(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線散乱解析を実施するために結晶を備えるサンプルを取り付けるための方法であって、
（ａ）少なくとも１つの結晶を含んでいる結晶ホルダ（４２）を提供するステップと、
（ｂ）前記結晶ホルダ（４２）を取り出すことができるツールを提供するステップと、
（ｃ）ロボット（２４）を利用して前記ツールを移動するステップと、
（ｄ）前記結晶が、Ｘ線ビームの経路にあるように、前記結晶ホルダ（４２）を取り付けるための位置決め装置（１２）を提供するステップと、
（ｅ）前記ツールが、前記結晶ホルダ（４２）を取り出し、さらに前記ツールが、前記結晶ホルダ（４２）における前記結晶を約１６０°Ｋを超えない温度に保つために十分な量の流体を受け、前記取り出した結晶ホルダ（４２）を前記位置決め装置（１２）に移送し、前記移送した結晶ホルダ（４２）を前記位置決め装置（１２）の上に取り付け、前記ツール内の流体によって冷却される前記取り出した結晶ホルダ（４２）における前記結晶が、約１６０°Ｋを超えない温度に保たれるように、前記ロボット（２４）を作動させるステップとを含む方法。
【請求項２】
前記結晶ホルダ（４２）が、ねじ山を利用して、前記位置決め装置（１２）に取り付けられる、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記取り出した結晶ホルダ（４２）における前記結晶が、大気から遮蔽されている、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
結晶を備えるサンプルを取り付けるための請求項１に記載の方法を実施できる機器であって、前記機器が、複数の結晶ホルダ（４２）を保持する保存セル（４４）を含むラック（２２）と、保存セル（４４）から結晶ホルダ（４２）を取り出すツールと、可動スピンドル（１４）に取り付けられた位置決め装置（１２）と、ロボット（２４）と、ロボット制御装置（２６）と、前記ロボット制御装置（２６）と通信する自動コンピュータ（２８）とを備え、前記ロボット（２４）が、多軸ロボット（２４）であり、結晶ホルダ（４２）を取り出す前記ツールが、取り出した結晶ホルダ（４２）における結晶を約１６０°Ｋを超えない温度に保つように構成されることを特徴とする機器。
【請求項５】
前記結晶ホルダ（４２）が、
（ａ）ベース（６２）と、
（ｂ）前記ベース（６２）からの取付け要素（６６）と、
（ｃ）結晶を保持するためのループ（７６）を支持し、前記取付け要素（６６）から突出しているステム（７４）と、
（ｅ）前記結晶ホルダ（４２）を通気することを可能にするための前記取付け要素（６６）における少なくとも１つのアパーチャ（７７）とを備え、前記結晶ホルダ（４２）を保存セル（４４）と位置決め装置（１２）の両方に取り付けることができることを特徴とする、請求項４に記載の機器。
【請求項６】
前記結晶ホルダ（４２）の前記ベース（６２）が、円柱の形状であり、好ましくは前記結晶ホルダ（４２）をサンプルラック（２２）にロックするためのノッチ（６０）を備える、請求項５に記載の機器。
【請求項７】
前記結晶ホルダ（４２）の前記取付け要素（６６）が、円柱の形状であり、好ましくはねじ切られている、請求項５に記載の機器。
【請求項８】
前記結晶ホルダ（４２）が、磁石（１２０）に引き付けられることが可能である、請求項５に記載の機器。
【請求項９】
保存セル（４４）から結晶ホルダ（４２）を取り出すための前記ツールが、
（ａ）保存セル（４４）から結晶ホルダ（４２）を取り出すことができる回転可能な要素と、
（ｂ）ロックモードにあるとき、回転の所与の方向に回転可能な要素を回転させるための回転手段と、
（ｃ）前記回転手段が、前記回転可能な要素に対してスリップしているとき、前記回転可能な要素と前記回転手段との間の制御された量の回転摩擦を用いて制御された量のトルクを提供するためのトルク制御手段と、
（ｄ）前記回転手段と前記トルク制御手段を作動させるための手段とを備えることを特徴とする、請求項４に記載の機器。
【請求項１０】
保存セル（４４）から結晶ホルダ（４２）を取り出すための前記ツールが、
（ａ）壁によって囲まれているボアを備え、円柱のハウジング（１０８）を有するクラッチ（９４）と
（ｂ）前記ハウジング（１０８）の前記ボア内において、軸方向に動くことができる円柱のプランジャ（１０６）とを備え、
（ｃ）前記プランジャ（１０６）が、外周囲上に少なくとも１つの細長い溝（１０４）を有し、前記溝（１０４）がスプリングピン（１０２）を受けることができ、
（ｄ）前記ハウジング（１０８）が、前記壁を通って延びる少なくとも１つのアパーチャを有し、
前記ツールがさらに、
（ｅ）前記アパーチャに保有されている少なくとも１つのスプリングピン（１０２）を備え、前記プランジャ（１０６）が前記ハウジング（１０８）の第１位置に配置されているとき、前記ピン（１０２）が、前記細長い溝（１０４）に係合することができ、前記スプリングピン（１０２）が、前記ハウジング（１０８）から外れることができ、
前記ツールがさらに、
（ｆ）前記プランジャ（１０６）を前記ハウジング（１０８）の前記第１位置に向けて弾性的に付勢するための前記ハウジング（１０８）における手段と、
（ｇ）出力フランジ（１００）と摩擦プレート（１１０）の間の摩擦を提供し、前記ハウジング（１０８）の内壁と接触している管状リング（１１４）と、
（ｈ）前記プランジャに取り付けられたシャフトとを備え、前記シャフトが前記摩擦プレート（１１０）にトルクを伝達することができ、前記シャフトが、さらに、摩擦プレート（１１０）に関して軸方向に動くことができることを特徴とする、請求項４に記載の機器。
【請求項１１】
さらに、前記ツールが、入力フランジ（９８）に対して前記出力フランジ（１００）の軸方向弾性コンプライアンスを提供するための手段を含む、請求項１０に記載の機器。
【請求項１２】
結晶ホルダ（４２）を保持する前記ラック（２２）の各保存セル（４４）が、ベース（４６）と開口とを有し、前記開口の領域が、前記ベース（４６）の領域より大きく、少なくとも１つの側壁が、前記ベース（４６）と前記開口との境界をなし、前記ベース（４６）が、サンプルホルダ（４２）を配置することを可能にするように十分な領域であり、前記開口が、前記結晶ホルダを取り出すためのツールに進入することを可能にするように十分な領域であり、前記ベース（４６）が、前記結晶ホルダ（４２）を前記ラック（２２）にロックするための手段に取り付けられていることを特徴とする、請求項４に記載の機器。
【請求項１３】
前記結晶ホルダ（４２）を前記ラック（２２）にロックするための前記手段が、ロックピン（５６）であることを特徴とする、請求項１２に記載の機器。
【請求項１４】
保存セル（４４）から位置決め装置（１２）へ結晶ホルダ（４２）を取り出す前記ツールが、第１端と第２端を有する細長い要素を備え、前記第１端をロボット（２４）に連結することができ、前記第２端を前記結晶ホルダ（４２）に結合することができ、前記第２端が前記結晶ホルダ（４２）に結合されているとき、前記ツールが、約１６０°Ｋより高くない温度に前記結晶ホルダ（４２）の結晶を保つことができることを特徴とする、請求項４に記載の機器。
【請求項１５】
保存セル（４４）から位置決め装置（１２）へ結晶ホルダ（４２）を取り出す前記ツールが、第１端と第２端を有する細長い要素を備え、前記第１端をロボット（２４）に連結することができ、前記第２端を前記結晶ホルダ（４２）に結合することができ、前記第２端が前記結晶ホルダ（４２）に結合されているとき、前記ツールが、周囲の空気から前記結晶ホルダ（４４）を遮蔽することができることを特徴とする、請求項４に記載の機器。
【請求項１６】
さらに、空気が前記ツールから逃げることを可能にするベント（８０）を含む、請求項１４または１５に記載の機器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
発明の背景
１．発明の分野
本発明は、Ｘ線結晶学に関し、特に、Ｘ線結晶解析のために、サンプルを取付けおよび位置合わせするための方法および装置に関する。
【０００２】
２．従来の議論
Ｘ線結晶学は、結晶における分子の外観について３次元表示を提供するために確立され、よく研究された技術である。科学者は、Ｘ線結晶学を使用して、多くの分子の結晶構造を決定してきた。
【０００３】
Ｘ線結晶解析を実施するために、結晶のサンプルを位置決め装置上に取り付け、次いで、結晶全体がＸ線ビームの直径内にあるように慎重に位置合わせし、Ｘ線回折データをいくつかの回転角で収集しなければならない。結晶の典型的なサイズとＸ線ビームの直径は、１００から４００マイクロメートルの範囲にあるので、位置合わせには、高い精度が必要とされる。さらに、結晶の完全性を保証するために、結晶は、取付け、位置合わせ、およびデータ収集の全プロセス中、液体窒素下に保存され、液体窒素の温度に近い温度に保たれなければならない。現在、サンプルの取付けと位置合わせは、手作業で行われている。
【０００４】
通常のＸ線結晶学の装置は、Ｘ線発生装置、検出器、および上に位置決め装置の精細な調節可能なヘッドが取り付けられている回転スピンドルを備える。検出器によって収集された未加工の回折データは、処理のためにコンピュータに入力される。位置決め装置のヘッドにより、互いに直交し、かつスピンドルの軸に対して垂直である２つの軸について、精密に調節することが可能になる。また、位置決め装置のいくつかのヘッドは、１つまたは複数の軸について角度を調節することを見込んでいる。調節の第３軸は、位置決め装置のヘッドの２つの軸に直交する方向に、回転スピンドルを並進させることによってもたらされる。位置決め装置のヘッドのサンプル取付け位置は、取り付けたときに、サンプルが、Ｘ線ビームの中心線の付近にあるように配置される。ＣＣＤカメラが、取り付けたサンプルの拡大画像を、ビデオのモニタ上に表示することができるように取り付けられている。ビデオディスプレイ上の十字線は、Ｘ線ビームの中心とスピンドルの軸との交点に相当する、サンプルの望ましい位置を示す。取り付けた後にサンプルを十分低温に保つために、低温窒素ガスの流れが、サンプルの取付け位置に向けられる。
【０００５】
サンプルを手作業で取り付けおよび位置合わせするための手順について、以下で説明する。オペレータは、サンプルを流体窒素の小さなキャニスタの中に配置し、次いで、キャニスタを位置決め装置のヘッド上のサンプル取り付け位置の近くまで移動させる。可能な限り迅速に、オペレータは、サンプルを取り出し、それを位置決め装置のヘッドの上に取り付ける。モニタのビデオ画像を使用して、オペレータは、サンプルが、Ｘ線ビームとスピンドル軸の内側の中心に配置されるまで（ビデオディスプレイ上の十字線によって示される）、「Ｘ」、「Ｙ」、および「Ｚ」軸を制御する調整ねじを回転させる。サンプルが中心に配置された後、Ｘ線回折によって、サンプルの解析を開始する。手順については、参照によって本明細書に組み込まれる、Ｇａｒｍａｎ他による「Ｍａｃｒｏｍｏｌｅｃｕｌａｒ  Ｃｒｙｏｃｒｙｓｔａｌｌｏｇｒａｐｈｙ」、Ｊ．Ａｐｐｌ．Ｃｙｓｔ．（１９９７）３０．２１１−２３７に詳細に記述されている（以後「Ｇａｒｍａｎ他」）。
【０００６】
Ｇａｒｍａｎ他によれば、極低温において高分子結晶からＸ線回折データを収集するための手作業の手順には、多くの問題が含まれている。Ｇａｒｍａｎによれば、極低温のデータ収集を開始するための必要条件は、信頼性のあるクライオスタット、不凍環境を保つ能力、いくつかの結晶取付け設備、十分な数の結晶、およびオペレータ側における滑らかで迅速な動作のためのある程度の手作業の器用さである。極低温結晶データ収集の重要な部分は、結晶を取り付ける方法と、それに関連するハードウエアである。高分子結晶は、小さな分子と比較して、特別な処理を必要とするが、その理由は、高分子結晶は、約５から７０％の範囲にわたる液体含有率を有するからである。現在最も広く使用されている技術は、ループ方法であり、この方法では、ループを使用して、凍結防止バッファの薄膜の状態で表面張力によって結晶を取付ける。第１ループは、金メッキしたタングステンのワイヤで作成された。これらの金属ループは、髪、ガラスファイバ、ナイロン、レーヨン、フライフィッシング用糸、ワックス処理していないデンタルフロス、コットン、外科用糸、およびモヘアウールなど、金属と同程度にＸ線を吸収および散乱しない、様々な細い（直径１０−５０μｍ）ファイバから作成されたループによって置き換えられた。
【０００７】
ループ支持ピンを位置決め装置のヘッドに接続するいくつかの方法が存在する。２つの広く使用されている方法は、ピンを直接位置決め装置のヘッドの孔に挿入し、磁石を位置決め装置のヘッドに取り付け、磁気ピンホルダがヘッドに引き付けられて、堅く固定されるというものである。
【０００８】
ループに取り付けられた膜からの蒸発は、表面積対体積比が大きいので、非常に迅速である。したがって、極低温結晶実験においてもっとも重要なパラメータの一つは、結晶を拾い上げてからそれをフラッシュ冷却する間の時間である。この時間は、可能な限り短くあるべきであり、１秒以下であることが理想的である。そうでない場合、結晶が脱水状態になることや、バッファの構成要素が凝結することがある。Ｇａｒｍａｎ他によれば、後の滑らかで迅速な動作を保証するために、ループに何もない状態で、すべての操作と動きについて、何度か予行練習を行うべきである。ループ内の結晶を見るために時間を浪費するべきでないが、その理由は、空のループをフラッシュ冷却することは、結晶が実際にループに存在するかをチェックすることを停止することによって、冷却前に結晶を失うことより有害でないからである。
【０００９】
ほとんどのたん白質の結晶にとって、ガス流におけるフラッシュ冷却は、完全に適切であり、最も安全で最も簡単な選択肢を表す。実用的な観点から、ガス流フラッシュ冷却では、まず、結晶が捕獲されたという「フィッシャー（ｆｉｓｈｅｒ）」信号後すぐに、上に１枚のカードを保持することによって、低温ガス流をそらすことができる第２のオペレータが存在することが有用である。結晶が配置された後は、カードは速やかに取り除かれ、迅速で再現可能な冷却を保証する。経験のある極低温結晶学者は、自分自身で低温ガス流をそらす傾向があるか、または結晶を位置決め装置のヘッド上に配置する間、まったく低温ガス流をそらさず、成功するか否かは、その動作の迅速さと確かさに依存する。
【００１０】
極低温技術を使用し始めた実験者が経験する最も一般的な困難は、結晶の周囲、付近、上、および／または内の氷である。氷が結晶の周囲に形成されるのにはいくつかの理由がある。極低温ノズルの端部は、結晶から非常に遠く配置されている可能性がある。低温窒素ストリームの温度プロファイルは、非常に尖鋭なので、極低温ノズルの端部は、可能な限り近くにあるべきである（温度は、ほとんどのオープンフローシステムに対して、数ミリメートルで、１００°Ｋから室温まで上昇する）。さらに、ノズルからさらに遠くなると、ガス流は散逸し、したがって、乱流および通風の影響をより受けやすくなる。極低温ノズルを結晶の近くに配置することにより、Ｘ線検出器上に影ができる場合、流れの進入の角度を変えることを考えるべきである。これが不可能であることが立証された場合、データ処理中に、影をマスクすることができる。
【００１１】
しばしば生じる疑問は、結晶への低温流の最適な入射角に関する。これは、通風のない慎重にモニタリングされた実験では重要なファクタではない。しかし、ほとんどの低温流は、ガスが下方に流れる場合、より良好に動作する。また、実験上の制約を考慮しなければならない。例えば、結晶を保存するために、極低温バイアルアクセスが可能であるように、十分な空間が利用可能でなければならない。
【００１２】
一般に、氷が形成される主な理由は、低温ガスと温かい同軸流との間、および温かい同軸流と室内の温かい湿った空気との間の境界における乱流である。これを防止し、望ましい層流を可能にするために、低温ガスと温かい乾燥ガスの流速は、整合されていなければならない。流れを整合させるために、２つのガス流の相対領域を計算し、したがって、比をスケールすることができる。
【００１３】
たん白質、ＤＮＡ、ＲＮＡ、およびウィルスを含むが、これに限定されない生物分子の多くのクラスは、Ｘ線結晶学によって研究することができる。科学者は、レセプタ内の配位子、すなわちレセプタ配位子複合体を搬送する分子の結晶構造について報告している。
【００１４】
対象分子または配位子レセプタ複合体の表示が与えられると、科学者は、生物学的行動を行うことができるポケットまたはレセプタを探索することができる。次いで、科学者は、実験によりまたは計算により、レセプタに対し親和力の高い配位子（またはドラッグ）を設計することができる。計算による方法は、代替として、小さな分子が結合することを遮蔽するために使用された。しかし、これらの以前の試みは、成功が限られていた。いくつかの問題は、計算法による配位子の設計にとって厄介であった。計算による法は、結合エネルギーの正確な決定ではなく、推定に基づいており、生物分子内に存在する複雑な相互作用と比較して、簡単な計算に依存している。さらに、計算モデルは、実験による確認を必要とするが、これは、しばしば、モデルが、実際の標的については作用しない偽肯定であることを暴露する。
【００１５】
標的を結合する能力のために、Ｘ線結晶学を使用して、標的生物分子の未知の配位子である化合物を遮蔽することができることが、最近見出された。この方法は、標的生物分子の結晶を獲得するステップと、標的を標的の潜在的な配位子である１つまたは複数の試験サンプルに暴露するステップと、配位子／生物分子の複合物が形成されたかを決定するステップとを含む。標的は、結晶を１つまたは複数の潜在的な配位子の溶液に浸す、または１つまたは複数の潜在的な配位子が存在する状態で生物分子を共結晶させることを含むが、これに限定されない様々な方法によって、潜在的な配位子に暴露される。見つけられた配位子レセプタ複合体からの構造情報を使用して、知られている配位子より、密接に結合し、特定して結合し、より良好な生物学的行動を有し、または、より安全なプロファイルを有する新しい配位子を設計することができる。
【００１６】
この新規な方法によれば、結晶形態を有する標的分子に対する配位子は、小さな分子のライブラリを、単独でまたは混合して、標的（たん白質、核酸など）に暴露することによって識別される。次いで、結晶データを獲得して、推定した標的配位子複合物の電子密度マップを、標的生物分子の電子密度マップと比較する。電子密度マップは、同時に、配位子結合の直接的な証拠、結合された配位子の識別、および配位子標的複合物の詳細な３次元構造を提供する。また、結合は、活性部位において配位子結合に対して感受性のあることが知られている、結晶回折パターン内における個々の反射の変化によってモニタリングすることが可能である。これは、予備遮蔽として役立つことができるが、より詳細でない構造情報を提供するので、選択の主要な方法ではない。
【００１７】
結晶に追加されたまたは共結晶における配位子濃度の関数として、配位子電子密度のレベルの変化、または回折パターンにおけるある反射の強度の変化を観測することによって、生物分子に対する配位子の結合親和力を決定することも可能である。また、結合親和力は、競合実験によって獲得することも可能である。ここで、新しい化合物を浸漬するか、または知られている結合親和力の一連の多様な形状の配位子の１つと共結晶させる。知られている配位子が電子密度マップに出現する場合、未知の配位子は、より弱い結合剤である。しかし、新しい化合物の１つが部位と競合することが見つけられる場合、より強力な結合剤である。知られている配位子の濃度または同一性を変化させることによって、ヒットに対する結合定数を推定することが可能である。
【００１８】
遮蔽は、標的分子を、何千という単独または混合した化合物に暴露することを必要とする。Ｘ線結晶学による遮蔽は、多くの結晶を実験することを必要とし、これには、１日あたり２４時間操作する日が何日も続くことがある。そのような徹底的な遮蔽は、Ｘ線器具上に結晶を取り付け、および結晶をＸ線ビームに位置合わせするための、自動システムによってのみ達成することができる。
【００１９】
極低温技術を使用することにより、結晶学者に多くの利点がもたらされる。１つの利点は、極低温において結晶への放射損失が大きく低減されることにより、結晶学者に、インハウスのソースに関し事実上無限の結晶寿命が与えられ、シンクロトロンに関し、非常に延長された寿命が与えられることである。極低温データ収集の他の利点は、使用する結晶取付け方法が機械的により優しく、より少ないサンプルの取扱いを含むことである。この技術の第３の利点は、フラッシュ冷却した結晶のインハウス遮蔽の容易さと、結晶を保存および輸送する可能性である。
【００２０】
極低温技術を使用することに関する主な問題は、サンプルを取り付け、データを収集する訓練されたオペレータが非常に高価なことである。したがって、訓練されたオペレータが存在することを必要とせずに、Ｘ線結晶データを自動的に収集するための方法を開発することが望ましい。
【００２１】
シンクトロンＸ線放射は、小さい分子および高分子など、すべてのタイプの分子の結晶を実験するために、非常に一般的なＸ線源となった。シンクロトロンでは、特定の強度のＸ線が利用可能なので、サンプルを極低温に冷却することは、通常望ましく、しばしば必要である。強力なＸ線は、しばしば数分など、データ収集時間を大きく低減するが、安全面の問題ために、サンプルのローディングは複雑になり、したがって、結晶の取付けとＸ線ビームに対する位置合わせのステップは、しばしば、データ収集ステップと同程度またはそれより長くなる。これらの取付けおよび位置合わせのステップの持続期間は、構築および動作することが非常に要求されかつ高価である、シンクロトロンビームラインを使用する際に、著しく効率を低下させることになる。結晶サンプルをＸ線器具上に取り付け、結晶サンプルをＸ線ビームに正確に位置合わせするための自動装置は、サンプルをロードするために必要な時間を著しく低減し、非常に多くのサンプルを実験するプロセスを大きく加速する。したがって、自動装置は、シンクロトロンビームラインを使用する際に、効率を著しく増大することを達成する。
【００２２】
発明の概要
一態様では、本発明は、Ｘ線結晶学解析のための結晶を備えるサンプルを取り付けるための方法を提供し、該方法は、
（ａ）少なくとも結晶を含んでいる結晶ホルダを提供するステップと、
（ｂ）ロボットによって可動であり、結晶ホルダを取り出すことができるツールを提供するステップと、
（ｃ）結晶がＸ線ビームの経路にあるように、結晶ホルダを取り付けるための位置決め装置を提供するステップと、
（ｄ）ツールが結晶ホルダを取り出し、取り出した結晶ホルダを位置決め装置に移送し、移送した結晶ホルダを位置決め装置の上に取り付けるように、ロボットを作動させるステップとを含む。
【００２３】
他の態様では、本発明は、Ｘ線結晶解析のために結晶を備えるサンプルを位置合わせするための方法を提供し、このサンプルは、位置決め装置の上に取り付けられる。該方法は、
（ａ）位置決め装置の上に取り付けるサンプルを提供するステップと、
（ｂ）取り付けたサンプルを見ることができる装置を提供し、それにより、装置が、前記取り付けたサンプルを撮像し、基準位置に対するサンプルの座標を決定することができるステップと、
（ｃ）位置決め装置を３つの直交軸に沿って線形に調節し、かつ３つの軸の１つの回りに回転させて調節するためのパワー源を提供するステップと、
（ｄ）パワー源を作動させて、サンプルがＸ線ビームの経路に配置されるように、位置決め装置を調節し、サンプルが回転調節の任意の角度においてＸ線ビームに配置されるように、位置決め装置の調節が、複数の角度において行われるステップとを含む。
【００２４】
さらに他の態様では、本発明は、Ｘ線結晶学による結晶を含んでいるサンプルの構造を決定するための方法を提供し、該方法は、
（ａ）少なくとも結晶を含んでいる結晶ホルダを提供するステップと、
（ｂ）ロボットによって可動であり、結晶ホルダを取り出すことができるツールを提供するステップと、
（ｃ）結晶がＸ線ビームの経路にあるように、結晶ホルダを取り付けるための位置決め装置を提供するステップと、
（ｄ）ツールが結晶ホルダを取り出し、取り出した結晶ホルダを位置決め装置に移送し、移送した結晶ホルダを位置決め装置の上に取り付けるように、ロボットを作動させるステップと、
（ｅ）取り付けたサンプルを見ることができる装置を提供し、それにより、装置が、前記取り付けたサンプルを撮像して、基準位置に対するサンプルの座標を決定することができるステップと、
（ｆ）位置決め装置を３つの直交軸に沿って線形に調節し、かつ３つの軸の１つの周りに回転させて調節するためのパワー源を提供するステップと、
（ｇ）パワー源を作動させて、サンプルが、Ｘ線ビームの経路に配置されるように、位置決め装置を調節し、サンプルが、回転調節の任意の角度においてＸ線ビームに配置されるように、位置決め装置の調節が、複数の角度において行われるステップと、
（ｈ）サンプルに向けられるＸ線ビームを提供するステップと、
（ｉ）サンプルからのＸ線の散乱を記録するステップとを含む。
【００２５】
さらに他の態様では、本発明は、
（ａ）ベースと、
（ｂ）ベースから突出している取り付け要素と、
（ｃ）結晶を保持するためのループを支持し、取り付け要素から突出しているステムと、
（ｄ）装置を曲げることを可能にするための取付け要素における少なくとも１つのアパーチャとを備え、装置を保存セルと位置決め装置の両方に取り付けることができる、装置を提供する。
【００２６】
さらに他の態様では、本発明は、
（ａ）保存セルから結晶ホルダを取り出すことができる回転可能な要素と、
（ｂ）回転手段がロックモードにあるとき、回転の所与の方向に回転可能な要素を回転させる手段と、
（ｃ）回転手段が、回転要素に対してスリップしているとき、制御されたトルクの量を提供するための手段と、
（ｄ）回転手段とトルク制御手段を作動させるための手段とを備える、保存セルから結晶ホルダを取り出すための装置を提供する。
【００２７】
好ましい実施形態では、保存セルから結晶ホルダを取り出すための装置は、
（ａ）ハウジングが壁によって囲まれたボアを備え、円柱のハウジングを有するクラッチと、
（ｂ）ハウジングのボア内で軸方向に動くことができる円柱のプランジャとを備え、
（ｃ）プランジャが、外周囲上に少なくとも１つの細長い溝を有し、溝がロックピンを受けることができ
（ｄ）ハウジングが、壁を通って延びる少なくとも１つのアパーチャを有し、
装置がさらに、
（ｅ）アパーチャに保有されている少なくとも１つのスプリングピンを備え、プランジャがハウジングの第１位置に配置されているとき、ピンが細長い溝に係合することができ、プランジャがハウジングの第２位置にあるとき、ピンが細長い溝から外れることができ、
装置がさらに、
（ｆ）プランジャをハウジングの第１位置に向けて弾性的にバイアスするためのハウジングにおける手段と、
（ｇ）出力フランジと摩擦プレートとの間に摩擦を提供し、ハウジングの内壁と接触している摩擦プレートと、
（ｈ）プランジャに取り付けられているシャフトとを備え、該シャフトが、トルクを摩擦プレートに伝達することができ、さらに、摩擦プレートに対して軸方向に動くことができる。
【００２８】
さらに他の態様では、本発明は、複数のサンプルを保持するための装置を提供する。この装置は、複数の保存セルを備える。この装置は、サンプルの温度を、約１６０°Ｋより高くない温度に保つことができる。保存セルの各々は、誘導通路を有する。誘導通路は、その下端にベースを有し、その上端に開口を有する。開口の領域は、ベースの領域より大きい。少なくとも１つの側壁は、ベースと開口の境界をなす。ベースは、サンプルホルダを配置することを可能にするのに十分な領域である。開口は、サンプルホルダを取り出すためのツールが進入することを可能にするのに十分な領域である。ベースは、それに取り付けられているサンプルホルダをサンプル保持装置にロックする手段を有する。また、装置は、ロボットによって動かすことができるリッドを装備することが可能である。
【００２９】
また、本発明は、本明細書で記述する方法を実施するための様々なツールおよび補助装置を提供する。
【００３０】
本発明は、Ｘ線結晶学の従来の方法と比較して、多くの利点を提供する。第１に、本発明は、結晶のＸ線解析を実施するのに必要な訓練されたオペレータの数を減らすことが可能である。第２に、本発明は、オペレータが存在することを必要とせずに、結晶を解析することを可能にする。第３に、本発明は、Ｘ線結晶学の解析速度を高め、それにより、解析のスルーアウトを増大することを可能にする。第４に、本発明は、サンプルの取扱いを規格化し、オペレータによるエラーの可能性を低減することを可能にする。また、本発明は、１日あたり２４時間、１週間あたり７日のデータ収集を容易にし、それにより、高価なＸ線結晶学設備の使用を増大する。さらに、本発明は、データを収集した後、結晶サンプルの取り出しと保存を容易にし、それにより、後日サンプルを再解析することを可能にする。
【００３１】
詳細な説明
本明細書で使用するとき、「ロボット」という用語は、自動的にまたは遠隔制御によって作用する機械または装置を意味する。本明細書で使用するとき、「結晶」という用語は、Ｘ線を回折させることができる分子の配列されたアレイを意味する。本明細書で使用するとき、「サンプル」という用語は、結晶を保持するための装置のループに含まれている結晶を指す。
【００３２】
図１を参照すると、本発明を実施するためのシステム１０は、Ｘ線発生装置（図示せず）、回転スピンドル１４の上に取り付けられたゴニオメータなどの位置決め装置１２、器具ベース１６、ＣＣＤカメラ１８、絶縁コンテナ２０、サンプルラック２２、多軸ロボット２４、ロボット２４のための制御装置２６、自動コンピュータ２８、データ収集コンピュータ３０、少なくとも１つのモータ制御装置３２、検出器３４、低温流ノズル３６、低温流アクチュエータ３８、および主軸に沿ってスピンドル１４を並進させるためのモータ４０を含む。コンピュータ２８と３０は、個別の構成要素として示されているが、単一のユニットに組み合わせることができる。また、システム１０は、液体窒素を絶縁コンテナ２０に補充するための自動システム４１を含む。そのような補充システムは、Ｘ線結晶学の当業者にはよく知られている。Ｘ線結晶学のための回折計システムのための構成要素に関する概略は、参照によって本明細書に組み込まれる、Ｋｉｒｋ−Ｏｔｈｍｅｒ  Ｅｎｃｙｃｌｏｐｅｄｉａ  ｏｆ  Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ、Ｆｏｕｒｔｈ  Ｅｄｉｔｉｏｎ、Ｖｏｌｕｍｅ２５、Ｊｏｈｎ  Ｗｉｌｅｙ＆Ｓｏｎｓ（Ｎｅｗ  Ｙｏｒｋ：１９９８）、ページ７４２−７５９に見出すことができる。上記の文献は、Ｘ線管、検出器、ゴニオメータ、および通常Ｘ線結晶学に関連付けられている他の構成要素など、様々な構成要素について記述している。
【００３３】
ここで、図２、３、４、５、および６を参照すると、液体窒素が充填されている絶縁コンテナ２０は、Ｘ線発生装置の近くに配置されている。１つまたは複数の結晶サンプルを保持しているサンプルラック２２は、サンプルが液体窒素に浸漬するように、絶縁コンテナ２０に取り付けられている。結晶サンプルが結晶ホルダ４２の上に取り付けられた後、サンプルラック２２を使用して、結晶サンプルを保存する。サンプルラック２２は、約１６０°Ｋより高くない温度にあることが好ましい、液体窒素の層の下でサンプルを保つように構成されている。サンプルラック２２は、人間のオペレータまたはより効率的にロボット２４によって、結晶ホルダ４２の挿入と取り出しを行うように構築されている。サンプルラック２２は、保存セル４４のアレイを備え、各保存セル４４は、１つの結晶ホルダ４２を保持することができる。各保存セル４４は、磁気ベース４６と、保存セル４４の上端５２における保存セル４４の開口５０から保存セル４４の下端５４における磁気ベース４６まで至る誘導通路４８とを備える。誘導通路４８は、保存セル４４の上端５２から保存セル４４の下端５４まで延びる壁５５が境界となっている。サンプルラックは、金属で構築されていることが好ましい。また、サンプルラックにリッド（図示せず）を装備することが可能である。この選択的なリッドは、保存セル４４の結晶ホルダ４２にアクセスすることを可能にするために、ロボットによって動かすことができる。
【００３４】
誘導通路４８は、保存セル４４の上端５２における開口５０が、保存セル４４の下端５４におけるベース４６より大きな領域を有するように構築されることが好ましい。この種の構築により、結晶ホルダ４２を保存セル４４に導入することが容易になる。
【００３５】
磁気ベース４６の目的は、結晶ホルダ４２が、ロボット２４または人間のオペレータによって保存セル４４内に挿入された後、磁気吸引力によって、保存セル４４の下端５４に結晶ホルダ４２を保有することである。結晶ホルダ４２は、磁気により強磁性材料に引き付けられる材料で作成されていることが好ましい。磁気ベース４６の強磁性材料５８から径方向外向きに延びているピン５６は、結晶ホルダ４２のベース６２にノッチ６０を係合させて、結晶ホルダ４２と磁気ベース４６との間の相対的な回転を防止する。誘導通路４８は、結晶ホルダ４２が保存セル４４内に挿入されているとき、人間のオペレータまたはロボット２４の動きを誘導する。さらに、誘導通路４８は、人間のオペレータが結晶ホルダ４２を挿入または取り出しているとき、付近のサンプルを損傷から保護する。この特性は、人間のオペレータの場合に特に重要であるが、その理由は、サンプルラック２２が液体窒素で充填されているとき、視界が制限されるからである。
【００３６】
結晶ホルダ４２は、鋼鉄など、強磁性材料から製造されることが好ましい。強磁性材料を使用することにより、位置決め装置１２の端部６４とサンプルラック２２の保存セル４４の磁気ベース４６とに取り付けられている磁気マウント６３に、結晶ホルダ４２を確実に取り付けることが可能になる。結晶ホルダ４２の取り付け要素６６は、結晶ホルダ４２のベース６２から突出している。取り付け要素６６は、標準的な雄ねじ山６７でねじ切られている。取り付け要素６６は、ロボットツール７２の端部７０内に組み込まれている結合雌ねじ山６８に取り付けることができる。そのような取り付けねじ手段は好ましいが、その理由は、サンプルが液体窒素に浸漬されているとき、サンプルに対して効率的な取り出し方法を提供するからである。ステム７４が、結晶ホルダ４２の取り付け要素６６から突出しており、ステムの端部に、結晶サンプルを保持するためのループ７６が配置されている。取り付け要素６６は、液体窒素が結晶ホルダ４２を流れることが可能であるように、内部に形成されたアパーチャ７７を有することが好ましい。
【００３７】
多軸ロボット２４は、絶縁コンテナ２０の付近および位置決め装置１２の到達範囲内に取り付けられている。図７および８を参照すると、ロボット２４は、本明細書ではロボットツール７２と呼ぶ延長部を有し、これは、結晶ホルダ４２の雄ねじ山６７と結合するための雌ねじ山６８を含む。ロボットツール７２は、サンプルラック２２から、サンプルを含む結晶ホルダ４２を取り出し、結晶ホルダ４２をデータ収集のために位置決め装置１２の上に挿入することができる。また、ロボットツールは、位置決め装置１２から結晶ホルダ４２を取り出し、結晶ホルダ４２を保存のためにサンプルラック２２に挿入することができる。ロボットツール７２は、サンプルを移送している短時間中、液体窒素の温度に近い極低温、すなわち約１６０°Ｋを超えない温度に、サンプルを保つように構成されている。また、ロボットツール７２は、結晶ホルダ４２がロボットツール７２と一体型であるとき、大気からサンプルを遮蔽するように構成されている。また、ロボット２４は、結晶ホルダ４２とロボットツール７２が共にねじ留められるように、結晶ホルダ４２をロボットツール７２の端部７０と接触させ、ロボットツール７２を時計回りに回転させることによって、結晶ホルダ４２を取り出すことができる。
【００３８】
結晶ホルダ４２をつかむために使用する前に、ロボットツール７２を液体窒素の温度に近い温度まで冷却するために、ロボットツール７２は、短時間（通常２０秒）液体窒素に浸漬される。ロボットツール７２の本体８２にあるベントアパーチャ８０により、液体窒素がロボットツール７２の内部空洞８４を充填する際に、空気がロボットツール７２の内部空洞８４から逃げることが可能になる。ロボットツール７２と結晶ホルダ４２が結合されているとき、結晶サンプルは、内部空洞８４の内側の液体窒素と、ロボットツール７２の内部空洞８４を取り囲んでいる低温金属壁８６とによって、低温に保たれている。液体窒素は、ロボットツール７２とそれに取り付けられている結晶ホルダ４２が、液体窒素に浸漬されているとき、結晶ホルダ４２のアパーチャ７７を通って、ロボットツール７２の内部空洞８４内に流れる。
【００３９】
位置決め装置１２は、それぞれステッパモータ８８と９０を介してＸ軸とＹ軸に沿って並進可能であり、Ｘ線回折器具の上にある回転スピンドル１４の上に取り付けられている。また、位置決め装置１２は、ステッパモータ４０によって、Ｚ軸に沿って並進可能である。定位置センサ（図示せず）は、随時、基準位置を見つけることができるように、Ｘ軸、Ｙ軸、およびＺ軸の並進に組み込まれる。Ｘ軸、Ｙ軸、およびＺ軸の並進に対するステッパモータと定位置センサは、自動コンピュータ２８と通信しているモータ制御装置３２に接続されている。スピンドル１４の回転は、自動コンピュータ２８によって伝達されるコマンドによって、同様の方式で制御される。多軸ロボット２４の動きは、やはり自動コンピュータ２８と通信しているロボット制御装置２６によって制御される。ＣＣＤカメラ１８からのビデオ出力は、自動コンピュータ２８と接続されているフレームグラッバビデオカード（図示せず）に入力される。通信接続は、自動コンピュータ２８と別のデータ収集コンピュータ３０との間に提供されている。自動システムの動作について、以下で説明する。
【００４０】
動作
本発明の動作は、結晶ホルダに含まれているサンプルを、保存領域から取り出し、取り出したサンプルを位置決め装置の上に取り付け、データを収集する前に、取り付けたサンプルを位置合わせし、データを収集し、サンプルを保存領域に戻すことを含む。
【００４１】
オペレータは、解析するサンプルの識別番号を「入力」し、適切なコマンドをデータ収集コンピュータ３０に入力することによって、自動プロセスを開始させる。これ以後、オペレータの介入は必要とされない。
【００４２】
ロボット制御装置２６内に記憶されたプログラムが起動され、ロボット２４は、絶縁コンテナ２０に配置されているサンプルラック２２からサンプルを取り出す。ロボットツール７２は、サンプルが液体窒素に浸漬されている間、ロボット２４がサンプルをつかむことを可能にする。次いで、サンプルラック２２からサンプルを引き出し、すぐに、位置決め装置１２の端部６４の上にある磁気マウント６３の上に据え付ける。
【００４３】
ロボットツール７２が、結晶ホルダ４２に配置されているサンプルを確実につかみおよび放すために、ロボット２４の回転ステージ９６とロボットツール７２の間で接続されているクラッチ９４を使用する。クラッチ９４は、図１０と１１に詳細に示されている。一般に、クラッチは、多くの構成のいずれかを有することができるが、最小限、一般的な意味で、クラッチ９４は、
（ａ）保存セルから結晶ホルダを取り出すことができる回転可能な要素と、
（ｂ）回転手段がロックモードにあるとき、所与の回転方向に回転可能要素を回転させるための手段と、
（ｃ）回転手段が、回転可能要素に対してスリッピングモードにあるとき、制御された量のトルクを提供するための手段と、
（ｄ）回転手段とトルク制御手段を作動させるための手段とを備える。
【００４４】
クラッチ９４は、通常、ロックモードにある。クラッチ９４がロックモードにあるとき、入力フランジ９８において開始された回転は、回転のすべりを可能にせずに、出力フランジ１００に直接伝達される。スプリングピン１０２は、ハウジング１０８のボアに配置されているプランジャ１０６の軸溝１０４内に突出しており、それにより、ハウジング１０８におけるプランジャ１０６の回転を防止する。プランジャ１０６とハウジング１０８の形状は、円柱であることが好ましい。クラッチ９４がロックモードにあるとき、最高でロボット２４自体のトルクに限定されている、任意の量のトルクをロボットツール７２に伝達することができる。
【００４５】
クラッチ９４をスリッピングモードに切り替えるために、通常左に約０．２インチ（約０．５ｃｍ）だけ、プランジャ１０６がハウジング１０８に対してシフトされるように、軸力をクラッチ９４に加えなければならない。プランジャ１０６がシフトされたとき、スプリングピン１０２は、プランジャ１０６の溝１０４からはずれ、それにより、プランジャ１０６とハウジング１０８の間、したがって、入力フランジ９８と出力フランジ１００の間の相対回転が可能になる。しかし、相対回転が生じたとき、摩擦プレートが出力フランジ１００をこする際に、制御された量の回転摩擦が、プレート１１２とＯリング１１４を含む摩擦プレート１１０によって生成される。スプリング１１６は、出力フランジ１００に向けて、摩擦プレート１１０を弾性的にバイアスする。摩擦プレート１１０と出力フランジ１００の間の摩擦のレベルは、材料の適切な選択と、Ｏリング１１４とスプリング１１６の特性によって制御することができる。プレート１１２、Ｏリング１１４、およびスプリング１１６の材料と特性は、設計の選択肢の事項であり、その適切な選択は、当業者にはよく知られている。
【００４６】
クラッチ９４は、以下の手順に従って動作する。
【００４７】
（１）サンプルを保持する結晶ホルダ４２を、サンプルラック２２の、保存セル４４の磁気ベース４６の上に配置する。サンプルラック２２を液体窒素のコンテナ２０に浸漬する。
【００４８】
（２）ロボット２４は、ロボットツール７２を下方に向け、望ましい結晶ホルダ４２の付近のサンプルラック２２にある保存セル４４より上の位置まで動かす。
【００４９】
（３）ロボット２４は、ロボットツール７２が結晶ホルダ４２とちょうど接触するまで、ロボットツール７２を下方に動かす。ロボットツール７２を液体窒素の温度に近い温度まで冷却することを可能にするために、ロボット２４は、この位置で停止する。ロボットツール７２のベントアパーチャ８０により、ロボットツール７２の内部空洞８４を液体窒素で充填することが可能になる。
【００５０】
（４）ロボット２４は、軸力をクラッチ９４に加え、クラッチ９４のロックを外すために、ロボットツール７２を下方に約０．２５インチ（約０．６ｃｍ）動かす。
【００５１】
（５）回転ステージ９６を使用することにより、ロボット２４は、ロボットツール７２を時計回りに回転させ、結晶ホルダ４２をロボットツール７２にねじ込める。結晶ホルダ４２のスレッド６７は、ロボットツール７２のスレッド６８と結合する。一般に、結晶ホルダ４２をロボットツール７２に完全にねじ込めるために、ロボットツール７２をほぼ１回完全に回転させるだけでよい。さらに２回ロボットツール７２を回転させることにより、結晶ホルダ４２をロボットツール７２に完全に係合させることが保証される。クラッチ９４はロックされていないので、結晶ホルダ４２が完全に係合するまで（すなわち、ロボットツール７２上に完全にねじ込められるまで）、回転に関するすべりが生じる。クラッチ９４がスリップすることができない場合、結晶ホルダ４２とロボットツール７２が完全に係合した後、破損またはロボットのオーバーロードが生じやすくなる。クラッチ９４の軸コンプライアンスは、ロックされていないとき、スリップする能力とあいまって、システムにおける「許容」の程度を提供する。ロボット２４の動きは、結晶ホルダ４２の位置またはスレッドの長さと完全に整合する必要はない。ロボットの動きとプログラミングの小さなエラーは、クラッチ９４の軸コンプライアンスとすべりのために許容される。
【００５２】
（６）結晶ホルダ４２がロボットツール７２によって完全に係合した後、ロボット２４は、サンプルラック２２から結晶ホルダ４２と共にロボットツール７２を引き出して、次の動作を実施する。結晶ホルダ４２上の結晶サンプルは、温かい大気から保護されているが、その理由は、ロボットツール７２の内部空洞８４の内側にある液体窒素によって囲まれており、ロボットツール７２自体の低温金属壁８６によって保護されているからである。
【００５３】
次いで、ロボットツール７２は、結晶ホルダ４２を以下の方式で位置決め装置１２の上に取り付ける。
【００５４】
（１）ロボット２４は、ロボットツール７２を水平位置（ベース１６に平行）まで誘導し、ロボットツール７２を位置決め装置１２の端部６４に近い位置まで動かす。
【００５５】
（２）ロボット２４は、結晶ホルダ４２が位置決め装置１２の端部６４において磁気マウント６３とちょうど接触するまで、ロボットツール７２を磁気マウント６３に向けて動かす。結晶ホルダ４２の角度位置は、結晶ホルダ４２のベース６２におけるノッチ６０が、磁気マウント６３の位置合わせピン１１８と係合するようなものである。この係合により、磁気マウント６３に対する結晶ホルダ４２の角度回転が防止される。図１２と１３に示したように、磁気マウント６３は、磁石すなわち強磁性材料１２０と取り付けピン１２２をも含む。磁石１２０は、結晶ホルダ４２が位置決め装置１２の端部６４の上にある磁気マウント６３上に取り付けられた後、磁気吸引力によって、結晶ホルダ４２を保有するのに役立つ。取り付けピン１２２は、磁気マウント６３を位置決め装置１２の端部６４に取り付けるのに役立つ。この時点で、クラッチ９４はロックされているが、その理由は、軸方向に著しく圧縮されていないからである。
【００５６】
（３）ロボット２４は、反時計回りの方向に、好ましくは２回、回転ステージ９６を介してロボットツール７２を回転させて、ロボットツール７２が完全に結晶ホルダ４２から回って外れることを保証する。クラッチ９４はロックされているので、結晶ホルダ４２とロボットツール７２が、共に固着しているかまたは凍っている場合でも、ロボットツール７２から結晶ホルダ４２を回して外すために、十分なトルクを加えることができる。
【００５７】
（４）反時計回りの方向に回転させながら、ロボットツール７２を位置決め装置１２の端部６４から引き離し、それにより、結晶ホルダ４２を位置決め装置１２の端部６４において磁気マウント６３に付着させたままにする。
【００５８】
結晶ホルダ４２を位置決め装置１２の上に取り付けた後、結晶ホルダ４２をデータ収集のために適切に配置しなければならない。結晶ホルダ４２を配置する前に、ロボットツール７２を迅速に位置決め装置１２からドライヤ１２４の「静止」位置に動かす。ドライヤ１２４を図１４に示す。ドライヤ１２４の目的は、ロボットツール７２を使用していないとき、湿気がロボットツール７２の上に集まることを防止することである。窒素など大気温の乾燥気体のストリームは、ポート１２６において導入され、内部室１２８を横切って、ポート１３０において出る。ドライヤを構成する材料は重要でない。ロボットツール７２をドライヤ１２４の内部室１２８内に挿入するとき、乾燥気体は、湿気がロボットツール７２の上に集まることを防止する。
【００５９】
位置決め装置１２の上に取り付けた後、サンプルの温度は、可能な限りサンプルに近く配置されている低温流ノズル３６を通して提供された低温流によって、低温に保たれる。低温流ノズル３６は、低温流アクチュエータ３８の上に取り付けられており、したがって、低温流ノズル３６は、結晶ホルダ４２が位置決め装置１２の上に取り付けられているときに引き込み、他の時には延長することができる。
【００６０】
この時点で、画像処理／サンプル位置合わせプログラムを使用して、自動的に、Ｘ線ビームとスピンドルの軸との交点にサンプルを配置する。位置合わせの手順の技術は、システム１０のベース１６において取り付けられている、ＣＣＤカメラ１８を介して獲得されたビデオ情報を解析するために、「マシンビジョン」アルゴリズムを使用する。位置合わせ手順は、以下で説明するように、マシンビジョンアルゴリズムを反復して呼び出し、獲得された位置情報を使用して、ステッパモータ８８、９０、および４０によって、サンプルを再配置する。以下で説明するサイクルは、実際のサンプルの位置と望ましいサンプルの位置の相違が、データ収集の目的にとって十分小さくなるまで、反復される。
【００６１】
ここで、本発明に適切な「マシンビジョン」アルゴリズムの詳細について議論する。「マシンビジョン」アルゴリズムは、結晶サンプルの重心と「チップ」（画像における一番左の位置）を見つけることができる。以下の議論では、Ｚ軸は、サンプルの回転軸である。角度φは、Ｚ軸の回りの回転角である。Ｘ軸は、角度φが０°のとき、器具ベース１６（およびＣＣＤカメラ１８）に水平な軸であり、Ｙ軸は、他の直交軸である。角度φが０°のとき、画像の垂直方向は、Ｘ軸に相当し、一方画像の水平方向は、Ｚ軸に相当する。角度φが９０°のとき、画像の垂直方向はＹ軸に相当し、一方水平画像は、依然としてＺ軸に相当する。
【００６２】
マシンビジョンアルゴリズムは、画像の画素に相当する８ビットの数のマトリックスとして表されているデジタル画像から開始する。通常の開始画像を図１７に示す。以下で説明する画像処理方法の目的は、図１７の中心に示したように、結晶ホルダ４２のループ７６の重心を決定することである。マシンビジョンアルゴリズムは、結晶ホルダ４２のループ７６と画像の他の要素を識別することができなければならない。これらの要素は、十字線とレチクルの目盛および結晶ホルダ４２のステム７４を含む。最小限、マシンビジョンアルゴリズムは、以下の、
（１）図１８に示した画像の最右１０％を無視するステップと、
（２）図１９に示したように、画素の最も暗い１２％を黒に変換し、残りの画素を白に変換することによって、８ビットのグレイスケールの画像を２ビットの白黒画像に変換するステップと、
（３）図２０に示したように、画像の最左部２０％、最上部１０％、および最下部１０％を空白にし、それにより、低温流の影の作用を排除し、一様でない照明の影響を低減するステップと、
（４）以下の、
（ａ）各暗い画素に対して、２０×２０のウィンドウ（ウィンドウの中心に暗い画素を有する）を検査し、
（ｂ）２８０より少ない暗い画素がこのウィンドウに含まれている場合、画素を白に変化させ、
（ｃ）これにより、図２１に示したように、グリッド線と他のアーチファクトを排除する、「間引き」アルゴリズムを実施するステップと、
（５）残りの黒の画素の重心を計算するステップとを含む。
【００６３】
以上のアルゴリズムの様々な改良が開発された。これらの改良は、当業者に知られている技術を使用する。これらの改良は、非常に小さい結晶の場合など、通常の場合に対する信頼性を増大する。
【００６４】
位置合わせの手順は、最初の獲得段階とそれに続く精細な中心合わせ段階との２つの部分からなる。最初の獲得段階では、サンプルは、モータによって、Ｘ軸とＺ軸に沿って、開始位置まで移動される。開始位置は、システムが、サンプルがカメラの画像から完全に出ているか、またはカメラの画像の右半分にあるかを認識するように規定される。サンプルのループ７６が上に取り付けられているステム７４が、システムを混乱させないように、この位置で開始することが重要である。
【００６５】
次いで、「マシンビジョン」アルゴリズムを呼び出す。サンプルが見つけられない場合、探索パターンが開始される。探索パターンは、Ｘ軸とＺ軸に沿って、サンプルのジグザグ運動を呼び出し、探索パターンの各位置において、マシンビジョンアルゴリズムを呼び出す。サンプルが見つけられた後は、システムは、マシンビジョンアルゴリズムから獲得された重心の情報を使用して、ステッパモータ８８と４０によって、Ｘ軸とＺ軸に対して、サンプルを中心に配置する。次いで、サンプルが、完全にＣＣＤカメラ１８の視野の範囲内にない可能性を明らかにするために、中心配置を反復する。このステップは、アルゴリズムルーチンの最初の獲得段階を完了する。この時点で、Ｘ軸とＺ軸に沿ったサンプルの位置は、適切な位置にかなり近くあるべきであるが、Ｙ軸は、通常かなりな量位置がずれている。理論的には、位置合わせを完了するために行わなければならないことは、角度φを９０°まで動かし、中心配置のプロセスを反復することである。しかし、いくつかのサンプルに対しては、この技術には潜在的な問題が存在する。多くの結晶サンプルは非常に平坦である。結晶面を見るとき、「マシンビジョン」アルゴリズムは非常に正確である（図１５参照）。しかし、結晶の縁を見るとき、サンプル、ループ７６、およびループ７６のステム７４を区別することは困難である。この問題の例を図１６に見ることができる。したがって、２つの角度（０°と９０°）のみを使用することによって、サンプルを適切に位置合わせすることを試みることは、２つの角度の一方が、たまたま図１６のものと同様な「マシンビジョン」画像となる場合、またはサンプルがそれを通常とは異なるものとするいくつかの他の特性を有し、それにより、「マシンビジョン」アルゴリズムを混乱させる場合、精度に対して潜在的に有害である。この可能性を調整するために、システムは、０°と９０°を含むその間の複数の角度における情報を使用して、３次元における結晶サンプルの最も可能性の高い真の位置を確認する。現在実施されているアルゴリズムは、以下の通りである。
【００６６】
（１）「マシンビジョン」アルゴリズムを使用して、０°から９０°まで５°ずつ増やして角度φを移動させ、各角度における結晶サンプルの重心を見つける。
【００６７】
（２）次式に対し、パラメータの最小二乗適合を実施する。
Ｖｉ＝ΔＸｃｏｓφｉ＋ΔＹｓｉｎφｉ
【００６８】
上式で、Ｖｉは、角度φｉにおける結晶サンプルの画像の重心に関する垂直のずれを表し、ΔＸは、Ｘ軸とＹ軸からのサンプルの画像の重心に関する未知のずれを表し、ΔＹは、Ｙ軸からのサンプルの画像の重心に関する未知のずれを表す。
【００６９】
（３）ΔＸとΔＹの値が見つけられたとき、モータを調節して、サンプルを中心に配置する。
【００７０】
（４）画像において、水平からのすべてのずれの単純平均を使用することによって、Ｚ軸を調節する。
【００７１】
（５）角度φを９０°から０°まで５°ずつ増やすことを除いて、上記のステップ（１）、（２）、（３）、および（４）を繰り返す。
【００７２】
（６）クロージャの基準を満たすまで、上記のステップ（１）、（２）、（３）、（４）、および（５）の反復を続ける。現在、クロージャの条件は、
（ａ）（Ｘ軸、Ｙ軸、およびＺ軸からの）ずれの二乗の現在の和が、二乗して２２５画素未満である。
【００７３】
（ｂ）ずれの二乗の現在の和と、ずれの二乗の和の直前の反復との差が、二乗して２２５画素未満である。
【００７４】
（ｃ）（ａ）または（ｂ）を満たさない場合、６回（６）を繰り返す。
【００７５】
第１条件（ａ）は、完全な位置合わせを考慮している。第２条件（ｂ）は、位置合わせがもはや十分に改善されておらず、２つの同等によい解の間でゆれることを防止する。最後の条件（ｃ）は、位置合わせの失敗を考慮している。
【００７６】
（７）クロージャの条件が満たされたとき、位置合わせの成功または失敗は、データ収集コンピュータ３０に報告される。次いで、データ収集コンピュータ３０は、位置合わせた成功した場合、データの取り込みを開始し、または、位置合わせが失敗した場合、次の結晶を要求する。
【００７７】
この技術は、１９の異なる角度における情報を使用する。したがって、２つの角度のみを使用するアルゴリズムより、ある角度におけるエラーに対してより堅牢である。
【００７８】
この時点で、信号はデータ収集コンピュータ３０に送信され、サンプルのＸ線回折解析が開始される。
【００７９】
データ収集段階の最後において、ロボット制御装置２６に記憶されているコンピュータプログラムが起動され、ロボット２４を位置決め装置１２からサンプルを取り出すように誘導し、サンプルをサンプルラック２２の当初の位置に戻す。
【００８０】
以下の手順は、結晶ホルダ４２をサンプルラック２２に戻すために使用される。
【００８１】
（１）ロボット２４は、ロボットツール７２を水平位置（ベース１６に平行）に誘導し、ロボットツール７２を結晶ホルダ４２の端部に近い位置に動かす。結晶ホルダ４２は、依然として、位置決め装置１２の端部６４の上にある磁気マウント６３の上に取り付けられている。
【００８２】
（２）ロボット２４は、ロボットツール７２が結晶ホルダ４２とちょうど接触するまで、ロボットツーツ７２を結晶ホルダ４２に向けて動かす。
【００８３】
（３）ロボット２４は、軸力をクラッチ９４に加え、クラッチ９４のロックを外すために、ロボットツール７２を約０．２インチ（約０．５ｃｍ）位置決め装置１２に向けて動かす。
【００８４】
（４）回転ステージ９６によって、ロボット２４は、ロボットツール７２を時計方向に回転させて、結晶ホルダ４２をロボットツール７２にねじ込む。一般に、結晶ホルダ４２をロボットツール７２にねじ込むには、約１回完全に回転させるだけでよい。結晶ホルダ４２が完全にロボットツール７２に係合することを保証するには、さらに２回回転させることが好ましい。
【００８５】
（５）結晶ホルダ４２がロボットツール７２に完全に係合した後、ロボット２４は、ロボットツールと結晶ホルダ４２を磁気マウント６３から引き出す。
【００８６】
（６）ロボット２４は、ロボットツール７２を下方に向け、サンプルラック２２の適切な保存セル４４より上の望ましい位置まで動かす。
【００８７】
（７）ロボット２４は、結晶ホルダ４２が、保存セル４４の底部において、磁気ベース４６とちょうど接触するまで、ロボットツール７２を下方に動かす。結晶ホルダ４２の角度位置は、結晶ホルダ４２のベース６２におけるノッチ６０が、磁気ベース４６においてピン５６と係合するというものである。この係合により、磁気ベース４６に対する結晶ホルダ４２の角度の回転が防止される。この時点で、クラッチ９４は有意には軸方向に押圧されていなかったので、ロックされている。
【００８８】
（８）ロボット２４は、結晶ホルダ４２が完全にロボットツール７２から回って外れることを保証するために、ロボットツール７２を反時計回りの方向に２回回転させる。クラッチ９４はロックされているので、結晶ホルダ４２とロボットツール７２が共に固着しているかまたは凍っている場合でも、ロボットツール７２から結晶ホルダ４２を回して外すために、十分なトルクを加えることができる。
【００８９】
（９）反時計回りの方向への回転を続けながら、ロボットツール７２は、サンプルラック２２の保存セル４４から引き出され、結晶ホルダ４２は、保存セル４４の底部において、磁気ベース４６に付着されたままになっている。
【００９０】
次いで、次のサンプルを解析するために、全動作のプロセスを反復する。選択したサンプルがすべて解析され、サンプルラック２２の位置に戻された後、ロボットツール７２は、静止位置に置かれ、システムは待機モードになる。
【００９１】
当業者には、本発明の範囲および精神から逸脱せずに、本発明の様々な修正および変更が明らかになるであろう。本発明は、本明細書で記述した例示的な実施形態に不当に限定されるものではないことを理解されたい。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の方法を実施するためのシステムを示す概略図である。
【図２】  本発明のサンプルラックの平面図である。
【図３】  図２のサンプルラックの線３−３に沿って取った断面図である。
【図４】  結晶ホルダに取り付けることができる保存セルの下端における磁気ベースの断面図である。
【図５】  結晶ホルダの縦側面図である。
【図６】  結晶ホルダの上面平面図である。
【図７】  結晶ホルダを取り出すためのロボットツールの断面の概略図である。
【図８】  取り付けられた結晶ホルダを有するロボットツールの断面の概略図である。
【図９】  ロボットツール、クラッチ、ロボット、および結晶ホルダの概略図である。
【図１０】  トルクをロボットツールに伝達するためのクラッチアセンブリの断面の概略図である。この図では、クラッチは、ロックモードにある。
【図１１】  トルクをロボットツールに伝達するためのクラッチアセンブリの断面の概略図である。この図では、クラッチは、スリッピングモードにある。
【図１２】  システムの位置決め装置の端部に対する磁気ベースの平面図である。
【図１３】  図１２の磁気ベースの縦側面図である。
【図１４】  湿気がロボットツール上に集まるのを防止するためのドライヤの縦側面図である。
【図１５】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図１６】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図１７】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図１８】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図１９】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図２０】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図２１】  本発明の手順における様々な点での結晶の表示を示す写真である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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