(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークの影響を測定するためのクロストーク測定方法であって、
前記光変調素子を用いて表示された中間調画像内の所与の測定画素位置における複数の画素の画像情報を取得する第１の画像情報取得ステップと、
前記光変調素子を用いて表示された測定用画像内の前記測定画素位置における複数の画素の画像情報を取得する第２の画像情報取得ステップと、
前記第１の画像情報取得ステップにおいて取得された画像情報と前記第２の画像情報取得ステップにおいて取得された画像情報とに基づいて前記光変調素子のクロストーク特性情報を算出する特性情報算出ステップとを含み、
前記測定用画像は、
前記中間調画像を背景画像とし、所与の走査方向に所与の間隔を置いて配置され前記中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含
み、
前記クロストーク特性情報は前記第１及び第２のパターンが存在する前記光変調素子の水平走査方向における輝度差の変化情報を画素位置又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報であり、前記第１及び第２のパターンの間の中間調画像との輝度差で定量化した
ことを特徴とするクロストーク測定方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記第１及び第２のパターンは、
矩形の形状を有するパターンであることを特徴とするクロストーク測定方法。
【請求項３】
請求項１又は２において、
前記第１のパターンの前記走査方向の幅をｈとした場合に、
前記間隔が、
ｈ以上３×ｈ未満であることを特徴とするクロストーク測定方法。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかにおいて、
前記光変調素子の動作モードが、ノーマリホワイトモードであり、
前記第１及び第２のパターンが、黒のパターンであることを特徴とするクロストーク測定方法。
【請求項５】
請求項１乃至３のいずれかにおいて、
前記光変調素子の動作モードが、ノーマリブラックモードであり、
前記第１及び第２のパターンが、白のパターンであることを特徴とするクロストーク測
定方法。
【請求項６】
光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークの影響を測定するための画像処理装置であって、
前記光変調素子を用いて表示された中間調画像内の所与の測定画素位置における複数の画素の画像情報と、前記光変調素子を用いて表示された測定用画像内の前記測定画素位置における複数の画素の画像情報とを取得する画像情報取得部と、
前記画像情報取得部により取得された前記中間調画像の画像情報と前記測定用画像の画像情報とに基づいて、前記光変調素子のクロストーク特性情報を算出する特性情報算出部
とを含み、
前記測定用画像は、
前記中間調画像を背景画像とし、所与の走査方向に所与の間隔を置いて配置され前記中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含み、
前記クロストーク特性情報は前記第１及び第２のパターンが存在する前記光変調素子の水平走査方向における輝度差の変化情報を画素位置、又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報であり、前記第１及び第２のパターンの間の中間調画像との輝度差で定量化した
ことを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項６において、
前記第１及び第２のパターンは、
矩形の形状を有するパターンであることを特徴とする画像処理装置。
【請求項８】
請求項６又は７において、
前記第１のパターンの前記走査方向の幅をｈとした場合に、
前記間隔が、
ｈ以上３×ｈ未満であることを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】
請求項６乃至８のいずれかにおいて、
前記光変調素子の動作モードが、ノーマリホワイトモードであり、
前記第１及び第２のパターンが、黒のパターンであることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
請求項６乃至８のいずれかにおいて、
前記光変調素子の動作モードが、ノーマリブラックモードであり、
前記第１及び第２のパターンが、白のパターンであることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークの影響を測定するためのクロストーク測定システムであって、
前記光変調素子を用いて画像を表示する画像表示部と、
請求項６乃至１０のいずれか記載の画像処理装置と、
前記画像表示部により表示された画像内の前記測定画素位置における画像情報を測定する画像情報測定部とを含むことを特徴とするクロストーク測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光変調素子のクロストークの影響を測定するためのクロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、液晶テレビ、プロジェクタ、プロジェクションテレビ等のコンシューマ向けの表示装置に光変調素子としての液晶パネルが搭載されており、液晶パネルにより光源からの光を変調することで画像を表示することができる。このような液晶パネルを用いた表示装置は、例えば映画館や博物館等での鑑賞分野、広告分野、ＣＡＤ（Computer Aided Design）用ディスプレイといったビジネス分野においても採用され、上記のコンシューマ向けの表示装置と比較して、より大型で且つ高精細な画像を表示することが求められることが多くなっている。
【０００３】
一般的に、液晶パネルを用いた表示画像の画質は、ジャギーの軽減、色むらの軽減、ノイズの除去、クロストークの低減等によって改善され、従来から種々の改善技術が知られている。中でも、表示画像の尾引きのようなノイズとして現れるクロストークの補正技術については、例えば特許文献１に開示されている。
【０００４】
この特許文献１には、水平走査毎に、基準信号と画像信号との差分を積分し、その積分結果を、対応する画像信号に加算する技術が開示されており、対向電極や容量線等の電位変動による影響をキャンセルする電圧を画素電極と対向電極の間に印加できるので、いわゆる横クロストークによる表示品位の低下を防止する技術が開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−１１６７３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１では、クロストークによる表示品位の低下は、黒色領域の位置等と相関性がないことを前提にクロストーク補正を行っていた。そのため、たとえ特許文献１に開示された技術を用いた場合であっても、表示品位の低下を防止できないケースがあり、補正対象となるクロストークの影響を精度良く測定できることが望まれていた。
【０００７】
本発明は、以上のような技術的課題に鑑みてなされたものであり、その目的の１つは、光変調素子のクロストーク特性を精度良く測定できるクロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために本発明は、光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークの影響を測定するためのクロストーク測定方法であって、
前記光変調素子を用いて表示された中間調画像内の所与の測定画素位置における複数の画素の画像情報を取得する第１の画像情報取得ステップと、
前記光変調素子を用いて表示された測定用画像内の前記測定画素位置における複数の画素の画像情報を取得する第２の画像情報取得ステップと、
前記第１の画像情報取得ステップにおいて取得された画像情報と前記第２の画像情報取得ステップにおいて取得された画像情報とに基づいて前記光変調素子のクロストーク特性情報を算出する特性情報算出ステップとを含み、
前記測定用画像は、
前記中間調画像を背景画像とし、所与の走査方向に所与の間隔を置いて配置され前記中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含
み、
前記クロストーク特性情報は前記第１及び第２のパターンが存在する前記光変調素子の水平走査方向における輝度差の変化情報を画素位置又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報であり、前記第１及び第２のパターンの間の中間調画像との輝度差で定量化したクロストーク測定方法に関する。
【０００９】
本発明においては、光変調素子を用いて画像を表示する場合に、第１の画像情報取得ステップにおいて中間調画像内の測定画素位置における複数の画素の画像情報を取得し、第２の画像情報取得ステップにおいて測定用画像内の上記の測定画素位置における複数画素の画像情報を取得している。そして、測定用画像は、中間調画像を背景画像とし、水平走査方向に所与の間隔を置いて配置され中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含むため、光変調素子のクロストークの影響を受けて画像情報が変化する部分が第１及び第２のパターンの周囲に現れやすい。そこで、特性情報算出ステップにおいて、この２つの画像の画像情報に基づいて光変調素子の水平走査方向の輝度差の変化情報となるクロストーク特性情報を算出するようにしたので、水平走査方向の光変調素子のクロストークの影響を第1のパターンの後方の尾引きだけでなく、第２のパターンの前方の輝度変化をも簡単な測定手段により高精度に測定できるようになり、且つクロストーク特性情報として定量化できるようになる。また、クロストークに起因する輝度差の変化は単一ではなく、他の画素位置とは逆方向に変化した場合であっても、輝度差が正か負にかかわらず水平走査方向のクロストークの影響を低減することができる。この結果、クロストークの影響を低減する補正に寄与できるクロストーク測定方法を提供できるようになるとした格別な効果を奏する物である。
【００１０】
また本発明に係るクロストーク測定方法では、前記走査方向は、前記光変調素子の水平走査方向であってもよい。
【００１１】
本発明によれば、光変調素子の水平走査方向に対応する画像内の走査方向に所与の間隔を置いて第１及び第２のパターンが配置された測定用画像を用いて画像情報を取得するようにしたので、光変調素子の垂直走査方向よりも表示品位の劣化を招く水平走査方向のクロストークの影響を、精度良く測定できるようになる。
【００１２】
また本発明に係るクロストーク測定方法では、前記第１及び第２のパターンは、矩形の形状を有するパターンであってもよい。
【００１３】
本発明によれば、画像情報の変化が急峻となり、クロストークの影響をより顕著に画像情報の変化に表すことができるため、クロストークの影響をより一層高精度に測定できるようになる。
【００１４】
また本発明に係るクロストーク測定方法では、前記第１のパターンの前記走査方向の幅をｈとした場合に、前記間隔が、ｈ以上３×ｈ未満であってもよい。
【００１５】
複数の観者による官能実験において、間隔ｄがｈ以上のときに第１及び第２のパターンＰ１、Ｐ２の間の領域でクロストークによる影響が目立つようになり、間隔ｄが２×ｈ程度のときに当該領域でクロストークによる影響が最も顕著に目立ち、間隔ｄが３×ｈになるとクロストークの影響が目立ちにくくなるという結果が得られた。従って、本発明によれば、光変調素子の製造ばらつきを考慮して、ｈ≦ｄ＜３×ｈの範囲で間隔ｄを探索することで、クロストークの影響の測定精度を上げることができるようになる。
【００１６】
また本発明に係るクロストーク測定方法では、前記光変調素子の動作モードが、ノーマリホワイトモードであり、前記第１及び第２のパターンが、黒のパターンであってもよい。
【００１７】
本発明によれば、光変調素子の動作モードがノーマリホワイトモードのとき、第１及び第２のパターンが黒のパターンである測定用画像を用いたので、動作モードがノーマリホワイトモードの光変調素子のクロストークの影響を、第１及び第２のパターンが他の階調のときと比較して、より高精度に測定できるようになる。
【００１８】
また本発明に係るクロストーク測定方法では、前記光変調素子の動作モードが、ノーマリブラックモードであり、前記第１及び第２のパターンが、白のパターンであってもよい。
【００１９】
本発明によれば、光変調素子の動作モードがノーマリブラックモードのとき、第１及び第２のパターンが白のパターンである測定用画像を用いたので、動作モードがノーマリブラックモードの光変調素子のクロストークの影響を、第１及び第２のパターンが他の階調のときと比較して、より高精度に測定できるようになる。
【００２０】
また本発明に係るクロストーク測定方法では、前記画像情報が、輝度であってもよい。
【００２１】
本発明によれば、簡素な測定手段により、高精度に画像情報を取得できるようになる。
【００２２】
また本発明は、光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークの影響を測定するための画像処理装置であって、
前記光変調素子を用いて表示された中間調画像内の所与の測定画素位置における複数の画素の画像情報と、前記光変調素子を用いて表示された測定用画像内の前記測定画素位置における複数の画素の画像情報とを取得する画像情報取得部と、
前記画像情報取得部により取得された前記中間調画像の画像情報と前記測定用画像の画像情報とに基づいて、前記光変調素子のクロストーク特性情報を算出する特性情報算出部
とを含み、
前記測定用画像は、
前記中間調画像を背景画像とし、所与の走査方向に所与の間隔を置いて配置され前記中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含み、
前記クロストーク特性情報は前記第１及び第２のパターンが存在する前記光変調素子の水平走査方向における輝度差の変化情報を画素位置、又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報であり、前記第１及び第２のパターンの間の中間調画像との輝度差で定量化した画像処理装置に関係する。
【００２３】
本発明においては、光変調素子を用いて画像を表示する場合に、画像情報取得部が、中間調画像内の測定画素位置における複数の画素の画像情報と、測定用画像内の上記の測定画素位置における複数画素の画像情報を取得している。そして、測定用画像は、中間調画像を背景画像とし、所与の走査方向に所与の間隔を置いて配置され中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含むため、光変調素子のクロストークの影響を受けて画像情報が変化する部分が第１及び第２のパターンの周囲に現れやすい。そこで、特性情報算出部が、この２つの画像の画像情報に基づいて光変調素子のクロストーク特性情報を算出するようにしたので、従来測定不可能であった光変調素子のクロストークの影響を高精度に測定した結果に基づいて定量化されたクロストーク特性情報を算出できるようになる。この結果、クロストークの影響を低減する補正に寄与できる画像処理装置を提供できるようになる。
【００２４】
また本発明に係る画像処理装置では、前記走査方向は、前記表示画像の水平走査方向であってもよい。
【００２５】
本発明によれば、光変調素子の水平走査方向に対応する画像内の走査方向に所与の間隔を置いて第１及び第２のパターンが配置された測定用画像を用いて画像情報を取得するようにしたので、光変調素子の垂直走査方向よりも表示品位の劣化を招く水平走査方向のクロストークの影響を、精度良く反映させたクロストーク特性情報を算出できるようになる。
【００２６】
また本発明に係る画像処理装置では、前記第１及び第２のパターンは、矩形の形状を有するパターンであってもよい。
【００２７】
本発明によれば、画像情報の変化が急峻となり、クロストークの影響をより顕著に画像情報の変化に表すことができるため、クロストークの影響をより一層高精度に反映させたクロストーク特性情報を算出できるようになる。
【００２８】
また本発明に係る画像処理装置では、前記第１のパターンの前記走査方向の幅をｈとした場合に、前記間隔が、ｈ以上３×ｈ未満であってもよい。
【００２９】
複数の観者による官能実験において、間隔ｄがｈ以上のときに第１のパターンＰ１、Ｐ２の間の領域でクロストークによる影響が目立つようになり、間隔ｄが２×ｈ程度のときに当該領域でクロストークによる影響が最も顕著に目立ち、間隔ｄが３×ｈになるとクロストークの影響が目立ちにくくなるという結果が得られた。従って、本発明によれば、光変調素子の製造ばらつきを考慮して、ｈ≦ｄ＜３×ｈの範囲で間隔ｄを探索することで、クロストークの影響をより一層高精度に反映させたクロストーク特性情報を効率よく算出できるようになる。
【００３０】
また本発明に係る画像処理装置では、前記光変調素子の動作モードが、ノーマリホワイトモードであり、前記第１及び第２のパターンが、黒のパターンであってもよい。
【００３１】
本発明によれば、光変調素子の動作モードがノーマリホワイトモードのとき、第１及び第２のパターンが黒のパターンである測定用画像を用いたので、動作モードがノーマリホワイトモードの光変調素子のクロストークの影響を、第１及び第２のパターンが他の階調のときと比較して、より高精度に反映さえたクロストーク特性情報を算出できるようになる。
【００３２】
また本発明に係る画像処理装置では、前記光変調素子の動作モードが、ノーマリブラックモードであり、前記第１及び第２のパターンが、白のパターンであってもよい。
【００３３】
本発明によれば、光変調素子の動作モードがノーマリブラックモードのとき、第１及び第２のパターンが白のパターンである測定用画像を用いたので、動作モードがノーマリブラックモードの光変調素子のクロストークの影響を、第１及び第２のパターンが他の階調のときと比較して、より高精度に反映させたクロストーク特性情報を算出できるようになる。
【００３４】
また本発明に係る画像処理装置では、前記画像情報は、輝度であってもよい。
【００３５】
本発明によれば、簡素な測定手段により画像情報を取得できるようになり、低コスト化に寄与できるようになる。
【００３６】
また本発明は、光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークの影響を測定するためのクロストーク測定システムであって、前記光変調素子を用いて画像を表示する画像表示部と、上記のいずれか記載の画像処理装置と、前記画像表示部により表示された画像内の前記測定画素位置における画像情報を測定する画像情報測定部とを含むクロストーク測定システムに関係する。
【００３７】
本発明によれば、光変調素子のクロストーク特性を精度良く測定できるクロストーク測定システムを提供できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成のすべてが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００３９】
図１に、本発明に係る実施形態におけるクロストーク測定システムの構成例を示す。図１は、上面から見た模式図を表す。
【００４０】
本実施形態におけるクロストーク測定システム１０は、光変調素子を用いた表示画像により該光変調素子のクロストークによる影響に対応したクロストーク特性を測定する。このようなクロストーク測定システム１０は、プロジェクタ（画像表示装置）ＰＪ、画像情報測定部ＩＭ、画像処理装置２００を含むことができる。クロストーク測定システム１０では、光変調素子として液晶パネルを搭載した画像表示装置としてのプロジェクタＰＪによりスクリーンＳＣＲに画像を投影し、スクリーンＳＣＲの表示画像により液晶パネルのクロストーク特性を測定する。
【００４１】
プロジェクタＰＪは、その投射光学系の光軸がスクリーンＳＣＲに対して垂直となるように配置される。プロジェクタＰＪの光軸は、スクリーンＳＣＲの中心位置を貫くように配置されることが望ましい。プロジェクタＰＪでは、表示画像に対応した画像信号に基づいて、光源からの光が照射される液晶パネルの通過率が変調され、変調後の光がスクリーンＳＣＲに投射される。
【００４２】
画像情報測定部ＩＭは、スクリーンＳＣＲに投影されたプロジェクタＰＪによる表示画像内の所与の測定画素位置における画像情報を測定する。画像情報としては、輝度、照度、所定の色成分の画素値等があり、以下では画像情報測定部ＩＭが輝度を測定するものとする。これにより、画像情報測定部ＩＭを簡素な測定手段により実現でき、高精度に画像情報を取得できるようになる。
【００４３】
画像情報測定部ＩＭは、画角がスクリーンＳＣＲの水平方向全体をカバーするように配置され、画像情報測定部ＩＭの測定中心軸が、スクリーンＳＣＲの中心位置を貫くように配置されることが望ましい。このような画像情報測定部ＩＭの機能は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサにより実現される。本実施形態では、画像情報測定部ＩＭが、スクリーンＳＣＲの表示画像の全画素の輝度を画素単位で測定するものとする。
【００４４】
画像処理装置２００は、画像情報測定部ＩＭにより測定された画像情報を取得し、この画像情報に基づいて、プロジェクタＰＪが有する光変調素子としての液晶パネルのクロストーク特性を算出する。
【００４５】
なお、図１において、プロジェクタＰＪ、画像情報測定部ＩＭ及び画像処理装置２００が、別個に設けられているものとして説明したが、プロジェクタＰＪが、画像情報測定部ＩＭ及び画像処理装置２００の少なくとも１つの機能を有していてもよいし、画像情報測定部ＩＭが、画像処理装置２００の機能を有していてもよい。
【００４６】
図２に、図１のプロジェクタＰＪの構成例の構成図を示す。図２では、本実施形態におけるプロジェクタＰＪが、いわゆる３板式の液晶プロジェクタにより構成されるものとして説明するが、本発明に係るプロジェクタがいわゆる３板式の液晶プロジェクタにより構成されるものに限定されるものではない。
【００４７】
プロジェクタＰＪは、光源１１０、インテグレータレンズ１１２、１１４、偏光変換素子１１６、重畳レンズ１１８、Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒ、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇ、反射ミラー１２２、Ｒ用フィールドレンズ１２４Ｒ、Ｇ用フィールドレンズ１２４Ｇ、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ（第１の光変調素子）、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ（第２の光変調素子）、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂ（第３の光変調素子）、リレー光学系１４０、クロスダイクロイックプリズム１６０、投射レンズ１７０を含む。
【００４８】
Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ及びＢ用液晶パネル１３０Ｂとして用いられる液晶パネルは、透過型の液晶表示装置である。リレー光学系１４０は、リレーレンズ１４２、１４４、１４６、反射ミラー１４８、１５０を含む。
【００４９】
光源１１０は、例えば超高圧水銀ランプにより構成され、少なくともＲ成分の光、Ｇ成分の光、Ｂ成分の光を含む光を射出する。インテグレータレンズ１１２は、光源１１０からの光を複数の部分光に分割するための複数の小レンズを有する。インテグレータレンズ１１４は、インテグレータレンズ１１２の複数の小レンズに対応する複数の小レンズを有する。重畳レンズ１１８は、インテグレータレンズ１１２の複数の小レンズから射出される部分光を重畳する。
【００５０】
また偏光変換素子１１６は、偏光分離膜とλ／２板とを有し、光源１１０から射出された偏光方向がランダムな光を直線偏光、例えばｓ偏光に変換する。この偏光変換素子１１６からのｓ偏光が、重畳レンズ１１８に照射される。
【００５１】
重畳レンズ１１８を通過した光は、Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒに入射される。Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒは、Ｒ成分の光を反射して、Ｇ成分及びＢ成分の光を透過させる機能を有する。Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒを透過した光は、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇに照射され、Ｒ用ダイクロイックミラー１２０Ｒにより反射した光は反射ミラー１２２により反射されてＲ用フィールドレンズ１２４Ｒに導かれる。
【００５２】
Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇは、Ｇ成分の光を反射して、Ｂ成分の光を透過させる機能を有する。Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇを透過した光は、リレー光学系１４０に入射され、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇにより反射した光はＧ用フィールドレンズ１２４Ｇに導かれる。
【００５３】
リレー光学系１４０では、Ｇ用ダイクロイックミラー１２０Ｇを透過したＢ成分の光の光路長と他のＲ成分及びＧ成分の光の光路長との違いをできるだけ小さくするために、リレーレンズ１４２、１４４、１４６を用いて光路長の違いを補正する。リレーレンズ１４２を透過した光は、反射ミラー１４８によりリレーレンズ１４４に導かれる。リレーレンズ１４４を透過した光は、反射ミラー１５０によりリレーレンズ１４６に導かれる。リレーレンズ１４６を透過した光は、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂに照射される。
【００５４】
Ｒ用フィールドレンズ１２４Ｒに照射された光は、平行光に変換されてＲ用液晶パネル１３０Ｒに入射される。Ｒ用液晶パネル１３０Ｒは、光変調素子（光変調部）として機能し、Ｒ用画像信号に基づいて透過率（通過率、変調率）が変化するようになっている。従って、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒに入射された光（第１の色成分の光）は、Ｒ用画像信号に基づいて変調され、変調後の光がクロスダイクロイックプリズム１６０に入射される。
【００５５】
Ｇ用フィールドレンズ１２４Ｇに照射された光は、平行光に変換されてＧ用液晶パネル１３０Ｇに入射される。Ｇ用液晶パネル１３０Ｇは、光変調素子（光変調部）として機能し、Ｇ用画像信号に基づいて透過率（通過率、変調率）が変化するようになっている。従って、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇに入射された光（第２の色成分の光）は、Ｇ用画像信号に基づいて変調され、変調後の光がクロスダイクロイックプリズム１６０に入射される。
【００５６】
リレーレンズ１４２、１４４、１４６で平行光に変換された光が照射されるＢ用液晶パネル１３０Ｂは、光変調素子（光変調部）として機能し、Ｂ用画像信号に基づいて透過率（通過率、変調率）が変化するようになっている。従って、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂに入射された光（第３の色成分の光）は、Ｂ用画像信号に基づいて変調され、変調後の光がクロスダイクロイックプリズム１６０に入射される。
【００５７】
Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂは、それぞれ同様の構成を有している。各液晶パネルは、電気光学物質である液晶を一対の透明なガラス基板に密閉封入したものであり、例えばポリシリコン薄膜トランジスタをスイッチング素子として、各画素の画像信号に対応して各色光の通過率を変調する。
【００５８】
本実施形態では、１画素を構成する色成分毎に光変調素子としての液晶パネルが設けられ、各液晶パネルの透過率が画素に対応した画像信号により制御される。即ち、Ｒ成分の画素用の画像信号が、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒの透過率（通過率、変調率）の制御に用いられ、Ｇ成分の画素用の画像信号が、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇの透過率の制御に用いられ、Ｂ成分の画素用の画像信号が、Ｂ用液晶パネル１３０Ｂの透過率の制御に用いられる。本実施形態におけるプロジェクタＰＪでは、各色成分用の画像信号が補正され、補正後の画像信号が色成分毎に設けられた各液晶パネルに供給されて液晶パネル毎に透過率が制御される。
【００５９】
クロスダイクロイックプリズム１６０は、Ｒ用液晶パネル１３０Ｒ、Ｇ用液晶パネル１３０Ｇ及びＢ用液晶パネル１３０Ｂからの入射光を合成した合成光を出射光として出力する機能を有する。投射レンズ１７０は、出力画像をスクリーンＳＣＲ上に拡大して結像させるレンズであり、ズーム倍率に応じて画像を拡大又は縮小させる機能を有する。
【００６０】
このように、本実施形態におけるプロジェクタＰＪは、光変調素子としての液晶パネルにより変調された光を用いて画像を表示する。従って、液晶パネルにクロストークが発生すると、該クロストークの影響がプロジェクタＰＪの表示画像に及ぶ。
【００６１】
図３に、図１の画像処理装置２００の構成例の構成図を示す。
【００６２】
画像処理装置２００は、画像情報取得部２１０と、特性情報算出部２２０とを含む。画像処理装置２００は、画像情報測定部ＩＭによるプロジェクタＰＪの表示画像の測定結果に基づいて、液晶パネルのクロストーク特性情報を算出する。
【００６３】
画像情報取得部２１０は、プロジェクタＰＪの液晶パネル（光変調素子）を用いて表示された中間調画像内の所与の測定画素位置における複数の画素の画像情報（輝度）と、プロジェクタＰＪの液晶パネル（光変調素子）を用いて表示された測定用画像内の上記測定画素位置における複数の画素の画像情報（輝度）とを取得する。
【００６４】
ここで、測定用画像は、中間調画像を背景画像としており、中間調画像の階調と異なる階調を有する第１及び第２のパターンを含む。第１及び第２のパターンは、光変調素子としての液晶パネルの水平走査方向（所与の走査方向）に対応する画像の走査方向に所与の間隔を置いて配置されている。即ち、走査方向は、液晶パネルの水平走査方向であることが望ましく、液晶パネルの走査方向と表示画像の走査方向とが一致する場合には表示画像の水平走査方向である。第１及び第２のパターンを画像の水平走査方向に配置する理由は、画像の水平走査方向と垂直走査方向とに現れる液晶パネルのクロストークの影響のうち、水平走査方向の影響の方が、より人の目に顕著に認識されるためである。
【００６５】
また、測定用画像が有する第１及び第２のパターンは、矩形の形状を有することが望ましい。こうすることで、輝度の変化が急峻となり、クロストークの影響をより顕著に輝度の変化に表すことができるようになる。
【００６６】
また、プロジェクタＰＪの液晶パネルの動作モードがノーマリホワイトモードのとき、中間調画像は、表示画像が取り得る階調値の最大値と最小値の中間値の階調を有する画像（グレー画像）であり、測定用画像の第１及び第２のパターンが、黒のパターンであることが望ましい。こうすることで、第１及び第２のパターンの周囲が階調の変化が急峻となる部分となり、クロストークの影響がより見え易くなる。その結果、ノーマリホワイトモードで動作する液晶パネルのクロストークの影響を、より高精度に測定することができるようになる。
【００６７】
或いは、プロジェクタＰＪの液晶パネルの動作モードがノーマリブラックモードのとき、中間調画像は、表示画像が取り得る階調値の最大値と最小値の中間値に対応する画像（グレー画像）であり、測定用画像の第１及び第２のパターンが、白のパターンであることが望ましい。こうすることで、第１及び第２のパターンの周囲が階調の変化が急峻となる部分となり、クロストークの影響がより見え易くなる。その結果、ノーマリブラックモードで動作する液晶パネルのクロストークの影響を、より高精度に測定することができるようになる。
【００６８】
画像処理装置２００の特性情報算出部２２０は、画像情報取得部２１０により取得された中間調画像の画像情報と測定用画像の画像情報とに基づいて、プロジェクタＰＪの液晶パネルのクロストーク特性情報を算出する。このクロストーク特性情報は、中間調画像を基準とした輝度差の変化情報、色差の変化情報、或いは照度差の変化情報として算出される。本実施形態では、画像情報取得部２１０において画像情報測定部ＩＭからの輝度が取得されるので、輝度差の変化情報がクロストーク特性情報として算出される。
【００６９】
次に、本実施形態における画像処理装置２００の動作について説明する。画像処理装置２００の機能はハードウェアにより実現されてもよいし、ソフトウェアにより実現されてもよい。以下では、画像処理装置２００の機能が、ソフトウェア処理により実現されるものとする。
【００７０】
図４に、図１の画像処理装置２００のハードウェア構成例のブロック図を示す。
【００７１】
画像処理装置２００は、ＣＰＵ３００、Ｉ／Ｆ回路３１０、読み出し専用メモリ（Read Only Memory：ＲＯＭ）３２０、ランダムアクセスメモリ（Random Access Memory:ＲＡＭ）３３０、バス３４０を有し、バス３４０を介して、ＣＰＵ３００、Ｉ／Ｆ回路３１０、ＲＯＭ３２０、ＲＡＭ３３０は電気的に接続されている。
【００７２】
例えばＲＯＭ３２０又はＲＡＭ３３０には、画像処理装置２００の機能を実現するプログラムが記憶される。ＣＰＵ３００は、ＲＯＭ３２０又はＲＡＭ３３０に記憶されたプログラムを読み出し、該プログラムに対応した処理を実行することで、画像処理装置２００の機能をソフトウェア処理で実現できる。なお、ＲＡＭ３３０は、ＣＰＵ３００による処理の作業エリアとして用いられたり、Ｉ／Ｆ回路３１０やＲＯＭ３２０のバッファエリアとして用いられたりする。Ｉ／Ｆ回路３１０は、画像情報測定部ＩＭからの画像情報の入力インタフェース処理を行う。
【００７３】
図５に、図１の画像処理装置２００の処理例のフロー図を示す。例えば図４のＲＯＭ３２０又はＲＡＭ３３０には、図５に示す処理を実現するためのプログラムが格納されており、ＣＰＵ３００がＲＯＭ３２０又はＲＡＭ３３０に格納されたプログラムを読み出して該プログラムに対応した処理を実行することで、図５に示すクロストーク測定処理をソフトウェア処理により実現できる。
【００７４】
図６（Ａ）、図６（Ｂ）に、図５の処理の説明図を示す。図６（Ａ）は図５の処理における背景画像の説明図を表し、図６（Ｂ）は図５の処理における測定用画像の説明図を表す。
【００７５】
図７に、図５の処理における測定用画像の矩形パターンの説明図を示す。
【００７６】
図５に示すように、まず、画像処理装置２００は、プロジェクタＰＪに、中間調画像である背景画像をスクリーンＳＣＲに表示させる（ステップＳ１０）。例えば、画像処理装置２００は、中間調画像として、図６（Ａ）に示すように階調値がその最大値と最小値の中間値の階調であるグレー画像の画像信号をプロジェクタＰＪに供給し、プロジェクタＰＪが該画像信号に基づいて液晶パネルの変調率を変化させてスクリーンＳＣＲに投影する。
【００７７】
そして、画像情報測定部ＩＭは、ステップＳ１０によりスクリーンＳＣＲに投影されたプロジェクタＰＪの表示画像のうち所与の測定画素位置における複数の画素の輝度を測定する。ここでは、画像情報測定部ＩＭは、表示画像である中間調画像の全画素の輝度を測定する。画像処理装置２００は、第１の画像情報取得ステップとして、画像情報取得部２１０において画像情報測定部ＩＭにより測定された画像情報を取得する（ステップＳ１２）。
【００７８】
次に、画像処理装置２００は、プロジェクタＰＪに、測定用画像をスクリーンＳＣＲに表示させる（ステップＳ１４）。例えば、画像処理装置２００は、測定用画像として、図６（Ｂ）に示すように、ステップＳ１０の中間調画像を背景画像とし、水平走査方向に距離ｄだけ間隔を置いた２つの黒の矩形パターン（第１及び第２のパターン）を有する画像の画像信号をプロジェクタＰＪに供給する。プロジェクタＰＪは、該画像信号に基づいて液晶パネルの変調率を変化させてスクリーンＳＣＲに投影する。
【００７９】
ここで、２つの黒の矩形パターンＰ１、Ｐ２（第１及び第２のパターン）は同じ形状であり、図６（Ｂ）に示すように、各矩形パターンの水平走査方向の長さｈは表示画像の水平方向の長さＨの１／１０とする。それは、複数の観者による官能実験を繰り返したとき、同じ形状である方が、よりクロストークの影響を観察でき、また、表示画像のサイズにかかわらず、表示画像と矩形パターンのサイズ比を１０：１としたときにクロストークの影響を観察し易いという結果が得られたからである。このとき、各矩形パターンの水平走査方向の幅ｈは、垂直走査方向の高さｖと同じである。
【００８０】
また、図７に示すように、２つの黒の矩形パターンＰ１、Ｐ２のエッジ間隔ｄは、矩形パターンＰ１（又は矩形パターンＰ２）の水平走査方向の幅ｈに対し、ｈ≦ｄ＜３×ｈを満足することが望ましい。これは、複数の観者による官能実験において、エッジ間隔ｄがｈ以上のときに矩形パターンＰ１、Ｐ２の間の領域でクロストークによる影響が目立つようになり、エッジ間隔ｄが２×ｈ程度のときに当該領域でクロストークによる影響が最も顕著に目立ち、エッジ間隔ｄが３×ｈになるとクロストークの影響が目立ちにくくなるという結果に基づくものである。従って、この結果から、液晶パネルの製造ばらつきを考慮して、ｈ≦ｄ＜３×ｈの範囲でエッジ間隔ｄを探索することで、クロストークの測定精度を上げることができるようになる。
【００８１】
上記のような測定用画像を表示させた後、画像情報測定部ＩＭは、ステップＳ１２と同様に、ステップＳ１４によりスクリーンＳＣＲに投影されたプロジェクタＰＪの表示画像のうち所与の測定画素位置における複数の画素の輝度を測定する。ここでは、画像情報測定部ＩＭは、測定用画像の全画素の輝度を測定する。画像処理装置２００は、第２の画像情報取得ステップとして、画像情報取得部２１０において画像情報測定部ＩＭにより測定された画像情報を取得する（ステップＳ１６）。より具体的には、画像情報取得部２１０は、中間調画像を背景画像とする２つの矩形パターンを有し液晶パネルを用いて表示された測定用画像内の上記の測定画素位置における複数の画素の画像情報を取得する。
【００８２】
ステップＳ１６で取得される画像情報の測定画素位置は、ステップＳ１２で取得される画像情報の測定画素位置と同じである。そして、測定画素位置は、矩形パターンＰ１、Ｐ２の画素の位置と、中間調画像の画素の位置とを含む。本実施形態では、測定画素位置は水平走査方向の全画素位置又は所与の画素数毎にサンプリングされた画素位置とすることができる。これにより、画像情報取得部２１０は、ステップＳ１２において中間調画像の１又は複数の水平走査ライン分の輝度むらの情報群（以下、これを輝度むらと呼ぶ）を取り込むことができる。また、画像情報取得部２１０は、ステップＳ１６において測定用画像の１又は複数の水平走査ライン分の輝度むらの情報群を取り込むことができる。
【００８３】
続いて、画像処理装置２００は、特性情報算出部２２０において、特性情報算出ステップとして、ステップＳ１２（第１の画像情報取得ステップ）において取得された画像情報とステップＳ１６（第２の画像情報取得ステップ）において取得された画像情報とに基づいて液晶パネルのクロストーク特性情報を算出し（ステップＳ１８）、一連の処理を終了する（エンド）。
【００８４】
特性情報算出部２２０は、ステップＳ１２で取得された中間調画像の１又は複数の水平走査ライン分の輝度むらを基準に、各画素位置毎に、ステップＳ１６で取得された測定用画像の１又は複数の水平走査ライン分の輝度差を算出する。ステップＳ１２とステップＳ１６では、同じ水平走査ラインの輝度を取得しているので、特性情報算出部２２０は、中間調画像を基準とした、１又は複数の水平走査ライン分の輝度差の変化情報であるクロストーク特性情報を算出することができる。
【００８５】
図８に、図５の処理において測定されるクロストークの説明図を示す。図８では、縦軸に中間調画像を基準とした輝度差、横軸に水平方向の画素位置を表したときの輝度差の変化を模式的に表したものである。
【００８６】
即ち、特性情報算出部２２０は、矩形パターンの水平走査方向に現れる輝度の尾引きの部分を、測定対象のクロストークとして判断し、この部分をクロストークの影響によるクロストーク特性情報として背景画像との輝度差を算出する。従って、特性情報算出部２２０によって算出されたクロストーク特性情報において、クロストークの影響をこのクロストーク部分の輝度差として定量化できる。そのため、このクロストーク部分の輝度差が小さくなるように画像信号を補正することで、クロストークの影響を低減して表示品位の向上に寄与できるようになる。
【００８７】
また、本実施形態によれば、上述のように中間調画像と測定用画像とを用いて輝度むらを測定するようにしたので、以下に説明するように従来のクロストークの測定方法によって測定不可能であった液晶パネルのクロストークの影響が観察し易くなり、より高精度にクロストークの影響を測定でき、クロストークの影響をより一層低減可能なクロストーク補正に寄与できるようになる。
【００８８】
図９に、本実施形態におけるクロストークの測定方法により測定された測定用画像の測定結果の一例を示す。図９は、表示画像の水平方向及び垂直方向のそれぞれに分割される画素ブロック毎に平均化された中間調画像との輝度差の変化を表す。なお、図９では、最もクロストークが観察し易いと判断されたエッジ間隔ｄが２×ｈのときの輝度差の測定結果を示している。
【００８９】
図９は、測定用画像全体の中間調画像との輝度差を表しており、測定用画像内の矩形パターンＰ１、Ｐ２に対応する画素ブロックにおいて中間調画像との輝度差が突出している。そして、矩形パターンＰ１、Ｐ２の周囲の画素ブロックにおいて、特に中間調画像との輝度差が大きくなり、輝度むらとして測定される。
【００９０】
そして、図９の水平方向（水平走査方向）の輝度むらに着目すると、中間調画像との輝度差は矩形パターンＰ１、Ｐ２の間の領域において最も大きくなっており、これはクロストークによる影響であると考えられる。これに対して、図９の垂直方向（垂直走査方向）の輝度むらに着目すると、矩形パターンＰ１、Ｐ２と隣接する画素ブロックにおいてわずかな振幅の輝度差が現れている。従って、本実施形態におけるクロストークの測定方法によれば、表示品位の劣化は、主として水平走査方向のクロストークに起因していることがわかる。その結果、水平走査方向の画素に対応した画像信号に対してクロストークの補正を行うだけでも、表示品位の劣化を大幅に低減でき、垂直走査方向のクロストークについては無視できることがわかる。
【００９１】
そこで、本実施形態におけるクロストークの測定方法により得られた測定結果から、クロストーク特性情報として次のような輝度差の変化情報を算出し、この輝度差の変化情報に基づいて当該画素に対応した画像信号を補正することで、クロストークの影響を低減できるようになる。
【００９２】
図１０に、本実施形態におけるクロストークの測定方法の測定結果から求められるクロストーク特性情報の一例を示す。図１０は、縦軸に中間調画像との輝度差、横軸に水平方向の画素位置を表す。
【００９３】
図１０に示すクロストーク特性情報は、水平走査方向に矩形パターンが存在する走査ラインにおける輝度差の変化情報を画素位置、又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報である。これにより、矩形パターンＰ１、Ｐ２の間の中間調画像との輝度差ΔＬが定量化されるので、水平走査方向のクロストークの影響を定量化できる。
【００９４】
従って、上述のように垂直走査方向のクロストークを無視することで、１画面内で図１０に示すような水平走査方向のクロストーク特性を定量化した場合、表示画像に対応した画像のクロストークの影響を、上記のクロストーク特性情報に基づいて補正して、クロストークの影響を低減した画像の表示に寄与できるようになる。
【００９５】
この場合、例えば各測定用画像が画像内の水平走査方向に互いにシフトした矩形パターンＰ１、Ｐ２を有する複数の測定用画像を用意し、各測定用画像を用いて図１０のクロストーク特性情報を算出する。この結果、測定用画像を表示させる液晶パネルの水平走査方向のクロストークの影響を定量的に判断でき、表示画像に対応した画素の画像信号の補正も精度良く行うことができるようになる。従って、従来のクロストークの測定方法では実現できなかった、クロストークに起因した表示品位の劣化を低減できるようになる。
【００９６】
また、本実施形態におけるクロストークの測定方法によれば、従来の測定方法ではわからなかった矩形パターンの表示位置の依存性の存在が測定結果により判明した。
【００９７】
図１１（Ａ）、図１１（Ｂ）、図１１（Ｃ）に、矩形パターンの表示位置の説明図を示す。図１１（Ａ）は、画像の左上に矩形パターンＰ１、Ｐ２が位置する第１の測定用画像の説明図を表す。図１１（Ｂ）は、画像の中心に矩形パターンＰ１、Ｐ２が位置する第２の測定用画像の説明図を表す。図１１（Ｃ）は、画像の右下に矩形パターンＰ１、Ｐ２が位置する第３の測定用画像の説明図を表す。
【００９８】
図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）では、矩形パターンＰ１、Ｐ２の階調値、エッジ間隔、形状、サイズがすべて同じであり、画像内の位置のみが異なる。図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）のそれぞれの測定用画像を用いた、本実施形態のクロストークの測定方法の測定結果は、次のようになる。
【００９９】
図１２に、図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）の測定用画像を用いた本実施形態のクロストークの測定方法の測定結果の一例を示す。図１２は、縦軸に中間調画像との輝度差、横軸に画像における水平方向の画素位置をとり、図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）のそれぞれの測定用画像を用いた中間調画像との輝度差の変化を表す。この図１２に示すクロストーク特性情報もまた、図１０と同様に、矩形パターンが存在する水平走査方向の走査ラインにおける輝度差の変化情報を画素位置、又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報である。
【０１００】
図１２において、図１１（Ａ）の測定用画像を用いたときの本実施形態のクロストークの測定方法による測定結果Ｃ１、図１１（Ｂ）の測定用画像を用いたときの本実施形態のクロストークの測定方法による測定結果Ｃ２、図１１（Ｃ）の測定用画像を用いたときの本実施形態のクロストークの測定方法による測定結果Ｃ３をみると、矩形パターンの表示位置に依存してクロストークによる影響が異なることがわかる。各測定結果において、矩形パターンの間の輝度差の変化に着目すれば、振幅の変化や輝度差の傾きが変化しており、クロストークによる影響は、図１２のＤ１で示すように、水平走査方向に、画像の中心付近が最も輝度差が大きい山なりの傾向にあることがわかる。
【０１０１】
従来のクロストークの測定方法によれば、クロストークは、矩形パターンの位置と相関性がないとされていたため、従来の測定方法に基づいてクロストークを補正したとしても、クロストークによる表示品位の劣化を抑える部分と抑えられない部分とが生じてしまう。これに対して、本実施形態におけるクロストークの測定方法によれば、クロストークは矩形パターンの表示位置と相関性があることを意味するので、水平走査方向のクロストークの影響をその画素位置に応じて低減することができ、表示品位の劣化を確実に防止できるようになる。
【０１０２】
また、測定結果Ｃ３に着目すると、クロストークの影響により中間調画像との輝度差が負になる部分があり、クロストークに起因する輝度差の変化は単一方向ではなく、他の画素位置とは逆方向に輝度差が変化する部分があることがわかる。
【０１０３】
従来のクロストークの測定方法によれば、クロストークの影響は単一方向に限られることになるので、従来の測定方法に基づいてクロストークを補正したとしても、クロストークによる表示品位の劣化を抑える部分と抑えられない部分とが生じてしまう。これに対して、本実施形態におけるクロストークの測定方法によれば、クロストークの影響は単一方向に限られないことを意味するので、輝度差が正か負かにかかわらず水平走査方向のクロストークの影響を低減することができ、表示品位の劣化を確実に防止できるようになる。
【０１０４】
更に、本実施形態におけるクロストークの測定方法では、矩形パターンの階調と中間調画像の階調との関係は、次のような関係があることが望ましい。以下では、液晶パネルの動作モードがノーマリブラックモードであるものとして説明するが、液晶パネルの動作モードがノーマリホワイトモードについても同様に考えることができる。
【０１０５】
図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）、図１３（Ｃ）に、矩形パターンの階調の説明図を示す。図１３（Ａ）は、矩形パターンＰ１、Ｐ２の階調値が、取り得る全階調値のうちの最小値（黒）である矩形パターンの説明図を表す。図１３（Ｂ）は、矩形パターンＰ１、Ｐ２の階調値が、取り得る全階調値のうちの最大値と最小値の中間値付近で中間調画像の階調値と異なる矩形パターンの説明図を表す。図１３（Ｃ）は、矩形パターンＰ１、Ｐ２の階調値が、取り得る全階調値のうちの最大値（白）である矩形パターンの説明図を表す。
【０１０６】
図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）では、矩形パターンＰ１、Ｐ２の表示位置、エッジ間隔、形状、サイズがすべて同じであり、階調値のみが異なる。図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）のそれぞれの測定用画像を用いた、本実施形態のクロストークの測定方法の測定結果は、次のようになる。
【０１０７】
図１４に、図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）を含む複数種類の階調の矩形パターンを有する測定用画像を用いた本実施形態のクロストークの測定方法の測定結果の一例を示す。図１４は、縦軸に中間調画像との輝度差、横軸に画像における水平方向の画素位置をとり、複数種類の階調の矩形パターンを有する複数の測定用画像のそれぞれを用いた中間調画像との輝度差の変化を表す。この図１４に示すクロストーク特性情報もまた、図１０と同様に、矩形パターンが存在する水平走査方向の走査ラインにおける輝度差の変化情報を画素位置、又はサンプリングされた画素位置毎に平均化した情報である。
【０１０８】
図１４において、矩形パターンの階調値が小さいほど、矩形パターンＰ１、Ｐ２の間の領域における中間調画像との輝度差が正の方向に変化する。しかしながら、輝度差の絶対値に着目すると、矩形パターンの階調値が最小値（黒）のときより階調値が最大値（白）のときの方が中間調画像との輝度差が大きくなる。即ち、液晶パネルの動作モードがノーマリブラックモードのとき、矩形パターンＰ１、Ｐ２の階調が白であるほど矩形パターンＰ１、Ｐ２の間の領域における中間調画像との輝度差が大きくなり、クロストークの影響を観察し易くなる。従って、液晶パネルの動作モードがノーマリブラックモードのとき、階調が白の矩形パターンＰ１、Ｐ２を用いることで、より高精度にクロストークの影響を測定できるようになる。
【０１０９】
なお、中間調画像として、階調値の最大値と最小値の中間値の階調を有する画像を採用することで、クロストークに起因した階調の変化が輝度の変化として現れやすい。これは、光変調素子としての液晶パネルの公知の階調特性から明らかである。従って、背景画像に中間値の階調を有する中間調画像を採用し、液晶パネルの動作モードがノーマリブラックモードのとき、階調が白の矩形パターンＰ１、Ｐ２の測定用画像を採用することが望ましい。
【０１１０】
同様に考えると、液晶パネルの動作モードがノーマリホワイトモードのとき、矩形パターンＰ１、Ｐ２の階調が黒であるほど矩形パターンＰ１、Ｐ２の間の領域における中間調画像との輝度差が大きくなることを意味する。従って、液晶パネルの動作モードがノーマリホワイトモードのとき、階調が黒の矩形パターンＰ１、Ｐ２を用いることで、より高精度にクロストークの影響を測定できるようになると考えられる。
【０１１１】
従って、背景画像に中間値の階調を有する中間調画像を採用し、液晶パネルの動作モードがノーマリホワイトモードのとき、階調が黒の矩形パターンＰ１、Ｐ２の測定用画像を採用することが望ましい。
【０１１２】
以上、本発明に係るクロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システムを上記の実施形態に基づいて説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
【０１１３】
（１）上記の実施形態では、光変調素子として液晶パネルを例に説明したが、これに限定されるものではない。
【０１１４】
（２）上記の実施形態では、光変調素子としてライトバルブを用いるものとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１１５】
（３）上記の実施形態では、光変調素子として、いわゆる３板式の透過型の液晶パネルを用いたライトバルブを例に説明したが、４板式以上の透過型の液晶パネルを用いたライトバルブを採用してもよい。
【０１１６】
（４）上記の実施形態において、本発明を、クロストーク測定方法、画像処理装置及びクロストーク測定システムとして説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、本発明を実現するためのクロストーク測定方法の処理手順が記述されたプログラムや、該プログラムが記録された記録媒体であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【０１１７】
【図１】本発明に係る実施形態におけるクロストーク測定システムの構成例を示す図。
【図２】図１のプロジェクタの構成例の構成図。
【図３】図１の画像処理装置の構成例の構成図。
【図４】図１の画像処理装置のハードウェア構成例のブロック図。
【図５】図１の画像処理装置の処理例のフロー図。
【図６】図６（Ａ）、図６（Ｂ）は図５の処理の説明図。
【図７】図５の処理における測定用画像の矩形パターンの説明図
【図８】図５の処理において測定されるクロストークの説明図。
【図９】本実施形態におけるクロストークの測定方法により測定された測定用画像の測定結果の一例を示す図。
【図１０】本実施形態におけるクロストークの測定方法の測定結果から求められるクロストーク特性情報の一例を示す図。
【図１１】図１１（Ａ）、図１１（Ｂ）、図１１（Ｃ）は矩形パターンの表示位置の説明図。
【図１２】図１１（Ａ）〜図１１（Ｃ）の測定用画像を用いた本実施形態のクロストークの測定方法の測定結果の一例を示す図。
【図１３】図１３（Ａ）、図１３（Ｂ）、図１３（Ｃ）は矩形パターンの階調の説明図。
【図１４】含む複数種類の階調の矩形パターンを有する測定用画像を用いた本実施形態のクロストークの測定方法の測定結果の一例を示す図。
【符号の説明】
【０１１８】
１０…クロストーク測定システム、  １１０…光源、
１１２，１１４…インテグレータレンズ、  １１６…偏光変換素子、
１１８…重畳レンズ、  １２０Ｒ…Ｒ用ダイクロイックミラー、
１２０Ｇ…Ｇ用ダイクロイックミラー、  １２２，１４８，１５０…反射ミラー、  
１２４Ｒ…Ｒ用フィールドレンズ、  １２４Ｇ…Ｇ用フィールドレンズ、
１３０Ｒ…Ｒ用液晶パネル、  １３０Ｇ…Ｇ用液晶パネル、
１３０Ｂ…Ｂ用液晶パネル、  １４０…リレー光学系、
１４２，１４４，１４６…リレーレンズ、  １６０…クロスダイクロイックプリズム、
１７０…投射レンズ、  ２００…画像処理装置、  ２１０…画像情報取得部、
２２０…特性情報算出部、  ３００…ＣＰＵ、  ３１０…Ｉ／Ｆ回路、
３２０…ＲＯＭ、  ３３０…ＲＡＭ、  ３４０…バス、  ＩＭ…画像情報測定部、
ＰＪ…プロジェクタ、  ＳＣＲ…スクリーン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図８】
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【図９】
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