(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子と、前記撮像素子に被写体像を入力する撮像光学系と、前記撮像素子の出力に基づいて前記撮像素子の欠陥画素アドレスの検出を実行する欠陥データ検出手段と、前記欠陥データ検出手段で検出された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を行う欠陥補償手段とを備えた撮像装置であって、
前記欠陥データ検出手段は、当該撮像装置の欠陥検出動作を実行する時に、過去の所定回数の欠陥検出動作を実行した時の検出結果であって該過去の検出動作において始めて検出された欠陥画素アドレスを最終的な欠陥画素アドレスの候補として仮登録し、今次の欠陥検出動作で前記仮登録された欠陥画素アドレスが検出された場合に前記仮登録された欠陥画素アドレスを最終的な欠陥画素アドレスとして登録することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記欠陥データ検出手段は、同一の撮像条件下で得られた複数の画像信号について、各画像信号毎に所定の判定基準で欠陥判定を行うことを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の撮像装置において、前記撮像素子の欠陥画素アドレス情報を欠陥データとして登録する不揮発性メモリと、前記欠陥データの更新手段とを更に備え、
前記欠陥補償手段は、前記不揮発性メモリに登録された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を行い、
前記更新手段は、前記欠陥データ検出手段によって新たに検出された新規検出欠陥データの欠陥画素アドレスのうち既に前記不揮発性メモリに登録されている欠陥画素アドレスと重複しない欠陥画素のみを前記不揮発性メモリに追加登録することを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ビデオカメラなどの撮像装置は従来より広く利用されている。近年主として静止画を撮像記録する電子スチルカメラも特にディジタルカメラとして普及するに至り、主として動画記録用であったビデオムービーにおいても静止画撮影記録機能を有するようになってきた。そして主として静止画撮影に際して使用される長時間露光は撮像素子における電荷蓄積時間を長くすることによって露光時間を長くし、これによって低照度下でもストロボなどの補助照明を使用することなく撮影できるようにする技術として知られている。
【０００３】
一方撮像素子においてはいわゆる暗電流の存在などによる暗出力が存在し、これが画像信号に重畳されるため、画質劣化を来す。この暗出力レベルが大きい画素が存在する場合は画素欠陥と称され、その画素の出力情報は用いず近隣の画素の出力情報を用いて情報を補完することが広く実用されている。本明細書においてはこのような補完処理を画素欠陥の補償と称する。しばしば使用フレームレートにおける動画駆動を前提に決められる所定の（例えばＮＴＳＣでは１／６０秒の、あるいはこれに基づいて所定のマージンを見た例えば４倍マージンだと１／１５秒の）標準露光時間で暗出力を評価し、そのレベルが大きい画素については欠陥画素と見做して前記画素欠陥補償を適用する。
【０００４】
そしてさらに、画素欠陥は温度依存や経時変化を伴うから欠陥画素の評価を工場出荷前に行うだけでは不十分であるという点について改善をはかった技術も特開平０６−０３８１１３号公報に公知である。すなわちこの公開公報には、電源オン直後にアイリスを閉じることで受光面を遮光し、カメラの使用に先立ってＣＣＤ暗出力を評価することで欠陥画素を検出して、欠陥補償を行う技術が記載されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来技術が用いられてきた前提として、画素欠陥とは破壊的現象と見なされていた。すなわち上述の温度変化や近年顕在化した後発性欠陥の問題があるにせよ、欠陥は一度発生したら少なくとも同じ温度条件下では消滅することは無いという技術的前提があった。
【０００６】
ところが、近年の撮像素子の多画素化とこれに伴う画素微細化によって従来見逃されてきた現象が見出されるようになった。この現象を、本明細書では「点滅性欠陥」と称する。この現象の原因（メカニズム）は定かではないが、点滅性欠陥は撮像素子を同一条件（同一温度、同一蓄積時間、遮光下）で繰り返し読み出しを行った場合に、読み出される暗電荷レベルが極端に増減する画素が存在するという現象である。このような画素は或る時は正常画素、また或る時は白欠陥というようにあたかも点滅する白欠陥の如く振舞う。
【０００７】
このような点滅性白欠陥については、製造工程においてもまたカメラ装置における自己測定機能においても、従来のようなただ１回の欠陥検出を行っただけではそのときたまたま欠陥が消灯状態にあった場合には検出できないから看過され、画像記録のための本撮像時に点灯状態となり欠陥が顕在化することを防ぐことができないという問題があった。
【０００８】
本発明の目的は、点滅性欠陥も検出可能な欠陥検出を行うことにより、点滅性欠陥を含めたすべての画素欠陥が補償された高性能な撮像装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の課題を解決するために次のような手段を講じた。
【００１４】
本発明に係る撮像装置は、撮像素子と、前記撮像素子に被写体像を入力する撮像光学系と、前記撮像素子の出力に基づいて前記撮像素子の欠陥画素アドレスの検出を実行する欠陥データ検出手段と、前記欠陥データ検出手段で検出された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を行う欠陥補償手段とを備えた撮像装置であって、前記欠陥データ検出手段は、当該撮像装置の欠陥検出動作を実行する時に、過去の所定回数の欠陥検出動作を実行した時の検出結果であって該過去の検出動作において始めて検出された欠陥画素アドレスを最終的な欠陥画素アドレスの候補として仮登録し、今次の欠陥検出動作で前記仮登録された欠陥画素アドレスが検出された場合に前記仮登録された欠陥画素アドレスを最終的な欠陥画素アドレスとして登録することを特徴とする。
【００１５】
上記の撮像装置において、前記欠陥データ検出手段は、同一の撮像条件下で得られた複数の画像信号について、各画像信号毎に所定の判定基準で欠陥判定を行い、欠陥があると判定された回数が欠陥判定の総回数よりも小さい所定回数以上の画素アドレスを最終的な欠陥画素アドレスとして検出することを特徴とする。なお、上記所定回数は１回であること、又は上記所定回数は２回であることが好ましい。
【００１６】
上記の各撮像装置において、前記欠陥データ検出手段で検出された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を行う欠陥補償手段を有したことを特徴とする。なお、本撮像装置において、前記撮像素子の欠陥画素アドレス情報を欠陥データとして登録する不揮発性メモリと、前記欠陥データの更新手段とを更に備え、前記欠陥補償手段は、前記不揮発性メモリに登録された前記欠陥データに基づいて前記欠陥画素のデータに対して当該欠陥画素の近隣画素データによる補償処理を行い、前記更新手段は、前記欠陥データ検出手段によって新たに検出された新規検出欠陥データの欠陥画素アドレスのうち既に前記不揮発性メモリに登録されている欠陥画素アドレスと重複しない欠陥画素のみを前記不揮発性メモリに追加登録することが好ましい。
【００１７】
上記の各発明において、前記同一の撮像条件は前記撮像素子に入力される光を遮断する遮光条件であることが好ましい。
【００１８】
【発明の実施の形態】
図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。図１は、本発明の実施形態に係る撮像装置（電子カメラ）の概略ブロック図である。
【００１９】
図１において、レンズ群１１を通過した被写体の光学像は、ＣＣＤ等の撮像素子１２で電気信号に変換され、撮像回路１３でアナログ画像信号に変換される。このアナログ画像信号はＡ／Ｄ変換器１４でデジタル画像信号（以下、「画像情報」とも称する）に変換されて、一旦、揮発性の内蔵メモリ２５に記憶される。この内蔵メモリ２５は、高速な、例えばＳＤＲＡＭ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）であり、後述する画像処理用のワークエリアとしても使用される。
【００２０】
画像処理回路２１は、内蔵メモリ２５に一時記憶された画像情報の色情報の変換処理、画素数変換などの処理を行う。そして、画像処理回路２１でのさまざまな画像処理を受けた画像情報は、圧縮伸長部２２で例えばＪＰＥＧ圧縮されて、スマートメディア等の着脱メモリ２０に記録される。
【００２１】
また、撮影画像を表示する場合には、画像処理後の画像情報は、ＬＣＤドライバ３１を経由して、画像表示用ＬＣＤ３０に表示される。
【００２２】
着脱メモリ２０に記録された画像を表示する場合には、着脱メモリ２０から読み出された画像情報は圧縮伸長部２２で伸長されて、例えば、画像処理回路２１で所定の画像処理がなされた後に、撮影の時と同様に、画像表示用ＬＣＤ３０に画像が表示される。
【００２３】
システムコントローラ４０は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ４１から電子カメラの基本制御プログラムを読み出して電子カメラ全体の制御を行う。
【００２４】
更に、システムコントローラ４０は、操作部４６（図示しないレリーズボタンや十字キー等を含む）からの入力を受け付けて、その入力に応じた制御を行う。また、システムコントローラ４０は、図示しない電源部を制御して電子カメラ全体の電源管理も行っている。更に、システムコントローラ４０は、レンズ等駆動回路１５を介してレンズ群１１を駆動制御する。
【００２５】
本発明の実施形態の電子カメラでは、特にレンズ群１１に含まれるシャッタと、撮像素子１２の駆動を制御して露光（電荷蓄積）および信号の読み出しを行い、それを撮像回路１３やＡ／Ｄ変換器１４、及び画像処理回路２１等で処理された情報を用いて、以下で説明する画素欠陥の検出等を行う。
【００２６】
また電子カメラは画素欠陥補償手段２３を有しており、システムコントローラ４０の指令に基づいて、不揮発性メモリ４１（電源オフ時にも記憶保持が可能な記憶手段）に格納されたカメラの工場出荷時に登録された画素欠陥（以下「登録欠陥」と称する）に関する欠陥データと、工場出荷後における詳細は後述する欠陥検出によって検出された画素欠陥（以下「検出欠陥」と称する）に関する欠陥データとに基づいて画素欠陥補償処理を施す。なお、この画素欠陥補償手段２３は画像処理回路２１に含まれていても良い。また、適所に温度センサ（図示せず）を有している。なお、電子カメラの仕様保証上限温度は４１℃であり、また最長露出時間Ｔｍａｘは５秒（５ｓ）とする。
【００２７】
カメラは記録モード、再生モード、スタンバイモードの３つの制御状態から為っており、記録モードはレリーズボタンの手動操作によって発生する撮影指令によって撮像（画像記録）を行うモードである。再生モードは記録された画像を再生して例えば画像表示用ＬＣＤ３０に表示するためのモードである。この再生モードではレリーズボタンを操作しても撮像は行われない。従って、例えば、レリーズボタン操作で再生コマ送りが行われるように構成しても良い。カメラには例えば記録／再生を切り換えるためのモード切り替えスイッチが設けられており、これにより各モードが切り替え・選択される。スタンバイモード、は主要な回路への電源を切断して監視に必要な最低限の回路を動作させておくモードである。カメラは操作スイッチとして電源スイッチが設けられており、この電源スイッチの操作により、モード切り替えスイッチの選択に応じた各モードとスタンバイモードとの間を移行する。また、記録モードあるいは再生モードにあるとき、各所定時間（例えば１分と３分など）全く無操作で経過した場合には自動的にスタンバイモードに移行する。スタンバイモードでは電源スイッチ以外のスイッチ操作は一切受け付けないように構成されている。なお、レリーズボタンの操作によってもスタンバイモードから選択されたモードに移行するようにしても良く、スタンバイモードからの各モードへの移行のための特定スイッチは任意に設定可能である。
【００２８】
以下、本発明の画素欠陥の検出と補償に直接関わる処理を中心にシステムコントローラ４０によるカメラの制御を説明する。ただし、本電子カメラにおいてデジタル信号のレベル処理は８ビット（０〜２５５）が適用されているものとする。また特記する部分を除いて、常温を仮定して説明する。
【００２９】
撮像モードにおいては、撮影に先立ってマニュアル設定または測光結果に基づいて撮影に必要な露光時間が設定される。次に本撮影の撮影指令を待機し、指令を受けたら所定の露出制御値に基づいた露光を行い、撮像信号を読み出して所定の信号処理を施した後に着脱メモリ２０に記録する。その際欠陥画素については画素欠陥補償を行う。欠陥補償後において記録に至るまでの映像信号処理は、その必要に応じて適宜使用される公知の処理である、例えば色バランス処理、マトリクス演算による輝度−色差信号への変換あるいはその逆変換処理、帯域制限等による偽色除去あるいは低減処理、γ変換に代表される各種非線型処理、各種情報圧縮処理、等々である。
【００３０】
なお、本発明に係る電子カメラにおいて、欠陥補償は、公知の欠陥補償方法である「欠陥アドレスが登録された画素に関しての近隣画素による補完」が採用されているものとする。具体的には、「最近接同色画素（同色の画素のうち、当該欠陥画素に最も近い４画素：ＲＧＢベイヤ配列の場合を例示すればＧに関しては斜め４方に隣接する４つのＧ画素、Ｒ（またはＢ）に関しては上下左右の４方向で直接隣接でなく間に１つのＧを挟んで次に位置する各４つのＲ（またはＢ）画素）たる４画素情報の平均値を代替適用する」ことにより欠陥補償がなされている。
【００３１】
登録欠陥として、暗黒中温度２５℃、３３℃、４１℃のそれぞれの温度下で電子カメラの手ぶれ限界シャッタ速度の露光時間（例示値：１／６０ｓ）の電荷蓄積動作において測定された暗出力レベルＳが、例えば、
Ｓ＞５（≒２％）
であるような画素のアドレスが、それぞれの温度について登録されている（以下、「登録欠陥画素」と称する）。この登録された画素のアドレスが欠陥アドレス（以下、「登録欠陥アドレス」と称し、このデータを「登録欠陥データ」と称する）である。従って、Ｓ≦５の時には非欠陥とする。このことは、少なくとも上記手ぶれ限界シャッタ速度の露光時間（例示値１／６０ｓ）以下の露光時間を想定したときに、本撮像時の暗出力レベルを最大フルレンジ２５５の約２％までは許容するということを意味する。ここで出力レベルの約２％という判定基準レベルは一例であって、設計時に事情に合わせて任意に設定し得るものであるが、上記程度の適当な値（他に例えば約５％や約１％なども有効）を選んでおけば画像に重畳される暗出力の影響の顕在化可能性は充分低くなる。また、暗出力レベルの判定値を０％とすれば暗出力が重畳された画素を完全に排除することが可能になるので、この点ではこれも一つの好適実施例として挙げ得る。しかし、このように暗出力レベルの判定値を０％にすることにより、僅かな暗信号の重畳のために当該画素情報を欠陥画素であるとみなしてしまうことから、欠陥画素数の増加により総合的な画質を低下させることになる場合もある。従って、現実にはこれらのトレードオフ要素を勘案して暗出力の判定レベルを設定する。
【００３２】
本カメラは必要時に欠陥検出を行い、その結果に基づき上記登録欠陥を追加更新する。欠陥検出は次のように行われる。
【００３３】
すなわちレンズ群１１に含まれるシャッタで撮像素子の受光面を遮光してから、その遮光状態でテスト撮像を行う。すなわち暗黒下で図示しないＣＣＤ駆動回路により本カメラの最長露出時間Ｔｍａｘ（設定は任意：ここでの例示値５ｓ）の電荷蓄積動作を行ってテスト撮像信号（暗出力信号）を読み出し、内蔵メモリ２５に一旦格納する。格納された有効出力画素の全データに関して各出力レベルを調べて基準レベルとデジタル比較を行うことで欠陥か否かの判定を行う。
【００３４】
なお、撮影時の補償に使用されるべき欠陥画素のアドレス（最終的な欠陥データ）は、上記登録欠陥画素および上記の欠陥検出によって検出された欠陥画素のデータ双方を用いて決定される。
【００３５】
上記のようなテスト撮像およびこれに伴う欠陥判定を繰り返し５回行い、１回でも欠陥と判定されたらこの画素を最終的な欠陥として検出する。この場合において、テスト撮像の回数は増やせば増やすほど点滅性欠陥を看過する確率が下がるので、多いほど好ましいが、その反面検出に長時間を要する。従って、判定（テスト撮像）回数はこれらの観点を考慮した上で任意に設定することができる。
【００３６】
一方、外乱ノイズなど何らかの理由で検出系に正常画素を欠陥と判定する誤判定の可能性が有意に存在する場合には、１回でも欠陥と判定された画素を最終的な欠陥と見なした場合、本来正常である画素を上記誤判定により欠陥を有するものとして誤検出するおそれがある。このため、テスト撮像の回数を１０回とし、２回以上欠陥があると判定された画素のみを欠陥画素のとして判定することが好ましい。この理由を簡単に説明する。
【００３７】
テスト撮像の回数を５回から１０回に増やし、判定基準を１回から２回に変えた場合でも、検出確率は共に１／５であって、検出時間は２倍になるが、その検出確率は変わらない。なお、例えば偶発的なノイズ混入による誤検出については画素が特定されないことから、例えば数１００万画素のうち同一の画素で１０回のうち２回誤検出される確率は極めて低いものとなり事実上０と見なせる。すなわち、判定基準を１回とした場合には、誤検出分を欠陥画素として過剰検出するのに対し、判定基準を２回とした場合には、このような誤検出の確率はほぼ０とすることができる。なお、この判定基準は、３回以上としても、２回の場合と比較した場合、誤検出の確率は計算上の数値としては激減するものの、事実上０と見なせるという作用効果においては実質的に変わらず、単に検出時間が長くなるということになる。従って、判定基準を２回とすることにより、点滅性欠陥の検出確率は上記実施形態とほぼ同様でありながら、過剰検出（誤検出）の確率を極めて小さくすることができる。
【００３８】
上記では、ある１回の「欠陥検出動作」として「所定の複数回のテスト撮像、各回に対応する欠陥判定、これらの判定結果による最終的な欠陥検出」が規定されている。このような検出方法を一時検出法と呼ぶことにすれば、一時検出法は
（１）不揮発性メモリを必ずしも要しない。すなわち例えば毎回のカメラ電源投入時に欠陥検出を行なって、その結果を電源が切断されるまでに行なわれる毎回の撮影における欠陥補償に適用するように構成することができる。
（２）カメラの製造工程（調整工程）における適用にも好適であり、これによって検出した欠陥アドレスをカメラの不揮発性メモリに書きこむことで、従来対応不可能であった点滅性欠陥に対応したカメラを得ることができる。この場合には、検出時間に関する制約はカメラ本体における自動調整機能に比較すればはるかに緩やかであるから、より精度の高い検出を行なうことが容易である。
という特徴を有している。（１）、（２）いずれの場合も（これらは１台のカメラに同時に採用することもできる）、検出に関する基本的な制御は同じである。図２にこの一時検出法を使用した場合の制御フローの例を示す。
【００３９】
一方、上記本実施形態のようにカメラ本体の自動調整機能として具現化した場合には、「欠陥検出動作」は必ずしも１回で完結するものではなく、各回の検出時に過去の検出結果（中間的な判定結果を含む）を新規検出における判定結果として再利用する、換言すれば過去の情報を累積した形で今次の最終欠陥検出に利用するように構成することも可能である。このような検出方法を累積検出法と呼ぶことにする。
【００４０】
累積検出法を採用した一変形例を示せば、例えば各回のテスト撮像および欠陥判定はただ１回とし、ｎ回目の欠陥検出においては「今回も含む過去ｎ回（すなわち過去全て）の各回のテスト撮像およびそれに伴う欠陥判定において２回以上欠陥と判定されたらこの画素を最終的な欠陥とする」ようにすれば良い。この場合、工場出荷後に後発的に発生した点滅欠陥については、発生直後の数回の検出において看過する可能性があるものの、その後の検出回数が増えるに従って、看過の確率は限りなく０に近づく。図３（ただしＳ１４における分岐を無視したＳ１１〜Ｓ１５の制御）にこのような方法（累積検出法１とする）の場合の制御フローを示す。
【００４１】
なお、この累積検出法１において上記した「工場出荷後に後発的に発生した点滅欠陥について発生直後の数回の検出において看過する可能性」があるという問題を改善するには、始めの９回の検出まではただ１回の検出によって最終的な欠陥と認定するようにすれば良い。図３におけるＳ１４における分岐（Ｓ１６）はそのための処理である。（ただしこの場合、この処理が有効な始めの９回の検出までは誤検出の危険を伴なう。）
またこの累積検出法１では、過去の全てのデータを使用しているが、これを所定回数ｍに限って適用しても良い。（累積検出法２とする）この場合の制御フローを図４に示す。なお、Ｓ２４における分岐（Ｓ２６）は、累積検出法１におけるＳ１４における分岐（Ｓ１６）と同様の目的で適宜採否可能な処理である。
【００４２】
上記した欠陥画素の検出（欠陥データの追加登録を含む）が、カメラの制御全体の中でどのようなタイミングで行なわれるかを説明する制御の一例を図５を参照して説明する。図５は、欠陥データの更新の流れを示すフローチャートである。
【００４３】
まず、カメラのモードが記録モードから他のモードへ移行しかどうか検知し（ステップＡ１）、記録モードから他のモードへ移行した時点で欠陥画素の検出を行う（ステップＡ４）。ここにおいて、記録モード以外のモードとしては、例えば、再生モードやスタンバイモードがある。そして、欠陥画素の検出が終了したら、欠陥画素を追加登録する（ステップＡ５）。次に、現在のモードが記録モードかどうか判定し（ステップＡ２）、記録モードであれば、欠陥検出を行うことが好ましくないので、ステップＡ１に戻り、記録モードから他のモードへの移行を監視する。ステップＡ２において、記録モード以外のモードであれば、所定時間経過したかどうか判定され（ステップＡ３）、所定時間が経過したら欠陥画素の検出を行い欠陥画素データの更新（アドレスの追加登録）を行なう（ステップＡ４）。すなわち、このステップＡ４に相当するものが既に説明した図２〜４の各欠陥検出制御であった訳だが、以下では特にこの時（例えばＳ０４、Ｓ１３、Ｓ２３）に行なう欠陥アドレスの登録に関して、補足説明する。
【００４４】
上記のステップＡ４における欠陥画素の登録は例えば次のように行われる。
基本的に、検出された欠陥画素のアドレスのうち登録欠陥と重複するものを除去したものを、不揮発性メモリ４１に追加登録する。このとき検出欠陥のデータを単純に既存の登録データと置き換えるように構成しても良いが、欠陥画素の検出時において例えばノイズなど何らかの原因による検出ミスが生じ、工場出荷時あるいはそれまでの経時劣化によって欠陥であった画素を非欠陥として扱ってしまい、欠陥を顕在化させてしまうおそれがある。これに対して本発明においては、検出欠陥から既存の登録欠陥との重複を除去したものを既存のデータに追加するようにしているので、一旦登録された欠陥が再び顕在化することを防止できる。
【００４５】
上記のように、本発明においては、カメラが記録モードから記録以外のモードである再生モードやスタンバイモードに移行する際に、欠陥画素の検出を行うようにしている。このモードの移行時は基本的に撮影を行わない場合であると考えられるので、欠陥画素の検出にある程度の時間を要したとしても、タイムラグによる問題（すなわちシャッターチャンスを逃す等）の問題が生じることはない。なお、この場合には、記録モードにおいて欠陥画素の検出・登録を行ってから、所定のモードに移行することが好ましい。
【００４６】
本発明は、上記の発明の実施の形態に限定されるものではない。上記の実施形態においては、記録モードから記録モード以外のモードへ移行する際や、記録モード以外のモードにおいて所定時間経過時点で欠陥画素の検出を行うようにしたが、記録モード以外のモード間の移行（例えば、再生モードからスタンバイモードへの移行やその逆）の場合に欠陥画素の検出を行うようにしても良い。
【００４７】
また、工場出荷時（あるいはこれに類する所定時）に登録されたデータである初期登録データを基準にして、検出欠陥データのうち初期登録データと異なるものだけを初期登録データに毎回追加するようにしても良い。これにより、非欠陥画素を欠陥画素と誤検出した場合にも、その結果が蓄積されることを防止できるとともに、少なくとも初期登録データに関しては誤検出によって欠陥画素が非欠陥画素として顕在化することを防止できるという効果を有している。
【００４８】
なお、上記実施例で用いているＡ／Ｄ変換器の量子化レベルについて、現実には、Ａ／Ｄ変換器のハードウェアの有する誤差特性の存在や、仮にそれが無いとしても原理的に最小量子化レベル付近においては量子化誤差は相対的には１００％にも相当することを考慮すれば、上記実施例に関して実際の量子化に用いるＡ／Ｄ変換器は画像処理系の量子化ビット数（実施例では８ビット）よりも多い例えば１０ビットあるいは１２ビット程度（それ以上でも良い）のものを使用することがより好ましく、これによって上記各演算式の演算に際して誤差の影響を充分低減することができる。
【００４９】
また、上記の実施形態では欠陥検出後に検出欠陥の追加登録を行うようにしているが、これに限らず検出欠陥の追加登録は欠陥画素の検出以後の任意の時点で実行しても良く、記録モードに設定される以前の任意の時点とすることが好ましい。
【００５０】
上記の実施形態では記録モードから他のモードへの移行時に毎回データの更新を行っているが、モードの移行時毎でなく、例えば所定の数回毎に実行するようにしても良い。この場合データの更新回数が減るので消費電力を節約できる効果がある。
【００５１】
更に、上記の実施形態では、遮光手段を用いた欠陥検出によりいわゆる白欠陥のみを対象としているが、撮像面への白色光（リファレンス光）の付与手段を用いた欠陥検出によればいわゆる黒欠陥を含めて対象とすることができる。
【００５２】
本発明は、上記の発明の実施の形態に限定されるものではない。本発明の要旨を変更しない範囲で種々変形して実施できるのは勿論である。
【００５３】
【発明の効果】
本発明によれば、テスト撮影を複数回行い、所定の判定基準によって、欠陥画素を特定するようにしたので、点滅性欠陥を看過することなく撮影画像において欠陥が顕在化することがない。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の実施形態に係る撮像装置の概略ブロック図。
【図２】  一時検出法による欠陥検出の流れを示すフローチャート。
【図３】  累積検出法１による欠陥検出の流れを示すフローチャート。
【図４】  累積検出法２による欠陥検出の流れを示すフローチャート。
【図５】  欠陥データの更新の流れを示すフローチャート。
【符号の説明】
１１…レンズ群
１２…撮像素子
１３…撮像回路
１４…Ｄ変換器
１５…レンズ等駆動回路
２０…着脱メモリ
２１…画像処理回路
２２…圧縮伸長部
２３…画素欠陥補償手段
２５…内蔵メモリ
３０…画像表示用ＬＣＤ
３１…ＬＣＤドライバ
４０…システムコントローラ
４１…不揮発性メモリ
４６…操作部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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