(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
曲面形状の被検査接触端子を有する被検査体の検査用プローブであって、
Ｖ状に設けられ、前記被検査接触端子の相互離隔された位置にそれぞれ接触する一対の接触面を有する接触部、及び前記接触部から長さ方向に沿って後方に一体に延長する延長部とを有する第１接触部材を備え、
前記接触部は、一対の接触面が一定の幅を有するように板状になり、
前記延長部は、前記接触部より厚い形状を有することを特徴とする、
検査用プローブ。
【請求項２】
検査回路の検査接点に接触する第２接触部材と、
前記第１接触部材と前記第２接触部材との間に配置され、前記第１接触部材及び前記第２接触部材の少なくとも一つを付勢する弾性体と、
を備えることを特徴とする、請求項１に記載の検査用プローブ。
【請求項３】
検査回路の検査接点に接触する第２接触部材、前記第１接触部材の下端に接触する第３接触部材、及び前記第２接触部材と前記第３接触部材との間に配置され、前記第２接触部材と前記第３接触部材の少なくとも一つを付勢する弾性体を有するプローブをさらに備えることを特徴とする、請求項１に記載の検査用プローブ。
【請求項４】
曲面状の被検査接触端子を有する被検査体の検査用プローブを支持する検査用プローブソケットであって、
Ｖ状に設けられ、前記被検査接触端子の相互離隔された位置にそれぞれ接触する一対の接触面を有する第１接触部材を支持する接触部材支持体と、
検査回路の検査接点に接触する第２接触部材、前記第１接触部材の下端に接触する第３接触部材、前記第２接触部材と前記第３接触部材との間に配置され、前記第２接触部材及び前記第３接触部材の少なくとも一つを付勢する弾性体を有するプローブを支持するプローブ支持体と、を備えることを特徴とする、
検査用プローブソケット。
【請求項５】
前記接触部材支持体は、前記プローブ支持体に着脱可能に支持されることを特徴とする、請求項４に記載の検査用プローブソケット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スマートフォンのような小型モバイル機器に適用される超小型カメラモジュールのような曲面状の被検査端子を有する被検査体を検査する検査プローブ及び検査ソケットに関する。
【背景技術】
【０００２】
カメラモジュール１０は、図９に示すように、部分曲面筒状の被検査接触端子１２を具備している。カメラモジュール１０の被検査接触端子１２は、金属ストリップを部分曲面筒状に折り曲げて形成する。このようなカメラモジュール１０の検査は、一般的なポゴピン２０のプランジャー２２を被検査接触端子１２に接触させて行う。ポゴピン２０のプランジャー２２は、検査時に、鉛でできたバンプ端子を突き得るように尖った１つ又は複数のチップ２４を有する。検査時に、プランジャー２２の鋭いチップ２４は部分曲面筒状の被検査接触端子１２に当接する。
【０００３】
カメラモジュール１０の被検査接触端子１２は、鉛でできたバンプ端子と違い、通常、硬い金属で作られる。したがって、プランジャー２２のチップ２４は、膨らんだ曲面状の被検査接触端子１２に接触すると滑り外れる。このような滑りによる接触エラーは、検査エラーを招く。また、様々な公差や整列誤差などによって検査エラーはさらに多く発生する。しかも、多数の反復テストは不純物転移現象を生じさせ、その結果、正常のカメラモジュールを不良として誤認することもある。このようなプローブとカメラモジュールの端子との不安定な接触は、装備の停止、クリーニング作業、誤判読などを引き起こし、量産収率に悪い影響を与えることになる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、上述した従来の問題を解決するためのもので、カメラモジュールのような部分曲面筒状の被検査接触端子を有する被検査体を安定的に検査するに好適な検査プローブ及び検査ソケットを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述した課題を解決するための曲面状の被検査接触面を有する被検査体の検査用プローブが提供される。検査用プローブは、Ｖ状に設けられ、前記被検査接触端子の相互離隔された位置にそれぞれ接触する一対の接触面を有する接触部と、前記接触部から長さ方向に沿って後方に一体に延長している延長部とを有する第１接触部材を備える。これによれば、曲面筒状の被検査端子を囲みながら接触して２接触点で連結されるので、接触不良を防止できる他、異物汚染による接触抵抗の上昇を防止することができる。
【０００６】
検査用プローブは、検査回路の検査接点に接触する第２接触部材と、前記第１接触部材と前記第２接触部材との間に配置され、前記第１接触部材及び前記第２接触部材の少なくとも一つを付勢する弾性体と、を備えることができる。
【０００７】
検査用プローブは、検査回路の検査接点に接触する第２接触部材、前記第１接触部材の下端に接触する第３接触部材、及び前記第２接触部材と前記第３接触部材との間に配置され、前記第２接触部材及び前記第３接触部材の少なくとも一つを付勢する弾性体を有するプローブをさらに備えることができる。
【０００８】
本発明の実施例に係る検査用プローブソケットは、Ｖ状に設けられ、前記被検査接触端子の相互離隔された位置にそれぞれ接触する一対の接触面を有する第１接触部材を支持する接触部材支持体と、検査回路の検査接点に接触する第２接触部材、前記第１接触部材の下端に接触する第３接触部材、前記第２接触部材と前記第３接触部材との間に配置され、前記第２接触部材及び前記第３接触部材の少なくとも一つを付勢する弾性体を有するプローブを支持するプローブ支持体と、を備える。
【０００９】
前記接触部材支持体は、前記プローブ支持体に着脱可能に支持され、汚染による装備の整備、クリーニング、及び誤り判読などの作業に効果的に対処することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明に係る検査用プローブ及びプローブソケットによれば、曲面筒状の被検査接触端子は、プローブをＶ状接触部によって２地点で接触させるので、接触不良を防止できる他、Ｖ状接触部の接触点に転移する異物の蓄積を減らし、汚染による接触抵抗の上昇を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施例に係る検査用プローブソケットの斜視図である。
【図２】本発明の実施例に係る検査用プローブソケットの分解斜視図である。
【図３】本発明の実施例に係る検査用プローブソケットの部分断面図である。
【図４】本発明の他の実施例に係る検査用プローブソケットの部分断面図である。
【図５】様々な接触部材の形状を示す斜視図である。
【図６】様々な接触部材の形状を示す斜視図である。
【図７】様々な接触部材の形状を示す斜視図である。
【図８】本発明の他の実施例に係る検査用プローブソケットの部分断面図である。
【図９】従来の検査用プローブソケットの部分断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の一実施例を、添付の図面を参照して述べる。
【００１３】
図１〜図３はそれぞれ、本発明の実施例に係る検査用プローブソケット１を示す斜視図、分解斜視図及び部分断面図である。図示のように、プローブソケット１は、多数の接触部材１１０を収容して支持する接触部材支持体１００、接触部材支持体１００をフローティング状態で収容して支持するハウジング３００、及び前記ハウジング３００の下部に収容されて支持され、前記多数の接触部材１１０に対応する位置に配置された多数のプローブ２００を支持するプローブ支持体４００を含む。
【００１４】
例えば、カメラモジュールのような被検査体１０は、金属板材を‘Ｕ’字状に折り曲げた部分曲面筒状の被検査端子１２を有している。
【００１５】
接触部材１１０は、図１及び図３に示すように、Ｖ状に設けられた一対の接触面１１２，１１４を有する接触部１１１、及び該接触部１１１から半径方向に拡張して後方に延長している延長部１１３を備える。ここで、一対の接触面１１２，１１４は、部分曲面筒状、例えば‘Ｕ’字状の被検査端子１２を収容して接触する時、離隔している２地点Ｐ１，Ｐ２で被検査端子１２と接触する。その結果、接触部材１１０は、整列誤差及び公差による２接触点Ｐ１，Ｐ２の位置誤差がある程度発生しても、被検査端子１２との接触を確実に達成することができる。また、反復したテストによって異物、例えばスズが接触面１１２，１１４に移動しても、接触時に移動した異物が傾斜面に沿ってＶ状の溝に押し下げられて蓄積され、接触地点Ｐ１，Ｐ２に累積されずに済む。ここで、接触部材１１０は、プローブのプランジャー自体であってもよい。通常、被検査体１０は、多数の被検査端子のピッチが非常に狭く配置されている。したがって、接触部１１１は、多数の被検査端子１２のピッチを考慮して狭い幅で形成した第１板部１１５、及び強度向上のために第１板部１１５よりも広い幅で形成した第２板部１１６を備える。接触部材１１０は全体的に同一厚さの板状に製作してもよいが、強度及び耐久度が低いため、隣り合う被検査端子との接触を避け得る程度の長さだけを第１板部１１５とし、残りはより広い幅の第２板部１１６又は延長部１１３として加工することが好ましい。
【００１６】
接触部材支持体１００は、接触部１１１が部分突出するように挿入された第１接触部材支持体１２０、及びこの第１接触部材支持体１２０の下部に配置される第２接触部材支持体１３０を備える。第１接触部材支持体１２０は、接触部１１１が挿入される第１開孔１２２を有する。第２接触部材支持体１３０は、延長部１１３が挿入される第２開孔１３２を有する。接触部材支持体１００は、４個のバネ３２０によってハウジング３００の第１収容部３０２内でフローティングして支持される。ここで、第１接触部材支持体１２０と第２接触部材支持体１３０は一体に製作されてもよい。
【００１７】
ハウジング３００は、上部に接触部材支持体１００を収容する第１収容部３０２と、下部にプローブ支持体４００を収容する第２収容部が設けられている。第１収容部３０２と第２収容部との間には、後述するプローブ２００の第１プランジャー２１０が収容される第３開孔３３０が配置されている。
【００１８】
プローブ２００は、円筒形のバレル２２０、一端がバレル２２０の一側に部分収容され、他端が接触部材１１０の下端に接触する第１プランジャー２１０、バレル２２０の他側に部分挿入される第２プランジャー２３０、及び前記バレル２２０内で第１プランジャー２１０と第２プランジャー２３０との間に介在されて、前記第１プランジャー２１０と第２プランジャー２３０を互いに遠ざかる方向に付勢するバネ２４０を備えている。
【００１９】
プローブ支持体４００は、ハウジング３００の底面にある第２収容部内に挿入固定され、第２プランジャー２３０が外部に部分突出するようにプローブ２００を収容する第４開孔４３０を有する。プローブ支持体４００は固定ピン４１０によってハウジング３００の下部に固定される。
【００２０】
図２に示すように、接触部材１１０を支持する接触部材支持体１００は、ハウジング３００の第１収容部３０２内に着脱可能に挿入支持される。このため、接触部材１１０の不良や寿命が尽きた場合、プローブ２００はそのまま置いて接触部材１１０だけを容易に交換することができる。
【００２１】
図３は、テストのために被検査体１０を加圧した状態であり、バネ２４０は圧縮された状態である。テストが完了して被検査体１０の押下を中断すれば、バネ２４０によって第１プランジャー２４０が上方に突出しながら接触部材１１０を押し上げる。その結果、テストが完了すると接触部材１１０の接触部１１１が第１接触部材支持体１２０から外部に突出する。
【００２２】
図４は、本発明の他の実施例に係るプローブソケット１を示す部分断面図である。図示のように、第１プランジャー２１０’は、バレル２２０の一側に部分挿入されている。第１プランジャー２１０’は、Ｖ状の一対の接触面２１２，２１４を有する接触部２１１、及び該接触部２１１から半径方向に拡張されて後方に延長している拡張部２１６を備えている。ここで、一対の接触面２１２，２１４は、部分曲面筒状の被検査端子１２を収容して接触する時、離隔された２地点Ｐ１，Ｐ２で接触する。接触部２１１は、多数の被検査端子１２のピッチを考慮して狭い幅で形成した第１板部２１５、及び強度向上のために第１板部２１５から半径方向に拡張して後方に延長している拡張部２１６を備える。第１プランジャー２１０’は、全体的に同一厚さの板材で製作してもよいが、強度及び耐久度の向上のために、第１板部２１５は、隣り合う被検査端子との接触を避け得る程度の狭い幅で板状に形成され、拡張部２１６は、第１板部２１５より半径方向に拡張された円柱状に形成される。第２プランジャー２３０は、一側がバレル２２０の他側に部分挿入され、第２プランジャー２３０は、検査回路のパッド端子（図示せず）に接触する。バレル２２０内で第１プランジャー２１０’と第２プランジャー２３０との間にはバネ２４０が介在される。バネ２４０は、第１プランジャー２１０’及び第２プランジャー２３０を互いに遠ざかるように付勢する。
【００２３】
図５は、本発明の他の実施例に係る接触部材５１０を示す。ここで、接触部材５１０は、別個として分離製造され、図３に示すように、プローブ２００の第１プランジャー２１０に接触する。接触部材５１０は、図４に示したように第１プランジャー２１０’の部分として適用されてもよい。接触部材５１０は、本体部５１１、本体部５１１から半径方向に拡張するフランジ部５１２、Ｖ状接触面を有する接触部５１６が形成された第１板部５１４、及び第１板部５１４とフランジ部５１２との間で第１板部５１４よりも広い幅を有する第２板部５１３を備える。本体部５１１は円柱状であり、長さ方向に平面加工された少なくとも一つの平面部５１５を有する。平面部５１５は、多数の接触部材５１０を配置する時、多数の第１板部５１４が平行で一定に配置され得るようにする。第１板部５１４は、狭いピッチで隣り合う被検査端子１２の干渉を避けるために形成される。フランジ部５１２を省略してもよい。本体部５１１は、第２板部５１３に置き換えることができる。同様に、第２板部５１３は、第１板部５１４に置き換えることができる。すなわち、第１板部５１４がフランジ部５１２又は本体部５１１から直接に延長されてもよい。しかし、幅の狭い第１板部５１４は、長さが長くなると耐久性が低下したり歪むことがあり、ピッチの大きい被検査端子にのみ適用可能である。
【００２４】
図６は、本発明のさらに他の実施例に係る接触部材６１０を示す。ここで、接触部材６１０は別個として分離製造され、図３に示したようにプローブ２００の第１プランジャー２１０に接触する。接触部材６１０は、図４に示したように第１プランジャー２１０’の部分として適用されてもよい。接触部材６１０は、円柱状の本体部６１１、本体部６１１から半径方向に拡張するフランジ部６１２、Ｖ状接触面を有する接触部６１６が形成された第１板部６１４、及び第１板部６１４と本体部６１１との間において第１板部６１４よりも広い幅を有する第２板部６１３を備える。フランジ部６１２は、本体部６１１を中心に半径方向に向かい合って延長されている。フランジ部６１２は、四角柱の形状を有する。フランジ部６１２は、多数の接触部材６１０を配置する時、多数の第１板部６１４が平行に並んで一定の方向に配置され得るようにする。第１板部６１４は、非常に狭いピッチで隣り合う被検査端子１２の干渉を避けるために狭幅で形成される。
【００２５】
図７は、本発明のさらに他の実施例に係る接触部材を示す。ここで、接触部材７１０は、別個として分離製造され、図３に示したようにプローブ２００の第１プランジャー２１０に接触する。接触部材７１０は、図４に示したように第１プランジャー２１０’の部分として適用されてもよい。接触部材７１０は、四角柱状の本体部７１１、本体部７１１から半径方向に拡張するフランジ部７１２、Ｖ状接触面を有する接触部７１６が形成された第１板部７１４、及び第１板部７１４と本体部７１１との間で第１板部７１４よりも広い幅の第２板部７１３を備える。フランジ部７１２は、本体部７１１を中心に幅方向に向かい合って延長されている。フランジ部７１２は、四角柱の形状を有する。フランジ部７１２は、多数の接触部材７１０を配置する時、多数の第１板部７１４が平行に並んで同一方向に配置され得るようにする。第１板部７１４は、ピッチの狭い隣り合う被検査端子１２との干渉を避けるために狭い幅で形成される。
【００２６】
図８は、他の実施例に係る検査用プローブソケットの部分断面図である。図示のように、被検査端子１２の部分曲面筒状部分に接触する接触部材１１０と第１プローブ２００の他に、被検査端子１２の平面部分に接触する第２プローブ８００を備えている。第２プローブ８００は、限定されないポゴピンの形状にすることができる。このように接触部材１１０と第１プローブ２００及び第２プローブ８００を同時に適用することは、検査の信頼性を向上させるためである。
【００２７】
以上の如く、本発明を限定された例示的な実施例及び図面を用いて説明したが、本発明は、上記の例示的な実施例に限定されるものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者にとって上記の記載から様々な修正及び変形が可能である。
【００２８】
したがって、本発明の範囲は、説明された例示的な実施例に限定されず、後述する特許請求の範囲とその均等物によって定められるべきである。
【符号の説明】
【００２９】
１：プローブソケット
１００：第１接触部材支持体
１１０，５１０，６１０，７１０：接触部材
１２０：第２接触部材支持体
２００：プローブ
２１０：第１プランジャー
２２０：バレル
２３０：第２プランジャー
２４０：バネ
３００：ハウジング
４００：プローブ支持体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
0006873247.tif 000008
【図８】
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【図９】
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