【手続補正書】
【提出日】平成25年5月30日(2013.5.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＣＴ用光源からの光及びＳＬＯ用光源からの光に対して共通の走査機構であり、前記ＯＣＴ用光源からの光及び前記ＳＬＯ用光源からの光を被検眼に対して第１の方向に走査する第１の走査手段と、
前記ＯＣＴ用光源からの光を前記被検眼に対して前記第１の方向とは異なる第２の方向に走査する第２の走査手段と、
前記第１の走査手段で前記ＯＣＴ用光源からの光を走査することにより、前記第１の方向に沿った、前記被検眼の断層画像を取得する第１の取得手段と、
前記第１の走査手段で前記ＳＬＯ用光源からの光を走査することにより、前記断層画像に対応する前記被検眼の複数の眼底画像を取得する第２の取得手段と、を備えることを特徴とする光断層撮像装置。
【請求項２】
前記第２の走査手段からの光を前記第１の走査手段に導く光路に設けられ、前記ＳＬＯ用光源から光を該第１の走査手段に導くための光路分岐手段と、
前記ＳＬＯ用光源の光からラインビームを形成する光学素子と、を備え、
前記光路分岐手段は、前記ラインビームを前記第１の走査手段に導くことを特徴とする請求項１に記載の光断層撮像装置。
【請求項３】
前記ＳＬＯ用光源からの光は、前記第２の方向へ延びたラインビームであり、該ラインビームを前記第１の方向へ走査することで前記眼底画像が取得され、
前記第１の取得手段における前記ＯＣＴ用光源からの光の前記第１の方向への走査と、前記ラインビームの前記第１の方向への走査とが同時に行われることを特徴とする請求項１または２に記載の光断層撮像装置。
【請求項４】
前記ラインビームが照射された前記被検眼からの戻り光を検出するラインセンサを備えることを特徴とする請求項２または３に記載の光断層撮像装置。
【請求項５】
前記第２の取得手段で取得された前記複数の眼底画像のそれぞれから特徴点を抽出し、前記複数の眼底画像における特徴点の変動を検出する検出手段と、
前記断層画像と前記検出手段により検出された特徴点の変動とを用いて、観察用の画像を生成する生成手段と、を備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項６】
前記第１の取得手段は、前記第１の走査手段による前記ＯＣＴ用光源からの光の前記第１の方向への走査を、前記第２の走査手段によって前記第２の方向へ移動させながら繰り返すことで、３次元断層画像の形成に利用可能な複数の断層画像を取得し、
前記生成手段は、前記変動に基づいて前記断層画像の３次元断層画像における位置を補正して、前記観察用の画像としての３次元断層画像を生成することを特徴とする請求項５に記載の光断層撮像装置。
【請求項７】
前記生成手段は、
前記第２の取得手段で取得された眼底画像のそれぞれについて特徴点の位置の変動を補正する補正量を算出し、
それぞれの眼底画像について算出された補正量を用いて、それぞれの眼底画像に対応した期間に取得された断層画像の位置を補正して前記３次元断層画像を生成することを特徴とする請求項６に記載の光断層撮像装置。
【請求項８】
前記生成手段は、線形写像式を用いて、倍率、回転および平行移動に関する補正量を算出することを特徴とする請求項５乃至７のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項９】
前記線形写像式は、回転及び倍率を、前記第１の方向と前記第２の方向の２軸に分けて算出することを特徴とする請求項８に記載の光断層撮像装置。
【請求項１０】
前記生成手段は、前記変動の量または前記補正量が閾値を超える眼底画像に対応した期間に取得された断層画像を、前記３次元断層画像の生成に用いないことを特徴とする請求項７に記載の光断層撮像装置。
【請求項１１】
前記第２の取得手段は、Ｎ個の前記断層画像ごとに１つの眼底画像が取得されるように、前記第１の取得手段における断層画像の取得に同期して眼底画像を取得することを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項１２】
前記第１の取得手段は、前記ＯＣＴ用光源からの光の前記第１の方向への走査を同じ場所で繰り返すことで、複数の断層画像を取得し、
前記生成手段は、前記複数の断層画像の加算平均を算出して前記観察用の画像を生成し、前記変動が大きい期間において取得された断層画像を前記加算平均の対象から除外することを特徴とする請求項５乃至１０のいずれか１項に記載の光断層撮像装置。
【請求項１３】
光断層撮像装置の制御方法であって、
ＯＣＴ用光源からの光及びＳＬＯ用光源からの光に対して共通の走査機構である第１の走査手段を用いて、前記ＯＣＴ用光源からの光及び前記ＳＬＯ用光源からの光を被検眼に対して第１の方向に走査する第１の走査工程と、
第２の走査手段を用いて、前記ＯＣＴ用光源からの光を前記被検眼に対して前記第１の方向とは異なる第２の方向に走査する第２の走査工程と、
前記第１の走査工程で前記ＯＣＴ用光源からの光を走査することにより、前記第１の方向に沿った、前記被検眼の断層画像を取得する第１の取得工程と、
前記第１の走査工程で前記ＳＬＯ用光源からの光を走査することにより、前記断層画像に対応する前記被検眼の複数の眼底画像を取得する第２の取得工程と、を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載された制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】光断層撮像装置及びその制御方法、プログラム
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、被検査物の断層画像を撮像する光断層撮像装置及びその制御方法に関し、特に眼科診療等に用いられる低コヒーレント光干渉光学系を有する光断層撮像装置及びその制御方法に関する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、光干渉を利用した光断層撮像装置によって得られる断層画像の変動をより高精度に補正可能とすることを目的とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
上記目的を達成するための本発明の一態様による光断層撮像装置は以下の構成を備える。すなわち、
ＯＣＴ用光源からの光及びＳＬＯ用光源からの光に対して共通の走査機構であり、前記ＯＣＴ用光源からの光及び前記ＳＬＯ用光源からの光を被検眼に対して第１の方向に走査する第１の走査手段と、
前記ＯＣＴ用光源からの光を前記被検眼に対して前記第１の方向とは異なる第２の方向に走査する第２の走査手段と、
前記第１の走査手段で前記ＯＣＴ用光源からの光を走査することにより、前記第１の方向に沿った、前記被検眼の断層画像を取得する第１の取得手段と、
前記第１の走査手段で前記ＳＬＯ用光源からの光を走査することにより、前記断層画像に対応する前記被検眼の複数の眼底画像を取得する第２の取得手段と、を備える。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明によれば、光干渉を利用した光断層撮像装置により得られる断層画像の変動をより高精度に補正することが可能となる。