(57)【要約】【課題】Ｘ線検出装置を提供する。【解決手段】Ｘ線検出装置は、被試験物質に用いられる位置（２）と、Ｘ線の線源（１）と、それぞれがＸ線エネルギースペクトルを異なる様式で擾乱させるように構成された複数の構造（４）と、少なくとも１つのＸ線検出器（３）とを含む。構造（４）は、Ｘ線エネルギースペクトルの経路上に連続的に又は同時的に置かれており、隣接している。複数のＸ線検出器（３）は、線状アレイ状に形成されてよい。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線／ガンマ線を検出する装置であって、
少なくとも１つの線状アレイ状に配置された複数のＸ線／ガンマ線検出器と、
被試験物質に用いられる位置と、
Ｘ線／ガンマ線の線源と、
少なくとも３つの隣接する構造と、を備え、
各隣接する構造は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを異なる様式で擾乱させるように構成されており、
Ｘ線／ガンマ線の線源、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器のうちの少なくとも１つ、被試験物質に用いられる位置、及び複数の隣接する構造のうちの１つは、位置合わせされており、
Ｘ線／ガンマ線の線源は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルが方向づけられ、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された少なくとも３つの隣接する構造、及び位置決めされた被試験物質に当たるように配置されており、
隣接する構造は、被試験物質に用いられる位置と、Ｘ線／ガンマ線検出器との間に位置することを特徴とする、Ｘ線／ガンマ線検出装置。
【請求項２】
各Ｘ線／ガンマ線検出器は、単一画素検出器であることを特徴とする、請求項１に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項３】
少なくとも３つの隣接する構造の反復アレイを有することを特徴とする、請求項１又は２に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項４】
各Ｘ線／ガンマ線検出器は、シンチレーターを含むことを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一項に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項５】
互いに対して、かつＸ線／ガンマ線の線源に対して位置合わせされた、Ｘ線／ガンマ線検出器の少なくとも２つの線状アレイを有し、
少なくとも２つの線状アレイは、隣同士で又は上下に、互いに位置合わせされていることを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項６】
２つの線状アレイの一方又は両方の、各Ｘ線／ガンマ線検出器は、少なくとも３つの隣接する構造のうちの１つに関連づけられていることを特徴とする、請求項５に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項７】
隣同士で位置合わせされたＸ線／ガンマ線検出器の少なくとも３つの線状アレイを有し、
各線状アレイの検出器は、少なくとも３つの隣接する構造のうちの共通する１つと位置合わせされていることを特徴とする、請求項５に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項８】
上下に互いに対して、かつＸ線／ガンマ線の線源に対して位置合わせされた、Ｘ線／ガンマ線検出器の２つの線状アレイを有し、
少なくとも３つの隣接する構造は、２つの検出器の間に位置づけられていることを特徴とする、請求項５又は６に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項９】
Ｘ線／ガンマ線検出器の上側の線状アレイの上方に位置づけられた、他の少なくとも３つの隣接する構造を更に含むことを特徴とする、請求項８に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項１０】
Ｘ線／ガンマ線検出器の少なくとも２つの線状アレイを有し、
線状アレイは、異なる平面上に位置することを特徴とする、請求項１〜９のいずれか一項に記載のＸ線／ガンマ線検出装置。
【請求項１１】
請求項１〜１０のいずれか一項に記載のＸ線／ガンマ線検出装置を使用した、Ｘ線／ガンマ線画像の生成方法であって、
ａ）装置内に物質を位置決めする工程と、
ｂ）Ｘ線／ガンマ線の線源に、Ｘ線／ガンマ線検出器の少なくとも１つの線状アレイの検出器、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された隣接する構造、及び位置決めされた被試験物質に当たるように、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを方向づけさせる工程と、
ｃ）線状アレイ又は各線状アレイの、各検出器の信号を分析する工程と、を含むことを特徴とする、方法。
【請求項１２】
検出器の線状アレイ又は各線状アレイにおける、各検出器についての信号を記録し、記録された信号を隣接する検出器又は画素グループに対して記録された信号と比較する工程を更に含むことを特徴とする、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
物体が存在しない状態で、請求項１２に記載の工程を行う工程を更に含むことを特徴とする、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
請求項１２及び１３の方法の工程によって判定した際の、隣接する検出器間で記録された信号間の現在の差を比較する工程を更に含むことを特徴とする、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
少なくとも１つの既知の物質に対して請求項１２の方法の工程を行い、差をデータベース内に保存し、被試験物体に対して記録された信号間の差と、データベース内に記録された信号間の差と、を比較する工程を更に含むことを特徴とする、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
少なくとも１つの物質特性を表す少なくとも１つの出力を生成する工程を更に含むことを特徴とする、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
少なくとも１つの出力をディスプレイ手段に表示する工程を更に含むことを特徴とする、請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
図面に実質的に示された、または、図面に関連して実質的に記載された、Ｘ線／ガンマ線検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線検出装置に関し、具体的には、フィルターを利用するＸ線検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線検出器は、広範な用途を有しており、多くの構成で利用可能である。
【０００３】
本発明は、Ｘ線エネルギースペクトルがＸ線検出器に当たる前に、Ｘ線の線源から発せられるＸ線エネルギースペクトルを擾乱させるように構成された構造を含むＸ線検出器に関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−２９８３９号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的はＸ線検出装置を提供することに位置する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の態様によると、請求項１において特定されるＸ線検出装置が提供される。本発明のこの態様に係る装置の好ましい態様は、請求項１に従属する請求項、説明、及び図面において特定される。
【０００７】
本発明の第２の態様によると、請求項１１において特定される、物質の少なくとも１つの物質特性の分析方法が提供される。本発明のこの態様に係る方法の好ましい態様は、請求項１５に従属する請求項、説明、及び図面において特定される。
【０００８】
本発明によると、Ｘ線／ガンマ線検出装置が提供され、本装置は、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器と、複数の構造と、を含み、各構造は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを異なる様式で擾乱させるように構成され、構造は、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器に隣接して存在する。
本装置は、被試験物質に用いられる位置を含んでいてもよい。
本装置は、Ｘ線／ガンマ線の線源を含んでいてもよい。
【０００９】
好ましくは、Ｘ線／ガンマ線の線源、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器のうちの少なくとも１つ、被試験物質に用いられる位置、及び複数の構造のうちの１つは、位置合わせされ、Ｘ線／ガンマ線の線源は、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルが方向づけられ、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された構造、及び位置決めされた被試験物質に当たるように配置され、構造は、被試験物質に用いられる位置と、Ｘ線／ガンマ線検出器との間に位置する。
Ｘ線／ガンマ線の線源及び被試験物質に用いられる位置がない状態での検出器と複数の構造との組み合わせは、被試験物質自体が放射性である場合に有用である。
好ましくは、Ｘ線／ガンマ線検出器、又は各Ｘ線／ガンマ線検出器は、単一画素検出器である。
好ましくは、Ｘ線／ガンマ線検出装置、Ｘ線／ガンマ線検出器、又は各Ｘ線／ガンマ線検出器は、シンチレーターを含む。
【００１０】
好ましくは、複数の構造のそれぞれは、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器と位置合わせされて存在するように、複数の構造のうちの選択した１つの定置を提供するように適合した部材に取り付けられる。
好ましくは、この部材は、回転盤であり、この回転盤上に構造が取り付けられる。
【００１１】
好ましくは、本装置は、複数の構造のうちの選択した１つを少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器と位置合わせして定置するように、部材を動かす手段を更に含む。
好ましくは、この部材を動かす手段は、モーターを含む。
【００１２】
本Ｘ線／ガンマ線検出装置は、互いに対して、かつＸ線／ガンマ線の線源に対して位置合わせされた、２つのＸ線／ガンマ線検出器を含んでいてもよく、ここで、構造は、２つの検出器の間に位置づけられる。
本Ｘ線／ガンマ線検出装置は、線状アレイ状に配置された複数のＸ線／ガンマ線検出器を含んでいてもよい。
好ましくは、各Ｘ線／ガンマ線検出器は、構造と関連づけられ、各構造は、隣接する構造とは異なっている。
【００１３】
本Ｘ線／ガンマ線検出装置は、互いに対して、かつＸ線／ガンマ線の線源に対して位置合わせされた、Ｘ線／ガンマ線検出器の２つの線状アレイを含んでいてもよい。
好ましくは、２つの線状アレイの一方又は両方の各Ｘ線／ガンマ線検出器は、構造と関連づけられ、各構造は、異なっている。
本Ｘ線／ガンマ線検出装置は、Ｘ線／ガンマ線検出器の少なくとも２つの線状アレイを含んでいてもよく、この線状アレイは、異なる平面上に位置する。
【００１４】
本Ｘ線／ガンマ線検出装置は、Ｘ線／ガンマ線検出器の複数の線状アレイと、複数の構造と、を含んでいてもよく、各線状アレイは、複数の構造のうちの１つに関連づけられ、隣接する構造は、異なっている。
本発明の１態様によると、本発明のＸ線／ガンマ線検出装置を使用した、物質の少なくとも１つの物質特性の分析方法が提供され、本方法は、以下の工程を含む。
ａ）装置内に物質を位置決めする工程。
【００１５】
ｂ）Ｘ線／ガンマ線の線源に、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された複数の構造のうちの１つ、及び位置決めされた被試験物質に当たるように、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを方向づけさせる工程。
【００１６】
ｃ）Ｘ線／ガンマ線の線源に、少なくとも１つのＸ線／ガンマ線検出器、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された複数の構造のうちの他の１つ、及び位置決めされた被試験物質に当たるように、Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを方向づけさせる工程。
ｄ）１回又は２回以上、複数の構造のうちの他の構造に対して、工程ｂを繰り返す工程。
ｅ）各工程又は繰り返し工程において、検出器の信号を分析する工程。
【００１７】
本方法は、存在する複数の構造の各異なる構造により、検出器についての信号を記録し、記録された信号を、連続的な構造が、Ｘ線／ガンマ線の線源及び検出器と位置合わせされるときの、検出器について記録された信号と比較する工程を更に含んでもよい。
本方法は、物体が存在しない状態で、請求項１６の工程を行う工程を更に含んでいてもよい。
【００１８】
本方法は、先の方法の工程によって判定した際の、連続的な構造がＸ線／ガンマ線の線源及び検出器と位置合わせされたときの、検出器間で記録された信号間の現在の差（ｃｕｒｒｅｎｔ  ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ）を比較する工程を更に含んでいてもよい。
【００１９】
本方法は、少なくとも１つの既知の物質に対して先の方法の工程を行い、差をデータベース内に保存し、被試験物体に対して記録された信号間の差と、データベース内に記録された信号間の差を比較する工程を更に含んでいてもよい。
本方法は、少なくとも１つの物質特性を表す少なくとも１つの出力を生成する工程を更に含んでいてもよい。
本方法は、少なくとも１つの出力をディスプレイ手段に表示する工程を更に含んでいてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１ａ】単一画素Ｘ線検出器の一実施形態の模式図である。
【図１ｂ】図１ａに示した実施形態の代替的な構成の模式図である。
【図２】２段型のＸ線検出装置の模式図である。
【図３ａ】線状アレイ式Ｘ線検出器の模式図である。
【図３ｂ】多列線状アレイ式Ｘ線検出器の模式図である。
【図３ｃ】２段型の線状アレイ式Ｘ線検出器の模式図である。
【図３ｄ】３次元多列線状アレイ式Ｘ線検出器の模式図である。
【図３ｅ】代替的な３次元多列線状アレイ式Ｘ線検出器の模式図である。
【図４】本発明の一実施形態を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
各図において、本発明に係るＸ線検出装置の好ましい実施形態を図示する。
【００２２】
図１ａは、Ｘ線の線源１と、物体２と、単一画素Ｘ線検出器３と、フィルター４と、を含む、シングルショット式Ｘ線検出装置を示す。このＸ線検出器は、入射したＸ線の光子を可視スペクトルの光子に変換するためにシンチレーターを利用する間接的なタイプのものであってよく、これらの可視スペクトルの光子は、電気信号に変換される。あるいは、この検出器は、シリコンドリフト検出器であってもよいし、ハイブリッド式検出器であってもよい。
【００２３】
図１ａにおいては、単一のフィルター４が図示されている。フィルター４は、規定した既知の様式で、物体２のＸ線陰影を擾乱させる。このように１つのフィルターを使用すると、同位体の存在を検出することが可能となる。しかしながら、放射性同位体の存在のみならず、その同位体のアイデンティティをも検出するためには、１つ目のフィルターを用いた１回目の撮影画像と、異なるフィルターを用いたもう１枚の撮影画像を取得することが必要である。しかしながら、これを達成するためには、放射性同位体が、フィルター４を交換するための十分に長い時間にわたって存在していなければならない。
【００２４】
図１ｂにおいては、フィルター４は、複数のフィルター４ａ〜４ｈのうちの１つであり、これらのフィルターは全て、回転盤５上に取り付けられている。回転盤５を回転させることにより、それぞれが異なった、かつ既知の様式で擾乱された物体２のＸ線陰影を有する、複数の物体の撮影画像を撮影することができる。こうした撮影画像のセットからの情報を使用して、物質の種類及び厚さ情報を導き出すことができる。
【００２５】
ここで、図２を参照すると、マルチショット式検出器装置は、Ｘ線の線源１、物体２、第１の検出器３ａ、第２の検出器３ｂ、及びこれら２つの検出器３ａ、３ｂの間に位置づけられたフィルター４を含む。
【００２６】
Ｘ線の線源１から出射されたＸ線は、物体２を通り抜け、これにより、Ｘ線信号が減衰し、第１の検出器３ａ及びフィルター４を通り抜け、これらそれぞれにより、Ｘ線信号は更に減衰し、最終的に検出器３ｂに当たる。検出器３ａ及び３ｂは、両方とも単一画素検出器である。物体２によってのみ減衰したＸ線、及び第１の検出器３ａ及びフィルター４によって減衰したＸ線を検出することにより、物体に関する多くの情報を得ることができる。
【００２７】
図３ａ〜３ｅは、線状アレイ式Ｘ線検出器を示し、これらは、２−Ｄカメラとしても知られている。典型的には、このタイプの線状アレイ式検出器は、工業用途で用いられており、例えば、空港のセキュリティにおいて、コンベヤーで運ばれる物品を検査するためによく用いられる。物品が線状アレイを通過する際、線状アレイと位置合わせされた物品の一部の画像が撮影される。これらの画像を１つに組み上げると、物品の画像が形成される。
【００２８】
図３ａ〜３ｅに示した本発明の実施形態には、マルチ吸収板が含まれている。マルチ吸収板は、Ｘ線の線源から発せられるＸ線エネルギースペクトルにおいて、異なった卵管通気法を作り出すように構成された複数の領域を含む。
【００２９】
図３ａは、Ｘ線の線源１と、Ｘ線検出器素子３０ａ〜３０ｇを含む線状アレイ式検出器３０と、吸収素子４０ａ〜４０ｄの反復アレイを含むマルチ吸収板４０と、を含む線状アレイ式Ｘ線検出装置を示し、吸収素子４０ａ〜４０ｄのそれぞれは、入射したＸ線エネルギースペクトルを異なる様式で吸収する。物体２は、軸ｘ−ｘに沿って移動する。例えば、物体２は、コンベヤー上に載せられ、Ｘ線の線源１は、コンベヤーの上方に取り付けられ、線状アレイ式検出器３０及びマルチ吸収板４０は下方に、取り付けられる。
【００３０】
図３ａに示された下側のＸ線検出器３０は、上述のＸ線検出器の代替例である。このＸ線検出器３０においては、マルチ吸収板は、Ｘ線検出器３０に取り付けられている。
【００３１】
Ｘ線検出器素子３０ａ〜３０ｇは、入射したＸ線の光子を可視スペクトルの光子に変換するためにシンチレーターを利用する間接的なタイプのものであってよく、これらの可視スペクトルの光子は、電気信号に変換される。あるいは、シリコンドリフト検出器、ハイブリッド式検出器、又は直接式検出器などの、他のタイプのＸ線検出器が使用されてもよい。
【００３２】
マルチ吸収板４０が存在することにより、Ｘ線エネルギースペクトルにおいて複数のエネルギーシフトが引き起こされる。この付加的な情報により、物品２に包含される物質の種類及び厚さに関する推論を行うことが可能となる。それ故、検出器の数を減らして非常によく似た情報を得ることが可能であるし、同一の検出器の線状アレイが使用されているため、画像における内因性の変動は減少する。時間的な誤差は、複数の線状アレイ式検出器を使用した配置を用いた場合に考えられるものよりも大きいものの、これらの誤差は、例えば、物品の移動（即ち、その物品が位置づけられたコンベヤーの移動）を、このアレイの撮影フレームレートに同期させることによって、最小化することができる。
【００３３】
物質の種類及び／又は厚さの情報は、Ｘ線検出器素子３０ａ〜３０ｇによって撮影された画像内に、例えば、カラーコーティングによって、統合されていてもよい。
【００３４】
図３ｂの構成は、複数の線状アレイ式検出器３０を含んでおり、４つの線状アレイ式検出器が示されている。各線状アレイ式検出器は、Ｘ線検出器素子３０ａ〜３０ｇを含む。この実施形態においては、Ｘ線検出器素子３０ａ〜３０ｇは、マルチ吸収板と位置合わせされているのではなく、各検出器３０の素子３０ａ〜３０ｇは、吸収板４１〜４４と位置合わせされており、各吸収板は一様である。しかしながら、吸収板４１〜４４のそれぞれが一様である一方で、それぞれはまた、異なってもいる。それ故、各線状検出器アレイ３０は、他とは異なる吸収板を有している。物品２が軸ｘ−ｘに沿って線状アレイ３０を通り過ぎて移動する際、各アレイ３０は、物品の同一の部分を連続的に観察することになるため、画像が組み立てられる。各線状アレイ３０によって撮影された画像は、吸収板４１〜４４間の差に起因して、異なるＸ線エネルギーシフトを受けている。これらの異なるＸ線エネルギーシフトにより、物品の物質及び厚さの判定が可能となる。
【００３５】
図３ｃは、図３ａに示されるものと同様の構成を示しているが、線状検出器アレイ３０の下に位置合わせされた、更なる線状検出器アレイ３０’を備えている。この線状検出器アレイのそれぞれには、図３ａを参照して説明したのと同一の方法でマルチ吸収板４０が提供されている。この装置は、図２の実施形態を参照して説明したのと同一の原理に従ったものであり、第２の線状アレイ式検出器３０’によって検出される信号は、物品２及びマルチ吸収板４０’によって減衰されているだけでなく、第１の線状検出器アレイ３０、及びそれに関連するマルチ吸収板４０によっても減衰している。マルチ吸収板４０、４０’のうちの一方が省略されてもよい。
【００３６】
図３ｄ及び３ｅは、図３ａ〜３ｃに示した実施形態により提供される物質及び厚さの特定に加えて、物体についての３次元情報を提供するように構成された、線状アレイ式Ｘ線検出装置の実施形態を示す。
【００３７】
図３ｄの実施形態は、本質的に、図３ａに示した実施形態の変更形態であり、第２及び第３の線状検出器アレイ３０が、中央の線状検出器アレイ３０の両側に、中央の線状検出器アレイ３０に対して角度を付けて、取り付けられている。
【００３８】
図３ｅにおいては、４つの線状検出器アレイ３０からなるグループが、軸ｘ−ｘに沿って移動する物品２の下に取り付けられている。この線状検出器アレイ３０のそれぞれには、図３ａを参照して説明したように、マルチ吸収板４０が設けられている。Ｘ線の線源１は、物品２及び線状検出器アレイ３０の上方に取り付けられている。検出器アレイ３０は、互いに平行に、かつ物品２の移動方向ｘ−ｘを横断して、実質的にその方向に垂直に存在している。しかしながら、図３から見て取れるように、各線状検出器アレイ３０は、隣接する線状検出器アレイ３０に対して角度を付けて存在している。
【００３９】
検出器素子３０ａ〜３０ｇ、３０ａ’〜３０ｇ’は、単一画素Ｘ線検出器であってもよいし、あるいは、カメラであってもよく、これらのカメラは、低分解能のＸ線カメラであってもよい。検出器素子３０ａ〜３０ｇ、３０ａ’〜３０ｇ’がカメラである場合、線状アレイに関連づけられたマルチ吸収板は、個々の検出器と位置合わせされた異なる領域を含んでいてもよい。
【００４０】
物体２の物質特性を判定するため、Ｘ線の線源１に、物体２、構造４、４０を通って、検出器３ａ、３ｂ、３０ａ〜３０ｆに当たるように、Ｘ線エネルギースペクトルを方向づけさせる。続いて、シンチレーターによって出射される可視波長の光子を、次の工程に従って分析する。
【００４１】
工程（ｉ）−検出器３ａ、３ｂ、３０ａ〜３０ｆは、単一画素検出器である。各検出器について検出器により記録された可視波長の光子の強度を、隣接するか又は連続している検出器について記録された強度と比較し、強度における差を記録する。
【００４２】
工程（ｉｉ）−物体３が存在しない状態で、各検出器により記録された可視波長の光子の強度を、隣接するか又は連続している検出器について記録された強度と比較し、強度における差を記録する。
工程（ｉｖ）−この方法の工程（ｉ）及び（ｉｉ）で判定した際の、隣接する検出器間の記録された強度間の現在の差を比較する。
工程（ｖ）−少なくとも１つの既知の物質についてこの方法の工程（ｉ）〜（ｉｖ）に従い、データベースに差を保存する。
工程（ｖｉ）−被試験物質について記録された強度間の差と、データベースからの既知の物質について記録された強度間の差を比較する。
Ｘ線検出器を使用しない場合は、シンチレーターの強度及びエネルギーを記録する。
【００４３】
図４は、本発明の一実施形態に係るシステムのブロック図であり、ここで、検出器３、３０（上述の実施形態、又は特許請求の範囲に含まれる他の実施形態のうちのいずれかの検出器であってよい）は、データ記録手段５０への出力を提供する。既知の物質の固有データが記録されている、データベース５１と同様に、データ記録手段は、データ処理装置と通信を行う。データ記録手段５０及びデータベース５１は、データ処理ソフトウェアを実行するデータ処理装置５２と通信を行い、このデータ処理ソフトウェアは、好ましくはデータ記録手段及びデータベースを介した、検出器からの情報を比較し、物体２の物質特性を判定する。好ましくは、データ処理ソフトウェアの判定を出力し得るデータ出力インターフェース５３が含まれる。このようなインターフェース５３は、ＶＤＵに接続されてもよいし、例えば、本装置が品質管理において使用される場合には、物体の良否を導き出してもよい。
全ての値がデータベース内に保存される必要はない。マッチングした値がデータベース内に記録されない場合は、被試験物質に対する値を内挿してもよい。
本明細書においてＸ線に言及するときは、Ｘ線及び／又はガンマ線を指している。
【００４４】
Ｘ線／ガンマ線のエネルギースペクトルを擾乱させるように構成された構造は、少なくとも部分的には、Ｘ線／ガンマ線放射に対して透過性である。それらの機能は、Ｘ線／ガンマ線エネルギーを遮断することではなく、擾乱させることである。
【図１ａ】
2016524702.tif 000003
【図１ｂ】
2016524702.tif 000004
【図２】
2016524702.tif 000005
【図３ａ】
2016524702.tif 000006
【図３ｂ】
2016524702.tif 000007
【図３ｃ】
2016524702.tif 000008
【図３ｄ】
2016524702.tif 000009
【図３ｅ】
2016524702.tif 000010
【図４】
2016524702.tif 000011
【国際調査報告】
2016524702.tif 000012
2016524702.tif 000013
2016524702.tif 000014
2016524702.tif 000015
2016524702.tif 000016