(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクの対象トラックにデータを所定の書き込み回数だけ繰り返し書き込んだ後に、前記対象トラックの近傍に位置する近傍トラックに書き込まれたデータを当該近傍トラック内の幅方向の異なる位置ごとに取得し、取得した各データに基づいて信号品質に関する指標値を求める処理と、当該指標値から前記近傍トラックの信号品質に関する指標値の代表値を異なる書き込み回数ごとに決定する決定処理とを実行する測定工程と、
前記測定工程で得られた異なる書き込み回数ごとの前記代表値に基づいて、前記対象トラックに実際に書き込まれたトータルの書き込み回数より多い書き込み回数で前記対象トラックにデータを書き込んだときの前記近傍トラックの信号品質に関する指標値を推定する推定工程と
を含む磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項２】
前記推定工程では、前記測定工程で得られた複数の前記代表値を曲線近似して前記推定を実行する請求項１に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項３】
前記推定工程で推定された指標値が、設定された閾値を超えているか否かを判断する判断工程を更に含む請求項１又は２に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項４】
前記閾値は、前記近傍トラックの前記対象トラックに対する近接度合いに応じて異なる請求項３に記載の磁気ディスク装置の試験方法。
【請求項５】
磁気ディスク装置の書き込みヘッドを用いて、磁気ディスクの対象トラックにデータを所定の書き込み回数だけ繰り返し書き込んだ後に、前記磁気ディスク装置の読み出しヘッドを用いて前記対象トラックの近傍に位置する近傍トラックに書き込まれたデータを、前記近傍トラック内の幅方向の異なる位置ごとに取得するデータ取得手段と、
前記データ取得手段により取得した各データに基づいて信号品質に関する指標値を求め、当該指標値から前記近傍トラックにおける指標値の代表値を異なる書き込み回数ごとに決定する代表値決定手段と、
前記代表値決定手段により異なる書き込み回数ごとに決定された代表値に基づいて、前記対象トラックに実際に書き込まれたトータルのデータ書き込み回数より多い書き込み回数で前記対象トラックにデータが書き込まれたときの前記近傍トラックの信号品質に関する指標値を推定する推定手段と
を含む磁気ディスク装置の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置の試験方法および試験装置に関し、特にハードディスクドライブ等の磁気ディスク装置の試験方法および試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスクドライブ（Hard Disk Drive：HDD）等の磁気ディスク装置では、回転している磁気ディスクに対して浮上する記録／再生ヘッドが、磁気ディスクへのデータの記録、磁気ディスクからのデータの読み出しを実行している。
【０００３】
ＨＤＤでは、記録／再生ヘッドと磁気ディスクとの間の間隔（距離）を狭めることにより、磁気ディスクの記録密度の向上を図ることが可能であることが知られている（例えば特許文献１参照）。しかるに、記録／再生ヘッドと磁気ディスクとの間隔が狭くなればなるほど、所定の対象トラックにデータを書き込む際に発生する磁界により対象トラックに近接する近接トラックのデータが上書きされてしまう現象が生じるおそれがある。これは、書き広がりとも呼ばれ、当該書き広がりにより、近接トラックのデータが消去されるおそれもある（いわゆる、サイドイレーズの発生）。
【０００４】
これに対し、ＨＤＤの製造者等は、ＨＤＤの製造・出荷にあたって、書き広がりが生じない書き込み回数を試験し、その書き込み回数を保証する方法を一般的に採用している。この試験方法としては、ＨＤＤの機種ごとに設定された書き込み保証回数だけ対象トラックにデータを繰り返し書き込み、対象トラックに近接する近接トラックのデータを読み込んで、その信号品質の劣化度を判定する方法が取られている。この方法で用いられる書き込み保証回数は、例えば１００万回などである。
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−２３５３８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したような、実際に書き込み保証回数だけデータを書き込んだ後に近接トラックのデータを読み込む方法を採用した場合、データの書き込み回数が膨大になるため、試験を開始してから完了するまでに長時間を要するおそれがある。この試験時間の短縮のためには、例えば、書き込み保証回数の１／１０や１／１００だけ対象トラックにデータを書き込んだ後に劣化度を測定し、当該劣化度から書き込み保証回数に対応する劣化度を推定する方法を採用することもできる。
【０００７】
しかしながら、上記のようにして書き込み保証回数に対応する劣化度を推定する場合、実際に書き込み保証回数だけ書き込んで実測した劣化度との間の乖離が大きいことが多いため、劣化度の推定を正確に行えないことが懸念されている。本発明者は、この原因について様々な検討を行ったところ、劣化度の測定の仕方に問題があるのではないかとの結論に至った。
【０００８】
そこで本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、磁気ディスクへのデータ書き込み回数に応じた信号品質に関する指標値を高精度に推定し、短時間で試験を行うことが可能な試験方法および試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
実施形態によれば、磁気ディスク装置の試験方法は、磁気ディスクの対象トラックにデータを所定の書き込み回数だけ繰り返し書き込んだ後に、前記対象トラックの近傍に位置する近傍トラックに書き込まれたデータを当該近傍トラック内の幅方向の異なる位置ごとに取得し、取得した各データに基づいて信号品質に関する指標値を求める処理と、当該指標値から前記近傍トラックの信号品質に関する指標値の代表値を異なる書き込み回数ごとに決定する決定処理とを実行する測定工程と、前記測定工程で得られた異なる書き込み回数ごとの前記代表値に基づいて、前記対象トラックに実際に書き込まれたトータルの書き込み回数より多い書き込み回数で前記対象トラックにデータを書き込んだときの前記近傍トラックの信号品質に関する指標値を推定する推定工程とを含む。
【００１１】
実施形態によれば、磁気ディスク装置の試験装置は、磁気ディスク装置の書き込みヘッドを用いて、磁気ディスクの対象トラックにデータを所定の書き込み回数だけ繰り返し書き込んだ後に、前記磁気ディスク装置の読み出しヘッドを用いて前記対象トラックの近傍に位置する近傍トラックに書き込まれたデータを、前記近傍トラック内の幅方向の異なる位置ごとに取得するデータ取得手段と、前記データ取得手段により取得した各データに基づいて信号品質に関する指標値を求め、当該指標値から前記近傍トラックにおける指標値の代表値を異なる書き込み回数ごとに決定する代表値決定手段と、前記代表値決定手段により異なる書き込み回数ごとに決定された代表値に基づいて、前記対象トラックに実際に書き込まれたトータルのデータ書き込み回数より多い書き込み回数で前記対象トラックにデータが書き込まれたときの前記近傍トラックの信号品質に関する指標値を推定する推定手段とを含む。
【発明の効果】
【００１３】
本明細書に開示の磁気ディスク装置の試験方法および試験装置は、磁気ディスクへのデータ書き込み回数に応じた信号品質に関する指標値を高精度に推定し、短時間で試験を行うことができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明のディスク装置の保証書き込み回数を試験する試験装置の一実施形態について、図１〜図９に基づいて詳細に説明する。
【００１５】
図１は、本実施形態の試験装置２００と、当該試験装置２００により試験を行うことが可能なハードディスクドライブ（Hard Disk Drive（ＨＤＤ））１００の構成を概略的に示す図である。この図１に示すように、ＨＤＤ１００は、試験装置２００にＳＡＳ（Serial Attached SCSI）などのバスを介して接続することが可能である。
【００１６】
ＨＤＤ１００は、１枚又は複数枚の磁気ディスク１２と、磁気ディスク１２を回転駆動するスピンドルモータ（Spindle Motor（ＳＰＭ））１４と、磁気ヘッド（ＨＥＡＤ）１６、ボイスコイルモータ（Voice Coil Motor（ＶＣＭ））１８、及びヘッドアンプ４０を含むヘッドスタックアッセンブリ（Head Stack Assembly：ＨＳＡ）２２と、スピンドルモータ１４やボイルコイルモータ１８などの駆動制御を実行するシステムオンチップ（System on Chip（ＳｏＣ））２０と、を備えている。
【００１７】
ヘッドスタックアッセンブリ２２に含まれる磁気ヘッド１６は、磁気ディスク１２に対するデータの書き込みや磁気ディスク１２からのデータの読み出しを実行する。また、ボイスコイルモータ１８は、磁気ヘッド１６を磁気ディスク１２上でシーク（移動）する。
【００１８】
ＳｏＣ２０は、ハードディスクコントローラ（Hard Disk Controller（ＨＤＣ））２６、サーボコントローラ（Servocontroller（ＳＶＣ））３０、リード・ライト・チャネル（ＲＤＣ）３２、マイクロプロセッシングユニット（Micro Processing Unit（ＭＰＵ））２４、及び各部の動作制御を行うファームウェア等が高度に集積化されたものである。
【００１９】
ハードディスクコントローラ２６は、エラー訂正回路、バッファ・コントロール回路、キャッシュ・コントロール回路、及びインタフェース制御回路等を含んでおり、リード／ライト制御等を実行する。
【００２０】
ＳＶＣ３０は、ＳＰＭ駆動回路３４と、ＶＣＭ駆動回路３６と、を有している。ＶＣＭ駆動回路３６は、サーボ用ＤＳＰ（Digital Signal Processing）２７及びＤＡコンバータ（ＤＡＣ）２８を介してＭＰＵ２４から送られてくる指示に基づいて、スピンドルモータ１４の駆動制御を行う。ＶＣＭ駆動回路３６は、ＭＰＵ２４から送られてくる指示に基づいて、ボイスコイルモータ１８の駆動制御を行い、磁気ディスク１２における磁気ヘッド１６のサーボ（位置決め）制御を行う。
【００２１】
リード・ライト・チャネル３２は、ライトデータを磁気ディスク１２に書き込むための変調回路、ライトデータをシリアルデータに変換するパラレル／シリアル変換回路、磁気ディスク１２からデータを読み出すための復調回路等を備える。リード・ライト・チャネル３２は、ヘッドアンプ４０との間でデータ（信号）をやりとりする。ヘッドアンプ４０は、磁気ヘッド１６へ供給すべき記録電流の極性をライトデータに従って切り替えるライトアンプ（不図示）、及び磁気ヘッド１６により検知された再生信号を増幅するプリアンプ（不図示）を備えている。
【００２２】
図１に戻り、ＭＰＵ２４は、ＨＤＤ１００の全体の制御を司り、主にヘッドのポジショニング制御、インタフェース制御、各周辺ＬＳＩの初期化や設定、ディフェクト管理などを行う。
【００２３】
試験装置（ホストコンピュータ）２００は、中央演算処理装置（Central Processing Unit：ＣＰＵ）を有し、当該ＣＰＵには、試験プログラムがインストールされている。ＣＰＵは、試験プログラムに応じて、ＨＤＤ１００（ＨＤＣ２６）に対しインタフェース１５０を介して試験動作指示を行うとともに、ＨＤＤ１００内で行われた試験結果をインタフェース１５０を介して取得する。
【００２４】
図２は、試験装置２００のＣＰＵの機能ブロック図である。この図２に示すように、試験装置２００のＣＰＵは、データ書き込み手段７０と、データ取得手段７２と、代表値決定手段７４と、推定手段７６と、判断手段７８と、を有する。データ書き込み手段７０は、ＨＤＤ１００の磁気ヘッド１６、ボイスコイルモータ１８及びスピンドルモータ１４を用いて、磁気ディスク１２にデータ（後述する試験データ）を書き込む。データ取得手段７２は、磁気ヘッド１６、ボイスコイルモータ１８及びスピンドルモータ１４を用いて、磁気ディスク１２に書き込まれたデータを読み取る（取得する）。
【００２５】
次に、上記のように構成されるＨＤＤ１００の試験装置２００を用いた試験方法について、図３のフローチャートに沿って、その他の図面を適宜参照しつつ説明する。なお、以下の試験動作は、試験装置２００のＣＰＵが試験プログラムに基づいて実行するものであるので、動作の主体に関する記述は特に必要な場合を除いて省略するものとする。
【００２６】
この図３のフローチャートが開始される前提として、試験対象のＨＤＤ１００が試験装置２００に接続されている必要がある。また、磁気ディスク１２上の全トラックのセクタごとに、同一のデータ（「元データ」とも呼ぶ）が予め書き込まれているものとする。
【００２７】
図３のフローチャートでは、ステップＳ１０において、書き込み回数を示すパラメータｎを１に設定する。次いで、ステップＳ１２では、データを書き込むトラック（対象トラック）を設定し、当該対象トラックの上方に磁気ヘッド１６を位置決めする。ここでは、図４に模式的に示すトラックＤが対象トラックに設定されたものとして、以下説明する。
【００２８】
次いで、ステップＳ１４では、近接トラック番号ｍを１に設定する。ここで、近接トラック番号ｍとは、対象トラックのディスク内側（又は外側）方向に近接した各３つ（合計６つ）のトラック（近接トラック）に、ディスク内側方向から順に付与した番号である。本実施形態では、図４に示す対象トラックＤのディスク内側の３つの近接トラックＡ〜Ｃと、ディスク外側の３つの近接トラックＥ〜Ｇに対して、近接トラック番号ｍとして１〜Ｍ（ここではＭ＝６）が順に割り振られている。
【００２９】
なお、上記においては、近接トラックが、対象トラックの内側及び外側の各３つのトラックであることとしたが、これに限らず、近接トラックが、対象トラックの内側及び外側の任意の数（例えば１０）のトラックであることとしても良い。
【００３０】
次いで、図３のステップＳ１６では、前述したステップＳ１２で設定された対象トラックに対する試験データ（試験データは、前述した元データとは異なるデータである）の書き込みを開始する。この書き込みは、試験装置２００のＣＰＵ（図２のデータ書き込み手段７０）からの書き込み指示をハードディスクコントローラ２６を介して受信したＭＰＵ２４の制御の下行われる。具体的には、ＭＰＵ２４が、ボイスコイルモータ１８、及びスピンドルモータ１４を駆動制御し、かつ磁気ヘッド１６から試験データを書き込む動作を行うことで、対象トラックへの試験データの書き込みが実行される。なお、ＭＰＵ２４によるモータ１８，１４の駆動制御は、ＤＳＰ２７、ＤＡコンバータ２８、サーボコントローラ３０（ＶＣＭ駆動回路３６、ＳＰＭ駆動回路３４）を介して行われる。また、ＭＰＵ２４による書き込み動作の制御は、リード・ライト・チャネル３２、ヘッドアンプ４０を介して行われる。
【００３１】
次いで、ステップＳ１８では、対象トラックに試験データを指定回数書き込んだか否かを判断する。この場合の指定回数は、例えば、１０００回（１０3回）、１００００回（１０4回）、１０００００回（１０5回）に設定されているものとする。また、本実施形態では、１０００００回（１０5回）が「最大指定書き込み回数」であるものとする。この最大指定書き込み回数は、対象トラックに試験データを書き込む回数の上限を意味している。ここでは、まだデータが１回のみ書き込まれただけなので、判断は否定され、次のステップＳ２０においてｎが１インクリメント（ｎ←ｎ＋１）された後、ステップＳ１６に戻る。
【００３２】
そして、その後はステップＳ１６→Ｓ１８→Ｓ２０の処理・判断を繰り返し、ステップＳ１８の判断が肯定された段階（試験データの書き込み回数が最初の指定回数（１０００回）になった段階）で、次のステップＳ２２に移行する。
【００３３】
ステップＳ２２では、トラック内の幅方向番号ｐを１に設定する。この幅方向番号とは、図５に示すように、トラック内の中心位置と、その中心位置からディスク内側方向とディスク外側方向に所定距離だけオフセットした位置とを計測位置に設定し、それぞれの位置に付与した番号のことをいう。本実施形態では、中心位置がｐ＝２、ディスク内側方向にオフセットした位置がｐ＝１、ディスク外側方向にオフセットした位置がｐ＝３（＝Ｐ（ｐの最大値））に設定されている。この場合、近接トラックＡ〜Ｃ，Ｅ〜Ｇの全てにおいて、幅方向番号ｐ＝１〜３が付与されているので、図６に模式的に示すように、幅方向番号ｐはトータルで、１８（＝３×６）箇所に付与されていることになる。なお、上記においては、幅方向番号ｐが１〜３であるものとしたが、これに限られるものではなく、ｐとしては、２以上であれば任意の数を採用することができる。
【００３４】
次のステップＳ２４では、ＣＰＵ（図２のデータ取得手段７２）が、磁気ヘッド１６等を用いて、ｍ＝１の近接トラック（トラックＡ）の幅方向位置ｐ（＝１）にて、トラック一周に書き込まれているデータを読み込み、ビタビ・メトリック・マージン（Viterbi Metric Margin：ＶＶＭ）を測定する。このビタビ・メトリック・マージン（以下、「ビタビ・マージン」と呼ぶ）とは、ビタビ検出法によって最適と選択される値に対して、それ以外の値を選択してしまう割合を数値化したものであり、エラーレート性能に直結する値である。このビタビ・マージンは、リード・ライト・チャネル３２内に設けられたビタビ検出器（不図示）にて測定される。
【００３５】
次いで、ステップＳ２６では、ｐがＰ（＝３）であるか否かを判断する。ここでは、まだｐ＝１であるので、判断は否定され、ステップＳ２８においてｐが１インクリメント（ｐ←２）された後、ステップＳ２４に戻る。そして、ステップＳ２４では、トラックＡの幅方向位置（ｐ＝２）にてビタビ・マージンを測定した後、ステップＳ２６に移行する。この段階では、ｐ＝２であることから、ステップＳ２６の判断は否定される。
【００３６】
その後、ステップＳ２８（ｐ←３）を経由して、ステップＳ２４に移行すると、当該ステップＳ２４ではトラックＡの幅方向位置（ｐ＝３）でビタビ・マージンを測定する。そして、次のステップＳ２６では、その判断が肯定されるので、ステップＳ３０に移行するようになっている。
【００３７】
ステップＳ３０では、ＣＰＵ（図２の代表値決定手段７４）が近接トラックＡ内で計測されたビタビ・マージン（３つのビタビ・マージン）を比較して、最良の値を取得する。以下においては、この最良のビタビ・マージンを、「ビタビ・マージン代表値」と呼ぶ。このように本実施形態では、３つのビタビ・マージンのうち最良の値を代表値とすることから、元データが書き込まれていた近接トラックＡ内の幅方向位置を考慮した、より正確なビタビ・マージンの測定を行うことが可能である。
【００３８】
次いで、ステップＳ３２では、ｍがＭ（＝６）であるか否かを判断するが、ここでは、ｍ＝１であるので判断は否定され、ステップＳ３４でｍを１インクリメント（ｍ←２）した後、ステップＳ２２に戻る。
【００３９】
ステップＳ２２では、ｐを１に戻し、ステップＳ２４において、近接トラックＢ（ｍ＝２）の幅方向位置（ｐ＝１）にてビタビ・マージンを測定する。そして、ステップＳ２６の判断、ステップＳ２８の処理（ｐ←ｐ＋１）を経て、ステップＳ２４に戻り、その後は、ステップＳ２４を２回行い、幅方向位置ｐ＝２，３にて、ビタビ・マージンをそれぞれ測定する。
【００４０】
そして、ステップＳ３０において、トラックＢ内で最も良好なビタビ・マージン（ビタビ・マージン代表値）の値を取得した後、ステップＳ３２にて、ｍがＭ（Ｍ＝６）であるか否かを判断する。ここでは、ｍ＝２であるので判断は否定され、ステップＳ３４でｍを１インクリメント（ｍ←３）した後に、ステップＳ２２に戻る。
【００４１】
その後は、ステップＳ２２→（Ｓ２４〜Ｓ２８のループ）→Ｓ３０→Ｓ３２→Ｓ３４→Ｓ２２…を繰り返す。この繰り返し処理により、図６に示すような計測順（１〜１８）で、ビタビ・マージンを測定して、各トラック内で最も良好なビタビ・マージン（ビタビ・マージン代表値）を取得する。そして、ステップＳ３２における判断が肯定された段階（ｍ＝Ｍ（＝６）となった段階）で、ステップＳ３６に移行する。
【００４２】
ここまでの処理では、対象トラックＤに対して１０００（１０3）回計測データを書き込んだ際の、近接トラックＡ〜Ｃ，Ｅ〜Ｇそれぞれにおけるビタビ・マージン代表値の取得が完了していることになる。
【００４３】
次いで、ステップＳ３６では、書き込み回数ｎが最大指定書き込み回数（本実施形態では１０００００（１０5）回）であるか否かを判断するが、ここではまだｎ＝１０００（１０3）であるので、判断は否定され、ステップＳ１４に戻る。
【００４４】
その後は、ステップＳ１４において、近接トラック番号ｍを１に戻した後、ステップＳ１６→Ｓ１８→Ｓ２０を繰り返すことにより、対象トラック（トラックＤ）に対して試験データを繰り返し書き込む。そして、対象トラックＤに試験データが１００００（１０4）回書き込まれた時点で、ステップＳ１８の判断が肯定される。
【００４５】
その後は、前述したのと同様に、ステップＳ２２→（Ｓ２４〜Ｓ２８のループ）→Ｓ３０→Ｓ３２→Ｓ３４→Ｓ２２…を繰り返す。この繰り返し処理により、図６に示すような計測順（１〜１８）で、ビタビ・マージンを測定して、各トラック内で最も良好なビタビ・マージン（ビタビ・マージン代表値）を取得する。
【００４６】
ここまでの処理では、対象トラックＤに対して１００００（１０4）回計測データを書き込んだ際の、近接トラックＡ〜Ｃ，Ｅ〜Ｇそれぞれにおけるビタビ・マージン代表値の取得が完了していることになる。
【００４７】
その後、ステップＳ３６における判断が再度否定されると、ステップＳ１４に戻り、近接トラック番号ｍを１に戻した後、ステップＳ１６→Ｓ１８→Ｓ２０を繰り返すことにより、対象トラックＤに対して試験データを繰り返し書き込む。そして、試験データが１０００００（１０5）回に到達した時点で、ステップＳ２２に移行し、前述と同様に、ステップＳ２２→（Ｓ２４〜Ｓ２８のループ）→Ｓ３０→Ｓ３２→Ｓ３４→Ｓ２２…を繰り返す。この繰り返し処理により、図６に示すような計測順（１〜１８）でビタビ・マージンを測定して、各トラック内で最も良好なビタビ・マージン（ビタビ・マージン代表値）を取得する。
【００４８】
ここまでの処理では、対象トラックＤに対して１０００００（１０5）回計測データを書き込んだ際の、近接トラックＡ〜Ｃ，Ｅ〜Ｇそれぞれにおけるビタビ・マージン代表値の取得していることになる。
【００４９】
図７（ａ）は、これまでの処理において取得したビタビ・マージン代表値をまとめたグラフである。この図７（ａ）のグラフに示すように、対象トラックＤに近ければ近いほど、対象トラックＤへの試験データの書き込みによる影響（書き広がりによるサイドイレーズ）を受けやすいことが分かる。また、図７（ｂ）は、これらの試験結果のうち、トラックＤに最も近い近接トラックＣと最も遠い近接トラックＧの試験結果をまとめたグラフである。
【００５０】
図３に戻り、次のステップＳ３８では、ＣＰＵ（図２の推定手段７６）が、近接トラックのビタビ・マージン測定値を曲線近似し、実際に計測データを書き込んだ回数よりも大きい回数相当のビタビ・マージンを推定する。ここで、実際に計測データを書き込んだ回数よりも大きい回数とは、ＨＤＤ１００において予め定められた保証書き込み回数、ここでは、１００００００（１０6）回であるものとする。本実施形態において、図７（ｂ）のグラフを曲線近似して推定した結果が図８（ａ）に示されている。
【００５１】
これに対し、対象トラックに対して、実際に１００００００回試験データを書き込んだときに得られる試験結果が図８（ｂ）に示されている。これら図８（ａ）と図８（ｂ）とを比較すると、図８（ａ）の推定結果は、図８（ｂ）の実測結果とほぼ一致していることが分かる。なお、図８（ａ）では、近接トラックＣと近接トラックＧの推定値のみを図示しているが、ステップＳ３８では、他の近接トラックＡ、Ｂ、Ｅ、Ｆについても同様に、推定を実行する。
【００５２】
ここで、図９（ａ）は、上記のようにして（オフセットありの状態で）推定されたビタビ・マージンの推定値と実際に１００００００回計測データを書き込んで計測した場合のビタビ・マージンの実測値と、の関係を示す。また、図９（ｂ）は、近接トラック内の幅方向位置を変えずに、１箇所（幅方向中央位置（Ｐ＝２））でビタビ・マージンを測定した場合（オフセットなし）を示す比較図である。これらの図から、本実施形態（図９（ａ））では、推定結果が、傾き１の一次関数（ｙ＝ｘ）上に集中してプロットされているのに対し、比較例（図９（ｂ））では、図９（ａ）よりも広い範囲に分散してプロットされていることが分かる。すなわち、本実施形態の方法を用いることにより、推定値と実測値との乖離を抑制できていることが明らかとなっている。
【００５３】
図３に戻り、次のステップＳ４０では、ＣＰＵ（図２の判断手段７８）が、ステップＳ３８の推定結果と閾値とを比較して、推定結果の方が閾値よりも小さいか否かについて判断する。ここで、閾値は、各トラックＡ〜Ｃ，Ｅ〜Ｇごとに定められており、例えば、近接トラックＣについては、図８（ａ）に示される閾値ＴＬｃであり、近接トラックＧについては、図８（ａ）に示される閾値ＴＬｇであるものとする。なお、各閾値は、対象トラックＤに対する近接度合いから決定することができる。したがって、例えば、トラックＣとＥを同一の閾値、トラックＢとＦを同一の閾値、トラックＡとＧを同一の閾値に設定することができる。
【００５４】
この場合、図８（ａ）からは、近接トラックＣ、Ｇの推定結果が閾値ＴＬｃ、ＴＬｇを超えていないのが分かるが、他の近接トラックも同様に、推定結果が閾値を超えていなかった場合には、ステップＳ４０の判断は肯定される。この場合、ステップＳ４２に移行して、保証書き込み回数（１００００００回）を満足していると判断し、図３の全処理を終了する。
【００５５】
これに対し、近接トラックＡ〜Ｃ、Ｅ〜Ｇのうち、推定結果が自己の閾値を超えている近接トラックが少なくとも１つあった場合には、ステップＳ４０の判断が否定される。この場合、ステップＳ４４に移行して、保証書き込み回数を満足していないと判断し、図３の全処理を終了する。
【００５６】
上記説明から分かるように、本実施形態では、図３のフローチャートのステップＳ２４→Ｓ２６→Ｓ２８の処理（ループ）が、本発明の測定工程に対応している。また、ステップＳ３８が本発明の推定工程に対応し、ステップＳ４０、Ｓ４２、Ｓ４４が本発明の判断工程に対応している。また、ステップＳ２４→Ｓ２６→Ｓ２８の処理（ループ）動作を実行するＣＰＵにより、本発明のデータ取得手段が実現され、ステップＳ３０の処理動作を実行するＣＰＵにより、本発明の代表値手段が実現されている。また、ステップＳ３８の処理動作を実行するＣＰＵにより、本発明の推定手段が実現されている。
【００５７】
以上、詳細に説明したように、本実施形態によると、磁気ディスク１２の対象トラックＤに計測データを繰り返し書き込んだ後に、近傍トラックＡ〜Ｃ，Ｅ〜Ｇのビタビ・マージンを、近傍トラック内の幅方向の異なる位置ごとに取得し（ステップＳ２４）、そのビタビ・マージンを用いて近傍トラックのビタビ・マージンの代表値を決定する（ステップＳ３０）ので、元データが書き込まれた位置や、近傍トラックの幅方向位置に関する特性を考慮して代表値を決定することができる。また、元データが書き込まれた位置や近傍トラックの幅方向位置に関する特性を考慮した代表値を用いて、実際に計測データを対象トラックに書き込んだデータ書き込み回数よりも多くデータを書き込んだときのビタビ・マージンを推定することから、推定したビタビ・マージンの相関性を実測値の相関性と合致させることができるので、ビタビ・マージンの推定を高精度に行う（実測値との乖離度を低減する）ことが可能である。また、指標値を実際に測定する場合に比べて計測データを磁気ディスク１２に書き込む回数が少なくなるので、試験に要する時間を短縮することが可能である。このことは、本発明者のシミュレーション結果（試験データを書き込む回数が１００００００回の場合には１回の試験に４２００秒かかったのに対し、本実施形態の方法では４８０秒に短縮できた点）からも明らかになっている。
【００５８】
また、本実施形態では、上記試験によりサイドイレーズ等が生じないことを保証する書き込み回数を決定することができる。これにより、磁気ヘッド１６を流れるライト電流に瞬間的に重畳させるオーバーシュート電流を可能な限り大きな値にするように制御することができるので、磁気ヘッドによる書き込み性能を向上することが可能である。
【００５９】
また、本実施形態によると、近隣トラック別に、閾値が設定されていることから、近隣トラックのいずれかにおいて閾値以上のビタビ・マージンが推定された場合に、保証書き込み回数を満足していないと判断することで、保証書き込み回数に関する試験を精度良く行うことが可能である。
【００６０】
なお、上記実施形態では、トラック内において測定されたビタビ・マージンのうちもっとも良好な値をビタビ・マージンの代表値とすることとしたが、これに限られるものではない。例えば、トラック内において測定されたビタビ・マージンの平均値や、幅方向位置に応じた重み付け平均値などを、代表値とすることも可能である。すなわち、磁気ディスク１２の特性等を考慮して、最適な方法で代表値を求めるようにすれば良い。
【００６１】
なお、上記実施形態では、信号品質に関する指標値として、ビタビ・マージンを測定することとしたがこれに限られるものではない。すなわち、その他の指標値、例えば、ディスク装置のディスクに記録されたデータに対して複数回の読み出しを試みたときに、読み出しに失敗する確率（エラーレート）などを測定するようにしても良い。
【００６２】
なお、上記実施形態では、説明の便宜上、近接トラック内の幅方向位置の左から右に（ｐ＝１→ｐ＝２→ｐ＝３）順に計測する場合について説明したが、これに限られるものではない。例えば、近接トラックの幅方向に関する中央部（ｐ＝２）をまず計測し、その後に、ディスク内側（又は外側）にわずかにオフセットさせた位置での計測を行うこととしても良い。
【００６３】
なお、上記実施形態では、試験装置２００のＣＰＵ（及び当該ＣＰＵにインストールされている試験プログラム）が、本発明のデータ取得手段、代表値決定手段、及び推定手段を構成する場合について説明したが、これに限られるものではない。上記各手段は、別々のハードウェアによってそれぞれ構成されていても良い。
【００６４】
上述した実施形態は本発明の好適な実施の例である。但し、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】一実施形態に係るＨＤＤのブロック図である。
【図２】試験装置のＣＰＵの機能ブロック図である。
【図３】試験装置のＣＰＵの試験シーケンスを示すフローチャートである。
【図４】対象トラックと近接トラックを説明するための模式図である。
【図５】近接トラック内の幅方向位置（Ｐ＝１〜３）について説明するための模式図である。
【図６】ビタビ・マージンの計測順について説明するための図である。
【図７】各近接トラックにおけるビタビ・マージンの計測結果と、トラックＣとトラックＧにおけるビタビ・マージンの計測結果のみを採り上げて示すグラフである。
【図８】図７（ｂ）のグラフから曲線近似により推定したビタビ・マージンと実測したビタビ・マージンを示すグラフである。
【図９】ビタビ・マージンの推定値と実測値との関係を、従来の方法と一実施形態の方法とで比較して示す図である。
【符号の説明】
【００６６】
１２  磁気ディスク
７２  デ―タ取得手段
７４  代表値決定手段
７６  推定手段
１００  ハードディスクドライブ（ディスク装置）
【図１】
0005010510.tif 000002
【図２】
0005010510.tif 000003
【図３】
0005010510.tif 000004
【図４】
0005010510.tif 000005
【図５】
0005010510.tif 000006
【図６】
0005010510.tif 000007
【図７】
0005010510.tif 000008
【図８】
0005010510.tif 000009
【図９】
0005010510.tif 000010