(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ  ｃｏｎｔｒｏｌ  ｕｎｉｔ）の制御によって第１の周波数信号を生成する第１の信号発生器と、第１の自動レベル制御（ＡＬＣ）回路の制御によって前記第１の周波数信号を増幅して第１の増幅周波数信号を生成する第１のパワーアンプとを具備した第１の信号増幅モジュールと；
第２のＭＣＵの制御によって第２の周波数信号を生成する第２の信号発生器と、第２の自動レベル制御回路の制御によって前記第２の周波数信号を増幅して第２の増幅周波数信号を生成する第２のパワーアンプとを具備した第２の信号増幅モジュールと；
前記第１の増幅周波数信号と前記第２の増幅周波数信号を利用してテスト周波数信号を抽出し、前記テスト周波数信号を被測定装置に送信し、これに伴い、前記被測定装置から反射するＰＩＭ信号を受信するトリプレクサーモジュールと；を含み、
前記トリプレクサーモジュールは、
前記テスト周波数信号をカップリングする方向性結合器と、前記方向性結合器からカップリングされた信号を分離してカップリング周波数信号を生成する分配器と、をさらに含み、
前記カップリング周波数信号を前記第１の信号増幅モジュールまたは前記第２の信号増幅モジュールに伝送するモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項２】
前記第１の信号増幅モジュール、前記第２の信号増幅モジュールまたは前記トリプレクサーモジュールは、前記被測定装置の使用周波数帯域によって交替するように脱着可能である、請求項１に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項３】
前記第１の信号増幅モジュールは、
前記第１の増幅周波数信号をカップリングしてカップリング周波数信号を生成する方向性結合器をさらに含み、
前記カップリング周波数信号を前記第１のＭＣＵに伝送する、請求項１に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項４】
前記第１の信号増幅モジュールは、前記第１のＭＣＵと電気的に連結される混合器（Ｍｉｘｅｒ）をさらに含み、
前記混合器は、受信したカップリング周波数信号を既定の周波数値に基づいて周波数を変換した後、変換されたカップリング周波数信号を前記第１のＭＣＵに伝送する、請求項１に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項５】
前記変換されたカップリング周波数信号は、前記受信したカップリング周波数信号の周波数値から前記既定の周波数値を差し引いた周波数を有する信号として獲得される、請求項４に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項６】
前記第１のＭＣＵは、カップリング周波数信号および前記カップリング周波数信号の値として予測された予測周波数信号に基づいて前記第１の信号発生器を制御し、
前記カップリング周波数信号は、前記第１の増幅周波数信号からカップリングされた信号または前記テスト周波数信号からカップリングされ分離された信号のうち一つである、請求項１に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項７】
前記第１のＭＣＵは、カップリング周波数信号が前記カップリング周波数信号の値として予測された予測周波数信号と差異が存在する場合、前記差異を相殺させる信号が発生するように前記第１の信号発生器を制御し、
前記カップリング周波数信号は、前記第１の増幅周波数信号からカップリングされた信号であるか、前記テスト周波数信号からカップリングされ分離された信号のうち一つである、請求項１に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項８】
前記ＰＩＭ信号に基づいてＰＩＭ関連情報を生成する分析モジュールをさらに含む、請求項１に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【請求項９】
前記分析モジュールは、前記ＰＩＭ関連情報を外部機器に伝送する、請求項８に記載のモジュール化したＰＩＭ分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＰＩＭ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｉｎｔｅｒｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）分析装置および方法に関し、より詳細には、モジュール化したＰＩＭ分析装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＰＩＭまたはＰＩＭＤ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｉｎｔｅｒｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ｄｉｓｔｏｒｔｉｏｎ）を測定、分析する機器が開発されているが、被測定装置の使用周波数帯域によって異なる機器を使用しなければならないという不便さがあった。また、被測定装置が多重帯域範囲である場合、様々な機器を使用してテストしなければならないという不便さがあった。また、多重周波数帯域に適用される機器の場合には、体積と重さが大きくなるという問題点があった。
【０００３】
また、テスト周波数信号の制御のために、信号発生器（Ｓｉｇｎａｌ  Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）およびパワーアンプ（Ｈｉｇｈ  Ｐｏｗｅｒ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ，ＨＰＡ）のそれぞれにＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｕｎｉｔ）が必要であるという問題点があった。
【０００４】
また、テスト周波数信号が周波数や温度によって損失が発生する場合、これを補償しにくいという問題点があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】韓国特許登録第１０−１６０３６１１号公報（登録日２０１６年３月９日）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、前記のような問題点を解決するために案出されたものであって、被測定装置の使用周波数帯域によって交替するように脱着可能なモジュール化したＰＩＭ分析装置および方法を提供する。
【０００７】
また、一つのＭＣＵにて信号発生器とパワーアンプを制御するモジュール化したＰＩＭ分析装置および方法を提供する。
【０００８】
また、テスト周波数信号の損失を補償するように出力を制御するモジュール化したＰＩＭ分析装置および方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記のような目的を達成するために、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置は、第１のＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ  ｃｏｎｔｒｏｌ  ｕｎｉｔ）の制御によって第１の周波数信号を生成する第１の信号発生器と、第１の自動レベル制御（ＡＬＣ）回路の制御によって前記第１の周波数信号を増幅して第１の増幅周波数信号を生成する第１のパワーアンプとを具備した第１の信号増幅モジュールと；第２のＭＣＵの制御によって第２の周波数信号を生成する第２の信号発生器と、第２の自動レベル制御回路の制御によって前記第２の周波数信号を増幅して第２の増幅周波数信号を生成する第２のパワーアンプとを具備した第２の信号増幅モジュールと；前記第１の増幅周波数信号と前記第２の増幅周波数信号を利用してテスト周波数信号を抽出し、前記テスト周波数信号を被測定装置に送信し、これに伴い、前記被測定装置から反射するＰＩＭ信号を受信するトリプレクサーモジュールと；を含む。
【００１０】
前記第１の信号増幅モジュール、前記第２の信号増幅モジュールまたは前記トリプレクサーモジュールは、前記被測定装置の使用周波数帯域によって交替するように脱着可能である。
【００１１】
前記テスト周波数信号をカップリングする方向性結合器と、前記方向性結合器からカップリングされた信号を分離してカップリング周波数信号を生成する分配器とをさらに含み、前記カップリング周波数信号を前記第１の信号増幅モジュールまたは前記第２の信号増幅モジュールに伝送することができる。
【００１２】
前記第１の増幅周波数信号をカップリングしてカップリング周波数信号を生成する方向性結合器をさらに含み、前記カップリング周波数信号を前記第１のＭＣＵに伝送することができる。
【００１３】
前記第１の信号増幅モジュールは、前記第１のＭＣＵと電気的に連結される混合器（Ｍｉｘｅｒ）をさらに含み、前記混合器は、受信したカップリング周波数信号を既定の周波数値に基づいて周波数を変換した後、変換されたカップリング周波数信号を前記第１のＭＣＵに伝送することができる。
【００１４】
前記変換されたカップリング周波数信号は、前記受信したカップリング周波数信号の周波数値から前記既定の周波数値を差し引いた周波数を有する信号として獲得され得る。
【００１５】
前記第１のＭＣＵは、カップリング周波数信号および前記カップリング周波数信号の値として予測された予測周波数信号に基づいて前記第１の信号発生器を制御し、前記カップリング周波数信号は、前記第１の増幅周波数信号からカップリングされた信号または前記テスト周波数信号からカップリングされ分離された信号のうち一つであってもよい。
【００１６】
前記第１のＭＣＵは、カップリング周波数信号が前記カップリング周波数信号の値として予測された予測周波数信号と差異が存在する場合、前記差異を相殺させる信号が発生するように前記第１の信号発生器を制御し、前記カップリング周波数信号は、前記第１の増幅周波数信号からカップリングされた信号であるか、前記テスト周波数信号からカップリングされ分離された信号のうち一つであってもよい。
【００１７】
前記ＰＩＭ信号に基づいてＰＩＭ関連情報を生成する分析モジュールをさらに含むことができる。
【００１８】
前記分析モジュールは、前記ＰＩＭ関連情報を外部機器に伝送することができる。
【００１９】
また、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置によるＰＩＭ分析方法は、第１の信号増幅モジュールが、第１のＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ  ｃｏｎｔｒｏｌ  ｕｎｉｔ）の制御によって第１の周波数信号を生成し、第１の自動レベル制御（ＡＬＣ）回路の制御によって前記第１の周波数信号を増幅して、第１の増幅周波数信号を生成する段階と；第２の信号増幅モジュールが、第２のＭＣＵの制御によって第２の周波数信号を生成し、第２の自動レベル制御回路の制御によって前記第２の周波数信号を増幅して、第２の増幅周波数信号を生成する段階と；トリプレクサーモジュールが、前記第１の増幅周波数信号と前記第２の増幅周波数信号をフィルタリングしてテスト周波数信号を抽出し、前記テスト周波数信号を被測定装置に送信する段階と；前記トリプレクサーモジュールが、前記被測定装置から前記テスト周波数信号の送信によって反射するＰＩＭ信号を受信する段階と；分析モジュールが、前記ＰＩＭ信号に基づいてＰＩＭ関連情報を生成する段階と；を含む。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置および方法は、被測定装置の使用周波数帯域によって交替するように脱着可能であるので、ＰＩＭ分析装置が様々な帯域の周波数に適用が可能であり、かつ、体積と重さが増加しない効果を有する。
【００２１】
また、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置および方法は、一つのＭＣＵにて信号発生器とパワーアンプを制御することによって、パワーアンプのＭＣＵが除去されて、構成が簡素化される効果を有する。
【００２２】
また、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置および方法は、テスト周波数信号の損失を補償するように出力を制御することによって、テスト周波数信号が周波数や温度によって損失が発生する場合、これを補償できる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
本発明の詳細な説明で引用される図面をより十分に理解するために、各図面の詳細な説明が提供される。
【図１】本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置を説明するブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態によるＰＩＭ分析方法を説明するフローチャートである。
【図３】本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置が製作された様子の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
本明細書に開示されている本発明の概念による実施形態について特定の構造的または機能的説明は、単に本発明の概念による実施形態を説明するための目的で例示されたものであって、本発明の概念による実施形態は、多様な形態で実施され得、本明細書に説明された実施形態に限定されない。
【００２５】
本発明の概念による実施形態は、多様な変更を加えることができ、様々な形態を有することができるので、実施形態を図面に例示し、本明細書で詳細に説明する。しかし、これは、本発明の概念による実施形態を特定の開示形態について限定しようとするものではなく、本発明の思想および技術範囲に含まれるすべての変更、均等物、または代替物を含む。
【００２６】
第１または第２等の用語は、多様な構成要素を説明するのに使用され得るが、前記構成要素は、前記用語により限定されてはならない。前記用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別する目的だけで、例えば本発明の概念による権利範囲を外れないまま、第１構成要素は第２構成要素と命名され得、同様に、第２構成要素は、第１構成要素と命名され得る。
【００２７】
ある構成要素が他の構成要素に「連結されて」いるか、「接続されて」いると言及された時には、該他の構成要素に直接的に連結されているか、または接続されていてもよいが、中間に他の構成要素が存在してもよいものと理解されなければならない。一方で、ある構成要素が他の構成要素に「直接連結されて」いるか、「直接接続されて」いると言及された時には、中間に他の構成要素が存在しないものと理解されなければならない。構成要素間の関係を説明する他の表現、すなわち「〜の間に」と「すぐに〜の間に」または「〜に隣り合う」と「〜に直接隣り合う」等も、同様に解されなければならない。
【００２８】
本明細書で使用した用語は、単に特定の実施形態を説明するために使用されたものであって、本発明を限定しようとする意図ではない。単数の表現は、文脈上明白に異なって意味しない限り、複数の表現を含む。本明細書において、「含む」または「有する」等の用語は、本明細書に記載された特徴、数字、段階、動作、構成要素、部分品またはこれらを組み合わせたものが存在することを指定しようとするものであって、一つまたはそれ以上の他の特徴や数字、段階、動作、構成要素、部分品またはこれらを組み合わせたもの等の存在または付加可能性をあらかじめ排除しないものと理解されなければならない。
【００２９】
異なって定義されない限り、技術的や科学的な用語を含んでここで使用されるすべての用語は、本発明の属する技術分野における通常の知識を有する者により一般的に理解されるものと同じ意味を示す。一般的に使用される辞書に定義されているような用語は、関連技術の文脈上有する意味と一致する意味を有するものと解されなければならず、本明細書で明白に定義しない限り、理想的または過度に形式的な意味と解されない。
【００３０】
図１は、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置を説明するブロック図である。以下、図１を参照してモジュール化したＰＩＭ分析装置１０を詳細に説明する。
【００３１】
モジュール化したＰＩＭ分析装置１０は、第１の信号増幅モジュール１００、第２の信号増幅モジュール２００、トリプレクサーモジュール３００を含んで構成され得る。また、モジュール化したＰＩＭ分析装置１０は、分析モジュール４００をさらに含んで構成され得る。
【００３２】
第１の信号増幅モジュール１００、第２の信号増幅モジュール２００またはトリプレクサーモジュール３００は、被測定装置２０の使用周波数帯域によって交替するように脱着可能に構成され得る。
【００３３】
第１の信号増幅モジュール１００は、第１のＭＣＵ１１０、第１の信号発生器１２０、第１のパワーアンプ１３０を含むことができる。また、第１の信号増幅モジュール１００は、第１のアイソレーター１４０をさらに含むことができる。
【００３４】
第２の信号増幅モジュール２００は、第２のＭＣＵ２１０、第２の信号発生器２２０、第２のパワーアンプ２３０を含むことができる。また、第２の信号増幅モジュール２００は、第２のアイソレーター２４０をさらに含むことができる。
【００３５】
第１の信号増幅モジュール１００と第２の信号増幅モジュール２００は、物理的に同一に構成され得る。したがって、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置１０は、二つの信号増幅モジュールで発生する周波数信号を区分するために、第１の信号増幅モジュール１００と第２の信号増幅モジュール２００とに区分したものと理解しなければならない。すなわち、以下では、第１の信号増幅モジュール１００および第１の信号増幅モジュール１００の下位構成要素に関する説明は、別に言及しなくても、第２の信号増幅モジュール２００および第２の信号増幅モジュール２００の下位構成要素にも同一に適用され得る。
【００３６】
第１のＭＣＵ１１０の「ＭＣＵ」は、マイクロコントロールユニット（Ｍｉｃｒｏ  ｃｏｎｔｒｏｌ  ｕｎｉｔ）であって、第１のＭＣＵ１１０は、第１の周波数信号の生成と維持を制御することができる。すなわち、第１のＭＣＵ１１０は、第１の周波数信号を生成する第１の信号発生器１２０を制御することができる。
【００３７】
第１の信号発生器１２０の「信号発生器」は、ＳＧ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）とも言い、第１の信号発生器１２０は、第１の周波数信号を生成することができる。
【００３８】
第１のパワーアンプ１３０の「パワーアンプ」は、ＨＰＡ（Ｈｉｇｈ  Ｐｏｗｅｒ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）とも言い、第１のパワーアンプ１３０は、第１の周波数信号を増幅させて第１の増幅周波数信号を生成することができる。第１の増幅周波数信号の生成と維持を制御するために、第１の自動レベル制御回路が具現され得る。
【００３９】
第１の自動レベル制御回路の「自動レベル制御回路」とは、ＡＬＣ（Ａｕｔｏ  Ｌｅｖｅｌ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路とも言い、出力された信号の値を一定値に維持させるための制御回路と言える。すなわち、第１の自動レベル制御回路は、第１の増幅周波数信号が一定に生成されて維持され得るように制御する機能を行うことができる。
【００４０】
本発明では、第１の自動レベル制御回路の構成によって、一つのＭＣＵだけで第１の周波数信号の制御と第１の増幅周波数信号の制御を行うことができる。
【００４１】
第１のアイソレーター１４０は、第１のパワーアンプ１３０から出力された第１の増幅周波数信号を通過させてトリプレクサーモジュール３００に伝送することができる。第１のアイソレーター１４０は、トリプレクサーモジュール３００から第１のパワーアンプ１３０の出力端側に反射する信号の流入を遮断することができる。
【００４２】
第２の信号増幅モジュール２００の場合にも、第２のＭＣＵ２１０の制御によって第２の信号発生器２２０が第２の周波数信号を生成することができ、第２のパワーアンプ２３０は、第２の自動レベル制御回路の制御によって第２の周波数信号を増幅して第２の増幅周波数信号を生成することができる。
【００４３】
トリプレクサー（Ｔｒｉｐｌｅｘｅｒ）モジュール３００は、第１のフィルター３１０、第２のフィルター３２０、第１のＰＩＭフィルター３３０、第２のＰＩＭフィルター３４０を含んで構成され得る。
【００４４】
トリプレクサーモジュール３００は、第１の増幅周波数信号と第２の増幅周波数信号を利用してテスト周波数信号を抽出することができる。テスト周波数信号は、次のような過程で抽出され得る。
【００４５】
第１の増幅周波数信号は、第１のフィルター３１０を介して、被測定装置２０のＰＩＭ測定のために必要な信号を除いた不要な部分を除去することができる。第２の増幅周波数信号も、第２のフィルター３２０を介して、被測定装置２０のＰＩＭ測定のために必要な信号を除いた不要な部分を除去することができる。例えば、不要な部分は、意図しない周波数帯域のノイズなどになり得る。
【００４６】
第１の増幅周波数信号と第２の増幅周波数信号が、それぞれ第１のフィルター３１０と第２のフィルター３２０を介してフィルタリングされた後、テスト周波数信号が抽出され得る。
【００４７】
トリプレクサーモジュール３００は、テスト周波数信号を被測定装置２０に送信することができる。テスト周波数信号を被測定装置に送信する場合、これに伴い、被測定装置２０からＰＩＭ信号が反射することができる。
【００４８】
トリプレクサーモジュール３００は、ＰＩＭ信号を受信することができる。トリプレクサーモジュール３００は、ＰＩＭ信号を受信した後、次のような過程を経てＰＩＭ信号を分析モジュール４００に伝送することができる。
【００４９】
第１のＰＩＭフィルター３３０は、被測定装置２０から反射したＰＩＭ信号からＰＩＭ分析のために不要な信号を除去するためにフィルタリングすることができる。第１のＰＩＭフィルター３３０を通過したＰＩＭ信号は、第２のＰＩＭフィルター３４０を介してＰＩＭ成分に該当する特定の周波数帯域の信号を選択的に通過させることができる。例えば、第２のＰＩＭフィルター３４０としては、セラミックフィルターが適用され得る。第２のＰＩＭフィルター３４０を通過したＰＩＭ信号は、分析モジュール４００に伝送され得る。
【００５０】
分析モジュール４００は、ＰＩＭ信号プリアンプ４１０とＰＩＭ分析部４２０を含んで構成され得る。
【００５１】
ＰＩＭ信号プリアンプ４１０は、トリプレクサーモジュール３００から受信したＰＩＭ信号を増幅させることができる。ＰＩＭ信号を増幅した後、ＰＩＭ分析部４２０は、ＰＩＭ信号に基づいてＰＩＭ関連情報を生成することができる。本発明においてＰＩＭ関連情報とは、被測定装置２０で発生するＰＩＭに関連した情報を意味する。例えば、ＰＩＭ関連情報は、ＰＩＭ測定値だけであってもよく、ＰＩＭの発生位置または測定時間情報、被測定装置２０に関する情報などをさらに含むこともできる。
【００５２】
分析モジュール４００は、ＰＩＭ関連情報を外部機器３０に伝送することができる。本発明において外部機器３０とは、ＰＣ、ラップトップ、タブレットＰＣ、モバイル端末などＰＩＭ関連情報を受信して確認、保存または加工できる装置を意味する。
【００５３】
以上のように、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置１０を介した被測定装置２０のＰＩＭ分析のための過程を説明した。
【００５４】
以下の説明では、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置１０がより正確にＰＩＭを測定または分析するために含まれた構成を記述する。
【００５５】
第１の信号増幅モジュール１００は、第１の方向性結合器１５０、第１の混合器１６０、第１の局部発振器１７０、第１の検出器１８０をさらに含むことができる。第２の信号増幅モジュール２００も同様に、第２の方向性結合器２５０、第２の混合器２６０、第２の局部発振器２７０、第２の検出器２８０をさらに含むことができる。
【００５６】
トリプレクサーモジュール３００は、方向性結合器３５０、分配器（Ｄｉｖｉｄｅｒ）３６０をさらに含むことができる。
【００５７】
第１の信号増幅モジュール１００の第１の方向性結合器１５０は、第１の増幅周波数信号をカップリングしてカップリング周波数信号を生成することができる。カップリング周波数信号は、第１のＭＣＵ１１０に伝送され得る。
【００５８】
トリプレクサーモジュール３００の方向性結合器３５０は、テスト周波数信号をカップリングすることができる。分配器３６０は、方向性結合器３５０からカップリングされた信号を分離することができる。すなわち、分配器３６０は、カップリングされた信号を各周波数に該当する信号に分離することができる。方向性結合器３５０と分配器３６０を介して生成されたカップリング周波数信号は、分離した周波数値によって第１の信号増幅モジュール１００または第２の信号増幅モジュール２００に伝送され得る。例えば、第１のＭＣＵ１１０に伝送することができる。
【００５９】
以上のような過程を通じて、第１のＭＣＵ１１０は、カップリング周波数信号を受信することができる。すなわち、カップリング周波数信号は、第１の増幅周波数信号からカップリングされた信号またはテスト周波数信号からカップリングされ分離された信号のうち一つであってもよい。
【００６０】
ただし、第１のＭＣＵ１１０がカップリング周波数信号を入力される前に、下記のようにカップリング周波数信号の周波数変換と信号検出過程をさらに含むことができる。このような過程は、ＭＣＵが処理できる周波数帯域の信号に変換するための過程である。
【００６１】
周波数変換のために、第１の混合器１６０と第１の局部発振器１７０が使用され得る。
【００６２】
第１の混合器１６０は、第１のＭＣＵ１１０と電気的に連結される混合器（Ｍｉｘｅｒ）であってもよい。
【００６３】
第１の混合器１６０は、受信したカップリング周波数信号を既定の周波数値に基づいて周波数を変換することができる。既定の周波数値は、第１の局部発振器１７０によって発生する周波数値と言える。
【００６４】
例えば、第１の混合器１６０を介して変換されたカップリング周波数信号は、元々カップリング周波数信号の周波数値から局部発振器１７０で発生した既定の周波数値を差し引いた周波数を有する信号として獲得され得る。すなわち、第１の混合器１６０で元々のカップリング周波数信号を下向き変換して低くなった周波数を有する変換されたカップリング周波数信号を得ることができる。このような過程を通じて変換されたカップリング周波数信号は、第１のＭＣＵで処理が可能な範囲の周波数を有することができる。
【００６５】
変換されたカップリング周波数信号は、第１の検出器１８０を通過して第１のＭＣＵ１１０に入力され得る。第１の検出器１８０は、変換されたカップリング周波数信号を検出する機能をし、ダイオードなどの素子で具現され得る。
【００６６】
第１のＭＣＵ１１０は、受信された実際のカップリング周波数信号およびカップリング周波数信号の値として予測された予測周波数信号に基づいて第１の信号発生器１２０を制御することができる。
【００６７】
本発明において「カップリング周波数信号の値として予測された予測周波数信号」は、第１のＭＣＵ１１０の内部演算などにより計算されて予測された値であるか、あらかじめ保存されて予測された値であって、カップリング周波数信号に同調された信号である元々の出力周波数信号が有すると予想し意図された信号を意味する。例えば、第１のＭＣＵ１１０が予測した第１の増幅周波数信号またはテスト周波数信号であってもよい。
【００６８】
第１のＭＣＵ１１０の制御は、次の通りである。例えば、第１のＭＣＵ１１０は、受信された実際のカップリング周波数信号が予測していた予測周波数信号と差異が存在するか否かを確認することができる。差異が存在する場合、第１のＭＣＵ１１０は、このような差異を補償するようにする信号が発生するように、第１の信号発生器１２０にフィードバックを与える機能をすることができる。
【００６９】
例えば、第１のＭＣＵ１１０から第１の信号発生器１２０にフィードバックを与えるとき、第１の信号発生器１２０の回路構成に含まれたＶＶＡ（Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｖａｒｉａｂｌｅ  Ａｔｔｅｎｕａｔｏｒ）チップに第１のＭＣＵ１１０にあらかじめ入力されたテーブル値によって選択される当該電圧値を入力することができる。ＶＶＡチップは、入力される電圧値によってその減殺値を変化して、第１の信号発生器１２０に変化した値を印加することができる。第１のＭＣＵ１１０にあらかじめ入力されたテーブル値の信号レベルの間隔がこまかいほど、結果的に、第１の増幅周波数信号またはテスト周波数信号が変化する幅が少なくなり得る。すなわち、出力される第１の増幅周波数信号またはテスト周波数信号を細かく調整することができる。
【００７０】
第１のＭＣＵ１１０の上述したフィードバック機能を通じて第１の信号発生器１２０で発生する第１の周波数信号を適正に調整することができ、結果的に、意図した値と一致する第１の増幅周波数信号またはテスト周波数信号を出力することができる。
【００７１】
本発明の一実施形態によるＰＩＭ分析装置１０は、このようなフィードバックおよび調整過程を繰り返して行うことができる。
【００７２】
したがって、被測定装置２０の検査しようとする周波数帯域の変更のために、第１の信号増幅モジュール１００、第２の信号増幅モジュール２００またはトリプレクサーモジュール３００を変更することによって、周波数変動や温度変化による損失を補償することができる。したがって、モジュールの変更過程によるＰＩＭ分析装置１０のＰＩＭ測定または分析結果の正確度が劣る問題を解決することができる。
【００７３】
図２は、本発明の一実施形態によるＰＩＭ分析方法を説明するフローチャートである。以下、図２を参照して本発明の一実施形態によるＰＩＭ分析方法を説明する。
【００７４】
本発明の一実施形態によるＰＩＭ分析方法は、上述したモジュール化したＰＩＭ分析装置１０により行われ得る。したがって、上述したＰＩＭ分析装置１０の原理がＰＩＭ分析方法に同一に適用され得る。
【００７５】
まず、第１の信号増幅モジュール１００が第１の増幅周波数信号を生成する（Ｓ２０１）。第１の信号増幅モジュール１００が、第１のＭＣＵ１１０の制御によって第１の周波数信号を生成し、第１の自動レベル制御回路の制御によって第１の周波数信号を増幅して第１の増幅周波数信号を生成することができる。
【００７６】
次に、第２の信号増幅モジュール２００が第２の増幅周波数信号を生成する（Ｓ２０２）。第２の信号増幅モジュール２００が、第２のＭＣＵ２１０の制御によって第２の周波数信号を生成し、第２の自動レベル制御回路の制御によって第２の周波数信号を増幅して第２の増幅周波数信号を生成することができる。
【００７７】
次に、トリプレクサーモジュール３００がテスト周波数信号を抽出し、これを被測定装置２０に送信する（Ｓ２０３）。トリプレクサーモジュール３００が、第１の増幅周波数信号と第２の増幅周波数信号を利用してテスト周波数信号を抽出し、テスト周波数信号を被測定装置２０に送信することができる。
【００７８】
次に、トリプレクサーモジュール３００が被測定装置２０からＰＩＭ信号を受信する（Ｓ２０４）。被測定装置２０からテスト周波数信号の送信によって反射するＰＩＭ信号を受信することができる。
【００７９】
次に、分析モジュール４００がＰＩＭ信号に基づいてＰＩＭ関連情報を生成する（Ｓ２０５）。
【００８０】
図３は、本発明の一実施形態によるモジュール化したＰＩＭ分析装置が製作された様子の一例を示す図である。
【００８１】
モジュール化したＰＩＭ分析装置１０には、脱着型モジュール１１が装着され得る。被測定装置２０の使用周波数帯域によって当該周波数帯域に合う脱着型モジュール１１を選択して、モジュール化したＰＩＭ分析装置１０に装着させることができる。
【００８２】
本発明において脱着型モジュール１１は、上述したように、第１の信号増幅モジュール１００、第２の信号増幅モジュール２００またはトリプレクサーモジュール３００になり得る。または、このようなモジュールの組合せにより脱着型モジュール１１が製作されることもできる。
【００８３】
上記実施形態に関する説明において参照された図面のそれぞれは、説明の便宜のために図示された一実施形態に過ぎず、各画面に表示された情報の項目、内容とイメージは、多様な形態に変形されて表示され得る。
【００８４】
本発明は、図面に示された一実施形態を参考して説明されたが、これは、例示的なものに過ぎず、本技術分野における通常の知識を有する者であれば、これから多様な変形および均等な他の実施形態が可能であるという点を理解することができる。したがって、本発明の真正な技術的保護範囲は、添付の特許請求の範囲の技術的思想によって定めらなければならない。
【符号の説明】
【００８５】
１０  モジュール化したＰＩＭ分析装置
１１  脱着型モジュール
２０  被測定装置
３０  外部機器
１００  第１の信号増幅モジュール
１１０  第１のＭＣＵ
１２０  第１の信号発生器
１３０  第１のパワーアンプ
１４０  第１のアイソレーター
１５０  第１の方向性結合器
１６０  第１の混合器
１７０  第１の局部発振器
１８０  第１の検出器
２００  第２の信号増幅モジュール
２１０  第２のＭＣＵ
２２０  第２の信号発生器
２３０  第２のパワーアンプ
２４０  第２のアイソレーター
２５０  第２の方向性結合器
２６０  第２の混合器
２７０  第２の局部発振器
２８０  第２の検出器
３００  トリプレクサーモジュール
３１０  第１のフィルター
３２０  第２のフィルター
３３０  第１のＰＩＭフィルター
３４０  第２のＰＩＭフィルター
３５０  方向性結合器
３６０  分配器
４００  分析モジュール
４１０  ＰＩＭ信号プリアンプ
４２０  ＰＩＭ分析部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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