(57)【要約】  本発明は、電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する方法および装置に関する。本装置は、鋳造アノード(1)を受け取るアノード受取手段(8)、および鋳造アノード(1)のラグ(5)を機械加工することで機械加工された鋳造アノード(7)を形成するフライス盤(6)を備えている。本装置は、機械加工後の鋳造アノード(7)をラグ(5)にて吊架して機械加工後の鋳造アノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持手段(9)と、機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段(10)と、第１の水平差分を用いて、機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値としてのオフセット値を算出する算出手段(11)とを備えている。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブレード部(2)の一方の側に第１の面(3)を、また該ブレード部(2)の他方の側に第２の面(4)を有するブレード部(2)と、電解槽内にて鋳造アノードを支持するラグ(5)とを含む鋳造アノード(1)を受け取る受取工程と、
該鋳造アノード(1)のラグ(5)をフライス盤(6)を用いて機械加工することで機械加工された鋳造アノード(7)を形成する機械加工工程とを含み、鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する方法において、該方法は、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)を該機械加工後の鋳造アノード(7)のラグ(5)にて吊架して、該アノードのブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持工程と、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定工程と、
前記吊架された機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値としてのオフセット値を、前記測定工程で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出工程とを特徴とする鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法において、
前記測定工程はさらに、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定し、
前記算出工程にて第１の水平差分および第２の水平差分を用いて前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項２に記載の方法において、
第１の基準点が第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定し、
第１の水平差分、第２の水平差分、および第１の基準点と第２の基準点との間の第１の垂直距離を前記算出工程にて用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項２に記載の方法において、
第１の基準点が第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定し、
第１の水平差分、第２の水平差分、第１の基準点と第２の基準点との間の第１の距離を前記算出工程にて用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角として第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、
前記支持工程は、前記フライス盤(6)から前記機械加工後の鋳造アノード(7)を搬送コンベヤ(12)を用いて受け取り、該搬送コンベヤは、電解槽(17)に移送される１組の機械加工済鋳造アノードにまとめるように構成されたアノード離間手段(13)を備え、
前記支持工程は、前記搬送コンベヤ(12)を用いて、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)を該機械加工済鋳造アノード(7)のラグ(5)にて支持して、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げ、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が実質的に平行になるようにし、
前記測定工程は、前記１組の機械加工済鋳造アノードに沿って、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)の横断方向に線形に測定手段(10)を移動させて、(i)該機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と端部面(15)との間の第１の面の端部に位置する第１の面(3)の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、前記機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定することを特徴とする方法。
【請求項６】
請求項５に記載の方法において、前記測定工程は、前記１組の鋳造アノードを前記搬送コンベヤ(12)によって支持する際に実行することを特徴とする方法。
【請求項７】
請求項５に記載の方法において、該方法は、
前記電解槽(17)に移動される１組の鋳造アノードの収納手段として機能するように構成された中間収納棚(14)を設け、
前記支持工程は、前記１組の鋳造アノードを前記搬送コンベヤ(12)から該中間収納棚(14)に移動させることを含み、
前記支持工程は、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)を前記中間収納棚(14)を用いて該鋳造アノード(7)のラグ(5)にて支持して、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げ、前記１組の鋳造アノードのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が実質的に平行になるようにし、
前記測定工程は、前記１組の鋳造アノードを前記中間収納棚(14)によって支持する際に実行することを特徴とする方法。
【請求項８】
請求項１ないし７のいずれかに記載の方法において、該方法は、前記測定工程にてレーザ測定手段を使用して前記距離を測定することを特徴とする方法。
【請求項９】
請求項１ないし８のいずれかに記載の方法において、該方法は、前記算出工程で算出したオフセット値に基づいて前記フライス盤(6)を調整する調整工程を特徴とする方法。
【請求項１０】
ブレード部(2)の一方の側に第１の面(3)を、また該ブレード部(2)の他方の側に第２の面(4)を有するブレード部(2)と、電解槽内にて鋳造アノードを支持するラグ(5)とを含む鋳造アノード(1)を受け取るアノード受取手段(8)と、
前記鋳造アノード(1)のラグ(5)を機械加工することで機械加工された鋳造アノード(7)を形成するフライス盤(6)とを含み、鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する装置において、該装置は、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)を該機械加工後の鋳造アノード(7)のラグ(5)にて吊架して該機械加工後の鋳造アノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持手段(9)と、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段(10)と、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値としてのオフセット値を、前記測定手段(10)で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出手段(11)とを含むことを特徴とする鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する装置。
【請求項１１】
請求項10に記載の装置において、
前記測定手段(10)はさらに、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定するように構成され、
前記算出手段(11)は、前記測定手段(10)によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用いて前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１２】
請求項11に記載の装置において、
前記測定手段(10)は、第１の基準点が第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定するように構成され、
前記算出手段(11)は、前記測定手段(10)によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用い、また第１の基準点と第２の基準点との間の第１の垂直距離を用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１３】
請求項11に記載の装置において、
前記測定手段(10)は、第１の基準点が第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定するように構成され、
前記算出手段(11)は、前記測定手段(10)によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用い、また第１の基準点と第２の基準点との第１の距離を用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１４】
請求項10ないし13のいずれかに記載の装置において、
該装置は、前記機械加工後の鋳造アノード(7)を前記フライス盤(6)から受け取るように構成された搬送コンベヤ(12)を含み、
該搬送コンベヤ(12)は、電解槽(17)に移送される１組の機械加工済鋳造アノードにまとめるように構成されたアノード離間手段(13)を備え、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)を該機械加工後の鋳造アノード(7)のラグ(5)にて吊架して該機械加工後の鋳造アノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持手段(9)は、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)を該機械加工済鋳造アノード(7)のラグ(5)にて支持して、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(7)が自在に動くように吊り下げ、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が実質的に平行になるように構成され、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段(10)は、前記１組の鋳造アノードに沿って該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)の横断方向に線形に移動し、(i)該機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と端部面(15)との間の第１の面(3)の端部に位置する第１の面(3)の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、前記機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定することを特徴とする装置。
【請求項１５】
請求項14に記載の装置において、前記搬送コンベヤ(12)は前記支持手段(6)を構成していることを特徴とする装置。
【請求項１６】
請求項14に記載の装置において、該装置は、
１組の機械加工済鋳造アノードを前記搬送コンベヤ(12)から受け取るように構成された中間収納棚(14)を含み、該中間収納棚は、前記電解槽(17)に移動される１組の鋳造アノードの収納手段として機能するように構成され、
該中間収納棚(14)は前記支持手段(6)を構成していることを特徴とする装置。
【請求項１７】
請求項10ないし16のいずれかに記載の装置において、前記測定手段(10)は前記距離を測定するレーザ式測定手段を含むことを特徴とする装置。
【発明の詳細な説明】
【発明の分野】
【０００１】
本発明は、独立請求項１の前段に規定する鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する方法に関するものである。
【０００２】
本発明はまた、独立請求項10の前段に規定する鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する装置に関するものである。
【０００３】
多くの金属の最終的な精錬は電気精錬によって行われる。電気精錬法では、溶融金属をアノード鋳型で鋳造して得られる可溶性鋳造アノードを用いる。電気精錬法における鋳造アノードおよびカソード板は、互いに近接した状態で電解槽に配置して鋳造アノードとカソード板の間の距離をほんの数センチ程度にするので、アノードが電解槽内に垂直に吊架されていないと、鋳造アノードが電解槽内でカソード板と接触してしまうことがあり、それによって短絡が発生する。アノードが電解槽内で垂直に吊架されていないことで電解槽内におけるカソード板と鋳造アノードの間の距離が不均等であると、アノードとカソード板の間の間隙における電流密度が影響を受ける。
【０００４】
米国特許公報第5,799,529号は、金属の電解精錬用鋳造アノードのラグを直状にしてからアノードを電解槽に浸漬させることに関連する。当該方法では、垂直圧迫および水平圧迫の両方を行ってラグを直状にし、機械加工を施してアノードラグの底面を滑らかにしている。
【０００５】
国際公開公報第2008/061354号は、高能力のアノード調製装置を設けることを提起し、当該装置は、未加工アノードを最大で毎時600個またはそれ以上の生産速度でアノードを処理できる。処理したアノードは様々な金属素材の電気精錬での使用に適し、とりわけ銅の電気精錬に適している。当該装置は、好適には、高速工業用ロボットを利用したシステムの一部をなし、これは、アノードを装置に対して出し入れし、またアノードを水平に配向するものである。当該装置にはいろいろな処理台が装備され、処理台は、未加工のアノードを水平に配向した状態でアノードを処理するように構成されている。水平に配向することで、装置の重心を装置自体の重心に近い位置に維持できるため、当該装置は従来技術による装置よりも速く回転できる。これにより、未加工のアノードをより早く処理できる。
【０００６】
特開2010-174268号公報は、電解精錬用のアノード板を垂直状態で検査する装置および方法を提示している。
【０００７】
従来、ケースアノードの吊架角度は操作者が手動で確認していた。しかし、吊架角度測定は測定誤差が起こりやすいため、いささか手間がかかる。
【発明の目的】
【０００８】
本発明は、鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する方法および装置を対象とする。
【発明の概要】
【０００９】
鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する本発明に係る方法は、独立請求項１に規定の事項を特徴とする。
【００１０】
本方法の好適な実施形態は、従属請求項２ないし９に規定される。
【００１１】
鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する本発明に係る装置は、同様に、独立請求項10に規定の事項を特徴とする。
【００１２】
本装置の好適な実施形態は、従属請求項11ないし18に規定される。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
以下に、本発明について図面を参照してより詳細に述べる。
【図１】鋳造アノードを一方の面から見た図である。
【図２】図１に示す鋳造アノードを方側から見た図である。
【図３】金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する装置の原理を示す概略図である。
【図４】図３に示す装置の一部を示す図であり、鋳造アノードが垂直に吊架された状態にある。
【図５】図３に示す装置の一部を示す図であり、鋳造アノードが支持手段内において後方に傾いた状態で吊架されている。
【図６】図３に示す装置の一部を示す図であり、鋳造アノードが支持手段内において前方に傾いた状態で吊架されている。
【図７】機械加工された鋳造アノードのブレード部の第１の面および第２の面の両方を測定する測定手段を有する装置の一部を示す図であり、鋳造アノードは垂直に吊架された状態にある。
【図８】機械加工された鋳造アノードのブレード部の第１の面および第２の面の両方を測定する測定手段を有する装置の一部を示す図であり、鋳造アノードは支持手段内において後方に傾いた状態で吊架されている。
【図９】機械加工された鋳造アノードのブレード部の第１の面および第２の面の両方を測定する測定手段を有する装置の一部を示す図であり、鋳造アノードは支持手段内において前方に傾いた状態で吊架されている。
【図１０】鋳造アノードを調製する装置を備えたタンクハウスの概略図である。
【図１１】鋳造アノードを調製する装置を備えたタンクハウスの別の概略図である。
【図１２】１組の鋳造アノードに沿って移動可能な測定手段を用いる実施形態を示す図である。
【図１３】１組の鋳造アノードに沿って移動可能な測定手段を用いる別の実施形態を示す図である。
【発明の詳細な説明】
【００１４】
各図は本発明による方法および装置の一例を示す。
【００１５】
最初に、鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する方法と、本方法のいくつかの好適な実施形態および変形例とについて詳細に述べる。
【００１６】
本方法は鋳造アノード１を受け取る受取工程を含み、各アノードは、ブレード部２の一方の側に第１の面３を、またブレード部２の他方の側に第２の面４を有するブレード部２と、アノードを電解槽（各図には示さず）内で支持するラグ５とを有する。
【００１７】
本方法は、フライス盤６によって鋳造アノード１のラグ５を機械加工することで、機械加工された鋳造アノード７を形成する機械加工工程を含む。
【００１８】
本方法は、機械加工後の鋳造アノード７をその機械加工後の鋳造アノード７のラグ５にて吊架して、アノードのブレード部２が電解槽内で自在に動くように吊り下げる支持工程を含む。
【００１９】
本方法は、機械加工後のアノード７の第１の面３の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定工程を含む。
【００２０】
本方法は、吊架された機械加工後の鋳造アノード７の第１のオフセット値としてのオフセット値を、測定工程で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出工程を含む。
【００２１】
本方法のいくつかの実施形態では、測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分も測定してよい。本方法のこのような実施形態では、第１の水平差分および第２の水平差分を算出工程で用いて機械加工後の鋳造アノード７の第１のオフセット値を求める。
【００２２】
本方法のいくつかの実施形態では、測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分も測定して、第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に第１の基準点が位置するように第１の基準点を選定してもよい。本方法のこのような実施形態では、第１の水平差分、第２の水平差分、および第１の基準点と第２の基準点の間の第１の垂直距離を算出工程で用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出する。
【００２３】
本方法のいくつかの実施形態では、測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分も測定して、第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に第１の基準点が位置するように第１の基準点を選定してもよい。本方法のこのような実施形態では、第１の水平差分、第２の水平差分、および第１の基準点と第２の基準点の間の第１の距離を算出工程で用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出する。
【００２４】
本方法のいくつかの実施形態において、本方法の測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定してもよい。本発明のこのような実施形態では、算出工程においてさらに、吊架された機械加工後の鋳造アノード７の第２のオフセット値としてのオフセット値を、測定工程で測定した第３の水平差分を用いて算出する。
【００２５】
本方法のいくつかの実施形態では、本方法の測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定し、また機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第４の面点と第４の基準点との間の距離の第４の水平差分を測定してもよい。本方法のこのような実施形態では、算出工程においてさらに、吊架された機械加工後の鋳造アノード７の第２のオフセット値としてのオフセット値を、測定工程で測定した第３の水平差分および第４の水平差分を用いて算出する。
【００２６】
本方法のいくつかの実施形態では、本方法の測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定し、また機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第４の面点と第４の基準点との間の距離の第４の水平差分を測定してもよい。本方法のこのような実施形態では、第３の基準点から垂直方向に第２の垂直距離だけ第４の基準点の上方に第３の基準点が位置するように第３の基準点を選定してもよい。本方法のこのような実施形態では、算出工程は、第３の水平差分、第４の水平差分、および第３の基準点と第４の基準点との間の第２の垂直距離を算出工程で用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第２の吊架角度としてオフセット値を求める。
【００２７】
本方法のいつかの実施形態では、本方法の測定工程においてさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定し、また機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第４の面点と第４の基準点との間の距離の第４の水平差分を測定してもよい。本方法のこのような実施形態では、第３の基準点から第２の距離だけ第４の基準点の上方に第３の基準点が位置するように第３の基準点を選定する。本方法のこのような実施形態では、第３の水平差分、第４の水平差分、および第３の基準点と第４の基準点との間の第２の距離を算出工程で用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第２の吊架角度として第２のオフセット値を算出する。支持工程において、図10および図11に示すように、機械加工後の鋳造アノード７を搬送コンベヤ12によってフライス盤６から受け取ってもよく、搬送コンベヤはアノード離間手段13を備え、これは、電解槽17に移送する機械加工済鋳造アノードを１組にまとめるように構成されている。アノード離間手段13は、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７を離間配置して、１組の機械加工済鋳造アノードを電解槽内へ移動できるようにすることを目的とし、これにより電解槽17内の１組の鋳造アノードのうちの２枚の間の空間に恒久カソード（図示せず）を配置できるようにする。このような場合、支持工程では、１組の機械加工後の鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７をその機械加工済鋳造アノード７のラグ５にて搬送コンベヤ12で支持して、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７のブレード部２が自在に動くように吊り下げ、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７のブレード部２が実質的に平行になるようにする。このような場合、測定工程では、１組の機械加工済鋳造アノードに沿って、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７のブレード部２の横断方向に測定手段10を線形に移動させて、(i)機械加工済鋳造アノード７の第１の面３と端部面15との間の第１の面３の端部に位置する第１の面３の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、機械加工済鋳造アノード７の第１の面３の第１の面点と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定する。前述のような上記第１の水平差分の測定に加えて、測定工程では、(i)機械加工済鋳造アノード７の第１の面３の第１の面点の垂直方向上方において第１の面３と端部面15との間の端部に位置する第１の面３の第２の面点と、(ii)第２の基準点との間の差分として第２の水平差分を測定してもよい。
【００２８】
支持工程で搬送コンベヤ12を上述のように使用する場合、測定工程は、１組の鋳造アノードを搬送コンベヤ12によって支持する際に実行してもよい。
【００２９】
支持工程で搬送コンベヤ12を上述のように使用する場合、本方法では、電解槽に移すべき１組の鋳造アノードを収納する収納手段として機能するように構成された中間収納棚14を設けてもよく、支持工程では、１組の鋳造アノードを搬送コンベヤ12から中間収納棚14に移動させてもよい。このような場合、支持工程では、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７を機械加工済鋳造アノード７のラグ５にて中間収納棚14で支持して、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７のブレード部２が自在に動くように吊り下げ、１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード７のブレード部２が実質的に平行になるようにしてもよく、測定工程は、１組の鋳造アノードを中間収納棚14によって支持する際に実行される。
【００３０】
各距離、すなわち第１の水平差分および第２の水平差分は、必須ではないが好適には測定工程においてレーザ式測定手段を用いて測定する。
【００３１】
本方法は、算出工程で算出した機械加工後の鋳造アノード７のオフセット値に基づいてフライス盤６を調整する調整工程を含んでもよい。
【００３２】
本方法は、算出工程で算出したオフセット値に基づいてフライス盤６を自動的に調整する調整工程を含んでもよい。
【００３３】
本方法の一実施形態では、受取工程において、回分の鋳造アノード１を受け取る。本方法の当該実施形態では、機械加工工程では、上記回分の鋳造アノード１のそれぞれ１のラグ５を機械加工して、回分の機械加工済鋳造アノードとしてまとめる。本方法の支持工程では、当該実施形態において、上述の回分の機械加工済鋳造アノード７のうちの１枚７を支持し、測定工程では、上述の回分の機械加工済鋳造アノード７のうちの上述の１枚７を測定する。
【００３４】
次に、鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する装置、および本装置のいくつかの実施形態とその変形例について詳細に述べる。
【００３５】
本装置は鋳造アノード１を受け取るアノード受取手段８を備え、各アノードは、ブレード部２の一方の側に第１の面３を、またブレード部２の他方の側に第２の面４を有するブレード部２と、アノードを電解槽内で支持するラグ５とを備えている。
【００３６】
本装置は、鋳造アノード１のラグ５を機械加工することで機械加工された鋳造アノード７を形成するフライス盤６を備えている。
【００３７】
本装置は、機械加工後の鋳造アノード７をその機械加工後の鋳造アノード７のラグ５にて吊架する支持手段９を備え、機械加工後の鋳造アノード７のブレード部２が電解槽内にて自在に動くように吊り下げる。
【００３８】
本装置は、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段10を備えている。
【００３９】
本装置は、機械加工後の鋳造アノード７の第１のオフセット値としてのオフセット値を、測定手段10で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出手段11を備えている。
【００４０】
本装置のいくつかの実施形態において、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定するように構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11は、第１の水平差分および第２の水平差分を用いて機械加工後の鋳造アノード７の第１のオフセット値を算出するように構成されている。
【００４１】
本装置のいくつかの実施形態において、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定するように構成して、第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に第１の基準点が位置するように第１の基準点を選定するように測定手段10を構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11は、第１の水平差分、第２の水平差分および第１の垂直距離を用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第１の吊架角度として第１のオフセット値を求めるように構成されている。
【００４２】
本装置のいくつかの実施形態では、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定ように構成して、第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に第１の基準点が位置するように第１の基準点を選定するように測定手段10を構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11は、第１の水平差分、第２の水平差分および第１の距離を用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されている。
【００４３】
本装置のいくつかの実施形態では、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定するように構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11はさらに、吊架される機械加工後の鋳造アノード７の第２のオフセット値としてのオフセット値を、測定手段10で測定した第３の水平差分を用いて算出するように構成してもよい。
【００４４】
本装置のいくつかの実施形態において、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定し、また機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第４の面点と第４の基準点との間の距離の第４の水平差分を測定するように構成して、第３の基準点から垂直方向に第２の垂直距離だけ第４の基準点の上方に第３の基準点が位置するように第３の基準点を選定するように測定手段10を構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11は、さらに、測定手段10で測定した第３の水平差分および第４の水平差分を用いて、また第３の基準点と第４の基準点との間の第２の垂直差分を用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第２の吊架角度としてのオフセット値を算出するように構成されている。
【００４５】
本装置のいくつかの実施形態において、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定し、また機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第４の面点と第４の基準点との間の距離の第４の水平差分を測定するように構成し、第３の基準点から第２の垂直距離だけ第４の基準点の上方に第３の基準点が位置するように第３の基準点を選定するように測定手段10を構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11はさらに、測定手段10で測定した第３の水平差分および第４の水平差分を用いて、また第３の基準点および第４の基準点の間の第２の垂直距離を用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第２の吊架角度としてのオフセット値を算出するように構成されている。
【００４６】
本装置のいくつかの実施形態では、測定手段10はさらに、機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第３の面点と第３の基準点との間の距離の第３の水平差分を測定し、また機械加工後の鋳造アノード７の第２の面４の第４の面点と第４の基準点との間の距離の第４の水平差分を測定するように構成して、第３の基準点から第２の垂直距離だけ第４の基準点の上方に第３の基準点が位置するように第３の基準点を選定するように測定手段10を構成してもよい。本装置のこのような実施形態では、算出手段11はさらに、測定手段10で測定した第３の水平差分および第４の水平差分を用い、また第３の基準点および第４の基準点の間の第２の距離を用いて、機械加工後の鋳造アノード７の第２の吊架角度としてオフセット値を算出するように構成されている。
【００４７】
本装置は、機械加工後の鋳造アノード７の吊架角度を１枚ずつすべて測定するように構成することも可能である。あるいは、本装置は、機械加工後の鋳造アノード７を数枚、または１枚だけについて機械加工済鋳造アノード７の吊架角度を測定するように構成することもできる。本装置は、図10および図11に示す実施形態において見られるように、機械加工後の鋳造アノード７をフライス盤６から受け取る搬送コンベヤ12を備えていてもよい。搬送コンベヤ12は、電解槽17に移送される機械加工済鋳造アノードを１組にまとめるように構成されたアノード離間手段13を備えている。アノード離間手段13は、１組の機械加工済鋳造アノードのそれぞれのアノード７を離間配置して、１組の機械加工済鋳造アノードを電解槽内へ移動できるようにすることを目的とし、これにより電解槽17内の１組の鋳造アノードのうちの２枚の間の空間に恒久カソードを配置できるようにする。このような場合、支持手段９は、機械加工後の鋳造アノード７のラグ５にて機械加工済鋳造アノード７を支持することで機械加工済鋳造アノード７のブレード部２が自在に動くように吊り下げるが、１組の機械加工済鋳造アノードのそれぞれのアノード７を機械加工済鋳造アノード７のラグ５にて支持して、１組の機械加工済鋳造アノードのそれぞれのアノード７のブレード部２が自在に動くように吊り下げられ、また１組の機械加工済鋳造アノードのそれぞれのアノード７のブレード部２が実質的に平行になるように構成されている。このような場合、測定手段10は、機械加工後の鋳造アノード７の第１の面３の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定するが、１組の機械加工済鋳造アノードに沿って、１組の機械加工済鋳造アノードのうちの各アノード７のブレード部２の横断方向に線形に移動して、(i)機械加工済鋳造アノード７の第１の面３と端部面15の間の第１の面３の端部に位置する第１の面３の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、機械加工済鋳造アノード７の第１の面３の第１の面点と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定するように構成されている。前述のような上記第１の水平差分の測定に加えて、測定手段10は、図13に示すように、(i)機械加工済鋳造アノード７の第１の面３の第１の面点の垂直方向上方において第１の面３と端部面15との間の端部に位置する第１の面３の第２の面点と、(ii)第２の基準点との間の差分として第２の水平差分を測定するように構成してもよい。搬送コンベヤ12は、図10に示す実施形態に見られるように、支持手段６を形成してもよい。図11に示す実施形態では、本装置は、１組の機械加工済鋳造アノードを搬送コンベヤ12から受け取るように構成された中間収納棚14を備え、これは、電解槽17に移動させる１組の鋳造アノードを収納する収納手段として機能するように構成されている。図11に示す装置では、中間収納棚14は支持手段６を形成している。
【００４８】
図10および図11に示す装置は、その他に、少なくとも数組の機械加工後の鋳造アノードを搬送コンベヤ12から中間収納棚14へ、さらには電解槽17へと移動させる吊上げ機16を備えている。
【００４９】
図10および図11に示す装置はさらに、鋳造アノード７を加圧して直状にするための加圧手段19を備えている。
【００５０】
図10および図11に示す装置は、アノード収容コンベヤ（参照符号なし）を備えたアノード受取手段８と、鋳造アノード１をアノード収容コンベヤから受け取って鋳造アノード１をアノード収容コンベヤから加圧手段19へと移送し、鋳造アノード１を加圧手段19から移送する横行コンベヤ21と、横行コンベヤ21から排出される鋳造アノード１を受け取るアノード排出コンベヤ（参照符号なし）を有するアノード排出手段20と、鋳造アノードをフライス盤６に送給する送給コンベヤ22とを備えている。
【００５１】
測定手段10は、距離を測定する、すなわち第１の水平差分および第２の水平差分を測定するレーザ式測定手段を含んでいる。
【００５２】
本装置は、算出手段11とフライス盤６の間の機能的結合を有し、算出手段11によって求めたオフセット値に基づいてフライス盤６を自動的に調整してもよい。
【００５３】
本装置の好適な実施形態では、アノード受取手段８は回分の鋳造アノード１を受け取るように構成され、フライス盤６は、当該回分の機械加工済鋳造アノード７の各鋳造アノード１のラグ５を支持工程にてフライス加工することで、回分の機械加工済鋳造アノード７を形成するように構成され、測定手段10は、当該回分の機械加工済鋳造アノード７のうちの１枚７を測定するように構成されている。
【００５４】
当業者には明白なことであるが、技術の進歩に伴い、本発明の基本概念をさまざまな仕方で実現できる。したがって、本発明およびその実施形態は上述の例に限定されるものでなく、特許請求の範囲内において変更してもよい。
【図１】
2016535818.tif 000003
【図２】
2016535818.tif 000004
【図３】
2016535818.tif 000005
【図４】
2016535818.tif 000006
【図５】
2016535818.tif 000007
【図６】
2016535818.tif 000008
【図７】
2016535818.tif 000009
【図８】
2016535818.tif 000010
【図９】
2016535818.tif 000011
【図１０】
2016535818.tif 000012
【図１１】
2016535818.tif 000013
【図１２】
2016535818.tif 000014
【図１３】
2016535818.tif 000015
【手続補正書】
【提出日】平成27年4月27日(2015.4.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブレード部(2)の一方の側に第１の面(3)を、また該ブレード部(2)の他方の側に第２の面(4)を有するブレード部(2)と、電解槽内にて鋳造アノードを支持するラグ(5)とを含む鋳造アノード(1)を受け取る受取工程と、
該鋳造アノード(1)のラグ(5)をフライス盤(6)を用いて機械加工することで機械加工された鋳造アノード(7)を形成する機械加工工程とを含み、鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する方法において、該方法は、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)を該機械加工後の鋳造アノード(7)のラグ(5)にて吊架して、該アノードのブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持工程と、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定工程と、
前記吊架された機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値としてのオフセット値を、前記測定工程で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出工程とを特徴とし、
前記支持工程は、前記フライス盤(6)から前記機械加工後の鋳造アノード(7)を搬送コンベヤ(12)を用いて受け取り、該搬送コンベヤは、電解槽(17)に移送される１組の機械加工済鋳造アノードにまとめるように構成されたアノード離間手段(13)を備え、
前記支持工程は、前記搬送コンベヤ(12)を用いて、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)を該機械加工済鋳造アノード(7)のラグ(5)にて支持して、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げ、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が実質的に平行になるようにし、
前記測定工程は、前記１組の機械加工済鋳造アノードに沿って、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)の横断方向に線形に測定手段(10)を移動させて、(i)該機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と端部面(15)との間の第１の面の端部に位置する第１の面(3)の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、前記機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定する鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法において、
前記測定工程はさらに、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定し、
前記算出工程にて第１の水平差分および第２の水平差分を用いて前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項２に記載の方法において、
第１の基準点が第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定し、
第１の水平差分、第２の水平差分、および第１の基準点と第２の基準点との間の第１の垂直距離を前記算出工程にて用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項２に記載の方法において、
第１の基準点が第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定し、
第１の水平差分、第２の水平差分、第１の基準点と第２の基準点との間の第１の距離を前記算出工程にて用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角として第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、前記測定工程は、前記１組の鋳造アノードを前記搬送コンベヤ(12)によって支持する際に実行することを特徴とする方法。
【請求項６】
請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、該方法は、
前記電解槽(17)に移動される１組の鋳造アノードの収納手段として機能するように構成された中間収納棚(14)を設け、
前記支持工程は、前記１組の鋳造アノードを前記搬送コンベヤ(12)から該中間収納棚(14)に移動させることを含み、
前記支持工程は、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)を前記中間収納棚(14)を用いて該鋳造アノード(7)のラグ(5)にて支持して、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げ、前記１組の鋳造アノードのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が実質的に平行になるようにし、
前記測定工程は、前記１組の鋳造アノードを前記中間収納棚(14)によって支持する際に実行することを特徴とする方法。
【請求項７】
請求項１ないし６のいずれかに記載の方法において、該方法は、前記測定工程にてレーザ測定手段を使用して前記距離を測定することを特徴とする方法。
【請求項８】
請求項１ないし７のいずれかに記載の方法において、該方法は、前記算出工程で算出したオフセット値に基づいて前記フライス盤(6)を調整する調整工程を特徴とする方法。
【請求項９】
ブレード部(2)の一方の側に第１の面(3)を、また該ブレード部(2)の他方の側に第２の面(4)を有するブレード部(2)と、電解槽内にて鋳造アノードを支持するラグ(5)とを含む鋳造アノード(1)を受け取るアノード受取手段(8)と、
前記鋳造アノード(1)のラグ(5)を機械加工することで機械加工された鋳造アノード(7)を形成するフライス盤(6)とを含み、鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する装置において、該装置は、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)を該機械加工後の鋳造アノード(7)のラグ(5)にて吊架して該機械加工後の鋳造アノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持手段(9)と、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段(10)と、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値としてのオフセット値を、前記測定手段(10)で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出手段(11)とを含み、
該装置は、前記機械加工後の鋳造アノード(7)を前記フライス盤(6)から受け取るように構成された搬送コンベヤ(12)を含み、
該搬送コンベヤ(12)は、電解槽(17)に移送される１組の機械加工済鋳造アノードにまとめるように構成されたアノード離間手段(13)を備え、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)を該機械加工後の鋳造アノード(7)のラグ(5)にて吊架して該機械加工後の鋳造アノード(7)のブレード部(2)が自在に動くように吊り下げる支持手段(9)は、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)を該機械加工済鋳造アノード(7)のラグ(5)にて支持して、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(7)が自在に動くように吊り下げ、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)が実質的に平行になるように構成され、
前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段(10)は、前記１組の鋳造アノードに沿って該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノード(7)のブレード部(2)の横断方向に線形に移動し、(i)該機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と端部面(15)との間の第１の面(3)の端部に位置する第１の面(3)の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、前記機械加工済鋳造アノード(7)の第１の面(3)と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定することを特徴とする鋳造アノード(1)の金属の電気精錬用に鋳造アノード(1)を調製する装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の装置において、
前記測定手段(10)はさらに、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の面(3)の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定するように構成され、
前記算出手段(11)は、前記測定手段(10)によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用いて前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１１】
請求項10に記載の装置において、
前記測定手段(10)は、第１の基準点が第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定するように構成され、
前記算出手段(11)は、前記測定手段(10)によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用い、また第１の基準点と第２の基準点との間の第１の垂直距離を用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１２】
請求項10に記載の装置において、
前記測定手段(10)は、第１の基準点が第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定するように構成され、
前記算出手段(11)は、前記測定手段(10)によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用い、また第１の基準点と第２の基準点との第１の距離を用いて、前記機械加工後の鋳造アノード(7)の第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１３】
請求項９ないし12のいずれかに記載の装置において、前記搬送コンベヤ(12)は前記支持手段(6)を構成していることを特徴とする装置。
【請求項１５】
請求項９ないし12のいずれかに記載の装置において、該装置は、
１組の機械加工済鋳造アノードを前記搬送コンベヤ(12)から受け取るように構成された中間収納棚(14)を含み、該中間収納棚は、前記電解槽(17)に移動される１組の鋳造アノードの収納手段として機能するように構成され、
該中間収納棚(14)は前記支持手段(6)を構成していることを特徴とする装置。
【請求項１６】
請求項９ないし15のいずれかに記載の装置において、前記測定手段(10)は前記距離を測定するレーザ式測定手段を含むことを特徴とする装置。
【手続補正書】
【提出日】平成28年5月10日(2016.5.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブレード部の一方の側に第１の面を、また該ブレード部の他方の側に第２の面を有するブレード部と、電解槽内にて鋳造アノードを支持するラグとを含む鋳造アノードを受け取る受取工程と、
該鋳造アノードのラグをフライス盤を用いて機械加工することで機械加工された鋳造アノードを形成する機械加工工程とを含み、鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する方法において、該方法は、
前記機械加工後の鋳造アノードを該機械加工後の鋳造アノードのラグにて吊架して、該アノードのブレード部が自在に動くように吊り下げる支持工程と、
前記機械加工後の鋳造アノードの第１の面の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定工程と、
前記吊架された機械加工後の鋳造アノードの第１のオフセット値としてのオフセット値を、前記測定工程で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出工程とを特徴とし、
前記支持工程は、前記フライス盤から前記機械加工後の鋳造アノードを搬送コンベヤを用いて受け取り、該搬送コンベヤは、電解槽に移送される１組の機械加工済鋳造アノードにまとめるように構成されたアノード離間手段を備え、
前記支持工程は、前記搬送コンベヤを用いて、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードを該機械加工済鋳造アノードのラグにて支持して、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部が自在に動くように吊り下げ、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部が実質的に平行になるようにし、
前記測定工程は、前記１組の機械加工済鋳造アノードに沿って、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部の横断方向に線形に測定手段を移動させて、(i)該機械加工済鋳造アノードの第１の面と端部面との間の第１の面の端部に位置する第１の面の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、前記機械加工済鋳造アノードの第１の面と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定する鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法において、
前記測定工程はさらに、前記機械加工後の鋳造アノードの第１の面と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定し、
前記算出工程にて第１の水平差分および第２の水平差分を用いて前記機械加工後の鋳造アノードの第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項２に記載の方法において、
第１の基準点が第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定し、
第１の水平差分、第２の水平差分、および第１の基準点と第２の基準点との間の第１の垂直距離を前記算出工程にて用いて、前記機械加工後の鋳造アノードの第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項２に記載の方法において、
第１の基準点が第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定し、
第１の水平差分、第２の水平差分、第１の基準点と第２の基準点との間の第１の距離を前記算出工程にて用いて、前記機械加工後の鋳造アノードの第１の吊架角として第１のオフセット値を算出することを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、前記測定工程は、前記１組の鋳造アノードを前記搬送コンベヤによって支持する際に実行することを特徴とする方法。
【請求項６】
請求項１ないし４のいずれかに記載の方法において、該方法は、
前記電解槽に移動される１組の鋳造アノードの収納手段として機能するように構成された中間収納棚を設け、
前記支持工程は、前記１組の鋳造アノードを前記搬送コンベヤから該中間収納棚に移動させることを含み、
前記支持工程は、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードを前記中間収納棚を用いて該鋳造アノードのラグにて支持して、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部が自在に動くように吊り下げ、前記１組の鋳造アノードのそれぞれのアノードのブレード部が実質的に平行になるようにし、
前記測定工程は、前記１組の鋳造アノードを前記中間収納棚によって支持する際に実行することを特徴とする方法。
【請求項７】
請求項１ないし６のいずれかに記載の方法において、該方法は、前記測定工程にてレーザ測定手段を使用して前記距離を測定することを特徴とする方法。
【請求項８】
請求項１ないし７のいずれかに記載の方法において、該方法は、前記算出工程で算出したオフセット値に基づいて前記フライス盤を調整する調整工程を特徴とする方法。
【請求項９】
ブレード部の一方の側に第１の面を、また該ブレード部の他方の側に第２の面を有するブレード部と、電解槽内にて鋳造アノードを支持するラグとを含む鋳造アノードを受け取るアノード受取手段と、
前記鋳造アノードのラグを機械加工することで機械加工された鋳造アノードを形成するフライス盤とを含み、鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する装置において、該装置は、
前記機械加工後の鋳造アノードを該機械加工後の鋳造アノードのラグにて吊架して該機械加工後の鋳造アノードのブレード部が自在に動くように吊り下げる支持手段と、
前記機械加工後の鋳造アノードの第１の面の第１の面点と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段と、
前記機械加工後の鋳造アノードの第１のオフセット値としてのオフセット値を、前記測定手段で測定した第１の水平差分を用いて算出する算出手段とを含み、
該装置は、前記機械加工後の鋳造アノードを前記フライス盤から受け取るように構成された搬送コンベヤを含み、
該搬送コンベヤは、電解槽に移送される１組の機械加工済鋳造アノードにまとめるように構成されたアノード離間手段を備え、
前記機械加工後の鋳造アノードを該機械加工後の鋳造アノードのラグにて吊架して該機械加工後の鋳造アノードのブレード部が自在に動くように吊り下げる支持手段は、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードを該機械加工済鋳造アノードのラグにて支持して、前記１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部が自在に動くように吊り下げ、該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部が実質的に平行になるように構成され、
前記機械加工後の鋳造アノードの第１の面と第１の基準点との間の距離の第１の水平差分を測定する測定手段は、前記１組の鋳造アノードに沿って該１組の機械加工済鋳造アノードのうちのそれぞれのアノードのブレード部の横断方向に線形に移動し、(i)該機械加工済鋳造アノードの第１の面と端部面との間の第１の面の端部に位置する第１の面の第１の面点と、(ii)第１の基準点との間の差分として第１の水平差分を測定することで、前記機械加工済鋳造アノードの第１の面と第１の基準点との間の第１の水平差分を測定することを特徴とする鋳造アノードの金属の電気精錬用に鋳造アノードを調製する装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の装置において、
前記測定手段はさらに、前記機械加工後の鋳造アノードの第１の面の第２の面点と第２の基準点との間の距離の第２の水平差分を測定するように構成され、
前記算出手段は、前記測定手段によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用いて前記機械加工後の鋳造アノードの第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１１】
請求項10に記載の装置において、
前記測定手段は、第１の基準点が第２の基準点から垂直方向に第１の垂直距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定するように構成され、
前記算出手段は、前記測定手段によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用い、また第１の基準点と第２の基準点との間の第１の垂直距離を用いて、前記機械加工後の鋳造アノードの第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１２】
請求項10に記載の装置において、
前記測定手段は、第１の基準点が第２の基準点から第１の距離だけ第２の基準点の上方に位置するように第１の基準点を選定するように構成され、
前記算出手段は、前記測定手段によって測定した第１の水平差分および第２の水平差分を用い、また第１の基準点と第２の基準点との第１の距離を用いて、前記機械加工後の鋳造アノードの第１の吊架角度として第１のオフセット値を算出するように構成されていることを特徴とする装置。
【請求項１３】
請求項９ないし12のいずれかに記載の装置において、前記搬送コンベヤは前記支持手段を構成していることを特徴とする装置。
【請求項１４】
請求項９ないし12のいずれかに記載の装置において、該装置は、
１組の機械加工済鋳造アノードを前記搬送コンベヤから受け取るように構成された中間収納棚を含み、該中間収納棚は、前記電解槽に移動される１組の鋳造アノードの収納手段として機能するように構成され、
該中間収納棚は前記支持手段を構成していることを特徴とする装置。
【請求項１５】
請求項９ないし14のいずれかに記載の装置において、前記測定手段は前記距離を測定するレーザ式測定手段を含むことを特徴とする装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
従来、鋳造アノードの吊架角度は操作者が手動で確認していた。しかし、吊架角度測定は測定誤差が起こりやすいため、いささか手間がかかる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
本装置の好適な実施形態は、従属請求項11ないし15に規定される。
【国際調査報告】
2016535818.tif 000016
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