【手続補正書】
【提出日】平成30年5月8日(2018.5.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
逆反射マーカを有するアミューズメントパーク特徴部と、
電磁放射線を前記逆反射マーカに向けて放射するように構成されたエミッタと、
逆反射されない電磁放射線を濾過しながら前記逆反射マーカからの前記電磁放射線の逆反射を検出するように構成された検出器と、
前記検出器に通信的に結合された制御システムであって、
メモリに格納された前記逆反射マーカからの逆反射電磁放射線の基準痕跡に対して該逆反射マーカからの該逆反射電磁放射線をモニタし、かつ
前記逆反射マーカによって逆反射された前記電磁放射線と逆反射電磁放射線の前記基準痕跡との間の相違を識別して前記アミューズメントパーク特徴部の状態を評価し、かつ前記アミューズメントパーク特徴部の保守の必要性を判断する、
ように構成された処理回路を含む前記制御システムと、
を含むことを特徴とするアミューズメントパーク検査システム。
【請求項２】
前記アミューズメントパーク特徴部の前記状態の前記評価に関連するユーザ認識可能表示を与えるように構成された情報システムを含むことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記検出器は、周囲環境内の電磁放射線が前記逆反射マーカによって逆反射された前記電磁放射線と重なる波長を含む時でさえも、該検出器が閾値レベルよりも高い信号対ノイズ比を維持するように、逆反射されない電磁放射線を濾過して除去するように構成された１又は２以上の光学フィルタを含むことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記アミューズメントパーク特徴部は、建物の外部上に位置決めされた前記逆反射マーカを有する建物であり、該逆反射マーカは、該外部の面処理部の下に配置されることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
メモリに格納された前記逆反射マーカからの逆反射電磁放射線の前記基準痕跡は、前記面処理部による該逆反射マーカの全面的なカバレージに起因して該逆反射マーカによる逆反射電磁放射線の実質的な欠如を有することを特徴とする請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
前記制御システムの前記処理回路は、前記逆反射マーカからの逆反射電磁放射線の量に基づいて前記面処理部の劣化の程度を評価するように構成されることを特徴とする請求項４に記載のシステム。
【請求項７】
前記制御システムの前記処理回路は、該制御システムと通信する情報システムをして前記面処理部が保守を必要とするというユーザ認識可能表示を生成させるように構成されることを特徴とする請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記アミューズメントパーク特徴部は、前記逆反射マーカを有するアミューズメントパーク乗り物の支持特徴部を含み、
前記制御システムの前記処理回路は、前記逆反射マーカによる前記電磁放射線の逆反射をモニタして該逆反射マーカの移動を評価し、かつ該逆反射マーカの移動を前記支持特徴部の移動に相関付けるように構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
前記制御システムの前記処理回路は、前記逆反射マーカによる逆反射電磁放射線のパターンの変化に基づいて該逆反射マーカの移動の程度を識別し、かつ該逆反射マーカの該移動の程度を移動閾値と比較することにより、該逆反射マーカの移動を評価するように構成されることを特徴とする請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
前記エミッタ及び検出器がその上に配置され、該エミッタ及び検出器のベースライン方位を確立するように構成された安定化支持体を含むことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項１１】
前記制御システムの前記処理回路は、前記逆反射マーカの移動の程度を経時的に識別して前記アミューズメントパーク特徴部が経時的に沈下したか否かを評価するように構成されることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項１２】
前記アミューズメントパーク特徴部は、乗り物システムを含み、
前記制御システムの前記処理回路は、前記乗り物システムの作動中に前記逆反射マーカの移動の程度を識別して該乗り物システムの作動中の前記アミューズメントパーク特徴部の移動の程度を評価するように構成され、
前記制御システムの前記処理回路は、前記アミューズメントパーク特徴部の前記評価された移動の程度を閾値移動程度と比較して該アミューズメントパーク特徴部が保守を必要とするか否かの決定を行うように構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項１３】
前記エミッタと、前記検出器と、前記制御システムの前記処理回路の少なくとも一部分とは、全体ステーション、ロボット全体ステーション、電子距離計、セオドライト、又はそのいずれかの組合せを含む検査機器に統合されるか又はその一部を形成することを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項１４】
アミューズメントパーク乗り物の複数の支持特徴部上に位置決めされた複数の逆反射マーカを含み、
前記検査機器は、前記電子距離計を含み、
前記制御システムの処理回路が、前記複数の逆反射マーカから逆反射された電磁放射線の同時検出に基づいて、前記エミッタ及び前記検出器を有する前記検査機器から前記複数の支持特徴部の各支持特徴部までの距離を決定するように構成される、
ことを特徴とする請求項１３に記載のシステム。
【請求項１５】
前記制御システムの前記処理回路は、前記複数の支持特徴部のうちの少なくとも１つの他の支持特徴部に対する該複数の支持特徴部の各支持特徴部の移動を評価して該支持特徴部が該複数の支持特徴部のうちの該少なくとも１つの他の支持特徴部に対して移動したか否かを決定するように構成されることを特徴とする請求項１４に記載のシステム。
【請求項１６】
アミューズメントパーク特徴部を検査する方法であって、
エミッタを用いて、アミューズメントパークアトラクション区域内に位置決めされて逆反射マーカを有するアミューズメントパーク特徴部の方向に電磁放射線を向ける段階と、  検出器を用いて、逆反射されない電磁放射線を濾過して除去しながら前記アミューズメントパーク特徴部上に配置された前記逆反射マーカから逆反射された電磁放射線を検出する段階と、
前記検出器と通信する制御システムの処理回路を用いて、メモリに格納された前記逆反射マーカからの逆反射電磁放射線の基準痕跡に対して該逆反射マーカからの該逆反射電磁放射線をモニタする段階と、
前記逆反射マーカによって逆反射された前記電磁放射線と逆反射電磁放射線の前記基準痕跡との間の相違を識別して前記アミューズメントパーク特徴部の状態を評価し、かつ前記アミューズメントパーク特徴部の保守の必要性を判断する段階と、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項１７】
前記アミューズメントパーク特徴部の方向に電磁放射線を向ける段階は、建物の外部上に位置決めされた前記逆反射マーカを有する建物の方向に該電磁放射線を向ける段階を含み、該逆反射マーカは、該外部の面処理部の下に位置決めされ、
方法が、
前記制御システムを用いて、前記検出器によって検出された前記逆反射マーカからの逆反射電磁放射線の量に基づいて前記面処理部の劣化の程度を評価する段階、
を含む、
ことを特徴とする請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記アミューズメントパーク特徴部の方向に電磁放射線を向ける段階は、前記逆反射マーカを有するアミューズメントパーク乗り物の支持特徴部の方向に該電磁放射線を向ける段階を含み、
方法が、
前記逆反射マーカによる前記電磁放射線の逆反射をモニタし、該逆反射マーカに関連付けられた位置情報に基づいて前記制御システムを用いて該逆反射マーカの移動を評価する段階と、
前記制御システムを用いて前記逆反射マーカの移動を前記支持特徴部の移動に相関付ける段階と、
を含む、
ことを特徴とする請求項１６に記載の方法。
【請求項１９】
前記制御システムを用いて前記支持特徴部の前記移動の程度を閾値移動程度と比較する段階と、
前記制御システムを用いて前記支持特徴部の前記移動の前記程度と前記閾値移動程度の間の前記比較に基づいて該支持特徴部が保守を必要とするか否かを識別する段階と、
前記制御システムと該制御システムに通信する情報システムとを用いて、前記支持特徴部の前記移動の程度が前記閾値移動程度よりも大きい場合に該支持特徴部が保守を必要とするというユーザ認識可能表示を生成する段階と、
を含むことを特徴とする請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
アミューズメントパーク特徴部を検査するように構成された検査システムであって、
逆反射マーカと、
前記逆反射マーカに向けて電磁放射線を放射するように構成されたエミッタと、
前記逆反射マーカによって逆反射された電磁放射線に相関付けられ、かつ逆反射されない電磁放射線を濾過しながら該逆反射マーカからの該電磁放射線の逆反射を検出するように構成された検出器と、
前記エミッタと前記検出器とに通信的に結合された制御システムであって、
メモリに格納された前記逆反射マーカからの逆反射電磁放射線の基準痕跡に対して該逆反射マーカからの該逆反射電磁放射線をモニタし、かつ
前記逆反射マーカによって逆反射された前記電磁放射線と逆反射電磁放射線の前記基準痕跡との間の位置及び向きの相違を含む相違を識別してアミューズメントパーク特徴部の状態を評価し、かつ前記アミューズメントパーク特徴部の保守の必要性を判断する、
ように構成された処理回路を含む前記制御システムと、
を含み、
前記エミッタと、前記検出器と、前記制御システムの前記処理回路の少なくとも一部分とは、全体ステーション、ロボット全体ステーション、電子距離計、セオドライト、又はそのいずれかの組合せを含む検査機器に統合されるか又はその一部を形成する、
ことを特徴とする検査システム。