(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、
前記ベースの前記凹部に収容された前記電子モジュールの前記コネクタと接触するコンタクト部と、
前記コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、
前記ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、
を備え、
前記押圧部は、前記ベースと前記カバーとのうち、前記コンタクト部が設けられた方に設けられ、前記カバーが開閉する方向からみて、前記フレキシブル基板における前記電子部品が接続された部分と前記コネクタが接続された部分との間に位置する部分の一部を幅方向に横切るように配置されており、
前記ベースの前記凹部に前記電子モジュールを収容した状態で、前記押圧部は、
前記カバーが閉じている状態では前記フレキシブル基板から離れて位置し、
前記カバーが開く際に、前記コネクタの前記第１ガイド部への嵌合方向と反対側に前記フレキシブル基板を押すことを特徴とする測定用ソケット。
【請求項２】
フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、
前記ベースの前記凹部に収容された前記電子モジュールの前記コネクタと接触するコンタクト部と、
前記コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、
前記ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、
前記ベースと前記カバーとの間に設けられたセンターカバーと、
を備え、
前記押圧部は、前記センターカバーに設けられ、前記カバーが開閉する方向からみて、前記フレキシブル基板における前記電子部品が接続された部分と前記コネクタが接続された部分との間に位置する部分の一部を幅方向に横切るように配置されており、
前記ベースの前記凹部に前記電子モジュールを収容した状態で、前記押圧部は、
前記カバーが閉じている状態では前記フレキシブル基板から離れて位置し、
前記カバーが開く際に、前記コネクタの前記第１ガイド部への嵌合方向と反対側に前記フレキシブル基板を押すことを特徴とする測定用ソケット。
【請求項３】
フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、
前記ベースの前記凹部に収容された前記電子モジュールの前記コネクタと接触するコンタクト部と、
前記コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、
前記ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、
を備え、
前記ベースの前記凹部に前記電子モジュールを収容した状態で、前記押圧部は、
前記カバーが閉じている状態では前記フレキシブル基板から離れて位置し、
前記カバーが開く際に、前記コネクタの前記第１ガイド部への嵌合方向と反対側に前記フレキシブル基板を押し、
前記カバーが閉じている状態において前記押圧部を前記フレキシブル基板から離間させる離間手段を備えることを特徴とする測定用ソケット。
【請求項４】
フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、
前記ベースの前記凹部に収容された前記電子モジュールの前記コネクタと接触するコンタクト部と、
前記コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、
前記ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、
を備え、
前記ベースの前記凹部に前記電子モジュールを収容した状態で、前記押圧部は、
前記カバーが閉じている状態では前記フレキシブル基板から離れて位置し、
前記カバーが開く際に、前記コネクタの前記第１ガイド部への嵌合方向と反対側に前記フレキシブル基板を押し、
前記フレキシブル基板と嵌め合わされる第２ガイド部をさらに備え、
前記押圧部は、前記第１ガイド部と前記第２ガイド部との間の前記フレキシブル基板を押すことを特徴とする測定用ソケット。
【請求項５】
フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、
前記ベースの前記凹部に収容された前記電子モジュールの前記コネクタと接触するコンタクト部と、
前記コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、
前記ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、
を備え、
前記ベースの前記凹部に前記電子モジュールを収容した状態で、前記押圧部は、
前記カバーが閉じている状態では前記フレキシブル基板から離れて位置し、
前記カバーが開く際に、前記コネクタの前記第１ガイド部への嵌合方向と反対側に前記フレキシブル基板を押し、
前記押圧部は、前記コンタクト部の周囲に位置する支点で前記カバーの開閉方向に揺動可能に設けられ、
前記押圧部は、
前記カバーが開いていて前記カバーと接触していない状態では前記コネクタの前記第１ガイド部への嵌合方向と反対側に付勢され、
前記カバーが閉じることで前記カバーによって押圧され、前記フレキシブル基板から離れて位置することを特徴とする測定用ソケット。
【請求項６】
前記カバーは前記ベースに対して回動可能に支持され、
前記支点は前記カバーの回動軸と前記コンタクト部との間に位置する、請求項５に記載の測定用ソケット。
【請求項７】
前記押圧部は、前記コネクタに対して前記電子部品とは反対側に位置する前記フレキシブル基板を押す、請求項５または請求項６に記載の測定用ソケット。
【請求項８】
前記押圧部を前記フレキシブル基板に近づく向きに付勢する付勢手段を備える、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子モジュールの導通検査や特性測定などを行う際に用いられる測定用ソケットに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＩＣ等の電子部品の電気的な測定を行う際に用いられる測定用ソケット（以下、単に「ソケット」とも言う。）として、電子部品を一方向に押圧して位置決めするソケットが開示されている。例えば、特許文献１では、ＩＣパッケージの表面を押圧して位置決めを行う半導体装置用ソケットが開示される。
【０００３】
また、特許文献２には、ソケットの蓋を開く際の電子部品の蓋への貼り付きを防止することができる電子部品用ソケットが開示される。この電子部品用ソケットでは、カバーの開閉動作と連動するシャフトを備えており、このシャフトとして、カバーが閉じた位置からわずかに開いた第１位置までの間、電子部品と接触せず、カバーが第１位置から第２位置まで開く間、電子部品と接触して電子部品とガイド部との嵌め合いを外し、カバーが第２位置からさらに開くことで電子部品から離れるよう構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−０２３１６４号公報
【特許文献２】特許第５９３１２７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
電子モジュールとして、周囲から入射する信号（電磁波、音波）の空間分布を測定して測定対象の情報を得るセンサ（電子部品）を備えている場合、センサの位置精度を特に高めておくことが重要である。したがって、このような電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットでは、電子モジュール（電子部品）に対する高い位置決め精度が要求される。しかしながら、電子部品やコネクタがフレキシブル基板に接続された電子モジュールを測定対象とする場合、測定用ソケットのカバーを閉じた際には電子部品を高精度に位置決めし、コネクタをガイド部にしっかり嵌め合わせてコネクタとコンタクト部と適切に接触させて測定を行い、測定後にカバーを開いて電子モジュールを取り出す際には、コネクタやフレキシブル基板に与えるダメージを少なくする必要がある。
【０００６】
本発明は、測定の際には電子モジュールのコネクタを適切に位置決めして導通を安定的に行うことができ、測定後に電子モジュールを取り出す際のダメージを少なくすることができる測定用ソケットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明の一態様は、フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、ベースの凹部に収容された電子モジュールのコネクタと接触するコンタクト部と、コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、を備え、ベースの凹部に電子モジュールを収容した状態で、押圧部は、カバーが閉じている状態ではフレキシブル基板から離れて位置し、カバーが開く際に、コネクタの第１ガイド部への嵌合方向と反対側にフレキシブル基板を押すことを特徴とする。
【０００８】
このような構成によれば、カバーを閉じている状態では押圧部がフレキシブル基板から離れて位置するため、コネクタと第１ガイド部との嵌め合わせに影響を与えずコネクタとコンタクト部との接触が安定的に行われる。一方、カバーを開く際には押圧部がフレキシブル基板を押圧してコネクタの第１ガイド部からの脱離が安定的に行われる。
【０００９】
上記測定用ソケットにおいて、押圧部をフレキシブル基板に近づく向きに付勢する付勢手段を備えていることが好ましい。これにより、付勢手段の付勢力によって押圧部がフレキシブル基板を押圧し、コネクタの第１ガイド部からの脱離を安定的に行うことができる。
【００１０】
上記測定用ソケットでは、カバーが閉じている状態において押圧部をフレキシブル基板から離間させる離間手段を備えていることが好ましい。これにより、カバーが閉じている状態で離間手段によって押圧部をフレキシブル基板から離間させることが安定的に実現される。
【００１１】
上記測定用ソケットにおいて、フレキシブル基板と嵌め合わされる第２ガイド部をさらに備え、押圧部は、第１ガイド部と第２ガイド部との間のフレキシブル基板を押すことが好ましい。これにより、カバーを閉じている状態では第２ガイド部にフレキシブル基板が嵌め合わされてコネクタとコンタクト部との位置合わせが安定する。一方、カバーを開く際には、押圧部によって第２ガイド部からフレキシブル基板を適切に離脱させることができる。
【００１２】
上記測定用ソケットにおいて、押圧部は、コネクタに対して電子部品とは反対側に位置するフレキシブル基板を押すようにしてもよい。これにより、押圧部を駆動する機構を外側に配置できるため、機構が簡素化される。
【００１３】
上記測定用ソケットにおいて、押圧部は、コンタクト部の周囲に位置する支点でカバーの開閉方向に揺動可能に設けられ、押圧部は、カバーが開いていてカバーと接触していない状態ではコネクタの第１ガイド部への嵌合方向と反対側に付勢され、カバーが閉じることでカバーによって押圧され、フレキシブル基板から離れて位置するよう設けられていてもよい。これにより、押圧部の構造をシンプルにすることができ、測定用ソケットを小型化しやすくなる。
【００１４】
上記測定用ソケットにおいて、カバーはベースに対して回動可能に支持され、押圧部の支点はカバーの回動軸とコンタクト部との間に位置するよう設けられていてもよい。揺動タイプの押圧部ではコンパクトに構成でき、回動軸側にも設けることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、測定の際には電子モジュールのコネクタを適切に位置決めして導通を安定的に行うことができ、測定後に電子モジュールを取り出す際のダメージを少なくすることができる測定用ソケットを提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】第１実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
【図２】第１実施形態に係る測定用ソケットの凹部の拡大斜視図である。
【図３】（ａ）および（ｂ）は、押圧部の動作を説明する拡大断面図である。
【図４】第２実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
【図５】押圧部の動作を説明する拡大断面図である。
【図６】押圧部の動作を説明する拡大斜視図である。
【図７】第３実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
【図８】第３実施形態に係る測定用ソケットを例示する正面図である。
【図９】第４実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
【図１０】第４実施形態に係る測定用ソケットの押圧部の拡大斜視図である。
【図１１】第４実施形態に係る測定用ソケットの押圧部の動作を説明する拡大断面図である。
【図１２】第４実施形態に係る測定用ソケットの押圧部の動作を説明する拡大断面図である。
【図１３】本実施形態に係るコンタクト装置を例示する模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、同一の部材には同一の符号を付し、一度説明した部材については適宜その説明を省略する。
【００１８】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
図２は、第１実施形態に係る測定用ソケットの凹部の拡大斜視図である。
説明の便宜上、図１ではカバー２０を開いた状態が示される。
第１実施形態に係る測定用ソケット１Ａは、電子モジュール１００の電気的な測定および光学的な測定を行う際に用いられるソケットである。測定用ソケット１Ａは、測定対象となる電子モジュール１００を搭載して、電子モジュール１００との電気的な接続および光軸合わせを行う。
【００１９】
本実施形態において、測定対象となる電子モジュール１００は、電子部品１０１、フレキシブル基板１０２およびコネクタ１０３を備える。電子部品１０１およびコネクタ１０３はフレキシブル基板１０２に接続され、フレキシブル基板１０２の配線を介して互いに導通している。電子部品１０１には光学レンズや光学素子（例えば受光素子）などの光学要素が設けられていてもよい。また、電子部品１０１には、電磁波や音波などの信号を用いて測定を行う電磁波・音波等計測部品も含まれる。電子モジュール１００としては、カメラモジュール、指紋読み取りモジュール、ＴｏＦ（Time of Flight）、レーダセンサモジュール、超音波センサモジュール等が挙げられる。電子部品１０１を適切に機能させるためには電子部品１０１を高精度で位置決めすることが求められる。測定用ソケット１Ａは、測定対象となる電子モジュール１００に対する電気的な導通と、機械的な位置合わせ（例えば光軸合わせ）との両立を図るものである。
【００２０】
測定用ソケット１Ａは、ベース１０と、コンタクト部３０と、第１ガイド部４１と、押圧部５０とを備える。
【００２１】
ベース１０は、電子モジュール１００を収容する凹部１１を有する。凹部１１には、電子モジュール１００の電子部品１０１を収容する第１凹部１１１と、フレキシブル基板１０２を収容する第２凹部１１２と、コネクタ１０３を収容する第３凹部１１３とが設けられる。第１凹部１１１、第２凹部１１２および第３凹部１１３のそれぞれにおいて、開口場には上に広がるテーパ部が設けられ、テーパ部の下方にはストレート部が設けられている。テーパ部において収容する対象部分を呼び込み、ストレート部で対象部分を収容する。
【００２２】
ベース１０にはカバー２０が被せられる。測定用ソケット１Ａにおいて、カバー２０はベース１０に対して回動可能に取り付けられる。すなわち、ベース１０の一端に設けられたヒンジ２７を介してカバー２０が取り付けられる。これにより、カバー２０は、ヒンジ２７の軸２８を中心として開閉動作可能に設けられる。
【００２３】
測定用ソケット１Ａの例えばベース１０にはラッチ１５が設けられる。カバー２０を閉じた状態でラッチ１５をカバー２０の爪２５に引っ掛けることで、カバー２０を閉じた状態が維持される。なお、ラッチ１５はカバー２０側、爪２５はベース１０側に設けられていてもよい。カバー２０は、ヒンジ２７の軸２８に取り付けられたバネ２９によって開く方向に付勢されている。したがって、ラッチ１５を外すことで、バネ２９の付勢力によってカバー２０は開くことになる。
【００２４】
コンタクト部３０は、ベース１０の凹部１１に収容された電子モジュール１００のコネクタ１０３と接触する部材である。測定用ソケット１Ａでは、コンタクト部３０はコネクタ１０３を収容する第３凹部１１３のベース１０側に設けられる。コンタクト部３０にはコネクタ１０３の各端子と接触する複数のコンタクトピン３１が設けられる。コネクタ１０３が収容された第３凹部１１３とコンタクト部３０との相対距離が近づくことでコンタクトピン３１がコネクタ１０３の端子と接触することになる。
【００２５】
第１ガイド部４１は、コネクタ１０３と嵌め合わされる部分である。本実施形態では、コネクタ１０３を収容する第３凹部１１３が第１ガイド部４１となる。第１ガイド部４１は、コイルバネ４５によってコンタクト部３０から離れる方向に付勢されている。コネクタ１０３とともに第１ガイド部４１を押し込むことで、コネクタ１０３の端子とコンタクト部３０のコンタクトピン３１とが接触するようになる。
【００２６】
押圧部５０は、ベース１０に対向するカバー２０の開閉に応じて動作する部材である。測定用ソケット１Ａにおいて、押圧部５０は、ベース１０の凹部１１に収容される電子モジュール１００のフレキシブル基板１０２の下側に配置される。押圧部５０はベース１０に対して突出する方向（ベース１０から離れる方向）に付勢手段であるコイルバネ５５によって付勢されており、コイルバネ５５の付勢力に打ち勝って押すことで、押圧部５０はベース１０側に押し込まれる。
【００２７】
測定用ソケット１Ａにおいて、カバー２０が閉じている状態では、押圧部５０はフレキシブル基板１０２から離れて位置し、カバー２０が開く際に、コネクタ１０３の第１ガイド部４１への嵌合方向と反対側にフレキシブル基板１０２を押すように動作する。
【００２８】
測定用ソケット１Ａでは、カバー２０のベース１０との対向面側に第１突起部２０１および第２突起部２０２が設けられる。第１突起部２０１は、カバー２０を閉じた際に第３凹部１１３（第１ガイド部４１）に収容されたコネクタ１０３を第３凹部１１３（第１ガイド部４１）側に押圧する。また、第２突起部２０２は、カバー２０を閉じた際に押圧部５０と当接して押圧部５０をベース１０側に押し込む。第２突起部２０２は押圧部５０をフレキシブル基板１０２から離間させる離間手段６０となる。
【００２９】
図３（ａ）および（ｂ）は、押圧部の動作を説明する拡大断面図である。図３（ａ）にはカバー２０が閉じた際の動作が示され、図３（ｂ）にはカバー２０が開いた際の動作が示される。
【００３０】
図３（ａ）に示すように、電子モジュール１００が凹部１１に収容された状態でカバー２０を被せる（閉じる）と、カバー２０に設けられた第２突起部２０２が押圧部５０と当接し、コイルバネ５５の付勢力に打ち勝って押圧部５０がベース１０側に押し込まれる。これにより、第２突起部２０２が離間手段６０として作用し、押圧部５０はフレキシブル基板１０２から離れて位置することになる。フレキシブル基板１０２は押圧部５０による影響を受けることなく第２凹部１１２に収容され、位置固定が安定的に行われる。
【００３１】
押圧部５０が押し込まれ、さらにカバー２０を閉じていくと、カバー２０に設けられた第１突起部２０１がコネクタ１０３を押圧する。この押圧力によってコネクタ１０３とともに第３凹部１１３（第１ガイド部４１）が押し込まれる。第３凹部１１３（第１ガイド部４１）が押し込まれることでコンタクト部３０のコンタクトピン３１がコネクタ１０３の端子と接触する状態となる。
【００３２】
このように、カバー２０を閉じている状態では押圧部５０がフレキシブル基板１０２から離れて位置するため、コネクタ１０３と第１ガイド部４１との嵌め合わせに影響を与えず、コネクタ１０３とコンタクト部３０のコンタクトピン３１との接触が適切に行われる。
【００３３】
図３（ｂ）に示すように、カバー２０を開くと、第１突起部２０１がコネクタ１０３から離れ、第３凹部１１３（第１ガイド部４１）がコイルバネ４５の付勢力によって持ち上げられる。これにより、コネクタ１０３の端子とコンタクト部３０のコンタクトピン３１との接触が解除される。
【００３４】
また、第３凹部１１３（第１ガイド部４１）の持ち上がりとともに、カバー２０の開きによって第２突起部２０２が押圧部５０から離れる。これにより、押圧部５０はコイルバネ５５の付勢力によって持ち上がり、フレキシブル基板１０２を押し上げる。フレキシブル基板１０２は押圧部５０によって押し上げられ、第２凹部１１２から脱離することになる。したがって、フレキシブル基板１０２が第２凹部１１２に固めに嵌め込まれていたとしても、カバー２０を開く際には押圧部５０がフレキシブル基板１０２を押圧して第２凹部１１２から脱離させることが安定的に実現される。
【００３５】
また、コネクタ１０３が第３凹部１１３（第１ガイド部４１）に固めに嵌め込まれていたとしても、押圧部５０によってフレキシブル基板１０２を押圧することでコネクタ１０３に対しても第３凹部１１３（第１ガイド部４１）から脱離する方向に力を与えることができる。したがって、コネクタ１０３の第３凹部１１３（第１ガイド部４１）からの離脱も安定的に行うことができる。
【００３６】
また、測定用ソケット１Ａでは、フレキシブル基板１０２が嵌め合わされる第２凹部１１２を第２ガイド部４２として、押圧部５０は第１ガイド部４１と第２ガイド部４２との間のフレキシブル基板１０２を押すよう設けられる。これにより、カバー２０を閉じている状態では第２ガイド部４２である第２凹部１１２にフレキシブル基板１０２が嵌め合わされてコネクタ１０３とコンタクト部３０との位置合わせが安定する。一方、カバー２０を開く際には、押圧部５０によって第２ガイド部４２からフレキシブル基板１０２を適切に離脱させることができるため、電子モジュール１００に不要な力を与えることなく測定用ソケット１Ａから取り出すことができる。
【００３７】
（第２実施形態）
図４は、第２実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
図５は、押圧部の動作を説明する拡大断面図である。
図６は、押圧部の動作を説明する拡大斜視図である。
第２実施形態に係る測定用ソケット１Ｂでは、コンタクト部３０、第１ガイド部４１および押圧部５０がカバー２０側に設けられる。
【００３８】
コンタクト部３０およびコンタクトピン３１はカバー２０側に固定される。第１ガイド部４１はコイルバネ４５によってコンタクト部３０から離れる方向に付勢される。押圧部５０はコイルバネ５５によってカバー２０から離れる方向に付勢される。
【００３９】
カバー２０を閉じた際に押圧部５０と対向するベース１０の位置には離間手段６０である第２突起部２０２が設けられる。測定用ソケット１Ｂでは、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を収容すると、電子モジュール１００のコネクタ１０３の端子が上向きとなって配置される。このコネクタ１０３にカバー２０側のコンタクト部３０が被せられ、コネクタ１０３とコンタクト部３０の位置決めを行い、コンタクトピン３１とコネクタ１０３の端子との接触が行われる。
【００４０】
図５および図６には、カバー２０を閉じる途中の状態が示される。すなわち、電子モジュール１００が凹部１１に収容された状態でカバー２０を被せる（閉じる）と、ベース１０に設けられた第２突起部２０２が押圧部５０と当接し、コイルバネ５５の付勢力に打ち勝って押圧部５０をカバー２０側に押し込むようになる。これにより、第２突起部２０２が離間手段６０として作用し、押圧部５０はフレキシブル基板１０２から離れて位置することになる。押圧部５０がカバー２０側に押し込まれることで、フレキシブル基板１０２は押圧部５０による影響を受けることなく、またフレキシブル基板１０２に接続されたコネクタ１０３も影響を受けることなく凹部１１に収納された状態を維持することができる。
【００４１】
押圧部５０が押し込まれ、さらにカバー２０を閉じていくと、カバー２０に設けられた第１ガイド部４１がコネクタ１０３に被せられ、コネクタ１０３の位置決めが行われる。さらにカバー２０を閉じていくと、コイルバネ４５の付勢力に打ち勝って第１ガイド部４１がカバー２０側に押し込まれ、コンタクト部３０のコンタクトピン３１が第１ガイド部４１に嵌め込まれたコネクタ１０３の端子と接触する状態となる。
【００４２】
このように、カバー２０を閉じている状態では押圧部５０がフレキシブル基板１０２から離れて位置するため、コネクタ１０３と第１ガイド部４１との嵌め合わせに影響を与えず、コネクタ１０３とコンタクト部３０のコンタクトピン３１との接触が適切に行われる。
【００４３】
測定が完了し、カバー２０を開くと、コンタクト部３０のコンタクトピン３１がコネクタ１０３の端子から離れるが、第１ガイド部４１はコイルバネ４５の付勢力によってベース１０側に付勢され、コンタクト部３０よりも遅れてコネクタ１０３から離間する。
【００４４】
カバー２０を開く際、ベース１０からカバー２０が離れていく途中で、押圧部５０はコイルバネ５５の付勢力によってフレキシブル基板１０２の方向に突出していく。ここで、もし第１ガイド部４１にコネクタ１０３が固く嵌まり込んでいたとすると、第１ガイド部４１とともにコネクタ１０３が引き上げられることになる。しかし、コネクタ１０３とともにフレキシブル基板１０２が持ち上げられても、突出している押圧部５０によってフレキシブル基板１０２が押圧され、この押圧力によって第１ガイド部４１に嵌め込まれたコネクタ１０３が第１ガイド部４１から離脱することになる。これにより、第１ガイド部４１からコネクタ１０３を適切に離脱でき、電子モジュール１００に不要な力を与えることなくカバー２０を開くことができる。
【００４５】
（第３実施形態）
図７は、第３実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
図８は、第３実施形態に係る測定用ソケットを例示する正面図である。
第３実施形態に係る測定用ソケット１Ｃは、ベース１０とカバー２０との間に設けられたセンターカバー７０を備える。センターカバー７０は、カバー２０に対して回動可能に支持される。カバー２０とセンターカバー７０との間にはコイルバネ７５が設けられ、センターカバーをカバー２０から離れる方向に付勢している。
【００４６】
測定用ソケット１Ｃでは、コンタクト部３０および第１ガイド部４１がカバー２０側に設けられ、押圧部５０がセンターカバー７０に設けられる。センターカバー７０には電子モジュール１００の電子部品１０１を押さえる押圧片７１が設けられる。
【００４７】
測定用ソケット１Ｃにおいて、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を収容した状態でカバー２０を閉じると、カバー２０とともにセンターカバー７０も閉じていく。センターカバー７０が閉じていくことで、センターカバー７０の押圧片７１が電子モジュール１００の電子部品１０１と当接する。
【００４８】
押圧片７１が電子部品１０１に当接した状態でさらにカバー２０を閉じていくと、コイルバネ７５の付勢力が押圧片７１に伝わり電子部品１０１を押圧する。さらにカバー２０が閉じていくと、カバー２０に設けられた第１ガイド部４１がコネクタ１０３と嵌め合わされ、コンタクト部３０のコンタクトピン３１とコネクタ１０３とが接触する。このカバー２０およびセンターカバー７０が閉じる動作において、センターカバー７０に設けられた押圧部５０は電子モジュール１００のフレキシブル基板１０２とは接触しない。
【００４９】
測定が完了し、カバー２０を開くと、コンタクト部３０のコンタクトピン３１がコネクタ１０３の端子から離れるが、センターカバー７０はコイルバネ７５の付勢力によってカバー２０から離れる方向に付勢されているため、カバー２０よりも遅れて開き出す。
【００５０】
ここで、もし第１ガイド部４１にコネクタ１０３が固く嵌まり込んでいたとすると、第１ガイド部４１とともにコネクタ１０３が引き上げられることになる。しかし、コネクタ１０３とともにフレキシブル基板１０２が持ち上げられても、センターカバー７０の開き動作の開始が遅れるため、センターカバー７０の押圧部５０によってフレキシブル基板１０２が押圧され、この押圧力によって第１ガイド部４１に嵌め込まれたコネクタ１０３が第１ガイド部４１から離脱することになる。これにより、第１ガイド部４１からコネクタ１０３を適切に離脱でき、電子モジュール１００に不要な力を与えることなくカバー２０を開くことができる。
【００５１】
（第４実施形態）
図９は、第４実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
図１０は、第４実施形態に係る測定用ソケットの押圧部の拡大斜視図である。
第４実施形態に係る測定用ソケット１Ｄにおいて、押圧部５０は、コンタクト部３０の周囲に位置する支点５１でカバー２０の開閉方向に揺動可能に設けられる。押圧部５０の揺動の支点５１は、カバー２０の回動軸とコンタクト部３０との間に位置するように設けられる。測定用ソケット１Ｄはセンターカバー７０を備える。センターカバー７０には電子モジュール１００の電子部品１０１を押さえる押圧枠７２が設けられる。
【００５２】
さらに、センターカバー７０には、センターカバー７０が閉じる際に押圧部５０を押さえるプレート７３が設けられる。プレート７３は押圧部５０をフレキシブル基板１０２から離間させる離間手段６０である。押圧部５０にはプレート７３が当接する際の摺動抵抗を低減させるためのローラ５２が設けられているとよい。
【００５３】
図１１および図１２は、第４実施形態に係る測定用ソケットの押圧部の動作を説明する拡大断面図である。
図１１にはカバー２０およびセンターカバー７０が開いているときの状態が示される。なお、説明の便宜上、図１１にはカバー２０およびセンターカバー７０は示されていない。カバー２０およびセンターカバー７０が開いている状態では、センターカバー７０のプレート７３は押圧部５０に当接しておらず、押圧部５０はコイルバネ５５の付勢力によってベース１０から離れる方向に持ち上げられている。ベース１０に電子モジュール１００が収容されている状態では、押圧部５０によってフレキシブル基板１０２が持ち上げられる。
【００５４】
図１２（ａ）および（ｂ）にはカバー２０およびセンターカバー７０を閉じる途中の状態が示される。カバー２０およびセンターカバー７０を閉じていくと、図１２（ａ）に示すようにセンターカバー７０のプレート７３が押圧部５０のローラ５２に当接する。さらに閉じていくと、図１２（ｂ）に示すように、プレート７３によって押圧部５０が押さえられ、コイルバネ５５の付勢力に打ち勝って押圧部５０が押し下げられる。これにより、プレート７３が離間手段６０として作用し、押圧部５０はフレキシブル基板１０２から離れて位置することになる。
【００５５】
さらにカバー２０およびセンターカバー７０を閉じていくと、センターカバー７０の押圧枠７２によって電子部品１０１が押さえられる。押圧枠７２が電子部品１０１に当接した状態でさらにカバー２０を閉じていくと、コイルバネ７５の付勢力が押圧枠７２に伝わり電子部品１０１を押圧する。さらにカバー２０を閉じていくと、カバー２０に設けられた第１ガイド部４１がコネクタ１０３に嵌め合わされ、コンタクト部３０のコンタクトピン３１が第１ガイド部４１に嵌め込まれたコネクタ１０３の端子と接触する状態となる。
【００５６】
このように、カバー２０およびセンターカバー７０を閉じる動作では押圧部５０がフレキシブル基板１０２から離れて位置するため、コネクタ１０３と第１ガイド部４１との嵌め合わせに影響を与えず、コネクタ１０３とコンタクト部３０のコンタクトピン３１との接触が適切に行われる。
【００５７】
測定が完了し、カバー２０を開く際の動作は閉じる際の動作と逆になる。すなわち、カバー２０を開くことでコンタクト部３０のコンタクトピン３１がコネクタ１０３の端子から離れる。この際、センターカバー７０はコイルバネ７５の付勢力によってカバー２０から離れる方向に付勢されているため、カバー２０よりも遅れて開き出す。
【００５８】
第１ガイド部４１がコネクタ１０３から外れ、カバー２０をさらに開いていくと、センターカバー７０が開きだし、センターカバー７０のプレート７３の押さえ込みが解除され、押圧部５０がコイルバネ５５の付勢力によって持ち上げられる。これにより、押圧部５０がフレキシブル基板１０２を持ち上げるようになる。フレキシブル基板１０２が第２凹部１１２に固めに嵌め込まれていたとしても、押圧部５０によってフレキシブル基板１０２を持ち上げることで安定的に離脱できる。したがって、電子モジュール１００に不要な力を与えることなく測定用ソケット１Ｄから取り出すことができる。
【００５９】
このような測定用ソケット１Ｄでは、揺動可能な押圧部５０によって押圧部５０をベース１０やカバー２０の内部に組み込む必要がなくなり、構造をシンプルにすることができ、ソケットを小型化しやすくなる。
【００６０】
また、押圧部５０の支点５１がカバー２０の回動の軸２８とコンタクト部３０との間に位置するよう設けられることで、揺動タイプの押圧部５０を電子モジュール１００の収容位置よりも軸２８側に設けることができる。これにより、押圧部５０がコネクタ１０３に対して電子部品１０１とは反対側に位置するフレキシブル基板１０２を押すようになる。すなわち、押圧部５０は、フレキシブル基板１０２のコネクタ１０３よりも外側の部分（コネクタ１０３に近い部分）を押し上げることになる。したがって、フレキシブル基板１０２に無理な力を加えることなくフレキシブル基板１０２とともにコネクタ１０３を持ち上げることが可能となる。
【００６１】
（コンタクト装置）
図１３は、本実施形態に係るコンタクト装置を例示する模式図である。
本実施形態に係るコンタクト装置５００は、先に説明した測定用ソケット１Ａ〜１Ｄと同様に、ベース１０、コンタクト部３０、第１ガイド部４１および押圧部５０を備える。コンタクト装置５００では、カバー２０がベース１０に対して上下動するよう構成される。
【００６２】
ベース１０には、電子モジュール１００を収容する凹部１１が設けられる。ベース１０には、例えば４箇所に支柱５１５が設けられている。カバー２０は、この支柱５１５によって支持され、支柱５１５に沿って上下動可能に設けられる。支柱５１５にはバネ５１７が設けられており、カバー２０を上方に付勢している。カバー２０は、図示しない駆動機構によってバネ５１７の付勢力を超えた力で押し込まれることにより、ベース１０の上に被せられる。
【００６３】
測定を行う場合には、電子モジュール１００をベース１０の凹部１１に収容する。電子モジュール１００の電子部品１０１は第１凹部１１１に収容され、フレキシブル基板１０２は第２凹部１１２に収容され、コネクタ１０３は第３凹部１１３（第１ガイド部４１）に収容される。
【００６４】
ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を収容した状態でカバー２０を下降すると、コンタクト部３０のコンタクトピン３１とコネクタ１０３の端子とが接触するようになる。ここで、カバー２０がベース１０に被せられる際、例えばベース１０側に設けられた押圧部５０は、カバー２０に設けられた第２突起部２０２（離間手段６０）によってベース１０側に押し込まれ、フレキシブル基板１０２から離間される。
【００６５】
このように、カバー２０をベース１０に被せている状態では押圧部５０がフレキシブル基板１０２から離れて位置するため、コネクタ１０３と第１ガイド部４１との嵌め合わせに影響を与えず、コネクタ１０３とコンタクト部３０のコンタクトピン３１との接触が適切に行われる。
【００６６】
測定が完了した後、カバー２０を上昇させる。カバー２０の上昇によって、コンタクト部３０のコンタクトピン３１がコネクタ１０３の端子から離れる。また、第２突起部２０２が押圧部５０から離れ、コイルバネ５５の付勢力によって押圧部５０が持ち上げられる。これにより、押圧部５０によってフレキシブル基板１０２が持ち上げられ、第２凹部１１２から離脱することになる。したがって、フレキシブル基板１０２が第２凹部１１２に固めに嵌め込まれていたとしても、カバー２０を開く際には押圧部５０がフレキシブル基板１０２を押圧して第２凹部１１２から脱離させることが安定的に実現される。
【００６７】
また、コネクタ１０３が第３凹部１１３（第１ガイド部４１）に固めに嵌め込まれていたとしても、押圧部５０によってフレキシブル基板１０２を押圧することでコネクタ１０３に対しても第３凹部１１３（第１ガイド部４１）から脱離する方向に力を与えることができる。したがって、コネクタ１０３の第３凹部１１３（第１ガイド部４１）からの離脱も安定的に行うことができる。
【００６８】
図１３に示すコンタクト装置５００の例では、コンタクト部３０がカバー２０側に設けられている、ベース１０側に設けられてもよい。また、コンタクト装置５００の例では、押圧部５０がベース１０側に設けられているが、カバー２０側に設けられてもよい。
【００６９】
以上説明したように、実施形態に係る測定用ソケット１Ａ〜１Ｄによれば、測定の際には電子モジュール１００のコネクタ１０３を適切に位置決めして導通を安定的に行うことができ、測定後は電子モジュール１００にダメージを与えることなく取り出すことが可能となる。
【００７０】
特に、近年ではフレキシブル基板１０２が固く、複雑な形状になってきているため、第２凹部１１２にフレキシブル基板１０２が嵌め込まれやすく、不用意に力を入れると変形してしまう恐れがある。測定用ソケット１Ａ〜１Ｄでは、このようなフレキシブル基板１０２を備えた電子モジュール１００であっても、適切な電気的導通および位置決めと、ソケットからの無理のない取り外しを行うことが可能となる。
【００７１】
なお、上記に本実施形態およびその具体例を説明したが、本発明はこれらの例に限定されるものではない。例えば、前述の実施形態またはその具体例に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除、設計変更を行ったものや、実施形態の特徴を適宜組み合わせたものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に包含される。
【符号の説明】
【００７２】
１Ａ，１Ｂ，１Ｃ，１Ｄ…測定用ソケット
１０…ベース
１１…凹部
１５…ラッチ
２０…カバー
２５…爪
２７…ヒンジ
２８…軸
２９…バネ
３０…コンタクト部
３１…コンタクトピン
４１…第１ガイド部
４２…第２ガイド部
４５…コイルバネ
５０…押圧部
５１…支点
５２…ローラ
５５…コイルバネ（付勢手段）
６０…離間手段
７０…センターカバー
７１…押圧片
７２…押圧枠
７３…プレート
７５…コイルバネ
１００…電子モジュール
１０１…電子部品
１０２…フレキシブル基板
１０３…コネクタ
１１１…第１凹部
１１２…第２凹部
１１３…第３凹部
２０１…第１突起部
２０２…第２突起部
５００…コンタクト装置
５１５…支柱
５１７…バネ
【要約】
【課題】測定の際には電子モジュールのコネクタを適切に位置決めして導通を安定的に行うことができ、測定後に電子モジュールを取り出す際のダメージを少なくすることができる測定用ソケットを提供すること。
【解決手段】本発明の一態様は、フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続された電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを収容する凹部を有するベースと、ベースの凹部に収容された電子モジュールのコネクタと接触するコンタクト部と、コネクタと嵌め合わされる第１ガイド部と、ベースに対向するカバーの開閉に応じて動作する押圧部と、を備え、ベースの凹部に電子モジュールを収容した状態で、押圧部は、カバーが閉じている状態ではフレキシブル基板から離れて位置し、カバーが開く際に、コネクタの第１ガイド部への嵌合方向と反対側にフレキシブル基板を押すことを特徴とする。
【選択図】図１【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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