(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認方法において、
上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光と透過域にある波長λ２の光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射ステップと、
判定対象の下部光線路に曲げ部を設け、該曲げ部の上方側に配置された第１のパワーモニタ部により、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１、Ｐλ２ＰＤ１を測定すると共に、前記曲げ部の下方側に配置された第２のパワーモニタ部により、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２、Ｐλ２ＰＤ２を測定するステップと、
波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として次式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定するステップとを有することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認方法。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）      （９）
ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１       （１０）
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ｐλ２ｉｎｐｕｔ       （１１）
【請求項２】
１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認装置において、
上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光と透過域にある波長λ２の光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射手段と、
判定対象の下部光線路に設けた曲げ部の上方側に配置され、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１、Ｐλ２ＰＤ１を測定する第１のパワーモニタ手段と、
前記曲げ部の下方側に配置され、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２、Ｐλ２ＰＤ２を測定する第２のパワーモニタ手段と、
波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として次式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定する手段とを具備することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認装置。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）       （９）
ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１       （１０）
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ｐλ２ｉｎｐｕｔ       （１１）
【請求項３】
１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認方法において、
上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光を周波数ｆ１で変調した変調光と、透過域にある波長λ２の光を周波数ｆ２で変調した変調光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射ステップと、
判定対象の下部光線路に曲げ部を設け、該曲げ部の上方側に配置された第１のパワーモニタ部により、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ１を測定すると共に、前記曲げ部の下方側に配置された第２のパワーモニタ部により、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ２を測定するステップと、
波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として次式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定するステップとを有することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認方法。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）       （９）
ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１       （１０）
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ｐλ２ｉｎｐｕｔ       （１１）
【請求項４】
１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認装置において、
上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光を周波数ｆ１で変調した変調光と、透過域にある波長λ２の光を周波数ｆ２で変調した変調光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射手段と、
判定対象の下部光線路に設けた曲げ部の上方側に配置され、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ１を測定する第１のパワーモニタ手段と、
前記曲げ部の下方側に配置され、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ２を測定する第２のパワーモニタ手段と、
波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として次式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定する手段とを具備することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認装置。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）       （９）
ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１       （１０）
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ｐλ２ｉｎｐｕｔ       （１１）
【請求項５】
波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを次式（１１′）により近似計算を行い、該パワーの比ΔＰＬＤを用いて式（９）〜（１０）による近似計算を行うことを特徴とする請求項１又は３に記載の光線路の光フィルタ有無確認方法。
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ２      （１１′）
【請求項６】
波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを次式（１１′）により近似計算を行い、該パワーの比ΔＰＬＤを用いて式（９）〜（１０）による近似計算を行うことを特徴とする請求項２又は４に記載の光線路の光フィルタ有無確認装置。
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ２      （１１′）
【請求項７】
判定値ΔＰ′ＰＤ１を次式（９′）により近似計算することを特徴とする請求項１又は３に記載の光線路の光フィルタ有無確認方法。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（Ｐλ２ＰＤ１×ΔＰＬＤ×α）      （９′）
但し、αは定数
【請求項８】
判定値ΔＰ′ＰＤ１を次式（９′）により近似計算することを特徴とする請求項２又は４に記載の光線路の光フィルタ有無確認装置。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（Ｐλ２ＰＤ１×ΔＰＬＤ×α）      （９′）
但し、αは定数
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認方法及び光フィルタ有無確認装置に関する。
【０００２】
例えば、局舎とユーザ宅を光ファイバで結ぶＦＴＴＨ（Ｆｉｂｅｒ  ｔｏ  ｔｈｅ  ｈｏｍｅ）サービスを提供する光アクセスネットワークにおいて、局舎外に設置された光スプリッタなどの光分岐素子による分岐を有するネットワーク形態（ＰＯＮ：Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ、以下ＰＯＮという）を用いる場合に、該光スプリッタが配置されている分岐点よりもユーザ宅側における引き落とし点（新規工事点）において光ファイバ心線のユーザ用伝送装置側に設けられた試験光遮断フィルタの有無を判定することにより、現用光ファイバ心線と非現用光ファイバ心線の区別を推定することができる。
【０００３】
現用光ファイバ心線とは既に特定のユーザによって使用されている光ファイバ心線を意味し、非現用光ファイバ心線とはどのユーザにも使用されていない光ファイバ心線を意味する。
【０００４】
分岐点よりもユーザ宅側の光ファイバ心線において工事等の必要から現用光ファイバ心線を切断することがないように確認するために行われる。
【背景技術】
【０００５】
従来技術では光線路の局舎外に設置された分岐点から下部の光ファイバ心線における新規工事点において、その工事対象となる光ファイバ心線を確認するのに、該光ファイバ心線を物理的に追って、かつ視覚的に光ファイバ心線の順番と色で確認する必要があった。
【０００６】
また、シングルスター網の場合には、局舎内から非現用光ファイバ心線に試験光を入射し、新規工事点である現地にて光ファイバ心線から漏れて出射する漏れ試験光を検出する作業（心線対照作業）によって、作業者がこれから切断しようとする光ファイバ心線を確認することが出来ていた。
【０００７】
しかし、従来技術では新規工事点から離れている光スプリッタを確認し、そこから物理的に配線している光ファイバ心線の色および順番を確認する必要がある。また、心線対照作業による確認方法はシングルスター網の場合に限り、網形態が局舎外に光スプリッタを配置するようなＰＯＮの場合には適用することが出来ないという問題を有していた。
【０００８】
また、従来技術として、局舎から複数波長によって試験光を光ファイバ心線に入力し、試験光遮断フィルタの反射特性を利用して、戻ってくる反射光のレベル差から遠隔に判定するものがある（例えば、特許文献１参照。）。
【０００９】
しかしながら、特許文献１の技術は、シングルスター網構成に対応可能な技術であって、ＰＯＮ構成には対応できない。
【００１０】
【特許文献１】特開２００２−１３１１７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路において、過大な損失をもつ下部光線路とその下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認方法及び光フィルタ有無確認装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために本発明によれば、１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認方法において、上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光と透過域にある波長λ２の光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射ステップと、判定対象の下部光線路に曲げ部を設け、該曲げ部の上方側に配置された第１のパワーモニタ部により、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１、Ｐλ２ＰＤ１を測定すると共に、前記曲げ部の下方側に配置された第２のパワーモニタ部により、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２、Ｐλ２ＰＤ２を測定するステップと、波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として次式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定するステップとを有することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認方法が提供される。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）      （９）
ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１      （１０）
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ｐλ２ｉｎｐｕｔ      （１１）
【００１３】
また本発明によれば、１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認装置において、上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光と透過域にある波長λ２の光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射手段と、判定対象の下部光線路に設けた曲げ部の上方側に配置され、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１、Ｐλ２ＰＤ１を測定する第１のパワーモニタ手段と、前記曲げ部の下方側に配置され、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１、λ２の漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２、Ｐλ２ＰＤ２を測定する第２のパワーモニタ手段と、波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として上記式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定する手段とを具備することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認装置が提供される。
【００１４】
また本発明によれば、１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認方法において、上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光を周波数ｆ１で変調した変調光と、透過域にある波長λ２の光を周波数ｆ２で変調した変調光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射ステップと、判定対象の下部光線路に曲げ部を設け、該曲げ部の上方側に配置された第１のパワーモニタ部により、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ１を測定すると共に、前記曲げ部の下方側に配置された第２のパワーモニタ部により、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、前記曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ２を測定するステップと、波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として上記式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定するステップとを有することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認方法が提供される。
【００１５】
また本発明によれば、１本の上部光線路と光分岐素子によって分岐された複数の下部光線路からなる光線路の下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定する光線路の光フィルタ有無確認装置において、上部光線路の上方端部から光フィルタの遮断域にある波長λ１の光を周波数ｆ１で変調した変調光と、透過域にある波長λ２の光を周波数ｆ２で変調した変調光を入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーで入射する光入射手段と、判定対象の下部光線路に設けた曲げ部の上方側に配置され、該曲げ部の下方から入射した光に対してＬｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の上方から入射した光に対してＬｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ１と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ１を測定する第１のパワーモニタ手段と、前記曲げ部の下方側に配置され、該曲げ部の上方から入射した光に対して前記Ｌｆｏｒｗａｒｄの結合損失、該曲げ部の下方から入射した光に対して前記Ｌｂａｃｋの結合損失を以って、該曲げ部における波長λ１の光が周波数ｆ１で変調された漏洩光のパワーＰλ１ＰＤ２と波長λ２の光が周波数ｆ２で変調された漏洩光のパワーＰλ２ＰＤ２を測定する第２のパワーモニタ手段と、波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを既知として上記式（９）〜（１１）による近似計算を行い、判定値ΔＰ′ＰＤ１を以って光フィルタの有無を判定する手段とを具備することを特徴とする光線路の光フィルタ有無確認装置が提供される。
【００１６】
また本発明は、前記光線路の光フィルタ有無確認方法において、波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを次式（１１′）により近似計算を行い、該パワーの比ΔＰＬＤを用いて式（９）〜（１０）による近似計算を行うことを特徴とする。
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ２      （１１′）
【００１７】
また本発明は、前記光線路の光フィルタ有無確認装置において、波長λ１の光と、波長λ２の光の光線路への入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、Ｐλ２ｉｎｐｕｔのパワーの比ΔＰＬＤを式（１１′）により近似計算を行い、該パワーの比ΔＰＬＤを用いて式（９）〜（１０）による近似計算を行うことを特徴とする。
【００１８】
また本発明は、前記光線路の光フィルタ有無確認方法において、判定値ΔＰ′ＰＤ１を次式（９′）により近似計算することを特徴とする。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（Ｐλ２ＰＤ１×ΔＰＬＤ×α）      （９′）
但し、αは定数
【００１９】
また本発明は、前記光線路の光フィルタ有無確認装置において、判定値ΔＰ′ＰＤ１を式（９′）により近似計算することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の光線路の光フィルタ有無確認方法及び光フィルタ有無確認装置は、局舎外に光分岐素子を有するＰＯＮのネットワーク形態等において、従来の技術では困難であった判定地点より下部の損失が大きい場合に、入射試験光の影響を除くための近似計算を適用して判定することにより、分岐点よりユーザ宅側における新規工事点で分岐型下部光線路の現用／非現用の確認を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
図１は本発明の一実施形態に係る光フィルタ有無確認システムを示す構成説明図であり、ＦＴＴＨを実現するＰＯＮの構成を示す。
【００２２】
図１に示すように、通信局の局舎１１内には波長λ１、λ２の光を発生する二波長光源１２及び伝送装置（ＯＬＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｔｅｒｍｉｎａｌ、光加入者線終端装置）１３が設けられ、前記光源１２及び伝送装置１３は光線路で試験光挿入用光カプラ１４に接続される。前記試験光挿入用光カプラ１４は１本の上部光線路を構成する光ファイバケーブル１５で局舎１１外の光分岐させる光スプリッタ１６に接続され、前記光スプリッタ１６の第１の分岐部には下部光線路を構成する現用光ファイバ心線（開通芯線）１７により光線路の下方端部に特定波長の試験光を遮断すると共に通信光を透過する例えばＦＢＧフィルタ等の試験光遮断フィルタ１８を介してユーザ用伝送装置（ＯＮＵ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ、光加入者線終端装置）１９が接続される。尚、下部光線路を構成する光ファイバ心線の試験のために光パルス試験を行う必要から、試験光がユーザ用伝送装置１９によって受光されエラーにならないように試験光遮断フィルタ１８をユーザ用伝送装置１９の直前に挿入する。
【００２３】
前記光スプリッタ１６の第２の分岐部には下部光線路を構成する現用光ファイバ心線（開通芯線）２０により特定波長の試験光を遮断すると共に通信光を透過する例えばＦＢＧフィルタ等の試験光遮断フィルタ２１を介してユーザ用伝送装置（ＯＮＵ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ、光加入者線終端装置）２２が接続される。尚、下部光線路を構成する光ファイバ心線の試験のために光パルス試験を行う必要から、試験光がユーザ用伝送装置２２によって受光されエラーにならないように試験光遮断フィルタ２１をユーザ用伝送装置２２の直前に挿入する。
【００２４】
前記光スプリッタ１６の第３の分岐部には下部光線路を構成する非現用光ファイバ心線（未開通芯線）２３が接続され、前記非現用光ファイバ心線２３の端部は切りっぱなし、もしくはコネクタによって終端されており、いわゆる開放端２４として処理されている。
【００２５】
前記光スプリッタ１６の第４の分岐部には下部光線路を構成する工事対象光ファイバ心線２５が接続され、前記工事対象光ファイバ心線２５には光入力方向に対応した結合損失を持つ曲げ部２６が設けられる。
【００２６】
前記曲げ部２６には非現用確認装置２７の例えばフォトダイオードＰＤ１等の第１の光電変換素子２８及び例えばフォトダイオードＰＤ２等の第２の光電変換素子２９が配置して設けられる。
【００２７】
前記第１の光電変換素子２８の出力端は第１のパワーモニタ部（上り光パワーモニタ部）３０の入力端に接続され、前記第１のパワーモニタ部３０の出力端は例えばメモリ、判定ロジック等よりなる近似計算を適用したフィルタ判別処理部３１に接続される。前記第２の光電変換素子２９の出力端は第２のパワーモニタ部（下り光パワーモニタ部）３２の入力端に接続され、前記第２のパワーモニタ部３２の出力端はフィルタ判別処理部３１に接続される。
【００２８】
前記第１のパワーモニタ部３０及び第２のパワーモニタ部３２にはそれぞれ対応して周波数ｆ１，ｆ２を識別（ｆ１／ｆ２識別）する帯域フィルタが内蔵される。図１中、点線３３は新規工事点を示す。
【００２９】
すなわち、現用光ファイバ心線または非現用光ファイバ心線によって設備構成が異なることを利用して、具体的には試験光遮断フィルタの有無によって、現用光ファイバ心線または非現用光ファイバ心線の判別を行うものである。
【００３０】
本実施形態では局舎１１内から二波長光源１２を用いて試験を行う試験者と、新規工事点３３において作業する作業者がそれぞれ派遣されており、試験者と作業者は互いに通信手段を有するものである。
【００３１】
試験者が局舎１１内の試験光挿入用光カプラ１４から、工事対象光ファイバ心線２５に対して、二波長光源１２によって光波長λ１、光波長λ２を持つ光を入力する。二波長光源１２は連続光でも周波数ｆ１、ｆ２で変調された変調光でも良い。（但し、連続光である場合、２波長光の同時入力は出来ない。）。
【００３２】
作業者は入力された光を非現用確認装置２７によって受光する。
非現用確認装置２７は、曲げ部２６によって漏れさせた試験光を第１のパワーモニタ部３０と第２のパワーモニタ部３２とで検知することができる。第１のパワーモニタ部３０は、主に試験光の入力方向がユーザ宅側から局舎１１側に向かう入力方向に対して漏れる試験光を検知することができ、第２のパワーモニタ部３２は、主に光の入力方向が局舎１１側からユーザ宅側に向かう入力方向に対して漏れる試験光を検知する。
【００３３】
このときの非現用確認装置２７での第１のパワーモニタ部３０と第２のパワーモニタ部３２で受光されるパワーレベルは次式であらわされる。式（１）、（２）ともに、第一項は入射試験光の成分、第二項は反射試験光の成分を表している。
ＰＰＤ１＝（Ｐｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）＋（Ｐｉｎ÷ＬＥ÷Ｌ２÷γ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ）      （１）
ＰＰＤ２＝（Ｐｉｎ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ）＋（Ｐｉｎ÷ＬＥ÷Ｌ２÷γ÷Ｌｂａｃｋ）      （２）
【００３４】
図２は本発明の実施形態に係る光電変換素子の受光レベルを示す説明図であり、図３は本発明の実施形態に係る光フィルタ有無確認システムの線路損失を示す説明図である。
【００３５】
図２及び図３に示すように、ＰＰＤ１は第１のパワーモニタ部３０において受光するパワーレベル（第１の光電変換素子２８の受光レベル）、ＰＰＤ２は第２のパワーモニタ部３２において受光するパワーレベル（第２の光電変換素子２９の受光レベル）、Ｐｉｎは非現用確認装置２７直前の入力パワー、ＬＥは非現用確認装置２７の挿入損失、Ｌ１は新規工事点３３までの光線路の損失（光スプリッタ１６を除く）、ＳＰは光スプリッタ１６の損失、Ｌ２は新規工事点３３から光線路遠端までの往復損失、γは遠端反射部分における損失、Ｌｆｏｒｗａｒｄは光の入力方向に対して、順方向に存在するパワーモニタ部に結合するための損失、Ｌｂａｃｋは光の入力方向に対して、逆方向に存在するパワーモニタ部に結合するための損失を表している。
【００３６】
また、Ｐｉｎと二波長光源１２から光線路に入力される光のパワーＰｉｎｐｕｔは
Ｐｉｎ＝Ｐｉｎｐｕｔ÷Ｌ１÷ＳＰ
が成り立つ。尚、これらのパワーや損失の値は関係式中においてはすべてリニア表示されているものとする。以下も同様である。
後述するが、γは光波長および試験光遮断フィルタの有無によって損失が大きく変化する。
また、添字λ１、λ２が付いている場合はそれぞれ光波長λ１、λ２における光損失、パワーを表す。
【００３７】
また、入力パワーの条件として、
ユーザ宅伝送装置に影響を与えないようにするために、
Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ａ≧Ｐλ２ｉｎｐｕｔ
を満たす必要がある。
Ａはユーザ用伝送装置に影響を与えない程度の遮断量を表す。試験光遮断フィルタはその種別によりその遮断量が異なるが、ＦＢＧを用いるフィルタの場合概ね３０ｄＢ以上備えているので、Ａ＝１０００〜である。
また、遮断量が２０ｄＢの場合には、Ａ＝１００となる。
【００３８】
図４は本発明の実施形態に係る試験光遮断フィルタ・開放端の波長依存性を示す反射特性図である。
試験光遮断フィルタは特定の試験光を遮断させてそれ以外の光を通過させるために図２の実線のような波長特性を持つ。波長λｃでは高い反射特性を持ち、一方波長λＬよりも短い波長、もしくはλＨよりも長い波長についてはほとんど光を通過させる。その反射減衰量については、
γλ１＝０．２４（ｄＢ）
γλ２≒２０〜３０＞１４．６（ｄＢ）  （λ＜λＬまたはλ＞λＨ）
となる。
【００３９】
また、開放端については媒質の異なる面での反射、いわゆるフレネル反射が生じることになる。フレネル反射はほぼ波長依存性がないため、図４の破線のようになりその反射減衰量はおよそ１４．６（ｄＢ）である。
【００４０】
そこで、λ１を試験光遮断フィルタの高い反射特性をもつλｃ付近に設定し、λ２をλ２＜λＬもしくはλ２＞λＨに設定することができる。図４中ではλＬより短波長側に設定している。
【００４１】
ここで、遠端の反射を含んだ波長の違いによる第１のパワーモニタ部３０のパワーレベル比ΔＰＰＤ１を判定値とする。即ち、
式（１）÷（２）よりそれぞれ
ΔＰＰＤ１＝Ｐλ１ＰＤ１÷（Ｐλ２ＰＤ１×ΔＰＬＤ）＝（（Ｐλ１ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）＋（Ｐλ１ｉｎ÷Ｌλ１Ｅ÷Ｌλ１２÷γλ１÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ））÷（（（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）＋（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌλ２Ｅ÷Ｌλ２２÷γλ２÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ））×ΔＰＬＤ）      （３）
となる。ΔＰＬＤは波長λ１の光の入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、波長λ２の光の入射パワーＰλ２ｉｎｐｕｔの比である。
Ｌ２が損失が小さい光線路である場合、式（３）の値は、フィルタ有無の違いによって、大きく変化するため、フィルタ有無を判別できる。
【００４２】
しかし、Ｌ２の損失が大きい光線路である場合、式（３）の右辺第一項、第三項が支配的になるため、Ｌ２が大きくなるほど、式（３）の値は小さくなってしまい、フィルタ有無を判断する閾値の設定が困難になる。
そこで新たに、入射試験成分である右辺第一項、第三項を除去して、反射試験光成分である右辺第二項と第四項の比による判定値ΔＰ′ＰＤ１を導入する。
【００４３】
すなわち、反射試験光成分のみの差分を取ることによって、下部損失Ｌ２の影響を除くこととする。
まず、入射試験成分を除いた第１のパワーモニタ部３０の（λ１−λ２）波長間レベル比ΔＰ′ＰＤ１は（４）式で記述できる。
（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ１ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ））÷ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ））×ΔＰＬＤ（４）
【００４４】
（Ｐλ１ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）、（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）のパワーレベルを、λ２のＰＰＤ１、ＰＰＤ２のレベルと、波長λ１の光の入射パワーＰλ１ｉｎｐｕｔ、波長λ２の光の入射パワーＰλ２ｉｎｐｕｔの比ΔＰＬＤを用いて推定する。
Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１
＝（（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ）＋（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌλ２Ｅ÷Ｌλ２２÷γλ２÷Ｌｂａｃｋ））÷（（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）＋（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌλ２Ｅ÷Ｌλ２２÷γλ２÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ））      （５）
【００４５】
ここで（５）式における右辺第二項、第四項は第一項に比べ、十分小さいため無視できるとすると、（５）式は下記の通り変形できる。
Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１
＝（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ）÷（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）＝Ｌｂａｃｋ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ＝ΔＬ      （６）
（６）式はＬｂａｃｋとＬｆｏｒｗａｒｄの比をΔＬとする。
【００４６】
次に、λ２のＰＤ２受光レベルを同様に考えると、
Ｐλ２ＰＤ２＝（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ）
となり、
（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｂａｃｋ）＝（Ｐλ２ｉｎ÷Ｌｆｏｒｗａｒｄ）÷ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ      （７）
が成り立つ。また、ΔＰＬＤを用いて、
Ｐλ２ｉｎ＝（Ｐλ１ｉｎ÷ΔＰＬＤ）      （８）
である。（８）式は光スプリッタ損失とＬ１の損失がλ１、λ２の波長によって変わらないとしている。
【００４７】
従って、（４）式は（６）−（８）式を用いて式変形すると、次式の通りとなる。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（Ｐλ２ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）      （９）
ΔＬ＝Ｐλ２ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ１      （１０）
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ｉｎｐｕｔ÷Ｐλ２ｉｎｐｕｔ      （１１）
【００４８】
なお、λ１とλ２の波長が近接する間隔である場合、波長差によるケーブル損失値およびスプリッタ損失はほとんど同じであるため、ＳＰ、ＬＥ、Ｌ１、Ｌ２、Ｌｂａｃｋ、Ｌｆｏｒｗａｒｄは波長差によってほとんど変わらない値となる。
【００４９】
式（９）を判定値として用いることで、入射試験光成分を除いた第１のパワーモニタ部３０における（λ１−λ２）波長間パワーレベル差を求めることができ、過大な損失をもつ下部光線路とその下方端部における特定波長を遮断する光フィルタの有無を判定することができる。
【００５０】
すなわち、式（９）〜（１１）に基づきΔＰ′ＰＤ１を求め、
ΔＰ′ＰＤ１≫１の場合、フィルタ有り、
ΔＰ′ＰＤ１≒１の場合、フィルタ無しと判定する。
【００５１】
また、第１のパワーモニタ部３０及び第２のパワーモニタ部３２のダイナミックレンジが小さい場合には、上記式（９）において、右辺第２項の値が０になる場合がある。すなわち、（Ｐλ２ＰＤ１＜（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ））となっている。これはＰλ２ＰＤ１の値を成す入射試験光成分と反射試験光成分のうち、反射試験光成分が入射試験光成分に比べてごくわずかであるためである。
そこで、上記式（９）の代わりに次式（９′）を用いることができる。
ΔＰ′ＰＤ１＝（Ｐλ１ＰＤ１−（Ｐλ２ＰＤ２÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（Ｐλ２ＰＤ１×ΔＰＬＤ×α）      （９′）
但し、αは定数（α＜０．１５）
αはＰＤ１に入力される入射試験光成分と反射試験光成分の比である。反射条件によって異なるが、最悪条件であるフレネル反射条件において、概ね０．１５以下となる。
【００５２】
また、ΔＰＬＤを既知とするのではなく、Ｐλ１ＰＤ２，Ｐλ２ＰＤ２の値から推定することもできる。すなわち、上記式（１１）の代わりに次式（１１′）を用いて近似計算をすることができる。ΔＰＬＤを測定値であるＰλ１ＰＤ２，Ｐλ２ＰＤ２から求めることで設定が不要となる。
ΔＰＬＤ＝Ｐλ１ＰＤ２÷Ｐλ２ＰＤ２      （１１′）
【００５３】
図５及び図６は本発明の実施形態に係る光フィルタ有無確認方法を示すフローチャートである。先ず、開始時にΔＰＬＤを設定する。ステップＳ１において、試験者が局舎１１内の光ファイバケーブル１５の上方端部にある試験光挿入用光カプラ１４から、工事対象光ファイバ心線２５に対して、二波長光源１２によって光波長λ１を持つ試験光を入力する。二波長光源１２からの試験光は連続光でも周波数ｆ１で変調された変調光でも良い。
【００５４】
特定の周波数ｆ１で変調された変調光を用いれば、非現用確認装置２７の第１のパワーモニタ部３０及び第２のパワーモニタ部３２にそれぞれ対応して変調周波数に応じた帯域フィルタを備えることによって、その変調光のみを検知できる。そのため、例えば、信号光など連続光に準じた他の光の影響を受けることがなくなり、変調光の測定がより確実になる効果がある。
【００５５】
ステップＳ２において、作業者は新規工事点３３で工事対象光ファイバ心線２５に入力された試験光からの漏洩光を非現用確認装置２７によって受光する。
【００５６】
ステップＳ３において、第１の光電変換素子２８及び第２の光電変換素子２９で受光できなかった（ＮＯ）の場合は、ステップＳ４において、原因を解析し、対象誤り、過剰損失発生、受光感度不足等を検討し、ステップＳ１に戻って再測定する。
【００５７】
ステップＳ３において、第１の光電変換素子２８及び第２の光電変換素子２９で受光できた（ＹＥＳ）の場合は、ステップＳ５において、フィルタ判別処理部３１のメモリに記録する。すなわち、
ΔＰ１−λ１（ＰＤ１）＝Ｐλ１ＰＤ１
ΔＰ１−λ１（ＰＤ２）＝Ｐλ１ＰＤ２
【００５８】
次に、ステップＳ６において、試験者が局舎１１内の光ファイバケーブル１５の上方端部にある試験光挿入用光カプラ１４から、工事対象光ファイバ心線２５に対して、二波長光源１２によって光波長λ２を持つ試験光を入力する。二波長光源１２からの試験光は連続光でも周波数ｆ２で変調された変調光でも良い。
【００５９】
特定の周波数ｆ２で変調された変調光を用いれば、非現用確認装置２７の第１のパワーモニタ部３０及び第２のパワーモニタ部３２にそれぞれ対応して変調周波数に応じた帯域フィルタを備えることによって、その変調光のみを検知できる。そのため、例えば、信号光など連続光に準じた他の光の影響を受けることがなくなり、変調光の測定がより確実になる効果がある。
【００６０】
ステップＳ７において、作業者は新規工事点３３で工事対象光ファイバ心線２５に入力された試験光からの漏洩光を非現用確認装置２７によって受光する（曲げ状態は保持する。）。
【００６１】
ステップＳ８において、第１の光電変換素子２８及び第２の光電変換素子２９で受光できなかった（ＮＯ）の場合は、ステップＳ９において、原因を解析し、過剰損失発生、受光感度不足等を検討し、ステップＳ１に戻って再測定する。
【００６２】
ステップＳ８において、第１の光電変換素子２８及び第２の光電変換素子２９で受光できた（ＹＥＳ）の場合は、ステップＳ１０において、フィルタ判別処理部３１のメモリに記録する。すなわち、
ΔＰ２−λ２（ＰＤ１）＝Ｐλ２ＰＤ１
ΔＰ２−λ２（ＰＤ２）＝Ｐλ２ＰＤ２
ステップＳ１１において、フィルタ判別処理部３１で波長の違いによるパワーレベル差を比較し、ΔＬ及びΔＰ′ＰＤ１を計算する。すなわち、
ΔＬ＝ΔＰ２−λ２（ＰＤ２）÷ΔＰ２−λ２（ＰＤ１）
ΔＰ′ＰＤ１＝（ΔＰ１−λ１（ＰＤ１）−（ΔＰ２−λ２（ＰＤ２）÷ΔＬ×ΔＰＬＤ））÷（（ΔＰ２−λ２（ＰＤ１）−（ΔＰ２−λ２（ＰＤ２）÷ΔＬ））×ΔＰＬＤ）
【００６３】
次に、ステップＳ１２、Ｓ１４において、フィルタ判別処理部３１で光線路の上下方向のパワーレベル差を比較する。
【００６４】
ステップＳ１２において、ΔＰ′ＰＤ１≫１であれば、ステップＳ１３において、対象とする光線路の下方端部における試験光遮断フィルタ（ＦＢＧフィルタ）有りと判定し、現用光ファイバ心線と確認して終了する。
【００６５】
一方、ステップＳ１２において、ΔＰ′ＰＤ１≫１でなく、ステップＳ１４において、ΔＰ′ＰＤ１≒１であれば、ステップＳ１５において、対象とする光線路の下方端部における試験光遮断フィルタ（ＦＢＧフィルタ）無しと判定し、非現用光ファイバ心線と確認して終了する。
【００６６】
ステップＳ１４において、ΔＰ′ＰＤ１≒１でなければ、グレーゾーン（エラー表示）としてステップＳ１に戻り再測定する。
【００６７】
なお、本発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明の一実施形態に係る光フィルタ有無確認システムを示す構成説明図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光電変換素子の受光レベルを示す説明図である。
【図３】本発明の実施形態に係る光フィルタ有無確認システムの線路損失を示す説明図である。
【図４】本発明の実施形態に係る試験光遮断フィルタ・開放端の波長依存性を示す反射特性図である。
【図５】本発明の実施形態に係る光フィルタ有無確認方法を示すフローチャートである。
【図６】本発明の実施形態に係る光フィルタ有無確認方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６９】
１１…通信局の局舎、１２…二波長光源、１３…伝送装置、１４…試験光挿入用光カプラ、１５…光ファイバケーブル、１６…光スプリッタ、１７…現用光ファイバ心線、１８…試験光遮断フィルタ、１９…ユーザ用伝送装置、２０…現用光ファイバ心線、２１…試験光遮断フィルタ、２２…ユーザ用伝送装置、２３…非現用光ファイバ心線、２４…開放端、２５…工事対象光ファイバ心線、２６…曲げ部、２７…非現用確認装置、２８…第１の光電変換素子、２９…第２の光電変換素子、３０…第１のパワーモニタ部、３１…フィルタ判別処理部、３２…第２のパワーモニタ部、３３…新規工事点。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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