【手続補正書】
【提出日】平成25年10月15日(2013.10.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検体と試薬を混合した反応液中の核酸を増幅検出する核酸検査装置において、
前記反応液を収容した少なくとも１つの反応容器をそれぞれ保持する複数の温調ブロックと、
前記複数の温調ブロックのそれぞれに設けられ、前記反応液の温度を調整する第１の温度調整装置と、
前記複数の温調ブロックを保持する保持具ベースと、
前記保持具ベースに設けられ、前記保持具ベースの温度を調整する第２の温度制御装置と、
保持具ベース内の温度勾配が小さくなるように反応容器の投入タイミングを制御する制御部を備えることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項２】
検体と試薬を混合した反応液中の核酸を増幅検出する核酸検査装置において、
前記反応液を収容した少なくとも１つの反応容器をそれぞれ保持する複数の温調ブロックと、
前記複数の温調ブロックのそれぞれに設けられ、前記反応液の温度を調整する第１の温度調整装置と、
前記複数の温調ブロックを保持する保持具ベースと、
前記保持具ベースに設けられ、前記保持具ベースの温度を調整する第２の温度制御装置と、
保持具ベース内の温度勾配が小さくなるように制御する制御部を備え、
高温と低温を同じ期間，同じ周期で繰り返す、温度制御を行う反応容器を複数投入するとき、
温度制御時に、高温と低温が隣り合うように、反応容器を投入することを特徴とする、核酸検査装置。
【請求項３】
請求項１または２いずれかに記載の核酸検査装置おいて、
前記温調ブロックに反応容器を投入するアームを備え、
前記制御部は反応容器を投入する温調ブロックとその投入タイミングに基づいて前記アームを制御することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置おいて、
高温と低温を同じ期間，同じ周期で繰り返す、温度制御を行う反応容器を複数投入するとき、温度制御時に、同時に高温または低温となる反応容器が互いに隣り合わないように、反応容器を投入することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項５】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置おいて、
第１の反応容器を投入し、その次の第２の反応容器を投入するとき、第１の反応容器から最も遠い位置の温調ブロックに第２の反応容器を投入することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項６】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置おいて、
前記制御部は、温度勾配を投入する反応容器の位置の制御により小さくすることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項７】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置おいて、
前記制御部は、温度勾配を反応容器の投入タイミングの制御により小さくすることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項８】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置おいて、
反応容器を最初に架設する温調ブロックの位置を任意に選択することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項９】
検体と試薬を混合した反応液中の核酸を増幅検出する核酸検査装置において、
前記反応液を収容した少なくとも１つの反応容器をそれぞれ保持する複数の温調ブロックと、
前記複数の温調ブロックのそれぞれに設けられ、前記反応液の温度を調整する第１の温度調整装置と、
前記温調ブロックに反応容器を投入するアームと、
反応容器を投入する温調ブロックとその投入タイミングに基づいて前記アームを制御する制御部を備え、
前記複数の温調ブロックに連続的に複数の前記反応容器を架設する際、前記反応容器に対応する測定項目によって定められる温度制御プロトコルに従って、前記反応容器を架設する前記温調ブロックを前記第１の温度調整装置によって温度制御を行い、
前記温調ブロックの前記温度制御プロトコルの過去の実施回数に応じて、次回の前記反応容器を架設する前記温調ブロックの位置の選択を制御することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１０】
検体と試薬を混合した反応液中の核酸を増幅検査する核酸検査装置において、
前記反応液を収容した少なくとも１つの反応容器をそれぞれ保持する複数の温調ブロックと、
前記複数の温調ブロックのそれぞれに設けられ、前記反応液の温度を調整する第１の温度調整装置と、
前記温調ブロックに反応容器を投入するアームと、
反応容器を投入する温調ブロックとその投入タイミングに基づいて前記アームを制御する制御部を備え、
前記複数の温調ブロックに連続的に複数の前記反応容器を架設する際、前記反応容器に対応する測定項目によって定められる温度制御プロトコルに従って、前記反応容器を架設する前記温調ブロックを前記第１の温度調整装置によって温度制御し、
前記温調ブロックの前記温度制御プロトコルによる温度の上昇または下降の過去の変温回数に応じて、次回の前記反応容器を架設する前記温調ブロックの位置の選択を制御することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１１】
請求項９に記載の核酸検査装置おいて、
前記複数の温調ブロック間の前記温度制御プロトコルの過去の実施回数の差が一定以上になった場合、アラームを発生させることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１２】
請求項１０に記載の核酸検査装置おいて、
前記複数の温調ブロック間の前記温度制御プロトコルによる温度の上昇または下降の過去の変温回数の差が一定以上になった場合、アラームを発生させることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１３】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置おいて、
温調ブロックを保持する保持具ベース上に複数の温度測定手段を備えることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１４】
請求項１３に記載の核酸検査装置において、
前記温度測定手段を複数備え、
複数の温度測定手段は保持具ベースの中心から等距離に設置されていることを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１５】
請求項１から３のいずれかに記載の核酸検査装置において、
前記第１の温度調整装置がペルチェ素子であって、前記ペルチェ素子を、前記ペルチェ素子の２面の熱交換面のうち、１面を前記温調ブロックに密着させ、他の１面を前記保持具ベースに密着させて、配置させるとき、
前記第２の温度調整装置および少なくとも１つの前記第１の温度調整装置によって、前記保持具ベースを所望の温度に制御することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の核酸検査装置において、
前記第１の温度調整装置のそれぞれによって、前記複数の温調ブロックを個別に温度制御するより前に、
前記第２の温度調整装置および少なくとも１つの前記第１の温度調整装置によって、前記保持具ベースを、前記複数の温調ブロックを制御しうる温度範囲よりも低い温度に制御することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１７】
請求項１５に記載の核酸検査装置において、
前記第１の温度調整装置のそれぞれによって、前記複数の温調ブロックを個別に温度制御するより前に、
前記第２の温度調整装置および少なくとも１つの前記第１の温度調整装置によって、前記保持具ベースを、前記複数の温調ブロックを制御しうる温度範囲の上限と下限の間の温度に制御することを特徴とする核酸検査装置。
【請求項１８】
請求項１５記載の核酸検査装置において、
前記第１の温度調整装置のそれぞれによって、前記複数の温調ブロックを個別に温度制御するより前に、
前記第２の温度調整装置および少なくとも１つの前記第１の温度調整装置によって、前記保持具ベースを、前記複数の温調ブロックを制御しうる温度範囲よりも高い温度に制御することを特徴とする核酸検査装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４９】
＜第７の実施の形態＞
図１の核酸増幅装置１における、保持具ベース４の構造について、本発明の第７の実施の形態を、図１１を参照しつつ説明する。保持具ベース４上には、保持具ベース各点での温度を測定するための温度測定手段を少なくとも１個以上設置する。本実施形態では４個の温度測定手段を設定している。温度測定手段は、例えば測温抵抗体やサーミスタなどである。温度測定手段は保持具ベース４の中心から等距離に設置することが望ましいが、保持具ベースの形状や温度測定後の処理ロジックと組み合わせた場合においてはこの限りではない。上記は水平方向の観点ではあるが、上下方向についても同様である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５６】
１  核酸増幅装置
２  ベース
３  保持具
４  保持具ベース
６  蛍光検出器
７  カバー
７ａ  ゲート
１０，１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄ，１０ｅ，１０ｆ，１０ｇ，１０ｈ，１０ｉ，１
０ｊ，１０ｋ，１０ｌ，１０ｍ，１０ｎ，１０ｏ，１０ｐ  温調ブロック
１２  架設ポジション
１５，１５ａ，１２１  温度センサ
１６  切り欠き部
１７，１８  ペルチェ素子
４０  ファン
４１  放熱フィン
１００  核酸検査装置
１０１  サンプル容器
１０２  サンプル容器ラック
１０３  試薬容器
１０４  試薬容器ラック
１０５  反応容器
１０６  反応容器ラック
１０７  反応液調整ポジション
１０８  閉栓ユニット
１０９  攪拌ユニット
１１０  ロボットアームＸ軸
１１１  ロボットアームＹ軸
１１２  ロボットアーム装置
１１３  グリッパユニット
１１４  分注ユニット
１１５  ノズルチップ
１１６  ノズルチップラック
１１７  廃棄ボックス
１１８  入力装置
１１９  表示装置
１２０  制御装置
１２１  温度測定手段