(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の配列パターンで保持部材（ハウジング）に突出装着された複数の端子からなる端子群について前記各端子の突出状態を検査するのに用いられる端子検査治具において、
前記端子を挿通可能とする挿通孔が前記端子群における前記端子の配列パターンに対応した配列パターンで設けられた第１の治具部材（アライメントプレート）、前記端子が前記挿通孔に挿通した際に前記端子により押される状態で前記端子に押圧接触するようにされた第２の治具部材（補助プレート）、および第１の治具部材と前記第２の治具部材の導通状態を判定するための導通判定手段（導通判定回路）を備えていることを特徴とする端子検査治具。
【請求項２】
所定の配列パターンで保持部材（ハウジング）に突出装着された複数の端子からなる端子群について前記各端子の突出状態を検査する端子検査方法において、
前記端子を挿通可能とする挿通孔が前記端子群における前記端子の配列パターンに対応した配列パターンで設けられた第１の治具部材（アライメントプレート）、前記端子が前記挿通孔に挿通した際に前記端子により押される状態で前記端子に押圧接触するようにされた第２の治具部材（補助プレート）、および第１の治具部材と前記第２の治具部材の導通状態を判定するための導通判定手段（導通判定回路）を備えてなる端子検査治具を用いるようにされ、
前記第２の治具部材に前記端子が押圧接触するまで前記端子を前記第１の治具部材の前記挿通孔に挿通させた状態で第１の治具部材と前記第２の治具部材の導通状態を前記導通判定手段により判定し、その判定で第１の治具部材と前記第２の治具部材に一定以上の導通があるとされた場合に前記端子群における突出状態不良の端子の前記挿通孔への挿通である過誤挿通があると判定する工程を含むことを特徴とする端子検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気的接続部品における保持部材に所定の配列パターンで突出装着された複数の端子からなる端子群について各端子の突出状態を検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
コネクタや基板あるいは電気接続箱などのような電気的接続部品には、複数の端子からなる端子群を有するものがある。また端子群を有する電気的接続部品には、そのハウジングなどの保持部材にピン状の端子を所定の配列パターンで突出させるように装着して端子群を形成するものがある。このような電気的接続部品については、保持部材からの突出状態が正しくない端子、つまり保持部材からの突出角度が正しい角度から一定以上傾いているなどした突出状態不良の端子が１つでもあると、端子群を介しての接続相手との接続を安定的になせなくなる。このため、端子群について突出状態が不良な端子の有無を検査する端子検査が必要となる。
【０００３】
そのような端子検査として、端子検査治具を用いて行う検査がある。図５に示すのは、端子検査治具としてアライメント治具を用いる場合の端子検査における電気的接続部品１とアライメント治具２の関係である。
【０００４】
電気的接続部品１は、カバー３に組み付けられたハウジング４を保持部材として有しており、このハウジング４にピン状の端子５が所定の配列パターンで突出するようにして装着され、これら端子５により端子群６が形成されている。端子５は、例えば断面形状が正方形である角形ピン状であり、その先端部にテーパ部５ｔが設けられている。
【０００５】
アライメント治具２は、端子５のテーパ部５ｔの長さ程度の厚みとされた金属板で形成されており、端子５を挿通可能とする挿通孔１１が端子群６における端子５の配列パターンに対応した配列パターンで設けられ、これら挿通孔１１により挿通孔群１２が形成されている。挿通孔１１は、所定の開口サイズで形成されている。その開口サイズは、端子５が一定の遊びをもって挿通孔１１に挿通できるサイズとされている。つまり端子５の断面形状サイズがＳｍｍ×Ｓｍｍであるとして、挿通孔１１の開口サイズは（Ｓｍｍ+ΔＳｍｍ）×（Ｓｍｍ+ΔＳｍｍ）とされる。ただしΔＳは、端子５のハウジング４に対する突出角度について許容される振れ量（正しい突出角度からの傾き角度）に基づいて設定される。
【０００６】
このようなアライメント治具２を用いた端子検査は、手動的な操作を主とする手動検査または自動的な操作を主とする自動検査として行われる。手動検査では、端子群６に向けてアライメント治具２を自重落下で下降させたり、または端子群６に向けてアライメント治具２を手動操作で強制下降させたりするようにして検査作業員がアライメント治具２を扱う。以下ではアライメント治具２を自重落下で下降させる場合について説明する。
【０００７】
端子群６に向けて自重落下させられたアライメント治具２は、端子群６の各端子５が全て許容振れ量の範囲で突出状態良であれば、端子群６の各端子５の全てが挿通孔群１２の各挿通孔１１に挿通する。この場合、図６の（ａ）に示すように、端子５に関して設定した判定ラインＬを超える位置までアライメント治具２が下降し、これにより端子群６の端子５が全て突出状態良にあると判定することができる。一方、図６の（ｂ）に示すように、ハウジング４からの突出角度が正しい角度から一定以上傾いている突出状態不良の端子５ｘがあると、その端子５ｘが挿通孔１１に挿通できなくて自重落下中のアライメント治具２に先端を当接させる状態になり、そのためにアライメント治具２が判定ラインＬの手前で停止することになり、これにより端子群６に突出状態不良の端子があると判定することができる。
【０００８】
自動検査も原理的に手動検査の場合と同様である。ただし自動検査では、図７に示すように、空圧シリンダや液圧シリンダなどが用いられる駆動手段１３によりアライメント治具２を端子群６に向けて強制的に下降させる。強制下降されたアライメント治具２は、端子群６の各端子５が全て許容振れ量の範囲で突出状態良であれば、端子群６における各端子５の全てが挿通孔群１２における各挿通孔１１に挿通し、図７の（ａ）に示すように、判定ラインＬを超える位置まで下降し、これにより端子群６の端子５が全て突出状態良にあると判定することができる。一方、図７の（ｂ）に示すように、上述と同様な突出状態不良の端子５ｘがあると、その端子５ｘが挿通孔１１に挿通できなくて強制下降中のアライメント治具２に先端を当接させる状態になり、そのためにアライメント治具２が判定ラインＬの手前で停止することになり、これにより端子群６に突出状態不良の端子があると判定することができる。
【０００９】
ここで、電気的接続部品に設けられる端子の突出状態などを検査する端子検査については、例えば特許文献１〜特許文献３などに開示の技術が知られている。
【００１０】
【特許文献１】特開平１０−３８９７０号公報
【特許文献２】特開２００５−３１５７７５号公報
【特許文献３】特開２００７−４８６７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
上述した従来の端子検査、特にアライメント治具を駆動手段で強制下降させて検査を行う端子検査には、本来なら挿通孔に挿通しない突出状態不良の端子が挿通孔に挿通してしまうという過誤挿通の問題がある。図８に、過誤挿通が発生する場合のアライメント治具２と突出状態不良の端子５ｘの関係を示す。端子５ｘは、ハウジング４からの突出角度が正しい角度（図の例では９０度）から許容振れ量以上の角度αで傾いている。この場合、通常であれば端子５ｘは挿通孔１１に挿通しない。しかし角度αが許容振れ量より僅かに大きい程度であると、端子５ｘのアライメント治具２への当接位置が挿通孔１１に近接した状態となり、いわゆるドツキ代が小さくなる（図８の（ａ））。そしてこのような状態で、端子５ｘのアライメント治具２への当接衝撃などにより端子５ｘの当接位置が挿通孔１１の側にずれることがあると、端子５ｘがそのテーパ部５ｔのテーパ面でガイドされるようにして挿通孔１１に入り込み（図８の（ｂ））、最終的に端子５ｘが挿通孔１１に挿通してしまい（図８の（ｃ））、過誤挿通を生じることになる。
【００１２】
このような過誤挿通は、２つの問題を招く。１つは、検査ミスの問題であり、本来なら突出状態不良の端子ありと判定されるべきなのに、過誤挿通により突出状態良とされてしまうことになる。他の１つは、削れ端子問題である。過誤挿通がなされる際には、上述のようにテーパ部５ｔのテーパ面でガイドされるようにして端子５が挿通孔１１に入り込むことになるが、その過程で、図９に模式化して示すように、テーパ部５ｔの側面やそれに続く端子５の側面に挿通孔１１の角部が食い込むことによりその部位が削り取られて端子５に削れ部１４を生じる場合がある。そしてそうした削れ部１４を生じた場合に、そのままで電気的接続部品１が端子検査工程の後工程に流されてしまうことがあるが、これが削れ端子問題である。
【００１３】
本発明は、以上のような事情を背景になされたものであり、その課題は、端子検査治具を用いてなされる端子検査について、突出状態不良端子の過誤挿通を検出できるようにし、それにより検査ミスや削れ端子問題を効果的に防げるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明では、上記課題を解決するために、所定の配列パターンで保持部材に突出装着された複数の端子からなる端子群について前記各端子の突出状態を検査するのに用いられる端子検査治具において、前記端子を挿通可能とする挿通孔が前記端子群における前記端子の配列パターンに対応した配列パターンで設けられた第１の治具部材、前記端子が前記挿通孔に挿通した際に前記端子により押される状態で前記端子に押圧接触するようにされた第２の治具部材、および第１の治具部材と前記第２の治具部材の導通状態を判定するための導通判定手段を備えていることを特徴としている。
【００１５】
また本発明では、上記課題を解決するために、所定の配列パターンで保持部材に突出装着された複数の端子からなる端子群について前記各端子の突出状態を検査する端子検査方法において、前記端子を挿通可能とする挿通孔が前記端子群における前記端子の配列パターンに対応した配列パターンで設けられた第１の治具部材、前記端子が前記挿通孔に挿通した際に前記端子により押される状態で前記端子に押圧接触するようにされた第２の治具部材、および第１の治具部材と前記第２の治具部材の導通状態を判定するための導通判定手段を備えてなる端子検査治具を用いるようにされ、前記第２の治具部材に前記端子が押圧接触するまで前記端子を前記第１の治具部材の前記挿通孔に挿通させた状態で第１の治具部材と前記第２の治具部材の導通状態を前記導通判定手段により判定し、その判定で第１の治具部材と前記第２の治具部材に一定以上の導通があるとされた場合に、前記端子群における突出状態不良の端子の前記挿通孔への挿通である過誤挿通があると判定する工程を含むことを特徴としている。
【００１６】
以上のような本発明による端子検査治具または端子検査方法では、第１の治具部材における挿通孔への過誤挿通を生じると、その過誤挿通の端子は、挿通孔の内周面に強く押接するとともに、先端を第２の治具部材に押接させる。この結果、過誤挿通の端子を介して第１の治具部材と第２の治具部材が高い導通状態になる。一方、端子群の全ての端子が突出状態良であり過誤挿通を生じていない場合は、各端子が遊びをもって挿通孔に挿通することになることから挿通孔の内周面に端子が強く押接するようなことがなく、第１の治具部材と第２の治具部材に高い導通状態を生じることがない。したがって導通判定手段により第１の治具部材と第２の治具部材の導通状態を判定することで、突出状態不良端子の過誤挿通の有無を判定することができ、これにより検査ミスを防いで検査精度を向上させることができるとともに、削れ端子問題も防ぐことができる。
【発明の効果】
【００１７】
以上のような本発明によれば、端子検査治具を用いてなされる端子検査について、突出状態不良端子の過誤挿通を検出することができ、検査ミスや削れ端子問題を効果的に防げるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明を実施するための形態について説明する。本発明による端子検査治具は、手動検査と自動検査のいずれでも用いることが可能であるが、自動検査において特に有効である。したがって以下では自動検査に関する実施形態について説明する。
【００１９】
図１に、一実施形態による端子検査装置２１の構成を検査対象の電気的接続部品１との関係とともに簡略化して示す。なお、電気的接続部品１は、図５におけるそれと同様である。したがって電気的接続部品１については、図５におけるのと同一の符号を付して示し、上記の説明を援用するものとする。
【００２０】
端子検査装置２１は、保持フレーム２２を有しており、この保持フレーム２２で端子検査治具２３を保持している。また保持フレーム２２には、駆動手段２４が接続されている。駆動手段２４は、空圧シリンダや液圧シリンダなどのような進退動機構で形成されており、保持フレーム２２を介して端子検査治具２３に矢印Ａのような上下動（進退動）を行わせる。
【００２１】
端子検査治具２３は、アライメントプレート２５、補助プレート２６および導通判定回路２７を備えている。
【００２２】
アライメントプレート２５は、第１の治具部材として機能する要素であり、基本的には上述のアライメント治具２と同様な構造とされている。すなわちアライメントプレート２５は、端子５のテーパ部５ｔの長さ程度の厚みとされた金属板で形成されおり、端子５を挿通可能とする挿通孔２８が端子群６における端子５の配列パターンに対応した配列パターンで設けられ、これら挿通孔２８により挿通孔群２９が形成されている。挿通孔２８は、アライメント治具２における挿通孔１１と同様な開口サイズで形成されている。具体的には、端子５の断面形状サイズがＳｍｍ×Ｓｍｍであるとして、挿通孔２８の開口サイズは（Ｓｍｍ+ΔＳｍｍ）×（Ｓｍｍ+ΔＳｍｍ）とされる。ただしΔＳは、端子５のハウジング４に対する突出角度について許容される振れ量に基づいて設定される。
【００２３】
補助プレート２６は、第２の治具部材として機能する要素であり、厚みと大きさがアライメントプレート２５とほぼ同じ程度とされた金属板で形成されている。この補助プレート２６は、アライメントプレート２５の裏面に立設された非導通性のガイドピン３１を介してアライメントプレート２５に重ねるようにして組み合わされている。具体的には、ガイドピン３１に摺接するサイズのガイド孔３２を補助プレート２６に設け、このガイド孔３２にガイドピン３１を挿通させることで補助プレート２６をアライメントプレート２５に組み合わせている。また、このようにしてアライメントプレート２５に組み合わせた補助プレート２６をコイルばね３３によりアライメントプレート２５に押し付ける方向に付勢している。具体的には、ガイドピン３１に設けたヘッド部３４に一端側を押接させ、他端側を補助プレート２６に押接させるようにしてコイルばね３３をガイドピン３１に取り付け、このコイルばね３３により付勢することで補助プレート２６をアライメントプレート２５に押し付けるようにしている。
【００２４】
以上のような補助プレート２６は、通常の状態ではコイルばね３３の付勢力でアライメントプレート２５に押し付けられて接した状態にある。そして後述のようにしてアライメントプレート２５の挿通孔２８を端子５が突き抜けるように挿通した際に端子５の先端で押されてアライメントプレート２５から離れ、その状態でコイルばね３３の付勢力を受けつつ端子５の先端に押圧接触することで端子５との間についてだけ高い導通状態を形成する。
【００２５】
導通判定回路２７は、導通判定手段として機能する要素であり、一端を補助プレート２６に電気的に接続させ、他端をアライメントプレート２５に電気的に接続させた通電路３５に開閉スイッチ３６と直流電源３７および検流器３８を直列に設けた構成とされている。
【００２６】
以上のような端子検査装置２１による端子検査は以下のようにして行なわれる。まず図１のような状態で端子検査装置２１に対し電気的接続部品１をセットする（セット工程）。次いで、図２に示すように、駆動手段２４を作動させて端子検査治具２３に端子群６に向けた一段目の下降（前進）を行わせることで挿通孔２８に端子５のテーパ部５ｔを挿通させる（挿通工程）。
【００２７】
この挿通工程では、突出状態の判定処理がなされる。具体的には、端子群６の各端子５が全て許容振れ量の範囲で突出状態良であれば、端子群６の各端子５が全て挿通孔群２９の各挿通孔２８に挿通し、図２の状態のように、判定ラインＬの位置まで端子検査治具２３が下降することから、その状態になることを条件に端子群６の端子５が全て突出状態良にあると判定する。
【００２８】
一方、端子群６に突出状態不良の端子があると、その端子が挿通孔２８に挿通できなくて下降中の端子検査治具２３におけるアライメントプレート２５に先端を当接させる状態になり、そのために端子検査治具２３が判定ラインＬの手前で停止することになることから、その状態になることを条件に端子群６に突出状態不良の端子があると判定する。
【００２９】
挿通工程で判定ラインＬを超える位置まで端子検査治具２３が下降した場合には押接工程に進む。押接工程では、図３に示すように、端子検査治具２３に二段目の下降を行わせる。二段目の下降は、端子５の先端部が僅かに挿通孔２８を突き抜ける程度で行わせる。これにより補助プレート２６が端子５によりコイルばね３３の付勢力に抗しつつ押し上げられてアライメントプレート２５から離隔するとともに、端子５の先端が補助プレート２６に強く押接する。
【００３０】
挿通工程を終えたら、導通判定工程に進む。導通判定工程では、導通判定回路２７の開閉スイッチ３６をＯＮにしてアライメントプレート２５と補助プレート２６の間に電圧を印加し、アライメントプレート２５と補助プレート２６の導通状態を判定する。導通状態の判定は、電圧印加状態での検流器３８の電流検出値に基づいて行い、予め設定の基準値以上の電流が検出された場合には、端子群６に突出状態不良の端子があり、その突出状態不良端子による過誤挿通が生じていると判定する。このような導通状態の判定を通じた突出状態不良端子の過誤挿通の検出は、以下のような原理で可能となる。
【００３１】
図４に示すように、過誤挿通を生じるような程度の突出状態不良の端子５ｘが端子群６にあったとする。この端子５ｘは、上述の挿通工程において小さなドツキ代でアライメントプレート２５に当接する（図４の（ａ））。この状態で端子５ｘのアライメント治具２への当接衝撃などにより端子５ｘの当接位置が挿通孔２８の側にずれることがあると、端子５ｘのテーパ部５ｔがそのテーパ面でガイドされるようにして挿通孔２８に入り込み、過誤挿通となる（図４の（ｂ））。この過誤挿通の状態で上述の押接工程での処理がなされると、端子５ｘは、挿通孔２８を突き抜け、コイルばね３３の付勢力を受けつつ先端を補助プレート２６に強く押接させるとともに、挿通孔２８の内周面に強く押接し（図４の（ｃ））、その結果、過誤挿通の端子５ｘを介してアライメントプレート２５と補助プレート２６が高い導通状態になる。
【００３２】
一方、端子群６の全ての端子５が突出状態良であり過誤挿通を生じていない図３の場合は、各端子５が遊びをもって挿通孔２８に挿通することになることから挿通孔２８の内周面に端子５が強く押接するようなことがなく、アライメントプレート２５と補助プレート２６に高い導通状態を生じることがない。したがってアライメントプレート２５と補助プレート２６の導通状態を判定することで、突出状態不良端子の過誤挿通を検出することができる。
【００３３】
以上、本発明を実施するための形態について説明したが、これは代表的な例に過ぎず、本発明はその趣旨を逸脱することのない範囲で様々な形態で実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】一実施形態による端子検査装置の構成を電気的接続部品との関係で簡略化して示す図である。
【図２】挿通工程での端子検査治具と電気的接続部品の関係を簡略化して示す図である。
【図３】押接工程での端子検査治具と電気的接続部品の関係を簡略化して示す図である。
【図４】突出状態不良端子の過誤挿通とその検出原理について説明する図である。
【図５】従来の端子検査治具であるアライメント治具と電気的接続部品の関係を簡略化して示す図である。
【図６】従来における手動検査の場合のアライメント治具と電気的接続部品の関係を簡略化して示す図である。
【図７】従来における自動検査の場合のアライメント治具と電気的接続部品の関係を簡略化して示す図である。
【図８】突出状態不良端子の過誤挿通について説明する図である。
【図９】端子の削損について説明する図である。
【符号の説明】
【００３５】
１    電気的接続部品
４    ハウジング（保持部材）
５    端子
６    端子群
２３    端子検査治具
２５    アライメントプレート（第１の治具部材）
２６    補助プレート（第２の治具部材）
２７    導通判定回路（導通判定手段）
２８    挿通孔
【図１】
0005064294.tif 000002
【図２】
0005064294.tif 000003
【図３】
0005064294.tif 000004
【図４】
0005064294.tif 000005
【図５】
0005064294.tif 000006
【図６】
0005064294.tif 000007
【図７】
0005064294.tif 000008
【図８】
0005064294.tif 000009
【図９】
0005064294.tif 000010