(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フォトセンサCd1〜Cd3からの出力信号を増幅する増幅器Am1〜Am3と、増幅器Am1〜Am3から出力される増幅信号がそれぞれ入力されるコンパレータCa1〜Ca3と、測定レベルをL側、H側に切替える調整ユニットCu1と、コンパレータCa1〜Ca3の前段に設けたアッテネータATと、演算手段CPUと、Ａ／Ｄ変換器Adを備え、前記演算手段CPUが、前記Ａ／Ｄ変換器AdによりＡ／Ｄ変換された信号が入力されると、当該入力信号の最大レベル値の１／２レンジで出力信号を演算し、この出力信号をＤ／Ａ変換器Da1〜Da3を介した基準値として前記コンパレータCa1〜Ca3の他方の入力端子に入力する一方、該コンパレータCa1〜Ca3からの出力信号が入力されると、この入力信号に基づいてシャッタスピードを演算するシャッタ試験機の測定部によるシャッタ速度の測定において、
コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧を決めて調整ユニットCu1はＬ側を選択し、アッテネータATをスルーにした状態で、Ｄ／ＡコンバータDaに低いDB値から順次高くなるDB値を加えて行き、コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧との一致点を通過したＤ／ＡコンバータDaの電圧を、前記コンパレータCa1〜Ca3のＬ側の出力電圧とすることにより、演算手段CPUに反射光の電気出力を検出させるとともに、コンパレータCa1〜Ca3の出力電圧があるレベルより低くなると、演算手段CPUが切替命令を供給することにより調整ユニットCu1の測定レベルをL側からH側に自動的に切替え、
次いで、前記コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧を適切に決めておき、上記で検出した入力電圧に対し、前記Ｌ側，Ｈ側及びアッテネータATのDBaをコンパレータCa1〜Ca3の＋入力値になるように設定することで、前記入力電圧に基づいて前記コンパレータCa1〜Ca3からの出力を得ることを特徴とするシャッタの試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はいわゆるデジタルカメラや光学式カメラなど（以下、単にカメラという）が備えるフォーカルプレーン式シャッタの試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
カメラが備えるフォーカルプレン式シャッタでは、近年シャッタ速度の高速化が進んでいる。このようなシャッタでは、高速時のシャッタ速度が正確でないと、撮影条件が変動することとなって、理想的な撮影条件として設定したシャッタ速度を実現できない事態が生じる。そこで、フォーカルプレン式シャッタが所望の高速でのシャッタ速度を達成しているかどうかを測定するようにした、シャッタ試験機が特許文献１に提案されている。
【０００３】
特許文献１のフォーカルプレン式シャッタの試験機は、図１に例示するように、フォーカルプレン式シャッタを構成するシャッタ幕Fsの走行位置の後方に位置する面上に配された反射体Rfと、前記走行位置の前方に配され、前記反射体Rfの所定領域内へ光を投光する投光手段Lp1〜Lp3と、前記走行位置の前方に配されたピンホールを有するピンホール板Ph1〜Ph3と、前記ピンホールと前記所定領域とを結ぶ光路上に配され、所定領域内の反射光を受光部（受光手段）へ集光する集光レンズLf1〜Lf3と、前記ピンホール板Lp1〜Lp3の前方に配され、当該ピンホールを通して入射する光を電気信号に変換する受光手段Cd1〜Cd3と、該受光手段Cd1〜Cd3から出力される電気信号のパルス幅の１／２を測定し、前記フォーカルプレンシャッタのシャッタ速度を演算して求める演算手段CPUとを具備してシャッタ試験機が構成されている。図１において、Hmはハーフミラーである。
【０００４】
上記試験機では、カメラの前方から投光手段Lp1〜Lp3によりスポット光を反射体Rfの所定領域内に投光し、そのスポット光の反射体における反射光を、カメラの前方に配した集光レンズLf1〜Lf3に集光させ、受光手段Cd1〜Cd3により電気信号に変換して、演算手段CPUにより電気信号のパルス幅に基づいてシャッタ速度を演算することができるので、従来のようにカメラの裏蓋を開けてシャッタ幕の後方にスリット板とフォトセンサを配する必要がなくなり、カメラの裏蓋を閉めた状態でのシャッタ速度の測定を可能とした点で画期的な試験機であった。
【０００５】
しかし、上記のフォーカルプレン式シャッタの試験機には、次の課題がある。
この試験機の測定部では、フォトセンサ（受光手段、以下、同じ）Cd1〜Cd3に入射する光を検出することによってシャッタ装置のシャッタ速度等の精度を測定するようになっている。このため、当該試験機の測定部は、図２に例示するように前記フォトセンサCd1〜Cd3からの出力信号を増幅する増幅器Am1〜Am3と、増幅器Am1〜Am3から出力される増幅信号がそれぞれ入力されるコンパレータCa1〜Ca3およびＡ／Ｄ変換器Adを備え、前記Ａ／Ｄ変換器AdによりＡ／Ｄ変換された信号が入力されると、当該入力信号の最大レベル値の１／２レンジで出力信号を演算し、この出力信号をＤ／Ａ変換器Da1〜Da3を介した基準値としてコンパレータCa1〜Ca3の他方の入力端子に入力する一方、該コンパレータCa1〜Ca3からの出力信号が演算手段CPUに入力されると、この入力信号に基づいてシャッタスピード等を演算している。
【０００６】
上記試験機の測定部では、コンパレータCa1〜Ca3の基準値を現実の測定時の入力感度に基づいて変化させるようにしたことによって、ピンホールに異物が付着したり、フォトセンサの感度や投光ランプの光量に変化が生じた場合、或は、反射体の反射率がカメラの機種違いなどによって変化した場合であっても、当該コンパレータCa１〜Ca3の基準値を変化させてより安定して正確なシャッタ速度を測定可能としている。
【０００７】
しかし乍ら、コンパレータCa１〜Ca3の基準値の変更は手動で行うために煩しさがあるのみならず、それゆえに多機種のカメラのフォーカルプレンシャッタを効率よく試験（測定）する上では、未だ不便な部分があることが、本発明が解決すべき課題である。
【０００８】
次に、上記図２の測定部の信号処理動作の一例について、以下に説明する。
なお、図２の測定部では、信号処理部のためにシャッタ試験機の光学系の構成に合わせて信号処理系も３系統（Ａ〜Ｃ）が設けられている。系統Ａはシャッタ幕の走行開始位置でのシャッタ速度、系統Ｂはシャッタ幕走行の中間位置でのシャッタ速度、系統Ｃはシャッタ幕走行終了位置でのシャッタ速度のそれぞれを測定するためのものである。以下の説明では、便宜上、一つの系統について述べるが、残り二つの系統についても動作原理は同じである。
【０００９】
図２の系統Ａにおける演算増幅器Am1では、受光手段からの電気信号をリニアに増幅して出力する。従って、Ａ／Ｄ変換器Adから出力されるデジタル値の多少から、演算手段CPUでは受光手段Cd1に入力される光量の多少を検出できる。これにより、演算手段CPUは、受光手段Cd1からの電気信号の電圧レベルの変動に応じて、Ｄ／Ａ変換器Da1を介してコンパレータCa1のスレッシュレベル電圧を変更することができる。例えば、受光手段Cd1からの電気信号の最大電圧レベルの１／２の電圧を常にスレッシュレベル電圧として波形整形することもできる。このため、スレッシュレベル電圧が固定の場合に問題となる受光手段Cd1からの電気信号の電圧レベル変動に伴うコンパレータCa1の出力波形のパルス幅の変動を防止でき、精度のよいシャッタ速度の測定が可能となる。
【００１０】
ここで、スレッシュレベル電圧は、受光手段Cd1からの電気信号の最大電圧レベル（Ａ／Ｄ変換器Adから入力されたデジタル信号の最大値でもある）の１／２に限定されるものではなく、最大電圧レベル未満の電圧であればよい。また、測定の都度、すなわち、先行して測定した際のスレッシュレベル電圧をクリアして、後行の実際に測定を行う対象物からの現実の入力信号に基づいてその都度演算して設定するのでもよい。さらに、先行して測定した際のスレッシュレベル電圧に対して後行の対象物からの信号に基づいて演算したスレッシュレベル電圧がずれている場合のみ、先行のスレッシュレベル電圧をクリアして後行のスレッシュレベル電圧を新たなスレッシュレベル値として設定するようにしてもよい。或はまた、所定のサンプル数を測定した後や、所定の日数が経過した後、或は、範囲を外れたとき等に、スレッシュレベル電圧を設定し直すようにしてもよい。要は、スレッシュレベル電圧を固定したままとせず、増幅信号の最大電圧レベル（受光手段が受光した最大受光量）を基準としてスレッシュレベル電圧を新たに設定することがこの測定部の特徴点である。
【００１１】
上記の従来試験機の測定部における信号処理のより具体的な動作例について、さらに図３を参照して説明する。
即ち、図３に例示した従来試験機の測定部における、一例としてＡ系統の信号処理においては、受光手段Cd1（フォトセンサ）からの反射光の強さに対し検出レベルの調整ユニットCu1における調整値VRをＬ（Low）又はＨ（High）のいずれか一方の側となるように手動でセレクトする。
次に、前記調整ユニットCu1でセットされたＬ又はＨのいずれかの側の調整値VRに対する電気出力をコンパレータCa1に入力した状態で、Ｄ／ＡコンバータDa1に低いDB値から順次高くなるようにDB値を上げて行く。
そこで、前記コンパレータCa1の入力値（手動選択されたＬ又はＨの調整値VR）との一致点を通過した電圧（DB値）で当該コンパレータCa1の出力がLOWとなることにより、演算手段CPUは受光部の反射面から来る光に対応した電気出力を検出することができるように構成されている。
【００１２】
ここで、演算手段CPUは、上記の手法により知り得たコンパレータCa1の電気出力の１／２レベルの値を、Ｄ／ＡコンバータDa1にDB値として加えておくことにより、カメラのシャッタを動作させたときにおけるコンパレータCa1の出力の１／２レベルを検出することができるので、当該カメラのシャッタスピードを検出して測定することができる。
【００１３】
しかし乍ら、実際にはカメラは機種によって受光面側での反射光の強さが大幅に異なったり、また同一機種でも反射光の強さが変ることにあり、さらに、同一機種でもCCDなどの受光素子Rfの前に置く反射面の構成部材を変更することなどが行われるので、上記の従来のシャッタ試験機で測定する個々のカメラごとに適切に反射光を検出するために、測定部の調整ユニットCu1における調整値VRをＬ又はＨのいずれかの側にセレクトすること、及び、セレクトした側の調整値VR自体を手動により調整している。
【００１４】
例えば、異なる機種であっても、或る範囲では、コンパレータCa1で反射光の電気出力を検出し、当該コンパレータCa1に１／２レベルのＤ／ＡコンバータDa1からのDB値を加えることにより、調整ユニットCu1におけるセレクトされた調整値VRは、Ｌ側又はＨ側に選択したままにしておいてもよい。
しかし、反射光の電気出力の変化（差異）がもっと大きくなると、これがシャッタスピードの検出誤差（測定誤差）の要因となる。例えば、反射光による電気出力が余りにも低い場合、又は、反射光による電気出力が高過ぎてサチュレーションを起した場合、或は、電気出力が高くてスルーレートが大きくなる場合などには、上記の調整値VRにおけるＬ側又はＨ側の選択と、選択されたＬ側又はＨ側の調整値VRそのものの手動による調整が不可欠となるのである。
【特許文献１】特開昭６３−１６９６３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
そこで本発明では上記のような問題点に鑑み、人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッターを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータCa1の出力の１／２レベルを設定できるようにするため、当該コンパレータCa1の前段にアッテネータATを挿入することにより、コンパレータCa1の入力電圧を適切に決め、その値に基づいてコンパレータCa1の出力が得られるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供することを、課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記課題を解決することを目的としてなされた本発明検出レベルの自動構成方法の構成は、フォトセンサCd1〜Cd3からの出力信号を増幅する増幅器Am1〜Am3と、増幅器Am1〜Am3から出力される増幅信号がそれぞれ入力されるコンパレータCa1〜Ca3と、測定レベルをL側、H側に切替える調整ユニットCu1と、コンパレータCa1〜Ca3の前段に設けたアッテネータATと、演算手段CPUと、Ａ／Ｄ変換器Adを備え、前記演算手段CPUが、前記Ａ／Ｄ変換器AdによりＡ／Ｄ変換された信号が入力されると、当該入力信号の最大レベル値の１／２レンジで出力信号を演算し、この出力信号をＤ／Ａ変換器Da1〜Da3を介した基準値として前記コンパレータCa1〜Ca3の他方の入力端子に入力する一方、該コンパレータCa1〜Ca3からの出力信号が入力されると、この入力信号に基づいてシャッタスピードを演算するシャッタ試験機の測定部によるシャッタ速度の測定において、コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧を決めて調整ユニットCu1はＬ側を選択し、アッテネータATをスルーにした状態で、Ｄ／ＡコンバータDaに低いDB値から順次高くなるDB値を加えて行き、コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧との一致点を通過したＤ／ＡコンバータDaの電圧を、前記コンパレータCa1〜Ca3のＬ側の出力電圧とすることにより、演算手段CPUに反射光の電気出力を検出させるとともに、コンパレータCa1〜Ca3の出力電圧があるレベルより低くなると、演算手段CPUが切替命令を供給することにより調整ユニットCu1の測定レベルをL側からH側に自動的に切替え、次いで、前記コンパレータCa1〜Ca3の入力電圧を適切に決めておき、上記で検出した入力電圧に対し、前記Ｌ側，Ｈ側及びアッテネータATのDBaをコンパレータCa1〜Ca3の＋入力値になるように設定することで、前記入力電圧に基づいて前記コンパレータCa1〜Ca3からの出力を得ることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明による上記手法により、反射光の電気出力（電圧）に対し上記で決定したVo値をコンパレータCa1に加えるようにアッテネータATが設定されているので、当該Vo値の１／２をＤ／ＡコンバータDa1に加えておけば、いつでも最良の状態でシャッタスピードの測定が可能になる。
【００１８】
次に、本発明の実施の形態例について図を参照して説明する。
図１は公知のカメラ試験機の構成の概要を模式的に例示したブロック図、図２は図１のカメラ試験機における測定部の構成を例示したブロック図、図３は図２の測定部の構成を詳細に示したブロック図、図４は本発明方法を採用した測定部の一例のブロック図である。図１〜図４において、同一符号は同一部材を示すものとする。
【００１９】
図４に示す本発明方法を採用した測定部では、図３に示す従来の測定部の構成と次の点で異なる。
図４の本発明方法による測定部では、測定レベルをＬ側，Ｈ側に切換える調整ユニットCu1が、Ｌ側又はＨ側を、まずＬ側に自動でセレクトし、アッテネータATスルーでコンパレータCa1の出力が演算手段CPUに入力する。コンパレータCa1の出力があるレベルより低くなると、演算手段CPUからその旨の信号が調整ユニットCu1に切替指令として供給され、当該ユニットCu1がＨ側に自動的に切換わるようにしてＬ側とＨ側を手動で切換操作して調整することを行う必要がない構成のものとした。
【００２０】
また、本発明方法では、コンパレータCa1の前段にアッテネータATを挿入し、当該アッテネータATの特性を、Vin＝Voのスルー特性とすると共に、調整ユニットCu1がＬ側，Ｈ側のいずれの側が選択されていても、Ｌ側又はＨ側の値とアッテネータに演算手段CPUから印加されるDBa値が、前記のVo値となるように設定している。
【００２１】
これにより、受光手段Cd1が受光して増幅器Am1から出力される受光電圧に対し、予め決定しているアッテネータATのVo値がコンパレータCa1に印加されるように、当該アッテネータATが設定されているので、上記Vo値１／２レベルの値をＤ／ＡコンパレータDa1に加えておけば、最良の状態でシャッタスピードの測定が可能になる。
【産業上の利用可能性】
【００２２】
上述のように、本発明ではコンパレータCa1に入力する受光電圧の何如に拘らず、アッテネータATにより予め適切に設定した値によりコンパレータCa1に出力させることができるので、カメラの種類や受光面における反射材の反射特性の相違があるカメラ群であっても、調整ユニットCu1の手動による調整を要することなく、かかる複数のカメラのシャッタ速度の測定を、簡便かつスピーディに精度良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】公知のカメラ試験機の構成の概要を模式的に例示したブロック図。
【図２】図１のカメラ試験機における測定部の構成を例示したブロック図。
【図３】図２の測定部の構成を詳細に示したブロック図。
【図４】本発明方法を採用した測定部の一例のブロック図。
【符号の説明】
【００２４】
Cd1    受光手段
Am1    増幅器
Cu1    調整ユニット
Ca1    コンパレータ
Da1    Ｄ／Ａコンバータ
CPU    演算手段
【図１】
0005007181.tif 000002
【図２】
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【図３】
0005007181.tif 000004
【図４】
0005007181.tif 000005