(57)【要約】  テスト対象システムの為のスキャン・オペレーションのスケジューリングを動的に修正する為のシステム及び方法は、テスト・アクセス・ポートを介してスキャン・オペレーションに基づきテスト対象システムに対して入力テスト・データを適用する処理モジュールと、複数のスキャン・オペレーションについてのスケジューリングを処理モジュールに提供するスケジューラとを含む。スケジューラはテスト対象システムの回路モデルを含む。回路モデルは、テスト対象システムの少なくとも一部分のための強化情報を提供する少なくとも１つの属性を含む。スケジューラは回路モデルに基づきスキャン・オペレーションをスケジュールし、当該属性に基づきスケジュールを修正する。処理モジュールは、修正されスケジュールされたスキャン・オペレーションを受信し、当該スキャン・オペレーションに基づきテスト対象システムに対して入力テスト・データを適用する。
2016512630.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト対象システムの複数のセグメントに関連する複数のスキャン・オペレーションを受信し、またテスト・アクセス・ポートを経由して前記テスト対象システムに適用されるように構成された入力テスト・データを生成するように構成された、処理モジュールと、
前記テスト対象システムの前記複数のセグメントを規定する、前記テスト対象システムの回路モデルを含み、前記回路モデルに基づいて前記複数のスキャン・オペレーションについてのスケジューリングを前記処理モジュールに提供するように適合された、スケジューラと、
を備えており、
前記回路モデルは、前記複数のセグメントのうちの少なくとも１つのセグメントのための強化情報を提供する少なくとも１つの属性を含んでおり、前記スケジューラは、前記処理モジュールに提供される前記スケジューリングを動的に修正するように、前記少なくとも１つの属性を処理する、コンピュータ化されたシステム。
【請求項２】
前記スケジューラと通信する支援モジュール
をさらに備えており、
前記スケジューラは、処理のために、前記支援モジュールに対して前記少なくとも１つの属性を提供するように構成されている、請求項１に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項３】
前記支援モジュールは、前記少なくとも１つの属性に少なくとも基づいて、前記スケジューリングを修正するように構成されている、請求項２に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項４】
前記支援モジュールは、前記回路モデルに記憶される前記少なくとも１つの属性を修正するように構成されている、請求項２に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項５】
前記テスト対象システムを監視し、またステータス情報を前記支援モジュールに対して提供する少なくとも１つのセンサをさらに備えている、請求項２に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項６】
前記少なくとも１つのセンサは、消費電力センサまたは熱センサである、請求項５に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項７】
前記少なくとも１つの属性は、前記少なくとも１つのセンサのロケーションについてのフロアプラン情報を含む、請求項６に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項８】
前記支援モジュールは、前記少なくとも１つのセンサからの情報に少なくとも基づいて、前記スケジューリングを修正するように構成されている、請求項５に記載のコンピュータ化されたシステム
【請求項９】
前記回路モデルは、該回路モデルの複数のノードについての複数の属性を含んでおり、また各属性は、前記ノードが属するパワー・ドメインを示す、請求項１に記載のコンピュータ化されたシステム。
【請求項１０】
前記少なくとも１つの属性は、認可キーを含む、請求項１に記載のコンピュータ化されたシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スキャン・スケジューリングに関する。
【背景技術】
【０００２】
システム・テスト環境においては、テスト対象システム（ｓｙｓｔｅｍ  ｕｎｄｅｒ  ｔｅｓｔ）に対するスキャン・パターンの適用は、システムのミッション・モードとは異なるやり方でタスクを実行し、また動作するようにシステムに強制することにより、テスト対象システムに対するストレスを増大させる可能性がある。この増大されたストレスは、スキャン・パターン適応と、リターゲティングとを必要とするテスト対象システムの内部の増大されたローカル・アクティビティに起因して、重要な消費電力ピーク（ｐｏｗｅｒ  ｃｏｎｓｕｍｐｔｉｏｎ  ｐｅａｋ）と、ホット・スポットとを引き起こす可能性がある。スキャン・パターン適応と、リターゲティングとは、テスト対象システムの特性を変更する可能性があるプロセスばらつき、および／またはシステムの経年変化など、様々なタイプの欠陥に起因して必要とされる可能性もある。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】ＩＥＥＥ  １１４９．１  ＴＡＰ
【非特許文献２】Ｐ１６８７規格
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００４】
一実施形態によれば、コンピュータ化されたシステムが、処理モジュールと、スケジューラとを備えている。処理モジュールは、テスト対象システムの複数のセグメントに関連する複数のスキャン・オペレーションを受信し、またテスト対象システムに適用されるべき複数のスキャン・オペレーションのための入力テスト・データを生成するように構成されている。スケジューラは、複数のセグメントを規定するテスト対象システムの回路モデルを含んでいる。回路モデルは、複数のセグメントのうちの少なくとも１つのセグメントのために強化情報を提供する少なくとも１つの属性を含むことができる。スケジューラは、回路モデルに基づいて複数のスキャン・オペレーションについてのスケジューリングを処理モジュールに提供し、またスケジューリングを動的に修正するために、少なくとも１つの属性を処理するように適合されている。
【０００５】
一実施形態によれば、コンピュータ化されたシステムは、スケジューラと通信する支援モジュールをさらに含むことができる。スケジューラは、処理するために支援モジュールに対して少なくとも１つの属性を提供するように適合されている。
【０００６】
一実施形態によれば、支援モジュールは、少なくとも１つの属性に少なくとも基づいて、スケジューリングを修正するように適合されている。
【０００７】
一実施形態によれば、支援モジュールは、回路モジュールに記憶される少なくとも１つの属性を修正するように適合されている。
【０００８】
一実施形態によれば、コンピュータ化されたシステムは、テスト対象システムを監視し、またステータス情報を支援モジュールに対して提供する少なくとも１つのセンサを有することができる。
【０００９】
一実施形態によれば、少なくとも１つのセンサは、消費電力センサまたは熱センサとすることができる。
【００１０】
一実施形態によれば、少なくとも１つの属性は、少なくとも１つのセンサのロケーションについてのフロアプラン情報を含むことができる。
【００１１】
一実施形態によれば、回路モデルは、回路モデルの複数のノードについての複数の属性を含むことができ、また各属性は、ノードが属するパワー・ドメインを示すことができる。
【００１２】
一実施形態によれば、少なくとも１つの属性は、認可キーを含むことができる。
【００１３】
一実施形態によれば、コンピュータ化された方法は、スケジューラにおいて、テスト対象システムに対するアクセスのための複数のアクセス要求を受信するステップと、複数のアクセス要求に応じて、複数のスキャン・オペレーションをスケジュールするためにテスト対象システムの回路モデルを使用するステップとを含む。コンピュータ化された方法はまた、回路モデルの中に配置され、またスケジューラによって検出される少なくとも１つの属性に基づいて、スケジュールされた複数のスキャン・オペレーションのうちの少なくとも一部分を修正するステップを含んでいる。コンピュータ化された方法は、修正された複数のスキャン・オペレーションに基づいて、テスト対象システムをテストするための入力テスト・データを生成するステップと、テスト対象システムに対して入力テスト・データを適用するステップとをさらに含むことができる。
【００１４】
一実施形態によれば、コンピュータ化された方法はまた、少なくとも１つのセンサを通して、テスト対象システムを監視するステップと、少なくとも１つのセンサからの情報に基づいて、スケジュールされた複数のスキャン・オペレーションのうちの少なくとも一部分を修正するステップとを含むこともできる。
【００１５】
一実施形態によれば、少なくとも１つのセンサは、消費電力センサまたは熱センサとすることができる。
【００１６】
一実施形態によれば、少なくとも１つの属性は、少なくとも１つのセンサのロケーションについてのフロアプラン情報を含むことができる。
【００１７】
一実施形態によれば、コンピュータ化された方法はまた、回路モジュールに記憶される少なくとも１つの属性を修正するステップを含むこともできる。
【００１８】
一実施形態によれば、回路モデルは、回路モデルの複数のノードについての複数の属性を含むことができ、また各属性は、ノードが属するパワー・ドメインを示すことができる。
【００１９】
一実施形態によれば、一方法を実行するようにコンピュータ・プロセッサによって実行されるように適合された命令を記憶する、非一時的な、有形のコンピュータ読取り可能媒体は、スケジューラにおいて、テスト対象システムに対するアクセスのための複数のアクセス要求を受信するステップと、複数のアクセス要求に応じて、複数のスキャン・オペレーションをスケジュールするためにテスト対象システムの回路モデルを使用するステップとを含むことができる。コンピュータ化された方法はまた、回路モデルの中に配置され、またスケジューラによって検出される少なくとも１つの属性に基づいて、スケジュールされた複数のスキャン・オペレーションのうちの少なくとも一部分を修正するステップを含んでいる。コンピュータ化された方法は、修正された複数のスキャン・オペレーションに基づいて、テスト対象システムをテストするための入力テスト・データを生成するステップと、テスト対象システムに対して入力テスト・データを適用するステップとをさらに含むことができる。
【００２０】
一実施形態によれば、本方法は、少なくとも１つのセンサを通して、テスト対象システムを監視するステップと、少なくとも１つのセンサからの情報に基づいて、スケジュールされた複数のスキャン・オペレーションのうちの少なくとも一部分を修正するステップとをさらに含むことができる。
【００２１】
一実施形態によれば、少なくとも１つのセンサは、消費電力センサまたは熱センサとすることができる。
【００２２】
一実施形態によれば、本方法は、回路モジュールに記憶される少なくとも１つの属性を修正するステップをさらに含むことができる。
【００２３】
一実施形態によれば、回路モデルは、回路モデルの複数のノードについての複数の属性を含むことができ、また各属性は、ノードが属するパワー・ドメインを示すことができる。
【００２４】
これらの実施形態および他の実施形態は、添付の図面を参照して、本明細書における以下の詳細な説明を考慮すると、明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】一実施形態によるテスト環境のブロック図である。
【図２】図１のテスト環境における位置ベースのスケジューリングのための一実施形態の概略図である。
【図３】図２のシステムの例示のスキャン・チェーンについての例示の回路モデルの一実施形態を示す図である。
【図４】図１のテスト環境における位置ベースのスケジューリングのための一実施形態を示す図である。
【図５】図１のテスト環境における位置ベースのスケジューリングのための一実施形態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
図１を参照すると、ジョイント・テスト・アクション・グループ（ＪＴＡＧ：Ｊｏｉｎｔ  Ｔｅｓｔ  Ａｃｔｉｏｎ  Ｇｒｏｕｐ）システム１２をテストするためのテスト環境１０は、ＪＴＡＧテスト・アクセス・ポート（ＴＡＰ：ｔｅｓｔ  ａｃｃｅｓｓ  ｐｏｒｔ）１６を経由してＪＴＡＧシステム１２と通信するテスト命令セット・アーキテクチャ（ＴＩＳＡ：ｔｅｓｔ  ｉｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ  ｓｅｔ  ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ）プロセッサ１４と、ＴＩＳＡプロセッサ１４と通信するスケジューラ１８とを含む。ＪＴＡＧ  ＴＡＰ１６は、例えば、ＩＥＥＥ  １１４９．１  ＴＡＰなどとすることができる。
【００２７】
その全体が、参照により本明細書に組み込まれている、米国特許出願公開第２０１２／０１１７４３６号は、コンピュータ科学能力と、システム・テスト能力とを組み合わせているテスト命令セット・アーキテクチャ（ＴＩＳＡ）を実施することにより、ＪＴＡＧシステムを含むテスト対象システムのテストを実行するための様々なシステムおよび方法について説明している。一般に、ＴＩＳＡは、テスト・プロシージャの不可分スキャン・オペレーションと、ソフトウェア・プロセスの不可分オペレーションを組み合わせる。ソフトウェア・ベースのアルゴリズムは、適切な任意のソフトウェア・プログラミング言語（例えば、Ｃ；Ｃ＋＋、ジャバ（Ｊａｖａ）、ＴＣＬ、パイソン（Ｐｙｔｈｏｎ）など、ならびにそれらの様々な組合せ）を利用することができ、また適切な任意のプロセッサを使用して実施されることもある。ＪＴＡＧアーキテクチャにおけるＴＩＳＡの使用は、スキャン・オペレーションが、スキャン・セグメント・レベルにおいて実行されることを可能にしており、これは、ＪＴＡＧシステムの全体のスキャン・パスの内側での独立に制御可能な「スキャン・セグメント」の定義を可能にしている。ＴＩＳＡは、実行時に解決される位置ベースのスケジューリングを通して、これらの独立して制御可能な「スキャン・セグメント」の上でのスキャン・オペレーションを実行することができる。
【００２８】
図２を参照すると、ＪＴＡＧシステム１２は、図１に示される、ＴＡＰ１６を経由してＴＩＳＡプロセッサ１４にアクセスすることができるスキャン・チェーン２２を定義する、ＪＴＡＧシステム１２の内部で直列に配列される１つまたは複数のデバイス２０を含むことができる。スキャン・チェーン２２は、図１に示されるＴＡＰ１６のテスト・データ入力（ＴＤＩ：Ｔｅｓｔ  Ｄａｔａ  Ｉｎ）ピンから図１に示されるＴＡＰ１６のテスト・データ出力（ＴＤＯ：Ｔｅｓｔ  Ｄａｔａ  Ｏｕｔ）ピンへの方向へ、デバイス４、デバイス３、デバイス２およびデバイス１として示されているＪＴＡＧシステム１２のデバイス２０を横切る。各デバイス２０は、複数の計器２８を規定する要素２６を有する複数のレジスタ２４を含んでいる。図２に示されるように、ＪＴＡＧシステム１２は、４つのデバイス２０の上に配置され、またスキャン・チェーン２２を経由してアクセス可能な８つの計器２８を含んでいる。８つの計器２８は、ＴＤＩからＴＤＯへの方向に、計器４．２および４．１（これらは、デバイス４の上に直列に配置される）と、計器３．２および３．１（これらは、デバイス３の上に直列に配置される）と、計器２（これは、デバイス２の上に配置される）と、計器１．３、１．２および１．１（これらは、デバイス１の上に直列に配置される）として示される。８つの計器２８は、ＪＴＡＧスキャン・チェーン２２の別個のセグメント３０であるように考えられる。セグメント３０は、個別に制御され、また、それゆえに、スキャン・セグメント構成３２をもたらす可能性がある（すなわち、スキャン・チェーン２２は、スキャン・チェーン２２のデバイス２０のおのおののレジスタ２４のおのおのから構成されるのではなくて、８つの計器２８に対応する８つのスキャン・セグメント３０のシーケンスから構成されるように考えられることもある）。
【００２９】
したがって、スキャン・チェーン２２は、複数の要素２６から構成され、また各セグメント３０は、スキャン・チェーン２２の要素２６のうちの少なくとも１つを含んでいる。セグメント３０は、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２の多数のレベルにおいて規定されることもある（例えば、セグメント３０は、デバイス２０、計器２８、レジスタ２４、レジスタのセグメントなど、ならびにそれらの様々な組合せとすることができる）。それゆえに、スキャン・チェーン２２が分解されるセグメント３０は、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２の多数のレベルにおいて規定されることもある。このようにして、セグメント３０は、スキャン・チェーン２２の最小の制御ユニットを表すことができる。
【００３０】
ＴＩＳＡプロセッサ１４は、ＪＴＡＧプリミティブを用いたソフトウェア・ベースのアルゴリズムを組み合わせることによってＪＴＡＧシステム１２のバウンダリ・スキャン・テストを実行するように適合されている。より具体的には、ＴＩＳＡプロセッサ１４は、ＪＴＡＧスキャン・チェーン２２のセグメント・レベルにおいてスキャン・オペレーションを実行することができ、これは、以下の利点、すなわち、（１）個別のセグメント３０の上のオペレーションが、ローカルである（すなわち、それらは、セグメントが一部分であるトポロジとは独立している）利点と、全体のスキャン・オペレーションが、スキャン・チェーンが構成されるセグメント３０の上の、スキャン・オペレーションの順序付けられたシリーズによって構成される利点とをもたらす。
【００３１】
テスト環境１０において、スケジューラ１８は、「ベクトル」の概念が必要ではないように、実行時に、バウンダリ・スキャン・アクセス（ｂｏｕｎｄａｒｙ−ｓｃａｎ  ａｃｃｅｓｓ）を動的にスケジュールするように適合されている。その代わりに、スケジューラ１８は、位置ベースのスケジューリングをサポートすることができ、この位置ベースのスケジューリングは、スキャン・チェーン２２の内側において、各セグメント３０の位置だけを必要とする。位置ベースのスケジューリングをサポートするために、スケジューラ１８は、１つまたは複数のスケジューラ・コア・プロセス３４と、ＪＴＡＧシステム１２をモデル化する回路モデル３６とを含む。スケジューラ・コア・プロセス３４は、以下でより詳細に考察されることになるように、回路モデル３６を使用して、位置ベースのスケジューリングを実行するように構成されたプロセスである。
【００３２】
スケジューラ１８は、１つまたは複数のユーザ・アプリケーション４０からアクセス要求３８を受信し、回路モデル３６を使用して、アクセス要求３８の位置ベースのスケジューリングを実行し、またいつＴＩＳＡオペレーション（アクセス要求３８と、アクセス応答４２とに関連づけられる）がＪＴＡＧシステム１２のスキャン・チェーン２２の一部分に対して実行され得るかについて示しているアクセス応答４２を用いてユーザ・アプリケーション４０に対して、またはＴＩＳＡプロセッサ１４に対して応答するように構成されている。それに応じて、スキャン・チェーン２２の１つまたは複数の部分に対する、例えば、１つまたは複数の特定のセグメントに対する、アクセスを必要とするユーザ・アプリケーション４０は、望ましいセグメント３０について、スケジューラ１８に対してアクセス要求３８を提供するように構成されている。スケジューラ１８は、それに従ってユーザ・アプリケーション４０がスキャン・チェーン２２の要求された部分にアクセスすることができるスケジュールを決定するように構成されており、それによって、ユーザ・アプリケーション４０が、全体のスキャン・チェーン２２についての完全なベクトルを計算する必要性をなくしている。
【００３３】
図３を参照すると、回路モデル３６は、図２に示される、ＪＴＡＧシステム１２のスキャン・チェーン２２が構成されるスキャン・セグメント３０（例えば、計器１．１、１．２、１．３、２、３．１、３．２、４．１および４．２）の観点から指定されるＪＴＡＧシステム１２の簡略化されたモデルである。一実施形態においては、回路モデル３６は、ツリー構造を使用して実施されることもある。ツリー構造においては、ＪＴＡＧスキャン・チェーン２２の各セグメント３０は、ツリー構造におけるリーフ・ノード４６として表され、またツリーの残りは、ＪＴＡＧスキャン・チェーン２２の階層的性質を表すスーパー・セグメント（１つまたは複数の階層的レベルの上に配置される）を含んでいる。例えば、ツリー構造のルート・ノード４８は、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２を表している。回路モデル３６の次のレベルは、４つのノード（デバイス１、計器２、デバイス３、およびデバイス４）を含んでおり、ここで、デバイス１、３、および４についてのノードは、おのおの、そこから伸びている追加のノードを有しており、また計器２についてのノードは、リーフ・ノード４６である。回路モデル３６の最下レベルは、図２に示される計器２８のうちのいくつかが構成される（すなわち、デバイス１ノードは、デバイス１が構成される計器１．１、１．２、および１．３を表す３つのリーフ・ノード４６に対する親であり、デバイス３ノードは、デバイス３が構成される計器３．１および３．２を表す２つのリーフ・ノード４６に対する親であり、またデバイス４ノードは、デバイス４が構成される計器４．１および４．２を表す２つのリーフ・ノード４６に対する親である）７つのセグメント３０に対応する７つのリーフ・ノード４６を含んでいる。回路モデル３６においては、スキャン・セグメント３０、すなわち、リーフ・ノード４６は、矩形形状のノードとして示され、また残りのノードは、楕円形状のノードとして示されている。
【００３４】
回路モデル３６のツリー構造は、各スキャン・セグメント３０、すなわち、ツリー構造のリーフ・ノード４６が、ツリー構造におけるそのパスに従って一意的に識別されることを可能にする。例えば、計器１．３を表すセグメント３０は、パスＳＵＴ．デバイス１．計器１．３（ｐａｔｈ  ＳＵＴ．Ｄｅｖｉｃｅ１．Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ１．３）によって一意的に識別され、計器２を表すセグメント３０は、パスＳＵＴ．計器２（ｐａｔｈ  ＳＵＴ．Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ２）によって一意的に識別され、計器４．２を表すセグメント３０は、パスＳＵＴ．デバイス４．計器４．２（ｐａｔｈ  ＳＵＴ．Ｄｅｖｉｃｅ４．Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ４．２）によって一意的に識別されるなどである。それに応じて、ツリー構造の簡単な深さ優先（ポスト・オーダー（ｐｏｓｔ−ｏｒｄｅｒ）として知られてもいる）トラバーサル（ｔｒａｖｅｒｓａｌ）は、ＪＴＡＧシステム１２の、図２に示されるスキャン・チェーン２２のスキャン・セグメント３０の正しい順序を提供する。それゆえに、回路モデル３６は、回路モデル３６の深さ優先のトランスバーサル（ｔｒａｎｓｖｅｒｓａｌ）を通して、ＪＴＡＧシステム１２のスキャン・セグメント３０の順序を（例えば、図２に示されるスキャン・セグメント構成３２の中に示されるように）指定するように構成されている。
【００３５】
さらに図３を参照すると、一実施形態においては、回路モデル３６はまた、図２に示されるスケジューラ１８に対して強化情報を提供する、回路モデル３６の１つまたは複数のノードにアタッチされる１つまたは複数の属性５０を含むこともでき、図２に示されるスケジューラ１８は、テスト中に、図２に示されるＪＴＡＧシステム１２によって経験されている実際のシナリオに合わせて、図２に示されるＪＴＡＧシステム１２の上のＴＩＳＡプロセッサ１４によって実行されるスキャン・オペレーションを動的に適応させるために、この強化情報を使用することができる。回路モデル３６の属性５０は、図２に示されるＴＩＳＡプロセッサ１４による、図２に示される対応するＴＩＳＡオペレーション４４の実行のために、図２に示されるアクセス要求３８、および／または図２に示されるアクセス応答４２のスケジューリングを決定する際に、図２に示されるスケジューラ１８による使用のために適切な任意の情報を含むことができる。例えば、１つまたは複数の属性５０によって提供される強化情報は、図２に示されるＪＴＡＧシステム１２の内部の増大されたローカル・アクティビティに起因して、図２に示されるＪＴＡＧシステム１２の内部の消費電力ピークおよびホット・スポット、テスト下にあるときにＪＴＡＧシステム１２の特性を変更する可能性があるシステムのプロセスばらつきおよび／または経年変化など、様々な他のタイプの欠陥、あるいは他の類似した任意の情報に関係づけられることもある。１つまたは複数の属性５０によって提供される強化情報は、例えば、先験的知識（例えば、ＪＴＡＧシステム１２の過去のテスト）から、テスト下にあるときのＪＴＡＧシステム１２の測定値から、またはそれらの組合せから開発されることもある。回路モデル３６のノードにアタッチされるさらなる属性５０として示されているが、属性５０は、その代わりに、回路モデル３６の各ノードにおける追加のフィールド（ｆｉｅｌｄ）として提供され得ることが、当業者によって理解されるべきである。
【００３６】
図２に戻って参照すると、スケジューラ１８は、回路モデル３６のトランスバーサル中に、図３に示される１つまたは複数の属性５０を読み取り、また図３に示される１つまたは複数の属性５０を支援モジュール５２に対して供給する。一実施形態においては、支援モジュール５２は、スケジューラ１８の上で実行している、またはスケジューラ１８にアクセス可能なプログラムとすることができるが、いくつかの実施形態においては、支援モジュール５２は、何らかの内部状態、および／またはメモリなどを有することができる。支援モジュール５２は、図３に示される属性５０を使用して１つまたは複数の計算を実行することができ、またビジター設計パターンまたは別の類似した設計パターンに従って、トランスバーサルの結果に影響を及ぼすことができる。例えば、支援モジュール５２は、例えば、Ｐ１６８７規格からセグメント挿入ビット（ＳＩＢ：Ｓｅｇｍｅｎｔ  Ｉｎｓｅｒｔｉｏｎ  Ｂｉｔ）のような階層性を可能にする要素の値を修正することにより、望ましいオペレーションではなく、中立のオペレーションが、アクティビティを低下させるように強制することができ、あるいはスキャン・チェーン２２に１つまたは複数のセグメント３０を追加し、かつ／またはスキャン・チェーン２２から１つまたは複数のセグメント３０を差し引くことができる。スケジューラ１８によって実行されるトランスバーサルの結果は、それゆえに、支援モジュール５２の結果によって修正される。
【００３７】
有利なことには、一実施形態においては、伝統的なスケジューラ（すなわち、支援モジュール５２のないスケジューラ）は、スキャン・セグメント構成３２に従って、ＪＴＡＧシステム１２のスキャン・チェーン２２のスキャン・セグメント３０の順序を指定するためにその中に配置される属性５０を単に無視することにより、依然として回路モデル３６を処理することができる。
【００３８】
図２と、図３とは、本明細書において説明される例示の実施形態に関して示され、また説明されているが、形態における様々な変更と、その詳細とは、本発明の精神および範囲を逸脱することなく、行われ得ることが、当業者によって理解されるであろう。例えば、一実施形態においては、回路モデル３６のノードのうちの必ずしもすべてが、それに関連する属性５０を有する必要があるとは限らない。さらに、一実施形態においては、支援モジュール５２は、回路モデル３６の属性５０のうちの１つまたは複数を修正することができる。一実施形態においては、回路モデル３６は、その中に配置される異なるタイプの属性５０を含むことができる。例えば、回路モデル３６は、プロセスばらつきを対象とする第１のタイプの属性５０と、消費電力を対象とする第２のタイプの属性５０とを含むことができる。この実施形態においては、システムは、各支援モジュール５２が異なるタイプの属性５０を処理するように、複数の支援モジュール５２を含むことができる。
【００３９】
図４を参照すると、動作中に、ＪＴＡＧシステム１２をテストするための位置ベースのスケジューリングをサポートするための方法の一実施形態は、スケジューラ１８が、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２の、図２に示されるスキャン・チェーン２２の、図２に示される１つまたは複数の計器２８（すなわち、セグメント３０）に対するアクセスを要求する１つまたは複数のユーザ・アプリケーション４０からの順序付けられていないアクセス要求３８を受信するときに、ステップ５４において開始される。例えば、一実施形態においては、ユーザ・アプリケーション４０は、図２に示される計器２８のうちのどれかについてのアクセス要求３８を発行することができる。ユーザ・アプリケーション４０は、ＪＴＡＧシステム１２の、図２に示されるスキャン・セグメント構成３２についての知識を有しておらず、またそれゆえに、ユーザ・アプリケーション４０は、アクセス要求３８に関連するＴＩＳＡオペレーション４４がＪＴＡＧシステム１２に適用される可能性があり、または適用されるべきである順序を明らかにすることなく、単にスケジューラ１８にアクセス要求３８を送信する。
【００４０】
ステップ５６において、スケジューラ１８は、回路モデル３６のトランスバーサルを実行して、順序付けられていないアクセス要求３８のスケジューリングを決定し、また１つまたは複数の属性５０を読み取る。スケジューラ１８は、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２の回路モデル３６において規定されるように、図２に示されるスキャン・セグメント構成３２に基づいて、順序付けられていないアクセス要求３８のスケジューリングを決定し、これは、上記で考察されるように、スケジューラ１８に対して使用可能である。
【００４１】
ステップ５８において、スケジューラ１８は、さらなる分析のために、支援モジュール５２に対して１つまたは複数の属性を送信する。次いで、スケジューラ１８は、ステップ６０において、回路モデル３６のトランスバーサルに基づいて順序付けられたアクセス応答４２を生成する。支援モジュール５２は、ステップ６２において、スケジューラ１８から１つまたは複数の属性５０を受信する。ステップ６４において、支援モジュール５２は、１つまたは複数の属性５０を使用して、順序付けられたアクセス応答４２に対して行われるべき任意の修正を計算する。ステップ６６において、支援モジュール５２は、任意の修正をスケジューラ１８に対して送信する。ステップ６８において、スケジューラ１８は、支援モジュール５２から修正を受信し、またステップ７０において、支援モジュール５２から受信される任意の修正に基づいて、順序付けられたアクセス応答４２を修正する。ステップ７２において、スケジューラ１８は、修正された順序付けられたアクセス応答４２をユーザ・アプリケーション４０に対して送信する。それゆえに、スケジューラ１８は、修正されたアクセス応答４２をユーザ・アプリケーション４０に対して提供し、ここで、修正されたアクセス応答４２は、いつユーザ・アプリケーション４０が実行のためにＴＩＳＡプロセッサ１４に対して関連するＴＩＳＡオペレーション４４（アクセス要求３８と、アクセス応答４２とに関連する）を提供することができるかについて示している。
【００４２】
ステップ７４において、ユーザ・アプリケーション４０は、スケジューラ１８から修正された順序付けられたアクセス応答４２を受信し、またステップ７６において、ユーザ・アプリケーション４０は、修正された順序付けられたアクセス応答４２の組に基づいて、ＪＴＡＧシステム１２の、図２に示されるスキャン・チェーン２２に対して実行されるべき修正された順序付けられたアクセス応答４２に関連するＴＩＳＡオペレーション４４を生成する。ステップ７８において、ユーザ・アプリケーション４０は、ＴＩＳＡオペレーション４４をＴＩＳＡプロセッサ１４に対して送信する。ステップ８０において、ＴＩＳＡプロセッサ１４は、ＴＩＳＡオペレーション４４を受信する。ステップ８２において、ＴＩＳＡプロセッサ１４は、ＴＩＳＡオペレーション４４を処理して、関連する入力テスト・データを生成し、またテスト対象ＪＴＡＧシステム１２に入力テスト・データを適用する。オプションとして、ＴＩＳＡプロセッサ１４はまた、ＪＴＡＧシステム１２によって生成される出力テスト・データを受信することもできる。
【００４３】
この意味においては、スケジューラ１８は、ユーザ・アプリケーション４０から受信される順序付けられていないアクセス要求３８の組を処理し、順序付けられたアクセス応答４２の組（例えば、回路モデル３６からスケジューラ１８によって決定されるように、図２に示されるスキャン・セグメント構成３２に従って順序付けられた）を生成し、また次いで、支援モジュール５２を通して、属性５０によって提供される強化情報に基づいて、順序付けられたアクセス応答４２の組を修正する。それゆえに、スケジューラ１８と、支援モジュール５２とは、ＪＴＡＧシステム１２の内部の増大されたローカル・アクティビティに起因した消費電力特性、熱生成特性および／または熱放散、プロセスばらつき、システムの経年変化、他の類似した任意の特性、および／またはシステム情報など、ＪＴＡＧシステム１２の様々な特性を明らかにする順序付けられたアクセス応答４２の組を修正することによってテストするときに、ＪＴＡＧシステム１２をより正確にモデル化するために、順序付けられたアクセス応答４２の組を有利に適応させることができる。上記で考察されるように、１つまたは複数の属性５０によって提供されるこの強化情報は、例えば、先験的知識（例えば、ＪＴＡＧシステム１２の過去のテスト）から、テスト下にあるときのＪＴＡＧシステム１２の測定値から、またはそれらの組合せから開発されることもある。次いで、ＴＩＳＡプロセッサ１４は、ＪＴＡＧシステム１２の処理のために、順序付けられたアクセス応答４２の修正された組を使用することができる。
【００４４】
特定の順序で直列的に実行されているように主として示され、また説明されるが、図４のステップの少なくとも一部分は、同時期に、かつ／または図４に示される順序と異なる順序で実行され得ることが、当業者によって理解されるべきである。さらに、簡単のために、ユーザ・アプリケーション４０が、ＴＩＳＡオペレーション４４をＴＩＳＡプロセッサ１４に対して提供するという場合との関連で示され、また説明されるが、一実施形態においては、スケジューラ１８は、ＴＩＳＡプロセッサ１４に対してＴＩＳＡオペレーション４４を提供する役割を担うことができる（すなわち、スケジューラ１８は、図４のステップ７４〜７８を実行することができる）ことに注意すべきである。一実施形態においては、支援モジュール５２はまた、スケジューラ１８が、図４のステップ６２〜６６を実行する役割を担うことができるように、スケジューラ１８に組み込まれていることもある。
【００４５】
図５を参照すると、一実施形態においては、図４のステップ５６から７０のすべては、ビジター設計パターンの最も直接で、効率的な適用を可能にするように、ツリー・トランスバーサル・レベルで実施されることもある。ステップ８４において、図４に示されるスケジューラ１８は、回路モデル３６のトラバーサルを開始する。例えば、図４に示されるスケジューラ１８は、図４のステップ５４において、順序付けられていないアクセス要求の受信のすぐ後に、トラバーサルを開始することができる。ステップ８６において、図４に示されるスケジューラ１８は、トランスバーサル中に回路モデル３６の所与のノードにおいて属性５０と遭遇されるかどうかを評価する。属性と遭遇する場合、図４に示されるスケジューラ１８は、ステップ８８において、支援モジュール５２に対して、所与のノードの属性５０を送信する。例えば、図４に示されるスケジューラ１８は、図４に示されるスケジューラ１８が、ポスト・オーダー・トランスバーサル・オペレーション中に、属性５０に遭遇するとすぐに、属性５０を送信することができる。ステップ９０において、支援モジュール５２は、図４に示されるスケジューラ１８から属性５０を受信する。ステップ９２において、支援モジュール５２は、修正が、所与のノードについて、アクセス応答４２に対して行われるべきかどうかを決定するために、属性５０を処理する。ステップ９４において、図４に示されるスケジューラ１８は、支援モジュール５２からのどのような修正も考慮に入れて、所与のノードについてアクセス応答４２を生成する。それゆえに、ステップ９２において支援モジュール５２によって与えられる処理と応答とを有利に使用して、図４に示されるスケジューラ１８により、ツリー・トランスバーサルと、アクセス応答４２の生成とを直接に決定する。ステップ９６において、図４に示されるスケジューラ１８は、回路モデル３６のトランスバーサルが完了しているかどうかを評価する。トランスバーサルが完了していない場合、図４に示されるスケジューラ１８は、トランスバーサルを継続し、アクセス応答４２を生成するために上記のステップを繰り返している。図４に示されるスケジューラ１８が、回路モデルのトランスバーサルが完了していることを決定する場合、図４に示されるスケジューラ１８は、図４に示されるユーザ・アプリケーション４０またはＴＩＳＡプロセッサ１４のいずれかに対して、ステップ９８において、修正された順序付けられたアクセス応答４２を送信する。図４に示されるユーザ・アプリケーション４０、および／または図４に示されるＴＩＳＡプロセッサ１４は、次いで、図４のステップ７４〜８２において上記で考察されるように、修正された順序付けられたアクセス応答４２を処理し、また使用する。上記で考察されるように、ツリー・トランスバーサル中に属性５０を処理することは、有利なことに、ビジター設計パターンの直接で、効率的な適用を可能にする。
【００４６】
上記で考察されるように、属性５０は、ＪＴＡＧシステム１２の内部の増大されたローカル・アクティビティに起因した、消費電力特性、熱生成特性および／または熱放散、プロセスばらつき、システムの経年変化、他の類似した任意の特性、および／またはシステム情報など、ＪＴＡＧシステム１２の様々な特性を有利に明らかにすることができる。図２および図３に戻って参照すると、一実施形態においては、属性５０は、テストされているチップ（すなわち、ＪＴＡＧシステム１２）のパワー・ドメイン特性を明らかにするために実施されることもある。例えば、現代のチップは、多くの場合に、複雑な性能／電力消費（ｐｏｗｅｒ  ｄｉｓｓｉｐａｔｉｏｎ）のトレードオフなどに起因して、以前のチップにおけるような１つの固有の電源ではなくて、複数の相互に依存するパワー・ドメインによって構成されることもある。ＪＴＡＧシステム１２のどの部分が特定のパワー・ドメインによって電源を供給されているかに関連した情報が、通常、パターン生成時に使用可能ではないので、またさらに、チップ（すなわち、ＪＴＡＧシステム１２）の全体の電力状態が、オペレーションとテストとの間に、大きく変化する可能性があるので、伝統的なバウンダリ・スキャン・テスト・ツールは、複数の、相互に依存するパワー・ドメインの電力特性を明らかにすることができない。支援モジュール５２に関連して属性５０を伴う回路モデル２６を有するスケジューラ１８によって提供される強化されたＴＩＳＡスケジューリングは、上記で考察されたダイナミック・スケジューリングを通して、複数の相互に依存するパワー・ドメインに関連する問題を有利に解決することができる。例えば、回路モデル３６の各ノード（例えば、リーフ・ノード４６など）は、ノードが属するパワー・ドメインを示す属性５０を受信することができる。支援モジュール５２は、ＪＴＡＧシステム１２の実際の電力状態を（例えば、専用のインターフェース、スキャン・アクセス可能な計器などを通して）読み取り、また修正することができ、また上記で考察されるように、ＪＴＡＧシステム１２の実際の電力状態に関連してパワー・ドメインを示す属性５０に基づいて、スキャン・スケジューリングを適応させることができる。例えば、支援モジュール５２は、正しいオペレーションを可能とするスキャン・チェーン２２から、電源が遮断されたＪＴＡＧシステム１２の部分を取り出すであろう。さらに、ＪＴＡＧシステム１２の電源が遮断されたセクションにアクセスするアクセス要求３８の受信のすぐ後に、支援モジュール５２は、ＪＴＡＧシステム１２の前記セクションに電源を供給するシーケンスをトリガすることができる。これは、例えば、Ｐ１６８７計器としてＪＴＡＧシステム１２についての電力制御装置にアクセスすることにより、達成されることもある。
【００４７】
一実施形態においては、支援モジュール５２に関連して属性５０を伴う回路モデル２６を有するスケジューラ１８によって提供される強化されたＴＩＳＡスケジューリングはまた、ＪＴＡＧシステム１２の内部の消費電力を動的に監視し、またＪＴＡＧシステム１２の実際の状態に動的に適応させることもできる。支援モジュール５２は、きめの細かい分解能を提供することができる埋め込まれたＰ１６８７計器を通して、ＪＴＡＧシステム１２を監視する外部の計器の使用（例えば、主要チップ電源に接続されたモニタ）から、または他の類似した監視ツールから消費電力情報を取得することができる。各スキャン・オペレーション４４において、スケジューラ１８は、消費電力情報をスキャン・アクティビティと相互に関連づけることにより、支援モジュール５２が、消費電力情報を収集し、また構成することを可能にするように支援モジュール５２を呼び出すことができる。消費電力情報は、支援モジュール５２の内部状態（例えば、メモリ）に保存され、または回路モデル３６の属性５０に書き込まれることもあり、また上記で考察されたパワー・ドメイン特性を明らかにするために支援モジュール５２によって後で使用されることもある。支援モジュール５２は、それゆえに、検査ツールとして使用され、スキャン／計器アクティビティと消費電力との間のきめの細かい相関を取得しており、またはスキャン・オペレーション４４についての制約条件に、例えばパワー・グリッチなどを低減させるよう強制するために使用されることもある。
【００４８】
一実施形態においては、支援モジュール５２に関連して属性５０を伴う回路モデル２６を有するスケジューラ１８によって提供される強化されたＴＩＳＡスケジューリングはまた、ＪＴＡＧシステム１２の熱的振る舞いの監視と補償とを提供することもできる。熱的振る舞いについての補償は、熱センサが、電力モニタの代わりに使用される点を除いて、上記で考察された消費電力補償に類似している。ＪＴＡＧシステム１２の熱的特性についての監視と補償とは、ＪＴＡＧシステム１２のアクティビティと、それゆえに熱的プロファイルとが、公称の作業状態の下で、同じＪＴＡＧシステムの熱的プロファイルとは、テスト中に極端に異なっている可能性がある。例えば、テスト中に、極端に局所化されたテスト・ルーチンは、ＪＴＡＧシステム１２の特定の部分が過熱するようにさせる可能性があり、システムに恒久的にダメージを与えるリスクを伴っている。支援モジュール５２は、上記で考察されるように、熱センサを通して、ＪＴＡＧシステム１２の熱的振る舞いについての情報を取得することができ、またＪＴＡＧシステム１２の実際の熱状態に基づいて、テスト実行フローを、例えば、スキャン・スケジューリングを、動的に修正する可能性がある。この実施形態においては、回路モデル３６は、フロアプラン情報、すなわち、異なる熱センサの位置と、ＪＴＡＧシステム１２の内側のスキャン・チェーン２２とを提供する属性５０を含むことができる。支援モジュール５２は、このフロアプラン情報を使用して、それに応じてスキャン・オペレーション４４を方向づけることができる。例えば、支援モジュール５２は、検出されたホット・スポットの周囲でスキャン・オペレーション４４を一次停止させて、ホット・スポットが、クールダウンすることを可能にすることができ、あるいはＪＴＡＧシステム１２が、スキャン・アクセス可能な冷却ファンを含んでいる場合、支援モジュール５２は、それに応じてそれらを調整することができる。
【００４９】
一実施形態においては、支援モジュール５２に関連して属性５０を伴う回路モデル２６を有するスケジューラ１８によって提供される強化されたＴＩＳＡスケジューリングは、セキュリティ保護されたスキャン・アクセスのための認証スキームを提供することができる。とりわけ、多数のアプリケーションが存在しており、ここで、スキャン・チェーン２２にアクセスを提供することは、知的財産（すなわち、予備エンジニアリングを通して）またはセキュリティ（すなわち、デバイスが、認証デバイスである場合）の観点のいずれかで、機密情報を漏えいさせるリスクを犯す可能性がある。多数のデバイスは、デバイスをテストできないようにすることにより（例えば、アクセスをディスエーブルにすることにより、例えば、ＴＡＰを焼き切ること、または切り離すことにより）これらのセキュリティの懸案事項に起因してアクセスを制限している。属性５０は、非対称スキームの公開キーなどの認証情報を記憶することにより、セキュリティ保護されたスキャン・アクセスのための認証スキームを有利に提供することができる。支援モジュール５２は、そのときには、特定の計器２８を認証し、また特定の計器２８にアクセス権を提供する記憶された認証情報と比較するために、チップ・プロバイダによって提供される秘密キーを受信する必要があることになる。アクセスが支援モジュール５２によって認可されない状況においては、支援モジュール５２はエラーを生成する可能性があり、または特定の計器２８を強制的にバイパスさせる可能性がある。上記で考察された認証スキームはまた、ライセンスされたユーザだけにアクセスを許可するなど、他のセキュリティの理由のために、有利に実施されることもある。
【００５０】
図１および図２に別個の要素として示されているが、明確さと、簡潔さとの目的のために、スケジューラ１８と、支援モジュール５２と、ユーザ・アプリケーション４０と、ＴＩＳＡプロセッサ１４とのうちの１つまたは複数は、１つまたは複数のプロセッサなどの上で実行される単一のデバイスまたはソフトウェア・モジュールに組み込まれていることもあることが、当業者によって理解されるべきである。さらに、図１と、図２とにおいて示されるテスト環境１０の様々な要素の間の通信は、適切な任意のやり方で（例えば、使用されるデバイスの数と、デバイスのロケーションなどとに応じて）実施され得ることが、当業者によって理解されるべきである。例えば、一実施形態においては、スケジューラ１８と、支援モジュール５２とは、ＴＩＳＡプロセッサ１４と、ユーザ・アプリケーション４０との両方から分離される単一のデバイスの中で、組み合わされることもある。この実施形態においては、別個のデバイスは、１つまたは複数の通信ネットワークを経由して（例えば、イーサネット・ネットワーク、ワールド・ワイド・ウェブ、ブルートゥース接続、ワイヤレスなど、ならびにそれらの様々な組合せを経由して）互いに通信することができる。
【００５１】
さらに、スケジューラ１８や支援モジュール５２など、図１と、図２とに示されるテスト環境１０の様々な要素は、ハードウェア、ソフトウェア、および／またはそれらの組合せを使用して実施され得ることに注意すべきである。例えば、スケジューラ１８、ユーザ・アプリケーション４０、および／または支援モジュール５２は、おのおの、ハードウェアの形で、あるいは１つまたは複数のメモリに記憶され、また１つまたは複数のプロセッサ（例えば、ＴＩＳＡプロセッサ１４および／または他の適切な任意のプロセッサ、これらは、ＴＩＳＡプロセッサ１４、スケジューラ１８、支援モジュール５２および／またはユーザ・アプリケーション４０のロケーションに依存することもある）による実行のために構成されるソフトウェア・ベースのモジュールとして、実施される可能性がある。同様に、ＴＩＳＡプロセッサ１４のスキャン・セグメント・レベル機能は、「ビット・バン（ｂｉｔ  ｂａｎｇ）」などの技法を使用して、ソフトウェアでエミュレートされる可能性がある。図１と、図２とにおいて示されるテスト環境１０は、必要なエレクトロニクスと、ソフトウェアと、メモリと、ストレージと、データベースと、ファームウェアと、ロジック／状態機械と、マイクロプロセッサと、通信リンクと、ネットワーク・インターフェースと、ディスプレイまたは他のビジュアル・ユーザ・インターフェースもしくはオーディオ・ユーザ・インターフェースと、プリント・デバイスと、本明細書において説明される機能を実行し、かつ／または本明細書において説明される結果を達成する他の任意の入出力インターフェースとを含む。適切なコンピュータ・プログラム・コードは、ダイナミック・スキャン・スケジューリングを提供するための上記で考察されたこれらの機能を含めて、非常に多くの機能を実行するために提供されることもある。コンピュータ・プログラム・コードはまた、１つまたは複数のプロセッサ（ＴＩＳＡプロセッサ１４など）が、コンピュータ周辺デバイス（例えば、ビデオ・ディスプレイ、キーボード、コンピュータ・マウスなど）とインターフェースすることを可能にするオペレーティング・システム、データベース管理システム、「デバイス・ドライバ」などのプログラム要素を含むこともできる。
【００５２】
ＴＩＳＡプロセッサ１４を含めて、本明細書において考察される様々なプロセッサとプロセスとは、１つまたは複数の従来のマイクロプロセッサと、数値演算コプロセッサなど、１つまたは複数の補助コプロセッサなどとを含むことができる。本明細書において考察されるデータ・ストレージ構造とメモリとは、磁気メモリ、光メモリおよび／または半導体メモリの適切な組合せを含むことができ、また例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、フラッシュ・ドライブ、および／またはハードディスクもしくはハード・ドライブを含むことができる。データ・ストレージ構造およびメモリは、例えば、本明細書において考察される様々な実施形態による１つまたは複数のプロセッサを対象とするように適合された１つまたは複数のオペレーティング・システム、および／または１つまたは複数のプログラム（例えば、コンピュータ・プログラム・コードおよび／またはコンピュータ・プログラム製品）を記憶することができる。オペレーティング・システムおよび／またはプログラムは、例えば、圧縮され、コンパイルされていないフォーマット、および／または暗号化されたフォーマットで記憶されることもあり、またコンピュータ・プログラム・コードを含むことができる。プログラムの中の命令のシーケンスの実行は、プロセッサに、本明細書において説明されるプロセス・ステップを実行するようにさせるが、ハードワイヤード回路が、本発明のプロセスの実施のために、ソフトウェア命令の代わりに、またはソフトウェア命令と組み合わせて、使用されることもある。したがって、本発明の実施形態は、ハードウェアと、ソフトウェアとのどのような特定の組合せだけにも限定されることはない。
【００５３】
プログラムはまた、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ、プログラマブル・アレイ・ロジック、プログラマブル・ロジック・デバイスなどのプログラマブル・ハードウェア・デバイスの形で実施されることもある。プログラムはまた、様々なタイプのコンピュータ・プロセッサによる実行のために、ソフトウェアの形で実施されることもある。実行可能なコードのプログラムは、例えば、コンピュータ命令の１つまたは複数の物理的ブロックまたは論理的ブロックを含むこともでき、これらのコンピュータ命令は、例えば、オブジェクト、プロシージャ、プロセスまたは関数として構成されることもある。それにもかかわらず、識別されたプログラムの実行可能ファイルは、物理的に一緒に位置している必要はないが、一緒に論理的に合わされるときに、プログラムを含み、また上記で説明されるプログラムのための述べられた目的を達成する、異なるロケーションに記憶される別個の命令を含むことができる。
【００５４】
本明細書において使用されるような用語「コンピュータ読取り可能媒体」は、実行のためにテスト環境１０の１つまたは複数のプロセッサ（例えば、ＴＩＳＡプロセッサ１４）（または本明細書において説明されるデバイスの他の任意のプロセッサ）に対して命令を提供し、または命令を提供することに参加する任意の媒体のことを意味する。そのような媒体は、それだけには限定されないが、不揮発性媒体と、揮発性媒体とを含めて、多数の形態を取ることができる。不揮発性媒体は、例えば、メモリなど、光ディスク、磁気ディスク、または光磁気ディスクを含んでいる。揮発性媒体は、ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ（ＤＲＡＭ：ｄｙｎａｍｉｃ  ｒａｎｄｏｍ  ａｃｃｅｓｓ  ｍｅｍｏｒｙ）を含んでおり、このダイナミック・ランダム・アクセス・メモリは、一般的にメイン・メモリを構成する。コンピュータ読取り可能媒体の一般的な形態は、例えば、フロッピー・ディスク、フレキシブル・ディスク、ハードディスク、磁気テープ、他の任意の磁気媒体、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、他の任意の光媒体、ＲＡＭ、ＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭもしくはＥＥＰＲＯＭ（電子的消去可能プログラマブル・リード・オンリー・メモリ）、フラッシュ−ＥＥＰＲＯＭ、他の任意のメモリ・チップもしくはメモリ・カートリッジ、またはコンピュータが読み取ることができる他の任意の媒体を含んでいる。
【００５５】
コンピュータ読取り可能媒体の様々な形態は、実行のために本明細書において説明される１つまたは複数のプロセッサに対して１つまたは複数の命令の１つまたは複数のシーケンスを搬送する際に必要とされることもある。例えば、命令は、最初に、リモート・コンピュータ（図示されず）の磁気ディスクの上に、保持されることもある。リモート・コンピュータは、それらの命令をそのダイナミック・メモリへとロードし、またイーサネット接続、ケーブル回線、またはモデムを使用した電話回線さえもの上で命令を送信することができる。コンピューティング・デバイス（例えば、サーバ）に対してローカルな通信デバイスは、それぞれの通信回線の上でデータを受信することができ、また１つまたは複数のプロセッサのためのシステム・バスの上にデータを配置することができる。システム・バスは、メイン・メモリに対してデータを搬送することができ、このメイン・メモリから１つまたは複数のプロセッサは、命令を取り出し、また実行することができる。メイン・メモリによって受信される命令は、オプションとして、１つまたは複数のプロセッサによる実行の前、または実行の後のいずれかにメモリに記憶されることもある。さらに、命令は、電気信号、電磁気信号、または光信号として通信ポートを経由して受信されることもあり、これらの信号は、様々なタイプの情報を搬送するワイヤレス通信またはデータ・ストリームの例示の形態である。
【００５６】
本明細書において説明されるダイナミック・スキャン・スケジューリングのためのシステムおよび方法は、その中に配置される属性５０を有する回路モデル３６を通して、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２の単純化したモデリングを提供する。本明細書において説明されるシステムおよび方法は、有利なことに、テスト対象ＪＴＡＧシステム１２の広範囲に及ぶモデルを必要とすることなく、システム特性、プロセスばらつきなどを明らかにする属性５０を使用して、スケジューラ１８と支援モジュール５２とによるスキャン・パターン適応とリターゲティングとを提供する。それゆえに、本明細書において説明されるシステムおよび方法は、ＪＴＡＧシステム１２のミッション・モードに従って実際のシナリオをモデル化するためにＪＴＡＧシステム１２のテストを適応させることができる。さらに、属性５０は、スケジューラ１８および／または支援モジュール５２によって回路モデル３６に対して変更され、また書き換えられることもあり、その結果、モデルは、テスト中にＪＴＡＧシステム１２に対する変更を明らかにすることができるようになる。
【００５７】
本発明は、その詳細な実施形態に関連して示され、また説明されているが、形態と、その詳細とにおける様々な変更が、本発明の精神および範囲を逸脱することなく行われ得ることが、当業者によって理解されるであろう。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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