(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
自動測定と回復を行うシステムであって、
フレームのオン／オフ状態を測定し、対応する状態信号を発生させ、前記フレーム内にタッチコントロール装置が設置される状態測定器と、
前記状態信号に対応する制御信号を発生させる制御信号発生回路と、
前記制御信号に基き前記タッチコントロール装置のリセットを行うリセット制御回路を含み、
前記タッチコントロール装置は前記フレームのオン／オフ状態の変更後にリセットを行い、変更後のタッチコントロール環境下でタッチコントロール環境の再検索を行い、タッチコントロール精度を回復させることを特徴とする、自動測定と回復を行うシステム。
【請求項２】
自動測定と回復を行うシステムであって、
オン／オフされるフレームと、
前記フレーム内に設置されるタッチコントロール装置と、
前記フレームのオン／オフ状態を測定し、対応する状態信号を発生させる状態測定器と、
前記状態信号に基き対応する制御信号を発生させる制御信号発生回路と、
前記制御信号に基き前記タッチコントロール装置のリセットを行うリセット制御回路を含み、
前記タッチコントロール装置は前記フレームのオン／オフ状態を変更後にリセットを行い、変更後のタッチコントロール環境下でタッチコントロール環境の再検索を行い、タッチコントロール精度を回復させることを特徴とする自動測定と回復を行うシステム。
【請求項３】
前記フレームは金属フレームであることを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項４】
前記タッチコントロール装置はキャパシタ式のタッチパネルを含むことを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項５】
前記タッチコントロール環境は前記タッチコントロール装置周囲の電界環境であることを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項６】
前記状態信号がオン状態信号ならば、前記フレームがオン状態にある事を示し、またオフ状態信号ならば、前記フレームがオフ状態にある事を示すことを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項７】
前記状態信号をプリセット電圧レベルに電圧固定させる分圧器を更に含むことを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項８】
前記状態測定器はフレームスイッチに接続され、前記フレームのオン或いはオフ時に、前記状態測定器は前記フレームスイッチの状態の変更を測定し、ポジティブエッジ状態信号或いはネガティブエッジ状態信号を発生させることを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項９】
前記制御信号発生回路は、前記状態信号を受信後にワンショット信号を発生させる少なくとも一つのエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータを含むことを特徴とする、請求項８に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項１０】
前記制御信号発生回路は、前記ポジティブエッジ状態信号と前記ネガティブエッジ状態信号をそれぞれ受信するポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ及びネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータを含むことを特徴とする、請求項９に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項１１】
前記ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータと前記ネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力に接続され、前記ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力、或いは前記ネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力を通過させるロジック或いは回路を更に含むことを特徴とする、請求項１０に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項１２】
前記リセット制御回路は、前記制御信号に制御され、前記制御信号がアクティブ時には、それは前記タッチコントロール装置を接地させ、前記制御信号が非アクティブ時には、それは電源を前記タッチコントロール装置に供給し、前記タッチコントロール装置にリセットを行わせる電源スイッチを含むことを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項１３】
前記リセット制御回路はインバーターバッファを含むことを特徴とする、請求項１２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項１４】
前記タッチコントロール装置は、前記タッチパネル或いはタッチコントローラーにリセットされるためのタッチパネルとタッチコントローラーを含むことを特徴とする、請求項１２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【請求項１５】
前記リセット制御回路の出力は前記タッチコントロール装置のタッチコントローラーのリセット入力端に接続され、前記タッチコントローラーのリセットを制御することを特徴とする、請求項１又は２に記載の自動測定と回復を行うシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチコントロールシステムに関し、より詳しくは、自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムとそのリセット装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチコントロール装置（例えばキャパシタ式タッチコントロール装置）の応用に於いて、例えばタッチコントロールゲーム機等では、タッチコントロール装置はコンピュータ本体と一緒に金属フレーム内に設置され、コンピュータ本体の保護とハッキング防止機能を兼備する。タッチコントロール装置は一般的にタッチパネルとタッチコントローラーを有し、タッチパネルに機能不全が生じると、金属フレームをオンにさせ、タッチコントローラー（touch controller）の電源を再度オンにさせ、タッチパネルのリセット(reset)を行う。然しながら、金属フレームのオフ後には、往々にしてタッチパネルのタッチコントロール精度の大幅な低下が起こり、動作不良をも引き起こす事がある。この原因を突き詰めると、主にタッチコントローラーが金属フレームのオン状態下でリセットを行う為、金属フレームのオフ後に周囲の環境に影響を及ぼしてしまい、例えば電界が変化してしまう事等がある。電界の量が変化するとタッチパネルの電界をも変化させてしまい、それがタッチコントローラーの自動測定範囲を超過すると、タッチコントロール精度の低下を招く。
【０００３】
この問題を克服する為、一般的には図１に示すようなソフトウェアリセット方法が使用されている。金属フレーム１０がオン或いはオフの時、スイッチＳＷにより状態がコンピュータ本体１２に伝えられる。コンピュータ本体１２の制御プログラムで処理された後、ユニバーサル・シリアル・バス（USB）を通過し発信された信号によりタッチコントロール装置１４（タッチパネル１４２とタッチコントローラー１４０を含む）のタッチコントローラー１４０をリセットする。
【０００４】
上述の従来の方法は主にソフトウェア方式でリセットを行い、異なるコンピュータ本体或いはオペレーティング・システムに於いては、それぞれに合わせ専用の制御プログラムを作成する必要がある。オペレーティング・システムの種類は雑多であり、専用のプログラムの作成は資源と時間の浪費に繋がる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このように、上述の現在のタッチコントロール装置は構造上及び使用上、不便と欠点を有しており、更なる改善が望まれている。上述の問題を解決する為、関係する製造工場では少なからぬ努力を払い解決法を探ってはいるが、但し長年の努力にも拘らず適切な設計は未だ完成を見ず、一般製品もまた適切な構造を以っての上述の問題を解決するには至らず、関係業者は問題の解決に躍起となっている。この為新たな構造の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムとリセット装置を如何に設計するかは、フレームのオン、オフ動作が招くタッチコントロール精度低下の問題解決のみならず、ソフトウェアプログラムの互換性問題の回避も出来、これは現在最重要の研究課題の一つであり、業界が最も改善を求めている目標でもある。
【０００６】
本発明は、このような従来の問題に鑑みてなされたものである。上記課題解決のため、本発明は、各種のコンピュータ本体に適用可能な、オペレーティング・システムの種類の制限を受けない、極めて実用的な新構造の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムとそのリセット装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置は、
フレームのオン／オフ状態を測定し、対応する状態信号を発生させ、フレーム内にタッチコントロール装置が設置される状態測定器と、
状態信号に対応する制御信号を発生させる制御信号発生回路と、
制御信号に基きタッチコントロール装置のリセットを行うリセット制御回路を含み、
タッチコントロール装置はフレームのオン／オフ状態の変更後にリセットを行い、変更後のタッチコントロール環境下でタッチコントロール環境の再検索を行い、タッチコントロール精度を回復させることを特徴とする。
【０００８】
本発明の目的及び技術的問題の解決には以下の技術を更に採用し実現する。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるフレームは金属フレームである。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるタッチコントロール装置はキャパシタ式のタッチパネルを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるタッチコントロール環境はタッチコントロール装置周囲の電界環境である。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられる状態信号がオン状態信号ならば、フレームがオン状態にある事を示し、またオフ状態信号ならば、フレームがオフ状態にある事を示す。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置は、状態信号をプリセット電圧レベルに電圧固定させる分圧器を更に含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられる状態測定器はフレームスイッチに接続され、フレームのオン或いはオフ時に、状態測定器はフレームスイッチの状態の変更を測定し、ポジティブエッジ状態信号或いはネガティブエッジ状態信号を発生させる。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられる制御信号発生回路は、状態信号を受信後にワンショット信号を発生させる少なくとも一つのエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられる制御信号発生回路は、ポジティブエッジ状態信号とネガティブエッジ状態信号をそれぞれ受信する、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ及びネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置は、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータとネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力に接続され、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力、或いはネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力を通過させる、ロジックなし回路のいずれか一つを更に含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるリセット制御回路は、制御信号に制御され、制御信号がアクティブ時には、それはタッチコントロール装置を接地させ、制御信号が非アクティブ時には、それは電源をタッチコントロール装置に供給し、タッチコントロール装置にリセットを行わせる電源スイッチを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるリセット制御回路はインバーターバッファを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるタッチコントロール装置は、タッチパネル或いはタッチコントローラーにリセットされるためのタッチパネルとタッチコントローラーを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の、その中で述べられるリセット制御回路の出力はタッチコントロール装置のタッチコントローラーのリセット入力端に接続され制御し、タッチコントローラーのリセットを制御する。
【０００９】
本発明の目的及び技術的問題の解決には以下の技術スキームを更に採用し実現する。本発明に係る自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムはフレームと、タッチコントロール装置とリセット装置を含む。タッチコントロール装置はオン／オフ動作のなされるフレーム内に設置される。リセット装置は状態測定器と、制御信号発生回路とリセット制御回路を含む。状態測定器はフレームのオン／オフ状態を測定し、対応する状態信号を発生させる。制御信号発生回路は状態信号を基に対応する制御信号を発生させる。リセット制御回路は制御信号を基にタッチコントロール装置のリセットを行う。これにより、タッチコントロール装置はフレームのオン／オフ状態の変更後にリセットを行い、変更後のタッチコントロール環境下でのタッチコントロール環境を再検索し、タッチコントロール精度を回復させる。
【００１０】
本発明の目的及び技術的問題の解決には以下の技術を更に採用し実現する。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるフレームは金属フレームである。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるタッチコントロール装置はキャパシタ式のタッチパネルを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるタッチコントロール環境は前記タッチコントロール装置周囲の電界環境である。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられる状態信号がオン状態信号ならば、フレームがオン状態にある事を示し、またオフ状態信号ならば、フレームがオフ状態にある事を示す。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムは、状態信号をプリセット電圧レベルに電圧固定させる分圧器を更に含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられる状態測定器はフレームスイッチに接続され、フレームのオン或いはオフ時に、状態測定器は前記フレームスイッチの状態の変更を測定し、ポジティブエッジ状態信号或いはネガティブエッジ状態信号を発生させる。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられる制御信号発生回路は、状態信号を受信後にワンショット信号を発生させる少なくとも一つのエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられる制御信号発生回路は、ポジティブエッジ状態信号とネガティブエッジ状態信号をそれぞれ受信するポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ及びネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムは、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータとネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力に接続され、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力、或いはネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータの出力を通過させるロジック或いは回路を更に含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるリセット制御回路は、制御信号に制御され、制御信号がアクティブ時には、それはタッチコントロール装置を接地させ、制御信号が非アクティブ時には、それは電源をタッチコントロール装置に供給し、タッチコントロール装置にリセットを行わせる電源スイッチを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるリセット制御回路はインバーターバッファを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるタッチコントロール装置は、タッチパネル或いはタッチコントローラーにリセットされるためのタッチパネルとタッチコントローラーを含む。
前述の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの、その中で述べられるリセット制御回路の出力はタッチコントロール装置のタッチコントローラーのリセット入力端に接続され、タッチコントローラーのリセットを制御する。
【００１１】
本発明を従来の技術を比較すると明確に長所と有益な効果を有することが分かる。上述の技術スキームの通り、本発明に係る自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムとそのリセット装置は以下に挙げる長所と有益な効果を少なくともを有する。本発明は各種のコンピュータ本体に適用可能で、オペレーティング・システムの種類に制限されず、フレームのオン、オフ動作によるタッチコントロール精度低下の問題解決のみならず、ソフトウェアプログラムの互換性問題の回避も可能である。
【００１２】
以上の様に、本発明は自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムとそのリセット装置に関する物である。この自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置は、主に状態測定器と、制御信号発生回路及びリセット制御回路を含む。状態測定器はタッチコントロール装置を内設するフレームのオン／オフ状態を測定し、対応する状態信号を発生させる。制御信号発生回路は状態信号に基き対応する制御信号を発生させる。リセット制御回路は制御信号に基きタッチコントロール装置のリセットを行う。これにより、タッチコントロール装置はフレームのオン／オフ状態変更後にリセットを行い、変更後のタッチコントロール環境下でタッチコントロール環境を再検索し、タッチコントロール精度を回復させる。本発明は自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムを更に提供する。本発明の技術上の顕著な進歩は、明確な効果を有し、革新的な、進化した、実用的な新設計といえる。
【００１３】
上述の説明は本発明の技術スキームを概述したに過ぎず、更に明確に本発明の技術手段を理解し、説明書の内容に沿って実施出来るよう、また本発明の上述の目的及び他の目的の為に、特徴と長所を更に明確に理解出来るよう、以下に好ましい実施形態を挙げ、図を添付した詳細な説明を詳述する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】タッチコントロール装置の従来のソフトウェアリセット方法の概略図である。
【図２】本発明に係る好ましい実施形態の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの機能のブロック図である。
【図３】本実施形態のタッチコントロールシステムの正面からの概略図である。
【図４】本発明に係る好ましい実施形態のリセット装置の機能のブロック図である。
【図５Ａ】リセット装置の機能のブロック図の例示である。
【図５Ｂ】リセット装置の詳細な回路図の例示である。
【図５Ｃ】図５Ａと図５Ｂの相関する信号の波形の概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に図面を参照して本発明を実施するための形態について、詳細に説明する。なお、本発明は、以下に説明する実施形態に限定されるものではない。
【００１６】
図２は本発明の実施形態に係る自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムのリセット装置の好ましい実施形態の自動測定と回復を行うタッチコントロールシステムの機能のブロック図であり、これはフレーム２６と、タッチコントロール装置２２とリセット装置２０で構成される。タッチコントロール装置２２はタッチパネル２２１とタッチコントローラー（touch controller）２２０からなる。リセット（reset）裝置２０はタッチコントロール装置２２のリセットに用いられ、またタッチコントロール装置２２はフレーム２６内に設置される。図２に例示されるリセット装置２０とコンピュータ本体２４はフレーム２６内に設置されるが、然しながら、他の実施形態に於いてはフレーム２６外に設置されても良い。
【００１７】
図３は本実施形態のタッチコントロールシステムの正面からの概略図である。フレーム２６はヒンジ（hinge）２６０により前フレーム（或いは前ゲート）のオン或いはオフが行われ、ヒンジ２６０の他方（即ち、前、後フレームの互いに分離或いは閉鎖される内の一方）には対向してフレームスイッチＳＷｍが設けられる。フレーム２６はフレームスイッチＳＷｍに対応してオン或いはオフがなされ、これがタッチパネル２２１の周囲の環境を変化(電界環境の変化等)させ、タッチパネル２２１のタッチコントロール精度にまで影響が及ぶ。本実施形態では、タッチパネル２２１はキャパシタ式のタッチパネルであり、フレーム２６は金属フレームである。他の実施形態では、本発明は他の電界感応のタッチパネル２２１を適用可能で、フレーム２６は他の材料でもよい。
【００１８】
図４は本発明に係る好ましい実施形態のリセット装置の機能のブロック図である。リセット装置２０は主に状態測定器２００、制御信号発生回路２０２及びリセット制御回路２０４で構成される。状態測定器２００はフレーム２６のオン／オフ状態(例えば図３のフレームスイッチＳＷｍのオン／オフの測定）の測定に用いられ、オン状態信号やオフ状態信号等の対応する状態信号を発生させる。制御信号発生回路２０２は状態信号に基き対応する制御信号を発生させる。これは例えば、制御信号発生回路２０２がオン／オフ状態信号の受信時に、対応する制御信号を発生させる事である。本実施形態の制御信号発生回路２０２はオン状態とオフ状態にそれぞれに合わせた制御信号を発生させるが、然しながら、他の実施形態では、例えばオフ状態時のみに制御信号を発生させる等、一種類の制御信号を発生させるのみでも良い。続いて、リセット制御回路２０４は、例えばタッチコントローラー２２０に対するリセット等、制御信号に基きタッチコントロール装置２２のリセットを行う。これにより、タッチパネル２２１はフレーム２６のオン／オフ状態変更後に、変更後の環境（例えば電界環境）下でタッチコントロール環境の再検索を行い、タッチコントロール精度の回復が得られる。
【００１９】
図５Ａはリセット装置の機能のブロック図の例示であり、図５Ｂはリセット装置の詳細な回路図の例示であり、図５Ｃは図５Ａと図５Ｂの相関する信号の波形の概略図である。本実施形態では、状態測定器２００はフレームスイッチＳＷｍを測定する。フレーム２６のオフ時には、スイッチＳＷｍは閉鎖され、このため状態信号Ｓは低レベル（第一レベル）となり、フレーム２６のオン時には、スイッチＳＷｍは切断され、このため状態信号Ｓは高レベル（第二レベル）となる。これにより、フレーム２６はオフからオンへ変わる時は、ポジティブエッジ（或いは立ち上がりエッジ）状態信号Ｓを発生させ、フレーム２６がオンからオフへ変わる時は、ネガティブエッジ（或いは立ち下がりエッジ）状態信号Ｓを発生させる。
【００２０】
本実施形態では、制御信号発生回路２０２は少なくとも一つのエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショット（one-shot）マルチバイブレータ（別称は単安定（monostable）マルチバイブレータ）を含み、図５Ａにはポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａ及びネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂを図示する。本実施形態では（但しこれに限られないが）ＨＩＴＡＣＨＩ型番号ＨＤ７４ＨＣ１２３Ａのデュアル・リトリガブル単安定マルチバイブレータ（Dual Retriggerable Monostable Multivibrators）を使用してポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａとネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂを実施している。ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａが発生させるワンショット信号(即ち、制御信号Ｃ)のパルス幅は抵抗器Ｒ１及びキャパシタＣ１により決定され、ネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂが発生させるワンショット信号のパルス幅は抵抗器Ｒ２及びキャパシタＣ２により決定される。このほか、キャパシタＣ３とキャパシタＣ４は電源（+5V）のフィルターキャパシタである。このため、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａの入力（1B）がポジティブエッジトリガを受けた時、その出力（1Q）はワンショット信号を発生させ、そのパルス幅はＲ１＊Ｃ１となり、ネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂの入力（）がネガティブエッジトリガを受けた時、その出力（2Q）はワンショット信号を発生させ、そのパルス幅はＲ２＊Ｃ２となる。図５Ｂに図示する回路の、ダイオードＤ１、ダイオードＤ２はポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａの出力とネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂの出力（1Q/2Q）にそれぞれ連結され、ロジック或いは（OR）機能回路を形成し、ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａの出力、或いはネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂの出力を通過させ、各出力（1Q/2Q）間の干渉を防止する。このほか、制御信号発生回路２０２は抵抗器Ｒ５と抵抗器Ｒ６を使用して組成された分圧器であり、状態信号Ｓを適当な電圧レベル或いはプリセット電圧レベルに電圧固定（clamp）させる。
【００２１】
本実施形態では、リセット制御回路２０４は制御信号Ｃに制御され、その出力はタッチコントローラー２２０の電源入力端に連結される電源スイッチＳＷｐを含む。制御信号Ｃのアクティブ（例えば、高レベルパルス）時、電源スイッチＳＷｐは閉鎖され、出力は接地され、制御信号Ｃが非アクティブ（例えば低レベル）時、電源スイッチＳＷｐは切断され、これにより電源Ｖｃｃを出力する。言い換えれば、フレーム２６がオン或いはオフになる時、制御信号Ｃはアクティブ（例えば、ワンショット信号の発生）に変わり、タッチコントロール装置２２を接地（即ち電源切断）させる。一定の時間（例えば、ワンショット信号のパルス幅）を経過した後、制御信号Ｃは非アクティブに変わり、タッチコントロール装置２２は電源Ｖｃｃを受け、リセットを行い、これによりタッチコントロール装置２２は変更後の環境（例えば電界環境）下でタッチコントロール環境の再検索を行う。本発明のリセットの実施方式はタッチコントローラー２２０の電源供給と切断の制御、、或いはタッチパネル２２１の電源の制御、更にはタッチコントロール装置２２全体の電源の制御でも良い。他の実施形態では、リセット制御回路２０４の出力はタッチコントローラー２２０のリセット入力端に連結され、これを制御し、言い換えれば、この実施形態のタッチコントローラー２２０の電源は切断されていない情況下でリセットを行う。
【００２２】
図５Ｂに図示する回路のリセット制御回路２０４は、トランジスタＱ１と抵抗器Ｒ３、抵抗器Ｒ４、抵抗器Ｒ７及びキャパシタＣ５で組成されるインバーターバッファを含む。トランジスタＱ１のエミッタ接地は、コレクタを出力端とし抵抗器Ｒ７を経由し電源（+5V）に連結され、ベースを入力端として連結され制御信号Ｃを受信する。制御信号Ｃがアクティブ(例えば、高レベルパルス)時、トランジスタＱ１は導通され出力Ｐを接地させ、制御信号Ｃが非アクティブ(例えば、低レベル)時、トランジスタＱ１は切断され、そのため出力Ｐは抵抗器Ｒ７を経由し電源（+5V）となるまで高められる。
【００２３】
図５Ｃに図示する上述のシステム或いは回路の、フレーム２６が時間ｔ１に於いてオフからオンへ変わると、状態測定器２００（例えば、機械スイッチＳＷｍ）はポジティブエッジ状態信号Ｓを出力させ、これがポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ａを触発させアクティブパルス制御信号Ｃを発生させ、リセット制御回路２０４（例えば、インバーターバッファ）の出力Ｐを接地させ、タッチコントロール装置２２の電源を切断させる。制御信号Ｃのパルスが時間ｔ２で終結する時、リセット制御回路２０４は電源（+5V）をタッチコントロール装置２２へ出力させ、リセットを行わせる。
【００２４】
フレーム２６が時間ｔ３に於いてオンからオフへ変わると、状態測定器２００はネガティブエッジ状態信号Ｓを出力させ、これがネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ２０２Ｂを触発させアクティブパルス制御信号Ｃを発生させ、リセット制御回路２０４の出力を接地させ、タッチコントロール装置２２の電源を切断させる。制御信号Ｃのパルスが時間ｔ４で終結する時、リセット制御回路２０４の出力Ｐは電源（+5V）をタッチコントロール装置２２へ出力させ、リセットを行わせる。上述の操作により、タッチコントロール装置２２はフレーム２６のオン／オフ状態の変更後にリセットを行い、変更後の環境（例えば電界環境）下でタッチコントロール環境の再検索を行い、タッチコントロール精度を回復させる。
【００２５】
上述の実施形態は本発明の技術思想及び特徴を説明するためのものにすぎず、当該技術分野を熟知する者に本発明の内容を理解させると共にこれをもって実施させることを目的とし、本発明の特許請求の範囲を限定するものではない。従って、本発明の精神を逸脱せずに行う各種の同様の効果をもつ改良又は変更は、後述の請求項に含まれるものとする。
【符号の説明】
【００２６】
１０      金属フレーム
１２      コンピュータ本体
１４      タッチコントロール装置
１４０    タッチコントローラー
２０      リセット装置
２００    状態測定器
２０２    制御信号発生回路
２０２Ａ  ポジティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ
２０２Ｂ  ネガティブエッジトリガ型フリップフロップ・ワンショットマルチバイブレータ
２０４    リセット制御回路
２２      タッチコントロール装置
２２０    タッチコントローラー
２２１    タッチパネル
１４２    タッチパネル
２４      コンピュータ本体
２６      フレーム
２６０    ヒンジ
Ｓ        状態信号
Ｃ        制御信号
Ｐ        リセット制御回路の出力
ＳＷ      スイッチ
ＳＷｍ    フレームスイッチ
ＳＷｐ    電源スイッチ
Ｒ１      抵抗器
Ｒ２      抵抗器
Ｒ３      抵抗器
Ｒ４      抵抗器
Ｒ５      抵抗器
Ｒ６      抵抗器
Ｃ１      キャパシタ
Ｃ２      キャパシタ
Ｃ３      キャパシタ
Ｃ４      キャパシタ
Ｃ５      キャパシタ
Ｑ１      トランジスタ
Ｄ１      ダイオード
Ｄ２      ダイオード
【図１】
0005089813.tif 000002
【図２】
0005089813.tif 000003
【図３】
0005089813.tif 000004
【図４】
0005089813.tif 000005
【図５Ａ】
0005089813.tif 000006
【図５Ｂ】
0005089813.tif 000007
【図５Ｃ】
0005089813.tif 000008