(57)【要約】  サンプルをマーキングするためのマーキングデバイス（２８）は、観察システムによってサンプルを観察するためにサンプルに面して配置されるよう構成される。当該マーキングデバイス（２８）はメッシングを形成する複数のメッシュ（５０）を備え、マーキングデバイスは各メッシュの少なくとも一つの識別マーキング（５２）を備える。各識別マーキングは、メッシュの識別子（５３）に対応すると共に、主マーキング（５４）および少なくとも一つの二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含み、上記メッシュの識別子は、主マーキングに対する各二次マーキングの位置に依存する。各識別マーキングは複数の二次マーキングを含み、かつ、識別子は第１の番号および第２の番号を含み、両方の番号はそれぞれの算術進法で表され、かつ、各二次マーキングはいずれも、第１の番号のそれぞれの数字に、そして第２の番号のそれぞれの数字に対応する。
2016503192.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル（２６）をマーキングするためのマーキングデバイス（２８）であって、前記マーキングデバイス（２８）は、観察システム（２０）によって前記サンプル（２６）を観察するために前記サンプル（２６）に面して配置されるよう構成され、前記マーキングデバイス（２８）はメッシングを形成する複数のメッシュ（５０）を備え、前記マーキングデバイス（２８）は各メッシュ（５０）のための少なくとも一つの識別マーキング（５２）を備え、
各識別マーキング（５２）は、前記メッシュ（５０）の識別子（５３）に対応すると共に、主マーキング（５４）および少なくとも一つの二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含み、前記メッシュの前記識別子（５３）は、前記主マーキング（５４）に対する各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の位置に依存し、
各識別マーキング（５２）は複数の二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含み、かつ、
前記識別子（５３）は第１の番号（Ｘ）および第２の番号（Ｙ）を含み、両方の番号（Ｘ，Ｙ）はそれぞれの算術進法で表され、かつ、各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）はいずれも、前記第１の番号（Ｘ）のそれぞれの数字に、そして前記第２の番号（Ｙ）のそれぞれの数字に対応することを特徴とするマーキングデバイス（２８）。
【請求項２】
前記主マーキング（５４）および各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含む前記識別マーキング（５２）は英数字コーディングとは異なる、請求項１に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項３】
前記主マーキング（５４）は、前記メッシングの向きを示すことができる非対称形状を有する、請求項１または請求項２に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項４】
前記算術進法が１０進法である、請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項５】
前記数字の値は、対応する二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）と前記主マーキング（５４）との間の距離に依存する、請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項６】
各メッシュ（５０）は基準系を含み、前記識別子（５３）は、この基準系における各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の座標から特定される、請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項７】
各メッシュ（５０）は基準系を含み、かつ、前記主マーキング（５４）は、この基準系の少なくとも一つの軸（ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’）に沿った各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の少なくとも一つの座標を特定するためのスケールを形成する、請求項１ないし請求項６のいずれか1項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項８】
前記主マーキング（５４）は、前記基準系の各軸（ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’）に沿った各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の座標を特定するためのスケールを形成する、請求項７に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項９】
各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）は、１０μｍ×１０μｍ以下の寸法のサイズを有する、請求項１ないし請求項８のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１０】
前記二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）は、ある二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）から他のものを区別できるサイズおよび／または形状である、請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１１】
前記主マーキング（５４）は、２０μｍ×４０μｍ以下の寸法の、好ましくは１５μｍ×３０μｍ以下の寸法の、さらに好ましくは１０μｍ×２０μｍ以下の寸法のサイズを有する、請求項１ないし請求項１０のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１２】
観察システム（２０）であって、サンプルサポート（２４）と、このサンプルサポート（２４）を照射することができる光源（２２）と、サンプル（２６）をマーキングするためのマーキングデバイス（２８）と、を備え、前記サンプル（２６）は前記サンプルサポート（２４）上に配置されるよう意図され、
前記マーキングデバイス（２８）は請求項１ないし請求項１１のいずれか１項に記載されたものである観察システム（２０）。
【請求項１３】
前記マーキングデバイス（２８）は、前記サンプルサポート（２４）に面して配置される、請求項１２に記載の観察システム（２０）。
【請求項１４】
前記サンプルサポート（２４）は前記サンプル（２６）を受け取るためのプレートを含み、かつ、前記マーキングデバイス（２８）は前記プレートの上に形成される、請求項１２に記載の観察システム（２０）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サンプルをマーキングするためのマーキングデバイスに関し、このマーキングデバイスは、それを観察する目的でサンプルに面して配置されるよう意図される。観察されたサンプルの一部をマーキングするために、当該マーキングデバイスは、メッシング（meshing）を形成する複数のメッシュを含み、各メッシュは識別マーキングを含む。
【０００２】
本発明はまた、サンプルサポートと、サンプルサポートを照射できる光源と、そうしたマーキングデバイスとを備えた観察システムに関する。
【０００３】
さらに、観察システムは、サンプルサポート上に配置することができるサンプルの少なくとも一つのイメージを観察するための観察デバイスを備える。
【０００４】
本発明は、特に、光学マイクロスコープによる観察のためのマーキングデバイスに適用される。
【背景技術】
【０００５】
光学マイクロスコープによるサンプルの異なる要素の観察時、観察領域は、一般に、観察されるサンプルの全体の寸法と比較して制限された寸法を有する。観察領域は、通常、矩形であり、その辺は１００μｍないし１ｍｍの値を有し、一方、サンプルは、通常、５  ｍｍないし２０ｍｍの寸法を有する。観察領域は、観察デバイスのフィールドとサンプルサポートとの間の共通部分に対応する。
【０００６】
観察されるべきサンプルにおいて観察領域をマーキングすることは、たいてい、複雑である。光学マイクロスコープを用いてサンプルの他の部分を探索するために観察領域が変更されてしまった場合、あるいはさらに、当該サンプルへと戻る前に別なサンプルの観察が実施されてしまった場合、特定の観察領域を見つけることは特に困難である。この問題はまた、サンプルを観察するためのデバイスの変更時にも生じるが、これは、先の観察に対して、倍率またはサンプルの向きの変化を引き起こす。
【０００７】
この問題に対する解決策を見出すために、電動並進ステージを備えたマイクロスコープの使用方法が知られている。しかしながら、このような電動ステージはかなり高価であり、しかも、観察領域の異なる位置に注意することを、または異なる位置の調査を実施できるソフトウェアの追加部分の使用をさらに必要とする。
【０００８】
目盛り付き透明ストリップの形状を備えたサンプルサポートの使用も知られている。このようなストリップは連続ラインからなるグリッドを含み、このグリッドがメッシングを画定する。メッシングとも呼ばれるこのグリッドの各セルは、大文字あるいは数字といった、一連の英数字文字の形態を呈する識別マーキングによって他のものから区別される。
【０００９】
これらのセル、ラインおよび識別マーキングの全体は、縮小された観察野内に常に存在するように十分に小さいピッチを伴って、そしてまた視認可能であるように十分なサイズを伴って形成される。この結果、目盛付きストリップの表面のかなりの部分が、これらの識別マーキングによって覆われてしまう。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の目的は、したがって、マーキングデバイスの自由表面、すなわち識別マーキングのないマーキングデバイスの表面を最適化しながら、容易に、メッシュの全体の中からメッシュを容易にマーキングする可能性を与えるマーキングデバイスを提供することである。この場合、マーキングデバイスで観察されたメッシュの正確なマーキングを可能としながら、従来技術よりも大きな自由スペースが利用可能である。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
このために、本発明の対象は上記タイプのマーキングデバイスであり、各識別マーキングはメッシュの識別子に対応すると共に、主マーキングおよび少なくとも一つの二次マーキングを含み、メッシュの識別子は、主マーキングに対する各二次マーキングの位置に依存し、
好ましくは、各識別マーキングは複数の二次マーキングを含み、かつ、
好ましくは、識別子は第１の番号および第２の番号を含み、両方の番号はそれぞれの算術進法で表され、かつ、各二次マーキングはいずれも、第１の番号のそれぞれの数字に、そして第２の番号のそれぞれの数字に対応する。
【００１２】
本発明の別な有利な態様によれば、マーキングデバイスは、個別にまたは全ての技術的に可能な組み合わせに従って採用される、以下の一つ以上の特徴を備える。
・主マーキングおよび各二次マーキングを含む識別マーキングは英数字コーディングとは異なる。
・主マーキングは、上記メッシュの配向を示すことができる非対称形状を有する。
・算術進法は１０進法である。
・数次の値は、対応する二次マーキングと主マーキングとの間の距離に依存する。
・各メッシュは基準系を含み、識別子はこの基準系における各二次マーキングの座標から特定される。
・各メッシュは基準系を含み、かつ、主マーキングは、この基準系の少なくとも一つの軸に従って各二次マーキングの少なくとも一つの座標を特定するためのスケールを形成する。
・主マーキングは、基準系の各軸に従って各二次マーキングの座標を特定するためのスケールを形成する。
・各二次マーキングは、１０μｍ×１０μｍ以下の寸法サイズを有する。
・二次マーキングは、ある二次マーキングを別なものから区別できるサイズおよび／または形状を有する。
・主マーキングは、２０μｍ×４０μｍ以下の寸法の、好ましく１５μｍ×３０μｍ以下の寸法の、さらに好ましくは１０μｍ×２０μｍ以下の寸法のサイズを有する。
【００１３】
本発明の対象はまた、サンプルサポートと、このサンプルサポートを照射することができる光源と、サンプルをマーキングするためのマーキングデバイスとを備えた観察システムであって、サンプルはサンプルサポート上に配置されることを意図され、上記マーキングデバイスは上述したものである観察システムである。
【００１４】
本発明のその他の有利な態様によれば、観察システムは、別個にあるいは全ての技術的に可能な組み合わせに従って採用される、以下の一つ以上の特徴を備える。
・マーキングデバイスは、サンプルサポートに面して配置される。
・サンプルサポートはサンプルを受けるためのプレートを含み、かつ、マーキングデバイスは当該プレート上に形成される。
【００１５】
本発明の特徴および利点は、単に非限定的な実施例として提示されかつ図面を参照してなされる以下の詳細な説明から明らかとなるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】マイクロスコープと、サンプルを受け取ることができるサンプルサポートと、サンプルを観察するためにサンプルに面して配置されたサンプルをマーキングするためのマーキングデバイスとを備えた観察システムの概略図である。
【図２】図１のマーキングデバイスのメッシュの、そして本発明の一実施形態に係る当該メッシュの識別マーキングの概略図であり、識別マーキングは主マーキングおよび二次マーキングを含んでいる。
【図３】図２のいくつかの識別マーキングのイメージ図である。
【図４】さらなる態様に係る識別マーキングの主マーキングの概略図である。
【図５】さらなる態様に係る識別マーキングの二次マーキングの概略図である。
【図６】このさらなる態様に係る例示的識別マーキングの概略図である。
【図７】このさらなる態様に係る例示的識別マーキングの概略図である。
【図８】このさらなる態様に係る図３のそれと類似の図である。
【図９】代替例に係る図５のそれと類似の図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
図１において、観察システム２０は、光源２２、サンプル２６のサポート２４、そしてサンプル２６をマーキングするためのマーキングデバイス２８を備え、マーキングデバイス２８は、観察システム２０を用いてサンプル２６を観察するためにサンプル２６に面して配置されるよう意図されている。
【００１８】
さらに、観察システム２０はイメージ取得デバイス２９を備える。観察システム２０はしたがってイメージングシステムを構成する。
【００１９】
観察システム２０は、サンプルがサンプルサポート２４上に配置されたときに、サンプル２６のイメージの観察を実現するよう意図されている。
【００２０】
光源２２は、サンプルサポート２４上に配置されたサンプル２６を照明するために、光ビーム３０を放射することができる。
【００２１】
図１の実施例において、観察システム２０は光学マイクロスコープであり、この場合、光源２２から生じる光ビーム３０を、垂直方向Ｚに沿ってサンプルサポート２４に向かって反射させることができるミラー３４を含む。マイクロスコープ２０は、その上にサンプルサポート２４が配置されるステージ３６を備える。マイクロスコープ２０はさらに三つの対物鏡を含み、各対物鏡３８は、対物レンズとも呼ばれる第１のレンズ４０を含む。各対物鏡３８は、異なる倍率でのサンプルの観察を可能とする。さらに、マイクロスコープ２０は、プリズムといったスプリッターデバイス４２と、接眼鏡４４とを含み、スプリッターデバイス４２は、一方では接眼鏡３３に向って、そして他方ではイメージ取得デバイス２９に向かって、サンプルサポート２４およびサンプル２６を透過した放射線を案内することができる。
【００２２】
マイクロスコープ２０はサンプルサポート２４の一部の観察を可能とし、この部分は観察領域と呼ばれる。
【００２３】
サンプルサポート２４はサンプル２６を受け取るためのプレート（図示せず）を含む。サンプルサポート２４は、好ましくは、平面状サポートである。
【００２４】
サンプルサポート２４は透明であり、そして、例えば、マイクロスコープで観察するための透明スライドの形状を備える。代替例では、サンプルサポート２４は不透明であり、そして、例えば、シリコンプレートの形状を備える。
【００２５】
サンプルサポート２４は、例えば、イメージ取得デバイス２９が、その上にサンプル２６が載せられるサンプルサポート２４を透過した放射線のイメージを取得することができる場合、光源２２とイメージ取得デバイス２９との間に配置される。サンプルサポート２４は、この場合、図１に垂直方向Ｚで示されるサンプル２６の照射方向に対して実質的に垂直である。
【００２６】
サンプルサポート２４は、例えば、５０μｍと１ｍｍとの間に含まれる、好ましくは１００μｍと５００μｍとの間に含まれる、一般に１７０μｍの値を持つ、垂直方向Ｚに沿って厚みを有する。
【００２７】
サンプルサポート２４上の所与の観察領域を位置確認するために、マーキングデバイス２８は、複数のメッシュ５０を含むメッシングに従って分割され、各メッシュ５０は少なくとも一つの識別マーキング５２によって位置確認される。したがって、各観察領域は、当該区域によって覆われたメッシュ５０の識別によって、マーキングデバイス２８に対して空間的に位置確認できる。この識別は、上記メッシュ５０に対応する識別マーキング５２を解読することにより実現される。
【００２８】
マーキングデバイス２８（本発明の対象）は、サンプルサポート２４へ統合されるか、またはそれに面して使用されるよう意図される。それは、この場合、サンプルサポート２４とは別個のデバイスとして具現される。「面する」との用語は、マーキングデバイス２８が、必ずしもサンプルサポート２４と接触して配置されることなく、サンプルサポート２４に面して配置されることを意味する。
【００２９】
非限定的なものとして以下で説明する実施例において、マーキングデバイス２８はサンプルサポート２４に統合され、そしてマーキングデバイス２８は、この場合、例えば、サンプル２６を受け取るよう意図されたサンプルサポート２４のプレートに形成される。
【００３０】
マーキングデバイス２８は、図２に示すように、メッシングを画定する複数のメッシュ５０と、この対応するメッシュ５０の各識別マーキング５２とを備える。識別マーキング５２はまた、観察領域におけるメッシュ５０の区画を可能とする。図２の実施例では、マーキングデバイス２８は、複数のメッシュ５０と、各メッシュ５０についての識別マーキング５２とを含む。
【００３１】
イメージ取得デバイス２９は、光ビーム３０により照射されたサンプル２６のイメージを取得することができる。
【００３２】
例えば、イメージ取得デバイス２９は、ＣＭＯＳ（相補型金属酸化物半導体）センサ、あるいは複数の画素（図示せず）を含むさらなるＣＣＤ（荷電結合デバイス）センサなどの、図１から認識可能な光検出器アレイＰＭを備える。
【００３３】
各メッシュは、観察システム２０を用いてサンプル要素の少なくとも一つのイメージを観察するために、サンプル２６のエレメント（図示せず）を受けるよう意図される。
【００３４】
例えば各メッシュ５０は、四角形、例えば辺Ａの正方形の形態であり、Ａの値は、５０μｍと１ｍｍとの間に含まれ、好ましくは１００μｍに等しい。
【００３５】
各識別マーキング５２はメッシュ５０の識別子５３に対応し、この識別子５３は上記メッシュ５０に関して固有である。各識別マーキング５２は、主なマーキング５４と、少なくとも一つの二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃとを含み、メッシュ５０の識別子５３は、主マーキング５４に対する二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの位置に依存する。
【００３６】
各識別マーキング５２は英数字コーディングとは異なるが、これによれば、各メッシュ５０は英数字文字の異なる連鎖によって、その他のメッシュ５０と区別される。
【００３７】
例えば識別子５３は算術進法で表される少なくとも一つの番号Ｘ，Ｙを含み、上記の例では、識別子５３は二つの番号、すなわち第１の番号Ｘおよび第２の番号Ｙを含む。第１の番号Ｘおよび第２の番号Ｙは、それぞれ、メッシュ５０の横座標および縦座標に対応する。
【００３８】
上記実施例では、算術進法は１０進法であり、そして番号Ｘ，Ｙの数字は、それ自体公知であるように、０と９との間に含まれる数値である。代替的に算術はＮ進法に基づき、Ｎは２以上の値を持つ整数であり、番号Ｘ，Ｙの数字は、それ自体公知であるように、０とＮ−１との間に含まれる値である。
【００３９】
図２の実施例において、識別子５３は二つの番号Ｘ，Ｙを含み、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃはこの番号のそれぞれの数字に対応する。図２において、識別子５３は指標として与えられるが、もちろん、それはマーキングデバイス２８上にプロットされない。例えば両方の番号Ｘ，Ｙは０と９９との間に含まれる値を有し、かつ、識別マーキングは、この場合、三つの二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ、すなわち上記番号の１の位に対応する第１の二次マーキング５６Ａと、上記番号の１０の位に対応する第２の二次マーキング５６Ｂと、上記番号の１００の位に対応する第３の二次マーキング５６Ｃとを含む。図２の実施例では、二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、使用されるコーディングの理解を容易にし、そしてどのマーキングがそれぞれ１の位、１０の位および１００の位に対応するかを示すために、小文字ｕ，ｄ，ｃによって図示されている。以下でさらに詳しく説明するように、実際、二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、例えば、ディスク、リング、三角形、四角形あるいはさらには正方形の形態の、英数字文字を含む幾何学的形状であることは当業者にとって明白である。一方、本実施形態によれば、各メッシュ５０に関して、各幾何学的形状は、同じ二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃに対応する。言い換えれば、各幾何学的形状には、同じ二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃが対応し、この二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、１の位、１０の位および１００の位のいずれかを表す。
【００４０】
識別子５３が二つの異なる数を含み、それぞれが０と９９９との間に含まれる値を持つ場合、本発明に係るマーキングデバイス２８は、独特の方法で、１０００×１０００の異なるメッシュ５０の、すなわち１００万の異なるメッシュ５０の識別を可能とする。各メッシュ５０の辺Ａの値が１００μｍに等しいとき、サンプルサポート２４は１０ｃｍ×１０ｃｍまでの範囲の寸法、すなわちマイクロスコープスライドの典型的な寸法よりも大きな寸法を有し、当該辺は、一般に、７．５ｃｍ×２．５ｃｍの矩形の形状を備える。
【００４１】
主マーキング５４はメッシュ５０の区画を可能にし、一方、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、メッシュ５０の識別に、したがってメッシュ５０のポジションの位置確認に関与する。すなわち、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは識別子５３の判定を可能とする。
【００４２】
主マーキング５４は、好ましくは、メッシュ５０の向きを示すために、非対称な形状を有する。主マーキング５４は、例えば、第１のブランチ５８Ａおよび第２のブランチ５８Ｂを含み、両方のブランチ５８Ａ，５８Ｂは共通ポイント６０において接続され、そして第２のブランチ５８Ｂは、第１のブランチ５８Ａのそれよりも大きな長さを備える。
【００４３】
図２の実施例では、主マーキング５４はＬの形状を有する。例えば、第１のブランチ５８Ａはメッシングの第１の軸ｘ‐ｘ’の方向を表し、そして第２のブランチ５８Ｂはメッシングの第２の軸ｙ‐ｙ’の方向を表す。メッシュ５０の識別子５３は、続いて、第１の軸ｘ‐ｘ’および第２の軸ｙ‐ｙ’に基づく各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃのそれぞれの座標を特定することによって得られる。共通ポイント６０から各ブランチ５８Ａ，５８Ｂの自由端へ向けられた配向は、例えば、各方向に関して、上記座標の増大の方向に対応する。
【００４４】
言い換えれば、この実施例によれば、マーキングデバイス２８のメッシングは、第１の軸ｘ‐ｘ’および第２の軸ｙ‐ｙ’に沿って生成され、第１の軸ｘ‐ｘ’の方向、第２の軸ｙ‐ｙ’のそれは、それぞれ、第１のブランチ５８Ａの方向、第２のブランチ５８Ｂのそれによってそれぞれ示される。メッシングの各軸ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’の方向に加えて、主マーキング５４のＬ形状は、最短軸から最長軸を区別する可能性を与える。したがって、Ｌの形状を備えた主マーキング５４は、不正確さを伴わずに、各軸ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’の識別を可能とする。マーキングデバイス２８の、あるいは観察から得られるイメージの裏返しまたは回転によってもたらされる起こり得る混乱は、この場合、回避される。Ｌ形状を備えた主マーキング５４が同じ長さの二つのブランチ５８Ａ，５８Ｂを含む場合、メッシングの各軸ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’は、例えば、垂直軸ｙ‐ｙ’に関してより厚いブランチといった、各ブランチ５８Ａ，５８Ｂの幅の変更によって識別可能となる。
【００４５】
したがって、一般に、メッシングが二つの軸ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’を含む場合、主マーキング５４は、それぞれメッシングの第１の軸ｘ‐ｘ’および第２の軸ｙ‐ｙ’に沿って整列させられた、二つの異なる形状を含む。
【００４６】
主マーキング５４はメッシュ５０のそれと比べて低減された寸法を有する。主マーキング５４は５０μｍ×５０μｍ以下の寸法の、好ましくは１０μｍ×２０μｍ以下の寸法の大きさを有する。第１のブランチ５８Ａの長さは、例えば、辺Ａの値の１０分の１に等しく、そして第２のブランチ５８Ｂの長さは、例えば、辺Ａの値の５分の１に等しい。第１のブランチ５８Ａの長さは、この場合、好ましくは、１０μｍに等しく、そして第２のブランチ５８Ｂのそれは好ましくは２０μｍに等しい。ブランチ５８Ａ，５８Ｂの厚みは、例えば、２μｍに等しい。
【００４７】
例えば主マーキング５４は、サンプルサポート２４上に存在する識別マーキング５２の全体に関して同じ形状を有する。識別マーキング５２の全体に関する主マーキング５４のこの独特の形状は、この場合、各メッシュ５０を容易に位置確認する可能性を与える。
【００４８】
各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、識別子５３の番号Ｘ，Ｙのそれぞれの数字と関連付けられる。例えば、第１の軸ｘ‐ｘ’に沿った各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの座標は、それぞれ、第１の軸ｘ‐ｘ’に沿ったメッシュ５０の座標の１の位の、１０の位の、そして１００の位の数字を表し、これらの座標は、原点として、主マーキング５４の注目すべきポイント、特にＬによって形成される角度、すなわち共通ポイント６０を想定することによって特定される。また、第２の軸ｙ‐ｙ’に沿った各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの座標は、それぞれ、第２の軸ｙ‐ｙ’に沿ったメッシュ５０の座標の１の位の、１０の位の、そして１００の位の数字を表す。メッシングの第１および第２の軸ｘ‐ｘ’およびｙ‐ｙ’に沿ったメッシュ５０の座標は識別マーキング５２の識別子５３を形成する。
【００４９】
この場合、各メッシュ５０には基準系が割り当てられ、識別子５３は、この基準系における各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの座標から特定されることは明らかである。有利なことには、各メッシュの基準系の原点は主マーキング５４に配置され、基準系の原点は、例えば、共通ポイント６０である。
【００５０】
有利なことには、主マーキング５４は、各軸ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’に沿った連続した座標間の距離を特定するように構成される。したがって、図２の実施例では、第１の軸ｘ‐ｘ’に沿って配向された第１のブランチ５８Ａは、二つの連続した横座標ｘ，ｘ+１、すなわち１単位だけ離れた二つの横座標間の距離を示す。第２の軸ｙ‐ｙ’に沿って配向された第２のブランチ５８Ｂは、２単位だけ離れた二つの縦座標ｙ，ｙ+２間の距離を示す。第２のブランチ５８Ｂは、この場合また、先に述べたようにメッシュ５０の配向を規定するために第１のブランチ５８Ａのそれの倍の長さでありながら、第２の軸ｙ‐ｙ’に関するスケールを形成する。換言すれば、主マーキング５４は、メッシングの各軸ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’に沿った各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの座標を特定するためのスケールを形成する。
【００５１】
したがって、メッシュ５０の識別子５３は、主マーキング５４に対して対応する二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの位置に、特に距離に、さらに詳しくは、各メッシュ５０に関連付けられた基準系における各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの座標に依存し、この基準系は、メッシングｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’に沿って配向され、基準系の原点は、好ましくは、主マーキング５４と関連付けられる。
【００５２】
図２の実施例では、第１の二次マーキング５６Ａは３に等しい横座標を有し、第２の二次マーキング５６Ａは２に等しい横座標を有し、そして第３の二次マーキング５６Ｃは１に等しい横座標を有し、したがって識別子５３の第１の番号Ｘは１２３に等しい。同様に、第１の二次マーキング５６Ａは６に等しい横座標を有し、第２の二次マーキング５６Ａは５に等しい横座標を有し、そして第３の二次マーキング５６Ｃは４に等しい横座標を有し、したがって識別子５３の第２の番号Ｙは４５６に等しい。
【００５３】
図２および図３の実施例では、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、ある二次マーキングから他のものを識別できるサイズを有する。番号Ｘ，Ｙの１の位に対応する第１の二次マーキング５６Ａは、例えば、最小サイズの二次マーキングであり、番号Ｘ，Ｙの１０の位に対応する第２の二次マーキング５６Ｂは、中間サイズの二次マーキングであり、最後に番号Ｘ，Ｙの１００の位に対応する第３の二次マーキング５６Ｂは、最大サイズの二次マーキングである。三つの二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの全ては、図２および図３の例では、例えば異なる半径のリングの形状を備えた円形状を有する。これは識別子５３のコーディングを可能とし、番号Ｘ，Ｙの三つの数字は同じ値を有し、この場合、三つの二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは同心状である。
【００５４】
図３（ここでイメージは倍率４０倍の対物レンズ３８によって取得された）に示すように、第１の二次マーキング５６Ａは、例えば、２μｍに等しい直径を有するディスクの形状であり、そして第２の二次マーキング５６Ｂは、２μｍに等しい内径および４μｍに等しい外径を有するリングの形状である。図３の実施例では、識別子５３の番号Ｘ，Ｙは０と９９との間に含まれ、したがって識別マーキング５２は第３の二次マーキングを含まない。当業者にとって、番号Ｘ，Ｙの一つが１００以上でありかつそして第３の二次マーキング５６Ｃが必要とされる場合、第３の二次マーキング５６Ｃは、例えば、４μｍに等しい内径および６μｍに等しい外径を有するリングの形状であることは明白である。
【００５５】
代替的に、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、実質的に、同じサイズであるが、一つの二次マーキングと別のものとを識別できる形状を備える。一例として、第１の二次マーキング５６Ａはディスクの形状であり、第２の二次マーキング５６Ｂは三角形の形状であり、そして第３の二次マーキング５６Ｃは正方形の形状である。
【００５６】
さらに代替的に、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、一つの二次マーキングと別のものとを識別できるサイズおよび形状を有する。
【００５７】
各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、１０μｍ×１０μｍ以下の寸法のサイズを有する。
【００５８】
したがって、メッシュ５０と関連付けられた識別マーキング５２は、識別マーキングに対応する識別子５３によってメッシュ５０をマーキングする可能性をもたらす。このマーキングは、識別子５３が各メッシュ５０に関して固有である場合に固有のものである。
【００５９】
さらに、本発明に係る識別マーキング５２を備えたマーキングデバイス２８は、主マーキング５４および二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃが、メッシュのそれと比べて縮小された寸法であるとき、サンプル２６の異なる要素の観察を著しく容易にする。
【００６０】
上記実施形態とは関係なく、本発明に係るマーキングデバイス２８の識別マーキング５２は、１０ｃｍ×１０ｃｍまでの範囲の寸法、すなわちマイクロスコープスライドの典型的な寸法よりも大きな寸法を有するサンプルサポート２４の異なる観察領域の独特の識別を可能にする。
【００６１】
さらに、本発明に係る識別マーキング５２は、どの程度のスケールでサンプル２６のイメージが取得されるかを特定する可能性をもたらし、主マーキング５４の寸法は予め決定されており、知られている。
【００６２】
したがって、本発明に係るマーキングデバイス２８は、メッシュ５０内のサンプル２６の異なる要素の観察を容易にしながら、デバイスのメッシュ５０の全体の中からメッシュ５０を容易に位置確認する可能性を与えることが分かる。
【００６３】
上記実施形態とは関係なく、主マーキング５４および各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、イメージ取得デバイス２９によって取得されたイメージにおいて対照的に現れるように適合される。主マーキング５４および各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、例えば、サンプルサポート２４が透明であるとき、不透明でかつ反射材料からなる。この場合、それらは、それらが透過によって観察されるときには明るい背景の上に暗く、あるいはそれらが反射によって観察されるときには暗い背景の上に明るく現れる。代替的に、例えば、サンプルサポート２４がそれぞれ反射し、それぞれ吸収している場合、主マーキング５４および各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、吸収し、それぞれ反射している。
【００６４】
一般に、所与の観察方法に関して、各マーキング５４，５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、サンプルサポート２４に対して対照的な様式で出現するよう構成される。
【００６５】
主マーキング５４および各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、例えば、以下のようにして形成される。マーキングデバイス２８は、ＰＶＤとも呼ばれる物理蒸着法によって白金酸化物の薄層で覆われる。酸化白金物のこの層は、続いて、マーキング５４，５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの位置を除いて、全面にわたってレーザーフォトリソグラフィによって除去される。
【００６６】
代替的に、主マーキング５４および各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、スクリーン印刷あるいはマイクロエッチングによって生成される。
【００６７】
各マーキング５４，５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、例えば、分光測定のための基準として用いることができる材料から形成され、この材料は所定の光学特性を有する。この光学的特性は蛍光またはラマン散乱特性を意味する。
【００６８】
上記実施形態に関係なく、識別マーキング５２は、例えば、サンプル２６を支持する面上に、あるいはサンプル２６を支持する面と反対側の面上に配置される。第１の代替例はフィールド深さの理由から好ましい。
【００６９】
一般に、主マーキング５４および各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、例えば、サンプルと接触する面上に、またはサンプルを支持する面と反対側の面に配置される。第１の代替例はフィールド深さの理由から好ましく、これは本実施形態に関係ない。
【００７０】
図４ないし図８は付加的形態を示しているが、先に説明した実施形態と類似の要素には同一符号を付与し、その説明は省略する。
【００７１】
この付加的態様によれば、各識別マーキング５２は、図４および図６ないし８に示すように、それに関してサイズが辺Ｂの正方形に含まれるターミナルの形状を有する。辺Ｂの値は、例えば、１０μｍに等しい。
【００７２】
図８から分かるように、各ターミナルは、マーキングデバイス２８の各メッシュ５０のそれぞれの区画および認識を可能とする。
【００７３】
主マーキング５４は、好ましくは、当該マーキングの向きを示すために非対称な形状を有する。例えばＬの形状を備えた、このようなマーキング５４は、上記実施形態の説明において示したものと同様の利点を有する。第１のブランチ５８Ａおよび第２のブランチ５８Ｂは実質的に同一の長さであり、かつ、異なる厚みを有する。第１のブランチ５８Ａは、例えば、第２のブランチ５８Ｂよりも厚みが小さい。
【００７４】
図４の実施例では、第１のブランチ５８Ａの厚みは１μｍに等しく、そして第２のブランチ５８Ｂのそれは２．５μｍに等しい。
【００７５】
各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、図５に示すように、それに各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃが合致する数字の値に依存して可変長さの矩形領域７０の形状を有するが、ここで、二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、ブランク領域に、すなわち識別マーキング５２の透明領域に対応する。図５の実施例において、算術進法は１０進数であり、かつ、図５は、それぞれが１０進法で０と９との間に含まれる数字の異なる値に対応する異なる矩形領域を示している。言い換えれば、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃのパターンは、英数字文字に対応し、数字の場合、上記パターンと上記文字との対応は、図５に示すもののような、あるいは図９に示すもののようなコードを形成する。
【００７６】
したがって、一般に、この追加の態様によれば、各５０メッシュは、ターミナルの形状を備えた、それぞれの識別マーキング５２と関連付けられ、各識別マーキング５２は、例えば、矩形ストリップ７０の形状の、所定の幾何学的形状の二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃを含み、主マーキング５４に対するその位置、および任意選択でパターンは、識別マーキング５２に関連付けられた識別子５３についての情報を与え、当該パターンはコードに応じて決定される。矩形領域７０は、好ましくは、複数の二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃの場合には、互いに平行である。矩形領域７０は、例えば、ストリップ７２に互いに平行に、好ましくはブランチ５８Ａ，５８Ｂの一つと平行に配置され、各ストリップ７２は、図４に示すように、それぞれの番号Ｘ，Ｙに関して、それぞれの二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃと関連付けられる。言い換えれば、メッシングの第１の軸ｘ‐ｘ’に沿ったターミナルの識別を可能とする二次マーキング５６Ａｘ，５６Ｂｘ，５６Ｃｘの第１のセット、ならびにメッシングの第２の軸ｙ‐ｙ’に従った二次マーキング５６Ａｙ，５６Ｂｙ，５６Ｃｙの第２のセットが得られる。
【００７７】
図４の実施例では、識別マーキング５２は、第１のブランチの最遠のストリップ７２から第１のブランチ５８Ａと接触するストリップ７２まで、第１のブランチ５８Ａと平行で、それぞれＸｃ，Ｘｄ，Ｘｕ，Ｙｃ，Ｙｄ，Ｙｕと呼ばれる六つのストリップ７２を含む。第１の番号Ｘの１の位に対応する第１の二次マーキング５６Ａｘ、第１の番号Ｘの１０の位に対応する第２の二次マーキング５６Ｂｘ、そして第１の番号Ｘの１００の位に対応する第３の二次マーキング５６Ｃｘは、この場合、それぞれ、Ｘｕ，ＸｄおよびＸｃと呼ばれるストリップ内に配置される。同様に、第１の二次マーキング５６Ａｙは第２の番号Ｙの１の位に対応し、第２の二次マーキング５６Ｂｙは第２の番号Ｙの１０の位に対応し、そして第３の二次マーキング５６Ｃｙは第２の番号Ｙの１００の位に対応し、そして、それぞれ、Ｙｕ，ＹｄおよびＹｃと呼ばれるストリップ内に配置される。
【００７８】
識別マーキング５２は所定数のストリップ７２を含み、この所定数の値は、識別子５３が含む番号Ｘ，Ｙの大きさ、ならびに、これらの番号Ｘ，Ｙによって想定される値に基づいて選択される。一例として、当業者にとって、識別子５３が二つの番号Ｘ，Ｙを含み、それぞれが０と９，９９９との間に含まれる値を備える場合、ストリップ７２の数は８に等しいことは明らかである。代替的に、識別子５３が三つの番号Ｘ，Ｙ，Ｗを含み、それぞれが０と９９９との間に含まれる値を備える場合、ストリップ７２の数は９に等しい。
【００７９】
この規則によれば、図６に示す識別マーキング５２は、それに関して第１の番号Ｘが１２３に等しく、かつ、それに関して第２の番号Ｙが４５６に等しい識別子に対応する。付加的な実施例として、図７に示す識別マーキングは、それに関して第１の番号Ｘが７９１に等しく、かつ、それに関して第２の番号Ｙが６８０に等しい識別子に対応する。
【００８０】
図４ないし図８の実施例では、各ストリップ７２は、約７．５μｍの長さと、約１．５μｍの厚みとを有する。
【００８１】
ストリップ７２は、好ましくは、並列に配置される。図４および図６ないし８の実施例における六つのストリップ７２の全体は、この場合、約７．５μｍの長さにわたって約９μｍの厚さを有する。
【００８２】
当業者にとって、ストリップ７２に対して平行ではない第１のブランチ５８Ａおよび第２のブランチ５８Ｂの中からのブランチの長さは、識別マーキング５２が含むストリップ７２の数に適合されることもまた明らかである。図４の実施例において、第２のブランチ５８Ｂの長さは、したがって、識別マーキング５２が含むストリップ７２の数に適合される。一例として、各ストリップ７２が約１．５μｍの厚みを有する場合、ストリップ７２の数が６に等しいならば第２のブランチ５８Ｂの長さは１０μｍに等しく、ストリップ７２の数が８に等しいならば第２のブランチ５８Ｂの長さは１３μｍに等しい。
【００８３】
当業者にとって、図５に示されたもの以外のコーディングが可能であることも明らかである。代替的に、各二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、図９に示すように、設定された長さを備えた矩形領域７０の形状を有し、ここで、二次マーキング５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃは、ブランク領域に、すなわち識別マーキング５２の透明領域に対応する。図９の実施例では、算術進法は１０進数であり、図９は、１０進法で０と９との間に含まれる数字の異なる値に対応する異なる矩形領域７０を示している。この代替例によれば、番号の値は、ストリップ７２内の矩形領域７０の位置に依存する。
【００８４】
図５のものとは異なるコードを表す図９の実施例では、各ストリップ７２は、約７．５μｍの長さと約１．５μｍの厚みを有する。各矩形領域７０は約０．７５μｍの長さを有する。
【００８５】
この追加の態様の代替例によれば、特定の識別マーキング５２のサイズは、それ以外の識別マーキング５２のそれとは異なる。特定の識別マーキング５２は、その他のものよりも大きいサイズを有するが、これは、異なる倍率の光学系に対応するためである。
【００８６】
この追加の態様の利点は、先に説明した実施形態のそれと同じであり、説明は省略する。
【００８７】
したがって、本発明に係るマーキングデバイス２８は、メッシュ５０内のサンプル２６の異なる要素の観察を容易にしながら、このマーキングデバイス２８のメッシュ５０の全体の中からメッシュ５０を容易に位置確認する可能性をもたらす。
【００８８】
先に述べた実施形態では、サンプルサポート２４を説明したが、その上には、サンプル２６が載せられるよう意図されており、これらのサンプルサポート２４は、本発明に係るマーキングデバイス２８を統合する。
【００８９】
本発明はまた、サンプルサポート２４に面して配置されるよう意図されたしマーキングデバイス２８に適用される。そうしたマーキングデバイス２８はメッシュ状サポートを含み、その上には、先に規定したような識別マーキング５２が形成される。このメッシュ状サポートは、続いて、光源２２とサンプルサポート２４との間に配置されるが、この場合にはメッシュ状サポートは透明である。
【００９０】
サンプルサポート２４は、代替的に、メッシュサポートと光源２２との間に配置されるが、この場合、サンプルサポート２４は透明である必要がある。
【００９１】
そうしたメッシュサポートは、例えば、それに対する固定状態が維持されながら、サンプルサポート２４に対して適用されることを意図された小さなストリップとして現れる。例えば、これは、サンプル２６を覆うことを意図された透明な小さなストリップであり、それは、この場合、サンプルサポート２４と、この小さなストリップとの間に配置される。代替的に、これは、透明なサンプルサポート２４の下に適用されることを意図された小さなストリップであり、サンプル２６は、この場合、サンプルサポート２４上に配置され、それは小さなストリップに対して適用される。
【００９２】
したがって、一般に、本発明に係るマーキングデバイス２８は、サンプルサポート２４上に載置されたサンプル２６に面して配置されるように意図され、マーキングデバイス２８は、当該サンプルサポート２４上でのサンプル２６の空間的マーキングを可能とする。マーキングデバイス２８は、サンプルサポート２４それ自体に統合され、さもなければ、マーキングデバイス２８は、代替的に、例えばサンプル２６を支持するサポート２４に対して適用されることによって、サンプルサポート２４から識別できる。
【符号の説明】
【００９３】
２０  観察システム
２２  光源
２４  サンプルサポート
２６  サンプル
２８  マーキングデバイス
２９  イメージ取得デバイス
３０  光ビーム
３３  接眼鏡
３４  ミラー
３６  ステージ
３８  対物鏡
４０  第１のレンズ
４２  スプリッターデバイス
４４  接眼鏡
５０  メッシュ
５２  メッシュ状サポート
５２  識別マーキング
５３  識別子
５４  主マーキング
５６Ａ  第１の二次マーキング
５６Ｂ  第２の二次マーキング
５６Ｃ  第３の二次マーキング
５８Ａ  第１のブランチ
５８Ｂ  第２のブランチ
６０  共通ポイント
７０  矩形領域
７２  ストリップ
【図１】
2016503192.tif 000003
【図２】
2016503192.tif 000004
【図３】
2016503192.tif 000005
【図４】
2016503192.tif 000006
【図５】
2016503192.tif 000007
【図６】
2016503192.tif 000008
【図７】
2016503192.tif 000009
【図８】
2016503192.tif 000010
【図９】
2016503192.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】平成27年9月1日(2015.9.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル（２６）をマーキングするためのマーキングデバイス（２８）であって、前記マーキングデバイス（２８）は、観察システム（２０）によって前記サンプル（２６）を観察するために前記サンプル（２６）に面して配置されるよう構成され、前記マーキングデバイス（２８）はメッシングを形成する複数のメッシュ（５０）を備え、前記マーキングデバイス（２８）は各メッシュ（５０）のための少なくとも一つの識別マーキング（５２）を備え、
各識別マーキング（５２）は、前記メッシュ（５０）の識別子（５３）に対応すると共に、主マーキング（５４）および少なくとも一つの二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含み、前記メッシュの前記識別子（５３）は、前記主マーキング（５４）に対する各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の位置に依存し、
各識別マーキング（５２）は複数の二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含み、かつ、
前記識別子（５３）は第１の番号（Ｘ）および第２の番号（Ｙ）を含み、両方の番号（Ｘ，Ｙ）はそれぞれの算術進法で表され、かつ、各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）はいずれも、前記第１の番号（Ｘ）のそれぞれの数字に、そして前記第２の番号（Ｙ）のそれぞれの数字に対応することを特徴とするマーキングデバイス（２８）。
【請求項２】
前記主マーキング（５４）および各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）を含む前記識別マーキング（５２）は英数字コーディングとは異なる、請求項１に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項３】
前記主マーキング（５４）は、前記メッシングの向きを示すことができる非対称形状を有する、請求項１または請求項２に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項４】
前記算術進法が１０進法である、請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項５】
前記数字の値は、対応する二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）と前記主マーキング（５４）との間の距離に依存する、請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項６】
各メッシュ（５０）は基準系を含み、前記識別子（５３）は、この基準系における各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の座標から特定される、請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項７】
各メッシュ（５０）は基準系を含み、かつ、前記主マーキング（５４）は、この基準系の少なくとも一つの軸（ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’）に沿った各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の少なくとも一つの座標を特定するためのスケールを形成する、請求項１ないし請求項６のいずれか1項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項８】
前記主マーキング（５４）は、前記基準系の各軸（ｘ‐ｘ’，ｙ‐ｙ’）に沿った各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）の座標を特定するためのスケールを形成する、請求項７に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項９】
各二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）は、１０μｍ×１０μｍ以下の寸法のサイズを有する、請求項１ないし請求項８のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１０】
前記二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）は、ある二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）から他のものを区別できるサイズである、請求項１ないし請求項９のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１１】
前記二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）は、ある二次マーキング（５６Ａ，５６Ｂ，５６Ｃ）から他のものを区別できる形状である、請求項１ないし請求項１０のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１２】
前記主マーキング（５４）は、２０μｍ×４０μｍ以下の寸法のサイズを有する、請求項１ないし請求項１１のいずれか１項に記載のマーキングデバイス（２８）。
【請求項１３】
観察システム（２０）であって、サンプルサポート（２４）と、このサンプルサポート（２４）を照射することができる光源（２２）と、サンプル（２６）をマーキングするためのマーキングデバイス（２８）と、を備え、前記サンプル（２６）は前記サンプルサポート（２４）上に配置されるよう意図され、
前記マーキングデバイス（２８）は請求項１ないし請求項１２のいずれか１項に記載されたものである観察システム（２０）。
【請求項１４】
前記マーキングデバイス（２８）は、前記サンプルサポート（２４）に面して配置される、請求項１３に記載の観察システム（２０）。
【請求項１５】
前記サンプルサポート（２４）は前記サンプル（２６）を受け取るためのプレートを含み、かつ、前記マーキングデバイス（２８）は前記プレートの上に形成される、請求項１３に記載の観察システム（２０）。
【国際調査報告】
2016503192.tif 000012
2016503192.tif 000013
2016503192.tif 000014
2016503192.tif 000015
2016503192.tif 000016
2016503192.tif 000017