(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータを基礎とする方法であって、
１個のモデルのコンピュータ援用設計ファイルからのデータを分解するステップと、
前記分解されたデータを複数の小さいファイルに保存するステップであって、前記小さいファイルの少なくとも１個は画像形成データを含まない解析ファイルである、ステップと、
前記解析ファイルの少なくとも１個にアクセスするステップであって、それによって前記モデルの表面の幾何学的形状を解析する、ステップと、
を含み、
前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記モデル上の指定された表面と、指定された表面の各々を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域に関するデータとのリストを含み、
さらに、当該方法は、
現実の物体の検査対象の表面上の表面点の位置を取得するステップであって、前記現実の物体上の少なくとも１個の現実の検査対象の表面は前記モデル上の等価な表面に対応し、前記モデル上の前記の表面の各々は異なる限定された限定容積によって取り囲まれている、ステップと、
前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個の目標限定容積を定めるステップと、
前記少なくとも１個の目標限定容積によって取り囲まれた前記モデル上の表面と前記現実の物体上の前記表面点との間の距離を決定するステップと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法において、
前記解析ファイルの少なくとも１個は、前記モデルの画像を表示するのに必要なデータを十分には含まないことを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項１に記載の方法において、
前記解析ファイルの少なくとも１個は前記表面の幾何学的形状を解析するのに必要なデータから成ることを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項１に記載の方法において、
前記小さいファイルの少なくとも１個は、画像形成データを含むことを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項１に記載の方法において、
前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記表面の幾何学的形状を解析するのに必要なデータを十分には含まないことを特徴とする方法。
【請求項６】
請求項１に記載の方法において、
前記小さいファイルの少なくとも１個の少なくとも第２番目のファイルは、前記表面のデータの数学的解析に必要なデータのみを十分に含むことを特徴とする方法。
【請求項７】
請求項１に記載の方法において、
前記限定容積の各々は、前記検査対象の表面を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域を含むことを特徴とする方法。
【請求項８】
コンピュータを基礎とする方法であって、
現実の物体のモデルを含むコンピュータ援用設計ファイルを入力として提供するステップであって、前記現実の物体上の少なくとも１個の検査対象の表面は、前記モデル上の等価な表面に対応し、前記モデル上の前記の表面の各々は異なる限定された限定容積によって取り囲まれている、ステップと、
前記現実の物体の検査対象の表面上の表面点の位置を入力として提供するステップと、
前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個の目標限定容積を定めるステップと、
前記少なくとも１個の目標限定容積によって取り囲まれた前記モデル上の表面と前記現実の物体上の前記表面点との間の距離を決定するステップと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項９】
請求項８に記載の方法において、
限定容積が前記表面点を取り囲まない場合は、前記目標限定容積は前記表面点に最も近接した容積を含むことを特徴とする方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の方法において、
前記限定容積の少なくとも１個の各々は、前記検査対象の表面を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域を含むことを特徴とする方法。
【請求項１１】
コンピュータ援用設計データを管理するための機械可読コンピュータプログラムコードを含む媒体であって、
前記媒体は、
モデルのコンピュータ援用設計ファイルからのデータを分解するステップと、
前記分解データを複数の小さいファイルに保存するステップであって、前記小さいファイルの少なくとも１個は、画像形成データを含まない解析ファイルである、ステップと、
前記解析ファイルの少なくとも１個にアクセスするステップであって、それによって前記モデルの表面の幾何学的形状を解析する、ステップと、
を含む方法をコンピュータに実行させる命令を含み、
前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記モデル上の指定された表面と、指定された表面の各々を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域に関するデータとのリストを含み、
さらに、前記媒体は、
現実の物体の検査対象の表面上の表面点の位置を取得するステップであって、前記現実の物体上の少なくとも１個の現実の検査対象の表面は前記モデル上の等価な表面に対応し、前記モデル上の前記の表面の各々は異なる限定された限定容積によって取り囲まれている、ステップと、
前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個の目標限定容積を定めるステップと、
前記少なくとも１個の目標限定容積によって取り囲まれた前記モデル上の表面と前記現実の物体上の前記表面点との間の距離を決定するステップと、
を含む方法をコンピュータに実行させる命令を含むことを特徴とする媒体。
【請求項１２】
請求項１１に記載の媒体において、
前記解析ファイルの少なくとも１個は、前記モデルの画像を表示するのに必要なデータを十分には含まないことを特徴とする媒体。
【請求項１３】
請求項１１に記載の媒体において、
前記解析ファイルの少なくとも１個は、前記表面の幾何学的形状を解析するのに必要なデータから成ることを特徴とする媒体。
【請求項１４】
請求項１１に記載の媒体において、
前記小さいファイルの少なくとも１個は、画像形成データを含むことを特徴とする媒体。
【請求項１５】
請求項１１に記載の媒体において、
前記小さいファイルの少なくとも１個は、前記表面の幾何学的形状を解析するのに必要なデータを十分には含まないことを特徴とする媒体。
【請求項１６】
請求項１１に記載の媒体において、
前記小さいファイルの少なくとも１個の少なくとも第２番目のファイルは、前記表面データの数学的解析のために必要なデータのみを十分に含むことを特徴とする媒体。
【請求項１７】
請求項１１に記載の媒体において、前記限定容積の各々は、前記検査対象の表面を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域を含むことを特徴とする媒体。
【請求項１８】
現実の物体を測定する時に用いるための機械可読コンピュータプログラムコードを含む媒体であって、
前記媒体は、
現実の物体のモデルを含むコンピュータ援用設計ファイルを入力として提供するステップであって、前記現実の物体上の少なくとも１個の検査対象の表面は、前記モデル上の等価な表面に対応し、前記モデル上の前記の表面の各々は異なる限定された限定容積によって取り囲まれているステップと、
前記現実の物体の検査対象の表面上の表面点の位置を入力として提供するステップと、
前記表面点を取り囲む前記限定容積から少なくとも１個の目標限定容積を定めるステップと、
前記少なくとも１個の目標限定容積によって取り囲まれた前記モデル上の表面と前記現実の物体上の前記表面点との間の距離を決定するステップと、
を含む方法をコンピュータに実行させるための命令を含むことを特徴とする媒体。
【請求項１９】
請求項１８に記載の媒体において、
限定容積が前記表面点を取り囲まない場合は、前記目標限定容積は前記表面点に最も近接した容積を含むことを特徴とする媒体。
【請求項２０】
請求項１８に記載の媒体において、
前記限定容積の少なくとも１個の各々は、前記検査対象の表面を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域を含むことを特徴とする媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コンピュータ援用製造測定（ＣＡＭ２）解析のための方法とその方法を実行するシステムを動作させるためのプログラムが含まれる媒体に関する。特に、本発明は、大規模なコンピュータ援用設計（ＣＡＤ）ファイルを管理し、これらの大規模ＣＡＤファイルからのデータを小さくて管理し易く、かつ速やかにアクセス可能なファイルに再編成するのを助ける。さらに、本発明は、製造された複合表面を前記ＣＡＤモデルに比較する場合、ＣＡＤモデル表面選択方法を改善するものである。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
製造／工業市場では、通常、コンピュータ援用設計（ＣＡＤ）やコンピュータ援用製造（ＣＡＭ）を使用する。ＣＡＤのソフトウエアによって、技術者は、設計工程の最初の段階において３次元（３Ｄ）画像を生成することが出来、それによって生産のサイクルタイムを短縮し、生産性の莫大な向上を獲得することが出来た。ＣＡＭのソフトウエアと設備によって、機械加工部品の加工効率と品質が向上した。設計と製造の分野におけるこの様な技術的進歩にも拘わらず、重要なあることが生産サイクルから欠落していた。それは、生産物や部分品が本来のＣＡＤ仕様に合致していることを確保するための高度に正確で、効率良く、かつ便利な測定方法である。従来から、前記ＣＡＤモデルに対して適用される多数の部品から成る測定装置は、取り扱いが困難で、高価であり、かつ信頼性が低かった。
【０００３】
従来から、製造工程においては、測定と品質検査の機能は、いくつかの理由で、時間のかかるものであり、また装置の大きさ、範囲、有効性においても制限を受けるものであった。パスや目盛尺のような手作業測定工具は、おそらく測定速度が遅く、精度が低く、かつ、常に１次元測定である。アナログ試験取付具は、高価で融通性が低い。また、標準的座標測定機は、高精度を提供するけれども、一般には品質管理試験室や測定設備の中に配置され、製造現場からは離れた場所である。部品は、１個ずつ取り外し、部分品用の測定室に運搬されねばならない。このことは、しばしば生産ラインに対して重大な「ダウンタイム」をもたらす。本質的に、従来の測定技術（計測技術とも言われる）は、生産過程の技術的発展よりも、はるかに遅れてしまった。
【０００４】
このＣＡＤ／ＣＡＭおよび計測技術の市場は、製造工程の全ての面における品質に関する世界的な強調と共に、欠落している分野、すなわちコンピュータ援用製造測定（ＣＡＭ２）に対する必要性を駆り立てている。言い換えれば、ＣＡＭ２は、ＣＡＤをベースとした総合品質保証技術である。今日まで、適応測定ハードウエアや使用可能ＣＡＤベース測定ソフトウエアは、製造業においては未だ十分には実行されていない。
【０００５】
ごく最近においては、米国特許第５，４０２，５８２号に記載されている様に、適応測定ハードウエアにおいていくつかの発展がなされた。その内容をここに取り込んで参照とする。そのようなハードウエアは、対象物上の点の測定と、それらの点の位置をＣＡＤの仕様と比較することを可能にする。全体の比較工程の速度を早めるためには、このハードウエアはローカルコンピュータに接続されねばならない。この代わりに、その内容をここに取り入れて参照する米国特許第５，９７８，７４８号に記載されている様に、このハードウエアは、オンボードコンピュータを装備することが出来る。このようなシステムでは、製造工程の各段階および如何なる場所においても、複合面体の精密測定が可能である。初期のシステムでは、測定される複合面体は品質管理試験室内に取り込まれることが必要であった。
【０００６】
図１は、一般に、手動多関節アーム１２と、支持ベースまたは支柱１４と、コントローラまたはシリアルボックス１６と、ホストコンピュータ１８とから成る座標測定システム（ＣＭＭ）１０を含む座標測定システムを有する従来の３次元測定システムの概略図である。
【０００７】
上述した現在の技術の一つの重要な欠点は、ＣＡＤのファイルが高能力のコンピュータを必要とすることである。このような訳で、前記ＣＡＭ２市場は、入手可能な一般に市場に出回っているコンピュータの能力によって制限を受ける。ある会社において、１ないし２台の高能力かつ高価なコンピュータを品質管理試験室に配置するのは普通かもしれないけれども、その会社が工場全体に多数の高価なコンピュータを配置することは有りそうもない。上述の適応測定ハードウエア装置は、一般に製造工程の異なる点において割り当てられた独特な場所であるから、費用が主要な関心事となる。従って、ＣＡＤのファイルを処理するための必要条件が制限因子となる。代表的なパーソナルコンピュータの能力は、大規模なコンピュータファイルを処理するのに十分であるが、そのファイルは、通常、もっと強力なワークステーションによって取り扱われるに違いない。
【０００８】
製造された生産物の多くは、近年では、３次元的に高度に湾曲している。そのような生産物の品質管理検査は、対象物の表面上の点を測定し、それらをＣＡＤファイル内の表面と比較する能力を必要とする。ＣＡＤファイルは、通常、これらの曲線、点、ベクトル、種々の層の設定、およびその他の特徴点に関する情報と、必ずしも測定には関係しないけれども特定のＣＡＤのフォーマットの各々にとっては重要な情報とを含むので通常極めて大規模なものになる。
【０００９】
さらに、ある複合面体上の測定値の比較を行う時、ユーザは、比較を行うべきＣＡＤモデル上の一つの表面を選定しなければならない。しばしば、ＣＡＤモデル内に含まれている多数の表面の複雑さのために、表面を選定する基本的動作が困難かつ長時間必要とすることがある。単一のＣＡＤモデルが、数百ないし数千の選定すべき表面を含むことも有り得る。たとえユーザがモデルの特定の領域に対する探索範囲を狭めたとしても、それらの表面は重なり合い、小さく、または密接に寄せ集まっているので、区別するのが、しばしば困難になる。
【００１０】
従来技術の上述した欠点やその他の欠点と欠陥は、本発明によって克服または軽減することが出来る。本発明は、コンピュータを基礎とする方法とシステムを提供することによって製造された複合面体に対する品質管理を容易にする。特に、本発明の方法とシステムは、その様な複合面体の測定と、それらの測定値と大規模なＣＡＤファイルとの比較とを支援する。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明の一態様によれば、大規模なＣＡＤファイルに伴う諸問題を、そのようなファイルの各々を多重ファイル形式に分解することよって軽減する。大規模なＣＡＤファイルは、この方法によって、その大規模なファイルに含まれた情報を組織化する小さいファイルに分解される。この組織化は、測定工程に関連する情報が、測定値を計算するのに必要でない情報とは異なる小さいファイルに分解される様に遂行される。この様にして、計算を実行しているコンピュータは、必要な情報を高い割合で含む小さいファイルにアクセスする。
【００１２】
さらに、測定中の物理表面とその表面に対する適正な関連ＣＡＤモデル版との一致度を調整する時に、ユーザを支援することによって、処理速度はさらに早められる。特に、ある実施態様では、各表面に対して選択領域を使用する。一つの選択領域は、各表面を指示する。この様にして、測定点が選定されると、表面領域のリストが自動的に走査され、どの領域がその点を含んでいるかが決定される。その測定点からその表面までの対応する距離が、その後で計算される。
【００１３】
【発明の実施の形態】
図２は、本実施形態における大規模ファイルの取扱い方法を示す図である。この方法は、コンピュータ利用方法であって、その中では、記憶媒体内に含まれているコンピュータプログラムに応じて、マイクロプロセッサがそれぞれのステップを実行する。例示の実施形態においては、ホストコンピュータがこの方法を実行する。この代りに、あまり複雑でないアームベースコントローラが、米国特許第５，９７８，７４８号に記載されている様に、このプログラムを実行することも出来る。図示されている様に、ユーザは、識別された複合面体のモデルを含む大規模ＣＡＤファイルを、ステップ１００においてインポートすることによって、この方法を開始する。標準的なＣＡＤファイルは、モデルの設計段階では重要であるけれどもＣＡＭ２には完全には関係しない情報の大量の貯蔵をそれぞれ有する多数の層を含んでいる。この大規模ＣＡＤファイルは、それから解析され、その中に含まれたデータの機能をステップ２００において識別する。また、各データは、そのＣＡＤモデルに含まれた表面の実体にリンクすることが出来る。このようにして、どのデータが各実体に関係するかを見失わないために、各ファイルデータをＣＡＤモデル内の関連する表面実体にリンクさせる指示ファイル（ＦＬＩファイル）が、ステップ３００で生成される。本実施形態においては、ＣＡＤファイルデータの全機能は、２グループに分解される。第１のグループは、観察データファイル５００によってＣＡＤモデルを見るために用いられるデータに関連し、第２のグループは、データ解析ファイル６００によってＣＡＤモデルを解析するために用いられるデータに関連する。このようにして、このＣＡＤデータは、機能的区別によってステップ４００において、小さいファイルに分離される。これら２種類の主な機能的区別の中においても、さらに機能的区別を付けることが可能であることに留意することが重要である。また、元のＣＡＤファイルデータは、分解され、再構成されたけれども、それは常にＣＡＤモデル内の関連した表面実体に、ＦＬＩファイルによって、リンクされたままである。
【００１４】
観察データには、ユーザにＣＡＤモデル上の実体を観察し、選択させるのに必要な情報が含まれる。この観察システムの速度は、ＣＡＤ表面に対するコア演算を観察時には実行しないことによって達成される。正規のＣＡＤプロセッサは、それらの表面に関連する演算を実行して、それらの表面を表示しなければならない。これとは対照的に、解析データは、物理複合面体モデルからの測定値とＣＡＤモデルとの比較を可能にするために必要な情報を含む。幾何学的比較を解析する時には、画像形成データを処理しないことによって、さらに速度の増大が達成される。
【００１５】
図３は、ＣＡＤファイルの小さいファイルへの分解と、それらの小さいファイルのリンク指示ファイル（ＦＬＩファイル）に対する関係とを示す図である。上述した様に、これらの小さいファイルは、観察データファイル５００と解析データファイル６００の２グループに分類される。観察データファイル５００は、さらに４種類の別個のファイル、ＷＩＦ５１０、ＤＲＥ５２０、ＳＥＴ５３０、およびＢＭＰ５４０のファイルに分解される。ＷＩＦファイル５１０は、ワイヤフレームモデルの視覚表現のための曲線を含む。ＤＲＥファイル５２０は、そのモデルの陰影表示のための表面上の点とベクトルを含む。ＳＥＴファイル５３０は、実体をフィルタするための層設定を含む。ＢＭＰファイル５４０は、そのモデルのプレビューを含む。解析データファイル６００は、２種類の小さいファイル、ＲＥＧＩＯＮ（ＢＯＸ）６１０とＦＬＣ６２０のファイルだけに分解される。ＲＥＧＩＯＮファイル６１０は、各表面を取り囲むことが出来る最小可能３次元領域に関係する特定の表面およびデータのリストを含む。選択領域は、個々の表面の各々をちょうど取り囲むことが出来る大きさの３次元直方体であって良い。その他の幾何学的形状もこの選択領域に対して使用出来ることが理解されよう。ＦＬＣファイル６２０は、モデルの表面を表現する実際の演算方法を含む。
【００１６】
図４は、単純な多重表面ＣＡＤ複合面体の図面を示すものである。このような複合面体は、通常、標準デカルト座標系において測定される。この様にして、複合面体上の任意の点は、任意の他の点に相対的に測定することが出来る。一般に用いられるＣＡＤファイルの様に、一般に基準または参照点が定義され、その点を基準にしてその他の全ての点が測定される。言い換えれば、複合面体の図面上の１点の距離は、前記基準点から相対的に測定される。
【００１７】
図５は、図４の複合面体の中にあったねじの立体図である。また、図５は、ねじの頭部の頂上を取り囲む表面選択領域が見える様に画かれている。製造後、恐らく検査されるであろう複合面体の各表面は、それ自身の表面選択領域によって取り囲まれねばならない。各領域は、それに対応する表面を最小可能３次元領域によって取り囲まねばならない。図５に見られる様に、ねじ頭部の外面は、一つの領域によって取り囲まれている。この様にして、この領域は、ねじ頭部の面を形成する多数の点のみならず、この表面付近の多くの他の点をも含んでいる。
【００１８】
図６は、複合面体とそのＣＡＤモデルとの間の表面測定値の比較の方法を示す図である。この方法は、恐らく上述の様にコンピュータ利用の方法となるであろう。最初のステップ１０００においては、製造された複合面体の様な物理対象が検査のために識別される。このシステムに関連させるため、この製造された複合面体は、関連するＣＡＤファイル（１個またはそれ以上）に含まれるパラメータを基礎としている。この様にして、測定値の比較が、物理モデルと仮想モデルとの間で実行することが出来る。次に、関連するＣＡＤファイルが、ステップ１１００においてＣＡＭ２フォーマットに翻訳される。前述した様に、大規模なＣＡＤファイルは、その後、分解され、その後、６個の小さいファイルとして保存される。次のステップは、各検査表面を取り囲む３次元選択領域をステップ１２００において生成することを含む。上述した様に、各選択領域に対応するデータは、それが定義する容積と共に領域ファイル６１０内に保存される。この領域ファイル６１０は、その後、その容積内のいずれかの点を、特に定義した検査面に関連させるのに用いられる。物理測定表面上のある点の相対位置の測定は、その後、ステップ１４００において、実行され、記録される。この様にして、モデルと同様に、基準点が使用され、その結果、いずれの測定点もこの基準点に対して相対的に測定される。物理複合面体と仮想モデルの両者に対する基準点は、同一である。物理複合面体と仮想モデルは、測定された基準点に基づいて実行される芯合わせアルゴリズムによって芯合わせすることが出来る。これらの基準点の相対位置に何等かの相違があれば、この比較方法の品質または精度を変化させることになる。この様にして、物理的に測定された点は、仮想モデルの上または近傍に類似した点を有するであろう。機械加工における誤差のために、物理的に測定した点に類似する点が仮想モデルの表面上に位置しないかも知れない。しかし、その点は仮想モデルの表面上に位置しないけれども、恐らくは、その表面近くに位置し、従って前述した選択領域内に位置するであろう。コンピュータは、このようにして、領域ファイル６１０を使用して記録された点を含むか、または最も近接した選択領域をステップ１５００において確認する。その選択領域は、ソフトウエアによって自動的に選択される。もし、ある点が多重領域内に来るならば、その時は、そのソフトウエアは最も近接した表面を探索する場合に、両方の表面を考慮する。選択領域の目的は、最も近接した表面上の点を決定するために、ソフトウエアがＣＡＤモデル内の全表面に対する距離を計算する必要が無いようにするためである。これは、選択の組を制限するために設計されている。ここに記述されている様に、ユーザに対する出力は、単に表面までの距離だけである。
【００１９】
一旦、領域ファイル６１０が確認されると、類似する表面上の点のその表面に対する相対位置を解析するために、表面データをステップ１６００で抽出することが出来る。最後に、測定された表面上の点とＣＡＤモデル表面との間の距離を計算することによって、距離の計算が実行される。この様にして、ユーザは、複合されたモデルが元の設計モデルに比較してどれほど異なるかの情報を提供される筈である。
【００２０】
上述した様に、本発明は、コンピュータ利用方法およびそれらの方法を実行するための装置の形で具体化することが出来る。本発明は、また、コンピュータプログラムコードの形で具体化することが出来、その中にはフロッピィディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ハードドライブ、またはその他いずれかのコンピュータで読み取れる記憶媒体の様な有形の媒体の中に具体化された命令が含まれ、そのコンピュータプログラムコードがコンピュータにロードされ、実行される時、そのコンピュータは本発明を実行するための装置となる。本発明は、また、例えば、記憶媒体に記憶されるか、コンピュータにロードされるか、および／または、実行されるか、または電気配線またはケーブルの様なある伝送媒体上に光ファイバ伝送技術によって、または電磁放射によって伝送される様なコンピュータコードの形で具体化することも出来、そのコンピュータプログラムコードがコンピュータにロードされ、実行される時、そのコンピュータは本発明を実行するための装置となる。汎用マイクロプロセッサ上に実施される場合は、コンピュータプログラムコードセグメントは、特定の論理回路を生成する様にそのマイクロプロセッサを構成する。
【００２１】
以上説明したように、本発明は、大規模なＣＡＤファイルにおいて遭遇する諸問題を、その様なファイルの各々を多重ファイルフォーマットに分解することによって軽減する。これによって、大規模なＣＡＤファイルは、その中に含まれている情報を組織する小型のファイルに分解される。この組織化は、測定工程に関係する情報が、測定値を計算するのに必要でない情報とは異なる小型のファイルに分離される様に実行される。この様にして、計算を実行しているコンピュータは、必要な情報を高い割合で含む小規模なファイルにアクセスする。さらに、測定される物理表面とその表面の適正な関連ＣＡＤモデル版との一致度を調整する時に、ユーザを支援することによって、さらに処理速度が高められる。特に、本発明では、各表面に対して選択領域を用いる。選択領域は、個々の各表面をちょうど取り囲む大きさの３次元直方体領域の表示から成る。一つの選択領域は各表面を指示する。この様にして、ある測定点が定まると、表面領域のリストが自動的に走査され、どの領域がその点を含むかが決定される。その測定点からその表面までの対応する距離が、その後、計算される。
【００２２】
以上、本発明を、その特定の実施形態に関連させて、記述したが、上記の記述を参照すれば、多くの代替案、変形案、および変更案の存在することは、当業者にとって明白である。従って、本発明は、その精神と広い範囲内に包含される様な代替案、変形案、および変更案の全てを含むことが意図されたものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】  従来の座標測定システムの概略図である。
【図２】  大規模なＣＡＤファイルを、分解と再構成の手法を用いて、管理するための方法とシステムを示す図である。
【図３】  ＣＡＤファイルとＣＡＭ２フォーマットとの関係および分解を示す図である。
【図４】  単純な多重表面ＣＡＤ複合面体の図面を示す図である。
【図５】  図４に示されたＣＡＤ複合面体の立体図であり、ねじの頭部の頂上表面を取り囲む表面選択領域の視覚化を示す図である。
【図６】  実施形態における複合面体とそのＣＡＤモデルとの間の表面測定値の比較の方法とシステムを示す図である。
【符号の説明】
１０  座標測定システム（ＣＭＭ）、１２  手動多関節アーム、１４  支持ベースまたは支柱、１６  コントローラまたはシリアルボックス、１８  ホストコンピュータ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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