(57)【要約】  イメージングシステムの回転ガントリ部分に位置する第１の部分をもつテーブルトップ撓み測定器を利用して、アイソセンタに位置するイメージングシステムテーブルトップの一部の撓みを測定するアプローチがここに記述される。１つの非限定的な例において、イメージングシステムは、検査領域を規定する開口を有する回転ガントリ部分６０６と、検査領域内の被検体又は対象を支持するテーブルトップ６２０であって、検査領域に入って片持ち支持され、撓むテーブルトップと、検査領域のテーブルトップの撓みを測定するテーブルトップ撓み測定器６２２であって、テーブルトップ撓み測定器の第１の部分７０２、７０６が回転ガントリ部分上に位置付けられる、テーブルトップ撓み測定器と、を有する。
2016501065.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イメージングシステムであって、
検査領域を規定する開口を有する回転ガントリ部分と、
前記検査領域において被検体又は対象を支持するテーブルトップであって、前記検査領域において片持ち支持されて撓むテーブルトップと、
前記検査領域において前記テーブルトップの撓みを測定するテーブルトップ撓み測定器と、
を有し、前記テーブルトップ撓み測定器の第１の部分が、前記回転ガントリ部分に位置付けられる、イメージングシステム。
【請求項２】
前記第１の部分が、エミッタ及びセンサを含む、請求項１に記載のイメージングシステム。
【請求項３】
前記エミッタがレーザを有し、前記センサが検出器素子のアレイを有する、請求項２に記載のイメージングシステム。    
【請求項４】
前記テーブルトップ撓み測定器は、前記テーブルトップが前記検査領域内にあるときに撓む前記テーブルトップの部分に位置付けられる第２の部分を有する、請求項２又は３に記載のイメージングシステム。    
【請求項５】
前記第２の部分が反射体を有する、請求項４に記載のイメージングシステム。    
【請求項６】
前記反射体が、反射塗料、反射フィルム、ミラー又は二色性ミラーのうちの少なくとも１つを含む、請求項５に記載のイメージングシステム。    
【請求項７】
前記エミッタによって放出されるビームが、前記反射体から反射され、第１の撓み量に対応するセンサ上の第１の位置で及び異なる第２の撓み量に対応するセンサ上の第２に異なる位置で、前記センサに当たるように、前記エミッタ、前記反射体及び前記センサが相対的に位置付けられる、請求項４乃至６のいずれか１項に記載のイメージングシステム。
【請求項８】
前記テーブルトップたわみ測定器は、アイソセンタに対する撓みを測定する、請求項１乃至７のいずれか１項に記載のイメージングシステム。    
【請求項９】
静止ガントリ部分と、
前記静止ガントリ部分に固定される近接センサと、
前記回転ガントリ部分に固定されるフラッグセンサと、
を更に有し、前記フラッグセンサは、前記近接センサが前記フラッグセンサの予め決められたレンジ内に入ることに応じて、前記テーブルトップ撓み測定器を活性化するコマンド信号を伝達する、請求項１乃至８のいずれか１項に記載のイメージングシステム。
【請求項１０】
前記撓みを処理し、前記撓みに基づいて、スキャンのための線量変調プロファイル、スキャンのための衝突エンベロープ、又は再構成のための画像アライメントのうち少なくとも１つを決定する撓み情報プロセッサを更に有する、請求項１乃至９のいずれか１項に記載のイメージングシステム。
【請求項１１】
前記撓み情報プロセッサは、前記撓みに基づいて被検体又は対象の重量を算定する、請求項１０に記載のイメージングシステム。
【請求項１２】
前記撓み情報プロセッサは、前記算定に基づいて前記テーブルトップの重量過負荷を識別する、請求項１１に記載のイメージングシステム。
【請求項１３】
前記撓み情報プロセッサは、前記撓みに基づいて前記テーブルトップ上の被検体又は対象の動きを算定する、請求項１０乃至１２のいずれか１項に記載のイメージングシステム。
【請求項１４】
イメージングシステムの検査領域に、被験者支持体のテーブルトップを前進させるステップと、
前記イメージングシステムの回転ガントリ部分に位置する第１の部分を少なくとも有するテーブルトップ撓み測定器を使用して、前記テーブルトップの撓みを測定するステップと、
を含む方法。
【請求項１５】
被検体又は対象のプレスキャン中に測定値を取得するステップを更に含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
スキャンのための線量変調プロファイル、衝突エンベロープ又は画像再構成アライメントのうちの少なくとも１つを決定するために前記測定値を利用するステップを更に含む、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
線量変調プロファイル、衝突エンベロープ、又は画像再構成アライメントのうちの少なくとも１つに基づいて、対象又は被検体をスキャンするステップを更に含む、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
被検体又は対象のボリュームスキャン中に測定値を取得するステップを含む、請求項１４に記載の方法。
【請求項１９】
線量変調プロファイル、衝突エンベロープ又は画像再構成アライメントのうちの少なくとも１つを決定するために前記測定値を利用するステップを更に含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記撓みに基づいて、スキャン中に、線量変調プロファイル又は衝突エンベロープの少なくとも１つを調整するステップを更に含む、請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】
前記テーブルトップ撓み測定器は、前記テーブルトップが前記検査領域内にあるときに撓む前記テーブルトップの部分に位置する第２の部分を少なくとも有する、請求項１４乃至２０のいずれか１項に記載の方法。    
【請求項２２】
前記第１の部分によって放出されるビームが、前記第２の部分から反射され、前記撓みの量に依存する前記第１の部分の位置で前記第１の部分に当たるように、前記第１及び前記第２の部分が相対的に配置される、請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
前記アイソセンタに対して前記撓みを測定するステップを含む、請求項１４乃至２２のいずれか１項に記載の方法。    
【請求項２４】
前記回転ガントリ部分の予め決められた角度位置に基づいて、前記撓みを測定するように前記テーブルトップ撓み測定器をトリガするステップを含む、請求項１４乃至２３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項２５】
コンピューティングシステムのプロセッサによって実行されるとき、プロセッサに、イメージングシステムの回転ガントリ部分に位置する第１の部分をもつテーブルトップ撓み測定器を利用して、アイソセンタに位置するイメージングシステムテーブルトップの一部の撓みを測定させる１又は複数のコンピュータ実行命令によって符号化されるコンピュータ可読記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、イメージングシステムの検査領域において片持ち支持される位置で被検体又は対象を支持する被検体支持体に関し、かかる位置では、支持体のテーブルトップ及びテーブルトップ上の被検体又は対象の重量が被検体支持体の片持ち支持された端部を撓ませる。本発明は更に、コンピュータトモグラフィに対する特定のアプリケーションによって記述されている。
【背景技術】
【０００２】
ＣＴスキャナは、ガントリ及び被検体支持体を有する。ガントリはＸ線管及び検出システムを収容し、それらは、検査領域をはさんで各々の反対側になるようにロータに取り付けられる。Ｘ線管は、検査領域のまわりを回転し、検査領域及びそこに配置される被検体又は対象を横切る放射線を放出し、検出システムを照射する。検出器システムは、その上で放射線イベントを検出し、放射線イベントを示す投影データを生成する。被検体支持体は、スキャンのために検査領域において被検体又は対象を支持する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
図１、図２、図３、図４及び図５は、被検体支持体１０２に関連する例示のＣＴスキャナ１００を示す。図１は、被検体支持体１０２に沿って長手方向を向いた図を示し、図２、図３、図４、及び図５は、側面図を示す。ＣＴスキャナ１００は、検査領域１０４を規定する開口を有する。被検体支持体１０２は、ベース１０６及び並進可能なテーブルトップ１０８を有し、テーブルトップ１０８は、テーブルトップ１０８が検査領域外にある収納位置（図２）と、テーブルトップ１０８が片持ち支持され、そのサブ部分が検査領域１０４内にある延伸位置（図３）との間を移動する。
【０００４】
図４に示すように、片持ち支持されたテーブルトップ１０８は、少なくともテーブルトップ１０８の重量下で撓む。（撓みが説明の目的で誇張されており、必ずしも実際の相対的な撓みを表しているわけではない点に注意されたい。）図４及び図５は、撓んでいない状態の片持ち支持されたテーブルトップ１０８と、撓んだ状態４０２のテーブルトップ４０２を示す。撓みの量４０４は、患者の体重（患者ごとに異なる）及びテーブルトップ１０８の片持ち支持された部分の長さに依存する。残念ながら、テーブルトップの撓みは、被検体又は対象の中心をシフトさせ（又はアイソセンタから逸らす）、これは、再構成中の画像のアライメントのずれ、アーチファクトの導入及び画質の劣化を生じさせうる。
【０００５】
本願明細書に記述される見地は、上述した問題その他に対処する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
イメージングシステムの回転ガントリ部分に配置される第１の部分を少なくとも有するテーブルトップ撓み測定器を利用して、アイソセンタに位置するイメージングシステムテーブルトップの部分の撓みを測定する方法が、本願明細書に記述される。
【０００７】
１つの見地において、イメージングシステムは、検査領域を規定する開口を有する回転ガントリ部分と、検査領域内の被検体又は対象を支持するテーブルトップと、検査領域内のテーブルトップの撓みを測定するテーブルトップ撓み測定器と、を有する。テーブルトップは、検査領域に一端が飛び出し、撓む。テーブルトップ撓み測定器の第１の部分は、回転ガントリ部分に位置付けられる。
【０００８】
別の見地において、方法は、イメージングシステムの検査領域に、被検体支持体のテーブルトップを前進させるステップと、イメージングシステムの回転ガントリ部分に配置される第１部分を少なくとも有するテーブルトップ撓み測定器を使用して、テーブルトップの撓みを測定するステップと、を含む。
【０００９】
別の見地において、コンピュータ可読記憶媒体は、コンピューティングシステムのプロセッサによって実行されるとき、プロセッサに、イメージングシステムの回転ガントリ部分に配置される第１の部分を少なくとも有するテーブルトップ撓み測定器を利用して、アイソセンタに位置するイメージングシステムテーブルトップの部分の撓みを測定させる１又は複数のコンピュータ実行可能命令を含む。
【００１０】
本発明は、さまざまなコンポーネント又はコンポーネントの取り合わせ並びにさまざまなステップ及びステップの取り合わせの形をとりうる。図面は、好適な実施形態を示すことを目的としており、本発明を制限するものとして解釈されるべきでない。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】検査領域の方を見た、従来技術のイメージングシステムの例を概略的に示す図。
【図２】引っ込められたテーブルトップを示す、図１の従来技術の例示のイメージングシステムの概略側面図。
【図３】引き出されたテーブルトップを示す、図１の従来技術の例示のイメージングシステムの概略側面図。
【図４】第１の撓みを有する部分的に引き出されたテーブルトップを示す、図１の例示の従来技術のイメージングシステムの概略側面図。
【図５】第２の異なる撓みを有する部分的に引き出されたテーブルトップを示す、図１の例示の従来技術のイメージングシステムの概略側面図。
【図６】テーブルトップ撓み測定器を有する例示のイメージングシステムを示す概略図。
【図７】検査領域の方を見た、テーブルトップ撓み測定器の一例を示す概略図。
【図８】撓んでいないテーブルトップを示す、テーブルトップ撓み測定器の概略側面図。
【図９Ａ】第１の撓みを有するテーブルトップに関して、テーブルトップ撓み測定器の例を示す概略図。
【図９Ｂ】第２の撓みを有するテーブルトップに関して、テーブルトップ撓み測定器の例を示す概略図。
【図１０】図７、図８、図９Ａ及び図９Ｂの例示のテーブルトップ撓み測定器の例示的なタイミング図。
【図１１】完全に引き出されて撓んだテーブルトップの下に位置するテーブルトップ撓み測定器の他の例を示す概略図。
【図１２】部分的に引き出されて撓んだテーブルトップの下に位置するテーブルトップ撓み測定器の他の例を示す概略図。
【図１３】テーブルトップ撓み測定器がテーブルトップ内に位置する、図１１及び図１２のテーブルトップ撓み測定器の変形例を示す概略図。
【図１４】テーブルトップ撓み測定器がテーブルトップに沿った異なる位置に位置付けられた複数の反射体を有する変形例を概略的に示す図。
【図１５】テーブルトップ撓みを補償するアクチュエータを有する例示の被検体支持体を示す図。
【図１６】テーブルトップ撓みがプレスキャン中に測定される方法の例を示す図。
【図１７】テーブルトップ撓みがスキャン中に測定される方法の例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
最初に図６を参照して、イメージングシステム６００が示される。この例では、イメージングシステム６００は、コンピュータトモグラフィ（ＣＴ）スキャナを有する。しかしながら、他の実施形態において、イメージングシステム６００は、磁気共鳴（ＭＲ）スキャナ、ポジトロンエミッショントモグラフィ（ＰＥＴ）スキャナ、シングルフォトンエミッショントモグラフィ（ＳＰＥＣ）スキャナ、ハイブリッドスキャナ（例えば、ＰＥＴ／ＣＴ、ＰＥＴ／ＭＲ等）及び／又は他のスキャナを含む。
【００１３】
イメージングシステム６００は、静止ガントリ部分６０４及び回転ガントリ部分６０６を含むガントリ６０２を有する。回転部分６０６は、静止部分６０４によって回転可能に支持される。
【００１４】
Ｘ線管のような放射線源６０８が、回転部分６０６によって支持され、長手軸又はｚ軸を中心に、検査領域６１０（回転部分６０６の開口によって規定される）の周りを回転する。
【００１５】
検出器アレイ６１２は、検査領域６１０をまたいで放射線源６０８の反対側で円弧をなす。検出器アレイ６１２は、検査領域６１０を横断する放射線を検出し、検出された放射線を示す投影データを生成する。
【００１６】
被検体支持体６１４は、スキャンのために、検査領域６１０のアイソセンタ６１６のところに被検体又は対象の一部を支持する。被検体支持体６１４は、ベース６１８及びテーブルトップ６２０を有する。ベース６１８は、静止していてもよく、又は（垂直方向及び／又は水平方向に）移動可能であってもよい。テーブルトップ６２０は、検査領域６１０に入り、そこから出るようにして、ベース６１８に沿って並進する。テーブルトップ６２０は、ベース６１８から片持ち支持される場合、テーブルトップ６２０の重量及びその上の被検体及び／又は対象（図示せず）の重量下で撓む。
【００１７】
テーブルトップ撓み測定器６２２は、テーブルトップ６２０の撓みを測定する。以下に更に詳しく記載されるように、１つの非限定的な例において、テーブルトップ撓み測定器６２２の第１の部分は、回転部分６０６に位置付けられ、第２の部分は、テーブルトップ６２０に位置付けられ、撓みは、回転ガントリ６０６及びアイソセンタ６１６に対して測定される。更に以下に記述されるように、他の構成が本願明細書において更に企図される。撓み情報は、プレスキャン投影中に、又は２Ｄ（例えば、概観、パイロット、スカウト等）又はボリューム（低解像度及び／又は低線量３Ｄ）スキャン中、及び／又は被検体又は対象のボリュームスキャン中に、測定されることができる。
【００１８】
撓み情報プロセッサ６２４が、テーブルトップの撓みを処理する。一例において、これは、撓みに基づいて被検体又は対象の重量を算出することを含む。このような情報は、スキャンのための線量変調プロファイル６２６（例えばｋＶ及び／又はｍＡ）のようなスキャンパラメータを選択し又は決定するために使用されることができる。撓み情報プロセッサ６２４は、スキャンのための（例えば検査領域６１０におけるテーブルトップ６２０の許容できる水平方向及び／又は垂直方向の）衝突エンベロープ６２８、画像を再構成するための画像アライメント６３０を選択し又は決定するために、さらには、被検体支持体６１４が過負荷であること、及び／又は過剰な患者運動があることの警告、及び／又は他の情報を発行するために、撓みを利用することもできる。動き情報は、動き補正アルゴリズムによって利用されることもできる。
【００１９】
再構成器６３２は、投影データを再構成し、検査領域６１０のボリュメトリック画像データを生成する。これは、選択された及び／又は決定された画像アライメント６３０に基づいて投影データを再構成することを含む。これは、テーブルトップ６２０が、例えば撓みにより、各画像ごとにアイソセンタ６１６に対し異なる垂直位置にあったとしても、アイソセンタ６１６に対して画像をアラインすることを容易にすることができる。画像アライメント６３０は、テーブルトップが前進して一層撓むときの同じスキャンの複数の画像、２つの異なるスキャン（例えばプレ及びポスト治療）からの画像、２つの異なるモダリティ（例えばＣＴ及びＭＲ）からの画像及び／又は他の画像、をアラインするために使用されることができる。
【００２０】
汎用コンピューティングシステムは、ディスプレイのような人間可読の出力装置及びキーボード及び／又はマウスのような入力装置を有するオペレータコンソール６３４として機能する。コンソール６３４に常駐するソフトウェアは、オペレータがイメージングシステム６００の動作を制御することを可能にする。図示されるコンソール６３４は、スキャンのための線量変調及び／又は衝突エンベロープを決定するために、線量変調６２６及び／又は衝突エンベロープ６２８を利用する。線量変調６２６は、線量変調６２６が利用されない構成よりも、被検体線量を減らすことができる。衝突エンベロープ６２８は、スキャン範囲を最適化することを容易にしうる。
【００２１】
撓み情報プロセッサ６２４は、コンピューティングシステム（例えばコンピュータ）のマイクロプロセッサを通じて実現されることができ、マイクロプロセッサは、コンピュータ可読命令を実行する。一例において、コンピュータ可読命令が、物理メモリ及び／又は他の固定媒体のようなコンピュータ可読記憶媒体上に符号化される。付加的に又は代替として、コンピュータ可読命令の少なくとも１つは、搬送波、信号及び／又は他の一時媒体によって伝達されることができる。撓み情報プロセッサ６２４は、コンソール６３４及び／又は再構成器６３２及び／又は別々のコンピューティングシステムの一部でありうる。
【００２２】
図７、図８、図９Ａ、図９Ｂ及び図１０は、テーブルトップ撓み測定器６２２の非限定的な例を示す。図７は、検査領域６１０の方を見たビューを示し、図８は、撓んでないテーブルトップ６２０を表すビューを示し、図９Ａは、アイソセンタ６１６において第１の撓みを有するテーブルトップ６２０を表すビューを示し、図９Ｂは、アイソセンタ６１６において更なる撓みを有するテーブルトップ６２０を表すビューを示す。図１０は、タイミング図を示す。
【００２３】
テーブルトップ撓み測定器６２２は、エミッタ７０２、反射体７０４、センサ７０６及びコントローラ７０７を有する。この例において、エミッタ７０２は、レーザのような任意のポイント源でありえ、反射体７０４は、テーブルトップ６２０の下側にあるが、反射塗料（例えば白、銀、等を含む）又はフィルム、ミラー、二色性ミラー、その他を含むことができ、センサ７０６は、オフザシェルフの又は他の（線形又は非線形の）センサでありうる。
【００２４】
エミッタ７０２及びセンサ７０６は、回転部分６０６に位置付けられ、反射体７０４は、テーブルトップ６２０の、アイソセンタ６１６から離れた側にある。エミッタ７０２は、ビーム７０８を放出し、ビームは、反射体７０４に当たる。反射体７０４は、センサ７０６の方へビーム７０８を反射し、センサ７０６は、反射ビーム７０８を検出して信号を生成する複数の検出器素子７１０を有する。
【００２５】
図示されるように、反射体７０４におけるビーム７０８の入射角及びビーム７０８がセンサ７０６の方へ進む反射角は、テーブルトップ６２０に対するエミッタ７０２の角度方位及びテーブルトップ６２０の撓みに依存する。図８において、テーブルトップ６２０は撓んでおらず、ビーム７０８は、センサ７０６の最も左の素子７１０に当たる。図９Ａにおいて、テーブルトップ６２０は、ちょうど第１の撓みを有するアイソセンタ６１６のところにあり、ビーム７０８は、中間の素子７１０に当たる。図９Ｂにおいて、テーブルトップ６２０は、更に引き延ばされ、図９Ａよりも大きく撓んでおり、右側の素子７０９に当たる。
【００２６】
ビーム７０８を検出する素子７０９は、検出ビームを示すピーク振幅を有する信号を出力する。ビーム７０８を検出しない他の素子７０９は、信号を放出せず、又はベースラインピーク振幅及び／又はノイズを有する信号を出力する。２又はそれ以上の素子７０９が信号を検出する場合、各々は、これにより検出されるビーム７０８の量を示すピーク値を有する信号を出力する。光学素子が、ビーム７０８をセンサ７０６にフォーカスするために利用されることができる。
【００２７】
撓みの量又は値は、ピーク振幅を有する素子７１０を、撓み値（例えば、ミリメートル単位）にマップすることによって、測定されることができる。マッピングは、製造、インストール、サービスコール等の間に決定されることができる。マッピングは、ルックアップテーブル（ＬＵＴ）に、又は撓み値を動的に計算するために使用されることができる多項式として、記憶されることができる。検出信号に基づいて撓みを測定する他の方法が更に本願明細書において企図される。適切な解像度の例は、０．５０ミリメートル（ｍｍ）又はより小さいオーダー、例えば０．３０ｍｍ、０．２５ｍｍ、０．１０ｍｍ等にある。
【００２８】
一般に、アイソセンタ６１６におけるテーブルトップ６２０の撓みが増大すると、ビーム７０８は、センサ７０６を横切って左から右に移動し（又は歩き）、異なる素子を照らし、アイソセンタ６１６におけるテーブルトップ６２０の撓みが、減少すると、ビーム７０８は、センサ７０６を横切って右から左に移動し（又は歩き）、異なる素子を照らす。反射体７０４に当たるビーム７０８と反射体７０４から反射されるビーム７０８との間の角度は、アイソセンタ６１６におけるテーブルトップ６２０の撓みに比例する（又は知られている又は測定可能な態様で数学的に関連する）。
【００２９】
コントローラ７０７は、エミッタ７０２による放出及びセンサ７０６による検出を制御する。コントローラ７０７は、エミッタ７０２がテーブルトップ６２０の下にあるときにエミッタ７０２及びセンサ７０６を活性化する。図示される例において、この位置では、イメージングシステム１００の放射線源６０８、検出器アレイ６１２及び他のコンポーネントは、エミッタ７０２からテーブルトップ６２０までの経路に存在しない。
【００３０】
静止部分６０４及び回転部分６０６にそれぞれ位置するフラグセンサ及び近接センサ７１２及び７１４が、エミッタ７０２がテーブルトップ６２０の下の測定位置にあるときを識別し、エミッタ７０２及びセンサ７０６を活性化するための制御信号をコントローラ７０７に送信する。フラッグセンサ７１４が近接センサ７１２と隣り合うとき、制御信号が送信される。測定が活性化される領域の角度を識別する他のアプローチが更にここで企図される。
【００３１】
静止ガントリ６０４が、アライメントレーザがアライメントビームを放出する際に通る光学的に透明な又は半透明な材料を含む場合、テーブルトップ撓み測定器６２２は、エミッタ７０２が同一材料を通ってビーム７０８を放出するように、方向付けられることができる。一例において、１又は複数のこのようなアライメントレーザが、エミッタ７０２として利用されることができる。別の例において、テーブルトップ撓み測定器６２２は、別の光学的に透明な又は半透明な材料と共に位置付けられる。
【００３２】
図１０は、図７、図８、図９Ａ及び図９Ｂの実施形態についてタイミング図を示す。ｙ軸１００２は大きさを表し、ｘ軸１００４は時間を表す。第１のプロファイル１００６は、フラッグセンサ７１４の出力を表し、この例では、フラッグセンサ７１４が近接センサ７１２と隣り合うときのパルス１００８を含む。第２のプロファイル１０１０は、パルス１００８によってトリガされるサンプリング期間１０１２を示す。第３のプロファイル１０１４は、サンプリング期間１０１２の立下りエッジによってトリガされるデータ変換期間１０１６を示し、この期間中、測定された信号は、撓みプロセッサ６２４に伝達する信号に変換される。第４のプロファイル１０１４は、データ伝送期間１０２０を示す。
【００３３】
図７、図８、図９Ａ及び図９Ｂに示されるように、テーブルトップ撓み測定器６２２をアイソセンタに位置させることにより、テーブルトップ６２０（ベース６１８の撓みを含む）及びゆえにその上にある被検体又は対象の撓みが、スキャン平面の中心であるアイソセンタ６１６に対して測定されることが可能であり、それにより撓みに関する正確な補正を可能にする。しかしながら、テーブルトップ撓み測定器６２２は、アイソセンタ６１６からシフトされることもでき、それでもなお撓みを補正するために利用されることができる。
【００３４】
更に、テーブルトップ撓み測定器６２２は、線源６０８及び検出器アレイ６１２（示すように）に対して９０度シフトされている必要はない。更に、２以上のエミッタ７０２、反射体７０４及び／又はセンサ７０６が用いられることもできる。
【００３５】
変更例が次に記述される。
【００３６】
図１１及び図１２は、エミッタ７０２、反射体７０４及びセンサ７０６が被験者支持体６１４の下に位置する実施形態を示す。この実施形態において、エミッタ及びセンサ７０２及び７０６は、ベース６１８を超えて片持ち支持されず、従って撓まないテーブルトップ６２０の部分に位置し、反射体７０４は、検査領域内に延びるテーブルトップ６２０の端部に位置する。上述の実施形態と同様に、反射角は、テーブルトップ６２０の撓み量に依存し、センサのどの素子がビーム７０８を検出するかを決定する。この実施形態は、テーブルトップ６２０の端部の撓みを測定し、それは、図１１に示されるように必ずしもアイソセンタ６１６のところになくてもよい。
【００３７】
図１３は、エミッタ７０２、反射体７０４及びセンサ７０６が被験者支持体６１４のテーブルトップ６２０内に位置する変更例を示す。エミッタ７０２、反射体７０４及びセンサ７０６は、テーブルトップ６２０内のキャビティ又は材料のない領域（図示される）、テーブルトップ６２０に位置する中空の構造（例えばガラス、プラスチック、炭素等、管体、箱体、その他）の中に位置することができる。エミッタ７０２又はセンサ７０６の少なくとも一方が、代替として、ベース６１８に位置付けられることができる。
【００３８】
図１４の上から下を見た図において、長軸に沿って異なる長さのところに位置付けられるＮ個（Ｎが整数である）の反射体７０４１、７０４２、...、７０４Ｎが、使用されることができる。この実施形態において、アイソセンタに最も近い反射体７０４が、測定を行うために使用される。代替として、測定値が、複数の反射体から取得されることができ、この場合、平均又は補間値、撓みを測定するために使用される。任意の素子３０２が、使用される反射体７０４に基づいてビーム７０８を方向付け、逸らし、分ける等のために使用されることができる。複数のエミッタ７０２及び／又はセンサ７０５が使用されることもできる。
【００３９】
図１５は、テーブルトップ６２０の撓みに基づいて、テーブルトップ６３０の個々の端部を上下させるように構成される第１及び／又は第２のアクチュエータセット１５０２及び１５０４を有する実施形態を示す。アクチュエータセット１５０２及び１５０４の各々は、アイソセンタに対してほぼ同じ垂直方向の高さのアイソセンタ６１６にテーブルトップ６２０の部分を維持するために、撓み測定に基づいて独立して制御される。
【００４０】
別の変更例において、１又は複数のマルチプライヤ（例えばミラー）が、ビーム反射角を増大するために使用されることができる。非限定的な例として、３つのミラー構成において、ビーム７０８は、テーブルトップ６２０の片持ち支持された部分の端部に位置する第１のミラーに方向付けられる。ビーム７０８は、このミラーから反射され、テーブルトップ６２０の他端に進み、ここで、ビーム７０８は、第２のミラーから反射される。反射されたビーム７０８は、テーブルトップ６２０の片持ち支持された部分の端部に向かって再び進み、第３のミラーから反射され、それはセンサ７０６へ向けてビーム７０８を反射する。１つの非限定的な例において、ミラーはテーブルトップ６２０に固定されており、それにより、テーブルトップ６２０が撓むとき、ミラーの相対位置角度が変わり、適切なビーム反射角度をもたらす。
【００４１】
別の変更例において、テーブルトップ撓み測定器６２２の少なくとも一部（例えばエミッタ７０２及び／又はセンサ７０６）は、ガントリ６０２の静止部分６０４に位置付けられる。
【００４２】
図１６は、被検体又は対象のプレスキャン中に撓みを測定する方法を示す。
【００４３】
１６０２において、テーブルトップ６２０は、被検体又は対象のプレスキャンのためにイメージングシステムの検査領域に前進する。
【００４４】
１６０４において、テーブルトップ６２０の撓みが連続的に測定される。
【００４５】
１６０６において、撓みは、例えば線量変調、画像アライメント及び／又は衝突エンベロープのような１又は複数のスキャンパラメータを決定するために利用される。
【００４６】
１６０８において、１又は複数のスキャンパラメータが、被検体又は対象のスキャンを計画するために使用される。
【００４７】
１６１０において、スキャンが、計画に基づいて実施される。
【００４８】
任意には、撓みは、重量の過負荷を警告するために利用されることができる。
【００４９】
任意に、撓みは、患者の運動を検出するために使用されることができる。ここに述べられるように、検出される運動は、スキャンの停止をトリガするために使用されることができ、例えば、診断画像を生成するためにあまりに多くの患者の動きがあるとき患者への線量を軽減するために、使用されることができる。
【００５０】
図１７は、被検体又は対象のスキャン中に撓みを測定する方法を示す。
【００５１】
１７０２において、テーブルトップ６２０は、被検体又は対象のスキャンのためのイメージングシステムの検査領域に前進する。
【００５２】
１７０４において、テーブルトップ６２０の撓みが測定される。撓みは、ガントリ６０２の回転部分６０６の角度の位置に基づいて、予め決められた周波数で連続的に測定されることができる。
【００５３】
１７０６において、撓みは、１又は複数のスキャンパラメータを決定するために利用される。
【００５４】
１７０８において、１又は複数のスキャンパラメータが、スキャンを調整するために、被検体又は対象のスキャン中に使用される。
【００５５】
処理の順序が制限的でないことが理解されるべきである。従って、他の順序がここに企図される。更に、１又は複数の工程が省かれることができ、及び／又は１又は複数の付加の処理が含められることができる。
【００５６】
上述の方法は、コンピュータプロセッサによって実行される際に記述された処理をプロセッサに実施させるコンピュータ可読命令によって実現されることができ、コンピュータ可読媒体上に符号化され又は埋め込まれることができ、付加的に又は代替として、コンピュータ可読命令の少なくとも１つは、信号、搬送波又は他の一時的媒体によって伝達される。
【００５７】
本発明は、好適な実施形態に関して記述された。当業者であれば、上述の詳細な説明を読み理解することにより、変更例及び変形例が思いつくであろう。本発明は、すべてのこのような変更例及び変形例が添付の特許請求の範囲又はその等価物の範囲内にある限り、それらを含むものとして構成されることが意図されている。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【国際調査報告】
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