(57)【要約】      （修正有）【課題】汎用スケールの精度よく刻まれた目盛りを有効に活用し、被測定物の様々な部位の測定を正確に行うことができる測定器を提供する。【解決手段】測定器１０は、目盛り１１ａが形成されたスケール本体１１と、被測定物２０に接する測定面１３ａを有し、スケール本体に移動可能に取り付けられたスライダ１２と、被測定物に接する測定面を有する基準プレート１３と、直尺のスケール本体を着脱自在に取り付けると共に、スケール本体の目盛りの起点と、基準プレートの測定面が同一面となるように固定する固定ブロック１４とを備える。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
目盛りが形成されたスケール本体と、
被測定物に接する測定面を有し、前記スケール本体に少なくとも一方が移動可能に取り付けられた第１及び第２の測定子と、
を備えた測定器。
【請求項２】
請求項１に記載の測定器において、
前記スケール本体を着脱自在に取り付けると共に、前記スケール本体の目盛りの起点と前記第２の測定子の測定面が同一面となるように固定する固定ブロックを備えたこと、
を特徴とする測定器。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の測定器において、
前記スケール本体は、磁性体により形成されており、
前記第１及び第２の測定子のうち少なくとも移動可能な測定子は、前記スケール本体への取付部に磁石が設けられていること、
を特徴とする測定器。
【請求項４】
請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記第１及び第２の測定子は、測定面が外側を向くように配置されていること、
を特徴とする測定器。
【請求項５】
請求項１から請求項３までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記第１及び第２の測定子は、測定面が内側を向くように配置されていること、
を特徴とする測定器。
【請求項６】
請求項１から請求項５までのいずれか一項に記載の測定器において、
前記スケール本体は、汎用の直尺スケールであること、
を特徴とする測定器。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、ハイトゲージ等に好適に用いられる測定器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
直尺スケールは、いろいろな被測定物の測定を行えて便利であるが、被測定物の形状によっては、直尺スケールの当て方により誤差が生じてしまい、測定に熟練を要するものであった。そこで、被測定物の特殊な形状の部位を測定するときには、特殊な専用ゲージを用意し、その専用ゲージを用いて測定を行うことが行われていた。
しかしながら、専用ゲージは高価である割には使用頻度があまり高くなく、また、被測定物の特殊な形状の被測定部位に合わせて多種類の専用ゲージを用意しなければならないという問題があった。
【０００３】
一つの測定器で、異なる形状の被測定部位を測定できるようにするために考案されたものとしては、「メジャーケースの直角に交わる二つの面に溝を形成し、移動尺とこれに直角に設けた測定片が、前記溝に摺動自在にはめこまれ、測定片と面との間隔寸法を移動尺、又は溝に沿った目盛りで表示されてなる簡易ノギス付きメジャー」が提案されている（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実開昭５６−１４２３０３号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１は、簡易的にノギスの機能を付加したものであり、特定の被測定物には使いやすいが、簡易ノギスをメジャーケースに単に付けただけであるので、メジャーの精度よく形成された目盛りを有効に活用するものではなかった。
【０００６】
本考案の目的は、汎用スケールの精度よく刻まれた目盛りを有効に活用し、被測定物の様々な形状からなる部位の測定を、特殊な専用測定器を用いることなく正確に行うことができる測定器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するために、本考案は、目盛りが形成されたスケール本体と、被測定物に接する測定面を有し、前記スケール本体に少なくとも一方が移動可能に取り付けられた第１及び第２の測定子と、を備えた測定器としてある。
【考案の効果】
【０００８】
本考案によれば、汎用スケールの精度よく刻まれた目盛りを有効に活用し、被測定物の様々な部位の測定を、特殊な専用測定器を用いることなく正確に行うことができる測定器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本考案による測定器の実施形態を示し、（ａ）は全体正面図、（ｂ）は全体側面図、（ｃ）はＢ−Ｂ断面図、（ｄ）はＡ−Ａ簡略断面図、（ｅ）はＡ−Ａ簡略断面図におけるｅ部の詳細断面図である。
【図２】本実施形態に係る測定器のスライダ（第１の測定子）を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）はＡ−Ａ断面図、（ｄ）は副尺を設けた状態の正面図である。
【図３】本実施形態に係る測定器の固定ブロックを示を示し、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図、（ｃ）はＡ−Ａ断面図ある。
【図４】本考案による測定器の応用例を示し、（ａ）は内幅、内径の測定器に応用した例、（ｂ）は外幅、外径の測定器に応用した例、（ｃ）は深さ測定器に応用した例を示す正面図である。
【考案を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面等を参照しながら、本考案の実施形態を詳しく説明する。
図１は、本考案による測定器の実施形態を示す全体図である。
【００１１】
本実施形態の測定器１０は、図１に示すように、直尺スケール（スケール本体）１１と、スライダ（第１の測定子）１２と、基準プレート（第２の測定子）１３と、固定ブロック１４、固定ネジ１５等とを備えている。
【００１２】
直尺スケール１１は、目盛り１１aが形成された帯状の金属板であり、この実施形態では、目盛り１１aが精度よく刻まれた汎用の直尺スケールが用いられており、スケール単体で用いることができるとともに、本実施形態の測定器１０に組み込んで使用することもできる。
この直尺スケール１１は、磁性体により形成されており、例えば、磁石に着くフェライト系ステンレスや、マルテンサイト系ステンレス等を用いることができる。
【００１３】
図２は、本実施形態に係る測定器のスライダ（第１の測定子）を示す図である。
スライダ１２は、非磁性ステンレス鋼（例えば、Ｍｎを含有したオーステナイトステンレス鋼）、アルミニウム、プラスチック等の非磁性体によって構成されている。
このスライダ１２は、直尺スケール１１に取り付けるための取付部１２１と、被測定物２０（図１：２点鎖線参照）に接する肩部１２６を有している。肩部１２６は、測定面１２７を有している。
なお、スライダ１２には、図２（ｄ）に示すように副尺目盛り１１ｂを刻むことができ、このようにすると被加工物の被測定部の寸法をより高精度に測定することが可能となる。
【００１４】
取付部１２１には、直尺スケール１１にスライド可能に取り付けられるスライド溝１２２が形成されており、このスライド溝１２２には、図２（ｂ）に示すような縦長に略楕円形の凹部１２２ａが形成されている。この凹部１２２ａには、上下二個のネジ通し孔１２３が設けられている。そして、図１（ｅ）に示すように、円環状の磁石１２４がネジ通し孔１２３を貫通したネジ１２５により固定されるようになっている。
磁石１２４を用いる理由は、スライダ１２を直尺スケール１１に取り付けた場合、吸着面と垂直方向おいては吸着力が強く離れにくいが、吸着面と平行方向にスライドさせるときは吸着力が弱くスムーズに移動できるからである。
【００１５】
基準プレート（第２の測定子）１３は、被測定物２０に接する測定面１３ａを有し、固定ブロック１４に固定されている。
【００１６】
図３は、本実施形態に係る測定器の固定ブロックを示す図である。
固定ブロック１４は、略直方体の金属ブロックであり、直尺スケール１１を着脱自在に取り付けると共に、直尺スケール１１の目盛りの起点と、基準プレート１３の測定面１３ａが同一面上になるように、基準プレート１３を固定する。
この固定ブロック１４は、図３（ａ）、（ｃ）に示すように、基準プレート１３にネジ止めするための二個の段付き貫通孔１４ａが設けられている。また、この固定ブロック１４は、図３（ｂ）に示すように、四個のネジ孔１４ｂが設けられており、これら四個のネジ孔１４ｂに螺合する固定ネジ１５の頭部により、図１（ａ）〜（ｃ）に示すように、直尺スケール１１の両側面を固定する。
【００１７】
直尺スケール１１は、単独で使用できる汎用品である。
この直尺スケール１１は、基準プレート１３に固定された固定ブロック１４に、四本の固定ネジ１５で固定する。このとき、直尺スケール１１の目盛りの起点と、基準プレート１３の測定面１３ａが同一面上になるように、基準プレート１３を固定する。
ついで、スライダ１２は、その凹部１２２ａに直尺スケール１１を挿入することにより、磁力によって吸着固定される。
このようにして、測定器１０の組立が完成する。
【００１８】
この測定器１０は、基準プレート１３を接地させ、図１に示すように、基準プレート１３の測定面１３ａに被測定物２０を載せる。
次に、スライダ１２をスライドさせ、その測定面１２７を被測定物２０の上端に接触させる。
そうすると、スライダ１２の測定面１２７の延長線上の目盛り１１ａを読めば、被測定物２０の正確な高さを測定することができる。なお、スライダ１２に副尺目盛１１ｂを刻んであるときは、この副尺目盛りを併せ読むことによって、より正確な測定を行うことができる。
【００１９】
以上説明したように、本実施形態によれば、汎用の直尺スケール１１の精度よく刻まれた目盛り１１ａ（スライダ１２に精度よく刻まれた副尺目盛１１ｂ）を有効に活用し、様々な部位（本実施形態では、被測定物２０の高さ）の測定を正確に行うことができる。
【００２０】
以上、本考案の実施形態について説明したが、本考案は、前述した実施形態に限定されるものではなく、例えば、後述する変形形態等のように種々の変形や変更が可能であって、それらも本考案の技術的範囲内である。
また、実施形態に記載した効果は、本考案から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本考案による効果は、実施形態に記載したものに限定されない。
なお、前述した実施形態及び後述する変形形態は、適宜組み合わせて用いることもできるが、詳細な説明は省略する。
【００２１】
以下に説明する応用例（変形形態）では、前述した実施形態と同様な機能を示す部分には、同一の符号を付すか、末尾が共通する符号を付して、重複する説明を適宜省略する。
図４は、本考案による測定器の応用例を示す図である。
図４（ａ）の例は、直尺スケール１１に二つのスライダ１２Ａを、各測定面１２ａが外側を向くように配置したものである。この場合、二つのスライダ１２Ａを移動可能とすると操作性が向上する。
このようにすれば、被測定物２０Ａの内幅、内径の測定をすることができる。
【００２２】
図４（ｂ）の例は、直尺スケール１１に二つのスライダ１２Ｂを、各測定面１２ａが内側を向くように配置したものである。この場合、二つのスライダ１２Ｂを移動可能とすると操作性が向上する。
このようにすれば、被測定物２０Ｂの外幅、外径の測定をすることができる。
【００２３】
図４（ｃ）の例は、直尺スケール１１に二つ肩部のある一体に設けられたスライダ１２Ｃ−１（第１の測定子）、１２Ｃ−２（第２の測定子）を、各測定面１２ａが同一方向（ここでは、下方向）を向くように配置したものである。
このようにすれば、有底筒状の被測定物２０Ｃにおける深さの測定を行うことができる。
【００２４】
なお、スケール本体は、直線状の直尺スケールを用いた例で説明したが、図４（ａ）に示す応用例、図４（ｂ）に示す応用例等においては、曲尺スケール、例えばＬ字状のスケール等を用いることも可能である。
【符号の説明】
【００２５】
１０，１０Ａ，１０Ｂ，１０Ｃ：測定器
１１：直尺スケール（スケール本体）
１２：スライダ（第１の測定子）
１３：基準プレート（第２の測定子）
１４：固定ブロック
１５：固定ネジ
２０，２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ：被測定物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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