(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定のビット数のデータを送信する送信装置において、
送信対象のデータの上位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットと
からなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データを出力するデータ変換手段と、
前記変換後データを送信するデータ送信手段と
を備え、
前記変換テーブルには、
前記加工データと、
前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットと
が対応付けられている
送信装置。
【請求項２】
前記変換テーブルは、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段において、前記テストパターンを発生し、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段において、前記テストパターンを送信し、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信するテストパターン受信手段において、前記テストパターンを受信して出力し、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定する誤り判定手段において、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成し、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索手段において、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付ける
ことにより作成されたものである
請求項１に記載の送信装置。
【請求項３】
所定のビット数のデータを送信する送信装置の送信方法において、
送信対象のデータの上位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットと
からなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データを出力し、
前記変換後データを送信する
ステップを含み、
前記変換テーブルには、
前記加工データと、
前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットと
が対応付けられている
送信方法。
【請求項４】
所定のビット数のデータを送信する送信装置として、コンピュータを機能させるプログラムにおいて、
送信対象のデータの上位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットと
からなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データを出力するデータ変換手段と、
前記変換後データを送信するデータ送信手段と
して、コンピュータを機能させるプログラムであり、
前記変換テーブルには、
前記加工データと、
前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットと
が対応付けられている
プログラム。
【請求項５】
所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置において、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段と、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段と、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信して出力するテストパターン受信手段と、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成する誤り判定手段と、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成する探索手段と
を備える情報処理装置。
【請求項６】
前記探索手段は、前記注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データのうちの複数のテスト加工データを探索範囲に設定し、その探索範囲のテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する
請求項５に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記探索手段は、
前記注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下であるかどうかを判定し、
前記注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下でない場合には、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付け、
前記注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下である場合には、前記注目テスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付ける
請求項５に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記テストパターン発生手段、及び、前記テストパターン送信手段を有する送信装置と、
前記テストパターン受信手段、前記誤り判定手段、及び、前記探索手段を有する受信装置と
からなる
請求項５に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記送信装置は、
前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換テーブルにおいて、送信対象のデータの上位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットとからなる加工データに一致する前記テスト加工データに対応付けられている前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、前記変換後下位ビットとからなる変換後データを出力するデータ変換手段と、
前記変換後データを送信するデータ送信手段と
をさらに有する
請求項８に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置の情報処理方法において、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段において、前記テストパターンを発生し、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段において、前記テストパターンを送信し、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信するテストパターン受信手段において、前記テストパターンを受信して出力し、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定する誤り判定手段において、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成し、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索手段において、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成する
ステップを含む情報処理方法。
【請求項１１】
所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置として、コンピュータを機能させるプログラムにおいて、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段と、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段と、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信して出力するテストパターン受信手段と、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成する誤り判定手段と、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成する探索手段と
して、コンピュータを機能させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、送信装置、送信方法、情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラムに関し、特に、例えば、マルチパスに起因するデータの誤りの発生を、容易に防止することができるようにする送信装置、送信方法、情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、従来の電子機器を構成する基板やLSI(Large Scale Integration)等は、銅線等の配線によって接続され、電子機器の筐体内の基板やLSIの間、及び電子機器どうしの基板やLSIの間では、配線を介して、有線による通信（データ（信号）のやりとり）が行われる。
【０００３】
一方、近年、半導体プロセスの進化や信号の広帯域化／高速化に伴い、電子機器の筐体内の基板やLSIの間、及び電子機器どうしの基板やLSIの間の通信量が増加し、これに伴い、基板間や基板内に、多数の配線をする必要が生じている。
【０００４】
しかしながら、例えば、配線の引き回しの複雑化、配線の周波数特性、配線間のクロストーク、データをパラレルで送信するときのスキューの保証、基板の層数の増加による高コスト化等の観点から、多数の配線をすることは、難しくなってきている。
【０００５】
そこで、電子機器どうしの間や、電子機器の筐体内の基板やLSIの間の通信を、光や電波を用いた無線通信によって行うことが提案されている（例えば、特許文献１を参照）。
【０００６】
しかしながら、例えば、電子機器では、一般に、基板やLSIが、筐体に収容されているため、筐体内において電波等による無線通信を行う場合には、マルチパスの影響により、通信量を増加させることが困難である。
【０００７】
ここで、マルチパスとは、建造物や地形などの障害（物）によって、送信側から送信された電波が反射・回折し、複数のパス（経路）から同一の電波が、受信側に届くことをいう。
【０００８】
マルチパスが生じ、受信側において、複数のパスからの電波を受信すると、複数のパスの距離が異なることにより（送信側からの電波が受信側に到達するのに要する時間が、パスによって異なることにより）、受信側では、位相がずれた複数の電波が受信され、その結果、受信信号の波形が歪み、最悪の場合、データを復号することができなくなる。
【０００９】
そこで、マルチパスによって、受信信号に歪みが生じることを防止する方法として、筐体内の全面に、電波吸収体を貼る方法がある（例えば、特許文献２を参照）。
【００１０】
すなわち、特許文献２には、電波吸収体を用いることで、筐体内において筐体の壁面における電磁波の反射波を抑制して、UWB(Ultra Wide Band)通信を行うことが記載されている。
【００１１】
しかしながら、電波吸収体は、高コストであり、また、排熱などの観点から、電波吸収体を、筐体内の全面に貼ることは、適切ではない。
【００１２】
また、一般的な無線通信において、信号処理によるマルチパスの対策の方法としては、例えば、変調方式にOFDM(Orthogonal Frequency Division Multiplexing)を採用する方法や、変調方式にスペクトル拡散方式を採用するとともに、受信側でレイク(RAKE)受信を行う方法、送信側及び受信側でマルチアンテナ（複数のアンテナ）を用いるMIMO(Multiple Input Multiple Output)を採用する方法、波形等化器を用いる方法等がある。
【００１３】
しかしながら、変調方式にOFDMを採用する方法では、変調や復調に必要なFFT(Fast Fourier Transform)やA/D(Analog/Digtal)変換の処理の負荷が重く、処理を、高速に行う場合には、熱の対策等が必要となる。
【００１４】
変調方式にスペクトル拡散方式を採用し、レイク受信を行う方法では、変調時及び復調時に、ベースバンドの速度よりも何倍も速いチップ(chip)レートで、処理を行う必要があり、高速な通信の実現が困難である。
【００１５】
MIMOを採用する方法や、波形等化器を用いる方法では、伝送情報と無相関な雑音がその伝送情報に重畳し得ること、筐体内ではアンテナの設置スペースがあまりないので互いに無相関になるようなマルチアンテナの配置が困難であること、高速なA/D変換を行うことが必要であること、等から、予測精度を向上させるための回路の規模の増大等が問題となる。
【００１６】
また、マルチパスの対策として、例えば、畳み込み符号とビタビ(viterbi)復号の組み合わせを用いることや、RS（リードソロモン）符号やターボ符号等の誤り訂正符号を用いること等によって、受信側において、通信路で生じたビットの誤り訂正を行う方法がある。
【００１７】
しかしながら、受信側で誤り訂正を行う場合には、誤り訂正符号によって増加するデータ量の分だけ、より広帯域の通信帯域が必要となるか、又は、データを、より高圧縮率で圧縮する必要が生じる。
【００１８】
また、送信側では、誤り訂正符号を生成するために、受信側では、誤り訂正を行うために、それぞれ、大きな回路が必要になる。
【００１９】
【特許文献１】特開2003-179821号公報
【特許文献２】特開2004-220264号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２０】
従来においては、マルチパスに起因するデータの誤りの発生を、容易に防止することが困難であった。
【００２１】
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、マルチパスに起因するデータの誤りの発生を、容易に防止することができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明の第１の側面の送信装置、又は、プログラムは、所定のビット数のデータを送信する送信装置であり、送信対象のデータの上位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットとからなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データを出力するデータ変換手段と、前記変換後データを送信するデータ送信手段とを備え、前記変換テーブルには、前記加工データと、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットとが対応付けられている送信装置、又は、送信装置として、コンピュータを機能させるプログラムである。
【００２３】
本発明の第１の側面の送信方法は、所定のビット数のデータを送信する送信装置の送信方法であり、送信対象のデータの上位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットとからなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データを出力し、前記変換後データを送信するステップを含み、前記変換テーブルには、前記加工データと、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットとが対応付けられている。
【００２４】
以上のような本発明の第１の側面においては、送信対象のデータの上位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットとからなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットが、前記変換後下位ビットに変換され、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データが出力されて送信される。前記変換テーブルには、前記加工データと、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットとが対応付けられている。
【００２５】
本発明の第２の側面の情報処理装置、又は、プログラムは、所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置であり、前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段と、前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段と、前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信して出力するテストパターン受信手段と、前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成する誤り判定手段と、前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成する探索手段とを備える情報処理装置、又は、情報処理装置として、コンピュータを機能させるプログラムである。
【００２６】
本発明の第２の側面の情報処理方法は、所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置の情報処理方法であり、前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段において、前記テストパターンを発生し、前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段において、前記テストパターンを送信し、前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信するテストパターン受信手段において、前記テストパターンを受信して出力し、前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定する誤り判定手段において、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成し、前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索手段において、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成するステップを含む。
【００２７】
以上のような本発明の第２の側面においては、所定のビット数のデータとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段において、前記テストパターンが発生され、前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段において、前記テストパターンが送信される。また、前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信するテストパターン受信手段において、前記テストパターンが受信されて出力され、前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定する誤り判定手段において、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りが判定され、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率が求められて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルが作成される。そして、前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索手段において、前記誤り率が最小のテスト加工データが探索され、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットが、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けられることにより前記変換テーブルが作成される。
【００２８】
なお、プログラムは、伝送媒体を介して伝送し、又は、記録媒体に記録して、提供することができる。
【００２９】
また、第１の側面の送信装置、及び第２の側面の情報処理装置は、独立した装置であっても良いし、１つの装置を構成している内部ブロックであっても良い。
【発明の効果】
【００３０】
本発明の第１及び第２の側面によれば、マルチパスに起因するデータの誤りの発生を、容易に防止することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下に本発明の実施の形態を説明するが、本発明の構成要件と、明細書又は図面に記載の実施の形態との対応関係を例示すると、次のようになる。この記載は、本発明をサポートする実施の形態が、明細書又は図面に記載されていることを確認するためのものである。したがって、明細書又は図面中には記載されているが、本発明の構成要件に対応する実施の形態として、ここには記載されていない実施の形態があったとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件に対応するものではないことを意味するものではない。逆に、実施の形態が構成要件に対応するものとしてここに記載されていたとしても、そのことは、その実施の形態が、その構成要件以外の構成要件には対応しないものであることを意味するものでもない。
【００３２】
本発明の第１の側面の送信装置、又は、プログラムは、
所定のビット数のデータを送信する送信装置（例えば、図２の送信処理部１０１）であり、
送信対象のデータの上位ビット（例えば、図１１の第１の上位ビットdata_MSB1）と、
前記送信対象のデータの下位ビット（例えば、図１１の直後下位ビットdata_LSB1）と、
前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビット（例えば、図１１の第２の上位ビットdata_MSB2）と
からなる加工データ（例えば、図１２の第１の上位ビットdata_MSBf、第２の上位ビットdata_MSBs、及び直後下位ビットdata_LSB）と、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビット（例えば、図１２の変換後下位ビットout_LSB）とを対応付けた変換テーブル（例えば、図１２の変換テーブル）に従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データ（例えば、図９の変換後データoutdata）を出力するデータ変換手段（例えば、図７のデータ変換部１２２）と、
前記変換後データを送信するデータ送信手段（例えば、図７のデータ変調部１２４）と
を備え、
前記変換テーブルには、
前記加工データと、
前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットと
が対応付けられている
送信装置、又は、送信装置として、コンピュータを機能させるプログラムである。
【００３３】
前記変換テーブルは、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段（例えば、図１５のテストパターン発生部２０１）において、前記テストパターンを発生し、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段（例えば、図１５のデータ変調部２０２）において、前記テストパターンを送信し、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信するテストパターン受信手段（例えば、図１５のデータ復調部２１１）において、前記テストパターンを受信して出力し、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット（例えば、図１６の第１の上位ビットtx_MSB1）、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット（例えば、図１６の直後下位ビットtx_LSB1）、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビット（例えば、図１６の第２の上位ビットtx_MSB2）からなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定する誤り判定手段（例えば、図１５のMSB誤り判定部２１４）において、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブル（例えば、図１７の集計テーブル）を作成し、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索手段（例えば、図１５の誤り最小探索部２１６）において、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付ける
ことにより作成されたものである
こととすることができる。
【００３４】
本発明の第１の側面の送信方法は、
所定のビット数のデータを送信する送信装置の送信方法であり、
送信対象のデータの上位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットと、
前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットと
からなる加工データと、データの下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとを対応付けた変換テーブルに従い、前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データを出力し（例えば、図１３のステップＳ１３）、
前記変換後データを送信する（例えば、図１３のステップＳ１４）
ステップを含み、
前記変換テーブルには、
前記加工データと、
前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直前の上位ビットの影響による誤りが生じにくく、かつ、前記加工データにおける前記送信対象のデータの下位ビットの直後の上位ビットに誤りが生じる影響を与えにくい前記変換後下位ビットと
が対応付けられている
送信方法である。
【００３５】
本発明の第２の側面の情報処理装置、又は、プログラムは、
所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置（例えば、図１５の通信システム）であり、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段（例えば、図１５のテストパターン発生部２０１）と、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段（例えば、図１５のデータ変調部２０２）と、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信して出力するテストパターン受信手段（例えば、図１５のデータ復調部２１１）と、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成する誤り判定手段（例えば、図１５のMSB誤り判定部２１４）と、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成する探索手段（例えば、図１５の誤り最小探索部２１６）と
を備える情報処理装置、又は、情報処理装置として、コンピュータを機能させるプログラムである。
【００３６】
前記探索手段には、前記注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データのうちの複数のテスト加工データを探索範囲に設定し、その探索範囲のテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索させることができる（例えば、図２３のステップＳ８４及びＳ８５）。
【００３７】
前記探索手段は、
前記注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下であるかどうかを判定し（例えば、図２４のステップＳ１２１）、
前記注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下でない場合には、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付け（例えば、図２４のステップＳ１０４ないしＳ１０６）、
前記注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下である場合には、前記注目テスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付ける（例えば、図２４のステップＳ１０６及びＳ１２２）
ことができる。
【００３８】
前記情報処理装置は、
前記テストパターン発生手段、及び、前記テストパターン送信手段を有する送信装置（例えば、図１５の送信処理部１０１）と、
前記テストパターン受信手段、前記誤り判定手段、及び、前記探索手段を有する受信装置（例えば、図１５の受信処理部１１２）と
から構成することができる。
【００３９】
前記送信装置には、
前記送信対象のデータの下位ビットを、前記変換テーブルにおいて、送信対象のデータの上位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットと、前記送信対象のデータの下位ビットの直後、又は直前のデータの上位ビットとからなる加工データに一致する前記テスト加工データに対応付けられている前記変換後下位ビットに変換し、前記送信対象のデータの上位ビットと、前記変換後下位ビットとからなる変換後データを出力するデータ変換手段（例えば、図７のデータ変換部１２２））と、
前記変換後データを送信するデータ送信手段（例えば、図７のデータ変調部１２４）と
をさらに設けることができる。
【００４０】
本発明の第２の側面の情報処理方法は、
所定のビット数のデータの下位ビットを、変換後下位ビットに変換するのに用いる変換テーブルを作成する情報処理装置の情報処理方法であり、
前記データとなり得るビット列であるテストパターンを発生するテストパターン発生手段において、前記テストパターンを発生し（例えば、図２１のステップＳ５１）、
前記テストパターンを送信するテストパターン送信手段において、前記テストパターンを送信し（例えば、図２１のステップＳ５２）、
前記テストパターン送信手段から送信されてくるテストパターンを受信するテストパターン受信手段において、前記テストパターンを受信して出力し（例えば、図２２のステップＳ６３）、
前記テストパターン発生手段が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビット、その第１の上位ビットの直後の下位ビットである直後下位ビット、及び、その直後下位ビットの直後の上位ビットである第２の上位ビットからなるテスト加工データに対応する、前記テストパターン受信手段の出力から得られる再生データを、誤り判定の単位として、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定する誤り判定手段において、前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤りを判定し、前記テスト加工データに対応する前記再生データにおける前記第２の上位ビットの誤り率を求めて、その誤り率と前記テスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成し（例えば、図２２のステップＳ６５ないしＳ６９）、
前記集計テーブルの前記テスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、前記第１及び第２の上位ビットが前記注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索手段において、前記誤り率が最小のテスト加工データを探索し、前記誤り率が最小のテスト加工データにおける前記直後下位ビットを、前記変換後下位ビットとして、前記注目テスト加工データに対応付けることにより前記変換テーブルを作成する（例えば、図２２のステップＳ７０）
ステップを含む情報処理方法である。
【００４１】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
【００４２】
図１は、本発明を適用した電子機器の一実施の形態の構成例を示す斜視図である。
【００４３】
電子機器の筐体１１内には、その電子機器を機能させるための信号処理を行う１、又は複数の基板が収容されており、さらに、基板上には、無線通信を行う機能を有するLSI  と、その無線通信のための電波を送受信するアンテナとのセットが、必要に応じて設けられている。
【００４４】
すなわち、図１では、筐体１１内には、５つの基板２１，２２，２３，２４、及び２５が収容されている。
【００４５】
基板２１には、基板２２及び２３が装着され、さらに、基板固定治具５１が設けられている。基板固定治具５１には、基板２４及び２５が装着されている。
【００４６】
基板２２には、無線通信を行う機能を有するLSI３１、及び、その無線通信のための電波を送受信するアンテナ４１、並びに、無線通信を行う機能を有するLSI３２、及び、その無線通信のための電波を送受信するアンテナ４２が設けられている。
【００４７】
基板２３には、無線通信を行う機能を有するLSI３３、及び、その無線通信のための電波を送受信するアンテナ４３が設けられている。
【００４８】
基板２４には、無線通信を行う機能を有するLSI３４、及び、その無線通信のための電波を送受信するアンテナ４４が設けられている。
【００４９】
基板２５には、無線通信を行う機能を有するLSI３５、及び、その無線通信のための電波を送受信するアンテナ４５が設けられている。
【００５０】
LSI３１は、アンテナ４１から電波を送受信することにより、他のLSI３２ないし３５との間で、無線通信を行うことができる。他のLSI３２ないし３５それぞれも、同様にして無線通信を行うことができる。
【００５１】
なお、筐体１１内に収容する基板及びLSIの配置や設置方法、個数等は、図１に示したものに限定されるものではない。
【００５２】
ここで、以下では、説明を簡単にするため、図１の２つのLSI３１及び３２に注目し、その２つのLSI３１及び３２が、筐体１１内で行う無線通信について説明する。
【００５３】
図２は、筐体１１内のLSI３１及び３２によって構成される通信システム（システムとは、複数の装置が論理的に集合した物をいい、各構成の装置が同一筐体中にあるか否かは問わない）の構成例を示すブロック図である。
【００５４】
LSI３１は、送信処理部１０１、受信処理部１０２、及び信号処理部１０３から構成される。
【００５５】
送信処理部１０１は、信号処理部１０３から供給されるデータ等を、アンテナ４１から電波で送信する送信処理を行う。
【００５６】
受信処理部１０２は、アンテナ４１が電波を受信することにより、そのアンテナ４１から供給される信号を受信する受信処理を行い、その結果得られるデータを、必要に応じて、信号処理部１０３に供給する。
【００５７】
信号処理部１０３は、受信処理部１０２から供給されるデータに、LSI３１としての所定の信号処理を施し、その結果得られるデータを、送信処理部１０１に供給する。
【００５８】
LSI３２は、送信処理部１１１、受信処理部１１２、及び信号処理部１１３から構成される。なお、送信処理部１１１、受信処理部１１２、及び信号処理部１１３は、LSI３１の送信処理部１０１、受信処理部１０２、及び信号処理部１０３とそれぞれ同様に構成されるため、その説明は省略する。
【００５９】
以上のように構成される通信システムにおいて、例えば、LSI３１からLSI３２に対して、データを送信する場合には、LSI３１において、送信処理部１０１が、信号処理部１０３から供給されるデータ等を、アンテナ４１から電波で送信する。アンテナ４１から送信された電波は、アンテナ４２で受信され、その電波に対応する信号が、LSI３２の受信処理部１１２に供給される。
【００６０】
受信処理部１１２は、アンテナ４２からの信号を受信し、その結果得られるデータを、信号処理部１１３に供給する。信号処理部１１３では、受信処理部１０２から供給されるデータに、LSI３２としての所定の信号処理が施される。
【００６１】
同様にして、LSI３２からLSI３１にも、データを送信することができる。
【００６２】
次に、LSI３１及び３２は、筐体１１に収容されているため、電波が筐体１１内部で反射することにより、マルチパスが生じる。
【００６３】
図３ないし図６を参照して、筐体１１内で生じるマルチパスについて説明する。
【００６４】
なお、以下では、LSI３１を、データを送信する送信装置とし、LSI３２を、データを受信する受信装置として説明を行う。
【００６５】
図３は、送信装置としてのLSI３１のアンテナ４１から送信された電波を、受信装置としてのLSI３２のアンテナ４２で受信した信号（受信信号）の波形を、横軸を時間として示している。
【００６６】
すなわち、図３左は、LSI３１及び３２、並びにアンテナ４１及び４２を、筐体１１の外部に設置した、マルチパスが生じない状況での受信信号の波形を示している。また、図３右は、LSI３１及び３２、並びにアンテナ４１及び４２を、筐体１１の内部に設置した、マルチパスが生じる状況での受信信号の波形を示している。
【００６７】
なお、図３左及び右のそれぞれには、データの伝送速度が異なる４つの受信信号の波形が示されている。すなわち、４つの波形は、上から順に、伝送速度が、250kbps，500kbps，1Mbps、及び2Mbpsの受信信号の波形である。
【００６８】
また、図３に示した波形は、0と1とが交互に並ぶデータをASK(Amplitude Shift Keying)変調した変調信号（0と1とが交互に並ぶデータで、搬送波をASK変調した変調信号）を受信した受信信号の波形である。
【００６９】
筐体１１内でアンテナ４１から放射（送信）された電波は、筐体１１の中に存在する白色ノイズ(熱雑音)や、有色ノイズ(他のLSI３２から放射されるノイズ)、筐体１１内の壁面や基板２１ないし２５等（図１）で反射した信号によって波形歪みを生じる。
【００７０】
特に、筐体１１内の壁面等での反射による受信信号の波形歪み、つまり、マルチパスに起因する受信信号の波形歪みは深刻であり、その波形歪みの度合いは、伝送速度が高いほど大になる。
【００７１】
図３右においては、伝送速度が2Mbpsである場合に、データが0の信号区間に反射波が覆い被さってきているために波形が崩れ、値が1のデータに再生（復号）される可能性が高いことを確認することができ、マルチパスによって通信品質（電波伝搬の特性）が大きく劣化することが分かる。
【００７２】
図４及び図５は、LSI３１及び３２、並びにアンテナ４１及び４２を、筐体１１の内部に設置した場合に、LSI３１からアンテナ４１を介して送信される、ASK変調の変調信号と、LSI３２において、その変調信号を、アンテナ４２を介して受信して得られる受信信号との波形を、横軸を時間として示している。
【００７３】
すなわち、図４上及び図５上は、変調信号の波形を示しており、図４下及び図５下は、受信信号の波形を示している。
【００７４】
なお、図４において、薄い影を付してある部分は、変調信号及び受信信号を示しており、実線で示してある部分は、変調信号及び受信信号の包絡線を示している。
【００７５】
また、図５は、図４の変調信号及び受信信号の包絡線の、１４個ある凸部分の波形の位相を揃えて重ね合わせた波形を示している。さらに、図５において、実線は、１４個ある凸部分の波形の平均値を示している。
【００７６】
図４及び図５によれば、受信信号の包絡線の、１４個ある凸部分の波形は、形状が類似しており、時間によって変化しないことから、筐体１１内で生じるマルチパスが受信信号に影響を与える時間は、比較的短く、さらに、その影響は、ほぼ一定であり、その結果、受信信号に生じる歪みは、いわば定常的な歪みであることが分かる。
【００７７】
なお、マルチパスの影響が（ほぼ）一定であることは、筐体１１内では、例えば、基板２１ないし２５が外される、新たな基板が装着される、基板２１ないし２５の配置が変更される、等といった、筐体１１内の通信環境の変化が生じない限り、（ほぼ）同一のマルチパスが形成される（反射波が同一のパスを経由して、アンテナ４２に到達する）ことに起因する。
【００７８】
次に、図６は、LSI３１及び３２、並びにアンテナ４１及び４２を、筐体１１の内部に設置して、LSI３１からアンテナ４１を介して画像データを送信し、その画像データを、LSI３２において、アンテナ４２を介して受信した場合の、画像データの誤り率(error rate)を示している。
【００７９】
ここで、画像データは、１画素の画素値が８ビットの画像データであり、図６において、横軸は、８ビットの画素値を、縦軸は、LSI３２で受信された画素値の誤り率を、それぞれ示している。なお、図６では、８ビットの画素値は、１０進数（0ないし255）で示してある。
【００８０】
また、図６において、誤り率とは、８ビットの画素値を、LSB(Least Significant Bit)ファースト（LSBからMSB(Most Significant Bit)に向かう順）でシリアルに送信したときに、最後に送信されるMSBが誤る割合である。
【００８１】
例えば、図６では、画素値が75の誤り率が、約0.22となっているが、これは、75、つまり、２進数で、01001011b（bは、その前にある値が２進数であることを表す）の画素値を、LSBファーストで送信した場合、1,1,0,1,0,0,1,0の順で送信されるが、その場合に、最後に送信されたMSBの0が誤る割合が、約0.22であることを表している。
【００８２】
図６によれば、例えば、75(01001011b)のように、最後に送信されるMSBの誤り率が高い画素値としてのビット列と、20(00010100b)ないし60(00111100b)のように、最後に送信されるMSBを誤らせない、誤り率がほぼ0の画素値としてのビット列とが存在することが分かる。
【００８３】
以上から、筐体１１内で生じるマルチパスは、受信信号に定常的な歪みを与え、その定常的な歪みに起因して、特定のビット列が、特定のビット（ビット列を含む）を誤らせやすいこと（定常的な誤りが生じること）が分かる。
【００８４】
ところで、例えば、画像データを構成する画素値において、上位ビット、特に、MSBに誤りが生じた場合、画質が大きく劣化するが、LSB等の下位ビットに誤りが生じても、画質の劣化は、視覚的には目立たない。したがって、画素値の下位ビットが犠牲になったとしても、上位ビットには、誤りを生じさせるべきではない。この点、音声データ等も同様である。
【００８５】
図２の通信システムでは、筐体１１内で生じるマルチパスによって、特定のビット列が、特定のビットを誤らせやすいことを利用し、さらに、下位ビットの犠牲を許容することによって、マルチパスに起因する上位ビットの誤りの発生を防止するようになっている。
【００８６】
すなわち、図７は、LSI３１及び３２が、通信モードが通常モードの通信を行う場合の、図２の送信処理部１０１及び受信処理部１１２の構成例を示している。
【００８７】
ここで、LSI３１及び３２が行う通信の通信モードには、通常モードと学習モードとがある。学習モードでは、後述する変換テーブルが作成され、通常モードでは、その変換テーブルを用いて通信が行われる。
【００８８】
送信処理部１０１は、データ加工部１２１、データ変換部１２２、データベース部１２３、及びデータ変調部１２４から構成される。
【００８９】
データ加工部１２１には、信号処理部１０３（図２）から、所定のビット数のデータとしての、例えば、画像データを構成する８ビットの画素値が、ラスタスキャン順に、順次供給される。
【００９０】
データ加工部１２１は、そこに供給される８ビットの画素値を、順次、送信対象のデータとし、その送信対象のデータとしての画素値を、他の画素値を用いて、後述する加工データに加工して、データ変換部１２２に供給する。
【００９１】
データ変換部１２２は、データベース部１２３に記憶された変換テーブルを参照し、送信対象のデータとしての８ビットの画素値の下位ビットを、変換テーブルにおいて、データ加工部１２１からの加工データに対応付けられている変換後下位ビットに変換し、送信対象のデータとしての８ビットの画素値の上位ビットと、変換後下位ビットとからなる変換後データとしてのビット列を出力する。データ変換部１２２が出力する変換後データは、データ変調部１２４に供給される。
【００９２】
データベース部１２３は、加工データ（として取り得る値のビット列）と、８ビットの画素値の下位ビットの変換後のビット列である変換後下位ビットとが対応付けられた変換テーブルを記憶する。この変換テーブルは、送信処理部１０１と受信処理部１１２との間で、後述する学習モードでの通信が行われることにより作成される。
【００９３】
データ変調部１２４は、データ変換部１２２からの変換後データを変調し、その変調によって得られる変調信号を、アンテナ４１から電波として送信する。
【００９４】
受信処理部１１２は、データ復調部１３１及びデータ再生部１３２から構成される。
【００９５】
データ復調部１３１は、送信処理部１０１から送信されてくる変調信号を、アンテナ４２を介して受信して復調し、その結果得られる復調信号を、データ再生部１３２に供給する。
【００９６】
データ再生部１３２は、データ復調部１３１からの復調信号に、必要な処理を施し、その結果得られるデータとしての画素値を、再生データとして出力する。データ再生部１３２が出力する再生データは、信号処理部１１３（図２）に供給される。
【００９７】
図８は、図７のデータ加工部１２１の構成例を示している。
【００９８】
データ加工部１２１は、P/S(parallel/Serial)部１４１、MSB取得部１４２、LSB取得部１４３、遅延部(D)１４４、及び１４５から構成される。
【００９９】
データ加工部１２１は、信号処理部１０３から供給される８ビットの画素値（所定のビット数のデータ）のビット列のシーケンスを、送信対象の画素値の上位ビット（以下、第１の上位ビットともいう）と、送信対象の画素値の下位ビットと、送信対象の画素値の下位ビットの直後、又は直前の画素値の上位ビット（以下、第２の上位ビットともいう）とからなる加工データに加工して、データ変換部１２２に供給する。
【０１００】
すなわち、P/S部１４１は、データ入力端子data_inと、クロック入力端子clk_inとを有し、データ入力端子data_inには、信号処理部１０３から、８ビットの画素値が、例えば、MSBファースト（MSBからLSBに向かう順）でシリアルに供給される。クロック入力端子clk_inには、図示せぬ制御部から、クロック信号が供給される。
【０１０１】
なお、データ入力端子data_inには、８ビットの画素値が、クロック入力端子clk_inに供給されるクロック信号に同期して供給される。
【０１０２】
P/S部１４１は、クロック入力端子clk_inに供給されるクロック信号に従い、データ入力端子data_inに供給される８ビットの画素値としてのシリアルのビット列を受信し、そのシリアルのビット列を、８ビットのパラレルのデータに変換して出力する。
【０１０３】
MSB取得部１４２は、P/S部１４１が出力する８ビットのパラレルのデータから、上位ビットとしての、例えば、上位４ビットを取得し、遅延部１４４と、データ変換部１２２とに供給する。
【０１０４】
LSB取得部１４３は、P/S部１４１が出力する８ビットのパラレルのデータから、MSB取得部１４２が上位ビットを取得した残りの下位ビットとしての、例えば、下位４ビットを取得し、遅延部１４５に供給する。
【０１０５】
遅延部１４４は、MSB取得部１４２から供給される上位ビットを、１画素の画素値分の時間だけ遅延して、データ変換部１２２に供給する。
【０１０６】
遅延部１４５は、LSB取得部１４３から供給される下位ビットを、１画素の画素値分の時間だけ遅延して、データ変換部１２２に供給する。
【０１０７】
以上のように構成されるデータ加工部１２１では、P/S部１４１が、データ入力端子data_inに供給される８ビットの画素値としてのシリアルのビット列を受信し、そのシリアルのビット列を、８ビットのパラレルのデータに変換して出力する。
【０１０８】
MSB取得部１４２は、P/S部１４１が出力する８ビットのパラレルのデータから上位４ビットを取得し、遅延部１４４と、データ変換部１２２とに供給する。
【０１０９】
LSB取得部１４３は、P/S部１４１が出力する８ビットのパラレルのデータから、下位４ビットを取得し、遅延部１４５に供給する。
【０１１０】
遅延部１４４は、MSB取得部１４２から供給される上位４ビットを、１画素の画素値分の時間だけ遅延して、送信対象の８ビットの画素値の上位ビット（第１の上位ビット）data_MSBfとして、データ変換部１２２に供給する。同時に、遅延部１４５も、LSB取得部１４３から供給される下位４ビットを、１画素の画素値分の時間だけ遅延して、送信対象の８ビットの画素値の下位ビットdata_LSBとして、データ変換部１２２に供給する。
【０１１１】
したがって、データ変換部１２２に対して、遅延部１４４から、送信対象の８ビットの画素値の上位ビットdata_MSBfが供給されるとともに、遅延部１４５から、送信対象の８ビットの画素値の下位ビットdata_MSBsが供給されるとき、MSB取得部１４２からデータ変換部１２２に対しては、送信対象の８ビットの画素値の直後の８ビットの画素値（次に送信対象となる画素値）の上位ビット（第２の上位ビット）data_MSBsが供給される。
【０１１２】
すなわち、データ加工部１２１からデータ変換部１２２に対しては、送信対象の８ビットの画素値の上位ビットdata_MSBfと、送信対象の８ビットの画素値の下位ビットdata_LSBと、送信対象の８ビットの画素値の直後の８ビットの画素値の上位ビットdata_MSBsとからなる加工データが供給される。
【０１１３】
より具体的には、例えば、いま、P/S部１４１のデータ入力端子data_inに、01110011bが１番目の画素値として、01010011bが２番目の画素値として、MSBファーストで、順次供給されるとすると、P/S部１４１では、まず１番目の画素値01110011bがパラレルのデータに変換され、MSB取得部１４２において、１番目の画素値01110011bのうちの、上位４ビット0111bが取得されるとともに、LSB取得部１４３において、１番目の画素値01110011bのうちの、下位４ビット0011bが取得される。
【０１１４】
MSB取得部１４２で取得された１番目の画素値01110011bの上位４ビット0111bは、遅延部１４４とデータ変換部１２２に供給され、遅延部１４４では、その１番目の画素値01110011bの上位４ビット0111bが保持される。
【０１１５】
また、LSB取得部１４３で取得された１番目の画素値01110011bの下位４ビット0011bは、遅延部１４５に供給されて保持される。
【０１１６】
その後、P/S部１４１では、２番目の画素値01010011bが、データ入力端子data_inに供給されると、その２番目の画素値01010011bがパラレルのデータに変換され、MSB取得部１４２において、２番目の画素値01010011bのうちの、上位４ビット0101bが取得されるとともに、LSB取得部１４３において、２番目の画素値01010011bのうちの、下位４ビット0011bが取得される。
【０１１７】
そして、MSB取得部１４２で取得された２番目の画素値01010011bの上位４ビット0101bは、遅延部１４４とデータ変換部１２２に供給され、LSB取得部１４３で取得された２番目の画素値01010011bの下位４ビット0011bは、遅延部１４５に供給される。
【０１１８】
MSB取得部１４２で取得された２番目の画素値01010011bの上位４ビット0101bがデータ変換部１２２に供給されるとき、遅延部１４４は、１番目の画素値01110011bの上位４ビット0111bを保持して、データ変換部１２２に供給するとともに、遅延部１４５は、１番目の画素値01110011bの下位４ビット0011bを保持して、データ変換部１２２に供給している。
【０１１９】
その結果、遅延部１４４で保持されている上位４ビット0111bと、遅延部１４５で保持されている下位４ビット0011bとからなる１番目の画素値01110011bを、送信対象の画素値とすると、データ加工部１２１では、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bは、その上位４ビット0111bと、下位４ビット0011bと、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bの直後の２番目の画素値01010011bの上位４ビット0101bとからなる加工データに加工され、データ変換部１２２に供給される。
【０１２０】
ここで、上述したように、P/S部１４１のデータ入力端子data_inに、01110011bが１番目の画素値として、01010011bが２番目の画素値として、MSBファーストで、順次供給される場合のビットの系列01110011b，01010011bにおいて、１番目の画素値01110011bを、送信対象の画素値として得られる加工データは、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bの上位ビット（第１の上位ビット）0111b、その第１の上位ビット0111bの直後の下位ビット（直後下位ビット）0011b、及び、その直後下位ビット0011bの直後の２番目の画素値01010011bの上位ビット（第２の上位ビット）0101bの並びに等しい。
【０１２１】
なお、加工データとしての、第１の上位ビット、直後下位ビット、及び第２の上位ビットを、以下、適宜、それぞれ、data_MSBf，data_LSB、及びdata_MSBsと表す。上述したように、加工データは、送信対象の画素値の上位４ビットと、下位４ビットと、送信対象の画素値の直後の画素値の上位４ビットとからなるが、第１の上位ビットdata_MSBfは、送信対象の画素値の上位４ビットであり、直後下位ビットdata_LSBは、送信対象の画素値の下位４ビットであり、第２の上位ビットdata_MSBsは、送信対象の画素値の直後の画素値の上位４ビットである。
【０１２２】
また、図８では、データ加工部１２１に対して、シリアルのデータとしての８ビットの画素値が供給されることを前提としているが、データ加工部１２１に対して供給されるデータは、パラレルのデータであっても良い。この場合、データ加工部１２１では、パラレルのデータは、P/S部１４１をバイパスして、MSB取得部１４２及びLSB取得部１４３に供給される。
【０１２３】
さらに、図８では、データ加工部１２１において、そこに供給される８ビットの画素値を、上位４ビットと下位４ビットとに分け、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsがいずれも４ビットからなる加工データを構成するようにしたが、データ加工部１２１において、８ビットの画素値を分ける分け方は、上位４ビットと下位４ビットとに限定されるものではない。
【０１２４】
すなわち、データ加工部１２１では、８ビットの画素値を、例えば、上位５ビットと下位３ビットとに分けるようにすることができる。この場合、加工データは、５ビットの第１の上位ビットdata_MSBf、３ビットの直後下位ビットdata_LSB、及び５ビットの第２の上位ビットdata_MSBsから構成されることになる。
【０１２５】
なお、画素値を、何ビットの上位ビットと下位ビットとに分けるかは、例えば、ユーザが犠牲にすること（ビットに誤りが生じること）を許容することができる、画素値の下位側のビット数に応じて決めることができる（画素値は、犠牲にすることを許容することができる下位側のビット数の下位ビットと、残りの上位ビットとに分けることができる）。
【０１２６】
次に、図９は、図７のデータ変換部１２２の構成例を示している。
【０１２７】
データ変換部１２２は、クロック信号が供給されるクロック入力端子clk_inを有し、そのクロック入力端子clk_inに供給されるクロック信号に従って動作するデータ参照部１５１、及びデータ合成部１５２から構成される。
る。
【０１２８】
データ変換部１２２は、データベース部１２３に記憶された変換テーブルに従い、データ加工部１２１から供給される加工データに含まれる送信対象の画素値（加工データを構成する第１の上位ビットdata_MSBfを上位ビットとするとともに、直後下位ビットdata_LSBを下位ビットする画素値）の下位ビット、つまり、直後下位ビットdata_LSBを、変換テーブルにおいて、その加工データに対応付けられている変換後下位ビットout_LSBに変換し、加工データに含まれる送信対象の画素値の上位ビットである第１の上位ビットdata_MSBfを上位ビットとするとともに、変換後下位ビットout_LSBを下位ビットする変換後データoutdataを、送信対象の画素値として出力する（データ変調部１２４（図７）に供給する）。
【０１２９】
すなわち、データ参照部１５１には、データ加工部１２１からの加工データとしての、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsが供給される。
【０１３０】
データ参照部１５１は、データベース部１２３に記憶された変換テーブルを参照し、データ加工部１２１からの加工データに対応付けられている変換後下位ビットout_LSBを、変換テーブルから読み出す。そして、データ参照部１５１は、データ加工部１２１からの加工データの第１の上位ビットdata_MSBf、つまり、送信対象の画素値の上位ビットを、データ合成部１５２に供給するとともに、変換テーブルから読み出した変換後下位ビットout_LSBを、加工データの直後下位ビットdata_LSBに代えて、データ合成部１５２に供給する。
【０１３１】
データ合成部１５２は、データ参照部１５１からの、第１の上位ビットdata_MSBfと、同じくデータ参照部１５１からの変換後下位ビットout_LSBとを合成することにより、第１の上位ビットdata_MSBfである送信対象の画素値の上位ビットを上位ビットとし、変換後下位ビットout_LSBを下位ビットとする変換後データoutdataを生成して、データ変調部１２４に供給する。
【０１３２】
図１０は、図９のデータ合成部１５２の構成例を示している。
【０１３３】
データ合成部１５２は、クロック信号が供給されるクロック入力端子clk_inを有し、そのクロック入力端子clk_inに供給されるクロック信号に従って動作するS/P部１６１及び１６２、並びにP/S部１６３から構成される。
【０１３４】
S/P部１６１には、データ参照部１５１（図９）から、シリアルのデータの第１の上位ビットdata_MSBfが供給され、S/P部１６２には、データ参照部１５１から、シリアルのデータの変換後下位ビットout_LSBが供給される。
【０１３５】
S/P部１６１は、データ参照部１５１からの第１の上位ビットdata_MSBfを、シリアルのデータからパラレルのデータに変換し、P/S部１６３に供給する。
【０１３６】
S/P部１６２は、データ参照部１５１からの変換後下位ビットout_LSBを、シリアルのデータからパラレルのデータに変換し、P/S部１６３に供給する。
【０１３７】
P/S部１６３は、S/P部１６１からの第１の上位ビットdata_MSBfを上位ビットとするとともに、S/P部１６２からの変換後下位ビットout_LSBを下位ビットとする、パラレルの変換後データoutを生成し、その変換後データoutを、パラレルのデータからシリアルのデータに変換して、例えば、MSBファーストで、データ変調部１２４（図７）に供給する。
【０１３８】
次に、図１１を参照して、データ加工部１２１及びデータ変換部１２２（図７）の処理について、さらに説明する。
【０１３９】
図１１は、データ加工部１２１に対して、MSBファーストで供給される画素値のビット列を示している。
【０１４０】
いま、i番目の画素の画素値の上位ビットを、data_MSB#iと表すとともに、下位ビットを、data_LSB#iと表すこととすると、データ加工部１２１には、1番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB1、下位ビットdata_LSB1、2番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB2、下位ビットdata_LSB2、3番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB3、下位ビットdata_LSB3、・・・の順に、画素値のビット列が、シリアルに供給される。
【０１４１】
そして、データ加工部１２１では、i番目の画素の画素値が送信対象の画素値であるとすると、そのi番目の画素の画素値は、i番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB#i、下位ビットdata_LSB#i、及び次のi+1番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB#i+1を、それぞれ、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsとする加工データpro#iに加工され、データ変換部１２２に供給される。
【０１４２】
データ変換部１２２では、送信対象の画素値であるi番目の画素の画素値の下位ビットdata_LSB#iが、データベース部１２３の変換テーブルにおいて、データ加工部１２１からの加工データpro#iに対応付けられている変換後下位ビットout_LSB#iに変換され、i番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB#iと、変換後下位ビットout_LSB#iとからなる変換後データoutdata#iとしてのビット列が出力される。
【０１４３】
したがって、1番目の画素の画素値が送信対象の画素値である場合には、データ加工部１２１では、図１１に示すように、1番目の画素の画素値は、1番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB1、下位ビットdata_LSB1、及び次の2番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB2を、それぞれ、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsとする加工データpro1に加工され、データ変換部１２２に供給される。
【０１４４】
データ変換部１２２では、1番目の画素の画素値の下位ビットdata_LSB1が、データベース部１２３の変換テーブルにおいて、データ加工部１２１からの加工データpro1に対応付けられている変換後下位ビットout_LSB1に変換され、図１１に示すように、1番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB1と、変換後下位ビットout_LSB1とからなる変換後データoutdata1としてのビット列が出力される。
【０１４５】
その後、2番目の画素の画素値が送信対象の画素値となり、この場合、データ加工部１２１では、図１１に示すように、2番目の画素の画素値は、2番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB2、下位ビットdata_LSB2、及び次の3番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB3を、それぞれ、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsとする加工データpro2に加工され、データ変換部１２２に供給される。
【０１４６】
データ変換部１２２では、2番目の画素の画素値の下位ビットdata_LSB2が、データベース部１２３の変換テーブルにおいて、データ加工部１２１からの加工データpro2に対応付けられている変換後下位ビットout_LSB2に変換され、図１１に示すように、2番目の画素の画素値の上位ビットdata_MSB2と、変換後下位ビットout_LSB2とからなる変換後データoutdata2としてのビット列が出力される。
【０１４７】
データ加工部１２１及びデータ変換部１２２では、以下、同様の処理が行われる。
【０１４８】
次に、図１２は、データベース部１２３の変換テーブルの例を示している。
【０１４９】
変換テーブルには、上述したように、加工データとしての第１の上位ビットdata_MSBf、第２の上位ビットdata_MSBs、及び直後下位ビットdata_LSBと、変換後下位ビットout_LSBとが対応付けられている。
【０１５０】
なお、図１２の変換テーブルにおいて（後述する図１７ないし図２０の集計テーブルにおいても同様）、括弧を付していない値は、１０進数であり、括弧を付してある値は、２進数である。
【０１５１】
図１２の変換テーブルによれば、送信対象の画素値は、以下のような変換後データoutdataに変換される。
【０１５２】
すなわち、例えば、いま、図８で説明したように、01110011bが１番目の画素値として、01010011bが２番目の画素値として、MSBファーストで、順次供給され、１番目の画素値が、送信対象の画素値になっているとすると、データ加工部１２１は、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bを、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsからなる加工データに加工する。
【０１５３】
具体的には、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bは、送信対象の画素値01110011bの上位ビット0111bを、第１の上位ビットdata_MSBfとし、送信対象の画素値01110011bの下位ビット0011bを、直後下位ビットdata_LSBとし、送信対象の画素値01110011bの下位ビット（直後下位ビットdata_LSB）0011bの直後の画素値である２番目の画素値01010011bの上位ビット0101bを、第２の上位ビットdata_MSBsとする加工データに加工される。
【０１５４】
ここで、以下では、適宜、第１の上位ビットdata_MSBf、直後下位ビットdata_LSB、及び第２の上位ビットdata_MSBsからなる加工データを、第１の上位ビットdata_MSBf、第２の上位ビットdata_MSBs、及び直後下位ビットdata_LSBの順にコロン(:)で区切って並べて表す。
【０１５５】
この場合、例えば、上述した、第１の上位ビットdata_MSBfがビット0111bで、直後下位ビットdata_LSBがビット0011bで、第２の上位ビットdata_MSBsがビット0101bである加工データは、0111b:0101b:0011bと表される。
【０１５６】
送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bに対する加工データ（送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bを加工して得られた加工データ）0111b:0101b:0011bの第１の上位0111bと直後下位４ビット0011bは、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bの上位４ビット0111bと下位４ビット0011bに、それぞれ一致する。したがって、送信対象の画素値に対する加工データでは、その第１の上位ビットdata_MSBfと直後下位ビットdata_LSBが、送信対象の画素値となっている。
【０１５７】
変換テーブル（図１２）においては、加工データと、加工データにおける送信対象の画素の下位ビット（直後下位ビットdata_LSB）の直前の上位ビット（第１の上位ビットdata_MSBf）の影響による定常的な誤りが生じにくく、かつ、加工データにおける送信対象の画素値の下位ビット（直後下位ビットdata_LSB）の直後の上位ビット（第２の上位ビットdata_MSBs）に定常的な誤りが生じる影響を与えにくい変換後下位ビットout_LSBとが対応付けられており、データ変換部１２２は、そのような変換テーブルに従い、送信対象の画素値の下位ビットである直後下位ビットdata_LSBを、その送信対象の画素値に対する加工データに対応付けられている変換後下位ビットout_LSBに変換し、送信対象の画素値の上位ビットである第１の上位ビットdata_MSBfと、変換後下位ビットout_LSBとからなる変換後データoutdataを出力する。
【０１５８】
したがって、加工データが、例えば、上述したように、0111b:0101b:0011bである場合、図１２の変換テーブルでは、加工データ0111b:0101b:0011bには、0100bが、変換後下位ビットout_LSBとして対応付けられているから、データ変換部１２２では、送信対象の画素値01110011bの下位ビットである直後下位ビットdata_LSB=0011bが、変換後下位ビットout_LSBである0100bに変換され、送信対象の画素値01110011bの上位ビットである第１の上位ビットdata_MSBf=0111bと、変換後下位ビットout_LSB=0100bとからなる変換後データoutdata=01110100bが出力される。
【０１５９】
以上から、送信対象の画素値である１番目の画素値01110011bは、その下位ビットである直後下位ビットdata_LSB=0011bのみが変換後下位ビットout_LSB=0100bにされた変換後データoutdata=01110100bに変換されて送信される。
【０１６０】
ここで、上述したように、送信対象の画素値は、その下位ビットである直後下位ビットdata_LSBのみが変換後下位ビットにされた変換後データoutdataに変換されて送信されるので、送信対象の画素値の上位ビットは、変換後データoutdataにおいて、そのまま維持される。
【０１６１】
したがって、１番目の画素値01110011bの後に、２番目の画素値01010011bが送信対象の画素値となった場合も、その２番目の画素値01010011bに対する変換後データ（２番目の画素値01010011bを変換して得られる変換後データ）outdataでは、送信対象の画素値である２番目の画素値01010011bの上位ビット0101bがそのまま維持され、１番目の画素値01110011bに対する変換後データoutdata=01110100bの直後に送信される。
【０１６２】
この、１番目の画素値01110011bに対する変換後データoutdata=01110100bの直後に送信される、２番目の画素値01010011bの上位ビット0101bは、１番目の画素値01110011bが送信対象の画素値であったときの加工データの第２の上位ビットdata_MSBsである。
【０１６３】
また、１番目の画素値01110011bに対する変換後データoutdata=01110100bの上位４ビットと下位４ビットは、その１番目の画素値01110011bが送信対象の画素値であったときの加工データの第１の上位ビットdata_MSBfと変換後下位ビットout_LSBであるから、ビットの送信順は、第１の上位ビットdata_MSBf、変換後下位ビットout_LSB、及び、第２の上位ビットdata_MSBsの順となる。
【０１６４】
一方、変換テーブル（図１２）において、変換後下位ビットout_LSBは、上述したように、第１の上位ビットdata_MSBfの影響による定常的な誤りが生じにくく、かつ、第２の上位ビットdata_MSBsに定常的な誤りが生じる影響を与えにくいビットとなっている。
【０１６５】
したがって、第１の上位ビットdata_MSBf、変換後下位ビットout_LSB、及び、第２の上位ビットdata_MSBsが、その順で送信されることにより、変換後下位ビットout_LSBが、第２の上位ビットdata_MSBsに、マルチパスに起因する定常的な誤りを生じさせることを防止（低減）することができる。
【０１６６】
さらに、第１の上位ビットdata_MSBfが、変換後下位ビットout_LSBに、マルチパスに起因する定常的な誤りを生じさせることを防止し、ひいては、変換後下位ビットout_LSBに誤りが生じることによって、その誤りが生じた変換後下位ビットout_LSBが、第２の上位ビットdata_MSBsに、マルチパスに起因する定常的な誤りを生じさせることを防止することができる。
【０１６７】
以上のように、直後下位ビットdata_LSBを、変換後下位ビットout_LSBに変換するだけで、容易に、マルチパスに起因するデータの誤りの発生を防止し、ビット利用効率を高めることができる。
【０１６８】
すなわち、筐体１１内で生じるマルチパスに起因する誤りが定常的なことを利用して、直後下位ビットdata_LSBを、いわば、筐体１１内で生じるマルチパスにロバスト(robust)な変換後下位ビットout_LSBに変換するだけで、誤り訂正符号等による誤り訂正をすることなく、ロバストな無線通信を実現することができる。
【０１６９】
なお、上述したように、送信対象の画素値を、その下位ビットである直後下位ビットdata_LSBのみが変換後下位ビットout_LSBにされた変換後データoutdataに変換する場合には、画素値の上位ビット（第２の上位ビットdata_MSBs）に誤りが生じることを防止することができるが、送信対象の画素値の下位ビットが犠牲になる（直後下位ビットdata_LSBが、変換後下位ビットout_LSBに変更される）ことになる。
【０１７０】
しかしながら、下位ビットに誤りが生じても、画質の劣化は、視覚的には目立たないので、下位ビットが犠牲になることは、上位ビットに誤りが生じる場合に比較して、大きな問題ではない。
【０１７１】
次に、図１３のフローチャートを参照して、通信モードが通常モードである場合の送信処理部１０１（図７）の送信処理について説明する。
【０１７２】
ステップＳ１１において、信号処理部１０３（図２）は、LSI３２に送信する画像の８ビットの画素値を、ラスタスキャン順に、送信処理部１０１（図７）のデータ加工部１２１に供給して、処理は、ステップＳ１２に進む。
【０１７３】
ステップＳ１２では、データ加工部１２１が、信号処理部１０３から供給される８ビットの画素値を、順次、送信対象の画素値として、送信対象の画素値の上位ビットdata_MSBf、送信対象の画素値の下位ビットdata_LSB、及び次に送信対象となる画素値の上位ビットdata_MSBsからなる加工データに加工し、データ変換部１２２に供給して、処理は、ステップＳ１３に進む。
【０１７４】
ステップＳ１３では、データ変換部１２２が、送信対象の画素値の下位ビットであるdata_LSBを、データベース部１２３の変換テーブルにおいて、データ加工部１２１からの、送信対象の画素値に対する加工データに対応付けられている変換後下位ビットout_LSBに変換する。さらに、ステップＳ１３では、データ変換部１２２は、送信対象の画素値の上位ビットである第１の上位ビットdata_MSBfと、変換後下位ビットout_LSBとからなる変換後データoutdataを得て、データ変調部１２４に供給し、処理は、ステップＳ１４に進む。
【０１７５】
ステップＳ１４では、データ変調部１２４が、データ変換部１２２からの変換後データoutdataを、例えば、PSK(Phase Shift Keying)や、ASK，OFDM(Orthogonal Frequency Division Multiplexing)等の一般的な無線変調方式で変調し、これにより、BB(Base Band)信号である変換後データoutdataを、RF(Radio Frequency)信号である変調信号に変換する。この変調信号は、アンテナ４１から電波として送信される。そして、信号処理部１０３からの画像の画素値すべてが同様にして送信されると、送信処理は終了する。
【０１７６】
次に、図１４のフローチャートを参照して、通信モードが通常モードである場合の受信処理部１１２（図７）の受信処理について説明する。
【０１７７】
送信処理部１０１からの電波としての変調信号が筐体１１内の空気中を伝播し、アンテナ４２において受信され、その変調信号を受信した受信信号が、アンテナ４２から供給されるのを待って、データ復調部１３１は、ステップＳ２１において、その、アンテナ４２からの受信信号を受信し、データ変調部１２４での変調に対して適切な復調方式で復調する。データ復調部１３１での復調によって得られるBB信号の復調信号は、データ再生部１３２に供給され、処理は、ステップＳ２１からステップＳ２２に進む。
【０１７８】
ステップＳ２２では、データ再生部１３２は、データ復調部１３１からの復調信号を、所定のタイミング（例えば、ビット同期をとったタイミング）でA/D変換し、これにより、画素値としての再生データを再生して、処理は、ステップＳ２３に進む。
【０１７９】
ステップＳ２３では、データ再生部１３２は、再生データを、例えば、信号処理部１１３（図２）に出力して、受信処理は終了する。
【０１８０】
次に、図１５は、LSI３１及び３２が、通信モードが学習モードの通信を行う場合の、図２の送信処理部１０１及び受信処理部１１２の構成例を示している。
【０１８１】
ここで、上述したように、学習モードの通信では、変換テーブルが作成される。学習モードの通信は、例えば、電子機器（図１）の電源がオンにされたときや、筐体１１（図１）内において、基板２１ないし２５が外される、新たな基板が装着される、基板２１ないし２５の配置が変更される、等といった、筐体１１内の通信環境の変化が生じたとき、通常モードでの通信において、受信処理部１１２で受信されるデータの誤り率が所定の閾値を越えたとき、ユーザからの指令があったとき、その他の必要なタイミングで行われる。
【０１８２】
学習モードでは、通常モード時に送信対象となる画素値となり得るビット列であるテストパターンを、送信処理部１０１から受信処理部１１２に送信し、受信処理部１１２で受信されるテストパターンに生じる誤りを判定することで、変換テーブルが作成される。
【０１８３】
すなわち、送信処理部１０１は、テストパターン発生部２０１、及びデータ変調部２０２から構成される。
【０１８４】
テストパターン発生部２０１は、通常モード時に送信対象となる画素値、つまり、ここでは、例えば、８ビットの画素値となり得るビット列であるテストパターンを発生し、データ変調部２０２に供給する。
【０１８５】
ここで、テストパターン発生部２０１は、例えば、乱数によって、ビット列（値）に偏りがないテストパターンを発生する。
【０１８６】
データ変調部２０２は、テストパターン発生部２０１からのテストパターンを、図７のデータ変調部１２４と同様に変調し、その変調によって得られる変調信号を、アンテナ４１から電波として送信する。
【０１８７】
ここで、データ変調部２０２は、図７のデータ変調部１２４と兼用することができる。
【０１８８】
受信処理部１１２は、データ復調部２１１、データ再生部２１２、テストパターン発生部２１３、MSB誤り判定部２１４、データ蓄積部２１５、誤り最小探索部２１６、及び操作部２１７から供給される。
【０１８９】
データ復調部２１１は、図７のデータ復調部１３１と同様に、送信処理部１０１から送信されてくる変調信号を、アンテナ４２を介して受信して復調し、その結果得られる復調信号を、データ再生部２１２に供給する。
【０１９０】
データ再生部２１２は、図７のデータ再生部１３２と同様に、データ復調部２１１からの復調信号に、必要な処理を施し、その結果得られるデータを、再生データとして出力する。データ再生部２１２が出力する再生データは、MSB誤り判定部２１４に供給される。
【０１９１】
ここで、データ復調部２１１は、図７のデータ復調部１３１と兼用することができる。同様に、データ再生部２１２は、図７のデータ再生部１３２と兼用することができる。
【０１９２】
テストパターン発生部２１３は、送信処理部１０１のテストパターン発生部２０１と同一のテストパターンを発生し、MSB誤り判定部２１４に供給する。
【０１９３】
ここで、受信処理部１１２のテストパターン発生部２１３は、例えば、外部からの指令に応じて、送信処理部１０１のテストパターン発生部２０１と同一のタイミングで、同一のテストパターンを発生する。
【０１９４】
また、図１５では、テストパターンを発生するテストパターン発生手段として、送信処理部１０１に、テストパターン発生部２０１を、受信処理部１１２に、テストパターン発生部２１３を、それぞれ設けてあるが、テストパターン発生手段は、送信処理部１０１の内部、受信処理部１１２の内部、又は、送信処理部１０１及び受信処理部１１２の外部に１つだけ設け、その１つのテストパターン発生手段から、テストパターンを、送信処理部１０１及び受信処理部１１２に供給するようにすることが可能である。
【０１９５】
MSB誤り判定部２１４は、テストパターン発生部２１３が発生するテストパターンの系列における、１のテストパターンの上位ビットである第１の上位ビットtx_MSBf、その第１の上位ビットtx_MSBfの直後の下位ビットである直後下位ビットtx_LSB、及び、その直後下位ビットtx_LSBの直後の上位ビットである第２の上位ビットtx_MSBsからなるテスト加工データに対応する、データ再生部２１２からの再生データを、誤り判定の単位として、その再生データにおける第２の上位ビットrx_MSBsの誤りを判定し、テスト加工データに対応する再生データにおける第２の上位ビットrx_MSBsの誤り率を求めて、その誤り率とテスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成する。
【０１９６】
データ蓄積部２１５は、MSB誤り判定部２１４が作成した集計テーブルを記憶する。
【０１９７】
誤り最小探索部２１６は、データ蓄積部２１５が記憶している集計テーブルのテスト加工データのうちの、注目している注目テスト加工データについて、第１の上位ビットtx_MSBf及び第２の上位ビットtx_MSBsが注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、誤り率が最小のテスト加工データを探索し、誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付けることにより変換テーブルを作成する。
【０１９８】
操作部２１７は、例えば、誤り最小探索部２１６での、誤り率が最小のテスト加工データを探索する探索範囲を、誤り最小探索部２１６に指令するとき等に、ユーザ等によって操作される。
【０１９９】
次に、図１６を参照して、MSB誤り判定部２１４（図１５）の処理について、さらに説明する。
【０２００】
図１６は、MSB誤り判定部２１４にデータ再生部２１２から供給される再生データのビット列と、テストパターン発生部２１３から供給されるテストパターンのビット列とを示している。
【０２０１】
すなわち、図１６下は、テストパターン発生部２１３が発生して、MSB誤り判定部２１４に供給するテストパターンのビット列を示している。
【０２０２】
また、図１６上は、図１６下のテストパターンに対応する再生データのビット列、つまり、送信処理部１０１のテストパターン発生部２０１が発生した、図１６下のテストパターンと同一のテストパターンをデータ復調部２１１が受信して、データ再生部２１２が出力する再生データのビット列を示している。
【０２０３】
いま、i番目の（８ビットの）テストパターンの上位４ビットを、上位ビットtx_MSB#iと表すとともに、下位４ビットを、下位ビットtx_LSB#iと表すこととすると、MSB誤り判定部２１４には、図１６下に示すように、テストパターン発生部２１３から、1番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB1、下位ビットtx_LSB1、2番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB2、下位ビットtx_LSB2、3番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB3、下位ビットtx_LSB3、・・・の順に、テストパターンのビット列が供給される。
【０２０４】
ここで、再生データのビット列において、i番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB#i、及び下位ビットtx_LSB#iに対応する上位４ビット、及び下位４ビットを、それぞれ、上位ビットrx_MSB#i、及び下位ビットrx_LSB#iと表す。
【０２０５】
MSB誤り判定部２１４は、テストパターン発生部２１３からのテストパターンを、順次、注目テストパターンとして、注目テストパターンに対して、加工データと同一のデータ構造のテスト加工データを構成し、そのテスト加工データに対応する再生データのビット列を、誤り判定の単位として、再生データの誤りを判定する。
【０２０６】
すなわち、i番目のテストパターンが注目テストパターンであるとすると、MSB誤り判定部２１４は、i番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB#i、下位ビットtx_LSB#i、及び次のi+1番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB#i+1を、それぞれ、第１の上位ビットtx_MSBf、直後下位ビットtx_LSB、及び第２の上位ビットtx_MSBsとするテスト加工データproT#iを構成する。
【０２０７】
さらに、MSB誤り判定部２１４は、テスト加工データproT#iに対応する再生データのビット列（以下、適宜、対応再生データという）pb#iを、誤り判定の単位として、テスト加工データproT#iと、対応再生データpb#iとを比較する。
【０２０８】
ここで、テスト加工データproT#iの第１の上位ビットtx_MSBf、直後下位ビットtx_LSB、及び第２の上位ビットtx_MSBsに対応する、対応再生データpb#iのビットを、それぞれ、第１の上位ビットrx_MSBf、直後下位ビットrx_LSB、及び第２の上位ビットrx_MSBsともいう。
【０２０９】
MSB誤り判定部２１４は、テスト加工データproT#iと、対応再生データpb#iとの比較の結果、対応再生データpb#iの第２の上位ビットrx_MSBsである上位ビットrx_MSB#i+1が、テスト加工データproT#iの第２の上位ビットtx_MSBsである上位ビットtx_MSB#i+1に一致せずに誤っているとき（上位ビットrx_MSB#i+1が１ビットでも誤っているとき）、対応再生データpb#iに誤りがあると判定する。
【０２１０】
したがって、1番目のテストパターンが注目テストパターンである場合には、MSB誤り判定部２１４は、図１６下に示すように、1番目のテストパターンから、1番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB1、下位ビットtx_LSB1、及び次の2番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB2を、それぞれ、第１の上位ビットtx_MSBf、直後下位ビットtx_LSB、及び第２の上位ビットtx_MSBsとするテスト加工データproT1を構成する。
【０２１１】
そして、MSB誤り判定部２１４は、再生データのうちの、上位ビットtx_MSB1、下位ビットtx_LSB1、及び上位ビットtx_MSB2にそれぞれ対応する上位ビットrx_MSB1、下位ビットrx_LSB1、及び上位ビットtx_MSB2からなる対応再生データpb1（図１６上）の誤りを判定する。
【０２１２】
その後、2番目のテストパターンが注目テストパターンとなり、この場合、MSB誤り判定部２１４は、図１６下に示すように、2番目のテストパターンから、2番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB2、下位ビットtx_LSB2、及び次の3番目のテストパターンの上位ビットtx_MSB3を、それぞれ、第１の上位ビットtx_MSBf、直後下位ビットtx_LSB、及び第２の上位ビットtx_MSBsとするテスト加工データproT2を構成する。
【０２１３】
そして、MSB誤り判定部２１４は、再生データのうちの、上位ビットtx_MSB2、下位ビットtx_LSB2、及び上位ビットtx_MSB3にそれぞれ対応する上位ビットrx_MSB2、下位ビットrx_LSB2、及び上位ビットtx_MSB3からなる対応再生データpb2（図１６上）の誤りを判定する。
【０２１４】
MSB誤り判定部２１４は、以下、同様にして、データ再生部２１２からの再生データの誤りを判定する。
【０２１５】
そして、MSB誤り判定部２１４は、再生データの誤りの判定結果に基づき、テスト加工データに対応する対応再生データにおける第２の上位ビットrx_MSBsの誤り率を求めて、その誤り率とテスト加工データとを対応付けた集計テーブルを作成し、データ蓄積部２１５に記憶させる。
【０２１６】
図１７は、MSB誤り判定部２１４が作成する集計テーブルを示している。
【０２１７】
集計テーブルでは、第１の上位ビットtx_MSBf、直後下位ビットtx_LSB、及び第２の上位ビットtx_MSBsからなるテスト加工データに、そのテスト加工データが発生した発生個数、そのテスト加工データに対応する対応再生データの第２の上位ビットrx_MSBsに誤りがあった誤り個数、及び、誤り個数を発生個数で除算して得られる誤り率が対応付けられている。
【０２１８】
次に、図１８ないし図２０を参照して、誤り最小探索部２１６（図１５）による変換テーブルの作成の方法について説明する。
【０２１９】
図１８は、MSB誤り判定部２１４が作成し、データ蓄積部２１５に記憶された集計テーブルを示している。
【０２２０】
誤り最小探索部２１６は、データ蓄積部２１５に記憶された集計テーブルのテスト加工データを、順次、注目テスト加工データとして、その注目テスト加工データについて、第１の上位ビットtx_MSBf及び第２の上位ビットtx_MSBsが注目テスト加工データと一致するテスト加工データの中から、誤り率が最小のテスト加工データを探索し、誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付けることにより変換テーブルを作成する。
【０２２１】
すなわち、誤り最小探索部２１６は、集計テーブルにおいて、第１の上位ビットtx_MSBf及び第２の上位ビットtx_MSBsが注目テスト加工データと一致するテスト加工データから、最小の誤り率を探索する探索範囲を、例えば、操作部２１７（図１５）からの指令に応じて設定する。
【０２２２】
図１８においては、第１の上位ビットtx_MSBfが0111bであり、第２の上位ビットtx_MSBsが0101bであり、直後下位ビットtx_LSBが0011bであるテスト加工データが、注目テスト加工データになっている。そして、第１の上位ビットtx_MSBfが0111bであり、かつ、第２の上位ビットtx_MSBsが0101bとなっていて、注目テスト加工データと一致するテスト加工データのうちの、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲の７個のテスト加工データが、探索範囲（図１８において、誤り率の欄に、影を付してある部分）に設定されている。
【０２２３】
誤り最小探索部２１６は、探索範囲のテスト加工データの中から、誤り率が最小のテスト加工データを探索し、その、誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付ける。
【０２２４】
したがって、例えば、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲のテスト加工データが、探索範囲に設定される場合において、テスト加工データ0111b:0101b:0000bが注目テスト加工データとなったときには、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲のテスト加工データとして、４個のテスト加工データ0111b:0101b:0000bないし0111b:0101b:0011bが探索範囲とされる。
【０２２５】
また、テスト加工データ0111b:0101b:0001bが注目テスト加工データとなったときには、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲のテスト加工データとして、５個のテスト加工データ0111b:0101b:0000bないし0111b:0101b:0100bが探索範囲とされる。
【０２２６】
さらに、テスト加工データ0111b:0101b:0010bが注目テスト加工データとなったときには、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲のテスト加工データとして、６個のテスト加工データ0111b:0101b:0000bないし0111b:0101b:0101bが探索範囲とされる。
【０２２７】
以下同様に、テスト加工データ0111b:0101b:0011bが注目テスト加工データとなったときには、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲の７個のテスト加工データ0111b:0101b:0000bないし0111b:0101b:0110bが探索範囲とされ、・・・、テスト加工データ0111b:0101b:0111bが注目テスト加工データとなったときには、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲の７個のテスト加工データ0111b:0101b:0100bないし0111b:0101b:1010bが探索範囲とされ、・・・、テスト加工データ0111b:0101b:1111bが注目テスト加工データとなったときには、注目テスト加工データを中心とする±３の範囲の７個のテスト加工データ0111b:0101b:1100bないし0111b:0101b:1111bが探索範囲とされる。
【０２２８】
そして、誤り最小探索部２１６は、探索範囲のテスト加工データの中から、誤り率が最小のテスト加工データを探索し、誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付ける。
【０２２９】
例えば、テスト加工データ0111b:0101b:0011bが注目テスト加工データとなったときには、図１８に示したように、注目テスト加工データを中心とする７個のテスト加工データ0111b:0101b:0000bないし0111b:0101b:0110bが探索範囲となるが、この探索範囲の中で、最小の誤り率は、テスト加工データ0111b:0101b:0100bの誤り率である0.00674636であるので、その最小の誤り率のテスト加工データ0111b:0101b:0100bの直後下位ビットtx_LSB=0100bが、図１９に示すように、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データ0111b:0101b:0011bに対応付けられる。
【０２３０】
ここで、図１９は、テスト加工データの一部に対して、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBが、変換後下位ビットout_LSBとして対応付けられた状態の集計テーブルを示している。
【０２３１】
誤り最小探索部２１６は、集計テーブルのテスト加工データすべてを注目テストデータとして、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付け、これにより、図１２に示した変換テーブルを作成する。
【０２３２】
すなわち、図１９に示す集計テーブルにおける第１の上位ビットtx_MSBf，第２の上位ビットtx_MSBs、及び直後下位ビットtx_LSB、並びに、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、それぞれ、変換テーブル（図１２）の加工データとしての第１の上位ビットdata_MSBf、第２の上位ビットdata_MSBs、及び直後下位ビットdata_LSB、並びに、変換後下位ビットout_LSBとすることにより、変換テーブルが作成される。
【０２３３】
以上のように、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付けることにより、結果として、加工データと、加工データにおける送信対象の画素の下位ビット（直後下位ビットdata_LSB）の直前の上位ビット（第１の上位ビットdata_MSBf）の影響による定常的な誤りが生じにくく、かつ、加工データにおける送信対象の画素値の下位ビット（直後下位ビットdata_LSB）の直後の上位ビット（第２の上位ビットdata_MSBs）に定常的な誤りが生じる影響を与えにくい変換後下位ビットout_LSBとが対応付けられた変換テーブルが作成される。
【０２３４】
ここで、探索範囲の最大は、集計テーブルにおいて、第１の上位ビットtx_MSBf及び第２の上位ビットtx_MSBsが注目テスト加工データと一致するテスト加工データのすべてである。
【０２３５】
したがって、例えば、図１９の、第１の上位ビットtx_MSBfが、0111bで、第２の上位ビットtx_MSBsが、0101bのテスト加工データについては、１６個のテスト加工データ0111b:0101b:0000bないし0111b:0101b:1111bが、探索範囲の最大である。
【０２３６】
なお、探索範囲は、注目テスト加工データを中心とする狭い範囲に設定することにより、送信対象の画素値の下位ビットを犠牲にすることによる画質（階調）の劣化の程度を低減することができる。
【０２３７】
その他、例えば、注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下であるかどうかを判定し、注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下でない場合（誤る可能性が高い場合）には、上述したように、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付け、注目テスト加工データの誤り率が、所定の閾値以下である場合（誤る可能性が低い場合）には、注目テスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBを、そのまま、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付けることによっても、送信対象の画素値の下位ビットを犠牲にすることによる画質の劣化の程度を低減することができる。
【０２３８】
ここで、図２０は、誤り率の所定の閾値を、例えば0.05としたときの集計テーブルを示している。
【０２３９】
例えば、テスト加工データ0111b:0101b:0000bに対しては、図１９では、テスト加工データ0111b:0101b:0000bに対する探索範囲のテスト加工データのうちの、誤り率が0.04555781で最小のテスト加工データ0111b:0101b:0001bの変換後直後下位ビットtx_LSB=0001bが、変換後下位ビットout_LSBとして対応付けられているが、図２０では、テスト加工データ0111b:0101b:0000bの誤り率が、0.04561615で、所定の閾値0.05以下であるため、テスト加工データ0111b:0101b:0000bの変換後直後下位ビットtx_LSB=0000bが、そのまま、変換後下位ビットout_LSBとして対応付けられている。
【０２４０】
次に、図２１のフローチャートを参照して、通信モードが学習モードである場合の送信処理部１０１（図１５）の送信処理について説明する。
【０２４１】
ステップＳ５１において、テストパターン発生部２０１は、乱数によって、１つのテストパターンを発生し、データ変調部１２４に供給して、処理は、ステップＳ５２に進む。
【０２４２】
ステップＳ５２では、データ変調部２０２が、テストパターン発生部２０１からのテストパターンを、図７のデータ変調部１２４と同様に変調し、その結果得られる変調信号を、アンテナ４１から電波として送信する。
【０２４３】
その後、処理は、ステップＳ５２からステップＳ５３に進み、テストパターン発生部２０１は、テストパターンの発生を終了するかどうかを判定する。
【０２４４】
ステップＳ５３において、テストパターンの発生を終了しないと判定された場合、処理は、ステップＳ５１に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【０２４５】
また、ステップＳ５３において、テストパターンの発生を終了すると判定された場合、すなわち、例えば、変換テーブルの作成に十分な回数、又は時間だけ、テストパターンを発生した場合、送信処理は、終了する。
【０２４６】
次に、図２２のフローチャートを参照して、通信モードが学習モードである場合の受信処理部１１２（図１５）の受信処理について説明する。
【０２４７】
ステップＳ６１において、MSB誤り判定部２１４は、データ蓄積部２１５に記憶された集計テーブルにおける、テスト加工データの第１の上位ビットを表す変数tx_MSBf、第２の上位ビットを表す変数tx_MSBs、及び直後下位ビットを表す変数tx_LSBを引数とする変数BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]，err[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]、及びnum[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]を、例えば、0に初期化し、処理は、ステップＳ６２に進む。
【０２４８】
ここで、変数BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]，err[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]、及びnum[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]は、第１の上位ビットtx_MSBf、第２の上位ビットtx_MSBs、及び直後下位ビットtx_LSBからなるテスト加工データの誤り率、誤り個数、及び発生個数を、それぞれ表す。
【０２４９】
ステップＳ６２では、テストパターン発生部２１３が、送信処理部１０１（図１５）のテストパターン発生部２０１が発生するのと同一の１つのテストパターンを発生し、MSB誤り判定部２１４に供給する。
【０２５０】
ここで、テストパターン発生部２１３は、送信処理部１０１（図１５）のテストパターン発生部２０１が、図２１の送信処理で発生するのと同一のテストパターンすべてを発生した後、テストパターンの発生を終了する。
【０２５１】
その後、送信処理部１０１からの電波としての変調信号が筐体１１内の空気中を伝播し、アンテナ４２において受信され、その変調信号を受信した受信信号が、アンテナ４２から供給されるのを待って、データ復調部２１１は、ステップＳ６３において、その、アンテナ４２からの受信信号を受信し、データ復調部１３１（図７）と同様に復調する。データ復調部２１１での復調によって得られる復調信号は、データ再生部１３２に供給され、処理は、ステップＳ６３からステップＳ６４に進む。
【０２５２】
ステップＳ６４では、データ再生部２１２は、データ復調部２１１からの復調信号を、データ再生部１３２（図７）と同様に処理することで、テストパターン発生部２１３が、直前のステップＳ６２で発生したテストパターンと同一の、送信処理部１０１（図１５）のテストパターン発生部２０１で発生されたテストパターンの再生データを得て、MSB誤り判定部２１４に供給する。
【０２５３】
その後、処理は、ステップＳ６４からステップＳ６５に進み、以下、ステップＳ６５ないしＳ６９において、集計テーブルの作成が行われる。
【０２５４】
すなわち、ステップＳ６５では、MSB誤り判定部２１４は、テストパターン発生部２１３から供給されるテストパターンのうちの、まだ、注目テストパターンとしていない、最も古いテストパターンを、注目テストパターンとして、その注目テストパターンに対するテスト加工データを構成し、そのテスト加工データを、注目テスト加工データとする。
【０２５５】
さらに、ステップＳ６５では、MSB誤り判定部２１４は、データ再生部２１２からの再生データのうちの、注目テスト加工データに対応する対応再生データに誤りがあるかどうかを判定する誤り判定処理を行う。
【０２５６】
ステップＳ６５において、対応再生データに誤りがあると判定された場合、処理は、ステップＳ６６に進み、MSB誤り判定部２１４は、注目テスト加工データの第１の上位ビットtx_MSBf、第２の上位ビットtx_MSBs、及び直後下位ビットtx_LSBを引数とする誤り個数err[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]を１だけインクリメントして、処理は、ステップＳ６７に進む。
【０２５７】
また、ステップＳ６５において、対応再生データに誤りがないと判定された場合、処理は、ステップＳ６６をスキップして、ステップＳ６７に進み、MSB誤り判定部２１４は、注目テスト加工データの第１の上位ビットtx_MSBf、第２の上位ビットtx_MSBs、及び直後下位ビットtx_LSBを引数とする発生個数num[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]を１だけインクリメントして、処理は、ステップＳ６８に進む。
【０２５８】
ステップＳ６８では、テストパターン発生部２１３から供給されるテストパターンから構成されるテスト加工データすべてについて、ステップＳ６５の誤り判定処理を行ったかどうかを判定する。
【０２５９】
ステップＳ６８において、テストパターン発生部２１３から供給されるテストパターンから構成されるテスト加工データすべてについて、まだ、誤り判定処理を行っていないと判定された場合、処理は、ステップＳ６２に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【０２６０】
また、ステップＳ６８において、テストパターン発生部２１３から供給されるテストパターンから構成されるテスト加工データすべてについて、誤り判定処理を行ったと判定された場合、処理は、ステップＳ６９に進み、MSB誤り判定部２１４は、第１の上位ビットtx_MSBf、第２の上位ビットtx_MSBs、及び直後下位ビットtx_LSBからなる各テスト加工データについて、誤り個数err[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]を、発生個数num[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]で除算することにより、誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]を求め、これにより、テスト加工データと、誤り個数、発生個数、及び誤り率とを対応付けた集計テーブル（図１７）が、データ蓄積部２１５に記憶される。
る。
【０２６１】
そして、処理は、ステップＳ６９からステップＳ７０に進み、誤り最小探索部２１６が、データ蓄積部２１５に記憶された集計テーブルから、変換テーブルを作成する最小誤り探索処理を行い、受信処理は、終了する。
【０２６２】
次に、図２３を参照して、図２２のステップＳ７０で、誤り最小探索部２１６が行う最小誤り探索処理について説明する。
【０２６３】
最小誤り探索処理では、ステップＳ８１において、誤り最小探索部２１６が、第１の上位ビットを表す変数tx_MSBfを、最小値である0000bに初期化して、処理は、ステップＳ８２に進む。
【０２６４】
ステップＳ８２では、誤り最小探索部２１６が、第２の上位ビットを表す変数tx_MSBsを、最小値である0000bに初期化して、処理は、ステップＳ８３に進む。
【０２６５】
ステップＳ８３では、誤り最小探索部２１６が、直後下位ビットを表す変数tx_LSBを、最小値である0000bに初期化して、処理は、ステップＳ８４に進む。
【０２６６】
ステップＳ８４では、誤り最小探索部２１６は、第１の上位ビットtx_MSBf、第２の上位ビットtx_MSBs、及び直後下位ビットtx_LSBからなるテスト加工データを、注目テスト加工データとして、その注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBに対して、第１の上位ビットtx_MSBf、及び第２の上位ビットtx_MSBsが一致する範囲のテスト加工データを、探索範囲に設定する。
【０２６７】
ここで、誤り最小探索部２１６において、注目テスト加工データと第１の上位ビットtx_MSBf、及び第２の上位ビットtx_MSBsが一致する範囲のテスト加工データのうちのいずれを、探索範囲とするかは、例えば、操作部２１７（図１５）からの指令に応じて設定することができる。
【０２６８】
また、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBに対して設定された探索範囲のテスト加工データの個数をN個とし、その探索範囲のテスト加工データの直後下位ビットtx_LSBの昇順でn番目を、knと表すこととする。
【０２６９】
この場合、探索範囲のN個のテスト加工データは、テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:k1ないしtx_MSBf:tx_MSBs:kNと表される。
【０２７０】
その後、処理は、ステップＳ８４からステップＳ８５に進み、誤り最小探索部２１６は、探索範囲のテスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:k1ないしtx_MSBf:tx_MSBs:kNの誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][k1]ないしBER[tx_MSBf][tx_MSBs][kN]の中で、最小の誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][kmin]を探索し、処理は、ステップＳ８６に進む。
【０２７１】
ステップＳ８６では、誤り最小探索部２１６は、探索範囲の中の最小の誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][kmin]を与えるテスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:kminの直後下位ビットkminを、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBに対応付け、処理は、ステップＳ８７に進む。
【０２７２】
ステップＳ８７では、誤り最小探索部２１６は、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの直後下位ビットtx_LSBが最大値である1111bであるかどうかを判定する。
【０２７３】
ステップＳ８７において、直後下位ビットtx_LSBが1111bでないと判定された場合、処理は、ステップＳ８８に進み、誤り最小探索部２１６は、直後下位ビットtx_LSBを１だけインクリメントして、処理は、ステップＳ８４に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【０２７４】
また、ステップＳ８７において、直後下位ビットtx_LSBが1111bであると判定された場合、処理は、ステップＳ８９に進み、誤り最小探索部２１６は、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの第２の上位ビットtx_MSBsが最大値である1111bであるかどうかを判定する。
【０２７５】
ステップＳ８９において、第２の上位ビットtx_MSBsが1111bでないと判定された場合、処理は、ステップＳ９０に進み、誤り最小探索部２１６は、第２の上位ビットtx_MSBsを１だけインクリメントして、処理は、ステップＳ８３に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【０２７６】
また、ステップＳ８９において、第２の上位ビットtx_MSBsが1111bであると判定された場合、処理は、ステップＳ９１に進み、誤り最小探索部２１６は、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの第１の上位ビットtx_MSBfが最大値である1111bであるかどうかを判定する。
【０２７７】
ステップＳ９１において、第１の上位ビットtx_MSBfが1111bでないと判定された場合、処理は、ステップＳ９２に進み、誤り最小探索部２１６は、第１の上位ビットtx_MSBfを１だけインクリメントして、処理は、ステップＳ８２に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。
【０２７８】
そして、ステップＳ９１において、第１の上位ビットtx_MSBfが1111bであると判定された場合、すなわち、集計テーブルのテスト加工データすべてに対して、探索範囲の中の最小の誤り率のテスト加工データの直後下位ビットtx_LSBが、変換後下位ビットout_LSBとして対応付けられ、これにより、変換テーブル（図１２）が作成された場合、処理はリターンする。
【０２７９】
なお、以上のようにして、受信処理部１１２で作成された変換テーブルは、低速な無線通信によって、又は、有線通信で、受信処理部１１２から送信処理部１０１に送信され、送信処理部１０１において、受信処理部１１２との間の通常モードの通信に使用される。
【０２８０】
また、図２の通信システムでは、送信処理部１０１及び受信処理部１１２の他、送信処理部１１１及び受信処理部１０２の間でも、学習モードの通信が行われ、受信処理部１０２において、変換テーブルが作成される。受信処理部１０２において作成された変換テーブルも、送信処理部１１１に送信され、送信処理部１１１において、受信処理部１０２との間の通常モードの通信に使用される。
【０２８１】
さらに、図１の電子機器において、LSI３１は、LSI３２以外のLSI３３ないし３５との間でも、学習モードの通信を行って、変換テーブルを取得し、通常モードの通信に使用する。他のLSI３２ないし３５も同様である。
【０２８２】
次に、図２４を参照して、誤り最小探索部２１６が、図２２のステップＳ７０で行う最小誤り探索処理の他の例について説明する。
【０２８３】
図２３の最小誤り探索処理では、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBが、必ず、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付けられるが、図２４の最小誤り探索処理では、注目テスト加工データの誤り率に応じて、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSB、又は、注目テスト加工データにおける直後下位ビットtx_LSBが、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データに対応付けられる。
【０２８４】
すなわち、図２４の最小誤り探索処理では、ステップＳ１０１ないしＳ１１２において、図２３のステップＳ８１ないしＳ９２とそれぞれ同様の処理が行われる。
【０２８５】
但し、図２４の最小誤り探索処理では、注目テスト加工データの探索範囲が設定される、図２３のステップＳ８４に対応するステップＳ１０４の直前において、ステップＳ１２１の処理が行われる。
【０２８６】
ステップＳ１２１では、誤り最小探索部２１６は、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]が、所定の閾値以下であるかどうかを判定する。
【０２８７】
ここで、所定の閾値は、例えば、誤り最小探索部２１６において、操作部２１７（図１５）からの指令に応じて設定される。
【０２８８】
ステップＳ１２１において、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]が、所定の閾値以下でないと判定された場合、処理は、ステップＳ１０４に進み、以下、ステップＳ１０４ないしＳ１１２において、図２３のステップＳ８４ないしＳ９２とそれぞれ同様の処理が行われる。
【０２８９】
したがって、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]が、所定の閾値以下でない場合には、図２３の場合と同様に、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットkminが、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBに対応付けられる。
【０２９０】
一方、ステップＳ１２１において、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]が、所定の閾値以下であると判定された場合、処理は、ステップＳ１２２に進み、誤り最小探索部２１６は、探索範囲内の誤り率が最小のテスト加工データにおける直後下位ビットを表す変数kminを、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの直後下位ビットtx_LSBとする。
【０２９１】
そして、その後、処理は、ステップＳ１２２からステップＳ１０６に進み、以下、ステップＳ１０６ないしＳ１１２において、図２３のステップＳ８６ないしＳ９２とそれぞれ同様の処理が行われる。
【０２９２】
したがって、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの誤り率BER[tx_MSBf][tx_MSBs][tx_LSB]が、所定の閾値以下である場合には、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBの直後下位ビットtx_LSBが、変換後下位ビットout_LSBとして、注目テスト加工データtx_MSBf:tx_MSBs:tx_LSBに対応付けられる。
【０２９３】
以上のように、図２の通信システムによれば、筐体１１内の電波伝搬特性が定常的な誤りを生じさせることを利用して、冗長なデータ（誤り訂正符号等）を増やさず、また、容易（簡単）な回路の追加だけで、精度良く筐体１１内のマルチパスによる信号の劣化を解消することができる。
【０２９４】
すなわち、図２の通信システムによれば、筐体１１内の通信で定常的に生じる誤りを利用することで、電子機器の電源がオンされたとき等の初期化時に、学習モードの通信を行うだけで、高品質でロバストな画像の伝送が可能となる。
【０２９５】
さらに、通常モードの通信時に、誤りの計測その他のための既知の信号を送信する必要がないので、例えば、パケットのオーバーヘッドを減少させ、高速なデータ通信を行うことが可能となる。
【０２９６】
また、従来の無線通信のように、誤り訂正符号等の付加情報（冗長なデータ）が必要ないので、より高速なデータ通信を行うことが可能となる。
【０２９７】
さらに、従来の無線通信のように、誤り訂正等を行う複雑な回路や余分なメモリが必要でないので、容易に回路を製作することができる。
【０２９８】
次に、上述した一連の処理は、ハードウェアにより行うこともできるし、ソフトウェアにより行うこともできる。一連の処理をソフトウェアによって行う場合には、そのソフトウェアを構成するプログラムが、汎用のコンピュータ等にインストールされる。
【０２９９】
そこで、図２５は、上述した一連の処理を実行するプログラムがインストールされるコンピュータの一実施の形態の構成例を示している。
【０３００】
プログラムは、コンピュータに内蔵されている記録媒体としてのハードディスク３０５やROM３０３に予め記録しておくことができる。
【０３０１】
あるいはまた、プログラムは、フレキシブルディスク、CD-ROM(Compact Disc Read Only Memory)，MO(Magneto Optical)ディスク，DVD(Digital Versatile Disc)、磁気ディスク、半導体メモリなどのリムーバブル記録媒体３１１に、一時的あるいは永続的に格納（記録）しておくことができる。このようなリムーバブル記録媒体３１１は、いわゆるパッケージソフトウエアとして提供することができる。
【０３０２】
なお、プログラムは、上述したようなリムーバブル記録媒体３１１からコンピュータにインストールする他、ダウンロードサイトから、ディジタル衛星放送用の人工衛星を介して、コンピュータに無線で転送したり、LAN(Local Area Network)、インターネットといったネットワークを介して、コンピュータに有線で転送し、コンピュータでは、そのようにして転送されてくるプログラムを、通信部３０８で受信し、内蔵するハードディスク３０５にインストールすることができる。
【０３０３】
コンピュータは、CPU(Central Processing Unit)３０２を内蔵している。CPU３０２には、バス３０１を介して、入出力インタフェース３１０が接続されており、CPU３０２は、入出力インタフェース３１０を介して、ユーザによって、キーボードや、マウス、マイク等で構成される入力部３０７が操作等されることにより指令が入力されると、それに従って、ROM(Read Only Memory)３０３に格納されているプログラムを実行する。あるいは、また、CPU３０２は、ハードディスク３０５に格納されているプログラム、衛星若しくはネットワークから転送され、通信部３０８で受信されてハードディスク３０５にインストールされたプログラム、またはドライブ３０９に装着されたリムーバブル記録媒体３１１から読み出されてハードディスク３０５にインストールされたプログラムを、RAM(Random Access Memory)３０４にロードして実行する。これにより、CPU３０２は、上述したフローチャートにしたがった処理、あるいは上述したブロック図の構成により行われる処理を行う。そして、CPU３０２は、その処理結果を、必要に応じて、例えば、入出力インタフェース３１０を介して、LCD(Liquid Crystal Display)やスピーカ等で構成される出力部３０６から出力、あるいは、通信部３０８から送信、さらには、ハードディスク３０５に記録等させる。
【０３０４】
ここで、本明細書において、コンピュータに各種の処理を行わせるためのプログラムを記述する処理ステップは、必ずしもフローチャートとして記載された順序に沿って時系列に処理する必要はなく、並列的あるいは個別に実行される処理（例えば、並列処理あるいはオブジェクトによる処理）も含むものである。
【０３０５】
また、プログラムは、１のコンピュータにより処理されるものであっても良いし、複数のコンピュータによって分散処理されるものであっても良い。さらに、プログラムは、遠方のコンピュータに転送されて実行されるものであっても良い。
【０３０６】
以上、本発明を、筐体１１内で行われる通信に適用した場合について説明したが、本発明は、その他、例えば、マンションや一戸建て等で行われる無線LANその他の、通信環境がある程度の時間の間、一定であり、定常的な誤りが生じる無線通信に適用可能である。
【０３０７】
なお、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【０３０８】
すなわち、本実施の形態では、画像データ（画素値）を送信対象としたが、送信対象とするデータとしては、画像データの他、下位ビットに多少の犠牲を許容することができる、例えば、音声データ等を採用することができる。
【０３０９】
また、本実施の形態では、８ビットの画素値を送信対象としたが、送信対象とするデータのビット数は８ビットに限定されるものではない。
【０３１０】
さらに、本実施の形態では、画素値をMSBファーストで送信することとしたが、画素値は、MSBファーストではなく、LSBファーストで送信することが可能である。この場合、加工データは（テスト加工データも同様）、送信対象の画素値の上位ビットと、送信対象の画素値の下位ビットと、送信対象の画素値の下位ビットの「直後」の画素値の上位ビットとから構成されるのではなく、送信対象の画素値の上位ビットと、送信対象の画素値の下位ビットと、送信対象の画素値の下位ビットの「直前」の画素値の上位ビットとから構成されることになる。
【０３１１】
すなわち、いま、i番目の８ビットの画素値の上位４ビットと下位４ビットを、それぞれ、MSB#iとLSB#iと表すこととすると、画素値がMSBファーストで送信される場合のビット列は、・・・，MSB#i-1，LSB#i-1，MSB#i，LSB#i，MSB#i+1，LSB#i+1，・・・となる。この場合、i番目の画素値が送信対象であるときには、加工データは、送信対象の画素値の上位ビットMSB#iと、送信対象の画素値の下位ビットLSB#iと、送信対象の画素値の下位ビットLSB#iの直後の画素値の上位ビットMSB#i+1とから構成される。
【０３１２】
一方、画素値がLSBファーストで送信される場合のビット列は、・・・，LSB#i-1，MSB#i-1，LSB#i，MSB#i，LSB#i+1，MSB#i+1，・・・となる。この場合、i番目の画素値が送信対象であるときには、加工データは、送信対象の画素値の上位ビットMSB#iと、送信対象の画素値の下位ビットLSB#iと、送信対象の画素値の下位ビットLSB#iの直前の画素値の上位ビットMSB#i-1とから構成される。
【図面の簡単な説明】
【０３１３】
【図１】本発明を適用した電子機器の一実施の形態の構成例を示す斜視図である。
【図２】LSI３１及び３２によって構成される通信システムの構成例を示すブロック図である。
【図３】アンテナ４１から送信された電波を、LSI３２のアンテナ４２で受信した信号（受信信号）を示す波形図である。
【図４】ASK変調の変調信号と、その変調信号を受信した受信信号とを示す波形図である。
【図５】ASK変調の変調信号と、その変調信号を受信した受信信号とを示す波形図である。
【図６】画像データの誤り率を示す図である。
【図７】通常モードの通信を行う送信処理部１０１及び受信処理部１１２の構成例を示すブロック図である。
【図８】データ加工部１２１の構成例を示すブロック図である。
【図９】データ変換部１２２の構成例を示すブロック図である。
【図１０】データ構成部１５２の構成例を示すブロック図である。
【図１１】データ加工部１２１及びデータ変換部１２２の処理を説明するための図である。
【図１２】変換テーブルを示す図である。
【図１３】通常モードの送信処理を説明するフローチャートである。
【図１４】通常モードの受信処理を説明するフローチャートである。
【図１５】学習モードの通信を行う送信処理部１０１及び受信処理部１１２の構成例を示すブロック図である。
【図１６】MSB誤り判定部２１４の処理を説明するための図である。
【図１７】集計テーブルを示す図である。
【図１８】集計テーブルを示す図である。
【図１９】集計テーブルを示す図である。
【図２０】集計テーブルを示す図である。
【図２１】学習モードの送信処理を説明するフローチャートである。
【図２２】学習モードの受信処理を説明するフローチャートである。
【図２３】最小誤り率探索処理を説明するフローチャートである。
【図２４】最小誤り率探索処理の他の例を説明するフローチャートである。
【図２５】本発明を適用したコンピュータの一実施の形態の構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０３１４】
１１  筐体，  ２１ないし２５  基板，  ３１ないし３５  LSI，  ４１ないし４５  アンテナ，  ５１  基板固定治具，  １０１  送信処理部，  １０２  受信処理部，  １０３  信号処理部，  １１１  送信処理部，  １１２  受信処理部，  １１３  信号処理部，  １２１  データ加工部，  １２２  データ変換部，  １２３  データベース部，  １２４  データ変調部，  １３１  データ復調部，  １３２  データ再生部，  １４１  P/S部，  １４２  MSB取得部，  １４３  LSB取得部，  １４４，１４５  遅延部，  １５１  データ参照部，  １５２  データ合成部，  １６１，１６２  S/P部，  １６３  P/S部，  ２０１  テストパターン発生部，  ２０２  データ変調部，  ２１１  データ復調部，  ２１２  データ再生部，  ２１３  テストパターン発生部，  ２１４  MSB誤り判定部，  ２１５  データ蓄積部，  ２１６  誤り最小探索部，  ２１７  操作部，  ３０１  バス，  ３０２  CPU，  ３０３  ROM，  ３０４  RAM，  ３０５  ハードディスク，  ３０６  出力部，  ３０７  入力部，  ３０８  通信部，  ３０９  ドライブ，  ３１０  入出力インタフェース，  ３１１  リムーバブル記録媒体
【図１】
0004992623.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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