【誤訳訂正書】
【提出日】平成30年3月26日(2018.3.26)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００７】
装置は、電源；ポータブルハウジングの外側から発せられる光学放射線がハウジングに入るように、少なくとも一つの光学開口を画定するポータブルハウジングであって、該装置の構成部品を囲む、ポータブルハウジング；および、同じものを見ることを可能にするために表示デバイスと視覚的に整列し得る少なくとも一つのアイピースを含むポータブルカメラの形態であり得る。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放電の大きさを有し、対応する光学放射線放出を生じさせる放電を、検出および計測するための装置であって、
潜在的な放電源を含む場面から光学放射線を受けるように構成された受光器装置；
該受光器装置によって受けられた該光学放射線に基づいてイメージを形成するように構成された第一のイメージ形成手段；
該受光器装置から該光学放射線を受けて処理し、検出器出力を生成するための、該受光器装置に光学的に結合された光学検出器と、
放電の大きさと関連する校正定量計測値およびそれに対応する検出器パラメータを含む既定の校正データを記憶するメモリデバイスであって、該検出器パラメータが、該光学検出器と関連する作動パラメータである、メモリデバイスと、
特定の検出器パラメータを該記憶された校正データとともに受けて処理し、それにより、放電を検出し、該検出された放電の大きさと関連する定量計測値を決定するように構成された定量計測モジュールと
を含む計測システム；
該第一のイメージ形成手段によって形成されたイメージを表示するための表示デバイス；および
該決定された定量計測値を、該表示デバイスによって表示された該イメージの上にオーバーレイするように構成されたイメージプロセッサ
を含む装置。
【請求項２】
定量計測モジュールが、
受けた検出器パラメータを、校正データの一部を形成する検出器パラメータと比較すること；
放電の検出という結果を生じる一致に対して、該一致する検出器パラメータに対応する校正定量計測値を取得すること
により、該受けた検出器パラメータを記憶された校正データを用いて処理し、
任意で、該取得された校正定量計測値を使用して、検出された放電の大きさと関連する定量計測値を決定する
ように構成されている、請求項1に記載の装置。
【請求項３】
電源；
ポータブルハウジングの外側から発せられる光学放射線が該ハウジングに入るように、少なくとも一つの光学開口を画定するポータブルハウジングであって、前記装置の構成部品を囲む、ポータブルハウジング；および
同じものを見ることを可能にするために表示デバイスと視覚的に整列し得る少なくとも一つのアイピース
を含むポータブルカメラの形態である、請求項1または2に記載の装置。
【請求項４】
受光器装置が、
光学放射線を受けるための一つまたは複数の光学レンズおよび／またはフィルタを含む集光器；ならびに
該集光器に光学的に結合され、受けた光学放射線のスペクトルの全部または一部をイメージ形成手段および計測システムに反射するように構成されたビームスプリッタ
を含む、前記請求項のいずれか1項に記載の装置。
【請求項５】
装置が、該装置と潜在的な放電または放電源との間の距離を測定するように構成された距離測定手段を含み、定量計測モジュールが、測定距離、および受けた検出器パラメータと関連する校正定量計測値を使用して、検出された放電の定量計測値を決定するように構成されており、任意で、該定量計測モジュールが、該検出された放電の該定量計測値を決定する際に大気補正係数を適用するように構成されている、前記請求項のいずれか1項に記載の装置。
【請求項６】
装置が、光学放射線校正源に対して校正され、校正定量計測値が、該校正源と関連する温度、放射照度およびパワーのうちの一つまたは複数であり、校正データの一部を形成する検出器パラメータが、該校正定量計測値に対応する、前記請求項のいずれか1項に記載の装置。
【請求項７】
校正源が黒体校正源であり、定量計測モジュールが、プランクの黒体方程式：
2016521346.tif 000001
を適用することによって放電のエミッタンスパワーを決定するように構成されている、請求項6に記載の装置。
【請求項８】
光学検出器が、受けた光学放射線からの光子を光電子に変換するように作動可能な光電陰極、該光電子に利得を適用して該光電子を増幅するように作動可能な、該光電陰極に結合された増倍管手段、および増幅された電子を検出器出力として出力光子に変換するように構成された陽極を含む、前記請求項のいずれか1項に記載の装置。
【請求項９】
装置が、光学検出器の陽極に動作的に接続された、該陽極によって出力される光子のイメージを形成するための第二のイメージ形成手段を含み、イメージ処理手段が、該第二のイメージ形成手段によって形成されたイメージを、第一のイメージ形成手段によって形成されたイメージの上にオーバーレイするように構成されている、請求項8に記載の装置。
【請求項１０】
計測システムが、受けた光学放射線を処理して光子を出力する際の光電陰極および陽極のうちの一つと関連する電気的パラメータを測定するように構成された電流計測モジュールを含み、定量計測モジュールによって受けられる特定の検出器パラメータが、測定された電気的パラメータである、請求項8または9に記載の装置。
【請求項１１】
電気的パラメータが、受けた光学放射線を処理して検出器出力を生成する際に光学検出器の陽極によって引き込まれる陽極電流であり、そのため、校正データが、複数の陽極電流値、および放電の大きさと関連する対応する校正定量計測値を含む、請求項10に記載の装置。
【請求項１２】
メモリデバイスが、検出器出力ならびに／または受けた光学放射線を処理して検出器出力を生成する際の光電陰極および陽極のうちの一つと関連する電気的パラメータと関連する、既定の校正設定値を記憶し、計測システムが、
該検出器出力および／または電気的パラメータを示す情報を受けて、それぞれの校正設定値からのそれらの変動量を測定するように構成されたパラメータモニタリングモジュール；および
該受けた検出器出力および／または電気的パラメータの、それぞれの校正設定値からの変動量の測定に応じて、該光学検出器の検出器パラメータを修正検出パラメータへと修正または調節して、検出器出力および／または電気的パラメータと、対応する校正設定値との間の既定の関係を維持するように構成された利得制御装置モジュール
を含み、
定量計測モジュールによる処理のために受けることができる特定の検出器パラメータが該修正検出パラメータであり、校正データが、該検出器出力および／または電気的パラメータと該対応する校正設定値との間の既定の関係が維持されているときの、検出器パラメータ、および放電の大きさと関連する対応する校正定量計測値を含む、請求項8または9に記載の装置。
【請求項１３】
電気的パラメータが、受けた光学放射線を処理して検出器出力を生成する際に光学検出器の陽極によって引き込まれる陽極電流であり、該検出器出力が、該光学検出器によって出力される光子の数であるかまたはそれに関連するものであり、検出器パラメータが、該光学検出器の利得または光電陰極に印加されるゲートパルス幅、ひいては該光学検出器の全時間平均利得であり、校正データが、該検出器出力および／または陽極電流が前記対応する校正設定値であるかまたはそれに等しいときの、利得値またはパルス幅値、および放電の大きさと関連する対応する校正定量計測値を含む、請求項12に記載の装置。
【請求項１４】
放電の大きさを有し、対応する光学放射線放出を生じさせる放電を計測する方法であって、
光学検出器と関連する検出器出力および／または電気的パラメータのための既定の校正設定値をメモリデバイス中に記憶する工程であって、該電気的パラメータが該光学検出器の動作と関連する、工程；
放電の大きさと関連する校正定量計測値および該光学検出器の動作と関連する対応する検出器パラメータを含む既定の校正データを該メモリデバイス中に記憶する工程であって、該校正データの一部を形成する該検出器パラメータが、該検出器出力および／または電気的パラメータを該既定の校正設定値に維持するように選択される、工程；
モニタされる検出器出力および／または電気的パラメータを示す情報を受ける工程；
放電からの光学放射線の放出への該光学検出器の曝露に応じて、該メモリデバイス中に記憶された該関連する既定の校正設定値に対する該モニタされる検出器出力および／または電気的パラメータの変動量を測定する工程；
変動量が測定されたならば、該光学検出器デバイスの動作と関連する検出器パラメータを修正検出器パラメータへと修正または調節して、該検出器出力および／または電気的パラメータを該対応する校正設定値に維持する工程；および
該修正検出器パラメータおよび該記憶された校正データを使用して、放電の大きさと関連する定量計測値を決定する工程
を含む方法。
【請求項１５】
検出器パラメータが、光学検出器の全時間平均利得と関連する検出器利得値またはパルス幅値であり、検出器出力が、該光学検出器によって出力される光子の数であるかまたはそれに関連するものであり、校正定量計測値が、放電と関連する温度および放射照度の値のうちの一つを含み、方法が、修正検出器利得値を既定の校正データとともに使用して、該光学検出器によって受けられた放電と関連する入力放射照度および／または温度の量を決定する工程を含む、請求項14に記載の方法。
【請求項１６】
光学検出器デバイスを提供する工程を含む方法であって、該光学検出器デバイスが、受けた光学放射線からの光子を光電子に変換するように作動可能な光電陰極、該光電子に利得を適用して該光電子を増幅するように作動可能な、該光電陰極に結合された増倍管手段、および該増幅された電子を検出器出力として出力光子に変換するように構成された陽極を含む、請求項14または15に記載の方法。
【請求項１７】
電気的パラメータが、受けた光学放射線を処理して検出器出力を生成する際に光学検出器の陽極によって引き込まれる陽極電流であり、したがって、方法が、該陽極電流を測定する工程を含む、請求項16に記載の方法。
【請求項１８】
修正検出器パラメータを校正データへの入力として使用して、該修正検出器パラメータを該校正データ中に記憶された検出器パラメータと照合し、それと関連する校正定量計測値を取得することにより、光学検出器によって受けられた入力光学放射線に関係のある関連する校正定量計測値を決定する工程；
該光学検出器から放電または放電源までの距離を測定または計測する工程；および
該取得された校正定量計測値に距離比率の二乗を乗じることにより、放電の大きさと関連する定量計測値を決定する工程であって、該距離比率が、該光学検出器と放電との間の測定距離および該光学検出器と該光学検出器が校正された放電源との間の校正距離の比率である、工程
を含む、請求項14〜17のいずれか1項に記載の方法。
【請求項１９】
取得された校正定量計測値をプランクの黒体方程式：
2016521346.tif 000002
とともに使用して放電のパワーを決定する工程を含む、請求項18に記載の方法。
【請求項２０】
方法が、
検出器出力および／または電気的パラメータのための校正設定値を決定すること；ならびに
変動する入力光学放射線に対して検出器パラメータを校正して、光学検出器の該検出器出力および／または電気的パラメータを該決定された校正設定値に一定に保つこと
によって該光学検出器デバイスを校正する工程を含み、該校正する工程が、放電の校正源と関連する変動する入力放電の大きさと関連する校正定量計測値を決定および記憶すること、ならびに決定および記憶された各校正定量計測値について、該検出器出力および／または電気的パラメータを該決定された設定値に一定に保つために必要な関連する検出器パラメータを測定および記憶することによって、校正データを測定する工程を含む、請求項14〜19のいずれか1項に記載の方法。
【請求項２１】
校正データが、検出器パラメータに対する校正定量計測値の校正曲線またはルックアップテーブルを含み、したがって、方法が、修正検出器パラメータを該校正曲線またはルックアップテーブルへの入力として使用して、それにより、対応する校正定量計測値を決定する工程を含む、請求項14〜20のいずれか1項に記載の方法。
【請求項２２】
光学検出器と関連する増倍管手段を操作して、それによって適用される利得を変化させることにより、または該光学検出器と関連する光電陰極に印加されるゲートパルスのデューティサイクルを変化させて、それにより、該光学検出器の時間平均利得を調節することにより、該光学検出器の利得を修正または調節する工程を含む、請求項15に記載の方法。
【請求項２３】
定量計測値をワットまたは毎秒光子数の単位で提供する工程を含む、請求項14〜22のいずれか1項に記載の方法。
【請求項２４】
放電の大きさを有し、対応する光学放射線放出を生じさせる放電を計測するためのシステムであって、
データを記憶するメモリデバイス；
該光学放射線の放出への光学検出器の曝露に応じて、該光学検出器と関連する検出器出力および／または電気的パラメータを示す情報を受けて、関連する既定の校正設定値に対するそれらの変動量を測定するように構成されたパラメータモニタリングモジュール；
該受けた検出器出力および／または電気的パラメータの変動量の測定に応じて、該光学検出器の検出器パラメータを修正検出器パラメータへと修正または調節して、それにより、該受けた検出器出力および／または電気的パラメータと、該対応する校正設定値との間の既定の関係を維持するように構成された利得制御装置モジュールであって、該検出器パラメータが、該光学検出器と関連する作動パラメータである、利得制御装置モジュール；および
該修正検出器パラメータを使用して、放電の大きさと関連する定量計測値を決定するように構成された定量計測モジュール
を含むシステム。
【請求項２５】
検出器パラメータが、光学検出器の全時間平均利得と関連する検出器利得値またはパルス幅値であり、検出器出力が、該光学検出器によって出力される光子の数であるかまたはそれに関連するものである、請求項24に記載のシステム。
【請求項２６】
定量計測モジュールが、修正利得値を、メモリデバイス中に記憶された既定の校正データとともに使用して、光学検出器によって受けられた光学放射線と関連する校正定量計測値を決定するように構成されており、該校正データが、放電の大きさと関連する校正定量計測値およびそれに対応する検出器パラメータを含む、請求項25に記載のシステム。
【請求項２７】
修正利得値を決定するように構成された利得決定モジュールを含む、請求項25または26に記載のシステム。
【請求項２８】
検出器出力のイメージを形成するための、光学検出器に動作的に接続されたイメージ形成手段を含む、請求項24〜27のいずれか1項に記載のシステム。
【請求項２９】
システムが光学検出器を含み、該光学検出器が、受けた光学放射線からの光子を光電子に変換するように作動可能な光電陰極、該光電子に利得を適用して該光電子を増幅するように作動可能な、該光電陰極に結合された増倍管手段、および該増幅された電子を検出器出力として出力光子に変換するように構成された陽極を含み、電気的パラメータが、使用中に該検出器出力を提供する際に該光学検出器の該陽極によって引き込まれる電流である、請求項24〜28のいずれか1項に記載のシステム。
【請求項３０】
光学検出器から放電または放電源までの距離を測定するように構成された距離測定手段を含む、請求項24〜29のいずれか1項に記載のシステム。
【請求項３１】
定量計測モジュールが、
修正検出器パラメータを校正データへの入力として使用して、該修正検出器パラメータを該校正データ中に記憶された検出器パラメータと照合し、それと関連する校正定量計測値を取得することにより、光学検出器によって受けられた入力光学放射線に関係のある関連する校正定量計測値を決定し；
距離測定手段から放電までの距離を受けて、該取得された校正定量計測値に距離比率の二乗を乗じることにより、放電の大きさと関連する定量計測値を決定する
ように構成されており、該距離比率が、該光学検出器と放電との間の測定距離および該光学検出器と該光学検出器が校正された放電源との間の校正距離の比率である、請求項30に記載のシステム。
【請求項３２】
定量計測モジュールが、決定された定量計測値に大気補正係数または環境補正係数を適用するように構成されている、請求項31に記載のシステム。
【請求項３３】
モニタされる各パラメータのための校正設定値を決定するように構成された校正モジュールを含む、請求項32に記載のシステム。
【請求項３４】
校正モジュールが、変動する入力光学放射線に対して光学検出器の検出器パラメータを校正して、それにより、検出器出力および／または電気的パラメータを校正設定値に保つまたは維持することにより、該光学検出器を校正するように構成されている、請求項33に記載のシステム。
【請求項３５】
校正モジュールが、放電の校正源と関連する変動する入力放電の大きさと関連する校正定量計測値を決定し、メモリデバイス中に記憶すること、ならびに決定および記憶された各校正定量計測値について、検出器出力および／または電気的パラメータを決定された設定値に一定に保つために必要な関連する検出器パラメータを測定および記憶することにより、校正データを測定するように構成されている、請求項34に記載のシステム。
【請求項３６】
利得制御装置モジュールが、増倍管電圧手段を操作して、それによって適用される利得を変化させることにより光学検出器の利得を調節するように構成されているか、または、該光学検出器と関連する光電陰極に印加されるゲートパルスのデューティサイクルを変化させて、それにより、該光学検出器の利得を実質的に調節するように構成されている、請求項25に記載のシステム。
【請求項３７】
放電の大きさを有し、対応する光学放射線放出を生じさせる放電を計測する方法であって、
受光器装置から光学放射線を受けて処理し、検出器出力を生成するための光学検出器を提供する工程；
放電の大きさと関連する校正定量計測値およびそれに対応する検出器パラメータを含む既定の校正データをメモリデバイス中に記憶する工程であって、該検出器パラメータが、該光学検出器と関連する作動パラメータである、工程；および
特定の検出器パラメータを該記憶された校正データとともに受けて処理し、それにより、検出された放電の大きさと関連する定量計測値を決定する工程
を含む方法。
【請求項３８】
検出器パラメータが、光学検出器の動作と関連する電気的パラメータであり、検出器出力が、光学検出器によって出力される光子の数であるかまたはそれに関連するものであり、校正定量計測値が、放電と関連する温度および放射照度の値のうちの一つを含む、請求項37に記載の方法。
【請求項３９】
光学検出器が、受けた光学放射線からの光子を光電子に変換するように作動可能な光電陰極、該光電子に利得を適用して該光電子を増幅するように作動可能な、該光電陰極に結合された増倍管手段、および該増幅された電子を検出器出力として出力光子に変換するように構成された陽極を含む、請求項38に記載の方法。
【請求項４０】
方法が、電気的パラメータを測定する工程を含み、該電気的パラメータが、使用中に検出器出力を提供する際に光学検出器の陽極および／または光電陰極によって引き込まれる電流である、請求項39に記載の方法。
【請求項４１】
測定された電気的パラメータを校正データへの入力として使用して、該測定された電気的パラメータを校正データ中に記憶された電気的パラメータと照合し、それと関連する校正定量計測値を取得することにより、光学検出器によって受けられた入力光学放射線に関係のある関連する校正定量計測値を決定する工程；
該光学検出器から放電または放電源までの距離を測定または計測する工程；および
該取得された校正定量計測値に距離比率の二乗を乗じることにより、放電の大きさと関連する定量計測値を決定する工程であって、該距離比率が、該光学検出器と放電との間の測定距離および該光学検出器と該光学検出器が校正された放電源との間の校正距離の比率である、工程
を含む、請求項40に記載の方法。
【請求項４２】
取得された校正定量計測値をプランクの黒体方程式：
2016521346.tif 000003
とともに使用して放電のパワーを決定する工程
を含む、請求項41に記載の方法。
【請求項４３】
方法が、
光学検出器の利得を最大値に設定すること；および
校正放電源からの変動する入力光学放射線に対して検出器パラメータを校正すること
によって該光学検出器デバイスを校正する工程を含み、該校正する工程が、放電の校正源と関連する変動する入力放電の大きさと関連する校正定量計測値を決定および記憶すること、ならびに決定および記憶された各校正定量計測値について、関連する検出器パラメータを測定および記憶することによって、校正データを測定する工程を含む、請求項37〜42のいずれか1項に記載の方法。
【請求項４４】
校正データが、検出器パラメータに対する校正定量計測値の校正曲線またはルックアップテーブルを含み、したがって、方法が、修正検出器パラメータを該校正曲線またはルックアップテーブルへの入力として使用して、それにより、対応する校正定量計測値を決定する工程を含む、請求項37〜43のいずれか1項に記載の方法。
【請求項４５】
放電の大きさを有し、対応する光学放射線放出を生じさせる放電を計測するためのシステムであって、
受光器装置から光学放射線を受けて処理し、検出器出力を生成するための光学検出器；
放電の大きさと関連する校正定量計測値およびそれに対応する検出器パラメータを含む既定の校正データを記憶するメモリデバイスであって、該検出器パラメータが、該光学検出器と関連する作動パラメータである、メモリデバイス；および
特定の検出器パラメータを該記憶された校正データとともに受けて処理し、それにより、検出された放電の大きさと関連する定量計測値を決定するように構成された定量計測モジュール
を含むシステム。
【請求項４６】
検出器パラメータが、光学検出器の動作と関連する電気的パラメータであり、検出器出力が、該光学検出器によって出力される光子の数であるかまたはそれに関連するものであり、校正定量計測値が、放電と関連する温度および放射照度の値のうちの一つを含む、請求項45に記載のシステム。
【請求項４７】
光学検出器が、受けた光学放射線からの光子を光電子に変換するように作動可能な光電陰極、該光電子に利得を適用して該光電子を増幅するように作動可能な、該光電陰極に結合された増倍管手段、および該増幅された電子を検出器出力として出力光子に変換するように構成された陽極を含む、請求項46に記載のシステム。
【請求項４８】
システムが、電気的パラメータを測定するように構成された電流測定モジュールを含み、該電気的パラメータが、使用中に検出器出力を提供する際に光学検出器の陽極および／または光電陰極によって引き込まれる電流である、請求項47に記載のシステム。
【請求項４９】
定量計測モジュールが、
測定された電気的パラメータを校正データへの入力として使用して、該測定された電気的パラメータを該校正データ中に記憶された電気的パラメータと照合し、それと関連する校正定量計測値を取得することにより、光学検出器によって受けられた入力光学放射線に関係のある関連する校正定量計測値を決定し；
該光学検出器から放電または放電源までの距離を測定または計測し；
該取得された校正定量計測値に距離比率の二乗を乗じることにより、放電の大きさと関連する定量計測値を決定する
ように構成されており、該距離比率が、該光学検出器と放電との間の測定距離および該光学検出器と該光学検出器が校正された放電源との間の校正距離の比率である、請求項48に記載のシステム。
【請求項５０】
定量計測モジュールが、
取得された校正定量計測値をプランクの黒体方程式：
2016521346.tif 000004
とともに使用して放電のパワーを決定するように構成されている、請求項49に記載のシステム。
【請求項５１】
システムが、
光学検出器の利得を最大値に設定し；
校正放電源からの変動する入力光学放射線に対して検出器パラメータを校正する
ように構成された校正モジュールを含み、該校正モジュールが、放電の校正源と関連する変動する入力放電の大きさと関連する校正定量計測値を決定し、メモリデバイス中に記憶すること、ならびに決定および記憶された各校正定量計測値について、関連する検出器パラメータを測定し、メモリデバイス中に記憶することにより、校正データを測定するように構成されている、請求項45〜50のいずれか1項に記載のシステム。
【請求項５２】
光学検出器を校正して校正データを測定する工程を含む、光学検出器を操作する方法であって、該校正データが、光学検出器デバイスの検出器出力を、変動する入力光学放射輝度に対して一定に保つために必要な利得を示す、方法。
【請求項５３】
光学検出器デバイスを操作するための方法であって、入力光学放射線を受けることに応じて、光学検出デバイスの利得を変化させることによって該光学検出器デバイスの検出器出力を一定レベルに維持する工程；および、該得られた利得を使用して、該光学検出器デバイスによって受けられた入力光学放射線の量を決定する工程を含む方法。