(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
トナー又はトナー成分を試料として加熱する加熱装置と、
前記試料が加熱されることで発生した気体の雰囲気中にコロナ帯電器を支持する帯電器支持部材と、
前記帯電器支持部材に支持されたコロナ帯電器に高電圧を供給する電源装置と、を備えるコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項２】
前記加熱装置及び前記帯電器支持部材を収容し、吸気口及び排気口を有する収容器と、
前記吸気口に接続され、前記収容器内に所定流量で空気を供給する空気供給装置と、をさらに備える請求項１に記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項３】
前記空気供給装置は、前記収容器内に供給する空気を所定温度に制御する温度制御装置を含む請求項２に記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項４】
前記空気供給装置は、前記収容器内に供給する空気を所定湿度に制御する湿度制御装置を含む請求項２又は３に記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項５】
前記加熱装置及び前記帯電器支持部材を収容し、気密性を有する収容器をさらに備える請求項１に記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項６】
前記加熱装置は、前記試料を加熱する温度を一定に制御する加熱温度制御装置を含む請求項１から５のいずれかに記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項７】
前記電源装置は、コロナ帯電器に供給する電流を一定の大きさに制御する定電流制御装置を含む請求項１から６のいずれかに記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【請求項８】
前記帯電器支持部材は、複数備えられる請求項１から７のいずれかに記載のコロナ帯電器の劣化試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子写真方式の画像形成装置に搭載されるコロナ帯電器の劣化を加速させる劣化試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の画像形成装置では、感光体ドラムの表面に電荷を付与する帯電装置として、コロナ帯電器が一般的によく使用されている。コロナ帯電器は、帯電装置以外に、除電装置や転写装置としても用いられる。
【０００３】
コロナ帯電器として、一方向に配列された複数の針を有する針電極を備えたものや、針電極に代えて非常に細い導電性のタングステンワイヤを備えたものがある。コロナ帯電器は、針電極やタングステンワイヤ等の電極に高電圧を印加されることで、電極からコロナ放電する。
【０００４】
コロナ帯電器では、画像形成装置内を浮遊しているトナー成分や、コロナ放電によって生成されたガスから生じる物質が、電極に付着し易い。電極に上述のような汚染物が付着すると、電極からの放電機能が低下し、感光体ドラムに帯電ムラが発生する。
【０００５】
そこで、一対のローラを付勢して針電極を両側から挟み込み、ローラを針電極に対して相対的に移動させることで、針電極から汚染物を除去する技術が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開平７−４３９９０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、電極に汚染物が付着するメカニズムは複雑であるため、画像形成装置を使用する環境によって帯電ムラが発生し始める時期が大きく異なる。このため、電極を清掃するタイミングが難しく、帯電ムラを発生させないためには、コロナ帯電器を頻繁に清掃する必要があった。
【０００７】
帯電ムラの発生状況を確認するための実験は、従来は画像形成装置で画像形成処理を繰り返すことで行われているため、かなり長い時間を要していた。このため、実験を多数回行うことが困難で、帯電ムラが発生しやすい環境を特定することが困難であった。また、電極に汚染物が付着した状態のコロナ帯電器を多数形成することが困難であったため、電極の清掃装置を開発することも困難であった。したがって、帯電ムラを抑制するための技術開発は困難であった。
【０００８】
この発明の目的は、コロナ帯電器の劣化を加速させることで、帯電ムラを抑制する技術開発を容易にする劣化試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明のコロナ帯電器の劣化試験装置は、加熱装置、帯電器支持部材、及び、電源装置を備える。加熱装置は、トナー又はトナー成分を試料として加熱する。帯電器支持部材は、試料が加熱されることで発生した気体の雰囲気中にコロナ帯電器を支持する。電源装置は、帯電器支持部材に支持されたコロナ帯電器に高電圧を供給する。この場合、試料又は試料の一部は、加熱されることで蒸発し、気体（分解ガスを含む）となって流れる。この気体の雰囲気中に、高電圧が供給されたコロナ帯電器が配置されることで、コロナ放電時と同様に高電圧を供給された状態のコロナ帯電器に、画像形成処理時などの通常使用時と比べて高濃度の気体状態の試料が、接触する。
【００１０】
劣化試験装置は、加熱装置及び帯電器支持部材を収容し、吸気口及び排気口を有する収容器と、吸気口に接続され、収容器内に所定流量で空気を供給する空気供給装置と、をさらに備えてもよい。この場合、収容器内に所定流量の空気が供給されるので、収容器内で、気体状態の試料の濃度が一定に保たれる。このため、劣化試験における環境の経時変化の再現性が高まり、コロナ帯電器の寿命予測が容易になる。
【００１１】
空気供給装置は、収容器内に供給する空気を所定温度に制御する温度制御装置を含んでもよい。この場合、収容器内に所定温度の空気が供給されるので、劣化試験における環境の経時変化の再現性が高まるとともに、劣化試験毎に異なる温度で、一定温度の空気を供給することで、コロナ帯電器の劣化に対する温度の影響度の解明が容易になる。
【００１２】
空気供給装置は、収容器内に供給する空気を所定湿度に制御する湿度制御装置を含んでもよい。この場合、収容器内に所定湿度の空気が供給されるので、劣化試験における環境の経時変化の再現性が高まるとともに、劣化試験毎に異なる湿度で、一定湿度の空気を供給することで、コロナ帯電器の劣化に対する湿度の影響度の解明が容易になる。
【００１３】
加熱装置及び帯電器支持部材を収容し、気密性を有する収容器をさらに備えてもよい。この場合、気密性を有する収容器内で試料が気体になり、コロナ帯電器に、収容器内に空気が供給される場合と比べて高濃度の気体状態の試料が、接触する。このため、コロナ帯電器の劣化試験に要する時間が大幅に短縮される。また、劣化したコロナ帯電器を単位時間当たりに形成できる数が増加する。
【００１４】
加熱装置は、試料を加熱する温度を一定に制御する加熱温度制御装置を含んでもよい。この場合、試料が一定温度で加熱されるので、気体状態の試料の濃度が一定に保たれやすい。このため、劣化試験における環境の再現性が高まるとともに、劣化試験毎に異なる温度で、一定温度に加熱装置を制御することで、コロナ帯電器の劣化に対する試料の濃度の影響度の解明が容易になる。
【００１５】
電源装置は、コロナ帯電器に供給する電流を一定の大きさに制御する定電流制御装置を含んでもよい。この場合、劣化試験における環境の再現性が高まるとともに、劣化試験毎に異なる電流値で、一定量の電流を供給することで、コロナ帯電器の劣化に対する電流値の影響度の解明が容易になる。したがって、コロナ帯電器が劣化しにくい帯電条件の解明が容易になる。
【００１６】
帯電器支持部材は、複数備えられてもよい。この場合、複数のコロナ帯電器が支持されるので、複数の劣化したコロナ帯電器が同時に形成される。このため、劣化した状態の大量のコロナ帯電器を形成するのに要する時間が大幅に短縮される。したがって、コロナ帯電器の清掃装置の開発が容易になる。
【発明の効果】
【００１７】
この発明によれば、高電圧が供給されたコロナ帯電器に、通常使用時より高濃度の気体状態の試料を接触させることで、画像形成装置で画像形成処理を繰り返すことに比べてコロナ帯電器の劣化を加速させることができ、コロナ帯電器の劣化試験を短時間で行うことができる。したがって、帯電ムラを抑制する技術開発が容易になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下に、この発明を実施するための最良の形態について、図面に基づいて説明する。図１は、この発明の実施形態に係るコロナ帯電器の劣化試験装置１０の正面断面図である。
【００１９】
劣化試験装置１０は、空気供給装置２０、収容器３０、排気装置４０、空気供給管５０、空気排出管６０、第１電源装置８１、及び、第２電源装置８２を備えている。第２電源装置８２は、この発明の電源装置に相当する。
【００２０】
空気供給装置２０は、凝縮器２１、加湿器２２、温湿度制御装置２３、及び、送風ファン２４を有しており、所定温度、所定湿度の空気を、単位時間当たり所定流量で供給する。温湿度制御装置２３は、この発明の温度制御装置及び湿度制御装置に相当する。
【００２１】
空気供給管５０は、円筒状の配管であり、空気供給装置２０と収容器３０とを連通させ、空気供給装置２０から供給される空気を収容器３０内へ導く。
【００２２】
収容器３０は、吸気口３１、排気口３２、加熱装置３３、コロナ帯電器７０を支持する一対の帯電器支持部材３４，３５、台座３６、及び、図示しない扉を有している。収容器３０は、立方状の容器であって、吸気口３１及び排気口３２を除いて気密性を有している。吸気口３１は、底面に設けられ、排気口３２は、上面に設けられている。空気供給装置２０から送出され、空気供給管５０に導かれた空気は、吸気口３１から収容器３０内に供給される。
【００２３】
扉は、収容器３０の側壁面に開閉自在に設けられており、扉を開閉することで、コロナ帯電器７０が収容器３０に対して出し入れされる。
【００２４】
台座３６は、メッシュ状に形成されており、通風性を有する。台座３６は、吸気口３１の上に配置されている。吸気口３１から供給された空気は、台座３６を通して上方へ流れる。
【００２５】
加熱装置３３は、台座３６の上に配置されている。加熱装置３３は、加熱部３７及び加熱温度制御部３８を含んでおり、第１電源装置８１から電力を供給されている。加熱温度制御部３８は、この発明の加熱温度制御装置に相当する。加熱部３７の上に、試料としてトナーＴを収容したアルミニウム製のシャーレ３９が配置される。加熱装置３３は、トナーＴを所定温度に加熱し、トナーＴから蒸発気体（分解ガスを含む。）を発生させる。
【００２６】
帯電器支持部材３４，３５は、加熱装置３３の上方であって、側壁面に固定されている。帯電器支持部材３４，３５は、互いの間にコロナ帯電器７０を支持する。これによって、コロナ帯電器７０は、加熱装置３３の上方であって、蒸発気体の流路上に配置される。
【００２７】
帯電器支持部材３４，３５に支持されたコロナ帯電器７０は、第２電源装置８２から、コロナ放電するための高電圧を供給される。
【００２８】
空気排出管６０は、円筒状の配管であり、収容器３０と排気装置４０とを連通させ、収容器３０の排気口３２から排出される空気を排気装置４０へと導く。
【００２９】
排気装置４０は、凝縮器４１、活性炭フィルタ４２を有している。凝縮器４１及び活性炭フィルタ４２は、蒸発気体やオゾン等の有害ガスを捕捉する。排気装置４０は、空気排出管６０から送られてきた空気を浄化して、クリーンな空気を外部へ排出する。
【００３０】
図２は、図１のＡ１−Ａ２線における断面図である。
【００３１】
コロナ帯電器７０は、加熱装置３３の上方に配置される。トナーＴは、加熱されて蒸発することで、上方へ流れる。また、吸気口３１から排気口３２へ向けて空気が流れているので、これによっても、蒸発気体は、シャーレ３９から上方へ流れる。このため、トナーＴの高濃度の蒸発気体が、コロナ帯電器７０に接触する。
【００３２】
なお、コロナ帯電器７０を、蒸発気体の流路上に配置することが望ましいが、蒸発気体の雰囲気中に配置すれば、コロナ帯電器７０の劣化を加速することができる。
【００３３】
図３は、コロナ帯電器７０の分解斜視図である。
【００３４】
コロナ帯電器７０は、電子写真方式の画像形成装置に、帯電装置等として搭載される。コロナ帯電器７０は、画像形成装置に帯電装置として搭載された場合、画像形成装置の感光体ドラムに対向するように配置され、感光体ドラムの表面を所定電位に帯電させる。
【００３５】
コロナ帯電器７０は、導電性のシールドケース７１、針電極７２、グリッド電極７３、及び、各種電極を保持する絶縁性の電極保持部材７４を有している。シールドケース７１の長尺方向の長さは、感光体ドラムの幅方向（感光体ドラムの回転軸方向）の寸法と、略同じである。シールドケース７１は、導電性のシールド板で、感光ドラムの表面と対向する側が開口するように形成されている。
【００３６】
針電極７２は、所定の間隔（例えば、２ｍｍ）で一方向に配列された複数の放電用の針を有しており、ステンレス（鉄、クロム、ニッケルの合金であって、例えばＪＩＳ規格のＳＵＳ３０４）の短冊状の薄板からなる。針電極７２は、エッチング加工で形成される。針は、先鋭の突起状に形成されている。
【００３７】
針電極７２は、複数の固定用の孔部をさらに有している。これらの孔部のそれぞれは、電極保持部材７４の突起部７４Ａに嵌入される。これによって、針電極７２が電極保持部材７４に、シールドケース２１に対して電気的に絶縁された状態で位置決めされて、保持される。
【００３８】
電極保持部材７４は、グリッド電極７３を、シールドケース７１及び針電極７２に対して電気的に絶縁して保持するための、グリッド電極保持部７４Ｂを有している。グリッド電極保持部７４Ｂは、グリッド電極７３の両端に形成された開口部７３Ａに対応して形成された係止部７４Ｃを有している。係止部７４Ｃは、係止用の返しを有している。グリッド電極７３の開口部７３Ａに係止部７４Ｃを挿入すると、グリッド電極保持部７４Ｂの弾性力によって、グリッド電極７３が電極保持部材７４に保持される。
【００３９】
グリッド電極７３には、ステンレスの短冊状の薄板をエッチング加工することによって、メッシュ状の開口が均一に形成されている。
【００４０】
電極保持部材７４は、さらに位置決め部材７４Ｄを有している。位置決め部材７４Ｄは、シールドケース７１の両端縁に対応して配置され、電極保持部材７４をシールドケース７１に対して位置決めする。
【００４１】
次に、コロナ帯電器７０の組み立て手順について説明する。まず、電極保持部材７４の突起部７４Ａに針電極７２の孔部を嵌入させることで電極保持部材７４に針電極７２を保持させる。次に、位置決め部材７４Ｄがシールドケース７１の両端縁に配置されるようにして、針電極７２を保持した状態の電極保持部材７４を、シールドケース７１内の所定の位置に収容する。
【００４２】
このとき、画像形成装置の所定位置から延びるバネ端子７５を、電極保持部材７４に保持された針電極７２の端部であってシールドケース７１から突出した端部に、弾性力で圧接させ、バネ端子７５と針電極７２の端部とを電気的に接続する。これによって、画像形成装置からバネ端子７５を介して針電極７２に電力が供給される。
【００４３】
次に、グリッド電極保持部７４Ｂの係止部７４Ｃにグリッド電極７３の開口部７３Ａを係止させることで、グリッド電極７３が電極保持部材７４に保持され、コロナ帯電器７０が組み立てられる。
【００４４】
なお、一例として針電極７２を有するコロナ帯電器７０について説明したが、本発明のコロナ帯電器７０の劣化試験装置１０に使用できるコロナ帯電器として、タングステン等のワイヤーを用いたコロナ帯電器等、高電圧を印加時にコロナ放電を行う帯電器であれば特に限定されない。
【００４５】
図４は、第２電源装置８２の回路構成の一例を示すブロック図である。
【００４６】
第２電源装置８２は、コロナ帯電器７０のシールドケース７１、針電極７２、及び、グリッド電極７３のそれぞれに、所定の電圧を供給する。
【００４７】
第２電源装置８２は、電源回路８２Ａ、及び、電源８２Ｂを含んでいる。電源回路８２Ａには、電源８２Ｂから所定電圧（例えば、＋２４Ｖ）が供給されている。
【００４８】
電源回路８２Ａは、高圧発生回路８２Ｃ、及び、電圧調整回路８２Ｄを含み、３個の出力端子ＧＤ，ＣＳ，ＭＣを有している。高圧発生回路８２Ｃは、電源回路８２Ａに供給された電圧を、所定の電圧に変換して出力する。出力端子ＭＣからは、高圧発生回路８２Ｃによって所定の電圧が出力される。出力端子ＧＤ，ＣＳからは、高圧発生回路８２Ｃから出力され、電圧調整回路８２Ｄで調整された所定の電圧が出力される。
【００４９】
コロナ帯電器７０の針電極７２は、出力端子ＭＣに接続され、高電圧Ｖを供給される。シールドケース７１は、出力端子ＣＳに接続され、高電圧ＶＣを供給される。グリッド電極７３は、出力端子ＧＤに接続され、高電圧ＶＧを供給される。
【００５０】
電圧調整回路８２Ｄは、可変抵抗器ＶＲ１，ＶＲ２を有している。可変抵抗器ＶＲ１は、シールドケース７１が接続される出力端子ＣＳから出力される電圧を調整する。可変抵抗器ＶＲ２は、グリッド電極７３が接続される出力端子ＧＤから出力される電圧を調整する。
【００５１】
第２電源装置８２からコロナ帯電器７０に各種の電圧が供給されることで、針電極７２の針からコロナ放電が生じ、このコロナ放電による全体の電流（トータル電流ＩＴ）が針電極７２に流れる。この場合、グリッド電極７３に流れるグリッド電流ＩＧは、出力端子ＧＤから出力される電圧を電圧調整回路８２Ｄの可変抵抗器ＶＲ２で適宜に設定することで調整される。同様に、コロナ放電によってシールドケース７１にも放電によるケース電流ＩＣが流れる。ケース電流ＩＣは、出力端子ＣＳから出力される電圧を可変抵抗器ＶＲ１で適宜に設定することで調整される。
【００５２】
針電極７２に高電圧を供給してコロナ放電が生じることで流れる電流ＩＴは、シールドケース７１及びグリッド電極７３のそれぞれに流れるケース電流ＩＣ及びグリッド電流ＩＧの和に等しくなる。即ち、コロナ放電によって針電極７２に流れるトータル電流ＩＴは、シールドケース７１及びグリッド電極７３へ分配して流れる。トータル電流ＩＴがケース電流ＩＣとグリッド電流ＩＧとに分配されることから、以下の式（１）が成立する。
【００５３】
ＩＴ＝ＩＣ＋ＩＧ  ・・・・・・  式（１）
従って、トータル電流ＩＴを一定にすることで、針電極７２に流れる電流を一定に制御できるので、電源回路８２Ａの高圧発生回路８２Ｃは、定電流制御部８２Ｅを含み、定電流制御を行っている。定電流制御部８２Ｅは、この発明の定電流制御装置に相当する。
【００５４】
次に、上述の劣化試験装置１０を用いて行ったコロナ帯電器７０の劣化試験について説明する。
【００５５】
図４に示した第２電源装置８２によって、コロナ帯電器７０のシールドケース７１及びグリッド電極７３に８００Ｖの電圧が供給され、針電極７２に６００μＡの一定電流が流れるように、制御した。
【００５６】
加熱装置３３として、ホットプレート（アズワン社製：ＮＤ−１）を用いた。蒸発気体を発生させる試料として、表面をジメチルジシラザンで処理した一次粒径１２ｎｍのシリカ微粒子５ｇを用いた。このシリカ微粒子を直径１０ｃｍのアルミ製シャーレに入れ、シャーレをホットプレートの上に載せ、加熱温度が１７０℃の一定温度となるように制御した。シリカ微粒子は、トナー成分の一種である。
【００５７】
空気供給装置２０から、温度２０℃、湿度６５％の空気を毎分１リットルの割合で収容器３０内へ送風し、コロナ帯電器７０の劣化試験を５時間行った。
【００５８】
図５（Ａ）及び図５（Ｂ）は、劣化試験前の針電極７２の針の先端部を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ：Scanning Electron Microscope）で撮影したＳＥＭ写真であって、図５（Ａ）は倍率７０倍のＳＥＭ写真であり、図５（Ｂ）は倍率１７５倍のＳＥＭ写真である。
【００５９】
図６は、劣化試験後の針電極７２の針の先端部のＳＥＭ写真であって、図６（Ａ）は倍率７０倍のＳＥＭ写真であり、図６（Ｂ）は倍率１７５倍のＳＥＭ写真である。
【００６０】
図６において、画像形成装置で画像形成処理を実際に繰り返して行う実写テストにおいて発生するのと同じように、針電極７３の針の先端部に、汚染物の付着が確認された。この汚染物を、エネルギ分散型Ｘ線マイクロアナライザ（ＥＤＸ：Energy Dispersive X-ray Micro Analyzer）で分析した結果、針電極７２の針の先端部には、劣化試験前にはなかったＳｉ（ケイ素：Silicon）とＯ（酸素：Oxygen）の元素が確認された。
【００６１】
劣化試験後のコロナ帯電器７０を、電子写真方式のカラー複合機（シャープ製：ＭＸ−２７００）に設置して、白色画像を印刷した結果、黒筋の発生がはっきりと確認された。
【００６２】
コロナ帯電器７０の劣化試験装置１０を用いることによって、画像形成装置で使用し続けた場合と同様の状態にコロナ帯電器を劣化させ、帯電ムラを再現することが、短時間でできた。
【００６３】
このため、劣化試験装置１０によれば、劣化試験を多数回行うことが容易であり、帯電ムラが発生しやすい温度、湿度、電圧値等の環境を特定することが容易になる。また、針電極７２に汚染物が付着した状態のコロナ帯電器７０を多数形成することが容易になるので、針電極７２の清掃装置を開発することが容易になる。したがって、帯電ムラを抑制するための技術開発が容易になる。
【００６４】
また、劣化試験装置１０では、収容器３０内に所定流量の空気が供給されるので、収容器３０内で、蒸発気体の濃度が一定に保たれる。このため、劣化試験における環境の経時変化の再現性が高まり、コロナ帯電器７０の寿命予測が容易になる。
【００６５】
さらに、収容器３０内に所定温度の空気が供給されるので、劣化試験における環境の経時変化の再現性がより高まるとともに、劣化試験毎に異なる温度で、一定温度の空気を供給することで、コロナ帯電器７０の劣化に対する温度の影響度の解明が容易になる。
【００６６】
また、収容器３０内に所定湿度の空気が供給されるので、劣化試験における環境の経時変化の再現性がより高まるとともに、劣化試験毎に異なる湿度で、一定湿度の空気を供給することで、コロナ帯電器７０の劣化に対する湿度の影響度の解明が容易になる
さらに、加熱温度制御部３８によって試料が所定温度に加熱されるので、蒸発気体の濃度が一定に保たれやすい。このため、劣化試験における環境の再現性がより高まるとともに、劣化試験毎に異なる温度で、一定温度に加熱装置３３を制御することで、コロナ帯電器７０の劣化に対する試料の濃度の影響度の解明が容易になる。
【００６７】
また、定電流制御部８２Ｅによってコロナ帯電器７０に供給する電流が一定の大きさに制御されるので、劣化試験における環境の再現性がより高まるとともに、劣化試験毎に異なる電流値で、一定量の電流を供給することで、コロナ帯電器７０の劣化に対する電流値の影響度の解明が容易になる。したがって、コロナ帯電器７０が劣化しにくい帯電条件の解明が容易になる。
【００６８】
図７は、第２の実施形態に係る劣化試験装置１０Ａの正面断面図である。図８は、図７のＢ１−Ｂ２線における断面図である。
【００６９】
この実施形態に係る劣化試験装置１０Ａは、収容器３０Ａが吸気口や排気口を有さない気密性を有する容器であり、収容器３０Ａ内に空気が供給されないことを除いて、上述の実施形態に係る劣化試験装置１０と、同様に形成されている。収容器３０Ａは、吸気口３１を有さず、空気の供給を受けないので、収容器３０と異なって台座を備える必要がない。
【００７０】
劣化試験装置１０Ａでは、気密性を有する収容器３０Ａ内で試料又は試料の一部が蒸発気体になり、コロナ帯電器７０に、収容器３０Ａ内に空気が供給される場合と比べて高濃度の蒸発気体が接触する。このため、コロナ帯電器７０の劣化試験に要する時間が大幅に短縮される。また、劣化したコロナ帯電器７０を単位時間当たりに形成できる数が増加する。
【００７１】
図９は、第３の実施形態に係る劣化試験装置１０Ｂの側面断面図である。
【００７２】
この実施形態に係る劣化試験装置１０Ｂは、帯電器支持部材３４，３５を２対備え、２個のコロナ帯電器７０を支持することを除いて、劣化試験装置１０Ａと同様に形成されている。
【００７３】
劣化試験装置１０Ｂでは、収容器３０Ｂ内に、２個のコロナ帯電器７０を同時にセットできる。このため、劣化した状態の大量のコロナ帯電器７０の形成に要する時間を大幅に短縮できる。したがって、コロナ帯電器７０の清掃装置の開発が容易になる。
【００７４】
なお、劣化試験装置１０において、帯電器支持部材３４，３５を２対備えるようにしてもよい。また、劣化試験装置１０，１０Ｂにおいて、３対以上の複数の帯電器支持部材３４，３５を備えるようにしてもよい。
【００７５】
さらに、加熱装置３３で加熱する試料として、トナー成分のそれぞれを別々に用いることによって、コロナ帯電器７０の劣化の原因となる物質の特定が容易になり、劣化のメカニズムの解明が容易になる。
【００７６】
最後に、上述の実施形態の説明は、すべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上述の実施形態ではなく、特許請求の範囲によって示される。さらに、本発明の範囲には、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】この発明の実施形態に係るコロナ帯電器の劣化試験装置の正面断面図である。
【図２】図１のＡ１−Ａ２線における断面図である。
【図３】コロナ帯電器の分解斜視図である。
【図４】第２電源装置の回路構成の一例を示すブロック図である。
【図５】劣化試験前の針電極の針の先端部のＳＥＭ写真であって、（Ａ）は倍率７０倍のＳＥＭ写真であり、（Ｂ）は倍率１７５倍のＳＥＭ写真である。
【図６】劣化試験後の針電極の針の先端部のＳＥＭ写真であって、（Ａ）は倍率７０倍のＳＥＭ写真であり、（Ｂ）は倍率１７５倍のＳＥＭ写真である。
【図７】第２の実施形態に係る劣化試験装置の正面断面図である。
【図８】図７のＢ１−Ｂ２線における断面図である。
【図９】第３の実施形態に係る劣化試験装置の側面断面図である。
【符号の説明】
【００７８】
１０，１０Ａ，１０Ｂ  劣化試験装置
２０  空気供給装置
３０  収容器
３３  加熱装置
３４，３５  帯電器支持部材
３８  加熱温度制御部（加熱温度制御装置）
４０  排気装置
７０  コロナ帯電器
８２  第２電源装置（電源装置）
８２Ｅ  定電流制御部（定電流制御装置）
Ｔ  トナー（試料）
【図１】
0004849682.tif 000002
【図２】
0004849682.tif 000003
【図３】
0004849682.tif 000004
【図４】
0004849682.tif 000005
【図５】
0004849682.tif 000006
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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