(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料に対し分析を行う分析装置であって、
a)電源投入直後又は所定の指示に応じて、当該装置の各部の初期化及び各部の動作が正常であるか否かをチェックする自己診断を実施する初期化手段と、
b)前記初期化手段による初期化及び自己診断が実施される毎に、その結果を運転履歴として、時系列順序が識別可能であるように不揮発性記憶手段に格納する運転履歴記憶手段と、
c)分析実行時に装置エラーが発生したときに、その直前の運転履歴との対応付けが可能であるように、該装置エラーの種類を特定することが可能な情報をエラー履歴として前記不揮発性記憶手段に格納するエラー履歴記憶手段と、
d)所定の指示に応じて前記不揮発性記憶手段に格納されている前記エラー履歴及び該エラー履歴に対応する運転履歴を読み出して表示又は印刷のために出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする分析装置。
【請求項２】
請求項１に記載の分析装置であって、
主電源が切断された状態でも実時間又は基準時点からの経過時間の計時を行う計時手段をさらに備え、前記運転履歴記憶手段は、前記初期化手段による初期化及び自己診断の実施に関する時間情報を前記計時手段により取得して運転履歴とともに記憶し、前記エラー履歴記憶手段は、装置エラーの発生に関する時間情報を前記計時手段により取得してエラー履歴とともに記憶することを特徴とする分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光光度計を始めとする各種の分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
分光光度計では、例えば波長走査を行うために回折格子を回動させる駆動機構や、光路に挿入する試料セルを自動的に入れ替えたり試料交換を行ったりするための駆動機能など、様々な駆動機構が使用されている。これら駆動機構は、ＤＣモータやステッピングモータなどの駆動源、ロータリエンコーダなどの角度計測手段、或いはフォトインタラプタやリミットスイッチなどの限界センサによる位置計測手段、などを備える。
【０００３】
一般に分光光度計では、装置の電源が投入された直後、つまり装置の起動時に、上記のような駆動機構などの初期化処理が実行される（特許文献１など参照）。この初期化の際には、駆動機構の初期設定や電気系回路の初期化が行われるほか、光源部や測光部などの各種ハードウエアの動作が正常であるか否かを確認する、自己診断が自動的に行われることが多い。自己診断の結果、初期化不良が見つかれば、ユーザは電源を再投入したり自己診断のみを再実施させたりする等の操作を試みる。初期化不良は通電によって装置の温度が上昇した場合などに解消されることも多いため、何回か自己診断を行って初期化不良がなくなれば、その装置はそのまま分析に供されることが一般的である。もちろん、自己診断が実行される際には、その進行状況や診断結果が表示部やプリンタ等の外部機器に出力され、ユーザが確認できるようになっている。
【０００４】
また、こうした分析装置では、分析の実行時に様々なエラーが発生する。エラーには装置のハードウエアに起因するエラーもあるが、そのほかに、オペレータの操作ミスや不適切な制御パラメータの使用に起因するエラー、或いは、試料自体に起因するエラーなどもある。従来の分光光度計では、こうしたエラーが発生した場合に、そのエラー発生時刻とエラーの種類とを対応付けてエラー履歴として不揮発性メモリなどに記憶しておく機能を備えたものも知られている。
【０００５】
ところで、分光光度計などの分析装置が故障したり動作不良が生じたりした場合には、製造メーカ等のサービス担当者がユーザ先に出向いて、或いは、返送されて来た装置を前に、その不具合の原因を究明して修理や再調整を行う必要がある。分析装置が遠隔地にある場合には、電話回線、インターネット回線などのネットワークを介してその分析装置の不具合の原因を究明し、消耗品の交換など、簡単な対処が可能な場合には、その対処をユーザに指示することもある。
【０００６】
こうした不具合の原因究明の際に、上記エラー履歴などが参照されることもあるが、前述したように、エラーの発生原因はハードウエアに起因するものだけではなく、しかも実際上、ハードウエアに起因するエラーのほうが少ないので、必ずしも適切な情報が得られるとは限らない。一方、装置初期化・自己診断の際の初期化不良は部品の劣化や消耗、取付位置のずれなどによるものが多く、装置不具合の原因の究明に利用価値が高いものの、過去に遡った調査は困難である。何故なら、多くのユーザはそうした自己診断の結果を表示画面上で確認することはあっても、その出力を長期間に亘って保存しておくことは殆どないためである。
【０００７】
こうした状況のために、装置不具合の原因を究明するのはかなり時間が掛かる面倒な作業であり、実際には、明確な原因が不明であるまま、疑わしい部分をユニット毎、新品に交換するといった対処が採られることもある。そうしたコストはユーザ、メーカ両者にとって大きな負担となる。また、保有する装置が故障や動作不良のために使用できないことは、ユーザにとって損失である。また、メーカにとっては、動作不良などが装置設計上の問題に起因するにも拘わらず、その発見が遅れることによって、不具合のある製品を多量に出荷してしまうといったリスクも増大する。
【０００８】
【特許文献１】特開２００５−１６４２５８号公報（段落０００３−０００６）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、主としてサービス担当者などが装置の故障等の不具合の原因究明を迅速に行うために、有益な情報を与えることができる分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するために成された本発明は、試料に対し分析を行う分析装置であって、
a)電源投入直後又は所定の指示に応じて、当該装置の各部の初期化及び各部の動作が正常であるか否かをチェックする自己診断を実施する初期化手段と、
b)前記初期化手段による初期化及び自己診断が実施される毎に、その結果を運転履歴として、時系列順序が識別可能であるように不揮発性記憶手段に格納する運転履歴記憶手段と、
c)分析実行時に装置エラーが発生したときに、その直前の運転履歴との対応付けが可能であるように、該装置エラーの種類を特定することが可能な情報をエラー履歴として前記不揮発性記憶手段に格納するエラー履歴記憶手段と、
d)所定の指示に応じて前記不揮発性記憶手段に格納されている前記エラー履歴及び該エラー履歴に対応する運転履歴を読み出して表示又は印刷のために出力する出力手段と、
を備えることを特徴としている。
【００１１】
本発明が対象とする「分析装置」は特にその分析方法や形態などが限定されるものではないが、構造が簡単・簡素である装置では、本発明で実現される機能の必要性が低い。したがって、比較的、構造や構成が複雑であり、特に、故障や動作不良が起こり易い機構系の部品が多く使用された装置に有用である。具体的には、各種の分光光度計などが挙げられる。
【００１２】
上記「不揮発性記憶手段」とは、フラッシュＲＯＭなどの電源を供給せずに記憶内容を保持可能な記憶素子のほか、通常、商用交流電源から供給される主電源が遮断された状態でも電池等のバックアップ電源により記憶内容を保持可能な記憶素子でもよい。
【００１３】
また「時系列順序が識別可能であるように不揮発性記憶手段に格納する」とは、もちろん、時系列の順番に不揮発性記憶手段の記憶領域に格納していくのでもよいが、その順番を示す情報や時間経過情報をそれぞれの運転履歴と一体に書き込んでもよい。
【００１４】
不揮発性記憶手段に格納される運転履歴は、通常、ユーザが行わない特殊な操作（装置の筐体内のスイッチ操作なども含む）によってのみ、その情報がリセットされるようにしておく。即ち、当該装置が製造メーカの工場から出荷される段階、当該装置の据え付けが終了してユーザに引き渡される段階、サービス担当者による当該装置の修理や再調整が完了してユーザに引き渡される段階、などの時点で不揮発性記憶手段に格納されている運転履歴はリセットされ、その後、初期化が実施される毎に、再び新しい運転履歴が蓄積されるようにすればよい。
【００１５】
ユーザが装置の電源を投入して装置が起動すると、初期化手段は、例えば内蔵のＲＯＭなどに格納されている制御プログラムに従ったシーケンスに基づいて、当該装置を構成する各ハードウエアの初期化処理を実行し、その初期化の成否を含む自己診断を実施する。運転履歴記憶手段は自己診断結果を、その成否に拘わらず運転履歴として不揮発性記憶手段に格納する。初期化及び自己診断が実施される毎に運転履歴は追記される。
【発明の効果】
【００１６】
例えばサービス担当者が当該装置の不具合の原因を調べる際に、出力手段により、不揮発性記憶手段に残されている運転履歴を出力させる。この運転履歴には、装置の使用開始時点や前回の修正・調整時点以降の、過去に遡ったハードウエア全般に亘る自己診断結果が含まれており、その自己診断結果は何回目の初期化・自己診断実行時のものであるのかが明確になっている。したがって、この運転履歴から、装置使用頻度や初期化不良の発生頻度の時間的変化などを推測することができる。即ち、例えば或るハードウエアの初期化不良の発生頻度が最近になって急に高くなってきたといった状況を把握することができる。これによって、故障や不具合の原因箇所を特定し易くなり、そうした作業を効率的に進めることができる。
【００１７】
また本発明に係る分析装置は、分析実行時に装置エラーが発生したときに、そのエラーの種類又はその種類を特定することが可能な情報を、少なくとも前記運転履歴との対応付けが可能であるように不揮発性記憶手段に格納するエラー履歴記憶手段をさらに備え、前記出力手段は、所定の指示に応じて前記不揮発性記憶手段に格納されているエラー履歴も読み出して表示又は印刷のために出力する。
【００１８】
エラー履歴を「前記運転履歴との対応付けが可能であるように不揮発性記憶手段に格納する」ために、例えば、運転履歴の記憶領域にはリセット時からの通算起動回数（初期化・自己診断実行回数）を書き込むようにし、エラーが発生したときにその通算起動回数を取得してそれをエラーの種類又はその種類を特定することが可能な情報と共に格納するとよい。これにより、サービス担当者は、或る装置エラーが発生したときの直前の初期化不良の発生状況などを確認することができ、不具合箇所の特定が容易になる。
【００１９】
また、エラーが発生したときに、その装置がどのような処理を実行中であるかを示す装置動作状態の情報も、エラーの種類又はその種類を特定することが可能な情報と共に格納するとよい。エラーが特定のハードウエアに起因する種類のものである場合には、エラー検知時点でのハードウェアに対する入出力値や制御量及び操作量などの制御パラメータをエラーの種類又はその種類を特定することが可能な情報と共に格納するとよい。また、出力手段は、単に運転履歴やエラー履歴を出力するのみならず、例えば特定の種類の初期化不良やエラーだけを抽出したり、発生回数の累積値を算出する等の分類集計機能を持たせたりするようにしてもよい。こうした情報は、不具合箇所の特定に利用できるほか、装置劣化の度合いやエラー発生傾向の分析、顕在化していない設計上の問題点などの統計解析にも利用することができる。
【００２０】
なお、初期化・自己診断の回数は時間経過とは直接関連しないから、運転履歴やエラー履歴に時間情報があったほうが、より詳細な不具合の解析が可能である。そこで、本発明に係る分析装置では、主電源が切断された状態でも実時間又は基準時点からの経過時間の計時を行う計時手段をさらに備え、前記運転履歴記憶手段は、前記初期化手段による初期化及び自己診断の実施に関する時間情報を前記計時手段により取得して運転履歴とともに記憶し、前記エラー履歴記憶手段は、装置エラーの発生に関する時間情報を前記計時手段により取得してエラー履歴とともに記憶する構成とするとよい。上記基準時点とは、不揮発性記憶手段に格納されている運転履歴をリセットする時点とすればよい。
【００２１】
なお、本発明に係る分析装置において、上記不揮発性記憶手段は装置に内蔵されたものであるが、遠隔地に装置がある場合には、サービス担当者の元に予め運転履歴情報やエラー履歴情報が与えられれば、修理や再調整の作業を効率よく行うことが可能となる。そこで、着脱自在である外部不揮発性記憶手段へのデータの読み書きを行う手段を設け、内部の不揮発性記憶手段に格納されている情報をコピーできるようにするとよい。また、インターネットなどのネットワークを介して内部の不揮発性記憶手段に格納されている情報を、任意の場所へ送信できるようにしてもよい。
【００２２】
これにより、実際の修理作業に先立って、サービス担当者は遠隔地にある装置の運転履歴やエラー履歴を外部不揮発性記憶手段（例えばメモリカードやＵＳＢメモリ）やネットワークを介して入手できるので、不良箇所の推定を前もって行うことが容易になる。したがって、点検修理作業の時間短縮や経費削減につながる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明に係る分析装置の一実施例である分光光度計について図面を参照して説明する。図１は本実施例の分光光度計の要部の構成図、図２は不揮発性メモリに保存されるデータ内容を示す模式図、図３〜図５は本実施例の分光光度計の特徴的な制御動作を説明するためのフローチャートである。
【００２４】
試料に対して吸光測定を実行する測光部１は、光源駆動部１１により駆動される光源部１０と、モータ１４により回転駆動される回折格子１３を含む分光部１２と、試料が収容された試料セル１６を交換するチェンジャー１７とこれを駆動するモータ１８とを含む試料室１５と、検出器１９と、を含む。この測光部１の基本的な動作は次の通りである。即ち、光源部１０から放出された光は分光部１２に導入され、特定の波長を有する単色光が分光部１２から取り出されて試料室１５内で試料セル１６に照射される。試料セル１６に収容されている試料中を光が通過する際に、その含有成分に特有な波長光が吸収され、吸収を受けた透過光が検出器１９に入射し、光量に応じた信号が信号処理部２に出力される。
【００２５】
信号処理部２は、検出器１９で得られたアナログ検出信号をデジタル値に変換するＡ／Ｄ変換機能と、その変換後のデータを処理して波長毎の吸光度を計算し吸光スペクトルを作成するデータ処理機能と、を含む。
【００２６】
制御部３はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどから成り、分光部１２内や試料室１５内の各種のスイッチやセンサ（図示せず）などによる検出信号を受けて動作状態を監視しつつ、光源駆動部１１、モータ１４、１８、などの動作を制御する。また制御部３は、特徴的な機能ブロックとして、初期化実行機能部３１、エラー処理機能部３２及び時間処理部３３を有する。制御部３には、不揮発性メモリ４、計時部５、記憶媒体読み出し／書き込み（Ｒ／Ｗ）部９、操作部７、表示部８が接続されている。
【００２７】
不揮発性メモリ４及び計時部５はバックアップ電源６により、本装置の主電源が遮断された状態でも駆動電力が供給されている。但し、不揮発性メモリ４がフラッシュＲＯＭである場合には、電源６によるバックアップは不要である。記憶媒体Ｒ／Ｗ部９には、必要に応じて、メモリカード、ＵＳＢメモリなどの汎用の外部不揮発性記憶媒体２０が装着される。
【００２８】
また、本装置は単体で分析動作が可能であるが、場合によっては、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）２１が接続され、このＰＣ２１から分析に関わる各種操作・指示が行われたり、或いは、分析結果がＰＣ２１に送られてＰＣ２１上で処理・管理されたりすることもある。
【００２９】
図２に示すように、不揮発性メモリ４には、専用の記憶領域として、運転履歴専用領域４１及びエラー履歴専用領域４２が設けられる。両専用領域４１、４２ともに、管理領域４１１、４２１と、逐次データが格納される記録領域４１２、４２２とが区分して設けられている。運転履歴専用領域４１の管理領域４１１には、この装置の通算起動回数と次回の記録先を示す記録先情報とが格納される。エラー履歴専用領域４２の管理領域４２１には、通算エラー発生回数と次回の記録先を示す記録先情報とが格納される。
【００３０】
運転履歴専用領域４１の記録領域４１２には、起動時刻と初期化（自己診断）処理結果とが対応付けられて格納される。ここでの初期化処理結果とは、例えば、初期化処理や自己診断処理の対象となるハードウエア（例えばモータ１４など）毎に初期化・自己診断の成否が示されるものである。また、例えば位置ずれ量などの定量値が求まる場合には、この定量値を含むようにしてもよい。エラー履歴専用領域４２の記録領域４１２には、エラー発生時刻と、エラーの種類を示すエラーコードと、そのエラー発生時の通算起動回数とが対応付けられて格納される。また、エラー発生時の装置動作状態、具体的にはどのような処理を実行中であったのかを示す情報も一緒に保存するようにしてもよい。起動時刻やエラー発生時刻の情報は計時部５により得られるものである。
【００３１】
この運転履歴専用領域４１内及びエラー履歴専用領域４２内の全ての情報は、操作部７から特殊な操作を行うことでリセットされる。この特殊な操作とは、通常、サービス担当者などの限られた者だけが知っている操作手順であり、基本的にユーザによりこの操作が行われないようにしている。リセットがなされた状態では、管理領域４１１、４２１内の通算起動回数はゼロであり、記録先情報は記録領域４１２、４２２内の１番目の領域を示す情報又はその先頭のアドレスを示す情報であり、記録領域４１２、４２２内のデータは存在しない（又は実質的に存在しないとみなせる状態である）。
【００３２】
一般に、装置が製造メーカの工場から出荷される時点又はサービス担当者により装置が据え付けられてユーザに引き渡される時点で、上記リセット操作が実行される。これにより、専用領域４１、４２内の情報が前述のようにリセットされるほか、内蔵の計時部５の時計もリセットされ、再計時を開始する。
【００３３】
ユーザにより本装置の電源が投入されると、制御部３のＣＰＵやＲＯＭに駆動電力が供給され、図３に示すような初期化処理が実施される。まず、ＲＯＭに格納されている制御プログラムで規定されているアルゴリズムに従って、ＣＰＵ自体や周辺回路が初期化される（ステップＳ１）。その後、ＣＰＵは内蔵ハードウエアの構成情報を取得する（ステップＳ２）。ここでいう内蔵ハードウエアとは、例えば光源部１０、分光部１２、或いはそれよりもさらに細かい各部の構成要素のことなどである。これにより、どのようなハードウエアで本装置が構成されているのかが明らかになり、それによって初期化及び自己診断の対象も確定する。
【００３４】
次に、制御部３の初期化実行機能部３１が、上述のように確定したハードウエアについて全項目の初期化処理が実施済みであるか否かを判定し（ステップＳ３）、未実施の項目があれば、それに対する内蔵ハードウエアの初期化及び自己診断を実施する（ステップＳ４）。例えば、分光部１２の回折格子１３で言うと、まずモータ１４により回折格子１３を回動させて、リミットスイッチなどで決まる機械的な原点位置まで移動させる。その後、モータ１４を駆動しながら較正用の重水素ランプ（図示せず）の０次光を検出し、その０次光の位置を波長原点とすることで初期設定を完了する。
【００３５】
各ハードウエアに対する初期化処理や自己診断処理の結果は、ワーキングＲＡＭに一時的に記憶される（ステップＳ５）。ステップＳ３〜Ｓ５の繰り返しにより、ステップＳ２で確認された全てのハードウエアに対する初期化・自己診断処理が終了すると、それぞれに対する初期化処理・自己診断結果がワーキングＲＡＭに記憶された状態となる。この手順自体は、初期化や自己診断の実施の結果が成功であっても失敗であっても全く同様である。
【００３６】
初期化処理・自己診断が完了すると、制御部３は不揮発性メモリ４内の運転履歴専用領域４１の管理領域４１１から記録先情報を読み出す（ステップＳ６）。例えばリセット後であれば、記録領域４１２の先頭領域を示す情報が取得される。そして、記録領域４１２内でその領域に、ワーキングＲＡＭに一時記憶されていた自己診断結果を一括して格納する（ステップＳ７）。それから通算起動回数をインクリメントし、管理領域４１１内の通算起動回数を更新する（ステップＳ８）。リセット後に１回起動を行えば、通算起動回数は「０」→「１」に更新されることになる。
【００３７】
次に、運転履歴専用領域４１の記録領域４１２が満杯であるか否かを判定し（ステップＳ９）、満杯でなければ、次回記録先情報をインクリメントして、管理領域４１１内の記録先情報を更新する（ステップＳ１０）。これに対し、装置の起動を多数回繰り返して、記録領域４１２が満杯になった場合には、ステップＳ９からＳ１１へと進み、次回記録先情報を初期値、つまり「１」に戻す。したがって、この場合には、次回の装置起動時の運転履歴専用領域４１への書き込みは上書きとなる。
【００３８】
上述のように、装置の電源が投入され、初期化及び自己診断処理が実行される毎に１つずつ、運転履歴専用領域４１の記録領域４１２に運転履歴が追加されてゆく。図２に示すように、運転履歴専用領域４１に保存可能な運転履歴の個数はｎ個であるから、最大ｎ回前の電源投入時の運転履歴まで保存されることになる。但し、実際には、運転履歴専用領域４１のメモリ容量を十分に用意しておき、ユーザが電源の投入・遮断を繰り返す等の異常な使い方をしない限り、記録領域４１２が満杯になることを避けることができる。
【００３９】
一方、本装置を用いた分析に際し、何らかの装置エラーが発生すると、制御部３のエラー処理機能部３２は図４に示すようなフローチャートに従ってエラー履歴処理を実行する。このエラーは分析実行時に装置が正常な動作を行わなくなった装置由来のエラーのほか、例えば、操作部７でオペレータが誤った入力操作を行った場合、設定パラメータが指定された範囲を超えているような場合、などの操作上のエラー、なども含むようにしてもよい。
【００４０】
エラーが発生すると、エラー処理機能部３２は表示部８にエラー発生を通知する（ステップＳ２１）。これにより表示部８によりエラー発生がオペレータに報知される。これと並行してエラー処理機能部３２は、不揮発性メモリ４のエラー履歴専用領域４２の管理領域４２１の記録先情報を読み出す（ステップＳ２２）。そして、エラーの発生時刻を計時部５から取得するとともに、予め用意されたエラーコードテーブルを参照して、発生したエラーの種類に対応したエラーコードを求める。また、運転履歴専用領域４１の管理領域４１１から通算起動回数を読み出す。そして、記録領域４２２内の記録先情報で示される領域に、エラー発生時刻とエラーコードと通算起動回数とを対応付けて、エラー履歴として格納する（ステップＳ２３）。このとき、そのときの装置の動作状態として、例えばどのような処理を実行しているときのエラーであるのかを示す情報も保存するようにするとよい。
【００４１】
その後、通算エラー発生回数をインクリメントし、管理領域４２１内の通算エラー発生回数を更新する（ステップＳ２４）。リセット後に１回エラーが発生すれば、通算エラー発生回数は「０」→「１」に更新されることになる。次に、エラー履歴専用領域４２の記録領域４２２が満杯であるか否かを判定し（ステップＳ２５）、満杯でなければ、次回記録先情報をインクリメントして、管理領域４２１内の記録先情報を更新する（ステップＳ２６）。これに対し、エラー発生を多数回繰り返して、記録領域４２２が満杯になった場合には、ステップＳ２５からＳ２７へと進み、次回記録先情報を初期値、つまり「１」に戻す。したがって、この場合には、次回のエラー発生時のエラー履歴専用領域４２への書き込みは上書きとなる。以上のようにして、エラー履歴専用領域４２には、エラーが発生する毎に１つずつエラー履歴が追加されてゆく。
【００４２】
また、オペレータが操作部７で所定の操作を行うと（例えば操作キーによるメニュー選択）或いは外部機器からの指示（例えばＰＣ２１からの制御コマンド）がある場合には、制御部３は、不揮発性メモリ４に保存してある運転履歴及びエラー履歴を読み出して記憶媒体Ｒ／Ｗ部９へと送り、装着されている外部不揮発性記憶媒体２０に書き込む。これにより、不揮発性メモリ４の情報内容が外部不揮発性記憶媒体２０にコピーされ、外部に持ち出し可能となる。或いは、本装置又はＰＣ２１に接続されているネットワーク回線を介して、不揮発性メモリ４の情報内容を外部に送信できるようにしてもよい。
【００４３】
前述のように運転履歴に使用される起動時刻やエラー履歴に使用されるエラー発生時刻は計時部５の計時により与えられるが、一般的に、計時部５の内部計時情報は装置出荷時には正確には設定されておらず、またこの内部計時情報は一旦正確に設定されても次第にずれてくるおそれもある。そこで、時間処理部３３は図５に示すようなフローチャートに従って、必要に応じて計時部５の時刻合わせを行うようにしている。
【００４４】
いまオペレータが操作部７から時刻を入力したものとする。またＰＣ２１が接続されている場合には、ＰＣ２１は時計機能を内蔵しているから、ＰＣ２１からＰＣ２１の内蔵時計の時刻情報を時間処理部３３に対して設定するようにすることもできる。或いは、ＰＣ２１と装置との通信開始時などの所定のタイミングで、ＰＣ２１がＰＣ２１の内蔵時計の時刻情報を時間処理部３３に自動的に設定するようにしてもよい。いずれにしても、当該装置の外部から時刻情報が与えられると（ステップＳ３１）、時間処理部３３はその時刻の妥当性を判断する（ステップＳ３２）。この妥当性の判断基準としては、例えば計時部５の設定範囲を超えないこと、日時として意味のあるパラメータであること、装置の製品寿命等に照らして異常な値（例えば過去の日時や極端に未来の日時）でないこと、などが挙げられる。そして、入力された時刻情報が妥当であれば、その時刻を計時部５に設定し計時を開始するが（ステップＳ３３、Ｓ３４）、上記時刻情報が妥当でなければ入力された時刻を無視して処理を終了する。
【００４５】
本実施例の分光光度計が使用される際の動作は前述のように行われるが、例えば装置が故障して分析が行えなくなったときに、ユーザは製造メーカに連絡し、サービス担当者がユーザの元に派遣される。又は、装置がサービスセンター等に輸送される。サービス担当者は装置の故障の原因を解明する必要があるが、その際に、運転履歴やエラー履歴を利用することができる。即ち、サービス担当者が操作部７で特殊な操作を行うと、この操作を受けた制御部３は、不揮発性メモリ４の専用領域４１、４２からそれぞれ運転履歴情報、エラー履歴情報を読み出し、表示部８により表示したり図示しないプリンタから出力したりする。
【００４６】
上述のように運転履歴には自己診断結果がその成否に拘わらず記録されているので、過去に遡って運転履歴を確認することにより、装置の使用頻度や、初期不良の発生状況（起動回数に対する初期化不良の発生頻度、経時変化など）を知ることができる。それによって、例えば特定のハードウエアの初期化不良の発生頻度が最近急激に増加していることが確認できれば、そのハードウエアが故障の原因である可能性が高いと推測することができる。また、エラー履歴を見れば、エラーの種類だけでなく、そのエラーが発生したときの通算起動回数も記録されているので、エラーの種類とその直前の自己診断結果などを比較することも容易である。こうした従来には得られない情報を利用してサービス担当者は迅速に不具合の原因を解明し、修理や調整などを行うことができる。
【００４７】
上述のように外部不揮発性記憶媒体２０の授受やネットワーク回線を利用したデータのみの授受が可能である場合には、装置を輸送したりサービス担当者が出向いたりする前に、サービス担当者が運転履歴やエラー履歴から不具合の原因を推定し、必要な処置を執ることができる。
上記実施例の分光光度計は、以下に述べるように様々に変形が可能である。
【００４８】
上述のように電源がバックアップされたリアルタイムクロックなど、主電源が切断された後でも計時が継続可能な計時機能を有する場合には、出荷前検査時点又は装置の据え付け時点で操作部７又は外部機器からの指示により時刻を実時刻に合わせ、そのまま実時刻計測に使用してもよい。また、オペレーティングシステム（ＯＳ）を搭載した制御部３又はＰＣ２１が使用される場合には、その内蔵ＯＳのシステム時刻をそのまま経過時刻計測に使用してもよい。
【００４９】
計時部５の電源がバックアップされておらず、装置起動毎に外部からの実時刻の入力を要する構成の場合、初期化中に発生したエラーを実時刻に対応付けて記録するためには次のようにするとよい。即ち、装置起動の始めにシステム時刻を仮にゼロとし、外部から実時刻が与えられるまでの間は実時刻の代わりに装置起動からの経過時間を記録する。そして、外部機器から実時刻が与えられた時点で、
（装置起動時点の実時刻）＝（履歴内の装置起動からの経過時間）＋（同期指令受信時点での実時刻）−（同期指令時点での電源投入からの経過時間）
を計算する。そして、これを利用して、保存済みの運転履歴のうち、装置起動からの経過時間を実時刻に書き換えるようにすればよい。
【００５０】
また、実時刻計測の時間分解能が十分に高く、実時刻のみにより運転履歴とエラー履歴との前後関係が特定できる場合には、エラー履歴への通算起動回数の記録を省略してもよい。
【００５１】
また、操作部７により時刻情報が入力される場合には、システム管理者のみに時刻の変更や設定を許可するようにパスワードを設けてもよい。また、誤入力を防止するため複数回の入力を求め、その複数回の入力が一致することを確認するようにしてもよい。
【００５２】
また、制御部３は単に読み出した運転履歴やエラー履歴をそのまま出力するのではなく、全運転履歴の中から特定の不良を抽出したり、全エラー履歴から特定エラーを示すエラーコードを抽出したりし、それぞれ独立に発生累積度数などを計算する分類集計機能や統計処理機能などを持たせてもよい。これにより、装置の劣化度合いのチェックやエラー発生傾向の分析を行い、潜在している設計上の問題点の統計解析に有用な情報を提供することができる。
【００５３】
また、履歴が膨大である場合に必ずしも全ての情報が必要であるとは限らないから、直近の履歴を指定個数分だけ取得できる機能や、特定期間（例えば○年△月Ｘ日以降、○年△月Ｘ日以前、又は○年△月Ｘ日〜□年▽月●日の間など）の履歴を取得できる機能を設けてもよい。
【００５４】
また、記録領域４１２、４２２が満杯となった場合には、上書きを行わず、その旨を知らせる表示を表示部８に出力したり外部機器（例えばＰＣ２１）に出力したりして、点検をユーザに促してもよい。装置の点検や消耗品の交換などの時期が近づく頃に、記録領域４１２、４２２が満杯になるように、そのメモリ容量を予め適切に定めておくことにより、適切な時期の点検をユーザに知らせることができる。
【００５５】
また、内部の不揮発性メモリ４を用いずに着脱可能な外部不揮発性記憶媒体２０に履歴を直接記録するようにしてもよいが、その場合には、外部不揮発性記憶媒体２０が満杯になったならばその交換を促す表示を行うとよい。また、内部の不揮発性メモリ４に優先的に履歴を記録し、それが満杯になったならば外部不揮発性記憶媒体２０に続けて履歴を記録するようにしてもよい。
【００５６】
また、初期化不良などの異常発生回数の許容上限値をハードウエア毎に設定しておき、その上限値を超えた場合には警告を表示したり当該ハードウエアの駆動を禁止したりしてもよい。その場合、部品交換や再調整など修理作業が完了するまで、サービス担当者やシステム管理者など、許可された者をパスワードなどを用いて識別するようにし、許可されていない通常のオペレータによる装置の使用を禁止してもよい。これにより、故障部分の拡大、故障の程度の悪化、調整ずれの拡大などを防止し、装置が修理不能な状態になることを避けることができる。
【００５７】
また、エラー履歴としては、単にどのような処理を実行中にエラーが発生したのかだけではなく、装置状態としてエラー発生時点における内蔵ハードウエア全ての状態を一括して記録するようにしてもよい。それにより、複数のハードウエアが関連して発生する場合のエラーの原因を見い出すことが容易になる。
【００５８】
また、運転履歴とエラー履歴とを別々の専用領域４１、４２に記録するのではなく、同一の記録領域に時系列的に記録してもよい。即ち、運転履歴とエラー履歴とが記録される物理的な領域は特に重要ではない。
【００５９】
また、結果診断結果の判定が或る物理的な意味を持つ数値（例えば可動部品の位置や検出器出力の最大値など）に基づくものであって、不具合原因の推定や現象の再現などに有用である場合には、単に自己診断の成功／失敗のみを記録するのではなく、実測値そのものを記録するようにしてもよい。
【００６０】
また上述した以外の点についても、本発明の趣旨の範囲で適宜、変形、修正、追加などを行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。例えば上記実施例は本発明を分光光度計に適用したものであるが、分光光度計以外の各種の分析装置に適用できることは当然である。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明の一実施例である分光光度計の要部の構成図。
【図２】本実施例の分光光度計において不揮発性メモリに保存されるデータ内容を示す模式図。
【図３】本実施例の分光光度計の特徴的な制御動作を説明するためのフローチャート。
【図４】本実施例の分光光度計の特徴的な制御動作を説明するためのフローチャート。
【図５】本実施例の分光光度計の特徴的な制御動作を説明するためのフローチャート。
【符号の説明】
【００６２】
１…測光部
１０…光源部
１１…光源駆動部
１２…分光部
１３…回折格子
１４…モータ
１５…試料室
１６…試料セル
１７…チェンジャー
１８…モータ
１９…検出器
２…信号処理部
３…制御部
３１…初期化実行機能部
３２…エラー処理機能部
３３…時間処理部
４…不揮発性メモリ
４１…運転履歴専用領域
４２…エラー履歴専用領域
４１１、４２１…管理領域
４１２、４２２…記録領域
５…計時部
６…バックアップ電源
７…操作部
８…表示部
９…記憶媒体Ｒ／Ｗ部
２０…外部不揮発性記憶媒体
２１…ＰＣ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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