(57)【要約】  障害発生個所検出方法は、ＥＭＩ信号を検出することおよび障害の特定のために電気信号のスペクトル成分を分析することを含む。ＥＭＩ信号の検出時に、場所レコーダがシステムの場所を記録し、プロセッサがＥＭＩ信号を分析し、システムの場所を記録して、障害の発生個所を特定する。メモリは、障害が検出されるべき地理的場所の空中写真を含み、プロセッサは、空中写真の上に障害の位置を重ねる。また、地理的場所の衛星写真の上に透明な強度マップが重ね合わせられ、これがユーザーに対して表示される。【選択図】図３
2016530520.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
障害発生個所検出システムであって、
ＥＭＩ信号を検出してこれを電気信号に変換するＥＭＩ検出モジュールと、
障害の特定のために前記電気信号のスペクトル成分を分析するための分析モジュールと、
前記ＥＭＩ信号の検出時に前記システムの場所を記録する場所レコーダと、
データを記憶するためのメモリと、
分析後の前記ＥＭＩ信号と記録した前記システムの場所を前記障害の発生個所の特定に使用するためのプロセッサとを有する、障害発生個所検出システム。
【請求項２】
前記プロセッサが、前記障害のＧＰＳ座標を特定する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記メモリが、障害が検出されるべき地理的場所の空中写真を含み、かつ、前記プロセッサが前記空中写真の上に前記障害の位置を重ねる、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記プロセッサが、前記空中写真上の前記障害のデカルト座標またはピクセル座標を前記障害のＧＰＳ座標に変換する、請求項３に記載のシステム。
【請求項５】
前記プロセッサが、地理的場所の衛星写真の上に重ね合わせた透明な強度マップを生成する、請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
表示装置をさらに含み、これを用いて地理的場所の衛星写真の上に重ね合わせた前記透明な強度マップがユーザーに対して出力される、請求項５に記載のシステム。
【請求項７】
障害発生個所検出方法であって、
ＥＭＩ信号を検出してこれを電気信号に変換することと、
障害の特定のために前記電気信号のスペクトル成分を分析することと、
前記ＥＭＩ信号の検出時に前記システムの場所を記録することと、
分析後の前記ＥＭＩ信号と記録した前記システムの場所を前記障害の発生個所の特定に使用することとを有する障害発生個所検出方法。
【請求項８】
前記障害のＧＰＳ座標が特定される、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
メモリが、障害が検出されるべき地理的場所の空中写真を含み、かつ、前記方法が、前記空中写真の上に前記障害の位置を重ねることを含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
前記障害のデカルト座標またはピクセル座標が、前記空中写真の上で前記障害のＧＰＳ座標に変換される、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
地理的場所の衛星写真の上に重ね合わせた透明な強度マップを生成する、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
ユーザーに対して出力される地理的場所の衛星写真の上に重ね合わせた前記透明な強度マップの表示をユーザーに対して出力することをさらに含む、請求項１１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の背景
高電圧電気変電所は、変流器、変圧器、ブレーカ等の機器を含んでいる。高電圧機器内の絶縁の異常は、変電所内に電磁妨害（Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ；ＥＭＩ）を発生し得る。
【発明の概要】
【０００２】
本発明は、変電所内に存在するＥＭＩを分析し、不良品の可能性のある機器の場所を特定し、そして、変電所の空中写真（ａｅｒｉａｌ  ｐｈｏｔｏ）上に重ねられて障害の発生個所を示す透明な強度マップ（ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ  ｍａｐ）を出力しようとするものである。
【０００３】
発明の概要
ある例示的態様によれば、障害発生個所検出システムは、
ＥＭＩ信号を検出してこれを電気信号に変換するＥＭＩ検出モジュールと、
障害の特定のために電気信号のスペクトル成分を分析するための分析モジュールと、
ＥＭＩ信号の検出時にシステムの場所を記録する場所レコーダと、
データを記憶するためのメモリと、
分析後のＥＭＩ信号と記録したシステムの場所を障害の発生個所の特定に使用するためのプロセッサとを有する。
【０００４】
プロセッサは、障害のＧＰＳ座標を特定してもよい。
【０００５】
メモリは、好ましくは、障害が検出されるべき地理的場所の空中写真を含み、プロセッサがその空中写真の上に障害の位置を重ねる。
【０００６】
そして、プロセッサは、空中写真上の障害のデカルト座標またはピクセル座標を障害のＧＰＳ座標に変換してもよい。
【０００７】
ある実施例では、プロセッサは、障害のＧＰＳ上の場所を特定する。
【０００８】
他の例示的態様によれば、障害発生個所検出方法は、
ＥＭＩ信号を検出してこれを電気信号に変換することと、
障害の特定のために電気信号のスペクトル成分を分析することと、
ＥＭＩ信号の検出時にシステムの場所を記録することと、
分析後のＥＭＩ信号と記録したシステムの場所を障害の発生個所の特定に使用することとを有する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
図面の簡単な説明
【図１】図１は、測定システムの例示的態様のブロック図を示す。
【図２】図２は、図１のシステムの操作のフロー図を示す。
【図３】図３は、特定した具体的な障害をＧＰＳ座標の計算値とともに写真上に個別に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
好ましい実施態様の説明
添付の図面を参照して、高電圧電気変電所において不良の可能性のある機器の場所を特定するための電磁妨害検出システム１０を説明する。
【００１１】
電磁妨害（ＥＭＩ）検出モジュール１２は、ＥＭＩ信号を検出し、これらを電気信号に変換する。
【００１２】
図に示す実施態様におけるＥＭＩ検出モジュール１２は、ＥＭＩ信号を検出し、「ｄＢｍ」等の適切な単位で電力を測定する。以下に説明する実施例においては、検出されたＥＭＩ標本は、０〜５ＧＨｚの周波数領域であった。他の適切な周波数領域も使用し得ることが理解されるであろう。
【００１３】
ＥＭＩを検出してこれを電気信号に変換しＥＭＩ信号が取得できるよう設計されたものであれば、任意の電気装置を使用し得る。
【００１４】
ある例示的態様において、ＥＭＩ検出モジュール１２は、ＥＭＩを検出して電気信号に変換するためのＲＦアンテナを含む。
【００１５】
電気信号は、電気信号のスペクトル成分を分析するために使用される分析モジュール１４に伝達される。独立した分析モジュール１４がない場合や、分析モジュール１４がプロセッサ２０に内蔵されている場合は、この伝達は、プロセッサ２０によって達成される。
【００１６】
ある例示的態様において、分析モジュールは、電気信号のスペクトル成分を調べるために使用されるスペクトラムアナライザである。スペクトラムアナライザが、存在するＥＭＩ信号の測定値を取得するために使用される場合は、アンテナは、スペクトラムアナライザのＲＦ入力に接続される。ある例示的態様において使用されたスペクトラムアナライザは、ローデ・シュワルツ社のＦＳＰ７であった。
【００１７】
分析モジュール１４は、一般的には、信号を解読し、個々のＥＭＩの発生源をバックグラウンドノイズから分離する。分析モジュール１４は、典型的な発生源からの放射のタイプと強度を突き止める。妨害の発生源も特定され分離される。
【００１８】
場所レコーダ１６は、ＥＭＩ信号の検出時に、装置の場所を記録するために使用される。
【００１９】
図に示す実施態様における場所レコーダ１６は、グローバルポジショニングシステム（Ｇｌｏｂａｌ  Ｐｏｓｉｔｉｏｎｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ；ＧＰＳ）装置である。
【００２０】
使用時は、システムは変電所内のいくつかの場所に、１度に１個所ずつ配置され、それぞれの場所のＧＰＳ座標を獲得する。それぞれの場所で、システムはＥＭＩ信号を測定するか、またはＥＭＩデータを収集する。これについてはより詳細に後述する。なお、同様の結果を達成するために複数の装置を同時に使用してもよいことが理解されなければならない。
【００２１】
メモリ１８の形態の記憶装置がデータ記憶のために使用される。全てのＥＭＩデータは、データ構造内に記憶される。この例としては、１次元アレイであって、このアレイの各要素が、数千の行と所望の角度の数と同数の多くの列で作られる他の多次元アレイであるものが挙げられる。これらの行と列は、上述の電力と角度の値に対応する。
【００２２】
ある例示的態様において、少なくともアンテナと、回転子（ｒｏｔａｔｏｒ）を含む高精度モータと、モーションコントローラ２２とが、ＥＭＩの測定値を取得する任意の領域内において様々な位置に移動され得る可動筐体内に含まれる。これは、一般的には高電圧電気変電所のような、機器を含む場所の中であろう。
【００２３】
それらの位置の各々において、可動ユニットを次の位置に移動する前に、複数のＥＭＩ測定値を取得する。
【００２４】
モーションコントローラ２２に連結された回転子は、アンテナの回転に使用される。モーションコントローラは、極めて正確な位置を獲得するために、高精度モータを制御しなければならない。この高精度モータが、確実に、アンテナをほぼ正確に必要な角度に配置する。モータがある特定の増分でアンテナを回転させると、信号のスペクトル成分を測定する装置によって測定値が取得され、記憶ユニットまたはメモリ装置に記憶される。続いて、モータがアンテナを所定の次の角度に回転させると、再び測定値が取得される。これが完全に１回転するまで続けられる。
【００２５】
それぞれの増分に用いる角度の値が小さいほど、システムの精度が高くなることが理解されるであろう。増分に３度を用いた場合、完全に１回転するための所定の角度の数は１２０である。また、例えば反射器のような、アンテナの非機械的な回転を通してまたはアンテナアレイやディレクティブ方式を用いて、同様の結果が達成できることも理解されるであろう。
【００２６】
モーションコントローラに連結されたＤＣモータは、必要に応じてＲＦアンテナを回転させるために用いられ得る。この実施例において、モーションコントローラはプロセッサ２０に組み込まれている。
【００２７】
使用時は、変電所内の各測定場所で、ＲＦアンテナを例えば３度ずつ、段階的に回転子システムによって回転させ、完全に１回転させる。
【００２８】
開始時、アンテナがまず０度の方向を向き、そして、電気信号のスペクトル成分を調べる装置が、例えば、０ＧＨｚ〜５ＧＨｚで、０ｋＨｚ〜１ＧＨｚの間ずつ段階的にＥＭＩ信号の測定値を取得する。したがって、数千の測定値が０度で取得される。
【００２９】
図示する実施態様において、全てのモジュールは、単モジュールの可動システムに組み込まれている。しかし、図１に示されるモジュールの中には、アンテナと上記の検知システムとから遠隔にあってよいものがあることが理解されるであろう。その場合、検知されたＥＭＩ信号は、更なる処理のために遠隔の分析モジュール１４に送信されるであろう。
【００３０】
また、上述のモジュールは、命令を具現化する機械可読媒体によって実現されてもよく、命令が機械によって実行される場合は、上述の方法の任意のものをその機械に行わせるようにしてもよいことが理解されるであろう。
【００３１】
他の例示的態様において、モジュールは、ここに記載の方法を実行するために特にプログラミングされたファームウェアを使用して実現されてもよい。
【００３２】
本発明の実施態様は、上記のアーキテクチャに限定されず、また、分散型またはピアツーピアのアーキテクチャシステムにおける応用に等しく適合的であり得ることが理解されるであろう。そのため、図示されるモジュールは、１以上の組織によって運営される１以上のサーバ上に置かれる場合がある。
【００３３】
また、これらのいずれの場合においても、モジュールは、ここに記載の方法を構成するステップを特に実行するための物理的モジュールを有する物理的装置を形成してもよいことが理解されるであろう。
【００３４】
いずれの場合においても、測定されたデータはメモリ装置１８に記憶され、分析モジュール１４によって使用される。
【００３５】
分析モジュール１４は、周波数バイアスがあれば周波数に渡るデータの線形依存性を取り除くことによって、これをゼロにする。線形トレンドに一致する最良の直線をデータから除去する関数が、電力の測定値に適用される。信号は、以下のようにしてその平均に中心が取られ、直線化されて過周波数のバイアスがあれば除去される。
Amplitude(dBm) = detrend(Amplitude(dBm) + mean(Amplitude(dBm)))
【００３６】
妨害信号は周波数帯に存在し、特定の周波数帯域における垂直信号のパターンによって示されていてもよい。この妨害はゼロにされる。
【００３７】
デシベル単位の所定の閾値で平均を超える点の数が数えられる。これらを加算し、点の総数で割って強度値を得る。簡単に言えば、それぞれの方向の強度値は、閾値を超えるスパイクをカウントすることによって得られる。閾値は、例えば、平均信号レベルから３ｄＢまたは１０ｄＢ上である。強度パターンは、場所毎に得られる。指向性パターンは、主ビームに複数の鋭い最小値を示すことがある。より滑らかなパターンを生成するために、平均化は隣接する３回転毎に行われる。
【００３８】
測定場所は、また、空中写真上にプロットされるか、あるいは表示される（図３）。特定の場所で全ての測定を行った後、システムは、数カ所の他の位置に移動され、それぞれの位置で同じ工程が繰り返される。それぞれの位置のＧＰＳ座標も獲得される。
【００３９】
全てのデータが取得された時点で、プロセッサ２０が、受信したＥＭＩ信号が生成された方向を突き止めるために使用され、プロセッサ上で実行する信号処理ソフトウェアが、不良の可能性のある機器またはホットスポットの場所を三角法で測るために使用される。また、システムは、以下に説明するように、不良の可能性のある機器のＧＰＳ座標（緯度および経度）を生成する。
【００４０】
プロセッサ２０は、ある実施例では、システムの制御および測定データの処理に使用されるプログラマブルコントローラである。
【００４１】
障害のＧＰＳ座標は下記のように特定されるが、各種の方法やアルゴリズムでも同一または類似の結果を達成することが理解されなければならない。
【００４２】
第１に、ＧＰＳとデカルト（ピクセル）という２つの座標系がある。
【００４３】
それぞれの変電所について予め選択された空中写真があり、この空中写真は、この特定の写真上に既知のピクセル座標系またはデカルト座標系を生じさせる、設定された解像度と大きさを有する写真である。この写真は、任意の供給元または、例えばＧｏｏｇｌｅマップのようなデジタルマッピングツールから取得され得る。写真は、任意の処理技術、ツール、あるいはプロセッサ２０を使って、必要に応じて適切に拡大縮小され得る。
【００４４】
最初に、ＧＰＳ基準点が、ピクセル座標系をＧＰＳ座標系にリンクさせるために取られる。その後、上述の、方向、ＧＰＳおよびＥＭＩデータを使って収集された情報が処理され、ピクセル座標と衛星写真の大きさに基づいて決定された大きさの強度マップが作成される。強度マップは、より詳細に後述するように、異なる色を使用して重症度の異なる発生源を表示する。
【００４５】
プロセッサ２０は、強度マップを写真に重ね合わせて「写真の強度（ｐｈｏｔｏ−ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ）」マップを作成する。この工程において、全てのＧＰＳ座標は、デカルト座標に変換される。
【００４６】
次いで、この「写真の強度」マップが処理され、ＥＭＩの特定の発生源の周辺で最大強度の点を特定し、他のすべての点をゼロに設定する。それらの点が特定された時点で、各点が写真上に四角形で表示され、それらのデカルト座標またはピクセル座標がＧＰＳ座標に再変換される。
【００４７】
換言すると、強度マップを衛星写真上に重ね合わせることを通して、障害のある機器の場所が特定できる。強度マップは、方向と強度（後述する）に基づくが、写真はピクセル座標に基づく。これらを組み合わせることにより、ピクセル座標からＧＰＳ座標を計算することが可能となる。
【００４８】
図３の図形マーカを参照すると、画像の右側の３つの円形の図形マーカは、障害のＧＰＳ座標を見つけるのに必要な基準点である。変電所内のこれらの場所のＧＰＳ座標は既知であり、これらはピクセル座標系をＧＰＳ座標系にリンクするのに使用される。
【００４９】
これらのうちたった２点だけを用い、第３の点をアルゴリズムの検証のための参照として使用して、ＧＰＳ座標を計算することが可能である。四角形はＥＭＩの発生源である。これらは、障害発生個所の対応するＧＰＳ座標を表示する。
【００５０】
異なる色を使って、重症度の異なる発生源を表示してもよい。例えば、赤色をより大きなあるいはより深刻な発生源、黄色を深刻度のより低い発生源の表示としてもよい。
【００５１】
基準点と障害発生個所は、任意の形状、大きさまたは色で表示されてよいことが理解されなければならない。障害の記述（例えば、完全な「写真の強度」マップ）をより低い解像度で表示する能力も備えている。プロセッサ２０が使用する電力スペクトルと周波数スペクトルの情報もまた、表示可能である。
【００５２】
これらの発生源の場所は、ＧＰＳ受信機またはＧｏｏｇｌｅマップのようなＧＰＳ座標計算機を使って見つけることができる。
【００５３】
図３の画像内の任意の点のピクセル座標もまた、数値計算ツールを使って見つけることができる。基準点の既知のＧＰＳ座標と図形マーカの既知のピクセル座標とを用いれば、ピクセル座標における変化を用いてＧＰＳ座標における変化を見つけることができる。
【００５４】
場所１のＧＰＳ座標は、上方のマーカによって特定され、かつ、既知である。
場所２のＧＰＳ座標は、右側のマーカによって特定され、かつ、既知である。
「ＧＰＳ差＝場所２のＧＰＳ座標−場所１のＧＰＳ座標」である。
【００５５】
代替的に、マップ上のピクセルデータを使うと以下の通りである。
場所１のピクセル座標は、上方のマーカによって特定され、かつ、既知である。
場所２のピクセル座標は、右側のマーカによって特定され、かつ、既知である。
「ピクセル差＝場所２のピクセル座標−場所１のピクセル座標」である。
【００５６】
そこで、ピクセルの障害発生個所を計算できる。
「ピクセル値における変化＝ピクセルの障害発生個所−場所１のピクセル座標」である。
「ＧＰＳ値における変化＝（ピクセル値における変化×ＧＰＳ差）÷ピクセル差」である。
「障害のＧＰＳ座標＝場所１のＧＰＳ座標＋ＧＰＳ値における変化」である。
【００５７】
同一または類似の結果を達成する、これらの座標を相互参照する他の方法があることが理解されるであろう。
【００５８】
ＥＭＩデータは、より具体的には電力−周波数−角度のデータであるが、測定値が取られていた間に獲得された各種のＧＰＳ座標を用いる方向発見アルゴリズムにて処理される。ひとつのモバイルシステムの様々な場所の測定値からの方向情報は組み合わせられ、三角法を用いてＥＭＩ発生源の場所が特定される。これにより、受信した信号が送信された方向を突き止める。
【００５９】
変電所は、それぞれの要素が一定の面積のものであるグリッドに分割される。全ての要素は同じ面積を有する。各点に、そこから放射されると見込まれる電力に比例した量が割り当てられる。ある点におけるそれぞれの測定場所の貢献は、その最大値（即ち、特定の場所においてある方向にカウントされたピークの最大量）について、測定場所毎にパターンの最初の正規化を行った後に加算される。そして、これにより得られるパターンが、強度マップまたは発生源の場所を特定するグリッドを生成するために加算される。
【００６０】
そして、強度マップは、上述の通り、透明に作られ、変電所の衛星写真上に重ね合わせられる。
【００６１】
発生源の場所を特定するグリッドが透明に作られ、変電所の衛星写真上に重ね合わせられた時点で、不良機器を包含する領域は、その領域内に置かれる多くの機器を有する、広いものであるかもしれない。放射の発生源の特定は、まだ困難でありうる。各々の領域内または境界内には、最も強い電力を放射する少なくとも１つの点／場所がある。この具体的な場所が放射の発生源である蓋然性が非常に高い。従って、これらの広い領域内の他の全ての点が、この最大点だけを残してゼロに設定されるならば、かなりの高解像度であるので、障害のある機器を見つけるのは極めて容易である。高解像度で障害の結果を生成するために、四角形をこの点の最上位に重ねることができる。
【００６２】
本システムが出力するものは、変電所の衛星写真の上に重ね合わせられた透明な強度マップである。
【００６３】
あとは、変電所のメンテナンス担当者がＧＰＳ受信機を利用して、特定された座標に向かって出発するだけである。
【００６４】
ある例示的態様においては、変電所の衛星写真の上に強度マップを書き込むために、拡大縮小や、異なる座標系や、変電所の地理的場所等を考慮して、以下のことを行うことができる。
【００６５】
各々の測定場所のＧＰＳ座標は、測定値の取得時に獲得される。これらは、１０進数のＧＰＳフォーマットである必要がある。これらは、変電所の衛星写真の上に書き込まれるようにするために、デカルト座標に変換される。
【００６６】
地球の外周は、４０，０４１，０００メートルである。
【００６７】
全ての測定場所の１０進数のＧＰＳ座標の最小値が見つけられる。即ち、locMin_latitudeおよびlocMin_longitudeである。
全ての測定場所の１０進数のＧＰＳ座標の最高値が見つけられる。即ち、locMax_latitudeおよびlocMax_longitudeである。
【００６８】
変電所の最も左側の位置の１０進数のＧＰＳ座標が見つけられる。即ち、borderMin_latitudeおよびborderMin_longitudeである。
【００６９】
変電所の最も右側の位置の１０進数のＧＰＳ座標が見つけられる。即ち、borderMax_latitudeおよびborderMax_longitudeである。
これは、次のようにデカルト座標に変換される。
borderMax_Cartesian_y = borderMax_latitude − borderMin_latitude × 40 041 000/360
borderMax_Cartesian_x = borderMax_longitude − borderMin_longitude × 40 041 000/360 × cos(borderMax_latitude)
上記等式における余弦関数は、borderMax_latitudeの角度表示で操作しなければならない。
【００７０】
全ての測定場所の全ての１０進数のＧＰＳ座標の相対的な座標値は、次のように求められる。
coordRel_latitude = 測定場所の緯度のGPS座標 - borderMin_latitude
coordRel_longitude = 測定場所の経度のGPS座標 - borderMin_longitude
【００７１】
全ての測定場所のデカルト座標は、次のように求められる。
coordCar_y = coordsRel_latitude × 40 041 000/360
coordCar_x = coordsRel_longitude × 40 041 000/360 × cos(測定場所の緯度のGPS座標)
【００７２】
１ステップの大きさが定義される。即ち、step = 0.8である。
【００７３】
デカルト座標が、四捨五入関数を使って、直近のステップに四捨五入される。
coordCar_y = round(coordCar_y/step) × step
coordCar_x = round(coordCar_x) × step
borderMax_Cartesian_y = round(borderMax_Cartesian_y/step) × step
borderMax_Cartesian_x = round(borderMax_Cartesian_x/step) × step
【００７４】
２変数の３次元プロットの関数の評価に使用できる、上記で特定されたドメインをアレイに変換する関数が適用される。
envGridX and envGridY = meshgrid(0:step:borderMax_Catesian_x, 0:steps:borderMaxCar_y ) 
【００７５】
基準角度の位置が定義される。
angleRef = 65.41842551743129
【００７６】
下記の等式がグリッドの処理に使用される。
angleRefCorrect=[0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0]
rWeight=0
【００７７】
それぞれの測定場所について、
thetaGrid{location}=Four Quadrant Inverse Tan Function (envGridY-coordsCar(location,2),envGridX-coordsCar(location,1))/pi*180+angleRef  % angle between environment grid and measurement ref
thetaGrid{location}(thetaGrid{location}<0)=thetaGrid{location}(thetaGrid{location}<0)+360;
thetaGridIndex{location}=round(thetaGrid{location}/3+1);
thetaGridIndex{location}(thetaGridIndex{location}>length(angle))=thetaGridIndex{location}(thetaGridIndex{location}>length(angle))-length(angle);
rGrid{location}=sqrt((envGridX- coordsCar(location,1)).^2+( envGridY- coordsCar(location,2)).^2);
for k=1:size(rGrid{ locations(1)},2)
rProx{location}(:,k)=rGrid{location}(:,k)<200;
rZero{location}(:,k)=250^10./(250^10+(rGrid{location}(:,k)).^10);
rWeight=rWeight+rZero{location};
end
rWeight=rWeight/length(locations)+1;
【００７８】
それぞれの場所について、
[cartPatPeakX{location} cartPatPeakY{location}]=pol2cart((angle-angleRef-angleRefCorrect(location))/180*pi,patternPeak{location});
[cartPatPeakXNorm{location} cartPatPeakYNorm{location}]=pol2cart((angle-angleRef-angleRefCorrect(location))/180*pi,patternPeakNorm{location});
【００７９】
放射の発生源の場所を特定するために、下記が使用される。
sourceEstimate3=zeros(size(thetaGridIndex{handles.locations(1)}))
sourceEstimate3=sourceEstimate3+patternPeakNorm{location}(thetaGridIndex{location});
sourceEstimate3=sourceEstimate3/max(max(sourceEstimate3));
【図１】
2016530520.tif 000003
【図２】
2016530520.tif 000004
【図３】
2016530520.tif 000005
【国際調査報告】
2016530520.tif 000006
2016530520.tif 000007
2016530520.tif 000008