【手続補正書】
【提出日】平成25年2月12日(2013.2.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象に対して光学的に共役な位置に配置され、光に含まれる２つの偏光のうち一方の位相を変調する第１の空間光変調手段と、
前記測定対象に対して光学的に共役な位置に配置され、前記２つの偏光のうち他方の位相を変調する第２の空間光変調手段と、
前記第１及び第２の空間光変調手段により前記２つの偏光の位相が変調された光を前記測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする補償光学装置。
【請求項２】
前記測定対象の収差を測定する収差測定手段を有し、
前記第１及び第２の空間光変調手段が、前記収差測定手段の測定結果に基づいて、光源から発生した光を該収差測定手段に対して光学的に略共役な位置で変調することを特徴とする請求項１に記載の補償光学装置。
【請求項３】
前記第１及び第２の空間光変調手段の表面の歪みを補正するように、前記第１及び第２の空間光変調手段を駆動する駆動手段を有し、
前記歪みが補正された後に、前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記光源から発生した光を該収差測定手段に対して光学的に略共役な位置で変調することを特徴とする請求項２に記載の補償光学装置。
【請求項４】
前記収差測定手段で前記収差を測定する際に用いる光と、前記測定対象の画像を取得する際に用いる光とが異なる光源から発生された光であることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の補償光学装置。
【請求項５】
前記第１及び第２の空間光変調手段が、前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光に含まれる２つの偏光それぞれを前記測定対象に対して光学的に略共役な位置で変調することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項６】
前記第１及び第２の空間光変調手段が互いに光学的に並列あるいは直列して配置されていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項７】
前記第１及び第２の空間光変調手段は、液晶を含み、該液晶の配向が、互いに交差するように配置されていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項８】
前記第１の空間光変調手段が、Ｐ偏光の位相を変調するように配置され、
前記第２の空間光変調手段が、Ｓ偏光の位相を変調するように配置されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項９】
光源からの光を前記Ｐ偏光と前記Ｓ偏光とに分割する分割手段と、
前記第１の空間光変調手段を介して前記分割されたＰ偏光と、前記第２の空間光変調手段を介して前記分割されたＳ偏光とを合波する合波手段と、
を有することを特徴とする請求項８に記載の補償光学装置。
【請求項１０】
前記測定対象が、被検眼であり、
前記第１及び第２の空間光変調手段が、前記被検眼の前眼部に対して光学的に略共役な位置に配置されることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項１１】
請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の補償光学装置を備える撮像装置であって、
前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１２】
光源からの光を前記第１及び第２の空間光変調手段に入射される光と参照光とに分離する分離手段を有し、
前記画像取得手段が、前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて該測定対象の断層画像を取得することを特徴とする請求項１１に記載の撮像装置。
【請求項１３】
測定対象に対して光学的に共役な位置に配置される第１の空間光変調手段により、光に含まれる２つの偏光のうち一方の位相を変調する工程と、
前記測定対象に対して光学的に共役な位置に配置される第２の空間光変調手段により、前記２つの偏光のうち他方の位相を変調する工程と、
前記第１及び第２の空間光変調手段により前記２つの偏光の位相が変調された光を前記測定対象に照射する工程と、
を有することを特徴とする補償光学方法。
【請求項１４】
前記２つの偏光の位相を変調する工程において、前記第１及び第２の空間光変調手段により、前記測定対象の収差を測定する収差測定手段の測定結果に基づいて、光源から発生した光を該収差測定手段に対して光学的に略共役な位置で変調することを特徴とする請求項１３に記載の補償光学方法。
【請求項１５】
前記第１及び第２の空間光変調手段により、前記第１及び第２の空間光変調手段の表面の歪みを補正する工程を有し、
前記２つの偏光の位相を変調する工程において、前記第１及び第２の空間光変調手段により、前記歪みが補正された後に、前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記光源から発生した光を該収差測定手段に対して光学的に略共役な位置で変調することを特徴とする請求項１４に記載の補償光学方法。
【請求項１６】
前記第１及び第２の空間光変調手段により、前記照射した光の前記測定対象からの戻り光に含まれる２つの偏光それぞれを前記測定対象に対して光学的に略共役な位置で変調する工程を有することを特徴とする請求項１３乃至１５のいずれか１項に記載の補償光学方法。
【請求項１７】
前記第１及び第２の空間光変調手段が互いに光学的に並列あるいは直列して配置されていることを特徴とする請求項１３乃至１６のいずれか１項に記載の補償光学方法。
【請求項１８】
前記第１の空間光変調手段が、Ｐ偏光の位相を変調するように配置され、
前記第２の空間光変調手段が、Ｓ偏光の位相を変調するように配置されていることを特徴とする請求項１３乃至１７のいずれか１項に記載の補償光学方法。
【請求項１９】
前記測定対象が、被検眼であり、
前記第１及び第２の空間光変調手段が、前記被検眼の前眼部に対して光学的に略共役な位置に配置されることを特徴とする請求項１３乃至１８のいずれか１項に記載の補償光学方法。
【請求項２０】
請求項１３乃至１９のいずれか１項に記載の補償光学方法を用いた撮像方法であって、
前記照射した光の前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する工程を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項２１】
請求項１３乃至１９のいずれか１項に記載の補償光学方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】補償光学装置、撮像装置および補償光学方法、撮像方法
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、補償光学装置、撮像装置および補償光学方法、撮像方法に関し、特に眼科診療等に用いられる補償光学装置、撮像装置および補償光学方法、撮像方法に関するものである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑み、空間光変調手段を用いた補償光学系により、偏光状態に依らず測定光あるいは戻り光の少なくともいずれかを変調することができ、
収差を補正して光画像のＳＮ比を向上させることが可能となる補償光学装置、撮像装置および補償光学方法、撮像方法の提供を目的とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明は、つぎのように構成した補償光学装置、撮像装置および補償光学方法、撮像方法を提供するものである。
本発明の補償光学装置は、測定対象に対して光学的に共役な位置に配置され、光に含まれる２つの偏光のうち一方の位相を変調する第１の空間光変調手段と、
前記測定対象に対して光学的に共役な位置に配置され、前記２つの偏光のうち他方の位相を変調する第２の空間光変調手段と、
前記第１及び第２の空間光変調手段により前記２つの偏光の位相が変調された光を前記測定対象に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の撮像装置は、上記した補償光学装置を備える撮像装置であって、
前記照射手段で照射した光の前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、測定対象に対して光学的に共役な位置に配置される第１の空間光変調手段により、光に含まれる２つの偏光のうち一方の位相を変調する工程と、
前記測定対象に対して光学的に共役な位置に配置される第２の空間光変調手段により、前記２つの偏光のうち他方の位相を変調する工程と、
前記第１及び第２の空間光変調手段により前記２つの偏光の位相が変調された光を前記測定対象に照射する工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の撮像方法は、上記した補償光学方法を用いた撮像方法であって、
前記照射した光の前記測定対象からの戻り光に基づいて該測定対象の画像を取得する工程を有することを特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明によれば、空間光変調手段を用いた補償光学系により、偏光状態に依らず測定光あるいは戻り光の少なくともいずれかを変調することができ、
収差を補正して光画像のＳＮ比を向上させることが可能となる補償光学装置、撮像装置および補償光学方法、撮像方法を実現することができる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
［実施例１］
実施例１においては、本発明を適用したＯＣＴ装置について説明する。
本実施例では、特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）を撮像する高横分解能の補償光学系（補償光学装置）を備えたＯＣＴ装置について説明する。
本実施例では、被検眼の収差を第１及び第２の２つの反射型の空間光変調器（空間光変調手段）を用いて補正して断層画像を取得するフーリエドメイン方式のＯＣＴ装置が構成され、被検眼の視度や収差によらず良好な断層画像が得られるようにされている。
また、２つの反射型の空間光変調器が並列に配置されていることを特徴としている。
ここでは、空間光変調器は液晶の配向を利用した反射型の液晶空間位相変調器である。
空間光変調器は光の位相を変調できればよく、液晶以外の材料を使用してもよい。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
図１（ａ）を用いて、まず、本実施例におけるＯＣＴ装置の光学系の全体の概略構成について説明する。
本実施例のＯＣＴ装置１００は、図１（ａ）に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。
図１（ａ）において、光源１０１から出射された光は、光ファイバー１３０−１と光カプラー１３１とを介して、参照光１０５と測定光１０６とに、９０：１０の割合で分割される。
測定光１０６は、光ファイバー１３０−４、並列に配置された二つの空間光変調器１５９−１〜２、光の照射手段を構成するＸＹスキャナ１１９と球面ミラー１６０−１〜９等を介して、観察対象（測定対象）である被検眼１０７に導かれる。