(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置であって、
光ディスクにレーザ光束を照射して光ディスクから反射される該レーザ光束を受光する光検出器を備えた光ピックアップ装置と、
前記光ピックアップ装置内の光検出器から検出された信号を用いてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、
光ディスクへ情報信号の記録及び光ディスクに記録された情報信号の再生を行う情報信号記録再生回路と、
前記トラッキング誤差信号の振幅を検出する回路と、
前記トラッキング誤差信号のトップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号を検出するエンベロープ信号検出回路と、
前記トップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号の平均値（Ｖａｖｇ）を演算する平均値演算回路と、
前記平均値Ｖａｖｇからエンベロープの変動量（ΔＥＮＶ）を検出するエンベロープ変動量検出回路と、
片面に記録層が多層化された光ディスクの記録又は再生時の多層干渉変動によるオフトラック量に相当する値（ΔＴＥＳ）を前記ΔＥＮＶとトラッキング誤差信号振幅値の比率から演算する多層変動検出回路とを備え、
前記エンベロープ変動量検出回路は、前記平均値Ｖａｖｇの標準偏差を求める標準偏差演算回路を含み、該標準偏差演算回路から出力された前記Ｖａｖｇの標準偏差をΔＥＮＶとすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記トラッキング信号振幅検出回路は、前記トラッキング誤差信号の最大値を検出する最大値ホールド回路と、前記トラッキング誤差信号の最小値を検出する最小値ホールド回路とを備え、前記最大値ホールド回路と最小値ホールド回路の出力信号の差分をトラッキング信号振幅として検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記トラッキング信号振幅検出回路は、前記トラッキング誤差信号の標準偏差を演算する標準偏差演算回路と、該標準偏差演算回路の出力を所定の増幅率で増幅する増幅器とを備え、該増幅器の出力信号をトラッキング信号振幅として検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記エンベロープ信号検出回路から出力されるトップエンベロープ値とボトムエンベロープ値のサンプルホールドリセットのタイミングが、略同時であること特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
さらに、所定の記録／再生速度調整判定閾値と前記多層変動検出回路の出力電圧とを電圧比較器によって比較して記録／再生速度調整処理の要否を判定する記録／再生速度判定回路を備え、
多層変動検出回路の出力値が記録／再生速度調整判定閾値より大きい場合には記録／再生速度の制限を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記多層変動検出回路によるオフトラック発生量の検出を光ディスクの半径位置に応じて複数回実施し、
各半径位置において該多層変動検出回路の出力値と前記記録／再生速度調整判定閾値との比較を記録／再生速度判定回路によって行い、
半径位置に応じて記録／再生速度調整処理の要否を判断し実行することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
光ディスクにレーザ光束を照射して前記光ディスクから反射される該レーザ光束を受光する光検出器を備えた光ピックアップ装置と、
前記光ピックアップ装置内の光検出器から検出された信号を用いてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、
前記光ディスクへ情報信号の記録及び前記光ディスクに記録された情報信号の再生を行う情報信号記録／再生回路とを備え、
片面に記録層が多層化された光ディスクの記録及び／又は再生時には、多層干渉変動によるオフトラック発生量の検出を行い、前記多層干渉変動によるオフトラック発生量に応じて記録速度及び／又は再生速度の制限を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
複数の記録層を有する多層光ディスクと、記録層が１層の単層光ディスクに情報の記録／再生を行うことが可能な、請求項１に記載の光ディスク装置の記録／再生速度制御方法であって、
光ディスクの記録層数をフォーカス誤差信号によって判定する第１のステップと、
前記第１のステップの結果から光ディスクが多層ディスクであると判定した場合にトラッキング誤差信号からオフトラック量の検出を行う第２のステップと、
前記第２のステップにて検出したオフトラック量と所定の記録／再生速度調整判定閾値の大きさの比較を行う第３のステップと、
前記第３のステップの結果、オフトラック量が記録／再生速度調整判定閾値より大きい場合には記録／再生速度を制限する第４のステップとを有する光ディスク装置の記録／再生速度制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録層が多層化された光ディスクの記録又は再生が可能な光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
本技術分野の背景技術として、例えば特開２００６-３４４３４４号公報（特許文献１）がある。本公報には「複数の記録層を有する光ディスクから所望の信号を精度良く取得する」と記載されている。また、例えば特開２００６-３４４３８０号公報（特許文献２）がある。本公報には「情報記録面を２面有する記録可能な光記憶媒体を用いた場合でも、オフセットの少ないトラッキング誤差信号を検出する」と記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００６-３４４３４４公報（第２６頁、図３、図５）
【特許文献２】特開２００６-３４４３８０公報（第１４頁、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、記録層が多層化された光ディスクの記録／再生には、面ブレや偏芯等の影響による記録失敗の可能性加えて、以下のような課題がある。すなわち、上記多層化された光ディスクの記録／再生時に、記録／再生の対象でない層から反射された迷光によりトラッキング誤差信号が変動しオフトラックが発生する。前記多層干渉変動によるオフトラックの状況によっては、サーボ追従が困難となりトラッキング位置制御不能となる脱輪と呼ばれる現象やクロスイレーズが発生し、記録／再生品質が著しく劣化するという課題があった。
【０００５】
そこで本発明は、記録層が多層化された光ディスクにおいても良好な記録／再生品質の得られる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的は、その一例として特許請求の範囲に記載の発明によって達成できる。本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば次のとおりである。
【０００７】
本発明に従う光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光束を照射して前記光ディスクから反射される該レーザ光束を受光する光検出器を備えた光ピックアップ装置と、前記光ピックアップ装置内の光検出器から検出された信号を用いてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、前記光ディスクへ情報信号の記録及び前記光ディスクに記録された情報信号の再生を行う情報信号記録／再生回路とを備える。そして、片面に記録層が多層化された光ディスクの記録及び／又は再生時には、多層干渉変動によるオフトラック発生量の検出を行い、前記多層干渉変動によるオフトラック発生量に応じて記録速度及び／又は再生速度の制限を行う。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、良好で安定的な記録／再生品質が得られる光ディスク装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態の詳細について図面を参照しながら説明する。なお、各図において、同じ作用を示す構成要素には同じ符号を付している。
【実施例１】
【００１０】
図１は、本発明の光ディスク装置の一例を示した概略構成図である。本実施例では記録可能な光ディスク１をスピンドルモータ２で回転し、光ピックアップ装置３に搭載されたレーザ光源から出射したレーザ光束を光ディスク１へ照射し、データを記録／再生する。光ディスクへ照射されたレーザ光束は記録層で反射し、前記光ピックアップ装置３内の光検出器へ導かれ、入射光強度に応じて電気的な信号が出力される。
【００１１】
コントロール回路６は光ディスク装置全体の動作を制御する。前記スピンドルモータの回転速度はコントロール回路６がスピンドルモータ駆動回路４を通して制御する。スピンドルモータは光ディスクの回転速度をコントロール回路６へフィードバックする。
【００１２】
記録時にはコントロール回路６は記録情報を情報信号記録回路５へ出力する。該情報信号記録回路５はピックアップ制御回路９を通して光ピックアップ装置内に搭載されたレーザ光源のレーザ発光波形を制御し、光ディスクへの情報書込みを行う。再生時には情報信号再生回路７が前記光検出器の出力信号から情報の再生を行い、コントロール回路６へ出力する。
【００１３】
また前記光検出器からの出力信号を受けたサーボ信号生成回路８はサーボ信号としてフォーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号（ＴＥＳ）を生成する。前記サーボ信号を受けたコントロール回路６はピックアップ制御回路９へフィードバックを行い、前記光ピックアップ装置に搭載されたアクチュエータが駆動され、対物レンズのフォーカス位置制御及びトラックング位置制御が行われ、高精度で安定した情報記録／再生が行われる。
【００１４】
フォーカス位置制御のみ行っている際に、前記サーボ信号生成回路８によって生成されたトラッキング誤差信号を多層変動検出回路１０へ入力すると、該多層変動検出回路１０はトラッキング位置制御時の光ディスク上の光スポット位置と光ディスク上に構成されたトラック位置とのズレ量であるオフトラック量に相当する値を出力する。前記多層変動検出回路１０の出力信号（ΔＴＥＳ）を受けたコントロール回路６内の記録／再生速度判定回路４５は、良好な記録／再生品質の維持できる記録／再生速度を、判定する。前記記録／再生速度判定回路４５の出力に応じて、コントロール回路６はスピンドルモータ駆動回路４及び情報信号記録回路５及び情報信号再生回路７へフィードバックを行い、記録／再生速度の調整を行う。
【００１５】
次に、片面に記録層が多層化された光ディスクに記録／再生を行う際に生じる、新たな課題を以下に説明する。
【００１６】
記録層が多層化された光ディスクに記録／再生を行う際、信号の記録／再生の対象になっている記録層（以下、この記録層を対象層と記す。）にレーザ光束を集光し、その反射光を検出する。この際、一部の光量が対象層で反射せず対象層以外の記録層（以下、この記録層を他層と記す。）で反射してしまう。この他層からの光束（以下、この光束を迷光と記す。）は対象層からの光束（以下、この光束を信号光と記す。）とほぼ同様の光路をたどり、光検出器内の各受光面に入射する。この迷光は受光面上で本来の信号光束と干渉を起こし、干渉縞を生じさせる。この干渉縞の明暗が、各受光面上での光量バランスを乱し、不用な多層干渉変動成分となって各受光面からの出力信号に影響する。
【００１７】
例えば、多層光ディスクでの各記録層の間隔が変動すると、層間隔に応じて前記光検出器上での干渉縞の間隔が変化する。従って検出器面上に現れる干渉縞の位置や本数が変化し、多層干渉変動成分となってトラッキング誤差信号にオフセットが発生することがある。干渉縞は層間隔に応じて連続的に変化するので、プッシュプル信号よりも低い周期でＡＣ的なオフセットが発生する波形となって表れる。特に3層以上に多層化された光ディスクでは、複数の他層の存在により迷光光束も複数発生し光検出器上へと入射するため、干渉による変動度合いは大きい。上記トラッキング誤差信号を用いてトラック位置制御を行った場合、トラッキング誤差信号を一定値となるよう制御する為、上記多層干渉変動成分を打消すような余分な対物レンズシフト動作が行われる。したがって多層干渉変動によりオフトラックが発生することとなる。前記多層干渉変動によるオフトラックにより、クロスイレーズやサーボ追従が困難となりトラッキング位置制御不能となる脱輪といった問題が発生し、記録／再生品質を劣化させる。
【００１８】
特に、記録／再生を高速度に行っている際に、オフトラックが発生すると、脱輪が発生しやすく、記録／再生品質は大きく劣化する。
【００１９】
そこで本実施例では、前記多層干渉変動によるオフトラック量を検出し、該オフトラック量に応じて記録／再生速度を調整することで、脱輪を抑制し、良好な記録/再生品質の得られる光ディスク装置を提供する。
【００２０】
多層干渉変動によるオフトラック量の検出及び記録／再生速度の調整処理を行うには、例えば以下のような構成とすれば良い。
【００２１】
図２（ａ）は図１に示した多層変動検出回路１０の構成例を示した概略図である。前記多層変動回路１０へは、フォーカス位置制御のみ行い、トラック位置制御は行っていない状態のトラッキング誤差信号を入力する。前述のようにトラック位置制御を行った場合、トラッキング誤差信号は所定の値に制御される。このためトラック位置制御を行った場合のトラッキング誤差信号の変動量評価を行っても、多層干渉によるオフトラック発生量を見積もることは困難である。
【００２２】
上記多層変動検出回路１０へ入力されたフォーカス位置制御のみ行っている際のトラッキング誤差信号は、エンベロープ検出回路１１及びトラッキング誤差信号振幅検出回路１２へ入力される。
【００２３】
上記エンベロープ検出回路１１ではトラッキング誤差信号のエンベロープ検波を行う。エンベロープ検波を行うには、例えば、エンベロープ検出回路１１の構成を以下のようにすれば良い。エンベロープ検出回路１１では入力信号を最大値サンプルホールド回路１３と最小値サンプルホールド回路１４へ入力する。フォーカス位置制御のみ実行時、トラッキング誤差信号出力は正弦波状の波形となるので、該トラッキング誤差信号の１周期毎に最大値サンプルホールド回路１３及び最小値サンプルホールド回路１４はサンプルホールドをリセットする。該最大値サンプルホールド回路１３のサンプルホールドリセットタイミングはトラッキング誤差信号出力の正弦波状信号１周期での極大値直前のゼロクロス点とすることが望ましい。該最小値サンプルホールド回路１４のサンプルホールドリセットタイミングはトラッキング誤差信号出力の正弦波状信号１周期での極小値直前のゼロクロス点とすることが望ましい。よって、最大値サンプルホールド回路１３及び最小値サンプルホールド回路１４のサンプルホールドリセットタイミングは半周期ずらしたものであることが望ましい。
【００２４】
最大値サンプルホールド回路１３及び最小値サンプルホールド回路１４の出力信号は夫々後段の最大値サンプルホールド回路１５及び最小値サンプルホールド回路１６へ入力される。ただし、最大値サンプルホールド回路１５のリセットタイミングは最大値サンプルホールド回路１３のリセットタイミングから半周期ずらしたものとする。また、最小値サンプルホールド回路１６のリセットタイミングは最小値サンプルホールド回路１４のリセットタイミングから半周期ずらしたものとする。この時、最大値サンプルホールド回路１５及び最小値サンプルホールド回路１６の出力信号を、夫々トラッキング誤差信号のトップエンベロープ値（Ｖｔｏｐ）及びボトムエンベロープ値（Ｖｂｏｔｔｏｍ）としても構わないが、最大値サンプルホールド回路１５と最小値サンプルホールド回路１６のサンプルホールドリセットタイミングは半周期ずれている。そこで、トップエンベロープ値（Ｖｔｏｐ）とボトムエンベロープ値（Ｖｂｏｔｔｏｍ）のサンプルホールドリセットのタイミングを略同時とする為には、最大値サンプルホールド回路１５の出力信号を、最小値サンプルホールド回路１６と略同じタイミングでサンプルホールドリセットを行うサンプルホールド回路４６で受け、サンプルホールド回路４６及び最小値サンプルホールド回路１６の出力信号を、夫々トラッキング誤差信号のトップエンベロープ値（Ｖｔｏｐ）及びボトムエンベロープ値（Ｖｂｏｔｔｏｍ）とすればよい。
【００２５】
前記ＶｔｏｐとＶｂｏｔｔｏｍを加算器１７によって加算処理し、該加算器からの出力信号を１／２の減衰率を持つ減衰器１８に入力する。上記減衰器１８の出力信号はＶｔｏｐとＶｂｏｔｔｏｍの平均値であるエンベロープ平均値（Ｖａｖｇ）となる。
【００２６】
次に該Ｖａｖｇをエンベロープ変動検出回路２５へ入力し変動量の検出を行う。該エンベロープ変動検出回路２５は以下のような構成とすればよい。
【００２７】
入力されたＶａｖｇは最大値サンプルホールド回路１９及び最小値サンプルホールド回路２０へ入力される。最大値サンプルホールド回路１９及び最小値サンプルホールド回路２０の出力信号より、夫々Ｖａｖｇの最大値（Ｖａｖｇ＿Ｍａｘ）及びＶａｖｇ最小値（Ｖａｖｇ＿Ｍｉｎ）を得る。該Ｖａｖｇ＿Ｍａｘ及びＶａｖｇ＿Ｍｉｎを減算器２１へ入力し差分を求める。該減算器２１の出力信号をエンベロープ変動量（ΔＥＮＶ）とする。
【００２８】
前記サンプルホールド回路４６によって、トップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号を検出する回路のサンプルホールドリセットのタイミングが略同時となるよう工夫している為、Ｖｔｏｐ及びＶｂｏｔｔｏｍが対象に変化するような光ディスクの傷の影響はＶａｖｇ演算の際に相殺され、より純粋な多層干渉変動成分のみをΔＥＮＶとして測定できる。
【００２９】
次に、トラッキング誤差信号振幅検出回路１２ではトラッキング誤差信号を入力するとトラッキング誤差信号の振幅検出を行う。該トラッキング誤差信号振幅検出回路は例えば以下の様な構成とすれば良い。
【００３０】
前記トラッキング誤差信号振幅検出回路１２へ入力されたトラッキング誤差信号は、ピークーピーク値（ＰＰ値）の検出を行うＰＰ値検出回路２７へ入力される。前記ＰＰ値検出回路２７に入力されたトラッキング誤差信号はＰＰ値検出回路２７内の最大値サンプルホールド回路２２及び最小値サンプルホールド回路２３へ入力される。上記最大値サンプルホールド回路２２及び最小値サンプルホールド回路２３の各出力信号より、夫々トラッキング誤差信号の最大値及び最小値を得る。該最大値サンプルホールド回路２２及び最小値サンプルホールド回路２３の出力信号を夫々減算器２４へ入力し差分を求めれば、トラッキング誤差信号振幅（ＴＥＳａｍｐ）を検出できる。
【００３１】
次に除算器２６で前記ΔＥＮＶを前記ＴＥＳａｍｐで除したものがトラッキング誤差信号の変動量（ΔＴＥＳ）となる。従って、多層変動検出回路へトラッキング誤差信号を入力することでΔＴＥＳを得ることができる。前記ΔＴＥＳは、オフトラック量に比例する値である。オフトラック量の増加は脱輪発生確率の増加を意味する。従って、前記ΔＴＥＳを用いて多層干渉変動の影響による、脱輪発生度合いを検知することができる。
【００３２】
なお、ΔＴＥＳ検出方法はオフトラック量に相当する値を出力可能なものであれば、本実施例の多層変動検出回路１０の構成に限定されるものではない。そこで、多層変動検出回路１０は例えば図２（ｂ）の様な構成例としても構わない。図２（ａ）と異なる点はトラッキング誤差信号振幅検出器１２の構成である。多層変動の影響や電気的ノイズ等の外乱が大きく、トラッキング誤差信号の乱れが大きい場合、最大値と最小値からトラッキング誤差信号振幅を求める図２（ａ）の構成では、振幅測定誤差が増大する場合がある。そこで、前記多層変動検出回路１０中のトラッキング誤差信号振幅検出回路１２を図２（ｂ）のような構成としても構わない。ただし、トラッキング誤差信号振幅検出器１２以外の部分の構成は、図２（ａ）の多層変動検出回路１０と同様の構成でかまわない。
【００３３】
以下、図２（ｂ）に示した多層変動検出回路１０中のトラッキング誤差信号振幅検出器１２の構成について述べる。トラッキング誤差信号振幅検出器１２へトラッキング誤差信号を入力すると、最初に標準偏差演算回路２８によってトラッキング誤差信号の標準偏差を求める。前記標準偏差演算回路２８では入力信号を絶対値回路３０及び平均回路３１へ入力し、夫々の出力信号の差分を減算器３２によって求める。次に減算器３２の出力信号を後段の２乗回路３３へ入力し、２乗回路３３の出力信号を平均回路３４へ入力し、平均回路３４出力信号を平方根回路３５へ入力する。前記平方根回路３５の出力信号が標準偏差演算回路２８の出力信号となり、トラッキング誤差信号の標準偏差である。標準偏差演算回路２８の出力信号を増幅器３６へ入力し所定の増幅率Ｇで増幅した出力信号をトラッキング誤差信号振幅とする。この時、増幅器３１の増幅率Ｇは２．８３程度とすることが望ましい。
【００３４】
また、特に図示はしないが、トラッキング誤差信号振幅検出回路１２として、前記図２（ａ）に示したＰＰ値検出回路２７を用いた回路構成を用いるのか、前記図２（ｂ）に示した標準偏差演算回路２８を用いた回路構成とするのかを所定の切替え手段により選択することで、どちらの出力信号からでもトラッキング誤差信号振幅検出が行える構成とすることができる。
【００３５】
前記図２（ａ）のＰＰ値検出回路を用いたトラッキング誤差信号振幅検出は、ディスク上の傷の探索を行う回路構成等にも用いることができる回路である。従って、ＰＰ値検出回路２７をと標準偏差演算回路２８のどちらでもトラッキング誤差信号振幅検出が行える構成とすることで、多層干渉変動だけでなく欠陥のある光ディスクにおいても良好な記録／再生品質を得ることができる構成となり、光ピックアップ装置の汎用性が向上する。
【００３６】
図３（ａ）（ｂ）は、フォーカス位置制御のみを行っている場合のトラッキング誤差信号波形の概略図である。多層変動検出回路によって得られるＶｔｏｐと及びＶｂｏｔｔｏｍ及びＶａｖｇ信号も併せて図示している。図３（ａ）は記録層が単層であるディスクを用いた場合のトラッキング誤差信号概略図である。多層干渉が起こらない為、エンベロープ検出回路によって得られるＶｔｏｐ、Ｖｂｏｔｔｏｍ及びＶａｖｇは大きく変動しない。従ってΔＴＥＳも小さな値となり、発生オフトラック量は微量と判断できる。
【００３７】
図３（ｂ）は記録層が多層化された光ディスクを用いた場合のトラッキング誤差信号波形の典型例を示した概略図である。前述のように、多層干渉変動では記録層間隔の変動に応じてトラッキング誤差信号に変動が生じる。従って、オフセットの発生はディスク記録層間隔の変動に依存するため、ΔＥＮＶの変動も同一ディスク内で位置依存性がある。図３（ｂ）での多層干渉変動部とした位置が記録層間隔の変動部分に相当し、層間隔の変動に応じて大きなオフセットがトラッキング誤差信号に発生している。該オフセットによってΔＥＮＶ値が増大することがわかる。従って多層光ディスクでは大きなΔＴＥＳ値が検出される。ΔＴＥＳ値も同一ディスク内で位置依存性があり、同様にディスク毎でもΔＴＥＳ値は異なる。ディスク上でΔＴＥＳ値の大きい位置では大きなオフトラックが発生しているため、脱輪の発生確率が高まる。特に、記録／再生速度が高速度であるほど脱輪の発生確率高まり、安定したトラッキングが困難となる。
【００３８】
そこで、前記多層変動検出回路１０の出力信号ΔＴＥＳを受けたコントロール回路６内に設けた記録／再生速度判定回路４５では、所定の記録／再生速度調整判定閾値（Ｖｔｈ）と該ΔＴＥＳの電圧の大きさを電圧比較器４４によって比較を行う。該記録／再生速度判定回路４５での比較の結果、コントロール回路６はΔＴＥＳ＜Ｖｔｈの場合には「脱輪の危険性無」と判断し記録／再生速度の低速化は行わない。一方、ΔＴＥＳ＞Ｖｔｈの場合、コントロール回路６は「脱輪の危険性有」と判断してスピンドルモータ駆動回路４及び情報信号記録回路５及び情報信号再生回路７へフィードバックを行うことで、記録／再生速度の制限を行い、脱輪を抑制する。
【００３９】
また、前述したようにΔＴＥＳはディスク位置に依存して変動する。従って脱輪発生確率も光ディスク位置に依存して変化する。従って、光ディスク上の一領域での判定結果を光ディスク全面にわたる記録／再生に適用した場合、記録／再生速度制限実施の判断の精度が低下することを意味する。従って、本実施例によるオフトラック量検出は光ディスク内周部から外周部へかけての複数の位置において実施することが望ましい。これにより、より高精度な記録／再生速度の管理が可能となり、脱輪の発生を抑制すると共に、不要な記録／再生速度の低下の防止をできるという利点がある。また、ΔＴＥＳは各半径位置での光ディスク円周上の一部分ではなく１周分以上の測定により検出することが望ましい。加えて、判定の閾値を複数設け、段階的な記録／再生速度の調整を行えば、必要以上の記録／再生速度制限処理の実施を更に抑制できる。
【００４０】
また、本実施例で示した多層変動検出回路１０と同等の回路動作を、デジタル信号処理によって実現しても構わない。
【００４１】
図４は、本実施例による多層変動検知及び速度調整処理の手順を示した、フローチャートである。ステップＳ１０で記録／再生処理を開始する。ステップＳ１１で、光ディスクの記録層数をフォーカス誤差信号によって判定し、単層ディスクの場合ステップ１５のデータ記録／再生処理を実施する。一方、多層ディスクの場合、ステップＳ１２のオフトラック量ΔＴＥＳの評価を行う。ΔＴＥＳと所定の閾値Ｖｔｈとの比較をステップＳ１３で行う。ΔＴＥＳ＞Ｖｔｈの場合、記録／再生速度を低減し、ステップＳ１５のデータ記録／再生処理を実施する。ΔＴＥＳ＜Ｖｔｈであれば、記録／再生速度の低減は行わず、ステップＳ１５のデータ記録／再生処理を実施する。なおステップＳ１１の光ディスク記録層数の判定はステップＳ１０以前の光ディスク装置起動時に行っても構わない。
【００４２】
また、本実施例で示した多層変動によるオフトラック発生量は光ディスクや光ピックアップ装置ごとに個体差がある為、前記多層変動検出回路１０を用いて光ディスク又は光ピックアップ装置単体の性能評価を行うことも可能である。すなわち、光ディスク又は光ピックアップ装置の多層変動性能評価装置に前期多層変動検出回路１０を利用しても構わない。
【００４３】
即ち、本実施例では、光ディスク装置であって、光ディスクにレーザ光束を照射して光ディスクから反射される該レーザ光束を受光する光検出器を備えた光ピックアップ装置と、前記光ピックアップ装置内の光検出器から検出された信号を用いてフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号を生成するサーボ信号生成回路と、光ディスクへ情報信号の記録及び光ディスクに記録された情報信号の再生を行う情報信号記録再生回路と、前記トラッキング誤差信号の振幅を検出する回路と、前記トラッキング誤差信号のトップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号を検出するエンベロープ信号検出回路と、該トップエンベロープ信号とボトムエンベロープ信号の平均値（Ｖａｖｇ）を演算する平均値演算回路と、前記平均値Ｖａｖｇからエンベロープの変動量（ΔＥＮＶ）を検出するエンベロープ変動量検出回路と、片面に記録層が多層化された光ディスクの記録又は再生時の多層干渉変動によるオフトラック量に相当する値（ΔＴＥＳ）を前記ΔＥＮＶとトラッキング誤差信号振幅値の比率から演算する多層変動検出回路と、前記ΔＴＥＳの値に応じて記録／再生速度調整処理の要否を判定する記録／再生速度判定回路とを備え、前記記録／再生速度判定回路の判定に応じて記録／再生速度の調整を行うことを特徴とする光ディスク装置を用いることで、記録層が多層化された光ディスクの記録／再生を行う際の脱輪やクロスイレーズを抑制し、良好な記録／再生品質を得ることができる。
【実施例２】
【００４４】
次に、第２の実施例について図５を用いて説明する。本実施例では、前記多層干渉変動による脱輪の発生確率をより高精度に見積もることが可能である。従って、第１の実施例よりも、より良好な記録／再生品質の得られる光ディスク装置を提供できる。
【００４５】
本実施例における光ディスク装置の構成は、例えば図１に示した光ディスク装置と同様の構成でかまわない。第１の実施例と異なる点は、図２（ａ）（ｂ）に示した多層変動検出回路１０に含まれるエンベロープ変動検出回路２５の構成である。
【００４６】
そこで、図５は第２の実施例主要部である多層変動検出回路１０を示したものである。本実施例では、エンベロープ検出回路１１、トラッキング誤差信号振幅検出回路１２については第１の実施例に示した図２（ｂ）と同様の構成で構わない。なお、特に図示はしないが、第１の実施例と同様にトラッキング誤差信号振幅検出回路１２は、図２（ａ）に示したＰＰ値検出回路を用いた構成とするか、または、所定の切替え手段によりＰＰ検出回路と標準偏差演算回路を切替える構成としても構わない。
【００４７】
エンベロープ変動検出回路２５に入力されたＶａｖｇは標準偏差演算回路２９に入力され、Ｖａｖｇの標準偏差を求める。標準偏差演算回路２９の構成は前記標準偏差演算回路２８と同様の構成でかまわない。標準偏差演算回路２９の出力信号をΔＥＮＶとし、ΔＴＥＳ検出に用いる。
【００４８】
筆者らが検討したところ、実際の光ディスク装置では、オフトラック量は同様でも、時間軸での多層変動領域が大きい場合、脱輪が発生しやすいことがわかった。ＰＰ値でのΔＥＮＶ検出では変動している時間的な領域が長くても、最大値と最小値に変化が無ければ同様の値を得る。しかし、標準偏差によってΔＥＮＶ検出を行うことで、変動している時間的領域の割合も加味されたΔＥＮＶ検出が可能となる。従って前記時間的な変動度合いを加味したΔＴＥＳ値を検出できる構成となっている。
【００４９】
前記理由に加え、本実施例では、ΔＴＥＳに対する局所的なエンベロープの変動の影響が軽減される傾向にある。よって、多層干渉変動に比べて局所的にエンベロープを変動させる、光ディスクの傷や、電気的ノイズの様な影響を軽減でき、より多層干渉による変動成分のみを検知できるという利点もある。
【００５０】
このように、本実施例では、多層干渉変動による脱輪現象とより相関の高いΔＴＥＳの検知ができる。よって、コントロール回路６内に設けた記録／再生速度判定回路４５では、脱輪に対して、より高精度に記録／再生速度調整処理の要否の判定が可能となる。従って、本実施例では、第１の実施例と略同等か、それ以上に、多層ディスクの記録／再生時の脱輪を抑制し、良好な記録再生品質の光ディスク装置を提供できるという利点がある。
【００５１】
また、本実施例で示した多層変動検出回路１０と同様の回路動作を、デジタル信号処理によって行っても構わない。
【００５２】
即ち、本実施例では、前記エンベロープ変動量検出回路は、前記Ｖａｖｇの標準偏差を求める標準偏差演算回路を含み、該標準偏差演算回路から出力された前記Ｖａｖｇの標準偏差をΔＥＮＶとすることを特徴とする光ディスク装置を用いることで、多層干渉変動による脱輪発生確率をより高精度に検知できる。従って、より高精度で安定した記録／再生品質の光ディスク装置を提供することができる。
【００５３】
以上、本発明に従う光ディスク装置の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の改良や変形を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明における光ディスク装置の構成を示す概略図。
【図２】第１の実施例主要部である多層変動検出回路の構成を示す該略図。
【図３】第１の実施例における多層変動検出回路の動作説明の信号波形図である。
【図４】本発明における記録／再生速度調整処理の手順を示すフローチャート。
【図５】第２の実施例主要部である多層変動検出回路の構成を示す該略図。
【符号の説明】
【００５５】
１…光ディスク、２…光ピックアップ装置、３…スピンドルモータ、４…スピンドルモータ駆動回路、５…情報信号記録回路、６…コントロール回路、７…情報信号再生回路、８…サーボ信号生成回路、９…ピックアップ制御回路、１０…多層変動検出回路、１１…エンベロープ検出回路、１２…トラッキング誤差信号振幅検出回路、２５…エンベロープ変動検出回路、２５…エンベロープ変動検出回路、２７…ＰＰ値検出回路、２８…標準偏差演算回路、２９…標準偏差演算回路、４４…電圧比較器、４５…記録／再生速度判定回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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