(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
交流電路に挿入された零相変流器と、この零相変流器に巻回された２次巻線に接続され前記交流電路に流れる漏電電流が所定のレベルを越えたとき出力を発生する漏電検出回路と、前記漏電検出回路の出力により前記交流電路に挿入された遮断部を開離する引きはずし回路と、前記交流電路の電圧を整流して前記漏電検出回路に供給する整流回路と、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線に擬似漏電電流を流すテスト回路を備えた漏電遮断器において、前記整流回路の出力側から定電圧回路を介して前記テスト回路および漏電検出回路に供給するとともに、前記テスト回路は、前記テスト巻線とテストスイッチと電流制限素子と光絶縁手段との直列接続体を接続したものから構成し、さらに、前記光絶縁手段は、一次側が前記交流電路と前記整流回路との間に挿入された発光素子と、二次側が前記テスト回路に流れる擬似漏電電流を制御する受光素子とで構成したことを特徴とする漏電遮断器。
【請求項２】
交流電路に挿入された零相変流器と、この零相変流器に巻回された２次巻線に接続され前記交流電路に流れる漏電電流が所定のレベルを越えたとき出力を発生する漏電検出回路と、前記漏電検出回路の出力により前記交流電路に挿入された遮断部を開離する引きはずし回路と、前記交流電路の電圧を整流して前記漏電検出回路に供給する整流回路と、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線に擬似漏電電流を流すテスト回路を備えた漏電遮断器において、前記整流回路の出力側から定電圧回路を介して前記テスト回路および漏電検出回路に供給するとともに、前記テスト回路は、前記テスト巻線と第一の制限抵抗とスイッチング素子との直列接続体を接続したもの、およびテストスイッチと第二の電流制限素子と光絶縁手段との直列接続体を前記スイッチング素子の入力端子に接続したものから構成し、さらに、前記光絶縁手段は、一次側が前記交流電路と前記整流回路との間に挿入された発光素子と、二次側が前記テスト回路に流れる擬似漏電電流を制御する受光素子とで構成し、かつ、前記スイッチング素子の入力端子に接続され前記漏電検出回路の出力を受けて前記スイッチング素子をＯＦＦする擬似漏電電流制御手段を前記引きはずし回路に具備したことを特徴とする漏電遮断器。
【請求項３】
前記光絶縁手段の発光素子に逆並列に整流素子を接続したことを特徴とする請求項１もしくは２に記載の漏電遮断器。
【請求項４】
前記光絶縁手段の発光素子に直列に制限抵抗を接続し、前記発光素子と制限抵抗の直列回路に前記発光素子の極性と逆向きの定電圧ダイオードを接続したことを特徴とする請求項１もしくは２に記載の漏電遮断器。
【請求項５】
前記光絶縁手段を複数配設し、それぞれの光絶縁手段の一次側を前記交流電路のうち少なくとも２組と前記整流回路との間に接続し、それぞれの光絶縁手段の二次側を上記テスト回路内で並列接続したことを特徴とする請求項１もしくは２に記載の漏電遮断器。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、交流電路に漏電や地絡が発生したときにその電路を遮断する漏電遮断器に係り、特に、電路に疑似漏電電流を流して漏電をテストするテスト回路を備えた漏電遮断器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】  従来からこの種の漏電遮断器に対し種々の提案がなされているが、例えば、三相交流電路に零相変流器を挿入し、上記三相交流電路のいずれか２相の１次導体間に、テストスイッチ、テスト抵抗、および零相変流器のテスト巻線の直列回路からなるテスト回路を接続し、上記テストスイッチを操作することにより上記テスト回路に擬似漏電電流を流し、これを漏電検出器部により検知し、漏電電流のレベル判定をして交流電路を遮断するように構成したものがある。（例えば、特許文献１参照）【０００３】
【特許文献１】特開２００２−７８１８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記した従来の漏電遮断器においては、擬似漏電電流が流れるテストスイッチが主回路の交流電路に接続されており、主回路の電圧がテストスイッチの接点間に印加されるため、スイッチの定格が主回路電圧に対応する必要があり、スイッチの外形が大きくなるという問題があった。また、漏電遮断器の電子回路の電源の構成が、主回路電圧に近い電圧で整流される回路構成の場合、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間にほぼ主回路電圧に等しい電位差が発生するため、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁を高耐圧なものにする必要があった。
【０００５】
本発明は、前記のような課題を解決するためになされたもので、漏電遮断器のテスト回路において、テストスイッチの接点間の電圧を低くでき、テストスイッチに定格電圧の低い、小形で安価なスイッチを使用でき、かつ、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁耐量を、耐電圧が低く簡素に構成できる漏電遮断器を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】  本発明に係る漏電遮断器は、交流電路に挿入された零相変流器と、この零相変流器に巻回された２次巻線に接続され前記交流電路に流れる漏電電流が所定のレベルを越えたとき出力を発生する漏電検出回路と、前記漏電検出回路の出力により前記交流電路に挿入された遮断部を開離する引きはずし回路と、前記交流電路の電圧を整流して前記漏電検出回路に供給する整流回路と、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線に擬似漏電電流を流すテスト回路を備えた漏電遮断器において、前記整流回路の出力側から定電圧回路を介して前記テスト回路および漏電検出回路に供給するとともに、前記テスト回路は、前記テスト巻線とテストスイッチと制限抵抗と光絶縁手段との直列接続体を接続したものから構成し、さらに、前記光絶縁手段は、一次側が前記交流電路と前記整流回路との間に挿入された発光素子と、二次側が前記テスト回路に流れる擬似漏電電流を制御する受光素子とで構成したことを特徴とするものである。 また、本発明に係る漏電遮断器は、交流電路に挿入された零相変流器と、この零相変流器に巻回された２次巻線に接続され前記交流電路に流れる漏電電流が所定のレベルを越えたとき出力を発生する漏電検出回路と、前記漏電検出回路の出力により前記交流電路に挿入された遮断部を開離する引きはずし回路と、前記交流電路の電圧を整流して前記漏電検出回路に供給する整流回路と、前記零相変流器に巻回されたテスト巻線に擬似漏電電流を流すテスト回路を備えた漏電遮断器において、前記整流回路の出力側から定電圧回路を介して前記テスト回路および漏電検出回路に供給するとともに、前記テスト回路は、前記テスト巻線と第一の制限抵抗とスイッチング素子との直列接続体を接続したもの、およびテストスイッチと第二の制限抵抗と光絶縁手段との直列接続体を前記スイッチング素子の入力端子に接続したものから構成し、さらに、前記光絶縁手段は、一次側が前記交流電路と前記整流回路との間に挿入された発光素子と、二次側が前記テスト回路に流れる擬似漏電電流を制御する受光素子とで構成し、かつ、前記スイッチング素子の入力端子に接続され前記漏電検出回路の出力を受けて前記スイッチング素子をＯＦＦする擬似漏電電流制御手段を前記引きはずし回路に具備したことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明は以上説明したように、テスト回路を整流回路の出力側に接続したので、テストスイッチに定格電圧の低い、安価なスイッチを使用でき、かつ、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁を簡素化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
実施の形態１．
図１は本発明の実施形態１における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。図２は図１の動作を示すタイムチャートである。
図１において、漏電遮断器１０は、電源側端子Ｒ、Ｓ、Ｔ及び上記電源側端子Ｒ、Ｓ、Ｔに対応して負荷側端子Ｕ、Ｖ、Ｗを有しており、漏電遮断器１０内には、上記電源側端子と負荷側端子とを結ぶ１次導体（Ｒ−Ｕ）、（Ｓ−Ｖ）、（Ｔ−Ｗ）の開閉を行う接点からなる遮断部９、各１次導体（Ｒ−Ｕ）、（Ｓ−Ｖ）、（Ｔ−Ｗ）毎の過電流を検出し図示しない引外し部を介して上記遮断部９の接点を開放させる図示しない過電流検出部を有している。なお、上記遮断部９の接点の投入は図示しないハンドルを手動操作することによって行われる。
【０００９】
また、自身の環状鉄心２ｃを貫通鎖交する１次導体（Ｒ−Ｕ）、（Ｓ−Ｖ）、（Ｔ−Ｗ）を流れる（本例では三相分の）電流に含まれる零相電流（負荷側の漏電や地絡によって流れる）を検出するための零相変流器２を有しており、鉄心２ｃには零相電流を取出すための２次巻線２ａ、漏電遮断機能テスト用のテスト巻線２ｂが巻回されている。
【００１０】
また、１次導体（Ｒ−Ｕ）、（Ｓ−Ｖ）、（Ｔ−Ｗ）に整流回路３、定電圧回路４を介してテスト回路１が接続され、前記テスト回路１は、前記零相変流器２に巻回されたテスト巻線２ｂと、前記零相変流器２に流れる擬似漏電電流を入切りするテストスイッチ１１と、上記テスト巻線２ｂに流れる擬似漏洩電流を制限する電流制限素子１２と、光絶縁手段１３１との直列接続体で構成され、前記整流回路３の出力側の定電圧回路４とアースとの間に接続されている。また、前記光絶縁手段１３１は、互いに絶縁された一次側と二次側とで構成され、一次側に前記交流電路のいずれかと前記整流回路３の交流側との間に接続された発光素子１３１aが存在し、二次側に上記電流制限素子１２に接続され擬似漏電電流にリップルを発生させるよう制御する受光素子１３１ｂが存在している。
【００１１】
更に、上記発光素子１３１ａには整流素子１４１が発光素子１３１ａの極性と逆並列の関係に接続されている。また、零相変流器２の２次巻線２ａには前記交流電路に流れる漏電電流が所定のレベルを越えたとき出力を発生する漏電検出回路５が接続されており、この漏電検出回路５の出力を受けて遮断部９の接点を開放させる引きはずし回路６を有している。引きはずし回路６は、電磁装置６１と、漏電検出回路５の出力を受けて電磁装置６１を制御するスイッチング手段６２とで構成されている。
【００１２】
次に、以上のように構成されたこの発明の実施の形態１における漏電遮断器の漏電テスト動作について説明する。
いま、遮断部９の接点が閉成されている状態で、テストスイッチ１１の接点が閉じられると、光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａに流れる半波電流に応じて受光素子１３１ｂで制御したリップル電流(半波電流)が擬似漏電電流として零相変流器２のテスト巻線２ｂに流れる。
【００１３】
この時、テスト巻線２ｂには、電流制限素子１２によって制限された所定の擬似漏電電流が通電されるので、環状鉄心２ｃに発生した磁束によって２次巻線２ａに電流が発生し、その電流を漏電検出部５が検出し、これが所定のレベルを越えたとき漏電発生と判定して引きはずし回路６に出力する。引きはずし回路６のスイッチング手段６２が漏電検出部５の出力を受けて、電磁装置６１を動作させると遮断部９が遮断動作をし、漏電テストが行なわれる。
なお、光絶縁手段１３１の一次側の発光素子１３１ａと並列に発光素子の極性と逆向きに整流素子１４１が接続されているので、交流電流を連続的に整流回路３に供給できるため、上記テスト回路1の構成による漏電検出回路５へ電源供給が安定して行なわれる。
【００１４】
テスト回路１は整流回路３から出力された電圧を所定の電圧に維持する定電圧回路４の後段に接続されており、テストスイッチ１１の接点間に印加される電圧は、例えば３０Ｖ以下に設定できるものである。
同様に零相変流器２の２次巻線２ａとテスト巻線２ｂは、共に定電圧回路４の下流側に接続されるため、巻線間の電位差を例えば３０Ｖ以下に設定でき、２次巻線２ａとテスト巻線２ｂ間の絶縁を簡素化できる。
【００１５】
図２は図１の動作を示すタイムチャートである。図において、１１１はテストスイッチ１１の開閉タイミング、１３３は光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａに流れる電流波形、２０１はテスト巻線２ｂに流れる擬似漏電電流波形、２０２は２次巻線２ａの出力波形、５０１は漏電検出回路５の出力波形、６２１はトリガ素子６２の動作波形、６１１は引きはずし装置６１の電流波形である。
【００１６】
光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａには、波形１３３のような電流が流れており、テストスイッチ１１の接点が波形１１１のポイントＡのタイミングで閉じられると、テストスイッチ１１と受光素子１３１ｂの開閉によって制御された波形２０１のような波形の擬似漏電電流が零相変流器２のテスト巻線２ｂに流れる。そして、擬似漏電電流によって零相変流器２の２次巻線２ａに波形２０２のような出力電流が発生し、漏電検出回路５が所定レベルＣ以上の漏電を検出すると、波形５０１のような出力を行なう。引きはずし回路６の例えばトランジスタで構成されるスイッチング手段６２が漏電検出回路５の波形５０１の出力を受けて、波形６２１のようなタイミングで動作し、電磁装置６１に波形６１１のように電流が流れ、遮断部９の遮断動作が行われ、漏電テストをすることができる。
【００１７】
なお、テスト巻線２ｂに流れる電流は、２次巻線２ａの出力が漏電検出部５に設定された漏電検出部５が引はずし回路６を動作させるしきい値Ｃ以上になるように設定されている。前記の実施例では三相電路に対応した遮断器の例にて説明したが、単相電路または三相４線式電路に対応した遮断器でも、いずれかの相の一次導体と整流回路間に光絶縁手段を接続した場合でも、同様の効果が得られる。
【００１８】
以上のようにこの発明の実施の形態１によれば、テスト回路を整流回路の出力側に接続したので、テストスイッチに定格電圧の低い、安価なスイッチを使用でき、かつ、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁を簡素化できるため、零相変流器を小形で安価なものを使用することができるという効果がある。
【００１９】
実施の形態２．
図３は本発明の実施形態２における漏電遮断器を示すブロック図である。
実施の形態２の特徴は、図において、光絶縁手段１３１のうち、１次側の発光素子１３１ａが１次導体のいずれかと整流回路３の交流側との間に制限抵抗１５１と直列に接続され、上記発光素子１３１ａと制限抵抗１５１との直列体に並列に発光素子の極性と逆向きに定電圧ダイオード１４３を接続している点である。上記以外は、上述した実施の形態1と同様である。
【００２０】
今、一次導体間にサージ電圧が印加された場合、光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａにサージ電流が流れるが、制限抵抗１５１の電圧が上昇し、発光素子１３１ａと制限抵抗１５１に並列に発光素子の極性と逆向きに接続された定電圧ダイオード１４３により、発光素子１３１ａと制限抵抗１５１への印加電圧を制限するため、発光素子１３１ａに流れるサージ電流が制限できる。この時、制限抵抗１５１の抵抗値は、後段回路の電源供給への影響を少なくするため、例えば１０Ω以下などできるだけ低くすることが望ましい。上記以外の動作は、上述した実施の形態1と同様である。
【００２１】
以上のようにこの発明の実施の形態２によれば、上述した実施の形態1と同様、テストスイッチに定格電圧の低い、安価なスイッチを使用でき、かつ、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁を簡素化できるため、零相変流器を小形で安価なものを使用できると共に、さらに光絶縁手段の発光素子側にサージ電流耐量の小さい小形で安価なものを使用できるという効果がある。
【００２２】
実施の形態３．
図４は本発明の実施形態３における漏電遮断器を示すブロック図である。
図５は図４の動作を示すタイムチャートである。
実施の形態３の特徴は、光絶縁手段１３１とは別に光絶縁手段１３２を備えた点である。図において、光絶縁手段１３２は、光絶縁手段１３１と同様に他の１次導体と整流回路３の交流側との間に接続された発光素子１３２ａと、光絶縁手段１３１の受光素子１３１ｂに並列に接続された２次側の受光素子１３２ｂとから構成され、光絶縁手段１３１と１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａにそれぞれ並列に発光素子の極性と逆向きに接続された整流素子１４１、１４２を接続した点である。上記以外は、上述した実施の形態1と同様である。
【００２３】
次に、以上のように構成されたこの発明の実施の形態３における漏電遮断器の動作について図５を参照して説明する。
図において、テストスイッチ１１の接点が閉じられると、光絶縁手段１３１、１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａに流れる半波電流に応じて受光素子１３１ｂと１３２ｂにより制御したリップル電流(半波電流)が擬似漏電電流として零相変流器２のテスト巻線２ｂに流れ、その後は実施の形態1と同様の動作で漏電テストをすることができる。
【００２４】
なお、光絶縁手段１３１、１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａと並列に発光素子の極性と逆向きに整流素子１４１、１４２が接続されているので、交流電流を連続的に整流回路３に供給でき、上記テスト回路1の構成による漏電検出回路５へ電源供給が安定して行なわれる。
【００２５】
図５は図４の動作を示す、タイムチャートである。
図において、１１１はテストスイッチ１１の開閉タイミング、１３３は光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａに流れる電流波形、１３４は光絶縁手段１３２の発光素子１３２ａに流れる電流波形、２０１はテスト巻線２ｂに流れる擬似漏電電流波形、２０２は２次巻線２ａの出力波形、５０１は漏電検出回路５の出力波形、６２１は電磁装置スイッチング手段６２の動作波形、６１１は電磁装置６１の電流波形である。
【００２６】
光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａには波形１３３、光絶縁手段１３２の発光素子１３２ａには波形１３４のような電流が流れており、テストスイッチ１１の接点が波形１１１のポイントＡのタイミング閉じられると、テストスイッチ１１と受光素子１３１ｂと受光素子１３２ｂの開閉によって制御された、波形２０１のような波形の擬似漏電電流が零相変流器２のテスト巻線２ｂに流れる。
【００２７】
そして、擬似漏電電流によって零相変流器２の２次巻線２ａに波形２０２のような出力電流が発生し、漏電検出回路５が漏電を検出すると、波形５０１のような出力を行なう。引きはずし回路６のスイッチング手段６２が漏電検出回路５の波形５０１の出力を受けて、波形６２１のようなタイミングで動作し、電磁装置６１に波形６１１のように電流が流れ、遮断部９の遮断動作が行われ、漏電テストをすることができる。
ここで、テスト巻線２ｂに流れる電流は、２次巻線２ａの出力が漏電検出部５に設定された漏電検出部５が引はずし回路６を動作させるしきい値Ｃ以上になるように設定されている。
【００２８】
以上のようにこの発明の実施の形態３によれば、テストスイッチを直流回路内に構成したので、テストスイッチに定格電圧の低い、安価なスイッチを使用でき、かつ、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁を簡素化できるため、零相変流器を小形で安価なものを使用することができると共に、三相の一次導体のうち２つの一次導体に光絶縁手段１３１、１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａが接続されているため、三相のうちどの相が欠相、または未接続となっても他の相で漏電テストが可能となる。
【００２９】
実施の形態４．
図６は本発明の実施形態４における漏電遮断器を示すブロック図であり、図7は図６の動作を示すタイムチャートである。
この実施の形態４は上述の実施の形態２と実施の形態３とを合体して両者の特徴を併せ持つようにしたものである。すなわち、先ずは、光絶縁手段の一次側を２個設け、それぞれの一方を発光素子１３１aと制限抵抗１５１の直列体に並列に発光素子１３１aの極性と逆向きに定電圧ダイオード１４３を接続したものから構成し、他方を発光素子１３２aと制限抵抗１５２の直列体に並列に発光素子１３２aの極性と逆向きに定電圧ダイオード１４４を接続したものから構成している。なお、１次導体（Ｒ−Ｕ）、（Ｓ−Ｖ）、（Ｔ−Ｗ）から整流回路３に至る回路にそれぞれ制限抵抗８ａ〜８ｃが新しく挿入されている。
【００３０】
一方、光絶縁手段の二次側が挿入されるテスト回路１は、定電圧回路４に零相変流器２のテスト巻線２ｂを介してテスト電流を制限する電流制限素子１２と、これと直列に接続されたテスト電流を制御する擬似漏電電流スイッチング素子１７とを接続し、更に、上記定電圧回路４とスイッチング素子１７の入力端子間にはテストスイッチ１１と、電流制限素子１６との直列回路と、光絶縁手段の二次側の２個の受光素子１３１b、１３２bの並列回路とが直列関係に接続されている。
【００３１】
また、零相変流器２の２次巻線２ａに接続された漏電検出回路５と、この漏電検出回路５の出力を受けて遮断部９の接点を開放させる引きはずし回路６を有しているが、引きはずし回路６は、電磁装置６１と、漏電検出回路５の出力を受けて電磁装置６１を制御する電磁装置駆動用のスイッチング手段６２と、上記スイッチング素子１７の入力端子に接続され漏電検出回路５の出力を受けて上記スイッチング素子１７をＯＦＦする擬似漏電電流制御手段７３と、上記漏電検出回路５の入力側に挿入されテスト回路１の動作時に漏電検出回路５の電圧安定化に寄与する平滑コンデンサ７２と、上記平滑コンデンサ７２から上記テスト回路１側への電流流出を防止する整流素子７１で構成されている。
【００３２】
次に、以上のように構成されたこの発明の実施の形態４における漏電遮断器の動作にいて説明する。
今、遮断部９の接点が閉成されている状態でテストスイッチ１１の接点が閉じられると、光絶縁手段１３１、１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａに流れる半波電流に応じて受光素子１３１ｂと１３２ｂが擬似漏洩電流スイッチング素子１７を介して制御したリップル電流(半波電流)が擬似漏電電流として零相変流器２のテスト巻線２ｂに流れる。
【００３３】
この時、テスト巻線２ｂには、電流制限素子１２によって制限された所定の擬似漏電電流が通電されるので、環状鉄心２ｃに発生した磁束によって２次巻線２ａに電流が発生し、その電流を漏電検出部５が検出し、所定レベル以上の電流が流れると漏電発生と判定して引きはずし回路６に出力する。引きはずし回路６のスイッチング手段６２が漏電検出部５の出力を受けて、電磁装置６１を動作させると遮断部９が遮断動作をし、漏電テストが行なわれる。
【００３４】
漏電テストにより漏電検出回路５が上述のように電磁装置６１を動作させると同時に、擬似漏電電流制御手段７３をＯＮし、テスト電流を制御する擬似漏電電流スイッチング素子１７をＯＦＦするため、電磁装置６１の動作時には擬似漏電電流を流さないようにしている。そのため、制限抵抗８ａ〜８ｃや定電圧回路４の構成により使用電流に制限がある場合でも、安定したテスト動作が可能となる。なお、主回路電圧が低く、テスト回路１の動作により、定電圧回路４から出力される電流のほとんどが擬似漏電電流に費やされる場合でも、漏電検出回路５の電圧は、平滑コンデンサ７２と整流素子７１との作用により安定化補償される。
【００３５】
また、実施の形態３のように、光絶縁手段１３１、１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａと並列に発光素子の極性と逆向きに定電圧ダイオード１４３、１４４が接続されているので、交流電流を連続的に整流回路３に供給でき、上記テスト回路1の構成による漏電検出回路５へ電源供給が安定して行なわれるものである。
【００３６】
また、一次導体間にサージ電圧が印加された場合、光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａにサージ電流が流れるが、制限抵抗１５１の電圧が上昇し、発光素子１３１ａと制限抵抗１５１の直列体に逆並列に接続された定電圧ダイオード１４３が、発光素子１３１ａと制限抵抗１５１への印加電圧を制限するため、発光素子１３１ａに流れるサージ電流が制限される。光絶縁手段１３２の発光素子１３２ａと制限抵抗１５２と定電圧ダイオード１４４の組合せも上述と同様の動作をし、発光素子１３２ａに流れるサージ電流が制限される。
【００３７】
三相の一次導体のうち２つの一次導体に光絶縁手段１３１、１３２の発光素子１３１ａ、１３２ａが接続されているため、三相のうちどの相が欠相、または未接続となってもテスト可能となると共により安定したテスト回路が実現できる。
この時、制限抵抗１５１、１５２の抵抗値は、後段回路の電源供給への影響を少なくするため、例えば１０Ω以下などできるだけ低くすることが望ましい。
【００３８】
図７のタイムチャートにおいて、１１１はテストスイッチ１１の開閉タイミング、１３３は光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａに流れる電流波形、１３４は光絶縁手段１３２の発光素子１３２ａに流れる電流波形、２０１はテスト巻線２ｂに流れる擬似漏洩電流波形、２０２は２次巻線２ａの出力波形、５０１は漏電検出回路５の出力波形、６２１は電磁装置スイッチング手段６２の動作波形、６１１は電磁装置６１の電流波形、７３１は擬似漏電電流制御手段７３の動作波形である。
【００３９】
光絶縁手段１３１の発光素子１３１ａには波形１３３、光絶縁手段１３２の発光素子１３２ａには波形１３４のような電流が流れており、テストスイッチ１１の接点が波形１１１のポイントＡのタイミング閉じられると、テストスイッチ１１と受光素子１３１ｂと受光素子１３２ｂの開閉によって制御された、波形２０１のような波形の擬似漏洩電流が零相変流器２のテスト巻線２ｂに流れる。そして、擬似漏電電流によって零相変流器２の２次巻線２ａに波形２０２のような出力電流が発生し、漏電検出回路５が漏電を検出すると、波形５０１のような出力を行なう。
【００４０】
引きはずし回路６の擬似漏電電流制御手段７３が漏電検出回路５の波形５０１の出力を受けて、波形７３１のようなタイミングで動作し、擬似漏洩電流スイッチング素子をＯＦＦさせるため、波形２０１のポイントＢの位置で擬似漏洩電流が流れなくなる。それと同時に、引きはずし回路６の電磁装置スイッチング手段６２が漏電検出回路５の波形５０１の出力を受けて、波形６２１のようなタイミングで動作し、引きはずし装置６１に波形６１１のように電流が流れ、遮断部９の遮断動作が行われ、漏電テストをすることができる。ここで、テスト巻線２ｂに流れる電流は、２次巻線２ａの出力が漏電検出部５に設定された漏電検出部５が引はずし回路６を動作させるしきい値Ｃ以上になるように設定されている。
【００４１】
以上のようにこの発明の実施の形態４によれば、テストスイッチを直流回路内に構成したので、テストスイッチに定格電圧の低い、安価なスイッチを使用でき、かつ、零相変流器のテスト用巻線と２次巻線間の絶縁を簡素化できるため、零相変流器を小形で安価なものを使用することができる。さらに光絶縁手段の発光素子側にサージ電流耐量の小さい小形で安価なものを使用でき、かつ、出力電流が小さく構成が単純で安価な電源回路を使用できるという効果がある。
【００４２】
なお、上記の各実施例では三相電路に対応した遮断器の例にて説明したが、三相４線式電路に対応した遮断器でも、いずれか３つの相の一次導体と整流回路間に光絶縁手段を接続した場合でも、同様の効果が得られることはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明の実施形態１における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。
【図２】図１のタイムチャートである。
【図３】本発明の実施形態２における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の実施形態３における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。
【図５】図４のタイムチャートである。
【図６】本発明の実施形態４における漏電遮断器の構成を示すブロック図である。
【図７】図６のタイムチャートである。
【符号の説明】
【００４４】
１    テスト回路、    ２    零相変流器、    ２ａ  ２次巻線、
２ｂ    テスト巻線、    ２ｃ  鉄心、            ３    整流回路、
４    定電圧回路、    ５    漏電検出回路、    ６  引きはずし回路、
８ａ    制限抵抗、      ８ｂ  制限抵抗、      ８ｃ  制限抵抗、
９    遮断部、        １０  漏電遮断器、    １１  テストスイッチ、
１２    電流制限素子、  １６電流制限素子、
１７  擬似漏電電流スイッチング素子、      ６１    電磁装置、
６２  電磁装置駆動用スイッチング手段、    ７１    整流素子、
７２  平滑コンデンサ、                    ７３  擬似漏電電流制御手段、
１３１    光絶縁手段、    １３１a    発光素子、    １３１ｂ    受光素子、
１４１    整流素子、      １４２      整流素子、    １４３    定電圧ダイオード、１４４    定電圧ダイオード、    １５１    制限抵抗、    １５２    制限抵抗。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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