(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
階調が所定の時間間隔で変化する検査パターン画像をプラズマディスプレイパネルに表示させるパネル駆動部と、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面を、前記所定の時間間隔に応じた時間間隔で撮像する撮像部と、
前記撮像部で撮像された複数の検査画像を互いに比較して前記検査画像間の輝度変化量を算出する変化量算出部と、
前記変化量算出部から得られる輝度変化量があらかじめ定めた所定の範囲内にあるかどうかを判定し、前記所定の範囲外となる領域を抽出する領域抽出部と、
前記領域抽出部で抽出した領域の特徴量を算出する特徴量算出部と、
前記特徴量算出部から得られた特徴量にもとづき前記プラズマディスプレイパネルの良否を判定する良否判定部とを備えたことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査装置。
【請求項２】
前記輝度変化量の最大値である最大変化量を検出する最大値検出部および前記輝度変化量の最小値である最小変化量を検出する最小値検出部を備え、
前記領域抽出部は、前記最大値検出部で検出された最大変化量があらかじめ定めた最大値しきい値よりも大きくなる領域および前記最小値検出部で検出された最小変化量があらかじめ定めた最小値しきい値よりも小さくなる領域を抽出し、
前記特徴量算出部は、前記領域抽出部が抽出した領域の有無を判定しその判定結果を特徴量として出力するように構成したことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの検査装置。
【請求項３】
前記変化量算出部は、前記検査画像を取込む毎に、前記輝度変化量を算出することを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの検査装置。
【請求項４】
階調が所定の時間間隔で変化する検査パターン画像をプラズマディスプレイパネルに表示させ、前記プラズマディスプレイパネルの画像表示面を、前記所定の時間間隔に応じた時間間隔で撮像し、
前記撮像された複数の検査画像を互いに比較して前記検査画像間の輝度変化量を算出し、
前記輝度変化量があらかじめ定めた所定の範囲内にあるかどうかを判定して、前記所定の範囲外となる領域を抽出し、
前記領域の特徴量を算出した後に、前記特徴量にもとづき前記プラズマディスプレイパネルの良否を判定することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、壁掛けテレビや大型モニターに用いられるプラズマディスプレイパネルの検査装置および検査方法に関するものであり、プラズマディスプレイパネルの表示不良を高速かつ高精度に検査する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、プラズマディスプレイ装置の生産台数が飛躍的に向上しつつある。それにともない、生産現場ではプラズマディスプレイパネル（以下、「パネル」と略記する）の画像表示品質を短時間で検査する技術の確立が要望されている。
【０００３】
パネルの表示不良として、例えば点灯不良による画素欠陥等があるが、このような表示不良を検出する検査装置や検査方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。この特許文献１には、パネルを点灯させ、点灯したパネルの画面を撮像カメラにより撮像し、撮像した画像を画像処理装置に取込み、この画像処理装置によって表示パネルの画素セルの欠陥、表示ムラを定量化して判定することが記載されている。
【特許文献１】特開平９−２１８１３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、プラズマディスプレイ装置に要求される画像表示品質はますます高まっている。一方、パネルにおいては、特定の階調を表示するときのみ発生するような表示不良がある。このような表示不良を検出するためには全ての階調においてそれぞれ検査を行わなければならず、そのような場合、検査にかかる時間は膨大なものとなってしまう。すなわち、特定の階調を表示するときのみ発生するような、従来の検査方法では検出しにくい表示不良を、高速かつ高精度に自動検出することが求められている。
【０００５】
本発明は、このような要求に応えるためになされたものであり、特定の階調を表示するときのみ発生するような表示不良であっても、高速かつ高精度に自動検出することができるパネルの検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、本発明のパネルの検査装置は、階調が所定の時間間隔で変化する検査パターン画像をパネルに表示させるパネル駆動部と、パネルの画像表示面を、上述した所定の時間間隔に応じた時間間隔で撮像する撮像部と、撮像部で撮像された複数の検査画像を互いに比較して検査画像間の輝度変化量を算出する変化量算出部と、変化量算出部から得られる輝度変化量があらかじめ定めた所定の範囲内にあるかどうかを判定し、所定の範囲外となる領域を抽出する領域抽出部と、領域抽出部で抽出した領域の特徴量を算出する特徴量算出部と、特徴量算出部から得られた特徴量にもとづきパネルの良否を判定する良否判定部とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
このような構成により、撮像された検査画像間の輝度変化量にもとづきパネルの良否を判定することが可能となるので、特定階調を表示するときのみ異常点灯したりあるいは不灯となりそれ以外の階調を表示するときには正常点灯する従来技術では検出が難しい不良セルを、高速かつ高精度に自動検出することが可能となきる。
【０００８】
また、本発明のパネルの検査装置は、輝度変化量の最大値である最大変化量を検出する最大値検出部および輝度変化量の最小値である最小変化量を検出する最小値検出部を備え、領域抽出部は、最大値検出部で検出された最大変化量があらかじめ定めた最大値しきい値よりも大きくなる領域および最小値検出部で検出された最小変化量があらかじめ定めた最小値しきい値よりも小さくなる領域を抽出し、特徴量算出部は、領域抽出部が抽出した領域の有無を判定しその判定結果を特徴量として出力する構成であってもよい。これにより、良否判定の回数を削減することができるので、より高速に検査することが可能となる。
【０００９】
また、本発明のパネルの検査装置は、変化量算出部が、検査画像を取込む毎に、輝度変化量を算出する構成であってもよい。これにより、記憶させなければならない画像データの量を大幅に削減することができる。
【００１０】
また、本発明のパネルの検査方法は、階調が所定の時間間隔で変化する検査パターン画像をパネルに表示させ、パネルの画像表示面を、上述した所定の時間間隔に応じた時間間隔で撮像し、撮像された複数の検査画像を互いに比較して検査画像間の輝度変化量を算出し、輝度変化量があらかじめ定めた所定の範囲内にあるかどうかを判定して、所定の範囲外となる領域を抽出し、上述した領域の特徴量を算出した後に、その特徴量にもとづきパネルの良否を判定することを特徴とする。
【００１１】
これにより、撮像された検査画像間の輝度変化量にもとづきパネルの良否を判定することが可能となるので、特定階調を表示するときのみ異常点灯したりあるいは不灯となりそれ以外の階調を表示するときには正常点灯する従来技術では検出が難しい不良セルを、高速かつ高精度に自動検出することが可能となる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、特定の階調を表示するときのみ発生するような表示不良であっても、高精度かつ高速に自動検出するプラズマディスプレイ装置の検査装置および検査方法を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態における検査装置について、図面を参照しながら説明する。
【００１４】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１におけるパネルの要部を示す分解斜視図である。パネル１０は、ガラス製の前面基板２１と背面基板３１とを対向配置して、その間に放電空間を形成するように構成されている。前面基板２１上には表示電極対２８を構成する走査電極２２と維持電極２３とが互いに平行に対をなして複数形成されている。そして、走査電極２２および維持電極２３を覆うように誘電体層２４が形成され、誘電体層２４上には保護層２５が形成されている。また、背面基板３１上には複数のデータ電極３２が平行に形成されている。そしてデータ電極３２を覆うように絶縁体層３３が形成され、絶縁体層３３上に井桁状の隔壁３４が設けられている。また、絶縁体層３３の表面および隔壁３４の側面に蛍光体層３５が設けられている。そして、走査電極２２および維持電極２３とデータ電極３２とが交差するように前面基板２１と背面基板３１とが対向配置されており、その間に形成される放電空間には、放電ガスとして、例えばネオンとキセノンの混合ガスが封入されている。なお、パネルの構造は上述したものに限られるわけではなく、例えばストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。
【００１５】
図２は、本発明の実施の形態１に用いるパネル１０の電極配列図である。行方向にｎ本の走査電極２２およびｎ本の維持電極２３が配列され、列方向にｍ本のデータ電極３２が配列されている。そして、１対の走査電極および維持電極と１つのデータ電極とが交差した部分に放電セルが形成され、放電セルは放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。
【００１６】
次に、このように構成されたパネル１０に対して検査を行う本実施の形態の検査装置について説明する。
【００１７】
図３は、本発明の実施の形態１における検査装置４０の回路ブロック図である。パネル１０の検査を行う検査装置４０は、パネル１０を設置するパネル検査台４１と、パネル１０を駆動することでパネル１０に検査パターン画像を表示させるパネル駆動部４２と、パネル１０の画像表示面を撮像する撮像部４３と、撮像部４３から出力される画像信号の信号処理を行う画像処理部４４とを備える。このように、検査装置４０は、画像表示装置の表示部であるパネル１０に、検査パターン画像を表示させるとともに、パネル１０の画像表示面を撮像し、この撮像により取込んだ画像を用いてパネル１０の検査を行う検査装置である。
【００１８】
パネル駆動部４２は、パネル１０に表示させる検査パターン画像用の検査パターン信号を発生させ、パネル１０に検査パターン画像を表示させる。この検査パターン画像は、階調値が所定の時間間隔で変化する画像であり、表示階調が最小階調値の階調値０から最大階調値の階調値２５５へと全面同時に１階調ずつ増加するパターンである。なお、ここでは、１フィールド毎に１階調ずつ増加させるものとする。したがって、１秒に６０フィールドを表示する場合には、検査パターン画像の表示開始から表示終了まで、約４．２７秒の時間がかかる。
【００１９】
撮像部４３は、検査パターン画像が表示されたパネル１０を、検査パターン画像における階調値の変化に応じた時間間隔（ここでは、１フィールド毎）で撮像し、全表示画像（ここでは、階調値０から階調値２５５までの２５６枚の画像）を検査画像として取込む。撮像部４３により取込まれた検査画像は、検査画像データとして画像処理部４４に供給される。撮像部４３は、このような処理を行うため、パネル１０の画像表示面を撮像する１台または複数台のカメラ５０と、カメラ５０の撮像に関する制御を行うとともに、カメラ５０の出力信号にＡＤ変換等の信号処理を施し検査画像データを生成する撮像制御部５１とを有する。なお、本実施の形態では、カメラ５０は、検査パターン画像における階調値の変化に応じ、１フィールド毎に撮像を行うものとする。したがって、カメラ５０から得られる連続した画像の各画像データは、パネル１０の各放電セルの発光輝度に応じたデータ値を有している。
【００２０】
画像処理部４４は、複数枚の検査画像に対応した検査画像データを記憶する画像記憶部５２と、検査画像毎に検査画像間の輝度の変化量を算出する変化量算出部５３と、変化量算出部５３から得られる輝度変化量が所定の範囲内にあるかどうかを判定し所定の範囲外となる検査画像上の領域を抽出する領域抽出部５４と、領域抽出部５４で抽出した領域の特徴量を算出する特徴量算出部５５と、特徴量算出部５５から得られた特徴量に応じてパネル１０の良否を判定する良否判定部５６とを備えている。
【００２１】
画像処理部４４において、画像記憶部５２は、撮像部４３が所定の期間単位で（ここでは、１フィールド毎に）連続して撮像した複数枚（ここでは、２５６枚）の検査画像の画像データを記憶する。
【００２２】
変化量算出部５３は、画像記憶部５２に記憶された検査画像データを用いて、検査画像毎に、画素単位で輝度変化量を算出する。具体的には、注目する検査画像の画像データとその直前および直後に撮像された検査画像の画像データとを比較し、画素毎に輝度の変化量を算出する。
【００２３】
例えば、画像記憶部５２にｎ番目に撮像された画像データにおいて、カメラ５０の画素Ｃｉｊ（ｉ、ｊ：カメラ５０の画素の位置を示す整数）に対する画像データをＤｉｊ（ｎ）とすると、輝度変化量ΔＤｉｊ（ｎ）を、２階微分演算に対応した次式にもとづき算出する。
【００２４】
ΔＤｉｊ（ｎ)＝（Ｄｉｊ（ｎ）×２−Ｄｉｊ（ｎ＋１）−Ｄｉｊ（ｎ−１））／２
このようにして、変化量算出部５３は、検査画像間の輝度変化量を表す差分画像データを生成する。
【００２５】
ここで、検査装置４０に取込まれた画像データの輝度変化について説明する。図４は、本発明の実施の形態１における検査装置４０で撮像された２５６枚分の画像データのある放電セルにおける輝度変化の一例を示す図である。図４（ａ）は正常に点灯する放電セルにおける輝度変化を、図４（ｂ）は特定の階調で異常点灯する放電セルにおける輝度変化を、図４（ｃ）は特定の階調で不灯になる放電セルにおける輝度変化をそれぞれ示す。そして、図４（ａ）〜図４（ｃ）において、横軸は時間を、縦軸は発光輝度を表す。上述したような表示階調が階調値０から階調値２５５まで１階調ずつ増加する画像パターンをパネル１０に表示したとき、パネル１０における放電セルが、正常に点灯する放電セルである場合、図４（ａ）で示すように、その放電セルの発光輝度（ここでは、カメラ５０で撮像した検査画像における画像データ）は一様に増加する。これに対し、特定階調において異常点灯する放電セルでは、図４（ｂ）に示すように、その放電セルの発光輝度は特定階調において異常な値（例えば、階調値２５５）となる。また、特定階調において不灯となる放電セルでは、図４（ｃ）に示すように、その放電セルの発光輝度は特定階調において異常な値（例えば、階調値０）となる。
【００２６】
図５は、本発明の実施の形態１における検査装置４０の変化量算出部５３において算出された輝度変化量の一例を示す図である。なお、図５は、図４において用いた放電セルにおける輝度変化量の時間変化を示しており、図５（ａ）は正常に点灯する放電セルにおける輝度変化量の時間変化を、図５（ｂ）は特定の階調で異常点灯する放電セルにおける輝度変化量の時間変化を、図５（ｃ）は特定の階調で不灯になる放電セルにおける輝度変化量の時間変化をそれぞれ示す。そして、図５（ａ）〜図５（ｃ）において、横軸は時間を、縦軸は輝度変化量を表す。
【００２７】
正常に点灯する放電セルである場合、図４（ａ）でも示したように、その放電セルの発光輝度は一様に増加するので、輝度変化量は、図５（ａ）に示すようにほぼ一定でありかつ小さな値（ここでは、階調値１に相等）を示す。これに対し、図４（ｂ）に示したように特定階調において異常点灯する放電セルでは、輝度変化量は、図５（ｂ）に示すようにその特定階調において大きな正の値を示す。また、図４（ｃ）に示したように特定階調において不灯となる放電セルでは、輝度変化量は、図５（ｃ）に示すように、その特定階調において、大きな負の値を示す。
【００２８】
このように、ある特定階調を表示するときのみ異常点灯したりあるいは不灯となるような放電セルは、それ以外の階調を表示するときには正常点灯するため従来技術では検出が難しいが、本実施の形態に示した検査装置４０を用いることで、これらの不良セルを高速かつ高精度に検出することができる。
【００２９】
次に、領域抽出部５４は、変化量算出部５３により算出された輝度変化量があらかじめ設定した所定の範囲内にあるかどうかを判定し、所定の範囲外となる検査画像上の領域を抽出する。具体的には、算出した差分画像データと、あらかじめ設定した複数のしきい値（上限しきい値および下限しきい値）とを比較し、差分画像データが上限しきい値と下限しきい値とで設定される所定範囲内にあるかどうかを判定し、その範囲外となる画素データを有する画素が存在する領域を抽出する。なお、領域抽出部５４は、輝度変化量の絶対値と１つのしきい値とを比較する構成であってもよい。
【００３０】
特徴量算出部５５は、領域抽出部５４が抽出した領域に対し、その領域の特徴量（例えば、面積）を算出する。この面積は、例えば、注目検査画像において、抽出した領域の画素数の総和を求めることで算出することができる。
【００３１】
良否判定部５６は、特徴量算出部５５により抽出された特徴量をあらかじめ設定した判定基準に照らし合わせて、パネル１０の良否を判定する。例えば、良否判定部５６は、抽出した領域の面積が所定のしきい値を超えているかどうかを判定する。そして、所定のしきい値を超えているときには不適合と判定し、所定のしきい値以下のときには適合と判定する。
【００３２】
図６は、本発明の実施の形態１における検査装置４０の動作を説明するためのフローチャートである。
【００３３】
まず、図６に示すように、パネル駆動部４２は、検査パターン画像をパネル１０に表示させる（ステップＳ１）。
【００３４】
次に、検査装置４０は、パネル１０の表示画像をカメラ５０で撮像する（ステップＳ２）。そして、検査装置４０は、撮像により取込んだ検査画像データ（以下、単に「画像データ」と呼ぶ）を画像記憶部５２に記憶させる（ステップＳ３）。このとき、画像記憶部５２に記憶された画像データの枚数ｎが所定の枚数Ｎ（本実施の形態においてはＮ＝２５６）に満たない場合にはステップＳ１に戻り、検査装置４０はｎ＝Ｎになるまで撮像を繰り返す。一方、記憶された画像データの枚数ｎがＮ枚分になった場合には、次のステップに進む（ステップＳ４）。このように、ステップＳ１からステップＳ４において、パネル１０に表示された検査パターン画像を各階調毎に撮像し、Ｎ枚の画像を検査画像として取込む。
【００３５】
次に、画像処理部４４において、変化量算出部５３は、画像記憶部５２に記憶されたＮ枚分の画像データを、撮像した順番に、その画像データの撮像前後１枚ずつの画像データと比較して、各画素それぞれの輝度変化量を算出する（ステップＳ５）。
【００３６】
次に、領域抽出部５４は、ステップＳ５で算出された輝度変化量が、上限しきい値および下限しきい値で設定される所定の範囲内に収まっているかを比較し、所定の範囲外となる領域を抽出する。そして、特徴量算出部５５は、領域抽出された領域の画素数の総和を求めることで、特徴量（ここでは、面積）を算出する。そして、良否判定部５６は、あらかじめ定めた判定基準に従い、特徴量算出部５５により抽出された特徴量（面積）が、判定基準内、すなわち所定のしきい値以下かどうか判定し、判定基準外である場合には、そのパネル１０は不適合であると判定し、パネル検査を終了する。一方、判定基準内である場合には、次のステップに進む（ステップＳ６）。
【００３７】
次に、画像記憶部５２に記憶されたＮ枚分の画像データにおいて、まだ輝度変化量を算出していない画像データがある場合には、ステップＳ５に戻り、同様の検査処理を繰り返す。画像記憶部５２に記憶されたＮ枚分の画像データの全てが判定基準内であれば、そのパネル１０は適合であるとして検査を終了する（ステップＳ７）。
【００３８】
以上説明したように、本実施の形態においては、階調が所定の時間間隔で変化する検査パターン画像を表示させたパネル１０を所定の時間間隔で撮像し、撮像した検査画像を互いに比較して検査画像間の輝度変化量を算出するとともに、輝度変化量があらかじめ定めた所定の範囲外となる領域を抽出してその領域の特徴特徴量にもとづきパネル１０の良否を判定する構成とすることで、特定階調を表示するときのみ異常点灯したりあるいは不灯となりそれ以外の階調を表示するときには正常点灯する従来技術では検出が難しい不良セルを高速かつ高精度に自動検出することが可能となる。
【００３９】
なお、本実施の形態においては、最小階調値０から最大階調値２５５までの２５６枚の画像をパネル１０に表示し、２５６枚の検査画像データを取得する構成例を説明したが、こられの数値は単なる一例に過ぎず、パネルの特性、プラズマディスプレイ装置の仕様、検査装置における検出精度および検査時間等を考慮して設定することが望ましい。
【００４０】
また、上述した良否判定を行うための判定に用いる各しきい値は、評価基準に応じて適時決めればよい。また、検査パターンを切り替える場合には、その検査パターン毎にしきい値を変更する構成であってもよい。
【００４１】
なお、本実施の形態では、差分画像データの生成に際し、変化量算出部５３は、注目検査画像とその直前および直後に取込まれた各１枚の検査画像を用いる構成を説明したが、撮像前後の２枚あるいはそれ以上の複数の検査画像を用いて、差分画像データを生成する構成としてもかまわない。また、本実施の形態において変化量算出部５３の説明で用いた演算式は単なる一例に過ぎず、輝度変化量を算出するための演算は、注目検査画像とその時間的に前方向あるいは後方向の検査画像との１階微分演算に対応した単なる差分演算であってもよく、あるいは、３つ以上のタップ係数を備えたデジタルフィルタを構成し、そのタップ係数による重み付け演算によって時間的変化量を求めるような演算であってもよい。
【００４２】
なお、本実施の形態では、パネル１０に表示させる検査パターン画像を、表示階調が最小階調値から最大階調値へと全面同時に１階調ずつ１フィールド毎に単調増加するパターンとする構成を説明したが、例えば、最大階調値から最小階調値へと単調減少するパターンであってもかまわない。
【００４３】
なお、本実施の形態では、特徴量算出部５５において、領域抽出部５４が抽出した領域の面積を特徴量として算出し、良否判定部５６においてその面積の大きさを所定のしきい値と比較することでパネル１０の良否判定を行う構成を説明したが、特徴量としては、面積以外にも、幅、長さ、平均輝度等が考えられる。そして、算出する特徴量に応じて良否判定部５６における判定基準を設定すればよく、良否判定部５６においては、算出された特徴量が判定基準外のときには不適合と判定し、判定基準内のときには適合と判定することができる。
【００４４】
（実施の形態２）
図７は、本発明の実施の形態２における検査装置６０の回路ブロック図である。実施の形態２が実施の形態１と異なる点は、画像処理部において、領域抽出部５４の前に、輝度変化量の最大値検出部６３および最小値検出部６４を有する最大最小変化量算出部６２を設けた構成とした点である。なお、それ以外の構成は実施の形態１と同様であり、実施の形態１と同じ構成要素については同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００４５】
図７に示すように、検査装置６０の画像処理部６１は、画像記憶部５２と、変化量算出部５３と、最大最小変化量算出部６２と、領域抽出部５４と、特徴量算出部５５と、良否判定部５６とを備えている。
【００４６】
最大最小変化量算出部６２は、最大値検出部６３と、最小値検出部６４とを有する。
【００４７】
最大値検出部６３は、輝度変化量が最大となる最大変化量を、各画素毎に検出し、記憶する。最小値検出部６４は、輝度変化量が最小となる最小変化量を、各画素毎に検出し、記憶する。
【００４８】
領域抽出部５４は、最大値検出部６３に記憶された最大変化量とあらかじめ設定した最大値しきい値とを比較し、最大変化量が最大値しきい値よりも大きくなる領域を抽出する。また、最小値検出部６４に記憶された最小変化量とあらかじめ定めた最小値しきい値とを比較し、最小変化量が最小値しきい値よりも小さくなる検査画像上の領域を抽出する。なお、領域抽出部５４は、最大変化量および最小変化量の絶対値と１つのしきい値とを比較する構成であってもよい。
【００４９】
そして、特徴量算出部５５は、領域抽出部５４が抽出した領域の有無を判定し、良否判定部５６は、その領域の有無に応じてパネル１０の良否を判定する。
【００５０】
図８は、本発明の実施の形態２における検査装置６０の動作を説明するためのフローチャートである。
【００５１】
なお、ステップＳ１からステップＳ５までの動作は、実施の形態１において図６に示したステップＳ１からステップＳ５までの動作と同様であるので説明を省略する。
【００５２】
最大値検出部６３は、新たに算出された輝度変化量とそれまでに記憶されている最大変化量とを比較し、新たに算出された輝度変化量のほうが大きい場合には、記憶する最大変化量を、新たに算出された輝度変化量の値に更新する。最小値検出部６４は、新たに算出された輝度変化量とそれまでに記憶されている最小変化量と比較し、新たに算出された輝度変化量のほうが小さい場合には、記憶する最小変化量を、新たに算出された輝度変化量の値に更新する。こうして、輝度変化量の最大値である最大変化量および輝度変化量の最小値である最小変化量を算出する。（ステップ１０）。
【００５３】
ステップＳ１０における画像データの処理枚数ｎが所定の枚数Ｎ（本実施の形態においては、Ｎ＝２５６）になるまで、ステップＳ５に戻り、一連の処理を繰り返す。ｎ＝Ｎになったら次のステップに進む（ステップＳ１１）。
【００５４】
次に、領域抽出部５４は、最大変化量が最大値しきい値よりも大きくなる領域を抽出し、また最小変化量が最小値しきい値よりも小さくなる領域を抽出する。特徴量算出部５５は、このようにして抽出された領域の有無を判定する。良否判定部５６は、最大変化量が最大値しきい値よりも大きくなる領域があるか、または最小変化量が最小値しきい値よりも小さくなる領域があればそのパネル１０は不適合であると判定し、いずれの領域もなければそのパネル１０は適合であると判定して、パネル検査を終了する（ステップＳ１２）。
【００５５】
以上説明したように、本実施の形態においては、輝度変化量が最大となる最大変化量、および輝度変化量が最小となる最小変化量を検出し、最大変化量が最大値しきい値よりも大きくなる領域の有無、および最小変化量が最小値しきい値よりも小さくなる領域の有無にもとづきパネル１０の良否を判定する構成とすることで、実施の形態１と比較して、良品判定を行う回数をＮ回から２回に削減でき、さらに短時間でパネル１０の良否判定を行うことが可能となる。
【００５６】
（実施の形態３）
図９は、本発明の実施の形態３における検査装置７０の回路ブロック図である。実施の形態３が実施の形態２と異なる点は、画像処理部において、画像記憶部５２を削減した点である。なお、それ以外の構成は実施の形態２と同様であり、実施の形態２と同じ構成要素については同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００５７】
図９に示すように、検査装置７０の画像処理部７１は、変化量算出部５３と、最大値検出部６３と、最小値検出部６４と、領域抽出部５４と、特徴量算出部５５と、良否判定部５６とを備えている。なお、画像処理部７１は、リアルタイム処理を実現するために、画像処理ボードに画像処理専用のＦＰＧＡを組み込むなどにより高速化しておくことが望ましい。
【００５８】
変化量算出部５３は、撮像部４３から検査画像を取込む毎に、輝度変化量を算出する。さらに、最大値検出部６３は、変化量算出部５３により輝度変化量が算出される毎に、最大値検出部６３に記憶された最大変化量と算出された輝度変化量とを比較し、その比較結果に応じて、最大値検出部６３の記憶データを更新する。また、最小値検出部６４は、変化量算出部５３により輝度変化量が算出される毎に、最小値検出部６４に記憶された最大変化量と算出された輝度変化量とを比較し、その比較結果に応じて、最大値検出部６３の記憶データを更新する。
【００５９】
図１０は、本発明の実施の形態３における検査装置７０の動作を説明するためのフローチャートである。
【００６０】
なお、ステップＳ１、ステップＳ２、ステップＳ１０、ステップＳ１２の動作は、実施の形態２において図８に示したステップＳ１、ステップＳ２、ステップＳ１０、ステップＳ１２の動作と同様であるので説明を省略する。
【００６１】
画像処理部７１において、変化量算出部５３は、現撮像画像データの直前に撮像された２枚の画像データと比較して、各画素それぞれの輝度変化量を算出する（ステップＳ１３）。
【００６２】
最大値検出部６３は、最大変化量および最小変化量を、新たに算出された輝度変化量との比較にもとづき更新する（ステップ１０）。
【００６３】
ステップＳ１０における画像データの処理枚数ｎが所定の枚数Ｎ（本実施の形態においては、Ｎ＝２５６）になるまで、ステップＳ１に戻り、一連の処理を繰り返す。ｎ＝Ｎになったら次のステップに進む（ステップＳ１４）。
【００６４】
良否判定部５６は、特徴量算出部５５により算出された特徴量が判定基準内かどうか判定し、判定基準外である場合にはそのパネル１０は不適合であると判定し、判定基準内にある場合にはそのパネル１０は適合であると判定して、パネル検査を終了する（ステップＳ１２）。
【００６５】
以上説明したように、実施の形態においては、検査画像を取込む毎に輝度変化量を算出するとともに、輝度変化量が算出される毎に、最大変化量および最小変化量を更新する構成とすることで、実施の形態２と比較して、記憶させなければならない画像データの量を大幅に削減することができる。
【００６６】
なお、本実施の形態３においては、Ｎ枚分の撮像を終えた後で領域抽出行い、パネルの良否判定を行うものとして説明したが、撮像部４３が画像を撮像する毎に領域抽出行いパネルの良否判定を行う構成としてもよい。
【００６７】
また、本発明の実施の形態において、カメラ５０の撮像タイミングは、パネル１０の画像表示タイミングと同期させて撮像することが望ましい。この動作を実現させるためには、例えば、パネル駆動部４２からパネル１０へ出力する垂直同期信号を撮像制御部５１へ入力し、撮像制御部５１はこの垂直同期信号にもとづきカメラ５０の撮像を行えばよい。または、撮像制御部５１からカメラ５０の制御に同期した同期信号をパネル駆動部４２へ入力し、この同期信号にもとづいてパネル１０に検査画像を表示させる構成でもよい。パネル１０の駆動とカメラ５０の撮像とを同期させることにより、パネル１０の表示面を安定して撮像することができるのでノイズ成分の少ない安定した画像データを得ることができる。
【００６８】
また、本発明の実施の形態では、プラズマディスプレイパネルを検査する構成を説明したが、その他の画像表示装置、例えば、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、表面伝導型電子放出素子ディスプレイ（ＳＥＤ）等にも本発明による良否検査を適応することも可能である。
【産業上の利用可能性】
【００６９】
本発明は、特定の階調を表示するときのみ発生するような表示不良であっても、高精度かつ高速に自動検出することができるので、プラズマディスプレイパネルの検査装置および検査方法として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明の実施の形態１におけるパネルの要部を示す分解斜視図
【図２】同パネルの電極配列図
【図３】本発明の実施の形態１における検査装置の回路ブロック図
【図４】本発明の実施の形態１における検査装置で撮像された画像データのある放電セルにおける輝度変化の一例を示す図
【図５】同検査装置の変化量算出部において算出された輝度変化量の一例を示す図
【図６】同検査装置の動作を説明するためのフローチャート
【図７】本発明の実施の形態２における検査装置の回路ブロック図
【図８】同検査装置の動作を説明するためにフローチャート
【図９】本発明の実施の形態３における検査装置の回路ブロック図
【図１０】同検査装置の動作を説明するためのフローチャート
【符号の説明】
【００７１】
１０    パネル
２１    前面基板
２２    走査電極
２３    維持電極
２４    誘電体層
２５    保護層
２８    表示電極対
３１    背面基板
３２    データ電極
３３    絶縁体層
３４    隔壁
３５    蛍光体層
４０，６０，７０    検査装置
４１    パネル検査台
４２    パネル駆動部
４３    撮像部
５０    カメラ
５１    撮像制御部
４４，６１，７１    画像処理部
５２    画像記憶部
５３    変化量算出部
５４    領域抽出部
５５    特徴量算出部
５６    良否判定部
６３    最大値検出部
６４    最小値検出部
６２    最大最小変化量算出部
【図１】
0005012480.tif 000002
【図２】
0005012480.tif 000003
【図３】
0005012480.tif 000004
【図４】
0005012480.tif 000005
【図５】
0005012480.tif 000006
【図６】
0005012480.tif 000007
【図７】
0005012480.tif 000008
【図８】
0005012480.tif 000009
【図９】
0005012480.tif 000010
【図１０】
0005012480.tif 000011