【手続補正書】
【提出日】平成30年4月10日(2018.4.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
特に適用中に非医師によって操作されるようになっている耳鏡装置であって、
−  患者の外耳の耳道に導入されるようになっている部分；
−  前記患者の外耳、特に鼓膜の少なくとも１枚の画像を捕捉するようになっている電子撮像ユニット（４０）、好ましくは、光電子解析ユニットである電子撮像ユニット
を含み、
４８０ｎｍ又は５００ｎｍよりも長い波長と比べて、特に５００ｎｍ又は４８０ｎｍよりも短い波長に関して、空間的に分解されたスペクトル情報を決定するようになっており、且つ好ましくは、４８０ｎｍ又は５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分の量に関して、青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分、特に特定の強度又は比の青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分に依存して、少なくとも１枚の画像に示されている物体、特に鼓膜を同定及び／又は位置特定するようになっている電子的及び／又は光学的手段を更に含むことを特徴とする耳鏡装置。
【請求項２】
特に適用中に非医師によって操作されるようになっている耳鏡装置であって、
−  患者の外耳、特に鼓膜によって反射される放射線を検出するようになっている放射線検出ユニット
を含み、
特に５００ｎｍ〜４８０ｎｍよりも短い波長に関して、反射放射線のスペクトル情報を決定するようになっており、且つ特に青色光及び／又は紫外線のスペクトル内の反射放射線の特定の強度に基づいて、４８０ｎｍ〜５００ｎｍ未満のスペクトルの放射線の４８０ｎｍ〜５００ｎｍ超のスペクトルの放射線に対する比を決定するようになっている電子的及び／又は光学的手段を更に含むことを特徴とする耳鏡装置。
【請求項３】
前記電子的及び／又は光学的手段が、前記外耳又は前記少なくとも１枚の画像の特定の部分に関して、特に前記少なくとも１枚の画像の特定の画素又は画素領域部分に関して、空間的に分解されたスペクトル情報を決定するようになっている請求項１から２のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項４】
所定のスペクトル帯における所定の強度で耳を照らすようになっている少なくとも１つの放射線源を更に含む請求項１から３のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項５】
前記少なくとも１つの放射線源が、特に５００ｎｍ〜１００ｎｍの範囲、好ましくは４８０ｎｍ未満の青色光及び／又は紫外線を放射するようになっている請求項４に記載の耳鏡装置。
【請求項６】
前記電子的及び／又は光学的手段が、特に青色スペクトル域、並びに緑色スペクトル域及び／又は赤色スペクトル域に関して、前記少なくとも１つの放射線源によって放出される放射線のスペクトル組成を調整するようになっている、及び／又は
前記電子的及び／又は光学的手段が、前記少なくとも１つの放射線源によって放出される放射線のスペクトル組成を較正するようになっており、且つ決定された反射放射線のスペクトル組成を較正された放出放射線のスペクトル組成と比較するようになっている請求項４から５のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項７】
前記電子的及び／又は光学的手段が、前記少なくとも１つの放射線源の放射線の強度を調整するようになっており、特に、前記少なくとも１枚の画像が、特定の量の４８０ｎｍ〜５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分、特に赤色スペクトル成分の外側のスペクトル組成を示す場合、又は青色の赤色に対する比が、特定の最小レベルを下回るか若しくは特定の最大レベルを上回る場合、前記放射線の強度を低減するようになっている請求項４から６のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項８】
少なくとも１つの一体化した放射線源又は２つ以上の別個の放射線源を含み、前記放射線源が、５００ｎｍ未満、好ましくは４８０ｎｍ未満のスペクトルの放射線を放出し、前記放射線源が、４８０ｎｍ又は５００ｎｍ超、好ましくは５８０ｎｍ又は６３０ｎｍ超のスペクトルの放射線を放出し、前記放射線源が、前記電子的手段に接続され、前記電子的及び／又は光学的手段が、４８０ｎｍ〜５００ｎｍ未満のスペクトルの放射線の４８０ｎｍ〜５００ｎｍ超のスペクトルの放射線に対する比、特に反射光の青色スペクトル成分の赤色スペクトル成分に対する比を決定するようになっている請求項１から７のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項９】
少なくとも１つ以上の放射線源を含み、前記放射線源が、可視光スペクトル及び／又は紫外線全体を放出するようになっており、好ましくは白色ＬＥＤ、特に好ましくは冷白色ＬＥＤである請求項１から８のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項１０】
前記耳鏡装置の前記電子的及び／又は光学的手段が、４８０ｎｍ〜５００ｎｍ未満のスペクトルの放射線の４８０ｎｍ〜５００ｎｍ超のスペクトルの放射線に対する比又は比のシフトを評価するようになっている請求項１から９のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項１１】
前記電子的及び／又は光学的手段が、放出放射線の強度に関して、４８０ｎｍ〜５００ｎｍ未満のスペクトルの反射放射線の４８０ｎｍ〜５００ｎｍ超のスペクトルの反射放射線に対する比、特に、青色の赤色に対する比を評価するようになっている請求項１から１０のいずれかに記載の耳鏡装置。
【請求項１２】
患者の外耳、特に鼓膜によって反射される放射線を検出するようになっている放射線検出ユニットを含む耳鏡装置であって、
− 少なくとも１つの又は幾つかの放射線源、即ち、５００ｎｍ未満、好ましくは４８０ｎｍ未満のスペクトルの放射線を放出する少なくとも１つの放射線源、及び４８０ｎｍ若しくは５００ｎｍ超のスペクトルの放射線を放出する少なくとも１つの放射線源、及び／又は放出放射線のスペクトルを電子的に調整するようになっている少なくとも１つの放射線源；
− 前記放射線源に接続され、反射放射線のスペクトル情報を決定するようになっており、前記放射線源の切換及び／又は放出放射線のスペクトルの調整を行うようになっており、４８０ｎｍ〜５００ｎｍ未満のスペクトルの反射放射線と４８０ｎｍ〜５００ｎｍ超、５００ｎｍ超、又は６００ｎｍ超のスペクトルの反射放射線との比較に基づいて、物体を同定及び／又は位置特定するようになっている電子的及び／又は光学的手段
を更に含むことを特徴とする耳鏡装置。
【請求項１３】
特に請求項１から１２のいずれかに記載の耳鏡装置を用いて、被験体の耳内の物体を同定及び／又は位置特定する方法であって、
（Ｓ１） 特に被験体の外耳の耳道に電子撮像ユニット（４０）を導入することによって、患者の外耳の少なくとも１枚の画像を捕捉するようになっている電子撮像ユニット（４０）、好ましくは、光電子解析ユニットである電子撮像ユニットを提供する工程と；
（Ｓ２） 前記電子撮像ユニット（４０）を用いて、前記患者の外耳、特に鼓膜の前記少なくとも１枚の画像を捕捉する工程と；
（Ｓ３） 物体のうちの少なくとも１つ、特に鼓膜を自動的に同定及び／又は位置特定するために、電子的及び／又は光学的手段（４４）によって前記少なくとも１枚の画像に示されている物体を同定及び／又は位置特定するためのスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４） 特に４８０ｎｍ又は５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分の量に関して、５００ｎｍ又は４８０ｎｍ以下の波長における青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記物体のうちの少なくとも１つ、特に鼓膜を同定及び／又は位置特定する工程と
を含むことを特徴とする方法。
【請求項１４】
（Ｓ１ａ）  少なくとも１つの放射線源を前記耳道に導入する工程と；
（Ｓ１ｂ）  前記少なくとも１つの放射線源、特に光源、好ましくは青色光を放出するようになっている１以上のＬＥＤ、及び／又は紫外線を放出するようになっている放射線源を用いて前記耳道を照らす工程と；
を更に含む請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
スペクトル情報が、５００ｎｍ又は４８０ｎｍ未満の波長の５００ｎｍ又は６００ｎｍ超の波長に対する比に基づいて決定され、前記比が評価され、閾値を超える比が、鼓膜領域、特に健常鼓膜の指標として評価され、特に放出放射線及び／又は反射された放射線の特定の強度に関して、スペクトル情報が、好ましくは、前記少なくとも１枚の画像又は前記画像の画素若しくは画素領域の輝度に基づいて決定される請求項１３から１４のいずれかに記載の方法。
【請求項１６】
前記耳道を照らすことを含み、放射線の強度が、前記少なくとも１枚の画像を取得するための最小強度に調整され、好ましくは、特に青色スペクトル成分の緑色又は赤色スペクトル成分に対する特定の最小比に依存して、前記少なくとも１枚の画像が特定の量の赤色スペクトル成分を超える場合に前記放射線の強度を低減する請求項１３から１５のいずれかに記載の方法。
【請求項１７】
前記スペクトル情報の決定が、青色スペクトル成分の解析を含み、前記少なくとも１つの物体の同定及び／又は位置特定が、鼓膜及び／又は鼓膜領域及び／又は鼓膜の一部の同定及び／又は位置特定を含む請求項１３から１６のいずれかに記載の方法。
【請求項１８】
前記スペクトル情報の決定が、画素毎の計算、特に、４８０ｎｍ〜５００ｎｍ未満のスペクトルの強度の４８０ｎｍ〜５００ｎｍ超のスペクトルの強度による画素毎の除算を含む請求項１３から１７のいずれかに記載の方法。
【請求項１９】
青色スペクトル成分及び他のスペクトル成分における照明及び／又は反射強度に関して、特定の最小量又は最大量の特定のスペクトル成分、特に特定の量の青色スペクトル成分を有するスペクトル組成を通して、位置特定された前記少なくとも１つの物体の状態、特に医学的状態を判定する工程（Ｓ５）を更に含む請求項１３から１８のいずれかに記載の方法。
【請求項２０】
前記鼓膜の位置が同定され、特に特定の量の赤色スペクトル成分及び／又は緑色スペクトル成分、若しくは特定の比範囲に関して又は関連して、前記状態の判定が、前記スペクトル組成が特定の量の青色スペクトル成分又は特定の比範囲、好ましくは青色の赤色に対する比、又は好ましくは青色の緑色に対する比を示す場合、健常鼓膜であると判定することを含み、前記状態の判定が、前記スペクトル組成が特定の量の青色スペクトル成分又は特定の比範囲、好ましくは青色の赤色に対する比を示す場合、病気の鼓膜であると判定することを含む請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
特に請求項１から１２のいずれかに記載の耳鏡装置を用いて、被験体の耳内の物体を同定及び／又は位置特定する方法であって、
（Ｓ１） 特に被験体の外耳の耳道に放射線検出ユニットを導入することによって、放射線検出ユニットを提供する工程と；
（Ｓ３） 物体のうちの少なくとも１つ、特に鼓膜を自動的に同定及び／又は位置特定するために、前記放射線検出ユニットを用いて反射放射線のスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４） 特に４８０ｎｍ又は５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分の量に関して、反射放射線内の青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記物体のうちの少なくとも１つ、特に鼓膜を同定及び／又は位置特定する工程と
を含むか、又は
（Ｓ３） 物体のうちの少なくとも１つ、特に鼓膜を自動的に同定及び／又は位置特定するために、前記放射線検出ユニットを用いて反射放射線のスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４） 反射放射線内の青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記物体のうちの少なくとも１つ、特に鼓膜を同定及び／又は位置特定する工程であって、
前記同定及び／又は位置特定が、第１のスペクトル閾値に基づいて、第１の波長範囲に関して、又は様々な波長における強度間の比の値に関して行われるか、又は
第１のスペクトル閾値よりも高い第２のスペクトル閾値に基づいて若しくは第１の波長範囲よりも長い第２の波長範囲に関して、又は少なくとも２つの異なるスペクトル閾値に基づいて若しくは少なくとも２つの異なる波長範囲に関して行われ、前記方法が、第２のスペクトル閾値及び／又は第２の波長範囲及び／又は異なる波長における強度間の比に基づいて、好ましくは、前記物体の特定の表面領域部分に関して、物体を特性評価する、特に鼓膜を医学的に特性評価することを含む工程と
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２２】
被験体の耳内の健常鼓膜を同定する方法であって、
（Ｓ２）  電子撮像ユニット（４０）を用いて、鼓膜の少なくとも１枚の画像を捕捉する工程と；
（Ｓ３）  電子的及び／又は光学的手段（４４）によって前記少なくとも１枚の画像に示されている前記鼓膜を自動的に同定するためにスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４）  青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記鼓膜を同定及び／又は位置特定する工程と；
（Ｓ５ａ）  特定の量の青色スペクトル成分又は５００ｎｍよりも短い波長、好ましくは４８０ｎｍよりも短い波長を有するスペクトル成分、及び／又は異なる波長における強度間の比の値を示すスペクトル組成に依存して、前記鼓膜を健常鼓膜であると判定する工程と
を含むか、又は
（Ｓ３） 反射放射線に基づいて鼓膜を自動的に同定及び／又は位置特定するために、前記反射放射線のスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４） 前記反射放射線内の青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記鼓膜を同定する工程と；
（Ｓ５ａ） 特に４８０ｎｍ又は５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分の量に関して、特定の量の青色スペクトル成分又は５００ｎｍよりも短い波長、好ましくは４８０ｎｍよりも短い波長を有するスペクトル成分を示すスペクトル組成に依存して、前記鼓膜を健常鼓膜であると判定する工程と
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２３】
被験体の耳内の炎症を起こした鼓膜を同定する方法であって、
（Ｓ２） 電子撮像ユニット（４０）を用いて、鼓膜の少なくとも１枚の画像を捕捉する工程と；
（Ｓ３） 電子的及び／又は光学的手段（４４）によって前記少なくとも１枚の画像に示されている前記鼓膜を自動的に同定及び／又は位置特定するためにスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４） 青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記鼓膜を同定及び／又は位置特定する工程と；
（Ｓ５ｂ） 特定の量の赤色スペクトル成分、即ち、４８０ｎｍ〜５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分、及び／又は特定の量の青色スペクトル成分、即ち、５００ｎｍよりも短い波長、好ましくは４８０ｎｍよりも短い波長を有するスペクトル成分を有するスペクトル組成に依存して、前記鼓膜及び／又は前記鼓膜の近傍を炎症を起こしたものであると判定する工程と
を含むか、又は
（Ｓ３） 反射放射線に基づいて鼓膜を自動的に同定するために、前記反射放射線のスペクトル情報を決定する工程と；
（Ｓ４） 前記反射放射線内の青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、前記鼓膜を同定及び／又は位置特定する工程と；
（Ｓ５ｂ） 特に４８０ｎｍ又は５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分の量に関して、特定の量の赤色スペクトル成分、即ち、４８０ｎｍ〜５００ｎｍよりも長い波長を有するスペクトル成分、及び／又は特定の量の青色スペクトル成分、即ち、５００ｎｍよりも短い波長、好ましくは４８０ｎｍよりも短い波長を有するスペクトル成分を有するスペクトル組成に依存して、前記鼓膜を炎症を起こした鼓膜であると判定する工程と
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２４】
特に４８０ｎｍ〜５００ｎｍよりも短い波長に関してスペクトル情報を決定するため、並びに青色スペクトル成分及び／又は紫外スペクトル成分の特定の強度に依存して、反射放射線に基づいて、又は耳鏡によって取得される少なくとも１枚の画像に基づいて、物体、特に鼓膜を同定及び／又は位置特定するための、耳鏡、特に請求項１から１２のいずれかに記載の耳鏡装置の使用。