(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線源（１５）と、患者（１８）の一部分のＸ線画像の作成に適したデータを生成させるために横列と縦列の形に配列させたピクセル素子（４０）を備えたディジタル検出器（２２）と、を備えるＸ線イメージング・システム（１４）において検出器をモニタリングするための装置であって、較正動作フェーズの間に検出器を較正すること、異なる時点で生じる使用動作フェーズの間で検出器に電源供給すること、使用動作フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢させＸ線を検出器に伝達させること、及び使用動作フェーズの間に暗動作モードでＸ線源を抑止すること、を行うように配置させた制御器（３６、３４）と、前記ピクセル素子により生成されるデータを読み取ること、前記読み取ったデータを解析すること、較正動作フェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定すること、前記暗動作モードの間にデータを読み取ること、及び、そのデータ値が所定のレベル範囲内にあるか否かを決定することにより前記読み取ったデータを解析することを行うように配置した処理装置（３９）と、を備え、
前記処理装置（３９）は、前記解析が所定の時間間隔以内に実施されたか否かを判定し、
実施されていなければ、前記制御器（３６、３４）が前記Ｘ線源（１５）をオフにしている間に、前記ディジタル検出器（２２）内のピクセル素子の値を読み取ることにより暗画像フレームのデータを自動的に収集する、モニタリング装置。
【請求項２】
メモリ（３７）をさらに備えると共に、前記処理装置が前記特定したピクセル素子を該メモリ内に保存するように配置されている、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記処理装置が暗動作モードの間にデータを読み取っている、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記処理装置が、使用動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定するように配置されている、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記処理装置は、任意の較正動作フェーズ、現在の使用動作フェーズの間、並びに以前の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記処理装置が前記特定したピクセル素子を用いて照射動作モードの間に取得したデータを補正し、Ｘ線画像の作成を支援している、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記システムがメモリ（３７）を備えており、かつ前記処理装置が、最新の較正動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している第１のマップを前記メモリ内に保存すること、現在の使用動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している第２のマップを前記メモリ内に保存すること、現在の使用動作フェーズの前に生じた複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している第３のマップを前記メモリ内に保存すること、を行うように配置されている、請求項１乃至６のいずれかに記載の装置。
【請求項８】
前記処理装置が使用動作フェーズの間にデータを周期的に読み取っている、請求項７に記載の装置。
【請求項９】
Ｘ線源（１５）と、患者の一部分のＸ線画像の作成に適したデータを生成させるために横列と縦列の形に配列させたピクセル素子を備えたディジタル検出器（２２）と、を備えるＸ線イメージング・システム（１４）において検出器をモニタリングする方法であって、較正動作フェーズの間に検出器を較正するステップと、異なる時点で生じる使用動作フェーズの間で検出器に電源供給するステップと、使用動作フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢させＸ線を検出器に伝達させるステップと、使用動作フェーズの間に暗動作モードでＸ線源を抑止するステップと、前記ピクセル素子により生成されるデータを暗動作モードの間に読み取るステップと、前記暗動作モードの間に読み取ったデータのデータ値が所定のレベル範囲内にあるか否かを決定することにより前記読み取ったデータを解析するステップと、較正動作フェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定するステップと、
前記解析が所定の時間間隔以内に実施されたか否かを判定するステップと、
実施されていなければ、前記Ｘ線源（１５）がオフの間に、前記ディジタル検出器（２２）内のピクセル素子の値を読み取ることにより暗画像フレームのデータを自動的に収集するステップと、
を含む方法。
【請求項１０】
前記特定したピクセル素子を保存するステップをさらに含む請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記読み取りのステップが暗動作モードの間にデータを読み取るステップを含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１２】
前記特定のステップが、使用動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定するステップを含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１３】
前記特定のステップが、任意の較正動作フェーズ、現在の使用動作フェーズの間、並びに以前の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定するステップを含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１４】
前記特定したピクセル素子を用いて照射動作モードの間に取得したデータを補正し、Ｘ線画像の作成を支援するステップをさらに含む請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
最新の較正動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している第１のマップを保存するステップと、現在の使用動作フェーズの間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している第２のマップを保存するステップと、現在の使用動作フェーズの前に生じた複数の使用動作フェーズの所定部分の間で欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応したピクセル素子を特定している第３のマップを保存するステップと、をさらに含む請求項９乃至１４のいずれかに記載の方法。
【請求項１６】
前記読み取りのステップが、使用動作フェーズの間で概ね１０分ごとにデータを読み取るステップを含む、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
サービスセンタ（５０）に連絡するステップと、欠陥ピクセル素子を指示するデータを報告するステップと、をさらに含む請求項９乃至１６のいずれかに記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は検出器を利用するＸ線システムに関し、より具体的には、こうしたシステムのモニタリング及び補正に関する。
【０００２】
【発明の背景】
新規のディジタル式Ｘ線検出器を導入すると、検出器内の欠陥を含む位置で画像情報が失われることに関する問題が生じる。欠陥は、典型的には、電気的に応答していないか、その周囲のピクセル素子と統計的に異なる挙動を示すかのいずれかであるようなピクセル素子である不良ピクセル素子に起因する。
【０００３】
ディジタル検出器の較正及びセットアップの間にこうした欠陥ピクセル素子の位置を特定するための方法が存在している。この操作は、典型的には、構造を全く含まないフラット・フィールド画像を解析し、外れたピクセル素子を検索することにより実施される。これらのフラット・フィールド画像は、（１）Ｘ線を用いずにイメージャを読み取るモードである「暗（ｄａｒｋ）」フレーム（すなわち、オフセット・フレーム）（２）読み出しに先だってＸ線信号を加えるモードである「明（ｌｉｇｈｔ）」フレーム（すなわち、Ｘ線フレーム）、という２つのモードのうちの一方により取得する。較正の間に特定したピクセル素子は、典型的には、不良ピクセル・マップに保存する。不良ピクセル・マップ内で特定されたピクセル素子を画像表示の前に補正するような別の方法が存在する。
【０００４】
ある種の条件下では、欠陥ピクセル素子は、初期較正の間に特定されなくとも、アモルファスシリコン検出器内で時間の経過と共に発生することがある。本発明は、上述の問題に取り組み、解決法を提供する。実施の一形態では、ピクセル素子の挙動をモニタリングし、不良ピクセル・マップを更新することができる。
【０００５】
アモルファスシリコンのディジタル式Ｘ線検出器は、ピクセル素子からなるアレイ（例えば、２０４８×２０４８）から構成されている。各素子は、１つのフォトダイオードと、１つの関連する電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）と、から構成されている。Ｘ線イメージングの目的では、このアレイにシンチレータを結合させ、入射Ｘ線を光に変換している。シンチレータが発生させた光は、電荷に変換してダイオード内に保存している。この電荷は、各ダイオードに関連するＦＥＴを導通させることにより読み出している。
【０００６】
フラットパネル型Ｘ線イメージャにより収集した画像を解析し、不良ピクセル素子を検出するようなアルゴリズムが設計されている。不良ピクセル素子とは、電気的に応答がないか、あるいはその周囲のピクセル素子と統計的に異なる挙動を示すようなピクセル素子である。これには、多くの場合、アレイ内のＦＥＴまたはダイオード構造の欠陥が関係していることがある。
【０００７】
これらのアルゴリズムの結果、検出器アレイ内での欠陥ピクセル素子の位置を含んだ画像マップ（不良ピクセル・マップ）が生成される。この分野の特許としては、
【０００８】
【特許文献１】
米国特許第５，６５７，４００号
（大面積半導体Ｘ線検出器内の不良ピクセルの自動特定及び補正を目的とする）、
【０００９】
【特許文献２】
米国特許第５，８５４，６５５号
（欠陥ピクセルの検出が可能な半導体画像取り込みデバイスの欠陥ピクセル検出回路を目的とする）、
【００１０】
【特許文献３】
米国特許第５，２７２，５３６号
（暗電流及び欠陥ピクセルの補正装置を目的とする）、
【００１１】
【特許文献４】
米国特許第５，０４７，８６３号
（非動作ピクセル検出を含む半導体イメージング・デバイス用の欠陥補正装置を目的とする）、
【００１２】
【特許文献５】
米国特許第４，９９６，４１３号
（画像検出器からのデータの読み取りを目的とする）、
が含まれる。
【００１３】
欠陥ピクセル素子の検出の外に、これらの特許の幾つかは、画像表示の前にピクセルを補正する方法も記載している。ほとんどの補正方法では、欠陥ピクセルをそれと隣り合ったピクセルの値、あるいはこれらの一次結合（ｌｉｎｅａｒ  ｃｏｍｂｉｎａｔｉｏｎ）で置き換えることに依っている。さらに、
【００１４】
【特許文献６】
Ａｕｆｒｉｃｈｔｉｇ、Ｘｕｅ及びＫｕｍｐの名による「Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｏｆ  Ｄｅｆｅｃｔｉｖｅ  Ｐｉｘｅｌｓ  Ｉｎ  Ａ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ」と題する米国出願第０９／４７４，７１５号（１９９９年１２月２９日提出：整理番号１５−ＸＺ−４９７４）
【００１５】
【特許文献７】
Ａｕｆｒｉｃｈｔｉｇ、Ｘｕｅ及びＫｕｍｐの名による「Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｏｆ  Ｄｅｆｅｃｔｉｖｅ  Ｐｉｘｅｌｓ  Ｉｎ  Ａ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ  Ｕｓｉｎｇ  Ｔｅｍｐｏｒａｌ  Ｇｒａｄｉｅｎｔｓ」と題する米国出願第０９／４７４，４９８号（１９９９年１２月２９日提出：整理番号１５−ＸＺ−５４２８）
には、基になる画像構造に従った幾つかのより高度な補正方法が提示されている。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
この好ましい実施形態は、Ｘ線源と、患者の一部分のＸ線画像の作成に適したデータを生成させるために横列と縦列の形に配列させたピクセル素子を備えたディジタル検出器と、を備えるＸ線イメージング・システムにおいて有用である。こうした環境の１つでは、その検出器は、較正動作フェーズの間に検出器を較正すること、異なる時点で生じる使用動作フェーズの間で検出器に電源供給すること、使用動作フェーズの間に照射動作モードでＸ線源を付勢させＸ線を検出器に伝達させること、並びに使用動作フェーズの間に暗動作モードでＸ線源を抑止すること、によってモニタリングすることができる。ピクセル素子が生成させたデータは、読み取られて解析される。較正動作フェーズの間、並びに複数の使用動作フェーズの所定部分の間で、欠陥ピクセル素子を指示するデータに対応するようなピクセル素子を特定している。
【００１７】
上述の技法を用いることにより、従来は達成できなかったような程度の容易さ及び正確さで、Ｘ線検出器をモニタリングすることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
図１を参照すると、Ｘ線システム１４は、電源１６により付勢させた際に、Ｘ線ビーム１７を放出するＸ線管１５を含んでいる。図示したように、Ｘ線ビームは、Ｘ線透過性のテーブル２０上に横たえた患者１８の方向に向けられる。テーブル及び患者を透過して伝搬したビームは、番号２２で示すＸ線検出器に当たる。Ｘ線検出器２２は、Ｘ線光子をより低エネルギーの可視スペクトル内の光子に変換しているシンチレータ２４を備えている。シンチレータ２４と境を接して光検出器アレイ２６があり、光の光子を電気信号に変換している。検出器制御装置２７は、画像を収集し各光検出器素子から信号を読み出すように検出器アレイを動作させるための電子回路を含んでいる。
【００１９】
光検出器アレイ２６からの出力信号は、Ｘ線画像信号の処理及び強調のための回路を含んだ画像処理装置２８と結合させている。次いで、処理した画像はビデオ・モニタ３２上に表示させており、またこの画像は画像記憶デバイス３０内にアーカイブすることがある。画像処理装置２８はさらに、電源１６を調節しこれによりＸ線照射を調節するために照射制御回路３４に加えられる輝度調整信号を発生させている。
【００２０】
Ｘ線システム１４の全体動作はシステム制御装置３６により統御しており、このシステム制御装置３６はオペレータ・インタフェース・パネル３８を介してＸ線技師からのコマンドを受け取っている。制御装置３６は、メモリ３７及び処理装置３９を含んでいる。
【００２１】
図２は、マトリックス状の検出器素子（すなわち、ピクセル素子）４０により形成されている光検出器アレイ２６の回路を表している。ピクセル素子４０は、アモルファスシリコンのウェハ上でｍ個の縦列とｎ個の横列（ここで、ｍとｎは整数）からなる従来型の２次元アレイの形に配列させている。例えば、典型的な高分解能Ｘ線検出器は、素子の横列と縦列が１，０００〜４，０００のアレイである。
【００２２】
各ピクセル素子４０は、フォトダイオード４２及び薄膜トランジスタ４４を含んでいる。フォトダイオード４２は、シンチレータ２４が発生させた光の相当大きな部分が確実にフォトダイオードにより捕捉されるように大きなウェハ面積により製作している。各フォトダイオード４２はさらに、光子刺激に起因する電荷を保存できるように比較的大きなキャパシタンスを有する。
【００２３】
アレイの各縦列内のフォトダイオード４２の陰極は、関連するトランジスタ４４のソース・ドレイン間電導経路により、その縦列に対する共通縦列信号線（４８-1〜４８-m）と接続させている。例えば、縦列１内の各フォトダイオード４２は第１の信号線４８-1と結合している。各横列内のダイオードのアノードは、共同して負のバイアス電圧源（−ｖ）と接続させている。各横列内のトランジスタ４４のゲート電極は、横列１での線４６-1などのような共通横列選択線（４６-1〜４６-n）と接続させている。横列選択線及び縦列信号線は検出器制御装置２７と結合させており、また縦列信号線はさらに、画像処理装置２８と接続させている。
【００２４】
図２に示す検出器を用いてＸ線画像を収集するために、システム１４は様々なシーケンスを実行することがある。例示的なシーケンスの１つを以下に示す。先ず、検出器制御装置２７によって、すべての縦列信号線４８-1〜４８-mを接地に接続させ、すべての横列選択線４６-1〜４６-nに正の電圧を印加する。横列選択線に印加した正電圧により各ピクセル素子４０内のトランジスタ４４がオンになり、逆バイアスされたフォトダイオード４２上に正電荷が溜まる。フォトダイオードが完全に充電されると、検出器制御装置２７は負の供給電圧（−Ｖ）と比べてより負値が大きい負電圧−Ｖを横列選択線に印加する。横列選択線に対するこの負バイアスにより各ピクセル素子４０内のトランジスタ４４がオフになる。
【００２５】
次いで、Ｘ線光子のビーム１７を発生させるように管球１５を付勢させながらシステムが従来の方式で発生させたパルス状Ｘ線光子に検出器２２を曝露させる。このＸ線光子はシンチレータ２４によってより低エネルギーの光子に変換している。これらより低エネルギーの光子が検出器２６内のフォトダイオード４２に当たると、ダイオードは電気を通じさせ、かつその正電荷の一部分を放電させる。所与のフォトダイオード４２から取り去られる正電荷の量は、そのフォトダイオードに当たるより低エネルギーの光子の量に依存しており、さらにこれは、シンチレータ２４のそのフォトダイオードと隣接した領域に当たるＸ線エネルギー強度に依存している。したがって、各ピクセル素子４０内のフォトダイオード４２から取り去られる電荷量は、Ｘ線検出器２２の対応する領域に当たるＸ線強度の関数である。
【００２６】
Ｘ線照射が終了した後、各フォトダイオード４２内の残留電荷を検知する。これを行うには、各検出器アレイ縦列に対する縦列信号線４８-1〜４８-mを、画像処理装置２８の別々の検知回路に同時に接続する。幾つかのタイプの検知回路のうちの任意の回路を画像処理装置２８に組み込むことができる。例えば、検知回路は、フォトダイオード両端の電圧（すなわち、フォトダイオード上に残っている電荷量）を計測することができる。別法として、その検知回路は、当該の縦列信号線４８-1〜４８-mを接地電位に接続し、Ｘ線照射により取り去られた電荷を置換するのに必要な電荷量を計測することができる。
【００２７】
最大画像分解能の場合では、そのフォトダイオード電荷は、検出器制御装置２７によって、横列選択線の各々に正の電圧を順々に印加しながら１回あたり１横列の割合で検知している。ある横列選択線が正にバイアスされると、当該横列選択線に接続された検出器アレイのトランジスタ４４がオンになり、これにより選択した横列内の関連するフォトダイオード４２がその縦列信号線４８-1〜４８-mと結合される。
【００２８】
この好ましい実施形態により解決しようとしている問題は、画像検出器内のピクセル素子の挙動が時間の経過と共に変化し、これにより個々のピクセル素子が欠陥ピクセルとなるような状況に関連する。例えば、ダイオードのリーク（ｄｉｏｄｅ  ｌｅａｋａｇｅ）が時間の経過（数時のオーダー）と共にピクセル素子内に発生し、ピクセル素子の応答が大幅に変化することがある。同様に、長い時間経つと個々のピクセル素子内に電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）のリークも発生し、ピクセル素子の挙動が非直線的となることがある。これらの種類のリーク効果は、典型的には、検出器の電源のサイクル動作の時点でリセットされるが、後続する段階で同じピクセル素子内に再度発生することが多い。較正は電源投入後の短時間内に実施することが多いため、この種の欠陥は較正中には検出されないのが普通である。したがって、欠陥のおそれがあるピクセル素子を不良ピクセル・マップに追加できるように、検出器内のピクセル素子を継続的にモニタリングする方法が必要である。
【００２９】
この好ましい実施形態は、無支援でモニタリングを行い不良ピクセル・マップを更新するための方法を含む。この方法は、検出器を臨床的に（患者に）利用していないときに暗画像を収集することからなる。暗画像ではＸ線を使用する必要がなく、無支援でバックグラウンド動作として収集することができる。
【００３０】
好ましい実施形態では３つの不良ピクセル・マップを利用している。
【００３１】
ＢａｄＭａｐＯｒｉｇは検出器の標準較正後に取得する。例えば、ＢａｄＭａｐＯｒｉｇは、較正中に検出したすべての不良ピクセル素子に対する横列及び縦列指標を含むようなメモリ３７内のＡＳＣＩＩまたはバイナリのファイルとすることができる。検出器の較正は、数ヶ月のオーダー（典型的には、６ヶ月または１２ヶ月）で間隔をおいて行う作業である。
【００３２】
ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒは、検出器の標準的使用の間に取得する。ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒは、検出器の各電源サイクルの間にリセットされる。ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒは、較正中に検出されなかったが、最終の電源リセット後に暗（オフセット）画像内でドリフトを生じさせたピクセル素子の位置を含んでいる。ＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒマップもメモリ３７内に保存される。
【００３３】
ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは検出器の標準的使用の間に取得する。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは、較正中に検出されなかったが検出器の電源サイクル後に頻繁に（例えば、１０回中６回の割合で）ドリフトを示すようなピクセル素子を表している。このピクセル・マップも、電源サイクルが指定した時間間隔（例えば、２４時間）以内に発生しなかった場合には更新されて、メモリ３７内に保存される。
【００３４】
上述した３つのマップの値は、検出器２２のピクセル素子に対応する。
【００３５】
図３、４の流れ図は、これらの不良ピクセル・マップを取得する方法を表している。簡単に言うと、この方法は、患者検査の合間に暗画像を収集することからなる。例えば、１０分ごとに１枚の暗画像を収集することがある。ダイオードの遅れ（ｌａｇ）に対する感度を増加させるために、この暗画像は最長可能な積算時間で収集すべきである。この積算時間間隔（２〜２０秒の範囲）は、臨床上使用される最長タイミング（例えば、２〜５秒）と比べてより長くすることがある。指定レベルを外れた暗値を有するピクセル素子はＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒピクセル・マップにおいて不良であると標識付けする。所与の電源サイクル内において、不良ピクセル・マップは、較正マップ（ＢａｄＭａｐＯｒｉｇ）とＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒを結合させたものである。ピクセル素子を不良マップに追加した後、その検出器が不良ピクセル素子やこれらの結合（クラスタ）の総数に関する仕様を確実に満たしていることを確認する必要がある。この目的には標準較正確認ルーチンを使用することができる。ある電源サイクル実施の間に仕様不適合があった場合は、その不適合を生じさせているピクセル素子をリセットする。あるピクセル素子がＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒに包含された回数をモニタリングし、ある指定した発生頻度（例えば、全回数の６０％）を超えた場合には、これをＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅのレコード内に含める。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅによる不良ピクセル・マップの更新により仕様不適合が生じた場合は、サービスに通知すると共に、その検出器は再較正させる必要がある。ＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅは検出器較正後にリセットする。
【００３６】
与えられた任意の画像に対して適用する不良ピクセル・マップは、ＢａｄＭａｐＯｒｉｇとＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅの「論理和（Ｌｏｇｉｃａｌ  Ｏｒ）」である。次いで、これらの特定したピクセル素子は、典型的には失われた値を隣り合う良好なピクセル素子から補間する処理である「正規（ｎｏｒｍａｌ）」不良ピクセル素子マスキング処理にかける。
【００３７】
サービスへの通知は、システムモデムを介した自動ダイアルアップとしたり、あるいは単にユーザに対してサービスを呼ぶように警告する画面とすることができる。
【００３８】
図３・４は、この不良ピクセル素子のモニタリング方針を表している。不良ピクセル・マップ内で、ゼロ（０）値は良好なピクセル素子を示しており、一方、非ゼロ値は不良ピクセル素子を示している。「論理和」演算は、入力した引数の両方がゼロである場合にのみゼロ（０）の値を与え、これ以外の場合は壱（１）の値を与える。
【００３９】
図３・４を参照すると、ステップ１００において、制御装置３６は検出器２２をよく知られた方法により較正する。ステップ１０２において、処理装置３９は、較正中に検出器２２からのデータを読み取りかつ解析することによって位置特定された欠陥のある（すなわち、不良の）ピクセル素子のすべての同定を、メモリ３７のマップＢａｄＭａｐＯｒｉｇ内に保存する。ステップ１０４において、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅ内のすべてのピクセル素子に対応する値をゼロ値に設定する。ステップ１００〜１０４は較正セットアップ中に実行させる。
【００４０】
ステップ１０６において、検出器が制御装置３６にる電源サイクルを受けた場合、または更新時間間隔（例えば、２４時間）を超えた場合に、処理装置３９はマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内のすべてのピクセル素子に対応する値をゼロ値に設定する。制御装置３６は、そのシステムをインタフェース３８経由で開始及び停止させているユーザの希望に従って、システム１４に適宜電源サイクルを受けさせている。ステップ１０８において、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内のすべてのピクセル素子に対応する値を、マップＢａｄＭａｐＯｒｉｇ内の対応する値とマップＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅ内の対応する値との論理和に等しく設定している。ステップ１１０において、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内の値により示される欠陥ピクセル素子、及びピクセル素子のクラスタの総数が仕様許容値の域内を外れているか否かを判定する。外れている場合は、ステップ１１２においてサービスに通知する。外れていない場合は、ステップ１１４において、制御装置３６は、オペレータ・インタフェース３８を介して臨床プロトコル（すなわち、患者プロトコル）が選択されているか否かを判定する。選択されていれば、ステップ１１６において、ＢａｄＭａｐを用いて不良ピクセルを補正しながら完全な臨床／患者画像検査を実施する。画像検査の間では、制御器３４により照射動作モードとしてＸ線管１５を付勢させる。選択されていなければ、ステップ１１８において、処理装置３９は、最後のオフセット試験が所定の時間間隔（例えば、１０分間）以内に実施されたか否かを判定する。実施されていれば、プログラムはステップ１１４に戻る。実施されていなければ、ステップ１２０において、処理装置３９は、検出器２２内のピクセル素子の値を最大許容タイミングを使用しながら読み取ることにより暗（オフセット）画像フレームのデータを収集する。この読み取りは、処理装置２８を介して達成される。暗画像データは、制御装置３４及び３６がＸ線管１５をオフにしている間で取得する。
【００４１】
ステップ１２０で取得した暗画像フレーム内のピクセル素子が暗フレームしきい値限界を外れた値を有する場合には、ステップ１２２において、処理装置３９はマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内の対応するビットに値１を設定する。そのピクセルが最後のＮｐ回の電源サイクルのうちＮｆ回で標識された場合には、マップＢａｄＭａｐＵｐｄａｔｅ内のこの対応するビットを値１に設定する。典型的なＮｆの値は６であり、典型的なＮｐの値は１０である。ステップ１２４において、マップＢａｄＭａｐ内の値を、マップＢａｄＭａｐ内の対応する値とマップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ内の対応する値との論理和に等しくなるように設定する。ステップ１２６において、処理装置３９は、マップＢａｄＭａｐ内で特定された欠陥ピクセル素子、並びにピクセル素子のクラスタの総数が仕様の許容値の域外にあるか否かを判定する。域外にあると判定された場合は、ステップ１２８において、マップＢａｄＭａｐＰｏｗｅｒ及びマップＢａｄＭａｐ内で仕様域内の不適合を起こした値をゼロ値に設定する。域外にない場合は、ステップ１３０において、制御装置３６は、最後の電源サイクル以降の時間間隔が所定の更新時間間隔を超えているか否かを判定する。超えている場合は、プログラムはステップ１０６に戻り。超えていなければ、プログラムはステップ１１４から継続される。ステップ１０６〜１３０は、システム１４の使用動作フェーズを表している。
【００４２】
この好ましい実施形態は多くの利点を提供する。このモニタリングは、顧客にとってバックグラウンド動作として無停止方式で続行することができる。新たな不良ピクセルがあれば、これらを不良ピクセル・マップに追加し、画像が適切に補正されるようにしている。検出器はさらに、その検出器が確実に不良ピクセルに関する要求仕様の範囲内にあるか否かのモニタリングを受けている。検出器が仕様に適合していなければ、モデム５２及びネットワーク５４を介してサービスセンタ５０に通知される。制御装置３６によりサービスセンタ５０に転送するメッセージによって、欠陥ピクセル素子を示すデータが報告されると共に、欠陥ピクセル素子を特定することができる。
【００４３】
この方法では、較正によって検出されなかった不良ピクセルを特定して適正に補正している。
【００４４】
当業者であれば、この好ましい実施形態は、添付の特許請求の範囲で規定したような本発明の真の精神及び趣旨を逸脱することなく変更及び修正が可能であることを理解するであろう。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を実現しているＸ線システムの好ましい形態における例示的な画像検出器アレイを表しているブロック概要図である。
【図２】図１に示す画像検出器アレイの概要図である。
【図３】図１及び２に示す装置の好ましい動作モードを表した流れ図である。
【図４】図１及び２に示す装置の好ましい動作モードを表した流れ図である。
【符号の説明】
１４  Ｘ線システム
１５  Ｘ線管
１６  電源
１７  Ｘ線ビーム
１８  患者
２０  テーブル
２２  Ｘ線検出器
２４  シンチレータ
２６  光検出器アレイ
２７  検出器制御装置
２８  画像処理装置
３０  画像記憶デバイス
３２  ビデオ・モニタ
３４  照射制御回路
３６  システム制御装置
３７  メモリ
３８  オペレータ・インタフェース
３９  処理装置
４０  検出器素子、ピクセル素子
４２  フォトダイオード
４４  薄膜トランジスタ
４６  横列選択線
４８  縦列信号線
５０  サービスセンタ
５２  モデム
５４  ネットワーク
【図１】
0004325974.tif 000002
【図２】
0004325974.tif 000003
【図３】
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【図４】
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