(57)【要約】  複数の時分割二重（ＴＤＤ）データパケット信号送受信機の検査を容易にする方法およびシステムが提供される。データパケット信号のレプリカが、テスターによって複数のＴＤＤ被験デバイス（ＤＵＴ）に送信される。ここで複製された（レプリカ）信号は、ヌルデータパケット信号又はＴＤＤデータパケット信号である。１つの実施形態においては、レプリカのヌルデータパケット信号が所定のインターバル時間の間送信されるが、当該インターバル時間は、ＤＵＴがテスターに同期するのに十分な長さである。他の実施形態においては、それぞれのレプリカＴＤＤデータパケット信号の成功裏の受信を示し、それゆえテスターとの同期を示す、それぞれ対応するＤＵＴからの応答信号の成功裏及び不成功裏の受信の後、対応するレプリカＴＤＤデータパケット信号が、そのようなレプリカデータパケット信号に、所定のデータパケット信号規格をそれぞれ順守させないか、または順守させるようなデータパケット信号特性を与えられる。同期の後、検査及び応答データパケット信号を、テスターとＤＵＴとの間で交換することができる。
2016509386.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の時分割二重（ＴＤＤ）データパケット信号送受信機の検査を容易にする方法であって、
複数の出力データパケット信号を複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機に提供するステップと、
ここで、前記複数の出力データパケット信号のそれぞれは、
ヌルデータパケット信号、及び
あるデータパケット信号特性を有するＴＤＤデータパケット信号のうちの少なくとも１つを含む共通のデータパケット信号に対応し、
前記共通のデータパケット信号がヌルデータパケット信号を含む場合、前記複数の出力データパケット信号を所定のインターバル時間提供し続けるステップと、
前記共通のデータパケット信号がＴＤＤデータパケット信号を含む場合、前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機からの複数の応答信号のそれぞれ対応する１つの、成功裏及び不成功裏の受信に対して、１以上の前記複数の出力データパケット信号を提供することにより、応答するステップと、
を含み、
前記複数の応答信号のそれぞれは、前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つによって、有効なデータパケットが成功裏に受信したことを示し、
前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つからの前記複数の応答信号の１つが成功裏に受信された後、前記複数の出力データパケット信号の対応する１つに、前記複数の出力データパケット信号の前記対応する１つが、所定のデータパケット信号規格を順守することができないような前記データパケット信号特性が与えられ、
前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つからの前記複数の応答信号の１つが不成功裏に受信された後、前記複数の出力データパケット信号の対応する１つに、前記複数の出力データパケット信号の前記対応する１つが、前記所定のデータパケット信号規格を順守するようなデータパケット信号特性が与えられる、方法。
【請求項２】
前記共通のデータパケット信号がヌルデータパケット信号を含む場合、前記所定のインターバル時間の少なくとも一部分の間に、前記複数の出力データパケット信号に対して、１以上の前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機からの対応する応答信号を受信するステップを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記複数の応答信号の１つを、前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つから成功裏に受信した後に、
前記複数の出力データパケット信号のうちの前記対応する１つの第１部分が、前記所定のデータパケット信号規格に従うように、及び  
前記複数の出力データパケット信号のうちの前記対応する１つの第２部分が、前記所定のデータパケット信号規格にしたがわないように、
前記複数の出力データパケット信号の対応する１つに、前記データパケット信号特性が提供される、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記第２部分が前記第１部分の後に続く、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記データパケット信号特性は、信号パワー及び信号周波数の少なくとも１つを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
共通のデータパケット信号に対応する複数の出力データパケットを提供する前記ステップは、前記入力データパケット信号の信号パワーを分割して、複数のレプリカデータパケット信号を提供するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
共通のデータパケット信号に対応する複数の出力データパケットを提供する前記ステップは、１つ以上の前記複数のレプリカデータパケット信号を減衰して、前記複数の出力データパケット信号を提供するステップを更に含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
共通のデータパケット信号に対応する複数の出力データパケットを提供する前記ステップは、１つ以上の前記複数のレプリカデータパケット信号をスイッチングして、前記複数の出力データパケット信号を提供するステップを更に含む、請求項６に記載の方法。
【請求項９】
共通のデータパケット信号に対応する複数の出力データパケットを提供する前記ステップは、１つ以上の前記複数のレプリカデータパケット信号を１つ以上の高周波（ＲＦ）信号と混合して、前記複数の出力データパケット信号を提供するステップを更に含む、請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
前記複数のＤＵＴと、それぞれ複数の検査データパケット信号及び応答データパケット信号を交換するステップを更に含み、該交換は、
前記共通のデータパケット信号がヌルデータパケット信号を含む場合には、前記所定のインターバル時間の後、及び
前記共通のデータパケット信号がＴＤＤデータパケット信号を含む場合には、前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機のそれぞれ１つから、前記複数の応答確認信号の１つを成功裏に受信した後に行われる、請求項１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データパケット信号送受信機を検査することに関し、特に、複数の上記デバイスを同時進行で検査するためのシステム及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
多くの今日の電子デバイスは、接続及び通信の両方の目的で無線技術を用いる。無線式デバイスは電磁的エネルギーを送受信し、且つ２つ又はそれ以上の無線式デバイスは、それらの信号周波数及びパワースペクトル密度により互いの動作に干渉する潜在的可能性があるので、こうしたデバイス及び該デバイスの無線技術は、さまざまな無線技術規格の仕様を順守しなければならない。
【０００３】
こうしたデバイスを設計する際には、エンジニアは、そのようなデバイスに含まれる無線技術のそれぞれに関して規定の規格に基いた仕様を、確実に満たし又は上回るように特別に配慮している。更に、これらのデバイスが後に大量に製造される際には、それらのデバイスは、その含まれる無線技術の規格に基く仕様を守ることを含めて、製造時の問題点により不適切な動作が引き起こさないように検査される。
【０００４】
これらのデバイスの製造および組み立ての後で、当該デバイスを検査するために、現行の無線デバイス検査システムは、それぞれのデバイスから受信する信号を分析するためのサブシステムを用いている。そのようなサブシステムは通常、少なくとも、デバイスにより作られる信号を分析するためのベクトル信号分析器（ＶＳＡ）と、デバイスにより受信される信号を生成するためのベクトル信号生成器（ＶＳＧ）とを含む。それぞれが、異なる周波数域、帯域幅、及び信号変調特性を有するさまざまな無線技術規格にしたがって、さまざまなデバイスの検査に用いられるように、ＶＳＡにより実行される分析及びＶＳＧにより生成される信号は、一般的に、プログラム可能となっている。
【０００５】
検査される無線技術の中には、当該デバイスの送信器及び受信器が、同じ周波数で動作するものがある。そのような動作の１つが時分割二重（ＴＤＤ）であるが、その１つの例で次第に普及してきているものは、ブルートゥースとして知られている。ＴＤＤ技術を採用している２以上の上記のようなデバイスを同時に検査する際には、検査の間に、デバイスの開始時間がさまざまに異なるため、エラーの発生する可能性がある。例えば、１つのシナリオでは、１以上のデバイスが、テスター（例えば、ＶＳＧ）によって生成される、意図された検査データパケットに応答するよりもむしろ、他の被験デバイス（ＤＵＴ）によって生成される応答データパケットに同期され得る。その結果、誤った信号に同期されるようになるＤＵＴは、そのまま維持され、それゆえに、誤った又は無効な検査結果が生み出されることになる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
したがって、上記のような不適切な同期のシナリオを回避する、複数のＴＤＤのＤＵＴを同期するための方法により、問題のあるデバイスの同期及び検査の時間を削減でき、それによって、デバイスごとの全検査費用を削減できることは有利である。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に従って、複数の時分割二重（ＴＤＤ）データパケット信号送受信機を検査するのを容易にする方法及びシステムが提供される。データパケット信号のレプリカが、テスターによって複数のＴＤＤ被験デバイス（ＤＵＴ）に送信される（複製された（レプリカ）信号は、ヌルデータパケット信号又はＴＤＤデータパケット信号である）。１つの実施形態においては、レプリカのヌルデータパケット信号が所定のインターバル時間の間送信されるが、当該インターバル時間は、ＤＵＴがテスターに同期するのに十分な長さである。他の実施形態においては、それぞれのＤＵＴからの応答信号（それぞれのレプリカＴＤＤデータパケット信号の成功裏の受信を示し、それゆえテスターとの同期を示す）の成功裏及び不成功裏の受信の後、対応するレプリカＴＤＤデータパケット信号に、レプリカデータパケット信号に所定のデータパケット信号規格をそれぞれ順守させないか、または順守させるようなデータパケット信号特性が与えられる。同期の後、検査及び応答データパケット信号が、テスターとＤＵＴとの間で交換されることができる。
【０００８】
本発明の１つの例示的実施形態に従って、複数の時分割二重（ＴＤＤ）データパケット信号送受信機の検査を容易にする方法は、
複数の出力データパケット信号を複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機に提供するステップであって、ここで、前記複数の出力データパケット信号のそれぞれは、
ヌルデータパケット信号、及び
あるデータパケット信号特性を有するＴＤＤデータパケット信号のうちの少なくとも１つを含む共通のデータ信号に対応し、
前記共通のデータパケット信号がヌルデータパケット信号を含む場合、前記複数の出力データパケット信号を所定のインターバル時間提供し続けるステップと、
前記共通のデータパケット信号がＴＤＤデータパケット信号を含む場合、前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機からの複数の応答信号のそれぞれ対応する１つの、成功裏及び不成功裏の受信に対して、１以上の前記複数の出力データパケット信号を提供することにより、応答するステップと、
を含み、
ここで、前記複数の応答信号のそれぞれは、前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つによって、有効なデータパケットが成功裏に受信したことを示し、
前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つからの前記複数の応答信号の１つが成功裏に受信された後、前記複数の出力データパケット信号の対応する１つに、前記複数の出力データパケット信号の前記対応する１つが、所定のデータパケット信号規格を順守することができないようなデータパケット信号特性が与えられ、
前記複数のＴＤＤデータパケット信号送受信機の対応する１つからの前記複数の応答信号の１つが不成功裏に受信された後、前記複数の出力データパケット信号の対応する１つに、前記複数の出力データパケット信号の前記対応する１つが、前記所定のデータパケット信号規格を順守するようにデータパケット信号特性が与えられる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、複数のＤＵＴを同時進行で検査するための従来の検査環境を示す。
【図２】図２は、本発明の１つの例示的実施形態に従う、複数のＤＵＴを同時進行で検査するための検査環境を示す。
【図３】図３は、本発明の他の例示的実施形態に従う、複数のＤＵＴを同時進行で検査するための検査環境を示す。
【図４】図４は、本発明の他の例示的実施形態に従う、複数のＤＵＴを同時進行で検査するための検査環境を示す。
【図５】図５は、本発明の他の例示的実施形態に従う、複数のＤＵＴを同時進行で検査するための検査環境を示す。
【図６】図６は、図４及び５の信号特性制御回路機構の１つの例示的実施形態を示す。
【図７】図７は、図４及び５の信号特性制御回路機構の他の例示的実施形態を示す。
【図８】図８は、図４及び５の信号特性制御回路機構の他の例示的実施形態を示す。
【図９】図９は、本発明の１つの例示的実施形態に従う、検査信号をＤＵＴに、及びＤＵＴから確認信号を伝達するための回路機構を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下の詳細な説明は、添付図面を参照し、本発明の例示的実施形態に関してなされるものである。かかる説明は、例示的なものとして意図され、本発明の範囲を限定しないことを意図されている。かかる実施形態は、当業者が本発明を実施することを可能にするのに十分詳細に説明されており、本発明の思想及び範囲を逸脱することなく、一部を変形させる他の実施形態が実施可能であるということが理解されよう。
【００１１】
本発明の開示を通じて、内容から反対であるという明確な指示がなければ、説明するような個々の回路要素は、数において単数の場合もあれば複数の場合もあることが理解されるであろう。例えば「回路（circuit）」及び「回路機構（circuitry）」という用語は、説明される機能を提供するために能動的及び／又は受動的であり、かつ互いに接続されるか又は他の方法で結合されている単一の構成要素又は複数の構成要素（例えば１以上集積回路チップ）のいずれかを含み得る。更に、「信号」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指す場合がある。図面内では、同様の又は関連する要素は、同様の又は関連の英字、数字、又は英数字指定子を有する。更に、本発明は、個別の電子回路（好ましくは、１つ又はそれよりも多くの集積回路チップの形態）を使用する実装形態と関連して説明されているが、このような回路のいかなる部分の機能も、代替的に、処理される信号周波数又はデータ転送速度により、１つ又はそれよりも多くの適切にプログラムされたプロセッサを使用して実施することができる。更に、図が様々な実施形態の機能ブロックの略図を例示する範囲において、機能ブロックはハードウェア回路間の境界を必ずしも示さない。
【００１２】
本発明の例示的実施形態に従って、不適切なテスター−ＤＵＴの同期を回避しながら、複数のＴＤＤデバイスを同時に検査するための方法が提供される。１つの例示的実施形態において、複数のＴＤＤデバイスに送信するために、ＶＳＧ信号を同時に複製することが可能な検査システム（テスター）と、単一のＶＳＡを用いる複数のＴＤＤデバイスから応答信号を受信するための多重分離化サブシステムとを用いて、所定の同期インターバル時間が経過するまで、ＶＳＧがヌルデータパケットのセットを複数のＴＤＤデバイスに送信する。この同期インターバル時間は、適切に動作しているＴＤＤデバイスが検査の準備完了となり得るように選択される。この同期インターバル時間が経過すると、テスターは、所定の検査データパケットのセットをデバイスに送信し始めること、及び応答データパケットをデバイスから受信し始めることが可能になる。代替的に、ＴＤＤデバイスは、所定の検査データパケットのセットをテスターに送信し始めること、及び応答データパケットをテスターから受信し始めることが可能になる。
【００１３】
他の例示的実施形態において、テスターは、複数のＴＤＤデバイスに同時送信するためにＶＳＧ信号を複製し、例えば、複製されたＶＳＧ信号のパワーレベルを閾値より低く下げることによって、個別のデータパケット信号が、破損され、対応するＴＤＤデバイスによって受信することができないように、信号特性制御を行う。テスターのＶＳＡに送るために、複数のＴＤＤデバイスから応答信号を受信するため、及びヌルデータパケットのデバイスからの受信を検知し、さらに複製された各ＶＳＧ信号のパワーレベルを制御するために、信号特性制御サブシステムと通信するための多重化サブシステムもまた含まれる。
【００１４】
以下に詳述するように、テスターは、複製された所定の同期データパケットのセットを、複数のＴＤＤデバイスに送信する。そのようなデータパケットを受信する準備が完了しているデバイスは、ヌルデータパケットを返すことによって応答する。テスターは、どのデバイスがそのようなヌルデータパケットを返したのかを検知し、返され、又は返されていないヌルデータパケットのステータスを、信号特性制御サブシステムに通信する。その結果として、所定の同期データパケットの後続のセットが、前と同じようにＴＤＤデバイスに送信されるが、しかしヌルデータパケットを返すことにより、自らが検査を受ける準備が完了していることを明らかにしているＴＤＤデバイスに送信されている同期データパケットは、（例えば、データパケット送信の開始後で、且つデータパケット送信終了に先立って、信号パワーを著しく低下させることによって）破損されている。他方で、ヌルデータパケットを送信することにより、自らが検査を受ける準備が完了していると明らかにしていないＴＤＤデバイスに送信された複製されたデータパケットは、適用可能な信号規格にしたがって（すなわち、破損されずに）送信される。その結果として、検査を受ける準備が完了していないＴＤＤデバイスは、検査を受ける準備が完了したことを示すまで、同期データパケットを受信し続ける。それゆえ、そのようなＴＤＤデバイスは、検査を受ける準備が完了したと示している他のＤＵＴにより生成された応答ヌルデータパケットに、不適切に同期することがない。なぜなら、検査を受ける準備が完了しているＤＵＴは、破損したデータパケットを受信しており、それゆえ、応答ヌルデータパケットを作り出さないからである。ひとたびすべてのＤＵＴが、ヌルデータパケットで応答することによって、検査を受ける準備が完了したと示すと、同期は完了し、テスターがこの時点で、所定の検査データパケットをＤＵＴに送信し始め、応答データパケットをＤＵＴから受信し始める。又は代替的に、ＤＵＴがこの時点で、所定の検査データパケットのセットをテスターに送信し始め、応答データパケットをテスターから受信し始めることができる。
【００１５】
本発明の例示的実施形態が以下に、単一のテスターが複数の被験デバイス（ＤＵＴ）を検査する検査環境と関連させて論じられる。論じられる特定の実施例において、検査環境は３つのＤＵＴを含む。しかしながら、３つのＤＵＴを検査することは、単に例示的なものであり、本発明は、任意の複数の（すなわち、２つ又はそれより多い）ＤＵＴに対して実行可能であるということは容易に理解されよう。
【００１６】
図１に示されているように、従来の検査環境は、複数のＤＵＴ  ２００、例えば３つのＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃを検査するための検査システムいわゆる「テスター」１００を含む。テスター１００は、ＶＳＧ検査信号１０１を提供するためのＶＳＧ  １０２、及び多重化ＤＵＴ信号１１５を受信するためのＶＳＡ  １０４を含む。また、ＶＳＧ信号１０１を複製し、複数の複製されたＶＳＧ信号１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃをＤＵＴ  ２００に提供するための信号ルーティング又は複製回路機構１１２（例えば、パワースプリッタ）も含まれる。ＤＵＴ  ２００からの応答信号２０１ａ、２０１ｂ、２０１ｃが、テスター１００又は外部の制御部（不図示）によって提供される１つ又はそれよりも多くの制御信号（不図示）により制御可能な、例えば多重化装置のような追加的信号ルーティング回路機構１１４を介して、ＶＳＡ  １０４に送られる。
【００１７】
当業者にはすぐに明らかなように、また詳しくは後述するように、複製されたＶＳＧ信号１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃ及び応答ＤＵＴ信号２０１ａ、２０１ｂ、２０１ｃのためのそれぞれの信号経路は共有される。例えば、単一の有線信号経路が、検査信号１１３ａ／１１３ｂ／１１３ｃをＤＵＴ  ２００ａ／２００ｂ／２００ｃに送るため、及び、ＤＵＴ信号２０１ａ／２０１ｂ／２０１ｃを送るためにも用いられる。
【００１８】
周知の原理にしたがって、検査システムは、複製されたＶＳＧ信号１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃの送信を開始し、後続のさまざまな時点で、いろいろなＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃが検査を受ける準備完了状態になり、そのような準備完了状態であることをヌルデータパケットで応答することによって示す。本実施例においては、第１のＤＵＴ  ２００ａが最初に、検査を受ける準備完了状態２０３ａになり、その後まもなく、第２のＤＵＴ  ２００ｂが検査を受ける準備完了状態２０３ｂになる。したがって、第１のスロット時間２０５ａが経った後、第１のＤＵＴ  ２００ａ及び第２のＤＵＴ  ２００ｂが、応答ヌルデータパケットを送信し、それによってそれぞれが検査を受ける準備が完了している状態にあることを示す。しかしながら、第３のＤＵＴ  ２００ｃが最後に、検査を受ける準備完了状態２０３ｃになった際に、第３のＤＵＴ  ２００ｃの最初の信号は、（例えば、何らかの形の信号漏出による）他のＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂからの、応答ヌルデータパケットの１つの減衰されたバージョンである。しかしながら、第３のＤＵＴ  ２００ｃは、本来ＴＤＤデータパケットを受信するようになっているのに、その代わりに、減衰されたヌルデータパケットを受信してしまうことから、その応答信号２０１ｃは、第３のＤＵＴ  ２００ｃが検査を受ける準備が完了しているということを示さないものとなる。このようにして、その他のＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂが、適切にテスター１００に同期され、ＴＤＤデータパケット１１３ａ、１１３ｂに対して応答ヌルデータパケット２０１ａ、２０１ｂによって適切に応答している一方で、第３のＤＵＴ  ２００ｃは、検査を受ける準備は完了しているのにも関わらず、そのＴＤＤデータパケット信号１１３ｃではなく、漏出したヌルデータパケット信号に適切に同期しない。
【００１９】
図２に示されているように、本発明の１つの例示的実施形態によれば、ＶＳＧ  １０２が、ヌルデータパケットのセットを包含するＶＳＧ信号１０１を、所定の同期インターバル時間２０７ａの間に提供する。このインターバル時間２０７ａの間、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃは、多くの複製されたヌルデータパケット１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃを受信し、検査を受ける準備完了状態２０３ａ、２０３ｂ、２０３ｃになる。この時点で検査を受ける準備完了状態であるが、テスター１００からのヌルデータパケット１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃは、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃからの応答２０１ａ、２０１ｂ、２０１ｃを引き起こさない。このインターバル時間２０７ａの後、テスター１００は、受信検査インターバル２０９ｒの間に、所定の検査データパケットの送信を開始することが可能になり、送信される検査データパケットに対して、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃは、ヌルデータパケット信号２０１ａ、２０１ｂ、２０１ｃを返す。代替的に、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃは、検査データパケットのセットをテスター１００に送信すること、及びその返信として、応答データパケットをテスター１００から受信する（不図示）ことを開始するのが可能である。
【００２０】
図３に示されているように、他の例示的実施形態によれば、同期インターバル時間２０７ａの後、テスター１００は、送信検査２０９ｔ（当該送信検査２０９ｔにおいては、複製されたＶＳＧ信号１１３ａ、１１３ｂ、１１３ｃはＴＤＤデータパケットを包含する。）を、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃが、そのようなデータパケットの複製物、すなわちループバックデータパケットを返すことに応じて実行することが可能である。
【００２１】
図４に示されているように、他の例示的実施形態によれば、テスター１００のＶＳＡ  １０４用の受信経路にある信号ルーティング回路機構１２４は、ヌル信号検知回路機構を（例えば、多重化回路機構に加えて）含み、当該ヌル信号検知回路機構は、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃからの返信信号２０１ａ、２０１ｂ、２０１ｃ内にヌルデータパケットが存在することを検知する。ヌルデータパケットが検知されると、送信経路（以下に詳しく説明する）上の信号特性制御回路機構１２２への１つ以上の制御信号１２５により、回路機構１２２が、複製されたＶＳＧ信号１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃの１つ以上の信号特性を変化させるようになっている。例えば、インターバル時間２１１に対して示されているように、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂの２つは、検査を受ける準備完了状態２０３ａ、２０３ｂになり、それぞれの返信信号２０１ａ、２０１ｂの一部として、ヌルデータパケットを送信することにより応答する。これらのヌルデータパケットは、返信信号ルーティング回路機構１２４内のヌル検知回路機構により検知され、１以上制御信号１２５によって、信号特性制御回路機構１２２が、対応する複製されたＶＳＧ制御信号１２３ａ、１２３ｂ、を、例えば、データパケットインターバルの間に信号パワーを低下させることにより、破損させるようになっている。
【００２２】
一方、第３のＤＵＴ  ２００ｃは、この時点で検査を受ける準備完了状態２０３ｃであるが、最初に、その他のＤＵＴ  ２０３ａ、２０３ｂの１つから、検査を受ける準備完了状態であることを示すために、それより以前に送信されたヌルデータパケット信号を受信してしまう。しかしながら、他のＤＵＴ  ２０３ａ、２０３ｂはもはや、有効な、例えば破損していないデータパケット信号を受信していないので、当該ＤＵＴ  ２０３ａ、２０３ｂはもはや、返信としてヌルデータパケットを送信しない。その結果として、第３のＤＵＴ  ２００ｃは、この時、有効な検査データパケット１２３ｃの受信を開始し、それによりヌルデータパケット２０１ｃによって応答する。このインターバル時間２１１の後、テスターは、受信検査２１３ｒ（当該受信検査２１３ｒにおいては、所定の検査データパケット１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃがＤＵＴ  ２００によって受信されるように送信されることが可能である。）を、ＤＵＴ  ２００がヌルデータパケット信号２０１、２０１ｂ、２０１ｃを送信することに応じて実行することが可能である。
【００２３】
図５に示されているように、他の例示的実施形態に従って、同期が行われるインターバル時間２１１の後、テスター１００は、送信検査２１３ｔを実行することが可能である。当該送信検査２１３ｔにおいては、複製された検査データパケット１２３ａ、１２３ｂ、１２３ｃは送信され、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃ内で複製され、それぞれの応答信号２０１ａ、２０１ｂ、２０１ｃ、すなわちループバックデータパケット信号として、返信される。
【００２４】
図６に示されているように、１つの例示的実施形態に従って、スイッチ１２２ａを用いて、制御信号１２５に従いスイッチングして信号経路を開き、複製されたデータパケット信号１２３の信号パワーを大幅に低下させることによって、複製されたデータパケット信号１１３の破損は実現される。
【００２５】
図７に示されているように、他の例示的実施形態に従って、データパケット信号１１３の破損は、プログラム可能な信号減衰器１２２ｂを用いて実現できる。制御信号１２５に従って、複製されたデータパケット信号１２３の信号パワーが、当該信号が適用可能な信号規格に準拠していると判定されるために必要な閾値よりも下に低下させられるように、信号の減衰を増大させることができる。
【００２６】
図８に示されているように、他の例示的実施形態に従って、スイッチング回路機構１２２ａ又は減衰回路機構１２２ｂに代えて、信号混合回路機構１２２ｃを利用することが可能である。データパケット信号１１３の破損は、複製されたデータパケット信号１２３の周波数を変えることによって実現できるが、そのために、複製されたデータパケット信号１２３が、制御信号１２５により制御されるローカルのＲＦ信号源１３０からの、他の高周波（ＲＦ）信号１３１と混合される。
【００２７】
このように、信号の破損は、信号のパワー及び信号の周波数を含む、データパケット信号特性の事実上どんなものを変更することによっても実現できるということが理解されよう。
【００２８】
図９に示されているように、本発明の例示的実施形態に従って、既に述べたように、ＤＵＴ  ２００を検査するための有線信号経路は、通常、ＤＵＴ  ２００ａ、２００ｂ、２００ｃのそれぞれに対して単一の有線接続の形をとっている。例えば、第１のＤＵＴ  ２００ａに関しては、検査データパケット信号１２３ａ２及び返信ヌルデータパケット信号２０１ａ１が、共有されている、又は共通の有線信号経路２０２ａを介して送られる。（同様に、検査データパケット信号１２３ｂ２、１２３ｃ２が残りのＤＵＴ  ２００ｂ、２００ｃに、及び応答ヌルデータパケット信号２０１ｂ１、２０１ｃ１が残りのＤＵＴ  ２００ｂ、２００ｃから、それぞれ対応する共有されている有線信号経路２０２ｂ、２０２ｃを介して送られる。）データ破損回路機構１２２からの、複製されたＶＳＧ信号１２３ａ１、１２３ｂ１、１２３ｃ１のそれぞれは、それぞれ対応する有線信号経路１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃを介して、追加的信号ルーティング回路機構１４０（以下に詳述する）に送られて、更に、有線ＤＵＴ信号経路２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃを通って、それぞれ対応する複製されたＶＧＡ信号１２３ａ２、１２３ｂ２、１２３ｃ２として送られるようになっている。その返答として、応答ヌルデータパケット信号２０１ａ１、２０１ｂ１、２０１ｃ１が、有線ＤＵＴ信号経路２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃを介して、ルーティング回路機構１４０に送られ、更に、それぞれの出力信号経路１４４ａ、１４４ｂ、１４４ｃを介して、ヌル検知及び多重化回路機構１２４に送られる。
【００２９】
追加的信号ルーティング回路機構１４０は、当該分野で周知の技術に従い、さまざまな形で実装可能である。例えば、ルーティング回路機構１４０は、１：２信号分割器、又はスプリッタとして実装可能であるが、その場合には、応答ヌルデータパケット信号２０１ａ１、２０１ｂ１、２０１ｃ１は分割され、元々のヌルデータパケット信号の低パワーバージョン２０１ａ２、２０１ｂ２、２０１ｃ２として、対応する出力信号経路１４４ａ、１４４ｂ、１４４ｃを介して提供される。代替的に、ルーティング回路機構１４０は、応答ヌルデータパケット信号２０１ａ１、２０１ｂ１、２０１ｃ１の結合バージョンを、対応する出力信号ポート１４４ａ、１４４ｂ、１４４ｃで提供する信号結合器として実装可能である。更に代替的に、複製されたＶＳＧ検査信号１２３ａ１、１２３ｂ１、１２３ｃ１の送信の間に、対応する信号経路１４２ａ、１４２ｂ、１４２ｃ及び２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃが接続されるように、ルーティング回路機構１４０は、テスター１００又は外部の制御部（不図示）からの制御信号（不図示）にしたがって制御される信号スイッチとして実装可能である。同様に、ＤＵＴ  ２００が応答すると期待されるインターバル時間の間、対応する信号経路２０２ａ、２０２ｂ、２０２ｃ及び１４４ａ、１４４ｂ、１４４ｃは接続される。
【００３０】
上記の議論に基いて、次のことが理解できる。同時に複数のＴＤＤデバイスを検査する際に、１つ以上のＴＤＤデバイスが、他のＴＤＤデバイスに対して、テスター検査データパケットではなく、他のＴＤＤデバイス応答データパケットに適切に同期しないような時間にスタートする可能性がある。通常、ひとたび検査のプロセスが開始すると、複数のＤＵＴは、同時に同期はしない。それゆえ、複製された検査データパケットが送信されると、検査を受ける準備の完了しているＤＵＴは、ヌルデータパケット信号によって応答し、他方で、検査を受ける準備の完了していないＤＵＴは、準備完了状態になるまで応答しない。あるＤＵＴが準備完了になる前に検査データパケットを送信することが、ビットエラー率（ＢＥＲ）検査の間になされる場合もある。当該検査においては、最小のビット数を検査することだけが必要であり、この場合、いくつかのＤＵＴに他よりも多くのデータパケットを送信することは、最小のビット数を受信しているＤＵＴが、検査の目的のために必要な最小限の数のビットを受信している限り、決定的問題ではない。しかしながら、テスターがデータパケット信号のセットを送信した後で、ＤＵＴが準備完了状態になることはあり得るが、この場合、テスターデータパケットを受信する代わりに、その段階で準備完了になっているＤＵＴは、他のＤＵＴによって送られた漏出ヌルデータパケット信号を受信する。一方、テスターは、これが実際に起こったということを知る術を持たない。それゆえ、テスターがその所定の検査データパケットを複数のＤＵＴに送信し続ける間、適切に同期したＤＵＴはそれらの検査データパケットを受信するが、他方で、適切に同期していないＤＵＴは受信しない。
【００３１】
図２及び３を参照すると、これらの例示的実施形態によれば、テスターはヌルデータパケットを検査シーケンスの最初に送信する。ＤＵＴは、それらのヌルデータパケットには応答しない。テスターは、同期インターバル時間が経過するまで、ヌルデータパケットを送信し続ける。このインターバルは、適切に動作しているＤＵＴが、当該インターバルが経過する前に、準備完了状態になるように選択されている。そのインターバル時間の間、テスターがヌルデータパケットを送信しているので、ＤＵＴは応答を送信していない。それゆえ、漏出応答データパケットが、他のＤＵＴが誤ってそれらに同期してしまうという事態を引き起こすことはできない。
【００３２】
図４及び５を参照すると、これらの他の例示的実施形態によれば、同期時間は、静的又は固定的というより動的であるので、より検査時間が短くできる。既に論じたように、テスターが複製された検査データパケットを送信すると、検査を受ける準備完了になるＤＵＴは、ヌルデータパケット信号を送信することにより応答する。これらの応答ヌルデータパケット信号は検知され、対応するＤＵＴが識別され、それに引き続いて、後続の、対応する複製された検査データパケット信号の送信は、適用可能な信号規格に準拠しないように変更、例えば、破損される。そのような破損した信号を受信するＤＵＴは、もはや応答ヌルデータパケット信号を送信しないので、まだ検査を受ける準備が完了していないＤＵＴが誤って、複製されたＶＳＧ信号ではなく応答ヌルデータパケット信号に同期するのを防ぐことができる。
【００３３】
本発明の範囲及び思想から逸脱することなく、本発明の構造及び動作方法の様々な他の修正及び変更を行えることが当業者に明らかであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明したが、本発明は、このような特定的な実施形態に不当に限定されるべきではないことを理解すべきである。以下の「特許請求の範囲」が本発明の範囲を規定し、かつこれらの請求項及びその同等物の範囲内の構造及び方法がそれによって包含されることを意図している。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際調査報告】
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