(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象（１００）のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正するクロックエラー補正装置（２０）であって、
前記被試験対象から送信された前記被測定信号としてのＣＰ−ＯＦＤＭ信号に含まれる各フレームの先頭位置を検出するフレーム同期部（２３）と、
前記フレーム同期部により検出された先頭位置に基づいて、前記被試験対象から送信されたＣＰ−ＯＦＤＭ信号を、それぞれが参照信号シンボルを１つ含む複数のＯＦＤＭシンボルのブロックに分割するブロック分割部（２４）と、
前記ブロック分割部により分割された各前記ブロックに対してＦＦＴ処理を行うことにより、各前記ブロックに含まれるＯＦＤＭシンボルごとに複数のサブキャリア信号を抽出するＦＦＴ処理部（２５）と、
各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号と、タイミングの基準となる理想参照信号シンボルのサブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する参照信号シンボル位相傾き推定部（２６）と、
前記参照信号シンボル位相傾き推定部により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する参照信号シンボルタイミング補正部（２７）と、
前記参照信号シンボル位相傾き推定部により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きの初期値として用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するデータシンボルタイミング補正部（２８）と、を備え、
前記データシンボルタイミング補正部は、
あらかじめ設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する第１タイミング補正部（３２）と、
前記第１タイミング補正部で用いられる前記位相傾きを設定する第１位相傾き設定部（３３）と、
前記第１タイミング補正部により補正されたサブキャリア信号に、サブキャリア復調及びサブキャリア変調を行って、タイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成する理想サブキャリア信号生成部（３４，３５）と、
前記第１タイミング補正部により補正されたサブキャリア信号と、前記理想サブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する残留位相傾き推定部（３６）と、
前記残留位相傾き推定部により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、前記第１タイミング補正部により補正されたサブキャリア信号のタイミングを補正する第２タイミング補正部（３８）と、
前記残留位相傾き推定部により推定された位相傾きと、前記第１タイミング補正部で用いられた位相傾きとを加算した値を新たな位相傾きとして算出する位相傾き更新部（３９）と、
前記第１タイミング補正部で補正されるＯＦＤＭシンボルを、前記参照信号シンボルから離れる方向に１つずつシフトするシンボルシフト部（３１）と、を含み、
前記第１位相傾き設定部は、
前記参照信号シンボルから１つ離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボル位相傾き推定部により推定された位相傾きを設定し、
前記参照信号シンボルからｎ＋１以上（ｎは１以上の整数）離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボルからｎ離れたＯＦＤＭシンボルについて前記位相傾き更新部で算出された位相傾きを設定することを特徴とするクロックエラー補正装置。
【請求項２】
前記シンボルシフト部は、前記ブロック内の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから第１の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトするとともに、前記ブロック内の反対側の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから前記第１の方向と逆の第２の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトすることを特徴とする請求項１に記載のクロックエラー補正装置。
【請求項３】
前記請求項１又は請求項２に記載のクロックエラー補正装置と、
前記参照信号シンボルタイミング補正部及び前記データシンボルタイミング補正部により補正された各前記ブロックに含まれる各前記ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号にサブキャリア復調を行ってビットデータを生成する復調部（１２）と、
前記復調部により復調されたビットデータを測定する測定部（１３）と、を備えることを特徴とする測定装置。
【請求項４】
被試験対象（１００）のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正するクロックエラー補正方法であって、
前記被試験対象から送信された前記被測定信号としてのＣＰ−ＯＦＤＭ信号に含まれる各フレームの先頭位置を検出するフレーム同期ステップ（Ｓ４）と、
前記フレーム同期ステップにより検出された先頭位置に基づいて、前記被試験対象から送信されたＣＰ−ＯＦＤＭ信号を、それぞれが参照信号シンボルを１つ含む複数のＯＦＤＭシンボルのブロックに分割するブロック分割ステップ（Ｓ５）と、
前記ブロック分割ステップにより分割された各前記ブロックに対してＦＦＴ処理を行うことにより、各前記ブロックに含まれるＯＦＤＭシンボルごとに複数のサブキャリア信号を抽出するＦＦＴ処理ステップ（Ｓ７）と、
各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号と、タイミングの基準となる理想参照信号シンボルのサブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する参照信号シンボル位相傾き推定ステップ（Ｓ８）と、
前記参照信号シンボル位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する参照信号シンボルタイミング補正ステップ（Ｓ９）と、
前記参照信号シンボル位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きの初期値として用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するデータシンボルタイミング補正ステップ（Ｓ１０）と、を含み、
前記データシンボルタイミング補正ステップは、
あらかじめ設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する第１タイミング補正ステップ（Ｓ３３）と、
前記第１タイミング補正ステップで用いられる前記位相傾きを設定する第１位相傾き設定ステップ（Ｓ３２）と、
前記第１タイミング補正ステップにより補正されたサブキャリア信号に、サブキャリア復調及びサブキャリア変調を行って、タイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成する理想サブキャリア信号生成ステップ（Ｓ３４，Ｓ３５）と、
前記第１タイミング補正ステップにより補正されたサブキャリア信号と、前記理想サブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する残留位相傾き推定ステップ（Ｓ３６）と、
前記残留位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、前記第１タイミング補正ステップにより補正されたサブキャリア信号のタイミングを補正する第２タイミング補正ステップ（Ｓ３８）と、
前記残留位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きと、前記第１タイミング補正ステップで用いられた位相傾きとを加算した値を新たな位相傾きとして算出する位相傾き更新ステップ（Ｓ４０）と、
前記第１タイミング補正ステップで補正されるＯＦＤＭシンボルを、前記参照信号シンボルから離れる方向に１つずつシフトするシンボルシフトステップ（Ｓ３１，Ｓ４２）と、を含み、
前記第１位相傾き設定ステップは、
前記参照信号シンボルから１つ離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボル位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きを設定し、
前記参照信号シンボルからｎ＋１以上（ｎは１以上の整数）離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボルからｎ離れたＯＦＤＭシンボルについて前記位相傾き更新ステップで算出された位相傾きを設定することを特徴とするクロックエラー補正方法。
【請求項５】
前記シンボルシフトステップは、前記ブロック内の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから第１の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトするとともに、前記ブロック内の反対側の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから前記第１の方向と逆の第２の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトすることを特徴とする請求項４に記載のクロックエラー補正方法。
【請求項６】
前記請求項４又は請求項５に記載のクロックエラー補正方法と、
前記参照信号シンボルタイミング補正ステップ及び前記データシンボルタイミング補正ステップにより補正された各前記ブロックに含まれる各前記ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号にサブキャリア復調を行ってビットデータを生成する復調ステップ（Ｓ１３）と、
前記復調ステップにより復調されたビットデータを測定する測定ステップ（Ｓ１４）と、を含むことを特徴とする測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、クロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法に関し、特に、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正するクロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、従来のＷＬＡＮやＬＴＥよりも高速で大容量の通信を実現するＶ５Ｇ／５ＧＮＲに対応した無線通信機器の開発が進められている。無線通信機器の出力信号品質の評価に当たっては、変調精度（Error Vector Magnitude：ＥＶＭ）などの各種の評価項目を評価する測定装置が用いられる（例えば、特許文献１参照）。ＥＶＭは、被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）としての無線通信機器から送信された信号の変調シンボルがＩＱ平面上の理想位置からどの程度ずれているかを示す指標である。特許文献１に開示された測定装置は、ＤＵＴのＩＱ間誤差の周波数特性を測定し、ＩＱ間誤差を含まない理想信号と、測定したＤＵＴのＩＱ間誤差を含む予測信号とのコンスタレーションの誤差に基づいてＥＶＭを算出するものである。
【０００３】
ＷＬＡＮ／ＬＴＥ／Ｖ５Ｇ／５ＧＮＲなどに対応したＤＵＴのＥＶＭを測定するとき、ＤＵＴのサンプリングクロックエラーが大きいとＥＶＭの結果が本来の結果よりも悪化してしまう。特に、ＤＵＴと測定装置にクロック同期のための同期信号が有線で供給されず、かつ、ＤＵＴのサンプリングレートが高いときには、サンプリングクロックエラーが大きくなりＥＶＭの測定結果が悪化する。したがって、ＥＶＭ測定を行う前に、サンプリングクロックエラーの補正が必要である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−１８７８１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ミリ波帯を含む広帯域をサポートするＶ５Ｇ／５ＧＮＲに対応したＤＵＴについては、ＤＵＴと測定装置とを同軸ケーブルで接続する構成では、ＤＵＴからの信号が同軸ケーブルで伝送される際の損失が大きいため、通常はＯＴＡ（Over The Air）で測定が行われる。また、Ｖ５Ｇ／５ＧＮＲは、広帯域であるために、要求されるサンプリングレートも従来のＬＴＥよりも格段に高くなっている。
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されたような従来の測定装置は、Ｖ５Ｇ／５ＧＮＲに対応したＤＵＴをＯＴＡで測定する場合には、ＤＵＴと測定装置にクロック同期のための同期信号が有線で供給されず、かつ、ＤＵＴのサンプリングレートが高いため、前述のようにサンプリングクロックエラーが大きくなってしまうという問題があった。
【０００７】
そこで、非整数遅延フィルタ（Fractional Delay Filter）を用いて、ＤＵＴからの信号のタイミングを時間領域で１サンプルずつ調整してサンプリングクロックエラーに起因するタイミングずれを補正する方法を利用することが考えられる。しかしながら、この方法は、Ｖ５Ｇ／５ＧＮＲのようにサンプリングレートが高い場合又はサンプル数が多い場合には処理時間が非常に長くなるため、実用的ではないという問題があった。
【０００８】
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正する際の処理時間を大幅に短縮できるクロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明に係るクロックエラー補正装置は、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正するクロックエラー補正装置であって、前記被試験対象から送信された前記被測定信号としてのＣＰ−ＯＦＤＭ信号に含まれる各フレームの先頭位置を検出するフレーム同期部と、前記フレーム同期部により検出された先頭位置に基づいて、前記被試験対象から送信されたＣＰ−ＯＦＤＭ信号を、それぞれが参照信号シンボルを１つ含む複数のＯＦＤＭシンボルのブロックに分割するブロック分割部と、前記ブロック分割部により分割された各前記ブロックに対してＦＦＴ処理を行うことにより、各前記ブロックに含まれるＯＦＤＭシンボルごとに複数のサブキャリア信号を抽出するＦＦＴ処理部と、各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号と、タイミングの基準となる理想参照信号シンボルのサブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する参照信号シンボル位相傾き推定部と、前記参照信号シンボル位相傾き推定部により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する参照信号シンボルタイミング補正部と、前記参照信号シンボル位相傾き推定部により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きの初期値として用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するデータシンボルタイミング補正部と、を備え、前記データシンボルタイミング補正部は、あらかじめ設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する第１タイミング補正部と、前記第１タイミング補正部で用いられる前記位相傾きを設定する第１位相傾き設定部と、前記第１タイミング補正部により補正されたサブキャリア信号に、サブキャリア復調及びサブキャリア変調を行って、タイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成する理想サブキャリア信号生成部と、前記第１タイミング補正部により補正されたサブキャリア信号と、前記理想サブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する残留位相傾き推定部と、前記残留位相傾き推定部により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、前記第１タイミング補正部により補正されたサブキャリア信号のタイミングを補正する第２タイミング補正部と、前記残留位相傾き推定部により推定された位相傾きと、前記第１タイミング補正部で用いられた位相傾きとを加算した値を新たな位相傾きとして算出する位相傾き更新部と、前記第１タイミング補正部で補正されるＯＦＤＭシンボルを、前記参照信号シンボルから離れる方向に１つずつシフトするシンボルシフト部と、を含み、前記第１位相傾き設定部は、前記参照信号シンボルから１つ離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボル位相傾き推定部により推定された位相傾きを設定し、前記参照信号シンボルからｎ＋１以上（ｎは１以上の整数）離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボルからｎ離れたＯＦＤＭシンボルについて前記位相傾き更新部で算出された位相傾きを設定する構成である。
【００１０】
この構成により、本発明に係るクロックエラー補正装置は、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正する際の処理時間を大幅に短縮できる。また、この構成により、本発明に係るクロックエラー補正装置は、ＯＦＤＭシンボルごとにタイミング補正用の位相傾きを更新するため、復調エラーを抑制しながらタイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成して、ＯＦＤＭシンボルのタイミング補正を精度良く行うことができる。
【００１３】
また、本発明に係るクロックエラー補正装置においては、前記シンボルシフト部は、前記ブロック内の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから第１の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトするとともに、前記ブロック内の反対側の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから前記第１の方向と逆の第２の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトする構成であってもよい。
【００１４】
また、本発明に係る測定装置は、上記のいずれかのクロックエラー補正装置と、前記参照信号シンボルタイミング補正部及び前記データシンボルタイミング補正部により補正された各前記ブロックに含まれる各前記ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号にサブキャリア復調を行ってビットデータを生成する復調部と、前記復調部により復調されたビットデータを測定する測定部と、を備える構成である。
【００１５】
この構成により、本発明に係る測定装置は、クロックエラー補正装置を備えることにより、被試験対象のＥＶＭなどの測定を被試験対象のサンプリングクロックエラーの影響を排除して精度良く行うことができる。
【００１６】
また、本発明に係るクロックエラー補正方法は、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正するクロックエラー補正方法であって、前記被試験対象から送信された前記被測定信号としてのＣＰ−ＯＦＤＭ信号に含まれる各フレームの先頭位置を検出するフレーム同期ステップと、前記フレーム同期ステップにより検出された先頭位置に基づいて、前記被試験対象から送信されたＣＰ−ＯＦＤＭ信号を、それぞれが参照信号シンボルを１つ含む複数のＯＦＤＭシンボルのブロックに分割するブロック分割ステップと、前記ブロック分割ステップにより分割された各前記ブロックに対してＦＦＴ処理を行うことにより、各前記ブロックに含まれるＯＦＤＭシンボルごとに複数のサブキャリア信号を抽出するＦＦＴ処理ステップと、各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号と、タイミングの基準となる理想参照信号シンボルのサブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する参照信号シンボル位相傾き推定ステップと、前記参照信号シンボル位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックの前記参照信号シンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する参照信号シンボルタイミング補正ステップと、前記参照信号シンボル位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きの初期値として用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するデータシンボルタイミング補正ステップと、を含み、前記データシンボルタイミング補正ステップは、あらかじめ設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各前記ブロックに含まれる前記参照信号シンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する第１タイミング補正ステップと、前記第１タイミング補正ステップで用いられる前記位相傾きを設定する第１位相傾き設定ステップと、前記第１タイミング補正ステップにより補正されたサブキャリア信号に、サブキャリア復調及びサブキャリア変調を行って、タイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成する理想サブキャリア信号生成ステップと、前記第１タイミング補正ステップにより補正されたサブキャリア信号と、前記理想サブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する残留位相傾き推定ステップと、前記残留位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、前記第１タイミング補正ステップにより補正されたサブキャリア信号のタイミングを補正する第２タイミング補正ステップと、前記残留位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きと、前記第１タイミング補正ステップで用いられた位相傾きとを加算した値を新たな位相傾きとして算出する位相傾き更新ステップと、前記第１タイミング補正ステップで補正されるＯＦＤＭシンボルを、前記参照信号シンボルから離れる方向に１つずつシフトするシンボルシフトステップと、を含み、前記第１位相傾き設定ステップは、前記参照信号シンボルから１つ離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボル位相傾き推定ステップにより推定された位相傾きを設定し、前記参照信号シンボルからｎ＋１以上（ｎは１以上の整数）離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、前記参照信号シンボルからｎ離れたＯＦＤＭシンボルについて前記位相傾き更新ステップで算出された位相傾きを設定する構成である。
【００１７】
この構成により、本発明に係るクロックエラー補正方法は、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正する際の処理時間を大幅に短縮できる。また、この構成により、本発明に係るクロックエラー補正方法は、ＯＦＤＭシンボルごとにタイミング補正用の位相傾きを更新するため、復調エラーを抑制しながらタイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成して、ＯＦＤＭシンボルのタイミング補正を精度良く行うことができる。
【００２０】
また、本発明に係るクロックエラー補正方法においては、前記シンボルシフトステップは、前記ブロック内の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから第１の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトするとともに、前記ブロック内の反対側の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで前記参照信号シンボルから前記第１の方向と逆の第２の方向に１つずつＯＦＤＭシンボルをシフトする構成であってもよい。
【００２１】
また、本発明に係る測定方法は、上記のいずれかのクロックエラー補正方法と、前記参照信号シンボルタイミング補正ステップ及び前記データシンボルタイミング補正ステップにより補正された各前記ブロックに含まれる各前記ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号にサブキャリア復調を行ってビットデータを生成する復調ステップと、前記復調ステップにより復調されたビットデータを測定する測定ステップと、を含む構成である。
【００２２】
この構成により、本発明に係る測定方法は、クロックエラー補正方法を含むことにより、被試験対象のＥＶＭなどの測定を被試験対象のサンプリングクロックエラーの影響を排除して精度良く行うことができる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明は、被試験対象のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正する際の処理時間を大幅に短縮できるクロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法を提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】ＣＰが付加されたＯＦＤＭシンボルを示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る測定装置及びクロックエラー補正装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施形態に係る測定装置におけるブロック分割部によるブロック分割処理を説明するための図である。
【図４】ＤＵＴのサンプリングクロックエラーによるＯＦＤＭシンボルのタイミングずれを説明するための図である。
【図５】本発明の実施形態に係るクロックエラー補正装置によるタイミング補正前及びタイミング補正後のＯＦＤＭシンボルの位相特性と、タイミング補正用の位相特性の一例を示すグラフである。
【図６】本発明の実施形態に係るクロックエラー補正装置におけるデータシンボルタイミング補正部の構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の実施形態に係る測定装置を用いる測定方法、及び、本発明の実施形態に係るクロックエラー補正装置を用いるクロックエラー補正方法の処理を示すフローチャートである。
【図８】図７のフローチャートにおけるデータシンボルタイミング補正処理を説明するためのフローチャートである。
【図９】図８のフローチャートにおける処理を詳細に説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明に係るクロックエラー補正装置、それを備えた測定装置、クロックエラー補正方法、及び測定方法の実施形態について、図面を用いて説明する。
【００２６】
本実施形態の測定装置により測定される被測定信号は、例えば、複数のサブキャリアに既知の参照信号（Reference Signal：ＲＳ）を含むＣＰ−ＯＦＤＭ（Cyclic Prefix-based OFDM）信号である。なお、本実施形態においてＲＳとは、例えばＤＭＲＳ（DeModulation Reference Signal）を指す。
【００２７】
ＣＰ−ＯＦＤＭ信号のフレームは、そのフレーム長が１０ｍｓであり、１ｍｓのサブフレーム１０個で構成される。１サブフレームは更に複数のスロットで構成される。各スロットはＣＰ（Cyclic Prefix）が付加された例えば１４個のＯＦＤＭシンボルで構成される。図１に示すように、ＣＰは、ＯＦＤＭシンボルの後半部分のコピーであり、ＯＦＤＭシンボルの先頭に付加される。なお、以降では、ＲＳを含むＯＦＤＭシンボルを「参照信号シンボル」又は「ＲＳシンボル」とも称し、ＲＳを含まないＯＦＤＭシンボルを「データシンボル」とも称する。なお、ＲＳシンボルは１スロットの中に１〜４個含まれる。
【００２８】
図２に示すように、本実施形態に係る測定装置１０は、アンテナ１１と、復調部１２と、測定部１３と、表示部１４と、制御部１５と、クロックエラー補正装置２０と、を備える。クロックエラー補正装置２０は、被測定信号としてのＣＰ−ＯＦＤＭ信号を送受信するＤＵＴ１００のサンプリングクロックエラーに起因する、ＣＰ−ＯＦＤＭ信号のタイミングずれを補正するものである。
【００２９】
アンテナ１１は、ＤＵＴ１００のアンテナ１１０との間でＣＰ−ＯＦＤＭ信号の電磁波を送受信するようになっている。
【００３０】
ＤＵＴ１００は、ＷＬＡＮ（ＩＥＥＥ８０２．１１）、ＬＴＥ、Ｖ５Ｇ、５ＧＮＲなど、ＣＰ−ＯＦＤＭ（Cyclic Prefix-based OFDM）信号を使用する通信規格に基づいた通信を行うものであり、例えば無線通信用のアンテナ１１０とＲＦ回路を有する無線通信機器である。アンテナ１１０は、例えばＭａｓｓｉｖｅ−ＭＩＭＯアンテナなどのアレーアンテナである。なお以降では、ＤＵＴ１００が５ＧＮＲ用の無線通信機器である場合を例に挙げて説明する。
【００３１】
クロックエラー補正装置２０は、ＲＦ受信部２１と、記憶部２２と、フレーム同期部２３と、ブロック分割部２４と、ＦＦＴ処理部２５と、参照信号シンボル位相傾き推定部２６と、参照信号シンボルタイミング補正部２７と、データシンボルタイミング補正部２８と、を備える。
【００３２】
ＲＦ受信部２１は、アンテナ１１で受信されたＤＵＴ１００からのＣＰ−ＯＦＤＭ信号をアナログのベースバンド信号にダウンコンバートした後に直交検波し、直交検波したアナログのベースバンド信号をアナログディジタル（Ａ／Ｄ）変換によってディジタルの複素ベースバンド信号に変換する受信処理を行うようになっている。
【００３３】
記憶部２２は、ＲＦ受信部２１により受信処理された複素ベースバンド信号を順次記憶するようになっている。
【００３４】
フレーム同期部２３は、ＲＦ受信部２１により得られた複素ベースバンド信号を記憶部２２から読み出し、読み出した複素ベースバンド信号に含まれる各フレームの先頭位置を検出するようになっている。
【００３５】
ブロック分割部２４は、フレーム同期部２３により検出された先頭位置に基づいて、ＲＦ受信部２１により得られた複素ベースバンド信号を、それぞれがＲＳシンボルを１つ含む複数のＯＦＤＭシンボルのブロックに分割するようになっている。例えば、図３に示すように、１スロットにＲＳシンボルが３個含まれる場合、１スロットは３つのブロックに分割される。
【００３６】
ＦＦＴ処理部２５は、ブロック分割部２４により分割された各ブロックに対してＦＦＴ処理を行うことにより、各ブロックに含まれるＯＦＤＭシンボルごとに複数のサブキャリア信号を抽出するようになっている。
【００３７】
ＣＰ−ＯＦＤＭの性質により、アンテナ１１により受信されたＯＦＤＭシンボルと、サンプリングクロックエラーがない場合の理想的なタイミングのＯＦＤＭシンボル（以下、「理想ＯＦＤＭシンボル」とも称する）にずれがあるとき、周波数領域の位相特性が傾く。
【００３８】
そこで、参照信号シンボル位相傾き推定部２６は、各ブロックのＲＳシンボルに対応するサブキャリア信号と、タイミングの基準となる理想的なタイミングのＲＳシンボル（以下、「理想ＲＳシンボル（理想参照信号シンボル）」とも称する）のサブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定するようになっている。
【００３９】
参照信号シンボルタイミング補正部２７は、参照信号シンボル位相傾き推定部２６により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、各ブロックのＲＳシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するようになっている。
【００４０】
データシンボルタイミング補正部２８は、参照信号シンボル位相傾き推定部２６により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きの初期値として用いて、各ブロックに含まれるＲＳシンボル以外のＯＦＤＭシンボル（すなわち、データシンボル）に対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するようになっている。
【００４１】
以下、参照信号シンボル位相傾き推定部２６と、後述する残留位相傾き推定部３６で行われる位相傾きの推定処理の詳細について説明する。
【００４２】
ＤＵＴ１００にサンプリングクロックエラーがあるとき、フレーム同期部２３によるフレームの先頭位置の検出後に、ＯＦＤＭシンボルのタイミングが徐々にずれる。例えば図４に示すように、サンプリングクロックエラーがない理想ＯＦＤＭシンボルのタイミングと比較して、サンプリングクロックエラーの影響により、例えばΔｄサンプル分のタイミングずれが発生する。
【００４３】
図４に示すように、サンプリングクロックエラーがあるときのＯＦＤＭシンボルと理想ＯＦＤＭシンボルとにΔｄサンプル分のずれがある場合、サンプリングクロックエラーがあるときのＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号Ｘ'（ｋ）は、周波数領域で理想ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号Ｘ（ｋ）から下記の式（１）のように変化する。ここで、ΔｄはＣＰのサンプル数以下の値であるとする。また、ｋはサブキャリアを区別するためのインデックスであり、サブキャリア信号の周波数に対応している。
【００４４】
【数１】
0006893958.tif 000002
【００４５】
式（１）の両辺の位相は下記の式（２）のように表される。
【００４６】
【数２】
0006893958.tif 000003
【００４７】
式（２）より、タイミングずれのないサブキャリア信号の位相は下記の式（３）で与えられる。
【００４８】
【数３】
0006893958.tif 000004
【００４９】
式（３）から、タイミングずれがあるサブキャリア信号の周波数に対する位相傾きを（２π／ＦＦＴ＿Ｌｅｎ）×Δｄ分補正すれば、周波数領域でタイミングずれを補正できることが分かる。
【００５０】
位相傾きＳＬｋは、下記の式（４）のような最小二乗法などによる線形回帰分析により、タイミングずれがあるサブキャリア信号と理想ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号との位相差から推定できる。
【００５１】
【数４】
0006893958.tif 000005
【００５２】
すなわち、参照信号シンボル位相傾き推定部２６と、残留位相傾き推定部３６は、式（４）に従って、位相傾きＳＬｋを推定する。
【００５３】
以下、参照信号シンボルタイミング補正部２７と、後述する第１タイミング補正部３２と、後述する第２タイミング補正部３８とで行われるタイミングの補正処理の詳細について説明する。
【００５４】
参照信号シンボル位相傾き推定部２６又は残留位相傾き推定部３６で式（４）より推定された位相傾きＳＬｋから、下記の式（５）のようなタイミング補正用特性Ｈｋが得られる。
【００５５】
【数５】
0006893958.tif 000006
【００５６】
タイミングが補正された後のサブキャリア信号Ｙ（ｋ）は、式（５）のタイミング補正用特性Ｈｋを用いて下記の式（６）から得られる。
【００５７】
【数６】
0006893958.tif 000007
【００５８】
図５は、横軸をｋ、縦軸を位相として、タイミング補正前及びタイミング補正後のＯＦＤＭシンボルの位相特性と、タイミング補正用の位相特性の一例を示すグラフである。図５に示されているように、タイミング補正用特性Ｈｋを用いた式（６）の処理により、理想ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号Ｘ（ｋ）（ｋ＝１，２，…，Ｎ）の位相特性とほぼ等しい位相特性を得ることができる。
【００５９】
すなわち、参照信号シンボルタイミング補正部２７、第１タイミング補正部３２、及び第２タイミング補正部３８は、式（６）に従った補正を実行することにより、サンプリングクロックエラーによるＯＦＤＭシンボルのタイミングずれを周波数領域で補正することができる。
【００６０】
以下、データシンボルタイミング補正部２８の構成について説明する。ＲＳシンボルに関しては、理想ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号Ｘ（ｋ）を一定の数式で直接生成することができる。一方、データシンボルに関しては、一旦データシンボルのサブキャリア信号に復調及び変調を行って理想ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号Ｘ（ｋ）を推定する必要がある。
【００６１】
図６に示すように、データシンボルタイミング補正部２８は、シンボルシフト部３１と、第１タイミング補正部３２と、第１位相傾き設定部３３と、サブキャリア復調部３４と、サブキャリア変調部３５と、残留位相傾き推定部３６と、第２位相傾き設定部３７と、第２タイミング補正部３８と、位相傾き更新部３９と、を含む。サブキャリア復調部３４及びサブキャリア変調部３５は、理想サブキャリア信号生成部を構成する。
【００６２】
シンボルシフト部３１は、第１タイミング補正部３２で補正されるＯＦＤＭシンボルを、ＲＳシンボルから離れる方向に１つずつシフトするようになっている。例えば、シンボルシフト部３１は、ブロック内の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで、ＲＳシンボルから第１の方向に１つずつ補正対象のＯＦＤＭシンボルをシフトする。さらに、シンボルシフト部３１は、ブロック内の反対側の端のＯＦＤＭシンボルに到達するまで、ＲＳシンボルから第１の方向と逆の第２の方向に１つずつ補正対象のＯＦＤＭシンボルをシフトする。図３に示すように、例えば、第１の方向は、時間的に前進する方向であり、第２の方向は時間的に後進する方向である。
【００６３】
第１タイミング補正部３２は、第１位相傾き設定部３３によりあらかじめ設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きＳＬｋとして用いて、各ブロックに含まれるＲＳシンボル以外のＯＦＤＭシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正するようになっている。
【００６４】
第１位相傾き設定部３３は、第１タイミング補正部３２で用いられる位相傾きを設定するようになっている。第１位相傾き設定部３３は、各ブロックにおいて、ＲＳシンボルから１つ離れたＯＦＤＭシンボル（すなわち、ＲＳシンボルに隣接するデータシンボル）に対しては、参照信号シンボル位相傾き推定部２６により推定された位相傾きを設定する。また、第１位相傾き設定部３３は、ＲＳシンボルからｎ＋１以上（ｎは１以上の整数）離れたデータシンボルに対しては、ＲＳシンボルからｎ離れたデータシンボルについて位相傾き更新部３９で算出される位相傾きを設定する。
【００６５】
なお、ブロック分割部２４によるスロット内のブロックの分割処理においては、各ブロックの端以外にＲＳシンボルが配置されるようにブロックが分割されることが望ましい。これにより、参照信号シンボル位相傾き推定部２６により推定されたＲＳシンボルの位相傾きを、そのＲＳシンボルの両隣りの２つのデータシンボルに適用することができるため、精度良く効率的なＯＦＤＭシンボルのタイミング補正が可能になる。
【００６６】
サブキャリア復調部３４は、第１タイミング補正部３２により補正されたサブキャリア信号に、ＱＰＳＫ復調やＱＡＭ復調などのサブキャリア復調を行って、理想ＯＦＤＭシンボルのビットデータを生成するようになっている。このサブキャリア復調では、ＩＱ平面上の理想位置に変調シンボルを配置するように適宜エラー訂正が行われる。
【００６７】
サブキャリア変調部３５は、サブキャリア復調部３４により生成されたビットデータに、ＱＰＳＫ変調やＱＡＭ変調などのサブキャリア変調を行って、第１タイミング補正部３２により補正されたサブキャリア信号に対するタイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成するようになっている。
【００６８】
残留位相傾き推定部３６は、第１タイミング補正部３２により補正されたサブキャリア信号と、サブキャリア復調部３４及びサブキャリア変調部３５により生成された理想サブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定するようになっている。
【００６９】
第２位相傾き設定部３７は、残留位相傾き推定部３６により推定された位相傾きを第２タイミング補正部３８に設定するようになっている。
【００７０】
第２タイミング補正部３８は、第２位相傾き設定部３７により設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きＳＬｋとして用いて、第１タイミング補正部３２により補正されたサブキャリア信号のタイミングを補正するようになっている。
【００７１】
位相傾き更新部３９は、残留位相傾き推定部３６により推定された位相傾きと、第１タイミング補正部３２で用いられた位相傾きとを加算した値を新たな位相傾きとして算出するようになっている。これにより、ＲＳシンボルからｎ＋１以上（ｎは１以上の整数）離れたＯＦＤＭシンボルに対しては、位相傾き更新部３９で新たに算出された位相傾きが設定されることになる。
【００７２】
ＲＳシンボルから離れたデータシンボルほど、そのサブキャリア信号の位相傾きが大きくなるため、このようなＲＳシンボルから離れたデータシンボルのサブキャリア信号をそのまま復調すると復調エラーが発生する可能性が高まる。このため、データシンボルタイミング補正部２８は、１つ前に処理されたＯＦＤＭシンボルに関する位相傾きを用いて、第１タイミング補正部３２にてデータシンボルのサブキャリア信号に対して一段階目のタイミング補正を行い、サブキャリア復調部３４において復調エラーを発生させにくくしている。
【００７３】
図２に示す復調部１２は、参照信号シンボルタイミング補正部２７及びデータシンボルタイミング補正部２８により補正された各ブロックに含まれる各ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号に、ＱＰＳＫ復調やＱＡＭ復調などのサブキャリア復調を行って、ＯＦＤＭシンボルのビットデータを生成するようになっている。
【００７４】
測定部１３は、復調部１２により復調されたビットデータを測定するようになっている。例えば、測定部１３は、ＤＵＴ１００に対する送信特性の測定において、例えば、ＥＶＭ、送信パワー、コンスタレーション、スペクトラムなどを測定可能である。また、測定部１３は、ＤＵＴ１００に対する受信特性の測定において、例えば、受信感度、ビット誤り率、パケット誤り率などを測定可能である。
【００７５】
表示部１４は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、制御部１５からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。この表示内容には、測定部１３によるＤＵＴ１００の送受信特性の測定結果などが含まれる。さらに、表示部１４は、測定条件などを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象の表示を行うようになっている。
【００７６】
制御部１５は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータ又はパーソナルコンピュータ等で構成され、測定装置１０を構成する上記各部の動作を制御する。また、制御部１５は、ＲＯＭ等に記憶された所定のプログラムをＲＡＭに移して実行することにより、クロックエラー補正装置２０、復調部１２、及び測定部１３の少なくとも一部をソフトウェア的に構成することが可能である。なお、クロックエラー補正装置２０、復調部１２、及び測定部１３の少なくとも一部は、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）などのディジタル回路で構成することも可能である。あるいは、クロックエラー補正装置２０、復調部１２、及び測定部１３の少なくとも一部は、ディジタル回路によるハードウェア処理と所定のプログラムによるソフトウェア処理とを適宜組み合わせて構成することも可能である。
【００７７】
以下、本実施形態の測定装置１０を用いる測定方法、及び、本実施形態のクロックエラー補正装置２０を用いるクロックエラー補正方法について、図７のフローチャートを参照しながら説明する。
【００７８】
まず、ＤＵＴ１００は、アンテナ１１０からＣＰ−ＯＦＤＭ信号を送信する（ステップＳ１）。
【００７９】
次に、ＲＦ受信部２１は、ステップＳ１で受信されたＣＰ−ＯＦＤＭ信号をアナログのベースバンド信号にダウンコンバートした後に直交検波し、直交検波したアナログのベースバンド信号をＡ／Ｄ変換によってディジタルの複素ベースバンド信号に変換する（ステップＳ２）。
【００８０】
次に、記憶部２２は、ステップＳ２により受信処理された複素ベースバンド信号を順次記憶する（ステップＳ３）。
【００８１】
次に、フレーム同期部２３は、ステップＳ２により得られた複素ベースバンド信号を記憶部２２から読み出し、読み出した複素ベースバンド信号に含まれる各フレームの先頭位置を検出する（フレーム同期ステップＳ４）。
【００８２】
次に、ブロック分割部２４は、ステップＳ４により検出された先頭位置に基づいて、ステップＳ２により得られた複素ベースバンド信号を、それぞれがＲＳシンボルを１つ含む複数のＯＦＤＭシンボルのブロックに分割する（ブロック分割ステップＳ５）。
【００８３】
次に、制御部１５は、ステップＳ５により分割されたブロックの中から１番目のブロック（例えば、時間的に最も古いブロック）を選択する（ステップＳ６）。
【００８４】
次に、ＦＦＴ処理部２５は、ステップＳ６又は後述するステップＳ１２により選択されたブロックに対してＦＦＴ処理を行うことにより、当該ブロックに含まれるＯＦＤＭシンボルごとに複数のサブキャリア信号を抽出する（ＦＦＴ処理ステップＳ７）。
【００８５】
次に、参照信号シンボル位相傾き推定部２６は、ステップＳ６又は後述するステップＳ１２により選択されたブロックのＲＳシンボルに対応するサブキャリア信号と、タイミングの基準となる理想ＲＳシンボルのサブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する（参照信号シンボル位相傾き推定ステップＳ８）。
【００８６】
次に、参照信号シンボルタイミング補正部２７は、ステップＳ８により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きとして用いて、ステップＳ６又は後述するステップＳ１２により選択されたブロックのＲＳシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する（参照信号シンボルタイミング補正ステップＳ９）。
【００８７】
次に、データシンボルタイミング補正部２８は、ステップＳ８により推定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きの初期値として用いて、ステップＳ６又は後述するステップＳ１２により選択されたブロックに含まれるデータシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する（データシンボルタイミング補正ステップＳ１０）。
【００８８】
次に、制御部１５は、ステップＳ５により分割された全てのブロックについて、ステップＳ９及びＳ１０のタイミング補正処理が完了したか否かを判断する（ステップＳ１１）。制御部１５は、否定判断の場合にはステップＳ１２に進み、肯定判断の場合にはステップＳ１３に進む。
【００８９】
ステップＳ１２において制御部１５は、ステップＳ５により分割されたブロックの中から、ステップＳ９及びＳ１０のタイミング補正処理が完了していないブロック（例えば、既にタイミング補正処理が完了したブロックの隣のブロック）を選択し（ステップＳ１２）、ステップＳ７の処理に戻る。
【００９０】
ステップＳ１３において復調部１２は、ステップＳ９及びＳ１０により補正されたブロックに含まれる各ＯＦＤＭシンボルのサブキャリア信号にサブキャリア復調を行って、ＯＦＤＭシンボルのビットデータを生成する（復調ステップＳ１３）。
【００９１】
次に、測定部１３は、ステップＳ１３により復調されたビットデータを測定することにより、ＤＵＴ１００の送受信特性の測定を行う（測定ステップＳ１４）。
【００９２】
次に、表示部１４は、ステップＳ１４によるＤＵＴ１００の送受信特性の測定結果を表示する（ステップＳ１５）。
【００９３】
以下、図８のフローチャートを参照しながら、図７のデータシンボルタイミング補正ステップＳ１０の処理の一例を説明する。
【００９４】
まず、データシンボルタイミング補正部２８は、ステップＳ６又はＳ１２により選択されたブロックにおいて、ＲＳシンボルから時間的に前進する方向にデータシンボルのタイミング補正処理を行う（ステップＳ２１）。
【００９５】
次に、データシンボルタイミング補正部２８は、ステップＳ６又はＳ１２により選択されたブロックにおいて、ＲＳシンボルから時間的に後進する方向にデータシンボルのタイミング補正処理を行う（ステップＳ２２）。
【００９６】
以下、図９のフローチャートを参照しながら、図８のステップＳ２１及びＳ２２の処理の一例を説明する。なお、以下では、ＲＳシンボルから時間的に前進する方向に補正対象のデータシンボルをシフトするステップＳ２１の処理を例に挙げて説明する。ＲＳシンボルから時間的に後進する方向に補正対象のデータシンボルをシフトするステップＳ２２の処理については、以下のステップＳ３１〜Ｓ４２の処理の説明における「前進方向」との文言を「後進方向」と読み替えればよい。
【００９７】
まず、シンボルシフト部３１は、ステップＳ６又はＳ１２により選択されたブロックにおいて、ＲＳシンボルから前進方向に１つ離れたデータシンボルを選択する（シンボルシフトステップＳ３１）。
【００９８】
次に、第１位相傾き設定部３３は、ステップＳ３１により選択されたデータシンボルに関して、ステップＳ８により推定された位相傾きを第１タイミング補正部３２に設定する（第１位相傾き設定ステップＳ３２）。
【００９９】
次に、第１タイミング補正部３２は、ステップＳ３２又は後述するステップＳ４１により設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きＳＬｋとして用いて、現在選択されているデータシンボルに対応するサブキャリア信号のタイミングを周波数領域で補正する（第１タイミング補正ステップＳ３３）。
【０１００】
次に、サブキャリア復調部３４は、ステップＳ３３により補正されたサブキャリア信号に、ＱＰＳＫ復調やＱＡＭ復調などのサブキャリア復調を行って、理想ＯＦＤＭシンボルのビットデータを生成する（理想サブキャリア信号生成ステップＳ３４）。
【０１０１】
次に、サブキャリア変調部３５は、ステップＳ３４により生成されたビットデータにＱＰＳＫ変調やＱＡＭ変調などのサブキャリア変調を行って、ステップＳ３３により補正されたサブキャリア信号に対するタイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成する（理想サブキャリア信号生成ステップＳ３５）。
【０１０２】
次に、残留位相傾き推定部３６は、ステップＳ３３により補正されたサブキャリア信号と、ステップＳ３４及びステップＳ３５により生成された理想サブキャリア信号との位相差の、周波数に対する位相傾きを周波数領域で推定する（残留位相傾き推定ステップＳ３６）。
【０１０３】
次に、第２位相傾き設定部３７は、ステップＳ３６により推定された位相傾きを第２タイミング補正部３８に設定する（ステップＳ３７）。
【０１０４】
次に、第２タイミング補正部３８は、ステップＳ３７により設定された位相傾きをタイミング補正用の位相傾きＳＬｋとして用いて、ステップＳ３３により補正されたサブキャリア信号のタイミングを補正する（第２タイミング補正ステップＳ３８）。
【０１０５】
次に、制御部１５は、現在選択されているデータシンボルが、ブロック内の前進方向の端のデータシンボルであるか否かを判断する（ステップＳ３９）。制御部１５は、否定判断の場合にはステップＳ４０に進み、肯定判断の場合には処理を終了する。
【０１０６】
ステップＳ４０において位相傾き更新部３９は、ステップＳ３６により推定された位相傾きと、ステップＳ３３で用いられた位相傾きとを加算した値を新たな位相傾きとして算出する（位相傾き更新ステップＳ４０）。
【０１０７】
次に、第１位相傾き設定部３３は、後述するステップＳ４２により選択されるデータシンボルに関して、ステップＳ４０により算出された位相傾きを第１タイミング補正部３２に設定する（第１位相傾き設定ステップＳ４１）。
【０１０８】
次に、シンボルシフト部３１は、現在選択されているデータシンボルから前進方向に１つ離れたデータシンボルを選択する（シンボルシフトステップＳ４２）。そして、制御部１５は、ステップＳ３３の処理に戻る。
【０１０９】
以上説明したように、本実施形態に係るクロックエラー補正装置２０は、サンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを時間領域で１サンプルずつ調整して補正する従来の方法と異なり、１ＯＦＤＭシンボルに含まれる全てのサンプルのタイミングを周波数領域で一括して補正できる。このため、本実施形態に係るクロックエラー補正装置２０は、ＤＵＴ１００のサンプリングクロックエラーに起因する被測定信号のタイミングずれを補正する際の処理時間を大幅に短縮できる。
【０１１０】
また、本実施形態に係るクロックエラー補正装置２０は、ＯＦＤＭシンボルごとにタイミング補正用の位相傾きを更新するため、復調エラーを抑制しながらタイミングの基準となる理想サブキャリア信号を生成して、ＯＦＤＭシンボルのタイミング補正を精度良く行うことができる。
【０１１１】
また、本実施形態に係る測定装置１０は、クロックエラー補正装置２０を備えることにより、ＤＵＴ１００のＥＶＭなどの測定をＤＵＴ１００のサンプリングクロックエラーの影響を排除して精度良く行うことができる。
【符号の説明】
【０１１２】
１０  測定装置
１１  アンテナ
１２  復調部
１３  測定部
１４  表示部
１５  制御部
２０  クロックエラー補正装置
２１  ＲＦ受信部
２２  記憶部
２３  フレーム同期部
２４  ブロック分割部
２５  ＦＦＴ処理部
２６  参照信号シンボル位相傾き推定部
２７  参照信号シンボルタイミング補正部
２８  データシンボルタイミング補正部
３１  シンボルシフト部
３２  第１タイミング補正部
３３  第１位相傾き設定部
３４  サブキャリア復調部
３５  サブキャリア変調部
３６  残留位相傾き推定部
３７  第２位相傾き設定部
３８  第２タイミング補正部
３９  位相傾き更新部
１００  ＤＵＴ
１１０  アンテナ
【図１】
0006893958.tif 000008
【図２】
0006893958.tif 000009
【図３】
0006893958.tif 000010
【図４】
0006893958.tif 000011
【図５】
0006893958.tif 000012
【図６】
0006893958.tif 000013
【図７】
0006893958.tif 000014
【図８】
0006893958.tif 000015
【図９】
0006893958.tif 000016