(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フレキシブル基板と、前記フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタと、を有する電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、
前記ベースに被せられるカバーと、
前記電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、
前記カバーに設けられ、前記電子モジュールが載置された前記ベースに前記カバーを被せることで前記コンタクトピンを前記電子モジュールの接触位置にガイドするコンタクトガイドと、
前記カバーが前記ベースに対して閉じたときに、前記コネクタよりも先に前記電子部品の動きを規制する押さえ部と、
を備え、
前記コンタクトガイドは、前記コネクタを収容可能な嵌合凹部を有し、
前記コンタクトガイドは、前記カバーに対して移動可能に懸架され、
前記カバーを前記ベースに被せることで前記コンタクトガイドの前記嵌合凹部の内面が前記コネクタと接触し、前記コンタクトガイドが前記コネクタに嵌合しながら前記コネクタの位置へ呼び込まれ、
前記カバーを前記ベースに被せたときに、前記コンタクトガイドは、前記ベースに対して位置決めされていない前記コネクタに接することを特徴とする測定用ソケット。
【請求項２】
前記コンタクトガイドは、前記カバーの基準面に沿った少なくとも互いに直交する２方向に移動可能に懸架される、請求項１記載の測定用ソケット。
【請求項３】
前記コンタクトガイドは、前記カバーの前記基準面の法線方向に移動可能に懸架される、請求項２記載の測定用ソケット。
【請求項４】
前記コンタクトガイドは、前記カバーに対して回転可能に懸架される、請求項２または請求項３に記載の測定用ソケット。
【請求項５】
前記コンタクトガイドと前記カバーとの間に設けられた付勢手段をさらに備えた、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【請求項６】
前記コンタクトガイドは略矩形の凸状部分を有し、
前記凸状部分の４つの側壁と前記カバーとの間に前記付勢手段が設けられた、請求項５記載の測定用ソケット。
【請求項７】
前記嵌合凹部の内面における開口部分には開口側に拡がるテーパ面が設けられた、請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【請求項８】
前記コンタクトガイドは、前記カバーに設けられた孔内に配置され、
前記コンタクトガイドと前記孔の壁との隙間の範囲内で移動可能に懸架される、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【請求項９】
前記カバーは、ヒンジによって前記ベースに対して回動するよう設けられた、請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【請求項１０】
前記カバーを前記ベースに被せることで前記ベースに載置された前記電子モジュールの位置へ前記コンタクトガイドが呼び込まれる、請求項１から請求項９のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【請求項１１】
複数の前記コンタクトガイドを備え、
前記複数のコンタクトガイドは、前記カバーに対してそれぞれ独立して懸架される、請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の測定用ソケット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子モジュールの導通検査や特性測定などを行う際に用いられる測定用ソケットに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＩＣ等の電子部品の電気的な測定を行う際に用いられる測定用ソケット（以下、単に「ソケット」とも言う。）として、電子部品を一方向に押圧して位置決めするソケットが開示されている。例えば、特許文献１では、ＩＣパッケージの表面を押圧して位置決めを行う半導体装置用ソケットが開示される。【０００３】
また、特許文献２には、ソケットカバーの電気部品を押圧する押圧動作に伴って操作され、収容部に収容された電気部品の位置決め部と反対側の隅角部にて直交する側面にそれぞれ点接触し、電気部品を位置決め部に対して片寄せする片寄せ手段を備えた電気部品用ソケットが開示される。【０００４】
また、特許文献３には、ソケット本体に、電気部品が押圧部材で押圧される前に、載置部の周縁部の一部に設けられた固定ガイド部に当接される電気部品の側面と反対側の側面を固定ガイド部の方向に押し、電気部品を固定ガイド部に当接させて所定の載置位置に位置決めする手段を備えた電気部品用ソケットが開示される。【０００５】
特許文献４には、ソケット本体上のパッケージ収容部に平面形状が矩形形状のパッケージを収容し、ソケット本体に開閉可能に取り付けられたソケットカバーの押圧部材でパッケージの表面をソケット本体側へ向けて押圧することにより、パッケージの裏面に形成された電極をソケット本体に設置されたコンタクトピンに接触させ、パッケージの電極と外部電気的テスト回路とをコンタクトピンで電気的に接続する電気部品用ソケットが開示される。【０００６】
特許文献５には、電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、ベースに対して回動可能に取り付けられた第１カバーと、ベースに対して回動可能に取り付けられた第２カバーと、第１カバーに設けられ、電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、を備え、電子モジュールをベースに載置した状態で第１カバーを閉じる際に、第１カバーよりも先に第２カバーが電子モジュールの上に被せられるよう構成された測定用ソケットが開示される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１１−０２３１６４号公報
【特許文献２】特開２００５−０６１９４８号公報
【特許文献３】特開２００４−２９６１５５号公報
【特許文献４】特開２０１２−１６４４３４号公報
【特許文献５】特開２０１８−０４０６７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、測定用ソケットのベースに電子モジュールを載置してカバーを閉める場合、ベース上で電子モジュールに位置ずれが生じていると、カバーを閉めた際に電子モジュール側のコネクタとカバー側のコンタクトピンとの接触不良が発生しやすくなる。特に、フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続されている電子モジュールでは、フレキシブル基板の弾性力、曲がり、捩れなどによって電子部品やコネクタが浮き上がって配置されることがある。電子モジュールが浮き上がったままカバーを閉めると、導通不良の原因となる。近年では、コネクタの端子間ピッチが狭くなってきているとともに、フレキシブル基板に屈曲部分が設けられていることもあり、測定用ソケットにおいて電子モジュール側のコネクタとカバー側のコンタクトピンとの正確な位置合わせが益々困難になってきている。【０００９】
本発明は、電子モジュールのコネクタとコンタクトピンとを正確に接触させて確実な導通を得ることができる測定用ソケットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため、本発明は、フレキシブル基板と、フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタと、を有する電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、ベースに被せられるカバーと、電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、カバーに設けられ、電子モジュールが載置されたベースにカバーを被せることでコンタクトピンを電子モジュールの接触位置にガイドするコンタクトガイドと、を備え、コンタクトガイドは、コネクタを収容可能な嵌合凹部を有し、コンタクトガイドは、カバーに懸架され、カバーをベースに被せることでコンタクトガイドの嵌合凹部の内面がコネクタと接触し、コンタクトガイドがコネクタに嵌合しながらコネクタの位置へ呼び込まれることを特徴とする。【００１１】
このような構成によれば、コンタクトガイドがカバーに懸架されているため、電子モジュールが載置されたベースにカバーを被せることで、電子モジュールの接触位置に合わせてコンタクトガイドが呼び込まれるように移動して、コンタクトピンと電子モジュールとの正確な導通を得ることができる。また、電子モジュールをベースに載置した際、フレキシブル基板によってコネクタの位置にばらつきが発生していても、カバーをベースに被せることでコンタクトガイドの嵌合凹部の内面がコネクタと接触し、コンタクトガイドがコネクタと嵌合しながらコネクタの位置へ呼び込まれるように動くため、コネクタの位置のばらつきを吸収して、コンタクトピンとコネクタとの確実な導通を得ることができる。【００１２】
本発明の測定用ソケットにおいて、コンタクトガイドは、カバーの基準面に沿った少なくとも互いに直交する２方向に移動可能に懸架されていてもよい。これにより、電子モジュールが載置されたベースにカバーを被せることで、コンタクトガイドが基準面に沿って移動しながら電子モジュールの接触位置に呼び込まれることが可能になる。【００１３】
本発明の測定用ソケットにおいて、コンタクトガイドは、カバーの基準面の法線方向に移動可能に懸架されていてもよい。これにより、電子モジュールが載置されたベースにカバーを被せることで、コンタクトガイドが基準面の法線方向に移動しながら電子モジュールの接触位置に呼び込まれることが可能になる。【００１４】
本発明の測定用ソケットにおいて、コンタクトガイドは、カバーに対して回転可能に懸架されていてもよい。これにより、電子モジュールが載置されたベースにカバーを被せることで、コンタクトガイドが回転方向に移動しながら電子モジュールの接触位置に呼び込まれることが可能になる。【００１５】
本発明の測定用ソケットにおいて、コンタクトガイドとカバーとの間に設けられた付勢手段をさらに備えていてもよい。これにより、コンタクトガイドが付勢手段による付勢力によってカバーに懸架され、付勢力を利用したコンタクトガイドの移動および呼び込みが行われる。【００１６】
本発明の測定用ソケットにおいて、コンタクトガイドは略矩形の凸状部分を有し、凸状部分の４つの側壁とカバーとの間に付勢手段が設けられていてもよい。これにより、コンタクトガイドが４つの付勢手段の付勢力のバランスによって懸架され、コンタクトガイドの移動の自由度を高めることができる。【００１７】
本発明の測定用ソケットにおいて、嵌合凹部の内面における開口部分には開口側に拡がるテーパ面が設けられているとよい。これにより、コネクタの外面がテーパ面に接触しながら嵌合凹部の位置がコネクタの位置へ呼び込まれるようになる。【００１８】
本発明の測定用ソケットにおいて、コンタクトガイドは、カバーに設けられた孔内に配置され、コンタクトガイドと孔の壁との隙間の範囲内で移動可能に懸架されていてもよい。これにより、コンタクトガイドは、カバーに設けられた孔の範囲内で移動可能に懸架されるとともに、孔の範囲内でコンタクトガイドの移動の規制を行うことができる。【００１９】
本発明の測定用ソケットにおいて、カバーは、ヒンジによってベースに対して回動するよう設けられていてもよい。カバーがベースに対して回動する構成では、カバー側のコンタクトピンとベース側の電子モジュールとの接触が斜めになる。このような斜めの接触であっても、カバーに懸架されたコンタクトガイドによってコンタクトピンを電子モジュールの接触位置に正確にガイドすることができる。【００２０】
本発明の測定用ソケットにおいて、カバーをベースに被せることでベースに載置された電子モジュールの位置へコンタクトガイドが呼び込まれるよう構成されていてもよい。これにより、電子モジュールをベースに載置した状態でカバーを被せる動作により、コンタクトピンを電子モジュールの接触位置に正確にガイドできるようになる。【００２１】
本発明の測定用ソケットにおいて、複数のコンタクトガイドを備え、複数のコンタクトガイドは、カバーに対してそれぞれ独立して懸架されていてもよい。これにより、複数のコンタクトガイドのそれぞれが、対応する電子モジュールの接触位置にそれぞれ独立して動き、ガイドされる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、電子モジュールのコネクタとコンタクトピンとを正確に接触させて確実な導通を得ることができる測定用ソケットを提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本実施形態に係る測定用ソケットを開いた状態を例示する斜視図である。
【図２】本実施形態に係る測定用ソケットを閉じた状態を例示する斜視図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）は、カバーを閉じる動作を説明する側面図である。
【図４】コンタクトガイドの上部を示す斜視図である。
【図５】コンタクトガイドの上部を示す拡大斜視図である。
【図６】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドのカバーへの嵌め込みの状態を示す斜視図である。
【図７】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドの拡大斜視図である。
【図８】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドの付勢手段を説明する斜視図である。
【図９】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドの動きを例示する図である。
【図１０】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドとコネクタとの嵌合時の動作を例示する模式図である。
【図１１】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドの動きを例示する図である。
【図１２】（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドとコネクタとの嵌合時の動作を例示する模式図である。
【図１３】コンタクト装置を例示する正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、同一の部材には同一の符号を付し、一度説明した部材については適宜その説明を省略する。
【００２５】
（測定用ソケットの構成）
図１は、本実施形態に係る測定用ソケットを開いた状態を例示する斜視図である。
図２は、本実施形態に係る測定用ソケットを閉じた状態を例示する斜視図である。
本実施形態に係る測定用ソケット１は、電子モジュール１００の電気的な測定を行う際に用いられるソケットである。測定用ソケット１は、測定対象となる電子モジュール１００を搭載して、電子モジュール１００のコネクタ１０３との電気的な接触を得る。本実施形態では、測定対象となる電子モジュール１００として、フレキシブル基板１０２に電子部品１０１およびコネクタ１０３が接続されたものが適用される。
【００２６】
フレキシブル基板１０２には配線パターンが形成され、電子部品１０１とコネクタ１０３との間の通電がなされる。したがって、本実施形態の測定用ソケット１では、後述するコンタクトピン４１をコネクタ１０３の端子と接触させることによって、電子部品１０１に対する電気的な導通を得ることができる。
【００２７】
本実施形態に係る測定用ソケット１は、ベース１０と、カバー２０と、コンタクトピン４１と、コンタクトガイド４０とを備えている。ベース１０は、電子モジュール１００を搭載する凹部１１を有する。凹部１１は、電子部品１０１およびフレキシブル基板１０２の配置位置を決めるためのガイドの役目を果たす。凹部１１の開口側には、上に広がるテーパ部が設けられ、テーパ部の下方にはストレート部が設けられている。凹部１１に載置された電子モジュール１００はテーパ部で呼び込まれて、ストレート部に収納される。
【００２８】
カバー２０は、ベース１０に対して回動可能に取り付けられる。本実施形態では、ベース１０の一端に設けられたヒンジ５０を介してカバー２０が取り付けられる。カバー２０は、ヒンジ５０の軸を中心として開閉動作可能に設けられる。
【００２９】
測定用ソケット１の例えばベース１０にはラッチ６０が設けられる。カバー２０を閉じた状態でラッチ６０をカバー２０の爪２５に引っ掛けることで、カバー２０を閉じた状態が維持される。カバー２０は、ヒンジ５０の軸に取り付けられたバネ５６によって開く方向に付勢されている。したがって、ラッチ６０を外すことで、バネ５６の付勢力によってカバー２０は開くことになる。
【００３０】
なお、電子モジュール１００が光学モジュールの場合、測定用ソケット１で光学的な測定を行うこともある。この場合、カバー２０に孔２０１を設けておき、電子モジュール１００をベース１０に載置してカバー２０を閉じた際に、電子部品１０１の光軸が孔２０１に対応して、この孔２０１から光学的な測定を行うようにすればよい。したがって、光学モジュールを測定対象にする測定用ソケット１では、電子モジュール１００を載置した際の電気的な接触のほか、測定用ソケット１に対する電子部品１０１の光軸の位置合わせ精度も必要になる。
【００３１】
本実施形態では、ベース１０に対して回動可能に押さえ部３０が取り付けられている。押さえ部３０は、カバー２０が取り付けられるヒンジ５０を介して取り付けられる。押さえ部３０は、ヒンジ５０の軸を中心として開閉動作可能に設けられる。すなわち、カバー２０および押さえ部３０は、同じヒンジ５０を介して開閉動作可能にベース１０に取り付けられる。
【００３２】
押さえ部３０は、カバー２０よりもベース１０側に配置されるため、カバー２０を閉じると、カバー２０よりも先に押さえ部３０がベース１０側に閉じるようになる。カバー２０を閉じてラッチ６０で固定されると、押さえ部３０はカバー２０とベース１０との間で挟持されることになる。
【００３３】
カバー２０と押さえ部３０との間にはバネ６５が設けられていてもよい。バネ６５によってカバー２０と押さえ部３０とが連結されていることで、カバー２０の回動動作と連動して押さえ部３０も回動するようになる。電子モジュール１００をベース１０に載置した状態でカバー２０を閉じる際に、カバー２０よりも先に押さえ部３０が電子モジュール１００の上に被せられることになる。これにより、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を載置した際、電子モジュール１００に浮きや位置ずれが生じていても、押さえ部３０によって規制される。
【００３４】
コンタクトピン４１は、電子モジュール１００との導通を得るための接触子である。具体的には、コンタクトピン４１は電子モジュール１００のコネクタ１０３の端子と接触することで、電子モジュール１００との導通を得る。コネクタ１０３には複数の端子が配列されているため、コネクタ１０３の端子の本数および配列に合わせて複数本のコンタクトピン４１が設けられる。
【００３５】
コンタクトガイド４０は、コンタクトピン４１を電子モジュール１００の接触位置にガイドする。コンタクトガイド４０はカバー２０に設けられ、電子モジュール１００が載置されたベース１０にカバー２０を被せることで、コンタクトピン４１を電子モジュール１００のコネクタ１０３の端子の位置へガイドする役目を果たす。
【００３６】
本実施形態では、コンタクトガイド４０がカバー２０に懸架（架け渡した状態で支持）される。すなわち、コンタクトガイド４０はカバー２０に設けられた孔２０ｈ内に配置され、コンタクトガイド４０と孔２０ｈとの隙間の範囲内で移動可能に懸架される。
【００３７】
なお、測定用ソケット１は、複数のコンタクトガイド４０を備えていてもよい。本実施形態では、電子モジュール１００に２つのコネクタ１０３が設けられているため、これに対応して２つのコンタクトガイド４０Ａ、４０Ｂが設けられる。
【００３８】
（カバーの動作）
次に、本実施形態に係る測定用ソケット１のカバー２０の動作の詳細について説明する。
図３（ａ）〜（ｃ）は、カバーを閉じる動作を説明する側面図である。
先ず、図３（ａ）に示すように、カバー２０および押さえ部３０を開いた状態で、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を載置する。電子モジュール１００は、凹部１１内の所定位置に載置される場合もあれば、凹部１１の内側において僅かにずれた位置に載置される場合もある。また、フレキシブル基板１０２に曲がりや捩れなどがある場合、フレキシブル基板１０２に接続されたコネクタ１０３の位置が安定しないこともある。
【００３９】
次に、図３（ｂ）に示すように、カバー２０を閉じる。カバー２０と押さえ部３０との間にはバネ６５が設けられているため、カバー２０と連動して押さえ部３０も閉じることになる。そして、押さえ部３０はカバー２０よりも先にベース１０上の電子モジュール１００の上に被せられる。
【００４０】
ここで、電子モジュール１００が凹部１１の正常な位置に載置されている場合、押さえ部３０を閉じた状態では押さえ部３０は電子モジュール１００に接触しない。一方、電子部品１０１が浮いている場合には、押さえ部３０によって電子部品１０１が上から押さえられ、凹部１１の正常な位置に修正される。
【００４１】
次に、図３（ｃ）に示すように、カバー２０をさらに閉じて、ラッチ６０によって固定する。この状態では押さえ部３０がカバー２０とベース１０との間で挟持される。カバー２０を閉じると、カバー２０のコンタクトガイド４０が電子モジュール１００のコネクタ１０３と嵌合する。
【００４２】
本実施形態では、コンタクトガイド４０がカバー２０に懸架されているため、カバー２０に対してコンタクトガイド４０が移動可能に設けられる。したがって、コネクタ１０３の位置にずれがあっても、カバー２０を被せてコンタクトガイド４０がコネクタ１０３に嵌合する際、コネクタ１０３の位置に合わせてコンタクトガイド４０が呼び込まれるように移動することになる（セルフアライメント）。コンタクトガイド４０がコネクタ１０３に嵌合する段階で、コンタクトガイド４０からコンタクトピン４１が露出し、コネクタ１０３の端子と接触する。これにより、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子との正確な導通を得ることができる。
【００４３】
（コンタクトガイドの構成）
次に、コンタクトガイドの詳細について説明する。
図４は、コンタクトガイドの上部を示す斜視図である。図４では、図２に示すコンタクトガイドカバー２１０を外した状態が示される。
図５は、コンタクトガイドの上部を示す拡大斜視図である。図５では、図４に示すトップカバー２００を外した状態が示される。
図６（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドのカバーへの嵌め込みの状態を示す斜視図である。図６（ａ）にはコンタクトガイド４０をカバー２０へ嵌め込んだ状態が示され、図６（ｂ）にはコンタクトガイド４０Ａ（４０）をカバー２０から外した状態が示される。
図７（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドの拡大斜視図である。
図８（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドの付勢手段を説明する斜視図である。
【００４４】
コンタクトガイド４０は、基台４１０と、基台４１０から突出する略矩形の凸状部分４２０と、基台４１０の凸状部分４２０とは反対側に突出するガイド部４３０とを備える。なお、説明の便宜上、基台４１０の凸状部分４２０が設けられている側を上（上側）、ガイド部４３０が設けられている側を下（下側）ということにする。
【００４５】
基台４１０は略直方体に設けられ、コンタクトピン４１と導通するケーブル４４０が取り付けられる。ケーブル４４０はフレキシブル基板によって構成され、コンタクトピン４１と接触したコネクタ１０３の端子に対して測定用ソケット１の外部からの信号の入出力を行う。
【００４６】
基台４１０はカバー２０に設けられた凹部２０２に嵌め込まれる、凹部２０２には孔２０ｈが設けられており、基台４１０を凹部２０２に嵌め込むと、ガイド部４３０が孔２０ｈに入り込むようになる。
【００４７】
略矩形に設けられた凸状部分４２０の４つの側壁のそれぞれに隣接してスプリングホルダ４２５が配置される。スプリングホルダ４２５には、付勢手段の例であるコイルスプリング４５０を収容する穴４２５ｈが設けられる。例えば、１つのスプリングホルダ４２５に２つの穴４２５ｈが平行に設けられ、それぞれの穴４２５ｈにコイルスプリング４５０が収容される。凸状部分４２０には、直交する２方向のそれぞれに対向するようコイルスプリング４５０が配置される。
【００４８】
スプリングホルダ４２５の穴４２５ｈに収容されたコイルスプリング４５０は、凸状部分４２０の側壁と、この側壁と対向するトップカバー２００との間に組み込まれる。すなわち、トップカバー２００には、凸状部分４２０と４つのスプリングホルダ４２５とを嵌め込むことができる略十字型の孔が設けられており、トップカバー２００をカバー２０の上に取り付けることで、この孔に凸状部分４２０と４つのスプリングホルダ４２５とが嵌め込まれる状態になる。
【００４９】
この状態で、スプリングホルダ４２５の穴４２５ｈにコイルスプリング４５０を組み込むことで、凸状部分４２０が４方向からコイルスプリング４５０で押圧され、コイルスプリング４５０の付勢力のバランスによって支持される状態になる。したがって、コンタクトガイド４０は、コイルスプリング４５０で支持された凸状部分４２０でカバー２０に懸架されるようになる。このため、コンタクトガイド４０に力が加わると、コイルスプリング４５０が伸縮して凸状部分４２０の位置が移動し、これに伴いコンタクトガイド４０の位置も移動することになる。
【００５０】
基台４１０から下側に突出するガイド部４３０は枠型に設けられ、ガイド部４３０の枠の内側にコンタクトピン４１が配置される。カバー２０を閉じることでガイド部４３０の枠内に電子モジュール１００のコネクタ１０３が嵌め込まれる。先に説明したように、コンタクトガイド４０はコイルスプリング４５０で支持された凸状部分４２０でカバー２０に懸架されているため、ガイド部４３０がコネクタ１０３に嵌め込まれる際、コネクタ１０３から外力を受けてコンタクトガイド４０の位置がコイルスプリング４５０の伸縮とともに移動し、コネクタ１０３の位置に呼び込まれるようにガイド部４３０が位置合わせされる。
【００５１】
（コンタクトガイドの動き）
次に、コンタクトガイドの動きについて説明する。
図９（ａ）〜図１０（ｂ）は、コンタクトガイドの動きを例示する図である。図９および図１０において（ａ）は斜視図、（ｂ）は断面図である。図９（ａ）および（ｂ）には、コンタクトガイド４０が所定の移動範囲の一方端に位置する状態が示され、図１０（ａ）および（ｂ）には、コンタクトガイド４０が所定の移動範囲の他方端に位置する状態が示される。
【００５２】
コンタクトガイド４０はコイルスプリング４５０で支持される凸状部分４２０でカバー２０に懸架されており、カバー２０の基準面ＲＳに沿った少なくとも互いに直交する２方向に移動可能になっている。ここで、基準面ＲＳは、トップカバー２００における基台４１０との接触面（トップカバー２００の下面）である。説明の便宜上、基準面ＲＳに沿った互いに直交する２方向をＸ方向およびＹ方向ということにする。また、基準面ＲＳの法線方向をＺ方向ということにする。コイルスプリング４５０の伸縮によって凸状部分４２０が移動する際、コンタクトガイド４０は基準面ＲＳに沿ってＸＹ方向に移動可能となる。
【００５３】
図９（ａ）および（ｂ）では、コンタクトガイド４０がＸ方向の一方端に移動した状態が示される。この場合、凸状部分４２０は矢印Ａの方向に押され、Ｘ方向に対向する２つのスプリングホルダ４２５Ａ、４２５Ｂのうち一方端側のスプリングホルダ４２５Ａが押され、コイルスプリング４５０Ａが縮む。一方、他方端側のコイルスプリング４５０Ｂは伸びてスプリングホルダ４２５Ｂが凸状部分４２０を一方端側へ押す状態になる。
【００５４】
図１０（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドとコネクタとの嵌合時の動作を例示する模式図である。
図１０には、図９と同様にコンタクトガイド４０が矢印Ａの方向に移動する際の動作が示される。
コンタクトガイド４０のガイド部４３０にはコネクタ１０３を収容可能な嵌合凹部４３１が設けられる。嵌合凹部４３１の内面には、コネクタ１０３を収容した際にコネクタ１０３の外面と接触する嵌合面４３２が設けられる。嵌合凹部４３１の内面における開口部分には開口側に向けて拡がるテーパ面４３３が設けられているとよい。
【００５５】
図１０（ａ）に示すように、ガイド部４３０がコネクタ１０３と離れている状態（嵌合前の状態）では、カバー２０に懸架されるコンタクトガイド４０は、コイルスプリング４５０Ａ、４５０Ｂの付勢力のバランスによって中立位置に配置される。ベース１０に載置される電子モジュール１００において、例えばフレキシブル基板１０２の撓みや曲がりによってベース１０に対するコネクタ１０３の位置にずれが生じる場合がある。
【００５６】
この状態でベース１０にカバー２０を被せることでガイド部４３０がコネクタ１０３に接近し、嵌合凹部４３１にコネクタ１０３が嵌まり始めると、コネクタ１０３の外面が嵌合凹部４３１の嵌合面４３２と接触し、ガイド部４３０がコネクタ１０３に嵌合しながらコネクタ１０３の位置へ呼び込まれるように動くようになる。嵌合凹部４３１にテーパ面４３３が設けられていると、コネクタ１０３の外面がテーパ面４３３に接触しながら嵌合凹部４３１の位置がコネクタ１０３の位置へ呼び込まれ、嵌め込みやすくなる。
【００５７】
これにより、図１０（ｂ）に示すように、カバー２０に懸架されているコンタクトガイド４０が矢印Ａの方向（コネクタ１０３の位置ずれの方向）に移動して、嵌合凹部４３１がコネクタ１０３の位置に倣うように動き、コネクタ１０３と嵌合凹部４３１との嵌合が行われるようになる。
【００５８】
図１１（ａ）および（ｂ）では、図９（ａ）および（ｂ）とは反対に、コンタクトガイド４０がＸ方向の他方端に移動した状態が示される。この場合、凸状部分４２０は矢印Ｂの方向に押され、Ｘ方向に対向する２つのスプリングホルダ４２５Ａ、４２５Ｂのうち他方端側のスプリングホルダ４２５Ｂが押され、コイルスプリング４５０Ｂが縮む。一方、一方端側のコイルスプリング４５０Ａは伸びてスプリングホルダ４２５Ａが凸状部分４２０を他方端側へ押す状態になる。
【００５９】
図１２（ａ）および（ｂ）は、コンタクトガイドとコネクタとの嵌合時の動作を例示する模式図である。
図１２には、図１１と同様にコンタクトガイド４０が矢印Ｂの方向に移動する際の動作が示される。
【００６０】
図１２（ａ）に示すように、ガイド部４３０がコネクタ１０３と離れている状態（嵌合前の状態）では、カバー２０に懸架されるコンタクトガイド４０は、コイルスプリング４５０Ａ、４５０Ｂの付勢力のバランスによって中立位置に配置される。ベース１０に載置される電子モジュール１００において、例えばフレキシブル基板１０２の撓みや曲がりによってベース１０に対するコネクタ１０３の位置にずれが生じる場合がある。
【００６１】
この状態でベース１０にカバー２０を被せることでガイド部４３０がコネクタ１０３に接近し、嵌合凹部４３１にコネクタ１０３が嵌まり始めると、コネクタ１０３の外面が嵌合凹部４３１の嵌合面４３２と接触し、ガイド部４３０がコネクタ１０３に嵌合しながらコネクタ１０３の位置へ呼び込まれるように動くようになる。
【００６２】
これにより、図１２（ｂ）に示すように、カバー２０に懸架されているコンタクトガイド４０が矢印Ｂの方向（コネクタ１０３の位置ずれの方向）に移動して、嵌合凹部４３１がコネクタ１０３の位置に倣うように動き、コネクタ１０３と嵌合凹部４３１との嵌合が行われるようになる。
【００６３】
上記のように、本実施形態では、コンタクトガイド４０がカバー２０に懸架されており、コイルスプリング４５０Ａ、４５０Ｂの付勢力のバランスによって中立位置に配置され、外部からの力によって基準面ＲＳに沿って移動できるようになっている。これにより、嵌合の対象物であるコネクタ１０３の位置にずれが生じていても、そのずれに応じてコンタクトガイド４０が倣うように移動して、コネクタ１０３の位置ずれを吸収しながら確実に嵌合できるようになる。
【００６４】
本実施形態では、フレキシブル基板１０２に電子部品１０１およびコネクタ１０３が接続された電子モジュール１００を測定対象としており、コンタクトピン４１を接触させるコネクタ１０３の端子の位置は、コネクタ１０３の位置を基準として設けられている。コネクタ１０３の端子は狭ピッチで多数並置されていることから、各端子とコンタクトピン４１との接触は、コネクタ１０３の外面を基準として嵌合凹部４３１を嵌め込むことで正確な位置へのコンタクトが実現される。
【００６５】
一方、コネクタ１０３の位置は、フレキシブル基板１０２に対するコネクタ１０３の接続における位置ずれや、フレキシブル基板１０２上の正確な位置に接続されたとしてもフレキシブル基板１０２の弾性力、曲がり、捩れなどによって変化することになる。近年では、フレキシブル基板１０２が比較的硬めになっており、折り曲げられていることもあるため、フレキシブル基板１０２に接続される電子部品１０１とコネクタ１０３との相対的な位置関係は不安定になりやすい。このため、電子部品１０１を基準としてコネクタ１０３の端子とコンタクトピン４１との位置合わせをすると、正確なコンタクトができないことも多い。
【００６６】
本実施形態では、ガイド部４３０との嵌合の対象物であるコネクタ１０３の位置がずれていても、コネクタ１０３の外面に嵌合凹部４３１の嵌合面４３２が接触することで、懸架されているコンタクトガイド４０が移動して、ずれの生じているコネクタ１０３の位置に合わせてガイド部４３０の嵌合凹部４３１を嵌合させることができる。
【００６７】
ここで、特許文献４に開示される電気部品用ソケットでは、ソケットカバーを閉じた際、ソケット本体側の傾斜面に倣って押圧部材が移動するようになる。しかし、本実施形態のように嵌合（接触）の対象物であるコネクタ１０３の位置ずれを吸収するようにコンタクトガイド４０が移動するものではない。すなわち、特許文献４では、ソケットカバーとソケット本体との組み立て誤差を吸収するものであり、接触の対象物であるパッケージがソケット本体に対して位置ずれしている場合には、その位置ずれを吸収して正確なコンタクトを行うことはできない。これは、ソケット本体に対してパッケージが正確に載置されていることを前提としているためである。
【００６８】
本実施形態では、ガイド部４３０の嵌合凹部４３１を嵌め込む対象物であるコネクタ１０３の位置がずれる場合に対応し、位置ずれが発生していてもコネクタ１０３の位置に倣うようにコンタクトガイド４０が移動できるようになっている。したがって、嵌合（接続）の対象物であるコネクタ１０３の位置ずれに対してその位置ずれを直接吸収して、ガイド部４３０の嵌合凹部４３１とコネクタ１０３とを確実に嵌合させることが可能となる。コネクタ１０３の位置を基準として嵌合凹部４３１が確実に嵌め込まれることで、コネクタ１０３に狭ピッチで多数並置されている複数の端子とコンタクトピン４１とを正確に接触させることが可能となる。
【００６９】
なお、図９から図１２ではＸ方向の移動例について示したが、Ｙ方向の移動についても同様である。また、コンタクトガイド４０は、Ｚ方向に移動可能に懸架されていてもよい。例えば、コンタクトガイド４０を懸架する際、基台４１０の上面とトップカバー２００の下面（基準面ＲＳ）との間に僅かな隙間を設けておく。すなわち、これにより、コンタクトガイド４０は、コイルスプリング４５０によってＺ方向に僅かに浮いた状態で支持される。これにより、コンタクトガイド４０は、ＸＹ方向のみならずＺ方向にも移動可能となる。さらに、コンタクトガイド４０がＺ方向に浮いた状態で支持されていると、コンタクトガイド４０は回転方向（ＸＹＺ方向の３軸のそれぞれを中心とした回転方向）にも移動可能となる。これにより、コンタクトガイド４０が電子モジュール１００のコネクタ１０３と嵌合する際、コネクタ１０３の位置や向きに合わせて移動するようになり、コネクタ１０３の位置ずれがあっても確実にコンタクトガイド４０が嵌合して、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子とを接触させることができるようになる。
【００７０】
（コンタクト装置）
次に、コンタクト装置について説明する。
図１３は、コンタクト装置を例示する正面図である。
本実施形態に係るコンタクト装置５００は、先に説明した測定用ソケット１と同様に、ベース１０、カバー２０、押さえ部３０、コンタクトピン４１およびコンタクトガイド４０を備える。コンタクト装置５００では、カバー２０および押さえ部３０がベース１０に対して上下動するよう構成される。
【００７１】
ベース１０には、電子モジュール１００を載置する凹部１１が設けられる。ベース１０には、例えば４箇所に支柱１５が設けられている。カバー２０は、この支柱１５によって支持され、支柱１５に沿って上下動可能に設けられる。支柱１５にはバネ１７が設けられており、カバー２０を上方に付勢している。カバー２０は、図示しない駆動機構によってバネ１７の付勢力を超えた力で押し込まれることにより、ベース１０の上に被せられる。
【００７２】
押さえ部３０は、ベース１０とカバー２０との間に設けられる。押さえ部３０は、カバー２０を下降させてベース１０上に被せる際、カバー２０よりも先に押さえ部３０が電子モジュール１００の上に被せられるよう構成される。
【００７３】
コンタクト装置５００では、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を載置した状態でカバー２０および押さえ部３０を下降させる。これにより、コンタクトガイド４０にコネクタ１０３が嵌合し、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子とが接触するようになる。コンタクトガイド４０はカバー２０に懸架されているため、コネクタ１０３の位置にずれがあっても、コンタクトガイド４０がコネクタ１０３に嵌合する際、コネクタ１０３の位置に合わせてコンタクトガイド４０が呼び込まれるように移動することになり、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子との正確な導通を得ることができる。
【００７４】
以上説明したように、実施形態によれば、電子モジュール１００のコネクタ１０３とコンタクトピン４１とを正確に接触させて確実な導通を得ることができる測定用ソケット１を提供することが可能になる。
【００７５】
なお、上記に本実施形態およびその具体例を説明したが、本発明はこれらの例に限定されるものではない。例えば、測定対象となる電子モジュール１００として、フレキシブル基板１０２に電子部品１０１およびコネクタ１０３が接続されたものを例としたが、電子モジュール１００の構成は、これに限定されない。また、前述の各実施形態またはその具体例に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除、設計変更を行ったものや、各実施形態の特徴を適宜組み合わせたものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に包含される。
【符号の説明】
【００７６】
１…測定用ソケット
１０…ベース
１１…凹部
１５…支柱
１７…バネ
２０…カバー
２０ｈ…孔
２５…爪
３０…押さえ部
４０，４０Ａ，４０Ｂ…コンタクトガイド
４１…コンタクトピン
５０…ヒンジ
５６…バネ
６０…ラッチ
６５…バネ
１００…電子モジュール
１０１…電子部品
１０２…フレキシブル基板
１０３…コネクタ
２００…トップカバー
２０１…孔
２０２…凹部
２１０…コンタクトガイドカバー
４１０…基台
４２０…凸状部分
４２５，４２５Ａ，４２５Ｂ…スプリングホルダ
４２５ｈ…穴
４３０…ガイド部
４３１…嵌合凹部
４３２…嵌合面
４３３…テーパ面
４４０…ケーブル
４５０，４５０Ａ，４５０Ｂ…コイルスプリング
５００…コンタクト装置
Ａ，Ｂ…矢印
ＲＳ…基準面
【要約】
電子モジュールのコネクタとコンタクトピンとを正確に接触させて確実な導通を得ることができる測定用ソケットを提供すること。
本発明は、電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、ベースに被せられるカバーと、電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、カバーに設けられ、電子モジュールが載置されたベースにカバーを被せることでコンタクトピンを電子モジュールの接触位置にガイドするコンタクトガイドと、を備え、コンタクトガイドは、コネクタを収容可能な嵌合凹部を有し、コンタクトガイドは、カバーに懸架され、カバーをベースに被せることでコンタクトガイドの嵌合凹部の内面がコネクタと接触し、コンタクトガイドがコネクタに嵌合しながらコネクタの位置へ呼び込まれる。【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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