(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置であって、
装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する手段と、
前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する手段と、
前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する手段と、
測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する手段と、
算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する手段と
を備えたことを特徴とする光分岐挿入多重化装置。
【請求項２】
前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する手段
を備えたことを特徴とする請求項１に記載の光分岐挿入多重化装置。
【請求項３】
前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する手段
を備えたことを特徴とする請求項１または２のいずれか一項に記載の光分岐挿入多重化装置。
【請求項４】
光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置の装置内光レベル測定方法であって、
装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する工程と、
前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する工程と、
前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する工程と、
測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する工程と、
算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する工程と
を備えたことを特徴とする装置内光レベル測定方法。
【請求項５】
前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する工程
を備えたことを特徴とする請求項４に記載の装置内光レベル測定方法。
【請求項６】
前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する工程
を備えたことを特徴とする請求項４または５のいずれか一項に記載の装置内光レベル測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光通信システムに用いられる光分岐挿入多重化装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１はＷＤＭ（Wavelength Division Multiplex）やＰＸＣ（Photonics Cross Connect）といった光通信システムに用いられる光分岐挿入多重化装置の代表的な構成例を示す図である。
【０００３】
（ａ）はＦ−ＯＡＤＭ（Fix Optical Add Drop Multiplexer）と呼ばれるタイプの構成を示しており、左欄は光分岐挿入多重化装置１の内部構成を示し、右欄は複数の光分岐挿入多重化装置１を用いたネットワーク構成を示している。光分岐挿入多重化装置１では、Ｎチャネル分の信号が多重された信号を光増幅部１１で増幅し、分波部（ＤＭＵＸ：Demultiplexer）１２で１チャネル毎に分波する。そして、そのうちの１または複数のチャネルをトランスポンダ１５を経由して合波部（ＭＵＸ：Multiplexer）１３に入力し、その他のチャネルはスルーとして直接に合波部１３に入力する。分波部１２の出力と合波部１３の入力の接続はコードパッチにより行われる。合波部１３ではＮチャネル分の信号を多重し、光増幅部１４により増幅して出力する。
【０００４】
（ｂ）はＲ−ＯＡＤＭ（Reconfigurable Optical Add Drop Multiplexer）と呼ばれるタイプの構成を示している。光分岐挿入多重化装置１では、Ｎチャネル分の信号が多重された信号を光増幅部１１で増幅し、分波部１２で１チャネル毎に分波する。そして、チャネル毎にスルーとトランスポンダ１５側への分岐とを行う光スイッチ部１６を介し、スルー側が合波部１３の入力に接続される。光スイッチ部１６はソフトウェアにより遠隔で制御され、１または複数のチャネルがトランスポンダ１５を経由する。合波部１３ではＮチャネル分の信号を多重し、光増幅部１４により増幅して出力する。
【０００５】
（ｃ）はＲ−ＯＡＤＭのうちＷＳＳ（Wavelength Selectable Switch）タイプと呼ばれるものの構成を示している。光分岐挿入多重化装置１では、Ｎチャネル分の信号が多重された信号を光増幅部１１で増幅し、波長毎に導通を切替可能な波長選択スイッチ１７を通過した後、光増幅部１４により増幅して出力する。また、光増幅部１１のＮチャネル分の信号を分波部１２で１チャネル毎に分波し、そのうちの１または複数のチャネルをトランスポンダ１５を経由して合波部１３に入力し、合波部１３から波長選択スイッチ１７に入力する。この構成では、右欄に示すようにハブ（ＨＵＢ）構成を組める利点がある。
【０００６】
ところで、ＷＤＭやＰＸＣといった光通信システムは、大容量化の一途をたどっている。そのため光分岐挿入多重化装置内を布線する光コードは、小型化、高密度化されており、装置の扱いや動作も複雑になっている。
【０００７】
装置の立ち上げ時や保守時における光コードの接続にあっては、コネクタが汚れていた場合に光レベルの低下等、通信品質に影響を与え、通信に支障をきたすことになるため、清掃は重要な作業になっている。そのため、コネクタクリーナでコネクタの汚れを清掃してから接続をしていた。
【０００８】
しかし、光コネクタのコア径は１０μｍであるため、人間の目では清掃状態の良し悪しは判らず、実際に光信号を通してレベルを測定して確認しないと、疎通の良し悪しが確認できないのが実情である。特に高密度の光多芯コネクタでは清掃作業や疎通確認が困難になる。
【０００９】
図２は従来における光レベル確認の手法例を示す図であり、Ｘ局の光分岐挿入多重化装置１ＸとＹ局の光分岐挿入多重化装置１Ｙとが２本の光ケーブル２で接続されている。光分岐挿入多重化装置１Ｘ、１Ｙとしては、図１（ｂ）に示したＲ−ＯＡＤＭタイプをベースにしている。なお、光分岐挿入多重化装置１Ｘ、１Ｙの内部要素の符号には、光ケーブル２の左側（図の上方を北として西（Ｗｅｓｔ）側）に位置するものに「（Ｗ）」を、光ケーブル２の右側（東（Ｅａｓｔ）側）に位置するものに「（Ｅ）」を付してある。
【００１０】
図２において、Ｘ局の作業者は、光分岐挿入多重化装置１Ｘの光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWにフルバンドレーザ測定器３Ｘを接続し、光増幅部AMP(W)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートに光スペアナ（スペクトラムアナライザ）４Ｘを接続し、光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLに光パワーメータ測定器５Ｘを接続する。同様に、Ｙ局の作業者は、光分岐挿入多重化装置１Ｙの光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWにフルバンドレーザ測定器３Ｙを接続し、光増幅部AMP(E)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートに光スペアナ４Ｙを接続し、光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLに光パワーメータ測定器５Ｙを接続する。
【００１１】
そして、Ｘ局の作業者とＹ局の作業者とが携帯電話等により連絡を取り合いながら、自局〜対向局でペアになり、エンドツーエンド（End to End）で信号を通して、１パス毎に光経路のロスを測定し、基準値に満たない場合には、その部分を清掃して再測定を行っていた。より具体的には、Ｘ局側において、フルバンドレーザ測定器３Ｘで対象となるパスの波長の光信号を発生し、光分岐挿入多重化装置１Ｘの光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWから流し込む。これを光増幅部AMP(W)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートで光スペアナ４Ｘにより該当波長のパワーを測定し、更にＹ局側の光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLに接続された光パワーメータ測定器５Ｙで測定する。これにより、光分岐挿入多重化装置１Ｘの光スイッチ部SW(W)と波長合分波部MUX/DMUX(W)の間の光多芯コードに汚れかあるか否か、および、光分岐挿入多重化装置１Ｙの波長合分波部MUX/DMUX(E)と光スイッチ部SW(E)の間の光多芯コードに汚れかあるか否かを判断することができる。同様に、Ｙ局側において、フルバンドレーザ測定器３Ｙで対象となるパスの波長の光信号を発生し、光分岐挿入多重化装置１Ｙの光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWから流し込む。これを光増幅部AMP(E)の光増幅器Post-Ampの出力のモニタポートで光スペアナ４Ｙにより該当波長のパワーを測定し、更にＸ局側の光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLに接続された光パワーメータ測定器５Ｘで測定する。これにより、光分岐挿入多重化装置１Ｙの光スイッチ部SW(E)と波長合分波部MUX/DMUX(E)の間の光多芯コードに汚れかあるか否か、および、光分岐挿入多重化装置１Ｘの波長合分波部MUX/DMUX(W)と光スイッチ部SW(W)の間の光多芯コードに汚れかあるか否かを判断することができる。
【特許文献１】特開２００５−２６８９９号公報
【特許文献２】特開２００２−２２３１９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
従来は上述したように、対向の区間で作業者が連絡を取り合いながら１波ずつ所定の波長の光信号を挿入し、エンドツーエンドで光パワーを測定し、中間の多重区間では光スペアナを用いて測定していたため、次のような問題点があった。
（１）対向の状態でエンドツーエンドの測定をする必要があったため、自装置に閉じての測定が行えず、作業が繁雑であった。
（２）実際に波を立てるため、運用に入ってしまった波長での測定はできず、装置初期立上時に測定を行うか、あるいはシステムの運用を停止して測定を行う必要があった。
（３）経年変化や、運用中のパッケージ故障によるパッケージ交換後に、レベルダイヤ（装置内疎通状態）が悪化してしまうことがあるが、光コネクタの清掃以外に復旧手段はなかった。
（４）多芯の光コネクタを用いた装置では、１芯だけを清掃したくても、多芯であるが故に他の回線も止めて作業を行う必要があり、オペレータへの負担が大きかった。
【００１３】
一方、特許文献１には、故障あるいは障害箇所を具体的に特定しうる光中継装置が開示されている。また、特許文献２には、伝送品質をデジタル信号レベルで容易に保証することができる光ネットワークシステムが開示されている。
【００１４】
しかしながら、特許文献１および特許文献２は、他の装置との関係で故障や品質を監視するものであり、一つの装置に閉じた測定を行えるものではなく、上述した問題点を解決できるものではない。
【００１５】
上記の従来の問題点に鑑み、装置初期構築時、運用中時の区別なく、レベルダイヤを自装置に閉じた状態で測定、確認することを可能にする光分岐挿入多重化装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
この光分岐挿入多重化装置の一実施態様では、光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置であって、装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する手段と、前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する手段と、前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する手段と、測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する手段と、算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する手段とを備える。
【００１７】
好ましくは、  前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する手段
を備えることができる。
【００１８】
好ましくは、前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する手段を備えることができる。
【発明の効果】
【００１９】
開示の光分岐挿入多重化装置にあっては、装置初期構築時、運用中時の区別なく、レベルダイヤを自装置に閉じた状態で測定、確認することができ、作業性および運用性の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の好適な実施形態につき説明する。
【００２１】
<第１の実施形態>
図３は本発明の第１の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図であり、図１（ｂ）に示したＲ−ＯＡＤＭタイプをベースにしている。なお、図２では光ケーブル２を挟んで対向する光分岐挿入多重化装置１Ｘ、１Ｙを示したが、図３では一つの光分岐挿入多重化装置１の構成であるため、図２の左右の構成が入れ替わり、合体して一つの光分岐挿入多重化装置１を構成している。
【００２２】
図３において、光分岐挿入多重化装置１は、Ｗｅｓｔ側の光ケーブル２１に接続され、光増幅器Pre-Ampおよび光増幅器Post-Ampを有する光増幅部AMP(E)と、光増幅部AMP(E)の光増幅器Pre-Ampに接続される波長選択スイッチ部1×2WSS(E)と、光増幅部AMP(E)の光増幅器Post-Ampに接続される波長ブロッカ部BLK(E)とを備えている。なお、光増幅部AMP(E)は分散補償部DCFを有するとともに、光ケーブル２１に制御信号を送出することで対向する他の装置の光レベルを制御する監視制御波長処理部OSCを有している。波長選択スイッチ部1×2WSS(E)は図２の構成に対して新たに設けられた部分であり、Ｅａｓｔ側のｄｒｏｐ（分岐）方向の測定を行うための光信号を注入するためのものである。波長ブロッカ部BLK(E)も新たに設けられた部分であり、Ｅａｓｔ側のａｄｄ（挿入）方向の測定のために注入された光信号が光ケーブル２１側に漏れ出さないようにするためのものである。
【００２３】
また、光分岐挿入多重化装置１は、波長選択スイッチ部1×2WSS(E)に接続される分波部DMUXおよび波長ブロッカ部BLK(E)に接続される合波部MUXを有する波長合分波部MUX/DMUX(E)と、波長合分波部MUX/DMUX(E)の分波部DMUXに光多芯コードを介して接続される複数の光カプラCPLおよび波長合分波部MUX/DMUX(E)の合波部MUXに接続される複数の光スイッチSWを有する光スイッチ部SW(E)とを備えている。光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLの分岐出力端および光スイッチSWの分岐入力端には光レベル測定用の光ダイオードPDが設けられている。波長合分波部MUX/DMUX(E)の合波部MUXの入力側には可変光減衰器VOAおよび光ダイオードPDが設けられている。
【００２４】
また、光分岐挿入多重化装置１は、光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLに光多芯コードを介して接続される複数の光スイッチSWおよび光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWに光多芯コードを介して接続される複数の光カプラCPLを有する光スイッチ部SW(W)と、光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWに光多芯コードを介して接続される合波部MUXおよび光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLに光多芯コードを介して接続される分波部DMUXを有する波長合分波部MUX/DMUX(W)とを備えている。光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWの分岐入力端および光カプラCPLの分岐出力端には光レベル測定用の光ダイオードPDが設けられている。波長合分波部MUX/DMUX(W)の合波部MUXの入力側には可変光減衰器VOAおよび光ダイオードPDが設けられている。
【００２５】
また、光分岐挿入多重化装置１は、波長合分波部MUX/DMUX(W)の合波部MUXに接続される波長ブロッカ部BLK(W)と、波長合分波部MUX/DMUX(W)の分波部DMUXに接続される波長選択スイッチ部1×2WSS(W)と、波長ブロッカ部BLK(W)に接続される光増幅器Post-Ampおよび波長選択スイッチ部1×2WSS(W)に接続される光増幅器Pre-Ampを有する光増幅部AMP(W)とを備えている。なお、波長ブロッカ部BLK(W)は図２の構成に対して新たに設けられた部分であり、Ｗｅｓｔ側のａｄｄ方向の測定のために注入された光信号が光ケーブル２２側に漏れ出さないようにするためのものである。波長選択スイッチ部1×2WSS(W)も新たに設けられた部分であり、Ｗｅｓｔ側のｄｒｏｐ方向の測定を行うための光信号を注入するためのものである。光増幅部AMP(W)は分散補償部DCFを有するとともに、光ケーブル２２に制御信号を送出することで対向する他の装置の光レベルを制御する監視制御波長処理部OSCを有している。
【００２６】
更に、光分岐挿入多重化装置１は、光スイッチ部SW(E)の光スイッチSWの分岐入力端および光カプラCPLの分岐出力端と複数のトランスポンダTRPNの間に接続されるマトリクススイッチMatrix SWを有するマトリクススイッチ部M-SW(E)を備えている。マトリクススイッチMatrix SWにおける光スイッチ部SW(E)の光カプラCPLからの入力部には光ダイオードPDが設けられている。光スイッチ部SW(E)とマトリクススイッチ部M-SW(E)の間は光多芯コードを介して接続される。トランスポンダTRPNは、ナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oとディジタルラッパ部DW LSIとワイドバンド光電変換部WB O/E E/Oとを有しており、ワイドバンド光電変換部WB O/E E/OはクライアントノードCNに接続される。
【００２７】
同様に、光分岐挿入多重化装置１は、光スイッチ部SW(W)の光スイッチSWの分岐入力端および光カプラCPLの分岐出力端と複数のトランスポンダTRPNの間に接続されるマトリクススイッチMatrix SWを有するマトリクススイッチ部M-SW(W)を備えている。マトリクススイッチMatrix SWにおける光スイッチ部SW(W)の光カプラCPLからの入力部には光ダイオードPDが設けられている。光スイッチ部SW(W)とマトリクススイッチ部M-SW(W)の間は光多芯コードを介して接続される。トランスポンダTRPNは、ナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oとディジタルラッパ部DW LSIとワイドバンド光電変換部WB O/E E/Oとを有しており、ワイドバンド光電変換部WB O/E E/OはクライアントノードCNに接続される。
【００２８】
更に、光分岐挿入多重化装置１は、任意の波長の光信号を発生するフルバンドチューナブルレーザ（Full Band Tunable Laser）FBTLaserおよびフルバンドチューナブルレーザFBTLaserの出力光を所定数（図示の例ではＷｅｓｔ側、Ｅａｓｔ側のａｄｄ方向、ｄｒｏｐ方向に対応させて「４」）に分岐するスプリッタSplitterを有するフルバンドチューナブルレーザ部FBTLを備えている。スプリッタSplitterの出力端には光ダイオードPDが設けられており、ポート＃１はマトリクススイッチ部M-SW(E)のマトリクススイッチMatrix SWに接続され、ポート＃２は波長選択スイッチ部1×2WSS(E)に接続され、ポート＃３はマトリクススイッチ部M-SW(W)のマトリクススイッチMatrix SWに接続され、ポート＃４は波長選択スイッチ部1×2WSS(W)に接続される。
【００２９】
また、光分岐挿入多重化装置１は、各部（光ダイオードPDを含む）の制御もしくは信号入出力を行うプロセッサCPUを備えている。
【００３０】
図４は波長選択スイッチ部1×2WSS(E)、1×2WSS(W)に用いられる波長選択スイッチの原理を示す図である。（ａ）は１×Ｎの波長選択スイッチの概略動作を示しており、波長（λ）およびパワーレベルの異なる複数の光信号が多重された信号が左側から入力されると、外部からの制御に応じ、任意の波長を選択し、かつパワーレベルを調整した後、右側の任意のポートに合波した状態で出力することができる。逆方向の動作も可能であり、右側のポートに光信号が入力されると、任意の波長を選択し、かつパワーレベルを調整した後、左側のポートに合成して出力することができる。図３の波長選択スイッチ部1×2WSS(E)、1×2WSS(W)では、２方向→１方向へ合波するデバイスとして使用している。
【００３１】
（ｂ）は波長選択スイッチの機械的な構成例を示しており、光コード１０１から入力される光信号は、コリメータ１０２により平行光線とされて回折格子１０３に当たり、波長に応じた回折をした後、レンズ１０４により集光され、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）によって駆動されるミラー１０５で反射され、再びレンズ１０４、回折格子１０３、コリメータ１０２を介して光コード１０１に出力される。
【００３２】
（ｃ）（ｄ）は（ｂ）における正面図であり、ミラー１０５の角度により、（ｃ）ではINから入力された光信号がOUT1から出力され、（ｄ）ではINから入力された光信号がOUT2から出力される様子を示している。なお、ミラー１０５の角度によりパワーレベルの調整も行われる。
【００３３】
図５は波長ブロッカ部BLK(E)、BLK(W)に用いられる波長ブロッカの原理を示す図である。（ａ）は波長ブロッカの機械的な構成例を示しており、図４（ｂ）に示した波長選択スイッチと同様の構成となっており、１×１の波長選択スイッチと考えることができる。
【００３４】
（ａ）において、光コード１１１から入力される光信号は、コリメータ１１２により平行光線とされて回折格子１１３に当たり、波長に応じた回折をした後、レンズ１１４により集光され、ＭＥＭＳによって駆動されるミラー１１５で反射され、再びレンズ１１４、回折格子１１３、コリメータ１１２を介して光コード１１１に出力される。
【００３５】
（ｂ）（ｃ）は（ａ）における正面図であり、ミラー１１５の角度により、（ｂ）ではINから入力された光信号がOUTから出力され、（ｃ）ではINから入力された光信号がブロックされてOUTから出力されない様子を示している。なお、ミラー１１５の角度により単にスイッチ（ＯＮ／ＯＦＦ）動作するだけでなく、減衰量を調整することもできる。
【００３６】
（ｄ）は波長ブロッカを機能ブロックで示したものであり、分波器１２１と複数のアッテネータ１２２と合波器１２３から構成されるものとなる。
【００３７】
図６はトランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oにおける出力レベル制御の原理を示す図である。図はＥ／Ｏ（電気／光変換）におけるレーザの駆動電流（横軸）と光出力（縦軸）の関係を示したものであり、バイアスレベルと変調振幅レベルを変化させることにより光出力レベルを変化させることができる。
【００３８】
図７はＥａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図であり、（ａ）は動作に関係する部分の信号の流れを示し、（ｂ）は動作フローを示している。なお、（ｂ）の動作フローにおけるステップＳ１〜Ｓ１４は、（ａ）において同符号を付した部分で行われる処理である。
【００３９】
この例では、装置の初期立上時に、全てのパスにおいて波長が連続することを想定している。例えば、波長数が４０波のシステムでは、λ＝１、２、３、・・、ｉ、・・、３９、４０と測定していく。図７ではｉ番目の測定を行う場合を示している。また、図中の信号は以下の意味を有している。
・λ<i>：ｉ番目の波長
・P<1>：フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１の光パワー
・P(SW-<E>-<i>-a)：光スイッチ部−Ｅａｓｔ側−ｉ番目の波長−ａｄｄ方向の光パワー
・P(MD-<E>-<i>)：波長合分波部−Ｅａｓｔ側−ｉ番目の波長（ａｄｄ方向）の光パワー
・A(E)：マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失
・Loss<A(E)i>：マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間のｉ番目の波長での実測損失
・ΔA(E)i：マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失と、ｉ番目波長での実測損失との差分
・B(E)：光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失
・Loss<B(E)i>：光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のｉ番目の波長での実測損失
・ΔB(E)i：光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失と、ｉ番目波長での実測損失との差分
図７において、先ず、波長ブロッカ部BLK(E)でλ<i>をブロックする（ステップＳ１）。
【００４０】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１をポート<i>に接続する（ステップＳ２）。
【００４１】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLでλ<i>を発光する（ステップＳ３）。
【００４２】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１の出力P<1>を測定・記録する（ステップＳ４）。
【００４３】
次いで、光スイッチ部SW(E)のadd port<i>の入力P(SW-<E>-<i>-a)を測定・記録する（ステップＳ５）。
【００４４】
次いで、波長合分波部MUX/DMUX(E)のadd port<i>の入力P(MD-<E>-<i>)を測定・記録する（ステップＳ６）。
【００４５】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLを消光する（ステップＳ７）。
【００４６】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でポート<i>とフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１との接続を解除する（ステップＳ８）。
【００４７】
次いで、波長ブロッカ部BLK(E)のλ<i>のブロックを解除する（ステップＳ９）。
【００４８】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)〜光スイッチ部SW(E)間のLoss<A(E)i>=P<1>-P(SW-<E>-<i>-a)を算出する（ステップＳ１０）。
【００４９】
次いで、許容損失A(E)との差分ΔA(E)i=A(E)-Loss<A(E)i>を算出する（ステップＳ１１）。
【００５０】
次いで、光スイッチ部SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のLoss<B(E)i>=P(SW-<E>-<i>-a)-P(MD-<E>-<i>)を算出する（ステップＳ１２）。
【００５１】
次いで、許容損失B(E)との差分ΔB(E)i=B(E)-Loss<B(E)i>を算出する（ステップＳ１３）。
【００５２】
そして、ΔA(E)i、ΔB(E)iの値をプロセッサCPUを通じて外部に通知し、Δがマイナスのパスは清掃、再接続を保守者に促す（ステップＳ１４）。
【００５３】
図８はＥａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定動作の他の例を示す図であり、波長ブロッカ部BLK(E)を使わず、波長合分波部MUX/DMUX(E)にある可変光減衰器VOAを制御することで、図７と同様の測定を実現するようにしたものである。すなわち、被測定波長がＷＤＭ伝送路に出るのを波長ブロッカ部BLK(E)でブロックする代わりに、可変光減衰器VOAの減衰量を制御し、同様の機能を実現している。
【００５４】
動作としては、ステップＳ１'、Ｓ９'において、波長ブロッカ部BLK(E)に代え、波長合分波部MUX/DMUX(E)の可変光減衰器VOAを制御することで、λ<i>のブロックおよびブロックの解除を行う点が図７と異なる。
【００５５】
図９はＥａｓｔ側ｄｒｏｐ方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。
【００５６】
この例では、装置の初期立上時に、全てのパスにおいて波長が連続することを想定している。例えば、波長数が４０波のシステムでは、λ＝１、２、３、・・、ｉ、・・、３９、４０と測定していく。図９ではｉ番目の測定を行う場合を示している。また、図中の信号は以下の意味を有している。
・λ<i>：ｉ番目の波長
・P<2>：フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃２の光パワー
・P(SW-<E>-<i>-d)：光スイッチ部−Ｅａｓｔ側−ｉ番目の波長−ｄｒｏｐ方向の光パワー
・P(MS-<E>-<i>)：マトリクススイッチ部−Ｅａｓｔ側−ｉ番目の波長（ｄｒｏｐ方向）の光パワー
・C(E)：波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失
・Loss<C(E)i>：波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間のｉ番目の波長での実測損失
・ΔC(E)i：波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間の許容損失と、ｉ番目波長での実測損失の差分
・D(E)：光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間の許容損失
・Loss<D(E)i>：光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間のｉ番目の波長での実測損失
・ΔD(E)i：光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間の許容損失と、ｉ番目の波長での実測損失の差分
図９において、先ず、波長選択スイッチ部1×2WSS(E)にてフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃２からのλ<i>を波長合分波部MUX/DMUX(E)方向に合波する（ステップＳ５１）。
【００５７】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLでλ<i>を発光する（ステップＳ５２）。
【００５８】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃２の出力P<2>を測定・記録する（ステップＳ５３）。
【００５９】
次いで、光スイッチ部SW(E)のdrop port<i>の出力P(SW-<E>-<i>-d)を測定・記録する（ステップＳ５４）。
【００６０】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)のdrop port<i>の入力P(MS-<E>-<i>)を測定・記録する（ステップＳ５５）。
【００６１】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLを消光する（ステップＳ５６）。
【００６２】
次いで、波長選択スイッチ部1×2WSS(E)のフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃２からのλ<i>の合波を解除する（ステップＳ５７）。
【００６３】
次いで、波長合分波部MUX/DMUX(E)〜光スイッチ部SW(E)間のLoss<C(E)i>=P<2>-P(SW-<E>-<i>-d)を算出する（ステップＳ５８）。
【００６４】
次いで、許容損失C(E)との差分ΔC(E)i=C(E)-Loss<C(E)i>を算出する（ステップＳ５９）。
【００６５】
次いで、光スイッチ部SW(E)〜マトリクススイッチ部M-SW(E)間のLoss<D(E)i>=P(SW-<E>-<i>-d)-P(MS-<E>-<i>)を算出する（ステップＳ６０）。
【００６６】
次いで、許容損失D(E)との差分ΔD(E)i=D(E)-Loss<D(E)i>を算出する（ステップＳ６１）。
【００６７】
そして、ΔC(E)i、ΔD(E)iの値をプロセッサCPUを通じて外部に通知し、Δがマイナスのパスは清掃、再接続を保守者に促す（ステップＳ６２）。
【００６８】
図１０はＥａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定および自装置側トランスポンダの出力オフセット調整の動作例を示す図であり、（ａ）は動作に関係する部分の信号の流れを示し、（ｂ）は動作フローを示している。
【００６９】
この例では、装置の運用中に任意の波長において測定を行い、その結果を元にトランスポンダTRPNの出力コントロールを行うナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの駆動電流を制御する。測定の結果、損失がある場合には、ターゲットとする光レベル差（ここではΔA(E)k）プラス0.1dBのループ制御を行って光出力を上げていき、トランスポンダTRPNの出力を上げ、装置内レベルダイヤの低下分を補填する。ただし、ΔA(E)k、ΔB(E)kの絶対値が、トランスポンダTRPNの出力レベル幅ΔP(T)を超える場合には、トランスポンダTRPNを制御しても規定の装置内損失を補填することはできないため、警報を発出しオペレータに通知する。
【００７０】
図１０において、先ず、ｉ＝ｋとして、図７のステップＳ１〜Ｓ９（図８のステップＳ１'〜Ｓ９'でも可）を実行する（ステップＳ１０１）。
【００７１】
次いで、ｉ＝ｋとして、図７のステップＳ１０〜ステップＳ１３を実行する（ステップＳ１０２）。
【００７２】
次いで、ΔA(E)kもしくはΔB(E)kがマイナスであるか否か判断する（ステップＳ１０３）。ΔA(E)kもしくはΔB(E)kがマイナスでない場合は測定結果を通知する（ステップＳ１０４）。
【００７３】
ΔA(E)kもしくはΔB(E)kがマイナスである場合は、更に、マイナスの絶対値がトランスポンダTRPNの出力トレランスΔP(T)より小さいか否か判断する（ステップＳ１０５）。出力トレランスΔP(T)より小さくない場合は、許容範囲外の損失として、警報を通知する（ステップＳ１０６）。
【００７４】
出力トレランスΔP(T)より小さい場合、ここではΔA(E)kがマイナスであるとすると、λ(k)のトランスポンダTRPNを登録し、装置内のλ(k)のパス設定を実施する（ステップＳ１０７）。
【００７５】
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの出力P1out(TRPN λ<K>)をモニタして記録する（ステップＳ１０８）。
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの駆動電流を制御し、出力パワーを+0.1dB上げる（ステップＳ１０９）。
【００７６】
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの出力P2out(TRPN λ<K>)をモニタして記録する（ステップＳ１１０）。
【００７７】
次いで、出力増加分ΔPout(TRPN)=P2out(TRPN λ<K>)-P1out(TRPN λ<K>)を算出する（ステップＳ１１１）。
【００７８】
そして、|ΔA(E)k|-ΔPout(TRPN)>0の場合はトランスポンダTRPNの出力P1out(TRPN λ<K>)の記録（ステップＳ１０８）に戻り、同様の処理を繰り返す。
【００７９】
|ΔA(E)k|-ΔPout(TRPN)≦0の場合は制御を終了する（ステップＳ１１２）。
【００８０】
図１１はＥａｓｔ側ｄｒｏｐ方向のレベルダイヤ測定および監視制御波長処理部経由で対向装置の波長合分波部の可変光減衰器制御の動作例を示す図であり、（ａ）は動作に関係する部分の信号の流れを示し、（ｂ）は動作フローを示している。
【００８１】
この例では、装置の運用中に任意の波長において測定を行い、その結果を元に監視制御波長処理部OSC経由で対向する装置の波長合分波部（MUX/DMUX）の可変光減衰器VOAをコントロールし、自装置に到達する光入力レベルを上げていく。測定の結果、損失がある場合には、ターゲットとする光レベル差（ここではΔC(E)k）プラス0.1dBのループ制御を行い、対向装置の可変光減衰器VOAの減衰値を下げることで、装置内レベルダイヤの低下分を補填する。ただし、ΔC(E)k、ΔD(E)kの絶対値が、波長合分波部（MUX/DMUX）のＶＯＡ調整幅ΔP(V)を超える場合には、可変光減衰器VOAを制御しても規定の装置内損失を満たすことはできないため、警報を発出しオペレータに通知する。
【００８２】
図１１において、先ず、ｉ＝ｋとして、図９のステップＳ５１〜Ｓ５７を実行する（ステップＳ１５１）。
【００８３】
次いで、ｉ＝ｋとして、図９のステップＳ５８〜Ｓ６１を実行する（ステップＳ１５２）。
【００８４】
次いで、ΔC(E)kもしくはΔD(E)kがマイナスであるか否か判断する（ステップＳ１５３）。ΔC(E)kもしくはΔD(E)kがマイナスでない場合は測定結果を通知する（ステップＳ１５４）。
【００８５】
ΔC(E)kもしくはΔD(E)kがマイナスである場合は、更に、マイナスの絶対値が波長合分波部のＶＯＡ調整トレランスΔP(V)より小さいか否か判断する（ステップＳ１５５）。ＶＯＡ調整トレランスΔP(V)より小さくない場合は、許容範囲外の損失として、警報を通知する（ステップＳ１５６）。
【００８６】
ＶＯＡ調整トレランスΔP(V)より小さい場合、ここではΔC(E)kがマイナスであるとすると、以下のように処理する。なお、対向局のトランスポンダTRPNのλ(k)の登録および装置内のλ（ｋ）のパス設定は実施済とする（ステップＳ１５７）。
【００８７】
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの入力P1in(TRPN λ<K>)をモニタして記録する（ステップＳ１５８）。
【００８８】
次いで、対向局の波長合分波部MUX/DMUX(W)の可変光減衰器VOAを監視制御波長処理部OSC経由で制御し、信号レベルを+0.1dB上げる（ステップＳ１５９）。
【００８９】
次いで、トランスポンダTRPNのナローバンド可変出力光電変換部VP NB O/E E/Oの入力P2in(TRPN λ<K>)をモニタして記録する（ステップＳ１６０）。
【００９０】
次いで、出力増加分ΔPin(TRPN)=P2in(TRPN λ<K>)-P1in(TRPN λ<K>)を算出する（ステップＳ１６１）。
【００９１】
そして、|ΔC(E)k|-ΔPin(TRPN)>0の場合はトランスポンダTRPNの入力P1in(TRPN λ<K>)の記録（ステップＳ１５８）に戻り、同様の処理を繰り返す。
【００９２】
|ΔC(E)k|-ΔPin(TRPN)≦0の場合は制御を終了する（ステップＳ１６２）。
【００９３】
以上、Ｅａｓｔ側についての動作を説明したが、Ｗｅｓｔ側も対象的な構成となっており、動作は同様となる。
【００９４】
<第２の実施形態>
図１２は本発明の第２の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図であり、光スイッチ部SW(E)、SW(W)および波長合分波部MUX/DMUX(E)、MUX/DMUX(W)に光ダイオードPDを設けない廉価な構成の場合における簡略な実施方法を示している。すなわち、光ダイオードPDでレベルを測定する代わりに、多重化されたあとの光信号を光チャネルモニタOCMで測定するようにしている。図３との構成上の違いとしては、新たに光チャネルモニタOCMが設けられ、波長ブロッカ部BLK(E)、BLK(W)の入力端から光チャネルモニタOCMに光信号が入力されるようになった点である。
【００９５】
図１３はＥａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図であり、（ａ）は動作に関係する部分の信号の流れを示し、（ｂ）は動作フローを示している。
【００９６】
この例では、装置の初期立上時に、全てのパスにおいて波長が連続することを想定している。例えば、波長数が４０波のシステムでは、λ＝１、２、３、・・、ｉ、・・、３９、４０と測定していく。図１３ではｉ番目の測定を行う場合を示している。また、図中の信号は以下の意味を有している。
・(A+B)(E)：マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失
・Loss<(A+B)(E)i>：マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のｉ番目の波長での実測損失
・Δ(A+B)(E)i：マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間の許容損失と、ｉ番目波長での実測損失の差分
図１３において、先ず、波長ブロッカ部BLK(E)でλ<i>をブロックする（ステップＳ２０１）。
【００９７】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１をポート<i>に接続する（ステップＳ２０２）。
【００９８】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLでλ<i>を発光する（ステップＳ２０３）。
【００９９】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１の出力P<1>を測定・記録する（ステップＳ２０４）。
【０１００】
次いで、光チャネルモニタOCMで波長合分波部MUX/DMUX(E)のadd port<i>の入力P(MD-<E>-<i>)を測定・記録する（ステップＳ２０５）。
【０１０１】
次いで、フルバンドチューナブルレーザ部FBTLを消光する（ステップＳ２０６）。
【０１０２】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)でポート<i>とフルバンドチューナブルレーザ部FBTLのポート＃１との接続を解除する（ステップＳ２０７）。
【０１０３】
次いで、波長ブロッカ部BLK(E)のλ<i>のブロックを解除する（ステップＳ２０８）。
【０１０４】
次いで、マトリクススイッチ部M-SW(E)〜波長合分波部MUX/DMUX(E)間のLoss<(A+B)(E)i>=P<1>-P(MD-<E>-<i>-a)を算出する（ステップＳ２０９）。
【０１０５】
次いで、許容損失(A+B)(E)との差分Δ(A+B)(E)i=(A+B)(E)-Loss<A+B)(E)i>を算出する（ステップＳ２１０）。
【０１０６】
そして、Δ(A+B)(E)iの値をプロセッサCPUを通じて外部に通知し、Δがマイナスのパスは清掃、再接続を保守者に促す（ステップＳ２１１）。
【０１０７】
光チャネルモニタOCMを用いたＥａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定の場合について説明したが、光チャネルモニタOCMにより二つの区間の損失を合わせて測定するという考え方を前述した第１の実施形態と組み合わせることにより、Ｅａｓｔ側ｄｒｏｐ方向のレベルダイヤ測定ならびに出力オフセット調整、対向装置制御についても同様に行うことができる。また、Ｗｅｓｔ側についても同様である。
【０１０８】
更に、図３の光スイッチ部SW(E)と光スイッチ部SW(W)を接続する光多芯コードの損失についても、光スイッチ部SW(E)、SW(W)間をスルーする信号につき、その前後の光レベルを測定することで測定することが可能である。
【０１０９】
<他の方式への適用>
上記の実施形態では図１（ｂ）のＲ−ＯＡＤＭタイプの光分岐挿入多重化装置につき説明したが、光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定するという考え方は、図１（ａ）のＦ−ＯＡＤＭタイプの光分岐挿入多重化装置や図１（ｃ）のＲ−ＯＡＤＭ（ＷＳＳタイプ）の光分岐挿入多重化装置にも同様に適用することができる。
【０１１０】
<総括>
以上説明したように、本実施形態によれば、次のような利点がある。
（１）装置立上時の装置内レベルダイヤ測定を、自装置に閉じてａｄｄ／ｄｒｏｐ方向とも行なうことができ、作業性の向上を図ることができる。
（２）運用中でもレベル測定を行なうことができ、コネクタの清掃をすることなくレベルを制御することでレベル低下の補填を行なうことができ、運用性の向上を図ることができる。
【０１１１】
以上、本発明の好適な実施の形態により本発明を説明した。ここでは特定の具体例を示して本発明を説明したが、特許請求の範囲に定義された本発明の広範な趣旨および範囲から逸脱することなく、これら具体例に様々な修正および変更を加えることができることは明らかである。すなわち、具体例の詳細および添付の図面により本発明が限定されるものと解釈してはならない。
（付記１）
光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置であって、
装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する手段と、
前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する手段と、
前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する手段と、
測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する手段と、
算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する手段と
を備えたことを特徴とする光分岐挿入多重化装置。
（付記２）
前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する手段
を備えたことを特徴とする付記１に記載の光分岐挿入多重化装置。
（付記３）
前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する手段
を備えたことを特徴とする付記１または２のいずれか一項に記載の光分岐挿入多重化装置。
（付記４）
光ケーブルを介して入力された光多重信号を波長毎に分波し、分波された光信号を分岐してトランスポンダに供給するとともに、分波された光信号に前記トランスポンダからの光信号を挿入し、分波された光信号を合波して他の光ケーブルに出力する光分岐挿入多重化装置の装置内光レベル測定方法であって、
装置内の分波された光信号を接続する光多芯コードに波長毎に測定用の光信号を挿入する工程と、
前記光ケーブル側に測定用の光信号が流出することを波長毎に阻止する工程と、
前記光多芯コードの前段および後段における分波された光信号の光レベルを波長毎に測定する工程と、
測定された光レベルに応じて、前記光多芯コードの波長毎の損失値を算出する工程と、
算出された損失値を前記光多芯コードの波長毎に通知する工程と
を備えたことを特徴とする装置内光レベル測定方法。
（付記５）
前記光ケーブルに対する挿入方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対応する前記トランスポンダの光信号の出力値を制御する工程
を備えたことを特徴とする付記４に記載の装置内光レベル測定方法。
（付記６）
前記光ケーブルに対する分岐方向における前記光多芯コードの波長毎の損失値に基づき、対向する装置の対応する波長の光信号の出力値を制御する工程
を備えたことを特徴とする付記４または５のいずれか一項に記載の装置内光レベル測定方法。
【図面の簡単な説明】
【０１１２】
【図１】光分岐挿入多重化装置の代表的な構成例を示す図である。
【図２】従来における光レベル確認の手法例を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図である。
【図４】波長選択スイッチの原理を示す図である。
【図５】波長ブロッカの原理を示す図である。
【図６】トランスポンダのナローバンド可変出力光電変換部における出力レベル制御の原理を示す図である。
【図７】Ｅａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。
【図８】Ｅａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定動作の他の例を示す図である。
【図９】Ｅａｓｔ側ｄｒｏｐ方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。
【図１０】Ｅａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定および自装置側トランスポンダの出力オフセット調整の動作例を示す図である。
【図１１】Ｅａｓｔ側ｄｒｏｐ方向のレベルダイヤ測定および監視制御波長処理部経由で対向装置の波長合分波部の可変光減衰器制御の動作例を示す図である。
【図１２】本発明の第２の実施形態にかかる光分岐挿入多重化装置の構成例を示す図である。
【図１３】Ｅａｓｔ側ａｄｄ方向のレベルダイヤ測定の動作例を示す図である。
【符号の説明】
【０１１３】
１                          光分岐挿入多重化装置
２１、２２                  光ケーブル
SW(E)、SW(W)                 光スイッチ部
SW                          光スイッチ
CPL                         光カプラ
MUX/DMUX(E)、MUX/DMUX(W)     波長合分波部
VOA                         可変光減衰器
MUX                         合波部
DMUX                        分波部
AMP(E)、AMP(W)               光増幅部
Pre-Amp                     光増幅器
Post-Amp                    光増幅器
OSC                         監視制御波長処理部
DCF                         分散補償部
1×2WSS(E)、1×2WSS(W)       波長選択スイッチ部
BLK(E)、BLK(W)               波長ブロッカ部
FBTL                        フルバンドチューナブルレーザ部
FBTLaser                    フルバンドチューナブルレーザ
Splitter                    スプリッタ
M-SW(E)、M-SW(W)             マトリクススイッチ部
Matrix SW                   マトリクススイッチ
TRPN                        トランスポンダ
VP NB O/E E/O               ナローバンド可変出力光電変換部
DW LSI                      ディジタルラッパ部
WB O/E E/O                  ワイドバンド光電変換部
CN                          クライアントノード
CPU                         プロセッサ
OCM                         光チャネルモニタ
【図１】
0005040813.tif 000002
【図２】
0005040813.tif 000003
【図３】
0005040813.tif 000004
【図４】
0005040813.tif 000005
【図５】
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【図６】
0005040813.tif 000007
【図７】
0005040813.tif 000008
【図８】
0005040813.tif 000009
【図９】
0005040813.tif 000010
【図１０】
0005040813.tif 000011
【図１１】
0005040813.tif 000012
【図１２】
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【図１３】
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