(57)【要約】【課題】検定の内容に精通しているいないを問わず、測定者が容易に溶液入りのセルや減光板（フィルタ）の配置を行うことができる分光光度計１を提供する。【解決手段】複数の試料用セルＳＢ等を配置できる試料用枠７１〜７４を備え、試料用枠７１〜７４を移動させて試料光路４上に配置する試料用セルＳＢ等を入れ替える試料用セルポジショナ７と、複数の対照用セルＲＢ、ＲＡを配置できる対照用枠８１、８２と、を備え、対照用枠８１、８２を移動させて対照光路５上に配置する対照用セルＲＢ、ＲＡを入れ替える対照用セルポジショナ８とを有し、制御部ＣＯＮＴは、検定に必要な試料用セルＳＢ等と対照用セルＲＢ、ＲＡを試料用枠７１〜７４と対照用枠８１、８２のそれぞれに配置させることにより、試料用セルＳＢ等の前記入れ替えと対照用セルＲＢ、ＲＡの入れ替えの制御を行っては、透過率の算出をすることで、検定を実施する。【選択図】図１
2009293977.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を放射する光源と、前記光を分光し単色光を出射する分光器と、試料光路上を通る試料光と対照光路上を通る対照光とに前記単色光を振り分けるダブルビーム生成部と、前記試料光と前記対照光を検出する光検出器と、前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて前記試料光路上に配置された試料用セルの透過率を算出する制御部と、を有する分光光度計において、
複数の前記試料用セルを配置できる試料用枠を備え、前記試料用枠を移動させて前記試料光路上に配置する前記試料用セルを入れ替える試料用セルポジショナと、
複数の対照用セルを配置できる対照用枠を備え、前記対照用枠を移動させて前記対照光路上に配置する前記対照用セルを入れ替える対照用セルポジショナとを有し、
前記制御部は、検定に必要な試料用セルと対照用セルを試料用枠と対照用枠のそれぞれに配置させることにより、前記試料用セルの前記入れ替えと前記対照用セルの前記入れ替えの制御を行っては、前記透過率の算出をすることで、前記検定を実施することを特徴とする分光光度計。
【請求項２】
光を放射する光源と、前記光を分光し単色光を出射する分光器と、前記単色光を検出する光検出器と、前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて試料用セルの透過率を算出する制御部と、を有する分光光度計において、
複数の前記試料用セルを配置できる試料用枠を備え、前記試料用枠を移動させて前記試料光路上に配置する前記試料用セルを入れ替える試料用セルポジショナを有し、
前記制御部は、検定に必要な試料用セルが試料用枠に一括して配置されるような配置依頼の表示を行い、一括配置後に前記試料用セルの前記入れ替えの制御を行っては前記透過率の算出をすることで、前記検定を実施することを特徴とする分光光度計。
【請求項３】
前記制御部は、前記検出結果又は前記透過率を、記憶し、異なる複数の検定項目の検定に使用することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の分光光度計。
【請求項４】
光を放射する光源と、
前記光を分光し単色光を出射する分光器と、
試料光路上を通る試料光と対照光路上を通る対照光とに前記単色光を振り分けるダブルビーム生成部と、
前記試料光と前記対照光を検出する光検出器と、
前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて前記試料光路上に配置された試料用セルの透過率を算出する制御部と、
複数の前記試料用セルを配置できる試料用枠を備え、前記試料用枠を移動させて前記試料光路上に配置する前記試料用セルを入れ替える試料用セルポジショナと、
複数の対照用セルを配置できる対照用枠を備え、前記対照用枠を移動させて前記対照光路上に配置する前記対照用セルを入れ替える対照用セルポジショナとを有する分光光度計の検定方法において、
前記制御部は、検定に必要な試料用セルと対照用セルを試料用枠と対照用枠のそれぞれに配置させることにより、前記試料用セルの前記入れ替えと前記対照用セルの前記入れ替えの制御を行っては、前記透過率の算出をすることで、前記検定を実施することを特徴とする分光光度計の検定方法。
【請求項５】
光を放射する光源と、
前記光を分光し単色光を出射する分光器と、
前記単色光を検出する光検出器と、
前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて試料用セルの透過率を算出する制御部と、
複数の前記試料用セルを配置できる試料用枠を備え、前記試料用枠を移動させて前記試料光路上に配置する前記試料用セルを入れ替える試料用セルポジショナとを有する分光光度計の検定方法において、
前記制御部は、検定に必要な試料用セルが試料用枠に一括して配置されるような配置依頼の表示を行い、一括配置後に前記試料用セルの前記入れ替えの制御を行っては前記透過率の算出をすることで、前記検定を実施することを特徴とする分光光度計の検定方法。
【請求項６】
前記制御部は、前記検出結果又は前記透過率を、記憶し、異なる複数の検定項目の検定に使用することを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の分光光度計の検定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検定を実施する分光光度計および分光光度計の検定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
分光光度計では、計測が適正であることを保証するために、検定が行われている。検定の内容は、米国食品医薬品局ＦＤＡおよび国際標準化機構ＩＳＯによるＧＬＰ（Good Laboratory Practice）とＧＭＰ（Good Manufacturer Practice）に規定されており、検定は、１０個の検定項目、１）波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定、２）波長正確さ（水銀（Ｈｇ）ランプ）検定、３）波長設定繰返し精度検定、４）バンドパス／分解検定、５）迷光検定、６）測光正確さ検定、７）測光繰返し精度検定、８）ベースライン平坦度検定、９）ベースライン安定性検定、１０）ノイズレベル検定からなっている。
【０００３】
５）の迷光検定では、迷光測定用の溶液入りのセルを使用し、６）の測光正確さ検定と７）の測光繰返し精度検定では、減光板（フィルタ）を使用するが、これらの着脱をハンドリング機構で行うことが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００４】
また、分光光度計は、一般に、光を放射する光源と、前記光を分光し単色光を出射する分光器と、前記単色光を検出する光検出器と、前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて試料用セルの透過率を算出する制御部を有している。そして、透過率の小さい試料を測定する場合には、光検出器の検出結果の感度が低かったり、制御部で前記検出結果をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器の変換ビット数が少なかったり、前記透過率の算出で使用する記憶変数の桁数が少なかったりして、正確な透過率が求められない場合がある。このような場合には、減光板を使用して減光した前記単色光の光量を基準に透過率を計測することにより、正確な透過率を算出することができる。５）の迷光検定においても、透過率の小さい前記溶液入りのセルを測定するので、減光板が使用される場合がある。そして、減光板の切り替えが可能な減光板切替手段を設けることが提案されている（例えば、特許文献２参照）。
【特許文献１】特開平１０−１７０３３９号公報
【特許文献２】特許第３５９８２５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
検定には、前記のように、溶液入りのセルや減光板（フィルタ）が使用されるが、これらを、前記ハンドリング機構や減光板切替手段に配置するのは測定者であり、測定者がこの配置を誤ると正しい検定が行われない場合がある。そして、検定の内容に精通している測定者であれば容易なこの配置も、検定の内容に精通していない測定者にとっては、容易でない場合がある。また、検定の内容に精通している測定者に操作の間違えがないとはいえない。
【０００６】
そこで、本発明の目的は、検定の内容に精通しているいないを問わず、測定者が容易に溶液入りのセルや減光板（フィルタ）の配置を行うことができる分光光度計およびその検定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、光を放射する光源と、前記光を分光し単色光を出射する分光器と、試料光路上を通る試料光と対照光路上を通る対照光とに前記単色光を振り分けるダブルビーム生成部と、前記試料光と前記対照光を検出する光検出器と、前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて前記試料光路上に配置された試料用セルの透過率を算出する制御部と、を有する分光光度計および分光光度計の検定方法において、
前記分光光度計は、
複数の前記試料用セルを配置できる試料用枠を備え、前記試料用枠を移動させて前記試料光路上に配置する前記試料用セルを入れ替える試料用セルポジショナと、
複数の対照用セルを配置できる対照用枠を備え、前記対照用枠を移動させて前記対照光路上に配置する前記対照用セルを入れ替える対照用セルポジショナとを有し、
前記制御部は、検定に必要な試料用セルと対照用セルを試料用枠と対照用枠のそれぞれに配置させることにより、前記試料用セルの前記入れ替えと前記対照用セルの前記入れ替えの制御を行っては、前記透過率の算出をすることで、前記検定を実施することを特徴としている。
【０００８】
また、本発明は、光を放射する光源と、前記光を分光し単色光を出射する分光器と、前記単色光を検出する光検出器と、前記分光器を制御して前記単色光の波長を変え前記光検出器が検出する検出結果に基づいて試料用セルの透過率を算出する制御部と、を有する分光光度計および分光光度計の検定方法において、
前記分光光度計は、
複数の前記試料用セルを配置できる試料用枠を備え、前記試料用枠を移動させて前記試料光路上に配置する前記試料用セルを入れ替える試料用セルポジショナを有し、
前記制御部は、検定に必要な試料用セルが試料用枠に一括して配置されるような配置依頼の表示を行い、一括配置後に前記試料用セルの前記入れ替えの制御を行っては前記透過率の算出をすることで、前記検定を実施することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、検定の内容に精通しているいないを問わず、測定者が容易に溶液入りのセルや減光板（フィルタ）の配置を行うことができる分光光度計およびその検定方法を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
次に、本発明の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各図において、共通する部分には同一の符号を付し重複した説明を省略する。
【００１１】
図１に、本発明の実施形態に係る分光光度計１の構成図を示す。なお、以下の説明では、図１に示すような紫外可視ダブルビーム分光光度計を例に説明する。分光光度計１の光源として、タングステン（Ｗ）ランプＷＩと、重水素（Ｄ）ランプＤ２とが備えられている。測定波長に応じて、タングステンランプＷＩと重水素ランプＤ２とのいずれかの光源から放射された光が、光源ミラーＭ１で反射され、第１分光器ＭＯ１のフィルタＦＬＴに導入される。光源ミラーＭ１による光源切り替えは、制御部ＣＯＮＴによって制御される。また、検定の検定項目２）の波長正確さ（水銀ランプ）検定には、光源として水銀ランプ（図示省略）が使用されるが、水銀ランプへの光源切り替えも、制御部ＣＯＮＴによって制御することが可能である。
【００１２】
第１分光器ＭＯ１に入射した光は、フィルタＦＬＴを通り、回折格子Ｇ１にて波長分散（分光）され、入射スリットＳ１を通して第２分光器ＭＯ２に送られる。第２分光器ＭＯ２に入射した光は、回折格子Ｇ２にて波長分散（分光）され、出射スリットＳ２から単色光Ｌ０として出射する。回折格子Ｇ１と回折格子Ｇ２は、制御部ＣＯＮＴによって、角度位置の制御がされ、単色光Ｌ０の波長をスキャン（波長走査）することができる。
【００１３】
出射スリットＳ２から出射した単色光Ｌ０は、ダブルビーム生成部３に入り、平面ミラーＭ２で反射され、透過部と反射部とシャッタ部と円板上に備えるセクターミラーＭ３に入射する。セクターミラーＭ３は、円板を回転させて透過部と反射部とシャッタ部に周期的に単色光Ｌ０を当てて、単色光Ｌ０をトロイドミラーＭ４の方向とトロイドミラーＭ７の方向に交互に振り分ける。セクターミラーＭ３の反射部とトロイドミラーＭ４で反射された単色光Ｌ０は、対照光ＬＲとして、試料室６内の対照光路５上を通る。セクターミラーＭ３の透過部を透過しトロイドミラーＭ７で反射された単色光Ｌ０は、試料光ＬＳとして、さらに平面ミラーＭ８で反射され、試料室６内の試料光路４上を通る。こうして、出射スリットＳ２から出射した単色光Ｌ０は、ダブルビーム生成部３によって、試料光路４上を通る試料光ＬＳと、対照光路５上を通る対照光ＬＲとに振り分けられる。
対照光路５上を通過した対照光ＬＲは、トロイドミラーＭ５と平面ミラーＭ６で反射され光検出器ＰＭＴに入射する。試料光路４上を通過した試料光ＬＳは、トロイドミラーＭ９と平面ミラーＭ１０で反射され光検出器ＰＭＴに入射する。
【００１４】
試料室６の中には、試料用セルポジショナ７と、対照用セルポジショナ８とが設けられている。試料用セルポジショナ７は、複数の試料用セル（サンプルセル：Sample Cell）、すなわち、ブランクセルＳＢ、シャッタセルＳＳ、溶液入りセルＳＮ、フィルタセルＳＦを配置（装着）でき位置決めできる複数の試料用枠、すなわち、ＳＢ用枠７１、ＳＳ用枠７２、ＳＮ用枠７３、ＳＦ用枠７４を備えている。試料用セルポジショナ７は、試料用枠７１、７２、７３、７４を一括して移動させることで、試料光路４上に配置する試料用セルＳＢ、ＳＳ、ＳＮ、ＳＦを入れ替えることができる。そして、試料光ＬＳは、試料光路４上に配置された試料用セルＳＢ、ＳＳ、ＳＮ、ＳＦに入射しさらには透過することができる。
【００１５】
対照用セルポジショナ８は、複数の対照用セル（レファレンスセル：Reference Cell）、すなわち、ブランクセルＲＢ、減光板セルＲＡを配置（装着）でき位置決めできる複数の対照用枠、すなわち、ＲＢ用枠８１、ＲＡ用枠８２を備えている。対照用セルポジショナ８は、対照用枠８１、８２を一括して移動させることで、対照光路５上に配置する対照用セルＲＢ、ＲＡを入れ替えることができる。そして、対照光ＬＲは、対照光路５上に配置された対照用セルＲＢ、ＲＡに入射しさらには透過することができる。
【００１６】
なお、対照用枠８１、８２の一括移動の方向は、対照光路５の方向に垂直な方向であり、試料用枠７１、７２、７３、７４の一括移動の方向は、試料光路４の方向に垂直な方向である。これらの一括移動は、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７に内蔵されたパルスモータ（図示省略）によって行われ、対照用枠８１等と試料用枠７１の幅分の距離の移動を繰り返すことにより目的の対照用セルＲＢ等および試料用セルＳＢ等を、対照光路５上および試料光路４上に置くことが可能である。このように、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７によれば、１方向の往復移動で、対照用セルＲＢ等と試料用セルＳＢ等の切り替えが可能であり、短時間の移動が可能である。対照用セルＲＢ等と試料用セルＳＢ等の大きさを同じにして規格化することにより、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７の規格化も可能になり、対照用セルＲＢ等と試料用セルＳＢ等、さらには、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７を安価に提供することができる。
【００１７】
制御部ＣＯＮＴは、制御プログラムにより、対照用セルポジショナ８上の複数の対照用セルＲＢ、ＲＡを対照光路５上に移動させ相互に切り替えることができる。制御部ＣＯＮＴは、制御プログラムにより、試料用セルポジショナ７上の複数の試料用セルＳＢ、ＳＳ、ＳＮ、ＳＦを試料光路４上に移動させ相互に切り替えることができる。
【００１８】
光検出器ＰＭＴに入射した試料光ＬＳと対照光ＬＲとは、光検出器ＰＭＴによって検出され、光量に応じた電気信号、試料信号Ｓと対照信号Ｒとに変換される。試料信号Ｓと対照信号Ｒは、制御部ＣＯＮＴのデータ処理部ＤＰに送信される。また、光検出器ＰＭＴは、セクターミラーＭ３の円板のシャッタ部の回転に同期したタイミングで光検出器ＰＭＴから得られるゼロ信号Ｚを、データ処理部ＤＰに送信する。なお、ゼロ信号Ｚは、図示を省略したが前記フィルタＦＬＴ近傍に配置されたゼロチョッパの回転に同期したタイミングで光検出器ＰＭＴから受信してもよい。
【００１９】
制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１と第２分光器ＭＯ２を制御して単色光Ｌ０の波長を変え、光検出器ＰＭＴが検出する検出結果である対照信号Ｒと試料信号Ｓとゼロ信号Ｚに基づいて、試料光路４上に配置された試料用セルＳＢ等の透過率Ｔと、対照信号Ｒのエネルギ強度Ｅ（Ｒ）と、吸光度Ａｂｓを算出する。具体的に、データ処理部ＤＰは、セクターミラーＭ３の回転に同期して光検出器ＰＭＴから得られる対照信号Ｒと試料信号Ｓとゼロ信号Ｚとを、式Ｔ＝（Ｓ−Ｚ）／（Ｒ−Ｚ）に代入して計算することにより、透過率Ｔを算出する。また、データ処理部ＤＰは、対照信号Ｒのエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を、式Ｅ（Ｒ）＝Ｓ−Ｚを用いて計算し、吸光度Ａｂｓを、式Ａｂｓ＝−Ｌｏｇ（Ｔ）を用いて計算する。このようにして、制御部ＣＯＮＴは、単一波長における透過率Ｔ、対照信号Ｒのエネルギ強度Ｅ（Ｒ）、吸光度Ａｂｓを測定したり、所定の波長域の透過率スペクトル、対照信号Ｒのエネルギスペクトル、吸光度スペクトルを測定したりすることができる。なお、詳細は後記するが、分光光度計の検定の１０個の検定項目の内、１）波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定と、２）波長正確さ（水銀（Ｈｇ）ランプ）検定と、３）波長設定繰返し精度検定と、４）バンドパス／分解検定とでは、対照信号Ｒのエネルギ強度Ｅ（Ｒ）が測定され、５）迷光検定では、透過率Ｔが測定され（具体的には、透過率Ｔを１００倍した透過率％Ｔが測定され）、６）測光正確さ検定と、７）測光繰返し精度検定と、８）ベースライン平坦度検定と、９）ベースライン安定性検定と、１０）ノイズレベル検定とでは、吸光度Ａｂｓが測定される。
【００２０】
制御部ＣＯＮＴには、入力部ＩＮＰと、表示部ＤＩＳＰが接続されている。表示部ＤＩＳＰは、例えば、モニタであり、透過率等の測定値が表示されるとともに、分光光度計１で測定、精度管理、検定などを行う場合は、その操作手順に準じた指示が表示される。入力部ＩＮＰは、キーボードやマウス等の入力手段であり、測定、精度管理、検定などで、表示部ＤＩＳＰに表示される指示を選択するのに使用される。
【００２１】
図２（ａ）に、対照用セルのブランクセルＲＢの斜視図を示す。ブランクセルＲＢには、溶液の入っていない、空の透明容器９を用いることができる。このブランクセルＲＢによれば、ブランクセルＲＢに入射した光の光量に対して、出射した光の光量が減じることがない。また、ブランクセルＲＢには、ブランクセルＲＢを他のセルから識別可能な位置に突起１１が設けられている。ブランクセルＲＢには、測定者に他のセルと識別可能なように、識別子、例えばＲＢのような文字が付されている。
【００２２】
図２（ｂ）に、対照用セルの減光板セルＲＡの斜視図を示す。減光板セルＲＡにも、ブランクセルＲＢに用いたのと同じ構造の透明容器９が用いられている。透明容器９の光路方向に対して法線が平行な方向の壁面（出射面）には、減光板１２が設けられている。この減光板１２によれば、減光板１２に入射した光の光量に対して、出射した光の光量の比を１％に減じることができる。また、減光板セルＲＡには、減光板セルＲＡを他のセルから識別可能な位置に突起１１が設けられ、測定者に他のセルと識別可能なように、識別子、例えばＲＡのような文字が付されている。
【００２３】
図２（ｃ）に、試料用セルのブランクセルＳＢの斜視図を示す。ブランクセルＳＢにも、ブランクセルＲＢに用いたのと同じ構造の透明容器９が空のまま用いられている。また、ブランクセルＳＢには、ブランクセルＳＢを他のセルから識別可能な位置に突起１１が設けられ、測定者に他のセルと識別可能なように、識別子、例えばＳＢのような文字が付されている。
【００２４】
図２（ｄ）に、試料用セルのシャッタセルＳＳの斜視図を示す。シャッタセルＳＳは、黒色体であり、光を透過しない構造になっている。シャッタセルＳＳの寸法は、透明容器９の外形寸法と等しくなっている。また、シャッタセルＳＳには、シャッタセルＳＳを他のセルから識別可能な位置に突起１１が設けられ、測定者に他のセルと識別可能なように、識別子、例えばＳＳのような文字が付されている。
【００２５】
図２（ｅ）に、試料用セルの溶液入りセルＳＮの斜視図を示す。溶液入りセルＳＮにも、ブランクセルＲＢに用いたのと同じ構造の透明容器９が用いられている。溶液入りセルＳＮには、溶液１５が入れられている。溶液１５には、ヨウ化ナトリウム（ＮａＩ）水溶液、又は、亜硝酸ナトリウム（ＮａＮＯ２）水溶液を用いることができる。なお、ヨウ化ナトリウム水溶液には、ヨウ化ナトリウム、１×１０−２ｋｇに精製水を加えて溶解し、全量を１リットル（１×１０−３ｍ３）にした規定濃度の水溶液が用いられる。亜硝酸ナトリウムの溶液には、亜硝酸ナトリウム、５×１０−２ｋｇに精製水を加えて溶解し、全量を１リットル（１×１０−３ｍ３）にした規定濃度の水溶液が用いられる。また、溶液入りセルＳＮには、溶液入りセルＳＮを他のセルから識別可能な位置に突起１１が設けられ、測定者に他のセルと識別可能なように、識別子、例えばＳＮのような文字が付されている。
【００２６】
図２（ｆ）に、試料用セルのフィルタセルＳＦの斜視図を示す。フィルタセルＳＦにも、ブランクセルＲＢに用いたのと同じ構造の透明容器９が用いられている。透明容器９には、フィルタ１３が挿入されている。フィルタ１３は、光路方向に対して表面の法線方向が平行（一定）になるように、支板１４で支持されている。また、フィルタセルＳＦには、フィルタセルＳＦを他のセルから識別可能な位置に突起１１が設けられ、測定者に他のセルと識別可能なように、識別子、例えばＳＦのような文字が付されている。
【００２７】
図３（ａ）に、試料室６（図１参照）における対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７の配列図を示す。対照用セルポジショナ８は、２つのセル配置用の枠、ＲＢ用枠８１と、ＲＡ用枠８２とを有する。試料用セルポジショナ７は、４つのセル配置用の枠、ＳＢ用枠７１と、ＳＳ用枠７２と、ＳＮ用枠７３と、ＳＦ用枠７４とを有する。対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とでは、設けられているセル配置用の枠の数が２つと４つとで異なるので、測定者は、容易に対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７を識別することができる。また、各枠８１、８２、７１〜７４には、対応するセルＲＢ等を他のセルから識別可能な位置にマイクロスイッチ１６が設けられている。また、測定者に配置すべきセルが容易に確認できるように、識別子、例えばＲＢ用枠のような文字が、各枠８１、８２、７１〜７４に付されている。
【００２８】
図３（ｂ）に、図３（ａ）の６つの枠８１、８２、７１〜７４に対応させて配列した、対照用セルのブランクセルＲＢおよび減光板セルＲＡと、試料用セルのブランクセルＳＢ、シャッタセルＳＳ、溶液入りセルＳＮおよびフィルタセルＳＦを示す。セル数と枠数とが一致しているので、測定者による、セルＲＢ等と枠８１等とを対応付けての、枠８１等へのセルＲＢ等の配置を容易にしている。
【００２９】
図３（ｃ）に、ブランクセルＲＢおよび減光板セルＲＡを配置させた対照用セルポジショナ８と、ブランクセルＳＢ、シャッタセルＳＳ、溶液入りセルＳＮおよびフィルタセルＳＦを配置させた試料用セルポジショナ７の配列図を示す。枠８１等に対応付けられたセルＲＢ等が配置されると、突起１１がマイクロスイッチ１６をオンする。逆に、対応付けられていないセルが配置されると、突起１１とマイクロスイッチ１６の位置関係によって突起はマイクロスイッチ１６をオンできない。制御部ＣＯＮＴは、マイクロスイッチ１６がオンしていないことを検知することで、枠８１等に対応付けられたセルＲＢ等が配置されていないと判定することができる。
【００３０】
図４に、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７のそれぞれのポジションの組合せを示す。第１ポジションとしては、対照用セルポジショナ８によって、対照光路５上にブランクセルＲＢを配置し、試料用セルポジショナ７によって、試料光路４上にブランクセルＳＢを配置している。そして、対照用セルポジショナ８を移動させることにより、第１ポジションから第２ポジションに移行させることができる。
【００３１】
第２ポジションとしては、対照用セルポジショナ８によって、対照光路５上に減光板セルＲＡを配置し、試料用セルポジショナ７によって、試料光路４上にブランクセルＳＢを配置している。そして、試料用セルポジショナ７を移動させることにより、第２ポジションから第３ポジションに移行させることができる。
【００３２】
第３ポジションとして、対照用セルポジショナ８によって、対照光路５上に減光板セルＲＡを配置し、試料用セルポジショナ７によって、試料光路４上にシャッタセルＳＳを配置している。試料用セルポジショナ７を移動させることにより、第３ポジションから第４ポジションに移行させることができる。
【００３３】
第４ポジションとして、対照用セルポジショナ８によって、対照光路５上に減光板セルＲＡを配置し、試料用セルポジショナ７によって、試料光路４上に溶液入りセルＳＮを配置している。対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７を移動させることにより、第４ポジションから第５ポジションに移行させることができる。
【００３４】
第５ポジションとして、対照用セルポジショナ８によって、対照光路５上にブランクセルＲＢを配置し、試料用セルポジショナ７によって、試料光路４上にブランクセルＳＢを配置している。なお、第５ポジションのセル配置は第１ポジションのセル配置と同じになっている。試料用セルポジショナ７を移動させることにより、第５ポジションから第６ポジションに移行させることができる。
【００３５】
第６ポジションとして、対照用セルポジショナ８によって、対照光路５上にブランクセルＲＢを配置し、試料用セルポジショナ７によって、試料光路４上にフィルタセルＳＦを配置している。なお、それぞれのポジションがどのようなタイミングで設定されるかは後記する。
【００３６】
図５、図６、図７に、分光光度の測定方法のフローチャートを示す。
ステップＳ１で、制御部ＣＯＮＴは、検定を行うのか、試料の測定を行うのかの選択を測定者に促す表示を表示部（モニタ）ＤＩＳＰに行う。具体的には、図８に示すような表示ウィンドウが、表示部ＤＩＳＰに表示される。表示ウィンドウには、「検定を行う場合は、「検定」をクリックして下さい。試料の測定を行う場合には、「測定」をクリックして下さい。」の文言表示が記載され、測定者は、この文言表示を読むことにより、入力部ＩＮＰのマウスやキーボードを用いて、検定を行う場合は「検定」をクリックし、試料の測定を行う場合は「測定」をクリックする。入力部ＩＮＰは、検定か測定かの選択に関する入力を行ったことになる。
【００３７】
ステップＳ２で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による、入力部ＩＮＰからの、検定か測定かの選択に関する入力を、受信する。
【００３８】
ステップＳ３で、制御部ＣＯＮＴは、検定か測定かの選択に関する入力に基づいて、測定者が検定を行うのか測定を行うのか判定する。検定が行われると判定した場合（ステップＳ３、検定）は、ステップＳ４に進み、測定が行われると判定した場合（ステップＳ３、測定）は、図７に記載のステップＳ２２に進む。
【００３９】
ステップＳ４で、制御部ＣＯＮＴは、今回の検定で行わない検定項目があれば除くことを測定者に促す表示を表示部ＤＩＳＰに行う。具体的には、図９に示すような表示ウィンドウが、表示部ＤＩＳＰに表示される。表示ウィンドウには、１０個の検定項目の一覧表が表示される。検定項目毎に、実施すべき頻度が表示され、選択欄が設けられる。頻度には、その検査項目を実施すべき、頻度、例えば、毎日１回とか、週に１回とかが表示されている。選択欄にチェックがあるとその検定項目は制御部ＣＯＮＴによって実施されることになる。当初、全ての検定項目の選択欄にはチェックが設けられている。表示ウィンドウには、「今回の検定で行わない検定項目があればチェックをはずして下さい。なければそのまま「次へ」をクリックして下さい。」の文言が表示され、測定者は、この文言を読むことにより、入力部ＩＮＰのマウスやキーボードを用いて、前記頻度を参照しながら、今回検定を行わない検定項目の選択欄をクリックしてチェックをはずし、「次へ」をクリックする。入力部ＩＮＰは、今回検定を行わない検定項目に関する入力を行ったことになる。
【００４０】
ステップＳ５で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部ＩＮＰからの、今回検定を行わない検定項目に関する入力を受信する。
【００４１】
ステップＳ６で、制御部ＣＯＮＴは、入力部ＩＮＰからの入力に基づいて、今回の検定で行う検定項目を決定する。
【００４２】
ステップＳ７で、制御部ＣＯＮＴは、決定した今回の検定で行う検定項目に基づいて、今回の検定で行う検定項目を実施するのに必要なセルＲＢ等を決定する。この決定のためには、予め、検定項目毎に必要なセルＲＢ等を決定したデータベースを用意しておけばよい。制御部ＣＯＮＴは、試料用セルポジショナ７にセットするセルを決定し、対照用セルポジショナ８にセットするセルＲＢ等を決定したことになる。
【００４３】
ステップＳ８で、制御部ＣＯＮＴは、決定したセルＲＢ等の試料用セルポジショナ７と対照用セルポジショナ８の所定の位置へのセットを、測定者に依頼する（促す）表示を表示部ＤＩＳＰに行う。具体的には、図１０に示すような表示ウィンドウが、表示部ＤＩＳＰに表示される。表示ウィンドウには、枠が表示された対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７の配列が表示され、それぞれの枠毎に対応するセルＲＢ等明確になるように、それぞれの枠とセルとが一対一に関係付けられて表示されている。表示ウィンドウには、「上のようにセルをセットしてください」の文言が表示され、測定者は、この文言を読むことにより、試料用セルポジショナ７と対照用セルポジショナ８にセルを容易にセットすることができる。なお、表示されるセルは、ステップＳ７で決定した今回の検定で行う検定項目を実施するのに必要なセルのみで十分であるが、全ての検定項目を実施するのに必要なセルを一律セットしてもよい。
【００４４】
また、制御部ＣＯＮＴは、セットの終了後に、セットのチェックに関する入力を測定者に促す表示を、表示部ＤＩＳＰに行う。具体的には、図１０に示すように、表示ウィンドウに、「セットが終わりましたら正しくセットされたかチェックしますので「自動チェック」をクリックして下さい」の文言が表示され、測定者は、この文言を読むことにより、セットの終了後に、入力部ＩＮＰのマウスやキーボードを用いて、「自動チェック」をクリックすることができる。入力部ＩＮＰは、自動チェックをスタートするための入力を行ったことになる。
【００４５】
ステップＳ９で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部からの、セット終了に伴う自動チェックに関する入力を受信する。
【００４６】
ステップＳ１０で、制御部ＣＯＮＴは、各枠８１等（図１参照）におけるセルＲＢ等のセットの状態を示す状態信号に基づいて、今回の検定でセルが配置されるべき枠８１等すべてに対応するセルＲＢ等がセットされているか否か判定する。なお、この状態信号には、前記マイクロスイッチ１６のオン、オフの信号を用いることができる。マイクロスイッチ１６がオンであれば、対応する枠にセルが正しくセットされていると判定することができる。今回の検定に必要なセルを配置する全ての枠８１等にセルＲＢ等が正しく配置されているときは（ステップＳ１０、Ｙｅｓ）、ステップＳ１４に進み、正しく配置されていないときは（ステップＳ１０、Ｎｏ）、ステップＳ１１に進む。
【００４７】
ステップＳ１１で、制御部ＣＯＮＴは、各枠８１等におけるセルＲＢ等のセットの状態を示す状態信号に基づいて、正しくセットされていない枠およびセルを決定する。
【００４８】
ステップＳ１２で、制御部ＣＯＮＴは、例えば図１１に示すように、正しくセットされていない枠およびセルＳＳを、正しくセットされていない旨と共に、矢印等で他の枠およびセルと区別して表示部ＤＩＳＰに表示し、正しくセットされていない枠およびセルＳＳを再度セットするように、測定者に依頼する表示を表示部ＤＩＳＰに行う。また、制御部ＣＯＮＴは、測定者による再セットの終了後に、セットの再チェックに関する入力を測定者に依頼する表示を、表示部ＤＩＳＰに行う。測定者は、これらの表示を読むことにより、再セットを実施し、入力部ＩＮＰのマウスやキーボードを用いて、「自動チェック」をクリックする。入力部ＩＮＰは、自動チェックをスタートするための入力を行ったことになる。
【００４９】
ステップＳ１３で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部ＩＮＰからの、再セットの自動チェックに関する入力を受信する。ステップＳ１３で受信の後に、ステップＳ１０に戻る。ステップＳ１０からステップＳ１３まではループになっており、今回の検定に必要なセルを配置する全ての枠８１等にセルＲＢ等が正しく配置され（ステップＳ１０、Ｙｅｓ）、ステップＳ１４に進むまで、ループが繰り返される。前記のように、セルのセットは、全ての検定項目の実施がスタートされる前に行われるので、個々の検定項目毎にセルをセットする必要がなく、全ての検定項目分のセットを一括して実施でき、測定者の負担を軽減することができる。
【００５０】
ステップＳ１４で、制御部ＣＯＮＴは、各検定項目の実施に要する時間を予めテーブル等で記憶しておき、今回の検定で行う各検定項目の実施に要する時間を、前記テーブル等から読み出して足し合わせた和を検定時間として算出する。制御部ＣＯＮＴによれば、ある検定項目の実施終了後、次の検定項目の実施のスタート前に、測定者によるセルＲＢ等の入れ替えを行わなくてよく、ある検定項目の実施終了によって、次の検定項目の実施をスタートさせることができるので、算出された検定時間は、実際に要する検定時間に一致し、測定者は、容易に正確な測定（作業）スケジュールを立案することができる。なお、検定項目の実施毎に、測定者によるセルＲＢ等の入れ替えを行わなくてよいのは、全ての検定項目の実施がスタートされる前に、全ての検定項目に必要なセルが一括してセットされているからであり、さらに、後記するが個々の検定項目の実施では、制御部ＣＯＮＴが必要なセルの入れ替えを行うからである。
【００５１】
そこで、ステップＳ１５で、制御部ＣＯＮＴは、図１２に示す「検定には１時間２０分間程度かかります」のように、検定時間を表示部ＤＩＳＰに表示するとともに、検定を今スタートさせるのか、後でスタートさせるのか、の選択を、測定者に依頼する表示を表示部ＤＩＳＰに行う。測定者は、検定を今スタートさせる場合は「スタート」をクリックし、後でスタートさせる場合は「後で行う」をクリックすることになる。
【００５２】
ステップＳ１６で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部ＩＮＰからの検定のスタートのタイミングに関する入力を受信する。
【００５３】
ステップＳ１７で、制御部ＣＯＮＴは、スタートのタイミングに関する入力に基づいて、測定者が検定を今スタートさせるのか、スタートさせないのか（後でスタートさせるのか）、判定する。ステップＳ１７でスタートさせないと判定した場合（ステップＳ１７、Ｎｏ）は、ステップＳ１に戻り、ステップＳ１７でスタートさせると判定した場合（ステップＳ１７、Ｙｅｓ）は、図６のステップＳ１８に進む。
【００５４】
ステップＳ１８で、制御部ＣＯＮＴは、今回検定を行う検定項目を所定の順番に実施する。例えば、図６に示すように、ステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定、ステップＳ２００の波長正確さ（水銀（Ｈｇ）ランプ）検定、ステップＳ３００の波長設定繰返し精度検定、ステップＳ４００のバンドパス／分解検定、ステップＳ５００の迷光検定、ステップＳ６００の測光正確さ検定、ステップＳ７００の測光繰返し精度検定、ステップＳ８００のベースライン平坦度検定、ステップＳ９００のベースライン安定性検定、ステップＳ１０００のノイズレベル検定の順に実施する。なお、各検定項目の実施内容の詳細は後記する。
【００５５】
ステップＳ１８の検定項目の実施中に、ステップＳ１９で、制御部ＣＯＮＴは、図１３に示すような、検定項目の一覧表の表示を表示部ＤＩＳＰに行う。一覧表には、今回の検定で実施される検定項目をチェックにより示す選択欄が設けられている。また、一覧表には、検定項目毎に、検定値が表示される欄と、検定終了日時が表示される欄と、検定結果が表示される欄が設けられている。
【００５６】
ステップＳ２０で、制御部ＣＯＮＴは、検定項目の実施が終了すると、その終了した検定項目の検定結果の欄に、検定結果として得られた合否を表示する。また、制御部ＣＯＮＴは、検定項目の実施が終了すると、その終了した検定項目の検定終了日時の欄に、その検定項目の実施が終了した日時を表示する。また、制御部ＣＯＮＴは、検定項目の実施が終了すると、その終了した検定項目の検定値の欄に、検定結果を得るために行った、許容範囲に入っているか否かの判定に用いられた検定値を表示する。検定項目が終了するたびに、検定結果等が表示されることで、測定者は、分光光度計１の稼動の現状を理解することができ、検定結果に不合格があれば、早期に対応することが可能になる。
【００５７】
また、ステップＳ１８の検定項目の実施中に、ステップＳ２１で、制御部ＣＯＮＴは、図１４に示すように、検定中のリアルタイムに、試料光路４（図１参照）上に、どのセルが位置しているのかの表示を表示部ＤＩＳＰに行う。また、制御部ＣＯＮＴは、検定中のリアルタイムに、対照光路５（図１参照）上に、どのセルが位置しているのかの表示を表示部ＤＩＳＰに行う。試料光路４上のセルと、対照光路５上のセルが、表示されることで、測定者は、分光光度計１の稼動の現状を理解することができ、不具合があれば早期に対応することが可能になる。前記で検定（分光光度の測定方法）が終了するが、ステップ１に戻り試料の測定のために待機してもよい。
【００５８】
次に、ステップＳ３で測定と判定された場合について説明する。
【００５９】
図７のステップＳ２２で、制御部ＣＯＮＴは、図１５に示すように、測定に減光板セルＲＡを使うのか否かの選択を、測定者に依頼する表示を表示部ＤＩＳＰに行う。測定者は、減光板セルＲＡを使う場合は「Ｙｅｓ」をクリックし、減光板セルＲＡを使わない場合は「Ｎｏ」をクリックすることになる。
【００６０】
ステップＳ２３で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部ＩＮＰからの減光板セルＲＡの使用に関する入力を受信する。
【００６１】
ステップＳ２４で、制御部ＣＯＮＴは、減光板セルＲＡの使用に関する入力に基づいて、減光板セルＲＡを使用するのか否か判定する。ステップＳ２４で減光板セルＲＡを使用する場合（ステップＳ２４、Ｙｅｓ）は、ステップＳ２５に進み、使用しない場合（ステップＳ２４、Ｎｏ）は、ステップＳ２６に進む。
【００６２】
ステップＳ２５で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８（図１参照）によって対照光路５上に減光板セルＲＡを移動させる。
【００６３】
ステップＳ２６で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させる。
【００６４】
ステップＳ２７で、制御部ＣＯＮＴは、図１５に示すように、測定する試料の数の設定を測定者に促す表示、「試料数はいくつですか？」を、表示部ＤＩＳＰに行う。測定者は、所望の試料数を入力部ＩＮＰから入力する。
【００６５】
ステップＳ２８で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部ＩＮＰから入力された試料数を受信する。
【００６６】
ステップＳ２９で、制御部ＣＯＮＴは、試料数に基づいて、試料毎に、各試料が入ったセルを配置する試料用セルポジショナ７内の枠７１等（図１参照）を決定する。
【００６７】
ステップＳ３０で、制御部ＣＯＮＴは、試料毎に、決定した試料用セルポジショナ７内の枠への試料の入ったセルのセットを、測定者に依頼する表示、例えば、図１５に示すような、試料用セルポジショナ７の枠に測定順を表示した図と「試料を測定順につめてセットして下さい」の表示を表示部ＤＩＳＰに行う。また、測定者は、試料名を入力部ＩＮＰから入力することで、制御部ＣＯＮＴは、試料に試料名を設定することができる。そして、測定者は、「「測定スタート」をクリックすると測定がスタートします」の表示により、測定をスタートさせるために、入力部ＩＮＰを用いて「測定スタート」をクリックする。
【００６８】
ステップＳ３１で、制御部ＣＯＮＴは、測定者による入力部ＩＮＰからの、試料のセット終了に伴う測定スタートに関する入力を受信する。
【００６９】
ステップＳ３２で、制御部ＣＯＮＴは、試料毎に、試料用セルポジショナ７で、試料の入ったセルを試料光路４上に移動させては、透過率測定を実施する。前記で測定（分光光度の測定方法）が終了するが、ステップＳ１に戻り試料の測定、あるいは検定のために待機してもよい。
【００７０】
次に、ステップＳ１８の検定項目の実施で行われる、個々の検定項目の実施内容について説明する。
【００７１】
図１６に示すように、ステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定では、まず、ステップＳ１１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第１ポジションに設定される。
【００７２】
ステップＳ１２０で、制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１等を制御して、Ｄ２ランプ光源の６５６．１ｎｍと４８６．０ｎｍの少なくともどちらか一方の輝線波長を含めた前後の波長域の対照信号Ｒのエネルギ強度Ｅ（Ｒ）のエネルギスペクトルを測定する。
【００７３】
ステップＳ１３０で、制御部ＣＯＮＴは、制御部ＣＯＮＴ内のデータ処理部ＤＰで、前記波長域の測定波長毎に測定したエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を記憶する。
【００７４】
ステップＳ１４０で、データ処理部ＤＰは、前記波長域でエネルギ強度Ｅ（Ｒ）が最大となるピーク透過率を抽出する。
【００７５】
ステップＳ１５０で、データ処理部ＤＰは、エネルギ強度Ｅ（Ｒ）が前記ピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）となる測定波長をピーク波長として抽出する。
【００７６】
ステップＳ１６０で、データ処理部ＤＰは、このピーク波長と前記輝線波長との差を算出する。
【００７７】
ステップＳ１７０で、データ処理部ＤＰは、この差が許容範囲内であるか否か判定する。差が許容範囲内であれば（ステップＳ１７０、Ｙｅｓ）、ステップＳ１８０へ進み、差が許容範囲外であれば（ステップＳ１７０、Ｎｏ）、ステップＳ１９０へ進む。
【００７８】
ステップＳ１８０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値としてピーク波長と輝線波長との差を表示することになる。
【００７９】
ステップＳ１９０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、ステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値としてピーク波長と輝線波長との差を表示することになる。
【００８０】
前記で、ステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【００８１】
図１７に示すように、ステップＳ２００の波長正確さ（水銀ランプ）検定では、まず、ステップＳ２１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第１ポジションに設定される。
【００８２】
ステップＳ２２０で、制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１等を制御して、水銀ランプ光源（図１で図示を省略している）の５４６．１ｎｍと４３５．８ｎｍと２５３．７ｎｍの少なくとも１つの輝線波長を含めた前後の波長域のエネルギ強度Ｅ（Ｒ）のエネルギスペクトルを測定する。
【００８３】
ステップＳ２３０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、前記波長域の測定波長毎に測定したエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を記憶させる。
【００８４】
ステップＳ２４０で、データ処理部ＤＰは、前記波長域でエネルギ強度Ｅ（Ｒ）が最大となるピーク透過率を抽出する。
【００８５】
ステップＳ２５０で、データ処理部ＤＰは、エネルギ強度Ｅ（Ｒ）が前記ピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）となる測定波長をピーク波長として抽出する。
【００８６】
ステップＳ２６０で、データ処理部ＤＰは、このピーク波長と前記輝線波長との差を算出する。
【００８７】
ステップＳ２７０で、データ処理部ＤＰは、この差が許容範囲内であるか否か判定する。差が許容範囲内であれば（ステップＳ２７０、Ｙｅｓ）、ステップＳ２８０へ進み、差が許容範囲外であれば（ステップＳ２７０、Ｎｏ）、ステップＳ２９０へ進む。
【００８８】
ステップＳ２８０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「波長正確さ（水銀ランプ）検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値としてピーク波長と輝線波長との差を表示することになる。
【００８９】
ステップＳ２９０で、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「波長正確さ（水銀ランプ）検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、ステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値としてピーク波長と輝線波長との差を表示することになる。
【００９０】
前記で、ステップＳ２００の波長正確さ（水銀ランプ）検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【００９１】
図１８に示すように、ステップＳ３００の波長設定繰返し精度検定では、まず、ステップＳ３１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第１ポジションに設定される。
【００９２】
ステップＳ３２０で、制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１等を制御して、Ｄ２ランプ光源の前記輝線波長を含めた前後の波長域のエネルギ強度Ｅ（Ｒ）のエネルギスペクトルを、複数回測定する。
【００９３】
ステップＳ３３０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、前記波長域の測定波長毎に測定したエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を、前記複数回分記憶させる。
【００９４】
ステップＳ３４０で、データ処理部ＤＰは、各回毎に、前記波長域でエネルギ強度Ｅ（Ｒ）が最大となるピーク透過率を抽出する。
【００９５】
ステップＳ３５０で、データ処理部ＤＰは、各回毎に、エネルギ強度Ｅ（Ｒ）が前記ピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）となる測定波長をピーク波長として抽出する。
【００９６】
ステップＳ３６０で、データ処理部ＤＰは、複数のピーク波長のばらつき（たとえば、複数のピーク波長の最大値と最小値の差や、複数のピーク波長の偏差等）を算出する。
【００９７】
ステップＳ３７０で、データ処理部ＤＰは、このばらつきが許容範囲内であるか否か判定する。ばらつきが許容範囲内であれば（ステップＳ３７０、Ｙｅｓ）、ステップＳ３８０へ進み、ばらつきが許容範囲外であれば（ステップＳ３７０、Ｎｏ）、ステップＳ３９０へ進む。
【００９８】
ステップＳ３８０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「波長設定繰返し精度検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数のピーク波長のばらつきを表示することになる。
【００９９】
ステップＳ３９０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「波長設定繰返し精度検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数のピーク波長のばらつきを表示することになる。
【０１００】
前記で、ステップＳ３００の波長設定繰返し精度検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１０１】
図１９に示すように、ステップＳ４００のバンドパス／分解検定では、まず、ステップＳ４１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第１ポジションに設定される。
【０１０２】
ステップＳ４２０で、制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１等を制御して、Ｄ２ランプ光源の輝線の前記輝線波長を含めた前後の波長域のエネルギ強度Ｅ（Ｒ）のエネルギスペクトルを測定する。
【０１０３】
ステップＳ４３０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、前記波長域の測定波長毎にエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を記憶させる。
【０１０４】
ステップＳ４４０で、データ処理部ＤＰは、前記波長域でエネルギ強度Ｅ（Ｒ）が最大となるピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を抽出する。
【０１０５】
ステップＳ４５０で、データ処理部ＤＰは、前記ピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）の半分のエネルギ強度Ｅ（Ｒ）である半値エネルギ強度Ｅ（Ｒ）を算出する。
【０１０６】
ステップＳ４６０で、データ処理部ＤＰは、エネルギ強度Ｅ（Ｒ）が前記半値エネルギ強度Ｅ（Ｒ）となる２つの測定波長を半値波長として抽出する。
【０１０７】
ステップＳ４７０で、データ処理部ＤＰは、２つの半値波長の差を算出する。
【０１０８】
ステップＳ４８０で、データ処理部ＤＰは、この差が許容範囲内であるか否か判定する。差が許容範囲内であれば（ステップＳ４８０、Ｙｅｓ）、ステップＳ４９０へ進み、ばらつきが許容範囲外であれば（ステップＳ４８０、Ｎｏ）、ステップＳ４９１へ進む。
【０１０９】
ステップＳ４９０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「バンドパス／分解検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として２つの半値波長の差を表示することになる。
【０１１０】
ステップＳ４９１で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「バンドパス／分解検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として２つの半値波長の差を表示することになる。
【０１１１】
前記で、ステップＳ４００のバンドパス／分解検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１１２】
図２０に示すように、ステップＳ５００の迷光検定では、まず、ステップＳ５０１で、制御部ＣＯＮＴは、図２１に示すように、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第１ポジションに設定される。
【０１１３】
ステップＳ５０２で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長（例えば、ヨウ化ナトリウムの溶液入りセルＳＮを用いる場合は波長２２０ｎｍ以下の波長、又、亜硝酸ナトリウムの溶液入りセルＳＮを用いる場合は波長３４０ｎｍ以下の波長）において、オートゼロを実行する。具体的には、前記所定の波長における透過率を算出し、その透過率が１００％になるように校正値を算出し記憶する。
【０１１４】
ステップＳ５０３で、制御部ＣＯＮＴは、図２１に示すように、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上に減光板セルＲＡを移動させる。この減光板セルＲＡは光量を１％に減光することができる。そして、この移動により、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、第１ポジションから移行し、図４に示す第２ポジションに設定される。
【０１１５】
ステップＳ５０４で、制御部ＣＯＮＴは、前記所定の波長について、所定の時間（例えば６０秒間）、透過率（対照信号Ｒ、試料信号Ｓ、ゼロ信号Ｚ）の時間変化測定を実施し、前記校正値で校正した測定結果を記憶する。
【０１１６】
ステップＳ５０５で、制御部ＣＯＮＴは、図２１に示すように、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にシャッタセルＳＳを移動させる。この移動により、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、第２ポジションから移行し、図４に示す第３ポジションに設定される。
【０１１７】
ステップＳ５０６で、制御部ＣＯＮＴは、前記所定の波長について、所定の時間（例えば６０秒間）、透過率（対照信号Ｒ、試料信号Ｓ、ゼロ信号Ｚ）の時間変化測定を実施し、前記校正値で校正した測定結果を記憶する。
【０１１８】
ステップＳ５０７で、制御部ＣＯＮＴは、図２１に示すように、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上に溶液入りセルＳＮを移動させる。この移動により、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、第３ポジションから移行し、図４に示す第４ポジションに設定される。
【０１１９】
ステップＳ５０８で、制御部ＣＯＮＴは、前記所定の波長について、所定の時間（例えば６０秒間）、透過率（対照信号Ｒ、試料信号Ｓ、ゼロ信号Ｚ）の時間変化測定を実施し、前記校正値で校正した測定結果を記憶する。
【０１２０】
ステップＳ５０９で、制御部ＣＯＮＴは、ステップＳ５０４、ステップＳ５０６、ステップＳ５０８の測定結果に基づいて、迷光計算を実施し、迷光量を算出する。
【０１２１】
ステップＳ５１０で、制御部ＣＯＮＴのデータ処理部ＤＰは、この迷光量が許容範囲内であるか否か判定する。迷光量が許容範囲内であれば（ステップＳ５１０、Ｙｅｓ）、ステップＳ５１１へ進み、迷光量が許容範囲外であれば（ステップＳ５１０、Ｎｏ）、ステップＳ５１２へ進む。
【０１２２】
ステップＳ５１１で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「迷光検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として迷光量を表示することになる。
【０１２３】
ステップＳ５１２で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「迷光検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として迷光量を表示することになる。
【０１２４】
ステップＳ５１３で、制御部ＣＯＮＴは、図２１に示すように、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動により、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、第４ポジションから移行し、図４に示す第５ポジションに設定される。
【０１２５】
ステップＳ５１４で、制御部ＣＯＮＴは、オートゼロを実行する。前記で、ステップＳ５００の迷光検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、セルＲＢ等の入れ替えは、制御部ＣＯＮＴによって実施され、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１２６】
図２２に示すように、ステップＳ６００の測光正確さ検定では、まず、ステップＳ６１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にフィルタセルＳＦを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、第５ポジションから移行し、図４に示す第６ポジションに設定される。
【０１２７】
ステップＳ６２０で、制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１等を制御して、所定の波長の吸光度Ａｂｓを測定する。
【０１２８】
ステップＳ６３０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、この測定した吸光度Ａｂｓを記憶させる。
【０１２９】
ステップＳ６４０で、データ処理部ＤＰは、この測定した吸光度Ａｂｓと、事前に正確に測定された規定吸光度Ａｂｓとの差を算出する。
【０１３０】
ステップＳ６５０で、データ処理部ＤＰは、この差が許容範囲内であるか否か判定する。差が許容範囲内であれば（ステップＳ６５０、Ｙｅｓ）、ステップＳ６６０へ進み、差が許容範囲外であれば（ステップＳ６５０、Ｎｏ）、ステップＳ６７０へ進む。
【０１３１】
ステップＳ６６０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「測光正確さ」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として測定した吸光度Ａｂｓと規定吸光度Ａｂｓの差を表示することになる。
【０１３２】
ステップＳ６７０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「測光正確さ」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として測定した吸光度Ａｂｓと規定吸光度Ａｂｓの差を表示することになる。
【０１３３】
前記で、ステップＳ６００の測光正確さ検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１３４】
図２３に示すように、ステップＳ７００の測光繰返し精度検定では、まず、ステップＳ７１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にフィルタセルＳＦを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第６ポジションに設定される。
【０１３５】
ステップＳ７２０で、制御部ＣＯＮＴは、第１分光器ＭＯ１等を制御して、ステップＳ６２０と同じ所定の波長の吸光度Ａｂｓを、複数回測定する。
【０１３６】
ステップＳ７３０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、複数回分の測定した吸光度Ａｂｓを記憶させる。
【０１３７】
ステップＳ７４０で、データ処理部ＤＰは、複数回分の吸光度Ａｂｓのばらつき（例えば、最大値と最小値の差や、偏差等）を算出する。
【０１３８】
ステップＳ７５０で、データ処理部ＤＰは、このばらつきが許容範囲内であるか否か判定する。ばらつきが許容範囲内であれば（ステップＳ７５０、Ｙｅｓ）、ステップＳ７６０へ進み、ばらつきが許容範囲外であれば（ステップＳ７５０、Ｎｏ）、ステップＳ７７０へ進む。
【０１３９】
ステップＳ７６０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「測光繰返し精度検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数回分の吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１４０】
ステップＳ７７０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「測光繰返し精度検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数回分の吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１４１】
前記で、ステップＳ７００の測光繰返し精度検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１４２】
図２４に示すように、ステップＳ８００のベースライン平坦度検定では、まず、ステップＳ８１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、第６ポジションから移行し、図４に示す第１ポジションに設定される。
【０１４３】
ステップＳ８２０で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長域において、オートゼロ（ユーザベースラインの設定）を実行する。具体的には、オートゼロでは、ステップＳ８２１で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長域の吸光度Ａｂｓスペクトルを測定する。次に、ステップＳ８２２で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、前記波長域の測定波長毎に測定した吸光度Ａｂｓを記憶させる。最後に、ステップＳ８２３で、データ処理部ＤＰは、測定波長毎に吸光度Ａｂｓが０（ゼロ）になるように校正値を算出し記憶する。前記でオートゼロが終了する。
【０１４４】
ステップＳ８３０で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長域の吸光度Ａｂｓスペクトルを、複数回測定する。
【０１４５】
ステップＳ８４０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、校正値を用いて、各回毎に、前記波長域の測定波長毎に測定した吸光度Ａｂｓから、校正した吸光度Ａｂｓを算出する。
【０１４６】
ステップＳ８５０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、各回毎に、測定波長毎の校正した吸光度Ａｂｓを記憶させる。
【０１４７】
ステップＳ８６０で、データ処理部ＤＰは、各回毎に、校正した吸光度Ａｂｓのばらつき（校正した透過率の最大値と最小値の差や、偏差等）を算出する。
【０１４８】
ステップＳ８７０で、データ処理部ＤＰは、各回毎のばらつきが許容範囲内であるか否か判定する。各回毎のばらつきがすべて許容範囲内であれば（ステップＳ８７０、Ｙｅｓ）、ステップＳ８８０へ進み、許容範囲外のばらつきがあれば（ステップＳ８７０、Ｎｏ）、ステップＳ８９０へ進む。
【０１４９】
ステップＳ８８０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「ベースライン平坦度検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として各回毎の校正した吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１５０】
ステップＳ８９０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「ベースライン平坦度検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として校正した吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１５１】
前記で、ステップＳ８００のベースライン平坦度検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１５２】
図２５に示すように、ステップＳ９００のベースライン安定性検定では、まず、ステップＳ９１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。これらの移動で、対照用セルポジショナ８と試料用セルポジショナ７とは、図４に示す第１ポジションに設定される。
【０１５３】
ステップＳ９２０で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長において、オートゼロを実行する。具体的には、オートゼロでは、ステップＳ９２１で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長の透過率を測定する。次に、ステップＳ９２２で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、前記所定の波長で測定した透過率を記憶させる。最後に、ステップＳ９２３で、データ処理部ＤＰは、測定した吸光度Ａｂｓが０（ゼロ）になるように校正値を算出し記憶する。前記でオートゼロが終了する。
【０１５４】
ステップＳ９３０で、制御部ＣＯＮＴは、ステップＳ９２１と同じ所定の波長において、吸光度Ａｂｓを複数回（例えば、所定の間隔で６０分間）測定する。
【０１５５】
ステップＳ９４０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、校正値を用いて、各回毎に、測定した吸光度Ａｂｓから、校正した吸光度Ａｂｓを算出する。
【０１５６】
ステップＳ９５０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、各回毎に、校正した吸光度Ａｂｓを記憶させる。
【０１５７】
ステップＳ９６０で、データ処理部ＤＰは、複数回分の校正した吸光度Ａｂｓのばらつき（例えば、最大値と最小値の差や、偏差等）を算出する。
【０１５８】
ステップＳ９７０で、データ処理部は、複数回毎のばらつきが許容範囲内であるか否か判定する。複数回毎のばらつきがすべて許容範囲内であれば（ステップＳ９７０、Ｙｅｓ）、ステップＳ９８０へ進み、許容範囲外のばらつきがあれば（ステップＳ９７０、Ｎｏ）、ステップＳ９９０へ進む。
【０１５９】
ステップＳ９８０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「ベースライン安定性検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数回分の校正した吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１６０】
ステップＳ９９０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「ベースライン安定性検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数回分の校正した吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１６１】
前記で、ステップＳ９００のベースライン安定性検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１６２】
図２６に示すように、ステップＳ１０００のノイズレベル検定では、まず、ステップＳ１０１０で、制御部ＣＯＮＴは、対照用セルポジショナ８によって対照光路５上にブランクセルＲＢを移動させ、試料用セルポジショナ７によって試料光路４上にブランクセルＳＢを移動させる。
【０１６３】
ステップＳ１０２０で、制御部ＣＯＮＴは、所定の波長において、吸光度Ａｂｓを複数回（所定の間隔で３００秒間又は６０分間）測定する。
【０１６４】
ステップＳ１０３０で、制御部ＣＯＮＴは、データ処理部ＤＰに、各回毎に、吸光度Ａｂｓを記憶させる。
【０１６５】
ステップＳ１０４０で、データ処理部ＤＰは、複数回分の吸光度Ａｂｓのばらつき（例えば、最大値と最小値の差や、偏差等）を算出する。
【０１６６】
ステップＳ１０５０で、データ処理部ＤＰは、複数回毎のばらつきが許容範囲内であるか否か判定する。複数回毎のばらつきがすべて許容範囲内であれば（ステップＳ１０５０、Ｙｅｓ）、ステップＳ１０６０へ進み、許容範囲外のばらつきがあれば（ステップＳ１０５０、Ｎｏ）、ステップＳ１０７０へ進む。
【０１６７】
ステップＳ１０６０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として合格識別子を、検定項目の識別子である「ノイズレベル安定性検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数回分の吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１６８】
ステップＳ１０７０で、データ処理部ＤＰは、検定結果として不合格識別子を、検定項目の識別子である「ノイズレベル安定性検定」と現在の日時と共に記憶する。そして、前記したステップＳ２０の検定結果の表示において、検定結果として不合格識別子を表示し、検定終了日時として現在の日時を表示し、検定値として複数回分の吸光度Ａｂｓのばらつきを表示することになる。
【０１６９】
前記で、ステップＳ１０００のノイズレベル検定はストップ（終了）するが、スタートからストップまでの間で、測定者がセルＲＢ等を入れ替える必要は生じない。
【０１７０】
前記で、ステップＳ１８の検定項目の実施で行われる、個々の検定項目の実施内容について説明した。前記の説明では、図２７に示すように、ステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定、ステップＳ２００の波長正確さ（水銀ランプ）検定、ステップＳ３００の波長設定繰返し精度検定、ステップＳ４００のバンドパス／分解検定、ステップＳ５００の迷光検定、ステップＳ６００の測光正確さ検定、ステップＳ７００の測光繰返し精度検定、ステップＳ８００のベースライン平坦度検定、ステップＳ９００のベースライン安定性検定、ステップＳ１０００のノイズレベル検定の順に実施している。このように、１つの検定項目の実施が終わったら次の検定項目を始めるように、１つずつ実施している実施方法は、測定者が検定の内容を理解しやすく、特に、従来の検定項目毎に測定者がセルの入れ替えを行う際の混乱を避けるためには有効であった。しかし、本実施形態によれば、検定項目の実施順序を変更しても、測定者と制御部ＣＯＮＴに混乱が生じることはない。そこで、図２８に示すような、検定項目の実施順序の変更ができる。
【０１７１】
図２８の検定項目の実施順序では、最初に行われていたステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定の前に、ステップＳ２００の波長正確さ（水銀ランプ）検定と、ステップＳ３００の波長設定繰返し精度検定が行われる。そして、ステップＳ３００の波長設定繰返し精度検定の後に、ステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定とステップＳ４００のバンドパス／分解検定とが実施される。このことにより、ステップＳ１００の波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定においては、ステップＳ１１０からステップＳ１５０までを省くことができる。そして、ステップＳ１６０でのピーク波長と輝線波長との差の算出は、ステップＳ３５０で各回毎に抽出されたピーク波長の内の１回分のピーク波長に基づいて算出することができる。また、ステップＳ４００のバンドパス／分解検定においては、ステップＳ４１０からステップＳ４４０までを省くことができる。そして、ステップＳ４５０での半値エネルギ強度Ｅ（Ｒ）の算出は、ステップＳ３４０で各回毎に抽出されたピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）の内の１回分のピークエネルギ強度Ｅ（Ｒ）に基づいて算出することができる。制御部ＣＯＮＴは、検出結果又はエネルギ強度Ｅ（Ｒ）を記憶し、異なる複数の検定項目の検定に使用する。ステップが省けるので、検定に要する時間を短縮することができる。
【０１７２】
次に、ステップＳ５００の迷光検定が行われ、ステップＳ６００の測光正確さ検定は、ステップＳ７００の測光繰返し精度検定の後に行われる。このことにより、ステップＳ６００の測光正確さ検定においては、ステップＳ６１０からステップＳ６３０までを省くことができる。そして、ステップＳ６４０での測定した吸光度Ａｂｓと規定吸光度Ａｂｓとの差の算出は、ステップＳ７３０で記憶された複数回分の吸光度Ａｂｓの内の１回分の吸光度Ａｂｓに基づいて算出することができる。これによっても、ステップが省けるので、検定に要する時間を短縮することができる。そして、ステップＳ６００の測光正確さ検定の後に、ステップＳ８００のベースライン平坦度検定、ステップＳ９００のベースライン安定性検定、ステップＳ１０００のノイズレベル検定が実施される。
【０１７３】
そして、本実施形態によれば、検定に必要な試料用セルＳＢ、ＳＳ、ＳＮ、ＳＦが、試料用セルポジショナ７の試料用枠７１、７２、７３、７４のそれぞれに配置され、検定に必要な対照用セルＲＢ、ＲＡが、対照用セルポジショナ８の対照用枠８１、８２のそれぞれに配置されることにより、制御部ＣＯＮＴは、試料用セルポジショナ７と対照用セルポジショナ８を制御して、試料光路４への試料用セルＳＢ、ＳＳ、ＳＮ、ＳＦの入れ替えと、対照光路５への対照用セルＲＢ、ＲＡの入れ替えが可能になり、これらの入れ替えを行っては、透過率を算出することにより、検定項目毎の測定者によるセルの入れ替えを要しない検定を可能にしている。
【０１７４】
本実施形態では、検定項目毎の測定者によるセルの入れ替えを無くすために、全ての検定項目がスタートする前に、検定に必要な試料用セルＳＢ、ＳＳ、ＳＮ、ＳＦと対照用セルＲＢ、ＲＡを、試料用枠７１、７２、７３、７４と対照用枠８１、８２に、一括して配置している。この配置は、測定者によって一括して行われるが、時間の拘束が１回ですむので、測定者に対する負担を軽減することができる。さらに、制御部ＣＯＮＴは、この一括配置を促すために、配置依頼の表示を表示部ＤＩＳＰに行っているので、測定者は、容易に、かつ、正確に一括配置をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１７５】
【図１】本発明の実施形態に係る分光光度計の構成図である。
【図２】（ａ）は対照用セルのブランクセルの斜視図であり、（ｂ）は対照用セルの減光板セルの斜視図であり、（ｃ）は試料用セルのブランクセルの斜視図であり、（ｄ）は試料用セルのシャッタセルの斜視図であり、（ｅ）は試料用セルの溶液入りセルの斜視図であり、（ｆ）は試料用セルのフィルタセルの斜視図である。
【図３】（ａ）は対照用セルポジショナと試料用セルポジショナの配列図であり、（ｂ）は対照用セルのブランクセルおよび減光板セルと、試料用セルのブランクセル、シャッタセル、溶液入りセルおよびフィルタセルの配列図であり、（ｃ）は対照用セルのブランクセルおよび減光板セルを配列させた対照用セルポジショナと、試料用セルのブランクセル、シャッタセル、溶液入りセルおよびフィルタセルを配列させた試料用セルポジショナの配列図である。
【図４】対照用セルポジショナと試料用セルポジショナのそれぞれのポジションの組合せを示す図である。
【図５】分光光度の測定方法のフローチャート（その１）である。
【図６】分光光度の測定方法のフローチャート（その２）である。
【図７】分光光度の測定方法のフローチャート（その３）である。
【図８】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その１）である。
【図９】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その２）である。
【図１０】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その３）である。
【図１１】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その４）である。
【図１２】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その５）である。
【図１３】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その６）である。
【図１４】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その７）である。
【図１５】分光光度の測定方法の実施時に表示部に表示される表示ウィンドウ（その８）である。
【図１６】波長正確さ（Ｄ２ランプ）検定のフローチャートである。
【図１７】波長正確さ（水銀（Ｈｇ）ランプ）検定のフローチャートである。
【図１８】波長設定繰返し精度検定のフローチャートである。
【図１９】バンドパス／分解検定のフローチャートである。
【図２０】迷光検定のフローチャートである。
【図２１】迷光検定において、試料光路上に配置される試料用セルと、対照光路上に配置される対照用セルを、ステップ毎に示す表である。
【図２２】測光正確さ検定のフローチャートである。
【図２３】測光繰返し精度検定のフローチャートである。
【図２４】ベースライン平坦度検定のフローチャートである。
【図２５】ベースライン安定性検定のフローチャートである。
【図２６】ノイズレベル検定のフローチャートである。
【図２７】検定の検定項目の実施順序を示す流れ図（その１）である。
【図２８】検定の検定項目の実施順序を示す流れ図（その２）である。
【符号の説明】
【０１７６】
１      分光光度計
２      測定部
３      ダブルビーム生成部
４      試料光路
５      対照光路
６      試料室
７      試料用セルポジショナ
８      対照用セルポジショナ
９      透明容器
１１    突起
１２    減光板
１３    フィルタ
１４    支板
１５    溶液
１６    マイクロスイッチ
７１    ＳＢ用枠
７２    ＳＳ用枠
７３    ＳＮ用枠
７４    ＳＦ用枠
８１    ＲＢ用枠
８２    ＲＡ用枠
ＳＢ    ブランクセル
ＳＳ    シャッタセル
ＳＮ    溶液入りセル
ＳＦ    フィルタセル
ＲＢ    ブランクセル
ＲＡ    減光板セル
【図１】
2009293977.tif 000003
【図２】
2009293977.tif 000004
【図３】
2009293977.tif 000005
【図４】
2009293977.tif 000006
【図５】
2009293977.tif 000007
【図６】
2009293977.tif 000008
【図７】
2009293977.tif 000009
【図８】
2009293977.tif 000010
【図９】
2009293977.tif 000011
【図１０】
2009293977.tif 000012
【図１１】
2009293977.tif 000013
【図１２】
2009293977.tif 000014
【図１３】
2009293977.tif 000015
【図１４】
2009293977.tif 000016
【図１５】
2009293977.tif 000017
【図１６】
2009293977.tif 000018
【図１７】
2009293977.tif 000019
【図１８】
2009293977.tif 000020
【図１９】
2009293977.tif 000021
【図２０】
2009293977.tif 000022
【図２１】
2009293977.tif 000023
【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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