前記手段(11)は、前記集積回路(CI)において計算された第３パスワード(FK(RNG)-C)を受信する様にも設定され、且つ、
当該テスタは上記第３パスワード(FK(RNG)-C)と上記第４パスワード(FK(RNG)-T)との間の一致をチェックする比較手段(17)も含み、上記処理手段は、該比較手段(17)が上記第３および第４パスワードの間に所定の一致を認めたときにのみ前記第２パスワード(GK(RNG)-T)の計算を許可されることを特徴とする、請求項１１に記載のテスタ。
【請求項１３】
−前記乱数を受信する前記手段(11)は、前記集積回路(CI)において計算された第３パスワード(FK(RNG)-C)を受信する様にも設定されると共に、
−前記処理手段(12)は逆暗号化アルゴリズムを使用し、上記集積回路(CI)において計算された第３パスワード(FK(RNG)-C)と、前記暗号鍵(k)と、から乱数(RNG-T)を再計算する様にも設定され、且つ、
当該テスタは上記受信された乱数(RNG-C)と上記計算された乱数(RNG-T)との間の一致をチェックする比較手段(17')も含み、上記処理手段は該比較手段(17')が上記乱数(RNG-CおよびRNG-T)の間に所定の一致を認めたときにのみ上記第２パスワード(GK(RNG)-T)の計算が許可される、
ことを特徴とする、請求項１１に記載のテスタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分を含む集積回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
集積回路を製造する上では、そのハードウェア回路と、該ハードウェア回路内に記憶されることの多いソフトウェアとが正常に作動するか否かをチェックすべく試験手順が行われるのが通常である。斯かるハードウェアおよび／またはソフトウェア部分が機密性を有する場合、この試験手順を無権限者に漏らしてはならない。
【０００３】
米国特許第5,039,850号は、当該集積回路自体が試験用サブ・プログラムを含むという上記のタイプの集積回路を開示している。該集積回路は、例えば該集積回路に対するIDコードおよび機密データを含む秘密データの包含が意図されたEEPROMメモリを含んでいる。
【０００４】
この集積回路に対する試験手順が実施されるべきとき、上記秘密コードが既に記憶されているか否かが先ずチェックされる。もし記憶されていなければ、該回路の非機密要素の全てに対して上記試験用サブ・プログラムが実行される。逆に、上記秘密コードが既に記憶されているなら、上記テスタは同一のコードを送信せねばならず、且つ、このコードと記憶されたコードとが一致すれば上記EEPROMメモリは初期化(initialise)されると共に上記機密データが上記集積回路により利用され得る様になる。このことは、上記テスタに関して上記データが機密性を保持することを意味し、と言うのも、上記秘密コードが記憶されていないときにのみ試験が行われるからである。しかし乍ら、このことは機密データに対して試験が適用され得ないことも意味している。
【０００５】
故に、この先行技術から公知となるプロセスは、試験が行われるのは常に集積回路内に機密データが入力される前であるという場合のみに関していることは理解される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、集積回路に含まれた機密部分の内容が無権限者にアクセスされずに該機密部分に関する試験が実行され得るという集積回路の試験方法を提供するにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
故に本発明は、テスタを使用して、機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分を含む集積回路を試験する方法であって、−上記集積回路における、乱数を生成する段階、上記集積回路内に記憶された鍵を使用して暗号化アルゴリズムにより該乱数を暗号化して第1パスワードを獲得する段階、および、該乱数(RNG-C)を上記テスタ(T)に送信する段階と、−上記テスタにおける、上記と並行して、上記集積回路において使用されたのと同一の鍵を使用し且つ上記集積回路において実施されたのと同一の暗号化アルゴリズムにより、受信された上記乱数を暗号化して第2パスワードを生成する段階、および、該テスタから上記第2パスワードを上記集積回路へと送信する段階と、−次に、上記集積回路における、上記第1および第2パスワードを比較する段階、上記比較が上記第1および第2パスワードの間の一致を確立したときにのみ、上記テスタから上記機密特性部分へと通ずる経路を解放する段階、および、上記機密特性要素の試験を行う段階と、を備えて成ることを特徴とする、試験方法に関する。
【０００８】
これらの特徴の結果、上記テスタは機密特性を有する要素にアクセスし得るが、該テスタは上記集積回路により生成されたパスワードと所定関係を有するパスワードの生成を管理するのみである。この様にして、上記保護要素に対するアクセスは完全に管理される。
【０００９】
本発明はまた、機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分と、上記ハードウェアおよび／またはソフトウェア部分に対して条件付きで試験データをルーティングする手段とを含む集積回路であって、該集積回路は、−乱数発生器と、−暗号鍵を記憶する手段と、−上記鍵と、生成された乱数とから、暗号化アルゴリズムを使用して第1パスワードを計算する処理手段と、−乱数を外部へとルーティングする手段と、−計算された上記第1パスワードを、上記発生器により生成された上記乱数に従い計算されると共に外部から受信した第2パスワードと比較する手段であって、当該手段が上記第1および第2パスワードの間に一致を認めたときにのみ上記試験データに対して上記ルーティング手段をトランスペアレントとすべく該ルーティング手段に接続された手段と、を含むことを特徴とする、集積回路にも関している。
【００１０】
本発明はまた、機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分を含む集積回路に対するテスタであって、上記ハードウェアおよび／またはソフトウェア部分の正常動作試験を行うことにより対応データを上記回路へとルーティングする手段を含むテスタにおいて、該テスタは、−試験されるべき集積回路により生成された乱数を受信する手段と、−暗号鍵を記憶する手段と、−暗号化アルゴリズムを使用して、上記暗号鍵と上記受信した乱数とから第2パスワードを計算する処理手段と、を含み、且つ、−上記処理手段は、上記計算された第2パスワードを上記集積回路へと送信すべく上記ルーティング手段に接続される、ことを特徴とするテスタにも関している。
【００１１】
本発明の他の特性は、従属請求項から得られる。
【００１２】
本発明の他の特徴および利点は、添付図面を参照し乍ら例示的なものとしてのみ与えられる以下の説明から明らかとなろう。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図１は、試験されるべき集積回路CI、ならびに、テスタTを示している。テスタTが集積回路CIに対して接続され又は同一構造を有する他の集積回路に接続されたとき、この集合体により本発明の好適実施例が具現され得る。
【００１４】
集積回路CIは区画1を含むが、該区画1は機密特性を有するハードウェアおよび／またはソフトウェア部分を含むと共に、該区画1に対するアクセスは制限されている。該区画1は例えば：アルゴリズム；プログラム；データ；または、該機密区画に対する試験手順などの機密データ；などを含むROMおよび／またはRAMメモリとされ得る。基準電子モジュールに対する較正パラメータには対応シグネチャ(signature)、暗号鍵(cipher key)および試験用シグネチャが組合されるというEEPROMメモリもまた、該機密部分の一部を形成し得る。該機密部分はまた、例えば発振器もしくは電圧調整器の如き同様の基準モジュールなどの、当該回路のハードウェア部分ともされ得る。当業者であれば、保護されるべき機密データもしくはハードウェア部分の種類は任意であり、本発明は回路CIの機密区画1の試験を許容する認証手順にのみ関していることを理解し得よう。
【００１５】
上記機密区画もしくは機密部分1は、該部分1に対する条件付きアクセスを提供する防壁2を介し、試験のためにアクセス可能である。該防壁2は、回路CIの入力インタフェース3と機密部分1との間に接続された２個のマルチプレクサMux 1およびMux 2の形態で作成され得る。マルチプレクサMux 2は、接続4aを介して比較器4により制御信号が供給されたときにのみ、接続3aを介したインタフェース3からの試験データの通過を認証すべく制御され得る。
【００１６】
接続4aは比較器4の出力に接続されるが、該比較器4の各入力は接続4bおよび4cに接続され、接続4cはインタフェース3に接続される。
【００１７】
回路CIは暗号ユニット5も含むが、該暗号ユニット5においては暗号化アルゴリズムを使用して第1パスワードGK(RNG)-Cが計算され得る。上記暗号化アルゴリズムは、乱数発生器6において生成される乱数RNG-Cと、EEPROMメモリの区画7に記憶された暗号鍵kとにより機能する。故に、発生器6およびメモリ区画7は暗号ユニット5に接続される。
【００１８】
暗号ユニット5はパスワード出力8を介し、第1パスワードGK(RNG)-Cを受信するパスワード・レジスタ9に対しても接続されるが、これは比較器4に向かう接続4bにも接続される。
【００１９】
暗号ユニット5において実施される暗号化アルゴリズムは、既知の公開アルゴリズムとされ得る。例えばそれは、当業者にはDESの名称で知られた標準的なアルゴリズムとされ得る。
【００２０】
乱数発生器6は、回路CIの出力インタフェース10にも接続される。
【００２１】
テスタTは、試験されるべき回路CIの出力インタフェース10に対して試験中は接続される入力インタフェース11を含んでいる。故に該入力インタフェース11は出力インタフェース10から乱数RNG-Cを受信するが、該乱数RNG-Cは試験を実施すべく接続したときに回路CIの乱数発生器6内に存在するものである。
【００２２】
テスタTはまた暗号ユニット12も含むが、該暗号ユニット12は入力インタフェース11に接続されることにより該入力インタフェース11から上記回路CIにおいて生成された上記乱数RNG-Cを受信する。該暗号ユニット12は、回路CIの暗号ユニット5が機能するアルゴリズムと同一のアルゴリズムを使用して暗号化を行うべく設定される。テスタTにおける暗号化は、該テスタTのEEPROMメモリの区画13内に設定された暗号鍵kを使用して行われる。この鍵kは、回路CIのEEPROMメモリ区画7に含まれた鍵と同一である。
【００２３】
故にテスタTは、乱数RNG-Cに基づき第2パスワードGK(RNG)-Tを計算し得る。
【００２４】
テスタTは暗号ユニット12の出力に接続された出力インタフェース14も含むことから、該暗号ユニット12内で計算されたパスワードは集積回路CIに向けてルーティングされ得る。
【００２５】
出力インタフェース14は回路CIが委ねられるべき試験機能を実施し得る試験ユニット15にも接続され、該試験ユニット15からのデータはインタフェース14および3を介して集積回路CIのマルチプレクサMux 2へとルーティングされる。
【００２６】
インタフェース3、10、11および14は公知の種類の“ステータス・マシン”であって、回路CIおよびテスタTの夫々の内部クロックを使用することにより該構成要素CIおよびTの間におけるデータ・ルーティング用の送信および受信プロトコルを制御する。
【００２７】
テスタTに関してマルチプレクサMux 2の上流に直列接続されたマルチプレクサMux 1はインタフェース3に接続されることにより、認証に必要なデータを、EEPROMメモリ区画7および暗号ユニット5などの関連回路部分へとルーティングする(尚、簡素化の為に対応接続は示されていない)。
【００２８】
第1マルチプレクサMux 1はテスタTから導体16を介して中継された試験モード信号により制御(“オープン”)される一方、マルチプレクサMux 2は比較器4の出力(接続4a)により制御される。
【００２９】
集積回路CIの試験手順の必須段階は次の様に行われる。
【００３０】
テスタTが集積回路CIに接続されたとき、上記試験手順は導体16を介して上記試験モード信号を送信することにより開始される。これにより、関連時点にて発生器6により生成された乱数RNG-Cと、メモリ7から抽出された鍵kとが処理ユニット5に導入される。第1パスワードGK(RNG)-Cは例えばDES暗号化アルゴリズムを使用して計算されると共に該パスワードはレジスタ9内に載置される。
【００３１】
処理ユニット12に適用される乱数RNG-Cもまたインタフェース10および11によりルーティングされてテスタTへと送信され、この場合の計算もまた、同一の暗号化アルゴリズム、すなわち、メモリ区画13から抽出された暗号鍵kと、受信した乱数RNG-Cから行われる。この暗号化処理は、第2パスワードGK(RNG)-Tの生成により終結する。この第2パスワードGK(RNG)-Tは、インタフェース14および3を介して集積回路CIにルーティングされてから比較器4へと付与される。
【００３２】
該比較器4は、自身に付与された２個のパスワードGK(RNG)-CおよびGK(RNG)-Tのビット毎の比較を行うべく設定される。
【００３３】
もし比較器4に付与された２個のパスワードが一致したなら、これは、テスタTの認証が成功したこと、および、テスタTが機密部分1にアクセスし得ることを意味する。テスタTから接続3aを介して集積回路CIの機密部分1に至る経路はマルチプレクサMux 2を経由するが、該マルチプレクサMux 2は接続4aを介して中継された上記信号により制御される。そのときにテスタTは試験ユニット15を介して必要な試験操作を実施することにより、集積回路CIの機密部分1が正常に作動しているかをチェックし、もしそうであれば、該当する回路を有効化する。もし一致しなければ、テスタTが機密部分1にアクセスすることは禁じられたままとなる。
【００３４】
アクセスのセキュリティを高める為に、且つ、図１に点線で示された本発明の第1変更例に依れば、テスタTの処理ユニット12による第2パスワードGK(RNG)-Tの計算は、予め計算される第3パスワードを照合した後においてのみ許可され得る。この目的の為に、集積回路CIの処理ユニット5において第1パスワードGK(RNG)-Cを計算する前に、可能的には第1パスワードGK(RNG)-Cが計算されるクロック・ストローク数とは異なるクロック・ストローク数に亙り第3パスワードFK(RNG)-Cが計算される。
【００３５】
この第3パスワードFK(RNG)-Cは、上記認証手順を開始した後で乱数RNG-Cに続いてインタフェース10および11を介してテスタTへと送信される。このときにテスタTの処理ユニット12もまたテスタTの一部を形成する比較器17に付与される第4パスワードFK(RNG)-Tを計算せねばならないが、該比較器は一方では、集積回路CIにて計算された第3パスワードFK(RNG)-Cを受信する為のインタフェース11に接続され、他方では、処理ユニット12内で計算された第4パスワードFK(RNG)-Tを該処理ユニット12から受信すべく該処理ユニット12に接続される。
【００３６】
比較器17は、第3および第4パスワードFK(RNG)-CおよびFK(RNG)-Tの一致を認めたときにのみ、第2パスワードGK(RNG)-Tの計算を許可する信号を処理ユニット12へと送信する。この目的の為に、比較器17は自身の出力を介して処理ユニット12へと接続される。
【００３７】
機能FK(RNG)-CおよびFK(RNG)-Tによれば集積回路CIの認証が許容される一方、機能GK(RNG)-CおよびGK(RNG)-Tによればテスタの認証が許容される。この後者の機能は、集積回路の機密部分に対して無権限テスタがアクセスするのを禁じる為に本発明の目的の重要部分を構成する。
【００３８】
直上で記述された変更例に類似すると共に図２に示された本発明の別の変更例に依っても、上記第3パスワードFK(RNG)-Cは上述の如く集積回路CI内で計算されると共にインタフェース10および11を介してテスタTへとルーティングされる。但しこの場合に該第3パスワードは処理ユニット12へと付与され、処理ユニット12は、第4パスワードFK(RNG)-Tを計算する為に使用されたのとは逆のアルゴリズム(reverse algorithm)を用いて該第3パスワードに関する計算を行うべく設定される。この計算の結果は、比較器17'に付与される乱数RNG-Tである。比較器17'の一方の入力は処理ユニット12に接続されると共に他方の入力はインタフェース11に接続されてRNG-Cを受信する。比較器17'の出力は処理ユニット12に接続されることにより、比較器17'が自身の各入力に対して付与された乱数RNG-CおよびRNG-Tが一致したことを認めたときにのみ第2パスワードGK(RNG)-Tの計算を許可する信号を処理ユニット12へと送信する。その場合に該計算許可信号によれば、処理ユニット12における第2パスワードGK(RNG)-Tの計算が開始され得る。
【００３９】
好適には、集積回路CIの製造の間において、暗号鍵kの記憶が意図されたEEPROMメモリ区画7の各ビットは全てが所定値に設定される(例えば全てのビットはレベル0のビットにより排他的に形成され、または、レベル1のビットにより排他的に形成される)。このメモリ区画7内への暗号鍵の導入は、該EEPROMメモリ区画7に含まれた符号冗長検査ユニット18により行われるコヒーレンス・チェックの間において試験の前段階で行われる。テスタTはこの動作を行うが該動作は最初は失敗に終わり、と言うのも、鍵記憶の為の各ビットの各初期値と、送信される鍵のそれとは異なるのが通常だからである。鍵が未だ登録されていないことが認められたなら、テスタTは鍵をEEPROMメモリ区画7内に導入し、それ以降はEEPROMメモリ区画7の対応箇所は読出／書込に関して阻止される。その後、上述された試験手順が開始されると共に上述の如く進展し得る。
【００４０】
上記集積回路およびテスタにより計算されると共に夫々の比較に委ねられる各パスワードは必ずしも同一である必要は無い。各パスワードは相互に対し、これらの比較の間においてチェックされるべき所定関係を有することのみが必要である。故に、“一致する(match)”という語句は広義に解釈されねばならない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の方法が実施される間はテスタに接続される、機密特性の部分を有する集積回路CIの概略図である。
【図２】本発明の変更例を示すべく上記テスタの一部を示す図である。
【符号の説明】
１…機密部分
２…防壁
３…入力インタフェース
４…比較器
５…暗号ユニット
６…乱数発生器
７…ＥＥＰＲＯＭ
９…パスワード・レジスタ
１０…出力インタフェース
１１…入力インタフェース
１２…暗号ユニット
１３…メモリの区画
１４…出力インタフェース
１５…試験ユニット
１６…導体
１７…比較器
１７′…比較器
【図１】
0004886934.tif 000002
【図２】
0004886934.tif 000003