(57)【要約】  パルス状刺激信号を生成し、テスト対象デバイスに印加するように構成されたパルス信号発生器を備えたパッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムを開示している。ＰＩＭテストシステムは、さらに、パルス状刺激信号を用いて、テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている。さらに、テスト対象デバイスのＰＩＭの評価方法も開示している。評価方法は、パルス状刺激信号を用いて、テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定することを含む。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と、
第１のトランスミッタ及び第２のトランスミッタと電気的に結合されたパルス発生器と；前記パルス発生器及び前記第１のトランスミッタは、第１のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、前記パルス発生器及び前記第２のトランスミッタは、第２のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記第１のトランスミッタと電気的に結合され、前記第１のパルス状刺激信号と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第１のバンドパス・フィルタと、
前記第２のトランスミッタと電気的に結合され、前記第２のパルス状刺激信号と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第２のバンドパス・フィルタと、
前記第１のバンドパス・フィルタ及び前記第２のバンドパス・フィルタと電気的に結合されたコンバイナと；前記コンバイナは、前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を合成して、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記コンバイナと電気的に結合された入力部、及び、テスト対象デバイスに電気的に結合された出力部を備えたメインラインを有する方向性カプラと；前記メインラインは、順方向に伝搬する前記合成パルス状刺激信号を前記テスト対象デバイスに伝達し、且つ、前記テスト対象デバイスから反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されており；前記双方向性カプラは、さらに、反射方向チャネル出力部を備えており；前記方向性カプラは、さらに、前記メインラインを反射方向に伝搬する前記信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されており；前記反射方向チャネル出力部は、前記メインラインを反射方向に伝搬する前記サンプル信号をノッチ・フィルタに供給するように構成されており、
前記ノッチ・フィルタは、前記反射方向チャネル出力部に電気的に結合されており、且つ、前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号からの前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を減衰させるように構成されており、
前記ノッチ・フィルタと電気的に結合された低ノイズ・ゲイン・ステージと；前記低ノイズ・ゲイン・ステージは、前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号を増幅するように構成されており、
前記低ノイズ・ゲイン・ステージと電気的に結合され、前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されているスペクトラム・アナライザとを備えていることを特徴とするパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項２】
前記パルス発生器、第１のパルス・パワーアンプ、第２のパルス・パワーアンプ、及び、前記スペクトラム・アナライザと電気的に結合されたプロセッサをさらに備えており、
前記プロセッサは、時間Ｔ１において、前記テスト対象デバイスに対して、前記第１のパルス状刺激信号及び前記第２のパルス状刺激信号を発生して印加し、且つ、時間Ｔ２A-Nにおいて、前記スペクトラム・アナライザで受信した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている請求項１に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項３】
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されている請求項２に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項４】
前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項３に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項５】
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、前記テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている請求項１乃至４のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項６】
前記プロセッサと電気的に結合されたキーパッドをさらに備えており、
前記キーパッドは、ユーザが前記速度係数値を入力するように、または、前記プロセッサのメモリに記録された速度係数値に対応する前記テスト対象デバイスの伝送媒体を選択するように構成されている請求項５に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項７】
前記プロセッサと電気的に結合されたディスプレイをさらに備えており、
前記ディスプレイは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項１乃至６のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項８】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項６に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項９】
前記ＤＣ電源は、バッテリから構成されている請求項１乃至８のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１０】
前記ＤＣ電源は、前記バッテリを充電するように構成された回路をさらに備えている請求項８に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１１】
パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と、
方向性カプラと電気的に結合されたパルス状信号発生器と；前記パルス状信号発生器は、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており、
前記コンバイナと電気的に結合された入力部、及び、テスト対象デバイスに電気的に結合された出力部を備えたメインラインを有する方向性カプラと；前記メインラインは、順方向に伝搬する前記合成パルス状刺激信号を前記テスト対象デバイスに伝達し、且つ、前記テスト対象デバイスから反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されており；前記双方向性カプラは、さらに、反射方向チャネル出力部を備えており；前記方向性カプラは、さらに、前記メインラインを反射方向に伝搬する前記信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されており；前記反射方向チャネル出力部は、前記メインラインを前記反射方向に伝搬する前記サンプル信号をＰＩＭアナライザに供給するように構成されており、
前記ＰＩＭアナライザは、前記方向性カプラと電気的に結合されており、前記ＰＩＭアナライザは、前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されていることを特徴とするパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１２】
前記パルス発生器及び前記ＰＩＭアナライザと電気的に結合されたプロセッサをさらに備えており、
前記プロセッサは、時間Ｔ１において、前記テスト対象デバイスに対して、前記合成パルス状刺激信号を発生して印加し、且つ、時間Ｔ２A-Nにおいて、前記ＰＩＭアナライザで受信した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている請求項１０に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１３】
前記合成パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなる請求項１０または１１に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１４】
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されている請求項１０乃至１２のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１５】
前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項１３に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１６】
前記プロセッサは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、前記テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている請求項１０乃至１４のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１７】
前記プロセッサと電気的に結合されたユーザＩ／Ｏをさらに備えており、
前記ユーザＩ／Ｏは、ユーザが前記速度係数値を入力するように、または、前記プロセッサのメモリに記録された速度係数値に対応する前記テスト対象デバイスの伝送媒体を選択するように構成されている請求項１５に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１８】
前記ユーザＩ／Ｏは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項１０乃至１６のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項１９】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項１７に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項２０】
前記ＤＣ電源は、バッテリから構成されている請求項１０乃至１８のいずれか１項に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項２１】
前記ＤＣ電源は、前記バッテリを充電するように構成された回路をさらに備えている請求項１９に記載のパルス状トーンＰＩＭテストシステム。
【請求項２２】
テスト対象デバイスのパッシブ相互変調（ＰＩＭ）の決定方法であって、
ＤＣ電源を備えたパルス状トーンＰＩＭテストシステムを準備する準備ステップと、
合成パルス状刺激信号を発生させる発生ステップと、
前記テスト対象デバイスに、前記合成パルス状刺激信号を印加する印加ステップと、
前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信する受信ステップと、
前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定する測定ステップとからなることを特徴とするＰＩＭの決定方法。
【請求項２３】
前記合成パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなる請求項２１に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２４】
前記測定した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を用いて、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算する電力比演算ステップをさらに含む請求項２１または２２に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２５】
前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項２３に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２６】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、前記テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算する距離演算ステップをさらに含んでおり、
前記合成パルス状刺激信号は、時間Ｔ１において、前記テスト対象デバイスに対して、前記ＰＩＭアナライザによって印加され、且つ、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトは、時間Ｔ２A-Nにおいて、前記ＰＩＭアナライザによって受信される請求項２１乃至２４のいずれか１項に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２７】
前記速度係数値は、ユーザが、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムのユーザＩ／Ｏに前記速度係数値を入力することで、または、前記パルス状トーンＰＩＭテストシステムに記録された速度係数値に対応する前記テスト対象デバイスの伝送媒体をユーザＩ／Ｏを用いて選択することで与えられる請求項２５に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２８】
前記ユーザＩ／Ｏは、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項２１乃至２６のいずれか１項に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項２９】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項２７に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項３０】
前記ＤＣ電源は、バッテリから構成されている請求項２１乃至２８のいずれか１項に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項３１】
前記ＤＣ電源は、前記バッテリを充電するように構成された回路をさらに備えている請求項２９に記載のＰＩＭの決定方法。
【請求項３２】
パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムであって、
パルス信号発生器を備えており、
パルス刺激信号を用いて、テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって発生する前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されていることを特徴とするＰＩＭテストシステム。
【請求項３３】
さらに、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されている請求項３１に記載のＰＩＭテストシステム。
【請求項３４】
さらに、前記ＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている請求項３１または３２に記載のＰＩＭテストシステム。
【請求項３５】
さらに、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている請求項３１乃至３３のいずれか１項に記載のＰＩＭテストシステム。
【請求項３６】
前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである請求項３４に記載のＰＩＭテストシステム。
【請求項３７】
テスト対象デバイスのパッシブ相互変調（ＰＩＭ）の評価方法であって、
前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成される少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するために、パルス状刺激信号を用いることを特徴とするＰＩＭの評価方法。
【請求項３８】
前記パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなる合成パルス状刺激信号である請求項３６に記載のＰＩＭの評価方法。
【請求項３９】
前記測定した前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を用いて、前記少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算することをさらに含む請求項３６または３７に記載のＰＩＭの評価方法。
【請求項４０】
前記電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である請求項３８に記載のＰＩＭの評価方法。
【請求項４１】
さらに、前記ＰＩＭテストシステムと前記テスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている請求項３６乃至３９のいずれか１項に記載のＰＩＭの評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
［関連出願に対する相互参照］
本出願は、２０１３年３月１５日に出願された米国仮出願第61/793,644号明細書の優先権を主張しており、本明細書にその全体が参考として組み込まれる。
［技術分野］
本発明は、パッシブ相互変調テスト（passive Intermodulation testing）に関するものである。特に、パルス刺激を用いたパッシブ相互変調テストに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストは、現在の通信システムの評価及びトラブルシューティングにおいて、重要なコンポーネント（component）になっている。このテストの需要の伸びは、ベース・ステーション（base station）及びユーザ設備の電力レベル（user equipment power levels）の全体的な減少だけでなく、利用可能な通信用スペクトラム（available communications spectrum）を占有するサービスの密度（density of services）を含む、様々な要因に起因している。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
電力レベルの低下は、通信システム内の信号対雑音比（signal-to-noise ratio）の低下の原因となり、このことにより、システム・パフォーマンスに対して、ＰＩＭプロダクトがより問題を生じさせる。このことによって、ＰＩＭテストのニーズが増加している。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の１つの実施の形態では、パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステム（pulsed tone passive intermodulation (PIM) test system）は、パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と；第１のトランスミッタ及び第２のトランスミッタと電気的に結合されたパルス発生器（pulse generator）と、パルス発生器及び第１のトランスミッタは、第１のパルス状刺激信号を発生するように構成されており、パルス発生器及び第２のトランスミッタは、第２のパルス状刺激信号を発生するように構成されており；第１のトランスミッタと電気的に結合され、第１のパルス状刺激信号（first pulsed stimulus signal）と関連したスペクトル成分を減衰させるように構成された第１のバンドパス・フィルタと；第２のトランスミッタと電気的に結合され、第２のパルス状刺激信号（second pulsed stimulus signal）と関連したスペクトル成分（spectral components）を減衰させるように構成された第２のバンドパス・フィルタと；第１のバンドパス・フィルタ及び第２のバンドパス・フィルタと電気的に結合されたコンバイナ（combiner）と、コンバイナは、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号を合成して、合成パルス状刺激信号を発生するように構成されており；コンバイナと電気的に結合された入力部、及び、テスト対象デバイス（device under test）に電気的に結合された出力部を備えたメインライン（main line）を有する方向性カプラ（directional coupler）と、メインラインは、順方向（forward direction）に伝搬する合成パルス状刺激信号をテスト対象デバイスに伝達し、且つ、テスト対象デバイスから反射方向（reflected direction）に伝搬する信号を受信するように構成されており、双方向性カプラは、さらに、反射方向チャネル出力部を備えており、方向性カプラは、さらに、メインラインを反射方向に伝搬する信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されており、反射方向チャネル出力部は、メインラインを反射方向に伝搬するサンプル信号をノッチ・フィルタ（notch filter）に供給するように構成されており；ノッチ・フィルタは、反射方向チャネル出力部に電気的に結合されており、且つ、反射方向に伝搬するサンプル信号からの第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号を減衰させるように構成されており；ノッチ・フィルタと電気的に結合された低ノイズ・ゲイン・ステージと、低ノイズ・ゲイン・ステージは、反射方向に伝搬するサンプル信号を増幅するように構成されており；低ノイズ・ゲイン・ステージ（low noise gain stage）と電気的に結合され、テスト対象デバイスのＰＩＭ源（PIM source）によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクト（PIM product）を受信し分析するように構成されているスペクトラム・アナライザ（spectrum analyzer）とを備えている。
【０００５】
本発明の他の実施の形態では、パルス状トーンＰＩＭテストシステムは、パルス発生器、第１のパルス・パワーアンプ（first pulsed power amplifier）、第２のパルス・パワーアンプ（second pulsed power amplifier）、及び、スペクトラム・アナライザと電気的に結合されたプロセッサをさらに備えており、プロセッサは、時間Ｔ１において、テスト対象デバイスに対して、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号を発生して印加し、且つ、時間Ｔ２A-Nにおいて、スペクトラム・アナライザで受信した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている。
【０００６】
本発明の他の実施の形態では、プロセッサは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比（power ratio）を演算するように構成されている。
【０００７】
本発明の他の実施の形態では、電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である。
【０００８】
本発明の他の実施の形態では、プロセッサは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、テスト対象デバイスの速度係数値（velocity factor value）とを用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステムとテスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている。
【０００９】
本発明の他の実施の形態では、プロセッサと電気的に結合されたキーパッド（keypad）をさらに備えており、キーパッドは、ユーザが速度係数値を入力するように、または、プロセッサのメモリに記録された速度係数値に対応するテスト対象デバイスの伝送媒体（transmission medium）を選択するように構成されている。
【００１０】
本発明の他の実施の形態では、パルス状トーンＰＩＭテストシステムは、プロセッサと電気的に結合されたディスプレイをさらに備えており、ディスプレイは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値（PIM product statistic）をディスプレイ表示するように構成されている。
【００１１】
本発明の他の実施の形態では、少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである。
【００１２】
本発明の他の実施の形態では、ＤＣ電源は、バッテリから構成されている。
【００１３】
本発明の他の実施の形態では、ＤＣ電源は、バッテリを充電するように構成された回路をさらに備えている。
【００１４】
本発明のさらに他の実施の形態では、パルス状トーン・パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムは、パルス状トーンＰＩＭテストシステムに電力を供給するＤＣ電源と；方向性カプラと電気的に結合されたパルス状信号発生器（pulsed signal generator）と、パルス状信号発生器は、合成パルス状刺激信号（combined pulsed stimulus signal）を発生するように構成されており；コンバイナと電気的に結合された入力部、及び、テスト対象デバイスに電気的に結合された出力部を備えたメインラインを有する方向性カプラと、メインラインは、順方向に伝搬する合成パルス状刺激信号をテスト対象デバイスに伝達し、且つ、テスト対象デバイスから反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されており、双方向性カプラは、さらに、反射方向チャネル出力部を備えており、方向性カプラは、さらに、メインラインを反射方向に伝搬する信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されており、反射方向チャネル出力部は、メインラインを反射方向に伝搬するサンプル信号をＰＩＭアナライザに供給するように構成されており；ＰＩＭアナライザは、方向性カプラと電気的に結合されており、ＰＩＭアナライザは、テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信し分析するように構成されている。
【００１５】
本発明の他の実施の形態では、パルス発生器及びＰＩＭアナライザと電気的に結合されたプロセッサをさらに備えており、プロセッサは、時間Ｔ１において、テスト対象デバイスに対して、合成パルス状刺激信号を発生して印加し、且つ、時間Ｔ２A-Nにおいて、ＰＩＭアナライザで受信した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている。
【００１６】
本発明の他の実施の形態では、合成パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなる。
【００１７】
本発明の他の実施の形態では、プロセッサは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されている。
【００１８】
本発明の他の実施の形態では、電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である。
【００１９】
本発明の他の実施の形態では、プロセッサは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステムとテスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている。
【００２０】
本発明の他の実施の形態では、パルス状トーンＰＩＭテストシステムは、プロセッサと電気的に結合されたユーザＩ／Ｏをさらに備えており、ユーザＩ／Ｏは、ユーザが速度係数値を入力するように、または、プロセッサのメモリに記録された速度係数値に対応するテスト対象デバイスの伝送媒体を選択するように構成されている。
【００２１】
本発明の他の実施の形態では、ユーザＩ／Ｏは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている。
【００２２】
本発明の他の実施の形態では、少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである。
【００２３】
本発明の他の実施の形態では、ＤＣ電源は、バッテリから構成されている。
【００２４】
本発明の他の実施の形態では、ＤＣ電源は、バッテリを充電するように構成された回路をさらに備えている。
【００２５】
本発明のさらに他の実施の形態では、テスト対象デバイスのパッシブ相互変調（ＰＩＭ）の決定方法は、ＤＣ電源を備えたパルス状トーンＰＩＭテストシステムを準備する準備ステップと；合成パルス状刺激信号を発生させる発生ステップと；テスト対象デバイスに、合成パルス状刺激信号を印加する印加ステップと；テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信する受信ステップと；テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定する測定ステップとからなる。
【００２６】
本発明の他の実施の形態では、合成パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなる。
【００２７】
本発明の他の実施の形態では、決定方法は、測定した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を用いて、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算する電力比演算ステップをさらに含む。
【００２８】
本発明の他の実施の形態では、電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である。
【００２９】
本発明の他の実施の形態では、決定方法は、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの時間Ｔ１から時間Ｔ２A-Nまでの経過時間と、テスト対象デバイスの速度係数値とを用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステムとテスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算する距離演算ステップをさらに含んでおり、合成パルス状刺激信号は、時間Ｔ１において、テスト対象デバイスに対して、ＰＩＭアナライザによって印加され、且つ、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトは、時間Ｔ２A-Nにおいて、ＰＩＭアナライザによって受信される。
【００３０】
本発明の他の実施の形態では、速度係数値は、ユーザが、パルス状トーンＰＩＭテストシステムのユーザＩ／Ｏに速度係数値を入力することで、または、パルス状トーンＰＩＭテストシステムに記録された速度係数値に対応するテスト対象デバイスの伝送媒体をユーザＩ／Ｏを用いて選択することで与えられる。
【００３１】
本発明の他の実施の形態では、ユーザＩ／Ｏは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている。
【００３２】
本発明の他の実施の形態では、少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである。
【００３３】
本発明の他の実施の形態では、ＤＣ電源は、バッテリから構成されている。
【００３４】
本発明の他の実施の形態では、ＤＣ電源は、バッテリを充電するように構成された回路をさらに備えている。
【００３５】
本発明の他の実施の形態では、パッシブ相互変調（ＰＩＭ）テストシステムは、パルス信号発生器を備えており、パルス刺激信号を用いて、テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって発生する少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するように構成されている。
【００３６】
本発明の他の実施の形態では、ＰＩＭテストシステムは、さらに、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算するように構成されている。
【００３７】
本発明の他の実施の形態では、ＰＩＭテストシステムは、さらに、ＰＩＭテストシステムとテスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている。
【００３８】
本発明の他の実施の形態では、さらに、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのための少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示するように構成されている。
【００３９】
本発明の他の実施の形態では、ＰＩＭテストシステムは、少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである。
【００４０】
本発明のさらに他の実施の形態では、テスト対象デバイスのパッシブ相互変調（ＰＩＭ）の評価方法は、テスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成される少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定するために、パルス状刺激信号を用いる。
【００４１】
本発明の他の実施の形態では、パルス状刺激信号は、第１のパルス状刺激信号及び第２のパルス状刺激信号からなる合成パルス状刺激信号である。
【００４２】
本発明の他の実施の形態では、評価方法は、測定した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を用いて、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算することをさらに含む。
【００４３】
本発明の他の実施の形態では、電力比は、キャリアレベルを基準とした電力比（ｄＢｃ）である。
【００４４】
本発明の他の実施の形態では、評価方法は、さらに、ＰＩＭテストシステムとテスト対象デバイスのＰＩＭ源との間の距離を演算するように構成されている。
【００４５】
本発明の利点は、例として示した以下の本発明の実施の形態の説明によって当業者には明らかとなるであろう。わかるように、本発明は、他の、そして、異なる実施の形態が可能であり、また、様々な観点から詳細を変更することが可能である。
【００４６】
本発明のこれらのまた他の特徴、および、これらの利点は、以下の添付の図面を参照して、例として、本発明の実施の形態として具体的に示してある。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】従来のＰＩＭテストシステムを示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを示すブロック図である。
【図２Ａ】本発明の他の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを示すブロック図である。
【図３】本発明の他の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを示すブロック図である。
【図３Ａ】本発明の他の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを示すブロック図である。
【図４】本発明の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムのプロセッサによって実行されるプログラムのフローチャートである。
【図５】本発明の他の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムのプロセッサによって実行されるプログラムのフローチャートである。
【図６Ａ】本発明の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを用いた方法のフローチャートである。
【図６Ｂ】本発明の他の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを用いた方法のフローチャートである。
【図６Ｃ】本発明のさらに他の実施の形態による、パルス状刺激信号を用いたＰＩＭテストシステムを用いた方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００４８】
全ての図は概略図であり、また、図は正確な縮尺率では示していない。これらの形状の相対的な寸法（dimensions）や比率（proportions）は、図を明確に示すため、また、便利のため、誇張または縮小して示されている。同じ符号は、通常、他の実施の形態の対応するまたは近似した特徴を参照するために用いられている。したがって、図及び明細書は、例示であり、これに限定されるものではない。
【００４９】
本明細書及び特許請求の範囲で使用されている近似を示す語（approximating language）は、数量が変化しても該当する基本的機能が変化しないものについては、その数量表現（quantitative representation）を修飾できるものとする。したがって、"約（about）"などの用語で修飾されている語は、指定された正確な値に限定されない。少なくともいくつかの例において、近似を示す語は、値を測定する機器の精度に対応したものである。範囲の限定は組み合わせたり、及び／または、相互に交換したりすることができ、かかる範囲は、文脈上、または、特に断らない限り、そこに含まれるあらゆる小範囲（sub range）を含むものとされる。実用例以外、または、他に断らない限り、本明細書及び特許請求の範囲で使用する成分の量、反応条件などに関する全ての数または表現は、常に"約"の語で修飾されているものと了解されたい。
【００５０】
"任意の（optional）"または"場合により（optionally）"は、続いて記載されている事象（event）または状況（circumstance）が起こってもよいし起こらなくてもよく、または、続いて記載されている材料（material）が存在してもしなくてもよいことを意味し、またその記載は、その事象または状況が起こる、または、その材料が存在する場合と、その事象または状況が起こらないか、または、その材料が存在しない場合とを包含する。
【００５１】
本明細書で使用する場合、用語"含む（comprises）"、"含み（comprising）"、"包含する（includes）"、"包含し（including）"、"有する（has）"、"有し（having）"またはその他これらの変形語は、非排他的に使用されている。例えば、列挙されたエレメントを含むプロセス（process）、方法（method）、物品（article）または装置（apparatus）は、必ずしもそれらのエレメントのみに限定されることはなく、リストに明示されていないか、または、かかるプロセス、方法、物品または装置に固有の他のエレメントを含み得る。
【００５２】
単数形態である"a"、"an"及び"the"は、明らかに他の意味が示されない限り、複数の場合も含む。
【００５３】
開示された技術によれば、従来のＰＩＭテストは、典型的には、比較的高出力（例：２０ワット）の連続波のトーン信号（continuous wave tones）の刺激信号を用いる。結果として、テストシステムの重量が、６０ポンド（２７．２１ｋｇ）を超える。したがって、より軽量なＰＩＭテストシステムのニーズが存在する。
【００５４】
図１には、典型的なコンスタント・トーンＰＩＭテストシステム（constant tone PIM test system）１０の配置例を示している。ＰＩＭプロダクトは、通信システム内に存在する２以上の信号がシステム内の非線形成分（non-linear component）にさらされる（exposed）ことによって発生する。非線形成分は、システム内の様々な箇所に見ることができる。例えば、非線形接合（non-linear junctions）の固体接合（solid-state junctions）であるが、これに限られるものではない。固体接合は、一般的にパワーアンプ（power amplifier）の出力ステージ等の箇所に見ることができる。非線形接合は、異なる金属の接触、及び、異なる金属の間の酸化層の形成によって形成される。
【００５５】
２以上の信号をシステム内の非線形エレメントにさらすと、信号のミキシング成分（mixing components）が発生する。これらのミキシング成分は、複数の信号の和及び差（外積[cross products]）である。これらのミキシング成分は、システムの使用可能周波数領域内の周波数で発生し、ミキシング成分の周波数における通信障害を生じさせる。
【００５６】
システム及びコンポーネントのＰＩＭプロダクトの存在をテストする際に用いられるプロセスは、関連の通信帯域内でミキシング・プロダクトが発生するように選択された２つの信号を用いてテスト対象デバイスを刺激することを含む。
【００５７】
ＰＩＭテキスト・システム（PIM text system）のノイズ特性（noise performance）の全体は、システムのバンド幅に依存する（ノイズのパワー＝ＫＴＢ，但し、Ｋはボルツマン定数（１．３８Ｅ−２３Ｊｏｕｌｅｓ／Ｋｅｌｖｉｎ）であり、Ｔは絶対温度（Ｋｅｌｖｉｎ）であり、Ｂはバンド幅（Ｈｅｒｔｚ）である）。一般的に、信号測定は、刺激信号またはパッシブ相互変調プロダクトを通過させるため、フィルタによって必要な最小のバンド幅に制限される。そのため、測定システムの使用可能ダイナミック・レンジを拡張するため、刺激信号は、典型的には比較的高出力（例：２０ワット）の連続波のトーン信号である。このレベルの刺激信号は、かなり大きく重いアンプを使用する必要があり、結果として、パッシブ相互変調テストシステムは、６０ポンド（２７．２１ｋｇ）を超え、ＡＣ電源が必要となる。したがって、コンスタント・トーンＰＩＭテストシステム１０は、ＲＦ通信ベース・ステーションの最終統合及びテストの際等のＰＩＭのフィールド・テスト・アプリケーションには扱いにくく、また、不便である。
【００５８】
図２には、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０の実施の形態を示している。パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、バッテリ駆動であり、小型・軽量で、ＲＦ通信ベース・ステーションの最終統合及びテストの際に実用的である。
【００５９】
パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、パルス状波形を生成するために最適化され、且つ、パルス発生器６０によってパルス化される、第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０を備えている。第１のパルス・パワーアンプ２５は、第１のバンドパス・フィルタ３５に送られる、第１のパルス状刺激信号を発生する。第２のパルス・パワーアンプ３０は、第２のバンドパス・フィルタ４０に送られる、第２のパルス状刺激信号を発生する。第１のバンドパス・フィルタ３５及び第２のバンドパス・フィルタ４０は、第１及び第２のパルス状刺激信号と関連するあらゆるスペクトル成分を最小化する。バンドパス・フィルタを通過した第１及び第２のパルス状刺激信号は、第１のバンドパス・フィルタ３５及び第２のバンドパス・フィルタ４０からコンバイナ４５に送られる。コンバイナ４５は、バンドパス・フィルタを通過した第１及び第２のパルス状刺激信号を合成し、方向性カプラ５０（または他の適切なカプラ）のメインライン入力部５２ａに合成パルス状刺激信号を供給する。方向性カプラ５０は、メインライン５２を有しており、メインライン５２を順方向及び反射方向に伝搬する信号をサンプリングして、サンプル信号を出力するように構成されている。メインライン５２を順方向に伝搬する信号のサンプルは、順方向チャンネル出力部５１に供給され、メインライン５２を反射方向に伝搬する信号のサンプルは、反射方向チャンネル出力部５３に供給される。
【００６０】
順方向チャンネル出力部５１は、メインライン５２を順方向に伝搬する信号のサンプルを供給し、且つ、低ＰＩＭ負荷（low PIM load）７５で終端されている（terminated）。低ＰＩＭ負荷７５は、ＰＩＭ測定を妨げる可能性のある測定可能な相互変調プロダクトを導入しない。いくつかの実施の形態では、順方向チャンネル出力部５１は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０のハウジング２１の外付けの取り外し可能な、または、交換可能な低ＰＩＭ負荷７５を受け入れるように構成されている。
【００６１】
メインライン５２のメインライン出力部５２ｂは、テスト対象デバイス８０と接続するように構成されており、テスト対象デバイス８０に対して順方向の合成刺激信号を受け渡すように構成されており、また、テスト対象デバイス８０からのＰＩＭプロダクトを含んだ反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されている。
【００６２】
反射方向チャンネル出力部５３は、レシーバ（receiver）５４に対して、メインライン５２を反射方向に伝搬する信号のサンプル（反射信号）を供給する。レシーバ５４は、適切な受信・処理回路を備えている。図２に示した実施の形態では、レシーバは、ノッチ・フィルタ５５を含んでいる。ノッチ・フィルタ５５に供給された反射信号は、第１のパルス状刺激信号、第２のパルス状刺激信号、及び、テスト対象デバイス８０によって生成されたいくらかのＰＩＭプロダクトから構成されている。
【００６３】
ノッチ・フィルタ５５は、反射方向チャンネル出力部からの第１及び第２のパルス状刺激信号を減衰させる。いくつかの実施の形態では、ノッチ・フィルタ５５は、反射方向チャンネル出力部からの第１のパルス状刺激信号をフィルタするように構成された第１のノッチ・フィルタ５５ａと、反射方向チャンネル出力部からの第２のパルス状刺激信号をフィルタするように構成された第２のノッチ・フィルタ５５ｂとを備えている。第１及び第２のノッチ・フィルタ５５ｂを備えたいくつかの実施の形態では、第１のノッチ・フィルタ５５ａは、反射方向チャンネル出力部５３を通じて方向性カプラ５０と電気的に結合されており、第１のノッチ・フィルタ５５ａは、第２のノッチ・フィルタ５５ｂと電気的に結合されており、及び、第２のノッチ・フィルタ５５ｂは、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５と電気的に結合されている。
【００６４】
第１及び第２のパルス状刺激信号をフィルタリングした後、反射信号は、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５によって増幅され、スペクトラム・アナライザ７０に供給される。スペクトラム・アナライザは、テスト対象デバイス８０によって生成されたＰＩＭ成分が存在するか特定し、ディスプレイ８５にディスプレイ表示する。
【００６５】
図示したように、パルス状トーンＰＩＭテストシステムは、さらに、メモリ９６を有するプロセッサ９５を備えている。プロセッサ９５は、ユーザによる入力を、ハウジング２１に取り付けられたキーパッド９０から受信し、同様にハウジング２１に取り付けられたディスプレイ８５を介してユーザに対して情報を提供する。いくつかの実施の形態では、ディスプレイ８５及びキーパッド９０は、タッチスクリーンのように、組み合わされて、ハウジング２１に取り付けられた１つのユニットであってもよい。
【００６６】
プロセッサ９５は、スペクトラム・アナライザ７０、パルス発生器６０、第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０と通信し、制御を行う。結果として、プロセッサ９５は、パルス発生器６０、第１のパルス・パワーアンプ及び第２のパルス・パワーアンプを用いて第１及び第２のパルス状刺激信号を生成するように構成されており、第１及び第２のパルス状刺激信号は、テスト対象デバイス８０に伝達される。
【００６７】
さらに、プロセッサ９５は、レシーバ５４と結合されており、例えば、スペクトラム・アナライザ７０や他の適切な受信・分析回路を用いて、テスト対象デバイス８０によって、いつＰＩＭプロダクトが生成されたかを決定するように構成されている。さらに、いくつかの実施の形態では、プロセッサ９５は、テスト対象デバイス８０への第１及び第２のパルス状刺激信号の発信から、方向性カプラ５０においてＰＩＭプロダクトを受信するまでの間の経過時間を測定するように構成されている。
【００６８】
さらに、ユーザがテスト対象デバイス８０の伝送媒体の速度係数値をプロセッサ９５に与えると、プロセッサ９５は、テスト対象デバイス８０への第１及び第２のパルス状刺激信号の発信から、方向性カプラ５０においてＰＩＭプロダクトを受信するまでの間の経過時間を用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０からテスト対象デバイス８０内のＰＩＭ成分の発生源までの距離を演算することができる。ユーザは、テスト対象デバイス８０の速度係数値を、キーパッド９０を使用して直接入力するようにしてもよく、または、ディスプレイ８５に表示された、対応する速度係数値がメモリ９６に記録された一般的な伝送媒体のリストから選択するようにしてもよい。
【００６９】
ＤＣ電源１００は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０の複数のコンポーネントに給電するように構成されている。ＤＣ電源１００から給電を受け、且つ、電気的に結合されているパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０のコンポーネントは、第１のパルス・パワーアンプ２５、第２のパルス・パワーアンプ３０、パルス発生器６０、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５、スペクトラム・アナライザ７０、ディスプレイ８５、プロセッサ９５、及び、メモリ９６を含むが、これに限られるものではない。
【００７０】
図２に示したように、パルス発生器６０は、第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０と電気的に結合されている。第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０は、０ワットから約４０ワットまでの間の高出力のパルス信号を発生する。第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０は、パルス発生器６０によって、ＡＭ変調（AM modulated）されている。第１のパルス・パワーアンプ２５は、第１のバンドパス・フィルタ４０に、第２のパルス・パワーアンプ３０は、第２のバンドパス・フィルタ４０と電気的に結合されている。第１のバンドパス・フィルタ３５及び第２のバンドパス・フィルタ４０は、コンバイナ４５と電気的に結合されている。コンバイナ４５は、方向性カプラ５０と電気的に結合されている。
【００７１】
方向性カプラ５０は、反射方向チャンネル出力部５３を通じて、ノッチ・フィルタ５５と電気的に結合されている。方向性カプラ５０は、順方向チャンネル出力部５１を通じて、低ＰＩＭ負荷７５と電気的に結合されるように構成されている。方向性カプラ５０は、メインライン５２の出力部５２ｂを通じて、テスト対象デバイス８０と電気的に結合されるように構成されている。ノッチ・フィルタ５５は、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５と電気的に結合されている。低ノイズ・ゲイン・ステージ６５は、リアルタイム・スペクトラム・アナライザ（real time spectrum analyzer）７０と電気的に結合されている。
【００７２】
プロセッサ９５は、パルス発生器６０、第１のパルス・パワーアンプ２５、第２のパルス・パワーアンプ３０、ディスプレイ８５、キーパッド９０、メモリ９６、及び、リアルタイム・スペクトラム・アナライザ７０と電気的に結合されている。
【００７３】
本発明の範囲から逸脱することなく、他の構成を採用してもよいことはもちろんである。例えば、ＰＩＭテストシステムは、反射方向チャンネル出力部５３が、プロセッサと結合された適当なレシーバに向かって反射方向に伝搬するメインライン５２の信号のサンプルを供給するように構成されていてもよい。プロセッサは、リアルタイム・スペクトラム・アナライザ７０と関連して記載された分析を実行するように構成されていてもよく、または、そうでなければプログラムされていてもよい。
【００７４】
図３は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０の他の実施の形態を示す図である。パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、第１のパルス刺激信号及び第２のパルス刺激信号を発生するように構成され、フィルタリングによって第１及び第２のパルス刺激信号と関連するあらゆるスペクトル成分を最小化し、及び、バンドパス・フィルタを通した第１及び第２のパルス状刺激信号を合成し、合成パルス状刺激信号を生成するパルス信号発生器２４５を備えている。
【００７５】
パルス信号発生器２４５は、方向性カプラ５０と電気的に結合されている。パルス信号発生器２４５は、さらに、合成パルス状刺激信号を方向性カプラ５０のメインライン５２の入力部５２ａに供給するように構成されている。方向性カプラ５０は、レシーバ５４（例：ＰＩＭアナライザ２７０を含むレシーバ）に電気的に結合されている。さらに、方向性カプラ５０は、テスト対象デバイス８０及び低ＰＩＭ負荷７５と電気的に結合されている。方向性カプラ５０は、メインライン５２を有しており、メインライン５２の順方向及び反射方向に伝搬する信号をサンプリングしてサンプル信号を出力するように構成されている。メインライン５２を順方向に伝搬する信号のサンプルは、順方向チャンネル出力部５１に供給され、メインライン５２を反射方向に伝搬する信号のサンプルは、反射方向チャンネル出力部５３に供給される。
【００７６】
順方向チャンネル出力部５１は、メインライン５２を順方向に伝搬している信号のサンプルを供給し、且つ、低ＰＩＭ負荷７５で終端されている。低ＰＩＭ負荷７５は、ＰＩＭ測定を妨げる可能性のある測定可能な相互変調プロダクトを導入しない。いくつかの実施の形態では、順方向チャンネル出力部５１は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０のハウジング２１の外付けの取り外し可能な、または、交換可能な低ＰＩＭ負荷７５を受け入れるように構成されている。
【００７７】
メインライン５２のメインライン出力部５２ｂは、テスト対象デバイス８０と接続するように構成されており、テスト対象デバイス８０に対して合成刺激信号を受け渡すように構成されており、また、テスト対象デバイス８０からのＰＩＭプロダクトを含んだメインライン５２を反射方向に伝搬する信号を受信するように構成されている。
【００７８】
反射方向チャンネル出力部５３は、ＰＩＭアナライザ２７０に対して、メインライン５２を反射方向に伝搬する信号（反射信号）のサンプルを供給する。ＰＩＭアナライザ２７０は、ユーザＩ／Ｏ２８５を介して、テスト対象デバイス８０によって生成されたあらゆるＰＩＭプロダクトを分析し、ディスプレイ表示する。
【００７９】
図示したように、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、さらに、メモリ９６を有するプロセッサ９５を備えている。プロセッサ９５は、ユーザによる入力を、ハウジング２１に取り付けられたユーザＩ／Ｏ２８５から受信し、同様にハウジング２１に取り付けられたユーザＩ／Ｏ２８５を介してユーザに対して情報を提供する。いくつかの実施の形態では、ユーザＩ／Ｏ２８５は、タッチスクリーンでもよい。さらに、他の実施の形態では、ユーザＩ／Ｏ２８５は、ハウジング２１に取り付けられたディスプレイ８５及びキーパッド９０である。
【００８０】
プロセッサ９５は、パルス信号発生器２４５、ＰＩＭアナライザ２７０、メモリ９６、及びユーザＩ／Ｏ２８５と電気的に結合されている。
【００８１】
プロセッサ９５は、ＰＩＭアナライザ２７０及びパルス信号発生器２４５と通信し、制御を行う。結果として、プロセッサ９５は、パルス信号発生器２４５を用いて第１及び第２のパルス状刺激信号を生成するように構成されており、第１及び第２のパルス状刺激信号は、テスト対象デバイス８０に伝達される。
【００８２】
さらに、プロセッサ９５は、ＰＩＭアナライザ２７０を用いて、テスト対象デバイス８０によって、いつＰＩＭプロダクトが生成されたかを決定するように構成されている。さらに、いくつかの実施の形態では、プロセッサ９５は、テスト対象デバイス８０への第１及び第２のパルス状刺激信号の発信から、ＰＩＭアナライザ２７０においてＰＩＭプロダクトを受信するまでの間の経過時間を測定するように構成されている。さらに、ユーザがテスト対象デバイス８０の伝送媒体の速度係数値をプロセッサ９５に与えると、プロセッサ９５は、テスト対象デバイス８０への第１及び第２のパルス状刺激信号の発信から、ＰＩＭアナライザ２７０においてＰＩＭプロダクトを受信するまでの間の経過時間を用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０からテスト対象デバイス８０内のＰＩＭ成分の発生源までの距離を演算することができる。ユーザは、テスト対象デバイス８０の速度係数値を直接入力するようにしてもよく、または、ユーザＩ／Ｏ２８５に表示された、対応する速度係数値がメモリ９６に記録された一般的な伝送媒体のリストから選択するようにしてもよい。
【００８３】
さらに、プロセッサ９５は、ＰＩＭアナライザ２７０を用いて、テスト対象デバイス８０によって、いつＰＩＭプロダクトが生成されたかを決定するように構成されている。さらに、いくつかの実施の形態では、プロセッサ９５は、テスト対象デバイス８０への第１及び第２のパルス状刺激信号の発信から、ＰＩＭアナライザ２７０においてＰＩＭプロダクトを受信するまでの間の経過時間を測定するように構成されている。
【００８４】
さらに、ユーザがテスト対象デバイス８０の伝送媒体の速度係数値をプロセッサ９５に与えると、プロセッサ９５は、テスト対象デバイス８０への第１及び第２のパルス状刺激信号の発信から、ＰＩＭアナライザ２７０においてＰＩＭプロダクトを受信するまでの間の経過時間を用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０からテスト対象デバイス８０内のＰＩＭ成分の発生源までの距離を演算することができる。ユーザは、ユーザＩ／Ｏ２８５を介して、テスト対象デバイス８０の速度係数値を直接入力するようにしてもよく、または、ユーザＩ／Ｏ２８５を介して、対応する速度係数値がメモリ９６に記録された一般的な伝送媒体のリストから選択するようにしてもよい。
【００８５】
１つの実施の形態では、パルス信号発生器２４５は、パルス発生器６０によってパルス化された第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０を備えている。パルス信号発生器２４５は、さらに、第１のバンドパス・フィルタ３５、第２のバンドパス・フィルタ４０及びコンバイナ４５を備えている。パルス発生器６０は、第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０と電気的に結合されている。第１のパルス・パワーアンプ２５は、第１のバンドパス・フィルタ３５と電気的に結合されており、第２のパルス・パワーアンプ３０は、第２のバンドパス・フィルタ４０と電気的に結合されている。第１のバンドパス・フィルタ３５及び第２のバンドパス・フィルタ４０は、コンバイナ４５と電気的に結合されている。コンバイナ４５は、方向性カプラ５０と電気的に結合されている。
【００８６】
さらに、１つの実施の形態では、ＰＩＭアナライザ２７０は、ノッチ・フィルタ５５、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５及びスペクトラム・アナライザ７０を備えている。方向性カプラ５０は、反射方向チャンネル出力部５３を通じて、ノッチ・フィルタ５５と電気的に結合されている。方向性カプラ５０は、順方向チャンネル出力部５１を通じて、低ＰＩＭ負荷７５と電気的に結合されるように構成されている。方向性カプラ５０は、メインライン５２の出力部５２ｂを通じて、テスト対象デバイス８０と電気的に結合されるように構成されている。ノッチ・フィルタ５５は、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５と電気的に結合されている。低ノイズ・ゲイン・ステージ６５は、リアルタイム・スペクトラム・アナライザ７０と電気的に結合されている。
【００８７】
ノッチ・フィルタ５５は、反射方向チャンネル出力部５３からの第１及び第２のパルス状刺激信号を減衰させるように構成されている。いくつかの実施の形態では、ノッチ・フィルタ５５は、反射方向チャンネル出力部からの第１のパルス状刺激信号をフィルタするように構成された第１のノッチ・フィルタ５５ａと、反射方向チャンネル出力部からの第２のパルス状刺激信号をフィルタするように構成された第２のノッチ・フィルタ５５ｂとを備えている。第１及び第２のノッチ・フィルタを有する実施の形態では、第１のノッチ・フィルタ５５ａは、反射方向チャンネル出力部５３を通じて、方向性カプラ５０と電気的に結合されており、第１のノッチ・フィルタ５５ａは、第２のノッチ・フィルタ５５ｂと電気的に結合されており、第２のノッチ・フィルタ５５ｂは、低ノイズ・ゲイン・ステージ６５と電気的に結合されている。
【００８８】
ＤＣ電源１００は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０の複数のコンポーネントに給電するように構成されている。ＤＣ電源１００から給電を受け、且つ、電気的に結合されているパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０のコンポーネントは、パルス信号発生器２４５、ＰＩＭアナライザ２７０、プロセッサ９５、ユーザＩ／Ｏ２８５、及び、メモリ９６を含むが、これに限られるものではない。
【００８９】
本発明の範囲から逸脱することなく、他の構成を採用してもよいことはもちろんである。例えば、ＰＩＭテストシステムは、反射方向チャンネル出力部５３が、プロセッサと結合された適当なレシーバに向かって反射方向に伝搬するメインライン５２の信号のサンプルを供給するように構成されていてもよい。プロセッサは、ＰＩＭアナライザ２７０と関連して表された計算（computation）及び分析を実行するように構成されていてもよく、または、そうでなければプログラムされていてもよい。
【００９０】
上記では、ＰＩＭシステムが反射したＰＩＭプロダクトに関連して表現されているが、本発明の範囲から逸脱することなく、ＰＩＭシステムが、マルチポート・デバイス（例：ケーブルまたはフィルタのような２ポート・デバイス）の順方向のＰＩＭプロダクトを測定できるように構成されていてもよいことはもちろんである。図２Ａは、図２に対応する典型的な実施例を示すものであり、図３Ａは、図３に対応する典型的な実施例を示すものである。これらの典型的な実施例では、テスト対象デバイス８０に対して、パルス状刺激信号は、直接供給されている。方向性カプラのメインラインの入力部５２ａは、テスト対象デバイス８０の第２のポートに結合されている。順方向サンプル・ポートまたは方向性カプラのメインライン５２ｂは、レシーバ５４または他の適切な処理回路と結合されており、テスト対象デバイスと関連した順方向ＰＩＭプロダクトが存在するか決定する。この典型的な実施例の構成では、方向性カプラ５２の他の２つのポート（例：順方向ポートまたは順方向チャンネル出力部５１、及び、反射方向結合ポートまたは反射方向チャンネル出力部５３）は、適切な低ＰＩＭ負荷７５と結合されている。
【００９１】
図４は、１つの実施の形態のパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０のメモリ９６に記録されており、プロセッサ９５によって実行されるプログラムのフローチャートである。ステップ３０５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０が開始され、プロセッサ９５が初期化される。ステップ３１０では、プログラムは、ステップ３１５に進む前に、ユーザが測定を開始するまで待機する。
【００９２】
ステップ３１５では、キーパッド９０を用いて、テスト・パラメータの入力をユーザに促す。テスト・パラメータが入力されると、メモリ９６に記録される。テスト・パラメータは、第１のパルス信号周波数、第２のパルス信号周波数、第１のパルス信号パワー、第２のパルス信号パワー、第１及び第２パルス信号のパルス幅、テストタイプ（例：スイープ[sweep]、またはノンスイープ[non-sweep]）、スイープ周波数帯、及び、テスト対象デバイス８０の速度係数値のうち、１つ以上を含むが、これらに限られるものではない。
【００９３】
ステップ３２０では、プロセッサ９５は、テスト・パラメータに応じて、第１のパルス・パワーアンプ２５、第２のパルス・パワーアンプ３０、及び、パルス発生器６０を用いて、第１のパルス信号及び第２のパルス信号を生成し、テスト対象デバイス８０に対して印加する。第１のパルス信号及び第２のパルス信号は、テスト対象デバイス８０に対して印加される前に、合成される。パルス発生器６０は、所定の長さの時間、第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０を稼働させることで、所定の長さの時間と同じパルス幅を有する第１のパルス信号及び第２のパルス信号を生成する。１つの実施の形態では、パルス幅は、約数ミリ秒である。他の実施の形態では、パルス幅は、約１ミリ秒から約１秒の間である。さらに他の実施の形態では、パルス幅は、約１０ミリ秒である。
【００９４】
ステップ３２５では、プロセッサ９５は、スペクトラム・アナライザ７０を用いて、テスト対象デバイス８０によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力レベルを測定し、ＰA-Nとして、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの測定した電力レベルをメモリ９６に記録する。但し、Ｎは、本ステップで、スペクトラム・アナライザ７０によって測定されたＰＩＭプロダクトの数を示すアルファベット文字である。
【００９５】
ステップ３３０では、プロセッサ９５は、ステップ３２５で測定された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのそれぞれが、スペクトラム・アナライザ７０によって受信された時間を決定する。時間は、Ｔ２A-Nとして、メモリに記録される。但し、Ｎは、ステップ３２５内で、スペクトラム・アナライザ７０によって測定されたＰＩＭプロダクトの数を示すアルファベット文字である。
【００９６】
ステップ３３５では、プロセッサ９５は、ステップ３２５で測定された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのそれぞれの電力比を演算し、ＰＲA-Nとして、測定した電力比を記録する。但し、Ｎは、ステップ３２５内で、スペクトラム・アナライザ７０によって測定されたＰＩＭプロダクトの数を示すアルファベット文字である。１つの実施の形態では、プロセッサ９５は、電力比をｄＢｃ（キャリアに対するデシベル）として演算する。当業者は、電力比を演算するのに他の単位を選択することも可能である。
【００９７】
ステップ３４０では、プロセッサ９５は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０からステップ３２５で測定されたテスト対象デバイス８０の少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの発生源のそれぞれの位置までの距離を演算する。プロセッサ９５は、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのそれぞれについて、Ｔ１からＴ２A-Nまでの経過時間、及び、テスト対象デバイス８０の速度係数値を用いて発生源までの距離を演算する。プロセッサ９５は、演算した距離をＤA-Nとして、メモリ９６に記録する。但し、Ｎは、ステップ３２５内で、スペクトラム・アナライザ７０によって測定されたＰＩＭプロダクトの数を示すアルファベット文字である。
【００９８】
ステップ３４５では、プロセッサ９５は、メモリ９６から、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトＡ−Ｎの少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値を読み出して、ユーザに対して、少なくとも１つの統計値をディスプレイ８５にディスプレイ表示する。１つの実施の形態では、少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つを含む。
【００９９】
ステップ３５０では、所定の長さの時間、プログラムは停止する。１つの実施の形態では、所定の長さの時間は、約０．５秒である。しかしながら、当業者は、所定の長さの時間として、異なる時間、プログラムを停止するようにしてもよい。
【０１００】
ステップ３５０で一時的に停止した後、ステップ３５５で、プロセッサ９５は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０の連続スイープ設定（continuous sweep setting）を確認する（examines）。システム２０が連続スイープに設定されていた場合、プログラムは、ステップ３２０に戻る。１つの実施の形態では、ユーザは、ステップ３１５で、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０を連続スイープに設定することができる。さらに、ユーザは、図４のプログラムがプロセッサ９５によって実行されている間、キーパッド９０を用いて、予め設定していた連続スイープ設定をキャンセルすることができる。ステップ３１５でユーザが連続スイープの設定をしていなかった場合、または、予め設定していた連続スイープ設定をキャンセルした場合、プロセッサ９５は、ステップ３１０に戻る。
【０１０１】
図５は、他の実施の形態のパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０のメモリ９６に記録されており、プロセッサ９５によって実行されるプログラムのフローチャートである。ステップ４０５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０が開始され、プロセッサ９５が初期化される。ステップ４１０では、プログラムは、ステップ４１５に進む前に、ユーザが測定を開始するまで待機する。
【０１０２】
ステップ４１５では、キーパッド９０を用いて、テスト・パラメータの入力をユーザに促す。テスト・パラメータが入力されると、メモリ９６に記録される。テスト・パラメータは、上記ステップ３１５と関連して列挙された１つ以上のものを含む。
【０１０３】
ステップ４２０では、プロセッサ９５は、テスト・パラメータに応じて、第１のパルス・パワーアンプ２５、第２のパルス・パワーアンプ３０、及び、パルス発生器６０を用いて、第１のパルス信号及び第２のパルス信号を生成し、テスト対象デバイス８０に対して印加する。第１のパルス信号及び第２のパルス信号は、テスト対象デバイス８０に対して印加される前に、合成される。パルス発生器６０は、所定の長さの時間、第１のパルス・パワーアンプ２５及び第２のパルス・パワーアンプ３０を稼働させることで、所定の長さの時間と同じパルス幅を有する第１のパルス信号及び第２のパルス信号を生成する。１つの実施の形態では、パルス幅は、約数ミリ秒である。他の実施の形態では、パルス幅は、約１ミリ秒から約１秒の間である。
【０１０４】
ステップ４２５では、プロセッサ９５は、スペクトラム・アナライザ７０を用いて、テスト対象デバイス８０によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力レベルを測定し、ＰA-Nとして、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの測定した電力レベルをメモリ９６に記録する。但し、Ｎは、本ステップで、スペクトラム・アナライザ７０によって測定されたＰＩＭプロダクトの数を示すアルファベット文字である。
【０１０５】
ステップ４３０では、プロセッサ９５は、ステップ４２５で測定された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトのそれぞれの電力比を演算し、ＰＲA-Nとして、測定した電力比を記録する。但し、Ｎは、ステップ３２５内で、スペクトラム・アナライザ７０によって測定されたＰＩＭプロダクトの数を示すアルファベット文字である。１つの実施の形態では、プロセッサ９５は、電力比をｄＢｃ（キャリアに対するデシベル）として演算する。当業者は、電力比を演算するのに他の単位を選択することも可能である。
【０１０６】
ステップ４３５では、プロセッサ９５は、メモリ９６から、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトＡ−Ｎの少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値を読み出して、ユーザに対して、少なくとも１つの統計値をディスプレイ８５にディスプレイ表示する。１つの実施の形態では、少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比のうち、少なくとも１つを含む。
【０１０７】
ステップ４４０では、所定の長さの時間、プログラムは停止する。１つの実施の形態では、所定の長さの時間は、約０．５秒である。しかしながら、当業者は、所定の長さの時間として、異なる時間、プログラムを停止するようにしてもよい。
【０１０８】
ステップ４４０で一時的に停止した後、ステップ４４５で、プロセッサ９５は、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０の連続スイープ設定を確認する。システム２０が連続スイープに設定されていた場合、プログラムは、ステップ４２０に戻る。１つの実施の形態では、ユーザは、ステップ４１５で、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０を連続スイープに設定することができる。さらに、ユーザは、図５のプログラムがプロセッサ９５によって実行されている間、キーパッド９０を用いて、予め設定していた連続スイープ設定をキャンセルすることができる。ステップ４１５でユーザが連続スイープの設定をしていなかった場合、または、予め設定していた連続スイープ設定をキャンセルした場合、プロセッサ９５は、ステップ４１０に戻る。
【０１０９】
図６Ａには、テスト対象デバイス８０のＰＩＭを測定する方法の実施の形態を示してある。ステップ５０５では、ＤＣ電源を備えたパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０を準備する。ステップ５１０では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、合成パルス状刺激信号を生成する。ステップ５１５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、テスト対象デバイス８０に合成パルス状刺激信号を印加する。ステップ５２０では、テスト対象デバイス８０のＰＩＭ源で生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信する。
【０１１０】
ステップ５２５では、ステップ５２０で受信した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定する。ステップ５３０では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、ユーザに対して、ステップ５２５で測定した電力値をディスプレイ表示する。いくつかの実施の形態では、ユーザが周波数スイープ（frequency sweep）を要求すると、周波数スイープの周波数帯域について、ステップ５１０−５３０が繰り返される。
【０１１１】
図６Ｂには、テスト対象デバイス８０のＰＩＭを測定する方法の他の実施の形態を示してある。ステップ６０５では、ＤＣ電源を備えたパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０を準備する。ステップ６１０では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、合成パルス状刺激信号を生成する。ステップ６１５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、テスト対象デバイス８０に合成パルス状刺激信号を印加する。ステップ６２０では、テスト対象デバイス８０のＰＩＭ源で生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信する。
【０１１２】
ステップ６２５では、ステップ６２０で受信した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定する。ステップ６３０では、ＰＩＭテストシステム２０は、ステップ６２５で測定された電力を用いて、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算する。ステップ６３５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、ステップ６２５で測定したテスト対象デバイスのＰＩＭ源によって生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力値、または、ステップ６３０で測定した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比のうち１つまたは両方をディスプレイ表示する。いくつかの実施の形態では、ユーザが周波数スイープを要求すると、周波数スイープの周波数帯域について、ステップ６１０−６３５が繰り返される。
【０１１３】
図６Ｃには、テスト対象デバイス８０のＰＩＭを測定する方法の追加の実施の形態を示してある。ステップ７０５では、ＤＣ電源を備えたパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０を準備する。ステップ７１０では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、合成パルス状刺激信号を生成する。ステップ７１５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、時間Ｔ１において、テスト対象デバイス８０に合成パルス状刺激信号を印加する。ステップ７２０では、時間Ｔ２A-Nにおいて、テスト対象デバイス８０のＰＩＭ源で生成された少なくとも１つのＰＩＭプロダクトを受信する。
【０１１４】
ステップ７２５では、ステップ７２０で受信した少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力を測定する。ステップ７３０では、ＰＩＭテストシステム２０は、ステップ７２５で測定された電力を用いて、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの電力比を演算する。ステップ７３５では、テスト対象デバイス８０の伝送媒体の速度係数値をパルス状トーンＰＩＭテストシステム２０に与える。ステップ７４０では、ステップ７３５で与えられた速度係数値とＴ１からＴ２A-Nまでの経過時間を用いて、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０とテスト対象デバイス８０のＰＩＭ源の間の距離を演算する。ステップ７４５では、パルス状トーンＰＩＭテストシステム２０は、少なくとも１つのＰＩＭプロダクトの少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値をディスプレイ表示する。ステップ７４５の少なくとも１つのＰＩＭプロダクト統計値は、ＰＩＭプロダクト電力レベル、ＰＩＭプロダクト電力比、または、ＰＩＭプロダクト源距離のうち、少なくとも１つである。いくつかの実施の形態では、ユーザが周波数スイープを要求すると、周波数スイープの周波数帯域について、ステップ７１０−７４５が繰り返される。
【０１１５】
本発明の追加の実施の形態は、付属書類（Appendix）Ａに記載してある。
【０１１６】
本発明は、上記及び付属書類Ａに特定の実施例に対応して説明されているが、当業者にとって、本発明について多くの他の態様、組み合わせ、改良や変更が可能であることは明らかである。したがって、上述の本発明の好適な実施例は、例示としてのみ示してあるものであり、これに限定する意図ではない。本発明の精神及び範囲から逸脱することなく様々な変更を加えることができる。上述の実施例と他の実施例の組み合わせは、上述の実施例の記載を検討する際に、当業者にとって明らかであり、それに包含されるものである。したがって、本発明の範囲は、添付の請求の範囲によって定義され、明記されているか否かまたは均等の範囲であるか否かに関わらず、請求の範囲内に含まれる全てのデバイス（devices）、プロセス（processes）、方法（methods）は、本発明の範囲内のものである。
【図１】
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【図２】
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【図２Ａ】
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【図３】
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【図３Ａ】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図６Ｃ】
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【国際調査報告】
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