(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部の機器との間で光ファイバ伝送路を介して光信号として送受信されるシリアル信号の送受信動作の制御および監視を行うコントロールプログラムを有し、かつ、ＳＦＰ（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠した光モジュールであって、
動作モードとして、光シリアル信号の送受信動作の制御および監視を行う通常モードの他に、前記コントロールプログラムの動作を確認してデバッグを行うためのデバッグモードを有し、
かつ、
自光モジュールの動作を外部から制御する光モジュール制御装置に、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の各外部端子それぞれを介して接続されるとともに、該外部端子のうちＧＮＤ（グラウンド）に接続される１ないし複数のＧＮＤ端子のいずれか一つのＧＮＤ端子を前記動作モードの切り替えを行うための動作切替端子として利用して、該動作切替端子に動作切替信号の信号線を接続し、
かつ、
前記光モジュール制御装置の前記動作切替端子を介した制御によって設定された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを監視した結果に基づいて、前記動作モードを前記通常モードから前記デバッグモードに切り替えるか否かを決定する、
ことを特徴とする光モジュール。
【請求項２】
前記通常モードで用いるシリアルクロック信号の信号線と前記デバッグモードで用いるデバッグクロック信号の信号線とを、前記光モジュール制御装置と接続する前記外部端子の一つであるクロック端子に接続し、
かつ、
前記通常モードで用いるシリアルデータ信号の信号線と前記デバッグモードで用いるデバッグデータ信号の信号線とを、前記光モジュール制御装置と接続する前記外部端子の一つであるデータ端子に接続し
かつ、
前記動作切替端子に接続された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを、前記光モジュール制御装置の制御により、ＧＮＤ（グラウンド）レベルから切替電圧値としてあらかじめ定めた電圧レベルに切り替えて設定した場合、
前記動作モードを、前記通常モードから前記デバッグモードに切り替えて、
前記シリアルクロック信号および前記シリアルデータ信号の機能を無効に設定し、前記デバッグクロック信号および前記デバッグデータ信号の機能を有効に設定し、
また、
前記動作切替端子に接続された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを、前記光モジュール制御装置の制御により、前記切替電圧値の電圧レベルからＧＮＤレベルに切り替えて設定した場合、
前記動作モードを、前記デバッグモードから前記通常モードに切り替えて、
前記デバッグクロック信号および前記デバッグデータ信号の機能を無効に設定し、前記シリアルクロック信号および前記シリアルデータ信号の機能を有効に設定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光モジュール。
【請求項３】
前記光モジュール制御装置と接続する前記クロック端子に前記シリアルクロック信号の信号線と前記デバッグクロック信号の信号線とを直接接続する代わりに、
前記シリアルクロック信号の信号線と前記デバッグクロック信号の信号線とのいずれかを前記動作切替信号の信号線の信号レベルに応じて選択して前記クロック端子に接続するクロック信号切替器と、
前記光モジュール制御装置と接続する前記データ端子に前記シリアルデータ信号の信号線と前記デバッグデータ信号の信号線とを直接接続する代わりに、
前記シリアルデータ信号の信号線と前記デバッグデータ信号の信号線とのいずれかを前記動作切替信号の信号線の信号レベルに応じて選択して前記データ端子に接続するデータ信号切替器と、
を有していることを特徴とする請求項２に記載の光モジュール。
【請求項４】
外部の機器との間で光ファイバ伝送路を介して光信号として送受信されるシリアル信号の送受信動作の制御および監視を行うコントロールプログラムを有し、かつ、ＳＦＰ（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠した光モジュールにおける動作を制御する光モジュール制御方法であって、
動作モードとして、光シリアル信号の送受信動作の制御および監視を行う通常モードの他に、前記コントロールプログラムの動作を確認してデバッグを行うためのデバッグモードを有し、
かつ、
自光モジュールの動作を外部から制御する光モジュール制御装置に、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の各外部端子それぞれを介して接続されるとともに、該外部端子のうちＧＮＤ（グラウンド）に接続される１ないし複数のＧＮＤ端子のいずれか一つのＧＮＤ端子を前記動作モードの切り替えを行うための動作切替端子として利用して、該動作切替端子に動作切替信号の信号線を接続し、
かつ、
前記光モジュール制御装置の前記動作切替端子を介した制御によって設定された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを監視した結果に基づいて、前記動作モードを前記通常モードから前記デバッグモードに切り替えるか否かを決定する、
ことを特徴とする光モジュール制御方法。
【請求項５】
前記通常モードで用いるシリアルクロック信号の信号線と前記デバッグモードで用いるデバッグクロック信号の信号線とを、前記光モジュール制御装置と接続する前記外部端子の一つであるクロック端子に接続し、
かつ、
前記通常モードで用いるシリアルデータ信号の信号線と前記デバッグモードで用いるデバッグデータ信号の信号線とを、前記光モジュール制御装置と接続する前記外部端子の一つであるデータ端子に接続し
かつ、
前記動作切替端子に接続された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを、前記光モジュール制御装置の制御により、ＧＮＤ（グラウンド）レベルから切替電圧値としてあらかじめ定めた電圧レベルに切り替えて設定した場合、
前記動作モードを、前記通常モードから前記デバッグモードに切り替えて、
前記シリアルクロック信号および前記シリアルデータ信号の機能を無効に設定し、前記デバッグクロック信号および前記デバッグデータ信号の機能を有効に設定し、
また、
前記動作切替端子に接続された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを、前記光モジュール制御装置の制御により、前記切替電圧値の電圧レベルからＧＮＤレベルに切り替えて設定した場合、
前記動作モードを、前記デバッグモードから前記通常モードに切り替えて、
前記デバッグクロック信号および前記デバッグデータ信号の機能を無効に設定し、前記シリアルクロック信号および前記シリアルデータ信号の機能を有効に設定する、
ことを特徴とする請求項４に記載の光モジュール制御方法。
【請求項６】
前記光モジュール制御装置と接続する前記クロック端子に前記シリアルクロック信号の信号線と前記デバッグクロック信号の信号線とを直接接続する代わりに、
前記シリアルクロック信号の信号線と前記デバッグクロック信号の信号線とのいずれかを前記動作切替信号の信号線の信号レベルに応じて選択して前記クロック端子に接続するクロック信号切替ステップと、
前記光モジュール制御装置と接続する前記データ端子に前記シリアルデータ信号の信号線と前記デバッグデータ信号の信号線とを直接接続する代わりに、
前記シリアルデータ信号の信号線と前記デバッグデータ信号の信号線とのいずれかを前記動作切替信号の信号線の信号レベルに応じて選択して前記データ端子に接続するデータ信号切替ステップと、
を有していることを特徴とする請求項５に記載の光モジュール制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光モジュールおよび光モジュール制御方法に関し、特に、ＳＦＰ（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠した光モジュール、および、該光モジュールに搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作確認を行うための光モジュール制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光通信に用いる光モジュールは、送信部と受信部とを有している。受信部は、外部の光ファイバ伝送路からの光信号を受信し、受信した光信号を電気信号に変換する。送信部は、電気信号を光信号に変換し、変換した光信号を外部の光ファイバ伝送路に送信する。該送信部と該受信部とは、いずれも、光モジュール内の光制御デバイス（ドライバ）に接続され、該光制御デバイスは、光モジュール内の光モジュール制御デバイス（コントローラ）と接続されている。そして、該光モジュール制御デバイスは、光制御デバイスを介して送信部と受信部とで送受信される光信号の監視および制御を行う。
【０００３】
ここで、光モジュール制御デバイスは、光モジュール内のコントロール用ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）からなり、送信部と受信部との監視および制御を行うためのコントロールプログラム（制御ソフトウェア）を搭載している。そして、光モジュール制御デバイスは、通常、該コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作を確認するための専用のデバッグ端子を備えていて、該デバッグ端子を用いることによって、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作の正常性を確認することができる。また、光モジュール制御デバイスは、該デバッグ端子を用いることによって、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の不要部分の消去やコントロールプログラムへの新たなプログラムの追加書き込みも行うことができる。
【０００４】
特許文献１の特開２０１３−１８７７１４号公報「光トランシーバ」、特許文献２の特開２０１８−２６７４８号公報「光トランシーバおよびそのダウンロードデータの書き込み方法」、および特許文献３の特開２０１８−１２５７７２号公報「光トランシーバおよび光トランシーバのファームウェア書き込み方法」等には、光モジュール内部のコントローラに対するプログラムの書き込みを行うための技術が開示されている。ここで、プログラムの書き込みを行うための技術とは、コントロールプログラムを更新するための技術である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１３−１８７７１４号公報
【特許文献２】特開２０１８−２６７４８号公報
【特許文献３】特開２０１８−１２５７７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、本発明に関連する前記特許文献１，２，３等に記載されている現状の技術においては、前記デバッグ端子を用いても、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の正常性を確認することができるものの、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）において不具合（バグ）が発生している場合には、該不具合の発生箇所を容易には特定することができない。このため、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の不具合箇所を正常な状態に修正する作業を容易には行うことができず、不具合（バグ）がないことが確認済みになったコントロールプログラム（制御ソフトウェア）によって更新することができないという解決するべき課題がある。かかる課題について以下にさらに説明する。
【０００７】
現状の技術においては、光モジュールの動作を制御・監視するために、外部機器である光モジュール制御装置が用いられる。該光モジュール制御装置と光モジュールとは、外部端子を介して接続される。この外部端子は、ＳＦＰ規格（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠したものである。該光モジュール制御装置と光モジュールとの間では、前記外部端子を介して、シリアル通信が行われる。このシリアル通信では、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠したシリアル信号が用いられる。このシリアル信号は、シリアルクロック信号およびシリアルデータ信号であり、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠している。また、該光モジュール制御装置は、光モジュールに搭載されているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作確認用のデバッグ装置（デバッガ）やシリアル通信用のシリアル通信装置を前記外部端子に接続することを可能にする機能も有している。
【０００８】
そして、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）のデバッグを行う際には、光モジュール制御装置側からデバッグ装置（デバッガ）を前記外部端子に接続する。デバッグ装置（デバッガ）は、光モジュールにおけるシリアル信号を用いた通信状態をモニタし、モニタした結果に基づいて、光モジュールの動作確認を行う。デバッグ装置（デバッガ）における動作確認は、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作の正常性を確認している。
【０００９】
しかし、現状の技術においては、光モジュールに搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の不具合（バグ）等の要因により、例えば、光モジュールと光モジュール制御装置との間のシリアル通信ができなくなった場合、該コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の内部で何が起こっているのかを認識することができないし、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の不具合箇所を特定することもできない。
【００１０】
つまり、現状の技術における解決するべき課題は、光モジュールに搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作状態を外部から容易に認識できるようにすることである。
【００１１】
現状の技術において、光モジュールに搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作状態を外部から容易に認識できないのは次の理由による。コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の詳細な動作状態は光モジュールの内部に設けられている専用のデバッグ信号線に流れるデバッグ信号を用いることによって認識することができるが、光モジュールの外部からは該デバッグ信号線に流れているデバッグ信号を確認することができないことにある。つまり、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した光モジュールの外部端子として、デバッグ信号が流れるデバッグ信号線を接続する専用のデバッグ端子を配置することが規定されていないので、前記特許文献１，２，３を含め如何なる現状の技術においても、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した光モジュールにおいては、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の詳細な動作状態を光モジュールの外部から確認することができないのである。
【００１２】
そこで、現状の技術では、該デバッグ信号の動作状態を外部から認識することを可能にするためには、光モジュールを分解して内部の専用のデバッグ信号線を外部に引き出すことが必要である。しかし、該デバッグ信号線を外部に引き出すために光モジュールを分解するにはかなりの作業が必要になるだけでなく、分解する際に光モジュール自体を破損してしまう恐れもある。
【００１３】
（本発明の目的）
本発明の目的は、現状の技術におけるかかる課題に鑑み、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した光モジュールに搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作確認（デバッグ）が、該光モジュールを分解することなく、かつ、光モジュールの外部端子を改造することもなく、容易に行える光モジュールおよび光モジュール制御方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
前述の課題を解決するため、本発明による光モジュールおよび光モジュール制御方法は、主に、次のような特徴的な構成を採用している。
【００１５】
（１）本発明による光モジュールは、
外部の機器との間で光ファイバ伝送路を介して光信号として送受信されるシリアル信号の送受信動作の制御および監視を行うコントロールプログラムを有し、かつ、ＳＦＰ（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠した光モジュールであって、
動作モードとして、光シリアル信号の送受信動作の制御および監視を行う通常モードの他に、前記コントロールプログラムの動作を確認してデバッグを行うためのデバッグモードを有し、
かつ、
自光モジュールの動作を外部から制御する光モジュール制御装置に、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の各外部端子それぞれを介して接続されるとともに、該外部端子のうちＧＮＤ（グラウンド）に接続される１ないし複数のＧＮＤ端子のいずれか一つのＧＮＤ端子を前記動作モードの切り替えを行うための動作切替端子として利用して、該動作切替端子に動作切替信号の信号線を接続し、
かつ、
前記光モジュール制御装置の前記動作切替端子を介した制御によって設定された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを監視した結果に基づいて、前記動作モードを前記通常モードから前記デバッグモードに切り替えるか否かを決定する、
ことを特徴とする。
【００１６】
（２）本発明による光モジュール制御方法は、
外部の機器との間で光ファイバ伝送路を介して光信号として送受信されるシリアル信号の送受信動作の制御および監視を行うコントロールプログラムを有し、かつ、ＳＦＰ（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠した光モジュールにおける動作を制御する光モジュール制御方法であって、
動作モードとして、光シリアル信号の送受信動作の制御および監視を行う通常モードの他に、前記コントロールプログラムの動作を確認してデバッグを行うためのデバッグモードを有し、
かつ、
自光モジュールの動作を外部から制御する光モジュール制御装置に、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の各外部端子それぞれを介して接続されるとともに、該外部端子のうちＧＮＤ（グラウンド）に接続される１ないし複数のＧＮＤ端子のいずれか一つのＧＮＤ端子を前記動作モードの切り替えを行うための動作切替端子として利用して、該動作切替端子に動作切替信号の信号線を接続し、
かつ、
前記光モジュール制御装置の前記動作切替端子を介した制御によって設定された前記動作切替信号の信号線の信号レベルを監視した結果に基づいて、前記動作モードを前記通常モードから前記デバッグモードに切り替えるか否かを決定する、
ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明の光モジュールおよび光モジュール制御方法によれば、主に、以下のような効果を奏することができる。
【００１８】
本発明によれば、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した光モジュールにおいて、光モジュール内に搭載されるコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作を容易に確認することが可能であり、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の不具合箇所を正しい状態に更新することができる。而して、不具合（バグ）がないことを確認済みのコントロールプログラムを用いて光モジュールを動作させることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光モジュールの基本的な内部構成の一例を示すブロック構成図である。
【図２】第１の実施形態の一例として図１に示した光モジュールのデバッグモードにおける動作の一例を説明するためのブロック構成図である。
【図３】第１の実施形態の一例として図１に示した光モジュールの通常モードにおける動作の一例を説明するためのブロック構成図である。
【図４】本発明の第２の実施形態に係る光モジュールの基本的な内部構成の一例を示すブロック構成図である。
【図５】本発明の第３の実施形態に係る光モジュールの基本的な内部構成の一例を示すブロック構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明による光モジュールおよび光モジュール制御方法の好適な実施形態について添付図を参照して説明する。なお、以下の各図面の説明において、各図面に付した図面参照符号は、理解を助けるための一例として各要素に便宜上付記したものであり、本発明を図示の態様に限定することを意図するものではないことは言うまでもない。また、各図面の説明においては、可能な場合には、同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略することにする。
【００２１】
（本発明の特徴）
本発明の実施形態の説明に先立って、本発明の特徴についてその概要をまず説明する。本発明は、ＳＦＰ（Small  Form  Factor  Pluggable）規格またはＤＳＦＰ（Dual  Small  Form  Factor  Pluggable）規格に準拠した光モジュールに関するものであり、本発明に係る光モジュールの動作の制御・監視を行う光モジュール制御装置を、該光モジュールとＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を介して接続し、該光モジュール制御装置において、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した前記外部端子として実装されるＧＮＤ端子（Ground：グラウンド端子）のうちいずれかのＧＮＤ端子を該光モジュールの動作モード切替用の動作切替端子として利用することを主要な特徴としている。
【００２２】
そして、該動作切替端子の信号レベルを、通常モード時はＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）に設定し、また、デバッグモード時は切替電圧値としてあらかじめ定めた電圧レベル例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈｅレベル）に切り替えて設定し、光モジュール内のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）は、前記動作切替端子の信号レベルの監視結果に基づいて、通常モードにおけるシリアル信号とデバッグモードにおけるデバッグ信号とを切り替えて、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の外部端子を介して外部の前記光モジュール制御装置との間で入出力する機能を有することも主要な特徴としている。
【００２３】
すなわち、本発明に係る光モジュールの動作を監視・制御する光モジュール制御装置との間を接続するために配置されているＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の光モジュールの外部端子のうちＧＮＤ端子のいずれか一つを動作モード切替用の動作切替端子として利用する。そして、光モジュール制御装置の制御により該動作切替端子の信号レベルが前記切替電圧値の電圧レベルに設定されることによって、動作モードを通常モードからデバッグモードに切り替えた場合には、通常モード時において使用されるシリアル信号（シリアルクロック信号およびシリアルデータ信号）に代わって、光モジュール内に搭載しているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作確認用として光モジュール内部に入出力されるデバッグ信号（デバッグクロック信号およびデバッグデータ信号）を用いる。そして、通常モード時においては前記シリアル信号を外部の機器との間で入出力するために用いるＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格準拠の外部端子であるデータ端子およびクロック端子を該シリアル信号に代わって使用して、前記デバッグ信号（デバッグクロック信号およびデバッグデータ信号）をデータ端子およびクロック端子を介して外部の機器として接続したデバッグ装置（デバッガ）と入出力する機能を、光モジュール内に備えていることを主要な特徴としている。
【００２４】
（第１の実施形態の構成例）
次に、本発明の第１の実施形態に係る光モジュールの基本的な構成例について図１を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係る光モジュールの基本的な内部構成の一例を示すブロック構成図である。なお、図１には、当該光モジュールに搭載したコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作のみならず該光モジュール全体の動作の制御・監視を行う外部機器である光モジュール制御装置を、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を使用して該光モジュールに接続している接続状態例を併せて示している。
【００２５】
ここで、図１に示す光モジュール３０は、光ファイバ伝送路に接続され、該光ファイバ伝送路を介して外部の機器との間でシリアル信号の光入力信号４１ａ、光出力信号４０ａを光信号として送受信する。また、光モジュール３０は、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠していて、活栓挿抜も可能である。そして、光モジュール３０は、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を介して、当該光モジュール３０の動作を制御・確認する外部機器である光モジュール制御装置１０に接続された状態で使用される。
【００２６】
また、光モジュール制御装置１０は、図１に示すように、外部の機器である光モジュール３０に接続することができる外部端子として、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子を備え、それぞれ、光モジュール３０側の対応する各端子と接続している。なお、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４は、いずれも、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠している。また、光モジュール制御装置１０は、光モジュール３０に搭載したコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の不具合箇所探索用として、光モジュール３０の動作を確認するためのデバッグ装置（デバッガ）をＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠したクロック端子２２、データ端子２３に接続することも可能である。
【００２７】
ここで、動作切替端子２４は、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した１ないし複数個のＧＮＤ（Ground：グラウンド）端子のうち任意に選択したいずれか一つのＧＮＤ端子である。そして、動作切替端子２４は、光モジュール制御装置１０内の動作指示信号２４ｂの信号線に接続される。図１の基本構成においては、動作指示信号２４ｂの信号線は、通常モードとして、光モジュール制御装置１０のＧＮＤ（Ground：アース）に接続している場合を示している。
【００２８】
しかし、後述するように、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作を確認するデバッグモードに設定する場合においては、図１に破線で示すように、動作指示信号２４ｂの信号線を、ＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）からＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）する状態の切替電圧値としてあらかじめ定めた電圧レベル例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）に切り替えて接続することができる。なお、以下の説明においては、説明を簡素化するために、該切替電圧値の電圧レベルを電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）に設定することにして説明する。
【００２９】
一方、光モジュール３０は、図１に示すように、光制御デバイス３１、光モジュール制御デバイス３２の他に、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子を、外部の機器と接続することができる外部端子として備え、外部の機器の一つである光モジュール制御装置１０と接続している。すなわち、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子は、いずれも、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠し、それぞれ、光モジュール制御装置１０側の対応する各端子と接続している。なお、光モジュール３０側の動作切替端子２４は、光モジュール制御装置１０側の動作切替端子２４の動作モードの切替状態（通常モードとデバッグモードとの切替状態）を監視する監視用の端子である。
【００３０】
さらに、光モジュール３０の光制御デバイス３１には、光出力信号４０ａの信号線、光入力信号４１ａの信号線が接続され、光出力信号４０ａの信号線、光入力信号４１ａの信号線は、対向する外部の機器と接続している光ファイバ伝送路に接続されている。
【００３１】
また、光モジュール３０の光制御デバイス３１には、光モジュール制御装置１０側と接続される信号入力端子２０との間を接続する光入力信号２０ａの信号線が接続され、さらに、光モジュール制御装置１０側と接続される信号出力端子２１との間を接続する光出力信号２１ａの信号線が接続される。さらに、光モジュール３０の光制御デバイス３１には、光ファイバ伝送路を経由して外部の機器とシリアル信号として送受信される光信号を監視・制御する光モジュール制御デバイス３２との間を接続する光制御デバイス通信信号４２ａの信号線が接続される。
【００３２】
次に、光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２には、光モジュール制御装置１０側と接続されるクロック端子２２との間を接続するシリアルクロック信号２２ａの信号線が接続され、また、光モジュール制御装置１０側と接続されるデータ端子２３との間を接続するシリアルデータ信号２３ａの信号線が接続される。なお、シリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａは、それぞれの名称が示すように、それぞれの信号線上を１ビットずつ逐次伝送するシリアル信号である。
【００３３】
さらに、光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２には、光モジュール制御装置１０側と接続される動作切替端子２４（言い換えると監視用端子２４）に接続する動作切替信号２４ａの信号線が接続され、また、光制御デバイス３１との間を接続する光制御デバイス通信信号４２ａの信号線が接続される。さらに、光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２には、デバッグクロック信号２５ａの信号線およびデバッグデータ信号２６ａの信号線も接続される。しかし、光モジュール３０は、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠する装置であるので、デバッグ専用の外部端子としては配置されていなく、図１に「×」印で示すように、デバッグクロック信号２５ａの信号線およびデバッグデータ信号２６ａの信号線は、光モジュール３０内に留まり、光モジュール３０の外部の機器に接続することが可能な専用の外部端子に接続することができない。
【００３４】
そこで、シリアルクロック信号２２ａの信号線には、クロック端子２２のみならず、デバッグクロック信号２５ａの信号線も接続する状態にする。また、シリアルデータ信号２３ａの信号線に関しても、データ端子２３のみならず、デバッグデータ信号２６ａの信号線も接続する状態にする。したがって、デバッグモードに設定した際には、デバッグクロック信号２５ａおよびデバッグデータ信号２６ａが、シリアルクロック信号２２ａの信号線およびシリアルデータ信号２３ａの信号線から、クロック端子２２およびデータ端子２３を介して、光モジュール制御装置１０との間で入出力する状態に設定することができる。
【００３５】
さらに、光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２の内部には、光モジュール３０の動作を監視し制御するコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａを実装している。該コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、さらに、動作切替端子２４（言い換えると監視用端子２４）における動作切替信号２４ａを監視する機能も有していて、監視結果に応じて、光モジュール制御装置１０側と接続されるシリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａ、デバッグクロック信号２５ａ、デバッグデータ信号２６ａのそれぞれの機能を有効または無効に切り替えることができる。
【００３６】
ここで、動作切替信号２４ａは、通常モードとデバッグモードとを切り替える信号である。動作切替信号２４ａの監視結果として、光モジュール制御装置１０が指定した動作モードが通常モードであった場合には、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、シリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａを有効に設定し、デバッグクロック信号２５ａ、デバッグデータ信号２６ａを無効に設定する。これに対して、動作切替信号２４ａの監視結果として、光モジュール制御装置１０が指定した動作モードが通常モードからデバッグモードに切り替わったことを検知した場合には、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、通常モードの設定状態を切り替えて、シリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａを無効に設定し、デバッグクロック信号２５ａ、デバッグデータ信号２６ａを有効に設定する。
【００３７】
（第１の実施形態の動作の説明例）
次に、本発明の第１の実施形態として図１に示した光モジュール３０のデバックモード（コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行うモード）における動作について、その一例を、図２を参照しながら詳細に説明する。図２は、本第１の実施形態の一例として図１に示した光モジュール３０のデバッグモードにおける動作の一例を説明するためのブロック構成図であり、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行うために、光モジュール制御装置１０が、動作切替端子２４に接続されている動作指示信号２４ｂの信号線をＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）から例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）にＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）させて、デバッグモードに切り替えることを指定した場合の動作について、その一例を説明している。
【００３８】
光モジュール３０をデバッグモードに設定して、光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２に搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行う場合、光モジュール制御装置１０は、前述したように、動作切替端子２４に接続されている動作指示信号２４ｂの信号線の信号レベルをＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）から例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）に切り替える。
【００３９】
光モジュール制御デバイス３２は、搭載しているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作により、監視用として動作切替端子２４に接続されている動作切替信号２４ａの信号線の信号レベルを確認して、光モジュール制御装置１０側の動作指示信号２４ｂの信号線の信号レベルがＧＮＤレベルから例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）に切り替わったことを検知する。すなわち、光モジュール制御デバイス３２は、光モジュール制御装置１０側の動作指示信号２４ｂによる指示内容として、光モジュール３０の動作モードを、通常モードからデバッグモードに切り替える指示をしていることを検知する。
【００４０】
その結果、光モジュール制御デバイス３２は、搭載しているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作により、クロック端子２２とデータ端子２３とのそれぞれに接続されている信号線に関し、図２に「×」印で示すように、シリアルクロック信号２２ａとシリアルデータ信号２３ａとの機能を無効に設定し、その代わり、図２に「○」印で示すように、デバッグクロック信号２５ａとデバッグデータ信号２６ａとの機能を有効に設定する。すなわち、光モジュール制御装置１０側のクロック端子２２とデータ端子２３とのそれぞれには、シリアルクロック信号２２ａとシリアルデータ信号２３ａとが入出力される代わりに、デバッグクロック信号２５ａとデバッグデータ信号２６ａとが入出力される状態に設定される。
【００４１】
したがって、光モジュール制御装置１０側のクロック端子２２とデータ端子２３とのそれぞれに、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認用のデバッグ装置（デバッガ）を接続することにより、デバッグ装置（デバッガ）は、デバッグクロック信号２５ａとデバッグデータ信号２６ａとの状態を制御し、監視することが可能になる。その結果、デバッグ装置（デバッガ）は、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの内部で何が起こっているのかを把握することにより、コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの詳細な動作を確認することができ、不具合箇所を的確に特定することが可能になる。つまり、光モジュール３０を分解して内部のデバッグ信号を引き出す必要はなく、また、光モジュール３０のＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠する外部端子を何ら改造することもなく、光モジュール３０に搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認（デバッグ）を容易に行うことが可能になる。
【００４２】
次に、本発明の第１の実施形態として図１に示した光モジュール３０の通常モード（光モジュール３０が通常のシリアル信号を用いて光ファイバ伝送路を介して外部の機器とシリアル通信を行うモード）における動作について、その一例を、図３を参照しながら詳細に説明する。図３は、第１の実施形態の一例として図１に示した光モジュール３０の通常モードにおける動作の一例を説明するためのブロック構成図である。
【００４３】
光モジュール３０を通常モードに設定して、光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２に搭載されたコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａが、光ファイバ伝送路を介して外部の機器とシリアル信号を送受信する通常のシリアル通信を行うように制御する場合、光モジュール制御装置１０は、動作切替端子２４に接続されている動作指示信号２４ｂの信号線をＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）に設定する。
【００４４】
光モジュール制御デバイス３２は、搭載しているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作により、監視用として動作切替端子２４に接続されている動作切替信号２４ａの信号線の信号レベルを確認して、光モジュール制御装置１０側の動作指示信号２４ｂがＧＮＤレベルに設定されていることを検知する。すなわち、光モジュール制御デバイス３２は、光モジュール制御装置１０側の動作指示信号２４ｂによる指示内容として、光モジュール３０の動作モードを、通常モードに設定する指示をしていることを検知する。
【００４５】
その結果、光モジュール制御デバイス３２は、搭載しているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作により、クロック端子２２とデータ端子２３とのそれぞれに接続されている信号線に関し、図３に「×」印で示すように、デバッグクロック信号２５ａとデバッグデータ信号２６ａとの機能を無効に設定し、一方、図３に「○」印で示すように、シリアルクロック信号２２ａとシリアルデータ信号２３ａとの機能を有効に設定する。すなわち、光モジュール制御装置１０側のクロック端子２２とデータ端子２３とのそれぞれには、デバッグクロック信号２５ａとデバッグデータ信号２６ａとではなく、シリアルクロック信号２２ａとシリアルデータ信号２３ａとが入出力される状態に設定される。
【００４６】
したがって、光モジュール制御装置１０側のクロック端子２２とデータ端子２３とのそれぞれに、シリアル通信装置を接続することにより、シリアル通信装置は、シリアルクロック信号２２ａとシリアルデータ信号２３ａとを光モジュール３０に入出力することが可能になり、光モジュール３０は、通常のシリアル通信状態で動作することになる。而して、シリアル通信装置は、光モジュール３０との間で、シリアル通信を行うとともに、該シリアル通信状態をモニタすることができるので、光モジュール３０が光ファイバ伝送路を介して外部の機器と光信号を送受信する動作を制御するとともに、光信号の送受信状態をモニタすることができる。
【００４７】
（第２の実施形態の構成例）
次に、本発明の第２の実施形態に係る光モジュールの基本的な構成例について図４を参照しながら詳細に説明する。図４は、本発明の第２の実施形態に係る光モジュールの基本的な内部構成の一例を示すブロック構成図である。なお、図４においても、第１の実施形態として図１に示したブロック構成図の場合と同様、当該光モジュールに搭載したコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作のみならず該光モジュール全体の動作の制御・監視を行う外部機器である光モジュール制御装置を、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を使用して該光モジュールに接続している接続状態例を併せて示している。
【００４８】
ここで、図４に示す光モジュール３０Ａは、図１に示した光モジュール３０と同様、光ファイバ伝送路に接続され、該光ファイバ伝送路を介して外部の機器との間でシリアル信号の光入力信号４１ａ、光出力信号４０ａを光信号として送受信する。また、光モジュール３０Ａは、図１に示した光モジュール３０と同様、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠していて、活栓挿抜も可能である。そして、光モジュール３０Ａは、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を介して、当該光モジュール３０Ａの動作を制御・確認する外部機器である光モジュール制御装置１０に接続された状態で使用される。
【００４９】
なお、光モジュール制御装置１０は、図１に示した光モジュール制御装置１０と全く同様であり、外部の機器である光モジュール３０Ａと接続することができる外部端子として、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子を備え、いずれも、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠し、それぞれ、光モジュール３０Ａ側の対応する各端子と接続している。ただし、図４においては、動作指示信号２４ｂの信号線は、図１の場合の通常モードの設定状態とは異なり、デバッグモードの設定例を示しており、図４に実線で示すように、動作指示信号２４ｂの信号線を、ＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）からあらかじめ定めた電圧レベルにＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）する状態に切り替えて、例えば電源（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）に接続している場合を示している。
【００５０】
一方、光モジュール３０Ａは、図１に示した光モジュール３０と同様、光制御デバイス３１、光モジュール制御デバイス３２の他に、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子を外部の機器と接続することができる外部端子として備え、外部の機器の一つである光モジュール制御装置１０と接続している。すなわち、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子は、いずれも、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠し、それぞれ、光モジュール制御装置１０側の対応する各端子と接続している。
【００５１】
さらに、光モジュール３０Ａは、図１に示した光モジュール３０と同様、光出力信号４０ａの信号線、光入力信号４１ａの信号線を備え、光出力信号４０ａの信号線、光入力信号４１ａの信号線は、対向する外部の機器と接続している光ファイバ伝送路に接続されている。
【００５２】
また、光モジュール３０Ａの光モジュール制御デバイス３２には、図１に示した光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２の場合と同様、シリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａ、デバッグクロック信号２５ａ、デバッグデータ信号２６ａ、光制御デバイス通信信号４２ａの各信号線が接続されている。
【００５３】
ただし、光モジュール３０Ａ内には、図１に示した光モジュール３０の場合とは異なり、クロック信号切替器３３とデータ信号切替器３４とがさらに追加して実装されている。そして、シリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａ、デバッグクロック信号２５ａ、デバッグデータ信号２６ａの各信号線については、光モジュール制御デバイス３２からのそれぞれの接続先が、以下に説明するように、図１に示した光モジュール３０の場合とは異なっている。
【００５４】
すなわち、図４の光モジュール３０Ａにおいて、光モジュール制御デバイス３２からのシリアルクロック信号２２ａの信号線は、クロック信号切替器３３の第１接続端子３３Ａに接続され、また、光モジュール制御デバイス３２からのデバッグクロック信号２５ａの信号線は、クロック信号切替器３３の第２接続端子３３Ｂに接続され、また、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙは、クロック信号２２ｂの信号線に接続される。そして、クロック信号２２ｂの信号線は、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の外部端子であるクロック端子２２に接続されて、図１に示した光モジュール３０の場合と同様、クロック信号２２ｂが外部の機器である光モジュール制御装置１０との間で入出力される。また、クロック信号切替器３３の制御端子３３Ｓは、外部端子の動作切替端子２４に接続している動作切替信号２４ａの信号線に接続される。
【００５５】
さらに、図４の光モジュール３０Ａにおいては、光モジュール制御デバイス３２からのシリアルデータ信号２３ａの信号線は、データ信号切替器３４の第１接続端子３４Ａに接続され、また、光モジュール制御デバイス３２からのデバッグデータ信号２６ａの信号線は、データ信号切替器３４の第２接続端子３４Ｂに接続される。また、データ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙは、データ信号２３ｂの信号線に接続される。そして、データ信号２３ｂの信号線は、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠の外部端子であるデータ端子２３に接続されて、図１に示した光モジュール３０の場合と同様、データ信号２３ｂが外部の機器である光モジュール制御装置１０との間で入出力される。また、データ信号切替器３４の制御端子３４Ｓは、外部端子の動作切替端子２４に接続している動作切替信号２４ａの信号線に接続される。
【００５６】
ここで、動作切替信号２４ａが通常モードの動作モードを指定している場合には、クロック信号切替器３３の制御端子３３Ｓおよびデータ信号切替器３４の制御端子３４Ｓには通常モードを示すＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）の信号が切替制御信号として入力されて、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙおよびデータ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙには、それぞれ、クロック信号切替器３３の第１接続端子３３Ａに接続されたシリアルクロック信号２２ａの信号線、および、データ信号切替器３４の第１接続端子３４Ａに接続されたシリアルデータ信号２３ａの信号線が接続される。
【００５７】
したがって、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙおよびデータ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙそれぞれに接続されているクロック信号２２ｂの信号線およびデータ信号２３ｂの信号線には、それぞれ、シリアルクロック信号２２ａおよびシリアルデータ信号２３ａが入出力されることになる。その結果、クロック信号２２ｂの信号線およびデータ信号２３ｂの信号線のそれぞれが接続されている外部端子のクロック端子２２およびデータ端子２３には、それぞれ、シリアルクロック信号２２ａおよびシリアルデータ信号２３ａが外部の機器である光モジュール制御装置１０との間で入出力される状態に設定される。
【００５８】
一方、動作切替信号２４ａがデバッグモードの動作モードを指定している場合には、クロック信号切替器３３の制御端子３３Ｓおよびデータ信号切替器３４の制御端子３４Ｓにデバッグモードを示す例えば電源レベル（Ｈｉｇｈレベル）の信号が切替制御信号として入力されて、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙおよびデータ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙには、それぞれ、クロック信号切替器３３の第２接続端子３３Ｂに接続されたデバッグクロック信号２５ａの信号線、および、データ信号切替器３４の第２接続端子３４Ｂに接続されたデバッグデータ信号２６ａの信号線が接続される。
【００５９】
したがって、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙおよびデータ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙそれぞれに接続されているクロック信号２２ｂの信号線およびデータ信号２３ｂの信号線には、それぞれ、デバッグクロック信号２５ａおよびデバッグデータ信号２６ａが入出力されることになる。その結果、クロック信号２２ｂの信号線およびデータ信号２３ｂの信号線のそれぞれが接続されている外部端子のクロック端子２２およびデータ端子２３には、それぞれ、デバッグクロック信号２５ａおよびデバッグデータ信号２６ａが外部の機器である光モジュール制御装置１０との間で入出力される状態に設定される。
【００６０】
すなわち、図４に示す光モジュール３０Ａにおいては、光モジュール制御装置１０と接続するクロック端子２２にシリアルクロック信号２２ａの信号線とデバッグクロック信号２５ａの信号線とを直接接続する代わりに、シリアルクロック信号２２ａの信号線とデバッグクロック信号２５ａの信号線とのいずれかを動作切替信号２４ａの信号線の信号レベルに応じて選択してクロック端子２２に接続するクロック信号切替器３３と、光モジュール制御装置１０と接続するデータ端子２３にシリアルデータ信号２３ａの信号線とデバッグデータ信号２６ａの信号線とを直接接続する代わりに、シリアルデータ信号２３ａの信号線とデバッグデータ信号２６ａの信号線とのいずれかを動作切替信号２４ａの信号線の信号レベルに応じて選択してデータ端子２３に接続するデータ信号切替器３４と、を有している。
【００６１】
（第２の実施形態の動作の説明例）
次に、本発明の第２の実施形態として図４に示した光モジュール３０Ａのデバックモード（コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行うモード）における動作について説明する。すなわち、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行うために、光モジュール制御装置１０が、動作切替端子２４に接続されている動作指示信号２４ｂの信号線をＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）から例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）にＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）させて、デバッグモードに切り替えることを指定した場合の動作について、その一例を、図４を参照しながら詳細に説明する。
【００６２】
光モジュール制御装置１０が、動作指示信号２４ｂの信号線を例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）にＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）させて、光モジュール３０Ａの動作モードをデバッグモードに設定することを指示した場合、光モジュール３０Ａ側の動作切替端子２４に接続されている動作切替信号２４ａの信号線も、ＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）から例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）にＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）される。
【００６３】
その結果、光モジュール３０Ａの動作切替信号２４ａの信号線が接続されているクロック信号切替器３３の制御端子３３Ｓおよびデータ信号切替器３４の制御端子３４Ｓの信号レベルも、ＧＮＤレベル（Ｌｏｗレベル）から例えば電源レベル（ＶＣＣ＝Ｈｉｇｈレベル）にＰｕｌｌｕｐ（プルアップ）される。したがって、クロック信号切替器３３内およびデータ信号切替器３４内それぞれの接続状態が切り替わり、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙおよびデータ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙは、それぞれ、第１接続端子３３Ａから第２接続端子３３Ｂ、および、第１接続端子３４Ａから第２接続端子３４Ｂに接続される状態に切り替わる。
【００６４】
ここで、前述したように、クロック信号切替器３３の第２接続端子３３Ｂおよびデータ信号切替器３４の第２接続端子３４Ｂは、それぞれ、光モジュール制御デバイス３２との間のデバッグクロック信号２５ａの信号線およびデバッグデータ信号２６ａの信号線に接続されている。また、クロック信号切替器３３の第３接続端子３３Ｙおよびデータ信号切替器３４の第３接続端子３４Ｙは、それぞれ、光モジュール制御装置１０との外部接続用の外部端子であるクロック端子２２およびデータ端子２３に接続されている。
【００６５】
したがって、光モジュール３０Ａの動作モードをデバッグモードに設定した状態になると、光モジュール制御装置１０との外部接続用のクロック端子２２およびデータ端子２３には、それぞれ、光モジュール３０Ａとの間でデバッグクロック信号２５ａおよびデバッグデータ信号２６ａを入出力することができる状態に設定されるので、クロック端子２２およびデータ端子２３にデバッグ装置（デバッガ）を接続すれば、光モジュール３０Ａの光モジュール制御デバイス３２に搭載されているコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作を確信することができる。
【００６６】
（第３の実施形態の構成例）
次に、本発明の第３の実施形態に係る光モジュールの基本的な構成例について図５を参照しながら詳細に説明する。図５は、本発明の第３の実施形態に係る光モジュールの基本的な内部構成の一例を示すブロック構成図である。なお、図５においても、第１の実施形態として図１に示したブロック構成図の場合と同様、当該光モジュールに搭載したコントロールプログラム（制御ソフトウェア）の動作のみならず該光モジュール全体の動作の制御・監視を行う外部機器である光モジュール制御装置を、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を使用して該光モジュールに接続している接続状態例を併せて示している。
【００６７】
ここで、図５に示す本第３の実施形態においては、第１、第２の実施形態の場合とは異なり、光モジュールの動作モードを、通常モードとデバッグモードとのいずれかに切り替える動作を、光モジュール制御装置１０が動作切替端子２４に接続される動作指示信号を用いて指示する代わりに、光モジュール制御装置１０のＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子であるクロック端子２２から光モジュール３０Ｂに対して入力されたクロック信号の周波数があらかじめ定めた周波数閾値以上になっているか否かに基づいて、通常モードからデバッグモードに切り替えるか否かを指示することにしている。言い換えると、本第３の実施形態においては、光モジュール制御装置に接続したデバッグ装置（デバッガ）からデバッグクロック信号がクロック端子２２に供給されたか否かに基づいて、通常モードからデバッグモードに切り替えるか否かを指示する場合を示している。
【００６８】
図５に示す光モジュール３０Ｂは、図１に示した光モジュール３０と同様、光ファイバ伝送路に接続され、該光ファイバ伝送路を介して外部の機器との間でシリアル信号の光入力信号４１ａ、光出力信号４０ａを光信号として送受信する。また、光モジュール３０Ｂは、図１に示した光モジュール３０と同様、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠していて、活栓挿抜も可能である。そして、光モジュール３０Ｂは、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠した外部端子を介して、当該光モジュール３０Ｂの動作を制御・確認する外部機器である光モジュール制御装置１０に接続された状態で使用される。
【００６９】
なお、光モジュール制御装置１０は、図１に示した光モジュール制御装置１０と全く同様であり、外部の機器である光モジュール３０Ｂに接続することができる外部端子として、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子を備え、いずれも、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠し、それぞれ、光モジュール３０Ａ側の対応する各端子と接続している。また、本第３の実施形態の図５においては、動作指示信号２４ｂの信号線を動作モードの切替用の信号線として利用することがない場合であるので、動作切替端子２４をＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に規定された本来のＧＮＤ端子として用い、図５に実線で示すように、動作指示信号２４ｂの信号線をＧＮＤ（グラウンド）に接続している。
【００７０】
一方、光モジュール３０Ｂは、図１に示した光モジュール３０と同様、光制御デバイス３１、光モジュール制御デバイス３２の他に、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子を外部の機器と接続することができる外部端子として備え、外部の機器の一つである光モジュール制御装置１０と接続している。すなわち、信号入力端子２０、信号出力端子２１、クロック端子２２、データ端子２３、動作切替端子２４の各端子は、いずれも、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に準拠し、それぞれ、光モジュール制御装置１０側の対応する各端子と接続している。
【００７１】
なお、動作切替端子２４に接続される動作切替信号２４ａの信号線は、第１の実施形態や第２の実施形態において説明した図１や図４の場合とは異なり、動作モード切替用として利用する必要はないので、図５に示すように、ＳＦＰ規格またはＤＳＦＰ規格に規定された本来のＧＮＤ端子として、ＧＮＤ（グラウンド）に接続している。
【００７２】
さらに、光モジュール３０Ｂは、図１に示した光モジュール３０と同様、光出力信号４０ａの信号線、光入力信号４１ａの信号線を備え、光出力信号４０ａの信号線、光入力信号４１ａの信号線は、対向する外部の機器と接続している光ファイバ伝送路に接続されている。
【００７３】
また、光モジュール３０Ｂの光モジュール制御デバイス３２には、図１に示した光モジュール３０の光モジュール制御デバイス３２の場合と同様、シリアルクロック信号２２ａ、シリアルデータ信号２３ａ、デバッグクロック信号２５ａ、デバッグデータ信号２６ａ、光制御デバイス通信信号４２ａの各信号線が接続されている。
【００７４】
ただし、光モジュール３０Ｂ内には、図１に示した光モジュール３０の場合とは異なり、ローパスフィルタ（ＬＰＦ：Low  Pass  Filter）３５とハイパスフィルタ（ＨＰＦ：High  Pass  Filter）３６とがさらに追加して実装されている。そして、シリアルクロック信号２２ａおよびデバッグクロック信号２５ａの各クロック信号の信号線については、光モジュール制御デバイス３２からのそれぞれの接続先が、以下に説明するように、図１に示した光モジュール３０の場合とは異なっている。なお、シリアルデータ信号２３ａおよびデバッグデータ信号２６ａの各データ信号の信号線については、図１に示した光モジュール３０の場合と同様、いずれの信号線も、外部端子のデータ端子２３に接続される。
【００７５】
すなわち、図５の光モジュール３０Ｂの各クロック信号の信号線については、次のように接続される。まず、光モジュール制御デバイス３２に入力するシリアルクロック信号２２ａの信号線については、ローパスフィルタ３５の出力端子に接続されていて、ローパスフィルタ３５の入力端子は、光モジュール制御装置１０に外部接続される外部端子の一つであるクロック端子２２に接続するクロック信号２２ｂの信号線に接続される。
【００７６】
また、光モジュール制御デバイス３２に入力するデバッグクロック信号２５ａの信号線については、ハイパスフィルタ３６の出力端子に接続されていて、ハイパスフィルタ３６の入力端子は、ローパスフィルタ３５の入力端子と同様、光モジュール制御装置１０に外部接続される外部端子の一つであるクロック端子２２に接続するクロック信号２２ｂの信号線に接続される。
【００７７】
さらに説明すると、次の通りである。図５の光モジュール３０Ｂにおいては、少なくとも、光モジュール制御装置１０から光モジュール３０Ｂに対してクロック端子２２を介して出力するクロック信号２２ｂは、光モジュール３０Ｂ内においてクロック信号２２ｂの信号線を経由してローパスフィルタ３５とハイパスフィルタ３６との双方のフィルタに入力される。
【００７８】
そして、それぞれのフィルタに入力されたクロック信号２２ｂが、ローパスフィルタ３５の通過周波数特性に適応する低い周波数のクロック信号であった場合には、通常モードにおいて使用されるシリアルクロック信号２２ａとして、光モジュール制御デバイス３２に対して出力される。一方、それぞれのフィルタに入力されたクロック信号２２ｂが、ハイパスフィルタ３６の通過周波数特性に適応する高い周波数のクロック信号であった場合には、デバッグモードにおいて使用されるデバッグクロック信号２５ａとして、光モジュール制御デバイス３２に対して出力される。
【００７９】
なお、ローパスフィルタ３５とハイパスフィルタ３６とのそれぞれ周波数特性に関しては、使用するシリアルクロック信号２２ａの周波数とデバッグクロック信号２５ａの周波数とに依存してあらかじめ定めた周波数閾値に基づいて決定する。例えば、該周波数閾値を１ＭＨｚに決定した場合には、ローパスフィルタ３５は、１ＭＨｚ未満の周波数のクロック信号を通過させる周波数特性を有する状態に設定し、ハイパスフィルタ３６は、１ＭＨｚ以上の周波数のクロック信号を通過させる周波数特性を有する状態に設定する。
【００８０】
そして、かくのごとき周波数閾値を用いることにより、光モジュール制御装置１０にシリアル通信装置を接続して、クロック端子２２に該周波数閾値未満のクロック信号を入力した場合には、ハイパスフィルタ３６の通過は阻止されて、デバッグクロック信号２５ａの信号線には、クロック信号が出力されないが、一方、ローパスフィルタ３５は通過して、シリアルクロック信号２２ａの信号線には、クロック信号が出力されてくる。したがって、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、通常モードとして動作し、光モジュール３０Ｂは、シリアルクロック信号２２ａおよびシリアルデータ信号２３ａを用いるシリアル通信を行う状態になる。
【００８１】
これに対して、光モジュール制御装置１０にデバッグ装置（デバッガ）を接続して、クロック端子２２に前記周波数閾値以上のクロック信号入力した場合には、ローパスフィルタ３５の通過は阻止されて、シリアルクロック信号２２ａの信号線には、クロック信号が出力されないが、一方、ハイパスフィルタ３６は通過して、デバッグクロック信号２５ａの信号線には、クロック信号が出力されてくる。したがって、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、デバッグモードとして動作し、光モジュール３０Ｂは、デバッグクロック信号２５ａおよびデバッグデータ信号２６ａを用いて動作することになる。
【００８２】
以上のように、図５に示す光モジュール３０Ｂにおいては、図１の光モジュール３０のように光モジュール制御装置１０の制御によって設定された動作切替信号２４ａの信号線の信号レベルの監視結果に基づいて、動作モードを決定する動作は行わない。その代わりに、図５に示す光モジュール３０Ｂにおいては、光モジュール制御装置１０からクロック端子２２を介して入力されてくるクロック信号２２ｂの周波数が、あらかじめ定めた周波数閾値未満であった場合には、動作モードを通常モードとして決定し、また、クロック信号２２ｂの周波数が、前記周波数閾値以上であった場合には、動作モードをデバッグモードとして決定する動作を行う。
【００８３】
そして、クロック端子２２に接続されたクロック信号２２ｂの信号線に関しては、クロック信号２２ｂの信号線を前記周波数閾値未満のクロック信号を通過させる周波数特性を有するローパスフィルタ３５を介してシリアルクロック信号２２ａの信号線に接続し、さらに、クロック信号２２ｂの信号線を前記周波数閾値以上のクロック信号を通過させる周波数特性を有するハイパスフィルタ３６を介してデバッグクロック信号２５ａの信号線に接続する接続構成にする。
【００８４】
（第３の実施形態の動作の説明例）
次に、本発明の第３の実施形態として図５に示した光モジュール３０Ｂのデバックモード（コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行うモード）における動作について説明する。すなわち、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作確認を行うために、光モジュール制御装置１０に接続したデバッグ装置（デバッガ）を、クロック端子２２およびデータ端子２３に接続して、デバッグモードに設定した場合の動作について、その一例を、図５を参照しながら詳細に説明する。
【００８５】
図５において、光モジュール制御装置１０のクロック端子２２とデータ端子２３とにデバッグ装置（デバッガ）を接続し、かつ、デバッグ装置（デバッガ）からあらかじめ定めた周波数閾値（例えば１ＭＨｚ）以上の周波数のクロック信号をクロック端子２２に入力して、光モジュール３０Ｂを動作させる。前記周波数閾値以上の周波数のクロック信号に関しては、クロック端子２２に接続されるクロック信号２２ｂの信号線を介して接続したローパスフィルタ３５を通過しないクロック信号であるので、シリアルクロック信号２２ａの信号線には、クロック信号が出力されない。したがって、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、通常モードとしては動作しない。
【００８６】
一方、前記周波数閾値以上の周波数のクロック信号は、クロック端子２２に接続されるクロック信号２２ｂの信号線を介して接続したハイパスフィルタ３６を通過するクロック信号であるので、デバッグクロック信号２５ａの信号線には、クロック信号が出力されてくる。したがって、光モジュール制御デバイス３２のコントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａは、デバッグモードとして動作することになり、デバッグ装置（デバッガ）は、クロック端子２２とデータ端子２３とに入出力されるデバッグ用のデバッグクロック信号２５ａとデバッグデータ信号２６ａとに基づいて、該コントロールプログラム（制御ソフトウェア）３２ａの動作状態を確認することができる。
【００８７】
以上、本発明の好適な実施形態の構成を説明した。しかし、かかる実施形態は、本発明の単なる例示に過ぎず、何ら本発明を限定するものではないことに留意されたい。本発明の要旨を逸脱することなく、特定用途に応じて種々の変形変更が可能であることが、当業者には容易に理解できよう。
【符号の説明】
【００８８】
１０      光モジュール制御装置
２０      信号入力端子
２０ａ    光入力信号
２１      信号出力端子
２１ａ    光出力信号
２２      クロック端子
２２ａ    シリアルクロック信号
２２ｂ    クロック信号
２３      データ端子
２３ａ    シリアルデータ信号
２３ｂ    データ信号
２４      動作切替端子または監視用端子（ＧＮＤ端子）
２４ａ    動作切替信号
２４ｂ    動作指示信号
２５ａ    デバッグクロック信号
２６ａ    デバッグデータ信号
３０      光モジュール
３０Ａ    光モジュール
３０Ｂ    光モジュール
３１      光制御デバイス
３２      光モジュール制御デバイス
３２ａ    コントロールプログラム（制御ソフトウェア）
３３      クロック信号切替器
３３Ａ    第１接続端子
３３Ｂ    第２接続端子
３３Ｓ    制御端子
３３Ｙ    第３接続端子
３４      データ信号切替器
３４Ａ    第１接続端子
３４Ｂ    第２接続端子
３４Ｓ    制御端子
３４Ｙ    第３接続端子
３５      ローパスフィルタ（ＬＰＦ：Low  Pass  Filter）
３６      ハイパスフィルタ（HＰＦ：High  Pass  Filter）
４０ａ    光出力信号
４１ａ    光入力信号
４２ａ    光制御デバイス通信信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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