(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させ、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量をＸ線線量計で測定する工程と、
Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、測定を停止する工程と
を具備していることを特徴とするＸ線イメージ管の試験方法。
【請求項２】
Ｘ線線量の測定前にＸ線イメージ管の形状を測定し、
測定されたＸ線イメージ管の形状に応じて、Ｘ線線量の測定時にＸ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させる
ことを特徴とする請求項１記載のＸ線イメージ管の試験方法。
【請求項３】
Ｘ線発生源から出力されるＸ線をＸ線イメージ管に入力する工程と、
Ｘ線発生源からＸ線イメージ管に入力されるＸ線線量を測定する工程と、
Ｘ線イメージ管の試験毎に、Ｘ線発生源からＸ線イメージ管に入力されるＸ線線量の測定に基づいてＸ線発生源の出力を制御する工程と
を具備していることを特徴とする請求項１または２記載のＸ線イメージ管の試験方法。
【請求項４】
Ｘ線線量計に入力されるＸ線線量とＸ線線量計で測定されたＸ線線量との対応関係を一定に調整する調整範囲の上限を、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量の判定を行なう規定値とした
ことを特徴とする請求項１ないし３いずれか記載のＸ線イメージ管の試験方法。
【請求項５】
規定値は０．２mR/minである
ことを特徴とする請求項１ないし４いずれか記載のＸ線イメージ管の試験方法。
【請求項６】
Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量を測定するＸ線線量計と、
前記Ｘ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させる移動手段と、
前記Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、前記移動手段を停止させる停止手段と
を具備していることを特徴とするＸ線イメージ管の試験装置。
【請求項７】
Ｘ線イメージ管の形状を測定する形状測定手段と、
この形状測定手段で測定されたＸ線イメージ管の形状に応じて、Ｘ線線量の測定時に移動手段を制御する移動制御手段と
を具備していることを特徴とする請求項６記載のＸ線イメージ管の試験装置。
【請求項８】
Ｘ線を出力するＸ線発生源と、
このＸ線発生源からＸ線イメージ管に入力されるＸ線線量を測定する入力側Ｘ線線量計と、
前記Ｘ線イメージ管の試験毎に、前記入力側Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量に基づいてＸ線発生源の出力を制御するＸ線出力制御手段と
を具備していることを特徴とする請求項６または７記載のＸ線イメージ管の試験装置。
【請求項９】
Ｘ線線量計は、このＸ線線量計に入力されるＸ線線量とＸ線線量計で測定されたＸ線線量との対応関係を一定に調整する調整範囲の上限を、Ｘ線線量計で測定された二次線量の判定を行なう規定値として調整されている
ことを特徴とする請求項６ないし８いずれか記載のＸ線イメージ管の試験装置。
【請求項１０】
規定値は０．２mR/minである
ことを特徴とする請求項６ないし９いずれか記載のＸ線イメージ管の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｘ線イメージ管からのＸ線の漏洩を試験するＸ線イメージ管の試験方法および試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、Ｘ線イメージ管は、真空容器となる外囲器（以下、ハウベという）、入力基板、出力基板、集束電極、加速電極などから構成され、入力面にＸ線管から放射されたＸ線のＸ線像を入力して可視像に変換する電子管である。
【０００３】
このようなＸ線イメージ管においては、ハウベの外に漏洩するＸ線線量に関して規格が定められている。例えば、米国では、Ｘ線管やＸ線イメージ管などのＸ線関連機器からのＸ線の漏洩に関し、米国輸出用Ｘ線装置漏洩検査規格（ＨＨＳ規格）という規格があり、この規格に沿った試験を行なった際、ハウべの全周にわたって漏洩するＸ線線量が規定値以下でなければならず、この規定値は０．２mR/minとされている。
【０００４】
この規格に沿って試験を行なう場合には、図１５に示すように、Ｘ線発生源であるＸ線管１のＸ線発生焦点1a、Ｘ線イメージ管２の入力面2a、入力面2aへ向かうＸ線を減弱させる減弱フィルタ３、入力面2aへ向かうＸ線線量（以下、一次線量という）を測定する入力側Ｘ線線量計（以下、一次線量計という）４を直線上に並べ、Ｘ線管１のＸ線発生焦点1aに対して、減弱フィルタ３および一次線量計４をそれぞれ所定距離ａ，ｂに配置するとともに、試験を行なうＸ線イメージ管２の入力面2aを所定距離にセットする。
【０００５】
従来の試験装置では、図１６に示すように、装置本体５上に、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bを載置して回転させる回転機構６、ハウベ2bから漏洩するＸ線線量（以下、二次線量という）を測定するＸ線線量計（以下、二次線量計という）７およびこの二次線量計７を移動させる二次線量計移動機構８を有し、上述した試験の規格に従って、Ｘ線管１、Ｘ線イメージ管２を配置するとともに、図示していないが減弱フィルタ３および一次線量計４をそれぞれ配置する。
【０００６】
Ｘ線管１からの一次線量の出力は、Ｘ線管１の陽極・陰極間にかける電圧を一定にし、Ｘ線イメージ管２に入力される一次線量の出力が所定値以上になるように陽極・陰極間の電流を調整する。この調整は試験装置の製造時に行なわれており、調整後は、その調整状態が固定的に保持されて試験が行なわれる。
【０００７】
そして、試験を行なう場合には、ハウベ2bのデータを入力するとともにハウベ2bを回転機構６にセットし、回転機構６および二次線量計移動機構８によって二次線量計７をＸ線イメージ管２のハウベ2bの円周方向、縦方向に相対的に移動させ、二次線量を測定する。測定中において、測定された二次線量が規定値である０．２mR/minを越えた場合でも、ハウベ2b全体の測定が完了するまで測定を継続して行なう。
【０００８】
測定終了後は、図１７に示すような表示形式で、二次線量の測定結果が表示される。作業者は、この測定結果を確認して漏洩の異常の有無を判別する。なお、図１７(a) はハウベ2bの上面の測定結果、図１７(b) はハウベ2bの側面の測定結果である。
【０００９】
しかしながら、試験装置の回転機構６に対して、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bの向きが常に一定状態にセットされず、測定開始位置が常に異なるのに対し、測定結果の表示形式は常に同じなので、その測定結果からではＸ線の漏洩量の多い箇所を容易に特定することができない。
【００１０】
異常のあったハウベ2bと同一ロットで製作されたハウベ2bでは、同一箇所で漏洩異常が発生する可能性が高いが、その漏洩箇所を特定できないので、異常が確認された以降の同一ロットのハウベ2bも同じ現象で不良品となる可能性が高く、同一ロットのハウベ2bに対する対策が採れず、歩留まりの低下を招く問題がある。
【００１１】
さらに、Ｘ線管１からＸ線イメージ管２に入力される一次線量は、製造時に調整されており、調整後は、その調整状態が固定的に保持されて試験が行なわれるので、実際の各試験での一次線量は必ずしも一定せず、常に安定した条件下での試験が行なえない問題がある。
【００１２】
また、二次線量計７は、二次線量を測定する測定子とこの測定子で測定された測定値から二次線量を割り出す測定器との組み合わせで構成され、この組み合わせ状態で測定値の校正が行なわれている。
【００１３】
この校正は、日本放射線協会（ＪＱＡ）に依頼して行なわれるもので、二次線量計７の測定子に基準となるＸ線線量を入力し、この結果をみて、二次線量計７に入力されるＸ線線量と二次線量計７で測定されたＸ線線量との対応関係が一定になるように調整し、誤差の修正と、校正範囲（調整範囲）内での測定結果に直線性が確保されるよう校正される。
【００１４】
そして、二次線量計７の校正を行なう場合、図１８に示すように、測定範囲を参考に校正範囲を検討し、Ｘ線発生源（Ｘ線管１）の最大出力も考慮して校正範囲を決定し、この校正範囲内での直線性の確保のための校正ポイント数を決定し、日本放射線協会（ＪＱＡ）に校正依頼をするようにしている。校正範囲の上限は、Ｘ線発生源の最大出力も考慮して、例えば２mR/minまでとしている。
【００１５】
しかしながら、二次線量計７の校正を行なう際に、図１８に示すようなフローで校正範囲を決定しているが、この校正範囲の上限は、Ｘ線発生源の最大出力も考慮して、例えば２mR/minまでとしている。この２mR/minという値は、ハウベ2bから漏洩する二次線量を判定する規格値である０．２mR/minの１０倍の値である。
【００１６】
ところで、二次線量計７の測定子と測定器との誤差は校正範囲に対して±１０％程度の値で出てくる。そのため、２mR/minを上限とする校正範囲では測定誤差は±０．２mR/minとなり、二次線量計７での二次線量の測定結果が規定値の０．２mR/minであった場合には、誤差は０．０〜０．４mR/minの範囲にあり、規定値に対する誤差が大き過ぎ、補正が効かず、漏洩試験の合否判定に適しない問題がある。
【００１７】
また、試験を行なう際には、人手により、試験を行なおうとするハウベ2bをセットするとともにそのハウベ2bのデータを入力するので、ハウベ2bのセット不良やハウベ2bのデータの入力ミスが発生するおそれがあり、このような場合、セットされたハウベ2bと入力されたハウベ2bのデータとが一致せず、ハウベ2bと二次線量計７とが干渉し、二次線量計７を破損させるおそれがあるとともに、ハウベ2bから漏洩する二次線量を正確に測定することができない問題がある。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】
上述のように、従来は、試験装置の回転機構６に対して、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bの向きが常に一定状態にセットされず、測定開始位置が常に異なるのに対し、測定結果の表示形式は常に同じなので、その測定結果からではＸ線の漏洩量の多い箇所を容易に特定することができない。
【００１９】
異常のあったハウベ2bと同一ロットで製作されたハウベ2bでは、同一箇所で漏洩異常が発生する可能性が高いが、その漏洩箇所を特定できないので、異常が確認された以降の同一ロットのハウベ2bも同じ現象で不良品となる可能性が高く、同一ロットのハウベ2bに対する対策が取れず、歩留まりの低下を招く問題がある。
【００２０】
本発明は、このような点に鑑みなされたもので、Ｘ線イメージ管の漏洩異常に対する対策を取り易くし、歩留まりの向上を図れるＸ線イメージ管の試験方法および試験装置を提供することを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、Ｘ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させ、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量をＸ線線量計で測定する工程と、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、測定を停止する工程とを具備しているものである。そして、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、測定を停止することにより、漏洩箇所を特定できるので、例えば、異常のあったＸ線イメージ管と同一ロットのＸ線イメージ管に対し、事前にその漏洩箇所に対応する部分の状態を調べてから試験するなどの対処が可能となるなど、漏洩異常に対する対策を取り易くなり、不要な歩留りの低下を防ぐことが可能となる。
【００２２】
さらに、Ｘ線線量の測定前にＸ線イメージ管の形状を測定し、測定されたＸ線イメージ管の形状に応じて、Ｘ線線量の測定時にＸ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させるものである。そして、Ｘ線線量の測定前に、Ｘ線イメージ管の形状を測定して自動判別し、Ｘ線線量を測定する際に、Ｘ線イメージ管の形状に応じて最適にＸ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させながらＸ線線量を測定することが可能となり、Ｘ線イメージ管の品種の入力を不用とするとともにその入力ミスによる測定不良やＸ線イメージ管とＸ線線量計との干渉を防止し、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量を正確に試験することが可能となる。
【００２３】
さらに、Ｘ線発生源から出力されるＸ線をＸ線イメージ管に入力する工程と、Ｘ線発生源からＸ線イメージ管に入力されるＸ線線量を測定する工程と、Ｘ線イメージ管の試験毎に、Ｘ線発生源からＸ線イメージ管に入力されるＸ線線量の測定に基づいてＸ線発生源の出力を制御する工程とを具備しているものである。そして、Ｘ線イメージ管の試験毎に、Ｘ線イメージ管に入力されるＸ線線量を常に一定に保つことが可能となり、常に安定した条件下での試験が行なえる。
【００２４】
さらに、Ｘ線線量計に入力されるＸ線線量とＸ線線量計で測定されたＸ線線量との対応関係を一定に調整する調整範囲の上限を、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量の判定を行なう規定値としたものである。そして、Ｘ線線量計の調整範囲の上限を、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量の判定を行なう規定値とすることにより、例えばＸ線発生源の最大出力までの調整で対応関係を一定にする場合に比べて、実際にＸ線線量の判定に必要な規定値までの必要範囲においての誤差が少なく高い精度が得られ、高い精度で試験が行なえる。
【００２５】
さらに、規定値は０．２mR/minであることにより、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量に関しての規格に対応される。
【００２６】
また、本発明は、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量を測定するＸ線線量計と、前記Ｘ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させる移動手段と、前記Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、前記移動手段を停止させる停止手段とを具備しているものである。そして、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、移動手段を停止させて測定を停止することにより、漏洩箇所を特定できるので、例えば、異常のあったＸ線イメージ管と同一ロットのＸ線イメージ管に対し、事前にその漏洩箇所に対応する部分の状態を調べてから試験するなどの対処が可能となるなど、漏洩異常に対する対策を取り易くなり、不要な歩留りの低下を防ぐことが可能となる。
【００２７】
さらに、Ｘ線イメージ管の形状を測定する形状測定手段と、この形状測定手段で測定されたＸ線イメージ管の形状に応じて、Ｘ線線量の測定時に移動手段を制御する移動制御手段とを具備しているものである。そして、Ｘ線線量の測定前に、Ｘ線イメージ管の形状を測定して自動判別し、Ｘ線線量を測定する際に、Ｘ線イメージ管の形状に応じて最適にＸ線イメージ管とＸ線線量計とを相対的に移動させながらＸ線線量を測定することが可能となり、Ｘ線イメージ管の品種の入力を不用とするとともにその入力ミスによる測定不良やＸ線イメージ管とＸ線線量計との干渉を防止し、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量を正確に試験することが可能となる。
【００２８】
さらに、Ｘ線を出力するＸ線発生源と、このＸ線発生源からＸ線イメージ管に入力されるＸ線線量を測定する入力側Ｘ線線量計と、前記Ｘ線イメージ管の試験毎に、前記入力側Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量に基づいてＸ線発生源の出力を制御するＸ線出力制御手段とを具備しているものである。そして、Ｘ線イメージ管の試験毎に、Ｘ線イメージ管に入力されるＸ線線量を常に一定に保つことが可能となり、常に安定した条件下での試験が行なえる。
【００２９】
さらに、Ｘ線線量計は、このＸ線線量計に入力されるＸ線線量とＸ線線量計で測定されたＸ線線量との対応関係を一定に調整する調整範囲の上限を、Ｘ線線量計で測定された二次線量の判定を行なう規定値として調整されているものである。そして、Ｘ線線量計の調整範囲の上限を、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量の判定を行なう規定値とすることにより、例えばＸ線発生源の最大出力までの調整で対応関係を一定にする場合に比べて、実際のＸ線線量の判定に必要な規定値までの必要範囲においての誤差が少なく高い精度が得られ、高い精度で試験が行なえる。
【００３０】
さらに、規定値は０．２mR/minであることにより、Ｘ線イメージ管から漏洩するＸ線線量に関しての規格に対応される。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態を図面を参照して説明する。
【００３２】
なお、図１５および図１６に示した構造と同様の構造については同一符号を用いて説明する。
【００３３】
図４および図５において、Ｘ線イメージ管２は、Ｘ線発生源としてのＸ線管１から放射されたＸ線のＸ線像を入力する入力面2a、および真空容器となる外囲器（以下、ハウベという）2bを有している。
【００３４】
また、図４および図５において、試験装置の装置本体５には、Ｘ線管１、減弱フィルタ３、入力側Ｘ線線量計（以下、一次線量計という）４、回転機構６、Ｘ線線量計（以下、二次線量計という）７、Ｘ線線量計移動機構（以下、二次線量計移動機構という）８などが配設されている。
【００３５】
そして、図１５に示したように、Ｘ線管１のＸ線発生焦点1a、Ｘ線イメージ管２の入力面2a、入力面2aへ向かうＸ線を減弱させる減弱フィルタ３、入力面2aへ向かうＸ線線量（以下、一次線量という）を測定する一次線量計４が直線上に並べられ、Ｘ線管１のＸ線発生焦点1aに対して、減弱フィルタ３および一次線量計４がそれぞれ所定距離ａ，ｂに配置されるとともに、試験を行なうＸ線イメージ管２の入力面2aが所定距離にセットされる。
【００３６】
減弱フィルタ３は、例えばアルミニウムなどの材料でブロック状に形成され、Ｘ線イメージ管２の入力面2aへ向かうＸ線を減弱透過させる。
【００３７】
一次線量計４は、一次線量を測定する測定子4aとこの測定子4aで測定された測定値から一次線量を割り出す図示しない測定器との組み合わせで構成されている。
【００３８】
回転機構６は、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bが軸中心を一致させて上面に載置されるもので、移動テーブル11上に回転自在に配設されるとともに、移動テーブル11上に配設されたモータ12の駆動力がギヤ機構12a を介して伝達されて正逆回転される。移動テーブル11は、スライド機構13によって装置本体５上でスライド移動され、すなわち回転機構６上のＸ線イメージ管２のハウベ2bが二次線量計７に対して接離するように移動される。
【００３９】
二次線量計７は、二次線量を測定する一対の測定子7aとこれら測定子7aで測定された測定値から二次線量を割り出す図示しない測定器との組み合わせで構成され、この組み合わせ状態で測定値の校正（調整）が行なわれている。なお、この校正については後述する。
【００４０】
二次線量計移動機構８は、装置本体５上に立設された支柱14に沿って配設された上下移動機構15を有し、この上下移動機構15に対して水平移動機構16が上下移動可能に支持され、この水平移動機構16に対して測定子回転機構17が水平移動可能に支持され、この測定子回転機構17に対して二次線量計７の一対の測定子7aを支持した支持体18が水平軸を中心として回転可能に支持されている。
【００４１】
そして、回転機構６、二次線量計移動機構８およびスライド機構13により、Ｘ線イメージ管２と二次線量計７とを相対的に移動させる移動手段19が構成されている。
【００４２】
また、二次線量計７の一対の測定子7a間には、ハウベ2bと二次線量計７の測定子7aとの距離を検出する検出センサ（距離センサ）20が取り付けられている。この検出センサ20は、例えば、一定距離以内に物体があることを検知する変位センサなどが用いられる。
【００４３】
また、一次線量計４および二次線量計７の各測定子4a，7aからの測定データは図示しない測定器を通じてコントローラ21の図示しないシーケンサ等のＣＰＵに入力される。このコントローラ21により、Ｘ線管１や移動手段19などが制御される。
【００４４】
そして、コントローラ21は、二次線量計７で測定された二次線量が規定値を越えたとき、移動手段19を停止させる停止手段の機能、Ｘ線イメージ管２の試験毎に、一次線量計４で測定された一次線量に基づいてＸ線管１の出力を制御するＸ線出力制御手段の機能を有している。
【００４５】
なお、規定値には、例えば米国輸出用Ｘ線装置漏洩検査規格（ＨＨＳ規格）の０．２mR/minが適用される。
【００４６】
また、装置本体５の内部には、Ｘ線管１および一次線量計４を冷却する図示しないファンやクラーなどの冷却機構が配設されており、Ｘ線管１の動作および一次線量計４の測定が安定的に行なわれる。
【００４７】
また、コントローラ21は、モニタなどの表示部を有し、この表示部にハウベ2bの像を映し、現在の測定位置を知ることができるように表示、制御する機能を有する。
【００４８】
次に、コントローラ21による試験方法を図１のフローチャートを参照して説明する。
【００４９】
Ｘ線イメージ管２のハウベ2bを回転機構６上にセットし（ステップ１）、試験を行なおうとするＸ線イメージ管２のサイズ（形状、品種）を登録して試験を開始する。
【００５０】
試験を開始すると、まず、二次線量計７の測定子7aを試験可能な最大の大きさのＸ線イメージ管２のハウベ2bの外径位置に対応する位置に移動させ、ここから徐々に測定子7aをハウベ2bに接近するように移動させ（ステップ２）、検出センサ20によりハウベ2bを検出する。これにより、セットされたハウベ2bのサイズと、登録したサイズとの整合性を確認する（ステップ３）。また、測定子7aとハウベ2bとの衝突を防ぎ、同時にハウベ2bのサイズ毎に最初の測定点が一定になるようにする。
【００５１】
そして、ハウベ2bのサイズ確認が終了したら、Ｘ線管１よりＸ線を出力照射させ（ステップ４）、Ｘ線イメージ管２の入力面2aに入力される一次線量を一次線量計４で測定する。
【００５２】
一次線量計４で測定された一次線量値が予め設定した設定値となるように、Ｘ線管１の陽極・陰極間に印加する電圧を一定にした条件下で、コントローラ21にフィードバックされた一次線量値に基づいて、陽極・陰極間の電流値を調整して一次線量値を調整する（ステップ５、６）。
【００５３】
そして、ハウベ2bのサイズ確認、および一次線量値の調整が終了したら、移動手段19の回転機構６、二次線量計移動機構８およびスライド機構13により、Ｘ線イメージ管２と二次線量計７とを相対的に移動させ、まず、測定子7aをハウベ2bの最初の測定点へ移動させ（ステップ７）、ハウベ2bの外に漏洩する二次線量を測定する（ステップ８）。なお、ハウベ2bは異形状であるため、測定子7aはハウベ2bの上下、左右方向のみでなく、ハウベ2bの傾斜方向へも移動される。
【００５４】
測定中はコントローラ21内の図示しないモニタなどの表示部にハウベ2bの像を映し、現在の測定位置を知ることができるように表示、制御する。
【００５５】
そして、二次線量計７で測定された二次線量値が規定値を越えているか判定し（ステップ９）、規定値以内であれば、移動手段19により、測定子7aをハウベ2bの次の測定点へ移動させ（ステップ10、11）、同様に二次線量を測定する。
【００５６】
このように、二次線量計７で測定された二次線量値が規定値以内であれば、測定子7aをハウベ2bの次の測定点へ順次移動させて二次線量を測定し、ハウベ2bの全ての測定点について測定し、測定終了となる。この場合、測定結果は、ハウベ2bの全ての測定点についての二次線量値が規定値以内であるため、試験が行なわれたＸ線イメージ管２は良品であると判定される。
【００５７】
また、二次線量の測定中において、二次線量計７で測定された二次線量値が規定値を越えた場合は、移動手段19を含む測定を停止し、コントローラ21の表示部に映るハウベ2bの像に漏洩箇所を表示して知らせる。
【００５８】
このため、作業者は、コントローラ21の表示部を見て漏洩箇所を確認することができるので、異常のあったＸ線イメージ管２と同一ロットのＸ線イメージ管２に対し、事前にその漏洩箇所に対応する部分の状態を調べてから試験するなどの対処が可能となるなど、漏洩異常に対する対策を取り易くなり、不要な歩留りの低下を防ぐことができる。
【００５９】
また、二次線量計７は、二次線量を測定する一対の測定子7aとこれら測定子7aで測定された測定値から二次線量を割り出す図示しない測定器との組み合わせで構成され、この組み合わせ状態で測定値の校正が行なわれている。
【００６０】
この校正は、図２に示すように、測定範囲の上限を校正範囲（調整範囲）の上限として校正範囲を決定し、この校正範囲内での直線性の確保のための校正ポイント数を決定し、日本放射線協会（ＪＱＡ）に校正依頼をするようにしている。
【００６１】
測定範囲の上限は、図３に示すように、二次線量計７で測定された二次線量を判定する規定値の０．２mR/minである。そのため、二次線量計７の測定子と測定器との誤差が校正範囲に対して±１０％程度とすると、規定値の０．２mR/minを上限とした校正範囲Ａの測定誤差は±０．０２mR/minとなる。
【００６２】
二次線量計７で測定された二次線量の判定では、規定値以内での二次線量の測定精度および直線性が重要であり、規定値以上の測定精度および直線性は無視できる。
【００６３】
したがって、従来のように、Ｘ線管１の最大出力である２．０mR/minまでの校正範囲Ｂで直線性を求める場合、測定誤差が±０．２mR/minと大きくなって、漏洩試験の精度が低いのに比べて、実際に二次線量の判定に必要な規定値の０．２mR/minまでの必要範囲においての誤差は±０．０２mR/minと少なく、高い精度が得られ、この高い精度で試験が行なえる。
【００６４】
なお、測定結果の０．２mR/min以上についても、測定結果に若干の補正をかければ、二次線量値を求めることができる。
【００６５】
以上のように、二次線量計７で測定された二次線量が規定値を越えたとき、測定を停止することにより、漏洩箇所を特定できるので、例えば、異常のあったＸ線イメージ管２と同一ロットのＸ線イメージ管２に対し、事前にその漏洩箇所に対応する部分の状態を調べてから試験するなどの対処が可能となるなど、漏洩異常に対する対策を取り易くなり、不要な歩留りの低下を防ぐことができる。
【００６６】
さらに、Ｘ線イメージ管２の試験毎に、Ｘ線イメージ管２に入力される一次線量を常に一定に保つことが可能となり、常に安定した条件下での試験を行なうことができる。
【００６７】
さらに、二次線量計７の校正範囲の上限を、二次線量計７で測定された二次線量の判定を行なう規定値とすることにより、例えばＸ線管１の最大出力までの校正で対応関係を一定にする場合に比べて、実際に二次線量の判定に必要な規定値までの必要範囲においての誤差が少なく高い精度が得られ、高い精度で試験を行なうことができる。
【００６８】
さらに、規定値は０．２mR/minであることにより、Ｘ線イメージ管２から漏洩する二次線量に関しての規格に対応できる。
【００６９】
また、図６に示すように、二次線量計７の測定子7aには、検出センサ20に加えて、測定子7aのハウベ2bとの相対的な移動先の障害物を検知する移動先センサ22、測定子7aの上下の障害物を検知する保護センサ23，24を取り付けるようにしてもよい。これにより、例えば、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bの品種を入力ミスしても、二次線量の測定時にＸ線イメージ管２のハウベ2bと二次線量計７の測定子7aとを移動させる際、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bと二次線量計７の測定子7aとが干渉するのを防止できる。
【００７０】
また、前述した試験方法では、二次線量の測定前に、試験を行なおうとするＸ線イメージ管２のサイズを登録していたが、二次線量の測定前に、コントローラ21の制御によって、Ｘ線イメージ管２の形状を自動測定して自動判別し、二次線量を測定する際に、自動判別されたＸ線イメージ管２の形状に応じて最適にＸ線イメージ管２と二次線量計７とを相対的に移動させながら二次線量を測定する別の試験方法を採ることもできる。
【００７１】
この別の試験方法の場合には、ハウベ2bと二次線量計７の測定子7aとの距離を検出する検出センサ20、およびこの検出センサ20を移動させる移動手段19などによって、Ｘ線イメージ管２の形状を測定する形状測定手段25が構成され、また、コントローラ21は、この形状測定手段25で測定されたＸ線イメージ管２の形状を判別する形状判別手段の機能、形状測定手段25で測定されたＸ線イメージ管２の形状に応じて二次線量の測定時に移動手段19を制御する移動制御手段の機能を有している。
【００７２】
そして、コントローラ21による別の試験方法を、図７ないし図９のフローチャート、および図１０ないし図１３の説明図を参照して説明する。
【００７３】
Ｘ線イメージ管２のハウベ2bが回転機構６上にセットされた後、試験を開始する。試験を開始すると、まず、ハウベ2bの高さを測定する。すなわち、図７のフローチャートおよび図１０の説明図に示すように、測定子回転機構17により二次線量計７の測定子7aを下向きに移動させ（ステップ21、図１０の動作ａ）、続いて、二次線量計移動機構８の水平移動機構16により二次線量計７の測定子7aをＸ線イメージ管２のハウベ2bの上面の中心位置に移動させ（ステップ22、図１０の動作ｂ）、続いて、二次線量計移動機構８の上下移動機構15により二次線量計７の測定子7aを下降させ（ステップ23、図１０の動作ｃ）、検出センサ20がハウベ2bを検出したら（ステップ24）、二次線量計７の測定子7aの下降を停止させる（ステップ25）。
【００７４】
この二次線量計７の測定子7aの停止時点で、二次線量計移動機構８の上下移動機構15の原点からハウベ2bを検出した位置までの距離により、ハウベ2bの高さを測定する。このとき、二次線量計７の測定子7aの停止位置が所定の移動下限位置に達しているか判断し（ステップ26）、例えばハウベ2bが装着されていない場合などのときに、移動下限位置に達しているとハウベ高さエラーとして処理する（ステップ27）。
【００７５】
ハウベ2bの高さを正常に測定できたら、二次線量計７の測定子7aの現在位置すなわちハウベ2bの高さをコントローラ21が有する記憶部に記憶し（ステップ28）、二次線量計移動機構８の上下移動機構15および水平移動機構16を原点に戻すとともに、測定子回転機構17を原点に戻す（ステップ29）。
【００７６】
次に、ハウベ2bの外径を測定する。すなわち、図８のフローチャートおよび図１１の説明図に示すように、二次線量計移動機構８の上下移動機構15により二次線量計７の測定子7aを最下降位置まで下降させ（ステップ30、31、図１１の動作ｄ）、続いて、二次線量計移動機構８の水平移動機構16により二次線量計７の測定子7aをＸ線イメージ管２のハウベ2bの周面へ向けて前進移動させ（ステップ32、図１１の動作ｅ）、検出センサ20がハウベ2bを検出したら（ステップ33）、二次線量計７の測定子7aの移動を停止させる（ステップ34）。
【００７７】
この二次線量計７の測定子7aの停止時点で、二次線量計移動機構８の水平移動機構16の原点からハウベ2bを検出した位置までの距離により、ハウベ2bの外径を測定する。このとき、二次線量計７の測定子7aの停止位置が所定の移動前進位置に達しているか判断し（ステップ35）、例えばハウベ2bが装着されていない場合などのときに、移動前進位置に達しているとハウベ外径エラーとして処理する（ステップ36）。
【００７８】
ハウベ2bの外径を正常に測定できたら、二次線量計７の測定子7aの現在位置すなわちハウベ2bの外径をコントローラ21が有する記憶部に記憶し（ステップ37）、二次線量計移動機構８の上下移動機構15および水平移動機構16を原点に戻す（ステップ38）。
【００７９】
また、ハウベ2bの外径が測定できたら、図１２および図１３に示すように、ハウベ2bの外径寸法Ｄから二次線量の測定時のハウベ2bの回転角度を計算する。二次線量計７の測定子7aには有効測定エリアＡがあり、今回の有効測定エリアＡが前回の有効測定エリアA1と重複する回転角θでハウベ2bを回転させる。この回転角θは、ハウベ2bの外径寸法Ｄに合わせて一定の範囲を設定するので、例えばハウベ2bの外径寸法Ｄが２００mmまでは回転角４５°等というように、ハウベ2bの外径寸法Ｄまでの値で計算し、コントローラ21の記憶部に登録する。
【００８０】
さらに、測定されたハウベ2bの概略寸法を元に、二次線量計７の測定子7aの上下および前後の移動量も同様に計算される。これにより、ハウベ2bの概略寸法と、測定開始時の動作データが決定される。
【００８１】
次に、二次線量を測定する。すなわち、図９のフローチャートに示すように、移動手段19の回転機構６、二次線量計移動機構８およびスライド機構13により、Ｘ線イメージ管２と二次線量計７の測定子7aとを相対的に移動させ、まず、測定子7aをハウベ2bの最初の測定点へ移動させ（ステップ39）、ハウベ2bの外に漏洩する二次線量を測定する（ステップ40）。
【００８２】
測定中はコントローラ21内の図示しないモニタなどの表示部にハウベ2bの像を映し、現在の測定位置を知ることができるように表示、制御する。
【００８３】
そして、二次線量計７の測定子7aで測定された二次線量値が所定の規定値を越えているか判定し（ステップ41）、規定値以内であれば、移動手段19により、測定子7aをハウベ2bの次の測定点へ移動させる（ステップ42、43）。
【００８４】
また、二次線量の測定中において、二次線量計７の測定子7aで測定された二次線量値が規定値を越えた場合は、移動手段19を含む測定を停止し、コントローラ21の表示部に映るハウベ2bの像に漏洩箇所を表示して知らせる。
【００８５】
また、移動手段19により測定子7aをハウベ2bの次の測定点へ移動させるとき、二次線量計７の測定子7aの検出センサ20の検出によって、測定子7aとハウベ2bとの距離が所定の規定値以内に保たれていることが確認されていれば（ステップ44）、同様に、二次線量を測定し、また、その距離が所定の規定値に達すれば、移動手段19を含む測定を停止し、異常を表示して知らせる。
【００８６】
また、測定子7aの移動中は、測定子7aの移動先センサ22および保護センサ23，24により障害物を確認し、測定子7aとハウベ2bとが干渉するのを防止する。
【００８７】
なお、ハウベ2bの形状には、図１４に示すように、例えば、大きく分けて４種類の形状がある。そのため二次線量の測定中に、検出センサ20による検出結果が変わったり、移動先センサ22、保護センサ23，24が働いても、必ずしも異常ではない。そこで、予めコントローラ21には測定する全種類のハウベ2bの各寸法データを登録しておくことにより、検出センサ20、移動先センサ22、保護センサ23，24により、測定しながらハウベ2bの詳細形状をその都度把握しながら対応できる。
【００８８】
このように、二次線量の測定前に、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bの形状を自動測定して自動判別し、二次線量を測定する際に、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bの形状に応じて最適にＸ線イメージ管２のハウベ2bと二次線量計７の測定子7aとを相対的に移動させながら二次線量を測定することが可能となり、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bの品種の入力を不用とするとともにその入力ミスによる測定不良やＸ線イメージ管２のハウベ2bと二次線量計７の測定子7aとの干渉を防止し、Ｘ線イメージ管２のハウベ2bから漏洩する二次線量を正確に試験することができる。
【００８９】
【発明の効果】
本発明によれば、Ｘ線線量計で測定されたＸ線線量が規定値を越えたとき、測定を停止することにより、漏洩箇所を特定できるので、漏洩異常に対する対策を取り易くし、歩留まりの向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明のＸ線イメージ管の試験方法および試験装置の一実施の形態を示し、試験方法を説明するフローチャートである。
【図２】同上校正方法を説明するフローチャートである。
【図３】同上Ｘ線線量計の校正範囲と誤差との関係を示すグラフである。
【図４】同上試験装置の構成図である。
【図５】同上試験装置の斜視図である。
【図６】本発明の他の実施の形態を示すＸ線線量計の斜視図である。
【図７】本発明のさらに他の実施の形態を示し、試験方法を説明するフローチャートである。
【図８】同上図７に続くフローチャートである。
【図９】同上図８に続くフローチャートである。
【図１０】同上Ｘ線イメージ管の高さの測定を説明する説明図である。
【図１１】同上Ｘ線イメージ管の外径の測定を説明する説明図である。
【図１２】同上Ｘ線イメージ管の外径寸法を説明する説明図である。
【図１３】同上(a)(b)にＸ線イメージ管の測定時の回転角を説明する説明図である。
【図１４】同上(a)(b)(c)(d)にＸ線イメージ管の形状を示す側面図である。
【図１５】従来のＸ線イメージ管の試験規格を説明する説明図である。
【図１６】従来の試験装置の斜視図である。
【図１７】従来の試験結果の表示形式を示し、(a) はＸ線イメージ管の上面の測定結果を示す説明図、(b) はＸ線イメージ管の側面の測定結果を示す説明図である。
【図１８】従来の校正方法を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
１    Ｘ線発生源としてのＸ線管
２    Ｘ線イメージ管
４    入力側Ｘ線線量計
７    Ｘ線線量計
19    移動手段
21    停止手段、Ｘ線出力制御手段および移動制御手段としてのコントローラ
25    形状測定手段
【図１】
0004226714.tif 000002
【図２】
0004226714.tif 000003
【図３】
0004226714.tif 000004
【図４】
0004226714.tif 000005
【図５】
0004226714.tif 000006
【図６】
0004226714.tif 000007
【図７】
0004226714.tif 000008
【図８】
0004226714.tif 000009
【図９】
0004226714.tif 000010
【図１０】
0004226714.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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