(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、
前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段と、
前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小手段と、
前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小手段と、
前記画像を縮小する際に、前記第１の画像縮小手段又は前記第２の画像縮小手段を選択する選択手段と
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記選択手段は、前記第１の画像縮小手段による縮小後の前記画像の欠陥画素数と、前記第２の画像縮小手段による縮小後の前記画像の欠陥画素数とを比較し、欠陥画素数の少ない方の画像縮小手段を選択することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記選択手段は、前記第１の画像縮小手段又は前記第２の画像縮小手段を選択する際に、処理時間の短い方の画像縮小手段を選択することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記選択手段は、前記第１の画像縮小手段による縮小後の前記画像の欠陥画素数と、前記第２の画像縮小手段による縮小後の前記画像の欠陥画素数とを比較し、欠陥画素数が同数である場合、処理時間の短い方の画像縮小手段を選択することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項５】
欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、
前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段と、
前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小手段と、
前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小手段と、
前記画像を縮小する際に、前記センサに行列状に配置された複数の画素における画素情報の読み出し単位ごとに、前記第１の画像縮小手段又は前記第２の画像縮小手段を選択する選択手段と
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
前記選択手段は、前記第１の画像縮小手段による縮小後の前記画像の前記読み出し単位における欠陥画素数と、前記第２の画像縮小手段による縮小後の前記画像の前記読み出し単位における欠陥画素数とを比較し、欠陥画素数の少ない方の画像縮小手段を選択することを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記選択手段は、前記第１の画像縮小手段による縮小後の前記画像の前記読み出し単位における欠陥画素数と、前記第２の画像縮小手段による縮小後の前記画像の前記読み出し単位における欠陥画素数とを比較し、欠陥画素数が同数である場合、処理時間の短い方の画像縮小手段を選択することを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記撮像手段は、
前記センサに行列状に配置された複数の画素に対して読み出し単位に相当する行の画素を順次選択する副走査手段と、
前記副走査手段により選択された行の画素の画素情報を順次読み出す主走査手段と
を更に有することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記第１の画像縮小手段は、前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理する場合、前記主走査手段により前記行方向に隣接する複数の画素の画素情報を同時に読み出してアナログ的に加算処理もしくは平均化処理を行うこと特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記第２の画像縮小手段は、前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理する場合、前記副走査手段により前記列方向に隣接する複数の画素に係る複数の行の画素を同時に選択し、同時に選択された複数の行の画素の画素情報をアナログ的に加算処理もしくは平均化処理を行うこと特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記第１の画像縮小手段及び前記第２の画像縮小手段は、隣接する複数の画素の画素情報を前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理する場合、前記記憶手段に記憶されている前記欠陥画素の位置情報に基づいて、前記欠陥画素ではない正常画素の画素情報のみを用いてディジタル的に加算処理もしくは平均化処理を行うこと特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１２】
前記選択手段で選択された前記第１の画像縮小手段又は前記第２の画像縮小手段による縮小後の画像に対して、前記欠陥画素の欠陥補正を行う欠陥補正手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１３】
前記撮像手段は、前記センサに入射した放射線の強度分布に応じた画像の撮像を行うことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１４】
欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段とを備えた撮像装置の駆動方法であって、
前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小ステップと、
前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小ステップと、
前記画像を縮小する際に、前記第１の画像縮小ステップ又は前記第２の画像縮小ステップを選択する選択ステップと
を有することを特徴とする撮像装置の駆動方法。
【請求項１５】
欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段とを備えた撮像装置の駆動方法であって、
前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小ステップと、
前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小ステップと、
前記画像を縮小する際に、前記センサに行列状に配置された複数の画素における画素情報の読み出し単位ごとに、前記第１の画像縮小ステップ又は前記第２の画像縮小ステップを選択する選択ステップと
を有することを特徴とする撮像装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画素が行列状に配置されたセンサを有する撮像装置及びその駆動方法に関するものであり、特に、センサに入射したＸ線等の放射線に係る画像を撮像する撮像装置及びその駆動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、例えば、放射線の一種であるＸ線を用いた撮影において、被写体を透過したＸ線の強度分布の取得には、光電変換素子を用いたディジタルＸ線撮像装置が使用され始めている。
【０００３】
このディジタルＸ線撮像装置は、従来のフィルム式の撮像装置よりも優れた感度や画質を有する。また、ディジタルＸ線撮像装置では、画像をディジタルデータとして保存することができるため、被写体の撮影（撮像）後に画像に対して各種の画像処理を行うことにより、より診断しやすい画像へ加工できる。また、このディジタルＸ線撮像装置は、画像の管理が容易であることや、ネットワークを利用して画像データを転送できるなどの利点を持つ。
【０００４】
このようなＸ線撮像装置には、光電変換素子及びＴＦＴに代表されるスイッチング素子を含む画素が２次元アレイ状（２次元行列状）に配置されたＸ線センサ（２次元センサ）が用いられている。これにより、Ｘ線発生部と２次元センサの間に被写体を置き、被写体を透過したＸ線量を２次元センサで電気信号に変換することで、被写体のＸ線画像を得ることができる。また、各光電変換素子からの電気信号（電荷）は個別に読み出されて、Ａ／Ｄ変換部によるＡ／Ｄ変換によりディジタル化され、画像処理が行われた後、記憶や表示される。
【０００５】
また、近年、静止画撮影だけでなく、動画撮影が可能な２次元センサが開発されており、例えば、下記の特許文献１や特許文献２等に開示されている。そして、近時では、作業効率や省スペースの観点から、１つの装置で、静止画撮影だけでなく動画撮影を行うＸ線撮像装置が求められている。
【０００６】
【特許文献１】特開平１０−２８５４６６号公報
【特許文献２】特開２００６−４３２９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
Ｘ線撮像装置において、静止画撮影時は高い解像度が求められるが、透視撮影のような動画撮影時には、解像度よりも動画のフレームレートが高いことが望まれる。また、動画撮影時においても、撮影目的に応じて要求される解像度、フレームレートは異なる。例えば、静止画撮影のためのプレビューのような動画撮影では、高い解像度や高いフレームレートはそれほど要求されないが、心臓のように速い動きのある部位の動画撮影では、高いフレームレートが求められる。
【０００８】
そこで、動画撮影時には、センサ上の複数の画素からまとめて画素情報（電荷）の読み出しを行い、読み出した画素情報を加算処理もしくは平均化処理することにより、画像の取得速度を速めて、フレームレートを向上させることができる。その一方、上述した加算処理もしくは平均化処理を行わず、画素情報を画素ごとに個別に読み出すようにすれば、フレームレートは低下するが、高解像度の画像を取得できる。
【０００９】
ここで、例えば２行×２列の画素における画素情報（電荷）を加算処理（又は平均化処理）により、１画素の画素情報として縮小する処理を行う場合、単純なアナログ信号による加算（又は平均）読み出しを行えば、画像の高速な取得が可能である。
【００１０】
しかしながら、２行×２列の画素のうちの１画素でも何らかの欠陥があると、その加算処理（又は平均化処理）後の画素も欠陥画素として扱わざるを得なくなる。即ち、この場合、縮小処理後の画像が当該欠陥画素により著しく劣化することになる。また、２次元センサは半導体で形成されており、製造工程の中で多数の画素に何らかの欠陥が生じることを防ぐことは一般的に困難である。
【００１１】
その一方、欠陥画素の画素情報を含めずに上述した縮小処理を行って、縮小処理後の画像の劣化を防止することが考えられる。この場合、例えば画素情報をディジタル値として取得できれば、欠陥画素の位置情報に基づいて正常画素の画素情報のみを選択して加算処理（又は平均化処理）をすることは容易である。しかしながら、この場合、全ての画素の画素情報をＡ／Ｄ変換することになり、画像の読み出しの高速化（即ち、フレームレートの向上）を図ることが困難になる。また、Ａ／Ｄ変換を行う前に欠陥画素を除外して加算処理もしくは平均化処理をしようとすると、特別な判断機構が必要となり、その制御や回路構成が複雑になるという問題がある。
【００１２】
即ち、従来においては、フレームレートの向上を図ると共に、簡易な構成で画像の劣化を防止することが困難であるという問題があった。
【００１３】
本発明は上述した問題点に鑑みてなされたものであり、フレームレートの向上を図ると共に、簡易な構成で画像の劣化を防止することを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の撮像装置は、欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段と、前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小手段と、前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小手段と、前記画像を縮小する際に、前記第１の画像縮小手段又は前記第２の画像縮小手段を選択する選択手段とを有する。
【００１５】
本発明の撮像装置における他の態様は、欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段と、前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小手段と、前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小手段と、前記画像を縮小する際に、前記センサに行列状に配置された複数の画素における画素情報の読み出し単位ごとに、前記第１の画像縮小手段又は前記第２の画像縮小手段を選択する選択手段とを有する。
【００１６】
本発明の撮像装置の駆動方法は、欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段とを備えた撮像装置の駆動方法であって、前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小ステップと、前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小ステップと、前記画像を縮小する際に、前記第１の画像縮小ステップ又は前記第２の画像縮小ステップを選択する選択ステップとを有する。
【００１７】
本発明の撮像装置の駆動方法における他の態様は、欠陥画素を含む複数の画素が行列状に配置されたセンサを有し、画像の撮像を行う撮像手段と、前記欠陥画素の位置情報を記憶する記憶手段とを備えた撮像装置の駆動方法であって、前記センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第１の画像縮小ステップと、前記センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理した後、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を前記位置情報に基づく前記欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行って前記画像を縮小する処理を行う第２の画像縮小ステップと、前記画像を縮小する際に、前記センサに行列状に配置された複数の画素における画素情報の読み出し単位ごとに、前記第１の画像縮小ステップ又は前記第２の画像縮小ステップを選択する選択ステップとを有する。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、フレームレートの向上を図ると共に、簡易な構成で画像の劣化を防止することを実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
−本発明の骨子−
まず、本発明を実施するための具体的な実施形態を説明する前に、本発明の骨子について説明する。
本発明者は、フレームレートの向上を図ると共に、簡易な構成で画像の劣化を防止することを実現するために、以下に示す本発明の骨子を想到した。ここで、以下の説明においては、フレームレートを向上させるために行う縮小処理の例として、２次元センサに配置された２行×２列の画素における画素情報（電荷）を１つの画素の画素情報として縮小する処理を行う場合について説明する。
【００２０】
まず、本発明者は、上述した縮小処理を行う際、２段階の処理に分けて行うことを考えた。第１段階では、２行×２列の画素のうち、１行×２列の画素もしくは２行×１列の画素のように列方向又は行方向の一方向の隣接２画素に対して、欠陥画素の画素情報を含む単純なアナログ信号の加算処理（又は平均化処理）による読み出しを行う。続く第２段階では、他方向の隣接２画素に対して、欠陥画素の画素情報を含まない加算処理（又は平均化処理）を行う。これにより、第１段階での欠陥画素の画素情報を含む処理において、隣接２画素のうちのどちらか一方が欠陥画素であっても、第２段階での欠陥画素の画素情報を含めない処理により、正常画素の画素情報のみを利用することが可能になる。
【００２１】
ここで、上述した縮小処理を、２次元センサに２次元行列状に配置された全ての画素に対して行う場合について考える。この場合、欠陥画素の位置パターンによっては、第１段階の処理を行方向に行うと共に第２段階の処理を列方向に行う場合と、第１段階の処理を列方向に行うと共に第２段階の処理を行方向に行う場合とで、縮小後の画像の欠陥画素数が異なる可能性がある。特に、センサパネルの製造時や経年劣化により、２次元センサ上にライン欠陥が生じた場合には、行方向もしくは列方向のどちらか一方に偏って欠陥画素が発生するため、この場合には、縮小後の画像の欠陥画素数の差が大きくなる。以下に、図１及び図２を用いて具体的に説明する。
【００２２】
図１は、本発明に係る第１の画像縮小処理の概念を示す模式図である。また、図２は、本発明に係る第２の画像縮小処理の概念を示す模式図である。
図１及び図２には、２行×２列の画素を１画素とする縮小処理を行う例を示している。また、図１（ａ）及び図２（ａ）には、欠陥画素を含む複数の画素１２２０が２次元行列状に配置された２次元センサ１２２が示されている。ここで、図１（ａ）及び図２（ａ）において、「×」で示された画素１２２０が欠陥画素であり、空白で示された画素１２２０が正常画素である。
【００２３】
まず、図１に示す第１の画像縮小処理について説明する。
図１に示す第１の画像縮小処理では、まず、図１（ａ）に示す２次元センサ１２２の行方向に隣接する２画素の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めて加算処理（又は平均化処理）を行う。これにより、図１（ｂ）に示す加算処理（又は平均化処理）後の複数の画素１２３１が得られる。続いて、図１（ｂ）に示す列方向に隣接する２画素の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理（又は平均化処理）を行う。これにより、図１（ｃ）に示す加算処理（又は平均化処理）後の複数の画素１２３２が得られる。この第１の画像縮小処理により、図１（ｃ）に示す縮小後の画像が生成される。図１（ｃ）に示す縮小後の画像は、１つの欠陥画素が存在する画像となる。
【００２４】
次に、図２に示す第２の画像縮小処理について説明する。
図２に示す第２の画像縮小処理では、図２（ａ）に示す２次元センサ１２２の列方向に隣接する２画素の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めて加算処理（又は平均化処理）を行う。これにより、図２（ｂ）に示す加算処理（又は平均化処理）後の複数の画素１２３３が得られる。続いて、図２（ｂ）に示す行方向に隣接する２画素の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理（又は平均化処理）を行う。これにより、図２（ｃ）に示す加算処理（又は平均化処理）後の複数の画素１２３４が得られる。この第２の画像縮小処理により、図２（ｃ）に示す縮小後の画像が生成される。図２（ｃ）に示す縮小後の画像は、４つの欠陥画素が存在する画像となる。
【００２５】
このように、図１に示す第１の画像縮小処理と図２に示す第２の画像縮小処理とでは、２次元センサに形成されている欠陥画素の位置パターンによって、縮小後の画像の欠陥画素数が異なる。
【００２６】
また、縮小後の画像の欠陥画素については、縮小後の画像の画素単位で欠陥補正処理が行われることになる。例えば、欠陥画素の上下左右に隣接する画素の画素情報を用いて当該欠陥画素の画素値を充当する補正方法の場合、図２（ｃ）に示す欠陥画素１２３４Ａについては、その画素値を補正することが不可能である。一方、図１（ｃ）に示す画素１２３２Ａについては、正常な画素値を取得できている。このように、欠陥補正処理でも救えない縮小後の画像の画素が、縮小処理を変更することで救える場合がある。
【００２７】
そこで、本発明者は、図１に示す第１の画像縮小処理を行う第１の画像縮小手段と、図２に示す第２の画像縮小処理を行う第２の画像縮小手段とを設けると共に、これらの処理の結果に応じて画像縮小手段を選択する選択手段を設けることを思料した。
【００２８】
−本発明の骨子を踏まえた具体的な実施形態−
次に、上述した本発明の骨子を踏まえた具体的な実施形態について説明する。
なお、以下に示す本発明の実施形態においては、本発明に係る撮像装置として、Ｘ線撮像装置を適用した例を示すが、本発明においてはこれに限定されない。例えば、Ｘ線に限らず、例えば、α線、β線、γ線、光線などの他の放射線に係る画像を撮像する放射線撮像装置も本発明に含まれるものとする。
【００２９】
（第１の実施形態）
以下に、本発明の第１の実施形態について説明する。
図３は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮像装置を含むＸ線撮像システムの概略構成の一例を示す模式図である。
【００３０】
図３に示すＸ線撮像システムは、本実施形態に係るＸ線撮像装置１００と、モニタ３００と、プリンタ４００と、ネットワーク５００を有して構成されている。
【００３１】
Ｘ線撮像装置１００は、Ｘ線発生部１１０と、撮像部１２０と、読み出し制御部１３０と、Ａ／Ｄ変換部１４０と、システム制御部１５０と、記憶部１６０と、Ｘ線制御部１７０と、操作入力部１８０を有して構成されている。また、被写体２００は、Ｘ線発生部１１０と撮像部１２０との間の所定の位置に配置される。
【００３２】
Ｘ線発生部１１０は、Ｘ線制御部１７０による制御に基づいて、Ｘ線１１１を発生させるものであり、具体的に、本実施形態では、撮像部１２０との間に配置された被写体２００に対してＸ線１１１を照射する。
【００３３】
撮像部（撮像手段）１２０は、欠陥画素を含む複数の画素が２次元行列状に配置された２次元センサを有し、当該２次元センサで被写体２００を透過したＸ線１１１を電気信号に変換して、画像の撮像を行う。具体的に、撮像部１２０は、２次元センサに入射したＸ線（放射線）の強度分布に応じた画像の撮像を行う。ここでの電気信号は、各画素において入射したＸ線量に応じて蓄積された電荷（画素情報）に基づくものであり、アナログ信号である。
【００３４】
読み出し制御部１３０は、撮像部１２０の２次元センサで検出した電気信号を読み出す際の制御を行う。
【００３５】
Ａ／Ｄ変換部１４０は、撮像部１２０の２次元センサから読み出された電気信号をディジタル信号に変換する。
【００３６】
システム制御部１５０は、図３に示すＸ線撮像システムの各構成部における駆動を統括的に制御する。また、システム制御部１５０には、第１の画像縮小部（第１の画像縮小手段）１５１、第２の画像縮小部（第２の画像縮小手段）１５２、選択部（選択手段）１５３及び欠陥補正部（欠陥補正手段）１５４が機能構成として含まれている。
【００３７】
記憶部（記憶手段）１６０は、撮像部１２０の２次元センサに存在する欠陥画素の位置を示す欠陥画素位置情報１６１や、各種の設定情報１６２及び各種の画像データ１６３などを記憶する。
【００３８】
Ｘ線制御部１７０は、システム制御部１５０による制御に基づいて、Ｘ線発生部１１０を制御して、Ｘ線発生部１１０から発生させるＸ線１１１を制御する。
【００３９】
操作入力部１８０は、操作者から操作入力された各種の情報をシステム制御部１５０に入力する。
【００４０】
また、Ａ／Ｄ変換部１４０によってディジタル信号に変換され、システム制御部１５０で処理された画像に基づく画像データは、記憶部１６０に画像データ１６３として記憶される。また、この画像データは、必要に応じて、不図示の画像処理部において診断に適した画像データに処理され、モニタ３００に表示される。さらに、本実施形態のＸ線撮像システムでは、当該画像データをプリンタ４００に出力することや、或いは、ネットワーク５００を介して、遠隔診断を行うための表示装置や画像管理システムに転送することも可能である。
【００４１】
ここで、システム制御部１５０の各機能構成について以下に説明する。
第１の画像縮小部１５１は、例えば、図１に示す第１の画像縮小処理を行う。具体的に、第１の画像縮小部１５１は、まず、図１（ａ）及び図１（ｂ）に示すように、撮像部１２０の２次元センサの行方向に隣接する複数の画素の画素情報を、欠陥画素位置情報１６１に基づく欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理する。その後、第１の画像縮小部１５１は、図１（ｂ）及び図１（ｃ）に示すように、列方向に隣接する複数の画素の画素情報を、欠陥画素位置情報１６１に基づく欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行う。この第１の画像縮小部１５１の処理により、撮像部１２０の２次元センサで撮像された画像に対して、複数行×複数列の画素の画素情報を１画素の画素情報に縮小する第１の画像縮小処理がなされる。
【００４２】
第２の画像縮小部１５２は、例えば、図２に示す第２の画像縮小処理を行う。具体的に、第２の画像縮小部１５２は、まず、図２（ａ）及び図２（ｂ）に示すように、撮像部１２０の２次元センサの列方向に隣接する複数の画素の画素情報を、欠陥画素位置情報１６１に基づく欠陥画素の画素情報を含めて加算処理もしくは平均化処理する。その後、第２の画像縮小部１５２は、図２（ｂ）及び図２（ｃ）に示すように、行方向に隣接する複数の画素の画素情報を、欠陥画素位置情報１６１に基づく欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理もしくは平均化処理を行う。この第２の画像縮小部１５２の処理により、撮像部１２０の２次元センサで撮像された画像に対して、複数行×複数列の画素の画素情報を１画素の画素情報に縮小する第２の画像縮小処理がなされる。
【００４３】
選択部１５３は、撮像部１２０の２次元センサで撮像された画像を縮小する際に、第１の画像縮小部１５１及び第２の画像縮小部１５２による処理の結果に応じて、第１の画像縮小部１５１又は第２の画像縮小部１５２を選択する処理を行う。欠陥補正部１５４は、選択部１５３で選択された第１の画像縮小部１５１又は第２の画像縮小部１５２による縮小後の画像に対して、欠陥画素の欠陥補正を行う。
【００４４】
次に、図３に示す撮像部１２０の内部構成について説明する。
図４は、図３に示す撮像部１２０の内部構成の一例を示す模式図である。
図４に示すように、撮像部１２０は、駆動回路１２１と、２次元センサ１２２と、電源１２３と、読み出し回路１２４を有して構成されている。
【００４５】
２次元センサ１２２には、欠陥画素を含む複数の画素１２２０が２次行列状に配置されている。また、１つの画素１２２０は、入射したＸ線を電荷（画素情報）に変換する変換素子１２２１と、変換素子１２２１で変換された電荷（画素情報）を当該画素１２２０の外部に転送するスイッチ素子１２２２とを、それぞれ１つずつ含み形成されている。なお、図４には、２次元センサ１２２に、ｍ行×ｎ列の画素１２２０が配置されている例を示している。
【００４６】
ここで、変換素子１２２１は、例えば、光電変換素子と、当該光電変換素子の上方（被写体２００と当該光電変換素子との間）に蛍光体を備えて構成されている。この場合、まず、蛍光体において当該変換素子１２２１に入射したＸ線を可視光に変換し、次いで、光電変換素子において蛍光体で変換された可視光を電荷（画素情報）に変換する形態となる。なお、本実施形態の変換素子１２２１は、光電変換素子及び蛍光体で構成されるものに限定されず、例えば、入射したＸ線を直接電荷（画素情報）に変換する、いわゆる直接変換型の変換素子であってもよい。また、スイッチ素子１２２２は、例えば、ＴＦＴ（Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）で形成されている。
【００４７】
駆動回路１２１は、読み出し制御部１３０による制御に基づいて、２次元センサ１２２の各画素１２２０を行方向（主走査方向）に接続する駆動線（ゲート線）ｇ１〜ｇｍを介して、各画素１２２０を駆動する制御を行う。即ち、駆動回路１２１は、２次元センサ１２２に２次元行列状に配置された複数の画素１２２０に対して、読み出し単位に相当する行の画素を順次選択して、２次元センサ１２２の列方向（副走査方向）に走査を行う副走査手段を構成する。具体的に、駆動線ｇ１〜ｇｍは、各画素１２２０のスイッチ素子１２２２のゲート電極に接続されており、駆動回路１２１は、各駆動線に駆動信号を供給して各スイッチ素子１２２２をオンさせて各変換素子１２２１の電荷（画素情報）を外部に転送させる。
【００４８】
電源１２３は、２次元センサ１２２の各画素１２２０の変換素子１２２１に、例えば、バイアス電圧を供給するものである。
【００４９】
読み出し回路１２４は、読み出し制御部１３０による制御に基づいて、２次元センサ１２２の各画素１２２０を列方向に接続する信号線ｓ１〜ｓｎを介して、各画素１２２０の各変換素子１２２１の電荷（画素情報）を読み出す制御を行う。即ち、読み出し回路１２４は、駆動回路１２１により選択された行の画素の電荷（画素情報）を、信号線ｓ１〜ｓｎを介して順次読み出す主走査手段を構成する。
【００５０】
読み出し回路１２４は、具体的に、信号増幅回路１２４１と、サンプルホールド回路１２４２と、マルチプレクサ回路１２４３を有して構成されている。信号増幅回路１２４１は、各スイッチ素子１２２２及び各信号線ｓ１〜ｓｎを介して読み出された各変換素子１２２１の電荷（画素情報）に基づく電気信号を増幅する。サンプルホールド回路１２４２は、信号増幅回路１２４１で処理した電気信号を転送するまでの期間、当該電気信号を保持する。マルチプレクサ回路１２４３は、スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを時系列的に順次オンさせて、サンプルホールド回路１２４２に保持された電気信号を時系列的に順次読み出し、アンプＡを介してＡ／Ｄ変換部１４０に出力する。マルチプレクサ回路１２４３の各スイッチＳＷ１〜ＳＷｎのオン／オフ動作は、読み出し制御部１３０から入力される制御信号ＭＵＸ１〜ＭＵＸｎによって制御される。
【００５１】
本実施形態のシステム制御部１５０では、上述したように、第１の画像縮小部１５１と、第２の画像縮小部１５２とを独立に備え、操作入力部１８０への操作入力に基づいて画像を縮小する際に、どちらの画像縮小部を用いるのかを選択部１５３で選択する。
【００５２】
以下に、まず、第１の画像縮小部１５１の処理について説明する。
第１の画像縮小部１５１は、読み出し制御部１３０を介して、図４に示す駆動回路１２１及び読み出し回路１２４を制御して、第１の画像縮小処理を行う。ここで、以下に示す第１の画像縮小部１５１による処理においては、図１に示す２行×２列の画素を１画素とする縮小処理の例を説明する。
【００５３】
第１の画像縮小部１５１は、まず、駆動回路１２１から、駆動線（ゲート線）ｇ１の電位をＨｉにする駆動信号を供給させ、当該駆動線ｇ１と接続するスイッチ素子１２２２を全てオンとする。これにより、第１行目の各画素の電荷（画素情報）に基づく電気信号が読み出し回路１２４に読み出され、それぞれ、サンプルホールド回路１２４２に保持される。そして、第１の画像縮小部１５１は、読み出し制御部１３０を介して制御信号ＭＵＸ１及びＭＵＸ２を同時に入力してスイッチＳＷ１及びＳＷ２を同時にオンし、その後、順次、スイッチＳＷ３〜ＳＷｎを２つずつ同時にオンする。これにより、サンプルホールド回路１２４２に保持されていた第１行目の隣接する２画素分の電荷（画素情報）が、アンプＡに同時に読み出されてアナログ的に加算処理（又は平均化処理）され、Ａ／Ｄ変換部１４０に出力される。そして、上述した２次元センサ１２２の第１行目の処理を、第２行目〜第ｍ行目まで順次行う。ここまでの処理は、図１（ｂ）に示すものとなる。
【００５４】
このように、スイッチＳＷ１〜ＳＷｎを２つずつオン／オフさせることで、２次元センサ１２２の行方向に隣接する２画素に対する欠陥画素の画素情報を含めた加算処理（又は平均化処理）の読み出しが可能になる。この場合、Ａ／Ｄ変換部１４０に出力される電気信号の回数を減らせるため、全ての画素情報をＡ／Ｄ変換する場合に比べて、高速な読み出しが可能になる。
【００５５】
このようにして、２次元センサ１２２の行方向に隣接する２画素の電荷（画素情報）が加算（又は平均化）された電気信号は、Ａ／Ｄ変換部１４０によりディジタル信号に変換された後、システム制御部１５０（第１の画像縮小部１５１）に入力される。そして、第１の画像縮小部１５１は、Ａ／Ｄ変換部１４０からの電気信号に対して、記憶部１６０に記憶されている欠陥画素位置情報１６１に基づいて、列方向に隣接した２画素分の画素情報を欠陥画素の画像情報を含めずに加算処理（又は平均化処理）を行う。この場合、第１の画像縮小部１５１は、欠陥画素ではない正常画素の画素情報のみを用いてディジタル的に加算処理（もしくは平均化処理）を行う。以上の処理により、２行×２列の画素が１画素として縮小される。この処理は、図１（ｃ）に示すものとなる。
【００５６】
Ａ／Ｄ変換部１４０によるＡ／Ｄ変換後は、ディジタル信号（ディジタルデータ）として扱えるため、加算処理の対象の２画素の一方が欠陥画素であった場合に、当該欠陥画素の画素情報を除外して正常画素の画素情報のみを用いて縮小することは容易である。ただし、加算処理の対象の２画素のうちの両方の画素が欠陥画素であった場合には、縮小後も欠陥画素となる。
【００５７】
続いて、第２の画像縮小部１５２の処理について説明する。
第２の画像縮小部１５２は、読み出し制御部１３０を介して、図４に示す駆動回路１２１及び読み出し回路１２４を制御して、第２の画像縮小処理を行う。ここで、以下に示す第２の画像縮小部１５２による処理においては、図２に示す２行×２列の画素を１画素とする縮小処理の例を説明する。
【００５８】
第２の画像縮小部１５２は、まず、駆動回路１２１から、駆動線（ゲート線）ｇ１及びｇ２の電位を同時にＨｉにする駆動信号を供給させ、当該駆動線ｇ１及びｇ２の２ラインと接続するスイッチ素子１２２２を全てオンとする。これにより、第１行目及び第２行目の各画素の電荷（画素情報）に基づく電気信号が同時に読み出し回路１２４に読み出され、それぞれ、サンプルホールド回路１２４２に保持される。このように、駆動線の２ラインにおけるスイッチ素子１２２２を同時にオンさせることにより、２次元センサ１２２の列方向に隣接する２画素分の電荷（画素情報）が、アナログ的に加算処理（又は平均化処理）されてサンプルホールド回路１２４２に保持される。その後、サンプルホールド回路１２４２保持された電気信号は、マルチプレクサ回路１２４３においてスイッチＳＷ１〜ＳＷｎを１つずつ順次オンすることで、アンプＡを介して順次、Ａ／Ｄ変換部１４０に出力される。そして、上述した２次元センサ１２２の第１行目及び第２行目の処理を、第３行目〜第ｍ行目まで２行ずつ順次行う。ここまでの処理は、図２（ｂ）に示すものとなる。
【００５９】
このように、駆動回路１２１から駆動線ｇ１〜ｇｍに対して２ラインずつ同時に駆動信号を供給することで、２次元センサ１２２の列方向に隣接する２画素分の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めて加算処理（又は平均化処理）をすることが可能である。この場合、駆動線に１ラインずつ駆動信号を供給する場合と比較して、２次元センサ１２２の各画素から画素情報を読み出す回数自体を半分に減らせるため、高速な読み出しが可能になる。
【００６０】
このようにして、２次元センサ１２２の列方向に隣接する２画素の電荷（画素情報）が加算（又は平均化）された電気信号は、Ａ／Ｄ変換部１４０によりディジタル信号に変換された後、システム制御部１５０（第２の画像縮小部１５２）に入力される。そして、第２の画像縮小部１５２は、Ａ／Ｄ変換部１４０からの電気信号に対して、記憶部１６０に記憶されている欠陥画素位置情報１６１に基づいて、行方向に隣接した２画素分の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めずに加算処理（又は平均化処理）を行う。この場合、第２の画像縮小部１５２は、欠陥画素ではない正常画素の画素情報のみを用いてディジタル的に加算処理（もしくは平均化処理）を行う。以上の処理により、２行×２列の画素が１画素として縮小される。この処理は、図２（ｃ）に示すものとなる。
【００６１】
Ａ／Ｄ変換部１４０によるＡ／Ｄ変換後は、ディジタル信号（ディジタルデータ）として扱えるため、加算処理の対象の２画素の一方が欠陥画素であった場合に、当該欠陥画素の画素情報を除外して正常画素の画素情報のみを用いて縮小することは容易である。ただし、加算処理の対象の２画素のうちの両方の画素が欠陥画素であった場合には、縮小後も欠陥画素となる。
【００６２】
次に、第１の実施形態に係るＸ線撮像装置１００の駆動方法について説明する。
図５は、本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮像装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、以下に示すフローチャートにおいては、予め、操作者から操作入力部１８０を介して撮影モードとして画像縮小モードが選択され、また、被写体２００の撮影に係る要求フレームレートが設定されているものとする。
【００６３】
まず、図５のステップＳ１０１において、第１の画像縮小部１５１は、記憶部１６０に記憶されている欠陥画素位置情報１６１を用いて、本撮影前の予備撮影にて撮像部１２０で撮像された画像に対して、上述した第１の画像縮小処理を行う。そして、第１の画像縮小部１５１は、第１の画像縮小処理による縮小後の画像における欠陥画素数Ｎ１を、計算により取得する。ここで、図１に示す例の場合には、図１（ｃ）に示すように、欠陥画素数Ｎ１が１として取得される。
【００６４】
続いて、ステップＳ１０２において、第２の画像縮小部１５２は、記憶部１６０に記憶されている欠陥画素位置情報１６１を用いて、本撮影前の予備撮影にて撮像部１２０で撮像された画像に対して、上述した第２の画像縮小処理を行う。そして、第２の画像縮小部１５２は、第２の画像縮小処理による縮小後の画像における欠陥画素数Ｎ２を、計算により取得する。ここで、図２に示す例の場合には、図２（ｃ）に示すように、欠陥画素数Ｎ２が４として取得される。
【００６５】
続いて、ステップＳ１０３において、選択部１５３は、ステップＳ１０１で取得された欠陥画素数Ｎ１とステップＳ１０２取得された欠陥画素数Ｎ２とを比較し、欠陥画素数Ｎ１が欠陥画素数Ｎ２未満であるか否かを判断する。
【００６６】
ステップＳ１０３の判断の結果、欠陥画素数Ｎ１が欠陥画素数Ｎ２未満である場合には、ステップＳ１０４に進む。ステップＳ１０４に進むと、選択部１５３は、第１の画像縮小部１５１を用いた場合のフレームレートが、操作入力部１８０を介して入力された要求フレームレートを満たすか否かを判断する。具体的に、ステップＳ１０４では、第１の画像縮小部１５１を用いた場合のフレームレートが、操作入力部１８０を介して入力された要求フレームレート以上であるか否かを判定することにより、上記判断を行う。
【００６７】
ステップＳ１０４の判断の結果、第１の画像縮小部１５１を用いた場合のフレームレートが、操作入力部１８０を介して入力された要求フレームレートを満たす場合には、ステップＳ１０５に進む。ステップＳ１０５に進むと、システム制御部１５０は、被写体２００を撮影する本撮影を行い、選択部１５３は、撮像部１２０で撮像された（被写体）画像の読み出し方法として第１の画像縮小部１５１による処理を選択し、第１の画像縮小処理を行わせる。これにより、（被写体）画像が第１の画像縮小処理に基づき縮小される。
【００６８】
一方、ステップＳ１０３で欠陥画素数Ｎ１が欠陥画素数Ｎ２未満でない（以上である）と判断された場合、或いは、ステップＳ１０４で第１の画像縮小部１５１を用いた場合のフレームレートが要求フレームレートを満たさない場合には、ステップＳ１０６に進む。ステップＳ１０６に進むと、システム制御部１５０は、被写体２００を撮影する本撮影を行い、選択部１５３は、撮像部１２０で撮像された（被写体）画像の読み出し方法として第２の画像縮小部１５２による処理を選択し、第２の画像縮小処理を行わせる。これにより、（被写体）画像が第２の画像縮小処理に基づき縮小される。
【００６９】
ステップＳ１０５又はステップＳ１０６の処理が終了すると、ステップＳ１０７に進む。ステップＳ１０７に進むと、欠陥補正部１５４は、選択部１５３で選択された第１の画像縮小部１５１又は第２の画像縮小部１５２による縮小後の縮小画像に対して、欠陥画素の欠陥補正を行う。この場合、縮小後の縮小画像に対して、画素単位で欠陥補正処理が行われる。この際の欠陥補正方法としては、例えば、隣接画素の画素情報をもって充当する方法が挙げられる。
【００７０】
そして、欠陥補正部１５４により欠陥補正処理が行われた縮小後の縮小画像は、記憶部１６０に画像データ１６３として記憶される。その後、この画像データ１６３は、必要に応じて、不図示の画像処理部において診断に適した画像データに処理されてモニタ３００に表示されたり、プリンタ４００に出力されたり、或いは、ネットワーク５００を介して、外部に転送されたりする。
【００７１】
以上のステップＳ１０１〜ステップＳ１０７の処理を経ることにより、撮像部１２０で撮像された（被写体）画像に対して、第１の画像縮小部１５１による第１の画像縮小処理又は第２の画像縮小部１５２による第２の画像縮小処理を適宜選択して処理が行われる。
【００７２】
ここで、図５に示すフローチャートの特徴的な処理について以下に説明する。
ステップＳ１０３では、選択部１５３は、第１の画像縮小部１５１による縮小後の画像の欠陥画素数Ｎ１と第２の画像縮小部１５２による縮小後の画像の欠陥画素数Ｎ２とを比較し、欠陥画素数の少ない方の画像縮小部を選択するようにしている。
【００７３】
ただし、第１の画像縮小部１５１による第１の画像縮小処理は、第２の画像縮小部１５２による第２の画像縮小処理に比べて、撮影に係るフレームレートが遅くなる。即ち、駆動回路１２１で列方向に隣接する複数の画素の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めて加算（又は平均化）するより、読み出し回路１２４で行方向に隣接する複数の画素の画素情報を欠陥画素の画素情報を含めて加算（平均化）する方が低速である。そのため、ステップＳ１０４では、第１の画像縮小部１５１を用いた場合のフレームレートが、要求フレームレートを満たさない場合は、選択部１５３は、第２の画像縮小部１５２を用いた読み出しを選択するようにしている。即ち、この場合、選択部１５３は、第１の画像縮小部１５１又は第２の画像縮小部１５２を選択する際に、処理時間の短い方の画像縮小部を選択するようにしている。これにより、撮影に係るフレームレートの向上を更に図ることが可能になる。
【００７４】
また、ステップＳ１０３において、選択部１５３は、欠陥画素数Ｎ１と欠陥画素数Ｎ２とが同数である場合には、ステップＳ１０６において、第２の画像縮小部１５２を用いた読み出しを選択するようにしている。即ち、この場合、処理時間の短い（より読み出し速度の速い）方の第２の画像縮小部１５２を選択するようにしている。
【００７５】
なお、本実施形態においては、欠陥画素位置情報１６１の取得については特に制約は無いが、例えば、２次元センサ１２２の製造時における検査結果のデータを用いることや、Ｘ線を発生させずにテスト撮像を行って得られたデータを使用すること等が挙げられる。また、本実施形態においては、画像縮小処理の例として、２行×２列の画素における画素情報（電荷）を１つの画素の画素情報として縮小する処理（即ち、縮小単位を２行×２列の画素とする処理）について説明しているが、本発明においては、これに限定されない。例えば、４行×４列の画素や８行×８列の画素を縮小単位として縮小する処理を行う形態であっても適用可能である。ただし、縮小単位は、２次元センサ１２２の総行数の約数であることが望ましい。
【００７６】
以上説明したように、第１の実施形態のＸ線撮像装置１００では、撮像部１２０で撮像された（被写体）画像を縮小して読み出す際に、選択部１５３において、第１の画像縮小部１５１又は第２の画像縮小部１５２を選択するようにしている。
かかる構成によれば、フレームレートの向上を図ると共に、簡易な構成で画像の劣化を防止することを実現することができる。
【００７７】
具体的に、第１の実施形態のＸ線撮像装置１００では、選択部１５３において、縮小後の画像に欠陥画素数の少ない方の画像縮小部を選択するようにしている。これにより、より劣化の少ない高品質の画像を提供することができる。また、要求されるフレームレートが高い場合には、選択部１５３において、より処理速度の速い（より処理時間の短い）画像縮小部を選択するようにしている。これにより、高フレームレートが必要な撮影時にも対応が可能である。また、第１の実施形態のＸ線撮像装置１００では、単純な電気信号のアナログ的な加算（平均化）読み出しの前に、欠陥画素を除くための複雑なハード構成は必要とせず、簡易な回路構成で実現が可能である。
【００７８】
（第２の実施形態）
以下に、本発明の第２の実施形態について説明する。
第２の実施形態に係るＸ線撮像装置を含むＸ線撮像システムの概略構成については、図３に示す第１の実施形態に係るＸ線撮像装置を含むＸ線撮像システムと同様である。また
【００７９】
第１の実施形態では、選択部１５３において、２次元センサ１２２の全体として、第１の画像縮小部１５１による第１の画像縮小処理を行うのか、或いは、第２の画像縮小部１５２による第２の画像縮小処理を行うのかを選択する形態であった。これに対して、第２の実施形態では、選択部１５３において、２次元センサ１２２における複数の行ごとに、第１の画像縮小部１５１による第１の画像縮小処理を行うのか、或いは、第２の画像縮小部１５２による第２の画像縮小処理を行うのかを選択する。即ち、２次元センサ１２２に配置された複数の画素における画素情報の読み出し回路１２４による読み出し単位ごとに、第１の画像縮小部１５１による第１の画像縮小処理を行うのか、第２の画像縮小部１５２による第２の画像縮小処理を行うのかを選択する。
【００８０】
以下に、第２の実施形態に係るＸ線撮像装置１００の駆動方法について説明する。
図６は、本発明の第２の実施形態に係るＸ線撮像装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。なお、以下に示すフローチャートにおいては、読み出し回路１２４による読み出し単位として、２次元センサ１２２に配置された２行ごとの画素における画素情報の読み出しを行う場合の例について説明を行う。また、以下の説明においては、２次元センサ１２２に２次元行列状に配置された画素１２２０の行数ｍは、偶数であるものとする。
【００８１】
まず、図６のステップＳ２０１において、システム制御部１５０は、読み出し回路１２４による読み出し単位の番号を示す変数Ｍを０に設定する。これにより、読み出し単位の番号Ｍが設定される。
【００８２】
続いて、ステップＳ２０２において、システム制御部１５０は、本実施形態の読み出し回路１２４では２行ごとに画素情報の読み出しを行うため、読み出し単位の番号Ｍが、２次元センサ１２２の行数ｍ／２未満であるか否かを判断する。即ち、このステップＳ２０２では、２次元センサ１２２の画素の中に、未だ、読み出し回路１２４による読み出しが行われていない画素が存在するか否かが判断される。
【００８３】
ステップＳ２０２の判断の結果、読み出し単位の番号Ｍが、２次元センサ１２２の行数ｍ／２未満である場合には、２次元センサ１２２の画素の中に、未だ、読み出し回路１２４による読み出しが行われていない画素が存在すると判断し、ステップＳ２０３に進む。ステップＳ２０３に進むと、第１の画像縮小部１５１は、欠陥画素位置情報１６１を用いて、本撮影前の予備撮影にて撮像部１２０で撮像された画像における第２Ｍ＋１行及び第２Ｍ＋２行の画素に対して、上述した第１の画像縮小処理を行う。そして、第１の画像縮小部１５１は、第１の画像縮小処理による縮小後の画像であって、上述した第２Ｍ＋１行及び第２Ｍ＋２行の画素に対応する画像における欠陥画素数Ｎ１Mを、計算により取得する。
【００８４】
続いて、ステップＳ２０４において、第２の画像縮小部１５２は、欠陥画素位置情報１６１を用いて、本撮影前の予備撮影にて撮像部１２０で撮像された画像における第２Ｍ＋１行及び第２Ｍ＋２行の画素に対して、上述した第２の画像縮小処理を行う。そして、第２の画像縮小部１５２は、第２の画像縮小処理による縮小後の画像であって、上述した第２Ｍ＋１行及び第２Ｍ＋２行の画素に対応する画像における欠陥画素数Ｎ２Mを、計算により取得する。
【００８５】
続いて、ステップＳ２０５において、選択部１５３は、ステップＳ２０３で取得された欠陥画素数Ｎ１MとステップＳ２０４取得された欠陥画素数Ｎ２Mとを比較し、欠陥画素数Ｎ１Mが欠陥画素数Ｎ２M未満であるか否かを判断する。
【００８６】
ステップＳ２０５の判断の結果、欠陥画素数Ｎ１Mが欠陥画素数Ｎ２M未満である場合には、ステップＳ２０６に進む。ステップＳ２０６に進むと、選択部１５３は、被写体２００を撮影する本撮影にて撮像部１２０で撮像された（被写体）画像の第２Ｍ＋１行及び第２Ｍ＋２行の画素の読み出し方法として第１の画像縮小部１５１による処理を選択し、第１の画像縮小処理を行わせる。
【００８７】
一方、ステップＳ２０５の判断の結果、欠陥画素数Ｎ１Mが欠陥画素数Ｎ２M未満でない（以上である）場合には、ステップＳ２０７に進む。ステップＳ２０７に進むと、選択部１５３は、被写体２００を撮影する本撮影にて撮像部１２０で撮像された（被写体）画像の第２Ｍ＋１行及び第２Ｍ＋２行の画素の読み出し方法として第２の画像縮小部１５２による処理を選択し、第２の画像縮小処理を行わせる。
【００８８】
ステップＳ２０６又はステップＳ２０７の処理が終了すると、ステップＳ２０８に進む。ステップＳ２０８に進むと、システム制御部１５０は、読み出し回路１２４による読み出し単位の番号を示す変数Ｍに１を加算して、読み出し単位の番号Ｍを変更する。そして、変更した読み出し単位の番号Ｍに対して、ステップＳ２０２以降の処理を再度行う。
【００８９】
ステップＳ２０２の判断の結果、読み出し単位の番号Ｍが、２次元センサ１２２の行数ｍ／２未満でない場合には、２次元センサ１２２の全ての画素の画素情報を読み出し回路１２４で読み出したと判断し、ステップＳ２０９に進む。ステップＳ２０９に進むと、システム制御部１５０は、各読み出し単位ごとに第１の画像縮小処理又は第２の画像縮小処理がなされた縮小後の縮小画像を生成し、欠陥補正部１５４は、当該縮小画像に対して、欠陥画素の欠陥補正を行う。この場合、縮小後の縮小画像に対して、画素単位で欠陥補正処理が行われる。この際の欠陥補正方法としては、例えば、隣接画素の画素情報をもって充当する方法が挙げられる。
【００９０】
そして、欠陥補正部１５４により欠陥補正処理が行われた縮小後の縮小画像は、記憶部１６０に画像データ１６３として記憶される。その後、この画像データ１６３は、必要に応じて、不図示の画像処理部において診断に適した画像データに処理されてモニタ３００に表示されたり、プリンタ４００に出力されたり、或いは、ネットワーク５００を介して、外部に転送されたりする。
【００９１】
以上のステップＳ２０１〜ステップＳ２０９の処理を経ることにより、読み出し回路１２４による読み出し単位ごとに、第１の画像縮小部１５１による第１の画像縮小処理又は第２の画像縮小部１５２による第２の画像縮小処理を適宜選択して処理が行われる。
【００９２】
ここで、図６に示すフローチャートの特徴的な処理について以下に説明する。
ステップＳ２０５では、選択部１５３は、第１の画像縮小部１５１による縮小後の画像の読み出し単位における欠陥画素数Ｎ１Mと第２の画像縮小部１５２による縮小後の画像の読み出し単位における欠陥画素数Ｎ２Mとを比較するようにしている。そして、選択部１５３は、欠陥画素数Ｎ１Mと欠陥画素数Ｎ２Mとの比較の結果、欠陥画素数の少ない方の画像縮小部を選択するようにしている（ステップＳ２０６又はステップＳ２０７）。
【００９３】
また、ステップＳ２０５において、選択部１５３は、欠陥画素数Ｎ１Mと欠陥画素数Ｎ２Mとが同数である場合には、ステップＳ２０７において、第２の画像縮小部１５２を用いた読み出しを選択するようにしている。即ち、この場合、処理時間の短い（より読み出し速度の速い）方の第２の画像縮小部１５２を選択するようにしている。
【００９４】
なお、本実施形態においては、読み出し回路１２４による読み出し単位として２次元センサ１２２の２行ごととし、縮小単位を２行×２列の画素とする処理の例を説明したが、本発明においては、これに限定されない。例えば、縮小単位を４行×４列の画素として上記読み出し単位を２次元センサ１２２の４行ごととする形態や、縮小単位を８行×８列の画素として上記読み出し単位を２次元センサ１２２の８行ごととする形態であっても適用可能である。ただし、縮小単位は、２次元センサ１２２の総行数の約数であることが望ましい。また、読み出し単位を縮小単位に必ずしも合致させる必要は無く、例えば、読み出し単位を縮小単位の整数倍とする形態であってもよい。例えば、縮小単位２行×２列の画素とする場合、読み出し単位を２行ごと、４行ごと、６行ごと、・・・のように、整数倍とする形態であってもよい。
【００９５】
また、本実施形態では、読み出し単位に相当する複数行の選択は、２次元センサ１２２の上部から下部へ移動するものであるが、これに限定されるものでは無く、例えば、２次元センサ１２２の下部から上部へ選択をする形態であってもよい。
【００９６】
以上説明したように、第２の実施形態のＸ線撮像装置１００では、読み出し回路１２４による読み出し単位ごとに、選択部１５３において、第１の画像縮小部１５１又は第２の画像縮小部１５２を選択するようにしている。
かかる構成によれば、第１の実施形態のＸ線撮像装置による効果に加えて、縮小画像における欠陥画素の数をより少なくすることができ、より劣化の少ない画像を提供することができる。
【００９７】
前述した各実施形態に係るＸ線撮像装置１００を構成する図３の各手段（各構成部）、並びに当該Ｘ線撮像装置１００の駆動方法を示す図５及び図６の各ステップは、コンピュータのＲＡＭやＲＯＭなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び当該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明に含まれる。
【００９８】
具体的に、前記プログラムは、例えばＣＤ−ＲＯＭのような記憶媒体に記録し、或いは各種伝送媒体を介し、コンピュータに提供される。前記プログラムを記録する記憶媒体としては、ＣＤ−ＲＯＭ以外に、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、光磁気ディスク、不揮発性メモリカード等を用いることができる。他方、前記プログラムの伝送媒体としては、プログラム情報を搬送波として伝搬させて供給するためのコンピュータネットワーク（ＬＡＮ、インターネットの等のＷＡＮ、無線通信ネットワーク等）システムにおける通信媒体を用いることができる。また、この際の通信媒体としては、光ファイバ等の有線回線や無線回線などが挙げられる。
【００９９】
また、本発明は、コンピュータが供給されたプログラムを実行することにより各実施形態に係るＸ線撮像装置１００の機能が実現される態様に限られない。そのプログラムがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）或いは他のアプリケーションソフト等と共同して各実施形態に係るＸ線撮像装置１００の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。また、供給されたプログラムの処理の全て、或いは一部がコンピュータの機能拡張ボードや機能拡張ユニットにより行われて各実施形態に係るＸ線撮像装置１００の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。
【０１００】
また、前述した本実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０１】
【図１】本発明に係る第１の画像縮小処理の概念を示す模式図である。
【図２】本発明に係る第２の画像縮小処理の概念を示す模式図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮像装置を含むＸ線撮像システムの概略構成の一例を示す模式図である。
【図４】図３に示す撮像部の内部構成の一例を示す模式図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮像装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第２の実施形態に係るＸ線撮像装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０２】
１００：Ｘ線撮像装置
１１０：Ｘ線発生部
１１１：Ｘ線
１２０：撮像部（撮像手段）
１２１：駆動回路（副走査手段）
１２２：２次元センサ
１２２０：画素
１２２１：変換素子
１２２２：スイッチ素子
１２３：電源
１２４：読み出し回路（主走査手段）
１２４１：信号増幅回路
１２４２：サンプルホールド回路
１２４３：マルチプレクサ回路
１３０：読み出し制御部
１４０：Ａ／Ｄ変換部
１５０：システム制御部
１５１：第１の画像縮小部（第１の画像縮小手段）
１５２：第２の画像縮小部（第２の画像縮小手段）
１５３：選択部（選択手段）
１５４：欠陥補正部（欠陥補正手段）
１６０：記憶部（記憶手段）
１６１：欠陥画素位置情報
１６２：設定情報
１６３：画像データ
１７０：Ｘ線制御部
１８０：操作入力部
２００：被写体
３００：モニタ
４００：プリンタ
５００：ネットワーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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