(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
載置板を貫通し、且つ少なくとも第一縁端及び第二縁端を有すると共に電子素子を露出させる挿通孔を有する前記載置板と、
前記載置板の表面に設置される回路層と、
前記挿通孔の前記第一縁端の外側に位置する少なくとも１つの第一測定位置を含み、第一方向に沿って前記第一測定位置と前記第一縁端との間には第一距離（Ｓ１）を有し、前記第一距離は前記第一測定位置から前記第一縁端までの間の最短距離である第一測定マークと、
前記挿通孔の前記第二縁端の外側に位置する少なくとも１つの第二測定位置を含み、前記第一方向と交わる第二方向に沿って前記第二測定位置と前記第二縁端との間には第二距離（Ｓ２）を有し、前記第二距離は前記第二測定位置から前記第二縁端までの間の最短距離である第二測定マークと、を備えることを特徴とする回路基板。
【請求項２】
前記第一測定マーク及び前記第二測定マークは前記載置板の前記表面に同時に設置されることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項３】
前記第一測定マーク及び前記第二測定マークは前記載置板の異なる表面にそれぞれ設置されることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項４】
前記第一測定マークは第一測定縁端を有し、前記第一測定位置は前記第一測定縁端に位置することを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項５】
前記第一測定縁端は前記挿通孔の前記第一縁端に平行であることを特徴とする請求項４に記載の回路基板。
【請求項６】
前記第二測定マークは第二測定縁端を有し、前記第二測定位置は前記第二測定縁端に位置することを特徴とする請求項４または５に記載の回路基板。
【請求項７】
前記第二測定縁端は前記挿通孔の前記第二縁端に平行であることを特徴とする請求項６に記載の回路基板。
【請求項８】
少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つが前記回路層に電気的に接続されないことを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項９】
少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つが前記回路層に電気的に接続されることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１０】
前記回路層を被覆すると共に少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つを被覆する絶縁保護層を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１１】
前記回路層を被覆すると共に少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つを露出させる絶縁保護層を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１２】
少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つが前記回路層と前記挿通孔との間に位置することを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１３】
少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つが前記回路層と同じ材質であることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１４】
少なくとも前記第一測定マークまたは前記第二測定マークのうちの１つが絶縁材料で形成されることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１５】
前記絶縁材料で形成されると共に前記回路層を被覆する絶縁保護層を更に備えることを特徴とする請求項１４に記載の回路基板。
【請求項１６】
第一軸は前記第一測定位置を通過して前記挿通孔方向に延伸され、
第二軸は前記第二測定位置を通過して前記挿通孔方向に延伸され、
且つ前記第一軸と前記第二軸とが交差点で交差し、
前記第一軸と前記第二軸との間には刃先角（Ｄ）を有し、
前記交差点から前記第一測定位置までの間には第一直線距離（Ａ）を有し、
前記交差点から前記第二測定位置までの間には第二直線距離（Ｂ）を有し、
前記第一測定位置から前記第二測定位置までの間には第三直線距離（Ｃ）を有し、
前記第一直線距離、前記第二直線距離、前記第三直線距離、及び前記刃先角は次の公式を満たし、
【数１】
0006948433.tif 000005
このとき、Ａは前記第一直線距離の数値であり、Ｂは前記第二直線距離の数値であり、Ｃは前記第三直線距離の数値であり、Ｄは前記刃先角の角度であることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【請求項１７】
前記表面は挿通孔設定領域を含み、前記挿通孔は前記挿通孔設定領域に位置され、
前記挿通孔設定領域は第一所定の縁端及び第二所定の縁端を少なくとも有し、
前記第一方向に沿って前記第一測定位置と前記第一所定の縁端との間には第一所定の距離（Ｗ１）を有し、前記第一所定の距離は前記第一測定位置から前記第一所定の縁端までの間の最短距離であり、
前記第二方向に沿って前記第二測定位置から前記第二所定の縁端までの間には第二所定の距離（Ｗ２）を有し、前記第二所定の距離は前記第二測定位置から前記第二所定の縁端までの間の最短距離であり、
且つ前記第一所定の距離の数値と前記第一距離の数値との誤差値、
及び前記第二所定の距離の数値と前記第二距離の数値との誤差値は次の２つの式を満たし、
【数２】
0006948433.tif 000006
【数３】
0006948433.tif 000007
このとき、Ｗ１は前記第一所定の距離の数値であり、Ｗ２は前記第二所定の距離の数値であり、Ｓ１は前記第一距離の数値であり、Ｓ２は前記第二距離の数値であることを特徴とする請求項１に記載の回路基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板に関し、更に詳しくは、挿通孔を有し、電子素子（例えば、指紋認証装置）が露出される回路基板（例えば、可撓性回路基板等）に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の回路基板は、電子製品の需要に応じて回路基板に挿通孔が形成される。挿通孔は、カッターによるダイカットプロセスを経て形成される。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、ダイカットプロセスでは、カッターが鈍化すると、回路基板の傾斜または反りが生じたり、或いはカッターの対置が不正確になり、挿通孔が偏移したり、挿通孔のサイズが所定の仕様に適合しなくなることがあった。
【０００４】
このため、ダイカットプロセスを経て形成された挿通孔が偏移したかどうか、或いはサイズが仕様に不適合かどうかを確認するには、仕様検査穴１１を有する標準サンプル１０を先に製作し、標準サンプル１０と回路基板（図示省略）とを重畳させた後、回路基板に形成された挿通孔が仕様検査穴１１から露出される領域内にあるか否か検査し、回路基板の挿通孔が偏移したかどうか、或いはサイズが仕様に不適合かどうかを判断する（図１参照）。
【０００５】
また、回路基板の挿通孔の検査は標準サンプル１０と回路基板とを重畳させた後に行うため、別々の検査員が標準サンプル１０を操作して検査を行う場合、標準サンプル１０と回路基板との対置に偏移が生じたり、別々の検査員の視覚の誤差により誤判断が生じたりすることがある。
また、標準サンプル１０を使用して回路基板を検査することにより製造効率にも影響が生じる。
【０００６】
そこで、本発明者は、上記の欠点が改善可能と考え、鋭意検討を重ねた結果、合理的設計で、上記の課題を効果的に改善する本発明の提案に至った。
【０００７】
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、回路基板を提供することにある。すなわち、本発明の回路基板は、挿通孔の隣接する２つの縁端に測定マークがそれぞれ設けられ、電子検知機構がこれら測定マークを利用して挿通孔の測定の測定を行うことにより、誤判断の発生を防ぎ、製造効率を高める。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある態様の回路基板は、載置板と、回路層と、第一測定マークと、第二測定マークと、を備える。
前記載置板は前記載置板を貫通させる挿通孔を有し、前記挿通孔は第一縁端及び第二縁端を少なくとも有すると共に電子素子を露出させるために用いられる。
前記回路層は前記載置板の表面に設置され、前記第一測定マークは少なくとも１つの第一測定位置を含む。前記第一測定位置は前記挿通孔の前記第一縁端の外側に位置し、第一方向に沿って前記第一測定位置と前記第一縁端との間には第一距離（Ｓ１）を有し、前記第一距離は前記第一測定位置から前記第一縁端までの間の最短距離である。
前記第二測定マークは少なくとも１つの第二測定位置を含む。前記第二測定位置は前記挿通孔の前記第二縁端の外側に位置し、前記第一方向と交差する第二方向に沿って前記第二測定位置と前記第二縁端との間には第二距離（Ｓ２）を有し、前記第二距離は前記第二測定位置から前記第二縁端までの間の最短距離である。
【発明の効果】
【０００９】
本発明は、電子検知機構が、第一縁端及び第二縁端外側にそれぞれ位置する第一測定マーク及び第二測定マークにより、第一測定位置から第一縁端までの第一距離及び第二測定位置から第二縁端までの第二距離をそれぞれ測定し、挿通孔のサイズが仕様に適合しているか否か及び偏移しているか否かを判断し、誤判断の発生を防ぎ、回路基板の製造効率を高める。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】従来の標準サンプルを示す概略図である。
【図２】本発明に係る挿通孔を形成していない回路基板の第１実施形態の概略を示す平面図である。
【図３】図２の部分拡大図である。
【図４】本発明に係る挿通孔を形成した回路基板の第１実施形態の概略を示す平面図である。
【図５】図４の部分拡大図である。
【図６】本発明に係る挿通孔を形成していない回路基板の第２実施形態の概略を示す平面図である。
【図７】図６の部分拡大図である。
【図８】本発明に係る挿通孔を形成した回路基板の第２実施形態の概略を示す平面図である。
【図９】図８の部分拡大図である。
【図１０】本発明に係る挿通孔を形成していない回路基板の第３実施形態の概略を示す平面図である。
【図１１】図１０の部分拡大図である。
【図１２】本発明に係る挿通孔を形成した回路基板の第３実施形態の概略を示す平面図である。
【図１３】図１２の部分拡大図である。
【図１４】本発明に係る挿通孔を形成していない回路基板の第４実施形態の概略を示す平面図である。
【図１５】図１４の部分拡大図である。
【図１６】本発明に係る挿通孔を形成した回路基板の第４実施形態の概略を示す平面図である。
【図１７】図１６の部分拡大図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明における好適な実施の形態について、添付した図面を参照して説明する。
尚、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を限定するものではない。また、以下に説明する構成の全てが、本発明の必須要件であるとは限らない。
【００１２】
本明細書及び図面の記載により、少なくとも、以下の事項が明らかとなる。
【００１３】
（第１実施形態）
本発明の第１実施形態の構成を図２から図５に示す。
本発明に係る回路基板１００は、載置板１１０と、回路層１２０と、第一測定マーク１３０と、第二測定マーク１４０と、を備える。好ましくは、回路基板１００は絶縁保護層１５０を更に含み、載置板１１０の材質としてポリイミド（polyimide、ＰＩ）が選択されるが、但しこの限りではない。
回路層１２０は載置板１１０の表面１１０ａに設置され、回路層１２０は複数の回路を有する。絶縁保護層１５０は回路層１２０を被覆し、表面１１０ａは挿通孔設定領域１１０ｂを含む。
穿孔機（図示省略）により挿通孔設定領域１１０ｂが穿孔されて挿通孔１１１が形成され、載置板１１０が挿通孔１１１を有する。挿通孔１１１は載置板１１０を貫通させ、挿通孔１１３は電子素子（図示省略、指紋認証装置等）を露出させるために用いられる。
【００１４】
図２及び図３を参照すると、挿通孔設定領域１１０ｂには少なくとも第一所定の縁端１１０ｃ及び第二所定の縁端１１０ｄを有する。
本実施例では、挿通孔設定領域１１０ｂは矩形領域であり、且つ第三所定の縁端１１０ｅ及び第四所定の縁端１１０ｆを更に有する。
第三所定の縁端１１０ｅは第一所定の縁端１１０ｃに対向する縁端であり、
第四所定の縁端１１０ｆは第二所定の縁端１１０ｄに対向する縁端である。
第一所定の縁端１１０ｃは第二所定の縁端１１０ｄに連接するように隣接し、
第二所定の縁端１１０ｄは第三所定の縁端１１０ｅに連接するように隣接し、
第三所定の縁端１１０ｅは第四所定の縁端１１０ｆに連接するように隣接し、
第四所定の縁端１１０ｆは第一所定の縁端１１０ｃに連接するように隣接する。
【００１５】
図２及び図３を参照する。
本実施例では、第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０が載置板１１０の同じ表面１１０ａに設けられる。
異なる実施形態では、第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０が載置板１１０の異なる表面にそれぞれ設けられる。
【００１６】
図２及び図３を参照する。
本実施例では、第一測定マーク１３０、第二測定マーク１４０、及び回路層１２０は、塗布（Casting）、ラミネート加工（Lamination）、スパッタリング（Sputtering）または、電気めっき（Plating）等の方法で表面１１０ａに設けられる。
【００１７】
図２及び図３を参照すると、少なくとも第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つは回路層１２０と同じ材質であり、絶縁保護層１５０は第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つを少なくとも被覆する。或いは、絶縁保護層１５０は第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つを少なくとも露出させ、少なくとも第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つは回路層１２０に電気的に接続されない。
本実施例では、第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０は金属材質であり、且つ第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０は回路層１２０に電気的に接続されないが、但しこの限りではない。よって、異なる実施形態では、少なくとも第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つが回路層１２０に電気的に接続される。
【００１８】
図２及び図３を参照すると、或いは、異なる実施形態では、少なくとも第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つが絶縁材料で形成され、且つ絶縁保護層１５０が絶縁材料で形成され、絶縁保護層１５０の形成時に、少なくとも第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つが同時に形成される。
好ましくは、絶縁保護層１５０の形成時に第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０が同時に形成される。
【００１９】
図２及び図３を参照する。
本実施例では、第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０は挿通孔設定領域１１０ｂの外に位置し、且つ第一測定マーク１３０は第一所定の縁端１１０ｃの外側に位置し、第二測定マーク１４０は第二所定の縁端１１０ｄの外側に位置する。
第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０の形状は幾何学形状から選択され、第一測定マーク１３０は少なくとも１つの第一測定位置１３１を含み、第二測定マーク１４０は少なくとも１つの第二測定位置１４１を含む。
本実施例では、第一測定マーク１３０は第一測定縁端１３０ａを有し、第二測定マーク１４０は第二測定縁端１４０ａを有し、第一測定位置１３１は第一測定縁端１３０ａに位置し、第二測定位置１４１は第二測定縁端１４０ａに位置する。
好ましくは、第一測定縁端１３０ａは第一所定の縁端１１０ｃに平行であり、第二測定縁端１４０ａは第二所定の縁端１１０ｄに平行である。
【００２０】
図３を参照する。
第一方向Ｘに沿って第一測定位置１３１と第一所定の縁端１１０ｃとの間には第一所定の距離Ｗ１を有し、第一所定の距離Ｗ１は第一測定位置１３１から第一所定の縁端１１０ｃまでの間の最短距離である。
第一方向Ｘと交差する第二方向Ｙに沿って第二測定位置１４１と第二所定の縁端１１０ｄとの間には第二所定の距離Ｗ２を有し、第二所定の距離Ｗ２は第二測定位置１４１から第二所定の縁端１１０ｄまでの間の最短距離である。
本実施例では、第一方向Ｘと第二方向Ｙとが互いに垂直になるが、但しこの限りではない。
【００２１】
図４及び図５を参照すると、穿孔機（図示省略）により挿通孔設定領域１１０ｂが穿孔されて挿通孔１１１が形成された後、載置板１１０に形成される挿通孔１１１が第一縁端１１１ａ及び第二縁端１１１ｂを少なくとも有する。
本実施例では、挿通孔１１１は矩形挿通孔であり、挿通孔１１１は第三縁端１１１ｃ及び第四縁端１１１ｄを更に有する。第一縁端１１１ａは第二縁端１１１ｂに連接するように隣接され、第二縁端１１１ｂは第三縁端１１１ｃに連接するように隣接され、第三縁端１１１ｃは第四縁端１１１ｄに連接するように隣接され、第四縁端１１１ｄは第一縁端１１１ａに連接するように隣接される。
【００２２】
図４及び図５を参照する。
第一測定マーク１３０及び第二測定マーク１４０は挿通孔１１１の外に位置し、且つ第一測定マーク１３０は挿通孔１１１の第一縁端１１１ａの外側に位置し、第二測定マーク１４０は挿通孔１１１の第二縁端１１１ｂの外側に位置し、少なくとも第一測定マーク１３０または第二測定マーク１４０のうちの１つは回路層１２０と挿通孔１１１との間に位置する。
好ましくは、第一測定マーク１３０の第一測定縁端１３０ａは挿通孔１１１の第一縁端１１１ａに平行であり、第二測定マーク１４０の第二測定縁端１４０ａは挿通孔１１１の第二縁端１１１ｂに平行である。
【００２３】
図５を参照すると、第一測定マーク１３０の第一測定位置１３１、第二測定マーク１４０の第二測定位置１４１、及び挿通孔１１１の相対位置は、第一軸Ｘ１及び第二軸Ｙ１により定義される。
本実施例では、第一軸Ｘ１は第一方向Ｘに沿って延伸され、第二軸Ｙ１は第二方向Ｙに沿って延伸される。
【００２４】
図５を参照する。
第一軸Ｘ１は第一測定位置１３１を通過して挿通孔１１１の方向に延伸され、第二軸Ｙ１は第二測定位置１４１を通過して挿通孔１１１の方向に延伸される。
第一軸Ｘ１及び第二軸Ｙ１は交差点Ｏで交差し、第一軸Ｘ１と第二軸Ｙ１との間には刃先角Ｄを有し、交差点Ｏから第一測定位置１３１までの間には第一直線距離Ａを有し、交差点Ｏから第二測定位置１４１までの間には第二直線距離Ｂを有し、第一測定位置１３１から第二測定位置１４１までの間には第三直線距離Ｃを有する。
第一直線距離Ａ、第二直線距離Ｂ、第三直線距離Ｃ、及び刃先角Ｄは次の公式を満たす。
【数１】
0006948433.tif 000002
このときＡは第一直線距離の数値であり、Ｂは第二直線距離の数値であり、Ｃは第三直線距離の数値であり、Ｄは刃先角の角度である。
【００２５】
図５を参照する。
第一方向Ｘに沿って第一測定位置１３１と第一縁端１１１ａとの間には第一距離Ｓ１を有し、第一距離Ｓ１は第一測定位置１３１から第一縁端１１１ａまでの間の最短距離である。
第二方向Ｙに沿って第二測定位置１４１と第二縁端１１１ｂとの間には第二距離Ｓ２を有し、第二距離Ｓ２は第二測定位置１４１から第二縁端１１１ｂまでの間の最短距離である。
【００２６】
図３及び図５を参照すると、第一所定の距離Ｗ１の数値と第一距離Ｓ１の数値との誤差値、及び第二所定の距離Ｗ２の数値と第二距離Ｓ２の数値との誤差値は次の２つの公式を満たす。
【数２】
0006948433.tif 000003
【数３】
0006948433.tif 000004
このとき、Ｗ１は第一所定の距離の数値であり、Ｗ２は第二所定の距離の数値であり、Ｓ１は第一距離の数値であり、Ｓ２は第二距離の数値である。
【００２７】
穿孔機（図示省略）により穿孔されて挿通孔１１１が形成された後、電子検知機構（図示省略）が第一測定位置１３１から第一縁端１１１ａまでの第一距離Ｓ１及び第二測定位置１４１から第二縁端１１１ｂまでの第二距離Ｓ２をそれぞれ測定し、挿通孔１１１のサイズが仕様に適合しているか否か、及び挿通孔１１１が偏移しているか否か、を判断する。偏移している場合、挿通孔１１１の偏移量が仕様に適合しているか否かを判断する。これにより、誤判断が防がれ、回路基板１００の製造効率が高まる。
【００２８】
（第２実施形態）
本発明の第２実施形態の構成を図６から図９に示す。
まず、図６及び図７を参照すると、第２実施形態の第１実施形態との差異は、挿通孔設定領域１１０ｂの第二所定の縁端１１０ｄ及び第四所定の縁端１１０ｆが弧状縁端である点である。
図８及び図９に示されるように、穿孔機（図示省略）により穿孔されて挿通孔１１１が形成された後、挿通孔１１１の第二縁端１１１ｂ及び第四縁端１１１ｄが弧状縁端となる。
好ましくは、第二軸Ｙ１は第二縁端１１１ｂ及び第四縁端１１１ｄの中心部をそれぞれ通過する。
【００２９】
（第３実施形態）
本発明の第３実施形態の構成を図１０から図１３に示す。
図１０及び図１１を参照すると、第３実施形態の第１実施形態との差異は、挿通孔設定領域１１０ｂの第二所定の縁端１１０ｄ及び第四所定の縁端１１０ｆが弧状縁端である点である。
図１２及び図１３に示されるように、穿孔機（図示省略）により穿孔されて挿通孔１１１が形成された後、挿通孔１１１の第二縁端１１１ｂ及び第四縁端１１１ｄが弧状縁端となる。
好ましくは、第二軸Ｙ１は第二縁端１１１ｂ及び第四縁端１１１ｄの中心部をそれぞれ通過させる。
【００３０】
（第４実施形態）
本発明の第４実施形態の構成を図１４から図１７に示す。
図１４及び図１５を参照すると、第４実施形態の第１実施形態との差異は、挿通孔設定領域１１０ｂの第一所定の縁端１１０ｃ、第二所定の縁端１１０ｄ、第三所定の縁端１１０ｅ、及び第四所定の縁端１１０ｆが弧状縁端であり、本実施例では、挿通孔設定領域１１０ｂが円形である点である。
図１６及び図１７に示されるように、穿孔機（図示省略）により穿孔されて挿通孔１１１が形成された後、挿通孔１１１の第一縁端１１１ａ、第二縁端１１１ｂ、第三縁端１１１ｃ、及び第四縁端１１１ｄが弧状縁端となり、本実施例では、挿通孔１１１が円形である。
第一軸Ｘ１は第一測定位置１３１を通過し、第二軸Ｙ１は第二測定位置１４１を通過し、且つ第一軸Ｘ１と第二軸Ｙ１とは互いに垂直にならない。
【００３１】
上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。また、本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本発明にはその均等範囲の発明が含まれることは言うまでもない。
【符号の説明】
【００３２】
１０  標準サンプル
１１  仕様検査穴
１００  回路基板
１１０  載置板
１１０ａ  表面
１１０ｂ  挿通孔設定領域
１１０ｃ  第一所定の縁端
１１０ｄ  第二所定の縁端
１１０ｅ  第三所定の縁端
１１０ｆ  第四所定の縁端
１１１  挿通孔
１１１ａ  第一縁端
１１１ｂ  第二縁端
１１１ｃ  第三縁端
１１１ｄ  第四縁端
１２０  回路層
１３０  第一測定マーク
１３０ａ  第一測定縁端
１３１  第一測定位置
１４０  第二測定マーク
１４０ａ  第二測定縁端
１４１  第二測定位置
１５０  絶縁保護層
Ａ  第一直線距離
Ｂ  第二直線距離
Ｃ  第三直線距離
Ｄ  刃先角
Ｏ  交差点
Ｓ１  第一距離
Ｓ２  第二距離
Ｗ１  第一所定の距離
Ｗ２  第二所定の距離
Ｘ  第一方向
Ｘ１  第一軸
Ｙ  第二方向
Ｙ１  第二軸
【図１】
0006948433.tif 000008
【図２】
0006948433.tif 000009
【図３】
0006948433.tif 000010
【図４】
0006948433.tif 000011
【図５】
0006948433.tif 000012
【図６】
0006948433.tif 000013
【図７】
0006948433.tif 000014
【図８】
0006948433.tif 000015
【図９】
0006948433.tif 000016
【図１０】
0006948433.tif 000017
【図１１】
0006948433.tif 000018
【図１２】
0006948433.tif 000019
【図１３】
0006948433.tif 000020
【図１４】
0006948433.tif 000021
【図１５】
0006948433.tif 000022
【図１６】
0006948433.tif 000023
【図１７】
0006948433.tif 000024