(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧を与える電圧発生部と、
前記液晶駆動ドライバの多階調電圧を出力するピンごとに設けられ、入力を抵抗分圧によるアッテネータにより減衰が行え、電圧を測定する電圧測定部と、
階調電圧試験時に、前記電圧発生部をオフにし、前記電圧測定部が測定した電圧値により階調電圧試験を行い、ピン間抵抗試験時に、前記電圧発生部に電圧を与えさせ、前記電圧発生部が電圧を与えるピンの隣接ピンに対応する前記電圧測定部のアッテネータの抵抗による電圧を、前記電圧測定部に測定させ、この測定結果によりピン間抵抗試験の判定を行う制御部と
を有することを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
電圧測定部は、ピン間抵抗試験時に、アッテネータの２つの分圧抵抗を１つの抵抗として、電流を電圧に変換し、電圧を測定することを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
電圧測定部は、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第１のスイッチと、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第２のスイッチと、
この第２のスイッチの他端に一端を接続する第１の抵抗と、
この第１の抵抗の他端に一端を接続し、他端を接地する第２の抵抗と、
前記第１のスイッチの他端に一端を接続する第３のスイッチと、
前記第１の抵抗の他端に一端を接続する第４のスイッチと、
前記第３、第４のスイッチの他端に入力端を接続するＡ／Ｄ変換部と
を設けたことを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタに関し、電流測定部をピンごとに設けることなく、液晶駆動ドライバのピン間抵抗試験の短縮を図れるＩＣテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶駆動ドライバは、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）（ＴＣＰは総称で、ＣＯＦ（Chip On Film）も含まれる）で構成され、図３に示すように、ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）テープ１１に、チップ１２が搭載され、チップ１２が複数のピン１３に配線（図示せず）を介して接続される構成をとっている。このため、ピン１３間のピッチが狭いため、ＩＣテスタにより、ピン１３間の電流を測定し、ピン間の抵抗値の試験を行っている。ピン間抵抗値の試験は、下記特許文献１のように行えるが、液晶駆動ドライバのピンは、非常に多く、隣接ピンごとに電流測定部を設けると、ＩＣテスタが高価になってしまうので、図４に示すように試験を行っている。
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１９０６３７号公報
【０００４】
図４において、液晶駆動ドライバ（以下ＤＵＴと略す）１０は、図３に示されるようなＴＣＰで構成され、複数ピンから多階調電圧を出力する。電圧発生部２０は、ＩＣテスタに設けられ、ＤＵＴ１０の複数ピンに電圧を与える。マルチプレクサ３０は、電圧発生部２０に電圧が与えられるピンに隣接する複数ピンに接続し、切り替える。電流測定部４０は、マルチプレクサ３０が切り替えたピンの電流を測定する。制御部５０は、電圧発生部２０、マルチプレクサ３０を制御し、電流測定部４０の測定結果により、ピン間抵抗試験の判定を行う。ピン間抵抗Ｒは、ＤＵＴ１０のピン間の抵抗成分を示す。なお、ピン間抵抗以外の試験のための構成は省略している。
【０００５】
このような装置のピン間抵抗試験動作を説明する。電圧発生部２０が、制御部５０の指示により、ＤＵＴ１０の所望の複数ピンに電圧出力する。これら所望ピンの隣接するＤＵＴ１０のピンを、制御部５０の指示により、マルチプレクサ３０が切り替える。このマルチプレクサ３０で切り替えられたピンの電流を電流測定部４０が測定する。この測定結果（電流値）により、制御部５０が、ピン間抵抗Ｒの抵抗値を求め、ＤＵＴ１０の良否の判定を行っている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
近年、液晶ディスプレイの大型化、画素数の上昇により、液晶駆動ドライバが約７００ピンと多ピン化し、ピン間ピッチが約３０μｍで、ピン間の隙間は約１０μｍと狭くなってきている。これにより、ピン間ショートが起きやすくなるため、従来、ピン間抵抗値が２００ＭΩ程度だったものが、７５０ＭΩを越える判定値が要求されてきている。この結果、ピン間に流れる電流のセトリング時間が１０〜１００ｎｓから数十ｍｓになり、測定開始までの待ち時間が長くなってしまった。従って、セトリングを待って、マルチプレクサで切替を行い、試験を行っていたのでは、試験時間がかかってしまう。一方、電流測定部をピンごとに設けると、ＩＣテスタが高価になってしまうという問題点があった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、電流測定部をピンごとに設けることなく、液晶駆動ドライバのピン間抵抗試験の短縮を図れるＩＣテスタを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
多階調電圧を出力する液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの複数ピンに電圧を与える電圧発生部と、
前記液晶駆動ドライバの多階調電圧を出力するピンごとに設けられ、入力を抵抗分圧によるアッテネータにより減衰が行え、電圧を測定する電圧測定部と、
階調電圧試験時に、前記電圧発生部をオフにし、前記電圧測定部が測定した電圧値により階調電圧試験を行い、ピン間抵抗試験時に、前記電圧発生部に電圧を与えさせ、前記電圧発生部が電圧を与えるピンの隣接ピンに対応する前記電圧測定部のアッテネータの抵抗による電圧を、前記電圧測定部に測定させ、この測定結果によりピン間抵抗試験の判定を行う制御部と
を有することを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
電圧測定部は、ピン間抵抗試験時に、アッテネータの２つの分圧抵抗を１つの抵抗として、電流を電圧に変換し、電圧を測定することを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
電圧測定部は、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第１のスイッチと、
液晶駆動ドライバのピンに一端を電気的に接続する第２のスイッチと、
この第２のスイッチの他端に一端を接続する第１の抵抗と、
この第１の抵抗の他端に一端を接続し、他端を接地する第２の抵抗と、
前記第１のスイッチの他端に一端を接続する第３のスイッチと、
前記第１の抵抗の他端に一端を接続する第４のスイッチと、
前記第３、第４のスイッチの他端に入力端を接続するＡ／Ｄ変換部と
を設けたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、ピン間抵抗試験の電流を電圧測定部のアッテネータの抵抗により電圧に変換し、液晶駆動ドライバのピンを同時に測定するので、電流測定部をピンごとに設けることなく、液晶駆動ドライバのピン間抵抗試験の短縮を図ることができる。
【００１０】
また、請求項２によれば、アッテネータの２つの分圧抵抗を１つの抵抗として用い、電流を電圧に変換したので、微小電流を電圧測定部で感度よく試験することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【００１２】
図１において、液晶駆動ドライバ（以下ＤＵＴと略す）１は、図３に示されるようなＴＣＰで構成され、複数ピンから多階調電圧を出力する。電圧発生部２は、ＤＵＴ１の複数ピン、つまり、１つ飛びのピンごとに電圧を与える。電圧測定部３は、ＤＵＴ１の多階調電圧を出力するピンごとに設けられ、入力を抵抗分圧によるアッテネータにより減衰が行え、電圧を測定する。制御部４は、階調電圧試験時に、電圧発生部２をオフにし、電圧測定部３が測定した電圧値により階調電圧試験を行い、ピン間抵抗試験時に、電圧発生部２に電圧を与えさせ、電圧発生部２が電圧を与えるピンの隣接ピンに対応する電圧測定部３のアッテネータによる電圧を、電圧測定部３に測定させ、この測定結果によりピン間抵抗試験の判定を行う。ピン間抵抗Ｒは、ＤＵＴ１のピン間の抵抗成分を示す。
【００１３】
次に、電圧測定部２の具体例を図２に示し説明する。
図２において、スイッチＳＷ１，ＳＷ２はＤＵＴのピンに一端を電気的に接続する。抵抗ｒ１は、スイッチＳＷ２の他端に一端を接続する。抵抗ｒ２は、抵抗ｒ１の他端に一端を接続し、他端を接地する。そして、抵抗ｒ１，ｒ２はアッテネータを構成する。スイッチＳＷ３は、スイッチＳＷ１の他端に一端を接続する。スイッチＳＷ４は、抵抗ｒ１の他端に一端を接続する。Ａ／Ｄ変換器３１は、スイッチＳＷ３，ＳＷ４の他端に入力端を接続する。
【００１４】
このような装置の動作を説明する。
まず、階調電圧試験を行う場合、制御部４がスイッチＳＷ１，ＳＷ３をオンし、スイッチＳＷ２，ＳＷ４をオフし、電圧発生部２をオフとする。そして、図示しない信号発生部からＤＵＴ１に対して信号が与えられ、ＤＵＴ１が階調電圧を出力する。この階調電圧を、スイッチＳＷ１，ＳＷ３を介して、Ａ／Ｄ変換器３１でデジタルデータに変換し、制御部４に出力する。制御部４は、デジタルデータにより、階調電圧が期待値電圧になっているか判定し、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。なお、ＤＵＴ１がソースドライバの場合は、階調電圧は０〜２０Ｖの出力範囲で、ライン経路を選択したが、ゲートドライバの場合０〜４０Ｖの出力範囲なので、抵抗ｒ１，ｒ２によるアッテネータ経路が選択される。
【００１５】
次に、ピン間抵抗試験の場合、制御部４がスイッチＳＷ１〜ＳＷ３をオンし、スイッチＳＷ４をオフする。そして、制御部４が電圧発生部２に電圧を発生させ、ピン間抵抗Ｒに電流が流れる。そして、スイッチＳＷ２、抵抗ｒ１，ｒ２に電流が流れ、抵抗ｒ１，ｒ２による電圧を、Ａ／Ｄ変換器３１でデジタルデータに変換し、制御部４に出力する。制御部４は、デジタルデータにより、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【００１６】
ここで、ピン間抵抗試験の良否の判定方法について説明する。電圧発生部２が出力する電圧を”Ｖ”、ピン間抵抗Ｒの抵抗値”Ｒ”、抵抗ｒ１，ｒ２の抵抗値をそれぞれ”ｒ１”，”ｒ２”、ピン間抵抗Ｒに流れる電流を”ｉ”、電圧測定部３が測定する電圧を”ｖ”とする。これらの関係を式に表すと、Ｖ＝ｉ・（Ｒ＋ｒ１＋ｒ２）、ｖ＝ｉ・（ｒ１＋ｒ２）となる。そして、ｖ＝（ｒ１＋ｒ２）・Ｖ／（Ｒ＋ｒ１＋ｒ２）となる。判定値の条件として、Ｒが大きければ、ピン間に電流が流れ難くなるので、ｖ＜（ｒ１＋ｒ２）・Ｖ／（Ｒ＋ｒ１＋ｒ２）により判定がなされる。従って、ｖだけを求めることにより、ＤＵＴ１の良否の判定を行うことができる。
【００１７】
このように、ピン間抵抗試験の電流を電圧測定部３のアッテネータの抵抗により電圧に変換し、ＤＵＴ１のピンを同時に測定するので、電流測定部をピンごとに設けることなく、ＤＵＴ１のピン間抵抗試験の短縮を図ることができる。
【００１８】
また、ピン間抵抗試験時に、抵抗ｒ１，ｒ２を１つの抵抗として用い、電流を電圧に変換し、微小電流を感度よく、電圧測定部３で試験することができる。
【００１９】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、ＤＵＴ１と電圧発生部２との接続した状態の例を示したが、ＤＵＴ１と電圧発生部２との経路上にスイッチを設け、切り離し可能に構成してもよい。
【００２０】
また、電圧測定部３のアッテネータが１つの場合の例を示したが、複数あってもよい。そして、ピン間抵抗試験時に、抵抗ｒ１，ｒ２を１つの抵抗として、電圧を求める構成を示したが、スイッチＳＷ１，ＳＷ３をオフとし、スイッチＳＷ２，ＳＷ４をオンとして、Ａ／Ｄ変換器３１は、抵抗ｒ１，ｒ２により分圧した電圧を測定する構成でもよい。
【００２１】
また、制御部４は、電圧値により、ピン間抵抗試験におけるＤＵＴ１の良否の判定を行っているが、抵抗値を求めて判定を行ってもよい。
【００２２】
そして、階調電圧試験とピン間抵抗試験との順番は逆でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】電圧測定部３の具体的構成を示した図である。
【図３】液晶駆動ドライバの具体的構成を示した図である。
【図４】従来のＩＣテスタの構成を示した図である。
【符号の説明】
【００２４】
１  ＤＵＴ
２  電圧発生部
３  電圧測定部
ＳＷ１〜ＳＷ４  スイッチ
ｒ１，ｒ２  抵抗
３１  Ａ／Ｄ変換器
４  制御部
Ｒ  ピン間抵抗
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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