(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品と、レーザ光の透過性が低い第２樹脂部品とを当接させ、
前記第１樹脂部品の外側からレーザ光を前記第２樹脂部品との当接面に走査しながら照射して、第１樹脂部品と第２樹脂部品をレーザ溶着するレーザ溶着部品の製造方法であって、
予め検査レーザ光を前記第１樹脂部品に走査しながら照射して、該第１樹脂部品内に存在する異物による温度上昇を検出し、該第１樹脂部品の良否を判定することを特徴とするレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項２】
前記第２樹脂部品に当接させていない単独の前記第１樹脂部品に前記検査レーザ光を照射して、該第１樹脂部品の良否を判定することを特徴とする請求項１に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項３】
前記検査レーザ光が、レーザ溶着時より弱い強度のレーザ光であり、
前記第２樹脂部品に当接させた状態にある前記第１樹脂部品に前記検査レーザ光を照射して、該第１樹脂部品の良否を判定することを特徴とする請求項１に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項４】
前記温度上昇の検出手段が、放射温度計であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項５】
前記温度上昇の検出手段が、マトリックス状に配置された熱電対であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項６】
前記第１樹脂部品の良否を判定するにあたって、
前記検査レーザ光の走査時における前記第１樹脂部品の温度の時間依存性から前記温度の時間微分を算出し、該温度の時間微分の値により第１樹脂部品の良否を判定することを特徴とする求項１乃至５のいずれか一項に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項７】
前記検査レーザ光照射後の前記第１樹脂部品の状態変化を測定して、該第１樹脂部品内に存在する異物による温度上昇を検出し、該第１樹脂部品の良否を判定することを特徴とする請求項２に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項８】
前記第１樹脂部品が、円筒状であり、
該円筒状の第１樹脂部品を中心軸の周りに回転させながら、前記検査レーザ光を照射することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか一項に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項９】
前記レーザ溶着部品が、被検出体の回転に伴うバイアス磁界の変化を磁気検出素子により測定して被検出体の回転状態を検出する、回転検出装置の構成部品であって、
前記第１樹脂部品が、一方の端部が閉じた円筒状のハウジング部品であり、
前記第２樹脂部品が、前記磁気検出素子を搭載する保持部を有し、前記ハウジング部品のもう一方の端部の開口を蓋する円柱状に形成されたキャップ部品であることを特徴とする請求項８に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【請求項１０】
前記レーザ溶着部品が、車載用の回転検出装置の構成部品であることを特徴とする請求項９に記載のレーザ溶着部品の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品を当接させてレーザ溶着する、レーザ溶着部品の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品を当接させてレーザ溶着するレーザ溶着部品が、例えば、特開２００６−２７５６３９号公報（特許文献１）に開示されている。
【０００３】
図７は、特許文献１に開示された回転検出装置１００の模式的な断面図である。図７の回転検出装置１００は、磁性体からなるロータ（被検出体）１の回転に伴うバイアス磁界の変化を磁気検出素子３０により測定して、ロータ１の回転状態を検出する。
【０００４】
図７の回転検出装置１００において、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品が、一方の端部が閉じた円筒状のハウジング部品４０であり、レーザ光の透過性が低い第２樹脂部品が、磁気検出素子３０を搭載する保持部５０ｈを有し、ハウジング部品４０のもう一方の端部の開口を蓋する円柱状に形成されたキャップ部品５０である。
【０００５】
図７の回転検出装置１００では、バイアス磁界を発生する（永久）磁石２０と、保持部５０ｈに搭載された磁気検出素子３０とが、一方の端部が閉じた円筒状のハウジング部品４０内に挿入配置されている。ハウジング部品４０のもう一方の端部における開口は、円柱状に形成されたキャップ部品５０で蓋され、磁石２０が、ハウジング部品４０の一方の閉じた端部とキャップ部品５０の先端に接して固定されている。ハウジング部品４０の円筒内周面とキャップ部品５０の円柱外周面の所定部分は、レーザ溶着されて、溶着部６０が形成されている。回転検出装置１００では、ハウジング部品４０とキャップ部品５０はレーザ溶着されるため、残留応力が発生し難く、経時変化も起き難い。これによって、回転検出装置１００は、高感度で高い精度を有する回転検出装置とすることができる。
【特許文献１】特開２００６−２７５６３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
図８は、図７の回転検出装置１００の製造時における問題点を説明する図で、図８（ａ），（ｂ）は、それぞれ、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品（ハウジング部品）４０とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品（キャップ部品）５０のレーザ溶着時における途中過程の様子を模式的に示した図である。レーザ溶着時の様子を分かり易くするため、図８は、レーザ溶着する第１樹脂部品４０と第２樹脂部品５０の円筒状の当接面Ｓを、該当接面Ｓの円周に沿って展開した図となっている。尚、図８に示した各部の符号は、図７に示した回転検出装置１００における同等の部分に対応している。
【０００７】
また、図９は、上記レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品４０とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品５０について、レーザ光の透過率の一例を示す図である。図９の第１樹脂部品４０は、第２樹脂部品５０に対して、約２倍のレーザ光の透過率を有している。
【０００８】
図７の回転検出装置１００における第１樹脂部品４０と第２樹脂部品５０のレーザ溶着では、十分な溶着強度を確保するだけでなく、溶着部６０の内部の機密性が確保されることが好ましい。また、外観上も異常があってはならない。
【０００９】
ここで、図８（ａ）に示すように第１樹脂部品４０内に異物４０ｉが存在すると、レーザ光の走査が達した時点で、第１樹脂部品４０と第２樹脂部品５０の当接面Ｓにエネルギが届かず、異物４０ｉで発熱が生じ、第１樹脂部品４０と第２樹脂部品５０の当接面Ｓで溶着部６０が形成されなくなる。該異物４０ｉとして、例えば、第１樹脂部品４０のペレット材を入れる袋や作業者から発生する繊維屑、あるいはペレット材の成型過程で発生する樹脂屑や金属屑等がある。図８（ｂ）に示すように、レーザ光が異物４０ｉを通り過ぎた後では、第１樹脂部品４０の表面で焦げ４０ｋが発生し、第１樹脂部品４０と第２樹脂部品５０の当接面Ｓで溶着部６０が形成されなくなる。従って、図８に示すようなレーザ光の走査範囲において異物４０ｉが存在する第１樹脂部品４０では、十分な溶着強度や機密性を確保することができず、外観上にも異常が見られるようになる。
【００１０】
図８（ｂ）に示すように、外観上に焦げ４０ｋ等の異常が見られるようになると、レーザ溶着後の検査で不良品を除去することが可能であるが、異物４０ｉが小さい場合には、レーザ溶着後の外観に異常が見られない場合でも、溶着強度が十分でない可能性がある。上記可能性を排除するために、成形後の第１樹脂部品４０におけるレーザ光の走査範囲で、光学顕微鏡により、異物４０ｉの検査が実施されている。しかしながら、小さな異物４０ｉまで検出する必要があり、作業性が悪く、検査の精度も良くない。
【００１１】
そこで本発明は、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品を当接させてレーザ溶着するレーザ溶着部品の製造方法であって、レーザ溶着に異常をもたらす第１樹脂部品内の異物の有無を容易に検出して、該第１樹脂部品の良否を正確に判定することのできるレーザ溶着部品の製造方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１に記載の発明は、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品と、レーザ光の透過性が低い第２樹脂部品とを当接させ、前記第１樹脂部品の外側からレーザ光を前記第２樹脂部品との当接面に走査しながら照射して、第１樹脂部品と第２樹脂部品をレーザ溶着するレーザ溶着部品の製造方法であって、予め検査レーザ光を前記第１樹脂部品に走査しながら照射して、該第１樹脂部品内に存在する異物による温度上昇を検出し、該第１樹脂部品の良否を判定することを特徴としている。
【００１３】
上記レーザ溶着部品の製造方法によれば、予め検査レーザ光を用いて第１樹脂部品の良否を判定しているため、後のレーザ溶着工程において、第１樹脂部品内の異物を原因とするレーザ溶着不良を防止することができる。
【００１４】
また、検査レーザ光を第１樹脂部品に走査しながら照射し、異物に該検査レーザ光が当たった時の局所発熱による温度上昇を検出して第１樹脂部品の良否を判定する上記第１樹脂部品の検査方法は、従来の光学顕微鏡による異物の検査方法と較べて、作業性が良い。また、上記第１樹脂部品の検査方法は、実際のレーザ溶着工程に近い方法であり、従来の光学顕微鏡による検査方法と較べて、異物の検査精度やレーザ溶着時における不良発生予測確度も高めることができる。
【００１５】
以上のようにして、上記レーザ溶着部品の製造方法は、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品を当接させてレーザ溶着するレーザ溶着部品の製造方法であって、レーザ溶着に異常をもたらす第１樹脂部品内の異物の有無を容易に検出して、該第１樹脂部品の良否を正確に判定することのできるレーザ溶着部品の製造方法とすることができる。
【００１６】
上記レーザ溶着部品の製造方法では、例えば請求項２に記載のように、前記第２樹脂部品に当接させていない単独の前記第１樹脂部品に前記検査レーザ光を照射して、該第１樹脂部品の良否を判定することが好ましい。これによってレーザ溶着時に不良発生確度の高い異物の存在する第１樹脂部品を効率的に排除し、良品のみを第２樹脂部品と組み付けることができる。これによって、組み付け工数の無駄をなくすことができる。
【００１７】
一方、請求項３に記載のように、前記検査レーザ光を、レーザ溶着時より弱い強度のレーザ光とし、前記第２樹脂部品に当接させた状態にある前記第１樹脂部品に前記検査レーザ光を照射して、該第１樹脂部品の良否を判定するようにしてもよい。この場合には、例えば同じレーザ照射装置を用いて、上記検査レーザ光の照射による判定直後のそのままの状態で、実際のレーザ溶着を実施することができる。
【００１８】
上記レーザ溶着部品の製造方法における前記温度上昇の検出手段は、請求項４に記載のように、放射温度計とすることが好ましい。上記放射温度計は、例えば１個の赤外線センサであってもよいし、複数個の赤外線センサをマトリックス状に並べた赤外線カメラであってもよい。上記温度上昇の検出手段として放射温度計を用いる場合、該放射温度計を第１樹脂部品と離れて設置できるため、任意形状の第１樹脂部品に対応可能である。
【００１９】
一方、請求項５に記載のように、前記温度上昇の検出手段を、マトリックス状に配置された熱電対とすることも可能である。この場合には、検査レーザ光の入射方向と反対側の第１樹脂部品の裏面側に、該マトリックス状に配置された熱電対を設置する。
【００２０】
上記レーザ溶着部品の製造方法において、前記第１樹脂部品の良否を判定するにあたっては、請求項６に記載のように、前記検査レーザ光の走査時における前記第１樹脂部品の温度の時間依存性から前記温度の時間微分を算出し、該温度の時間微分の値により第１樹脂部品の良否を判定することが好ましい。
【００２１】
これによれば、測温データをそのまま利用して第１樹脂部品の良否を判定する場合に較べて、より高感度で温度上昇検出することができる。このため、より小さな異物による影響まで評価することができ、レーザ溶着時における不良発生予測確度も高めることができる。
【００２２】
一方、請求項２に記載した単独の第１樹脂部品に検査レーザ光を照射する場合には、異物による実際の温度上昇を検出する代わりに、請求項７に記載のように、前記検査レーザ光照射後の前記第１樹脂部品の状態変化を測定して、該第１樹脂部品内に存在する異物による温度上昇を検出し、該第１樹脂部品の良否を判定するようにしてもよい。例えば、レーザ溶着時と同じ強度の検査レーザ光を照射して異物のある部分を積極的に焦がしてしまい、該焦げを画像認識することにより、第１樹脂部品の良否を判定する。
【００２３】
上記レーザ溶着部品の製造方法において、例えば請求項８に記載のように、前記第１樹脂部品が、円筒状である場合には、該円筒状の第１樹脂部品を中心軸の周りに回転させながら、前記検査レーザ光を照射することが好ましい。
【００２４】
この場合の好適な例として、請求項９に記載の前記レーザ溶着部品を挙げることができる。すなわち、前記レーザ溶着部品が、被検出体の回転に伴うバイアス磁界の変化を磁気検出素子により測定して被検出体の回転状態を検出する、回転検出装置の構成部品であって、前記第１樹脂部品が、一方の端部が閉じた円筒状のハウジング部品であり、前記第２樹脂部品が、前記磁気検出素子を搭載する保持部を有し、前記ハウジング部品のもう一方の端部の開口を蓋する円柱状に形成されたキャップ部品である場合である。
【００２５】
上記レーザ溶着部品の製造方法によれば、第１樹脂部品内の異物の有無を容易に検出して該第１樹脂部品の良否を正確に判定することができる。このため、上記レーザ溶着部品の製造方法は、請求項１０に記載のように、前記レーザ溶着部品が、安価で高い信頼性が要求される車載用の回転検出装置の構成部品である場合に好適である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明を実施するための最良の形態を、図に基づいて説明する。
【００２７】
本発明は、図８と同様のレーザ光の透過性が高い第１樹脂部品４０と、レーザ光の透過性が低い第２樹脂部品５０とを当接させ、第１樹脂部品４０の外側からレーザ光を第２樹脂部品５０との当接面Ｓに走査しながら照射して、第１樹脂部品４０と第２樹脂部品５０をレーザ溶着するレーザ溶着部品の製造方法である。一方、本発明に係るレーザ溶着部品の製造方法は、図８に示した従来のレーザ溶着部品の製造方法と異なり、予め検査レーザ光を第１樹脂部品４０に走査しながら照射して、該第１樹脂部品４０内に存在する異物４０ｉによる温度上昇を検出し、該第１樹脂部品４０の良否を判定することを特徴としている。
【００２８】
図１は、上記本発明に係るレーザ溶着部品の製造方法の一例を示した図で、図１（ａ），（ｂ）は、それぞれ、第１樹脂部品４０の上記検査レーザ光による検査過程の様子を模式的に示した図である。尚、図１は上記検査レーザ光による検査過程を図８のレーザ溶着過程と対応するように図示したもので、以下に示す各図において、図８と同様の部分については、同じ符号を用いている。
【００２９】
図１（ａ），（ｂ）に示すように、本発明に係るレーザ溶着部品の製造方法では、予め検査レーザ光を第１樹脂部品４０に走査しながら照射して、該第１樹脂部品４０内に存在する異物４０ｉによる温度上昇を検出し、該第１樹脂部品４０の良否を判定する。図１に示す例では、溶着相手である図８の第２樹脂部品５０に当接させていない単独の第１樹脂部品４０に検査レーザ光を照射して、異物４０ｉによる温度上昇を放射温度計ＭＲにより検出し、該第１樹脂部品４０の良否を判定するようにしている。放射温度計ＭＲは、例えば１個の赤外線センサであってもよいし、複数個の赤外線センサをマトリックス状に並べた赤外線カメラであってもよい。温度上昇の検出手段として放射温度計ＭＲを用いる場合、放射温度計ＭＲを第１樹脂部品４０と離れて設置できるため、任意形状の第１樹脂部品４０に対応可能である。
【００３０】
図１に示すレーザ溶着部品の製造方法によれば、予め検査レーザ光を用いて第１樹脂部品４０の良否を判定しているため、後のレーザ溶着工程において、第１樹脂部品４０内の異物４０ｉを原因とするレーザ溶着不良を防止することができる。
【００３１】
また、検査レーザ光を第１樹脂部品４０に走査しながら照射し、異物４０ｉに該検査レーザ光が当たった時の局所発熱による温度上昇を検出して第１樹脂部品４０の良否を判定する当該第１樹脂部品４０の検査方法は、従来の光学顕微鏡による異物４０ｉの検査方法と較べて、作業性が良い。また、当該第１樹脂部品４０の検査方法は、実際のレーザ溶着工程に近い方法であり、従来の光学顕微鏡による検査方法と較べて、異物４０ｉの検査精度やレーザ溶着時における不良発生予測確度も高めることができる。
【００３２】
以上のようにして、図１に示すレーザ溶着部品の製造方法は、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品４０とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品５０を当接させてレーザ溶着するレーザ溶着部品の製造方法であって、レーザ溶着に異常をもたらす第１樹脂部品４０内の異物４０ｉの有無を容易に検出して、第１樹脂部品４０の良否を正確に判定することのできるレーザ溶着部品の製造方法となっている。
【００３３】
特に、図１の例では、溶着相手である図８の第２樹脂部品５０に当接させていない単独の第１樹脂部品４０に検査レーザ光を照射して、該第１樹脂部品４０の良否を判定するようにしている。このため、レーザ溶着時に不良発生確度の高い異物４０ｉの存在する第１樹脂部品４０を効率的に排除し、良品のみを第２樹脂部品５０と組み付けることができる。これによって、組み付け工数の無駄をなくすことができる。
【００３４】
図２は、別の例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、第１樹脂部品４０の検査レーザ光による検査過程の様子を模式的に示した図である。
【００３５】
図１では、第２樹脂部品５０に当接させていない単独の第１樹脂部品４０に検査レーザ光を照射して、該第１樹脂部品４０の良否を判定するようにしていた。これに対し、図２では、検査レーザ光を、レーザ溶着時より弱い強度のレーザ光とし、第２樹脂部品５０に当接させた状態にある第１樹脂部品４０に該検査レーザ光を照射して、第１樹脂部品４０の良否を判定するようにしてもよい。この場合には、例えば同じレーザ照射装置を用いて、上記検査レーザ光の照射による判定直後のそのままの状態で、実際のレーザ溶着を実施することができる。
【００３６】
図３も、別の例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、第１樹脂部品４０の検査レーザ光による検査過程の様子を模式的に示した図である。
【００３７】
図１と図２では、異物４０ｉによる温度上昇を放射温度計ＭＲにより検出していた。これに対して、図３では、異物４０ｉによる温度上昇をマトリックス状に配置された熱電対ＭＣで検出するようにしている。この場合には、図３に示すように、検査レーザ光の入射方向と反対側の第１樹脂部品４０の裏面側に、該マトリックス状に配置された熱電対ＭＣを設置する。
【００３８】
図４は、上記検査過程の詳細を説明する図で、横方向を時間ｔの軸として、検査レーザ光の走査過程、放射温度計ＭＲによる検出温度Ｔ、および温度の時間微分ΔＴ／Δｔを一つにまとめて示した図である。
【００３９】
放射温度計ＭＲやマトリックス状に配置された熱電対ＭＣを用いて異物４０ｉによる温度上昇を検出する場合には、第１樹脂部品４０の良否を判定するにあたって、図４に示すように、検査レーザ光の走査時における第１樹脂部品４０の温度Ｔの時間ｔ依存性から温度の時間微分ΔＴ／Δｔを算出し、該温度の時間微分ΔＴ／Δｔの値により第１樹脂部品４０の良否を判定することが好ましい。これによれば、測温データをそのまま利用して第１樹脂部品４０の良否を判定する場合に較べて、より高感度で温度上昇検出することができる。このため、より小さな異物４０ｉによる影響まで評価することができ、レーザ溶着時における不良発生予測確度も高めることができる。
【００４０】
図５は、別の例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、第１樹脂部品４０への検査レーザ光の照射の様子を模式的に示した図である。
【００４１】
図１〜図４では、検査レーザ光を照射した時の異物４０ｉによる温度上昇を、放射温度計ＭＲやマトリックス状に配置された熱電対ＭＣで検出していた。一方、図５に示すように、単独の第１樹脂部品４０に検査レーザ光を照射する場合には、異物４０ｉによる実際の温度上昇を放射温度計ＭＲやマトリックス状に配置された熱電対ＭＣで検出する代わりに、レーザ溶着時と同じ強度の検査レーザ光を照射して異物４０ｉのある部分を積極的に焦がしてしまい、該焦げ４０ｋを画像認識することにより、第１樹脂部品４０の良否を判定するようにしてもよい。この例のように、検査レーザ光照射後の第１樹脂部品４０の状態変化を測定して、第１樹脂部品４０内に存在する異物４０ｉによる温度上昇を検出し、第１樹脂部品４０の良否を判定することも可能である。
【００４２】
図６は、図７の回転検出装置１００における第１樹脂部品（ハウジング部品）４０への本発明の好ましい適用例を示した図である。
【００４３】
図７に示したレーザ溶着部品は、ロータ（被検出体）１の回転に伴うバイアス磁界の変化を磁気検出素子３０により測定してロータ１の回転状態を検出する回転検出装置１００の構成部品であって、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品４０が、一方の端部が閉じた円筒状のハウジング部品であり、レーザ光の透過性が低い第２樹脂部品５０が、磁気検出素子３０を搭載する保持部５０ｈを有し、ハウジング部品４０のもう一方の端部の開口を蓋する円柱状に形成されたキャップ部品である。
【００４４】
図７の回転検出装置１００のように第１樹脂部品４０が円筒状である場合には、図６に示すように、該円筒状の第１樹脂部品４０を回転軸Ａにセットして、中心軸の周りに回転させながら、検査レーザ光を照射することが好ましい。
【００４５】
図６に示す構成において、検査フローを簡単に説明する。最初に、第１樹脂部品４０を回転軸Ａにセットし、モータＭにより第１樹脂部品４０を回転させる。次に、検査レーザ光を照射し、放射温度計ＭＲで照射部を測温する。次に、コンピュータＣで温度の時間微分ΔＴ／Δｔを演算し、この結果を元に異物の有無を判定する。
【００４６】
以上の検査フローにおいては、以下の事項が重要である。すなわち、１．第１樹脂部品４０を一定速度（ｖ）で回転すること。２．検査レーザ光の出力エネルギを一定とすること。３．第１樹脂部品４０の温度上昇を防止するため、検査レーザ光を照射して一定時間内に測定を開始すること。４．Ｌ［ｍｍ］を検出対象である異物４０ｉのサイズ、ｖ［ｍｍ／ｓ］を回転の周速度としたとき、放射温度計ＭＲのサンプリングタイム（Δｔ）を、Δｔ≦（Ｌ／２）／ｖ  とすること。ここで、分子のＬ／２は、最も温度高い異物４０ｉ中心での測温をするためである。５．測定環境の温度影響を排除するために、温度の時間微分ΔＴ／Δｔを元にして、異物４０ｉの有無を判定することである。
【００４７】
上記レーザ溶着部品の製造方法によれば、第１樹脂部品４０内の異物４０ｉの有無を容易に検出して該第１樹脂部品４０の良否を正確に判定することができる。このため、上記レーザ溶着部品の製造方法は、上記したように、該レーザ溶着部品が、安価で高い信頼性が要求される車載用の回転検出装置の構成部品である場合に好適である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明に係るレーザ溶着部品の製造方法の一例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、それぞれ、第１樹脂部品４０の上記検査レーザ光による検査過程の様子を模式的に示した図である。
【図２】別の例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、第１樹脂部品４０の検査レーザ光による検査過程の様子を模式的に示した図である。
【図３】別の例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、第１樹脂部品４０の検査レーザ光による検査過程の様子を模式的に示した図である。
【図４】検査過程の詳細を説明する図で、横方向を時間ｔの軸として、検査レーザ光の走査過程、放射温度計ＭＲによる検出温度Ｔ、および温度の時間微分ΔＴ／Δｔを一つにまとめて示した図である。
【図５】別の例を示した図で、（ａ），（ｂ）は、第１樹脂部品４０への検査レーザ光の照射の様子を模式的に示した図である。
【図６】図７の回転検出装置１００における第１樹脂部品（ハウジング部品）４０への本発明の好ましい適用例を示した図である。
【図７】特許文献１に開示された回転検出装置１００の模式的な断面図である。
【図８】図７の回転検出装置１００の製造時における問題点を説明する図で、（ａ），（ｂ）は、それぞれ、レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品（ハウジング部品）４０とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品（キャップ部品）５０のレーザ溶着時における途中過程の様子を模式的に示した図である。
【図９】レーザ光の透過性が高い第１樹脂部品４０とレーザ光の透過性が低い第２樹脂部品５０について、レーザ光の透過率の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００４９】
４０  第１樹脂部品（ハウジング部品）
４０ｉ  異物
４０ｋ  焦げ
ＭＲ  放射温度計
ＭＣ  マトリックス状に配置された熱電対
５０  第２樹脂部品（キャップ部品）
Ｓ  当接面
６０  溶着部
１００  回転検出装置
３０  磁気検出素子
５０ｈ  保持部
【図１】
0004858454.tif 000002
【図２】
0004858454.tif 000003
【図３】
0004858454.tif 000004
【図４】
0004858454.tif 000005
【図５】
0004858454.tif 000006
【図６】
0004858454.tif 000007
【図７】
0004858454.tif 000008
【図８】
0004858454.tif 000009
【図９】
0004858454.tif 000010