(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
時分割同期符号多重通信方式に準拠して通信する被試験端末の試験を行う端末試験装置であって、
複数の被試験端末（２ａ乃至２ｅ）に下り方向の試験データを送信する送信部（１０）と、
前記試験データを受信した前記複数の被試験端末によってそれぞれ送信された上り方向の被試験データを受信する受信部（１１）と、
前記時分割同期符号多重通信方式におけるフレームを構成するタイムスロットのうち、前記複数の被試験端末に対する一方向のデータを複数のタイムスロットに１つずつ割り当て、前記複数の被試験端末に対する他方向の符号多重化されたデータを少なくとも１つのタイムスロットに割り当てるよう前記送信部および前記受信部を制御する制御部（１８）とを備えた端末試験装置。
【請求項２】
前記被試験データのビット誤り率を測定するビット誤り率測定部（１４）を備え、
前記制御部は、前記各被試験端末に対する前記試験データを各タイムスロットに割り当てて送信するよう前記送信部を制御すると共に、前記複数の被試験端末によって符号多重化され、少なくとも１つのタイムスロットに割り当てられて送信された前記被試験データを受信するよう前記受信部を制御することを特徴とする請求項１に記載の端末試験装置。
【請求項３】
前記ビット誤り率測定部は、前記複数の被試験端末のうち、所定の試験時間が経過しても合否の判定ができない被試験端末がある場合には、該被試験端末に対する合否の判定結果を保留として前記ビット誤り率の測定を終了することを特徴とする請求項２に記載の端末試験装置。
【請求項４】
前記送信部は、前記試験データが前記送信部から送信されてから前記各被試験端末に受信されるまでに損失する各ロスレベルを補償するよう前記試験データの送信電力を前記被試験端末毎に調整することを特徴とする請求項２または請求項３に記載の端末試験装置。
【請求項５】
前記各被試験端末の送信電力を測定する電力測定部（１６）を備え、
前記制御部は、前記複数の被試験端末から各タイムスロットに割り当てられて送信された前記被試験データを受信するよう前記受信部を制御すると共に、前記各被試験端末に対する前記試験データを符号多重化して少なくとも１つのタイムスロットに割り当てて送信するよう前記送信部を制御することを特徴とする請求項１に記載の端末試験装置。
【請求項６】
前記電力測定部は、前記被試験データが前記各被試験端末から送信されてから前記受信レベル部に受信されるまでに損失する各ロスレベルを補償するよう前記被試験データの測定レベルを前記被試験端末毎に調整することを特徴とする請求項５に記載の端末試験装置。
【請求項７】
時分割同期符号多重通信方式に準拠して通信する被試験端末の試験を端末試験装置を用いて行う端末試験方法であって、
前記時分割同期符号多重通信方式におけるフレームを構成するタイムスロットのうち、前記複数の被試験端末に対する一方向のデータを複数のタイムスロットに１つずつ割り当て、前記複数の被試験端末に対する他方向の符号多重化されたデータを少なくとも１つのタイムスロットに割り当てることを特徴とする端末試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、端末試験装置に関し、特に、時分割同期符号多重通信方式に準拠して通信する被試験端末の試験を行う端末試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の端末試験装置としては、被試験端末に対して送信スロット数、各スロットの電力およびスロット間の電力の変化量のうち少なくとも１つの変化を要求し、この要求に応じて被試験端末から送信された応答情報に基づいて被試験端末から送信された被試験データに割り当てられたスロットを検出し、検出した各スロットの電力やスロット間の電力変化量を検出することにより被試験端末の動作判定を行うものがある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００３−４６４３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
このような従来の端末試験装置においては、試験コストを低減させるため、被試験端末の１台あたりの試験時間を短縮することが課題となっている。
【０００４】
本発明は、従来の課題を解決するためになされたもので、被試験端末の１台あたりの試験時間を従来のものより短縮することができる端末試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の端末試験装置は、時分割同期符号多重通信方式に準拠して通信する被試験端末の試験を行う端末試験装置であって、複数の被試験端末（２ａ乃至２ｅ）に下り方向の試験データを送信する送信部（１０）と、前記試験データを受信した前記複数の被試験端末によってそれぞれ送信された上り方向の被試験データを受信する受信部（１１）と、前記時分割同期符号多重通信方式におけるフレームを構成するタイムスロットのうち、前記複数の被試験端末に対する一方向のデータを複数のタイムスロットに１つずつ割り当て、前記複数の被試験端末に対する他方向の符号多重化されたデータを少なくとも１つのタイムスロットに割り当てるよう前記送信部および前記受信部を制御する制御部（１８）とを備えた構成を有している。
【０００６】
この構成により、本発明の端末試験装置は、複数の被試験端末の試験を並行することができるため、被試験端末の１台あたりの試験時間を従来のものより短縮することができる。
【０００７】
なお、本発明の端末試験装置は、前記被試験データのビット誤り率を測定するビット誤り率測定部（１４）を備え、前記制御部は、前記各被試験端末に対する前記試験データを各タイムスロットに割り当てて送信するよう前記送信部を制御すると共に、前記複数の被試験端末によって符号多重化され、少なくとも１つのタイムスロットに割り当てられて送信された前記被試験データを受信するよう前記受信部を制御するようにしてもよい。
【０００８】
この構成により、本発明の端末試験装置は、複数の被試験端末のビット誤り率の測定を並行することができるため、被試験端末の１台あたりのビット誤り率の測定にかかる試験時間を従来のものより短縮することができる。
【０００９】
また、前記ビット誤り率測定部は、前記複数の被試験端末のうち、所定の試験時間が経過しても合否の判定ができない被試験端末がある場合には、該被試験端末に対する合否の判定結果を保留として前記ビット誤り率の測定を終了するようにしてもよい。
【００１０】
この構成により、本発明の端末試験装置は、合否の判定ができない被試験端末のために試験時間が長引いてしまうことを防止することができる。
【００１１】
また、前記送信部は、前記試験データが前記送信部から送信されてから前記各被試験端末に受信されるまでに損失する各ロスレベルを補償するよう前記試験データの送信電力を前記被試験端末毎に調整するようにしてもよい。
【００１２】
この構成により、本発明の端末試験装置は、下り方向のロスレベル、特に、端末試験装置と各被試験端末とを同軸ケーブルで接続する場合には、主に、同軸ケーブルで損失するロスレベルを考慮して各被試験端末のビット誤り率の測定を行うことができる。
【００１３】
なお、本発明の端末試験装置は、前記各被試験端末の送信電力を測定する電力測定部（１６）を備え、前記制御部は、前記複数の被試験端末から各タイムスロットに割り当てられて送信された前記被試験データを受信するよう前記受信部を制御すると共に、前記各被試験端末に対する前記試験データを符号多重化して少なくとも１つのタイムスロットに割り当てて送信するよう前記送信部を制御するようにしてもよい。
【００１４】
この構成により、本発明の端末試験装置は、複数の被試験端末の送信電力の測定を並行することができるため、被試験端末の１台あたりの送信電力の測定にかかる試験時間を従来のものより短縮することができる。
【００１５】
前記電力測定部は、前記被試験データが前記各被試験端末から送信されてから前記受信レベル部に受信されるまでに損失する各ロスレベルを補償するよう前記被試験データの測定レベルを前記被試験端末毎に調整するようにしてもよい。
【００１６】
この構成により、本発明の端末試験装置は、上り方向のロスレベル、特に、端末試験装置と各被試験端末とを同軸ケーブルで接続する場合には、主に、同軸ケーブルで損失するロスレベルを考慮して各被試験端末の送信電力の測定を行うことができる。
【００１７】
また、本発明の端末試験方法は、時分割同期符号多重通信方式に準拠して通信する被試験端末の試験を端末試験装置を用いて行う端末試験方法であって、前記時分割同期符号多重通信方式におけるフレームを構成するタイムスロットのうち、前記複数の被試験端末に対する一方向のデータを複数のタイムスロットに１つずつ割り当て、前記複数の被試験端末に対する他方向の符号多重化されたデータを少なくとも１つのタイムスロットに割り当てる。
【００１８】
したがって、本発明の端末試験方法は、複数の被試験端末の試験を並行することができるため、被試験端末の１台あたりの試験時間を従来のものより短縮することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明は、被試験端末の１台あたりの試験時間を従来のものより短縮することができる端末試験装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、本実施の形態においては、時分割同期符号多重通信方式（Time Division Synchronous Code Division Multiple Access、以下、「ＴＤ−ＳＣＤＭＡ」という。）に準拠して通信する携帯端末を被試験端末として試験する端末試験装置に本発明の端末試験装置を適用した例について説明する。
【００２１】
まず、本発明の実施の形態について説明するのに先立って、ＴＤ−ＳＣＤＭＡのフレームフォーマットについて説明する。図１に示すように、ＴＤ−ＳＣＤＭＡのフレームは、１０ｍｓ周期のラジオフレーム（Radio frame）からなり、このラジオフレームは、２つのサブフレーム（sub-frame）からなる。
【００２２】
各サブフレームには、タイムスロット＃０からタイムスロット＃６までの７つのタイムスロット（timeslot）が含まれ、タイムスロット＃０とタイムスロット＃１との間に、下り方向の同期用信号を含む区間ＤｗＰＴＳ（Downlink Pilot Time Slot）と、無信号区間ＧＰ（Guard Period）と、上り方向の同期用信号を含む区間ＵｐＰＴＳ（Uplink Pilot Time Slot）とが含まれている。
【００２３】
タイムスロット＃０は、基地局すなわち端末試験装置１を各端末に検出させるための下り方向の報知情報の通信に用いられ、タイムスロット＃１は、上り方向の通信に用いるように規定されている。なお、タイムスロット＃２からタイムスロット＃６までは、何れの方向にも用いることができる。また、各タイムスロットに割り当てられるデータは、符号多重化されていてもよい。
【００２４】
図２に示すように、本発明の実施の形態における端末試験装置１は、複数の携帯端末２ａ乃至２ｅが接続できるようになっている。なお、本実施の形態においては、端末試験装置１と、携帯端末２ａ乃至２ｅとは、同軸ケーブル３ａ乃至３ｅでそれぞれ接続され、有線で通信するものとするが、無線で通信するようにしてもよい。
【００２５】
端末試験装置１は、携帯端末２ａ乃至２ｅに下り方向の試験データを送信する送信部１０と、試験データを受信した携帯端末２ａ乃至２ｅによってそれぞれ送信された上り方向の被試験データを受信する受信部１１と、送信部１０と受信部１１とを電気的に結合する結合器１２と、結合器１２と同軸ケーブル３ａ乃至３ｅとを電気的に結合する結合器１３と、被試験データのビット誤り率を測定するビット誤り率測定部１４と、試験データが予め格納された試験データ格納部１５と、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力を測定する電力測定部１６と、試験データが送信部１０によって送信されてから各携帯端末２ａ乃至２ｅに受信されるまでに損失する各ロスレベル（以下、「下りロスレベル」という。）および各携帯端末２ａ乃至２ｅから送信された被試験データが受信部１１に受信されるまでに損失する各ロスレベル（以下、「上りロスレベル」という。）を表すテーブルを格納するロスレベル格納部１７と、送信部１０、受信部１１、ビット誤り率測定部１４および電力測定部１６を制御するプロセッサよりなる制御部１８と、不図示の表示装置、記録装置およびコンピュータ装置等にビット誤り率測定部１４や電力測定部１６の測定結果を出力する出力部１９とを備えている。
【００２６】
送信部１０は、ＴＤ−ＳＣＤＭＡにおけるフレームを構成するタイムスロットのうち制御部１８に指示されたタイムスロットに該当するタイミングで、試験データ格納部１５に格納された試験データを各携帯端末２ａ乃至２ｅに送信するようになっている。
【００２７】
ここで、送信部１０は、制御部１８によって設定された送信電力で各携帯端末２ａ乃至２ｅに試験データを送信するようになっている。さらに、送信部１０は、各下りロスレベルをロスレベル格納部１７に格納されたテーブルから取得し、取得した下りロスレベル分だけ各携帯端末２ａ乃至２ｅに送信する試験データの送信電力を増大させるようになっている。なお、下りロスレベルは、試験前の測定等により予め得られているものとする。
【００２８】
受信部１１は、ＴＤ−ＳＣＤＭＡにおけるフレームを構成するタイムスロットのうち、制御部１８に指示されたタイムスロットに該当するタイミングで、各携帯端末２ａ乃至２ｅから送信された被試験データを受信するようになっている。
【００２９】
なお、送信部１０は、制御部１８によって試験データの符号多重化が指示された場合には、当該試験データを符号多重化するようになっている。一方、受信部１１は、制御部１８によって被試験データの分離が指示された場合には、符号多重化された被試験データを分離するようになっている。また、送信部１０および受信部１１は、各携帯端末２ａ乃至２ｅと呼接続を確立するようになっている。
【００３０】
ビット誤り率測定部１４は、受信部１１に受信されたフレームを構成するタイムスロットのうち制御部１８に指示されたタイムスロットに該当するタイミングで受信部１１によって受信されて分離された試験データと、試験データ格納部１５に格納された試験データとを比較することによって、各携帯端末２ａ乃至２ｅによって送信された被試験データのビット誤り率を測定するようになっている。
【００３１】
なお、本実施の形態においては、各携帯端末２ａ乃至２ｅは、受信した試験データをそのまま被試験データとして端末試験装置１に送信するようになっているものとする。
【００３２】
ここで、ビット誤り率測定部１４は、測定したビット誤り率と、予め定められた閾値とを比較し、測定したビット誤り率が予め定められた閾値以上である時間と、測定したビット誤り率が予め定められた閾値未満である時間との割合によって、該当する携帯端末の合否を判定するようになっている。
【００３３】
なお、ビット誤り率測定部１４は、予め定められた試験時間が経過しても合否の判定ができない携帯端末がある場合には、この携帯端末の合否の判定結果を「保留」としてビット誤り率の測定を終了するようになっている。
【００３４】
電力測定部１６は、ＴＤ−ＳＣＤＭＡにおけるフレームを構成するタイムスロットのうち、制御部１８によって指示されたタイムスロットに該当するタイミングで、受信部１１に受信される被試験データの受信レベルを測定することにより、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力を測定するようになっている。
【００３５】
ここで、電力測定部１６は、各上りロスレベルをロスレベル格納部１７に格納されたテーブルから取得し、取得した上りロスレベル分だけ各携帯端末２ａ乃至２ｅに対する測定レベルを調整するようになっている。なお、各上りロスレベルは、試験前の測定等により予め得られているものとする。
【００３６】
制御部１８は、ビット誤り率測定部１４にビット誤り率の測定を行わせる場合には、例えば、図３に示すように、携帯端末２ａ乃至２ｅによって符号多重化され、タイムスロット＃１に割り当てられて送信された被試験データを受信して分離するよう受信部１１を制御すると共に、各携帯端末２ａ乃至２ｅに対する試験データを各タイムスロット＃２乃至＃６に割り当てて送信するよう送信部１０を制御するようになっている。
【００３７】
また、制御部１８は、電力測定部１６に各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力の測定を行わせる場合には、例えば、図４に示すように、各携帯端末２ａ乃至２ｅに対する試験データを符号多重化してタイムスロット＃６に割り当てて送信するよう送信部１０を制御すると共に、各携帯端末２ａ乃至２ｅから各タイムスロット＃１乃至＃５に割り当てられて送信された被試験データを受信するよう受信部１１を制御するようになっている。
【００３８】
以上のように構成された端末試験装置１について図５乃至図７を用いてその動作を説明する。図５は、端末試験装置１のビット誤り率の試験動作を示すフローチャートであり、図６は、ビット誤り率の試験動作から実行されるビット誤り率の判定動作を示すフローチャートである。
【００３９】
なお、図５においては、図３に示したように、タイムスロット＃１乃至＃６を用いて、５台の携帯端末２ａ乃至２ｅのビット誤り率の試験を並行して行う例について説明するが、５台未満の携帯端末２ａ乃至２ｅのビット誤り率の試験を並行して行うようにしてもよい。
【００４０】
まず、端末試験装置１と各携帯端末２ａ乃至２ｅとの呼接続が制御部１８に制御された受信部１１および送信部１０によって確立される（Ｓ１）。次いで、送信部１０による試験データの送信電力が制御部１８によって予め規定された最大レベルに設定される（Ｓ２）。ここで、ロスレベル格納部１７に格納されたテーブルに基づいて各下りロスレベルが補償されるよう、各タイムスロットの送信電力が送信部１０によって調整される。
【００４１】
次に、図６に示す、ビット誤り率の判定動作が実行される（Ｓ３）。ビット誤り率の判定動作では、まず、携帯端末２ａ乃至２ｅに対する試験データの送信が送信部１０によって開始される（Ｓ１１）。ここで、各携帯端末２ａ乃至２ｅに対する試験データは、各タイムスロット＃２乃至＃６に割り当てられて送信される。
【００４２】
一方で、各携帯端末２ａ乃至２ｅから送信された被試験データの受信が受信部１１によって開始される（Ｓ１２）。ここで、被試験データは、符号多重化されてタイムスロット＃１に割り当てられて各携帯端末２ａ乃至２ｅから送信される。このため、被試験データは、受信部１１によって携帯端末２ａ乃至２ｅ毎に分離される。
【００４３】
次に、ビット誤り率測定部１４によって各被試験データのビット誤り率の測定が開始され、測定されたビット誤り率に基づいた各携帯端末２ａ乃至２ｅの合否の判定がビット誤り率測定部１４によって開始される（Ｓ１３）。
【００４４】
次に、試験データが送信されてから予め定められた試験時間が経過しているか否かがビット誤り率測定部１４によって判断される（Ｓ１４）。ここで、試験データが送信されてから予め定められた試験時間が経過していると判断された場合には、合否が判定されていない携帯端末の判定結果は、ビット誤り率測定部１４によって「保留」とされ（Ｓ１５）、ビット誤り率の判定動作は、終了する。
【００４５】
一方、試験データが送信されてから予め定められた試験時間が経過していないと判断された場合には、合否の判定結果が得られた携帯端末があるか否かがビット誤り率測定部１４によって判断される（Ｓ１６）。
【００４６】
ここで、合否の判定結果が得られた携帯端末があると判断された場合には、この携帯端末の合否の判定が終了し、当該携帯端末に対する試験データの送信を終了するよう送信部１０が制御部１８によって制御される（Ｓ１７）。
【００４７】
次いで、試験対象の全ての携帯端末２ａ乃至２ｅの合否の判定結果が得られたか否かがビット誤り率測定部１４によって判断され（Ｓ１８）、試験対象の全ての携帯端末２ａ乃至２ｅの合否の判定結果が得られたと判断された場合には、ビット誤り率の判定動作は、終了する。一方、試験対象の全ての携帯端末２ａ乃至２ｅの合否の判定結果が得られていないと判断された場合には、ビット誤り率の判定動作は、ステップＳ１４に戻る。
【００４８】
図５において、次に、送信部１０による試験データの送信電力が制御部１８によって予め規定された最小レベルに設定される（Ｓ４）。ここで、ロスレベル格納部１７に格納されたテーブルに基づいて各下りロスレベルが補償されるよう、各タイムスロットの送信電力が送信部１０によって調整される。次いで、図６に示した、ビット誤り率の判定動作が実行される（Ｓ５）。
【００４９】
このように得られた各携帯端末２ａ乃至２ｅの合否の判定結果は、出力部１９に出力され（Ｓ６）、例えば、表示装置に表示されたり、記録装置に記録されたりする。
【００５０】
図７は、端末試験装置１のＣＬＰＣ（Closed Loop Power Control：基地局側から携帯端末の送信電力を制御する機能）試験動作を示すフローチャートである。なお、図７においては、図４に示したように、タイムスロット＃１乃至＃６を用いて、５台の携帯端末２ａ乃至２ｅの試験を並行して行う例について説明するが、５台未満の携帯端末２ａ乃至２ｅの試験を並行して行うようにしてもよい。
【００５１】
まず、端末試験装置１と各携帯端末２ａ乃至２ｅとの呼接続が制御部１８に制御された受信部１１および送信部１０によって確立される（Ｓ３１）。次いで、携帯端末２ａ乃至２ｅに対する試験データの送信が送信部１０によって開始される（Ｓ３２）。ここで、各携帯端末２ａ乃至２ｅに対する試験データは、送信部１０によって符号多重化され、タイムスロット＃６に割り当てられて送信される。
【００５２】
一方で、各携帯端末２ａ乃至２ｅから送信された被試験データの受信が受信部１１によって開始される（Ｓ３３）。ここで、被試験データは、各タイムスロット＃１乃至＃５に割り当てられて各携帯端末２ａ乃至２ｅから送信される。
【００５３】
次いで、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が予め定められた最大電力に設定される（Ｓ３４）。なお、携帯端末の送信電力が最大電力に予め設定されている場合には、ＣＬＰＣ試験動作は、ステップＳ３４をスキップする。
【００５４】
ここで、携帯端末の送信電力の設定について簡単に説明する。携帯端末の送信電力は、試験データと共に送信されるＴＰＣ（Transmitter Power Control）コマンドにしたがって段階的に変化することになっている。
【００５５】
すなわち、本実施の形態において、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力は、各携帯端末２ａ乃至２ｅの試験データと共に符号多重化されてタイムスロット＃６に割り当てられるＴＰＣコマンドについて、増加または減少のコマンドを指定することにより、スロット間の電力の変化量の設定値であるステップサイズ毎に段階的に変化する。
【００５６】
このステップサイズは、端末試験装置１から各携帯端末２ａ乃至２ｅに予め設定されている。端末試験装置１から各携帯端末２ａ乃至２ｅの何れかに送信される１回の増加または減少のＴＰＣコマンドに対して、対応する携帯端末は、設定されたステップサイズ分だけ（一段階）送信電力を増加または減少させる。
【００５７】
このため、端末試験装置１から増加のＴＰＣコマンドを十分な回数連続して送信することにより、対応する携帯端末の送信電力を最大電力に設定することができる。逆に、端末試験装置１から減少のＴＰＣコマンドを十分な回数連続して送信することにより、対応する携帯端末の送信電力を最小電力に設定することができる。
【００５８】
このように、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が予め定められた最大電力に設定されると、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が、予め定められた最小電力に設定されるまで、一段階ずつ減少するよう設定される（Ｓ３５）。
【００５９】
各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が一段階ずつ減少するよう設定される度に、各タイムスロット＃１乃至＃５の電力が電力測定部１６によって測定される（Ｓ３６）。ここで、ロスレベル格納部１７に格納されたテーブルに基づいて各上りロスレベルが補償されるよう、各タイムスロットの測定結果が電力測定部１６によって調整される。
【００６０】
また、電力測定部１６によって測定され調整された測定結果は、出力部１９に出力され（Ｓ３７）、例えば、記録装置に記録される。
【００６１】
各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が最小電力に設定されると（Ｓ３８）、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が、最大電力に設定されるまで、一段階ずつ増大するよう設定される（Ｓ３９）。
【００６２】
各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が一段階ずつ増大するよう設定される度に、各タイムスロット＃１乃至＃５の電力が電力測定部１６によって測定される（Ｓ４０）。ここで、ロスレベル格納部１７に格納されたテーブルに基づいて各上りロスレベルが補償されるよう、各タイムスロットの測定結果が電力測定部１６によって調整される。
【００６３】
また、電力測定部１６によって測定され調整された測定結果は、出力部１９に出力され（Ｓ４１）、例えば、記録装置に記録される。各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力が最大電力に設定されると（Ｓ４２）、ＣＬＰＣ試験動作は、終了する。
【００６４】
以上に説明したＣＬＰＣ試験動作は、各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力の変化を測定するものであるが、同様にＴＰＣコマンドを用いて各携帯端末２ａ乃至２ｅの送信電力を最大送信電力または最小送信電力に設定し、そのときの電力値を測定する送信レベル測定を行うこともできる。
【００６５】
この際、前述と同様に、各上りロスレベルが補償されるように、測定結果が調整される。また、この他に、隣接チャネル漏洩電力、周波数エラー、送信スプリアス、ピークコードメインエラーおよび波形品質等の送信測定について、複数の携帯端末２ａ乃至２ｅに対して並行に行うこともできる。
【００６６】
このように、本発明の一実施の形態の端末試験装置１は、複数の携帯端末２ａ乃至２ｅの試験を並行することができるため、被試験端末の１台あたりの試験時間を従来のものより短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】ＴＤ−ＳＣＤＭＡのフレームフォーマットを説明するための説明図である。
【図２】本発明の一実施の形態の端末試験装置のブロック図である。
【図３】本発明の一実施の形態の端末試験装置によるビット誤り率の測定時のタイムスロットの割り当ての一例を示す概念図である。
【図４】本発明の一実施の形態の端末試験装置による携帯端末の送信電力測定時のタイムスロットの割り当ての一例を示す概念図である。
【図５】本発明の一実施の形態の端末試験装置のビット誤り率の試験動作を示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施の形態の端末試験装置のビット誤り率の判定動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の一実施の形態の端末試験装置のＣＬＰＣ試験動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６８】
１  端末試験装置
２ａ〜２ｅ  携帯端末
３ａ〜３ｅ  同軸ケーブル
１０  送信部
１１  受信部
１２、１３  結合器
１４  ビット誤り率測定部
１５  試験データ格納部
１６  電力測定部
１７  ロスレベル格納部
１８  制御部
１９  出力部
【図１】
0005020864.tif 000002
【図２】
0005020864.tif 000003
【図３】
0005020864.tif 000004
【図４】
0005020864.tif 000005
【図５】
0005020864.tif 000006
【図６】
0005020864.tif 000007
【図７】
0005020864.tif 000008