(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷回路基板の上側に複数のテストポイントを第１ピッチで形成するステップと、
前記印刷回路基板に、複数のパッドを第２ピッチで形成するステップと、
前記複数のテストポイントおよび前記複数のパッドの各々を電気的に連結するステップと、
を有し、
前記第１ピッチの前記複数のテストポイントを形成するステップは、
前記複数のテストポイントが前記第１ピッチを維持し、斜線方向に位置ずれするように配列するステップを含み、
前記複数のテストポイントは、
前記複数のパッドのうち対応するパッドと接して設けられる第１のテストポイントと、前記第１のテストポイントと隣り合い、対応するパッドと連結部を介して接続される第２のテストポイントと、を備え、
前記第２ピッチは前記第１ピッチと異なる、
印刷回路基板の製造方法。
【請求項２】
前記第２ピッチは、前記第１ピッチより小さい、請求項１に記載の印刷回路基板の製造方法。
【請求項３】
前記第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、
前記第２ピッチは１ｍｍ〜１．２７ｍｍピッチである、請求項１または２に記載の印刷回路基板の製造方法。
【請求項４】
前記第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、
前記第２ピッチは１．２７ｍｍピッチである、請求項１から３のいずれか一項に記載の印刷回路基板の製造方法。
【請求項５】
前記印刷回路基板に第２ピッチのピンを有するコネクタを実装し、
前記ピンと前記複数のパッドの各々を電気的に連結するステップをさらに含む、請求項１から４のいずれか一項に記載の印刷回路基板の製造方法。
【請求項６】
実装された前記コネクタを前記印刷回路基板上から除去するステップを含む、請求項５に記載の印刷回路基板の製造方法。
【請求項７】
印刷回路基板であって、
前記印刷回路基板の上側に第１ピッチの複数のテストポイントと、
前記印刷回路基板に、第２ピッチの複数のパッドと、
を含み、
前記複数のテストポイントおよび前記複数のパッドの各々は電気的に連結される連結部を有し、
前記複数のテストポイントは、
前記複数のパッドのうち対応するパッドと接して設けられる第１のテストポイントと、前記第１のテストポイントと隣り合い、対応するパッドと連結部を介して接続される第２のテストポイントと、を備え、
前記第１ピッチを維持し、斜線方向に位置ずれするように配列され、
前記第２ピッチは前記第１ピッチと異なる、
印刷回路基板。
【請求項８】
前記第２ピッチは、前記第１ピッチより小さい、請求項７に記載の印刷回路基板。
【請求項９】
前記第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、
前記第２ピッチは１ｍｍ〜１．２７ｍｍピッチである、請求項７または８に記載の印刷回路基板。
【請求項１０】
前記第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、
前記第２ピッチは１．２７ｍｍピッチである、請求項７から９のいずれか一項に記載の印刷回路基板。
【請求項１１】
第２ピッチのピンを有し、
前記ピンと前記複数のパッドの各々が電気的に連結された前記印刷回路基板に実装されたコネクタをさらに含む、請求項７から１０のいずれか一項に記載の印刷回路基板。
【請求項１２】
前記コネクタは、前記印刷回路基板上から除去可能に実装される、請求項１１に記載のテストポイントを有する印刷回路基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本出願は２０１８年０１月３０日に韓国特許出願第１０−２０１８−００１１１７１号に基づいた優先権の利益を主張し、上記韓国特許出願の文献に開示された全ての内容は本明細書の一部として含まれる。
【０００２】
本発明は、テストポイントを有する印刷回路基板の製造方法およびこれにより製造される印刷回路基板に関し、印刷回路基板にテストポイントとパッドを形成した後、テストポイントとパッドを電気的に連結することによって、従来のピッチより小さいピッチの間隔を有するパッドを形成することができ、これに従来のコネクタより小さいコネクタを実装して印刷回路基板の小型化に寄与することができ、印刷回路基板にコネクタを使用し除去した後にも既に形成されたテストポイントをそのまま使用できるという利点がある、テストポイントを有する印刷回路基板の製造方法およびこれにより製造される印刷回路基板に関する。
【背景技術】
【０００３】
印刷回路基板は、電子回路の部品が取り付けられる領域であって、一般に回路パターンに沿って配線を印刷し、印刷領域を除いた残りの部分はエッチングさせる印刷方法により作られる。
【０００４】
このような印刷回路基板には、印刷回路基板に取り付けられる素子そのものの不良、その素子などの不正確な取り付け、あるいは印刷回路基板上の不正確なパターン印刷などの種々の問題が発生しうる。
【０００５】
上記のような問題を解決するために、印刷回路基板の修理および点検のために外部に引き出した測定端子を有した特定の試験部分をテストポイント（Ｔｅｓｔｐｏｉｎｔ）という。
【０００６】
従来の工程過程においては、印刷回路基板に別にテストポイントを形成せず、印刷回路基板に形成されたパッドにホールタイプ（Ｈｏｌｅ  Ｔｙｐｅ）コネクタを用いた後、コネクタを除去した所に残っているパッドのホールをジグ（Ｊｉｇ）と電気的に連結してテストポイントとして使用して追加のテストなどの工程処理を行ってきた。
【０００７】
一方、印刷回路基板上に用いられるコネクタが印刷回路基板上で多くの空間を占めると、印刷回路基板そのものの大きさが大きくなるしかない。印刷回路基板の大きさを減らすために従来のコネクタより小さいコネクタを用いる場合、コネクタの除去後に残っているホールは従来のジグのピッチ（Ｐｉｔｃｈ）の間隔と合わないため、テストポイントとして使用することができない。したがって、これをテストポイントとして使用するためには、従来のコネクタより小さいコネクタのピッチ間隔に合うジグを別に作らなければならない。しかし、この場合、テストポイントと電気的に連結されるジグのピン（Ｐｉｎ）間のホールが過度に近くなることによってジグ製作時にホールを開ける間にジグが破損したりもし、ジグのピン厚さが薄くなることによりテスト進行時にジグの反りや破損が発生したりするという問題があった。また、従来のコネクタより小さいコネクタを用いる場合、従来のジグを用いることができないため、従来のジグのピッチ規格に合うテストポイントをコネクタの近くに別に形成してこそ、コネクタを除去した後にも従来のジグを用いてテストポイントを使用することができた。この場合には、従来のコネクタより小さいコネクタと従来のジグのピッチ規格に合うテストポイントが印刷回路基板上で占める空間が従来のコネクタが印刷回路基板上で占める空間と大きな差がないため、コネクタを小型化する意味がない。このことから、従来のコネクタより小さいコネクタは、量産工程が必要な課題の場合には使用することができなった。
【０００８】
そこで、本発明者は、上述した量産工程が必要な課題の場合に従来のコネクタより小さいコネクタを用いることができないという問題を解決するために、印刷回路基板にテストポイントとパッドを形成した後、テストポイントとパッドを電気的に連結することによって、従来のピッチより小さいピッチの間隔を有するパッドを形成することができ、これに従来のコネクタより小さいコネクタを実装して印刷回路基板の小型化に寄与することができ、印刷回路基板にコネクタを使用し除去した後にも既に形成されたテストポイントをそのまま使用できるという利点がある、テストポイントを有する印刷回路基板の製造方法およびこれにより製造される印刷回路基板を開発するに至った。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、上述した問題を解決するために導き出されたものであり、印刷回路基板にテストポイントとパッドを形成した後、テストポイントとパッドを電気的に連結することによって、従来のピッチより小さいピッチの間隔を有するパッドを形成することができ、これに従来のコネクタより小さいコネクタを実装して印刷回路基板の小型化に寄与することができ、印刷回路基板にコネクタを使用し除去した後にも既に形成されたテストポイントをそのまま使用できるという利点がある、テストポイントを有する印刷回路基板の製造方法およびこれにより製造される印刷回路基板を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一実施形態によるテストポイントを有する印刷回路基板の製造方法は、印刷回路基板の上側に第１ピッチ（Ｐｉｔｃｈ）の間隔を有する一つ以上のテストポイントを形成するステップ、一つ以上のテストポイントと隣接した位置に第２ピッチの間隔を有する一つ以上のパッドを形成するステップ、および一つ以上のテストポイントおよび一つ以上のパッドの各々を電気的に連結するステップを含む。
【００１１】
一つの実施形態において、第２ピッチは、第１ピッチより小さいピッチの間隔を有してもよい。
【００１２】
一つの実施形態において、第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、第２ピッチは１ｍｍ〜１．２７ｍｍピッチであってもよい。
【００１３】
一つの実施形態において、第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、第２ピッチは１．２７ｍｍピッチであってもよい。
【００１４】
一つの実施形態において、本発明は、印刷回路基板に第２ピッチのピン間隔を有するコネクタを実装し、ピンと一つ以上のパッドの各々を電気的に連結するステップをさらに含んでもよい。
【００１５】
一つの実施形態において、本発明は、実装されたコネクタを印刷回路基板上から除去するステップを含んでもよい。
【００１６】
一つの実施形態において、第１ピッチの間隔を有する一つ以上のテストポイントを形成するステップは、一つ以上のテストポイントが第１ピッチの間隔を維持し、斜線方向に位置ずれするように配列するステップを含んでもよい。
【００１７】
一つの実施形態において、第１ピッチの間隔を有する一つ以上のテストポイントを形成するステップは、一つ以上のテストポイントが第１ピッチの間隔を維持し、同直線上に一列に位置するように配列するステップを含み、同直線は一つ以上であってもよい。
【００１８】
本発明の一実施形態によるテストポイントを有する印刷回路基板は、印刷回路基板、印刷回路基板の上側に第１ピッチ（Ｐｉｔｃｈ）の間隔を有するように形成される一つ以上のテストポイント、および一つ以上のテストポイントと隣接した位置に第２ピッチの間隔を有するように形成される一つ以上のパッドを含み、一つ以上のテストポイントおよび一つ以上のパッドの各々は電気的に連結される連結部を有する。
【００１９】
一つの実施形態において、第２ピッチは、第１ピッチより小さいピッチの間隔を有してもよい。
【００２０】
一つの実施形態において、第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、第２ピッチは１ｍｍ〜１．２７ｍｍピッチであってもよい。
【００２１】
一つの実施形態において、第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、第２ピッチは１．２７ｍｍピッチであってもよい。
【００２２】
一つの実施形態において、本発明は、第２ピッチのピン間隔を有し、ピンと一つ以上のパッドの各々が電気的に連結された印刷回路基板に実装されたコネクタをさらに含んでもよい。
【００２３】
一つの実施形態において、本発明は、コネクタが印刷回路基板上から除去可能に実装されてもよい。
【００２４】
一つの実施形態において、一つ以上のテストポイントは、第１ピッチの間隔を維持するように配列され、斜線方向に位置ずれするように配列されてもよい。
【００２５】
一つの実施形態において、一つ以上のテストポイントは、第１ピッチの間隔を維持するように配列され、同直線上に一列に位置するように配列され、同直線は一つ以上であってもよい。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の一側面によれば、印刷回路基板にテストポイントとパッドを形成した後、テストポイントとパッドを電気的に連結することによって、従来のピッチより小さいピッチの間隔を有するパッドを形成することができ、これに従来のコネクタより小さいコネクタを実装して印刷回路基板の小型化に寄与することができ、印刷回路基板にコネクタを使用し除去した後にも既に形成されたテストポイントをそのまま使用できるという利点がある、テストポイントを有する印刷回路基板の製造方法およびこれにより製造される印刷回路基板を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の一実施形態によるテストポイントを有する印刷回路基板を製造するための過程を一連の順に示すフローチャートである。
【図２】本発明の一実施形態による印刷回路基板に斜線方向に位置ずれするように配列されたテストポイントを示す図である。
【図３】本発明の一実施形態による印刷回路基板に直線方向に配列されたテストポイントを示す図である。
【図４】本発明の一実施形態による印刷回路基板に実装されたコネクタを概略的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、本発明の理解を助けるために好ましい実施形態を提示する。但し、下記の実施形態は本発明をより容易に理解するために提供されるものに過ぎず、下記の実施形態によって本発明の内容が限定されるものではない。
【００２９】
図１は、本発明の一実施形態によるテストポイントを有する印刷回路基板を製造するための過程を一連の順に示すフローチャートである。
【００３０】
図１を参照すれば、先ず、印刷回路基板の上側に第１ピッチの間隔を有する一つ以上のテストポイントを形成する（Ｓ１０１）。
【００３１】
ここで、ピッチ（Ｐｉｔｃｈ）の間隔とは、同じ模様のものが同じ間隔で繰り返し羅列している時にその間隔の距離を意味する。例えば、歯車における鋸歯と鋸歯との間の距離、またはネジにおけるネジ山とネジ山との間の距離を意味する。また、この間隔は、テストポイントとテストポイントとの間、パッドとパッドとの間、コネクタのホールとホールとの間、アダプターのピンとピンとの間の距離間隔であってもよい。
【００３２】
一つの実施形態によれば、テストポイントの最小直径とテストポイント間の最小間隔に応じた最小ピッチのテストポイントを形成するための第１ピッチは１．６ｍｍピッチとできる。第１ピッチは、テストポイントの最小直径とテストポイント間の最小間隔が変わることによってそのピッチの間隔が変わることができる。例えば、テストポイントの最小直径が１．２ｍｍであり、最小間隔が０．４ｍｍであれば、テストポイントの第１ピッチ間隔は１．６ｍｍとなる。また、最小ピッチの間隔を有するジグを用いる場合、第１ピッチは１．６ｍｍピッチとできる。印刷回路基板の開発ステップにおいて、印刷回路基板に用いられたコネクタを除去した後にはテストポイントにジグを電気的に連結して追加工程を行うため、最小ピッチの間隔を有するジグのピッチの間隔に応じて第１ピッチの間隔が変わることができる。最小ピッチの間隔を有するジグとは、ジグ製作時にジグにホールを開ける間のジグの破損、またはジグのピン厚さが薄くなることによりテスト進行時にジグの反りや破損が発生しない最小ピッチの間隔を有するジグを意味する。また、一つ以上のテストポイントとは、印刷回路基板や印刷回路基板の素子またはパターンなどの修理および点検などをするための一つ以上の特定の試験部分であってもよい。一つ以上のテストポイントは、第１ピッチの間隔を維持し、斜線方向に位置ずれするように配列してもよく、一つ以上の同直線上に一列に位置するように配列してもよい。印刷回路基板は、自動車ＢＭＳ（Ｂａｔｔｅｒｙ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）分野に適用されるものであってもよい。
【００３３】
ここで、斜線方向とは、一つの平面または直線に垂直ではない線を意味する。例えば、第１ピッチ間隔を有するように位置した複数のテストポイントが一つの同直線上に位置するのではなく、一定の間隔で配列され、特定の角度（例えば、６０度）で繰り返し折れた線に沿って連結される方向であり、このように斜線方向に配列されたテストポイントは、デカルコマニー（Ｄｅｃａｌｃｏｍａｎｉｅ）のように上、下または左、右の両側に同一な形状を有することができる。
【００３４】
また、一つ以上のテストポイントを一つ以上の同直線上に一列に位置するように配列するとは、テストポイントが第１ピッチの間隔で形成され、一つの直線上に位置することを意味し、このように一つの直線上に位置するように配列されたテストポイントは、デカルコマニーのように上、下または左、右の両側に同一な形状を有することができる。
【００３５】
次に、一つ以上のテストポイントと隣接した位置に第２ピッチの間隔を有する一つ以上のパッドを形成する（Ｓ１０２）。
【００３６】
ここで、隣接するとは、並んでまたは近くにあるかまたは境界が互いに接していることを意味する。
【００３７】
最小大きさのコネクタを印刷回路基板に実装するために、第２ピッチは第１ピッチより小さいピッチの間隔を有することができる。工程技術的にジグのピッチの間隔を最小化するには限界があり、そのため、ジグの最小ピッチの間隔に応じて印刷回路基板に形成されるテストポイントの最小ピッチの間隔が決定される。例えば、ジグの最小ピッチの間隔が１．６ｍｍピッチであれば、テストポイントの最小ピッチの間隔も１．６ｍｍピッチになることができる。従来の工程過程においては、印刷回路基板に別にテストポイントを形成せず、印刷回路基板に形成されたパッドにホールタイプ（Ｈｏｌｅ  Ｔｙｐｅ）コネクタを用いた後、コネクタを除去した所に残っているパッドのホールをジグと電気的に連結してテストポイントとして使用して追加のテストなどの工程処理を行ってきた。このように、ジグの最小ピッチの間隔とパッドのピッチの間隔に関連性があったため、ジグのピッチの間隔以下のコネクタを使用することができなかったのである。しかし、一つ以上のテストポイントを印刷基板上に形成し、一つ以上のパッドと電気的に連結することによって、コネクタを除去した後に別に形成したテストポイントを使用することによってパッドのピッチの間隔はジグのピッチの間隔から自由になることができ、それにより、ジグの最小ピッチの間隔以下のコネクタを用いることができるようになったのである。また、テストポイントの第１ピッチが１．６ｍｍピッチの間隔で形成され、パッドの第２ピッチが第１ピッチより大きい２．５４ｍｍまたは第１ピッチより小さい１．２７ｍｍピッチで形成された場合、パッドにコネクタを連結した後、コネクタの印刷回路基板上の使用面積を比較してみると、２．５４ｍｍピッチのコネクタが１．２７ｍｍピッチのコネクタより約３倍程度の面積をさらに占めるため、第２ピッチが第１ピッチより小さいピッチの間隔を有することが、印刷回路基板の小型化という目的を達成するのに意味がある。例えば、印刷回路基板に従来のコネクタより小さいコネクタを用いるための第２ピッチは１ｍｍ〜１．２７ｍｍピッチとできる。
【００３８】
また、一つ以上のパッド（Ｐａｄ）とは、印刷回路基板に取り付けられる素子などが印刷回路基板に挿入される時、部品が挿入されるホール（Ｈｏｌｅ）周りに被せられる一つ以上の金属板膜を意味し、印刷回路基板と素子などの付着や電気的連結のために用いられてもよく、テストなどの目的で用いられてもよい。
【００３９】
次に、ステップＳ１０１およびステップＳ１０２の後に、一つ以上のテストポイントおよび一つ以上のパッドの各々を電気的に連結する（Ｓ１０３）。
【００４０】
ここで、電気的に連結されるとは、連結された素子または装置などが電気的信号を伝送できるようにすることを意味する。また、電気的信号を伝送するとは、印刷回路基板に必要なソフトウェア（Ｓｏｆｔｗａｒｅ）などのダウンロード（Ｄｏｗｎｌｏａｄ）あるいはアップロード（Ｕｐｌｏａｄ）ができることを意味する。また、印刷回路基板に取り付けられる素子などが不良であるか否かおよびその素子などが印刷回路基板に正しく取り付けられているか否か、印刷回路基板上のパターン印刷が正確になっているか否かなどを判断できることを意味する。
【００４１】
次に、パッドと第２ピッチのピン間隔を有するコネクタとを電気的に連結する（Ｓ１０４）。
【００４２】
ここで、コネクタとは、印刷回路基板のパッドおよびテストポイントと連結される素子を意味する。それにより、コネクタに連結された装置または素子などと印刷回路基板が電気的信号を伝送するようになることができる。このような素子を介して他の素子または装置などを連結して伝送される電気的信号で印刷回路基板に必要なソフトウェアなどのダウンロードまたはアップロードができる。また、印刷回路基板に取り付けられる素子などが不良であるか否かおよび素子などが正しく取り付けられているか否か、印刷回路基板上のパターン印刷が正確になっているか否かなどを判断することができる。
【００４３】
次に、印刷回路基板にコネクタを実装する（Ｓ１０５）。
【００４４】
ここで、コネクタは、後ほど印刷回路基板上から除去可能に実装されることができる。除去可能に実装されるとは、例えば、はんだ付け（Ｓｏｌｄｅｒｉｎｇ）時に結合を弱くして後ほど除去が容易となるようにすることを意味し、コネクタが取り付けられる所に据え置き部や臨時取り付け部を置いてコネクタが印刷回路基板上で固定されるようにすることを意味する。
【００４５】
次に、印刷回路基板に対する開発およびテストステップを有する（Ｓ１０６）。
【００４６】
ここで、開発およびテストステップとは、印刷回路基板に必要なソフトウェアなどをダウンロードまたはアップロードするステップであってもよい。また、印刷回路基板に取り付けられる素子などが不良であるか否かおよび素子などが正しく取り付けられているか否か、印刷回路基板上のパターン印刷が正確になっているか否かなどを判断するステップであってもよい。
【００４７】
次に、印刷回路基板に対する開発およびテストステップが完了したのであれば、コネクタを除去し、開発およびテストステップが完了していないのであれば、再び開発およびテストステップを経るようにする（Ｓ１０７）。
【００４８】
ここで、コネクタを除去するとは、印刷回路基板上のテストポイントおよびパッド、印刷された回路パターン、素子などの損傷無しにコネクタの実装前の状態に戻ることを意味する。また、コネクタが除去された後にもテストポイントとパッドを電気的に連結しておいたため、テストポイントのピッチ規格に合うジグ（Ｊｉｇ）を用いて印刷回路基板のテストおよび印刷回路基板にソフトウェアなどをダウンロードまたはアップロードすることができる。また、印刷回路基板に取り付けられる素子などが不良であるか否かおよび素子などが正しく取り付けられているか否か、印刷回路基板上のパターン印刷が正確になっているか否かなどを判断することができる。
【００４９】
ここで、ジグとは、印刷回路基板上のコネクタを除去した後に、一つ以上のテストポイントと電気的に連結されて印刷回路基板に必要なソフトウェアなどのダウンロードまたはアップロードおよび印刷回路基板のテストなどを行う装置であってもよい。
【００５０】
次は、図２〜図４に基づいて、前述した製造過程により製造される印刷回路基板の構成についてより具体的に説明する。
【００５１】
図２は本発明の一実施形態による印刷回路基板に斜線方向に位置ずれするように配列されたテストポイントを示す図であり、図３は本発明の一実施形態による印刷回路基板に直線方向に配列されたテストポイントを示す図であり、図４は本発明の一実施形態による印刷回路基板に実装されたコネクタを概略的に示す図である。
【００５２】
図２〜図４を参照すれば、本発明の一実施形態によるテストポイントを有する印刷回路基板１は、大きく、一つ以上のテストポイント１００、一つ以上のパッド１１０および連結部１２０を含んで構成されることができる。また、一つの実施形態においては、コネクタ１３０をさらに含んで構成されることができる。
【００５３】
印刷回路基板１は、金属配線が細く印刷された板であって、半導体、コンデンサおよび抵抗などの各種素子などを挿入することができるようになっており、金属配線を介して素子などの相互間を連結させる役割をする板を意味する。
【００５４】
一つ以上のテストポイント１００は、印刷回路基板１の修理および点検などをするための一つ以上の特定の試験部分であってもよい。また、後述する一つ以上のパッド１１０と連結部１２０を介して電気的に連結されることができる。また、印刷回路基板に対する開発およびテストステップを経て、コネクタ１３０の除去後にも、印刷回路基板１に必要なソフトウェアなどのダウンロードまたはアップロードおよび印刷回路基板１のテストなどのために用いられてもよい。
【００５５】
一つ以上のパッド１１０は、印刷回路基板１と素子などの付着や電気的連結のために用いられてもよく、テストなどの目的で用いられてもよい。
【００５６】
連結部１２０は、一つ以上のテストポイント１００と一つ以上のパッド１１０とを電気的に連結する役割をする。このような連結部１２０を介して、一つ以上のテストポイント１００と一つ以上のパッド１１０とが電気的に連結されて印刷回路基板１に電気的信号が伝送されることができる。
【００５７】
コネクタ１３０は、印刷回路基板１の一つ以上のパッド１１０および一つ以上のテストポイント１００と連結され、印刷回路基板１とコネクタに連結された他の装置などと電気的信号を伝達する役割をする。
【００５８】
図２を参照すれば、一つ以上のテストポイント１００は、第１ピッチの間隔を維持し、斜線方向に位置ずれするように配列されることができ、一つ以上のテストポイント１００と隣接した位置に第２ピッチの間隔を有するように形成される一つ以上のパッド１１０と連結部１２０を介して電気的に連結されることができる。ここで、第２ピッチは、第１ピッチより小さいピッチの間隔を有することができる。例えば、第１ピッチは１．６ｍｍピッチであって、第２ピッチは１ｍｍ〜１．２７ｍｍピッチとできる。
【００５９】
図３を参照すれば、一つ以上のテストポイント１００は、第１ピッチの間隔を維持し、一つ以上の同直線上に一列に位置するように配列されることができ、一つ以上のテストポイント１００と隣接した位置に第２ピッチの間隔を有するように形成される一つ以上のパッド１１０と連結部１２０を介して電気的に連結されることができる。
【００６０】
図４を参照すれば、印刷回路基板１に前述した一つ以上のテストポイントと一つ以上のパッドが電気的に連結される連結部を有した後、一つ以上のパッドと電気的に連結されるコネクタ１３０が実装されることができる。コネクタ１３０は、後ほど印刷回路基板上から除去可能に実装されることができる。図４を参照すれば、印刷回路基板１の一側（例えば、上側面、下側面あるいは側面部など）方向にコネクタ１３０が突出形成されることが分かる。この時、コネクタ１３０の高さは、ピン端子が挿入されやすい高さに形成されることができる。
【００６１】
以上では本発明の好ましい実施形態を参照して説明したが、上記技術分野の熟練した当業者であれば、下記の特許請求の範囲に記載された本発明の思想および領域から逸脱しない範囲内で本発明を多様に修正および変更できることを理解することができるであろう。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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