【手続補正書】
【提出日】平成25年10月25日(2013.10.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第１質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第２質量分離部と、該第２質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を有するＭＳ／ＭＳ型質量分析装置であって、
a) 前記第１質量分離部及び前記検出器を制御して前記目的成分のＭＳ分析を行うＭＳ分析実行部と、
b) 前記ＭＳ分析の結果に基づき、所定の基準により１又は複数の正イオン、及び、１又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部と、
c) 前記第１質量分離部、前記イオン開裂部、前記第２質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてＭＳ／ＭＳ分析を行うＭＳ／ＭＳ分析実行部と、
d) 前記ＭＳ／ＭＳ分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするＭＳ／ＭＳ型質量分析装置。
【請求項２】
目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第１質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第２質量分離部と、該第２質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を有するＭＳ／ＭＳ型質量分析装置であって、
a) 前記目的成分に関するプリカーサイオン候補として、１又は複数の正イオン、及び、１又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部と、
b) 前記第１質量分離部、前記イオン開裂部、前記第２質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてＭＳ／ＭＳ分析を行うＭＳ／ＭＳ分析実行部と、
c) 前記ＭＳ／ＭＳ分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするＭＳ／ＭＳ型質量分析装置。
【請求項３】
前記ＭＳ／ＭＳ分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第２質量分離部のうち少なくとも一方についてＭＳ／ＭＳ測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び／又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たＭＳ／ＭＳスペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項１又は２に記載のＭＳ／ＭＳ型質量分析装置。
【請求項４】
前記ＭＳ／ＭＳ分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第２質量分離部のうち少なくとも一方についてＭＳ／ＭＳ測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び／又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たＭＳ／ＭＳスペクトルのマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項１又は２に記載のＭＳ／ＭＳ型質量分析装置。
【請求項５】
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たＭＳ／ＭＳスペクトルに重み付けを行い、その重み付けを考慮してマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項４に記載のＭＳ／ＭＳ型質量分析装置。
【請求項６】
目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第１質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第２質量分離部と、該第２質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を備えるＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用のプログラムであって、
a) 前記第１質量分離部及び前記検出器を制御して前記目的成分のＭＳ分析を行うＭＳ分析実行部と、
b) 前記ＭＳ分析の結果に基づき、所定の基準により１又は複数の正イオン、及び、１又は複数の負イオンをプリカーサイオン候補とするプリカーサイオン候補選択部と、
c) 前記第１質量分離部、前記イオン開裂部、前記第２質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてＭＳ／ＭＳ分析を行うＭＳ／ＭＳ分析実行部と、
d) 前記ＭＳ／ＭＳ分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用プログラム。
【請求項７】
目的成分から生成した各種イオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンをプリカーサイオンとして選別する第１質量分離部と、該プリカーサイオンを開裂させるイオン開裂部と、開裂により生成した各種プロダクトイオンの中で特定の質量電荷比を有するイオンを選別する第２質量分離部と、該第２質量分離部で選別されたプロダクトイオンを検出する検出器と、を備えるＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用のプログラムであって、
a) 前記目的成分に関するプリカーサイオン候補として、１又は複数の正イオン、及び、１又は複数の負イオンをユーザーに設定させるプリカーサイオン候補設定部と、
b) 前記第１質量分離部、前記イオン開裂部、前記第２質量分離部、及び前記検出器を制御して、全てのプリカーサイオン候補についてＭＳ／ＭＳ分析を行うＭＳ／ＭＳ分析実行部と、
c) 前記ＭＳ／ＭＳ分析の結果に基づき、所定の基準により前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組を選択する組合せ選択部と
を備えることを特徴とするＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用プログラム。
【請求項８】
前記ＭＳ／ＭＳ分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第２質量分離部のうち少なくとも一方についてＭＳ／ＭＳ測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び／又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行してＭＳ／ＭＳ分析を行うイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たＭＳ／ＭＳスペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択する請求項６又は７に記載のＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用プログラム。
【請求項９】
前記ＭＳ／ＭＳ分析実行部が、
a) 前記プリカーサイオン候補のそれぞれについて、前記イオン開裂部及び前記第２質量分離部のうち少なくとも一方についてＭＳ／ＭＳ測定の条件を変化させたプロダクトイオンスキャンイベント及び／又は何ら条件を変化させないプロダクトイオンスキャンイベントからなる複数個のプロダクトスキャンイベントを準備するイベント準備部と、
b) 準備された複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行するイベント実行部と、
を備え、
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たＭＳ／ＭＳスペクトルのマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項６又は７に記載のＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用プログラム。
【請求項１０】
前記組合せ選択部が、全プロダクトイオンスキャンイベントを実行して得たＭＳ／ＭＳスペクトルに重み付けを行い、その重み付けを考慮してマスピークの強度の値を加算又は平均し、その中で最大値を有するマスピークに対応するプロダクトイオンとそれに対応するプリカーサイオンの組を、前記目的成分に対するプリカーサイオンとプロダクトイオンの組として選択することを特徴とする請求項９に記載のＭＳ／ＭＳ型質量分析装置用プログラム。