(57)【要約】      （修正有）【課題】安価かつ確実な方法で従来の白熱灯ならびに電子安定器の組み込まれた蛍光灯のいずれの試験をも可能にする照明手段用試験器を提供する。【解決手段】定格電圧（Ｖｎ）および定格周波数（ｆｎ）で作動させられる照明手段３に、供給装置５から供給される試験周波数（ｆｐ）の試験電圧（Ｖｐ）が容量結合される試験器１であって、結合された試験電圧（Ｖｐａ）は定格電圧（Ｖｎ）に等しく、かつ、結合された試験周波数（ｆｐａ）は定格周波数（ｆｎ）に等しい。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
定格電圧（Ｖｎ）および定格周波数（ｆｎ）で作動させられる照明手段（３）用の、前記照明手段（３）に試験周波数（ｆｐ）の試験電圧（Ｖｐ）が容量結合される試験器（１）であって、
結合された試験電圧（Ｖｐａ）は前記定格電圧（Ｖｎ）に等しく、かつ、結合された試験周波数（ｆｐａ）は前記定格周波数（ｆｎ）に等しいことを特徴とする試験器（１）。
【請求項２】
前記試験電圧（Ｖｐ）を結合するために、絶縁された接触面（７）が設けられていることを特徴とする請求項１に記載の試験器（１）。
【請求項３】
前記結合された試験電圧（Ｖｐａ）を測定するための測定装置（８）が設けられていることを特徴とする前記請求項のいずれか１項に記載の試験器（１）。
【請求項４】
測定された試験電圧（Ｖｐｍ）と参照電圧（Ｖｒｅｆ）との比較によって前記試験電圧（Ｖｐ）を制御するための制御装置（９）が設けられていることを特徴とする前記請求項のいずれか１項に記載の試験器（１）。
【請求項５】
前記照明手段（３）を検出するための検出装置が設けられていることを特徴とする前記請求項のいずれか１項に記載の試験器（１）。
【請求項６】
前記試験電圧（Ｖｐ）の電圧範囲および／または前記試験周波数（ｆｐ）の周波数範囲を変化させる変更装置が設けられていることを特徴とする前記請求項のいずれか１項に記載の試験器（１）。
【請求項７】
低圧電源（Ｖｄｄ）から前記試験電圧（Ｖｐ）を発生させるための発生装置（５）が設けられていることを特徴とする前記請求項のいずれか１項に記載の試験器（１）。
【請求項８】
前記発生装置（５）は変圧器（５１）を内実としていることを特徴とする請求項７に記載の試験器（１）。
【請求項９】
前記発生装置（５）は直流変圧器（５４）を内実としていることを特徴とする請求項７に記載の試験器（１）。
【請求項１０】
前記試験周波数（ｆｐ）を供するためにクロック発振器（５３）が設けられていることを特徴とする前記請求項のいずれか１項に記載の試験器（１）。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は請求項１に記載の上位概念の特徴を有する照明手段用試験器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の技術からさまざまな照明手段用試験器が公知である。
【０００３】
米国特許第３，６８８，１８５号明細書は例えば、２つの異なった測定原理に基づく蛍光管用試験器を開示している。この試験器は一方で、蛍光管のヒーティングコイルの導通試験装置を有し、これによって、蛍光管のヒーティングコイルを経て導電接触が生成可能か否かが試験される。他方で、蛍光管に高周波電磁場を投入するコイルが設けられて、蛍光管に十分なガス充填が所与であるか否かが試験される。蛍光管に十分なガス充填が所与であれば、蛍光管は高周波電磁場によって十分に励起されて少なくとも部分的に発光するに至る。
【０００４】
米国特許第５，０４７，７２１号明細書は、直列接続された多数のランプからなる電飾中の故障したランプを探知する装置であって、容量結合された試験器により、故障したランプの印加電圧が検出される装置を記載している。
【０００５】
上記公知の試験器の短所は、電子安定器の組み込まれた照明手段の試験が行えないことである。それゆえ、例えば従来の技術による試験器では、電子安定器の組み込まれた、いわゆる節電ランプを完全に試験することはできない。
【０００６】
【特許文献１】米国特許第３，６８８，１８５号明細書
【特許文献２】米国特許第５，０４７，７２１号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記従来の技術から出発して、本発明の目的は、安価かつ確実な方法で従来の白熱灯ならびに電子安定器の組み込まれた蛍光灯のいずれの試験をも可能にする照明手段用試験器を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記課題は請求項１に記載の特徴を有する照明手段用試験器によって解決される。
【０００９】
その他の有利な実施形態・態様は従属請求項の対象である。
【００１０】
本発明により、定格電圧および定格周波数で作動させられる照明手段用の試験器であって、前記照明手段に試験周波数の試験電圧が容量結合され、結合された試験電圧は前記定格電圧に等しく、結合された試験周波数は前記定格周波数に等しい試験器が提案される。
【００１１】
上記により、本発明による試験器は、前記照明手段の試験が前記照明手段の定格電圧と定格周波数にて実施され、したがって、使用条件下での試験が可能であるとの利点を有する。照明手段、例えば省エネランプに５０Ｈｚの周波数にて例えば２３０Ｖの電圧が結合されることにより、省エネランプの全体を、したがって、電子安定器、ヒーティングコイルならびにガス充填を試験することが可能である。これにより、省エネランプのガス充填は正常であるが、それにもかかわらず電子安定器の障害によって当該ランプが故障していると見なされなければならないような事態は排除される。
【００１２】
前記試験器の好ましい１実施形態において、試験電圧の容量結合は絶縁された接触面を経て行われる。
【００１３】
容量結合のための絶縁仕様の接触面は、接触面の接触が防止され、ユーザの感電と接触面同士の短絡が防止されるという利点を有している。したがって、このように形成された試験器は例えば、照明をチェックするためいつでも自由に使用し得るように、店内のショールームに設置しておくことが可能である。ただしまた、例えば一方または双方の接触面を接触可能に形成することも可能である。それにもかかわらず、試験電圧の発生に電源遮断変圧器を使用すれば、感電防止機能は保証済みである。
【００１４】
本発明による試験器の好ましい１発展態様において、結合された試験電圧を測定するための測定装置および、測定された試験電圧と参照電圧との比較によって試験電圧を制御するための制御装置が設けられている。
【００１５】
この種の態様は、結合された試験電圧の測定と試験電圧の制御によって、試験電圧の容量結合によって生ずるロスの補償が可能であるという利点を有する。好ましくは、前記結合された試験電圧の測定は容量型測定装置によって行われる。
【００１６】
さらに、前記照明手段を検出するための検出装置が設けられていれば有利である。
【００１７】
前記検出装置により、例えば、試験すべき照明手段の定格電圧に一致しないわずかな試験電圧によって試験器への照明手段の挿入が認識され、当該照明手段が挿入された後に初めて試験電圧と試験周波数が当該定格電圧と当該定格周波数のレベルに適合制御されるように試験器を構成することが可能である。本発明による試験器はこの対策によって特に省エネ設計することが可能である。
【００１８】
本発明による試験器のさらに別の実施形態において、試験電圧の電圧範囲および／または試験周波数の周波数範囲を変化させる変更装置が設けられている。
【００１９】
この種の変更装置により、照明手段をある電圧範囲および／またはある周波数範囲で試験し、例えば電源網の電圧および／または周波数の変動時に照明手段の障害が見込まれなければならないか否かを確認することが可能である。
【００２０】
前記試験器の好ましい１発展態様において、低圧電源から前記試験電圧を発生させるための発生装置が設けられている。前記発生装置は例えば変圧器または直流変圧器を内実としていてよい。
【００２１】
この種の態様の前記試験器は、低圧電源として例えばバッテリーまたは蓄電池を使用することができ、したがって、試験器の移動式使用が可能である。試験電圧を発生させるための直流変圧器の使用はさらに、変圧器の使用に比べて重量上の利点をもたらす。
【００２２】
有利には、前記試験周波数を供するためにクロック発振器が設けられている。
この種の態様の試験器は、クロック発振器によって非常に省スペース的な方法で前記試験周波数の正確な設定が可能であるという利点を有する。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、前記照明手段の試験が前記照明手段の定格電圧と定格周波数にて実施され、使用条件下での試験が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
本発明のその他の好ましい実施形態・態様ならびに有利な発展態様は添付図面を参照して行われる以下の実施例の説明から判明する通りである。
【００２５】
図中において、別段の記載が行なわれていない限り、同一の符号は同一または機能的に同一のユニットを表している。
【００２６】
図１は、照明手段３用の本発明による試験器１の簡略化したブロック図を示したものである。試験器１は基本的に、試験周波数ｆｐの試験電圧Ｖｐを供給するための供給装置(発生装置)５からなっている。試験電圧Ｖｐは絶縁された接触面７に印加可能である。接触面７は、照明手段３の口金３ａへの試験電圧Ｖｐの容量結合が可能とされるように、適切に配置されている。結合された試験電圧Ｖｐａは容量結合時のロスにより試験電圧Ｖｐよりも小さい。つまり、供給装置(発生装置)５の出力電圧は、結合された試験電圧Ｖｐａが定格電圧Ｖｎに一致するように、相応して大きく選択されなければならない。図１に表されているように、試験器はさらに、結合された試験電圧Ｖｐａを測定するための測定装置８を有している。測定装置８はさらに別の接触面により容量型測定装置として形成されて、その出力で、測定された試験電圧Ｖｐｍを供給する。測定された試験電圧Ｖｐｍは、上述した、電圧の容量性タップ時にも発生するロスのため、結合された試験電圧Ｖｐａよりも小さい。測定された試験電圧Ｖｐｍは、試験電圧Ｖｐの制御が可能な制御装置９に供給可能である。試験電圧Ｖｐの制御は、別法として、供給装置(発生装置)５の出力側電流の測定を介して行うことも可能である。この場合には、結合された試験電圧Ｖｐａの容量性タップは不要とすることができる。試験電圧Ｖｐを供給するために電源遮断変圧器を使用する場合には、一方または双方の接触面７を接触可能に形成することも考えることができる。感電防止作動は電源変圧器によって保証される。
【００２７】
図２は本発明による試験器の第１の実施例を示しており、この場合、発生装置５は試験電圧Ｖｐを発生させるための変圧器５１を有している。試験電圧Ｖｐは変圧器５１の出力側でタップ可能であり、接触面７に供給することができる。接触面７により試験電圧Ｖｐは照明手段３の口金３ａに結合可能である。結合された試験電圧Ｖｐａは測定装置８によってタップされ、測定された試験電圧Ｖｐｍが供されて、制御分路に供給される。測定された試験電圧Ｖｐｍは測定された周波数ｆｐｍを有している。制御分路において、測定された試験電圧Ｖｐｍは直流電圧を発生させるため整流器９１に供給され、続いて増幅器９２に供給される。増幅器９２の出力側信号は、同時に参照電圧Ｖｒｅｆが供給される加算箇所９３に、負符号を付して供給される。加算箇所９３の出力側信号は第２の増幅器９４に供給され、該増幅器の出力側信号はドライバ段５２に制御信号として供給可能である。ドライバ段５２にはさらにクロック発振器５３からクロック信号が供給可能である。クロック信号は試験周波数ｆｐと同じ周波数を有している。ドライバ段５２はさらに電源電圧Ｖｄｄに接続されて、出力側で、接触面７が出力側に接続された変圧器５１を駆動する。
【００２８】
図３には、本発明による試験器の第２の実施例が表されている。図３に表された実施形態は、試験電圧Ｖｐの供給方法の点でのみ図２に示した実施例と相違しているにすぎない。したがって、以下、試験電圧Ｖｐを供給するための、構造の異なった分路のみを説明する。電源電圧Ｖｄｄから出発し、直流変圧器５４によって、試験電圧Ｖｐのレベルの電圧値を有する電圧信号が生成される。この電圧信号は調整素子５５により、制御分路の第２の増幅器９４の出力側信号によって調整されて、ドライバ段５２に供される。ドライバ段５２には入力側においてさらに、接地に対して入力信号を平滑化するためのコンデンサ５６が並列接続されている。ドライバ段５２にはさらにクロック発振器５３のクロック信号が供給されるため、出力側において試験電圧Ｖｐと試験周波数ｆｐとを有する信号をタップすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明による試験器のブロック図である。
【図２】変圧器を有する第１の実施例の試験器を示す図である。
【図３】直流変圧器を有する第２の実施例の試験器を示す図である。
【符号の説明】
【００３０】
１        試験器
３        照明手段
３ａ     口金
５        供給装置(発生装置)
７        接触面
８        測定装置
９        制御装置
５１     変圧器
５２     ドライバ段
５３     クロック発振器
５４     直流変圧器
５５     調整素子
５６     コンデンサ
９１     整流器
９２     第１の増幅器
９３     加算箇所
９４     第２の増幅器
Ｖｎ      定格電圧
Ｖｐ      試験電圧
Ｖｐａ   結合された試験電圧
Ｖｐｍ   測定された試験電圧
ｆｎ      定格周波数
ｆｐ      試験周波数
ｆｐａ   結合された試験周波数
ｆｐｍ   測定された試験周波数
Ｖｒｅｆ 参照電圧
Ｖｄｄ   電源電圧 
【図１】
2009008679.tif 000003
【図２】
2009008679.tif 000004
【図３】
2009008679.tif 000005