【手続補正書】
【提出日】平成25年9月5日(2013.9.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
前面板の一方の面に配置された表示電極と、前記表示電極を覆う誘電体層と、前記誘電体層を保護する保護膜とを有するプラズマディスプレイパネルであって、
前記保護膜は、前記誘電体層に接する第１の保護膜層と、前記第１の保護膜層に重ねる形で形成され、放電空間に露出する第２の保護膜層とを含み、
前記第１の保護膜層は、酸化マグネシウムで構成され、
前記第２の保護膜層は、酸化マグネシウムと、ユーロピウム酸化物、ランタン酸化物またはガドリウム酸化物との混合物で形成され、前記混合物に対するユーロピウム、ランタンまたはガドリウムの混合率は、１０％を超え３５％未満であることを特徴とするプラズマディスプレイパネル。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】プラズマディスプレイパネル
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
本発明は、前面板の一方の面に配置された表示電極と、前記表示電極を覆う誘電体層と、前記誘電体層を保護する保護膜とを有するプラズマディスプレイパネルであって、前記保護膜は、前記誘電体層に接する第１の保護膜層と、前記第１の保護膜層に重ねる形で形成され、放電空間に露出する第２の保護膜層とを含み、前記第１の保護膜層は、酸化マグネシウムで構成され、前記第２の保護膜層は、酸化マグネシウムと、ユーロピウム酸化物、ランタン酸化物またはガドリウム酸化物との混合物で形成され、前記混合物に対するユーロピウム、ランタンまたはガドリウムの混合率は、１０％を超え３５％未満であることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２５】
本発明に関わるプラズマディスプレイパネルは、酸化マグネシウムＭｇＯを主成分とし、ユーロピウム酸化物、ランタン酸化物またはガドリウム酸化物を含む保護膜層と酸化マグネシウムからなる保護膜層の二層構造からなる保護膜により、前記の３特性全てに良好な成績を収めることが可能となる。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４５】
保護膜の性能としては、１）放電電圧、２）位相差、３）スパッタレート、の３つを考慮する必要がある。図２は、酸化マグネシウムと希土類酸化物の混合物において、希土類の組成割合ＲＥ／（Ｍｇ＋ＲＥ）と、放電電圧の電圧特性の関係を表すグラフである。また、図３は、酸化マグネシウムと希土類酸化物の混合物において、希土類の組成割合ＲＥ／（Ｍｇ＋ＲＥ）と、組成割合と、位相差の関係を表すグラフである。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５０】
本発明では、希土類酸化物としてランタンＬａ、ガドリウムＧｄ、ユーロピウムＥｕの酸化物を用いる。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５１】
酸化マグネシウムＭｇＯと、ユーロピウム酸化物、ランタン酸化物またはガドリウム酸化物との混合物において、マグネシウムに対するユーロピウム、ランタンまたはガドリウムの混合割合は、概ねユーロピウム、ランタンまたはガドリウムの混合率が１０％を超えると、効果がほぼ一定となる。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５２】
酸化マグネシウム−ガドリウム酸化物の混合物の場合、ＭｇＯ１００％のものから約１０ボルト放電電圧が低下する。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５３】
酸化マグネシウム−ランタン酸化物の混合物の場合、約４５−５５ボルトの放電電圧の低下が見込める。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５４】
酸化マグネシウム―ユーロピウム酸化物の混合物の場合、約５０−５５ボルトの放電電圧の低下が見込める。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５５】
以上のように、酸化マグネシウムと、ユーロピウム酸化物、ランタン酸化物またはガドリウム酸化物との混合物は、酸化マグネシウムＭｇＯ１００％と比較して低電圧特性を有することがわかる。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５８】
ガドリウムＧｄ１００％では、位相差が−８８°となる。酸化マグネシウムＭｇＯ−ガドリウムＧｄ混合物の場合、概ねガドリウムＧｄ５５％のあたりで位相差の悪化、すなわち直流成分の抵抗の発生により壁電荷が保持できなくなる事態が見え始める。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６１】
以上説明したように、１）放電電圧、２）位相差、の２点を考慮すると、第２の保護膜５は、酸化マグネシウムと、ユーロピウム酸化物、ランタン酸化物またはガドリウム酸化物との混合物で形成され、ユーロピウム、ランタンまたはガドリウムの混合率は、１０％を超え、３５％未満であれば、望ましい結果が得られると考えられる。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６２】
次に、３）スパッタレートについて考察してみる。ここでは、酸化マグネシウムＭｇＯ−ユーロピウムＥｕを第２の保護膜として用いたものについて検討する。
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６７】
一方、図５においては、加速度試験前は、第１の保護膜４は２４５ｎｍ、第２の保護膜５は３００ｎｍを想定して作成された第１の保護膜４と第２の保護膜の厚みは５４５ｎｍである。第２の保護膜５は、柱状構造を有する酸化マグネシウムとユーロピウム酸化物との混合物を想定している。一方、加速度試験後の厚みは３６２ｎｍである。
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６８】
同一の試験時間ではないので、スパッタレートで対比を行うと、
・従来のプラズマディスプレイパネル：
失われた量（掘れた量）  ４５１−９２＝３５９ｎｍ
加速度時間              ３０７ｈ
スパッタレート          ３５９／３０７＝１．１７ｎｍ／ｈ
・本発明のプラズマディスプレイパネル
失われた量（掘れた量）  ５４５−３６２＝１８３ｎｍ
加速度時間              ２６１ｈ
スパッタレート          １８３／２６１＝０．７０ｎｍ／ｈ
以上のように、スパッタレートで対比しても、約６０％（０．７０／１．１７＝０．５９８）と明らかな違いが把握できる。これは、酸化マグネシウムを第１の保護膜４として形成し、それを下地にして、酸化マグネシウムとユーロピウム酸化物との混合物を第２の保護膜５として形成することで、第２の保護膜５が強固になると推測される。