(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御部を備えた画像処理装置であって、
前記制御部は、
画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得する画像取得手段と、
前記画像取得手段で取得した前記画像に基づいて、前記原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出するエッジ座標検出手段と、
前記エッジ座標検出手段で検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて前記原稿領域の傾きを算出する傾き算出手段、または所定のセンサで検出された前記原稿領域の前記傾きを取得する傾き取得手段と、
前記エッジ座標検出手段で検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの端に対応する前記画素の候補となるエッジ端候補画素の前記座標値を抽出するエッジ端座標抽出手段と、
前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きおよび前記エッジ端座標抽出手段で抽出した前記エッジ端候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジに対応する直線を算出する直線算出手段と、
前記直線算出手段で算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記原稿領域を回転させることにより前記原稿領域の前記傾きを補正する傾き補正手段、および／または前記直線算出手段で算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記画像から前記原稿領域を切り出す領域切出手段と、
を備え、
前記エッジ端座標抽出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、前記エッジ候補画素の前記座標値を補正し、補正後の前記エッジ候補画素の前記座標値のうち最も外側にあるものを前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出すること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記エッジ座標検出手段は、前記画像に含まれるノイズを除去しながら前記エッジ候補画素の前記座標値を検出すること
を特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記傾き算出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、前記エッジに対応する前記直線の候補となるエッジ候補直線を算出し、算出した前記エッジ候補直線に基づいて前記原稿領域の前記傾きを算出すること
を特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記傾き算出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの連続性に関するエッジ連続性情報を算出し、算出した前記エッジ連続性情報に基づいて前記原稿領域の前記傾きを算出すること
を特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記傾き算出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、隣り合う前記エッジの前記傾きに関する統計量を算出し、算出した前記統計量に基づいて前記原稿領域の前記傾きを算出すること
を特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記エッジ端座標抽出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、前記エッジ候補画素の前記座標値のうち最も外側にあるものを前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出すること
を特徴とする請求項１から５のいずれか１つに記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記エッジ端座標抽出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、当該傾きに平行で且つ前記エッジ候補画素を通る前記直線および当該傾きに水平で且つ前記エッジ候補画素を通る前記直線を算出し、算出した前記直線の交点の前記座標値を前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出すること
を特徴とする請求項１から５のいずれか１つに記載の画像処理装置。
【請求項８】
制御部を備えた情報処理装置に実行させる画像処理方法であって、
前記制御部に実行させる、
画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得する画像取得ステップと、
前記画像取得ステップで取得した前記画像に基づいて、前記原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出するエッジ座標検出ステップと、
前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて前記原稿領域の傾きを算出する傾き算出ステップ、または所定のセンサで検出された前記原稿領域の前記傾きを取得する傾き取得ステップと、
前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの端に対応する前記画素の候補となるエッジ端候補画素の前記座標値を抽出するエッジ端座標抽出ステップと、
前記傾き算出ステップで算出したまたは前記傾き取得ステップで取得した前記原稿領域の前記傾きおよび前記エッジ端座標抽出ステップで抽出した前記エッジ端候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジに対応する直線を算出する直線算出ステップと、
前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記原稿領域を回転させることにより前記原稿領域の前記傾きを補正する傾き補正ステップ、および／または前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記画像から前記原稿領域を切り出す領域切出ステップと、
を含み、
前記エッジ端座標抽出ステップは、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出ステップで算出したまたは前記傾き取得ステップで取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、前記エッジ候補画素の前記座標値を補正し、補正後の前記エッジ候補画素の前記座標値のうち最も外側にあるものを前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出すること
を特徴とする画像処理方法。
【請求項９】
制御部を備えた情報処理装置に実行させるための画像処理プログラムであって、
前記制御部に実行させるための、
画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得する画像取得ステップと、
前記画像取得ステップで取得した前記画像に基づいて、前記原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出するエッジ座標検出ステップと、
前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて前記原稿領域の傾きを算出する傾き算出ステップ、または所定のセンサで検出された前記原稿領域の前記傾きを取得する傾き取得ステップと、
前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの端に対応する前記画素の候補となるエッジ端候補画素の前記座標値を抽出するエッジ端座標抽出ステップと、
前記傾き算出ステップで算出したまたは前記傾き取得ステップで取得した前記原稿領域の前記傾きおよび前記エッジ端座標抽出ステップで抽出した前記エッジ端候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジに対応する直線を算出する直線算出ステップと、
前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記原稿領域を回転させることにより前記原稿領域の前記傾きを補正する傾き補正ステップ、および／または前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記画像から前記原稿領域を切り出す領域切出ステップと、
を含み、
前記エッジ端座標抽出ステップは、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出ステップで算出したまたは前記傾き取得ステップで取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、前記エッジ候補画素の前記座標値を補正し、補正後の前記エッジ候補画素の前記座標値のうち最も外側にあるものを前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出すること
を特徴とする画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像中の原稿領域を自動で認識するために、スキャナなどの画像読取装置の裏当て部（裏当て領域）の構造は、白または黒に切り替えることが可能な構造になっている。そして、画像を読み取る時は、原稿領域と裏当て部との濃度差が生じるように、裏当て部を黒に切り替えている。これにより、原稿領域と裏当て部との濃度差が大きい（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差が大きい）場合には、従来技術の一例を示す図１１の上図に示すように、長方形の原稿領域を４つの直線で正確に認識する、つまり原稿領域のエッジを正しく認識することができ、その結果、原稿領域の傾き補正（デスキュー、スキュー補正）や原稿領域の切り出し（クロッピング）も正確に行うことができる（例えば特許文献１参照）。ただし、原稿が折れ曲がった状態で読み取られた場合には、従来技術の一例を示す図１２に示すように、折れ曲がった部分を欠いた原稿領域を認識することとなる。
【０００３】
しかし、原稿領域と裏当て部との濃度差が小さい場合には、例えば図１１の下図に示すような４つの直線で原稿領域を認識する可能性があるので、原稿領域のエッジを正しく認識することが困難となり、その結果、デスキューやクロッピングを正確に行うことも困難となる。
【０００４】
そこで、特許文献２には、背景領域を識別する際に、表と裏の両画像を利用するという技術が開示されている。また、特許文献３には、エッジの検出結果に基づいて原稿領域の傾き補正を行ない、補正後の原稿領域の縦と横の画素の輝度のヒストグラムに基づいて原稿領域を判定するという技術が開示されている。また、特許文献４には、原稿領域の前縁の２つのコーナを検出することでスキュー量を検出する技術が開示されている。さらに、特許文献５には、原稿領域の最も外側の位置を検出してスキュー補正を行なう技術が開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−８８６５４号公報
【特許文献２】特開２００４−３６３８８９号公報
【特許文献３】特開２００７−１８９５７７号公報
【特許文献４】特許第３９１０２２４号公報
【特許文献５】特開昭５８−３３７７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来技術によれば、表裏の両画像とも原稿領域と裏当て部との濃度差が小さい場合には、原稿領域のエッジを正しく認識することは依然として困難であり、その結果、デスキューやクロッピングを正確に行なうことも依然として困難であるという問題点がある。また、表裏の両画像を利用する場合には、処理時間が遅くなり、メモリの使用量が増えるという問題点がある。
【０００７】
本発明では、上記問題点に鑑みてなされたものであって、原稿領域と裏当て部との濃度差（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差）が小さい場合であっても、処理速度を低下させず且つメモリの使用量を増やさずに、原稿領域のエッジを精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングも精度よく行うことができる画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラムを提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる画像処理装置は、制御部を備えた画像処理装置であって、前記制御部は、画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得する画像取得手段と、前記画像取得手段で取得した前記画像に基づいて、前記原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出するエッジ座標検出手段と、前記エッジ座標検出手段で検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて前記原稿領域の傾きを算出する傾き算出手段、または所定のセンサで検出された前記原稿領域の前記傾きを取得する傾き取得手段と、前記エッジ座標検出手段で検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの端に対応する前記画素の候補となるエッジ端候補画素の前記座標値を抽出するエッジ端座標抽出手段と、前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きおよび前記エッジ端座標抽出手段で抽出した前記エッジ端候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジに対応する直線を算出する直線算出手段と、前記直線算出手段で算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記原稿領域を回転させることにより前記原稿領域の前記傾きを補正する傾き補正手段、および／または前記直線算出手段で算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記画像データから前記原稿領域を切り出す領域切出手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記エッジ座標検出手段は、前記画像に含まれるノイズを除去しながら前記エッジ候補画素の前記座標値を検出することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記傾き算出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、前記エッジに対応する前記直線の候補となるエッジ候補直線を算出し、算出した前記エッジ候補直線に基づいて前記原稿領域の前記傾きを算出することを特徴とする。
【００１１】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記傾き算出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの連続性に関するエッジ連続性情報を算出し、算出した前記エッジ連続性情報に基づいて前記原稿領域の前記傾きを算出することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記傾き算出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、隣り合う前記エッジの前記傾きに関する統計量を算出し、算出した前記統計量に基づいて前記原稿領域の前記傾きを算出することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記エッジ端座標抽出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、前記エッジ候補画素の前記座標値のうち最も外側にあるものを前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記エッジ端座標抽出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、当該傾きに平行で且つ前記エッジ候補画素を通る前記直線および当該傾きに水平で且つ前記エッジ候補画素を通る前記直線を算出し、算出した前記直線の交点の前記座標値を前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出することを特徴とする。
【００１５】
また、本発明にかかる画像処理装置は、前記に記載の画像処理装置において、前記エッジ端座標抽出手段は、前記エッジ候補画素の前記座標値および前記傾き算出手段で算出したまたは前記傾き取得手段で取得した前記原稿領域の前記傾きに基づいて、前記エッジ候補画素の前記座標値を補正し、補正後の前記エッジ候補画素の前記座標値のうち最も外側にあるものを前記エッジ端候補画素の前記座標値として抽出することを特徴とする。
【００１６】
また、本発明は画像処理方法に関するものであり、本発明にかかる画像処理方法は、制御部を備えた情報処理装置に実行させる画像処理方法であって、前記制御部に実行させる、画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得する画像取得ステップと、前記画像取得ステップで取得した前記画像に基づいて、前記原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出するエッジ座標検出ステップと、前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて前記原稿領域の傾きを算出する傾き算出ステップ、または所定のセンサで検出された前記原稿領域の前記傾きを取得する傾き取得ステップと、前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの端に対応する前記画素の候補となるエッジ端候補画素の前記座標値を抽出するエッジ端座標抽出ステップと、前記傾き算出ステップで算出したまたは前記傾き取得ステップで取得した前記原稿領域の前記傾きおよび前記エッジ端座標抽出ステップで抽出した前記エッジ端候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジに対応する直線を算出する直線算出ステップと、前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記原稿領域を回転させることにより前記原稿領域の前記傾きを補正する傾き補正ステップ、および／または前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記画像から前記原稿領域を切り出す領域切出ステップと、を含むことを特徴とする。
【００１７】
また、本発明は画像処理プログラムに関するものであり、本発明にかかる画像処理プログラムは、制御部を備えた情報処理装置に実行させるための画像処理プログラムであって、前記制御部に実行させるための、画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得する画像取得ステップと、前記画像取得ステップで取得した前記画像に基づいて、前記原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出するエッジ座標検出ステップと、前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて前記原稿領域の傾きを算出する傾き算出ステップ、または所定のセンサで検出された前記原稿領域の前記傾きを取得する傾き取得ステップと、前記エッジ座標検出ステップで検出した前記エッジ候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジの端に対応する前記画素の候補となるエッジ端候補画素の前記座標値を抽出するエッジ端座標抽出ステップと、前記傾き算出ステップで算出したまたは前記傾き取得ステップで取得した前記原稿領域の前記傾きおよび前記エッジ端座標抽出ステップで抽出した前記エッジ端候補画素の前記座標値に基づいて、前記エッジに対応する直線を算出する直線算出ステップと、前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記原稿領域を回転させることにより前記原稿領域の前記傾きを補正する傾き補正ステップ、および／または前記直線算出ステップで算出した前記エッジに対応する前記直線に基づいて前記画像から前記原稿領域を切り出す領域切出ステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、画像読取装置で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を取得し、取得した画像に基づいて、原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出する。そして、本発明によれば、検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて原稿領域の傾きを算出する、または所定のセンサで検出された原稿領域の傾きを取得する。そして、本発明によれば、検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて、エッジの端に対応する画素の候補となるエッジ端候補画素の座標値を抽出する。そして、本発明によれば、算出したまたは取得した原稿領域の傾きおよび抽出したエッジ端候補画素の座標値に基づいて、エッジに対応する直線を算出する。そして、本発明によれば、算出したエッジに対応する直線に基づいて原稿領域を回転させることにより原稿領域の傾きを補正する、および／または算出したエッジに対応する直線に基づいて画像から原稿領域を切り出す。これにより、原稿領域と裏当て部との濃度差（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差）が小さい場合であっても、処理速度を低下させず且つメモリの使用量を増やさずに、原稿領域のエッジを精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングも精度よく行うことができるという効果を奏する。
【００１９】
また、本発明によれば、画像に含まれるノイズを除去しながらエッジ候補画素の座標値を検出する。これにより、原稿領域のエッジをさらに精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングもさらに精度よく行うことができるという効果を奏する。
【００２０】
また、本発明によれば、エッジ候補画素の座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、エッジに対応する直線の候補となるエッジ候補直線を算出し、算出したエッジ候補直線に基づいて原稿領域の前記傾きを算出する。また、本発明によれば、エッジ候補画素の座標値に基づいて、エッジの連続性に関するエッジ連続性情報を算出し、算出したエッジ連続性情報に基づいて原稿領域の傾きを算出する。また、本発明によれば、エッジ候補画素の座標値に基づいて、隣り合うエッジの傾きに関する統計量を算出し、算出した統計量に基づいて原稿領域の傾きを算出する。これにより、原稿領域の傾きをより正確に算出することができ、布いては原稿領域のエッジをさらに精度よく認識することができるという効果を奏する。
【００２１】
また、本発明によれば、エッジ候補画素の座標値および算出したまたは取得した原稿領域の傾きに基づいて、エッジ候補画素の座標値のうち最も外側にあるものをエッジ端候補画素の座標値として抽出する。また、本発明によれば、エッジ候補画素の座標値および算出したまたは取得した原稿領域の傾きに基づいて、当該傾きに平行で且つエッジ候補画素を通る直線および当該傾きに水平で且つエッジ候補画素を通る直線を算出し、算出した直線の交点の座標値をエッジ端候補画素の座標値として抽出する。また、本発明によれば、エッジ候補画素の座標値および算出したまたは取得した原稿領域の傾きに基づいて、エッジ候補画素の座標値を補正し、補正後のエッジ候補画素の座標値のうち最も外側にあるものをエッジ端候補画素の座標値として抽出する。これにより、原稿領域のエッジの端をより正確に抽出することができ、布いては原稿領域のエッジをさらに精度よく認識することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下に、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本実施の形態により本発明が限定されるものではない。
【００２３】
［１．本発明の概要］
ここでは、本発明の概要について図１から図６を参照して説明する。本発明は、以下の処理手順［Ａ１］から［Ｆ１］を図１に示すように実行するまたは以下の処理手順［Ａ２］から［Ｆ２］を図２に示すように実行することにより、読み取られた長方形の原稿に対応する原稿領域の辺（エッジ）を認識し、デスキューやクロッピングを行う。図１および図２は本発明の概要を示す図である。
【００２４】
［Ａ１，Ａ２］本発明は、裏当て領域には階調変化が無いという前提の下で例えば原稿領域を含む画像の各画素と裏当て領域との階調レベルの差を所定の閾値と比較することにより、走査方向に対して当該原稿領域の上辺（上エッジ）を構成する画素を検出すると共に当該検出した画素の座標値を検出する。原稿領域の下辺（下エッジ）、左辺（左エッジ）および右辺（右エッジ）についても同様に、画素の検出および座標値の検出を行う。
【００２５】
［Ｂ１，Ｂ２］検出した各エッジを構成する画素の座標値から、原稿領域の傾き（傾角）を算出する。例えば、ハフ変換や最小二乗法などによりエッジ（図１では右エッジ、図２では上エッジ）に対応する直線を算出し、当該算出した直線に基づいて原稿領域の傾角を算出する。
【００２６】
［Ｃ１，Ｃ２］検出した上エッジを構成する画素の座標値に基づいて、当該上エッジの端と思われる画素（原稿領域の隅（角、頂点）と思われる画素）を１つ以上抽出する。下エッジ、左エッジおよび右エッジについても同様に、エッジの端と思われる画素の抽出を行う。なお、［Ａ１，Ａ２］の処理においてエッジの誤検出が無ければ、最も外側にある画素が、エッジの端と思われる画素として抽出される。
【００２７】
［Ｄ１，Ｄ２］抽出した上エッジの端と思われる画素を通り且つ算出した傾角に平行な直線を算出する。抽出した左エッジの端と思われる画素を通り且つ算出した傾角に垂直な直線を算出する。下エッジについても上エッジと同様に直線を算出する。右エッジについても左エッジと同様に直線を算出する。これにより、各エッジに相当する４つの直線を算出する。
【００２８】
［Ｅ１，Ｅ２］算出した４つの直線が交わる４つの点（画素）の座標値を、原稿領域の隅（角、頂点）に相当する画素の座標値として算出する。
【００２９】
［Ｆ１，Ｆ２］算出した４つの画素の座標値に基づいて、算出した傾角を打ち消す方向に原稿領域を回転させる。回転後の原稿領域の隅に相当する４つの画素の座標値に基づいて、画像から、原稿領域に相当する当該４つの画素で囲まれる領域を切り出す。
【００３０】
以上、本発明によれば、原稿領域と裏当て部との濃度差（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差）が小さい場合であっても、処理速度を低下させず且つメモリの使用量を増やさずに、原稿領域のエッジを精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングも精度よく行うことができる。
【００３１】
なお、本発明は、以下の処理手順［Ａ３］から［Ｆ３］を図３に示すように実行することにより、原稿領域のエッジを認識してもよい。図３は本発明の概要を示す図である。
【００３２】
［Ａ３］上述した［Ａ１，Ａ２］の処理と同様、原稿領域の各エッジを構成する画素を検出すると共に当該検出した画素の座標値を検出する。
【００３３】
［Ｂ３］原稿領域の各エッジを構成する画素の座標値から、例えばハフ変換や最小二乗法などにより、エッジに相当すると思われる直線をエッジごとに算出する。なお、この処理段階では、１つのエッジに対して、このエッジに相当すると思われる直線が複数算出される場合がある。例えば図３に示すようにエッジ数（４つ）を上回る５つの直線が算出される場合がある。
【００３４】
［Ｃ３］算出した直線の中から、エッジに相当すると思われる直線をエッジごとに１つ選出する。例えば図３に示すように５つの直線が算出された場合には、当該５つの直線の中から、エッジに相当すると思われる計４つの直線を選出する。選出した４つの直線に基づいて、原稿領域の仮の形状を認識する。
【００３５】
［Ｄ３］検出した各エッジを構成する画素の中から、選出した直線から最も離れている画素を、直線ごとに選出する。すなわち、選出した４つの直線で囲まれる仮の原稿領域に対して最も外側にある画素を選出する。
【００３６】
［Ｅ３］選出した画素を通るように、選出した４つの直線を適宜補正する。つまり、仮の原稿領域を補正する。
【００３７】
［Ｆ３］補正後の４つの直線が交わる４つの点（画素）の座標値を、原稿領域の隅（角、頂点）に相当する画素の座標値として算出する。
【００３８】
以上、本発明によれば、各エッジを構成する画素の誤検出があったとしても、原稿領域を規定する４つの直線を適宜補正することで、原稿領域の隅に相当する画素を正しく認識することができる。
【００３９】
また、［Ａ１，Ａ２］や［Ａ３］の処理において、本発明は、裏当て領域に含まれるノイズを除去しながら、各エッジを構成する画素を検出してもよい。例えば、本出願人による特許出願である特開２００７−８８６５４号公報で開示されている手法を用いて、裏当て領域のノイズを除しながら、各エッジを構成する画素を検出してもよい。
【００４０】
具体的には、図４に示すように画像の上端の背景部分（下端の背景部分でもよい）を用いて、画像のノイズを判断するための基準データを作成し、当該作成した基準データとの差分値に基づいて各エッジを構成する画素を検出してもよい。なお、図５に示すように横方向からエッジを検出する場合には、原稿端の幅が指定幅以上となるようにフィルタ処理（例えば図５に示すように、輝度の変化が急峻なエッジは無視し、連続性のある輝度を持つエッジを有効とするような処理）を行いながら、各エッジを構成する画素を検出してもよい。また、図６に示すように縦方向からエッジを検出する場合には、隣り合う基準データが急峻に変化するエッジを検出対象から除外しながら（具体的には、隣り合う基準データの差分値が一定値以上となるエッジをノイズ（縦筋）と判断して検出対象から除外しながら）、各エッジを構成する画素を検出してもよい。
【００４１】
これにより、例えば、画像読取部が固定されるＡＤＦ（Ａｕｔｏ  Ｄｏｃｕｍｅｎｔ  Ｆｅｅｄｅｒ）タイプのスキャナにおいて同じ位置で検出された画像のノイズ（縦筋）を効果的に除去することができる。
【００４２】
［２．本実施の形態の構成］
ここでは、本実施の形態にかかる画像読取装置１００の構成について図７および図８を参照して説明する。まずは、画像読取装置１００の第１の構成の一例について図７を参照して説明する。図７は画像読取装置１００の第１の構成の一例を示すブロック図である。
【００４３】
図７に示すように、画像読取装置１００は具体的にはスキャナであり、本発明にかかる画像処理装置を含むものである。画像読取装置１００は、図示の如く大別して、制御部１０２とエッジ記憶部１０４とで構成されている。これら各部は、図示の如く、任意の通信路を介して通信可能に接続されている。
【００４４】
制御部１０２は、画像読取装置１００を統括的に制御するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）等からなる。制御部１０２は、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）等の制御プログラムと各種の処理手順等を規定したプログラムと所要データとを格納するための内部メモリを有する。制御部１０２は、内部メモリに格納されたプログラムに基づいて種々の処理を実行するための情報処理を行う。制御部１０２は、図示の如く大別して、画像入力部１０２ａとエッジ検出部１０２ｂと傾き検出部１０２ｃと原稿端検出部１０２ｄと直線作成部１０２ｅと傾き補正・切り出し部１０２ｆと画像出力部１０２ｇとを備える。
【００４５】
画像入力部１０２ａは、本発明における画像取得手段に相当するものであり、画像読取装置１００で読み取られた原稿に対応する原稿領域を含む画像を入力する（取り込む）。
【００４６】
エッジ検出部１０２ｂは、本発明におけるエッジ座標検出手段に相当するものであり、画像入力部１０２ａで入力した（取り込んだ）画像に基づいて、原稿領域のエッジを構成する画素の候補となるエッジ候補画素の座標値を検出する。エッジ検出部１０２ｂは、画像に含まれるノイズを除去しながらエッジ候補画素の座標値を検出してもよい。
【００４７】
傾き検出部１０２ｃは、本発明における傾き算出手段または傾き取得手段に相当するものであり、エッジ検出部１０２ｂで検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて原稿領域の傾きを算出する、または画像読取装置１００が備える所定のセンサ（図示せず）で検出された原稿領域の傾きを取得することで、原稿領域の傾きを検出する。傾き検出部１０２ｃは、エッジ候補画素の座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、エッジに対応する直線の候補となるエッジ候補直線を算出し、算出したエッジ候補直線に基づいて原稿領域の傾きを算出してもよい。また、傾き検出部１０２ｃは、エッジ候補画素の座標値に基づいて、エッジの連続性に関するエッジ連続性情報を算出し、算出したエッジ連続性情報に基づいて原稿領域の傾きを算出してもよい。また、傾き検出部１０２ｃは、エッジ候補画素の座標値に基づいて、隣り合うエッジの傾きに関する統計量を算出し、算出した統計量に基づいて原稿領域の傾きを算出してもよい。
【００４８】
原稿端検出部１０２ｄは、本発明におけるエッジ端座標抽出手段に相当するものであり、エッジ候補画素の座標値に基づいて、エッジの端（原稿領域の隅）に対応する画素の候補となるエッジ端候補画素の座標値を検出する。なお、原稿端検出部１０２ｄは、エッジ候補画素の座標値および傾き検出部１０２ｃで検出した原稿領域の傾きに基づいて、エッジ候補画素の座標値のうち最も外側にあるものをエッジ端候補画素の座標値として検出してもよい。また、原稿端検出部１０２ｄは、エッジ候補画素の座標値および傾き検出部１０２ｃで検出した原稿領域の傾きに基づいて、当該傾きに平行で且つエッジ候補画素を通る直線および当該傾きに水平で且つエッジ候補画素を通る直線を算出し、算出した直線の交点の座標値をエッジ端候補画素の座標値として検出してもよい。また、原稿端検出部１０２ｄは、エッジ候補画素の座標値および傾き検出部１０２ｃで検出した原稿領域の傾きに基づいて、エッジ候補画素の座標値を補正し、補正後のエッジ候補画素の座標値のうち最も外側にあるものをエッジ端候補画素の座標値として検出してもよい。
【００４９】
直線作成部１０２ｅは、本発明における直線算出手段に相当するものであり、傾き検出部１０２ｃで検出した原稿領域の傾きおよび原稿端検出部１０２ｄで検出したエッジ端候補画素の座標値に基づいて、エッジに対応する直線を作成する。
【００５０】
傾き補正・切り出し部１０２ｆは、本発明における傾き補正手段および／または領域切出手段に相当するものであり、直線作成部１０２ｅで作成したエッジに対応する直線に基づいて原稿領域を回転させることにより原稿領域の傾きを補正する、および／または直線作成部１０２ｅで作成したエッジに対応する直線に基づいて画像から原稿領域を切り出す。
【００５１】
画像出力部１０２ｇは、傾き補正・切り出し部１０２ｆで傾きを補正した後の原稿領域を含む画像や傾き補正・切り出し部１０２ｆで切り出した原稿領域を出力する。
【００５２】
エッジ記憶部１０４は、エッジ検出部１０２ｂで検出したエッジ候補画素の座標値や原稿端検出部１０２ｄで検出したエッジ端候補画素の座標値などのエッジに関する情報や、その他に各種のデータベースやテーブルやファイルなどを格納する。エッジ記憶部１０４は、ストレージ手段であり、例えばＲＡＭ・ＲＯＭ等のメモリ装置や、ハードディスクのような固定ディスク装置、フレキシブルディスク、光ディスク等を用いることができる。エッジ記憶部１０４には、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）と協働してＣＰＵに命令を与え各種処理を行うためのコンピュータプログラムが記録されている。
【００５３】
つぎに、画像読取装置１００の第２の構成の一例について図８を参照して説明する。図８は画像読取装置１００の第２の構成の一例を示すブロック図である。なお、上述した第１の構成と重複する部分の説明を省略する場合がある。
【００５４】
直線算出部１０２ｈは、本発明における傾き算出手段、エッジ端座標抽出手段および直線算出手段の少なくとも１つに含まれるものであり、エッジ候補画素の座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、エッジに対応する直線の候補となるエッジ候補直線を算出する。
【００５５】
直線判定部１０２ｉは、本発明における傾き算出手段、エッジ端座標抽出手段および直線算出手段の少なくとも１つに含まれるものであり、直線算出部１０２ｈで算出したエッジ候補直線の数が、エッジ数を上回る数であるか否かを判定する。
【００５６】
直線検証部１０２ｊは、本発明における傾き算出手段、エッジ端座標抽出手段および直線算出手段の少なくとも１つに含まれるものであり、直線判定部１０２ｉでの判定結果が“上回る数である”というものであった場合には、直線算出部１０２ｈで算出したエッジ候補直線を検証して、エッジ数分の適当なエッジ候補直線を選出する。
【００５７】
原稿端判別部１０２ｋは、本発明における傾き算出手段、エッジ端座標抽出手段および直線算出手段の少なくとも１つに含まれるものであり、直線検証部１０２ｊで選出したエッジ数分のエッジ候補直線に基づいて、仮の原稿領域の形状を認識する。原稿端判別部１０２ｋは、直線検証部１０２ｊで選出したエッジ数分のエッジ候補直線に基づいて、認識した仮の原稿領域の端に対応する画素の座標値を算出する。原稿端判別部１０２ｋは、算出した仮の原稿領域の端に対応する画素の座標値とエッジ検出部１０２ｂで検出したエッジ候補画素の座標値とを比較することで、エッジ候補画素と仮の原稿領域の端との位置関係（具体的には、エッジ候補画素が仮の原稿領域の端の外にあるか否か）を把握する。
【００５８】
直線補正部１０２ｍは、本発明における傾き算出手段、エッジ端座標抽出手段および直線算出手段の少なくとも１つに含まれるものであり、直線検証部１０２ｊで選出したエッジ数分のエッジ候補直線が最も外側にあるエッジ候補画素を通るように適宜平行移動させることで当該エッジ数分のエッジ候補直線を補正する。
【００５９】
原稿判定部１０２ｎは、画像読取装置１００で読み取られた原稿の状態を判定する。
【００６０】
［３．本実施の形態の処理］
つぎに、画像読取装置１００が行うメイン処理（第１のメイン処理、第２のメイン処理）の一例について、図９および図１０を参照して説明する。まずは、制御部１０２が行う第１のメイン処理の一例について図９を参照して説明する。図９は第１のメイン処理の一例を示すフローチャートである。
【００６１】
［ステップＳＡ−１］画像読取装置１００が例えば長方形の原稿を読み取り、当該原稿に対応する原稿領域を含む画像データを生成すると、画像入力部１０２ａは、生成した画像データを取り込む。
【００６２】
［ステップＳＡ−２］エッジ検出部１０２ｂは、ステップＳＡ−１で取り込んだ画像データに基づいて、エッジ候補画素の座標値を、エッジ毎に分類しながら検出する。そして、エッジ検出部１０２ｂは、検出したエッジ候補画素の座標値と当該エッジ候補画素が属するエッジを識別するためのエッジ識別情報（具体的にはエッジに付けた名称やＩＤなど）とを相互に関連付けてエッジ記憶部１０４の所定の記憶領域に格納する。
【００６３】
［ステップＳＡ−３］傾き検出部１０２ｃは、ステップＳＡ−２で検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、エッジに対応する直線の候補となるエッジ候補直線を算出する。そして、傾き検出部１０２ｃは、算出した当該エッジ候補直線に基づいて、原稿領域の傾き（傾角）を算出する。
【００６４】
［ステップＳＡ−４］原稿端検出部１０２ｄは、ステップＳＡ−２で検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて、ステップＳＡ−３で算出した傾角に対して最も外側に位置する点（画素）の座標値を各エッジから少なくとも１つ選出する。これにより、原稿端検出部１０２ｄは、計４つのエッジから、少なくとも計４つの画素の座標値を選出する。
【００６５】
［ステップＳＡ−５］直線作成部１０２ｅは、ステップＳＡ−３で算出した傾角に平行な２つの直線および傾角に垂直な２つの直線の計４つの直線であってステップＳＡ−４で選出した４つの画素を通過するものを算出する。これにより、原稿領域のエッジに対応する４つの直線を算出する。
【００６６】
［ステップＳＡ−６］傾き補正・切り出し部１０２ｆは、ステップＳＡ−５で算出した４つの直線およびステップＳＡ−３で算出した傾角に基づいて、原稿領域を回転させることにより、当該原稿領域の傾きを補正する。また、傾き補正・切り出し部１０２ｆは、ステップＳＡ−５で算出した４つの直線に基づいて、画像データから原稿領域を切り出す。
【００６７】
以上、制御部１０２が行う第１のメイン処理の説明を終了する。
【００６８】
つぎに、制御部１０２が行う第２のメイン処理の一例について図１０を参照して説明する。図１０は第２のメイン処理の一例を示すフローチャートである。
【００６９】
［ステップＳＢ−１］画像読取装置１００が例えば長方形の原稿を読み取り、当該原稿に対応する原稿領域を含む画像データを生成すると、画像入力部１０２ａは、生成した画像データを取り込む。
【００７０】
［ステップＳＢ−２］エッジ検出部１０２ｂは、ステップＳＢ−１で取り込んだ画像データに基づいて、エッジ候補画素の座標値を、エッジ毎に分類しながら検出する。そして、エッジ検出部１０２ｂは、検出したエッジ候補画素の座標値と当該エッジ候補画素が属するエッジを識別するためのエッジ識別情報（具体的にはエッジに付けた名称やＩＤなど）とを相互に関連付けてエッジ記憶部１０４の所定の記憶領域に格納する。
【００７１】
［ステップＳＢ−３］直線算出部１０２ｈは、ステップＳＢ−２で検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて、ハフ変換や最小二乗法などの所定の手法により、エッジに対応する直線の候補となるエッジ候補直線を算出する。そして、直線判定部１０２ｉは、算出したエッジ候補直線の数が、エッジ数４つを上回る５つ以上であるか否かを判定する。そして、その判定結果が“５つ以上である”というものであった場合には、直線検証部１０２ｊは、算出した５つ以上のエッジ候補直線を検証して、適当な４つのエッジ候補直線を選出する。
【００７２】
［ステップＳＢ−４］原稿端判別部１０２ｋは、ステップＳＢ−３で選出した４つのエッジ候補直線に基づいて、仮の原稿領域の形状を認識する。そして、原稿端判別部１０２ｋは、ステップＳＢ−３で選出した４つのエッジ候補直線に基づいて、認識した仮の原稿領域の端に対応する画素の座標値を算出する。
【００７３】
［ステップＳＢ−５］原稿端判別部１０２ｋは、ステップＳＢ−４で算出した仮の原稿領域の端に対応する画素の座標値とステップＳＢ−２で検出したエッジ候補画素の座標値とを比較することで、エッジ候補画素と仮の原稿領域の端との位置関係を把握する。
【００７４】
［ステップＳＢ−６］制御部１０２は、ステップＳＢ−１で取り込んだ画像データに基づいて、原稿領域と裏当て領域との濃度差が大きいか否かを判定する。そして、その判定結果が“濃度差が大きい”というものであった場合（ステップＳＢ−６：Ｙｅｓ）には、制御部１０２で行う処理はステップＳＢ−７の処理へ進み、そうでなかった場合（ステップＳＢ−６：Ｎｏ）には制御部１０２で行う処理はステップＳＢ−１０の処理へ進む。
【００７５】
［ステップＳＢ−７］ステップＳＢ−５での比較の結果、“エッジ候補画素が仮の原稿領域の端の外にある”と判定された場合（ステップＳＢ−７：Ｙｅｓ）には、制御部１０２で行う処理はステップＳＢ−８の処理へ進む。なお、ステップＳＢ−５での比較の結果、“エッジ候補画素が仮の原稿領域の端の外にある”と判定されなかった場合（ステップＳＢ−７：Ｎｏ）には、ステップＳＢ−３で選出した４つのエッジ候補直線を、エッジに対応する直線として認定する。
【００７６】
［ステップＳＢ−８］直線補正部１０２ｍは、ステップＳＢ−３で選出した４つのエッジ候補直線が最も外側にあるエッジ候補画素を通るように適宜平行移動させることで、当該４つのエッジ候補直線を補正する。補正後の４つのエッジ候補直線を、エッジに対応する直線として認定する。
【００７７】
［ステップＳＢ−９］傾き補正・切り出し部１０２ｆは、ステップＳＢ−７またはステップＳＢ−８でエッジに対応する直線として認定された４つのエッジ候補直線に基づいて、原稿領域を回転させることにより、当該原稿領域の傾きを補正する。また、傾き補正・切り出し部１０２ｆは、ステップＳＢ−７またはステップＳＢ−８でエッジに対応する直線として認定された４つのエッジ候補直線に基づいて、画像データから原稿領域を切り出す。
【００７８】
［ステップＳＢ−１０］原稿判定部１０２ｎは、画像読取装置１００で読み取られた原稿の状態を判定する。
【００７９】
［ステップＳＢ−１１］制御部１０２は、ステップＳＢ−１０での判定結果を通知する。
【００８０】
［ステップＳＢ−１２］ステップＳＢ−１１で通知した判定結果が“原稿状態に異常なし”というものであった場合（ステップＳＢ−１２：Ｙｅｓ）には、制御部１０２で行う処理は、ステップＳＢ−７の処理へ進み、そうでなかった場合（ステップＳＢ−１２：Ｎｏ）にはステップＳＢ−１３の処理へ進む。
【００８１】
［ステップＳＢ−１３］制御部１０２は、原稿の停止、移動、分離を行う。そして、制御部１０２で行う処理は、ステップＳＢ−７の処理へ進む。
【００８２】
以上、制御部１０２が行う第２のメイン処理の説明を終了する。
【００８３】
［４．本実施の形態のまとめ、および他の実施の形態］
以上、詳細に説明したように、画像処理装置１００によれば、（１１）原稿領域を含む画像を取得し、（１２）取得した画像に基づいてエッジ候補画素の座標値を検出し、（１３）検出したエッジ候補画素の座標値に基づいて原稿領域の傾きを算出し、（１４）検出したエッジ候補画素の座標値に基づいてエッジ端候補画素の座標値を抽出し、（１５）算出した原稿領域の傾きおよび抽出したエッジ端候補画素の座標値に基づいて、エッジに対応する直線を算出し、（１６）算出したエッジに対応する直線に基づいて原稿領域の傾きを補正すると共に当該直線に基づいて画像から原稿領域を切り出す。
【００８４】
これにより、原稿領域と裏当て部との濃度差（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差）が小さい場合であっても、処理速度を低下させず且つメモリの使用量を増やさずに、原稿領域のエッジを精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングも精度よく行うことができる。
【００８５】
また、画像処理装置１００によれば、（２１）原稿領域を含む画像を取得し、（２２）取得した画像に基づいてエッジ候補画素の座標値を検出し、（２３）検出したエッジ候補画素の座標値に基づいてエッジ候補直線を算出し、（２４）算出したエッジ候補直線の数がエッジ数を上回るか否かを判定し、（２５）その判定結果が“上回る”というものであった場合には算出したエッジ候補直線を検証してエッジ数分の適当なエッジ候補直線を選出し、（２６）選出したエッジ候補直線に基づいて仮の原稿領域の形状を認識し、認識した仮の原稿領域の端に対応する画素の座標値を算出し、（２７）算出した仮の原稿領域の端に対応する画素の座標値と検出したエッジ候補画素の座標値とを比較することで、エッジ候補画素と仮の原稿領域の端との位置関係を把握し、（２８）比較の結果、“エッジ候補画素が仮の原稿領域の端の外にある”と判定された場合には、選出したエッジ候補直線が最も外側にあるエッジ候補画素を通るように適宜平行移動させることで当該エッジ候補直線を補正し、補正後の４つのエッジ候補直線をエッジに対応する直線として認定し、（２９）エッジに対応する直線として認定されたエッジ候補直線に基づいて原稿領域の傾きを補正すると共に、当該直線に基づいて画像データから原稿領域を切り出す。
【００８６】
これにより、原稿領域と裏当て部との濃度差（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差）が小さい場合であっても、処理速度を低下させず且つメモリの使用量を増やさずに、原稿領域のエッジを精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングも精度よく行うことができる。また、原稿領域と裏当て部との濃度差（具体的には原稿領域のエッジと裏当て部との濃度差）が小さい場合であっても、原稿領域のエッジの端をより正確に抽出することや原稿領域の傾きをより正確に算出することができ、布いては原稿領域のエッジをさらに精度よく認識することができ、その結果、デスキューやクロッピングもさらに精度よく行うことができる。
【００８７】
さらに、本発明は、上述した実施の形態以外にも、特許請求の範囲に記載した技術的思想の範囲内において種々の異なる実施の形態にて実施されてよいものである。例えば、本実施の形態において説明した各処理のうち、自動的に行なわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的に行うこともでき、手動的に行なわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的に行うこともできる。また、この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種の情報、画面例およびデータベース構成については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【００８８】
また、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の付加等に応じて又は機能負荷に応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。
【００８９】
また、図示の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。例えば、画像読取装置１００に含まれる各部が備える処理機能については、その全部または任意の一部をＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解釈実行されるプログラムにて実現してもよく、またワイヤードロジックによるハードウェアとして実現してもよい。なお、プログラムは、後述する記録媒体に記録されており、必要に応じて画像読取装置１００に機械的に読み取られる。
【００９０】
また、画像読取装置１００に含まれるＲＯＭやＨＤなどの記憶装置には、ＯＳと協働してＣＰＵに命令を与え各種処理を行うためのコンピュータプログラムが記録されている。このコンピュータプログラムは、ＲＡＭ等にロードされることによって実行され、画像読取装置１００に含まれる各装置の機能をＣＰＵと協働して実現する。また、このコンピュータプログラムは、任意のネットワークを介して接続されたアプリケーションプログラムサーバに記録されてもよく、必要に応じてその全部または一部をダウンロードすることも可能である。また、このプログラムを、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に格納することもできる。ここで、「記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等の任意の「可搬用の物理媒体」や、各種コンピュータシステムに内蔵されるＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤ等の任意の「固定用の物理媒体」、あるいは、ＬＡＮ、ＷＡＮ、インターネットに代表されるネットワークを介してプログラムを送信する場合の通信回線や搬送波のように、短期にプログラムを保持する「通信媒体」を含むものとする。「プログラム」とは、任意の言語や記述方法にて記述されたデータ処理方法であり、ソースコードやバイナリコード等の形式を問わない。なお、「プログラム」は必ずしも単一的に構成されるものに限られず、複数のモジュールやライブラリとして分散構成されるものや、ＯＳに代表される別個のプログラムと協働してその機能を達成するものをも含む。なお、本実施の形態に示した各装置において記録媒体を読み取るための具体的な構成、読み取り手順、あるいは、読み取り後のインストール手順等については、周知の構成や手順を用いることができる。
【産業上の利用可能性】
【００９１】
以上のように、本発明にかかる画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラムは、産業上の多くの分野、特にスキャナで読み取った画像に関する画像処理分野で実施することができ、極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
【００９２】
【図１】本発明の概要を示す図である。
【図２】本発明の概要を示す図である。
【図３】本発明の概要を示す図である。
【図４】本発明におけるノイズ除去手法に関する概要を示す図である。
【図５】本発明におけるノイズ除去手法に関する概要を示す図である。
【図６】本発明におけるノイズ除去手法に関する概要を示す図である。
【図７】画像処理装置１００の第１の構成の一例を示すブロック図である。
【図８】画像処理装置１００の第２の構成の一例を示すブロック図である。
【図９】第１のメイン処理の一例を示すフローチャートである。
【図１０】第２のメイン処理の一例を示すフローチャートである。
【図１１】従来技術の一例を示す図である。
【図１２】従来技術の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００９３】
１００  画像読取装置
１０２  制御部
１０２ａ  画像入力部
１０２ｂ  エッジ検出部
１０２ｃ  傾き検出部
１０２ｄ  原稿端検出部
１０２ｅ  直線作成部
１０２ｆ  傾き補正・切り出し部
１０２ｇ  画像出力部
１０２ｈ  直線算出部
１０２ｉ  直線判定部
１０２ｊ  直線検証部
１０２ｋ  原稿端判別部
１０２ｍ  直線補正部
１０２ｎ  原稿判定部
１０４  エッジ記憶部
【図１】
0005002497.tif 000002
【図２】
0005002497.tif 000003
【図３】
0005002497.tif 000004
【図４】
0005002497.tif 000005
【図５】
0005002497.tif 000006
【図６】
0005002497.tif 000007
【図７】
0005002497.tif 000008
【図８】
0005002497.tif 000009
【図９】
0005002497.tif 000010
【図１０】
0005002497.tif 000011
【図１１】
0005002497.tif 000012
【図１２】
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