(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象となる装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔で全てを構成するデータが書き込まれた記憶領域を有する基準媒体に対し、前記記録領域を相対的に移動することにより前記書き込まれたデータを読取る第１の読取部と、前記第１の読取部に対向して配置され、前記検査対象である書込み装置により検査媒体の記録領域に書き込まれた磁気データを、前記記録領域を相対的に移動することにより読取る第２の読取部とを具備した読取装置と、
前記第１の読取部で読取られたデータと前記第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理する演算処理部と、該演算処理部で演算処理された結果を表示する表示部とを具備した演算処理装置とから成り、
前記読取装置は、前記基準媒体と前記検査媒体とを、互いの記憶領域が背中合わせになるように重ね合わせて第１の読取部と第２の読取部を通過させ、前記第１の読取部と前記第２の読取部は同一の移動速度で前記基準媒体と前記検査媒体の各記録領域とのそれぞれのデータを読み取り、
前記演算処理部は前記第１の読取部で読取った前記基準媒体のデータから読取の際の移動速度を求め、求めた移動速度に基いて前記第１の読取部で読取った前記基準媒体のデータの磁気極性反転間隔と前記第２の読取部で読取った前記検査媒体の各記録領域の磁気データの磁気極性反転間隔との差を求めることによりジッタを測定することを特徴とする磁気データ記録状態検査装置。
【請求項２】
検査対象となる装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔で全てを構成するデータが書き込まれた記憶領域を有する基準媒体に対し、前記記録領域を相対的に移動することにより前記書き込まれたデータを読取る第１の読取部と、前記第１の読取部に対向して配置され、前記検査対象である書込み装置により検査媒体の記録領域に書き込まれた磁気データを、前記記録領域を相対的に移動することにより読取る第２の読取部とを具備した読取装置と、
前記第１の読取部で読取られたデータと前記第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理する演算処理部と、該演算処理部で演算処理された結果を表示する表示部とを具備した演算処理装置とから成り、
前記第２の読取部は、前記移動方向に直交する方向に所定の間隔で互いにずらして配置した第３の読取部と第４の読取部とから成り、
前記読取装置は、前記基準媒体と前記検査媒体とを、互いの記憶領域が背中合わせになるように重ね合わせて第１の読取部と第２の読取部を通過させ、前記第１の読取部と前記第２の読取部は同一の移動速度で前記基準媒体と前記検査媒体の各記録領域とのそれぞれのデータを読み取り、
前記演算処理部は前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度を求め、求めた移動速度に基いて前記第３の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔と前記第４の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔との差を求め、この差と前記所定の間隔の値とからアジマス角を測定する磁気データ記録状態検査装置。
【請求項３】
前記基準媒体と前記検査媒体を重ね合わせた状態で保持するホルダーを有する請求項１または２記載の磁気データ記録状態検査装置。
【請求項４】
前記演算処理装置は、前記移動速度の許容値および移動速度変動の許容値を格納する記憶部を有し、前記演算処理部は、前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度および移動速度変動を求め、前記記憶部に格納してある前記移動速度の許容値および移動速度変動の許容値を逸脱している場合は前記表示部に再検査を促す表示をする請求項１または２記載の磁気データ記録状態検査装置。
【請求項５】
前記検査媒体を保持するホルダーを有し、前記基準媒体の記録領域は前記ホルダーに施された光学データであり、前記第１の読取部は前記光学データを読取る光学センサであり、前記演算処理部は前記光学センサで読取られたデータと前記第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理する請求項１または２記載の磁気データ記録状態検査装置。
【請求項６】
前記演算処理装置はノート型パーソナルコンピュータである請求項１または２記載の磁気データ記録状態検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録媒体に設けられる記録領域に書込まれる磁気データの記録状態、とくにジッタやアジマス角を検査する磁気データ記録状態検査装置に関し、とくに持ち運びが容易な磁気データ記録状態検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、記録媒体に磁気データを書き込む書込装置においては、書込装置を生産する工場における出荷時や、あるいは書込装置を使用するフィールドにおける点検時において、書込装置が記録媒体に書込んだ磁気データのジッタやアジマス角が正常の範囲に収まっているかを検査する必要がある。こうした検査を行う装置として従来、特開平８−３６７０１号公報に開示されるものがある。
【０００３】
特開平８−３６７０１号公報に開示される検査装置は、磁気データが所定の記録領域に直線状に記録された媒体を位置決め支持する支持部を設け、媒体の記録領域に対向配置され、その記録領域に沿う基準線上を直線的に移動して磁気データを読取るように磁気ヘッドが設けられている。そして基準線上に設定した基準位置からの磁気ヘッドの移動距離を計測する計測部を有し、さらに磁気ヘッドの出力と計測部の出力とを受け入れて、基準位置を基点とした基準線上の磁気データの読取信号レベル変化を認識し、磁気データの記録密度を演算処理する演算部と演算部による演算処理結果を表示する表示部とを有するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら上記の磁気データ記録状態検査装置は、精度を要する機構可動部を備えた上、大型であるので、一定の場所に据え置きとなり、検査対象の装置によりデータを書込んだ媒体を検査装置のある場所にまで持ち運ぶ必要があった。とくにフィールドで検査を行う場合には、データを書込んだ媒体を持ち帰って検査を行うので、検査対象の装置に異常が発見された場合、その手当てに遅れが出る可能性が高いという問題があった。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明の磁気データ記録状態検査装置は、基準媒体の記録領域に記録されたデータを前記記録領域を相対的に移動することにより読取る第１の読取部と、前記第１の読取部に対向して配置され、検査対象である書込み装置により検査媒体の記録領域に書き込まれた磁気データを前記記録領域を相対的に移動することにより読取る第２の読取部とを具備した読取装置と、前記第１の読取部で読取られたデータと前記第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理する演算処理部と、該演算処理部で演算処理された結果を表示する表示部とを具備した演算処理装置とから成るものである。
【０００６】
前記第１の読取部と前記第２の読取部は同一の移動速度でそれぞれのデータを読取り、前記演算処理部は前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度を求め、求めた移動速度に基いて前記第１の読取部で読取ったデータの磁気極性反転間隔と前記第２の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔との差を求めることによりジッタを測定するようにする。
【０００７】
また前記第２の読取部を、前記移動方向に直交する方向に所定の間隔で互いにずらして配置した第３の読取部と第４の読取部とから成るようにし、前記演算処理部は前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度を求め、求めた移動速度に基いて前記第３の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔と前記第４の読取部で読取った磁気データの磁気極性反転間隔との差を求め、この差と前記所定の間隔の値とからアジマス角を測定するようにする。
【０００８】
また演算処理装置は、移動速度の許容値および移動速度変動の許容値を格納する記憶部を有し、演算処理部は、前記第１の読取部で読取ったデータから読取の際の移動速度および移動速度変動を求め、記憶部に格納してある移動速度の許容値および移動速度変動の許容値を逸脱している場合は表示部に再検査を促す表示をするようにしてもよい。
【０００９】
さらに、基準媒体の記録領域をホルダーに施された光学データとし、第１の読取部を光学データを読取る光学センサとし、演算処理部は光学センサで読取られたデータと第２の読取部で読取られた磁気データとを演算処理するようにしてジッタの測定とアジマス角の測定を行うようにしてもよい。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面にしたがって説明する。図１は本発明の第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図、図２は第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【００１１】
図１において、第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置１の読取ユニット２には、磁気データを読取る磁気ヘッド３、４が対向して設けられている。磁気ヘッド３、４は互いに退避可能に支持されるとともに、互いに接近する方向に図示しないバネ部材により付勢されている。両磁気ヘッド３、４の間には磁気カードが通過するガイド溝５が形成されている。また読取ユニット２には回路部６が設けられ、磁気ヘッド３、４はこの回路部６に接続されている。
【００１２】
読取ユニット２で読取られる磁気カードは、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を互いに背中合わせになるように重ね合わせたものである。即ち、検査用磁気カード７の磁気ストライプ９と基準磁気カード８の磁気ストライプ１０とがそれぞれ外側になるように、またガイド溝５に挿入されたときにそれぞれ磁気ヘッド３、４に対向するように重ね合わされている。
【００１３】
検査用磁気カード７の磁気ストライプ９のデータトラックには、検査対象となるカードリーダ・ライタ等の磁気データを書き込む装置により、任意の磁気データが書き込まれている。また基準磁気カード８の磁気ストライプ１０のデータトラックには、検査対象となる装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔で全てを構成するデータが、マスター装置により書込まれている。
【００１４】
図２において、検査用磁気カード７の磁気ストライプ９に対向する磁気ヘッド３には、２つの読取部１１、１２が設けられている。読取部１１、１２は、磁気カード７、８がガイド溝５を通過する方向に直交する方向に所定の間隔を置いて配設され、ともに磁気ストライプ９のデータトラックを読取る。また磁気ヘッド４には１つの読取部１３が設けられ、この読取部１３は磁気ストライプ１０を読取る。
【００１５】
読取ユニット２の回路部６には、増幅部１４、１５、１６およびＡ／Ｄ変換部１７が設けられ、各読取部１１、１２、１３はそれぞれ対応する増幅部１４、１５、１６に接続され、増幅部１４、１５、１６はＡ／Ｄ変換部１７に接続される。
【００１６】
磁気データ記録状態検査装置１は読取ユニット２とデータ処理ユニット１８とで構成され、Ａ／Ｄ変換部１７の出力がデータ処理ユニット１８へ送出される。データ処理ユニット１８は例えばこのユニット１８の各機能の動さを実行するプログラムを組み込んだノート型パーソナルコンピュータが使用される。データ処理ユニット１８には、データ処理部１９、演算部２０、演算結果編集部２１、表示制御部２２および表示部２３が具備されている。
【００１７】
データ処理部１９は読取ユニット２から受け取ったデータ信号を演算可能な値に変換する。演算部２０はデータ処理部１９で変換したデータを演算する。演算結果編集部２１はデータの演算結果を表やグラフの形で表示可能に編集する。表示制御部２２は編集したデータを表示部２３で表示するための制御を行う。
【００１８】
次に第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置１の動作を図３および図４にしたがって説明する。図３は第１の実施の形態の検査の流れを示すフローチャート、図４は第１の実施の形態の動作を説明するための動作説明図である。まず図３により磁気データ記録状態の検査の流れを説明する。
【００１９】
まずステップ１で、検査員が検査対象となる磁気データ書込装置から検査用磁気カード３に任意のデータを書き込み、次にステップ２で、データ処理ユニット１８に対するパラメータ設定として、検査対象となる磁気データ書込装置の規格であるデータビット間隔の最小ピッチのビット間隔の値を図示しない入力部から入力する。
【００２０】
次にステップ３で、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を互いの磁気ストライプ９、１０が背中合わせになるように重ね合わせ、ステップ４で、読取ユニット２のガイド溝５に挿入し、磁気ヘッド３と磁気ヘッド４の間を通過させて検査用磁気カード７と基準磁気カード８の磁気データを読取ユニット２に読取らせる。
【００２１】
次にステップ５で、データ処理ユニット１８において読取ユニット２で読取ったデータを演算可能な値に変換し、ステップ６で、演算と編集を行い、編集した結果を表示部２３に表示する。そしてステップ７で検査員が表示内容を確認して一連の検査の流れを終了する。
【００２２】
次に図４を用いて検査データの処理について詳細に説明する。図４において、基準磁気カード８のデータトラック２４には、検査対象となる書込装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔Ｌで全てを構成するデータが、マスター装置により書込まれており、このデータビットが整然と並び、このビットの中心、即ち、磁気極性の反転箇所が２５として示してある。このデータを基準磁気ヘッド８の読取部１３が読取る。
【００２３】
また検査用磁気カード７のデータトラック２６には、検査対象であるカード・リーダ等の書込装置により任意の磁気データが書き込まれており、このデータビットの中心、即ち、磁気極性の反転箇所が２７として示してある。このデータの図における下半分を読取部１１で読取り、上半分を読取部１２で読取る。読取部１１、１２、１３による読取結果は、各読取部の時間による出力電圧の変化として現れ、この時間による電圧変化の正のピークと負のピークの位置が、上述の磁気極性の反転箇所２５、２７の位置となる。
【００２４】
出力電圧のピーク信号が、読取ユニット２のＡ／Ｄ変換部１７からデータ処理ユニット１８のデータ処理部１９へ送られると、データ処理部１９において信号のピーク間隔が時間測定され、時間長として演算可能な値に変換される。図４に示すＴ、ｔ、ｔ´は時間長として変換された測定値である。
【００２５】
次にデータ処理ユニット１８の演算部２０において、データ処理部１９で変換された測定値に対して、以下の計算がなされる。以下にこの計算について説明するが、まず計算説明における符号の意味を説明する。まずＬは上述したように、検査対象の装置の規格データビット間隔の最小ピッチを示し、Ｔ１〜Ｔｎは読取部１３のビット間隔検出所要時間を示す。
【００２６】
ｔ１〜ｔｎはＴ１〜Ｔｎの起点から読取部１１がデータを検出するまでの時間を示し、ｔ´１〜ｔ´ｎはＴ１〜Ｔｎの起点から読取部１１がデータを検出するまでの時間を示す。ｔ、ｔ´は自らの前にある最寄りのＴの起点から測定した値である。
【００２７】
つぎにジッタの測定について説明する。ジッタは規格データビット間隔と検査用磁気カードの実データビット間隔の差であり、次の計算式で求められる。即ち、１ビット目を基準とした２ビット目のジッタは、Ｌ（ｔ２／Ｔ２）−Ｌ（ｔ１／Ｔ１）により求められる。
【００２８】
また３ビット目は、検査用磁気カード７のデータトラック２６には磁気極性斑点箇所がない。この場合はデータビット無しと判断する。
【００２９】
次に４ビット目のジッタは、２ビット目を基準にして、Ｌ（ｔ３／Ｔ４）−Ｌ（ｔ２／Ｔ２）により求められる。
【００３０】
同様にして計算を行い、ｎビット目のジッタは、Ｌ（ｔｎ／Ｔｎ）−Ｌ（ｔｎ−１／Ｔｎ−１）により求められる。
【００３１】
以上のジッタの測定計算においては、読取部１１の検出結果に基いてジッタを求めているが、読取部１２の検出結果（ｔ´）に基いて求めるようにしてもよく、あるいはｔとｔ´の平均値から求めるようにしてもよい。なおｔとｔ´の平均値から求めるようにした場合に、図４におけるｎビット目のように、ｔ´ｎがＴｎ＋１に掛かっている場合、ｔｎの基準であるＴｎの起点からｔ´ｎも測定すればよい。
【００３２】
次にアジマス角の測定について説明する。アジマス角は、データビットの並び軸と直交する軸に対するビットの傾きであり、次の計算式により求められる。即ち、磁気ヘッド３の読取部１１と読取部１２の間の距離をＰとすると、この距離Ｐは１ビット目を例にして計算すると、Ｌ（ｔ´１／Ｔ１）−Ｌ（ｔ１／Ｔ１）となり、これをＱとしてアジマス角θを求めると、θ＝ｔａｎ-1（Ｑ／Ｐ）で求めることができる。他のビットのアジマス角θについても同様にして求めることができる。
【００３３】
以上の計算結果がデータ処理ユニット１８の演算結果編集部２１により編集され、表示制御部２２の制御により表示部２３に表やグラフの形で表示される。
【００３４】
以上のように第１の実施の形態においては、磁気データ記録状態検査装置１が小型になり、検査対象のカード・リーダ等の書込装置の設置場所へ容易に持ち込むことが可能になり、特にフィールドでの検査が容易になり、検査対象の装置における異常の有無が即座に判明する。そして異常が発見された場合には即座に対応することが可能になる。
【００３５】
次に本発明の第２の実施の形態を説明する。図５は第２の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図、図６は第２の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【００３６】
図５、図６において、第２の実施の形態は、前記第１の実施の形態の構成に対して、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を重ね合わせた状態で保持するためのホルダー３０を設けたものである。ホルダー３０は、重ね合わされる検査用磁気カード７と基準磁気カード８の両方の背面を支持する面支持部３１と、磁気カード７と基準磁気カード８の側端面を支持する側端面支持部３２および磁気カード７と基準磁気カード８の上端面を支持する上端面支持部３３とを有する。その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００３７】
図７は第２の実施の形態における検査の流れを示すフローチャートである。図７において、まずステップ１１で、検査員が検査対象となる磁気データ書込装置から検査用磁気カード３に任意のデータを書き込み、次にステップ１２で、データ処理ユニット１８に対するパラメータ設定として、検査対象となる磁気データ書込装置の規格であるデータビット間隔の最小ピッチのビット間隔の値を図示しない入力部から入力する。
【００３８】
次にステップ１３で、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を互いに背中合わせになるように重ね合わせるが、検査用磁気カード７と基準磁気カード８をホルダー３０の側端面支持部３２と上端面支持部３３に合わせるようにするとともに、検査用磁気カード７と基準磁気カード８の背面が面支持部３１に密着するように重ね合わせる。次にステップ１４で、ホルダー３０にセットした状態で読取ユニット２のガイド溝５に挿入し、磁気ヘッド３と磁気ヘッド４の間を通過させて検査用磁気カード７と基準磁気カード８の磁気データを読取ユニット２に読取らせる。
【００３９】
以下のステップ１５、１６、１７は第１の実施の形態のステップ５、６、７と同様である。
【００４０】
以上のように第２の実施の形態によれば、ホルダー３０で検査用磁気カード７と基準磁気カード８が確実に支持されるので、例えばプリペイドカードのように薄手の媒体であっても安定した検査結果が得られる効果がある。またキャッシュカードのような厚手の媒体であっても、媒体として例えば滑りやすい材質を用いることが可能になり、材質の選択の自由度が増大する。
【００４１】
次に第３の実施の形態を説明する。図８は第３の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。図８において、データ処理ユニット３５には、媒体速度記憶部３６が設けられている。その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００４２】
媒体速度記憶部３６は、検査用磁気カード７と基準磁気カード８を磁気ヘッド３と磁気ヘッド４の間を通過させる際の通過速度および通過速度変動に対して許容範囲を設けており、その範囲の上限値と下限値を記憶している。許容範囲を設ける理由は、検査用磁気カード７と基準磁気カード８の通過により磁気ヘッド３と磁気ヘッド４から電流を発生させる構成となっていることから、電流波形の形成に通過速度が重要な要素となるからで、電流発生から演算可能な値に変換する過程で、この処理を実行する回路の処理において不具合が生じない電流波形が形成できるように通過速度および通過速度変動を管理するためである。
【００４３】
前記第１の実施の形態と異なる点は、通過速度および通過速度変動の許容範囲の上限値および下限値と、基準磁気カードから読み取り演算可能な値に変換したデータとを演算部２０で演算比較し、基準磁気カードのデータの値が許容範囲に収まらない場合は、その旨をメッセージとして表示部に表示するようにした点である。
【００４４】
データ処理ユニット１８をノート型パーソナルコンピュータとした場合は、上記の処理動作は動作プログラムとしてノート型パーソナルコンピュータに組み込まれる。
【００４５】
次に第３の実施の形態の動作をさらに図９に示すフローチャートと図４により説明する。図９は第３の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。まずフローチャートに示すステップ２１からステップ２５までの動作は図３の第１の実施の形態のステップ１からステップ５までの動作と同様である。
【００４６】
ステップ５´において、基準磁気カード８から得たＴ１〜Ｔｎの値と、媒体速度記憶部３６に記憶される値とが、演算部２０により比較演算される。通過速度については、Ｔ１〜Ｔｎの値を合計し、この合計値が媒体速度記憶部３６に記憶した上限値と下限値の間に収まるかどうか判断される。また通過速度変動については、Ｔ１とＴ２、Ｔ２とＴ３、Ｔ３とＴ４、…、Ｔｎ−１とＴｎというように、隣り合う値を随時比較し、隣り合う値の差がそれぞれ媒体速度記憶部３６に記憶した通過速度変動の上限値と下限値の間に収まるかどうか判断される。
【００４７】
何れかの場合に、あるいは両方の場合に上限値と下限値の間に収まらない場合は、ステップ２８において、例えば通過速度が下限値を下回る場合は「もう少しカードを速く移動してください」、また通過速度が上限値を上回る場合は「もう少しカードを遅く移動してください」などのメッセージを表示部２３に表示し、また通過速度変動が大きい場合は、例えば「一定の速度でカードを移動してください」などのメッセージを表示部２３に表示して、再検査を要求する。
【００４８】
通過速度も通過速度変動も許容範囲内に収まる場合は、ステップ２６において、測定した値の演算および編集を行い、編集した結果を表示部２３に表示する。ステップ２７において、検査員が再検査の要求を確認した場合はステップ２３からの動作を繰返し、再検査要求がない場合は表示内容を確認して一連の検査の流れを終了する。
【００４９】
以上のように第３の実施の形態においては、通過速度および通過速度変動が許容範囲内に収まる場合にのみジッタおよびアジマス角の測定を行うようにしたので、安定した電流波形を基として測定を行うことができ、検査結果の信頼性が向上する。
【００５０】
次に本発明の第４の実施の形態を説明する。図１０は第４の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。図１０において、読取ユニット２には、磁気ヘッド３に対向して光学センサ４０が設けられ、光学センサ４０の両側には、磁気ヘッド３のバネ付勢による力を受けるガイドローラ４１、４２が回転可能に設けられている。
【００５１】
本実施の形態ではホルダー４５が使用され、検査用磁気カード７がホルダー４５に保持されるとともに、ホルダー４５に光学データが書込まれる。図１１は第４の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【００５２】
図１１において、ホルダー４５には、面支持部４６、側端面支持部４７および上端面支持部４８が形成されており、これらの支持部は全て検査用磁気カード３のみを支持するようになっている。面支持部４６の、検査用磁気カード３を支持する面の反対側の面には、光学データ４４がバーコード状に付されている。光学データが付される位置は、ホルダー４５が読取ユニットのガイド溝を通過する際に光学センサ４０と対向する位置である。
【００５３】
バーコード状の光学データ４４の間隔は、検査対象となる書込装置の規格であるデータビット間隔の、最小ピッチのビット間隔となっている。したがって、ホルダー４５の光学データ４４は光学センサ４０により読取られるが、読取った結果は第１の実施の形態における基準磁気カード８の磁気データを磁気ヘッド４が読取った結果と同等になる。即ち、本実施の形態ではホルダー４５が基準磁気カードの代用をする。
【００５４】
図１０において、検査用磁気カード７を重ね合わせたホルダー４５を、磁気ヘッド３と光学センサ４０との間を通過させる際、バネ付勢される磁気ヘッド３の押圧は検査用磁気カード７およびホルダー４５を介してガイドローラ４１、４２が受け止めるので、ホルダー４５が光学センサ４０に接触することはなく、光学センサ４０は非接触でホルダー４５の光学データ４４を読取る。
【００５５】
図１２は第４の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。フローチャートに示すステップ３３において、検査用磁気カード７のみをホルダー４５の側端面支持部４７および上端面支持部４８に位置合わせして面支持部４６に重ね合わせる。次のステップ３４では、検査用磁気カード７をホルダー４５にセットした状態で、磁気ヘッド３と光学センサ４０の間を通過させ、検査用磁気カード７のデータトラックを磁気ヘッド３により読取るとともに、光学センサ４０によりホルダー４５の光学データ４４を読取る。
【００５６】
以降のステップにおいて読取られた磁気データと光学データが処理され、第１の実施の形態で説明したと同様にジッタおよびアジマス角が測定され、測定結果が表示される。
【００５７】
以上のように第４の実施の形態においては、測定の基準となるデータが光学データであるので、光学センサにより非接触で読取ることが可能である。それゆえ基準媒体（ホルダー）の繰返し使用回数を増やすことができ、長期間に亘って使用が可能である。第４の実施の形態においては、前記各実施の形態と同様に専用の基準磁気媒体を使用することも勿論可能であり、この場合は基準磁気媒体に光学データを書込んでおくわけであるが、ホルダーに光学データを書き込むことにより、専用の磁気媒体が不要になるとともに、ホルダーに対して磁気カードを重ね合わせることが容易になる。
【００５８】
以上の各実施の形態においては、磁気カードを対象として磁気データ記録状態を検査する装置について説明したが、磁気データを保持する媒体として磁気カードのほかに例えば通帳や航空券を用いて磁気データの記録状態を検査する装置にも本発明は適用可能である。
【００５９】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように本発明によれば、磁気データ記録状態検査装置が小型になり、検査対象のカード・リーダ等の書込装置の設置場所へ容易に持ち込むことが可能になり、特にフィールドでの検査が容易になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図である。
【図２】第１の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【図３】第１の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。
【図４】第１の実施の形態の動作を説明するための動作説明図である。
【図５】第２の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示す概略斜視図である。
【図６】第２の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【図７】第２の実施の形態における検査の流れを示すフローチャートである。
【図８】第３の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【図９】第３の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。
【図１０】第４の実施の形態の磁気データ記録状態検査装置を示すブロック図である。
【図１１】第４の実施の形態のホルダーを示す三面図である。
【図１２】第４の実施の形態の検査の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１  磁気データ記録状態検査装置
２  読取ユニット
３、４  磁気ヘッド
７  検査用磁気カード
８  基準磁気カード
１８  データ処理ユニット
３０、４５  ホルダー
４０  光学センサ
【図１】
0004261762.tif 000002
【図２】
0004261762.tif 000003
【図３】
0004261762.tif 000004
【図４】
0004261762.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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