【手続補正書】
【提出日】平成25年1月23日(2013.1.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の参照光の光路長と前記複数の戻り光の光路長とのそれぞれの光路長差の変更量を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記変更量に基づいて前記光路長差を変更する変更手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記指示手段が、
前記変更量をそれぞれ指示する第１の指示手段と、
前記変更量を関連付けて指示する第２の指示手段と、
を有することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記第２の指示手段が、前記変更量を同時に指示することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記変更手段が、前記複数の参照光の光路長をそれぞれ変更することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記変更手段が、前記複数の参照光の光路それぞれに設けられた参照ミラーを光軸方向それぞれに移動する移動手段を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記被検査物が被検眼であり、
前記複数の測定光を前記被検眼の前眼部で交差するように照射する照射手段を有し、
前記指示手段が、前記被検眼の特性に基づいて前記変更量を指示する手段を有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記指示手段の機能を有する画像を表示手段に表示させる指示表示制御手段を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記複数の光に基づく前記被検査物の複数の光干渉断層画像それぞれを前記表示手段に表示させる断層画像表示制御手段を有し、
前記指示表示制御手段が、前記複数の光干渉断層画像それぞれに対応付けて前記指示手段の機能を有する画像それぞれを前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の交差画像を前記表示手段に表示させる交差画像表示制御手段と、
前記複数の光干渉断層画像それぞれの位置を前記交差画像に対応付けて前記表示手段に表示させる位置表示制御手段
を有することを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
【請求項１０】
前記複数の光干渉断層画像に対応する画像情報を示す画像それぞれを前記表示手段に表示させる画像情報表示制御手段を有することを特徴とする請求項８あるいは９に記載の撮像装置。
【請求項１１】
前記複数の測定光を前記被検査物に照射する方向に対して交差する方向の該被検査物の交差画像を前記表示手段に表示させる交差画像表示制御手段と、
前記複数の測定光の走査範囲を前記交差画像に対応付けて前記表示手段に表示させる走査範囲表示制御手段と、
を有することを特徴とする請求項７乃至１０のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１２】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の参照光の光路長と前記複数の戻り光の光路長との光路長差の変更量をそれぞれ指示する第１の指示手段と、
前記変更量を関連付けて指示する第２の指示手段と、
前記第１の指示手段の機能を有する画像と前記第２の指示手段の機能を有する画像とを表示手段に表示させる指示表示制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１３】
複数の測定光に照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の光に基づく前記被検査物の複数の光干渉断層画像それぞれを表示手段に表示させる断層画像表示制御手段と、
前記複数の光干渉断層画像に対応する画像情報を示す画像それぞれを前記表示手段に表示させる画像情報表示制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１４】
請求項７乃至１３のいずれか１項に記載の撮像装置を用いて前記被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像方法であって、
前記表示手段に表示させる信号を入力する入力工程と、
前記入力工程で入力された信号に基づく情報を前記表示手段に表示する表示工程と、
を含むことを特徴とする撮像方法。
【請求項１５】
複数の測定光に照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
前記複数の参照光の光路長と前記複数の戻り光の光路長とのそれぞれの光路長差の変更  量を指示する指示工程と、
前記指示工程で指示された前記変更量に基づいて前記光路長差を変更する変更工程と、
を含むことを特徴とする撮像方法。
【請求項１６】
前記指示工程において、前記変更量をそれぞれ指示し、前記変更量を関連付けて指示することを特徴とする請求項１５に記載の撮像方法。
【請求項１７】
前記変更工程において、前記複数の参照光の光路長をそれぞれ変更することを特徴とする請求項１５あるいは１６に記載の撮像方法。
【請求項１８】
請求項１４乃至１７のいずれか１項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の参照光の光路長と前記複数の戻り光の光路長とのそれぞれの光路長差の変更量を指示する指示手段と、
前記指示手段により指示された前記変更量に基づいて前記光路長差を変更する変更手段と、を有する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
また、別の本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の参照光の光路長と前記複数の戻り光の光路長との光路長差の変更量をそれぞれ指示する第１の指示手段と、
前記変更量を関連付けて指示する第２の指示手段と、
前記第１の指示手段の機能を有する画像と前記第２の指示手段の機能を有する画像とを表示手段に表示させる指示表示制御手段と、を有する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
また、別の本発明に係る撮像装置は、
複数の測定光に照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の光に基づく前記被検査物の複数の光干渉断層画像それぞれを表示手段に表示させる断層画像表示制御手段と、
前記複数の干渉断層画像に対応する画像情報を示す画像それぞれを前記表示手段に表示させる画像情報表示制御手段と、を有する。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、本発明に係る撮像方法は、
撮像装置を用いて前記被検査物の光干渉断層画像を撮る撮像方法であって、
前記表示手段に表示させる信号を入力する入力工程と、
前記入力工程で入力された信号に基づく情報を前記表示手段に表示する表示工程と、を含む。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
また、別の本発明に係る撮像方法は、
複数の測定光に照射した被検査物からの複数の戻り光と該複数の測定光にそれぞれ対応する複数の参照光とをそれぞれ合波した複数の光に基づく該被検査物の光干渉断層画像を取得する撮像方法であって、
前記複数の参照光の光路長と前記複数の戻り光の光路長とのそれぞれの光路長差の変更量を指示する指示工程と、
前記指示工程で指示された前記変更量に基づいて前記光路長差を変更する変更工程と、含む。