(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方の光ファイバと光ファイバ長が互いに異なる他方の複数の光ファイバが光スプリッタを介して接続され、一方の光ファイバの一端からパルス試験光を送出し、他方の複数の光ファイバの他端でそれぞれ反射して一方の光ファイバの一端に戻り、その戻り光の時間位置に応じて他方の複数の光ファイバが判別されるときに、その戻り光の時間位置に対する所定の偏光成分の受光強度を検出し、他方の複数の光ファイバの中から作業対象の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照方法において、
前記パルス試験光を、前記一方の光ファイバと前記他方の複数の光ファイバのうち最長の光ファイバを合せた光往復時間よりも長く設定された送出周期Ｔで送出し、
前記作業対象の光ファイバの他端で側圧または曲げまたは捻りを加えて、前記パルス試験光および前記戻り光に、前記パルス試験光の送出周期Ｔに対して１／(2Ｔ）より低く、かつ２０Ｈｚより高く設定された変調周波数の偏波変動を与え、
前記一方の光ファイバの一端で、前記パルス試験光を送出してから前記作業対象光ファイバに対応する時間位置の前記戻り光の所定の偏光成分の受光強度を前記送出周期Ｔで複数回サンプリングし、その受光強度の時間変動を周波数解析し、前記作業対象光ファイバに与えた偏波変動の前記変調周波数の成分の有無を検出して前記偏波変動を与えた光ファイバを特定する
ことを特徴とする光ファイバ心線対照方法。
【請求項２】
一方の光ファイバと光ファイバ長が互いに異なる他方の複数の光ファイバが光スプリッタを介して接続され、一方の光ファイバの一端からパルス試験光を送出し、他方の複数の光ファイバの他端でそれぞれ反射して一方の光ファイバの一端に戻り、その戻り光の時間位置に応じて他方の複数の光ファイバが判別されるときに、その戻り光の時間位置に対する所定の偏光成分の受光強度を検出し、他方の複数の光ファイバの中から作業対象の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照装置において、
前記パルス試験光を、前記一方の光ファイバと前記他方の複数の光ファイバのうち最長の光ファイバを合せた光往復時間よりも長く設定された送出周期Ｔで送出するパルス試験光送出手段と、
前記作業対象の光ファイバの他端で側圧または曲げまたは捻りを加えて、前記パルス試験光および前記戻り光に、前記パルス試験光の送出周期Ｔに対して１／(2Ｔ）より低く、かつ２０Ｈｚより高く設定された変調周波数の偏波変動を与える手段と、
前記一方の光ファイバの一端で、前記パルス試験光を送出してから前記作業対象光ファイバに対応する時間位置の前記戻り光の所定の偏光成分の受光強度を前記送出周期Ｔで複数回サンプリングし、その受光強度の時間変動を周波数解析し、前記作業対象光ファイバに与えた偏波変動の前記変調周波数の成分の有無を検出して前記偏波変動を与えた光ファイバを特定する心線対照手段と
を備えたことを特徴とする光ファイバ心線対照装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光線路の建設や保守作業時に、作業対象の光ファイバを特定するための光ファイバ心線対照方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ファイバ心線対照装置は、作業対象の光ファイバへ試験光を入射し、光ファイバに加えた曲げにより漏洩する試験光を観測し、当該試験光が検出されればその光ファイバを作業対象として特定する構成であった。これを「心線対照」という。
【０００３】
図８は、従来の光ファイバ心線対照装置の構成例を示す（特許文献１、特許文献２）。
図において、局側終端装置ＯＬＴ（Optical Line Terminal)とユーザ側終端装置ＯＮＵ（Optical Network Unit) は、光ファイバを束ねた光ファイバケーブル５０を介して接続される。作業対象の光ファイバ５１に対して、ＯＬＴ側の光カプラ５２を介して心線対照用試験光源５３から試験光を入射し、光ファイバ５１のＯＮＵ側で曲げ部５４を用いて曲げを生じさせ、その曲げにより漏洩する試験光を光検出器（ＰＤ）５５で検出する。ここで、ＯＬＴとＯＮＵとの間の通信光よりも長波長の試験光を用い、光ファイバ５１の遠端（ＯＮＵの入力端）に配置した試験光遮断フィルタ５６で試験光を遮断する構成により、通信光に影響を与えずに試験光を用いた心線対照が可能になっている。
【０００４】
なお、光ファイバ心線対照装置は、所内装置として光カプラ５２および心線対照用試験光源５３と、所外装置として曲げ部５４および光検出器５５から構成される。作業者は、所内装置を用いて作業対象の光ファイバ５１に試験光を入射し、所外装置を用いて光ファイバ５１から漏洩する試験光を検出することにより、通信光が伝送中であってもサービスを中断することなく心線対照を行うことができる。
【特許文献１】特開平０１−２３７５０９号公報
【特許文献２】特開平０２−００１６３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、従来の光ファイバ心線対照装置は、ＯＬＴとＯＮＵが１対１で接続される光ネットワークシステムでは問題ないが、光スプリッタを介して１つのＯＬＴに複数のＯＮＵを収容するＰＯＮ(Passive Optical Network) システムでは問題が生じる。それは、心線対照用試験光源から１本の光ファイバに入射した試験光が光スプリッタを介して複数の光ファイバに均等に分配されるので、ＯＮＵ側でその複数の光ファイバについて個別に心線対照ができないことである。
【０００６】
また、近年は光ファイバ運用の作業性を向上させるため、曲げに対して損失変動が生じにくい、すなわち曲げによる漏洩光が発生しにくい光ファイバが用いられている。このような光ファイバとしては、光ファイバコアの周囲に空孔を設け、低屈折率のクラッド層により強い光閉じ込め効果を実現したホールアシストファイバ等が開発されている。この光ファイバに対して曲げによる漏洩光を観測する従来方法では心線対照ができない。
【０００７】
本発明は、ＰＯＮシステムにおける光スプリッタとＯＮＵ間の複数の光ファイバのそれぞれに対する心線対照、また曲げに対して漏洩光を発生しない光ファイバに対する心線対照を可能にする光ファイバ心線対照方法および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
第１の発明は、一方の光ファイバと光ファイバ長が互いに異なる他方の複数の光ファイバが光スプリッタを介して接続され、一方の光ファイバの一端からパルス試験光を送出し、他方の複数の光ファイバの他端でそれぞれ反射して一方の光ファイバの一端に戻り、その戻り光の時間位置に応じて他方の複数の光ファイバが判別されるときに、その戻り光の時間位置に対する所定の偏光成分の受光強度を検出し、他方の複数の光ファイバの中から作業対象の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照方法において、パルス試験光を、一方の光ファイバと他方の複数の光ファイバのうち最長の光ファイバを合せた光往復時間よりも長く設定された送出周期Ｔで送出し、作業対象の光ファイバの他端で側圧または曲げまたは捻りを加えて、パルス試験光および戻り光に、パルス試験光の送出周期Ｔに対して１／(2Ｔ）より低く、かつ２０Ｈｚより高く設定された変調周波数の偏波変動を与え、一方の光ファイバの一端で、パルス試験光を送出してから作業対象光ファイバに対応する時間位置の戻り光の所定の偏光成分の受光強度を送出周期Ｔで複数回サンプリングし、その受光強度の時間変動を周波数解析し、作業対象光ファイバに与えた偏波変動の変調周波数の成分の有無を検出して偏波変動を与えた光ファイバを特定する。
【００１４】
第２の発明は、一方の光ファイバと光ファイバ長が互いに異なる他方の複数の光ファイバが光スプリッタを介して接続され、一方の光ファイバの一端からパルス試験光を送出し、他方の複数の光ファイバの他端でそれぞれ反射して一方の光ファイバの一端に戻り、その戻り光の時間位置に応じて他方の複数の光ファイバが判別されるときに、その戻り光の時間位置に対する所定の偏光成分の受光強度を検出し、他方の複数の光ファイバの中から作業対象の光ファイバを特定する光ファイバ心線対照装置において、パルス試験光を、一方の光ファイバと他方の複数の光ファイバのうち最長の光ファイバを合せた光往復時間よりも長く設定された送出周期Ｔで送出するパルス試験光送出手段と、作業対象の光ファイバの他端で側圧または曲げまたは捻りを加えて、パルス試験光および戻り光に、パルス試験光の送出周期Ｔに対して１／(2Ｔ）より低く、かつ２０Ｈｚより高く設定された変調周波数の偏波変動を与える手段と、一方の光ファイバの一端で、パルス試験光を送出してから作業対象光ファイバに対応する時間位置の戻り光の所定の偏光成分の受光強度を送出周期Ｔで複数回サンプリングし、その受光強度の時間変動を周波数解析し、作業対象光ファイバに与えた偏波変動の変調周波数の成分の有無を検出して偏波変動を与えた光ファイバを特定する心線対照手段とを備える。
【発明の効果】
【００１８】
本発明は、ＰＯＮシステムの光スプリッタで分岐する複数の光ファイバの遠端からの戻り光の受光時間と、作業対象の光ファイバで偏波変動を与えたときに戻り光の所定の偏光成分の受光強度の変化を検出することにより、作業対象の光ファイバに対する心線対照が可能となる。
【００１９】
本発明は、ＰＯＮシステムの光スプリッタで分岐する複数の光ファイバの遠端からの戻り光の受光時間と、作業対象の光ファイバで所定の変調周波数の偏波変動を与えたときに戻り光の所定の偏光成分の受光強度の時間変動から変調周波数成分を検出することにより、作業対象の光ファイバに対する心線対照が可能となる。
【００２０】
また、本発明は、戻り光の所定の偏光成分の受光強度を観測するので、曲げに対して漏洩光を発生しない光ファイバに対する心線対照が可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の光ファイバ心線対照装置の第１の実施形態を示す。
図において、ＰＯＮシステムは、ＯＬＴに接続される光ファイバ１１と、複数ｍ個のＯＮＵにそれぞれ接続される光ファイバ１３−１〜１３−ｍが、ｍ分岐の光スプリッタ１２を介して接続される構成である。ＯＬＴと光スプリッタ１２とを接続する光ファイバ１１には光カプラ１４が挿入され、光カプラ１４の試験ポートに心線対照用所内装置２０が接続される。心線対照用所内装置２０は、ＯＬＴとＯＮＵ間の通信光とは異なる波長のパルス試験光を出力する。このパルス試験光は、光カプラ１４から光ファイバ１１に入射して伝搬し、光スプリッタ１２で光ファイバ１３−１〜１３−ｍに分配される。光ファイバ１３−１〜１３−ｍの遠端（各ＯＮＵの入力端）には、通信光を透過しパルス試験光を遮断かつ反射する試験光遮断フィルタ１５が挿入される。光ファイバを伝搬する光に偏波変動を与える心線対照用所外装置３０は、心線対照を行う光ファイバ（ここでは１３−ｍとする）に取り付ける。
【００２２】
心線対照用所内装置２０は、偏光消光比が大きいパルス試験光を出力する光源２１、光カプラ２２、偏光子２３、光検出器（ＰＤ）２４、信号制御・処理部２５、データベース２６により構成される。光源２１から出力されたパルス試験光は、光カプラ２２、光カプラ１４を介して光ファイバ１１に入射し、試験光遮断フィルタ１５で反射した戻り光は光カプラ１４、光カプラ２２、偏光子２３を介して光検出器２４に入力する。偏光子２３は戻り光の所定の偏光成分を透過し、光検出器２４はその所定の偏光成分の戻り光を受光する。信号制御・処理部２５は、光源２１が出力するパルス試験光の送出周期Ｔ（秒）を制御し、光検出器２４で検出される所定の偏光成分の戻り光の受光時間および受光強度をモニタし、心線対照処理を行う構成である。
【００２３】
ここで、心線対照用所内装置２０から光ファイバ１１に入射したパルス試験光は、ＯＮＵまでの光線路中のコネクタ接続点や遠端等で反射して心線対照用所内装置２０に戻るが、コネクタ接続点での反射減衰量は40dB程度である。したがって、心線対照用所内装置２０の光検出器２４で検出される主な戻り光は、光ファイバ１３−１〜１３−ｍの遠端に設けた試験光遮断フィルタ１５で発生する反射減衰量０〜14dBのフレネル反射光である。
【００２４】
光スプリッタ１２と各ユーザ宅のＯＮＵをそれぞれ接続する光ファイバ１３−１〜１３−ｍの各光ファイバ長Ｌ1 〜Ｌm は、それぞれの心線番号を対応させてデータベース２６に登録し、信号制御・処理部２５から参照可能としておく。ここでは、簡単のためにＬ1 ，Ｌ2 ，…，Ｌm の順に長くなり、光ファイバ１３−ｍの光ファイバ長Ｌm を最長とする。光ファイバ１１の光ファイバ長をＬF としたとき、心線対照用所内装置２０と最長の光ファイバ１３−ｍの遠端に接続される試験光遮断フィルタ１５との距離Ｌは、
Ｌ＝ＬF ＋Ｌm 
となる。このとき、心線対照用所内装置２０が出力するパルス試験光の送出周期Ｔは、最長の光ファイバ１３−ｍの遠端までの距離を往復する時間２Ｌ／ｖよりも長く設定する必要がある。ｖは光ファイバ中のパルス試験光の速度である。
【００２５】
また、光ファイバ１３−１〜１３−ｍの各光ファイバ長Ｌ1 〜Ｌm は互いに異なり、その最小の光ファイバ長差（分解能）Ｌr とパルス試験光のパルス幅ｗとの関係は、
Ｌr ＞ｗ・ｖ／２
と設定する必要がある。以上の設定に基づくパルス試験光および戻り光のタイムチャートを図２(1),(2) に示す。
【００２６】
心線対照用所内装置２０から時間ｎＴで送出したパルス試験光は、光ファイバ１１を伝搬して光スプリッタ１２でｍ分岐し、光ファイバ１３−１〜１３−ｍを伝搬してそれぞれ試験光遮断フィルタ１５で反射し、それぞれの戻り光が逆の経路を辿って心線対照用所内装置２０の偏光子２３を介して光検出器２４に受光する。各戻り光の受光強度をＰ1n〜Ｐmnとする。各戻り光が受光する時間は、それぞれの往復伝搬遅延時間に応じて、
ｎＴ＋２(ＬF＋Ｌ1)／ｖ
ｎＴ＋２(ＬF＋Ｌ2)／ｖ
…
ｎＴ＋２(ＬF＋Ｌm)／ｖ
となる。信号制御・処理部２５は、光ファイバ１３−１〜１３−ｍのそれぞれの遠端からの戻り光の受光時間と受光強度Ｐ1n〜Ｐmnをモニタする。なお、光検出器２４は偏光子２３を通過する所定の偏光成分の受光強度を検出する構成であり、また各戻り光の偏光状態が同一とは限らないので、図２(2) に示すように各戻り光の受光強度Ｐ1n〜Ｐmnにバラツキが生じる。
【００２７】
以上の前提を踏まえて、作業対照の光ファイバ１３−ｍに心線対照用所外装置３０を取り付けて側圧を加え、図３に示すように光ファイバの断面形状を変化させる。すると、ｘ方向およびｙ方向のモード速度が変化し、光ファイバ１３−ｍを伝搬するパルス試験光および戻り光の偏波が変動する。この偏波変動は、戻り光が心線対照用所内装置２０の偏光子２３を介して光検出器２４に受光したときに、受光強度Ｐmnの変化として現れ、信号制御・処理部２５がこれをモニタする。
【００２８】
一方、信号制御・処理部２５はデータベース２６を参照し、各戻り光の時間位置から光ファイバ長Ｌ1 〜Ｌm を対応させ、さらに光ファイバ１３−１〜１３−ｍの心線番号を対応させる。そして、時間ｎＴで送出したパルス試験光に対する戻り光の受光強度Ｐxnの変化を検出した場合に、心線対照用所外装置３０で側圧を加えた光ファイバは光ファイバ１３−ｘであると識別する。本実施形態の例では、心線対照用所外装置３０を用いて光ファイバ１３−ｍに側圧を加えたときに、戻り光の受光強度Ｐmnに変化がみられた場合には、光ファイバ１３−ｍに側圧を加えたものと識別する。このようにして、ＰＯＮシステムの光スプリッタ１２の下部の光ファイバ１３−１〜１３−ｍに対する心線対照、また曲げに対して漏洩光を発生しない光ファイバに対する心線対照が可能になる。
【００２９】
（第２の実施形態）
第１の実施形態は、心線対照の光ファイバに対応する戻り光について、他の光ファイバに対応する戻り光の受光強度との比較ではなく、心線対照用所外装置３０によって与えた偏波変動による受光強度の変化を検出する構成である。すなわち、図２(2) に示すように、各戻り光の所定の偏光成分の受光強度Ｐ1n〜Ｐmnにバラツキがある中から、受光強度が変化している戻り光を特定し、対応する光ファイバを識別する必要があった。
【００３０】
また、パルス試験光が伝搬する光ファイバケーブルが揺らぐことにより、光ファイバ中の偏波がゆるやかに変動し、その揺らぎの周波数成分は約20Hz以下であることが知られている（フジクラ技報 108号,pp.14-18 、http://www.fujikura.co.jp/00/gihou/gihou.html)。したがって、心線対照用所内装置２０における戻り光の受光強度には、偏波のゆるやかな変動に伴う誤差が含まれることがあり、このＤＣ〜20Hz程度の周波数成分を除去しながら心線対照を行う必要がある。
【００３１】
以上の状況を踏まえて、心線対照用所外装置３０によって与えた偏波変動による受光強度の変化を確実に検出するには、心線対照用所外装置３０が光ファイバに加える側圧を周波数ｆで変調し、心線対照所内装置２０で戻り光の受光強度から変調周波数ｆの成分を検出する方法が有効である。以下、その方法について説明する。
【００３２】
心線対照所内装置２０では、光ファイバ１３−ｍに対応する時間位置の戻り光の受光強度について、パルス試験光をＴ秒間隔でＮ回（Ｎは２以上の整数）入射させるときのｋ番目（ｋは１〜Ｎの整数）のパルス試験光に対する戻り光の受光強度をＰmkとしたときに、当該戻り光の受光強度Ｐmkを周期Ｔでサンプリングし、Ｎ回の受光強度Ｐmkの積算値を
ΣＰmk  （ｋは１〜Ｎ）
と表することができる。この受光強度Ｐmkの時系列変化を図４に示す。なお、光ファイバ１３−ｍに対応する戻り光のＮ回の受光強度Ｐmkの積算値について加算平均処理を行う必要はない。
【００３３】
この受光強度Ｐmkの時系列変化を包絡線検波し、ＦＦＴ（フーリエ変換回路）を用いて周波数成分を解析すると、心線対照用所外装置３０で光ファイバ１３−ｍに加えた側圧の変調周波数ｆを検出することができる。すなわち、図５に示すように受光強度Ｐmkに変調周波数ｆの成分が検出された場合には、側圧を加えた光ファイバ１３−ｍの心線対照が可能になる。なお、戻り光の受光強度Ｐmkには、図５に示すように、光ファイバケーブルの揺らぎによる偏波変動の周波数成分（20Hz以下）が含まれるが、必要に応じて本周波数成分を除去すればよい。
【００３４】
ここで、受光強度の変調周波数ｆの成分は、パルス試験光を送出する周期Ｔでサンプリングし、１／(2Ｔ) の周波数まで検出することが可能である。サンプリング周期Ｔは短いほど測定時間を短縮し、高周波変調を検出することができるが、上記のようにパルス試験光の送出周期Ｔを最長の光ファイバを光が往復する時間２Ｌ／ｖよりも長くする場合には、変調周波数ｆは最長の光ファイバの線路長Ｌによって制限され、
20Hz＜ｆ＜１／(2・2L／ｖ）
の範囲で設定する。例えば、線路長20ｋｍのとき、変調周波数ｆは20Hzから 2.5ｋHzの範囲で設定すればよい。
【００３５】
（第１，第２の実施形態の変形）
心線対照用所外装置３０は、光ファイバに側圧をかける代わりに、同様に偏波を変動させる構成であれば、例えば曲げを与える構成、捻りを与える構成であってもよい。また、曲げによって漏洩光が発生する従来の光ファイバであっても、側圧、曲げ、捻り等によって偏波が変動するので、本発明の方法および装置による心線対照が可能である。
【００３６】
第１，第２の実施形態による心線対照は、ＯＬＴとＯＮＵが１対１で接続される光スプリッタ１２を含まない光線路構成にも適用可能である。
【００３７】
インサービス中の光線路でない場合には、光カプラ１４を介さず、心線対照用所内装置２０を光ファイバ１１に直接接続する構成としてもよい。
【００３８】
光ファイバ１３−１〜１３−ｍの距離情報がない場合、すなわち図２(b) に示す各戻り光がどの光ファイバからの戻り光であるか示す情報がない場合には、各光ファイバの遠端のごく近傍に心線対照用所外装置３０を配置し、第１，第２の実施形態の手法を用いて予め、各光ファイバの戻り光の遅延時間との対応関係、すなわち光ファイバ１３−１〜１３−ｍの距離情報を求めておけばよい。また、ＯＮＵ側からＯＴＤＲ試験等を実施して光ファイバ１３−１〜１３−ｍの距離情報を取得しておいてもよい。
【００３９】
（第３の実施形態）
図６は、本発明の光ファイバ心線対照装置の第３の実施形態を示す。ここでは、作業者が現場で心線対照を行う場合の作業手順に基づいて説明するが、心線対照の基本的な原理については第１，第２の実施形態と同様であり、図１に示す光ファイバ心線対照装置の各部と対応するものは同一符号を付して説明を省略する。
【００４０】
図６において、ＯＬＴには複数の光ファイバ１１−１〜１１−３が接続され、それぞれに光カプラ１４が挿入される。図面では省略しているが、複数の光ファイバ１１−１〜１１−３にはそれぞれ光スプリッタ１２が接続され、それぞれ複数の光ファイバ１３を介してＯＮＵが接続される。心線対照用所内装置２０は、光源２１から出力されるパルス試験光を、複数の光ファイバ１１−１〜１１−３にそれぞれ挿入された光カプラ１４のいずれかに入力する光スイッチ２７を備える。光スイッチ２７は、信号制御・処理部２５の制御により接続先の切り替えを行う。なお、光スイッチ２７は、心線対照用所内装置２０の外部に備えてもよいし、また所内の人の操作によってもよい。心線対照用所内装置２０の信号制御・処理部２５と心線対照用所外装置３０の通信・表示部３１は、通信ネットワーク３２を介して通信を行う機能を含む。なお、心線対照用所内装置２０と心線対照用所外装置３０の通信形態は特に限定されるものではなく、既存の公衆無線通信システム等の利用が可能である
【００４１】
作業者は、現場で光ファイバ１１−１に接続される心線対照の光ファイバ（ここでは１３−ｍ）に対して、心線対照用所外装置３０を用いて偏波変動を与えるとともに、通信・表示部３１から通信ネットワーク３２を介して心線対照用所内装置２０の信号制御・処理部２５に、心線対照の光ファイバ情報および試験指示を送信する操作を行う。心線対照用所内装置２０の信号制御・処理部２５は、通信ネットワーク３２を介して心線対照用所外装置２０からの信号を受信すると、光ファイバ１１−１〜１１−３に挿入された光カプラ１４の試験ポートと光スイッチ２７のポートの対応関係情報をもつデータベース２６を参照し、心線対照の光ファイバ１３−ｍの情報に基づいてパルス試験光を入力する光ファイバ１１−１を特定し、光スイッチ２７を制御してパルス試験光が光ファイバ１１−１に入力されるように制御する。
【００４２】
次に、第１，第２の実施形態で説明したように、心線対照用所内装置２０の信号制御・処理部２５は、例えば図７に示す戻り光の受光強度の周波数解析例のように、受光強度に変動が生じている戻り光を検出し、パルス試験光を送出してから当該戻り光が検出されるまでの時間から、戻り光が発生する光ファイバ長を判定し、さらにデータベース２６を参照して対応する光ファイバ１３−ｍの心線番号を取得する。この心線番号の情報は、心線対照用所内装置２０の信号制御・処理部２５から通信ネットワーク３２を介して心線対照用所外装置３０の通信・表示部３１に転送され、光ファイバ１３−ｍの心線番号を表示させる。これにより、作業者は、心線対照用所外装置３０を用いて偏波変動を与えた光ファイバ１３−ｍを識別することができる。
【００４３】
なお、作業者が光ファイバ１１−１に接続される光ファイバ１３−ｍの心線対照を行う際に、間違えて例えば光ファイバ１１−２に接続される光ファイバに偏波変動を与え、光ファイバ１１−１に接続される光ファイバ１３−ｍを心線対照として心線対照用所内装置２０に通知した場合には、次のようになる。心線対照用所内装置２０の信号制御・処理部２５は、パルス試験光を光ファイバ１１−２に送出し、その戻り光の受光強度を変動をモニタする。しかし、作業者は、光ファイバ１１−１に接続される光ファイバ１３−ｍに偏波変動を与えており、光ファイバ１１−２に接続される光ファイバには何ら偏波変動は与えていないので、図７(2) に示すように、心線対照用所内装置２０では受光強度が変動する戻り光を観測できない。この場合には、心線対照用所内装置２０は心線対照用所外装置３０に対して、試験を実施した光線路には心線対照の光ファイバが存在しないことを通知する。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の光ファイバ心線対照装置の第１の実施形態を示す図。
【図２】パルス試験光と戻り光を示す図。
【図３】側圧による光ファイバの変形例を示す図。
【図４】本発明の第２の実施形態における戻り光の受光強度の時間変動例を示す図。
【図５】本発明の第２の実施形態における戻り光の受光強度の周波数解析例を示す図。
【図６】本発明の光ファイバ心線対照装置の第３の実施形態を示す図。
【図７】本発明の第３の実施形態における戻り光の受光強度の周波数解析例を示す図。
【図８】従来の光ファイバ心線対照装置の構成例を示す図。
【符号の説明】
【００４５】
ＯＬＴ  局側終端装置
ＯＮＵ  ユーザ側終端装置
１１，１３  光ファイバ
１２  光スプリッタ
１４  光カプラ
１５  試験光遮断フィルタ
２０  心線対照用所内装置
２１  光源
２２  光カプラ
２３  偏光子
２４  光検出器（ＰＤ）
２５  信号制御・処理部
２６  データベース
２７  光スイッチ
３０  心線対照用所外装置
３１  通信・表示部
３２  通信ネットワーク
【図１】
0004855435.tif 000002
【図２】
0004855435.tif 000003
【図３】
0004855435.tif 000004
【図４】
0004855435.tif 000005
【図５】
0004855435.tif 000006
【図６】
0004855435.tif 000007
【図７】
0004855435.tif 000008
【図８】
0004855435.tif 000009