(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録トラックが、複数の同期マークと、該同期マークに挟まれたデータブロックからなり、パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、それぞれのデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれにおける記録クロックの位相ないしは周波数の設定値を算出する算出部と、
前記算出部により算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
を備える磁気記憶制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、対象のデータブロックを含む複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、前記対象のデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれを走査する時間を予測し、前記データブロック内を複数に分割した区間のそれぞれにおける前記設定値を算出する磁気記憶制御装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、前記同期マークを再生し、再生された前記同期マークの時刻に基づいて前記記録クロックを生成し、データブロック内を複数に分割した区間のそれぞれにおいて前記設定値により前記記録クロックを補正する磁気記憶制御装置。
【請求項４】
請求項３に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、再生された前記同期マークの時刻を示す第１パルスを生成し、ＰＬＬを前記第１パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
【請求項５】
請求項４に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、前記第１パルスと前記設定値とに基づいて互いに隣接する第１パルスの間を複数に分割した区間のそれぞれの走査を予測した時刻を示す第２パルスを生成し、前記ＰＬＬを前記第１パルス及び前記第２パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
【請求項６】
記録トラックが、複数の同期マークと、該同期マークに挟まれたデータブロックからなり、パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御方法であって、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とし、
測定された複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、それぞれのデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれにおける記録クロックの位相ないしは周波数の設定値を算出し、
算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成することを行う磁気記憶制御方法。
【請求項７】
記録トラックが、複数の同期マークと、該同期マークに挟まれたデータブロックからなり、パターンドメディアである記録媒体と、
前記記録媒体に対して記録及び再生を行うヘッドと、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎に前記ヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、それぞれのデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれにおける記録クロックの位相ないしは周波数の設定値を算出する算出部と、
前記算出部により算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
を備える磁気記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パターンドメディア記録を行う磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置の高密度化技術として、パターンドメディア記録が注目されている。パターンドメディアのディスク上には、島状の磁化領域（以下、ランドと呼ぶ）が形成される。磁気ディスク装置においては、記録の際、ランドに記録磁界のタイミングを合わせることが重要となる。
【０００３】
なお、従来技術として、連続する所定数のビット（書き込み領域）と他の連続する所定数のビットの間にライトタイミング用の同期領域を備える磁気記録媒体、及び同期領域から読み取った信号によりライトクロックを生成する記録装置がある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００３−１５７５０７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
パターンドメディア記録は、要求されるライトタイミングの精度が高い。同期精度を得るためには、上述した所定数は少ないほうがよい。その場合、同期領域が増加し、フォーマット効率（記録容量）が低下する。
【０００５】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、同期精度とフォーマット効率を両立させる磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決するために、本発明の一態様は、記録トラックが、複数の同期マークと、該同期マークに挟まれたデータブロックからなり、パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、それぞれのデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれにおける記録クロックの位相ないしは周波数の設定値を算出する算出部と、前記算出部により算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部とを備える。
【０００７】
また、本発明の一態様は、記録トラックが、複数の同期マークと、該同期マークに挟まれたデータブロックからなり、パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御方法であって、前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とし、測定された複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、それぞれのデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれにおける記録クロックの位相ないしは周波数の設定値を算出し、算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成することを行う。
【０００８】
また、本発明の一態様は、記録トラックが、複数の同期マークと、該同期マークに挟まれたデータブロックからなり、パターンドメディアである記録媒体と、前記記録媒体に対して記録及び再生を行うヘッドと、前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎に前記ヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、それぞれのデータブロックの区間内部を複数に分割した区間のそれぞれにおける記録クロックの位相ないしは周波数の設定値を算出する算出部と、前記算出部により算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部とを備える。
【発明の効果】
【０００９】
開示の磁気記憶制御装置、磁気記憶制御方法、磁気記憶装置によれば、同期精度とフォーマット効率を両立させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
【００１１】
実施の形態１．
まず、本実施の形態に係る磁気ディスク装置（磁気記憶装置）の構成について説明する。
【００１２】
図１は、実施の形態１に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。この磁気ディスク装置は、コントローラ１１（測定部、算出部）、リードチャネル１２ａ、ヘッド２１、ディスク２２（記録媒体）を有する。コントローラ１１は、ホストとの通信及びリードチャネル１２ａの制御を行う。ディスク２２は、パターンドメディアである。ヘッド２１は、ディスク２２に対してリード及びライトを行う。
【００１３】
リードチャネル１２ａは、ライトクロック生成器３１ａ（生成部）、変調部３２、復調部３３を有する。変調部３２は、コントローラ１１からのデータを変調して変調結果をヘッド２１へ出力する。復調部３３は、ヘッド２１からの再生信号の波形等化及び復調を行って復調結果をコントローラ１１へ出力する。
【００１４】
図２は、実施の形態１に係るライトクロック生成器３１ａの構成の一例を示すブロック図である。ライトクロック生成器３１ａは、ｍａｒｋ検出器４１、擬似同期信号発生器４２、ライト同期コントローラ４３ａ、ＲＡＭ（Random Access Memory）４４、セレクタ４５、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）４６ａを有する。
【００１５】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理におけるライトクロック補正処理の概要について説明する。
【００１６】
ライト処理は、ライトデータをディスク２２へライトする処理である。ライトクロック補正処理は、ライトを実行するためのライトクロックを補正する処理である。図３は、実施の形態１に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。
【００１７】
この図の（ａ）は、ディスク２２上のトラック方向のディスクパターンを示す配置図である。この（ａ）において、ディスクパターンに対するヘッド２１の相対位置は、左から右へ移動する。また、ディスクパターンは、ランドの集まりであるデータブロック（データドット列）と同期のためにリードされる同期マークとを有する。所定の長さのデータブロックの間に、同期マークが挿入される。
【００１８】
また、この図の（ｂ）は、（ａ）のディスクパターン上のヘッド２１の相対位置に対する動作モードの変化を示すタイミングチャートである。ここで、ヘッド２１がデータブロック上に位置する場合の動作モードは、ライトモードであり、ヘッド２１が同期マーク上に位置する場合の動作モードは、リードモードである。
【００１９】
また、この図の（ｃ）は、（ｂ）の動作モードに対するＰＬＬ入力信号（セレクタ４５から出力されてＰＬＬ４６ａへ入力される信号）の波形を示すタイミングチャートである。ライトモードにおいて、ＰＬＬ入力信号は、ヘッド２１によりリードされた同期マークのタイミングで生成されるパルスである同期信号（第１パルス）と、同期信号間で生成されるパルスである擬似同期信号（第２パルス）とを有する。本実施の形態では、同期信号の間隔をＭ等分したタイミングのうち、同期信号のタイミング以外の（Ｍ−１）回のタイミングで擬似同期信号のパルスが生成されるとする。ＰＬＬ４６ａは、同期信号及び擬似同期信号に同期してライトクロックを生成する。
【００２０】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置の変動計測処理について説明する。
【００２１】
本実施の形態に係る磁気ディスク装置は、ライト処理前に、予めディスク２２の偏心による周波数変動、プロセスに起因する高次変動等を計測する変動計測処理を行う。変動計測処理を行うタイミングは、工場出荷時、初回ライト処理前、電源投入時、一定時間経過時、大きな衝撃を検出した後（衝撃により偏芯条件が変わるため）などである。
【００２２】
図４は、実施の形態１に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示す概念図である。この図の（ａ）は、ディスク２２上のトラック方向のディスクパターンを示す。ディスクパターンは、図３と同様、データブロックと同期マークを有する。また、この図の（ｂ）は、（ａ）のデータブロック毎に計測されたデータブロック時間の測定値Ｔａ，Ｔｂ，Ｔｃを示す。データブロック時間は、同期マーク間（データブロック）の長さである。
【００２３】
図５は、実施の形態１に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示すフローチャートである。
【００２４】
まず、コントローラ１１は、所定のトラックにおいて、データブロック毎に、データブロック時間を計測する（Ｓ１１）。ここで、コントローラ１１は、所定の周波数のクロックをカウントすることにより、データブロック時間を計測して測定値とする。次に、コントローラ１１は、測定値をＲＡＭ４４に保存する（Ｓ１２）。
【００２５】
図６は、実施の形態１に係る磁気ディスク装置の変動計測処理による測定結果の一例を示す概念図である。この図において、横軸は、データブロックの位置を示し、縦軸は、データブロック時間を示す。また、この図は、トラック１周分のデータブロック時間の変動を示す。更に、この図は、図４に示された測定値Ｔａ，Ｔｂ，Ｔｃを示す。
【００２６】
次に、コントローラ１１は、トラック１周分のデータブロック時間の計測が終了したか否かの判定を行う（Ｓ１３）。計測が終了していなければ（Ｓ１３，Ｎ）、処理Ｓ１１へ戻り、次のデータブロック時間の計測を行う。一方、終了していれば（Ｓ１３，Ｙ）、コントローラ１１は、測定値の変動から各データブロック内の変動を予測し、各データブロック内の擬似同期信号の位相の補正値を算出し（Ｓ１４）、この補正値を補正テーブルとしてＲＡＭ４４に保存し（Ｓ１５）、このフローは終了する。
【００２７】
ここで、コントローラ１１は、補正値算出の対象のデータブロックの測定値とその前及び後のデータブロックの測定値とを用いて、対象のデータブロック内の測定値（ライトクロック周波数）の変動を予測する。また、ここでは、データブロック内で（Ｍ−１）回の擬似同期信号のパルス毎にＰＬＬ４６ａの同期が行われるため、コントローラ１１は、各データブロックにおいて（Ｍ−１）個の補正値を算出する。
【００２８】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理について説明する。
【００２９】
図７は、実施の形態１に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。まず、ｍａｒｋ検出器４１は、ライト処理の対象となるトラックにおいてリードモードとし、再生信号から同期マークを検出して同期信号のパルスを生成し、ライトモードとする（Ｓ２１）。次に、ライト同期コントローラ４３ａは、同期信号をセレクタ４５で選択してＰＬＬ４６ａへ入力し、ＰＬＬ４６ａを同期信号のパルスに同期させる（Ｓ２２）。
【００３０】
次に、擬似同期信号発生器４２は、擬似同期信号発生タイミングのために基準クロックのカウントを開始する（Ｓ２３）。次に、擬似同期信号発生器４２は、ＲＡＭ４４の補正テーブルから補正値を取得する（Ｓ２４）。次に、擬似同期信号発生器４２は、カウント値が所定のカウント値に達すると擬似同期信号のパルスを生成し、補正値に従ってパルスの位相の調整を行う（Ｓ２５）。所定のカウント値は、データブロック時間をＭ等分した値である。
【００３１】
次に、ライト同期コントローラ４３ａは、擬似同期信号をセレクタ４５で選択してＰＬＬ４６ａへ入力し、ＰＬＬ４６ａを擬似同期信号のパルスに同期させる（Ｓ２６）。次に、ライト同期コントローラ４３ａは、所定の数（Ｍ−１）の擬似同期信号の生成が終了したか否かの判定を行う（Ｓ２７）。擬似同期信号の生成が終了していない場合（Ｓ２７，Ｎ）、処理Ｓ２３へ戻り、次の擬似同期信号の発生を行う。擬似同期信号の生成が終了した場合（Ｓ２７，Ｙ）、このフローは終了し、再度このフローを実行する。
【００３２】
なお、擬似同期信号発生器４２は、補正テーブルを用いて擬似同期信号の位相調整を行うとしたが、計算を用いて位相調整を行っても良い。この場合、コントローラ１１は、計測されたデータブロック時間に基づいて、データブロックの位置とライトクロックの周波数及び位相の補正値との関係を表す関係式のパラメータをＲＡＭ４４へ保存する。また、擬似同期信号発生器４２は、関係式を用いてデータブロックの位置から補正値を算出して擬似同期信号の位相調整を行う。関係式は、全ての変動をまとめた式を用いても良いし、変動要因や変動周波数毎に分離された式を用いても良い。分離された算出式を用いる場合、１次の変動である偏心と、プロセス起因等、その他の高次変動とが分離される。
【００３３】
また、本実施の形態においては、補正値がＲＡＭ４４に保存されるとしたが、補正値が不揮発性メモリやディスク２２のシステム領域に保存されるようにしても良い。この場合、磁気ディスク装置の電源が切断された後も補正値が保存され続けることにより、変動計測処理を低減することができる。
【００３４】
本実施の形態によれば、データブロック内でのライトクロックの周波数変動を予測して、同期信号と同様の擬似同期信号を発生させることにより、同期マークを増加させることなく、即ちフォーマット効率を低下させること無く、同期精度を向上させることができる。
【００３５】
実施の形態２．
まず、本実施の形態に係る磁気ディスク装置（磁気記憶装置）の構成について説明する。
【００３６】
図８は、実施の形態２に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。この図において、図１と同一符号は図１に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。この図の磁気ディスク装置は、図１の磁気ディスク装置と比較すると、リードチャネル１２ａの代わりにリードチャネル１２ｂを有する。リードチャネル１２ｂは、リードチャネル１２ａと比較すると、ライトクロック生成器３１ａの代わりにライトクロック生成器３１ｂを有する。
【００３７】
図９は、実施の形態２に係るライトクロック生成器３１ｂの構成の一例を示すブロック図である。この図において、図２と同一符号は図２に示された対象と同一又は相当物を示しており、ここでの説明を省略する。ライトクロック生成器３１ａと比較すると、ライトクロック生成器３１ｂは、ライト同期コントローラ４３ａの代わりにライト同期コントローラ４３ｂを備え、ＰＬＬ４６ａの代わりにＰＬＬ４６ｂを備え、新たに周波数・位相補正器４７を備え、擬似同期信号発生器４２、セレクタ４５を必要としない。
【００３８】
また、本実施の形態の変動計測処理は、実施の形態１と同様であるが、本実施の形態の変動計測処理により算出されてＲＡＭ４４に保存される補正値は、ライトクロックの周波数及び位相の補正値である。
【００３９】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理におけるライトクロック補正処理の概要について説明する。
【００４０】
図１０は、実施の形態２に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。この図の（ａ）は、実施の形態１と同様、ディスク２２上のトラック方向のディスクパターンを示す配置図である。また、この図の（ｂ）は、（ａ）のディスクパターン上のヘッド２１の相対位置に対するライトクロックの周波数の変動を示す図である。（ｂ）において、横軸は、ヘッド２１の相対位置、縦軸は、ライトクロックの周波数を示す。本実施の形態の変動計測処理は、データブロックをＭ等分した補正タイミング毎の補正値を算出し、本実施の形態のライトクロック補正処理は、補正タイミング毎にライトクロック周波数及び位相の補正を行う。
【００４１】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のライト処理について説明する。
【００４２】
図１１は、実施の形態２に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。この図において、図７と同一符号は図７に示された対象と同一又は相当処理を示しており、ここでの説明を省略する。まず、ｍａｒｋ検出器４１は、実施の形態１と同様の処理Ｓ２１を実行する。次に、ｍａｒｋ検出器４１は、同期信号をＰＬＬ４６ｂへ入力し、ＰＬＬ４６ｂを同期信号のパルスに同期させる（Ｓ４２）。
【００４３】
次に、ライト同期コントローラ４３ｂは、ライトクロック補正タイミングのために基準クロックのカウントを開始する（Ｓ４３）。次に、ライト同期コントローラ４３ｂは、ＲＡＭ４４の補正テーブルから補正値を取得する（Ｓ４４）。次に、ライト同期コントローラ４３ｂは、カウント値が所定のカウント値に達すると補正値を周波数・位相補正器４７に送り、周波数・位相補正器４７は、ＰＬＬ４６ｂから出力されるクロックの周波数及び位相を補正値に従って補正し、ライトクロックとして出力する（Ｓ４５）。
【００４４】
次に、ライト同期コントローラ４３ｂは、所定数（Ｍ−１）の補正を終了したか否かの判定を行う（Ｓ４７）。補正が終了していない場合（Ｓ４７，Ｎ）、処理Ｓ４３へ戻り、次の補正を行う。補正が終了した場合（Ｓ４７，Ｙ）、このフローは終了し、再度このフローを実行する。
【００４５】
本実施の形態によれば、データブロック内でのライトクロックの周波数変動を予測して、ライトクロックの周波数及び位相を補正することにより、同期マークを増加させることなく、即ちフォーマット効率を低下させること無く、同期精度を向上させることができる。
【００４６】
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
【００４７】
以上の実施の形態１〜２に関し、更に以下の付記を開示する。
【００４８】
（付記１）  パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御装置であって、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、
前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
を備える磁気記憶制御装置。
（付記２）  付記１に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、対象のデータブロックを含む複数のデータブロックの測定値に基づいて、前記対象のデータブロック内の複数のタイミングにおける測定値を予測し、該複数のタイミングのそれぞれにおける設定値を算出する磁気記憶制御装置。
（付記３）  付記１に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、前記同期マークを再生し、再生された前記同期マークのタイミングに基づいて前記記録クロックを生成し、データブロック内の複数のタイミングにおいて前記設定値により前記記録クロックを補正する磁気記憶制御装置。
（付記４）  付記３に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、再生された前記同期マークのタイミングを示す第１パルスを生成し、ＰＬＬを前記第１パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
（付記５）  付記４に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、前記第１パルスと前記設定値とに基づいて互いに隣接する第１パルスの間のタイミングを示す第２パルスを生成し、前記ＰＬＬを前記第１パルス及び前記第２パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御装置。
（付記６）  付記５に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、前記第２パルスのタイミングの補正量を前記設定値として算出し、
前記生成部は、該補正量に基づいて前記第２パルスのタイミングを補正する磁気記憶制御装置。
（付記７）  付記５に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、データブロック毎に所定数の前記設定値を算出し、
前記生成部は、互いに隣接する第１パルスの間で前記所定数の第２パルスを生成する磁気記憶制御装置。
（付記８）  付記４に記載の磁気記憶制御装置において、
前記生成部は、互いに隣接する第１パルスの間の所定のタイミングにおいて、前記設定値に基づいて前記記録クロックを補正する磁気記憶制御装置。
（付記９）  付記８に記載の磁気記憶制御装置において、
前記算出部は、前記記録クロックの位相の補正量を前記設定値として算出し、
前記生成部は、該補正量に基づいて前記記録クロックの位相を補正する磁気記憶制御装置。
（付記１０）  付記８に記載の磁気記憶制御装置において、
前記所定のタイミングは、互いに隣接する第１パルスの間を所定数で等分したタイミングである磁気記憶制御装置。
（付記１１）  パターンドメディアである記録媒体を用いる磁気記憶装置の制御を行う磁気記憶制御方法であって、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎にヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とし、
測定された複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出し、
算出された前記設定値に基づいて前記記録クロックを生成する
ことを行う磁気記憶制御方法。
（付記１２）  付記１１に記載の磁気記憶制御方法において、
対象のデータブロックを含む複数のデータブロックの前記測定値に基づいて、前記対象のデータブロック内の複数のタイミングにおける測定値を予測し、該複数のタイミングのそれぞれにおける設定値を算出する磁気記憶制御方法。
（付記１３）  付記１１に記載の磁気記憶制御方法において、
前記同期マークを再生し、再生された前記同期マークのタイミングに基づいて前記記録クロックを生成し、データブロック内の複数のタイミングにおいて前記設定値により前記記録クロックを補正する磁気記憶制御方法。
（付記１４）  付記１３に記載の磁気記憶制御方法において、
再生された前記同期マークのタイミングを示す第１パルスを生成し、ＰＬＬを前記第１パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御方法。
（付記１５）  付記１４に記載の磁気記憶制御方法において、
前記第１パルスと前記設定値とに基づいて互いに隣接する第１パルスの間のタイミングを示す第２パルスを生成し、前記ＰＬＬを前記第１パルス及び前記第２パルスに同期させて前記記録クロックを生成する磁気記憶制御方法。
（付記１６）  付記１５に記載の磁気記憶制御方法において、
前記第２パルスのタイミングの補正量を前記設定値として算出し、
該補正量に基づいて前記第２パルスのタイミングを補正する磁気記憶制御方法。
（付記１７）  付記１５に記載の磁気記憶制御方法において、
データブロック毎に所定数の前記設定値を算出し、
互いに隣接する第１パルスの間で前記所定数の第２パルスを生成する磁気記憶制御方法。
（付記１８）  付記１４に記載の磁気記憶制御方法において、
互いに隣接する第１パルスの間の所定のタイミングにおいて、前記設定値に基づいて前記記録クロックを補正する磁気記憶制御方法。
（付記１９）  付記１８に記載の磁気記憶制御方法において、
前記記録クロックの位相の補正量を前記設定値として算出し、
該補正量に基づいて前記記録クロックの位相を補正する磁気記憶制御方法。
（付記２０）  パターンドメディアである記録媒体と、
前記記録媒体に対して記録及び再生を行うヘッドと、
前記記録媒体の所定のトラックにおける同期マークを再生し、該同期マーク間のデータブロック毎に前記ヘッドが該データブロックを走査する時間を測定して測定値とする測定部と、
前記測定部により測定された複数のデータブロックの測定値に基づいて、各データブロック内の複数のタイミングにおける記録クロックの設定値を算出する算出部と、
前記算出部により算出された設定値に基づいて前記記録クロックを生成する生成部と、
を備える磁気記憶装置。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】実施の形態１に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１に係るライトクロック生成器３１ａの構成の一例を示すブロック図である。
【図３】実施の形態１に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。
【図４】実施の形態１に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示す概念図である。
【図５】実施の形態１に係る磁気ディスク装置の変動計測処理の一例を示すフローチャートである。
【図６】実施の形態１に係る磁気ディスク装置の変動計測処理による測定結果の一例を示す概念図である。
【図７】実施の形態１に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態２に係る磁気ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図９】実施の形態２に係るライトクロック生成器３１ｂの構成の一例を示すブロック図である。
【図１０】実施の形態２に係る磁気ディスク装置のライトクロック補正処理の一例を示す概念図である。
【図１１】実施の形態２に係る磁気ディスク装置のライト処理の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５０】
１１  コントローラ、１２  リードチャネル、２１  ヘッド、２２  ディスク、３１ａ，３１ｂ  ライトクロック生成器、３２  変調部、３３  復調部、４１  ｍａｒｋ検出器、４２  擬似同期信号発生器、４３ａ．４３ｂ  ライト同期コントローラ、４４  ＲＡＭ、４５  セレクタ、４６ａ，４６ｂ  ＰＬＬ、４７  周波数・位相補正器。
【図１】
0005085392.tif 000002
【図２】
0005085392.tif 000003
【図３】
0005085392.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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