(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
デバッグ対象回路に障害が発生した場合に、前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングから過去に遡って前記デバッグ対象回路の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリに格納するデバッグ制御回路であって、
前記デバッグ対象回路の内部信号から観測信号を選択して取得する観測信号選択部と、
前記観測信号選択部によって取得された観測信号を格納する前記観測信号格納用メモリと、
メモリ制御部と、
過去データ比較部と、
トリガ検出部とを備え、
１回目の観測信号の取得時に、前記観測信号格納用メモリが、前記観測信号選択部によって取得された１回目の観測信号を格納し、
２回目以降の観測信号の取得時に、前記観測信号格納用メモリが、前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号を格納すると共に、前記過去データ比較部が、前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号と、２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に前記観測信号選択部によって取得されて前記観測信号格納用メモリに格納された観測信号である前回の観測信号とを比較し、
前記メモリ制御部は、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させ、
前記過去データ比較部は、前記メモリ制御部によって前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号と、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定する、
デバッグ制御回路。
【請求項２】
前記過去データ比較部によって前回の観測信号と比較される２回目以降の観測信号のサンプル数は、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号のサンプル数の１／２である、
請求項１に記載のデバッグ制御回路。
【請求項３】
前記過去データ比較部は、
前記観測信号格納用メモリへのＭ（Ｍは２以上の自然数）回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングからＭ回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔が、前記観測信号選択部によって取得されるＭ回目の観測信号のサンプル数の（（Ｍ−１）／２）倍である場合に、
前記観測信号格納用メモリに格納されたＭ回目以降の観測信号と、Ｍ回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいと判定する、
請求項２に記載のデバッグ制御回路。
【請求項４】
前記過去データ比較部は、
Ｍ（Ｍは２以上の自然数）回目以降の観測信号のうちの、前回の観測信号の取得時に前記観測信号格納用メモリに格納されなかった信号の書き込み終了タイミングからＭ回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔が、前記観測信号選択部によって取得されるＭ回目の観測信号のサンプル数の（（（Ｍ−１）／２）＋１／２）倍である場合に、
前記観測信号格納用メモリに格納されたＭ回目以降の観測信号と、Ｍ回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいと判定する、
請求項２に記載のデバッグ制御回路。
【請求項５】
前記過去データ比較部は、
前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号をシフトさせた信号を出力するシフトレジスタ部と、
前回の観測信号に対応する期待値を出力する期待値格納部と、
前記シフトレジスタ部によって出力された信号と前記期待値格納部によって出力された期待値とを比較することによって、２回目以降の観測信号と前回の観測信号とが一致するか否かの判定結果を出力するデータコンペアとを備える、
請求項１に記載のデバッグ制御回路。
【請求項６】
前記過去データ比較部は、
前記観測信号選択部によって取得された前回以前の観測信号が過去データとして格納される過去データ格納用メモリと、
前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号と、前記過去データ格納用メモリに格納された過去データとを比較することによって、２回目以降の観測信号と前回の観測信号とが一致するか否かの判定結果を出力するデータコンペアとを備える、
請求項１に記載のデバッグ制御回路。
【請求項７】
前記過去データ比較部は、
前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号をシフトさせた信号を出力するシフトレジスタ部と、
期待値を出力する期待値格納部と、
前記シフトレジスタ部によって出力された信号と前記期待値格納部によって出力された期待値とを比較するレジスタデータコンペアと、
前記観測信号選択部によって取得された前回以前の観測信号が過去データとして格納される過去データ格納用メモリと、
前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号と、前記過去データ格納用メモリに格納された過去データとを比較するメモリデータコンペアと、
前記レジスタデータコンペアによる比較結果と、前記メモリデータコンペアによる比較結果とに基づいて、今回の観測信号と前回の観測信号とが一致するか否かの判定結果を出力する過去データメモリリード制御部とを備え、
前記過去データ格納用メモリは、過去データを、前記期待値格納部によって出力される期待値として格納する、
請求項１に記載のデバッグ制御回路。
【請求項８】
前記観測信号選択部は、第１観測信号選択部と第２観測信号選択部とを含み、
前記第１観測信号選択部と前記第２観測信号選択部とは、互いに異なるタイミングで、前記デバッグ対象回路の内部信号から観測信号を選択して取得し、
前記第１観測信号選択部は、前記過去データ比較部における比較に用いられる観測データを取得し、
前記第２観測信号選択部は、前記観測信号格納用メモリに格納される観測データを取得する、
請求項１に記載のデバッグ制御回路。
【請求項９】
デバッグ対象回路に障害が発生した場合に、前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングから過去に遡って前記デバッグ対象回路の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリに格納するデバッグ制御方法であって、
１回目の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納し、
２回目以降の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納すると共に、２回目以降の観測信号と、２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に取得されて前記観測信号格納用メモリに格納された観測信号である前回の観測信号とを比較し、
前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させ、
前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号と、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定する、
デバッグ制御方法。
【請求項１０】
コンピュータに、
デバッグ対象回路に障害が発生した場合に、前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングから過去に遡って前記デバッグ対象回路の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリに格納するステップを実行させるためのプログラムであって、
１回目の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納するステップと、
２回目以降の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納すると共に、２回目以降の観測信号と、２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に取得されて前記観測信号格納用メモリに格納された観測信号である前回の観測信号とを比較するステップと、
前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させるステップと、
前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号と、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定するステップとを実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
データの欠けを生じることなく時分割でデバッグ試験のデータを取得するデバッグ回路の一例が特許文献１に記載されている。特許文献１に記載された技術では、１回目の観測信号の取得が行われる初回トレースデータ取得デバッグと、２回目以降の観測信号の取得が行われる過去トレースデータ取得デバッグとが実行される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１８−０９７５５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、特許文献１に記載された技術では、過去トレースデータ取得デバッグにおいて、２回目の観測信号が、１回目の観測信号に連続して取得される。つまり、特許文献１に記載された技術では、障害発生タイミングに再現性がない場合が想定されていない。
そのため、特許文献１に記載された技術では、障害発生タイミングに再現性がない場合に障害発生タイミングから過去に遡ってデバッグ対象回路の内部信号を適切に取得することができない。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、上述した課題を解決するデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の態様によれば、デバッグ対象回路に障害が発生した場合に、前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングから過去に遡って前記デバッグ対象回路の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリに格納するデバッグ制御回路であって、前記デバッグ対象回路の内部信号から観測信号を選択して取得する観測信号選択部と、前記観測信号選択部によって取得された観測信号を格納する前記観測信号格納用メモリと、メモリ制御部と、過去データ比較部と、トリガ検出部とを備え、１回目の観測信号の取得時に、前記観測信号格納用メモリが、前記観測信号選択部によって取得された１回目の観測信号を格納し、２回目以降の観測信号の取得時に、前記観測信号格納用メモリが、前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号を格納すると共に、前記過去データ比較部が、前記観測信号選択部によって取得された２回目以降の観測信号と、２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に前記観測信号選択部によって取得されて前記観測信号格納用メモリに格納された観測信号である前回の観測信号とを比較し、前記メモリ制御部は、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させ、前記過去データ比較部は、前記メモリ制御部によって前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号と、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定する。
【０００７】
本発明の第２の態様によれば、デバッグ対象回路に障害が発生した場合に、前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングから過去に遡って前記デバッグ対象回路の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリに格納するデバッグ制御方法であって、１回目の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納し、２回目以降の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納すると共に、２回目以降の観測信号と、２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に取得されて前記観測信号格納用メモリに格納された観測信号である前回の観測信号とを比較し、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させ、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号と、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定する。
【０００８】
本発明の第３の態様によれば、コンピュータに、デバッグ対象回路に障害が発生した場合に、前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングから過去に遡って前記デバッグ対象回路の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリに格納するステップを実行させるためのプログラムであって、１回目の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納するステップと、２回目以降の観測信号を取得して前記観測信号格納用メモリに格納すると共に、２回目以降の観測信号と、２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に取得されて前記観測信号格納用メモリに格納された観測信号である前回の観測信号とを比較するステップと、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前記観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させるステップと、前記観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、前記観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号と、２回目以降の前記デバッグ対象回路の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定するステップとを実行させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、障害発生タイミングから過去に遡ってデバッグ対象回路の内部信号を適切に取得することができるデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】第１実施形態のデバッグ制御回路による観測信号の取得タイミングの一例と従来のデバッグ制御回路による観測信号の取得タイミングの一例とを比較して示した図である。
【図２】第１実施形態のデバッグ制御回路などの一例を示すブロック図である。
【図３】図２に示す過去データ比較部の詳細構成の一例を示すブロック図である。
【図４】第１実施形態のデバッグ制御回路の１回目の観測信号取得シーケンス時において実行される処理の一例を示すフローチャートである。
【図５】第１実施形態のデバッグ制御回路の２回目以降の観測信号取得シーケンス時において実行される処理の一例を示すフローチャートである。
【図６】第２実施形態のデバッグ制御回路の過去データ比較部の詳細構成の一例を示すブロック図である。
【図７】第３実施形態のデバッグ制御回路の過去データ比較部の詳細構成の一例を示すブロック図である。
【図８】第４実施形態のデバッグ制御回路などの一例を示すブロック図である。
【図９】第５実施形態のデバッグ制御回路の一例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムの実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１２】
＜第１実施形態＞
図１は第１実施形態のデバッグ制御回路による観測信号の取得タイミングの一例と従来のデバッグ制御回路による観測信号の取得タイミングの一例とを比較して示した図である。
ＬＳＩ（Large Scale Integrated circuit）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等のデバッグ対象回路の障害原因を解析する際に、ＬＳＩ、ＦＰＧＡ等のデバッグ対象回路の内部信号を、観測信号としてデバッグ制御回路の観測信号格納用メモリに保存するケースが一般的である。その場合、デバッグ制御回路の観測信号格納用メモリのメモリ容量は制限されるため、デバッグ制御回路の観測信号格納用メモリに保存可能な観測信号が限られる。従って、デバッグ対象回路の障害及び障害発生タイミングが再現可能な試験においては、デバッグ制御回路が、障害発生タイミングから過去に溯って、観測信号を観測信号格納用メモリに保存する期間をシフトしながら、時分割で観測信号を取得することが可能である。
障害発生タイミングに再現性がある場合には、デバッグ制御回路が、カウンタ等を用いて観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込み停止タイミングを算出し、時分割で観測信号を取得することができる。一方、障害発生タイミングに再現性がない場合には、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込み停止タイミングをカウンタから算出することが困難であるため、例えば特許文献１に記載されたデバッグ回路などのような従来のデバッグ制御回路では、障害発生タイミングから過去に遡ってデバッグ対象回路の内部信号を適切に取得することができない。
【００１３】
図１に示す例では、従来のデバッグ制御回路が、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで発生する障害（つまり、障害発生タイミングに再現性がある障害）の原因の解析に適用されている。従来のデバッグ制御回路の観測信号格納用メモリのメモリ容量は「Ｎサンプル」である。
従来のデバッグ制御回路の初回（A-1st）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。カウンタ値「０」のタイミング（つまり、デバッグ制御回路起動時）で、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込みが開始し、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込みが停止する。観測信号格納用メモリのメモリ容量が「Ｎサンプル」であるため、カウンタ値「０」からカウンタ値「５Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、障害発生タイミング（カウンタ値「６Ｎ」のタイミング）から、障害発生タイミングよりもカウンタ値「Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミング（カウンタ値「５Ｎ」のタイミング）までの観測信号（すなわち、カウンタ値「５Ｎ」からカウンタ値「６Ｎ」までの観測信号）が取得され、観測信号格納用メモリに書き込まれる。
従来のデバッグ制御回路の２回目（A-2nd）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。カウンタ値「０」のタイミングで、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込みが開始し、カウンタ値「５Ｎ」のタイミングで、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込みが停止する。カウンタ値「０」からカウンタ値「４Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、障害発生タイミングよりもカウンタ値「Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミング（カウンタ値「５Ｎ」のタイミング）から、そのタイミングよりもカウンタ値「Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミング（カウンタ値「４Ｎ」のタイミング）までの観測信号が取得され、観測信号格納用メモリに書き込まれる。つまり、２回目の観測信号が、初回の観測信号に連続して過去に遡って取得され、観測信号格納用メモリに書き込まれる。
従来のデバッグ制御回路の３回目（A-3rd）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。カウンタ値「０」のタイミングで、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込みが開始し、カウンタ値「４Ｎ」のタイミングで、観測信号格納用メモリへの観測信号の書き込みが停止する。カウンタ値「０」からカウンタ値「３Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、障害発生タイミングよりもカウンタ値「２Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミング（カウンタ値「４Ｎ」のタイミング）から、そのタイミングよりもカウンタ値「Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミング（カウンタ値「３Ｎ」のタイミング）までの観測信号が取得され、観測信号格納用メモリに書き込まれる。つまり、３回目の観測信号が、２回目の観測信号に連続して過去に遡って取得され、観測信号格納用メモリに書き込まれる。
図１に示す例のように障害発生タイミングに再現性がある場合（つまり、障害が発生するタイミングが、毎回、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングになる場合）には、従来のデバッグ制御回路によっても、取得したい範囲の観測信号を取得することができる。一方、障害発生タイミングに再現性がない場合（例えば、初回の障害発生タイミングがカウンタ値「６Ｎ」、２回目の障害発生タイミングがカウンタ値「３Ｎ」、３回目の障害発生タイミングがカウンタ値「９Ｎ」になる場合など）に、従来のデバッグ制御回路では、取得したい範囲の観測信号とは異なる範囲の観測信号を取得してしまう。
【００１４】
図２等を参照して後で詳細に説明するように、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、今回、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号が、前回取得されて観測信号格納用メモリ１０９に格納された観測信号と数サンプル分（図１に示す例では、Ｎ／２サンプル分）比較される。今回、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号と、前回取得されて観測信号格納用メモリ１０９に格納された観測信号とが数サンプル分だけ一致したタイミングで、前回取得した観測信号の動作と同様の事象が発生したと判定される。つまり、今回、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号の数サンプル分と、前回取得されて観測信号格納用メモリ１０９に格納された観測信号の数サンプル分とが一致すると判定される。観測信号格納用メモリ１０９への観測信号の書き込みは、そのタイミングで停止される。また、書き込み停止タイミングから障害発生タイミングまでの間隔が測定される。更に、デバッグ制御回路１０１によって取得されて観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号と、デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かが判定される。
すなわち、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号の数サンプル分（詳細には、過去に取得された観測信号の数サンプル分と一致（重複）する数サンプル分）を用いることによって、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号とデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングとの関係が確認される。
そのため、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングとの関係が正しい観測信号（つまり、取得したい範囲の観測信号）を、デバッグ対象回路１０３のデバッグに用いられる観測信号として観測信号格納用メモリ１０９に格納することができる。
その結果、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、障害発生タイミングに再現性がない場合であっても、障害発生タイミングから遡って時分割で観測信号を適切に取得することができる。
【００１５】
図１に示す例では、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１が、障害発生タイミングのカウンタ値（図１の横軸の値）が毎回異なる障害（つまり、障害発生タイミングに再現性がない障害）の原因の解析に適用されている。第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量は「Ｎサンプル」である。
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の１回目（B-1st）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。
詳細には、カウンタ値「０」のタイミング（つまり、デバッグ制御回路起動時）で、デバッグ制御回路１０１による１回目の観測信号の取得と、観測信号格納用メモリ１０９への１回目の観測信号の書き込みとが開始する。次いで、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、障害が発生し、デバッグ制御回路１０１による１回目の観測信号の取得が終了し、観測信号格納用メモリ１０９への１回目の観測信号の書き込みが停止する。観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量が「Ｎサンプル」であるため、カウンタ値「０」からカウンタ値「５Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、Ｎサンプル分の１回目の観測信号として、カウンタ値「５Ｎ」からカウンタ値「６Ｎ」までの観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納される。
つまり、１回目（B-1st）の観測信号取得シーケンス時に、障害発生タイミングから、障害発生タイミングよりもカウンタ値「Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングまでの観測信号が取得される。
【００１６】
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の２回目（B-2nd）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「３Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。
詳細には、カウンタ値「０」のタイミングで、デバッグ制御回路１０１による今回（２回目）の観測信号の取得と、観測信号格納用メモリ１０９への今回（２回目）の観測信号の書き込みとが開始する。
更に、Ｎ／２サンプル分（つまり、観測信号格納用メモリ１０９に格納された前回（１回目）の観測信号の半分）の今回（２回目）の観測信号を用いることによって、今回（２回目）の観測信号と前回（１回目）の観測信号との比較が行われる。
カウンタ値「２．５Ｎ」のタイミングで、今回（２回目）のカウンタ値「２Ｎ」からカウンタ値「２．５Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号と、前回（１回目）のカウンタ値「５Ｎ」からカウンタ値「５．５Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号とが一致する（同一内容のデータになる）ため、観測信号格納用メモリ１０９への今回（２回目）の観測信号の書き込みが停止し、デバッグ制御回路１０１による今回（２回目）の観測信号の取得が終了する。観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量が「Ｎサンプル」であるため、カウンタ値「０」からカウンタ値「１．５Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、Ｎサンプル分の２回目の観測信号として、カウンタ値「１．５Ｎ」からカウンタ値「２．５Ｎ」までの観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納される。
詳細には、２回目（B-2nd）の観測信号取得シーケンス時に、障害発生タイミングよりもカウンタ値「Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングから、障害発生タイミングよりもカウンタ値「１．５Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングまでの観測信号が新たに取得される。
【００１７】
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の３回目（B-3rd）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「９Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。
詳細には、カウンタ値「０」のタイミングで、デバッグ制御回路１０１による今回（３回目）の観測信号の取得と、観測信号格納用メモリ１０９への今回（３回目）の観測信号の書き込みとが開始する。
更に、Ｎ／２サンプル分（つまり、観測信号格納用メモリ１０９に格納された前回（２回目）の観測信号の半分）の今回（３回目）の観測信号を用いることによって、今回（３回目）の観測信号と前回（２回目）の観測信号との比較が行われる。
カウンタ値「８Ｎ」のタイミングで、今回（３回目）のカウンタ値「７．５Ｎ」からカウンタ値「８Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号と、前回（２回目）のカウンタ値「１．５Ｎ」からカウンタ値「２Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号とが一致する（同一内容のデータになる）ため、観測信号格納用メモリ１０９への今回（３回目）の観測信号の書き込みが停止し、デバッグ制御回路１０１による今回（３回目）の観測信号の取得が終了する。観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量が「Ｎサンプル」であるため、カウンタ値「０」からカウンタ値「７Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、Ｎサンプル分の３回目の観測信号として、カウンタ値「７Ｎ」からカウンタ値「８Ｎ」までの観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納される。
詳細には、３回目（B-3rd）の観測信号取得シーケンス時に、障害発生タイミングよりもカウンタ値「１．５Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングから、障害発生タイミングよりもカウンタ値「２Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングまでの観測信号が新たに取得される。
【００１８】
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の４回目（B-4th）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「６Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。
詳細には、カウンタ値「０」のタイミングで、デバッグ制御回路１０１による今回（４回目）の観測信号の取得と、観測信号格納用メモリ１０９への今回（４回目）の観測信号の書き込みとが開始する。
更に、Ｎ／２サンプル分（つまり、観測信号格納用メモリ１０９に格納された前回（３回目）の観測信号の半分）の今回（４回目）の観測信号を用いることによって、今回（４回目）の観測信号と前回（３回目）の観測信号との比較が行われる。
カウンタ値「４．５Ｎ」のタイミングで、今回（４回目）のカウンタ値「４Ｎ」からカウンタ値「４．５Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号と、前回（３回目）のカウンタ値「７Ｎ」からカウンタ値「７．５Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号とが一致する（同一内容のデータになる）ため、観測信号格納用メモリ１０９への今回（４回目）の観測信号の書き込みが停止し、デバッグ制御回路１０１による今回（４回目）の観測信号の取得が終了する。観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量が「Ｎサンプル」であるため、カウンタ値「０」からカウンタ値「３．５Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、Ｎサンプル分の４回目の観測信号として、カウンタ値「３．５Ｎ」からカウンタ値「４．５Ｎ」までの観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納される。
詳細には、４回目（B-4th）の観測信号取得シーケンス時に、障害発生タイミングよりもカウンタ値「２Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングから、障害発生タイミングよりもカウンタ値「２．５Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングまでの観測信号が新たに取得される。
【００１９】
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の５回目（B-5th）の観測信号取得シーケンス時には、カウンタ値「１２Ｎ」のタイミングで、障害が発生する。
詳細には、カウンタ値「０」のタイミングで、デバッグ制御回路１０１による今回（５回目）の観測信号の取得と、観測信号格納用メモリ１０９への今回（５回目）の観測信号の書き込みとが開始する。
更に、Ｎ／２サンプル分（つまり、観測信号格納用メモリ１０９に格納された前回（４回目）の観測信号の半分）の今回（５回目）の観測信号を用いることによって、今回（５回目）の観測信号と前回（４回目）の観測信号との比較が行われる。
カウンタ値「１０Ｎ」のタイミングで、今回（５回目）のカウンタ値「９．５Ｎ」からカウンタ値「１０Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号と、前回（４回目）のカウンタ値「３．５Ｎ」からカウンタ値「４Ｎ」までのＮ／２サンプル分の観測信号とが一致する（同一内容のデータになる）ため、観測信号格納用メモリ１０９への今回（５回目）の観測信号の書き込みが停止し、デバッグ制御回路１０１による今回（５回目）の観測信号の取得が終了する。観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量が「Ｎサンプル」であるため、カウンタ値「０」からカウンタ値「９Ｎ」までのデータは、新しいデータによって上書きされる。その結果、Ｎサンプル分の５回目の観測信号として、カウンタ値「９Ｎ」からカウンタ値「１０Ｎ」までの観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納される。
詳細には、５回目（B-5th）の観測信号取得シーケンス時に、障害発生タイミングよりもカウンタ値「２．５Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングから、障害発生タイミングよりもカウンタ値「３Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングまでの観測信号が新たに取得される。
すなわち、１回目（B-1st）から５回目（B-5th）までの観測信号取得シーケンスによって、障害発生タイミングから、障害発生タイミングよりもカウンタ値「３Ｎ」分だけ過去に遡ったタイミングまでの観測信号が、時分割で取得される。
【００２０】
図１に示す例では、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の１回目（B-1st）の観測信号取得シーケンス時において、障害発生タイミングからＮサンプル分だけ過去に遡ったタイミング（第１タイミング）までの区間の観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納される（つまり、上書きされることなく観測信号格納用メモリ１０９に残される）。第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の２回目（B-2nd）の観測信号取得シーケンス時においては、第１タイミングからＮ／２サンプル分だけ過去に遡ったタイミング（第２タイミング）までの区間の観測信号が、新たに取得される。第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の３回目（B-3rd）の観測信号取得シーケンス時においては、第２タイミングからＮ／２サンプル分だけ過去に遡ったタイミング（第３タイミング）までの区間の観測信号が、新たに取得される。第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の４回目（B-4th）の観測信号取得シーケンス時においては、第３タイミングからＮ／２サンプル分だけ過去に遡ったタイミング（第４タイミング）までの区間の観測信号が、新たに取得される。第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の５回目（B-5th）の観測信号取得シーケンス時においては、第４タイミングからＮ／２サンプル分だけ過去に遡ったタイミングまでの区間の観測信号が、新たに取得される。
【００２１】
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、図１に示す例のように、今回、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号の半分を用いることによって、１回前（つまり、前回）に取得した観測信号との比較が行われ、１回前に取得した観測信号と一致したタイミングで観測信号格納用メモリ１０９への今回の観測信号の書き込みを停止すると共に、観測信号格納用メモリ１０９への今回の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから障害発生タイミングまでの間隔（Ｍ回目の場合、「Ｎ×（Ｍ−１）／２」）に基づく判定を行うことで、障害発生タイミングに再現性がない場合においても時分割で遡って観測信号を適切に取得することができる。
【００２２】
図２は第１実施形態のデバッグ制御回路１０１などの一例を示すブロック図である。
図２に示す例では、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１が、外部制御装置１０２から設定された観測信号の選択条件、トリガ条件に従って、デバッグ対象回路１０３の内部信号を観測信号としてデバッグ制御回路１０１内の観測信号格納用メモリ１０９に格納するシステムである。デバッグ制御回路１０１は、観測信号選択部１０４と、トリガ信号選択部１０５と、トリガ検出部１０６と、過去データ比較部１０７と、メモリ制御部１０８と、観測信号格納用メモリ１０９と、トリガカウンタ１１０とを備えている。
観測信号選択部１０４は、外部制御装置１０２からの信号選択指示（信号選択設定）に従って、デバッグ対象回路１０３の内部信号から観測信号を選択して取得する。
トリガ信号選択部１０５は、外部制御装置１０２からのトリガ条件指示（トリガ条件設定）に従って、デバッグ対象回路１０３の内部信号から障害発生などのトリガとなる信号を選択し、トリガ条件を決定する。トリガ条件とは、障害発生時等のイベントが発生した時の信号の値を比較する条件等を指す。トリガ信号選択部１０５によって選択された信号やトリガ条件は、トリガ検出部１０６へ出力される。
トリガ検出部１０６は、トリガ信号選択部１０５によって選択された信号がトリガ条件と一致したか否かを判定する。トリガ検出部１０６は、トリガ条件と一致した信号をトリガ信号として検出する。また、トリガ検出部１０６は、検出したトリガ信号をメモリ制御部１０８やトリガカウンタ１１０に出力する。
【００２３】
過去データ比較部１０７は、外部制御装置１０２から入力された過去データ（過去データＷｒｉｔｅ制御信号）と、観測信号選択部１０４によって選択されて取得された観測信号とを比較する。過去データ比較部１０７は、外部制御装置１０２から入力された過去データ（過去データＷｒｉｔｅ制御信号）と、観測信号選択部１０４によって選択されて取得された観測信号とが一致するか否かを判定する。過去データ比較部１０７は、外部制御装置１０２から入力された過去データ（過去データＷｒｉｔｅ制御信号）と、観測信号選択部１０４によって選択されて取得された観測信号とが一致するか否かの判定結果（一致判定結果）を、メモリ制御部１０８とトリガカウンタ１１０とに出力する。
メモリ制御部１０８は、トリガ検出部１０６から入力されるトリガ信号と、過去データ比較部１０７から入力される一致判定結果と、外部制御装置１０２から入力される観測信号Ｒｅａｄ制御信号とに従って、メモリＷｒｉｔｅ制御信号とＲｅａｄ制御信号とを生成し、観測信号格納用メモリ１０９に出力する。
観測信号格納用メモリ１０９は、メモリ制御部１０８から入力されるメモリＷｒｉｔｅ制御信号に従って、観測信号選択部１０４から入力される観測信号を格納する。また、観測信号格納用メモリ１０９は、メモリ制御部１０８からのＲｅａｄ制御信号に従って、格納した観測信号を「Ｒｅａｄ  Ｄａｔａ」として外部制御装置１０２に出力する。
トリガカウンタ１１０は、トリガ検出部１０６から入力されたトリガ信号と、過去データ比較部１０７から入力された一致判定結果とに従って、カウンタ値のインクリメントなどを行う。
【００２４】
図３は図２に示す過去データ比較部１０７の詳細構成の一例を示すブロック図である。
図３に示す例では、過去データ比較部１０７が、シフトレジスタ部１０７−１と、データコンペア１０７−２と、期待値格納部１０７−３と、データライト制御部１０７−４とを備えている。
シフトレジスタ部１０７−１は、観測信号選択部１０４から入力された観測信号をシフトさせる。また、シフトレジスタ部１０７−１は、シフトさせた観測信号を比較サンプル数分だけデータコンペア１０７−２に出力する。図１に示す例では、シフトレジスタ部１０７−１が、シフトさせた観測信号をＮ／２サンプル分だけ出力する。
【００２５】
図３に示す例では、データライト制御部１０７−４に、過去データＷｒｉｔｅ制御信号が外部制御装置１０２から入力される。また、データライト制御部１０７−４は、期待値を格納する制御信号を期待値格納部１０７−３に出力する。
期待値格納部１０７−３は、データライト制御部１０７−４から入力された期待値を格納する。また、期待値格納部１０７−３は、期待値をデータコンペア１０７−２に出力する。
データコンペア１０７−２は、シフトレジスタ部１０７−１から入力された信号と、期待値格納部１０７−３から入力された期待値とを比較し、一致判定結果をメモリ制御部１０８へ出力する。図１に示す例では、データコンペア１０７−２が、シフトレジスタ部１０７−１によってシフトさせられた２回目の観測信号と、１回目の観測信号に対応する期待値とを比較し、それらが一致する旨の判定結果をメモリ制御部１０８に出力する。また、データコンペア１０７−２は、シフトレジスタ部１０７−１によってシフトさせられた３回目の観測信号と、２回目の観測信号に対応する期待値とを比較し、それらが一致する旨の判定結果をメモリ制御部１０８に出力する。更に、データコンペア１０７−２は、シフトさせられた４回目の観測信号と３回目の観測信号に対応する期待値とが一致する旨の判定結果と、シフトさせられた５回目の観測信号と４回目の観測信号に対応する期待値とが一致する旨の判定結果とをメモリ制御部１０８に出力する。
上述した比較サンプル数は、一致判定精度や回路規模等に応じて設定され、比較サンプル数に応じて、シフトレジスタ部１０７−１のレジスタ数、データコンペア１０７−２の比較器、及び、期待値格納部１０７−３の期待値格納レジスタ数が決定される。
【００２６】
図４は第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の１回目の観測信号取得シーケンス時において実行される処理の一例を示すフローチャートである。
図４に示す例では、ステップＦ１０１において、図４に示す処理が開始する。
ステップＦ１０２では、デバッグ制御回路１０１が動作を開始する。
ステップＦ１０３では、外部制御装置１０２が、観測信号選択部１０４における観測信号の選択のための設定を行う。
ステップＦ１０４では、外部制御装置１０２が、トリガ信号選択部１０５におけるトリガ信号の選択およびトリガ条件の決定のための設定を行う。
【００２７】
ステップＦ１０５では、デバッグ対象回路１０３が動作を開始する。
ステップＦ１０６では、観測信号選択部１０４が、デバッグ対象回路１０３の内部信号から１回目の観測信号を選択して取得し、観測信号格納用メモリ１０９が、メモリ制御部１０８から入力されるメモリＷｒｉｔｅ制御信号に従って、観測信号選択部１０４によって取得された１回目の観測信号を格納する。
ステップＦ１０７では、トリガ検出部１０６が、トリガ信号選択部１０５によって選択されたトリガ信号がトリガ条件と一致したか否かを判定する。トリガ信号がトリガ条件と一致した場合（図１に示す例では、障害が発生した場合）には、ステップＦ１０９に進む。一方、トリガ信号がトリガ条件と一致していない場合（図１に示す例では、障害が発生していない場合）には、ステップＦ１０８に進む。
ステップＦ１０８では、アドレスがインクリメントされ、次のサイクルの観測信号を観測信号格納用メモリ１０９に格納するためにステップＦ１０６に戻る。
観測信号格納用メモリ１０９には、リングバッファ形式で書き込みが行われ、サイクル毎にアドレスがインクリメントされ、観測信号格納用メモリ１０９の最終アドレスまで到達した場合は先頭アドレスに戻される。
【００２８】
ステップＦ１０９では、メモリ制御部１０８が、観測信号格納用メモリ１０９への１回目の観測信号の書き込みを停止させる。
ステップＦ１１０では、デバッグ対象回路１０３が動作を停止する。
ステップＦ１１１では、メモリ制御部１０８が、外部制御装置１０２からの観測信号Ｒｅａｄ制御信号に従って、観測信号格納用メモリ１０９へ格納された１回目の観測信号を外部制御装置１０２に出力させる。
ステップＦ１１２では、デバッグ制御回路１０１が動作を停止する。
ステップＦ１１３では、図４に示す処理が終了する。
【００２９】
図５は第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の２回目以降の観測信号取得シーケンス時において実行される処理の一例を示すフローチャートである。
図５に示す例では、ステップＦ２０１において、図５に示す処理が開始する。
ステップＦ２０２では、デバッグ制御回路１０１が動作を開始する。
ステップＦ２０３では、外部制御装置１０２が、観測信号選択部１０４における観測信号の選択のための設定を行う。
ステップＦ２０４では、外部制御装置１０２が、トリガ信号選択部１０５におけるトリガ信号の選択およびトリガ条件の決定のための設定を行う。
【００３０】
ステップＦ２０５では、過去データ比較部１０７の期待値格納部１０７−３が、外部制御装置１０２から入力された過去データＷｒｉｔｅ制御信号に応じて、前回の観測信号取得シーケンス時に観測信号選択部１０４によって選択されて取得された観測信号（過去データ）の書き込みを行う。つまり、期待値格納部１０７−３が、過去データを期待値として格納する。
ステップＦ２０６では、デバッグ対象回路１０３が動作を開始する。
ステップＦ２０７では、観測信号選択部１０４が、デバッグ対象回路１０３の内部信号から今回の観測信号を選択して取得し、観測信号格納用メモリ１０９が、メモリ制御部１０８から入力されるメモリＷｒｉｔｅ制御信号に従って、観測信号選択部１０４によって取得された今回の観測信号を格納する。
ステップＦ２０８では、過去データ比較部１０７のシフトレジスタ部１０７−１が、観測信号選択部１０４によって取得された今回の観測信号を比較データとして格納し、シフトさせる。
ステップＦ２０９では、過去データ比較部１０７のデータコンペア１０７−２が、ステップＦ２０８においてシフトレジスタ部１０７−１によってシフトさせられた今回の観測信号（比較データ）と、ステップＦ２０５において期待値格納部１０７−３に格納された過去データ（期待値）とを比較する。つまり、データコンペア１０７−２は、今回の観測信号と前回の観測信号とが一致するか否かを判定し、判定結果を出力する。今回の観測信号と過去データとが一致する場合には、ステップＦ２１２に進む。一方、今回の観測信号と過去データとが一致しない場合には、ステップＦ２１０に進む。
【００３１】
ステップＦ２１０では、トリガ検出部１０６が、トリガ信号選択部１０５によって選択されたトリガ信号がトリガ条件と一致したか否かを判定する。
トリガ信号がトリガ条件と一致した場合（図１に示す例では、障害が発生した場合）、つまり、今回の観測信号と過去データとが一致する前にトリガ信号がトリガ条件と一致した場合には、取得した観測信号が遡ったタイミングの範囲ではないと判断し、ステップＦ２１５に進む。一方、トリガ信号がトリガ条件と一致していない場合（図１に示す例では、障害が発生していない場合）には、ステップＦ２１１に進む。
ステップＦ２１１では、アドレスがインクリメントされ、次のサイクルの観測信号を観測信号格納用メモリ１０９に格納するためにステップＦ２０７に戻る。
観測信号格納用メモリ１０９には、リングバッファ形式で書き込みが行われ、サイクル毎にアドレスがインクリメントされ、観測信号格納用メモリ１０９の最終アドレスまで到達した場合は先頭アドレスに戻される。
【００３２】
ステップＦ２１２では、前回のシーケンスで取得した状態が再現されたため、メモリ制御部１０８が、観測信号格納用メモリ１０９への今回の観測信号の書き込みを停止させる。
ステップＦ２１３では、トリガ検出部１０６が、トリガ信号選択部１０５によって選択されたトリガ信号がトリガ条件と一致したか否かを判定する。
トリガ信号がトリガ条件と一致した場合（図１に示す例では、障害が発生した場合）、つまり、今回の観測信号と過去データとが一致した後にトリガ信号がトリガ条件と一致した場合には、ステップＦ２１５に進む。一方、トリガ信号がトリガ条件と一致していない場合（図１に示す例では、障害が発生していない場合）には、ステップＦ２１４に進む。
ステップＦ２１４では、トリガカウンタ１１０のカウンタがインクリメントされ、次のサイクルのトリガ信号とトリガ条件との比較を行うためにステップＦ２１３に戻る。
【００３３】
ステップＦ２１５では、デバッグ対象回路１０３が動作を停止する。
ステップＦ２１６では、過去データ比較部１０７が、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が期待値と一致するか否かの判定を行う。詳細には、過去データ比較部１０７は、観測信号選択部１０４による今回の観測信号の取得が終了したタイミングからトリガ発生タイミング（今回のデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミング）までの間隔が、遡ったタイミングと一致するか否かを判定する。
取得終了タイミングからトリガ発生タイミングまでの間隔が遡ったタイミングと一致する場合（つまり、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が期待値と一致する場合）には、今回の観測信号の取得が成功したと判定し、ステップＦ２１７に進む。一方、取得終了タイミングからトリガ発生タイミングまでの間隔が遡ったタイミングと一致しない場合（つまり、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が期待値と一致しない場合）には、取得した観測信号が遡ったタイミングの範囲ではなく、今回の観測信号の取得が失敗したと判定し、ステップＦ２０６に戻る。
図１に示す例（すなわち、観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量が「Ｎサンプル」であって、毎回Ｎ／２サンプル分だけ遡って観測信号を新たに取得する例）では、Ｍ回目の観測信号取得シーケンス時におけるトリガカウンタ１１０のカウンタ値が「Ｎ×（Ｍ−１）／２」になっている場合に、過去データ比較部１０７は、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が期待値と一致し、今回の観測信号の取得が成功したと判定する。
図１に示す例の２回目の観測信号取得シーケンス時（つまり、Ｍ＝２の時）においては、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が、期待値「Ｎ／２」に一致するため、過去データ比較部１０７は、２回目の観測信号の取得が成功したと判定する。図１に示す例の３回目の観測信号取得シーケンス時（つまり、Ｍ＝３の時）においては、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が、期待値「Ｎ」に一致するため、過去データ比較部１０７は、３回目の観測信号の取得が成功したと判定する。図１に示す例の４回目の観測信号取得シーケンス時（つまり、Ｍ＝４の時）においては、トリガカウンタ１１０のカウンタ値が、期待値「Ｎ×３／２」に一致するため、過去データ比較部１０７は、４回目の観測信号の取得が成功したと判定する。
【００３４】
図５に示す例では、ステップＦ２１７において、メモリ制御部１０８が、外部制御装置１０２からの読み出し指示に応じて、観測信号格納用メモリ１０９に格納されている観測信号を外部制御装置１０２に出力する。
ステップＦ２１８では、データ解析を行うのに必要十分な観測信号が外部制御装置１０２に出力されたか否かが判定される。データ解析を行うのに必要十分な観測信号が外部制御装置１０２に出力された場合には、ステップＦ２１９に進む。一方、データ解析を行うのに必要十分な観測信号が外部制御装置１０２に出力されていない場合には、ステップＦ２０５に戻る。詳細には、取得された観測信号が過去データ期待値として設定され、デバッグ対象回路１０３が動作を再開し、更に遡った範囲の観測信号の取得が行われる。
ステップＦ２１９では、デバッグ制御回路１０１が動作を停止する。
ステップＦ２２０では、図５に示す処理が終了する。
【００３５】
上述したように、例えばＬＳＩ、ＦＰＧＡ等のデバッグ対象回路１０３の内部信号の動作を解析するために、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の観測信号格納用メモリ１０９は、デバッグ対象回路１０３の内部信号を観測信号として保存する。観測信号格納用メモリ１０９に保存できる信号数、データ量は、観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量に依存する。デバッグ対象回路１０３に障害等が発生し、障害発生（トリガ）タイミングより過去に遡ってデバッグ対象回路１０３の内部信号を解析する場合には、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号のデータ量が、観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量を超えないようにする必要がある。
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、デバッグ対象回路１０３の障害の再現性はあるが、デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングに再現性がない場合に、観測信号格納用メモリ１０９に格納される観測信号のデータ量がメモリ容量を超えることなく、デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングから遡って時分割で連続したデバッグ対象回路１０３の内部信号の情報を適切に取得することができる。
詳細には、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、観測信号格納用メモリ１０９のメモリ容量以上の連続したデバッグ対象回路１０３の内部信号を、デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングから遡って時分割で取得することができる。
【００３６】
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の一例では、過去データ比較部１０７は、メモリ制御部１０８によって観測信号格納用メモリ１０９へのＭ（Ｍは２以上の自然数）回目以降の観測信号の書き込みが停止させられたタイミング（図１の「Ｃ」の右端）からＭ回目以降の前記デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミング（図１の「★」）までの間隔が、観測信号選択部１０４によって取得されるＭ回目の観測信号のサンプル数「Ｎ」の（（Ｍ−１）／２）倍である場合に、観測信号格納用メモリ１０９に格納されたＭ回目以降の観測信号と、Ｍ回目以降のデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングとの関係が正しいと判定する。
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１の他の例では、過去データ比較部１０７は、Ｍ回目以降の観測信号のうちの、前回の観測信号の取得時に観測信号格納用メモリ１０９に格納されなかった信号（つまり、今回新たに取得される観測信号）の書き込み終了タイミング（図１の「Ｄ」の右端）からＭ回目以降のデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミング（図１の「★」）までの間隔が、観測信号選択部１０４によって取得されるＭ回目の観測信号のサンプル数「Ｎ」の（（（Ｍ−１）／２）＋１／２）倍である場合に、観測信号格納用メモリ１０９に格納されたＭ回目以降の観測信号と、Ｍ回目以降のデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングとの関係が正しいと判定する。
【００３７】
換言すれば、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１は、デバッグ対象回路１０３の障害発生時に、障害発生時から過去に遡って観測信号のロギングを行う。
初回の観測信号取得時には、例えばデータ容量がＮサンプルの観測信号格納用メモリ１０９に対して、Ｎサンプル分の観測信号がログとして格納される。観測信号格納用メモリ１０９の内容は、外部制御装置１０２に出力される。
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、２回目以降の観測信号取得時に、Ｎ／２サンプル分だけ過去に遡ってログの追記が行われる。
具体的には、観測信号格納用メモリ１０９の過去側（図１の左側）半分（Ｎ／２）のサンプルに一致する（現在側）ログが出現するまでデバッグ対象回路１０３を起動し、一致するログが観測信号格納用メモリ１０９上に出現したら、観測信号格納用メモリ１０９の過去側半分のサンプルが外部制御装置１０２に追記される。必要なサイズのログが取得されるまで、繰り返される。
【００３８】
＜第２実施形態＞
以下、本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムの第２実施形態について説明する。
第２実施形態のデバッグ制御回路１０１は、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様に構成されている。従って、第２実施形態のデバッグ制御回路１０１によれば、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様の効果を奏することができる。
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、過去データ比較部１０７が、例えば図３に示すように構成されているが、第２実施形態のデバッグ制御回路１０１では、過去データ比較部１０７が、例えば図６に示すように構成されている。
【００３９】
図６は第２実施形態のデバッグ制御回路１０１の過去データ比較部１０７の詳細構成の一例を示すブロック図である。
図６に示す例では、過去データ比較部１０７が、データコンペア１０７−６と、過去データリード制御部１０７−７と、過去データ格納用メモリ１０７−８と、過去データライト制御部１０７−９とを備えている。
過去データライト制御部１０７−９には、過去データＷｒｉｔｅ制御信号（過去データ）が外部制御装置１０２から入力される。過去データライト制御部１０７−９は、制御信号（ライトアドレス、ライトイネーブル、ライトデータ）を過去データ格納用メモリ１０７−８に出力する。
過去データ格納用メモリ１０７−８は、過去データライト制御部１０７−９から入力される期待値、制御信号（ライトアドレス、ライトイネーブル、ライトデータ）を格納する。また、過去データ格納用メモリ１０７−８は、過去データライト制御部１０７−９から入力される制御信号に従って、データコンペア１０７−６へ過去データを出力する。過去データ格納用メモリ１０７−８から出力される過去データは、前回以前の観測信号取得シーケンス時に観測信号選択部１０４によって取得された前回以前の観測信号に相当するものである。
【００４０】
データコンペア１０７−６は、観測信号選択部１０４から入力された観測信号と、過去データ格納用メモリ１０７−８から入力された過去データとを比較し、データ比較結果を過去データリード制御部１０７−７に出力する。つまり、データコンペア１０７−６は、観測信号選択部１０４によって取得された２回目以降の観測信号と、過去データ格納用メモリ１０７−８に格納された過去データ（前回の観測信号）とを比較することによって、１回目の観測信号と２回目以降の観測信号とが一致するか否かなどの判定結果を出力する。
過去データリード制御部１０７−７は、過去データ格納用メモリ１０７−８に格納されている過去データをＲｅａｄするための制御信号（リードアドレス、リードイネーブル）を出力する。データコンペア１０７−６からのデータ比較結果が一致を示している場合に、過去データリード制御部１０７−７は、リードアドレスをインクリメントする。
観測信号選択部１０４から入力された観測信号と、過去データ格納用メモリ１０７−８から入力された過去データとが、全サンプル分一致した場合に、一致判定結果が有効とされる。一方、リードアドレスが初期状態以外で、また、データコンペア１０７−６から出力されたデータ比較結果が不一致を示している場合に、不一致判定結果が有効とされ、過去に遡った観測信号の取得が失敗したと判定される。
比較サンプル数は、一致判定精度、回路規模等に応じて設定される。過去データ格納用メモリ１０７−８のメモリ容量は、比較サンプル数に応じて決定される。上述した以外の第２実施形態のデバッグ制御回路１０１の構成は、第１の実施形態のデバッグ制御回路１０１の構成と同様である。第２の実施形態のデバッグ制御回路１０１では、過去データの比較サンプル数が大きい場合に、過去データ格納用メモリ１０７−８を使用することによって、第１の実施形態のデバッグ制御回路１０１と比較して回路規模を抑える効果がある。
【００４１】
＜第３実施形態＞
以下、本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムの第３実施形態について説明する。
第３実施形態のデバッグ制御回路１０１は、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様に構成されている。従って、第３実施形態のデバッグ制御回路１０１によれば、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様の効果を奏することができる。
第１実施形態のデバッグ制御回路１０１では、過去データ比較部１０７が、例えば図３に示すように構成されているが、第３実施形態のデバッグ制御回路１０１では、過去データ比較部１０７が、例えば図７に示すように構成されている。過去データが、レジスタとメモリとに分けて格納される。レジスタに格納された過去データとの比較が一致した後に、メモリに格納された過去データとの比較が行われる。
【００４２】
図７は第３実施形態のデバッグ制御回路１０１の過去データ比較部１０７の詳細構成の一例を示すブロック図である。
図７に示す例では、過去データ比較部１０７が、シフトレジスタ部１０７−１１と、レジスタデータコンペア１０７−１２と、期待値格納部１０７−１３と、レジスタライト制御部１０７−１４と、メモリデータコンペア１０７−１６と、過去データメモリリード制御部１０７−１７と、過去データ格納用メモリ１０７−１８と、過去データメモリライト制御部１０７−１９とを備えている。
シフトレジスタ部１０７−１１には、観測信号選択部１０４から観測信号が入力される。シフトレジスタ部１０７−１１は、観測信号選択部１０４によって取得された２回目以降の観測信号をシフトさせた信号を、レジスタデータコンペア１０７−１２に比較サンプル数分だけ出力する。
【００４３】
レジスタライト制御部１０７−１４には、過去データＷｒｉｔｅ制御信号が外部制御装置１０２から入力される。また、レジスタライト制御部１０７−１４は、期待値を格納する制御信号を期待値格納部１０７−１３に出力する。
期待値格納部１０７−１３は、レジスタライト制御部１０７−１４から入力された期待値を格納する。また、期待値格納部１０７−１３は、期待値をレジスタデータコンペア１０７−１２に出力する。
レジスタデータコンペア１０７−１２は、シフトレジスタ部１０７−１１から入力された信号と、期待値格納部１０７−１３から入力された期待値とを比較し、レジスタ一致判定結果を過去データメモリリード制御部１０７−１７へ出力する。
【００４４】
過去データ格納用メモリ１０７−１８には、観測信号選択部１０４によって取得された前回以前の観測信号が過去データとして格納される。過去データ格納用メモリ１０７−１８は、過去データメモリライト制御部１０７−１９から入力される期待値を格納する。つまり、過去データ格納用メモリ１０７−１８が、過去データを期待値として格納する。また、過去データ格納用メモリ１０７−１８は、過去データメモリリード制御部１０７−１７から入力される制御信号に従って、メモリデータコンペア１０７−１６へ期待値を出力する。
メモリデータコンペア１０７−１６は、観測信号選択部１０４によって取得された２回目以降の観測信号と、過去データ格納用メモリ１０７−１８に格納された過去データ（期待値）とを比較する。つまり、メモリデータコンペア１０７−１６は、観測信号選択部１０４から入力された観測信号と、過去データ格納用メモリ１０７−１８から入力された過去データとを比較し、データ比較結果を過去データメモリリード制御部１０７−１７へ出力する。
【００４５】
過去データメモリリード制御部１０７−１７は、レジスタデータコンペア１０７−１２による比較結果と、メモリデータコンペア１０７−１６による比較結果とに基づいて、１回目の観測信号と２回目の観測信号とが一致するか否かの判定結果など、前回の観測信号と今回の観測信号とが一致するか否かの判定結果を出力する。
詳細には、過去データメモリリード制御部１０７−１７は、過去データ格納用メモリ１０７−１８から過去データをＲｅａｄするための制御信号（リードアドレス、リードイネーブル）を出力する。過去データメモリリード制御部１０７−１７には、レジスタデータコンペア１０７−１２からレジスタ一致判定結果が入力され、メモリデータコンペア１０７−１６からデータ比較結果が入力される。レジスタ一致判定結果が有効となった後に、データ比較結果の判定が行われる。メモリデータコンペア１０７−１６からのデータ比較結果が一致を示している場合に、リードアドレスがインクリメントされる。過去データ格納用メモリ１０７−１８に格納されている全サンプルと一致した場合に、一致判定結果が有効とされる。リードアドレスが初期状態以外で、また、メモリデータコンペア１０７−１６から出力されたデータ比較結果が不一致を示している場合に、不一致判定結果が有効とされ、過去に遡った観測信号の取得が失敗したと判定される。
【００４６】
過去データメモリライト制御部１０７−１９には、過去データＷｒｉｔｅ制御信号（過去データ）が外部制御装置１０２から入力される。過去データメモリライト制御部１０７−１９は、メモリ格納するための制御信号（ライトアドレス、ライトイネーブル、ライトデータ）を過去データ格納用メモリ１０７−１８に出力する。
レジスタ及びメモリでの比較サンプル数は、一致判定精度、回路規模等に応じて決定される。シフトレジスタ部１０７−１１のレジスタ数、レジスタデータコンペア１０７−１２の比較器、期待値格納部１０７−１３の期待値格納レジスタ数、および、過去データ格納用メモリ１０７−１８のメモリ容量が、比較サンプル数に応じて決定される。
第３実施形態のデバッグ制御回路１０１では、第２実施形態のデバッグ制御回路１０１で想定される１サンプル目が偶然一致したことによるデータ取得の失敗を防ぎつつ、比較サンプル数が大きい場合に第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と比較して回路規模を抑える効果がある。
【００４７】
＜第４実施形態＞
以下、本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムの第４実施形態について説明する。
第４実施形態のデバッグ制御回路２０１は、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様に構成されている。従って、第４実施形態のデバッグ制御回路２０１によれば、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様の効果を奏することができる。
第４実施形態のデバッグ制御回路２０１は、第１〜第３実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様に、外部制御装置２０２から設定された観測信号の選択、トリガ条件に従って、デバッグ対象回路２０３の内部信号を、デバッグ制御回路２０１内の観測信号格納用メモリ２０９に観測信号として格納するシステムである。
第４実施形態のデバッグ制御回路２０１では、実質的に、第２観測信号選択部２１４が、第１実施形態のデバッグ制御回路１０１に対して追加されている。
【００４８】
図８は第４実施形態のデバッグ制御回路２０１などの一例を示すブロック図である。
図８に示す例では、デバッグ制御回路２０１が、第１観測信号選択部２０４と、第２観測信号選択部２１４と、図２に示すトリガ信号選択部１０５と同様に構成されたトリガ信号選択部２０５と、図２に示すトリガ検出部１０６と同様に構成されたトリガ検出部２０６と、図２に示す過去データ比較部１０７と同様に構成された過去データ比較部２０７と、図２に示すメモリ制御部１０８と同様に構成されたメモリ制御部２０８と、図２に示す観測信号格納用メモリ１０９と同様に構成された観測信号格納用メモリ２０９と、図２に示すトリガカウンタ１１０と同様に構成されたカウンタ２１０とを備えている。
第１観測信号選択部２０４と第２観測信号選択部２１４とは、互いに異なるタイミングで、デバッグ対象回路２０３の内部信号から観測信号を選択して取得する。第１観測信号選択部２０４は、過去データ比較部２０７における比較に用いられる観測データを取得する。第２観測信号選択部２１４は、観測信号格納用メモリ２０９に格納される観測データを取得する。
【００４９】
第４実施形態のデバッグ制御回路２０１では、第２観測信号選択部２１４を第１実施形態のデバッグ制御回路１０１に対して追加することによって、遡ったタイミングで過去データとは異なったデバッグ対象回路２０３の内部信号を観測信号格納用メモリ２０９に格納することが可能となる。また、障害の起因となるタイミングまで遡り、更に、起因となるタイミングの別の信号を用いて障害解析を行うことが可能となる。
第４実施形態のデバッグ制御回路２０１の過去データ比較部２０７として、第１〜第３実施形態の過去データ比較部１０７のいずれを用いてもよい。
【００５０】
＜第５実施形態＞
以下、本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムの第５実施形態について説明する。
第５実施形態のデバッグ制御回路２０１は、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様に構成されている。従って、第５実施形態のデバッグ制御回路２０１によれば、後述する点を除き、上述した第１実施形態のデバッグ制御回路１０１と同様の効果を奏することができる。
【００５１】
図９は第５実施形態のデバッグ制御回路１０１の一例を示すブロック図である。
図９に示す例では、第５実施形態のデバッグ制御回路１０１は、デバッグ対象回路１０３（図２参照）に障害が発生した場合に、デバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングから過去に遡ってデバッグ対象回路１０３の内部信号を観測信号として取得し観測信号格納用メモリ１０９に格納する。
デバッグ制御回路１０１は、デバッグ対象回路１０３の内部信号から観測信号を選択して取得する観測信号選択部１０４と、観測信号選択部１０４によって取得された観測信号を格納する観測信号格納用メモリ１０９と、メモリ制御部１０８と、過去データ比較部１０７と、トリガ検出部１０６とを備える。
１回目の観測信号の取得時に、観測信号格納用メモリ１０９が、観測信号選択部１０４によって取得された１回目の観測信号を格納する。２回目以降（今回）の観測信号の取得時に、観測信号格納用メモリ１０９が、観測信号選択部１０４によって取得された２回目以降の観測信号を格納すると共に、過去データ比較部１０７は、観測信号格納用メモリ１０９に格納された前回の観測信号と、観測信号選択部１０４によって取得された２回目以降（今回）の観測信号とを比較する。
メモリ制御部１０８は、観測信号格納用メモリ１０９に格納された２回目以降（今回）の観測信号が、観測信号格納用メモリ１０９に格納された前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで、観測信号格納用メモリ１０９への２回目以降（今回）の観測信号の書き込みを停止させる。
過去データ比較部１０７は、メモリ制御部１０８によって観測信号格納用メモリ１０９への２回目以降（今回）の観測信号の書き込みが停止させられたタイミングから、２回目以降（今回）のデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングまでの間隔に基づいて、観測信号格納用メモリ１０９に格納された２回目以降（今回）の観測信号と、２回目以降（今回）のデバッグ対象回路１０３の障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定する。
【００５２】
ＬＳＩを機能評価する際の動作不具合が発生した場合、内部回路の動作を把握しながら原因解析を行いたいという要望がある。内部回路の動作を把握する際に、障害発生タイミングから遡ったタイミングの内部信号を用いて解析が行われることがよくあるが、メモリ容量以上の観測信号を取得する場合は時分割で取得する必要があるが、障害発生タイミングに再現性がない場合は時分割で観測信号を取得することが困難となる。そのため、障害発生タイミングに再現性がない場合にも時分割で観測信号を取得することが可能となる本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムが本発明者によって見い出された。
【００５３】
上述のデバッグ制御回路１０１は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述したデバッグ制御回路１０１の各処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。
【００５４】
なお、上述した実施形態におけるデバッグ制御回路１０１が備える各部の機能全体あるいはその一部は、これらの機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することによって実現しても良い。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータシステム」は、ホームページ提供環境（あるいは表示環境）を備えたＷＷＷシステムも含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ（ＲＡＭ）のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
【００５５】
また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【００５６】
その他、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上記した実施の形態における構成要素を周知の構成要素に置き換えることは適宜可能である。また、この発明の技術範囲は上記の実施形態に限られるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明のデバッグ制御回路、デバッグ制御方法およびプログラムは、動作中のＬＳＩやＦＰＧＡの入出力信号又はＬＳＩ内部信号を記憶装置に格納するデバッグシステムに適用可能であり、特に、ＬＳＩの所定のデータ処理機能とは別にＬＳＩ内部又は外部にデバッグシステムを設けた回路に適用可能である。
【符号の説明】
【００５８】
１０１  デバッグ制御回路
１０２  外部制御装置
１０３  デバッグ対象回路
１０４  観測信号選択部
１０５  トリガ信号選択部
１０６  トリガ検出部
１０７  過去データ比較部
１０７−１  シフトレジスタ部
１０７−２  データコンペア
１０７−３  期待値格納部
１０７−４  データライト制御部
１０７−６  データコンペア
１０７−７  過去データリード制御部
１０７−８  過去データ格納用メモリ
１０７−９  過去データライト制御部
１０７−１１  シフトレジスタ部
１０７−１２  レジスタデータコンペア
１０７−１３  期待値格納部
１０７−１４  レジスタライト制御部
１０７−１６  メモリデータコンペア
１０７−１７  過去データメモリリード制御部
１０７−１８  過去データ格納用メモリ
１０７−１９  過去データメモリライト制御部
１０８  メモリ制御部
１０９  観測信号格納用メモリ
１１０  トリガカウンタ
２０１  デバッグ制御回路
２０２  外部制御装置
２０３  デバッグ対象回路
２０４  第１観測信号選択部
２０５  トリガ信号選択部
２０６  トリガ検出部
２０７  過去データ比較部
２０８  メモリ制御部
２０９  観測信号格納用メモリ
２１０  カウンタ
２１４  第２観測信号選択部
【要約】      （修正有）【課題】障害の再現性はあるが障害発生タイミングに再現性がない場合でも、障害発生タイミングから過去に遡ってデバッグ対象回路の内部信号を適切に取得する。【解決手段】デバッグ制御回路１０１は、障害が発生したデバッグ対象回路１０３の内部信号を観測信号として観測信号格納用メモリ１０９に格納する。過去データ比較部１０７は、２回目以降の観測信号と２回目以降の観測信号の取得時の前回の観測信号の取得時に取得されて観測信号格納用メモリに格納された前回の観測信号とを比較する。メモリ制御部１０８は、観測信号格納用メモリに格納された２回目以降の観測信号が、前回の観測信号の所定割合に一致したタイミングで観測信号格納用メモリへの２回目以降の観測信号の書き込みを停止させる。書き込みが停止させられたタイミングから障害発生タイミングまでの間隔に基づいて２回目以降の観測信号と障害発生タイミングとの関係が正しいか否かを判定する。【選択図】図２【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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