(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光または再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクに情報を記録する方法において、
前記光ディスクの出力校正領域にて記録用レーザ光のスポット径を変化させてテスト記録を行い、スポット径と記録品質を示す特性値との関係を導き出すステップと、
導き出されたスポット径と記録品質を示す特性値との関係からスポット径の変化量の許容範囲を決定するステップと、
前記光ディスクの記録領域に記録用レーザ光を照射して記録を行いながら球面収差を検出するステップと、
球面収差が発生した場合、前記許容範囲でスポット径の変化量が収まるように収差補正を行うステップと、
を有することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項２】
記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光または再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクに情報を記録する記録再生装置において、
記録用レーザ光または再生用レーザ光を発するレーザダイオードと、
該レーザダイオードからのレーザ光を前記光ディスクに集光する対物レンズと、
前記レーザダイオードと前記対物レンズとの間に設けられ、前記記録用レーザ光または前記再生用レーザ光に生じた球面収差を補正する収差補正手段と、
光ディスクからの反射光を再生信号として検出するフォトディテクタと、
を有している光ピックアップ部と、
前記光ピックアップ部からの再生信号を読み取って再生信号の強度を検出する信号強度検出部と、
前記光ピックアップ部からの再生信号を読み取って記録品質の評価に用いられる特性値を検出する特性値検出部と、
前記光ディスクの出力校正領域にて記録用レーザ光のスポット径を変化させてテスト記録を行い、その都度、前記信号強度検出部にて検出された再生信号の強度と前記特性値検出部により検出された前記特性値との関係を導き出し、導き出された前記関係から前記スポット径の変化量の許容範囲を決定し、前記光ディスクの記録領域に前記記録用レーザ光を照射して記録を行いながら球面収差を検出し、球面収差が発生した場合、前記許容範囲でスポット径の変化量が収まるように前記収差補正手段に収差補正を行わせる演算部と、
を有することを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの記録方法及び光ディスク記録再生装置に関するもので、球面収差の補正を行うことにより、記録品質の低下を防止することを目的とするものである。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−Ｒ（追記型ＣＤ）、ＤＶＤ±Ｒ（追記型ＤＶＤ）またはＢＤ−Ｒ（追記型ブルーレイディスク）等の光ディスクは、光透過性ディスク状基板の一方の面上に、記録層、反射層、及び必要に応じて保護層を形成した構造を有している。また、前記基板の、記録層や反射層が形成されている面上にはグルーブと呼ばれる螺旋状または同心円状の溝が形成され、隣り合うグルーブの間はランドと呼ばれる凸部となっている。このような光ディスクは、記録用レーザ光をグルーブ上の記録層に照射してピットを形成することにより記録が行われ、このピットの長さ、ピットとピットの間の部分（以下スペースと呼ぶ。）の長さ及びこれらの配列を、再生用レーザ光を照射して反射光を再生信号として読み取ることによって再生が行われる。
【０００３】
このような光ディスクは、記録用レーザ光及び再生用レーザ光が光透過層を通して記録層に照射される。ここで光透過層は、ＣＤ−ＲやＤＶＤ±Ｒの場合は光透過性ディスク状基板（厚さはＣＤ−Ｒの場合１．２ｍｍ、ＤＶＤ±Ｒの場合０．６ｍｍ）の上に記録層、反射層が順次形成された構造を有するので、光透過性ディスク状基板が光透過層に相当する。また、ＢＤ−Ｒの場合は厚さ１．１ｍｍの光透過性ディスク状基板の上に反射層、記録層が順次形成され、記録層上に厚さ０．１ｍｍの透明のカバー層が形成された構造を有するので、透明のカバー層が光透過層に相当する。
【０００４】
このような光ディスクにおいては記録用レーザ光を記録層に照射してピットを形成する時に熱が発生する。この熱の発生が過剰になると、ピットの形状が正常な形状とは異なった形状に変形することがある。このピットの変形によって記録品質（例えばジッタ特性）が低下する場合があった。このピットの変形を防止するため、記録用レーザ光の出力の調整が行われる。この記録用レーザ光の出力調整は次のように行われる。まず光ディスクのデータ記録領域より内周側にある出力校正領域（例えばＤＶＤ−ＲではＰＣＡと呼ばれる領域）に、記録用レーザ光の出力を変化させてテスト記録を行う。次にこのテスト記録の結果のうち、記録品質が良好なものを選択して、これを最適記録出力として算出する。次にこの算出により得られた最適記録出力の記録用レーザ光で光ディスクのデータ記録領域への記録を行う。  
【０００５】
しかし、光ディスクの記録層の記録感度は、生産条件などによって、個別ディスク内及びディスク個体間で 一定ではなく、ばらつきが生じることがある。このような光ディスクでは、記録用レーザ光の最適な出力が変化するため、上記方法によって算出された出力で固定して記録を行うと最適な記録品質が得られない部分が生じることがある。このような問題に鑑み、例えば、特開２００３−２６３７４０号公報に開示されているように、データ領域への記録後にその記録状態を検出して、その結果に基づいて記録用レーザ光の出力を補正する方法が提案されている。  
【０００６】
また、光ディスクの記録においては、光ディスクの反りや光透過層の厚みばらつき、光ディスク記録再生装置のピックアップ部における対物レンズ等のレンズチルト等の製造誤差によって記録品質の低下が起こる。例えば光透過層の厚みばらつきについては、記録用レーザ光または再生用レーザ光のスポットに球面収差が発生して、記録用レーザ光の出力が変化し、ピット形状に乱れが生じて記録品質が低下してしまうという問題がある。そこで特開２００４−１０３０９３号公報に開示されているように、光ディスク記録再生装置に具備された収差補正手段を用いて球面収差補正を行う方法が提案されている。また、収差補正すると記録用レーザ光の出力が変化するため、特開２００３−１０９２３９号公報に開示されているように、球面収差補正を行った後に記録用レーザ光の出力補正を行う方法が提案されている。  
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−２６３７４０号公報
【特許文献２】特開２００４−１０３０９３号公報
【特許文献３】特開２００３−１０９２３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
このような収差補正は、レーザダイオード等の光源と対物レンズとの間の光軸上に設けられた光学手段、例えばコリメータレンズやそれ以外のレンズなどを収差補正手段として用いて行われている。すなわち、これらの収差補正手段を駆動させて対物レンズとの間隔を調整することによって収差補正を行っているものである。収差補正手段と対物レンズとの間隔が変化するため、レーザ光の対物レンズへの入射角度が変化し、ＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ：開口数）が変化する。ＮＡが変化すると、スポットの直径（スポット径）が変化する。  
【０００９】
スポット径が変化して広がった場合、レーザ光の照射範囲も広がる。照射範囲の広がった記録用レーザ光で記録を行うと、スペース長が短い場合、照射したレーザ光による熱が隣接ピットに影響する、いわゆる熱干渉が発生する。記録用レーザ光を照射して一つのピットを形成し終わるとき、その瞬間にレーザ光が照射された部分に熱が蓄積される。このとき次のピットを形成する位置にレーザ光が照射された部分が含まれていた場合、この部分は蓄積された熱とレーザ光照射による熱が合わさった状態になる。この状態は適正なレーザ出力より大きい出力のレーザ光を照射した状態と同じになるので、ピット形状に乱れが生じて記録品質が低下してしまう。すなわち収差補正により記録品質の低下が発生してしまうことがあった。
【００１０】
本発明は、収差補正を行うに当って、熱干渉が発生して記録品質が低下するのを防止することができる光ディスクの記録方法及びこの記録方法に用いられる光ディスク記録再生装置を提案するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
発明者らは鋭意検討の結果、スポット径が変化しても記録品質がほとんど変化しない範囲が存在することを発見した。すなわちスポット径の変化がその範囲内に収まるように収差補正を行うことによって記録品質の低下を防止することができることを見出した。そこで本発明では第一の解決手段として、記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光または再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクに情報を記録する方法において、前記光ディスクの出力校正領域にて記録用レーザ光のスポット径を変化させてテスト記録を行い、スポット径と記録品質を示す特性値との関係を導き出すステップと、導き出されたスポット径と記録品質を示す特性値との関係からスポット径の変化量の許容範囲を決定するステップと、前記光ディスクの記録領域に記録用レーザ光を照射して記録を行いながら球面収差を検出するステップと、球面収差が発生した場合、前記許容範囲でスポット径の変化量が収まるように収差補正を行うステップと、を有する光ディスクの記録方法を提案する。
【００１２】
本発明の記録方法によれば、スポット径と記録品質を示す特性値との関係から、記録品質がほとんど変化しないスポット径の範囲を特定し、収差補正手段の駆動量を制限するため、熱干渉によって記録品質が低下するのを防止することができる。  
【００１３】
また、本発明では第二の解決手段として、記録層と、該記録層に照射される記録用レーザ光または再生用レーザ光が通過する光透過層と、を有する光ディスクに情報を記録する記録再生装置において、記録用レーザ光または再生用レーザ光を発するレーザダイオードと、該レーザダイオードからのレーザ光を前記光ディスクに集光する対物レンズと、前記レーザダイオードと前記対物レンズとの間に設けられ、前記記録用レーザ光または前記再生用レーザ光に生じた球面収差を補正する収差補正手段と、光ディスクからの反射光を再生信号として検出するフォトディテクタと、を有している光ピックアップ部と、前記光ピックアップ部からの再生信号を読み取って再生信号の強度を検出する信号強度検出部と、前記光ピックアップ部からの再生信号を読み取って、記録品質の評価に用いられる特性値を検出する特性値検出部と、前記信号強度検出部からの信号に基づいてレーザ光のスポット径を検出するスポット径検出部と、前記記録用レーザ光または前記再生用レーザ光に生じた球面収差を検出する収差検出手段と、前記収差検出手段の検出結果に基づいて光ピックアップ部の収差補正手段を駆動させるとともに、前記スポット径検出部の検出結果に基づいて前記光ピックアップ部の前記収差補正手段の駆動範囲を制御する収差制御部と、を有する光ディスク記録再生装置を提案する。
【００１４】
本発明の記録再生装置によれば、スポット径と記録品質を示す特性値を検出し、これらの関係から記録品質がほとんど変化しないスポット径の範囲を特定し、その結果から収差補正手段の駆動量の範囲を制御することができる。これにより熱干渉によって記録品質が低下するのを防止することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、収差補正に伴うスポット径の変化による記録品質の低下を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明の実施の形態における記録装置を、図１を用いて説明する。光ディスク記録再生装置１００は、処理途中のデータ、処理結果のデータ、処理における参照データ（例えば各メディアＩＤに対応するストラテジデータ）などを格納するメモリ１２６と、以下で説明する処理を行わせるためのプログラムが記録されるメモリ回路を含む演算部１２５と、記録用レーザ光及び再生用レーザ光の制御を行うレーザダイオード駆動制御部１２２と、再生信号の強度を検出する信号強度検出部１２３と、再生信号を検知して記録品質の評価に用いられる特性値を検出する特性値検出部１２４と、光ピックアップ１１０と、光ピックアップ１１０の制御を行う光ピックアップ駆動制御部１２１と、光ディスク１５０の回転制御部（図示しない）及びモータ並びに光ピックアップ１１０用のサーボ制御部（図示しない）等を含む。
【００１７】
また、光ピックアップ１１０は、対物レンズ１１３と、ビームスプリッタ１１５と、検出レンズ１１４と、コリメートレンズ１１２と、レーザダイオード１１１と、フォトディテクタ１１６と、レーザダイオード１１１と対物レンズ１１３との間に設けられた収差補正手段１１７と、収差補正手段１１７を駆動させる駆動手段１１８とを含む。収差補正手段としては、特開２００３−１０９２３９号公報に開示されているようなリレーレンズ群のようなもの、または屈折率を制御する液晶素子等が用いられる。あるいはコリメータレンズ１１２を収差補正手段として駆動させても良い。駆動手段１１８は、収差補正手段１１７がリレーレンズ群やコリメータレンズであればアクチュエータ等が用いられる。光ピックアップ１１０では、図示しないサーボ制御部の制御に応じて図示しないアクチュエータが動作し、フォーカス及びトラッキングが行われる。
【００１８】
演算部１２５は、メモリ１２６、信号強度検出部１２３、特性値検出部１２４、光ピックアップ駆動制御部１２１、レーザダイオード駆動制御部１２２、図示しない回転制御部及びサーボ制御部などに接続されている。また、演算部１２５は、メモリ回路に格納されているプログラムを実行することによって、スポット径検出部、収差検出部および収差制御部として機能するようになっている。さらに、特性値検出部１２４は、フォトディテクタ１１６及び演算部１２５に接続されている。また、信号強度検出部１２３は、フォトディテクタ１１６及び演算部１２５に接続されている。光ピックアップ駆動制御部１２１は、演算部１２５及び光ピックアップ１１０に接続されている。また、レーザダイオード駆動制御部１２２は、演算部１２５及びレーザダイオード１１１に接続されている。演算部１２５は、インターフェース部（図示せず）を介して入出力システム（図示せず）にも接続されている。なお、収差を検出する手段として、独立した光学系センサ（図示せず）等を用いる場合には、その独立した光学系センサと演算部１２５に接続される。
【００１９】
次に、光ディスク１５０に対してデータを記録する場合における処理の概要を説明する。まず、演算部１２５又は別途設けられているデータ変調回路（図示せず）は、光ディスク１５０に書き込むためのデータに対して変調処理などを実施し、変調処理後のデータをレーザダイオード駆動制御部１２２に出力する。レーザダイオード駆動制御部１２２は、指定の記録条件に従って、受信したデータでレーザダイオード１１１を駆動して記録用レーザ光を出力させる。記録用レーザ光は、コリメートレンズ１１２、ビームスプリッタ１１５、収差補正手段１１７、対物レンズ１１３を介して光ディスク１５０に照射され、光ディスク１５０にピットが形成されるとともにスペースが形成される。
【００２０】
また、光ディスク１５０に記録されたデータを再生する場合における処理の概要を説明する。演算部１２５からの指示に従ってレーザダイオード駆動制御部１２２は、レーザダイオード１１１を駆動して再生用レーザ光を出力させる。再生用レーザ光は、コリメートレンズ１１２、ビームスプリッタ１１５、収差補正手段１１７、対物レンズ１１４を介して光ディスク１５０に照射される。光ディスク１５０からの反射光は、対物レンズ１１３、収差補正手段１１７、ビームスプリッタ１１５、検出レンズ１１４を介してフォトディテクタ１１６に入力される。フォトディテクタ１１６は、光ディスク１５０からの反射光を電気信号に変換し、データ復調回路（図示せず）等に再生信号として出力する。データ復調回路は、出力された再生信号に対して所定の復号処理を行い、復号されたデータを演算部１２５及びインターフェース部（図示せず）を介して、入出力システム（図示せず）の表示部に出力して、再生データを表示させる。
【００２１】
次に、図１〜図３に基づいて、本発明のスポット径の制御方法について説明する。なお、ここではＢＤ−Ｒ（スポット直径：ピーク強度の１／ｅ２  約４００ｎｍ）を例にとって説明する。まず、光ディスク１５０の出力校正領域に、初期設定におけるスポット径で記録用レーザ光を照射して記録を行う。このとき、スポット径を同時に測定して、その結果を演算部１２５のメモリ回路またはメモリ１２６に読み込ませておく。スポット径の測定方法としては、スポットプロファイル復元法やＭＴＦ（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ｔｒａｎｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ：光学系伝達関数）法等の方法がある。これらの方法は、信号強度検出部１２３にて検出される信号強度に基づいてスポット径を測定する方法である。
【００２２】
次に再生用レーザ光を記録したピットに照射して、記録品質を示す特性値を検出する。光ディスク１５０からの反射光による再生信号は、フォトディテクタ１１６から特性値検出部１２４に送信される。特性値検出部１２４で記録品質を示す特性値を検出して、その結果を演算部１２５のメモリ回路またはメモリ１２６に読み込ませておく。記録品質を示す特性値としては、アシンメトリ値、β値あるいはＤＣＪ（Ｄａｔａ  Ｃｌｏｃｋ  Ｊｉｔｔｅｒ）が挙げられる。アシンメトリ値は再生信号の波形（アイパターン）の非対称性を示す特性値で、ＤＣ（直流）接続の評価回路系において、最短ピットの信号レベルをＩ２Ｌ、最長ピットの信号レベルをＩ８Ｌ、最短スペースの信号レベルをＩ２Ｈ、最長スペースの信号レベルをＩ８Ｈとしたとき、
｛（Ｉ８Ｈ−Ｉ８Ｌ）／２−（Ｉ２Ｈ−Ｉ２Ｌ）／２｝／（Ｉ８Ｈ−Ｉ８Ｌ）
で表すことができる。また、β値は、アシンメトリ値と同様に再生信号の波形（アイパターン）の非対称性を示す特性値で、ＡＣ（交流）接続の評価回路系において、スペース側の最大信号レベルをＡ１、ピット側の最大信号レベルをＡ２としたとき、
（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）
で表すことができる。また、ＤＣＪとは光ディスク上に形成されるピットのバラツキの標準偏差で表されるものである。ここではＤＣＪを用いている。
【００２３】
次に収差補正手段１１７を駆動させて、スポット径を変化させてから、再び光ディスク１５０の出力校正領域に記録用レーザ光を照射して記録を行う。このとき、スポット径の測定と共に収差補正手段１１７の駆動量すなわち動かした長さを検出する。収差補正手段１１７の駆動量は演算部１２５の収差制御部からの信号によって決定されるので、収差制御部の信号を長さのデータに変換して演算部１２５のメモリ回路またはメモリ１２６に読み込ませておく。次いで再生用レーザ光を、スポット径を変えて記録したピットに照射して、記録品質を示す特性値を検出する。
【００２４】
以降、スポット径変化−出力校正領域への記録−特性値検出を所定回数繰り返し、演算部１２５のメモリ回路またはメモリ１２６に読み込ませておいたスポット径と記録品質（ここではＤＣＪ）のデータに基づいて演算部１２５で演算を行い、図２のグラフのような関係を導き出す。この関係から、スポット径の変化量の許容範囲を決定する。図２のグラフでは、スポット径が約０．４０３μｍから０．４０６μｍの間でＤＣＪの変化がほとんど見られないので、０．４０６μｍがスポット径の上限となる。また、スポット径の変化量は０．００３μｍとなる。
【００２５】
次に、演算部１２５のメモリ回路またはメモリ１２６に読み込ませておいたスポット径の変化量と検出した収差補正手段１１７の駆動量のデータに基づいて演算部１２５で演算を行い、図３のグラフに示すような関係を導き出す。図３のグラフから、許容範囲となるスポット径の変化量に対応する収差補正手段１１７の駆動量の範囲を導き出す。図３のグラフでは、スポット径の変化量０．００３μｍに対応する収差補正手段の駆動量は０．０８０ｍｍとなるので、これが収差補正手段１１７の駆動量の範囲となる。なお、図３に示すグラフの関係は、記録再生装置１００の動作に関するものなので、予め測定しておいた結果をメモリ１２６に読み込ませておいても良い。以後の記録領域における記録では、導き出した収差補正手段１１７の駆動量の範囲内で収差補正を行う。
【００２６】
次に、本発明の記録方法について説明する。図４は、光ディスク１５０への記録手順を示すフローチャートである。まず、光ディスク１５０を光ディスク記録再生装置１００に挿入する（Ｓ１）。光ディスク記録再生装置１００は光ディスク１５０に予め記録されているメディアＩＤを読み出す（Ｓ２）。続いてメモリ１２６からメディアＩＤに対応したストラテジを読み込む（Ｓ３）。続いて読み出したストラテジのデータに従って、記録用レーザ光の最適記録出力を特定する（Ｓ４）。
【００２７】
続いてスポット径と記録品質を示す特性値との関係を導き出すため、記録用レーザ光のスポット径を変化させて決定する（Ｓ５）。このとき、同時にスポット径の測定を行い、その結果を演算部１２５に送信する。ここで、最初のスポット径は初期設定で定められたスポット径とする。２回目以降については、スポット径の測定とともに収差補正手段１１７の駆動量の検出を行う。スポット径の測定点数、スポット径の変化量の間隔等は、測定を行う毎に決定してもよいし、予め決定しておいて演算部１２５のメモリ回路またはメモリ１２６などに読み込ませておいてもよい。なお、スポット径の変化量の最大量は、収差補正手段１１７の駆動範囲の限度内となる。
【００２８】
続いてスポット径を決定した後出力校正領域への試し書きを開始する（Ｓ６）。演算部１２５からレーザダイオード駆動制御部１２２にテスト記録用のデータ信号を送信し、この信号に基づいてレーザダイオード駆動制御部１２２からレーザダイオード１１１に制御信号が送信される。レーザダイオード駆動制御部１２２からの信号に基づいて、レーザダイオード１１１から記録用レーザ光が出力される。このときの記録データの長さ、ピット及びスペースの長さ等の条件は、最適記録出力を決定するときのテスト記録用データの条件と同じで良い。
【００２９】
続いて記録用レーザ光を再生用レーザ光に切り換えて、テスト記録用データを再生し、得られた再生信号から記録品質を示す特性値を検出する（Ｓ７）。テスト記録用データの再生信号が特性値検出部１２４に送信され、特性値検出部１２４でアシンメトリ値、β値あるいはＤＣＪ等の記録品質を示す特性値が検出される。検出された特性値は演算部１２５に送信され、読み込まれる。
【００３０】
続いてスポット径の測定と記録品質を示す特性値の検出について、測定点の数が所定の数になったかどうかを判断する（Ｓ８）。所定の数に達していない場合はステップＳ５〜ステップＳ６を繰返す。
【００３１】
ステップＳ８において測定点の数が所定の数に達した場合、測定して得られたスポット径のデータと検出された特性値の関係を算出する（Ｓ９）。ステップＳ５で得られたスポット径のデータと、ステップＳ７で得られた特性値とを、演算部１２５で演算処理して、図２のグラフに示すような関係を導き出す。
【００３２】
続いてスポット径の変化量と収差補正手段１１７の駆動量との関係を算出する（Ｓ１０）。スポット径の変化量のデータと、収差補正手段１１７の駆動量のデータは、ステップＳ５でサンプリングしたものを用いてもよいし、メモリ１２６等に予め格納されているデータを用いても良い。得られたデータを演算部１２５で演算処理して、図３のグラフに示すような関係を導き出す。
【００３３】
続いてステップＳ９で導き出したスポット径と特性値との関係と、ステップＳ１０で導き出されたスポット径の変化量と収差補正手段１１７の駆動量との関係と、に基づいて、収差補正手段１１７の駆動量の許容範囲を導出する（Ｓ１１）。導出された許容範囲は、収差制御部に送信される。収差制御部はこの許容範囲で収差補正手段１１７を駆動させる。
【００３４】
収差補正手段１１７の駆動量の許容範囲を決定した後、ステップＳ４で決定したレーザ出力及び初期設定のスポット径にて記録領域への記録を開始する（Ｓ１２）。記録領域への記録を行うと同時に、球面収差の有無を検出する（Ｓ１３）。球面収差の検出はスポットプロファイル復元法やＦＥ（Ｆｏｃｕｓ  Ｅｒｒｏｒ）信号等のように信号強度検出部１２３にて検出される信号強度に基づいた検出方法や、独立した光学系センサ等によって検出する方法がある。
【００３５】
球面収差が発生していない場合は、光ディスク１５０への記録が終了するまでステップＳ１２〜ステップＳ１３を繰返す（Ｓ１４）。球面収差が発生している場合は収差補正を行う（Ｓ１３１）。収差検出部にて球面収差の発生が検出されると、収差制御部へ信号が送られる。この信号に基づいて収差制御部から駆動手段１１８へ制御信号が送信され、収差補正手段１１７を駆動する。そのときの収差補正手段１１７の駆動量をサンプリングする。
【００３６】
収差検出部にて球面収差が検出されなくなったら、ステップＳ１４１でサンプリングした収差補正手段１１７の駆動量がステップＳ１１で導出した許容範囲内にあるかどうかを判定する（Ｓ１３２）。範囲内であれば収差補正を行った状態でステップＳ１５へ移行する。一方許容範囲から外れている場合は、スポット径を初期状態に戻して（Ｓ１３３）、それからステップＳ１４へ移行する。
【００３７】
以上、図４のフローチャートに基づいて本発明の記録方法を説明したが、該フローチャートの手順はプログラムの形で演算部１２５のメモリ回路に読み込ませることによって既存の光ディスク記録再生装置にて実行可能である。これによって低コストで収差補正及び良好な記録品質の情報記録が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の光ディスク記録再生装置を示す機能ブロック図である。
【図２】スポット径と記録品質を示す特性値との関係を表すグラフである。
【図３】収差補正手段の駆動量とスポット径の変化量との関係を表すグラフである。
【図４】本発明の記録方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３９】
１００  光ディスク記録再生装置
１１０  光ピックアップ部    
１１１  レーザダイオード  
１１２  コリメートレンズ  
１１３  対物レンズ
１１４  検出レンズ
１１５  ビームスプリッタ
１１６  フォトディテクタ
１１７  収差補正手段
１１８  駆動手段
１２１  光ピックアップ駆動制御部
１２２  レーザダイオード駆動制御部
１２３  信号強度検出部
１２４  特性値検出部
１２５  演算部
１２６  メモリ
１５０  光ディスク
【図１】
0004994163.tif 000002
【図２】
0004994163.tif 000003
【図３】
0004994163.tif 000004
【図４】
0004994163.tif 000005