【手続補正書】
【提出日】平成25年5月9日(2013.5.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼と前記測定光の光路を含む光学系との位置関係を変更する位置関係変更手段と、
前記被検眼を有する被検者の識別情報に関連付けられた断層画像をデータベースから検索する検索手段と、
前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の傾き情報の差分に基づいて、前記位置関係変更手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮影装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記傾き情報の差分が所定の範囲以内になるように、前記位置関係変更手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項３】
前記測定光路の光路長と前記参照光路の光路長との差を変更する光路長差変更手段を更に備え、
前記制御手段は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の位置情報の差分に基づいて、前記光路長差変更手段を制御することを特徴とする請求項１または２に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項４】
前記測定光の偏光に対する前記参照光の偏光を相対的に変更する偏光変更手段を更に備え、
前記制御手段は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の輝度情報の差分に基づいて、前記偏光変更手段を制御することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項５】
前記測定光の光量に対する前記参照光の光量を相対的に変化させる光量変更手段を更に備え、
前記制御手段は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の輝度情報の差分に基づいて、前記光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項６】
前記被検者の識別情報を入力する入力手段と、
前記検索された断層画像と前記取得された断層画像とを比較する比較手段と、を更に備え、
前記比較される断層画像は、前記識別情報により特定される同一の被検者の断層画像であることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
【請求項７】
光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
前記光干渉断層撮影装置の取得手段が、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得工程と、
前記光干渉断層撮影装置の位置関係変更手段が、前記被検眼と前記測定光の光路を含む光学系との位置関係を変更する位置関係変更工程と、
前記光干渉断層撮影装置の検索手段が、前記被検眼を有する被検者の識別情報に関連付けられた断層画像をデータベースから検索する検索工程と、
前記光干渉断層撮影装置の制御手段が、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の傾き情報の差分に基づいて、前記位置関係変更手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。
【請求項８】
前記制御工程は、前記傾き情報の差分が所定の範囲以内になるように、前記位置関係変更手段を制御することを特徴とする請求項７に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
【請求項９】
前記光干渉断層撮影装置の光路長差変更手段が、前記測定光路の光路長と前記参照光路の光路長との差を変更する光路長差変更工程を更に有し、
前記制御工程は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の位置情報の差分に基づいて、前記光路長差変更手段を制御することを特徴とする請求項７または８に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
【請求項１０】
前記光干渉断層撮影装置の偏光変更手段が、前記測定光の偏光に対する前記参照光の偏光を相対的に変更する偏光変更工程を更に有し、
前記制御工程は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の輝度情報の差分に基づいて、前記偏光変更手段を制御することを特徴とする請求項７乃至９のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
【請求項１１】
前記光干渉断層撮影装置の光量変更手段が、前記測定光の光量に対する前記参照光の光量を相対的に変化させる光量変更工程を更に有し、
前記制御工程は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の輝度情報の差分に基づいて、前記光量変更手段を制御することを特徴とする請求項７乃至１０のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
【請求項１２】
前記光干渉断層撮影装置の入力手段が、前記被検者の識別情報を入力する入力工程と、
前記光干渉断層撮影装置の比較手段が、前記検索された断層画像と前記取得された断層画像とを比較する比較工程と、を更に有し、
前記比較される断層画像は、前記識別情報により特定される同一の被検者の断層画像であることを特徴とする請求項７乃至１１のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
【請求項１３】
コンピュータに、請求項７乃至１２のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法の各工程を実行させるためのプログラム。
【請求項１４】
眼科システムであって、前記眼科システムの光干渉断層撮影装置が、
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼と前記測定光の光路を含む光学系との位置関係を変更する位置関係変更手段と、
前記被検眼を有する被検者の識別情報に関連付けられた断層画像をデータベースから検索する検索手段と、
前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の傾き情報の差分に基づいて、前記位置関係変更手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする眼科システム。
【請求項１５】
前記制御手段は、前記傾き情報の差分が所定の範囲以内になるように、前記位置関係変更手段を制御することを特徴とする請求項１４に記載の眼科システム。
【請求項１６】
前記光干渉断層撮影装置が、前記測定光路の光路長と前記参照光路の光路長との差を変更する光路長差変更手段を更に備え、
前記制御手段は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の位置情報の差分に基づいて、前記光路長差変更手段を制御することを特徴とする請求項１４または１５に記載の眼科システム。
【請求項１７】
前記光干渉断層撮影装置が、前記測定光の偏光に対する前記参照光の偏光を相対的に変更する偏光変更手段を更に備え、
前記制御手段は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の輝度情報の差分に基づいて、前記偏光変更手段を制御することを特徴とする請求項１４乃至１６のいずれか１項に記載の眼科システム。
【請求項１８】
前記光干渉断層撮影装置が、前記測定光の光量に対する前記参照光の光量を相対的に変化させる光量変更手段を更に備え、
前記制御手段は、前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の所定の部位の輝度情報の差分に基づいて、前記光量変更手段を制御することを特徴とする請求項１４乃至１７のいずれか１項に記載の眼科システム。
【請求項１９】
前記光干渉断層撮影装置が、前記被検者の識別情報を入力する入力手段と、
前記検索された断層画像と前記取得された断層画像とを比較する比較手段と、を更に備え、
前記比較される断層画像は、前記識別情報により特定される同一の被検者の断層画像であることを特徴とする請求項１４乃至１８のいずれか１項に記載の眼科システム。
【請求項２０】
被検眼の眼底の所定領域の第１の断層画像を記憶する記憶装置と、
測定光を照射した被検眼からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを干渉させた干渉光に基づいて該被検眼の眼底の前記所定領域の第２の断層画像を取得する光干渉断層撮影装置と、
前記被検眼を有する被検者の識別情報に関連付けられた前記第１の断層画像を前記記憶装置から検索する検索装置と、を備え、
前記光干渉断層撮影装置は、
前記光干渉断層撮影装置を構成する部材を駆動する駆動手段と、
前記第１の断層画像及び第２の断層画像の画像情報の差分が所定の範囲以内になるように、前記駆動手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする眼科システム。
【請求項２１】
前記制御手段により前記駆動手段の駆動が制御されると、前記光干渉断層撮影装置が前記被検眼の眼底の前記所定領域の第３の断層画像を取得することを特徴とする請求項２０に記載の眼科システム。
【請求項２２】
前記制御手段は、前記第１の断層画像及び第２の断層画像の所定の層の位置の差分が所定の範囲以内になるように、前記駆動手段の駆動によりコヒーレンスゲートの位置を変更することを特徴とする請求項２０または２１に記載の眼科システム。
【請求項２３】
コンピュータを、請求項１４乃至２２のいずれか１項に記載の眼科システムの光干渉断層撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
上記の目的を達成する本発明の一つの側面にかかる光干渉断層撮影装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得手段と、
前記被検眼と前記測定光の光路を含む光学系との位置関係を変更する位置関係変更手段と、
前記被検眼を有する被検者の識別情報に関連付けられた断層画像をデータベースから検索する検索手段と、
前記取得された断層画像と前記検索された断層画像とにおける前記被検眼の傾き情報の差分に基づいて、前記位置関係変更手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。