(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
配電盤の耐電圧試験や電気回路検証試験を行なうために配電盤内のブロック端子台に取り
付ける結線装置であって、ブロック端子台に着脱可能なベースと、前記ベースに取り付け
られた試験配線接続手段を有する接触子と、耐電圧試験時に前記接触子に接する短絡接触
子と、前記短絡接触子を取り付けた短絡板とを有し、前記接触子と前記短絡接触子が接離
自在になるように前記短絡板が前記ベースに取り付けられている結線装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、配電盤の耐電圧試験や電気回路検証試験（シーケンス試験）を行なうために
、配電盤内のブロック端子台に取り付ける結線装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
配電盤内に図４に示すブロック端子台２９が配置されている。そして配電盤内に設置され
る機器（図示せず）からの制御線３１がこのブロック端子台２９に接続される。制御線３
１には、接続先が容易に判別できるように記号が印刷された印字チューブ３３が挿入され
た後、接続端子３５が取り付けられる。これら接続端子３５が接続端子固定ネジ３７によ
ってブロック端子台２９に接続される。
【０００３】
接続端子３５がブロック端子台２９に接続された後、耐電圧試験が行われる。耐電圧試験
は、図６に示す耐電圧試験用治具４３をブロック端子台２９に取り付けて行なわれる。
【０００４】
図６及び図７を用いて耐電圧試験用治具４３について説明する。樹脂製のベース３に短絡
板１３が固定ネジ４５によって取り付けられている。ベース３と短絡板１３には穴があけ
られており、その穴にバネ２１を通した接触子１１を差し込んだ後に止め具２３によって
保持されている。ベース３の一端にはスライドする爪４７が取り付けられており、他端に
は固定の爪４７が取り付けられている。
【０００５】
図７に示すように、ブロック端子台２９の切欠き４９に耐電圧試験用治具４３の爪４７を
はめ込んでセットする。接触子１１は、バネ２１によって接続端子固定ネジ３７に一定の
力で接触するようになっている。ベース３と短絡板１３を固定している複数の固定ネジ４
５の１箇所には耐電圧試験用接続線５１が取り付けられている。この耐電圧試験用接続線
５１が耐電圧試験器具（図示せず）に接続されて耐電圧試験が行われる。
【０００６】
次に電気回路検証試験（シーケンス試験）の手順について説明する。耐電圧試験が終了し
た後、ブロック端子台２９から耐電圧試験用治具４３が取り外される。次に電気回路検証
器具に接続されている試験配線が、ブロック端子台２９に接続されて電気回路検証試験（
シーケンス試験）が行われる。
【０００７】
また、耐圧試験や電気回路検証試験（シーケンス試験）時に、試験に応じて耐圧試験用ア
ダプタや電気回路検証試験（シーケンス試験）用アダプタが着脱できるアタッチメント付
端子台を、ブロック端子台に取り付けることで耐圧試験や電気回路検証試験（シーケンス
試験）を行なうことが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平６−２８３２２４
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
耐電圧試験が終了すれば耐電圧試験用治具４３をブロック端子台２９から取り外す。そし
て、電気回路検証器具に接続されている試験配線がブロック端子台２９に接続されて電気
回路検証試験（シーケンス試験）が行なわれていた。電気回路検証器具に接続されている
試験配線をブロック端子台２９に接続する際に、作業者の作業熟練度の差異により、作業
時間にバラツキが生じることがあった。そして、ブロック端子台２９の接続端子固定ネジ
３７を脱着する祭に接続端子固定ネジ３７を損傷してしまうといった問題もあった。
【０００９】
また、配電盤内のブロック端子台２９は必ずしも作業性の良い場所に設置されているわけ
ではないので、電気回路検証器具に接続されている試験配線をブロック端子台２９に接続
する際に、作業者に無理な姿勢を取らせることもあり、安全衛生上好ましくないといった
問題もあった。
【００１０】
そして、電気回路検証器具に接続されている試験配線をブロック端子台２９に接続する時
は、配線図面を確認しながらの作業となり、非常に効率の悪いものとなっていた。
【００１１】
また、特許文献１の構成では、ブロック端子台の種類によってはアタッチメント付端子台
をブロック端子台に取り付けることが出来ないことがあり、ブロック端子台の選定に制限
を受けるといった問題点があった。そして、ブロック端子台の文字板を外すといった手順
が必要となり作業効率が悪くなるといった問題点もあった。
【００１２】
本発明は、斯かる実情に鑑みてなされたもので、耐電圧試験及び電気回路検証試験（シー
ケンス試験）実施時の作業効率を向上させる結線装置を提供することを目的とするもので
ある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は上記目的を達成するため、配電盤の耐電圧試験や電気回路検証試験を行なうため
に配電盤内のブロック端子台に取り付ける結線装置であって、ブロック端子台に着脱可能
なベースと、前記ベースに取り付けられた試験配線接続手段を有する接触子と、耐電圧試
験時に前記接触子に接する短絡接触子と、前記短絡接触子を取り付けた短絡板とを有し、
前記接触子と前記短絡接触子が接離自在になるように前記短絡板が前記ベースに取り付け
られていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、耐電圧試験時には結線装置１がブロック端子台２９に取り付けられて耐
電圧試験が行われる。そして、電気回路検証試験（シーケンス試験）時には結線装置１を
ブロック端子台２９から取り外さずに、試験配線３９を結線装置１に容易に接続できるの
で、耐電圧試験や電気回路検証試験（シーケンス試験）時の作業の効率や信頼性が大幅に
向上するという効果を奏する。
また、仕様変更等によって配線の配列に変化が生じた場合でも、結線装置１に接続する試
験配線３９を入れ替えることによって容易に対応することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について図１〜図４を参照して説明する。なお、全図を通じ、
同一または相当部分には同一符号を付して、説明の重複を避ける。
【００１６】
図１は、本発明の結線装置１の斜視図である。ベース３はポリカーボネイトやアクリルと
いった非導電性の材料で作られている。ベース３にはスライド爪５と固定爪７が取り付け
られている。固定爪７をブロック端子台２９の一方の切欠き４９にはめ込み、スライド爪
５に取り付けられた取っ手９を押しながら、スライド爪５をブロック端子台の他方の切欠
き４９にはめ込むことによって、結線装置１がブロック端子台２９にセットされる。
【００１７】
図２を用いて接触子１１の詳細構造について説明する。ベース３には、結線装置１をブロ
ック端子台２９にセットした際にブロック端子台２９の接続端子固定ネジ３７と相対する
位置に接触子１１が設けられている。接触子１１は真鍮や銅といった導電性の材料で作ら
れており、接触子１１の中央には穴があけられている。この穴は、後述する電気回路検証
（シーケンス試験）用の試験配線３９に接続されたピン端子４１が差し込まれるために設
けられている。接触子１１の大径部には切り込み１９が設けられている。切り込み１９を
入れることによって、ピン端子４１の抜き差しが容易に行なえ、また、確実にピン端子４
１を固定する事が出来る。
【００１８】
ベース３には、接触子１１が挿通される穴があけられている。この穴に接触子１１を通し
た後に、バネ２１が入れられ止め具２３によって保持される。結線装置１をブロック端子
台２９にセットした状態では、接触子１１の小径部の先端が接続端子固定ネジ３７に接触
し、バネ２１によって接触子１１の小径部の先端が接続端子固定ネジ３７に常に接触する
ようになっている。
【００１９】
図３を用いて短絡板１３の構成について説明する。短絡板１３は導電性の材料で作られて
おり、コの字形に折り曲げられている。短絡板１３の両端部は止めネジ１５によってベー
ス３に回転自在に取り付けられている。短絡板１３には、ベース３に取付けられた接触子
１１と相対する位置に穴があけられている。この穴に短絡接触子バネ２５を取り付けた短
絡接触子１７が通され、短絡接触子止め具２７によって保持される。
【００２０】
次に本願発明の上記結線装置を用いて耐電圧試験及び電気回路検証（シーケンス試験）試
験を行う場合の手順について説明する。
耐電圧試験はブロック端子台２９に接続されている接続端子３５に電圧をかけて行われる
。そのために結線装置１をブロック端子台２９に取付けた後、図３に示す短絡板１３を開
いた状態（短絡接触子１７が接触子１１から離れた状態）から短絡板１３を回転させて、
接触子１１に短絡接触子１７の先端を接触させる。こうすることによって、ブロック端子
台２９は短絡板１３によって同電位となり、短絡板１３に接続されている耐電圧試験用接
続線（図示せず）が耐電圧試験器具（図示せず）に接続されて耐電圧試験が行なわれる。
【００２１】
次に電気回路検証（シーケンス試験）試験を行う場合の手順について説明する。図５に示
すように、電気回路検証器具（図示せず）に接続されている試験配線３９の端末には接続
先が容易に判別できるように記号が印刷された印字チューブ３３が挿入され、ピン端子４
１が取り付けられている。
【００２２】
短絡板１３を開いた状態（短絡接触子１７が接触子１１から離れた状態）で、接触子１１
にピン端子４１が差し込まれることによって、電気回路検証（シーケンス試験）試験が実
施される。この時、ピン端子４１が接触子１１に差し込まれているので、短絡接触子１７
が接触子１１に接触する方向に短絡板１３が回転しようとしても、ピン端子４１がストッ
パの役目をするので誤って短絡することもない。
【００２３】
次に他の電気回路検証（シーケンス試験）試験を行う場合の手順について説明する。ピン
端子４１が差し込まれた結線装置１を準備しておく。耐電圧試験が、ピン端子４１が差し
込まれていない結線装置１を用いて行われる。その後、ピン端子４１が差し込まれた結線
装置１に交換されることによって、迅速かつ確実に電気回路検証（シーケンス試験）試験
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明に係る結線装置の斜視図である。
【図２】（Ａ）は図１の接触子の正面図、（Ｂ）はその断面図である。
【図３】図１の結線装置の正面図である。
【図４】ブロック端子台の斜視図である。
【図５】電気回路検証（シーケンス試験）用試験配線の斜視図である。
【図６】従来の耐電圧試験用治具の斜視図である。
【図７】従来の耐電圧試験用治具とブロック端子台の側面図である。
【符号の説明】
【００２５】
１…結線装置
３…ベース
５…スライド爪
７…固定爪
９…取っ手
１１…接触子
１３…短絡板
１５…止めネジ
１７…短絡接触子
１９…切り込み
２１…バネ
２３…止め具
２５…短絡接触子バネ
２７…短絡接触子止め具
２９…ブロック端子台
３１…制御線
３３…チューブ
３５…接続端子
３７…接続端子固定ネジ
３９…試験配線
４１…ピン端子
４３…耐電圧試験用治具
４５…固定ネジ
４７…爪
４９…切欠き
５１…耐電圧試験用接続線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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