(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線によって試料を照射するためのＸ線源と、
上記試料から発するＸ線を検出するためのＸ線検出器と、
上記試料と上記Ｘ線検出器との間のビーム路に配置され、反射角度範囲αｍａｘを有する放物面多層鏡と、
上記放物面多層鏡の焦点の領域に配置される第１のコリメータとを含む、試料をＸ線分析するための装置であって、
上記第１のコリメータは、上記多層鏡の上記反射点から異なる距離で配置される２つの互いに平行なナイフエッジによって形成され、上記多層鏡の各反射点から通路幅に対し略等しい角度値を有するよう配置され、
上記角度値は、上記多層鏡の各反射点から見たときに、上記反射角度範囲αｍａｘよりも小さいことを特徴とする装置。
【請求項２】
上記多層鏡の表面から見たときの上記第１のコリメータの上記通路幅に対する上記角度値は調節可能であり、上記第１のコリメータの上記ナイフエッジは、上記第１のコリメータを通るビーム路の方向を横断するような方向への移動によって互いに対し移動可能である請求項１記載の装置。
【請求項３】
上記試料と上記Ｘ線検出器との間のビーム路に調節可能な第２のコリメータが設けられ、上記第２のコリメータは、通路幅を画成する２つのナイフエッジにより形成されるコリメータスリットとして形作られ、上記第２のコリメータのナイフエッジは、上記第２のコリメータを通るビーム路の方向の移動によって互いに対し移動可能である請求項１乃至２のうちいずれか一項記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線によって試料を照射するためのＸ線源と、試料から発するＸ線を検出するためのＸ線検出器と、試料と検出器との間のビーム路に配置され、関連の反射角範囲αｍａｘを有する放物面多層鏡と、方物面多層鏡の焦点の領域に配置される第１のコリメータとを含む、試料のＸ線分析のための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線分析のための装置、例えば、蛍光Ｘ線又はＸ線回折のための装置において、試料は、一般的に従来のＸ線管であるＸ線源から発生するＸ線によって照射される。時として、試料に入射する放射線をできるだけ並行にすることが重要である。つまり、Ｘ線ビーム内の放射線の様々な方向が互いに対し小さな角度のみをなすことが保証されることが重要である。これにより、測定は実質的に試料の形状の偏り（例えば、Ｘ線粉末回折の場合、入射ビームに面する試料面は高い度合いで平らである必要がない）、試料による場所に依存するＸ線吸収、及び、試料の全体としての場所の偏りに対し影響を受けないようにされる。更に、Ｘ線の入射角度が好適に決められる。これは高い分解能を有するＸ線回折の場合に特に重要である。
【０００３】
１９９９年の１０月、「Materials Worlds」に発表された「Modern X-ray mirrors for perfect parallel beams」（６１６乃至６１８頁）の記事から、Ｘ線源から発生するＸ線を方物面多層鏡によって並行及び単色にし、並行単色ビームによって分析されるべき試料を照射することが公知である。試料から発生する放射線は別の方物面多層鏡に入射し、この方物面多層鏡はＸ線検出器の前に配置されるコリメータスリットの方向に放射線を反射させ、また、反射されたビームから望ましくない波長が取り除かれることを保証する。上述のコリメータスリットは別の方物面多層鏡の焦点の領域に設けられる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、引用された記事から公知である配置によって得られる分解能よりも良好である分解能を実現することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
この為に、本発明のＸ線分析装置は、第１のコリメータが多層鏡の各反射点から角度通路幅に対し略等しい角度値を有するように配置され、上記角度値は多層鏡の各反射点から見たときに最大反射角度範囲αｍａｘよりも小さいことを特徴とする。
【０００６】
本発明は以下の見識に基づいている。Ｘ線用の多層鏡は反射角度の限られた範囲αｍａｘのみを有する。実際の多層鏡では、この範囲は０．０５°の大きさのオーダの値を有する場合がある。方物面多層鏡が焦点距離Ｆを有すると、これは、角度広がりαｍａｘを有する入射準並行ビームは、幅Ｆ＊αｍａｘで放物線の焦点の付近でイメージ化されることを意味する。コリメータの通路幅がこのイメージの幅よりも大きいと、そのような通路幅は装置の分解能に影響を与えない。
【０００７】
しかし、そのような通路幅はバックグランド放射線の除去に影響を与える。第１のコリメータに入射するＸ線は試料から発する所望の放射線と望ましくない放射線とから構成される。所望される放射線とは、試料から所望の角度で発する放射線のことである。望ましくない角度で試料及び環境から発生する他の全ての放射線（バックグランド放射線）は第１のコリメータによってできる限り止められなければならない。
【０００８】
通路幅が上記イメージの幅より小さくなるよう選択されると、イメージ内にある放射線の一部が遮断される。これは、例えば１つの同じ場所に配置される２つのフラットナイフエッジによって形成される通常のコリメータによって行われる。ナイフエッジは互いから所与の距離が置かれて配置され、それにより所与のスリット幅を有するスリット状の通路開口部が形成される。この幅に対応する角度の広がりを有し、多層鏡に入射する放射線は従って遮断され、これにより角度範囲が上記最大角度範囲αｍａｘよりも小さくなるよう選択されることが可能であり、従って装置の角度分解能が高められる。
【０００９】
しかし、分解能が高められることの可能性は、多層鏡の各反射点が上記イメージの異なる大きさを形成する場合、制限されてしまう。この場合、分解能はもはや好適には決められることができず、更に、重要な度合いで焦点から最も離れて配置される点によって決められてしまう。これは、イメージの大きさは、そのような点に対し当該の反射領域とイメージの領域との間の距離に比例するからである。第１のコリメータは、多層鏡の各反射点から通路幅に対し略等しい角度値を有するよう配置されるので、従って各反射点は装置の分解能に同じように貢献する。
【００１０】
本発明の実施例において、反射鏡の表面から見たときの第１のコリメータの通路幅に対する角度値は調節可能である。この実施例は多層鏡の全体の領域が等しい分解能を提供するという利点のみならず、装置の特性が測定状況に適応される、或いは、コリメータが装置内に配置され得る異なる多層鏡に適応され得るという利点も提供する。
【００１１】
本発明の更なる実施例において、第１のコリメータは多層鏡の反射点から異なる距離で配置される２つの互いに並行なナイフエッジから形成される。この実施例は単純に製造され得、また、所望される場合は、調節可能となるよう直ぐに構成され得る。
【００１２】
本発明の更なる実施例では、コリメータのナイフエッジは、コリメータを通るビーム路の方向を横断するような方向への移動によって互いに対し移動可能である。コリメータの通路幅、従って、装置の分解能は、コリメータスリットを反射面の様々な点から見たときの角度値に関し逸脱をもたらすことなく制御される。
【００１３】
本発明の更なる実施例には、試料と検出器との間のビーム路に配置される第２の調節可能なコリメータが設けられる。この段階は、試料に入射するビームと試料から発するビームとの間の角度が小さい値を有する場合に特に重要である。このような場合では、試料に入射するビームの断面が試料よりも大きくなることが直ぐに生じることがある。この場合、試料から発する放射エネルギーの量は入射角度及び試料の形状に依存し、強度測定においてこれは補正することが困難な状況となる。補正は、このような装置に使用されるデータ処理コンピュータプログラムによっても好適に行われることができない。従って、この分析Ｘ線装置における問題を補正するよう入射ビーム内にビーム制限要素を配置することが既知であるが、多くの場合この為に必要となる空間が得られない。コリメータを外に向かうビーム内に配置しコリメータの通路幅を入射角度に適応させることにより、検出器が常に試料の決められた部分を「知覚する」ことが保証され、それにより既知となる補正ファクタがデータ処理コンピュータプログラムに得られる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
本発明を、図面を参照し以下に詳細に説明する。図中、対応する要素は対応する参照符号によって示される。
【００１５】
図１は、２つの方物面多層鏡を有するＸ線分析のための既知の配置を示す。この配置は特にＸ線回折に特に好適である。この配置は、この配置によって分析されるべき試料４を照射するＸ線源２を含む。試料に入射する放射線６をできる限り並行にするために、放射線を並行にする装置がＸ線源と試料との間のビーム路に配置され、本実施例では、上記装置はＸ線反射のための多層鏡８である。この多層鏡の反射面は点線１０によって示されるように放物線状である。多層鏡の表面に設けられる反射層は場所に依存する厚さを有し、それによりいわゆる序所に厚みが変化する多層鏡が得られる。（平面的に考えると点状であり、立体的に考えると図の平面に対し垂直である線上の）放射源によって鏡が照射されると、多層鏡の各点においてブラッグ反射条件が満たされ、その結果、多層鏡に対し大きい反射面が得られるよう徐々に厚みが変化される。
【００１６】
Ｘ線が試料４で回折する後、Ｘ線１２の互いに並行であるビームが試料から主に放射される。しかし、Ｘ線が試料及びその付近と相互作用することにより、優勢的である並行の方向以外の方向で試料から放射されるビームが生じる可能性がある。このようにずれた方向を有するＸ線は通常、測定の精度に影響を与える。
従って、ビーム１２からずれたビームを取り除くことが試みられる。この為に、Ｘ線反射のための更なる多層鏡１４が、試料４とＸ線検出器１６との間のビーム路に配置される。多層鏡８と同様に、多層鏡１４は、破線１８によって示されるようにその表面が方物線状であり、徐々に厚みが変化する多層鏡として構成される。
【００１７】
多層鏡８及び１４の方物線状であることにより、Ｘ線源２から放射されるＸ線は、試料４に到達する前に略並行なビームに変換され、また、試料の後に、多層鏡１４の焦点２０の中に焦点を有する収束ビームに再び変換される。
【００１８】
図２は、本発明のＸ線分析のための配置の詳細を示す。図中の多数の補助線２４ａ、２４ｂ、２６ａ、及び２６ｂは、多層鏡の各反射点からコリメータの通路幅に対し略等しい角度値が得られることを示す（尚、分かりやすくするために、補助線は多層鏡１４から発するＸ線ビームのＸ線を示すものではなく、点Ａ及び点Ｂから見たときのコリメータスリット２８の通路幅に対する角度値の角度の境界のみを示す）。図２に示される実施例では、コリメータは多層鏡の反射点から異なる距離で配置される２つのナイフエッジから形成されるコリメータスリットとして形作られる。当該の反射点（例えば点Ｂ）とコリメータ２８の通路幅の中心３２との間を上記距離として考えることが可能であり、例えば或る長さの線セグメント３０として示される。反射に関与する多層鏡１４の表面の点に対し通路幅の角度値γ又はδが略一定となる状態は、上記距離を適当に異なるよう選択することによって達成される（分かりやすくするために、図２中の表面の反射部分は実際の状態に対応する値よりもかなり大きく示される）。
【００１９】
高められた分解能の所望の効果は、第１のコリメータの通路幅の角度値（γ又はδ）が、多層鏡の反射点から見たときに、反射の最大角度範囲αｍａｘよりも小さいときに達成される。実際の多層鏡における最大角度範囲の値は０．０５°の大きさのオーダなので、図２中の角度γ及びδはかなり強調されているものであることが明らかであろう。
【００２０】
コリメータのナイフエッジは、コリメータを通るビーム路の方向に対し横断するような方向において互いに対し図中には示されない方法で移動可能である。コリメータの通路幅、従って、装置の分解能は、コリメータスリットを反射面の様々な点から見たときの角度値に関し逸脱をもたらすことなく制御される。
【００２１】
図３は本発明の更なる実施例を示す図である。図２と同様に、図３中のコリメータ２８は多層鏡の反射点から異なる距離で配置される２つのナイフエッジから形成されるコリメータスリットとして形作られ、それにより、多層鏡のどの反射点から見ても通路幅の等しい角度値が得られる。図３に示される装置には、試料４とＸ線検出器１６との間のビーム路に第２のコリメータ３４が更に設けられる。第２のコリメータ３４は、ナイフエッジがコリメータを通るビーム路の方向で互いに対し移動可能であることによって（図示されない方法で）調整可能である。検出器は、通路幅が試料に入射する放射線の角度に適応されると、常に試料の決められた部分を知覚する。
【図面の簡単な説明】
【図１】２つの方物面多層鏡を有するＸ線分析のための公知の配置を示す図である。
【図２】本発明のＸ線分析のための配置の詳細を示す図である。
【図３】本発明の更なる実施例を示す図である。
【符号の説明】
２  Ｘ線源
４  試料
６、１２  放射線
８、１４  多層鏡
１０、１８  方物面
１６  Ｘ線検出器
２０  焦点
２２、２８  第１のコリメータ
２４ａ、２４ｂ、２６ａ、２６ｂ  補助線
３２  コリメータの通路幅の中心
３４  第２のコリメータ
【図１】
0004868660.tif 000002
【図２】
0004868660.tif 000003
【図３】
0004868660.tif 000004