(57)【要約】本発明は、テストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォームを開示する。該テストプローブは、プローブ本体３０１を備え、コンタクトフィンガー４０と挿嵌するため、プローブ本体３０１の一端を中空に設計する。当該設計を基づいて、現時点のプローブが組み立てにくい、スルーホールの加工に対する要求が高い、且つ電気的に不安定になるという技術的課題を解決できる。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストプローブであって、前記テストプローブは、プローブ本体を備え、コンタクトフィンガーと挿嵌するため、前記プローブ本体の一端を中空に設計することを特徴とするテストプローブ。
【請求項２】
前記テストプローブは、弾性部材とプローブヘッドを更に備え、前記プローブ本体にそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、前記プローブ本体の内壁に第１支持部を設け、前記第１支持部が前記貫通空洞を前記プローブ本体の両端と各々連通する第１収容チャンバーと第２収容チャンバーとに仕切り、前記第１収容チャンバーは前記コンタクトフィンガーを受けるために用いられ、前記弾性部材が前記第２収容チャンバー内に設けられ且つ前記弾性部材の一端が前記第１支持部に支えられ、前記プローブヘッドの一部が前記第２収容チャンバー内に設けられ、また前記弾性部材の他端を支えることを特徴とする請求項１に記載のテストプローブ。
【請求項３】
前記第１収容チャンバー内には、内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、前記少なくとも２個の凸部が前記コンタクトフィンガーを保持するために用いられることを特徴とする請求項２に記載のテストプローブ。
【請求項４】
前記プローブヘッドに対して、それの軸方向に沿う推力を作用して前記弾性部材を収縮させることで、前記テストプローブの長さを短縮させることができることを特徴とする請求項２に記載のテストプローブ。
【請求項５】
前記第１支持部は、内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する第１凸縁あるいは前記プローブ本体の内壁上に形成する段差構造であることを特徴とする請求項２に記載のテストプローブ。
【請求項６】
前記プローブヘッドは、プランジャーと前記プランジャーの一端に設けるバレルとを備え、前記バレルの断面寸法が前記プランジャーの断面寸法より大きく、前記バレルが前記第２収容チャンバー内に設けられ、前記プローブ本体の内壁に第２支持部を設けており、前記第２支持部は前記バレルを前記第２収容チャンバー内に限定するために用いられることを特徴とする請求項２に記載のテストプローブ。
【請求項７】
前記第２支持部は、内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する第２凸縁であることを特徴とする請求項６に記載のテストプローブ。
【請求項８】
弾性部材は、金属スプリングとすることを特徴とする請求項６に記載のテストプローブ。
【請求項９】
前記第１収容チャンバーの軸方向長さは、前記コンタクトフィンガーの挿入の長さより短く、前記コンタクトフィンガーの一端を前記第２収容チャンバーに挿入すると共に前記第２収容チャンバー内の金属スプリングと接触させることができることを特徴とする請求項８に記載のテストプローブ。
【請求項１０】
前記コンタクトフィンガーは、挿入部と固定部とを備え、挿入部と固定部との対向端が接続され、前記固定部の断面寸法を前記挿入部の断面寸法より大きくすることで、前記挿入部と前記固定部との接続部に段差面を形成し、前記プローブ本体の一端を前記段差面で支えることを特徴とする請求項１に記載のテストプローブ。
【請求項１１】
テストプローブアセンブリであって、テストプローブとコンタクトフィンガーとを備え、前記テストプローブがプローブ本体を備え、前記プローブ本体の一端を中空に設計することで、回路基板上に固定された前記コンタクトフィンガーと挿嵌することを特徴するテストプローブアセンブリ。
【請求項１２】
前記テストプローブは、弾性部材とプローブヘッドを更に備え、前記プローブ本体にそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、前記プローブ本体の内壁に第１支持部を設け、前記第１支持部が前記貫通空洞を前記プローブ本体の両端と各々連通する第１収容チャンバーと第２収容チャンバーに仕切り、前記第１収容チャンバーは前記コンタクトフィンガーを受けるために用いられ、前記弾性部材が前記第２収容チャンバー内に設けられ且つ前記弾性部材の一端が前記第１支持部に支えられ、前記プローブヘッドの一部が前記第２収容チャンバー内に設けられ、また前記弾性部材の他端を支え、前記プローブヘッドに対してそれの軸方向に沿う推力を作用して前記弾性部材を収縮させることで、前記テストプローブの長さを短縮させることができることを特徴とする請求項１１に記載のテストプローブアセンブリ。
【請求項１３】
前記第１収容チャンバー内には、内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、前記少なくとも２個の凸部が前記コンタクトフィンガーを保持するために用いられることを特徴とする請求項１２に記載のテストプローブアセンブリ。
【請求項１４】
前記弾性部材が金属スプリングであり、前記第１収容チャンバーの軸方向長さを前記コンタクトフィンガーの挿入の長さより短くすることで、前記コンタクトフィンガーの一端を前記第２収容チャンバーに挿入すると共に前記第２収容チャンバー内の金属スプリングと接触させることができ、前記コンタクトフィンガーは挿入部と固定部とを備え、挿入部と固定部との対向端が接続され、前記固定部の断面寸法を前記挿入部の断面寸法より大きくすることで、前記挿入部と前記固定部との接続部に段差面を形成し、前記プローブ本体の一端を前記段差面で支えることを特徴とする請求項１２に記載のテストプローブアセンブリ。
【請求項１５】
前記プローブヘッドは、プランジャーと前記プランジャーの一端に設けるバレルとを備え、前記バレルの断面寸法が前記プランジャーの断面寸法より大きく、前記バレルが前記第２収容チャンバー内に設けられ、前記プローブ本体の内壁に第２支持部を設けており、前記第２支持部は前記バレルを前記第２収容チャンバー内に限定するために用いられ、前記第１支持部は内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する第１凸縁あるいは前記プローブ本体の内壁上に形成する段差構造であり、前記第２支持部が内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する第２凸縁であることを特徴とする請求項１１に記載のテストプローブアセンブリ。
【請求項１６】
テストプラットフォームであって、信号測定回路基板とテストプローブとコンタクトフィンガーとを備え、前記コンタクトフィンガーは前記信号測定回路基板に固定され、前記テストプローブがプローブ本体とプローブヘッドとを備え、前記コンタクトフィンガーと挿嵌するため、前記プローブ本体の一端を中空に設計することを特徴とするテストプラットフォーム。
【請求項１７】
前記テストプラットフォームは、プローブカードとロードボードと被測定回路基板と計測器とを更に備え、前記信号測定回路基板が前記プローブカード上に設けられ、前記プローブカード上にスルーホールを設け、前記テストプローブが前記スルーホールに挿通し、並びに一部が前記スルーホールから突出し、前記被測定回路基板が前記ロードボード上の前記テストプローブに対向する一側に設けられ、前記プローブヘッドが前記プローブ本体の他端に設けられ、前記プローブカードが前記ロードボードに対して移動し、前記プローブヘッドと前記被測定回路基板上の測点を接続させることで、前記信号測定回路基板と前記被測定回路基板の間において電気的な接続を確立し、前記計測器が計測器のインターフェースを通じて前記信号測定回路基板のインターフェースと接続して前記被測定回路基板の測点に対して信号測定を行うことを特徴とする請求項１６に記載のテストプラットフォーム。
【請求項１８】
前記テストプローブは、弾性部材を更に備え、前記プローブ本体にそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、前記プローブ本体の内壁に第１支持部を設け、前記第１支持部が前記貫通空洞を前記プローブ本体の両端と各々連通する第１収容チャンバーと第２収容チャンバーに仕切り、前記第１収容チャンバーは前記コンタクトフィンガーを受けるために用いられ、前記弾性部材が前記第２収容チャンバー内に設けられ且つ前記弾性部材の一端を前記第１支持部で支え、前記プローブヘッドの一部が前記第２収容チャンバー内に設けられ、また前記弾性部材の他端を支え、前記プローブヘッドに対してそれの軸方向に沿う推力を作用して前記弾性部材を収縮させることで、前記テストプローブの長さを短縮させることができることを特徴とする請求項１６に記載のテストプラットフォーム。
【請求項１９】
前記弾性部材が金属スプリングであり、前記第１収容チャンバーの軸方向長さを前記コンタクトフィンガーの挿入の長さより短くすることで、前記コンタクトフィンガーの一端を前記第２収容チャンバーに挿入すると共に前記第２収容チャンバー内の前記金属スプリングと接触させることができ、前記コンタクトフィンガーは挿入部と固定部とを備え、挿入部と固定部との対向端が接続され、前記固定部の断面寸法を前記挿入部の断面寸法より大きくすることで、前記挿入部と前記固定部との接続部に段差面を形成し、前記プローブ本体の一端を前記段差面で支え、前記第１収容チャンバー内には内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、前記少なくとも２個の凸部が前記コンタクトフィンガーを保持するために用いられることを特徴とする請求項１８に記載のテストプラットフォーム。
【請求項２０】
前記プローブヘッドは、プランジャーと前記プランジャーの一端に設けるバレルとを備え、前記バレルの断面寸法が前記プランジャーの断面寸法より大きく、前記バレルが前記第２収容チャンバー内に設けられ、前記プローブ本体の内壁に第２支持部を設けており、前記第２支持部は前記バレルを前記第２収容チャンバー内に限定するために用いられ、前記第１支持部は内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する第１凸縁あるいは前記プローブ本体の内壁上に形成する段差構造であり、前記第２支持部が内方に向かって前記プローブ本体を押し出して形成する第２凸縁であることを特徴とする請求項１８に記載のテストプラットフォーム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子計測制御技術分野に関し、特に、テストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォームに関する。
【背景技術】
【０００２】
プリント回路基板の生産過程において、プリント回路基板の各アセンブリの電気特性パラメータ（例えば抵抗、静電容量或いは誘導性リアクタンス等）が基準を満たしているかを判断するため、プリント回路基板に対し電気特性試験を行う必要がある。
【０００３】
一般的なプリント回路基板の試験方法には、プリント回路基板上に測点を設置し、測点表面にはんだペーストを印刷して、自動化テスター或いはオンラインテスターを通じて、プローブで測点のはんだペースト部位に直接接触して関連の電気特性パラメータを取得する。
【０００４】
現在のオンラインテスター内のプローブの組み立てが比較的困難で、スルーホールの加工に対する要求が比較的高く、且つ電気的に不安定になる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
これに鑑み、本発明の実施例ではテストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォームを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、コンタクトフィンガーと挿嵌するため、一端を中空に設計するプローブ本体を備えるテストプローブを提供する。
【０００７】
テストプローブは、弾性部材とプローブヘッドを更に備え、プローブ本体にそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、プローブ本体の内壁に第１支持部を設け、第１支持部が貫通空洞をプローブ本体の両端と各々連通する第１収容チャンバーと第２収容チャンバーに仕切り、第１収容チャンバーはコンタクトフィンガーを受けるために用いられ、弾性部材が第２収容チャンバー内に設けられ且つ弾性部材の一端が第１支持部に支えられ、プローブヘッドの一部が第２収容チャンバー内に設けられ、また弾性部材の他端を支える。
【０００８】
第１収容チャンバー内には、内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、少なくとも２個の凸部がコンタクトフィンガーを保持するために用いられる。
【０００９】
プローブヘッドに対してそれの軸方向に沿う推力を作用して弾性部材を収縮させることで、テストプローブの長さを短縮させることができる。
【００１０】
第１支持部は、内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する第１凸縁あるいはプローブ本体の内壁上に形成する段差構造である。
【００１１】
プローブヘッドは、プランジャーとプランジャーの一端に設けるバレルとを備え、バレルの断面寸法がプランジャーの断面寸法より大きく、バレルが第２収容チャンバー内に設けられ、プローブ本体の内壁に第２支持部を設けており、第２支持部はバレルを第２収容チャンバー内に限定するために用いられる。
【００１２】
第２支持部は、内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する第２凸縁である。
【００１３】
弾性部材は、金属スプリングとする。
【００１４】
第１収容チャンバーの軸方向の長さをコンタクトフィンガーの挿入の長さより短くすることで、コンタクトフィンガーの一端を第２収容チャンバーに挿入すると共に第２収容チャンバー内の金属スプリングと接触させることができる。
【００１５】
コンタクトフィンガーは、挿入部と固定部とを備え、挿入部と固定部との対向端が接続され、固定部の断面寸法を挿入部の断面寸法より大きくすることで、挿入部と固定部との接続部に段差面を形成し、プローブ本体の一端を段差面で支える。
【００１６】
本発明は、テストプローブアセンブリを更に提供し、当該テストプローブアセンブリは、テストプローブとコンタクトフィンガーとを備え、テストプローブがプローブ本体を備え、プローブ本体の一端を中空に設計することで、回路基板上に固定されたコンタクトフィンガーと挿嵌する。
【００１７】
テストプローブは、弾性部材とプローブヘッドを更に備え、プローブ本体にそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、プローブ本体の内壁に第１支持部を設け、第１支持部が貫通空洞をプローブ本体の両端と各々連通する第１収容チャンバーと第２収容チャンバーとに仕切り、第１収容チャンバーはコンタクトフィンガーを受けるために用いられ、弾性部材が第２収容チャンバー内に設けられ且つ弾性部材の一端が第１支持部に支えられ、プローブヘッドの一部が第２収容チャンバー内に設けられ、また弾性部材の他端を支え、プローブヘッドに対してそれの軸方向に沿う推力を作用して弾性部材を収縮させることで、テストプローブの長さを短縮させることができる。
【００１８】
第１収容チャンバー内には、内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、少なくとも２個の凸部がコンタクトフィンガーを保持するために用いられる。
【００１９】
弾性部材が金属スプリングであり、第１収容チャンバーの軸方向長さをコンタクトフィンガーの挿入の長さより短くすることで、コンタクトフィンガーの一端を第２収容チャンバーに挿入すると共に第２収容チャンバー内の金属スプリングと接触させることができ、コンタクトフィンガーは挿入部と固定部とを備え、挿入部と固定部との対向端が接続され、固定部の断面寸法を挿入部の断面寸法より大きくすることで、挿入部と固定部との接続部に段差面を形成し、プローブ本体の一端を段差面で支える。
【００２０】
プローブヘッドは、プランジャーとプランジャーの一端に設けるバレルとを備え、バレルの断面寸法がプランジャーの断面寸法より大きく、バレルが第２収容チャンバー内に設けられ、プローブ本体の内壁に第２支持部を設けており、第２支持部はバレルを第２収容チャンバー内に限定するために用いられ、第１支持部は内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する第１凸縁あるいはプローブ本体の内壁上に形成する段差構造であり、第２支持部が内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する第２凸縁である。
【００２１】
本発明は、テストプラットフォームを更に提供し、当該テストプラットフォームは、信号測定回路基板とテストプローブとコンタクトフィンガーとを備え、コンタクトフィンガーが信号測定回路基板に固定され、テストプローブがプローブ本体とプローブヘッドとを備え、コンタクトフィンガーと挿嵌するため、プローブ本体の一端を中空に設計する。
【００２２】
テストプラットフォームは、プローブカードとロードボードと被測定回路基板と計測器とを更に備え、信号測定回路基板がプローブカード上に設けられ、プローブカード上にスルーホールを設け、テストプローブがスルーホールに挿通し、並びに一部がスルーホールから突出し、被測定回路基板がロードボード上のテストプローブに対向する一側に設けられ、プローブヘッドがプローブ本体の他端に設けられ、プローブカードがロードボードに対して移動し、プローブヘッドと被測定回路基板上の測点を接続させることで、信号測定回路基板と被測定回路基板の間において電気的な接続を確立し、計測器が計測器のインターフェースを通じて信号測定回路基板のインターフェースと接続して被測定回路基板の測点に対して信号測定を行う。
【００２３】
テストプローブは、弾性部材を更に備え、プローブ本体にそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、プローブ本体の内壁に第１支持部を設け、第１支持部が貫通空洞をプローブ本体の両端と各々連通する第１収容チャンバーと第２収容チャンバーに仕切り、第１収容チャンバーはコンタクトフィンガーを受けるために用いられ、弾性部材が第２収容チャンバー内に設けられ且つ弾性部材の一端が第１支持部に支えられ、プローブヘッドの一部が第２収容チャンバー内に設けられ、また弾性部材の他端を支え、プローブヘッドに対してそれの軸方向に沿う推力を作用して弾性部材を収縮させることで、テストプローブの長さを短縮させることができる。
【００２４】
弾性部材が金属スプリングであり、第１収容チャンバーの軸方向長さをコンタクトフィンガーの挿入の長さより短くすることで、コンタクトフィンガーの一端を第２収容チャンバーに挿入すると共に第２収容チャンバー内の金属スプリングと接触させることができ、コンタクトフィンガーは挿入部と固定部とを備え、挿入部と固定部との対向端が接続され、固定部の断面寸法を挿入部の断面寸法より大きくすることで、挿入部と固定部との接続部に段差面を形成し、プローブ本体の一端を段差面で支える。第１収容チャンバー内には内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、少なくとも２個の凸部がコンタクトフィンガーを保持するために用いられる。
【００２５】
プローブヘッドは、プランジャーとプランジャーの一端に設けるバレルとを備え、バレルの断面寸法がプランジャーの断面寸法より大きく、バレルが第２収容チャンバー内に設けられ、プローブ本体の内壁に第２支持部を設けており、第２支持部はバレルを第２収容チャンバー内に限定するために用いられ、第１支持部は内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する第１凸縁あるいはプローブ本体の内壁上に形成する段差構造であり、第２支持部が内方に向かってプローブ本体を押し出して形成する第２凸縁である。
【発明の効果】
【００２６】
上記技術的思想を通じて、本発明の実施例ではテストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォームを提供し、コンタクトフィンガーと挿嵌するため、プローブ本体の一端を中空に設計することで、現時点のプローブが組み立てにくい、スルーホールの加工に対する要求が高い、且つ電気的に不安定になるという技術的課題を解決する。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
更に本発明の実施例或いは従来技術内の技術的思想を明確に説明するため、以下、実施例或いは従来技術の記載中に使用する必要がある添付図面を簡単に紹介する。以下に記載している添付図面は、本発明の若干の実施例で、当業者にとって、進歩性の工夫を加えなくとも、これら添付図面に基づいてその他の添付図面を得ることができる。
【図１】本発明に係るテストプローブの実施例１におけるプローブ及びコンタクトフィンガーの構造を示す模式図である。
【図２】本発明に係るテストプラットフォームの実施例１の構造を示す模式図である。
【図３】本発明に係るテストプローブの実施例２の立体図である。
【図４】本発明に係るテストプローブの実施例２の断面図である。
【図５】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てる前の立体図である。
【図６】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てる前の断面図である。
【図７】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てた後の立体図である。
【図８】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てた後の断面図である。
【図９】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２のプローブヘッドが圧力を受けて圧縮された立体図である。
【図１０】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２のプローブヘッドが圧力を受けて圧縮された断面図である。
【図１１】本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の分解図である。
【図１２】本発明に係るテストプラットフォームの実施例２の構造を示す模式図である。
【図１３】本発明に係るテストプラットフォームの実施例３の構造を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
本発明の実施例の目的、技術的思想及び利点をより一層明確させるため、以下、本発明の実施例中の添付図面を基に、本発明の実施例中の技術的思想について明確、完全に記述する。記述する実施例は、本発明の一部の実施例で、全ての実施例ではない。本発明内の実施例に基づいて、当業者は進歩性の工夫を加えて得られる全ての他の実施例も、本発明の保護範囲に属する。
【００２９】
図１及び図２を参照すると、本発明で提供するテストプローブは、簡単で利便性があるだけでなく、加工難易度も下がり、且つ測定過程中においても電気的に安定する。
【００３０】
上記テストプローブ２０１は、主にテスターでプリント回路基板１０に対して電気特性試験を行う過程中に適用され、該プリント回路基板１０上に若干のコンタクトフィンガー１０１を設けている。本実施例において、該テスターはプローブカード２０を備え、該プローブカード２０上に若干のスルーホール２０２を設けており、該プローブカード２０が該プリント回路基板１０と対向して設けられ、且つ該プリント回路基板１０の真上に位置する。
【００３１】
上記テストプローブ２０１は、主に本体２０１１と該本体２０１１の一端に設けられたプローブヘッド２０１２とを備え、前記本体２０１１が細長い形状である。該本体２０１１は該プローブカード２０上に設けられたスルーホール２０２から突出して該プローブカード２０に固定され、且つ該本体２０１１の一端に設けられたプローブヘッド２０１２が該プローブカード２０の一側面から露出する。前記プローブヘッド２０１２の内部が中空で、前記テストプローブ２０１が該プリント回路基板１０上のコンタクトフィンガー１０１の位置に対応して設けられ、電気特性試験を行っている時、該プローブカード２０がプリント回路基板１０の方向に向かって寄せて移動することで、該テストプローブ２０１の内部が中空とするプローブヘッド２０１２は該プリント回路基板１０のコンタクトフィンガー１０１上に対応して挿入させると、通電して測定を行うことができる。
【００３２】
上記テストプローブとコンタクトフィンガーの組み合わせは、本発明のテストプローブアセンブリの第１実施形態で、上記テストプローブ２０１、コンタクトフィンガー１０１、プローブカード２０、プリント回路基板１０の組み合わせが本発明のテストプラットフォームの第１実施形態である。以下、テストプローブの具体的な構造、テストプローブアセンブリ及び本発明のテストプラットフォームの他の実施例を具体的に説明する。
【００３３】
本発明の実施例では更にテストプローブの第２実施形態を提供する。以下、図３と図４を参照すると、図３は本発明に係るテストプローブの実施例２の立体図で、図４が本発明に係るテストプローブの実施例２の断面図である。
【００３４】
図３と図４に示されるように、本発明に係るテストプローブの実施例２において、テストプローブ３０はプローブ本体３０１と弾性部材３０２とプローブヘッド３０３とを備え、コンタクトフィンガー４０に挿嵌するため、プローブ本体３０１の一端を中空に設計する（後記で詳細に説明）。
【００３５】
図４を参照すると、プローブ本体３０１がそれの軸方向に沿って貫通空洞を設け、プローブ本体３０１の内壁に第１支持部３０４を設け、第１支持部３０４が貫通空洞をプローブ本体３０１の両端と各々連通する第１収容チャンバー３０５と第２収容チャンバー３０６に仕切り、第１収容チャンバー３０５はコンタクトフィンガー４０を受けるために用いられ、弾性部材３０２が第２収容チャンバー３０６内に設けられ且つ弾性部材３０２の一端が第１支持部３０４に支えられ、プローブヘッド３０３の一部が第２収容チャンバー３０６内に設けられ、また弾性部材３０２の他端を支える。
【００３６】
プローブヘッド３０３は、具体的にプランジャー３０３１とプランジャー３０３１の一端に設けるバレル３０３２とを備え、バレル３０３２の断面寸法がプランジャー３０３１の断面寸法より大きく、バレル３０３２が第２収容チャンバー３０６内に設けられ、プローブ本体３０１の内壁に第２支持部３０８を設けており、第２支持部３０８はバレル３０３２を第２収容チャンバー３０６内に限定するために用いられる。
【００３７】
よって、プローブヘッド３０３のバレル３０３２及び弾性部材３０２が第２収容チャンバー３０６内に限定され、プランジャー３０３１の他端がプローブ本体３０１の軸方向に沿ってプローブヘッド３０３のバレル３０３２方向に向かう圧力の作用を受けている時、弾性部材３０２が収縮してプローブヘッド３０３を第１支持部３０４に向かって移動させることで、テストプローブ３０の長さを短縮させ、同時に弾性部材３０２が弾性を有するため、プランジャー３０３１の他端が加圧する物体と緊密に当接できる。
【００３８】
以下に更に図５乃至図８を参照すると、図５は本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てる前の立体図で、図６が本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てる前の断面図で、図７が本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てた後の立体図で、図８が本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の組み立てた後の断面図である。
【００３９】
図５と図６に示されるように、テストプローブアセンブリの実施例２において、テストプローブアセンブリは図３と図４に示すテストプローブ３０とコンタクトフィンガー４０とを備え、コンタクトフィンガー４０は挿入部４０１と固定部４０２とを備え、挿入部４０１と固定部４０２との対向端が接続され、固定部４０２の断面寸法を挿入部４０１の断面寸法より大きくすることで、挿入部４０１と固定部４０２との接続部に段差面４０３を形成し、プローブ本体３０１の第１収容チャンバー３０５が、図５と図６の矢印で示す方向に沿ってコンタクトフィンガー４０の挿入部４０１に挿嵌し、且つ挿嵌された後、段差面４０３は、プローブ本体３０１の一端と当接できる。
【００４０】
図７と図８に示すように、テストプローブ３０をコンタクトフィンガー４０の挿入部４０１に挿嵌して組み立てた後、プローブ本体３０１の一端が段差面４０３に支えられ、コンタクトフィンガー４０の固定部４０２が回路基板に固定されるため、段差面４０３がプローブ本体３０１の一端に当接することで、テストプローブ３０がテストプローブ３０の軸方向に沿ってコンタクトフィンガー４０に向かう圧力の作用を受けた時、コンタクトフィンガー４０と相対的な固定を保持できる。好ましくは、コンタクトフィンガー４０は、第１収容チャンバー３０５に挿入して第２収容チャンバー３０６内の弾性部材３０２と接触するよう設けることができる。弾性部材３０２を導電体とすると、テストプローブ３０の導電可能な面積を増やすことができる。
【００４１】
更に図９と図１０を参照すると、図９は本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２のプローブヘッドが圧力を受けて圧縮された立体図で、図１０が本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２のプローブヘッドが圧力を受けて圧縮された断面図である。組み立てた後、プローブヘッド３０３に対してプローブヘッド３０３軸方向に沿う推力（図面の矢印で示されたところ）を作用すると、弾性部材３０２を収縮させることで、テストプローブ３０の長さを短縮させ、同時に弾性部材３０２が収縮した後で弾性力を生じると共にプローブヘッド３０３に付勢するため、プローブヘッド３０３の先端部がそれに接触する加力の物体と緊密に当接させることができる。
【００４２】
テストプローブ３０を生産する時、プローブ本体３０１の対応位置において、内方に向かってプローブ本体３０１を押し出して第１凸縁を形成することで、第１支持部３０４を得ることができる。同じ理由で、内方に向かってプローブ本体３０１を押し出して第２凸縁を形成することで、第２支持部３０８を得ることができる。
【００４３】
好ましくは、プローブ本体３０１の内壁上に段差構造を形成することで、第１支持部３０４を得ることができ、段差構造はプレス等の方式を通じて実現できることである。
【００４４】
次に図１１を参照すると、図１１は本発明に係るテストプローブアセンブリの実施例２の分解図であり、図１１に示すように、プローブ本体３０１、弾性部材３０２及びプローブヘッド３０３でテストプローブ３０を構成し、テストプローブ３０がコンタクトフィンガー４０に抜き差し・固定できるため、テストプローブアセンブリを構成する。本発明の実施例において、プローブ本体３０１、弾性部材３０２、プローブヘッド３０３及びコンタクトフィンガー４０はいずれも導電金属とし、且つ、好ましくは弾性部材３０２を金属スプリングとする。
【００４５】
再度図１０を参照すると、好ましくは、本発明の実施例において、第１収容チャンバー３０５の軸方向の長さをコンタクトフィンガー４０の挿入の長さより短くすろことで、コンタクトフィンガー４０の一端を第２収容チャンバー３０６に挿入させて第２収容チャンバー３０６内の金属スプリングと接触させる。この場合、テストプローブアセンブリの導電経路が具体的に、「プローブヘッド３０３−プローブ本体３０１−コンタクトフィンガー４０」及び「プローブヘッド３０３−金属スプリング−コンタクトフィンガー４０」とすることができる。コンタクトフィンガー４０の一端が金属スプリングと接触するため、本実施形態はもう１本の「プローブヘッド３０３−金属スプリング−コンタクトフィンガー４０」の導電経路を追加できることで、テストプローブアセンブリを通過する電流を増大させて測定の精度を高めることができる。
【００４６】
更に第１収容チャンバー３０５は、コンタクトフィンガー４０の挿入部４０１を収容する必要があるため、プローブ本体３０１の断面寸法がコンタクトフィンガー４０の挿入部４０１より大きくならなければならない。またバレル３０３２とプランジャー３０３１はプローブ本体３０１内の第２収容チャンバー３０６に収容され、プローブ本体３０１の断面寸法が増えた時、それに応じて、バレル３０３２とプランジャー３０３１の断面寸法も大きく製作することもでき、よってテストプローブ３０の構造強度を向上でき、またプランジャー３０３１を通過する電流量も増えることで、測定の精度をより一層向上させることができる。
【００４７】
また続いて図３乃至図１２を参照すると、第１収容チャンバー３０５内には、内方に向かってプローブ本体３０１を押し出して形成する少なくとも２個の凸部が設けられ、少なくとも２個の凸部がコンタクトフィンガー４０を保持するために用いられる。該凸部はリング状凸部３０４と点状凸部３０７とすることができ、リング状凸部３０４が第１支持部３０４とし、第１支持部３０４が弾性部材３０２を支える役割を果たす以外に、コンタクトフィンガー４０の挿入部４０１を保持することもできる。
【００４８】
プローブ本体３０１の第１収容チャンバー３０６をコンタクトフィンガー４０と挿嵌するだけで、テストプローブアセンブリの組み立てを完了することができる。且つ組み立てた後、段差面４０３及び凸部の作用により、テストプローブを保持できるため、本発明で提供するテストプローブアセンブリは、組み立てが簡単で、堅牢であるという利点を有する。
【００４９】
本発明の実施例では、テストプラットフォームの第２種実施形態も提供し、具体的に図１２を参照すると、図１２は本発明に係るテストプラットフォームの実施例２の構造を示す模式図である。図１２に示すように、テストプラットフォームは、信号測定回路基板５０とテストプローブ３０とコンタクトフィンガー４０とプローブカード６０とロードボード８０と被測定回路基板７０とを備える。コンタクトフィンガー４０は、信号測定回路基板５０上に固定され、信号測定回路基板５０がプローブカード６０上に固設され、プローブカード６０上にスルーホール６０１を設ける。テストプローブ３０はプローブ本体３０１とプローブヘッド３０３とを備え、コンタクトフィンガー４０と挿嵌するため、プローブ本体３０１の一端を中空に設計し、テストプローブ３０がスルーホール６０１に挿通し、並びに一部がスルーホール６０１から突出し、被測定回路基板７０がロードボード８０上のテストプローブ３０に対向する一側に設けられ、プローブヘッド３０３がプローブ本体３０１の他端に設けられ、プローブカード６０がロードボード８０に対して移動し、プローブヘッド３０３を被測定回路基板７０上の測点と接続させることで、信号測定回路基板５０と被測定回路基板７０の間において電気的な接続を確立する。
【００５０】
本実施例において、具体的には、プローブカード６０は油圧駆動装置により駆動されることで、ロードボード８０に対して移動できる。勿論、当業者が理解できる範囲において、ステッピングモーター等その他の駆動方式を使用することもできるが、本発明はこれに限られるものではない。
【００５１】
本発明の実施例において、被測定回路基板７０上の測点と接触するため、プランジャー３０３１のバレル３０３２に対する反対側の一端を円錐状とすることが好ましい。特に、本発明の代替実施形態において、プランジャー３０３１のバレル３０３２に対する反対側の一端を被測定回路基板７０上の測点に合わせた他の形状としてもいい。
【００５２】
更に、図１３を参照すると、図１３は本発明に係るテストプラットフォームの実施例３の構造を示す模式図で、テストプラットフォームの実施例２と比較すると、本実施例のテストプラットフォームは計測器９０を更に備え、信号測定回路基板５０にインターフェース（挿入穴）５０１を設け、計測器９０が接続ケーブル９０２を通じて信号測定回路基板５０と接続し、接続ケーブル９０２が計測器のインターフェース９０１と信号測定回路基板５０のインターフェース５０２と各々接続することで、計測器９０が被測定回路基板７０の測点に対して信号測定を行うことができる。例を挙げて言うと、計測器９０はオシロスコープ、コンピュータ端末等の装置とすることができる。
【００５３】
特に、本発明のテストプラットフォームの第２と実施例３において採用されているテストプローブ３０とコンタクトフィンガー４０は、具体的に上記図３乃至図９及びその記述したテストプローブ３０とコンタクトフィンガー４０を採用でき、ここではその説明を省略する。
【００５４】
本発明の実施例に開示されるコンタクトフィンガー４０は、はんだ付け方式により信号測定回路基板５０上に固定でき、具体的には図１２と図１３に示すように、コンタクトフィンガー４０の固定部４０２を信号測定回路基板５０の挿入穴５０１に挿通配置できる。またコンタクトフィンガー４０は、信号測定回路基板５０上のテストプローブ３０に対向する表面にはんだ付けで固定される。本発明の実施例に開示されるコンタクトフィンガー４０は、挿入部４０１と固定部４０２とを備え、挿入部４０１と固定部４０２との対向端が接続され、コンタクトフィンガー４０は、棒状に設置されることで、はんだ付けの時、はんだがコンタクトフィンガー４０の内部に浸入することによる、それに挿通配置されているテストプローブ３０の精度不足の問題が発生する恐れがない。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
よって、上記開示内容を通じて、本発明の実施例ではテストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォームを提供し、コンタクトフィンガーと挿嵌するため、プローブ本体の一端を中空に設計することで、現時点のプローブが組み立てにくい、スルーホールの加工に対する要求が高い、且つ電気的に不安定になるという技術的課題を解決する。
【００５６】
以上に述べたことは、あくまでも本発明の好ましい実施例であって、本発明はそのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の明細書と添付図面の内容に基づいて実施する同じ効果を持つ構造又は流れの変形或いは直接的若しくは間接的にその他の関連技術分野に運用することは、いずれも本発明の保護範囲内に含めるものであるのが勿論である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【国際調査報告】
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