(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象物（１）の電磁放射、不活性態、および特性を測定するための試験装置であって、前記対象物を配置することができる試験用容積を囲む導電性構造物（５３）を備え、前記構造物には閉鎖可能な開口部（５６）が設けられ、前記試験装置は隔壁（５２）と呼ばれる内部導体のシステムも備え、これらの隔壁は数が少なくとも２つであり、各隔壁は少なくとも１つの要素導体からなり、各隔壁は導電性構造物（５３）を通過する２つのコネクタ（５４、５５）に接続され、各コネクタは少なくとも１つの隔壁に接続され、各隔壁は前記試験用容積内において、構造物内におけるその配置によって前記対象物との電磁結合を規定し、前記電磁結合は電磁結合面を規定する電気結合ベクトルおよび磁気結合ベクトルによって特定され、少なくとも１つの隔壁は、その電磁結合面が別個で少なくとも１つの他の隔壁の電磁結合面とは平行ではないように配置されており、２つずつ選んだ電磁結合面が別個で非平行となるように配置された３つの隔壁を有することを特徴とする試験装置。
【請求項２】
２つずつ選んだ隔壁の電磁結合面が直交することを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
それぞれ３つの隔壁からなる２つの群を有し、各群の隔壁は、２つずつ選んだ電磁結合面が別個で非平行となるように配置されていることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項４】
各群の隔壁は、２つずつ選んだ電磁結合面が直交するように配置されていることを特徴とする請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
構造物は多面体の形状であることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【請求項６】
構造物は平行六面体の形状であることを特徴とする請求項５に記載の試験装置。
【請求項７】
構造物の平行六面体形状の寸法比は、２つずつ選んだときに、無理数であることを特徴とする請求項６に記載の試験装置。
【請求項８】
構造物は立方体の形状であることを特徴とする請求項６に記載の試験装置。
【請求項９】
構造物の内面の全部または一部が、電磁エネルギーを吸収する材料で覆われていることを特徴とする請求項１に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明の主題は、被試験対象物の電磁放射、不活性態（ｉｍｍｕｎｉｔｙ）、および特性を測定するための試験装置であって、前記対象物を配置することができる試験用容積を囲む導電性構造物を備え、前記構造物には閉鎖可能な開口部が設けられ、前記試験装置は隔壁と呼ばれる内部導体のシステムも備え、これらの隔壁は数が少なくとも２つであり、各隔壁は少なくとも１つの要素導体からなり、各隔壁は構造物を通過する少なくとも１つおよび多くても２つのコネクタに接続され、各コネクタは少なくとも１つの隔壁に接続され、各隔壁は前記試験用容積内において、構造物内におけるその配置によって前記対象物との電磁結合を規定し、前記電磁結合は、電磁結合面を規定する電気結合ベクトルおよび磁気結合ベクトルによって特定される試験装置である。
【０００２】
このような装置は既知であり、現在使用されている。これらは横電磁界セル（ＴＥＭセル）と呼ばれ、主にその金属構造物の幾何形状によって、隔壁の数、形状、および構成によって、構造物内の前記隔壁の配置によって、ならびにコネクタの数によって、特徴付けられる。
【０００３】
刊行物であるＩＥＥＥのＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ  ｏｎ  Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ  第１６巻、第４号、１９７４年１１月：「Ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ  ｏｆ  Ｓｔａｎｄａｒｄ  ＥＭ  Ｆｉｅｌｄｓ  ｕｓｉｎｇ  ＴＥＭ  Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ  Ｃｅｌｌｓ」（Ｍ．Ｃｒａｗｆｏｒｄ）において、従来のＴＥＭセル、および被試験対象物の電磁不活性態を測定する目的で電磁界を生成するためにこのＴＥＭセルを用いることが説明されている。このセルの多面体形状の金属構造物は、２つのピラミッド状の移行部分の間の平行六面体状の中央部分を備えている。移行部分の各端に配置されているのは、構造物内で中間の高さに配置された六角形状の隔壁の２つの端に接続されるコネクタである。このセルは、金属構造物によって形成されるキャビティの寸法に依存する共鳴モードの出現によって、高周波に関して制限されるのみである。それを上回る周波数では横電磁界結合モードはもはや確認されない。
【０００４】
米国商務省標準局レポートＮＢＳ第ＴＮ−１０５９号（ＰＢ８３−１６５２７４）（１９８２年、１０月）：「Ａ  Ｍｅｔｈｏｄ  ｔｏ  Ｑｕａｎｔｉｆｙ  ｔｈｅ  Ｒａｄｉａｔｉｏｎ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ  ｏｆ  ａｎ  Ｕｎｋｎｏｗｎ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ  Ｓｏｕｒｃｅ」（Ｍ．Ｔ．ＭａおよびＧ．Ｈ．Ｋｏｅｐｋｅ）において、１つの隔壁および２つのコネクタを有する従来のＴＥＭセルを用いた電磁放射の測定方法が説明されている。この方法では、試験用対象物が複数の位置に連続的に配置される。
【０００５】
米国特許第４８３７５８１号には、三角形状の隔壁が、一方でピラミッド形状の頂点によって形成される構造物の端に配置されたコネクタに接続され、他方でピラミッド形状の底部によって形成される構造物の他端に接続された負荷アレイに接続されるピラミッド形状のＴＥＭセルが記載されている。このセルは、ＧＴＥＭセルと呼ばれ、負荷アレイに接続された内壁において電磁波を吸収する要素システムも有するため、従来のＴＥＭセルよりもかなり高い周波数でＧＴＥＭセルを使用できるという特徴がある。
【０００６】
米国特許第５７５４０５４号、米国特許第５４０４０９８号、米国特許第５８２５３３１号、および米国特許第５４３０４５６号には、被試験対象物の位置の数および方位ならびにＧＴＥＭセルの使用によって、ＮＢＳレポート第ＴＮ−１０５９号に記載された測定方法とは区別される電磁放射の測定方法が記載されている。
【０００７】
米国特許第５５８９７７３号には、ＧＴＥＭセルに適した放射測定方法および位置決めシステムが記載されている。前記位置決めシステムによって、試験用機器の方位変更を容易にし自動化することが可能になっている。
【０００８】
特開平０５−３１２８６６号には、被試験対象物を挿入するためのシステムを備える従来のＴＥＭセルが記載されている。一方、特開平０５−００５７６３号には、構造物の内容積内に、電磁放射を攪拌するための要素を備える従来のＴＥＭセルが記載されている。
【０００９】
米国特許第５５８５８０８号、ドイツ特許３９２５２４７Ａ１、特開平０２−２０３２８１号、特開平０４−３５３７７４号、特開平０５−２６４６２０号、特開平０６−２４２１６１号には、ＴＥＭセルの構造物の幾何形状によっておよび構造物内の隔壁の幾何形状および配置によって区別される、隔壁を有するＴＥＭセルが記載されている。特開平１０−２６７９７５号には、電磁エネルギーを吸収する材料で構造物の内壁が覆われている点で、開平０６−２４２１６１号に記載されたセルとは区別されるＴＥＭセルが記載されている。
【００１０】
米国特許第５９１０７２９号には、２つの隔壁を有し、各隔壁はセルの２つの端でコネクタに接続されるＴＥＭセルが記載されている。電磁結合性能を改善するために、配置が対称的な２つの隔壁がデザインされている。米国特許第５９４２９０３号には、構造物の形状によって、隔壁の特別な構成によって、および一方の端で負荷アレイに隔壁が接続されることによって、米国特許第５９１０７２９号に記載されたセルとは本質的に区別されるＴＥＭセルが記載されている。米国特許第５８６１７５３号には、構造物の形状によって、また３つの隔壁と２つのコネクタとを有し３つの隔壁のうち２つは構造物内で対称的に配置されカプラーを通してコネクタの一方のみに接続されている点で、米国特許第５９４２９０３号に記載されたセルとは区別されるＴＥＭセルが記載されている。
【００１１】
米国特許第５７９３２１５号には、６つのブッシング・コネクタを介して構造物の２つの端に接続された円筒形状の３つの隔壁を有するという点で、米国特許第５９１０７２９号に記載されたＴＥＭセルとは区別されるＴＥＭセルが記載されている。特開平１１−１７４１０２号には、３つの隔壁が平坦形状である点で、米国特許第５７９３２１５号に記載されたＴＥＭセルとは本質的に区別されるＴＥＭセルが記載されている。
【００１２】
特開平１０−１８５９８１号には、構造物の長手軸の周りに回転する隔壁を備え、前記隔壁は構造物の両端でコネクタに接続される大部分は円筒形状のＴＥＭセルが記載されている。さらにＴＥＭセルは、試験用対象物を垂直軸の周りに回転させるための回転支持体を備える。ドイツ特許１９６０１３４８Ｃ１には、単一の２位置回転隔壁を有するＴＥＭセルが記載されている。
【００１３】
米国特許第５３２７０９１号および米国特許第５５３０４１２号には、隔壁が設けられていない閉じた金属構造物によって形成される共鳴キャビティのモードを攪拌する２つの方法が記載されている。このキャビティは、モード攪拌残響室と呼ばれ、その内部には特に、試験用対象物と電磁エネルギーを送るアンテナとが配置されている。
【００１４】
少なくとも２つの隔壁を備える前述の米国特許第５９１０７２９号、米国特許第５９４２９０３号、米国特許第５８６１７５３号、米国特許第５７９３２１５号、および韓国特許９７−６４８１４では、試験用容積内の前記隔壁の電磁結合面は一致している。すなわち各隔壁に関係する電気および磁気結合ベクトルは、ＴＥＭセルの長手軸に垂直な面内に配向されている。これは、韓国特許９６−５７３６３およびドイツ特許１９６０１３４８Ｃ１に記載された回転隔壁を有するＴＥＭセルの場合でも、セル内の隔壁の配置に拘わらず、そうである。したがって全ての場合において、試験用対象物の電磁的な特徴付けは、同じ電磁結合面の２次元の基準フレーム（ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ  ｆｒａｍｅ）内で行われる。これらの特許に記載されたＴＥＭセルの開発は主に、同じ面内の複数の電磁結合分極、特に垂直および水平分極における対象物の電磁特性を測定することによって、垂直にそして水平に分極されるアンテナから被試験対象物がある距離で配置される開放型サイトまたは無響室内における測定を再現するために行われている。その結果、試験用対象物の３次元の電磁的特徴付けは、試験用対象物の配向を試験用容積内で変えるだけで得ることができる。これは、ＮＢＳレポート第ＴＮ−１０５９号ならびに米国特許第５７５４０５４号、米国特許第５４０４０９８号、米国特許第５８２５３３１号、米国特許第５４３０４５６号、および米国特許第５５８９７７３号に示されている。
【００１５】
前述の米国特許第５３２７０９１号、および米国特許第５５３０４１２号におけるモード攪拌残響室では、試験用容積内の電磁結合面は、送信アンテナから放射され金属構造物の導電性壁で反射される多数の電磁波によって生成される。構造物のキャビティの共鳴周波数では、試験用容積内のこれらの結合面が全て重ね合わさることによって、試験用対象物に、前記被試験対象物の配向に拘わらず、モード攪拌サイクルに渡って統計的に等方的な特性が与えられる。それにも拘わらず、この試験装置およびその動作は、キャビティの第１の共鳴周波数を規定する構造物の幾何学的寸法、および攪拌サイクルに渡って試験用対象物の等方的な特性が得られる最小周波数に依存する。
【００１６】
モード攪拌残響室と同様に、また既知のＴＥＭセルとは異なり、本発明の主題を形成する試験装置では、構造物内における隔壁の特定の配置によって試験用機器の操作を回避することができ、また同時測定を行うことができる。このことによって、本発明の主題を形成する試験装置の利点が構成される。この目的を実現するために、本発明の主題を形成する試験装置は、少なくとも２つの隔壁を有し、これらの隔壁の少なくとも１つは、その電磁結合面が別個で少なくとも１つの他の隔壁の電磁結合面とは平行ではないように配置されている。
【００１７】
本発明の第１の変形によれば、試験装置は、２つずつ選んだ電磁結合面が別個で非平行となるように構造物内に配置された３つの隔壁を有する。またこの第１の変形によれば、２つずつ選んだ電磁結合面は直交していても良い。
【００１８】
本発明の第２の変形によれば、試験装置はそれぞれ３つの隔壁からなる２つの群を有し、各群の隔壁は、２つずつ選んだ電磁結合面が別個で非平行となるように構造物内に配置されている。さらにこの第２の変形によれば、各群の２つずつ選んだ電磁結合面は直交していても良い。本発明の主題を形成する試験装置においては、構造物は多面体の形状、特に平行六面体の形状、そうでなければ立方体の形状であっても良い。
【００１９】
一般に、本発明の主題を形成する試験装置の多面体形状の寸法は、一方で構造物のキャビティの第１の共鳴周波数を決めるように、他方でキャビティの高周波共鳴モードの数を増加させるように選んでも良い。こうして、本発明の主題を形成する試験装置は、ＴＥＭセルおよびモード攪拌残響室の相補的な特性から利益を得ることができる。特に、構造物が平行六面体形状の場合には、この形状の寸法比は、２つずつ選んだときに無理数であっても良い。
【００２０】
さらに本発明の主題を形成する試験装置の内面の全部または一部が、電磁エネルギーを吸収する材料で覆われていても良く、この構造の内容積が電磁放射を攪拌するための要素を含んでいても良い。
【００２１】
図１において、中央部が平行六面体形状である従来のＴＥＭセルが示され、閉鎖可能な開口部１６を有する導電性構造物１３を見ることができる。この構造物１３の内部には、前記構造物の端に配置されたコネクタ１４および１５に接続された隔壁１２と、電磁特性の測定が求められている試験用対象物１とがあり、この対象物は絶縁誘電体支持体１７によって支持されている。
【００２２】
図２において、米国特許第４８３７５８１号に記載されたピラミッド形状のＧＴＥＭセルが示され、閉鎖可能な開口部２６を有する導電性構造物２３を見ることができる。この構造物の内部には、一方で前記構造物の一端に配置されたコネクタ２４に接続され、他方で前記構造物の多端において負荷アレイ２８に接続された隔壁２２と、電磁特性の測定が求められている試験用対象物１とがあり、この対象物は絶縁誘電体支持体２７によって支持されている。吸収要素２９のアレイによって、前記負荷アレイが配置されるセル端において内壁が覆われている。
【００２３】
図３において、米国特許第５７９３２１５号に記載された３つの隔壁と６つのコネクタとを有するＴＥＭセルが示され、閉鎖可能な開口部３６を有する導電性構造物３３と、６つのうちの３つのコネクタ３４ｖ、３４ｈ、および３４ｄ（前記構造物の一端に配置されている）を見ることができる。
【００２４】
図４ａおよび４ｂにおいて、米国特許第５８６１７５３号に記載された、３つの隔壁と２つのコネクタとを有するＴＥＭセルの２つの断面が示され、絶縁誘電体支持体４７によって支持された被試験対象物１と、負荷アレイ４８を介して構造物の一端に接続された隔壁４２ｖ、４２ｈ１、４２ｈ２とが内部にあり得る導電性構造物４３を見ることができる。隔壁４２ｖはコネクタ４４ｖの多端に接続され、隔壁４２ｈ１および４２ｈ２はカプラー４１を介してコネクタ４４ｈに接続されている。
【００２５】
図５ａ〜５ｄにおいて、本発明による平行六面体形状の試験装置が概略的に示され、閉鎖可能な開口部５６を有する導電性構造物５３を見ることができる。この構造物の内部には、前記構造物の隣接する３つの壁に配置されたコネクタ対５４ｘおよび５５ｘ、５４ｙおよび５５ｙ、５４ｚおよび５５ｚにそれぞれ接続された隔壁５２ｘ、５２ｙ、および５２ｚと、電磁特性の測定が求められている試験用対象物１とがあり、この対象物は絶縁誘電体支持体５７によって支持されている。
【００２６】
図６ａ〜６ｄにおいて、図５ａ〜５ｄに示した試験装置から導き出される、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態が概略的に示され、閉鎖可能な開口部６６を有する導電性構造物６３を見ることができる。この構造物の内部には、前記構造物の隣接する３つの壁に配置されたコネクタ対６４ｘおよび６５ｘ、６４ｙおよび６５ｙ、６４ｚおよび６５ｚにそれぞれ接続された隔壁６２ｘ、６２ｙ、および６２ｚと、電磁特性の測定が求められている試験用対象物１とがあり、この対象物は絶縁誘電体支持体６７によって支持されている。
【００２７】
図７ａ〜７ｄにおいて、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態が概略的に示され、閉鎖可能な開口部７６を有する導電性構造物７３を見ることができる。この構造物の内部には、前記構造物の隣接する３つの壁に配置されたコネクタ対７４ｘおよび７５ｘ、７４ｙおよび７５ｙ、７４ｚおよび７５ｚにそれぞれ接続された隔壁７２ｘ、７２ｙ、および７２ｚと、電磁特性の測定が求められている試験用対象物１とがあり、この対象物は絶縁誘電体支持体７７によって支持されている。
【００２８】
図８ａ〜８ｄにおいて、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態が概略的に示され、閉鎖可能な開口部８６を有する導電性構造物８３を見ることができる。この構造物の内部には、前記構造物の隣接する３つの壁に配置されたコネクタ対８４ｘおよび８５ｘ、８４ｙおよび８５ｙ、８４ｚおよび８５ｚにそれぞれ接続された隔壁８２ｘ、８２ｙ、および８２ｚと、電磁特性の測定が求められている試験用対象物１とがあり、この対象物は絶縁誘電体支持体８７によって支持されている。
【００２９】
図９ａ〜９ｄにおいて、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態が概略的に示され、閉鎖可能な開口部９６を有する導電性構造物９３を見ることができる。この構造物の内部には、前記構造物の６つの壁に配置されたコネクタ対６４ｘおよび６５ｘ、６４ｙおよび６５ｙ、６４ｚおよび６５ｚ、ならびに９４ｘおよび９５ｘ、９４ｙおよび９５ｙ、９４ｚおよび９５ｚにそれぞれ接続された隔壁６２ｘ、６２ｙ、６２ｚ、９２ｘ、９２ｙ、および９２ｚがある。
【００３０】
図１０ａにおいて、図５ａ〜５ｄに記載された試験装置、特にその構造物５３と、隔壁５２ｘ、５２ｙ、および５２ｚの端をチャネル・セレクター１０２によって周波数ドメイン（ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  ｄｏｍａｉｎ）の記録装置１０３にそれぞれ接続するコネクタ対５４ｘおよび５５ｘ、５４ｙおよび５５ｙ、５４ｚおよび５５ｚと、電磁放射周波数分析器１０９ｆとを見ることができる。この試験装置はたとえば、米国商務省標準局レポートＮＢＳ第ＴＮ−１０５９号（ＰＢ８３−１６５２７４）（１９８２年、１０月）：「Ａ  Ｍｅｔｈｏｄ  ｔｏ  Ｑｕａｎｔｉｆｙ  ｔｈｅ  Ｒａｄｉａｔｉｏｎ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ  ｏｆ  ａｎ  Ｕｎｋｎｏｗｎ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ  Ｓｏｕｒｃｅ」（Ｍ．Ｔ．ＭａおよびＧ．Ｈ．Ｋｏｅｐｋｅ）に記載された、コネクタが２つの従来のＴＥＭセル用の電磁放射測定方法に適用される。この方法は、図１０ａに示す試験装置を用いて、試験用容積内の同じ位置の試験用対象物に対してコネクタ５４ｘおよび５５ｘ、５４ｙおよび５５ｙ、５４ｚおよび５５ｚで受けたパワーを連続的に測定することによって、同様に用いられる。
【００３１】
図１０ｂにおいて、図５ａ〜５ｄに示した試験装置、特にその構造物５３と、隔壁５２ｘ、５２ｙ、および５２ｚの端を時間ドメイン（ｔｅｍｐｏｒａｌ  ｄｏｍａｉｎ）の個々の記録装置１０３ｘ、１０３ｙ、および１０３ｚにそれぞれ接続するコネクタ対５４ｘおよび５５ｘ、５４ｙおよび５５ｙ、５４ｚおよび５５ｚと、電磁放射時間分析器１１９とを見ることができる。この試験装置はたとえば、特許出願ＦＲ９９／１１３６４に記載された、コネクタが２つの従来のＴＥＭセル用またはコネクタが１つのＧＴＥＭセル用の電磁放射測定方法に適用される。この方法は、図１０ｂに示す試験装置を用いて、試験用容積内の同じ位置の試験用対象物に対してコネクタ５４ｘおよび５５ｘ、５４ｙおよび５５ｙ、５４ｚおよび５５ｚで受けた電圧を同時に測定することによって、同様に用いられる。
【００３２】
図１１において、図５ａ〜５ｄに示した試験装置、特にその構造物５３と、周波数シンセサイザー１０５ｘ、１０５ｙ、および１０５ｚを制御する制御装置１１０とを見ることができる。前記シンセサイザーの出力は、増幅器１０４ｘ、１０４ｙ、および１０４ｚによってそれぞれ増幅され、その出力は、コネクタ５５ｘ、５５ｙ、および５５ｚを介して隔壁５２ｘ、５２ｙ、および５２ｚにそれぞれ接続される。ブッシング・コネクタ５４ｘ、５４ｙ、および５４ｚによって、前記隔壁の多端は、マッチング負荷５８ｘ、５８ｙ、および５８ｚにそれぞれ接続されている。この試験装置はたとえば、刊行物であるＩＥＥＥのＴｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ  ｏｎ  Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ  第１６巻、第４号、１９７４年１１月：「Ｇｅｎｅｒａｔｉｏｎ  ｏｆ  Ｓｔａｎｄａｒｄ  ＥＭ  Ｆｉｅｌｄｓ  ｕｓｉｎｇ  ＴＥＭ  Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ  Ｃｅｌｌｓ」（Ｍ．Ｃｒａｗｆｏｒｄ）に記載された電磁不活性態測定方法に適用される。これは、各隔壁５２ｘ、５２ｙ、および５２ｚの端における２つのコネクタのうちの１つに連続的にまたは同時に電力を送って、試験用対象物が配置される試験用容積内に電磁界を生成することによって、行われる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  １つの隔壁と２つのコネクタとを有し、セルの中央部は平行六面体の形状である従来のＴＥＭセルを、内部の部分図とともに示す概略的な斜視図である。
【図２】  米国特許第４８３７５８１号に記載された隔壁が１つでコネクタが１つのピラミッド形状のＧＴＥＭセルを、内部の部分図とともに示す概略的な斜視図である。
【図３】  米国特許第５７９３２１５号に記載された隔壁が３つでコネクタが６つのＴＥＭセルを示す概略的な斜視図である。
【図４ａ及び４ｂ】  米国特許第５８６１７５３号に記載された隔壁が３つでコネクタが２つのＴＥＭセルの２つの長手方向の断面を示す概略図である。
【図５ａ〜５ｄ】  ２つずつ選んだ電磁結合面が直交する３つの隔壁の配置を特徴とし、構造が平行六面体の形状である本発明の主題を形成する試験装置の包括的な実施形態を示す図である。図５ａは内部の部分図を伴う斜視図であり、図５ｂ〜５ｄは被試験対象物の中心を通る３つの直交面に渡る断面図である。
【図６ａ〜６ｄ】  図５ａ〜５ｄに示した試験装置から導き出され、構造が立方体形状から導き出される多面体の形状である、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態を示す図である。
【図７ａ〜７ｄ】  ２つずつ選んだ電磁結合面が別個で非平行である３つの隔壁を有することを特徴とし、構造が立方体の形状である、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態を示す図である。
【図８ａ〜８ｄ】  図７ａ〜７ｄに示した試験装置から導き出され、この試験装置とは隔壁の別の配置によって区別される、本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態を示す図である。
【図９ａ〜９ｄ】  外見的には図６ａ〜６ｄに示した試験装置と類似し、それぞれ３つの隔壁からなる２つの群を有することを特徴とする本発明の主題を形成する試験装置の特定の実施形態を示す図である。各隔壁群において、２つずつ選んだ電磁結合面は直交する。
【図１０ａ及び１０ｂ】  ２つずつ選んだ試験用容積内の電磁結合面が直交する３つの隔壁を有する本発明の主題を形成する試験装置を電磁放射測定用途に用いる２つの実施例を示す図である。
【図１１】  ２つずつ選んだ試験用容積内の電磁結合面が直交する３つの隔壁を有する本発明の主題を形成する試験装置を電磁不活性態の測定用途に用いる実施例を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４ａ】
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【図４ｂ】
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【図５ａ】
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【図５ｂ】
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【図５ｃ】
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【図５ｄ】
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【図６ａ】
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【図６ｂ】
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【図６ｃ】
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【図６ｄ】
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【図７ａ】
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【図７ｂ】
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【図７ｃ】
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【図７ｄ】
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【図８ａ】
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【図８ｂ】
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【図８ｃ】
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【図８ｄ】
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【図９ａ】
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【図９ｂ】
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【図９ｃ】
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【図９ｄ】
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【図１０ａ】
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【図１０ｂ】
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【図１１】
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