(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
a)円筒状のロッドと、
b)前記ロッドの下端部に着脱可能に装着された円錐状のコーン部と、
c)前記ロッドの途中外周に設けられたノッキングヘッドと、
d)前記ノッキングヘッド上の前記ロッド部分に遊挿され、前記ノッキングヘッド上に自由落下して当該ノッキングヘッドを打撃することにより前記コーン部を地盤中に貫入させる重錘と、
e)前記ロッドの下端部外周に着脱可能に装着される紡錘形の円筒部材と、前記円筒部材の外周面に設けられた螺旋状の溝と、一部が露出するように前記溝に埋め込まれた一対のステンレス製のワイヤとから構成された、前記コーン部と共に地盤中に貫入されるセンサ部を有し、土壌中の体積含水率を計測する土壌水分計と
を備え、
前記ロッドが、その下端部にスリットを有し、前記円筒部材が、その内周面に、該円筒部材を前記ロッドの下端部外周に装着する際に前記スリットに挿入されるストッパを有することを特徴とする土壌水分計付き貫入試験器。
【請求項２】
前記土壌水分計は、前記一対のワイヤに電磁波を伝える電磁波パルス発生装置と、前記電磁波パルス発生装置から前記一対のワイヤに伝えられた電磁波が当該一対のワイヤを往復する時間に基づき体積含水率を測定する測定部とを備えるＴＤＲ（Time Domain Reflectometry）式土壌水分計であることを特徴とする請求項１に記載の土壌水分計付き貫入試験器。
【請求項３】
前記ロッド内に挿通され、前記電磁波パルス発生装置と前記ワイヤとを電気的に接続する接続ケーブルを備え、
前記接続ケーブルの下端部は前記ロッド内の下端部において前記ワイヤに接続され、前記接続ケーブルの上端部は前記ロッドの上端部から外部に引き出されて前記電磁波パルス発生装置に接続されることを特徴とする請求項２に記載の土壌水分計付き貫入試験器。
【請求項４】
前記ロッドは、上部ロッドと、この上部ロッドの下部に着脱可能に連結される下部ロッドと、前記上部ロッドと下部ロッドとの間に着脱可能に介挿され前記ロッド全体の長さを延長する延長ロッドとから構成されていることを特徴とする請求項１又は２に記載の土壌水分計付き貫入試験器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、地盤の貫入抵抗値と土壌の体積含水率を測定できる土壌水分計付き貫入試験器に関する。
【背景技術】
【０００２】
豪雨の際に頻発するがけ崩れと呼ばれる表層崩壊は、家屋、人命などに多大な被害をもたらす。このことから、その発生メカニズムの解明及び発生場所の正確な予測が社会的に要請されており、そのために様々な方法が考えられている(例えば特許文献１参照）。
【０００３】
多くの表層崩壊は水の集まりやすい谷地形で発生する。谷地形で発生する表層崩壊は、降雨波形情報及び地形情報に基づく物理水文モデルから、発生場所や発生時刻をある程度予測することができる。
しかし、水の集中が起こりえない凸型斜面や平行斜面において発生する表層崩壊も決して少なくない。また、同じような斜面地形であっても表層崩壊が発生する場所と発生しない場所があり、表層崩壊の発生位置を正確に予測することは非常に困難である。
【０００４】
これに対して、表層崩壊の発生斜面を踏査した結果、崩壊斜面では岩の割れ目などからの湧水が頻繁に見つかり、このことから、集水性の高い場所で多くの表層崩壊が発生していることがわかってきている。従って、土層の内部構造、特に土層内の水の集中に関する情報、例えば斜面土壌水分の空間分布に関する情報を予め取得することができれば、表層崩壊の発生位置の予測精度を向上させることができる。
【０００５】
土壌水分は、例えば次の方法で計測することができる。
まず第１の方法は、土壌をサンプリングし、乾燥前後の重量を測ることにより土壌水分を計測する方法である。
第２の方法は、土壌に予め埋設した水分計によって土壌水分を計測する方法である。
しかし、これらの方法はいずれも、土壌水分の空間分解能を高めるために土壌のサンプリング場所、水分計の設置場所を増やす必要があり、手間や時間がかかる。
これに対して、第３の方法として、電気探査や地中レーダー等による非接触の土壌水分計測技術を用いる方法がある。しかし、この方法は、高価な装置を必要とする上、土壌水分以外の例えば岩石層や粘土層の特性が計測値に影響し、精度良く計測することができない。
【特許文献１】特開2005-345110号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、土層内部の土壌水分の空間分布を精度良く且つ簡便に計測することができる土壌水分計付き貫入試験器を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために成された本発明に係る土壌水分計付き貫入試験器は、
a)円筒状のロッドと、
b)前記ロッドの下端部に着脱可能に装着された円錐状のコーン部と、
c)前記ロッドの途中部外周に設けられたノッキングヘッドと、
d)前記ノッキングヘッド上の前記ロッド部分に遊挿され、前記ノッキングヘッド上に自由落下して当該ノッキングヘッドを打撃することにより前記コーン部を地盤中に貫入させる重錘と、
e)前記ロッドの下端部外周に着脱可能に装着される紡錘形の円筒部材と、前記円筒部材の外周面に設けられた螺旋状の溝と、一部が露出するように前記溝に埋め込まれた一対のステンレス製のワイヤとから構成された、前記コーン部と共に地盤中に貫入されるセンサ部を有し、土壌中の体積含水率を計測する土壌水分計と
を備え、
前記ロッドが、その下端部にスリットを有し、前記円筒部材が、その内周面に、該円筒部材を前記ロッドの下端部外周に装着する際に前記スリットに挿入されるストッパを有することを特徴とする。
【０００８】
上記土壌水分計付き貫入試験においては、
前記土壌水分計を、前記一対のワイヤに電磁波を伝える電磁波パルス発生装置と、前記電磁波パルス発生装置から前記一対のワイヤに伝えられた電磁波が当該一対のワイヤを往復する時間に基づき体積含水率を測定する測定部とを備えるＴＤＲ（Time Domain Reflectometry）式土壌水分計とすることができる。
【０００９】
また、前記ロッドは、上部ロッドと、この上部ロッドの下部に着脱可能に連結される下部ロッドと、前記上部ロッドと下部ロッドとの間に着脱可能に介挿され前記ロッド全体の長さを延長する延長ロッドとから構成すると、計測対象となる地盤の土壌の深さに応じてロッド全体を適宜の長さにすることができる。  
【発明の効果】
【００１０】
崩壊発生斜面や緑化対象斜面においては、地盤の強度や密度、締まり具合の変化点の連続的な把握を目的として、貫入試験器を用いた地盤探査が行われる。
本発明の土壌水分計付き貫入試験器はこのような貫入試験器を用いて構成したものであり、重錘を自由落下させてノッキングヘッドに衝突させることによりコーン部と共に土壌水分計を地盤に貫入させることができる。このため、土層内部の土壌水分の空間分布を精度良く且つ簡便に計測することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係る土壌水分計付き貫入試験器の具体的な実施形態について図１〜図１０を参照しつつ説明する。
本実施形態の土壌水分計付き貫入試験器は、ロッド２０、土壌水分計３０、貫入コーン４０、重錘５０から構成されている。
図１及び図２に示すように、ロッド２０は、上部ロッド２２及び下部ロッド２４、これら上部ロッド２２と下部ロッド２４との間に介挿される延長ロッド２６から構成されている。
図３に示すように土壌水分計３０は電磁波パルス発生装置３１，電磁波サンプリングレシーバー３２からなる水分計本体３３、及びセンサ部３４から構成されている。前記センサ部３４は下部ロッド２４の下部に取り付けられている。
【００１２】
上部ロッド２２、下部ロッド２４、延長ロッド２６はいずれも鋼鉄製であり、それぞれ上下に延びる貫通孔２２ａ、２４ａ、２６ａを有している。本実施形態では、上部ロッド２２、下部ロッド２４、延長ロッド２６のそれぞれの長さ寸法を895mm、1040mm、1120mmに設定した。従って、上部ロッド２２及び下部ロッド２４のみを連結したときのロッド２０全体の長さ寸法は1935mmになり、上部ロッド２２と下部ロッド２４との間に延長ロッド２６を介挿したときのロッド２０全体の長さ寸法は3055mmに延長される。
【００１３】
尚、各ロッド２２，２４，２６の各部の長さ寸法は図面に示すとおりである。これら各ロッド２２，２４，２６の各部の長さ寸法は適宜変更可能である。
また、複数の延長ロッド２６のうちの一つ或いは複数本を上部ロッド２２と下部ロッド２４の間に介挿可能に構成しても良い。更に、全体の長さ寸法が異なる複数本の延長ロッド２６を用意し、これらのうちの１〜数本を上下部ロッド２２，２４の間に介挿するようにしても良い。
【００１４】
前記ロッド２０の外周面には、貫入コーン４０の下端からの高さ寸法を示す複数の目盛線６１が設けられている。また、ロッド２０の外周面には複数のレンチ溝６３が形成されている。
【００１５】
図４は上部ロッド２２の全体構成を示す縦断面図(ａ)及び正面図（ｂ）である。上部ロッド２２の下部寄りの外周面にはノッキングヘッド６５が設けられている。このノッキングヘッド６５よりも上の上部ロッド２２部分に取り外し可能に重錘５０が遊挿されるようになっている(図２参照）。上部ロッド２２の上部の外周面には環状の溝部６７が形成されており、この溝部６７にはＣリング６９が嵌め込まれている。Ｃリング６９は、上部ロッド２２の上端から重錘５０を遊挿した後、前記溝部６７に嵌め込まれる。これにより、前記重錘５０が上部ロッド２２から抜け出ることが防止される。また、溝部６７からＣリング６９を取り外すことにより上部ロッド２２から重錘５０を取り出すことができる。
更に、上部ロッド２２の下端部には下部ロッド２４或いは延長ロッド２６と連結するための連結部７１が設けられている。連結部７１は雄ねじ部７１ａ及び円筒部７１ｂから構成されている。
【００１６】
図５は下部ロッド２４の全体構成を示す縦断面図(ａ)及び正面図（ｂ）である。下部ロッド２４の下部には、その他の部分よりも外径寸法が小さい装着部７３が設けられている。この装着部７３には前記センサ部３４が装着される。装着部７３の下端部にはスリット７５が形成されている。
また、下部ロッド２４の上下両端部には上部連結部７７及び下部連結部７８がそれぞれ形成されている。上部連結部７７は、上部ロッド２２或いは延長ロッド２６に下部ロッド２４を連結するためのもので、貫通孔２４ａに連通する雌ねじ部７７ａ及び円筒状部７７ｂから構成されている。雌ねじ部７７ａ及び円筒状部７７ｂはいずれも貫通孔２４ａよりも大きな内径寸法を有している。下部連結部７８は貫入コーン４０を下部ロッド２４に連結するためのもので、貫通孔２４ａの内周面に形成された雌ねじから構成されている。
【００１７】
図６は延長ロッド２６の全体構成を示す縦断面図(ａ)及び正面図(ｂ)である。延長ロッド２６はその上下両端部に上部連結部８０及び下部連結部８１が設けられている。上部連結部８０は延長ロッド２６と上部ロッド２２とを連結するためのもので、貫通孔２６ａの内周面に形成され当該貫通孔２６ａよりも径大な雌ねじ部８０ａ及び円筒状部８０ｂから構成されている。下部連結部８１は、延長ロッド２６と下部ロッド２６とを連結するためのもので、雄ねじ部８１ａ及び円筒状部８１ｂから構成されている。
【００１８】
図７は下部ロッド２４の下部連結部７８に連結した状態で示す貫入コーン４０の正面図である。貫入コーン４０は窒化処理加工が施されたステンレスから構成され、下端部に円錐状部４１を、上端部に前記下部連結部７８に螺合する雄ねじ部４２を有している。貫入コーン４０はゴムパッキン４３を介して前記下部連結部７８に連結される。
【００１９】
図８は土壌水分計３０のセンサ部３４の全体構成(ａ)及びセンサ部３４と前記水分計本体３３との接続部分の構成(ｂ)並びにセンサ部３４の一部拡大図(ｃ)を示している。
センサ部３４は下部ロッド２４の装着部７３に装着されるアクリル樹脂製の円筒体３５、この円筒体３５の外周面に巻き付けられた２本のステンレスワイヤ３６、これらステンレスワイヤ３６と水分計本体３３とを接続する接続部３７から構成されている。
【００２０】
円筒体３５は紡錘形をしており、上下両端部の外径寸法はロッド２０の外径寸法とほぼ同じに、中央部の外径寸法はロッド２０の外径寸法よりもやや大きく設定されている。このため、ロッド２０と共にセンサ部３４が土壌中に貫入されるとき或いは土壌中から引き上げられるときに円筒体３５が大きな抵抗になることがなく、円筒体３５の破壊を極力防止できる。
また、円筒体３５の中央部の外周面には２本の平行な螺旋溝３８が形成されており、この螺旋溝３８に前記ステンレスワイヤ３６が埋め込まれている。螺旋溝３８の深さ寸法は約0.5mmに設定され、ステンレスワイヤ３６の直径寸法は約0.55mmに設定されている。従って、螺旋溝３８に埋め込まれたステンレスワイヤ３６の一部は外部に露出する(図８(ｃ)参照)。このような構成により、土壌中に円筒体３５が貫入されたときのステンレスワイヤ３６と土壌との接触性が向上する。
【００２１】
また、円筒体３５のうちステンレスワイヤ３６の下端部の下部に位置する部分には、当該円筒体３５の内方に突出するストッパ３９が固定されている。円筒体３５を装着部７３に装着する際、前記ストッパ３９は下部ロッド２４のスリット７５に挿入される。これにより、ロッド２０を地盤中に出し入れする際に装着部７３に沿って円筒体３５が回転することが防止される。このため、ステンレスワイヤ３６や信号線３７ａ、グランド線３７ｂの断線を防止できる。
【００２２】
前記接続部３７はステンレスワイヤ３６の下端部に接続された信号線３７ａ及びグランド線３７ｂ及びこれら信号線３７ａ及びグランド線３７ｂと水分計本体３３を接続する同軸ケーブル３７ｃから構成されている。信号線３７ａ及びグランド線３７ｂは円筒体３５の内部に配置されており、その下端部は円筒体３５を貫通してステンレスワイヤ３６の下端部に接続されている。また、信号線３７ａ及びグランド線３７ｂの上端部は前記同軸ケーブル３７ｃに接続されている。
【００２３】
円筒体３５はテフロン（登録商標）製パッド３５ａを介して下部ロッド２４の装着部７３に装着される。また、下部ロッド２４には延長ロッド２６及び上部ロッド２２が連結される。このとき、信号線３７ａ及びグランド線３７ｂはスリット７５を通して貫通孔２４ａに挿通される。また、同軸ケーブル３７ｃは下部ロッド２４の貫通孔２４ａを経て、延長ロッド２６、上部２２の貫通孔２６ａ、２２ａ内に通され、上部ロッド２２の上端部から引き出される。上部ロッド２２の上端部から引き出された同軸ケーブル３７ｃの上端部は水分計本体３３に接続される。
【００２４】
前記土壌水分計３０は、一般的な土壌水分計の一つであるＴＤＲ（Time Domain Reflectometry）式土壌水分計から構成されている。２本のステンレスワイヤ３６は、ＴＤＲ（Time Domain Reflectometry）式土壌水分計の金属棒に相当し、電磁波パルス発生装置３１から送り出された電磁波はステンレスワイヤ３６に伝わり、その先端で反射されて戻ってくる。電磁波がステンレスワイヤ３６を往復する時間ｔは、センサ部３４が埋設された土壌の比誘電率をκsoil、ステンレスワイヤ３６の長さをＬ、自由空間における電磁波の速さをｃとすると次の関係式で表される。
【数１】
0004911470.tif 000002
自由空間での電磁波の速さｃ及びステンレスワイヤ３６の長さＬは一定であるため、時間ｔが求まれば、上記関係式から土壌の比誘電率κsoilを求めることができる。土壌水分計本体３３には時間ｔから比誘電率κsoilを求める換算式が予め記憶されており、当該電磁波パルス発生装置３１から電磁波を発生させたときの時間ｔから比誘電率を換算し出力する。
【００２５】
この場合、センサ部３４毎に異なる特性による計測誤差を極力小さくするために、キャリブレーションを行う必要があるが、上記土壌水分計３０においては、水と空気を用いて簡便且つ高精度のキャリブレーションを行うことができる。
具体的には、水及び空気の誘電率はそれぞれ８０及び１であることから、円筒体３５を水中及び空気中に配置したときの水分計本体３３の出力値から、土壌中に円筒体３５を埋設したときの水分計本体３３の出力値を補正する。
図９及び図１０は、異なる６個のセンサ部３４をそれぞれロッド２０に装着したとき水分計本体３３の出力値及び補正後の出力値を示している。図９及び図１０に示すように、補正後の出力値の方がセンサ部３４間のバラツキが小さくなり、センサ部３４固有の特性を除去することができる。
【００２６】
上記構成の土壌水分計付き貫入試験器は計測対象となる山地斜面等の地盤表面に貫入コーン４０の先端を押し当てつつロッド２０を鉛直方向に立てた状態で用いられる。具体的には、２ｋｇの重錘５０をノッキングヘッド６５上に自由落下させノッキングヘッド６５を重錘５０で打撃すると、ロッド２０と共に貫入コーン４０が地盤中に貫入する。貫入抵抗の指標として貫入コーン４０が10cm貫入する毎の打撃数（drop/10cm）を計測すれば、その地盤の土壌硬度や密度等の鉛直分布、土層の厚さ等を求めることができる。
また、貫入コーン４０が地盤中に貫入されると、貫入コーン４０の直ぐ上に位置する円筒体３５が土壌中に埋没する。従って、この状態で電磁波パルス発生装置３１から電磁波を発生させれば土壌中の比誘電率を求めることができる。
【００２７】
このように、本実施形態の貫入試験器は地盤の貫入抵抗値及び土壌の比誘電率の鉛直分布を同時に計測することができる。特に、貫入コーン４０を10cm貫入させる毎に比誘電率を求めれば、貫入抵抗値と比誘電率とを関連づけて計測することができる。しかも、紡錘形の円筒体３５の中央部にステンレスワイヤ３６を巻回し、ステンレスワイヤ３６と土壌との接触性を向上させたため、比誘電率を精度良く計測することができる。
【００２８】
次に、上述の土壌水分計付き貫入試験器を用いた計測事例について説明する。
〈計測事例１〉
図１１は、ある試験地において上記実施形態の貫入試験器（以下、ＣＰＭＰ（Combined Penetrometer-TDR Moisture Probe)という）及び長谷川式土壌貫入計（図１１中「長谷川式」と示す）を用いて貫入抵抗値(drop/10cm)の鉛直分布を計測した結果を示している。図１１では異なる２地点の計測結果を並べて示している。尚、長谷川式土壌貫入計は、土壌の貫入抵抗値の計測器として従来より広く用いられているものである。
図１１に示すように、両計測器による貫入抵抗値は完全に一致しないものの、鉛直分布の傾向や特徴は良好に一致した。このことから、土壌水分計を取り付けたことによる貫入抵抗値の計測への影響は小さいと考えられる。
【００２９】
〈計測事例２〉
図１２は、滋賀県内にある異なる２箇所の試験地において上述の貫入試験器（ＣＰＭＰ）及び既存の土壌水分計（比較例２）を用いて土壌の比誘電率の鉛直分布を計測した結果を示している。既存の土壌水分計として、ＴＤＲ（Time Domain Reflectometry）式土壌水分計（型番：CS605）を用いた。
図１２に示すように、両計測器による土壌の比誘電率は完全に一致しないものの、鉛直分布の傾向や特徴は良好に一致した。このことから、上述の土壌水分計付き貫入試験器は土壌水分の鉛直分布を精度良く計測できるといえる。
【００３０】
〈計測事例３〉
図１３は滋賀県内の試験地である山腹斜面における体積含水率と土壌深さとの関係を、図１４は当該試験地における貫入抵抗値及び乾燥密度と土壌深さとの関係を示した図である。
図１３中、実線はＣＰＭＰを用いて計測した土壌の比誘電率（κ）を下記の換算式に代入して求めた体積含水率(cm3/cm3)を、黒丸の点は当該試験地において採取した土壌サンプルから秤量法を用いて求めた体積含水率を示している。
【数２】
0004911470.tif 000003
また、図１４中、実線はＣＰＭＰを用いて求めた貫入抵抗値を、黒三角の点は土壌サンプルの乾燥密度(g/cm3)を示している。乾燥密度は、単位体積の土壌に含まれる固体土粒子の重さであり、土壌の堅さとの間に高い相関がみられる。
図１３に示すように、比誘電率から演算により求めた体積含水率と秤量法により求めた体積含水率とは概ね一致した。また、図１４に示すように、ＣＰＭＰにより求めた貫入抵抗値と土壌サンプルの乾燥密度との間に正の相関が見られた。以上より、ＣＰＭＰを用いることにより、実際の山腹斜面において詳細な土壌水分の分布、土質構造の計測が可能であることが分かる。
【００３１】
〈計測事例４〉
図１５は滋賀県内にある試験地においてＣＰＭＰを用いて求めた貫入抵抗値及び比誘電率の鉛直分布を示している。この計測事例では、比較的深い土壌層(５ｍ以上）で計測を行った結果を示している。図１５に示すように、深い土壌層（約５ｍ）であっても貫入抵抗値及び比誘電率を良好に計測できる。
【００３２】
〈計測事例５〉
図１６は、滋賀県内にある試験地においてＣＰＭＰを用いて求めた貫入抵抗値及び比誘電率の鉛直分布を示している。当該試験地には地下水が存在しており、観測井戸により実測した地下水位を図１６中に実線で示す。図１６から、比誘電率が急激に上昇する深さと、地下水位とが良好に一致することが分かる。このことから、本実施例の貫入試験器を用いることにより、地下水の存在や地下水位を精度良く把握することができる。
【００３３】
〈計測事例６〉
図１７は滋賀県内にある試験地においてＣＰＭＰを用いて求めた貫入抵抗値及び比誘電率の鉛直分布を示している。図１７に示すように、当該試験地では比誘電率が局所的に高い土壌層位(図１７において矢印で示す）が観察されたことから、この層位には水が流れていると考えられる。このように、本実施例の貫入試験器を用いることにより、土層内の水が流れる箇所を選択的に検出することができる。
【００３４】
〈計測事例７〉
図１８は滋賀県内にある試験地において上記ＣＰＭＰを用いて求めた貫入抵抗値及び比誘電率の二次元分布を示してる。図１８上部の多数の矢印は貫入抵抗値等を計測した各地点を示している。図１８から、当該試験地では貫入抵抗値が深さ方向に向かってほぼ均一に変化しているのに対して、比誘電率は極めて不均一に分布していることが分かる。このように、貫入抵抗値及び比誘電率の鉛直分布を複数箇所で連続的に計測することにより、貫入抵抗値及び比誘電率の二次元分布を把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の一実施形態に係る土壌水分計付き貫入試験器のロッド（ａ）及び重錘（ｂ）の全体構成を示す図。
【図２】ロッドの分解図。
【図３】土壌水分計の全体構成を示すブロック図。
【図４】上部ロッドの縦断面図（ａ）、正面図（ｂ）。
【図５】下部ロッドの縦断面図（ａ）、正面図（ｂ）。
【図６】延長ロッドの縦断面図（ａ）、正面図（ｂ）。
【図７】下部ロッドに取り付けた状態で示す貫入コーンの正面図。
【図８】センサ部の正面図（ａ）、同軸ケーブル、信号線、グランド線を示す図（ｂ）、（ａ）の一部を拡大して示す図（ｃ）。
【図９】補正前の水分計本体の出力値を示す図
【図１０】補正後の水分計本体の出力値を示す図
【図１１】計測事例１の試験地における貫入抵抗値の鉛直分布を示す図。
【図１２】計測事例２の試験地における比誘電率の鉛直分布を示す図。
【図１３】計測事例３の試験地における体積含水率と土壌深さとの関係を示す図。
【図１４】計測事例３の試験地における乾燥密度と貫入抵抗値との関係を示す図。
【図１５】計測事例４の試験地における貫入抵抗値及び比誘電率の鉛直分布を示す図。
【図１６】計測事例５の試験地における貫入抵抗値及び比誘電率と地下水位との関係を示す図。
【図１７】計測事例６の試験地における貫入抵抗値及び比誘電率の鉛直分布を示す図
【図１８】計測事例７の試験地における貫入抵抗値及び比誘電率の二次元分布を示す図。
【符号の説明】
【００３６】
２０・・・ロッド
２２・・・上部ロッド
２４・・・下部ロッド
２６・・・延長ロッド
３０・・・土壌水分計
３１・・・電磁波パルス発生装置
３２・・・電磁波サンプリングレシーバー
３３・・・水分計本体
３４・・・センサ部
３５・・・円筒体
３６・・・ステンレスワイヤ
３７ａ・・・信号線
３７ｂ・・・グランド線
３８・・・螺旋溝
３９・・・ストッパ
４０・・・貫入コーン
４１・・・円錐状部
５０・・・重錘
６５・・・ノッキングヘッド
【図１】
0004911470.tif 000004
【図２】
0004911470.tif 000005
【図３】
0004911470.tif 000006
【図４】
0004911470.tif 000007
【図５】
0004911470.tif 000008
【図６】
0004911470.tif 000009
【図７】
0004911470.tif 000010
【図８】
0004911470.tif 000011
【図９】
0004911470.tif 000012
【図１０】
0004911470.tif 000013
【図１１】
0004911470.tif 000014
【図１２】
0004911470.tif 000015
【図１３】
0004911470.tif 000016
【図１４】
0004911470.tif 000017
【図１５】
0004911470.tif 000018
【図１６】
0004911470.tif 000019
【図１７】
0004911470.tif 000020
【図１８】
0004911470.tif 000021