(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線検出器から出力される検出パルスが、下限しきい値Ｌｓｈよりも大きくなった場合に立上がり、上記下限しきい値Ｌｓｈよりも小さくなった場合に立下がる第１の波高検出信号を出力する第１の波高検出回路と、
上記放射線検出器から出力される上記検出パルスが、上記下限しきい値Ｌｓｈよりも大きな値である上限しきい値Ｈｓｈよりも大きくなった場合に立上がり、上記上限しきい値Ｈｓｈよりも小さくなった場合に立下がる第２の波高検出信号を出力する第２の波高検出回路と、
一定周期のクロックパルスを発生する水晶発振器と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第１の波高検出回路から出力される上記第１の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第１の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第２の波高検出回路から出力される上記第２の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第２の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第１の立上がり及び立下がり検知回路からの出力ならびに上記第２の立上がり及び立下がり検知回路からの出力を合成して上記下限しきい値Ｌｓｈと上記上限しきい値Ｈｓｈとの間の範囲にある上記検出パルスに対応した信号を出力する合成回路と、
を備える放射線計測装置。
【請求項２】
上記第１の波高検出回路から出力される上記第１の波高検出信号のパルス幅を予め設定された一定のしきい値と比較し、上記第１の波高検出信号のパルス幅が予め設定された上記しきい値よりも大きい場合には上記合成回路からの信号出力を阻止するパルス幅検知回路を備える請求項１に記載の放射線計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、放射線検出器で得られる検出パルスを計測する放射線計測装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、放射線計測装置は、放射線検出器で得られる検出パルスを増幅器で増幅した後、ノイズ成分などを除去するため波高選別回路によって予め設定された上下限のしきい値（Ｌｓｈ、Ｈｓｈ、ただしＬｓｈ＜Ｈｓｈ）の範囲内にある検出パルスのみを抽出し、これらの抽出された検出パルスをカウントすることで放射線の強さを計測する。【０００３】
ところで、従来の波高選別回路は、抵抗Ｒ、コンデンサＣなどの素子を用いたワンショットマルチバイブレータ、およびコンデンサＣ、リアクトルＬなどの素子を用いたロジックＩＣの応答時間を利用した遅延回路によって構成することにより、上下限のしきい値（Ｌｓｈ、Ｈｓｈ）の範囲内にある検出パルスを抽出する機能を達成している（例えば、下記の特許文献1参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−１９５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の放射線計測装置における波高選別回路は、上記のように、抵抗Ｒ、コンデンサＣなどの素子を用いたワンショットマルチバイブレータ、およびコンデンサＣ、リアクトルＬなどの素子を用いたロジックＩＣの応答時間を利用した遅延回路によって構成されているため、抵抗Ｒ、コンデンサＣなどの素子の特性のばらつきにより、ワンショットマルチバイブレータからの出力パルスのパルス幅または遅延回路の遅延時間が安定しない問題があった。その結果、検出パルスの数え落とし、または、本来は波高選別されるべき余分な検出パルスまでも計測してしまうなど、計測結果に誤差が生じるなどの不具合が生じていた。【０００６】
本願は、上記のような課題を解決するための技術を開示するものであり、放射線検出器で得られる検出パルスについて、上下限のしきい値（Ｌｓｈ、Ｈｓｈ）の範囲内にある検出パルスのみを常に安定的かつ確実に抽出することができて、従来よりも精度良く放射線の強さを計測することが可能な放射線計測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願に開示される放射線計測装置は、
放射線検出器から出力される検出パルスが、下限しきい値Ｌｓｈよりも大きくなった場合に立上がり、上記下限しきい値Ｌｓｈよりも小さくなった場合に立下がる第１の波高検出信号を出力する第１の波高検出回路と、
上記放射線検出器から出力される上記検出パルスが、上記下限しきい値Ｌｓｈよりも大きな値である上限しきい値Ｈｓｈよりも大きくなった場合に立上がり、上記上限しきい値Ｈｓｈよりも小さくなった場合に立下がる第２の波高検出信号を出力する第２の波高検出回路と、
一定周期のクロックパルスを発生する水晶発振器と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第１の波高検出回路から出力される上記第１の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第１の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第２の波高検出回路から出力される上記第２の波高検出信号の立上がりおよび立下がりエッジを共に検知する第２の立上がり及び立下がり検知回路と、
上記水晶発振器からのクロックパルスに同期して、上記第１の立上がり及び立下がり検知回路からの出力ならびに上記第２の立上がり及び立下がり検知回路からの出力を合成して上記下限しきい値Ｌｓｈと上記上限しきい値Ｈｓｈとの間の範囲にある上記検出パルスに対応した信号を出力する合成回路と、を備える。
【発明の効果】
【０００８】
本願に開示される放射線計測装置によれば、放射線検出器で得られる検出パルスに対して、下限しきい値Ｌｓｈと上限しきい値Ｈｓｈとの間の範囲にある波高値をもつ検出パルスのみを水晶発振器からのクロックパルスに同期して常に安定的、かつ確実に抽出することができるので、精度良く放射線の強さを計測することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本願の参考例の放射線計測装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本願の参考例の放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
【図３】本願の参考例の放射線計測装置の真理値表を示す図である。
【図４】実施の形態１による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図である。
【図５】実施の形態１による放射線計測装置の立上がり及び立下がり検知回路および合成回路の詳細を示すブロック図である。
【図６】実施の形態１による放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
【図７】実施の形態１による放射線計測装置の真理値表を示す図である。
【図８】実施の形態２による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図である。
【図９】実施の形態２による放射線計測装置のパルス幅検知回路の詳細を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本願の内容を一層理解するために、これに先立って本願の参考となる技術の構成とその課題について、以下、説明する。
【００１１】
図１は本願の参考例の放射線計測装置の概略構成を示すブロック図、図２は本願の参考例の放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
【００１２】
図１の参考例となる放射線計測装置は、放射線検出器１、増幅器２、第１の波高検出回路３ａ、第２の波高検出回路３ｂ、第１のワンショット回路４ａ、第２のワンショット回路４ｂ、ＯＲ回路５、第１の遅延回路６ａ、第２の遅延回路６ｂ、合成回路７、およびＡＮＤ回路８を備える。なお、放射線検出器１と増幅器２を除いた後段の回路が波高選別回路に該当する。
【００１３】
放射線検出器１は、例えばシンチレーションカウンタまたは半導体検出器などで構成され、放射線の強度に応じた検出パルスを出力する。増幅器２は、図２（ａ）に示すように、放射線検出器１により検出した検出パルスを所定のレベルまで増幅した検出パルスＩａｍｐを出力する。
【００１４】
第１の波高検出回路３ａは、図２（ｂ）に示すように、増幅器２による増幅後の検出パルスＩａｍｐの信号レベルが予め設定された一定の下限しきい値Ｌｓｈよりも大きくなったときに立上がり、下限しきい値Ｌｓｈよりも小さくなったときに立下がる第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯを出力する。また、第２の波高検出回路３ｂは、図２（ｃ）に示すように、増幅器２による増幅後の検出パルスＩａｍｐの信号レベルが予め設定された一定の上限しきい値Ｈｓｈ（ただし、Ｈｓｈ＞Ｌｓｈ）よりも大きくなったときに立上がり、上限しきい値Ｈｓｈよりも小さくなったときに立下がる第２の波高検出信号ＩＮ−ＨＩを出力する。
【００１５】
第１のワンショット回路４ａは、抵抗Ｒ、コンデンサＣなどの素子を用いた単安定ワンショットマルチバイブレータからなり、図２（ｄ）に示すように、第１の波高検出回路３ａからの第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯの立上がりに応じて所定のパルス幅Ｔ１を持つパルス信号ＬＯを出力する。同様に、第２のワンショット回路４ｂは、抵抗Ｒ、コンデンサＣなどの素子を用いた単安定ワンショットマルチバイブレータからなり、図２（ｅ）に示すように、第２の波高検出信号ＩＮ−ＨＩの立上がりに応じて所定のパルス幅Ｔ１を持つパルス信号ＨＩを出力する。
【００１６】
ＯＲ回路５は、第１のワンショット回路４ａの出力ＬＯと、第２のワンショット回路４ｂの出力ＨＩを合成して共にクロックパルスＣＬＫとして出力する。
【００１７】
第１の遅延回路６ａは、コンデンサＣ、リアクトルＬなどの素子を用いたロジックＩＣから構成されており、図２（ｆ）に示すように、第１のワンショット回路４ａから出力されるパルス信号ＬＯを一定時間Ｔ２だけ遅延したパルス信号ＬＯ−Ｄを出力する。同様に、第２の遅延回路６ｂは、コンデンサＣ、リアクトルＬなどの素子を用いたロジックＩＣから構成されており、図２（ｇ）に示すように、第２のワンショット回路４ｂから出力されるパルス信号ＨＩを一定時間Ｔ２だけ遅延したパルス信号ＨＩ−Ｄを出力する。
【００１８】
合成回路７は、ここではＪＫフリップフロップからなり、第１の遅延回路６ａから出力されるパルス信号ＬＯ−ＤがＪ入力端子に、第２の遅延回路６ｂから出力されるパルス信号ＨＩ＿ＤがＫ入力端子に、また、第１のワンショット回路４ａから出力されるパルス信号ＬＯと第２のワンショット回路４ｂから出力されるパルス信号ＨＩが共にＯＲ回路５を通じてクロックパルスＣＬＫとしてサンプリング端子Ｔにそれぞれ入力される。その結果、図３に示す真理値表に従い、合成回路７の出力端子Ｑからは、図２（ｈ）に示すような方形波の信号ＯＵＴ１が出力される。
【００１９】
ＡＮＤ回路８は、合成回路７の出力信号ＯＵＴ１と第１の遅延回路６ａから出力されるパルス信号ＬＯ−Ｄとの論理積をとるものであり、ＡＮＤ回路８からは、図２（ｉ）に示すようなパルス信号ＯＵＴ２が出力される。
【００２０】
ここで、増幅器２から出力されるパルス信号Ｉａｍｐの波高値が上限しきい値Ｈｓｈを越えた場合には、ＡＮＤ回路８の出力ＯＵＴ２は、第１のワンショット回路４ａの出力ＬＯのパルス幅Ｔ１よりも短いパルス幅Ｔ３となる一方、増幅器２から出力されるパルス信号Ｉａｍｐの波高値が上限しきい値Ｈｓｈと下限しきい値Ｌｓｈとの範囲内にある場合には、ＡＮＤ回路の出力ＯＵＴ２は、第１のワンショット回路４ａのパルス信号ＬＯのパルス幅Ｔ１と同じになる。
【００２１】
ＡＮＤ回路８からの出力パルスＯＵＴ２に対しては、その後、図示しないパルス幅選別回路によって、パルス幅Ｔ１未満のパルス幅を持つ信号が除かれるので、最終的には、増幅器２から出力されるパルス信号Ｉａｍｐの波高値が上限しきい値Ｈｓｈと下限しきい値Ｌｓｈとの範囲内にあるものだけが抽出される。
【００２２】
しかしながら、前述したように、第１のワンショット回路４ａおよび第２のワンショット回路４ｂは、抵抗Ｒ、コンデンサＣなどの素子が使用され、また、第１の遅延回路６ａおよび第２の遅延回路６ｂは、コンデンサＣ、リアクトルＬなどの素子を用いたロジックＩＣの応答時間を利用して構成されているため、それらの素子の特性のばらつきにより、第１のワンショット回路４ａおよび第２のワンショット回路４ｂの出力パルスＬＯ、ＨＩのパルス幅、あるいは第１の遅延回路６ａおよび第２の遅延回路６ｂの遅延時間Ｔ２が安定しない。その結果、検出パルスの数え落とし、または本来は波高選別されるべき余分な検出パルスまでも計測してしまうなど、計測結果に誤差が生じるなどの不具合が生じていた。本願は、かかる不具合を防止した放射線計測装置を提供するものである。以下、本願の実施の形態について言及する。
【００２３】
実施の形態１．
図４は実施の形態１による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図、図５は実施の形態１による放射線計測装置の立上がり及び立下がり検知回路および合成回路の詳細を示すブロック図である。また、図６は実施の形態１による放射線計測装置の動作説明に供するタイミングチャートである。
【００２４】
実施の形態１の放射線計測装置は、放射線検出器１、増幅器２、第１の波高検出回路３ａ、第２の波高検出回路３ｂ、水晶発振器１０、第１の立上がり及び立下がり検知回路１１ａ、第２の立上がり及び立下がり検知回路１１ｂ、および合成回路１２を備える。
【００２５】
放射線検出器１は、例えばシンチレーションカウンタまたは半導体検出器などで構成され、放射線の強度に応じた検出パルスを出力する。増幅器２は、図６（ａ）に示すように、放射線検出器１の検出パルスを所定のレベルまで増幅した検出パルスＩａｍｐを出力する。
【００２６】
第１の波高検出回路３ａは、図６（ｂ）に示すように、増幅後の検出パルスＩａｍｐの信号レベルが予め設定された一定の下限しきい値Ｌｓｈよりも大きくなったときに立上がり、一定の下限しきい値Ｌｓｈよりも小さくなったときに立下がる第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯを出力する。また、第２の波高検出回路３ｂは、図６（ｃ）に示すように、増幅後の検出パルスＩａｍｐの信号レベルが予め設定された一定の上限しきい値Ｈｓｈ（ただし、Ｈｓｈ＞Ｌｓｈ）よりも大きくなったときに立上がり、一定の上限しきい値Ｈｓｈよりも小さくなったときに立下がる第２の波高検出信号ＩＮ−ＨＩを出力する。
【００２７】
水晶発振器１０は、図６（ｄ）に示すように、安定した一定周波数のクロックパルスＣＬＫを出力する。
【００２８】
第１の立上がり及び立下がり検知回路１１ａは、図５に示すように、Ｄフリップフロップ１５とＸＯＲ回路（排他的論理和回路）１６とからなり、図６（ｅ）に示すように、水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫに同期して、第１の波高検出回路３ａからの第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯの立上がりおよび立下がりエッジを検出し、これに応じてそれぞれ一定のパルス幅Ｔａをもつパルス信号Ｌ−ＸＯＲを出力する。
第２の立上がり及び立下がり検知回路１１ｂは、図５に示すように、Ｄフリップフロップ１７とＸＯＲ回路（排他的論理和回路）１８とからなり、図６（ｆ）に示すように、水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫに同期して、第２の波高検出回路３ｂからの第２の波高検出信号ＩＮ−ＨＩの立上がりエッジおよび立下がりエッジを検出し、これに応じてそれぞれ一定のパルス幅Ｔａをもつパルス信号Ｈ−ＸＯＲを出力する。
【００２９】
合成回路１２は、第１の立上がり及び立下がり検知回路１１ａから出力されるパルス信号Ｌ−ＸＯＲと、第２の立上がり及び立下がり検知回路１１ｂから出力されるパルス信号Ｈ−ＸＯＲを共に入力し、水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫに同期して、増幅器２から出力されるパルス信号Ｉａｍｐの波高値が前述の上限しきい値Ｈｓｈと下限しきい値Ｌｓｈとの間の範囲内にある場合にのみ、図６（ｊ）に示すように、これに対応する信号ＯＵＴを最終的に出力する。
【００３０】
上記作用を実現するための合成回路１２の具体的な詳細を図５に示す。
この実施の形態１の合成回路１２は、第１のＡＮＤ回路１９、ＸＯＲ回路２０、第２のＡＮＤ回路２１、第１のＪＫフリップフロップ２２、第３のＡＮＤ回路２３、第４のＡＮＤ回路２４、ＮＯＲ回路（否定論理和回路）２５、および第２のＪＫフリップフロップ２６を備える。
【００３１】
第１のＡＮＤ回路１９は、第１の立上がり及び立下がり検知回路１１ａから出力されるパルス信号Ｌ−ＸＯＲと第２のＪＫフリップフロップ２６から出力される後述のパルス信号Ｔｒｉｇとが共に入力されたとき（すなわち両者共に“Ｈ”のとき）にその出力が“Ｈ”になる。
【００３２】
第１のＡＮＤ回路１９にパルス信号Ｌ＿ＸＯＲとパルス信号Ｔｒｉｇが共に入力され（すなわち両者ともに“Ｈ”）、かつ第２の立上がり及び立下がり検知回路１１ｂからパルス信号Ｈ−ＸＯＲが出力されない場合（つまり増幅器２の出力Ｉａｍｐが上限しきい値Ｈｓｈを越えない状態にある場合）には、ＸＯＲ回路２０の出力は“Ｈ”になるので、第２のＡＮＤ回路２１の出力も“Ｈ”となる。これに対して、第１のＡＮＤ回路１９にパルス信号Ｌ＿ＸＯＲとパルス信号Ｔｒｉｇが共に入力されても、第２の立上がり及び立下がり検知回路１１ｂからパルス信号Ｈ−ＸＯＲが出力される場合（つまり増幅器２の出力Ｉａｍｐが上限しきい値Ｈｓｈを越えた場合）には、ＸＯＲ回路２０の出力は“Ｌ”になるので、第２のＡＮＤ回路２１の出力も“Ｌ”となる。
【００３３】
第１のＪＫフリップフロップ２２には、Ｊ入力端子とＫ入力端子に共に第２のＡＮＤ回路２１の出力が入力され、またサンプリング端子Ｔに水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫが入力される。そのため、第１のＪＫフリップフロップ２２は、第２のＡＮＤ回路２１の出力が“Ｈ”の状態で、クロックパルスＣＬＫが入力されるたびに（具体的にはクロックパルスＣＬＫが立ち下るタイミングで）これに応じてその出力端子Ｑからその都度レベル反転する図６（ｊ）に示すようなパルス信号ＯＵＴを出力する。
【００３４】
第３のＡＮＤ回路２３は、図６（ｇ）に示すように、第１の立上がり及び立下がり検知回路１１ａから出力されるパルス信号Ｌ−ＸＯＲの内から、第１の波高検出回路３ａからの第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯの立上がりに応じて発生されるパルス信号を抽出して抽出パルスＳａを出力する。
【００３５】
第４のＡＮＤ回路２４およびＮＯＲ回路（否定論理和回路）２５は、第１の立上がり及び立下がり検知回路１１ａから出力されるパルス信号Ｌ−ＸＯＲの内から、第１の波高検出回路３ａの第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯの立下がりに応じて出力されるパルス信号を抽出するとともに、第２の立上がり及び立下がり検知回路１１ｂから出力されるパルス信号Ｈ−ＸＯＲを抽出して、図６（ｈ）に示すような抽出パルスＳｂを出力する。
【００３６】
第２のＪＫフリップフロップ２６には、第３のＡＮＤ回路２３から出力される抽出パルスＳａがＪ入力端子に、ＮＯＲ回路２５から出力される抽出パルスＳｂがＫ入力端子に、サンプリング端子Ｔに水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫが入力される。そのため、第２のＪＫフリップフロップ２６は、図７に示すような真理値表に従い、クロックパルスＣＬＫが入力されるたびに（具体的にはクロックパルスＣＬＫが立ち下るタイミングで）、これに応じて出力端子Ｑから図６（ｉ）に示すようなパルス信号Ｔｒｉｇを出力する。
【００３７】
例えば、図７において、第３のＡＮＤ回路２３の出力の抽出パルスＳａが“Ｈ”で、かつ、ＮＯＲ回路２５の出力の抽出パルスＳｂが“Ｌ”の場合には、クロックパルスＣＬＫの立下がりのタイミングでパルス信号Ｔｒｉｇは立上がり、第３のＡＮＤ回路２３の出力の抽出パルスＳａが“Ｌ”で、かつ、ＮＯＲ回路２５の出力の抽出パルスＳｂが“Ｈ”の場合には、クロックパルスＣＬＫの立下がりのタイミングでパルス信号Ｔｒｉｇは立下がる。
【００３８】
このように、第１のＪＫフリップフロップ２２の出力端子Ｑからは、図６（ｊ）に示したように、増幅器２から出力される検出パルスＩａｍｐの波高値が前述の上限しきい値Ｈｓｈと下限しきい値Ｌｓｈとの間にある場合にのみ、水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫに同期して、これに対応してレベル反転する信号ＯＵＴが出力され、波高値が上限しきい値Ｈｓｈと下限しきい値Ｌｓｈの範囲から外れている場合には、第１のＪＫフリップフロップ２２の出力端子Ｑからの出力ＯＵＴは阻止される。
【００３９】
以上のように、この実施の形態１の放射線計測装置は、放射線検出器１で得られる検出パルスに対して、その波高値が上限しきい値Ｌｓｈと下限しきい値Ｈｓｈの範囲内にある場合のみ水晶発振器１０のクロックパルスに同期して抽出することができるので、常に安定的かつ確実に放射線の強さを計測することが可能となり、放射線計測の検出精度が高まる。
【００４０】
実施の形態２．
図８は実施の形態２による放射線計測装置の概略構成を示すブロック図であり、図４に示した実施の形態１の放射線計測装置と対応もしくは相当する構成部分には同一の符号を付す。また、図９は実施の形態２による放射線計測装置のパルス幅検知回路の詳細を示すブロック図である。
【００４１】
放射線検出器１で得られる検出パルスのパルス幅は物理現象によって決まっており、増幅器２で増幅した後の検出パルスＩａｍｐのパルス幅Ｗが予め設定されたしきい値Ｗｓｈよりも大きければノイズと考えられる。このようなノイズの発生要因としては、放射線検出器１とそれよりも後段の各種の信号処理回路間を接続するケーブルへの重畳ノイズなどが想定される。
【００４２】
そこで、この実施の形態２では、第１の波高検出回路から出力される第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯのパルス幅Ｗを予め許容可能なパルス幅として予め設定した一定のしきい値Ｗｓｈと比較し、第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯのパルス幅Ｗがしきい値Ｗｓｈよりも大きい場合（Ｗ＞Ｗｓｈ）には合成回路１２のパルス出力ＯＵＴを阻止するパルス幅検知回路１３を設けている。
【００４３】
パルス幅検知回路１３の具体例としては、図９に示すように、カウンタ回路３１、パルス幅設定器３２、およびコンパレータ回路３３を備えて構成されている。
そして、カウンタ回路３１によって、第１の波高検出回路３ａから出力される第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯが“Ｈ”の期間に水晶発振器１０からのクロックパルスＣＬＫをカウントし（これは第１の波高検出信号ＩＮ−ＬＯのパルス幅Ｗに相当する）、このカウントされたカウント値Ｃとパルス幅設定器３２で予め設定されたカウント値Ｃｓｈ（これは許容可能として設定された一定のしきい値Ｗｓｈに相当する）とをコンパレータ回路３３で比較する。
【００４４】
そして、カウンタ回路３１のカウント値Ｃがパルス幅設定器３２で予め設定されたカウント値Ｃｓｈよりも小さい場合（すなわち、Ｗ≦Ｗｓｈの場合）には“Ｈ”の信号を発生し、カウント値Ｃが上記カウント値Ｃｓｈよりも大きい場合（すなわち、Ｗ＞Ｗｓｈの場合）には“Ｌ”の信号を発生して、これらの信号を合成回路１２（具体的には、第２のＡＮＤ回路２１）に出力する。
【００４５】
これにより、パルス幅検知回路１３の出力が“Ｈ”の場合、すなわち放射線検出器１から増幅器２を経由して得られる検出パルスＩａｍｐのパルス幅Ｗが予め設定されたしきい値Ｗｓｈよりも小さい（Ｗ≦Ｗｓｈ）場合には、合成回路１２のパルス出力ＯＵＴが許容されるが、パルス幅検知回路１３の出力が“Ｌ”の場合、すなわち放射線検出器１から増幅器２を経由して得られる検出パルスＩａｍｐのパルス幅Ｗが予め設定されたしきい値Ｗｓｈよりも大きい（Ｗ＞Ｗｓｈ）場合には、ノイズと見做して合成回路１２のパルス出力ＯＵＴが阻止される。
その他の構成、作用効果は、実施の形態１の場合と同様であるから、ここでは詳しい説明は省略する。
【００４６】
以上のように、この実施の形態２では、検出パルスＩａｍｐに含まれる余分なノイズ成分まで抽出されるのを確実に防止でき、実施の形態１の場合よりもさらに精度良く放射線の強さを計測することが可能となる。
【００４７】
なお、本願は、様々な例示的な実施の形態が記載されているが、一つ、または複数の実施の形態に記載された様々な特徴、態様、および機能は特定の実施の形態の適用に限られるものではなく、単独で、または様々な組み合わせで実施の形態に適用可能である。
【００４８】
したがって、例示されていない無数の変形例が、本願に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも一つの構成要素を変形する場合、追加する場合、または省略する場合、さらには、少なくとも一つの構成要素を抽出し、他の実施の形態の構成要素と組み合わせる場合が含まれるものとする。
【符号の説明】
【００４９】
１  放射線検出器、２  増幅器、３ａ  第１の波高検出回路、３ｂ  第２の波高検出回路、１０  水晶発振器、１１ａ  第１の立上がり及び立下がり検知回路、１１ｂ  第２の立上がり及び立下がり検知回路、１２  合成回路、１３  パルス幅検知回路、Ｌｓｈ  下限しきい値、Ｈｓｈ  上限しきい値。
【図１】
0006932265.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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