【誤訳訂正書】
【提出日】平成24年12月19日(2012.12.19)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
ソリトンレーザーにおいて、エネルギー
【数７】
2009031285.tif 000001
と分散
【数８】
2009031285.tif 000002
と、自己位相変調パラメータ
【数９】
2009031285.tif 000003
と、一次ソリトンのパルス幅と、非線形シュレーディンガー方程式
【数１０】
2009031285.tif 000004
の解から導出されるパルス幅
【数１１】
2009031285.tif 000005
との関係は、広い動作範囲において真であり、これは例えばG.P.Agrawal, "Nonlinear Fiber Optics", Academic Press, 1989, Page 114に記載されている。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
図１に、ソリトンレーザーの単一と二重パルス状態の概略図を示す。フェムト秒とピコ秒パルスを生成するための超短パルスレーザーシステムは、レーザー発光のための増幅機能を有するレーザー媒質と、少なくとも一つの共振器鏡を有するレーザー共振器と、レーザー媒質をポンピングするための例えばレーザーダイオード配置のようなポンプ源とを有する。超短パルスレーザーシステムは、ソリトン状態で動作し、レーザー発光に対して、例えば一フォトン吸収状態において動作するフォトダイオードによって、一つ以上のパルスに対して、共鳴器サイクルに対する平均の（平均出力、エネルギー）パルスパワーＰ（ｔ）に比例した（２）式で定義される第一信号
【数１２】
2009031285.tif 000006
を測定することが可能である。
【数１３】
2009031285.tif 000007
ここで、ＴRは共鳴器サイクル時間であり、Ｐ（ｔ）は瞬間的パルスパワーである。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
図２に第一信号
【数１４】
2009031285.tif 000008
に対する単一パルスと二重パルス状態間の遷移のヒステリシスサイクルを示す。ここで、水平軸はポンプ源の電流値であり、従って間接的に増幅されたレーザー媒質に結合したパワーを示し、一方、垂直軸はアウトカップルドパワーを表わす。図示したヒステリシスカーブは、パワーメータ又はフォトダイオードを用いて測定することができる。従って本例での第一信号
【数１５】
2009031285.tif 000009
は、共鳴器サイクル時間当たりで平均した一つのフォトン吸収の結果である。点線のカーブは、単一パルス状態ＳＰから二重パルス状態ＤＰへ遷移する際のレーザーの上昇挙動１を示している。実線は二重パルス状態から単一パルス状態への遷移の際のレーザーの下降挙動２に対応している。等式（１）で表現した関係は、両方の状態に対して真であり、遷移に際して、共鳴装置内の動的損失のシフトによって、利得飽和が僅かに変化し、これがヒステリシスを生じさせることに留意する必要がある。超短パルスレーザーの可能な動作点ＡＰは、このヒステリシスの直下で選択可能である。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３３】
例えばＩｎＰを２フォトン吸収体として用いることによって、２フォトン又はマルチフォトン吸収の測定が伝送時においても同様に行われる。吸収がパルスのピークパワーに依存するので、伝送された、即ちスイッチスルーされたパワーを測定すれば十分である。もしパワーが高い場合、レーザーは二重パルスＤＰ又は多重パルス状態ＭＰにある。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３４】
第二信号
【数３２】
2009031285.tif 000010
を記録するための代替案は、高調波、特に第二高調波又は第三高調波の使用に存する。このような方法では、例えばＢＢＯ（ホウ酸バリウム）、ＬＢＯ（リチウムトリボレート）、ＰＰＬＮ（周期的に分極されたニオブ酸リチウム）又はＫＴＰ（チタンリン酸カリウム）といった結晶が用いられる。ＳＰとＤＰ／ＭＰ遷移の場合の信号比は、２フォトン吸収の場合の信号比に相当する。二重ＤＰ又は多重パルス状態ＭＰの場合、ピーク強度は低いので、信号は単一パルス状態の場合より小さく、実行されるべき検出に対して、例えばパワーメータを用いることができる。単一パルス状態ＳＰと二重ＤＰ又は多重パルス状態ＭＰの比は、４分の１又は１／ｎ2である。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４３】
本発明に係る二つのレーザー検出器を備えた配置の第二実施例を図６に示す。偏向ミラー１１を介して発振器１０から出力した後、レーザー光はスプリッターミラー１２によって、第一検出器としてのパワーメータ１５と、第二検出器としての組み合わせである高調波生成用コンポーネント１６ｂを備えたパワーメータ１６ａ上に供給される。第二レーザー検出器の特定の機能を実現するために、少なくとも一つのＢＢＯ，ＬＢＯ，ＰＰＬＮ，又はＫＴＰ結晶からなる追加の機能的コンポーネント１６ｂが、パワーメータ１６ａの前に接続されており、パワーメータ１６ａは、原理的に第一検出器としてのパワーメータ１５と同一又は同種類となるように設計することができる。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フェムト秒又はピコ秒パルスを生成するための超短パルスレーザーシステムにおける、望ましくない二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）の検出方法であって、該方法は、
少なくとも、
レーザー発光を生成するための増幅用レーザー媒質と、
少なくとも一つの共振器ミラーを有するレーザー共振回路（１０）と、
前記レーザー媒質をポンピングするためのポンプソース（９）と、
を備えており、
前記超短パルスレーザーシステムがソリトン状態で動作し、共振器サイクルにわたって平均化されたパルスパワーＰ（ｔ）又はパルスエネルギーに比例する第一信号μを、レーザー発光に対して測定し、
共振器サイクルにわたって平均化されたパルスパワーＰ（ｔ）の二乗に比例する第二信号νを、レーザー発光に対して測定し、望ましくない二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）の発生を、共振器サイクル期間の範囲で独立な測定された信号μとνの比較に基づいて検出する
ことを特徴とする検出方法。
【請求項２】
前記第一信号μが１フォトン吸収によって測定されることを特徴とする請求項１に記載の検出方法。
【請求項３】
前記第二信号νが、２フォトン又はマルチフォトン吸収によって測定されることを特徴とする請求項１又は２に記載の検出方法。
【請求項４】
前記第二信号νが、高調波を用いて測定されることを特徴とする請求項１又は２に記載の検出方法。
【請求項５】
｜μ−ν｜≦１の条件式が単一パルス状態（ＳＰ）を示し、
二つの信号μとνが一致するように、定義された単一パルス特性の状態において該二つの信号μとνを較正することを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の検出方法。
【請求項６】
｜μ−ν｜≧１．５の条件式が二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）を示し、
二つの信号μとνが一致するように、定義された単一パルス特性の状態において該二つの信号μとνを較正することを特徴とする請求項１ないし５のいずれか１項に記載の検出方法。
【請求項７】
請求項１ないし６のいずれか１項に記載の検出方法によって、二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）を回避し、レーザー動作点（ＡＰ）を最適化する方法であって、
超短パルスレーザーシステムを二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）に設定し、
動作電流に対する信号μとνの依存性を引き出すために、ポンプソースに対する前記動作電流を減少させ、
二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）から単一パルス状態（ＳＰ）への遷移に対する動作電流値を測定する、
ことを特徴とする方法。
【請求項８】
前記動作電流を減少させた後に、動作電流の限界値まで増加させることを特徴とする請求項７に記載の最適化方法。
【請求項９】
ソリトン状態で動作可能な、フェムト秒又はピコ秒パルスを生成するための超短パルスレーザーシステムにおいて、二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）を検出するための測定装置であって、
共鳴器サイクルにわたって平均化されたパルスパワーＰ（ｔ）又はパルスエネルギーに比例する信号が一つ以上のパルスに対して測定可能なように形成および配置された少なくとも１つの第一レーザー検出器（１３、１５）と、
共振器サイクルにわたって平均化されたパルスパワーＰ（ｔ）の二乗に比例する信号が一つ以上のパルスに対して測定可能なように形成および配置された第二レーザー検出器（１４、１６）と、
前記第一と第二レーザー検出器（１３，１４，１５，１６）の測定信号の比較に基づいて、二重又は多重パルス状態（ＤＰ／ＭＰ）の発生を検出するための評価コンポーネントと、
を備えていることを特徴とする測定装置。
【請求項１０】
前記第一レーザー検出器（１３、１５）が、１フォトン吸収状態で動作するフォトダイオードで構成されていることを特徴とする請求項９に記載の測定装置。
【請求項１１】
前記第二レーザー検出器（１４、１６）が、２フォトン又はマルチフォトン吸収状態で動作するフォトダイオード（７）で構成されていることを特徴とする請求項９又は１０に記載の測定装置。
【請求項１２】
前記第一と第二レーザー検出器が、異なる動作状態で働くフォトダイオードで構成されていることを特徴とする請求項１０又は１１に記載の測定装置。
【請求項１３】
前記第二レーザー検出器（１４）が２フォトン又はマルチフォトン効果を有するＬＥＤ又はフォトレジスタで構成されているか、又は伝送時における２フォトン吸収のためのＩｎＰを備えていることを特徴とする請求項９又は１０に記載の測定装置。
【請求項１４】
前記第二レーザー検出器（１６）が高調波生成用の少なくとも一つのＢＢＯ、ＬＢＯ、ＰＰＬＮ、又はＫＴＰ結晶を有していることを特徴とする請求項９又は１０に記載の測定装置。
【請求項１５】
フェムト秒又はピコ秒パルスを生成するための超短パルスレーザーシステムであって、
少なくとも、
レーザー発光の生成のための増幅用レーザー媒質と、
少なくとも一つの共振器ミラーを有するレーザー共振器（１０）と、
レーザー媒質をポンピングするためのポンプソース（９）と、
請求項１０ないし１４のいずれか１項に記載の測定装置と、
を備えていることを特徴とするレーザーシステム。