(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象である液晶セルに所定の偏光を入射させ、透過または反射した光の偏光状態を観察するとともに、所定の配向パラメータをもつ複数の想定液晶セルに上記と同じ偏光を同じ条件で入射させたとき透過または反射する光の偏光状態を、波動方程式を解くことによってそれぞれ予測し、予測した偏光状態のうちから、観察した偏光状態と最も近いものを選定し、当該偏光状態をもたらす想定液晶セルの配向パラメータを、測定対象である液晶セルの配向パラメータとすることを特徴とし、
測定対象である液晶セルに所定の偏光を入射角θにて入射させ、透過または反射した光を、透過軸の角度Ａを１８０゜以上変化させ得る偏光板に通したうえ、角度Ａに対応づけて透過光強度Ｉを測定し、
Ｉ＝Ｉ０（１＋ａcos２Ａ＋ｂsin２Ａ）
ただしＩ０は平均強度
と表せるその透過光強度Ｉを、角度Ａについてフーリエ積分することにより定数ａまたはｂを求め、入射角θを種々設定して上記を行うことにより入射角θと定数ａまたはｂとの関係を知り、その関係を、上記において観察し予測する光の偏光状態として扱うことをも特徴とする液晶セルの配向パラメータ測定方法。
【請求項２】
配向パラメータとして、基板に対する液晶分子の傾きであるプレティルト角を測定することを特徴とする請求項１に記載した液晶セルの配向パラメータ測定方法。
【請求項３】
単色光源と、透過軸の角度設定が可能な偏光子と、測定対象である液晶セルを取外し可能に取り付けるとともにその向き変更によって当該セルへの光の入射角θの変更が可能な液晶セル支持台と、モータによって透過軸の角度Ａの変更が可能でありセンサによってその角度Ａの検出が可能な偏光板と、光の強度を検知してそれに応じた強度Ｉの電気信号を出力する光電変換器と、光電変換器が出力する電気信号の強度Ｉを液晶セルへの入射角θおよび偏光板の透過軸角度Ａに対応づけて記憶する情報処理手段とを含み、
上記の単色光源、偏光子、液晶セル支持台、偏光板および光電変換器が、単色光源から発せられ偏光子を経由して得られた偏光を、液晶セル支持台上に取り付けられた液晶セルに入射させ、透過または反射した光を偏光板に通したうえ光電変換器に照射するように配置されていることを特徴とし、
上記の情報処理手段がさらに、上記光電変換器の出力であって
Ｉ＝Ｉ０（１＋ａcos２Ａ＋ｂsin２Ａ）
ただしＩ０は平均強度
と表せる強度Ｉを、角度Ａについてフーリエ積分することにより入射角θごとに定数ａまたはｂを求め、求めた定数ａまたはｂと入射角θとの関係を記憶することをも特徴とする液晶セルの配向パラメータ測定装置。
【請求項４】
上記の情報処理手段がさらに、所定の配向パラメータをもつ複数の想定液晶セルに上記と同じ偏光子を経て同じ入射角θで偏光が入射したとき透過または反射する光の偏光状態を、波動方程式を解くことによってそれぞれ予測したうえ、入射角θと定数ａまたはｂとの関係を演算・記憶し、上記で記憶した測定対象である液晶セルにおけるそれらの関係と比較して近似のものを選定し、選定したその想定液晶セルの配向パラメータを、測定対象である液晶セルの配向パラメータとして表示する
ことを特徴とする請求項３に記載した液晶セルの配向パラメータ測定装置。
【請求項５】
配向パラメータとして、基板に対する液晶分子の傾きであるプレティルト角を測定することを特徴とする請求項３または４に記載した液晶セルの配向パラメータ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
請求項に係る発明は、液晶表示器などに用いられる液晶セルについて、その表示特性に直結する配向パラメータを測定するための方法および装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
液晶セルにおける「配向」、すなわち液晶分子がどのように並んでいるかは、そのセルを使用する液晶表示器の表示特性を左右する重大な要素である。そうした配向を表すパラメータとしては、「プレティルト角」や「セル間隙」、「捩じれ角」などがある。図４に示す一般的な液晶セル１’において、基板３’・４’の表面に接した液晶分子２’の起き上がり角度がプレティルト角であり、上下の基板３’・４’間の距離がセル間隙である。また、図３のように液晶分子が螺旋状に捩じれている液晶セル１について、基板３・４と直角な方向から見える上下の液晶分子２の間の角度差が捩じれ角である。安定した高い品質の液晶表示器を製造するためには、液晶セルについてこのような配向パラメータを把握することが不可欠である。
【０００３】
液晶セルにおけるプレティルト角などの配向パラメータを測定するためには、従来、クリスタルローテーション法と呼ばれる方法がとられてきた。同法は、図５に示すように、透過軸が互いに直交する偏光子（偏光板）１２’と検光子（偏光板）１４’との間に液晶セル１’を置き、レーザー光源１１’や光検出器１５’をも用いて、さまざまな入射角（セル１’への偏光の入射角）に対する検光子透過光強度を観察し、その最大値を与える入射角から配向パラメータを算出する方法である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記した従来の方法で測定することができるのは、図４に示すような一様配向の液晶セル、すなわち、上下基板に接するものを含めてセル内の液晶分子がすべて同じ向きに並んだセルに限定されている。しかるに、実際の液晶表示器に多く用いられている液晶セルは、図３のように液晶分子が螺旋状に捩じれたツイスト配向、または、液晶分子が広げた扇の骨のようにならんだスプレイ配向、さらにはより複雑な他の配向を有している。そのような非一様配向をもつ液晶セルは、一様配向のものよりも表示上のコントラストが明瞭で、応答も迅速であるなどの特徴を有するため、用途や使用量が急速に拡大されてきた。このため、従来の方法では、実際に用いられるほとんどの液晶セルについて配向パラメータを測定することができなくなってきている。また、一様配向のものであっても、セル間隙が小さい液晶セルについては、従来の方法で十分な測定精度を得ることは困難であるとされている。
【０００５】
なお、特開平１０−１５３７８０号公報には、非一様配向の液晶セルについて配向パラメータを測定する方法が記載されている。ただしその方法は、図５に示す測定手段とさらに１／４波長板とを使用し、検光子を複数の特定の角度に設定したときの透過光強度より数個のストークスパラメータを算出し、それらから捩じれ角とセル間隙とを求めるという手順をとるものである。その方法では、検光子を複数の特定角度に逐一設定する必要があること等から、液晶セル上の多点について測定を行う場合には所用時間の短縮が望まれる。
【０００６】
請求項の発明は、実際の液晶表示器に多く採用される非一様配向の液晶セルについて、プレティルト角などの配向パラメータを迅速に測定する方法、およびそれを実現する装置を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載した液晶セルの配向パラメータ測定方法は、まず、
<1>  測定対象である液晶セルに所定の偏光を入射させ、透過（または反射。以下「透過等」という）した光の偏光状態を観察するとともに、
<2>  所定の配向パラメータをもつ複数の想定液晶セルに上記と同じ偏光を同じ条件で入射させたとき透過等する光の偏光状態を、波動方程式（Maxwellの波動方程式）を解くことによってそれぞれ予測し、
<3>  予測した偏光状態のうちから、観察した偏光状態ともっとも近いものを選定し、当該偏光状態をもたらす想定液晶セルの配向パラメータを、測定対象である液晶セルの配向パラメータとする−ことを特徴とする。
【０００８】
こうして行う配向パラメータの測定は、つぎのような原理によって高精度の測定結果をもたらす。すなわち、
a)  偏光している光（たとえば直線偏光）を液晶セルに入射させた場合、液晶が複屈折率をもつために、透過等した光の偏光状態は一般に入射光のものとは異なる。どのように偏光状態が変わるかは、液晶の屈折率やセルの厚さ、セル内の液晶分子の配向状態（プレティルト角など）によって決まる。
【０００９】
b)  一方、液晶セルにおける液晶の複屈折率や液晶分子の並び方、セルの厚さなどが分かっている場合、そのような液晶セルを透過等した光がどのような偏光状態に変わるかは、計算によって相当の精度で予測することができる。液晶分子の配向状態が与えられたときの偏光伝播特性は、よく知られたMaxwellの波動方程式を解くことにより導かれるからである。したがって、配向パラメータの明らかな複数のセルを想定液晶セルとし（同セルを実際に作製等する必要はない）、測定に使用する入射光の偏光状態（直線偏光の向き）など既知のデータを与えれば、各想定液晶セル（すなわちそれぞれに対応する各配向パラメータ）について入射角に対する透過光（または反射光。以下同様）の偏光状態を算出し予測することができる。なお、あらかじめ液晶分子の配向を計算するためには、広く認められている連続体理論によって与えられる偏微分方程式を、所定の境界条件のもとに解けばよい。
【００１０】
c)  したがって、実際の液晶セルを透過等した光の偏光状態を観察するとともに、配向パラメータの明らかな複数の想定液晶セルについて透過光の偏光状態を予測し、双方の結果（偏光状態）を対照すれば、観察した液晶セルについてプレティルト角などの配向パラメータを推定することが可能である。請求項１に係る測定方法は、上記の▲１▼によって観察した偏光状態（測定対象である液晶セルの偏光状態）を▲２▼によって予測した想定液晶セルの偏光状態と比較対照し、▲３▼のとおり、観察した偏光状態と最も近い偏光状態をもたらすと予測される想定液晶セルの配向パラメータをもって測定結果とするものであるから、複数の想定液晶セルにつき適切な間隔でパラメータを設定してそれぞれの偏光状態を算出しておく以上は、好ましい精度の測定を実現し得ることになる。
【００１１】
上記▲２▼のように行う偏光状態の予測は、想定液晶セルがツイスト配向やスプレイ配向などの非一様配向をもつものであっても可能であるため、請求項１の方法では、非一様配向の液晶セルについてもプレティルト角などの配向パラメータの測定が可能である。また、複数の想定液晶セルについて予測した偏光状態に関するデータは、一旦算出して保存（記憶）すれば、同じ液晶セルについて多点測定を行う際、再度算出しなくとも繰り返し利用することができる。そのため、本方法によると、偏光状態の特定を適切な手段によって行う限りは、液晶セル上の多点についての測定を短時間で行うことが可能になる。
【００１２】
請求項１に記載した測定方法は、とくに、上記のように観察および予測する光の偏光状態を、下記1)〜3)のように求める液晶セルへの偏光の入射角θと下記の定数ａまたはｂとの関係によって特定することをも特徴とする。すなわち、
1)  測定対象である液晶セルに所定の偏光を入射角θにて入射させ、透過等した光を、透過軸（または反射軸。以下同様）の角度Ａを１８０゜以上変化させ得る偏光板（検光子。たとえば回転する偏光板）に通したうえ、角度Ａに対応づけて透過光強度Ｉを測定する。
【００１３】
2)  透過光強度Ｉは、平均強度をＩ０とするとき
Ｉ＝Ｉ０（１＋ａcos２Ａ＋ｂsin２Ａ）                ‥‥（ｉ）
と表せるが、その強度Ｉを、角度Ａについてフーリエ積分することにより定数ａまたはｂを求める。
【００１４】
3)  入射角θを種々設定（必要に応じ１ないし多数の値に設定）して上記1)・2)を行うことにより、入射角θと定数ａまたはｂとの関係を求める。求めたその関係を、上記において観察し予測する光の偏光状態として扱うのである。
【００１５】
上記1)のように液晶セルを透過等した光（すなわち検光子への入射光）の偏光状態は、上記の式（ｉ）における２数値ａ、ｂによって表すことができる。たとえば、ａ＝１かつｂ＝０なら、その光の偏光状態は、角度Ａが０（ゼロ）の面内を通る直線偏光であり、ａ＝ｂ＝０ならば円偏光である。
【００１６】
そして、検光子（偏光板）の透過軸の角度Ａに対応づけて透過光強度Ｉを測定することから、測定対象である液晶セルに関する上記の定数ａおよびｂは、強度Ｉを上記2)のように角度Ａについてフーリエ積分することにより算出される。さらに、3)のとおり入射角θを変化させて逐一ａ、ｂを求めることにより、それぞれの入射角θと定数ａ、ｂとの関係（各入射角θに対するａ(θ)、ｂ(θ)の値）が求められる。
【００１７】
この請求項１の方法は、測定した液晶セルについて観察される偏光状態と、想定液晶セルについて予測される偏光状態とを入射角θと定数ａ、ｂとの関係に置き換え、それに基づいて上記のとおり双方の結果を対照するものである。すなわち、測定対象である液晶セルに関して上記のとおりθとａ、ｂとの関係を求める一方、配向パラメータの分かっている複数の想定液晶セルについてθとａ、ｂとの関係を予測し、測定した液晶セルにおける関係と最も近い関係を表す想定液晶セルについての配向パラメータを、測定対象であるその液晶セルの配向パラメータであるとするのである。双方のセルにおけるａ、ｂを対照するにあたり、比較の便宜のために、ａ、ｂをもとに演算される他の値（ａ２＋ｂ２など）を比較することも、請求項１の方法の範囲内で行うことができる。
【００１８】
この方法によれば、多点の測定を含めて、液晶セルにおける配向パラメータの測定を迅速に行うことができる。測定する透過光強度Ｉから定数ａ、ｂを求めることが定式的な一連の数値計算によって容易に行えること、また、観察し予測する光の偏光状態が、入射角θと定数ａ、ｂとの関係に置き換えられることによって比較対照されやすくなること、がその理由である。なお、一部の配向パラメータについて、測定すべき精度が所定の範囲内のものである場合等には、特定の入射角θに対する定数ａ、ｂの関係のみを比較すれば足りることもある。そのような場合には、入射角θは１つの値（たとえば０゜）のみに設定すればよい。
【００１９】
請求項２に記載した測定方法はとくに、配向パラメータとして、基板に対する液晶分子の傾き（起き上がり角度）であるプレティルト角を測定することを特徴とする。
【００２０】
この請求項２に記載の測定方法は、請求項１の方法によりプレティルト角を測定するものである。これによって一つの境界条件が明らかになるので、液晶分子の並び方に関する偏微分方程式の解として、セル間隙や捩じれ角などを含むすべての配向パラメータを求めることも容易になり、その精度が向上する。その理由はつぎのとおりである。
【００２１】
所定の偏光が液晶セルに入射して透過等したとき光の偏光状態は前記のように液晶の屈折率やセルの厚さ、セル内の液晶の配向状態によって決まるが、この配向状態は、液晶セルを構成する基板の表面に接した液晶分子の起き上がり角度、すなわちプレティルト角などによって決まる。また 、液晶セル内の液晶分子がどのような配向をとるかについては、周知の連続体理論により理論的に解明され偏微分方程式の形で明らかにされている（たとえば、Chantrasekhar著・Cambridge University Press発行の「Liquid Crystals」などを参照）。このような方程式を、プレティルト角や捩じれ角などの境界条件として種々の仮定値・近似値を与えながら解くことにより、セル内部の配向状態を求めることができる。したがって、測定によりプレティルト角として確からしい値を知ることができれば、液晶セルにおける他の配向パラメータをも高い精度で求めることが可能になる。
【００２２】
請求項３に記載した液晶セルの配向パラメータ測定装置は、下記a)〜f)を含めて構成したものである。すなわち、
a)  単色光源、
b)  透過軸の角度設定が可能な偏光子、
c)  測定対象である液晶セルを取外し可能に取り付けるとともにその向き変更によって当該セルへの光の入射角θの変更が可能な液晶セル支持台、
d)  モータによって透過軸の角度Ａの変更が可能であり、センサによってその角度Ａの検出が可能な偏光板（検光子と呼ばれる）、
e)  光の強度を検知してそれに応じた強度Ｉの電気信号を出力する光電変換器（必要によりＡＤ変換器を含む）、
f)  光電変換器が出力する電気信号の強度（透過光強度）Ｉを、液晶セルへの入射角θおよび偏光板（検光子）の透過軸角度Ａに対応づけて記憶する情報処理手段。
【００２３】
このように構成した測定装置なら、測定対象である液晶セルに所定の偏光を入射させ、透過等した光の偏光状態を当該状態に対応する数値データとして保存することができ、したがって、当該液晶セルの配向パラメータを知るための情報蓄積が可能になる。上記a)の単色光源から発せられb)の偏光子を経由して得られた所定の偏光を、c)の支持台上に取り付けられて入射角θが適宜設定された液晶セルに入射させ、透過等した光を、透過軸の角度Ａを１８０゜以上変化させ得るd)の検光子に通したうえe)の光電変換器に照射すれば、その光の透過光強度Ｉがf)の情報処理手段に出力され、同手段が、液晶セルへの入射角θおよび検光子の透過軸角度Ａに対応づけて透過光強度Ｉを記憶するからである。θおよびＡと強度Ｉとの関係はその液晶セルの配向状態に対応して決まるものであるため、そうして蓄積したデータ（実測データ）を解析することにより、測定対象とする液晶セルの配向パラメータを知ることが可能になる。なお、そのような解析は、たとえば請求項１に記載のように、既知の配向パラメータをもつ液晶セルについて算出したデータと上記で蓄積した実測データとを比較することによって行うとよいが、他の解析手法によってもよい。
【００２４】
請求項３に記載の測定装置は、上記の情報処理手段に、さらにつぎの演算と記憶とをさせることをも特徴とする。すなわち、上記光電変換器から出力される、
Ｉ＝Ｉ０（１＋ａcos２Ａ＋ｂsin２Ａ）                ‥‥（ｉ）
と表される強度Ｉ（透過光強度。上記のＩ０はその平均強度）の信号につき、角度Ａについてフーリエ積分することにより入射角θごとに定数ａまたはｂを演算させ、かつ、求めた定数ａまたはｂと入射角θとの関係を記憶させるのである。
【００２５】
この測定装置は、液晶セルを透過等した光の偏光状態を、式（ｉ）における定数ａまたはｂと入射角θとの関係という分かりやすいデータに変換して情報処理手段に記憶させるものである。したがって、データの処理が容易であり、たとえば請求項１の方法によって配向パラメータを測定する場合にも、その結果を迅速に得ることができる。
【００２６】
請求項４に記載の測定装置は、上記の情報処理手段にさらにつぎの処理を行わせるものである。すなわち、所定の配向パラメータをもつ複数の想定液晶セルに上記と同じ偏光子を経て同じ入射角θで偏光が入射したとき透過等する光の偏光状態を、波動方程式（Maxwellの波動方程式）を解くことによってそれぞれ予測したうえ、入射角θと定数ａまたはｂとの関係を演算・記憶し、上記で記憶した測定対象である液晶セルにおけるそれらの関係と比較して近似のものを選定し、選定したその想定液晶セルの配向パラメータを、測定対象である液晶セルの配向パラメータとして表示する処理、を行わせる。
【００２７】
この測定装置によると、請求項１に記載した測定方法が実施される。したがって、この装置では、非一様配向の液晶セルにおける多点を調査する場合であっても、配向パラメータを迅速に測定することが可能である。
【００２８】
請求項５に記載の測定装置はとくに、配向パラメータとして、基板に対する液晶分子の傾き（起き上がり角度）であるプレティルト角を測定することを特徴とする。
【００２９】
この測定装置は、液晶セルについてとくにプレティルト角の測定を行うものであり、請求項２の測定方法を実現する。プレティルト角を求めることによって、前述のとおり、液晶セルにおける他の配向パラメータを知ることも可能になる。
【００３０】
【発明の実施の形態】
発明の実施例としての一形態を、図１および図２を用いて説明する。図１は、配向パラメータの測定装置（および方法）について基本的構成を示す斜視図であり、図２は、その装置によって液晶セル１の配向パラメータを測定するときのデータの比較処理を示す模式図である。なお、図１の装置によっては、たとえば図３のような非一様配向の液晶セル１および図４のような一様配向の液晶セル１’を対象として、配向パラメータ、とくにプレティルト角の測定を行う。
【００３１】
図１に示す測定装置において、符号１１は単色光源をさし、たとえば波長が６３２．８ｎｍのヘリウム−ネオンレーザーをこれに用いる。１２は、直線偏光をつくるための偏光子である。この偏光子１２は、計算機制御の回転支持器（図示省略）に取り付けられていて円周方向に角度調整が可能であり、後述する情報処理手段１６の指令によって角度を変え、光源１１からの光を測定に適した向きの直線偏光に換える。１は測定対象の液晶セルであり、互いに直交する２つの回転軸をもつ支持台１３上に取外し容易な状態に取り付けられる。支持台１３は情報処理手段１６の指令によりその回転軸を中心に向きを変え得るため、液晶セル１に対する偏光の入射角θおよび入射面の向きがそれに応じて変更される。１４は検光子であり、モータ（図示省略）によって一定角速度で回転（最高１００００ｒｐｍ程度の高速回転）することにより透過軸の向きを回転させる。回転軸にはロータリーエンコーダ（図示省略）が取り付けられており、その出力信号によって、時々刻々変わる透過軸の向き（角度）Ａを情報処理手段１６が検知できるようになっている。１５は光電変換器で、検光子１４を通った光信号をそれに応じた強度Ｉの電気信号に変換する。光電変換器１５にはアナログ−ディジタル変換器（ＡＤ変換器）１５ａが含まれており、これによって電気信号はディジタル化されて出力される。１６はパーソナルコンピュータなどの情報処理手段であり、光電変換器１５・１５ａが出力するディジタルの電気信号（その強度Ｉが、検光子１４を通った光信号の強さに対応する）と検光子１４の透過軸の向きＡを知らせる信号（前記のエンコーダが発信するもの）とから、液晶セル１を透過した光の偏光状態を認識する。
【００３２】
液晶セル１を透過した光の偏光状態は、情報処理手段１６においてつぎのように定量化される。
【００３３】
適当な座標系を用いてはかった検光子１４での透過軸の向きをＡとすると、情報処理手段１６が観測する信号強度Ｉは、その平均強度をＩ０とするとき次式（ｉ）で表されるものとなる。
Ｉ＝Ｉ０（１＋ａcos２Ａ＋ｂsin２Ａ）                ‥‥（ｉ）
図示の装置では、偏光子１２によってつくったある向きの直線偏光を液晶セル１に入射させ、それを透過した光を、回転する検光子１４に導いたうえ透過光の強度Ｉを観察するが、検光子１４の透過軸が回転するため、観察される信号は検光子１４の半回転（１８０゜）を周期とする正弦波となるわけである。
【００３４】
式（ｉ）において定数ａ、ｂは実数であり、検光子１４の向きＡがロータリーエンコーダからの信号によって与えられることから、ａ、ｂは、強度ＩをＡでFourier積分することにより算出される。これら２つの数値ａ、ｂは、液晶セル１を透過した光、すなわち検光子１４への入射光の偏光状態を表すものである。たとえば、ａ＝１かつｂ＝０ならその偏光は、Ａと同じ座標系ではかって向きが0の直線偏光であり、ａ＝ｂ＝０ならば円偏光である。
【００３５】
計算機１６は、支持台１３の回転機構に指令を出して液晶セル１への偏光の入射角θを変えながら、上記の処理を繰り返し行い、それぞれの入射角θに対するａ０(θ)、ｂ０(θ)の値（すなわち入射角θと定数ａ０、ｂ０との関係）を演算し、観測結果として記憶しておく。
【００３６】
一方で計算機１６は、Maxwellの波動方程式を解くソフトウエアプログラムを実行し、適宜に想定した液晶セルについてのあるプレティルト角の値αに対する透過光の偏光状態と入射角との関係、すなわちａｃ(α；θ)、ｂｃ(α；θ)を計算により予測する。
【００３７】
上記によって求めた、測定対象たる液晶セル１の観測結果であるａ０(θ)、ｂ０(θ)と、想定液晶セルについて予測したａｃ(α；θ)、ｂｃ(α；θ)とを比較し、両者に違いがあると評価されるときは、プレティルト角αの値を修正（つまり別の液晶セルを想定）して再び計算を行い、新たなａｃ(α；θ)、ｂｃ(α；θ)を求めたうえ比較・評価を行う。このような手順を繰り返すことにより、観測結果であるａ０(θ)、ｂ０(θ)と予測したａｃ(α；θ)、ｂｃ(α；θ)との差異が一定の基準以下になれば、情報処理手段１６はそのときのプレティルト角αを測定値として表示する。
【００３８】
図２には、予測した３つのｂｃ(α；θ)（図中にはｂｃ１、ｂｃ２、ｂｃ３と記載）を、観測結果であるｂ０(θ)（図中にはｂ０と記載）に対して比較する場合を示している。観測結果との差異が極めて小さいｂｃ２の関係をもたらす想定液晶セルのプレティルト角αをもって、測定対象である液晶セル１のプレティルト角とするわけである。
【００３９】
なお、図１の装置では、検光子１４の半回転ごとに一つの入射角θについての定数ａ０、ｂ０の値を演算し、さらに、支持台１３の角度変更によって入射角θを−６０゜から＋６０゜までの１゜きざみで設定することにより、１つの液晶セル１における１点についてのａ０(θ)、ｂ０(θ)を求めている。しかし、検光子１４が上記のように高速度で回転すること、および、強度Ｉから定数ａ０、ｂ０を求める演算が短時間で行えることから、１点あたりのａ０(θ)、ｂ０(θ)は１秒前後で完了する。したがって、この装置によれば、液晶セル１上の多点の計測も短時間で行うことが可能である。
【００４０】
【発明の効果】
請求項１に記載した液晶セルの配向パラメータ測定方法によると、非一様配向の液晶セルについても配向パラメータの測定が可能である。また、液晶セル上の多点についての測定を短時間で行うことも可能になる。
【００４１】
請求項１に記載の測定方法によればさらに、多点の測定を含めて、液晶セルにおける配向パラメータの測定をとくに迅速に行うことができる。観察し予測する光の偏光状態が、入射角θと定数ａ、ｂとの関係に置き換えられることによって比較対照されやすくなること等がその理由である。
【００４２】
請求項２の測定方法なら、請求項１の方法によってプレティルト角の迅速な測定を可能にし、さらに他の配向パラメータを把握することをも可能にする。
【００４３】
請求項３に記載した液晶セルの配向パラメータ測定装置は、液晶セルへの入射角θおよび検光子の透過軸角度Ａに対応づけて透過光強度Ｉを記憶するので、この装置によれば、測定対象である液晶セルの配向パラメータを知るための必要情報を適切に蓄積できる。蓄積した情報を種々の解析手法によって解析することにより、当該液晶セルの配向パラメータを知ることができる。
【００４４】
請求項３に記載の測定装置はさらに、液晶セルを透過等した光の偏光状態を分かりやすいデータに変換して情報処理手段に記憶するものであるため、データ処理が簡単であり、配向パラメータについての測定結果を迅速にもたらすことができる。
【００４５】
請求項４に記載の測定装置なら、請求項１に記載した方法を実施して液晶セルの配向パラメータを迅速に測定できる。
【００４６】
請求項５の測定装置なら、請求項２の測定方法を実現し、プレティルト角および他の配向パラメータの迅速な測定が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】発明の実施についての一形態である配向パラメータ測定装置（方法）について基本的構成を示す斜視図である。
【図２】図１の測定装置によって液晶セルの配向パラメータ（プレティルト角）を測定するときのデータの比較処理を示す模式図である。
【図３】液晶分子が螺旋状に捩じれたツイスト配向（非一様配）をもつ液晶セルを示す模式図である。
【図４】液晶分子がすべて同じ向きに並んだ一様配向の液晶セルを示す模式図である。
【図５】液晶セルの配向パラメータを測定するための従来の方法を、基本的な機器配置によって示す斜視図である。
【符号の説明】
１  液晶セル
１１  単色光源
１２  偏光子
１３  支持台
１４  検光子
１５  光電変換器
１６  情報処理手段
【図１】
0004895428.tif 000002
【図２】
0004895428.tif 000003
【図３】
0004895428.tif 000004
【図４】
0004895428.tif 000005
【図５】
0004895428.tif 000006