(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査材に回転磁界を作用させ、該回転磁界によって生じる探傷信号に基づいてきずを検出する磁気探傷方法であって、
前記回転磁界を励磁するための励磁電流として、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を用い、前記探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波した後、前記第２電流を参照信号として同期検波することにより、きず候補信号を抽出するステップと、
被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位におけるきず候補信号の強度に応じた濃度を有し、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像を表示するステップと、
前記表示された探傷画像に基づいてきずを検出するステップとを含むことを特徴とする磁気探傷方法。
【請求項２】
被検査材に回転磁界を作用させ、該回転磁界によって生じる探傷信号に基づいてきずを検出する磁気探傷方法であって、
前記回転磁界を励磁するための励磁電流として、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を用い、前記探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波した後、前記第２電流を参照信号として同期検波することにより、きず候補信号を抽出するステップと、
前記きず候補信号を所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出するステップと、
被検査材の各部位に対応する複数の画素でそれぞれ構成され、前記検出されたきず候補部位に対応する画素が他の画素と識別可能な濃度を有する探傷画像を、前記きず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じて複数枚形成するステップと、
前記複数枚の探傷画像のそれぞれに対して個別に画像処理を施すことにより、各探傷画像に存在するきず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じた方向についての当該きず候補部位の連続性を評価するステップと、
前記きず候補部位の連続性に基づいて、きずを検出するステップとを含むことを特徴とする磁気探傷方法。
【請求項３】
前記第１電流及び前記第２電流の周波数が下記式（１）を満足することを特徴とする請求項１又は２に記載の磁気探傷方法。
第１電流の周波数／第２電流の周波数≧８  ・・・（１）
【請求項４】
被検査材に回転磁界を作用させる磁化手段と、
前記回転磁界によって生じる探傷信号を検出する検出手段と、
前記探傷信号に信号処理を施す信号処理手段とを備えた磁気探傷装置であって、
前記磁化手段は、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を励磁電流として通電する励磁コイルを具備し、
前記信号処理手段は、
前記検出手段によって検出した探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波する第１同期検波手段と、
該第１同期検波手段の出力信号を前記第２電流を参照信号として同期検波してきず候補信号を抽出する第２同期検波手段と、
被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位におけるきず候補信号の強度に応じた濃度を有し、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像を表示する探傷画像表示手段とを具備することを特徴とする磁気探傷装置。
【請求項５】
被検査材に回転磁界を作用させる磁化手段と、
前記回転磁界によって生じる探傷信号を検出する検出手段と、
前記探傷信号に信号処理を施す信号処理手段とを備えた磁気探傷装置であって、
前記磁化手段は、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を励磁電流として通電する励磁コイルを具備し、
前記信号処理手段は、
前記検出手段によって検出した探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波する第１同期検波手段と、
該第１同期検波手段の出力信号を前記第２電流を参照信号として同期検波してきず候補信号を抽出する第２同期検波手段と、
前記きず候補信号を所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出するきず候補部位検出手段と、
被検査材の各部位に対応する複数の画素でそれぞれ構成され、前記検出されたきず候補部位に対応する画素が他の画素と識別可能な濃度を有する探傷画像を、前記きず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じて複数枚形成する探傷画像形成手段と、
前記複数枚の探傷画像のそれぞれに対して個別に画像処理を施すことにより、各探傷画像に存在するきず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じた方向についての当該きず候補部位の連続性を評価する連続性評価手段と、
前記きず候補部位の連続性に基づいて、きずを検出するきず検出手段とを具備することを特徴とする磁気探傷装置。
【請求項６】
前記第１電流及び前記第２電流の周波数が下記式（１）を満足することを特徴とする請求項４又は５に記載の磁気探傷装置。
第１電流の周波数／第２電流の周波数≧８  ・・・（１）
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回転磁界を用いて被検査材に存在する種々の方向に延びるきずを高精度に探傷可能な磁気探傷方法及び磁気探傷装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、鋼板や鋼管等の被検査材に存在するきずを非破壊的に検出する方法として、渦流探傷法や漏洩磁束探傷法などの磁気探傷方法が知られている。渦流探傷法は、被検査材に交流磁界を作用させることにより誘起される渦電流が、きずによって乱れることを利用する探傷方法である。また、漏洩磁束探傷法は、磁性体からなる被検査材に磁界を作用させて磁化した場合に、被検査材に生ずる磁束を遮るようなきずが存在すると、このきずが存在する部位で磁束が表面空間に漏洩することを利用する探傷方法である。
【０００３】
斯かる磁気探傷方法では、一般的に、作用させる磁界の方向ときずの延びる方向とが特定の角度を成す場合に、検出されるきず信号（所定の検出センサで検出される探傷信号の内、きずが存在する部位から得られる信号）の振幅が最大となる。例えば、漏洩磁束探傷法におけるきず信号の振幅は、作用させる磁界の方向（被検査材中の磁束の方向）ときずの延びる方向とが直交する場合に最大となり、磁界の方向がきずの延びる方向に対して直交する方向からずれるに従って低下する。
【０００４】
このため、きずの延びる方向が如何なる方向であっても検出できるように（検出可能な振幅のきず信号が得られるように）、被検査材に磁界の方向が時々刻々変化する回転磁界を作用させ、該回転磁界によって生じる探傷信号に基づいて、種々の方向に延びるきずを検出する磁気探傷方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
斯かる回転磁界を生成するには、例えば、図１に示すような励磁コイルが用いられる。すなわち、図１に示す励磁コイル１０は、導線の巻回方向が互いに直交（従って、生成される磁界が互いに直交）すると共に、中心位置が互いに一致するように配置された２つの励磁コイル（Ｘ方向励磁コイル１及びＹ方向励磁コイル２）を備える。そして、各励磁コイル１、２に通電する交流の励磁電流の位相を９０°ずらす（例えば、Ｘ方向励磁コイル１には余弦波の励磁電流を通電し、Ｙ方向励磁コイル２には正弦波の励磁電流を通電する）ことにより、各励磁コイル１、２で生成された磁界の合成磁界が、各励磁コイル１、２の中心位置を中心として３６０°回転（図１に示す角度φが０〜３６０°に変化）することになる。これにより、種々の方向（図１に示す角度θが０〜３６０°）に延びるきずを検出することが可能である。
【０００６】
ところで、一般的に、ノイズを含む種々の周波数成分からなる信号に対して、検出したい信号（磁気探傷方法の場合にはきず信号）が特定の周波数成分を有する場合、その周波数成分を有する信号を抽出するために同期検波が用いられることが多い。
【０００７】
回転磁界を利用しない従来の磁気探傷方法では、きず信号が交流の励磁電流に同期する。このため、励磁電流を参照信号として探傷信号を同期検波し、励磁電流に同期する信号を抽出することにより、探傷信号から高いＳ／Ｎ比できず信号を抽出することが可能である。そして、同期検波により抽出された交流信号は、きず信号と、励磁電流に同期せずにランダムに発生するノイズとの比率（Ｓ／Ｎ比）を高くするため、ローパスフィルタによって平滑化されるのが一般的である。好ましくは、ローパスフィルタの時定数を調整することにより、同期検波により抽出された交流信号は、参照信号（励磁電流）の２〜３周期分程度に相当する単位領域毎に平滑化される。
【０００８】
また、渦流探傷法では、探傷信号を同期検波した信号を用いてきず検出能を向上させる手法として、位相解析法が一般的に用いられる。この位相解析法は、参照信号で探傷信号を同期検波したものをＸ信号とし、参照信号の位相を９０°遅らせて探傷信号を同期検波したものをＹ信号とする。そして、Ｘ信号をＸ軸成分とし、Ｙ信号をＹ軸成分として、ＸＹ座標系の２次元平面上に信号をベクトル表示する（ベクトル表示された信号波形をリサージュ波形と称する）ことにより、探傷信号が参照信号に対してどの程度の位相遅れがあるのかを測定する方法である。例えば、参照信号と同位相の探傷信号を同期検波した場合には、位相遅れがないため、図２（ａ）に示すようなＸ軸に沿った波形が得られる。より具体的には、きず信号の場合、検出センサがきずの直上を通過する際に位相が１８０°反転するため、０°方向（Ｘ軸の正の方向）及び１８０°方向（Ｘ軸の負の方向）に沿った波形が得られることになる。同様にして、参照信号に対して位相が４５°遅れた探傷信号については、図２（ｂ）に示すような４５°方向及び２２５°方向に沿った波形が得られ、位相が９０°遅れた探傷信号については、図２（ｃ）に示すような９０°方向及び２７０°方向に沿った波形が得られる。
【０００９】
ここで、磁気探傷方法によって検出されるきず信号（すなわち、きずによる渦電流の乱れに起因した信号や、きずによる漏洩磁束に対応した信号）の位相と、探傷時の主なノイズの一種であるリフトオフ変動ノイズ（検出センサと被検査材との離間距離を変動させた場合に生じる探傷信号の変動）の位相とは、全く同一になることは希であり、一般的には位相差を有する。図３は、きず信号とリフトオフ変動ノイズとが位相差を有することを示すリサージュ波形の模式図である。図３（ａ）に示すように、きず信号の位相φｄと、リフトオフ変動ノイズの位相φｌとは、異なるのが一般的である。そして、図３（ａ）に示すように、きず信号の振幅をＡｄ、リフトオフ変動ノイズの振幅をＡｌとすると、この例ではＳ／Ｎ比（＝Ａｄ／Ａｌ）が約１．５となる。しかしながら、図３（ｂ）に示すように、リフトオフ変動ノイズがＸ軸に沿うようにＸＹ座標系を回転させ、回転後のＸ’Ｙ’座標系におけるＹ’軸方向の信号成分を探傷信号とすることにより、この例ではＳ／Ｎ比（＝Ｓｄ／Ｓｌ）が１０より大きくなるため、振幅でＳ／Ｎ比を評価する場合（図３（ａ））に比べてＳ／Ｎ比が大幅に向上する。このように、位相解析法を適用すれば、きず検出能に対するリフトオフ変動ノイズの影響を抑制し得ることが期待できる。
【００１０】
また、位相解析法には、上記のようにリサージュ波形のＸＹ座標系を回転させる方法だけではなく、リサージュ波形の内、特定の位相を有する信号成分の振幅のみを評価し、その他の位相を有する信号成分の振幅を評価対象から外す方法も含まれる。
【００１１】
しかしながら、従来の回転磁界を利用した磁気探傷方法には、単一周波数の励磁電流を用いていることに起因して、以下のような問題がある。
（１）同期検波の効果を十分に得ることができないため、きず検出能（Ｓ／Ｎ比）が低下する虞がある。
（２）きずの角度情報（何れの方向に延びているのか）を推定できない。
（３）渦流探傷法におけるきず検出能（Ｓ／Ｎ比）を向上させる手法として一般的な位相解析法を用いることができない。
（４）きずの連続性を正確に評価することができない。
【００１２】
従って、従来の回転磁界を利用した磁気探傷方法によれば、理論的には種々の方向に延びるきずを検出可能であるものの、実用的にはきず検出能が十分とはいえない。また、きずの角度情報を推定できないため、きずの発生原因等を判断することも困難である。以下、上記（１）〜（３）の問題点について、具体的に説明する。
【００１３】
前述のように、磁気探傷方法では、一般的に、作用させる磁界の方向ときずの延びる方向とが特定の角度を成す場合に、検出されるきず信号の振幅が最大となる。ここで、きず信号の振幅が最大となる方向からの磁界の方向のずれ角が±α°を超えると、きず信号の振幅が０になると仮定する。図１に示すような励磁コイル１０を用いた従来の単一周波数の励磁電流による回転磁界を利用した磁気探傷方法では、励磁電流の１周期の間に磁界の方向が３６０°回転するため、上記仮定の下で、きず信号が出現する（きず信号の振幅が０より大きくなる）のは、励磁電流１周期の内の特定の範囲（きず信号の振幅が最大となる方向を基準として−α°〜＋α°の磁界の方向が得られる範囲）に限定される。
【００１４】
ここで、被検査材に、延びる方向の異なる２種類のきずＡ、Ｂ（きずＡの角度θ（図１参照）＝２０°、きずＢの角度θ＝７０°）が存在し、α＝２０°であると仮定する。前述のように、漏洩磁束探傷法におけるきず信号の振幅は、作用させる磁界の方向ときずの延びる方向とが直交する場合に最大となるため、漏洩磁束探傷法の場合、上記仮定の下で、きずＡのきず信号は、磁界の方向φ（図１参照）が、φ＝２０°＋９０°＋１８０°×ｎ（ｎは整数）のときに最大となり、φ±２０°の範囲を超えると振幅が０となる。同様にして、きずＢのきず信号は、磁界の方向φが、φ＝７０°＋９０°＋１８０°×ｎ（ｎは整数）のときに最大となり、φ±２０°の範囲を超えると振幅が０となる。
【００１５】
図４は、上記仮定の下での、励磁電流波形ときず信号波形との時系列的な関係を示すグラフである。また、図５は、励磁電流を参照信号としてきず信号を含む探傷信号を同期検波し、同期検波により抽出されたきず信号を参照信号の２周期分に相当する単位領域毎に平滑化した後のきず信号波形を示すグラフであり、図５（ａ）はきずＡのきず信号波形を、図５（ｂ）はきずＢのきず信号波形を示す。なお、図４及び図５において、探傷信号に含まれるノイズの波形は図示を省略している。
【００１６】
探傷信号を同期検波する場合、図１に示すＸ方向励磁コイル１に通電する励磁電流、又はＹ方向励磁コイル２に通電する励磁電流を参照信号として用いることになるが、図４からも分かるように、きずＡ、Ｂから得られるきず信号は、いずれの励磁電流よりも周期が短い。すなわち、きず信号の周期と参照信号の周期とが一致していないため、同期検波の効果（探傷信号から高いＳ／Ｎ比できず信号を抽出する）を十分に得ることができず、きず検出能が低下する虞がある（前述した（１）の問題点）。
【００１７】
また、同期検波により抽出されたきず信号を参照信号の２周期分に相当する単位領域毎に平滑化する場合、図５に示すように、平滑化後のきず信号の位相情報（きずの角度情報）は失われることになり、きずＡ及びＢの双方について、平滑化後のきず信号は同様の直流信号波形となる。つまり、きずの角度情報を推定できないことになる（前述した（２）の問題点）。
【００１８】
また、上記のように平滑化後のきず信号の位相情報が失われ、励磁電流の１周期の内、きず信号が何れの位置に存在するかを特定することができないため、きず検出能（Ｓ／Ｎ比）を評価する際には、図３（ａ）を参照して前述したように、常にきず信号の振幅とノイズの振幅との比で評価する必要が生じる。つまり、きず検出能を向上させる手法として一般的な位相解析法を用いることができない（前述した（３）の問題点）。
【００１９】
さらに、従来より、きずの連続性を正確に評価して探傷精度を向上させることを目的として、きず信号を含む探傷信号を画像化した、或いは、この探傷信号を所定のしきい値で２値化して得られる信号を画像化した探傷画像（濃淡画像やカラー画像）を形成し、この探傷画像を目視することにより、或いは、探傷画像に適宜の画像処理フィルタ等を用いた画像処理を施すことにより、きずの２次元分布状態を把握して、きずの連続性を評価する手法が提案されている。これは、きずの有害度を評価する際に、分断されて検出された個々のきずの深さや長さを評価する以外に、同じ方向に延びる複数のきず（群集欠陥）を１つのきずとして、この群集欠陥全体の長さを有害度の評価指標とすることがあるためである。この指標は、たとえ複数に分断されて検出されたきずであったとしても、実際には連続した１つのきずである場合には、実際に分断されているきずに比べて、有害度を高く評価するために設けられている。従って、群集欠陥全体の長さ、すなわち、きずの連続性を正確に評価することは重要である。
【００２０】
しかしながら、従来の回転磁界を利用した磁気探傷方法では、前述のように、きずの角度情報を推定できないため、探傷信号の振幅情報のみに基づいて探傷画像を形成するしかない。このため、実際には連続した単一のきずであっても、例えば部分的にきずの深さが浅いために分断されて検出され、探傷画像においては分断されて表示されるようなきずについては、きずの連続性を正確に評価することは困難である（前述した（４）の問題点）。特に、きずの寸法と比較して十分に小さな検出センサの走査間隔を設定できないため、探傷画像の位置分解能が低下せざるを得ない場合（被検査材を高速搬送するラインでは検査能率の制約からよくあるケース）には、探傷画像自体から、きずがどの方向に延びているかの正確な情報が得られないため、きずの連続性を正確に評価することは困難である。以下、図６〜図８を参照して、より具体的に説明する。
【００２１】
図６に示すように、被検査材Ｓに、２つのきずＡ、Ｂとノイズ源Ｎとが存在する場合を想定する。そして、この被検査材Ｓ上で検出センサを走査して得られる探傷画像（探傷信号を所定のしきい値で２値化して得られる信号を画像化した探傷画像）内には、図７に示すように、検出センサのＡ／Ｄ変換速度や走査速度等に応じて離散化された、被検査材Ｓにおけるきず候補部位に対応する画素群、すなわち、きずＡに対応する４つの画素群ａ１〜ａ４と、きずＢに対応する２つの画素群ｂ１、ｂ２と、ノイズ源Ｎに対応する画素ｎとが存在すると想定する。
【００２２】
図７に示す探傷画像に対してきずの連続性を評価する場合、探傷信号の振幅情報のみに基づいて探傷画像が形成されているため、きず候補部位に対応する画素群の分布状態のみに基づいて連続性を評価せざるを得ない。従って、きずの連続性を評価するための画像処理フィルタ等の構成に応じて、図８に示すように、画素群ａ１〜ａ４、ｂ１が１つのきずＡであり、画素群ｂ２、ｎが１つのきずＢであると間違って評価してしまう虞がある。換言すれば、きずＡについては、その長さを実際の長さよりも過大に評価する一方、きずＢについては、その長さを実際の長さよりも過少に評価すると共に、ノイズ源Ｎに対応する画素ｎをもきずと誤認識してしまう虞がある。このため、きずの有害度を正確に評価できない虞がある。
【特許文献１】特開２００２−１３１２８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
本発明は、斯かる従来技術の問題点を解決するべくなされたものであり、回転磁界を用いて被検査材に存在する種々の方向に延びるきずを高精度に探傷可能な磁気探傷方法及び磁気探傷装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
前記課題を解決するべく、本発明は、被検査材に回転磁界を作用させ、該回転磁界によって生じる探傷信号に基づいてきずを検出する磁気探傷方法であって、前記回転磁界を励磁するための励磁電流として、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を用い、前記探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波した後、前記第２電流を参照信号として同期検波することにより、きず候補信号を抽出するステップと、被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位におけるきず候補信号の強度に応じた濃度を有し、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像を表示するステップと、前記表示された探傷画像に基づいてきずを検出するステップとを含むことを特徴とする磁気探傷方法を提供するものである。
【００２５】
斯かる発明によれば、回転磁界を励磁するための励磁電流として、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を用いるため、周波数の高い第１電流によって生成される磁界（及びこの磁界によって誘起される渦電流）が支配的に被検査材に作用する一方、周波数の低い第２電流は、主として前記生成された磁界（及び渦電流）の方向を被検査材において回転させるために機能する。これは、被検査材に生じる誘導起電力が励磁電流の周波数に比例するからである。
【００２６】
そして、本発明によれば、探傷信号を第１電流を参照信号として同期検波した後、第２電流を参照信号として同期検波することにより、きず候補信号を抽出することになる。すなわち、先ず最初に、磁界の回転周波数（第２電流の周波数に相当）よりも高い周波数の第１電流を参照信号として探傷信号を同期検波するため、従来のように磁界の回転周波数と同一の周波数の参照信号で同期検波する場合に比べて、実際にきずが存在する部位から得られるきず信号の有する周期成分と参照信号の周期とを一致させ易く、同期検波の効果（探傷信号から高いＳ／Ｎ比できず信号を抽出する）を十分に得られることが期待できる。また、上記第１電流を参照信号として同期検波することにより抽出された探傷信号を、当該参照信号の２〜３周期分程度に相当する単位領域毎に平滑化しても、平滑化後の探傷信号に含まれるきず信号の位相情報は保持され易いため、きずの角度情報（何れの方向に延びているのか）を推定可能である。さらに、上記のように平滑化しても、きず信号の位相情報が保持され易いため、引き続いて第２電流を参照信号として同期検波する際に位相解析法を適用することができ、きず検出能に対するリフトオフ変動ノイズの影響等を抑制することが可能である。
【００２７】
さらに、本発明によれば、被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位におけるきず候補信号（第２電流を参照信号として同期検波した後の探傷信号）の強度に応じた濃度を有し（所定のしきい値できず候補信号の強度が２値化された場合を含む）、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像が表示されることになる。具体的には、例えば、位相解析法を適用することによって得られたきず候補信号の位相に応じて各画素が異なる色に色付けされた（各画素の濃度はきず候補信号の強度に応じて異なる）１枚のカラー画像が探傷画像として表示されることになる。或いは、各画像中に含まれるきず候補信号の位相（位相の範囲）が異なる複数枚の濃淡画像（各画素の濃度はきず候補信号の強度に応じて異なる）が探傷画像として表示されることになる。このため、探傷画像におけるきず候補信号の強度のみならず位相（角度情報）を目視することができるので、きずの連続性を正確に評価可能である。
【００２８】
また、前記課題を解決するべく、本発明は、被検査材に回転磁界を作用させ、該回転磁界によって生じる探傷信号に基づいてきずを検出する磁気探傷方法であって、前記回転磁界を励磁するための励磁電流として、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を用い、前記探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波した後、前記第２電流を参照信号として同期検波することにより、きず候補信号を抽出するステップと、前記きず候補信号を所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出するステップと、被検査材の各部位に対応する複数の画素でそれぞれ構成され、前記検出されたきず候補部位に対応する画素が他の画素と識別可能な濃度を有する探傷画像を、前記きず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じて複数枚形成するステップと、前記複数枚の探傷画像のそれぞれに対して個別に画像処理を施すことにより、各探傷画像に存在するきず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じた方向についての当該きず候補部位の連続性を評価するステップと、前記きず候補部位の連続性に基づいて、きずを検出するステップとを含むことを特徴とする磁気探傷方法としても提供される。
【００２９】
斯かる発明によれば、前述した発明と同様に、同期検波の効果が十分に得られることが期待でき、きずの角度情報を推定可能であり、きず検出能に対するリフトオフ変動ノイズの影響等を抑制することが可能である。そして、きずの連続性を画像処理によって自動的に正確に評価可能である。
【００３０】
なお、第１電流の周波数と第２電流の周波数との比は、きずの角度情報を如何なる分解能で推定するか等によって適宜決定すればよい（両者の比が大きくなればなるほど分解能は大きくなる）。例えば、少なくとも４５°ピッチの分解能で推定するためには、両者の比を８（３６０°／４５°＝８）以上に設定する必要がある。
【００３１】
従って、好ましくは、前記磁気探傷方法において、前記第１電流及び前記第２電流の周波数が下記式（１）を満足するものとされる。
第１電流の周波数／第２電流の周波数≧８  ・・・（１）
【００３２】
また、前記課題を解決するべく、本発明は、被検査材に回転磁界を作用させる磁化手段と、前記回転磁界によって生じる探傷信号を検出する検出手段と、前記探傷信号に信号処理を施す信号処理手段とを備えた磁気探傷装置であって、前記磁化手段は、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を励磁電流として通電する励磁コイルを具備し、前記信号処理手段は、前記検出手段によって検出した探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波する第１同期検波手段と、該第１同期検波手段の出力信号を前記第２電流を参照信号として同期検波してきず候補信号を抽出する第２同期検波手段と、被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位におけるきず候補信号の強度に応じた濃度を有し、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像を表示する探傷画像表示手段とを具備することを特徴とする磁気探傷装置としても提供される。
【００３３】
さらには、前記課題を解決するべく、本発明は、被検査材に回転磁界を作用させる磁化手段と、前記回転磁界によって生じる探傷信号を検出する検出手段と、前記探傷信号に信号処理を施す信号処理手段とを備えた磁気探傷装置であって、前記磁化手段は、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を励磁電流として通電する励磁コイルを具備し、前記信号処理手段は、前記検出手段によって検出した探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波する第１同期検波手段と、該第１同期検波手段の出力信号を前記第２電流を参照信号として同期検波してきず候補信号を抽出する第２同期検波手段と、前記きず候補信号を所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出するきず候補部位検出手段と、被検査材の各部位に対応する複数の画素でそれぞれ構成され、前記検出されたきず候補部位に対応する画素が他の画素と識別可能な濃度を有する探傷画像を、前記きず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じて複数枚形成する探傷画像形成手段と、前記複数枚の探傷画像のそれぞれに対して個別に画像処理を施すことにより、各探傷画像に存在するきず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じた方向についての当該きず候補部位の連続性を評価する連続性評価手段と、前記きず候補部位の連続性に基づいて、きずを検出するきず検出手段とを具備することを特徴とする磁気探傷装置としても提供される。
【００３４】
好ましくは、前記磁気探傷装置において、前記第１電流及び前記第２電流の周波数が下記式（１）を満足するものとされる。
第１電流の周波数／第２電流の周波数≧８  ・・・（１）
【発明の効果】
【００３５】
本発明によれば、前述した（１）〜（４）の問題点を解決することができ、回転磁界を用いて被検査材に存在する種々の方向に延びるきずを高精度に探傷可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下、添付図面を適宜参照しつつ、本発明の一実施形態について説明する。
【００３７】
図９は、本発明の一実施形態に係る磁気探傷装置の概略構成を示すブロック線図である。図１０は、図９に示す探傷プローブの模式的な外観図を示す。図９に示すように、本実施形態に係る磁気探傷装置１００は、被検査材に回転磁界を作用させる磁化手段１と、前記回転磁界によって生じる探傷信号を検出する検出手段２と、前記探傷信号に信号処理を施す信号処理手段３とを備えている。
【００３８】
磁化手段１は、回転磁界を生じさせるための励磁電流を通電する励磁コイル１１を具備する。図１０に示すように、励磁コイル１１は、導線の巻回方向が互いに直交すると共に、中心位置が互いに一致するように配置されたＸ方向励磁コイル１１１及びＹ方向励磁コイル１１２を備える。Ｘ方向励磁コイル１１１に励磁電流（Ｘ方向励磁電流）を通電することにより、図１０に示すＸ方向に磁界が生成される。一方、Ｙ方向励磁コイル１１２に励磁電流（Ｙ方向励磁電流）を通電することにより、図１０に示すＹ方向に磁界が生成される。そして、各励磁コイル１１１、１１２に通電する交流の励磁電流の位相を９０°ずらすことにより、各励磁コイル１１１、１１２で生成された磁界の合成磁界が、各励磁コイル１１１、１１２の中心位置を中心として３６０°回転することになる。
【００３９】
本実施形態に係る励磁コイル１１は、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を励磁電流として通電する点に特徴を有する。具体的には、Ｘ方向励磁コイル１１１には、第１電流と第２電流とを重畳したＸ方向励磁電流が通電する一方、Ｙ方向励磁コイル１１２には、第１電流と第２電流とが重畳すると共にＸ方向励磁電流に対して位相が９０°ずれたＹ方向励磁電流が通電する。以下、図１１も適宜参照しつつ、上記の特徴部分について、より具体的に説明する。
【００４０】
本実施形態に係る磁化手段１は、第１電流の電圧波形を生成する第１発信器１２と、第２電流の電圧波形を生成する第２発信器１３とを具備する。すなわち、図１１（ａ）に示すように、第１発信器１２からは、予め決定した第１電流の周波数と同一周波数の電圧波形（以下、第１電圧波形という）が出力され、第２発信器１３からは、予め決定した第２電流の周波数と同一周波数の電圧波形（以下、第２電圧波形という）が出力される。第２電圧波形の周波数は、第１電圧波形の周波数よりも低周波である。なお、予め決定する第１電流の周波数と第２電流の周波数との比は、きずの角度情報を如何なる分解能で推定するか等によって適宜決定すればよいが、好ましくは、第１電流の周波数／第２電流の周波数≧８を満足するように決定される。
【００４１】
また、磁化手段１は、乗算器１４と、パワーアンプ１５とを具備する。第１発信器１２から出力された第１電圧波形と、第２発信器１３から出力された第２電圧波形とは、乗算器１４によって乗算（重畳）され、パワーアンプ１５によって電流に変換される。パワーアンプ１５から出力される電流は、図１１（ｂ）に示すように、Ｘ方向励磁コイル１１１に通電するＸ方向励磁電流として用いられる。
【００４２】
一方、磁化手段１は、９０°移相器１６と、乗算器１７と、パワーアンプ１８とを具備する。第２発信器１３から出力された第２電圧波形は、その位相が９０°移相器１６によって９０°だけ移相される。例えば、図１１（ａ）に示すように、第２発信器１３から出力される第２電圧波形が余弦波である場合、９０°移相器１６から出力される電圧波形は、第２電圧波形と同一周波数の正弦波となる。そして、第１発信器１２から出力された第１電圧波形と、９０°移相器１６から出力された電圧波形とは、乗算器１７によって乗算（重畳）され、パワーアンプ１８によって電流に変換される。パワーアンプ１８から出力される電流は、図１１（ｂ）に示すように、Ｙ方向励磁コイル１１２に通電するＹ方向励磁電流として用いられる。
【００４３】
以上の構成により、図１１（ｂ）に示すように、Ｘ方向励磁コイル１１１には、第１電流と第２電流とを重畳したＸ方向励磁電流が通電する一方、Ｙ方向励磁コイル１１２には、第１電流と第２電流とが重畳すると共にＸ方向励磁電流に対して位相が９０°ずれたＹ方向励磁電流が通電することになる。
【００４４】
このように、本実施形態に係る磁化手段１は、回転磁界を励磁するための励磁電流（Ｘ方向励磁電流及びＹ方向励磁電流）として、第１電流と該第１電流よりも周波数の低い第２電流とを重畳した交流電流を用いるため、周波数の高い第１電流によって生成される磁界（及びこの磁界によって誘起される渦電流）が支配的に被検査材に作用する一方、周波数の低い第２電流は、主として前記生成された磁界（及び渦電流）の方向を被検査材において回転させるために機能する。
【００４５】
本実施形態に係る検出手段２は、励磁コイル１１の中心を通り、Ｘ方向及びＹ方向に直交するＺ方向（図１０参照）の磁束の変化を検出するための検出コイルとされている。検出コイル２は、Ｚ方向の磁束の変化を検出し、探傷信号として信号処理手段３に出力する。なお、検出コイル２は、前述したＸ方向励磁コイル１１１及びＹ方向励磁コイル１１２と一体化されて、探傷プローブ４を形成している。
【００４６】
信号処理手段３は、検出手段２によって検出した探傷信号を前記第１電流を参照信号として同期検波する第１同期検波手段３１を具備する。具体的には、第１同期検波手段３１は、第１発信器１２から出力される第１電圧波形（第１電流の電圧波形）を参照信号として、検出手段２から出力される探傷信号を同期検波する。さらに、第１同期検波手段３１は、同期検波により抽出された交流信号を、参照信号（第１電流の電圧波形）の２〜３周期分程度に相当する単位領域毎に平滑化して出力する。
【００４７】
ここで、従来技術について前述したのと同様に、被検査材に、延びる方向の異なる２種類のきずＡ、Ｂ（きずＡの角度θ（図１参照）＝２０°、きずＢの角度θ＝７０°）が存在し、α＝２０°であると仮定する。本発明においても、漏洩磁束探傷法の場合、上記仮定の下で、きずＡのきず信号は、磁界の方向φ（図１参照）が、φ＝２０°＋９０°＋１８０°×ｎ（ｎは整数）のときに最大となり、φ±２０°の範囲を超えると振幅が０となる。同様にして、きずＢのきず信号は、磁界の方向φが、φ＝７０°＋９０°＋１８０°×ｎ（ｎは整数）のときに最大となり、φ±２０°の範囲を超えると振幅が０となる。
【００４８】
図１２は、上記仮定の下での、きずＡ、Ｂのきず信号波形を模式的に示すグラフである。また、図１３は、第１同期検波手段において、第１電流を参照信号としてきず信号を含む探傷信号を同期検波し、同期検波により抽出されたきず信号を参照信号の２周期分に相当する単位領域毎に平滑化した後のきず信号波形を示すグラフである。なお、図１２及び図１３において、探傷信号に含まれるノイズの波形は図示を省略している。
【００４９】
図１２及び前述した図１１を参照すれば分かるように、きずＡ、Ｂから得られるきず信号には、第１電流の周期と一致する周期成分が含まれるため、第１電流を参照信号として同期検波すれば、従来のように磁界の回転周波数と同一の周波数の参照信号（本発明の第２電流に相当）で同期検波する場合に比べて、探傷信号から高いＳ／Ｎ比できず信号を抽出することが可能である。
【００５０】
また、図１３に示すように、第１電流を参照信号として同期検波することにより抽出されたきず信号を、当該参照信号の２周期分に相当する単位領域毎に平滑化しても、平滑化後のきず信号の位相情報は保持されるため、きずＡ、Ｂの角度情報（何れの方向に延びているのか）を推定可能である。
【００５１】
信号処理手段３は、第１同期検波手段３１の出力信号を前記第２電流を参照信号として同期検波してきず候補信号を抽出する第２同期検波手段３２を具備する。また、信号処理手段３は、第２同期検波手段３２の出力信号に基づいてリサージュ波形を表示するリサージュ波形表示手段３３を具備する。
【００５２】
具体的には、第２同期検波手段３２は、第１同期検波手段３１の出力信号を互いに同一の２つの信号に分岐する。そして、第２同期検波手段３２は、第２発信器１３から出力される第２電圧波形（第２電流の電圧波形）を参照信号として、前記分岐した一方の信号を同期検波する。この同期検波された信号（Ｘ信号）は、リサージュ波形表示手段３３に出力される。また、第２同期検波手段３２は、９０°移相器１６から出力される電圧波形（第２電流の電圧波形と位相が９０°異なる電圧波形）を参照信号として、前記分岐した他方の信号を同期検波する。この同期検波された信号（Ｙ信号）は、リサージュ波形表示手段３３に出力される。
【００５３】
リサージュ波形表示手段３３は、第２同期検波手段３２から出力されたＸ信号をＸ軸成分とし、Ｙ信号をＹ軸成分としたリサージュ波形を表示する。この際、必要に応じて、検出コイル２のリフトオフ変動ノイズがＸ軸に沿うようにＸＹ座標系を回転させれば、Ｓ／Ｎ比を向上させることが可能である。前述のように、第１同期検波手段３１での平滑化後のきず信号の位相情報は保持されるため、第２同期検波手段３２及びリサージュ波形表示手段３３によって、上記のような位相解析法を適用することができ、きず検出能に対するリフトオフ変動ノイズの影響等を抑制することが可能である。
【００５４】
また、信号処理手段３は、被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位におけるきず候補信号の強度に応じた濃度を有し、当該各部位におけるきず候補信号の位相を識別可能とされた探傷画像を表示する探傷画像表示手段３４を具備する。
【００５５】
具体的には、探傷画像表示手段３４は、第２同期検波手段３２から出力されるＸ信号の強度Ｘ及びＹ信号の強度Ｙに基づき、以下の式（２）で表される振幅Ａと、式（３）で表される位相θを算出する。
Ａ＝（Ｘ２＋Ｙ２）１／２    ・・・（２）
θ＝ｔａｎ−１（Ｙ／Ｘ）  ・・・（３）
そして、適宜のセンサ（図示せず）で検出された探傷プローブ４と被検査材との相対位置関係（すなわち、探傷プローブ４で探傷を行っている被検査材の部位）が探傷画像表示手段３４に入力される。探傷画像表示手段３４は、前記センサで検出した被検査材の各部位に対応する複数の画素で構成された探傷画像であって、各画素が前記各部位における振幅Ａに応じた濃度を有し、当該各部位における位相θを識別可能とされた探傷画像を表示する。例えば、探傷画像表示手段３４は、位相θに応じて各画素が異なる色に色付けされた（各画素の濃度は振幅Ａに応じて異なる）１枚のカラー画像を探傷画像として表示する。或いは、探傷画像表示手段３４は、各画像中に含まれる位相θ（位相θの範囲）が異なる複数枚の濃淡画像（各画素の濃度は振幅Ａに応じて異なる）を探傷画像として表示する。
【００５６】
信号処理手段３は、上記構成の探傷画像表示手段３４を具備するため、探傷画像における振幅Ａのみならず位相（角度情報）を目視することができるので、きずの連続性を正確に評価可能である。
【００５７】
なお、本実施形態では、探傷画像表示手段３４によって表示される探傷画像の各画素が被検査材の各部位における振幅Ａに応じた濃度を有する構成について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、探傷画像の各画素が、被検査材の各部位におけるＸ信号の強度Ｘ、又は、Ｙ信号の強度Ｙに応じた濃度を有する構成を採用することも可能である。また、探傷画像の各画素が、検出コイル２のリフトオフ変動ノイズがＸ軸に沿うようにＸＹ座標系を回転させた後のＸ’Ｙ’座標系におけるＹ’軸方向の信号成分の強度に応じた濃度を有する構成を採用しても良い。さらに、探傷画像の各画素が、振幅Ａ、Ｘ信号の強度、Ｙ信号の強度、又は、Ｙ’軸方向の信号成分の強度の何れかを所定のしきい値で２値化した濃度を有する構成を採用することも可能である。
【００５８】
さらに、信号処理手段３は、きず候補信号を所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出するきず候補部位検出手段３５と、被検査材の各部位に対応する複数の画素でそれぞれ構成され、前記検出されたきず候補部位に対応する画素が他の画素と識別可能な濃度を有する探傷画像を、前記きず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じて複数枚形成する探傷画像形成手段３６と、前記複数枚の探傷画像のそれぞれに対して個別に画像処理を施すことにより、各探傷画像に存在するきず候補部位におけるきず候補信号の位相に応じた方向についての当該きず候補部位の連続性を評価する連続性評価手段３７と、前記きず候補部位の連続性に基づいて、きずを検出するきず検出手段３８とを具備する。
【００５９】
具体的には、きず候補部位検出手段３５は、第２同期検波手段３２から出力されるＸ信号の強度Ｘ及びＹ信号の強度Ｙに基づき、以下の式（２）で表される振幅Ａと、式（３）で表される位相θを算出する。
Ａ＝（Ｘ２＋Ｙ２）１／２    ・・・（２）
θ＝ｔａｎ−１（Ｙ／Ｘ）  ・・・（３）
きず候補部位検出手段３５は、振幅Ａを所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出し、きず候補部位検出信号として、探傷画像形成手段３６に出力する。また、きず候補部位検出手段３５は、きず候補部位検出信号に対応する位相θも探傷画像形成手段３６に出力する。
【００６０】
探傷画像形成手段３６には、きず候補部位検出手段３５から出力されたきず候補部位検出信号と、適宜のセンサ（図示せず）で検出された探傷プローブ４と被検査材との相対位置関係（すなわち、探傷プローブ４で探傷を行っている被検査材の部位）が入力される。探傷画像形成手段３６は、前記センサで検出した被検査材の各部位に対応する複数の画素でそれぞれ構成され、前記検出されたきず候補部位に対応する画素が他の画素と識別可能な濃度を有する（例えば、検出されたきず候補部位に対応する画素が２５５の濃度を有し、他の画素が０の濃度を有する）探傷画像を、前記きず候補部位における位相θ（位相の範囲）に応じて複数枚形成する。例えば、探傷画像形成手段３６は、きず候補部位における位相θの範囲がそれぞれ０°≦θ＜４５°、１３５°≦θ＜１８０°である２枚の探傷画像を形成する。図１４は、前述した図６に示す被検査材Ｓについて、探傷画像形成手段３６によって形成される探傷画像の一例を模式的に示す図であり、図１４（ａ）はきず候補部位における位相θの範囲が０°≦θ＜４５°である探傷画像を、図１４（ｂ）はきず候補部位における位相θの範囲が１３５°≦θ＜１８０°である探傷画像を示す。図１４（ａ）に示す探傷画像には、きずＡに対応する４つの画素群ａ１〜ａ４がきず候補部位として正確に含まれ、図１４（ｂ）に示す探傷画像には、きずＢに対応する２つの画素群ｂ１、ｂ２がきず候補部位として正確に含まれる。なお、ノイズ源Ｎに対応するきず候補部位は、４５°≦θ＜１３５°の位相θを有するため、探傷画像は形成されない。しかし、本発明はこれに限るものではなく、４５°≦θ＜１３５°の位相θを有するきず候補部位についても、１枚の又は位相θの範囲が異なる複数枚の探傷画像を形成し、後述のように、連続性評価手段３７による画像処理によって算出したきず長さの大小に応じて、きずであるか否かの判断を行うことも可能である。
【００６１】
連続性評価手段３７は、例えば、図１４（ａ）、（ｂ）に示す２枚の探傷画像のそれぞれに対して個別に画像処理を施すことにより、各探傷画像に存在するきず候補部位における位相θに応じた方向についての当該きず候補部位の連続性を評価する。この連続性の評価には、適宜の画像処理フィルタが用いられる。例えば、図１４（ａ）に示す探傷画像については、図１５（ａ）に示すように、きず候補部位を構成する一つの注目画素Ｅ１について、位相θの範囲（０°≦θ＜４５°）に応じた近傍画素領域（図中、ハッチを施した領域Ｓ１）内に、きず候補部位を構成する他の画素が存在するか否かを判断する。他の画素が存在する場合、当該他の画素と注目画素Ｅ１とは、同じきず候補部位についての画素領域であると判断する。図１５（ａ）に示す例では、注目画素Ｅ１と他の画素Ｅ２、Ｅ３とは、同じきず候補部位についての画素領域であると判断される。連続性評価手段３７は、各探傷画像内のきず候補部位を構成する全ての画素を注目画素として、上記の処理を繰り返し行い、その結果、同一のきず候補部位と判断されたものについて、その長さを算出する。図１５に示す例では、きず候補部位を構成する全ての画素が同一のきず候補部位であると判断され、その長さＬ１（同一のきず候補部位を構成する両端画素の距離）が算出される。図１４（ｂ）に示す探傷画像についても、図１５（ｂ）に示すように、同様の処理が施されて、きず候補部位の長さＬ２が算出される。ただし、図１４（ｂ）に示す探傷画像における位相θの範囲（１３５°≦θ＜１８０°）は図１４（ａ）に示す探傷画像における位相θの範囲（０°≦θ＜４５°）と異なるため、図１５（ｂ）に示す近傍画素領域（図中、ハッチを施した領域Ｓ２）は、図１５（ａ）に示す近傍画素領域とは異なる。
【００６２】
きず検出手段３８は、きず候補部位の連続性に基づいて、きずを検出する。すなわち、例えば、連続性評価手段３７によって算出したきず候補部位の長さが、予め定めた長さより長い場合にはきずであると判断し、予め定めた長さ以下である場合にはきずでないと判断する。図１５（ａ）に示すきず候補部位の長さＬ１、及び、図１５（ｂ）に示すきず候補部位の長さＬ２が、予め定めた長さより長い場合には、双方共に、きずとして検出されることになる。そして、探傷画像が形成されない位相θの範囲に存在するきず候補部位については、ノイズ源に対応する部位であると判断されることになる。
【００６３】
信号処理手段３は、上記構成のきず候補部位検出手段３５、探傷画像形成手段３６、連続性評価手段３７及びきず検出手段３８を具備するため、探傷画像における振幅Ａのみならず位相（角度情報）を利用して、きずの連続性を自動的に正確に評価可能である。
【００６４】
なお、本実施形態では、きず候補部位検出手段３５が、振幅Ａを所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出し、きず候補部位検出信号として、探傷画像形成手段３６に出力する構成について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、Ｘ信号の強度Ｘ、又は、Ｙ信号の強度Ｙを所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出し、きず候補部位検出信号として、探傷画像形成手段３６に出力する構成を採用することも可能である。また、検出コイル２のリフトオフ変動ノイズがＸ軸に沿うようにＸＹ座標系を回転させた後のＸ’Ｙ’座標系におけるＹ’軸方向の信号成分の強度を所定のしきい値で２値化することにより、被検査材におけるきず候補部位を検出し、きず候補部位検出信号として、探傷画像形成手段３６に出力する構成を採用しても良い。
【００６５】
以上に説明したように、本実施形態に係る磁気探傷装置１００によれば、単一周波数の励磁電流を用いることに起因する従来の回転磁界を利用した磁気探傷方法の問題点を解決することができ、回転磁界を用いて被検査材に存在する種々の方向に延びるきずを高精度に探傷可能である。
【００６６】
以下、実施例を示すことにより、本発明の特徴をより一層明らかにする。
【００６７】
図９及び図１０に概略構成を示す磁気探傷装置１００を用いて、図１６に示すように、鋼板Ｓに形成した線状の人工きずＦの探傷試験を実施した。表１に探傷条件の概要を、表２に被検査材の概略仕様を示す。表１に示すように、探傷プローブ４として、一辺が６ｍｍの立方体である芯材の側面にそれぞれ５０回巻きされたＸ方向及びＹ方向励磁コイルと、前記芯材の底面に取り付けられた直径５ｍｍの１００回巻きの検出コイルとを具備するものを作製した。
【表１】
0004863127.tif 000002
【表２】
0004863127.tif 000003
【００６８】
そして、図１６に示すように、作製した探傷プローブ４を鋼板Ｓの直上で且つ人工きずＦの直上を通るように一定方向（図１６に示すＹ方向）に走査して探傷信号を検出した。この際、人工きずの延びる方向と探傷プローブ４の走査方向との相対的な角度を順次変化させ、各角度毎に探傷信号を検出した。具体的には、図１６に示すＸ方向と人工きずＦの延びる方向との成す角度をθとした場合に、θ＝０°〜７５°の範囲を１５°ピッチで変化させ、各角度θでの探傷信号を検出した。
【００６９】
図１７は、上記の探傷試験によって得られたきず信号のリサージュ波形を示す。図１７に示すように、各角度（θ＝０°、１５°、３０°、４５°、６０°、７５°）のきず信号のリサージュ波形は、互いに異なる位相を有することが識別可能である。また、きず信号のリサージュ波形は、どの角度のきずについても全て十分に大きな振幅を有する。この結果より、本発明によれば、同期検波の効果を十分に得ることができると共に、きずの角度情報を推定可能であることが分かる。従って、探傷画像を用いたきずの連続性評価も正確に行うことが可能である。
【００７０】
なお、図１１に示す例では、リフトオフ変動ノイズが生じていないが、生じている場合には、リフトオフ変動ノイズがＸ軸に沿うようにＸＹ座標系を回転させ、回転後のＸ’Ｙ’座標系におけるＹ’軸方向の信号成分をきず候補信号とすることにより、きず検出能に対するリフトオフ変動ノイズの影響を抑制することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】図１は、回転磁界を生成するための励磁コイルの一例を示す平面視断面図である。
【図２】図２は、リサージュ波形の例を示す模式図である。
【図３】図３は、きず信号とリフトオフ変動ノイズとが位相差を有することを示すリサージュ波形の模式図である。
【図４】図４は、従来の回転磁界を利用した磁気探傷方法における、励磁電流波形ときず信号波形との時系列的な関係を示すグラフである。
【図５】図５は、図４に示す励磁電流を参照信号としてきず信号を含む探傷信号を同期検波し、同期検波により抽出されたきず信号を参照信号の２周期分に相当する単位領域毎に平滑化した後のきず信号波形を示すグラフである。
【図６】図６は、被検査材に存在するきず及びノイズ源を模式的に示す図である。
【図７】図７は、図６に示す被検査材について得られる従来の探傷画像の一例を模式的に示す図である。
【図８】図８は、図７に示す探傷画像に対してきずの連続性を評価した結果を示す図である。
【図９】図９は、本発明の一実施形態に係る磁気探傷装置の概略構成を示すブロック線図である。
【図１０】図１０は、図９に示す探傷プローブの模式的な外観図を示す。
【図１１】図１１は、図９に示す磁化手段によって生成される信号波形を示すグラフである。
【図１２】図１２は、図９に示す検出手段によって検出されるきず信号波形の一例を模式的に示すグラフである。
【図１３】図１３は、図９に示す第１同期検波手段において、第１電流を参照信号としてきず信号を含む探傷信号を同期検波し、同期検波により抽出されたきず信号を参照信号の２周期分に相当する単位領域毎に平滑化した後のきず信号波形の一例を模式的に示すグラフである。
【図１４】図１４は、図６に示す被検査材について、図９に示す探傷画像形成手段によって形成される探傷画像の一例を模式的に示す図である。
【図１５】図１５は、図１４に示す探傷画像について、図９に示す連続性評価手段が行う評価方法を説明する図である。
【図１６】図１６は、本発明の実施例に係る探傷試験の概要を説明する説明図であり、図１６（ａ）は縦断面図を、図１６（ｂ）は平面図を示す。
【図１７】図１７は、図１６に示す探傷試験によって得られたきず信号のリサージュ波形を示す。
【符号の説明】
【００７２】
１・・・磁化手段
２・・・検出手段
３・・・信号処理手段
４・・・探傷プローブ
１１・・・励磁コイル
１２・・・第１発信器
１３・・・第２発信器
３１・・・第１同期検波手段
３２・・・第２同期検波手段
３３・・・リサージュ波形表示手段
３４・・・探傷画像表示手段
３５・・・きず候補部位検出手段
３６・・・探傷画像形成手段
３７・・・連続性評価手段
３８・・・きず検出手段
１００・・・磁気探傷装置
１１１・・・Ｘ方向励磁コイル
１１２・・・Ｙ方向励磁コイル
【図１】
0004863127.tif 000004
【図２】
0004863127.tif 000005
【図３】
0004863127.tif 000006
【図４】
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【図５】
0004863127.tif 000008
【図９】
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【図１０】
0004863127.tif 000010
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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