(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、回路の抵抗成分よりコンデンサによる容量性負荷の大きい情報処理装置及び前記情報処理装置の短絡を電源供給前に検出し損傷を防止するショートチェック装置を含むショートチェックシステムであって、
前記ショートチェック装置は前記情報処理装置の２点間の抵抗を測定する抵抗値測定器、及び前記情報処理装置の前記製造用コネクタと接続することのできる端子を含み、
前記情報処理装置の回路上には前記コンデンサと電気的に並列に抵抗を追加することを特徴とするショートチェックシステム。
【請求項２】
請求項１記載のショートチェックシステムにおいて、前記ショートチェック装置は更に電源を含み、
ショートチェック実行時に前記電源が前記コンデンサを充電することを特徴とするショートチェックシステム。
【請求項３】
請求項２記載のショートチェックシステムにおいて、更に前記コンデンサに任意の向きに電圧を印加することができるようにスイッチを持つことを特徴とするショートチェックシステム。
【請求項４】
電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、回路の抵抗成分より容量性負荷の大きいコンデンサを有する情報処理装置であって、
該情報処理装置の回路上には前記コンデンサと電気的に並列に抵抗が追加されていることを特徴とする情報処理装置。
【請求項５】
電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、回路の抵抗成分よりコンデンサによる容量性負荷の大きい回路を複数有し、前記回路上には前記コンデンサと電気的に並列に抵抗が追加されている情報処理装置のショートチェック方法であって、
前記複数の回路の前記コンデンサを時間的に平行に充電した後、前記回路のショートチェックを逐次実行することを特徴とするショートチェック方法。
【請求項６】
電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、回路の抵抗成分よりコンデンサによる容量性負荷の大きい回路を複数有し、前記回路上には前記コンデンサと電気的に並列に抵抗が追加されている情報処理装置のショートチェック方法であって、
前記複数の回路の内の一の回路のショートチェックを実行中、前記複数の回路の他の回路の前記コンデンサを充電することを特徴とするショートチェック方法。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、短時間にショートチェックを完了させることが可能な情報処理装置とショートチェック装置からなるショートチェックシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
情報処理装置には、回路に電力を供給する直流電源（以後、単に電源と表記する）が備えられている。電源から供給を受けた電力を消費することで、情報処理装置上のＣＰＵ、メモリ及びＣＰＵが制御する制御回路（以後、これらをまとめて回路と表記する）が動作する。
【０００３】
情報処理装置は、通常複数の電源および電源供給経路を備えており、それらとグランドは互いに短絡することなく基板上に実装されている。しかし、部品や製造上の問題、製造後の衝撃や振動などの様々な要因によって、これらの電源供給経路、および、グランドが短絡してしまうことがある。電源供給経路が短絡した状態で情報処理装置に電力を供給すると、短絡した箇所に設計許容値以上の電流が流れ、その結果として回路や電源供給経路、電源が損傷する可能性がある。
【０００４】
そこで、電源供給経路やグランドの短絡による情報処理装置の損傷を予防するために、多くの情報処理装置では電力を供給する前に各電源、および、グランド間の回路が短絡していないことを確認(以後ショートチェックと表記する)している。ショートチェックはいかなる短絡も発生していない場合の電源供給経路、および、グランド間の抵抗値をあらかじめ測定しておき、その事前に測定した抵抗値とショートチェックを実施する装置の電源供給経路間、及び電源供給経路とグランド間の抵抗値と比較することで実現している。
【０００５】
特開平０５-１５７７９３号公報（以下特許文献１）記載の発明には、電源回路に付随してショートチェック用の回路を追加し、電子回路基板のショートチェックを簡単に行うことができる技術が記載されている。この技術も上述の電源供給経路とグランド間の抵抗値と比較することで実現したものである。
【特許文献１】特開平０５-１５７７９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ショートチェックを実施する際には、回路の抵抗値を測定するために２つの電源供給経路間、または、電源供給経路とグランドの間の回路に電流を流して、両端の電圧を測定する必要がある。これらの回路にコンデンサが存在する場合、電圧を印加した回路に突入電流が流れる。この突入電流の為、電源供給経路及びグランド間が短絡していない場合でも、一時的に電流が流れるために見かけ上抵抗値が小さくなる。そのため、正確な回路の抵抗値を測定するためには回路にあるコンデンサに対して完全に充電が完了し、抵抗値が安定した時点で測定する必要がある。
【０００７】
通常、抵抗値測定器から流れる電流は微量なため、コンデンサが完全に充電するまでには多くの時間が必要である。このため、ショートチェックの大部分の時間がコンデンサへの充電が完了するまでの待ち時間に費やされることになる。
【０００８】
さらに、近年ＬＳＩの低電圧化が進行し、情報処理装置には低電圧の電源が追加されている。一方で、従来からのＬＳＩやＩＣも使用され続けており、これらのためには従来からある比較的高い電圧の電源も必要であり、結果的に情報処理装置全体の電源の種類は増加傾向にある。電源の種類の増加はショートチェック項目の増加を招き、ショートチェック時間が増大する原因となっている。
【０００９】
ショートチェックは情報処理装置上の２つの電源供給経路間、あるいは電源供給経路とグランド間の抵抗値を測定する。２つの電源供給経路間の抵抗値を測定する場合には、２つの電源供給経路はグランドを介して接続されているとみなすことができる。この状態では、一方の回路に含まれるコンデンサはグランドに対して電源供給経路側が高電位になるように充電されているが、もう一方の回路に含まれるコンデンサはグランドに対して電源供給経路側が低電位になるように充電されることになる。
【００１０】
次にグランドに対して電源供給経路側が低電位になるように充電されたコンデンサを含む電源供給経路同士のショートチェックを行う場合、片方の電源供給経路に含まれるコンデンサは、グランドに対して電源供給経路側が低電位になるように充電された電荷を放電し、グランドに対して電源供給経路側が高電位になるように充電する必要があり、コンデンサの放電のための時間が必要になる。
【００１１】
ショートチェックに於いては、ショートチェックを行う電源供給経路の順番を考慮することで、上記のように充電されたコンデンサを放電してから、それまでの充電方向と逆方向に充電することを極力回避し、通常のコンデンサへの充電回数も削減することでショートチェックを高速化できる。
【００１２】
既述の特許文献１記載の発明では、上述のような充放電時間の考慮はなされておらず、ショートチェックにかかる時間の短縮という視点での考慮はなされていない。
【００１３】
本発明の目的はショートチェックの対象となる情報処理装置の回路構成と、ショートチェック装置の構成、ショートチェックを行う回路の順番を考慮することで、情報処理装置の回路中に存在するコンデンサの充電時間を短縮し、充電回数を削減することでショートチェックの高速化を実現することにある。
【００１４】
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次の通りである。
【００１６】
本発明に関わるショートチェックシステムは、電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、回路の抵抗成分よりコンデンサによる容量性負荷の大きい情報処理装置及び情報処理装置の短絡を電源供給前に検出し損傷を防止するものであって、ショートチェック装置は情報処理装置の２点間の抵抗を測定する抵抗値測定器、及び情報処理装置の製造用コネクタと接続することのできる端子を含み、情報処理装置の回路上にはコンデンサと電気的に並列に抵抗を追加することを特徴とする。
【００１７】
このショートチェックシステムのショートチェック装置は更に電源を含み、ショートチェック実行時に電源がコンデンサを充電することとしても良い。また、このショートチェックシステムは更にコンデンサに任意の向きに電圧を印加することができるようにスイッチを持つことを特徴としても良い。
【００１８】
本発明に関わる情報処理装置は、電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、回路の抵抗成分より容量性負荷の大きいコンデンサを有し、情報処理装置の回路上にはコンデンサと電気的に並列に抵抗が追加されていることを特徴とする。
【００１９】
本発明に関わるショートチェック方法は電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、抵抗成分よりコンデンサによる容量性負荷の大きい回路を複数有する情報処理装置に関するものであって、複数の回路のコンデンサを時間的に平行に充電した後、回路のショートチェックを逐次実行することを特徴とする。
【００２０】
本発明に関わる別のショートチェック方法は電源供給経路及びグランドと接続する製造用コネクタを持ち、抵抗成分よりコンデンサによる容量性負荷の大きい回路を複数有する情報処理装置に関するものであって、複数の回路の内の一の回路のショートチェックを実行中、複数の回路の他の回路のコンデンサを充電することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下の通りである。
【００２２】
本発明に関わるショートチェックシステムにおいては、回路の抵抗成分に比べコンデンサの容量性負荷の大きい回路に対して、コンデンサと並列に抵抗を追加し、ショートチェックに必要なコンデンサへの充電時間を短縮し、更にコンデンサへの充電と抵抗値測定の順番と方法を考慮し、かつ、コンデンサへの充電と抵抗値の測定を並列に実施することで、ショートチェックに要する時間の短縮を行う。これにより、回路の抵抗成分に対してコンデンサの容量性負荷が大きな電源供給回路を多数持つ情報処理装置に対してもショートチェック時間の短縮が実現可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、図を用いて本発明の実施の形態を説明する。
【００２４】
（第１の実施の形態）
図1ないし図４は本発明の第1の実施の形態を表す図である。
【００２５】
図１は本発明によるショートチェックシステムの実施形態の概略構成図である。本実施の形態のショートチェックシステムは被検査対象である情報処理装置１００、ショートチェック装置２００及びスイッチボックス３００より構成されている。そして、情報処理装置１００には電源１０１−ｘと回路１０２―ｘ（ｘ：１ないしｎ）、グランド（接地点）１０３、製造用コネクタ１０６が含まれる。
【００２６】
図２はこの回路１０２―ｘ内の検査対象である回路の内部構成を表す概念図である。
【００２７】
また、図３は、情報処理装置１００の回路に含まれるコンデンサと並列に接続された抵抗の効果を解り易く示すために、情報処理装置のある電源とその電源が電力を供給する回路と等価な回路を示す図である。
【００２８】
図４は、図１の実施の形態に於いて情報処理装置上の回路間のショートチェックを行う処理手順を示すフロー図である。
【００２９】
各電源１０１−ｘは、各回路１０２−ｘに電力を供給する電力供給源である。なお、ｎは検査対象となる回路の数を表す。
【００３０】
回路１０２−ｘは、情報処理装置１００内部の各種処理を行うために情報処理装置１００の基板上に設けられた電子回路である。図２で表す通り、この各回路中に、検査対象となるコンデンサ１０４−ｘ−ｙ（ｘは1ないしｎ、ｙは1ないしm）及び抵抗１０５−ｘ−ｚ（ｘは1ないしｎ、ｚは1ないしｌ）が含まれる。
【００３１】
グランド１０３は情報処理装置内での基準電位を定めるための接地点である。図上ではグランドは一箇所であるが、各グランド間の電位に差が無ければ、グランドを複数用意しても問題は無い。
【００３２】
製造用コネクタ１０６はスイッチボックス３００との接続点になる接続用コネクタである。
【００３３】
ショートチェック装置２００は情報処理装置１００内の基板でショートが発生しているかを確認するための装置である。このショートチェック装置２００の内部には、抵抗値測定器２０１と正極側端子２０２、負極側端子２０３を含む。
【００３４】
スイッチボックス３００はケーブル３０１を介して情報処理装置１００の製造用コネクタ１０６と接続する正極側スイッチ２０４と負極側スイッチ２０５を備えている。正極側スイッチ２０４はショートチェック装置２００の正極側端子２０２と接続される。また、負極側スイッチ２０５はショートチェック装置２００の負極側端子２０３と接続される。これらの正極側スイッチ２０４と負極側スイッチ２０５を切替えることでショートチェック装置２００の正極側端子２０２と負極側端子２０３は情報処理装置１００の任意の回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎと接続することができる。
【００３５】
次に図３を用いて、情報処理装置１００のある電源１０１−ｘとその電源が電力を供給する回路と等価な回路の動作について説明する。
【００３６】
図３の回路では、電源５００が回路に電力を供給している。この回路は抵抗値がＲ1の抵抗成分５０１と、容量がＣのコンデンサ５０２、かつ、コンデンサ５０２の容量性負荷（抵抗値Ｒ2）５０３からなる。この時、時定数はＣ（Ｒ1＋Ｒ2）で表される。このコンデンサ５０２に並列に抵抗値Ｒ3の抵抗５０４を追加すると、その時定数はＣ｛Ｒ1＋Ｒ2・Ｒ3 ／（Ｒ2＋Ｒ3）｝で表される。Ｒ2、Ｒ3はともに正の数であるので、Ｒ3／（Ｒ2＋Ｒ3）は１より小さくなる。したがって、Ｃ（Ｒ1＋Ｒ2）＞ Ｃ｛Ｒ1＋Ｒ2・Ｒ3 ／（Ｒ2＋Ｒ3）｝が成り立つ。すなわち、抵抗５０４が存在しない回路の時定数よりも、抵抗５０４を追加した回路の時定数ほうが小さくなる。
【００３７】
このショートチェックシステム下でのショートチェックの動作について図４を用いて説明する。
【００３８】
本実施の形態においては、スイッチボックス３００上の正極側スイッチ２０４と負極側スイッチ２０５を切替えて、ショートチェック装置２００の正極側端子２０２を回路１０２−ｉ（ｉ：１ないしｎ）と接続する（ステップＳ６０１）。また、ショートチェック装置２００の負極側端子２０３を回路１０２−ｉと異なる回路１０２−ｊ（ｊ：１ないしｎ）に接続する（ステップＳ６０２）。
【００３９】
そして、ショートチェック装置２００の抵抗値測定器２０１から電力を供給されるため、回路１０２−ｉと１０２−ｊ内のコンデンサが充電されることになる（ステップＳ６０３）。回路に含まれるコンデンサに並列に追加した抵抗と回路に含まれるコンデンサの容量性負荷が並列に接続されているため、回路の抵抗値が小さくなり、回路に含まれるコンデンサへの充電時間が短縮される。
【００４０】
回路１０２−ｉと１０２−ｊ内のコンデンサの充電が完了する十分な時間が経過後に、回路１０２−ｉと１０２−ｊの抵抗値を測定する（ステップＳ６０４）。
【００４１】
以下、上記の手順を情報処理装置１００上の必要な回路の組み合わせに対して実施することでショートチェックを実施する。
【００４２】
（第２の実施の形態）
図５は、本発明のショートチェックシステムの第２の実施形態の概略構成図である。本図において、図1と同じ構成部品については同じ項番を付している。回路１０２に含まれる各種部品については記載を省略している。
【００４３】
第1の実施の形態と、第２の実施の形態の異なるところは、第２の実施の形態に於いては、電源２０６が追加されていることである。また、抵抗値測定器２０１の抵抗値測定用の正極側端子２０２とスイッチボックス３００の正極側スイッチ２０４の間、および、負極側端子２０３と負極側スイッチの間に、スイッチボックス３００上の正極側スイッチ２０４と負極スイッチ２０５を抵抗値測定器２０１と電源２０６の何れかに接続できるように切替えることのできる正極側スイッチ２０７と負極側スイッチ２０８が追加されていることである。
【００４４】
図６は、図５の実施の形態に於いて情報処理装置上の回路１０２−ｉと１０２−ｊ（ｉとjは０＜ｉ≦n、０＜ｊ≦ｎ、ｉ≠ｊの整数。以下同様）間のショートチェックを行う処理手順を示すフロー図である。これを用いて、ショートチェック処理の説明をする。
【００４５】
情報処理装置上の回路１０２−ｉと１０２−ｊ間のショートチェックを行う場合、始めにスイッチ２０４を切替えスイッチ２０７と回路１０２−ｉを接続するように切替える（ステップＳ６０１）。あわせて、スイッチ２０５を切替えスイッチ２０８と１０２−ｊを接続するように切替え（ステップＳ６０２）、さらに、正極側スイッチ２０７を電源２０６とスイッチ２０４が接続するように切替えるとともに（ステップＳ６１１）、負極側スイッチ２０８を電源２０６とスイッチ２０５が接続するように切替える（ステップＳ６１２）。
【００４６】
スイッチの切り替えにより接続が確立された後、電源２０６から回路１０２−iと１０２−ｊに電力を供給し、回路１０２−iと１０２−ｊ内のコンデンサに充電を行う（ステップＳ６１３）。
【００４７】
充電が完了したら、正極側スイッチ２０７を切替えて、正極側端子２０２とスイッチ２０４を接続し（ステップＳ６１４）、負極側スイッチ２０８を切替えて、負極側端子２０３とスイッチ２０５を接続して（ステップＳ６１５）から、回路１０２−iと１０２−ｊ間の抵抗値を測定する（ステップＳ６０５）。これにより、事前にコンデンサ充電用の電源２０６から抵抗値測定器２０１が供給する電力よりも大電力で回路１０２−iと１０２−ｊ内のコンデンサ１０４−i−１、１０４−i−２、…、１０４−i−ｍiと１０４−j−１、１０４−j−２、…、１０４−j−ｌｊに充電することで抵抗値測定器２０１と回路１０２−iと１０２−ｊを接続した際に抵抗値が安定するまでの時間を短縮することができる。
【００４８】
以下、上記の手順を必要な回路の組み合わせに対して実施するとことでショートチェックを実施する。
【００４９】
図７は、ショートチェック装置２００が持つ電源２０６が回路のコンデンサを充電する場合の効果について説明するために、情報処理装置１００の回路とショートチェック装置の抵抗値測定器２０１、および、電源２０６からなる回路と等価な回路を示す図である。本回路では、電源５１１から電力を供給する前に抵抗値測定器５１４で短絡していないことを確認する。その際、コンデンサ５１２に対して、抵抗値測定器５１４よりも大きな電流を供給できるコンデンサ充電用電源５１３から充電することによって、コンデンサの充電時間を短縮できる。
【００５０】
（第３の実施の形態）
図８は、本発明のショートチェックシステムの第３の実施形態の概略構成図である。図８の例に於いて、図５の例と同等なものには、同一の符号が付してある。
【００５１】
この図８の例と、図５の例の異なるところは、図８の例に於いては、第一に図５の例の正極側スイッチ２０７と負極側スイッチ２０８が削除され、正極側端子２０２と負極側端子２０３がスイッチボックス３００のスイッチ２０４および２０５と直接接続する点である。
【００５２】
あわせて、抵抗値測定器２０１と正極側端子２０２、負極側端子２０３の接続に関しては図1の例と同様の接続形態である。第二の異なる点は、電源用に正極側端子２０９と負極側端子２１０、および、電源２０６からなる電源ボックス３０２が追加され、正極側端子２０９と接続ケーブル３０１の全ての信号線との接続を切替え可能なスイッチ２１１、負極側端子２１０と接続ケーブル３０１の全ての信号線との接続を切替え可能なスイッチ２１２がスイッチボックス３００に追加されたことである。
【００５３】
図９は、図８の例に於いて情報処理装置上の回路１０２−iと１０２−ｊ間のショートチェックを行う処理手順を示すフロー図である。図６の例と同等なものには、同一の符号が付してある。
【００５４】
情報処理装置上の回路１０２−iと１０２−ｊ間のショートチェックを行う場合、はじめにスイッチボックス３００上のスイッチ２１１を電源用正極側端子２０９と情報処理装置１００上の回路１０２−iと接続するように切替え（ステップＳ６２１）、スイッチボックス３００のスイッチ２１２を電源用負極側端子２１０と情報処理装置１００上の回路１０２−ｊと接続するように切替る（ステップＳ６２２）。そして、電源２０６から回路１０２−iと１０２−ｊに電力を供給し、回路１０２−iと１０２−ｊ内のコンデンサに充電を行う（ステップＳ６１３）。
【００５５】
充電が完了したら、スイッチボックス３００上のスイッチ２１１を電源用正極側端子２０９と情報処理装置１００上の回路１０２−iと接続しないように切替え（ステップＳ６２３）、スイッチボックス３００上のスイッチ２１２を電源用負極側端子２１０と情報処理装置１００上の回路１０２−ｊと接続しないように切替る（ステップＳ６２４）。次にスイッチボックス３００上のスイッチ２０４を抵抗値測定器用正極側端子２０２と情報処理装置１００上の回路１０２−iと接続するように切替え（ステップＳ６２５）、スイッチボックス３００上のスイッチ２０５を抵抗値測定用負極側端子２０３と情報処理装置１００上の回路１０２−ｊとを接続するように切替えてから（ステップＳ６２６）、回路１０２−iと１０２−ｊ間の抵抗値を測定する（ステップＳ６０５）。抵抗値測定器２０１が情報処理装置１００上の回路１０２−iと回路１０２−jの抵抗値を測定するのと平行して、電源２０６から次に測定すべき情報処理装置１００上の回路１０２−kと回路１０２−lに含まれるコンデンサに対して充電を行う（ｋとｌは０＜ｋ≦n、０＜ｌ≦ｎ、ｋ≠ｌの整数。以下同様）。そのために、スイッチボックス３００上のスイッチ２１１を電源用正極側端子２０９と情報処理装置１００上の回路１０２−kと接続するように切替え（ステップＳ６２７）、スイッチボックス３００上のスイッチ２１２を電源用負極側端子２１０と情報処理装置１００上の回路１０２−lと接続するように切替え（ステップＳ６２８）、電源２０６から回路１０２−ｋと１０２−ｌ内のコンデンサに充電する（ステップＳ６２９）。上記のように電源２０６による情報処理装置１００の回路に含まれるコンデンサへの充電と抵抗値測定器２０１による回路間の抵抗値の測定を平行して行うことによって、ショートチェック時間を短縮する。
【００５６】
これ以降、上記の手順を情報処理装置１００上の必要な回路の組み合わせに対して実施することでショートチェックを実施する。
【００５７】
（第４の実施の形態）
図１０は、本発明のショートチェックシステムの第４の実施の形態の概略構成図である。本図においても、図８と同等な構成要素については、同一の項番が付してある。
【００５８】
この図１０の実施の形態と、図８の実施の形態の異なるところは、図１０の例に於いては、電源ボックス３０２の電源２０６−１，２０６−２、…、２０６−ｐ（ｐは電源の識別を行うための整数）および電源用正極側端子２０９―１，２０９―２、…、２０９−ｐ、負極側端子２１０−１，２１０―２、…、２１０−ｐ、および、スイッチボックス３００上に正極側端子側スイッチ２１１−１，２１１−２、…、２１１−ｐ、負極側端子側スイッチ２１２−１，２１２−２、…、２１２−ｐをそれぞれｐ個搭載する点である。
【００５９】
一般に、抵抗値測定器２０１による回路間の抵抗値測定に要する時間は、電源が回路に含まれるコンデンサに充電するために要する時間よりも短い。そのため、ショートチェック装置２００に高々１つの電源を搭載する場合、電源による充電が完了するまでの間、抵抗値測定器には待ちが発生する。
【００６０】
図１１は本実施の形態におけるショートチェックの処理過程を示すフローチャートである。これを用いて、本実施の形態の処理の説明を行う。
【００６１】
本実施の形態においては、ｐ個の電源２０６−１、２０６−２、…、２０６−ｐがそれぞれ情報処理装置１００の異なる回路間に同時に充電する（ステップＳ６２１−１、…、ステップＳ６２１−ｐの分岐）。これは、図９のフロー図に於いて、ステップＳ６２７、ステップＳ６２８、および、ステップＳ６２９の処理が複数並列に行われることを意味する。
【００６２】
具体的には、スイッチ２１１−１ないしスイッチ２１１−ｐを切り替え、電源用正極側端子２０９−１ないし２０９−ｐを充電対象の回路１０２−ｉ（１）ないし回路１０２−ｉ（ｐ）に接続する（ステップＳ６２１−１ないしステップＳ６２１−ｐ）。同様に、スイッチ２１２−１ないしスイッチ２１２−ｐを切り替え、電源用負極側端子２１０−１ないし２１０−ｐを充電対象の回路１０２−ｊ（１）ないし回路１０２−ｊ（ｐ）に接続する（ステップＳ６２２−１ないしステップＳ６２２−ｐ）。
【００６３】
この接続後、各回路のコンデンサに対して充電が開始される。そして、充電が完了したら、上述したスイッチ２１１−１ないしスイッチ２１１−ｐ、スイッチ２１２−１ないしスイッチ２１２−ｐを切り替え、各回路から電源を切り離し、充電を完了する（ステップＳ６２３−１ないしステップＳ６２３−ｐ、ステップＳ６２４−１ないしＳ６２４−ｐ）。
【００６４】
充電が完了したら（図１１のステップＳ６２４−１と６２７−１の間の破線でタイミングを表す）、抵抗値測定器２０１を回路１０２−ｉ（１）及び１０２−ｊ（１）に接続し（ステップＳ６２５−１及びｓ６２６−１）、充電の完了した回路１０２−ｉ及び回路１０２−ｊ間の抵抗値の測定を開始する（ステップＳ６０５−１）。
【００６５】
抵抗値測定器２０１が抵抗を測定している間、電源２０６−１，２０６−２、…、２０６−ｐはさらに別の回路間（本図では１０２−ｉ´、１０２−ｊ´と記載）の充電を行う（ステップＳ６２７−１ないしステップＳ６２７−ｐ、ステップＳ６２８−１ないしステップＳ６２８−ｐ及びステップＳ６２９−１ないしステップＳ６２９−ｐ）。
【００６６】
このようにショートチェック装置２００の電源２０６−１，２０６−２、…、２０６−ｐによる充電を複数並列に行うこと及びそれと同時に抵抗値測定器による測定を行うことで、抵抗値測定器２０１の待ち時間を削減し、ショートチェック時間の短縮が実現できる。以下、上記の手順を情報処理装置１００上の必要な回路の組み合わせに対して実施することでショートチェックを実施する。
【００６７】
（第５の実施の形態）
次に本発明の第５の実施の形態について説明する。図１２は本発明の第５の実施の形態におけるショートチェックシステムのショートチェック実施順序を示す概念図である。
【００６８】
図１２では、表の一番上に書いてある項目と、各行の一番左に書いてある項目間で抵抗値を測定することを示す。その際、回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎの順序で抵抗値測定器２０１は抵抗値を測定する。また、ショートチェックの順序を実践の太矢印７０２で示す。さらに、矢印７０２の通過していないセルの組み合わせは、ショートチェックを実施しないことを示す。
【００６９】
本発明の第５の実施形態は図１０と同じ回路構成をとる。本実施の形態と、実施の形態４の異なるところは、情報処理装置１００の回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎに含まれるコンデンサへの充電の方法と順序、およびショートチェックを行う順序である。
【００７０】
本実施の形態の説明においては、回路１０２−ｉに含まれるコンデンサの容量＞回路１０２−（ｉ＋１）に含まれるコンデンサの容量（ｉは1以上の整数）とする。
【００７１】
第４の実施の形態では、２つの回路間の充電を行う場合、２つの回路の電源供給経路１０７―１、１０７―２、…、１０７−ｎ間で充電を行っていた。また、回路のショートチェック順序に関しては特に指定はなかった。
【００７２】
これに対し、本実施の形態では、充電は必ず回路の電源供給経路１０７―１、１０７―２、…、１０７−ｎとグランド１０３間で行う。以下図１２を用いて説明する。
【００７３】
初めに回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎ全てを、グランド１０３に対して電源供給経路１０７−１、１０７−２、…、１０７−ｎが高電位になるように回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎに含まれるコンデンサを充電する。なお、図１２では、１０２−ｉの電源供給経路１０７−ｉ（項番７０５で示す各行）がグランド１０３（項番７０６で示す各列）よりも高電位になるようにコンデンサを充電することをＨで示す。そして、各回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎとグランド１０３間の抵抗値を測定する。具体的には、項番７０１で示す列の全ての電流経路の抵抗値を測定する。
【００７４】
回路１０２−１とグラウンド１０３の間の抵抗値の測定（項番７０７）が終了したら、直ちに回路１０２―１（項番７０３）に対して、グランド１０３に対して電源供給経路１０７−１が低電位になるように回路１０２―１に含まれるコンデンサを充電する。あわせて、その他の回路１０２―２、１０２―３、…、１０２−ｎは、各回路の電源ラインがグランド１０３よりも高電位になるように各回路に含まれるコンデンサを充電する(既に充電されており、新たに充電する必要のないことを図１２では（Ｈ）で示す)。この充電の後、回路１０２―１と回路１０２―２、１０２―３、…、１０２−ｎのうち、回路１０２―１との間でショートチェックを行う必要のある回路間で、抵抗値測定器２０１を用いて抵抗値の測定を行う。この時、抵抗値測定器用負極側端子２０３が回路１０２―１の電源供給経路１０７−１に(図１２では、抵抗値測定器の負極側端子２０３を接続する側を７０６に示す)、抵抗値測定用正極側端子２０２がもう一方の回路の電源供給経路に接続された状態(図１２では、抵抗値測定器の正極側端子２０２を接続する側を７０５に示す)で抵抗値を測定する。ここでは、回路１０２―１と回路１０２―２、１０２―３、…、１０２−ｎの順番で抵抗値の測定を行う。
【００７５】
そして、回路１０２―１と回路１０２―２の抵抗値の測定が終わり次第、回路１０２―２に含まれるコンデンサに対して、回路１０２―２の電源供給経路１０７−２がグランド１０３よりも低電位になるように充電を行う（項番７０３´）。
【００７６】
今まで、回路１０２―２に含まれるコンデンサに対して、回路１０２―２の電源供給経路１０７−２がグランド１０３よりも高電位になるように充電されていた。従って、回路１０２―２に含まれるコンデンサは、一旦放電をしてから逆方向に充電することになるため、通常の充電よりも時間がかかっていた。これに対し本実施の形態では、抵抗値測定器２０１が回路１０２―１と回路１０２―３、１０２―４、…、１０２−ｎ間のうち必要な回路と間の抵抗値の測定を行っている時に同時に行われる。これにより、ショートチェックの迅速な実施が可能となる。なお、極性のあるコンデンサで充電方向に一定の制限のあるコンデンサの場合には、放電のみを行い、電源供給経路がグランドよりも低電位になるように充電は行わない。
【００７７】
一旦放電をしてから逆方向に充電する場合、１０７−ｉのｉが大きくなるほど、同時に行うショートチェックの項目数は減少する。しかし、回路１０２−ｉに含まれるコンデンサの容量＞回路１０２−（ｉ＋１）に含まれるコンデンサの容量の関係が成り立っているため、ｉが大きくなるにしたがって、１０２−ｉに含まれるコンデンサの容量が小さくなり、充電時間が短くなる。そのため、同時に行うショートチェックの項目数が減少しても充電による待ち時間を最小化することができる。
【００７８】
そして、回路１０２―１と回路１０２―２、１０２―３、…、１０２−ｎ間の抵抗値測定が完了次第、抵抗値測定器２０１は回路１０２―２と回路１０２―３、１０２―４、…、１０２−ｎのうち、回路１０２―２との間でショートチェックを行う必要のある回路の間で抵抗値測定を行う。この時、抵抗値測定器用負極側端子２０３が回路１０２―２の電源供給経路１０７−２に、抵抗値測定用正極側端子２０２がもう一方の回路の電源供給経路に接続された状態で抵抗値を測定する(７０３´の列の組み合わせ)。
【００７９】
上記の方法で充電と抵抗値測定を行うことによって、回路に含まれるコンデンサのそれまで充電されていた方向と逆方向に充電する回数および、通常の充電回数を削減することでショートチェックに要する時間を短縮することができる。上記の手順を情報処理装置１００上の必要な回路の組み合わせに対して実施することでショートチェックを実施する。
【００８０】
（第６の実施の形態）
次に本発明の第６の実施の形態について説明する。本発明の第６の実施形態も図１０と同じ回路構成をとる。図１３は、本実施の形態に関わるショートチェック確認手段の処理方法を表すフローチャートである。
【００８１】
本実施の形態の相違点は、情報処理装置１００の回路１０２―１、１０２―２、…、１０２−ｎに含まれるコンデンサへの充電の方法と順序、およびショートチェックを行う順序である。
【００８２】
本実施の形態は、例えば多数のＣＰＵを搭載する情報処理装置などの場合、そのＣＰＵやＣＰＵに付随するメモリなど、構成がほぼ等しい回路が複数実装される場合の実施の形態である。
【００８３】
２つの電源供給経路間でショートチェックをおこなう場合、グランドをはさんでコンデンサが直列に接続される形となるが、それら回路に含まれるコンデンサの静電容量の違いで電荷の溜まり方にバラツキが出でる。そのため、実施の形態５のように各回路が事前にコンデンサに充電してあった場合でも、抵抗値測定器を接続すると、コンデンサへの電荷の溜まり方のバラツキによって電流が流れる場合があり、これがショートチェック時間増加の要因になる。
【００８４】
そこで、コンデンサの静電容量が等しい、あるいは近いもの同士で連続的にショートチェックを実施することでショートチェック時間を短縮することができる。
【００８５】
以下、図１３を用いて、具体的に説明を行う。
【００８６】
電圧が等しいあるいは電圧が近く、かつ、内包するコンデンサの容量がほぼ等しい回路のみでグループを作成する（ステップＳ７０１）。その中だけで実施の形態５の要領でショートチェックを実施する（ステップＳ７０２）。他にも、回路に含まれる、電圧が等しい、あるいは電圧が近い、このようなコンデンサの容量もほぼ等しい回路のグループが存在する場合には、それらの間でショートチェックを実施する（ステップＳ７０３）。全てのグループに対してショートチェックが完了したら、最後に情報処理装置に含まれる全ての回路の中で、これまでにチェックしていない回路間のショートチェックを実施する（ステップＳ７０４）。
【００８７】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記の実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更が可能であることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００８８】
多数の電源供給経路を持つ装置に対して、複数個の充電用電源を用意し、充電と抵抗値測定の順番を工夫することで、充電時間を短縮することができ、全ての電源供給経路の組み合わせに対して測定する必要がある場合にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】本発明の第１の実施の形態に関わるショートチェックシステムのブロック図である。
【図２】情報処理装置内の各回路の検出対象となるコンデンサ及び抵抗を表す概念図である。
【図３】コンデンサと並列に追加する抵抗値の効果を示す図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態に関わるショートチェックシステムのチェック方法のフローチャートである。
【図５】本発明の第２の実施の形態に関わるショートチェックシステムのブロック図である。
【図６】本発明の第２の実施の形態に関わるショートチェックシステムのチェック方法のフローチャートである。
【図７】ショートチェック装置に搭載した電源からの充電の効果を示す図である。
【図８】本発明の第３の実施の形態に関わるショートチェックシステムのブロック図である。
【図９】本発明の第３の実施の形態に関わるショートチェックシステムのチェック方法のフローチャートである。
【図１０】本発明の第４の実施の形態に関わるショートチェックシステムのブロック図である。
【図１１】本発明の第４の実施の形態に関わるショートチェックシステムのチェック方法のフローチャートである。
【図１２】本発明の第５の実施の形態に関わるショートチェックシステムのチェック順序についての概念図である。
【図１３】本発明の第６の実施の形態に関わるショートチェックシステムのチェック方法のフローチャートである。
【符号の説明】
【００９０】
１…ショートチェックシステム、１００…情報処理装置、１０１…電源、
１０２…回路、１０４…コンデンサ、１０５…抵抗、１０６…製造用コネクタ、
２００…ショートチェック装置、２０１…抵抗値測定器、２０２…正極側端子、
２０３…負極側端子、２０４…正極側スイッチ、２０５…負極側スイッチ、
２０６…電源、２０７…正極側スイッチ、２０８…負極側スイッチ、
３００…スイッチボックス、３０２…電源ボックス、
５００…電源、５０１…コンデンサ以外の抵抗成分、５０２…コンデンサ、
５０３…容量性負荷、５０４・・・抵抗、５１１…電源、５１２…コンデンサ、
５１３…コンデンサ充電用電源、５１４…抵抗値測定器、
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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