(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
真空チャンバーと、点灯機構と、少なくとも１つの分光計と、少なくとも１つのカメラとを含むディスプレイパネルのエージング試験システムにおいて、
前記真空チャンバーには、前記ディスプレイパネルをエージングさせるためのエージング装置が設けられており、且つ、前記真空チャンバーには、前記点灯機構と、前記分光計と、前記カメラが設けられており、前記真空チャンバーの一側には、予め加熱した窒素ガス及び空気の少なくとも一方を流入させるのに用いられ、エージングを加速させるための気体管路が設けられており；
前記点灯機構は、前記ディスプレイパネルに電気的に接続されており、前記ディスプレイパネルを発光させるのに用いられ、前記点灯機構は接続ロッドとピンとを含み、前記接続ロッドの一端は前記真空チャンバーの内壁上に設けられており、前記接続ロッドの他端は前記ピンに接続されており、前記ピンは前記ディスプレイパネルと電気的に接続するのに用いられ；
前記少なくとも１つの分光計は、前記ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、前記ディスプレイパネルの輝度及び色座標を検出するのに用いられ；
前記少なくとも１つのカメラは、前記ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、前記ディスプレイパネルのサブピクセルの暗点欠陥を検出するのに用いられ；
前記ディスプレイパネルのピクセルを複数の領域に分割し、前記点灯機構は前記ピンを介して前記複数の領域を順に発光させ；
前記エージング試験システムは、前記ディスプレイパネルを支持するための支持台をさらに含み；
前記真空チャンバーは、前記ディスプレイパネルと、前記点灯機構と、前記支持台とを収容するのに用いられ、前記分光計及び前記カメラは前記真空チャンバーの外側に間隔を置いて設けられていることを特徴とするディスプレイパネルのエージング試験システム。
【請求項２】
前記支持台上に位置合わせシステムが設けられており、前記位置合わせシステムは前記ディスプレイパネルの位置調整を行なうのに用いられることを特徴とする請求項１に記載のエージング試験システム。
【請求項３】
前記エージング試験システムは、前記真空チャンバーを支持するための支持部材をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のエージング試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスプレイの技術分野に関するものであり、特にディスプレイパネルのエージング試験システム及びその方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は、自発光、バックライト光源不要、高コントラスト、薄型、広視野角、高応答速度、フレキシブルパネルへの適用可能性、広範囲の使用温度、比較的簡素な構造及び製造工程等の優れた特性を全て有し、次世代のフラットディスプレイに用いられる新興技術であるとみなされている。
【０００３】
ＯＬＥＤ部品の構造は、カソード、アノード、及びカソードとアノードとの間で挟持された有機機能層で構成されている。ここで有機機能層は、ＨＩＬ（正孔注入層）、ＨＴＬ（正孔輸送層）、ＥＭＬ（発光層）、ＥＴＬ（電子輸送層）及びＥＩＬ（電子注入層）等を含む層から構成されている。
【０００４】
有機発光部品の適用範囲の拡大、及び有機発光部品の商業化を実現するために、有機発光部品の効率を高め、且つ駆動電圧を下げる技術が盛んに開発されている。
【０００５】
ＯＬＥＤは既に中小型のＯＬＥＤテレビに広く適用されているが、大型のＯＬＥＤテレビの商品化も始まっている。中小型のＯＬＥＤテレビと比較すると、大型のＯＬＥＤテレビは面積が大きいため、歩留まりを向上させるのが困難であり、製造時に暗点、輝点等の欠陥が生じ易く、低グレースケールにおいては、暗点に起因するｍｕｒａ（不均一、斑点を有する）がより顕著となる。前記欠陥を解消するためには、ＯＬＥＤの製造工程中にラインエージング工程を取り入れる必要があり、ラインエージング工程により暗点等の欠陥を減少させて、大型ＯＬＥＤパネルの歩留まりを向上させることができる。現在の技術では、ＯＬＥＤディスプレイパネルをラインエージングチャンバーに通過させた後、さらに近くのＩＶＬ（電流−電圧−輝度）点灯チャンバーに送り、エージングの効果を検査し且つ選別を行なった上で、封止工程に入る。これにより、検査時間が過度に長くなり、且つエージングチャンバーと点灯チャンバーの２つのチャンバーを個別に設置する必要があり、設備コストが高くなる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする技術課題は、ディスプレイパネルのエージング試験システム及びその方法を提供することであり、当該システム及び方法は、検査時間を節約し、検査効率を高め、且つ検査設備を削減することができ、以って検査コストを下げることができる。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述の技術課題を解決するために、本発明が採用する技術案として、ディスプレイパネルのエージング試験システムを提供する。ここで、当該ディスプレイパネルのエージング試験システムは、
真空チャンバーと、点灯機構と、少なくとも１つの分光計と、少なくとも１つのカメラとを含み、
真空チャンバーには、ディスプレイパネルをエージングさせるためのエージング装置が設けられており、且つ、真空チャンバーには、点灯機構と、分光計と、カメラが設けられており、
真空チャンバーの一側には、窒素ガス及び空気の少なくとも一方を流入させるための気体管路が設けられており；
点灯機構は、ディスプレイパネルに電気的に接続されており、ディスプレイパネルを発光させるのに用いられ、点灯機構は接続ロッドとピンとを含み、接続ロッドの一端は真空チャンバーの内壁上に設けられており、接続ロッドの他端はピンに接続されており、ピンはディスプレイパネルと電気的に接続するのに用いられ；
少なくとも１つの分光計は、ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、ディスプレイパネルの輝度及び色座標を検出するのに用いられ；
少なくとも１つのカメラは、ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、ディスプレイパネルのサブピクセルの暗点欠陥を検出するのに用いられる。
【０００８】
上述の技術課題を解決するために、本発明が採用するさらなる技術案として、ディスプレイパネルのエージング試験システムを提供する。当該ディスプレイパネルのエージング試験システムは、
真空チャンバーと、点灯機構と、少なくとも１つの分光計と、少なくとも１つのカメラとを含み、
【０００９】
前記真空チャンバーには、前記ディスプレイパネルをエージングさせるためのエージング装置が設けられており、且つ、前記真空チャンバーには、前記点灯機構と、前記分光計と、前記カメラが設けられており；
【００１０】
前記点灯機構は、前記ディスプレイパネルに電気的に接続されており、前記ディスプレイパネルを発光させるのに用いられ；
【００１１】
前記少なくとも１つの分光計は、前記ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、前記ディスプレイパネルの色座標及び輝度を検出するのに用いられ；
【００１２】
前記少なくとも１つのカメラは、前記ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、前記ディスプレイパネルのサブピクセルの暗点欠陥を検出するのに用いられる。
【００１３】
上述の技術課題を解決するために、本発明が採用するさらなる技術案として、ディスプレイパネルのエージング試験方法を提供する。当該エージング試験方法は、
【００１４】
前記ディスプレイパネルを発光させるステップと；
【００１５】
前記ディスプレイパネルの色座標及び輝度を検出すると共に、前記ディスプレイパネルのサブピクセルの暗点欠陥を検出するステップと、を含む。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の有益な効果は、以下の通りである。現存する技術との区別を図るべく、本発明はディスプレイパネルのエージング試験システム及びその方法を提供する。当該エージング試験システムは、真空チャンバーと、点灯機構と、少なくとも１つの分光計と、少なくとも１つのカメラとを含む。ここで真空チャンバーには、ディスプレイパネルをエージングさせるためのエージング装置が設けられており、且つ、真空チャンバーには、点灯機構と、分光計と、カメラとが設けられており、点灯機構は、ディスプレイパネルに電気的に接続されており、ディスプレイパネルを発光させるのに用いられ、少なくとも１つの分光計は、ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、ディスプレイパネルの色座標及び輝度を検出するのに用いられ、少なくとも１つのカメラは、ディスプレイパネルから発せられる光の光路上に位置しており、ディスプレイパネルのサブピクセルの暗点欠陥を検出するのに用いられる。このため本発明は、点灯機構と、分光計と、カメラとを全て真空チャンバー内に設置しており、真空チャンバー内で直接、エージングと、エージングの効果を検査するための作業とを遂行できる。これにより、検査時間を節約し、検査効率を高め、且つディスプレイパネルの量産ラインの設計を簡略化し、検査設備を削減して、検査コストを下げることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
本発明の実施形態における技術案をより明確に説明するために、以下において、実施形態を記述する際に使用される必要な図面についての簡単な紹介を行なう。以下に記述する図面は明らかに、本発明の一部の実施形態を示すものにすぎない。本分野の通常の技術者にとっては、如何なる創造的労力も費やさないことを前提として、これらの図面に基づいてその他の図面を得ることができる。
【００１８】
【図１】本発明の実施形態が提供するディスプレイパネルのエージング試験システムの構造概略図である。
【図２】本発明の実施形態が提供するディスプレイパネルのエージング試験方法を示すフロートチャート図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下において、本発明の実施形態に係る図面と合わせて、本発明の実施形態における技術案に対する明瞭で且つ完全な記述を行なう。記述されている実施形態は明らかに、本発明の一部の実施形態にすぎず、全ての実施形態ではない。本発明の実施形態に基づいて、本分野の通常の技術者が如何なる創造的労力も費やすことなく得られた他の実施形態は、いずれも本発明の保護範囲に属するものである。
【００２０】
図１を参照すると、図１は、本発明の実施形態が提供するディスプレイパネルのエージング試験システムの構造概略図である。図１に示すように、本発明のエージング試験システム１０は、真空チャンバー１１と、点灯機構１２と、少なくとも１つの分光計１３と、少なくとも１つのカメラ１４とを含む。
【００２１】
ここで、真空チャンバー１１には、ディスプレイパネル１００をエージングさせるためのエージング装置（図示せず）が設けられており、且つ、真空チャンバー１１には、点灯機構１２と、分光計１３と、カメラ１４が設けられている。
【００２２】
具体的には、エージングを加速させるために、真空チャンバー１１の一側に気体管路１６が設けられており、当該気体管路１６は、窒素ガス及び空気の少なくとも一方を流入させるのに用いられる。気体の流入を速めるために、２つ以上の気体管路１６を設けることもでき、図１に示すように、２つの気体管路１６が設けられている。ここで空気には、圧縮空気と清浄空気のいずれかが含まれる。なお、圧縮空気は主に水を含む比較的普通の空気であり、清浄空気は油や粒子（ｐａｒｔｉｃｌｅ）を含んでおらず、且つ水を含有する必要のない空気である。
【００２３】
エージング試験システム１０はさらに支持部材１７を含んでおり、当該支持部材１７は真空チャンバー１１を支持するのに用いられる。
【００２４】
他の実施形態では、気体を予め加熱し、その後、真空チャンバー１１内に流入させることで、ディスプレイパネル１００のエージングをさらに加速させることもできる。
【００２５】
点灯機構１２は、ディスプレイパネル１００に電気的に接続されており、ディスプレイパネル１００を発光させるのに用いられる。具体的には、点灯機構１２は接続ロッド１２１とピン１２２とを含み、接続ロッド１２１の一端は真空チャンバー１１の内壁上に設けられており、接続ロッド１２１の他端はピン１２２に接続されている。より具体的には、点灯機構１２２はさらに接続板１２３を含み、ピン１２２は接続板１２３上に設けられており、接続ロッド１２１の他端は接続板１２３を介してピン１２２に接続されている。ピン１２２は、ディスプレイパネル１００と電気的に接続するのに用いられる。
【００２６】
本実施形態において、ピン１２２の数は複数であり、予め設定したグループに均等に分けられ、接続板１２３の予め設定した位置に配置されている。図１に示すように、例えば３つのグループに均等に分けられ、各々のグループは３つのピンを有する。点灯試験を行なう際、ピン１２２は、ディスプレイパネル１００上に設けられたピン接続パッドを介してディスプレイパネル１００に接続され、ディスプレイパネル１００を発光させる。ここで、ディスプレイパネル１００を発光させる方法は、様々なものが含まれ、例えば、ディスプレイパネル１００のピクセルを複数の領域に分割し、点灯機構１２はピン１２２を介して当該複数の領域を順に発光させることができ、又は当該複数の領域を同時に発光させることもできる。
【００２７】
少なくとも１つの分光計１３は、ディスプレイパネル１００から発せられる光の光路上に位置しており、ディスプレイパネル１００の色座標及び輝度を検出するのに用いられる。すなわち、分光計１３はディスプレイパネル１００の色座標及び輝度を直接検出し、三色の色座標及び輝度によってディスプレイパネル１００の色域が得られ、以ってディスプレイパネル１００のエージング効果の判断基準とする。本実施形態では、ＮＴＳＣ規定の色域規格を基準に、色座標及び輝度によって得られたディスプレイパネル１００の色域が７２％未満である場合、当該ディスプレイパネル１００は不合格であるとみなされる。
【００２８】
少なくとも１つのカメラ１４は、ディスプレイパネル１００から発せられる光の光路上に位置しており、ディスプレイパネル１００のサブピクセルの暗点欠陥を検出するのに用いられる。具体的には、点灯機構１２がディスプレイパネル１００を発光させた後、カメラ１４は証拠取得を目的としてディスプレイパネル１００を撮影し、撮影した写真を基にディスプレイパネル１００のサブピクセルに暗点欠陥が存在するか否かを検出し、且つ暗点欠陥の数を計算する。通常、単色画面を発光させる際に暗点欠陥の数を計算するものであり、例えば、ＲＧＢの３色又はＲＧＢＷの４色を発光させることにより、暗点欠陥の数をそれぞれ計算する。ここでは暗点閾値を予め設定し、撮影した写真に示される暗点の数が暗点閾値よりも大きい場合、当該ディスプレイパネル１００は不合格であるとみなされる。
【００２９】
本実施形態において、分光計１３及びカメラ１４はいずれも２つずつ設けられており、ディスプレイパネル１００から発せられる光の光路上に間隔を置いて配置されており、例えば、左から右にそれぞれ、分光計１３、カメラ１４、分光計１３及びカメラ１４のように設置することができる。
【００３０】
本実施形態において、分光計１３及びカメラ１４を、真空チャンバー１１の外側に間隔を置いて配置することができる。具体的には、真空チャンバー１１には、ディスプレイパネル１００と、点灯機構１２と、支持台１５が収容されており、真空チャンバー１１の外面上には分光計１３とカメラ１４が集められている。
【００３１】
本実施形態において、エージング試験システム１０はさらに支持台１５を含み、当該支持台１５はディスプレイパネル１００を支持するのに用いられる。支持機能を強化するために、支持台１５の下方には３本の支持脚１５２が設けられている。支持台１５上にはさらに位置合わせシステム１５１が設けられており、当該位置合わせシステム１５１はディスプレイパネル１００の位置調整を行なうのに用いられ、ディスプレイパネル１００がピン１２２、分光計１３及びカメラ１４に対応するように調整し、以ってピン１２２とディスプレイパネル１００との電気的接続、及び分光計１３とカメラ１４が行なうディスプレイパネル１００の検査を簡便なものとすることができる。
【００３２】
上述のように、本発明では、真空チャンバー１１の外側に分光計１３及びカメラ１４が集められており、真空チャンバー１１の内部にはエージング装置及び点灯機構１２が設けられていることによって、真空チャンバー１１内で点灯試験を直接遂行し、且つディスプレイパネル１００の色及びサブピクセルの暗点欠陥の数を取得することができ、即ち、ディスプレイパネル１００のエージングと、エージングの効果を検査するための作業とを同時に遂行できる。これにより、検査時間を節約し、検査効率を高め、且つディスプレイパネルの量産ラインの設計を簡略化し、検査設備を削減して、検査コストを下げることができる。ここで、本発明のディスプレイパネル１００は、ＯＬＥＤディスプレイ又はＬＣＤディスプレイ用であってもよい。
【００３３】
本発明はさらにディスプレイパネルのエージング試験方法を提供し、当該エージング試験方法は前述のエージング試験システムに適用されるものである。具体的には、図２を参照する。
【００３４】
図２に示すように、本発明の実施形態に係るエージング試験方法は下記のステップを含む。
【００３５】
ステップＳ１：ディスプレイパネルを発光させる。
【００３６】
ステップＳ２：ディスプレイパネルの色座標及び輝度を検出すると共に、ディスプレイパネルのサブピクセルの暗点欠陥を検出する。具体的な原理は前述したものと同様であるため、ここではその記述を省略する。
【００３７】
本実施形態において、ＮＴＳＣ規定の色域規格を基準に、色座標及び輝度を検出することによって得られた色域が７２％未満である場合、当該ディスプレイパネルは不合格であるとみなされる。
【００３８】
さらに、暗点閾値を予め設定し、サブピクセルの暗点数が暗点閾値よりも大きいと検出された場合、当該ディスプレイパネルは不合格であるとみなされる。
【００３９】
ここで、エージングを加速させるために、本実施形態はさらに、窒素ガス及び空気の少なくとも一方を用いる。空気には、圧縮空気と清浄空気のいずれかが含まれる。ここで、圧縮空気及び清浄空気は前述と同様であるため、ここではその記述を省略する。
【００４０】
他の実施形態では、気体を予め加熱し、その後、当該加熱した気体を利用してディスプレイパネルのエージング作業を行なうこともできる。
【００４１】
以上のように、本発明は、ディスプレイパネルのエージングと、エージングの効果を検査するための作業とを同時に遂行できるため、検査時間を節約し、検査効率を高め、且つディスプレイパネルの量産ラインの設計を簡略化し、検査設備を削減することができ、以って検査コストを下げることができる。
【００４２】
上述の内容は本発明の実施形態にすぎず、本発明の特許請求の範囲を限定するものではない。本発明の明細書及び図面の内容を利用してなされた、同等の効果を有する構造若しくは工程の置換、又は他の関連する技術分野への直接的若しくは間接的な応用は、いずれも本発明の保護範囲に含まれるものとする。
【図１】
0006963633.tif 000002
【図２】
0006963633.tif 000003